(57)【要約】【課題】ハードディスクドライブテスト装置及び方法を提供する。【解決手段】テストされる各ハードディスクドライブに動作電源を提供するパワーカードに接続される少なくとも二つの直列通信ポートを有するホストコンピュータである。直列通信交換機は，ホストコンピュータの直列通信ポート及びハードディスクドライブに通信可能に接続され，ハードディスクドライブ，パワーカード，及びホストコンピュータ間の直列通信チャンネルを選択的に確立するためにホストコンピュータによって発生するチャンネル選択命令に応答する。単一のホストコンピュータは，確立された直列通信チャンネルを通じてハードディスクドライブと通信することによってハードディスクドライブのテストを行う。【選択図】図７
2004342304.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
二つの直列通信ポートを有するホストコンピュータと，
前記ホストコンピュータによってテストされる複数のハードディスクドライブ各々に選択的に動作電源を印加するパワーカードと，
前記ホストコンピュータの少なくとも二つの直列通信ポートに接続され，前記直列通信ポートのうち何れか一つを通じて前記ホストコンピュータによって発生するチャンネル選択命令に応答し，前記ハードディスクドライブと前記ホストコンピュータ間の直列通信チャンネルを選択的に確立する直列通信交換機と，を含み，
前記ホストコンピュータは，前記確立された直列通信チャンネルを通じて前記ハードディスクドライブと通信することによってハードディスクドライブをテストする，
ことを特徴とするハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項２】
前記ハードディスクドライブのうち何れか一つがハードディスクドライブテストのために装着され，テスト終了後に脱着され，前記パワーカードで提供される動作電源を装着されたハードディスクドライブに提供するチャンネルとなり，前記確立された直列通信チャンネルを通じて装着されたハードディスクドライブの直列通信ポートを前記直列通信交換機に連結するコネクタを備える着脱治具をさらに含む，
ことを特徴とする請求項１に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項３】
前記パワーカードは，ハードディスクドライブのうち何れか一つが前記着脱治具に装着されたか否かを検出し，ハードディスクドライブの着脱情報を前記ホストコンピュータに伝送する，
ことを特徴とする請求項２に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項４】
前記着脱治具に装着され，前記テスト状態及び前記装着されたハードディスクドライブのテスト進行を表すために前記ホストコンピュータから提供されるＬＥＤ制御信号に応答して制御されるＬＥＤをさらに備える，
ことを特徴とする請求項２に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項５】
前記直列通信交換機と前記着脱治具のコネクタ間に配置され，前記直列通信交換機と装着されたハードディスクドライブとの間で確立された直列通信チャンネル上で伝送される直列通信信号のレベルを調整するインタフェースボードをさらに備える，
ことを特徴とする請求項２に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項６】
ハードディスクドライブ動作電源をテストされる複数のハードディスクドライブ各々に選択的に提供するために，前記パワーカードにハードディスクドライブの動作電源を提供するＤＣ電源供給器と，
前記装置の初期動作時に前記ホストコンピュータと通信して前記ホストコンピュータによって前記ＤＣ電源供給器を起動させる電場ボードと，をさらに備える，
ことを特徴とする請求項１に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項７】
前記電場ボードは，前記ホストコンピュータによってテスト装置の異常を表す警光灯を制御する，
ことを特徴とする請求項６に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項８】
複数のハードディスクドライブが搭載されるバーンインチャンバと，
前記バーンインチャンバに搭載されたハードディスクドライブと通信してテストを行うホストコンピュータと，
前記ホストコンピュータによって各々のハードディスクドライブと前記ホストコンピュータ間の通信チャンネルを確立する直列通信交換機と，を含む，
ことを特徴とするハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項９】
前記バーンインチャンバの背面に付着され，前記確立された直列通信チャンネルの直列通信信号及び動作電源をハードディスクドライブに提供するインタフェースボードをさらに備える，
ことを特徴とする請求項８に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１０】
前記インタフェースボードは，前記確立された直列通信チャンネルを通じて前記直列通信交換機とハードディスクドライブ間で伝送される制御信号のレベルを調整する，
ことを特徴とする請求項８に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１１】
前記ハードディスクドライブのうち何れか一つがハードディスクドライブテストのために装着され，テスト終了後に脱着され，確立された直列通信チャンネルを通じて装着されたハードディスクドライブの直列通信ポートを前記直列通信交換機に連結するコネクタを備える着脱治具をさらに含む，
ことを特徴とする請求項８に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１２】
前記ハードディスクドライブの動作電源を前記インタフェースボードに提供する前記パワーカードをさらに備え，
前記パワーカードは，ハードディスクドライブが前記着脱治具に装着されたか否かを検出し，ハードディスクドライブの着脱情報をホストコンピュータに伝送する，
ことを特徴とする請求項１１に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１３】
前記着脱治具に装着され，前記テスト状態及び前記装着されたハードディスクドライブのテスト進行を表すために前記ホストコンピュータから提供されるＬＥＤ制御信号に応答して制御されるＬＥＤをさらに備える，
ことを特徴とする請求項１２に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１４】
複数の着脱可能なハードディスクドライブと，
単一のホストコンピュータと各ハードディスクドライブ間に選択的に確立される通信チャンネルを通じて各ハードディスクドライブのホストコンピュータとのインタフェース規格に関係なく各々の装着されたハードディスクドライブを直接的にテストする単一のホストコンピュータを含む，
