(57)【要約】【課題】同じスキャン位置に対して複数回スキャンを行う場合に用いるＸ線量を最適化すること。【解決手段】領域２０１，２０２の何れかの面積Ｓを求める。頭部の断面を楕円と見なすと、楕円の長径近傍の列のＣＴ値の総和と短径近傍の行のＣＴ値の総和との比Ｒを求める。次にイメージＳＤをρｐｘ＝α＋β×Ｓ＋γ×Ｓ２として求め、楕円率Ｒを有する領域のＳＤ比をｋ＝Ａ＋Ｂ×Ｒ２として求める。次に面積Ｓ、楕円率Ｒを有する領域に対するイメージＳＤをρ’ｐｘ＝ρｐｘ×ｋとして求める。また、ターゲットＳＤ（ρｔａｒｇｅｔ）をパフュージョンＣＴを行う際のスライス厚と検査部位とに基づいて決定する。これにより管電流の値はｍＡ＝（ｍＡｒｅｆｅｒｅｎｃｅ×ｔｆ）／（ρ’ｐｘ／ρｔａｒｇｅｔ）２として求めることが出来る。【選択図】  図２
2004195120.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体をスキャンするガントリ装置にスキャンを行わせる指示を送信し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置により得られる前記被検体の複数スキャン位置における投影データを受信する操作コンソールであって、
受信したスキャン位置毎の投影データに対して画像再構成処理を行うことで、各スキャン位置毎のＸ線断層像を生成する画像再構成手段と、
前記複数スキャン位置のうち、検査対象とする注目スキャン位置を指示する指示手段と、
前記指示手段により指示された前記被検体の注目スキャン位置に対して連続して複数回スキャンを行う場合に、前記注目スキャン位置におけるスキャンに用いるＸ線の量を制御するための制御値を、前記注目スキャン位置における投影データに基づいて前記画像再構成手段が生成したＸ線断層像を用いて求める計算手段とを備え、
当該計算手段が求めた制御値に基づいた量のＸ線を前記注目スキャン位置に対して照射することで行われるスキャンを行う指示を前記ガントリ装置に対して送信することを特徴とする操作コンソール。
【請求項２】
前記計算手段は前記制御値を、
前記注目スキャン位置における投影データに基づいて前記画像再構成手段が生成したＸ線断層像の各画素に対応するＣＴ値を、当該Ｘ線断層像の行毎に加算した結果、列毎に加算した結果、及び前記Ｘ線断層像の面積に基づいて第１の値を求め、
前記第１の値と前記スキャンの計画に従って決まる第２の値との比と、前記複数スキャン位置を決定するために従前に行われたスキャンに用いられたＸ線の量を制御するための制御値とを用いて求めることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】
前記制御値は、前記Ｘ線の量を制御するコントローラに流れる管電流であることを特徴とする請求項１又は２に記載の操作コンソール。
【請求項４】
被検体をスキャンするガントリ装置と、
当該ガントリ装置にスキャンを行わせる指示を送信し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置により得られる前記被検体の複数スキャン位置における投影データを受信する操作コンソールとで構成されるＸ線ＣＴ装置であって、
受信したスキャン位置毎の投影データに対して画像再構成処理を行うことで、各スキャン位置毎のＸ線断層像を生成する画像再構成手段と、
前記複数スキャン位置のうち、検査対象とする注目スキャン位置を指示する指示手段と、
前記指示手段により指示された前記被検体の注目スキャン位置に対して連続して複数回スキャンを行う場合に、前記注目スキャン位置におけるスキャンに用いるＸ線の量を制御するための制御値を、前記注目スキャン位置における投影データに基づいて前記画像再構成手段が生成したＸ線断層像を用いて求める計算手段とを備え、
当該計算手段が求めた制御値に基づいた量のＸ線を前記注目スキャン位置に対して照射することで行われるスキャンを行う指示を前記ガントリ装置に対して送信することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】
