(57)【要約】【課題】尾引きやかすれの度合いを機械に係わりなく少なくすることができる座標入力装置を提供する。【解決手段】それぞれタッチパネルの異なる位置に設置され、タッチパネル面１にほぼ平行に、且つ設置位置を中心に扇状に光を射出する二つの光学ユニット２内の各光源と、タッチパネルに設置され前記光源からの光をその光源に向けて反射させる反射部３と、前記光学ユニット２内にそれぞれ設置され、前記反射部３からの反射光を受光する受光部とを備え、遮蔽物で前記光を遮蔽したときにその遮蔽位置の座標を検出する座標入力装置において、システム制御部４は、前記受光部により検出された信号中からディップ箇所を検出するための信号レベルの閾値として前記遮蔽位置により異なった値を設定する際、閾値を算出する基準とするディップ量を予め機械毎に採取し、そのディップ量を用いて機械毎にその機械固有の閾値を設定する構成にした。【選択図】　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
夫々タッチパネルの異なる位置に設置され、前記タッチパネル面に略平行に、且つ設置位置を中心に扇状に光を射出する複数の光源部と、前記タッチパネルに設置され前記光源部からの光を該光源部に向けて反射させる反射部と、前記光源部の設置位置にそれぞれ設置され、前記反射部からの反射光を受光する受光部と、を備え、遮蔽物で前記光を遮蔽した際に該遮蔽位置の座標を検出する座標入力装置において、
前記受光部により検出された信号中からディップ箇所を検出するための信号レベルの閾値として前記遮蔽位置により異なった値を設定する際、前記閾値を算出するための基準となるディップ量を予め機械毎に採取し、採取されたディップ量を用いて機械毎に固有の閾値を設定することを特徴とする座標入力装置。
【請求項２】
請求項１記載の座標入力装置において、基準となる前記ディップ量を個々の機械毎のタッチパネル面上の指定された位置で測定し、該測定されたディップ量を機械内に搭載している記憶手段に記憶しておくことを特徴とする座標入力装置。
【請求項３】
請求項２記載の座標入力装置において、基準となる前記ディップ量を前記タッチパネル面上の複数の位置で測定し、該測定されたそれぞれのディップ量を前記位置を示す位置情報に対応づけて機械内に搭載している記憶手段に記憶しておくことを特徴とする座標入力装置。
【請求項４】
請求項３記載の座標入力装置において、前記タッチパネル面上の個々のタッチ位置の閾値を算出するための基準ディップ量を、前記測定されたそれぞれのディップ量のうちの最寄の位置のディップ量と、該位置情報とを用いて算出することを特徴とする座標入力装置。
【請求項５】
請求項２または請求項３記載の座標入力装置において、前記位置を、当該座標入力装置に接続された外部機器を用いて指定することを特徴とする座標入力装置。
【請求項６】
請求項５記載の座標入力装置において、ディップ量採取時、受光部により同時に複数の遮蔽位置が検出された場合、そのときに採取されたディップ量データを全て無視する構成にしたことを特徴とする座標入力装置。
【請求項７】
遮蔽物で光を遮蔽したときにその遮蔽位置の座標を検出する座標入力装置で受光部により検出された信号中からディップ箇所を検出するための信号レベルの閾値を設定するディップ検出用閾値設定方法において、ディップ量の閾値として前記遮蔽位置により異なった値を設定する際、座標入力装置に接続された外部機器を用いて座標入力装置のタッチパネル面に基準位置を示す印を表示させ、その印の位置へのタッチが行われたとき、その位置の位置情報とディップ量とを基準ディップ量データとして予め機械毎に採取し、採取されたディップ量を用いて機械毎に固有の閾値を設定することを特徴とする座標入力装置のディップ量閾値設定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子黒板システムや情報処理装置の座標入力機能付き表示装置などとして用いられる、画面上において指などで指示した位置の座標を入力することができる座標入力装置に係わり、特に、座標を求めるために用いるディップ量の閾値を設定する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
