(57)【要約】【課題】ディスクに光学式ピックアップにより信号を記録することが出来る光ディスク記録再生装置に適したレーザー出力設定方法を提供する。【解決手段】ディスクに設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録した後、記録された信号を再生することによってレーザー出力を設定するように構成された光ディスク記録再生装置において、ディスクに記録されたテスト信号を読み出すとともに読み出された信号を２値化し、２値化された信号のパルス幅を測定し、測定されたパルス幅が異常幅か否かに基づいてレーザー出力を設定する。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクに設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録した後、記録された信号を再生することによってレーザー出力を設定するように構成された光ディスク記録再生装置において、ディスクに記録されたテスト信号を読み出すとともに読み出された信号を２値化し、２値化された信号のパルス幅を測定し、測定されたパルス幅が異常幅か否かに基づいてレーザー出力を設定するようにしたことを特徴とする光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法。
【請求項２】
パルス幅の異常か否かの判定動作を規格使用パルス幅の最小パルス幅より狭いパルス幅にて行うようにしたことを特徴とする請求項１に記載のレーザー出力設定方法。
【請求項３】
パルス幅が異常なパルスの発生頻度に基づいてレーザー出力を設定するようにしたことを特徴とする請求項１に記載のレーザー出力設定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学式ピックアップより照射されるレーザーによってディスクに信号を記録するとともにレーザーによってディスクに記録されている信号の再生動作を行うように構成された光ディスク記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光学式ピックアップを用いてディスクに記録されている信号の再生動作を行うディスクプレーヤーが普及しているが、最近では、再生機能に加えて光学式ピックアップより照射されるレーザーによってディスクに信号を記録することが出来るように構成された光ディスク記録再生装置が商品化されている。
【０００３】
斯かる光ディスク記録再生装置では、レーザーによってディスク上にピットを形成するように構成されているが、レーザーの出力値が最適でなかった場合には、ピットの形状が大きすぎたり小さすぎたりすることになる。そのため、斯かる光ディスク記録再生装置に使用されるディスクには、最内周側に試し書き領域が設けられており、その試し書き領域にテスト信号をレーザー出力を変更しながら記録した後再生し、その再生信号に含まれるジッター値を測定することによって記録のためのレーザー出力を設定するようにした技術が開発されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００４】
【特許文献１】
特開２０００−１３７９１８号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
レーザー出力の設定動作は、前述したようにディスクに設けられている試し書き領域にレーザー出力を変更させてテスト信号の記録動作を行い、その記録されたテスト信号の再生信号に含まれるジッター値の大小を測定することによって行うように構成されているが、ジッターの測定を行うためにはＰＬＬ回路を利用するため、ＰＬＬ回路の特性による影響を受けるので不正確になるという問題がある。
【０００６】
また、再生されるテスト信号から記録特性の良否を判断する方法としてエラー数をカウントする方法があるが、斯かる方法では、再生されるテスト信号の長さが長くなるので、試し書き領域に記録するテスト信号の長さが必然的に長くなる。その結果、試し書き領域の範囲は規制されているのでレーザー出力を設定するための使用可能回数が少なくなるという問題がある。
【０００７】
本発明は、斯かる問題を解決したレーザー出力設定方法を提供しようとするものである。
【０００８】
【作用】
本発明は、ディスクに設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録した後、記録された信号を再生することによってレーザー出力を設定するように構成された光ディスク記録再生装置において、ディスクに記録されたテスト信号を読み出すとともに読み出された信号を２値化し、２値化された信号のパルス幅を測定し、測定されたパルス幅が異常幅か否かに基づいてレーザー出力を設定するように構成されている。
