(57)【要約】【課題】ゾーン毎に適したサーボ帯域とサーボゲインを設定する光ディスク装置において、光ディスクの全てのゾーンにおいてフォーカス及びトラッキングサーボが常に適切なサーボゲインを設定し、安定した動作を可能とする。【解決手段】光ディスク装置は、光ディスク１を回転制御する手段１５〜１７と、光ディスク１上での光スポットのフォーカシング及びトラッキングサーボ制御を行う手段３〜１４と、フォーカシング及びトラッキングサーボ制御の少なくとも一方のサーボゲインを光ディスク１の半径方向位置に応じて切り替える手段８と、サーボゲインとして、予め定められた一巡伝達特性を満足する最適なサーボゲイン値を検出する手段１９〜２２とを有する。サーボゲイン検出手段１９〜２２は、サーボ起動時に光ディスク１の少なくとも１つ以上のゾーンにおいて最適サーボゲインを検出し、これに基づいて全ゾーンにおける最適サーボゲインを求める。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録或いは再生領域が半径方向位置に応じてゾーン分けされた光ディスクをそのゾーン間で線速度が実質的に一定になるように回転制御しながら、光スポットにより情報の記録或いは再生を行う光ディスク装置において、
前記光ディスクを回転制御する回転制御手段と、
前記光ディスク上における前記光スポットのフォーカシングサーボ制御及びトラッキングサーボ制御を行うサーボ制御手段と、
前記フォーカシングサーボ制御及びトラッキングサーボ制御の少なくとも一方のサーボゲインを前記光ディスクの半径方向位置に応じて切り替えるサーボゲイン切替手段と、
前記サーボゲインとして、予め定められた一巡伝達特性を満足する最適なサーボゲイン値を検出するサーボゲイン検出手段とを有し、
前記サーボゲイン検出手段は、サーボ起動時に前記光ディスクの少なくとも１つ以上のゾーンにおいて最適なサーボゲインを検出し、検出された該少なくとも１つ以上のゾーンにおける最適なサーボゲインに基づいて前記光ディスクの全ゾーンにおける最適なサーボゲインを求めることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置に係り、特にディスクの回転数を半径方向に分割されたゾーンにより変化させ、線速度一定もしくは略線速度一定で制御するようにし、且つゾーンによってサーボ帯域またはサーボゲインを変化させて記録再生を行なう光ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光ディスク装置の回転制御としては、線速度一定（ＣＬＶ：  Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）で回転制御される光ディスク装置、またディスク内を半径方向で複数のゾーンに分けそのゾーン毎に回転数を制御することで略線速度一定（ＭＣＬＶ：  Ｍｏｄｉｆｉｅｄ  ＣＬＶ）で回転させる光ディスク装置が知られている。
【０００３】
また、近年では、ディスク中心から放射状にクロックマークやウォブルマークをトラックあたりの個数一定にあらかじめ記録したディスクを用いたサンプルサーボ光ディスクを略線速度一定（ＭＣＬＶ）で回転させる光ディスク装置も考案され始めている。
【０００４】
このように略線速度一定（ＭＣＬＶ）で回転させる光ディスク装置においては、ディスクの回転数が上がるとディスクの面振れまたは偏芯加速度も上がる。よって、ディスクの回転数によって、サーボ系が常に安定に動作するために必要なサーボ帯域は異なる。また無駄な消費電力を抑えるためには、ディスクの回転数によってサーボ帯域を変えることが望ましい。
【０００５】
