(57)【要約】【課題】記録マーク長に依存した再生マーク長のずれを補正し、正確に記録情報を再生できる光学的情報再生装置を提供する。【解決手段】マーク長検出部２０２に入力されたデジタル再生信号は、チャネルクロックによりマーク長が計測されると共に、各マークにおけるエッジとクロックの位相のずれを位相誤差検出部２０３において位相誤差信号として検出する。この位相誤差信号をマーク長に依存したエッジのずれとして統計処理することにより、補正係数レジスタ２０７にてマーク長毎の補正係数が保持される。この補正係数により、波形補正部２０１に入力されたデジタル再生信号は、エッジ部近傍のサンプリング値が補正される。【選択図】      図２
2004319022.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的情報記録媒体に形成された記録マークの情報を再生する光学的情報再生装置において、
前記光学的情報記録媒体に形成された記録マークを検出して、再生された信号を出力する回路と、
この再生信号に基づいて生成されたチャンネルクロックのカウント数と、前記再生信号の立ち上がり及び／又は立ち下がりエッジと、前記再生信号とチャンネルクロックとの位相差に基づいて、前記記録マークのマーク長を検出し、
検出されたマーク長に対応した補正係数により前記再生信号の立ち上がり及び／又は立ち下がりエッジ位置を補正する補償回路とを有することを特徴とする光学的情報再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光磁気ディスク、コンパクトディスク（ＣＤ）、ＣＤ−Ｒ等の光学的情報記録媒体に用いられる光学的情報再生装置に関し、特に光磁気効果を利用して情報を再生する光磁気再生装置に好適に用いられるものに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、磁壁移動型光磁気媒体における再生信号のデューティずれを補正する方式の光磁気再生方法及び装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。この再生方式は、再生信号に生ずるデューティ（シンメトリ）ずれを検出し、再生補助磁界に対して必要なシンメトリのずれ補正量を演算して求める。さらに、再生信号補正回路によりシンメトリのずれ補正量だけ、信号の長さを補正し、記録マーク長に対応したシンメトリずれのない光磁気再生信号を得るものである。
【０００３】
また、磁壁移動型光磁気媒体を用いた再生方法についても開示されている（例えば、特許文献２参照）。この磁壁移動型光磁気媒体を用いた再生方法の一例について図１５を用いて説明する。
【０００４】
【特許文献１】
特開２００１−２０２６６８号公報
【特許文献２】
特開平６−２９０４９６号公報
【０００５】
図１５は、磁壁移動型光磁気記録媒体およびその再生方法における作用を説明するための模式図である。
【０００６】
図１５（Ａ）は、磁壁移動型光磁気記録媒体の一構成例の模式的断面図である。この媒体の磁性層は、第１の磁性層１１、第２の磁性層１２、第３の磁性層１３が順次積層されている。各層中の矢印１４は、原子スピンの向きを表している。スピンの向きが相互に逆向きの領域の境界部には、磁壁１５が形成されている。また、この記録層の記録信号も下側にグラフとして表わす。第１の磁性層１１は、周囲温度近傍の温度において第３の磁性層１３に比べて相対的に磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度が大きな垂直磁化膜からなり、第２の磁性層１２は、第１の磁性層１１および第３の磁性層１３よりもキュリー温度の低い磁性層からなり、第３の磁性層１３は垂直磁化膜である。
【０００７】
図１５（Ｂ）は、上記光磁気記録媒体に形成される温度分布を示すグラフである。この温度分布は、再生用に照射されている光ビーム自身によって媒体上に誘起されるものでもよいが、望ましくは別の加熱手段を併用して、再生用の光ビームのスポットの手前側から温度を上昇させ、スポットの後方に温度のピークが来るような温度分布を形成する。ここで位置ｘｓにおいては、媒体温度が第２の磁性層１２のキュリー温度近傍の温度Ｔｓになっている。
【０００８】
図１５（Ｃ）は、図１５（Ｂ）の温度分布に対応する第１の磁性層１１の磁壁エネルギー密度σ１の分布を示すグラフである。この様にｘ方向に磁壁エネルギー密度σ１の勾配があると、位置ｘに存在する各層の磁壁に対して下記式から求められる力Ｆ１が作用する。
Ｆ１＝∂σ１／∂ｘ
【０００９】
