(57)【要約】【課題】光ディスク上で検出した欠陥を、処理速度の低下が抑えられるように欠陥管理を行う方法を備えた光ディスク装置を提供するものである。【解決手段】光ディスク装置を、光ディスクに記録した記録データを誤り訂正しながら再生し、再生された各ブロックの記録データより検出した誤り数をカウントし、欠陥検出単位内より検出された誤り数と、前回記録データを記録したときに検出された前回の誤り数と、より算出した誤り数の変化量に基づいて、検出された誤り数が信頼できるか検証し、誤り数が所定数以上増加した場合には誤り数が信頼できないので、当該欠陥判定単位に記録データを再度記録して誤り数を検証することにより、信頼できる誤り数を用いて、当該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定するもの、とした。【選択図】　　　図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクにデータを記録する記録手段と、
上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、
上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、
上記カウントされた誤り数の、当該ブロックを過去に再生したときにカウントした過去の誤り数に対する変化量が、所定の範囲内であるかを判定する誤り数検証手段と、
上記誤り数の変化量が所定の範囲内であるときの、上記カウントされた誤り数に基づいて、該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する欠陥判定手段と、
上記欠陥ブロックに記録するデータを、欠陥のないブロックに記録する欠陥管理手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
上記誤り数の変化量が所定数より増加した場合、該ブロックにデータを再度記録し、上記誤り数検証手段は、上記再度記録されたデータに基づいて、誤り数の変化量が所定の範囲内であるか判定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の光ディスク装置において、
上記光ディスク装置は、
各ブロックの上記過去の誤り数を記憶する誤り数記憶手段を有し、
上記誤り数検証手段は、上記カウントされた誤り数と、上記誤り数記憶手段が記憶する上記過去の誤り数と、に基づいて、誤り数の変化量を算出し、
上記欠陥判定手段は、欠陥ブロックであるかの判定が終了すると、その判定に用いた誤り数を上記誤り数記憶手段に記憶させる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクにデータを記録する記録手段と、
上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、
上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、
各ブロックの誤り数を記憶する誤り数記憶手段と、
上記誤り数記憶手段が記憶する各ブロックの誤り数に基づいて、誤り数が所定の閾値以上であるブロックを欠陥ブロックと判定する欠陥判定手段と、
上記欠陥ブロックに記録するデータを、欠陥のないブロックに記録する欠陥管理手段と、
を備え、
上記欠陥判定手段は、上記誤り数記憶手段が記憶する各ブロックの誤り数に基づいて、誤り数が所定の閾値以上である欠陥候補ブロックを検出し、上記欠陥候補ブロックの数に対する、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数の比率に基づいて、上記閾値を変化させる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク装置において、
上記欠陥判定手段は、上記欠陥候補ブロックの数に対する、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数の割合が、所定割合より小さい場合、上記閾値を厳しくする、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項４または請求項５に記載の光ディスク装置において、上記欠陥判定手段は、上記欠陥候補ブロックの数に対する、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数の割合が、所定割合より大きい場合、上記閾値を緩和する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項４ないし請求項６のいずれかに記載の光ディスク装置において、
上記記録手段は、上記誤りを検出したブロックのアドレスと該ブロックの誤り数とを光ディスクの所定位置に記録する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクにデータを記録する記録手段と、
上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、
上記誤り検出手段がカウントした誤り数に基づいて、該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する第１の欠陥判定手段と、
二つの欠陥ブロックに挟まれている正常なブロックの数に基づいて、該正常なブロックが欠陥ブロックであるかを判定する第２の欠陥判定手段と、
上記欠陥ブロックに記録されているデータを、欠陥のない代替ブロックに記録する欠陥管理手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項８に記載の光ディスク装置において、
上記第２の欠陥判定手段は、二つの欠陥ブロックに挟まれている正常なブロックの数が第１の所定数未満であり、該正常なブロックおよび上記二つの欠陥ブロックの代替ブロックに記録されているデータが、連続して再生されるデータである場合、該正常なブロックを欠陥ブロックと判定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
請求項８または請求項９に記載の光ディスク装置において、
光ディスクの一定長の記録領域内で、正常なブロックが連続する正常領域が、上記欠陥ブロックによって第２の所定数以上に分割されている場合、分割された上記正常領域を構成する正常なブロックの数に基づいて、該正常領域を構成するブロックが欠陥ブロックであるかを判定する第３の欠陥判定手段を備えた、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載の光ディスク装置において、
上記第３の欠陥判定手段は、上記一定長の記録領域内で、上記正常領域が上記欠陥ブロックによって第２の所定数以上に分割され、分割された各正常領域を構成する正常なブロックの数が第３の所定数未満であり、該正常なブロックおよび上記欠陥ブロックに記録されているデータが連続して再生されるデータである場合、該正常なブロックを欠陥ブロックと判定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
請求項８に記載の光ディスク装置において、
上記欠陥管理手段は、代替ブロックに記録されているデータの記録位置を変更しながら、データを、再生される順に記録する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１３】
データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクの記録領域にデータを記録する記録手段と、
上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、
上記記録領域の所定長領域を、共通の閾値により判定を行う閾値設定単位とし、各閾値設定単位に対して、該閾値設定単位を構成するブロックが欠陥ブロックであるか判定する際に用いる閾値を設定する閾値設定手段と、
上記カウントされた誤り数が上記閾値以上であるブロックを、欠陥ブロックと判定する欠陥判定手段と、
を備え、
上記再生手段は、上記記録領域の所定長領域を一つの再生頻度調査単位とし、各再生頻度調査単位の再生頻度をカウントし、
上記閾値設定手段は、上記各再生頻度調査単位の再生頻度に基づいて、上記閾値を変化させる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１４】
請求項１３に記載の光ディスク装置において、
上記各閾値設定単位は、連続して再生されるデータが記録されているブロックより構成されている、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１５】
請求項１３に記載の光ディスク装置において、
上記各閾値設定単位は、一定数のブロックより構成されている、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１６】
請求項１３に記載の光ディスク装置において、
上記閾値設定単位と上記再生頻度調査単位との長さが等しい、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１７】
請求項１３または請求項１４に記載の光ディスク装置において、
上記再生手段は、上記記録領域全てにデータが記録されていないときには、カウントした各再生頻度調査単位の再生頻度をクリアする、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置に関し、特に、代替処理や記録処理における処理速度の低下を抑えることのできる欠陥判定基準を設定する光ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、書き込み、あるいは書換え可能な光ディスクは、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）の普及に伴い、音楽データやプログラムデータ、ＡＶ（オーディオビデオ）データなどの情報を記録する記録媒体として脚光を浴びている。また、光ディスクに対する情報の記録、および光ディスクに記録されている情報の再生を行う光ディスク装置が数多く開発されてきた。その中でも、光ディスクの高信頼性を得るために、光ディスク装置が欠陥を管理する欠陥管理技術が注目されている。
【０００３】
以下に、従来の欠陥管理方法である代替処理について説明する。
図１７は、代替処理を行うことのできる光ディスク１００の領域の構成を示した領域構成図である。図１７に示すように、光ディスク１００は、光ディスク１００の記録や再生を行うために必要な情報を記録するディスク情報領域１１０と、代替処理を行うための欠陥情報を記録する欠陥管理領域１２０と、データを記録するデータ領域１３０と、データ領域１３０にデータを記録できなかった場合に、記録できなかったデータを記録する代替領域１４０と、により構成されている。
【０００４】
ここで、データ領域１３０および代替領域１４０には、データ再生の最小単位であるブロックごとに物理アドレスが付与されている。図１７に示した光ディスク１００のように、データ領域１３０として１５ブロックが割り付けられ、代替領域１４０として、データ領域１３０の後ろの５ブロックが割り付けられている場合、データ領域１３０にはＰ１〜Ｐ１５の物理アドレスが、代替領域１４０にはＰ１６〜Ｐ２０の物理アドレスが付与される。以下、物理アドレスｎのブロックを、ブロックＰｎと表記する（ｎは１以上の整数）。
【０００５】
このような光ディスク１００に対するデータの記録や、データの読み出しを行う光ディスク装置としては、図１９に示すような構成が一般的である。以下、その構成および欠陥管理方法について、図面を参照しながら説明する。
【０００６】
