(57)【要約】【課題】レーザパワーと駆動電流の関係が合焦点／非合焦点で変化する為に、非合焦点でのレーザパワーと駆動電流の関係を基準に半導体レーザの駆動電流を流したとしても、合焦点でのレーザパワーが出力されてしまう事でレーザパワーが変化して最適な記録ができなくなる問題があり、レーザパワーと駆動電流の関係を補正する事により、最適なレーザパワーを正確に出力する事ができる光ディスク装置を提供するものである。【解決手段】合焦点にてレーザ駆動回路１０にある制御信号を入力した時のモニタ回路１１の出力信号を、パワー誤差演算手段１３及び規格化演算手段１５にて非合焦点の出力信号と比較演算する事によって補正値を検出し、検出された補正値は補正値記憶手段１６に記憶し、記憶された補正値に基づいて補正手段１７がレーザ駆動回路１０の制御信号に対する補正を行う構成とした。【選択図】　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射することにより光ディスクに対し情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、
前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、
前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、
前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、
前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、
前記レーザ光の合焦点／非合焦点時の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、
前記検出した補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行う補正回路とを備え、
前記補正値検出回路は、記録型の光ディスク上に設けられているテスト記録を行う領域に、前記光ピックアップを移動させ、前記レーザ光の合焦点状態にて前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時の前記モニタ回路の出力信号を、前記レーザ光の非合焦点状態における、前記モニタ回路の出力信号と、比較演算することにより、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出し、
前記補正回路は、該検出された補正値に基づいて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記補正値検出回路は、前記レーザ光が合焦点状態にて、複数の大きさの異なる各制御信号を前記レーザ駆動回路に入力した時の前記モニタ回路の出力信号を、前記レーザ光の非合焦点状態における、前記モニタ回路の出力信号と、比較演算することにより上記複数の制御信号の各々の補正値を検出し、
前記補正回路は、前記光ディスク上に情報を記録する際に、前記複数の検出した補正値から選択した値を用いて上記補正を行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記レーザ駆動回路の制御信号を補正して上記光ディスク上に記録を行うことにより、上記制御信号に対する補正が正確にされているかの検査を行い、
上記補正が不十分な場合には、上記補正値の再検出を行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記補正値の情報を、該補正値を検出した光ディスク上に情報として記録しておき、次回、同じ光ディスク上への記録を行う時に、光ディスク上に記録された補正値を読み出し、補正値として使用する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
光ディスク上に情報を記録する為の最適なレーザパワーを検出する時のテスト記録時において、前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、
前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、
前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、
前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、
前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、
前記レーザ光の合焦点／非合焦点時の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、
前記検出した補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行う補正回路とを備え、
前記補正値検出回路は、前記光ピックアップを光ディスク上の情報を記録しない領域に移動させ、前記レーザ光の合焦点状態にて前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時の前記モニタ回路の出力信号を、前記レーザ光の非合焦点状態における、前記モニタ回路の出力信号と比較演算して前記補正値を検出し、
前記補正回路は、該検出された補正値に基づいて前記駆動回路の制御信号に対する補正を行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項６に記載の光ディスク装置において、
前記補正値の検出を、該光ディスク装置に光ディスクを装填した直後に行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
請求項６に記載の光ディスク装置において、
前記光ディスク上の情報を記録しない領域において、前記レーザ光の合焦点時におけるレーザパワーと駆動電流の関係を検出し、前記レーザ駆動回路の制御信号は、前記関係に基づいて入力される、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、
前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、
前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、
前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、
前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、
前記レーザ光の合焦点／非合焦点状態の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、
前記補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する補正回路と、
前記補正回路の補正の速度を制御する補正速度制御回路とを備え、
前記補正値検出回路は、前記光ディスク上に情報の記録を開始した直後におけるモニタ回路の出力信号を、該情報の記録時におけるのと同じ前記レーザ駆動回路への制御信号による非合焦点におけるモニタ回路の出力信号と比較演算することにより前記補正値を検出し、
前記補正回路は、該検出された補正値に基づいて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行い、
前記補正速度制御回路は、前記補正回路による補正の速度を高速に補正する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の光ディスク装置において、
前記補正速度制御回路は、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正の速度を少しずつ低速に落としていく、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
請求項９に記載の光ディスク装置において、
前記補正値を検出する領域では、前記レーザ駆動回路の制御信号を小さくする、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
請求項９に記載の光ディスク装置において、
前記補正値検出回路は、その出力信号に閾値を有し、該出力信号が閾値より大きい場合には、光ディスク上の前記補正値の検出を行った領域を、前記光ディスクを再生する時に使用しない、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１３】
請求項９に記載の光ディスク装置において、
光ディスク上に再生する時に使用されない領域が存在した場合は、この領域において補正値を検出する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１４】
請求項９に記載の光ディスク装置において、
上記補正値検出回路は、書き換え可能な光ディスク上に情報を記録する時は、その出力信号に閾値を有し、該出力信号が閾値より大きい場合には、前記補正値の検出を行った領域を、前記補正されたレーザ駆動回路の制御信号を用いて、上書きする処理を行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１５】
光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、
前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、
前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、
前記レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、
前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点状態に制御するフォーカス制御回路と、
前記光ディスクのスピンドルモータの回転速度を制御する回転速度制御回路と、
前記レーザ光の合焦点／非合焦点状態の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、
前記補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する補正回路とを備え、
前記補正値検出回路は、前記回転速度制御回路によって光ディスクを高速に回転した状態で、前記レーザ光の合焦点における前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時のモニタ回路の出力信号を、前記レーザ光の非合焦点におけるモニタ回路の出力信号と比較演算することにより前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出し、
