(57)【要約】【課題】２値化画像データ上の孤立点を正確に除去ができ、高速に処理可能な画像処理方法、および画像処理装置を提供する。【解決手段】画像処理装置に、処理対象の２値化画像データを所定軸方向に延びる少なくとも３ライン分を参照画素データとして抽出する参照画素データ抽出部５０４と、抽出した参照画素データの他軸方向に延びる少なくもと１ライン分を注目ブロックとして、所定軸方向に順次走査し、所定の条件を満たした除去候補注目ブロックを検知する除去候補検知部５０５と、孤立点かどうかを判断するために、連続して検知した前記除去候補注目ブロックの個数を測定し、その個数が基準値以下であれば、検知した前記除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値をすべて前記基準画素値に変更する画素値変更部５０６とを備える。【選択図】　　　　図５
2004072405.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
２値化画像データ上に存在する孤立点を不要なノイズとして除去する画像処理方法であって、
前記２値化画像データの画素配列に基づいて、その所定軸方向に延びる少なくとも３ライン分を参照画素データとして、前記２値化画像データから抽出する参照画素データ抽出工程と、
前記参照画素データの前記所定軸方向に対する他軸方向に延びる少なくとも１ライン分を注目ブロックとして、前記所定軸方向に順次走査して、当該注目ブロックを構成する画素の画素値がすべて同一の場合、当該画素値を基準画素値として、さらに走査し、注目ブロックを構成する画素のうち前記他軸方向の両端部の画素の画素値が前記基準画素値で、かつ、前記両端部の間に存在する画素の中に画素値が前記基準画素値と反対の画素値である画素を含む場合、その注目ブロックを除去候補注目ブロックとして検知する除去候補検知工程と、
前記除去候補検知工程において、連続して検知した前記除去候補注目ブロックの個数を測定し、その個数が、所定の個数以下であれば、当該除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値をすべて前記基準画素値に変更する画素値変更工程と、
を備える画像処理方法。
【請求項２】
２値化画像データ上に存在する孤立点を不要なノイズとして除去する画像処理装置であって、
前記２値化画像データの画素配列に基づいて、その所定軸方向に延びる少なくとも３ライン分を参照画素データとして、前記２値化画像データから抽出する参照画素データ抽出部と、
前記参照画素データの前記所定軸方向に対する他軸方向に延びる少なくとも１ライン分を注目ブロックとして、前記所定軸方向に順次走査して、当該注目ブロックを構成する画素の画素値がすべて同一の場合、当該画素値を基準画素値として、さらに走査し、注目ブロックを構成する画素のうち前記他軸方向の両端部の画素の画素値が前記基準画素値で、かつ、前記両端部の間に存在する画素の中に画素値が前記基準画素値と反対の画素値である画素を含む場合、その注目ブロックを除去候補注目ブロックとして検知する除去候補検知部と、
前記除去候補検知部において、連続して検知した前記除去候補注目ブロックの個数を測定し、その個数が、所定の個数以下であれば、当該除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値をすべて前記基準画素値に変更する画素値変更部と、
を備える画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像処理方法および画像処理装置、特に、複写機、ファクシミリ等の画像形成装置やスキャナ等の画像入力装置、及びコンピュータ上で動作するプログラム等で用いることが可能な、２値化画像データから孤立点を除去する画像処理方法、及び画像処理装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
画像データの画像処理において、例えば原稿読み取り時に原稿に付着していた埃や傷、その他のノイズにより、画像形成対象とする画像データ上に本来存在するはずのない不要な孤立点が生じてしまい、出力画像の品質を低下させてしまう場合がある。従来から、この様な画像データ上に生じた孤立点を画像形成前に除去する技術について検討されてきた。
【０００３】
