(57)【要約】【課題】指紋データの結合を行うことなく、指紋の照合に係る処理を行うことができる指紋照合装置、および指紋照合方法を提供する。【解決手段】指紋ｆｐの大きさよりも小さく、一方の辺の長さが他方の大きさよりも短い矩形状で、指紋ｆｐを検出する指紋センサ部１１と、指紋センサ部１１に対する指紋ｆｐのスイープにより得られる指紋データｄ＿ｆｐの、所定方向に沿ったライン上の凹凸回数の変化情報とに基づいて、指紋ｆｐのスイープにより指紋センサ部１１が検出する指紋データｆｐから指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋを特定するメモリ１３、２値化部１４、計測部１５、およびピーク検出部１６と、登録指紋データｄ＿ｆｐｒを記憶するデータ記憶部１７と、登録データｄ＿ｆｐｒおよび指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋに基づいて照合を行う照合部１８とを設ける。【選択図】  図１
2004192408.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
指紋を検出する指紋検出部と、
前記指紋検出部に対する前記指紋のスイープにより得られる指紋データの変化情報に基づいて、前記指紋のスイープにより前記指紋検出部が検出する前記指紋データから指紋照合用の指紋データを特定する指紋照合データ特定手段とを有する
指紋照合装置。
【請求項２】
前記指紋照合データ特定手段は、前記指紋データの所定方向に沿ったライン上の凹凸回数の変化情報に基づいて、前記指紋検出部が検出する前記指紋データから前記指紋照合用の指紋データを特定する
請求項１に記載の指紋照合装置。
【請求項３】
前記指紋照合データ特定手段が特定した前記指紋照合用の指紋データに基づいて照合を行う照合手段を有する
請求項１に記載の指紋照合装置。
【請求項４】
指紋を検出する指紋検出部と、
前記指紋検出部により得られる指紋データの変化情報に基づいて、前記指紋検出部から指紋照合用の指紋データを取得する指紋照合データ取得手段とを有する
指紋照合装置。
【請求項５】
前記指紋照合データ取得手段は、前記指紋データの所定方向に沿ったライン上の凹凸回数の変化情報に基づいて、前記指紋検出部から前記指紋照合用の指紋データを取得する
請求項４に記載の指紋照合装置。
【請求項６】
前記指紋照合データ取得手段が取得した前記指紋照合用の指紋データに基づいて照合を行う照合手段を有する
請求項４に記載の指紋照合装置。
【請求項７】
指紋検出部に対する指紋のスイープにより指紋データを取得する第１の工程と、
前記第１の工程で取得した前記指紋データの変化情報に基づいて、前記指紋のスイープにより前記指紋検出部が検出する前記指紋データから指紋照合用の指紋データを特定する第２の工程とを有する
指紋照合方法。
【請求項８】
前記第２の工程で特定した前記指紋照合用の指紋データを用いて照合を行う第３の工程を有する
請求項７に記載の指紋照合方法。
【請求項９】
指紋データを取得する第１の工程と、
前記第１の工程で取得した前記指紋データの変化情報に基づいて、指紋照合用の指紋データを取得する第２の工程とを有する
指紋照合方法。
【請求項１０】
前記第２の工程で取得した前記指紋照合用の指紋データに基づいて照合を行う第３の工程とを有する
請求項９に記載の指紋照合方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、個人を識別するための指紋に関する処理を行う指紋照合装置、および指紋照合方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、指紋照合装置において、指紋センサは、指の接するエリア以上の面積を持ち、検出エリアに接した指の指紋に基づいて指紋データを検出する。例えば、半導体チップ上に指紋センサを形成した場合、センサ面積がチップの価格へ影響する。
近年では、この検出エリアが指のサイズより小さく、指をスライドさせて指紋データを検出するスイープ型の指紋センサが知られている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１０−９１７６９号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上述したスイープ型の指紋センサを用いた指紋照合装置は、指紋センサに対して指がスイープしながら、指のサイズよりも小さい矩形状の指紋イメージを高いスキャンレートで複数回取り込み、その指紋イメージを結合して指紋全体の指紋データを生成し、その指紋全体の指紋データに基づいて照合を行っている。
【０００５】
このため上述した指紋照合装置では、指紋イメージを結合させて１つの指紋全体の指紋データを生成する回路やソフトウェア等が必要となる。
また、指をスイープさせた時に得られる指紋イメージを結合させるためには、前後の指紋イメージの一部が重なる必要があり、指のスイープ速度が変化した場合には、それに応じて重なる部分が変化するためスイープ速度を検出する機構が必要となる。
【０００６】
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、指紋データの結合を行うことなく、指紋の照合に係る処理を行うことができる指紋照合装置、および指紋照合方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明の第１の観点は、指紋を検出する指紋検出部と、前記指紋検出部に対する前記指紋のスイープにより得られる指紋データの変化情報に基づいて、前記指紋のスイープにより前記指紋検出部が検出する前記指紋データから指紋照合用の指紋データを特定する指紋照合データ特定手段とを有する。
【０００８】
本発明の第１の観点によれば、指紋検出部では指紋が検出される。指紋照合データ特定手段では、指紋検出部に対する前記指紋のスイープにより得られる指紋データの変化情報に基づいて、指紋のスイープにより指紋検出部が検出する指紋データから指紋照合用の指紋データを特定する。
【０００９】
