(57)【要約】【課題】磁性層の厚みを精度よく測定することができる磁性層の厚み測定システムを提供する。【解決手段】磁気テープＭＴの磁性層をその厚み相当の深さまで磁化する第１磁気信号及び前記磁性層をその厚み方向に部分的に磁化する第２磁気信号を記録する記録ヘッドＷＨと、前記第１磁気信号及び前記第２磁気信号を再生する再生ヘッドＲＨと、前記第２磁気信号の再生出力の変動の大きさが、予め設定した所定値より小さいと判断したときに、第１磁気信号の再生出力に基づいて前記磁性層の厚みを演算する演算装置（厚み演算用テーブル１５、制御装置１６）とを備える。【選択図】      図  １
2004335053.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走行する磁気テープに摺接しながら、この磁気テープの磁性層をその厚み相当の深さまで磁化する第１波長で第１磁気信号を当該磁気テープに記録するとともに、前記磁性層をその厚み方向に部分的に磁化する第２波長で第２磁気信号を当該磁気テープに記録する記録ヘッドと、
走行する前記磁気テープに摺接しながら、前記第１磁気信号及び前記第２磁気信号をそれぞれ再生する再生ヘッドと、
前記第２磁気信号の再生出力の変動の大きさが、予め設定した所定値より小さいと判断したときに、第１磁気信号の再生出力の大きさに基づいて前記磁性層の厚みを演算する演算装置とを備えることを特徴とする磁性層の厚み測定システム。
【請求項２】
請求項１に記載の磁性層の厚み測定システムが組み入れられた磁気テープ記録再生装置であって、
磁気テープに記録されたデータ信号を再生するデータ信号再生ヘッドと、前記磁性層の厚みの演算に用いられた前記第１磁気信号の再生出力の大きさに応じて、再生された前記データ信号の出力を増幅する増幅装置とを備えることを特徴とする磁気テープ記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気テープの磁性層の厚みを測定する厚み測定システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、磁気テープの磁性層の厚みを測定する厚み測定装置としては、磁気テープに一定の強度で磁気信号を記録する記録ヘッドと、記録された前記磁気信号を再生する再生ヘッドと、前記磁気信号の再生出力の大きさから磁性層の厚みを演算する演算手段とを備える装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
この厚み測定装置では、一定強度で磁気テープに記録された磁気信号の再生出力の大きさと磁性層の厚みとが比例関係にあることに着目し、予め設定された再生出力の大きさと磁性層の厚みとの関係式によって、再生出力の大きさから磁性層の厚みが演算される。この厚み測定装置によれば、磁性層の厚みが磁気信号の再生出力の大きさに基づいて演算されるので、走行する磁気テープから連続的にその厚みを測定することができる。したがって、この厚み測定装置は、連続的に測定した厚みから磁性層の厚みのむらを検出することができるので、磁気テープの製造管理や品質管理に利用することができる。
【０００４】
【特許文献１】
特開２０００−３３９６７４号公報（段落番号（０００９）、段落番号（００１５）及び段落番号（００１６））
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年、磁気テープは、高密度記録化が進んでおり、これにともなって磁気テープの磁性層の厚みは、薄層化していく傾向にある。したがって、厚みの測定精度は、より一層高められなければならない。しかしながら、前記した厚み測定装置では、走行する磁気テープからその厚みを検出する際に、図１１に示すように、再生ヘッドＨが磁性層ＭＬの表面から離れる場合がある。このように磁性層ＭＬと再生ヘッドＨとの間にスペースＳＰが生じると、磁気信号の再生出力にスペーシングロスが生じる。したがって、この厚み測定装置では、再生出力に変動があった場合に、その変動が磁性層の厚みの変動（厚みのむら）によるものか、あるいはスペーシングロスによるものかを明確に区別することができない。したがって、この厚み測定装置は、再生出力のスペーシングロスを考慮すると、磁性層の厚みを精度よく測定するものとはいえない。
【０００６】
