(57)【要約】【課題】セグメント表示用の液晶表示パネルにおいて、断線もしくは短絡の有無を容易に判別でき、検査時間を短縮し、生産性を向上する。【解決手段】液晶表示パネル１の端子部２ａに引き出された複数の配線Ｓ１〜Ｓ７を、隣接する配線の終端位置が異なるように配置し、複数の配線は、終端位置が第１乃至第３接続領域５ａ〜５ｃに属する第１乃至第３配線群を有し、各接続領域毎に、そこに存在する配線群に信号を印加して液晶表示パネルに表示パターン（図２Ａ）を表示させ、表示パターンを画像認識手段によって認識させ、その表示パターンと記憶手段に記憶された標準表示パターン（図２Ｂ）とを比較する。【選択図】      図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
液晶表示パネルの端子部に引き出された複数の配線を、隣接
する配線の終端位置が異なるように配置し、前記複数の配線は、終端位置が第１接続領域に属する第１配線群および終端位置が第２接続領域に属する第２配線群を少なくとも有し、
前記第１配線群に信号を印加して液晶表示パネルに第１表示パターンを表示させ、前記第１表示パターンを画像認識手段によって認識させ、前記第１表示パターンと記憶手段に記憶された標準第１表示パターンとを比較するステップと、
前記第１配線群および前記第２配線群に信号を印加して液晶表示パネルに第２表示パターンを表示させ、前記第２表示パターンを前記画像認識手段によって認識させ、前記第２表示パターンと前記記憶手段に記憶された標準第２表示パターンとを比較するステップとを有する液晶表示パネルの検査方法。
【請求項２】
前記複数の配線に信号を印加する電極が面電極である請求項１に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項３】
前記複数の配線は、終端位置が第３接続領域に属する第３配線群を有し、前記第１配線群、前記第２配線群および前記第３配線群に信号を印加して液晶表示パネルに第３表示パターンを表示させ、前記第３表示パターンを前記画像認識手段によって認識させ、前記第３表示パターンと前記記憶手段に記憶された標準第３表示パターンとを比較するステップを有する請求項１または２に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項４】
前記液晶表示パネルの表示がセグメント表示である請求項１乃至３のいずれか１項に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネルの検査方法に係り、特にセグメント表示用の液晶表示パネルの電極に電圧を印加して点灯状態を判定する検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶表示パネルは、電極が形成された２枚の基板を貼り合わせて構成されているが、２枚の基板の一方を他方より大きくして端子部を設け、この端子部に電極から延在する配線を引き回して、外部回路と接続を取るための端子を構成していた。セグメント表示用の液晶表示パネルにおいては、一方の基板に数字、文字、図形、キャラクタなどの特定の形状をしたセグメント電極が設けられ、他方の基板にコモン電極が設けられている。
【０００３】
図９は、数字の表示に使用される７セグメント電極構成の液晶表示パネル１を示すものである。セグメント基板２には、セグメント電極１１〜１７が設けられ、各セグメント電極から配線Ｓ１〜Ｓ７が端子部２ａまで延在している。コモン基板３には、コモン電極１８が設けられており、コモン電極１８から配線Ｃ１が基板間導通部４を経て端子部２ａまで延在している。この液晶表示パネル１は、配線Ｓ１〜Ｓ７に選択的に電圧を印加することにより、０〜９の数字を任意に表示することができる。
【０００４】
このような液晶表示パネルにおいて、ＬＣＤコントローラやドライバＩＣ等の外部回路を実装する前に、電極の断線もしくは短絡の有無を確認し、液晶表示パネルが正常に点灯するか否かを確認するための点灯確認検査が行われている。
【０００５】
従来の液晶表示パネルの検査装置は、液晶表示パネルの配線と接続を取るプローブピンを有し、プローブピンと液晶表示パネルの電極との位置合わせを行う位置合わせ機構を備えていた。
【０００６】