前記補正回路は、該検出された補正値に基づいて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１６】
請求項１５に記載の光ディスク装置において、
光ディスク装置内に装填した光ディスクの種類に応じて、前記補正値を検出する時における前記レーザ駆動回路の制御信号の大きさを変える、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１７】
請求項１５に記載の光ディスク装置において、
光ディスク装置内に装填した光ディスクの種類に応じて、前記補正値を検出する時における前記光ディスクの回転速度を変える、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１８】
光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、
前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、
前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、
前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、
前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、
合焦点／非合焦点の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、
前記補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する補正回路と、
前記光ディスクと同等の反射率を有する反射鏡とを備え、
前記補正値検出回路は、前記光ピックアップを反射鏡の正面に移動させ、前記反射鏡と前記ピックアップレンズとの合焦点状態において前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時のモニタ回路の出力信号を、上記両者の非合焦点状態におけるモニタ回路の出力信号と比較演算することにより前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出し、
前記補正回路は、該検出された補正値に基づいて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１９】
請求項１８に記載の光ディスク装置において、
反射率の異なる複数の反射鏡を、該光ディスク装置に取り付けておき、装填された光ディスクの反射率に最も近い反射率を有する反射鏡において前記補正値を検出する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２０】
請求項１８に記載の光ディスク装置において、
前記補正値検出回路は、前記ピックアップレンズを前記反射鏡の正面に移動させ、前記反射鏡と前記ピックアップレンズとの合焦点状態において、前記半導体レーザのレーザパワーと駆動電流の関係を検出し、
前記レーザ駆動回路の制御信号は、前記検出した関係に基づいて入力される、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２１】
光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、
前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、
前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、
前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、
前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、
前記レーザ光の合焦点／非合焦点の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、
前記補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する補正回路と、
前記検出した補正値の情報を記憶しておく補正値記憶手段とを備え、
前記補正値検出回路は、光ディスクに情報を記録する前に、ある一定の反射率を持つ基準となる光ディスクを装填し、合焦点にて前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時のモニタ回路の出力信号を、非合焦点におけるモニタ回路の出力信号と比較演算することにより補正値を検出し、
前記補正値記憶手段は、前記検出した補正値を記憶しておき、
前記補正回路は、記憶された補正値に基づいて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２２】
請求項１ないし２１のいずれかに記載の光ディスク装置において、
基準となる光ディスクは、光ディスクの反射率に応じて複数の光ディスクを用意し、それぞれの光ディスクを装填した場合に検出した補正値を、補正値記憶手段に複数記憶しておく、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置に関し、特に、半導体レーザを光ディスク上に集光し、記録面を物理的に変質させることにより光ディスク上に情報を記録する記録型の光ディスク装置において、レーザ駆動回路の制御信号を補正することによって正確なレーザパワーを出力することを特徴とするものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の光ディスク装置の記録は、光ディスク上に半導体レーザを集光させて記録面を物理的に変化させることにより、光ディスク上に情報の記録を行っている。
光ディスク装置に搭載されている半導体レーザは、半導体レーザの違いや、光ピックアップの光学的要因によって光ディスク上に照射されるレーザ光のレーザパワーの特性にばらつきが存在する。記録型の光ディスク上に情報を記録する時にレーザパワーにばらつきが存在すると、光ディスク上の記録面の状態にばらつきが生じ、最適な記録品質を保証できない。
【０００３】
そこで、従来の光ディスク装置のレーザ制御部においては、図１９のように、光ピックアップ内部に設置された半導体レーザが照射したレーザ光を、レーザパワーモニタ用フォトダイオード（以下「モニタダイオード」）にて受光し、その時のモニタダイオードに流れる電流を信号処理することによって、半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタ回路を設けている。半導体レーザのレーザパワーの制御は、あらかじめ半導体レーザに駆動電流を流した場合のレーザパワーをモニタ回路によって信号検出することで、レーザパワーと駆動電流の初期関係を取得しておく。図２０に、半導体レーザのレーザパワーと駆動電流の関係を示す。光ディスク装置は、図２０の関係から、レーザパワーを出力する為にどれだけの電流を半導体レーザに流せばよいのかを判断する。
【０００４】
そして、光ディスク上に情報の記録をする時には、レーザパワーと駆動電流の関係を基準として、半導体レーザを駆動させることによって、レーザパワーを出力する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、レーザパワーと駆動電流の初期関係の取得は、レーザパワーを実際に出力することになる為、光ディスク上に誤って記録してしまわない為に、ピックアップレンズと光ディスクの位置関係において焦点が合っていない状態、もしくは光ディスクが装填されていない状態（以下「非合焦点」）で行っていた。しかし、焦点が合っている状態（以下「合焦点」）では、光ディスク上からの反射光が半導体レーザの出力光と干渉することにより、同じ駆動電流に対してレーザパワーが変化する。この場合は、図２０に示すように、レーザパワーと駆動電流の関係が合焦点／非合焦点で変化してしまうことになる。その為、光ディスク上に情報を記録する時に非合焦点でのレーザパワーと駆動電流の関係を基準に半導体レーザの駆動電流を流したとしても、このときには合焦点でのレーザパワーが出力されてしまうこととなるため、正確なレーザパワーが出力されず、最適な記録ができなくなるという問題があった。
【０００６】
本発明は、上記のような従来の問題点を除去するためになされたもので、合焦点／非合焦点でレーザパワーと駆動電流の関係が異なっていたとしても、光ディスク上に情報に記録を行う場合に、最適なレーザパワーを正確に出力することのできる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決する為に、本発明（請求項１）にかかる光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射することにより光ディスクに対し情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、記録型の光ディスク上に設けられているテスト記録を行う領域に前記光ピックアップを移動させ、前記レーザ光の合焦点状態にて前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時の前記モニタ回路の出力信号と、前記レーザ光の非合焦点状態における、前記レーザ駆動回路にある前記制御信号を入力したときの上記モニタ回路の出力信号とを、比較演算することにより、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、前記検出した補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する補正回路とを備えたものである。
【０００８】
また、本発明（請求項２）にかかる光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記補正値検出回路は、前記レーザ光が合焦点状態となる、複数の大きさの異なる各制御信号を前記レーザ駆動回路に入力した時の前記モニタ回路の出力信号と、前記レーザ光の非合焦点状態における、前記レーザ駆動回路に前記複数の大きさの異なる各制御信号を前記レーザ駆動回路に入力したときの前記モニタ回路の出力信号とを、比較演算することにより上記複数の制御信号の各々の補正値を検出し、前記補正回路は、前記光ディスク上に情報を記録する際に、前記複数の検出した補正値から選択した値を用いて上記補正を行うものである。
【０００９】
また、本発明（請求項３）にかかる光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記レーザ駆動回路の制御信号を補正して上記光ディスク上に記録を行うことにより、上記制御信号に対する補正が正確にされているかの検査を行い、上記補正が不十分な場合には、上記補正値の再検出を行う、ことを特徴とする光ディスク装置。
【００１０】