この様な画像処理方法の一つとして特開２００１−１１９５８５があげられる。前記従来技術に係る処理方法を簡単に説明すると、図１に示す様に、ｍ×ｎ画素（図１では５×５）の参照領域のうち、その縁部の画素データを注目画素とし、注目画素データに黒画素が存在しない場合に、参照画素領域の画素データを全て白画素として出力する。前記従来技術の場合、５×５画素を参照領域とした場合、図２−ａから図２−ｄに示すパターン等の場合には、参照領域内部に存在する黒画素は孤立点と判断され、除去される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来技術のように、参照画像領域をｍ×ｎ画素の画素ブロックと固定して、その縁部の画素値のみで、その画素ブロック内に孤立点が存在するかどうかを判断する場合、次の様な問題がある。例えば、５×５画素を参照画素領域とした場合に、図３に示す様なパターンが存在すると、黒画素３０１は孤立しているにも関わらず、参照画素領域の縁部に黒画素が存在する為に孤立点と判断されない。
【０００５】
この問題の回避策として、対象画像に対して参照画素領域の大きさを適宜変更しながら複数回処理を行えば、図３に示す様なパターンであっても孤立点と判断出来、除去することが出来る。
【０００６】
しかしながら、参照画像領域の大きさによっては非常に多くの回数分処理が必要となる。参照画像領域が大きい場合、例えば１６×１６を参照画像領域と想定すると、３×３，３×４，…３×１６，４×３，…，４×１６，…，１６×１６という３以上１６以下である２つ整数の組み合わせで作られる全ての参照画像領域に対して処理を行う必要があり、処理に長時間要することになる。
【０００７】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、参照画像領域が大きくても、少ない処理回数で、例えば図３に示すような孤立点でも正確にかつ高速に除去することができる画像処理方法及び画像処理装置を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する為に本発明の請求項１に記載する画像処理方法は、２値化画像データ上に存在する孤立点を不要なノイズとして除去する画像処理方法であって、前記２値化画像データの画素配列に基づいて、その所定軸方向に延びる少なくとも３ライン分を参照画素データとして、前記２値化画像データから抽出する参照画素データ抽出工程と、前記参照画素データの前記所定軸方向に対する他軸方向に延びる少なくとも１ライン分を注目ブロックとして、前記所定軸方向に順次走査して、当該注目ブロックを構成する画素の画素値がすべて同一の場合、当該画素値を基準画素値として、さらに走査し、注目ブロックを構成する画素のうち前記他軸方向の両端部の画素の画素値が前記基準画素値で、かつ、前記両端部の間に存在する画素の中に画素値が前記基準画素値と反対の画素値である画素を含む場合、その注目ブロックを除去候補注目ブロックとして検知する除去候補検知工程と、前記除去候補検知工程において、連続して検知した前記除去候補注目ブロックの個数を測定し、その個数が、所定の個数以下であれば、当該除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値をすべて前記基準画素値に変更する画素値変更工程とを備えることを特徴とする。
【０００９】
本発明のような工程を含む画像処理方法によれば、まず、前記参照画素データ抽出工程で、参照画素データをｍ×ｎ画素のブロックのように固定せずに、処理対象の２値化画像データを前記所定軸方向に延びる少なくとも３ライン分を参照画素データとして抽出する。
【００１０】
その後、前記除去候補検知工程において、参照画素データの縁部のみの画素値で孤立点の有無を判断せずに、前記他軸方向に延びる少なくもと１ライン分を注目ブロックとして、前記所定軸方向に参照画素データの画素を順次すべて走査し、所定の条件を満たした前記除去候補注目ブロックを検知する。
【００１１】
そして、前記画素値変更工程において、孤立点かどうかを判断するために、連続して検知した前記除去候補注目ブロックの個数を測定する。その個数が基準値以下であれば、検知した前記除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値をすべて前記基準画素値に変更する。
【００１２】
画素値を変更することで、孤立点を除去することができる。また、除去候補注目ブロックの数を測定し、一定基準以下の場合のみ、画素値を変更することで、孤立点でない画素の画素値を変更するのを防ぐことができる。