図６に、略線速度一定（ＭＣＬＶ）で回転させ、その回転数によってサーボ帯域を変える光ディスク装置のブロック図を示す。図６において、１は光ディスク、２はピックアップ（レーザー、光センサ、フォーカスアクチュエータ、トラックアクチュエータ等の既知構成要素を含む）、３は検出回路、４はフォーカスエラー生成回路、５はＡＤ変換器、６はフォーカス位相補償回路、７はフォーカスゲイン回路、８はフォーカスアクチュエータＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ  Ｗｉｄｔｈ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）ドライバ、９はトラッキングエラー生成回路、１０はＡＤ変換器、１１はトラッキング位相補償回路、１２はトラッキングゲイン回路、１３はトラックアクチュエータＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ  Ｗｉｄｔｈ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）ドライバ、１４はクロック検出回路、１５はスピンドル、１６はスピンドル制御回路、１７はドライバ（スピンドルドライバ）、１８はコントローラである。
【０００６】
光ディスク１は、ディスク中心から放射状にクロックマークやウォブルマークが記録されたサンプルサーボ光ディスクから構成され、その１トラックあたり１２８０個のサンプルサーボ領域に予めクロックマークやウォブルマークが記録されている。
【０００７】
この光ディスク１に対し、ピックアップ２内にある図示しないレーザーから発光された光が照射され、その反射光が再びピックアップ２内にある図示しない受光センサーで受光され、検出回路３で電気信号に変換される。
【０００８】
この検出回路３の出力から、フォーカスエラー生成回路４によりフォーカスエラー信号が生成され、その生成信号が、クロック検出回路１４の出力するクロック周波数によって、ＡＤ変換器５でＡＤ変換され、フォーカス位相補償回路６、フォーカスゲイン回路７でディジタル処理され、その処理信号がフォーカスアクチュエータＰＷＭドライバ８に供給され、これによりピックアップ２内にある図示しないフォーカスアクチュエータが制御される。すなわち、検出回路３、フォーカスエラー生成回路４、ＡＤ変換器５、フォーカス位相補償回路６、フォーカスゲイン回路７、フォーカスアクチュエータＰＷＭドライバ８によって、フォーカスサーボループが構成される。
【０００９】
同様に、上記検出回路３の出力から、トラックエラー生成回路９により光ディスク１上のウォブルマークよりトラックエラー信号が生成され、その生成信号が、クロック検出回路１４の出力するクロック周期によって、ＡＤ変換器１０でＡＤ変換され、トラッキング位相補償回路１１、トラッキングゲイン回路１２でディジタル処理され、その処理信号がトラックアクチュエータＰＷＭドライバ１３に供給され、これによりピックアップ２内にある図示しないトラックアクチュエータが制御される。すなわち、検出回路３、トラックエラー生成回路９、ＡＤ変換器１０、トラッキング位相補償回路１１、フォーカスゲイン回路１２、フォーカスアクチュエータＰＷＭドライバ１３によって、トラックサーボループが構成される。
【００１０】
上記光ディスク１を回転させるスピンドル１５に対しては、そのドライバ１７が、図示しないＦＧ信号もしくは、クロック検出回路１４からの同期信号に基づいて、スピンドル制御回路１６により、コントローラ１８の指示する回転数になるように駆動される。すなわち、スピンドル制御回路１６、ドライバ１７によって、スピンドル制御ループが構成される。
【００１１】
上記フォーカス制御及びトラック制御は、いずれもクロック検出回路１４の出力するクロックマーク周期のサンプリングにより離散的に制御される、つまり、回転数に１トラックあたりのクロック数を乗じた周期がサンプリング周波数となる。例えば、スピンドル１５が３０Ｈｚで回転していたとすると、それに１２８０を乗じた３８．４ｋＨｚがサンプリング周波数となる。
【００１２】
上記サンプリング周波数によって、フォーカスエラー生成回路４、トラックエラー生成回路９の出力が、ＡＤ変換器５、１０により処理され、フォーカス位相補償回路６、トラッキング位相補償回路１１に入力される。両位相補償回路６、１１は、デジタルフィルタで構成され、コントローラ１８より設定されたフィルタ定数を用いて、上記サンプリング周波数でフィルタ演算される。
【００１３】
上記光ディスク装置において、光ディスク１のゾーンが変化する場合は、その時のゾーンに適したフォーカス或いはトラッキングサーボのサーボゲインがコントローラ１８によってフォーカスゲイン回路７或いはトラッキングゲイン回路１２に設定される。