そこで、本発明の課題は、磁性層の厚みを精度よく測定することができる磁性層の厚み測定システムを提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するための請求項１に記載の磁性層の厚み測定システムは、走行する磁気テープに摺接しながら、この磁気テープの磁性層をその厚み相当の深さまで磁化する第１波長で第１磁気信号を当該磁気テープに記録するとともに、前記磁性層をその厚み方向に部分的に磁化する第２波長で第２磁気信号を当該磁気テープに記録する記録ヘッドと、走行する前記磁気テープに摺接しながら、前記第１磁気信号及び前記第２磁気信号をそれぞれ再生する再生ヘッドと、前記第２磁気信号の再生出力の変動の大きさが、予め設定した所定値より小さいと判断したときに、第１磁気信号の再生出力の大きさに基づいて前記磁性層の厚みを演算する演算装置とを備えることを特徴とする。
【０００８】
この磁性層の厚み測定システムでは、記録ヘッドで磁気テープに記録された第１及び第２磁気信号を再生ヘッドで再生する際に、磁性層の表面と再生ヘッドとの間にスペースが生じていないときには、第１磁気信号の再生出力の大きさが磁性層の厚みに比例する。そして、そのときの第２磁気信号の再生出力の大きさは、変動しないか、あるいは極めて小さい。
【０００９】
その一方で、磁性層の表面と再生ヘッドとの間にスペースが生じたときは、第１磁気信号及び第２磁気信号の再生出力の大きさがスペースの大きさに応じて変動する。つまり、第１磁気信号の再生出力の大きさは、スペーシングロスによって、磁性層の厚みに比例していない。
【００１０】
そして、演算装置は、前記第２磁気信号の出力の変動の大きさが所定値より小さいと判断したときに、第１磁気信号の大きさに基づいて磁性層の厚みを演算する。したがって、この磁性層の厚み測定システムでは、磁性層の表面と再生ヘッドとの間にスペースが生じていないときの第２磁気信号の再生出力の変動の大きさを予め設定しておけば、演算装置が、スペーシングロスのない、言い換えれば、磁性層の厚みと比例関係にある第１磁気信号の大きさに基づいてのみ磁性層の厚みを測定する。その結果、この磁性層の厚み測定システムによれば、磁性層の厚みを精度よく測定することができる。
【００１１】
この磁性層の厚み測定システムにおいて、前記第１波長の第１磁気信号の波長は、磁性層の厚みの６倍を超える波長であることが好ましく、前記第２波長は、磁性層の厚みの６倍未満の波長であることが好ましい。
【００１２】
このような磁性層の厚み測定システムによれば、第１波長の第１磁気信号が、磁性層をその厚み相当の深さまでより確実に磁化するとともに、第２波長の第２磁気信号が、より確実に磁性層をその厚み方向に部分的に磁化する。
【００１３】
請求項２に記載の磁気テープ記録再生装置は、請求項１に記載の磁性層の厚み測定システムが組み入れられた磁気テープ記録再生装置であって、磁気テープに記録されたデータ信号を再生するデータ信号再生ヘッドと、前記磁性層の厚みの演算に用いられた前記第１磁気信号の再生出力の大きさに応じて、再生された前記データ信号の出力を増幅する増幅装置とを備えることを特徴とする。
【００１４】
この磁気テープ記録再生装置によれば、請求項１に記載の磁性層の厚み測定システムと同様にして精度よく磁性層の厚みが測定される。また、この磁気テープ記録再生装置では、データ信号再生ヘッドによって、磁気テープに記録されたデータ信号が再生される際に、磁性層の厚みの測定に用いられた第１磁気信号の出力の大きさに応じて、再生されたデータ信号の出力を増幅装置が増幅する。したがって、この磁気テープ記録再生装置によれば、磁性層が薄くなっている箇所に記録されて、出力の弱まるデータ信号が、所定のレベルで出力されるように調整することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の磁性層の厚み測定システム（以下、単に「厚み測定システム」という）の一実施の形態について、適宜図面を参照して詳細に説明する。
参照する図面において、図１は、本実施の形態に係る厚み測定システムのブロック図、図２は、図１の厚み測定システムに使用される磁気ヘッド及びヘッドアクチュエータの配置を示す概略図である。
【００１６】
図１に示すように、厚み測定システム１は、主に、送出リール１２ａ、巻取リール１２ｂ、駆動装置１３、磁気信号出力回路１４、厚み演算用テーブル１５、制御装置１６、磁気ヘッド１７、ヘッドアクチュエータ１８及びガイド１９を備えている。