さらに、前記目的を達成するために、本発明の第２の観点は、指紋を検出する指紋検出部と、前記指紋検出部により得られる指紋データの変化情報に基づいて、前記指紋検出部から指紋照合用の指紋データを取得する指紋照合データ取得手段とを有する。
【００１０】
さらに、前記目的を達成するために、本発明の第３の観点は、指紋検出部に対する指紋のスイープにより指紋データを取得する第１の工程と、前記第１の工程で取得した前記指紋データの変化情報に基づいて、前記指紋のスイープにより前記指紋検出部が検出する前記指紋データから指紋照合用の指紋データを特定する第２の工程とを有する。
【００１１】
さらに、前記目的を達成するために、本発明の第４の観点は、指紋データを取得する第１の工程と、前記第１の工程で取得した前記指紋データの変化情報に基づいて、指紋照合用の指紋データを取得する第２の工程とを有する。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る指紋照合装置の実施形態を図１〜１５を参照しながら説明する。
図１は、本発明に係る指紋照合装置の第１実施形態の機能ブロック図である。
【００１３】
本実施形態に係る指紋照合装置１は、図１に示すように、指紋センサ部１１、アナログ／デジタルコンバータ（Ａ／Ｄとも言う）１２、メモリ１３、２値化部１４、計測部１５、ピーク検出部１６、データ記憶部１７、および照合部１８を有する。
【００１４】
指紋センサ部１１およびＡ／Ｄ１２は本発明に係る指紋検出部に相当し、メモリ１３、２値化部１４、計測部１５、およびピーク検出部１６は本発明に係る照合指紋データ特定手段および照合指紋データ取得手段に相当し、データ記憶部１７および照合部１８は本発明に係る照合手段に相当する。
【００１５】
指紋センサ部１１は、指紋ｆｐを読取り、読取った結果をそれぞれ示す複数の指紋データｄ＿ｆｐを生成しＡ／Ｄ１２に出力する。
アナログ／デジタルコンバータ（Ａ／Ｄ）１２は、指紋センサ部１１から出力された指紋データｄ＿ｆｐに基づいてアナログ信号からデジタル信号に変換し、デジタル変換された指紋データｄ＿ｆｐをメモリ１３に出力する。
【００１６】
図２（ａ）は、図１に示した指紋照合装置の指紋センサ部の機能ブロック図、図２（ｂ）は図２（ａ）に示した指紋センサ部の全体図、図３は図２（ａ）に示した指紋センサ部を説明するための図である。
【００１７】
指紋センサ部１１は、図２（ａ）に示すように、検出電極（セルとも言う）１１１、行駆動回路１１２、検出回路１１３、トランジスタｔｒ、行ラインＬＲ、および列ラインＬＢを有する。
【００１８】
指紋センサ部１１は、図２（ａ），（ｂ）に示すように、検出エリア１１０に複数の検出電極１１１、例えば検出電極１１１＿１１，１１１＿１２，１１１＿１３，…，１１１＿２１，１１１＿２２，１１１＿２３，…がマトリックス形状に設けられている。
【００１９】
行駆動回路１１２には行ラインＬＲ、例えば複数の行ラインＬＲ１，ＬＲ２，…が接続されている。検出回路１１３には列ラインＬＢ、例えば複数の列ラインＬＢ１，ＬＢ２，ＬＢ３，…が接続されている。
トランジスタｔｒのゲートは行ラインＬＲに接続され、ドレインは列ラインＬＢに接続され、ソースは検出電極１１１に接続されている。
【００２０】
行駆動回路１１２は、検出を行う場合には、例えば行ラインＬＲにハイレベルの電圧を印加してトランジスタｔｒをオン状態にして、検出電極（セル）１１１に、検出信号を列ラインＬＢを介して検出回路１１３に出力させる。
【００２１】
検出回路１１３は、例えば、アンプ、シフトレジスタ等により構成され、行駆動回路１１２が選択した検出電極（セル）１１１から出力された検出信号を、シリアル信号として出力する。検出回路１１３は、詳細には、検出電極１１１からの信号に応じて指紋ｆｐの凹凸に比例した信号をＡ／Ｄ１２に出力する。
【００２２】
検出電極１１１の検出方式としては、例えば、静電容量型や圧力型、熱型、光学型等の検出方式が公知技術として知られている。
例えば、静電容量型の検出方式では、検出エリアに指を置くと指紋の凹凸により接触している場所と接触していない場所があり、検出エリア内にマトリクス形状に設けられた検出電極で、指紋と検出電極と間の静電容量に基づいて指紋の検出を行う。圧力型の検出方式では、検出電極として圧力センサを用い、圧力センサで検出された圧力差に基づいて指紋の検出を行う。熱型の検出方式では、検出電極として温度センサを用い、温度センサで検出された外気と指の温度差に基づいて指紋の検出を行う。光学型の検出方式では、検出電極として受光センサを用い、指紋の凹凸に応じた光の強度に基づいて指紋の検出を行う。
【００２３】
指紋センサ部１１の検出エリア１１０は、例えば図３に示すように、一方の辺の長さが他方の辺の長さに対して短い矩形状で、指ｆの全体の指紋ｆｐではなく、指紋ｆｐの一部に接触する大きさである。
例えば本実施形態では、検出エリア１１０の大きさは横２０ｍｍ×縦５ｍｍである。検出エリア１１０内の検出電極１１１の間隔は、指紋ｆｐの凹凸間隔に対して十分小さく設けられている。
一般的に指紋ｆｐの凹凸の間隔は２００〜３００μｍ程度であり、例えば本実施形態では５０μｍｎの間隔で検出電極１１１を設ける。この場合、検出エリア１１０内には、横４００個×縦１００個の検出電極１１１が設けられる。
【００２４】
指紋センサ部１１は、例えば図３に示すように、検出電極１１１に接触した指ｆの指紋ｆｐを読取り、指紋データｄ＿ｆｐをＡ／Ｄ１２に出力する。この際、指紋センサ部１１は、指紋センサ部１１に対する指ｆの指紋ｄ＿ｆｐのスイープにより、順次、指紋データｄ＿ｆｐをＡ／Ｄ１２に出力する。
【００２５】
図４は、指紋データを説明するための図である。図４（ａ）は図１に示した指紋センサ部１１が出力する指紋データの一具体例を説明するための図である。図４（ｂ）は一般的な指紋照合装置の指紋データの結合処理を説明するための図である。
【００２６】
本実施形態では、指紋センサ部１１は、例えば図３に示すように、指紋センサ部１１の長手方向と略垂直方向であるスイープ方向ｓｄに速度ｖで指ｆの指紋ｆｐのスイープに応じて順次スキャンを行い、図４（ａ）に示すように、検出エリア１１０の大きさの指紋ｆｐを読取り、順次、指紋データｄ＿ｆｐ＿１，２，…，ｎを出力する。
