(57)【要約】【課題】検査時間の短縮と検査効率の向上を図ることが可能な汎用検査システムを提供する。【解決手段】検査区側端末１とサーバ２とデータベース３がネットワーク接続された汎用検査システムにおいて、検査区側端末１は、被検査物の検査に基づくエラー情報をデータベース３に登録する機能を有し、サーバ２は、各検査項目別にエラーの発生率を計算し、ある検査項目が予め定められた発生率以上になるとその検査項目をエラー解析モードに移して、検査手順を自動変更する機能を有する。【選択図】　　　　図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査区側端末とサーバとデータベースがネットワーク接続された汎用検査システムにおいて、検査区側端末は、被検査物の検査に基づくエラー情報をデータベースに登録する機能を有し、サーバは、各検査項目別にエラーの発生率を計算し、ある検査項目が予め定められた発生率以上になるとその検査項目をエラー解析モードに移して、検査手順を自動変更する機能を有することを特徴とする汎用検査システム。
【請求項２】
請求項１記載の汎用検査システムにおいて、検査区側端末は、変更された検査手順及びエラー発生率が高い検査項目を表示する機能を有することを特徴とする汎用検査システム。
【請求項３】
請求項１記載の汎用検査システムにおいて、検査実施中発生した不安定な検査項目のみを以後検査することを特徴とする検査システム。
【請求項４】
請求項１記載の汎用検査システムにおいて、エラー発生時、そのエラーを解析できる検査シナリオをデータベースから持ってきて、既存の検査手順にエラー解析シナリオを自動的に追加、削除できる機能を有することを特徴とする汎用検査システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査区側端末とサーバとデータベースがネットワーク接続された汎用検査システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
回路基板などの被検査物を検査するシステム、装置の従来技術として、特開２０００−３０５８１１号公報「検査項目自動生成装置、その方法および記録媒体」、特開平０６−０７４８７７号公報「部品の自動品質検査装置」、特開平０６−２６５５９８号公報「テスト仕様生成方式」が存在する。
【０００３】
また本出願人は以下の、汎用検査装置を既に提案している。これは、被検査機（検査対象機種）へのテスト回路をＰＬＤの集合で実現する検査回路部と、少なくとも入力部、表示部、記憶部を有し、その検査回路部及び対象被検査機とのＩ／Ｆを有する、コンピュータシステム装置（ホストＰＣ）、及びそのホストＰＣに実装してあるこれら検査回路、対象被検査機を制御する制御ソフトウェアで構成され、ユーザの要求に応じて外部からのアプローチ（設定・手段）により、ソフトウェアのコードを変更することなく所望の目的の検査を行うことができる汎用検査装置である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
従来の技術では複数の検査者が検査を行うとしたら、どの項目からどの位のエラーが発生しているか分からず、決められた手順で繰り返して検査を行う傾向が非常に高かった。明らかに設計上問題があるような、エラーの発生率が高いテスト項目が入っている検査手順で、検査をやりつづけて無駄な時間が発生していた。
【０００５】
本発明は、検査時間の短縮と検査効率の向上を図ることが可能な汎用検査システムを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１記載の発明は、検査区側端末とサーバとデータベースがネットワーク接続された汎用検査システムにおいて、検査区側端末は、被検査物の検査に基づくエラー情報をデータベースに登録する機能を有し、サーバは、各検査項目別にエラーの発生率を計算し、ある検査項目が予め定められた発生率以上になるとその検査項目をエラー解析モードに移して、検査手順を自動変更する機能を有する汎用検査システムを最も主要な特徴とする。
【０００７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の汎用検査システムにおいて、検査区側端末は、変更された検査手順及びエラー発生率が高い検査項目を表示する機能を有する汎用検査システムを主要な特徴とする。
【０００８】
請求項３記載の発明は、請求項１記載の汎用検査システムにおいて、検査実施中発生した不安定な検査項目のみを以後検査する汎用検査システムを主要な特徴とする。
【０００９】
