(57)【要約】【課題】記録動作時に書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間もサンプリングするため、再生動作時と比べて等価的に光量が大きくなり、ゲインが大きくなることによりサーボ系が不安定になる。【解決手段】再生動作時の反射光量を取得し、記録動作に移行すると、記録動作時の反射光量と前記再生動作時の反射光量の差が予め設定された値となるようにサンプルホールドのタイミングを補正して、再生動作時と記録動作時の反射光量の差を小さくしてゲイン変化を小さくして、記録動作時のサーボ系の安定性を保つ。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、光量測定手段は再生動作時の反射光量を取得し、記録動作に移行したときは、前記サンプルホールド設定手段は予め設定されているサンプルホールドタイミングで記録動作を開始し、前記光量測定手段は記録時の反射光量を取得し、前記再生動作時の反射光量と前記記録動作時の反射光量の差が予め設定された値となるようにサンプリングホールドのタイミングを補正することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
サンプリング開始タイミングを変化させてサンプルホールドタイミングを補正することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
サンプリング終了タイミングを変化させてサンプルホールドタイミングを補正することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、光量測定手段は再生動作時の反射光量を取得し、前記再生動作時の反射光量より反射光閾値を設定し、光ディスク装置が記録動作に移行したときに、記録動作中の反射光量と前記反射光閾値を比較し、反射光量が前記反射光閾値よりも小さくなるときは反射光をサンプリングしてサーボエラー信号を生成し、反射光量が前記反射光閾値よりも大きくなるときはサーボエラー信号をホールドすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
反射光閾値は再生動作時の反射光量よりも大きい値であることを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
サンプルホールドは、反射光閾値と記録動作時の反射光を比較して得られた２値化信号で制御することを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、光量測定手段は再生動作時の反射光量を取得し、予め前記再生動作時の反射光量より第１の反射光閾値と第２の反射光閾値を設定し、記録動作に移行したときは、記録動作中の反射光量と前記第１及び第２の反射光閾値を比較し、反射光量が前記第１及び第２の反射光閾値の範囲内であるときは反射光をサンプリングしてサーボエラー信号を生成し、反射光量が前記第１及び第２の反射光閾値の範囲外であるときはサーボエラー信号をホールドすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
第１の反射光閾値は再生時の反射光量よりも大きい値であることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
第２の反射光閾値は再生時の反射光量よりも小さい値であることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
サンプルホールドは、第１の反射光閾値と記録動作時の反射光を比較して得られた２値化信号と、第２の反射光閾値と記録動作時の反射光を比較して得られた２値化信号の論理積して得られる信号で制御することを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、サンプルホールド設定手段は予め複数のサンプルホールド設定を保持し、記録動作時において、記録条件に応じてサンプルホールド設定を切り換えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
記録条件は記録動作時の記録パワーであることを特徴とする請求項１１に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置、即ちレーザ光源を用いて光学的に記録媒体上に信号を記録する、あるいは記録媒体上の信号を再生する光学式記録再生装置に関するものであり、特に記録可能な光ディスク、例えばＣＤ―Ｒ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ―Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）のような追記型光ディスクを用いる光ディスク装置において利用される、サンプルホールド動作に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の光ディスク装置におけるサンプルホールド動作では以下に示す方法で制御を行っている。図１１は従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
