(57)【要約】【課題】高温の排ガス中のダイオキシン類を定量性良く分析できる分析方法を提供する。【解決手段】排ガス中のダイオキシン類の分析方法であって、排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で取り込む工程と、取り込んだ排ガスから、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で、異物除去する工程と、異物除去された排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域未満の温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却する工程と、冷却した排ガスを分析する工程とを含むことを特徴とする排ガス中のダイオキシン類の分析方法。【選択図】　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
排ガス中のダイオキシン類の分析方法であって、
排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で取り込む工程と、
取り込んだ排ガスから、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で、異物除去する工程と、
異物除去された排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域未満の温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却する工程と、
冷却した排ガスを分析する工程と
を含むことを特徴とする排ガス中のダイオキシン類の分析方法。
【請求項２】
前記排ガス取り込み工程において排ガスを排ガス発生源から直接取り込み、各工程をそれぞれ連続的に行なうことを特徴とする請求項１記載の分析方法。
【請求項３】
前記異物除去工程において、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で使用できるフィルタを用いて異物除去することを特徴とする請求項１または２に記載の分析方法。
【請求項４】
異物によるフィルタの目詰まりを防止するために、フィルタに付着した異物を取り除いて分析系外部に取り出す逆洗工程をさらに含むことを特徴とする請求項３記載の分析方法。
【請求項５】
異物によるフィルタの目詰まりを防止するために、フィルタに付着した異物を取り除いて排ガス発生源に戻す逆洗工程をさらに含むことを特徴とする請求項３記載の分析方法。
【請求項６】
排ガスを取り込んでフィルタへ通すための排ガス取り込み用ラインと、フィルタの逆洗を行なうための逆洗用ラインとが独立していることを特徴とする請求項４または５に記載の分析方法。
【請求項７】
排ガス取り込み用ラインと逆洗用ラインとにそれぞれ開閉可能なバルブを設け、
排ガスを取り込んでフィルタへ通し排ガス分析を行なうときには、排ガス取り込み用ラインのバルブを開、逆洗用ラインのバルブを閉とし、
フィルタの付着異物を取り除く逆洗を行なうときには、排ガス取り込み用ラインのバルブを閉、逆洗用ラインのバルブを開とすることを特徴とする請求項４ないし６いずれか１項に記載の分析方法。
【請求項８】
前記冷却工程において、異物除去された排ガスを、前記分析工程で使用する分析装置に導入できる温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却することを特徴とする請求項１ないし７いずれか１項に記載の分析方法。
【請求項９】
前記冷却工程において、異物除去された排ガスを、２００℃以下の温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却することを特徴とする請求項１ないし７いずれか１項に記載の分析方法。
【請求項１０】
排ガス中のダイオキシン類の分析装置であって、
排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で取り込むための排ガス取り込み手段と、
取り込んだ排ガスから、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で、異物除去するための異物除去手段と、
異物除去された排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域未満の温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却するための排ガス冷却手段と、