請求項４記載の発明は、請求項１記載の汎用検査システムにおいて、エラー発生時、そのエラーを解析できる検査シナリオをデータベースから持ってきて、既存の検査手順にエラー解析シナリオを自動的に追加、削除できる機能を有する汎用検査システムを主要な特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、図面により本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明の実施の形態に係る汎用検査システムの構成図である。検査区側端末１とサーバ２とデータベース３がネットワーク４で接続されている。検査区側端末１とサーバ２は外部記憶装置５をれ接続した公知のコンピュータシステム６を有する。なお、コンピュータシステム６そのものは本発明と直接関係がないので説明は省略する。
【００１１】
図２は本発明の実施の形態に係る汎用検査システムにおいてサーバの構成を示す図である。サーバ２は、検査手順作成部２１、データ登録部２２、データ検査部２３、データ処理部２４、記憶装置２５を備える。
【００１２】
（第１実施例）
本汎用検査システムによりある回路基盤などの検査を行い、あるエラーが発生したら、検査区側（検査区側端末１）ではそのエラーの情報をネットワーク４経由でデータベース３に登録する。エラーの情報は、サーバ２のデータ登録部２２から各検査項目、機能別に記録装置２５に登録する。登録された情報はデータ処理部２４で、各検査項目または機能別のエラーの発生率を計算して、その結果を検査手順作成部２１に渡す。検査手順作成部２１では、渡されたエラーの発生率に基づき、予め定めた発生率を超えた検査項目は、エラー解析モードに移して検査手順を変更する。
【００１３】
（第２実施例）
第１実施例のように変更された検査手順と各項目はデータベース３に記録される。変更・登録された検査手順は、変更される度にネットワーク４経由で検査区側（検査区側端末１）の表示部にその情報が表示される。また、検査区以外でも、ネットワーク４に接続されていれば、検査区と同じく現在の検査手順・変更履歴及びエラーの発生率が照会できる。
【００１４】
（第３実施例）
図３は本発明の制御例のフローチャートである。汎用検査システムによりある回路基盤の検査を行い、あるエラーが発生したら、検査区側（検査区側端末１）ではそのエラーの情報をネットワーク４経由でデータベース３に登録する。エラーの情報はサーバ２のデータ登録部２２から各検査項目、機能別に記録装置２５に登録する。登録された情報はデータ処理部２４で、各検査項目または機能別のエラーの発生率を計算して、その結果を検査手順作成部２１に渡す。検査手順作成部２１では、渡されたエラーの発生率と検査回数から各項目の安定・不安定を判別する。それで、完全だと判断された項目は、次回の検査からは検査者または設計者の要求があるまでは検査しないように検査手順を変更する。変更された検査手順は、まだ、不安定な検査項目のみ残される。
【００１５】
以上、検査区（検査区側端末１）ではＳ１、Ｓ２の処理が実行され、サーバ２ではＳ１１〜Ｓ１７の処理が実行される。
【００１６】
（第４実施例）
図４は本発明の他の制御例のフローチャートである。検査区（検査区側端末１）で検査開始の通知をすると、サーバ２では検査状況監視を開始すると共に、検査手順作成部２１で生成させた検査手順で検査を行うように指示する。検査区では検査手順指示通りに検査を行い、エラーが発生するとそのエラーの情報をサーバ２へ送る。サーバ２では規定の発生率を超えたエラーに対しては、そのエラーの解析シナリオを検査手順に加える。そして、新しく作成された検査手順で検査が行われるように検査区に改めて検査手順の指示をする。
【００１７】
以上、検査区（検査区側端末１）ではＳ１、Ｓ２の処理が実行され、サーバ２ではＳ１１〜Ｓ１７の処理が実行される。
【００１８】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１によれば、問題があると判断された検査項目は解析モードに移すことで、検査時間の短縮と検査効率の向上が期待される。
【００１９】
請求項２によれば、設計者やテスターは最新の検査手順の状況をリアルタイムで求めることができるし、その検査で生じたエラーに対した対応が早くなる。
【００２０】
請求項３によれば、エラーが発生した不安定な機能を各機能別の検査手順により検査することで、元の検査ラインでの検査時間の短縮と不具合対策に効果的となる。
【００２１】
請求項４によれば、エラー発生時、エラー解析シナリオを検査手順に一緒に組み組むことで、エラーの解析に必要なデータの収集が容易になると共に解析効率が上がる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る汎用検査システムの構成図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る汎用検査システムにおいてサーバの構成を示す図である。
【図３】本発明の制御例のフローチャートである。
【図４】本発明の他の制御例のフローチャートである。
【符号の説明】
１　検査区側端末
２　サーバ
３　データベース
４　ネットワーク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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