(57)【要約】【課題】トグルイベントが伝搬しない半導体回路内の素子に関するトグル情報３も参照して検出対象の故障を抽出するため、実際に故障を検出する可能性のない故障が検出対象として抽出され、無駄な故障シミュレーションを実施することがあるなどの課題があった。【解決手段】トグルシミュレーション部１２から出力されたトグル情報１３を参照して、トグルイベントが伝搬する回路内の素子を抽出するトグルイベント伝搬チェック部１４を設け、そのトグルイベント伝搬チェック部１４により抽出された素子に係るトグル伝搬情報１５から故障シミュレーションによる検出対象の故障をリストアップする。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストパターンを入力してトグルシミュレーションを実施し、回路内の信号線のトグル情報を出力するトグルシミュレーション手段と、上記トグルシミュレーション手段から出力されたトグル情報を参照して、トグルイベントが伝搬する回路内の素子を抽出する素子抽出手段と、上記素子抽出手段により抽出された素子に係るトグル情報から故障シミュレーションによる検出対象の故障をリストアップするリストアップ手段と、上記テストパターンを入力して上記リストアップ手段によりリストアップされた故障に関する故障シミュレーションを実施する故障シミュレーション手段とを備えた故障シミュレーション装置。
【請求項２】
素子抽出手段は、入力側にトグルイベントが発生したとき、出力側にトグルイベントが発生する素子を抽出することを特徴とする請求項１記載の故障シミュレーション装置。
【請求項３】
リストアップ手段は、素子抽出手段により抽出された素子に係るトグル情報が信号値“０”への移行を示す場合、“１”縮退故障をリストアップし、そのトグル情報が信号値“１”への移行を示す場合、“０”縮退故障をリストアップすることを特徴とする請求項１記載の故障シミュレーション装置。
【請求項４】
複数のテストパターンが用意されている場合、素子抽出手段により抽出された素子の個数が多いテストパターンから順番に故障シミュレーション手段に与えるテストパターン入力手段を設けたことを特徴とする請求項１から請求項３のうちのいずれか１項記載の故障シミュレーション装置。
【請求項５】
テストパターンを入力してトグルシミュレーションを実施し、回路内の信号線のトグル情報を出力するトグルシミュレーション手順と、上記トグルシミュレーション手順から出力されたトグル情報を参照して、トグルイベントが伝搬する回路内の素子を抽出する素子抽出手順と、上記素子抽出手順により抽出された素子に係るトグル情報から故障シミュレーションによる検出対象の故障をリストアップするリストアップ手順と、上記テストパターンを入力して上記リストアップ手順によりリストアップされた故障に関する故障シミュレーションを実施する故障シミュレーション手順とをコンピュータに実行させるための故障シミュレーションプログラム。
【請求項６】
複数のテストパターンが用意されている場合、素子抽出手順により抽出された素子の個数が多いテストパターンから順番に故障シミュレーション手順に与えるテストパターン入力手順を設けたことを特徴とする請求項５記載の故障シミュレーションプログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、半導体集積回路の故障を検出する故障シミュレーション装置及び故障シミュレーションプログラムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図５は従来の故障シミュレーション装置を示す構成図であり、図において、１は半導体集積回路の入力端子に与える時々刻々の信号値が記述されているテストパターン、２はテストパターン１を入力してトグルシミュレーションを実施し、そのトグルシミュレーションにより信号値が確定した信号線が半導体集積回路内に存在する場合、その信号線の信号値を示すトグル情報３を出力するトグルシミュレーション部、３は信号線の信号値を示すトグル情報、４は故障シミュレーションにより検出可能な故障がリストアップされている故障リストである。
【０００３】
５はトグルシミュレーション部２から出力されたトグル情報３を参照して、故障リスト４の中から実際に検出対象とする故障を抽出してリストアップするトグル故障抽出部、６は検出対象の故障がリストアップされている分割故障リスト、７はトグルシミュレーション部２から出力されたトグル情報３の個数が多いテストパターン１から順番に故障シミュレーション部９に与えるテストパターン入力順序変更部、８は入力順序が並び換えられたテストパターン、９はテストパターン８を入力して、分割故障リスト６にリストアップされている故障に関する故障シミュレーションを実施する故障シミュレーション部である。