この力Ｆ１は、磁壁エネルギーの低い方に磁壁を移動させるように作用する。第１の磁性層１１は、磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度が大きいので、単独では、この力Ｆ１によって容易に磁壁が移動する。しかし、位置ｘｓより手前（図では右側）の領域では、まだ媒体温度がＴｓより低く、磁壁抗磁力の大きな第３の磁性層１３と交換結合しているために、第３の磁性層１３中の磁壁の位置に対応した位置に第１の磁性層１１中の磁壁も固定されている。
【００１０】
図１５（Ａ）に示す様に、磁壁１５が媒体の位置ｘｓにあると、媒体温度が第２の磁性層のキュリー温度近傍の温度Ｔｓまで上昇し、第１の磁性層と第３の磁性層との間の交換結合が切断される。この結果、第１の磁性層中の磁壁１５は、破線矢印１７で示した様に、より温度が高く磁壁エネルギー密度の小さな領域へと「瞬間的」に移動する。
【００１１】
再生用の光ビームのスポット１６の下を磁壁１５が通過すると、スポット内の第１の磁性層の原子スピンは全て一方向に揃う。そして、媒体の移動に伴って磁壁１５が位置ｘｓに来る度に、スポットの下を磁壁１５が瞬間的に移動しスポット内の原子スピンの向きが反転して全て一方向に揃う。この結果、図１５（Ａ）に示す様に、再生信号振幅は記録されている磁壁の間隔（即ち記録マーク長）によらず、常に一定かつ最大の振幅になり、光学的な回折限界に起因した波形干渉等の問題から完全に解放されることになる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、磁壁移動型光磁気媒体による記録再生系においてはデューティずれと同時に記録マーク長によって、再生信号のマーク長にずれが生じる場合がある。これについて以下で説明する。
【００１３】
光磁気記録において記録時にレーザ光の照射により光磁気記録媒体のレーザ光照射部位の温度は、キュリー点まで達し磁化が消失する。しかし、キュリー点まで温度が上昇していない周辺部位では磁化が存在し、磁化に起因する浮遊磁界が存在する。記録マーク端である磁壁は光ビーム進行方向後端で形成されるが、記録マーク端である磁壁形成時にそれら浮遊磁界は、磁壁形成のための外部から磁気ヘッドにより印加される変調磁界に重畳される形で作用する。この浮遊磁界の大きさは、直前に形成された磁壁と次に形成しようとする磁壁との間隔、即ち、形成しようとする記録マーク長、更にその前に位置するマーク長により変化する。従って、磁壁形成部位に作用する浮遊磁界強度は、記録しようとするマーク長、或いはマーク長列によって異なる。
【００１４】
以下、上記浮遊磁界について説明する。図１６は、磁化及びそれを起因とする浮遊磁界を示す図である。図１６に示すように、記録マーク端である磁壁は光ビーム進行方向後端で形成されるが、浮遊磁界は、磁壁形成のために外部から磁気ヘッドにより印加される変調磁界に重畳する。
【００１５】
この浮遊磁界の大きさは、上述したように、直前に形成された磁壁と次に形成しようとする磁壁との間隔、すなわち形成しようとする記録マーク長、さらにその前に位置するマーク長により変化する。また、磁壁の形成位置は、温度と磁界強度との関係において決定される。ここで、レーザ光強度、磁気ヘッドからの印加磁界強度は定常状態に保たれており、記録マーク長、或いは記録マーク長列が異なる場合には重畳される浮遊磁界強度が異なってくる。このため、磁区形成位置に印加される磁界強度は磁気ヘッドからの磁界強度に浮遊磁界強度が重畳されたものとなり、前述したように実質的に磁区形成部に印加される磁界強度は形成する記録マーク長、或いは記録マーク長列により異なる。その結果、磁壁形成位置が記録マーク長により異なる現象が現れる。
【００１６】
図１７を用い、さらに説明を加える。図１７（Ａ）は記録符号上最長・最短の記録マークを順次形成する場合、図１７（Ｂ）は記録符号上最短・最長の記録マークを順次形成する場合を表している。図１７において、１は光ビーム、矢印２は光磁気記録媒体の記録層の磁化状態を、矢印３は磁気ヘッドからの印加磁界の強度・方向を示しており、矢印４は磁壁形成直前の磁化状態による浮遊磁界強度・方向を示している。矢印５は更に前に位置する記録マークからの浮遊磁界強度・方向を示している。
【００１７】
ここでは、光磁気記録媒体の特性上、矢印４の浮遊磁界の向きは磁壁形成時磁気ヘッドからの印加磁界を増加させる方向に印加され、矢印５の浮遊磁界の向きは磁壁形成時磁気ヘッドからの印加磁界を減少させる方向に印加される。
【００１８】
したがって、図１７（Ａ），（Ｂ）の場合で磁壁形成部位の矢印３〜５の印加磁界の和が異なり、図１７（Ｂ）の場合、より強さのある磁界強度が記録層に印加される。その結果、磁壁形成位置はある基準位置から見ると、図１７（Ａ）の場合はΔＡずれた位置に形成され、図１７（Ｂ）の場合はΔＢずれた位置に形成されて、ΔＡ、ΔＢの関係はΔＡ＜ΔＢとなる。
【００１９】
さらにいえば、磁壁移動型光磁気媒体等のように、光学系分解能の制約を排除できるような飛躍的に線記録密度の向上が可能となる光磁気記録再生方法を採用することで記録マーク長が小さくなり、次の問題が生ずる。（１）磁壁形成位置からの一定範囲における磁化状態の変化がより複雑化し、浮遊磁界の変化も複雑化したために記録マーク長によるエッジシフトが複雑化することになる。（２）上記要因によるエッジシフト量が、記録線密度が上がりマーク長が短くなることでマーク長に対する比率が大きくなり、浮遊磁界によるエッジシフト問題が顕在化することになる。（３）光学系分解能の制約による符号間干渉によるエッジシフトの制約が無くなり、浮遊磁界によるエッジシフト問題が顕在化することになる。
【００２０】
図１８は、各記録マーク長に対する再生信号のマーク長のずれを示す。尚、本発明の光磁気記録再生装置においては記録符号としてＲＬＬ（１，７）符号を用いている。従って、マーク長は２Ｔ〜８Ｔに制限されたものとなる。
横軸は記録マーク長であり、縦軸は再生信号のマーク長の理想値からのずれを表す。図１８に示すように、再生信号のマーク長のずれは一定の値ではなく、記録マーク長に依存した値となっている。
【００２１】
従って、前述の従来の記録マーク長に依存しない一定量のデューティずれのみに対応した方式では、デューティずれ及び記録マーク長に依存したマーク長のずれが混在する場合には対応できない。
【００２２】
そこで本発明は、媒体及び記録再生系の特性等により発生する記録マーク長に依存した再生マーク長のずれを補正し、正確に記録情報を再生できる光学的情報再生装置を提供することを目的とする。
【００２３】
【課題を解決するための手段】
上述の課題を解決するため、本発明は、光学的情報記録媒体に形成された記録マークの情報を再生する光学的情報再生装置において、前記光学的情報記録媒体に形成された記録マークを検出して、再生された信号を出力する回路と、この再生信号に基づいて生成されたチャンネルクロックのカウント数と、前記再生信号の立ち上がり及び／又は立ち下がりエッジと、前記再生信号とチャンネルクロックとの位相差に基づいて、前記記録マークのマーク長を検出し、検出されたマーク長に対応した補正係数により前記再生信号の立ち上がり及び／又は立ち下がりエッジ位置を補正する補償回路とを有することを特徴とする。
【００２４】
以上の構成によって、チャネルクロック間隔以上の精度で検出したマーク長に対応した補正係数により波形の補正を行うことができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００２６】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の光磁気再生装置の第１の実施形態の構成を示すブロック図である。１０１は情報記録媒体であるところの光磁気ディスク、１０２は光磁気ディスク１０１を所定速度で回転させるためのスピンドルモータである。光磁気ディスク１０１の上面には記録信号に応じて変調された磁界を発生するための磁気ヘッド１０３が配設され、その下面には磁気ヘッド１０３に対向して光ヘッド１０４が配置されている。
【００２７】
光ヘッド１０４は記録用光ビームを照射して情報の記録を行い、あるいは再生用光ビームを照射し、その媒体からの反射光を検出して記録情報の再生を行うものである。その際、光ヘッド１０４内には記録再生用光源である半導体レーザ（図示省略）や媒体からの反射光を検出する光センサ（図示省略）が設けられている。半導体レーザはレーザ駆動回路１０７で駆動され、半導体レーザの光ビームを記録用と再生用に制御することによって情報の記録や再生を行う。また、光磁気ディスク１０１としては、磁壁移動型光磁気媒体が用いられ、磁壁移動による情報再生を行う。
【００２８】
情報の記録の際には、上述した磁壁移動型光磁気媒体である光磁気ディスク１０１をスピンドルモータ１０２の駆動により所定の速度で回転させ、この状態で記録データがプリエンコーダ１０６に供給される。プリエンコーダ１０６においては、例えば、ＮＲＺＩ系列のデータの変調を行う。プリエンコーダ１０６より出力された変調信号は磁気ヘッドドライバ１０５に供給され、磁気ヘッドドライバ１０５では変調信号に応じて外部磁界発生用の磁気ヘッド１０３を駆動する。これにより、磁気ヘッド１０３は変調信号に応じた磁界を発生し、光磁気ディスク１０１に印加する。同時に、レーザ駆動回路１０７からの駆動信号により光ヘッド１０４から記録用光ビームを光磁気ディスク１０１に照射することにより光磁気ディスク１０１上にデータが記録される。
