(57)【要約】【課題】帯状フィルムの欠陥を検出するためのシステム構成を簡素化し、コスト上昇を抑制することができる帯状被検体の検査システムを提供すること。【解決手段】所定速度で搬送される帯状フィルム１の幅方向に沿って配置され、フィルムの画像信号をライン毎に取得するためのラインセンサー２と、このラインセンサー２から得られる画像信号が予め設定したしきい値を超えたか否かを、ライン毎に判断し、しきい値を超えている場合に所定の出力信号を出力する画像処理手段３と、所定の出力信号が出力されたラインが、第１の設定数を超えて連続して検出された場合をＳ欠陥として設定し、所定の出力信号が出力されたラインが第１の設定数よりも多い第２の設定数を超えて検出された場合をＭ欠陥として設定する欠陥レベル設定手段と、Ｍ欠陥が検出された場合に、これに付随して検出されたＳ欠陥の検出をキャンセルする欠陥キャンセル手段とを備えた。【選択図】    図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定速度で搬送される帯状被検体の幅方向に沿って配置され、帯状被検体の画像信号をライン毎に取得するためのラインセンサーと、
このラインセンサーから得られる画像信号が予め設定したしきい値を超えたか否かを、前記ライン毎に判断し、前記しきい値を超えている場合に所定の出力信号を出力する画像処理手段と、
前記所定の出力信号が出力されたラインが、第１の設定数を超えて連続して検出された場合を第１欠陥レベルとして設定し、前記所定の出力信号が出力されたラインが第１の設定数よりも多い第２の設定数を超えて検出された場合を第２欠陥レベルとして設定する欠陥レベル設定手段と、
前記第２欠陥レベルが検出された場合に、これに付随して検出された第１欠陥レベルの検出をキャンセルする欠陥キャンセル手段とを備えたことを特徴とする帯状被検体の検査システム。
【請求項２】
帯状被検体を、その長手方向に沿った所定長さ毎にブロック分けするブロック分け手段と、
検出された欠陥をレベル毎に、かつ、前記ブロック毎に集計する欠陥集計手段と、
集計された結果をモニターに表示させるための表示画像データ生成手段とを備えたことを特徴とする請求項１に記載の帯状被検体の検査システム。
【請求項３】
帯状被検体の欠陥が検出されたエリアを切断して排出するエリア除去装置と、
検出された欠陥のレベルに応じて前記エリア除去装置を作動させるか否かを設定するエリア除去レベル設定手段とを備えたことを特徴とする請求項１又は２に記載の帯状被検体の検査システム。
【請求項４】
前記ラインセンサーが画像信号を取得するエリアのうち、欠陥を検出すべきエリアを設定する検出条件設定手段を備えたことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の帯状被検体の検査システム。
【請求項５】
所定速度で搬送される帯状被検体の幅方向に沿って配置され、帯状被検体の画像信号をライン毎に取得するためのラインセンサーと、このラインセンサーから得られる画像信号が予め設定したしきい値を超えたか否かを、前記ライン毎に判断し、前記しきい値を超えている場合に所定の出力信号を出力する画像処理手段とを備えた帯状被検体の検査システムを構築するために、コンピュータにインストールされる検査プログラムであって
前記所定の出力信号が出力されたラインが、第１の設定数を超えて連続して検出された場合を第１欠陥レベルとして設定し、前記所定の出力信号が出力されたラインが第１の設定数よりも多い第２の設定数を超えて検出された場合を第２欠陥レベルとして設定する処理と、
前記第２欠陥レベルが検出された場合に、これに付随して検出された第１欠陥レベルの検出をキャンセルする処理とを行うことを特徴とする帯状被検体の検査プログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、処理速度で搬送される帯状被検体の画像信号に基づいて欠陥を検出する帯状被検体の検査システム及びこのシステムに用いられる検査プログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