図１９に示すように、従来の光ディスク装置１０ｄは、ホストから受信した記録データを記憶するデータ記憶手段２０１と、光ディスク１００のデータ領域１３０および代替領域１４０に記録データを記録する記録手段２０２と、データ領域１３０および代替領域１４０に記録した記録データをブロック毎に再生し、記録データに誤りがあった場合は誤り訂正を行う再生手段２０３と、再生手段２０３が記録データを再生する際に誤り訂正ができなかった場合は、当該ブロックは欠陥ブロックであると判定し、誤り訂正ができた場合は、誤り数をカウントする誤り検出手段２０４と、カウントした誤り数に基づいて、該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する欠陥判定手段２０７と、を有する。
【０００７】
次に、かかる光ディスク装置１０ｄにおいて、光ディスク１００に記録データを記録する記録処理の方法を、図２０を参照しながら説明する。
まず、データ記憶手段２０１は、ホストから受信した記録データを記憶する（ステップＳ１０１）。
【０００８】
次に、記録手段２０２は、データ記憶手段２０１に記憶した記録データを、光ディスク１００に記録する。データの記録は、再生最小単位であるブロック毎に行う。また、各ブロックには、データを記録する際に論理アドレスが付与される。例えば、図１８に示した領域構成図のように、データ領域１３０の先頭ブロックに記録データを記録すると、ブロックＰ１に論理アドレスＬ１が付与される。同様に、ブロックＰ２、Ｐ３、Ｐ４…に対して、論理アドレスＬ２、Ｌ３、Ｌ４…が付与される。以下、論理アドレスｎのブロックを、ブロックＬｎと表記する（ｎは１以上の整数）（ステップＳ１０２）。記録データを記録すると、ステップＳ１０５に処理を移行する。このとき、記録中にエラーがあれば（ステップＳ１０３）、エラーが発生した時点で記録を中断し、代替処理を行うことにより、記録に失敗した記録データを代替領域１４０に書き込む（ステップＳ１０４）。
【０００９】
次に、代替処理の方法を、図２１を参照しながら説明する。
まず、記録手段２０２は、欠陥を有する欠陥ブロックの代わりに記録データを記録する代替ブロックを、代替領域１４０から選択する。例えば、図１８のように、ブロックＰ９が欠陥ブロックであり、論理アドレスＬ９を付与して記録データを記録する際にエラーが発生した場合、代替領域１４０の記録されていないブロックより、ブロックＰ１６を選択する。同様に、ブロックＰ１２が欠陥ブロックである場合、代替領域１４０のブロックＰ１７を代替ブロックとして選択する（ステップＳ１１１）。そして、欠陥ブロックの物理アドレスを一時記憶しておく（ステップＳ１１２）。同様に、ステップＳ１１１において選択した代替ブロックの物理アドレスを一時記憶しておく（ステップＳ１１３）。
【００１０】
次に、記録手段２０２は、選択した代替ブロックに論理アドレスを付与し、ステップＳ１０２において記録に失敗した記録データを記録する。さらに、ステップＳ１１２とステップＳ１１３において記憶した物理アドレスに基づいて欠陥情報を作成し、欠陥情報記憶部（図示しない）に記憶しておく。欠陥情報記憶部は、欠陥情報が光ディスクの欠陥管理領域１２０に記録されるまで、欠陥情報を記憶し続ける。この欠陥情報は、欠陥ブロックの物理アドレスと、その代替ブロックの物理アドレスと、を対応づけたものである。図１８のように、ブロックＰ９の代替領域としてブロックＰ１６を選択した場合、欠陥１の欠陥アドレスがＰ９、代替アドレスがＰ１６であることを記述した欠陥情報が作成され、欠陥情報記憶部に記憶される。また、欠陥１に関する欠陥情報が作成された後で、ブロックＰ１２より欠陥が検出され、その代替ブロックとしてブロックＰ１７が選択された場合、欠陥２の欠陥アドレスがＰ１２、代替アドレスがＰ１７であることを、欠陥１に関する情報の後に追加して記述した欠陥情報が作成される（ステップＳ１１４）。
【００１１】
このようにして、記録手段２０２による記録または代替処理を行うと、記録手段２０２は、記録データの記録が完了したブロックまたはエラーが発生したブロックの次のブロックから記録を再開する。すなわち、記録手段２０２はステップＳ１０１においてデータ記憶手段２０１に記憶した記録データのすべてを光ディスク１００に記録したか判断し、すべての記録データを記録していない場合、処理をステップＳ１０２に戻し、記録データの記録を行う（ステップＳ１０５）。一方、データ記憶手段２０１に記憶した記録データのすべてを光ディスク１００に記録すると、光ディスク１００に記録した記録データの検証処理を行う（ステップＳ１０６）。
【００１２】
次に、光ディスク１００に記録した記録データの検証処理を行う方法を、図２２を参照しながら説明する。
再生手段２０３は、光ディスク１００のデータ領域１３０および代替領域１４０に記録した記録データを、ブロック毎に再生する。記録データに誤りがあった場合は、公知の方法で誤り訂正を行う（ステップＳ１２１）。
【００１３】
ブロックの再生が終了すると、誤り検出手段２０４は、再生された各ブロックの記録データに基づいて、当該ブロックの記録データは誤り訂正ができないデータであるか否かを判定する。誤り訂正ができない場合、該ブロックは欠陥ブロックであるので、誤り検出手段２０４は、代替ブロックに対する記録を行うために代替処理要求信号Ｓ２０４を出力し、処理をステップＳ１２４に移行する（ステップ３２２）。誤り訂正ができた場合、欠陥判定手段２０７は、予め保持している欠陥判定閾値に基づいて、再生された当該ブロックの記録データより検出した誤り数が所定数以上であるか判定する。そして、誤り数が所定数以下である場合は、該ブロックは欠陥ブロックではないので、処理をステップＳ１２５に移行する。一方、誤り数が所定数以上である場合、該ブロックは欠陥ブロックであるので、代替ブロックに対する記録を行うために、代替処理要求信号Ｓ２０７を出力する（ステップＳ１２３）。
【００１４】
ステップＳ１２２またはステップＳ１２３において欠陥ブロックが検出され、代替処理要求信号Ｓ２０４、Ｓ２０７が出力されると、記録手段２０２は代替処理を行う。この代替処理は、前述のステップＳ１１１〜ステップＳ１１４により行う（ステップＳ１２４）。
【００１５】
そして、記録データを記録したすべてのブロックを再生および検証したか判断し、検証していないブロックがある場合は、処理をステップＳ１２１に戻す。一方、すべてのブロックを再生および検証したら、記録データの検証処理を終了する（ステップＳ１２５）。
【００１６】
このようにして検証処理を行うと、次に、ホストからすべての記録データを受信したか判断し、すべての記録データを受信していない場合は、ステップＳ１０１に戻り、記録データの受信および記録を行う（ステップＳ１０７）。
【００１７】
ステップＳ１０７において、すべての記録データを受信し、記録したと判断されると、記録手段２０２は、欠陥情報記憶部に記憶している欠陥情報を光ディスク１００の欠陥管理領域１２０に記録し、光ディスク１００に対する記録データの記録処理を終了する（ステップＳ１０８）。
【００１８】
このように、従来の光ディスク装置１０ｄにおける代替処理は、データ領域１３０のブロックより欠陥を検出した場合、その欠陥ブロックの代わりに、代替領域１４０より選定した代替ブロックに対して記録データを記録し、代替ブロックに欠陥ブロックの論理アドレスを付与するものである。仮想的に欠陥を見えなくすることにより、光ディスク１０ｄの高信頼性を得ることができる。
【００１９】
また、光ディスクの代替処理に関して、特開２０００−５７７１３号公報に記載されているようなものがあった。これは、欠陥を判定するための欠陥判定基準を複数設け、光ディスクに記録データを記録する前に、ホストが欠陥判定基準を選択することができるようにしたものである。セクタが、代替処理の必要な欠陥セクタであるか否かの判定基準を、用途に応じて選択・設定できるので、例えば、信頼性が重視されるＰＣデータに対しては、欠陥判定基準を厳しくして、データの信頼性を高めることができる。また、データの信頼性よりも、データの連続性が求められるＡＶデータに関しては、欠陥判定基準を緩めることによって、データの連続性を高めることができる。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の光ディスク装置１０ｄは、記録データを光ディスク１００に記録した後、データを読み出した際に検出した誤り数に基づいて、そのブロックが欠陥ブロックであるか判定しているので、欠陥と判定されるブロックには、光ディスク１００の当該ブロックに欠陥があるため、記録や読み出しができないブロックのみではなく、当該ブロックには異常はないにもかかわらず、記録手段２０２による記録に失敗したブロックも含まれている。このため、従来の光ディスク装置１０ｄには、記録ミスによって誤りが生じているブロックを欠陥ブロックと判定してしまうことにより、記録可能なデータ量の低下や、代替処理を行うことによる記録処理の遅延が発生していた。
【００２１】
また、従来の光ディスク装置１０ｄ、および特開２０００−５７７１３号公報に記載の光ディスク装置における代替処理では、光ディスクにデータを記録する前に、ユーザによって欠陥判定基準が決定され、その後変更することができなかった。そのため、以下のような課題が発生していた。
【００２２】
従来の代替処理を行う光ディスク装置では、記録時には、
（１）　データ記録
（２）　データを再生、誤り数を検出
（３）　所定数以上の誤りがあれば、その領域を欠陥であると判定
（４）　欠陥領域と判定すれば代替領域にデータを記録し、欠陥管理領域に欠陥情報を登録
という作業が必要であった。このため、欠陥が多発する個所では、代替処理による記録処理の遅延が発生する問題があった。
【００２３】
さらに、従来の光ディスク装置により代替処理がなされた光ディスクを再生すると、再生時間に遅延が発生してしまう。例えば、図２３の領域構成図に示したように、光ディスク１００のブロックＰ９〜Ｐ１１に、欠陥ブロック、正常ブロック、欠陥ブロックが並んで配置し、ブロックＰ９の代替ブロックとしてブロックＰ１６が、ブロックＰ１１の代替ブロックとしてブロックＰ１７が割り当てられ、ブロックＰ１６に論理アドレスＬ９が、ブロックＰ１０に論理アドレスＬ１０が、ブロックＰ１７に論理アドレスＬ１１が付与されている場合、ブロックＬ９〜Ｌ１２を順に再生すると、複数回の長距離シークが必要となる。すなわち、ブロックＬ９を読み出すために、ブロックＰ９からブロックＰ１６へのシーク（シーク▲５▼）と、ブロックＬ１０を読み出すために、ブロックＰ１６からブロックＰ１０へのシーク（シーク▲６▼）と、ブロックＬ１１を読み出すために、ブロックＰ１１からブロックＰ１７へのシーク（シーク▲７▼）と、の３回のシークが生じる。このようなシークを行うことにより再生時間に遅延が発生するため、再生データが一時的に劣化してしまうという問題もあった。
【００２４】
本発明は、かかる問題点を解決するためのものであり、代替処理や再生処理における処理速度の低下を抑えることのできる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【００２５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１に記載の光ディスク装置は、データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクにデータを記録する記録手段と、上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、上記カウントされた誤り数の、当該ブロックを過去に再生したときにカウントした過去の誤り数に対する変化量が、所定の範囲内であるかを判定する誤り数検証手段と、上記誤り数の変化量が所定の範囲内であるときの、上記カウントされた誤り数に基づいて、該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する欠陥判定手段と、上記欠陥ブロックに記録するデータを、欠陥のないブロックに記録する欠陥管理手段と、を備えたことを特徴とする。
【００２６】
