(57)【要約】【課題】光ディスク装置の性能悪化がレーザーダイオードの劣化か光学部品の汚れによるものかを判別し、ドライブ性能の悪化を回避することを目的とする。【解決手段】ドライブ製造時のレーザードライバーの電流−発光量の特性と任意の時間が経過した時点での特性を比較することにより、光ディスク装置の性能が悪化した場合に、レーザードライバーの劣化か、光学部品に異物が付着した汚れによる性能悪化なのかを判別し、リード／ライトエラーを回避するように構成したものである。また光ディスク装置の製造会社の修理部門においては、光ディスク装置の性能劣化の要因を容易に解析／修理が行えるようにできる。【選択図】  図１
2004335049.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対して読み取り光／記録光を出射するレーザーダイオードと、前記レーザーダイオードに電流を供給し発光量を制御するレーザードライバーと、前記レーザーダイオードからの出射光の一部を受光し光量を電圧に変換する光量モニター回路と、前記光量モニター回路からの出力電圧を用いて前記レーザードライバーを制御するコントロール回路と、光ディスクからの反射光を受光し各種サーボ制御に必要な信号を生成するアナログ回路と、前記レーザーダイオードに流すことが想定されている電流範囲の内、最大の電流を流した場合に、前記光量モニター回路で得られる出力と所定の基準出力とを比較する判定手段とを備え、前記光量モニター回路で得られた出力が所定の基準出力以下であると判断した場合には、所定の信号を出力することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
所定の信号に応じて、表示手段にその旨を表示させることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
所定の信号は、レーザーダイオードの寿命が来たことを示す警告信号に相当することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項４】
光ディスクに対して読み取り光／記録光を出射するレーザーダイオードと、前記レーザーダイオードに電流を供給し発光量を制御するレーザードライバーと、前記レーザーダイオードからの出射光の一部を受光し光量を電圧に変換する光量モニター回路と、光ディスクからの反射光を受光しその反射光の強度に相応した信号を出力する受光素子と、前記光量モニター回路からの出力電圧を用いて前記レーザードライバーを制御するコントロール回路と、光ディスクからの反射光を受光し各種サーボ制御に必要な信号を生成するアナログ回路と、前記レーザーダイオードから基準となる光量の光を出力させ、前記受光素子で得られた反射光に相当する出力と基準出力とを比較する判定手段とを備え、前記判定手段が前記受光素子で得られた反射光に相当する出力が所定以下であると判断した場合には、所定の信号を出力することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
所定の信号に応じて、表示手段にその旨を表示させることを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項６】
所定の信号は、光学系の汚れによる性能劣化である旨の警告信号に相当することを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項７】
