(57)【要約】【課題】通常動作へ容易に復帰できるレーザドライバのディセーブル／イネーブル制御を提供すること。【解決手段】エネルギー生成要素(120)をディセーブルにする回路は、ディセーブル信号(301)を受信する入力(152)と該ディセーブル信号に応じて前記要素を該要素により生成される平均出力を所定レベル以下に維持するのに充分な所定期間だけディセーブルにするディセーブル回路(300)とを含む。該ディセーブル回路は各々が立ち上がり／立ち下がりエッジを有するディセーブル信号(301)の有無を検出する信号検出回路(310)と該回路(310)に結合され第一のディセーブル信号(301)の前記エッジの一方に応じてマスク信号(303)を生成するマスク信号生成回路(320)と該回路(320)に結合され前記マスク信号(303)が生成され後続のディセーブル信号(310)の他方のエッジが検出された場合にマスクディセーブル信号(304)を生成するラッチ回路(330)とを含む。【選択図】図３
2004229280.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
エネルギー生成要素(120)をディセーブルにするための回路であって、
ディセーブル信号(301)を受信するよう動作する入力(152)と、
前記ディセーブル信号(301)に応じて、前記エネルギー生成要素(120)を、該要素により生成される平均出力を所定レベル以下に維持するために充分な所定期間にわたってディセーブルにするよう動作するディセーブル回路(300)と
を含む、エネルギー生成要素(120)をディセーブルにするための回路。
【請求項２】
前記ディセーブル回路(300)が、
各々が立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジをそれぞれ有するディセーブル信号(301)の有無を検出するよう動作する信号検出回路(310)と、
前記信号検出回路(310)に結合され、第一のディセーブル信号(301)の前記エッジの一方に応じてマスク信号(303)を生成するよう動作する、マスク信号生成回路(320)と、
前記マスク信号生成回路(320)に結合され、前記マスク信号(303)と後続のディセーブル信号(310)の他方のエッジとに応じてマスクディセーブル信号(304)を生成するよう動作する、ラッチ回路(330)と
を含む、請求項１に記載の回路。
【請求項３】
前記マスクディセーブル信号(304)が光源駆動手段への入力を含み、前記マスクディセーブル信号(304)が前記光源駆動手段をディセーブルにするよう動作可能なものである、請求項２に記載の回路。
【請求項４】
前記マスク信号生成回路(320)が、所定期間にわたり前記マスク信号(303)を生成するよう動作可能である、請求項２に記載の回路。
【請求項５】
前記ラッチ回路(330)が、前記信号検出回路(310)に結合されたクロック入力(331)を有するＤ型フリップフロップと、前記マスク信号生成回路(320)に結合されたデータ入力(332)及びクリア入力(334)と、前記マスクディセーブル信号(304)を提供する出力(333)とを含む、請求項２に記載の回路。
【請求項６】
前記要素(120)により生成される平均出力を所定レベル以下に維持するのに充分な所定期間が、前記要素(120)のデューティサイクルを低減させる、請求項１に記載の回路。
【請求項７】
欠陥を検出し、
要素(120)により生成される平均出力を所定レベル以下に維持するのに充分な所定期間にわたり該要素(120)による電磁エネルギーの生成をディセーブルにする、
という各ステップを有する方法。
【請求項８】
欠陥を検出する前記ステップが、欠陥に応じて生成されるディセーブル信号(301)のエッジを検出することを含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記要素(120)をディセーブルにする前記ステップが、
ディセーブル信号(301)のエッジの検出に応じて所定期間にわたりマスク信号(303)を生成し、
後続のディセーブル信号(301)のエッジを検出し、
該後続のディセーブル信号(301)のエッジの検出に応じて所定期間にわたりマスクディセーブル信号(304)を生成し、
