(57)【要約】【課題】  単位液晶表示パネルの上面と下面縁部に対する研磨量を測定することで、研磨不良を判定できる液晶表示パネルの研磨量測定装置及びその方法を提供する。【解決手段】  単位液晶表示パネル１００の上面及び下面縁部を研磨する研磨部１１０と、前記単位液晶表示パネル１００の上面縁部の研磨面を撮影する第１カメラ１２０と、前記単位液晶表示パネル１００の下面縁部の研磨面を撮影する第２カメラ１３０と、を含んで液晶表示パネルの研磨量測定装置を構成する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部を研磨する研磨部と、前記単位液晶表示パネルの上面縁部の研磨面を撮影する第１カメラと、前記単位液晶表示パネルの下面縁部の研磨面を撮影する第２カメラと、を含んで構成されることを特徴とする液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【請求項２】
前記研磨部は、前記単位液晶表示パネルがローディングされる研磨台と、前記単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部を研磨する複数の研磨ホイールと、から構成されることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【請求項３】
前記単位液晶表示パネルは、薄膜トランジスタアレイ基板とカラーフィルタ基板とが合着されることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【請求項４】
前記第１カメラ及び第２カメラは、前記研磨部に内在されることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【請求項５】
前記第１カメラ及び第２カメラは、ＣＣＤにより構成されることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【請求項６】
前記第１カメラ及び第２カメラは、単位液晶表示パネルの縁部に具備された整列マークにより単位液晶表示パネルの縁部と整列されることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【請求項７】
前記第１カメラ及び第２カメラは、前記単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部に沿って研磨面を撮影することを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【請求項８】
前記第１カメラ及び第２カメラは、前記単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部の少なくとも一つの位置で研磨面を撮影することを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【請求項９】
研磨部により単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部を研磨する段階と、第１カメラ及び第２カメラにより前記単位液晶表示パネルの研磨された上面及び下面縁部をそれぞれ撮影する段階と、前記第１カメラ及び第２カメラにより撮影された画像から単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部の研磨量を検出して、研磨不良を判断する段階と、を行うことを特徴とする液晶表示パネルの研磨量測定方法。
【請求項１０】
前記単位液晶表示パネルの縁部に具備された整列マークにより、前記第１カメラ及び第２カメラと前記単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部を整列する段階を更に行うことを特徴とする請求項９記載の液晶表示パネルの研磨量測定方法。
【請求項１１】
前記第１カメラ及び第２カメラにより前記単位液晶表示パネルの研磨された上面及び下面縁部をそれぞれ撮影する段階は、前記単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部に沿って研磨面を撮影することを特徴とする請求項９記載の液晶表示パネルの研磨量測定方法。
【請求項１２】
前記第１カメラ及び第２カメラにより前記単位液晶表示パネルの研磨された上面及び下面縁部をそれぞれ撮影する段階は、前記単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部の一つの位置又は複数の位置で研磨面を撮影することを特徴とする請求項９記載の液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【請求項１３】
前記研磨部の研磨台に前記単位液晶表示パネルをローディングする段階と、少なくとも一つの研磨ホイールにより前記単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部を研磨する段階と、を更に行うことを特徴とする請求項９記載の液晶表示パネルの研磨量測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶表示パネルの研磨量測定装置及びその方法に係るもので、詳しくは、大面積の母基板上に製作された各液晶表示パネルを個別的な単位液晶表示パネルに切断して、単位液晶表示パネルの縁部を研磨する時、その研磨量を測定し得る液晶表示パネルの研磨量測定装置及びその方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、液晶表示装置は、大面積の母基板に各薄膜トランジスタアレイ基板を形成し、別途の母基板に各カラーフィルタ基板を形成した後、二つの母基板を合着することで、複数の液晶表示パネルを同時に形成して歩留まりの向上を図っているため、単位液晶表示パネルに切断する工程が要求される。
