(57)【要約】【課題】計測者の負荷を軽減して単純なミス等の発生を防ぐようにして計測データの信頼性を高めることを可能にした計測支援装置、計測支援システム及び製造支援システムを提供する。【解決手段】検査データ収集装置１を備えた計測支援システムである。検査データ収集装置１は、表示手段１４と、測定可能な部品のリストからなる第１の計測リストを所定の基準に従って絞り込んで第２の計測リストを生成して表示手段１４により表示させる処理手段１１とを備えたものであり、計測者にとっては必要な情報だけが表示されることになる。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示手段と、
測定可能な部品のリストからなる第１の計測リストを所定の基準に従って絞り込んで第２の計測リストを生成して前記表示手段に表示させる演算手段とを備えたことを特徴とする計測支援装置。
【請求項２】
前記演算手段は、第１の計測リストの測定可能な部品を測定可能な時間順に、当該部品の部品個数と測定箇所数とを乗算した値を求めて積算して所定値に達すると、それまでの部品を時系列に並べて第２の計測リストを生成することを特徴とする請求項１記載の計測支援装置。
【請求項３】
検査データ収集装置を備えた計測支援システムであって、
検査データ収集装置は、
表示手段と、
測定可能な部品のリストからなる第１の計測リストを所定の基準に従って絞り込んで第２の計測リストを生成して前記表示手段に表示させる演算手段とを備えたことを特徴とする計測支援システム。
【請求項４】
前記演算手段は、前記第１の計測リストの測定可能な部品を測定可能な時間順に、当該部品の部品個数と測定箇所数とを乗算した値を求めて積算して所定値に達すると、それまでの部品を時系列に並べて第２の計測リストを生成することを特徴とする請求項３記載の計測支援システム。
【請求項５】
前記第２の計測リストには少なくとも部品名及び部品個数が含まれることを特徴とする請求項４記載の計測支援システム。
【請求項６】
データベース装置を備え、該データベース装置は、部品の抜き取り検査時刻とその保管時間とに基づいて生成された第１の計測リストが少なくとも格納されることを特徴とする請求３〜５の何れかに記載の計測支援システム。
【請求項７】
前記データベースには、前記部品毎の測定箇所、使用計測器、計器番号、計測情報及び計測器の使用頻度の各情報が格納されており、前記検査データ収集装置の演算手段は、前記データベースの上記の各情報に基づいて、前記第２の計測リストの各部品に対する測定箇所、使用計測器及び計器番号が含まれる第３の計測リストを生成することを特徴とする請求項６記載の計測支援システム。
【請求項８】
前記検査データ収集装置の演算手段は、前記計測器の使用頻度が所定回数以上の場合には、計測の開始前に計測器の精度確認を促す表示を前記表示手段にさせる処理を行うことを特徴とする請求項７記載の計測支援システム。
【請求項９】
前記検査データ収集装置は、計測器に付された計測器番号を読み取る読取装置を備え、前記演算手段は、該読取装置が使用対象となる計測器の計測番号を読み取ると、その読み取った計測器の番号と前記第３の計測リストの該当する計測器の番号とを対比して一致しているかどうかを判断し、一致していない場合には使用する計測器の再選択を促す表示を前記表示手段にさせる処理を行うことを特徴とする請求項７又は８記載の計測支援システム。
【請求項１０】
前記検査データ収集装置は、計測器により計測された計測データを前記データベースに出力して格納させることを特徴とする請求項６〜９の何れかに記載の計測支援システム。
【請求項１１】
管理装置を備え、管理装置は、前記データベースから取り込んだ、製造装置毎の部品の製造時間及びその部品に対する計測の進行状況を含む各種データを表示する表示手段と、該表示手段に表示されたデータから選択して部品の計測に関するデータを前記検査データ収集装置に送信させるための操作手段とを備えたことを特徴とする請求項６〜１０の何れかに記載の計測支援システム。
【請求項１２】
前記表示手段に替えて印刷手段を備え、該印刷手段は前記表示手段による表示内容を印刷することを特徴とする請求項３〜１１の何れかに記載の計測支援システム。
【請求項１３】
前記検査データ収集装置の演算手段は、計測データを用いて計算が必要となった時に計算用ダイアログを前記表示手段に自動的に表示させて、ダイアログの指定個所へ計測データの入力を促すことを特徴とする請求項３〜１２の何れかに記載の計測支援システム。
【請求項１４】
請求項３〜１３の何れかに記載の計測支援システムを組み込んだことを特徴とする製造支援システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、計測支援装置、計測支援システム及びそれを含む製造支援システムに関し、特に、計測過程における計測者の単純ミス、操作ミス等を極力最小限にし、信頼性の高い計測データを収集するための計測支援に関する。
【０００２】
【従来の技術】
製造工程において、製品を安定して高精度に生産するためには、製造された製品や部品を計測して、寸法や精度が規格内にあるか、また、製造装置や計測器が正常に作動しているかどうかを監視する必要がある。そこで、各工程間で収集される計測データを分析、解析することが重要である。しかし、計測データには、人、工程、装置、計測器、環境等のデータをばらつかせる要因が含まれてくるため、不良の発生原因を追求することは難しい。このため、未然に信頼性の高い計測データを収集する事が必要である。
【０００３】
従来の製造工程における計測支援方法として後述の特許文献１及び２に記載されているシステムある。このシステムでは、計測者に計測のための情報を与える事により、計測者はその指示に従って簡単な動作で計測可能となっている。また、操作画面上での操作性を高める事により計測者の操作を容易にさせている。
【０００４】
【特許文献１】
特許第２７４４０８１号公報
【０００５】
【特許文献２】
特開平７−３１８３８０号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
従来のシステム（特許文献１，２）では、計測者への負担が軽減し、また操作性が容易になっても、計測者の単純なミス、及び操作方法のミス等を防ぐ事は難しい。したがって、結果的に信頼性の高い計測データを収集する事ができないという問題点がある。
【０００７】
本発明は、このような問題点を解決するためになされたものであり、計測者の負荷を軽減して単純なミス等の発生を防ぐようにして計測データの信頼性を高めることを可能にした計測支援装置、計測支援システム及び製造支援システムを提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る計測支援装置は、表示手段と、測定可能な部品のリストからなる第１の計測リストを所定の基準に従って絞り込んで第２の計測リストを生成して表示手段により表示させる演算手段とを備えたものである。このように構成したことにより、表示手段に第１の計測リストの内容を全て表示するのではなく、所定の基準に従って絞り込んで第２の計測リストを生成して、それを表示手段に表示させるようにしている。このため、計測者にとっては必要な情報だけが表示されることになる。したがって、直ぐには必要が無い情報は表示されないので、計測者がそのリストの見間違いや、ケアレスミスの可能性が軽減され、計測データの信頼性を高めることが可能になっている。
