(57)【要約】【課題】読取特性の調整に用いられる画素エリアを適正に特定する。【解決手段】測光値検出部４１により、写真フィルム２におけるフィルムキャリア２０の透過用スリット２６に沿ったライン上の駒画像およびその周辺部に対応する複数の画素の測光値が各画素毎に検出される。そして、累積測光値算出部４５により、撮像素子３２の両端部に対応する画素から撮像素子３２の中央部に対応する画素までの累積測光値が算出される。引き続き、累積測光値差分算出部４６により、撮像素子３２における所定画素間の累積測光値の差分が順次算出される。その後、エッジ特定部４９により、撮像素子３２における所定の複数画素間の累積測光値差分の差分が順次算出され、当該差分が所定の閾値よりも大きくなる画素位置がエリア左端画素およびエリア右端画素であると判断され、画素エリアが特定される。【選択図】　　　　図２
2004072560.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像領域および非画像領域を有する写真フィルムの幅に対応して所定長さのスリットが形成されたフィルムキャリアにより前記スリットに対して直交する方向に搬送される写真フィルムについて、光源から照射され、前記写真フィルムの前記スリットに対応する領域を透過した光に基づいて、写真フィルムに記録された画像を読み取り可能なライン状の撮像素子を備えた画像読取装置において、
前記フィルムキャリアの前記スリットに沿ったライン上の画像領域および非画像領域について、前記撮像素子の一端部近傍に位置する第１の画素と前記撮像素子の他端部近傍に位置する第２の画素との間の複数の画素の測光値を各画素毎に検出する測光値検出手段と、
前記測光値検出手段により得られた各画素の測光値データに基づいて、前記第１の画素と前記第２の画素との間の各画素について、前記各画素と所定の画素との間に位置する画素の測光値の合計を算出する累積測光値算出手段と、
前記累積測光値算出手段により得られた累積測光値データに基づいて、前記第１の画素と前記第２の画素との間の画素について、所定の複数画素分だけ離隔した２つの画素の累積測光値の差分を算出する差分算出手段と、
前記差分算出手段により得られた累積測光値差分データに基づいて、前記第１の画素と前記第２の画素との間の画素について、所定の複数画素分だけ離隔した２つの画素の累積測光値差分の差分を算出し、前記差分と予め設定された閾値とを比較して、前記差分が前記閾値よりも大きいと判断された場合に、その画素に対応する位置が写真フィルムの画像領域と非画像流域との境界位置であると判断する判断手段とを備えていることを特徴とする画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、写真フィルムに記録された画像を読み取り可能な画像読取装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
画像読取装置では、短冊状または帯状の写真フィルムが搬送されつつ、それに記録された駒画像が読み取られるのが一般的である。従って、かかる画像読取装置には、写真フィルムをその長さ方向に搬送可能であって、その搬送方向に対して直交する方向に沿って写真フィルムの幅に対応する長さの透過用スリットが形成されたフィルムキャリアが着脱可能になっていることが多い。そして、かかる画像読取装置は、光源部から照射された後、フィルムキャリアにより搬送される写真フィルムおよびフィルムキャリアの透過用スリットを透過した光を受光可能な撮像素子が備えられている。
【０００３】
ここで、かかる画像読取装置では、写真フィルムをその長手方向に往復搬送することによって、様々な読取特性の調整に用いるデータを取得するためのプレスキャニングと、プレスキャニングで取得したデータに基づいて、読取特性の調整が行われた上で、写真フィルムから駒画像を読み取る本スキャニングとが行われる。なお、プレスキャニングでは、Ａ／Ｄ変換機の入力レベルを調整して、値が大きすぎたり小さすぎたりしないようにする「ゲイン調整」、ダークレベルが一定値となるように調整する「ダークレベル調整」、光源のむらを補正する「シェーディング調整」などの読取特性の調整を行うためのデータが取得される。
【０００４】
従って、プレスキャニングにおいては、読取特性の調整に用いるデータとして利用する画素エリアを適正に特定する必要があって、そのためには、この画素エリアの切り出し処理が適正に行わなければならない。なお、エリアの切り出し処理は、写真フィルムの幅方向について、写真フィルムの駒画像とその周辺部（白抜き部分）との境界（いわゆる駒画像のエッジ）を特定することによって行われる。
【０００５】
