(57)【要約】【課題】オフトラッキングさせた状態での再生ヘッドの再生性能を測定することができる再生ヘッドの再生性能測定方法を提供する。【解決手段】磁気テープ１００上に記録したデータの再生を、回転シリンダに設置された複数の磁気ヘッド１０１〜１０８をオフトラッキングさせた状態で行うに際し、磁気ヘッドが磁気テープ１００上の同一のデータを一度だけ走査するよう速度制御回路１０９により再生速度を制御し、磁気テープ１００から読み出されインナー訂正回路１１１により誤り訂正処理が施されたデータのうち選択された磁気ヘッドにより読み出されたものをメモリ１１３に蓄積する。そして、メモリ１１３から読み出されたデータのうち誤りのない正常なデータの数をシンクカウント回路１１４によりカウントし、あらかじめ計算されたメモリ１１３に蓄積されるべき正常なデータ数と比較する。【選択図】    図１
2004192670.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
誤り訂正符号を付加しヘリカルスキャン方式で磁気テープ上に記録したデータの再生を、回転シリンダに設置された複数の再生ヘッドをオフトラッキングさせた状態で行うに際し、所定の再生速度に制御して前記複数の再生ヘッドのうちの選択された一の再生ヘッドが前記磁気テープ上の同一のデータを一度だけ走査するようにし、
前記複数の再生ヘッドが走査し読み出したデータに対し前記誤り訂正符号を用いた誤り訂正処理を施し、
誤り訂正処理後のデータのうち前記選択された一の再生ヘッドにより読み出されたデータをメモリ手段に蓄積させ、
前記メモリ手段に蓄積したデータのうち誤りのない正常データの数をカウントし、
このカウントした正常データの実測数と、前記所定の再生速度で走査した場合に前記メモリ手段に蓄積されるべき正常データの規定数とを比較してその比較結果を表示する
ことを特徴とする再生ヘッドのオフトラッキング再生性能測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、再生ヘッドのオフセットさせた状態での再生性能を測定する再生ヘッドのオフトラッキング再生性能測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、ヘリカルスキャン方式でデータが記録された磁気テープを走査する再生ヘッドの再生性能測定は、トラッキングをかけたオントラッキング状態において磁気テープからデータを読み出し、エラーレートを計測することで行う（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
しかし、この従来の再生ヘッドの再生性能測定方法はオントラッキング状態での再生を前提としているため、ノントラッキング方式で磁気テープの再生を行う装置に搭載される再生ヘッドに対しては適用することができない。すなわち、＋アジマスヘッドと−アジマスヘッドによりヘリカルスキャン方式で高密度にデータが記録された磁気テープをノントラッキング方式で再生する装置においては、再生ヘッドをオフトラッキングさせた状態で再生するので、再生ヘッドがトラックを跨ぎながら磁気テープを走査する。そのため、当然エラーレートが高くなるので、従来の再生ヘッドの再生性能測定方法では正確に再生ヘッドの再生性能を測定することができない。
【０００４】
【特許文献１】
特開平８−３６８１１号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記問題点に鑑み、誤り訂正符号を付加しヘリカルスキャン方式で磁気テープ上に記録したデータの再生を、回転シリンダに設置された再生ヘッドをオフトラッキングさせた状態で行うに際し、再生ヘッドが磁気テープ上の同一のデータを一度だけ走査するように再生速度を制御し、磁気テープ上から読み出され誤り訂正処理が施されたデータのうち誤りのない正常なデータ数をカウントし、あらかじめ計算しておいた理論値（正常なデータの規定数）と比較することにより、オフトラッキングさせた状態での再生ヘッドの再生性能を測定することができる再生ヘッドの再生性能測定方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の請求項１記載の再生ヘッドのオフトラッキング再生性能測定方法は、誤り訂正符号を付加しヘリカルスキャン方式で磁気テープ上に記録したデータの再生を、回転シリンダに