(57)【要約】【課題】潜在的な不良を本発明によると運用前に判別することが可能となるＩＣチップを含んだ非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供することが望まれていた。【解決手段】ＩＣチップを内蔵したＩＣモジュールとアンテナ、またはコイルが一体化されている非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置において、通常の通信動作において設定された最大電波出力強度よりも強い電磁波をＩＣ担体に与える電磁波発生手段と、ＩＣ担体からの応答信号受信手段と、応答信号が正常が否かを判断する判定手段を具備していることを特徴とする持つ非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＩＣチップを内蔵したＩＣモジュールとアンテナ、またはコイルが一体化されている非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置において、通常の通信動作において設定された最大電波出力強度よりも強い電磁波をＩＣ担体に与える電磁波発生手段と、ＩＣ担体からの応答信号受信手段と、応答信号が正常が否かを判断する判定手段を具備していることを特徴とする持つ非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置。
【請求項２】
電波出力強度が通常の通信動作において設定された最大電波出力強度の１．１倍以上５．０倍以下の信号を含むことを特徴とする請求項１記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置。
【請求項３】
電磁波発生手段が、最大電波出力強度よりも強い電磁波の他に、最大電波出力強度以内の電磁波もＩＣ担体に与えるものであることを特徴とする請求項１または２記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置。
【請求項４】
電磁波発生手段が、最大電波出力強度よりも強い電磁波送信後に、最大電波出力強度以内の電磁波による信号をＩＣ担体に与えるものであることを特徴とする請求項３記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置。
【請求項５】
電磁波発生手段と、応答信号受信手段が同一のアンテナにより送受信されるものであることを特徴とする請求項１から４何れか記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置。
【請求項６】
ＩＣ担体がＩＣカードであることを特徴とする請求項１から５何れか記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置。
【請求項７】
ＩＣ担体がインレットまたはタグであることを特徴とする請求項１から５何れか記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、非接触インターフェースを持つＩＣ担体に搭載されているＩＣチップの良・不良を判別する装置に関するものであり、例えばカードの場合は、輸送機関での料金支払い、銀行取引、電子マネー、電話による通信、入退出管理など、幅広い分野に使用される。
【０００２】
また、非接触インターフェースを搭載しているＩＣカードは、データの読み書き装置に挿入する必要がなく、接触インターフェースのみを搭載しているＩＣカードに比して、利便性が向上している。
【０００３】
非接触インターフェース搭載ＩＣカードは、データの読み書き装置との間で、電磁結合方式または電磁誘導方式などにより、カード内に内蔵されたＩＣの電力確保およびデータの授受を行って、社員証や定期券などの機能を実現している。
【０００４】
この様な状況の下、ＩＣチップを内蔵したＩＣモジュールとアンテナ、またはコイルが一体化されている非接触インターフェースを持つ。これらの各種ＩＣ担体の動作を検査する動作検査装置に係る。
【０００５】
【従来の技術】
本発明の試験装置で対象となる、非接触インターフェースを持つＩＣ担体をＩＣカードの場合で説明すれば、基本的に図４のような構成になっており、ＩＣカード内蔵のＩＣチップと電気的に接続されたアンテナを介してデータの読み書きを行う非接触のみのインターフェースを持つものや、図７のような接触式・非接触式の両方のインターフェースを持つものである。
【０００６】
なお、この様なカードはまた、図８のようなカード上に成形する前のインレット状態でも検査を行うこともできる。
【０００７】
従来の技術であるＩＣ担体の動作を検査する動作検査装置は、特許文献１記載の様なＩＣチップと電気的に接続されたアンテナとの接続不良の検出や、ＩＣチップの正常動作の確認である。