点灯確認検査は、液晶表示パネルの端子部において、液晶表示パネルの配線（端子の部分も含む）に検査装置のプローブピンを直接接触させて所定の点灯電圧を印加し、その点灯状態によって液晶表示パネルの電極の断線もしくは短絡の有無および正常な点灯状態であるかを検査するものであった。
【０００７】
この点灯確認検査は、各配線とプローブピンを正確に位置合わせしなければならなかったため、例えば、液晶表示パネルに設けられているアライメントマークをＣＣＤカメラによって撮像し、その撮像信号を画像処理ユニットで処理して液晶表示パネルの配線の位置を特定し、その位置データに基づいて液晶表示パネルもしくはプローブピンのいずれかを移動させ、配線とプローブピンとの位置合わせを行う位置合わせ機構が必要であった（特許文献１参照）。
【０００８】
ところで、近年、液晶表示パネルの基板に直接ＩＣチップを実装させたＣＯＧ（Ｃｈｉｐ  Ｏｎ  Ｇｌａｓｓ）型の液晶表示装置が製造されている。ＣＯＧ型の液晶表示装置は、ＩＣチップを液晶表示パネルの基板上に直接実装しているので、ファインピッチ化でき、軽量薄型化に有利であり、ＩＣチップのパッケージを節約できるのでコスト低下等の効果があった。
【０００９】
上述したとおり、従来の検査方法は、液晶表示パネルの配線と検査装置のプローブピンとの位置合わせ作業を行うので、位置合わせ機構として配線の幅程度の位置決め精度が必要であり、特に、ＣＯＧ型の液晶表示パネルにおいては、基板の端子部で配線がファインピッチ化されているため、精密な位置決め精度が求められていた。このため、位置合わせ作業に長時間要していたのである。
【００１０】
この問題を解決するために、液晶表示パネルの配線を交互に延長させ、先端にプローブピンとの接続を取るための拡幅ランドを設けることで、位置決め精度の制限を緩和して位置合わせ作業を容易にする手段が知られている（特許文献２参照）。
【００１１】
【特許文献１】
特開２００３−４３５１７号公報（段落０００２−０００４）
【特許文献２】
特開２０００−１３７２３９号公報（図３−５）
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
上述したとおり、従来の検査方法は、多数本の配線をプローブピンと一対一で接続させるので、接続不良の確率が高く、検査の信頼性に影響を与えていた。
【００１３】
更に、いわゆる狭額縁化の要求から端子部の面積が小さくなり、液晶表示パネルの配線と検査装置のプローブピンとの接続を取る作業の困難性が高まっていた。
【００１４】
また、マトリクス表示用の液晶表示パネルの場合は、電極が行と列に規則正しく配置されており、表示パターンを見れば断線もしくは短絡の有無は容易に認識できるが、セグメント表示用の液晶表示パネルの場合は、セグメント電極が不規則に、また複雑に配置されることが多く、断線もしくは短絡の有無を目視で判断することが困難であった。
【００１５】
加えて、配線の短絡は隣接する配線との間で生じるが、セグメント表示用の液晶表示パネルは、セグメント電極から延在した配線が他のセグメント電極および配線の間をぬって引き回されるため、端子部において隣接していない配線に対しても、引き回しのいずれかにおいて隣接していれば、短絡が生じる可能性があった。例えば、図９において、セグメント電極１１およびそこから延在する配線Ｓ１は、端子部２ａでは配線Ｓ２とのみ隣接しているが、表示部においてはセグメント電極１５、１７とも隣接している。また、セグメント電極１５では、その周囲に位置するセグメント電極１１、１２、１４、１６と隣接しており、各セグメント電極と短絡するおそれがあった。
【００１６】
本発明は、断線もしくは短絡の有無を容易に判別でき、検査時間を短縮し、生産性を向上するための検査方法を提供することを目的とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
前述した目的を達成するために本発明の液晶表示パネルの検査方法は、液晶表示パネルの端子部に引き出された複数の配線を、隣接する配線の終端位置が異なるように配置し、前記複数の配線は、終端位置が第１接続領域に属する第１配線群および終端位置が第２接続領域に属する第２配線群を少なくとも有し、前記第１配線群に信号を印加して液晶表示パネルに第１表示パターンを表示させ、前記第１表示パターンを画像認識手段によって認識させ、前記第１表示パターンと記憶手段に記憶された標準第１表示パターンとを比較するステップと、前記第１配線群および前記第２配線群に信号を印加して液晶表示パネルに第２表示パターンを表示させ、前記第２表示パターンを前記画像認識手段によって認識させ、前記第２表示パターンと前記記憶手段に記憶された標準第２表示パターンとを比較するステップとを有することを特徴とする。
