(57)【要約】【課題】試験槽の処理能力を低減することなく試験槽内のパレット数を少なくでき、試験槽の温調負荷を大幅に低減可能な環境試験装置を提案すること。【解決手段】環境試験装置３の試験槽１２の内部には被試験品２を載せたパレット１６を搬送するための搬送路１４Ａと、試験終了後に被試験品２が取り除かれた後の空のパレット１６を、搬送路１４Ａを搬送される速度よりも速い速度で回送するための回送路１５Ａとが配置されている。パレット１６はこれら搬送路１４Ａ、回送路１５Ａを経由して循環する。パレット１６は試験槽１２の外に搬出されることがないので、一旦所定温度状態に加熱または冷却された後は、常に所定温度状態に保持される。熱量の大きなパレットを繰り返し加熱または冷却する必要がないので、試験槽１２の温調負荷を小さくできる。また、回送路１５Ａ上のパレット数を低減でき、その分、試験槽内のパレット総数を低減できるので、運転開始の立ち上げ時などにおける試験槽の温調負荷を小さくできる。【選択図】      図１
2004212093.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験品に対して環境試験を行うための試験槽と、
この試験槽内に形成した搬送路に沿って、被試験品を載せたパレットを所定の搬送速度で搬送する搬送機構と、
前記試験槽内に形成した回送路に沿って、空のパレットを前記搬送路の搬送終了端から搬送開始端まで、前記搬送速度よりも速い回送速度で回送する回送機構と、
を有している環境試験装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記搬送機構は、前記パレットを第１のストロークおよび第１の周期で間歇搬送する間歇搬送機構であり、
前記回送機構は、前記パレットを第２のストロークおよび第２の周期で間歇回送する間歇回送機構であることを特徴とする環境試験装置。
【請求項３】
請求項２において、
前記第２のストロークは前記第１のストロークよりも大きいことを特徴とする環境試験装置。
【請求項４】
請求項２または３において、
前記第２の周期は前記第１の周期よりも短いことを特徴とする環境試験装置。
【請求項５】
請求項２、３または４において、
前記間歇搬送機構は、前記搬送路を形成している水平に配列された案内レールと、前記案内レールに沿って前記第１のストロークおよび前記第１の周期で前後に往復移動可能であると共に中心軸線の回りに回転可能な送りシャフトと、この送りシャフトにおいて前記中心軸線方向に沿って所定の間隔で形成された突出片と、前記送りシャフトを前後に往復移動させるシャフト送り機構と、当該送りシャフトを回転させるシャフト回転機構とを備えており、
前記間歇回送機構は、前記回送路を形成している水平に配列された案内レールと、前記案内レールに沿って前記第２のストロークおよび前記第２の周期で前後に往復移動可能であると共に中心軸線の回りに回転可能な送りシャフトと、この送りシャフトにおいて前記中心軸線方向に沿って所定の間隔で形成された突出片と、前記送りシャフトを前後に往復移動させるシャフト送り機構と、当該送りシャフトを回転させるシャフト回転機構とを備えており、
前記パレットは、前記案内レール上をスライド可能であり、前記突出片が所定の角度位置にあるときに当該突出片に係合可能な係合部を備えていることを特徴とする環境試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気、電子部品などの被試験品に対して試験槽内において様々な温度環境の下で通電などの環境試験を行うために用いる環境試験装置に関するものである。更に詳しくは、試験槽の処理能力を低減することなく試験槽内において被試験品を搬送するために用いるパレットの数を少なくすることにより、試験槽の温調負荷を低減可能な環境試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