該マスクディセーブル信号(304)に応じて所定期間にわたり前記要素(120)をディセーブルにする、
という各ステップを有する、請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
前記ディセーブル信号(301)が高論理レベルにある際に前記要素(120)をディセーブルにするステップを更に含む、請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はレーザドライバのディセーブル／イネーブル制御に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
今日の光ファイバ通信装置の多くはディジタル通信用の光源としてレーザを使用している。更に、光学式マウス入力装置又はレーザポインタといった他の装置もまたそれらの動作にレーザを使用している。
【０００３】
これらのレーザは、ディジタル光ファイバ通信用の光信号を生成し、場合によっては人の眼に損傷を与え得るほど強い光を生成する。例えば、典型的な光ファイバ通信装置は、レーザと光学的に位置合わせされた状態で光ファイバケーブルを接続するコネクタを含む。このため、人が光ファイバの端部を覗き込んだ際にレーザビームがその人の眼に入射する可能性がある。また、ケーブルを外してコネクタを直接覗き込んだ場合にもレーザビームが眼に入射する可能性がある。更に、破断し又は切断された光ファイバケーブルもまたレーザビームが偶発的に人の眼に入る原因となる可能性がある。
【０００４】
レーザビームの平均出力が充分に高い場合には、該ビームは人の網膜に損傷を与え得るものとなる。このため、レーザビームが人の眼に入り得る状況では、安全性が重要な問題となる。その結果、アイセイフティ（眼の安全性）規格に従って、光ファイバ通信装置は一般にレーザ欠陥検出及びディセーブル／イネーブル回路を含む。
【０００５】
従来のディセーブル回路を含む光ファイバ通信装置の一例を図１に示す。送受信モジュール100は、レシーバ101、トランスミッタ102、及びコントローラ／制御回路103を含み、従来の光ファイバ通信システムの一部を一般に構成し、ホスト105に結合される。レシーバ101、トランスミッタ102、及びコントローラ103は、通信リンク106を介してホスト105へ結合され、レシーバ101及びトランスミッタ102は、それぞれ通信リンク107,108を介してコントローラ103へ結合される。モジュール100等の従来の送受信モジュールの動作は周知のものであり、その詳細については特許文献１に記載されている。
【特許文献１】米国特許出願第10/327,216号（2002年12月20日出願）  トランスミッタ102は、レーザ120及びディセーブル回路110に結合された少なくとも１つのレーザドライバ105を含む。トランスミッタ102は更に、該トランスミッタ102の欠陥を検出するための欠陥検出回路130を含む。該欠陥検出回路130は、欠陥を検出した際に、レーザドライバ106をディセーブルにするための信号を欠陥フラグ信号線150を介して送信し、及び欠陥信号を欠陥信号線151を介してホスト105に送る。従来、ホスト105は一般に、ディセーブル線152上にディセーブル回路110へのディセーブル信号を生成し、該ディセーブル回路110がレーザドライバ106に結合される。ディセーブル回路110は、やはりレーザドライバ105をディセーブルにするシャットダウン信号をシャットダウン信号線153上に生成し、これによりレーザ120をターンオンさせることができなくなる。ディセーブル回路110は、多数の理由でシャットダウン信号を生成し、該理由としては、安全なレーザ出力レベルを上回っていることや、ディセーブル信号がホスト105から送られたことが挙げられる。
【０００６】
