(57)【要約】【課題】ランプ寿命に影響を及ぼす種々の要因に対応して、ランプ寿命を診断することのできる放電ランプ点灯装置を提供すること。【解決手段】放電ランプ１を始動させる始動回路２を有して、スイッチ素子（図示しない）の切り替えにより電源から放電ランプ１に電力を供給する電力変換回路３と、スイッチ素子を制御する制御回路４と、放電ランプの累積点灯時間をカウントする累積点灯時間積算部５と、累積点灯時間が所定の値を超えた場合に放電ランプの寿命であると診断する診断部６と、放電ランプの点滅回数をカウントする点滅回数積算部７を設けている。そして、診断部６は、点滅回数積算部７がカウントした点滅回数を読み込み、点滅回数が増加した場合に、累積点灯時間の所定の値を減少させ、累積点灯時間の所定の値と累積点灯時間積算部５がカウントした累積点灯時間とを比較し、放電ランプ１がランプ寿命であるかどうかを判断する。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放電ランプを始動させる始動回路を有して、スイッチ素子の切り替えにより電源から放電ランプに電力を供給する電力変換回路と、スイッチ素子を制御する制御回路と、放電ランプの累積点灯時間をカウントする累積点灯時間積算部と、累積点灯時間が所定の値を超えた場合に放電ランプの寿命であると診断する診断部と、を有する放電ランプ点灯装置において、放電ランプの点滅回数をカウントする点滅回数積算部を設け、前記診断部は、点滅回数積算部がカウントした点滅回数が増加した場合に、累積点灯時間の所定の値を減少させるものであることを特徴とする放電ランプ点灯装置。
【請求項２】
放電ランプを始動させる始動回路を有して、スイッチ素子の切り替えにより電源から放電ランプに電力を供給する電力変換回路と、スイッチ素子を制御する制御回路と、放電ランプの累積点灯時間をカウントする累積点灯時間積算部と、累積点灯時間が所定の値を超えた場合に放電ランプの寿命であると診断する診断部と、を有する放電ランプ点灯装置において、放電ランプの調光点灯時間をカウントする調光点灯時間累積積算部を設け、前記診断部は、調光点灯時間に応じて前記累積点灯時間の所定の値を変化させるようにしたものであることを特徴とする放電ランプ点灯装置。
【請求項３】
前記診断部は、調光点灯時間が増加すると、累積点灯時間の所定の値を減少させるものであることを特徴とする請求項２記載の放電ランプ点灯装置。
【請求項４】
前記診断部は、調光点灯時間が増加すると、累積点灯時間の所定の値を増加させるものであることを特徴とする請求項２記載の放電ランプ点灯装置。
【請求項５】
ランプ電圧を検出するランプ電圧検出部を設け、前記診断部は、ランプ電圧が所定の値を超えるか否かによっても、放電ランプの寿命を診断するものであることを特徴とする請求項１乃至請求項４記載の放電ランプ点灯装置。
【請求項６】
前記ランプ電圧の所定の値は、放電ランプ交換後の初点灯時におけるランプ電圧に基づいて予め決めた値としたことを特徴とする請求項５記載の放電ランプ点灯装置。
【請求項７】
前記ランプ電圧による放電ランプの寿命の診断は、放電ランプを調光点灯時には、一定期間、放電ランプの出力を増加させて診断するようにしたことを特徴とする請求項５又は請求項６記載の放電ランプ点灯装置。
【請求項８】
点灯中の放電ランプの光出力を検出する光出力検出手段及び放電ランプのランプ電力を検出するランプ電力検出手段を設け、前記診断部は、ランプ電力検出手段から出力されるランプ電力検出値に対応する光出力検出手段から出力される光出力検出値が所定の値より小さい場合に、放電ランプ又は当該放電ランプ点灯装置の寿命と診断するものであることを特徴とする請求項１乃至請求項７記載の放電ランプ点灯装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、放電ランプ点灯装置、特に保護機能を有する放電ランプ点灯装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種の従来例として、本出願人は、特開平６−２７５３９０号公報に示すものを提案している。このものは、放電ランプの点灯時間を積算する点灯時間積算回路を設け、前記放電ランプのランプ電力を検出するランプ電力検出回路を設け、前記点灯時間積算回路と前記ランプ電力検出回路によるランプ電力検出値とを乗じる乗算回路を設け、この乗算回路による乗算値の所定値への到達に応答して前記放電ランプの点灯を停止させるようにしたことを特徴としている。
