(57)【要約】【課題】較正から実質的に独立した欠陥修正を適用する方法を提供する。【解決手段】面空間光変調器（１４６）を使う画像システムにおいて画像データ（１００）に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、画像データ（１００）にトーン修正ＬＵＴ（１４８’）を適用し、欠陥マップ（１２２）及び関連する利得テーブル（１２４）を使う欠陥修正を適用する前に、較正修正を適用する。次に、画像変調アセンブリ（１４０）内で画像データにトーン修正ＬＵＴ（１４８）が適用される。【選択図】図４
2004326123.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１のビット深さを有する画像データ値を受ける面空間光変調器を使う画像形成システム内において画素の画像データ値に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、
（ａ）画像データ値を第１のトーン修正ＬＵＴに送り、前記第１のビット深さを有する、対応するトーン修正済データ値を取得し、
（ｂ）前記トーン修正済データ値に、前記面空間光変調器のために生成された欠陥マップからの欠陥補償値及び前記欠陥補償値に関連付けられた利得値を適用し、前記第１のビット深さを有する第１のトーン及び欠陥修正済画像データ値を形成し、
（ｃ）逆トーン修正ＬＵＴを適用し、前記第１トーン及び欠陥修正済画像データ値を、前記第１のビット深さよりも低い第２のビット深さを有する第２のトーン及び欠陥修正済画像データ値に変換し、
（ｄ）前記第２トーン及び欠陥修正済画像データ値を第２のトーン修正ＬＵＴに送り、前記面空間光変調器のための、前記第１のビット深さを有する調整入力データ値を取得する、ことを含む方法。
【請求項２】
請求項１に記載の、画像データ値に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、
前記逆トーン修正ＬＵＴが前記第２トーン修正ＬＵＴの逆関数である、方法。
【請求項３】
請求項１に記載の、画像データ値に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、
前記欠陥補償値を適用するステップが、前記トーン修正済データ値が前記第１のトーン及び欠陥修正済画像データ値と等しくなるようにヌル値を加えるステップを有する、方法。
【請求項４】
請求項１に記載の、画像データ値に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、
前記面空間光変調器が、透過型ＬＣＤ、反射型ＬＣＤ、及びデジタルマイクロミラー装置からなる群から選択されるいずれかである、方法。
【請求項５】
請求項１に記載の、画像データ値に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、
前記第２トーン修正ＬＵＴが、前記第１トーン修正ＬＵＴの複製である、方法。
【請求項６】
請求項１に記載の、画像データ値に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、
前記第１トーン修正ＬＵＴが、較正印刷からの少なくとも１つの感光測定を取得し、前記少なくとも１つの感光測定をトーン修正アルゴリズムで処理することにより生成される、方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、面空間光変調器を用いる画像作成に関し、より詳しくは、装置の較正から実質的に独立した、面空間光変調器のための欠陥修正方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
透過型ＬＣＤ及び反射型ＬＣＤなどの２次元面空間光変調器は、高解像度プリンタにおける画像形成装置としての使用において、大きな有望性を提供するが、これらの装置を使うことに固有の欠点もいくつか存在する。これらの欠点の１つとして、不完全な製造処理に起因する、何らかの形で欠陥修正を行う必要があることがあげられる。高頻度欠陥は、例えば、液晶構造に配向バイアスを与えるために必要な、表面ブラッシングの結果として起こりうる。低頻度欠陥は、例えば、面空間光変調器の表面上における、他の不規則性によって起こりうる。
【０００３】