【００１７】
送出リール１２ａは、磁性層の厚みを測定する磁気テープＭＴを送り出すように構成されており、この送出リール１２ａには、幅広のウェブ原反から製品幅に裁断された磁気テープＭＴが大径巻のパンケーキでセットされている。
【００１８】
巻取リール１２ｂは、送出リール１２ａから送り出され、一組のガイド１９，１９で案内される磁気テープＭＴを巻き取るように構成されている。
【００１９】
駆動装置１３は、巻取リール１２ｂを回転駆動するための装置であり、図示しないモータ、このモータに電流を供給するためのモータ駆動回路及びモータ軸と巻取リール１２ｂとを連結するためのギヤ等を備えている。駆動装置１３では、制御装置１６からのモータ電流信号に基づいてモータ駆動回路でモータ電流を発生し、このモータ電流をモータに供給し、さらにギヤを介してモータの回転駆動力を巻取リール１２ｂに伝達して巻取リール１２ｂを回転駆動している。
【００２０】
磁気信号出力回路１４は、磁気ヘッド１７に後記する第１磁気信号及び第２磁気信号を書き込ませるための後記パルス電流ＰＣ１，ＰＣ２（図３（ａ）及び図３（ｂ）参照）を出力するものであり、各種電子部品を備えている。そして、この磁気信号出力回路１４は、制御装置１６からのパルス制御信号に基づいて、そのパルス電流ＰＣ１，ＰＣ２を発生するように構成されている。
【００２１】
厚み演算用テーブル１５は、例えば不揮発性メモリといった記憶手段で構成される。この厚み演算用テーブル１５には、磁気テープＭＴの磁性層に記録された磁気信号の再生出力の大きさと、その磁性層の厚みとの比例関係を規定したテーブルが設定されている。
【００２２】
制御装置１６は、厚み測定システム１の各部の動作を制御する装置であり、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）や各種記憶装置等を備えている。この制御装置１６は、磁気ヘッド１７が再生した第２磁気信号を入力して、その出力の変動の大きさを、予め設定した所定値と比較することよって、変動の大きさが所定値より小さいか否かを判断するように構成されている。この制御装置１６は、第２磁気信号の出力の大きさの変動を第２磁気信号の出力波形のピーク値の変化で判断するように構成されている。なお、ここでの所定値は、磁性層の表面と再生ヘッドとの間にスペースが生じていないときの第２磁気信号の再生出力の変動幅を予め測定しておき、その変動幅の例えば最大値を閾値として設定しておけばよい。この所定値は、特許請求の範囲にいう「所定値」に相当する。
【００２３】
また、制御装置１６は、第２磁気信号の出力の変動の大きさが、予め設定した前記所定値より小さい場合に、磁気ヘッド１７が再生した第１磁気信号の再生出力の大きさに対応する磁性層の厚みを前記厚み演算用テーブル１５から導き出すように構成されている。なお、制御装置１６は、第２磁気信号の出力の変動の大きさが前記所定値より大きい場合には、磁性層の厚みを厚み演算用テーブル１５から導き出さないようになっている。この制御装置１６及び前記厚み演算用テーブル１５は、特許請求の範囲にいう「演算装置」に相当する。
【００２４】
また、この制御装置１６では、第１及び第２磁気信号を書き込む際の磁気テープＭＴの走行速度を一定にするために、駆動装置１３のモータ電流を制御するためのモータ電流信号を生成し、駆動装置１３に送信している。また、制御装置１６は、前記磁気信号出力回路１４でパルス電流ＰＣ１，ＰＣ２（図３（ａ）及び図３（ｂ）参照）を発生させるパルス制御信号を生成するとともに、このパルス制御信号を磁気信号出力回路１４に送信するように構成されている。
【００２５】
また、制御装置１６は、磁気ヘッド１７を磁気テープＭＴの幅方向に等速度で往復移動させるために、ヘッドアクチュエータ１８に駆動制御信号を送信するとともに、ヘッドアクチュエータ１８が磁気ヘッド１７を磁気テープＭＴの幅方向の一方向に移動させるときにのみ、パルス制御信号を磁気信号出力回路１４に向けて送信するように構成されている。
【００２６】
磁気ヘッド１７は、ガイド１９，１９に案内されて走行する磁気テープＭＴと摺接するように配置されている。この磁気ヘッド１７は、図２に示すように、第１記録ヘッド１７ａ及び第２記録ヘッド１７ｃからなる記録ヘッドＷＨと、第１再生ヘッド１７ｂ及び第２再生ヘッド１７ｄからなる再生ヘッドＲＨとを備えている。