【０００３】
【特許文献１】
特開平６−２７５３９０号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来例は、ランプ電力の大きさがランプ寿命へ与える影響を考慮し、放電ランプが寿命に至る時間を算出して、その時間に放電ランプを停止させるようにしている。
【０００５】
しかしながら、ランプ寿命に影響を及ぼす要因は他にも存在するため、その他のランプ寿命に影響を及ぼす要因に対しても対応できることが望ましい。
【０００６】
本発明は、かかる事由に鑑みてなしたものであり、その目的とするところは、ランプ寿命に影響を及ぼす種々の要因に対応して、ランプ寿命を診断することのできる放電ランプ点灯装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１に係る発明は、放電ランプを始動させる始動回路を有して、スイッチ素子の切り替えにより電源から放電ランプに電力を供給する電力変換回路と、スイッチ素子を制御する制御回路と、放電ランプの累積点灯時間をカウントする累積点灯時間積算部と、累積点灯時間が所定の値を超えた場合に放電ランプの寿命であると診断する診断部と、を有する放電ランプ点灯装置において、放電ランプの点滅回数をカウントする点滅回数積算部を設け、前記診断部は、点滅回数積算部がカウントした点滅回数が増加した場合に、累積点灯時間の所定の値を減少させるものであることを特徴とする。
【０００８】
請求項２に係る発明は、放電ランプを始動させる始動回路を有して、スイッチ素子の切り替えにより電源から放電ランプに電力を供給する電力変換回路と、スイッチ素子を制御する制御回路と、放電ランプの累積点灯時間をカウントする累積点灯時間積算部と、累積点灯時間が所定の値を超えた場合に放電ランプの寿命であると診断する診断部と、を有する放電ランプ点灯装置において、放電ランプの調光点灯時間をカウントする調光点灯時間累積積算部を設け、前記診断部は、調光点灯時間に応じて前記累積点灯時間の所定の値を変化させるようにしたものであることを特徴とする。
【０００９】
請求項３に係る発明は、請求項２記載の発明において、前記診断部は、調光点灯時間が増加すると、累積点灯時間の所定の値を減少させるものであることを特徴とする。
【００１０】
請求項４に係る発明は、請求項２記載の発明において、前記診断部は、調光点灯時間が増加すると、累積点灯時間の所定の値を増加させるものであることを特徴とする。
【００１１】
請求項５に係る発明は、請求項１乃至請求項４記載の発明において、ランプ電圧を検出するランプ電圧検出部を設け、前記診断部は、ランプ電圧が所定の値を超えるか否かによっても、放電ランプの寿命を診断するものであることを特徴とする。
【００１２】
請求項６に係る発明は、請求項５記載の発明において、前記ランプ電圧の所定の値は、放電ランプ交換後の初点灯時におけるランプ電圧に基づいて予め決めた値としたことを特徴とする。
【００１３】
請求項７に係る発明は、請求項５又は請求項６記載の発明において、前記ランプ電圧による放電ランプの寿命の診断は、放電ランプを調光点灯時には、一定期間、放電ランプの出力を増加させて診断するようにしたことを特徴とする。
【００１４】
請求項８に係る発明は、請求項１乃至請求項７記載の発明において、点灯中の放電ランプの光出力を検出する光出力検出手段及び放電ランプのランプ電力を検出するランプ電力検出手段を設け、前記診断部は、ランプ電力検出手段から出力されるランプ電力検出値に対応する光出力検出手段から出力される光出力検出値が所定の値より小さい場合に、放電ランプ又は当該放電ランプ点灯装置の寿命と診断するものであることを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】
