(57)【要約】【課題】この発明は、マルチパルス記録を行なう場合に記録動作を行ないながらＬＤパワーの補正を行うことができないという課題を解決しようとするものである。【解決手段】この発明は、光学的情報記録媒体１０にあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、記録動作を中断した直前の記録状態を測定し、この記録状態の測定結果から光学的情報記録媒体１０に次に記録を行なうときの記録パワーを決定し、光学的情報記録媒体１０に記録動作を中断した直後から前記決定した記録パワーで記録を開始するものである。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的情報記録媒体にレーザ光源からの光によりあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、この光学的情報記録媒体上の前記記録動作を中断した直前の記録状態を測定し、この記録状態の測定結果から前記光学的情報記録媒体に次に記録を行なうときの記録パワーを決定し、前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直後から前記決定した記録パワーで記録を開始することを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項２】
請求項１記載の光学的情報記録方法において、前記あらかじめ決められたデータ量は、前記あらかじめ決められたデータ量の記録を完了するのに必要となる時間が前記レーザ光源の温度上昇により記録品質が悪化する時間よりも十分に小さいことを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項３】
請求項１記載の光学的情報記録方法において、前記あらかじめ決められたデータ量は、前記あらかじめ決められたデータ量が占める前記光学的情報記録媒体上の半径方向の長さが前記光学的情報記録媒体の記録層の感度変動により記録品質が悪化する長さよりも十分小さいことを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項４】
請求項１記載の光学的情報記録方法において、前記記録状態の測定は、前記記録動作を中断した直後の記録のためのシーク時に行なうことを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項５】
請求項１記載の光学的情報記録方法において、一回の記録パワー補正時に更新する記録パワー量を制限することを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項６】
請求項１記載の光学的情報記録方法において、前記記録状態の測定は、再生信号のアシンメトリを測定して行うことを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項７】
請求項１記載の光学的情報記録方法において、記録状態の測定は、再生信号の変調度を測定して行うことを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項８】
光学的情報記録媒体の記録状態を測定する記録状態測定手段と、この記録状態測定手段の測定結果から前記光学的情報記録媒体の次の記録領域に記録を行う記録パワーを算出する記録パワー演算手段と、この記録パワー演算手段により算出された記録パワーに従ってレーザ光源を制御するレーザ光源制御手段と、あらかじめ決められたデータ量のデータが連続して前記光学的情報記録媒体に記録されたときに記録動作を中断し、前記光学的情報記録媒体の前記記録動作を中断した直前の記録状態を前記記録状態測定手段で測定し、その測定結果から前記記録パワー演算手段と前記レーザ光源制御手段とで決められた記録パワーで前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直後から記録を開始させる記録制御手段とを備えたことを特徴とする光学的情報記録装置。
【請求項９】
請求項８記載の光学的情報記録装置を内蔵したことを特徴とする光学的情報処理装置。
【請求項１０】
光学的情報記録媒体にあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、前記光学的情報記録媒体の前記記記録動作を中断した直前の記録状態を測定して記録品質を測定し、この記録品質の測定結果から前記光学的情報記録媒体に次に記録を行なう記録パワーを決定し、前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直後から前記決定した記録パワーで記録を開始することを特徴とする光学的情報記録方法であって、前記記録品質の測定は前記記録動作を中断した直後の記録を再開する際のシーク時に行ない、このシーク時に記録品質を測定するときには読み取り品質が最良となるように設定を行ない、記録品質測定後に記録品質が最良となる設定を行なうことを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項１１】
請求項１０記載の光学的情報記録方法において、前記記録品質を測定するときのシーク時にはフォーカスサーボのフォーカス位置のオフセットを読み取り品質が最良となるように設定し、前記記録品質測定後にはフォーカス位置のオフセットを記録品質が最良となるように設定することを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項１２】
請求項１０記載の光学的情報記録方法において、前記光学的情報記録媒体のチルト補正を行い、前記記録品質を測定するときのシーク時に前記チルト補正のオフセット量を読み取り品質が最良となるように設定し、前記記録品質測定後には前記チルト補正のオフセット量を記録品質が最良となるように設定することを特徴とする情報記録方法。
【請求項１３】
光学的情報記録媒体の記録状態を測定して記録品質を測定する記録状態測定手段と、この記録状態測定手段の測定結果から前記光学的情報記録媒体の次の記録領域にレーザ光源からの光により記録を行うときの記録パワーを算出する記録パワー演算手段と、この記録パワー演算手段により算出された記録パワーに従ってレーザ光源を制御するレーザ光源制御手段と、前記光学的情報記録媒体にあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直前の記録状態を前記記録状態測定手段で測定し、その測定結果から前記記録パワー演算手段と前記レーザ光源制御手段とで決められた記録パワーで前記光学的情報記録媒体に記録動作を中断した直後から記録を開始させる記録制御手段と、フォーカスサーボのフォーカス位置のオフセットの設定を行なう手段とを備え、前記記録品質を測定するときのシーク時にはフォーカスサーボのフォーカス位置のオフセットを読み取り品質が最良となるように設定し、前記記録品質測定後にはフォーカス位置のオフセット設定を記録品質が最良となるように設定することを特徴とする光学的情報記録装置。
【請求項１４】
光学的情報記録媒体の記録状態を測定して記録品質を測定する記録状態測定手段と、この記録状態測定手段の測定結果から前記光学的情報記録媒体の次の記録領域にレーザ光源からの光により記録を行うときの記録パワーを算出する記録パワー演算手段と、この記録パワー演算手段により算出された記録パワーに従ってレーザ光源を制御するレーザ光源制御手段と、前記光学的情報記録媒体にあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直前の記録状態を前記記録状態測定手段で測定し、その測定結果から前記記録パワー演算手段と前記レーザ光源制御手段とで決められた記録パワーで前記光学的情報記録媒体に記録動作を中断した直後から記録を開始させる記録制御手段と、前記光学的情報記録媒体のチルトを補正するチルト補正系のオフセットの設定を行う手段とを備え、前記記録品質を測定するときのシーク時には前記チルト補正系のオフセット量を読み取り品質が最良となるように設定し、前記記録品質測定後には前記チルト補正系のオフセット量を記録品質が最良となるように設定することを特徴とする光学的情報記録装置。
【請求項１５】
光学的に光ディスクに対する情報の再生及び記録の少なくとも一方を行なう光ディスク装置であって、光ディスクから情報を読み出す光ピックアップと、この光ピックアップから出力される信号からフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段と、オフセットを生成するオフセット生成手段と、前記フォーカスエラー信号生成手段からのフォーカスエラー信号と前記オフセット生成手段からのオフセットを加算して出力する加算手段と、この加算手段の出力信号が入力されフォーカスサーボ系のゲイン、位相特性を調整するフィルタ回路と、このフィルタ回路の出力信号に従い前記光ピックアップ上に配置されたフォーカスアクチュエータを駆動するドライバ回路とを備え、シーク時には最適なフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定するとともに、タイマーの時間設定を行なった後にシークを完了し、シーク後の記録又は再生が行なわれているときには前記タイマーの設定時間が経過したかどうかを監視し、前記タイマーの設定時間が経過していたら記録又は再生を停止し、その停止した位置へ再びシークを行ない記録又は再生を再開することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１６】
請求項１５記載の光ディスク装置において、前記タイマーへ設定する時間は、記録中又は再生中に前記光ピックアップが光ディスクの半径方向に移動することにより変動する、最良となるフォーカスオフセットの変動量が記録品質又は再生品質に影響を与えないことを補償できる時間とすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１７】
請求項１５記載の光ディスク装置において、前記タイマーへ設定する時間は、最良となるフォーカスオフセットの変化量により決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１８】
請求項１５記載の光ディスク装置において、あらかじめ測定しておいた、光ディスク上のほぼ等間隔をおいた複数点の半径位置において記録品質が最良となるフォーカスオフセット量を蓄えた記憶手段を備え、実際に記録又は再生を行なうときにフォーカスエラー信号をオフセットさせるフォーカスオフセット量は前記記憶手段にから読み出して前記オフセット生成手段に設定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１９】
請求項１５記載の光ディスク装置において、光ディスクのマウント時に内周で記録品質又は再生品質が最良となるフォーカスオフセットを測定しておき、光ディスクの最内周からフォーカスオフセットの変化が大きくなる所定の半径位置までは光ディスクの内周で測定したフォーカスオフセットを前記オフセット生成手段に設定し、光ディスクの最外周では光ディスクの内周で測定したフォーカスオフセット値から固定量シフトさせたフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定し、フォーカスオフセットの変化が大きくなる光ディスクの前記所定の半径位置から最外周までは一次近似で求めたフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２０】