【０００９】
本発明に係る計測支援装置において、演算手段は、第１の計測リストの測定可能な部品を測定可能な時間順に、当該部品の部品個数と測定箇所数とを乗算した値を求めて積算して所定値に達すると、それまでの部品を時系列に並べて第２の計測リストを生成する。このように構成したことにより、部品個数と測定箇所数とを乗算した値を求めて積算することで、計測に要する時間に相当する積算値を求めて、その積算値が所定値に達するまでの部品を第２の計測リストとして、それを表示させるようにしたので、直ぐに必要な情報だけが計測者に伝えられることになる。
【００１０】
本発明に係る計測支援システムは、検査データ収集装置を備えた計測支援システムであって、検査データ収集装置は、表示手段と、測定可能な部品のリストからなる第１の計測リストを所定の基準に従って絞り込んで第２の計測リストを生成して表示手段に表示させる演算手段とを備えたものである。このように構成したことにより、表示手段に第１の計測リストの内容を全て表示するのではなく、所定の基準に従って絞り込んで第２の計測リストを生成して、それを表示手段に表示させるようにした。このため、計測者にとっては必要な情報だけが表示されることになる。このように、直ぐには必要が無い情報は表示されないので、計測者がそのリストの見間違いや、ケアレスミスの可能性が軽減される。
【００１１】
本発明に係る計測支援システムにおいて、演算手段は、第１の計測リストの測定可能な部品を測定可能な時間順に、当該部品の部品個数と測定箇所数とを乗算した値を求めて積算して所定値に達すると、それまでの部品を時系列に並べて第２の計測リストを生成する。このように構成したことにより、部品個数と測定箇所数とを乗算した値を求めて積算し、計測に要する時間に相当する積算値を求めて、その積算値が所定値に達するまでの部品を第２の計測リストとして、それを表示させるようにしたので、直ぐに必要な情報だけを計測者に伝えられることになる。
【００１２】
本発明に係る計測支援システムにおいて、第２の計測リストには少なくとも部品名及び部品個数が含まれる。このように構成したことにより、直ぐに計測作業にかかる必要のある部品の部品名及び部品個数が表示され、計測者はその表示に従って計測作業に取りかかればよいので、計測作業が単純化される。
【００１３】
本発明に係る計測支援システムは、データベース装置を備え、データベース装置は、部品の抜き取り検査時刻とその保管時間とに基づいて生成された第１の計測リストが少なくとも格納される。第１の計測リストは、部品の抜き取り検査時刻だけなくその保管時間についても考慮されたものとなっており、保管時間を必要とする部品を計測する場合には、そのことを計測者が考慮しなくとも良い。
【００１４】
本発明に係る計測支援システムにおいて、データベースには、部品毎の測定箇所、使用計測器、計器番号、計測情報及び計測器の使用頻度の各情報が格納されており、検査データ収集装置の演算手段は、データベースの上記の各情報に基づいて、第２の計測リストの各部品に対する測定箇所、使用計測器及び計器番号が含まれる第３の計測リストを生成する。このように構成したことにより、第２の計測リストの各部品に対する測定箇所、使用計測器及び計器番号が含まれる第３の計測リストが生成される。計測者はその第３の計測リストに従って計測作業を進めればよいので、ケアレスミスの発生を抑制することができる。
【００１５】
本発明に係る計測支援システムにおいて、検査データ収集装置の演算手段は、計測器の使用頻度が所定回数以上の場合には、計測の開始前に計測器の精度確認を促す表示を表示手段にさせる処理を行う。このように構成したことにより、計測器の使用頻度が所定回数以上の場合には精度確認の必要があるものとして、計測者に精度確認をするように促すようにしている。このため、計測データは所望の精度が維持されることになる。
【００１６】
本発明に係る計測支援システムにおいて、検査データ収集装置は、計測器に付された計測器番号を読み取る読取装置を備え、演算手段は、読取装置が使用対象となる計測器の番号を読み取ると、その読み取った計測器の番号と第３の計測リストの該当する計測器の番号とを対比して一致しているかどうかを判断し、一致していない場合には使用する計測器の再選択を促す表示を表示手段にさせる処理を行う。このように構成したことにより、測定箇所に応じた計測器を特定しておくことで、同一の測定箇所には同じ計測器を使用することが可能になり、計測器が異なることによるバラツキの発生を防止している。
【００１７】
本発明に係る計測支援システムにおいて、検査データ収集装置は、計測器により計測された検査データをデータベースに出力して格納させる。このように構成したことにより計測データをデータベースで一括管理することができる。
【００１８】
本発明に係る計測支援システムは、管理装置を備え、管理装置は、データベースから取り込んだ、製造装置毎の部品の製造時間及びその部品に対する計測の進行状況を含む各種のデータを表示する表示手段と、表示手段に表示されたデータから選択して部品の計測に関するデータを検査データ収集装置に送信させるための操作手段とを備えたものである。このように構成したことにより、管理装置側においても製造装置毎の部品の製造時間及び計測の進行状況を把握して、必要な情報を計測者に指示することができる。
【００１９】
本発明に係る計測支援システムは、表示手段に替えて印刷手段を備え、印刷手段は表示手段による表示内容を印刷する。このように構成したことにより必要な情報を印刷して紙を媒介にして計測者に伝えることができる。
【００２０】
本発明に係る計測支援システムにおいて、検査データ収集装置の前記演算手段は、計測データを用いて計算が必要となった時に計算用ダイアログを表示手段に自動的に表示させて、ダイアログの指定個所へ計測データの入力を促す。このように構成したことにより、計測者はダイアログの指定個所へ計測データを入力するだけでよく、計測データの計算ミスを無くすことができる。
【００２１】
本発明に係る製造支援システムは、上記の計測支援システムを組み込んだものであり、上記の計測支援システムを組み込んだことにより計測データの信頼性が向上しているので、それは製造部品にも反映されて、精度の良い部品の製造が可能になっている。
【００２２】
【発明の実施の形態】
実施形態１．
図１は本発明の実施形態１に係る計測支援システムの構成を示すブロック図であり、ここでは生産システムにおいて用いられる例について説明する。この計測支援システムは、複数の検査データ収集装置１、データベース装置（以下、ＤＢ装置という）２及び管理装置３がネットワーク４を介して相互に接続されている。
【００２３】
検査データ収集装置１は、処理手段（演算手段）１１、入力手段１２、記憶手段１３、表示手段１４、印刷手段１５、データ送受信手段１６は及びバーコード読取装置１７から構成されており、必要に応じて１又は複数の計測器１８が接続される。処理手段１１は各種の演算等の処理を行うものであり、計測器１８からの計測データを取り込んでデータ送受信手段１６を介してＤＢ装置２に送信させたり、表示データを表示手段１４に送信したり、或いは処理されたデータに基づいて作成した帳票データを印刷手段１５に送信したりする。入力手段１２は、例えばマウスのようなポインティングデバイス、キーボード等に代表されるような手段である。オペレータ（例えば、作業依頼者、計測者等）により入力されるデータを入力信号に変換して処理手段１１に送信する。
