(57)【要約】【課題】振動等の負荷変動を確実に除去して異物挟み込みの有無を正確に判定することができるとともに、挟み込み検出のための演算負荷を軽減することができる異物挟み込み検出装置を提供することにある。【解決手段】回転速度検出センサ２３はモータ６の回転速度を検出し、その検出信号ＳＰはコンピュータ２１に入力される。コンピュータ２１はその検出信号ＳＰから負荷判定回転周期を求める。コンピュータ２１は負荷判定回転周期に基づいて回転速度が異物挟み込みによる負荷と同等の負荷によって変動しているかどうかを判定し、その判定の連続回数をカウントする。コンピュータ２１は開閉部材に異物の挟み込み状態と同等の負荷が加わっていると判定し、かつ、その判定が所定回数連続している時、挟み込みと判断する。【選択図】      図１
2004201498.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
開閉部材（４）を開閉動作させるための駆動モータ（６）と、
前記駆動モータ（６）の回転速度（ＮS ）を検出し、検出信号（ＳＰ）を生成する速度検出手段（２３，２４）と、
前記速度検出手段（２３，２４）からの検出信号（ＳＰ）から回転周期（ｔ1 ）を負荷判定回転周期（ｔ1 ，ｔ2 ・・）として演算する回転周期演算処理手段（２１）と、
前記回転周期演算処理手段（２１）にて求めた負荷判定回転周期（ｔ1 ，ｔ2 ・・）の変動値に基づいて回転速度（ＮS ）が異物の挟み込みによる負荷と同等の負荷によって変動しているかどうかを判定し、異物の挟み込みによる負荷と同等の負荷によって変動していると判定された連続回数をカウントする演算処理手段（２１）と、
前記演算処理手段（２１）が前記開閉部材（４）に異物の挟み込み状態と同等の負荷が加わっていると判定し、かつ、その判定が所定の回数連続している時、異物の挟み込みと判断する挟み込み判定処理手段（２１）とを備えた開閉部材の異物挟み込み検出装置。
【請求項２】
前記挟み込み判定処理手段（２１）が異物の挟み込みと判断した時、前記駆動モータ（６）を反転駆動させる挟み込み回避処理手段（２１）を備えた請求項１に記載の開閉部材の異物挟み込み検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、開閉部材の異物挟み込み検出装置に関し、詳しくは、スライディングルーフガラス、パワーウィンドガラス、スライドドア等の開閉部材の異物挟み込み検出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、パワーウィンド装置と同様にスライディングルーフガラスが全閉動作中に異物挟み込みを検出し、直ちに動作を停止し、全開方向に反転動作する異物挟み込み防止装置を備えた自動車のサンルーフ装置が提案されている。
【０００３】
一般に、スライディングルーフガラスをスライド駆動させるスライディングモータの回転周期（回転速度）が検出され、回転周期が長くなったとき（回転速度が次第に低下したとき）、異物の挟み込みが検出される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、悪路を走行しているときにスライディングルーフガラスを全閉動作させる時、自動車に加わる振動によってスライディングモータの負荷が変動し、該モータの回転周期（回転速度）は変動する。その回転周期（回転速度）の変動は異物挟み込みの誤検出につながる。
【０００５】
そこで、振動等の外乱による負荷変動を除去するためにＦＩＲフィルタやＩＩＲフィルタ等のデジタルフィルタを用いる方法が提案されている。
しかしながら、その方法においては、積和演算等の計算に対するＣＰＵの負荷が大きいので、より高速なＣＰＵが必要となる。このことは、異物挟み込み防止装置のコストアップとなる。更に、デジタルフィルタを用いても完全に振動による負荷変動を除去することはできなかった。
【０００６】