環境試験装置は、その試験槽内に被試験品を搬入して所望の温度に保持した状態で当該被試験品に対してエージングを含む各種の環境試験を行うためのものである。かかる環境試験装置としては、温度制御された試験槽内で被試験品を所定の搬送ラインに沿って搬送しながら各種の環境試験を行う、所謂、ライン型環境試験装置と呼ばれるものが知られている。
【０００３】
このようなライン型環境試験装置は例えば下記の特許文献１に開示されている。ここに開示されているライン型環境試験装置は、温度制御された試験槽の一端に形成された搬入口を貫通して水平に延びる搬送路を配置し、この搬送路に沿って、被試験品を載せたパレットを一定間隔で試験槽内を通過させる間に、被試験品を所定温度に到達させて環境試験を行うようになっている。また、試験槽の外には、その底面下側の位置に、試験槽の後端から前端に向けて空のパレットを回送するための回送路が配置されている。環境試験が行われた後に被試験品が取り除かれた空のパレットは、この回送路を経由して搬送路の搬送開始端まで送り戻されるようになっている。
【０００４】
【特許文献１】
特開平９−１９６９９９号公報（第３−４頁、図１−６）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の環境試験装置では、空のパレットを送り戻すための回送路が試験槽の外部に形成されているので、空のパレットを送り戻す間に、当該パレットが室温状態に戻ってしまう。このため、回送路を経由して搬送路の搬送開始端に戻されたパレットを再度、室温状態から環境試験温度状態となるまで加熱あるいは冷却する必要がある。パレットの熱量は被試験品に比べて大きいので、試験槽の温調負荷が大きくなる。また、パレットに載せた被試験品を環境試験温度状態に移行させるための時間も長くなってしまい、搬送速度を低減するか、あるいは搬送距離を長くする必要がある。この結果、作業効率が低下し、あるいは試験槽が長いものとなってしまうという弊害が発生する。
【０００６】
ここで、熱量の大きなパレットの枚数を少なくすれば、試験槽の温調負荷を低減できる。しかし、単に、パレット枚数を低減したのみでは、試験槽の処理能力が低下してしまうので好ましくない。
【０００７】
本発明の課題は、かかる点に鑑みて、試験槽の処理能力を低減することなく試験槽内で用いるパレット枚数を少なくして、試験槽の温調負荷を大幅に低減可能な環境試験装置を提案することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、本発明の環境試験装置は、
被試験品に対して環境試験を行うための試験槽と、
この試験槽内に形成した搬送路に沿って、被試験品を載せたパレットを所定の搬送速度で搬送する搬送機構と、
前記試験槽内に形成した回送路に沿って、空のパレットを前記搬送路の搬送終了端から搬送開始端まで、前記搬送速度よりも速い回送速度で回送する回送機構とを有していることを特徴としている。
【０００９】
本発明の環境試験装置では、試験槽内に搬送路および回送路が形成され、パレットは試験槽外に出ることなく、試験槽内を循環する。従って、熱量の大きなパレットを、そこに搭載されている被試験品の環境試験が終了する毎に、環境試験温度となるように繰り返し加熱あるいは冷却する必要がない。よって、新たに試験槽内に搬入してパレットに載せた被試験品のみを環境試験温度まで加熱あるいは冷却すればよいので、試験槽の温調負荷を小さくできる。また、環境試験温度状態を短時間で形成できるので環境試験を効率良く行うことができる。さらに、環境試験温度状態を形成するために必要な搬送距離を短くできるので、試験槽も小型化できる。
【００１０】
これに加えて、本発明では、回送路を経由して速い速度で空のパレットを送り戻すようにしている。これにより、搬送路上のパレット数を低減することなく、回送路上のパレット数を少なくできる。この結果、被試験品の搬送量を低減させることなく（すなわち、試験槽の処理能力を低減させることなく）、試験槽内のパレット数を全体として少なくできる。熱容量の大きなパレットの枚数を低減することにより、試験槽の温調負荷を一層小さくできる。特に、試験開始時において試験槽内の温度を所定温度状態となるまで加熱あるいは冷却する立ち上げ運転時における温調負荷を大幅に低減でき、立ち上げ時間も短縮化できる。