外部からの記録データは記録信号処理部１０１でディスク１０７に記録する信号に変換する。記録信号処理部１０１からの出力はレーザ制御部１０３とレーザ駆動部１０４を通り、レーザ１０５を制御し、ディスク１０７にマークを記録する。記録信号処理部１０１からの出力は記録パルス発生部１０２に入り、記録の時に光源からの光出力のうち光量の大きい書き込み期間と同期したパルスを発生して出力する。そのパルスはサンプルホールド回路１０９に入り、サンプルホールド信号として使う。サンプルホールド回路１０９では光検出器１０８で光ディスク１０７からの反射光を電気信号に変換した信号を記録パルス発生部１０２からの信号で光量の大きい書き込み区間と同期した期間ホールドし、その他の期間サンプルする。（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平５−１２０７０４号公報（第１図）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の技術においては、記録時に光源からの光出力のうち光量の大きい書き込み期間と同期したパルスである記録パルス発生部１０２から出力される信号を用いてサンプルホールド制御を行っている。その結果、実際の反射光では書き込み期間から非書き込み期間への移行時に図１２に示すような応答期間が存在するため、記録パルス発生部１０２からの出力信号でサンプルホールドを行うと、応答期間もサンプルしてしまい、再生動作時と比べると等価的に光量が大きくなることになる。よって、再生動作から記録動作への移行時にゲインの変化が発生し、ＡＧＣの応答速度が遅いため光量変化についていけずサーボ系が不安定になるという問題があった。本発明は上記状況を鑑みてなされたものであり、光ディスクの記録動作を行う際に、サーボ系の安定性を保つことが可能な光ディスク装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記目的を達成するためになされたものであり、請求項１に係る光ディスク装置は、記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、光量測定手段は再生動作時の反射光量を取得し、記録動作に移行したときは、前記サンプルホールド設定手段は予め設定されているサンプルホールドタイミングで記録動作を開始し、前記光量測定手段は記録時の反射光量を取得し、前記再生動作時の反射光量と前記記録動作時の反射光量の差が予め設定された値となるようにサンプリングホールドのタイミングを補正することを特徴としたものである。
【０００６】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【０００７】
本発明の請求項２に係る光ディスク装置は、請求項１の光ディスク装置において、サンプリング開始タイミングを変化させてサンプルホールドタイミングを補正することを特徴としたものである。
【０００８】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【０００９】
本発明の請求項３に係る光ディスク装置は、請求項１の光ディスク装置において、サンプリング終了タイミングを変化させてサンプルホールドタイミングを補正することを特徴としたものである。
【００１０】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００１１】
本発明の請求項４に係る光ディスク装置は、記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、光量測定手段は再生動作時の反射光量を取得し、前記再生動作時の反射光量より反射光閾値を設定し、光ディスク装置が記録動作に移行したときに、記録動作中の反射光量と前記反射光閾値を比較し、反射光量が前記反射光閾値よりも小さくなるときは反射光をサンプリングしてサーボエラー信号を生成し、反射光量が前記反射光閾値よりも大きくなるときはサーボエラー信号をホールドすることを特徴としたものである。
【００１２】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００１３】
本発明の請求項５に係る光ディスク装置は、請求項４の光ディスク装置において、反射光閾値は再生動作時の反射光量よりも大きい値であることを特徴としたものである。
【００１４】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００１５】
本発明の請求項６に係る光ディスク装置は、請求項４の光ディスク装置において、サンプルホールドは、反射光閾値と記録動作時の反射光を比較して得られた２値化信号で制御することを特徴としたものである。
【００１６】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００１７】
本発明の請求項７に係る光ディスク装置は、記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、光量測定手段は再生動作時の反射光量を取得し、予め前記再生動作時の反射光量より第１の反射光閾値と第２の反射光閾値を設定し、記録動作に移行したときは、記録動作中の反射光量と前記第１及び第２の反射光閾値を比較し、反射光量が前記第１及び第２の反射光閾値の範囲内であるときは反射光をサンプリングしてサーボエラー信号を生成し、反射光量が前記第１及び第２の反射光閾値の範囲外であるときはサーボエラー信号をホールドすることを特徴としたものである。