請求項１５記載の光ディスク装置において、光ディスクのマウント時に内周と外周で記録品質又は再生品質が最良となるフォーカスオフセットを測定しておき、光ディスクの最内周からフォーカスオフセットの変化が大きくなる所定の半径位置までは光ディスクの内周で測定したフォーカスオフセットを前記オフセット生成手段に設定し、光ディスクの最外周では光ディスクの外周で測定したフォーカスオフセットを前記オフセット生成手段に設定し、フォーカスオフセットの変化が大きくなる光ディスクの前記所定の半径位置から最外周までは一次近似で求めたフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２１】
請求項１９または２０記載の光ディスク装置において、前記光ピックアップからの再生信号のジッタを測定する手段を備え、最良となるフォーカスオフセットは前記再生信号のジッタが最小となるように調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２２】
請求項１９または２０記載の光ディスク装置において、前記光ピックアップからの再生信号の振幅を測定する手段を備え、最良となるフォーカスオフセットは前記再生信号の振幅が最大となるように調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２３】
請求項２１または２２記載の光ディスク装置において、記録を行なう光ディスクが未記録の光ディスクであった場合、光ディスクの試し書き領域に記録を行ない、その試し書きを行なった領域から再生を行って、再生状態が最良となるようにフォーカスオフセットを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２４】
請求項２１または２２記載の光ディスク装置において、記録を行なう光ディスクが未記録の光ディスクであった場合、光ディスクの試し書き領域に記録を行ない、その試し書きを行なった領域から再生を行って、再生状態が最良となるようにフォーカスオフセットを調整し、記録を行なう光ディスクが既記録の光ディスクであった場合、最良となるフォーカスずらし量は光ディスクの記録済み領域に対する前記再生信号の振幅が最大となるように調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２５】
請求項１９または２０記載の光ディスク装置において、ウォブル信号の振幅を測定する手段を備え、最良となるフォーカスオフセットはウォブル信号の振幅が最大となるように調整することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光学的情報記録方法、光学的情報記録装置、光学的情報処理装置及び光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクなどの光学的情報記録媒体の全面に渡って精度よく情報の記録を行なう場合にはＯＰＣによる初期の半導体レーザ（以下ＬＤという）発光パワーの決定と、その後のＲＯＰＣ（ランニングＯＰＣ）による温度変動、および記録膜の感度変動に追従したＬＤ発光パワー変動が必要となる。
ここに、ＯＰＣは、光学的な情報記録再生装置において、光学的情報記録媒体に情報の記録を行なう前に光学的情報記録媒体のＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）に試し書きを行ない、その結果から実際の情報記録を行なう時の最適なＬＤ発光パワーを決定する。
【０００３】
光学的情報記録媒体は、ＯＰＣ後に実際の情報記録を行なうが、記録中にもＬＤの効率の変動、ＬＤの波長の変動、光学的情報記録媒体の記録膜の感度変動などによりＬＤの発光パワーを最適に制御を行なう必要がある。このために、ＲＯＰＣが行なわれる。これは、記録中の光学的情報記録媒体の反射光強度の最良値をＯＰＣ時に求めておき、実際の情報記録中に光学的情報記録媒体に生成されるマークの反射光強度がその最良値と同じになるようにＬＤ発光パワーにフィードバックを行うものである。
特許文献１記載の光ディスク記録再生装置などは、このＲＯＰＣ方法により記録中のＬＤ発光パワーの補正を行っている。
【０００４】
また、特許文献２記載の装置では、フォーカスエラー信号に最適なオフセットを与えることにより再生性能を上げている。
光ディスク装置では、光ピックアップでフォーカスエラー信号（以下ＦＥ信号という）を検出し、このＦＥ信号がゼロになるように対物レンズのフォーカス方向の位置制御（対物レンズのフォーカス位置制御）が行なわれる。通常、対物レンズのフォーカス制御位置は、光ピックアップの特性により検出されたＦＥ信号がゼロになる位置よりもわずかにシフトした位置の方が記録特性・再生特性がよい。このため、ＦＥ信号にオフセットを与えてその信号がゼロになるように対物レンズのフォーカス方向の位置制御を行うことにより再生品質、記録品質を高めることがよく行なわれる。
【０００５】
【特許文献１】
特開平０９−２７０１２８号公報
【特許文献２】
特開２０００−０５７６０４号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記ＲＯＰＣ方法では、光学的情報記録媒体に矩形波で記録を行なっている場合には光学的情報記録媒体の反射光強度の測定を行なうことができるが、マルチパルスでＬＤを駆動して光学的情報記録媒体に記録を行なうマルチパルス記録の場合には光学的情報記録媒体の反射光強度をうまく取得できない。このため、記録動作を行ないながらＬＤ発光パワーの補正を行うことができない。
【０００７】
しかしながら、マルチパルス記録が必要となる場合がある。矩形波記録時よりマルチパルス記録時の方がＬＤ発光パワーのマージンが広く取れることが多い。このため、光学的情報記録媒体に高密度記録あるいは高速記録を行なう場合にはＬＤ発光パワーマージンが非常に狭いためにマルチパルス記録が必要になることが多い。
【０００８】
また、上記光ディスク装置では、光ディスクの特性、光ディスク装置の特性が光ディスクの半径位置により異なるために光ディスクの半径位置により再生品質、記録品質が変化することになる。つまり、光ディスクの半径位置により記録品質、再生品質が最良となるフォーカスオフセットが異なる。
【０００９】
本発明は、マルチパルス記録を使用する場合でも記録時に記録パワーを補正して情報記録媒体の全面にわたり高い記録品質を提供することができる情報記録方法、情報記録装置及び情報処理装置を提供することを目的とする。
さらに、本発明は、光ディスクの各半径位置で高い再生品質または記録品質を持つ光ディスク装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１に係る発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光源からの光によりあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、この光学的情報記録媒体上の前記記録動作を中断した直前の記録状態を測定し、この記録状態の測定結果から前記光学的情報記録媒体に次に記録を行なうときの記録パワーを決定し、前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直後から前記決定した記録パワーで記録を開始することを特徴とする。
【００１１】
請求項２に係る発明は、請求項１記載の光学的情報記録方法において、前記あらかじめ決められたデータ量は、前記あらかじめ決められたデータ量の記録を完了するのに必要となる時間が前記レーザ光源の温度上昇により記録品質が悪化する時間よりも十分に小さいことを特徴とする。
【００１２】
請求項３に係る発明は、請求項１記載の光学的情報記録方法において、前記あらかじめ決められたデータ量は、前記あらかじめ決められたデータ量が占める前記光学的情報記録媒体上の半径方向の長さが前記光学的情報記録媒体の記録層の感度変動により記録品質が悪化する長さよりも十分小さいことを特徴とする。
【００１３】
請求項４に係る発明は、請求項１記載の光学的情報記録方法において、前記記録状態の測定は、前記記録動作を中断した直後の記録のためのシーク時に行なうことを特徴とする。
【００１４】
請求項５に係る発明は、請求項１記載の光学的情報記録方法において、一回の記録パワー補正時に更新する記録パワー量を制限することを特徴とする。
【００１５】
請求項６に係る発明は、請求項１記載の光学的情報記録方法において、前記記録状態の測定は、再生信号のアシンメトリを測定して行うことを特徴とする。
【００１６】
請求項７に係る発明は、請求項１記載の光学的情報記録方法において、記録状態の測定は、再生信号の変調度を測定して行うことを特徴とする。
【００１７】
請求項８に係る発明は、光学的情報記録媒体の記録状態を測定する記録状態測定手段と、この記録状態測定手段の測定結果から前記光学的情報記録媒体の次の記録領域に記録を行う記録パワーを算出する記録パワー演算手段と、この記録パワー演算手段により算出された記録パワーに従ってレーザ光源を制御するレーザ光源制御手段と、あらかじめ決められたデータ量のデータが連続して前記光学的情報記録媒体に記録されたときに記録動作を中断し、前記光学的情報記録媒体の前記記録動作を中断した直前の記録状態を前記記録状態測定手段で測定し、その測定結果から前記記録パワー演算手段と前記レーザ光源制御手段とで決められた記録パワーで前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直後から記録を開始させる記録制御手段とを備えたものである。
【００１８】
請求項９に係る発明は、請求項８記載の光学的情報記録装置を内蔵したものである。
【００１９】
請求項１０に係る発明は、光学的情報記録媒体にあらかじめ決められたデータ量が連続して記録されたときに記録動作を中断し、前記光学的情報記録媒体の前記記記録動作を中断した直前の記録状態を測定して記録品質を測定し、この記録品質の測定結果から前記光学的情報記録媒体に次に記録を行なう記録パワーを決定し、前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直後から前記決定した記録パワーで記録を開始することを特徴とする光学的情報記録方法であって、前記記録品質の測定は前記記録動作を中断した直後の記録を再開する際のシーク時に行ない、このシーク時に記録品質を測定するときには読み取り品質が最良となるように設定を行ない、記録品質測定後に記録品質が最良となる設定を行なうことを特徴とする。
【００２０】
請求項１１に係る発明は、請求項１０記載の光学的情報記録方法において、前記記録品質を測定するときのシーク時にはフォーカスサーボのフォーカス位置のオフセットを読み取り品質が最良となるように設定し、前記記録品質測定後にはフォーカス位置のオフセットを記録品質が最良となるように設定することを特徴とする。
【００２１】
請求項１２に係る発明は、請求項１０記載の光学的情報記録方法において、前記光学的情報記録媒体のチルト補正を行い、前記記録品質を測定するときのシーク時に前記チルト補正のオフセット量を読み取り品質が最良となるように設定し、前記記録品質測定後には前記チルト補正のオフセット量を記録品質が最良となるように設定することを特徴とする。
【００２２】