【００１１】
ここで、前記搬送機構としては、前記パレットを第１のストロークおよび第１の周期で間歇搬送する間歇搬送機構を用いることができる。同様に、前記回送機構としても、前記パレットを第２のストロークおよび第２の周期で間歇回送する間歇回送機構を用いることができる。
【００１２】
間歇搬送機構および間歇回送機構を用いる場合には、前記第２のストロークを前記第１のストロークよりも大きくすれば、周期が同一であっても、パレットの回送速度を速くすることができる。また、前記第２の周期を前記第１の周期よりも短くすれば、ストロークが同一であっても、パレットの回送速度を速くすることができる。勿論、間歇回送機構におけるストロークを大きくすると共に周期を短くしてもよい。
【００１３】
前記間歇搬送機構としては、前記搬送路を形成している水平に配列された案内レールと、前記案内レールに沿って前記第１のストロークおよび前記第１の周期で前後に往復移動可能であると共に中心軸線の回りに回転可能な送りシャフトと、この送りシャフトにおいて前記中心軸線方向に沿って所定の間隔で形成された突出片と、前記送りシャフトを前後に往復移動させるシャフト送り機構と、当該送りシャフトを回転させるシャフト回転機構とを備えた構成のものを用いることができる。
【００１４】
同様に、前記間歇回送機構としては、前記回送路を形成している水平に配列された案内レールと、前記案内レールに沿って前記第２のストロークおよび前記第２の周期で前後に往復移動可能であると共に中心軸線の回りに回転可能な送りシャフトと、この送りシャフトにおいて前記中心軸線方向に沿って所定の間隔で形成された突出片と、前記送りシャフトを前後に往復移動させるシャフト送り機構と、当該送りシャフトを回転させるシャフト回転機構とを備えた構成のものを用いることができる。
【００１５】
この場合には、前記パレットとして、前記案内レールに沿ってスライド可能であり、前記突出片が所定の角度位置にあるときに当該突出片に係合可能な係合部を備えた構成のものを用いればよい。
【００１６】
この間歇搬送機構および間歇回送機構では、送りシャフトを回転して、突出片をパレットの係合部に係合させ、この状態で送りシャフトを前方あるいは後方に送り出せば、パレットが案内レール上をスライドして所定ストロークだけ前進あるいは後退する。この後は、送りシャフトを回転して突出片と係合部の係合を解除して、送りシャフトを後方あるいは前方に所定ストロークだけ戻せばよい。かかる送りシャフトの回転、前進あるいは後退、回転、および、後退あるいは前進を繰り返すことにより、パレットを間歇的に所定ストロークずつ前進あるいは後退させることができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下に、図面を参照して本発明を適用した環境試験装置の実施の形態を説明する。
【００１８】
図１（ａ）および（ｂ）は、本発明を適用した環境試験装置を用いた環境試験システムを示す概略平面構成図および概略縦断面図である。また、図２は図１の環境試験装置の概略横断面図である。
【００１９】
（環境試験システム）
本実施の形態に係る環境試験システム１は、被試験品２に対して異なる温度で環境試験を行うための２つの環境試験装置３、４と、これらの間に配置した計測ステーション５とを有しており、環境試験ラインの上流側から下流側に向けて、環境試験装置３、計測ステーション５および環境試験装置４がこの順序で直列に接続されている。上流側の環境試験装置３は例えば低温槽であり、下流側の環境試験装置４は例えば高温槽である。環境試験装置３と計測ステーション５の間には、環境試験装置３における環境試験が終わった被試験品２を計測ステーション５に移送するための上流側移送ロボット６が配置されており、下流側の環境試験装置４と計測ステーション５の間にも、計測ステーション５における計測が終了した後の被試験品２を環境試験装置４に移送するための下流側移送ロボット７が配置されている。なお、計測ステーション５には計測器８が設置されており、低温環境試験が終了した被試験品２に対して所定の計測を行うようになっている。