ここで、エリアの切り出し処理としては、撮像素子の写真フィルムの幅方向に沿って配列された多数の画素について得られた測光値データに基づいて、所定画素間の測光値の差分を算出し、その差分がある閾値を超える場合に、その画素位置を駒画像のエッジであると判断する手法が採用されることがある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、フィルムキャリアの透過用スリットの寸法精度が悪かったり、フィルムキャリアに対する塗装が透過用スリット内に突出している（塗装ずれがある）場合には画素エリアの切り出し位置がずれてしまうことがある。また、フィルムキャリア上（透過用スリットに対応する領域上）にゴミなどがある場合には、そのゴミの位置を駒画像のエッジであると判断されて、画素エリアが誤って切り出されるという問題が生じる。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、読取特性の調整に用いられる画素エリアを適正に特定することができる画像読取装置を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１の画像読取装置は、画像領域および非画像領域を有する写真フィルムの幅に対応して所定長さのスリットが形成されたフィルムキャリアにより前記スリットに対して直交する方向に搬送される写真フィルムについて、光源から照射され、前記写真フィルムの前記スリットに対応する領域を透過した光に基づいて、写真フィルムに記録された画像を読み取り可能なライン状の撮像素子を備えた画像読取装置において、前記フィルムキャリアの前記スリットに沿ったライン上の画像領域および非画像領域について、前記撮像素子の一端部近傍に位置する第１の画素と前記撮像素子の他端部近傍に位置する第２の画素との間の複数の画素の測光値を各画素毎に検出する測光値検出手段と、前記測光値検出手段により得られた各画素の測光値データに基づいて、前記第１の画素と前記第２の画素との間の各画素について、前記各画素と所定の画素との間に位置する画素の測光値の合計を算出する累積測光値算出手段と、前記累積測光値算出手段により得られた累積測光値データに基づいて、前記第１の画素と前記第２の画素との間の画素について、所定の複数画素分だけ離隔した２つの画素の累積測光値の差分を算出する差分算出手段と、前記差分算出手段により得られた累積測光値差分データに基づいて、前記第１の画素と前記第２の画素との間の画素について、所定の複数画素分だけ離隔した２つの画素の累積測光値差分の差分を算出し、前記差分と予め設定された閾値とを比較して、前記差分が前記閾値よりも大きいと判断された場合に、その画素に対応する位置が写真フィルムの画像領域と非画像流域との境界位置であると判断する判断手段とを備えていることを特徴とするものである。
【０００９】
請求項１によると、撮像素子において、写真フィルムおよびフィルムキャリアのスリットを透過した光を受光して得られた測光値データに基づいて、フィルムキャリアの有効エリアを適正に特定することができる。従って、フィルムキャリアのスリットの寸法精度が悪かったり、フィルムキャリアにおいて塗装ずれがある場合に、画素エリアの切り出し位置がずれてしまうことが抑制されると共に、フィルムキャリア上にゴミなどがある場合に、そのゴミによって画素エリアが誤って切り出されることが抑制される。その結果、読取特性の調整に用いられる画素エリアが適正に特定されるようになる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。図１は、本実施の形態に係る画像読取装置の部分的な概略構成を示す図である。
【００１１】
画像読取装置１は、光源部１０と、写真フィルム２の種類（サイズ）毎に準備されたフィルムキャリヤ２０と、フィルムキャリヤ２０が着脱可能な本体３０と、制御ユニット４０（図２参照）とを有している。
【００１２】
光源部１０は、例えばハロゲンランプであって、これから照射される光には、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、Ｂ（青）の３色のそれぞれに対応する波長領域の光が含まれている。
【００１３】
フィルムキャリア２０は、ケース２１と、ケース２１内において写真フィルム２をその長手方向に搬送する搬送系２２とを有している。搬送系２２は、写真フィルム２の両面を挟持することにより、写真フィルム２をその長手方向に搬送する複数のローラ対２２ａと、ローラ対２２ａで搬送される写真フィルム２の幅方向両端部をガイドして写真フィルム２の蛇行を防止するガイド体２２ｂとを有している。なお、搬送系２２は、制御ユニット４０に接続されている。
【００１４】
