(57)【要約】【課題】アナログ信号を処理する被テストモジュールが故障か否かを診断する自己診断機能を有する電子装置を提供する。【解決手段】本発明の電子装置は、アナログテスト信号を出力する第１のモジュールと、前記アナログテスト信号を入力し、それを処理したアナログ出力信号を出力する被テストモジュールと、前記アナログ出力信号を入力し、アナログ／デジタル変換して第１のデジタル出力信号を出力する第２のモジュールと、正常な前記被テストモジュールが前記アナログテスト信号を入力し処理し出力するアナログ出力信号をアナログ／デジタル変換した信号と同一の第２のデジタル出力信号を記憶し、前記第１のデジタル出力信号と前記第２のデジタル出力信号とを比較し、両者の間に所定の範囲を超える差があれば前記被テストモジュールが故障であると自己診断して、その情報を出力する制御部と、を有する。【選択図】　　　　図１
2004093198.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アナログテスト信号を出力する第１のモジュールと、
前記アナログテスト信号を入力し、それを処理したアナログ出力信号を出力する被テストモジュールと、
前記アナログ出力信号を入力し、アナログ／デジタル変換して第１のデジタル出力信号を出力する第２のモジュールと、
正常な前記被テストモジュールが前記アナログテスト信号を入力し処理し出力するアナログ出力信号をアナログ／デジタル変換した信号と同一の第２のデジタル出力信号を記憶し、前記第１のデジタル出力信号と前記第２のデジタル出力信号とを比較し、両者の間に所定の範囲を超える差があれば前記被テストモジュールが故障であると自己診断して、その情報を出力する制御部と、
を有することを特徴とする電子装置。
【請求項２】
前記アナログテスト信号が、ステップ信号又は矩形波信号であることを特徴とする請求項１に記載の電子装置。
【請求項３】
前記アナログテスト信号が、前記被テストモジュールの通過帯域内の周波数の正弦波信号であることを特徴とする請求項１に記載の電子装置。
【請求項４】
前記アナログテスト信号が、前記被テストモジュールの通過帯域内の周波数の正弦波信号と、前記被テストモジュールの遮断帯域内の周波数の正弦波信号とを時間軸上でシリーズに出力した信号であることを特徴とする請求項１に記載の電子装置。
【請求項５】
前記アナログテスト信号が、前記被テストモジュールの通過帯域内の周波数成分及び遮断帯域内の周波数成分を有することを特徴とする請求項１に記載の電子装置。
【請求項６】
前記第１のモジュールが、デジタルテスト信号を生成し又は入力し、前記デジタルテスト信号をデジタル／アナログ変換して前記アナログテスト信号を出力することを特徴とする請求項１に記載の電子装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、自己診断機能を有する電子装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図１０を用いて、従来の自己診断機能を有する電子装置を説明する。図１０は、従来の自己診断機能（例えばバウンダリースキャン方式）を有する電子装置の構成図である。
図１０において、１００１は制御部、１００２は第１のモジュール、１００３はデジタル信号を処理する被テストモジュール、１００４は第２のモジュール、１００５は外部入出力部である。制御部１００１は、デジタルテスト信号記憶部１０１１、通信部１０１２、比較部１０１３及び判定部１０１４を有する。第１のモジュール１００２は通信部１０２１、スイッチ１０２２及び処理部１０２３を有する。第２のモジュール１００４は、通信部１０３１、スイッチ１０３２及び処理部１０３３を有する。制御部１００１、第１のモジュール１００２及び第２のモジュール１００４は、バスライン１００６を介し、デジタル信号を送受信する。
【０００３】
第１のモジュール１００２、被テストモジュール１００３及び第２のモジュール１００４は、制御部１００１からの指令に従って、それらのモジュールの本来の機能である信号処理を実行する通常モードと、被テストモジュール１００３が故障しているか否かを自己診断する自己診断モードとを有する。制御部１００１からの指令に従って、第１のモジュール１００２のスイッチ１０２２と、第２のモジュール１００４のスイッチ１０３２とは、通常モードでは実線側につながり、自己診断モードでは破線側につながる。
