(57)【要約】【課題】複数個所の塗装膜のインピーダンスを短時間で効率良く測定する。塗装膜の余寿命推定結果の信頼性を高める。【解決手段】１式の制御部、インターフェイス部に複数の測定プローブを接続する。測定プローブを一斉に塗装膜上に装着し、所定時間経過後にインターフェイス部内のマルチプレクサにて測定プローブを切り替えてインピーダンス測定を実施する。一測定点の周辺の複数個所のインピーダンスを測定し、それらの平均値、最大値、最小値の経時変化から余寿命を推定する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
塗装膜の表面に装着した測定プローブと該塗装膜の下地金属との間に所定波形の電圧を印加して流れる電流波形を測定し、測定した電流波形と印加電圧波形とから塗装膜のインピーダンスを算出して塗装膜の劣化度を診断する塗膜劣化診断装置であって、
演算手段、シーケンス制御手段、記憶手段、入力手段、出力手段を備える制御部と、
複数の測定プローブと、
インターフェイス部とを備え、
該インターフェイス部は、前記制御部からの測定プローブ選択信号に従って前記複数の測定プローブの中から該当する測定プローブを選択し、選択したプローブに対して、前記制御部から受けた印加電圧波形信号をアナログ信号に変換して印加すると共に、このとき流れる電流をディジタル値に変換して前記制御部に送るように構成されていることを特徴とする塗膜劣化診断装置。
【請求項２】
請求項１に記載した塗膜劣化診断装置を用いて被測定点周りの複数個所の塗装膜のインピーダンスを測定してその平均値、最大値、最小値を求め、それらの値の経時変化から塗装膜の余寿命を推定することを特徴とする塗装膜の劣化診断方法。
【請求項３】
請求項２に記載した塗装膜の劣化診断方法を実施するための塗膜劣化診断装置であって、請求項１に記載の塗膜劣化診断装置において、さらに前記制御部にて前記被測定点周りの複数個所の塗装膜のインピーダンスを測定日時と共に記憶し、該インピーダンスの平均値、最大値、最小値の経時変化から塗装膜の余寿命を推定計算することを特徴とする塗膜劣化診断装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、各種構造物、各種機器の表面に形成された塗装膜のインピーダンスを測定し、その経時変化から塗装膜の劣化度を診断する塗膜劣化診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
屋外に設置される橋梁やプラントなどの鋼構造物あるいは変圧器、配電盤などの電気機器には、防食および美観のために塗装がなされる。その塗装膜は太陽光や風雨、腐食性ガスの作用を受けて次第に劣化し、やがて塗装膜の剥離や下地金属の腐食などの欠陥を生じる。この劣化現象は時間と共に進行し、そのまま放置すれば機器の損傷、機能阻害に至るため一般には塗装後、ある期間の経過後ないしは一定期間間隔で塗装の塗り替えが行われる。
【０００３】
この塗装膜の劣化度及び塗り替え時期の評価方法については、種々の提案がなされている。その中の一つに塗装膜のインピーダンスが膜の劣化に伴って変化することに着目し、塗装膜のインピーダンスを測定して劣化度を評価する交流インピーダンス法と呼ばれる方法（例えば、非特許文献１参照）がある。
【０００４】
この交流インピーダンス法は、被測定塗装膜上にアルミ等の導電性板を導電性ゲルを介して接触させて一方の電極とし、下地金属を他方の電極としてこの間に交流電圧を印加する。そして、このとき塗装膜に流れる電流を検出して塗装膜のインピーダンスを算出し、その値あるいはその値の経時変化より塗装膜の劣化度を解析診断するものである。
【０００５】
図４は、このような交流インピーダンス法による従来の塗膜劣化診断装置の代表的な電気回路をブロック図で示したものである。この装置は、制御部１０、インターフェイス部１１、測定プローブ１２とにより構成される。制御部１０は例えば汎用パソコンで構成される。
【０００６】
制御部１０のメモリ１０ｂには測定に先立ち、塗装膜１３に印加する電圧波形を短い時間間隔でサンプリングした波高値データが記憶されている。測定時には記憶していた波高値データを順次読み出し、時分割でインターフェイス部１１内のＤ／Ａ変換器１１ａに次々と出力してアナログの交流電圧を発生させる。