ここで、搬送系２２のローラ対２２ａは、写真フィルム２の幅方向両端部、例えば３５ｍｍフィルムあれば、パーフォレーション近傍を挟持できるように、写真フィルム２の幅に対応した間隔を隔てて配置されている。なお、ローラ対２２ａは、写真フィルム２の搬送方向に沿って所定間隔を隔てて複数配置されている。
【００１５】
ケース２１は、略直方体形状の箱状の部材であって、その上面部には、光源部１０から照射された光を入光させる入光用スリット２５が形成されると共に、その底面部（いわゆるマスク）には、写真フィルム２の幅方向（写真フィルム２の搬送方向に対して直交する方向）で、写真フィルム２に記録された駒画像を本体３０内に向けてライン状に投影させる透過用スリット２６が形成されている。なお、入光用スリット２５と透過用スリット２６とは、搬送系２２によって搬送される写真フィルム２を挟んで対向するように配置されている。
【００１６】
本体３０は、略直方体形状の箱状の筐体３１と、筐体３１に内装されており、フィルムキャリア２０内を搬送される写真フィルム２に記録された駒画像を読み取り可能な撮像素子３２とを有している。そして、筐体３１の上面には、撮像用スリット３５が形成されている。ここで、撮像用スリット３５は、筐体３１上にフィルムキャリア２０が取り付けられた場合に、フィルムキャリア２０の透過用スリット２６と隣接するような位置に設けられている。
【００１７】
撮像素子３２は、電荷結合素子（ＣＣＤ）からなる複数の撮像部（撮像ライン）が、写真フィルム２の幅方向に沿って配列されている。従って、撮像素子３２は、フィルムキャリア２０内を搬送される写真フィルム２に記録された駒画像を、写真フィルム２の幅方向に沿うライン状に読み取ることができるラインＣＣＤである。従って、撮像素子３２における画像の読み取りに際しては、写真フィルム２上のその幅方向に沿ったライン状の領域を、複数の撮像部に対応する複数の画素に分割した上で、撮像素子３２において、光源部１０から照射された後、フィルムキャリア２０内の写真フィルム２を透過した光を受光することによって、それぞれの画素における測光値が検出される。つまり、撮像素子３２において、画像の読み取り可能な領域は、図１に示すように、写真フィルム２の幅方向に沿って設けられた撮像領域Ａである。また、撮像素子３２は、制御ユニット４０に接続されており、検出した測光値データが制御ユニット４０に供給される。
【００１８】
ところで、透過用スリット２６は、写真フィルム２の幅と対応した長さＬとほぼ同じ長さを有していると共に、撮像素子３２における撮像領域Ａの幅（写真フィルム２の搬送方向に沿った長さ）に対応した幅を有している。
【００１９】
撮像用スリット３５は、幅の広い写真フィルム用のフィルムキャリア２０が取り付けられた場合に、当該フィルムキャリア２０の透過用スリット２６の長さに対応可能に設けられている。すなわち、撮像用スリット２６の長さＬ’は、２４ｍｍフィルム（ＡＰＳフィルム）或いは３５ｍｍフィルムなどの幅の狭い写真フィルム用のフィルムキャリア２０の透過用スリット２６よりも長くなっている。
なお、撮像用スリット３５の幅は、透過用スリット２６の幅とほぼ同じである。
【００２０】
ここで、撮像領域Ａの長さは、撮像用スリット３５の長さより長く設定されると共に、撮像領域Ａの幅は、撮像用スリット３５の幅よりも狭く設定されている。なお、撮像領域Ａを有する撮像素子３２は、その最大の撮像領域Ａの中心位置と撮像用スリット３５の中心位置とを一致させた状態で、撮像領域Ａを撮像用スリット３５に対向するように、本体３０の筐体３１に内装されている。
【００２１】
また、制御ユニット４０は、画像読取装置１における各種制御を行うものである。つまり、制御ユニット４０は、フィルムキャリア２０の搬送系２２を制御することによって、写真フィルム２を搬送したり、その搬送を停止したりすることができる。また、制御ユニット４０は、撮像素子３２によって検出された測光値データが供給されると、それを記憶すると共に、そのデータに基づいて画素エリアの切り出し処理を行うことができる。なお、画素エリアの切り出し処理については後で詳述する。また、制御ユニット４０では、切り出し処理された画素エリアにおいて、様々な読取特性の調整を行うことができる。
【００２２】
なお、本実施の形態の画像読取装置１では、写真フィルム２をその長手方向に往復搬送し、往方向に写真フィルム２が搬送される際に、写真フィルム２の駒画像およびその周辺部を読み取って読取特性の調整に使用する画素エリアを特定すると共に、当該画素エリアから様々な補正値などを取得するプレスキャニングと、復方向に写真フィルム２が搬送される際に、プレスキャニングで得られた補正値に基づいて読取特性の調整が行われた上で駒画像を読み取る本スキャニングとが行われる。
【００２３】