また、本発明の請求項２に記載の光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、上記誤り数の変化量が所定数より増加した場合、該ブロックにデータを再度記録し、上記誤り数検証手段は、上記再度記録されたデータに基づいて、誤り数の変化量が所定の範囲内であるか判定する、ことを特徴とする。
【００２７】
また、本発明の請求項３に記載の光ディスク装置は、請求項１または請求項２に記載の光ディスク装置において、上記光ディスク装置は、各ブロックの上記過去の誤り数を記憶する誤り数記憶手段を有し、上記誤り数検証手段は、上記カウントされた誤り数と、上記誤り数記憶手段が記憶する上記過去の誤り数と、に基づいて、誤り数の変化量を算出し、上記欠陥判定手段は、欠陥ブロックであるかの判定が終了すると、その判定に用いた誤り数を上記誤り数記憶手段に記憶させる、ことを特徴とする。
【００２８】
また、本発明の請求項４に記載の光ディスク装置は、データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクにデータを記録する記録手段と、上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、各ブロックの誤り数を記憶する誤り数記憶手段と、上記誤り数記憶手段が記憶する各ブロックの誤り数に基づいて、誤り数が所定の閾値以上であるブロックを欠陥ブロックと判定する欠陥判定手段と、上記欠陥ブロックに記録するデータを、欠陥のないブロックに記録する欠陥管理手段と、を備え、上記欠陥判定手段は、上記誤り数記憶手段が記憶する各ブロックの誤り数に基づいて、誤り数が所定の閾値以上である欠陥候補ブロックを検出し、上記欠陥候補ブロックの数に対する、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数の比率に基づいて、上記閾値を変化させる、ことを特徴とする。
【００２９】
また、本発明の請求項５に記載の光ディスク装置は、請求項４に記載の光ディスク装置において、上記欠陥判定手段は、上記欠陥候補ブロックの数に対する、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数の割合が、所定割合より小さい場合、上記閾値を厳しくする、ことを特徴とする。
【００３０】
また、本発明の請求項６に記載の光ディスク装置は、請求項４または請求項５に記載の光ディスク装置において、上記欠陥判定手段は、上記欠陥候補ブロックの数に対する、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数の割合が、所定割合より大きい場合、上記閾値を緩和する、ことを特徴とする。
【００３１】
また、本発明の請求項７に記載の光ディスク装置は、請求項４ないし請求項６のいずれかに記載の光ディスク装置において、上記記録手段は、上記誤りを検出したブロックのアドレスと該ブロックの誤り数とを光ディスクの所定位置に記録する、ことを特徴とする。
【００３２】
また、本発明の請求項８に記載の光ディスク装置は、データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクにデータを記録する記録手段と、上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、上記誤り検出手段がカウントした誤り数に基づいて、該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する第１の欠陥判定手段と、二つの欠陥ブロックに挟まれている正常なブロックの数に基づいて、該正常なブロックが欠陥ブロックであるかを判定する第２の欠陥判定手段と、上記欠陥ブロックに記録されているデータを、欠陥のない代替ブロックに記録する欠陥管理手段と、を備えたことを特徴とする。
【００３３】
また、本発明の請求項９に記載の光ディスク装置は、請求項８に記載の光ディスク装置において、上記第２の欠陥判定手段は、二つの欠陥ブロックに挟まれている正常なブロックの数が第１の所定数未満であり、該正常なブロックおよび上記二つの欠陥ブロックの代替ブロックに記録されているデータが、連続して再生されるデータである場合、該正常なブロックを欠陥ブロックと判定する、ことを特徴とする。
【００３４】
また、本発明の請求項１０に記載の光ディスク装置は、請求項８または請求項９に記載の光ディスク装置において、光ディスクの一定長の記録領域内で、正常なブロックが連続する正常領域が、上記欠陥ブロックによって第２の所定数以上に分割されている場合、分割された上記正常領域を構成する正常なブロックの数に基づいて、該正常領域を構成するブロックが欠陥ブロックであるかを判定する第３の欠陥判定手段を備えた、ことを特徴とする。
【００３５】
また、本発明の請求項１１に記載の光ディスク装置は、請求項１０に記載の光ディスク装置において、上記第３の欠陥判定手段は、上記一定長の記録領域内で、上記正常領域が上記欠陥ブロックによって第２の所定数以上に分割され、分割された各正常領域を構成する正常なブロックの数が第３の所定数未満であり、該正常なブロックおよび上記欠陥ブロックに記録されているデータが連続して再生されるデータである場合、該正常なブロックを欠陥ブロックと判定する、ことを特徴とする。
【００３６】
また、本発明の請求項１２に記載の光ディスク装置は、請求項８に記載の光ディスク装置において、上記欠陥管理手段は、代替ブロックに記録されているデータの記録位置を変更しながら、データを、再生される順に記録する、ことを特徴とする。
【００３７】
また、本発明の請求項１３に記載の光ディスク装置は、データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクの記録領域にデータを記録する記録手段と、上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、上記記録領域の所定長領域を、共通の閾値により判定を行う閾値設定単位とし、各閾値設定単位に対して、該閾値設定単位を構成するブロックが欠陥ブロックであるか判定する際に用いる閾値を設定する閾値設定手段と、上記カウントされた誤り数が上記閾値以上であるブロックを、欠陥ブロックと判定する欠陥判定手段と、を備え、上記再生手段は、上記記録領域の所定長領域を一つの再生頻度調査単位とし、各再生頻度調査単位の再生頻度をカウントし、上記閾値設定手段は、上記各再生頻度調査単位の再生頻度に基づいて、上記閾値を変化させる、ことを特徴とする。
【００３８】
また、本発明の請求項１４に記載の光ディスク装置は、請求項１３に記載の光ディスク装置において、上記各閾値設定単位は、連続して再生されるデータが記録されているブロックより構成されている、ことを特徴とする。
【００３９】
また、本発明の請求項１５に記載の光ディスク装置は、請求項１３に記載の光ディスク装置において、上記各閾値設定単位は、一定数のブロックより構成されている、ことを特徴とする。
また、本発明の請求項１６に記載の光ディスク装置は、請求項１３に記載の光ディスク装置において、上記閾値設定単位と上記再生頻度調査単位との長さが等しい、ことを特徴とする。
【００４０】
また、本発明の請求項１７に記載の光ディスク装置は、請求項１３または請求項１４に記載の光ディスク装置において、上記再生手段は、上記記録領域全てにデータが記録されていないときには、カウントした各再生頻度調査単位の再生頻度をクリアする、ことを特徴とする。
【００４１】
【発明の実施の形態】
（実施の形態１）
本発明の請求項１ないし請求項３に記載の光ディスク装置に対応する形態を、実施の形態１として、図１ないし図６を用いて説明する。
図１は、本発明の実施の形態１による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
本実施の形態１による光ディスク装置１０は、光ディスク１００の各ブロックに記録データを記録すると、記録データを再生し、再生された各ブロックの記録データより検出した誤り数の、前回の記録処理時に検出された誤り数に対する変化量に基づいて、その誤りが欠陥ブロックによって生じたものであるかを検証するものである。
【００４２】
光ディスク装置１０は、ホストから受信した記録データを記憶するデータ記憶手段２０１と、光ディスク１００のデータ領域１３０および代替領域１４０に記録データを記録する記録手段２０２と、データ領域１３０および代替領域１４０に記録した記録データを単位で再生し、記録データに誤りがあった場合は誤り訂正を行う再生手段２０３と、再生された各ブロックの記録データに基づいて、当該ブロックの記録データは誤り訂正ができないデータであるかを判定し、誤り訂正ができた場合は、その誤り数をカウントする誤り検出手段２０４と、前回、記録データを記録した時に検出された各ブロックの誤り数（以下、前回の誤り数と称す）を記憶している誤り数記憶手段２０５と、再生された各ブロックの記録データより誤り検出手段２０４が検出した誤り数と、誤り数記憶手段２０５が記憶する前回の誤り数と、より算出した誤り数の変化量に基づいて、検出された誤り数が信頼できるかを検証する誤り数検証手段２０６と、信頼できる誤り数を用いて、該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する欠陥判定手段２０７と、を有する。
【００４３】
ここで、誤り検出手段２０４は、再生された各ブロックの記録データに基づいて、当該ブロックの記録データは誤り訂正ができないデータであるか否かを判定する。誤り訂正ができないデータである場合、該ブロックは欠陥ブロックであるため、誤り検出手段２０４は、代替ブロックに対する記録を行うために、代替処理要求信号Ｓ２０４を記録手段２０２に出力する。一方、記録データに誤りがない場合や誤りを訂正できた場合には、各ブロックの記録データより検出した誤り数をカウントし、誤り数検証手段２０６に出力する。
【００４４】
誤り数記憶手段２０５は、前回、記録データを記録した時に誤り検出手段２０４において検出された各ブロックの前回の誤り数と、誤り数の変化量（以下、前回の変化量と称す）と、を登録した誤りリストを記憶している。図２（ａ）に、誤りリストの例を示す。ブロックＰ１の、ｎ回目の記録時に検出した誤り数をＥ１、ｎ＋１回目の記録時に検出した誤り数をＥ２、誤り数Ｅ１に対する誤り数Ｅ２の変化量をΔ（Ｅ２−Ｅ１）とした場合、誤りリストのブロックＰ１に対して割り当てた領域に、変化量Δ（Ｅ２−Ｅ１）と、誤り数Ｅ２とが登録される。また、誤り数記憶手段２０５は、誤り数検証手段２０６による判定（以下に詳述する）が終了すると、誤り数検証手段２０６が出力する最新の誤り数と変化量とより、誤りリストを更新する。
【００４５】
誤り数検証手段２０６には、検出された誤り数は信頼性のある値であるかを判定する際に判定基準として用いる誤り数検証閾値が、予め設定される。この誤り数検証手段２０６は、誤り検出手段２０４が出力する最新の誤り数と、誤り数記憶手段２０５が記憶する前回の誤り数と、を用いて、誤り検出手段２０４が検出した各ブロックの誤り数の、前回の誤り数に対する変化量を算出する。そして、誤り数検証閾値に基づいて誤り数の変化量を閾値判定することにより、誤り数の信頼性の検証を行う。
【００４６】
ここで、誤り数の信頼性について、図３を参照しながら説明する。
図３は、あるブロックに対して記録データを複数回記録した場合の、記録回数に対する誤り数の変化量を示すグラフである。図３において、▲１▼は、ブロックに異常が発生しなかった場合の、一般的な記録回数に対する誤り数の変化量の特性（以下、一般的な誤り数の特性と称す）を示すグラフ、▲１▼’は、グラフ▲１▼に近似した特性を示すグラフ、▲２▼は、ｎ＋１回目の記録時に、記録ミスによって引き起こされた誤り数の変化量を示すグラフである。
【００４７】