光ディスクに対して読み取り光／記録光を出射するレーザーダイオードと、前記レーザーダイオードに電流を供給し発光量を制御するレーザードライバーと、前記レーザーダイオードからの出射光の一部を受光し光量を電圧に変換する光量モニター回路と、光ディスクからの反射光を受光しその反射光の強度に相応した信号を出力する受光素子と、前記光量モニター回路からの出力電圧を用いて前記レーザードライバーを制御するコントロール回路と、光ディスクからの反射光を受光し各種サーボ制御に必要な信号を生成するアナログ回路と、前記レーザーダイオードに流すことが想定されている電流範囲の内、最大の電流を流した場合に、前記光量モニター回路で得られる出力と所定の基準出力とを比較するとともに前記レーザーダイオードから基準となる光量の光を出力させ、前記受光素子で得られた反射光に相当する出力と基準出力とを比較する判定手段とを備え、前記判定手段が前記光量モニター回路で得られた出力が所定の基準出力以下であると判断した場合には、第１の信号を出力するとともに、前記判定手段が前記受光素子で得られた反射光に相当する出力が所定以下であると判断した場合には、第２の信号を出力することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、パソコンやＡＶ機器等の電子機器に搭載されている光ディスク装置に関して、光ディスク装置の性能悪化の要因であるレーザードライバーの劣化、光学部品の汚れを判別し、性能悪化及びリード／ライトエラーの適切な回避手段を搭載した光ディスク装置を提供するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ等の光ディスクの読み取りや書き込みを行う光ディスク装置は、パソコンやＡＶ機器等に搭載され広く普及している。しかし光ディスク装置の主要部品であるレーザーダイオードは時間経過と共に性能劣化を起こす消耗部品であり、長時間の使用により光ディスク装置の性能は悪化してしまう。通常のリード／ライト時におけるレーザーダイオードの光量の変動は、ＡＰＣ回路により補正が行われ一定光量を保つようになっているが、ＯＰＣ動作時などはＡＰＣ回路が働かないため、レーザーダイオードの劣化が光ディスク装置の性能劣化に直接つながってしまう。
【０００３】
先行例としては、（特許文献１）に示すようなものは存在するが、あくまでもレーザーパワーを最適化するものであり、レーザーダイオードの劣化等を知る手段ではない。
【０００４】
【特許文献１】
特開平１１−２８８５１６号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
従来の技術ではレーザーダイオードの劣化を知る手段がないため、レーザーダイオードが劣化した場合は光ディスクのリード／ライトに失敗してしまい、事前にエラーを回避する手段をもたない。また、従来の光ディスク装置はレーザーダイオードから光ディスクへ光を伝達する光路と、光ディスクからの反射光を受光素子に伝える光路上にある光学部品に汚れが付着した場合は、ドライブ性能が悪化しレーザーダイオードの劣化と同様に光ディスクのリード／ライトに失敗してしまうが、その性能悪化がレーザーダイオードの劣化であるのか、光学部品の汚れであるのかを検知する方法がないため、光ディスク装置の使用者は事前にエラーを回避することが出来ないという問題点があった。
【０００６】
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、光ディスク装置の性能悪化が、レーザーダイオードの劣化か光学部品の汚れによるものかを判別し、レーザーダイオードの劣化の場合には劣化度合いに応じた補正を行い、汚れによる場合は使用者に汚れを取り除くように警告することで、ドライブ性能の悪化を回避する光ディスク装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであって、光ディスクに対して読み取り光／記録光を出射するレーザーダイオードと、レーザーダイオードに電流を供給し発光量を制御するレーザードライバーと、レーザーダイオードからの出射光の一部を受光し光量を電圧に変換する光量モニター回路と、光ディスクからの反射光を受光しその反射光の強度に相応した信号を出力する受光素子と、光量モニター回路からの出力電圧を用いてレーザードライバーを制御するコントロール回路と、光ディスクからの反射光を受光し各種サーボ制御に必要な信号を生成するアナログ回路と、レーザーダイオードに流すことが想定されている電流範囲の内、最大の電流を流した場合に、光量モニター回路で得られる出力と所定の基準出力とを比較するとともにレーザーダイオードから基準となる光量の光を出力させ、受光素子で得られた反射光に相当する出力と基準出力とを比較する判定手段とを備え、判定手段が光量モニター回路で得られた出力が所定の基準出力以下であると判断した場合には、第１の信号を出力するとともに、判定手段が受光素子で得られた反射光に相当する出力が所定以下であると判断した場合には、第２の信号を出力するように構成したものである。
【０００８】
【発明の実施の形態】
請求項１記載の発明は、光ディスクに対して読み取り光／記録光を出射するレーザーダイオードと、前記レーザーダイオードに電流を供給し発光量を制御するレーザードライバーと、前記レーザーダイオードからの出射光の一部を受光し光量を電圧に変換する光量モニター回路と、前記光量モニター回路からの出力電圧を用いて前記レーザードライバーを制御するコントロール回路と、光ディスクからの反射光を受光し各種サーボ制御に必要な信号を生成するアナログ回路と、前記レーザーダイオードに流すことが想定されている電流範囲の内、最大の電流を流した場合に、前記光量モニター回路で得られる出力と所定の基準出力とを比較する判定手段とを備え、前記光量モニター回路で得られた出力が所定の基準出力以下であると判断した場合には、所定の信号を出力することを特徴とする光ディスク装置であり、所定の信号によって、装置の特性劣化を判定できる。
【０００９】
請求項２記載の発明は、所定の信号に応じて、表示手段にその旨を表示させることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置であり、外部から特性劣化を観測することができる。ここで、表示手段とは、ＬＥＤなどの発光素子が好適に用いられる。
【００１０】
請求項３記載の発明は、所定の信号は、レーザーダイオードの寿命が来たことを示す警告信号に相当することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置であり、光ディスク装置自体の寿命がきたことを知ることができる。
【００１１】
請求項４記載の発明は、光ディスクに対して読み取り光／記録光を出射するレーザーダイオードと、前記レーザーダイオードに電流を供給し発光量を制御するレーザードライバーと、前記レーザーダイオードからの出射光の一部を受光し光量を電圧に変換する光量モニター回路と、光ディスクからの反射光を受光しその反射光の強度に相応した信号を出力する受光素子と、前記光量モニター回路からの出力電圧を用いて前記レーザードライバーを制御するコントロール回路と、光ディスクからの反射光を受光し各種サーボ制御に必要な信号を生成するアナログ回路と、前記レーザーダイオードから基準となる光量の光を出力させ、前記受光素子で得られた反射光に相当する出力と基準出力とを比較する判定手段とを備え、前記判定手段が前記受光素子で得られた反射光に相当する出力が所定以下であると判断した場合には、所定の信号を出力することを特徴とする光ディスク装置により、所定の信号によって、装置の特性劣化を判定できる。
【００１２】
請求項５記載の発明は、所定の信号に応じて、表示手段にその旨を表示させることを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置であり、外部から特性劣化を観測することができる。ここで、表示手段とは、ＬＥＤなどの発光素子が好適に用いられる。
【００１３】
請求項６記載の発明は、所定の信号は、光学系の汚れによる性能劣化である旨の警告信号に相当することを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置であり、光学部品などへのメンテナンスを施すことで、特性劣化した装置の特性を改善させることができる。
【００１４】
