(57)【要約】【課題】試験槽内を搬送される被試験品を短時間で環境試験温度の状態に到達させることのできる環境試験装置を提案すること。【解決手段】環境試験装置３の試験槽１２の内部には、被試験品２を載せたパレット１６を搬送するための搬送路１４Ａと、試験終了後に被試験品２が取り除かれた後の空のパレット１６を回送するための回送路１５Ａが配置されている。温度制御機構１３から空気吹き込み口４１ａ、４１ｂを介して試験槽１２内に吹き込まれた温調空気は、エアー供給側ダクト１２Ａによって、搬送路１４Ａ上を搬送される被試験品２に吹き付けられる。多量の温調空気を高速で被試験品２に当てることができるので、被試験品２を短時間で環境試験温度状態に到達させることができ、試験時間を短縮できる。また、搬送時間が短くて済むので、搬送路を短くでき、装置の小型化も達成できる。【選択図】      図２
2004212094.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験品に対して環境試験を行うための試験槽と、
この試験槽内に形成した搬送路に沿って、被試験品を載せたパレットを所定間隔で搬送する搬送機構と、
前記試験槽内を所定の温度状態に制御する温度制御機構とを有し、
前記温度制御機構は、前記試験槽内に温度制御された空気を吹き込むための空気吹き込み口と、当該試験槽内から空気を吸引する空気吸引口とを備えており、
前記搬送路を構成している搬送路構成部材と、前記搬送路に沿って搬送されているパレットと、前記試験槽の内壁部分とによって、前記空気吹き込み口から前記試験槽内に吹き込まれた空気を前記搬送路の表面に沿って案内するエアー供給側ダクトが形成されていることを特徴とする環境試験装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記試験槽内に形成した回送路に沿って、空のパレットを前記搬送路の搬送終了端から搬送開始端まで回送する回送機構を有しており、
前記回送路を構成している回送路構成部材と、前記回送路に沿って回送されているパレットと、前記試験槽の内壁部分とによって、前記搬送路の表面に沿って案内された後の空気を前記空気吸引口に導くエアー還流用ダクトが形成されていることを特徴とする環境試験装置。
【請求項３】
請求項２において、
前記試験槽内において、その上側に前記搬送路が水平に形成され、当該搬送路の下側位置に前記回送路が水平に形成されており、
前記試験槽の一方の側面部分の上側位置に前記空気吹き込み口が形成され、当該側面部分の下側位置に前記空気吸引口が形成されており、
前記エアー供給側ダクトは前記空気吹き込み口から吹き込まれた空気を前記搬送路の幅方向に案内するものであり、
前記エアー還流側ダクトは前記回送路の幅方向に空気を案内して前記空気吸引口に導くものであることを特徴とする環境試験装置。
【請求項４】
請求項３において、
前記搬送機構は、前記搬送路構成部材である水平に配列された案内レールと、前記案内レールに沿って前後に往復移動可能であると共に中心軸線の回りに回転可能な送りシャフトと、この送りシャフトにおいて前記中心軸線方向に沿って所定の間隔で形成された突出片と、前記送りシャフトを前後に往復移動させるシャフト送り機構と、当該送りシャフトを回転させるシャフト回転機構とを備えており、
前記回送機構は、前記回送路構成部材である水平に配列された案内レールと、前記案内レールに沿って前記第２のストロークおよび前記第２の周期で前後に往復移動可能であると共に中心軸線の回りに回転可能な送りシャフトと、この送りシャフトにおいて前記中心軸線方向に沿って所定の間隔で形成された突出片と、前記送りシャフトを前後に往復移動させるシャフト送り機構と、当該送りシャフトを回転させるシャフト回転機構とを備えており、
前記パレットは、前記案内レール上をスライド可能であり、前記突出片が所定の角度位置にあるときに当該突出片に係合可能な係合部を備えていることを特徴とする環境試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気、電子部品などの被試験品に対して試験槽内において様々な温度環境の下で通電などの環境試験を行うために用いる環境試験装置に関するものである。更に詳しくは、試験槽内において被試験品を搬送するための搬送機構を利用して被試験品に多量の温調空気を高速に吹き付けることのできる環境試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