【００１４】
また光ディスク１としてサンプルサーボ光ディスクを用いたＭＣＬＶ方式の光ディスク装置の場合は、光ディスク１の内周側である程、即ち回転周波数が高い程、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボ内の外乱量は大きくなり、その周波数成分も高くなる。よって上記の様な光ディスク装置の場合、内周側のゾーン程、サーボゲインが高く更にサーボ帯域が広くなるように設定される。
【００１５】
このように従来技術によると、ＣＬＶまたはＭＣＬＶ方式の光ディスク装置において、光ディスク１を半径方向に分割したゾーン毎に見込まれる外乱量を考慮したサーボ帯域とサーボゲインをゾーン毎にフォーカス或いはトラッキングサーボに設定することで、不必要な電力消費を抑え、常にサーボ系が安定な動作を行えるようになっている。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
光ディスク装置において、アクチュエータなどのサーボ系の構成要素は、特性に個体差を持ったり、経年変化や温度変化により、特性が変化する。
【００１７】
前述の光ディスク装置において、ゾーン毎に設定されるサーボゲインはゾーン毎に見込まれる外乱量に対して、サーボループが充分な精度を持つような値を設定する。しかし、前述のように光ディスク装置のサーボ系を構成する要素の特性はバラツキを持つ。この特性の変化によりサーボゲインが見込んだ値よりも低くなった場合は、サーボループの残留偏差が要求する精度以上に抑えられないため、充分な精度が得られなかったり、またサーボゲインが見込んだ値よりも高い場合は不必要な電力消費が生じる。
【００１８】
特に回転数が低い、即ちサーボゲインが低く設定されている時にサーボゲインが低い値にずれた場合、サーボ系の精度に与える影響は大きい。更に回転数が高い、即ちサーボゲインが高く設定されている時にサーボゲインが高い値にずれた場合は、不必要な消費電力が大きい。また、このようにサーボゲインが見込んだ値からずれると、最悪の場合サーボ系の動作が不安定になる。
【００１９】
本発明は、このような従来技術の問題に対し、ゾーン毎に適したサーボ帯域とサーボゲインを設定する光ディスク装置において、光ディスクの全てのゾーンにおいてフォーカス及びトラッキングサーボが常に適切なサーボゲインを設定し、安定した動作を可能とすることを目的とする。
【００２０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明では、記録或いは再生領域が半径方向位置に応じてゾーン分けされた光ディスクをゾーン間で線速度が実質的に一定になるように回転制御しながら光スポットにより情報の記録或いは再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスクを回転制御する回転制御手段と、前記光ディスクにおける前記光スポットのフォーカシングサーボ制御及びトラッキングサーボ制御を行うサーボ制御手段と、前記フォーカシングサーボ制御及びトラッキングサーボ制御の少なくとも一方のサーボゲインを前記光ディスクの半径方向位置に応じて切り替えるサーボゲイン切替手段と、前記サーボゲインとして、予め定められた一巡伝達特性を満足する最適なサーボゲイン値を検出するサーボゲイン検出手段とを有し、前記サーボゲイン検出手段は、サーボ起動時に前記光ディスクの少なくとも１つ以上のゾーンにおいて前記最適なサーボゲインを検出し、検出された該少なくとも１つ以上のゾーンにおける最適なサーボゲインに基づいて前記光ディスクの全ゾーンにおける最適なサーボゲインを求めることを特徴とする。
【００２１】
また前記サーボゲイン検出手段は、前記光ディスクの２つ以上のゾーンで検出されたサーボゲイン値を補間することにより前記光ディスクの他のゾーンのサーボゲイン値を検出することを特徴としても良い。
【００２２】