また、本発明（請求項４）にかかる光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記補正値の情報を、該補正値を検出した光ディスク上に情報として記録しておき、次回、同じ光ディスク上への記録を行う時に、光ディスク上に記録された補正値を読み出し、補正値として使用するものである。
【００１１】
また、本発明（請求項５）にかかる光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、光ディスク上に情報を記録する為の最適なレーザパワーを検出する時のテスト記録時において、前記レーザ駆動回路の制御信号を補正するものである。
【００１２】
また、本発明（請求項６）にかかる光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、前記レーザ光の合焦点／非合焦点時の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、前記検出した補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行う補正回路とを備え、前記補正値検出回路は、前記光ピックアップを光ディスク上の情報を記録しない領域に移動させ、前記レーザ光の合焦点状態において前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時に得られるモニタ回路の出力信号を、非合焦点状態におけるモニタ回路の出力信号と比較演算して前記補正値を検出し、前記補正回路は、該検出された補正値に基づいて前記駆動回路の制御信号に対する補正を行うものである。
【００１３】
また、本発明（請求項７）にかかる光ディスク装置は、請求項６に記載の光ディスク装置において、前記補正値の検出を、該光ディスク装置に光ディスクを装填した直後に行うものである。
【００１４】
また、本発明（請求項８）にかかる光ディスク装置は、請求項６に記載の光ディスク装置において、前記光ディスク上の情報を記録しない領域において、前記レーザ光の合焦点時におけるレーザパワーと駆動電流の関係を検出し、前記レーザ駆動回路の制御信号は、前記関係に基づいて入力されるものである。
【００１５】
また、本発明（請求項９）にかかる光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、前記レーザ光の合焦点／非合焦点状態の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、前記補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する補正回路と、前記補正回路の補正の速度を制御する補正速度制御回路とを備え、前記補正値検出回路は、前記光ディスク上に情報の記録を開始する直後におけるモニタ回路の出力信号を、非合焦点におけるモニタ回路の出力信号と比較演算することにより前記補正値を検出し、前記補正回路は、該検出された補正値に基づいて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行い、前記補正速度制御回路は、前記補正回路による補正の速度を高速に補正するものである。
【００１６】
また、本発明（請求項１０）にかかる光ディスク装置は、請求項９に記載の光ディスク装置において、前記補正速度制御回路は、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正の速度を少しずつ低速に落としていくものである。
【００１７】
また、本発明（請求項１１）にかかる光ディスク装置は、請求項９に記載の光ディスク装置において、前記補正値を検出する領域では、前記レーザ駆動回路の制御信号を小さくするものである。
【００１８】
また、本発明（請求項１２）にかかる光ディスク装置は、請求項９に記載の光ディスク装置において、前記補正値検出回路は、その出力信号に閾値を有し、該出力信号が閾値より大きい場合には、光ディスク上の前記補正値の検出を行った領域を、前記光ディスクを再生する時に使用しないようにしたものである。
【００１９】
また、本発明（請求項１３）にかかる光ディスク装置は、請求項９に記載の光ディスク装置において、光ディスク上に再生する時に使用されない領域が存在した場合は、この領域において補正値を検出するものである。
【００２０】
また、本発明（請求項１４）にかかる光ディスク装置は、請求項９に記載の光ディスク装置において、上記補正値検出回路は、書き換え可能な光ディスク上に情報を記録する時は、その出力信号に閾値を有し、該出力信号が閾値より大きい場合には、前記補正値の検出を行った領域を、前記補正されたレーザ駆動回路の制御信号を用いて、上書きする処理を行うものである。
【００２１】
また、本発明（請求項１５）にかかる光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、前記レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点状態に制御するフォーカス制御回路と、前記光ディスクのスピンドルモータの回転速度を制御する回転速度制御回路と、前記レーザ光の合焦点／非合焦点状態の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、前記補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する補正回路とを備え、前記補正値検出回路は、前記レーザ光の非合焦点における、前記回転速度制御回路によって光ディスクを高速に回転した状態で、前記レーザ光の合焦点における前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時のモニタ回路の出力信号を、前記レーザ光の非合焦点におけるモニタ回路の出力信号と比較演算することにより前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出し、前記補正回路は、該検出された補正値に基づいて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行うものである。
【００２２】
また、本発明（請求項１６）にかかる光ディスク装置は、請求項１５に記載の光ディスク装置において、光ディスク装置内に装填した光ディスクの種類に応じて、前記補正値を検出する時における前記レーザ駆動回路の制御信号の大きさを変えるものである。
【００２３】
また、本発明（請求項１７）にかかる光ディスク装置は、請求項１５に記載の光ディスク装置において、光ディスク装置内に装填した光ディスクの種類に応じて、前記補正値を検出する時における前記光ディスクの回転速度を変えるものである。
【００２４】
また、本発明（請求項１８）にかかる光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、合焦点／非合焦点の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、前記補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する補正回路と、前記光ディスクと同等の反射率を有する反射鏡とを備え、前記補正値検出回路は、前記光ピックアップを反射鏡の正面に移動させ、前記反射鏡と前記ピックアップレンズとの合焦点状態において前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時のモニタ回路の出力信号を、上記両者の非合焦点状態におけるモニタ回路の出力信号と比較演算することにより前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出し、前記補正回路は、該検出された補正値に基づいて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行うものである。
【００２５】
また、本発明（請求項１９）にかかる光ディスク装置は、請求項１８に記載の光ディスク装置において、反射率の異なる複数の反射鏡を、該光ディスク装置に取り付けておき、装填された光ディスクの反射率に最も近い反射率を有する反射鏡において前記補正値を検出するものである。
【００２６】
また、本発明（請求項２０）にかかる光ディスク装置は、請求項１８に記載の光ディスク装置において、前記補正値検出回路は、前記ピックアップレンズを前記反射鏡の正面に移動させ、前記反射鏡と前記ピックアップレンズとの合焦点状態において、前記半導体レーザのレーザパワーと駆動電流の関係を検出し、前記レーザ駆動回路の制御信号は、前記検出した関係に基づいて入力されるものである。
【００２７】
また、本発明（請求項２１）にかかる光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射することにより情報の記録／再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスク上に半導体レーザのレーザ光による情報の記録を行うとともに、前記半導体レーザのレーザパワーを検出するモニタダイオードを持つ光ピックアップと、前記半導体レーザに流れる電流を制御するレーザ駆動回路と、前記半導体レーザ光のレーザパワーを検出するモニタ回路と、前記光ピックアップのピックアップレンズを上下に駆動させることによってレーザ光の焦点位置を合焦点／非合焦点に制御するフォーカス制御回路と、前記レーザ光の合焦点／非合焦点の前記モニタ回路の出力信号から、前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正値を検出する補正値検出回路と、前記補正値を用いて前記レーザ駆動回路の制御信号を補正する補正回路と、前記検出した補正値の情報を記憶しておく補正値記憶手段とを備え、前記補正値検出回路は、光ディスクに情報を記録する前に、ある一定の反射率を持つ基準となる光ディスクを装填し、合焦点にて前記レーザ駆動回路にある制御信号を入力した時のモニタ回路の出力信号を、非合焦点におけるモニタ回路の出力信号と比較演算することにより補正値を検出し、前記補正値記憶手段は、前記検出した補正値を記憶しておき、前記補正回路は、記憶された補正値に基づいて前記レーザ駆動回路の制御信号に対する補正を行うものである。
【００２８】
また、本発明（請求項２２）にかかる光ディスク装置は、請求項１ないし２１のいずれかに記載の光ディスク装置において、基準となる光ディスクは、光ディスクの反射率に応じて複数の光ディスクを用意し、それぞれの光ディスクを装填した場合に検出した補正値を、補正値記憶手段に複数記憶しておくものである。
【００２９】
【発明の実施の形態】
（実施の形態１）
以下に、本発明の請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、及び請求項５に対応する発明の実施の形態１について、図１、図２、及び図３を用いて説明する。