（第１の実施形態）
第１の実施形態を、図１及び図２に基づいて説明する。図１は、第１の実施形態の構成図である。図２は、第１の実施形態の回路構成図である。
【００１６】
本実施形態の放電ランプ点灯装置は、図１に示すように、放電ランプ１を始動させる始動回路２を有して、スイッチ素子（図示しない）の切り替えにより電源から放電ランプ１に電力を供給する電力変換回路３と、スイッチ素子を制御する制御回路４と、放電ランプの累積点灯時間をカウントする累積点灯時間積算部５と、累積点灯時間が所定の値を超えた場合に放電ランプの寿命であると診断する診断部６と、放電ランプの点滅回数をカウントする点滅回数積算部７を設けている。
【００１７】
次に図２を用いて具体的に説明する。放電ランプ１は、たとえば、バルブ内部に水銀と始動用の希ガスとハロゲン化金属が封入された発光管を有するメタルハライドランプであり、後述する電力変換回路３に接続されている。
【００１８】
始動回路２は、放電ランプ１を始動させるための高電圧を発生させるもので、パルス発生回路８及びトランスＰＴを有し、パルス発生回路８は、トランスＰＴの１次側に接続され、トランスＰＴの２次側は、後述するインバータ回路１２のスイッチ素子Ｓ３とスイッチ素子Ｓ４の接続部と放電ランプ１に接続されている。
【００１９】
電力変換回路３は、スイッチ素子Ｓ１〜Ｓ６の切り替えにより電源から放電ランプ１に電力を供給するもので、図２に示すように、整流部９、ＰＦＣ回路１０、出力電力変換回路１１、インバータ回路１２、始動回路２が直列に接続されて構成されている。
【００２０】
整流部９は、交流電源の交流電圧を整流するもので、ダイオードブリッジで構成されており、整流部９の入力端子は電源に接続され、出力端子はＰＦＣ回路１０に接続されている。
【００２１】
ＰＦＣ回路１０は、電源から取りこむ電流波形を正弦波状に整形し、また直流電圧を出力するもので、整流部９の出力端子にインダクタＬ１とダイオードＤ１とが直列に接続され、インダクタＬ１とダイオードＤ１の接続部とグランドＧ間には、スイッチ素子Ｓ１が接続されている。また、ダイオードＤ１のカソード側とグランドＧ間には、コンデンサＣ１が接続されている。
【００２２】
出力電力変換回路１１は、ＰＦＣ回路１０の出力電圧を受けて放電ランプ１に供給する電力を調整するもので、ＰＦＣ回路１０の出力端子には、スイッチ素子Ｓ２とインダクタＬ２が直列に接続され、スイッチ素子Ｓ２とインダクタＬ２の接続部とグランドＧ間には、ダイオードＤ２が接続されている。また、インダクタＬ２の負荷側とグランドＧ間には、コンデンサＣ２が接続されている。
【００２３】
インバータ回路１２は、出力電力変換回路１１から出力される直流電圧を受けて交流電圧に変換するもので、スイッチ素子Ｓ３とスイッチ素子Ｓ４の直列回路が、出力電力変換回路１１の出力端子間に接続されている。また、スイッチ素子Ｓ３とスイッチ素子Ｓ４の直列回路に並列にスイッチ素子Ｓ５とスイッチ素子Ｓ６の直列回路が接続されている。
【００２４】
制御回路４は、ＰＦＣ制御回路１３、出力制御回路１４、インバータ制御回路１５、イグナイタ制御回路１６からなるものである。ＰＦＣ制御回路１３は、電源から取りこむ電流波形を正弦波状に整形し、また直流電圧を出力するため、スイッチ素子Ｓ１のスイッチングを制御するもので、後述する診断部６及びスイッチ素子Ｓ１のゲートに接続されている。出力制御回路１４は、ＰＦＣ回路１０の出力電圧を受けて放電ランプ１に供給する電力を調整するため、スイッチ素子Ｓ２のスイッチングを制御するもので、後述する診断部６及びスイッチ素子Ｓ２のゲートに接続されている。インバータ制御回路１５は、出力電力変換回路１１の直流出力電圧を交流電圧に変換するため、スイッチ素子Ｓ３及びスイッチ素子Ｓ６と、スイッチ素子Ｓ４及びスイッチ素子Ｓ５を交互にスイッチングするように制御するもので、後述する診断部６及びスイッチ素子Ｓ３〜６のゲートに接続されている。イグナイタ制御回路１６は、パルス発生回路８を制御するもので、後述する診断部６及びスイッチＳＷを介してパルス発生回路８に接続されている。