前記したような座標入力装置を用いたシステムとして、近年、電子黒板の書き込み面に手書きで書き込んだ情報をリアルタイムでコンピュータシステムに入力することを可能にした電子黒板システムなどが提供されている。
例えば、マイクロフィールド・グラフィックス社（Ｍｉｃｒｏｆｉｅｌｄ　Ｇｒａｐｈｉｃｓ　Ｉｎｃ．）製のソフトボードはホワイトボード上に座標入力装置を配設して構成され、ホワイトボード上に書かれた文字や絵などのビジュアルデータをコンピュータにリアルタイムで取り込む。このソフトボードを用いて構成された電子黒板システムでは、取り込んだビジュアルデータをＣＲＴに表示したり、液晶プロジェクタを用いて大型のスクリーンに表示したり、プリンタにより記録紙に出力したりすることができる。また、ソフトボードが接続されたコンピュータの画面を液晶プロジェクタでソフトボード上に投影し、ソフトボード上でコンピュータを操作することも可能である。
また、文字および画像を表示する表示装置と、その画面の前面に配設した座標入力装置と、その座標入力装置からの入力に基づいて表示装置の表示制御を行う制御装置とを備え、それらを用いて電子黒板の表示面および書き込み面を構成した電子黒板システムも提供されている。
例えば、スマート・テクノロジズ社（ＳＭＡＲＴ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ　Ｉｎｃ．）製のスマート２０００では、コンピュータに接続された液晶プロジェクタを用いて、文字、絵、図形、グラフィックの画像をパネルに投影した状態で、パネルの投影面（表示面）の前面に配設した座標入力装置を用いて手書きの情報をコンピュータに取り込む。そして、コンピュータ内で手書きの情報と画像情報とを合成し、再度、液晶プロジェクタを介して表示する。
【０００３】
なお、本発明に係わる前記した座標入力機能付表示装置の座標入力装置としては、以下のようなものが知られている。
一つは特開昭５７−２１１６３７号公報に示された座標入力装置であり、この従来技術では、回転多面鏡を介して光ビームを二つの光出射部から出射して座標入力面を走査し、ペンの軸先に設けられた反射部材からの反射光を二つの受光部により検出して、ペンの挿入位置を検出する。二つの受光部により受光し、３角測量の原理を利用して指示された位置の座標を算出するのである。なお、この座標入力／検出装置における座標入力面は第１および第２の例の座標入力／検出装置における座標入力面のような物理的な面ではなく、光出射部から出射される光ビームによって形成される面である。
また、特開平９−９１０９４号公報に示された従来技術では、座標入力面の例えば下方左右の隅に光出射・受光部を設け、それぞれの光出射・受光部から出射方向（出射角度）を変えながら光ビームを出射して座標入力面を走査し、その光ビームをパネルの上辺および左右辺に設けたコーナキューブアレイ（光再帰性反射手段）で折り返させ（戻る方向に反射させ）、それぞれの光出射・受光部により戻ってきた光ビームを検出する。これにより、指などで光ビームが遮られる左右の光出射・受光部の走査角度を検出することができ、３角測量の原理を利用して指示された位置の座標を算出することができる。
また、特開平１１−１１０１１６号公報に示された従来技術では、座標入力面の例えば上方左右の隅に光出射・受光部を設け、それぞれの光出射・受光部から出射方向（出射角度）を変えながら光ビームを出射して座標入力面を走査し、その光ビームをパネルの下辺および左右辺に設けた光再帰性反射手段で折り返させ（戻る方向に反射させ）、それぞれの光出射・受光部により戻ってきた光ビームを検出する。これにより、指などで光ビームが遮られる左右の光出射・受光部の走査角度の光遮断範囲を検出して指示された位置の座標を算出する。
【０００４】
ところで、このような光学式の座標入力装置では、座標入力面（タッチパネル面）に指などで触った際に受光部において検出される光量のレベルは、光源（光出射部）と受光部を内蔵した光学ユニットに近い所と遠い所とでは、同じ物体で座標入力面に触ったとしても異なってくる。近い所では広い幅で十分に黒レベルまで落ちるが、遠い所では、幅も狭く黒レベルまで落ちない場合があるということである。