【０００４】
通常モードでは、処理部１０２３は、第１のモジュール１００２の本来の機能である信号処理を実行し、デジタル信号を出力する。デジタル信号は、第１のモジュール１００２の処理部１０２３から、スイッチ１０２２を介し、被テストモジュール１００３へ転送され、そこで処理された後、スイッチ１０３２を介し、第２のモジュール１００４の処理部１０３３へ転送される。処理部１０３３は、第２のモジュール１００４の本来の機能である信号処理を実行する。
【０００５】
自己診断モードでは、まず始めに、制御部１００１が通信部１０１２からバスライン１００６を介して第１のモジュール１００２と第２のモジュール１００４にスイッチ切替指令を送信する。通信部１０２１と通信部１０３１がスイッチ切替指令を受信し、スイッチ１０２２とスイッチ１０３２を破線側に切り替える。次に制御部１００１は、デジタルテスト信号記憶部１０１１に格納してあるデジタルテスト信号を、通信部１０１２からバスライン１００６を介して第１のモジュール１００２に送信する。第１のモジュール１００２は、通信部１０２１でデジタルテスト信号を受信し、スイッチ１０２１を介して被テストモジュール１００３に入力する。被テストモジュール１００３は、入力されたデジタルテスト信号を処理し、デジタル出力信号を出力し、第２のモジュール１００４に入力する。第２のモジュール１００４は、被テストモジュール１００３から入力されたデジタル出力信号（以下、「第１のデジタル出力信号」と呼ぶ。）を、通信部１０３１からバスライン１００６を介して制御部１００１に送信する。
【０００６】
制御部１００１の通信部１０１２は第１のデジタル出力信号を受信し、比較部１０１３に転送する。制御部１００１のデジタルテスト信号記憶部１０１１には、正常な被テストモジュール１００３にデジタルテスト信号を入力したときに期待される出力信号（以下、「第２のデジタル出力信号」と呼ぶ。）が格納してあり、比較部１０１３に転送される。比較部１０１３は、第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号を比較し、その結果（両信号の差信号）を判定部１０１４に転送する。判定部１０１４は、第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号が完全に一致していなければ、被テストモジュール１００３が故障であると自己診断する。制御部１００１は、診断結果を表示部１０１５（例えばランプ）に表示し、通信部１０１２及びバスライン１００６を介して外部入出力部１００５に転送する。外部入出力部１００５は、診断結果を外部装置（例えばホスト機器）に送信する。外部装置は、診断結果をディスプレイに表示する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
従来の自己診断機能を有する電子装置は、デジタルテスト入力信号をデジタル信号を処理する被テストモジュールに入力し、その出力信号であるデジタル出力信号を期待値と比較し、被テストモジュールが故障しているか否か診断した。従来の電子装置は、被テストモジュールがアナログ信号を入出力するモジュールの場合は、自己診断を行えなかった。
【０００８】
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、アナログ信号を処理する被テストモジュールの故障を診断する自己診断機能を有する電子装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明は以下の構成を有する。
