(57)【要約】【課題】試し書きが特定の箇所に集中して行われることを避けると共に、試し書き動作の所要時間を長くしたり、記録媒体における情報記録領域を狭くしたりするといった不具合のある、試し書き管理情報を用いることなく、試し書きが行われる位置と、実際に情報が記録される位置とに対応付けを行って、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能な記録装置を提供する。【解決手段】試し書き後に情報の記録を行う位置を元にして算出した試し書き領域内の位置で試し書きを行い（Ｓ１、Ｓ５、Ｓ６）、また、記録を行う位置が決定していない場合は、光ディスクの空き領域を調べ、空き領域の先頭の位置を元にして算出した試し書き領域内の位置で試し書きを行う（Ｓ２〜Ｓ４、Ｓ５、Ｓ６）。【選択図】　図１
2004086992.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報を記録する情報記録領域とは別に設けられた記録媒体の試し書き領域に試し書きを行って、情報記録時のレーザパワーを最適に設定するレーザパワー最適設定手段を備えた記録装置において、
上記情報記録領域内の情報の記録位置を検出する情報記録位置検出手段と、
上記情報記録位置検出手段にて検出された情報の記録位置を基に、該位置に応じた試し書き領域内の位置を求める試し書き位置算出手段とを備え、
上記レーザパワー最適設定手段が、上記試し書き位置算出手段にて求められた位置で試し書きを行うことを特徴とする記録装置。
【請求項２】
上記試し書き位置算出手段は、情報の記録を開始する位置の上記情報記録領域全体に対する相対的な位置を求め、求めた相対的な位置を基に、試し書き位置を、試し書き領域全体に対する相対的な位置として求めるようになっていることを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
上記試し書き位置算出手段は、試し書き領域を１回の試し書きで必要となる領域以上を単位として複数の領域に分割すると共に、該試し書き領域の分割数と等しい数に上記情報記録領域を分割し、試し書き領域及び情報記録領域の各分割領域を１対１に関連付けておき、情報の記録を開始する位置が情報記録領域のどの分割領域に含まれているかを判別し、該判別結果を基に、試し書き領域の分割領域を求めるようになっていることを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項４】
試し書きを行う時点で、情報を記録する位置が決定していない場合に、上記情報記録領域の空き領域の先頭部分を、実際の情報の記録位置として認定する情報記録位置認定手段がさらに備えられており、
上記試し書き位置決定手段は、試し書きを行う時点で、情報の記録位置が決定していない場合は、上記情報記録位置認定手段にて認定された位置に基づいて、上記試し書き領域内の位置を算出するようになっていることを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の記録装置。
【請求項５】
上記情報記録領域に対する情報の記録が終了した後に、記録を行った情報記録領域内の領域に応じて、上記試し書き領域の追加記録を行う試し書き領域記録調整手段がさらに備えられたことを特徴とする請求項１〜４の何れかに記載の記録装置。
【請求項６】
上記レーザパワー最適設定手段は、試し書きを行って記録波形も最適に設定するようになっていることを特徴とする請求項１〜５の何れかに記載の記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は相変化光ディスクや光磁気ディスク等の光ディスクへ情報を記録する記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ディスク状の記録媒体にレーザ光を照射して、相変化記録方式や光磁気記録方式を用いて、情報の記録／再生を行う光ディスク装置が各種実現されている。
【０００３】
ところで、このようにレーザ光によりデータの記録を行う場合は、光ディスクに適切な記録を行い、情報の読み出しを可能とするには、レーザ光のパワー（記録パワーや消去パワー）、及び、記録を行う場合の記録波形を適切に設定しておくことが必要である。
【０００４】
このため、光ディスク装置では、電源が投入された場合や、装置に光ディスクが装填された場合、或いは記録を行う直前等のタイミングで、ＯＰＣ（オプティマムパワーコントロール）と称される最適レーザパワーの判別動作を行うようになっている。ＯＰＣ動作では、通常、光ディスク上に用意された試し書き領域（テストゾーン）にて試し書きを行い、記録を行う場合の最適なレーザパワーを設定する。
【０００５】
例えば、特開平３−９１１２４号公報には、テストゾーンを有する光ディスクに対してＯＰＣ動作を行い記録時のレーザパワーを設定する手法として、試し書き領域において異なったレーザパワーにて所定のデータを記録し、各レーザパワーにおけるエラー数を計測することで、最適なレーザパワーを選択する構成が記載されている。
【０００６】
図６は、このような試し書き領域を持つ光ディスクの一構成例を示している。同図（ａ）は、試し書き領域であるテストゾーンが内周部分と外周部分に存在し、その間に実際のデータを記録する情報記録領域であるデータゾーンを有するような光ディスクの構成を示している。また、同図（ｂ）は、データゾーンが中心から半径方向の距離に応じて複数のゾーンに分割されており、各ゾーンにテストゾーンを有しているような光ディスクの一構成例を示している。
【０００７】
ところで、一般に、相変化光ディスク媒体や光磁気記録媒体は、書き換え回数が増えるにしたがって、媒体は劣化していき最終的には記録を行えなくなる。このため、試し書きを行う箇所が試し書き領域内のある特定の箇所に集中的に行われると、その部分において集中的に劣化が進行し、ＯＰＣ動作により得られたレーザパワーの値が信用できないものとなる可能性がある。
【０００８】