図６は従来の故障シミュレーション装置の処理内容を示すフローチャートである。
【０００４】
次に動作について説明する。
まず、トグルシミュレーション部２は、予め用意されている複数のテストパターン１の中から任意のテストパターン１を入力すると、そのテストパターン１にしたがってトグルシミュレーションを実施する（ステップＳＴ１）。
そして、トグルシミュレーション部２は、そのトグルシミュレーションにより信号値（“０”又は“１”）が確定した信号線が半導体集積回路内に存在する場合、その信号線の信号値を示すトグル情報３を出力する。
【０００５】
トグル故障抽出部５は、トグルシミュレーション部２がトグル情報３を出力すると、そのトグル情報３を参照して、故障リスト４の中から実際に検出対象とする故障を抽出してリストアップする（ステップＳＴ２）。
例えば、半導体集積回路を構成する素子に係るトグル情報が信号値“０”への移行を示す場合、“１”縮退故障をリストアップし、そのトグル情報が信号値“１”への移行を示す場合、“０”縮退故障をリストアップする。
【０００６】
予め用意されている複数のテストパターン１の中で、未だトグルシミュレーションが実施されていないテストパターン１が存在する場合、そのテストパターン１がトグルシミュレーション部２に入力されて、ステップＳＴ１，ＳＴ２の処理が繰り返し実行される（ステップＳＴ３，ＳＴ４）。
【０００７】
すべてのテストパターン１が入力されてステップＳＴ１，ＳＴ２の処理が終了すると、テストパターン入力順序変更部７は、トグルシミュレーション部２から出力されたトグル情報３の個数が多いテストパターン１から順番に故障シミュレーション部９に与える（ステップＳＴ５）。
即ち、複数のテストパターン１が用意されている場合、トグル情報３の個数が多いテストパターンに基づく故障シミュレーションを先に実施した方が、故障シミュレーション部９のシミュレーション時間を短縮することができるので、複数のテストパターン１のうち、トグル情報３の個数が多いテストパターンを先に故障シミュレーション部９に与えるようにする。図５の例では、３つのテストパターン▲１▼，▲２▼，▲３▼が用意され、テストパターン▲２▼，▲３▼，▲１▼の順番で故障シミュレーション部９に与えられている。
【０００８】
故障シミュレーション部９は、テストパターン入力順序変更部７からテストパターン８を受けると、そのテストパターン８に対応する分割故障リスト６（例えば、テストパターン８がテストパターン▲２▼の場合、分割故障リスト▲２▼）を入力して、その分割故障リスト６にリストアップされている故障に関する故障シミュレーションを実施する（ステップＳＴ６）。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
従来の故障シミュレーション装置は以上のように構成されているので、トグル情報３を参照して、故障リスト４の中から実際に検出対象とする故障を抽出することができる。しかし、トグルイベントが伝搬しない半導体回路内の素子に関するトグル情報３も参照して検出対象の故障を抽出するため、実際に故障を検出する可能性のない故障が検出対象として抽出され、無駄な故障シミュレーションを実施することがあるなどの課題があった。
【００１０】
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、実際に故障を検出する可能性のない故障を検出対象から除外して、無駄な故障シミュレーションの実施を回避することができる故障シミュレーション装置及び故障シミュレーションプログラムを得ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る故障シミュレーション装置は、トグルシミュレーション手段から出力されたトグル情報を参照して、トグルイベントが伝搬する回路内の素子を抽出する素子抽出手段を設け、その素子抽出手段により抽出された素子に係るトグル情報から故障シミュレーションによる検出対象の故障をリストアップするようにしたものである。
【００１２】
この発明に係る故障シミュレーション装置は、入力側にトグルイベントが発生したとき、出力側にトグルイベントが発生する素子を抽出するようにしたものである。
【００１３】