さらに前記サーボゲイン検出手段は、前記光ディスクの任意の一つのゾーンでサーボゲインを検出し、検出された該任意の一つ以上のゾーンにおけるサーボゲインと予め定められた前記光ディスクの半径方向位置に応じたゲインの関係に基づいて他のゾーンのサーボゲインを算出することを特徴としても良い。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る光ディスク装置の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置のブロック図である。
【００２４】
図１に示す光ディスク装置において、１は光ディスク、２はピックアップ（レーザー、光センサ、フォーカスアクチュエータ、トラックアクチュエータ等の既知構成要素を含む）、３は検出回路、４はフォーカスエラー生成回路、５はＡＤ変換器、６はフォーカス位相補償回路、７はフォーカスゲイン回路、８はフォーカスアクチュエータＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ  Ｗｉｄｔｈ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）ドライバ、９はトラッキングエラー生成回路、１０はＡＤ変換器、１１はトラッキング位相補償回路、１２はトラッキングゲイン回路、１３はトラックアクチュエータＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ  Ｗｉｄｔｈ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）ドライバ、１４はクロック検出回路、１５はスピンドル、１６はスピンドル制御回路、１７はドライバ（スピンドルドライバ）、１８はコントローラである。これらの構成要素は、前述した図６の構成要素と実質的に同一又は同等の機能を持つもので、同一符号を付し、その説明を簡略又は省略する。
【００２５】
また図１において、１９は外乱信号発生器、２０はフォーカスゲイン検出回路、２１はトラッキングゲイン検出回路、２２はゲイン設定回路をそれぞれ示し、これらの構成要素が付加されている。
【００２６】
上記構成のうち、主に、スピンドル１５、スピンドル制御回路１６、スピンドルドライバ１７は、本発明の回転制御手段を構成している。また、主に、検出回路３、フォーカスエラー生成回路４、ＡＤ変換器５、フォーカス位相補償回路６、フォーカスゲイン回路７、フォーカスアクチュエータＰＷＭドライバ８、トラッキングエラー生成回路９、ＡＤ変換器１０、トラッキング位相補償回路１１、トラッキングゲイン回路１２、トラックアクチュエータＰＷＭドライバ１３、クロック検出回路１４は、本発明のサーボ制御手段を構成している。また、主に、コントローラ８は、本発明のサーボゲイン切替手段を構成している。さらに、主に、外乱信号発生器１９、フォーカスゲイン検出回路２０、トラッキングゲイン検出回路２１、ゲイン設定回路２２は、本発明のサーボゲイン検出手段を構成している。
【００２７】
ここで、本実施形態の動作を説明する。
【００２８】
まず、サーボ起動時に、ピックアップ２が位置するゾーンに対応する予め設定されたサーボゲインをコントローラ１８によってフォーカスゲイン回路７及びトラッキングゲイン回路１２にそれぞれ設定する。
【００２９】
そして、光ディスク装置の起動時に、その時のゾーンに対応したサーボゲインを設定し、サーボループがオンになった後、外乱信号発生器１９は、フォーカスまたはトラッキングサーボ系のオープンループゲインが例えば０ｄＢになるべき周波数の正弦波をサーボ系に印加する。
【００３０】
そして、フォーカスゲイン検出回路２０またはトラッキングゲイン検出回路２１は、外乱信号発生器１９からの外乱信号が印加された後のサーボ系の応答から、サーボ系の外乱信号の周波数におけるゲインを検出する。
【００３１】
そこで、そのゲイン検出結果が本来所望するゲイン（この場合は０ｄＢ）からずれが生じていた場合、ゲイン設定回路２２は、上記ずれを補正したフォーカスまたはトラッキングサーボゲインをコントローラ１８に格納する。
【００３２】
その後、コントローラ１８は、補正されたフォーカスまたはトラッキングゲインの値をフォーカスゲイン回路７またはトラッキングゲイン回路１２に改めて設定し直す。
【００３３】