【０００３】
通常、前記単位液晶表示パネルの切断は、ガラスに比べて硬度の高いホイールにより母基板の表面に切断予定溝を形成し、前記切断予定溝に沿ってクラックを伝播させる工程により実施される。
【０００４】
以下、このような液晶表示装置に対し、図面に基づいて説明する。
【０００５】
図４は各薄膜トランジスタアレイ基板が形成された第１母基板と各カラーフィルタ基板が形成された第２母基板とが合着されて、複数の液晶表示パネルをなす断面構造を示した例示図である。
【０００６】
図示されたように、各単位液晶表示パネルは、各薄膜トランジスタアレイ基板１の一側が各カラーフィルタ基板２に比べて突出して形成される。これは、各カラーフィルタ基板と重ならない各薄膜トランジスタアレイ基板１の縁部にゲートパッド部(図示せず)及びデータパッド部(図示せず)が形成されるためである。
【０００７】
従って、第２母基板３０上に形成された各カラーフィルタ基板２は、第１母基板２０上に形成された各薄膜トランジスタアレイ基板１の突出面積に該当するダミー領域３１だけ離隔して形成される。
【０００８】
また、各単位液晶表示パネルは、第１、第２母基板２０、３０を最大限利用し得るように適切に配置され、モデルによって異なるが、一般的に各単位液晶表示パネルはダミー領域３２だけ離隔して形成される。
【０００９】
前記各薄膜トランジスタアレイ基板１が形成された第１母基板２０と各カラーフィルタ基板２が形成された第２母基板３０とが合着された後、各液晶表示パネルを個別的に切断するが、この時、第２母基板３０の各カラーフィルタ基板２が離隔された領域に形成されたダミー領域３１と各単位液晶表示パネルを離隔させるダミー領域３２とが同時に取り除かれる。
【００１０】
一方、図５は個別的に切断された単位液晶表示パネルの概略的な平面構造を示した例示図である。
【００１１】
図示されたように、単位液晶表示パネル１０は、各液晶セルがマトリックス状に配列される画像表示部１３と、前記画像表示部１３の各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍをゲート信号の印加されるゲートドライバー集積回路(図示せず)と接続させるためのゲートパッド部１４と、前記画像表示部１３の各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎを画像情報の印加されるデータドライバー集積回路(図示せず)と接続するためのデータパッド部１５と、から構成されている。この時、ゲートパッド部１４とデータパッド部１５は、カラーフィルタ基板２に比べて一側短辺及び一側長辺が突出された薄膜トランジスタアレイ基板１の縁部領域に形成される。
【００１２】
この時、図面に示してないが、前記薄膜トランジスタアレイ基板１の各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎと各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍとが垂直に交差する領域には、各液晶セルをスイッチングするための薄膜トランジスタが具備され、前記薄膜トランジスタに接続されて各液晶セルに電界を印加するための画素電極と、このような各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ、各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍ、各薄膜トランジスタ及び各電極を保護するために全面に形成された保護膜と、が具備される。
【００１３】
そして、前記カラーフィルタ基板２には、ブラックマトリックスによりセル領域別に分離されて塗布された各カラーフィルタと、前記薄膜トランジスタアレイ基板１に形成された画素電極の対向電極である共通電極と、が具備される。
【００１４】
このように構成された薄膜トランジスタアレイ基板１とカラーフィルタ基板２には、対向して所定間隔で離隔されるようにセル-ギャップが設けられ、画像表示部１３の外郭に形成されたシーリング部(図示せず)により合着され、薄膜トランジスタアレイ基板１とカラーフィルタ基板２との離隔空間に液晶層(図示せず)が形成される。
【００１５】
一方、前記薄膜トランジスタアレイ基板１の縁部には、薄膜トランジスタアレイ基板１上に各導電性膜をパターニングする時、発生される静電気を遮断するために短絡配線(図示せず)が形成されている。
【００１６】
前記短絡配線は、各液晶表示パネルが個別的な単位液晶表示パネルに切断された後で取り除かれるべきである。
【００１７】
従って、前記各液晶表示パネルを個別的な単位液晶表示パネルに切断した後、単位液晶表示パネルの角を研磨して前記短絡配線を取り除く。また、単位液晶表示パネルの角を研磨して、外部の衝撃により単位液晶表示パネルの角から破片が落ちて離脱される現象を防止し、工程進行中、作業者が単位液晶表示パネルの鋭い角により傷を負う危険を防止し得るという付随的効果が得られる。
【００１８】