環境試験装置は、その試験槽内に被試験品を搬入して所望の温度に保持した状態で当該被試験品に対してエージングを含む各種の環境試験を行うためのものである。かかる環境試験装置としては、温度制御された試験槽内で被試験品を所定の搬送ラインに沿って搬送しながら各種の環境試験を行う、所謂、ライン型環境試験装置と呼ばれるものが知られている。
【０００３】
このようなライン型環境試験装置は例えば下記の特許文献１に開示されている。ここに開示されているライン型環境試験装置は、温度制御された試験槽の一端に形成された搬入口を貫通して水平に延びる搬送路を配置し、この搬送路に沿って、被試験品を載せたパレットを一定間隔で試験槽内を通過させる間に、被試験品を所定温度に到達させて環境試験を行うようになっている。また、試験槽の外には、その底面下側の位置に、試験槽の後端から前端に向けて空のパレットを回送するための回送路が配置されている。環境試験が行われた後に被試験品が取り除かれた空のパレットは、この回送路を経由して搬送路の搬送開始端まで送り戻されるようになっている。
【０００４】
【特許文献１】
特開平９−１９６９９９号公報（第３−４頁、図１−６）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、パレットに載った被試験品は、試験槽内に吹き込まれた温度制御された空気（温調空気）によって、所定の温度状態となるように加熱あるいは冷却される。しかしながら、被試験品を加熱、冷却するための媒体である空気は熱容量が小さいので、効率良く温調空気を被試験品に当てないと、被試験品を所定の温度状態に到達させるための時間が長く掛かる。この結果、被試験品の載ったパレットの搬送路をその分長くする必要があるので、試験槽が大型化してしまう。また、試験時間が長くなってしまい、処理能力が低下してしまう。
【０００６】
本発明の課題は、このような点に鑑みて、試験槽内をパレットに載って搬送される被試験品を短時間で所定の温度状態まで加熱あるいは冷却することのできる環境試験装置を提案することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、本発明の環境試験装置は、
被試験品に対して環境試験を行うための試験槽と、
この試験槽内に形成した搬送路に沿って、被試験品を載せたパレットを所定間隔で搬送する搬送機構と、
前記試験槽内を所定の温度状態に制御する温度制御機構とを有し、
前記温度制御機構は、前記試験槽内に温度制御された空気を吹き込むための空気吹き込み口と、当該試験槽内から空気を吸引する空気吸引口とを備えており、
前記搬送路を構成している搬送路構成部材と、前記搬送路に沿って搬送されているパレットと、前記試験槽の内壁部分とによって、前記空気吹き込み口から前記試験槽内に吹き込まれた空気を前記搬送路の表面に沿って案内するエアー供給側ダクトが形成されていることを特徴としている。
【０００８】
本発明では、試験槽内壁部分と、搬送路構成部材およびパレットを利用して、空気吹き込み口から試験槽内に吹き込まれた温調空気を、搬送路表面に沿って案内している。従って、搬送路上をパレットに載った状態で搬送されている被試験品に対して積極的に温調空気を当てることができる。よって、多量の温調空気が被試験品に対して高速で当たるので、被試験品を短時間のうちに、環境温度試験を行うための温度状態となるように加熱あるいは冷却できる。
【０００９】
ここで、前記試験槽内に形成した回送路に沿って、空のパレットを前記搬送路の搬送終了端から搬送開始端まで回送する回送機構を有していることが望ましい。パレットを試験槽の外に一旦取り出して再度試験槽内に搬入すると、室温状態に戻ったパレットを再度、環境試験に適した温度状態まで加熱あるいは冷却する必要があり、試験槽の温調負荷が増大する。パレットを試験槽内で循環させることにより、運転立ち上げ時のみパレットを加熱あるいは冷却すればよいので、温調負荷を低減できるので好ましい。
【００１０】
回送機構が試験槽内に配置されている場合には、前記回送路を構成している回送路構成部材と、前記回送路に沿って回送されているパレットと、前記試験槽の内壁部分とによって、前記搬送路の表面に沿って案内された後の空気を前記空気吸引口に導くエアー還流用ダクトを形成することが望ましい。
【００１１】
この構成によれば、空気吹き込み口から試験槽内に吹き込まれた温調空気は、エアー供給側ダクトによって搬送路表面に沿って案内された後に、エアー還流側ダクトによって空気吸引口に導かれる。よって、エアー供給側ダクトおよびエアー還流側ダクトによって試験槽内に温調空気の循環経路が形成され、温調空気の循環が促進されるので、被試験品に対して、より多量の温調空気をより高速で当てることが可能になる。この結果、より短時間のうちに、被試験品を環境試験を行うための温度状態に到達させることができる。
【００１２】