【０００７】
発生した交流電圧は電流測定用の抵抗Ｒ１１を介し、塗装膜１３の表面に装着した測定プローブ１２と下地金属１４との間に印加される。電圧の印加により塗装膜１３のインピーダンスにより決まる微小電流が抵抗Ｒ１１を通して流れ、その微小電流に比例した電圧がその両端に現れる。
【０００８】
この電圧を増幅器１１ｂにて増幅後、Ａ／Ｄ変換器１１ｃにてディジタル量に変換して制御部１０内のＣＰＵ１０ａを介してメモリ１０ｂに時系列的に記憶する。こうして流れた電流の波形データが求められる。次に、得られた電流波形データと、予めメモリ１０ｂに記憶されていた印加電圧波形データとを基に、高速フーリェ変換演算（ＦＦＴ）により印加電圧波形に含まれる周波数に対応する塗装膜のインピーダンスが算出される。
【０００９】
こうした測定を、塗装直後から所定時間間隔で数回実施し、そのインピーダンスの経時変化をグラフに描くと、例えば図５の劣化曲線ａに示すような曲線となる。図５の縦軸はインピーダンスの絶対値の対数、横軸は塗装直後からの経過時間である。劣化曲線ａは殆ど直線に近い曲線を描く。従って、この劣化曲線ａを外挿して塗装膜の寿命と判断されるインピーダンスＺ０に低下するまでの時間（日）を計算すれば、塗装膜の余寿命ａを推定できるとするのが従来のインピーダンス法による塗膜劣化診断の考え方である。
【００１０】
【特許文献１】
特開平６−１０２２１８号報（図１）
【００１１】
【特許文献２】
特開平４−２３５３４０号報（図１、図２）
【００１２】
【特許文献３】
特開平３−１８８３６４号報（図１、図２）
【００１３】
【非特許文献１】
雑誌「防錆管理」、第３４巻、第４号、第１２３〜１２９頁（平成２年４月１日発行）
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、大型機器の場合、塗装膜の劣化速度は場所によって大きく異なり、雨水の溜まりやすい場所、風雪にさらされやすい場所など、環境条件の悪い場所での劣化が激しい。これらの場所は、大まかには特定できるものの、実際には思わぬ場所から劣化が始まることもあり得る。従って、大型機器の場合、劣化状況を正しく把握するには、何カ所もの測定が必要となる。
【００１５】
また、被測定点に決めた特定場所についても、１点のみの測定結果で判断することは、測定値の信頼性の面から問題がある。１点のみの測定では、たまたま健全な場所を測定している場合がある。そうすると劣化曲線は、例えば図５の劣化曲線ａのようになり長い余寿命ａが推定される。しかし、実際には、その被測定点のすぐ近くに劣化の激しい個所がある場合があって、その個所について測定していれば、劣化曲線は劣化曲線ｂのようになって、余寿命は余寿命ｂのようにもっと短いことがあり得るからである。
【００１６】
このような余寿命の推定誤りを防ぐには、被測定点と決めた場所についても１点のみの測定ではなく、その被測定点を中心とした周りの複数個所について測定を実施することが必要である。そして、得られた結果について統計的な処理をすることで、余寿命推定値の信頼性を高めることが望ましい。
【００１７】
このように１つの被測定点について周辺複数個所の測定を行なう場合に問題となるのは、測定に要する時間である。インピーダンス測定を正確に行なうには、測定プローブを塗装膜の表面に密着させる必要がある。このため測定プローブの下面は、導電性ゲルを含浸させたスポンジ状部材で形成され、塗装膜表面の凸凹を吸収して密着しやすい構造にされている。更に、塗装膜の表面に装着する直前には、測定プローブの下面に電解液を塗布して密着性を向上させるようにしている。
【００１８】
しかし、塗装膜の表面には微細な凹凸が多数存在するため、電解液が塗装膜の表面に十分に浸透してインピーダンス測定値が安定し、本測定を開始できるまでには待ち時間を必要とする。この待ち時間は、１時間を超えることもある。この待ち時間を短縮するため、複数のゲル浸透用ダミープローブを、略同時に測定個所にセットし、ゲルが浸透した時点で本測定用プローブと交換する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【００１９】