【０００８】
【特許文献１】
特開平１１−３５３４３３号公報
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
ＩＣチップは、運用後徐々に劣化していくものであり、ある時点で運用に耐えられる性能以下に性能が劣化した場合に始めて不良となってしまうものであった、しかし、劣化がどの程度まで進んでいるかは、通常の運用においては判断できなかったもので、実際の運用で始めて使用に耐えられなくなったことが分かっていた。
【００１０】
このため、ＩＣチップの劣化による不良の発生を常に考慮した運用が求められていた。
【００１１】
そこで本発明が解決しようとする課題は、上記問題点、すなわちＩＣチップにおいて劣化等により発生する潜在的な不良、例えば、ＩＣチップの個体差による電気的強度の違いによる不良を、運用前にそれらを判別することが可能となるＩＣチップを含んだ非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明の請求項１に係る発明における課題を解決するための手段は、  ＩＣチップを内蔵したＩＣモジュールとアンテナ、またはコイルが一体化されている非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置において、通常の通信動作において設定された最大電波出力強度よりも強い電磁波をＩＣ担体に与える電磁波発生手段と、ＩＣ担体からの応答信号受信手段と、応答信号が正常が否かを判断する判定手段を具備していることを特徴とする持つ非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供するものである。
【００１３】
本発明の請求項２に係る発明における課題を解決するための手段は、電波出力強度が通常の通信動作において設定された最大電波出力強度の１．１倍以上５．０倍以下の信号を含むことを特徴とする請求項１記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供するものである。
【００１４】
本発明の請求項３に係る発明における課題を解決するための手段は、電磁波発生手段が、最大電波出力強度よりも強い電磁波の他に、最大電波出力強度以内の電磁波もＩＣ担体に与えるものであることを特徴とする請求項１または２記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供するものである。
【００１５】
本発明の請求項４に係る発明における課題を解決するための手段は、電磁波発生手段が、最大電波出力強度よりも強い電磁波送信後に、最大電波出力強度以内の電磁波による信号をＩＣ担体に与えるものであることを特徴とする請求項３記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供するものである。
【００１６】
本発明の請求項５に係る発明における課題を解決するための手段は、電磁波発生手段と、応答信号受信手段が同一のアンテナにより送受信されるものであることを特徴とする請求項１から４何れか記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供するものである。
【００１７】
本発明の請求項６に係る発明における課題を解決するための手段は、ＩＣ担体がＩＣカードであることを特徴とする請求項１から５何れか記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供するものである。
【００１８】
本発明の請求項７に係る発明における課題を解決するための手段は、ＩＣ担体がインレットまたはタグであることを特徴とする請求項１から５何れか記載の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置を提供するものである。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置について図面に従って説明する。
【００２０】
まず、本発明の検査に用いられるＩＣ担体は、図２や図４に示す様に、ＩＣ担体１への電力の供給は、ＩＣ担体１にアンテナコイル３３を設け、外部端末のアンテナ３２から電力と情報の両者を得る。
【００２１】
この構成は、図４の斜視図に示す様に、ＩＣ担体が非接触ＩＣカードである例である。しかし、図７の斜視図に示すようにＩＣ担体がアンテナコイル３３による非接触送受信可能であるばかりではなく、接続端子を持ったＩＣチップ３４により接触データ交換も可能ないわゆる接触非接触ハイブリッド型ＩＣカードであるＩＣ担体１である場合でも良い。
【００２２】