【００２０】
（環境試験装置）
環境試験装置３、４は基本的に同一構成であるので、上流側の環境試験装置３を例に挙げて説明する。環境試験装置４における対応部分には同一符号を付し、それらの説明は省略する。環境試験装置３は、断熱パネルで形成された前後方向に長い直方体形状をした断熱箱１１と、この断熱箱１１の内部に区画形成された試験槽１２と、この試験槽１２の槽内温度を制御するための温度制御機構１３と、パレット搬送機構１４およびパレット回送機構１５とを有している。パレット搬送機構１４は、被試験品２を載せたパレット１６を、試験槽１２の内部において、その前端側の位置から後端側の位置まで水平に延びる搬送路１４Ａに沿って搬送するためのものである。パレット回送機構１５は、試験槽１２の内部において、その後端側の位置で受け取った空のパレット１６を前端側に向けて水平に延びる回送路１５Ａに沿って送り返すためのものである。
【００２１】
また、試験槽１２の内部には、パレット搬送機構１４およびパレット回送機構１５の前側の位置に配置された入口リフタ１７と、これらパレット搬送機構１４、パレット回送機構１５の後側の位置に配置された出口リフタ１８が配置されている。
【００２２】
試験槽１２の前端側の天井部分には、被試験品２を試験槽１２に搬入するための搬入口２１が形成されており、この搬入口２１は、外側から搬入口開閉蓋２２によって開閉可能となっている。搬入口開閉蓋２２はエアー駆動式などの蓋開閉機構２３によって開閉駆動される。また、試験槽１２の後端側の天井部分には、環境試験後の被試験品２を試験槽１２から搬出するための搬出口２４が形成されており、この搬出口２４も、外側から搬出口開閉蓋２５によって開閉可能となっている。この搬出口開閉蓋２５もエアー駆動式などの蓋開閉機構２６によって開閉駆動される。
【００２３】
次に、各部分の構造をさらに詳しく説明する。まず、断熱箱１１の内部は、前後方向に延びる垂直仕切り板４１によって左右に区画されており、一方の区画が試験槽１２とされ、他方の区画には温度制御機構１３を構成している冷却器１３１、加熱器１３２および２台の送風機１３３、１３４が配置されている。仕切り板４１の上側部分には、パレット搬送機構１４によって搬送されるパレット１６に対して温度制御された空気を吹き付けるための吹き出し口４１ａ、４１ｂが形成されており、当該仕切り板４１の下側部分には、パレット回送機構１５によって回送される空のパレット１６よりも下側の位置に、空気流通口４１ｃが形成されている。
【００２４】
従って、送風機１３３、１３４から試験槽１２内に吹き込まれた空気は、パレット搬送機構１４によって搬送されるパレット１６上の被試験品２に吹き付けられた後、下側の空気流通口４１ｃを介して冷却器１３１の空気吸引口の側に吸引され、この冷却器１３１を経由した後に加熱器１３２を経由してその空気排出口から排出されて、送風機１３１、１３２によって再び試験槽１２内に吹き込まれる。このようにして、所定の温度に制御された空気が試験槽１２に吹き込まれて、試験槽内の温度が所定の温度状態に保持される。
【００２５】
次に、図３はパレット搬送機構１４の主要部分を示す斜視図である。この図も参照して説明すると、パレット搬送機構１４は、搬送路１４Ａを形成している平行に配置された一対の水平案内レール１４１、１４２に乗っているパレット１６を第１のストロークで第１の周期で間歇的に前進させるための間歇搬送機構である。パレット１６は、横長の長方形の平板部材であり、複数の被試験品２を幅方向に並べて載せることができ、その幅方向の両端部が案内レール１４１、１４２に載っており、これらに沿って前後方向にスライド可能である。各パレット１６の表面には、幅方向の両端に、それぞれ係合突起１６ａ、１６ｂが形成されている。
【００２６】
本例のパレット搬送機構１４は、パレット１６を第１のストロークおよび第１の周期で間歇的に前進させるための複数の突出片１４３を備えた一対の送りシャフト１４４、１４５を有している。各送りシャフト１４４、１４５は、軸受部材１４６により、前後方向にスライド自在、且つその中心軸線を中心として回転自在に支持されている。また、送りシャフト１４４、１４５は、断熱箱１１の外に配置された送り用エアシリンダ１４７によって第１のストロークで前後方向に往復移動可能であり、また、左右の回転用エアシリンダ１４８、１４９によって回転可能である。