【００１３】
このように本発明では、従来のように参照領域をｍ×ｎ画素のブロックに固定して、参照領域の縁部の画素値のみで孤立点の存在の有無を判断していない。本発明では、参照領域すべての画素の画素値から孤立点の存在の有無を判断している。したがって、より正確に孤立点を発見し、除去することができる。また、参照領域が大きい画像データも、参照領域すべての画素の画素値から孤立点の存在の有無を判断しているため、従来のように順次参照領域を変更しながら孤立点をみつける処理をしなくても、孤立点を発見することができる。これにより、少ない処理回数で高速に孤立点を除去することができる。
【００１４】
また、本発明の請求項２に記載する画像処理装置は、２値化画像データ上に存在する孤立点を不要なノイズとして除去する画像処理装置であって、前記２値化画像データの画素配列に基づいて、その所定軸方向に延びる少なくとも３ライン分を参照画素データとして、前記２値化画像データから抽出する参照画素データ抽出部と、前記参照画素データの前記所定軸方向に対する他軸方向に延びる少なくとも１ライン分を注目ブロックとして、前記所定軸方向に順次走査して、当該注目ブロックを構成する画素の画素値がすべて同一の場合、当該画素値を基準画素値として、さらに走査し、注目ブロックを構成する画素のうち前記他軸方向の両端部の画素の画素値が前記基準画素値で、かつ、前記両端部の間に存在する画素の中に画素値が前記基準画素値と反対の画素値である画素を含む場合、その注目ブロックを除去候補注目ブロックとして検知する除去候補検知部と、前記除去候補検知部において、連続して検知した前記除去候補注目ブロックの個数を測定し、その個数が、所定の個数以下であれば、当該除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値をすべて前記基準画素値に変更する画素値変更部とを備えることを特徴とする。
【００１５】
本発明のような工程を含む画像処理装置によれば、まず、前記参照画素データ抽出部で、参照画素データをｍ×ｎ画素のブロックのように固定せずに、処理対象の２値化画像データを前記所定軸方向に延びる少なくとも３ライン分を参照画素データとして抽出する。
【００１６】
その後、前記除去候補検知部において、参照画素データの縁部のみの画素値で孤立点の有無を判断せずに、前記他軸方向に延びる少なくもと１ライン分を注目ブロックとして、前記所定軸方向に参照画素データの画素を順次すべて走査し、所定の条件を満たした前記除去候補注目ブロックを検知する。
【００１７】
そして、前記画素値変更部で、孤立点かどうかを判断するために、連続して検知した前記除去候補注目ブロックの個数を測定し、その個数が基準値以下であれば、検知した前記除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値をすべて前記基準画素値に変更する。
【００１８】
画素値を変更することで、孤立点を除去することができる。また、除去候補注目ブロックの数を測定し、一定基準以下の場合のみ、画素値を変更することで、孤立点でない画素の画素値を変更するのを防ぐことができる。
【００１９】
このように本発明では、従来のように参照領域をｍ×ｎ画素のブロックに固定して、参照領域の縁部の画素値のみで孤立点の存在の有無を判断していない。本発明では、参照領域すべての画素の画素値から孤立点の存在の有無を判断している。したがって、より正確に孤立点を発見し、除去することができる。また、参照領域が大きい画像データも、参照領域すべての画素の画素値から孤立点の存在の有無を判断しているため、従来のように順次参照領域を変更しながら孤立点をみつける処理をしなくても、孤立点を発見することができる。これにより、少ない処理回数で高速に孤立点を除去することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の第一の実施の形態（以下、実施形態１）について説明する。
【００２１】
まず、図４に以下で用いる座標系と参照画素データの一例及び注目ブロックの一例を示す。座標系は、参照画素データの画素配列に基づいて、一方をｘ軸とし、他方をｙ軸とする。図５は本発明の実施形態１に係る画像処理装置の概略構成を示す図である。尚、図５に示した各部はコンピュータ上の処理プログラムモジュールとして存在してもよいし、一部又は全部が専用のハードウェアで構成されていてもよい。図６は、２値化画像データから参照画素データを取り出す一例である。