次に、画像読取装置１の制御系について、図２を参照して説明する。図２は、図１の画像読取装置１の主要部についての簡易ブロック図である。
【００２４】
制御ユニット４０には、撮像素子３２と、搬送系２２とがそれぞれ接続されている。そして、制御ユニット４０には、画像読取装置１に係る各種動作の制御プログラムやデータなどが格納されたＲＯＭ、画像読取装置１の各部の動作を制御する信号を生成するために各種演算を実行するＣＰＵ、撮像素子３２により撮像された画像（測光値）についてのデータおよびＣＰＵでの演算結果などのデータを一時保管するＲＡＭなどの部材が含まれている。これら各種部材およびソフトウェアによって、測光値検出部４１と、測光値記憶部４２と、測光値閾値算出部４３と、測光値データ除去部４４と、累積測光値算出部４５と、累積測光値差分算出部４６と、エリア検出閾値算出部４７と、エリア限界範囲特定部４８と、エッジ特定部４９と、調整部５０とが形成されている。
【００２５】
測光値検出部４１は、写真フィルム２におけるフィルムキャリア２０の透過用スリット２６に沿ったライン上の駒画像およびその周辺部について、撮像素子３２のそれらに対応する複数の画素の測光値を各画素毎に検出するためのものである。
【００２６】
なお、本実施の形態では、撮像素子３２において、測光値を検出可能な総画素数は５０００画素とし、各画素において１２ビットの測光値データが検出可能であるとして説明する。また、以下の説明では、５０００画素のなかで、撮像素子３２の左端部に対応する画素（最左端画素）を第１番目の画素（第１画素）とし、それから右端部に近接する方向にその番号が１ずつ増加していき、撮像素子３２の右端部に対応する画素（最右端画素）を第５０００番目の画素（第５０００画素）と称することにする。
【００２７】
測光値記憶部４２は、測光値検出部４１により検出された複数の画素の測光値についての測光値データを記憶するためのものである。つまり、撮像素子３２における写真フィルム２の幅方向に沿った方向の総画素数は、上述のとおり、５０００画素であるので、測光値記憶部４２では、５０００個の画素毎に測光値データが記憶される。
【００２８】
測光値閾値算出部４３は、測光値記憶部４２に記憶された測光値データのうちで写真フィルム２の未使用エリアに対応する測光値データを除去するために用いられる閾値を算出するためのものである。ここで、本実施の形態では、当該閾値として、まず測光値データの中央値が求められて、その中央値に所定の倍率を乗じた値が算出される。つまり、当該閾値としては、測光値データの中央値ｘに所定倍率ｋ１（０＜ｋ１＜１）を乗じることによって、閾値Ｘ（＝ｘ×ｋ１）が求められる。なお、本実施の形態では、所定倍率ｋ１の値としては、例えばｋ１＝１／１０などが用いられる。
【００２９】
測光値データ除去部４４は、測光値記憶部４２に記憶された測光値データのうちで写真フィルム２の未使用エリアに対応する測光値データを除去するためのものである。つまり、測光値データ除去部４４では、測光値閾値算出部４３により算出された閾値Ｘよりも測光値データが小さい画素に対応する領域が未使用エリアであると判断されて、当該領域の画素の測光値データが除去されて、いずれも測光値データが０とされる。
【００３０】
なお、本実施の形態において、測光値閾値算出部４３における閾値Ｘの算出方法については、上述に限られず、任意に変更することができる。また、必ずしも測光値記憶部４２に記憶された測光値データのうちで写真フィルム２の未使用エリアに対応する測光値データを除去する必要はなく、この場合は、制御ユニット４０には、測光値閾値算出部４３および測光値データ除去部４４は備えられていなくてもよい。
【００３１】
累積測光値算出部４５は、測光値記憶部４２に記憶された各画素の測光値データに基づいて、撮像素子３２の一端部に対応する第１画素と撮像素子３２の中央部に対応する第２５００画素との間の複数の画素のそれぞれについて当該画素と第１画素との間に位置する複数の画素の測光値の合計、および、撮像素子３２の他端部に対応する第５０００画素と撮像素子３２の中央部に対応する第２５００画素との間の複数の画素のそれぞれについて当該画素と第５０００画素との間に位置する複数の画素の測光値の合計である累積合計値がそれぞれ算出される。
【００３２】
つまり、第１画素と第２５００画素との間の各画素の累積測光値について考えると、例えば、第ｓ画素（１＜ｓ＜２５００）の累積測光値は、第１画素から第ｓ画素までの各測光値の合計として算出される。また、同様に、第５０００画素と第２５００画素との間の各画素の累積測光値について考えると、例えば、第ｔ画素（２５００＜ｔ＜５０００）の累積測光値は、第５０００画素から第ｔ画素までの各測光値の合計として算出される。このように、累積測光値算出部４５では、撮像素子３２の両端部に対応する画素から撮像素子３２の中央部に対応する画素に向かって（撮像素子３２の両端部から中央部に向かって）、累積測光値が算出される。