こういった場合に、光学ユニットの受光部において検出される信号レベルの閾値（基準値）を固定にして位置検出および座標位置算出をおこなうと、光学ユニットに近い所では検出できるが、遠い所では検出できなかったり（この現象をかすれと称する）、光学ユニットに遠い所でも検出できるが、近い所では書いているつもりがないのに検出してしまい文字がつながったり（この現象を尾引きと称する）する不具合が生じてしまう。
そのため、特開２００１−１４７７７６公報に示された従来技術では、光学ユニットからの距離によって閾値を異ならせる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
前記したように、特開２００１−１４７７７６公報に示された従来技術においては、光源と受光部を内蔵した光学ユニットからの距離によって閾値を異ならせているが、タッチパネル面上の同じ位置において同じ物体で光を遮蔽しても、受光部において受光される光量は機械毎にばらつきがあるので、ディップ量は機械毎に異なってしまい、そのため、前記したような尾引きやかすれが発生してしまうという問題があった。
本発明の目的は、このような従来技術の問題を解決することにあり、具体的には、各機械の尾引きやかすれの度合いを機械に係わりなく少なくすることができたり、基準ディップ量の検出を毎回行う手間を省いたりすることができる座標入力装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前記の課題を解決するために、請求項１記載の発明では、夫々タッチパネルの異なる位置に設置され、前記タッチパネル面に略平行に、且つ設置位置を中心に扇状に光を射出する複数の光源部と、前記タッチパネルに設置され前記光源部からの光を該光源部に向けて反射させる反射部と、前記光源部の設置位置にそれぞれ設置され、前記反射部からの反射光を受光する受光部と、を備え、遮蔽物で前記光を遮蔽した際に該遮蔽位置の座標を検出する座標入力装置において、前記受光部により検出された信号中からディップ箇所を検出するための信号レベルの閾値として前記遮蔽位置により異なった値を設定する際、前記閾値を算出するための基準となるディップ量を予め機械毎に採取し、採取されたディップ量を用いて機械毎に固有の閾値を設定することを特徴とする。
また、請求項２記載の発明では、請求項１記載の発明において、基準となる前記ディップ量を個々の機械毎のタッチパネル面上の指定された位置で測定し、該測定されたディップ量を機械内に搭載している記憶手段に記憶しておくことを特徴とする。
また、請求項３記載の発明では、請求項２記載の発明において、基準となる前記ディップ量を前記タッチパネル面上の複数の位置で測定し、該測定されたそれぞれのディップ量を前記位置を示す位置情報に対応づけて機械内に搭載している記憶手段に記憶しておくことを特徴とする。
また、請求項４記載の発明では、請求項３記載の発明において、前記タッチパネル面上の個々のタッチ位置の閾値を算出するための基準ディップ量を、前記測定されたそれぞれのディップ量のうちの最寄の位置のディップ量と、該位置情報とを用いて算出することを特徴とする。
また、請求項５記載の発明では、請求項２または請求項３記載の発明において、前記位置を、当該座標入力装置に接続された外部機器を用いて指定することを特徴とする。
また、請求項６記載の発明では、請求項５記載の発明において、ディップ量採取時、受光部により同時に複数の遮蔽位置が検出された場合、そのときに採取されたディップ量データを全て無視する構成にしたことを特徴とする。
また、請求項７記載の発明では、遮蔽物で光を遮蔽したときにその遮蔽位置の座標を検出する座標入力装置で受光部により検出された信号中からディップ箇所を検出するための信号レベルの閾値を設定するディップ検出用閾値設定方法において、ディップ量の閾値として前記遮蔽位置により異なった値を設定する際、座標入力装置に接続された外部機器を用いて座標入力装置のタッチパネル面に基準位置を示す印を表示させ、その印の位置へのタッチが行われたとき、その位置の位置情報とディップ量とを基準ディップ量データとして予め機械毎に採取し、採取されたディップ量を用いて機械毎に固有の閾値を設定することを特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】