冷却した排ガスを分析するための排ガス分析手段と
を備えることを特徴とする排ガス中のダイオキシン類の分析装置。
【請求項１１】
前記排ガス取り込み手段は排ガスを排ガス発生源から直接取り込み、各手段はそれぞれ連続的に動作することを特徴とする請求項１０記載の分析装置。
【請求項１２】
前記異物除去手段は、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で使用できるフィルタを備えることを特徴とする請求項１０または１１に記載の分析装置。
【請求項１３】
異物によるフィルタの目詰まりを防止するために、フィルタに付着した異物を取り除いて分析系外部に取り出すための逆洗手段をさらに備えることを特徴とする請求項１２記載の分析装置。
【請求項１４】
異物によるフィルタの目詰まりを防止するために、フィルタに付着した異物を取り除いて排ガス発生源に戻す逆洗手段をさらに備えることを特徴とする請求項１２記載の分析装置。
【請求項１５】
排ガスを取り込んでフィルタへ通すための排ガス取り込み用ラインと、フィルタの逆洗を行なうための逆洗用ラインとが独立していることを特徴とする請求項１３または１４に記載の分析装置。
【請求項１６】
排ガス取り込み用ラインと逆洗用ラインとがそれぞれ開閉可能なバルブを備え、
排ガスを取り込んでフィルタへ通し排ガス分析を行なうときには、排ガス取り込み用ラインのバルブを開、逆洗用ラインのバルブを閉とし、フィルタの付着異物を取り除く逆洗を行なうときには、排ガス取り込み用ラインのバルブを閉、逆洗用ラインのバルブを開とする制御手段をさらに備えることを特徴とする請求項１３ないし１５いずれか１項に記載の分析装置。
【請求項１７】
異物除去された排ガスを、前記排ガス分析手段に導入できる温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却するための排ガス冷却手段を有することを特徴とする請求項１０ないし１６いずれか１項に記載の分析装置。
【請求項１８】
異物除去された排ガスを、２００℃以下の温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却するための排ガス冷却手段を有することを特徴とする請求項１０ないし１６いずれか１項に記載の分析装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、排ガス中のダイオキシン類の分析方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ダイオキシン類は毒性を有するジベンゾ−ｐ−ジオキシン類、ジベンゾフラン類、ポリクロロビフェニル類２９種類の化合物の総称であり一般に微量でも有害である。通常、一般廃棄物や産業廃棄物を焼却する際に焼却炉から発生することが多い。
【０００３】
ダイオキシン類を分析する方法の１つは、前駆体を用いて排ガス中のダイオキシン類を分析する方法である。この方法では、ダイオキシン類排出量と相関性の高いクロロベンゼン類を定量することで、ダイオキシン類量を予測する。この手法は、特開平５−３１２７９６、特許第３１２０７６８号などに記載されているが、飽くまで予測なので定量精度が落ちるという問題がある。
【０００４】
ダイオキシン類を分析する他の方法は、ダイオキシン類の直接分析である。この方法では、たとえば以下のような分析装置が試みられている。
ａ）レーザイオン化質量分析計：ダイオキシン類の選択的な励起イオン化が可能である。しかし４塩素化以上の化合物に対しては、これらを分析可能となる程にイオン化効率を十分高くできるレーザパワーが無いという問題がある。またダイオキシン類の濃縮や前処理が必要となる。この技術は、文献：Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ　Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ　Ｖｏｌ．６６，　ｐｐ１０６２−１０６９（１９９４）などに記載されている。
【０００５】
ｂ）大気圧化学イオン化トラップ型質量分析計：ダイオキシン類だけを選択的に励起することは不可能である。また夾雑（きょうざつ）物の影響が大きく、ダイオキシン類のような低濃度化合物の検出が困難である。この技術は、文献：分析化学Ｖｏｌ．４９，　ｐｐ４９−５４（２０００）などに記載されている。
【０００６】