連続して成形される帯状被検体（例えば、連続押出樹脂シートなど）は、処理速度で搬送経路に沿って搬送され、その経路途上に設けられた検査システムにより、帯状被検体の表面に存在する欠陥を検出している。成形された帯状被検体は、所定の製品サイズにカットされるが、製品として取り出す部分に欠陥が存在してはならない。そこで、上記の検査システムを設け、欠陥が検出された部分をカットして経路外へ排出するようにしている。これにより、表面欠陥が存在する部分が製品として使用されないように対処している。
【０００３】
この検査システムとして、搬送経路途上に帯状被検体を撮影するためのカメラを設け、このカメラから得られる画像信号を画像処理装置に入力し、画像処理に基づいて欠陥を抽出するものが知られている。この画像処理装置は、別途設けられたパソコンにより設定された検査条件に基づいて、欠陥の存在を検出するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記のような検査システムを構築するに際して、帯状被検体の表面に存在する欠陥を詳細に抽出しようとすると、システムに要求される機能も高いものが求められる。例えば、欠陥のサイズを識別するだけでなく、形状（点状の欠陥か線状の欠陥か等）を識別し、欠陥の位置情報（密集度や周期等）を検出し、また、画像処理技術を用いて欠陥を抽出する。そして、抽出した結果得られた画像を記憶装置に記憶させる。しかしながら、このような高機能性を追求すると、コストが上昇する要因となる。また、帯状被検体の検査を行う現場においても、高機能な検査システムを必要としないようなケースもあり、かかるケースにおいてわざわざコストの高いシステムを導入することは好ましくない。
【０００５】
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、その課題は、帯状被検体の欠陥を検出するためのシステム構成  （機能）  を簡素化し、コスト上昇を抑制することができる帯状被検体の検査システム及び検査プログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため本発明に係る帯状被検体の検査システムは、
所定速度で搬送される帯状被検体の幅方向に沿って配置され、帯状被検体の画像信号をライン毎に取得するためのラインセンサーと、
このラインセンサーから得られる画像信号が予め設定したしきい値を超えたか否かを、前記ライン毎に判断し、前記しきい値を超えている場合に所定の出力信号を出力する画像処理手段と、
前記所定の出力信号が出力されたラインが、第１の設定数を超えて連続して検出された場合を第１欠陥レベルとして設定し、前記所定の出力信号が出力されたラインが第１の設定数よりも多い第２の設定数を超えて検出された場合を第２欠陥レベルとして設定する欠陥レベル設定手段と、
前記第２欠陥レベルが検出された場合に、これに付随して検出された第１欠陥レベルの検出をキャンセルする欠陥キャンセル手段とを備えたことを特徴とするものである。
【０００６】
この構成による帯状被検体の検査システムの作用・効果は、以下の通りである。帯状被検体は、搬送経路に沿って処理速度で搬送される。この帯状被検体の幅方向（通常は、帯状被検体が搬送される方向に直交する方向）に沿って、ラインセンサーが配置される。幅方向に沿って配置するラインセンサーの数は、１つであるとは限らず、複数でも良い。これは、帯状被検体の幅寸法等の事情により決めることができる。ラインセンサーは、帯状被検体の画像信号をライン毎に取得する。そして、ラインセンサーから得られる画像信号のレベルが、予め設定したしきい値を超えたか否かをライン毎に判断する。しきい値を超えている場合は、所定の出力信号を出力する。すなわち、  欠陥と推定されるものが存在すると、しきい値を超えるように設定しておく。
【０００７】
ここで、１ライン分の画像信号は、帯状被検体の幅方向の画像情報に対応する。１ライン分の画像信号において、しきい値を超えた部分があるか否かを判断するのだけなので、構成を簡素化することができる。例えば、幅方向のどの部分においてしきい値を超えたかということを判断をしなくてよい。幅方向のどこかに欠陥が存在すれば、しきい値を超えることになり出力信号を出力する。
【０００８】