このようなＯＰＣ動作において試し書き箇所の集中による媒体の劣化を防ぐことを目的として、特開２０００−２５１２５４号公報には、試し書きを行う箇所が集中しないような試し書きの方法が提案されている。すなわち、ＯＰＣ動作を行う際に、試し書きを行う箇所を試し書き領域内でランダムに変化させるというものである。これには、図７に示すようなテストゾーンを有する光ディスクに対してＯＰＣ動作が行われる。
【０００９】
また、該公報には、テスト領域を１回のＯＰＣ動作で試し書きが行われるセクタ数以上の長さとなるように設定された複数のエリアに分割しておき、試し書きを行う際は、そのエリアをランダムに選択する方法も提案されている。さらに、光ディスクの別の領域に各エリアにおいて試し書きが行われた回数をテストゾーン管理情報として記録しておき、試し書きを行う際は、テストゾーン管理情報を参照して試し書き回数が最適となるエリアを選択する方法も提案されている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来の技術においては以下に示すような課題がある。
【００１１】
試し書きの開始位置をランダムに変化させる従来技術の場合は、試し書きを行う位置と、実際に記録を行う位置との相関がない。そのため、例えば、実際に試し書きを行う箇所として初めて試し書きが行われる箇所が選択されたのに対し、実際に情報が記録されるデータゾーンの方は、既に記録が何度も行われた箇所であって、該箇所に上書きを行うような場合が起こりうる。この場合、初めて試し書きが行われる箇所にて得られた最適なレーザパワーは、必ずしも複数回記録された箇所における最適なレーザパワーではないため、記録のレーザパワーが最適に設定されたとは言えず、適切な記録が行えないことが生じ得る。つまり、最適なレーザパワーでの記録を、常に行うといったことができない。
【００１２】
また、テストゾーン管理情報を有している場合は、試し書き動作を行う前に該テストゾーン管理情報を参照することが必要である上、試し書きを行った後、テストゾーン管理情報の内容を更新する必要がある。そのため、試し書きの動作時間が実際の動作よりも余分にかかることになる。さらに、記録媒体の別のエリアにこのようなテストゾーン管理情報を格納しておく必要があるため、ユーザーが情報の記録に使用できる記録媒体の容量が小さくなるという問題もある。
【００１３】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、試し書きが特定の箇所に集中して行われることによる媒体劣化を避けることはもちろんのこと、試し書き動作の所要時間を長くしたり、記録媒体における情報記録領域を狭くしたりするといった不具合のある、試し書き管理情報を用いることなく、試し書きが行われる位置と、実際に情報が記録される位置とに対応付けを行って、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能な記録装置を提供することができる。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明の記録装置は、上記課題を解決するために、情報を記録する情報記録領域とは別に設けられた記録媒体の試し書き領域に試し書きを行って、情報記録のレーザパワーを最適に設定するレーザパワー最適設定手段を備えた記録装置において、上記情報記録領域内の情報の記録位置を検出する情報記録位置検出手段と、上記情報記録位置検出手段にて検出された情報の記録位置を基に、該位置に応じた試し書き領域内の位置を求める試し書き位置算出手段とを備え、上記レーザパワー最適設定手段が、上記試し書き位置算出手段にて求められた位置で試し書きを行うことを特徴としている。
【００１５】
これによれば、情報記録位置検出手段が、情報記録領域内の情報の位置を検出し、試し書き位置算出手段が、この検出された報記の記録位置を基に、該位置に応じた試し書き領域内の位置（試し書き位置）を求め、レーザパワー最適設定手段が、この求められた試し書き位置で、異なったレーザパワーを用いて試し書きを行って、レーザパワーを最適に設定する。
【００１６】
したがって、レーザパワー最適設定手段が試し書きを行う試し書き位置は、実際に情報が記録される情報記録領域内の位置に対応するものとなり、試し書き位置と情報の記録位置とに相関をとることができる。これにより、ある情報記録領域内の位置とそれに対応する試し書き領域の位置の記録回数を、ほぼ同じとすることができ、例えば、情報記録領域内の情報の記録位置が、一度も記録が行われていない初めて使用される部分である場合は、試し書き領域内の試し書き位置も初めて使用される部分となる。また、情報記録領域内の情報の記録位置が、既に記録が行われている部分であって、この部分に情報が上書きされる場合は、試し書き領域内の試し書き位置も既に試し書きが行われた部分となり、試し書きは上書きとなる。
【００１７】
このように、レーザパワー最適設定手段は、情報の記録位置の状態と同様の状態で試し書きを行って記録のためのレーザパワーを最適に設定できるので、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能となる。
【００１８】
また、このように、試し書き位置を、情報の記録位置に対応付けることで、情報記録領域内の特定箇所に情報が集中して記録されない（繰り返し上書きされない）限り、試し書き領域内の特定箇所に集中して試し書きが行われるようなことがない。したがって、試し書き箇所の集中による試し書き領域の媒体劣化（媒体疲労）の問題もない。
【００１９】
さらに、試し書き領域管理情報を用いないので、試し書き動作を行う前の該情報の参照や記録後の更新にて、試し書きの動作時間が実際の動作よりも余分にかかることもなく、かつ、このような試し書き領域管理情報を格納するための領域を記録媒体に確保しなくて良いので、記録媒体の情報記録領域を広くして、容量を大きくできる。
【００２０】
それゆえ、上記構成により、試し書きが特定の箇所に集中して行われることによる媒体劣化を避けることはもちろんのこと、試し書き動作の所要時間を長くしたり、記録媒体における情報記録領域を狭くしたりするといった不具合のある、試し書き管理情報を用いることなく、試し書き位置と、実際に情報の記録位置とに対応付けを行って、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能な記録装置を提供することができる。