【００２７】
一般的な指紋照合装置では、図４（ｂ）に示すように、指紋データｄ＿ｆｐ＿１，２，…，ｎの重なり部分に基づいて結合を行い、指紋ｆｐの全体の指紋データを生成し、その全体の指紋データを用いて照合を行う。
一方、本実施形態に係る指紋照合装置１は、図４（ａ）に示すように、指紋ｆｐの一部の指紋データｄ＿ｆｐ＿１，２，…，ｎのうち、指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋを特定および取得して、その指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋに基づいて照合を行う。
【００２８】
メモリ１３は、Ａ／Ｄ１２から出力された指紋データｄ＿ｆｐを記憶し、要求に応じて記憶している指紋データｄ＿ｆｐを出力する。
例えば、メモリ１３は、Ａ／Ｄ１２から出力された複数の指紋データｄ＿ｆｐ＿１〜ｎを記憶する。
【００２９】
図５は、指紋の特性を説明するための図である。図５（ａ）は指紋の一具体例の全体図である。図５（ｂ）は図５（ａ）に示した指紋の縦軸方向に沿ったライン毎の指紋の凹凸回数を示す図である。例えば図５（ａ）において横軸方向がスイープ方向である。
【００３０】
一般的に指紋ｆｐは、指紋ｆｐの中央部付近で、曲率半径が小さい曲線を含むという特性を有する。この指紋ｆｐの中央部付近は、個人個人それぞれに応じた一般的な特徴部分を含む。指紋ｆｐの中央部付近は、例えば図５（ａ）に示すような指紋ｆｐの場合には、１００ライン（Ｒｏｗ）付近の領域である。
このため、本実施形態では、指紋ｆｐの中央部付近の指紋データｄ＿ｆｐを検出し、指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとして用いる。
【００３１】
一般的に上述の特性を有する指紋ｆｐについて、例えば図５（ａ）の縦軸に沿ったライン毎に、指紋ｆｐの凹凸回数（変化点の反転数とも言う）をカウントすると、例えば図５（ｂ）に示すように、あるライン、例えば１００ライン付近で指紋ｆｐの凹凸回数が極大（ピークとも言う）をもつ曲線ＣＬを得るという特性を有する。この極大部付近に対応するライン位置は、指紋ｆｐの中央部付近に相当する。
指紋ｆｐの上述した特性を利用して、指紋ｆｐの中央部付近の指紋データｄ＿ｆｐを検出する。
【００３２】
例えば本実施形態では、検出エリア１１０内に横４００×縦１００個の検出電極（セル）１１１を設け、スイープ方向と垂直方向に沿った１００ラインについて、上述した指紋ｆｐの凹凸回数の計算を行い、極大となるラインを検出し、そのラインを含む指紋データｄ＿ｆｐを指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとする。
【００３３】
以下、指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋを得る処理について詳細に説明する。
２値化部１４、計測部１５、およびピーク検出部１６は、指紋ｆｐのスイープにより得られる指紋データｄ＿ｆｐの変化情報に基づいて、指紋ｆｐのスイープにより指紋センサ部１１が検出する指紋データｄ＿ｆｐから指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋを特定する。
【００３４】
例えば、２値化部１４、計測部１５、およびピーク検出部１６は、複数の走査位置のうち、指紋ｆｐの中央部付近に対応する走査位置で読取られた指紋データｄ＿ｆｐを特定する。
【００３５】
詳細には、２値化部１４は、メモリ１３から出力された指紋データｄ＿ｆｐに基づいて、所定方向に沿ったライン上で指紋データｄ＿ｆｐの２値化処理を行い、２値化された指紋データＳ１４を計測部１５に出力する。例えば、２値化部１４は、指紋ｆｐのスイープ方向ｓｄと垂直方向ｖｄに沿ったライン上で上述の処理を行う。
【００３６】
計測部１５は、２値化部１４から出力された２値化された指紋データＳ１４に基づいて、所定の方向のライン上の指紋の凹凸回数を計測し、計測の結果を示すデータＳ１５をピーク検出部１６に出力する。
【００３７】
ピーク検出部１６は、計測部１５から出力されたライン毎の指紋ｆｐの凹凸回数に基づいて、指紋ｆｐの中央部付近に対応する走査位置で読取られた指紋データｄ＿ｆｐを特定する。
詳細には例えば、ピーク検出部１６は、計測部１５から出力されたライン毎の指紋ｆｐの凹凸回数に基づいて、指紋ｆｐの凹凸回数のピーク位置を検出し、検出の結果に応じた位置を示すピーク位置データＳ１６を、照合部１８およびメモリ１３に出力する。
【００３８】
メモリ１３は、ピーク検出部１６から出力されたピーク位置データＳ１６に基づいて、記憶している指紋データｄ＿ｆｐの内から、ピーク位置を含む指紋データｄ＿ｆｐを照合部１８に出力する。
【００３９】
図６は、図１に示した指紋照合装置の指紋のピーク位置を検出する処理の一具体例を説明するための図である。図６（ａ）〜（ｃ）は、指紋センサ部から出力された指紋データ、および指紋の凹凸回数を説明するための図である。
【００４０】
２値化部１４および計測部１５は、例えば図６（ａ）に示すように、メモリ１３から出力された指紋データｄ＿ｆｐ＿ａに基づいて、指紋データｄ＿ｆｐ＿ａのスイープ方向ｓｄと垂直方向ｖｄに沿ったライン上の指紋ｆｐの凹凸回数を計測する。
【００４１】
ピーク検出部１６は、その計測結果に基づいて、図６（ａ）に示すように、横軸をスイープ方向、縦軸を指紋ｆｐの凹凸回数として、曲線ＣＬ＿ａを生成し、曲線ＣＬ＿ａに基づいて極大（ピーク）が存在するか否かを判別し、極大が存在しないと判別すると、次の指紋データｄ＿ｆｐについて処理を行う。
【００４２】
同様に、２値化部１４および計測部１５は、例えば図６（ｂ）に示すように、指紋ｆｐのスイープに応じて指紋センサ部１１により読取られ、メモリ１３から出力された指紋データｄ＿ｆｐ＿ｂに基づいて、指紋データｄ＿ｆｐ＿ｂのスイープ方向ｓｄと垂直方向ｖｄに沿ったライン上の指紋ｆｐの凹凸回数を計測する。
【００４３】