次に、サーボ起動時に光ディスク１のピックアップ２が位置していたゾーンとは別の全てのゾーンにおいても、フォーカスゲイン検出回路２０またはトラッキングゲイン検出回路２１により上記と同じくゲイン検出を行い、これにより各ゾーンにおける適切なサーボゲインを算出し、ゲイン自動調整を行う。そして、ゲイン設定回路２２は、各ゾーンにおいて適切なフォーカスまたはトラッキングゲインをコントローラ１８に格納する。
【００３４】
その後、コントローラ１８は、補正されたフォーカスまたはトラッキングゲインの値をフォーカスゲイン回路７またはトラッキングゲイン回路１２に改めて設定し直す。
【００３５】
上記のゲイン自動調整の方式は、光ディスク１上の全てのゾーンで行うものであるが、その時間を短縮したい場合には、他の方式として、例えば全部で２６ゾーン（最内周のゾーン０〜再外周のゾーン２５）にゾーン分けされた光ディスク１において、奇数番のゾーン１、３、５、・・・、２５においてのみゲイン自動調整を行い、この奇数番のゾーン１、３、５、・・・、２５で行ったゲイン自動調整の結果を補間することで、ゲイン自動調整を行っていない偶数番のゾーン０、２、４、・・・、２４にも適切なサーボゲインを設定してもよい。
【００３６】
上記の補完方法の一例を図２を用いて説明する。
【００３７】
図２に示すグラフにおいて、横軸は光ディスク１の半径方向位置に沿ったゾーン位置（ゾーン０〜２５）、縦軸は最適サーボゲインをそれぞれ示す。まず、２ゾーン毎にゲイン自動調整を行い、最適なサーボゲインを設定する。ここで設定されたサーボゲインは、図２中の例ではゾーン１、３、５の各サーボゲインＧ１、Ｇ３、Ｇ５に相当する。次いで、ゲイン自動調整を行っていないゾーンのサーボゲインは、ゲイン自動調整を行った両隣のゾーンにおけるサーボゲインの平均値とする。例えば、図２中の例では、ゾーン２のサーボゲインＧ２は、その両隣のゾーン１、３のサーボゲインＧ１、Ｇ３の平均値（Ｇ２＝（Ｇ１＋Ｇ３）／２）に、ゾーン４のサーボゲインＧ４は、その両隣のゾーン３、５のサーボゲインＧ３、Ｇ５の平均値（Ｇ４＝（Ｇ３＋Ｇ５）／２）にそれぞれ相当する。
【００３８】
このように光ディスク１の全てのゾーンにおける適切なサーボゲインをコントローラ１８に格納することで、記録または再生時においてサーボ起動時とは異なるゾーンに移動しても、常に安定したフォーカス・トラッキング動作ができる。
【００３９】
次に、上記よりも短時間で全ゾーンにおける最適なサーボゲインを設定する方法を図３を用いて説明する。
【００４０】
図３に示すグラフにおいて、横軸は光ディスク１の回転周波数（Ｈｚ）、縦軸は最適サーボゲインをそれぞれ示す。まず、例えば最内周のゾーン０においてゲイン自動調整を行った結果の最適なサーボゲインをＧ０とする。更に最外周のゾーン２５においてゲイン自動調整を行った結果の最適なサーボゲインをＧ２５とする。その他のゾーン１〜２４における最適なサーボゲインは、図３に示すように、Ｇ０とＧ２５を通る光ディスク１の回転周波数を横軸とした２次関数上にあるとして算出する。これにより、各ゾーンにおける回転周波数から最適なサーボゲインを設定する。
【００４１】
このようにサーボ起動時に任意の２つのゾーン（図３の例では最内周のゾーン０と最外周のゾーン２５）においてゲイン自動調整を行い、最適なサーボゲインを求め、その他のゾーンにおけるサーボゲインは、前記２つのサーボゲインを通る２次関数上にあるとすることで、より短時間で全ゾーンにおける最適なサーボゲインを設定できる。
【００４２】
以上説明した本実施形態における２種類のゲイン自動調整の方式は、それぞれ以下のような利点を持つ。
【００４３】
まず、全てのゾーンにおいてゲイン自動調整を行い、各ゾーンにおいて最適なサーボゲインを設定する方式においては、以下のような利点が挙げられる。
【００４４】
すなわち、ゲイン自動調整を行う前のサーボゲインの設計値を決める際に、サーボ系の構成要素の内、アクチュエータの特性は２次遅れの伝達関数であるとしている。しかし、実際の特性は２次遅れの伝達関数からずれを持っている。このため、各ゾーンにおけるサーボ系のゲイン特性における本来所望するゲインからのずれは厳密には、一様ではない。よって、全てのゾーンにおいてゲイン自動調整を行う方式は、複数のゾーンにおけるゲイン自動調整の結果を補完する方式より、各ゾーンにおける最適なサーボゲインを設定でき、サーボ系の安定な動作が望める。