本発明の目的は、振動等の負荷変動を確実に除去して異物挟み込みの有無を正確に判定することができるとともに、挟み込み検出のための演算負荷を軽減することができる異物挟み込み検出装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記問題点を解決するために、請求項１に記載の発明は、開閉部材を開閉動作させるための駆動モータと、前記駆動モータの回転速度を検出し、検出信号を生成する速度検出手段と、前記速度検出手段からの検出信号から回転周期を負荷判定回転周期として演算する回転周期演算処理手段と、前記回転周期演算処理手段にて求めた負荷判定回転周期の変動値に基づいて回転速度が異物の挟み込みによる負荷と同等の負荷によって変動しているかどうかを判定し、異物の挟み込みによる負荷と同等の負荷によって変動していると判定された連続回数をカウントする演算処理手段と、前記演算処理手段が前記開閉部材に異物の挟み込み状態と同等の負荷が加わっていると判定し、かつ、その判定が所定の回数連続している時、異物の挟み込みと判断する挟み込み判定処理手段とを備えたことを要旨とする。
【０００８】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記挟み込み判定処理手段が異物の挟み込みと判断した時、前記駆動モータを反転駆動させる挟み込み回避処理手段を備えたことを要旨とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、振動等の負荷変動を確実に除去して異物挟み込みの有無を正確に判定することができるとともに、挟み込み検出のための演算負荷を軽減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明を自動車のサンルーフ装置に具体化した一実施形態を図面に従って説明する。
図３はサンルーフ装置を有する自動車の要部斜視図である。自動車１のルーフパネル２に形成された窓３には、開閉部材としてのスライディングルーフガラス（以下、単にルーフガラスという）４が前後方向に往復移動可能に配設されている。ルーフガラス４を後方に移動（往動）させることにより窓３が開き、ルーフガラス４を前方へ移動（復動）させることにより窓３が閉じる。
【００１１】
ルーフガラス４は、図３に破線で示す駆動モータ（駆動源）としての直流モータであるスライディングルーフモータ（以下、単にモータという）６を正逆回転させることによって往復動（開閉動作）される。モータ６が正回転すると、図示しない駆動伝達機構を介してルーフガラス４は窓３を全開する方向に移動（往動）する。反対に、モータ６が逆回転すると、駆動伝達機構を介してルーフガラス４は窓３を全閉する方向に移動（復動）する。この時、モータ６の回転速度ＮS はルーフガラス４の移動速度（、即ち、開閉速度）と相対関係にある。モータ６は、窓３の前方においてルーフパネル２と成形天井パネル（図示せず）との間に固定されている。
【００１２】
図１は、サンルーフ装置の概略的なブロック図である。モータ６の第１端子は第１リレースイッチ１１に接続され、第２端子は第２リレースイッチ１２に接続されている。第１リレースイッチ１１は、自動車１のバッテリＢのプラス端子に接続されたプラス接点１１ｂと、バッテリＢのマイナス端子に接続されたマイナス接点１１ｃと、モータ６の第１端子に接続された可動接点１１ａとを有する。本実施形態では、第１リレーコイル１３が通電しているとき、可動接点１１ａはプラス接点１１ｂに接続され、第１リレーコイル１３が非通電のとき、可動接点１１ａはマイナス接点１１ｃに接続される。
【００１３】
第２リレースイッチ１２は、バッテリＢのプラス端子に接続されたプラス接点１２ｂと、バッテリＢのマイナス端子に接続されたマイナス接点１２ｃと、モータ６の第２端子に接続された可動接点１２ａとを有する。本実施形態では、第２リレーコイル１４が通電しているとき、可動接点１２ａはプラス接点１２ｂに接続され、第２リレーコイル１４が非通電のとき、可動接点１２ａはマイナス接点１２ｃに接続される。
【００１４】
従って、第１リレーコイル１３が通電し、第２リレーコイル１４が非通電の時、第１リレースイッチ１１の可動接点１１ａはプラス接点１１ｂと接続され、第２リレースイッチ１２の可動接点１２ａはマイナス接点１２ｃと接続される。その結果、バッテリＢのプラス端子→第１リレースイッチ１１→モータ６→第２リレースイッチ１２→バッテリＢのマイナス端子の経路で電流が流れ、モータ６は正回転する。モータ６の正回転により、ルーフガラス４は全開方向に移動する。
【００１５】
反対に、第１リレーコイル１３が非通電、第２リレーコイル１４が通電の時、第１リレースイッチ１１の可動接点１１ａはマイナス接点１１ｃと接続され、第２リレースイッチ１２の可動接点１２ａはプラス接点１２ｂと接続される。その結果、バッテリＢのプラス端子→第２リレースイッチ１１→モータ６→第１リレースイッチ１１→バッテリＢのマイナス端子の経路で電流が流れ、モータ６は逆回転する。モータ６の逆回転により、ルーフガラス４は全閉方向に移動する。