【００２９】
一方、情報の再生の際には、同様に光磁気ディスク１０１は所定の速度で回転するように制御され、光ヘッド１０４から再生用光ビームが光磁気ディスク１０１に照射される。光磁気ディスク１０１からの反射光は光ヘッド１０４の光センサで検出され、ＲＦ信号が生成される。このＲＦ信号はプリアンプ１０８を通してＡＧＣ回路１０９に供給され、ＡＧＣ回路１０９においてはＲＦ信号に応じて利得制御を行い、所定振幅のＲＦ信号が生成される。
【００３０】
ＡＧＣ回路１０９で処理された再生ＲＦ信号は、Ａ／Ｄ変換器１１０でデジタル信号に変換される。デジタル信号に変換されたＲＦデジタル信号は、再生補償部１１１において、記録マーク長に応じた補正量により補正される。補正されたＲＦデジタル信号は、ＰＬＬ回路１１２及び復号回路１１３に出力される。
【００３１】
ＰＬＬ回路１１２は、補正されたＲＦデジタル信号から位相誤差信号を抽出し、抽出した位相誤差信号を基にＶＣＯを制御することによりクロック信号の周波数及び位相を調整する。ＰＬＬ回路１１２は、再生信号の立ち上がりエッジに同期する引き込み動作を行う構成となっている。従って、本実施形態の装置においては、ＰＬＬ回路１１２は立上りエッジ（即ちスペース後のエッジ）部での位相誤差がゼロとなるように動作する。このＰＬＬ回路１１２で生成されたチャネルクロック信号が、各デジタル信号処理部に供給される。
【００３２】
復号回路１１３では、差分検出することにより復号データが出力される。なお、ここでは差分検出により復号データを生成しているが、ＰＲＭＬ、ビットバイビット等の公知の復号方式を用いてもよい。
【００３３】
次に、第１の実施形態に係る装置の動作について説明する。
【００３４】
図１に示すように光磁気ディスクから再生された信号は、Ａ／Ｄ変換器１１０によりアナログ信号からデジタル信号に変換される。変換されたデジタル再生信号は、再生補償部１１１に入力される。
【００３５】
図２は、再生補償部１１１の内部ブロックを示す。波形補正部２０１に入力されたデジタル再生信号は、遅延器によりタイミング調整され、エッジ部近傍のサンプリング値が補正される。マーク長検出部２０２に入力されたデジタル再生信号は、チャネルクロックによりマーク長が計測されると共に、各マークにおけるエッジとクロックの位相のずれを位相誤差検出部２０３において位相誤差信号として検出する。この位相誤差信号をマーク長に依存したエッジのずれとして統計処理することにより、マーク長毎の補正係数が生成される。
【００３６】
ここで、位相誤差とエッジのずれについて簡単に説明する。図３は、再生信号とクロック位相の関係を示したものであり、ｎＴスペース後の立上りエッジ部でのクロックとの位相関係を表している。図３に示すようにエッジとクロックの位相関係によりエッジ部のサンプリング値が変動する。
【００３７】
図４は、エッジとクロックの位相関係を表す位相誤差信号の検出について示す。Ａ（ｋ）はサンプリング点であり、Ｐ（ｋ）はサンプリング点をＰＲ（１，−１）処理したもの、即ち現時刻のサンプリング値と一時刻前のサンプリング値の差分処理したものである。図４の点線で囲んだ部分がエッジ部である。位相誤差は、このエッジ部のＰＲ（１，−１）信号であるＰ（ｋ）を基に算出される。
【００３８】
エッジＥ１の位相誤差Ｊ１は以下となる。
Ｊ１＝Ｐ（４）−Ｐ（２）
また、Ｅ２及びＥ３の位相誤差Ｊ２及びＪ３は以下となる。
Ｊ２＝−（Ｐ（７）−Ｐ（５））
Ｊ３＝Ｐ（１０）−Ｐ（８）
ここで、立下りエッジの位相誤差は符号を反転する。また、エッジ部の判定はＰＲ（１，−１）信号Ｐをしきい値Ｔｈと比較することにより行う。
【００３９】
図５は、出力される位相誤差検出信号を示す。位相誤差が無い場合は出力ゼロで、位相の遅れ、あるいは進みに対して±側に出力がシフトする。
【００４０】
図６は、マーク長毎のエッジのずれ（位相誤差）の分布を示したものである。２Ｔマークは長め（位相誤差が−側）にシフトし、４Ｔ〜８Ｔマークは短め（位相誤差が＋側）にシフトしている。尚、エッジシフトの特性は、記録媒体及び記録条件等により変動するものであり、常に図６の傾向であるとは限らない。
【００４１】