ことを特徴とするハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１５】
ハードディスクドライブ各々は標準のＵＡＲＴポートを有し，
前記単一のホストコンピュータは一つの直列通信ポートを有し，
前記単一のホストコンピュータの前記一つの直列通信ポートと各々のハードディスクドライブ標準ＵＡＲＴポート間で選択的に確立された通信チャンネルを通じて各々のハードディスクドライブを直接テストする，
ことを特徴とする請求項１４に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１６】
前記単一のホストコンピュータは，前記一つの直列通信ポートとして第１及び第２直列通信ポートを有し，
前記単一のホストコンピュータの第２直列通信ポートと前記ハードディスクドライブの直列ポートとに連結されたスイッチの複数の入出力直列ポートのうち一つの間に直列通信チャンネルを選択的に確立する単一のホストコンピュータによって直列ポート選択チャンネルを形成するために単一のホストコンピュータの第１及び第２直列通信ポートに通信可能に連結されうる回路を有するマルチポート直列通信スイッチをさらに含む，
ことを特徴とする請求項１５に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１７】
前記ハードディスクドライブが着脱されうる複数の着脱治具と，
制御線を通じて着脱治具に連結され，前記テストのために単一のホストコンピュータによってハードディスクドライブに電源を提供し，ハードディスクドライブの装着を検出し，装着されたハードディスクドライブと単一のホストコンピュータ間に直列通信を選択的に確立する単一のホストコンピュータにハードディスクドライブの装着状態を伝送するパワーコントローラと，をさらに含む，
ことを特徴とする請求項１５に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１８】
前面及び背面を有し，搭載された複数のハードディスクドライブを収容すると共に，前記バーンインチャンバの背面は他のハードディスクドライブテスト装置のバーンインチャンバの背面と結合され，一つの両面ハードディスクテスト装置を提供できる四角形のバーンインチャンバをさらに備える，
ことを特徴とする請求項１４に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項１９】
複数のハードディスクドライブを収容するバーンインチャンバを有し，
前記バーンインチャンバの温度を常温に維持するために前記バーンインチャンバ内のハードディスクドライブ自体での熱を排出させて前記ハードディスクドライブの温度信頼性をテストする，
ことを特徴とする請求項１４に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項２０】
第１及び第２直列通信ポートを有する単一のホストコンピュータと，
直列ポートを有する複数のデバイスと，
前記単一のホストコンピュータの第２直列ポートとデバイスの直列ポートとに接続されたスイッチの複数の入出力直列ポートのうち一つ間の直列通信チャンネルを選択的に確立するように制御する前記単一のホストコンピュータによって直列通信ポート選択チャンネルを確立するための前記単一のホストコンピュータの第１通信ポートに通信可能に接続されうる回路を有するマルチポート直列通信スイッチと，を含む，
ことを特徴とするデバイスのテスト装置。
【請求項２１】
単一のホストコンピュータの第１直列通信ポートと直列通信交換機の第１ポート間の直列ポート選択チャンネルを確立する過程と，
ハードディスクドライブの装着に応答して直列通信選択チャンネルからの直列通信選択信号によって，前記単一のホストコンピュータの第２直列通信ポート，前記直列通信交換機の第２ポート，前記直列通信交換機の複数の入出力直列ポートのうち一つ，そしてテストされるために装着された複数のハードディスクドライブのうち何れか一つ間の直列データチャンネルを選択的に確立する過程と，を含む，
ことを特徴とするハードディスクドライブのテスト方法。
【請求項２２】
前記ハードディスクドライブの装着に応答して，直列ポート選択チャンネルを通じて前記単一のホストコンピュータに装着されたハードディスクドライブルート情報を伝送する過程と，
前記装着されたハードディスクドライブルート情報によって，直列ポート選択チャンネルを通じて前記直列通信交換機に直列ポート選択信号を伝送する過程と，をさらに含む，
ことを特徴とする請求項２１に記載のハードディスクドライブのテスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，ハードディスクドライブのテスト装置及びその方法に関し，さらに詳細には，バーンインテスト工程で一台のホストコンピュータを使用して多数のハードディスクドライブをテストするハードディスクドライブのテスト装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
公知のように，ハードディスクドライブ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｃ Ｄｒｉｖｅ：ＨＤＤ）は，機械的な構成要素よりなるＨＤＡ（Ｈｅａｄ Ｄｉｓｃ Ａｓｓｅｍｂｌｙ）と，回路的な構成要素よりなるＰＣＢＡ（Ｐｒｉｎｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｂｏａｒｄ Ａｓｓｅｍｂｌｙ）とが結合して構成される。このようなハードディスクドライブは，回転する磁気ディスク上をヘッドが微細な間隙を維持したまま浮上及び走行し，データを磁気的に記録／再生して大量のデータを高速でアクセスできるため，コンピュータシステムの補助記憶装置として広く使用されている。
【０００３】
ハードディスクドライブは，その殆どが，機械組立工程，サーボライト工程，機能テスト工程，バーンインテスト工程を介して製造され，以後バーンインテスト工程を通過したハードディスクドライブセットが正常的にディフェクト処理されたかを確認する最終テスト工程などの後工程を経て出荷される。
【０００４】
ハードディスクドライブの製造工程を，以下に詳細に説明する。
【０００５】
まず，第１段階である機械組立工程は，機械的な構成要素よりなるＨＤＡを製造する工程であって，通常，クリーンルーム内で行われる。
【０００６】
第２段階であるサーボライト工程は，アクチュエータのサーボ制御のためのサーボ記録パターンをディスク上に記録する工程であって，通常，サーボライタによって行われる。
【０００７】
第３段階である機能テスト工程は，機械組立工程で作られたＨＤＡとＰＣＢＡとを結合させ，これらが正常的にマッチングされて動作するかをテストする工程である。機能テスト工程では，ＨＡＤとＰＣＢＡとの結合体は特定テストシステムと結合され，約２０分〜２５分間の基本テストを経る。
【０００８】
第４段階であるバーンインテスト工程は，ハードディスクドライブの製造工程のうち最も長い時間（通常，８時間〜１６時間）が必要な工程であり，ディスク上に存在するディフェクトが検出されて校正される。
【０００９】