試験槽内に搬送路および回送路が形成されている場合には、試験槽内において、その上側に前記搬送路を水平に形成し、当該搬送路の下側位置に前記回送路を水平に形成した構成を採用できる。
【００１３】
この場合には、前記試験槽の一方の側面部分の上側位置に前記空気吹き込み口を形成し、当該側面部分の下側位置に前記空気吸引口を形成し、前記エアー供給側ダクトにより前記空気吹き込み口から吹き込まれた空気を前記搬送路の幅方向に案内し、前記エアー還流側ダクトにより前記回送路の幅方向に空気を案内して前記空気吸引口に導くようにすればよい。
【００１４】
次に、前記搬送機構は、前記搬送路構成部材である水平に配列された案内レールと、前記案内レールに沿って前後に往復移動可能であると共に中心軸線の回りに回転可能な送りシャフトと、この送りシャフトにおいて前記中心軸線方向に沿って所定の間隔で形成された突出片と、前記送りシャフトを前後に往復移動させるシャフト送り機構と、当該送りシャフトを回転させるシャフト回転機構とを備えた構成とすることができる。同様に、前記回送機構は、前記回送路構成部材である水平に配列された案内レールと、前記案内レールに沿って前記第２のストロークおよび前記第２の周期で前後に往復移動可能であると共に中心軸線の回りに回転可能な送りシャフトと、この送りシャフトにおいて前記中心軸線方向に沿って所定の間隔で形成された突出片と、前記送りシャフトを前後に往復移動させるシャフト送り機構と、当該送りシャフトを回転させるシャフト回転機構とを備えた構成とすることができる。この場合には、前記パレットは、前記案内レール上をスライド可能とされ、当該パレットには、前記突出片が所定の角度位置にあるときに当該突出片に係合可能な係合部を形成しておけばよい。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下に、図面を参照して本発明を適用した環境試験装置の実施の形態を説明する。
【００１６】
図１（ａ）および（ｂ）は、本発明を適用した環境試験装置を用いた環境試験システムを示す概略平面構成図および概略縦断面図である。また、図２は図１の環境試験装置の概略横断面図である。
【００１７】
（環境試験システム）
本実施の形態に係る環境試験システム１は、被試験品２に対して異なる温度で環境試験を行うための２つの環境試験装置３、４と、これらの間に配置した計測ステーション５とを有しており、環境試験ラインの上流側から下流側に向けて、環境試験装置３、計測ステーション５および環境試験装置４がこの順序で直列に接続されている。上流側の環境試験装置３は例えば低温槽であり、下流側の環境試験装置４は例えば高温槽である。環境試験装置３と計測ステーション５の間には、環境試験装置３における環境試験が終わった被試験品２を計測ステーション５に移送するための上流側移送ロボット６が配置されており、下流側の環境試験装置４と計測ステーション５の間にも、計測ステーション５における計測が終了した後の被試験品２を環境試験装置４に移送するための下流側移送ロボット７が配置されている。なお、計測ステーション５には計測器８が設置されており、低温環境試験が終了した被試験品２に対して所定の計測を行うようになっている。
【００１８】
（環境試験装置）
環境試験装置３、４は基本的に同一構成であるので、上流側の環境試験装置３を例に挙げて説明する。環境試験装置４における対応部分には同一符号を付し、それらの説明は省略する。環境試験装置３は、断熱パネルで形成された前後方向に長い直方体形状をした断熱箱１１と、この断熱箱１１の内部に区画形成された試験槽１２と、この試験槽１２の槽内温度を制御するための温度制御機構１３と、パレット搬送機構１４およびパレット回送機構１５とを有している。パレット搬送機構１４は、被試験品２を載せたパレット１６を、試験槽１２の内部において、その前端側の位置から後端側の位置まで水平に延びる搬送路１４Ａに沿って搬送するためのものである。パレット回送機構１５は、試験槽１２の内部において、その後端側の位置で受け取った空のパレット１６を前端側に向けて水平に延びる回送路１５Ａに沿って送り返すためのものである。
【００１９】
また、試験槽１２の内部には、パレット搬送機構１４およびパレット回送機構１５の前側の位置に配置された入口リフタ１７と、これらパレット搬送機構１４、パレット回送機構１５の後側の位置に配置された出口リフタ１８が配置されている。
【００２０】
