(57)【要約】【課題】この発明は、光ディスクの透明基板の厚み誤差を正確に検出することを可能とした光ヘッド及び光ディスク装置を提供することを目的としている。【解決手段】半導体レーザ光源１から出射された光ビーム５１を、ホログラム３により０次光５２と±１次光５３ａ，５３ｂとに回折し、対物レンズ７を介して光ディスク８の記録再生面８ｂ上に集光させ、その反射光６２，６３ａ，６３ｂを光検出器１２に受光させる。このうち、±１次光５３ａ，５３ｂの反射光６３ａ，６３ｂによる光検出器１２の出力からそれぞれ生成されたトラッキング誤差信号ＴＥａ，ＴＥｂを演算して、光ディスク８の透明基板８ａの厚み誤差に対応した信号ＳＥを得る。【選択図】　　図１
2004014039.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出射された光ビームを、第１の光ビームと一対の第２の光ビームとに回折する回折部と、
この回折部から出射された第１及び一対の第２の光ビームに、外部からの制御入力に基づいた球面収差成分を与える球面収差補正部と、
この球面収差補正部から出射された第１及び一対の第２の光ビームを、光ディスクの記録再生面上に集光させる対物レンズと、
前記光ディスクの記録再生面で反射され、前記対物レンズを介して入射される前記第１及び一対の第２の光ビームをそれぞれ受光する受光部を有する光検出器とを具備してなることを特徴とする光ヘッド。
【請求項２】
前記回折部は、それを透過する光ビームを、前記第１の光ビームと、極性の異なるチルト成分及び極性の異なる同量の球面収差成分を有する前記一対の第２の光ビームとに回折することを特徴とする請求項１記載の光ヘッド。
【請求項３】
前記回折部は、入射された光ビームを回折する光ビーム回折領域と、入射された光ビームを透過させる透明基板領域とに分割されていることを特徴とする請求項１記載の光ヘッド。
【請求項４】
前記回折部は、前記光源と、この光源から出射され前記回折部で回折された前記前記第１及び一対の第２の光ビームを前記対物レンズに導くとともに、前記光ディスクの記録再生面で反射された前記第１及び一対の第２の光ビームを前記光検出器に導くビームスプリッタとの間に配置されることを特徴とする請求項１記載の光ヘッド。
【請求項５】
前記一対の第２の光ビームによって前記光ディスクの記録再生面に形成される各集光スポットは、前記第１の光ビームによって前記光ディスクの記録再生面に形成される集光スポットの位置を挟んで、前記光ディスクのトラッキング方向に所定のオフセットを持つ位置に形成されることを特徴とする請求項２記載の光ヘッド。
【請求項６】
前記光検出器は、前記光ディスクの記録再生面で反射された前記第１の光ビームを受光する第１の受光部と、前記光ディスクの記録再生面で反射された前記一対の第２の光ビームのうちの一方を受光する第２の受光部と、前記光ディスクの記録再生面で反射された前記一対の第２の光ビームのうちの他方を受光する第３の受光部とを備え、
前記第１の受光部は、各領域からの出力信号を演算することにより、前記第１の光ビームによって前記光ディスクの記録再生面に形成される集光スポットに対するトラッキング誤差信号及びフォーカス誤差信号を生成可能な複数の受光領域を有し、
前記第２の受光部は、各領域からの出力信号を演算することにより、前記一方の第２の光ビームによって前記光ディスクの記録再生面に形成される集光スポットに対するトラッキング誤差信号を生成可能な複数の受光領域を有し、
前記第３の受光部は、各領域からの出力信号を演算することにより、前記他方の第２の光ビームによって前記光ディスクの記録再生面に形成される集光スポットに対するトラッキング誤差信号を生成可能な複数の受光領域を有することを特徴とする請求項２記載の光ヘッド。
【請求項７】
前記回折部は、それを透過する光ビームを、前記光ディスクに対して記録再生用となる０次光と、極性の異なるチルト成分及び極性の異なる同量の球面収差成分を有し、前記光ディスクの透明基板の厚み誤差検出用となる±１次光とに回折するホログラムであることを特徴とする請求項１記載の光ヘッド。
【請求項８】