設置された複数の再生ヘッドをオフトラッキングさせた状態で行うに際し、所定の再生速度に制御して前記複数の再生ヘッドのうちの選択された一の再生ヘッドが前記磁気テープ上の同一のデータを一度だけ走査するようにし、前記複数の再生ヘッドが走査し読み出したデータに対し前記誤り訂正符号を用いた誤り訂正処理を施し、誤り訂正処理後のデータのうち前記選択された一の再生ヘッドにより読み出されたデータをメモリ手段に蓄積させ、前記メモリ手段に蓄積したデータのうち誤りのない正常データの数をカウントし、このカウントした正常データの実測数と、前記所定の再生速度で走査した場合に前記メモリ手段に蓄積されるべき正常データの規定数とを比較してその比較結果を表示することを特徴とする。
【０００７】
以上のように、本発明によれば、オフトラッキングさせた状態での再生ヘッドの再生性能を測定することができるので、ノントラック方式により磁気テープの再生を行う装置に搭載する再生ヘッドの再生性能を測定することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。なお、本実施の形態では、ビデオデータ・オーディオデータが、ヘリカルスキャン方式で、かつ、５２５／６０方式によりフレーム単位で１０トラック（ヘリカルトラック）にシャフリングされてアジマス記録された磁気テープを通常再生速度の＋２倍でノントラッキング方式により再生する場合について説明するが、無論、これに限るものではない。
【０００９】
図１は、本実施の形態によるオフトラッキング再生性能測定装置の構成の概略を示すブロック図である。図１において、１００は磁気テープであり、ビデオデータ・オーディオデータが、ヘリカルスキャン方式で、かつ、５２５／６０方式によりフレーム単位で１０トラック（ヘリカルトラック）にシャフリングされてアジマス記録されている。
【００１０】
１０１〜１０８は磁気テープ１００を走査してデータの読み出しを行う再生ヘッドとしての磁気ヘッドであり、１０１は＋アジマス角の磁気ヘッドＡ（１）、１０２は＋アジマス角の磁気ヘッドＡ（２）、１０３は＋アジマス角の磁気ヘッドＡ（３）、１０４は＋アジマス角の磁気ヘッドＡ（４）であり、本実施の形態では、図１に示すように、回転シリンダに９０°間隔で設置されている。また、１０５は−アジマス角の磁気ヘッドＢ（１）、１０６は−アジマス角の磁気ヘッドＢ（２）、１０７は−アジマス角の磁気ヘッドＢ（３）、１０８は−アジマス角の磁気ヘッドＢ（４）であり、本実施の形態では、図１に示すように、それぞれ＋アジマス角の磁気ヘッド近傍に９０°間隔で設置されている。
【００１１】
１０９は再生速度を制御するための再生速度制御手段としての速度制御回路であり、本実施の形態では、再生性能測定モード時において、選択された一の磁気ヘッドが磁気テープ１００上の同一のデータを一度だけ走査するように、つまり同一のデータを二度以上走査することがないようにテープ走行速度を通常再生時の＋２倍速に制御する。なお、このとき回転シリンダは通常再生時と同じ回転速度に制御されている。
【００１２】
１１０は当該オフトラッキング再生性能測定装置を再生性能測定モードに設定するとともに、いずれの磁気ヘッドの再生性能を測定するのかについて指示するコントロール部である。
【００１３】
１１１は誤り訂正手段としてのインナー訂正回路であり、誤り訂正符号であるインナーパリティを用い、後述するシンクブロック単位でビデオデータ・オーディオデータにインナー誤り訂正処理を行う。後述するように、ビデオデータ・オーディオデータにはシンクブロック単位でインナーパリティが付加されている。
【００１４】
１１２は再生ヘッド選択手段としてのヘッド選択回路であり、コントロール部１１０からの指示に従い、複数の磁気ヘッドのうちの一が走査し読み出したデータを選択する。
【００１５】
１１３はメモリ手段としてのメモリであり、ヘッド選択回路１１２により選択されたデータをフレーム単位で蓄積する。１１４は計測手段としてのシンクカウント回路であり、メモリ１１３に蓄積されたデータのうち誤りのない正常データの実測数をカウントする。
【００１６】
１１５は再生性能測定手段としての再生性能判定回路であり、後述する規定数とシンクカウント回路１１４でカウントした実測数を比較し、この比較結果を基に磁気ヘッドのオフトラッキングさせた状態での再生性能を判定する。１１６は表示手段としてのディスプレイであり、再生性能判定回路１１５による判定結果を表示する。