【００１６】
第１及び第２リレーコイル１３，１４が共に非通電の時、第１及び第２リレースイッチ１１，１２の可動接点１１ａ，１２ａはマイナス接点１１ｃ，１２ｃにそれぞれ接続される。その結果、モータ６にはバッテリＢの直流電圧ＶＢが印加されず回転しない。
【００１７】
マイクロコンピュータ２１は、制御プログラムに従って種々の演算処理を行う中央処理装置（ＣＰＵ）、その制御プログラム及び各種データを記憶する読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、ＣＰＵの演算処理結果等の各種データを一時記憶する読み出し及び書き替え可能なメモリ（ＲＡＭ）及び入出力インタフェース（Ｉ／Ｏ）を備える。コンピュータ２１は定電圧電源回路、ＡＤ変換器、第１及び第２リレーコイル１３，１４を通電するための駆動回路等の内部回路も備えている。
【００１８】
コンピュータ２１は、バッテリＢに接続され、そのバッテリＢから直流電圧ＶＢを動作電源として入力する。バッテリＢの直流電圧ＶＢはコンピュータ２１内の定電圧電源回路により、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、Ｉ／Ｏ、等の各内部回路の動作電源のための所定の電圧に変換される。
【００１９】
コンピュータ２１は、スライドスイッチ２２からの操作信号を入力する。スライドスイッチ２２は室内のルームミラーの上方位置において成形天井パネルに設けられている。スライドスイッチ２２は開操作部と閉操作部を有する。開操作部を操作すると、スライドスイッチ２２はコンピュータ２１に開操作信号を出力する。反対に、閉操作部を操作すると、スライドスイッチ２２はコンピュータ２１に閉操作信号を出力する。
【００２０】
コンピュータ２１は制御プログラムに従ってスライドスイッチ２２からの開操作信号に応答してモータ６を正回転させるべく、第１リレーコイル１３を通電し、第２リレーコイル１４を非通電する。コンピュータ２１は制御プログラムに従ってスライドスイッチ２２からの閉操作信号に応答してモータ６を逆回転させるべく、第２リレーコイル１４を通電し、第１リレーコイル１３を非通電する。さらに、コンピュータ２１は制御プログラムに従って開操作信号及び閉操作信号のいずれも入力されていないとき、第１及び第２リレーコイル１３，１４を非通電してモータ６を回転停止させる。
【００２１】
コンピュータ２１は異物挟み込み防止のために制御プログラムに従ってモータ６が逆回転中に異物が挟み込まれたと判断すると、モータ６を正回転させるべく第１及び第２リレー１３，１４の通電・非通電を切替える。
【００２２】
コンピュータ２１は、モータ６の回転速度ＮS を検出する回転速度検出センサ２３から検出信号を波形整形回路２４を介して入力する。回転速度検出センサ２３は、モータ６の回転軸に固着され、回転軸とともに回転する円板状のマグネットと、マグネットと相対向する位置に配置されたホール素子（共に図示せず）とを有する。円板状のマグネット面は、回転軸芯と直交する線分を境とする１８０度のＮ極面と、１８０度のＳ極面とから形成される。各々がホール素子と対向するＮ極面の長さとＳ極面の長さは同じである。Ｎ及びＳ極面の長さは回転軸の半回転を意味する。従って、マグネットが回転軸とともに半回転する毎に、Ｎ極面とＳ極面とが交互にホール素子の上方を通過する。本実施形態では、ホール素子がＮ極面の上方を通過するとき高電位（Ｈレベル）を有する検出信号が、Ｓ極面の上方を通過するとき低高電位（Ｌレベル）を有する検出信号が回転速度検出センサ２３から出力される。
【００２３】
波形整形回路２４は回転速度検出センサ２３からの検出信号を入力し、検出信号を波形整形して、図２に示すようにシャープな立ち上がりと立ち下がりを有するパルス波形検出信号ＳＰをコンピュータ２１に出力する。回転速度検出センサ２３及び波形整形回路２４は速度検出手段を構成する。
【００２４】
ちなみに、全閉動作中にルーフガラス４に異物が挟まることによりモータ６に負荷がかかったり、モータ６に供給される直流電圧ＶＢが下がったり、悪路走行等により発生する振動によりモータ６に負荷がかかることがある。この場合、モータ６の回転速度ＮS は低下する。回転速度ＮS が低下すると、相対的に検出信号ＳＰの回転周期ｔ1 は長くなる。
【００２５】