試験槽１２の前端側の天井部分には、被試験品２を試験槽１２に搬入するための搬入口２１が形成されており、この搬入口２１は、外側から搬入口開閉蓋２２によって開閉可能となっている。搬入口開閉蓋２２はエアー駆動式などの蓋開閉機構２３によって開閉駆動される。また、試験槽１２の後端側の天井部分には、環境試験後の被試験品２を試験槽１２から搬出するための搬出口２４が形成されており、この搬出口２４も、外側から搬出口開閉蓋２５によって開閉可能となっている。この搬出口開閉蓋２５もエアー駆動式などの蓋開閉機構２６によって開閉駆動される。
【００２１】
次に、各部分の構造をさらに詳しく説明する。まず、断熱箱１１の内部は、前後方向に延びる垂直仕切り板４１によって左右に区画されており、一方の区画が試験槽１２とされ、他方の区画には温度制御機構１３を構成している冷却器１３１、加熱器１３２および２台の送風機１３３、１３４が配置されている。仕切り板４１の上側部分には、試験槽１２の内部に温度制御された空気を吹き込むための空気吹き込み口４１ａ、４１ｂが形成されている。当該仕切り板４１の下側部分には、パレット回送機構１５によって回送される空のパレット１６よりも下側の位置に、試験槽１２から空気を吸引するための空気吸引口４１ｃが形成されている。
【００２２】
ここで、搬送路１４Ａは試験槽１２の内部においてその上側部分を前後方向に水平に延びており、回送路１５Ａは搬送路１４Ａの下側の位置を同じく前後方向に水平に延びている。詳細は後述するが、搬送路１４Ａは、平行に延びる左右一対の案内レール１４１、１４２によって構成されており、これらの上を、所定間隔で多数枚のパレット１６が間歇的に前方に送り出される。搬送されているパレット１６の間隔は狭いので、図２から分かるように、搬送路１４Ａを構成している案内レール１４１、１４２と、搬送されている多数枚のパレット１６と、試験槽１２の天井面部分１２ａと、試験槽１２の左右の側面部分１２ｂ、１２ｃの上側部分とによって、搬送路１４Ａの表面に沿ってその幅方向に温調空気を案内するエアー供給側ダクト１２Ａが区画形成されている。本例では試験槽１２の一方の側面部分１２ｂは仕切り板４１の表面によって規定されている。この側面部分１２ｂの上側部分には上述のように空気吹き込み口４１ａ、４１ｂが形成されている。
【００２３】
従って、空気吹き込み口４１ａ、４１ｂから試験槽１２の内部に吹き込まれた温調空気は、図２において二重線の矢印で示すように、エアー供給側ダクト１２Ａによって、搬送路１４Ａの表面に沿って当該搬送路の幅方向に案内される。この結果、吹き込まれた温調空気を効率良く搬送路上を搬送されている被試験品２に当てることができる。換言すると、空気吹き込み口４１ａ、４１ｂから試験槽１２に吹き込まれた温調空気は、試験槽１２の内部に拡散することなく、搬送路１４Ａの表面に沿って案内されるので、多量の温調空気を高速で被試験品２に当てることができる。よって、パレット１６に載って搬送される被試験品２を短時間で環境試験温度の状態に到達させることができる。
【００２４】
同様に、試験槽１２の下側部分においては、回送路１５Ａを構成している案内レール１５１、１５２と、これらの案内レールに沿って搬送されている空のパレット１６と、試験槽１２の底面部分１２ｄと、試験槽１２の左右の側面部分１２ｂ、１２ｃの下側部分とによって、被試験品２に吹き付けられた後の温調空気を、回送路１５Ａの裏面側の部分を試験槽１２の底面部分１２ｄに沿って案内して空気吸引口４１ｃに導くエアー還流用ダクト１２Ｂが区画形成されている。
【００２５】
エアー供給側ダクト１２Ａによって搬送路１４Ａの幅方向の端まで案内された温調空気の大部分は、図２の二重線の矢印で示すように、試験槽１２の側面１２ｃに沿って下降し、エアー還流用ダクト１２Ｂによって空気吸引口４１ｃまで導かれ、ここから温度制御機構１３の側に戻る。従って、試験槽１２の内部に吹き込まれた温調空気は、エアー供給側ダクト１２Ａを介して流れ、しかる後に、試験槽１２の側面１２ｃに沿って下降し、エアー還流側ダクト１２Ｂを経由して空気吸引口４１ｃから温度制御機構１３に戻る循環経路を流れる。このように試験槽１２の内部に温調空気の循環経路を形成することにより、試験槽１２の内部に温調空気を効率良く循環させることができるので、パレット１６によって搬送されている被試験品２に対して多量の温調空気を高速で当てることができる。
【００２６】
次に、図３はパレット搬送機構１４の主要部分を示す斜視図である。この図も参照して説明すると、パレット搬送機構１４は、搬送路１４Ａを形成している平行に配置された一対の水平案内レール１４１、１４２に乗っているパレット１６を第１のストロークで第１の周期で間歇的に前進させるための間歇搬送機構である。パレット１６は、横長の長方形の平板部材であり、複数の被試験品２を幅方向に並べて載せることができ、その幅方向の両端部が案内レール１４１、１４２に載っており、これらに沿って前後方向にスライド可能である。各パレット１６の表面には、幅方向の両端に、それぞれ係合突起１６ａ、１６ｂが形成されている。