【００２４】
記憶手段１３は、処理手段１１が目的の処理を行うために、データを一時的又は長期間記憶しておくための手段である。ここでは、いわゆる一次記憶手段及び二次記憶手段を含んで記憶手段１３とする。ここで、記憶手段１３には、ユーザデータが記憶されている。ユーザデータとは、計測者、ユーザＩＤ及びパスワードが関連づけられたデータである。表示手段１４は、例えばＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ  Ｒａｙ  Ｔｕｂｅ）、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）に代表される手段である。表示手段１４は、処理手段１１から送信される表示信号に基づいて表示する。印刷手段１５は紙媒体への印刷を行うためのプリンタである。データ送受信手段１６は、例えばネットワークインターフェイスカードに代表されるような、ネットワーク４を介して他の装置とデータとなる信号をやりとりするための手段である。処理手段１１が送信処理した信号をネットワーク４に送信できるように変換し、またその逆の変換も行う。本実施形態１では、主としてＤＢ装置２に各種データを蓄積させたり、ＤＢ装置２に蓄積されている各種データを処理手段１１が読み込んで利用する際のインターフェイスとなる。バーコード読取装置１７は計測器１８に貼付されているバーコード（計測器の番号）を読み取って処理手段１１に送信する。
【００２５】
計測器１８は、計測量（物理量）に基づいた計測信号を処理手段１１に送信する。ここで、計測器１８は、例えば、デジタルノギス、３次元計測器、工具顕微鏡等、計測対象物の寸法、重量を計測するものだけでなく、温度等、例えば周辺環境（加工条件、加工環境）等、計測対象物以外の物理量を計測するものの双方を含むものとする。また、カメラ等、画像データを信号として送信する機器も計測器１８に含むものとする。ここで計測器１８が送信する計測データは、アナログ信号、デジタル信号等、その信号の種類は問わない。ただ、図１では特に図示しないが、場合によっては、計測器１８と処理手段１１との間に、インターフェイスとなる手段（具体的には、ＲＳ２３２−Ｃのようなシリアル、セントロニクスのようなパラレル、エンコーダのようなパルス等の信号を受信し、変換するようなポート。）を設け、各々が処理できるような形式の信号に変換を行うこともある。また、計測器１８は複数台同時接続されている場合もある。
【００２６】
ＤＢ装置２は、ＤＢデータ処理手段２１、ＤＢデータ蓄積手段２２及びデータ送受信手段２３から構成されている。ＤＢデータ処理手段２１は、いわゆるデータベース管理システムである。ＤＢデータ処理手段２１はデータ蓄積処理部２１Ａ及びデータ送信処理部２１Ｂから構成されている。データ蓄積処理部２１Ａは、ネットワーク４を介して検査データ収集装置１から送信された信号に含まれる各種データを、ＤＢデータ蓄積手段２２に蓄積（記憶）させるための処理を行う。データ送信処理部２１Ｂは、ネットワーク４を介して検査データ収集装置１から送信される要求に基づいたデータをＤＢデータ蓄積手段２２から探し出し、そのデータを要求した検査データ収集装置１に送るための処理を行う。ここで、ＤＢデータ蓄積手段２２に蓄積されたデータの数が多くなってくると、データ送信処理部２１ＢがＤＢデータ蓄積手段２２からデータを探しだすのに時間を費やすこととなり効率が悪くなる。そこで、データ蓄積処理部２１Ａは、例えば、時間が経過して滅多に参照することがない計測データと計測するたびに用いられる時間的に新しい計測データとを区別し、管理しながら蓄積するようにする。このようにすると、計測時に参照するための計測データを探す場合には、計測データを効率よく探し出すことができる。
【００２７】
ＤＢデータ蓄積手段２２は、ＤＢデータ処理手段２１の制御に基づいて、データ蓄積処理部２１Ａにより処理された各種データを蓄積する。本実施形態では、ＤＢデータ蓄積手段２２には、計測器データ、コードデータ、測定指示データ、測定データ、ユーザーデータ、製造データ等が少なくとも蓄積されているものとする。計測器データとは、各計測器１８について、種類、特徴等の事項をデータ化したものである。コードデータとは、事象、物等に付されたコード番号との対応をデータ化したものである。測定指示データとは、計測者が行う作業について、その計測対象、その計測対象を計測するために用いる計測器１８、計測位置、手順等の指示をデータ化したものである。計測データとは、計測対象を計測した計測値（数値以外の良否判断等も含む）を、計測器１８、計測時刻、その他の周辺環境のデータと関連づけたものである。ユーザーデータとは、各計測器１８について計測する権限を有しているか否か、各種データを登録したり、参照したりする権限を有しているか否かをデータ化し、ＩＤのデータと関連づけたものである。また、製造データとは、製造物についての各種のデータ（形状、寸法、材料等）である。データ送受信手段２３は、データ送受信手段１６と同様に、ネットワーク４を介して他の装置とデータを含む信号のやりとりをする。
【００２８】
管理装置３は、検査データ収集装置１と同様な構成からなるものであるが、例えば管理室に設置され、各種の管理データを入力したり、製造の進捗状況を把握するために用いられるのである。検査データ収集装置１、ＤＢ装置２及び管理装置３を相互に接続しているネットワーク４は、電気、電波、光等の信号をデータの搬送媒体とする通信回線（無線も含む）である。以上の説明により、図１の計測支援システムの構成の概要が明らかになったところで、以下、本実施形態の特徴部分を中心に説明する。
【００２９】
図２は各種製造装置及び組立装置により作製される部品の抜取検査時刻を表した図であり、これはＤＢデータ蓄積手段２２に例えば製造データとして格納されている。部品毎に抜取検査間隔が異なっているが、これは部品の品質を保証する上で必要とされる１日における検査回数が部品毎に決められているからである。計測者は、この抜取検査時刻に従って、その時刻に製造された部品を計測しなければならない。
【００３０】
図３は各製造部品と保管時間との関係を示した図であり、これはＤＢデータ蓄積手段２２に例えば製造データとして格納されている。部品の中には、或る一定時間経過した後に計測しなくてはならない物もある。この時間を図３では保管時間としている。例えば、成型加工した部品は冷却する必要がある。
【００３１】
図４は各部品の計測可能時刻を示した図であり、抜取検査時刻に保管時間を考慮した結果を示した図である。各部品はこの図４に示される時刻から計測が可能になる。
【００３２】