図１は、本発明の実施の形態１による光ディスク装置の一例を示すブロック図である。図１において、１は光ピックアップであり、光ディスク２上にレーザ光を照射する機能と、光ディスク２から反射光を検出する機能を有する。光ピックアップ１は、内部に半導体レーザ３、ビームスプリッタ４、モニタダイオード５、ピックアップレンズ６、及びフォトダイオード７を、備えている。半導体レーザ３は、電流が流れることによって光ディスク上に照射されるレーザ光を生成する。レーザ光は、ビームスプリッタ４にて光ディスク上に照射されるレーザ光と、モニタダイオード５に受光されるレーザ光に分光され、光ディスク上に照射されるレーザ光は、ピックアップレンズ６で集光されて光ディスク上に到達する。ビームスプリッタ４を透過するレーザ光は、モニタダイオード５に受光されて電流に変換する。フォトダイオード７は、光ディスク上で反射されたレーザ光を受光して電流に変換する。
【００３０】
次に、光ピックアップ１のレーザ光のレーザパワーを制御する回路について説明する。パワー／電流初期関係記憶手段８は、半導体レーザ３のレーザパワーと駆動電流の初期関係を記憶しておく。レーザ光を照射する時は、記憶された初期関係に基づいて電流値出力手段９が、レーザ駆動回路１０に半導体レーザ３を駆動する為の制御信号を入力させる。レーザ駆動回路１０は半導体レーザ３に駆動電流を流すことによって、所望のレーザパワーを出力する。また、出力されたレーザパワーは、モニタダイオード５で電流に変換した後、モニタ回路１１にて信号処理することでレーザパワーを電圧として検出する。モニタ回路１１で検出されたレーザパワーは、Ｓ／Ｈ回路１２でサンプルホールドされてパワー／電流初期関係記憶手段８に入力される。半導体レーザ３のレーザパワーと駆動電流の初期関係は、半導体レーザ３に複数の大きさの異なる駆動電流を流した時のレーザパワーをモニタ回路１１で検出することで初期関係を検出し、パワー／電流初期関係記憶手段８に記憶する。この時、実際にレーザパワーを光ディスク上に出力することになる為、誤って光ディスク上に記録してしまわないように、ピックアップレンズ６と光ディスク２の焦点位置が非合焦点の状態で、上記初期関係の取得を行っている。しかし、ピックアップレンズ６と光ディスク２の焦点位置が合焦点の状態では、光ディスク上からの反射光が半導体レーザ３の出力光と干渉することにより、パワー／電流初期関係記憶手段８に記憶された初期関係が変化してしまう可能性がある。その為、図１の光ディスク装置は、合焦点／非合焦点のレーザパワーを比較することにより補正値を検出する補正値検出回路（１０００）と、補正を行う補正回路（１７）とを備える。パワー誤差演算手段１３は、合焦点でレーザ光を照射している時にレーザパワーを非合焦点のレーザパワーと比較し、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれを演算する。この時、非合焦点のレーザパワーは、パワー／電流初期関係記憶手段８に記憶された初期関係に基づいてパワー出力手段１４から出力される。合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれは、規格化演算手段１５において非合焦点のレーザパワーによって規格化され、補正値記憶手段１６に補正値として記憶される。光ディスク２上に情報の記録をする時には、電流値出力手段９の制御信号を補正手段１７にて補正し、レーザ駆動回路１０への補正された制御信号を入力する。補正値の検出における合焦点／非合焦点の制御は、フォーカス制御回路１８にてピックアップレンズ６を上下に駆動させることによって行う。また、シーク制御回路１９は、光ピックアップ１を光ディスク２の内外周方向に移動させ、回転速度制御回路２０は、スピンドルモータ２１を駆動させることによって光ディスクの回転速度を制御している。
【００３１】
以上のような光ディスク装置の補正値検出回路１０００は、記録型の光ディスク上にあらかじめ設けられているテスト領域で動作する。記録型の光ディスクには情報を記録する前にレーザパワーを最適化する為に、テスト記録を行うことができる領域が設けられている。例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷでは光ディスク上にＰｏｗｅｒ　Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ　Ａｒｅａ（以下「ＰＣＡ」）と呼ばれる領域があり、ＰＣＡの内部に設けられたテスト領域にて、レーザパワーを最適化する為の動作を行っている。テスト領域において補正値を検出する動作を、図２を用いて説明する。
【００３２】
図２は、テスト領域において補正値を検出する時の補正値検出回路の各信号について説明した図である。図２ａは、レーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流を制御する。図２ｂは、モニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーを検出した信号である。図２ｃは、パワー誤差演算手段１３にて、合焦点のレーザパワーを非合焦点のレーザパワーと比較し、レーザパワーのずれを演算した信号である。図２ｄは、規格化演算手段１５にて、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれを非合焦点のレーザパワーで規格化した信号である。補正値検出の動作は、光ディスクを回転させた状態において、シーク制御回路１９にてテスト領域に光ピックアップ１を移動させ、フォーカス制御回路１８にて焦点位置を合焦点に設定する。この状態で図２ａに示すように、初期関係に基づき電流値出力手段９から制御信号Ｉ３をレーザ駆動回路１０に入力する。
【００３３】
レーザ駆動回路１０は、半導体レーザ３を駆動し、光ディスク上のテスト領域に記録を行う。この時、図２ｂに示すように半導体レーザ３のレーザパワーと駆動電流の関係が合焦点／非合焦点で異なっている場合に、モニタ回路１１で検出したレーザパワーにずれが生じてしまう。そこで、パワー誤差演算手段１３は、モニタ回路１１で検出した合焦点のレーザパワーＰ３と、パワー／電流初期関係記憶手段８に記憶されている非合焦点のレーザパワーＰ３を比較することで、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を演算する。合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３は、規格化演算手段１５にて非合焦点のレーザパワーによって規格化演算する。規格化された値は、補正値Ｓ３として、補正値記憶手段１６に記憶しておく。
【００３４】
次に検出した補正値Ｓ３を用いて補正を行う動作について、図３を用いて説明する。
図３は、レーザ駆動回路１０の制御信号を補正して光ディスク上に情報を記録する時の各信号について説明した図である。図３ａは、レーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流を制御する。図３ｂは、モニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーを検出した信号である。補正値Ｓ３は、光ディスク上に情報を記録する時に補正値記憶手段１６から出力され、補正手段１７において制御信号Ｉ３に対する補正分を演算する。そして、レーザ駆動回路１０には、図３ａのように補正分を加算した制御信号を入力する。制御信号が補正されることによって、レーザパワーは図３ｂのように、以前合焦点においてＰ３であったものが、合焦点において正確なレーザパワーＰ３に補正され、合焦点／非合焦点のレーザパワーにずれが無くなる。
【００３５】
上記補正の演算について、例を挙げて説明する。補正値を検出する時に、初期関係では制御信号１．０に対する非合焦点のレーザパワーが３０ｍＷ出力されるはずが、合焦点においては２５ｍＷしか出力されなかった場合、光ディスク装置の補正値検出回路（１００）は、（３０ｍＷ−２５ｍＷ）／３０ｍＷ＝０．１７、を補正値として検出する。光ディスク上に情報を記録する場合に、光ディスク装置の補正回路（補正手段１７）は、制御信号１．０に対する補正分を、１．０×０．１７＝０．１７、と検出する。レーザ駆動回路１０には、補正分０．１７を制御信号１．０に加算し、１．０＋０．１７＝１．１７、を入力することによって、合焦点であったとしても、３０ｍＷのレーザパワーを出力することができ、光ディスク上に常に最適なレーザパワーでの記録を行うことができる。
【００３６】
なお、前述の補正値検出の動作において、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれを非合焦点のレーザパワーで規格化することで補正値を検出しているが、規格化を行わない方法も考えられる。前述の例のように、非合焦点のレーザパワーが３０ｍＷ出力されるはずが、合焦点においては２５ｍＷしか出力されなかった場合に、（３０ｍＷ−２５ｍＷ）＝５ｍＷ、のレーザパワーのずれを補正値として検出する。パワー／電流初期関係記憶手段８の初期関係の直線性から、５ｍＷのレーザパワーのずれが駆動電流ではどれくらいの大きさかであるかを算出し、制御信号に補正分として加算することによってレーザパワーを補正することができる。
【００３７】
次に、本発明の請求項２、請求項３、及び請求項４に対応する発明の実施の形態について、図４を用いて説明する。
図４は、テスト領域において複数の制御信号に対する補正値を検出する時の補正値検出回路（１０００）の各信号について説明した図である。図４ａは、レーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流を制御する。図４ｂは、モニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーを検出した信号である。図４ｃは、パワー誤差演算手段１３にて、合焦点のレーザパワーを非合焦点のレーザパワーと比較し、レーザパワーのずれを演算した信号である。図４ｄは、規格化演算手段１５にて、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれを、非合焦点のレーザパワーで規格化した信号である。
【００３８】
図４に示すように、Ｉ１〜Ｉ５の複数の異なる大きさの制御信号をレーザ駆動回路１０に入力した時に、補正値検出回路（１０００）によって検出された補正値Ｓ１〜Ｓ５をそれぞれ補正値記憶手段１６に記憶しておく。例えば、光ディスク上に情報を記録する時に、制御信号Ｉ４が電流値出力手段９から出力される場合は、補正値記憶手段１６が補正値Ｓ４を選択して出力し、補正手段１７において補正を行う。制御信号の大小によって、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれに違いがあったとしても、常に最適な補正値を選択し、制御信号に対する補正を行うことができる。なお、図４では制御信号Ｉ１〜Ｉ５に対する補正値を検出しているが、より多くの制御信号に対して補正値を検出しておけば補正の精度は向上する。また、検出した複数の補正値から平均値を演算し、求めた値を用いて補正を行っても良い。この場合、光ディスクのテスト領域を節約できるとともに、補正値記憶手段１６の記憶容量を節約することができる。