請求項１３に係る発明は、光学的情報記録媒体の記録状態を測定して記録品質を測定する記録状態測定手段と、この記録状態測定手段の測定結果から前記光学的情報記録媒体の次の記録領域にレーザ光源からの光により記録を行うときの記録パワーを算出する記録パワー演算手段と、この記録パワー演算手段により算出された記録パワーに従ってレーザ光源を制御するレーザ光源制御手段と、前記光学的情報記録媒体にあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直前の記録状態を前記記録状態測定手段で測定し、その測定結果から前記記録パワー演算手段と前記レーザ光源制御手段とで決められた記録パワーで前記光学的情報記録媒体に記録動作を中断した直後から記録を開始させる記録制御手段と、フォーカスサーボのフォーカス位置のオフセットの設定を行なう手段とを備え、前記記録品質を測定するときのシーク時にはフォーカスサーボのフォーカス位置のオフセットを読み取り品質が最良となるように設定し、前記記録品質測定後にはフォーカス位置のオフセット設定を記録品質が最良となるように設定するものである。
【００２３】
請求項１４に係る発明は、光学的情報記録媒体の記録状態を測定して記録品質を測定する記録状態測定手段と、この記録状態測定手段の測定結果から前記光学的情報記録媒体の次の記録領域にレーザ光源からの光により記録を行うときの記録パワーを算出する記録パワー演算手段と、この記録パワー演算手段により算出された記録パワーに従ってレーザ光源を制御するレーザ光源制御手段と、前記光学的情報記録媒体にあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、前記光学的情報記録媒体に前記記録動作を中断した直前の記録状態を前記記録状態測定手段で測定し、その測定結果から前記記録パワー演算手段と前記レーザ光源制御手段とで決められた記録パワーで前記光学的情報記録媒体に記録動作を中断した直後から記録を開始させる記録制御手段と、前記光学的情報記録媒体のチルトを補正するチルト補正系のオフセットの設定を行う手段とを備え、前記記録品質を測定するときのシーク時には前記チルト補正系のオフセット量を読み取り品質が最良となるように設定し、前記記録品質測定後には前記チルト補正系のオフセット量を記録品質が最良となるように設定するものである。
【００２４】
請求項１５に係る発明は、光学的に光ディスクに対する情報の再生及び記録の少なくとも一方を行なう光ディスク装置であって、光ディスクから情報を読み出す光ピックアップと、この光ピックアップから出力される信号からフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段と、オフセットを生成するオフセット生成手段と、前記フォーカスエラー信号生成手段からのフォーカスエラー信号と前記オフセット生成手段からのオフセットを加算して出力する加算手段と、この加算手段の出力信号が入力されフォーカスサーボ系のゲイン、位相特性を調整するフィルタ回路と、このフィルタ回路の出力信号に従い前記光ピックアップ上に配置されたフォーカスアクチュエータを駆動するドライバ回路とを備え、シーク時には最適なフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定するとともに、タイマーの時間設定を行なった後にシークを完了し、シーク後の記録又は再生が行なわれているときには前記タイマーの設定時間が経過したかどうかを監視し、前記タイマーの設定時間が経過していたら記録又は再生を停止し、その停止した位置へ再びシークを行ない記録又は再生を再開するものである。
【００２５】
請求項１６に係る発明は、請求項１５記載の光ディスク装置において、前記タイマーへ設定する時間は、記録又は再生中に前記光ピックアップが光ディスクの半径方向に移動することにより変動する、最良となるフォーカスオフセットの変動量が記録品質又は再生品質に影響を与えないことを補償できる時間とするものである。
【００２６】
請求項１７に係る発明は、請求項１５記載の光ディスク装置において、前記タイマーへ設定する時間は、最良となるフォーカスオフセットの変化量により決定するものである。
【００２７】
請求項１８に係る発明は、請求項１５記載の光ディスク装置において、あらかじめ測定しておいた、光ディスク上のほぼ等間隔をおいた複数点の半径位置において記録品質が最良となるフォーカスオフセット量を蓄えた記憶手段を備え、実際に記録又は再生を行なうときにフォーカスエラー信号をオフセットさせるフォーカスオフセット量は前記記憶手段にから読み出して前記オフセット生成手段に設定するものである。
【００２８】
請求項１９に係る発明は、請求項１５記載の光ディスク装置において、光ディスクのマウント時に内周で記録品質又は再生品質が最良となるフォーカスオフセットを測定しておき、光ディスクの最内周からフォーカスオフセットの変化が大きくなる所定の半径位置までは光ディスクの内周で測定したフォーカスオフセットを前記オフセット生成手段に設定し、光ディスクの最外周では光ディスクの内周で測定したフォーカスオフセット値から固定量シフトさせたフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定し、フォーカスオフセットの変化が大きくなる光ディスクの前記所定の半径位置から最外周までは一次近似で求めたフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定するものである。
【００２９】
請求項２０に係る発明は、請求項１５記載の光ディスク装置において、光ディスクのマウント時に内周と外周で記録品質又は再生品質が最良となるフォーカスオフセットを測定しておき、光ディスクの最内周からフォーカスオフセットの変化が大きくなる所定の半径位置までは光ディスクの内周で測定したフォーカスオフセットを前記オフセット生成手段に設定し、光ディスクの最外周では光ディスクの外周で測定したフォーカスオフセットを前記オフセット生成手段に設定し、フォーカスオフセットの変化が大きくなる光ディスクの前記所定の半径位置から最外周までは一次近似で求めたフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定するものである。
【００３０】
請求項２１に係る発明は、請求項１９または２０記載の光ディスク装置において、前記光ピックアップからの再生信号のジッタを測定する手段を備え、最良となるフォーカスオフセットは前記再生信号のジッタが最小となるように調整するものである。
【００３１】
請求項２２に係る発明は、請求項１９または２０記載の光ディスク装置において、前記光ピックアップからの再生信号の振幅を測定する手段を備え、最良となるフォーカスオフセットは前記再生信号の振幅が最大となるように調整するものである。
【００３２】
請求項２３に係る発明は、請求項２１または２２記載の光ディスク装置において、記録を行なう光ディスクが未記録の光ディスクであった場合、光ディスクの試し書き領域に記録を行ない、その試し書きを行なった領域から再生を行って、再生状態が最良となるようにフォーカスオフセットを調整するものである。
【００３３】
請求項２４に係る発明は、請求項２１または２２記載の光ディスク装置において、記録を行なう光ディスクが未記録の光ディスクであった場合、光ディスクの試し書き領域に記録を行ない、その試し書きを行なった領域から再生を行って、再生状態が最良となるようにフォーカスオフセットを調整し、記録を行なう光ディスクが既記録の光ディスクであった場合、最良となるフォーカスずらし量は光ディスクの記録済み領域に対する前記再生信号の振幅が最大となるように調整するものである。
【００３４】
請求項２５に係る発明は、請求項１９または２０記載の光ディスク装置において、ウォブル信号の振幅を測定する手段を備え、最良となるフォーカスオフセットはウォブル信号の振幅が最大となるように調整するものである。
【００３５】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態１は、光学的情報記録媒体としての光ディスクに対する記録動作を一旦中断し、その中断直前の記録状態を光ディスクから読み出してその結果を記録再開時にフィードバックすることによりレーザ光源としてのＬＤの発光パワー制御を行なう。本実施形態１は、光学的情報記録装置としての光ディスク装置の一形態であり、図２を用いて記録動作の説明を行なう。
【００３６】
図２において、Ａは光ディスク上の情報記録を行なう範囲である。本実施形態１では、Ａの範囲に情報記録を行なう場合には、Ａの範囲をＡ１、Ａ２、Ａ３の３つの部分に分けて情報記録を行なう。まず、Ａ１の領域に対する情報記録が完了したときに記録動作を一旦中断し、Ａ１の領域の一番最後または一番最後に比較的近い領域Ｂ１に記録したＲＦ信号を光ピックアップにより読み出してそのアシンメトリを測定する。
【００３７】
アシンメトリを表す値としてはβとよばれる値が使用される。図５を用いてβについて説明を行なう。βは、光ピックアップから得られる、ＡＣカップリングされたＲＦ信号（ＡＣカップリング部を介して得られるＲＦ信号）のピークレベルをＡ１、ボトムレベルをＡ２としたとき、
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）
で表わされる。
【００３８】
ＲＦ信号のβが０の時の記録パワーが最適な記録パワー（Ｐｐｏ）とされるが、実際には光ピックアップの特性等により記録パワーＰが最適な記録パワーである時のβの値は変わってくる。このため、事前に記録品質が最も良くなるβの目標値（Ｔ）を決めておいて実際に測定されるβが目標値になるように記録パワーが決定される。
【００３９】
領域Ａ２に情報を記録するときには、領域Ａ１内の領域Ｂ１で測定したβと、βの目標値（Ｔ）との差にゲイン（Ｇ）をかけたものをＬＤ発光パワー（以下ＬＤパワーという）にフィードバックする。フィードバック後の新しいＬＤパワー（ｐｗ［ｉ＋１］）は次式で表わされる。
ｐｗ［ｉ＋１］  ＝  ｐｗ［ｉ］＋Ｇ（Ｔ−β）    …  （１）
但し、
ｐｗ［ｉ＋１］：  次回のＬＤパワー
ｐｗ［ｉ］    ：  現在のＬＤパワー
Ｇ            ：  ゲイン
Ｔ      ：  β目標値
β          ：  β測定値
このようにしてＬＤパワーの補正を行って領域Ａ２に情報を記録した後、記録動作を中断し、前回と同様にＬＤパワーの補正を行ってから領域Ａ３の情報記録を行なう。
この実施形態１では、３つの領域についてのみ説明したが、以下順に上記動作を繰り返すことにより領域Ａが大きくなった場合についても対応することができる。
【００４０】
図１は本実施形態１の構成を示す。図１において、１０は光学的情報記録媒体としての追記型の光ディスク、１１は光ディスク１０に対して情報の記録及び再生を行う光ピックアップ（ＰＵ）、１２は光ピックアップ１１から出力される再生信号（ＲＦ信号）のアシンメトリ（β）を検出するアシンメトリ検出部、１３は光ピックアップ１１に搭載されているレーザ光源としてのＬＤを制御するレーザ光源制御手段としてのＬＤ制御部、１４は本実施形態１の全体を制御する制御手段としてのＣＰＵ、１５はタイマーである。
【００４１】
この実施形態１において光ディスク１０に情報記録を行なうときの動作について以下に説明する。
光ディスク１０に情報記録を行なうときには、ＣＰＵ１４は、ＬＤ制御部１３を介して光ピックアップ１１上のＬＤに複数の発光パワーで順次に発光させて光ディスク１０の試し書き領域に光ピックアップ１１により試し書きを行なわせ、試し書き領域の試し書き結果を光ピックアップ１１に読み出させてそれぞれのＬＤパワーで試し書きを行なった試し書き領域に対する光ピックアップ１１からのＲＦ信号よりアシンメトリ検出部１２でそのアシンメトリ（β）を測定（検出）し、それぞれのＬＤパワーでアシンメトリ検出部１２により測定したアシンメトリ（β）から目標のアシンメトリとなるＬＤパワーを求める。
【００４２】