【００２１】
また、上記した本発明の記録装置では、さらに、上記試し書き位置算出手段は、情報の記録を開始する位置の上記情報記録領域全体に対する相対的な位置を求め、求めた相対的な位置を基に、試し書き位置を、試し書き領域全体に対する相対的な位置として求める構成としてもよい。
【００２２】
これによれば、試し書き位置算出手段は、情報の記録を開始する位置の情報記録領域全体に対する相対的な位置、つまり、情報の記録を開始する位置が、情報記録領域全体に対してどのような位置にあるかを求め、これをそのまま試し書き領域に適用して、試し書き領域全体に対する該相対的な位置として試し書き位置を求める。
【００２３】
情報記録領域内のある位置に応じた試し書き領域内の位置を求めるにあたり、それぞれ各領域全体に対する位置である相対的な位置として求めることで、情報記録領域と試し書き領域とを、１対１に対応つけることが可能となる。
【００２４】
これにより、上記した本発明の記録装置の構成要件である試し書き位置算出手段を容易に実現することができる。
【００２５】
また、上記した本発明の記録装置では、さらに、上記試し書き位置算出手段は、試し書き領域を１回の試し書きで必要となる領域以上を単位として複数の領域に分割すると共に、該試し書き領域の分割数と等しい数に上記情報記録領域を分割し、試し書き領域及び情報記録領域の各分割領域を１対１に関連付けておき、情報の記録を開始する位置が情報記録領域のどの分割領域に含まれているかを判別し、該判別結果を基に、試し書き領域の分割領域を求めるようになっている構成としてもよい。
【００２６】
これによれば、試し書き位置算出手段は、試し書き領域を１回の試し書きで必要となる領域以上を単位として複数の領域に分割し、この分割数と等しい数に情報記録領域を分割することで、試し書き領域及び情報記録領域の各分割領域を１対１に関連付けておく。そして、情報の記録を開始する位置が含まれる情報記録領域の分割領域を判別し、該判別された分割領域に対応付けられている試し書き領域の分割領域を、試し書き位置とする。
【００２７】
この構成は、上記した相対的な位置を用いる構成に比べて、予め１回の試し書きで必要となる領域以上を単位として、試し書き領域を分割し、これに合わせて情報記録領域も分割しておくので、試し書き位置を決定するまでの処理の簡素化が可能となる。
【００２８】
これにより、上記した本発明の記録装置の構成要件である試し書き位置算出手段をより容易に実現することができる。
【００２９】
また、上記した本発明の記録装置では、試し書きを行う時点で、情報を記録する位置が決定していない場合に、上記情報記録領域の空き領域の先頭部分を、実際の情報の記録位置として認定する情報記録位置認定手段がさらに備えられており、上記試し書き位置決定手段は、試し書きを行う時点で、情報の記録位置が決定していない場合は、上記情報記録位置認定手段にて認定された位置に基づいて、上記試し書き領域内の位置を算出するようになっている構成としてもよい。
【００３０】
これによれば、試し書きを行う時点で、情報を記録する位置が決定していない場合、上記情報記録位置認定手段が、上記情報記録領域の空き領域の先頭部分を検出し、実際の情報の記録位置として認定し、試し書き位置決定手段は、この認定された位置に基づいて、試し書き位置を算出する。
【００３１】
これは、例えば、ＡＶ用途等のストリーム記録を行う光ディスク（記録媒体）では、光ディスクの記録開始位置（最内周もしくは最外周）より順にデータを記録することが一般的であるため、空き領域の先頭が、すなわち次に記録を行う場所である確率が高いためである。
【００３２】
これにより、記録装置の立上げ時等は記録を行う場所が決定していないことが考えられるが、その場合でも試し書き位置を的確に選択して、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能となる。
【００３３】
また、上記した本発明の記録装置では、上記情報記録領域に対する情報の記録が終了した後に、記録を行った情報記録領域内の領域に応じて、上記試し書き領域の追加記録を行う試し書き領域記録調整手段がさらに備えられた構成としてもよい。
【００３４】
１回の連続した記録動作で使用される情報記録領域の領域量と、試し書き領域の領域量とは、情報記録領域の使用領域量が記録した情報量に依存する結果、当然に異なってくる。
【００３５】
そこで、これによれば、試し書き領域調整手段が、情報記録領域に対する情報の記録が終了した後に、記録を行った情報記録領域内の領域に応じて、試し書き領域の追加記録を行うようになっている。したがって、試し書き領域の使用領域の比率と、情報記録領域の使用領域の比率が等しくなり、ある情報記録領域内の位置とそれに対応する試し書き領域の位置の記録回数を完全に同じとすることができる。その結果、より一層、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能となる。
【００３６】
また、上記した本発明の記録装置では、さらに、上記レーザパワー最適設定手段が、試し書きを行って記録波形も最適に設定するようになっていることを特徴としてもよい。
【００３７】
これによれば、レーザパワー最適設定手段が、レーザパワーの最適設定に加えて、試し書きを行うことで記録波形も最適なものに設定するようになっているので、記録波形も、レーザパワーと同じに、常に最適な状態に設定することが可能となる。
【００３８】
また、本発明は、以下のように表現することもできる。すなわち、本発明の光ディスク記録方法は、異なったレーザパワーやあるいは異なった記録波形を用いて試し書きを行い、情報の記録を行う際のレーザパワーを決定するための領域である試し書き領域と、実際の情報の記録を行う情報記録領域とを備えた光ディスクに情報の記録を行う光ディスク記録方法であって、実際の情報の記録が情報記録領域内のどの位置で行われるかを検出し、その位置を基にして算出した該試し書き領域内の位置で試し書きを行うことを特徴とする。