【００２７】
図３（ｂ）に示すように、送りシャフト１４４、１４５を所定の角度だけ回転させて突出片１４３をパレット１６の係合突起１６ａ、１６ｂに係合可能とし、この状態で送りシャフト１４４、１４５を前方に送り出せば、パレット１６が案内レール１４１、１４２上をスライドして第１のストロークだけ前進する。パレット１６が前進した後は、図３（ａ）に示すように、送りシャフト１４４、１４５を回転させて突出片１４３を係合突起１６ａ、１６ｂには係合しない位置に戻して、送りシャフト１４４、１４５を第１のストロークだけ戻す。かかる送りシャフト１４４、１４５の回転、前進、戻し回転、後退からなる動作を、第１の周期で繰り返して行うことにより、パレット１６を第１の周期で第１のストロークずつ前進させることができる。
【００２８】
パレット回送機構１５は、パレット搬送機構１４の下方に配置され、回送路１５Ａを形成している平行に配置された一対の水平案内レール１５１、１５２に沿って、パレット１６を第２の周期で第２のストロークずつ間歇的に後退させるための間歇回送機構である。パレット回送機構１５はパレット搬送機構１４と同様な構成であり、突出片を備えた一対の送りシャフト１５１、１５２（図２参照）を有し、パレット１６を試験槽１２の後端から前端に回送する。パレット回送機構１５のパレット１６の回送方式はパレット搬送機構１４と同様であるが、パレット１６を第２の周期で第１のストロークずつ後退させるようになっている。
【００２９】
ここで、第２の周期は、パレット搬送機構１４における第１の周期よりも短く設定されている。例えば、数分の一の周期に設定すれば、パレット搬送機構１４によりパレット１６が１ストローク分搬送される間に、パレット回送機構１５においては空のパレット１６が数ストローク分搬送される。この結果、搬送路１４Ａに沿って搬送されるパレット枚数を低減することなく、回送路１５Ａに沿って回送されるパレット枚数を少なくできる。よって、試験槽１２の処理能力を低下させることなく、試験槽１２内のパレット総数を少なくできる。パレット総数を少なくすると、その分、運転開始の立ち上げ時などにおける温調負荷を低減でき、立ち上げ時間を短縮できる。
【００３０】
次に、入口リフタ１７は、パレット１６を載せるための水平リフタベース１７１と、水平リフタベース１７１を垂直に案内するための垂直案内レール１７２とを備えている。水平リフタベース１７１は、エアー駆動などにより昇降可能となっている。入口リフタ１７の水平リフタベース１７１の真上に搬入口２１が位置している。
【００３１】
この入口リフタ１７の水平リフタベース１７１は、回送路１５Ａの前端まで戻された空のパレット１６を受け取る空パレット受け取り位置１７１Ａと、パレット１６を搬入口２１まで上昇させて被試験品２を受け取る被試験品受け取り位置１７１Ｂと、搬送路１４Ａに対して被試験品２を載せたパレット１６を引き渡す引渡し位置１７１Ｃとの間を昇降可能となっている。ここで、水平リフタベース１７１が被試験品受け取り位置１７１Ａに位置している状態では、その上に載っているパレット１６の表面外周部分が搬入口２１の外周縁部分に密着して、搬入口２１が内側から封鎖された状態が形成される。
【００３２】
次に、出口リフタ１８は、パレット１６を載せるための水平リフタベース１８１と、水平リフタベース１８１を垂直に案内するための垂直案内レール１８２とを備えている。水平リフタベース１８１は、エアー駆動などにより昇降可能となっており、当該水平リフタベース１８１の真上に搬出口２４が位置している。
【００３３】