【００３９】
次に本発明の請求項３に対応する発明の実施の形態においては、光ディスク上のテスト領域に制御信号を補正した状態において記録を行い、レーザパワーが正確に補正されていることを検査する。即ち、図４に示すように、テスト領域に、制御信号を補正値により補正した状態において記録を行う。この時、パワー誤差演算手段１３の演算結果がゼロになっていることを確認することにより、補正が正確に行われているかを検査することができる。また、パワー誤差演算手段１３に一定の閾値を設けておき、補正検査時の合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれが閾値を上回る場合には補正が正確に行われなかったとみなし、補正値の再検出を行う。ここで、上記補正値の検出は、他のテスト領域を用いて前述の補正値検出の動作を繰り返すことにより行なっても良いが、この補正検査時の規格化演算手段１５の出力を、補正値としても構わない。再検出された補正値は、補正値記憶手段１６に記憶させておく。
【００４０】
次に本発明の請求項４に対応する発明の実施の形態においては、テスト領域において検出した補正値を情報として光ディスク上へ記録しておく。次回、同じ光ディスク上に情報を記録する場合には、光ディスク上に記録しておいた補正値の情報を読み出し、その補正値に基づいて補正を行うことによって、記録時の補正値を検出する為に光ディスク上に本来の記録とは異なる記録を行なう必要がなくなり、補正値記憶手段１６の記憶容量を節約することができる。なお、補正値の情報を記録しておく場所は、光ディスク上のどの領域を用いても構わない。
【００４１】
次に本発明の請求項５に対応する発明の実施の形態について、図５を用いて説明する。光ディスク上への記録を行う時のレーザパワーは、情報を記録する前に、光ディスク上のテスト領域にて複数の異なったレーザパワーによるテスト記録を行い、テスト記録を行った領域の記録の状態から記録を行う為の最適なレーザパワーを選択する処理を行っている。ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷにおいて、この処理はＯｐｔｉｍｕｍ　Ｐｏｗｅｒ　Ｃｏｎｔｒｏｌ（以下「ＯＰＣ動作」）と呼ばれている。ＯＰＣ動作ではテスト記録をしたレーザパワーの中から記録に最適なレーザパワーを検出するものであるが、この時制御信号が補正されていないとレーザパワーがこのテスト記録時の反射パワーによって変化してしまうことで、テスト記録したレーザパワーの中から記録に最適なレーザパワーを検出する、ということができなくなる。その為、このテスト記録時にも、上述したように、テスト領域にて補正値検出回路が検出した補正値を用いて、該テスト記録時の制御信号に対して補正を行うようにする。
【００４２】
図５は、ＯＰＣ動作においてテスト領域に複数の異なったレーザパワーにてテスト記録を行っている時の補正値検出回路１０００の各信号を表している。図５ａは、レーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流を制御する。図５ｂは、モニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーを検出した信号である。図５ｃは、パワー誤差演算手段１３にて、合焦点のレーザパワーを非合焦点のレーザパワーと比較し、レーザパワーのずれを演算した信号である。図５ｄは、規格化演算手段１５にて、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれを非合焦点のレーザパワーで規格化した信号である。図５に示すように、補正値検出回路１０００によってテスト領域において検出した補正値を用いて、テスト記録時の制御信号を補正することによって、テスト記録の時においても、正確なレーザパワーを出力することができる。
【００４３】
（実施の形態２）
以下に本発明の請求項６、請求項７、及び請求項８に対応する発明の実施の形態２について図１、図６、図７、及び図８を用いて説明する。なお、前述した実施の形態と同じ構成については同じ符号を用い、説明を省略する。
光ディスク上には、レーザ光を照射しても表面の形状が変化しない為に情報を記録することができない領域が存在する。例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷの光ディスクにおいては、光ディスクの最内周部に前述のような領域が設けられている。この領域は鏡面領域と呼ばれている。本実施の形態２における、図１の光ディスク装置の補正値検出回路は、この鏡面領域にて補正値の検出を行う。以下、鏡面領域にて補正値を検出する動作について図６を用いて説明する。
【００４４】
図６は、鏡面領域にて補正値を検出する時の補正値検出回路（１０００）の各信号について示す図である。図６ａは、光ディスク上の領域についての説明である。図６ｂは、レーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流を制御する。図６ｃは、モニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーを検出した信号Ｐ３である。図６ｄは、パワー誤差演算手段１３にて、合焦点のレーザパワーＰ３を非合焦点のレーザパワーＰ３と比較し、レーザパワーのずれＬ３を演算した信号である。図６ｅは、規格化演算手段１５にて、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を非合焦点のレーザパワーＰ３で規格化した信号Ｓ３である。補正値検出の動作は、シーク制御回路１９にて光ディスク上の鏡面領域に光ピックアップ１を移動させ、フォーカス制御回路１８にて焦点位置を合焦点に設定する。この状態で図６ｂに示すように、初期関係に基づき電流値出力手段９から制御信号Ｉ３をレーザ駆動回路１０に入力する。レーザ駆動回路１０は半導体レーザ３を駆動し、光ディスク上へレーザ光を照射する。この時、図６ｃに示すように半導体レーザ３のレーザパワーと、駆動電流Ｉ３の関係が合焦点／非合焦点で異なっている場合に、モニタ回路１１で検出したレーザパワーにずれが生じてしまう。そこで、パワー誤差演算手段１３は、モニタ回路１１で検出した合焦点のレーザパワーＰ３と、パワー／電流初期関係記憶手段８に記憶されている非合焦点のレーザパワーＰ３を比較することで合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を演算する。合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３は、規格化演算手段１５にて非合焦点のレーザパワーによって規格化演算する。規格化された値は補正値Ｓ３として、補正値記憶手段１６に記憶しておく。補正値Ｓ３は光ディスク上に情報を記録する時に補正値記憶手段１６から出力され、補正手段１７において制御信号に対して補正を行う。この補正の動作に関しては実施の形態１と同様である為、省略する。なお、鏡面領域では光ディスク上に記録してしまうこともないので、同じ領域で何度も補正値を検出することができる。その為、複数の異なった制御信号に対して補正値を検出しておいても良いし、同じ制御信号に対して補正検出の動作を複数回行えば、補正値の検出精度を向上することができる。また、光ディスクを回転させる必要もない。
【００４５】
次に本発明の請求項７に対応する発明の実施の形態においては、補正値検出の動作は、光ディスク装置に光ディスクを装填した直後に行う。光ディスクが装填した直後に補正値の検出を行っておけば、光ディスクに情報の記録を行う前に補正値の検出のために光ピックアップ１を鏡面領域に移動させる必要がなくなり、記録にかかる時間を短縮することができる。なお、従来の光ディスク装置においては、光ディスクが回転した後に光ディスクの内周部に記憶された情報を読み出す為に光ピックアップ１を内周部に移動させるが、同時に鏡面領域まで移動させて補正値を検出しておくことで、記録にかかる時間を短縮することができる。
【００４６】
次に本発明の請求項８に対応する発明の実施の形態について図７、図８を用いて説明する。
図７は、鏡面領域において複数の異なる大きさの制御信号をレーザ駆動回路１０に入力した時の、モニタ回路１１の出力信号を表している。図７ａは光ディスクの領域についての説明である。図７ｂは、レーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流を制御する。図７ｃは、モニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーを検出した信号である。まず、鏡面領域に光ピックアップ１を移動して、ピックアップレンズ６を合焦点に移動する。この状態において、パワー／電流初期関係記憶手段８は電流値出力手段９によって、図７ｂに示すようにレーザ駆動回路１０に複数の異なる大きさの制御信号Ｉ１〜Ｉ９を出力する。図７ｃに示すように、この時のレーザパワーＰ１〜Ｐ９をモニタ回路１１にて検出して、パワー／電流初期関係記憶手段８に入力する。パワー／電流初期関係記憶手段８は、レーザ駆動回路１０の制御信号Ｉ１〜Ｉ９とモニタ回路１１のレーザパワーＰ１〜Ｐ９から、図８に示すように合焦点におけるレーザパワーと駆動電流の関係を取得して記憶しておく。パワー／電流初期関係記憶手段８は、記録時にはこの関係に基づいて、電流値出力手段９から制御信号を出力することによって、補正をせずに、正確なレーザパワーを出力することが可能となる。
【００４７】
（実施の形態３）
以下に本発明の請求項９、請求項１０、請求項１１、請求項１２、請求項１３、及び請求項１４に対応する発明の実施の形態３について、図９、図１０、及び図１１を用いて説明する。なお、前述した実施の形態と同じ構成については同じ符号を用い、説明を省略する。
図９において、補正速度制御手段２２は、補正手段１７にて制御信号に対する補正分の加算の速度を変化させる。本実施の形態３においては、光ディスク装置が、光ディスク上に情報の記録を開始した直後に、補正値の検出の動作を行う。図１０は、光ディスク上へ情報の記録を開始した直後の補正回路の各信号について示す図である。図１０ａは、レーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流を制御する。図１０ｂは、モニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーを検出した信号である。図１０ｃは、パワー誤差演算手段１３にて、合焦点のレーザパワーを非合焦点のレーザパワーと比較し、レーザパワーのずれを演算した信号である。図１０ｄは、規格化演算手段１５にて、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれを非合焦点のレーザパワーで規格化した信号である。
【００４８】