誤り検出手段２０４が検出した誤り数が、グラフ▲１▼、▲１▼’に示した特性に従った数である場合、検出された誤り数は信頼できる値であるので、欠陥判定手段２０７は、その誤り数に基づいて、当該ブロックは欠陥ブロックであるか否かを判定することができる。しかし、グラフ▲２▼のように、誤り検出手段２０４が検出した誤り数が、一般的な誤り数の特性より乖離した値である場合、その誤りは、記録ミスによるものである可能性があり、該誤り数に基づいてブロックの欠陥を判定すると、誤判定をしてしまう可能性がある。記録ミスによって誤りが生じているブロックを欠陥ブロックと判定することを回避するために、一般的な誤り数の特性より乖離した変化量が検出された場合、当該ブロックに記録データを再度記録して、誤り数検証手段２０６により誤り数の変化量を再度判定することにより、欠陥判定が正しいかを検証する。
【００４８】
次に、誤り数検証手段２０６により誤り数の信頼性を検証する方法を、図４を参照しながら説明する。
図４は、あるブロックに対して記録データを複数回記録した場合の、記録回数に対する誤り数の例を示すグラフである。図４に示すように、ｎ＋１回目の記録時に検出した誤り数がＥ２、ｎ＋２回目の記録時に検出した誤り数がＥ３である場合、誤り数Ｅ３の誤り数Ｅ２に対する変化量はΔ（Ｅ３−Ｅ２）である。
【００４９】
例えば、ｎ＋２回目の記録における誤り数が検出されると、誤り数検証手段２０６は、変化量Δ（Ｅ３−Ｅ２）と誤り数検証閾値とを比較する。ここで、変化量Δ（Ｅ３−Ｅ２）が誤り数検証閾値未満である場合、同程度の誤り数の変化量を複数回数検出したことになり、ｎ＋２回目の記録データの検証処理において検出した誤り数は信頼できる値である、と判断することができる。一方、変化量Δ（Ｅ３−Ｅ２）が誤り数検証閾値以上である場合、誤り数は信頼できない値である。誤り数が信頼できない値である場合、当該ブロックに再度記録データを記録して、ｎ＋２回目のときと同様に、再生した記録データより検出した誤り数の信頼性を再度検証する。ｎ＋３回目の記録における誤り数Ｅ３’が検出されると、誤り数検証手段２０６は、変化量Δ（Ｅ３’−Ｅ２）と誤り数検証閾値とを比較し、誤り数検証閾値未満である場合、誤り数は信頼できる値であると判断し、誤り数検証閾値以上である場合、誤り数は信頼できないと判断する。ここで、変化量Δ（Ｅ３’−Ｅ２）が一般的な誤り数の特性に従った値である場合、誤り数検証手段２０６は、誤り数Ｅ３’は信頼できる値であると判定される。
【００５０】
このようにして誤り数の信頼性を検証すると、誤り数検証手段２０６は、信頼できると判定した誤り数を欠陥判定手段２０７に、変化量および誤り数を誤り数記憶手段２０５に、出力する。
【００５１】
ここで、ブロックＰ１の記録回数に対する誤り数が、図４に示したものである場合の、誤りリストの例を図２に示す。ブロックＰ１にｎ＋１回の記録がなされている場合、図２（ａ）のように、誤りリストのブロックＰ１に割当てた領域には、ｎ＋１回目の記録時に検出した誤り数の変化量Δ（Ｅ２−Ｅ１）と、誤り数Ｅ２が登録されている。その後、ブロックＰ１に対してｎ＋２回目およびｎ＋３回目の記録が行われ、誤り数検証手段２０６より、ｎ＋３回目に記録したときの変化量Δ（Ｅ３’−Ｅ２）と誤り数Ｅ３’とが出力されると、誤り数記憶手段２０５は最新の変化量および誤り数により誤りリストを更新するので、図２（ｂ）のように、誤りリストのブロックＰ１に割当てた領域には、変化量Δ（Ｅ３’−Ｅ２）と誤り数Ｅ３’とが登録される。
【００５２】
次に、このように構成される光ディスク装置１０において、光ディスク１００に記録データを記録する記録処理の方法について、図５を参照しながら説明する。
まず、誤り数検証手段２０６は、検出された誤り数が信頼できる値であるかを検証する際に用いる誤り数検証閾値を設定する。ここでは、予め規定しておいた誤り数の変化量を、誤り数検証閾値として設定する（ステップＳ１）。
【００５３】
誤り数検証閾値を設定したら、誤りリストを取得し、誤り数記憶手段２０５に記憶する。すなわち、前回の処理で、記録データを記録した後、光ディスク１００が取り出されている場合には、光ディスク１００を取り出した時に光ディスク装置１０のメモリ（図示しない）に一時記憶している誤りリストを読み出す。また、データを記録後、ディスクが光ディスク装置から取り出されなかった場合、誤り数記憶手段２０５が記憶している誤りリストを、そのまま用いる（ステップＳ２）。
【００５４】
このとき、誤りリストを取得できない場合（ステップＳ３）は、誤りリストを新規に作成し、各ブロックの前回の変化量と前回の誤り数とに初期値である０を設定する（ステップＳ４）。
【００５５】
次に、ホストから記録データを受信し、データ記憶手段２０１に記憶する（ステップＳ５）。そして、記録手段２０２は、データ記憶手段２０１に記憶した記録データを、光ディスク１００に記録する。データの記録は、再生最小単位であるブロック毎に行う。（ステップＳ６）。
【００５６】
このとき、記録中にエラーがあれば（ステップＳ７）、エラーが発生した時点で一度記録を中断し、前述のステップＳ１１１〜ステップＳ１１４に従って従来の代替処理を行うことにより、記録に失敗した記録データを代替領域１４０に書き込む。すなわち、記録手段２０２は、欠陥を有する欠陥ブロックの代わりに記録データを記録する代替ブロックを代替領域１４０から選択し、欠陥ブロックの物理アドレスと代替ブロックの物理アドレスとを一時記憶しておく。そして、記録手段２０２は、選択した代替ブロックに論理アドレスを付与し、ステップＳ６において記録に失敗した記録データを記録する。さらに、欠陥ブロックと代替ブロックとの物理アドレスに基づいて欠陥情報を作成し、欠陥情報記憶部（図示しない）に記憶しておく（ステップＳ８）。
【００５７】
このようにして、記録手段２０２による記録または代替処理を行うと、次に、記録手段２０２は、記録データの記録が完了したブロックまたはエラーが発生した欠陥ブロックの次のブロックから記録を再開する。すなわち、記録手段２０２はステップＳ５においてデータ記憶手段２０１に記憶した記録データのすべてを光ディスク１００に記録したか判断し、すべての記録データを記録していない場合、処理をステップＳ６に戻し、記録データの記録を行う（ステップＳ９）。一方、データ記憶手段２０１に記憶した記録データのすべてを光ディスク１００に記録すると、光ディスク１００に記録した記録データの検証処理を行う（ステップＳ１０）。
【００５８】
次に、光ディスク１００に記録した記録データの検証処理を行う方法を、図６を参照しながら説明する。
再生手段２０３は、光ディスク１００のデータ領域１３０および代替領域１４０に記録した記録データを、ブロック毎に再生する。記録データに誤りがあった場合は、公知の方法で誤り訂正を行う（ステップＳ１３）。
【００５９】
ブロックの再生が終了すると、誤り検出手段２０４は、再生された各ブロックの記録データに基づいて、当該ブロックの記録データは誤り訂正ができないデータであるか否かを判定する。誤り訂正ができない場合、該ブロックは欠陥ブロックであるので、誤り検出手段２０４は、代替ブロックに対する記録を行うために代替処理要求信号Ｓ２０４を出力し、処理をステップＳ１８に移行する（ステップＳ１４）。
【００６０】
一方、記録データに誤りがない、または誤りがあっても誤り訂正ができた場合、誤り検出手段２０４は、誤り数をカウントし、誤り数検証手段２０６に出力する。すると、誤り数検証手段２０６は、誤り数記憶手段２０５より取得した前回の誤り数と、誤り検出手段２０４が出力する今回の誤り数と、より誤り数の変化量を算出し、その変化量が誤り数検証閾値以上であるかを判定する。誤り数の変化量が誤り数検証閾値未満である場合、誤り数検証手段２０６は、誤り数は信頼できる値であると判断し、変化量と誤り数とを出力し、処理をステップＳ１７に移行する。（ステップＳ１５）。一方、誤り数の変化量が誤り数検証閾値以上である場合、誤り数検証手段２０６は、誤り数は信頼できない値であると判断し、再度同じブロックにデータを記録する。そして、処理をステップＳ１３に戻し、誤り数の検出およびその信頼性の検証を行う（ステップＳ１６）。
【００６１】
ステップＳ１５において誤り数の変化量は誤り数検証閾値未満であると判定され、誤り数検証手段２０６が誤り数を出力すると、欠陥判定手段２０７は、予め保持している欠陥判定閾値を用いて、この誤り数を閾値判定する。この判定処理は、例えば、誤り数の変化量による閾値判定では異常がないと判定されたブロックでも、検出された誤り数が、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ　Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ　Ｄｉｓｃ）規格のＤＶＤＢＯＯＫ規格などによって、欠陥として登録しなければならないと定められている誤り数以上であった場合に、当該ブロックを欠陥ブロックと判定するための処理である。そして、誤り数が欠陥判定閾値未満である場合は、該ブロックは欠陥ブロックではない正常ブロックであると判定し、処理をステップＳ１９に移行する。一方、誤り数が欠陥判定閾値以上である場合は、該ブロックは欠陥ブロックであると判定し、代替ブロックに対する記録を行うために、代替処理要求信号Ｓ２０７を出力する（ステップＳ１７）。
【００６２】
ステップＳ１４またはステップＳ１７において欠陥ブロックが検出され、代替処理要求信号Ｓ２０４またはＳ２０７が出力されると、記録手段２０２は代替処理を行う。この代替処理は、前述のステップＳ１１１〜Ｓ１１４により行う（ステップＳ１８）。
【００６３】
次に、誤り数記憶手段２０５は、誤り数検証手段２０６が出力する変化量と誤り数とにより、誤りリストを更新する。ここで、誤り訂正できないと判定された欠陥ブロックに関しては、以降の処理において該ブロックの誤り判定を行わないようにするために、誤りリストの、該ブロックの変化量と誤り数とに、ＦＦｈ（「ｈ」は１６進表記であることを示す）など、実際には発生しえない値を登録することにより、その他のブロックと区別してもよい（ステップＳ１９）。
【００６４】
そして、記録データを記録したすべてのブロックを再生および検証したか判断し、検証していないブロックがある場合は、処理をステップＳ１３に戻す。一方、すべてのブロックを再生および検証したら、記録データの検証処理を終了する（ステップＳ２０）。
【００６５】
このようにして検証処理を行うと、次に、ホストからすべての記録データを受信したか判断し、すべての記録データを受信していない場合は、ステップＳ５に戻り、記録データの受信および記録を行う（ステップＳ１１）。
【００６６】
ステップＳ１１において、すべての記録データを受信したと判断されると、記録手段２０２は、欠陥情報記憶部に記憶している欠陥情報を光ディスク１００の欠陥管理領域１２０に記録し、光ディスク１００に対する記録データの記録を終了する（ステップＳ１２）。
【００６７】
以上のように、本発明の実施の形態１による光ディスク装置１０においては、光ディスク１００に記録データを記録する記録手段２０２と、光ディスク１００に記録された記録データを、誤り訂正をしながら再生する再生手段２０３と、再生された各ブロックの記録データより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段２０４と、前回、記録データを記録したときに検出された前回の誤り数を記憶する誤り数記憶手段２０５と、誤り検出手段２０４により検出された誤り数と、誤り数記憶手段２０５が記憶する前回の誤り数と、より算出した誤り数の変化量に基づいて、検出された誤り数が信頼できるかを検証する誤り数検証手段２０６と、信頼できる誤り数を用いて、当該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する欠陥判定手段２０７と、を備えたので、誤り数の変化量に基づいて、検出された誤りが信頼できるかを検証することにより、欠陥ブロックではないにもかかわらず記録ミスが原因で誤りが生じているブロックを、欠陥ブロックと判定することを防止することができる。これにより、代替処理を軽減することができ、記録処理の遅延の軽減、および光ディスク１００のデータ領域１３０や代替領域１４０の消耗の抑制が可能となる。さらに、記録データを再生する時には、データ領域１３０、代替領域１４０間の長距離シークの回数が軽減されるので、再生処理の遅延、および再生データの劣化を軽減することができる。