この種類の欠陥を補償する１つの方法は、欠陥マップと、これに関連する利得テーブルとを使う。例えば、本願と共通の譲受人に譲受される、バーナーディ等（Ｂｅｒｎａｒｄｉ  ｅｔ  ａｌ．）による、２００３年２月７日に出願された米国特許出願第１０／３６０，０３０号「Ａ  ＭＥＴＨＯＤ  ＦＯＲ  ＤＥＴＥＲＭＩＮＩＮＧ  ＡＮ  ＯＰＴＩＭＵＭ  ＧＡＩＮ  ＲＥＳＰＯＮＳＥ  ＩＮ  Ａ  ＳＰＡＴＩＡＬ  ＦＲＥＱＵＥＮＣＹ  ＲＥＳＰＯＮＳＥ  ＣＯＲＲＥＣＴＩＯＮ  ＦＯＲ  Ａ  ＰＲＯＪＥＣＴＩＯＮ  ＳＹＳＴＥＭ」は、印刷システムに適用できる、欠陥マップ及びこれに関連する利得テーブルを取得する方法を開示する。この方法によって得られた欠陥マップ／利得テーブルの組合わせを使い、達成可能な光強度レベルの範囲において、個々のＬＣＤまたは他の面空間光変調器に特有の、様々な種類の低頻度及び高頻度の両方の欠陥を効果的に補償することができる。
【０００４】
既存の欠陥修正技術における１つの問題点に、適切な装置の較正への依存性が挙げられる。特に、面空間光変調器を使う印刷応用法において、例えば、装置の性能の変化に対応するため又は感光性媒体の応答性におけるバッチ間の差を補償するために、空間光変調器を頻繁に再較正することが必要である。しかしながら、較正における変更には、欠陥補償における望まれない変更が伴う場合がある。よって、欠陥修正を完全に装置較正から独立したものとはできないが、欠陥修正をできるだけ較正から独立したものとして、較正の変更が、装置の欠陥修正に対して、無視できるほどの影響のみを持つようにすることが望ましい。
【０００５】
様々な較正のための効率的な欠陥修正を取得することを複雑にしているいくつかの問題点は、印刷装置ハードウェアに固有の限界による。例えば、空間光変調器自体は、１０ビットまたはそれ以上の解像度で画像形成することが可能である場合であっても、そのサポート部品によって、空間光変調器が、８ビット以下のビットの深さ又は「ビット空間」を有する画像データに制限されている場合がある。よって、画像形成データ及びルックアップテーブル（ＬＵＴ）が、８ビットの値に制限されている場合がある。しかしながら、較正アルゴリズムは、より高いビット空間、例えば１０ビット又は１２ビットの値を使う方が効率的な場合もある。装置固有の制限のために、しばしば、高いビット空間で計算された値を、その後に、空間光変調器のサポート部品のために、低いビット空間に変換する必要がある。この高いビット空間から低いビット空間にスケールを変更する必要性の結果、いくつかの画像の輪郭（ｃｏｎｔｏｕｒｉｎｇ）及び関連した効果が、較正の後で、画像形成性能を劣化させる場合がある。追加の欠陥修正により、空間光変調器のいくつかの領域において均一性が更に劣化する場合があり、これにより、部品欠陥の過修正によって、視認できる画像収差が引き起こされる。この種類の過修正は、例えば、印刷された画像において縞を引き起こす場合がある。
【０００６】
よって、低頻度欠陥の修正及び高頻度欠陥の修正の両方に対する較正の潜在的な不利な効果を最低限にし、高い画像均一性を提供し、欠陥修正を較正とは実質的に独立したものとする画像処理経路が必要とされている。
【０００７】
【特許文献１】米国特許出願第１０／３６０，０３０号明細書
【特許文献２】米国特許出願第０９／６０６，８９１号明細書
【特許文献３】米国特許出願第０９／７１２，６４１号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の１つの目的は、装置の較正とは実質的に独立した、欠陥修正法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この目的を達成するために、本発明による方法は、第１のビット深さを有する画像データ値を受ける面空間光変調器を使う画像形成システム内において画素の画像データ値に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、
【００１０】
（ａ）画像データ値を第１のトーン修正ＬＵＴに送り、前記第１のビット深さを有する、対応するトーン修正済データ値を取得し、
【００１１】
（ｂ）前記トーン修正済データ値に、前記面空間光変調器のために生成された欠陥マップからの欠陥補償値及び前記欠陥補償値に関連付けられた利得値を適用し、前記第１のビット深さを有する第１のトーン及び欠陥修正済画像データ値を形成し、
【００１２】
（ｃ）逆トーン修正ＬＵＴを適用し、前記第１トーン及び欠陥修正済画像データ値を、前記第１のビット深さよりも低い第２のビット深さを有する第２のトーン及び欠陥修正済画像データ値に変換し、
【００１３】