光ディスク上への記録開始直後の補正値検出領域Ａにおいて、合焦点／非合焦点でレーザパワーと駆動電流の関係が異なる光ディスク装置は、図１０ｂのように、合焦点／非合焦点でモニタ回路１１で検出されたレーザパワーＰ３，Ｐ３にずれが生じる。光ディスク装置が出力すべきは非合焦点でのレーザパワーのレベルＰ３であるので、正確なレーザパワーを出力する為には制御信号Ｉ３を補正する必要がある。そこで、パワー誤差演算手段１３は図１０ｃに示すように、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を検出し、規格化演算手段１５は図１０ｄに示すように、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を非合焦点のレーザパワーにて規格化演算することにより、補正値Ｓ３を検出する。補正値はただちに補正手段１７へ出力され、制御信号Ｉ３に対する補正分を演算する。レーザ駆動回路１０には、補正分を加算した制御信号を入力することにより補正を行う。補正手段１７における補正分の加算速度は補正速度制御手段２２によって高速に補正を行い、短時間のうちに正確なレーザパワーを出力することができる。
【００４９】
次に本発明の請求項１０に対応する発明の実施の形態においては、図１０の補正領域に示すように、補正開始直後は高速に補正し（領域Ｂ）、少しずつ補正速度を低速に落としていく（領域Ｃ）。これは、補正開始直後は正確なレーザパワーを出力する為に高速に補正する必要があるが、補正完了直前では低速に補正することにより、光ディスクの反射光が変化することでレーザパワーが変化してレーザパワーが大きくなりすぎてしまい、光ディスクを傷つけてしまう、というようなことを防ぐことができる。
【００５０】
次に本発明の請求項１１に対応する発明の実施の形態について、図１１を用いて説明する。請求項９に対応する実施の形態においては、合焦点のレーザパワーが非合焦点に対して変化する場合について説明したが、該合焦点のレーザパワーが非合焦点に対して大小どちらに変化するかは限定していなかった。合焦点のレーザパワーが非合焦点に対して大きくなってしまう可能性もあり、この場合には光ディスク上に照射されるレーザ光のレーザパワーが大きいために、記録開始直後の領域を傷つけてしまうことになる。そこで、補正値を検出する領域Ａでは、レーザ駆動回路１０に入力する制御信号を小さくする。
【００５１】
図１１は、光ディスク上へ情報の記録を開始する直後の補正回路（１７）の各信号について示す図である。図１１ａは、レーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流を制御する。図１１ｂは、モニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーを検出した信号である。図１１ｃは、パワー誤差演算手段１３にて、合焦点のレーザパワーＰ２を非合焦点のレーザパワーＰ２と比較し、レーザパワーのずれＬ２を演算した信号である。図１１ｄは、規格化演算手段１５にて、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ２を非合焦点のレーザパワーＰ２で規格化した信号である。図１１では、補正値検出領域Ａにおいて、図１０における制御信号Ｉ３よりも小さい制御信号Ｉ２に対する補正値Ｓ２を検出している。この場合、図１１ｂに示すように補正値を検出する領域Ａにて、合焦点時のレーザパワーＰ２が、非合焦点のそれＰ２よりも大きくなる方向に変化してしまったとしても、光ディスク上に照射されるレーザ光のレーザパワーは小さくなる為に、光ディスクを傷つけてしまうことがなくなる。補正値Ｓ２はただちに補正手段１７へ出力されるが、補正手段１７においては、制御信号Ｉ３に対して補正値Ｓ２による補正を行う。レーザ駆動回路１０には補正された制御信号を入力することによって、正確なレーザパワーを出力することができる。
【００５２】
次に本発明の請求項１２に対応する発明の実施の形態においては、パワー誤差演算手段１３の出力にある一定の閾値を設けておき、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれが閾値より大きい場合には、補正値の検出領域を欠陥領域とする情報を光ディスク上に情報として記録しておき、次回、同じ光ディスクを再生する時（あるいは、記録／再生する時）に該欠陥領域を使用しないようにする。例えば、図１０ｃに示すように、補正値の検出領域の合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３が閾値より大きくなる場合には、光ディスク装置が、該補正値検出領域Ａには最適な記録がされていないと判断し、これを欠陥領域とする情報を光ディスク上に記録しておき、同じ光ディスクを再生する時に上記補正値検出領域Ａを使用できないようにする。なお、合焦点時のレーザパワーのずれＬ３が大小どちらの方向にも変化する可能性があることを考慮し、閾値は合焦点／非合焦点におけるレーザパワーのずれの絶対値に対して設定しておくと良い。また、図１１のように小さい制御信号Ｉ２にて補正値を検出した場合、光ディスク上に対するレーザパワーも小さくなる為、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ２が大きい場合に、最適な記録ができなくなる可能性が高くなる。その為、閾値は、図１０の場合よりも小さく設定しておく。
【００５３】
次に本発明の請求項１３に対応する発明の実施の形態においては、光ディスク装置に装填した光ディスク上に上記欠陥領域が存在した場合は、欠陥領域に光ピックアップ１を移動し、欠陥領域にて補正値の検出を行う。請求項１２に対応する実施の形態におけるように、欠陥領域を光ディスク装置が作り出した光ディスクに対しては、光ディスク上から欠陥領域の情報を読み出し、該欠陥領域にて補正値を検出することにより、光ディスク上に追記して記録（テスト記録）を行う場合に欠陥領域を光ディスク上に新たに作ることが無くなる。また、光ディスク上に最初から欠陥領域が設けられていた場合は、該欠陥領域において補正値を検出すると良い。この場合は、該補正値を用いることにより、初めて光ディスクに情報を記録する場合でも、正確なレーザパワーを出力することができる。
【００５４】
次に本発明の請求項１４に対応する発明の実施の形態においては、情報の書き換えが可能な光ディスクに対して、補正値検出領域において、パワー誤差演算手段１３の出力であるレーザパワーの合焦点／非合焦点のずれが閾値より大きい場合には、該補正値の検出を行った領域Ａを、該補正値を用いて補正したレーザパワーで重ね書き処理を行う。これにより、補正値を検出した領域Ａにおいても、正確なレーザパワーを出力することができる。また、該補正値を検出した領域Ａを欠陥領域とすることもない。
【００５５】
（実施の形態４）
以下に本発明の請求項１５、請求項１６、及び請求項１７に対応する発明の実施の形態４について、図１２、図１３、及び図１４を用いて説明する。なお、前述した実施の形態と同じ構成については同じ符号を用い、説明を省略する。
図１２において、本実施の形態４においては、回転速度制御回路２０は、光ディスクの回転速度を制御し、光ディスクがある一定の回転速度に達した時に、パワー／電流初期関係記憶手段８に通信を行い、補正値を検出する動作を開始させる。
【００５６】
以下、実施の形態４による光ディスク装置における補正値検出回路１００２の動作について図１３を用いて説明する。図１３は、補正値を検出する時の補正値検出回路１００２の各信号について説明する図である。図１３ａは回転速度制御回路２０によって、光ディスクの回転速度を上昇していることを表している。図１３ｂは、光ディスクの形状を表した図である。図１３ｃは、レーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流Ｉ３を制御する。図１３ｄは、モニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーＰ３を検出した信号である。図１３ｅはパワー誤差演算手段１３にて、合焦点のレーザパワーＰ３を非合焦点のレーザパワーＰ３と比較し、レーザパワーのずれＬ３を演算した信号である。図１３ｆは、規格化演算手段１５にて、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を非合焦点のレーザパワーで規格化した信号である。ここで、補正値検出の動作は、フォーカス制御回路１８にてピックアップレンズ６を駆動させ、焦点位置を合焦点に設定する。
【００５７】
図１３ａに示すように、回転速度制御回路２０にて光ディスクの回転速度を大幅に上昇させ、ある一定の回転速度に達した状態でパワー／電流初期関係記憶手段８に通信を行い、補正値検出の動作を開始させる。パワー／電流初期関係記憶手段８は、図１３ｃに示すように、初期関係に基づき、電流値出力手段９から制御信号Ｉ３をレーザ駆動回路１０に入力する。回転速度を大幅に上昇させたことにより、図１３ｂに示すように光ディスク上の形状は変化せず、記録されてしまうことは無い。それは、光ディスク上への記録はレーザ光を光ディスク上にある一定の時間だけ照射することで、光ディスクの形状を物理的に変化させているが、光ディスクの回転速度を上昇させると、光ディスク上の同じ面にレーザ光が照射されている時間が短くなる為に、ある回転速度以上になると光ディスクの形状は物理的に変化しなくなるからである。レーザ駆動回路１０は半導体レーザ３を駆動し、光ディスク上にレーザ光を照射する。この時、図１３ｄに示すように半導体レーザ３のレーザパワーと駆動電流Ｉ３の関係が合焦点／非合焦点で異なっている場合に、モニタ回路１１で検出したレーザパワーにずれが生じてしまう。そこで、パワー誤差演算手段１３は、モニタ回路１１で検出した合焦点のレーザパワーＰ３と、パワー／電流初期関係記憶手段８に記憶されている非合焦点のレーザパワーＰ３を比較することにより合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を演算する。合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３は、規格化演算手段１５にて非合焦点のレーザパワーＰ３によって規格化演算する。規格化された値は補正値Ｓ３として、補正値記憶手段１６に記憶しておく。補正値Ｓ３は光ディスク上に情報を記録する時に補正値記憶手段１６から出力され、補正手段１７において、制御信号に対して補正を行う。この補正の動作に関しては実施の形態１と同様であるため、省略する。なお、光ディスク上に記録してしまうこともないため、複数の補正値を検出すれば補正値の精度は向上する。また、光ディスク上のどの領域を用いて補正値を検出しても構わない。
【００５８】
次に本発明の請求項１６に対応する発明の実施の形態においては、請求項１５に対応する光ディスク装置において、補正値を検出する時の制御信号の大きさを、光ディスク装置内に装填した光ディスクの種類に応じて変える。補正値を検出する時の制御信号は、光ディスクの種類によってあらかじめパワー／電流初期関係記憶手段８に記憶させておく。光ディスクに記録してしまうレーザパワーは光ディスクの種類によって異なる為に、補正値を検出する時の制御信号の大きさを変えることによって、誤って光ディスク上に記録することを防ぐことができる。