請求項１に記載の発明は、アナログテスト信号を出力する第１のモジュールと、前記アナログテスト信号を入力し、それを処理したアナログ出力信号を出力する被テストモジュールと、前記アナログ出力信号を入力し、アナログ／デジタル変換して第１のデジタル出力信号を出力する第２のモジュールと、正常な前記被テストモジュールが前記アナログテスト信号を入力し処理し出力するアナログ出力信号をアナログ／デジタル変換した信号と同一の第２のデジタル出力信号を記憶し、前記第１のデジタル出力信号と前記第２のデジタル出力信号とを比較し、両者の間に所定の範囲を超える差があれば前記被テストモジュールが故障であると自己診断して、その情報を出力する制御部と、を有することを特徴とする電子装置である。所定の範囲は、１点ではなく、ある程度の許容幅を有する。これにより被テストモジュールの応答のバラツキにより誤診することを防止できる。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、前記アナログテスト信号が、ステップ信号又は矩形波信号であることを特徴とする請求項１に記載の電子装置である。
【００１１】
請求項３に記載の発明は、前記アナログテスト信号が、前記被テストモジュールの通過帯域内の周波数の正弦波信号であることを特徴とする請求項１に記載の電子装置である。
【００１２】
請求項４に記載の発明は、前記アナログテスト信号が、前記被テストモジュールの通過帯域内の周波数の正弦波信号と、前記被テストモジュールの遮断帯域内の周波数の正弦波信号とを時間軸上でシリーズに出力した信号であることを特徴とする請求項１に記載の電子装置である。
【００１３】
請求項５に記載の発明は、前記アナログテスト信号が、前記被テストモジュールの通過帯域内の周波数成分及び遮断帯域内の周波数成分を有することを特徴とする請求項１に記載の電子装置である。
【００１４】
請求項６に記載の発明は、前記第１のモジュールが、デジタルテスト信号を生成し又は入力し、前記デジタルテスト信号をデジタル／アナログ変換して前記アナログテスト信号を出力することを特徴とする請求項１に記載の電子装置である。
【００１５】
本発明は、アナログ信号を被テストモジュールに入力し、その故障を診断する自己診断機能を有する電子装置を実現できるという作用を有する。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下本発明の実施をするための最良の形態を具体的に示した実施例について、図面とともに記載する。
【００１７】
《実施例１》
図１〜３を用いて、本発明の実施例１の電子装置を説明する。
図１は、本発明の実施例１の自己診断機能を有する電子装置の構成図である。図１において、１０１は制御部、１０２は第１のモジュール、１０３はアナログ信号を処理する被テストモジュール、１０４は第２のモジュール、１０５は外部入出力部である。制御部１０１は、デジタルテスト信号記憶部１１１、通信部１１２、比較部１１３及び判定部１１４を有する。第１のモジュール１０２は通信部１２１、スイッチ１２２、アナログテスト信号発生部１２３、及び処理部１２４を有する。第２のモジュール１０４は、通信部１３１、スイッチ１３２、処理部１３３及びＡ／Ｄ変換器１３４を有する。制御部１０１、第１のモジュール１０２及び第２のモジュール１０４は、バスライン１０６を介し、デジタル信号を送受信する。本発明の実施例１の電子装置と従来例（図１０）との違いは、第１のモジュール１０２にアナログテスト信号発生部１２３を追加した点、第２のモジュール１０４にＡ／Ｄ変換器１３４を追加した点、及び被テストモジュール１０３がアナログ信号を入出力する点である。
【００１８】
第１のモジュール１０２、被テストモジュール１０３及び第２のモジュール１０４は、制御部１０１からの指令に従って、それらのモジュールの本来の機能である信号処理を実行する通常モードと、被テストモジュール１０３が故障しているか否かを自己診断する自己診断モードとを有する。制御部１０１からの指令に従って、第１のモジュール１０２のスイッチ１２２と、第２のモジュール１０４のスイッチ１３２とは、通常モードでは実線側につながり、自己診断モードでは破線側につながる。
【００１９】
通常モードでは、処理部１２４は、第１のモジュール１０２の本来の機能である信号処理を実行し、アナログ信号を出力する。アナログ信号は、第１のモジュール１０２の処理部１２４から、スイッチ１２２を介し、被テストモジュール１０３へ転送され、そこで処理された後、スイッチ１３２を介し、第２のモジュール１０４の処理部１３３へ転送される。処理部１３３は、第２のモジュール１０４の本来の機能である信号処理を実行する。
【００２０】