しかし、ディセーブル回路110へのディセーブル線152が欠陥検出回路130の欠陥応答時間（以下で説明する）に近い速度で循環する（繰り返しの交番信号）という特定の状況では問題が生じる。具体的には、トランスミッタ102中に回復不能な欠陥が生じた場合に、一般的なホスト105は、欠陥が生じた送受信モジュール100へのディセーブル線152上にディセーブル信号を循環させて、該モジュールをデフォルトの電源投入状態又は他の何らかの初期状態へとリセットする。このため、送受信モジュール100は、レーザを繰り返しターンオン・ターンオフさせる状態になる可能性がある。例えば、送受信モジュール100の欠陥検出回路130が欠陥状態（レーザ120が過剰な出力レベルで動作している等）を検出し、その結果としてホスト105へ欠陥信号を送る可能性がある。ホスト105は、該欠陥信号に応じてディセーブル信号を送受信モジュール100へ送り返し、該送受信モジュール100が、ディセーブル回路110にシャットダウン信号を生成させてレーザ120をディセーブルにし、また欠陥検出回路130をリセットさせる。次いでホスト105は、ディセーブル線152を介して再イネーブル信号をトランスミッタ102へ送ることで該トランスミッタ102の再始動を試みる。再イネーブル信号を受信すると、ディセーブル回路110はシャットダウン信号を止め、レーザ120が再度ターンオンされることになる。依然として欠陥が存在する場合には、欠陥検出回路130が依然として欠陥を検出するため、レーザ120が再度ターンオフされる。これは一過性で回復可能なトランスミッタの欠陥を解消させるために用いられている一般的な方法である。したがって、欠陥が回復不能であって、この再イネーブル／ディセーブルサイクルが欠陥応答時間に近い速度で繰り返される場合には、レーザにより伝送される総平均出力が眼にとって安全な出力レベルを上回る可能性がある。この現象を図２を参照して以下で詳述する。
【０００７】
図２は、レーザが眼にとって安全な出力レベルを上回ることを従来のディセーブル回路が許容してしまう上記の状況下にある、図１の送受信モジュール100における信号のタイミングチャートである。
【０００８】
通常の（例えば欠陥201状態が存在しない）動作期間210では、レーザの動作出力204（ＬＯＰ）は通常の平均出力211であり、これは眼の安全基準に適合する。
【０００９】
回復可能な欠陥220が生じた場合には、欠陥検出回路130（図１）が欠陥220を検出してレーザオフ信号203を生成することによりレーザを遮断し、及びポーリングもしくは割り込みを基礎としてホスト105（図１）が読み出すポイント224に欠陥フラグ205を設定する。欠陥220の発生と欠陥フラグ205及びレーザオフ信号203のアサートとの間に有限の時間が存在し、該時間は欠陥応答時間250と呼ばれる。ホスト105は、欠陥フラグ205に応じてディセーブル信号202（正論理として示す）をポイント221でアサートするが、該ポイント221は欠陥フラグ信号205のアサート後である場合がある。一般に、レーザは、欠陥応答時間250中には過度に高い値251のＬＯＰ204を有することになる。これは、欠陥201が生じ、レーザオフ信号203が未だアサートされていないからである。このとき、人の眼に損傷を与え得るほどの長い時間ではないが、レーザ120が、許容されるよりも高いレベル251の平均出力を生成する。ディセーブル信号202は、ポイント226で欠陥フラグ信号205をクリアするが、該ディセーブル信号202がアサートされている間はレーザ120がターンオンに戻るのが防止される。レーザ120がターンオフする間、ＬＯＰ204は符号223に示すようにゼロになる。一般に、ホスト105は、欠陥220が修正されるまでに充分とされる所定の時間にわたり、ディセーブル信号202をアクティブに維持する。次いで、該ディセーブル信号202のデアサートに応じて、レーザオフ信号203がポイント227でデアサートされ、この時点でレーザ120がターンオンして通常動作に戻ることが可能となる。欠陥が修正された場合には、送受信モジュール100は通常動作を続行し、ＬＯＰ204は眼の安全基準の最大レベル以下の平均出力レベルを有することになる。
【００１０】