【００５９】
次に本発明の請求項１７に対応する発明の実施の形態においては、請求項１５に対応する光ディスク装置において、補正値を検出する時の光ディスクの回転速度を、光ディスク装置内に装填した光ディスクの種類に応じて変える。回転速度制御回路２０で制御する光ディスクの回転速度に、光ディスクの種類に応じて閾値を設けておき、光ディスクの回転速度が閾値を越えた時に、補正値の検出の動作を開始するようにする。光ディスクの種類に応じて回転速度を変えてやることにより、誤って光ディスクに記録することを防ぐことができる。
【００６０】
（実施の形態５）
以下に本発明の請求項１８、請求項１９、及び請求項２０に対応する発明の実施の形態５について、図１４、図１５、図１６及び図１７を用いて説明する。なお、前述した実施の形態と同じ構成については同じ符号を用い、説明を省略する。
図１４において、本実施の形態５においては、反射鏡２３は光ディスク装置に装填する光ディスク２と同等の反射率を有しており、光ピックアップ１が正面に移動することができる位置に取り付けられている。なお、反射鏡２３に必要とされるのは、反射率が光ディスク２と同等であることであり、材質は特に限定されない。２４は反射鏡取り付け機構であり、反射鏡２３を装置に固定する。２５は光ピックアップ１の移動軸であり、シーク制御回路１９が光ピックアップ１を内外周方向へ移動させる場合は移動軸２５に沿って移動する。
【００６１】
以下、本実施の形態５による光ディスク装置における補正値を検出する動作について、図１５を用いて説明する。
図１５は、反射鏡２３の正面に光ピックアップ１を移動し、補正値を検出する時の補正値検出回路１００３の各信号について説明した図である。図１５ａはレーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流をＩ３制御する。図１５ｂはモニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーＰ３を検出した信号である。図１５ｃはパワー誤差演算手段１３にて、合焦点のレーザパワーＰ３を非合焦点のレーザパワーＰ３と比較し、レーザパワーのずれＬ３を演算した信号である。図１５ｄは規格化演算手段１５にて、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を非合焦点のレーザパワーＰ３で規格化した信号である。補正値検出の動作は、シーク制御回路１９にて光ピックアップ１を反射鏡２３の正面に移動させ、フォーカス制御回路１８にて反射鏡２３とピックアップレンズ６の焦点位置を合焦点に設定する。この状態で図１５ａに示すように、初期関係に基づき電流値出力手段９から制御信号Ｉ３をレーザ駆動回路１０に入力する。レーザ駆動回路１０は半導体レーザ３を駆動し、反射鏡２３にレーザ光を照射させる。この時、図１５ｂに示すように、半導体レーザ３のレーザパワーと駆動電流の関係が合焦点／非合焦点で異なっている場合に、モニタ回路１１で検出したレーザパワーにずれＬ３が生じてしまう。そこで、パワー誤差演算手段１３は、モニタ回路１１で検出した合焦点のレーザパワーＰ３と、パワー／電流初期関係記憶手段８に記憶されている非合焦点のレーザパワーＰ３を比較することにより合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を演算する。合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３は、規格化演算手段１５にて非合焦点のレーザパワーによって規格化演算する。規格化された値は補正値Ｓ３として、補正値記憶手段１６に記憶しておく。補正値Ｓ３は光ディスク上に情報を記録する時に補正値記憶手段１６から出力され、補正手段１７において、制御信号に対して補正を行う。この補正の動作に関しては実施の形態１と同様である為、省略する。
【００６２】
次に本発明の請求項１９に対応する発明の実施の形態においては、請求項１８に対応する光ディスク装置において、反射率の異なる複数の反射鏡２３を装置に取り付けておき、装填された光ディスクの反射率に応じて最適な反射鏡を選択する。記録型の光ディスクにはＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ等が有名であるが、記録型の光ディスクの反射率については、その種類によって反射率に違いがあり、規格によって定められている。例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷについては、フィリップス社が発表した記録型の光ディスクに関する規格（通称「Ｏｒａｎｇｅ　Ｂｏｏｋ」と呼ばれる）によって光ディスクの反射率が定められている。その為、図１４に示すように装置内部に反射率の異なった複数の反射鏡２３を取り付けておき、光ディスク装置に装填された光ディスクの種類を、光ピックアップ１が読み取った後、光ディスクの反射率に最も近い反射率を持つ反射鏡２３の正面に光ピックアップ１を移動させて、補正値を検出する。検出された補正値は、装填された光ディスクに情報の記録を行う時に制御信号に対して補正を行う。光ディスクの反射率に応じて最適な補正値を選択することができる。
【００６３】
次に本発明の請求項２０に対応する発明の実施の形態について、図１６、及び図１７を用いて説明する。図１６は反射鏡２３の正面に光ピックアップ１を移動し、合焦点において複数の異なった制御信号をレーザ駆動回路１０に入力した時の、モニタ回路１１の出力信号を表している。図１６ａはレーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流を制御する。図１６ｂはモニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーを検出した信号である。まず、反射鏡２３の正面に光ピックアップ１を移動し、ピックアップレンズ６を反射鏡２３に対して合焦点になるように移動させる。この状態において、パワー／電流初期関係記憶手段８は電流値出力手段９によって、図１６ａに示すようにレーザ駆動回路１０に複数の大きさの異なる制御信号Ｉ１〜Ｉ９を出力する。図１６ｂに示すように、この時のレーザパワーＰ１〜Ｐ９をモニタ回路１１にて検出して、パワー／電流初期関係記憶手段８に入力する。パワー／電流初期関係記憶手段８は、レーザ駆動回路１０の制御信号Ｉ１〜Ｉ９とモニタ回路１１のレーザパワーＰ１〜Ｐ９から、図１７に示すように合焦点におけるレーザパワーと駆動電流の関係を記憶しておく。パワー／電流初期関係記憶手段８は、記録時にはこの関係に基づいて電流値出力手段９から制御信号を出力することによって、補正をせずに、正確なレーザパワーを出力することが可能となる。
【００６４】
（実施の形態６）
以下に本発明の請求項２１、及び請求項２２に対応する発明の実施の形態６について、図１及び図１８を用いて説明する。なお、前述した実施の形態と同じ構成については同じ符号を用い、説明を省略する。本実施の形態６における光ディスク装置の補正値検出回路（図１の１０００に対応）は、ある一定の反射率を持った基準となる光ディスク（以下「基準ディスク」）を装填した状態で補正値の検出の動作を行う。図１８は、基準ディスクを装填した状態で補正値を検出する時の補正値検出回路の各信号について説明した図である。図１８ａはレーザ駆動回路１０の入力信号であり、半導体レーザ３の駆動電流Ｉ３を制御する。図１８ｂはモニタ回路１１にて、合焦点のレーザパワーＰ３を検出した信号である。図１８ｃはパワー誤差演算手段１３にて、合焦点のレーザパワーＰ３を非合焦点のレーザパワーＰ３と比較し、レーザパワーのずれＬ３を演算した信号である。図１８ｄは規格化演算手段１５にて、合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を非合焦点のレーザパワーＰ３で規格化した信号である。補正値検出の動作は、基準ディスクを装填した状態において、フォーカス制御回路１８にて焦点位置を合焦点に設定する。この状態で、図１８ａに示すように、初期関係に基づき電流値出力手段９から制御信号Ｉ３をレーザ駆動回路１０に入力する。レーザ駆動回路１０は半導体レーザ３を駆動し、基準ディスク上にレーザ光を照射させる。この時、図１８ｂに示すように半導体レーザ３のレーザパワーと駆動電流の関係が合焦点／非合焦点で異なっている場合に、モニタ回路１１で検出したレーザパワーにずれが生じてしまう。そこで、パワー誤差演算手段１３は、モニタ回路１１で検出した合焦点のレーザパワーＰ３と、パワー／電流初期関係記憶手段８に記憶されている非合焦点のレーザパワーＰ３を比較することにより合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３を演算する。合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれＬ３は、規格化演算手段１５にて非合焦点のレーザパワーによって規格化演算する。規格化された値は補正値Ｓ３として、補正値記憶手段１６に記憶しておく。補正値Ｓ３は光ディスク上に情報を記録する時に補正値記憶手段１６から出力され、補正手段１７において、制御信号に対して補正を行う。この補正の動作に関しては実施の形態１と同様である為、省略する。また、補正値を検出する為の基準ディスクは、反射率が同じものであるならば、光ディスクの材質等による種類については限定されるものではない。
【００６５】
次に本発明の請求項２２に対応する発明の実施の形態においては、基準ディスクは、反射率の異なる複数の基準ディスクを用意し、それぞれの基準ディスクを装填した場合に検出された補正値を、補正値記憶手段１６に反射率毎に複数記憶しておく。光ディスク上に情報の記録を行う時に、光ピックアップ１が光ディスクの種類を読み取り、光ディスク装置がその光ディスクの種類から反射率の大きさを判断し、その反射率に最も近い補正値を補正値記憶手段１６から選択して制御信号に対する補正を行う。従って、光ディスクの反射率に応じて最適な補正値を選択することができる。
【００６６】
【発明の効果】
請求項１記載の光ディスク装置によれば、記録型の光ディスク上に設けられているテスト領域を用いて補正値検出回路が合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれから補正値を検出し、検出された補正値を用いて補正回路によってレーザ駆動回路の制御信号に対して補正を行うことによって、正確なレーザパワーを出力することができる光ディスク装置を提供することができる。
【００６７】
請求項２記載の光ディスク装置によれば、複数の大きさの異なる制御信号に対する補正値を補正値検出回路が複数検出し、光ディスク上に情報を記録する時のレーザパワーに応じて複数の補正値から選択して補正を行うことによって、レーザパワーの大小の違いによって補正値に違いがあったとしても常に最適な補正値を選択し、正確なレーザパワーを出力することができる。
【００６８】
