(57)【要約】【課題】ＢＷＢの配線に対する等化パラメータの設定を自動化し、装置コストの低減を実現する。【解決手段】ＰＫＧ間全二重配線両端の送信回路・受信回路が、配線に関して同じ条件で対称であることに着目し、受信回路にて検知可能な、配線による高周波成分の減衰率を、物理的に隣接して配置された送信回路の送信等化量の調整に用いる。この調整手順を一連の装置初期設定手順に組み込み、個々のパタン配線に対する最適な等化量を自動的に検出・設定することにより、人手を介した設定を省略することを可能にする。【選択図】　　　図１
2004015622.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の入力信号の第１の特性パラメータを観測する波形検出回路と、
第２の入力信号を所定の等化パラメータに基づき変化させた等化送信信号を出力する等化送信回路と、
前記等化パラメータを、前記第１の特性パラメータに基づき設定する等化パラメータ設定回路とを備え、
前記第１の入力信号を供給する伝送路、及び前記等化送信信号が出力される伝送路が互いに近似する伝搬特性を有することを特徴とする等化装置。
【請求項２】
請求項１記載の等化装置であって、
前記等化装置は、さらに、
前記等化パラメータを所定の範囲で掃引する初期設定制御回路を備えていることを特徴とする等化装置。
【請求項３】
請求項２記載の等化装置であって、
前記等化装置は、さらに、掃引された前記第１の特性パラメータと前記等化パラメータの関係を格納するメモリを備えていることを特徴とする等化装置。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３のいずれかの請求項に記載された等化装置であって、
前記等化送信回路は、前記第２の入力信号に対し、所定の遮断周波数以上で減衰量が減少するプリエンファシスを施すことを特徴とする等化装置。
【請求項５】
請求項４記載の等化装置であって、
前記等化パラメータは、前記遮断周波数であることを特徴とする等化装置。
【請求項６】
請求項４記載の等化装置であって、
前記等化パラメータは、前記減衰量の変化率であることを特徴とする等化装置。
【請求項７】
請求項１乃至請求項６のいずれかの請求項に記載された等化装置であって、
前記第１の入力信号は２値信号であり、前記第１の特性パラメータは、アイパターンの開口率であることを特徴とする等化装置。
【請求項８】
請求項７記載の等化装置であって、
前記２値信号は、擬似ランダムパターンを含むことを特徴とする等化装置。
【請求項９】
請求項７記載の等化装置であって、
前記２値信号は、互いに異なる複数の固定パターンを含むことを特徴とする等化装置。
【請求項１０】
第１の入力信号の第１の特性パラメータを観測する波形検出工程と、
前記第１の特性パラメータに基づき等化パラメータを設定する等化パラメータ設定工程と、
前記等化パラメータに基づき第２の入力信号を変化させる等化送信工程と
を備え、
前記第１及び第２の入力信号が、互いに近似する伝搬特性を有する伝送路を介して入力されることを特徴とする等化方法。
【請求項１１】
請求項１０記載の等化方法であって、
前記等化方法は、さらに、
前記等化パラメータを所定の範囲で掃引する初期設定制御工程を備えていることを特徴とする等化方法。
【請求項１２】
請求項１１記載の等化方法であって、
前記等化方法は、さらに、掃引された前記第１の特性パラメータと前記等化パラメータの関係を格納する記憶工程を備えていることを特徴とする等化方法。
【請求項１３】
請求項１０乃至請求項１２のいずれかの請求項に記載された等化方法であって、
前記等化送信工程は、前記第２の入力信号に対し、所定の遮断周波数以上で減衰量が減少するプリエンファシスを施すことを特徴とする等化方法。
【請求項１４】
請求項１３記載の等化方法であって、
前記等化パラメータは、前記遮断周波数であることを特徴とする等化方法。
【請求項１５】
請求項１３記載の等化方法であって、
前記等化パラメータは、前記減衰量の変化率であることを特徴とする等化方法。
【請求項１６】
請求項１０乃至請求項１５のいずれかの請求項に記載された等化方法であって、
