(57)【要約】【課題】複数のポートを有する被測定物を測定する測定装置における測定データを被測定物のポートと対応づけしやすくする。【解決手段】Ｓ１１、Ｓ２２といった測定装置の入出力端子に関連付けられたＳパラメータを、ＳＡＴＮ−ＡＴＮ、ＳＴｘ−Ｔｘといった被測定物のポート（ＡＴＮ、Ｔｘ等）に対応づけられた表記に変換するため、測定データを被測定物のポートと対応づけしやすくなる。【選択図】　図４
2004138465.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のポートを有する被測定物の特性を測定する測定装置であって、
前記ポートに接続される入出力端子と、
前記入出力端子に対応づけられた前記特性を測定する特性測定手段と、
前記入出力端子と前記ポートとの対応関係を記録する対応関係記録手段と、
前記特性測定手段の測定結果を、前記対応関係記録手段の記録内容に基づき、前記ポートに対応づける特性対応づけ手段と、
を備えた測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記対応関係記録手段に前記入出力端子と前記ポートとの対応関係を入力する対応関係入力手段を備えた測定装置。
【請求項３】
請求項２に記載の測定装置であって、
前記対応関係入力手段は、前記被測定物から前記入出力端子と前記ポートとの対応関係を取得する測定装置。
【請求項４】
請求項１ないし３のいずれか一項に記載の測定装置であって、
前記特性は、Ｓパラメータあるいは伝達関数である測定装置。
【請求項５】
請求項１ないし４のいずれか一項に記載の測定装置であって、
前記特性対応づけ手段の出力結果を表示する表示手段を備えた測定装置。
【請求項６】
請求項５に記載の測定装置であって、
前記表示手段は、前記特性を表示させる被測定物を選択させる選択手段を有する測定装置。
【請求項７】
複数のポートを有する被測定物の特性を測定する測定装置であって、前記ポートに接続される入出力端子と、前記入出力端子に対応づけられた前記特性を測定する特性測定手段とを有する測定装置による測定方法であって、
前記入出力端子と前記ポートとの対応関係を記録する対応関係記録工程と、
前記特性測定手段の測定結果を、前記対応関係記録工程による記録内容に基づき、前記ポートに対応づける特性対応づけ工程と、
を備えた測定方法。
【請求項８】
複数のポートを有する被測定物の特性を測定する測定装置であって、前記ポートに接続される入出力端子と、前記入出力端子に対応づけられた前記特性を測定する特性測定手段とを有する測定装置による測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記入出力端子と前記ポートとの対応関係を記録する対応関係記録処理と、
前記特性測定手段の測定結果を、前記対応関係記録処理による記録内容に基づき、前記ポートに対応づける特性対応づけ処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項９】
複数のポートを有する被測定物の特性を測定する測定装置であって、前記ポートに接続される入出力端子と、前記入出力端子に対応づけられた前記特性を測定する特性測定手段とを有する測定装置による測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記入出力端子と前記ポートとの対応関係を記録する対応関係記録処理と、
前記特性測定手段の測定結果を、前記対応関係記録処理による記録内容に基づき、前記ポートに対応づける特性対応づけ処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は複数のポートを有する被測定物を測定する測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、Ｓパラメータを計測するネットワークアナライザおよび伝達関数を計測するＦＦＴアナライザのような、複数の入出力端子を有する測定装置がある。このような測定装置は、複数のポートを有する被測定物（ＤＵＴ：Ｄｅｖｉｃｅ　Ｕｎｄｅｒ　Ｔｅｓｔ）のＳパラメータあるいは伝達関数を計測する。
【０００３】