なお、光ディスク１０は、図示しないスピンドルモータにより回転駆動される。また、光ピックアップ１１は、ＬＤからの記録パワーのレーザ光を対物レンズを含む光学系を介して光ディスク１０に光スポットとして照射して情報の記録を行い、ＬＤからの再生パワーのレーザ光を対物レンズを含む光学系を介して光ディスク１０に光スポットとして照射するとともに光ディスク１０からの反射光を対物レンズを含む光学系を介して受光部で受光してＲＦ信号などの信号を生成する。
【００４３】
ＣＰＵ１４は、このように情報記録開始時のＬＤパワーを求めた後、ＬＤ制御部１３に光ピックアップ１１上のＬＤをその求めたＬＤパワーで変調信号、例えばマルチパルスにより発光させて光ディスク１０上の実際に情報記録を行なう領域（図２のＡ）の始めから光ピックアップ１１に情報記録を開始させるが、その際にＣＰＵ１４がタイマー１５にあらかじめ決められた所定の時間を設定してその計時を開始させる。そして、ＣＰＵ１４は、情報記録中にはタイマー１５の設定時間が経過したかどうかを監視しながら、あらかじめ決められた時間が経過したかどうかをチェックする。
【００４４】
ＣＰＵ１４は、あらかじめ定められた時間が経過したら記録動作を停止させ、同時にタイマー２０も停止させる。ここで、記録を行なった部分が図２の領域Ａ１に相当する。この後、領域Ａ１の最後に記録が行われた部分（Ｂ１）に対する再生を光ピックアップ１１により行って光ピックアップ１１からのＲＦ信号のアシンメトリ（β）の測定を行なう。このときの動作について以下に説明する。
【００４５】
ＣＰＵ１５は、まず、光ピックアップ１１を光ディスク１０の半径方向に移動させる図示しないシークモータを制御して領域Ｂ１の始めの位置にシークを行ない、Ｂ１部分のリードを光ピックアップ１１に行なわせる。このとき、光ピックアップ１１はＢ１部分に対する再生信号としてのＲＦ信号を出力し、このＲＦ信号のアシンメトリ（β）をアシンメトリ検出部１２で検出する。
【００４６】
ＣＰＵ１５は、アシンメトリ検出部１２で検出されたアシンメトリ（β）から上述の式（１）に従って計算を行い、次の領域（Ａ２）を記録するのに最適となるＬＤパワー（Ｐｏｐｔ２）を決定してＬＤ制御部１３に記録パワーがＰｏｐｔ２となるように設定する。これによりＬＤパワーの補正が行なわれる。次いで、ＣＰＵ１５は、シークモータを制御して領域Ａ２の始めにシークし、光ピックアップ１１に領域Ａ２の情報記録を再開させる。また、ＣＰＵ１５は、情報記録再開時にはタイマー１５にあらかじめ決められた時間を設定してその計時を開始させる。
以下同様に動作を行なうことにより、領域Ａ全体の情報記録を適切なＬＤパワーで行なうことができる。
【００４７】
次に、光ディスク１０上の一度に情報を記録する領域の大きさ（一度に連続的に記録するあらかじめ決められたデータ量）について説明する。本実施形態１において、Ａ１，Ａ２，Ａ３のような情報記録動作を中断せずに連続して行なう領域のサイズとしては、ＬＤの温度上昇によるＬＤ波長変動あるいはＬＤ効率変動の変化あるいは光ディスクの記録膜の感度変動が記録品質に影響を与えないように決定する必要がある。
【００４８】
ＬＤ温度変動が記録膜の感度変動よりも支配的であるような場合には、あらかじめ決められたデータ量のデータ（Ａ１，Ａ２，Ａ３のような情報記録動作を中断せずに連続して行なう領域に記録されるデータ）の記録を完了するのに必要となる時間を、ＬＤの温度上昇により記録品質が悪化する時間よりも十分に小さくなるような一定時間に設定してその一定時間連続して情報記録を行った場合に記録動作を中断するような方式にすればよい。図１に示す本実施形態１の構成は、この方式に対応した構成である。例えば連続して１０秒、情報記録を行なった時には、記録動作を中断してβの測定とＬＤパワーの補正を上述のように行う。
【００４９】
また、光ディスク１０の記録膜の感度変動がＬＤ温度変動より記録品質に対して影響が多いような場合には、光ディスク１０の半径方向に所定の長さ（何ミリか）記録した場合に記録動作を中断してβの測定とＬＤパワーの補正を行うようにすればよい。
ＣＬＶ記録（線速一定の記録）の場合は、同じ時間情報を記録した場合であっても光ディスクの内周と外周で情報記録量が違ってくるので、例えば光ディスクの半径方向に２ｍｍ情報を記録した時に記録動作を中断してβの測定とＬＤパワーの補正を行うようにすればよい。
【００５０】
図３は光学的情報記録媒体としての光ディスクに対して半径方向の所定の長さずつ情報記録を連続して行う毎に記録動作を中断してβの測定とＬＤパワーの補正を行うように構成した本発明の実施形態２を示す。図３において、図２と同じ構成要素には図２と同じ番号を付けてその説明を省略する。図３において、１６は光ディスク１０から光ピックアップ１１により読み取られて出力されるウォブル信号、あるいはその他のアドレス情報を含む信号から光ディスク１０のアドレスを検出するアドレス検出部である。本実施形態２では、上記実施形態１において、タイマー１５の代りにアドレス検出部１６が用いられる。
【００５１】
本実施形態２において光ディスク１０に情報を記録するときに上記実施形態１と異なる点について以下に説明する。
情報記録を開始するときには、ＣＰＵ１５は、記録開始アドレス（ａｄｒｓ１）を記憶しておき、この記録開始アドレス（ａｄｒｓ１）からあらかじめ定めておいた光ディスク１０の半径方向の幅（ｗ［ｍｍ］）だけ光ディスク１０の半径方向に離れたアドレス（ａｄｒｓ２）を計算する。ここに、記録開始アドレスがａｄｒｓ１であり、あらかじめ定めておいた光ディスク１０の半径方向の記録幅ｗ［ｍｍ］分の記録動作を行って記録動作を中断する場合、ａｄｒｓ１からａｄｒｓ２まで記録を行うとａｄｒｓ１とａｄｒｓ２の間はｗ［ｍｍ］となることがあらかじめ計算できる。一度に連続的に記録するあらかじめ決められたデータ量が占める光ディスク上の半径方向の長さｗ（一度に連続的に記録するあらかじめ決められたデータの量）は、光ディスクの記録層の感度変動により記録品質が悪化する長さよりも十分に小さい長さに設定される。
【００５２】
ＣＰＵ１５は、情報記録中にはアドレス検出手段１６が出力するアドレスがａｄｒｓ２になったかどうかを監視し、アドレス検出手段１６が出力するアドレスがａｄｒｓ２になった時に光ピックアップ１１に記録動作を中断させる。
この後、上記実施形態１と同じようにβの計測とＬＤパワーの補正を行って光ピックアップ１１に次の領域の情報記録を開始させる。
以下、この動作を繰り返すことにより、Ａ全域に情報を記録することができる。
【００５３】
次に、本実施形態２におけるβの測定について説明する。
βを測定する場合には記録動作を一度中断して図２のＢ１領域の先頭に一度β計測のためにシークを行ない、β計測後次の記録領域であるＡ２の先頭に情報記録のためにシークを行なう必要がある。しかしながら、このようにすると、領域Ａ１の情報記録と領域Ａ２の情報記録の間に２回のシークが入ってしまうことになり、時間がかかってしまう。
【００５４】
情報記録のためのシークを行なう場合には、記録品質が光ディスク１０の記録線速により変動するため、目的のアドレスまでシークしてから光ディスク１０の線速が目的の線速になったことを確認する必要がある。すなわち、目標アドレス付近でスピンドルモータの回転が目標回転速度になるまで待つ必要がある。
【００５５】
このスピンドルモータの回転が目標回転速度になるまでの線速の制定待ちの間にβを測定することにより、β計測のためのシークを省略することができ、記録動作を中断している時間を短縮することができて記録時間を短くすることができる。
【００５６】
この点を図４を用いて説明する。図４において、ｔ１が実際に情報記録を開始したい記録開始アドレスである。ＣＰＵ１５は、その記録開始アドレスから情報記録を行なうために、シークモータを制御して一旦仮のシーク目標ｔ０にシークを行なう。ＣＰＵ１５は、仮のシーク目標ｔ０にシークを行なった後はｔ０〜ｔ１の間でスピンドルモータの回転が目標回転速度になるまで待ってからシークを終了する。ＣＰＵ１５は、スピンドルモータの回転が目標回転速度になる前にｔ１となってしまった場合にはもう一度ｔ０を目標としたシークを行い、スピンドルモータの回転が目標回転速度になる回転速度待ちを繰り返す。
ＣＰＵ１５は、βの測定とＬＤパワーの補正をその回転待ちのときに上述のように行ない、そのまま次の記録を行なうことにより、情報記録を中断している間に一度のシークを行なうだけで済む。
【００５７】
また、βの測定は光ディスク１０上の局所的な部分で行うことになるが、βの計測点がたまたま光ディスク１０上の欠陥やキズなどにあたってしまった場合には測定したβ値が実際（光ディスク１０上の欠陥やキズ以外の部分）のβ値とはかけ離れた値になってしまうことが考えられる。この測定値をそのままＬＤパワーに反映させた場合には不適切なＬＤパワーとなってしまい、記録品質が損なわれることになる。
【００５８】
一度に情報記録を行なう領域の大きさが適切に設定してある場合には、ＬＤ温度や光ディスク１０の記録相の感度は急激に変化しないので、領域Ａ１に情報を適切な記録パワー（ｐｗ１）で記録している場合には領域Ａ２に情報を記録するときの記録パワー（ｐｗ２）はｐｗ１とかけはなれた値になることはない。
【００５９】
したがって、ＣＰＵ１５が、前回の情報記録時の記録パワー（ｐｗ１）から変化させる次回の情報記録時の記録パワーに制限を付けることにより、光ディスク１０上の欠陥や局所的なキズによる不適切な記録パワーの設定を防止することができる。
ＣＰＵ１５が前回の情報記録時の記録パワーに対する次回の情報記録時の記録パワーの変化分を所定の範囲、例えば±０．１ｍＷ内に制限することにより、たとえ光ディスク１０上のキズや欠陥により不正なβが計測された場合であっても１回の記録パワーの設定変更で記録品質が決定的に悪化することはない。
【００６０】
本実施形態２では、βを測定することによりＬＤパワーｐｗを補正したが、光学的情報記録媒体が相変化型材料を用いた相変化系光ディスクである場合にはβの代りに光ピックアップ１１からの再生信号（ＲＦ信号）のモジュレーション（変調度）を変調度測定手段で測定してその測定結果に基づいて記録パワーｐｗの補正を行うことができる。
【００６１】
上記実施形態１、２によれば、光学的情報記録媒体としての光ディスク１０にレーザ光源としてのＬＤからの光によりあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、この光ディスク上の記録動作を中断した直前の記録状態（βやモジュレーションなど）を測定し、この記録状態の測定結果から光ディスクに次に情報記録を行なうときの記録パワーを決定し、光ティスクに記録動作を中断した直後から上記決定した記録パワーで情報記録を開始するので、マルチパルスを使用する場合においても情報記録中のレーザ光源の記録パワーを最適に保つことができ、光学的情報記録媒体全面にわたって高い記録品質を保つことができる。
【００６２】
上記実施形態１によれば、上記あらかじめ決められたデータ量は、上記あらかじめ決められたデータ量の記録を完了するのに必要となる時間がレーザ光源の温度上昇により記録品質が悪化する時間よりも十分に小さいので、情報記録中の記録品質の劣化の要因として、ＬＤの温度上昇が支配的な状況に対して情報記録中のＬＤパワーを適切に設定することができ、光学的情報記録媒体全面にわたって高い記録品質を保つことができる。
【００６３】
上記実施形態２によれば、上記あらかじめ決められたデータ量は、上記あらかじめ決められたデータ量が占める光ディスク上の半径方向の長さが光ディスクの記録層の感度変動により記録品質が悪化する長さよりも十分小さいので、情報記録中の記録品質の劣化の要因として、光学的情報記録媒体の記録層の感度変動が支配的な状況に対して情報記録中のＬＤパワーを適切に設定することができ、光学的情報記録媒体全面に渡って高い記録品質を保つことができる。
【００６４】
また、上記実施形態２によれば、上記記録状態の測定は、記録動作を中断した直後の記録のためのシーク時に行なうので、記録状態の測定による記録の中断時間を短縮することができ、全体の記録時間の短縮ができる。