次に、図２を参照して、再生補償部１１１の動作について説明する。２０１は波形補正部であり、再生信号に対して記録マーク長に依存する波形のずれを補正する。２０２は記録マーク長検出部であり、エッジ検出部２０４からの検出信号を基に、再生信号からエッジ部を検出して記録マーク長を検出する。２０３は位相誤差検出部であり、エッジ部においてチャネルクロックとエッジとの位相誤差を検出して出力する。２０６はスイッチであり、学習モードと補正モードに応じて信号を切り替える。
【００４２】
本実施形態の装置では、所定の記録領域からの再生信号に基づき補正係数を生成する。この所定領域からの再生信号を基に再生補償の補正係数を生成する動作を学習モードとする。また、生成した補正係数を基に再生した信号を補正する動作を補正モードとする。
【００４３】
生成されたマーク長及び位相誤差信号は、学習モードの際に補正係数レジスタ２０７に出力される。補正係数レジスタ２０７においては、記録マーク長検出部２０２で検出されたマーク長及び位相誤差検出部２０３で検出された位相誤差を基に、マーク長毎の位相誤差信号を統計処理することによりマーク長毎の補正係数を得る。生成されたマーク毎の補正係数は、レジスタ等に保持する。
【００４４】
また、補正モードの際にはマーク長及び位相誤差信号は、補正量生成部２０５に出力される。補正量生成部２０５では、マーク長及びそのときの位相誤差信号を基に補正係数レジスタ２０７に保持されている補正係数を変換処理し、波形補正に用いる係数を生成する。
【００４５】
以下では、まず学習モードの動作手順について説明する。
１）制御コントローラからの信号に基づき、予め設定された所定の領域の記録データの再生を開始する。
２）再生信号から記録マーク長及び位相誤差信号を、クロック信号及びエッジ検出信号を基に検出する。
３）検出した記録マーク長及び位相誤差信号を基に、マーク長（２Ｔ〜８Ｔ）毎の補正係数を生成する。
４）生成したマーク長（２Ｔ〜８Ｔ）毎の補正係数からチャネルクロック間隔Ｔの１０倍の精度（０．１Ｔ精度）を有する補正係数テーブルを生成し、レジスタに保持する。
【００４６】
図７に、マーク長検出の概略を示す。ＳｉｇＡは再生信号であり、Ａ（ｋ）はＰＬＬ回路により生成されるクロックによりサンプリングされたサンプリング信号である。
【００４７】
マーク長検出部２０２には、再生信号ＳｉｇＡを入力しマーク長の検出を行う。マーク長検出部２０２では、図７のサンプリング系列Ａ（ｋ）に対してＰＲ（１，−１）処理することにより、現時刻から一時刻前のサンプリング値を減じた信号系列Ｐ（ｋ）を生成する。次に、Ｐ（ｋ）をしきい値Ｔｈと比較してエッジ部を検出する。マーク長は、エッジ部Ｅ１から次にエッジ部Ｅ２までのサンプリング値Ｐ（ｋ）をカウントすることにより検出する。
【００４８】
次に、エッジ部Ｅ２における位相誤差信号を検出する。検出は、図４に示すものと同様である。マーク長毎の位相誤差信号は、補正係数生成部２１１に出力される。補正係数生成部２１１においては、マーク長毎の位相誤差信号を平均化処理する。学習モードにおける所定区間の記録信号の再生が完了すると、補正係数生成部において平均化処理されたマーク長毎の補正係数が得られる。
【００４９】
次に、２Ｔ〜８Ｔのマーク長に対応する補正係数を基に、チャネルクロックＴ以上の精度の補正テーブルを生成する。以下において、補正テーブル生成の概略を示す。
【００５０】
図８は、２．７Ｔに対する補正係数生成の概略を示したものである。ここでｈ（２）は２．０Ｔの補正係数であり、ｈ（３）は３．０Ｔの補正係数で、これらは前述のマーク長毎に生成され平均化処理された補正値である。２．７Ｔに対応する補正係数ｈ（２．７）は、ｈ（２）とｈ（３）の線形補間により以下となる。
ｈ（２．７）＝０．３・ｈ（２）＋０．７・ｈ（３）・・・（式１）
【００５１】
以上の演算を０．１Ｔ刻みで２．０Ｔ〜８．０Ｔまで実行することにより、６１個の補正係数を有する補正テーブルが生成される。生成された補正テーブル値は、補正係数レジスタ２０７に保持される。図９は、レジスタテーブルの概略を示す。以上で、学習モードの動作が完了する。
【００５２】
次に、補正モードは、以下の手順で行われる。
１）制御コントローラからの信号に基づき、記録データの再生を開始する。
２）再生信号から記録マーク長及び位相誤差信号を、クロック信号及びエッジ検出信号を基に検出する。
３）検出した記録マーク長及び位相誤差信号を基に、チャネルクロック間隔以上の精度でマーク長を検出する。
４）検出したチャネルクロック間隔以上の精度のマーク長を基に、レジスタから補正係数を読み出す。
５）読み出した補正係数を用いて、再生信号の波形を補正する。
【００５３】