ｃ）イオン化率増幅用多面鏡装置を有するレーザイオン化質量分析計（ＲＩＭＭＰＡ）：ダイオキシン類の選択的なイオン化が可能で、かつ質量分析するに十分なレーザパワーがある。従来の１０００倍のレーザ強度が得られる。ダイオキシンを濃縮、前処理することなく測定できる。この装置に関しては、特開２００１−１０８６５７に記載されている。
【０００７】
現状ではＲＩＭＭＰＡ装置のみが、ダイオキシン類の直接分析が可能である。しかしこのようなダイオキシン類の直接分析装置を、実際にごみ焼却装置などの高温の排ガス発生源に接続して使用しようとすると、以下のような問題がある。排ガスが高温であるため、そのままでは分析装置に導入できない。測定する排気ガスに、異物（ダスト、ミストを含む）が混入しているため、そのままでは分析装置に導入できない。また排ガスを冷却すると、異物中の重金属が触媒となってダイオキシン類が再合成し、分析の定量性が悪化する、などである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、高温の排ガス中のダイオキシン類を、定量性良く分析できる分析方法および装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明においては、排ガスが異物存在下で再合成温度域に入ることを避け、排ガスを異物除去後に再合成の起こらない条件で再合成温度域未満に急冷する。
【００１０】
排ガスを冷却すると、異物中の重金属（特に銅）が触媒となって、３００〜５００℃の雰囲気温度（再合成温度域）でダイオキシン類が再合成して増加する。この再合成は、炉内で完全燃焼しないで残留した未燃成分等から、温度、雰囲気、触媒などの条件が適当に揃ったときにダイオキシン類が再合成するものである。触媒の存在によって、再合成の反応速度は非常に大きくなる。再合成についてはたとえば、「廃棄物処理におけるダイオキシン類削減対策の手引き」（環境新聞社刊、１９９８年）に記載されている。
【００１１】
本発明では、このダイオキシン類の再合成を防ぐために、ダイオキシン類の再合成温度域を上回る温度で排ガスから異物を除去した後に、異物除去した排ガスを、再合成温度域を下回る温度まで、再合成しない条件で急冷し、その後、冷却された排ガス中のダイオキシン類を分析する。
【００１２】
具体的にはたとえば、排ガス源から排ガスを直接取り込み、排ガスから異物を、ダイオキシン類再合成温度域を超える温度でフィルタを用いて除去する。フィルタの異物目詰まりを防ぐために、一定時間ごとに付着異物を取り除くための逆洗を行なう。異物除去された排ガスを、急冷装置を用いて、質量分析装置へ導入できる温度までダイオキシン類の再合成なく冷却する。冷却された排ガス中のダイオキシン類を、ダイオキシン類を直接分析できる分析装置で定量する。
【００１３】
すなわち本発明によれば、排ガス中のダイオキシン類の分析方法であって、排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で取り込む工程と、取り込んだ排ガスから、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で、異物除去する工程と、異物除去された排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域未満の温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却する工程と、冷却した排ガスを分析する工程とを含むことを特徴とする排ガス中のダイオキシン類の分析方法が提供される。
【００１４】
本発明においては、前記排ガス取り込み工程において排ガスを排ガス発生源から直接取り込み、各工程をそれぞれ連続的に行なうことが好ましい。
【００１５】
本発明においては、前記異物除去工程において、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で使用できるフィルタを用いて異物除去することが好ましい。
【００１６】
本発明においては、異物によるフィルタの目詰まりを防止するために、フィルタに付着した異物を取り除いて分析系外部に取り出す逆洗工程をさらに含むことが好ましい。
【００１７】
本発明においては、異物によるフィルタの目詰まりを防止するために、フィルタに付着した異物を取り除いて排ガス発生源に戻す逆洗工程をさらに含むことが好ましい。
【００１８】
本発明においては、排ガスを取り込んでフィルタへ通すための排ガス取り込み用ラインと、フィルタの逆洗を行なうための逆洗用ラインとが独立していることが好ましい。