【００１８】
このような構成を採用したことにより、隣接する配線が異なる接続領域で終端するように配置されているので、電極を端子部における複数の接続領域と段階的に接触させて検査することにより、全ての配線の断線および短絡を速やかに調べることができる。加えて、画像認識手段および記憶手段を利用して、液晶表示パネルに表示された第１、第２表示パターンと、標準第１、第２表示パターンとを比較することで、複雑な形状の表示パターンであっても、画素欠陥を簡単に判別することができ、検査時間を短縮することができる。
【００１９】
また、本発明の液晶表示パネルの検査方法は、前記複数の配線に信号を印加する電極が面電極であることを特徴とする。
【００２０】
このような構成を採用したことにより、面電極が接続領域において複数の配線と一度に接続を取ることができ、液晶表示パネルの複数の配線のピッチが細かくても、容易に且つ確実に配線と接続することができる。
【００２１】
また、本発明の液晶表示パネルの検査方法は、前記複数の配線は、終端位置が第３接続領域に属する第３配線群を有し、前記第１配線群、前記第２配線群および前記第３配線群に信号を印加して液晶表示パネルに第３表示パターンを表示させ、前記第３表示パターンを前記画像認識手段によって認識させ、前記第３表示パターンと前記記憶手段に記憶された標準第３表示パターンとを比較するステップを有することを特徴とする。
【００２２】
このような構成を採用したことにより、隣接する配線の数が多い液晶表示パネルの検査にも適用することができる。
【００２３】
また、本発明の液晶表示パネルの検査方法は、前記液晶表示パネルの表示がセグメント表示であることを特徴とする。
【００２４】
セグメント表示用の液晶表示パネルは、セグメント電極が不規則に、また複雑に配置されることが多く、断線もしくは短絡の有無を目視で判断することが困難であり、隣接する配線の数も多いので、容易に短絡および断線を発見でき、また自動化もできる本発明の検査方法を適用するのに好適である。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、セグメント表示用の液晶表示パネルにおける本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。
【００２６】
図１は、セグメント表示用の液晶表示パネル１の概略平面図であり、液晶表示パネル１は、セグメント基板２とコモン基板３とからなる。セグメント基板２には、セグメント電極１１〜１７が設けられており、そこから延在した配線Ｓ１〜Ｓ７が端子部２ａに引き出されている。コモン基板３には、コモン電極１８が設けられており、そこから延在した配線Ｃ１が基板間導通部４を経て端子部２ａに引き出されている。
【００２７】
本明細書において、セグメント電極とは、配線と連続した導体であり、表示部において、数字、文字、図形などのパターン形状もしくはその一部を構成するものである。
【００２８】
液晶表示パネル１は、セグメント電極からの配線と検査装置の電極とが接続される複数の接続領域５ａ、５ｂ、５ｃを端子部２ａに有している。更に、端子部２ａには、別途、コモン電極１８からの配線Ｃ１と検査装置の電極とが接続されるための領域６も存在する。図１においては、複数の接続領域５ａ、５ｂ、５ｃは、第１接続領域５ａ、第２接続領域５ｂおよび第３接続領域５ｃから構成されている。なお、接続領域の数は、隣接する配線が異なる接続領域で終端するように接続領域の数は適宜設定でき、隣接する配線の数が少ない場合は、接続領域は２つでもよい。
【００２９】