以下では、補正モードの動作について説明する。補正モードの場合には、図２に示すブロック図のスイッチ２０６が補正モード側に切り替わり、再生信号の記録マーク長及び位相誤差信号から補正量生成部２０５により各マークエッジ近傍における波形を補正するための補正量が生成される。ここで、記録マーク長及び位相誤差信号の生成は学習モードと同様である。
【００５４】
次に、検出した記録マーク長及び位相誤差信号を基にチャネルクロック間隔以上の精度のマーク長を生成する。まず、チャネルクロック間隔のマーク長ｎは、前述のようにエッジ間のクロック数をカウントすることにより得られる。さらに、チャネルクロック間隔以上のマーク長分ｍ（以下では小数点以下マーク長）については、位相誤差信号を基に生成する。
【００５５】
例えば、マーク長２．７Ｔの場合には、２Ｔがチャネルクロック間隔単位でのマーク長ｎに相当し、０．７Ｔがチャネルクロック間隔以上のマーク長分ｍに相当する。従って、２Ｔはクロックをカウントすることにより得られ、０．７Ｔは、以下で説明するように位相誤差信号をマーク長に変換することにより生成する。
【００５６】
図１０は、マーク長と位相誤差信号の関係を示したものである。本実施形態の装置においては、図１０に示すように、再生信号のサンプリング値をＰＲ（１，−１）処理した値を基に位相誤差信号を生成する。図１０において（Ａ）は、再生信号とそのサンプリング値であり、（Ｂ）はＰＲ（１，−１）処理した値であり、（Ｃ）は位相誤差信号である。図１０では２Ｔマークの場合を示しており、●のサンプリング値はマーク長が２．０Ｔの場合であり、□はマーク長が２．４Ｔの場合を示す。
【００５７】
エッジ検出部のエッジ検出信号のタイミングＨで位相誤差信号を出力する。位相誤差信号の振幅は、ＰＲ（１，−１）信号の振幅を±Ｙとすると±０．５Ｙとなる。ここで、０．５Ｙのときのマーク長を０．５Ｔに対応させれば、位相誤差信号を小数点以下マーク長に変換することは可能である。
【００５８】
図１０においては、Ｈ点における□印のサンプリング値の位相誤差信号は０．４Ｙとなり、従って小数点以下マーク長は０．４Ｔとなる。チャネルクロック間隔単位のマーク長は、エッジ間のクロック数により２Ｔが検出されているので、これに位相誤差を基に生成した小数点以下のマーク長０．４Ｔを加算し、チャネルクロック間隔以上の精度のマーク長２．４Ｔを検出することができる。
【００５９】
尚、学習モードの動作で説明したように、補正係数は０．１Ｔ刻みでレジスタに保持されているので、マーク長も小数点第二位以下を切り捨てるか、または四捨五入することにより小数点第一位の精度のマーク長を生成する。この生成したマーク長を基に、補正係数レジスタ２０７から補正係数ｈｉを読み出す。
【００６０】
次に、波形のエッジ近傍のサンプル値を補正係数ｈｉを用いて補正する。図１１は波形補正の概略を示し、スペース長２Ｔ後の立ち上がりエッジ部における波形のサンプル値を補正する場合である。ここで、２Ｔのエッジにおける補正係数ｈ２は負の値と仮定する。これは、２Ｔスペース後のエッジ位相が平均的に遅れていることを示す。従って、補正処理によりエッジの位相を進める。補正前のサンプル値をＳ７とすると補正後のサンプル値Ｓ７’は以下となる。
Ｓ７’＝Ｓ７＋｜ｈ２｜・（Ｓ８−Ｓ７）・・・（式２）
このように、Ｓ７の一時刻後のサンプル値Ｓ８を用いて補間処理を行う。
【００６１】
仮に、ｈ２が正の値の場合には以下により補正後のサンプル値Ｓ７’を算出する。
Ｓ７’＝Ｓ７＋｜ｈ２｜・（Ｓ６−Ｓ７）・・・（式３）
この際には、Ｓ７の一時刻前のサンプル値Ｓ６を用いて補間処理を行う。
【００６２】
エッジ近傍のサンプル値に対して上記処理を実行することにより、マークまたはスペース長に依存するエッジのずれを補正する。
【００６３】
以上の処理により補正したサンプリング値は、ＰＬＬ回路及び復号回路に出力される。上記のように本実施形態の装置によれば、マーク長に依存するエッジシフトをチャネルクロック単位以上の精度で検出、補正するので再生信号を正確に検出することが可能となり、よって後段のＰＬＬ回路及び復号回路の性能も向上する。
【００６４】
また、マーク長の検出をチャネルクロック単位でのみ行い、検出されたマーク長に対応した離散的な補正係数で補正するのと比べて、本発明の装置は位相誤差信号を用いてチャネルクロック単位以上の精度でマーク長を検出し、その検出結果に基いて予めレジスタ等に保持されている高精度の補正係数により補正するので、補正精度が著しく向上する。また、チャネルクロック単位以上の精度で生成した補正係数を予めレジスタ等に保持しているので、波形補正部の構成を簡潔にすることができる。