【００１９】
本発明においては、排ガス取り込み用ラインと逆洗用ラインとにそれぞれ開閉可能なバルブを設け、排ガスを取り込んでフィルタへ通し排ガス分析を行なうときには、排ガス取り込み用ラインのバルブを開、逆洗用ラインのバルブを閉とし、フィルタの付着異物を取り除く逆洗を行なうときには、排ガス取り込み用ラインのバルブを閉、逆洗用ラインのバルブを開とすることが好ましい。
【００２０】
本発明においては、前記冷却工程において、異物除去された排ガスを、前記分析工程で使用する分析装置に導入できる温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却することが好ましい。
【００２１】
本発明においては、前記冷却工程において、異物除去された排ガスを、２００℃以下の温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却することが好ましい。
【００２２】
また発明によれば、排ガス中のダイオキシン類を分析するための分析装置であって、排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で取り込むための排ガス取り込み手段と、取り込んだ排ガスから、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で、異物除去するための異物除去手段と、異物除去された排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域未満の温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却するための排ガス冷却手段と、冷却した排ガスを分析するための排ガス分析手段とを備えることを特徴とする排ガス中のダイオキシン類の分析装置が提供される。
【００２３】
本発明においては、前記排ガス取り込み手段は排ガスを排ガス発生源から直接取り込み、各手段はそれぞれ連続的に動作することが好ましい。
【００２４】
本発明においては、前記異物除去手段は、ダイオキシン類の再合成温度域を超える温度で使用できるフィルタを備えることが好ましい。
【００２５】
本発明においては、異物によるフィルタの目詰まりを防止するために、フィルタに付着した異物を取り除いて分析系外部に取り出すための逆洗手段をさらに備えることが好ましい。
【００２６】
本発明においては、異物によるフィルタの目詰まりを防止するために、フィルタに付着した異物を取り除いて排ガス発生源に戻す逆洗手段をさらに備えることが好ましい。
【００２７】
本発明においては、排ガス取り込み用ラインと逆洗用ラインとがそれぞれ開閉可能なバルブを備え、排ガスを取り込んでフィルタへ通し排ガス分析を行なうときには、排ガス取り込み用ラインのバルブを開、逆洗用ラインのバルブを閉とし、フィルタの付着異物を取り除く逆洗を行なうときには、排ガス取り込み用ラインのバルブを閉、逆洗用ラインのバルブを開とする制御手段をさらに備えることが好ましい。
【００２８】
本発明においては、異物除去された排ガスを、前記排ガス分析手段に導入できる温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却するための排ガス冷却手段を有することが好ましい。
【００２９】
本発明においては、異物除去された排ガスを、２００℃以下の温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で冷却するための排ガス冷却手段を有することが好ましい。
【００３０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を、図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明に係る分析装置の一例を示す概略図である。
本発明の分析装置１００は、高温の排ガス発生源である焼却炉出口の煙道２００等に直接取り付けられる。煙道２００を流れる排ガスの温度は、たとえば５００〜１０００℃またはそれ以上である。分析装置１００は、排ガス取り込み手段１０、異物除去手段２０、排ガス冷却手段４０、排ガス分析手段６０を備える。
【００３１】
排ガス取り込み手段１０は煙道２００等に接続され、排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域（３００〜５００℃）を上回る温度で直接取り込むためのものである。取り込み手段１０はたとえば、煙道２００内に挿入される排ガス取り込み用プローブである。