図６に、従来技術のネットワークアナライザに被測定物（ＤＵＴ）を接続して、Ｓパラメータを計測するシステムを示す。ＤＵＴ２００にはＴｘ、ＡＴＮ、Ｒｘといったポートがある。これらのポートが、ネットワークアナライザ１００の入出力端子１０２１、１０２２、１０２３に接続されている。ネットワークアナライザ１００は、入出力端子１０２１、１０２２、１０２３から取得した測定データに基づき、ＳパラメータＳ１１、Ｓ２１、Ｓ３１、Ｓ１２、Ｓ２２、Ｓ３２、Ｓ１３、Ｓ２３、Ｓ３３を測定し表示する。なお、ＳパラメータＳｉｊのｉおよびｊは、入出力端子１０２１、１０２２、１０２３を示す。例えば、Ｓ２３は、入出力端子１０２２および入出力端子１０２３から取得したデータに基づき測定されたＳパラメータである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ネットワークアナライザ１００において、ＳパラメータＳ１１、Ｓ２１、…が表示されても、そのＳパラメータがＤＵＴ２００のＴｘ、ＡＴＮ、Ｒｘのいずれのポートに対応するものかがわかりにくい。
【０００５】
これは、伝達関数を計測するＦＦＴアナライザについても同様なことがいえる。すなわち、伝達関数ＨＡＢ、ＨＡＣ、…といったデータが表示されるが（Ａ、Ｂ、Ｃ、…はＦＦＴアナライザの入出力端子の名称）、その伝達関数がＤＵＴのどのポートに対応するものかがわかりにくい。
【０００６】
そこで、本発明は、複数のポートを有する被測定物を測定する測定装置における測定データを被測定物のポートと対応づけしやすくすることを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、複数のポートを有する被測定物の特性を測定する測定装置であって、ポートに接続される入出力端子と、入出力端子に対応づけられた特性を測定する特性測定手段と、入出力端子とポートとの対応関係を記録する対応関係記録手段と、特性測定手段の測定結果を、対応関係記録手段の記録内容に基づき、ポートに対応づける特性対応づけ手段とを備えるように構成される。
【０００８】
上記のように構成された測定装置によれば、入出力端子に対応づけられた特性がポートに対応づけられるため、測定装置における測定データを被測定物のポートと対応づけしやすい。
【０００９】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明であって、対応関係記録手段に入出力端子とポートとの対応関係を入力する対応関係入力手段を備えたように構成される。
【００１０】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の発明であって、対応関係入力手段は、被測定物から入出力端子とポートとの対応関係を取得するように構成される。
【００１１】
請求項４に記載の発明は、請求項１ないし３のいずれか一項に記載の発明であって、特性は、Ｓパラメータあるいは伝達関数であるように構成される。
【００１２】
請求項５に記載の発明は、請求項１ないし４のいずれか一項に記載の発明であって、特性対応づけ手段の出力結果を表示する表示手段を備えるように構成される。
【００１３】
請求項６に記載の発明は、請求項５に記載の発明であって、表示手段は、特性を表示させる被測定物を選択させる選択手段を有するように構成される。
【００１４】
請求項７に記載の発明は、複数のポートを有する被測定物の特性を測定する測定装置であって、ポートに接続される入出力端子と、入出力端子に対応づけられた特性を測定する特性測定手段とを有する測定装置による測定方法であって、入出力端子とポートとの対応関係を記録する対応関係記録工程と、特性測定手段の測定結果を、対応関係記録工程による記録内容に基づき、ポートに対応づける特性対応づけ工程と、を備えるように構成される。
【００１５】
請求項８に記載の発明は、複数のポートを有する被測定物の特性を測定する測定装置であって、ポートに接続される入出力端子と、入出力端子に対応づけられた特性を測定する特性測定手段とを有する測定装置による測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、入出力端子とポートとの対応関係を記録する対応関係記録処理と、特性測定手段の測定結果を、対応関係記録処理による記録内容に基づき、ポートに対応づける特性対応づけ処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラムである。
【００１６】
請求項９に記載の発明は、複数のポートを有する被測定物の特性を測定する測定装置であって、ポートに接続される入出力端子と、入出力端子に対応づけられた特性を測定する特性測定手段とを有する測定装置による測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、入出力端子とポートとの対応関係を記録する対応関係記録処理と、特性測定手段の測定結果を、対応関係記録処理による記録内容に基づき、ポートに対応づける特性対応づけ処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００１８】