上記の出力信号が出力されたラインが、第１の設定数を超えて連続して検出されると、これを第１欠陥レベルであると設定する。第１の設定数は、０以上の数値が設定される。これは、ノイズ成分により欠陥でないものを欠陥であると判断してしまうことがないように設定される。そして、出力信号が出力されたラインが第２の設定数を超えて検出されると、第２欠陥レベルであると設定する。この場合、第２の設定数は第１の設定数よりも大きな数値である。すなわち、  出力信号が出力されるラインがどれだけ連続するかをカウントする処理により欠陥レベルを判断するだけなので、欠陥を検出するための構成を簡素化することができる。
【０００９】
さらに、上記の構成だと、第２の欠陥レベルであると検出された場合、その前提として第１の欠陥レベルであるとも検出されることになる。そうすると、同じ欠陥が第２の欠陥レベルでもあり第１の欠陥レベルでもあると判断してしまい、例えば、欠陥数を統計処理する場合等において、二重にカウントする等の間違いを犯すことになる。そこで、第２欠陥レベルを検出した場合には、これに付随して検出された第１欠陥レベルの検出をキャンセルするようにする。これにより、同じ欠陥を二重カウントする等の誤処理をなくすことができる。したがって、構成を簡素化しながらも、欠陥を確実に検出することが可能になる。
【００１０】
その結果、帯状被検体の欠陥を検出するためのシステム構成  （機能）  を簡素化し、コスト上昇を抑制することができる帯状被検体の検査システムを提供することができる。
【００１１】
なお、本発明に係るシステム構成として、欠陥レベル設定手段により第１欠陥レベルと第２欠陥レベルを設定する構成を説明しているが、これに付加して、第３欠陥レベル、第４欠陥レベル・・・をさらに設定するようにしてもよいのは言うまでもないことであり、かかる構成も本発明の枠内である。すなわち、  少なくとも、２つの欠陥レベルを設定できるように構成することが本発明の要件となる。
【００１２】
本発明の好適な実施形態として，帯状被検体を、その長手方向に沿った所定長さ毎にブロック分けするブロック分け手段と、
検出された欠陥をレベル毎に、かつ、前記ブロック毎に集計する欠陥集計手段と、
集計された結果をモニターに表示させるための表示画像データ生成手段とを備えたものがあげられる。
【００１３】
この構成によると、帯状被検体を長手方向に沿った所定長さ毎  （例えば、１００ｍｍ毎）  にブロック分けする。このように、ブロック分けして演算処理することで、統計処理を行いやすくすることができる。また、検出された欠陥は、レベル毎に、かつ、ブロック毎に集計され、モニターに表示される。これにより、欠陥の発生状況を分かりやすく確認することができる。
【００１４】
本発明の別の好適な実施形態として，帯状被検体の欠陥が検出されたエリアを切断して排出するエリア除去装置と、
検出された欠陥のレベルに応じて前記エリア除去装置を作動させるか否かを設定するエリア除去レベル設定手段とを備えたものがあげられる。
【００１５】
帯状被検体に欠陥が検出された場合は、その欠陥が含まれるエリアを切断して除去する。この場合、欠陥レベルに応じてエリア除去装置を作動させるか否かを設定可能である。例えば、欠陥があればレベルに関わらず除去するようにしてもよいし、第２欠陥レベルの場合は除去するが、第１欠陥レベルの場合は除去しない（製品として使用する）  というように設定しても良い。すなわち、  ユーザーの要望に応じて設定できるようにする。
【００１６】
本発明の更に別の好適な実施形態として、前記ラインセンサーが画像信号を取得するエリアのうち、欠陥を検出すべきエリアを設定する検出条件設定手段を備えたものがあげられる。
【００１７】
ラインセンサーが取得する１ライン分の画像信号のうち、幅方向の両端部の信号は、製品としては使用しないエリアであったり、帯状被検体の幅方向よりも更に外側のエリアであったりする。また、帯状被検体の種類が変われば、幅方向の寸法も異なることがある。そこで、欠陥を検出すべきアリアを設定できるようにすれば、欠陥検出を確実に行うことができるようになる。
【００１８】
上記課題を解決するため本発明に係る帯状被検体の検査プログラムは、
所定速度で搬送される帯状被検体の幅方向に沿って配置され、帯状被検体の画像信号をライン毎に取得するためのラインセンサーと、このラインセンサーから得られる画像信号が予め設定したしきい値を超えたか否かを、前記ライン毎に判断し、前記しきい値を超えている場合に所定の出力信号を出力する画像処理手段とを備えた帯状被検体の検査システムを構築するために、コンピュータにインストールされる検査プログラムであって