前記光ディスクの記録再生面上におけるトラックピッチをＰｔとすると、前記±１次光によって前記光ディスクの記録再生面に形成される各集光スポットは、前記０次光によって前記光ディスクの記録再生面に形成される集光スポットの位置に対して、前記光ディスクのトラッキング方向に±Ｐｔ／２または±Ｐｔ／４のオフセットを持つ位置に形成されることを特徴とする請求項７記載の光ヘッド。
【請求項９】
前記球面収差補正部は、入射波面に対して、その出射波面を外部からの制御入力に基づいて変化させる液晶波面変換素子であることを特徴とする請求項１記載の光ヘッド。
【請求項１０】
前記球面収差補正部は、並設された凹レンズと凸レンズとの間隔を、外部からの制御入力に基づいて変化させるものであることを特徴とする請求項１記載の光ヘッド。
【請求項１１】
光源から出射された光ビームを第１の光ビームと一対の第２の光ビームとに回折する回折部と、この回折部から出射された第１及び一対の第２の光ビームに外部からの制御入力に基づいた球面収差成分を与える球面収差補正部と、この球面収差補正部から出射された第１及び一対の第２の光ビームを光ディスクの記録再生面上に集光させる対物レンズと、前記光ディスクの記録再生面で反射され前記対物レンズを介して入射される第１及び一対の第２の光ビームをそれぞれ受光する受光部を有する光検出器とを備えた光ヘッドと、
前記光検出器の出力に基づいて、前記光ディスクの透明基板の厚み誤差を検出する検出部とを具備してなることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
前記検出部は、前記光検出器の前記第１の光ビームを受光する受光部の出力と、前記光検出器の前記一対の第２の光ビームのうちの一方を受光する受光部の出力とに基づいて、前記光ディスクの透明基板の厚み誤差を検出することを特徴とする請求項１１記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記検出部は、前記光検出器の前記一対の第２の光ビームのうちの一方を受光する受光部の出力に基づいて、該一方の第２の光ビームによって前記光ディスクの記録再生面に形成される集光スポットに対する第１のトラッキング誤差信号を生成し、前記光検出器の前記一対の第２の光ビームのうちの他方を受光する受光部の出力に基づいて、該他方の第２の光ビームによって前記光ディスクの記録再生面に形成される集光スポットに対する第２のトラッキング誤差信号を生成し、これら第１及び第２のトラッキング誤差信号に基づいて、前記光ディスクの透明基板の厚み誤差を検出することを特徴とする請求項１１記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記検出部は、前記第１のトラッキング誤差信号と前記第２のトラッキング誤差信号との差分を演算することによって、前記光ディスクの透明基板の厚み誤差に対応した信号を得ることを特徴とする請求項１３記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記検出部で検出された前記光ディスクの透明基板の厚み誤差に基づいて、前記球面収差補正部に与える前記制御入力を生成する生成手段を具備してなることを特徴とする請求項１３記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記生成手段による前記球面収差補正部の制御は、フォーカス制御とトラッキング制御との間に行なうことを特徴とする請求項１５記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
前記生成手段による前記球面収差補正部の制御は、フォーカス制御とトラッキング制御との後に行なうことを特徴とする請求項１５記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、光ディスクに対して情報の記録または再生を行なう光ヘッド及び光ディスク装置に係り、特にその光ディスクの透明基板の厚みを検出するものに関する。
【０００２】
【従来の技術】
周知のように、光ディスクは、透明基板と硬質保護層との間に記録再生面が挟まれた構造を有している。そして、光ヘッドから出射された集光ビームは、透明基板を透過して記録再生面に照射される。これにより、記録再生面への情報の記録、または、記録再生面からの情報の再生が行なわれる。