【００２７】
本例のパレット搬送機構１４は、パレット１６を第１のストロークおよび第１の周期で間歇的に前進させるための複数の突出片１４３を備えた一対の送りシャフト１４４、１４５を有している。各送りシャフト１４４、１４５は、軸受部材１４６により、前後方向にスライド自在、且つその中心軸線を中心として回転自在に支持されている。また、送りシャフト１４４、１４５は、断熱箱１１の外に配置された送り用エアシリンダ１４７によって第１のストロークで前後方向に往復移動可能であり、また、左右の回転用エアシリンダ１４８、１４９によって回転可能である。
【００２８】
図３（ｂ）に示すように、送りシャフト１４４、１４５を所定の角度だけ回転させて突出片１４３をパレット１６の係合突起１６ａ、１６ｂに係合可能とし、この状態で送りシャフト１４４、１４５を前方に送り出せば、パレット１６が案内レール１４１、１４２上をスライドして第１のストロークだけ前進する。パレット１６が前進した後は、図３（ａ）に示すように、送りシャフト１４４、１４５を回転させて突出片１４３を係合突起１６ａ、１６ｂには係合しない位置に戻して、送りシャフト１４４、１４５を第１のストロークだけ戻す。かかる送りシャフト１４４、１４５の回転、前進、戻し回転、後退からなる動作を、第１の周期で繰り返して行うことにより、パレット１６を第１の周期で第１のストロークずつ前進させることができる。
【００２９】
パレット回送機構１５は、パレット搬送機構１４の下方に配置され、回送路１５Ａを形成している平行に配置された一対の水平案内レール１５１、１５２に沿って、パレット１６を第２の周期で第２のストロークずつ間歇的に後退させるための間歇回送機構である。パレット回送機構１５はパレット搬送機構１４と同様な構成であり、突出片を備えた一対の送りシャフト１５１、１５２（図２参照）を有し、パレット１６を試験槽１２の後端から前端に回送する。パレット回送機構１５のパレット１６の回送方式はパレット搬送機構１４と同様であるが、パレット１６を第２の周期で第１のストロークずつ後退させるようになっている。
【００３０】
ここで、第２の周期は、パレット搬送機構１４における第１の周期よりも短く設定されている。例えば、数分の一の周期に設定すれば、パレット搬送機構１４によりパレット１６が１ストローク分搬送される間に、パレット回送機構１５においては空のパレット１６が数ストローク分搬送される。この結果、搬送路１４Ａに沿って搬送されるパレット枚数を低減することなく、回送路１５Ａに沿って回送されるパレット枚数を少なくできる。よって、試験槽１２の処理能力を低下させることなく、試験槽１２内のパレット総数を少なくできる。パレット総数を少なくすると、その分、運転開始の立ち上げ時などにおける温調負荷を低減でき、立ち上げ時間を短縮できる。
【００３１】
次に、入口リフタ１７は、パレット１６を載せるための水平リフタベース１７１と、水平リフタベース１７１を垂直に案内するための垂直案内レール１７２とを備えている。水平リフタベース１７１は、エアー駆動などにより昇降可能となっている。入口リフタ１７の水平リフタベース１７１の真上に搬入口２１が位置している。
【００３２】
この入口リフタ１７の水平リフタベース１７１は、回送路１５Ａの前端まで戻された空のパレット１６を受け取る空パレット受け取り位置１７１Ａと、パレット１６を搬入口２１まで上昇させて被試験品２を受け取る被試験品受け取り位置１７１Ｂと、搬送路１４Ａに対して被試験品２を載せたパレット１６を引き渡す引渡し位置１７１Ｃとの間を昇降可能となっている。ここで、水平リフタベース１７１が被試験品受け取り位置１７１Ａに位置している状態では、その上に載っているパレット１６の表面外周部分が搬入口２１の外周縁部分に密着して、搬入口２１が内側から封鎖された状態が形成される。
【００３３】
次に、出口リフタ１８は、パレット１６を載せるための水平リフタベース１８１と、水平リフタベース１８１を垂直に案内するための垂直案内レール１８２とを備えている。水平リフタベース１８１は、エアー駆動などにより昇降可能となっており、当該水平リフタベース１８１の真上に搬出口２４が位置している。
【００３４】
出口リフタ１８の水平リフタベース１８１は、回送路１５Ａの後端に空のパレット１６を引き渡す空パレット引渡し位置１８１Ａと、パレット１６を搬出口２４まで上昇させて環境試験終了後の被試験品２を外部に搬出可能にするための被試験品搬出位置１８１Ｂと、搬送路１４Ａの後端から被試験品２を載せたパレット１６を受け取る受け取り位置１８１Ｃとの間を昇降可能となっている。また、水平リフタベース１８１を被試験品搬出位置１８１Ｂに位置させた状態では、その上に載っているパレット１６の表面外周部分が搬出口２４の外周縁部分に密着して、当該搬出口２５が内側から封鎖された状態が形成される。