図５は図４のデータを計測可能時刻をキーに纏めたデータからなる計測リスト１を示した図である。同５に示されるように、各部品についての計測時刻が時系列に並べられているので、計測者は、この計測可能時刻に従って部品を計測すればよい。この図５の計測リスト１は、ＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２に例えば測定指示データとして格納されているものとする。なお、この図５の計測リスト１は、図２及び図３のデータに基づいて求められるが、それは、例えば管理装置３が図２及び図３のデータに基づいて演算処理してそれをＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２に格納させたり、或いは、検査データ収集装置１にその処理を行わせるようにしてもよい。なお、この計測リスト１は実表又はビュー表の何れでもよい。ところで、図５の計測リスト１を表示手段１４にそのまま表示させたのでは無駄な情報量が多く、計測者の負担を増すことになる。例えば計測者が読み間違いをして誤った計測をするおそれ等がある。そこで、図６に示されるような表示をさせる。
【００３３】
図６は図５の計測リスト１の一部にマスクをかけて表示するように例を示した図である。表示点数が多すぎることによる弊害を避けるために表示対象を絞り込んでいる。例えば計測が終了した部品については表示しないこととし（※１）、また、未計測の部品であっても例えば所定時間以降のものについては表示しないようにしている（※２）。これらの詳細については後述する。
【００３４】
図７は図１の計測支援システムの処理過程を示したフローチャートであり、そして、図８は計測リスト２の生成処理の詳細を示したフローチャート、図９は選択された計測器の照合処理の詳細を示したフローチャート、図１０は精度確認の処理の詳細を示したフローチャートである。
【００３５】
（Ｓ１１）検査データ収集装置１の処理手段１１は計測リスト２を生成する。図８のフローチャートに示されるように、処理手段１１は、データ送受信手段１６を介してＤＢ装置２にアクセスし、そのデータ送受信手段２３及びＤＢデータ処理手段２１を介してＤＢデータ蓄積手段２２から図５の計測リスト１を読み出て取り込み（Ｓ１１ａ）、計測可能な計測リスト２を自動的に生成する（Ｓ１１ｂ）。
【００３６】
図１１は計測リスト２を示した図である。この計測リスト２は、計測者が任意時刻で計測可能な分だけ計測リスト１から抽出したものである。基本的には計測可能時刻を過ぎたら、何時でも計測してもよいと言うことになるが、計測リスト２は、例えば、或る部品の部品個数と測定箇所数を乗算した値を部品毎に順次加算して積分していき、或る指定値（例えば管理者が指定）を超えるまで計測可能な部品を順次抽出していくことにより生成される。また、緊急に計測が必要な部品は、管理装置３側からその計測リスト２を編集して計測対象となる部品のデータを追加できるようにしてもよい。
【００３７】
また、処理手段１１は、計測リスト２の各部品ごとに割り当てられた使用計器に関する計測リスト３を、ＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２の該当する部品毎の計測情報、計測器の使用頻度等を読み込んで（Ｓ１１ｃ）参照して自動的に生成する（Ｓ１１ｄ）。
図１２はこの計測リスト３を示した図である。この計測リスト３は、測定箇所毎に、使用計測器、計測状況（済、未）、精度確認及び測定開始の各項目を有する。
【００３８】
（Ｓ１２）処理手段１１は上記の処理（Ｓ１１）で求められた計測リスト２（及び／又は計測リスト３）を表示手段１４に表示させる。このようして表示手段１４に表示させる部品点数を絞り込むことにより、計測者が単純ミスを起こさないようにしている。即ち、図５の計測リスト１をそのまま表示させた場合には部品点数が多いために、読み違い等を起こす可能性があり、部品名を読み違えたり、或いは部品名に対する部品点数を読み違えたりすることがあるが、図１１のように絞り込んだものを表示させることによりそのような事態が避けられる。なお、計測リスト３は、計測リスト２が表示されている状態で、例えば或る部品の詳細の項目をクリックすることにより、その部品に対応した使用計測器の計測リスト３が表示されることになる。
【００３９】
（Ｓ１３）計測者は、表示手段１４に表示された図１１の計測リスト２から計測対象の部品を選択し、その詳細の部分をクリックすることにより、その部品の計測に用いられる計測器の計測リスト３を表示させて計測噐を選択させる（Ｓ１３ａ）。計測者が、例えば図１１の成型３を計測する場合には、成型３を指定個数だけ保管場所より持ってくることになる。部品の中には測定箇所が複数箇所あり、測定箇所によっては使用する計測器も異なったものとなるので、計測箇所に応じた計測器を選択する（Ｓ１３ｂ）。例えば図１２の計測リスト３の例では、測定箇所「ａｂ」を測定する場合には、計器番号（Ｋ−００２）のノギスを使用することになる。
【００４０】
（Ｓ１４）次に、選択された計測器の照合を行う。図９に示されるように例えば、計測者が使用する計測器を選択して処理手段１１に接続する（Ｓ１４ａ）。計測者がバーコード読取装置１７を操作するにより計測器に貼付されているバーコードを読み取り、処理手段１１は計測器の番号（Ｎｏ．）を取得する（Ｓ１４ｂ）。処理手段１１は、計測リスト３の計器番号とバーコード読取装置１７により読み取った番号とを照合し（Ｓ１４ｃ）一致しているかどうかを判断する（Ｓ１４ｄ）。一致していないと判断した場合には例えば表示手段１４にその旨を表示して計測器の選択を促し（Ｓ１４ｅ）、上記の処理（１４ａ）以降の処理が繰り返されることになる。また、一致していると判断した場合には例えば表示手段１４にその旨の表示して、次に精度確認の処理（Ｓ１５）に移行する。なお、同じ種類の計測器であっても固有差があるため、計測時に計測器を変更すると計測データのバラツキの要因となる。そこで、或る部品を計測する前に、選択された計測器の番号とバーコード読取装置１７で取得した計測器の番号とを照合する事により、部品の測定箇所については常に同じ計測器で計測する。このようにして、計測データのバラツキが発生するのを避けけるようにしている。
【００４１】
（Ｓ１５）処理手段１１は選択された計測器について精度確認が必要かどうかを判断する。この判断に際しては、ＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２からその計測器の使用頻度を読み出し、それが所定回数を超えている場合には精度確認が必要であるという判断をし、所定回数以下の場合には精度確認が必要ではないという判断をする。
【００４２】
（Ｓ１６）処理手段１１が精度確認が必要であるという判断をした場合にはその旨を表示手段１４に表示させて（例えば図１２の計測リスト３の精度確認の項目の黒丸参照）、計測者に精度確認の作業を促す。この精度確認の作業は、図１０に示されるように、まず、その計測器によりデータを収集させる（Ｓ１６ａ）。例えば校正用資料の計測やゼロ点調整を行う。処理手段１１は、ＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２から校正用試料の寸法やゼロ点値を読み出して（Ｓ１６ｂ）、そのデータと、実際に計測した校正用試料の計測値、ゼロ点調整値とを対比してデータの照合を行う（Ｓ１６ｃ）。そして、その照合の結果、計測器の精度が規格精度範囲内であるかどうかを判断する（Ｓ１６ｄ）。計測器の精度が規格精度範囲内ではない（規格精度範囲から外れている）という判断をした場合には、その旨を表示手段１４に表示するとともに例えば管理装置３に送信して管理者に伝達し、計測器の点検修理を促し、このシステムを終了させる（Ｓ１６ｅ）。計測器の精度が規格精度範囲内であるという判断をした場合には、図１３の計測リスト３の測定開始の項目のボタンがオンになり、これにより次の計測データの収集処理（Ｓ１７）に移行することができる。