しかしこの方法によっても、複数のダミープローブの装着と、本測定プローブとの交換などには多大な時間と手間を要する。また、ダミープローブの装着時間にばらつきが生じて、同一条件で測定できないという問題も起こり得る。
【００２０】
本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するためになされたもので、その第１の目的は、一つの被測定点を中心とした周辺複数個所の塗装膜のインピーダンスを作業性良く、短時間で測定できる塗膜劣化診断装置を提供することにある。そして第２の目的は、一つの被測定点周りの複数個所の塗装膜のインピーダンス測定を行い、得られた複数の測定値に基づいて信頼性の高い余寿命推定値を得ることができる劣化診断方法、およびその方法を自動的に実施する劣化診断装置を提供することにある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
前記第１の目的を達成するための請求項１に記載の発明は、塗装膜の表面に装着した測定プローブと該塗装膜の下地金属との間に所定波形の電圧を印加して流れる電流波形を測定し、測定した電流波形と印加電圧波形とから塗装膜のインピーダンスを算出して塗装膜の劣化度を診断する塗膜劣化診断装置である。該装置は、演算手段、シーケンス制御手段、記憶手段、入力手段、出力手段を備える制御部と、複数の測定プローブと、インターフェイス部とを備える。そして、インターフェイス部は、前記制御部からの測定プローブ選択信号に従って前記複数の測定プローブの中から該当する測定プローブを選択し、選択したプローブに対して、前記制御部から受けた印加電圧波形信号をアナログ信号に変換して印加すると共に、このとき流れる電流をディジタル値に変換して前記制御部に送るように構成されていることを特徴とする塗膜劣化診断装置である。
このように構成したことにより、複数個所の塗装膜のインピーダンスを短時間で、作業性良く測定できる効果がある。
【００２２】
前記第２の目的を達成するための請求項２に記載の発明は、請求項１に記載した塗膜劣化診断装置を用いて被測定点周りの複数個所の塗装膜のインピーダンスを測定してその平均値、最大値、最小値を求め、それらの値の経時変化から塗装膜の余寿命を推定することを特徴とする塗装膜の劣化診断方法である。
【００２３】
この方法によれば、一つの被測定点周りの複数個所の塗装膜のインピーダンスを測定し、その複数データに基づき平均推定余寿命、最短推定余寿命、最大推定余寿命、余寿命注意期間等の余寿命に関する推定値を求めるので、劣化診断結果に対する信頼性が向上する。従って、被測定点について１個所しか測定しない従来の診断方法に比べ、より適切で信頼性の高い塗装膜の管理が可能となる。
【００２４】
また、請求項３に記載の発明は、請求項２に記載した塗装膜の劣化診断方法を実施するための塗膜劣化診断装置であって、請求項１に記載の塗膜劣化診断装置において、さらに前記制御部にて前記被測定点周りの複数個所の塗装膜のインピーダンスを測定日時と共に記憶し、該インピーダンスの平均値、最大値、最小値の経時変化から塗装膜の余寿命を推定計算することを特徴とする塗膜劣化診断装置である。
このような構成とすることで、請求項１に記載の発明の効果と請求項２に記載の効果とを合わせて達成することが可能となる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の塗膜劣化診断装置および塗膜劣化診断方法について図面を参照しながら説明する。
図１は、本発明にかかる塗膜劣化診断装置の一実施形態を示す電気的構成をブロック図で示したものである。本実施形態の塗膜劣化診断装置は、制御部１、インターフェイス部２、複数の測定プローブ３ａ〜３ｄから構成される。図１は測定プローブが４個の場合を例示している。
【００２６】
制御部１は、演算手段、シーケンス制御手段、記憶手段、入力手段、出力手段として機能する部分であり、ＣＰＵ１ａ、メモリ１ｂ、ディスクメモリ１ｃ、キーボード１ｄ、表示器１ｅとを備える。制御部１としては、汎用パソコンを使用してもよい。ＣＰＵ１ａがメモリ１ｂあるいはディスクメモリ１ｃに予め記憶されたプログラムを実行することにより、演算手段、シーケンス制御手段としての機能を果たす。メモリ１ｂと、ハードディスクあるいはフロッピーディスクからなるディスクメモリ１ｃは、前記演算手段、シーケンス制御手段に必要なプログラム、及び測定データを記憶する記憶手段として機能する。入力手段としては、キーボードを使用しているがタッチパネル等の他の入力機器も使用できる。出力手段である表示器１ｅとしては、液晶表示器、ＣＲＴなどを使用する。