【００２２】
図５において、画像入力部（５０１）は例えば、スキャナ等の画像読み取り装置から２値化された画像データを取得し、画像メモリ部（５０２）に格納する。
画像出力部（５０３）は画像メモリ部（５０２）に孤立点除去処理後に蓄積された画像データを出力する。
【００２３】
参照画素データ抽出部（５０４）は、画像メモリ部（５０２）内の画像データからｘ方向に延びるｎライン分（ｎは、３以上の整数）の参照画素データを抽出する。ここでｎは除去対象の孤立点の大きさに依存する。例えば、図２−ｄに示す様な３×３内に納まる画素を除去対象としたいのであれば、図６に示す様に最小で５ライン分のデータを参照画素データとして抽出する。実施形態１では、除去対象の孤立点のｙ方向サイズ＋２ライン分のデータを参照画素データとして抽出する。抽出した参照画素データの一部の例を、図４に示す。
【００２４】
除去候補検知部（５０５）では、参照画素データ抽出部（５０４）で抽出した参照画素データのｙ方向に延びる少なくとも１ライン分を注目ブロックとして、ｘ方向に順次走査する。注目ブロックの一例を図４に示す。
【００２５】
走査の過程で、注目ブロックを構成する画素の画素値がすべて同一の注目ブロックを検知した場合、この画素値を基準画素値として記憶し、さらに走査を続ける。前述の従来の技術では、黒画素のみ孤立点として説明したが、本発明では孤立点であれば、黒画素でも白画素でもどちらでもよい。したがって、注目ブロックが白画素ですべて構成されていれば、基準画素値は０となるし、黒画素ですべて構成されていれば、基準画素値は１となる。
【００２６】
そして、注目ブロックを構成する画素のうちｙ方向の両端部の画素の画素値が前記基準画素値で、かつ、前記両端部の間に存在する画素の中に画素値が前記基準画素値と反対の画素値である画素を含む注目ブロックが存在した場合、その注目ブロックを除去候補注目ブロックとして検知する。
【００２７】
画素値変更部（５０６）は、除去候補検知部（５０５）で検知した除去候補注目ブロックの数を測定して、その個数が、所定の個数以下であれば、当該除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値をすべて前記基準画素値に変更する。このように、除去候補注目ブロックの数を測定し、一定基準以下の場合のみ、画素値を変更することで、孤立点でない画素の画素値を変更するのを防ぐことができる。
【００２８】
ここで、除去候補注目ブロックの数の測定方法は、除去候補注目ブロックとして連続して検知しうる所定の要件を満たした注目ブロックの数を順次測定してもよい。しかし、他の方法として、例えば、除去候補注目ブロックとして検知した最初の注目ブロックのｘ方向の位置と、連続して検知した最後の除去候補注目ブロックのｘ方向の位置とから、連続して検知した除去候補注目ブロックの数（ｘ方向のサイズ）を求めてもよい。実施形態１では、後者の方法で、連続して検知した除去候補注目ブロックの数（ｘ方向のサイズ）を測定し、除去候補注目ブロックが孤立点を構成するかどうか判定している。
【００２９】
後者の場合、除去候補注目ブロックが孤立点を構成するかどうかを判定方法の具体例としては、
【数１】
除去候補注目ブロックの終了位置−除去候補注目ブロックの開始位置＋１＜＝第一閾値・・・式（１）
を満たすことで判定する。ここで、第一閾値はｘ方向に関する孤立点のサイズの閾値とし、除去対象の孤立点のサイズに応じて決定する。式（１）を満たさない場合には、孤立点を構成する画素の候補は孤立点を構成するものではないと判定する。
【００３０】
式（１）を満たす場合には、画像メモリ部（５０２）内の除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値を基準画素値へ変換する。
【００３１】
さらに具体的な例として図４を用いて、３×３画素以下を孤立点（ノイズ）とみなす場合で、５ライン分のデータを参照画素データとして抽出している場合を、以下で説明する。
【００３２】
除去候補検知部（５０５）は、参照画素データを注目ブロックごとに走査して、除去候補注目ブロックを検知する。図４において、ｘ１〜ｘ９が各注目ブロックである。
【００３３】
具体的には、参照画素データの後述する基準列からｘ方向に走査する。そして、注目ブロック内の画素の画素値がすべて同一の場合、その画素値を基準画素値とする。図４でいうと、ｘ１が該当し、この場合白画素の画素値０が基準画素値となる。
