(57)【要約】【課題】半導体レーザの劣化度を正確に把握できる光学式ピックアップを提供すること。【解決手段】ＬＤ２２と受光素子２３を中空パッケージ２１に集積した光集積ユニット５を用い、この光集積ユニット５の製造メーカ側において、中空パッケージ２１の裏面にＬＤ２２を駆動させた初期の動作電流値を示す表示部２６を刻印した後、光集積ユニット５をセットメーカに出荷する。一方、セットメーカ側では、搬入された光集積ユニット５を可動部や電磁駆動装置と共に光学シャーシ２に組み込んで光学式ピックアップ１を組み立て、この光学式ピックアップ１を光ディスクプレーヤに組み込んだ時点でＬＤ２２を駆動させ、その時の動作電流値を表示部２６に示された動作電流値と比較することにより、現在のＬＤ２２の動作電流値が初期値に対してどの程度増加しているかを把握し、この時点でダメージ量の大きなＬＤ２２を不良品として判定するようにした。【選択図】      図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
対物レンズを含む可動部と、この可動部をフォーカス方向とトラッキング方向の少なくとも一方へ駆動する電磁駆動装置と、前記対物レンズを介してディスクに光ビームを出射する半導体レーザおよび該ディスクからの戻りビームを受光する光検出器とが搭載された固定部と、前記半導体レーザに電気的に接続されたフレキシブルプリント基板とを備え、
少なくとも前記半導体レーザを含むレーザモジュールに、該半導体レーザの出荷時における動作電流を初期値として表示したことを特徴とする光学式ピックアップ。
【請求項２】
請求項１の記載において、前記レーザモジュールが前記半導体レーザと前記光検出器をプラスチックパッケージに集積した光集積ユニットであり、このプラスチックパッケージの外表面に前記初期値を表示したことを特徴とする光学式ピックアップ。
【請求項３】
請求項１または２の記載において、前記初期値を刻印によって表示したことを特徴とする光学式ピックアップ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤやＤＶＤ等のディスクに対して情報を記録／再生する光学式ピックアップに係り、特に、光源として半導体レーザを用いた光学式ピックアップに関する。
【０００２】
【従来の技術】
光学式ピックアップは、半導体レーザダイオード（以下、ＬＤと称する）から出射した光ビームを対物レンズによってディスクの記録面に集光し、該ディスクからの戻りビームを対物レンズを介して光検出器で受光するものであり、レンズホルダに取り付けられた対物レンズをフォーカス方向とトラッキング方向へ駆動する電磁駆動装置を備えている。通常、ＬＤと光検出器は光集積ユニットとして一体化されており、また、電磁駆動装置はフォーカスコイルとトラッキングコイルおよびマグネットによって構成され、マグネットはフォーカスコイルおよびトラッキングコイルに流れる電流の方向と交差する方向に磁束を発生するようになっている。さらに、光学式ピックアップにはフレキシブルプリント基板（以下、ＦＰＣと称する）が付設されており、このＦＰＣを介して光集積ユニット（ＬＤおよび光検出器）と電磁駆動装置に信号を入出力するようになっている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
このように概略構成された光学式ピックアップは、セット側であるＣＤプレーヤ等の光ディスクプレーヤに組み込まれ、ＦＰＣを介してセット側の制御回路と電気的に接続されるが、かかる光ディスクプレーヤの組立工程中に、光学式ピックアップをハンドリングした作業者の静電気がＬＤに流れ込み、ＬＤが過電流やサージ破壊によって劣化することがあるため、光ディスクプレーヤの完成品として出荷する前にＬＤが劣化していないことを確認する必要がある。
【０００４】
そこで従来より、光学式ピックアップとしての最終検査時にＬＤを駆動させ、その時の動作電流値を表示したラベルをＦＰＣ等に貼着した後、この光学式ピックアップを光ディスクプレーヤに組み込んだ時点でＬＤを再度駆動させることにより、ラベルに表示された動作電流値と現在の動作電流値の変化率を比較してＬＤの劣化度を判定するという方法が採用されている。このような方法を採用すると、ＬＤに性能の個体差があるという特性があるにも拘わらず、光学式ピックアップに内蔵された個々のＬＤについて、光ディスクプレーヤに組み込む途中の劣化度を確認することができる。