第５段階である最終テスト工程は，上記バーンイン工程を通過したハードディスクドライブセットが正常的にディフェクトが処理されたかを確認するための工程であり，特定テストシステムを利用して各ハードディスクドライブセットのディフェクト処理状態をテストする。
【００１０】
最終テスト工程では，各々のハードディスクドライブを別途のテストコンピュータに接続してテストを行う。各テストコンピュータは，近距離通信網（ＬＡＮ）を通じてホストコンピュータに連結され，テストプログラムによって連結されているハードディスクドライブをテストして，その結果をホストコンピュータに出力する。
【００１１】
ホストコンピュータは，各テストコンピュータから入力される状態データをディスプレイ装置に表示し，作業者は，モニタリングされた状態データを見ながら合格か否かを決定する。最終テスト工程を通過したハードディスクドライブは，出荷検査工程，包装及び出荷工程を経て一つの完成された製品として出荷される。
【００１２】
上記のように，バーンインテスト工程は，ハードディスクドライブの製造工程のうち最も長い時間がかかるため，制限された時間及び空間で可能な限り多くのハードディスクドライブを高い信頼性でテスト可能なテスト装置が要求される。かかる従来のテスト装置は，特許文献１，２，３，４，５，６，７，８及び９に開示されている。
【００１３】
図１は，従来のハードディスクドライブのテスト装置の外観を示す図面であって，本発明の出願人である三星電子によって出願された特許文献１に開示されたものである。
【００１４】
図１に示すように，ハードディスクドライブが搭載されるバーンインチャンバ３０が前方に位置し，パワーカードが整列されて位置するように構成された制御チャンバ４０が分離壁８０によって区分されて一体型にハードディスクドライブテスト装置２００の後方に位置する。パワーカードは，バーンインチャンバ３０に搭載された各ハードディスクドライブ及び２０〜２４台のテストコンピュータ５０への電源供給を制御する。通常，各テストコンピュータ５０は，６個のハードディスクドライブを制御及びモニタリング（テスト）する。
【００１５】
制御チャンバ４０の上段に装置された電源分配部は，パワーカード及びテストコンピュータ５０を管理し，管理者の入出力を収容するホストコンピュータに電源を分配する。一方，制御チャンバ４０の下端に装置されたＤＣ電源供給器は，テストされるハードディスクドライブに電源を供給する。
【００１６】
また，ユーザインタフェースのためにディスプレイ装置，キーボード（図示せず）がバーンインチャンバ３０の上端の全面部に装置され，高温維持のためのヒータ及びブロワがバーンインチャンバ３０の上下端に装置される。
【００１７】
図２は，図１に示された従来のハードディスクドライブテスト装置の内部構成を示す機能ブロック図である。図２に示すように，図１に示されたハードディスクドライブテスト装置２００は，一台のホスト６００と２０〜２４台のテストコンピュータ６１２〜６１８とが第１制御バス６６０を通じて連結され，各々のテストコンピュータ６１２〜６１８には，また３個のデュアルチャンネルＩＤＥアダプタ６２２，６２４，６２６が第２制御バス６３０を通じて連結される。また，各々のデュアルチャンネルＩＤＥアダプタ６２２，６２４，６２６には２台のハードディスクドライブ６４２〜６４４，６４６〜６４８，６５０〜６５２が各々接続される。
【００１８】
ホストコンピュータ６００がブートされた後，ホストコンピュータ６００は第１制御バス６６０を通じてテストコンピュータ６１２〜６１８との通信ネットワークを構築する。この第１制御バス６６０は，通常のＬＡＮで具現化される。
【００１９】
この第１制御バス６６０を通じてテストコンピュータ６１２〜６１８がブートされると，テストコンピュータ６１２〜６１８がテストプログラムを実行させてテストコンピュータ６１２〜６１８とホストコンピュータ６００との間の通信チャンネルが形成される。
【００２０】
テストコンピュータ６１２〜６１８とホストコンピュータ６００との間の通信チャンネルが形成されると，ホストコンピュータ６００は，各テストコンピュータ６１２〜６１８から状態を報告され，その状態をディスプレイ装置の画面にディスプレイし，また，ヒータを利用してバーンインチャンバ３０内の温度を調節する。
【００２１】
テストされるハードディスクドライブがハードディスクドライブテスト装置２００のバーンインチャンバ３０に挿入されると，テストコンピュータ６１２〜６１８がハードディスクドライブの装着（例えば，ハードディスクドライブ６５２の装着）を感知し，デュアルチャンネルＩＤＥアダプタ６２６を通じてテストコードとスクリプトとをハードディスクドライブにアップロードする。
【００２２】
以後，テストコンピュータ６１２〜６１８は，ＩＤＥインタフェースを通じてテスト結果または進行状態をモニタリングし，そのデータをホストコンピュータ６００に伝送すれば，ホストコンピュータ６００はテスト結果または進行状況をディスプレイ装置の画面に表示する。
【００２３】
図１及び２に示すように，従来のハードディスクドライブテスト装置２００は，各々のテストコンピュータを６台のハードディスクドライブに連結する構造を有するので，以前の１：１テスト方式よりは効率的である。
【００２４】
【特許文献１】韓国特開１９９７−７６７３８号公報明細書
【特許文献２】韓国特開１９９８−３５４４５号公報明細書
【特許文献３】韓国特開１９９９−６０６１９号公報明細書
【特許文献４】韓国特開１９９９−６５５１６号公報明細書
【特許文献５】米国特許ＵＳ６,４３４,４９８号公報明細書
【特許文献６】米国特許ＵＳ６,２０８,４７７号公報明細書
【特許文献７】米国特許ＵＳ６,４３４,４９９号公報明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２５】
しかしながら，図１及び２に示すハードディスクドライブテスト装置２００は，依然として，非経済的な２０〜２４台のテストコンピュータが要求される。かかるテストコンピュータは，制御チャンバ４０にそれらを収容した相当なサイズの空間が要求される。また，高価のデュアルＩＤＥアダプタが各テストコンピュータに３個ずつ搭載されなければならないので，図１及び図２に示すハードディスクドライブテスト装置２００は，従来の１：１テスト装置に比べて構築及び実現するためのコストがそれほど安くない，という問題がある。
【００２６】
また，図２に示されたように，ホストコンピュータ６００が一つの通信構造（即ち，一つのコンピュータを他の一つのコンピュータに連結する）を通じてテストコンピュータ６１２〜６１８に連結され，各々のテストコンピュータ６１２〜６１８は再びデュアルＩＤＥアダプタというさらに他の通信構造を通じてハードディスクドライブを制御するため，エラー発生可能性が高い。したがって，複雑な通信構造のため，エラーが発生した時にシステムをデバッグし難い，という問題がある。
【００２７】
さらに，ハードディスクドライブのインタフェース標準が変更されると，全てのＩＤＥアダプタが代替されなければならず，テストコンピュータ６１２〜６１８にローディングされたテストプログラムも修正されなければならない，という問題がある。
【００２８】