前記第１の入力信号は２値信号であり、前記第１の特性パラメータは、アイパターンの開口率であることを特徴とする等化方法。
【請求項１７】
請求項１６記載の等化方法であって、
前記２値信号は、擬似ランダムパターンを含むことを特徴とする等化方法。
【請求項１８】
請求項１６記載の等化方法であって、
前記２値信号は、互いに異なる複数の固定パターンを含むことを特徴とする等化方法。
【請求項１９】
請求項１８記載の等化方法であって、
前記等化パラメータ設定工程は、前記複数の異なる固定パターンに対する信号振幅の比を前記開口率として用いることを特徴とする等化方法。
【請求項２０】
第１及び第２の送受信回路と、
前記第１及び第２の送受信回路を接続する第１及び第２の伝送路とを備えた伝送装置であって、
前記第１及び第２の送受信回路は、請求項１乃至請求項９のいずれかの請求項に記載された等化装置を備えていることを特徴とする伝送装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は等化装置及び等化方法並びに伝送装置に関し、特に、ＩＰルータやクロスコネクト等の大容量通信装置、スーパーコンピュータ等の大規模な情報処理装置を構成する複数のプリント基板間の高速インタコネクション方式において、伝送路導体の表皮効果、プリント基板材料の誘電損失等による高周波成分の減衰を補償する等化装置及び等化方法並びに伝送装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一例として、図３に、大容量通信装置の異なるプリント基板（以下ＰＫＧという。）１ａと１ｂの間を、バックボード（以下、ＢＷＢという。）２を経由して、電気信号の送受を行う構成を示す。伝達される電気信号は、送信回路１１ａから受信回路１２３ｂに伝達され、その伝送路２０は、ＰＫＧ１及びＢＷＢ２の上に形成されたパタン配線２０と、ＰＫＧ１とＢＷＢ２の特定のパタン配線２０同士を電気的に接続するＢＷＢコネクタ２１からなる。送信回路１１ａから受信回路１２３ｂまでの一続きの、パタン配線２０の延長は、数１０ｃｍから数ｍ以下である。
【０００３】
パタン配線２０を伝達される電気信号のビットレートが１Ｇｂｐｓを越える領域では、パタン配線２０を形成する導電体の電気抵抗の他に、導体の表皮効果による伝導損失の増大と、プリント基板１及びＢＷＢ２を構成する絶縁体の誘電損失の増大から、電気信号の伝達特性に周波数依存性が発生する。具体的には、伝送後の信号の高周波成分が大きく減衰する、いわゆる波形鈍り、に依る符号間干渉により、受信符号誤りが発生する。図１８に、高周波成分が著しく減衰した、受信波形の例を示す。
【０００４】
このような問題に対して、従来は、
Ａ．　Ｆｉｅｄｌｅｒ　ｅｔ　ａｌ．，　”　Ａ　１．０６２５　Ｇｂｐｓ　Ｔｒａｎｓｃｅｉｖｅｒ　ｗｉｔｈ　２ｘＯｖｅｒｓａｍｐｌｉｎｇ　ａｎｄＴｒａｎｓｍｉｔ　Ｓｉｇｎａｌ　Ｐｒｅ−Ｅｍｐｈａｓｉｓ，　”　Ｐｒｏｃ．　ＩＥＥＥ　Ｉｎｔ．　ｌ　Ｓｏｌｉｄｓ−Ｓｔａｔｅ　ＣｉｒｃｕｉｔｓＣｏｎｆ．，　Ｄｉｇｅｓｔ　ｏｆ　Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ　Ｐａｐｅｒｓ，　ＩＥＥＥ　Ｐｒｅｓｓ，　Ｐｉｓｃａｔａｗａｙ，　Ｎ．Ｊ．，　１９９７，　ｐｐ．　２３８−２３９．、あるいは、
Ｍ．Ｆｕｋａｉｓｈｉ，　Ｋ．Ｎａｋａｍｕｒａ，　Ｍ．Ｙｏｔｓｕｙａｎａｇｉ，　ｅｔ．ａｌ．，　”　Ａ　２０−Ｇｂ／ｓ　ＣＭＯＳ　Ｍｕｌｔｉ−Ｃｈａｎｎｅｌ　Ｔｒａｎｓｍｉｔｔｅｒ　ａｎｄ　Ｒｅｃｅｉｖｅｒ　Ｃｈｉｐ　Ｓｅｔ　ｆｏｒ　Ｕｌｔｒａ−Ｈｉｇｈ　Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ　Ｄｉｇｉｔａｌ　Ｄｉｓｐｌａｙ”，　２０００　ＩＳＳＣＣ　Ｄｉｇｅｓｔ　ｏｆ　ｔｅｃｈｎｉｃａｌ　Ｐａｐｅｒｓ，　Ｓａｎ　Ｆｒａｎｃｉｓｃｏ，　ｐｐ．２６０−２６１，Ｆｅｂ，２０００．
に記載されたプリエンファシスと呼ばれる送信時に等化を行う技術が知られている。図１９に、送信等化を行った信号波形の測定例を示す。
【０００５】
この等化方法は、送信回路１１ａの側に高周波成分の強調を行う等化回路を付加して、送信信号スペクトルの高周波成分を強調送信し、伝送路での高周波成分の減衰を補うことで、受信信号の符号間干渉の影響を軽減し、符号誤りの無い信号受信を行う。