【０００５】
【特許文献１】
特開平１１−２３８２４８号公報（第３頁、図１，２）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
前述したように、従来より知られているＬＤの劣化度判定方法は、ＬＤまたは光集積ユニットの製造メーカからセットメーカへ搬入されたＬＤに対して、セットメーカで光学式ピックアップの最終検査時に駆動させた動作電流値をラベルに表示し、この時の動作電流値を目安としてその後のダメージ量を確認するようにしていたため、セットメーカに搬入されるまでにＬＤが静電気等によってダメージを受けてある程度劣化していたとしても、セットメーカではそのダメージ量を把握することはできなかった。そのため、光学式ピックアップを光ディスクプレーヤに組み込んだ時点で、本来ならば不良品として判定されるべきＬＤについても良品と判定されることがあり、光ディスクプレーヤの完成品として市場に流出後に、ＬＤの寿命が極端に短くなるという問題があった。
【０００７】
本発明は、このような従来技術の実情に鑑みてなされたもので、その目的は、ＬＤの劣化度を正確に把握できる光学式ピックアップを提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、半導体レーザの工場出荷時における動作電流をレーザモジュールに初期値として表示し、セットメーカでこの半導体レーザを他の構成部品と共にユニット化して光学式ピックアップを構成するようにした。このようにすると、レーザメーカから出荷されてセットメーカに搬入途中の半導体レーザがダメージを受けたり、光ディスクプレーヤの組立工程中に光学式ピックアップに組み込まれた半導体レーザがダメージを受けたとしても、セットメーカ側ではレーザモジュールに表示された初期値を基準として半導体レーザの最終的な劣化度を判定することができるため、寿命の極端に短くなっている不良品の半導体レーザが市場に流出することを防止できる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
本発明の光学式ピックアップでは、対物レンズを含む可動部と、この可動部をフォーカス方向とトラッキング方向の少なくとも一方へ駆動する電磁駆動装置と、前記対物レンズを介してディスクに光ビームを出射する半導体レーザおよび該ディスクからの戻りビームを受光する光検出器とが搭載された固定部と、前記半導体レーザに電気的に接続されたフレキシブルプリント基板とを備え、少なくとも前記半導体レーザを含むレーザモジュールに、該半導体レーザの出荷時における動作電流を初期値として表示するように構成した。
【００１０】
このように構成すると、レーザメーカから出荷されてセットメーカに搬入途中の半導体レーザがダメージを受けたり、光ディスクプレーヤの組立工程中に光学式ピックアップに組み込まれた半導体レーザがダメージを受けたとしても、セットメーカ側では表示された初期値を基準として半導体レーザの最終的な劣化度を判定することができるため、寿命の極端に短くなっている不良品の半導体レーザが市場に流出することを防止できる。
【００１１】
上記の構成において、前記初期値は半導体レーザ単体に表示されていても良いが、レーザモジュールが半導体レーザと光検出器をプラスチックパッケージに集積した光集積ユニットであり、このプラスチックパッケージの外表面に前記初期値が表示されていることが好ましい。
【００１２】
また、上記の構成において、前記初期値をレーザモジュールに後付けされるラベル等に表示しても良いが、レーザモジュールに刻印することによって初期値を表示すると、初期値の表示が不用意に除去されることを防止できて好ましい。
【００１３】
【実施例】
実施例について図面を参照して説明すると、図１は実施例に係る光学式ピックアップの斜視図、図２は該光学式ピックアップの平面図、図３は図２のＩＩＩ−ＩＩＩ線に沿う断面図、図４は該光学式ピックアップの分解斜視図、図５は該光学式ピックアップに備えられる光集積ユニットの平面図、図６は該光集積ユニットの裏面図である。
【００１４】
図１〜図４に示すように、本実施例に係る光学式ピックアップ１は、アルミニウム等の金属材料からなる光学シャーシ２と、この光学シャーシ２上に支持されたアクチュエータ３と、このアクチュエータ３を内包する防塵用の第１カバー４と、光学シャーシ２に取り付けられたレーザモジュールである光集積ユニット５と、この光集積ユニット５を内包する防塵用の第２カバー６とを備えており、後述するように、光集積ユニット５は半導体レーザダイオード（ＬＤ）と光検出器をプラスチックパッケージに集積したものである。