【００３４】
注目ブロックｘ１の後列をさらに走査し、注目ブロックを構成する画素のうちｙ方向の両端部の画素の画素値が基準画素値で、かつ、両端部の間に存在する画素の中に画素値が基準画素値と反対の画素値である画素を含むものであった場合、その注目ブロックのｘ方向の位置を除去候補注目ブロックの開始位置として記憶する。例えば、図４ではｘ２が開始位置の除去候補注目ブロックとなる。
【００３５】
また、連続して除去候補注目ブロックとして検知した最後の注目ブロックのｘ方向の位置を、除去候補注目ブロックの終了位置として記憶する。例えば、図４では、ｘ４が終了位置の除去候補注目ブロックとなる。
【００３６】
前述した基準列とは、抽出された参照画素データから初めて除去候補注目ブロックを検知する場合には最左列が相当し、その後は除去候補検知部（５０５）が連続して検知した最後の除去候補注目ブロックの次列が相当する。
【００３７】
例えば、図４ではｘ２とｘ４で挟まれた注目ブロックが除去候補注目ブロックとして検知され、次の除去候補注目ブロックを検知する為の基準列がｘ５となる。基準列がｘ５の場合、ｘ６で注目ブロックを構成する画素の画素値がすべて１となり、基準画素値が白画素の画素値から黒画素の画素値に変更される。そして、この場合、ｘ８が除去候補注目ブロックとして検知される。ｘ８は、開始位置の除去候補注目ブロックでもあり、終了位置の除去候補注目ブロックでもある。
【００３８】
前述の式（１）に当てはめると、まず、３×３画素以下を孤立点を設定しているため、第一閾値は３となる。そして、前述のとおり、まず、開始位置の除去候補注目ブロックがｘ２、終了位置の除去候補注目ブロックｘ４の場合、ｘ方向のサイズが３と求められる。よって、除去候補注目ブロックｘ２〜ｘ４は、基準値以下と判定される。そして、この走査時点での基準画素値０に、除去候補注目ブロックｘ２〜ｘ４を構成するすべての画素の画素値が変更される。同様に、除去候補注目ブロックｘ８を構成する画素の画素値は、基準画素値１に変更される。
【００３９】
ここで、図６では、参照画素データ抽出部（５０４）でｘ方向に延びる５ライン分のデータを取得した場合を想定して説明したが、参照画素データ抽出部（５０４）でｙ方向に延びる５ライン分のデータを取得した場合は、前述の開始位置や終了位置の説明をｙ方向の位置に置き換えればよい。
【００４０】
このように本発明の画像処理装置では、従来のように参照領域をｍ×ｎ画素のブロックに固定して、参照領域の縁部の画素値のみで孤立点の存在の有無を判断せず、参照領域すべての画素の画素値から孤立点の存在の有無を判断している。
したがって、より正確に孤立点を発見し、除去することができる。
【００４１】
また、参照領域が大きい画像データも、参照領域すべての画素の画素値から孤立点の存在の有無を判断しているため、従来のように順次参照領域を変更しながら孤立点をみつける処理をしなくても、孤立点を発見することができる。これにより、少ない処理回数で高速に孤立点を除去することができる。
【００４２】
次に、図７に示すフローチャートを参照し、図５の画像処理装置における処理手順について説明する。以下、Ｆｍ（ａ）は参照画素データ内のｍ行目のｘ方向の座標ａの画素値を示す。例えば、Ｆｍ（ａ）＝０が、基準画素値（背景画素値）を有する画素とすると、Ｆｍ（ａ）＝１は、基準画素値と反対の画素値を有する画素、つまり、孤立点を構成する画素の候補であることを示す。
【００４３】
ｓｔａｒｔ＿ｘはｘ方向の除去候補注目ブロックの開始位置の座標、ｅｎｄ＿ｘはｘ方向の除去候補注目ブロックの終了位置の座標、ｔｈ＿ｘはｘ方向に対する孤立点のサイズの閾値、つまり、連続して検知した除去候補注目ブロックの個数の閾値をそれぞれ示すものとする。まず、画像入力部（５０１）より、例えばスキャナ等の画像読み取り装置から２値化された画像データを取得し、画像メモリ部（５０２）に格納する（７０２）。
【００４４】
ｙ方向のラインカウンタを０にする（７０３）。参照画素データ抽出部（５０４）により、画像メモリ部（５０２）内の画像データから、ｎライン分の参照画素データが抽出される（７０４）。ここでｎ＝除去対象孤立点のｙ方向サイズ＋２とする。ｘ方向のカウンタを０にする（７０５）。
【００４５】