したがって，本発明の目的は，一つのホストコンピュータで複数のハードディスクドライブをテストすることが可能な新規かつ改良されたテスト装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
上記課題を解決するため，本発明の第１の観点においては，少なくとも二つの直列通信ポートを有するホストコンピュータと，テストされる複数のハードディスクドライブ各々に選択的に動作電源を印加するパワーカードと，ホストコンピュータの直列通信ポートに接続され，ホストコンピュータによって発生するチャンネル選択命令に応答し，ハードディスクドライブ，パワーカード，及びホストコンピュータ間の直列通信チャンネルを確立する直列通信交換機と，を備えるハードディスクテスト装置が提供される。
【００３０】
上記記載の発明では，ホストコンピュータは，ホストコンピュータの二つの直列通信チャンネルを通じてハードディスクドライブと通信することによってハードディスクのテストを行うことができる。
【発明の効果】
【００３１】
本発明にかかるハードディスクのテスト装置は，別途のテストコンピュータが要求されず，ホストコンピュータがハードディスクドライブを直接制御してテストすることによって設備コストを節減できる。また，本発明にかかるハードディスクのテスト装置は，ハードディスクドライブをそれらの標準ＵＡＲＴポートを通じてテストし，追加的なＩＤＥインタフェースが不要であり，ホストコンピュータの直列通信ポート及びハードディスクドライブの直列通信ポートを使用してハードディスクドライブが制御されるため，設備コストがさらに節減される。
【００３２】
また，コンピュータのメインボードとインタフェースするために使用されるハードディスクドライブのインタフェース標準とは無関係に動作するため，本発明のハードディスクドライブテスト装置は設備変更に必要な投資を最小化できる。さらに，本発明のハードディスクドライブのテスト装置は，汎用直列通信方式を使用するため，ソフトウェアエンジニアの特別な教育なしにテストプログラムの製作及び改善が容易であり，また装備の維持補修が容易に行なうことができる。また，本発明によるハードディスクのテスト装置は，多数のテストコンピュータを収容するための制御チャンバのための付加的な空間が不要であり，２台の装置の背面を相互に結合すれば非常に効率的な空間使用が可能であり，コストが節減される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
以下に添付図面を参照しながら，本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお，本明細書及び図面において，実質的に同一の機能構成を有する構成要素については，同一の符号を付することにより重複説明を省略する。なお，以下では，発明を明確及び簡潔に説明するために，本発明に関連した技術のうち当技術分野で新規ではない公知された技術は，その説明を省略する。
【００３４】
本実施形態にかかるハードディスクドライブのテスト装置は，複数のハードディスクドライブをテストするために１台のホストコンピュータと直列通信チャンネル交換機とを利用することによって，設備コストを提言し，空間効率を高めることができる。
【００３５】
また，従来の高温維持システムを排除し，２台のテスト装備を一つの両面装置として合体させ，ファンを利用してハードディスクドライブ自体から発生する熱を排出させる。このように，常温下でハードディスクドライブをテストする方式を採用して設備コストがさらに低減され，空間をさらに効率的に利用できる。
【００３６】
また，ハードディスクドライブテスト装置とハードディスクドライブ間の通信のために直列通信を使用することによって，それら間の単純化されかつ信頼できる通信構造により，通信の信頼性を高め，同じ装備で相異なるインタフェース標準のハードディスクドライブをテストすることが可能である。さらに，その構造が簡単なため，本実施形態にかかるハードディスクドライブテスト装置は，維持補修が容易である。
【００３７】
本発明で使用される直列通信チャンネル交換機（直列通信チャンネルスイッチング装置）は，本発明の出願人である三星電子によって出願された韓国特開出願２００３−３０８９４号公報（２００３年５月１５日出願）及び本発明の出願人である三星電子によって出願されて日本特許庁に共に係属している関連した特許出願に開示され，これら特許出願の内容は本発明で参照として組込まれる。
【００３８】
図３〜図５は，本実施形態にかかるハードディスクドライブのテストに使用されるハードディスクドライブテスト装置を示す透視構成図である。
【００３９】
図３〜図５に示すように，ハードディスクドライブテスト装置３００は，その中央部に複数のハードディスクドライブが複数の着脱治具３０４（なお，図中には，一つの着脱治具だけ示されている）に搭載されうるバーンインチャンバ３０２を備える。
【００４０】
着脱治具３０４上のＬＥＤは，当該治具３０４に装着されたハードディスクドライブのテスト状態を示す。ハードディスクドライブドライブテスト装置３００の中央部の背面にはＲＳ−２３２信号，即ち，テストドライブ制御信号をハードディスクドライブ
ＴＴＬ信号レベルに変換させるか，またはその逆動作を行うことによってハードディスクドライブがＰＣＢインタフェースボード３２８と通信できるように連結するＲＳ−２３２トランスミッタ／レシーバを有するＰＣＢインタフェースボード３２８（図５及び図８に示される）がある。ＰＣＢインタフェースボード３２８は，ＰＣＢインタフェースボード３２８と直列通信交換機３１６間の直列通信チャンネルを形成するための直列通信ＲＳ−２３２Ｃインタフェースコネクタ，そしてパワーカード３３０（図７に示される）に連結するためのＤＣパワー供給コネクタをさらに備える。
【００４１】
ハードディスクドライブテスト装置の上部３０６及び下部３０８から出たＲＳ−２３２信号線，ＬＥＤコントロール信号線，電源供給線がハードディスクドライブテスト装置３００の支持ダクト３１０（図中には，唯一の支持ダクトだけが示されている）の後に続き，各ＰＣＢインタフェースボード３２８の当該インタフェースコネクタに連結される。
【００４２】
ハードディスクドライブテスト装置３００の下部３０８には，通常，電場ボード３３４，ＤＣ電源供給器３３２，そしてハードディスクドライブへの電源供給を制御し，着脱治具３０４上のＬＥＤにテストドライブ状態表示ＬＥＤコントロール信号を出力するパワーカード３３０（図７に示される）がハウジング内部に設置され，吸気口３１２がハウジングに形成されている。
【００４３】
パワーカード３３０を制御する制御信号を供給するホストコンピュータ３１４の信号線がテスト装置の上部３０６にある直列通信交換機３１６を通じてパワーカード３３０に連結され，パワーカード３３０からのＬＥＤコントロール信号線と電源供給線とが着脱治具３０４上のＬＥＤ及びバーンインチャンバ３０２の内部のＰＣＢインタフェースボード３２８に各々連結される。
【００４４】