コンピュータ２１は挟み込み判定処理手段を構成し、補正用電圧ＶＢF 及び検出信号ＳＰに基づいて異物挟み込み検出処理を実行する。即ち、コンピュータ２１はモータ６が逆回転中（ルーフガラス４が全閉方向に移動中）に制御プログラムに従って異物挟み込み検出処理を実行する。異物挟み込み検出処理は、回転周期演算処理と、外乱判定処理、及び挟み込み判定処理を含む。
【００２６】
［回転周期演算処理］
波形整形回路２４からの検出信号ＳＰが逐次演算され、演算結果がＲＡＭに格納される。詳述すると、コンピュータ２１は、図２に示すように、検出信号ＳＰがＨレベルからＬレベルに立ち下がる毎に、先の立ち下がりから今回の立ち下がりまでの時間ｔ1 （実回転周期ｔ1 ，ｔ3 ，ｔ5 ，・・）を演算する。さらに、コンピュータ２１は、検出信号ＳＰがＬレベルからＨレベルに立ち上がる毎に、先の立ち上がりから今回の立ち下がりまでの時間ｔ２（実回転周期ｔ2 ，ｔ4 ，ｔ6 ，・・）を演算する。算出された実回転周期は、コンピュータ２１のＲＡＭに最新のものから順に負荷判定回転周期ｔ1 ，ｔ3 ，・・、ｔ2 ，ｔ4 ，・・として格納される。
【００２７】
本実施形態では、図２に示すように検出信号ＳＰが立ち下がると、９個の負荷判定回転周期ｔ1 ，ｔ3 ，ｔ5,・・ｔ15，ｔ17がＲＡＭに格納される。検出信号ＳＰが立ち上がると、９個の負荷判定回転周期ｔ2 ，ｔ4 ，ｔ6 ，・・ｔ16，ｔ18がＲＡＭに格納される。次に検出信号ＳＰが立ち下がると、今までの１８個の負荷判定回転周期ｔ1 〜ｔ18のうちの最も古い１８番目の負荷判定回転周期18が新たに演算された負荷判定回転周期に更新される。従って、１８個の負荷判定回転周期ｔ1 ，ｔ3 ，・・ｔ17、ｔ2 ，ｔ4 ，・・ｔ18がＲＡＭに格納され、立ち上がり又は立ち下がり毎に更新される。コンピュータ２１は、ＲＡＭに格納された１８個の負荷判定回転周期ｔ1 ，ｔ2 〜ｔ18を使用して外乱判定処理を行う。判定処理は１８個の負荷判定回転周期ｔ1 〜ｔ18が更新される毎に行われる。
【００２８】
［外乱判定処理］
ＲＡＭに格納された１８個の負荷判定回転周期ｔ1 〜ｔ18からは、直流電圧ＶＢの変動に対する回転速度ＮS の実際の変動が除去されている。しかしながら、１８個の負荷判定回転周期ｔ1 〜ｔ18には、モータ６に加わる負荷の変動に対する回転速度ＮS の変動が含まれている。モータ６の負荷は、ルーフガラスを全閉中に異物等が挟まることにより生じる負荷、悪路走行時における車両の振動等の外乱により生じる負荷、振動を除くその他の外乱によって生じる負荷を含む。外乱判定処理は、１８個の負荷判定回転周期ｔ1 〜ｔ18を用いて、モータ６の負荷を判定する。
【００２９】
外乱判定処理は、低域微分演算処理と挟み込み傾向判定処理とを含む。
１．低域微分演算処理
低域微分演算処理は、データ列分割処理及び速度変化演算処理を構成する。コンピュータ２１は、１８個の負荷判定回転周期ｔ1 〜ｔ18を３つのデータ列としてのグループＡ，Ｂ，Ｃに区分する。第１グループＡは、４個の立ち上がりの負荷判定回転周期ｔ1 ，ｔ3 ，ｔ5 ，ｔ7 と、４個の立ち下がりの負荷判定回転周期ｔ2 ，ｔ4 ，ｔ6 ，ｔ8 とから形成される。第２グループＢは、４個の立ち上がりの負荷判定回転周期ｔ7 ，ｔ9 ，ｔ11，ｔ13と、４個の立ち下がりの負荷判定回転周期ｔ6 ，ｔ8 ，ｔ10，ｔ12とから形成される。第３グループＣは、４個の立ち上がりの負荷判定回転周期ｔ11，ｔ13，ｔ15，ｔ17と、４個の立ち下がりの負荷判定回転周期ｔ12，ｔ14，ｔ16，ｔ18とから形成される。
【００３０】
次に、コンピュータ２１は第１グループＡの８個の負荷判定回転周期ｔ1 〜ｔ8 から第１グループＡの変動値としての低域微分値ＴＡＦを下記の式に従って演算する。
ＴＡＦ＝（ｔ1 ＋ｔ2 ＋ｔ3 ＋ｔ4 ）−（ｔ5 ＋ｔ6 ＋ｔ7 ＋ｔ8 ）
同様に、コンピュータ２１は第２グループＢの８個の負荷判定回転周期ｔ8 〜ｔ13及び第３グループＣの８個の負荷判定回転周期ｔ11〜ｔ18から、第２及び第３グループＢ，Ｃの変動値としての低域微分値ＴＢＦ，ＴＣＦを下記の式に従ってそれぞれ演算する。
【００３１】
ＴＢＦ＝（ｔ6 ＋ｔ7 ＋ｔ8 ＋ｔ9 ）−（ｔ10＋ｔ11＋ｔ12＋ｔ13）
ＴＣＦ＝（ｔ11＋ｔ12＋ｔ13＋ｔ14）−（ｔ15＋ｔ16＋ｔ17＋ｔ18）