以下、このような単位液晶表示パネルの研磨工程に対し、図面に基づいて説明する。
【００１９】
図６は液晶表示パネルの研磨装置を示した例示図で、図示されたように、切断された単位液晶表示パネル１０をローディングするローディング部５０と、前記ローディング部５０でローディングされた単位液晶表示パネル１０を受けて研磨台５１に整列させた後、高速に回転する研磨ホイール５２により単位液晶表示パネル１０の縁部を研磨する研磨部５３と、前記研磨された単位液晶表示パネル１０を研磨部５３から受けてアンローディングするアンローディング部５４と、を含んで構成されている。
【００２０】
一方、図７はこのような液晶表示パネルの研磨装置により研磨された単位液晶表示パネル１０の研磨量測定装置を示した例示図である。
【００２１】
図示されたように、単位液晶表示パネル１０の縁部は、上面及び下面が傾斜して研磨され、一般的に短絡配線の形成された単位液晶表示パネル１０の上面縁部には下面縁部に比べて研磨量が多い。
【００２２】
このような単位液晶表示パネル１０の研磨量を測定するために、単位液晶表示パネル１０の上縁部にカメラ６０を設置して、単位液晶表示パネル１０の上面縁部を撮影して作業者が画像を確認することで、研磨量の良/不良の判定をすることができる。
【００２３】
図１は前記単位液晶表示パネル１０の縁部に対するカメラ６０の撮影画像を示した例示図で、図示されたように、カメラ６０により撮影された画像Ｃ１には単位液晶表示パネル１０の上面縁部に対する研磨幅Ｗ１が表れる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２４】
然るに、このような液晶表示パネルの研磨量測定装置は、単位液晶表示パネルの上縁部に設置されたカメラにより単位液晶表示パネルの縁部を撮影することで、単位液晶表示パネルの上面縁部は撮影できるが、下面縁部は撮影できないため、単位液晶表示パネルの下面縁部に対しては研磨量が不良か否かを判定できないという不都合な点があった。
【００２５】
従って、単位液晶表示パネルの下面縁部に発生する研磨不良は、液晶表示パネルの不良要因となって歩留まりが低下するという不都合な点があった。
【００２６】
本発明は、このような課題に鑑みてなされたもので、単位液晶表示パネルの上面と下面縁部に対する研磨量を測定することで、研磨不良を判定できる液晶表示パネルの研磨量測定装置及びその方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
このような目的を達成するため、本発明に係る液晶表示パネルの研磨量測定装置は、上面と下面縁部が研磨された単位液晶表示パネルと、前記単位液晶表示パネルの上縁部に設置されて画像を撮影する第１カメラと、前記単位液晶表示パネルの下縁部に設置されて画像を撮影する第２カメラと、を含んで構成されることを特徴とする。
【００２８】
又、本発明に係る液晶表示パネルの研磨量測定方法は、研磨部により単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部を研磨する段階と、前記単位液晶表示パネルの研磨された上面及び下面縁部を第１、第２カメラによりそれぞれ撮影する段階と、前記第１、第２カメラにより撮影された画像から単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部の研磨量を検出して、研磨不良を判断する段階と、を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２９】
本発明に係る液晶表示パネルの研磨量測定装置及びその方法は、単位液晶表示パネルの上縁部及び下縁部に第１、第２カメラを設置して、単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部に対する研磨量を撮影することができる。
従って、単位液晶表示パネルの上面及び下面縁部に対する研磨不良を検出して適切に研磨量を補正できるため、液晶表示パネルの下面研磨補正のための別途の工程が要求されず、液晶表示パネルの不良要因を減少して歩留まりを向上し得るという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明の実施の形態に対し、図面に基づいて説明する。
【００３１】
図２は本発明に係る液晶表示パネルの研磨量測定装置の一実施形態を示した例示図である。
【００３２】
図示されたように、単位液晶表示パネル１００の上面及び下面縁部を研磨する研磨部１１０と、前記単位液晶表示パネル１００の上面縁部の研磨面を撮影する第１カメラ１２０と、前記単位液晶表示パネル１００の下面縁部の研磨面を撮影する第２カメラ１３０と、を含んで構成されている。
【００３３】
前記研磨部１１０は、単位液晶表示パネル１００がローディングされる研磨台１１１と、前記単位液晶表示パネル１００の上面及び下面縁部を研磨する複数の研磨ホイール(図示せず)と、を具備する。
【００３４】
図示されてないが、前記単位液晶表示パネル１００は、薄膜トランジスタアレイ基板とカラーフィルタ基板とが合着されて構成され、その薄膜トランジスタアレイ基板の一側短辺及び一側長辺がカラーフィルタ基板に比べて突出して合着される。
【００３５】
前記薄膜トランジスタアレイ基板とカラーフィルタ基板とが合着された領域内には、複数の画素がマトリックス状に配列される画像表示部が具備される。
【００３６】