【００３５】
（動作説明）
図４および図５を参照して、この構成の環境試験装置３の動作を説明する。まず、図４（ａ）〜（ｆ）は、試験槽１２に被試験品２を搬入する動作を示す説明図である。被試験品２を試験槽１２内に搬入する際には、図４（ａ）に示すように、入口リフタ１７の水平リフタベース１７１を垂直案内レール１７２に沿って下降させ、空パレット受け取り位置１７１Ａに配置する。空パレット受け取り位置１７１Ａは、水平リフタベース１７１が回送路１５Ａと等しい高さ位置となるように設定されている。このため、パレット回送機構１５によって回送路１５Ａの前端まで戻された空のパレット１６を、不図示の機構により１ストローク分だけ水平リフタベース１７１の側に送りだすと、図４（ｂ）に示すように、空のパレット１６が水平リフタベース１７１に引き渡される。
【００３６】
次に、図４（ｃ）に示すように、水平リフタベース１７１を垂直案内レール１７２に沿って上昇させ、水平リフタベース１７１を被試験品受け取り位置１７１Ｂまで上昇させる。水平リフタベース１７１が被試験品受け取り位置１７１Ｂまで上昇すると、その上に載っているパレット１６によって搬入口２１が内側から封鎖された状態になる。
【００３７】
パレット１６によって搬入口２１が内側から封鎖された後は、図４（ｄ）に示すように、蓋開閉機構２３（図１（ｂ）参照）により搬入口開閉蓋２２を開き、不図示の被試験品供給機構（環境試験装置４側では下流側搬送ロボット７が相当）により供給される被試験品２を外部から搬入口２１を介してパレット１６の上に載せる。
【００３８】
被試験品２をパレット１６に載せた後は、図４（ｅ）に示すように、蓋開閉機構２３により搬入口開閉蓋２２を閉じて、搬入口２１を外側から封鎖する。
【００３９】
しかる後に、図４（ｆ）に示すように、入口リフタ１７の水平リフタベース１７１を垂直案内レール１７２に沿って下降させて引渡し位置１７１Ｃまで移動する。この引渡し位置１７１Ｃでは、水平リフタベース１７１と搬送路１４Ａが同一高さ位置となっている。したがって、この位置にあるパレット１６をパレット搬送機構１４の送りシャフト１４４、１４５によって送り出すことができる。送り出されたパレット１６は、搬送路１４Ａの前端に引き渡される。パレット１６を引き渡した後は、入口リフタ１７の水平リフタベース１７１を空パレット受け取り位置１７１Ｂに下降させて（図４（ａ）の状態）、次の被試験品２の搬入動作を行う。
【００４０】
このように、常に、搬入口２１が封鎖された状態で、被試験品２を試験槽１２に搬入することができる。
【００４１】
次に、搬送路１４Ａに引き渡されたパレット１６は、パレット搬送機構１４によって搬送路１４Ａに沿って第１の周期で第１のストロークずつ間歇的に前方に送り出される。この間歇搬送の間にパレット１６に載っている被試験品２には、温度制御機構１３によって所定温度に制御された空気が吹き付けられ、当該被試験品２は所定の環境試験温度状態になる。
【００４２】
ここにおいて、図２に示すように、試験槽１２の内部には、エアー供給側ダクト１２Ａおよびエアー還流側ダクト１２Ｂが形成されており、試験槽１２の内部に吹き込まれた温調空気は、効率良く、これらのダクトによって案内されながら試験槽１２の内部を循環して温度制御機構１３の側に戻る。また、エアー供給側ダクト１２Ａによって、空気吹き込み口４１ａ、４１ｂから試験槽１２の内部に吹き込まれた温調空気は、試験槽１２の内部に拡散することなく搬送路１４Ａの表面に沿って流れる。従って、当該搬送路１４Ａに沿って搬送されている被試験品２に対して、多量の温調空気を高速で吹き付けることができる。この結果、被試験品２を短時間で環境試験のための温度状態に到達させることができる。よって、環境試験時間を短縮化できる。また、搬送時間が短くで済むので搬送路を短くでき、装置の小型化も実現できる。
【００４３】
このようにして環境試験が行われながら被試験品２を載せたパレット１６が搬送路１４Ａの後端まで搬送される。搬送路１４Ａの後端まで搬送されたパレット１６は次のようにして、試験槽１２から搬出される。
【００４４】
図５（ａ）〜（ｆ）は、試験槽１２から被試験品２を搬出する動作を示す説明図である。図５（ａ）に示すように、出口リフタ１８の水平リフタベース１８１を垂直案内レール１８２に沿って昇降させ、受け取り位置１８１Ｃに位置させる。受け取り位置１８１Ｃにある水平リフタベース１８１は、搬送路１４Ａと等しい高さ位置にある。このため、搬送路１４Ａの後端に到ったパレット１６を送りシャフト１４４、１４５で１ストローク分だけ更に送り出すことにより、図５（ｂ）に示すように、搬送路１４Ａの後端から水平リフタベース１８１に、環境試験終了後の被試験品２を載せたパレット１６を引き渡すことができる。