以下、図面により本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図１は本発明の一実施例を示す座標入力装置の構成図である。図示したように、この実施例の座標入力装置は、タッチパネル面１、そのタッチパネル面１の下部左右端に設けた光学ユニット２（２Ｌ、２Ｒ）、タッチパネル面１の左右および上側に配置され、光学ユニット２内の光源から射出され扇状に拡散される光を射出された光学ユニット２に向かって反射させる反射部３（３Ａ、３Ｂ、３Ｃ）、光学ユニット２に駆動信号を与えたり、光学ユニット２内の受光部からの信号を受け取って座標値を求める演算をおこなったり、座標入力装置全体を制御したりするシステム制御部４、そのシステム制御部４により演算された座標値をこの座標入力装置に接続された外部のパーソナルコンピュータ（以下、ＰＣと称す）へ出力したり、そのＰＣから動作の指示を受けたりするインターフェース部５などを備える。なお、光学ユニット２および反射部３はタッチパネル面１の外枠７内に配し、外部からは見えない構造となっている。
図２に、光学ユニット２の構成を示す。図示したように、この光学ユニット２は、光源１１、その光源１１から射出された光を扇状に拡散するレンズ１２、反射部３からの反射光を受光するレンズ１３、受光部１４、および光学軸上に配置しているハーフミラー１５などから構成される。
【０００８】
図３は、前記システム制御部４の詳細構成とその周辺の構成を示す構成ブロック図である。図示したように、システム制御部４は、プログラムに従って動作するＣＰＵ２１、そのプログラムを記憶しているＲＯＭ２２、ワークエリアとして各種データを一時的に記憶するＲＡＭ２３、光学ユニット２Ｌ、２Ｒに対応しており、アナログ信号をデジタル信号に変換したり、画像処理をしたりする画像処理部２４（２４Ｌ、２４Ｒ）、その二つの画像処理部２４Ｌ、２４Ｒに対応しており、それぞれのデータを格納しておくデータ格納メモリ２５（２５Ｌ、２５Ｒ）、同様に二つの画像処理部２４Ｌ、２４Ｒに対応しており、シェーディング補正を行う基準となるデータを格納しておくシェーディングメモリ２６（２６Ｌ、２６Ｒ）などを備えている。なお、ここでは、ワークエリアとして使用しているＲＡＭ２３、データ格納メモリ２５Ｌ、２５Ｒをわけているが、一つのメモリ内で領域を分割して使用しても問題ない。
また、図３に示したように、左側の光源であるレーザーダイオード（ＬＤ）３２Ｌはレーザーダイオードユニット（ＬＤＵ）３１Ｌに搭載され、左側の受光部であるＣＣＤ３４Ｌはセンサ基板ユニット（ＳＢＵ）３３Ｌに搭載され、そのＬＤＵ３１ＬおよびＳＢＵ３３Ｌは光学ユニット２Ｌ内に配置されている。同様に、右側の光源であるＬＤ３２ＲはＬＤＵ３１Ｒに搭載され、右側の受光部であるＣＣＤ３４ＲはＳＢＵ３３Ｒに搭載され、そのＬＤＵ３１ＲおよびＳＢＵ３３Ｒは光学ユニット２Ｒ内に配置されている。
【０００９】
次に、座標入力装置の基本的な動作を説明する。
まず、ＲＯＭ２２に内蔵されたプログラムに従って（以下、同様）、ＣＰＵ２１はＬＤ点灯信号をＬＤＵ３１Ｌ、３１Ｒへ送信し、これにより、ＬＤＵ３１Ｌ、３１Ｒ内のＬＤ３２Ｌ、３２Ｒが点灯する。
こうして、ＳＢＵ３３Ｌ、３３Ｒ内のＣＣＤ３４Ｌ、３４Ｒにより反射光が受光され、受光された信号が画像処理部２４Ｌ、２４Ｒに入力され、画像処理部２４Ｌ、２４Ｒは受取った信号をデジタルデータに変換し、シェーディングメモリ２６Ｌ、２６Ｒに格納されている基準データを用いてシェーディング補正を実行し、補正されたデータをデータ格納メモリ２５Ｌ、２５Ｒに格納する。さらに、そのデータはＣＰＵ２１により読み出され、ディップ検出（指などで光が遮られて暗い信号レベルを示している部分の検出）を行い、それにより座標値を算出し、算出した座標値をインターフェース部５を介してＰＣへ送出する。
【００１０】
以上がこの座標入力装置の基本的な動作フローである。なお、前記において、指など遮蔽物で遮られた座標値（ディップ箇所の座標値）は以下の式１および式２を用いて算出する。