本実施形態においては，ホストコンピュータ３１４の制御信号線は，直列通信交換機３１６を通じてＰＣＢインタフェースボード３２８に連結される。通常，ホストコンピュータ３１４，直列通信交換機３１６，電場ボード３３４，ＤＣパワーサプライ３３２，パワーカード３３０を含むパワーコントローラ３６０（図７に詳細に示される），及びテストされるハードディスクドライブから発生する熱をバーンインチャンバ３０２から排出させてテストされるハードディスクドライブの温度を実質的に一定に常温に維持させるファン３１８がハードディスクドライブテスト装置３００の上部３０６に位置する。
【００４５】
ハードディスクドライブテスト装置３００の上部３０６の前面には，作業者（ユーザ，制御装置）がホストコンピュータ３１４とインタフェースするようにディスプレイ装置３２０，入力装置としてキーボード及びマウスを有するインタフェース部３２２が設置される。
【００４６】
また，ハードディスクドライブテスト装置３００の上部３０６の前面には，ＤＣ電源供給器，ホストコンピュータ３１４，ファン３１８をオン／オフするスイッチ，電源状態を確認できる電源表示窓を備える電源表示部３２４が位置する。ハードディスクドライブテスト装置３００の上部３０６の内部には，他の（上部）ＤＣ電源供給器３３２，他のパワーカード３３４，そして作動信号を上部ＤＣ電源供給器３３２に提供する他の電場ボード３３４が設置される。上部３０６の内部は，下部３０８の内部と非常に似ている。
【００４７】
バーンインチャンバ３０２において，テストされるハードディスクドライブを着脱する着脱治具３０４が，支持ダクト３１０に長手方向及び幅方向（必要に応じて）に搭載されている。
【００４８】
図４は，図３に示すハードディスクドライブテスト装置３００を示す側面図である。図５は，図３及び４に示すハードディスクテスト装置を示す背面図である。
【００４９】
図４及び図５に示すように，ハードディスクドライブテスト装置３００において，二つのハードディスクドライブテスト装置はそれらの背面を相互に直接結合でき，維持補修のために分離できる。
【００５０】
以下に，図３〜図５に示すハードディスクテスト装置３００の動作を詳細に説明する。
【００５１】
バーンインチャンバ３０２の内部には，テストされるハードディスクドライブを着脱するための着脱治具３０４（即ち，ハードディスクドライブホルダー）が長手方向及び幅方向（必要に応じて）に支持ダクト３１０上に搭載される。
【００５２】
図６は，図３に示す着脱治具の透視図である。図６に示すように，着脱治具３０４の内側には，ハードディスクドライブのパワーピンと二つのＵＡＲＴ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ａｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ Ｒｅｃｅｉｖｅｒ Ｔｒａｎｓｍｉｔｔｅｒ）ピンとに接続されるポゴピン６０２，６０４が位置しており，着脱治具３０４の外側にはポゴピン６０２，６０４と接続されたポゴピンコネクタ６０６が位置する。このような着脱治具３０４は，韓国特開出願１９９９−７０５８３号公報（１９９９年９月１５日公開），韓国特開出願１９９８−３１５９９号公報（１９９８年７月２５日公開），韓国特開出願１９９８−４７４６５号公報（１９９８年９月１５日公開）に開示されている。
【００５３】
ポゴピンコネクタ６０６は，バーンインチャンバ３０２の後側に位置した分離台３２６（図５を参照）を通過してＰＣＢインタフェースボード３２８に連結される。ＰＣＢインタフェースボード３２８は，直列通信交換機３１６からの制御信号を受信し，受信された制御信号をハードディスクドライブに適した電圧レベル（通常，ＴＴＬレベル信号）に変換し，そして受信及び変換された制御信号をポゴピンコネクタ６０６に提供する。このような方法でホストコンピュータ３１４はハードディスクドライブと通信できる。
【００５４】
図３に示すハードディスクドライブテスト装置３００及び図６に示す着脱治具３０４に対して，着脱治具３０４の前側（図面の左側）には，通常，２個のＬＥＤ６０８が提供され，各々のＬＥＤは着脱治具３０４に位置したテストされるハードディスクドライブの状態を表示するように３個の他の色相で発光できる。
【００５５】
着脱治具３０４の後側には，２個の３色ＬＥＤ６０８を制御するために対応するパワーカードを通じてホストコンピュータ３１４からの信号を供給するＬＥＤコントロール信号線がコネクタ６１０に連結されている。このような方法で，ＬＥＤ６０８はホストコンピュータ３１４によって決定されるハードディスクドライブのテスト状態に相応してオンとなる。
【００５６】
上記のように，ハードディスクドライブテスト装置３００の上部３０６と下部３０８とには，電場ボード３３４（図７に示す），ＤＣ電源供給器（図７に示す），及びハードディスクドライブに電源を供給し，ＬＥＤ
６０８を制御するパワーカード３３０が装着される。
【００５７】
電場ボード３３４は，ハードディスクドライブテスト装置３００にメイン電源が印加された後にホストコンピュータ３１４に電源が印加されれば作動を開始するように構成され，直列通信交換機３１６を通じてホストコンピュータ３１４からのＤＣ電源印加命令を受けてＤＣ電源供給器３３２を作動させて，ＤＣ電圧レベル調整信号をＤＣ電源供給器３３２に提供する。ＤＣ電源供給器３３２によってバーンインチャンバ３０２内に収容できるハードディスクドライブの数に相応する数のパワーカード３３０にパワーが供給され，パワーカード３３０を通じて各着脱治具３０４上のテストハードディスクドライブにＤＣ電源が供給される。
【００５８】
バーンインチャンバ３０２のインタフェースボード３２８に連結される電源線を通じて電圧を測定することによって，パワーカード３３０は，ハードディスクドライブが着脱治具３０４に装着されたかを判断し，また供給されるＤＣ電圧を測定することもある。通常，パワーカード３３０は，直列通信交換機３１６を通じてホストコンピュータ３１４と連結され，ハードディスクドライブの着脱状態，パワー供給状態，そして他の情報をホストコンピュータ３１４に伝送し，着脱治具３０４のＬＥＤを制御するか，またはハードディスクドライブへの電源供給をオン／オフするためにホストコンピュータ３１４から提供される命令を実行する。
【００５９】
ハードディスクドライブテスト装置３００の全体及びハードディスクドライブテストを制御するホストコンピュータ３１４は，直列通信交換機３１６を通じてハードディスクドライブテスト装置３００の各部分を制御する。
【００６０】
本実施形態においては，ホストコンピュータ３１４は，直列通信交換機３１６を通じた直列通信信号によってハードディスクドライブとパワーカード３３０とを制御する。したがって，直列通信交換機３１６は，ハードディスクドライブ，ＰＣＢインタフェースボード３２８及びパワーカード３３０と直列通信する。特に，直列通信交換機３１６を通じて直列通信信号によってホストコンピュータ３１４とハードディスクドライブとを通信できるように連結するために，直列通信交換機３１６からの直列通信信号をＰＣＢインタフェースボード３２８を通じてハードディスクドライブに伝送する際に，直列通信交換機３１６で使われた電圧レベルとハードディスクドライブの内部のＴＴＬ信号のレベルとが相異なるため，直列通信信号の電圧レベルが変更される。
【００６１】