【０００９】
【実施例】
図１は本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例を示すブロック回路図、図２は本発明の動作を説明するための信号波形図である。
【００１０】
図１において、１はスピンドルモーター（図示せず）によって回転駆動されるディスク、２はディスク１に光ビームを照射させるレーザーダイオードが組み込まれているとともにディスク１の信号面より反射される光ビームを受ける光検出器が組み込まれている光学式ピックアップであり、ピックアップ駆動用電動機（図示せず）の回転動作によってディスク１の径方向に変位せしめられるように構成されている。
【００１１】
３は前記光学式ピックアップ２に組み込まれている光検出器から得られるＲＦ信号を波形整形するとともに２値信号に変換するＲＦ信号増幅回路部であり、ＲＦ信号を後述する２値化するための波形に整形するイコライザ４及び該イコライザ４より出力される信号を２値化する２値化回路５より構成されている。６は前記２値化回路５から出力される信号をデコードするデコーダ回路、７は前記２値化回路５によって２値化された信号のパルス幅である信号長を測定する信号長測定回路である。
【００１２】
８は光ディスク記録再生装置の各種の制御動作を行うシステム制御回路、９はディスク１の内周側に設けられている試し書き領域にレーザー出力の設定動作を行う場合に記録される信号であるテスト信号を生成するテスト信号生成回路、１０は前記テスト信号生成回路９から出力されるテスト信号やホスト機器として接続されているパーソナルコンピューターから出力される記録信号が入力されるエンコーダ回路であり、ディスクの規格にあった記録動作を行うための信号処理を行うように構成されている。
【００１３】
１１は前記エンコーダ回路１０によってエンコード処理された記録信号が入力されるレーザーダイオード駆動回路であり、記録信号に応じた駆動電流を前記光学式ピックアップ２に組み込まれているレーザーダイオードに供給するように構成されている。１２は前記システム制御回路８によって動作が制御されるレーザー出力制御回路であり、前記レーザーダイオード駆動回路１１より出力される駆動電流の値を可変設定するように構成されている。
【００１４】
以上の如く本発明は構成されているが、次に動作について説明する。ディスク１に記録されている信号の再生動作を行うための命令信号がホスト機器より出力されると、システム制御回路８による再生動作のための制御動作が開始される。
【００１５】
斯かる制御動作が行われると、スピンドルモーターに対する制御動作によってディスク１が所望の回転速度にて回転駆動されるとともに光学式ピックアップ２より照射されるレーザー光をディスク１の信号面に合焦させるフォーカシング制御動作及び信号トラックに追従させるトラッキング制御動作が行われる。そして、この場合は、レーザー出力制御回路１２の働きによってレーザーダイオード駆動回路１１から再生動作を行うために必要なレベルのレーザー出力がレーザーダイオードから放射される駆動電流が該レーザーダイオードに対して供給される。
【００１６】
ディスク１の信号面に照射されたレーザー光は、該信号面から反射された後前記光学式ピックアップ２に組み込まれている光検出器に照射されて電気信号に変換される。前記光検出器より得られる電気信号である再生信号は、高周波信号であり、ＲＦ信号増幅回路部３に入力される。前記ＲＦ信号増幅回路部３に入力されたＲＦ信号は、イコライザ４によって整形された後２値化回路５によって２値の信号、即ちパルス信号に整形される。そして、ＣＤと呼ばれるディスクの場合には、得られるパルス信号の幅は、３Ｔから１１Ｔまでの９種類のパルス信号となる。
【００１７】
ここで２値化回路５によるパルス生成動作について説明する。イコライザ４によって整形された信号は、アナログ信号であり、その信号を所定のスライスレベルとの比較によって２値化するようにされている。そして、前記２値化回路５が入力される信号を２値化するために設定されるスライスレベルは、システム制御回路８によって制御されるように構成されている。
【００１８】
前記スライスレベルの変更制御動作は、例えば規定のパルス幅３Ｔを基準として設定されるようにされている。即ち、ディスク１から再生される信号を２値化すると記録されている信号の規格により３Ｔから１１Ｔまでのパルス信号が得られることになる。従って、規格上における最小のパルス幅である３Ｔの信号が得られるようにスライスレベルを変更すれば良いことになる。２値化回路５によって２値化された信号の中から最小のパルス幅の信号を選択するとともにそのパルス幅と基準となる３Ｔのパルス幅とを比較し、その差を補正する方向にスライスレベルを変更する動作が行われる。即ち、再生信号から得られる３Ｔ信号のパルス幅が基準となる３Ｔ信号のパルス幅より狭い場合には、スライスレベルを低くし、反対に再生信号から得られる３Ｔ信号のパルス幅が基準となる３Ｔ信号のパルス幅より広い場合には、スライスレベルを上昇させることになる。