【００４５】
また、複数のゾーンにおけるゲイン自動調整の結果を補完する方式においては、前述のようなアクチュエータの特性が２次遅れの伝達関数からずれを生じていても、その影響を低減することはできないが、全てのゾーンにおいてゲイン自動調整を行う方式よりも、短時間で全てのゾーンにおける最適なサーボゲインを設定できる。
【００４６】
従って、本実施形態によれば、このように光ディスクの半径方向に分割されたゾーンによって、回転周波数とサンプリング周波数とサーボ帯域またはサーボゲインを変化させるような光ディスク装置において、サーボ起動時に全てのゾーンの内、複数のゾーンまたは全てのゾーンにおいてゲイン自動調整の処理を行い、各ゾーンに適切なサーボゲインを設定することで全てのゾーンにおいてサーボ系の安定な動作が望める。
（第２の実施形態）
図４は、本発明の第２の実施形態のブロック図である。図４において、コントローラ８とゲイン設定回路２２との間にゲイン算出回路２３が設けられる。このゲイン算出回路２３は、本発明のサーボゲイン検出手段を構成するものである。ゲイン算出回路２３以外の構成要素は、図１と同一であるため、その説明を簡略又は省略する。
【００４７】
本実施形態において、サーボ起動時は、第１の実施形態と同様にフォーカスゲイン検出回路２０、トラッキングゲイン検出回路２１によるゲイン検出及びその検出結果に基づくゲイン自動調整を行い、サーボ起動時にピックアップ２が位置するゾーンにおいて適切なサーボゲインがフォーカスゲイン回路７及びトラッキングゲイン回路１２にそれぞれ設定される。
【００４８】
その後、記録または再生中にゾーンが変化する時は、ゲイン算出回路２３は、移動先のゾーンの適切なサーボゲインを算出し、サーボゲインを設定する。
【００４９】
ここで、ゲイン自動調整を行っていないゾーンの適切なサーボゲインを算出する方法について述べる。まず、光ディスク１の回転数をその半径方向に分割されたゾーンにより変化させ、線速度一定もしくは略線速度一定で制御するようにし、且つゾーンによってサンプリング周波数とサーボ帯域またはサーボゲインを変化させて記録再生をおこなう光ディスク装置において、光ディスク１の回転周波数に対するサーボゲインの関係は、図５に示すようになる。
【００５０】
図５における光ディスク１の回転周波数とサーボゲインの関係を式で表すと次式のようになる。
【００５１】
【数１】
2004234712.tif 000003
上式において、Ｇは任意のゾーンにおけるサーボゲイン、Ｇｓｔｄは基準となるゾーン（例えばゾーン０）のサーボゲイン、ｆｒｏｔは任意のゾーンにおける光ディスク１の回転周波数、ｆｓｔｄは基準となるゾーン（例えばゾーン０）における光ディスク１の回転周波数となる。これによれば、ある一つのゾーンのサーボゲインが分かれば、他の全てのゾーンにおけるサーボゲインを算出できる。
【００５２】
ここで、上記のような光ディスク装置において、サーボゲインにずれが生じる場合、図５に示すように、全ゾーンにおいて略一様にずれが生じるとする。この場合、上式を用いてサーボ系の起動時にゲイン自動調整を行い、その際に設定したサーボゲインをＧｓｔｄとし、自動調整を行ったゾーンにおける光ディスク１の回転周波数をｆｓｔｄとし、記録または再生中にゾーンが変化した場合の移動先のゾーンにおける光ディスク１の回転周波数を移動先のゾーンにおける光ディスク１の回転周波数ｆｒｏｔとすると、これらＧｓｔｄ、ｆｓｔｄ、ｆｒｏｔを上式に代入することで移動先のゾーンの適切なサーボゲインを算出できる。ここで算出されたゲインは、サーボ起動時に行ったゲイン自動調整結果のサーボゲインが基となっている。
【００５３】
このようにサーボ起動時に行ったゲイン自動調整結果と上式とを用いれば、記録または再生中にゾーンが変化してもゲイン自動調整を行わず、短時間で全てのゾーンの適切なサーボゲインを設定できる。
【００５４】
従って、本実施形態によれば、サーボ起動時にゲイン自動調整を行い、その後ゾーンが変化する場合は、上記ゲイン自動調整結果に基づき、移動先のサーボゲインを算出することで、常に適切なサーボゲインを設定できる。
【００５５】