出口リフタ１８の水平リフタベース１８１は、回送路１５Ａの後端に空のパレット１６を引き渡す空パレット引渡し位置１８１Ａと、パレット１６を搬出口２４まで上昇させて環境試験終了後の被試験品２を外部に搬出可能にするための被試験品搬出位置１８１Ｂと、搬送路１４Ａの後端から被試験品２を載せたパレット１６を受け取る受け取り位置１８１Ｃとの間を昇降可能となっている。また、水平リフタベース１８１を被試験品搬出位置１８１Ｂに位置させた状態では、その上に載っているパレット１６の表面外周部分が搬出口２４の外周縁部分に密着して、当該搬出口２５が内側から封鎖された状態が形成される。
【００３４】
（動作説明）
図４および図５を参照して、この構成の環境試験装置３の動作を説明する。まず、図４（ａ）〜（ｆ）は、試験槽１２に被試験品２を搬入する動作を示す説明図である。被試験品２を試験槽１２内に搬入する際には、図４（ａ）に示すように、入口リフタ１７の水平リフタベース１７１を垂直案内レール１７２に沿って下降させ、空パレット受け取り位置１７１Ａに配置する。空パレット受け取り位置１７１Ａは、水平リフタベース１７１が回送路１５Ａと等しい高さ位置となるように設定されている。このため、パレット回送機構１５によって回送路１５Ａの前端まで戻された空のパレット１６を、不図示の機構により１ストローク分だけ水平リフタベース１７１の側に送りだすと、図４（ｂ）に示すように、空のパレット１６が水平リフタベース１７１に引き渡される。
【００３５】
次に、図４（ｃ）に示すように、水平リフタベース１７１を垂直案内レール１７２に沿って上昇させ、水平リフタベース１７１を被試験品受け取り位置１７１Ｂまで上昇させる。水平リフタベース１７１が被試験品受け取り位置１７１Ｂまで上昇すると、その上に載っているパレット１６によって搬入口２１が内側から封鎖された状態になる。
【００３６】
パレット１６によって搬入口２１が内側から封鎖された後は、図４（ｄ）に示すように、蓋開閉機構２３（図１（ｂ）参照）により搬入口開閉蓋２２を開き、不図示の被試験品供給機構（環境試験装置４側では下流側搬送ロボット７が相当）により供給される被試験品２を外部から搬入口２１を介してパレット１６の上に載せる。
【００３７】
被試験品２をパレット１６に載せた後は、図４（ｅ）に示すように、蓋開閉機構２３により搬入口開閉蓋２２を閉じて、搬入口２１を外側から封鎖する。
【００３８】
しかる後に、図４（ｆ）に示すように、入口リフタ１７の水平リフタベース１７１を垂直案内レール１７２に沿って下降させて引渡し位置１７１Ｃまで移動する。この引渡し位置１７１Ｃでは、水平リフタベース１７１と搬送路１４Ａが同一高さ位置となっている。したがって、この位置にあるパレット１６をパレット搬送機構１４の送りシャフト１４４、１４５によって送り出すことができる。送り出されたパレット１６は、搬送路１４Ａの前端に引き渡される。パレット１６を引き渡した後は、入口リフタ１７の水平リフタベース１７１を空パレット受け取り位置１７１Ｂに下降させて（図４（ａ）の状態）、次の被試験品２の搬入動作を行う。
【００３９】
このように、常に、搬入口２１が封鎖された状態で、被試験品２を試験槽１２に搬入することができる。
【００４０】
次に、搬送路１４Ａに引き渡されたパレット１６は、パレット搬送機構１４によって搬送路１４Ａに沿って第１の周期で第１のストロークずつ間歇的に前方に送り出される。この間歇搬送の間にパレット１６に載っている被試験品２には、温度制御機構１３によって所定温度に制御された風が吹き付けられ、当該被試験品２は所定の環境試験温度状態になる。このように環境試験が行われながら被試験品２を載せたパレット１６が搬送路１４Ａの後端まで搬送される。搬送路１４Ａの後端まで搬送されたパレット１６は次のようにして、試験槽１２から搬出される。
【００４１】
図５（ａ）〜（ｆ）は、試験槽１２から被試験品２を搬出する動作を示す説明図である。図５（ａ）に示すように、出口リフタ１８の水平リフタベース１８１を垂直案内レール１８２に沿って昇降させ、受け取り位置１８１Ｃに位置させる。受け取り位置１８１Ｃにある水平リフタベース１８１は、搬送路１４Ａと等しい高さ位置にある。このため、搬送路１４Ａの後端に到ったパレット１６を送りシャフト１４４、１４５で１ストローク分だけ更に送り出すことにより、図５（ｂ）に示すように、搬送路１４Ａの後端から水平リフタベース１８１に、環境試験終了後の被試験品２を載せたパレット１６を引き渡すことができる。