被検体をスキャンするガントリ装置にスキャンを行わせる指示を送信し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置により得られる前記被検体の複数スキャン位置における投影データを受信する操作コンソールの制御方法であって、
受信したスキャン位置毎の投影データに対して画像再構成処理を行うことで、各スキャン位置毎のＸ線断層像を生成する画像再構成工程と、
前記複数スキャン位置のうち、検査対象とする注目スキャン位置を指示する指示工程と、
前記指示工程で指示された前記被検体の注目スキャン位置に対して連続して複数回スキャンを行う場合に、前記注目スキャン位置におけるスキャンに用いるＸ線の量を制御するための制御値を、前記注目スキャン位置における投影データに基づいて前記画像再構成工程で生成したＸ線断層像を用いて求める計算工程とを備え、
当該計算工程で求めた制御値に基づいた量のＸ線を前記注目スキャン位置に対して照射することで行われるスキャンを行う指示を前記ガントリ装置に対して送信することを特徴とする操作コンソールの制御方法。
【請求項６】
コンピュータに読み込ませることで、請求項１乃至３の何れか２項に記載の操作コンソールとして機能させることを特徴とするプログラム。
【請求項７】
コンピュータに請求項５に記載の操作コンソールの制御方法を実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項８】
請求項６又は７に記載のプログラムを格納するコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、操作コンソール、Ｘ線ＣＴ装置、及びその制御方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、ＣＴやＭＲＩなどの分野で、被検体の検査部位に造影剤を注入し、検査部位の断層像を時系列に得ることで血流を検査する検査方法がある。例えばＣＴでは、検査部位（造影剤を投入し、血流を検査する部位）においてスキャン（Ｘ線を照射し、照射対象の投影データを得る処理）を行う位置を１つ決め、決めた１つのスキャン位置に対して、Ｘ線を照射し、この１つのスキャン位置におけるＸ線断層像を得る処理（スキャン）を複数回行う（このような、１つのスキャン位置において複数回のスキャンを行う検査をパフュージョンＣＴと以下呼称する）。これにより上記１つのスキャン位置の投影データが時系列に得られるので、これら投影データに基づいて生成されるＸ線断層像を参照することで、造影剤の流れがそのまま血流として時系列に参照することが出来る。
【０００３】
また、一般にＸ線量を最適化するための技術は以前から提案されてきた（例えば、特許文献１を参照）。
【０００４】
【特許文献１】
特開２００１−４３９９３
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
上記パフュージョンＣＴは同じスキャン位置に対して繰り返しスキャンを行うものであるので、このスキャン位置に対する被爆量は大きいものとなる。よって出来るだけＸ線量は少ない方が好ましいが、少なすぎると得られるＸ線断層像にノイズが多く含まれる結果となる。よって、この場合のスキャンに用いるＸ線量は最適化することが好ましい。
【０００６】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、同じスキャン位置に対して複数回スキャンを行う場合に用いるＸ線量を最適化することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明の操作コンソールは以下の構成を備える。
【０００８】
すなわち、被検体をスキャンするガントリ装置にスキャンを行わせる指示を送信し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置により得られる前記被検体の複数スキャン位置における投影データを受信する操作コンソールであって、