【００３９】
また、上記構成では、さらに、試し書きを行う時点で、情報の記録を行う位置が決定していない場合、該情報記録領域の空き領域の先頭部分に応じた位置を基に算出した該試し書き領域内の位置で試し書きを行うことを特徴とすることができる。
【００４０】
また、本発明の別の光ディスク記録方法は、異なったレーザパワーやあるいは異なった記録波形を用いて試し書きを行い、情報の記録を行う際のレーザパワーを決定するための領域である試し書き領域と、実際の情報の記録を行う情報記録領域とを備えた光ディスクに情報の記録を行う光ディスク記録方法であって、該試し書き領域を１回の試し書きで必要となる領域以上を単位とした複数の領域に分割し、該試し書き領域を分割した数と等しい数だけ該情報記録領域を分割し、分割した試し書き領域と分割した該情報記録領域をそれぞれ１対１に関連付けし、実際の情報の記録を開始するディスク上の位置がどの分割した情報記録領域に含まれているかを判別し、該判別結果に基づいて関連する試し書き領域を用いて試し書きを行うことを特徴とする。
【００４１】
該構成でも、さらに、試し書きを行う時点で、情報の記録を行う位置が決定していない場合、該情報記録領域の空き領域の先頭部分が、どの該情報記録領域の分割した領域に属しているかを判別し、該判別結果に基づいて関連する試し書き領域を用いて試し書きを行うことを特徴とすることができる。
【００４２】
そして、上記した各光ディスク記録方法では、加えて、情報記録領域に情報の記録が終了した時点で、記録を行った領域に応じて、試し書き領域に対して記録を行うことを特徴とすることもできる。
【００４３】
【発明の実施の形態】
〔実施の形態１〕
本発明の実施の一形態について、図１、図２、図７を参照して、以下に説明する。
【００４４】
図２は、本実施の形態の、光ディスク装置の構成を示すブロック図である。記録回路１０は、記録情報を出射するもので、記録情報はレーザドライバ９へと送られる。レーザドライバ９は、記録情報が入力されると、これに応じた駆動電流を光ピックアップ３内の半導体レーザ（不図示）へと送る。これにより、半導体レーザからは、記録情報によって強度変調されたレーザビーム２が出射され、記録媒体である光ディスク１に情報の記録が行われる。このとき、レーザビーム２のパワーは、レーザドライバ９が後述する制御回路８にて制御されることで、最適な記録のためのパワー（記録パワー）に設定されている。
【００４５】
一方、情報の再生時は、レーザドライバ９は、記録パワーよりも弱い一定の駆動電流を上記半導体レーザへと送る。これにより、半導体レーザからは、記録パワーよりも弱い再生のためのパワー（再生パワー）のレーザビーム２が光ディスク１に照射され、その反射光が、光学ピックアップ３内の検出器（不図示）で電気信号に変換される。この電気信号は、アンプ４に送られて増幅された後、トラッキング回路６と再生回路５とに出力される。トラッキング回路６では、増幅された信号を基にトラッキングエラー信号を生成し、これに基づいてレーザビーム２を所望のトラックに追従させる。一方、再生回路５では、増幅された信号を基に記録された情報の再生を行う。
【００４６】
制御回路８は、ＣＰＵ等からなり、本光ディスク装置の制御中枢である。例えば、レーザドライバ９へ制御信号を出力して、半導体レーザから出力されるレーザビーム２のパワーを、記録動作では記録動作に応じた記録パワーに、再生動作では再生動作に応じた再生パワーに、或いは消去動作では、消去動作に応じた消去パワーとなるように制御する。
【００４７】
そして、既に説明したように、このようにレーザ光によりデータの記録を行う場合は、光ディスク１に適切な記録を行い、情報の読み出しを可能とするには、レーザ光のパワー（記録パワーや消去パワー）、及び、記録を行う場合の記録波形を適切に設定しておくことが必要である。そのため、従来より、ＯＰＣ動作を行って、記録時の最適なレーザパワーを設定している。
【００４８】
本光ディスク装置でも、電源が投入された場合や、装置に光ディスク１が装填された場合、或いは記録を行う直前等のタイミングで、上記制御回路８が、レーザドライバ９を始め、必要な各部の駆動を制御して、ＯＰＣ動作を行って、最適レーザパワーの判別動作を行う。ＯＰＣ動作では、光ディスク１上に用意された試し書き領域であるテストゾーンにて試し書きを行い、記録を行う場合の最適なレーザパワーを設定する。
【００４９】
つまり、上記制御回路８が、本発明の構成要件である、情報記録位置検出手段、試し書き位置算出手段、レーザパワー最適設定手段、及び情報記録位置認定手段としての機能を有している。
【００５０】
以下、図１のフローチャートを基に、光ディスク装置で実施される記録時のレーザパワーを最適に設定する処理について説明する。なお、動作の主語は、制御回路８である。
【００５１】
上述したように、本光ディスク装置では、電源が投入された場合や、光ディスク１が新規に装填された場合、あるいは、記録を行う直前等の場合にＯＰＣ動作を開始する。
【００５２】
本発明では、実際に記録を行うデータゾーン（情報記録領域）の場所に応じて試し書きを行うテストゾーン（試し書き領域）の場所を選択するというものである。このため、本光ディスク装置では、記録を行うにあたり、まず、ステップ１では、情報の記録を行う位置が決定しているかどうかを判断する（情報記録位置検出手段としての機能：以下、ステップはＳと略記する）。
【００５３】
Ｓ１にて、情報を記録する場所が決定している場合は、その場所に応じた試し書き領域の算出を行うためＳ５へ進む。
【００５４】
一方、Ｓ１にて、記録を行う場所が決定していない場合は、光ディスク１（フローチャートでは、単にディスクと記載）の管理情報を参照して光ディスク１の空き領域、詳細にはデータゾーンの空き領域を調べる（Ｓ２）。そして、管理情報から光ディスク１の使用領域に関する情報を参照し、装填されている光ディスク１の空き領域の有無を調べる（Ｓ３）。なお、一般に、光ディスク１の管理情報はＯＰＣ動作を行う以前に読み取っているため、通常、上記Ｓ２は省略が可能である。
【００５５】
Ｓ３にて、空き領域が存在しないことが判明した場合は、次に記録を行う場所が決定した時点で再びＯＰＣ動作を行うこととしてＯＰＣ動作を終了する。