（ｄ）前記第２トーン及び欠陥修正済画像データ値を第２のトーン修正ＬＵＴに送り、前記面空間光変調器のための、前記第１のビット深さを有する調整入力データ値を取得する、ことを特徴とする。
【００１４】
本発明の特徴の１つは、欠陥修正が適用される前に、画像データが、較正のために作成されたトーン修正ＬＵＴのコピーを使い処理されることである。
【００１５】
本発明の効果の１つは、較正から実質的に独立した欠陥修正を適用する方法の提供である。本発明の方法を使い、較正補償が適用された後に、欠陥修正が行われる。
【００１６】
本発明のこれら及び他の目的、特徴、及び効果は以下の詳細な説明を図面を参照して読むことにより、当業者には理解できるであろう。以下の詳細な説明及び図面においては、本発明の例示実施形態が図示され説明される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
この説明は特に、本発明による装置の一部を形成する又は、より直接的に協働する、構成要素に関する。特に図示されない又は説明されない構成要素は、当業者には広く知られた様々な形であってもよいことを理解されたい。
【００１８】
図１を参照し、図１には、印刷応用法のための欠陥修正及び装置較正の両方を提供する画像形成経路が示される。画像データ１００は、本願と共通の譲受人に譲受され同時係属中の、２０００年６月２９日に出願されたウィリアム  Ｍ  バーニック（Ｗｉｌｌｉａｍ  Ｍ．  Ｂａｒｎｉｃｋ）による米国特許出願第０９／６０６，８９１号、「Ａ  ＭＥＴＨＯＤ  ＡＮＤ  ＡＰＰＡＲＡＴＵＳ  ＦＯＲ  ＣＯＲＲＥＣＴＩＮＧ  ＤＥＦＥＣＴＳ  ＩＮ  Ａ  ＳＰＡＴＩＡＬ  ＬＩＧＨＴ  ＭＯＤＵＬＡＴＯＲ  ＢＡＳＥＤ  ＰＲＩＮＴＩＮＧ  ＳＹＳＴＥＭ」、２０００年１１月１４日に出願されたロサリオ等（Ｒｏｓａｒｉｏ  ｅｔ  ａｌ．）による米国特許出願第０９／７１２，６４１号、「ＭＥＴＨＯＤ  ＯＦ  ＣＯＭＢＩＮＩＮＧ  ＡＣＱＵＩＲＥＤ  ＤＩＧＩＴＡＬ  ＤＡＴＡ  ＴＯ  ＣＯＮＳＴＲＵＣＴ  Ａ  ＣＯＭＰＯＳＩＴＥ  ＩＭＡＧＥ」、２００３年２月７日に出願されたバーナーディ等（Ｂｅｒｎａｒｄｉ  ｅｔ  ａｌ．）による米国特許出願第１０／３６０，０３０号「Ａ  ＭＥＴＨＯＤ  ＦＯＲ  ＤＥＴＥＲＭＩＮＩＮＧ  ＡＮ  ＯＰＴＩＭＵＭ  ＧＡＩＮ  ＲＥＳＰＯＮＳＥ  ＩＮ  Ａ  ＳＰＡＴＩＡＬ  ＦＲＥＱＵＥＮＣＹ  ＲＥＳＰＯＮＳＥ  ＦＯＲ  Ａ  ＰＲＯＪＥＣＴＩＯＮ  ＳＹＳＴＥＭ」に開示されるように開発された、欠陥修正処理ブロック１２０によって調整される。欠陥修正処理ブロック１２０は、欠陥マップ１２２と、対応する利得テーブル１２４と、を有する。欠陥が修正された画像データ１０１はその後、トーン修正ＬＵＴ１３０に送られ、ここで較正処理が行われる。背景技術の項で述べたように、較正アルゴリズムは、元の画像データのビット空間よりも高いビット空間でトーン修正ＬＵＴ１３０を生成する。次に、線形ビットシフト／ダウンレジスタ１３２がこの結果の１０ビット又は１２ビットデータを８ビットへと除算し、欠陥が修正され較正が修正された画像データ１３１を提供する。画像変調アセンブリ１４０は、欠陥修正済及び較正修正済画像データ１３１を更に調整する固定ＬＵＴ１４４を有するＡＳＩＣ１４２を有し、画像形成のために変調された画像データ１４１を空間光変調器１４６へと送る。
【００１９】
図１の画像形成経路は、元の画像データを図示する処理ステップの順に調整することにより、いくらかの程度の欠陥修正及び較正補償が行われた、変調された画像データ１４１を提供する。しかしながら、図１の手続き順は、収差のない画像形成を、画像形成装置の寿命の間保つためには欠点を有する。これは、欠陥修正処理ブロック１２０で行われる欠陥修正が大きく較正に依存するからである。空間光変調器１４６の再較正が、適用される欠陥修正に悪い影響を及ぼす場合があり、この結果、画像収差が引き起こされる。
【００２０】
図１の画像形成経路が示すように、固定ＬＵＴ１４４などによっていくつかの点を固定し、他のデータを時間によってシフトさせることを可能にすることが有効である。しかしながら、図１の全体の流れは、較正に対する十分な欠陥修正を可能にするために満足のいくような程度でない場合もある。
【００２１】