【０００３】
ところで、一般に、集光ビームが透過する透明基板の厚みは、製造ばらつき等に起因して不均一であり、数十μｍ程度の厚み誤差が生じている。そして、集光ビームが、厚み誤差のある透明基板を透過して記録再生面に照射される場合、球面収差により記録再生面上における光スポットの形状が変化する。
【０００４】
これにより、記録再生面に情報をいかに正確に書き込むことができるかという記録精度、または、記録再生面から情報をいかに正確に読み取ることができるかという再生精度が劣化し、光ディスクに対する情報の記録または再生を正確で安定に行なうことが困難になる。
【０００５】
このため、光ディスクに対する情報の記録または再生を正確で安定に行なうためには、光ヘッド内部に透明基板の厚み誤差により発生する球面収差を補正する機能を付加し、球面収差による記録再生面上の光スポットの形状変化を許容値内に収める必要がある。
【０００６】
そして、このような球面収差の補正を行なう場合には、発生した球面収差量、または、原因となる透明基板の厚み誤差を正確に検出することが必要になる。透明基板の厚みを検出する手段としては、例えば、特開２０００−７６６６５号公報に示されるような方式がある。
【０００７】
これは、通常の光ヘッドに、透明基板の厚みを検出するための専用の光ビームを発生させる手段と、その光ビームを検出する手段とを付加することによって、透明基板の厚みを検出するようにしたものである。
【０００８】
具体的に言えば、対物レンズの中心領域の曲率を変化させ、対物レンズを通過する光ビームの中心付近を用いて透明基板の厚みを検出している。また、光路中に配置したホログラム素子による１次回折光を利用して、透明基板の厚みを検出している。
【０００９】
そして、記録再生面からの反射光と透明基板表面からの反射光とを検出用ホログラムに導き、再生信号やフォーカス誤差信号等に処理される光ビームと、透明基板の厚みを検出するための光ビームとに分割し、それぞれの光ビームを光検出器で検出して演算処理を実行する。
【００１０】
この演算処理は、記録再生面からの反射光によるフォーカス誤差信号と、透明基板の表面による反射光から得られる信号に所定の比例係数を乗算した信号との差分をとるようにしたもので、この差分信号を透明基板の厚みを検出した信号としている。
【００１１】
しかしながら、対物レンズの中心領域の曲率を変化させる方式では、記録再生面に照射されるまでの光ビームの光路と、記録再生面から反射された後の光ビームの光路とが異なるため、信号の分離が難しくなり、正確な透明基板の厚み検出信号を得ることが困難になるという問題が生じている。
【００１２】
また、記録再生面からの反射光と透明基板の表面からの反射光とを、屈折効果を有するホログラム素子により分割しているため、透明基板の厚み誤差の検出範囲が、フォーカス誤差信号と同じ検出範囲に限られるという不都合も生じることになる。
【００１３】
一方、光路中に配置したホログラム素子による１次回折光を、透明基板の厚みを検出するための光ビームとする方式では、光ディスクへの光ビームの照射時及び光ディスクからの光ビームの反射時に、それぞれ０次回折光と高次回折光とが発生するため、やはり信号の分離が難しくなるという問題がある。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
以上のように、従来の透明基板の厚みを検出する手段では、記録再生面からの反射光と透明基板表面からの反射光との分離が困難であり、また、透明基板の厚み誤差の検出範囲がフォーカス誤差信号と同じ検出範囲に限られるという問題を有している。
【００１５】
そこで、この発明は上記事情を考慮してなされたもので、光ディスクの透明基板の厚み誤差を正確に検出することを可能とした極めて良好な光ヘッド及び光ディスク装置を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る光ヘッドは、光源から出射された光ビームを第１の光ビームと一対の第２の光ビームとに回折する回折部と、この回折部から出射された第１及び一対の第２の光ビームに外部からの制御入力に基づいた球面収差成分を与える球面収差補正部と、この球面収差補正部から出射された第１及び一対の第２の光ビームを光ディスクの記録再生面上に集光させる対物レンズと、光ディスクの記録再生面で反射され対物レンズを介して入射される第１及び一対の第２の光ビームをそれぞれ受光する受光部を有する光検出器とを備えている。