【００４３】
（Ｓ１７）計測データの収集処理を行う。処理手段１１は、選択された計測器に対応したデータ収集プログラムを起動させて、計測器１８からのデータを取り込んでＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２に蓄積するための処理を行う。なお、このときは計測者のデータを入力して計測データ、計測時刻等とともにＤＢ装置２に送信する。また、本実施形態１においては、その測定の種類に応じて例えば計算用ダイアログを表示手段１４に表示させて計算処理を行わせる。例えば計測には計測データを用いて半径、平面度、平行度等の計算をする場合がある。しかし、計測したデータを用いて、計算機を使用した計算、又は手計算した場合に転記ミスや計算ミスが発生する可能性がある。そこで、図１３の計測リストの測定開始ボタンを押すと（クリックすると）、計算が必要な場合には計算用のダイアログを表示し、計測データを入力するだけで半径、平面度、平行度などの項目を計算する。このようなダイアログは計算する項目毎に準備し、それぞれをＩＤ番号で登録することにより自動的に読み出すようにする。このようにして計測時における計算ダイアログの表示により、計測過程における、人に起因したミスを最小限に抑制することができ、計測データの信頼性を高めることができる。
【００４４】
図１４は半径を計算するダイアログの例を示した図であり、図１５は半径を計算する場合の部品の測定部位（Ｐｏｉｎｔ１〜３）を示した図である。作業者、各測定部位（Ｐｏｉｎｔ１〜３）を測定する度に、そのデータ（Ｘ座標、Ｙ座標）に入力するとともに、それが適切な場合には取得ボタンを押す（クリックする）操作をすることによりデータを取り込み、必要なデータを全て取り込んだ段階で計算ボタンを押すと測定データに基づいて半径を求めて表示する。
【００４５】
図１６は平面度を計算するダイアログの例を示した図であり、図１７は平面度を計算するための測定部位（Ｐｏｉｎｔ１〜３）を示した図である。この測定部位（Ｐｏｉｎｔ１〜３）の高さをそれぞれ取得して計算ボタンをクリックすると、最大値と最小値との差から平面度を求めて表示する。
【００４６】
（Ｓ１８）処理手段１１は該当する部品の全て測定箇所についての測定が終了したかどうかを判断する。図１２の計測リスト３の例においては、測定箇所「ａｂ」、「ｂｃ」及び「ｃｄ」の全てについての計測が終了したかどうかを判断し、終了していなければ上記の処理（Ｓ１３ｂ）に戻ってそれ以降の処理を繰り返すことになる。
【００４７】
（Ｓ１９）処理手段１１は、或る部品について処理が終了すると、次に、全ての測定対象物についての処理が終了したどうかを判断する。ここでは例えば図１１の計測リスト２の全てについての計測が終了したかどうかを判断する。
（Ｓ２０）処理手段１１は、全ての測定対象物についての処理が終了していないという判断をした場合には、図１１の計測リスト２の内容を更新する。この更新の方法は、上記の処理（Ｓ１１）にて行った計測リスト２の生成方法と同じであり、例えば図５の計測リスト１の内「成型１」の計測が終了すると、「組み立て１」が計測リスト３に加わり表示手段１４に表示されることになる。そして、全ての測定対象物についての処理が終了すると、このシステムは終了する。
【００４８】
ところで、管理装置３はＤＢ装置２にアクセスして図２〜図５の情報をを取り込んで計測の進行状況を把握することができ、製造工程、計測状況に応じた計測リストをチェックすることにより、製造システムの効率化、計測者への負担を軽減させることができる。
【００４９】
図１８は管理者が管理装置３により把握できる計測状況の管理リストを示した図であり、これは管理装置３の表示手段１４に表示される。管理者は、この管理リストに基づいて部品に対する計測完了度を把握し、状況に応じて入力手段（操作手段）１２を操作して検査データ収集装置１に情報を送信して、計測者に退位して的確な情報のみを指示するようにする。なお、図１８の管理リストの詳細の項目を押せば（クリックすれば）、測定箇所、それに対応した計測器、計測進行状況等を確認できる。
【００５０】
以上のように本実施形態１によれば、計測リスト１の内容を全て表示せずに絞り込んで計測リスト２を生成して、それを表示手段１４に表示させるようにしたので、計測者にとっては必要な情報だけが表示されることになるため、直ぐには必要が無い情報は表示されないので、計測者がそのリストの見間違いや、ケアレスミスの可能性が軽減される。また、第２の計測リストには少なくとも部品名及び部品個数が含まれ、それらが表示されるので、計測者はその表示に従って計測作業に取りかかればよいので、計測作業が単純化される。更に、計測リスト１は、部品の抜き取り検査時刻だけなくその保管時間についても考慮されたものとなっており、保管時間を必要とする部品を計測する場合には、そのことを計測者が考慮しなくとも良い。また、計測リスト２の各部品に対する測定箇所、使用計測器及び計器番号が含まれる計測リスト３が生成されるので、計測作業をその計測リスト３に従って進めればよい。また、計測の開始前に計測器の精度確認をするようにしたので、計測データは所望の精度が維持されることになる。更に測定箇所に応じた計測器を特定しておくことにより、同一の測定箇所には同じ計測器を使用するようにして、計測器が異なることによるバラツキの発生が防止できる。
【００５１】
実施形態２．
図１９は上記の実施形態１のデータ収集支援システムを組み込んだ製造支援システムの構成を表すブロック図である。この製造システムにおいては、設計データ収集装置１０１、環境データ収集装置１０２、検査データ収集装置１０３、設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５、検査データ蓄積装置１０６、データ評価装置１０７、製造状況集計装置１０８、データ表示装置１０９、データ出力装置１１０及び外部転送装置１１１を備えている。図１のシステムとの関係では、図１の検査データ収集装置１は検査データ収集装置１０３に相当し、ＤＢ装置２は設計データ収集装置１０１及び検査データ収集装置１０３に相当する。また、管理装置３は、データ評価装置１０７、製造状況集計装置１０８、データ表示装置１０９、データ出力装置１１０及び外部転送装置１１１に相当する。なお、設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５及び検査データ蓄積装置１０６は、説明の便宜上別体のものとしているが、１個のデータベースにより実現してもよい。
【００５２】