一方，パワーカード３３０は，ホストコンピュータ３１４からの制御信号に応答して着脱治具３０４に装置されたＬＥＤ６０８を制御する。即ち，ＰＣＢインタフェースボード３２８に伝送された信号は，ホストコンピュータ３１４からの制御信号及びパワーカード３３０からのＬＥＤ制御信号で構成される。
【００６２】
ハードディスクドライブテスト装置３００の上部３０６の前面のディスプレイ装置３０２もホストコンピュータ３１４に連結される。作業者が各テストハードディスクドライブの状態をモニタリングできる情報は，ディスプレイ装置３２０に表示される。インタフェース部３２２，例えば，キーボード，マウスを通じて作業者はホストプログラムあるいはホストプログラムの特定機能を実行させうる。
【００６３】
電源表示部３２４には，通常，ハードディスクドライブテスト装置３００の全体の電源供給をオン／オフできるマスタ電源ボタン，ホストコンピュータ３１４をオン／オフする電源ボタン，テスト装置の上部３０６及び下部３０８に設置されているＤＣ電源供給器をオン／オフできる電源ボタン，ファン３１８をオン／オフする電源ボタンが装着される。また，電力供給状態は，電力ディスプレイ装置の窓を通じて直接確認できる。
【００６４】
図５に示すように，ハードディスクドライブテスト装置３００の背面側には信号線及びＰＣＢインタフェースボード３２８のようなハードディスクドライブテスト装置３００の内部の装置及び設備が配置される。しかし，ハードディスクドライブテスト装置３００の装置及び設備は，カバーが覆われることもあり，また二つのハードディスクドライブテスト装置３００の背面を互いに直接結合させることによって装置の背面にカバーを覆わなくても保護することができる。ファン３１８は，テストハードディスクドライブの作動によって発生した熱をハードディスクドライブテスト装置３００の外部に排出させる。
【００６５】
図７は，図３に示した本実施形態にかかるハードディスクドライブテスト装置の内外部構成及び動作を示すダイヤグラムである。
【００６６】
まず，ホストコンピュータ３１４は，ネットワークを通じて工程履歴データベース（ＭＥＳ）と通信し，直列通信交換機３１６を通じて複数のハードディスクドライブ，電場ボード３３４及びソフトウェア／ハードウェアの制約のような具現環境によって決定される多数のハードディスクドライブに対する電源及びＬＥＤ信号を制御する複数のパワーカード３３０と通信できるように連結される。換言すれば，通常，制御できるハードディスクドライブの最大数はソフトウェアによって決定され，限定されていない。本実施形態においては，直列通信交換機３１６は，パワーコントローラ３６０に，また複数の着脱治具３０４に接続できる複数の直列通信線及び制御線に通信できるように接続することができる。特に，パワーコントローラ３６０は，電場ボード３３４，パワーカード３３０及びＤＣ電源供給器３３２を含む。
【００６７】
図７において，ホストコンピュータ３１４は，標準のコンピュータであり，直列通信交換機３１６はハードディスクドライブをテストするために複数のハードディスクドライブと標準コンピュータ３１４とを直列通信を通じてインタフェースする標準コンピュータ３１４の周辺装置である。
【００６８】
図３〜図５及び図７に示すように，本実施形態においては，ホストコンピュータ３１４，直列通信交換機３１４及びハードディスクドライブは，ハードディスクドライブをテストするために直列通信交換機３１６が直列通信を通じて標準コンピュータ３１６と複数のハードディスクドライブとをインタフェースする一つの個体として提供される。しかしながら，本発明は，そのような具現構造に限定されるものではない。上記図７の例示的な具現において，パワーコントローラ３６０が直列通信交換機３６０と分離された個体であり，直列通信交換機３１６と通信できるように接続できる別個の構成要素で具現されているが，本発明はそのような構成に限定されず，パワーコントローラ３６０は直列通信交換機３６０の一部分となるように構成することもできる。
【００６９】
まず，ホストコンピュータ３１４がブートされた後，ホストコンピュータ３１４は，ハードディスクドライブをテストするためのホストプログラムを実行させる。ホストプログラムの制御によって，ホストコンピュータ３１４は直列通信交換機３１６を通じて電場ボード３３４にＤＣ電源供給命令をする。電場ボード３３４の制御下にＤＣ電源供給器３３２が電源を供給し始めれば，パワーカード３３０が作動され，ホストコンピュータ３１４は，持続的に各パワーカード３３０を通じて着脱治具３０４上のハードディスクドライブの着脱状態をチェックする。パワーカード３３０は，通常，ハードディスクドライブに連結される電源ラインでの電圧降下を検出することによってハードディスクドライブの着脱の如何をチェックする。
【００７０】
図７の例によれば，ホストコンピュータ３１４の制御下に，各パワーカード３３０は各々が８個のハードディスクドライブのための８個のＰＣＢインタフェースカード３２８各々にＤＣ電源を提供することを制御し，また着脱治具３０４のＬＥＤ６０８を制御する。
【００７１】
パワーカード３３０が新しいハードディスクドライブが着脱治具３０４に装着されたことを認識すれば，ホストコンピュータ３１４，直列通信交換機３１６，及び装着されたハードディスクドライブのＰＣＢインタフェースボード３２８間で確立された直列通信チャンネルを通じて，ホストコンピュータ３１４は，直接装着されたハードディスクドライブとの通信を開始する。
【００７２】
ホストコンピュータ３１４は，ハードディスクドライブからドライブ情報，例えばインタフェース規格，モデル名，バージョン情報を得て，ドライブ情報をＭＥＳに伝送し，ＭＥＳからそのハードディスクドライブに適するテストスクリプトとテストコードとをダウンロードし，テストスクリプトとテストコードとをハードディスクドライブに伝送し，ハードディスクドライブのテストを開始させる。
【００７３】
装着されたハードディスクドライブに対して，ホストコンピュータ３１４は，ディスプレイ装置３２０を通じてテスト状態を表示し，着脱治具３０４上のＬＥＤ６０８のオン／オフを制御するためにパワーカード３３０に命令をする。特に，テスト完了後，ハードディスクドライブがテスト結果をホストコンピュータ３１４に伝送すれば，ホストコンピュータ３１４はハードディスクドライブへの電源供給を遮断するようにパワーカード３３０に命令をし，テスト結果をディスプレイ装置３２０と着脱治具３０４のＬＥＤ６０８とを通じて表示し，テスト結果をＭＥＳにも伝送する。
【００７４】
図８は，本実施形態にかかるハードディスクドライブテスト装置の動作を示すフローチャートである。簡略に，図８は，ハードディスクドライブテスト装置３００の各構成要素の典型的な動作を表す。
【００７５】
図８に示すように，ホストコンピュータ３１４は，ホストコンピュータ３１４のデータパスである第２直列通信ポートＣＯＭ２及び直列通信交換機３１６を通じてハードディスクドライブと通信する。例えば，バーンインチャンバ３０２に１４４個のハードディスクドライブが装着されると，直列通信交換機３１６は，ハードディスクドライブの装着に応答して選択的に通信可能にホストコンピュータ３１４の第２直列通信ポートＣＯＭ２を１４４個のハードディスクドライブ各々に接続する。