液晶表示パネル１において、少なくとも一つのパターン形状を構成するセグメント電極１１〜１７からの配線Ｓ１〜Ｓ７は、引き回しの過程において隣接した配線の終端位置が異なるように配置されており、終端位置が属する接続領域毎に配線群（便宜上、配線群と呼ぶが配線が一本の時も含む）を構成している。例えば、図１において、配線Ｓ５であれば、隣接する配線Ｓ４、Ｓ６と同じ接続領域で終端することができないし、配線Ｓ５の一部であるセグメント電極１５が隣接しているセグメント電極１１、１２から延在する配線Ｓ１、Ｓ２とも同じ接続領域で終端することができない。そして、図１においては、終端位置が第１接続領域５ａに属する第１配線群は配線Ｓ１であり、終端位置が第２接続領域５ｂに属する第２配線群は配線Ｓ２、Ｓ４、Ｓ６であり、終端位置が第３接続領域５ｃに属する第３配線群は配線Ｓ３、Ｓ５、Ｓ７である。
【００３０】
なお、他のパターン形状を構成するセグメント電極からの配線に対しても、引き回しの過程において短絡が生じる程度の距離で隣接していた場合は、異なる接続領域で終端するように配置することが好ましい。
【００３１】
このような液晶表示パネルを検査するための検査装置は、電極と、画像認識手段と、記憶手段と、比較手段とを有している。
【００３２】
検査装置の電極は、液晶表示パネルの配線に信号を印加するものであり、液晶表示パネルの接続領域５ａ、５ｂ、５ｃとほぼ同じ形状の面状の電極を使用することが好ましい。面状の電極として導電性を有するゴムを用いると、液晶表示パネルの配線と接触させたときに、ゴムの弾性により接触面積を増やすことができ、良好な接続を取ることができる。また、面状の電極として可撓性の基板の一方の面に導電性材料をべたに印刷したＦＰＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）基板を用いることもできる。ＦＰＣ基板の可撓性の基板として、弾性を有する合成樹脂を使用すれば、液晶表示パネルの配線と接触させたときに、基板の弾性により接触面積を増やすことができ、良好な接続を取ることができる。また、検査装置は、コモン電極からの配線と接続するための電極も備えている。
【００３３】
画像認識手段は、液晶表示パネルに検査用の信号が印加されることにより表示される表示パターンを撮像し、その情報を比較手段に伝達するものであり、ＣＣＤカメラなどを使用することができる。なお、画像認識手段は、位置合わせ機構における液晶表示パネルのアライメントマークを撮像する手段と兼用する構成としても良い。
【００３４】
記憶手段は、各接続領域に存在する配線に信号を印加した時に表示される正常な表示パターン（以下「標準表示パターン」という）を記憶しており、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等を使用することができる。
【００３５】
比較手段は、画像認識手段によって認識した液晶表示パネルの表示パターンと記憶手段に記憶した標準表示パターンとを比較して、両者の不一致を検出して断線もしくは短絡の有無を判断する。比較手段としては、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）を使用することができる。比較するための方法としては、液晶表示パネルの表示パターンと標準表示パターンの各画素毎に排他的論理和を計算すれば、不一致の画素を検出することができる。排他的論理和とは、エクスクルーシブオアとも呼ばれ、二つの入力がいずれか一方のみが真（オン状態）のときに出力が真（オン状態）、入力が真（オン状態）ばかりあるいは偽（オフ状態）ばかりのときに出力は偽（オフ状態）となるものである。従って、両表示パターン間で不一致の画素のみが真（オン状態）として出力されることになる。
【００３６】
更に検査装置は、比較した結果を表示する表示手段や、液晶表示パネルの接続領域と電極とを位置合わせする位置合わせ機構を有していてもよい。比較手段によって比較した結果を表示手段に表示することにより、表示された比較結果から一目で画素欠陥を発見することができる。表示手段としては液晶表示装置やＣＲＴ等を使用することができる。
【００３７】
このような構成の液晶表示パネル１を検査する方法を図２乃至図６を用いて説明する。図２乃至図６において、（Ａ）は液晶表示パネル１の表示パターンを、（Ｂ）は標準表示パターンを、（Ｃ）は比較した結果をそれぞれ示している。
【００３８】
まず、検査装置の電極を液晶表示パネル１の第１接続領域５ａに接触させて、第１接続領域５ａに存在する第１配線群である配線Ｓ１と接続させて信号を印加する。同時に、検査装置の他の電極が、領域６において、液晶表示パネル１のコモン電極１８からの配線Ｃ１と接続し、コモン電極１８に信号を印加する。