低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦは、回転毎の負荷判定回転周期の偏差である。第１グループＡの低域微分値ＴＡＦは、最も新しい時期の負荷判定回転周期の偏差であり、第２グループＢの低域微分値ＴＢＦは、第１グループＡの次に新しい時期の負荷判定回転周期の偏差である。第３グループＣの低域微分値ＴＣＦは、第２グループＢの次に新しい時期の負荷判定回転周期の偏差である。従って、正の値を有する低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦは、各時期において、回転速度ＮS が何らかの負荷により低下したことを示す。
【００３２】
次に、コンピュータ２１は後記する回転速度変動演算処理に使用される第１及び第３グループＡ，Ｃの合計値ＴＡＳ，ＴＣＳを求めるための合計計算処理を行う。合計値ＴＡＳ，ＴＣＳは、第１及び３グループＡ，Ｃの８個の負荷判定回転周期を用いて下記の式から求められる。
【００３３】
ＴＡＳ＝（ｔ1 ＋ｔ2 ＋ｔ3 ＋ｔ4 ）＋（ｔ5 ＋ｔ6 ＋ｔ7 ＋ｔ8 ）
ＴＣＳ＝（ｔ11＋ｔ12＋ｔ13＋ｔ14）＋（ｔ15＋ｔ16＋ｔ17＋ｔ18）
コンピュータ２１は、低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦと合計値ＴＡＳ，ＴＣＳを求めると、低域微分演算処理を終了し挟み込み傾向判定処理に移る。
【００３４】
２．挟み込み傾向判定処理
コンピュータ２１は図４に示すフローチャートに従って挟み込み傾向判定処理を実行する。
【００３５】
挟み込み傾向判定処理は、外乱判定処理を構成し、低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦがその低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦにそれぞれ対応するしきい値ＴＭ１，ＴＭ２，ＴＭ３より大きいか判断する（ステップ１〜３）。即ち、ＴＡＦ＞ＴＭ１、ＴＢＦ＞ＴＭ２、且つ、ＴＣＦ＞ＴＭ３の条件を満たすかどうか判断する。
【００３６】
しきい値ＴＭ１，ＴＭ２，ＴＭ３は、予め実験等の検証に基づいて求められた値である。しきい値ＴＭ１，ＴＭ２，ＴＭ３は、外乱による負荷より大きい負荷（即ち、異物がルーフガラス４に挟さみ込まれることにより生じた初期負荷）により回転速度ＮS が低下した時に得られた低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦである。従って、外乱等の負荷で生ずる低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦは、それぞれしきい値ＴＭ１，ＴＭ２，ＴＭ３以下である。しきい値ＴＭ１，ＴＭ２，ＴＭ３は予めコンピュータ２１のＲＯＭに格納されている。従って、低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦがしきい値ＴＭ１，ＴＭ２，ＴＭ３よりも大きい場合は、各グループＡ〜Ｃにおいて、何らかの原因でルーフガラス４、即ちモータ６に負荷が発生したことになる。
【００３７】
コンピュータ２１は、ステップ１〜３の条件が満たされ、各グループＡ〜Ｃ時期においてモータ６の負荷が増大したと判断されると、第１グループＡの低域微分値ＴＡＦと第３Ｃグループの低域微分値ＴＣＦとを比較して負荷が増大しているかどうか判断する（ステップ４）。低域微分値ＴＡＦが低域微分値ＴＣＦより大きい時（即ち、ＴＡＦ＞ＴＣＦ）、全閉方向に移動しているルーフガラス４が異物を挟み込んでいく傾向にあると判定される。つまり、古い時期の第３グループＣの低域微分値ＴＣＦより最新の時期の第１グループＡの低域微分値ＴＡＦが大きいことは、ルーフガラス４が異物の挟み込みを開始して次第に負荷が増大する傾向にあることを示す。
【００３８】
ルーフガラス４が異物の挟み込み傾向にあると判定されると、コンピュータ２１は回転速度変動演算処理に移る。又、ＴＡＦ＞ＴＭ１、ＴＢＦ＞ＴＭ２、且つ、ＴＣＦ＞ＴＭ３の条件、及び、ＴＡＦ＞ＴＣＦが満たされなかった時には、異物の挟み込み傾向ではなく何らかの外乱によって回転速度Ｎが変動したものと判定（外乱判定）され、コンピュータ２１は回転速度変動演算処理に移る。
【００３９】
［回転速度変動演算処理］
コンピュータ２１は、挟み込み傾向判定処理においてルーフガラス４が異物の挟み込み傾向であると判断すると、第１及び第３グループＡ、Ｃの合計値ＴＡＳ，ＴＣＳを使用して、以下の式に従って新たな低域微分値ＴＦを求める（ステップ５）。