【００１９】
前記スライスレベルの変更制御動作は、規格上における最小のパルス幅であるパルス幅３Ｔを基準として設定するようにしたが、反対に規格上における最大のパルス幅である１１Ｔの信号が得られるようにスライスレベルを変更するようにすることも出来る。２値化回路５によって２値化された信号の中から最大のパルス幅の信号を選択するとともにそのパルス幅と基準となる１１Ｔのパルス幅とを比較し、その差を補正する方向にスライスレベルを変更する動作が行われる。即ち、再生信号から得られる１１Ｔ信号のパルス幅が基準となる１１Ｔ信号のパルス幅より狭い場合には、スライスレベルを低くし、反対に再生信号から得られる１１Ｔ信号のパルス幅が基準となる１１Ｔ信号のパルス幅より広い場合には、スライスレベルを上昇させることになる。
【００２０】
前記２値化回路５のスライスレベルを前述したように変更制御することによって規格にて決定されている３Ｔから１１Ｔまでのパルス信号が生成されてデコーダ回路６に入力されることになる。その結果、前記デコーダ回路６によるデコード処理が行われ、所望のデータ信号やオーディオ信号がホスト機器に出力されることになる。
【００２１】
以上に説明したように再生動作は行われるが、次にディスク１に信号を記録する動作について説明する。ディスク１に信号を記録するための命令信号がホスト機器より出力されると、システム制御回路８による記録動作のための制御動作が開始される。
【００２２】
斯かる制御動作が行われると、スピンドルモーターに対する制御動作によってディスク１が所望の回転速度にて回転駆動されるとともに光学式ピックアップ２より照射されるレーザー光をディスク１の信号面に合焦させるフォーカシング制御動作及び信号トラックに追従させるトラッキング制御動作が行われる。そして、この場合は、レーザー出力制御回路１２の働きによってレーザーダイオード駆動回路１１から記録動作を行うために必要なレベルのレーザー出力がレーザーダイオードから放射される駆動電流が該レーザーダイオードに対して供給される。
【００２３】
ホスト機器より出力される記録信号は、インターフェース回路を通してエンコーダ回路１０に入力され、該エンコード回路１０によって記録動作を行うためのエンコード処理が行われる。記録動作を行うためのエンコード処理が行われた記録信号は、レーザーダイオード駆動回路１１に入力され、その記録信号に対応した駆動電流がレーザーダイオードに供給される。その結果、レーザーダイオードから照射されるレーザー光によってディスク１の所望の位置に信号が記録されることになるが、記録されるピットの長さは３Ｔから１１Ｔまでになる。従って、このように記録された信号を再生することによって３Ｔから１１Ｔまでの幅を有する信号を得ることが出来、記録動作によって記録された信号の再生動作を行うことが出来る。
【００２４】
以上に説明したように本実施例における再生動作及び記録動作は行われるが、次に本発明の要旨であるレーザー出力の設定方法について説明する。レーザー出力の設定動作は、周知のようにディスク１の内周側に設けられている試し書き領域にレーザーの出力を変更させながらテスト信号を記録し、その記録されたテスト信号を再生することによって行われるが、本発明では次のように行われる。
【００２５】
システム制御回路８によってレーザー出力を設定するための制御動作が開始されるが、斯かる動作は、光学式ピックアップ２を試し書き領域のテスト信号記録位置に移動させるとともにテスト信号生成回路９からテスト信号を生成させる動作が行われる。前記テスト信号生成回路９より生成されたテスト信号は、エンコーダ回路１０に入力されてエンコード処理された後レーザーダイオード駆動回路１１に入力される。
【００２６】
このようにして記録信号であるテスト信号がレーザーダイオード駆動回路１１に入力されるが、該レーザーダイオード駆動回路１１からレーザーダイオードに供給される駆動電流の大きさは、レーザー出力制御回路１２によって変更されながら行われる。斯かるレーザー出力の変更動作は、例えば低いレベルから高いレベルへと段階的に行われる。
【００２７】
斯かる動作が行われる結果、ディスク１の試し書き領域には、レーザー出力が変更されながらテスト信号が記録されることになる。レーザー出力を所定の低レベルから所定の高レベルまで変更させることによってテスト信号の記録動作が行われると、テスト信号の記録動作を終了させる。
【００２８】
前述したようにテスト信号の試し書き領域への記録動作は行われるが、斯かる記録動作が終了すると、テスト信号の記録動作が開始された位置に光学式ピックアップ２を移動させてテスト信号の再生動作を行う。斯かる再生動作を行うためのレーザー出力は、前述した再生動作と同様にレーザー出力制御回路１２によって設定される。