先に述べた問題となる状況は、回復不能な欠陥230が発生した場合に生じる。幾つかの事例では、回復不能な欠陥230は、自動的な手段（ディセーブル線152又は出力の循環）を介して修正することができず、このため、ＬＯＰ204の平均出力レベルが危険なレベル240に保持される可能性がある。通常の状況と同様に、回復不能な欠陥230は検出回路130により検出され、欠陥応答時間250の後にポイント235で欠陥フラグ205が設定され、これによりやはり該ポイント235でレーザオフ信号203がアサートされて、レーザがターンオフされる。ホスト105は、欠陥フラグ205に応じてディセーブル信号202をポイント231でアサートして欠陥フラグ205をクリアにする。ホスト105により決定される所定時間の後、ディセーブル信号がポイント238でデアサートされ、これによりレーザオフ信号203をデアサートすることが可能となる。しかし、通常の状況とは異なり、回復不能な欠陥230は解消されておらず、レーザオフ信号203がデアサートされてから欠陥フラグ205が再度設定されるまでの間、ポイント233でＬＯＰ204が最大値（人の眼に危険な値）になる可能性がある。欠陥検出回路130はこの欠陥230を再度検出し、欠陥フラグ205とレーザオフ信号203をポイント240でアサートするが、ＬＯＰ204は欠陥応答時間250にわたり最大出力を維持することになり、このプロセスが無限に繰り返される可能性がある。このため、回復不能な欠陥230が生じた場合における全体的な平均出力レベル240は、レーザのデューティサイクルが充分に大きい場合には、眼の安全性の最大しきい値を超えることになる。
【００１１】
この問題の解決策の１つは、ディセーブル信号202が所定時間内に何回アサートされたかをカウントし、そのアサート数が所定のしきい値を上回った場合にレーザを永久的にディセーブルにする、というものである。例えば、ディセーブル信号202が50ミリセカンド内に３回よりも多くアサートされた場合にレーザ120を永久的に（モジュール100が（一般に出力循環により）外部ソースからリセットされるまで）ディセーブルにするようコントローラ103を設定することが可能である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかし、この解決法の問題は、ディセーブルのアサートに関するしきい値を一旦越えてしまうと、送受信モジュール100が出力循環を再度イネーブルにすることを必要とする、という点である。即ち、欠陥をクリアするためには、モジュール100をターンオフさせ、次いで再度ターンオンさせなければならない。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
エネルギー生成要素をディセーブルにするためのディセーブル回路を提供する。本発明の一実施形態によれば、回路はディセーブル信号を受信するよう動作する入力と、該ディセーブル信号に応じて、前記部品により生成される平均出力を所定レベル又はそれ以下に維持するのに充分な所定時間にわたり前記部品をディセーブルにするよう動作するディセーブル回路とを含む。該ディセーブル回路は更に、立ち上がり及び立ち下がりエッジをそれぞれ有するディセーブル信号の存在を検出するよう動作する信号検出回路と、該信号検出回路に結合され、第一のディセーブル信号の一方のエッジが検出された際にマスク信号を生成するよう動作する、マスク信号生成回路と、該マスク信号生成回路に結合され、マスク信号が生成されており次のディセーブル信号の他方のエッジが検出された場合にマスクディセーブル信号を生成するよう動作するラッチ回路とを含む。
【００１４】
この本発明の実施形態によるディセーブル回路に結合されるレーザドライバは、危険なレベルのレーザ出力を生じさせるようレーザへ出力を再循環させることを阻止するものとなる。ディセーブル回路は、マスクディセーブル信号を生成するよう動作するものであり、反復するディセーブル信号を検出し、２番目のディセーブル信号が発生した際にマスクディセーブル信号を生成し、これにより所定時間にわたりレーザドライバがレーザを駆動するのが阻止される。
【００１５】
本発明の別の実施形態によるディセーブル回路は、ディセーブル信号に応じてエネルギー生成要素がディセーブルされる（例えば、光学式ポインティングデバイス及びレーザ式ポインティングデバイスといった）複数の他の用途で使用することが可能である。
【００１６】
本発明の上記態様及びそれに付随する利点の多くは、図面に関連して以下の詳細な説明を参照することにより容易に理解することができよう。
【００１７】