【００１７】
以下、本実施の形態によるオフトラッキング再生性能測定方法について説明する。
まず、図２に磁気テープの記録パターンの一例を示す。図２に示すように、各ヘリカルトラックは、スキャン開始端から順にＩＴＩデータ、オーディオデータ、ビデオデータ、サブコードデータがそれぞれ記録されている４つの領域で構成されている。なお、ＩＴＩデータとしては、該当ヘリカルトラック上においてオーディオデータ、ビデオデータ、およびサブコードデータが記録されている領域を検出するための基準データ等が記録され、サブコードデータとしては、該当フレームの記録日時、記録時間などの付属情報等が記録される。
【００１８】
図３に１フレーム単位でのビデオデータ（映像データ）の構成を示す。図３に示すように、ビデオデータ（映像データ）はシンクブロック単位（所定ブロック単位）で構成されており、各シンクブロックは、２バイトのシンクデータ（Ｓｙｎｃ  Ｄａｔａ；同期信号）、３バイトのＩＤデータ、７７バイトのビデオデータ（５バイトのＶＡＵＸデータを含む）で構成され、さらに８バイトのインナーパリティが付加される。
【００１９】
そして、このように構成されたシンクブロックが１３８段積み重ねられ、ＶＡＵＸデータとビデオデータに対しては、さらに１２セクタブロック分に相当するアウターパリティも付加される。また、このアウターパリティにもシンクデータ、ＩＤデータ、インナーパリティが付加される。なお、ＶＡＵＸデータとしては、例えば５２５／６０システムまたは６２５／５０システムの種別、インターレース走査またはプログレッシブ走査の種別等の補助データが記録される。
【００２０】
このように構成された１フレーム分のビデオデータ・オーディオデータが、ヘリカルスキャン方式で、かつ、１０ヘリカルトラックにシャフリングされ磁気テープ上にアジマス記録されている。
【００２１】
次に、このような記録パターンでビデオデータ・オーディオデータが記録されている磁気テープを再生速度＋２倍で、かつ磁気ヘッドをオフトラッキングさせた状態でノントラッキング方式により再生する場合について説明する。
【００２２】
回転シリンダには、１８０°対向位置に設置された＋アジマス角の磁気ヘッド（以降、＋アジマスヘッドと称す。）と、１８０°対向位置に設置された−アジマス角の磁気ヘッド（以降、−アジマスヘッドと称す。）がそれぞれ２チャンネルづつあり、通常再生時（再生速度＋１倍速）においてこれら８つの磁気ヘッドで磁気テープ上のデータすべてを再生できるように配置されている。
【００２３】
通常再生時において、ノントラッキング方式により＋アジマストラックを＋アジマスヘッドＡ（１）１０１、Ａ（２）１０２が補完しあいながら再生する様子の一例を図４に示す。図４に示すように、通常再生時においては、同じデータを２つの磁気ヘッドが再生することもある（磁気テープ上のオーバーラップする部分）。また、通常の再生速度よりも遅い場合には、同じデータを１つの磁気ヘッドが２回以上再生することもある。そのため、再生速度＋１倍速以下では、再生されたデータがいずれの磁気ヘッドにより読み出されたデータか判定し難いので、磁気ヘッドそれぞれの再生性能を判定し難い。
【００２４】
そこで、本実施の形態では、同一のデータを一の再生ヘッドが複数回再生しないように通常の再生速度の＋２倍速で再生することにする。＋２倍速で再生した場合における磁気テープ上での＋アジマスヘッドＡ（１）１０１、Ａ（２）１０２の軌跡の一例を図５に示す。
【００２５】
以下、本実施の形態によるオフトラッキング再生性能測定時の動作について説明する。まず測定する磁気ヘッドを選択し、測定を開始する。ここでは、＋アジマスヘッドＡ（１）１０１を例に説明する。なお、この磁気ヘッドの選択は、磁気ヘッドを測定する度に行うようにしてもよいし、自動で順次選択するようにしてもよい。
【００２６】
再生性能測定モードが設定されると、速度制御回路１０９は、再生速度が２倍となるようにテープ走行速度を通常再生時の２倍速一定に制御する。このときの＋アジマスヘッドＡ（１）１０１の軌跡の一例を図６に示す。
【００２７】
インナー訂正回路１１１は、全磁気ヘッドが走査し読み出したデータに対し、インナーパリティを用いたインナー誤り訂正処理をシンクブロック単位で行う。ヘッド選択回路１１２はこのインナー誤り訂正処理後のデータのうち＋アジマスヘッドＡ（１）１０１からのデータのみを選択してメモリ１１３に蓄積する。