請求項３記載の光ディスク装置によれば、レーザ駆動回路の制御信号を補正して光ディスク上に記録を行うことで制御信号に対する補正が正確にされているか検査を行い、補正が不十分な場合には補正値の再検出を行うことによって、補正の精度を向上することができる。
【００６９】
請求項４記載のディスク装置によれば、補正値の情報を、補正値を検出した光ディスク上に情報として記録しておき、次回、同じ光ディスク上への記録を行う時に、光ディスク上に記録された補正値を読み出して使用することによって、補正値を検出する為のテスト領域の消費を節約することができる。
【００７０】
請求項５記載の光ディスク装置によれば、光ディスク上に情報を記録する為の最適なレーザパワーを検出する時のテスト記録時において、レーザ駆動回路の制御信号を補正することによって、光ディスク上に情報を記録する為の最適なレーザパワーを精度良く検出することができる。
【００７１】
請求項６記載の光ディスク装置によれば、光ピックアップを光ディスク上の情報を記録しない領域に移動し、補正値検出回路が合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれから補正値を検出し、検出された補正値は補正回路によって制御信号に対して補正を行うことによって、光ディスクに記録することなく、補正値を検出することができる。
【００７２】
請求項７記載の光ディスク装置によれば、補正値の検出を光ディスク装置に光ディスクを装填した直後に行うことによって、光ディスクの記録にかかる時間を短縮することができる。
【００７３】
請求項８記載の光ディスク装置によれば、光ディスク上の情報を記録しない領域において、合焦点時におけるレーザパワーと駆動電流の関係を検出し、レーザ駆動回路の制御信号は前記関係に基づいて入力されることによって、補正を必要とせずに、光ディスク上に正確なレーザパワーを出力することができる。
【００７４】
請求項９記載の光ディスク装置によれば、光ディスク上に情報の記録を開始する直後において、補正値検出回路が合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれから補正値を検出し、検出された補正値はただちに補正回路にて制御信号に対して高速に補正することによって、記録開始直後のレーザパワーを用いて補正値を検出することで、光ディスク上に正確なレーザパワーによる記録を行うことができる。
【００７５】
請求項１０記載の光ディスク装置によれば、補正速度制御回路はレーザ駆動回路の制御信号に対する補正の速度を少しずつ低速に落としていくことによって、光ディスク上に照射されるレーザパワーが大きく出力される為に、光ディスク上を物理的に傷つけてしまうことを防ぐことができる。
【００７６】
請求項１１記載の光ディスク装置によれば、補正値を検出する領域では、前記レーザ駆動回路の制御信号を小さくすることによって、補正値を検出する領域でレーザパワーが大きく出力される為に、光ディスクを物理的に傷つけてしまうことを防ぐことができる。
【００７７】
請求項１２記載の光ディスク装置によれば、補正値検出回路の出力信号に閾値を設けておき、出力信号が閾値より大きい場合には光ディスク上の補正値の検出を行った領域を、光ディスクの再生時に使用することによって、補正値を検出した領域の記録状態に応じてその領域が再生可能かどうかを判断することができる。
【００７８】
請求項１３記載の光ディスク装置によれば、光ディスク上に再生する時に使用されない領域が存在した場合は、この領域において補正値を検出することによって、補正値を検出する領域を増やすことなく、正確なレーザパワーによる記録を行うことができる。
【００７９】
請求項１４記載の光ディスク装置によれば、書き換え可能な光ディスク上に情報を記録する時は、補正値検出回路の出力信号に閾値を設けておき、出力信号が閾値より大きい場合には補正値の検出を行った領域を、補正されたレーザ駆動回路の制御信号を用いて上書きする処理を行うことによって、補正値を検出した領域においても、正確なレーザパワーによる記録を行うことができる。
【００８０】
請求項１５記載の光ディスク装置によれば、回転速度制御回路によって光ディスクを高速に回転した状態で、補正値検出回路が合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれから補正値を検出し、検出された補正値は補正回路によって制御信号に対して補正を行うことによって、光ディスクを高速に回転させることによって、光ディスクに記録してしまうことなく、補正値を検出し、正確なレーザパワーを出力することができる。
【００８１】
請求項１６記載の光ディスク装置によれば、光ディスク装置内に装填した光ディスクの種類に応じて、補正値を検出する時にレーザ駆動回路の制御信号の大きさを変えることによって、光ディスクの種類の違いから補正値を検出する時に誤って記録してしまうことを防ぐ事ができる。
【００８２】
請求項１７記載の光ディスク装置によれば、光ディスク装置内に装填した光ディスクの種類に応じて、補正値を検出する時に光ディスクの回転速度を変えることによって、光ディスクの種類の違いによって補正値を検出する際に誤って記録してしまうことを防ぐことができる。
【００８３】
請求項１８記載の光ディスク装置によれば、光ディスク装置にある一定の反射率を持つ反射鏡を取り付け、光ピックアップを反射鏡の正面に移動し、反射鏡とピックアップレンズが合焦点において補正値検出回路が合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれから補正値を検出し、検出された補正値は補正回路によって制御信号に対して補正を行うことによって、光ディスクに記録することなく、補正値を検出する事ができる。
【００８４】
請求項１９記載の光ディスク装置によれば、反射率の異なる複数の反射鏡を装置に取り付けておき、装填された光ディスクの反射率に最も近い反射率を有する反射鏡において補正値を検出することによって、装填した光ディスクの反射率に応じて最適な補正値を検出し、正確なレーザパワーを出力することができる。
【００８５】
請求項２０記載の光ディスク装置によれば、ピックアップレンズを反射鏡の正面に移動し、反射鏡とピックアップレンズが合焦点において、レーザパワーと駆動電流の関係を検出し、レーザ駆動回路の制御信号は前記関係に基づいて入力されることによって、補正を必要とせずに光ディスク上に正確なレーザパワーを出力することができる。
【００８６】
請求項２１記載の光ディスク装置によれば、ある一定の反射率を持つ基準となる光ディスクを装填し、補正値検出回路が合焦点／非合焦点のレーザパワーのずれから補正値を検出して補正値記憶手段に記憶しておき、補正回路によって制御信号に対して補正を行うことによって、光ディスクに情報を記録する時に正確なレーザパワーを出力することができる。
【００８７】
請求項２２記載の光ディスク装置によれば、基準となる光ディスクは、光ディスクの反射率に応じて複数の光ディスクを用意し、それぞれの光ディスクを装填した場合に検出した補正値を補正値記憶手段に複数記憶しておくことによって、光ディスクの種類に応じて最適な補正値を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明における実施の形態１、実施の形態２、及び実施の形態６のレーザパワー補正回路のブロック図。
【図２】本発明における実施の形態１の記録型の光ディスク上のテスト領域にて補正値を検出する時の信号説明図。
【図３】本発明における実施の形態１のレーザ駆動回路の入力を補正して、光ディスク上に情報の記録を行う時の信号説明図。
【図４】本発明における実施の形態１の光ディスクのテスト領域にて、複数の異なった制御信号に対して補正値を検出し、制御信号を補正して補正検査の為の記録を行う時の信号説明図。
【図５】本発明における実施の形態１の記録型光ディスクのテスト領域にて補正値を検出し、ＯＰＣ動作のテスト記録時に制御信号に対して補正を行う時の信号説明図。
【図６】本発明における実施の形態２の光ディスク上の鏡面領域において補正値を検出する時の信号説明図。
【図７】本発明における実施の形態２の鏡面領域にて、合焦点の駆動電流とレーザパワーの初期関係を取得する時の信号説明図。
【図８】本発明における実施の形態２の鏡面領域にて取得した合焦点における駆動電流とレーザパワーの初期関係の説明図。
【図９】本発明における実施の形態３のレーザパワー補正回路のブロック図。
【図１０】本発明における実施の形態３の光ディスク上に情報の記録を開始する直後で補正値を検出し、検出した補正値に基づき制御信号を補正する時の信号説明図。
【図１１】本発明における実施の形態３の合焦点におけるレーザパワーが非合焦点より大きく変化する場合の光ディスク装置に対して、補正値を検出する時の制御信号を小さくしておき、検出した補正値に基づいて制御信号を補正する時の信号説明図。
【図１２】本発明における実施の形態４のレーザパワー補正回路のブロック図。
【図１３】本発明における実施の形態４の光ディスクを高速に回転した状態において、補正値を検出する時の信号説明図。
【図１４】本発明における実施の形態５の、レーザパワー補正回路の光ディスク装置の説明図。
【図１５】本発明における実施の形態５の反射鏡とピックアップレンズの焦点位置が合焦点の状態で補正値を検出する時の信号説明図。
【図１６】本発明における実施の形態５の反射鏡にて、合焦点の駆動電流とレーザパワーの初期関係を取得する時の信号説明図。
【図１７】本発明における実施の形態５の反射鏡にて取得した合焦点での駆動電流とレーザパワーの初期関係の説明図。
【図１８】本発明における実施の形態６の基準となる光ディスクを用いて、補正値を検出する時の信号説明図。
【図１９】従来の光ディスク装置におけるレーザパワー制御回路の説明図。
【図２０】レーザ駆動電流とレーザパワーの初期関係の説明図。
【符号の説明】
１　光ピックアップ
２　光ディスク
３　半導体レーザ
４　ビームスプリッタ
５　レーザパワーモニタ用フォトダイオード（モニタダイオード）
６　ピックアップレンズ
７　反射光検出用フォトダイオード（フォトダイオード）
８　パワー／電流初期関係記憶手段
９　電流値出力手段
１０　レーザ駆動回路
１１　モニタ回路
１２　Ｓ／Ｈ回路
１３　パワー誤差演算手段
１４　パワー出力手段
１５　規格化演算手段
１６　補正値記憶手段
１７　補正手段
１８　フォーカス制御回路
１９　シーク制御回路
２０　回転速度制御回路
２１　スピンドルモータ
２２　補正速度制御手段
２３　反射鏡
２４　反射鏡取り付け機構
２５　光ピックアップ１の移動軸
１０１　光ピックアップ
１０２　半導体レーザ
１０３　モニタダイオード
１０４　モニタ回路
１０５　ピックアップレンズ
１０６　レーザ駆動回路
１０７　ビームスプリッタ
【図１】
2004086937.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
2004086937.tif 000018
【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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