図２を参照し、欠陥修正及び較正の両方を行うための、向上した方法を示し、この方法では、欠陥修正が、較正に使われる高いビット空間において行われる。ここで、画像データ１００はまず、トーン修正ＬＵＴ１３０によって調整され、較正修正済み画像データ１３３が形成される。トーン修正ＬＵＴ１３０は、入力画像データ１００のビット空間よりも高いビット空間内で動作し、較正修正済画像データ１３３自体も、高いビット空間にある。較正修正済画像データ１３３は次に、欠陥修正処理ブロック１２０によって調整され、空間光変調器１４６のビット空間よりも高いビット空間にある修正済画像データ１３５が生成される。次に、線形ビットシフト／ダウンレジスタ１３２が、修正済画像データ１３５を除算して、図１に関して説明したものと同様に構成される画像変調アセンブリ１４０のために適切なビット空間解像度に戻す。
【００２２】
図１の手順と同様に、図２の画像処理手順は、欠陥修正及び較正補償の両方を画像データ１００に対して行う。しかしながら、図１の画像処理手順とは異なり、欠陥修正処理ブロック１２０が、較正に使われるビット空間よりも高いビット空間で動作する。すなわち、図２の手順は、較正からの欠陥修正の独立性をいくらか提供する。しかしながら、経験的な結果は、図２に示す方法がしばしば十分でないことを明確に示しており、出力画像内の収差の量子化（ｑｕａｎｔｉｚａｔｉｏｎ）又は輪郭（ｃｏｎｔｏｕｒｉｎｇ）が引き起こされる場合がある。したがって、単に較正に使われるビット空間において欠陥修正を実行することは、許容できる解決法を提供せず、画像品質を劣化させる場合もある。
【００２３】
図３を参照し、高い較正ビット空間において欠陥修正が行われる、もう１つの向上した方法を示す。図１及び図２の方法と異なり、図３の手順は、書き換え可能なトーン修正ＬＵＴ１４８を、較正調整のためにＡＳＩＣ１４２に保持する。図３の方法においては、まず、画像データ１００が、線形ビットシフト／アップレジスタ１３６において較正に使われる高いビット空間にシフトされ、シフトされた画像データ１５３が形成される。シフトされた画像データ１５３は次に、欠陥修正処理ブロック１２０によって調整され、シフトされた修正済画像データ１３９が生成される。そして、線形ビットシフト／ダウンレジスタ１３２が、データを除算し、低減されたビット空間の修正済画像データ１５１を画像変調アセンブリ１４０に送る。画像変調アセンブリ１４０内では、装置の各較正において書き換えられるＡＳＩＣ１４２内のトーン修正ＬＵＴ１４８を使い較正が実行される。この結果の欠陥修正済及び較正済画像データ１５５が次に、空間光変調器１４６に入力される。
【００２４】
図３の手順は、欠陥修正処理の後で較正を行うことに留意することが有益である。よって、欠陥修正は較正アルゴリズムに使われる高いビット空間において実行されるが、図３の手順は、欠陥修正が、その大きな部分において、較正に依存し、図１に関して説明された固有の問題のいくつかを有する。
【００２５】
よって、図１、図２、及び図３に示す、異なる画像データ処理の手順構成は、様々な程度の、欠陥修正の較正からの独立性を有することがわかる。しかしながら、図１から図３の手順のいずれも、後続の再較正手続きが不利な方向に欠陥修正に影響を与えないような、十分な程度の欠陥修正の独立性を可能にしない。この代わりに、再較正手続きは、欠陥修正を相殺する場合があり、又は、望まれない画像輪郭又は他の量子化関連の画像異常を引き起こす場合がある。
【００２６】
ここで図４を参照し、本発明の実施の形態を示す。この実施の形態においては、図１から図３の構成と比べ、装置の較正からの欠陥修正の実質的な独立性を可能にする。図４の手順の簡単な全体像として、入力画像データ１００はまず、トーン修正ＬＵＴ１４８のコピー１４８’によって処理され、このコピー１４８’は、画像データ１００に対して較正調整を実行し、これにより、画像データ１００を、較正処理に使われる高いビット空間にあるトーン修正済画像データ１０３へと変換する。トーン修正済画像データ１０３は次に、欠陥修正処理ブロック１２０によって調整され、各画像画素に対するトーン及び欠陥修正済画像データ１０７が生成される。次に、逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１が、トーン及び欠陥修正済画像データ１０７を、画像変調アセンブリ１４０への入力に使われる、典型的には８ビットの、低解像度ビット空間のＡＳＩＣ入力データ１０９へと変換する。画像変調アセンブリ１４０内において、トーン修正ＬＵＴ１４８の処理により、高い較正ビット空間での調整された入力データ１１１が生成され、このデータ１１１が画像を形成するために空間光変調器１４６に入力される。
【００２７】