図１は、本発明の実施形態にかかるネットワークアナライザ（測定装置）の構成を示すブロック図である。
【００１９】
ネットワークアナライザ（測定装置）１は、第一ＤＵＴ（被測定物：Ｄｅｖｉｃｅ　Ｕｎｄｅｒ　Ｔｅｓｔ）８２、第二ＤＵＴ８４および第三ＤＵＴ８６の特性（Ｓパラメータ）を測定する。第一ＤＵＴ８２、第二ＤＵＴ８４および第三ＤＵＴ８６はデュプレクサであり、それぞれがポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘを有する。
【００２０】
ネットワークアナライザ（測定装置）１は、特性測定部１０、特性記録部２０、対応関係記録部３２、対応関係入力部３４、特性対応付け部４０、表示部５０を備える。
【００２１】
特性測定部１０は、入出力端子１２ｉ（ｉ＝１〜９）に対応づけられた特性（Ｓパラメータ）を測定する。
【００２２】
特性測定部１０は、データ取得部１２および特性演算部１４を有する。データ取得部１２は、入出力端子１２ｉ（ｉ＝１〜９）を有する。入出力端子１２ｉは、第一ＤＵＴ８２、第二ＤＵＴ８４および第三ＤＵＴ８６のポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘに接続される。すなわち、入出力端子１２ｉ（ｉ＝１〜３）は、第一ＤＵＴ８２のポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘに、入出力端子１２ｉ（ｉ＝４〜６）は、第二ＤＵＴ８４のポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘに、入出力端子１２ｉ（ｉ＝７〜９）は、第三ＤＵＴ８６のポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘに接続されている。データ取得部１２は、入出力端子１２ｉ（ｉ＝１〜９）からデータ（例えば、電圧等）を取得する。
【００２３】
特性演算部１４は、データ取得部１２が取得した入出力端子１２ｉごとのデータを基に、入出力端子１２ｉに対応づけられた特性（Ｓパラメータ）を測定する。
【００２４】
特性記録部２０は、特性演算部１４が測定した入出力端子１２ｉに対応づけられた特性（Ｓパラメータ）を記録する。特性記録部２０の記録内容を図２に示す。図２に示すように、第一ＤＵＴ８２についてはＳｉｊ（ｉ＝１〜３、ｊ＝１〜３）が記録される。ただし、ｉおよびｊは、入出力端子１２１、１２２、１２３を示す。例えば、Ｓ２３は、入出力端子１２２および入出力端子１２３から取得したデータに基づき測定されたＳパラメータである。第二ＤＵＴ８４についてはＳｉｊ（ｉ＝４〜６、ｊ＝４〜６）が記録される。ただし、ｉおよびｊは、入出力端子１２４、１２５、１２６を示す。例えば、Ｓ５６は、入出力端子１２５および入出力端子１２６から取得したデータに基づき測定されたＳパラメータである。第三ＤＵＴ８６についてはＳｉｊ（ｉ＝７〜９、ｊ＝７〜９）が記録される。ただし、ｉおよびｊは、入出力端子１２７、１２８、１２９を示す。例えば、Ｓ８９は、入出力端子１２８および入出力端子１２９から取得したデータに基づき測定されたＳパラメータである。
【００２５】
対応関係記録部３２は、入出力端子１２ｉとポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘとの対応関係を記録する。対応関係記録部３２の記録内容を図３に示す。図３に示すように、入出力端子１２１は第一ＤＵＴ８２のポートＡＴＮに、入出力端子１２２は第一ＤＵＴ８２のポートＴｘに対応付けられていることが記録されている。
【００２６】
対応関係入力部３４は、対応関係記録部３２に入出力端子１２ｉとポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘとの対応関係を入力する。入力は、ユーザが行なってもよい。あるいは、第一ＤＵＴ８２、第二ＤＵＴ８４および第三ＤＵＴ８６から、対応関係を取得してもよい。
【００２７】
特性対応付け部４０は、特性記録部２０に記録された、特性測定部１０の測定結果であるところの入出力端子１２ｉに対応づけられた特性（Ｓパラメータ）を、対応関係記録部３２の記録内容に基づきポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘに対応づける。特性対応付け部４０の出力結果を図４に示す。図４において、点線で囲んだ部分は特性記録部２０の記録内容であり、これが実線で囲んだ部分のように特性対応付け部４０によって変換される。例えば、Ｓ１２の添字の１は入出力端子１２１を、添字の２は入出力端子１２２を示す。入出力端子１２１はポートＡＴＮに、入出力端子１２２はポートＴｘに対応する。よって、Ｓ１２をポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘに対応づけると、ＳＡＴＮ−Ｔｘとなる。