また、図８に示す様に、ＩＣ担体１がカード形状ではなく、シート状のインレット形態をしており、何かＩＣ組込により有効な物品に仕込である場合でも構わないものであり、インレットのみでもＩＣ担体に含めることもできるが、使用者側からみれば、インレットを組み込んだ物品全体がＩＣ担体と把握することも可能である。
【００２３】
次に、この様なＩＣ担体のチップを中心に、ＩＣ担体がＩＣカードである場合を図２を用いて説明すれば、ＲＯＭ２はＩＣ担体１の動作を規定するプログラム、アプリケーション関する各種情報などを格納した不揮発性メモリである。不正な書き換えを防ぐために秘密情報は、ＲＯＭ２に格納しておくことが望ましい。
【００２４】
メモリ５はＥＥＰＲＯＭ等からなり、データを書換え可能に格納する不揮発性メモリであり、ＩＣ担体の動作を規定するプログラムはメモリ５に格納するようにしても良い。
【００２５】
他方、本発明で用いる検査装置は、図３のような構成になっており、通常動作において設定された電波出力強度よりも高い電磁波を発生する装置ａと通常動作において設定された電波出力強度と同じ電磁波を発生させ、同時にＩＣカードにコマンドを送信してレスボンスを受信する装置ｂとそれらを制御および情報を表示する装置ｃから構成されている。
【００２６】
この場合、装置ａはアンテナｇと送受信回路ｆとからなっており、同様に装置ｂはアンテナｉと送受信回路ｈとからなっている。
【００２７】
この場合の検査装置の使用方法としては、以下の通りである。
【００２８】
▲１▼被検査ＩＣカードを装置ｂのアンテナにかざし、通常動作において設定された電波出力強度と同じ電磁波を発生させるのと同時に、その電磁波にカード検出やデータの読み書きなどのコマンドを載せＩＣカードからのレスボンスが正常か判断し、アンテナとＩＣチップとが接続されているかなどを判別する。
【００２９】
また、このとき共振の検査をして正常かどうかをも判別する。
【００３０】
▲２▼次に、ＩＣカードを装置ａのアンテナにかざし、通常動作において設定された電波出力強度よりも高い電磁波を発生させ、ＩＣカードに負荷をかける。
【００３１】
このとき、データの読み書きなどのコマンドを載せて検査することも可能である。
【００３２】
▲３▼次に、装置ｂのアンテナにかざして、通常動作において設定された電波出力強度と同じ電磁波を発生させるのと同時に、その電磁波にカード検出やデータの読み書きなどのコマンドを載せ送信して、ＩＣカードからのレスボンスが正常なものかどうかとを判断するのと共振の検査をして不良品を判別する。
【００３３】
なお、図５ように、前記、装置ａと装置ｂとが一体となった、装置ｄと装置ｃから構成される検査装置では、カードをかざす手間がなくなり、１ステップでの検査が可能となる。この場合、装置ｄについては送受信部ｊとアンテナ部ｋから構成され、装置ｃと接続されている。
【００３４】
また、装置ａ、装置ｂおよび装置ｃが一体化した、もしくは装置ｄの送受信部ｊとアンテナ部ｋが一体となった図６のような装置ｅを使うこともできる。
【００３５】
以下に、通常動作において設定された電波出力強度よりも高い電磁波の印可前後において、ＩＣカードへコマンドを送信した際のレスボンスが異常であった件数を表１に示す。
【００３６】
【表１】
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【００３７】
検査結果は、必要により各種の出力が行えるが、例えばその検査結果を表示するとか、使用禁止コマンドをＩＣ担体に送信し、以降のＩＣ担体の使用を禁止する等が可能である。
【００３８】
なお、検査結果は、良、不良のみであっってもよいが、寿命判定を行い、残りの使用期限や、使用に耐えられる回数などの形の検査結果であっても構わないものである。
【００３９】
【実施例】
以下に、本発明の一実施例を図面に従って説明する。
【００４０】
まず、本発明の検査に用いられるＩＣ担体は、図４の斜視図、および図２のブロック図に示す様に、ＩＣ担体１への電力の供給は、ＩＣ担体１にアンテナコイル３３を設け、外部端末のアンテナ３２から電力と情報の両者を得る。
【００４１】
また、ＲＯＭ２はＩＣ担体１の動作を規定するプログラムなどを格納した不揮発性メモリであり、メモリ５はＥＥＰＲＯＭからなり、データを書換え可能に格納する不揮発性メモリであり、ＩＣ担体の送信すべき情報や、受信した情報はメモリ５に格納するようにしている。
【００４２】
他方、本発明で用いる検査装置は、図３のような構成になっており、通常動作において設定された電波出力強度よりも高い電磁波を発生する装置ａと通常動作において設定された電波出力強度と同じ電磁波を発生させ、同時にＩＣカードにコマンドを送信してレスボンスを受信する装置ｂとそれらを制御および情報を表示する装置ｃから構成されている。
【００４３】
この場合、装置ａはアンテナｇと送受信回路ｆとからなっており、同様に装置ｂはアンテナｉと送受信回路ｈとからなっている。
【００４４】