前記所定の出力信号が出力されたラインが、第１の設定数を超えて連続して検出された場合を第１欠陥レベルとして設定し、前記所定の出力信号が出力されたラインが第１の設定数よりも多い第２の設定数を超えて検出された場合を第２欠陥レベルとして設定する処理と、
前記第２欠陥レベルが検出された場合に、これに付随して検出された第１欠陥レベルの検出をキャンセルする処理とを行うことを特徴とするものである。
【００１９】
かかる構成による検査プログラムの作用・効果は、既に述べた通りである。
【００２０】
【発明の実施の形態】
本発明に係る帯状被検体の検査システムの好適な実施形態を図面を用いて説明する。図１は、システムの全体構成を示す概念図である。
【００２１】
＜システムの構成＞
図１に示すように、帯状被検体である帯状フィルム１が、矢印方向に所定速度で搬送される。帯状フィルム１の上方に、３台のラインセンサー２が帯状フィルム１の幅方向に沿って配置されている。ラインセンサー２は、帯状フィルム１から画像信号を１ライン毎にスキャニングすることで取得する。ラインセンサー２は、モノクロ用でよい。なお、ラインセンサー２の配置個数は、検査されるべき帯状フィルム１の幅方向の寸法に応じて設定できるものであり、本発明の構成として特定の台数に限定されるものではない。
【００２２】
各ラインセンサー２には夫々画像処理装置３（画像処理手段）が設けられている。この画像処理装置３は、ラインセンサー２により取得された画像信号が入力され、この画像信号が予め設定したしきい値を超えたか否かを、ライン毎に判断する機能を有する。この点は、後述する。
【００２３】
パソコン４は、３台の画像処理装置３と第１通信ケーブル６と第２通信ケーブル７により接続されている。第１通信ケーブル６により、パソコン４で設定した検索条件のデータが画像処理装置３へ送信される。また、画像処理装置３により検査した結果のデータを第２通信ケーブル７によりパソコン４に送信し、パソコン４はこのデータを処理する。パソコン４は、画像処理装置３から受け取ったデータに基づいて、ＮＧ警報信号を出したり、エリア除去装置に対して排出信号を送出する。画像処理装置３により欠陥が検出されると、ＮＧ警報信号を送出するようにする。エリア除去装置は、帯状フィルム１に欠陥が存在すると検出された部分を切断して除去する装置である。
【００２４】
エンコーダ５は、帯状フィルム１を搬送する搬送装置に連動してパルス信号を出力する部材である。エンコーダ５からの出力パルス信号は、各画像処理装置３とパソコン４に送信され、同期を取るようにしている。エンコーダ５から出力される出力パルス信号は、帯状フィルム１が搬送された距離に対応する。
【００２５】
次に図２により、欠陥レベルの検出に関して説明する。まず、既に説明したように、本実施形態ではラインセンサー２が３台、帯状フィルム１の幅方向に並べて配置されている。それぞれのラインセンサー２によりカバーされるエリアは、図２（ａ）に示すような幅Ｂのエリアである。また、図において帯状フィルム１は矢印方向に搬送されている。パソコン４において検出された欠陥の統計処理を行うに際しては、帯状フィルム１を所定面積のブロックに分け、このブロック単位で行われる。このブロックの大きさは、帯状フィルム１の長手方向（搬送される方向）に沿って１００ｍｍである。このブロック分けの設定はパソコン４にて行うことができる。図例では、１つのブロックの大きさは、１００ｍｍ×Ｂである。
【００２６】
各ラインセンサー２は、主走査方向（フィルム幅方向）に沿ってスキャニングを行い１ライン毎に画像信号を取得する。３台のラインセンサー２により、帯状フィルム１の全幅の画像信号を取得するが、各ラインセンサー２のスキャニングのタイミングを同期させるために、エンコーダ５からの出力パルス信号が利用される。
【００２７】
次に、帯状フィルム１の表面に図２（ｂ）に示すような欠陥（傷、汚れ、凹凸等）があった場合について説明する。（ｂ）において、縦線と横線で区画した領域が、１画素（ピクセル）を示す。区画を黒で塗りつぶした画素は、欠陥が存在する領域であると仮定する。ここで、帯状フィルム１の搬送方向（矢印Ａ）に沿って、ラインＬ１，Ｌ２・・・Ｌ５の信号を取得したとする。ラインＬ１から取得される画像信号は、（ｃ）に示されるようになる。欠陥が存在しなければ、画像信号の電圧値は、しきい値よりも大きな値を示すが、欠陥が存在する部分では、画像信号はしきい値を超える。しきい値を超えた場合は、そのラインＬ１については、欠陥が存在したものと推定し、画像処理装置３は、所定の出力信号（以下、欠陥推定信号と称する）を出力する。