ピーク検出部１６は、その計測結果に基づいて、図６（ｂ）に示すように曲線ＣＬ＿ｂを生成し、曲線ＣＬ＿ｂに基づいて極大（ピーク）が存在するか否かを判別する。ピーク検出部１６は、曲線ＣＬ＿ｂのラインｃｎｔ付近で極大が存在すると判別すると、極大を示すラインｃｎｔに関するデータをピーク位置検出データＳ１６として、メモリ１３および照合部１８に出力する。
【００４４】
ピーク検出部１６は、例えば、ラインｃｎｔを示すデータを出力した場合には、メモリ１３はそのデータに基づいて、ラインｃｎｔを含む指紋データｄ＿ｆｐを照合用の指紋データとして、照合部１８に出力する。
また、ピーク検出部１６は、例えば、ラインｃｎｔを含む指紋データｄ＿ｆｐを示すデータを出力した場合には、メモリ１３はそのデータに基づいて、ラインｃｎｔを含む指紋データｄ＿ｆｐを照合用の指紋データとして、照合部１８に出力する。
【００４５】
例えば極大を確認するために、さらに、２値化部１４および計測部１５は、図６（ｃ）に示すように、指紋ｆｐのスイープに応じて指紋センサ部１１により読取られ、メモリ１３から出力された指紋データｄ＿ｆｐ＿ｃに基づいて、指紋データｄ＿ｆｐ＿ｃのスイープ方向ｓｄと垂直方向ｖｄに沿ったライン上の指紋ｆｐの凹凸回数を計測する。
【００４６】
ピーク検出部１６は、その計測結果に基づいて、図６（ｃ）に示すように曲線ＣＬ＿ｃを生成し、曲線ＣＬ＿ｃに基づいて極大（ピーク）が存在するか否かを判別する。ピーク検出部１６は、曲線ＣＬ＿ｃに基づいて、指紋ｆｐの凹凸回数が減少傾向を示すので、ラインｃｎｔ付近が極大であることを確認し、極大（ピーク）を検出する処理を終了する。
【００４７】
ピーク検出部１６のピーク検出処理は、上述した形態に限られるものではない。例えばピーク検出部１６は、ラインｃｎｔを検出した時点で、ラインｃｎｔに関するデータを出力して、ピーク検出処理を終了してもよい。
【００４８】
上述したように、本実施形態では、変化情報として、指紋ｆｐのスイープにより得られた指紋データｄ＿ｆｐの、スイープ方向ｓｄと垂直方向ｖｄに沿ったライン上の指紋ｆｐの凹凸回数の変化情報を用いている。
【００４９】
データ記憶部１７は、予め照合のために、登録指紋データｄ＿ｆｐｒを記憶している。データ記憶部１７は、例えば図１に示すように、複数の登録指紋データｄ＿ｆｐｒ１〜ｍを記憶する。
【００５０】
登録指紋データｄ＿ｆｐｒは、例えば指紋ｆｐの中央部付近を含む指紋データｄ＿ｆｐｒである。指紋ｆｐの中央部は指紋ｆｐの曲線の曲率が小さく複雑であり、一般的に指紋ｆｐの特徴部である。この中央部付近を含む指紋データｄ＿ｆｐｒを用いて照合することで、精度良く照合を行うことができる。
【００５１】
例えば、データ記憶部１７は、登録指紋データｄ＿ｆｐｒとして、指紋センサ部１１の検出エリア１１０のサイズよりも大きなエリアの指紋データを予め記憶してもよいし、また極大のラインｃｎｔを含む指紋データと、前後数個の指紋データとを予め記憶してもよい。こうすることで、照合部１８は、多少ピーク位置がずれていても、照合を行うことができる。
【００５２】
照合部１８は、ピーク検出部１６から出力されたピーク位置検出データＳ１６に基づいて、メモリ１３から出力されたピーク位置データＳ１６に応じた照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋと、データ記憶部１７に記憶されている登録指紋データｄ＿ｆｐｒとを照合する。
【００５３】
照合部１８は、上述した照合の結果を示す結果データＳ１８を出力する。例えば詳細には、照合部１８は、上述した照合の結果、指紋センサ部１１により読取られた指紋データｄ＿ｆｐと、データ記憶部１７に記憶されている登録指紋データｄ＿ｆｐｒとが適合したか否かを示す結果データＳ１８を生成し出力する。
【００５４】
照合部１８の照合方法としては、例えば、パターンマッチング方式や、指紋ｆｐの隆線（皮膚の盛り上がった所）の端点や分岐点等の特徴点を抽出し、特徴点に基づいて照合を行う特徴点抽出方式や、さらに特徴点間の隆線に関する情報に基づいて照合を行う特徴点プラス隆線方式、周波数解析方法等を用いる。例えば、狭い検出エリアにおいては、パターンマッチング方式が有利と考えられる。
【００５５】
図７は、図１に示した指紋照合装置の照合部の照合に関する処理を説明するための図である。図７（ａ）は登録指紋データを示す図、図７（ｂ）は照合用の指紋データを示す図である。
【００５６】
照合部１８は、パターンマッチング方式により照合を行う場合には、例えば図７（ａ）に示すように、データ記憶部１７に記憶されている登録指紋データｄ＿ｆｐｒを、所定の大きさの複数のブロックｂ＿ｆｐｒ１１〜ｎｍに分割し、分割したブロックｂ＿ｆｐｒ１１〜ｎｍを、照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとパターンマッチング処理を行う。
【００５７】
例えば、照合部１８は、ブロックｂ＿ｆｐｒ１１を、照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋの所定の位置でパターンマッチングを行って相関値を算出し、そして１画素ずらしながらパターンマッチングを行い相関値を算出する。照合部１８は、ブロックｂ＿ｆｐｒ１１〜ｎｍについて相関値を算出し、相関値に基づいて照合を行う。
【００５８】
図８は、図１に示した指紋照合装置の動作を説明するためのフローチャートである。指紋照合装置１の動作を図８を参照しながら説明する。
ステップＳＴ１において、例えば、指紋センサ部１１に対する指紋ｆｐのスイープにより、指紋センサ部１１で読取られた指紋データｄ＿ｆｐが、Ａ／Ｄ１２によりアナログ信号からデジタル信号に変換され、メモリ１３に記憶される（ＳＴ２）。
【００５９】
ステップＳＴ３において、メモリ１３から出力された指紋データｄ＿ｆｐの指紋ｆｐの凹凸回数が計測される。詳細には、メモリ１３から出力された指紋データｄ＿ｆｐが、２値化部１４により指紋ｆｐのスキャン方向ｓｄと垂直方向ｖｄに沿ったライン上で、指紋ｆｐの凹凸に応じて２値化され、２値化された指紋データＳ１４として計測部１５に出力される。
【００６０】
２値化された指紋データＳ１４は、計測部１５により、スキャン方向ｓｄと垂直方向ｖｄに沿ったライン毎の指紋ｆｐの凹凸回数が計測され、計測の結果であるライン毎の指紋ｆｐの凹凸回数を示すデータＳ１５が、ピーク検出部１６に出力される。