この発明に係る故障シミュレーション装置は、素子抽出手段により抽出された素子に係るトグル情報が信号値“０”への移行を示す場合、“１”縮退故障をリストアップし、そのトグル情報が信号値“１”への移行を示す場合、“０”縮退故障をリストアップするようにしたものである。
【００１４】
この発明に係る故障シミュレーション装置は、複数のテストパターンが用意されている場合、素子抽出手段により抽出された素子の個数が多いテストパターンから順番に故障シミュレーション手段に与えるテストパターン入力手段を設けたものである。
【００１５】
この発明に係る故障シミュレーションプログラムは、トグルシミュレーション手順から出力されたトグル情報を参照して、トグルイベントが伝搬する回路内の素子を抽出する素子抽出手順を設け、その素子抽出手順により抽出された素子に係るトグル情報から故障シミュレーションによる検出対象の故障をリストアップするようにしたものである。
【００１６】
この発明に係る故障シミュレーションプログラムは、複数のテストパターンが用意されている場合、素子抽出手順により抽出された素子の個数が多いテストパターンから順番に故障シミュレーション手順に与えるテストパターン入力手順を設けたものである。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の一形態を説明する。
実施の形態１．
図１はこの発明の実施の形態１による故障シミュレーション装置を示す構成図であり、図において、１１は半導体集積回路の入力端子に与える時々刻々の信号値が記述されているテストパターン、１２はテストパターン１１を入力してトグルシミュレーションを実施し、そのトグルシミュレーションにより信号値が確定した信号線が半導体集積回路内に存在する場合、その信号線の信号値を示すトグル情報１３を出力するトグルシミュレーション部（トグルシミュレーション手段）、１３は信号線の信号値を示すトグル情報である。
【００１８】
１４はトグルシミュレーション部１２から出力されたトグル情報１３を参照して、トグルイベントが伝搬する半導体集積回路内の素子を抽出するトグルイベント伝搬チェック部（素子抽出手段）、１５はトグルイベント伝搬チェック部１４により抽出された素子に係るトグル情報（以下、トグル伝搬情報という）、１６は故障シミュレーションにより検出可能な故障がリストアップされている故障リストである。
【００１９】
１７はトグルイベント伝搬チェック部１４から出力されたトグル伝搬情報１５を参照して、故障リスト１６の中から実際に検出対象とする故障を抽出してリストアップするトグル故障抽出部（リストアップ手段）、１８は検出対象の故障がリストアップされている分割故障リスト、１９はトグルイベント伝搬チェック部１４から出力されたトグル伝搬情報１５の個数が多いテストパターン１１から順番に故障シミュレーション部２１に与えるテストパターン入力順序変更部（テストパターン入力手段）、２０は入力順序が並び換えられたテストパターン、２１はテストパターン２０を入力して、分割故障リスト１８にリストアップされている故障に関する故障シミュレーションを実施する故障シミュレーション部（故障シミュレーション）である。
図２はこの発明の実施の形態１による故障シミュレーション装置の処理内容を示すフローチャートである。
【００２０】
次に動作について説明する。
まず、トグルシミュレーション部１２は、予め用意されている複数のテストパターン１１の中から任意のテストパターン１１を入力すると、そのテストパターン１１にしたがってトグルシミュレーションを実施する（ステップＳＴ１１）。そして、トグルシミュレーション部１２は、そのトグルシミュレーションにより信号値（“０”又は“１”）が確定した信号線が半導体集積回路内に存在する場合、その信号線の信号値を示すトグル情報１３を出力する。
【００２１】
トグルイベント伝搬チェック部１４は、トグルシミュレーション部１２がトグル情報１３を出力すると、そのトグル情報１３を参照して、トグルイベントが伝搬する半導体集積回路内の素子を抽出し、その素子に係るトグル情報１３（トグル伝搬情報１５）を出力する（ステップＳＴ１２）。
例えば、半導体集積回路内のＮＡＮＤプリミティブ３１は、図３に示すように、入力側の信号線３２にトグルイベント“１”→“０”が生じたとき、入力側の信号線３３の信号値が変化せず“１”のままであるので、そのトグルイベント“１”→“０”が出力側に伝搬し、出力側の信号線３４にトグルイベント“０”→“１”が発生する。したがって、このようなＮＡＮＤプリミティブ３１は、トグルイベントが伝搬する半導体集積回路内の素子として抽出され、入力側及び出力側の信号線の信号値がトグル伝搬情報１５として出力される。