以下の説明は、当業者が本発明を製作及び利用することができるようにするものである。本書に記載の全般的な原理は、本発明の思想及び範囲から逸脱することなく、以下に詳細に説明する実施形態とは異なる実施例及び応用例に適用することが可能である。本発明は、本開示の実施形態への限定を意図したものではなく、本願に開示又は示唆する原理及び特徴と矛盾することのない最も広い範囲を含むものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
図３は、光ファイバ通信装置（図示せず）におけるレーザドライバをディセーブルするための本発明の一実施形態によるディセーブル回路300の概略図である。整合性を保つために図１と同様の要素には同様の符号を付した。ディセーブル回路300は、図１のトランシーバと同様のものとすることが可能な光ファイバトランシーバ内に含ませることが可能である。ディセーブル回路300は、ディセーブル線152上のディセーブル信号301を検出するよう動作する信号検出回路310と、該ディセーブル信号が検出された際にマスク信号303を生成するよう動作するマスク信号生成器320と、該マスク信号303に応じてマスクディセーブル信号304を生成するよう動作するフリップフロップ330と、該マスクディセーブル信号304の期間にわたりシャットダウン信号302を生成するよう動作するＯＲゲート340を含む。これら各要素の更なる詳細については、図４Ａ及び図４Ｂのタイミングチャートを用いた回路300の処理の説明に関連して解説する。この回路の機能もまた、多数の異なる回路により実施することができる。
【００１９】
典型的な光ファイバ通信装置は、図１に関して上述したように、欠陥が検出された際に欠陥フラグ信号をアサートしてレーザを遮断する欠陥検出回路130（図１）を含む。欠陥検出回路130は、光ファイバ通信装置内の複数の監視及び実行回路（図示せず）に結合される。該監視及び実行回路は、欠陥検出回路と連携して欠陥線151上に欠陥信号を生成するよう設計されており、この場合、ホスト105は、ディセーブル線152上にディセーブル信号を生成することにより応答する（図１に関する上記説明を参照のこと）。このため、ディセーブル信号は、発生した特定の事象（監視中のしきい値を超えたこと等）にホストが応答する際に生成される。ディセーブル回路300は、シャットダウン信号を生成するよう設計され、ディセーブル信号がアサート値（ここではHIGH）にある場合に必ずレーザドライバ（図示せず）によるレーザ（図示せず）のターンオンを不能にするものである。このため、図３から分かるように、ディセーブル信号301はＯＲゲート340の入力に結合され、該ＯＲゲートの出力がシャットダウン信号線153上のシャットダウン信号302となる。図１の欠陥フラグ信号線150からの欠陥フラグ信号205もまたＯＲゲート340への入力であり、従って欠陥フラグ信号線150上の信号のアサートもまたシャットダウン信号線153上にシャットダウン信号302を生成するものとなる。従来のディセーブル回路の場合と同様に、ディセーブル信号301がアサートされた論理レベルにある場合には必ず、シャットダウン信号302は常にアサート論理レベルにある。しかし、ＯＲゲート340がディセーブル回路300の他の部分からの入力（後述するマスクディセーブル信号304）を受容するため、シャットダウン信号302は、ディセーブル信号301がデアサート論理レベルにある際に常にデアサート論理レベルにあることにはならない。
【００２０】
マスクディセーブル信号304は、シャットダウン信号302の繰り返しの循環によって危険なレーザ出力動作レベルが生じ得る回復不能な欠陥が存在する状況で、所定時間にわたりシャットダウン信号302をアサート論理レベルに保持するために使用される。シャットダウン信号302をアサート論理レベルに保持することにより、回路300は、ディセーブル信号301がデアサートされた後であってもレーザ（図１のレーザ120等）をディセーブルにし続ける。
【００２１】