ｘ方向に関して全画素処理を終了していなければ（７１２）、ｘを１加算しながら（７１４）、最初に検知する除去候補注目ブロックのｘ方向の位置を求める。実施形態１では、全てのｍ（１＜＝ｍ＜＝ｎ）に対してＦｍ（ｘ−１）＝０であり、ｙ方向の両端部以外のあるｍ（１＜ｍ＜ｎ）に対してＦｍ（ｘ）＝１を満たす様なｘを求め（７０６）、ｓｔａｒｔ＿ｘにその座標を格納している（７０７）。ここで、「ｘ＝０」を注目ブロックとしている場合にｘ−１列目は存在しないが、ｘ−１列目の画素は全て基準画素値と想定して処理を行う、等とすればよい。
【００４６】
次に、ｘ方向に関して全画素処理を終了していなければ（７１２）、ｘを１加算しながら（７１４）、連続して検知した最後の除去候補注目ブロックのｘ方向の位置を求める。実施形態１では、ｙ方向の両端部以外のあるｍ（１＜ｍ＜ｎ）に対してＦｍ（ｘ）＝１であり、全てのｍ（１＜＝ｍ＜＝ｎ）に対してＦｍ（ｘ＋１）＝０を満たす様なｘを求め（７０８）、ｅｎｄ＿ｘにその座標を格納している（７０９）。
【００４７】
ここで、「ｘ＝画像の横の長さ」を注目ブロックとしている場合にｘ＋１列目は存在しないが、ｘ＋１列目の画素は全て基準画素値と想定して処理を行う、等とすればよい。
【００４８】
ｘ方向のサイズｅｎｄ＿ｘ−ｓｔａｒｔ＿ｘ＋１とｘ方向に対する孤立点サイズの閾値ｔｈ＿ｘが、
【数２】
ｅｎｄ＿ｘ−ｓｔａｒｔ＿ｘ＋１＜＝ｔｈ＿ｘ・・・式（２）
を満たすならば（７１０）、対象としている除去候補画素は孤立点を構成する画素となる条件を満たすので、除去候補画素を除去するために（７１１）へ進む。（７１１）では除去候補画素をノイズとして除去する為に、全てのｘ（ｓｔａｒｔ＿ｘ＜＝ｘ＜＝ｅｎｄ＿ｘ）と全てのｍ（１＜＝ｍ＜＝ｎ）に対してＦｍ（ｘ）＝０へ変換する。ｘ方向に関して全画素処理を終えたかどうか判断し（７１２）、終えていなければｘを１加算して（７１４）、（７０６）に進み、次の除去候補画素のｓｔａｒｔ＿ｘ、及びｅｎｄ＿ｘを取得する。
【００４９】
ｘ方向に関して全画素処理を終えた場合（７１２）、ｙ方向に関して全画素処理を終えていない場合には（７１３）、ｙを１加算して（７１５）、新たに参照画素データとしてｎライン分を抽出し（７０４）、その後の処理を繰り返し行う。ｙ方向に関して全画素処理を終えた場合には（７１３）、処理を終了する（７１６）。
【００５０】
（７１０）を満たさないならば、対象としている除去候補画素は孤立点を構成する画素とならないので、ｘ方向に関して全画素処理を終了していなければ（７１２）、ｘを１加算して（７１４）、（７０６）に進み、次のノイズ候補画素のｓｔａｒｔ＿ｘ、及びｅｎｄ＿ｘを取得する。
【００５１】
上述の様に、図７に示すフローチャートではｘ方向に延びる少なくとも３ライン分のデータを参照画素データとして抽出してｘ方向に関して除去候補画素ブロックの開始位置、及び除去候補画素ブロックの終了位置を取得して処理を行っているが、ｙ方向に延びる少なくとも３ライン分のデータを参照画素データとして抽出してｙ方向に関して除去候補画素ブロックの開始位置、及び除去候補画素ブロックの終了位置を取得する様に処理を行っても構わない。
【００５２】
また、ｘ方向に延びるラインを参照画素データとして抽出し、処理を行った後に、ｙ方向に延びるラインを参照画素データとして抽出し、処理を行うという様に、双方向の処理を組み合わせることで、より厳密に孤立点を除去することが可能になる。
【００５３】
続いて、本発明の第二の実施の形態（以下、実施形態２）について説明する。
【００５４】
実施形態２の画像処理装置の概略構成図は、実施形態１の画像処理装置の概略構成図（図５）と同様でよいため、省略する。
【００５５】
実施形態２と実施形態１との違いは、実施形態１では、除去候補検知部５０４が除去候補注目ブロックを検知する条件を、注目ブロックを構成する画素のうちｙ方向の両端部（図４に示す上端４０１と下端部４０２）の画素の画素値が基準画素値で、かつ、両端部の間に存在する画素の中に画素値が基準画素値と反対の画素値である画素を含む場合とした。
【００５６】
しかし、実施形態２では、上記条件を２段階に分けて、第一の条件を両端部の間に存在する画素と限定せずに、両端部も含めて注目ブロックを構成する画素の画素値のいずれかに基準画素値と反対の画素値である画素を含む場合とし、この第一の条件を満たした注目ブロックを、除去候補検知部５０４が除去候補注目ブロックとして検知する。そして、画素値変更部５０６にて、第一の条件を満たした除去候補注目ブロックが、まず上述の式（２）を満たすかどうか判定する。その後に、第二の条件として、各除去候補注目ブロックの両端部が基準画素値かどうかを、画素値変更部５０６にて判定する。そして、各除去候補注目ブロックの両端部が基準画素値の場合に、画素値変更部５０６は、孤立点を構成する画素として、画素値をすべて基準画素値に変更する。