【００２７】
第１記録ヘッド１７ａは、磁気信号出力回路１４から出力されたパルス電流ＰＣ１に基づいて、第１磁気信号Ｓ１を磁気テープＭＴ（磁性層）に記録するものである。
【００２８】
第１再生ヘッド１７ｂは、第１記録ヘッド１７ａで記録された第１磁気信号Ｓ１を磁気テープＭＴ（磁性層）から再生するものであって、第１記録ヘッド１７ａに対して、走行する磁気テープＭＴの下流側に配置されている。
【００２９】
第２記録ヘッド１７ｃは、磁気信号出力回路１４から出力されたパルス電流ＰＣ２に基づいて、第２磁気信号Ｓ２を磁気テープＭＴ（磁性層）に記録するものであって、走行する磁気テープＭＴの幅方向に第１記録ヘッド１７ａと並ぶように配置されている。
【００３０】
第２再生ヘッド１７ｄは、第２記録ヘッド１７ｃで記録された第２磁気信号を磁気テープＭＴ（磁性層）から再生するものであって、第２記録ヘッド１７ｃに対して、走行する磁気テープＭＴの下流側に配置されている。
【００３１】
第１及び第２記録ヘッド１７ａ，１７ｃには、電磁誘導型薄膜ヘッドといった書込ヘッドが使用されればよく、第２及び第２再生ヘッド１７ｂ，１７ｄには、磁気抵抗効果型ヘッドといった読出ヘッドが使用されればよい。
【００３２】
ヘッドアクチュエータ１８は、走行する磁気テープＭＴの幅方向に磁気ヘッド１７を等速度で往復移動させるものであり、例えばステッピングモータといった駆動源と、このステッピングモータの回転力を直線運動力に変換する公知の変換機構とで構成することができる。
【００３３】
次に、本実施の形態に係る厚み測定システムの動作について説明しながら、磁気テープＭＴの磁性層の厚み測定方法について説明する。参照する図面において、図３（ａ）は、磁気信号出力回路から第１記録ヘッドに向けて出力されるパルス電流の波形を示す図、図３（ｂ）は、磁気信号出力回路から第２記録ヘッドに向けて出力されるパルス電流の波形を示す図、図４は、図２のＸ−Ｘ線における断面図、図５（ａ）は、第２再生ヘッドが再生した第２磁気信号の波形を示す図、図５（ｂ）は、第１再生ヘッドが再生した第１磁気信号の波形を示す図である。
【００３４】
まず、この厚み測定システム１では、送出リール１２ａとして、スリット後のパンケーキ状の磁気テープＭＴがセットされる（図１参照）。このようなパンケーキ状の磁気テープＭＴが送出リール１２ａにセットされた後、磁気テープＭＴの先端が巻取リール１２ｂの巻心へ結合される。
【００３５】
次に、制御装置１６からのモータ電流信号によって、駆動装置１３が巻取リール１２ｂを回転させると、磁気テープＭＴは、ガイド１９，１９に案内されながら巻取リール１２ｂ（図１参照）に巻き取られて走行する。そして、走行する磁気テープＭＴと摺接する磁気ヘッド１７の第１及び第２記録ヘッド１７ａ，１７ｃ（図２参照）により第１磁気信号Ｓ１及び第２磁気信号Ｓ２（図２参照）が書き込まれる。
【００３６】
このとき磁気信号出力回路１４は、制御装置１６からのパルス制御信号によって、図３（ａ）に示すように、プラス極性のプラスパルス電流ＰＰ１、ゼロ電流ＺＣ１、プラスパルス電流ＰＰ１及びゼロ電流ＺＣ１をこの順番に連続して発生する。この矩形波のパルス電流ＰＣ１の波長は、磁気テープＭＴの磁性層の厚みｄの１２倍の波長１２ｄに設定されている。このパルス電流ＰＣ１は、磁気ヘッド１７の第１記録ヘッド１７ａ（図２参照）に向けて出力される。
【００３７】
また、磁気信号出力回路１４は、図３（ｂ）に示すように、磁気テープＭＴの磁性層の厚みｄの２倍の波長２ｄに設定された波長であるほかは、パルス電流ＰＣ１と同様にプラスパルス電流ＰＰ１及びゼロ電流ＺＣをこの順番に連続して繰り返すパルス電流ＰＣ２を発生する。このパルス電流ＰＣ２は、磁気ヘッド１７の第２記録ヘッド１７ｃ（図２参照）に向けて出力される。
【００３８】
このようなパルス電流ＰＣ１，ＰＣ２が第１及び第２記録ヘッド１７ａ，１７ｃに供給されると、走行する磁気テープＭＴの幅方向にヘッドアクチュエータ１８によって往復移動しながら摺接する第１及び第２記録ヘッド１７ａ，１７ｃのそれぞれは、磁気テープＭＴの幅方向を斜めに横切るように第１磁気信号Ｓ１及び第２磁気信号Ｓ２を磁性層に記録していく（図２参照）。
【００３９】