【００６５】
（第２の実施形態）
本実施形態では、再生補償部における補正係数の生成及び補正量の生成方法が第１の実施形態と異なる。第１の実施形態においては、０．１Ｔ刻みの補正係数を生成してレジスタに保持していたが、本実施形態ではレジスタに保持する補正係数は１Ｔ刻みの２Ｔ〜８Ｔの７つのみである。１Ｔ刻みのマーク長の生成については、第１の実施形態に示したものと同様である。以下、本実施形態の特徴である補正モードにおける補正量の生成及び波形補正について示す。
【００６６】
第１の実施形態においては、学習モードにおける補正係数生成の際に、式１に示すように隣接するマーク長の補正係数から補間処理により０．１Ｔ刻みの補正係数を生成していたが、本実施形態では、補正モードの補正生成過程において補正係数を補間演算するものである。
【００６７】
従って、チャネルクロック間隔以上の精度でマーク長を検出する部分は第１の実施形態と同様である。マーク長検出部においてチャネルクロック間隔以上のマーク長ｋＴが検出されると、補正量生成部はｋＴの整数部ｎに対応するマーク長ｈ（ｎ）とｎ＋１に対応するマーク長ｈ（ｎ＋１）をレジスタから読み出す。次に、ｋＴの小数点部ｍを用い次式により補正係数を算出する。
ｈ（ｋ）＝（１．０−ｍ）・ｈ（ｎ）＋ｍ・ｈ（ｎ＋１）・・・（式４）
【００６８】
次に、算出した補正係数ｈ（ｋ）を基に再生信号の波形を補正する。補正の方法は第１の実施形態と同様であるので省略する。
【００６９】
尚、図６においてはマーク長に依存するエッジシフトの分布を示したが、マーク長依存に加えてマークの極性によってもエッジシフト量が変動する場合がある。
【００７０】
図１２は、マーク長ごとのエッジシフト量をマークの極性別に統計処理し、プロットしたものである。図１２から、マークの極性に応じて補正係数を個別に生成することにより、補正精度を向上することが可能となる。従って、本実施形態の装置においては、マークの極性別にマーク長毎の補正係数ｈを検出し、上記の方法によりチャネルクロック間隔以上の精度でマーク長を検出することにより波形を補正する。
【００７１】
以上により、補正の際にチャネルクロック間隔以上の精度で検出したマーク長に応じた補正係数を生成することによって、再生補償の補正精度を向上し、正確な波形の補正が可能となる。
【００７２】
また、チャネルクロック単位のマーク長検出では、誤検出した場合に隣接するマーク長の補正係数で補正されるが、本発明の装置ではチャネルクロック単位以上の精度でマーク長を検出するので、適切な補正係数を選択し補正することができる。また、チャネルクロック単位以上の精度で検出したマーク長を基に、補正係数を補間処理により生成するので、補正精度が著しく向上する。
【００７３】
（第３の実施形態）
第１及び第２の実施形態においては、所定領域の再生信号を基に補正係数を生成する学習モードと、生成した補正係数により再生信号を補正する補正モードの２つのモードを設けて再生補償を行っていたが、本実施形態は、補正モード中も逐次補正係数を更新し、再生信号の状態に適応的に対応可能な補正を施すものである。初期の状態においては、補正係数として所定の値をレジスタに設定する。尚、レジスタには２Ｔ〜８Ｔの７つの補正係数が保持される。
【００７４】
図１３は、本実施形態の再生補償部のブロック図を示す。本実施形態においては補正係数更新部２１０により補正後の波形を基に補正係数を更新する。補正係数更新部２１０では、再生補償した後のサンプリング系列を入力して補正係数の検出を行う。尚、マーク長の検出、位相誤差の検出及びエッジの検出方法は、第１の実施形態と同様である。
【００７５】
図１４では、マーク長が３Ｔと判定される。次に、マーク長判定時のエッジ部における位相誤差を検出する。位相誤差の検出は前述と同様であり、エッジ部Ｄの位相誤差ｇ（ｔ）が検出される。従って、Ｄ点の位相誤差を基に３Ｔマークの補正係数が設定される。マーク長が３Ｔ、その際の位相誤差がｇ（ｔ）であるので、補正係数生成部２０８において３Ｔの再生補正係数が以下により更新される。
ｈ３（ｋ）＝ｈ３（ｋ−１）＋ζ・ｇ（ｔ）・・・（式５）
ここで、ζは平均化の係数である。ｈ３（ｋ）は更新後の補正係数であり、ｈ３（ｋ−１）は現在の補正係数である。
【００７６】
検出されたマーク長に対応して同様の処理を実行することにより、補正係数が逐次更新される。更新された補正係数は補正係数保持部２０９内のレジスタ等に保持される。
【００７７】