図４に示す処理手順を、データ変換に特別な重点をおいて再び参照する。まず、８ビット画像データ１００がトーン修正済画像データ１０３に変換され、これにより、入力画素のデータ値を、入力の０−２５５の範囲から、高いビット値を有する範囲へと変換し、好適な実施形態においては、拡張した０−１２１５の範囲内の対応する値を生じる。トーン修正済画像データ１０３の値は、元の値から反転されていてもよく、これにより、例えば、０である入力データ値が１２１５であるトーン修正済画像データ１０３の値に対応してもよい。この、トーン修正ＬＵＴ１４８のコピー１４８’を通じた第１の変換は、初期の０−２５５の画像データ値の各々を、較正値のビット空間の、対応する０−１２１５のトーン修正済画像データ１０３の値にマッピングする。次に、この同じ較正値のビット空間において、欠陥修正が実行される。欠陥修正処理ブロック１２０内で実行される欠陥修正が、空間光変調器１４６の各々の画素の必要に応じて実行されることに留意することが有益である。大半の画素においては、欠陥修正を実行する必要がない。欠陥修正を必要とする画素では、欠陥修正値は、一般的に、対応するトーン修正済画像データ１０３の値に対するオフセットを与える。低頻度欠陥の修正のためには、好適な実施の形態で使われる範囲においては、オフセット値は典型的には、±８０の範囲である。高頻度欠陥の修正においては、オフセット値は典型的には、±３０の範囲である。この結果である、欠陥修正済画像データ１０７の全ての画像画素の平均値は、トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’によって生成された全てのトーン修正済画像データ１０３の値の平均値を厳密に近似する。しかしながら、欠陥修正済画像データ１０７の個々の画素は、いくらかの足された又は引かれたオフセット値をこの方式を使う画素欠陥の補償として有する。
【００２８】
図４の手順を続け、逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１は、較正を保存しつつ、欠陥修正済画像データ１０７を、低減されたビット空間のＡＳＩＣ入力データ１０９に戻すためのマッピングを行う。この逆マッピングを行い画像異常を最低限にするために、逆ＬＵＴが使われる。逆ＬＵＴは、曲線の当てはめであってもよく又はそうでなければ、較正画像技術における当業者には広く知られたデータマッピング技術を使い計算されてもよい。結果のＡＳＩＣ入力データ１０９は次に、ＡＳＩＣ１４２内のトーン修正ＬＵＴ１４８に送られてもよく、空間光変調器１４６のための、調整された入力データ１１１を生成する。したがって、この処理手順により、空間光変調器１４６の高いビット空間の、調整された入力データ１１１が、トーン修正済画像データ１０３内に存在する較正結果を保存し、空間光変調器１４６を使い生成された画像内の輪郭又は他の量子化エラーの可能性を最小限にする。
【００２９】
［入力データ処理の例］
図４のデータ処理手順がどのように動作して装置の較正から比較的独立した欠陥修正を可能にするかを理解するために、いくつかの例においてこの手順を追ってみることが有益である。
【００３０】
例１：
図４の手順により行われる処理の第１の例として、上述の実施形態の０−２５５の範囲及び０−１２１５の範囲を使い、トーン修正ＬＵＴ１４８及びトーン修正ＬＵＴと同一のコピー１４８’が線形である場合の、この手順の動作を考える。このような場合、画像データ１００に対しては、実質的に較正は実行されず、欠陥修正のみが実行される。入力画像データ１００の値が１３１である場合を考える。トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’において、この値は、０−１２１５の範囲内の整数の値に変換され、反転される。トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’が線形であるこの場合においては、結果のトーン修正済画像データ１０３の値は、以下のように計算できる。
１２１５−（１２１５／２５５）＊１３１＝５９１
【００３１】
欠陥修正処理ブロック１２０においては、特定の画素が、＋２０の欠陥修正オフセットを有する。これにより、この画素のトーン及び欠陥修正済画像データ１０７の値は、
５９１＋２０＝６１１
となる。次に、逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１が、以下の式を使い、トーン修正ＬＵＴ１４８の線形関係を逆にすることで、トーン及び欠陥修正済画像データ１０７を空間光変調器１４６の０−２５５の範囲へと戻すように変換する。
２５５−（２５５／１２１５）＊６１１＝１２７
【００３２】