【００１５】
光学シャーシ２は固定部を構成するもので、その底面中央部に反射ミラー７が約４５度の取付角度で固定されている。光集積ユニット５はフレキシブルプリント基板（ＦＰＣ）８に接続されており、このＦＰＣ８は第２カバー６と共に光学シャーシ２の側壁にネジ止めされている。
【００１６】
アクチュエータ３は、一対のヨーク９ａを有するアクチュエータベース９と、両ヨーク９ａの対向面に接着された一対のマグネット１０と、アクチュエータベース９上に接着されて両マグネット１０を位置決めする合成樹脂製の規制部材１１と、対物レンズ１２を支持するレンズホルダ１３と、このレンズホルダ１３を複数本のワイヤ１４を介して弾性的に支持するサスホルダ１５等によって構成されている。
【００１７】
対物レンズ１２とレンズホルダ１３は可動部を構成するもので、対物レンズ１２は反射ミラー７の真上に位置している。レンズホルダ１３にはフォーカスコイルとトラッキングコイルが巻回されており、これらフォーカスコイルとトラッキングコイルは各ワイヤ１４の一端に接続されている。また、各ワイヤ１４の他端はサスホルダ１５の背面にネジ止めされた基板１６に接続されており、この基板１６に接続されたＦＰＣ１７から各ワイヤ１４を介してフォーカスコイルとトラッキングコイルに電流が流れるようになっている。前述したマグネット１０はフォーカスコイルとトラッキングコイルに流れる電流の方向と交差する方向に磁束を発生するようになっており、これらフォーカスコイルとトラッキングコイルおよびマグネット１０によって電磁駆動装置が構成されている。
【００１８】
なお、サスホルダ１５はアクチュエータベース９上に接着されており、アクチュエータベース９の上方からコイルばね１８を挿通して光学シャーシ２に螺合される取付ネジ１９と、光学シャーシ２の下方からアクチュエータベース９に螺合される２本の調整ネジ２０とを用い、これら調整ネジ２０の締め付け力を加減することにより、対物レンズ１２の光軸を調整できるようになっている。
【００１９】
図５と図６に示すように、光集積ユニット５は、合成樹脂製の中空パッケージ２１と、この中空パッケージ２１の内底面に実装されたＬＤ２２および複数の受光素子２３と、これらＬＤ２２や受光素子２３を覆うように中空パッケージ２１に一体化されたホログラム素子２４とで構成されており、中空パッケージ２１の相対向する側面にはＦＰＣ８に半田付けされる複数の端子２５が導出している。そして、この光集積ユニット５を光学シャーシ２の側壁に取り付けることにより、ＬＤ２２から出射された光ビームが反射ミラー７で垂直方向に反射され、その戻りビームが反射ミラー７で水平方向に反射された後に受光素子２３で受光されるようになっている。
【００２０】
また、光集積ユニット５の中空パッケージ２１の裏面には、光集積ユニット５の品番やロット番号等を示す通常の表示に加えて、ＬＤ２２を駆動させた初期の動作電流値を示す表示部２６が刻印により形成されている。すなわち、光集積ユニット５はその製造メーカから出荷されてセットメーカに搬入されるのが一般的であるが、光集積ユニット５の製造メーカ側において出荷前にＬＤ２２を駆動させて動作電流値を測定し、その値を示す表示部２６が中空パッケージ２１の裏面に刻印されている。例えば、あるＬＤ２２を駆動させた初期の動作電流値が３２．３ｍＡであった場合、光集積ユニット５の製造メーカは、中空パッケージ２１の裏面に「３２．３」という数字を刻印した後、当該光集積ユニット５をセットメーカに出荷するようになっている。したがって、光集積ユニット５の出荷先であるセットメーカでは、搬入された光集積ユニット５の中空パッケージ２１に刻印された表示部２６を見ることにより、性能に個体差がある個々のＬＤ２２について、その出荷時における動作電流値を知ることができる。
【００２１】
そして、セットメーカにおいて、搬入された光集積ユニット５を可動部や電磁駆動装置と共に光学シャーシ２に組み込むことにより、前述したような光学式ピックアップ１が組み立てられる。その際、光集積ユニット５は防塵用の第２カバー６によって覆われるが、第２カバー６に開口６ａを形成することにより、中空パッケージ２０の裏面に刻印された表示部２６が開口６ａを通して外部から目視されるようになっている。なお、セットメーカで表示部２５に示された動作電流値を図示せぬラベルに転記し、このラベルを例えばＦＰＣ８や第２カバー６等に貼着するようにしても良く、このようなラベルを併用すると、中空パッケージ２０の表示部２６とラベルの両方からＬＤ２２の出荷時における動作電流値を知ることができる。