受信したスキャン位置毎の投影データに対して画像再構成処理を行うことで、各スキャン位置毎のＸ線断層像を生成する画像再構成手段と、
前記複数スキャン位置のうち、検査対象とする注目スキャン位置を指示する指示手段と、
前記指示手段により指示された前記被検体の注目スキャン位置に対して連続して複数回スキャンを行う場合に、前記注目スキャン位置におけるスキャンに用いるＸ線の量を制御するための制御値を、前記注目スキャン位置における投影データに基づいて前記画像再構成手段が生成したＸ線断層像を用いて求める計算手段とを備え、
当該計算手段が求めた制御値に基づいた量のＸ線を前記注目スキャン位置に対して照射することで行われるスキャンを行う指示を前記ガントリ装置に対して送信することを特徴とする。
【０００９】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明のＸ線ＣＴ装置は以下の構成を備える。
【００１０】
すなわち、被検体をスキャンするガントリ装置と、
当該ガントリ装置にスキャンを行わせる指示を送信し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置により得られる前記被検体の複数スキャン位置における投影データを受信する操作コンソールとで構成されるＸ線ＣＴ装置であって、
受信したスキャン位置毎の投影データに対して画像再構成処理を行うことで、各スキャン位置毎のＸ線断層像を生成する画像再構成手段と、
前記複数スキャン位置のうち、検査対象とする注目スキャン位置を指示する指示手段と、
前記指示手段により指示された前記被検体の注目スキャン位置に対して連続して複数回スキャンを行う場合に、前記注目スキャン位置におけるスキャンに用いるＸ線の量を制御するための制御値を、前記注目スキャン位置における投影データに基づいて前記画像再構成手段が生成したＸ線断層像を用いて求める計算手段とを備え、
当該計算手段が求めた制御値に基づいた量のＸ線を前記注目スキャン位置に対して照射することで行われるスキャンを行う指示を前記ガントリ装置に対して送信することを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下添付した図面を参照して、本発明を好適な実施形態に従って、詳細に説明する。
【００１２】
図１は、本実施形態のＸ線ＣＴシステムのブロック構成図である。図示のように本システムは、被検体へのＸ線照射と被検体を透過したＸ線を検出するためのＸ線検出機構を一体的に取り付けるガントリ装置１００と、ガントリ装置１００に対して各種動作設定を行うとともに、ガントリ装置１００から出力されたデータに基づいてＸ線断層像を再構成し、表示する操作コンソール２００により構成されている。
【００１３】
ガントリ装置１００は、その全体の制御をつかさどるメインコントローラ１をはじめ、以下の構成を備える。
【００１４】
２は操作コンソール２００との通信を行うためのインタフェース、３はテーブル１２上に横たえた被検体（患者）を搬送（図面に垂直な方向で以下、ｚ軸ともいう）するための空洞部を有するガントリであり、内部には、Ｘ線管コントローラ５により駆動制御されるＸ線発生源としてのＸ線管４、Ｘ線の照射範囲を画定するためのスリットを有するコリメータ６、コリメータ６のＸ線照射範囲を画定するスリット幅の調整用モータであるモータ７ａが設けられている。このモータ７ａの駆動はコリメータコントローラ７により制御される。
【００１５】
また、ガントリ３は、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出部８、およびＸ線検出部８で得た透過Ｘ線より得られる投影データを収集するデータ収集部９を備える。Ｘ線管４及びコリメータ６と、Ｘ線検出部８は互いに空洞部分を挟んで、すなわち、被検体を挟んで対向する位置に設けられ、その関係が維持された状態でガントリ３のまわりを回動するようになっている。この回動は、モータコントローラ１１からの駆動信号により駆動される回転モータ１０によって行われる。また、被検体を乗せるテーブル１２は、ｚ軸方向への搬送がなされるが、その駆動はテーブルモータ１３によって行われる。テーブルモータ１３の駆動はテーブルモータコントローラ１４により制御される。