よって、この第１の例では、ＡＳＩＣ入力データ１０９として機能する較正及びトーン修正値は、入力画像データ１００の値が１３１の場合には、この画素に対して１２７である。次に、これと同じ種類の計算及びマッピング手順が、印刷対象の画像内の各画素に対する入力画像データ１００の値に対して実行される。
【００３３】
トーン修正ＬＵＴ１４８においては次に、最終変換が実行されて、調整された入力データ１１１が取得される。ここでは、
１２１５−（１２１５／２５５）＊１２７＝６１０
が使われる。
【００３４】
この６１０である調整済入力データ１１１の値は次に、画像形成のために使われるデータとして空間光変換器１４６に送られる。
【００３５】
例２：
第２の例として、トーン修正ＬＵＴ１４８及びトーン修正ＬＵＴの同一のコピー１４８’が非線形である場合を考えることが有益である。この、より複雑ではあるが、同時に、より現実的である場合においては、トーン修正ＬＵＴ１４８は、各画像データ１００の値を較正値にマッピングすることにより装置較正のために調整する。ここでも、１３１である入力画像データ１００の値を考慮する。トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’において、この値は、０−１２１５の範囲内の整数値に変換され、反転される。この例においては、トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’が非線形であるため、このＬＵＴマッピングからの結果のトーン修正済画像データ１０３の値は６００である。欠陥修正処理ブロック１２０においては、この特定の画素はここでも、＋２０の結果修正オフセットを有する。これにより、この画素においては、トーン及び欠陥修正済画像データ１０７の値は、
６００＋２０＝６２０
となる。次に、逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１が、６２０という値を１２５と関連付ける逆マッピングによって、トーン及び欠陥修正済画像データ１０７を変換し、空間光変調器１４６の０−２５５の範囲に戻す。よって、この第２の例においては、ＡＳＩＣ入力データ１０９として機能する較正及びトーン修正値は、入力画像データ１００の値が１３１である場合、この画素に対して、１２５である。これと同じ種類の計算及びマッピング手順がその後、印刷対象画像の各画素の入力画像データ１００の値に適用される。
【００３６】
図４に示す手順が、欠陥修正を必要としない画素と欠陥修正を必要とする画素との両方の較正を保存することを強調することが重要である。すなわち、欠陥修正処理ブロック１２０が、画素のトーン修正済画像データ１０３の値にオフセットを足さない場合（つまり、０を足す場合）、トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’、逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１及びトーン修正ＬＵＴ１４８による処理によって実行される変換手順は、実行された較正の保全性を保存するように機能する。この結果、欠陥修正を必要としない画素においては、トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’から出力される、中間のトーン修正済画像データ１０３の値は、空間光変調器１４６の入力として送られる調整入力データ１１１の値と、マッピング誤差の小さな許容差以内で実質的に等しい。同様に、欠陥修正を必要としない値に対しては、画像データ１００の値は、ここでも、ＡＳＩＣ入力データ１０９の値と、小さなマッピング誤差の許容差以内で実質的に等しい。
【００３７】
このように較正を保存するためには、以下の関係ルールに従う必要がある。
【００３８】
（ａ）トーン修正ＬＵＴ１４８及びトーン修正ＬＵＴのコピー１４８’が同一である。すなわち、較正によるトーン修正ＬＵＴ１４８への変更は、トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’にも忠実に実行される。
【００３９】
（ｂ）逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１が、トーン修正ＬＵＴ１４８の逆関数である必要がある。
【００４０】