請求項７記載の発明は、光ディスクに対して読み取り光／記録光を出射するレーザーダイオードと、前記レーザーダイオードに電流を供給し発光量を制御するレーザードライバーと、前記レーザーダイオードからの出射光の一部を受光し光量を電圧に変換する光量モニター回路と、光ディスクからの反射光を受光しその反射光の強度に相応した信号を出力する受光素子と、前記光量モニター回路からの出力電圧を用いて前記レーザードライバーを制御するコントロール回路と、光ディスクからの反射光を受光し各種サーボ制御に必要な信号を生成するアナログ回路と、前記レーザーダイオードに流すことが想定されている電流範囲の内、最大の電流を流した場合に、前記光量モニター回路で得られる出力と所定の基準出力とを比較するとともに前記レーザーダイオードから基準となる光量の光を出力させ、前記受光素子で得られた反射光に相当する出力と基準出力とを比較する判定手段とを備え、前記判定手段が前記光量モニター回路で得られた出力が所定の基準出力以下であると判断した場合には、第１の信号を出力するとともに、前記判定手段が前記受光素子で得られた反射光に相当する出力が所定以下であると判断した場合には、第２の信号を出力することを特徴とする光ディスク装置であり、光ディスク装置の性能が悪化した場合に、レーザードライバーの劣化か、光学部品に異物が付着した汚れによる性能悪化なのかを判別するように構成したものであり、こうすることにより実際に光ディスクの読み込みや書き込み前に光ディスク装置の使用機器及び使用者にドライブ性能の劣化を通知し、リードエラーやライトエラーを回避する機能を有するものである。
【００１５】
更に、光ディスク装置の性能悪化がレーザーダイオードの劣化と判別された場合に、レーザーダイオードの劣化度合いに応じた光量補正を行いドライブの性能悪化を回避し、補正不能なまで劣化した場合には、光ドライブ装置の使用装置及び使用者に警告を行うようにしたものであり、こうすることによりレーザーダイオード劣化によるドライブ寿命を延ばし、リードやライトエラーを回避する機能を有するものである。
【００１６】
以下、本発明の実施の形態について、図１〜５を用いて説明する。
【００１７】
（実施の形態１）
図１は本発明の一実施の形態における光ディスク装置を示すブロック図を示したものである。１は光ディスクに対してリード／ライト用のレーザーを出射するレーザーダイオードであり、２はレーザーダイオード１からのレーザー光を屈折、集光、回折させ光ディスク１６に当て、光ディスク１６からの反射光を受光センサまで伝達させる光学部品であり、３は光ディスク１６からの反射光を受光し電気信号に変換する受光回路であり、４はレーザーダイオード１からのレーザー光の一部を受光し電気信号に変換する受光回路（光量モニター回路）であり、５はレーザーダイオード１に電流を供給するレーザードライバー回路であり、６はドライバー回路の出力電流のタイミングを制御しレーザーパワーの発光パターンを制御するパターン生成回路であり、７はレーザードライバーの出力電流を制御するための電圧を与えるＤＡＣ回路を含むレーザーパワー制御回路であり、８は受光回路からの電気信号を入力し、ＲＦ信号等のアナログ信号を生成するアナログ信号生成回路であり、９は光ディスク装置全体の制御を司る中央演算処理装置（以下ＣＰＵと略す）であり、１０は光ディスク装置のプログラムや製造時の各種測定結果を格納するメモリであり、メモリ１０としては、例えば、ＦＬＡＳＨＲＯＭ等が好適に用いられる。１１は起動時の各種測定結果を格納するメモリであり、メモリ１１はＲＡＭ等の書き換え可能な半導体素子が用いられる。
【００１８】
