(57)【要約】【課題】穀粒の性状を明瞭に判断することができる穀粒分析器を得る。【解決手段】穀粒分析器１０では、分析装置が穀粒毎の画素情報に基づいて穀粒を穀粒毎に粒長及び粒巾について分析する。さらに、表示装置が画面２２に、粒長についての横軸２６及び粒巾についての縦軸２８を有して各穀粒の粒長及び粒巾を示す散布図２４を表示する。このため、散布図２４から所定量の穀粒の傾向（粒長及び粒巾の相互関係により把握される傾向）を把握でき、所定量の穀粒の性状を明瞭に判断することができる。さらに、穀粒についての系統（長粒系、短粒系及び中粒系）の境界線（長中粒境界線３０及び短中粒境界線３２）が散布図２４において表示されるため、穀粒の属する系統を把握でき、穀粒の性状を一層明瞭に判断することができる。【選択図】　　図１
2004138478.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
穀粒を認識する認識手段と、
前記認識手段による穀粒の認識結果に基づき穀粒を複数の分析項目について分析し、前記各分析項目についての座標軸を有して穀粒の前記各分析項目についての分析値を示す第１グラフを表示する表示手段と、
を備えた穀粒分析器。
【請求項２】
前記表示手段は、穀粒についての系統の境界線を表示する、ことを特徴とする請求項１記載の穀粒分析器。
【請求項３】
穀粒を認識する認識手段と、
前記認識手段による穀粒の認識結果に基づき穀粒を所定の分析項目について分析し、穀粒の前記所定の分析項目についての分析値に基づき、前記所定の分析項目と穀粒の度数とについての座標軸を有して前記所定の分析項目の各範囲に属する穀粒の度数を示す第２グラフを表示する表示手段と、
を備えた穀粒分析器。
【請求項４】
前記表示手段は、前記分析値の統計情報を表示する、ことを特徴とする請求項３記載の穀粒分析器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、穀粒を認識して穀粒に関する情報を表示する穀粒分析器に関する。
【０００２】
【従来の技術】
穀粒品質判定装置としては、試料としての穀粒（米粒）を撮影し、撮影された穀粒の情報に基づいて、穀粒の品質レベルを判定するものがある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
ところで、このような穀粒品質判定装置では、穀粒の性状を明瞭に判断できることが望まれている。
【０００４】
【特許文献１】
特許第２５５９６０６号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上記事実を考慮し、穀粒の性状を明瞭に判断できる穀粒分析器を得ることが目的である。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の穀粒分析器は、穀粒を認識する認識手段と、前記認識手段による穀粒の認識結果に基づき穀粒を複数の分析項目について分析し、前記各分析項目についての座標軸を有して穀粒の前記各分析項目についての分析値を示す第１グラフを表示する表示手段と、を備えている。
【０００７】
請求項１に記載の穀粒分析器では、認識手段が穀粒を認識する。また、表示手段が、認識手段による穀粒の認識結果に基づき穀粒を複数の分析項目について分析し、さらに、各分析項目についての座標軸を有して穀粒の各分析項目についての分析値を示す第１グラフを表示する。
【０００８】
このため、第１グラフから穀粒の傾向（複数の分析項目の相互関係により把握される傾向）を把握でき、穀粒の性状を明瞭に判断することができる。
【０００９】
請求項２に記載の穀粒分析器は、請求項１に記載の穀粒分析器において、前記表示手段は、穀粒についての系統の境界線を表示する、ことを特徴としている。
【００１０】
請求項２に記載の穀粒分析器では、表示手段が穀粒についての系統の境界線を表示するため、穀粒の属する系統を把握でき、穀粒の性状を一層明瞭に判断することができる。
【００１１】
請求項３に記載の穀粒分析器は、穀粒を認識する認識手段と、前記認識手段による穀粒の認識結果に基づき穀粒を所定の分析項目について分析し、穀粒の前記所定の分析項目についての分析値に基づき、前記所定の分析項目と穀粒の度数とについての座標軸を有して前記所定の分析項目の各範囲に属する穀粒の度数を示す第２グラフを表示する表示手段と、を備えている。