前記薄膜トランジスタアレイ基板の画像表示部には、所定間隔で離隔されて横に配列される複数のゲートラインと、所定間隔で離隔されて縦に配列される複数のデータラインとが交差し、それらゲートラインとデータラインとが交差して定義される四角形領域に複数の画素がマトリックス状に配列される。
【００３７】
前記複数の画素には、スイッチング素子として薄膜トランジスタが個別的に具備され、且つ、画素電極が個別的に具備される。
【００３８】
前記カラーフィルタ基板の画像表示部には、ブラックマトリックスにより画素別に分離されて塗布された赤、緑及び青色のカラーフィルタと、前記薄膜トランジスタアレイ基板に形成される画素電極の対向電極である共通電極と、が具備される。
【００３９】
前記薄膜トランジスタアレイ基板及びカラーフィルタ基板は、画像表示部の外郭に沿って形成されるシールパターンにより合着される。この時、薄膜トランジスタアレイ基板やカラーフィルタ基板上には、無作為に散布されたボールスペーサやフォトリソグラフィ工程によりパターン化されたスペーサが形成され、所定離隔間隔を有するようになる。
【００４０】
前記離隔間隔には液晶層が形成される。この時、液晶層は、薄膜トランジスタアレイ基板とカラーフィルタ基板とを合着した後、真空注入方式により形成するか、又は、薄膜トランジスタアレイ基板やカラーフィルタ基板に液晶を滴下した後、薄膜トランジスタアレイ基板とカラーフィルタ基板とを合着して形成することができる。
【００４１】
一方、前記薄膜トランジスタアレイ基板の突出された一側短辺には、各ゲートラインと電気的に接続されて各ゲートラインに駆動信号を供給するゲートパッド部が形成され、突出された一側長辺には、各データラインと電気的に接続されて各データラインに画像情報を供給するデータパッド部が形成される。
【００４２】
前記単位液晶表示パネル１００の縁部は、上面と下面とが傾斜して研磨され、一般的に短絡配線の形成される単位液晶表示パネル１００の上面縁部には下面縁部に比べて研磨量が多い。
【００４３】
前記第１、第２カメラ１２０、１３０は、単位液晶表示パネル１００の上縁部及び下縁部にそれぞれ設置されて、ＣＣＤカメラが適用される。
【００４４】
前記第１、第２カメラ１２０、１３０は、単位液晶表示パネル１００の縁部に具備された整列マーク(図示せず)により単位液晶表示パネル１００の縁部と整列された後、単位液晶表示パネル１００の上面及び下面縁部の研磨面を撮影して研磨量を測定する。この時、第１、第２カメラ１２０、１３０が前記単位液晶表示パネル１００の上面及び下面縁部に沿って研磨面を撮影して研磨量を測定するか、又は、第１、第２カメラ１２０、１３０が前記単位液晶表示パネル１００の上面及び下面縁部の少なくとも一つの位置で研磨面を撮影して研磨量を測定することができる。
【００４５】
又、前記研磨部１１０内の研磨台１１１が回転及び移動することで、第１カメラ１２０が単位液晶表示パネル１００の上面の所定位置をそれぞれ撮影して研磨量を測定し、この時、第２カメラ１３０が単位液晶表示パネル１００の下面の対応する各位置を撮影して研磨量を測定することで、単位液晶表示パネル１００の下面研磨補正のための別途の工程が必要でなくなる。
【００４６】
一方、図３(Ａ)は第１カメラ１２０の撮影画像を示した例示図で、図３(Ｂ)は第２カメラ１３０の撮影画像を示した例示図で、図示されたように、第１カメラ１２０によって撮影された画像Ｃ１１には、単位液晶表示パネル１００の上面縁部に対する研磨幅Ｗ１１が表れ、第２カメラ１３０により撮影された画像Ｃ１２には、単位液晶表示パネル１００の下面縁部に対する研磨幅Ｗ１２が表れる。
【００４７】
一般に、短絡配線の形成される単位液晶表示パネル１００の上面縁部が下面縁部に比べて研磨量が多いため、単位液晶表示パネル１００の上面縁部に対する研磨幅Ｗ１１は下面縁部に対する研磨幅Ｗ１２に比べて広く撮影される。
【００４８】
従って、作業者は、第１、第２カメラ１２０、１３０により撮影された画像Ｃ１１、Ｃ１２から単位液晶表示パネル１００の上面及び下面縁部の研磨量を検出することができ、研磨不良が発生する場合、研磨部１１０内の複数の研磨ホイールを適切に制御することで、単位液晶表示パネル１００の上面及び下面縁部に対する研磨量を補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】図７におけるカメラの撮影画像を示した例示図である。
【図２】本発明に係る液晶表示パネルの研磨量測定装置の一実施形態を示した例示図である。
【図３】(Ａ)(Ｂ)、図２における第１カメラ及び第２カメラの撮影画像を示した例示図である。
【図４】各薄膜トランジスタアレイ基板が形成された第１母基板と、各カラーフィルタ基板が形成された第２母基板とが合着されて、複数の液晶表示パネルをなす断面構造を示した例示図である。
【図５】図４の各液晶表示パネルが個別的に切断された単位液晶表示パネルの概略的な平面構造を示した例示図である。
【図６】液晶表示パネルの研磨装置を示した例示図である。
【図７】液晶表示パネルの研磨量測定装置を示した例示図である。
【符号の説明】
【００５０】
１００：単位液晶表示パネル
１１０：研磨部
１１１：研磨台
１２０、１３０：第１、第２カメラ
【図１】
2004195647.tif 000003
【図２】
2004195647.tif 000004
【図３】
2004195647.tif 000005
【図４】
2004195647.tif 000006
【図５】
2004195647.tif 000007
【図６】
2004195647.tif 000008
【図７】
2004195647.tif 000009