図２は本発明の一実施の形態における光ディスク装置の光学部品汚れ検出の概念を示す図である。１２は光ディスク１６にレーザー光を出射するレーザーダイオード素子であり、１３はレーザーダイオード素子１２から出射されたレーザー光を平行な光線に変えるコリメートレンズであり、１４はレーザー光を光ディスク１６の方に反射させ、光ディスク１６からの反射光を受光素子１７の方に導くプリズムであり、１５は光ディスクにレーザー光を集光させる集光レンズである。光学部品２は、少なくともコリメートレンズ１３，プリズム１４，集光レンズ１５で構成されている。１６はＣＤやＤＶＤ、ＣＤ−Ｒ等の光ディスクであり、１７は受光回路３の一部で光ディスク１６からの反射光を受光し電圧に変換する受光素子であり、１８は受光回路４の一部でありレンズ等の光学部品等を介さずレーザーダイオード素子１２の出射光の一部を直接受光し、電圧に変換する受光素子であり、１９は集光レンズ１５に付着したほこり等の汚れであり、２０はレーザーダイオード素子１２から受光素子１７までのレーザー光の光路を示しており、２１はレーザーダイオード素子１２の出射光の光量を決める供給電流であり、２２は受光素子１８で受光した光量に応じて電圧が変化する出射光量変換信号であり、２３は受光素子１７で受光した光量に応じて電圧が変化する反射光量変換信号を表している。
【００１９】
図３は図２の汚れ１９による反射光量変換信号２３の電圧変化を示した図である。
【００２０】
図４は図２の供給電流２１を一定にした場合、レーザーダイオード素子１２の劣化度合いによる出射光量変換信号２２の電圧変化を示した図である。
【００２１】
図５は本発明における光ディスク装置の基本的な流れを示したフローチャートである。
【００２２】
光ディスク装置の製造時に装置の特性を測るため、ＣＰＵ９はレーザーパワー制御回路７のＤＡＣに対し固定値を与え、レーザードライバー回路５を介してレーザーダイオード１を発光させる。そのときの受光素子１８の出力電圧をレーザーパワー制御回路７のＡ／Ｄコンバータで取り込み、その値をＣＰＵ９が取得する。ＤＡＣに与える固定値を（例えば図４のＡ，Ｂ，Ｃで示される固定値）変化させて受光素子１８の出力電圧を求めることによって、図４のようなＤＡＣ値と出力電圧の直線式を算出する（Ｓ１）。またこの時に、レーザーダイオード素子１２から出射された光が集光レンズ１５で集光される部分にパワーメータを配置し、そのパワーメータで光量を直接測定するか、或いは光学部品の特性等を予め調査しておき、集光レンズ１５で集光される部分の光量を間接的に算出し、それらから求めた光量と受光素子１８の出力電圧の関係式を求める（Ｓ２）。光ディスク装置には仕様などによって、個々の光ディスク装置において、レーザーダイオード素子１２から出射される光量が所定レベル以上出力されることが必要となり、その所定レベルは既知であるので、レーザーダイオード素子１２にその所定レベルに達するように電流を流し、その時の受光素子１８の出力電圧を求める（Ｓ３）。次に反射率７０％の基準ＣＤ−ＲＯＭをドライブにセットしフォーカスＯＮさせる。個々の光ディスク装置においては、再生時に必要な基準となる発光パワーが決められており、その基準となる発光パワーすなわち基準パワーでレーザーダイオード素子１２を発光させ、受光素子１７の出力電圧をアナログ信号生成回路８のＡ／Ｄコンバータで取り込み、その値をＣＰＵ９が取得し、この際基準パワーはレーザーダイオード素子１２の出力をモニターする受光素子１８の出力にて間接的に測定する（Ｓ４）。次に、上記各式や数値をメモリ１０に格納する（Ｓ５）。なお、本実施の形態では、（Ｓ１）〜（Ｓ４）で取得した式や数値などを（Ｓ５）でまとめてメモリ１０に格納したが、各ステップごとにメモリ１０に格納しても良い。
【００２３】
次に、上記取得した式や数値を元に、光ディスク装置が起動時に各種信号測定を行い、レーザーダイオードの劣化および光学部品の汚れを判断する流れを説明する。
【００２４】