【００３３】
なお、本実施の形態において、累積測光値算出部４５では、第１画素と第２５００画素との間の各画素については第１画素との間に位置する測光値の合計が算出され、第２５００画素と第５０００画素との間の各画素については第５０００画素との間に位置する測光値の合計が算出されているが、第１画素と第５０００画素との間の各画素について所定の画素との間に位置する画素の測光値の合計が算出されれば、累積測光値はどのようにして算出されてもよい。従って、例えば第１画素と第５０００画素との間の各画素について第１画素との間に位置する測光値の合計が算出されてもよい。
【００３４】
累積測光値差分算出部４６は、累積測光値算出部４５で算出された累積測光値データに基づいて、撮像素子３２における所定の複数画素分だけ離隔した画素間の累積測光値の差分が順次算出される。なお、本実施の形態では、２０画素分だけ離隔した画素間の累積測光値の差分が算出される。
【００３５】
ここで、累積測光値差分算出部４６において、累積測光値の差分が算出される場合には、撮像素子３２の中央部側に対応する画素の累積測光値から、その両端部側に対応する画素の累積測光値が差し引かれる。そして、このとき算出された累積測光値の差分が、上述の撮像素子３２の中央部側に対応する画素における累積測光値の差分とみなされる。つまり、例えば、第１画素と第２５００画素との間の各画素の累積測光値の差分について考えると、第ｖ画素（ｕ＜ｖ＜２５００）の累積測光値から、第ｕ画素（１＜ｕ＜２５００）の累積測光値が差し引かれることによって、第ｖ画素の累積測光値の差分が算出される。
【００３６】
なお、累積測光値差分算出部４６での累積測光値の差分の算出においては、撮像素子３２の中央部側に対応する画素、および、それと２０画素分だけ離隔した両端部側に対応する画素の両方が、撮像素子３２の両端部側に１画素ずつずらされることによって各差分が算出されてもよいし、撮像素子３２の中央部に対応する画素と撮像素子３２の両端部に対応する画素との間が予め２０画素毎に区切られており、その１つの区切りの両端に対応する２つの画素間の差分が算出されてもよい。
【００３７】
また、累積測光値差分算出部４６においては、累積測光値算出部４５における累積測光値の算出方法によって、つまり、第１画素と第５０００画素との間の各画素について所定の画素との間に位置する画素の測光値の合計が算出される場合に、所定の画素として、どの画素が用いられるかによって、累積測光値の差分の算出方法が変更されるのが好ましい。
【００３８】
エリア検出閾値算出部４７は、写真フィルム２の駒画像の両端部に対応するエリア限界位置を特定するための閾値を算出するためのものである。ここで、本実施の形態では、当該閾値として、累積測光値の差分データの中央値がヒストグラムを利用して求められて、その中央値に所定の倍率を乗じた値が算出される。つまり、当該閾値としては、累積測光値の差分データの中央値ｍに所定倍率ｋ２（０＜ｋ２＜１）を乗じることによって、閾値Ｍが求められる。なお、本実施の形態では、所定倍率ｋ２の値としては、例えばｋ２＝１／２などが用いられる。
【００３９】
エリア限界範囲特定部４８は、エリア限界範囲を特定するためのものである。
ここで、エリア限界範囲特定部４８では、撮像素子３２の両端部に対応する各画素から撮像素子３２の中央部に対応する画素に向かって、累積測光値差分データが検索されて、エッジ検出閾値算出部４７により算出された閾値Ｍを超える画素位置が、それぞれエリア限界左端およびエリア限界右端として特定される。
【００４０】
なお、本実施の形態において、エリア検出閾値算出部４７における閾値Ｍの算出方法については、上述に限られず、任意に変更することができる。また、必ずしもエリア限界範囲を特定する必要はなく、この場合は、制御ユニット４０には、エリア検出閾値算出部４７およびエリア限界範囲特定部４８は備えられていなくてもよい。
【００４１】
エッジ特定部４９は、累積測光値差分算出部４６で算出された累積測光値差分データに基づいて、撮像素子３２における所定の複数画素分だけ離隔した画素間の累積測光値差分の差分を順次算出し、写真フィルム２のエッジ（駒画像とその周辺部との境界位置）を特定するためのものである。なお、本実施の形態では、２０画素分だけ離隔した画素間の累積測光値差分の差分が算出されて、予め設定された所定の閾値Ｎと比較されて、当該差分の絶対値が閾値Ｎの絶対値よりも大きい場合に、それに対応する画素位置が写真フィルム２のエッジであると判断される。
【００４２】