【００２２】
上記実施例にあっては、光集積ユニット５の製造メーカから出荷されてセットメーカに搬入途中のＬＤ２２が静電気等によってダメージを受けたり、光学式ピックアップ１をＣＤプレーヤ等の光ディスクプレーヤに組み込む組立工程中にＬＤ２２がダメージを受けたとしても、セットメーカ側では中空パッケージ２１の表示部２６に示された動作電流値を初期値として、ＬＤ２２の最終的な劣化度の良否を判定することができるため、寿命の極端に短くなっている不良品のＬＤ２２が市場に流出することを防止できる。例えば、中空パッケージ２１の裏面に「３２．３」という表示部２６が刻印された光集積ユニット５を用いた場合、光学式ピックアップ１の最終検査時にＬＤ２２を駆動させ、その時の動作電流値を表示部２６に示された３２．３ｍＡと比較すれば、光学式ピックアップ１を光ディスクプレーヤに組み込む前に、その光学式ピックアップ１に組み込まれた光集積ユニット５のＬＤ２２の動作電流値が初期値に対してどの程度増加しているか、すなわち、現在のＬＤ２２がどの程度ダメージを受けているかを把握でき、ＬＤ２２のダメージ量が大きい場合は、この時点で光学式ピックアップ１を不良品と判定すれば良い。また、このように光学式ピックアップ１の最終検査時にＬＤ２２の動作電流値を比較しなくても、光学式ピックアップ１を光ディスクプレーヤに組み込んだ時点でＬＤ２２を駆動させ、その時の動作電流値を表示部２６に示された３２．３ｍＡと比較すれば、現在のＬＤ２２の動作電流値が初期値に対してどの程度増加しているかを把握できるため、この時点でダメージ量の大きなＬＤ２２を不良品として判定すれば良い。
【００２３】
なお、上記実施例では、レーザモジュールとしてＬＤ２２や受光素子２３をプラスチックパッケージに集積した光集積ユニット５を用い、この光集積ユニット５の中空パッケージ２１の裏面にＬＤ２２を駆動させた初期の動作電流値を示す表示部２６を刻印した場合について説明したが、表示部２６は印刷によって形成しても良い。また、レーザモジュールとして半導体レーザダイオード（ＬＤ）の単体を用いた場合は、ＬＤ単体に初期の動作電流値を示す表示部を刻印あるいは印刷等すれば良い。
【００２４】
【発明の効果】
本発明は、以上説明したような形態で実施され、以下に記載されるような効果を奏する。
【００２５】
半導体レーザの工場出荷時における動作電流値をレーザモジュールに初期値として表示し、セットメーカでこの半導体レーザを他の構成部品と共にユニット化して光学式ピックアップを構成するようにしたので、レーザメーカから出荷されてセットメーカに搬入途中の半導体レーザがダメージを受けたり、光ディスクプレーヤの組立工程中に光学式ピックアップに組み込まれた半導体レーザがダメージを受けたとしても、セットメーカ側ではレーザモジュールに表示された初期値を基準として半導体レーザの最終的な劣化度を判定することができ、したがって、寿命の極端に短くなっている不良品の半導体レーザが市場に流出することを防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例に係る光学式ピックアップの斜視図である。
【図２】該光学式ピックアップの平面図である。
【図３】図２のＩＩＩ−ＩＩＩ線に沿う断面図である。
【図４】該光学式ピックアップの分解斜視図である。
【図５】該光学式ピックアップに備えられる光集積ユニットの平面図である。
【図６】該光集積ユニットの裏面図である。
【符号の説明】
１  光学式ピックアップ
２  光学シャーシ
３  アクチュエータ
５  光集積ユニット（レーザモジュール）
６  第２カバー
８  ＦＰＣ
９  アクチュエータベース
１０  マグネット
１２  対物レンズ
１３  レンズホルダ
２１  中空パッケージ
２２  半導体レーザダイオード（ＬＤ）
２３  受光素子
２４  ホログラム素子
２５  端子
２６  表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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