【００３２】
排ガス取り込み手段１０に、配管１５を介して異物除去手段２０が接続されている。
異物除去手段２０は、取り込まれた排ガスに含まれる異物（ダスト、ミスト、金属等）を、ダイオキシン類の再合成温度域を上回る温度で除去するためのものである。除去手段２０はたとえば、異物除去用のフィルタを備える。フィルタの材質は、排ガスの温度範囲たとえば５００〜１０００℃で使用できるものであれば何でも良い。たとえば、セラミックスフィルタやガラス繊維や不銹鋼製繊維（例えばステンレスウール等）で織り込まれた濾紙などは、高温においても異物除去が可能であるためフィルタとして好ましい。
【００３３】
またフィルタに付着した異物によるフィルタ目詰まりの影響を避けるために、複数個のフィルタを備え、フィルタが目詰まりしたら他の新しいフィルタへ順次切り換わるようにしても良い。
【００３４】
異物除去手段２０に配管３０を介して排ガス冷却手段４０が接続されている。
排ガス冷却手段４０は、異物除去された排ガスを、ダイオキシン類の再合成温度域を下回る温度まで冷却するためのものである。冷却手段４０はたとえば、水冷による冷却管である。冷却管の長さは、冷却前後のガス温度差により決定される。ガス温度差が大きいほど、冷却管の長さは長い。冷却管に冷水などを流しながら管内部に排ガスを通過させて、排ガスの温度を下げる。
【００３５】
排ガスの冷却は、ダイオキシン類が再合成温度域（３００〜５００℃）で再合成反応を起こさない条件で行なわれる。たとえば、排ガス冷却手段４０のガス冷却速度を、ダイオキシン類の再合成反応が起こらない程度に十分に大きくする。
【００３６】
冷却によって排ガスを、排ガス分析手段６０で用いる質量分析装置に導入できる温度まで下げることが好ましい。排ガス温度を何度まで下げるかは、後段の質量分析装置の性能に依存する。現在、この分野で通常利用される分析装置に対しては、ガス温度をたとえば２００℃以下まで下げることが好ましい。
【００３７】
排ガス冷却手段４０に、保温チューブなどの配管５０を介して排ガス分析手段６０が接続されている。
排ガス分析手段６０は、ダイオキシン類を直接分析するためのものである。分析手段６０はたとえば、レーザイオン化質量分析装置である。この分析装置は、レーザ波長を変えることで、全ての種類のダイオキシン類を定量することができる。装置の例としては、（株）アイディエックス・テクノロジーズ製の多面鏡レーザイオン化質量分析（ＲＩＭＭＰＡ）装置が挙げられる（特開２００１−１０８６５７）。
【００３８】
以上の各手段を連続的に動作させることで、排ガス中のダイオキシン類を連続分析することができる。
【００３９】
本発明の分析装置１００においては、取り込んだ排ガスがまだ高温でダイオキシン類再合成温度域を上回る間に、異物除去手段２０によって異物を除去している。そして異物除去した排ガスを、再合成温度域を下回る温度まで、ダイオキシン類が再合成しない条件で急冷している。そのため排ガスを冷却中に、異物中の重金属が触媒となってダイオキシン類が再合成して増加するようなことがない。したがって、高温の排ガス中のダイオキシン類を定量性良く分析することができる。
【００４０】
なお本装置１００は、フィルタに付着した異物によるフィルタ目詰まりを防止するための逆洗手段を備えていることが好ましい。逆洗手段はたとえば、圧縮空気などの圧縮ガスを生成するコンプレッサ７０、圧縮ガスをたとえば排ガス流れとは逆方向でフィルタへ当てるための配管８０、除去された付着異物を取り出すための配管９０を備える。逆洗に用いるガスは圧縮空気、圧縮窒素など、不活性なガスであれば何でも良い。圧縮ガスをたとえば、一定時間ごとにパルス状にフィルタに当てて、フィルタに付着した異物を払い落とす。払い落とした異物を、配管９０を通して、外部へ取り出すかまたは図示したように煙道２００へ戻す。逆洗手段によってフィルタ目詰まりを防止することで、フィルタの交換頻度を減らし、フィルタ交換による排ガス分析の中断を減らすことができる。
【００４１】
図２は、フィルタを備える異物除去手段２０および逆洗手段の一例を示す概略断面図である。フィルタ収容器２１の内部に、フィルタ２２が収容されている。図１の煙道２００から取り込まれた排ガス２５は、配管１５からバルブ１１を通ってフィルタ収容器２１内部に入り、フィルタ２２を通って異物除去される。異物除去された排ガス２６は、バルブ３１から配管３０を通って出て行き、下流側の排ガス冷却手段４０へ流れる。また圧縮ガス２７が、配管８０からバルブ８１を通ってフィルタ収容器２１内部に入り、フィルタ２２を逆方向に通過して、フィルタ２２表面に付着した異物を取り除く。取り除かれた異物２９は、バルブ９１から配管９０を通って外部に取り出され、必要に応じて図１の煙道２００へ戻される。こうして排ガス２５からの異物除去とフィルタ２２の逆洗とが行なわれる。