【００４２】
次に、図５（ｃ）に示すように、水平リフタベース１８１を垂直案内レール１８２に沿って上昇させ、水平リフタベース１８１を被試験品搬出位置１８１Ｂまで上昇させる。被試験品搬出位置１８１Ｂにおいては、パレット１６の表面外周部分が搬出口２４の外周縁部分に密着して、搬出口２４が内側から封鎖された状態になる。
【００４３】
パレット１６で搬出口２４を内側から封鎖した後に、図５（ｄ）に示すように、蓋開閉機構２６（図１（ｂ）参照）により搬出口開閉蓋２５を開き、上流側移送ロボット６（図１（ｂ）参照）により搬出口２４から被試験品２を取り出し、環境試験装置４の上流側に移送する。
【００４４】
被試験品２を取り出した後は、図５（ｅ）に示すように、蓋開閉機構２６により搬入口開閉蓋２５を閉じて、搬入口２４を外側から封鎖する。
【００４５】
しかる後に、図５（ｆ）に示すように、出口リフタ１８の水平リフタベース１８１を垂直案内レール１８２に沿って下降させ、引渡し位置１８１Ａまで移動する。引渡し位置１８１Ａの水平リフタベース１８１は、回送路１５Ａと等しい高さ位置にある。このため、水平リフタベース１８１上のパレット１６をパレット回送機構１５の送りシャフトにより回送路１５Ａの側に送り出すことにより、パレット１６を回送路１５Ａに引き渡すことができる。パレット１６を渡した後は、出口リフタ１８の水平リフタベース１８１を受け取り位置１８１Ｃに上昇させ（図５（ａ）の状態）、次の被試験品２の搬出を行う。従って、被試験品２の搬出も、常に、搬出口２４が封鎖された状態で行われる。
【００４６】
回送路１５Ａの後端に乗った空のパレット１６は、パレット回送機構１５の送りシャフト１５１、１５２によって、第１の周期よりも大幅に短い第２の周期で、第１のストロークずつ間歇的に試験層２の前端側に向けて送り戻される。換言すると、搬送路１４Ａを搬送されるパレット搬送速度よりも大幅に早い速度で回送路１５Ａに沿って送り戻される。回送路１５Ａの前端に戻された空のパレット１６は、前述したように、入口リフタ１７に引き渡されて、搬入口２１を封鎖した状態で被試験品２を受け取った後に、搬送路１４Ａの前端に引き渡される。
【００４７】
このように、本実施の形態に係る環境試験装置３では、パレット１６が試験槽１２の内部に形成した搬送路１４Ａおよび回送路１５Ａを経由して循環し、試験槽１２の外部に出ることがない。よって、一旦、試験槽１２内を環境試験温度の状態にした後は、被試験品２に比べて熱量の大きなパレット１６を再度、加熱あるいは冷却する必要がない。従って、新たに搬入された被試験品２のみを環境試験温度状態まで加熱あるいは冷却するだけでよいので、温度制御機構の熱負荷を低減できる。また、搬送路１４Ａも短くで済むので、効率良く環境試験を行うことができる。
【００４８】
また、回送路１５Ａを経由して速い速度で空のパレット１６を送り戻すようにしている。これにより、搬送路１４Ａ上のパレット数を低減することなく、回送路１５Ａ上のパレット数を少なくできる。この結果、被試験品２の搬送量を低減させることなく（すなわち、試験槽の処理能力を低減させることなく）、試験槽１２内のパレット数を全体として少なくできる。熱容量の大きなパレット１６の枚数を低減することにより、試験槽１２の温調負荷を一層小さくできる。特に、試験開始時において試験槽内の温度を所定温度状態となるまで加熱あるいは冷却する立ち上げ運転時における温調負荷を大幅に低減でき、立ち上げ時間も短縮化できる。
【００４９】
次に、本実施の形態に係る環境試験装置３では、被試験品２を搬送するために用いるパレット１６を利用して、搬入口２１および搬出口２４を内側から封鎖可能である。従って、被試験品２の搬入および搬出を、試験槽１２を完全に封鎖した状態で行うことができる。よって、試験槽１２内に外気が侵入することを完全に防止できるので、試験槽１２の内部を効率良く所定温度の状態に移行させることができる。また、試験槽１２内への外気の進入を防止することにより、温度制御機構１３の構成部品である冷却器１３１に霜がつくことがないので、除霜が不要となり、連続運転が可能となる。