ここで、エッジ特定部４９において、累積測光値差分の差分が算出される場合には、撮像素子３２の中央部側に対応する画素の累積測光値差分から、その両端部側に対応する画素の累積測光値差分が差し引かれる。そして、このとき算出された累積測光値差分の差分が、上述の撮像素子３２の中央部側に対応する画素における累積測光値差分の差分とみなされる。従って、エッジ特定部４９では、撮像素子３２の中央部側に対応する画素から撮像素子３２の両端部側に対応する画素に向かって（撮像素子３２の中央部から両端部に向かって）エッジが検索されることになる。
【００４３】
つまり、例えば、第１画素と第２５００画素との間の各画素の累積測光値差分の差分について考えると、第ｖ画素（ｕ＜ｖ＜２５００）の累積測光値差分から、第ｕ画素（１＜ｕ＜２５００）の累積測光値差分が差し引かれることによって、第ｖ画素の累積測光値差分の差分が算出される。なお、エッジ特定部４９での累積測光値差分の差分の算出においては、撮像素子３２の中央部側に対応する画素、および、それと２０画素分だけ離隔した両端部側に対応する画素の両方が、撮像素子３２の両端部側に１画素ずつずらされることによって各差分が算出される。
【００４４】
このように、エッジ特定部４９では、写真フィルム２の幅方向左端部近傍の駒画像のエッジ（エリア左端画素）と、写真フィルム２の幅方向右端部近傍の駒画像のエッジ（エリア右端画素）とが別々に特定される。そして、エリア左端画素とエリア右端画素との間に位置する複数の画素を含む領域が、画素エリアとして特定される。
【００４５】
調整部５０は、エッジ特定部４９により特定された画素エリアに含まれる画素の測光値データに基づいて、本スキャニングにおける読み取り特性の調整をするためのものである。従って、本スキャニングでは、調整部５０によって、撮像素子３２についての例えば「ゲイン調整」、「ダークレベル調整」、「シェーディング調整」などの読取特性の調整が行われた上で、写真フィルム２に記録された駒画像を適正に読み取ることが可能となる。
【００４６】
次に、本実施の形態に係る画像読取装置１のおける画素エリアの切り出し処理の手順について、図３を参照して説明する。図３は、画素エリアの切り出し処理の手順を示すフローチャートを示す図である。図４〜図１３は、画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【００４７】
ステップＳ１において、測光値検出部４１によって、写真フィルム２の幅方向に沿ったライン状の領域がラインスキャンされる。このとき、撮像素子３２では、光源１０から照射され、写真フィルム２の当該領域、透過用スリット２６および撮像用スリット３５を順に透過した光に基づいて、赤、緑、青の３色に対応する測光値がそれぞれ検出される。そして、検出された測光値データは測光値記憶部４２に記憶される。なお、本実施の形態では、簡易雑音除去のために、上述の３色に対応する測光値が平均化され、この平均化されたラインデータが画素エリアの切り出し処理に用いられる。
【００４８】
このようにして得られるラインデータ（判定用ラインデータ）は、図４に示すように、撮像素子３２の長手方向に沿って配列された複数（第１画素から第５０００画素の５０００個）の画素位置に対応する測光値が、撮像素子３２の両端部近傍に対応する画素においては比較的小さく、それらの間に対応する画素（写真フィルム２の駒画像に対応する画素）においては比較的大きな値となる。すなわち、図４では、第１画素近傍および第５０００画素近傍における測光値がほとんど０となって、両者の間に対応する複数の画素において測光値が比較的大きくなっている。
【００４９】
なお、図４では、第１画素近傍における測光値（図４では破線で囲む範囲４ａに対応する）が、フィルムキャリア２０の透過用スリット２６の外縁に対応する部分の塗装ずれによって、判定用ラインデータの波形が乱れている。また、第１画素と第５０００画素との間の中心位置近傍の画素の測光値（図４では破線で囲む範囲４ｂに対応する）が、フィルムキャリア２０上のゴミによって、局部的に低下している。
【００５０】
ステップＳ２では、測光値閾値算出部４３によって、写真フィルム２の未使用エリアを除去する際の閾値を算出するために判定用ラインデータの中央値が求められる。図５は、判定用ラインデータについてのヒストグラムであって、その中央値はｘ（０＜ｘ＜４０９５）となっている。
【００５１】
そして、ステップＳ３において、測光値閾値算出部４３によって、上述で求めた中央値ｘに所定倍率ｋ１（０＜ｋ１＜１）を乗じることによって、閾値Ｘが求められる。そして、ステップＳ４では、測光値データ除去部４４によって、図４において、ステップＳ３で求められた閾値Ｘよりも小さい測光値を有する画素位置が未使用エリアに対応するものとみなされて、当該画素位置の測光値が、図６に示すように、０にされる。
【００５２】