また、一回の記録パワー補正時に更新する記録パワー量を制限するので、光学的情報記録媒体の記録状態を測定する領域にキズ、欠陥があった場合でも次の記録領域の記録品質が決定的に悪化することがなく、安定した記録品質を得ることができる。
【００６５】
上記実施形態１、２によれば、上記記録状態の測定は、再生信号のアシンメトリを測定して行うので、追記型の光学的情報記録媒体に対する情報記録にマルチパルスを使用する場合においても情報記録中のＬＤパワーを最適に保つことができ、光学的情報記録媒体全面にわたって高い記録品質を保つことができる。
【００６６】
上記実施形態１、２において、記録状態の測定は、再生信号の変調度を測定して行うことにより、書き換え型の光学的情報記録媒体に対する情報記録にマルチパルスを使用する場合においても情報記録中のＬＤパワーを最適に保つことができ、光学的情報記録媒体全面にわたって高い記録品質を保つことができる。
【００６７】
上記実施形態１、２によれば、光学的情報記録媒体としての光ディスク１０の記録状態を測定する記録状態測定手段（アシンメトリー検出部１２）と、この記録状態測定手段の測定結果から光ディスク１０の次の記録領域に記録を行う記録パワーを算出する記録パワー演算手段（ＣＰＵ１４）と、この記録パワー演算手段により算出された記録パワーに従ってレーザ光源としてのＬＤを制御するレーザ光源制御手段（ＬＤ制御部１３）と、あらかじめ決められたデータ量のデータが連続して光ディスク１０に記録されたときに記録動作を中断し、光ディスク１０の記録動作を中断した直前の記録状態を記録状態測定手段で測定し、その測定結果から記録パワー演算手段とレーザ光源制御手段とで決められた記録パワーで光ディスク１０に記録動作を中断した直後から記録を開始させる記録制御手段（ＣＰＵ１４）とを備えたので、マルチパルスを使用する場合においても情報記録中のＬＤパワーを最適に保つことができ、光学的情報記録媒体全面にわたって高い記録品質を保つことができる。
【００６８】
図１８は本発明の実施形態３を示す。この実施形態３は上記実施形態２とは以下の点が異なる。図１８において、４１は光ピックアップ１１から出力されるＲＦ信号の振幅を測定するＲＦ測定部、４２は光ピックアップ１１から出力される信号から光学的情報記録媒体としての光ディスク１０のチルトを検知してチルトエラー信号ＴＩＥを生成するチルト検出部、４３は設定値に従い電圧をオフセットとして出力するオフセット生成部、４４はチルト検出部４２の出力信号ＴＩＥとオフセット生成部４３の出力信号を加算する加算手段としての加算器、４５は加算器４４から入力される信号に対してチルトサーボ系のゲイン補償、位相補償を行うフィルタ回路、４６はフィルタ回路４５から入力される信号に従いチルト補正機構４７を駆動するドライバ回路であり、チルト補正機構４７は光ディスク１０のチルトを補正する。チルト検出部４２，オフセット生成部４３，加算器４４，フィルタ回路４５及びチルト補正機構４７はチルト補正系としてのチルトサーボ系を構成する。なお、図１８において上記実施形態２と同一部分には同一符号が付してある。
【００６９】
このような構成の本実施形態３においては、光ディスク１０のチルトがチルト検出部４２により検知され、チルト検出部４２からのチルトエラー信号ＴＩＥとオフセット生成部４３の出力信号とが加算器４４により加算される。フィルタ回路４５は加算器４４から入力される信号に対してチルトサーボ系のゲイン補償、位相補償を行い、ドライバ回路４６がフィルタ回路４５から入力される信号に従いチルト補正機構４７を駆動してチルト補正機構４７が光ディスク１０のチルトを補正する。したがって、フィルタ回路４５に入力される信号がゼロになるように光ディスク１０のチルトが制御（補正）される。
【００７０】
通常、光ピックアップ１１の特性などにより、読み取り品質が最良となる光ディスク１０のチルト位置はチルト検出部４２が出力するチルトエラー信号ＴＩＥがゼロとなる位置とはずれている。また、一般に読み取り品質が最良となる光ディスク１０のチルト位置は光ピックアップ１１から出力されるＲＦ信号の振幅が最大となる位置と一致する。
【００７１】
ＣＰＵ１４は、読み取り品質が最良となる上記チルト補正のオフセットを求めるために、オフセット生成部４３に対して例えばオフセットを設定できる範囲の下限から上限までオフセットの設定を順に行ない、それぞれのオフセット設定値に対応するＲＦ振幅値をＲＦ測定部４１から取り込むことにより蓄え、そのＲＦ振幅値が最大となるオフセット設定値を読み取り品質が最良となる光ディスク１０のチルトのオフセット値（ｏｆｓｅｔ＿Ｒ）として記憶する。この動作は、通常、本実施形態３の出荷前の調整あるいはマウント動作中に行なわれる。
【００７２】
また一般に、記録時に記録品質が最良となる光ディスク１０のチルトオフセット位置は、読み取り品質が最良となる光ディスク１０のチルト位置と異なっており、通常、読み取り品質が最良となる光ディスク１０のチルト位置から一定量シフトした位置にある。ＣＰＵ１４は、読み取り品質が最良となる光ディスク１０のチルト位置から一定量シフトした位置の値を（ｏｆｆｓｅｔ＿Ｗ）として記憶しておく。すなわち、ＣＰＵ１４は、
ｏｆｆｓｅｔ＿Ｗ  ＝  ｏｆｆｓｅｔ＿Ｒ  ＋  α
ただしα：固定値
なるｏｆｆｓｅｔ＿Ｗ  を記憶しておく。この動作は、通常、本実施形態３の出荷前の調整あるいはマウント動作中に行なわれる。
【００７３】
次に記録を中断してその中断直前の記録品質（記録状態）の測定を行なうためのシーク中の動作について図１９を用いて説明を行う。
１．ＣＰＵ１４は、シークを開始する時、オフセット生成部４３に上記光ディスク１０のチルトオフセットｏｆｓｅｔ＿Ｒを設定する。この状態は光ディスク１０の読み取り品質が最良となる光ディスク１０のチルトオフセットの設定である。
２．ＣＰＵ１４は、シークモータを制御して上記仮のシーク目標ｔ０にシークを行う。
３．ＣＰＵ１４は、ＲＦ測定部４１から出力されるＲＦ信号の振幅より光ディスク１０の記録品質（例えば光ピックアップ１１からのＲＦ信号のβ）を測定する。
４．ＣＰＵ１４はオフセット生成部４３に光ディスク１０のチルトオフセットｏｆｆｓｅｔ＿Ｗを設定する。この状態は記録品質が最良となる光ディスク１０のチルトオフセットの設定である。
５．ＣＰＵ１４はスピンドルの回転待ちを行う。
【００７４】
このように光ディスク１０のチルトオフセットの設定を行うことにより、記録品質を読み取るときには読み取り品質が最良の状態になる。通常、ＯＰＣでの試し書き領域の読み取りは読み取り品質最良の状態で行なわれる。したがって、本実施形態３によれば、ＯＰＣでの試し書き領域の読み取りと同じ条件で記録品質の読み取りを行なうので、ＬＤのパワーの決定はＯＰＣ時と同等の条件となり、さらに記録品質を読み取るのためだけのシークを行う必要がなく、記録の中断時間を少なくできる。
【００７５】
この実施形態３の情報記録方法によれば、記録品質を測定するときのシーク時には光ディスク１０のチルト補正のオフセット設定を読み取り品質が最良となるように設定し、記録品質測定後にはチルト補正のオフセット設定を記録品質が最良となるように設定するので、記録品質を測定するときのチルトオフセットの条件がＯＰＣで試し書き領域を読み取るときと同じになり、チルト補正のオフセットを最適に設定できる。さらに、その測定結果から記録品質が最良となるＬＤパワーを決定するので、記録領域全域に渡ってＯＰＣ直後の記録品質を保つことができる。
【００７６】
また、この実施形態３の光学的情報記録装置によれば、記録品質を測定するときのシーク時には光ディスク１０のチルト補正のオフセット設定を読み取り品質が最良となるように設定し、記録品質測定後にはチルト補正のオフセット設定を記録品質が最良となるように設定するので、記録品質を測定するときのチルトオフセット位置の条件がＯＰＣで試し書き領域を読み取るときと同じになり、チルト補正のオフセットを最適に設定できる。さらに、その測定結果から記録品質が最良となるＬＤパワーを決定するので、記録領域全域に渡ってＯＰＣ直後の記録品質を保つことができる。
【００７７】
本発明の実施形態４は、光学的情報記録装置を内蔵していて情報処理を行う周知の光学的情報処理装置において、上記実施形態１〜３のいずれかの光学的情報記録装置を用いたものである。この実施形態４によれば、マルチパルスを使用する場合においても情報記録中のＬＤパワーを最適に保つことができ、光学的情報記録媒体全面にわたって高い記録品質を保つことができ、安定した情報処理を行なうことができる。
【００７８】
上記実施形態１、２では、記録動作を一旦中断し、中断直前の記録状態を読み出し、その結果を次の記録開始時にフィードバックしてＬＤパワーの補正を行ない、また、記録動作の中断直後の情報記録のためのシーク時に上記記録状態の読み取りを行うことにより情報記録の中断時間を短くしている。
【００７９】
通常、ＯＰＣ時の記録状態を読み取るときのシークには、リードのためのシークが使われる。このリードのためのシークは、読み取り品質が最良となるように各設定が行なわる。ＯＰＣでは、読み取り品質が最良となる状態で試し書き領域を読み取って記録品質が最良となるＬＤパワーを求める。
一方、記録のためのシーク時には、ライトのためのシークが使用される。このライトのためのシークは記録状態が最良となるように各設定を行なわれる。ここでいう各設定とはフォーカスや光ディスクチルトのオフセット設定等である。したがって、普通に記録を行なうシーク時にその直前の記録状態を読み取る場合には、読み取り品質はＯＰＣの試し書き領域の記録状態を読み取ったときのものとは異なっていることになる。
【００８０】
このため、記録を行なうシーク時に読み取った情報をもとにＬＤパワーの補正を行なうと、その補正したＬＤパワーはＯＰＣ直後のＬＤパワーと異なってしまい、それぞれの記録品質に差異が生じる。
通常、ＯＰＣでは記録品質が最良となるようにＬＤパワーの設定を行なうので、上記方式のＲＯＰＣで決定されるＬＤパワーではＯＰＣ直後より記録品質が悪いものとなってしまうことになる。
【００８１】
本発明の実施形態５では、上記実施形態１または２において、直前の記録状態を読み取るシーク時には、記録状態を読み取るまでは読み取りが最良となる設定を行なっておき、記録状態を読み取ってから記録が最良となる設定を行なうようにする。以下、図６を用いて本実施形態５の説明を行なう。
【００８２】
図６において、１７は光ピックアップ１１から出力されるＲＦ信号の振幅を測定するＲＦ測定部、１８は光ピックアップ１１から出力される信号からフォーカスエラー（ＦＥ）信号を生成するＦＥ信号生成部、１９は設定値に従い電圧を出力するオフセット生成部、２０はＦＥ信号生成部１８が出力するＦＥ信号とオフセット生成部１９が出力する信号を加算する加算器、２１は加算器２０から入力される信号に対してフォーカスサーボ系のゲイン補償、位相補償を行なうフィルタ回路、２２はフィルタ回路２１から入力される信号に従い光ピックアップ１１上の図示しないフォーカスアクチュエータを駆動するドライバ回路である。フォーカスアクチュエータは光ピックアップ１１の対物レンズをフォーカス方向に移動させる。
【００８３】
この実施形態５では、フィルタ回路２１に入力される信号がゼロになるようにフォーカス方向の制御が行なわれる。通常、光ピックアップ１１の特性などにより、読み取り品質が最良となるフォーカス位置はＦＥ信号生成部１８が出力するＦＥ信号がゼロとなる位置とはずれている。読み取り品質が最良となる位置は光ピックアップ１１から出力されるＲＦ信号の振幅が最大となる位置と一致する。
【００８４】