【００６１】
ステップＳＴ４において、ピーク検出部１６では、ライン毎の凹凸回数を示すデータＳ１５に基づいて指紋ｆｐの凹凸回数（変化点とも言う）の極大（ピーク）が存在するか否かが判別され、指紋の凹凸回数が極大となるラインがないと判別された場合には、ステップＳＴ１の処理に戻る。
この際、例えば、ピーク検出部１６では、指紋データｄ＿ｆｐ毎に上述のピーク（極大）となるラインの検索を行う。
【００６２】
一方、ステップＳＴ４の判別において、ピーク検出部１６では、指紋ｆｐの凹凸回数のピークとなるラインｃｎｔが存在すると判別された場合には、そのピークとなるラインｃｎｔを示すデータＳ１６が、メモリ１３および照合部１８に出力される。
メモリ１３では、極大（ピーク）ラインｃｎｔを示すデータＳ１６に基づいて、指紋データｄ＿ｆｐから、ピーク（極大）となるラインｃｎｔを含む指紋データｄ＿ｆｐを、指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとして特定し（ＳＴ５）、照合部１８に出力する。
【００６３】
ステップＳＴ６において、照合部１８では、メモリ１３から出力された、指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋと、データ記憶部１７に記憶されている登録指紋データｄ＿ｆｐｒとを照合し、照合結果を示すデータＳ１８を生成し出力する。
【００６４】
以上説明したように、指紋ｆｐの大きさよりも小さく、一方の辺の長さが他方の大きさよりも短い矩形状で、指紋ｆｐを検出する指紋センサ部１１と、指紋センサ部１１に対する指紋ｆｐのスイープにより得られる指紋データｄ＿ｆｐの、所定方向に沿ったライン上の凹凸回数の変化情報とに基づいて、指紋ｆｐのスイープにより指紋センサ部１１が検出する指紋データｆｐから指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋを特定するメモリ１３、２値化部１４、計測部１５、およびピーク検出部１６と、登録指紋データｄ＿ｆｐｒを記憶するデータ記憶部１７と、登録データｄ＿ｆｐｒおよび指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋに基づいて照合を行う照合部１８とを設けたので、指紋データｄ＿ｆｐの結合を行うことなく、指紋ｆｐの照合に係る処理を行うことができ、処理負担が軽減される。
【００６５】
指紋ｆｐの一般的な特徴部分を含む中央部付近を含む指紋データｄ＿ｆｐを照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとして特定して用いるために指紋照合の精度が高い。
【００６６】
また、スイープ方向ｓｄと垂直方向ｄに沿ったライン毎の、指紋ｆｐの凹凸回数の変化情報に基づいて、ピークを検出し、そのピークを示すラインを含む指紋データｄ＿ｆｐを特定した時点で、それを指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとして照合処理を行うので、一般的な指紋照合装置と比べて、全ての指紋データｄ＿ｆｐを記憶しておく必要がなく、より少ないメモリ１３でよい。
また、本実施形態の指紋照合装置は、その特定した時点で、照合を行うので、一般的な指紋照合装置に比べて、照合時間が短い。
【００６７】
図９は、本発明の第２実施形態に係る指紋照合装置の機能ブロック図である。本実施形態に係る指紋照合装置１ａは、図９に示すように、指紋センサ部１１ａ、アナログ／デジタルコンバータ（Ａ／Ｄ）１２、ラインメモリ１３１、フレームメモリ１３２、２値化部１４ａ、計測部１５ａ、ピーク検出部１６ａ、データ記憶部１７、および照合部１８を有する。
ラインメモリ１３１、フレームメモリ１３２、２値化部１４ａ、計測部１５ａ、およびピーク検出部１６ａは、本発明に係る指紋照合データ取得手段に相当する。
【００６８】
第２実施形態に係る指紋照合装置１ａと、第１実施形態に係る指紋照合装置の構成上の大きな相違点は、メモリとして、ラインメモリ１３１と、フレームメモリ１３２とを有する点である。
第１および第２実施形態で、同じ機能の構成要素は、同じ符号を付して説明を省略する。相違点のみ説明する。
【００６９】
図１０は、図９に示した指紋照合装置１ａの指紋センサ部を説明するための図である。図１０（ａ）は、図９に示した指紋センサ部の全体図、図１０（ｂ）は図１０（ａ）に示した指紋センサ部の拡大図である。
【００７０】
指紋センサ部１１ａは、図１０（ａ）に示すように第１実施形態と同様に検出エリア１１０に、検出電極（セル）１１１がマトリックス形状に設けられている。
【００７１】
本実施形態では、例えば図１０（ｂ）に示すように、指紋センサ部１１ａの検出エリア１１０のスイープ方向ｓｄに垂直方向ｖｄに沿った所定の１ライン上の複数の検出電極１１１で検出された指紋データｄ＿ｆｐｂに基づいて、指紋ｆｐの凹凸回数の変化情報を生成する。
【００７２】
所定の１ラインは、例えば図１０（ｂ）において斜線で示したように、指紋センサ部１１ａの検出エリア１１０の上端部から距離ｂのライン上の複数の検出電極１１１＿ｂにより構成される。
【００７３】
指紋センサ部１１ａの検出電極１１１＿ｂは、指紋ｆｐを読取り指紋データｄ＿ｆｐｂをＡ／Ｄに出力する。Ａ／Ｄ１２では検出電極１１１＿ｂからの指紋データｄ＿ｆｐｂに基づいて、アナログ信号からデジタル信号に変換し、ラインメモリ１３１に出力する。
【００７４】
ラインメモリ１３１は、Ａ／Ｄ１２から出力された指紋データｄ＿ｆｐｂを記憶し、２値化部１４ａに出力する。
【００７５】
また、指紋センサ部１１ａは、検出エリア１１０のうちの、全ての検出電極１１１で検出した指紋データｄ＿ｆｐをＡ／Ｄ１２に出力する。
Ａ／Ｄ１２は、指紋センサ部１１ａから出力された指紋データｄ＿ｆｐに基づいて、アナログ信号からデジタル信号に変換し、フレームメモリ１３２に出力する。
フレームメモリ１３２は、Ａ／Ｄ１２から出力された指紋データｄ＿ｆｐを記憶する。
【００７６】