【００６８】
（実施の形態２）
次に、本発明の請求項４ないし請求項７に記載の光ディスク装置に対応する形態を、実施の形態２として、図７、図８を用いて説明する。
図７は、本発明の実施の形態２による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。なお、図７において、図１と同一または相当する部分には同一符号を付して、詳しい説明を省略する。
【００６９】
本発明の実施の形態２による光ディスク装置１０ａは、光ディスク１００に記録した記録データを再生し、再生時に検出した記録データの誤り数に基づいて、欠陥判定閾値を用いた閾値判定で欠陥と判定される欠陥候補ブロックの数を確認するとともに、欠陥管理領域１２０または、欠陥情報記憶部に記憶している欠陥情報より、代替ブロックとして用いることのできる空きブロックの数を調べる。そして、代替処理を行う前に、空きブロックの数に対する、現状の欠陥判定閾値では欠陥候補ブロックとされるブロック数の割合を計算し、その割合に基づいて欠陥判定閾値が現状の空きブロックの数に合っているものであるかを検証するものである。
【００７０】
光ディスク装置１０ａは、ホストから受信した記録データを記憶するデータ記憶手段２０１と、光ディスク１００のデータ領域１３０および代替領域１４０に記録データを記録する記録手段２０２と、データ領域１３０および代替領域１４０に記録した記録データをブロック単位で再生し、再生した記録データに誤りがあった場合は誤り訂正を行う再生手段２０３と、再生された各ブロックの記録データに基づいて、当該ブロックの記録データは誤り訂正ができないデータであるかを判定し、誤り訂正ができた場合は、その誤り数をカウントする誤り検出手段２０４ａと、カウントされた各ブロックの誤り数を記憶する誤り数記憶手段２０５ａと、誤り数記憶手段２０５ａに記憶されている誤り数を用いて、各ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する欠陥判定手段２０７ａと、を有する。
【００７１】
ここで、誤り数記憶手段２０５ａは、欠陥判定閾値を検証するために必要な情報を記述した欠陥候補リストを、一時的に記憶する。欠陥候補リストは、誤りのあるブロックの物理アドレスと誤り数の最新情報とを記述したものである。また、誤り数記憶手段２０５ａは、誤り数を欠陥判定閾値により閾値判定した場合に欠陥と判定される欠陥候補ブロックの物理アドレスを記述した欠陥リストを、一時的に記憶する。ここで、この欠陥リストにリストアップされた欠陥候補ブロックは、代替処理の対象となるブロックである。
【００７２】
なお、誤り数記憶手段２０５ａが記憶する欠陥候補リストは、光ディスク１００の取り出し時に光ディスク１００に記録される。このとき、欠陥候補リストは、光ディスク１００の、既存の光ディスク装置は使用しない領域、例えばＬｅａｄ−ｏｕｔに記録されなければならない。一方、欠陥リストは、欠陥候補リストを用いて復元することが可能なので、必要なときに誤り数記憶手段２０５ａに記憶されていればよい。
【００７３】
誤り検出手段２０４ａは、再生された各ブロックの記録データに基づいて、当該ブロックの記録データは誤り訂正ができないデータであるか判定する。誤り訂正ができないデータである場合、誤り検出手段２０４ａは、誤り数記憶手段２０５ａの欠陥候補リストに該ブロックの物理アドレスを登録する。さらに、欠陥候補リストに、該ブロックの誤り数として、ＦＦｈなどの実際には発生しえない値を記述する。一方、誤りを訂正できた場合には、誤りを検出したブロックの物理アドレスと誤り数とを、欠陥候補リストに登録する。
【００７４】
欠陥判定手段２０７ａは、誤り数記憶手段２０５ａより欠陥候補リストを読出して、現在の欠陥判定閾値で欠陥と判定される誤り数が登録されている欠陥候補ブロックを検索し、欠陥候補ブロックの物理アドレスを記述した欠陥リストを作成する。そして、欠陥判定手段２０７ａは、この欠陥リストより欠陥候補ブロックの数を調査する。さらに、欠陥判定手段２０７ａは、光ディスク１００の欠陥管理領域１２０または、欠陥情報記憶部に記憶している欠陥情報から、代替ブロックとして用いることのできる空きブロックの数を調査し、空きブロック数に対する、欠陥候補ブロック数の割合に基づいて、欠陥判定閾値の値を最適化する。
【００７５】
ここで、欠陥判定閾値の値の最適化は、以下のように実施する。欠陥候補ブロックに対して代替処理を行うと代替領域１４０の空きブロックが所定範囲を超える場合は、代替領域１４０には余裕があるため、欠陥と判定する誤り数を増加させるように欠陥判定閾値を厳しくする。また、欠陥候補ブロックに対して代替処理を行うと代替領域１４０の空きブロックが所定範囲より少なくなる場合は、代替領域１４０の空きブロックが少ないため、欠陥と判定する誤り数を減少させるように欠陥判定閾値を緩くする。このように欠陥判定閾値を変更することによって、代替処理の対象となる欠陥候補ブロックの数を制御する。
【００７６】
次に、このように構成される光ディスク装置１０ａの動作について説明する。光ディスク装置１０ａは、従来の光ディスク装置１０ｄにおいて説明したステップＳ１０１〜ステップＳ１０５の処理を行い、光ディスクに記録データを記録する。
すなわち、ホストから受信し、データ記憶手段２０１に記憶した記録データを、記録手段２０２により光ディスク１００に記録する。記録中にエラーがあれば、代替処理を行う。そして、記憶手段２０１に記憶した記録データのすべてを記録すると、光ディスク１００に記録した記録データの検証処理を行う。
【００７７】
以下、光ディスク装置１０ａによる検証処理の方法について、図８を参照しながら説明する。
再生手段２０３は、光ディスク１００のデータ領域１３０および代替領域１４０に記録した記録データを、ブロック毎に再生する。再生された記録データに誤りがあった場合は、公知の方法で誤り訂正を行う（ステップＳ２２）。
【００７８】
ブロックの再生が終了すると、誤り検出手段２０４ａは、再生された各ブロックの記録データに基づいて、当該ブロックの記録データは誤り訂正ができないデータであるかを判定する。誤り訂正ができない場合、該ブロックは欠陥ブロックであるので、誤り検出手段２０４ａは、誤り数記憶手段２０５ａが記憶している欠陥候補リストに該ブロックの物理アドレスを登録する。さらに、欠陥候補リストに、該ブロックの誤り数としてＦＦｈなどの実際には発生しえない値を記述し、処理をステップＳ２５に移行する（ステップＳ２３）。一方、記録データに誤りがない、または誤りがあっても誤り訂正ができた場合、誤り検出手段２０４ａは、そのどちらであるかを判定する。そして、誤りがない場合、処理をステップＳ２６に移行する（ステップＳ２４）。記録データは誤り訂正をしたデータである場合、誤り検出手段２０４ａは、誤りを検出したブロックの物理アドレスと誤り数とを、欠陥候補リストに記述する（ステップＳ２５）。
【００７９】
そして、記録データを記録したすべてのブロックを再生し、誤り数を取得したか判断し、再生および誤り数の取得を行っていないブロックがある場合は、処理をステップＳ２２に戻す（ステップＳ２６）。
【００８０】
記録データを記録したすべてのブロックの再生、および誤り数の取得が終了すると、欠陥判定手段２０７ａは、誤り数記憶手段２０５ａより欠陥候補リストを読出して、現在の欠陥判定閾値で欠陥と判定される誤り数が登録されている欠陥候補ブロックを検索し、欠陥候補ブロックの物理アドレスを欠陥リストに記述するとともに、欠陥候補ブロックの数を調査する（ステップＳ２７）。そして、欠陥判定手段２０７ａは、光ディスク１００の欠陥管理領域１２０または、欠陥情報記憶部に記憶している欠陥情報から、代替ブロックとして用いることのできる空きブロックの数を調査し、空きブロック数に対する、欠陥候補ブロック数の割合が所定範囲内であるか判定する。空きブロック数に対する欠陥候補ブロック数の割合が所定範囲内であれば、代替処理要求信号Ｓ２０７ａを出力し、処理をステップＳ３０に移行する（ステップＳ２８）。
【００８１】
一方、欠陥候補ブロック数の割合が所定範囲内ではない場合、欠陥判定閾値の厳しさを変更する。そして、欠陥判定手段２０７ａは、厳しさを変更した欠陥判定閾値を用いて、欠陥候補リストより欠陥候補ブロックを検索し、欠陥リストを作り直す。欠陥候補ブロックに対して代替処理を行うと代替領域１４０の空きブロックが所定範囲を超える場合は、欠陥判定閾値を厳しくし、欠陥候補ブロックに対して代替処理を行うと代替領域１４０の空きブロックが所定範囲より少なくなる場合は、欠陥判定閾値を緩くすると、ステップＳ２７に戻り、欠陥候補ブロックの検索および欠陥リストの作成を行う（ステップＳ２９）。
【００８２】
ステップＳ２８において、空きブロック数に対する欠陥候補ブロック数の割合が所定範囲内であると判定され、代替処理要求信号Ｓ２０７ａが出力されると、記録手段２０２は、欠陥リストに記述されている欠陥候補ブロックを欠陥ブロックとみなし、すべての欠陥ブロックに対して代替処理を行う（ステップＳ３０）。
そして、代替処理が終了すると、従来の光ディスク装置１０ｄにおいて説明したステップＳ１０７〜ステップＳ１０８の処理を行う。
【００８３】
すなわち、ホストからすべての記録データを受信したか判断し、すべての記録データを受信していない場合は、記録データの受信および記録を行う。そして、すべての記録データを受信すると、欠陥情報記憶部に記憶している欠陥情報を欠陥管理領域１２０に記録し、光ディスク１００に対する記録データの記録処理を終了する。
【００８４】
以上のように、本発明の実施の形態２による光ディスク装置においては、欠陥判定手段２０７ａを、光ディスク１００の記録データの再生時に検出した誤り数に基づいて、欠陥判定閾値を用いた閾値判定で欠陥と判定される欠陥候補ブロックの数を確認し、光ディスク１００の代替領域１４０の空きブロックの数に対する欠陥候補ブロックの数の割合に基づいて欠陥判定閾値を変更するようにしたので、代替処理を行って代替領域１４０のすべてのブロックに記録してしまうことにより、すべての欠陥ブロックに対する代替処理ができなくなり、データの信頼性が劣化することを防ぐことができる。
【００８５】
（実施の形態３）
次に、本発明の請求項８ないし請求項１２に記載の光ディスク装置に対応する形態を、実施の形態３として、図９ないし図１２を用いて説明する。
図９は、本発明の実施の形態３による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。なお、図９において、図１と同一または相当する部分には同一符号を付して、詳しい説明を省略する。
【００８６】
本実施の形態３による光ディスク装置１０ｂは、実施の形態１による光ディスク装置１０に、正常なブロックのみが配置している正常領域を挟む二つの欠陥ブロックが近距離に位置し、それらの二つの欠陥ブロックに対する代替ブロックおよび欠陥ブロックに挾まれる正常領域に記録された記録データが、連続して再生される有効データである場合、それらのブロックを欠陥ブロックと判定する第２の欠陥判定手段２０８を、追加して備えたものである。
【００８７】
第２の欠陥判定手段２０８には、欠陥ブロックが近距離にあるか判定する際に判定基準として用いる、第１および第２のブロック数判定閾値が予め設定されている。第２の欠陥判定手段２０８は、欠陥管理領域１２０の欠陥情報に基づいて欠陥ブロックの間隔を調査し、二つの欠陥ブロックに挟まれている正常領域のブロック数が、第１のブロック数判定閾値未満である領域を検出する。ここで、検出された領域の、２つの欠陥ブロックに対する代替ブロックおよび欠陥ブロックに挾まれる正常領域に記録されている記録データが、連続して再生される有効データである場合、再生時に長距離シークが発生する。長距離シークが頻発することによる再生データの劣化を防止するために、第２の欠陥判定手段２０８は、欠陥ブロックに挟まれている複数の正常ブロックを欠陥ブロックと判定する。そして、代替ブロックに対する記録を行うために、代替処理要求信号Ｓ２０８を出力する。一方、検出された領域の、２つの欠陥ブロックに対する代替ブロックおよび欠陥ブロックに挾まれる正常ブロックに記録されている記録データが連続して再生されない場合、再生時に長距離シークが連続して発生しないので、代替処理を行わなくてもよい。