【００３９】
断線および短絡が無ければ、セグメント電極１１とコモン電極１８に電圧が印加され、液晶表示パネル１は、図２（Ａ）に示すようにセグメント電極１１の画素のみが遮断状態となった第１表示パターンが表示される（ノーマリーホワイトモードの場合。以下同じ。）。
【００４０】
次に、検査装置の画像認識手段によって、液晶表示パネル１の第１表示パターンを認識させ、比較手段によって、認識した第１表示パターンと記憶手段に記憶されている第１接続領域５ａにおける標準第１表示パターン（図２（Ｂ））とを比較させる。図２（Ａ）と図２（Ｂ）の各画素の表示は全て一致しているので、排他的論理和を計算した結果は、図２（Ｃ）に示すように全て偽（オフ状態）となり、表示欠陥がないことが一目で分かる。
【００４１】
もしもセグメント電極１１が断線していた場合は、セグメント電極１１に電圧が印加されず、液晶表示パネル１は、図３（Ａ）に示すようにセグメント電極１１の画素が透過状態の第１表示パターンが表示される。図３（Ａ）の第１表示パターンと図３（Ｂ）の標準第１表示パターンとを比較すると、図３（Ａ）においてはセグメント電極１１の画素が透過状態であるのに対し、図３（Ｂ）においては画素２１が遮断状態である点で相違するため、その部分の排他的論理和は真（オン状態）となり、比較結果は、図３（Ｃ）に示すように画素３１が遮断状態となる。このため、画素３１に対応する液晶表示パネルのセグメント電極１１に欠陥が存在することが一目で明らかとなる。
【００４２】
また、配線Ｓ１が隣接する配線Ｓ２と短絡していた場合は、図４（Ａ）に示すように短絡したセグメント電極１２の画素も遮断状態となった第１表示パターンが表示される。この図４（Ａ）に示された第１表示パターンと図４（Ｂ）の標準第１表示パターンとを比較すると、図４（Ａ）においてはセグメント電極１２の画素が遮断状態であるのに対し、図４（Ｂ）においては画素２２が透過状態である点で相違するため、その部分の排他的論理和は真（オン状態）となり、比較結果は、図４（Ｃ）に示すように画素３２が遮断状態となる。よって、画素３２に対応する液晶表示パネルのセグメント電極１２に欠陥が存在することが一目で明らかとなる。
【００４３】
このようにして第１接続領域５ａにおける検査のステップが終了すると、検査装置の電極を第１接続領域５ａから第２接続領域５ｂに移動して接触させ、第２接続領域５ｂに存在する第１配線群である配線Ｓ１および第２配線群である配線Ｓ２，Ｓ４，Ｓ６と接続させて信号を印加する。なお、検査装置に第２接続領域５ｂに接続させるための電極を別途設けてもよい。検査装置の他の電極とコモン電極１８からの配線Ｃ１との接続は、このステップおよび次のステップにおいても維持したままにしておく。
【００４４】
断線および短絡が無ければ、セグメント電極１１，１２，１４，１６とコモン電極１８に電圧が印加され、液晶表示パネル１は、図５（Ａ）に示すようにセグメント電極１１，１２，１４、１６の画素が遮断状態となった第２表示パターンが表示される。そして、第２表示パターンを検査装置の画像認識手段によって認識し、比較手段によって、記憶手段に記憶された図５（Ｂ）に示す標準第２表示パターンと比較する。その結果は、全て一致するので、図５（Ｃ）に示すように欠陥を示す表示はされない。
【００４５】
その後、検査装置の電極を第３接続領域５ｃに接触させ、第３接続領域５ｃに存在する第１配線群である配線Ｓ１、第２配線群である配線Ｓ２，Ｓ４，Ｓ６および第３配線群であるＳ３，Ｓ５，Ｓ７と接続させて信号を印加する。断線が無ければ、全てのセグメント電極１１〜１７とコモン電極１８に電圧が印加され、液晶表示パネル１は、図６（Ａ）に示すように全てのセグメント電極１１〜１８が遮断状態となった第３表示パターンが表示される。同様に、第３表示パターンを検査装置の画像認識手段によって認識し、比較手段によって、記憶手段に記憶された図６（Ｂ）に示す標準第３表示パターンと比較する。その結果は、全て一致するので、図６（Ｃ）に示すように欠陥を示す表示はされない。
【００４６】