また、このように第１磁気信号Ｓ１が記録されていく際に、前記パルス電流ＰＣ１の波長は、磁性層の厚みｄの１２倍の１２ｄとなっている（図３（ａ）参照）。つまり、波長６ｄを超える波長のパルス電流ＰＣ１は、図４に示すように、磁性層ＭＬをその厚み相当の深さまで磁化する。
【００４０】
また、第２磁気信号Ｓ２が記録されていく際に、前記パルス電流ＰＳ２の波長は、磁性層の厚みｄの２倍の２ｄとなっている（図３参照）。つまり、波長６ｄ未満である波長のパルス電流ＰＣ２は、図４に示すように、磁性層ＭＬをその厚み方向に部分的に、具体的には、磁性層ＭＬの表面近傍の浅い部分のみを磁化する。
【００４１】
その一方で、第１及び第２再生ヘッド１７ｂ，１７ｄのそれぞれは、第１及び第２記録ヘッド１７ａ，１７ｃの下流側で第１磁気信号Ｓ１及び第２磁気信号Ｓ２を再生していく。このようにして第１及び第２再生ヘッド１７ｂ，１７ｄで第１磁気信号Ｓ１及び第２磁気信号Ｓ２が再生される際に、図５（ａ）に示すように、第２磁気信号Ｓ２は、磁性層ＭＬの表面と磁気ヘッド１７（第２再生ヘッド１７ｄ）との間にスペースＳＰ（図１１参照）が発生すると、その出力（Ｐ）が低下する。なお、図５（ａ）中、ＥＳ２は、矩形波である第２磁気信号Ｓ２の包絡線である。
また、第１及び第２再生ヘッド１７ｂ，１７ｄで第１磁気信号Ｓ１及び第２磁気信号Ｓ２が再生される際に、図５（ｂ）に示すように、第１磁気信号Ｓ１は、前記第２磁気信号Ｓ２と対応するように、スペースＳＰの発生によって、その出力（Ｐ）が低下する。そして、第１再生ヘッド１７ｂが磁性層ＭＬの厚みｄに対応する大きさの出力（Ｐ）で第１磁気信号Ｓ１を再生していく際に、第１磁気信号Ｓ１は、磁性層ＭＬの厚みｄが薄くなっている箇所（厚みむらがある箇所）では、その出力（Ｐ）が低下する。なお、図５（ｂ）中、ＥＳ１は、矩形波である第１磁気信号Ｓ１の包絡線である。
【００４２】
このような第１及び第２磁気信号Ｓ１，Ｓ２が制御装置１６（図１参照）に入力されると、制御装置１６は、第２磁気信号Ｓ２の出力の変動の大きさが、予め設定した所定値より小さいか否かを、第２磁気信号Ｓ２の出力波形のピーク値（包絡線ＥＳ２のレベル）によって判断する。そして、制御装置１６は、ピーク値が所定値より小さい場合、つまり、図５（ａ）に示す例では、包絡線ＥＳ２のレベルがＰ１に維持されており、出力の変動幅がゼロである場合には、磁性層ＭＬの表面と磁気ヘッド１７（第２再生ヘッド１７ｄ）との間にスペースＳＰ（図１１参照）が発生していないと判断する。これとは逆に、包絡線ＥＳ２のレベルがＰ１を下回った場合に、制御装置１６は、前記スペースＳＰが発生したと判断する。
【００４３】
また、制御装置１６は、前記スペースＳＰが発生していないと判断した場合には、厚み演算用テーブル１５（図１参照）を参照する。そして、制御装置１６は、この演算用テーブル１５を参照することによって、第１磁気信号Ｓ１の出力の大きさ（出力波形のピーク値で表される）に対応する磁性層ＭＬの厚みｄを導き出す。この導き出された磁性層ＭＬの厚みｄは、その厚さが数値レベルで表わされた厚み信号として制御装置１６から出力される。磁性層ＭＬの厚みｄは、厚み信号が、例えばモニタ（図示せず）に出力されて具現化される。
【００４４】
また、制御装置１６は、前記スペースＳＰが発生していると判断した場合には、磁性層ＭＬの厚みｄを厚み演算用テーブル１５から導き出さない。
【００４５】
したがって、この厚み測定システム１では、磁気ヘッド１７と磁性層ＭＬの表面との間にスペースＳＰが生じた場合の第１磁気信号Ｓ１の出力の低下、つまりスペーシングロスによる第１磁気信号Ｓ１の再生出力の変動と、磁性層ＭＬの厚みｄのむらによる第１磁気信号Ｓ１の再生出力の変動とを分離することができる。その結果、この厚み測定システム１によれば、スペーシングロスによって第１磁気信号Ｓ１の再生出力が変動した場合を排除することができるので、磁性層ＭＬの厚みｄを精度よく測定することができる。
【００４６】
次に、この厚み測定システムを組み込んだ磁気テープ記録再生装置の一実施の形態について、適宜図面を参照しながら説明する。ここでは、ヘリカルスキャン方式の磁気テープ記録再生装置に前記厚み測定システムを応用した例を示し、主にその記録再生部分について説明する。参照する図面において、図６は、本実施の形態に係る磁気テープ記録再生装置の記録再生部分の斜視図、図７は、図６の磁気テープ記録再生装置によって、磁気テープの磁性層に記録された第１磁気信号及び第２磁気信号の記録パターンを示す模式図、図８（ａ）及び図８（ｂ）は、図６の磁気テープ記録再生装置に使用される磁気ヘッドの正面図である。なお、この磁気テープ記録再生装置において、前記した厚み測定システムと同様の構成要素については同一の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