図２は、本発明の実施例１の電子装置の自己診断モードにおける制御方法を示すフローチャートである。図２を用いて実施例１の電子装置の自己診断モードにおける制御方法を説明する。自己診断モードでは、まず始めに、制御部１０１が通信部１１２からバスライン１０６を介して第１のモジュール１０２と第２のモジュール１０４にスイッチ切替指令、アナログテスト信号の出力指令及びＡ／Ｄ変換の開始指令を送信する（ステップ２０１）。第１のモジュール１０２では通信部１２１がスイッチ切替指令を受信し、スイッチ１２２を破線側に切り替える（ステップ２０２）。アナログテスト信号発生部１２３はアナログテスト信号の出力を開始する（ステップ２０３）。第２のモジュール１０４では通信部１３１がスイッチ切替指令を受信し、スイッチ１３２を破線側に切り替える（ステップ２０４）。Ａ／Ｄ変換器１３４は、Ａ／Ｄ変換の開始指令に従ってアナログ／デジタル変換を開始する（ステップ２０５）。以上の手続きにより、被テストモジュール１０３に第１のモジュール１０２からアナログテスト信号が入力される。被テストモジュール１０３はアナログテスト信号を処理し、アナログ出力信号を第２のモジュール１０４に入力する。更に第２のモジュール１０４はＡ／Ｄ変換器１３４でアナログ出力信号をアナログ／デジタル変換し、デジタル出力信号（以下、「第１のデジタル出力信号」と呼ぶ。）を通信部１３１からバスライン１０６を介して制御部１０１に送信する。
【００２１】
制御部１０１の通信部１１２は、第１のデジタル出力信号を受信し、比較部１１３に転送する。デジタルテスト信号記憶部１１１には、正常な被テストモジュール１０３にアナログテスト信号を入力したときに期待されるアナログ出力信号を、デジタル化した信号（以下、「第２のデジタル出力信号」と呼ぶ。）が格納してあり、比較部１１３に転送される。比較部１１３は、第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号を比較し、その結果を判定部１１４に送転送する（ステップ２０６）。判定部１１４は、第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号との間に所定の範囲（例えばデジタル値の絶対値の差が２以内の範囲）を超える差があれば、被テストモジュール１０３が故障であり、所定の範囲内であれば被テストモジュール１０３が正常であると自己診断する（ステップ２０７）。制御部１０１は、診断結果を表示部１１５（例えばランプ）に表示し、通信部１１２及びバスライン１０６を介して外部出力部１０５に転送する（ステップ２０８）。外部入出力部１０５は、診断結果を外部装置（例えばホスト機器）に送信する。外部装置は、診断結果をディスプレイに表示する。処理を終了する。
【００２２】
このように、第１のモジュール１０２にアナログテスト信号発生部１２３を、第２のモジュール１０４にＡ／Ｄ変換器１３４を追加したこと、及び判定部１１４が第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号との差異が所定の範囲内であれば正常である（両者が完全一致でなくても良い。）と判断することにより、アナログ信号を入出力する被テストモジュール１０３に対しても自己診断が可能な電子装置を実現することができる。
【００２３】
図３（ａ）は、被テストモジュール１０３に入力されるアナログテスト信号の例を示す。このアナログテスト信号は、時刻Ｔ０に振幅がゼロからＡ０に変化するステップ信号である。図３（ｂ）は、正常な被テストモジュール１０３に図３（ａ）のアナログテスト信号を入力したときのアナログ出力信号の例である。被テストモジュール１０３はステップ信号の入力に対して過渡応答をしている。時刻Ｔ０に振幅がゼロからＡ１に変化し、時間ＴＷ経過後に振幅Ａ２に収束する。
【００２４】
アナログ出力信号は、第２のモジュール１０４のＡ／Ｄ変換器１３４でアナログ／デジタル変換され、通信部１３１からバスライン１０６を介して制御部１０１の通信部１１２に転送され、さらに比較部１１３に転送される。制御部１０１のデジタルテスト信号記憶部１１１には、正常な被テストモジュール１０３に図３（ａ）のアナログテスト信号を入力したときに期待されるアナログ出力信号を、デジタル化した信号が格納してあり、比較部１１３に転送される。比較部１１３は、２つのデジタル信号について立ち上がり時刻Ｔ０から一定時間ＴＷ経過した時刻の振幅を読み取り、それらの差の絶対値を計算する。判定部１１４では、比較部１１３で計算された値があるしきい値（実施例では２）より大きければ、被テストモジュール１０３が故障であると診断する。