光ディスク装置は起動時に光ディスク１６の有無及び光ディスク１６の種別を判断する（Ｓ６）。このとき、光ディスク１６が光ディスク装置に搭載されているかどうかの判定は、光学部品２によって光を照射し、所定の反射光を受光素子１７で受光すれば、光ディスク１６が装着されており、所定の反射光を受光素子１７で受光しなければ、光ディスク１６が装着されていないとＣＰＵ９は判断する。また、光ディスク１６の種別を判定するには、光学部品２から光を光ディスク１６に照射して、光ディスク１６に記録された所定位置の情報を受光素子１７で受光するなどして読み取り、その情報から光ディスク１６がどのような種別のものなのかをＣＰＵ９は判定する。その際、装着された光ディスク１６がＣＤ−ＲＯＭ以外の場合は通常の起動を行い（Ｓ８）、光ディスク１６が装着されていないか或いは装着された光ディスク１６がＣＤ−ＲＯＭの場合はレーザーダイオード素子１２の経時変化による信号レベルの測定を行う。まず、基準ＤＡＣ値をレーザーパワー制御回路７のＤＡＣに与え、受光素子１８の出力電圧をレーザーパワー制御回路７のＡ／Ｄコンバータで取り込み、その値をＣＰＵ９が取得する。
【００２５】
次にＣＰＵ９はメモリ１０からＤＡＣ値と受光素子１８の出力電圧の関係式（図４に示す直線３０）を読み取り、製造時における基準ＤＡＣ値（例えばＣ）の受光素子４の電圧値を算出する。製造時の特性を示す直線３０においては、ＤＡＣ設定値がＣの時に出力電圧はｃであるのに対して、現在の関係式は、レーザーダイオード素子１２の劣化で、直線４０の様な関係式になる。すなわち、製造時と同じ様に受光素子１８の出力電圧をｃと同じにするにはＤＡＣ設定値をＣよりも大きなＣ’にしなければならない。このＣとＣ’の差を補正値としてメモリ１１に格納する（Ｓ１０）。また算出した補正値が、ドライブ性能を保証する値を超えた場合には（Ｓ１１）、光ディスク装置の使用者に対し光ディスク装置の寿命が来たことを警告する（Ｓ１２）。例えば、更にレーザーダイオード素子１２が更に劣化して、図４に示す直線５０のようになってしまった場合、受光素子１８の出力電圧をｃになるようにＤＡＣ設定値を増加させようとしても、レーザーダイオード素子１２に加えることができるＤＡＣ設定値の最大のＤＡＣ値（図４に示すＭＡＸ）を加えたとしても、受光素子１８の出力電圧がｃに達しない。したがって、レーザーダイオード素子１２は光ディスク装置として機能できないほど劣化しているので、光ディスク装置は寿命に達していると考えられる。なお（Ｓ１２）において、警告メッセージとしては、図示していないが、光ディスク装置自体に設けられたＬＥＤなどの発光素子を点灯させたり点滅させたり、或いは、多色のＬＥＤを用いて色によって警告を与えることもできる（例えば正常時には青色で、警告時は赤色）。また、光ディスク装置が搭載される電子機器にＬＥＤなどの発光素子を設けて、そのＬＥＤで警告など表示させたりしても良い。また、搭載される電子機器にモニターなどの表示機器が設けられている場合には、電子機器の制御回路部分を介してモニターに警告表示させることもできる。
【００２６】
光ディスク装置に光ディスク１６がセットされていない場合は通常の起動を行い（Ｓ１４）、光ディスク１６としてＣＤ−ＲＯＭがセットされている場合は汚れ判別のルーチンに進む（Ｓ１３）。図３に示すように基準パワーになるように（受光素子１８の出力が製造時の基準パワーの出力電圧と同じになるように）、補正後の基準パワーでレーザーダイオード素子１２を発光させ光ディスク１６として用いたＣＤ−ＲＯＭにフォーカスＯＮさせる。この時の受光素子１７の出力電圧をアナログ信号生成回路８のＡ／Ｄコンバータで取り込み、その値をＣＰＵ９が取得する（Ｓ１６）。光ディスク１６であるＣＤ−ＲＯＭの反射率は光ディスクによって異なるが、規格により７０％以上と定められているので、もし汚れが無い場合は製造時の値を下回る事は無い。すなわち、受光素子１７の出力電圧は基準パワーの時にａの値となる。ほこり等の汚れ１９が光学部品２の集光レンズ１５に付着している場合は受光素子１７が受光する光量が減少するため、汚れ１９が無い場合に比べ出力電圧２３は減少する。ここでは特に汚れが一番付着しやすい集光レンズ１５に付着した場合について説明する。レーザーダイオード素子１２を基準パワーで発光させた場合、光路２０に沿ってＣＤ−ＲＯＭまでレーザー光が到達するが、集光レンズ１５の汚れ１９によってＣＤ−ＲＯＭに当る光量は減少する。