以上のように、検査装置の電極は、液晶表示パネル１の端子部２ａの接続領域５ａ〜５ｃと段階的に接触して、接触した接続領域に存在する配線と接続し、接続した配線に信号を印加して前記液晶表示パネルに表示パターンを表示させる検査を行うことにより、全ての配線の断線および短絡を速やかに調べることができる。加えて、画像認識手段、記憶手段および比較手段を利用することで、複雑な形状の表示パターンであっても、画素欠陥を簡単に判別することができ、検査時間を短縮することができる。また、この検査方法は、自動化することも容易であり、検査時間の短縮および検査労力の節約することができる。
【００４７】
なお、本実施の形態においては、第１接続領域５ａ、第２接続領域５ｂ、第３接続領域５ｃの順に検査を行ったが、この順番に限定されるものではない。更に、本実施の形態においては、接続領域を３段とした例を示したが、特に限定されるものではなく、隣接する配線が異なる接続領域で終端するように接続領域の数は適宜設定できる。
【００４８】
また、端子部２ａにＩＣチップが直接実装されるＣＯＧ型の液晶表示パネル１は、配線の間隔がファインピッチ化されており、プローブピンによる１対１の接続が困難であったことから、面電極を使用して、接続領域において複数の配線と一度に接続を取る本発明の検査方法を適用するのに好適である。
【００４９】
図７は、マルチプレックス駆動型の７セグメント電極構成の一例である。図７（Ａ）はセグメント基板２を、（Ｂ）はコモン基板３をそれぞれ示す。
【００５０】
図７（Ａ）のセグメント基板２には、セグメント電極１１〜１７が設けられており、セグメント電極１１および１２から延在した配線Ｓ１、セグメント電極１３および１５から延在した配線Ｓ２、セグメント電極１４から延在した配線Ｓ３、セグメント電極１６および１７から延在した配線Ｓ４が端子部２ａに引き出されている。
【００５１】
図７（Ｂ）のコモン基板３には、セグメント電極１７に対向して設けられたコモン電極１９ａ、セグメント電極１２および１３に対向して設けられたコモン電極１９ｂ、セグメント電極１１、１４、１５、１６に対向して設けられたコモン電極２０が設けられている。そして、コモン電極１９ａおよび１９ｂから延在した配線Ｃ１が基板間導通部４ａを経て端子部２ａに引き出され、コモン電極２０から延在した配線Ｃ２が基板間導通部４ｂを経て端子部２ａに引き出されている。
【００５２】
更に、セグメント基板２は、セグメント電極１１〜１７からの配線Ｓ１〜Ｓ４と検査装置の電極とが接続される複数の接続領域５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄを端子部２ａに有しており、少なくとも一つのパターン形状を構成するセグメント電極１１〜１７からの配線Ｓ１〜Ｓ４は、それぞれ異なる接続領域において終端するように配置されている。また、コモン電極からの配線Ｃ１およびＣ２も終端位置が異なるように配置されている。
【００５３】
図７において、第１接続領域５ａで終端する第１配線群は配線Ｓ１であり、第２接続領域５ｂで終端する第２配線群は配線Ｓ３であり、第３接続領域５ｃで終端する第３配線群は配線Ｓ４であり、第４接続領域５ｄで終端する第４配線群は配線Ｓ２である。なお、図７において、各配線群が一つの配線で構成されているのは、説明を簡単にするために７セグメント電極構成が一つの液晶表示パネル１を示したからであり、液晶表示パネル１が７セグメント電極構成を複数個備えていれば、各配線群も複数の配線から構成されることになる。
【００５４】
また、図７においては、コモン電極１９ａ，１９ｂ，２０からの配線Ｃ１，Ｃ２も、複数の領域６ａ，６ｂ，６ｃ，６ｄで検査装置の電極と接続する構成となっている。この構成は、検査装置側のセグメント電極用の電極とコモン電極用の電極を並列（例えば５ａと６ａ）に配置し、検査装置の両電極を同時に移動させることで実現できる。
【００５５】
このような構成のセグメント表示用の液晶表示パネルにおいて、接続領域５ａ〜５ｄに存在する配線に信号を印加した時の標準表示パターンを図８（Ａ）〜（Ｄ）にそれぞれ示す。
【００５６】
第１接続領域５ａに存在する第１配線群である配線Ｓ１に信号を印加し、領域６ａに存在する配線Ｃ１に信号を印加すれば、セグメント電極１２およびコモン電極１９ｂに電圧が印加され、図８（Ａ）に示すように第１表示パターンとしてセグメント電極１２の画素２２を表示することができる。配線Ｓ１からはセグメント電極１２だけではなく、セグメント電極１１にも電圧が印加されるが、セグメント電極１１に対向するコモン電極２０には電圧が印加されていないので、セグメント電極１１の画素２１は表示されない。