【００４０】
ＴＦ＝ＴＡＳ−ＴＣＳ
＝（ｔ1 ＋ｔ2 ＋ｔ3 ＋ｔ4 ＋ｔ5 ＋ｔ6 ＋ｔ7 ＋ｔ8 ）
−（ｔ11＋ｔ12＋ｔ13＋ｔ14＋ｔ15＋ｔ16＋ｔ17＋ｔ18）
低域微分値ＴＦは、第２グループＢより前の第３グループＣの回転速度ＮS と第１グループＡの最新の回転速度ＮS とを比較することにより得られた回転速度ＮS の変動量に相対する周期変動量である。従って、低域微分値ＴＦが正（ＴＦ＞０）である場合、回転速度ＮS が確実に低下している。尚、ステップ１〜５において、外乱によって回転速度Ｎが変動したものと判定されたときには、コンピュータ２１は低域微分値ＴＦを演算することなくＴＦ＝０を設定する（ステップ６）。
【００４１】
コンピュータ２１は、ステップ７において低域微分値ＴＦが正（ＴＦ＞０）であるかどうか判断し、正と判断されると、ステップ８に移行し、ＣＰＵに内蔵された判定カウンタのカウント値ＮC に「１」を加算する。従って、低域微分値ＴＦが正（ＴＦ＞０）である場合、その低域微分値ＴＦが求められる毎に、カウント値ＮC は順次インクリメントされる。従って、カウント値ＮC が増大するにつれて、回転速度ＮS が確実に低下している（即ち、モータ６の負荷が増大している）傾向にあることが分かる。
【００４２】
コンピュータ２１は低域微分値ＴＦが「０」又は負（ＴＦ＜０）である場合、ステップ９に移行し、カウント値ＮC を「０」にリセットする。この場合には、回転速度ＮS が低下している（即ちモータ６の負荷が増大している）傾向が解除されたことが分かる。
【００４３】
コンピュータ２１は、次に、ステップ１０に移行して、低域微分値ＴＦとＲＯＭに予め格納された所定の基準値ＴＪとを比較する。基準値ＴＪは、モータ６のトルク−回転数特性から予め求められた値である。すなわち、基準値ＴＪは、異物がルーフガラス４に挟さみ込まれることにより生じた負荷により回転速度ＮS が低下した時に得られた低域微分値ＴＦである。従って、低域微分値ＴＦが基準値ＴＪよりも大きい場合、ルーフガラス４に異物が挟み込まれたときと実質的に同じ負荷がモータ６に加わったものと判断される。
【００４４】
コンピュータ２１は、ステップ１０の条件が満たされ、モータ６に異物の挟み込みと実質的に同等の負荷が加わったと判断されると、ステップ１１の挟み込み判定処理に移行する。
【００４５】
［挟み込み判定処理］
コンピュータ２１は、ステップ１１の挟み込み判定処理において、判定カウンタのカウント値ＮC と予めＲＯＭに格納された所定の判定値ＮK とを比較する。判定値ＮK は予め実験等の検証により得られた値である。即ち、判定値ＮK は、カウント値ＮC の増大に伴う回転速度ＮS の低下傾向、及びモータ６の負荷の増大傾向がルーフガラス４の異物の挟さみ込み状態であると最初に把握することができる時に得られたカウント値ＮC である。
【００４６】
コンピュータ２１はカウント値ＮC が判定値ＮK を越えた時、ルーフガラス６に異物が挟み込まれたと判定し、挟み込み判定処理を終了する。そして、コンピュータ２１は再び次の検出信号ＳＰの立ち上がり又は立ち下がりを待ち、引き続き回転周期演算処理、外乱判定処理、回転速度変動演算処理、挟み込み判定処理を含む異物挟み込み検出処理を実行する。
【００４７】
反対に、カウント値ＮC が判定値ＮK 以下である時（ＮS ≦ＮK ）、異物が挟み込まれたと判定するには時間的に早いので挟み込みではないと判定し、判定処理を終了する。コンピュータ２１は再び次の検出信号ＳＰの立ち上がり又は立ち下がりを待ち、引き続き異物挟み込み検出処理を実行する。つまり、振動等によってモータ６の負荷が一時的に変動する場合は、カウント値ＮC が判定値ＮK に到達するまでに負荷の増大傾向が解消され、カウント値ＮC がリセットされる。従って、振動等によってモータ６の負荷が一時的に変動するような場合は、コンピュータ２１はルーフガラス４に異物が挟み込まれているといった誤判定をすることはない。
【００４８】
コンピュータ２１はルーフガラス６に異物が挟み込まれたと判定すると、挟み込み回避処理を実行する。挟み込み回避処理は、全閉方向に移動中のルーフガラス４を直ちに全開方向に移動させる。つまり、コンピュータ２１は、モータ６を正回転させるべく、第１リレーコイル１３を通電し、第２リレーコイル１４を非通電する。従って、ルーフガラス４に挟み込まれた異物は、ガラス４から開放される。