【００２９】
光学式ピックアップ２によって再生されたテスト信号は、前述したようにイコライザ４にて整形された後２値化回路５に入力されて２値化される。そして、この場合にも前述したように２値化回路５のスライスレベルの変更制御動作が行われる。
【００３０】
図２は斯かる２値化回路５による２値化動作を説明するものであり、（Ａ）はイコライザ４から出力される再生信号とスライスレベルＶとの関係を示し。（Ｂ）は２値化されたパルス信号を示すものである。同図より明らかなように再生信号のレベルがスライスレベルＶより高いとき高いレベルとなる２値化されたパルス信号が生成されることになる。
【００３１】
前述したようにスライスレベルＶは、記録信号の規格上の最小パルス幅である３Ｔ信号が最小幅のパルスとして生成するように制御されるため、ディスク１に信号を記録するレーザー出力が記録動作に適している場合には、３Ｔから１１Ｔの信号が生成されることになる。ところが、記録するレーザー出力が正常な記録動作を行うレーザー出力より大きい場合には、図２の（Ｂ）に示すように規格外のパルス幅である２Ｔ信号が発生し、レーザー出力が大きくなるに従って２Ｔ信号の発生頻度が次第に増加することになる。
【００３２】
２値化回路５によって生成されるパルス信号のパルス幅は、信号長測定回路７によって行われるが、その測定動作は、例えばパルス間に発生するクロック信号の数をカウントすることによって簡単に測定することが出来る。このようにして信号長測定回路７によるパルス幅の測定動作が行われるが、その測定された信号はシステム制御回路８に入力されることになる。
【００３３】
前記システム制御回路８は、入力される信号長測定回路７から出力される測定信号に基づいて規格外のパルス幅である２Ｔ信号の発生頻度を認識し、その発生頻度が高い再生信号を記録したレーザー出力は記録動作を行うために適していないと判断することが出来る。従って、規格外のパルス幅である２Ｔ信号の発生頻度を認識することによってレーザー出力の適否を判定することが出来るので、レーザー出力の設定動作を行うことが出来る。
【００３４】
そして、システム制御回路８内にメモリー素子を設け、そのメモリー素子にディスクの種類や記録速度に応じた２Ｔ信号の発生検出レベルを前以て記憶させておけば使用されるディスクや記録速度に最適なレーザー出力を設定するための動作を行うことが出来る。また、２Ｔ信号の発生頻度が記録動作に適していない頻度になったレーザー出力よりどの程度出力レベルを下げたら記録動作を行うために適したレーザー出力になるか等のデータをディスクの種類や記録速度に対応させて前記メモリー素子に記憶させておけば最適なレーザー出力の設定動作を行うことが出来る。
【００３５】
【発明の効果】
本発明は、ディスクに設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録した後、記録された信号を再生することによってレーザー出力を設定するように構成された光ディスク記録再生装置において、ディスクに記録されたテスト信号を読み出すとともに読み出された信号を２値化し、２値化された信号のパルス幅を測定し、測定されたパルス幅が異常幅か否かに基づいてレーザー出力を設定するようにしたので、ジッター値を利用する方法のようなＰＬＬ回路の特性による影響を受けることがないだけでなく、エラー数をカウントする方法のようにテスト信号を長く記録しなければならないという問題を解決することが出来る。
【００３６】
また、本発明は、パルス幅の異常か否かの判定動作を規格使用パルス幅の最小パルス幅より狭いパルス幅にて行うようにしたので、規格使用パルスとの区別を容易に行うことが出来、異常パルスの認識動作を正確に行うことが出来る。
【００３７】
そして、本発明は、パルス幅が異常なパルスの発生頻度に基づいてレーザー出力を設定するようにしたのでレーザー出力の設定を記録動作に適した値に設定することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のレーザー出力設定方法に係る光ディスク記録再生装置の一実施例を示すブロック回路図である。
【図２】本発明の動作を説明するための信号波形図である。
【符号の説明】
１        ディスク
２        光学式ピックアップ
３        ＲＦ信号増幅回路部
４        イコライザ
５        ２値化回路
７        信号長測定回路
８        システム制御回路
９        テスト信号生成回路
１１        レーザーダイオード駆動回路
１２        レーザー出力制御回路
【図１】
2004326918.tif 000003
【図２】
2004326918.tif 000004