【００１７】
また、この発明に係る光ディスク装置は、光源から出射された光ビームを第１の光ビームと一対の第２の光ビームとに回折する回折部と、この回折部から出射された第１及び一対の第２の光ビームに外部からの制御入力に基づいた球面収差成分を与える球面収差補正部と、この球面収差補正部から出射された第１及び一対の第２の光ビームを光ディスクの記録再生面上に集光させる対物レンズと、光ディスクの記録再生面で反射され対物レンズを介して入射される第１及び一対の第２の光ビームをそれぞれ受光する受光部を有する光検出器とを備えた光ヘッドと、
光検出器の一対の第２の光ビームのうちの一方を受光する受光部の出力に基づいて、該一方の第２の光ビームによって光ディスクの記録再生面に形成される集光スポットに対する第１のトラッキング誤差信号を生成し、光検出器の一対の第２の光ビームのうちの他方を受光する受光部の出力に基づいて、該他方の第２の光ビームによって光ディスクの記録再生面に形成される集光スポットに対する第２のトラッキング誤差信号を生成し、これら第１及び第２のトラッキング誤差信号に基づいて、光ディスクの透明基板の厚み誤差を検出する検出部とを備えている。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。図１は、この実施の形態で説明する光ヘッドの光学系を示している。すなわち、半導体レーザ光源１からの出射光５１は、コリメートレンズ２により平行光ビームに変換された後、ホログラム３に入射される。
【００１９】
このホログラム３は、それを透過する光ビームを、記録再生用の光ビームとなる０次光５２と、後述する光ディスク８の透明基板８ａの厚み誤差検出用の光ビームとなる±１次光５３ａ，５３ｂとに回折する。このホログラム３により回折された±１次光５３ａ，５３ｂの波面は、極性の異なるチルト成分と、極性の異なる同量の球面収差成分とを有する。
【００２０】
そして、このホログラム３から出射された０次光５２及び±１次光５３ａ，５３ｂは、偏光ビームスプリッタ４、λ／４板５及び球面収差補正部６を透過した後、対物レンズ７により光ディスク８の透明基板８ａを介して記録再生面８ｂ上に集光される。
【００２１】
ここで、透明基板８ａの厚みが、設計値（例えば０．１ｍｍ）に等しい場合について説明する。この場合、対物レンズ７によって集光された０次光５２は、図２に示すように、記録再生面８ｂ上にほぼ無収差の集光スポットＳ５２を形成する。
【００２２】
また、対物レンズ７によって集光された±１次光５３ａ，５３ｂは、それぞれ、ホログラム３で与えられたチルト成分により、０次光５２による集光スポットＳ５２とは異なる記録再生面８ｂ上の位置に、集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂを形成する。
【００２３】
この場合、±１次光５３ａ，５３ｂによる集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂは、ホログラム３で与えられる球面収差成分により、０次光５２による集光スポットＳ５２の径よりも大きい径を有する。
【００２４】
また、記録再生面８ｂに形成されたトラックＴの、光ディスク８のトラッキング（径）方向の間隔（トラックピッチ）をＰｔとすると、±１次光５３ａ，５３ｂによる集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂは、０次光５２による集光スポットＳ５２の位置に対して、光ディスク８のトラッキング方向に±Ｐｔ／２のオフセットを持つ位置に形成される。
【００２５】
さらに、±１次光５３ａ，５３ｂによる集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂは、極性は異なるが、ホログラム３により同量の球面収差成分が与えられているために、それぞれの径が等しくなっている。