【００４７】
本実施の形態に係る磁気テープ記録再生装置は、ヘリカルスキャン方式の磁気テープ記録再生装置であって、図６に示すように、データの記録再生を行う第１磁気ヘッド２１及び第２磁気ヘッド２２がシリンダ２３の周面の対極位置に配設されている。
【００４８】
シリンダ２３は、周面が全周にわたって精密加工された上半分の回転シリンダ２３ａと、磁気テープＭＴが巻回される周面の一部が斜めの帯状に精密加工された下半分の固定シリンダ２３ｂとを有し、上半部の回転シリンダ２３ａは、下半部の固定シリンダ２３ｂに回転自在に支持されて傾斜した軸廻りに回転する。この回転シリンダ２３ａは、図示しない回転駆動機構により一定の高速度で高精度に回転するように構成されている。そして、この回転シリンダ２３ａの固定シリンダ２３ｂ側の下端部には、前記第１磁気ヘッド２１及び第２磁気ヘッド２２が配設されている。
【００４９】
シリンダ２３の周面には、一対のガイドローラ２４，２４に案内された磁気テープＭＴが上半分の回転シリンダ２３ａと下半分の固定シリンダ２３ｂに跨って斜めに半周ほど巻回されている。この磁気テープＭＴは、図示しない走行駆動機構により、前記回転シリンダ２３ａの回転方向と同方向に一定の低速度で走行するように構成されている。そして、この磁気テープＭＴが前記回転シリンダ２３ａ及び固定シリンダ２３ｂの周面に跨って一定の低速度で斜めに走行する間に、前記第１磁気ヘッド２１及び第２磁気ヘッド２２が回転シリンダ２３ａと共に一定の高速度で回転して交互に磁気テープＭＴを斜めに横切ることで、磁気テープＭＴに対する第１及び第２磁気信号並びにデータ信号の記録再生が行われる。この場合、図７に示すように、磁気テープＭＴには、その走行方向に対して傾斜したデータ信号ブロックＤＢと、第１磁気信号ブロックＳ１Ｂと、第２磁気信号ブロックＳ２Ｂとが記録される。
【００５０】
第１磁気ヘッド２１は、図８（ａ）に示すように、磁気テープＭＴに第１磁気信号を記録する第１記録ヘッド１７ａと、磁気テープＭＴから第１磁気信号を再生する第１再生ヘッド１７ｂと、磁気テープＭＴに第２磁気信号を記録する第２記録ヘッド１７ｃと、磁気テープＭＴから第２磁気信号を再生する第２再生ヘッド１７ｄと、データ信号の記録再生用の磁気ギャップＧとを備えており、これらはブロック幅Ｗ（図７参照）の方向に対して一方に所定角度で傾斜している。
【００５１】
そして、第１記録ヘッド１７ａは、回転シリンダ２３ａの上端側に配置され、第２記録ヘッド１７ｃは、回転シリンダ２３ａの下端側に配置され、磁気ギャップＧは、磁気ギャップＧの両端側から第１記録ヘッド１７ａと第２記録ヘッド１７ｃとに挟み込まれるように配置されている。そして、第１再生ヘッド１７ｂは、第１記録ヘッド１７ａに対して、走行する磁気テープＭＴの上流側に配置されており、第２再生ヘッド１７ｄは、第２記録ヘッド１７ｃの上流側に配置されている。
【００５２】
また、第２磁気ヘッド２２は、前記第１磁気ヘッド２１と同様に、第１記録ヘッド１７ａ、第２記録ヘッド１７ｃ、第１再生ヘッド１７ｂ、第２再生ヘッド１７ｄ及び磁気ギャップＧを備えており、これらの傾斜角度が、図８（ｂ）に示すように、ブロック幅Ｗの方向に対して他方に所定角度傾斜しているほかは、前記第１磁気ヘッド２１と同様に構成されている。また、第１磁気ヘッド２１及び第２磁気ヘッド２２のこれらの傾斜角度が相互に反対方向に傾斜することによって、例えば、第１磁気信号ブロックＳ１Ｂ及び第２磁気信号ブロックＳ２Ｂ（図７参照）とが隣接するような場合に、相互に両ブロックＳ１Ｂ，Ｓ２Ｂからの信号妨害を排除したアジマス記録が可能になっている。なお、データ信号の再生をもする第１磁気ヘッド２１及び第２磁気ヘッド２２の磁気ギャップＧは、特許請求の範囲にいう「データ信号再生ヘッド」に相当する。
【００５３】