【００１８】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００１９】
本発明の請求項８に係る光ディスク装置は、請求項７の光ディスク装置において、第１の反射光閾値は再生時の反射光量よりも大きい値であることを特徴としたものである。
【００２０】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００２１】
本発明の請求項９に係る光ディスク装置は、請求項７の光ディスク装置において、第２の反射光閾値は再生時の反射光量よりも小さい値であることを特徴としたものである。
【００２２】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００２３】
本発明の請求項１０に係る光ディスク装置は、請求項７の光ディスク装置において、サンプルホールドは、第１の反射光閾値と記録動作時の反射光を比較して得られた２値化信号と、第２の反射光閾値と記録動作時の反射光を比較して得られた２値化信号の論理積して得られる信号で制御することを特徴としたものである。
【００２４】
本発明によれば、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００２５】
本発明の請求項１１に係る光ディスク装置は、  記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、サンプルホールド設定手段は予め複数のサンプルホールド設定を保持し、記録動作時において、記録条件に応じてサンプルホールド設定を切り換えることを特徴としたものである。
【００２６】
本発明によれば、予め複数のサンプルホールド設定を保持し、記録条件に応じてサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件が変化した場合でも記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００２７】
本発明の請求項１２に係る光ディスク装置は、請求項１１の光ディスク装置において、前記課題を解決するために本発明における光ディスク装置は、記録条件は記録動作時の記録パワーであることを特徴としたものである。
【００２８】
本発明によれば、予め複数のサンプルホールド設定を保持し、記録条件に応じてサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件が変化した場合でも記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００２９】
【発明の実施の形態】
以下、実施の形態について図面を参照しながら説明する。なお、ここで示す実施の形態はあくまでも一例であって、必ずしもこの実施の形態に限定されるものではない。
【００３０】
（実施の形態１）
以下に、本発明の請求項１及び請求項２及び請求項３に記載された発明の実施の形態について説明する。図１は本発明における光ディスク装置のブロック図であり、図１１に示す従来の光ディスク装置と同様の部分には同じ番号を付けている。外部からの記録データは記録信号処理部１０１でディスク１０７に記録する信号に変換する。記録信号処理部１０１からの出力はレーザ制御部１０３とレーザ駆動部１０４を通り、レーザ１０５を制御し、レーザ１０５から出力されたレーザ光は対物レンズ１０６を通り、ディスク１０７にマークを記録する。ディスクからの反射光は光検出器１０８で検出されて、この検出信号は光量測定手段１とサーボエラー信号生成手段２に送られる。光量測定手段１では反射光量を測定し、サンプルホールド設定手段３では前記反射光量に応じてサンプルホールドタイミングを設定する。サーボエラー信号生成手段２では前記検出信号より対物レンズ１０６のフォーカス制御を行うためのフォーカスエラー信号及び、トラッキング制御を行うためのトラッキングエラー信号を生成する。前記サンプルホールドタイミング、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は制御手段４に送られ、制御手段４で生成されたアクチュエータ駆動信号により、フォーカスアクチュエータ１１４及びトラッキングアクチュエータ１１７が駆動される。
【００３１】
このような構成を有する本実施例に係る光ディスク装置のサンプルホールド設定方法を以下に示す。図２は記録動作時のサンプルホールド動作の流れを示すフローチャートである。
【００３２】