【００２２】
一方、半導体集積回路内のＮＡＮＤプリミティブ４１は、図４に示すように、入力側の信号線４２にトグルイベント“１”→“０”が生じたとき、入力側の信号線４３の信号値が変化せず“０”のままであるので、そのトグルイベント“１”→“０”は出力側に伝搬せず、出力側の信号線４４の信号値が変化しない。したがって、このようなＮＡＮＤプリミティブ４１は、トグルイベントが伝搬する半導体集積回路内の素子として抽出されない。
【００２３】
トグル故障抽出部１７は、トグルイベント伝搬チェック部１４がトグル伝搬情報１５を出力すると、そのトグル伝搬情報１５を参照して、故障リスト１６の中から実際に検出対象とする故障を抽出してリストアップする（ステップＳＴ１３）。
例えば、図３のＮＡＮＤプリミティブ３１の信号線３２のように、トグルイベントの発生によって信号値が“０”に移行する場合、信号値“０”に対応する“１”縮退故障をリストアップする。
【００２４】
ここで、“１”縮退故障をリストアップする理由は次の通りである。
“１”縮退故障を検出対象の故障とする場合、入力側の信号線３２にトグルイベント“１”→“０”が生じても、出力側の信号線３４の信号値が変化せず“０”のままである。このように、“１”縮退故障を検出対象の故障とする場合と、検出対象の故障としない場合とでは、出力側の信号線３４の信号値が異なるので、“１”縮退故障は検出可能な故障であると言えるからである。
なお、トグルイベントの発生によって信号値が“１”に移行する場合、同様の理由から、“０”縮退故障は検出可能な故障であると言えるので、“０”縮退故障をリストアップする。
【００２５】
因みに、図４のＮＡＮＤプリミティブ４１の信号線４２も、トグルイベントの発生によって信号値が“０”に移行しているが、“０”縮退故障を検出対象の故障とする場合でも、検出対象の故障としない場合でも、出力側の信号線４４の信号値が“１”のままで変わらないで、“１”縮退故障は検出不可能な故障であると言える。このため、トグルイベント伝搬チェック部１４では、ＮＡＮＤプリミティブ４１を抽出しない。
【００２６】
予め用意されている複数のテストパターン１１の中で、未だトグルシミュレーションが実施されていないテストパターン１１が存在する場合、そのテストパターン１１がトグルシミュレーション部１２に入力されて、ステップＳＴ１１〜ＳＴ１３の処理が繰り返し実行される（ステップＳＴ１４，ＳＴ１５）。
【００２７】
すべてのテストパターン１１が入力されてステップＳＴ１１〜ＳＴ１３の処理が終了すると、テストパターン入力順序変更部１９は、トグルイベント伝搬チェック部１４から出力されたトグル伝搬情報１５の個数が多いテストパターン１１から順番に故障シミュレーション部２１に与える（ステップＳＴ１６）。
即ち、複数のテストパターン１１が用意されている場合、トグル伝搬情報１５の個数が多いテストパターンに基づく故障シミュレーションを先に実施した方が、故障シミュレーション部２１のシミュレーション時間を短縮することができるので、複数のテストパターン１１のうち、トグル伝搬情報１５の個数が多いテストパターンを先に故障シミュレーション部２１に与えるようにする。図１の例では、３つのテストパターン▲１▼，▲２▼，▲３▼が用意され、テストパターン▲２▼，▲３▼，▲１▼の順番で故障シミュレーション部２１に与えられている。
【００２８】
故障シミュレーション部２１は、テストパターン入力順序変更部１９からテストパターン２０を受けると、そのテストパターン２０に対応する分割故障リスト１８（例えば、テストパターン２０がテストパターン▲２▼の場合、分割故障リスト▲２▼）を入力して、その分割故障リスト１８にリストアップされている故障に関する故障シミュレーションを実施する（ステップＳＴ１７）。
【００２９】
以上で明らかなように、この実施の形態１によれば、トグルシミュレーション部１２から出力されたトグル情報１３を参照して、トグルイベントが伝搬する回路内の素子を抽出するトグルイベント伝搬チェック部１４を設け、そのトグルイベント伝搬チェック部１４により抽出された素子に係るトグル伝搬情報１５から故障シミュレーションによる検出対象の故障をリストアップするように構成したので、実際に故障を検出する可能性のない故障を検出対象から除外して、無駄な故障シミュレーションの実施を回避することができる効果を奏する。
【００３０】
実施の形態２．