引き続き図３を参照する。信号検出回路310は、ポジティブエッジワンショット（ＰＥＯＳ）要素350及びネガティブエッジワンショット（ＮＥＯＳ）要素351を含む。ＰＥＯＳ350は、ディセーブル線152に結合される入力と、フリップフロップ330のクロック入力331に結合される出力とを有する。該ＰＥＯＳ350は、ディセーブル信号がアサートされた（すなわち低論理レベルから高論理レベルへ遷移した）際に高論理レベルのワンショットパルスを生成する。同様に、ＮＥＯＳ351もまた、ディセーブル線301に結合される入力とマスク信号生成器320に結合されたＡＮＤゲート340（以下で説明する）に結合される出力とを含む。該ＮＥＯＳ351は、ディセーブル信号がデアサートされた（すなわち高論理レベルから低論理レベルへ遷移した）際に高論理レベルのワンショットパルスを生成する。ＰＥＯＳ信号及びＮＥＯＳ信号は、マスク信号303の生成に使用される。
【００２２】
マスク信号生成器320は、ＡＮＤゲート341の出力を受容し、マスク信号303を生成する。ＡＮＤゲート341は２つの入力を含み、その一方の入力はＮＥＯＳ351の出力に結合され、反転されたもう一方の入力はマスク信号303を受信するよう結合される。マスク信号生成器320がその入力に高論理レベルの立ち上がりエッジを検出したとき（ＮＥＯＳ351がディセーブル信号301の立ち下がりエッジを検出し、及びマスク信号303がデアサートされて低論理レベルにある際に）、マスク信号生成器320は所定時間にわたりマスク信号303をアサートする。マスク信号303が高レベルにある間、ＡＮＤゲート341の反転入力は、最初のマスク信号303が生成されている所定時間中に後続のマスク信号303が生成されるのを阻止することになる。典型的には、マスク信号生成器320は、カウンタ又はタイマー回路321を含み、マスク信号303が生成される期間は、平均ＬＯＰが確実に安全範囲に維持されるようレーザ120のデューティサイクルを低く保つのに充分な期間である。一実施形態では、この期間は800μsecであるが、その長さは、異なるシステムにおける異なる欠陥応答時間に必要なあらゆる長さとすることが可能である。
【００２３】
更に図３を参照する。ADフリップフロップ330はマスク信号303をラッチするために使用される。フリップフロップ330は、ＰＥＯＳ350に結合されるクロック入力331と、マスク信号303を受信する入力332と、マスクディセーブル信号304をＯＲゲート304の他方の入力へ供給する出力333と、やはりマスク信号303を受容するクリア入力334とを含む。マスク信号303がアサートされると、入力332及びクリア入力334が高論理レベルになる。フリップフロップ330は、立ち上がりエッジがクロック入力331で検出された際に入力レベル332の論理レベルを出力333に設定するよう設計されている。動作時、ディセーブル信号301が最初にＰＥＯＳ350及びＮＥＯＳ351で検出された際に、上述したようにマスク信号303がマスク信号生成器330により生成される。マスクディセーブル信号304は、ディセーブル信号301が２回目のアサート論理レベルになるまで生成されない。該２回目のディセーブル信号301（マスク信号303が生成されてから最初のもの）により、ＰＥＯＳ350は高論理レベルパルスを生成し、これがフリップフロップ330のクロック入力331で検出される。クロック入力331における高論理レベルパルスの受信に応じて、フリップフロップ330は、出力333を入力332（マスク信号303）と同じ論理レベル（これは最初のディセーブル信号301の結果として既に高論理レベルにある）に設定する。したがって、回復可能な欠陥は通常は第二のディセーブル信号301を生じさせるものではないため、回復可能な欠陥の場合にマスクディセーブル信号304は生成されないのが一般的である。これは、図４Ａ及び図４Ｂのタイミングチャートに関する説明により一層明らかとなろう。
【００２４】
図４Ａ及び図４Ｂは、本発明の一実施形態による図３のディセーブル回路300に関する信号のタイミングチャートである。該タイミングチャートは、２つの状況、すなわち、回復可能な欠陥（図４Ａ）の場合と回復不能な欠陥（図４Ｂ）の場合とを示している。
【００２５】