【００８８】
また、第２の欠陥判定手段２０８は、欠陥ブロックが頻出する部分において、正常領域を挟んでいる欠陥ブロックが近距離にあるかを判定する。すなわち、一定数の連続したブロックを単位領域として、各単位領域における欠陥ブロックおよび正常ブロックの分布を調査し、正常ブロックが連続する領域が欠陥ブロックによって所定数以上に分割されている単位ブロックを検出する。この単位ブロックが、欠陥ブロックが頻出する部分である。欠陥ブロックが頻出する部分を検出すると、第２のブロック数判定閾値に基づいて、正常領域を挟んでいる欠陥ブロックが近距離にあるかを判定する。すなわち、分割された各領域の正常領域のブロック数が、第２のブロック数判定閾値未満である領域を検出する。そして、検出された領域の、２つの欠陥ブロックに対する代替ブロックおよび欠陥ブロックに挾まれる正常ブロックに記録されている記録データが、連続して再生される有効データである場合、それらの正常ブロックを欠陥ブロックと判定し、代替ブロックに対する記録を行うために、代替処理要求信号Ｓ２０８を出力する。
【００８９】
ここで、第１のブロック数判定閾値を用いた判定は、単に二つの欠陥ブロックが近距離にあるか否かを判定するものである。一方、第２のブロック数判定閾値を用いた判定は、欠陥ブロックが頻出する部分において、正常領域を挟んでいる欠陥ブロックが近距離にあるか否かを判定するものであり、第１のブロック数判定閾値を用いた判定よりも広範囲の領域を判定対象としている。このため、第２のブロック数判定閾値は第１のブロック数判定閾値より大きい値であることが望ましい。
【００９０】
次に、このように構成される光ディスク装置１０ｂの動作について、図面を参照しながら説明する。
光ディスク装置１０ｂは、例えば、実施の形態１における光ディスク装置１０と同様の方法で記録データの記録処理を行う。記録データを光ディスク１００に記録し、欠陥ブロックに対する代替処理が終了して、欠陥情報を欠陥管理領域１２０に登録すると、第２の欠陥判定手段２０８による第２の欠陥判定処理を行う。
【００９１】
この、第２の欠陥判定処理について、図１０を参照しながら説明する。
第２の欠陥判定手段２０８は、欠陥管理領域１２０の欠陥情報を検索し、二つの欠陥ブロックに挟まれた正常領域のブロック数を調査する（ステップＳ３２）。そして、第１のブロック数判定閾値に基づいて、二つの欠陥ブロックが近距離にあるかを判定し、二つの欠陥ブロックに挟まれている正常領域のブロック数が、第１のブロック数判定閾値未満である場合は、処理をステップＳ３６に移行し、記録されている記録データが有効データであるか判定する（ステップＳ３３）。
【００９２】
二つの欠陥ブロックが近距離にない場合、単位領域内の正常ブロックが連続する領域が所定数以上に分割されているか判定し、欠陥ブロックが頻出する領域を探す。そして、分割数が所定数未満である場合はステップＳ３８に、分割数が所定数以上である場合はステップＳ３５に、処理を移行する（ステップＳ３４）。正常ブロックが連続する領域が所定数以上に分割されている場合、第２のブロック数判定閾値に基づいて、正常ブロックを挟んでいる欠陥ブロックが近距離にあるかを判定し、分割された各正常領域のブロック数が、第２のブロック数判定閾値未満である場合は、処理をステップＳ３６に移行し、記録されている記録データが有効データであるか判定する。一方、分割された正常領域のブロック数が第２のブロック数判定閾値以上である場合は、処理をステップＳ３８に移行する（ステップＳ３５）。
【００９３】
ステップＳ３３およびステップＳ３５において、正常ブロックを挟んでいる二つの欠陥ブロックが近距離にあると判定された場合、第２の欠陥判定手段２０８は、それらの２つの欠陥ブロックに対する代替ブロックおよび欠陥ブロックに挾まれる正常ブロックに記録されている記録データが、連続して再生される有効データであるか判定する。２つの欠陥ブロックに対する代替ブロックおよび欠陥ブロックに挾まれる正常ブロックに、有効データが記録されている場合、第２の欠陥判定手段２０８は、欠陥ブロックに挟まれている複数の正常ブロックを欠陥ブロックと判定し、代替ブロックに対する記録を行うために、代替処理要求信号Ｓ２０８を出力する。一方、再生時に連続して再生されない場合、再生時に長距離シークが連続して発生しないので、代替処理を行わなくてもよい。このため、当該ブロックに記録されている記録データが有効データではない場合には、処理をステップ３８に移行する。（ステップＳ３６）。
【００９４】
欠陥ブロックが検出され、代替処理要求信号Ｓ２０８が出力されると、ステップＳ３６において欠陥ブロックと判定された複数のブロックに対して、代替処理を行い、代替領域１４０の記録されていないブロックに記録データを記録する。例えば、図１１の領域構成図に示したように、光ディスク１００のブロックＰ９〜Ｐ１１に、欠陥ブロック、正常ブロック、欠陥ブロックが並んで配置し、ブロックＰ９の代替ブロックとしてブロックＰ１６が、ブロックＰ１１の代替ブロックとしてブロックＰ１７が割り当てられて、ブロックＰ１６、Ｐ１７に論理アドレスＬ９、Ｌ１１がそれぞれ付与されている場合、欠陥ブロックであるブロックＰ９とブロックＰ１１とに挟まれる正常ブロック（ブロックＰ１０）を、欠陥ブロックと判定すると、代替処理により、ブロックＰ１０に記録されていた記録データをブロックＰ１８に記録し、ブロックＰ１８に論理アドレスＬ１０を付与する。この代替処理は、前述のステップＳ１１１〜ステップＳ１１４により行う。このように代替処理を行うことにより、記録データを再生するときの長距離シークが、ブロックＬ９を再生するために行うブロックＰ９からブロックＰ１６へのシーク▲１▼のみとなり、ブロックＬ１０を再生するために行うブロックＰ１７からブロックＰ１８へのシーク▲２▼、およびブロックＬ１１を再生するために行うブロックＰ１８からブロックＰ１７へのシーク▲３▼のシーク距離は短いものとなる（ステップＳ３７）。
【００９５】
そして、欠陥管理領域１２０のすべての欠陥情報を検索したか判断し、検索していない欠陥情報がある場合は、処理をステップＳ３２に戻す（ステップＳ３８）。一方、すべての欠陥情報を検索したら、ステップＳ３９において代替処理を行った際に欠陥情報記憶部に記憶した欠陥情報を、欠陥管理領域１２０に記録し、第２の欠陥判定処理を終了する（ステップＳ３９）。
【００９６】
以上のように、本発明の実施の形態３による光ディスク装置においては、正常領域を挟む二つの欠陥ブロックが近距離にあり、それらの２つの欠陥ブロックに対する代替ブロックおよび欠陥ブロックに挾まれる正常ブロックに記録されている記録データが、連続して再生される有効データである場合に、二つの欠陥ブロックに挟まれた正常領域のブロックを欠陥ブロックとして判定し、該判定された欠陥ブロックに対して代替処理を行うようにしたので、欠陥ブロックが頻出する部分を再生するときに、長距離シークが多発することを防ぎ、再生時間の遅延および再生データの劣化を防止することができる。
【００９７】
なお、本実施の形態３では、代替処理は、代替領域１４０の記録されていないブロックに記録データを記録する処理、としたが、代替処理を、各代替ブロックの記録データの配列を、論理アドレスの順、あるいは再生を行う順に変更しながら、欠陥ブロックに記録されている記録データを記録する処理、としてもよい。例えば、光ディスク１００のブロックＰ９〜Ｐ１１に、欠陥ブロック、正常ブロック、欠陥ブロックが並んで配置し、ブロックＰ９の代替ブロックとしてブロックＰ１６が、ブロックＰ１１の代替ブロックとしてブロックＰ１７が割り当てられて、ブロックＰ１６、Ｐ１７に論理アドレスＬ９、Ｌ１１がそれぞれ付与されている場合、欠陥ブロックであるブロックＰ９とブロックＰ１１とに挟まれる正常ブロック（ブロックＰ１０）を、欠陥ブロックと判定すると、図１２の領域構成図に示したように、代替処理により、ブロックＰ１７に記録されていた記録データをブロックＰ１８に、ブロックＰ１０の記録データをブロックＰ１７に記録し、ブロックＰ１７、Ｐ１８に論理アドレスＬ１０、Ｌ１１をそれぞれ付与する。この場合、記録データを再生する時のシークが、ブロックＰ９からブロックＰ１６へのシーク▲４▼のみとなるため、再生時の遅延をさらに抑制することができる。
【００９８】
（実施の形態４）
次に、本発明の請求項１３ないし請求項１７に記載の光ディスク装置に対応する形態を、実施の形態４として、図１３ないし図１６を用いて説明する。
図１３は、本発明の実施の形態４による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。なお、図１３において、図１と同一または相当する部分には同一符号を付して、詳しい説明を省略する。
【００９９】
本実施の形態４による光ディスク装置１０ｃは、連続して再生される領域、つまり、再生頻度が同程度のブロックが所定数以上連続している領域を、共通する値の欠陥判定閾値により欠陥判定を行う欠陥判定閾値設定単位とし、各欠陥判定閾値設定単位ごとに異なる欠陥判定閾値を設定するものである。これにより、各欠陥判定閾値設定単位の再生頻度に応じて、欠陥判定閾値を設定することができ、例えば、再生頻度の高い欠陥判定閾値設定単位に対しては、欠陥判定閾値を厳しくし、再生頻度の低い欠陥判定閾値設定単位に対しては、欠陥判定閾値を緩くすることができるものである。
【０１００】
光ディスク装置１０ｃは、光ディスク１００のデータ領域１３０および代替領域１４０に記録データを記録する記録手段２０２と、データ領域及び代替領域に記録した記録データをブロック単位で再生し、再生した記録データに誤りがあった場合は誤り訂正を行う再生手段２０３と、再生された各ブロックの記録データに基づいて、当該ブロックの記録データは誤り訂正ができないデータであるかを判定し、誤り訂正ができた場合は、その誤り数をカウントする誤り検出手段２０４と、各ブロックの再生回数を登録した再生頻度リストと、各欠陥判定閾値設定単位を構成するブロックのアドレス情報および各欠陥判定閾値設定単位の再生頻度を登録した欠陥判定閾値設定単位リストと、を記憶するブロック情報記憶手段２０９と、ブロック情報記憶手段２０９が記憶する再生頻度リストに基づいて欠陥判定閾値設定単位を決定する欠陥判定単位設定手段２１０と、ブロック情報記憶手段２０９が記憶する欠陥判定閾値設定単位リストに基づいて、各欠陥判定閾値設定単位の欠陥判定閾値を設定し、その欠陥判定閾値に基づいて各ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する欠陥判定手段２０７ｃと、を有する。
【０１０１】
ここで、再生頻度リストは、データ領域１３０の各ブロックに記録されている記録データが再生される頻度を登録したリストである。この再生頻度リストの要素は、データ領域１３０の各ブロックの物理アドレス、およびそのアドレスの再生回数である。再生頻度リストは、光ディスク１００の取り出し時に光ディスク１００に記録される。このとき再生頻度リストは、光ディスク１００の、既存の光ディスク装置は使用しない領域、例えばＬｅａｄ−ｏｕｔに記録されなければならない。
【０１０２】
欠陥判定閾値設定単位リストは、データ領域１３０における欠陥判定閾値の設定単位と、その欠陥判定閾値設定単位における再生頻度とを登録したリストである。
【０１０３】
次に、このように構成される光ディスク装置１０ｃにおける欠陥管理の状態遷移および欠陥管理の方法について図１４、図１５、図１６を用いて説明する。
図１４は、再生頻度リストと誤り数検証閾値設定単位リストを用いた欠陥管理の状態遷移図である。