【００４５】
次に、図５（ｃ）に示すように、水平リフタベース１８１を垂直案内レール１８２に沿って上昇させ、水平リフタベース１８１を被試験品搬出位置１８１Ｂまで上昇させる。被試験品搬出位置１８１Ｂにおいては、パレット１６の表面外周部分が搬出口２４の外周縁部分に密着して、搬出口２４が内側から封鎖された状態になる。
【００４６】
パレット１６で搬出口２４を内側から封鎖した後に、図５（ｄ）に示すように、蓋開閉機構２６（図１（ｂ）参照）により搬出口開閉蓋２５を開き、上流側移送ロボット６（図１（ｂ）参照）により搬出口２４から被試験品２を取り出し、環境試験装置４の上流側に移送する。
【００４７】
被試験品２を取り出した後は、図５（ｅ）に示すように、蓋開閉機構２６により搬入口開閉蓋２５を閉じて、搬入口２４を外側から封鎖する。
【００４８】
しかる後に、図５（ｆ）に示すように、出口リフタ１８の水平リフタベース１８１を垂直案内レール１８２に沿って下降させ、引渡し位置１８１Ａまで移動する。引渡し位置１８１Ａの水平リフタベース１８１は、回送路１５Ａと等しい高さ位置にある。このため、水平リフタベース１８１上のパレット１６をパレット回送機構１５の送りシャフトにより回送路１５Ａの側に送り出すことにより、パレット１６を回送路１５Ａに引き渡すことができる。パレット１６を渡した後は、出口リフタ１８の水平リフタベース１８１を受け取り位置１８１Ｃに上昇させ（図５（ａ）の状態）、次の被試験品２の搬出を行う。従って、被試験品２の搬出も、常に、搬出口２４が封鎖された状態で行われる。
【００４９】
回送路１５Ａの後端に乗った空のパレット１６は、パレット回送機構１５の送りシャフト１５１、１５２によって、第１の周期よりも大幅に短い第２の周期で、第１のストロークずつ間歇的に試験層２の前端側に向けて送り戻される。換言すると、搬送路１４Ａを搬送されるパレット搬送速度よりも大幅に早い速度で回送路１５Ａに沿って送り戻される。回送路１５Ａの前端に戻された空のパレット１６は、前述したように、入口リフタ１７に引き渡されて、搬入口２１を封鎖した状態で被試験品２を受け取った後に、搬送路１４Ａの前端に引き渡される。
【００５０】
このように、本実施の形態に係る環境試験装置３では、試験槽１２の内部に、空気吹き込み口４１ａ、４１ｂから吹き込まれた温調空気を搬送路１４Ａに沿って案内するエアー供給側ダクト１２Ａが形成されている。従って、試験槽１２の内部に吹き込まれた温調空気が内部で拡散することなく、被試験品２に吹き付けられる。よって、多量の温調空気を高速で被試験品に当てることができるので、被試験品２を短時間のうちに環境試験温度状態に到達させることができる。また、試験槽１２の内部には、エアー供給側ダクト１２Ａと共にエアー還流側ダクト１２Ｂも形成されており、これらを経由して温調空気が循環して温度制御機構１３の側に戻るので、効率良く温調空気を循環させることができる。この結果、より多量の空気を被試験品に吹き付けることができるので、一層、被試験品を環境温度状態に到達させるために必要な時間を短縮できる。
【００５１】
さらに、これらエアー供給側ダクト１２Ａおよびエアー還流側ダクト１２Ｂは、搬送路１４Ａを構成している案内レール１４１、１４２、回送路１５Ａを構成している案内レール１５１、１５２と、これらに沿って搬送されるパレット１６とによって区画形成されている。従って、新たな部品を取り付ける必要がないので、コスト高、装置の大型化を招くこともないという利点もある。
【００５２】
次に、本実施の形態に環境試験装置３では、パレット１６が試験槽１２の内部に形成した搬送路１４Ａおよび回送路１５Ａを経由して循環し、試験槽１２の外部に出ることがない。よって、一旦、試験槽１２内を環境試験温度の状態にした後は、被試験品２に比べて熱量の大きなパレット１６を再度、加熱あるいは冷却する必要がない。従って、新たに搬入された被試験品２のみを環境試験温度状態まで加熱あるいは冷却するだけでよいので、温度制御機構の熱負荷を低減できる。また、搬送路１４Ａも短くで済むので、効率良く環境試験を行うことができる。
【００５３】
また、回送路１５Ａを経由して速い速度で空のパレット１６を送り戻すようにしている。これにより、搬送路１４Ａ上のパレット数を低減することなく、回送路１５Ａ上のパレット数を少なくできる。この結果、被試験品２の搬送量を低減させることなく（すなわち、試験槽の処理能力を低減させることなく）、試験槽１２内のパレット数を全体として少なくできる。熱容量の大きなパレット１６の枚数を低減することにより、試験槽１２の温調負荷を一層小さくできる。特に、試験開始時において試験槽内の温度を所定温度状態となるまで加熱あるいは冷却する立ち上げ運転時における温調負荷を大幅に低減でき、立ち上げ時間も短縮化できる。