２値化部１４ａは、ラインメモリ１３１から出力された指紋データｄ＿ｆｐｂに基づいて、上述したように指紋ｆｐの凹凸に応じて２値化処理を行い、データＳ１４ａを計測部１５ａに出力する。
計測部１５ａは、２値化部１４が２値化したデータＳ１４ａに基づいて、指紋ｆｐの凹凸回数を計測し、その計測結果を示すデータＳ１５ａをピーク検出部１６ａに出力する。
ピーク検出部１６ａは、計測部１５から出力されたデータＳ１５ａに基づいて、極大（ピーク）を示す位置を計測する。
【００７７】
図１１は、図９に示した指紋照合装置のピーク検出部の動作を説明するための図である。
ピーク検出部１６ａは、計測部１５ａから出力されたデータＳ１５ａに基づいて、例えば図１１に示すように、横軸に指紋ｆｐの位置、縦軸に指紋ｆｐの回数として、曲線ＣＬを生成する。
【００７８】
ピーク検出部１６ａは、曲線ＣＬに基づいて、指紋ｆｐの凹凸回数の極大（ピーク）を検出する。
ピーク検出部１６ａは、指紋データｄ＿ｆｐｂの変化情報である曲線ＣＬに基づいて、この極大（ピーク）が指紋センサ部１１ａの検出エリア１１０のスイープ方向ｓｄに垂直方向ｖｄに沿った中心部ｓｅｎｃｎｔに来る時間を予測する。
【００７９】
ピーク検出部１６ａは、この極大（ピーク）が中心部ｓｅｎｃｎｔに来たと予測した時点で、フレームメモリ１３２に記憶されている一の指紋データｄ＿ｆｐを出力させる信号Ｓ１６ａを、フレームメモリ１３２、および照合部１８に出力する。
【００８０】
フレームメモリ１３２は、ピーク検出部１６ａから信号Ｓ１６ａが出力されると、記憶している一の指紋データｄ＿ｆｐを照合用の指紋データｆ＿ｆｐｃｋとして照合部１８に出力する。
【００８１】
この際、極大（ピーク）位置の指紋ｆｐを、センサ中心部ｓｅｎｃｎｔで読取るためには、検出電極１１１＿ｂとセンサ中心部ｓｅｎｃｎｔの距離ａが、極大（ピーク）地点からピークを判断出来るまでのライン数をａ以下にすることが必要である。
【００８２】
図１２は、図９に示した指紋照合装置の動作を説明するためのフローチャートである。指紋照合装置１ａの動作を図１２を参照しながら説明する。
ステップＳＴ１１において、例えば、指紋センサ部１１ａに対する指紋ｆｐのスイープにより、指紋センサ部１１ａの検出電極１１１＿ｂでは、指紋ｆｐを１ライン分の指紋データｄ＿ｆｐｂをＡ／Ｄ１２を介してラインメモリ１３１に出力する（ＳＴ１２）。
【００８３】
ステップＳＴ１３において、指紋データｄ＿ｆｐｂが、２値化部１４ａおよび計測部１５ａにより、指紋ｆｐの凹凸回数が計測され、計測の結果を示すデータＳ１５ａがピーク検出部１６ａに出力される。
ピーク検出部１６ａでは、データＳ１５ａに基づいて、例えば、図１１に示すように、曲線ＣＬを生成し、指紋ｆｐの凹凸回数の極大（ピーク）の検出が行われる（ＳＴ１４）。
【００８４】
ステップＳＴ１４の検出において、ピークが検出されていないと判別された場合には、ステップＳＴ１１の処理に戻る。
一方、ステップＳＴ１４の処理において、ピークが検出された場合には、ピーク検出部１６ａでは、そのピークがセンサ中心部ｓｅｎｃｎｔに来る時間が予測される（ＳＴ１５）。
【００８５】
ステップＳＴ１６において、ピーク検出部１６ａでは、予測時間となり、上述のピークがセンサ中心部ｓｅｎｃｎｔに来た時点で、フレームメモリ１３２に記憶されている一の指紋データｄ＿ｆｐを出力させる信号Ｓ１６ａをフレームメモリ１３２に出力する。この場合、指紋データｄ＿ｆｐは、検出エリア１１０の全ての検出電極１１１で検出された指紋ｆｐに関するデータであり、中央部付近の指紋ｆｐに関するデータを含む。
フレームメモリ１３２では、ピーク検出部１６ａから出力された信号Ｓ１６ａに基づいて、記憶している一の指紋データｄ＿ｆｐを、指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとして照合部１８に出力する。
【００８６】
ステップＳＴ１７において、照合部１８では、フレームメモリ１３２から出力された指紋データｄ＿ｆｐｃｋと、データ記憶部１７に記憶されている登録指紋データｄ＿ｆｐｒとを照合し、照合結果を示すデータＳ１８を生成し出力する。
【００８７】
以上説明したように、本実施形態では、ラインメモリ１３１と、フレームメモリ１３２と、指紋センサ部１１ａの検出エリア１１０のスイープ方向ｓｄに垂直方向ｖｄに沿った所定の１ライン上の複数の検出電極１１１で検出された指紋データｄ＿ｆｐｂに基づいて、指紋ｆｐの凹凸回数の変化情報を生成し、その変化情報に基づいて指紋の凹凸回数のピークを検出し、そのピークがセンサ中央部ｓｅｎｃｎｔに来る時刻を予想して、予測時間となり、この極大（ピーク）が中心部ｓｅｎｃｎｔに来た時点で、フレームメモリ１３２に記憶されている一の指紋データｄ＿ｆｐを出力させる信号Ｓ１６ａをフレームメモリ１３２に出力するピーク検出部１６とを設けたので、ピークを検出するためのメモリを第１実施形態に比べて小さくすることができる。
【００８８】
また、１ラインの指紋データｄ＿ｆｐｂに基づいて極大（ピーク）を検出するので、第１実施形態に比べて処理の負担が軽減される。
また、極大（ピーク）が、センサ中央部ｓｅｎｃｎｔに来る時間を予測し、予測の結果に基づいて、ピークがセンサ中央部ｓｅｎｃｎｔに来た時点の、検出エリア１１０の内の全ての検出電極１１１により検出された指紋データｄ＿ｆｐを、指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとして照合に用いるので、指紋センサ部１１ａに対する指紋ｆｐのスイープにより得られる複数の指紋データｄ＿ｆｐを記憶するための余計なメモリを必要としない。
【００８９】
つまり、フレームメモリ１３２は、指紋センサ部１１ａに対する指紋ｆｐのスイープにより得られる１つの指紋データｄ＿ｆｐを記憶するだけの記憶容量が有するだけでよい。
【００９０】
図１３は、本発明に係る指紋照合装置の第３実施形態の機能ブロック図である。
本実施形態に係る指紋照合装置１ｂは、図１３に示すように、指紋センサ部１１ｂ、アナログ・デジタルコンバータ（Ａ／Ｄ）１２、フレームメモリ１３３、２値化部１４１、２値化部１４２、計測部１５１、計測部１５２、比較部１６１、データ記憶部１７、および照合部１８を有する。