Ｘ＝（Ｗ×ｔａｎθＲ）／（ｔａｎθＬ＋ｔａｎθＲ）…式１
Ｙ＝（Ｗ×ｔａｎθＲ×ｔａｎθＬ）／（ｔａｎθＬ＋ｔａｎθＲ）…式２
（各符号については図４参照）
式１および式２において、θはラインセンサＣＣＤ３４Ｌ、３４Ｒ上のライン方向位置に対応づけられている。また、タッチパネル面１の幅Ｗの値は予めＲＯＭ２２の所定アドレスに書き込んでおく。
そして、タッチパネル面上の触られた位置の検出では、まず、予め設定してある大きい（明るい）閾値（基準値）によりラフな検出を行い、受光部１４により得られたデータ中に閾値よりも小さくなる（暗くなる）個所が存在した場合、その位置でタッチパネル面１が触られていると判断し、詳細の検出を行う。
この詳細の検出では、まず、前記したラフな検出によりタッチパネル面１が触られている概ねの座標値（Ｘ１，Ｙ１）を式１と式２を用いて算出し、光学ユニット２Ｌ、２Ｒからの距離を以下の式を用いて算出する。
ｌ＝√（Ｘ１２＋Ｙ１２）…式３
ｒ＝√（（Ｗ−Ｘ１）２＋Ｙ１２）…式４
（各符号については図５参照）
なお、ｌおよびｒの値は角度とＸ，Ｙがわかれば他の式からも算出できる。
次に、光学ユニット２からの距離に応じた閾値を比例式により算出し、再度閾値よりも小さくなる（暗くなる）個所が存在するかどうか、詳細な検出をおこなう。
このように、光学ユニット２からタッチパネル面上の触られた位置までの距離によって閾値を異ならせることにより、かすれや尾引きの度合いを軽減させることができるが、この方式の座標入力装置では、機械間の白波形のバラツキなどによって、タッチパネル面１の同じ位置に同じ物体で触ったときのディップ量にはバラツキがあるので、機械によっては尾引きやかすれの度合いが大きくなってしまう（図６参照）。
そのため、この実施例では、光学ユニット２からタッチパネル面上の触られた位置までの距離に従って閾値を機械毎に算出し設定する。その算出の際には、基準となるディップ量を予め機械毎に採取する。これによって、機械により、尾引きやかすれの度合いが大きくなるのを防ぐことができるのである。
【００１１】
また、機械毎に採取したディップ量は、機械内部に搭載しているＥＥＰＲＯＭなど不揮発性の記憶手段に記憶させておく。これによって、例えば電源を落としても再度基準となるディップ量を採取する必要がなくなるし、接続されているＰＣが変わった場合にも同じように再度基準となるディップ量を採取する必要がなくなる。さらに、ＥＥＰＲＯＭなど不揮発性の記憶手段を着脱可能な構成にすることにより、例えばシステム制御部４が破損した場合も、そのような記憶手段のみ載せかえれば、基準ディップ量を再度採取する必要がなくなる。
さらに、光学ユニット２から同じ距離であっても、タッチパネル面上の触られた位置の方向、言い換えると受光部１４における受光方向によっても、ディップ量は異なるので、同じ機械内でも触られる位置によって尾引きやかすれの度合いは異なってしまうことに鑑み（図７参照）、この実施例では、機械毎に採取するディップ量は、受光部１４に対して複数個所で測定し、ディップ量とともに受光部１４に対する位置も併せて不揮発性記憶手段に記憶させておき、タッチされた座標値を検出するための閾値は光学ユニット２からの距離に併せてその方向によっても異ならせる。
【００１２】
次に、図８により、閾値算出方法について説明する。
この実施例では、図８に示したタッチ点（以下、タッチ点Ａとする）に対応した受光部上の受光位置（ＰｏｓＡ）（ＣＣＤ上のライン方向の位置）に対して両隣に位置する基準点（基準点１、基準点２）の受光位置（Ｐｏｓ１、Ｐｏｓ２）における基準ディップ量（Ｄｉｐ１、Ｄｉｐ２）を、タッチ点Ａと光学ユニット２との間の距離（ＤｉｓＡ）に換算したディップ量（Ｄｉｐ１’、Ｄｉｐ２’）に変換し、タッチ点Ａの両隣に位置する基準点（基準点１、基準点２）間の距離（｜Ｐｏｓ２−Ｐｏｓ１｜）と、タッチ点Ａとどちらか一方の隣の基準ディップ位置（ここでは、基準点１とする）との間の距離（｜ＰｏｓＡ−Ｐｏｓ１｜）との比より、タッチ点Ａのディップ量（ＤｉｐＡ）を推定し、閾値を決定する。算出式としては、以下のようになる。
Ｄｉｐ１’＝Ｄｉｐ１×ＤｉｓＡ／Ｄｉｓ１…式５
Ｄｉｐ２’＝Ｄｉｐ２×ＤｉｓＡ／Ｄｉｓ２…式６