【００２８】
図２（ｂ）の例では、ラインＬ２，Ｌ３，Ｌ４，Ｌ５についても同様にしきい値を超えるので、欠陥推定信号（しきい値を超えたことを表わす信号であり、「所定の出力信号」に相当する。）が出力される。ここで、１つのラインで欠陥推定信号が出力された場合をＳ欠陥（第１欠陥レベル）、連続して３ライン、欠陥推定信号が出力された場合をＭ欠陥（第２欠陥レベル）、連続して５ライン、欠陥推定信号が出力された場合をＬ欠陥（第３欠陥レベル）と設定したものとする。
【００２９】
そうすると、（ｂ）の例の場合、同じ欠陥について、Ｓ欠陥であるという信号が５回、Ｍ欠陥であるという信号が１回、Ｌ欠陥であるという信号が１回出力されることになる。このように欠陥判定信号（欠陥レベルを表わす信号）が重複して出力されると、欠陥数の統計処理を行う場合に、余分にカウントしてしまうことになり正確な情報処理を行うことができない。そこで、パソコン４では、重複して出力された欠陥判定信号をキャンセルするようにしている。図２（ａ）にも示すように、画像処理装置３にて、欠陥判定信号が重複した場合は、余分なものをキャンセルするが、そのキャンセルした結果の欠陥判定信号は、次のブロック信号のタイミングで出力する。ブロック信号は、区画したブロックの大きさにあわせて出力される信号であり、エンコーダ５からのパルス信号に基づいて創出される。図に示すように、最終的にはＬ欠陥を表わす欠陥判定信号のみとなるので、その後の統計処理を正確に行うことができる。
【００３０】
本発明により欠陥検査システムでは、画像信号がしきい値を超えたか否かをライン毎に判断する。この場合、１ラインの画像信号のうち、どの箇所でしきい値を超えたかということを判断しない。図２（ｂ）の例だと、ラインＬ２，Ｌ３，Ｌ４における欠陥の大きさは、Ｌ１，Ｌ５よりも大きいが、この点については検出しない。単に、しきい値を超えたかのみを判断する。よって、欠陥を検出するシステムの構成を簡素化することができる。
【００３１】
＜システムの機能ブロック図＞
次に、システムの機能を図３のブロック図により説明する。比較判定部３ａは、ラインセンサー２から入力される画像信号（１ライン分）としきい値設定部３ｂに設定されているしきい値とを比較し、しきい値を超えた場合に欠陥推定信号を出力する。しきい値は、例えば、所定の電圧値が設定される。比較判定部３ａは、公知の比較回路により構成することができ、画像信号の電圧値のレベルと所定の電圧値とを比較することができる。
【００３２】
検査条件受付部３ｄは、パソコン４により設定された検査条件データを受け付け、この条件に沿って検査を行えるように各部の設定を行う。先ほど説明したしきい値もパソコン４で設定されるものであり、パソコン４で設定されたしきい値データが送信されてくると、これを受け付け、しきい値設定部３ｂに設定させる。
【００３３】
欠陥判定部３ｃは、比較判定部３ａから送られてくる欠陥推定信号と、検査条件受付部３ｄにより受け付けられた検査条件に基づいて欠陥判定を行う。例えば、既述したように、１ラインにおいて欠陥推定信号が出力されればＳ欠陥、３ライン連続して欠陥推定信号が出力されればＭ欠陥であると判定する。これら欠陥判定信号は、パソコン４へと送信される。
【００３４】
次にパソコン４の内部の機能について説明する。パソコン４内部の機能については、検査プログラム（ソフトウェア）をパソコン４にインストールすることで実現できる。検査条件設定部４ａは、帯状フィルム１を検査するときの検査条件を設定する。その１つとして、欠陥レベル設定手段４ｂがあり、欠陥レベルの設定を行う。先ほどの例だと、１ライン（第１の設定数＝０）において欠陥推定信号が出力されればＳ欠陥、３ライン（第２の設定数＝２）連続すればＭ欠陥、５ライン（第３の設定数＝４）連続すればＬ欠陥であると設定する。もちろん、これらの設定数は１例であり、帯状フィルムの種類やユーザーの要望に応じて、適宜設定変更することが可能である。例えば、後で説明する画面構成例（図４参照）では、第１の設定数＝１０、第２の設定数＝２０、第３の設定数＝３０である。すなわち、  連続して１０ライン分欠陥推定信号が出力された時点では、最終的に欠陥であると判定されるかどうか決まらない。比較判定部３ａから信号が出力されたとしても、それが欠陥によるものとは限らないので、欠陥推定信号と称している。例えば、照明ムラやその他のノイズの存在によっても欠陥推定信号が出力される可能性があるからである。