【００４２】
図２に示す異物除去手段２０では、取り込んだ排ガス２５をフィルタ２２を通して下流側へ流すライン（排ガス取り込み用ライン）と、逆洗のために圧縮ガス２７をフィルタ２２へ送るライン（逆洗用ライン）とが共通している。そのため、排ガス取り込みとフィルタ逆洗とを同時に行なうと、フィルタ２２へ送った圧縮ガス２７が直接、配管３０を通って下流側へ流れる可能性がある。その結果、排ガス２６中のダイオキシン類濃度の測定値が低下する可能性がある。
【００４３】
したがって図２に示す異物除去手段２０では、排ガス取り込みとフィルタ逆洗処理とを別個に行なうことが好ましい。そのためには、バルブ開閉を制御する制御手段を設けて以下のように動作させることが好ましい。排ガス取り込み時にはバルブ１１、３１を開、バルブ８１、９１を閉にして、排ガス２５のみをフィルタ２２へ流す。フィルタ逆洗時にはバルブ１１、３１を閉、バルブ８１、９１を開にして、圧縮ガス２７のみをフィルタ２２へ流す。こうすることで、排ガス取り込みとフィルタ逆洗処理とを別個に行なうことができる。
【００４４】
後述するように異物除去手段２０においては、排ガス取り込み用ラインと逆洗用ラインとは独立していることが好ましい。こうすることで、排ガス取り込みとフィルタ逆洗とを同時に行なえるため、排ガス分析を中断することなく逆洗処理を行なうことができる。
【００４５】
図３は、このような独立した排ガス取り込み用ラインと逆洗用ラインとを備える異物除去手段２０および逆洗手段の例を示す概略断面図である。
フィルタ収容器２１の内部に、下端が閉じた管状の中空フィルタ２２が上部から気密に挿入されている。フィルタ２２の上端には、配管８０が、バルブ８１を介して接続されている。フィルタ収容器２１側面のフィルタ２２本体に対応する位置には、煙道から排ガスを取り込むための配管１５が、バルブ１１を介して接続されている。フィルタ２２の上部側面には、排ガスを冷却手段へ排出するための配管３０が、バルブ３１を介して接続されている。フィルタ収容器２１の下部には、フィルタ２２表面から除去されて落下する異物を収容するための異物収容室２３が設けられている。異物収容室２３の底部には、収容された異物２３を外部へ取り出すための配管９０が、バルブ９１を介して接続されている。
【００４６】
煙道から取り込まれた排ガス２５は、配管１５からバルブ１１を通ってフィルタ収容器２１内部に入る。内部に入った排ガス２５は、フィルタ２２表面によって異物除去された後に、バルブ３１を通って配管３０から出ていく。配管３０を出た異物除去後の排ガス２６は、下流側の排ガス冷却手段（図３には図示せず）へ流れる。
【００４７】
中空のフィルタ２２内部には、パルス状の圧縮ガス２７が、コンプレッサ（図３には図示せず）から配管８０、バルブ８１を通して導入される。圧縮ガス２７は、フィルタ２２内面にパルス状に当たって、フィルタ２２表面に付着した異物を払い落とす。払い落とされた異物２８は落下して、異物収容室２３内に収容され、バルブ９１を通して配管９０から外部に取り出される。外部に取り出された異物２９は、必要に応じて煙道へ戻される。
以上のようにして、排ガス２５からの異物除去とフィルタ２２の逆洗とが行なわれる。
【００４８】
図３に示す異物除去手段２０では、排ガス２５からの異物除去をフィルタ２２表面で行ない、逆洗のための圧縮ガス２７はフィルタ２２内部へ送っている。そのため、取り込んだ排ガス２５をフィルタ２２を通して下流側へ流す排ガス取り込み用ラインと、逆洗のために圧縮ガス２７をフィルタ２２へ送る逆洗用ラインとが独立している。したがって排ガス取り込みとフィルタ逆洗とを同時に行なっても、圧縮ガス２７が直接、配管３０を通って下流側へ流れることはない。したがって排ガス取り込みとフィルタ逆洗とを同時に行なうことができ、排ガス分析を中断することなく逆洗処理が行なえる。
【００４９】
なお図３に示す装置においても、排ガス取り込みとフィルタ逆洗とを別個に行なっても良い。そのためにバルブ開閉を制御する制御手段を設けて以下のように動作させても良い。排ガスの取り込み時には、排ガス取り込み用ラインのバルブ１１および３１を開とし、逆洗用ラインのバルブ８１および９１を閉とする。同様に、フィルタ逆洗時には、排ガス取り込み用ラインのバルブ１１および３１を閉とし、逆洗用ラインのバルブ８１および９１を開とする。こうして排ガス取り込みと逆洗とを別個に行なうことで、異物除去後の排ガス２６に、逆洗処理中にフィルタ２２から取り除かれた異物２８が混入する可能性を最小限に抑えることができる。