ＤｉｐＡ　＝｛｜Ｄｉｐ２’−　Ｄｉｐ１’｜×（｜ＰｏｓＡ−Ｐｏｓ１｜）／（｜Ｐｏｓ２−Ｐｏｓ１｜）｝…式７
Ｄｉｐ１：基準点１におけるディップ量
Ｐｏｓ１：基準点１の受光部における画素番号（これは受光部における位置に相当する）
Ｄｉｓ１：基準点１と光学ユニット間の距離
Ｄｉｐ１’：Ｄｉｐ１を光学ユニットからの距離がＤｉｓＡに換算したディップ量
Ｄｉｐ２：基準点２におけるディップ量
Ｐｏｓ２：基準点２の受光部における画素番号
Ｄｉｓ２：基準点２と光学ユニット間の距離
Ｄｉｐ２’：Ｄｉｐ２を光学ユニットからの距離がＤｉｓＡに換算したディップ量
ＤｉｐＡ：タッチされた点（タッチ点Ａ）におけるディップ量
ＰｏｓＡ：タッチされた点（タッチ点Ａ）の受光部における画素番号
Ｔｈ＝ＤｉｐＡ＋α…式８
（各符号については図８参照）
このように、この実施例によれば、予め機械毎に複数個所でディップ量を採取することにより、その後のタッチ座標検出では、タッチ点の近傍に位置するポイントの採取したディップ量を用いてタッチ点のディップ量を推測することができるようになり、したがって、機械により尾引きやかすれの度合いが大きくなるのを防ぐことができる。
【００１３】
以下、図１１に示したシーケンスフローおよび図１２に示した動作フローに従って、機械毎に採取する基準のディップ量およびその位置の検出のフローを説明する。なお、このフローは、座標入力装置に接続されたＰＣなど外部機器内のツールを用いて実行される。
まず、ＰＣ内の所定のツールを起動する。これにより、ＰＣ内のそのツールは、インターフェース部５を介してシステム制御部４とコマンドをやり取りし、それにより、タッチパネル画面上の指定の位置に基準ディップおよび位置を測定するポイント（マーク、印）を１点表示させる（図９参照）。そして、ＰＣは座標入力装置に対して基準ディップ検出開始のコマンドを発行する。
これにより、座標入力装置内のシステム制御部４は基準ディップの検出を開始し、受光部（ＣＣＤ）１４がそのときの各方向からの反射光を受光する（Ｓ１）。そして、信号の取り込みが終了すると（Ｓ２でｙｅｓ）、画像処理されたデータを受け取ったシステム制御部４はディップの有無を判定する（Ｓ３）。
その結果、表示されたポイント上にピンなどの物体が置かれた場合にはディップが検出され（Ｓ３でｙｅｓ）、システム制御部４は前記のようにしてディップ量および位置を検出し、検出結果をＲＡＭ２３に記憶し、検出終了コマンドをＰＣ側のツールに対して発行する。
ツールは、座標入力装置から検出終了コマンドを受信すると、表示しているポイントを次に測定する位置に移動させ（図１０参照）、座標入力装置に対して再度基準ディップ検出開始コマンドを発行する。以下、予め指定してある全ポイントが終了するまで前記した動作を繰り返し（Ｓ４でｎｏ、Ｓ１〜Ｓ４）、全ポイントについて終了すると（Ｓ４でｙｅｓ）、ＲＡＭ２３に記憶しておいた検出結果のデータを機械内部に搭載しているＥＥＰＲＯＭなど不揮発性記憶手段に記憶する（Ｓ５）。
一方、ツール側では、最終ポイントに対して座標入力装置から検出終了コマンドを受け取ると、自動的に終了する。
このように、この実施例では、座標入力装置に接続されたＰＣなど外部機器内のツールを用いて基準ディップ測定ポイントを表示させることができ、その結果、基準ディップの測定者が基準ディップ検出場所を間違えることがなくなり、誰でも容易に基準ディップの測定を行うことができる。
なお、基準ディップを測定する際、受光部１４により受光された１ライン分のデータ（１回受光分のデータ）中から複数のディップを検出した場合には、その１ラインのデータは無視し、検出を行わない。これによって、間違って基準ディップを検出してしまうことがなくなる。
こうして、この実施例によれば、機械毎に測定した基準ディップ（ディップ量および位置）を用いて、タッチ検出時（座標入力時）、光学ユニット２からの距離および位置（方向）によりディップ検出のための信号レベルの閾値を異ならせることができ、したがって、機械によって尾引きやかすれの度合いが大きくなるのを防ぐことができる。