【００２８】
メモリ１１３には磁気テープ上のフレームデータ単位で蓄積が行われ、１フレームデータが蓄積されるとデータ読み出しが行われる。このデータ読み出しの際、シンクカウント回路１１４が、誤りのない正常なシンクブロック（正常データ）の実測数をカウントする。カウントされたシンクブロックの磁気テープ１００上の位置は図６の中で模様をつけた部分（塗りつぶし部分）となる。
【００２９】
この正常シンクブロックはフレーム単位でカウントされ、平均化される。再生性能判定回路１１５はこのフレーム単位で平均化された正常シンクブロックの実測数を規定数と比較することにより、＋アジマスヘッドＡ（１）１０１のオフトラッキングさせた状態での再生性能を測定する。規定数とは、２倍速で走行する磁気テープ１００上を選択された磁気ヘッド（ここでは、＋アジマスヘッドＡ（１）１０１）のみで走査した場合、誤りのない正常なシンクブロックが理論上どれだけメモリ１１３に蓄積されるかを計算した理論値であり、あらかじめ各磁気ヘッドに対するものが保持されている。計算方法としては、例えば、シンクブロックの６０％分のデータを走査できれば正常なシンクブロックがメモリ１１３に蓄積できると仮定して計算する。
【００３０】
比較した結果、例えば、正常シンクブロックの実測数が規定数の＋１０％以上であれば◎、規定数以上、規定数の＋１０％未満であれば○、規定数より−１０％以上、規定数未満であれば△、規定数の−１０％未満であれば×、とあらかじめ設定しておき、この判定結果を磁気記録再生装置に付随のディスプレイや再生性能判定専用モニタに出力して表示させる。◎ということは、図６の模様をつけた部分が面積的に広いということであり、再生性能が高いということになる。×ということは、図６の模様をつけた部分が面積的に狭いということであり、再生性能が低いということになる。ただし、判定の方法はこれに限るものではない。また、比較結果そのものを表示するようにしてもよい。
【００３１】
以上の測定動作を全磁気ヘッドに対して行うことにより、磁気ヘッドのオフトラッキングさせた状態での再生性能を測定することができる。
このようにして行う再生性能測定は、ノントラッキング方式による再生を前提としたものであり、オフトラッキングさせた状態での磁気ヘッドの再生性能を測定することができる。
【００３２】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、オフトラッキングさせた状態での再生ヘッドの再生性能を測定することができるので、ノントラック方式により磁気テープの再生を行う装置に搭載する再生ヘッドの再生性能を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１によるオフトラッキング再生性能測定装置の構成の概略を示すブロック図
【図２】磁気テープの記録パターンの一例を示す図
【図３】１フレーム単位でのビデオデータの構成を示す図
【図４】通常再生速度（＋１．０倍）で再生した場合における磁気テープ上での磁気ヘッドの軌跡の一例を示す図
【図５】通常再生速度の＋２．０倍で再生した場合における磁気テープ上での磁気ヘッドの軌跡の一例を示す図
【図６】通常再生速度の＋２．０倍で再生した場合における磁気テープ上での特定の一の磁気ヘッドの軌跡の一例を示す図
【符号の説明】
１００  磁気テープ
１０１  磁気ヘッド（＋アジマスヘッド）Ａ（１）
１０２  磁気ヘッド（＋アジマスヘッド）Ａ（２）
１０３  磁気ヘッド（＋アジマスヘッド）Ａ（３）
１０４  磁気ヘッド（＋アジマスヘッド）Ａ（４）
１０５  磁気ヘッド（−アジマスヘッド）Ｂ（１）
１０６  磁気ヘッド（−アジマスヘッド）Ｂ（２）
１０７  磁気ヘッド（−アジマスヘッド）Ｂ（３）
１０８  磁気ヘッド（−アジマスヘッド）Ｂ（４）
１０９  速度制御回路
１１０  コントロール部
１１１  インナー訂正回路
１１２  ヘッド選択回路
１１３  メモリ
１１４  シンクカウント回路
１１５  再生性能判定回路
１１６  ディスプレイ
【図１】
2004192670.tif 000003
【図２】
2004192670.tif 000004
【図３】
2004192670.tif 000005
【図４】
2004192670.tif 000006
【図５】
2004192670.tif 000007
【図６】
2004192670.tif 000008