まず、装置起動時またはディスク挿入を行うと、スピンドルモータＯＮ、レーザＯＮをしてスピンアップ動作を開始し、スピンアップ動作完了後、再生動作を開始する（ステップ１００）。再生動作ではサーボエラー信号生成手段２では光ディスク１０７からの反射光よりサーボエラー信号を生成してサーボ動作を行うと共に、光量測定手段１では再生動作時の反射光量Ｌｒを測定する（ステップ１０１）。そして、記録動作を開始すると（ステップ１０２）、サンプルホールド設定手段３は予め保持しているサンプルホールド設定で記録動作を行う（ステップ１０３）。図３は記録動作時のサンプルホールドタイミングを示す図であり、図４はサンプルホールドタイミングを変化させたときの反射光量の変化を示す図である。図３の記録パルスは、光ディスク１０７に記録するための記録パワーＯＮ／ＯＦＦを制御する信号であり、レーザ制御部１０３から出力されてレーザ１０５に入力される。出力された記録パワーは光ディスク１０７に反射されて光検出器１０８で検出されるが、光ディスク１０７ではピットが生成されて反射光量が減少するため、反射光は図３に示すような波形となる。Ｓ／Ｈ設定１はサンプルホールド設定手段３が予め保持しているサンプルホールド設定であり、Ｓ／Ｈ設定２及びＳ／Ｈ設定３はサンプルホールド開始タイミングを変化させた波形である。光量測定手段１は記録動作時の反射光量Ｌｗ１を測定し（ステップ１０４）、前記再生動作時の反射光量Ｌｒと記録動作時の反射光量Ｌｗ１を比較する（ステップ１０６）。そしてＬｒとＬｗ１の差の絶対値が予め設定した閾値Ａよりも大きくなる場合は、サンプルホールド設定手段３にサンプリング開始タイミングを遅延させたサンプルホールドタイミングであるＳ／Ｈ設定Ｂを設定して記録動作を行う。光ディスク装置では｜Ｌｒ−Ｌｗ｜＜Ａの条件に合うまでＳ１０４からＳ１０７の動作を繰り返す。図３及び図４に示すようにサンプルホールド設定をＳ／Ｈ設定３にした場合、記録動作時の反射光量Ｌｗ３は｜Ｌｒ−Ｌｗ｜＜Ａの条件に合っているため、サンプルホールド設定で記録動作を続ける。
【００３３】
なお、以上の説明では、サンプルホールドの開始タイミングを補正する例で説明したが、サンプルホールドの終了タイミングを補正する方法についても同様に実施可能である。
【００３４】
（実施の形態２）
以下に、本発明の請求項４及び請求項５及び請求項６に記載された発明の実施の形態について説明する。
【００３５】
本発明の構成は図１と同様であるため省略する。図５は本発明におけるサンプルホールド設定手段３内部の構成を示す図であり、図６は図５の手段により生成されたサンプルホールドパルスの波形を示す図である。本発明の光ディスク装置はスピンアップ動作完了後、再生動作を開始する。再生動作ではサーボエラー信号生成手段２では光ディスク１０７からの反射光よりサーボエラー信号を生成してサーボ動作を行うと共に、光量測定手段１では再生動作時の反射光量Ｌｒを測定する。前記光量測定手段１で測定されたＬｒはサンプルホールド設定手段３内部に設けられた演算手段５に入力される。演算手段５では予め設定された演算を行われ、閾値Ｂが求められる。そして光ディスク装置が記録動作に移行すると、サンプルホールド設定手段３では記録動作時の反射光量Ｌｗと、閾値Ｂとを比較手段６で比較する。比較手段６では記録動作時の反射光量Ｌｗが閾値Ｂよりも大きいときはＬｏ、記録動作時の反射光量Ｌｗが閾値Ｂよりも小さいときはＨｉｇｈの信号を出力する。この信号がサンプルホールドを制御するサンプルホールドパルスとなる。前記サンプルホールドパルスは図６に示すように、Ｈｉｇｈの区間がサンプリング、Ｌｏの区間がホールドとなる。
サンプルホールドの開始タイミングを補正する例で説明したが、サンプルホールドの終了タイミングを補正する方法についても同様に実施可能である。
【００３６】
（実施の形態３）
以下に、本発明の請求項７及び請求項８及び請求項９及び請求項１０に記載された発明の実施の形態について説明する。
【００３７】
本発明の構成は図１と同様であるため省略する。図７は本発明におけるサンプルホールド設定手段内部の構成を示す図であり、図８は図７の手段により生成されたサンプルホールドパルスの波形を示す図である。本発明の光ディスク装置はスピンアップ動作完了後、再生動作を開始する。再生動作ではサーボエラー信号生成手段２では光ディスク１０７からの反射光よりサーボエラー信号を生成してサーボ動作を行うと共に、光量測定手段１では再生動作時の反射光量Ｌｒを測定する。前記光量測定手段１で測定されたＬｒはサンプルホールド設定手段３内部に設けられた演算手段７と演算手段８に入力される。演算手段７では予め設定された演算を行われ、閾値Ｃが求められる。演算手段８では予め設定された演算を行われ、閾値Ｄが求められる。そして光ディスク装置が記録動作に移行すると、サンプルホールド設定手段３では記録動作時の反射光量Ｌｗと閾値Ｃとを比較手段９で比較する。図８に示すように、比較手段９では記録動作時の反射光量Ｌｗが閾値Ｃよりも大きいときはＬｏ、Ｌｗが閾値Ｃよりも小さいときはＨｉｇｈの信号を出力する。さらにサンプルホールド設定手段３では記録動作時の反射光量Ｌｗと閾値Ｄを比較手段１０で比較する。比較手段１０ではＬｗが閾値Ｄよりも大きいときはＨｉｇｈ、Ｌｗが閾値Ｄよりも小さいときはＬｏの信号を出力する。前記比較手段９及び１０から出力された２値の信号は論理積手段１１に入力される。１１では２入力の論理積を求め、２値の信号が出力される。１１で求められた信号はＬｗが閾値Ｃから閾値Ｄの範囲の区間だけＨｉｇｈとなり、それ以外の区間ではＬｏとなる。サンプルホールド設定手段３では１１の出力信号をサンプルホールドパルスとして出力する。
【００３８】
（実施の形態４）
以下に、本発明の請求項１１及び請求１２に記載された発明の実施の形態について説明する。
【００３９】