【００２５】
実施例１においては、立ち上がり時刻Ｔ０から一定時間ＴＷ経過した時刻での第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号との振幅の差異のみを比較している。これにより、立ち上がり時刻Ｔ０から一定時間内に発生する過渡応答が電子装置間でばらつくことに起因して、誤って自己診断することを防止している。又、デジタルテスト信号記憶部１１１は時間ＴＷ及び第２のデジタル出力信号の振幅値を記憶するだけで良いので、そのメモリ容量が小さくて済む。
【００２６】
立ち上がり時刻Ｔ０から所定の時刻までの全ての瞬間について第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号との差異を比較しても良い。例えば、過渡応答に基づいて被テストモジュールが正常であるか故障しているかを判断することが容易な電子装置においては、立ち上がり時刻Ｔ０から過渡応答が終わるまでの全ての瞬間について第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号との差異を比較する。
実施例１においてテスト信号はステップ信号であったが、矩形波信号であっても良い。
【００２７】
《実施例２》
図４〜７を用いて、本発明の実施例２の電子装置を説明する。
図４は、本発明の実施例２の自己診断機能を有する電子装置の構成図である。実施例２の電子装置は第１のモジュール１０２に代えて第１のモジュール４０２を有する。実施例１の第１のモジュール１０２はアナログテスト信号発生部１２３を有していた。これに代えて実施例２の第１のモジュール４０２はＤ／Ａ変換器４０１を有する。制御部１０１のデジタルテスト信号記憶部１１１には、デジタルテスト信号（図６（ａ）及び図７（ａ））が格納してあり、通信部１１２からバスライン１０６を介して第１のモジュール４０２の通信部１２１に順次転送される。実施例２において、図６（ａ）のテスト信号は、被テストモジュール１０３が有するフィルタ特性の通過帯域内の周波数の正弦波である。図７（ａ）のテスト信号は、被テストモジュール１０３が有するフィルタ特性の遮断帯域内の周波数の正弦波である。実施例２と実施例１（図１）との主要な違いは以上の点である。
通常モードでの動作は実施例１と同じであるため、説明を省略する。
【００２８】
図５は、本発明の実施例２の電子装置の自己診断モードにおける制御方法を示すフローチャートである。図５を用いて実施例２の電子装置の自己診断モードにおける制御方法を説明する。自己診断モードでは、まず始めに、制御部１０１が通信部１１２からバスライン１０６を介して第１のモジュール４０２と第２のモジュール１０４にスイッチ切替指令、Ａ／Ｄ変換の開始指令及び図６（ａ）のデジタルテスト信号を送信する（ステップ５０１）。第１のモジュール４０２では通信部１２１がスイッチ切替指令を受信し、スイッチ１２２を破線側に切り替える（ステップ５０２）。Ｄ／Ａ変換器４０１は入力した図６（ａ）のデジタルテスト信号をアナログ信号に変換して出力する（ステップ５０３）。第２のモジュール１０４では通信部１３１がスイッチ切替指令を受信し、スイッチ１３２を破線側に切り替える（ステップ５０４）。Ａ／Ｄ変換器１３４は、Ａ／Ｄ変換の開始指令に従ってアナログ／デジタル変換を開始する（ステップ５０５）。
【００２９】
被テストモジュール１０３に第１のモジュール４０２から図６（ａ）のアナログテスト信号が入力される。被テストモジュール１０３はアナログテスト信号を処理し、アナログ出力信号を第２のモジュール１０４に入力する。第２のモジュール１０４はＡ／Ｄ変換器１３４でアナログ出力信号をアナログ／デジタル変換し、出力信号（第１のデジタル出力信号）を通信部１３１からバスライン１０６を介して制御部１０１に送信する。
【００３０】