設計データ収集装置１０１は、設計者が、製品、それを構成する部品等の設計を行う場合に設定入力した、設計に関するデータ（以下、設計データという）を入力される信号に基づいて処理（ここではこのような処理を作成処理という）するための装置である。特に数を限定するものではないが、本実施形態では、設計データ収集装置１０１は各設計工程分、システム内に複数設けられているものとする。設計データには、製造条件等を規定したデータや、後の検査工程において、計測すべき箇所の寸法、そのための計測器等の指示等の検査項目を設定してデータ化した測定指示データも含まれるものとする。環境データ収集装置１０２は、各製造工程において用いられる装置である。設計データ収集装置１０１と同様に、システム内に複数設けられている。環境データ収集装置１０２は、温度センサ等の計測器（以下、計測器Ａという）が接続され、送信された環境データを含む信号を処理する。また、信号に含まれて入力された製造装置の設定のデータ及び製造条件のデータを処理する。そして、これらの製造環境条件を環境データとして環境信号に含めて環境データ蓄積装置１０５に送信する。
【００５３】
設計データ蓄積装置１０４は、１又は複数の設計データ収集装置１０１から送信された設計信号に含まれる各設計工程の設計データを処理し、蓄積する。また、蓄積された設計データから要求されたデータを信号としてネットワーク４を介して要求先の装置に送信する。ここで、設計データ蓄積装置１０４は特にデータ変換手段１０４ａを備えている。検査指示抽出手段１０４ａは、通常、ＣＡＤ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ａｉｄｅｄ  Ｄｅｓｉｇｎ  ）装置で作成される設計データ（又はその一部）に基づいて、検査を行うべき箇所について規格値等となる数値、検査項目等のデータを抽出又は変換して、検査データを収集する際の指示の検査マスターデータ（測定指示データ）の一部又は全部を作成するものである。通常、このデータ変換手段１０４ａはデータベース管理システムの動作を行う制御処理手段に処理させるためのプログラム（ソフトウェア）で構成されている。ここで、様々な種類のＣＡＤ装置（又はソフトウェア）で作成される複数のデータ形式に対応できるようにしておくことにより、幅広くデータを抽出することができる。
【００５４】
環境データ蓄積装置１０５は、設計データ蓄積装置１０４と同様の構成を採り、１又は複数の環境データ収集装置１０２から送信された環境信号に含まれる各製造工程の環境データを処理し、蓄積する。また、蓄積された環境データから要求されたデータを信号としてネットワーク４を介して要求先の装置に送信する。検査データ蓄積装置１０６も設計データ蓄積装置１０４及び環境データ蓄積装置１０５と同様に、１又は複数の検査データ収集装置１から送信された検査信号に含まれる各検査工程の検査データを処理し、蓄積する。また、蓄積された検査データから要求されたデータを信号としてネットワーク４を介して要求先の装置に送信する。
【００５５】
データ評価装置１０７は、最終的な製品に不良が見つかった場合に、検査データ及び環境データに基づいて、各部品について検査時又は製造時の状態について解析を行い、どの工程に原因があったのかを追跡し、評価するための装置である。データ評価装置１０７は、製品に至るまでの工程全体のトータルの評価も行えるし、各工程別の評価も行える。製造状況集計装置１０８は、検査データ蓄積装置１０６に蓄積された検査データ及び環境データ蓄積装置１０５に蓄積された環境データに基づいて、製品の製造状況を集計、判断する装置である。
【００５６】
データ表示装置１０９は、データ評価装置１０７又は製造状況集計装置１０８が処理し、判断した結果を表示するための装置である。データ出力装置１１０は、データ評価装置１０７及び製造状況集計装置１０８が処理し、判断した結果をプリンタ、データファイルとして出力する装置である。ここで、データ表示装置１０９、データ出力装置１１０は、システムに複数設けられている場合もある。外部転送装置１１１は、データ評価装置１０７及び製造状況集計装置１０８が処理し、判断した結果をデータとして含めた信号を外部のネットワーク４を介して転送するための装置である。
【００５７】
本実施形態２では、設計データ収集装置１０１、環境データ収集装置１０２、検査データ収集装置１０３の作成処理によって得られた設計データ、環境データ及び検査データをそれぞれ設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５、検査データ蓄積装置１０６に蓄積して共有できるようにし、各工程で他の工程で作成処理されたデータを共有する。そして、それらを全て参照できるようにする。この場合、各データを関連させることが容易になり、解析が行いやすくなる。したがって、フィードバックやフィードフォーワードも容易に可能となる。また、各部品と製品との関連性（どの部品により製造されたか等の履歴）を容易に把握することができ、不良発生時の原因追及が行いやすくなる。しかも、紙媒体から作業者の転記に依らないので、データが蓄積されるまでには時間を要せず、最新のデータが蓄積される。したがって、処理時間が短く、転記ミスや作為的なデータ修正を防ぐことができる。また、最新のデータを参照すれば、どの部品がどの工程にあるかをすばやく把握できる。
【００５８】
図３は作業工程、データの流れと各装置との関係を表す図である。次にシステムを構成する各装置の動作について、製品の製造工程と共に説明する。ここでは、例としてプリンタを製造する工程について説明する。図３において、Ｓ１はプラスチック成形部品製造工程である。プラスチック部品製造工程Ｓ１は、プラスチック部品設計工程Ｓ１−１、プラスチック部品型設計工程Ｓ１−２、プラスチック部品型製造工程Ｓ１−３、プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４、プラスチック部品成形工程Ｓ１−５及びプラスチック部品検査工程Ｓ１−６からなる。プラスチック部品設計工程Ｓ１−１は、筐体等のプラスチック成形部品を設計する工程である。前述した設計データ収集装置１０３はこの工程で用いられる。設計者が入力した設計に関する事項を設計データ収集装置１０１がデータ化し、設計データを設計信号に含めて設計データ蓄積装置１０４に送信する。このプラスチック部品設計工程Ｓ１−１において、プラスチック部品検査工程Ｓ１−６で行う検査項目（検査箇所等）、計測器等を設計者が決定し、検査作業指示データとして例えば設計データ蓄積装置１０４に蓄積させる。この際、設計データが、設計に用いたＣＡＤ装置の形式でデータ化されている場合には、データ変換手段１０４ａがデータを変換（場合によっては一部を抽出して変換）し、測定指示データ作成の支援を行う。
【００５９】