第一の状況を示す図４Ａを参照する。回復可能な欠陥401が発生し、欠陥フラグ信号400が欠陥応答時間450の後にポイント402でアサート論理レベルになる。欠陥フラグ信号400により、シャットダウン信号302がその時点でアサートされることになる。シャットダウン信号302は、レーザドライバをディセーブルするまでに有限時間（例えば欠陥応答時間450）を要するため、ＬＯＰ402が欠陥応答時間450中にポイント412で高レベルに上昇する。一定時間経過後のポイント403で、ホスト105は欠陥フラグ信号400に応じてディセーブル信号301を生成する。該ディセーブル信号301は、ディセーブル信号301の立ち上がりエッジでＰＥＯＳパルス404を、立ち下がりエッジでＮＥＯＳパルス405を生成する。該ＮＥＯＳパルス405により、マスク信号生成器320（図３）はポイント407で高論理レベルマスク信号303を生成する。これは、ＮＥＯＳ405が高論理レベルであり及びマスク信号407が第一のディセーブル信号301に先立って低論理レベルである場合に、ＡＮＤゲート341（図３）の出力が高論理レベルとなるからである。欠陥401は、回復可能なものであり、このためポイント408でクリアされるため、更なるディセーブル信号301は生成されず、したがって更なるＰＥＯＳパルス404又はＮＥＯＳパルス405は生成されない。このように、マスク信号303がアサート論理レベルにある間にフリップフロップ330（図３）がそのクロック入力331でＰＥＯＳパルス404の立ち上がりエッジを受信することが決してないため、マスクディセーブル信号304は低論理レベルを維持する。このため、シャットダウン信号302は、ポイント409で、ディセーブル信号301が低論理レベルになるのと同時に低論理レベルとなり、所定時間410の後、マスク信号303がポイント411で低論理レベルになる。
【００２６】
図４Ｂを参照する。第二の状況では、回復不能な欠陥421が発生し、このため欠陥フラグ信号400がポイント422でアサートレベルになっている。この場合も、欠陥フラグ信号400がレーザドライバをディセーブルするまでに一定の有限時間（欠陥応答時間450）を要するため、ＬＯＰ402は欠陥応答時間450中にポイント413で高レベルに上昇する。更に、ＯＲゲート340（図３）に起因して、欠陥フラグ信号400が高論理レベルである際にシャットダウン信号302もまた高論理レベルとなり、このため、シャットダウン信号302もまたポイント422でアサートされ、これによりポイント415でレーザが遮断されてＬＯＰ402がゼロレベルになる。その後、ポイント423で、ホスト105が欠陥フラグ信号400に応じてディセーブル信号301を生成する。該ディセーブル信号301は、その立ち上がりエッジでＰＥＯＳパルス424を生成し（これにより欠陥フラグ信号400がクリアされ）、その立ち下がりエッジでＮＥＯＳパルス425を生成する。この場合も、ＮＥＯＳパルス425により、マスク信号生成器320（図３）は高論理レベルのマスク信号303をポイント427から所定時間410にわたって生成する。回復不能欠陥421の場合には、ディセーブル信号301の更なる繰り返し433が生成され、これにより更なるＰＥＯＳパルス434及びＮＥＯＳパルス435もまた生成される。このように、マスク信号303がアサート論理レベルにある間にフリップフロップ330（図３）がそのクロック入力331でＰＥＯＳパルス434の立ち上がりエッジを受信するため、マスクディセーブル信号304がポイント428で高論理レベルになる。したがって、シャットダウン信号302は、ポイント429の第一のインターバルでディセーブル信号301と同時に低論理レベルになるが、ポイント430において欠陥フラグ信号400の次の立ち上がりエッジでアサート論理レベルに上昇し、所定期間410が経過するまでアサート論理レベルに維持される。
【００２７】
所定期間410が経過しても欠陥421がクリアされていない場合には、ＬＯＰ402のデューティサイクルが低く維持されるように当該処理が再度繰り返される。したがって、回復不能な欠陥421は残り、欠陥フラグ信号400がポイント442でアサートレベルに達し、これによりディセーブル信号301がポイント472でアサート論理レベルになる。この場合も、ＯＲゲート340（図３）のため、欠陥フラグ400がアサートレベルにある際に、シャットダウン信号302がポイント442で高論理レベルに設定される。ディセーブル信号301は、ディセーブル信号301の立ち上がりエッジでＰＥＯＳパルス474を生成し（これが欠陥フラグ400をクリアし）、ディセーブル信号301の立ち下がりエッジでＮＥＯＳパルス475を生成する。