本発明の構成は図１と同様であるため省略する。なお、図９は本発明におけるサンプルホールド設定手段３及び制御手段４内部の構成を示す図である。サンプルホールド設定手段３内部には複数の設定手段を備えており、図９では一例として記録条件Ａのときのサンプルホールド設定を保持している設定手段１２及び、記録条件Ｂのときのサンプルホールド設定を保持している設定手段１３の２つを備えている。それぞれの設定手段には異なるサンプルホールド設定が保持されている。図１０は本発明の光ディスク装置の動作を説明する図である。記録条件Ａは記録時の出射パワーが低パワーであるときの反射光ＬｗＡとそのときのサンプルホールドパルスを示しており、記録条件Ｂは記録時の出射パワーが高パワーであるときの反射光ＬｗＢとそのときのサンプルホールドパルスを示している。記録条件Ｂでは記録条件Ａと比べて記録パワーが大きいため、再生動作時の反射光と、記録時の反射光のレベル差が大きくなり、記録パワー出射時から再生パワーへ変化するときの応答時間が長くなる。記録動作前にレーザパワー設定手段１５で記録パワーが決定すると、切換手段１４ではレーザパワー設定手段１５からのレーザパワー情報に応じてサンプルホールド設定を切り換える。ここで選択されたサンプルホールド設定に基づくサンプルホールドパルスが出力されて、サーボ制御手段１６で記録時のサーボ制御が行われる。
【００４０】
【発明の効果】
以上のように、本発明の請求項１に係る光ディスク装置によれば、記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの透過光または反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、光量測定手段は再生動作時の反射光量を取得し、記録動作に移行したときは、前記サンプルホールド設定手段は予め設定されているサンプルホールドタイミングで記録動作を開始し、前記光量測定手段は記録時の反射光量を取得し、前記再生動作時の反射光量と前記記録動作時の反射光量の差が予め設定された値となるようにサンプリングホールドのタイミングを補正する構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００４１】
また、本発明の請求項２に係る光ディスク装置によれば、請求項１記載の光ディスクにおいて、サンプリング開始タイミングを変化させてサンプルホールドタイミングを補正する構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００４２】
また、本発明の請求項３に係る光ディスク装置によれば、請求項１記載の光ディスク装置において、サンプリング終了タイミングを変化させてサンプルホールドタイミングを補正する構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００４３】
また、本発明の請求項４に係る光ディスク装置によれば、記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの透過光または反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、光量測定手段は再生動作時の反射光量を取得し、前記再生動作時の反射光量より反射光閾値を設定し、光ディスク装置が記録動作に移行したときに、記録動作中の反射光量と前記反射光閾値を比較し、反射光量が前記反射光閾値よりも小さくなるときは反射光をサンプリングしてサーボエラー信号を生成し、反射光量が前記反射光閾値よりも大きくなるときはサーボエラー信号をホールドする構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００４４】
また、本発明の請求項５に係る光ディスク装置によれば、請求項４記載の光ディスク装置において、反射光閾値は再生動作時の反射光量よりも大きい値である構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００４５】
また、本発明の請求項６に係る光ディスク装置によれば、請求項４記載の光ディスク装置において、サンプルホールドは、反射光閾値と記録動作時の反射光を比較して得られた２値化信号で制御する構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００４６】
また、本発明の請求項７に係る光ディスク装置によれば、記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの透過光または反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、光量測定手段は再生動作時の反射光量を取得し、予め前記再生動作時の反射光量より第１の反射光閾値と第２の反射光閾値を設定し、記録動作に移行したときは、記録動作中の反射光量と前記第１及び第２の反射光閾値を比較し、反射光量が前記第１及び第２の反射光閾値の範囲内であるときは反射光をサンプリングしてサーボエラー信号を生成し、反射光量が前記第１及び第２の反射光閾値の範囲外であるときはサーボエラー信号をホールドする構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００４７】
また、本発明の請求項８に係る光ディスク装置によれば、請求項７記載の光ディスク装置において、第１の反射光閾値は再生時の反射光量よりも大きい値である構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００４８】
また、本発明の請求項９に係る光ディスク装置によれば、請求項７記載の光ディスク装置において、第２の反射光閾値は再生時の反射光量よりも小さい値である構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００４９】