このような磁気テープ記録再生装置によれば、第１再生ヘッド１７ｂと第２再生ヘッド１７ｄとによって、第１磁気信号ブロックＳ１Ｂ及び第２磁気信号ブロックＳ２Ｂに記録された第１磁気信号Ｓ１及び第２磁気信号Ｓ２（図７参照）が再生される。そして、前記した方法と同様にして、これら第１磁気信号Ｓ１及び第２磁気信号Ｓ２の出力の大きさに基づいて、精度よく磁性層の厚みが測定される。
【００５４】
また、この磁気テープ記録再生装置では、第１及び第２磁気ヘッド２１，２２のそれぞれの磁気ギャップＧによって、データ信号ブロックＤＢ（図７参照）に記録されたデータ信号が再生される際に、磁性層ＭＬの厚みｄの測定に用いられた第１磁気信号Ｓ１（図７参照）の出力の大きさに応じて、再生されたデータ信号の出力を、例えばイコライザといった増幅装置（図示せず）を使用して増幅させることができる。つまり、このような磁気テープ記録再生装置によれば、磁性層ＭＬが薄くなっている箇所に記録されて、その出力の大きさが弱まるデータ信号を所定のレベルで出力されるように調整することができる。
【００５５】
以上、本発明は、前記実施の形態に限定されることなく、様々な形態で実施される。
例えば、本実施の形態では、第１磁気信号Ｓ１の波長を１２ｄ（磁性層の厚みの１２倍）に設定し、そして、第２磁気信号の波長を２ｄ（磁性層の厚みの２倍）に設定したが、本発明はこれに限定されるものではない。つまり、第１磁気信号の波長は、６ｄを超える範囲で適宜に設定すればよく、第２磁気信号の波長は、６ｄ未満の範囲で適宜に設定すればよい。なお、第１磁気信号の波長は、前記した範囲で長ければ長いほど、磁性層ＭＬをより確実に飽和磁化することができるので好ましい。また、第２磁気信号の波長は、前記した範囲で短ければ短いほど、磁性層ＭＬの表面近傍のより浅い部分を磁化することができるので好ましい。
【００５６】
例えば、本実施の形態では、図２、図８（ａ）及び図８（ｂ）に示すように、磁気ヘッド１７（第１磁気ヘッド２１、第２磁気ヘッド２２）に、第１及び第２記録ヘッド１７ａ，１７ｃ並びに第１及び第２再生ヘッド１７ｂ，１７ｄを備えるように構成したが、本発明はこれに限定されることなく、磁気ヘッド１７（第１磁気ヘッド２１、第２磁気ヘッド２２）に１組の記録ヘッドと再生ヘッドとを備えるように構成してもよい。
【００５７】
このような厚み測定システムでは、磁気信号回路１４がパルス電流ＰＣ１及びパルス電流ＰＣ２を交互に記録ヘッドに送信するように制御装置を構成すればよい。そして、記録ヘッドによって交互に記録された第１磁気信号Ｓ１と第２磁気信号Ｓ２とが再生ヘッドで再生されるとともに、前記したと同様に、第１磁気信号Ｓ１と第２磁気信号Ｓ２の出力に基づいて磁性層ＭＬの厚みｄが測定されるように、厚み測定システムは構成されればよい。
【００５８】
また、本実施の形態では、パルス電流ＰＣ１及びパルス電流ＰＣ２を矩形波で構成するとともに、これらパルス電流ＰＣ１及びパルス電流ＰＣ２のそれぞれが、第１記録ヘッド１７ａ及び第２記録ヘッド１７ｃに供給されるように構成したが、本発明は、これに限定されるものではない。例えば、本発明の厚み測定システムは、前記したように、磁気ヘッドに１組の記録ヘッド及び再生ヘッドを搭載するとともに、前記パルス電流ＰＣ１及びパルス電流ＰＣ２に代えて、図９に示すような正弦波ＳＣで構成される電流が磁気信号出力回路１４（図１参照）から当該記録ヘッドに向けて出力されるように構成されていてもよい。この正弦波ＳＣは、波長が磁性層の厚みｄの４０倍の波長４０ｄの正弦波ＳＷと、波長が磁性層の厚みｄに等しく一定振幅の交流波ＣＷとを合成したものである。
【００５９】
このような正弦波ＳＣからなる電流が記録ヘッドに供給されると、この厚み測定システムでは、波長４０ｄ（＞６ｄ）の成分が、磁性層の厚み相当の深さまでにわたる磁性層に記録されるとともに、波長ｄ（＜６ｄ）の成分が、前記磁性層の表面近傍の浅い部分に記録される。つまり、この厚み測定システムでは、波長４０ｄ（＞６ｄ）の成分によって磁性層に記録される磁気信号が第１磁気信号に相当し、波長ｄ（＜６ｄ）の成分によって磁性層に記録される磁気信号が、第２磁気信号に相当する。
【００６０】
そして、この厚み測定システムでは、正弦波ＳＣからなる電流に基づいて磁性層に記録された磁気信号を再生ヘッドが再生した際に、再生した磁気信号の周波数分析を行うことによって、波長４０ｄ（＞６ｄ）の成分による磁気信号（第１磁気信号）と、波長ｄ（＜６ｄ）の成分による磁気信号（第２磁気信号）とが分離され、そして前記したと同様にして、それらの出力の大きさに基づいて、精度よく磁性層の厚みを測定することができる。