上記実施の形態１では、特に言及していないが、故障シミュレーション装置の構成要素であるトグルシミュレーション部１２，トグルイベント伝搬チェック部１４，トグル故障抽出部１７，テストパターン入力順序変更部１９及び故障シミュレーション部２１のすべてをハードウエアで構成してもよいし、ソフトウエアで構成してもよい。
なお、故障シミュレーション装置の構成要素をソフトウエアで構成する場合には、トグルシミュレーション部１２，トグルイベント伝搬チェック部１４，トグル故障抽出部１７，テストパターン入力順序変更部１９及び故障シミュレーション部２１と同様の機能を実現する故障シミュレーションプログラムを用意し、図示せぬコンピュータが当該故障シミュレーションプログラムを実行するようにする。
これにより、上記実施の形態１と同様の効果を奏することができる。
【００３１】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、トグルシミュレーション手段から出力されたトグル情報を参照して、トグルイベントが伝搬する回路内の素子を抽出する素子抽出手段を設け、その素子抽出手段により抽出された素子に係るトグル情報から故障シミュレーションによる検出対象の故障をリストアップするように構成したので、実際に故障を検出する可能性のない故障を検出対象から除外して、無駄な故障シミュレーションの実施を回避することができる効果がある。
【００３２】
この発明によれば、入力側にトグルイベントが発生したとき、出力側にトグルイベントが発生する素子を抽出するように構成したので、実際に故障を検出する可能性のない故障を検出対象から除外することができる効果がある。
【００３３】
この発明によれば、素子抽出手段により抽出された素子に係るトグル情報が信号値“０”への移行を示す場合、“１”縮退故障をリストアップし、そのトグル情報が信号値“１”への移行を示す場合、“０”縮退故障をリストアップするように構成したので、実際に故障を検出する可能性のない故障を検出対象から除外することができる効果がある。
【００３４】
この発明によれば、複数のテストパターンが用意されている場合、素子抽出手段により抽出された素子の個数が多いテストパターンから順番に故障シミュレーション手段に与えるテストパターン入力手段を設けるように構成したので、シミュレーション時間を短縮することができる効果がある。
【００３５】
この発明によれば、トグルシミュレーション手順から出力されたトグル情報を参照して、トグルイベントが伝搬する回路内の素子を抽出する素子抽出手順を設け、その素子抽出手順により抽出された素子に係るトグル情報から故障シミュレーションによる検出対象の故障をリストアップするように構成したので、実際に故障を検出する可能性のない故障を検出対象から除外して、無駄な故障シミュレーションの実施を回避することができる効果がある。
【００３６】
この発明によれば、複数のテストパターンが用意されている場合、素子抽出手順により抽出された素子の個数が多いテストパターンから順番に故障シミュレーション手順に与えるテストパターン入力手順を設けるように構成したので、シミュレーション時間を短縮することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態１による故障シミュレーション装置を示す構成図である。
【図２】この発明の実施の形態１による故障シミュレーション装置の処理内容を示すフローチャートである。
【図３】トグルイベントが伝搬する回路内の素子を示す説明図である。
【図４】トグルイベントが伝搬しない回路内の素子を示す説明図である。
【図５】従来の故障シミュレーション装置を示す構成図である。
【図６】従来の故障シミュレーション装置の処理内容を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１１　テストパターン、１２　トグルシミュレーション部（トグルシミュレーション手段）、１３　トグル情報、１４　トグルイベント伝搬チェック部（素子抽出手段）、１５　トグル伝搬情報、１６　故障リスト、１７　トグル故障抽出部（リストアップ手段）、１８　分割故障リスト、１９　テストパターン入力順序変更部（テストパターン入力手段）、２０　テストパターン、２１　故障シミュレーション部（故障シミュレーション）、３１　ＮＡＮＤプリミティブ、３２，３３，３４　信号線、４１　ＮＡＮＤプリミティブ、４２，４３，４４　信号線。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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