【００４９】
次に、本発明の一実施形態のサンルーフ装置の特徴を以下に記載する。
（１）ルーフガラス４の開閉速度をモータ６の回転速度に置き換え、その回転速度を回転速度検出センサ２３にて検出する。従って、直接にルーフガラス４の開閉速度を検出する場合より、比較的簡単な構成で回転速度、即ち開閉速度を検出することができる。
【００５０】
（２）コンピュータ２１の低域微分演算処理において、最新の負荷判定回転周期から１８個の負荷判定回転周期を選択し、その選択した１８個の負荷判定回転周期を時系列的に複数個のグループ（データ列）に分類し、各グループの負荷判定回転周期から各グループの低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦを求める。又、挟み込み傾向判定処理において、その各グループＡ，Ｂ，Ｃの低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦと所定のしきい値ＴＭ１，ＴＭ２，ＴＭ３とをそれぞれ比較するとともに、グループＡ，ＣのＴＡＦ，ＴＣＦを互いに比較して回転速度ＮS が負荷によって変動して、挟み込み傾向にあるかどうかを判定する。
【００５１】
回転速度変動演算処理において、挟み込み傾向にあると判定されたとき、グループＡ，Ｃの負荷判定回転周期の合計値ＴＡＳ，ＴＣＳを用いて低域微分値ＴＦを求め、その微分値ＴＦに基づいて回転速度ＮS が確実に低下しているかどうか判断する。 さらに、その低域微分値ＴＦと所定の基準値ＴＪとを比較して、その比較結果に基づいて回転速度が低下してモータ６に異物の挟み込み状態と実質的に同じ負荷が加わっているかどうか演算する。そして、挟み込み判定処理において、モータ６に異物の挟み込み状態と同等の負荷が加わっていると判断し、かつ判定カウンタのカウント値ＮC が所定の判定値ＮK に到達した時、振動等の一時的な外乱ではなく挟み込みであると判断する。
【００５２】
従って、例えば、振動等によって短期間にルーフガラス４の開閉速度が低下しても、挟み込みと判断することはない。その結果、精度の高い挟み込み判定を行うことができる。
（３）本実施形態では、挟み込みと判定したとき、ルーフガラス４を全開方向に移動させるため、異物を傷つけることなく速やかにルーフガラス４による挟み込みから開放させることができる。
【００５３】
（４）本実施形態では、挟み込み検出は検出信号ＳＰから抽出された実回転周期ｔ1 ，ｔ2 ・・を使用して行った。従って、高価なデジタルフィルタを使用しないで簡単な演算処理で異物挟み込み判定を行うことができる。
【００５４】
（５）本実施形態では、挟み込み傾向判定処理において、ＴＡＦ＞ＴＭ１、ＴＢＦ＞ＴＭ２、ＴＣＦ＞ＴＭ３の条件を満たさない場合は外乱と判定している。つまり、判定対象の各低域微分値ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦは、低域微分演算処理で回転速度検出センサ２３の検出信号ＳＰから簡単に求められる負荷判定回転周期ｔ1 〜ｔ18から得られる。従って、検出信号ＳＰの信号処理及び演算処理、即ち外乱判定のための演算処理が軽減される。
【００５５】
（６）本実施形態では、回転速度変動処理において、低域微分値ＴＦ（ＴＡＳ−ＴＣＳ）＞０の条件を満たさない場合は外乱と判定している。つまり、低域微分値ＴＦは合計計算処理で求めた合計値ＴＡＳ，ＴＣＳの偏差である。合計値ＴＡＳ，ＴＣＳは回転速度検出センサ２３の検出信号ＳＰから簡単に求められる負荷判定回転周期ｔ1 〜ｔ18から得られる。従って、検出信号ＳＰの信号処理及び演算処理、即ち外乱判定のための演算処理が軽減される。
【００５６】
上記実施形態は以下のように変更してもよい。
本発明をパワーウィンド装置、スライドドア装置等の異物挟み込み検出装置に応用してもよい。さらに、開閉部材がスライド動作以外の、例えば回動動作で開閉する装置における異物挟み込み検出装置に応用してもよい。
【００５７】
挟み込み傾向判定処理において、ＴＡＦ＞ＴＭ１，ＴＢＦ＞ＴＭ２，ＴＣＦ＞ＴＭ３及びＴＡＦ＞ＴＣＦの条件で挟み込み傾向が判定された。これをＴＡＦ＞ＴＣＦの条件のみで判定したり、ＴＡＦ＞ＴＭ１，ＴＢＦ＞ＴＭ２，ＴＣＦ＞ＴＭ３の条件のみで判定するようにしてもよい。
【００５８】
ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦにそれぞれ係数を付加した後に比較するようにしてもよい。
ＴＡＦ＞ＴＭ１，ＴＢＦ＞ＴＭ２，ＴＣＦ＞ＴＭ３の条件を、例えばＴＡＦ＞ＴＭ１とＴＢＦ＞ＴＭ２の条件で実施したり、ＴＡＦ＞ＴＭ１とＴＣＦ＞ＴＭ３の条件で実施してもよい。
【００５９】
上記実施形態では３つのグループＡ，Ｂ，Ｃに分類したが、例えばグループＡ，Ｂの二つのグループにしたり、４つ以上のグループに分類して実施してもよい。
上記実施形態では各グループＡ，Ｂ，Ｃは８個の負荷判定回転周期で構成させたが、２〜７個又は９個以上で構成してもよい。
【００６０】
次に、上記実施形態から把握できる技術的思想について、以下に追記する。
・前記演算処理手段（２１）は、
前記回転周期演算処理手段（２１）にて求めた負荷判定回転周期（ｔ1 ，ｔ2 ・・）を所定の数だけ選択し、その選択した数の負荷判定回転周期（ｔ1 ，ｔ2 ・・）を時系列的に複数個のグループ（Ａ，Ｂ．Ｃ）に分類し、各グループ（Ａ，Ｂ，Ｃ）の負荷判定回転周期から各グループ（Ａ，Ｂ，Ｃ）における回転速度の変動値（ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦ）を求める低域微分演算処理手段（２１）と、
前記各グループ（Ａ，Ｂ，Ｃ）の少なくとも２グループ（Ａ，Ｃ）を選択し、その選択したグループ（Ａ，Ｃ）毎に負荷判定周期（ｔ1 ，ｔ2 ・・）を加算した合計値（ＴＡＳ，ＴＣＳ）を求める合計計算処理手段（２１）と、
前記低域微分演算処理手段（２１）が求めた各グループ（Ａ，Ｂ，Ｃ）の変動値（ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦ）と所定のしきい値（ＴＭ１，ＴＭ２，ＴＭ３）とをそれぞれ比較するとともに、前記グループ（Ａ，Ｂ，Ｃ）の変動値（ＴＡＦ，ＴＢＦ，ＴＣＦ）の少なくとも２つを互いに比較して回転速度が負荷によって変動して異物の挟み込み傾向にあるかどうかを判定する挟み込み傾向判定処理手段（２１）と、
前記挟み込み傾向判定処理手段（２１）が異物の挟み込み傾向にあると判定したとき、前記合計計算処理手段（２１）で求めた複数の合計値（ＴＡＳ，ＴＣＳ）間の偏差値（ＴＦ）を求め、その偏差値（ＴＦ）に基づいて回転速度（ＮS ）が低下しているかどうかを判断するとともに、その偏差値（ＴＦ）と所定の基準値（ＴＪ）とを比較し、その比較結果に基づいて前記開閉部材（４）に異物の挟み込み状態と同等の負荷が加わっているかどうかを判断する回転速度変動演算処理手段（２１）と、
開閉速度（ＮS ）が低下していると前記回転速度変動演算処理手段（２１）が判断した時には、カウント値（ＮC ）が加算又は減算され、反対に、回転速度（ＮS ）が低下していないと回転速度変動演算処理手段が判断した時には、そのカウント値（ＮC ）が所定の値にリセットされる判定カウンタ（２１）とを含み、
挟み込み判定処理手段（２１）は、前記回転速度変動演算処理手段（２１）が前記開閉部材（４）に異物の挟み込み状態と同等の負荷が加わっていると判断し、かつ前記判定カウンタ（２１）のカウント値（ＮC ）が所定の判定値（ＮK ）に到達した時、異物の挟み込みと判断する。
【００６１】
従って、外乱判定のための演算負荷を軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明の一実施形態のサンルーフ装置の概略的なブロック図である。
【図２】図１のサンルーフ装置の波形整形回路により生成された検出信号の波形図である。
【図３】サンルーフ装置を有する自動車の要部斜視図である。
【図４】図１のサンルーフ装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【００６３】
ＮS …回転速度、ＳＰ…検出信号としてのパルス波形検出信号、ｔ1 …回転周期、４…開閉部材としてのスライディングルーフガラス、６…駆動モータとしてのスライディングルーフモータ、２１…回転周期演算処理手段、演算処理手段、挟み込み判定処理手段及び挟み込み回避処理手段としてのマイクロコンピュータ、２３…速度検出手段を構成する回転速度検出センサ、２４…速度検出手段を構成する波形整形回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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