【００７６】
さらに詳細には，ホストコンピュータ３１４が直列通信交換機３１６によってハードディスクドライブのうち何れか一つと連結されれば，ホストコンピュータ３１４とハードディスクドライブ間にハードディスクドライブテストのための直列通信チャンネルが形成される。
【００７７】
直列通信交換機３１６のルートプロセスは，直列ポートルートパスであるホストコンピュータ３１４の第１直列通信ポートＣＯＭを通じて直列通信交換機３１４に提供されるチャンネル交換命令によって行われる。さらに詳細には，パワーカード３３０がいかなるハードディスクドライブの装着を検出すれば，装着されたハードディスクドライブのルート情報（例えば，ポート番号）がパワーカード３００によって直列通信交換機３１６とホストコンピュータ３１４の第１直列通信ポートＣＯＭ１とを通じてホストコンピュータ３１４に伝送される。このことにより，ホストコンピュータ３１４は，ホストコンピュータ３１４の第１直列通信ポートＣＯＭ１を通じて直列通信交換機３１４を制御してホストコンピュータ３１４の直列通信ポートＣＯＭ２と直列通信交換機３１６の相応する選択された直列ポートのうち一つを通じたホストコンピュータ３１４と装着されたハードディスクドライブ間の直列通信チャンネルを確立する。
【００７８】
ホストコンピュータ３１４とハードディスクドライブ間で直列通信チャンネルが形成されると，ホストコンピュータ３１４の直列通信ポートＣＯＭ２と直列通信交換機３１６の相応する選択された直列ポートのうち一つを通じて，ホストコンピュータ３１４とハードディスクドライブとはハードディスクドライブからのテスト結果(Ｐａｓｓ，Ｆａｉｌ ｃｏｄｅ)の伝送，ハードディスクドライブからの全体テストプロセス履歴チェック情報の伝送のような直列情報の伝送を開始／終了できる。
【００７９】
したがって，ハードディスクドライブの着脱状態は，パワーカード３３０によって検出される。各々のパワーカード３３０は，ＤＣ電源供給器３３２によって発生したＤＣ電源を８個のハードディスクドライブに選択的に提供し，ハードディスクドライブに提供されるＤＣ電源の電圧降下をモニタリングすることによってハードディスクドライブの着脱状態を検出する。また，本実施形態においては，もしホストコンピュータ３１４から要求されれば，各々のパワーカード３３０はハードディスクドライブの着脱状態に関する情報を収集してホストコンピュータ３１４に伝送する。
【００８０】
他方，各々のパワーカード３３０は，ホストコンピュータ３１４からの指示によって着脱治具３０４上のＬＥＤ６０８を制御する。ホストコンピュータ３１４は，ハードディスクドライブの各処理状態を表すためにＬＥＤ制御信号をパワーカード３３０に伝送する。ホストコンピュータ３１４とパワーカード３３０間の情報の通信も直列通信チャンネルを通じて行われ，必要に応じて直列通信交換機３１６はホストコンピュータ３１４とパワーカード３３０間の直列通信チャンネルを形成する。
【００８１】
電場ボード３３４は，テスト装置の初期化動作，即ち，ＤＣ電源供給器３３２を起動させて各パワーカード３３０にＤＣ電源を供給する動作を行う。また，電場ボード３３４は，テスト装置の異常有無を表す警光灯を含む。
【００８２】
ホストコンピュータ３１４と電場ボード３３４間の情報送受信も直列通信チャンネルを通じて行われ，必要に応じて，直列通信交換機３１６はホストコンピュータ３１４と電場ボード３３４間の直列通信チャンネルを形成する。
【００８３】
作業者がディスプレイ装置３２０を通じてテスト結果を確認でき，インタフェース装置３２２を通じてハードディスクドライブテスト（例えば，ハードディスクドライブのための適切なスクリプト及びコード）を初期化（選択）でき，直列通信交換機３１６によってホストコンピュータ３１４とハードディスクドライブのＰＣＢインタフェースボード３２８間に確立された直列通信チャンネルを通じてハードディスクドライブに通信可能に連結された直列ポートの状態及びハードディスクドライブテスト状態を検査する操作を行えるようにホストコンピュータ３１４は機能性を提供する。
【００８４】
上記のように，本実施形態にかかるテスト装置２００は，例えば，一つのパワーカード３３０が８個のハードディスクドライブを制御でき，１８個のパワーカード３３０を使用すれば，ホストコンピュータ３１４の直列通信ポートＣＯＭ１とＣＯＭ２とを経由してホストコンピュータ３１４，直列通信交換機３１６，ＰＣＢインタフェースボード３２８，及びハードディスクドライブのＵＡＲＴポート間の直列通信チャンネルの確立を通じて１４４個のハードディスクドライブ，電場ボード３３４，及び１８個のパワーカード３３０を直接制御することによって同時に１４４個のハードディスクドライブをテストできる。
【００８５】
さらに詳細には，上記ハードディスクドライブテスト装置３００において，１台のホストコンピュータがホストコンピュータの直列通信ポートＣＯＭ１及びＣＯＭ２を通じてホストコンピュータ３１４，直列通信交換機３１６，ハードディスクドライブのＰＣＢインタフェースボード２３８，及びハードディスクドライブのＵＡＲＴポート間の直列通信チャンネルを確立することによってハードディスクドライブ，電場ボード，及び複数のパワーカード３３０を直接制御することによって複数のハードディスクドライブを同時にテストできる。したがって，ハードディスクドライブのテスト装置３００は，従来のハードディスクドライブテスト装置に比べて狭い空間及び低コストでも大量のハードディスクドライブを同時にテストできる。
【００８６】
本実施形態においては，複数のハードディスクドライブを制御するホストコンピュータ３１４，パワーカード３３０及び電場ボードを同じ（即ち，一つの）通信方式による直列通信ポートを通じて制御するホストコンピュータを有する簡単かつ明快なハードディスクドライブテストコンピュータシステムを提供する。したがって，ハードディスクドライブテスト装置３００において，テストプロセスが容易に変更され，装置３００の維持補修が容易であり，テスト信頼性が高い。また，ハードディスクドライブテスト装置３００は，全てのハードディスクドライブによって支援されうるＵＡＲＴポートでハードディスクドライブをテストし，将来のいかなるハードディスクドライブインタフェース規格にも適するようにハードディスクドライブテスト装置３００の付加的な設備に対する投資の必要を低減する。
【００８７】
２台のハードディスクドライブテスト装置の背面を相互に直接結合するように構成する場合，ハードディスクドライブテスト装置３００の背面を覆うための構造が不要になる。その上，ヒータ及びブロワを使用せず，その代りに熱い空気をテスト装置３００の内部から排出させることによってハードディスクドライブを常温，即ち，約２０℃でテストするため，本発明によるハードディスクドライブテスト装置の設備コスト及びサイズを減らす。ハードディスクドライブテスト装置３００は，コンピュータソフトウェア及びコンピュータハードウェアで具現される。
【００８８】