【００５０】
【実施例】
図１に示す分析装置１００を用いて、ごみ焼却炉排ガス中のダイオキシン類濃度を分析した。排ガス２５は、処理量５００ｋｇ／ｈのごみ焼却プラントの燃焼炉出口より採取した。このときの排ガス温度は９００℃であった。異物除去手段２０としては、図３に示すタイプのものを使用し、フィルタ２２には、セラフィル（マディソンフィルター社製）で形成されたセラミックフィルタを用いた。異物除去手段２０の後段には、排ガス２５を冷却する冷却管４０（長さ：１５００ｍｍ、管径：１０ｍｍ）を設け、管内に水を流すことで冷却を行った。このときの排ガスの吸引速度は、等速吸引のため２０Ｌ／分とした（冷却速度は約２０００℃／秒となる）。冷却後の排ガス温度は２００℃であった。冷却後の排ガスを、２００℃で保温されたチューブ５０を通して、レーザイオン化質量分析装置６０に導入した。またダストなどによるフィルタ２２の目詰まりを防ぐため、逆洗を行なうライン８０、９０を別途設けた。逆洗は、コンプレッサ７０により生成した圧縮空気を、１時間おきにフィルタ２２へ当てて実施した。
【００５１】
（実施例１）
まず排ガス中のダイオキシン類濃度が、本装置による排ガス採取前と排ガス採取後とで変化が無いことを確認した。すなわち、排ガスがフィルタ２０および冷却装置４０を通過する前と後とで、ダイオキシン類の再合成などによる変化が起きていないことを確認した。具体的には、排ガスを、フィルタ２０に導入する前と分析装置６０に導入する直前とで取り出した後に、それぞれの排ガスをＪＩＳ
Ｋ　０３１１に従うダイオキシン類分析法を用いて分析した。
【００５２】
分析結果を下表１に示す。
【００５３】
【表１】
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【００５４】
上表１に示すように、ダイオキシン類の濃度は殆ど同じであり、本装置を用いた排ガス採取によるダイオキシン類の濃度変化が無いことが確認された。
【００５５】
（実施例２）
実施例１で採取された排ガス中のダイオキシン類濃度を、レーザイオン化質量分析装置６０を用いて連続的に測定した。ダイオキシン類の分析は東京電子製多面鏡レーザイオン化質量分析計（ＲＩＭＭＰＡ）を用いて行った。
【００５６】
レーザ波長を、ダイオキシン類の複数の共鳴波長を含む波長範囲で掃引して（掃引時間３０秒）、共鳴波長ごとにダイオキシン類をイオン化して質量分析により定量した。一例として、２，８−ジベンゾ−ｐ−ジオキシンに対しては、３０５．５ｎｍの波長のレーザ光によりイオン化を行なった。
【００５７】
レーザ波長を上述の波長範囲で繰返し掃引し続けることで、ダイオキシン類の連続測定を行なった。このときダイオキシン類の定量は、レーザ波長を２回掃引する（掃引時間１分間）ごとに、２回の測定値を合計して１回の測定値として行なった。
【００５８】
図４に、上述の方法で測定された、２，８−ジベンゾ−ｐ−ジオキシン濃度の燃焼炉出口における時間推移を示す。横軸は、測定の経過時間であり、縦軸は、２，８−ジベンゾ−ｐ−ジオキシンの測定濃度である。３時間以上の長時間に渡って、安定して連続測定されていることが分かる。
【００５９】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明によれば、高温の排ガス中のダイオキシン類を定量性良く分析することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る分析装置の一例を示す概略図。
【図２】本発明に係る異物除去手段の一例を示す概略断面図。
【図３】本発明に係る異物除去手段の他の例を示す概略断面図。
【図４】本発明の実施例で測定されたダイオキシン類の濃度変化の一例を示す図。
【符号の説明】
１０…排ガス取り込み手段
１１、３１、８１、９１…バルブ
２０…異物除去手段
２１…フィルタ収容器
２２…フィルタ
２３…異物収容室
２５、２６…排ガス
２７…圧縮ガス
２８、２９…異物
１５、３０、５０、８０、９０…配管
４０…排ガス冷却手段
６０…排ガス分析手段
７０…コンプレッサ
１００…分析装置
２００…煙道
【図１】
2004093370.tif 000004
【図２】
2004093370.tif 000005
【図３】
2004093370.tif 000006
【図４】
2004093370.tif 000007