【００５６】
一方、Ｓ３にて、空き領域が存在する場合は、次に記録を開始する場所としては、この空き領域の先頭部分から行われる可能性が高いと考えられるため、次に記録を行う場所をこの空き領域の先頭部分と設定して、試し書きを行う場所を算出するため、Ｓ５へ進む（以上Ｓ２〜Ｓ４は、情報記録位置認定手段としての機能）。
【００５７】
Ｓ５においては、次に記録を行う場所が決定している場合は、その記録を行う場所を基に試し書きを行うテストゾーン内の領域を算出する。一方、記録を行う場所が決定していないが、ディスクに空き領域が存在する場合は、そのディスク空き領域の先頭に応じた場所を次に記録を行う場所として、その場所を基に、試し書きを行うテストゾーン内の領域を算出する（試し書き位置算出手段としての機能）。
【００５８】
そして、Ｓ６に進んで、Ｓ５にて算出した試し書きを行う領域にて、異なったレーザパワーと、異なった記録波形とで試し書きを行い（Ｓ６）、Ｓ７にて、試し書きを行った結果より、記録を行うレーザパワー及び記録波形を決定する（以上Ｓ６〜Ｓ７は、レーザパワー最適設定手段としての機能）。
【００５９】
以上のような手順で、試し書きを行うテストゾーン内の領域を決定し、ＯＰＣ動作を行う。
【００６０】
続いて、Ｓ５にて行っている、試し書きを行う領域の決定の仕方について詳細に説明する。
【００６１】
ここで、ＯＰＣ動作を行う光ディスク１の一例として図７に示したフォーマットを持つ光ディスク１を用いて説明を行うが、本発明は図７に示したようなフォーマットに限定されないことは言うまでもない。
【００６２】
図７で示される光ディスク１は、ディスク内周部分に１６６４セクタ、外周部分に３０７２セクタのテストゾーンをそれぞれ有する。また、１４７４５６０セクタのデータゾーンを有する。
【００６３】
本発明のポイントとしては、試し書きを行う場所と実際にデータゾーンに記録を行う場所とが、互いに相関のあるように試し書きを行う場所を選択するということにある。このような関係とするため、ここでは、試し書きを行う場所の選定方法としては、データゾーンにて実際に記録を行う場所が、データゾーン全体においてどの辺りに位置するか（相対的な位置）を、その比率を計算することで判別し、試し書きを行う場所としてテストゾーンにおける先の比率に相当する位置（相対的な位置）を選択するようになっている。
【００６４】
これにより、記録を行う場所と試し書きを行う場所とで互いに１対１の相関をとることができる。また、通常実際に記録を行う場所が１箇所に集中することは考え難いので、結果としてテストゾーンの特定の箇所へ集中的に試し書きを行うことがない。したがって、テストゾーンの媒体の疲労を招くこともない。
【００６５】
また、実際に記録を行う場所が決定していない場合は、光ディスク１の空き領域を調べてその先頭を次に記録を開始する場所と推定し、その推定した場所を元にして上述の方法で試し書きを行う場所を決定する。これは、ＡＶ用途等のストリーム記録を行う光ディスク１では、光ディスク１の記録開始位置（最内周もしくは最外周）より順にデータを記録することが一般的であるため、空き領域の先頭が、すなわち次に記録を行う場所である確率が高いことより行われる。このため、装置立上げ時等は記録を行う場所が決定していないことが考えられるが、その場合でも試し書きを行う位置を的確に選択することができる。
【００６６】
ここで、仮に、Ｓ１にて記録を行う場所が決定しており、その先頭領域がデータゾーンの第６５５３６セクタ（０４６Ａ００ｈ）からであったとする。Ｓ５では、この記録開始する第６５５３６セクタ（０４６Ａ００ｈ）が、データゾーン全体において、どのような位置に相当するのかを求めるべく、データゾーン全体のセクタ数と開始セクタとの比率を計算する。この場合、
６５５３６／１４７４５６０　＝　４．４　％
である。
【００６７】
続いて、テストゾーン全体に対する、先の比率に相当するセクタ数を計算する。この計算結果であるセクタ数が試し書きを行う場所になる。
【００６８】
（１６６４＋３０７２）　×　６５５３６／１４７４５６０　≒　２１０
つまり、試し書きを行う領域としては内周側テストゾーンの２１０セクタ目が、実際に記録を行うセクタと同様の比率に位置するセクタであると算出された。そして、この算出された場所を用いて試し書きを実行し、最適なレーザパワー、記録波形を決定する。
【００６９】
また、別の例として、Ｓ３にて、ディスクの空き領域があることが判明し、その先頭領域がデータゾーンの第１０００００セクタ（０４Ｆ０Ａ０ｈ）からであったとする。つまり、光ディスク１は、９９９９９セクタまでディスクが使用済みであり、以降は未使用の状態であったとする。
【００７０】
この場合、先の例と同様Ｓ５では以下のような計算が行われる。すなわち、記録を開始するセクタである第１０００００セクタ（０４Ｆ０Ａ０ｈ）の、データゾーン全体からの比率を計算する。この例の場合、
１０００００／１４７４５６０　＝　６．７８　％
である。前述のように試し書きを行う場所はテストゾーン内の、データゾーンにて記録を行う場所に相当する比率と等しくなる位置を選択する。
【００７１】
この例では、
（１６６４＋３０７２）　×　１０００００／１４７４５６０　≒　３２１
と計算される。
【００７２】
つまり、Ｓ５にて、試し書きを行う領域としては内周側テストゾーンの第３２１セクタが試し書きを開始するセクタと算出される。そして、この算出された場所で試し書きが実行され、最適なレーザパワーを決定する。
【００７３】
このように、本光ディスク装置では、以上のような手順で試し書きを行う領域を算出し、試し書きを行い、レーザパワーの設定を行う。このことにより、ＯＰＣ動作におけるデータゾーンとテストゾーンとを１対１に対応付けることができ、データゾーンに記録する領域と、試し書きを行うテストゾーンの領域に相関をとることができる。
【００７４】
したがって、あるデータゾーンとそれに対応するテストゾーンの記録回数を、ほぼ同じとすることができ、例えば、記録を行うデータゾーンに初めて記録を行う場合は、テストゾーンの試し書きを行う領域も初めて使用されることになり、また、データゾーンに上書きされる場合は、テストゾーンの試し書きを行う領域も上書きされることになる。