【００５４】
次に、本実施の形態に係る環境試験装置３では、被試験品２を搬送するために用いるパレット１６を利用して、搬入口２１および搬出口２４を内側から封鎖可能である。従って、被試験品２の搬入および搬出を、試験槽１２を完全に封鎖した状態で行うことができる。よって、試験槽１２内に外気が侵入することを完全に防止できるので、試験槽１２の内部を効率良く所定温度の状態に移行させることができる。また、試験槽１２内への外気の進入を防止することにより、温度制御機構１３の構成部品である冷却器１３１に霜がつくことがないので、除霜が不要となり、連続運転が可能となる。
【００５５】
（その他の実施の形態）
上記の例では、搬送機構１４、回送機構１５として間歇搬送機構、間歇回送機構を用いている。この代わりに、ベルトコンベヤあるいはメッシュコンベヤを用いることも可能である。
【００５６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の環境試験装置では、試験槽の内部に、被試験品を載せたパレットを搬送するための搬送路の表面に沿って、空気吹き込み口から吹き込まれた温調空気を案内するためのエアー供給側ダクトが形成されている。従って、吹き込まれた温調空気が、試験槽内部で拡散することなく搬送路に沿って搬送されている各被試験品に吹き付けられる。
【００５７】
また、試験槽の内部には、エアー供給側ダクトおよびエアー還流側ダクトを経由する温調空気の循環経路が形成されている。これらの循環経路を介して温調空気を効率良く循環させることができる。
【００５８】
よって、本発明によれば、多量の温調空気を高速で被試験品に当てることができるので、被試験品を環境試験温度状態に到達させるための時間を短縮できる。この結果、試験時間を短縮できる。また、搬送時間が短くて済むので搬送路を短くでき、装置の小型化を実現できる。
【００５９】
さらに、本発明では、エアー供給側ダクト、エアー還流側ダクトが、搬送路構成部品および回送路構成部品と、パレットと、試験槽の内壁部分とによって区画形成されている。よって、新たな部品を用いる必要がないので、コスト高、装置の大型化を招くことなく、試験時間の短縮化を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）および（ｂ）は、本発明を適用した環境試験装置を用いた環境試験システムを示す概略平面構成図および概略縦断面図である。
【図２】図１の環境試験装置の概略横断面図である。
【図３】環境試験装置のパレット搬送機構を示す斜視図である。
【図４】（ａ）ないし（ｆ）は、環境試験装置の試験槽に被試験品を搬入する動作を示す説明図である。
【図５】（ａ）ないし（ｆ）は、環境試験装置の試験槽から被試験品を搬出する動作を示す説明図である。
【符号の説明】
１  環境試験システム
２  被試験品
３、４  環境試験装置
５  計測ステーション
６  上流側移送ロボット
７  下流側移送ロボット
８  計測器
１１  断熱箱
１２  試験槽
１２ａ  天井面部分
１２ｂ、１２ｃ  側面部分
１２ｄ  底面部分
１２Ａ  試験槽の内部に形成されたエアー供給側ダクト
１２Ｂ  試験槽の内部に形成されたエアー還流側ダクト
１３  温度制御機構
１４  搬送機構
１４Ａ  搬送路
１５  回送機構
１５Ａ  回送路
１６  パレット
１７  入口リフタ
１８  出口リフタ
２１  搬入口
２２  搬入口開閉蓋
２４  搬出口
２５  搬出口開閉蓋
４１  垂直仕切り板
４１ａ、４１ｂ  空気吹き込み口
４１ｃ  空気吸引口
１３１  冷却器
１３２  加熱器
１３３  送風機
１４１、１４２  水平案内レール
１４３  突出片
１４４、１４５  送りシャフト
１４６  軸受部材
１４７  送り用エアシリンダ
１４８、１４９  回転用エアシリンダ
１５１、１５２  水平案内レール
１６ａ、１６ｂ  係合突起
１７１、１８１  水平リフタベース
１７２、１８２  垂直案内レール
１７１Ａ  空パレット受け取り位置
１７１Ｂ  被試験品受け取り位置
１７１Ｃ  引渡し位置
１８１Ａ  空パレット引渡し位置
１８１Ｂ  被試験品搬出位置
１８１Ｃ  受け取り位置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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