この場合も、ＮＥＯＳパルス475により、マスク信号生成器320（図３）が高論理レベルマスク信号303をポイント477から所定期間410にわたり生成する。このように、マスク信号303がアサート論理レベルにある間にフリップフロップ330（図３）がそのクロック入力331でＰＥＯＳパルス484の立ち上がりエッジを受信するため、マスクディセーブル信号304がポイント478で高論理レベルになる。したがって、シャットダウン信号302はポイント479でディセーブル信号301と同時に低論理レベルとなるが、その後ポイント480で欠陥フラグ信号400の立ち上がりエッジにおいてアサート論理レベルへと上昇し、所定期間410が経過するまでアサート論理レベルに維持される。
【００２８】
このサイクルは、自動的な手段又は外部ソースを介して、回復不能な欠陥421が解消されるまで繰り返される。このサイクルの結果として、レーザ120のデューティサイクルが低減され、ＬＯＰ402の平均出力レベル470が安全動作レベルのしきい値以下となる。回復不能な欠陥421が解消されると、ＬＯＰ402は、最後のマスクディセーブル信号304が終了した後に通常動作を開始することになる。
【００２９】
図５は、少なくとも１つが本発明の一実施形態に基づく図３のディセーブル回路300を含む複数の光ファイバモジュール550を使用したディジタル通信システム500を示すブロック図である。該システム500は相互にディジタル通信を行うことができるデバイスを含む。かかるデバイスには、大容量データベースコンピュータ505、サーバコンピュータ507、及びネットワークデバイス509（ハブ、ルーター、スイッチ等）が含まれる。従来のTX／RXリンク503が、これらのデバイスを、幾つかの光ファイバモジュール550を収容することができる通信ハブ501へと結合する。
【００３０】
かかる適用例では、モジュール550は、光ファイバネットワークを介してデータを送受信するための１つ又は２つ以上のチャネルを含む。各モジュール550の各送信チャネルがそれぞれ専用のディセーブル回路300を１つずつ含むことが可能であり、又は一組の送信チャネルが単一のディセーブル回路300を含み、シャットダウン信号が生成された際に全ての送信チャネルをディセーブルにすることが可能である。モジュール550は光ファイバ通信リンク502を介して他のモジュールと通信を行うことができる。このため、大容量データベースコンピュータ505、サーバコンピュータ507、及びネットワークデバイス509（ハブ、ルーター、スイッチ等）といったデバイスは、光ファイバモジュール500のマルチチャネル能力を利用して効率的かつ効果的に通信を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】従来の光ファイバトランシーバを示すブロック図である。
【図２】図１の光ファイバトランシーバに関する信号のタイミングチャートである。
【図３】本発明の一実施形態によるレーザディセーブル回路の概略図である。
【図４Ａ】回復可能な欠陥が発生する状況における本発明の一実施形態による図３のディセーブル回路に関する信号のタイミングチャートである。
【図４Ｂ】回復不能な欠陥が発生する状況における本発明の一実施形態による図３のディセーブル回路に関する信号のタイミングチャートである。
【図５】本発明の一実施形態による図３のディセーブル回路を含む光ファイバ通信システムを示すブロック図である。
【符号の説明】
【００３２】
120  エネルギー生成要素
152  入力
300  ディセーブル回路
301  ディセーブル信号
303  マスク信号
304  マスクディセーブル信号
310  信号検出回路
320  マスク信号生成回路
330  ラッチ回路
331  クロック入力
332  データ入力
333  出力
334  クリア入力
【図１】
2004229280.tif 000003
【図２】
2004229280.tif 000004
【図３】
2004229280.tif 000005
【図４Ａ】
2004229280.tif 000006
【図４Ｂ】
2004229280.tif 000007
【図５】
2004229280.tif 000008