【００２５】
累積点灯時間積算部５は、放電ランプ１の始動時及び消灯時に診断部６から信号を受け、放電ランプ１の累積点灯時間をカウントするもので、カウンターＩＣからなり、後述する診断部６に接続されている。
【００２６】
点滅回数積算部７は、放電ランプ１の始動時に診断部６から信号を受け、放電ランプ１の点滅回数をカウントするもので、カウンターＩＣ及びメモリからなり、後述する診断部６に接続されている。
【００２７】
診断部６は、点滅回数積算部７がカウントした点滅回数に応じて累積点灯時間の所定の値を変化させ、累積点灯時間が累積点灯時間の所定の値を超えた場合に放電ランプの寿命であると診断するものであり、制御回路４、点滅回数積算部７及び累積点灯時間積算部５に接続されている。
【００２８】
つぎに、第１の実施形態の動作について説明する。電力変換回路３に電源が接続されると、整流部９は電源の交流電圧を整流する。そして、ＰＦＣ回路１０は、スイッチ素子Ｓ１をスイッチングすることにより電源から取りこむ電流波形を正弦波状に整形し、また所望の直流電圧に変換し、コンデンサＣ１は、所定の電圧値にまで充電される。
【００２９】
そして、スイッチ素子Ｓ２の制御により出力電力変換回路１１の出力電力を調整し、インバータ制御回路１５によりインバータ回路１２のスイッチ素子Ｓ３及びスイッチ素子Ｓ６と、スイッチ素子Ｓ４及びスイッチ素子Ｓ５は、交互にスイッチングされ、矩形波の交流電圧波形を出力する。その後、始動回路２によりパルス電圧が放電ランプ１に印加されて、放電ランプ１は、点灯する。この時、累積点灯時間積算部５は、診断部６を介して放電ランプ１の点灯を検出し、放電ランプ１の累積点灯時間のカウントを開始する。また、同時に、点滅回数積算部７は、同様にその内部に保持している放電ランプ１の累積点滅回数を増加させる。ここで診断部６は、点滅回数積算部７がカウントした点滅回数を読み込み、点滅回数が増加した場合に、累積点灯時間の所定の値を減少させる。
【００３０】
そして、診断部６は、累積点灯時間の所定の値と累積点灯時間積算部５がカウントした累積点灯時間とを比較し、放電ランプ１がランプ寿命であるかどうかを判断する。すなわち、累積点灯時間積算部５がカウントした累積点灯時間が、累積点灯時間の所定の値を越える場合には、放電ランプ１の寿命と診断する。このようにする理由は、放電ランプ１の点滅を頻繁にさせると、電極の損傷によりランプ寿命か短くなるためである。
【００３１】
以上のように、放電ランプ１の点滅回数が増加した場合に、累積点灯時間の所定の値を減少させるので、より、精度良く放電ランプ１の寿命を診断することができる。
【００３２】
（第２の実施形態）
第２の実施形態を、先に説明した図２及び図３に基づいて説明する。図３は、第２の実施形態の構成図である。
【００３３】
本実施形態においては、第１の実施形態に放電ランプ１の調光点灯時間をカウントする調光点灯時間累積積算部２０を設けた点が異なり、他は同じである。
【００３４】
調光点灯時間累積積算部２０は、診断部６に接続され、たとえば図２に示す出力電力変換回路１１のスイッチ素子Ｓ２を、出力制御回路１４によりスイッチングしてコンデンサＣ２の電圧を調整することにより、調光制御した場合に、調光点灯時間の累積をカウントし、その値を保持する。そして、前記診断部６は、累積点灯時間の所定の値を、調光点灯時間に応じて前記累積点灯時間の所定の値を変化させるようにし、診断部６は、放電ランプ１が寿命と判断する累積点灯時間の所定の値と、累積点灯時間積算部５がカウントした累積点灯時間とを比較し、放電ランプ１がランプ寿命であるかどうかを判断する。具体的には、放電ランプ１として、スカンジウム系のＨＩＤランプを用いた場合には、調光点灯を継続させるとランプ寿命が延びることがあり、この場合には、診断部６は、調光点灯時間が増加すると、累積点灯時間の所定の値を増加させる。また、放電ランプ１としてある種のメタルハライドランプを用いた場合には、調光点灯を継続させるとランプ寿命が短くなるため、この場合には、診断部６は、調光点灯時間が増加すると、累積点灯時間の所定の値を減少させる。