【００１６】
メインコントローラ１は、インタフェース２を介して受信した各種コマンドの解析を行い、それに基づいて上記のＸ線管コントローラ５、コリメータコントローラ７、モータコントローラ１１、テーブルモータコントローラ１４、そして、データ収集部９に対し、各種制御信号を出力することになる。また、メインコントローラ１は、データ収集部９で収集された投影データを、インタフェース２を介して操作コンソール２００に送出する処理も行う。
【００１７】
操作コンソール２００は、いわゆるワークステーションであり、図示するように、装置全体の制御をつかさどるＣＰＵ５１、ブートプログラム等を記憶しているＲＯＭ５２、主記憶装置として機能するＲＡＭ５３をはじめ、以下の構成を備える。
【００１８】
ＨＤＤ５４は、ハードディスク装置であって、ここにＯＳや、スキャン制御プログラムのほか、ガントリ装置１００に各種指示を与えたり、ガントリ装置１００より受信したデータに基づいてＸ線断層像を再構成するための画像再構成プログラムが格納されている。ＶＲＡＭ５５は表示しようとするイメージデータを展開するメモリであり、ここにイメージデータ等を展開することでＣＲＴ５６に表示させることができる。５７及び５８は、各種設定を行うためのキーボードおよびマウスである。また、５９はガントリ装置１００と通信を行うためのインタフェースである。
【００１９】
以上の構成を有するＸ線ＣＴシステムを用いて、検査部位を被検体の頭部とした場合に、頭部において１つのスキャン位置（検査スキャン位置）を決め、このスキャン位置に対して連続して複数回のスキャンを行う処理（パフュージョンＣＴ）を行う場合に、上記Ｘ線管４が照射するＸ線の量を制御する処理について以下、説明する。
【００２０】
まず、パフュージョンＣＴを行う前には周知の通り、頭部における上記検査スキャン位置を決めるために、上記ガントリ装置１００を用いて上記頭部の各スキャン位置におけるスキャン（プレスキャン）を行う必要がある。そこでガントリ装置１００を用いて周知の方法でプレスキャンを行い、各スキャン位置における投影データを収集する。
【００２１】
収集された各スキャン位置における投影データはデータ収集部９からデータ入力Ｉ／Ｆ６０を介して操作コンソール２００に送られる。操作コンソール２００のＣＰＵ５１はＨＤＤ５４からＲＡＭ５３にロードされた画像再構成プログラムを実行させ、送られた各スキャン位置における投影データに対して画像再構成処理を行い、各スキャン位置におけるＸ線断層像を生成する。生成した各スキャン位置におけるＸ線断層像はＶＲＡＭ５５に送ることで、ＣＲＴ５６の表示画面上に表示される。生成された各Ｘ線断層像はＲＡＭ５３にも保持されている。
【００２２】
操作コンソール２００の操作者はＣＲＴ５６の表示画面上に表示されたこれら複数のＸ線断層像を参照して検査するスキャン位置、すなわち上記検査スキャン位置を決定する。この検査スキャン位置は、頭部に造影剤を注入し、頭部における血流を検査するために見たいＸ線断層像を得るためのスキャン位置である。
【００２３】
そして決定した検査スキャン位置におけるパフュージョンＣＴを行う指示をキーボード５７、マウス５８を用いてガントリ装置１００に送信するが、操作コンソール２００は更にこのパフュージョンＣＴを行う場合に、Ｘ線管４から照射するＸ線量を制御する制御値を決定する。
【００２４】
Ｘ線管４より照射されるＸ線量はＸ線管４に流れる電流（以下、管電流またはｍＡと称す）により制御されるが、管電流を制御する機能としてオートｍＡ機能（自動管電流制御機能）があり、従来からＸ線ＣＴシステムには標準的に装備されている。
【００２５】
従来ではこのオートｍＡ機能は、被検体に対して所定のＸ線照射量で所定の方向からＸ線を照射し、例えばガントリの角度を０度の角度に固定し、被検体をスキャンすることで得られる投影データと、ガントリの角度を９０度の角度に固定し、被検体をスキャンすることで得られる投影データとを用いて最適な管電流値を求めるものである。