【００２７】
複数の測定プローブ３ａ〜３ｄの各々は同一仕様の測定プローブで、その仕様は従来の測定プローブと同じものである。具体的には、内面が白金電極で覆われたプローブ容器の内部に導電性ゲルを含浸させたスポンジ状部材を詰め込んだ構造で、プローブ下面は下方に僅かに凸になるように形成してある（例えば、特許文献３参照）。
【００２８】
インターフェイス部２は、制御部１と複数の測定プローブ３ａ等との間で、電気信号を仲介する役割を果たすものである。インターフェイス部２は、Ｄ／Ａ変換器２ａ、抵抗Ｒ、増幅器２ｂ、Ａ／Ｄ変換器２ｃ、マルチプレクサ２ｄにより構成される。Ｄ／Ａ変換器２ａは、制御部１から送られてくる印加電圧波形データをアナログ電圧に変換する。Ｄ／Ａ変換器２ａの出力側には、必要に応じて一定倍率の電圧増幅を行なうバッファ増幅器（図示しない）を設けても良い。Ｄ／Ａ変換器２ａの出力電圧は、抵抗Ｒを介してマルチプレクサ２ｄの入力端子Ｎ１と接地Ｖｓｓとの間に印加される。
【００２９】
抵抗Ｒは、塗装膜４に流れる微小電流を電圧に変換して増幅器２ｂに入力する。増幅器２ｂで増幅された電圧は、Ａ／Ｄ変換器２ｃにおいて所定の時間間隔でＡ／Ｄ変換されてディジタル量となり、制御部１に送られてメモリ１ｂあるいはディスクメモリ１ｃに記憶される。所定の時間間隔でＡ／Ｄ変換されることにより、塗装膜４に流れる電流波形データが制御部１で把握されることになる。
【００３０】
マルチプレクサ２ｄは、ディジタル出力ユニット（以下、ＤＯという）２ｅと複数のリレー２ｆ（コイルは省略）から構成される。制御部１からの測定プローブ選択信号をＤＯ（２ｅ）で受け、該当する測定プローブへの信号を開閉するリレーのコイルを駆動して接点をＯＮさせる。これにより、選択された測定プローブにのみ、Ｄ／Ａ変換器２ａで生成された電圧が伝えられることとなり、その測定プローブと接地された下地金属５上の塗装膜４に電圧が印加される。そして、その選択された測定プローブに流れる電流のみが抵抗Ｒにより電圧に変換される。
【００３１】
マルチプレクサ２ｄ内における信号の切り替えには、リレー２ｆの代わりにアナログスイッチを使用してもよい。制御部１とインターフェイス２との間の通信は、有線通信の他に赤外線通信、無線通信を利用してもよい。
【００３２】
次に、このように構成された塗膜劣化診断装置の動作と操作について説明する。測定者は、前準備として複数の測定プローブ３ａ〜３ｄを測定個所の塗装膜４の表面に装着する。この際、各測定プローブと塗装膜５との密着性を高めるために、各測定プローブの下面に電解液を塗布して装着する。下地金属５は接地Ｖｓｓに接続する。測定プローブ３ａ〜３ｄの装着は、短時間内に行なう。これは、本測定までのゲル浸透時間のばらつきを少なくし、同一条件で測定できるようにするためである。
【００３３】
装着後、ゲルが十分に浸透したと思われる時間を待って本測定に移る。キーボード１ｄを操作し、本測定開始を制御部１に指令する。ＣＰＵ１ａは、メモリ１ｂに記憶されているシーケンス制御プログラムに従い、最初に測定を行なう測定プローブを選択する信号をＤＯ（２ｅ）に送る。ＤＯ（２ｅ）は、選択された測定プローブ、例えば３ａに対応するリレーを動作させ、選択された測定プローブ３ａとＤ／Ａ変換器２ａの出力側抵抗Ｒとを接続状態にする。
【００３４】
次にＣＰＵ１ａは、メモリ１ｂより測定プローブへの印加電圧波形データを読み出す。電圧波形としては、単一周波数の低周波正弦波を使用してもよいが、塗膜劣化診断の信頼性を高めるために、複数の周波数に対する塗膜インピーダンスを測定することが好ましい。この複数の周波数に対する塗装膜４のインピーダンス測定を迅速に行なうためは、複数の周波数成分を含む合成電圧波形を使用する。合成に使用する正弦波交流波形の周波数は、０．１〜５０Ｈｚの範囲が好ましい。このような周波数範囲を選ぶのは、塗装膜４のインピーダンスの経年変化がこの範囲の周波数を使用して測定したインピーダンスに対して顕著に現れるからである。また、波形の合成に当っては、ピーク電圧を一定範囲内に抑えるために、各波形の位相をランダム化して合成する。その合成電圧波形の一例を図２に示す。この合成電圧波形を、短い時間間隔でサンプリングして波高値データとして事前にメモリ１ｂあるいはディスクメモリ１ｃに記憶させておく。