すなわち、サーボ起動時にピックアップが位置するゾーンにおいてゲイン自動調整を行い、このゲイン自動調整結果に基づき、他のゾーンのサーボゲインを算出し、設定することで短時間で全てのゾーンにおける適切なサーボゲインを設定できる。
【００５６】
以上本発明の実施形態について説明したが、本発明の好適な実施の態様を以下のとおり列挙する。
［実施態様１］  記録或いは再生領域が半径方向位置に応じてゾーン分けされた光ディスクをそのゾーン間で線速度が実質的に一定になるように回転制御しながら、光スポットにより情報の記録或いは再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスクを回転制御するディスク回転制御手段と、該光ディスクが回転制御されるときに該光ディスク上における前記光スポットのフォーカシング及びトラッキングのサーボ制御を行うサーボ制御手段と、該フォーカシング及びトラッキングのサーボ制御の少なくとも一方のサーボゲインを前記光ディスクの半径方向位置に応じて切り替えるサーボゲイン切替手段と、該サーボゲインとして、予め定められた一巡伝達特性を満足する最適なサーボゲイン値を検出するサーボゲイン検出手段とを有し、前記サーボゲイン検出手段は、サーボ起動時に前記光ディスクの少なくとも１つ以上のゾーンにおいて最適なサーボゲインを検出し、検出された該少なくとも１つ以上のゾーンにおける最適なサーボゲインに基づいて前記光ディスクの全ゾーンにおける最適なサーボゲインを求めることを特徴とする光ディスク装置。
［実施態様２］  前記サーボゲイン検出手段は、前記光ディスクの２つ以上のゾーンで検出されたサーボゲイン値を補間することにより前記光ディスクの他のゾーンのサーボゲイン値を検出することを特徴とする実施態様１に記載の光ディスク装置。
［実施態様３］  前記サーボゲイン検出手段は、前記光ディスクの任意の一つのゾーンでサーボゲインを検出し、検出された該任意の一つのゾーンにおけるサーボゲインと予め定められた前記光ディスクの半径方向位置に応じたゲインとの関係に基づいて前記光ディスクの他のゾーンのサーボゲインを算出することを特徴とする実施態様１に記載の光ディスク装置。
【００５７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、光ディスクの回転数を半径方向に分割されたゾーンにより変化させ、線速度一定もしくは略線速度一定で制御するようにし、且つゾーンによってサーボ帯域またはサーボゲインを変化させて記録再生をおこなう光ディスク装置において、少なくとも１つ以上のゾーンにおいてゲイン自動調整を行い、その結果を補完してゲイン自動調整を行っていないゾーンのサーボゲインを設定することで、常にサーボ系が安定な制御を行える。また全てのゾーンにおいてゲイン自動調整を行えば、より安定な動作が望める。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置のブロック図。
【図２】サーボゲイン補間方法の一例を説明するグラフ。
【図３】サーボゲイン補間方法の別の一例を説明するグラフ。
【図４】本発明の第２の実施形態に係る光ディスク装置のブロック図。
【図５】光ディスク装置におけるゾーンとサーボゲインの関係を示すグラフ。
【図６】従来例の光ディスク装置のブロック図。
【符号の説明】
１  光ディスク
２  ピックアップ
３  検出回路
４  フォーカスエラー生成回路
５  ＡＤ変換器
６  フォーカス位相補償回路
７  フォーカスゲイン回路
８  フォーカスアクチュエータＰＷＭドライバ
９  トラッキングエラー生成回路
１０  ＡＤ変換器
１１  トラッキング位相補償回路
１２  トラッキングゲイン回路
１３  トラックアクチュエータＰＷＭドライバ
１４  クロック検出回路
１５  スピンドル
１６  スピンドル制御回路
１７  スピンドルドライバ
１８  コントローラ
１９  外乱信号発生器
２０  フォーカスゲイン検出回路
２１  トラッキングゲイン検出回路
２２  ゲイン設定回路
２３  ゲイン算出回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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