【００２８】
表示部５０は、特性対応付け部４０の出力内容を表示する。表示部５０は、ＤＵＴ選択部５２、特性表示部５４を有する。
【００２９】
表示部５０の表示内容を図５に示す。ＤＵＴ選択部５２は、ＤＵＴ１（第一ＤＵＴ８２に対応）、ＤＵＴ２（第二ＤＵＴ８４に対応）およびＤＵＴ３（第三ＤＵＴ８６に対応）を表示し、特性を表示すべき被測定物を選択させる。選択は、例えばクリック、カーソルをあわせるなどすればよい。
【００３０】
特性表示部５４は、選択部５２により選択された被測定物の特性を表示する。図５に示す例では選択部５２によりＤＵＴ２が選択されているので、第二ＤＵＴ８４の特性（Ｓパラメータ）が表示される。
【００３１】
次に、本発明の実施形態の動作を説明する。
【００３２】
まず、第一ＤＵＴ８２、第二ＤＵＴ８４および第三ＤＵＴ８６の各ポートをネットワークアナライザ１の各入出力端子１２ｉに接続する。そして、データ取得部１２は各入出力端子１２ｉからデータ（例えば、電圧等）を取得する。特性演算部１４は、データ取得部１２が取得した入出力端子１２ｉごとのデータを基に、入出力端子１２ｉに対応づけられた特性（Ｓパラメータ）を測定する。特性記録部２０は、特性演算部１４が測定した入出力端子１２ｉに対応づけられた特性（Ｓパラメータ）を記録する。
【００３３】
また、対応関係入力部３４から対応関係記録部３２に入出力端子１２ｉとポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘとの対応関係を入力する。
【００３４】
そして、特性対応付け部４０は、特性記録部２０に記録された、特性測定部１０の測定結果であるところの入出力端子１２ｉに対応づけられた特性（Ｓパラメータ）を、対応関係記録部３２の記録内容に基づきポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘに対応づける。対応づけた結果は表示部５０により表示される。
【００３５】
本発明の実施形態によれば、入出力端子１２ｉに対応づけられた特性（Ｓパラメータ）がポートＡＴＮ、Ｔｘ、Ｒｘに対応づけられるため、ネットワークアナライザ（測定装置）１における測定データを第一ＤＵＴ８２、第二ＤＵＴ８４および第三ＤＵＴ８６のポートと対応づけしやすい。例えば、表示部５０において、Ｓ１２といったどのポートに対応するかわかりにくい表示ではなく、ＳＡＴＮ−Ｔｘといったどのポートに対応するかわかりやすい（ポートＡＴＮ、Ｔｘに対応）表示が可能となる。
【００３６】
なお、本発明の実施形態においては、測定装置としてネットワークアナライザを例に挙げて説明した。しかし、測定装置としてＦＦＴアナライザを使用してもかまわない。このような場合は、被測定物の二ポート間の伝達関数を測定することとなる。すなわち、測定装置は、被測定物のポートに関するデータを測定するものであればよい。
【００３７】
ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分（例えば、対応関係記録部３２および特性対応付け部４０）を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、光特性測定装置を実現できる。
【００３８】
【発明の効果】
本発明によれば、入出力端子に対応づけられた特性がポートに対応づけられるため、測定装置における測定データを被測定物のポートと対応づけしやすい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態にかかるネットワークアナライザ（測定装置）の構成を示すブロック図である。
【図２】特性記録部２０の記録内容を示す図である。
【図３】対応関係記録部３２の記録内容を示す図である。
【図４】特性対応付け部４０の出力結果を示す図である。
【図５】表示部５０の表示内容を示す図である。
【図６】従来技術のネットワークアナライザに被測定物（ＤＵＴ）を接続して、Ｓパラメータを計測するシステムを示す図である。
【符号の説明】
１　ネットワークアナライザ（測定装置）
１０　特性測定部
１２　データ取得部
１２ｉ　入出力端子
１４　特性演算部
２０　特性記録部
３２　対応関係記録部
３４　対応関係入力部
４０　特性対応付け部
５０　表示部
８２　第一ＤＵＴ
８４　第二ＤＵＴ
８６　第三ＤＵＴ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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