【００３５】
以上のようにすることにより、放電ランプ１の調光点灯時間に応じて、放電ランプ１の寿命と判断する累積点灯時間の所定の値を変化させるので、より精度良く放電ランプ１の寿命を診断することができる。
【００３６】
また、累積点灯時間積算部５は、点滅回数積算部７と調光点灯時間累積積算部２０の出力を比較して、影響の大きい方を選択して累積点灯時間の所定の値を変化させるようにしてもよい。
【００３７】
（第３の実施形態）
第３の実施形態を、先に説明した図２及び図４に基づいて説明する。図４は、本実施形態の構成図である。本実施形態は、ランプ電圧を検出するランプ電圧検出部３０を設け、診断部６は、ランプ電圧が所定の値を超えるか否かによって、放電ランプの異常をも診断するものであり、ランプ電圧を検出するランプ電圧検出部３０を設けた点が第１の実施形態と異なり、他は同じである。
【００３８】
ランプ電圧検出部３０は、電力変換回路３の出力部と診断部６に接続されている。診断部６は、電源の投入後、前述のように出力電力変換回路１１の制御により、放電ランプ１を調光点灯させた場合に、診断部６内の放電ランプ１の寿命を診断する所定のランプ電圧値を、低下させる。これは、放電ランプ１を調光点灯させた場合に、ランプ電圧が定格点灯時に比べて低下することがあることによる。このように、ランプ電圧の所定の値で放電ランプ１の寿命を診断することにより、更に精度よく放電ランプ１のランプ寿命を診断することができるようになる。
【００３９】
また、放電ランプ１の調光点灯を継続的に実施する場合において、出力電力変換回路１１の制御により、放電ランプ１を定格点灯させ、定格点灯時におけるランプ電圧の値で、ランプ寿命を判断する。このようにすることにより、ランプ電圧の所定の値を調光レベルに合わせて設定する必要が無くなるので、より簡易的に、放電ランプ１の寿命を診断することができる。
【００４０】
（第４の実施形態）
第４の実施形態を、図５に基づいて説明する。図５は、本実施形態の構成図である。本実施形態は、第３の実施形態に、放電ランプ交換後の初点灯時におけるランプ電圧の値を記憶する初期ランプ電圧記憶部４１を設け、ランプ電圧の所定の値を、放電ランプ交換後の初点灯時におけるランプ電圧に基づいて予め決めた値とした点が異なり、他は同じである。
【００４１】
ここで、初期ランプ電圧記憶部４１は、前述のように放電ランプ１の交換後の初点灯時におけるランプ電圧の値を記憶するメモリを有し、さらにその記憶をリセットするリセットＳＷ（図示はしない）を有して、診断部６及びランプ電圧検出部３０に接続されている。
【００４２】
当該放電ランプ１の交換後、初期ランプ電圧記憶部４１のリセットボタンを使用者が押すことにより、初期ランプ電圧記憶部４１の記憶値がリセットされる。この状態で、前述のように、電力変換回路３を電源に接続して、電力変換回路３が動作して、放電ランプ１が始動すると、ランプ電圧検出部３０はランプ電圧を検出する。ランプ電圧検出部３０は、初期ランプ電圧記憶部４１にランプ電圧値を入力し、初期ランプ電圧記憶部４１はこのランプ電圧値を記憶し、このランプ電圧値に対して予め定めた値を、所定の値として記憶する。以後、放電ランプ１を点灯させた場合には、診断部６は、初期ランプ電圧記憶部４１に記憶された所定の値と、ランプ電圧検出部３０が検出するランプ電圧値とを比較し、その比較によって、放電ランプ１の寿命を判断する。このようにして放電ランプ１の寿命を判断させるのは以下の理由による。すなわち、放電ランプ１のランプ電圧は、発光管内のガス圧ばらつき等により、バラツキを有する。