ＣＰＵ１４は、読み取り品質が最良となるフォーカス位置を求めるために、オフセット生成部１９に例えばオフセットを設定できる範囲の下限から上限まで設定を順に行ない、それぞれのオフセット設定値に対応するＲＦ信号の振幅値をＲＦ測定部１７から取り込んで蓄えておく。ＣＰＵ１４は、そのＲＦ信号振幅値が最大となるオフセット設定値を読み取り品質が最良となるフォーカスのオフセット値（ｏｆｓｅｔ＿Ｒ）として記憶する。
【００８５】
また一般に、記録時に記録品質（記録状態）が最良となるフォーカスオフセット位置は、読み取り品質が最良となるフォーカス位置と異なっており、通常、読み取り品質が最良となる位置から一定量シフトした位置にある。すなわち、記録時に記録品質が最良となるフォーカスオフセット値ｏｆｆｓｅｔ＿Ｗは、
ｏｆｆｓｅｔ＿Ｗ  ＝  ｏｆｆｓｅｔ＿Ｒ  ＋  α
ただしα：固定値
となる。ＣＰＵ１４は、この記録時に記録品質が最良となるフォーカスオフセット値を（ｏｆｆｓｅｔ＿Ｗ）として記憶しておく。これらの動作は通常、光ディスク１０のマウント動作中に行なわれる。
【００８６】
次に記録動作を中断して、中断直前の記録品質（記録状態）の測定を行なうためのシーク中の動作について図７を用いて説明を行なう。
１．ＣＰＵ１４はシークを開始する時、オフセット生成部１９にｏｆｓｅｔ＿Ｒを設定する。
この状態は光ディスク１０の読み取り品質が最良となる設定である。
２．ＣＰＵ１４はシークモータを制御して仮のシーク目標ｔ０にシークを行なう。
３．ＣＰＵ１４はＲＦ測定部１７から出力されるＲＦ信号の振幅より光ディスク１０の記録品質（例えば光ピックアップ１１からのＲＦ信号のβ）を測定する。
４．ＣＰＵ１４はオフセット生成部１９にｏｆｆｓｅｔ＿Ｗを設定する。
この状態は記録品質が最良となる設定である。
５．ＣＰＵ１４はスピンドルモータの回転待ちを行なう。
【００８７】
このようにフォーカスのオフセット設定を行なうことにより、記録品質を読み取るときは読み取り品質が最良の状態になる。通常、ＯＰＣでの試し書き領域の読み取りは読み取り品質が最良となる状態で行なわれる。したがって、本実施形態５によれば、ＯＰＣの試し書き領域の読み取りと同じ条件で記録品質の読み取りを行なうので、ＬＤのパワーの決定はＯＰＣ時と同等の条件となり、さらにリードのためだけのシークを行う必要がないので、記録の中断時間を少なくできる。
【００８８】
本実施形態５によれば、光学的情報記録媒体としての光ディスク１０にあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、光ディスク１０の記記録動作を中断した直前の記録状態を測定して記録品質を測定し、この記録品質の測定結果から光ディスク１０に次に記録を行なう記録パワーを決定し、光ディスク１０に記録動作を中断した直後から上記決定した記録パワーで記録を開始するものであって、上記記録品質の測定は記録動作を中断した直後の記録を再開する際のシーク時に行ない、このシーク時に記録品質を測定するときには読み取り品質が最良となるように設定を行ない、記録品質測定後に記録品質が最良となる設定を行なうので、記録品質を測定するときの条件がＯＰＣの試し書き領域を読み取るときと同じになり、その測定結果から記録品質が最良となるＬＤパワーを決定するため、光学的情報記録媒体の記録領域全域に渡ってＯＰＣ直後の高い記録品質を保つことができる。
【００８９】
また、上記記録品質を測定するときのシーク時にはフォーカスサーボのフォーカス位置のオフセットを読み取り品質が最良となるように設定し、上記記録品質測定後にはフォーカス位置のオフセットを記録品質が最良となるように設定するので、記録品質を測定するときのフォーカス位置の条件がＯＰＣの試し書き領域を読み取るときと同じになり、その測定結果から記録品質が最良となるＬＤパワーを決定するため、光学的情報記録媒体の記録領域全域に渡ってＯＰＣ直後の高い記録品質を保つことができる。
【００９０】
また、本実施形態５によれば、光学的情報記録媒体としての光ディスク１０の記録状態を測定して記録品質を測定する記録状態測定手段（ＲＦ測定部１７及びＣＰＵ１４）と、この記録状態測定手段の測定結果から光ディスク１０の次の記録領域にレーザ光源からの光により記録を行うときの記録パワーを算出する記録パワー演算手段（ＣＰＵ１４）と、この記録パワー演算手段により算出された記録パワーに従ってレーザ光源を制御するレーザ光源制御手段（ＬＤ制御部１３）と、光ディスク１０にあらかじめ決められたデータ量のデータが連続して記録されたときに記録動作を中断し、光ディスク１０に記録動作を中断した直前の記録状態を記録状態測定手段で測定し、その測定結果から記録パワー演算手段とレーザ光源制御手段とで決められた記録パワーで光ディスク１０に記録動作を中断した直後から記録を開始させる記録制御手段（ＣＰＵ１４）と、フォーカスサーボのフォーカス位置のオフセットの設定を行なう手段（ＣＰＵ１４）とを備え、記録品質を測定するときのシーク時にはフォーカスサーボのフォーカス位置のオフセットを読み取り品質が最良となるように設定し、記録品質測定後にはフォーカス位置のオフセット設定を記録品質が最良となるように設定するので、光学的情報記録媒体の記録領域全域に渡ってＯＰＣ直後の高い記録品質を保つことができる。
【００９１】
図８は本発明の実施形態６の構成を示す。この実施形態６は光学的情報記再生録装置としての光ディスク装置の一形態である。図８において、２３は光学的情報記録媒体としての光ディスク、２４は光ディスク２３に対して情報の記録及び再生を行う光ピックアップ、２５は光ピックアップ２４から出力される信号からフォーカスエラー（ＦＥ）信号を生成するフォーカスエラー信号生成部（ＦＥ信号生成部）、２６は光ディスク上のほぼ等間隔をおいた複数点の半径位置において記録品質または再生品質が最良となるフォーカスオフセット量を蓄えたＲＯＭ、２７はＦＥ信号生成部２５からのＦＥ信号とオフセット生成部３１が出力する信号とを加算する加算器、２８は本実施形態６の全体を制御する制御手段としてのＣＰＵ、２９はタイマー、３０は加算器２７から入力される信号に対してフォーカスサーボ系のゲイン補償、位相補償を行なうフィルタ回路、３１は設定値に従い電圧を出力するオフセット生成部、３２はフィルタ回路３０から入力される信号に従い光ピックアップ２４上の図示しないフォーカスアクチュエータを駆動するドライバ回路である。
【００９２】
フォーカスアクチュエータは光ピックアップ２４の対物レンズをフォーカス方向に移動させる。また、光ピックアップ２４は、ＬＤからの記録パワーのレーザ光を対物レンズを含む光学系を介して光ディスク２３に光スポットとして照射して情報の記録を行い、ＬＤからの再生パワーのレーザ光を対物レンズを含む光学系を介して光ディスク２３に光スポットとして照射するとともに光ディスク２３からの反射光を対物レンズを含む光学系を介して受光部で受光してＲＦ信号などの信号を生成する。
【００９３】
この実施形態６では、フィルタ回路３０に入力される信号がゼロになるようにフォーカス方向の位置制御（対物レンズのフォーカス位置制御）が行なわれる。通常、光ピックアップ２４の特性などにより、読み取り品質が最良となるフォーカス位置はＦＥ信号生成部２５が出力するＦＥ信号がゼロとなる位置とはずれている。このずれは、光ディスク２３、本実施形態６の特性などにより光ディスク２３の半径位置（半径方向の位置）により異なることがある。図１０は、その様子を示したもので、光ディスク２３の半径位置とフォーカス最良オフセットとの関係を示す。この図１０では光ディスク２３の外側に行くほどフォーカス最良オフセットを少なくしてフォーカス方向のずらし量を増やす必要があることになる。
【００９４】
ＣＰＵ２８は、光ディスク２３上の記録または再生を行う半径位置に応じてＲＯＭ２６に書き込まれたデータを読み出し、その値をオフセット生成部３１に設定することにより加算器２７でＦＥ信号生成部２５からのＦＥ信号にオフセット生成部３１からのオフセット値を加算させる。このため、フィルタ回路３０にはＦＥ信号をオフセットさせた信号が加算器２７から入力されることになる。したがって、対物レンズのフォーカス方向の位置制御が行なわれる位置（対物レンズのフォーカス方向位置）はＦＥ信号がゼロになる位置からオフセット生成部１０８が出力するオフセット分ずれた位置となる。
【００９５】
ＲＯＭ２６にはあらかじめ図１０に示すような光ディスク２３の半径位置と記録特性又は再生特性が最良となるフォーカスオフセットとの関係を測定して記憶させておく。例えば製品の出荷前などに実際にフォーカス位置をオフセットさせて記録または再生を行ない、最も記録特性又は再生特性が良くなるようなフォーカスオフセット量（フォーカス最良オフセット）を光ディスクの各半径位置毎に求め、図１２に示すようにその求めた光ディスクの各半径位置に対するフォーカスオフセット量のテーブルをＲＯＭ２６に書き込んでおく。この場合、ＲＯＭ２６には、再生特性が最良となる光ディスクの半径位置に対するフォーカスオフセットの再生用テーブルと、記録特性が最良となる光ディスクの半径位置に対するフォーカスオフセットの記録用テーブルとのいずれか一方又は両方を求めて書き込んでおく。
【００９６】
再生特性が最良となるフォーカスオフセットを求める方法としては、
・フォーカスオフセットを変更しながら光ディスクから再生を行ない、この時のＲＦ信号のジッタを計測して、ジッタが最小となるフォーカスオフセットを求める方法、
・フォーカスオフセットを変更しながら光ディスクから再生を行ない、この時のＲＦ信号の振幅を計測して、この振幅が最大になるフォーカスオフセットを求める方法、
などの方法を用いる。
【００９７】
また、記録特性が最良となるフォーカスオフセットを求める方法としては、
・フォーカスオフセットを変更しながら光ディスクに記録を行ない、光ディスクの記録を行なったところに対して再生を行ない、この時のＲＦ信号のジッタを計測して、ジッタが最小となるフォーカスオフセットを求める方法、
・フォーカスオフセットを変更しながら光ディスクに記録を行ない、光ディスクの記録を行なったところの再生を行ない、この時のＲＦ信号の振幅を計測して、振幅が最大となるフォーカスオフセットを求める方法、
などの方法を用いる。
【００９８】
記録特性を最良とするフォーカスオフセットと、再生特性を最良とするフォーカスオフセットは異なっている場合が多い。このため、光ディスクに対して情報の記録と再生を行なう光ディスク装置では、光ディスクの半径位置に対するフォーカスオフセット量のテーブルは記録用と再生用の２系統を持つことになる。しかしながら、その違いは図１６に示すように光ピックアップ２４によりほぼ一定であることが多いので、そのような光ディスク装置の場合では、再生用のテーブルのみ（あるいは記録用のテーブルのみ）を持ち、記録時（あるいは再生時）にはＣＰＵ２８がＲＯＭ２６から再生用のテーブル（あるいは記録用のテーブル）の値を読み出して一定量オフセットさせたものをオフセット生成部３１に設定するとよい。このようにすれば、記録用のテーブルの測定を行なわなくてよいため、工場出荷前の調整項目が減る。また、記録用のテーブルを記憶する必要がないため、ＲＯＭ２６の容量を小さくできる。
【００９９】
テーブルに保存されたオフセットのＦＥ信号への印加はシーク時にＣＰＵ２８により図９に示すようなステップａ０〜ａ６で行なう。すなわち、ターゲットアドレス（ｔ）にシークを行なう場合、
ａ０：はじめ
ａ１：ターゲットアドレス（ｔ）に相当する半径位置（ｒ）に最適となるフォーカスオフセットをＲＯＭ２６から読み出す。
ｒはｔから計算により求めることができる。
ＲＯＭ２６に記憶している半径位置はとびとびの値であるので、ｒはＲＯＭ２６に記憶している半径位置のうち最も近い２つの半径位置の値から一次近似により最適なフォーカスオフセット（ｆ）を求める。この場合、ｒは上記最も近い２つの半径位置の値から一次近似以外の近似で最適なフォーカスオフセット（ｆ）を求めてもよい。