プラスチック部品型設計工程Ｓ１−２は、プラスチック成形部品用の金型を設計する工程である。設計データ収集装置１０１はこの工程でも用いられる。プラスチック部品設計工程Ｓ１−１で作成処理された設計データを利用して金型を設計し、さらにプラスチック成形部品の金型に関する設計データを設計信号に含めて設計データ蓄積装置１０４に送信する。その際、プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４で行う検査項目等を検査作業指示データとして例えば設計データ蓄積装置１０４に蓄積させる。その際には、データ変換手段１０４ａが測定指示データ作成の支援を行う。プラスチック部品型製造工程Ｓ１−３は、設計した金型に基づいてプラスチック成形部品用の金型を製造する工程である。プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４は、プラスチック成形部品用の金型の寸法等が規格内に収まっているかどうか等、寸法、外観等を検査する工程である。前述した検査データ収集装置１０３はこの工程で用いられる。検査者（計測者）は、計測器Ｂを用いて、設計データ蓄積装置１０４に蓄積された測定指示データに基づいて、指示された検査項目で検査を行う（この詳細は上記の実施形態１に説明したとおりである）。検査データ収集装置１０３は、検査により作成処理した検査データを含めた検査信号を検査データ蓄積装置１０６に送信し、蓄積させる。ここで、蓄積された検査データに基づいて、製造した型に問題があるかどうかを判断する。問題があれば、設計データ蓄積装置１０４及び環境データ蓄積装置１０５に蓄積された設計データ及び環境データに基づいて、設計者及び型製造技術者が協議して原因を判断し、型の変更又は条件の変更を決定する。そして、その決定に基づいて、再度プラスチック部品型設計工程Ｓ１−２又はプラスチック部品型製造工程Ｓ１−３の工程を経て、問題を解消した上で量産成形を行う。
【００６０】
プラスチック部品成形工程Ｓ１−５は、プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４で成形可能と判断された金型についてプラスチック成形部品を量産成形する工程である。前述した環境データ収集装置１０２はこの工程で用いられる。環境データ収集装置１０２は、作成処理した環境データを含めた環境信号を環境データ蓄積装置１０５に送信し、蓄積させる。プラスチック部品検査工程Ｓ１−６は、量産成形をした部品を検査する工程である。この検査によって得られるデータは検査データ蓄積装置１０６に蓄積される。量産成形したプラスチック成形部品が規格内に収まっているかどうか、プラスチック成形部品にバリ等が残っていないか等、寸法、外観等を検査する工程である。前述した検査データ収集装置１０３はこの工程で用いられ、プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４と同様に、検査データ収集装置１０３は、検査により作成処理した検査データを含めた検査信号を検査データ蓄積装置１０６に送信し、蓄積させる。
【００６１】
プレス部品製造工程Ｓ２は、プレス部品設計工程Ｓ２−１、プレス部品型設計工程Ｓ２−２、プレス部品型製造工程Ｓ２−３、プレス部品型検査工程Ｓ２−４、プレス部品製造工程Ｓ２−５及びプレス部品検査工程Ｓ２−６からなる。プレス部品製造工程Ｓ２の各工程については、それぞれプラスチック成形部品製造工程Ｓ１との関係で対応する工程と同様の動作を行い、プラスチック部品がプレス部品に置き換わっただけであるので説明を省略する。
【００６２】
モータ部品製造工程Ｓ３は、モータ設計工程Ｓ３−１、モータ部品製造工程Ｓ３−２、モータ部品検査工程Ｓ３−３、モータ製造工程Ｓ３−４及びモータ検査工程Ｓ３−５からなる。モータ設計工程Ｓ３−１は、モータ及びそれに伴う各モータ部品を設計する工程である。設計データ収集装置１０１はこの工程で用いられる。設計者が入力した設計に関する事項を設計データ収集装置１がデータ化し、設計データを設計信号に含めて設計データ蓄積装置１０４に送信する。このモータ設計工程Ｓ３−１において、設計者がモータ部品検査工程Ｓ３−３及びモータ検査工程Ｓ３−５で行う検査項目（検査箇所等）等を決定する。モータ部品製造工程Ｓ３−２は、設計に基づいてモータ部品を製造する工程である。前述した環境データ収集装置１０２はこの工程で用いられる。外気温度（雰囲気温度）、装置条件等を環境データとして作成処理した環境データ収集装置１０２は、作成処理した環境データを含めた環境信号を環境データ蓄積装置１０５に送信する。
【００６３】
モータ部品検査工程Ｓ３−３は、製造したモータ部品を検査する工程である。この検査によって得られるデータは検査データ蓄積装置１０６に蓄積される。モータ部品が規格内に収まっているかどうか等、寸法、外観等を検査する工程である。検査データ収集装置１０３はこの工程で用いられる。モータ製造工程Ｓ３−４は、モータ部品を組み立ててモータを製造する工程である。環境データ収集装置１０２はこの工程で用いられる。外気温度、製造条件等を環境データとして作成処理した環境データ収集装置１０２は、作成処理した環境データを含めた環境信号を環境データ蓄積装置５に送信する。モータ検査工程Ｓ３−５は、製造組立をしたモータを検査する工程である。モータ検査工程Ｓ３−５では、寸法、外観等を検査するだけでなく、例えば、回転スピードの検査、消費電力等の電気特性評価の検査等、製造されたモータが所定の動作を行うかどうかを検査する。
【００６４】
電気回路基板製造工程Ｓ４は、電気回路基板設計工程Ｓ４−１、電気回路基板製造工程Ｓ４−２及び電気回路基板検査工程Ｓ４−３からなる。電気回路基板設計工程Ｓ４−１は、制御回路等の電気回路基板を設計する工程である。設計データ収集装置１０１はこの工程で用いられる。設計者が入力した設計に関する事項を設計データ収集装置１がデータ化し、設計データを設計信号に含めて設計データ蓄積装置１０４に送信する。この電気回路基板設計工程Ｓ４−１において、設計者が電気回路基板検査工程Ｓ４−３で行う検査項目等を決定する。電気回路基板製造工程Ｓ４−２は、設計に基づいて電気回路基板を製造する工程である。環境データ収集装置１０２に入力された製造条件等のデータは環境データとして、環境信号に含めて環境データ蓄積装置１０５に送信され、蓄積される。電気回路基板検査工程Ｓ４−３は、製造した電気回路基板を検査する工程である。電気回路基板検査工程Ｓ４−３でも寸法、外観等の検査だけでなく、例えば、配線状況、電気接続等の動作確認の検査が行われる。
【００６５】
ヘッド部品製造工程Ｓ５は、ヘッド設計工程Ｓ５−１、ヘッド部品製造工程Ｓ５−２、ヘッド部品検査工程Ｓ５−３、ヘッド製造工程Ｓ５−４及びヘッド検査工程Ｓ５−５からなる。ヘッド製造工程Ｓ５の各工程については、それぞれモータ製造工程Ｓ３の対応する工程と同様の動作を行い、モータがヘッドに置き換わっただけであるので説明を省略する。なお、ヘッド検査工程Ｓ５−５では、ノズル孔、駆動素子の外観検査、ヘッドのインク吐出量、インクスピード等、ヘッドの動作（能力）を検査する。
【００６６】
製品組立構成Ｓ６は、各工程で製造された部品を組み立てて製品を製造する工程である。環境データ収集装置２により作成処理された組立製造条件等のデータは環境データとして、環境信号に含めて環境データ蓄積装置１０５に送信され、蓄積される。最終検査工程Ｓ７は、製造された製品全体についての検査（動作試験等も含む）を行う工程である。最終検査工程では主に動作試験が行われる。例えば初期不良があればそれを発生させるために一定時間動作させたり、例えば製品がプリンタであれば印刷したい画や文字が精度よく印刷されているか、紙送り機構が動作しているかどうか等、電気的、機械的な動作の確認を行ったりする。ここでも、検査データ収集装置１０３を用いて検査データが収集され、検査信号が検査データ蓄積装置１０６に送信される。
【００６７】