これにより、ランプ寿命を判断する所定の値を常に一定にした場合には、点灯初期のランプ電圧が高い放電ランプ１に対しては、実際のランプ寿命に達する前に、ランプ寿命と判別される可能性がある。また、点灯初期のランプ電圧の高い放電ランプ１にあわせて、ランプ電圧の所定の値を設定すると、点灯初期のランプ電圧の低い放電ランプ１は、実際にはランプ寿命に達しているにも関わらず、ランプ寿命と診断されないケースが想定されるためである。ここで、放電ランプ１の交換後の初点灯時におけるランプ電圧に対して予め決めた値は、実験的に求めたデータを用いても良いし、代表値として、点灯初期のランプ電圧のセンター値に対応する所定の値を決め、それ以外の点灯初期のランプ電圧に対しては、比例的に決定してもよい。
【００４３】
以上のように、放電ランプ１の交換後の初点灯時におけるランプ電圧の値を、ランプ寿命を判断する所定の値とすることで、各放電ランプ１のばらつきを考慮した、より精度のよい寿命診断が可能になる。
（第５の実施形態）
第５の実施形態を、図６に基づいて説明する。図６は、本実施形態の構成図である。本実施形態は、点灯中の放電ランプ１の光出力を検出する光出力検出手段５０及び放電ランプのランプ電力を検出するランプ電力検出手段５１を設け、前記診断部６は、ランプ電力検出手段５１から出力されるランプ電力検出値に対応する光出力検出手段５０から出力される光出力検出値が所定の値より小さい場合に、放電ランプ１又は当該放電ランプ点灯装置の寿命と診断するものであり、点灯中の放電ランプ１の光出力を検出する光出力検出手段５０と、放電ランプのランプ電力を検出するランプ電力検出手段５１を設けた点が第１の実施形態と異なり、他は同じである。
【００４４】
光出力検出手段５０は、放電ランプ１の発光を検出するもので、光出力検出手段５０の出力端は、診断部６に接続されている。また、ランプ電力検出手段５１は、放電ランプ１のランプ電圧及びランプ電流を測定することによりランプ電力を算出するもので、電力変換回路３の出力部と診断部６に接続されている。
【００４５】
以上の構成において、前述に示したように、放電ランプ１を点灯させ、累積点灯時間積算部５は、累積点灯時間を積算する。また、同時に、光出力検出手段５０により、放電ランプ１の発光を検出し、さらに、ランプ電力検出手段５１により放電ランプ１のランプ電力を検出する。そして、診断部６は、ランプ電力検出手段５１から出力されるランプ電力検出値に対応する光出力検出値が所定の値より小さい場合に、放電ランプ又は当該放電ランプ点灯装置の寿命寿命と診断する。さらに、診断部６は、累積点灯時間積算部５から累積点灯時間を読み込み、累積点灯時間が比較的短い場合には、放電ランプ点灯装置に異常があるものと判断する。ここで、累積点灯時間が比較的短い場合とは、放電ランプ１の公称寿命時間に対して、１／１０から１／５程度の時間である。一方、累積点灯時間が比較的長い場合には、放電ランプ１の寿命と診断する。ここで、累積点灯時間が比較的長い場合とは、放電ランプ１の公称寿命時間に対して、４／５から９／１０程度の時間である。
【００４６】
以上のように、光出力及びランプ電力の相対的な関係によってもランプ寿命を診断するので、より精度よくランプ寿命を診断することが可能になる。
【００４７】
【発明の効果】
請求項１に係る発明は、放電ランプを始動させる始動回路を有して、スイッチ素子の切り替えにより電源から放電ランプに電力を供給する電力変換回路と、スイッチ素子を制御する制御回路と、放電ランプの累積点灯時間をカウントする累積点灯時間積算部と、累積点灯時間が所定の値を超えた場合に放電ランプの寿命であると診断する診断部と、を有する放電ランプ点灯装置において、放電ランプの点滅回数をカウントする点滅回数積算部を設け、前記診断部は、点滅回数積算部がカウントした点滅回数が増加した場合に、累積点灯時間の所定の値を減少させるものであるようにしたので、放電ランプを頻繁に点滅させることによりランプ寿命が短くなる場合においても、精度良く放電ランプ１の寿命を診断することができる。
【００４８】