補正量生成部２０５では、補正後の波形を基に上記一連の処理を常に実行する。従って、補正係数保持部２０９内のレジスタの各マーク長に対応する補正係数は、入力される再生信号の状態に応じて常に最適に設定される。また、補正係数はチャネルクロック単位以上の精度で検出したマーク長を基に生成するので、再生信号の状態に柔軟に対応した補正係数を非常に高精度に生成し、波形を補正することができる。
【００７８】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明の好適な実施態様を以下の通り列挙する。
【００７９】
〔実施態様１〕
光学的情報記録媒体に形成された記録マークの情報を再生する光学的情報再生装置において、
前記光学的情報記録媒体に形成された記録マークを検出して、再生された信号を出力する回路と、
この再生信号に基づいて生成されたチャンネルクロックのカウント数と、前記再生信号の立ち上がり及び／又は立ち下がりエッジと、前記再生信号とチャンネルクロックとの位相差に基づいて、前記記録マークのマーク長を検出し、
検出されたマーク長に対応した補正係数により前記再生信号の立ち上がり及び／又は立ち下がりエッジ位置を補正する補償回路とを有することを特徴とする光学的情報再生装置。
【００８０】
〔実施態様２〕
前記補償回路は、所定のマーク長に応じた補正係数を記憶する回路と、前記検出されたマーク長に応じて前記補正係数の補間値を算出する回路とを有し、
前記算出された補間値により前記補正を行うことを特徴とする実施態様１に記載の光学的情報再生装置。
【００８１】
〔実施態様３〕
前記補償回路は、マーク長ごとに所定の補正係数を用いて前記再生信号を補正し、前記補正係数は情報の再生を行いながら逐次更新されることを特徴とする実施態様１に記載の光学的情報再生装置。
【００８２】
〔実施態様４〕
前記補償回路により補正された再生信号を基に、ＰＬＬ及び復号処理を行う実施態様１に記載の光学的情報再生装置。
【００８３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、マーク長に依存したエッジシフトをマーク長毎に検出し、チャネルクロック間隔以上の精度を有する補正係数テーブルを生成して、チャネルクロック間隔以上の精度で検出したマーク長により波形の補正を行うので、再生信号を高精度で検出することができる。
【００８４】
また本発明によれば、マーク長毎に検出した補正係数を基に、チャネルクロック間隔以上の精度で検出したマーク長に対応した補正係数を算出し、これにより波形の補正を行うので、波形補正の精度が向上し、再生信号を高精度で検出することができる。
【００８５】
また本発明によれば、補正後の波形を基にマーク長毎のエッジシフトを検出し、補正係数を逐次更新するので、再生信号の状態に適応した波形の補正が可能となり、再生信号の状態に柔軟に対応した高精度の検出が可能となる。
【００８６】
また本発明によれば、補正後の波形を基にＰＬＬ回路及び復号回路が動作するので、ＰＬＬ回路の性能の向上及び安定化を図ることが可能となり、さらに復号回路の性能を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る第１実施形態のブロック図。
【図２】再生補償部の概略図。
【図３】クロックとエッジの位相ずれを説明する図。
【図４】位相誤差生成方法を説明する図。
【図５】位相誤差の出力信号を説明する図。
【図６】エッジ部での位相ずれの分布を説明する図。
【図７】再生補償部の動作を説明する図。
【図８】補正係数生成を説明する図。
【図９】再生補償部のレジスタの概略図。
【図１０】マーク長検出を説明する図。
【図１１】再生補償部の波形補正を説明する図。
【図１２】デューティずれの概略図。
【図１３】第３の実施形態の再生補償ブロック図。
【図１４】再生補償の動作を説明する図。
【図１５】磁壁移動型光磁気記録媒体の作用を説明する図。
【図１６】磁化及びそれを起因とする浮遊磁界を示す図。
【図１７】磁壁移動型光磁気記録媒体の作用を説明する図。
【図１８】マーク長依存したエッジシフトを説明する図。
【符号の説明】
１０１  光磁気ディスク
１０２  スピンドルモータ
１０３  磁気ヘッド
１０４  光ヘッド
１０５  磁気ヘッドドライバ
１０６  プリエンコーダ
１０７  レーザ駆動回路
１０８  プリアンプ
１０９  ＡＧＣ回路
１１０  Ａ／Ｄ変換器
１１１  再生補償部
１１２  ＰＬＬ回路
１１３  復号回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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