これらのルールの両方に従わない場合、較正の保全性を損なう場合があり、これにより、輪郭などの望まれない量子化異常が引き起こされる。例えば、単純に、トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’の代わりに較正ＬＵＴを使い較正を実行し、欠陥補償を適用した後のデータ値を、逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１及びトーン修正ＬＵＴ１４８の代わりに２つのなんらかの逆ＬＵＴを使って変換する単純な逆関数により、同様の結果を得ることができるように見えるかもしれない。このような方法を使うことは、上述のルール（ｂ）に従うことに等しいが、ルール（ａ）に違反しており、図２に関して上で説明したものと同じ固有の欠点を有する。
【００４１】
例３：
以下の例は、ルール（ａ）及びルール（ｂ）の両方に従わなかった場合に、どのようにデータ値の望まれないシフトが起こりうるかを示す。例えば、ここでも１３１である入力画像データ１００の値を考慮する。トーン修正ＬＵＴのコピー１４８’において、このデータ値は、非線形マッピングによって、整数値（ここでも０−１２１５の範囲内）である５９４に変換される。欠陥修正処理ブロック１２０による欠陥修正を必要としない画素は、５９４であるトーン及び欠陥修正済画像データ１０７を生じる。第１の例のように、逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１及びトーン修正ＬＵＴ１４８が線形変換及びその逆変換を行う（ルール（ｂ）には従うが、ルール（ａ）に違反）と仮定すると、エラーシフトが生まれる。逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１においては、５９４であるトーン及び欠陥修正済画像データ１０７の値に対して第１の線形変換が以下のように行われる。
２５５−（２５５／１２１５）＊５９４＝１３０
すでに、第１のシフトが存在する。１３１であった画像データ１００の値が、１３０であるＡＳＩＣ入力データ１０９の値にシフトされている。次に、トーン修正ＬＵＴ１４８が、変換を実行する。
１２１５−（１２１５／２５５）＊１３０＝５９６
これは、第２のシフトを示す。５９４であったトーン及び欠陥修正済画像データ１０７の値は、逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１及びトーン修正ＬＵＴ１４８によって実行された変換及び逆変換によって、５９６にシフトされている。
【００４２】
この例から、ルール（ａ）及びルール（ｂ）の両方に従わない場合、データ値の望まれないシフトが容易に引き起こされ、較正の保全性が失われ、潜在的に、輪郭又は画像異常を引き起こす場合があることがわかる。
【００４３】
図４の処理手順の効果として、以下があげられる。
【００４４】
（ｉ）トーン修正済画像データ１０３に、欠陥修正の前に画像データ１００に較正がすでに適用されるように、欠陥修正が適用される。
【００４５】
（ｉｉ）欠陥修正が、画像形成に使われるビット空間よりも高いビット空間において適用される。
【００４６】
したがって、図４に示すように、本発明の方法により、欠陥修正は、較正された画像データ内で実行される。図４の手順を使うことにより、低頻度及び高頻度副産物の両方に対して良く修正された、均一の出力画像が得られることがわかった。反復較正処理においては、図４の手順は、連続した較正動作の各々が、その前の動作よりも向上させることを可能にし、これにより、理にかなった少ない反復数で印刷装置の較正を完了させることを可能にする。
【００４７】
いくつかの場合において、異なる種類の欠陥補償を、低頻度及び高頻度欠陥などの、異なる種類の欠陥に対して続けて適用する場合がある。画像ごとに１つのみ現れる空間欠陥は、低頻度欠陥と考えられる。画像ごとに繰り返し複数回現れる空間欠陥は、高頻度欠陥と考えられる。図５ａを参照し、図４の処理手順を、縦続（カスケード：ｃａｓｃａｄｅｄ）欠陥修正のために変形したものを示す。第１に、低頻度欠陥マップ１２２ｌ及びこれに関連する低頻度利得テーブル１２４ｌが、トーン修正済画像データ１０３に適用される。次に、高頻度欠陥マップ１２２ｈ及び関連する高頻度利得テーブル１２４ｈが適用され、トーン及び欠陥修正済画像データ１０７’が生成される。次に、逆トーン修正処理ＬＵＴ８４１が、トーン及び欠陥修正済画像データ１０７’を、画像変調アセンブリ１４０で使われるビット空間へ下げて変換し、ＡＳＩＣ入力データ１０９を生成する。そして、トーン処理１４８の処理により、調整された入力データ１１１が生成され、これが、画像を形成するために空間光変調器１４６に入力される。
【００４８】