【００５７】
また、第２接続領域５ｂに存在する第１配線群および第２配線群に信号を印加し、領域６ｂに存在する配線Ｃ１およびＣ２に信号を印加すれば、セグメント電極１１、１２、１４とコモン電極１９ｂ、２０に電圧が印加され、図８（Ｂ）に示すように第２表示パターンとしてセグメント電極１１、１２、１４の画素２１、２２、２４を表示することができる。
【００５８】
同様に、第３接続領域５ｃに存在する第１乃至第３配線群に信号を印加し、領域６ｃに存在する配線Ｃ１およびＣ２に信号を印加すれば、図８（Ｃ）に示すように第３表示パターンとしてセグメント電極１１、１２、１４、１６、１７の画素２１、２２、２４、２６、２７を表示することができ、第４接続領域５ｄに存在する第１乃至第４配線群に信号を印加し、領域６ｄに存在する配線Ｃ１およびＣ２に信号を印加すれば、図８（Ｄ）に示すように第４表示パターンとして全てのセグメント電極１１〜１７の画素２１〜２７を表示することができる。
【００５９】
そして、検査装置の電極をセグメント基板２の端子部２ａと段階的に接触させて信号を印加して、表示された表示パターンを図８に示す標準表示パターンと比較すれば、前述したとおり、画素欠陥を容易に発見することができる。
【００６０】
【発明の効果】
以上のとおり、本発明の液晶表示パネルの検査方法は、隣接する配線が異なる接続領域で終端するように配置されているので、検査装置の電極を端子部における複数の接続領域と段階的に接触させて検査することにより、全ての配線の断線および短絡を速やかに調べることができる。加えて、画像認識手段、記憶手段および比較手段を利用することで、複雑な形状の表示パターンであっても、画素欠陥を簡単に判別することができ、検査時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の検査方法に使用される液晶表示パネルの実施形態を示す概略平面図
【図２】（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）はそれぞれ検査時における液晶表示パネルの概略平面図、標準表示パターンを示す図、比較結果を示す図
【図３】（Ａ）、（Ｂ）および（Ｃ）はそれぞれ検査時における液晶表示パネルの概略平面図、標準表示パターンを示す図、比較結果を示す図
【図４】（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）はそれぞれ検査時における液晶表示パネルの概略平面図、標準表示パターンを示す図、比較結果を示す図
【図５】（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）はそれぞれ検査時における液晶表示パネルの概略平面図、標準表示パターンを示す図、比較結果を示す図
【図６】（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）はそれぞれ検査時における液晶表示パネルの概略平面図、標準表示パターンを示す図、比較結果を示す図
【図７】（Ａ）および（Ｂ）はそれぞれセグメント基板およびコモン基板の概略平面図
【図８】（Ａ）乃至（Ｄ）はそれぞれ図７の基板を用いた液晶表示パネルの標準表示パターンを示す図
【図９】従来の液晶表示パネルの概略平面図
【符号の説明】
１                        液晶表示パネル
２                          セグメント基板
２ａ                    端子部
３                        コモン基板
５ａ                    第１接続領域
５ｂ                    第２接続領域
５ｃ                    第３接続領域
１１〜１７        セグメント電極
１８                    コモン電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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