第２のモジュール１０４でアナログ／デジタル変換された第１のデジタル出力信号と、デジタルテスト信号記憶部１１１に格納されている、正常な被テストモジュール１０３に図６（ａ）のアナログテスト信号を入力したときに期待されるアナログ出力信号をデジタル化した信号（図６（ｂ））とを、比較部１１３で比較する（ステップ５０６）。比較部１１３は、２つのデジタル信号について１サンプル毎に差の絶対値を計算し、差分値の時系列データを判定部１１４に転送する。判定部１１４は、差分値の時系列データに基づいて被テストモジュール１０３が正常か故障かを自己診断する（ステップ５０７）。実施例において、差分値の時系列データが少なくとも１回以上、閾値（例えば２）より大きくなった場合、被テストモジュール１０３が故障であると診断し、ステップ５０８に進む。全て閾値内であればステップ５０９に進む。
【００３１】
ステップ５０８において、制御部１０１は、故障であると言う診断結果を表示部１１５（例えばランプ）に表示し、通信部１１２及びバスライン１０６を介して外部出力部１０５に転送する。外部入出力部１０５は、診断結果を外部装置（例えばホスト機器）に送信する。外部装置は、故障であることをディスプレイに表示する。処理を終了する。
【００３２】
ステップ５０９において、制御部１０１が通信部１１２からバスライン１０６を介して第１のモジュール４０２に図７（ａ）のデジタルテスト信号を送信する。Ｄ／Ａ変換器４０１は入力した図７（ａ）のデジタルテスト信号をアナログ信号に変換して出力する（ステップ５１０）。被テストモジュール１０３に第１のモジュール４０２から図７（ａ）のアナログテスト信号が入力される。被テストモジュール１０３はアナログテスト信号を処理し、アナログ出力信号を第２のモジュール１０４に入力する。第２のモジュール１０４はＡ／Ｄ変換器１３４でアナログ出力信号をアナログ／デジタル変換し、出力信号（第１のデジタル出力信号）を通信部１３１からバスライン１０６を介して制御部１０１に送信する（ステップ５１１）。
【００３３】
第２のモジュール１０４でアナログ／デジタル変換された第１のデジタル出力信号と、デジタルテスト信号記憶部１１１に格納されている、正常な被テストモジュール１０３に図７（ａ）のアナログテスト信号を入力したときに期待されるアナログ出力信号をデジタル化した信号（図７（ｂ））とを、比較部１１３で比較する（ステップ５１２）。比較部１１３は、２つのデジタル信号について１サンプル毎に差の絶対値を計算し、差分値の時系列データを判定部１１４に転送する。判定部１１４は、差分値の時系列データに基づいて被テストモジュール１０３が正常か故障かを自己診断する（ステップ５１３）。実施例において、差分値の時系列データが少なくとも１回以上、閾値（例えば２）より大きくなった場合、被テストモジュール１０３が故障であると診断し、ステップ５０８に進む。全て閾値内であればステップ５１４に進む。
【００３４】
ステップ５１４において、制御部１０１は、正常であると言う診断結果を表示部１１５（例えばランプ）に表示し、通信部１１２及びバスライン１０６を介して外部出力部１０５に転送する。外部入出力部１０５は、診断結果を外部装置（例えばホスト機器）に送信する。外部装置は、正常であることをディスプレイに表示する。処理を終了する。
【００３５】
このように、被テストモジュール１０３がフィルター特性を有する場合は、アナログテスト信号として、被テストモジュール１０３の通過帯域内の信号と遮断帯域内の信号を交互に使用すれば、被テストモジュール１０３の故障を容易に発見できる。
【００３６】
実施例２においては、図６（ａ）及び図７（ａ）の差分値の時系列データの全てをチェックした。これに代えて、図６（ａ）及び図７（ａ）のテスト信号を被テストモジュールに入力した場合のそれぞれの第１のデジタル出力信号の振幅値と、図６（ｂ）及び図７（ｂ）に示す第２のデジタル出力信号（図６（ａ）及び図７（ａ）のテスト信号を正常な被テストモジュールに入力した場合のそれぞれの期待値）の振幅値とを比較し、図６（ａ）のテスト信号を入力した場合及び図７（ａ）のテスト信号を入力した場合のいずれにおいても、両者の差異が所定の範囲以内であれば正常と判断し、いずれかの場合に両者の差異が所定の範囲を超えれば故障と判断しても良い。この方法によれば、比較部１１３は第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号との位相合わせをする必要がないので（２つの信号を位相がずれた状態で比較すると、差分値の時系列データが位相誤差に基づく成分を有することになるので、正しい診断が出来なくなる。）、比較が容易である。又、デジタルテスト信号記憶部１１１は図６（ｂ）及び図７（ｂ）の第２のデジタル出力信号の振幅値を記憶するだけで良いので、そのメモリ容量が小さくて済む。