【００７５】
このように、実際に記録を行うデータゾーンの状態と同様の状態で試し書きを行い、記録時のレーザパワーの設定を行えるので、常に最適な状態のレーザパワー設定値を得ることができる。また、ここでは記録波形も同時に最適に設定するので、常に最適な状態のレーザパワー設定値を得ることも併せてできる。
【００７６】
また、このように、試し書き位置を、情報の記録位置に対応付けることで、データゾーンの特定箇所に情報が集中して記録されない（繰り返し上書きされない）限り、テストゾーンの特定箇所に集中して試し書きが行われるようなことがない。したがって、試し書き箇所の集中による試し書き領域の媒体劣化（媒体疲労）の問題もない。
【００７７】
さらに、テストゾーン管理情報（試し書き領域管理情報）を用いないので、試し書き動作を行う前の該情報の参照や記録後の更新にて、試し書きの動作時間が実際の動作よりも余分にかかることもなく、かつ、このようなテストゾーン管理情報を格納するために、ユーザーが情報の記録に使用できるディスクの容量が小さくなるという問題もない。
【００７８】
なお、本実施の形態において、記録を行う場所がわかっていない場合、ディスクの空き領域の有無を判別し、空き領域の先頭が次の記録を行う場所と推定して、試し書きを行うようにしているが、空き領域の有無に関わらず、次に記録する場所が決定していない状態ではＯＰＣ動作を行わず、記録する場所が決定した時点で試し書きを行うような構成としてもよい。
【００７９】
また、本実施の形態においては、図７に示した内周部分と外周部分とにテストゾーンを持つ光ディスク１を例としたが、図６（ｂ）に示すように、データゾーンを複数のブロックに分割し、各ブロックにテストゾーンを有するようなフォーマットの光ディスク１にも同様の計算を用いることにより同様の効果を得ることができる。
【００８０】
〔実施の形態２〕
本発明のその他の実施の形態について、図３、図４を用いて以下に説明する。なお、説明の便宜上、実施の形態１で用いたと同じ機能を有する部材には同じ符号を付して説明を省略する。
【００８１】
本実施の形態の光ディスク装置では、ＯＰＣ動作に行うにあたり、データゾーンにおける情報の記録位置に応じたテストゾーンの位置を選択する際の選択の仕方が異なるだけで、それ以外は、実施の形態１の光ディスク装置と、同様の構成を有する。
【００８２】
本実施の形態では、制御回路８は、テストゾーンを少なくとも１回の試し書きを行うセクタ数よりも大きなセクタ数を単位として等分割すると共に、データゾーンにおいてもテストゾーンにて分割した分割数と等しい数に等分割して、これらテストゾーンの各領域とデータゾーンの各領域を１対１に対応させる。そして、データゾーンの記録を行う場所が、データゾーンにおけるどの領域に属しているかを判別し、その領域に対応するテストゾーンの領域において試し書きを行う。
【００８３】
図３は、先の図７で示されるフォーマットを持つ光ディスク１のテストゾーン及びデータゾーンをそれぞれ等分割した一例を示している。ここで、仮に１回の試し書きを行うのに、７２セクタ記録を行う必要があるとする。前述したとおり、１回の試し書きで記録を行うセクタ数と同数もしくはそれよりも大きいセクタ数を１単位とするため、図３ではテストゾーンを、７２セクタを１単位として、内周側及び外周側合わせて計６４個の領域に等分割している。また、データゾーンは、テストゾーンで分割したのと同様の数の領域に分割するため、図３においては、２３０４０セクタを１単位として、６４個の領域に等分割している。
【００８４】
以下、図４のフローチャートを基に、本光ディスク装置で実施される記録時のレーザパワーを最適に設定する処理について説明する。なお、図１のフローチャートと同様の処理を行う部分については同一のステップ番号を付し、詳細な説明は省略する。また、動作の主語は、制御回路８である。
【００８５】
実施の形態１の場合と同様、Ｓ１、もしくはＳ１〜Ｓ４を経て、次に記録する場所が決定しているか、もしくは、光ディスク１の空き領域の先頭部分が判明している場合、Ｓ９に進む。
【００８６】
Ｓ９では、Ｓ１もしくはＳ４にて決定したデータゾーンの記録位置が、図２に示されるように分割されたデータゾーンのどの分割領域に属しているのかを判別する。そして、Ｓ５’に進み、データゾーンの記録位置が属する分割領域に対応付けられているテストゾーンの分割領域を選択する（試し書き位置算出手段としての機能）。
【００８７】
その後、Ｓ５’で選択された領域においてＯＰＣが実行され、最適な記録レーザパワーが選択される（Ｓ６、Ｓ７：レーザパワー最適設定手段としての機能）。
【００８８】
次に、Ｓ９及びＳ５‘にて試し書きを行う領域の選択の方法について詳細に説明する。
【００８９】
仮に、Ｓ１もしくはＳ４にて記録を行うべきセクタが１００００セクタ（０３９１１０ｈ）からであったとする。図３より、このセクタはデータゾーンの第０番目の領域に属している。Ｓ９では、この記録を行うべきセクタがデータゾーンにおけるどの領域に属しているかを判別する。
【００９０】
Ｓ５‘では、データゾーンの第０番目の領域に対応付けられている試し書きを行うべき領域を選択する。この場合、第０番目のテストゾーンの領域（０３０６００ｈ〜０３０６４７ｈ）を、試し書きを行う領域として選択する。
【００９１】
このように、本光ディスク装置では、以上のような手順で試し書きを行う領域を選択し、ＯＰＣ動作を行う。このことにより、実施の形態１の光ディスク装置と同様に、ＯＰＣ動作におけるデータゾーンとテストゾーンとを１対１に対応付けることができる。その結果、実施の形態１と同様の効果を奏する。
【００９２】
なお、本実施の形態においても、空き領域の有無に関わらず、次に記録する場所が決定していない状態ではＯＰＣ動作を行わず、記録する場所が決定した時点で試し書きを行うような構成としてもよい。
【００９３】
また、本実施の形態においても、図６（ｂ）に示すように、データゾーンを複数のブロックに分割し、各ブロックにテストゾーンを有するようなフォーマットの光ディスク１にも同様の計算を用いることにより同様の効果を得ることができる。