したがって，本発明は，１台のホストコンピュータを使用して複数のハードディスクドライブをテストするハードディスクドライブ装置及びそれに適した方法を提供する。通常，テストは，ハードディスクドライブバーンインテスト工程であるが，本発明はそのような構成に限定されず，いかなるテスト工程も行うことができる。少なくとも二つの直列通信ポートを有するホストコンピュータは，各々のテストされるハードディスクドライブに動作電源を提供するパワーカードに通信可能に接続される。直列通信交換機は，ホストコンピュータの直列通信ポートとハードディスクドライブとに通信可能に接続され，ハードディスクドライブ，パワーカード，及びホストコンピュータ間の直列通信チャンネルを選択的に確立するためのホストコンピュータによって発生するチャンネル選択指示に応答することによって，確立された直列通信チャンネルを通じてハードディスクドライブと通信することによって１台のホストコンピュータがハードディスクドライブをテストすることを許容する。
【００８９】
特に，本発明は，第１及び第２直列通信ポートを有する１台のホストコンピュータと，直列ポートを有する複数のハードディスクドライブと，コンピュータの第２直列ポートとハードディスクドライブの直列ポートとに接続されたスイッチの複数の入出力直列ポートのうち一つの間の直列通信チャンネルを選択的に確立するように制御するコンピュータ制御によって直列通信ポート選択チャンネルを確立するためのコンピュータの第１通信ポートに通信可能に接続されうる回路を有するマルチポート直列通信スイッチと，を含むハードディスクドライブテスト装置を提供する。
【００９０】
ホストコンピュータは，確立された直列通信チャンネルを通じてハードディスクドライブと通信することによってハードディスクドライブをテストする。ハードディスクドライブが装着される複数の治具が提供され，着脱治具への制御線を通じて接続されるパワーコントローラは，ホストコンピュータによってハードディスクドライブに電源を提供する。上記実施形態において，ハードディスクドライブのテストは，一つの例として使用され，本発明はそのような構成に限定されずに，１台のコンピュータによって直列ポートを有するいかなる複数の装置のテストにも適用することができる。
【００９１】
特に，本発明は，複数のハードディスクドライブと，１台のホストコンピュータと各ハードディスクドライブ間に選択的に確立された通信チャンネルを通じて１台のホストコンピュータとの各ハードディスクドライブインタフェース規格に関係なく各ハードディスクドライブを直接テストできる１台のホストコンピュータを有するハードディスクドライブテスト装置とを提供する。
【００９２】
本発明の一特徴によれば，ハードディスクドライブ各々は標準の汎用ＵＡＲＴポートを有し，１台のホストコンピュータは一つの直列通信ポートを有し，１台のホストコンピュータのその一つの直列通信ポートと各ハードディスク標準ＵＡＲＴポート間に選択的に確立された直列通信チャンネルを通じて各ハードディスクドライブを直接的にテストする。
【００９３】
本発明の他の特徴によれば，単一のホストコンピュータは，第１及び第２の直列通信ポートを有し，装置は単一のホストコンピュータの第２直列通信ポートとハードディスクドライブの直列ポートとに連結されたスイッチの複数の入出力直列ポートのうち一つの間に直列通信チャンネルを選択的に確立する単一のホストコンピュータによって直列ポート選択チャンネルを形成するために単一のホストコンピュータの第１及び第２直列通信ポートに通信可能に連結されうる回路を有するマルチポート直列通信スイッチをさらに含む。
【００９４】
本発明の他の特徴によれば，装置はハードディスクドライが着脱されうる複数の着脱治具と，制御線を通じて着脱治具とに連結され，かつテストのために単一のホストコンピュータによってハードディスクドライブに電源を提供し，ハードディスクドライブの装着を検出し，装着されたハードディスクドライブと単一のホストコンピュータの間に直列通信を選択的に確立する単一のホストコンピュータにハードディスクドライブの装着状態を伝送するパワーコントローラとをさらに備える。
【００９５】
本発明の他の特徴によれば，装置は前面及び背面を有し，搭載された複数のハードディスクドライブを収容し，ここでバーンインチャンバの背面は他のハードディスクドライブテスト装置のバーンインチャンバの背面と直接結合されて一つの両面ハードディスクテスト装置を提供できる四角形のバーンインチャンバをさらに備える。
【００９６】
本発明の他の特徴によれば，装置は複数のハードディスクドライブを収容するバーンインチャンバ，及びバーンインチャンバの温度を常温に維持するためにバーンインチャンバ内のハードディスクドライブ自体から熱を排出させるファンをさらに備える。
【００９７】
また，テストコンピュータを使用せずに一つのホストコンピュータを使用してデバイスをテストする装置は，本発明の出願人である三星電子によって出願された関連韓国特開２００３−３０８９５号公報及び本発明の出願人である三星電子によって出願されて共に係属している特許出願に開示され，その全体内容は，ここで参照として統合される。
【００９８】
以上，添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが，本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された範疇内において，各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【産業上の利用可能性】
【００９９】
本発明のハードディスクドライブテスト装置は，１台のコンピュータによって直列ポートを有するいかなる複数の装置のテストにも適用されうる。
【図面の簡単な説明】
【０１００】
【図１】従来のハードディスクドライブのテスト装置の外観を示す図面である。
【図２】図１に示された装置の内部構成を示す機能ブロック図である。
【図３】本発明によるハードディスクドライブテスト装置を示す透視図である。
【図４】本発明によるハードディスクドライブテスト装置を示す側面図である。
【図５】本発明によるハードディスクドライブテスト装置を示す背面図である。
【図６】図３に示された着脱治具を示す透視図である。
【図７】図３に示された本発明の実施例によるハードディスクドライブテスト装置の内部構成を図式的に示す詳細図である。
【図８】本発明によるハードディスクドライブテスト装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１０１】
３００    ハードディスクドライブテスト装置
３０４    着脱治具
３１４    ホストコンピュータ
３１６    直列通信交換機
３２８    ＰＣＢインタフェースボード
３３０    パワーカード
３３２    ＤＣ電源供給器
３３４    電場ボード
３６０     パワーコントローラ
【図１】
2004342304.tif 000003
【図２】
2004342304.tif 000004
【図３】
2004342304.tif 000005
【図４】
2004342304.tif 000006
【図５】
2004342304.tif 000007
【図６】
2004342304.tif 000008
【図７】
2004342304.tif 000009
【図８】
2004342304.tif 000010