【００２６】
本実施形態ではオートｍＡ機能を、上記プレスキャンにより得られたＸ線断層像を用いて、パフュージョンＣＴを行う場合にＸ線管４から照射するＸ線量を制御する制御値、即ち管電流を求める処理に適用する。以下、本実施形態のＸ線ＣＴシステムが行うオートｍＡ機能について、以下説明する。
【００２７】
図２は、検査スキャン位置におけるＸ線断層像を用いて、管電流を決定するための処理を説明する図である。まず操作コンソール２００は上記検査スキャン位置におけるＸ線断層像を構成する各画素に対応するＣＴ値を行毎に加算することで得られる結果（グラフ）２１０を求め、ＲＡＭ５３に保持する。グラフ２１０において縦軸は行毎のＣＴ値の総和を表し、横軸は各行に付けられた番号（行番号）を表す。
【００２８】
また同様にＣＴ値を列毎に加算した結果（グラフ）２２０を求め、ＲＡＭ５３に保持する。グラフ２２０において縦軸は列毎のＣＴ値の総和を表し、横軸は各列に付けられた番号（行番号）を表す。
【００２９】
なお、行毎、列毎にＣＴ値を加算する前段で、全てのＣＴ値の値を正の値にするために、ＣＴ値の最小値である−１０００を全てのＣＴ値に対して予め加算しておく。
【００３０】
ここで、領域２０１，２０２の何れかの面積Ｓを求める。これは即ち、Ｘ線断層像を構成している画素に対応するＣＴ値を全ての画素に対して加算することで得られる。よって領域２０１の面積と領域２０２の面積は同じになるので、何れかの面積を求め、これをＳとする。
【００３１】
次に頭部の断面を楕円と見なしたとき（図２では行方向に長径、列方向に短径を有する楕円と見なす）、この楕円の長径、短径の比Ｒ（即ち楕円率）を求める。これはグラフ２１０，２２０において、楕円の長径近傍の列のＣＴ値の総和ｒ１、短径近傍の行のＣＴ値の総和ｒ２の比を求めることに等価である。
【００３２】
ここでｒ１を求める方法としては、例えば図３に示すように中央の列を中心として左４９列分、右５０列分（全部で１００列分）の夫々のＣＴ値の総和を全て加算することで求める。なお、中央の列を中心として左５０列分、右４９列分でも良い。
【００３３】
ｒ２を求める方法も同様に例えば図３に示すように中央の列を中心として左４９列分、右５０列分（全部で１００列分）の夫々のＣＴ値の総和を全て加算することで求める。なお、中央の列を中心として左５０列分、右４９列分でも良い。
【００３４】
これによりｒ１，ｒ２を求めることが出来るので、上記楕円率ＲをＲ＝ｒ１／ｒ２として求めることが出来る。
【００３５】
次に、以上のＳ、Ｒを用いて管電流を算出する方法について以下説明する。管電流はイメージＳＤとターゲットＳＤ（Ｘ線断層像に求められる画質レベル）とを求め、夫々の比に基づいて算出することができる。
【００３６】
一般にＸ線ＣＴシステムにおける画像ノイズは、均質な物質を撮影した場合のＣＴ値のばらつき（イメージＳＤ）として表現され、イメージＳＤの値が小さいほど高画質の断層像となり、イメージＳＤの値が大きいほど低画質な断層像となる
よって、まず、イメージＳＤを求める方法について説明する。
【００３７】
イメージＳＤは面積Ｓと楕円率Ｒによって変化する。よって、以上で求めた面積Ｓと楕円率Ｒを用いることでイメージＳＤを求めることができる。面積Ｓを有する領域のイメージＳＤ（σｐｘ）は以下の式に従って求めることができる。
【００３８】
ρｐｘ＝α＋β×Ｓ＋γ×Ｓ２
ここでα、β、γは予め定められた定数である。また、楕円率Ｒを有する領域のＳＤ比ｋは以下の式で求めることができる。
【００３９】
ｋ＝Ａ＋Ｂ×Ｒ２
ここでＡ、Ｂは予め求められた定数である。以上のρｐｘ、ｋを用いて、面積Ｓ、楕円率Ｒを有する領域に対するイメージＳＤ（ρ’ｐｘ）を以下のようにして求める。
【００４０】
ρ’ｐｘ＝ρｐｘ×ｋ