【００９４】
〔実施の形態３〕
本発明のさらに他の実施の形態について、図５を用いて以下に説明する。なお、説明の便宜上、実施の形態１、２で用いたと同じ機能を有する部材には同じ符号を付して説明を省略する。
【００９５】
本実施の形態の光ディスク装置は、前述した実施の形態１、２の光ディスク装置と同じ構成を有し、これに加えて、制御回路８が、試し書き領域調整手段としての機能を備えている構成である。試し書き領域調整手段は、データゾーンの記録が終了した時点で、データゾーンに記録を行ったセクタ数に応じてテストゾーンの領域の追加記録を行い、データゾーンの使用領域の割合とテストゾーンの使用領域の割合がそれぞれ等しくなるようにするものである。
【００９６】
図５は、本実施の形態の光ディスク装置で実施される、試し書き領域調整処理を説明するフローチャートである。試し書き領域調整処理は、実施の形態１、或いは実施の形態２で述べたように、レーザパワーが最適設定された状態で情報の記録が行われた後に実施される。
【００９７】
図４におけるＳ１０で、データゾーンの記録が終了したか否かを判断している。そして、データゾーンの記録が終了したと判断すると、その時点で、記録を行ったデータゾーンのセクタの数を取得する（Ｓ１１）。Ｓ１１で取得した記録を行ったセクタ数を元に、テストゾーンに対して記録を行うセクタ数を算出する（Ｓ１２）。Ｓ１２で算出したセクタ数だけ、先の試し書きが終了した場所より記録を行い（Ｓ１３）、動作を終了する。
【００９８】
ここで、上記試し書き領域調整処理の動作について具体的に説明を行う。
【００９９】
仮に、データゾーンの第６５５３６セクタ（０４６Ａ００ｈ）から記録を開始し、第１０００００セクタ（０４Ｆ０Ａ０ｈ）まで記録を行い、動作を終了したとする。
【０１００】
この場合、Ｓ１１では記録を行ったセクタ数の取得を行う。具体的には、以下の計算が行われる。
【０１０１】
【数１】
2004086992.tif 000003
【０１０２】
上記のような計算により、データゾーンに記録したセクタ数の計算ができる。
【０１０３】
続いて、Ｓ１２では、テストゾーンに追加記録を行うべきセクタ数を計算する。ここで、テストゾーンに追加記録を行う目的としては、データゾーンの使用領域の比率と、テストゾーンの使用領域の比率を常に等しいものとなるようにすることである。
【０１０４】
このため、データゾーンに記録したセクタ数がデータゾーン全体のセクタ数に占める比率を求め、その比率に相当するテストゾーンのセクタ数を計算する。先に試し書きを行ったセクタは既に記録が行われているため追加記録を行う必要がないので、この試し書きを行ったセクタ数分は差し引くことで、追加記録を行うべきセクタ数を算出することができる。
【０１０５】
具体的には以下の計算が行われる。なお、ここで、１回の試し書きを行うセクタ数を７２セクタとして計算を行っている。
【０１０６】
【数２】
2004086992.tif 000004
【０１０７】
上記のような計算により追加記録を行うべきセクタ数が３９セクタであることが算出できる。
【０１０８】
Ｓ１３においては、試し書きを行ったセクタの次のセクタから３９セクタだけ記録が行われる。この時の記録データをしては、特に指定はなくランダムなデータでも特定のデータでも構わない。
【０１０９】
このように、データゾーンに記録したセクタ数を元にしてテストゾーンに追加記録を行うことで、テストゾーンの使用領域の比率と、データゾーンの使用領域の比率を常に等しくすることができ、あるデータゾーンの領域とそれに対応するテストゾーンの領域の記録回数は同じとなる。その結果、このような試し書き領域調整処理を行わない公正よりも、一層、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能となる。
【０１１０】
【発明の効果】
本発明の記録装置は、以上のように、情報を記録する情報記録領域とは別に設けられた記録媒体の試し書き領域に試し書きを行って、情報記録のレーザパワーを最適に設定するレーザパワー最適設定手段を備えた記録装置において、上記情報記録領域内の情報の記録位置を検出する情報記録位置検出手段と、上記情報記録位置検出手段にて検出された情報の記録位置を基に、該位置に応じた試し書き領域内の位置を求める試し書き位置算出手段とを備え、上記レーザパワー最適設定手段が、上記試し書き位置算出手段にて求められた位置で試し書きを行うことを特徴としている。
【０１１１】
これにより、レーザパワー最適設定手段が試し書きを行う試し書き位置は、実際に情報が記録される情報記録領域内の位置に対応するものとなり、試し書き位置と情報の記録位置とに相関をとることができる。したがって、ある情報記録領域内の位置とそれに対応する試し書き領域の位置の記録回数を、ほぼ同じとすることができ、例えば、例えば、情報記録領域内の情報の記録位置が、一度も記録が行われていない初めて使用される部分である場合は、試し書き領域内の試し書き位置も初めて使用される部分となる。また、情報記録領域内の情報の記録位置が、既に記録が行われている部分であって、この部分に情報が上書きされる場合は、試し書き領域内の試し書き位置も既に試し書きが行われた部分となり、試し書きは上書きとなる。
【０１１２】
このように、レーザパワー最適設定手段は、情報の記録位置の状態と同様の状態で試し書きを行って記録のためのレーザパワーの最適設定が行えるので、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能となる。
【０１１３】
また、このように、試し書き位置を、情報の記録位置に対応付けることで、情報記録領域内の特定箇所に情報が集中して記録されない（繰り返し上書きされない）限り、試し書き領域内の特定箇所に集中して試し書きが行われるようなことがない。したがって、試し書き箇所の集中による試し書き領域の媒体劣化（媒体疲労）の問題もない。
【０１１４】
さらに、試し書き領域管理情報を用いないので、試し書き動作を行う前の該情報の参照や記録後の更新にて、試し書きの動作時間が実際の動作よりも余分にかかることもなく、かつ、このような試し書き領域管理情報を格納するための領域を記録媒体に確保しなくて良いので、記録媒体の情報記録領域を広くして、容量を大きくできる。