【００６１】
また、この正弦波ＳＣを用いた厚み測定システムは、前記したヘリカルスキャン方式の磁気テープ記録再生装置に組み込まれてもよい。この磁気テープ記録再生装置では、例えば、図１０に示すように、まず、記録ヘッドが正弦波ＳＣからなる電流に基づいて磁気信号を記録することによって、磁気テープＭＴの幅方向に傾斜する厚み測定バンドＳが形成される。次いで、この厚み測定バンドＳに隣接するように、５本のデータ信号バンドＤＢが記録ヘッドで形成される。そして、磁気テープＭＴには、これら厚み測定バンドＳ及び５本のデータ信号バンドＤＢがこの順番で繰り返して形成されていく。
【００６２】
次に、磁気テープ記録再生装置では、データ信号バンドＤＢに記録されたデータ信号を再生する際に、再生ヘッドが、厚み測定バンドＳから、正弦波ＳＣからなる電流に基づいて記録された磁気信号を再生することによって、前記したと同様にして磁性層の厚み（磁性層の厚みむら）が測定される。そして、磁気テープ記録再生装置は、記録ヘッドがデータ信号バンドＤＢに記録されたデータ信号を再生する際に、磁性層の厚みｄの測定に用いられた第１磁気信号、つまり、波長４０ｄ（＞６ｄ）の成分による磁気信号の出力の大きさに応じて、再生されたデータ信号の出力を、例えばイコライザといった増幅装置（図示せず）を使用して増幅させることができる。つまり、このような磁気テープ記録再生装置によれば、磁性層が薄くなっている箇所に記録されて、その出力の大きさが弱まるデータ信号を所定のレベルで出力されるように調整することができる。
【００６３】
また、本実施の形態では、磁気テープ記録再生装置として、ヘリカルスキャン方式のものを例示したが、本発明はこれに限定されることはなく、リニア方式のものであってもよい。
【００６４】
【発明の効果】
本発明の磁性層の厚み測定システムによれば、磁性層の厚みを精度よく測定することができる。また、本発明の磁気テープ記録再生装置によれば、磁気テープの磁性層の厚みに応じて、磁気テープに記録されたデータ信号の出力を調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る厚み測定システムのブロック図である。
【図２】図１の厚み測定システムに使用される磁気ヘッド及びヘッドアクチュエータの配置を示す概略図である。
【図３】図３（ａ）は、磁気信号出力回路から第１記録ヘッドに向けて出力されるパルス電流の波形を示す図、図３（ｂ）は、磁気信号出力回路から第２記録ヘッドに向けて出力されるパルス電流の波形を示す図である。
【図４】図４は、図２のＸ−Ｘ線における断面図である。
【図５】図５（ａ）は、第２再生ヘッドが再生した第２磁気信号の波形を示す図、図５（ｂ）は、第１再生ヘッドが再生した第１磁気信号の波形を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態に係る磁気テープ記録再生装置の斜視図である。
【図７】図６の磁気テープ記録再生装置によって、磁気テープの磁性層に記録された第１磁気信号及び第２磁気信号の記録パターンを示す模式図である。
【図８】図８（ａ）及び図８（ｂ）は、図６の磁気テープ記録再生装置に使用される１組の磁気ヘッドのそれぞれを示す正面図である。
【図９】他の実施の形態に係る磁気テープ記録再生装置において、磁気信号出力回路から磁気ヘッドに向けて出力される電流の波形を示す図である。
【図１０】他の実施の形態に係る磁気テープ記録再生装置の記録ヘッドによって、磁気テープに形成された厚み測定バンド及びデータ信号バンドの記録パターンを示す模式図である。
【図１１】磁性層の厚み測定システム（測定装置）の再生ヘッドが、磁性層の表面から離れた様子を示す模式図である。
【符号の説明】
１    磁性層の厚み測定システム
１５    厚み演算用テーブル
１６    制御装置
１７ａ  第１記録ヘッド
１７ｂ  第１再生ヘッド
１７ｃ  第２記録ヘッド
１７ｄ  第２再生ヘッド
ｄ    磁性層の厚み
ＭＬ    磁性層
ＭＴ    磁気テープ
Ｓ１    第１磁気信号
Ｓ２    第２磁気信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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