光ディスク１００が新しい光ディスクである場合や、異なる記録形式で記録された光ディスクである場合、欠陥判定単位設定手段２１０は、再生頻度リストを新規に作成する。新規に作成される再生頻度リストは、各物理アドレスの再生頻度として初期値が記述されたものである。欠陥判定単位設定手段２１０は、作成した再生頻度リストをブロック情報記憶手段２０９に記憶させる。そして、光ディスク装置１０ｃは、光ディスク１００のデータ領域１３０の各ブロックを再生するときに、該ブロックの再生頻度をカウントし、カウントした値によって再生頻度リストを更新していく。この状態が、再生頻度リスト作成状態である。
【０１０４】
この再生頻度リスト作成状態における記録データの再生方法を、図１５を参照しながら説明する。
まず、再生頻度リストを取得する。記録データの記録後に光ディスク１００が光ディスク装置１０ｃから取り出されたため、ブロック情報記憶手段２０９が再生頻度リストを記憶していない場合、光ディスク１００より再生頻度リストを読み出し、ブロック情報記憶手段２０９に記憶させる。また、光ディスク１００が取り出されていない場合は、ブロック情報記憶手段２０９が記憶している再生頻度リストをそのまま用いる。また、再生頻度リストを取得することができなかった場合は、再生頻度リストを新規に作成し、各ブロックの再生頻度として０を設定する（ステップＳ４０）。
【０１０５】
再生手段２０３は再生を行う前に、ブロック情報記憶手段２０９が記憶する再生頻度リストを更新する。すなわち、再生頻度リストの、これから再生をおこなう目的ブロックの再生回数を１加算する（ステップＳ４１）。そして、再生手段２０３は、光ディスク１００より目的ブロックを検出し、記録データを再生する（ステップＳ４２）。ここで、目的ブロックを再生できた場合は、ステップＳ４５に処理を移行する（ステップＳ４３）。一方、目的ブロックを検出できない、あるいは読み出した記録データが誤り訂正できないなどの原因で、再生することができない場合は、記録データの再生をリトライする。しかし、所定回数以上リトライを行っても再生できなかった場合は、目的ブロックの記録データの再生を諦める（ステップＳ４４）。
【０１０６】
ステップＳ４２において、目的ブロックを再生できたと判断された場合は、目的ブロックの再生時に誤り検出手段２０４が検出した誤り数が所定数以上あるか判断し、誤り数が所定数未満である場合は、ステップＳ４９に処理を移行する（ステップＳ４５）。
【０１０７】
一方、誤り数が所定数以上の場合は、従来の代替処理フロー（ステップＳ１１１〜Ｓ１１４）に従って欠陥管理を行う（ステップＳ４６）。そして、代替処理したブロックの欠陥情報を欠陥管理領域１２０に登録する（ステップＳ４７）。
【０１０８】
次に、欠陥判定閾値設定単位リスト作成状態に移行する条件を満たしているか判定する。すなわち、欠陥判定単位設定手段２１０は、再生頻度リストに基づいて、データ領域１３０の全ブロックの再生頻度の平均値が所定数以上であるか、判断する。再生頻度の平均値が所定数以上ではない場合、処理を終了する（ステップＳ４８）。
【０１０９】
再生頻度の平均値が所定数以上である場合、連続で再生されるブロック、つまり再生頻度が同程度のブロックが、所定数以上連続していると考えられるので、再生頻度リストに基づいて欠陥判定閾値設定単位リストを作成する欠陥判定閾値設定単位リスト作成状態に移行し、欠陥判定閾値設定単位を設定する（ステップＳ４９）。
【０１１０】
欠陥判定閾値設定単位リスト作成状態では、再生頻度リストに基づいて、光ディスク１００のデータ領域１３０の全領域より、再生頻度が同程度のブロックが所定数以上連続している領域（欠陥判定閾値設定単位）を検出する。
【０１１１】
この欠陥判定閾値設定単位リスト作成状態における欠陥判定閾値設定単位の設定方法および欠陥判定閾値設定単位リスト作成方法を、図１６を参照しながら説明する。
欠陥判定閾値設定単位を設定する場合、まず、欠陥判定単位設定手段２１０は、検索に用いる変数の初期設定を行う。すなわち、欠陥判定閾値設定単位の先頭ブロックのアドレスを保持する先頭アドレス変数Ｆと、最終ブロックのアドレスを保持する最終アドレス変数Ｌと、に初期値を設定し、先頭ブロックのアドレスおよび最終ブロックのアドレスを、データ領域１３０の先頭ブロックのアドレスとする。そして、ステップＳ５２以降の処理で、欠陥判定単位設定手段２１０は再生頻度リストを検索し、欠陥判定閾値設定単位の先頭ブロックと最終ブロックとを決定することになる（ステップＳ５１）。
【０１１２】
最終アドレス変数Ｌが示すブロックとその次のブロックとの再生頻度が同程度であれば、連続で再生されるものと考えられる。そこで、欠陥判定単位設定手段２１０は、最終アドレス変数Ｌが示すブロックの再生頻度と、その次のブロックの再生頻度との変化量を算出し、その変化量が所定数以上であるか判定する。ここで、変化量が所定数以上である場合はステップＳ５４に処理を移行する（ステップＳ５２）。
【０１１３】
前後を接するブロックの再生頻度の変化量が所定数未満である場合、さらに次のブロックとの再生頻度の変化量を取得するために、最終ブロックアドレス変数Ｌを次のブロックのアドレスにより更新し、ステップＳ５９に処理を以降する（ステップＳ５３）。
【０１１４】
一方、前後を接するブロックの再生頻度の変化量が所定数以上である場合、欠陥判定単位設定手段２１０は、ステップＳ５２において検索対象ブロックとその次のブロックとの再生頻度の変化量が所定数未満であると判定されたブロックが、所定数以上連続しているか判定する。これは、再生頻度が同程度のブロックが所定数以上連続している領域を検出し、検出した領域を欠陥判定閾値設定単位とするための処理である。ここで、変化量が所定数未満であると判定された場合、先頭アドレス変数Ｆに示されるアドレスから、最終ブロック変数Ｌに示されるアドレスまでのブロックを欠陥判定閾値設定単位として設定せず、ステップＳ５８の処理に移行する（ステップＳ５４）。
【０１１５】
一方、ステップＳ５４において、再生頻度の変化量が所定数未満に前後を接するブロックが所定数以上連続していると判断された場合、先頭アドレス変数Ｆに示されるアドレスから、最終ブロック変数Ｌに示されるアドレスまでのブロックは、１つの欠陥判定閾値設定単位になる条件を満たす領域である。このため、先頭アドレス変数Ｆおよび最終アドレス変数Ｌが保持するアドレスを、その欠陥判定閾値設定単位の先頭アドレスおよび最終アドレスとする（ステップＳ５５）。次に、欠陥判定単位設定手段２１０は、ステップＳ５５において決定した欠陥判定閾値設定単位の再生頻度を算出する。この再生頻度は、該欠陥判定閾値設定単位を構成する各ブロックの再生頻度の平均値であることが望ましい（ステップＳ５６）。次に、欠陥判定単位設定手段２１０は、設定した欠陥判定閾値設定単位の先頭アドレスおよび最終アドレスと再生頻度とを、欠陥判定閾値設定単位リストに登録する（ステップＳ５７）。
【０１１６】
次に、新たな欠陥判定閾値設定単位を検索するために、最終ブロック変数Ｌが示すアドレスの次のアドレスを、先頭ブロック変数Ｆおよび最終ブロック変数Ｌに設定する（ステップＳ５８）。
そして、再生頻度リストのすべてのブロックを検索したか判定する。ここで、未検索のブロックが残っている場合は、次の欠陥判定閾値設定単位を検索するためにステップＳ５２に戻り、再生頻度リストの検索を行う。以上で、欠陥判定閾値設定単位設定処理および欠陥判定閾値設定単位リスト作成状態を終了する。この時点で欠陥判定閾値設定単位として登録されていない領域に対しては、従来の欠陥判定方法を用いた代替処理を行う（ステップＳ５９）。
【０１１７】
欠陥判定閾値設定単位リストが完成したら、再生頻度欠陥管理状態に移行する。再生頻度欠陥管理状態は、欠陥判定閾値設定単位リストに登録されている各欠陥判定閾値設定単位で、欠陥判定閾値に基づいて欠陥管理を行う状態である。この状態では、欠陥判定閾値設定単位毎に再生頻度をカウントする。そして、欠陥判定手段２０７ｃは、その再生頻度に基づいて欠陥判定閾値を設定し、欠陥判定を行う。再生頻度欠陥管理状態にあるときに、光ディスク１００のいずれかの欠陥判定閾値設定単位を構成するブロックに記録データが記録（上書き）された場合、欠陥判定閾値設定単位リスト作成状態に移行して、上書きされた領域を一つの欠陥判定閾値設定単位として登録する。そして、再生頻度欠陥管理状態に戻る。
【０１１８】
光ディスク１００のフォーマット処理などにより、光ディスク１００のデータ領域１３０にデータが書かれていない状態になった場合、再生頻度リスト作成状態に移行し、新規に再生頻度リストを作成することになる。
【０１１９】
上述した欠陥管理は、ＰＣデータなどのように、小刻みなランダムアクセスの多いデータより、音楽データやＡＶデータなどの連続性のあるデータに対して実施すると、より効果的である。データの連続性を判断して欠陥判定するとよい。
【０１２０】
以上のように、本発明の実施の形態４による光ディスク装置においては、再生頻度が同程度のブロックが所定数以上連続している領域を、１つの欠陥判定閾値設定単位とし、各欠陥判定閾値設定単位の再生頻度に基づいて欠陥判定閾値を設定するようにしたことにより、データの再生の頻度に適した欠陥管理を行うことができる。そのため、例えば、録画した映像の中でも、特に気に入った一シーンの映像の保護の強度を上げることができる。
【０１２１】
なお、本実施の形態４では、欠陥判定閾値設定単位を、再生頻度が同程度のブロックが所定数以上連続している領域、としたが、欠陥判定閾値設定単位を、連続した所定数のブロック、としてもよい。欠陥判定閾値設定単位を所定数のブロックとした場合、データ領域１３０の各部分の再生頻度を平等な条件でカウントすることができる。
【０１２２】
【発明の効果】
以上のように、本発明の請求項１に係る光ディスク装置によれば、データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクにデータを記録する記録手段と、上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、上記カウントされた誤り数の、当該ブロックを過去に再生したときにカウントした過去の誤り数に対する変化量が、所定の範囲内であるかを判定する誤り数検証手段と、上記誤り数の変化量が所定の範囲内であるときの、上記カウントされた誤り数に基づいて、該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する欠陥判定手段と、上記欠陥ブロックに記録するデータを、欠陥のないブロックに記録する欠陥管理手段と、を備えたもの、としたので、本来正常に記録できるブロックを、記録ミスが原因で欠陥と判定するのを防ぐことができる。これにより、欠陥ブロックに記録するデータを、欠陥のないブロックに記録する代替処理を軽減することができるので、代替処理による記録処理の遅延の発生や、再生処理の遅延の発生を軽減することができる。
【０１２３】
また、本発明の請求項２に係る光ディスク装置によれば、請求項１に記載の光ディスク装置において、上記誤り数の変化量が所定数より増加した場合、該ブロックにデータを再度記録し、上記誤り数検証手段は、上記再度記録されたデータに基づいて、誤り数の変化量が所定の範囲内であるか判定するもの、としたので、本来正常に記録できるブロックを、記録ミスが原因で欠陥と判定するのを防ぐことができる。これにより、欠陥ブロックに記録するデータを、欠陥のないブロックに記録する代替処理を軽減することができるので、代替処理による記録処理の遅延の発生や、再生処理の遅延の発生を軽減することができる。
【０１２４】
また、本発明の請求項３に係る光ディスク装置によれば、請求項１または請求項２に記載の光ディスク装置において、上記光ディスク装置は、各ブロックの上記過去の誤り数を記憶する誤り数記憶手段を有し、上記誤り数検証手段は、上記カウントされた誤り数と、上記誤り数記憶手段が記憶する上記過去の誤り数と、に基づいて、誤り数の変化量を算出し、上記欠陥判定手段は、欠陥ブロックであるかの判定が終了すると、その判定に用いた誤り数を上記誤り数記憶手段に記憶させるようにしたので、上記誤り検出手段により検出された誤り数の、当該ブロックを前回再生したときに検出された誤り数に対する変化量を算出することができる。
【０１２５】