【００３７】
《実施例３》
図８及び９を用いて、本発明の実施例３の電子装置を説明する。実施例３の自己診断機能を有する電子装置は、図４の構成を有する。実施例３の電子装置の構成は実施例２（図４）と同じであるため、説明を省略する。実施例３の電子装置が出力するテスト信号（図９（ａ））は、実施例２（図６（ａ）及び図７（ａ））と異なる。それ以外の点において両者は同じである。図９（ａ）は、被テストモジュール１０３に入力されるアナログテスト信号の例を示す。このアナログテスト信号は、被テストモジュール１０３の通過帯域内の周波数成分及び遮断帯域内の周波数成分を有する。図９（ｂ）は、正常な被テストモジュール１０３に図９（ａ）のアナログテスト信号を入力したときのアナログ出力信号の例である。
通常モードでの動作は実施例１と同じであるため、説明を省略する。
【００３８】
図８は、本発明の実施例３の電子装置の自己診断モードにおける制御方法を示すフローチャートである。図８を用いて実施例３の電子装置の自己診断モードにおける制御方法を説明する。自己診断モードでは、まず始めに、制御部１０１が通信部１１２からバスライン１０６を介して第１のモジュール４０２と第２のモジュール１０４にスイッチ切替指令、Ａ／Ｄ変換の開始指令及び図９（ａ）のデジタルテスト信号を送信する（ステップ８０１）。第１のモジュール４０２では通信部１２１がスイッチ切替指令を受信し、スイッチ１２２を破線側に切り替える（ステップ８０２）。Ｄ／Ａ変換器４０１は入力した図９（ａ）のデジタルテスト信号をアナログ信号に変換して出力する（ステップ８０３）。第２のモジュール１０４では通信部１３１がスイッチ切替指令を受信し、スイッチ１３２を破線側に切り替える（ステップ８０４）。Ａ／Ｄ変換器１３４は、Ａ／Ｄ変換の開始指令に従ってアナログ／デジタル変換を開始する（ステップ８０５）。
【００３９】
被テストモジュール１０３に第１のモジュール４０２から図９（ａ）のアナログテスト信号が入力される。被テストモジュール１０３はアナログテスト信号を処理し、アナログ出力信号を第２のモジュール１０４に入力する。第２のモジュール１０４はＡ／Ｄ変換器１３４でアナログ出力信号をアナログ／デジタル変換し、出力信号（第１のデジタル出力信号）を通信部１３１からバスライン１０６を介して制御部１０１に送信する。
【００４０】
第２のモジュール１０４でアナログ／デジタル変換された第１のデジタル出力信号と、デジタルテスト信号記憶部１１１に格納されている、正常な被テストモジュール１０３に図９（ａ）のアナログテスト信号を入力したときに期待されるアナログ出力信号をデジタル化した信号（図９（ｂ））とを、比較部１１３で比較する（ステップ８０６）。比較部１１３は、２つのデジタル信号について１サンプル毎に差の絶対値を計算し、差分値の時系列データを判定部１１４に転送する。判定部１１４は、差分値の時系列データに基づいて被テストモジュール１０３が正常か故障かを自己診断する（ステップ８０７）。実施例において、差分値の時系列データが少なくとも１回以上、閾値（例えば２）より大きくなった場合、被テストモジュール１０３が故障であると診断し、全て閾値内であれば正常であると診断する。制御部１０１は、診断結果を表示部１１５（例えばランプ）に表示し、通信部１１２及びバスライン１０６を介して外部出力部１０５に転送する（ステップ８０８）。外部入出力部１０５は、診断結果を外部装置（例えばホスト機器）に送信する。外部装置は、診断結果をディスプレイに表示する。処理を終了する。
【００４１】
このように、被テストモジュール１０３がフィルター特性を有する場合は、被テストモジュール１０３の通過帯域内の周波数成分と遮断帯域内の周波数成分とを有する信号をアナログテスト信号として使用する。これにより、被テストモジュール１０３の故障を容易に発見できる。実施例３においては１つのテスト信号で自己診断が出来るので、複数のテスト信号を用いる実施例２よりも診断時間が少なくて済む。
【００４２】