次に、実際の検査の場合を用いて、図１のフローチャートを用いて以下説明する。
【００４５】
まず、ＩＣカードを装置ｂのアンテナｉにかざすことで検査開始１００される。かざされると、動作検査装置のアンテナｉより通常の電波出力強度である１．５Ａ／ｍのコマンド送信１０１がなされる。このコマンドは書き込みコマンドである。このコマンドは通常の電磁波にてＩＣカードのアンテナ３３にて受信１０２し、ＩＣモジュール３１に転送され、このコマンドが実行される１０３。
【００４６】
実行結果はアンテナ３３にて送信され１０４、その実行結果をアンテナｉが受信１０５して装置ｃに転送され判断される。判断１０６は、読み込みコマンドを送信して、そのレスポンスデータが上記書き込みコマンドで書き込んだ値と同じであれば正常と判断し、次の判断１０７に進むが、この時点で正常でなければ異常と判断し、不良判定１１８される。
【００４７】
判断１０６で正常と判断されれば、共振周波数が正常か否かを判断１０７する。ここでは、共振周波数が１３．５６ＭＨｚ±３００ｋＨｚであれば共振周波数は正常と判断し、次のステップ１０８に進むが、この時点で正常でなければ異常と判断し、不良判定１１８される。
【００４８】
判断１０７で正常と判断されれば、今度はＩＣカードを装置ａのアンテナｇにかざすことで、動作検査装置のアンテナｇより通常の電波出力強度より強い強度である４．５Ａ／ｍの電磁波をアンテナ３３に与える。
【００４９】
次に、再びＩＣカードを装置ｂのアンテナｉにかざされると、動作検査装置のアンテナｉよりコマンド１０１と同様の電波出力強度でコマンド送信１０１と同様のコマンド送信１１０がなされる。このコマンドは通常の電磁波にてＩＣカードのアンテナ３３にて受信１１１し、ＩＣモジュール３１に転送され、このコマンドが実行される１１２。
【００５０】
実行結果はアンテナ３３にて送信され１１３、その実行結果をアンテナｉが受信１１４して装置ｃに転送され判断される。判断１１５は、そのコマンドのレスポンス内容が判断１０６と同様であれば正常と判断し、次の判断１１６に進むが、この時点で正常でなければ異常と判断し、不良判定１１８される。
【００５１】
判断１１５で正常と判断されれば、共振周波数が正常か否かを判断１１６する。ここでも判断１０７と同様であれば共振周波数は正常と判断し、良判定１１７されるが、正常でなければ異常と判断し、不良判定１１８される。
【００５２】
良判定１１７もしくは不良判定１１８は、検査結果を表示することで検査を終了する。
【００５３】
【発明の効果】
以上の様に、本発明によれば、ＩＣチップを内蔵した非接触インターフェースを持つカードまたはタグなどに、通常動作において設定された電波出力強度よりも高い電磁波を与えることで、潜在的な不良を判別し、運用前に不具合を検出し除去することが可能となり、不良品の数を減らすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置の動作を示すフローチャートである。
【図２】本発明の図１の実施形態の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置の実施形態を示すブロック図である。
【図３】本発明の図１の実施形態を示す斜視図である。
【図４】本発明の図１の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置の使用に用いられるＩＣ担体がＩＣカードである場合の、ＩＣカードの一例の斜視図である。
【図５】本発明の図１とは別な実施形態を示す斜視図である。
【図６】本発明の図１、図５とは別な実施形態を示す斜視図である。
【図７】本発明の非接触インターフェースと接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置の使用に用いられるＩＣ担体がＩＣカードである場合の、ＩＣカードの一例の斜視図である。
【図８】本発明の非接触インターフェースを持つＩＣ担体の動作検査装置の使用に用いられるＩＣ担体がインレットである場合の、インレットの一例の斜視図である。
【符号の説明】
ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、：装置
ｆ、ｈ、ｊ：送受信回路
ｇ、ｉ、ｋ：アンテナ
１：ＩＣ担体
３１：ＩＣモジュール
３２：アンテナ
３３：アンテナコイル
３４：接続端子付きＩＣモジュール
１００、１１７、１１８：開始終了
１０１、１０２、１０３、１０４、１０５、１０８、１０９、１１０、１１１
１１２、１１３、１１４、：処理
１０６、１０７、１１５、１１６：判断
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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