【００１２】
請求項３に記載の穀粒分析器では、認識手段が穀粒を認識する。また、表示手段が、認識手段による穀粒の認識結果に基づき穀粒を所定の分析項目について分析し、さらに、穀粒の所定の分析項目についての分析値に基づき、所定の分析項目と穀粒の度数とについての座標軸を有して所定の分析項目の各範囲に属する穀粒の度数を示す第２グラフを表示する。
【００１３】
このため、第２グラフから穀粒の所定の分析項目における傾向を把握でき、穀粒の性状を明瞭に判断することができる。
【００１４】
請求項４に記載の穀粒分析器は、請求項３に記載の穀粒分析器において、前記表示手段は、前記分析値の統計情報を表示する、ことを特徴としている。
【００１５】
請求項４に記載の穀粒分析器では、表示手段が穀粒の所定の分析項目についての分析値の統計情報を表示するため、穀粒の所定の分析項目における傾向を明確に把握でき、穀粒の性状を一層明瞭に判断することができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
図３には、本発明の実施の形態に係る穀粒分析器１０（穀粒判別器）の概略図が示されている。
【００１７】
本実施の形態に係る穀粒分析器１０は、認識手段を構成する供給装置１２を備えており、供給装置１２は、穀粒１４（米粒（特に玄米））を１粒ずつ所定位置Ｐに供給する。穀粒分析器１０は、認識手段を構成する光照射装置（図示省略）を備えており、光照射装置は所定位置Ｐに供給された穀粒１４に光を照射する。
【００１８】
穀粒分析器１０は、認識手段を構成する撮影装置１６（カメラまたはスキャナ）を備えており、撮影装置１６は、所定位置Ｐに供給された穀粒１４に光が照射された際に穀粒１４で反射される反射光及び穀粒１４を透過する透過光を受光して穀粒１４を撮影（認識）する。これにより、撮影装置１６は、撮影された穀粒１４毎の形状に関する画素情報及び色彩に関する色彩情報（認識結果）をデータとして送信する。また、色彩情報は、ＲＧＢ（赤色・緑色・青色）の各成分毎の情報とされている。
【００１９】
撮影装置１６には、表示手段を構成する分析装置１８（パーソナルコンピュータ）が接続されており、分析装置１８は、撮影装置１６からの穀粒１４毎の画素情報及び色彩情報を受信する。これにより、分析装置１８は、穀粒１４毎の画素情報及び色彩情報に基づいて、穀粒１４を穀粒１４毎に複数の分析項目について分析（計算）する。穀粒１４の分析項目としては、穀粒１４の粒長（長手方向長さ）、粒巾（幅方向長さ）、面積（撮影された穀粒１４の面積）、縦横比（粒長及び粒巾の何れか一方を何れか他方で割った値）及び変形度についての穀粒１４の形状に関する分析項目と、穀粒１４の赤色度合、青色度合（または緑色度合）及び白色度合についての穀粒１４の色彩に関する分析項目と、がある。
【００２０】
分析装置１８には、表示手段を構成する表示装置２０が接続されている。表示装置２０は画面２２（図１及び図２参照）を有しており、画面２２には、分析装置１８による所定量の穀粒１４の分析結果が表示される。
【００２１】
図１に示す如く、画面２２には、第１グラフとしての散布図２４が表示される。この散布図２４は、所定の位置から横方向へ延伸する横軸２６と、所定の位置から縦方向へ延伸する縦軸２８と、を有しており、横軸２６は穀粒１４の粒長についての座標軸とされて横軸２６の近傍に「粒長」の文字が表示されると共に、縦軸２８は穀粒１４の粒巾についての座標軸とされて縦軸２８の近傍に「粒巾」の文字が表示される。
【００２２】
この散布図２４では、分析装置１８によって分析された穀粒１４毎の粒長及び粒巾（分析値）が、該当する粒長及び粒巾の位置に点を表示することで示されており、穀粒１４は、横軸２６の延伸方向側に表示される程粒長が大きいと共に、縦軸２８の延伸方向側に表示される程粒巾が大きい。
【００２３】