これらの工程で蓄積された検査データ及び環境データについて、データ評価装置１０７及び製造状況集計装置１０８において処理を行う。最終検査工程Ｓ７において、検査データの解析に基づき、不良の製品が発見された場合、データ評価装置１０７は、環境データ蓄積装置１０５、検査データ蓄積装置１０６からその製品を構成する各部品について蓄積されている検査データ、環境データを探し出すための処理を行う。そして、探し出した検査データ、環境データに基づいたデータ表示をデータ表示装置１０９にさせたり、データ出力装置１１０から出力させたり、外部転送装置１１１に転送させたりする。また、製造状況集計装置１０８については、設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５又は検査データ蓄積装置１０６に蓄積されたデータのうち、最も新しく蓄積されたデータに基づけば、各部品等の単位でどの工程まで作業が進行しているかを把握することができる。
【００６８】
以上のように本実施形態２によれば、設計データ収集装置１０１、環境データ収集装置１０２及び検査データ収集装置１０３の処理によって得られた設計データ、環境データ及び検査データをそれぞれ設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５及び検査データ蓄積装置１０６に蓄積して共有できるようにしたので、フィードバックやフィードフォーワードを行うことができ、一括した管理を行うことができる。また、各データを関連づけてデータの加工等を行うことができる。特に検査においては、各部品の相互関係も含めた複合的な検査を行える。これは、型から成形部品を作る部品において、型検査と成形部品検査を行う場合には特に有効である。このようなことは、システム上の各検査データ収集装置１０３が、計測器の種類、データの形式等に関係なく信号のやりとりを行い、全ての検査結果をデータ化できることにより実現できるものである。また、製品を構成する部品については、寸法、外観等の形状、その部品が動作する場合は、その動作を検査することにより精度を高めることができる。
【００６９】
そして、各部品を検査し、それを製品のデータにすれば、製品の能力と各部品の精度との関係を明確にすることができ、製品の部品履歴を把握しやすくなる。製品のデータについては、製品としての機能を検査することによって、さらに製品の検査精度を高めることができる。また、環境データ収集装置１０２が処理した、製造時の周囲温度、製造条件、装置の設定条件等をデータ化した環境データを作成処理するようにしたので、製造環境と部品との関連性を明確にすることができる。また、例えば設計変更等により再度検査を行う場合に、以前に作成処理された検査作業指示データを用いる等、ある工程で作成処理したデータを別の工程で利用するようにしたので、作業効率がよくなる。また、データ評価装置１０７により、製品不良を各部品の検査データや環境データを基にして追跡することができるので、原因を追及しやすくなり、早急に対策を行うことができる。また、データ評価装置１０７では、製造時の製造条件を表す環境データと設計工程において作成処理された製造条件の設計データとを比較できるので、原因追及を行いやすくすることができる。また、製造状況集計装置１０８が、最新のデータに基づいて、製品の製造作業がどこまで進行しているか状況を判断するようにしたので、製造状態を素速く、正確に判断することができる。また、データ出力装置１１０により帳票形式での印刷ができるようになったので、紙媒体での管理も行える。また、外部転送装置１１１を備えることにより、他の同種の装置、他のシステムとの間でも、場所に関係なく、データのやりとりを行うことができる。
【００７０】
更に、本実施形態２においては上記の実施形態１の計測支援システムを組み込んでいるので、計測データの収集に際してエラーが少なく高精度の計測データが得られるので、製造物についても高精度のものが安定し得られる。
【００７１】
実施形態３．
なお、上記の実施形態においては、本発明の計測支援装置を検査データ収集装置に組み込んだ例について説明したが、計測支援装置を検査データ収集装置とは別体に構成してもよい。即ち、計測支援装置は、図１１の計測リスト２及び図１２の計測リスト３を表示せる装置であるが、それを検査データ収集装置とは別に配置するようにしてもよい。また、計測リスト２及び３を表示手段１４に表示させる例について説明したが、印刷手段１５により印刷させて、用紙に必要な情報を印刷させて計測者に指示を与えるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態１に係る計測支援システムの構成を示すブロック図。
【図２】各種製造装置及び組立装置により作製される部品の抜取検査時刻を表した図。
【図３】各製造部品と保管時間との関係を示した図。
【図４】各部品の計測可能時刻を示した図。
【図５】計測リスト１を示した図。
【図６】計測リスト１の一部にマスクをかけた表示例の図。
【図７】図１の計測支援システムの処理過程を示したフローチャート。
【図８】計測リスト２の生成処理の詳細を示したフローチャート。
【図９】選択された計測器の照合処理の詳細を示したフローチャート。
【図１０】精度確認の処理の詳細を示したフローチャート。
【図１１】計測リスト２を示した図。
【図１２】計測リスト３を示した図。
【図１３】計測リスト３の他の表示例を示した図。
【図１４】半径を計算するダイアログの例を示した図。
【図１５】半径を計算する場合の部品の測定部位を示した図。
【図１６】平面度を計算するダイアログの例を示した図。
【図１７】平面度を計算するための測定部位を示した図。
【図１８】管理リストを示した図。
【図１９】本発明の実施形態２に係る製造支援システムの構成を表すブロック図。
【図２０】作業工程及びデータの流れと各装置との関係を表す図。
【符号の説明】
１１  処理手段（演算手段）、１２  入力手段、１３  記憶手段、１４  表示手段、１５  印刷手段、１６  データ送受信手段、１７  バーコード読取装置、１８  計測器、２１  データ処理手段、２１Ａ  データ蓄積処理部、２１Ｂ  データ送信処理部、２２  データ蓄積手段、２３  データ送受信手段。
【図１】
2004212323.tif 000003
【図２】
2004212323.tif 000004
【図３】
2004212323.tif 000005
【図４】
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【図５】
2004212323.tif 000007
【図６】
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【図７】
2004212323.tif 000009
【図８】
2004212323.tif 000010
【図９】
2004212323.tif 000011
【図１０】
2004212323.tif 000012
【図１１】
2004212323.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
2004212323.tif 000015
【図１４】
2004212323.tif 000016
【図１５】
2004212323.tif 000017
【図１６】
2004212323.tif 000018
【図１７】
2004212323.tif 000019
【図１８】
2004212323.tif 000020
【図１９】
2004212323.tif 000021
【図２０】
2004212323.tif 000022