また、本発明の請求項１０に係る光ディスク装置によれば、
サンプルホールドは、第１の反射光閾値と記録動作時の反射光を比較して得られた２値化信号と、第２の反射光閾値と記録動作時の反射光を比較して得られた２値化信号の論理積して得られる信号で制御する構成としたので、記録動作中の反射光量を測定して、再生動作時の反射光量と同程度となるようにサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件に関わらず記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００５０】
また、本発明の請求項１１に係る光ディスク装置によれば、記録データを記録信号にする変換する記録信号処理部と、前記記録信号処理部からの信号で光源を制御する光源制御部と、前記光源制御部からの信号で発光する発光部と、前記発光部からの信号を光ディスク上に絞り込む対物レンズと、光ディスクからの透過光または反射光を検出し、電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器で検出した光量を測定するための光量測定手段と、前記光量測定手段で検出した光量に応じてサンプルホールド設定を変更するサンプルホールド設定手段と、前記光検出器から出力された信号よりサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生成手段と、前記サーボエラー信号により対物レンズを動かすアクチュエータを制御する制御信号を生成する制御手段と、前記対物レンズを動かすアクチュエータと、を有する光ディスク装置において、サンプルホールド設定手段は予め複数のサンプルホールド設定を保持し、記録動作時において、記録条件に応じてサンプルホールド設定を切り換える構成としたので、予め複数のサンプルホールド設定を保持し、記録条件に応じてサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件が変化した場合でも記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【００５１】
また、本発明の請求項１２に係る光ディスク装置によれば、請求項１０記載の光ディスク装置において、記録条件は記録動作時の記録パワーである構成としたので、予め複数のサンプルホールド設定を保持し、記録条件に応じてサンプルホールド設定を変化させるので、記録パワーや、記録動作中の書き込み期間から非書き込み期間への移行時の応答期間、などの条件が変化した場合でも記録動作時の光量変化によるゲイン変化を抑えることができるので、安定した記録動作を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１から第４の実施の形態における光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】本発明の第１の実施の形態における、記録動作時のサンプルホールド動作の流れを示すフローチャート
【図３】本発明の第１の実施の形態における、サンプルホールドタイミングを示す図
【図４】本発明の第１の実施の形態における、サンプルホールドタイミングを変化させたときの反射光量の変化を示す図
【図５】本発明の第２の実施の形態における、サンプルホールド設定手段内部の構成を示す図
【図６】本発明の第２の実施の形態における、サンプルホールド設定手段により生成されたサンプルホールドパルスの波形を示す図
【図７】本発明の第３の実施の形態における、サンプルホールド設定手段内部の構成を示す図
【図８】本発明の第３の実施の形態における、サンプルホールド設定手段により生成されたサンプルホールドパルスの波形を示す図
【図９】本発明の第４の実施の形態における、サンプルホールド設定手段及び制御手段の内部構成を示す図
【図１０】本発明の第４の実施の形態における、光ディスク装置の動作を説明する図
【図１１】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図１２】従来の光ディスク装置のサンプルホールド動作を示す図
【符号の説明】
１  光量測定手段
２  サーボエラー信号生成手段
３  サンプルホールド設定手段
４  制御手段
５  演算手段
６  比較手段
７  演算手段
８  演算手段
９  比較手段
１０  比較手段
１１  論理積手段
１２  設定手段
１３  設定手段
１４  切換手段
１５  レーザパワー設定手段
１６  サーボ制御手段
１０１  記録信号処理部
１０２  記録パルス発生部
１０３  レーザ制御部
１０４  レーザ駆動部
１０５  レーザ
１０６  対物レンズ
１０７  ディスク
１０８  光検出器
１０９  サンプルホールド回路
１１０  差動増幅器
１１１  差動増幅器
１１２  フォーカス制御部
１１３  フォーカス駆動部
１１４  フォーカスアクチュエータ
１１５  トラッキング制御部
１１６  トラッキング駆動部
１１７  トラッキングアクチュエータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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