フレームメモリ１３３、２値化部１４１、２値化部１４２、計測部１５１、計測部１５２、および比較部１６１は、本発明に係る指紋照合データ取得手段に相当する。
【００９１】
第３実施形態に係る指紋照合装置１ｂと、第１実施形態に係る指紋照合装置の構成上の大きな相違点は、２値化部および計測部が２つ設けられ、計測部から出力されたデータを比較する比較部が設けられている点である。
第１および第２実施形態で、同じ機能の構成要素は、同じ符号を付して説明を省略する。相違点のみ説明する。
【００９２】
図１４は、図１３に示した指紋照合装置１ｂを説明するための図である。
指紋センサ部１１ｂは、指紋ｆｐを読取り、読取った結果をそれぞれ示す複数の指紋データｄ＿ｆｐを生成しＡ／Ｄ１２に出力する。
Ａ／Ｄ１２は、その指紋データｄ＿ｆｐをアナログ信号からデジタル信号に変換し、フレームメモリ１３３に出力する。
【００９３】
指紋センサ部１１ｂは、詳細には第２実施形態と同様に、図１４（ａ）に示すように検出エリア１１０に検出電極（セル）１１１がマトリックス形状に設けられている。
【００９４】
本実施形態では、例えば図１４（ａ）に示すように、指紋センサ部１１ｂの検出エリア１１０のスイープ方向ｓｄに垂直方向ｖｄに沿った所定の２ラインａ，ｂ上の複数の検出電極１１１＿ａおよび検出電極１１１＿ｂで読取られた、指紋データｄ＿ｆｐａおよびｆ＿ｆｐｂを含む指紋データｄ＿ｆｐがフレームメモリ１３３に記憶される。
【００９５】
２値化部１４１は、フレームメモリ１３３に記憶されている指紋データｄ＿ｆｐａに基づいて、指紋ｆｐの凹凸に応じて２値化処理を行い、計測部１５１に出力する。
２値化部１４２は、フレームメモリ１３３に記憶されている指紋データｄ＿ｆｐｂに基づいて、指紋ｆｐの凹凸に応じて２値化処理を行い、計測部１５２に出力する。
【００９６】
計測部１５１は、２値化部１４１から出力された、２値化された指紋データＳ１４１に基づいて指紋の凹凸回数を計測し、計測の結果を示すデータＳ１５１を比較部１６１に出力する。
計測部１５２は、２値化部１４２から出力された、２値化された指紋データＳ１４２に基づいて指紋の凹凸回数を計測し、計測の結果を示すデータＳ１５２を比較部１６１に出力する。
【００９７】
比較部１６１は、計測部１５１から出力された信号Ｓ１５１、および計測部１５２から出力された信号Ｓ１５２に基づいて、指紋ｆｐの凹凸回数の比較を行い、比較の結果を示すデータＳ１６１をフレームメモリ１３３に出力する。
【００９８】
比較部１６は、例えば指紋センサ部１１ｂに対して指紋ｆｐがスイープする際に、計測部１５１，１５２から、ラインａ，ｂ上それぞれの指紋ｆｐの凹凸回数としてｎｕｍ＿ａおよびｎｕｍ＿ｂが出力され、そのｎｕｍ＿ａとｎｕｍ＿ｂとを比較する。
【００９９】
比較部１６は、例えば図１４（ａ）に示すように、ｎｕｍ＿ａよりもｎｕｍ＿ｂが大きい場合には、まだピークではないと判別し、図１４（ｂ）に示すように、略同じ数のｎｕｍ＿ａとｎｕｍ＿ｂが計測部１５１，１５２から出力され、図１４（ｃ）に示すように、ｎｕｍ＿ａがｎｕｍ＿ｂよりも小さい場合には、図１４（ｂ）に示した時点で、極大（ピーク）であると判別する。
【０１００】
比較部１６は、比較の結果、計測部１５１，１５２から出力された指紋ｆｐの凹凸回数ｎｕｍ＿ａ，ｎｕｍ＿ｂが略同じ時点のフレームメモリ１４に記憶されている指紋データｄ＿ｆｐを、フレームメモリ１３３に出力させるデータＳ１６１をフレームメモリ１３３に出力する。
【０１０１】
フレームメモリ１３３は、比較部１６１から出力されたデータＳ１６１に基づいて、凹凸回数ｎｕｍ＿ａ，ｎｕｍ＿ｂが略同じ時点の指紋データｄ＿ｆｐを、指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとして、照合部１８に出力する。
【０１０２】
図１５は、図１３に示した指紋照合装置の動作を説明するためのフローチャートである。指紋照合装置１ｂの動作を、図１５を参照しながら説明する。
【０１０３】
ステップＳＴ２１において、例えば、指紋センサ部１１ｂに対する指紋ｆｐのスイープにより、指紋センサ部１１ｂでは、指紋ｆｐに応じた指紋データｄ＿ｆｐがＡ／Ｄ１２を介して、フレームメモリ１３３に出力される。
この際、指紋センサ部１１ｂの検出電極１１１＿ａおよび１１＿ｂそれぞれでは、指紋ｆｐを１ライン分の指紋データｄ＿ｆｐａおよびｄ＿ｆｐｂを含む指紋データｄ＿ｆｐ（ＳＴ２１）を、Ａ／Ｄ１２を介してラインメモリ１３１に出力する（ＳＴ２２）。
【０１０４】
ステップＳＴ２３において、２値化部１４１，１４２、および計測部１５１，１５２により、指紋データｄ＿ｆｐａ，ｄ＿ｆｐｂそれぞれの指紋ｆｐの凹凸回数が計測され、計測の結果を示すデータＳ１５１，Ｓ１５２が比較部１６１に出力される。
比較部１６１では、データＳ１５１，Ｓ１５２に基づいて、例えば、図１４に示すように、ラインａ，ｂ上それぞれの指紋ｆｐの凹凸回数としてｎｕｍ＿ａおよびｎｕｍ＿ｂとが比較される（ＳＴ２４）。
【０１０５】
ステップＳＴ２４において、比較部１６１では、比較の結果、ピークが検出されていないと判別された場合には、ステップＳＴ２１の処理に戻る。
一方、ステップＳＴ２４の処理において、ピークが検出された場合には、比較部１６１では、比較の結果、計測部１５１，１５２から出力された指紋ｆｐの凹凸回数ｎｕｍ＿ａ，ｎｕｍ＿ｂが略同じ時点のフレームメモリ１４に記憶されている指紋データｄ＿ｆｐを出力させるデータＳ１６１を、フレームメモリ１３３に出力する。
【０１０６】
ステップＳＴ２５において、フレームメモリ１３３では、比較部１６１から出力されたデータＳ１６１に基づいて、凹凸回数ｎｕｍ＿ａ，ｎｕｍ＿ｂが略同じ時点の指紋データｄ＿ｆｐが、指紋照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋとして、照合部１８に出力される。
【０１０７】
ステップＳＴ２６において、照合部１８では、フレームメモリ１３３から出力された指紋データｄ＿ｆｐｃｋと、データ記憶部１７に記憶されている登録指紋データｄ＿ｆｐｒとを照合し、照合結果を示すデータＳ１８を生成し出力する。
【０１０８】