【００１４】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、請求項１記載の発明では、遮蔽位置の座標を検出するに際して、受光部により検出された信号中からディップ箇所を検出するための信号レベルの閾値として遮蔽位置により異なった値を設定する場合に、閾値を算出する基準とするディップ量が予め機械毎に採取され、そのディップ量を用いて機械毎にその機械固有の閾値が設定されるので、尾引きやかすれの度合いを機械に係わりなく少なくすることができる。
また、請求項２記載の発明では、請求項１記載の発明において、基準とするディップ量が個々の機械毎にその機械のタッチパネル面上の指定された位置で測定され、測定されたディップ量が機械内に搭載されている記憶手段に記憶しておかれるので、毎回、基準となるディップ量を採取する必要がなくなる。
また、請求項３記載の発明では、請求項２記載の発明において、基準とするディップ量がタッチパネル面上の複数の位置で測定され、測定されたそれぞれのディップ量がその位置を示す位置情報に対応づけられて機械内に搭載された記憶手段に記憶しておかれるので、最寄の複数の位置における基準とするディップ量を用いて個々のタッチ位置のディップ量を求めることが可能になる。
【００１５】
また、請求項４記載の発明では、請求項３記載の発明において、タッチパネル面上の個々のタッチ位置の閾値を算出するためのそのタッチ位置の基準ディップ量が、測定されたそれぞれのディップ量のうちの最寄の位置のディップ量とその位置情報とを用いて算出されるので、個々のタッチ位置における精度の高い閾値を算出することができる。
また、請求項５記載の発明では、請求項２または請求項３記載の発明において、基準とするディップ量を採取する位置が座標入力装置に接続された外部機器を用いて指定されるので、基準ディップ量を採取する場所を間違えないで済む。
また、請求項６記載の発明では、請求項５記載の発明において、ディップ量採取時、受光部により同時に複数の遮蔽位置が検出された場合、そのときに採取されたディップ量データが全て無視されるので、基準ディップ量を間違えて検出してしまうことを防ぐことができる。
また、請求項７記載の発明では、ディップ量の閾値として遮蔽位置により異なった値を設定する際、座標入力装置のタッチパネル面に基準位置を示す印が表示され、その印の位置へのタッチが行われたとき、その位置の位置情報とディップ量とが予め機械毎に採取され、そのディップ量を用いて機械毎にその機械固有の閾値が設定されるので、請求項１、請求項２、および請求項５記載の発明の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示す座標入力装置の構成図である。
【図２】本発明の一実施例を示す座標入力装置要部の構成図である。
【図３】本発明の一実施例を示す座標入力装置要部の構成ブロック図である。
【図４】本発明の一実施例を示す座標入力装置要部の説明図である。
【図５】本発明の一実施例を示す座標入力装置要部の他の説明図である。
【図６】本発明の一実施例を示す座標入力装置要部の他の説明図である。
【図７】本発明の一実施例を示す座標入力装置要部の他の説明図である。
【図８】本発明の一実施例を示す座標入力装置要部の他の説明図である。
【図９】本発明の一実施例を示す座標入力装置の画面図である。
【図１０】本発明の一実施例を示す座標入力装置の他の画面図である。
【図１１】本発明の一実施例を示す閾値設定方法のシーケンスフロー図である。
【図１２】本発明の一実施例を示す閾値設定方法の動作フロー図である。
【符号の説明】
１　タッチパネル面、２　光学ユニット、３　反射部、４　システム制御部、５　インターフェース部、１１　光源、１４　受光部、２１　ＣＰＵ、２２　ＲＯＭ、２３　ＲＡＭ、２４　画像処理部、２５　データ格納メモリ、２６　シェーディングメモリ、３２　レーザーダイオード、３３　ＣＣＤ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2004062408.tif 000008
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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