【００５７】
図８に実施形態２のフローチャートを示す。実施形態１と同様な部分は説明を省略する。
【００５８】
図７に示す実施形態１のフローチャートとの違いは、（８０６）で、除去候補画素ブロックの検知条件として、「ｙ方向の両端部以外のあるｍ（１＜ｍ＜ｎ）に対してＦｍ（ｘ）＝１を満たす様なｘ」としていた点を、ｙ方向の両端部も含めて「あるｍ（１＜＝ｍ＜＝ｎ）に対してＦｍ（ｘ）＝１を満たす様なｘ」としたことである。
【００５９】
この場合、（８１０）で、「ｅｎｄ＿ｘ−ｓｔａｒｔ＿ｘ＋１＜＝ｔｈ＿ｘ」を満たした場合に、さらに、条件として、両端部の画素が基準画素値であるかどうかを判定するために、「全てのｘ（ｓｔａｒｔ＿ｘ＜＝ｘ＜＝ｅｎｄ＿ｘ）に対してＦ１（ｘ）＝０、及びＦｎ（ｘ）＝０を満たす」かどうかを判定して（８１１）、この条件を満たした場合に、除去候補画素を除去することとなる（８１２）。
【００６０】
【発明の効果】
本発明のような工程を含む画像処理方法によれば、まず、前記参照画素データ抽出工程で、参照画素データをｍ×ｎ画素のブロックのように固定せずに、処理対象の２値化画像データを前記所定軸方向に延びる少なくとも３ライン分を参照画素データとして抽出する。
【００６１】
その後、前記除去候補検知工程において、参照画素データの縁部のみの画素値で孤立点の有無を判断せずに、前記他軸方向に延びる少なくもと１ライン分を注目ブロックとして、前記所定軸方向に参照画素データの画素を順次すべて走査し、所定の条件を満たした前記除去候補注目ブロックを検知する。
【００６２】
そして、前記画素値変更工程において、孤立点かどうかを判断するために、連続して検知した前記除去候補注目ブロックの個数を測定する。その個数が基準値以下であれば、検知した前記除去候補注目ブロックを構成する画素の画素値をすべて前記基準画素値に変更する。画素値を変更することで、孤立点を除去することができる。また、除去候補注目ブロックの数を測定し、一定基準以下の場合のみ、画素値を変更することで、孤立点でない画素の画素値を変更するのを防ぐことができる。
【００６３】
このように本発明では、従来のように参照領域をｍ×ｎ画素のブロックに固定して、参照領域の縁部の画素値のみで孤立点の存在の有無を判断していない。本発明では、参照領域すべての画素の画素値から孤立点の存在の有無を判断している。したがって、より正確に孤立点を発見し、除去することができる。また、参照領域が大きい画像データも、参照領域すべての画素の画素値から孤立点の存在の有無を判断しているため、従来のように順次参照領域を変更しながら孤立点をみつける処理をしなくても、孤立点を発見することができる。これにより、少ない処理回数で高速に孤立点を除去することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来技術における参照領域、注目画素の取り方の一例を示す図である。
【図２】従来技術において孤立点と判断され、除去可能な画素データの例である。
【図３】従来技術において孤立点と判断されず、除去不可能な画素データの例である。
【図４】座標系と参照画素データの一例及び注目ブロックの一例を示す。
【図５】本発明の実施の形態に係る画像処理装置の概略構成を示す図である。
【図６】２値化画像データから取り出す参照画素データの一例を示す図である。
【図７】本発明の第一の実施の形態に係る画像処理方法による処理手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の第二の実施の形態に係る画像処理方法による処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
３０１　孤立点、４０１　上端部、４０２　下端部、５０１　画像入力部、５０２　画像メモリ部、５０３　画像出力部、５０４　参照画素データ抽出部、５０５　除去候補検知部、５０６　画素値変更部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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