次に、ターゲットＳＤを求める方法について説明する。ターゲットＳＤは、パフュージョンＣＴを行う際のスライス厚と検査部位（本実施形態では頭部）とに基づいて決定される。具体的には図４に示すテーブルを参照して決定される。図４はターゲットＳＤの設定を行う際に用いるテーブルの例を示す図である。同テーブルはＨＤＤ５４に保存されており、必要に応じてＲＡＭ５３にロードされる。
【００４１】
例えばパフュージョンＣＴを行う前に操作者がキーボード５７やマウス５８を用いて、検査部位を頭部、スライス厚を１０ｍｍ、モードを高画質を必要とする場合に推奨されるモードであるＩＱと設定すると、ＣＰＵ５１は同図のテーブルを参照し、ターゲットＳＤの設定値を２．０と決定する。本実施形態では、パフュージョンＣＴで用いるスライス厚、モードはプレスキャンを行った際に設定されたスライス厚、モードを用いる。決定したターゲットＳＤをρｔａｒｇｅｔとすると、最終的に求める管電流の値は以下の式に基づいて求めることができる。
【００４２】
ｍＡ＝（ｍＡｒｅｆｅｒｅｎｃｅ×ｔｆ）／（ρ’ｐｘ／ρｔａｒｇｅｔ）２
ここで、ｍＡｒｅｆｅｒｅｎｃｅは上記プレスキャンを行った際にＸ線管４に流した管電流で、ｔｆは１０／（スライス厚）を計算した値である。
【００４３】
以上の処理により、パフュージョンＣＴを行う際にＸ線管４に流す管電流を求めることが出来る。求めた管電流値はパフュージョンＣＴを行うためのスキャン計画（スライス厚、モードなどの設定項目）と共にＩ／Ｆ５９、Ｉ／Ｆ２を介してガントリ装置１００のメインコントローラ１に送信される。ガントリ装置１００のメインコントローラ１は受信した管電流値をＸ線管コントローラ５に送り、Ｘ線管コントローラ５は受けた管電流値に従った管電流をＸ線管４に流す。これによりＸ線管４からは最適化された量のＸ線が照射されることになり、得られるＸ線断層像のノイズを抑制しつつ、被検体に対する被爆量をも抑制することが出来る。
【００４４】
以上説明した、管電流値を決め、算出した管電流に基づいてＸ線断層像を得る処理のフローチャートを図５，６に示す。
【００４５】
図５はパフュージョンＣＴを行う際に、操作コンソール２００、ガントリ装置１００の夫々が行うメインの処理のフローチャートである。図５において、まず操作コンソール２００の操作者からキーボード５７，マウス５８を用いたプレスキャン計画の入力を受け付ける（ステップＳ７０１）。このプレスキャン計画はプレスキャンの対象となる被検体の検査部位、管電流、スライス厚等を含む。次に入力したプレキャン計画をガントリ装置１００に送信する（ステップＳ７０２）。ガントリ装置１００は操作コンソール２００から送信されたプレスキャン計画を受信し（ステップＳ７５１）、受信したプレキャン計画に基づいてプレスキャンを行い、各スライス位置における投影データを収集し、操作コンソール２００に送信する（ステップＳ７５２）。操作コンソール２００はガントリ装置１００から送信された各スキャン位置における投影データを受信し（ステップＳ７０３）、各スキャン位置におけるＸ線断層像を画像再構成処理により生成する（ステップＳ７０４）。
【００４６】
そして操作者からキーボード５７、マウス５８を用いた検査スキャン位置の入力を受け付ける（ステップＳ７０５）。次に、上記管電流値算出処理を行う（ステップＳ７０６）。図６はステップＳ７０６における処理の詳細を示すフローチャートである。
【００４７】
図６においてまずＲＡＭ５３に保持されている検査スキャン位置におけるＸ線断層像を構成する画素に対応するＣＴ値の総和を面積Ｓとして求める（ステップＳ８０１）。次に、頭部の断面を楕円と見なした場合に、長径近傍の列のＣＴ値の総和ｒ１、短径近傍の行のＣＴ値の総和ｒ２を求める（ステップＳ８０２）。そして求めたｒ１，ｒ２を用いて楕円率Ｒを求める（ステップＳ８０３）。
【００４８】
次に面積Ｓを用いて面積Ｓを有する領域のイメージＳＤ（ρｐｘ）を求め（ステップＳ８０４）、更に楕円率Ｒを用いて、楕円率Ｒを有する領域のＳＤ比（ｋ）を求める（ステップＳ８０５）。
【００４９】