【０１１５】
それゆえ、上記構成により、試し書きが特定の箇所に集中して行われることによる媒体劣化を避けることはもちろんのこと、試し書き動作の所要時間を長くしたり、記録媒体における情報記録領域を狭くしたりするといった不具合のある、試し書き管理情報を用いることなく、試し書き位置と、実際に情報の記録位置とに対応付けを行って、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能な記録装置を提供することができるという効果を奏する。
【０１１６】
また、上記した本発明の記録装置では、さらに、上記試し書き位置算出手段は、情報の記録を開始する位置の上記情報記録領域全体に対する相対的な位置を求め、求めた相対的な位置を基に、試し書き位置を、試し書き領域全体に対する相対的な位置として求める構成としてもよい。
【０１１７】
これにより、情報記録領域内のある位置に応じた試し書き領域内の位置を求めるにあたり、それぞれ各領域全体に対する位置である相対的な位置として求めることで、情報記録領域と試し書き領域とを、１対１に対応つけることが可能となる。
【０１１８】
その結果、上記した本発明の記録装置の構成要件である試し書き位置算出手段を容易に実現することができるという効果を併せて奏する。
【０１１９】
また、上記した本発明の記録装置では、さらに、上記試し書き位置算出手段は、試し書き領域を１回の試し書きで必要となる領域以上を単位として複数の領域に分割すると共に、該試し書き領域の分割数と等しい数に上記情報記録領域を分割し、試し書き領域及び情報記録領域の各分割領域を１対１に関連付けておき、情報の記録を開始する位置が情報記録領域のどの分割領域に含まれているかを判別し、該判別結果を基に、試し書き領域の分割領域を求めるようになっている構成としてもよい。
【０１２０】
これにより、上記した相対的な位置を用いる構成に比べて、予め１回の試し書きで必要となる領域以上を単位として、試し書き領域を分割し、これに合わせて情報記録領域も分割しておくので、試し書き位置を決定するまでの処理の簡素化が可能となる。
【０１２１】
その結果、上記した本発明の記録装置の構成要件である試し書き位置算出手段をより容易に実現することができるという効果を併せて奏する。
【０１２２】
また、上記した本発明の記録装置では、試し書きを行う時点で、情報を記録する位置が決定していない場合に、上記情報記録領域の空き領域の先頭部分を、実際の情報の記録位置として認定する情報記録位置認定手段がさらに備えられており、上記試し書き位置決定手段は、試し書きを行う時点で、情報の記録位置が決定していない場合は、上記情報記録位置認定手段にて認定された位置に基づいて、上記試し書き領域内の位置を算出するようになっている構成としてもよい。
【０１２３】
これにより、記録装置の立上げ時等は記録を行う場所が決定していないことが考えられるが、その場合でも試し書き位置を的確に選択して、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能となるという効果を併せて奏する。
【０１２４】
また、上記した本発明の記録装置では、上記情報記録領域に対する情報の記録が終了した後に、記録を行った情報記録領域内の領域に応じて、上記試し書き領域の追加記録を行う試し書き領域記録調整手段がさらに備えられた構成としてもよい。
【０１２５】
これにより、試し書き領域の使用領域の比率と、情報記録領域の使用領域の比率が等しくなり、ある情報記録領域内の位置とそれに対応する試し書き領域の位置の記録回数を完全に同じとすることができ、より一層、常に最適な状態にレーザパワーを設定することが可能となるという効果を併せて奏する。
【０１２６】
また、上記した本発明の記録装置では、さらに、上記レーザパワー最適設定手段が、試し書きを行って記録波形も最適に設定するようになっていることを特徴としてもよい。
【０１２７】
これにより、レーザパワーの最適設定に加えて、試し書きを行うことで記録波形も最適なものに設定するようになっているので、記録波形も、レーザパワーと同じに、常に最適な状態に設定することが可能となるという効果を併せて奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の一形態を示すもので、光ディスク装置にて実施される、記録時のレーザパワーを最適に設定するための処理手順を示すフローチャートである。
【図２】上記光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明のその他の実施の形態を示すもので、光ディスクにおけるデータゾーン及びテストゾーンを等分割した一例を示す説明図である。
【図４】本発明の実施のその他の形態を示すもので、光ディスク装置にて実施される、記録時のレーザパワーを最適に設定するための処理手順を示すフローチャートである。
【図５】本発明のさらに他の実施の形態を示すもので、光ディスク装置にて実施される、試し書き領域調整処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図６】（ａ）（ｂ）共に、光ディスクにおける、テストゾーン及びデータゾーンの配置を示す説明図である。
【図７】光ディスクにおけるフォーマットの一例を示す説明図である。
【符号の説明】
１　　光ディスク（記録媒体）
２　　レーザビーム
３　　光ピックアップ
８　　制御回路（レーザパワー最適設定手段、情報記録位置検出手段、試し　　書き位置算出手段、情報記録位置認定手段、試し書き領域調整手段）
９　　レーザドライバ
【図１】
2004086992.tif 000005
【図２】
2004086992.tif 000006
【図３】
2004086992.tif 000007
【図４】
2004086992.tif 000008
【図５】
2004086992.tif 000009
【図６】
2004086992.tif 000010
【図７】
2004086992.tif 000011