【００２６】
そして、記録再生面８ｂによる０次光５２の反射光６２と、±１次光５３ａ，５３ｂの反射光６３ａ，６３ｂとは、対物レンズ７、球面収差補正部６及びλ／４板５を逆行し、偏向ビームスプリッタ４によりほぼ直角に反射された後、非点収差検出系を構成する集光レンズ１０及び円筒レンズ１１を透過して、光検出器１２に受光される。
【００２７】
この光検出器１２は、図３に示すように、０次光５２の反射光６２が受光される４つの受光領域ａ，ｂ，ｃ，ｄからなる受光部１２ａと、＋１次光５３ａの反射光６３ａが受光される２つの受光領域ｅ，ｆからなる受光部１２ｂと、−１次光５３ｂの反射光６３ｂが受光される２つの受光領域ｇ，ｈからなる受光部１２ｃとを備えている。
【００２８】
そして、０次光５２の反射光６２は、受光部１２ａの各受光領域ａ〜ｄの出力を以下のように演算することにより、再生信号ＨＦ、非点収差方式によるフォーカス誤差信号ＦＥ及びプッシュプル方式によるトラッキング誤差信号ＴＥ等の生成に供される。
【００２９】
ＨＦ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ
ＦＥ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）
ＴＥ＝（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）
また、±１次光５３ａ，５３ｂの反射光６３ａ，６３ｂは、それぞれ、受光部１２ｂ，１２ｃの各受光領域ｅ，ｆ及びｇ，ｈの出力を以下のように演算することにより、プッシュプル方式によるトラッキング誤差信号ＴＥａ，ＴＥｂの生成に供される。
【００３０】
ＴＥａ＝ｅ−ｆ
ＴＥｂ＝ｇ−ｈ
ここで、一般に、トラッキング誤差信号の振幅レベルは、記録再生面８ｂ上における集光スポットの径の大きさに依存し、集光スポット径が小さくなるほど振幅レベルが大きくなる。
【００３１】
今、透明基板８ａの厚みが設計値に等しい場合を考えているので、図２に示したように、±１次光５３ａ，５３ｂによる集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂの径は、等しくなっている。
【００３２】
このため、±１次光５３ａ，５３ｂの反射光６３ａ，６３ｂから生成されたトラッキング誤差信号ＴＥａ，ＴＥｂは、それぞれ、図４（ａ），（ｂ）に示すように、トラッキングずれ方向に対して極性が異なるが、その振幅レベルはほぼ等しくなっている。
【００３３】
次に、透明基板８ａの厚みが、設計値（例えば０．１ｍｍ）と異なる場合について説明する。この場合、対物レンズ７によって集光された０次光５２は、透明基板８ａの厚み誤差の大きさに依存した球面収差が与えられるため、図５に示すように、記録再生面８ｂ上に無収差時よりも大きな径の集光スポットＳ５２を形成する。
【００３４】
また、対物レンズ７によって集光された±１次光５３ａ，５３ｂは、それぞれ、０次光５２による集光スポットＳ５２の位置に対して、光ディスク８のトラッキング方向に±Ｐｔ／２のオフセットを持つ位置に集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂを形成する。
【００３５】
この場合、±１次光５３ａ，５３ｂによる集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂは、ホログラム３で与えられる球面収差成分に、透明基板８ａの厚み誤差の大きさに依存した球面収差が加わるため、それぞれの球面収差量が異なる。つまり、±１次光５３ａ，５３ｂによる集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂは、その径が等しくならないことになる。
【００３６】
このため、±１次光５３ａ，５３ｂの反射光６３ａ，６３ｂから生成されたトラッキング誤差信号ＴＥａ，ＴＥｂは、それぞれ、図６（ａ），（ｂ）に示すように、その振幅レベルが異なる。
【００３７】