そしてステップＳ８０４で求めたイメージＳＤ（ρｐｘ）と、ステップＳ８０５で求めたＳＤ比（ｋ）を用いて、面積Ｓ、楕円率Ｒを有する領域のイメージＳＤ（ρ’ｐｘ）を求める（ステップＳ８０６）。次にプレスキャン計画の入力である検査部位、スライス厚、モード、図４に示したテーブルを参照することにより、ターゲットＳＤを特定する（ステップＳ８０７）。ステップＳ８０７における処理はステップＳ７０１におけるプレスキャン計画を入力する時点で行っても良い。
【００５０】
次に、ステップＳ８０６で求めたイメージＳＤ（ρ’ｐｘ）と、ステップＳ８０７で特定されたターゲットＳＤ（ρｔａｒｇｅｔ）を用いて、管電流値（ｍＡ）を求める（ステップＳ８０８）。
【００５１】
図７に戻って、パフュージョンＣＴのスキャン計画をキーボード５７、マウス５８を用いて入力し（ステップＳ７０７）、ステップＳ７０５で入力された検査スキャン位置、ステップＳ７０６で算出された管電流値を含むスキャン計画をガントリ装置１００に送信する（ステップＳ７０８）。ガントリ装置１００は操作コンソール２００から送信されたスキャン計画を受信し（ステップＳ７５３）、受信したスキャン計画に基づいたパフュージョンＣＴのスキャンを行う（ステップＳ７５４）。このとき、ガントリ装置１００は受信したスキャン計画に含まれる管電流値をＸ線コントローラ５に送り、管電流値に基づいた管電流をＸ線管４に流す制御を行う。その結果、Ｘ線管４は制御された管電流に基づいたＸ線を照射することになる。
【００５２】
ステップＳ７５４ではガントリ装置１００は検査スキャン位置に対するスキャンを行いつつ、投影データを操作コンソール２００に送信する。操作コンソール２００はガントリ装置１００から送信された投影データを受信する（ステップＳ７０９）。そして操作コンソール２００は受信した投影データからＸ線断層像を画像再構成を行うことで生成し、ＣＲＴ５６に表示する（ステップＳ７１０）。
【００５３】
また、本発明の目的は、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても実現できるものである。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータ（操作コンソール）が読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム(ＯＳ)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００５４】
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した（図５、及び／又は６に示すフローチャートの一部、もしくは全部）に対応するプログラムコードが格納されることになる。
【００５５】
このようなプログラムコードを格納する記憶媒体としては、例えばフロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。更には、ネットワーク（例えばインターネット）という媒体を介してダウンロードしても良いであろう。
【００５６】
【発明の効果】
以上の説明により、本発明によって、同じスキャン位置に対して複数回スキャンを行う場合に用いるＸ線量を最適化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態におけるＸ線ＣＴシステムのブロック構成図である。
【図２】検査スキャン位置におけるＸ線断層像を用いて、管電流を決定するための処理を説明する図である。
【図３】長径近傍のＣＴ値の総和、もしくは短径近傍のＣＴ値の総和を求める処理を説明する図である。
【図４】ターゲットＳＤの設定を行う際に用いるテーブルの例を示す図である。
【図５】パフュージョンＣＴを行う際に、操作コンソール２００、ガントリ装置１００の夫々が行う処理のフローチャートである。
【図６】ステップＳ７０６における処理の詳細を示すフローチャートである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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