さらに、この散布図２４には、境界線としての長中粒境界線３０及び短中粒境界線３２が表示されており、長中粒境界線３０は横軸２６と縦軸２８との間の横軸２６側に配置されると共に、短中粒境界線３２は横軸２６と縦軸２８との間の縦軸２８側に配置される。長中粒境界線３０は表示された穀粒１４が長粒系と中粒系との何れの系統に属するかの境界線であると共に、短中粒境界線３２は表示された穀粒１４が短粒系と中粒系との何れの系統に属するかの境界線であり、横軸２６と長中粒境界線３０との間の領域には「長粒系」の文字が表示され、縦軸２８と短中粒境界線３２との間の領域には「短粒系」の文字が表示され、長中粒境界線３０と短中粒境界線３２との間の領域には「中粒系」の文字が表示される。
【００２４】
このため、横軸２６と長中粒境界線３０との間の領域に表示された穀粒１４は長粒系であることが示され、縦軸２８と短中粒境界線３２との間の領域に表示された穀粒１４は短粒系であることが示され、長中粒境界線３０と短中粒境界線３２との間の領域に表示された穀粒１４は中粒系であることが示される。
【００２５】
さらに、画面２２には、上記穀粒１４の粒長及び粒巾についての散布図２４の他に、第１グラフとして、穀粒１４の粒長、粒巾、面積、縦横比、変形度、赤色度合、青色度合（または緑色度合）及び白色度合のうちの任意の２つ（穀粒１４の粒長及び粒巾を除く）についての散布図も散布図２４と同様に表示される。この場合、この散布図には適宜散布図２４と同様に境界線（例えば色彩境界線）や穀粒１４の系統を示す文字も表示される。
【００２６】
図２に示す如く、画面２２には、第２グラフとしてのヒストグラム３４（度数分布図）も表示される。このヒストグラム３４は、所定の位置から横方向へ延伸する横軸３６と、所定の位置から縦方向へ延伸する縦軸３８と、を有しており、横軸３６は穀粒１４の粒長（所定の分析項目）についての座標軸とされて横軸３６の近傍に「粒長」の文字が表示されると共に、縦軸３８は穀粒１４の度数（数量）についての座標軸とされて縦軸３８の近傍に「度数」の文字が表示されている。
【００２７】
このヒストグラム３４では、分析装置１８によって分析された各穀粒１４の粒長（分析値）に基づいて、均等に分割された穀粒１４の粒長の各範囲に属する穀粒１４の度数が、該当する粒長の範囲（当該範囲の中央）及び度数の位置に沿った線グラフを表示することで示されており、穀粒１４の粒長は横軸３６の延伸方向側の位置程大きいと共に、穀粒１４の度数は縦軸３８の延伸方向側の位置程大きい。
【００２８】
さらに、このヒストグラム３４には、統計情報としての平均線４０が表示される。平均線４０は、所定量の穀粒１４における粒長（分析値）の平均値の位置において横軸３６に垂直に配置されており、これにより、所定量の穀粒１４における粒長の平均値が示される。
【００２９】
また、このヒストグラム３４には、統計情報として、所定量の穀粒１４における粒長（分析値）の最大値、最小値、平均値及び標準偏差の数値（図示省略）が表示される。
【００３０】
さらに、画面２２には、上記穀粒１４の粒長についてのヒストグラム３４の他に、第２グラフとして、穀粒１４の粒巾、面積、縦横比、変形度、赤色度合、青色度合（または緑色度合）及び白色度合のうちの任意の１つ（所定の分析項目）についてのヒストグラムもヒストグラム３４と同様に表示される。この場合、このヒストグラムには適宜ヒストグラム３４と同様に平均線や所定の分析項目の最大値、最小値、平均値及び標準偏差の数値も表示される構成である。
【００３１】
次に、本実施の形態の作用を説明する。
【００３２】
以上の構成の穀粒分析器１０では、供給装置１２が穀粒１４を所定位置Ｐに供給して光照射装置が穀粒１４に光を照射した際に、撮影装置１６が穀粒１４を撮影し、分析装置１８が撮影装置１６からの穀粒１４毎の画素情報及び色彩情報に基づいて穀粒１４を穀粒１４毎に複数の分析項目（粒長、粒巾、面積、縦横比、変形度、赤色度合、青色度合（または緑色度合）及び白色度合）について分析する。
【００３３】
さらに、表示装置２０が画面２２に、任意の２つの分析項目（例えば図１では粒長及び粒巾）についての座標軸（例えば図１の横軸２６及び縦軸２８）を有して各穀粒１４の当該２つの分析項目についての分析値を示す散布図（例えば図１の散布図２４）を表示する。このため、散布図から所定量の穀粒１４（試料）の傾向（当該２つの分析項目の相互関係により把握される傾向）を把握でき、所定量の穀粒１４の性状を明瞭に判断することができる。
【００３４】