実施例３においては、図９（ａ）の差分値の時系列データの全てをチェックした。これに代えて、図９（ａ）のテスト信号を被テストモジュールに入力した場合の第１のデジタル出力信号をフーリエ展開し、それによって得られる各周波数成分の振幅値と、図９（ｂ）に示す第２のデジタル出力信号（図９（ａ）のテスト信号を正常な被テストモジュールに入力した場合の期待値）をフーリエ展開し、それによって得られる各周波数成分の振幅値とを比較し、いずれの周波数成分においても両者の差異が所定の範囲以内であれば正常と判断し、いずれかの周波数成分において両者の差異が所定の範囲を超えれば故障と判断しても良い。この方法によれば、比較部１１３はフーリエ展開をしなければならないが、第１のデジタル出力信号と第２のデジタル出力信号との位相合わせをする必要がないので、比較が容易である。又、信号の位相遅れの周波数依存性の影響を受けないので、故障の有無を誤診する可能性を低く出来る（特に位相遅れの周波数依存性が電子装置間でばらつくと、差分値の時系列データから故障の有無を判断することが極めて困難になる。）。また、デジタルテスト信号記憶部１１１は図９（ｂ）の第２のデジタル出力信号の各周波数成分の振幅値を記憶するだけで良いので、そのメモリ容量が小さくて済む。
【００４３】
実施例２及び３において、第１のモジュールは制御部から送信されたデジタルテスト信号を入力した。これに代えて第１のモジュールはデジタルテスト信号発生部を内蔵し、制御部から送信された指令に基づいてデジタルテスト信号を発生しても良い。
上記の実施例においては、それぞれ１つ又は複数のテスト信号を用いて被テストモジュールの自己診断を行った。これらのテスト信号に他のテスト信号を加えて、より詳しい自己診断を行っても良いことは言うまでもない。
【００４４】
【発明の効果】
本発明によれば、アナログ信号を入出力する被テストモジュールについて自己診断機能を有する電子装置を実現できるという有利な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例１の自己診断機能を有する電子装置の構成図
【図２】本発明の実施例１の電子装置の自己診断モードにおける制御方法を示すフローチャート
【図３】図３（ａ）は、本発明の実施例１の被テストモジュールに入力されるアナログテスト信号の例、図３（ｂ）は、正常な被テストモジュールに図３（ａ）のアナログテスト信号を入力したときのアナログ出力信号の例
【図４】本発明の実施例２及び実施例３の自己診断機能を有する電子装置の構成図
【図５】本発明の実施例２の電子装置の自己診断モードにおける制御方法を示すフローチャート
【図６】図６（ａ）は、本発明の実施例２の被テストモジュールに入力されるアナログテスト信号、図６（ｂ）は、正常な被テストモジュールに図６（ａ）のアナログテスト信号を入力したときのアナログ出力信号
【図７】図７（ａ）は、本発明の実施例２の被テストモジュールに入力されるアナログテスト信号、図７（ｂ）は、正常な被テストモジュールに図７（ａ）のアナログテスト信号を入力したときのアナログ出力信号
【図８】本発明の実施例３の電子装置の自己診断モードにおける制御方法を示すフローチャート
【図９】図９（ａ）は、本発明の実施例３の被テストモジュールに入力されるアナログテスト信号、図９（ｂ）は、正常な被テストモジュールに図９（ａ）のアナログテスト信号を入力したときのアナログ出力信号
【図１０】従来の自己診断機能を有する電子装置の構成図
【符号の説明】
１０１　　　　　　　　　制御部
１０２、４０２　　　　　第１のモジュール
１０３　　　　　　　　　被テストモジュール
１０４　　　　　　　　　第２のモジュール
１０５　　　　　　　　　外部入出力部
１０６　　　　　　　　　バスライン
１１１　　　　　　　　　デジタルテスト信号記憶部
１１２、１２１、１３１　通信部
１１３　　　　　　　　　比較部
１１４　　　　　　　　　判定部
１１５　　　　　　　　　表示部
１２２、１３２　　　　　スイッチ
１２３　　　　　　　　　アナログテスト信号発生部
１２４、１３３　　　　　処理部
１３４　　　　　　　　　Ａ／Ｄ変換器
４０１　　　　　　　　　Ｄ／Ａ変換器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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