【００５０】
（その他の実施の形態）
上記の例では、回送路１５Ａに沿って短い周期で空のパレットを間歇的に送るようにしているが、周期を同一とし、より長いストロークで回送路１５Ａに沿ってパレット１６を送るようにしてもよい。勿論、周期を短くして、より長いストロークでパレット１６を回送するようにしてもよい。
【００５１】
また、上記の例では搬送機構１４、回送機構１５として間歇搬送機構、間歇回送機構を用いている。この代わりに、ベルトコンベヤあるいはメッシュコンベヤを用いることも可能である。しかし、この場合には、コンベヤ潤滑部分のグリースによる汚れや、コンベヤ各部分の熱変形などに起因して、上記構成の間歇機構に比べて信頼性に劣ることがある。
【００５２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の環境試験装置では、試験槽の内部に、被試験品を載せたパレットを搬送するための搬送路と、試験終了後に被試験品が取り除かれた後の空のパレットを回送するための回送路とを配置し、パレットを試験槽内で循環させるようにしている。従って、パレットは試験槽の外に搬出されることが無いので、一旦所定温度状態に加熱あるいは冷却された後は、常に所定温度状態に保持される。また、回送路に沿って送り戻されるパレットの速度を搬送路に沿って搬送されるパレットの速度よりも速くしてあるので、搬送路上のパレット数を低減することなく、回送路上のパレット数を少なくでき、試験槽内のパレット総数を低減できる。
【００５３】
よって、本発明によれば、熱量の大きなパレットを繰り返し加熱あるいは冷却する必要がないので、試験槽の温調負荷を小さくできる。また、熱量の小さな被試験品のみを所定温度状態になるように加熱あるいは冷却すればよいので、効率良く環境試験を行うことができ、試験槽の小型化も図ることができる。さらに、試験槽の処理能力を低減することなく、試験槽内のパレット総数を低減できるので、特に運転開始時における立ち上げ時の温調負荷を小さくできる。これに加えて、パレット総数を低減できるので、治工具に掛かる費用も低減できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）および（ｂ）は、本発明を適用した環境試験装置を用いた環境試験システムを示す概略平面構成図および概略縦断面図である。
【図２】図１の環境試験装置の概略横断面図である。
【図３】環境試験装置のパレット搬送機構を示す斜視図である。
【図４】（ａ）ないし（ｆ）は、環境試験装置の試験槽に被試験品を搬入する動作を示す説明図である。
【図５】（ａ）ないし（ｆ）は、環境試験装置の試験槽から被試験品を搬出する動作を示す説明図である。
【符号の説明】
１  環境試験システム
２  被試験品
３、４  環境試験装置
５  計測ステーション
６  上流側移送ロボット
７  下流側移送ロボット
８  計測器
１１  断熱箱
１２  試験槽
１３  温度制御機構
１４  搬送機構
１４Ａ  搬送路
１５  回送機構
１５Ａ  回送路
１６  パレット
１７  入口リフタ
１８  出口リフタ
２１  搬入口
２２  搬入口開閉蓋
２４  搬出口
２５  搬出口開閉蓋
４１  垂直仕切り板
１３１  冷却器
１３２  加熱器
１３３  送風機
１４１、１４２  水平案内レール
１４３  突出片
１４４、１４５  送りシャフト
１４６  軸受部材
１４７  送り用エアシリンダ
１４８、１４９  回転用エアシリンダ
１５１、１５２  水平案内レール
１６ａ、１６ｂ  係合突起
１７１、１８１  水平リフタベース
１７２、１８２  垂直案内レール
１７１Ａ  空パレット受け取り位置
１７１Ｂ  被試験品受け取り位置
１７１Ｃ  引渡し位置
１８１Ａ  空パレット引渡し位置
１８１Ｂ  被試験品搬出位置
１８１Ｃ  受け取り位置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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