次に、ステップＳ５では、上述の塗装ずれやゴミなどの影響が現れない波形を作成するために、累積測光値算出部４５によって、図７に示すようにして、判定用ラインデータに基づいて、撮像素子３２の両端部に対応する画素から撮像素子３２の中央部に対応する画素に向かって（撮像素子３２の両端部から中央部に向かって）、累積測光値データが算出される。すると、図８に示すような累積測光値データを示す波形データが得られる。このように、図８のグラフにおける縦軸のスケールは、図７のグラフにおける縦軸のスケールよりも大きくなるため、フィルムキャリア２０における異物の影響が目立たなくなる。
【００５３】
そして、ステップＳ６では、光源むらのおおまかな形状を表した波形を生成するために、累積測光値差分算出部４６によって、図９に示すようにして、図８の累積測光値データに基づいて、撮像素子３２の中央部に対応する画素から撮像素子３２の両端部に対応する画素に向かって（撮像素子３２の中央部から両端部に向かって）、２０個の画素分だけ離隔した画素間の累積測光値の差分が求められる。すると、図１０に示すような累積測光値差分データを示す波形データが得られる。このように、図１０においては、上述の塗装ずれやゴミの影響による波形の乱れがほぼ完全に取り除かれている。
【００５４】
ステップＳ７では、エッジ検出閾値算出部４７によって、写真フィルム２の駒画像の両端部に対応するエリア限界位置を特定する際の閾値を算出するために累積測光値差分データの中央値ｍが求められる。そして、ステップＳ８において、エッジ検出閾値算出部４７によって、上述で求めた中央値ｍに所定倍率ｋ２（０＜ｋ２＜１）を乗じることによって、閾値Ｍが求められる。
【００５５】
ステップＳ９において、エリア限界範囲特定部４８によって、図１１に示すように、エリア限界範囲が特定される。つまり、エリア限界範囲左端およびエリア限界右端がそれぞれ特定されることになる。
【００５６】
また、ステップＳ１０では、ステップＳ９で特定されたエリア限界範囲からエリア中央近傍の画素位置が、次に示すような式によって求められる
中央画素＝（エリア限界左端画素＋エリア限界右端画素）／２
【００５７】
そして、ステップＳ１１では、図１０の波形データにおいて、エッジ特定部４９によって、まず最初に、図１２に示すように、中央画素からエリア左端方向にエリア左端画素の探索が行われる。ここで、中央画素側の画素の測光値差分データからエリア限界左端方向に２０画素分だけ離隔した各画素の測光値差分データの差分が順に算出されて、その差分が所定の閾値Ｎを超えた場合に、当該画素位置が駒画像の左端のエッジであって、エリア左端画素と判断される。
【００５８】
引き続き、ステップＳ１２では、エッジ特定部４９によって、図１３に示すように、中央画素からエリア右端方向にエリア右端画素の探索が行われる。ここで、中央画素側の画素の測光値差分データからエリア限界右端方向に２０画素分だけ離隔した各画素の測光値差分データの差分が順に算出されて、その差分が所定の閾値Ｎを超えた場合に、当該画素位置が駒画像の右端のエッジであって、エリア右端画素と判断される。このようにして、特定されたエリア左端画素とエリア右端画素との間の画素位置が調整用エリアとなる。
【００５９】
ここで、ステップＳ１１、Ｓ１２のエリア左端画素の探索およびエリア右端画素の探索において、探索不能の場合、および、エリア限界左端画素またはエリア限界右端画素を超えた場合には、「エリア限界左端画素＋１０画素」または「エリア限界右端画素−１０画素」が、それぞれ「エリア限界左端画素」または「エリア限界右端画素」とみなされる。
【００６０】
以上のように、本実施の形態の画像読取装置１においては、撮像素子３２において、写真フィルムおよびフィルムキャリア２０の透過用スリット２６を透過した光を受光して得られた測光値データに基づいて、フィルムキャリア２０の有効エリアを適正に特定することができる。従って、フィルムキャリア２０の透過用スリット２６の寸法精度が悪かったり、フィルムキャリア２０において塗装ずれがある場合に、画素エリアの切り出し位置がずれてしまうことが抑制されると共に、フィルムキャリア２０上にゴミなどがある場合に、そのゴミによって画素エリアが誤って切り出されることが抑制される。その結果、読取特性の調整に用いられる画素エリアが適正に特定されるようになる。
【００６１】
なお、本実施の形態で得られる効果は、フィルムキャリア２０が交換されたときに、本体３０に対するフィルムキャリア２０の位置が適正な位置からずれた場合においても得ることができる。つまり、本体３０に取り付けられたフィルムキャリア２０の透過用スリット２６と本体３０の撮像領域Ａとのそれぞれの長手方向の中心位置がずれた場合においても、両者の位置のずれをハードとして（例えば本体３０に対してフィルムキャリア２０を取り付け直すなどして）調整しないでも、適正に画素エリアを特定することができる。