ａ２：ａ１で求まったオフセット値をオフセット生成部３１にセットする。
ａ３：シークモータを制御してターゲットアドレスの手前まで光ピックアップ２４を移動させる（通常のシーク動作）。
ａ４：タイマー２９の値を読み出す。
ａ５：タイマー２９に所定のタイマー値をセットする。
ａ６：おわり
対物レンズのフォーカス方向の位置制御を行なっているときにフォーカスオフセットをＦＥ信号に加算すると、対物レンズのフォーカス方向の位置制御にステップ応答的な乱れが生じる可能性があるので、記録中及び再生中にフォーカスオフセットをＦＥ信号に加算すると、記録特性、再生特性を悪化させてしまう恐れがある。本実施形態６では、図９に示す動作で実際の光ピックアップ２４の移動を行なう前にオフセットのＦＥ信号への加算が行なわれるために、シーク動作終了時にはサーボ乱れの影響を受けることがなく、記録または再生が開始されるときにはフォーカスオフセット値は最適な値になっている。
【０１００】
記録または再生が長時間連続して行なわれる場合、光ディスク２３の記録または再生が行なわれる半径位置が変化して最適となるフォーカスオフセットの値が変化してしまう恐れがある。このため、ＣＰＵ２８は、記録中または再生中には定期的にタイマー２９の状態をチェックすることによりシーク終了時から一定時間が経過しているかどうかを判断する。、ＣＰＵ２８は、シーク終了時から連続的な記録動作または再生動作で一定時間が経過していれば記録動作または再生動作を一時中断し、光ディスク２３の中断したアドレスから記録動作または再生動作を再開させる。記録動作または再生動作の再開時には、シーク動作が必ず入いるので、図９の動作が行なわれることになり、記録動作または再生動作を再開するときには、対物レンズのフォーカス方向の位置がそのときのターゲットアドレスにとっての最良のフォーカスオフセット位置に制御されることになる。
【０１０１】
タイマー２９にセットする値は光ディスク２３の半径位置に対する最良となるフォーカスオフセットの変化量により決定する。例えば図１７に示すように光ディスク２３への記録品質、再生品質から許容できるフォーカスオフセットの変化分がｄＦｍａｘであった場合、光ディスク２３の半径位置でＲ２からＲ３まで情報の記録または再生を連続して行なうことにより最適なフォーカスオフセットの値がｄＦｍａｘ変化するので、ＣＰＵ２８はタイマー２９には光ディスク２３のＲ２からＲ３までの領域に情報の記録または再生を連続して行うのに必要な時間より小さい値を設定する。この値は光ディスク２３全域にわたって半径方向で変化するフォーカスオフセットの変化量がｄＦｍａｘより十分に小さいように設定しておくことにより、記録特性または再生特性を劣化させる前にフォーカスオフセットが最良となるように設定されることになる。
【０１０２】
また、図１７に示すように、光ディスク２３上の半径位置Ｒ１から記録を行なう場合、光ディスク２３上の半径位置Ｒ３まではフォーカスオフセットの値は変化しない状態であるので、フォーカスオフセットの値を変更する必要はない。そこで、ＣＰＵ２８がＲ１〜Ｒ３の領域に情報の記録または再生を行う時間をＲ１〜Ｒ３の領域に対する情報の記録または再生の開始時にタイマー２９に設定することにより、Ｒ１〜Ｒ３の記録動作または再生動作を一度も停止せず記録再生の転送レートを落とすことなく記録再生を行なうことができる。
【０１０３】
このようにＣＰＵ２８がタイマー２９の値を、フォーカスオフセットの変化率の小さいところでは大きく設定し、フォーカスオフセットの変化率の小さいところでは小さく設定することにより、フォーカスオフセットの再調整のための停止を行なう回数を減少させることができる。
【０１０４】
図１１は本発明の実施形態７の構成を示す。この実施形態７では、上記実施形態６において、ＲＯＭ２６の代りにＲＦ振幅検出回路３３が用いられる。このＲＦ振幅検出回路３３は光ピックアップ２４からのＲＦ信号の振幅を検出する。
光ディスクのマウント時などには、光ディスク２３の内周のＲＦ信号が存在する領域でＲＦ信号の読み取り中にＲＦ振幅検出回路３３が光ピックアップ２４からのＲＦ信号の振幅を測定し、ＣＰＵ２８はＲＦ振幅検出回路３３が検出したＲＦ信号の振幅が最大となるようにフォーカスオフセットをオフセット生成部３１にセットして調整する。ＣＰＵ２８は、光ディスク２３の最外周でのフォーカスオフセット値を、光ディスク２３の内周で調整したフォーカスオフセット値（図１４に示すＦ１）から一定量（図１４に示すｄＦ）シフトさせたものＦ２とし、フォーカスオフセットが変化し始める所定の半径位置（フォーカスオフセットの変化が大きくなる所定の半径位置）も一定のところ（図１４に示すＲ１）からとする。ＣＰＵ２８は、フォーカスオフセットの変化が大きくなる光ディスク２３の上記所定の半径位置から最外周まではＦ１、Ｆ２から一次近似で求めたフォーカスオフセット値をオフセット生成部３１に設定する。
【０１０５】
ここでは、ＣＰＵ２８は、ＲＦ信号の振幅を最大とするようにフォーカスオフセットを求めたが、光ピックアップ２４から出力されるＲＦ信号のジッタをジッタ測定手段で測定して該ジッタが最小となるようなフォーカスオフセットを求めてオフセット生成部３１にセットするようにしてもよい。
【０１０６】
また、ＣＰＵ２８は、光ディスク２３用の調整としてあらかじめ光ディスク２３に記録されているアドレス情報を光ピックアップ２４からの信号より検出するときの光ピックアップ２４からの信号の品質が最も良くなるようなフォーカスオフセットを求めてオフセット生成部３１にセットして調整することにより、安定したアドレス検出を行なうことができるようになり、安定した記録動作を行なうことができる。
【０１０７】
たとえば、ＣＰＵ２８は、
ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ＋ＲＷであればＡＤＩＰによるアドレス情報、
ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷであればＬＰＰによるアドレス情報、
ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷであればＡＴＩＰによるアドレス情報、
が光ピックアップ２４からの信号のうちで品質が最も良くなるようにフォーカスオフセットをオフセット生成部３１にセットして調整する。
【０１０８】
より具体的には、ＣＰＵ２８は、プッシュプル信号振幅が最大になるように、またはウォブル振幅が最大になるように、またはＬＰＰが最大になるようにフォーカスオフセットをオフセット生成部３１にセットして調整する。
また、ＣＰＵ２８は、ＲＦ信号の振幅を最大にしたり、ＲＦ信号のジッタを最小にしたりするフォーカスオフセットをオフセット生成部３１にセットする調整では、図１３に示すように、光ディスク２３が記録用光ディスクでかつ未記録であった場合には、光ディスク２３の試し書き領域に記録を行ない、この試し書きを行なった場所の再生を行なって再生特性が最良となるフォーカスオフセットを求めてオフセット生成部３１にセットするようにすればよい。
【０１０９】
ただし、光ディスクの試し書き領域の大きさは無限に大きくはないので、ＣＰＵ２８は、図１３に示すように、光ディスク２３が完全な未記録の光ディスクでない場合には試し書きを行なうことなく、光ディスク２３のすでに記録がなされている場所に対する再生を行ない、その再生特性が最良となるようなフォーカスオフセットを求めてオフセット生成部３１にセットする。ＣＰＵ２８は、光ディスク２３が未記録の光ディスクであるかどうかを知る際には、光ディスク２３が未記録の光ディスクでない場合に必ず記録を行なっておく必要があるリードインエリア中の領域にデータが記録されているかどうかを確認することにより判断する。
【０１１０】
このように、光ディスク２３の既に記録がなされている場所に対する再生を行ない、その再生特性が最良となるようにフォーカスオフセットを調整すれば、上記実施形態６の光ディスク装置のような工場出荷前の調整が必要ないので、調整用の設備がいらない。また、上記実施形態６の光ディスク装置では、光ディスク２３が工場で調整を行なった光ディスクと特性が異なる光ディスクであれば対応することができないが、本実施形態７では光ディスクのマウント時に調整を行なうことにより、光ディスク２３が工場で調整を行なった光ディスクと特性が異なる光ディスクであっても対応することができる。
【０１１１】
ＣＰＵ２８は、光ディスク２３の内周でフォーカスオフセットを上述のように調整すると共に光ディスク２３の外周でもフォーカスオフセット調整を上述のように行なう。ＣＰＵ２８は、光ディスク２３の外周の試し書き領域に記録を行ない、その領域でその再生特性が最良となるようなフォーカスオフセットの調整を上記実施形態６と同様に行なうこともできる。図１５に示すＦ１が光ディスク２３の内周で調整したフォーカスオフセット値、図１５に示すＦ２が光ディスク２３の最外周で調整したフォーカスオフセット値である。これにより、より実の光ディスク２３にマッチしたフォーカス調整を行なうことができる。
【０１１２】
上記実施形態６、７によれば、光ディスク２３から情報を読み出す光ピックアップ２４と、この光ピックアップ２４から出力される信号からフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段（ＦＥ信号生成部２５）と、オフセットを生成するオフセット生成手段（オフセット生成部３１）と、前記フォーカスエラー信号生成手段からのフォーカスエラー信号と前記オフセット生成手段からのオフセットを加算して出力する加算手段（加算器２７）と、この加算手段の出力信号が入力されフォーカスサーボ系のゲイン、位相特性を調整するフィルタ回路３０と、このフィルタ回路の出力信号に従い前記光ピックアップ上に配置されたフォーカスアクチュエータを駆動するドライバ回路３２とを備え、シーク時には最適なフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定するとともに、タイマー２９の時間設定を行なった後にシークを完了し、シーク後の記録又は再生が行なわれているときには前記タイマーの設定時間が経過したかどうかを監視し、前記タイマーの設定時間が経過したら記録又は再生を停止し、その停止した位置へ再びシークを行ない記録又は再生を再開するので、光ディスクの半径位置で変化する記録品質を最良とするフォーカスオフセットを精度よく補正することができ、記録品質または再生品質の高い光ディスク装置を提供することができる。
【０１１３】
また、上記実施形態６、７によれば、前記タイマーへ設定する時間は、記録又は再生中に前記光ピックアップが光ディスクの半径方向に移動することにより変動する、最良となるフォーカスオフセットの変動量が記録品質又は再生品質に影響を与えないことを補償できる時間とするので、記録中または再生中に最適となるフォーカスオフセットが光ピックアップの半径位置の変化により適当でなくなる前にフォーカスオフセットを再度最適となるように調整することができ、記録品質または再生品質の高い光ディスク装置を提供することができる。
【０１１４】
また、上記実施形態６、７によれば、前記タイマーへ設定する時間は最良となるフォーカスオフセットの変化量により決定するので、タイマーへ設定する時間はフォーカスオフセットの変化率の小さいところでは大きく、フォーカスオフセットの変化率の小さいところでは小さく設定することができ、フォーカスオフセットの再調整のための停止を行なう回数を減少させることができる。
【０１１５】
また、上記実施形態６によれば、あらかじめ測定しておいた、光ディスク上のほぼ等間隔をおいた複数点の半径位置において記録品質が最良となるフォーカスオフセット量を蓄えた記憶手段（ＲＯＭ２６）を備え、実際に記録又は再生を行なうときにオフセットさせるフォーカスオフセット量は前記記憶手段にから読み出して前記オフセット生成手段に設定するので、ユーザの実使用時に光ディスクのマウント時の調整を行なわなくて良いため、短いマウント時の調整時間で高い記録特性または再生特性となる光ディスク装置を提供することができる。