【００３５】
ＣＰＵ１ａは、波高値データを順次読み出し、時分割でＤ／Ａ変換器２ａに次々と出力する。出力された波高値データはＤ／Ａ変換器２ａにて直ちにアナログ値に変換されて、Ｄ／Ａ変換器２ａの出力にアナログ交流電圧が発生する。発生した交流電圧は電流測定用の抵抗Ｒを介し、リレー２ｆの選択された接点を通り、選択された測定プローブ３ａに伝えられる。こうして、選択された測定プローブ３ａと下地金属５との間の塗装膜４に電圧が印加される。
【００３６】
電圧の印加により選択された測定プローブ４ａと下地金属５とに挟まれた部分の塗装膜４のインピーダンスによって決まる微小電流が抵抗Ｒを通して流れ、その電流に比例した電圧が抵抗Ｒの両端に現れる。
【００３７】
発生した電圧は増幅器２ｂにて増幅された後、Ａ／Ｄ変換器２ｃにて所定のサンプリング間隔でディジタル値に変換され、制御部１内のＣＰＵ１ａを介してメモリ１ｂに時系列的に記憶される。このようにして、選択された測定プローブ４ａに流れる電流波形データが取得される。
【００３８】
続いてＣＰＵ１ａは、次の測定プローブ、例えば測定プローブ４ｂを選択する信号をＤＯ（２ｅ）に送る。そして、上述の場合と同様にして測定プローブ４ｂ下の塗装膜４に流れる電流波形データを取得する。こうした操作を全ての測定プローブについて連続して実行することにより、全ての測定プローブ下の塗装膜４についての電流波形データが取得される。
【００３９】
次にＣＰＵ１ａは、取得した電流波形データに基づいて塗装膜４のインピーダンスを求める計算に移る。インピーダンスの計算は、取得した電流波形データと、予めメモリ１ｂ内に記憶している印加電圧波形データとから、高速フーリェ変換演算（ＦＦＴ）プログラムを使用して、印加電圧波形中に含まれる複数の周波数に対応する塗膜インピーダンスを計算する。算出されたインピーダンスは、測定日時、測定場所、測定条件等と共にディスクメモリ１ｃに記憶されると共に、表示器１ｅにも表示される。こうして一つの被測定点について、周辺の複数個所の塗装膜のインピーダンスが求まる。
【００４０】
このように、本実施形態の塗膜劣化診断装置によれば、複数個所の塗装膜のインピーダンスを短時間で測定できる。即ち、測定プローブのゲルが塗装膜表面に十分に浸透して本測定に入れるまでの時間を例えば１時間とすると、測定プローブが１個の装置を用いて４ポイントの測定をする場合には４時間もの時間がかかる。これに対して本実施形態のように４個の測定プローブを備えた装置を使用すれば、４個所の測定に要する時間は１／４の１時間程度で済むという効果がある。また、前述したダミープローブを使用する方法と比べても、測定途中にダミープローブと測定プローブとを交換するといった面倒な作業が不必要となるため、作業性が良く、能率が向上する効果がある。
【００４１】
次に、以上のようにして取得された塗装膜のインピーダンスから、塗装膜の劣化診断を行なう方法と装置について説明する。劣化診断は、前述したようなインピーダンスの測定を同じ被測定点について、塗装直後から所定の時間（日）間隔をおいて数回実施し、得られたインピーダンスの経時変化をグラフに描いて解析することにより行なう。
【００４２】
この劣化診断は、測定を行なう都度、測定者が測定結果を記録しておき、自分でグラフを描いて診断する方法で行なうこともできる。また、測定結果を測定の都度、フロッピーディスクに記憶して保管しておき、新たな測定を実施した時に測定者が過去の測定データをフロッピーディスクから制御部１に戻して、制御部１でグラフを描かせて診断させる半自動方式で行なうこともできる。しかし、最も好ましい方式は、ディスクメモリ１ｃに記憶容量の大きなメモリを使用して、測定データをすべてそこに保管しておくことである。そして、新たなインピーダンス測定が完了した時点で、制御部１が自動的に過去の測定データをディスクメモリ１ｃから読み出し、自動的に経時変化のグラフを描き、その結果から次に述べるような論理で平均推定余寿命、最短推定余寿命、余寿命注意期間等の計算を自動的に行なうように劣化診断装置を構築しておくことが好ましい。
【００４３】