すなわち、透明基板８ａの厚みが設計値と等しい場合には、±１次光５３ａ，５３ｂの反射光６３ａ，６３ｂから生成されたトラッキング誤差信号ＴＥａ，ＴＥｂの振幅レベルが等しくなり、透明基板８ａの厚みが設計値と等しくない場合には、±１次光５３ａ，５３ｂの反射光６３ａ，６３ｂから生成されたトラッキング誤差信号ＴＥａ，ＴＥｂの振幅レベルが異なることになる。
【００３８】
これにより、各トラッキング誤差信号ＴＥａ，ＴＥｂの振幅レベルａｍｐＴＥａ，ａｍｐＴＥｂの差が、透明基板８ａの厚み誤差に対応していることになるので、
ａｍｐＴＥａ−ａｍｐＴＥｂ
なる演算を行なうことにより、透明基板厚み誤差信号ＳＥを得ることができる。この演算によって得られた透明基板厚み誤差信号ＳＥは、その極性が透明基板８ａの厚み誤差の方向、つまり、厚いか薄いかを示し、その絶対値が厚み誤差の大きさを表わしている。
【００３９】
次に、透明基板８ａの厚み誤差を補正するときのサーボ制御の順序について説明する。まず、０次光５２の反射光６２からフォーカス誤差信号ＦＥを生成し、このフォーカス誤差信号用いて対物レンズ７をフォーカス制御する。このフォーカス制御状態で、各反射光６２，６３ａ，６３ｂからトラッキング誤差信号ＴＥ，ＴＥａ，ＴＥｂと透明基板厚み誤差信号ＳＥとを生成する。そして、透明基板厚み誤差信号ＳＥを用いて透明基板８ａの厚み誤差の補正制御を行なった後、トラッキング誤差信号ＴＥを用いてトラッキング制御を実行する。
【００４０】
次に、透明基板厚み誤差信号ＳＥの検出感度について説明する。透明基板厚み誤差信号ＳＥの検出感度は、透明基板８ａに厚み誤差があるときの、±１次光５３ａ，５３ｂによる集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂの径の大きさの差に依存する。つまり、ホログラム３が±１次光５３ａ，５３ｂに付加する球面収差量に依存する。
【００４１】
図７は、ホログラム３が付加する球面収差量を、例えば透明基板８ａの厚み誤差が５μｍであるときに発生する球面収差量と等しく設定したときにおける、０次光５２及び±１次光５３ａ，５３ｂの波面収差と透明基板８ａの厚み誤差との関係を示している。
【００４２】
次に、透明基板８ａの厚み誤差の補正制御について説明する。これは、透明基板厚み誤差信号ＳＥから球面収差の補正量を決定し補正を実行するものである。球面収差補正部６は、液晶波面変換素子であり、図８に示すように、平凹レンズ３１と平凸レンズ３２とを組み合わせたもので、平凹レンズ３１をアクチュエータ３５で光軸方向に移動可能に構成されている。
【００４３】
そして、透明基板８ａの厚みが設定値と等しい場合には、球面収差補正部６に対する入射波面と出射波面とが変化しないように、平凹レンズ３１と平凸レンズ３２との間隔を設定する。また、透明基板８ａの厚みが設定値と等しくない場合には、平凹レンズ３１と平凸レンズ３２との間隔を変化させることにより、球面収差補正部６の出射波面を変化させて、記録再生面８ｂ上の集光スポットに球面収差を付加することができる。
【００４４】
このような構成の場合、平凹レンズ３１と平凸レンズ３２との間隔と、透明基板８ａの厚み誤差の補正量とは比例関係にあるため、透明基板厚み誤差信号ＳＥを直接、平凹レンズ３１と平凸レンズ３２との間隔を変化させる信号として用いることにより、透明基板８ａの厚み誤差による球面収差の補正が可能となる。
【００４５】
そこで、上記した光ヘッドを備えた光ディスク装置としては、図８に示すように、光検出器１２の受光部１２ｂ，１２ｃの出力を演算回路３６に供給して、上記したように透明基板厚み誤差信号ＳＥを生成させる。そして、この生成した透明基板厚み誤差信号ＳＥに基づいて、駆動回路３７によりアクチュエータ３５を駆動させ、球面収差補正部６を制御することができる。
【００４６】
なお、上記ホログラム３は、全面がホログラム領域である必要はなく、その入射光のうち、０次光５２及び±１次光５３ａ，５３ｂが対物レンズ７に入射しない範囲については、透明基板でも良いものである。
【００４７】
また、ホログラム３のホログラム領域を小さくし、±１次光５３ａ，５３ｂが対物レンズ７に入射する範囲を小さくして、実効的に対物レンズ７の開口数を小さくしても同様の効果を得ることができる。
【００４８】