また、表示装置２０が画面２２に、穀粒１４についての系統（例えば図１では長粒系、短粒系及び中粒系の３つの系統）の境界線（例えば図１の長中粒境界線３０及び短中粒境界線３２）を散布図において表示するため、穀粒１４の属する系統を把握でき、穀粒１４の性状を一層明瞭に判断することができる。
【００３５】
しかも、表示装置２０が画面２２に穀粒１４の系統を示す文字（例えば図１では「長粒系」、「短粒系」及び「中粒系」の３つの文字）を散布図において表示するため、穀粒１４の属する系統を明瞭に把握でき、穀粒１４の性状を一層明瞭に判断することができる。
【００３６】
また、表示装置２０が画面２２に、穀粒１４の所定の分析項目（例えば図２では粒長）についての分析値に基づき、所定の分析項目と穀粒１４の度数とについての座標軸（例えば図２の横軸３６及び縦軸３８）を有して所定の分析項目の各範囲に属する穀粒１４の度数を示すヒストグラム（例えば図２のヒストグラム３４）を表示する。このため、ヒストグラムから所定量の穀粒１４（試料）の所定の分析項目における傾向を把握でき、所定量の穀粒１４の性状を明瞭に判断することができる。
【００３７】
さらに、表示装置２０が画面２２に、所定量の穀粒１４における所定の分析項目についての平均値を示す平均線（例えば図２の平均線４０）と、所定量の穀粒１４における所定の分析項目についての最大値、最小値、平均値及び標準偏差の数値と、をヒストグラムにおいて表示するため、所定量の穀粒１４の所定の分析項目における傾向を明確に把握でき、所定量の穀粒１４の性状を一層明瞭に判断することができる。
【００３８】
なお、本実施の形態では、ヒストグラムにおいて所定の分析項目の各範囲に属する穀粒１４の度数を該当する所定の分析項目の範囲及び度数の位置に沿った線グラフが表示されることで示した構成としたが、ヒストグラム（第２グラフ）において所定の分析項目の各範囲に属する穀粒の度数を所定の分析項目の各範囲において該当する度数の位置まで延伸する棒グラフが表示されることで示した構成としてもよい。
【００３９】
さらに、本実施の形態では、表示装置２０の画面２２に散布図やヒストグラムを表示する構成としたが、表示装置（表示手段）が散布図（第１グラフ）やヒストグラム（第２グラフ）を印刷出力することで表示する構成としてもよい。
【００４０】
【発明の効果】
請求項１に記載の穀粒分析器では、表示手段が各分析項目についての座標軸を有して穀粒の各分析項目についての分析値を示す第１グラフを表示するため、穀粒の性状を明瞭に判断することができる。
【００４１】
請求項２に記載の穀粒分析器では、表示手段が穀粒についての系統の境界線を表示するため、穀粒の性状を一層明瞭に判断することができる。
【００４２】
請求項３に記載の穀粒分析器では、表示手段が穀粒の所定の分析項目についての分析値に基づき所定の分析項目と穀粒の度数とについての座標軸を有して所定の分析項目の各範囲に属する穀粒の度数を示す第２グラフを表示するため、穀粒の性状を明瞭に判断することができる。
【００４３】
請求項４に記載の穀粒分析器では、表示手段が穀粒の所定の分析項目についての分析値の統計情報を表示するため、穀粒の性状を一層明瞭に判断することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る穀粒分析器おける表示装置の画面への散布図の表示状況を示す正面図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る穀粒分析器おける表示装置の画面へのヒストグラムの表示状況を示す正面図である。
【図３】本発明の実施の形態に係る穀粒分析器を示す概略図である。
【符号の説明】
１０　　穀粒分析器
１２　　供給装置（認識手段）
１４　　穀粒
１６　　撮影装置（認識手段）
１８　　分析装置（表示手段）
２０　　表示装置（表示手段）
２４　　散布図（第１グラフ）
２６　　横軸（座標軸）
２８　　縦軸（座標軸）
３０　　長中粒境界線（境界線）
３２　　短中粒境界線（境界線）
３４　　ヒストグラム（第２グラフ）
３６　　横軸（座標軸）
３８　　縦軸（座標軸）
４０　　平均線（統計情報）
【図１】
2004138478.tif 000003
【図２】
2004138478.tif 000004
【図３】
2004138478.tif 000005