請求項２に係る発明は、放電ランプを始動させる始動回路を有して、スイッチ素子の切り替えにより電源から放電ランプに電力を供給する電力変換回路と、スイッチ素子を制御する制御回路と、放電ランプの累積点灯時間をカウントする累積点灯時間積算部と、累積点灯時間が所定の値を超えた場合に放電ランプの寿命であると診断する診断部と、を有する放電ランプ点灯装置において、放電ランプの調光点灯時間をカウントする調光点灯時間累積積算部を設け、前記診断部は、調光点灯時間に応じて前記累積点灯時間の所定の値を変化させるようにしたので、放電ランプの調光点灯時間に応じて変動するランプ寿命を診断することが可能になる。
【００４９】
請求項３に係る発明は、請求項２記載の発明において、前記診断部は、調光点灯時間が増加すると、累積点灯時間の所定の値を減少させるものであるようにしたので、放電ランプの調光点灯時間を増加させるとランプ寿命が短くなる場合に、適切にランプ寿命を診断することが可能になる。
【００５０】
請求項４に係る発明は、請求項２記載の発明において、前記診断部は、調光点灯時間が増加すると、累積点灯時間の所定の値を増加させるものであるようにしたので、放電ランプの調光点灯時間を増加させると、ランプ寿命が長くなる場合に、適切にランプ寿命を診断することが可能になる。
【００５１】
請求項５に係る発明は、請求項１乃至請求項４記載の発明において、ランプ電圧を検出するランプ電圧検出部を設け、前記診断部は、ランプ電圧が所定の値を超えるか否かによっても、放電ランプの寿命を診断するものであるようにしたので、ランプ電圧によってもランプ寿命を診断し、より精度よくランプ寿命を診断することが可能になる。
【００５２】
請求項６に係る発明は、請求項５記載の発明において、前記ランプ電圧の所定の値は、放電ランプ交換後の初点灯時におけるランプ電圧に基づいて予め決めた値としたので、個々の放電ランプの初点灯時におけるランプ電圧の値のばらつきの影響を抑え、精度よくランプ寿命の診断を行うことができる。
【００５３】
請求項７に係る発明は、請求項５又は請求項６記載の発明において、前記ランプ電圧による放電ランプの寿命の診断は、放電ランプを調光点灯時には、一定期間、放電ランプの出力を増加させて診断するようにしたので、ランプ電圧の所定の値を調光レベルに合わせて設定する必要が無くなるので、より簡易的に、放電ランプの寿命を診断することができる。
【００５４】
請求項８に係る発明は、請求項１乃至請求項７記載の発明において、点灯中の放電ランプの光出力を検出する光出力検出手段及び放電ランプのランプ電力を検出するランプ電力検出手段を設け、前記診断部は、ランプ電力検出手段から出力されるランプ電力検出値に対応する光出力検出手段から出力される光出力検出値が所定の値より小さい場合に、放電ランプ又は当該放電ランプ点灯装置の寿命と診断するものであるようにしたので、光出力及びランプ電力の相対的な関係によってもランプ寿命を診断するので、より精度よくランプ寿命を診断することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施形態の構成図である。
【図２】第１の実施形態の回路構成図である。
【図３】第２の実施形態の構成図である。
【図４】第３の実施形態の構成図である。
【図５】第４の実施形態の構成図である。
【図６】第５の実施形態の構成図である。
【符号の説明】
１    放電ランプ
２    始動回路
３    電力変換回路
４    制御回路
５    累積点灯時間積算部
６    診断部
７    点滅回数積算部
【図１】
2004234926.tif 000003
【図２】
2004234926.tif 000004
【図３】
2004234926.tif 000005
【図４】
2004234926.tif 000006
【図５】
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【図６】
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