【０１１６】
また、上記実施形態７によれば、光ディスクのマウント時に内周で記録品質又は再生品質が最良となるフォーカスオフセットを測定しておき、光ディスクの最内周からフォーカスオフセットの変化が大きくなる所定の半径位置までは光ディスクの内周で測定したフォーカスオフセットを前記オフセット生成手段に設定し、光ディスクの最外周では光ディスクの内周で測定したフォーカスオフセット値から固定量シフトさせたフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定し、フォーカスオフセットの変化が大きくなる光ディスクの前記所定の半径位置から最外周までは一次近似で求めたフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定するので、最良となるフォーカスオフセットが光ディスクによる場合であっても、高い記録品質または再生品質を達成することができる。
【０１１７】
また、上記実施形態７によれば、光ディスクのマウント時に内周と外周で記録品質又は再生品質が最良となるフォーカスオフセットを測定しておき、光ディスクの最内周からフォーカスオフセットの変化が大きくなる所定の半径位置までは光ディスクの内周で測定したフォーカスオフセットを前記オフセット生成手段に設定し、光ディスクの最外周では光ディスクの外周で測定したフォーカスオフセットを前記オフセット生成手段に設定し、フォーカスオフセットの変化が大きくなる光ディスクの前記所定の半径位置から最外周までは一次近似で求めたフォーカスオフセット値を前記オフセット生成手段に設定することにより、光ディスクの内周で最良となるフォーカスオフセット値を測定し、実際に記録または再生を行なう光ディスクの最良となるフォーカスオフセット値を光ディスクの外周でも測定することができ、さらに高い記録品質または再生品質を達成することができる。
【０１１８】
また、上記実施形態６、７において、前記光ピックアップからの再生信号のジッタを測定する手段を備え、最良となるフォーカスオフセットは前記再生信号のジッタが最小となるように調整することにより、高い記録品質または再生品質をもつ光ディスク装置を提供することができる。
【０１１９】
また、上記実施形態７によれば、前記光ピックアップからの再生信号の振幅を測定する手段（ＲＦ振幅検出回路３３）を備え、最良となるフォーカスオフセットは前記再生信号の振幅が最大となるように調整するので、高い記録品質または再生品質をもつ光ディスク装置を提供することができる。
【０１２０】
また、上記実施形態７によれば、記録を行なう光ディスクが未記録の光ディスクであった場合、光ディスクの試し書き領域に記録を行ない、その試し書きを行なった領域から再生を行って、再生状態が最良となるようにフォーカスオフセットを調整するので、光ディスクが未記録状態であっても試し書き領域を使用してフォーカスオフセットをＲＦ信号が最良になるように調整することができる。
【０１２１】
また、上記実施形態７によれば、記録を行なう光ディスクが未記録の光ディスクであった場合、光ディスクの試し書き領域に記録を行ない、その試し書きを行なった領域から再生を行って、再生状態が最良となるようにフォーカスオフセットを調整し、記録を行なう光ディスクが既記録の光ディスクであった場合、最良となるフォーカスずらし量は光ディスクの記録済み領域に対する前記再生信号の振幅が最大となるように調整するので、光ディスクが未記録状態であっても試し書き領域を使用してフォーカスオフセットをＲＦ信号が最良になるように調整することができ、光ディスクが既記録であった場合は既記録の領域を使用して最良のフォーカスオフセットを調整することができ、試し書き領域を無駄に使用しないで高品質な記録特性または再生特性を達成することができる。
【０１２２】
また、上記実施形態７において、ウォブル信号の振幅を測定する手段を備え、最良となるフォーカスオフセットはウォブル信号の振幅が最大となるように調整することにより、ウォブル信号を使用してアドレス情報あるいは同期情報を安定して取得することができ、高品質な記録特性または再生特性を達成することができる。
なお、上記実施形態６、７において、光ディスク２３に対して情報の記録と再生のいずれか一方のもを行うようにしてもよい。
【０１２３】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、マルチパルスを使用する場合においても情報記録中のレーザ光源の記録パワーを最適に保つことができ、光学的情報記録媒体全面にわたって高い記録品質を保つことができる。
また、情報記録中の記録品質の劣化の要因として、レーザ光源の温度上昇が支配的な状況に対して情報記録中のレーザ光源のパワーを適切に設定することができ、光学的情報記録媒体全面にわたって高い記録品質を保つことができる。
【０１２４】
また、情報記録中の記録品質の劣化の要因として、光学的情報記録媒体の記録層の感度変動が支配的な状況に対して情報記録中のレーザ光源のパワーを適切に設定することができ、光学的情報記録媒体全面に渡って高い記録品質を保つことができる。
【０１２５】
また、記録状態の測定による記録の中断時間を短縮することができ、全体の記録時間の短縮ができる。
また、光学的情報記録媒体の記録状態を測定する領域にキズ、欠陥があった場合でも次の記録領域の記録品質が決定的に悪化することがなく、安定した記録品質を得ることができる。
【０１２６】
また、追記型の光学的情報記録媒体に対する情報記録にマルチパルスを使用する場合においても情報記録中のレーザ光源のパワーを最適に保つことができ、光学的情報記録媒体全面にわたって記録品質を保つことができる。
また、書き換え型の光学的情報記録媒体に対する情報記録にマルチパルスを使用する場合においても情報記録中のレーザ光源のパワーを最適に保つことができ、光学的情報記録媒体全面にわたって高い記録品質を保つことができる。
【０１２７】
また、光学的情報記録媒体の記録領域全域に渡ってＯＰＣ直後の高い記録品質を保つことができる。
また、光ディスクの半径位置で変化する記録品質を最良とするフォーカスオフセットを精度よく補正することができ、記録品質または再生品質の高い光ディスク装置を提供することができる。
【０１２８】
また、記録中または再生中に最適となるフォーカスオフセットが光ピックアップの半径位置の変化により適当でなくなる前に再度最適となるように調整することができ、記録品質または再生品質の高い光ディスク装置を提供することができる。
また、タイマーへ設定する時間はフォーカスオフセットの変化率の小さいところでは大きく、フォーカスオフセットの変化率の小さいところでは小さく設定することができ、フォーカスオフセットの再調整のための停止を行なう回数を減少させることができる。
【０１２９】
また、短いマウント時の調整時間で高い記録特性または再生特性となる光ディスク装置を提供することができる。
また、最良となるフォーカスオフセットが光ディスクによる場合であっても、高い記録品質または再生品質を達成することができる。
また、高い記録品質または再生品質をもつ光ディスク装置を提供することができる。
【０１３０】
また、光ディスクが未記録状態であっても試し書き領域を使用してフォーカスオフセットを再生信号が最良になるように調整することができる。
また、光ディスクが未記録状態であっても試し書き領域を使用してフォーカスオフセットをＲＦ信号が最良になるように調整することができる。
また、試し書き領域を無駄に使用しないで高品質な記録特性または再生特性を達成することができる。
また、ウォブル信号を使用してアドレス情報あるいは同期情報を安定して取得することができ、高品質な記録特性または再生特性を達成することができる。
【０１３１】
また、記録品質を測定するときの光学的情報記録媒体のチルトオフセットの条件がＯＰＣで試し書き領域を読み取るときと同じになり、チルトオフセットを最適に設定できる。さらに、その測定結果から記録品質が最良となる記録パワーを決定するので、記録領域全域に渡ってＯＰＣ直後の記録品質を保つことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態１の構成を示すブロック図である。
【図２】同実施形態１で光ディスク上に情報記録を行なう範囲を示す図である。
【図３】本発明の実施形態２の構成を示すブロック図である。
【図４】同実施形態２を説明するための図である。
【図５】ＲＦ信号のアシンメトリを説明するための図である。
【図６】本発明の実施形態５の構成を示すブロック図である。
【図７】同実施形態５の記録動作中断直前の記録品質の測定を行なうためのシーク中の動作を説明するための図である。
【図８】本発明の実施形態６の構成を示すブロック図である。
【図９】同実施形態６においてオフセットのＦＥ信号への印加をシーク時に行う処理フローを示すフローチャートである。
【図１０】同実施形態６における光ディスクの半径位置とフォーカス最良オフセットとの関係を示す特性図である。
【図１１】本発明の実施形態７の構成を示すブロック図である。
【図１２】同実施形態７における光ディスクの半径位置に対するフォーカスオフセット量のテーブルを示す図である。
【図１３】同実施形態７においてフォーカスオフセットを調整する処理フローを示すフローチャートである。
【図１４】同実施形態７における光ディスクの半径位置に対するフォーカスオフセット量を説明するための図である。
【図１５】同実施形態７における光ディスクの半径位置に対するフォーカスオフセット量を示す特性図である。
【図１６】同実施形態７における光ディスクの半径位置に対する記録用フォーカスオフセット量、再生用フォーカスオフセット量を示す特性図である。
【図１７】同実施形態７を説明するための図である。
【図１８】本発明の実施形態３を示すブロック図である。
【図１９】同実施形態３の記録動作中断直前の記録品質の測定を行なうためのシーク中の動作を説明するための図である。
【符号の説明】
１０      追記型の光ディスク
１１      光ピックアップ
１２      アシンメトリ検出部
１３      ＬＤ制御部
１４      ＣＰＵ
１５      タイマー
１６      アドレス検出手段
１７      ＲＦ測定部
１８      ＦＥ生成部
１９      オフセット生成部
２０      加算器
２１      フィルタ回路
２２      ドライバ回路
２３      光ディスク
２４      光ピックアップ
２５      ＦＥ信号生成部
２６      ＲＯＭ
２７      加算器
２８      ＣＰＵ
２９      タイマー
３０      フィルタ回路
３１      オフセット生成部
３２      ドライバ回路
３３      ＲＦ振幅検出回路
４１      ＲＦ測定部
４２      チルト検出部
４３      オフセット生成部
４４      加算器
４５      フィルタ回路
４６      ドライバ回路
４７      チルト補正機構
【図１】
2004234812.tif 000003
【図２】
2004234812.tif 000004
【図３】
2004234812.tif 000005
【図４】
2004234812.tif 000006
【図５】
2004234812.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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