さらにＣＤ−ＲＯＭの反射光も汚れ１９により減少した状態で受光素子１７に受光されるため、受光素子１７の出力信号２３の電圧は汚れ１９の影響を受けて減少してしまう。光ディスク装置は出力信号２３を使い、光ディスクのリード／ライトを行っているので、出力信号２３の品質が悪化した場合、光ディスク装置の性能も悪化してしまう。製造時に測定した受光素子１７の出力信号２３の電圧ａと、起動時の出力信号２３の電圧を比較することにより（Ｓ１７）、光学部品の汚れ具合を判断する。受光素子１７の出力信号２３のレベルが光ディスク装置の性能を保証できるレベルを下回っている場合は（Ｓ１８）、光ディスク装置の使用者に光学部品の汚れがあることを警告する（Ｓ１９）。すなわち、汚れ１９が少し集光レンズ１５に付着していた場合には、製造直後の関係を示す直線６０よりも下方に位置する直線７０の関係となる。すなわち、基準パワーの光をレーザーダイオード素子１２が射出しても集光レンズ１５に付着した汚れによって、製造時に得られていた受光素子１７の出力電圧ａよりも低いｂとなる。更に、汚れ１９の付着がひどい場合になると、直線８０になってしまい、基準パワーを照射しても受光素子１７の出力は最低品質レベルよりも小さな受光素子の出力電圧ｃとなる。
【００２７】
このような光ディスク装置の構成にすることでどのような効果があるか、具体的な例を上げ説明する。光ディスク１６としてＣＤ−Ｒにデータを書き込む場合、通常ＯＰＣと呼ばれる試し書きを行い最適なライトパワーを決定して後、実際のライト動作を行う。この時のＯＰＣ動作は高速に行う必要があるため、ＡＰＣ回路を使わずに製造時に測定したレーザーパワー制御回路７のＤＡＣ値とパワーの関係式からレーザーダイオード素子１２の発光パワーを決める。従来の光ディスク装置だとレーザーダイオードが劣化した場合には、設定したＤＡＣ値に対して出射パワーが減少してしまうため、ＯＰＣにおいて最適なパワー見つからず失敗してしまう。設定ＤＡＣ値をＭＡＸ設定にすることにより、ぎりぎりで最適パワーが見つかった場合でも、実際のライト中に温度変化等の外乱によりパワーを上げる必要が生じた場合に、パワーを上げることが出来ずライトに失敗してしまう。また光ディスク装置の使用者は、なぜライトに失敗したのかを知る手段がないため、光ディスク１６が悪いのか光ディスク装置側が悪いのか判断が出来ず、無駄に新しいＣＤ−Ｒに書き込み行い光ディスク１６を駄目にしたりしてしまう。本発明により、ＯＰＣ動作時においてＤＡＣ値とパワーの関係式は補正が行われるため、製造時と同じパワーでＯＰＣが実行でき最適パワーを見つけることが出来る。また、補正不能なまでレーザーダイオードが劣化した場合は、ドライブ起動時に使用者に対し警告を行うので、ＣＤ−Ｒを無駄にしてしまうことが無くなる。光ディスク装置の製造会社の修理部門においても、光ディスク装置がレーザードライバーの劣化により不良として届けられた場合、容易に解析、修理が行える。なお（Ｓ１９）において、警告メッセージとしては、図示していないが、光ディスク装置自体に設けられたＬＥＤなどの発光素子を点灯させたり点滅させたり、或いは、多色のＬＥＤを用いて色によって警告を与えることもできる（例えば正常時には青色で、警告時は赤色）。また、光ディスク装置が搭載される電子機器にＬＥＤなどの発光素子を設けて、そのＬＥＤで警告など表示させたりしても良い。また、搭載される電子機器にモニターなどの表示機器が設けられている場合には、電子機器の制御回路部分を介してモニターに警告表示させることもできる。
【００２８】
なお、（Ｓ１２）と（Ｓ１９）において、例えば一つのＬＥＤなどの発光素子を用いる場合には、レーザーダイオードの寿命がきた場合には、発光素子を点灯させ、汚れが付着している場合には、発光素子を点滅させたりすることができる。すなわち、（Ｓ１２）と（Ｓ１９）の警告は、光ディスク装置あるいはそれを搭載する電子機器に設けられた１乃至複数の発光素子を用いたり、あるいは電子機器に設けられたモニターに表示させることができる。