さらに、フォーカス誤差信号ＦＥは、非点収差方で得なくても良い。同様に、トラッキング誤差信号ＴＥも、プッシュプル方で得なくても良い。
【００４９】
また、０次光５２及び±１次光５３ａ，５３ｂの光量分割比を基に、反射光６２と６３ａまたは６３ｂから得られるトラッキング誤差信号ＴＥとＴＥａまたはＴＥｂを利用して、透明基板厚み誤差信号ＳＥを演算しても良い。
【００５０】
さらに、反射光６３ａ，６３ｂから得られるトラッキング誤差信号ＴＥａ，ＴＥｂを利用して、差動プッシュプル方を併用することも可能である。
【００５１】
また、先に述べたように、±１次光５３ａ，５３ｂによる集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂは、０次光５２による集光スポットＳ５２の位置に対して、光ディスク８のトラッキング方向に±Ｐｔ／２のオフセットを持つ位置に形成される。このため、０次光５２による集光スポットＳ５２に対するトラッキング制御後でも、トラッキング誤差信号ＴＥａ，ＴＥｂの振幅レベルは０にならない。
【００５２】
これにより、透明基板厚み誤差信号ＳＥを
ＳＥ＝ＴＥａ−ＴＥｂ
として、反射光６２から生成されたフォーカス誤差信号ＦＥを用いてフォーカス制御を行ない、反射光６２，６３ａ，６３ｂから生成されるトラッキング誤差信号ＴＥ，ＴＥａ，ＴＥｂを用いてトラッキング制御を行ない、透明基板厚み誤差信号ＳＥを用いて透明基板８ａの厚み誤差の補正制御を行なうようにすることも可能である。
【００５３】
さらに、±１次光５３ａ，５３ｂによる集光スポットＳ５３ａ，Ｓ５３ｂは、０次光５２による集光スポットＳ５２の位置に対して、光ディスク８のトラッキング方向に±Ｐｔ／４のオフセットを持つ位置に形成しても良い。
【００５４】
なお、この発明は上記した実施の形態に限定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
【００５５】
【発明の効果】
以上詳述したようにこの発明によれば、光ディスクの透明基板の厚み誤差を正確に検出することを可能とした極めて良好な光ヘッド及び光ディスク装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態を示すもので、光ヘッドの光学系を説明するために示す図。
【図２】同実施の形態における透明基板の厚み誤差がない光ディスクの記録再生面上に形成される集光スポットを説明するために示す図。
【図３】同実施の形態における光検出器の詳細を説明するために示す図。
【図４】同実施の形態における透明基板の厚み誤差がない場合の±１次光の反射光から生成されたトラッキング誤差信号を説明するために示す特性図。
【図５】同実施の形態における透明基板の厚み誤差がある光ディスクの記録再生面上に形成される集光スポットを説明するために示す図。
【図６】同実施の形態における透明基板の厚み誤差がある場合の±１次光の反射光から生成されたトラッキング誤差信号を説明するために示す特性図。
【図７】同実施の形態における０次光及び±１次光の波面収差と透明基板の厚み誤差との関係を説明するために示す特性図。
【図８】同実施の形態における透明基板の厚み誤差を補正する手段を備えた光ディスク装置の一例を説明するために示すブロック構成図。
【符号の説明】
１…半導体レーザ光源、
２…コリメートレンズ、
３…ホログラム、
４…偏光ビームスプリッタ、
５…λ／４板、
６…球面収差補正部、
７…対物レンズ、
８…光ディスク、
１０…集光レンズ、
１１…円筒レンズ、
１２…光検出器、
３１…平凹レンズ、
３２…平凸レンズ、
３５…アクチュエータ、
３６…演算回路、
３７…駆動回路、
５１…出射光、
５２…０次光、
５３ａ，５３ｂ…±１次光、
６２…反射光、
６３ａ，６３ｂ…反射光。
【図１】
2004014039.tif 000003
【図２】
2004014039.tif 000004
【図３】
2004014039.tif 000005
【図４】
2004014039.tif 000006
【図５】
2004014039.tif 000007
【図６】
2004014039.tif 000008
【図７】
2004014039.tif 000009
【図８】
2004014039.tif 000010