以上説明したように、本実施形態では、指紋センサ部１１ｂと、指紋センサ部１１ｂの検出エリア１１０のスイープ方向ｓｄに垂直方向ｖｄに沿った所定の２ラインａ，ｂ上の複数の検出電極１１１＿ａおよび検出電極１１１＿ｂで読取られた、指紋データｄ＿ｆｐａおよびｆ＿ｆｐｂを含む指紋データｄ＿ｆｐを記憶するフレームメモリ１３３と、指紋データｄ＿ｆｐａ，ｄ＿ｆｐｂそれぞれを２値化する２値化部１４１，１４２と、指紋ｆｐの凹凸回数を計測する計測部１５１，１５２と、計測部１５１，１５２から出力された信号Ｓ１５１，Ｓ１５２を比較し、ピーク時点のフレームメモリ１４に記憶されている指紋データｄ＿ｆｐを出力させるデータＳ１６１をフレームメモリ１３３に出力する比較部１６１を設けたので、第２実施形態に係る指紋照合装置１ａに比べて、ピークがセンサ中央部に来る時刻を予想する処理を行うことなく、照合用の指紋データｄ＿ｆｐｃｋを得ることができる。
【０１０９】
なお、本発明は本実施形態に限られるものではなく、任意好適な種々の変更が可能である。
本実施形態では、指紋ｆｐの中央部付近の検出として、指紋ｆｐの凹凸回数の変化情報に基づいて検出したが、この形態に限られるものではない。例えば指紋ｆｐの隆線の曲率半径の小さいエリアを検出して、指紋ｆｐの中央部付近を検出してもよい。
【０１１０】
また、例えば検出エリア１１０内のデータを数セル分横方向へ移動させ、元データとＥｘｃｌｕｓｉｖｅ  ＯＲを計算することにより、指紋ｆｐの中央部付近を検出することができる。
【０１１１】
本実施形態の指紋照合装置は予め登録指紋データを記憶し、その登録指紋データに基づいて照合を行ったが、この形態に限られるものではない。
例えば携帯電話等の携帯型情報処理装置に指紋センサ部、指紋特定部、および通信部を設けることにより、登録指紋データを記憶するデータ記憶部と照合部とを有する不図示の指紋照合サーバに通信ネットワークを介して通信し指紋照合を行ってもよい。こうすることで携帯型情報処理装置では処理負担を軽減することができる。
【０１１２】
また、本実施形態では、指紋センサ部が指紋データｄ＿ｆｐを読込み、リアルタイムに指紋ｆｐの凹凸回数の計測を行い、そのピークを検出したが、この形態に限られるものではない。
例えば、リアルタイムに行わない場合は、すべての指紋データｄ＿ｆｐをメモリに取込み、その後、その指紋データｄ＿ｆｐからピークを含む指紋データｄ＿ｆｐを検出し、照合を行ってもよい。
【０１１３】
また、本実施形態では、指紋センサ部を固定し、その指紋センサ部に対して指紋が相対移動する形態を示したが、この形態に限られるものではない。
例えば、指紋を所定の装置に固定し、その指紋に対して相対移動するような指紋センサ部を設けてもよい。
【０１１４】
また、本実施形態では、指紋センサ部に対して指紋をスイープして指紋を読取ったが、この形態に限られるものではない。例えば、指紋センサ部に、指紋の一部を接触させた状態で、その指紋の一部を読取り、一度指紋センサ部から指を離し、先の指紋の一部とは異なる位置の指紋の一部を接触させた状態でその指紋の一部を読取る等、離散的に読取った指紋データに基づいて照合用の指紋データを特定、および取得して、照合を行ってもよい。
【０１１５】
【発明の効果】
本発明によれば、指紋データの結合を行うことなく、照合を行うことができる指紋照合装置、および指紋照合方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る指紋照合装置の第１実施形態の機能ブロック図である。
【図２】図１に示した指紋照合装置の指紋センサ部を説明するための図である。（ａ）は図１に示した指紋照合装置の指紋センサ部の機能ブロック図、（ｂ）は（ａ）に示した指紋センサ部の全体図である。
【図３】図２（ａ）に示した指紋センサ部を説明するための図である。
【図４】指紋データを説明するための図である。（ａ）は図１に示した指紋センサ部１１が出力する指紋データの一具体例を説明するための図である。（ｂ）は一般的な指紋照合装置の指紋データの結合処理を説明するための図である。
【図５】指紋の特性を説明するための図である。（ａ）は指紋の一具体例の全体図である。（ｂ）は（ａ）に示した指紋の縦軸方向に沿ったライン毎の指紋の凹凸回数を示す図である。
【図６】図１に示した指紋照合装置の指紋のピーク位置を検出する処理の一具体例を説明するための図である。
【図７】図１に示した指紋照合装置の照合部の照合に関する処理を説明するための図である。
【図８】図１に示した指紋照合装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図９】本発明の第２実施形態に係る指紋照合装置の機能ブロック図である。
【図１０】図９に示した指紋照合装置の指紋センサ部を説明するための図である。（ａ）は図９に示した指紋センサ部の全体図、（ｂ）は（ａ）に示した指紋センサ部の拡大図である。
【図１１】図９に示した指紋照合装置のピーク検出部の動作を説明するための図である。
【図１２】図９に示した指紋照合装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１３】本発明に係る指紋照合装置の第３実施形態の機能ブロック図である。
【図１４】図１３に示した指紋照合装置１ｂを説明するための図である。
【図１５】図１３に示した指紋照合装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１…指紋照合装置、１１…指紋センサ部、１２…アナログ／デジタルコンバータ、１３…メモリ、１４…２値化部、１５…計測部、１６…ピーク検出部、１７…データ記憶部、１８…照合部、１１０…検出エリア、１１１…検出電極、１１２…行駆動回路、１１３…検出回路、１３１…ラインメモリ、１３２…フレームメモリ、１３３…フレームメモリ、１４１，１４２…２値化部、１５１，１５２…計測部、１６１…比較部。
【図１】
2004192408.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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