【０００６】
以上の送信時等化方式では、個々の送信回路に対して、個別に等化パラメータの設定が必要であった。これは、以下の２つの理由による。すなわち、
（１）個々のパタン配線２０に於ける高周波成分の減衰量は、各々異なった値を取る。装置構成上、パタン配線２０の距離は一定ではなく、隣接してＢＷＢに接続されるＰＫＧと、ＢＷＢの両端で接続されるＰＫＧがある。たとえば、パタン配線長の幅は、最小１０ｃｍから最大１００ｃｍとなり得る。このため、パタン配線距離はある範囲の幅を持ち、その伝送距離に応じて、高周波成分の減衰割合もある範囲で変化する。
【０００７】
（２）ある特定のパタン配線距離に対しては、最適な等化パラメータが唯一存在する。等化による高周波成分の強調が強すぎる場合には、最大振幅は大きいが、アイ開口は狭まり、受信マージンを減らすような、逆効果となるためである。
【０００８】
図１６に、従来の技術による、等化パラメータの設定回路構成を示す。
従来の技術では、送信回路１１ａ、受信回路１２ｂ間を接続するパタン配線の配線長を、自動的に知り得る手段が無いため、装置組み立て後に、各々の送信回路１１ａに対して、各々に異なる等化パラメータＳ１３０１を設定する必要がある。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来技術では、等化パラメータＳ１３０１の設定は、一般には、不揮発メモリなどの記憶手段を利用することで、電源投入毎の繰り返し設定処理は避けられていた。しかし、装置組み立て後に少なくとも１回は手動により行う必要があった。なぜなら、ある送信回路１１ａが接続されるパタン配線２０は、装置組み立て時の、ＰＫＧ１ａと１ｂがＢＷＢ２へ接続された時に初めて決定されるのであって、それ以前には、パタン配線２０の配線距離を知り得る手段が無いため、等化パラメータＳ１３０１も決め得ない。
【００１０】
このように手動設定を行う結果として、設定に要する人的な費用の発生と、調整に要する時間だけの在庫の滞留が発生し、これに伴い装置価格の上昇を引き起こしていた。
【００１１】
本発明は、従来技術の課題を解決し、装置コストの低減に資する等化装置及び等化方法並びに伝送装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するため、本発明の等化装置は、第１の入力信号の第１の特性パラメータを観測する波形検出回路と、第２の入力信号を所定の等化パラメータに基づき変化させる等化送信回路と、前記等化パラメータを、前記第１の特性パラメータに基づき設定する等化パラメータ設定回路とを備え、前記第１及び第２の入力信号が、互いに近似する伝搬特性を有する伝送路を介して入力される。
【００１３】
前記等化装置は、さらに、前記等化パラメータを所定の範囲で掃引する初期設定制御回路を備えていてもよい。
【００１４】
前記等化装置は、さらに、掃引された前記第１の特性パラメータと前記等化パラメータの関係を格納するメモリを備えていてもよい。
【００１５】
前記等化送信回路は、前記第２の入力信号に対し、所定の遮断周波数以上で減衰量が減少するプリエンファシスを施すように構成してもよい。
【００１６】
前記等化パラメータとして、前記遮断周波数を用いてもよい。
【００１７】
あるいは、前記等化パラメータとして、前記減衰量の変化率を用いてもよい。
【００１８】
前記第１の入力信号は２値信号であり、前記第１の特性パラメータとして、アイパターンの開口率を用いてもよい。
【００１９】
前記２値信号は、擬似ランダムパターンを含んでいてもよい。
【００２０】
あるいは、前記２値信号は、互いに異なる複数の固定パターンを含んでいてもよい。
【００２１】
本発明の等化方法は、第１の入力信号の第１の特性パラメータを観測する波形検出工程と、前記第１の特性パラメータに基づき等化パラメータを設定する等化パラメータ設定工程と、前記等化パラメータに基づき第２の入力信号を変化させる等化送信工程とを備え、前記第１及び第２の入力信号が、互いに近似する伝搬特性を有する伝送路を介して入力される。
【００２２】
上記等化方法は、さらに、前記等化パラメータを所定の範囲で掃引する初期設定制御工程を備えていてもよい。