【００２９】
次に光学部品２による汚れでドライブ性能が悪化した場合、従来の光ディスク装置は、光ディスク１６をセットしリードしようとして始めてリードエラーとなるため、光ディスク１６側に問題があるのか、光ディスク装置側の問題なのか使用者は判断できない。本発明により、光ディスク装置使用者は光学部品の汚れによる性能劣化の警告を受けるため、市販のクリーナー等で光学部品の清掃ができるので、リードエラー等を回避できる。また、光ディスク装置の製造会社の修理部門においても、光ディスク装置が不良として届けられた場合、光学部品の汚れによる性能劣化と容易に解析でき修理が行える。
【００３０】
【発明の効果】
以上のように、本発明は、光ディスクに対して読み取り光／記録光を出射するレーザーダイオードと、レーザーダイオードに電流を供給し発光量を制御するレーザードライバーと、レーザーダイオードからの出射光の一部を受光し光量を電圧に変換する光量モニター回路と、光ディスクからの反射光を受光しその反射光の強度に相応した信号を出力する受光素子と、光量モニター回路からの出力電圧を用いてレーザードライバーを制御するコントロール回路と、光ディスクからの反射光を受光し各種サーボ制御に必要な信号を生成するアナログ回路と、レーザーダイオードに流すことが想定されている電流範囲の内、最大の電流を流した場合に、光量モニター回路で得られる出力と所定の基準出力とを比較するとともにレーザーダイオードから基準となる光量の光を出力させ、受光素子で得られた反射光に相当する出力と基準出力とを比較する判定手段とを備え、判定手段が光量モニター回路で得られた出力が所定の基準出力以下であると判断した場合には、第１の信号を出力するとともに、判定手段が受光素子で得られた反射光に相当する出力が所定以下であると判断した場合には、第２の信号を出力することによって、光ディスク装置にレーザーダイオードの劣化及び光学部品の汚れが発生した場合、レーザーダイオードの劣化分を補正し、製造時と同じパワーでレーザー光を出射できるため、光ディスク装置の寿命を延ばすことができる。また、補正不能までレーザーダイオードが劣化した場合には、光ディスク装置の使用者に警告を与え、リード／ライトエラーを回避することが出来る。光学部品の汚れた場合にも、光ディスク装置の使用者に警告を与え、光学部品の清掃および修理依頼を行うことで、リード／ライトエラーを回避できる。また光ディスク装置の製造会社の修理部門においては、光ディスク装置の性能劣化の要因を容易に解析／修理が行えるようにできる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態における光ディスク装置を示すブロック図
【図２】本発明の一実施の形態における光ディスク装置の光学部品汚れ検出の概念を示す図
【図３】本発明の一実施の形態における光ディスク装置の光学部品汚れによる信号レベル変化を示す図
【図４】本発明の一実施の形態における光ディスク装置のレーザーダイオード劣化による信号レベル変化を示す図
【図５】本発明の一実施の形態における光ディスク装置のレーザーダイオード劣化及び光学部品汚れ検出のフローチャート
【符号の説明】
１  レーザーダイオード
２  光学部品
３  受光回路
４  受光回路
５  レーザードライバー回路
６  パターン生成回路
７  レーザーパワー制御回路
８  アナログ信号生成回路
９  中央演算処理装置（ＣＰＵ）
１０  メモリ
１１  メモリ
１２  レーザーダイオード素子
１３  コリメートレンズ
１４  プリズム
１５  集光レンズ
１６  光ディスク
１７  受光素子
１８  受光素子
１９  汚れ
２０  レーザー光の光路
２１  供給電流
２２  出射光量変換信号
２３  反射光量変換信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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