劣化の診断は、新たに得られた測定データと過去の測定データとで、インピーダンスの経時変化を表す図３に示すようなグラフを作成することから始める。前記実施形態の装置を使用した場合、同じ被測定点について周囲数個所の測定データが得られる。従って、ある測定時間（日）における測定値は、図５の場合のように１点ではなく複数存在する。それらの値は等しくないので、グラフ上では図３の測定値Ｐ１、測定値Ｐ２に示すように幅を持った分布となる。
【００４４】
劣化診断で一番に知りたい情報は、塗装膜の余寿命、即ち、塗装の塗り替えを必要とする時期までの残り時間（日数）である。ここで、塗り替えを必要とする時期とは、塗装膜のインピーダンスが、寿命と考えられるインピーダンスＺ０に低下する時期をいう。
【００４５】
測定した被測定点周囲でも、塗装膜の劣化が激しい個所、それほど激しくない個所が存在するのでまず平均の余寿命を求める。そのためには、各測定時期における複数個所の測定データの平均値を求め、それらの点を結ぶ曲線、図３中の平均劣化曲線を外挿してインピーダンスがＺ０に低下するまでの残り時間を計算する。図３上では、ａ点とｂ点との間の時間がそれに相当する。これより平均推定余寿命が求まる。
【００４６】
また、劣化程度には“ばらつき  ”があるので、最短の余寿命の推定値も求めておくことが、適切な塗装膜管理のためには重要である。劣化が最も急速に進む個所の劣化曲線は、各測定時期における最もインピーダンス値が低い値の点を結んだ曲線、図３中の劣化最大曲線と推定される。この曲線を外挿し、寿命と判断するインピーダンスＺ０に低下する時期を求める。図３上ではｃ点がこれに相当する時期であり、ａ点とｃ点との間の時間から最短推定余寿命が求まる。
【００４７】
また、各測定時期における最もインピーダンス値の高い点を結んだ曲線、図３中の劣化最小曲線を外挿して、寿命インピーダンスＺ０に低下する時期も求める。図３上ではｄ点がこの時期に当たり、ａ点とｄ点との間の時間は、最長でもここまでと推定される余寿命、最長推定余寿命を意味している。
【００４８】
これらの推定計算により、平均推定余寿命、最短推定余寿命、最長推定余寿命、それに最短推定余寿命と最長推定余寿命との間の余寿命注意期間が求められる。こうして求めた余寿命推定値に基づき、諸般の事情を考慮して次回の塗り替え時期を決定する。このようにすることで、被測定点について１個所しか測定しない従来の劣化診断方法、劣化診断装置に比べ、より適切で信頼性の高い塗装膜の管理が可能となる。
【００４９】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明の塗膜劣化診断装置及び診断方法によれば、以下に述べる優れた効果を得ることができる。
請求項１に記載の発明によれば、複数個所の塗装膜のインピーダンスを短時間で、作業性良く測定できる。
請求項２及び請求項３に記載の発明によれば、一つの被測定点周りの複数個所の塗装膜のインピーダンスを測定し、その複数データに基づき平均推定余寿命、最短推定余寿命、最長推定余寿命、余寿命注意期間等を求めるので、劣化診断結果に対する信頼性が向上する。従って、被測定場所について１点しか測定しない従来の診断方法、診断装置に比べ、より適切で信頼性の高い塗装膜の管理が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の塗膜劣化診断装置の一実施形態を示す電気回路のブロック図である。
【図２】印加電圧波形の一例である。
【図３】塗装膜のインピーダンスの経時変化から余寿命を推定する概念図である。
【図４】従来技術を示す図１相当図である。
【図５】従来技術による図３相当図である。
【符号の説明】
図中、１は制御部、２はインターフェイス部、２ｄはマルチプレクサ、２ｅはディジタル出力ユニット（ＤＯ）、３ａ〜３ｄは測定プローブ、２ｆはリレー、４は塗装膜、５は下地金属、Ｒは抵抗を示す。
【図１】
2004157087.tif 000003
【図２】
2004157087.tif 000004
【図３】
2004157087.tif 000005
【図４】
2004157087.tif 000006
【図５】
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