【００６２】
以上、本発明の好適な実施の形態について説明したが、本発明は上述の実施の形態に限られるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいて、様々な設計変更を行うことが可能なものである。例えば、上述の実施の形態では、エッジ特定部４９において、撮像素子３２の中央部側に対応する画素から撮像素子３２の両端部側に対応する画素に向かって（撮像素子３２の中央部から両端部に向かって）エッジが検索される場合について説明しているが、これに限らず、撮像素子３２の両端部側に対応する画素から撮像素子３２の中央部側に対応する画素に向かって（撮像素子３２の両端部から中央部に向かって）エッジが検索されてもよいし、撮像素子３２の一端部側に対応する画素から撮像素子３２の他端部に対応する画素に向かって（撮像素子３２の一端部から他端部に向かって）エッジが検索されてもよい。
【００６３】
また、上述の実施の形態では、エッジ特定部４９における累積測光値差分の差分の算出について、撮像素子３２の中央部側に対応する画素の累積測光値差分から、その両端部側に対応する画素の累積測光値差分が差し引かれて算出された累積測光値差分の差分が、上述の撮像素子３２の中央部側に対応する画素における累積測光値差分の差分とみなされる場合について説明しているが、これに限らず、算出された差分が、上述の撮像素子３２の両端部側に対応する画素における累積測光値差分の差分とみなされてもよい。
【００６４】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１によると、撮像素子において、写真フィルムおよびフィルムキャリアのスリットを透過した光を受光して得られた測光値データに基づいて、フィルムキャリアの有効エリアを適正に特定することができる。従って、フィルムキャリアのスリットの寸法精度が悪かったり、フィルムキャリアにおいて塗装ずれがある場合に、画素エリアの切り出し位置がずれてしまうことが抑制されると共に、フィルムキャリア上にゴミなどがある場合に、そのゴミによって画素エリアが誤って切り出されることが抑制される。その結果、読取特性の調整に用いられる画素エリアが適正に特定されるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施の形態に係る画像読取装置の部分的な概略構成を示す図である。
【図２】図１の画像読取装置１の主要部についての簡易ブロック図である。
【図３】画素エリアの切り出し処理の手順を示すフローチャートを示す図である。
【図４】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【図５】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【図６】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【図７】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【図８】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【図９】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【図１０】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【図１１】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【図１２】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【図１３】画素エリアの切り出し処理の手順を説明するための図である。
【符号の説明】
１　画像読取装置
２　写真フィルム
１０　光源部
２０　フィルムキャリア
２６　透過用スリット（スリット）
３０　本体
３２　撮像素子
４１　　測光値検出部（測光値検出手段）
４２　　測光値記憶部
４３　　測光値閾値算出部
４４　　測光値データ除去部
４５　　累積測光値算出部（累積測光値算出手段）
４６　　累積測光値差分算出部（差分算出手段）
４７　　エリア検出閾値算出部
４８　　エリア限界範囲特定部
４９　　エッジ特定部（判断手段）
５０　　調整部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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