また、本発明の請求項４に係る光ディスク装置によれば、データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクにデータを記録する記録手段と、上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、各ブロックの誤り数を記憶する誤り数記憶手段と、上記誤り数記憶手段が記憶する各ブロックの誤り数に基づいて、誤り数が所定の閾値以上であるブロックを欠陥ブロックと判定する欠陥判定手段と、上記欠陥ブロックに記録するデータを、欠陥のないブロックに記録する欠陥管理手段と、を備え、上記欠陥判定手段は、上記誤り数記憶手段が記憶する各ブロックの誤り数に基づいて、誤り数が所定の閾値以上である欠陥候補ブロックを検出し、上記欠陥候補ブロックの数に対する、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数の比率に基づいて、上記閾値を変化させるもの、としたので、上記欠陥管理手段が記録することのできるすべてのブロックに記録してしまうことにより、上記欠陥ブロックに記録するデータを欠陥のないブロックに記録することができなくなり、データの信頼性が劣化することを防ぐことができる。
【０１２６】
また、本発明の請求項５に係る光ディスク装置によれば、請求項４に記載の光ディスク装置において、上記欠陥判定手段は、上記欠陥候補ブロックの数に対する、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数の割合が、所定割合より小さい場合、上記閾値を厳しくするもの、としたので、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数に余裕がある場合には上記閾値を厳しくすることにより、データ記録の精度を向上させることができる。
【０１２７】
また、本発明の請求項６に係る光ディスク装置によれば、請求項４または請求項５に記載の光ディスク装置において、上記欠陥判定手段は、上記欠陥候補ブロックの数に対する、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数の割合が、所定割合より大きい場合、上記閾値を緩和するもの、としたので、上記欠陥管理手段が記録することのできるブロックの数が不足している場合には上記閾値を緩和することにより、上記欠陥管理手段が記録することのできるすべてのブロックに記録してしまい、上記欠陥ブロックに記録するデータを欠陥のないブロックに記録することができなくなることを防ぐことができる。
また、本発明の請求項７に係る光ディスク装置によれば、請求項４ないし請求項６のいずれかに記載の光ディスク装置において、上記記録手段は、上記誤りを検出したブロックのアドレスと該ブロックの誤り数とを光ディスクの所定位置に記録するようにしたので、上記誤り数記憶手段に光ディスクの誤り数を記憶していない場合であっても、上記誤りを検出したブロックのアドレスと該ブロックの誤り数とを取得することができる。
【０１２８】
また、本発明の請求項８に係る光ディスク装置によれば、データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクにデータを記録する記録手段と、上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、上記誤り検出手段がカウントした誤り数に基づいて、該ブロックが欠陥ブロックであるかを判定する第１の欠陥判定手段と、二つの欠陥ブロックに挟まれている正常なブロックの数に基づいて、該正常なブロックが欠陥ブロックであるかを判定する第２の欠陥判定手段と、上記欠陥ブロックに記録されているデータを、欠陥のない代替ブロックに記録する欠陥管理手段と、を備えたもの、としたので、欠陥ブロックが頻出する部分を再生するときに、長距離シークが多発することを防ぐことができる。
【０１２９】
また、本発明の請求項９に係る光ディスク装置によれば、請求項８に記載の光ディスク装置において、上記第２の欠陥判定手段は、二つの欠陥ブロックに挟まれている正常なブロックの数が第１の所定数未満であり、該正常なブロックおよび上記二つの欠陥ブロックの代替ブロックに記録されているデータが、連続して再生されるデータである場合、該正常なブロックを欠陥ブロックと判定するもの、としたので、欠陥ブロックが頻出する部分を再生するときに、長距離シークが多発することを防ぐことができる。
【０１３０】
また、本発明の請求項１０に係る光ディスク装置によれば、請求項８または請求項９に記載の光ディスク装置において、光ディスクの一定長の記録領域内で、正常なブロックが連続する正常領域が、上記欠陥ブロックによって第２の所定数以上に分割されている場合、分割された上記正常領域を構成する正常なブロックの数に基づいて、該正常領域を構成するブロックが欠陥ブロックであるかを判定する第３の欠陥判定手段を備えたもの、としたので、欠陥ブロックが頻出する部分を再生するときに、長距離シークが多発することを防ぐことができる。
【０１３１】
また、本発明の請求項１１に係る光ディスク装置によれば、請求項１０に記載の光ディスク装置において、上記第３の欠陥判定手段は、上記一定長の記録領域内で、上記正常領域が上記欠陥ブロックによって第２の所定数以上に分割され、分割された各正常領域を構成する正常なブロックの数が第３の所定数未満であり、該正常なブロックおよび上記欠陥ブロックに記録されているデータが連続して再生されるデータである場合、該正常なブロックを欠陥ブロックと判定するもの、としたので、欠陥ブロックが頻出する部分を再生するときに、長距離シークが多発することを防ぐことができる。
【０１３２】
また、本発明の請求項１２に係る光ディスク装置によれば、請求項８に記載の光ディスク装置において、上記欠陥管理手段は、代替ブロックに記録されているデータの記録位置を変更しながら、データを、再生される順に記録するもの、としたので、欠陥ブロックが頻出する部分を再生する際の長距離シークの発生を、さらに抑制することができる。
【０１３３】
また、本発明の請求項１３に係る光ディスク装置によれば、データの管理単位であるブロック単位で、光ディスクの記録領域にデータを記録する記録手段と、上記記録手段が記録したデータを、上記ブロック単位で再生する再生手段と、上記再生された各ブロックのデータより検出した誤り数をカウントする誤り検出手段と、上記記録領域の所定長領域を、共通の閾値により判定を行う閾値設定単位とし、各閾値設定単位に対して、該閾値設定単位を構成するブロックが欠陥ブロックであるか判定する際に用いる閾値を設定する閾値設定手段と、上記カウントされた誤り数が上記閾値以上であるブロックを、欠陥ブロックと判定する欠陥判定手段と、を備え、上記再生手段は、上記記録領域の所定長領域を一つの再生頻度調査単位とし、各再生頻度調査単位の再生頻度をカウントし、上記閾値設定手段は、上記各再生頻度調査単位の再生頻度に基づいて、上記閾値を変化させるもの、としたので、データの再生頻度によって上記閾値と上記共通の閾値により判定を行う領域とを決定することにより、データの再生の仕方に合った欠陥管理を行うことができる。
【０１３４】
また、本発明の請求項１４に係る光ディスク装置によれば、請求項１３に記載の光ディスク装置において、上記各閾値設定単位は、連続して再生されるデータが記録されているブロックより構成されているもの、としたので、上記連続して再生されるデータが記録されているブロックを、共通した閾値により欠陥判定することができる。
【０１３５】
また、本発明の請求項１５に係る光ディスク装置によれば、請求項１３に記載の光ディスク装置において、上記各閾値設定単位は、一定数のブロックより構成されているもの、としたので、光ディスクの記録領域の再生頻度を平等な条件でカウントすることができる。
【０１３６】
また、本発明の請求項１６に係る光ディスク装置によれば、請求項１３に記載の光ディスク装置において、上記閾値設定単位と上記再生頻度調査単位との長さが等しいようにしたので、各領域毎の再生頻度を正確に反映した閾値設定を行うことができる。
【０１３７】
また、本発明の請求項１７に係る光ディスク装置によれば、請求項１３または請求項１４に記載の光ディスク装置において、上記再生手段は、上記記録領域全てにデータが記録されていないときには、カウントした各再生頻度調査単位の再生頻度をクリアするようにしたので、光ディスクの上記記録領域全てにデータが記録されていない場合に、再生頻度を初期化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の、ブロックＰ１のｎ＋１回目の記録後（ａ）、およびｎ＋３回目の記録後（ｂ）の誤りリストの例を示した図である。
【図３】あるブロックに対して記録データを複数回記録した場合の、記録回数に対する誤り数の変化量を示すグラフである。
【図４】あるブロックに対して記録データを複数回記録した場合の、記録回数に対する誤り数の例を示すグラフである。
【図５】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の、記録データを記録する方法を説明するフローチャートである。
【図６】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のデータ検証方法を示したフローチャートである。
【図７】本発明の実施の形態２における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図８】本発明の実施の形態２における光ディスク装置のデータ検証方法を示したフローチャートである。
【図９】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１０】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の代替処理方法を示したフローチャートである。
【図１１】本発明の実施の形態３における光ディスク装置による代替処理を説明するための、光ディスクの領域構成図である。
【図１２】本発明の実施の形態３における光ディスク装置による代替処理の他の一例を説明するための、光ディスクの領域構成図である。
【図１３】本発明の実施の形態４による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１４】本発明の実施の形態４における光ディスク装置の状態遷移図である。
【図１５】本発明の実施の形態４における光ディスク装置の欠陥管理方法を示したフローチャートである。
【図１６】本発明の実施の形態４における光ディスク装置の欠陥判定単位設定方法を示したフローチャートである。
【図１７】代替処理を行うことのできる光ディスクの領域の構成を示した領域構成図である。
【図１８】従来の光ディスク装置における代替処理を説明するための、光ディスクの領域構成図である。
【図１９】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２０】従来の光ディスク装置における記録データを記録する方法を説明するフローチャートである。
【図２１】従来の光ディスク装置のデータ記録時における代替処理方法を示したフローチャートである。
【図２２】従来の光ディスク装置のデータ検証方法を示したフローチャートである。
【図２３】従来の光ディスク装置による代替処理を説明するための、光ディスクの領域構成図である。
【符号の説明】
１００　光ディスク
１１０　ディスク情報領域
１２０　欠陥管理領域
１３０　データ領域
１４０　代替領域
１０　光ディスク装置
２０１　データ記憶手段
２０２　記録手段
２０３　再生手段
２０４　誤り検出手段
２０５　誤り数記憶手段
２０６　誤り数検証手段
２０７　欠陥判定手段
２０８　第２の欠陥判定手段
２０９　ブロック情報記憶手段
２１０　欠陥判定閾値設定手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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