【００３５】
その他の検査条件設定部４ａの機能として、ラインセンサー２により取り込まれる画像信号のうちの欠陥を検出すべきエリア（有効エリア）を設定するものがある。ラインセンサー２によりカバーされる全エリアが検査対象になるわけではない。これは、帯状フィルム１の全幅が製品として打ち抜きされるのではなく、幅方向の両端部を少し残した状態で製品が打ち抜きされるからである。したがって、幅方向の両端部の製品とならない部分については、検査をする必要はない。このように、検査条件設定部４ａにより検査すべき範囲のみを設定するようにする。これにより、正確で効率の良い検査を行うことができる。
【００３６】
欠陥キャンセル手段４ｃは、Ｍ欠陥が検出された場合に、これに付随して検出されたＳ欠陥の情報をキャンセルする。また、Ｌ欠陥が検出された場合に、これに付随して検出されたＳ欠陥及びＭ欠陥の情報をキャンセルする。重複した欠陥判定信号をキャンセルし、正しい欠陥情報検出データを出力する。
【００３７】
ブロック分け手段４ｄは、検出された欠陥の統計処理を行う単位であるブロック分けを設定する。具体的には、帯状フィルムの長手方向に沿った長さを設定するものである。欠陥集計手段４ｅは、ブロック分け手段４ｄにより設定されたブロック毎に、検出された欠陥を集計する。この場合、欠陥キャンセル手段４ｃから得られる欠陥情報検出データが利用されるので、正確な統計処理を行うことができる。
【００３８】
表示画像データ生成手段４ｆは、欠陥集計手段により集計した結果をモニター画面に表示させるための表示画像データを生成する。このデータに基づいてモニター８に表示がされる。
【００３９】
排出信号生成手段４ｇは、エリア除去装置９に排出信号を送信する。エリア除去装置９は、公知の構造を有する装置である。エリア除去装置９は、ラインセンサー２が配置されている場所よりも、帯状フィルム１の搬送方向下流側に設けられている。エリア除去装置９は、帯状フィルム１の幅方向に沿って設けられたカッターを有しており、欠陥が存在する部分をカットし、その部分を搬送経路外に除去する。カットするサイズは、予め設定することができる。排出信号生成手段４ｇからの排出信号は、欠陥を検出した場合に直ちに出されるのではなく、ラインセンサー２とエリア除去装置９との距離に該当する分だけ遅延して出力される。
【００４０】
エリア除去レベル設定手段４ｈにより、エリア除去レベルを設定することができる。例えば、Ｓ欠陥、Ｍ欠陥、Ｌ欠陥のいずれが検出された場合も、その欠陥部分を除去するように設定できるし、Ｍ欠陥とＬ欠陥は除去するが、Ｓ欠陥の場合は除去しないように設定することができる。これは、製品を購入するユーザーによっては、Ｓ欠陥はＯＫであるという場合もあるからである。仮に、Ｓ欠陥についてはエリア除去しないと設定したとしても、Ｓ欠陥に関する統計処理は行われる。これは、色々なサイズの欠陥の統計処理を行うことで、欠陥が発生する原因や傾向を調べるためである。
【００４１】
ＮＧ信号生成手段４ｉは、欠陥が検出された場合にＮＧ信号を生成する。信号は、警報装置１０へと送信される。警報装置１０は、例えば、ブザーやＬＥＤ等によりオペレータに欠陥が検出されたことを報知する。
【００４２】
＜コンピュータ画面の構成例＞
次に、統計処理を行った結果を表示するコンピュータ画面の表示例を図４により説明する。図４において、第１表示エリア２０には、欠陥を検査した結果が視覚的に表示されている。ラインセンサー２は３台設けられているので、これに対応して表示エリアも２０ａ，２０ｂ，２０ｃに分けられている。第２表示エリア２１も、第２表示エリア２０と同様であるが、時間軸のみ異なる。図中、矢印は、帯状フィルムが搬送される方向を示している。また、表示中、Ｓ，Ｍ，Ｌ欠陥を個別に表示しているが、その表示部分の長さは、欠陥が検出されたブロックの数を示している。
【００４３】