図５ｂを参照し、図５ａの代替の縦続構成を示す。この構成においては、トーン修正済画像データ１０３が、わずかに違う順序で低頻度及び高頻度利得テーブル１２４ｌ及び１２４ｈによって処理される。図５ｂの手順において、同一のトーン修正済画像データ１０３の値が、低頻度利得テーブル１２４ｌ及び高頻度利得テーブル１２４ｈに送られ、その後、それぞれの低頻度及び高頻度欠陥マップ１２２ｌ及び１２２ｈに送られる。これにより、組合わされた低頻度及び高頻度欠陥補償オフセットが、調整トーン及び欠陥修正済画像データ１０７’に総和される。
【００４９】
［トーン修正ＬＵＴ１４８の作成手順］
図６のフローチャートを参照し、較正におけるトーン修正ＬＵＴ１４８を作成するために使われる、基本的なステップの順序を示す。較正の開始時に、ＬＵＴ１４８は、ＬＵＴ線形化ステップ２００において、ＬＵＴ１４８が当初は画像データに影響を及ぼさないように線形化される。グレイスケールデータステップ２１０において、処理及び印刷のために、平坦フィールド（ｆｌａｔ  ｆｉｅｌｄ）較正入力データが生成される。ＬＵＴ適用ステップ２２０において、ＬＵＴ１４８を通じて、平坦フィールド較正入力データが処理される。反復の最初の回においては、この処理によって入力データは変更されない。第２回及び第３回目の反復時に、ＬＵＴ１４８が順に向上された近似によって、順番に入力データに影響しはじめる。印刷及び測定ステップ２３０において、較正印刷が生成され、感光度データが測定される。ＬＵＴ計算ステップ２４０において、トーン修正ＬＵＴ１４８が作成される。判定ステップ２５０において、較正印刷の妥当性が判断され、次の反復回が必要かどうかが判断される。もう１回の反復が必要である場合、処理は、グレイスケールデータステップ２１０にループして戻る。較正が受容できるものである場合、コピーステップ３００において、ＬＵＴ１４８がＬＵＴ１４８’にコピーされる。
【００５０】
図６のフローチャートの手順の繰り返しのループによって、画像形成装置の較正に適切な、トーン修正ＬＵＴ１４８が生成される。欠陥マップ１２２及び利得テーブル１２４は、上述のように、本願と共通の譲受人に譲受される米国特許出願第０９／６０６，８９１号、第０９／７１２，６４１号、及び第１０／３６０，０３０号に開示されるように算出される。
【００５１】
本発明の方法は、反射型及び透過型の両方のＬＣＤ面空間光変調器において使われる場合に特に有効である。これに加え、本発明は、例えばデジタルマイクロミラー装置（ＤＭＤ）などの、他の種類の面空間光変調器において用いることもできる。本発明の方法は、印刷装置における使用法を説明したが、同じ方法を使い、表示応用法などを含む、一般的な画像応用法に使うことができる。
【００５２】
よって、画像形成装置の較正から実質的に独立した欠陥修正を適用する方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】較正に依存する欠陥修正を有する画像データの処理法を示すフロー図である。
【図２】欠陥修正が、入力画像データのビット深さ解像度よりも高いビット深さ解像度を有する色空間において適用される、画像データの処理法を示すフロー図である。
【図３】欠陥修正が適用される前に、画像データが高いビット空間にシフトされる、画像データの処理法を示すフロー図である。
【図４】本発明による、欠陥修正が実質的に較正から独立している、画像データの処理法を示すフロー図である。
【図５ａ】本発明による、縦続低頻度及び高頻度欠陥修正を有する、画像データの処理法を示すフロー図である。
【図５ｂ】本発明のもう１つの実施形態による、縦続低頻度及び高頻度欠陥修正を有する、画像データの処理法を示すフロー図である。
【図６】較正トーン修正ＬＵＴを生成するための反復処理を示す、フローチャートである。
【符号の説明】
【００５４】
１００  ８ビット画像データ、１２０  欠陥修正処理ブロック、１２２  欠陥マップ、１２４  利得テーブル、１４２  固定ＬＵＴを有するＡＳＩＣ、１４６  装置、１４８  トーン修正ＬＵＴ、１４８’  トーン修正ＬＵＴのコピー、８４１  トーン修正ＬＵＴの逆関数。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５ａ】
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【図５ｂ】
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【図６】
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