カメラ設定部２２は、各ラインセンサーにより読み取られた画像信号から欠陥を検出する場合の条件を設定する。「カメラ１」「カメラ２」「カメラ３」とあり、各ラインセンサーについて個別に設定できる。図例では、「カメラ１」が選択された状態である。Ｓ＿ＴＨが「＋３０」となっているのは、しきい値が電圧値で３．０Ｖであることを示す。照明ムラによる影を、まちがえて異物（欠陥）であるように検出しないように、適切な値を設定する。Ｓ＿ＳＩＺＥが「０１０」となっているのは、しきい値を超えたラインが連続して１０ラインを超えた場合、これをＳ欠陥であると設定したことを示している。同様に、連続して２０ラインを超えればＭ欠陥、連続して３０ラインを超えればＬ欠陥であると設定している。
【００４４】
欠陥ブロック数表示エリア２３には、検出された欠陥ブロック数が表示される。エリア２３ａには、各サイズの欠陥数が表示される。エリア２３ｂには、ラインセンサー毎の集計結果が表示される。表示エリア２３ｃには、トータルの欠陥数が表示される。
【００４５】
＜検査手順＞
次に、帯状フィルムの検査手順を図５のフローチャートにより説明する。パソコン画面にて、図４にて示したような、しきい値の設定、その他の検査条件の設定を終了した後、検査開始ボタン２４（図４参照）をクリックする。これにより、検査を開始する。
【００４６】
各ラインセンサー２から帯状フィルムの画像信号が取り込まれる（＃１）。画像信号は１ライン毎に順に取り込まれる。取り込まれた画像信号を設定したしきい値と比較し、しきい値を超えたか否かを判断する（＃２）。しきい値を超えた場合、欠陥推定信号を出力する（＃３）。次に、この欠陥推定信号に基づいて、欠陥に該当するか否かを検査条件に基づいて判断する（＃４）。例えば、欠陥推定信号が連続して１０ラインを超えて出力されなければ、欠陥とは判断されない（＃５）。
【００４７】
次に、欠陥情報のキャンセルを行う必要があるか否かを判断する（＃６）。例えば、連続して２０ラインを超えて欠陥推定信号が出力された場合は、Ｓ欠陥の情報をキャンセルする（＃７）。また、連続して３０ラインを超えて欠陥推定信号が出力された場合は、Ｓ欠陥及びＭ欠陥の情報をキャンセルする。以上のようにして、正確な欠陥情報を検出する（＃８）。正確な欠陥情報に基づいて、統計処理（＃９）、ＮＧ信号出力（＃１０）、排出信号出力（＃１１）を行う。統計処理した結果の表示例は、すでに図４にて示した通りである。
【００４８】
＜別実施形態＞
（１）本実施形態では、帯状被検体として、帯状フィルムを例にあげているが、これに限定されるものではなく、その他の帯状被検体の場合にも、本発明は適用できるものである。
【００４９】
（２）本実施形態では、欠陥レベルとしてＳ，Ｍ，Ｌの３段階設定しているが、これに限定されるものではなく、少なくとも、Ｓ，Ｍの２通り設定すればよい。あるいは、さらにレベル数を増やし４段階以上としても良い。
【００５０】
（３）検査システムの機能ブロックとして図３により説明したが、これに限定されるものではない。例えば、画像処理装置３欠陥判定部、検査条件受付部、しきい値設定部の機能をパソコン４に持たせても良い。画像処理装置３とパソコン４で、どのように機能を分担するかについては、適宜設定変更できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】システムの全体構成を示す概念図
【図２】欠陥レベルの検出に関して説明する図
【図３】システムの機能ブロック図
【図４】コンピュータ画面の構成例を示す図
【図５】帯状フィルムの検査の手順を示すフローチャート
【符号の説明】
１        帯状フィルム
２        ラインセンサー
３        画像処理装置
３ａ      比較判定部
３ｂ      しきい値設定部
３ｃ      欠陥判定部
４        パソコン
４ａ      検査条件設定部
４ｂ      欠陥レベル設定手段
４ｃ      欠陥キャンセル手段
４ｄ      ブロック分け手段
４ｅ      欠陥集計手段
４ｆ      表示画像データ生成手段
４ｇ      排出信号生成手段
４ｈ      エリア除去レベル設定手段
９        エリア除去装置
【図１】
2004157034.tif 000003
【図２】
2004157034.tif 000004
【図３】
2004157034.tif 000005
【図４】
2004157034.tif 000006
【図５】
2004157034.tif 000007