【００２３】
前記等化方法は、さらに、掃引された前記第１の特性パラメータと前記等化パラメータの関係を格納する記憶工程を備えていてもよい。
【００２４】
前記等化送信工程は、前記第２の入力信号に対し、所定の遮断周波数以上で減衰量が減少するプリエンファシスを施すように構成してもよい。
【００２５】
前記等化パラメータとして、前記遮断周波数を用いてもよい。
【００２６】
あるいは、前記等化パラメータとして、前記減衰量の変化率を用いてもよい。
【００２７】
前記第１の入力信号は２値信号であり、前記第１の特性パラメータとして、アイパターンの開口率を用いてもよい。
【００２８】
前記２値信号は、擬似ランダムパターンを含んでいてもよい。
【００２９】
あるいは、前記２値信号は、互いに異なる複数の固定パターンを含んでいてもよい。
【００３０】
前記等化パラメータ設定工程は、前記複数の異なる固定パターンに対する信号振幅の比を前記開口率として用いるように構成してもよい。
【００３１】
本発明の伝送装置は、第１及び第２の送受信回路と、前記第１及び第２の送受信回路を接続する第１及び第２の伝送路とを備え、前記第１及び第２の送受信回路は、上記の等化装置を備えている。
【００３２】
以上の構成を採用したことにより、本発明の等化装置及び等化方法並びに伝送装置では、等化パラメータを自動的に設定することができ、装置コストの低減が期待できる。
【００３３】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
【００３４】
具体的な実施例の説明に先立ち、まず、本発明の原理的な動作につき説明する。本発明による等化パラメータの制御方式は、装置の電源投入時に、送受信回路の初期設定ルーチンとして最適な等化パラメータを選定する機構を持つ。具体的には、電源投入後の一連の初期設定の一部として、以下の手順によって、最適な等化パラメータを設定する。
（１）ＰＫＧ１ａと１ｂの等化パラメータ設定回路１３０にそれぞれ、同期あるいは同時に処理が進行するカウンタを持ち、送信回路１１０からランダムな信号パタンＳ１１０１を送信しながら、双方で共通に決められた時間で、送信側の等化パラメータＳ１３０１を最小から最大まで掃引する。
（２）受信回路１２３では、例えば特開２０００−００４２６０号公報に記載された、受信信号Ｓ１２０１のアイ開口の全振幅に対する割合、あるいは、受信波形の形状の測定手段を利用して、受信信号のアイ開口率が最大となる時点のカウンタ値を記憶する。
（３）上記（２）で得られたカウンタ値に対応する等化パラメータＳ１３０１を最適な等化パラメータとして、受信回路１２３と同じＰＫＧに搭載され、受信回路１２３と一対となる送信回路の等化パラメータとして設定する。
【００３５】
本発明の等化パラメータ制御方式が適用される装置構成では、ＰＫＧ１ａ、１ｂの間の信号の伝達が一方向の送信ではなく、一般に図４に示すような全二重の回路となり、一組のパタン配線２０ａ、２０ｂの両端のＰＫＧ１ａ、１ｂ上には、双方向で一組となった送信回路と受信回路（１１ａと１２ａ、１２ｂと１１ｂ）が搭載されている。
【００３６】
この全二重構成の送受信一組となるパタン配線２０の配線長は、ＢＷＢ２とそれに接続されるＰＫＧ１の設計時に、等長配線として設計する事が可能であり、その高周波成分の減衰率は、ＰＫＧ間の伝送方向に関して双方向で等しくなるように設計可能である。
【００３７】
このような全二重配線の構成に限定すると、一組のパタン配線の両端で、双方の受信回路では、同一ＰＫＧ１ａの上に搭載された送信回路１１ａと受信回路１２ａに於いて、送信回路１１ａと対向する遠端の受信回路１２ｂが受信する波形と等しい受信波形を得る事が可能である。つまり、パタン配線２０ａと２０ｂが同一の配線条件である場合には、受信回路１２ａと、受信回路１２ｂとは等価であると言える。
【００３８】
この結果、一組のパタン配線２０ａと２０ｂの両端の送信回路１１、受信回路１２で、前述した（１）〜（３）の手順を同時に開始して得られる最適な等化パラメータは、図１に示すように、隣接する一組の送信回路と受信回路でのみ検出することが可能となる。
【００３９】
以上の説明による制御方式を用いることで、装置の初期設定ルーチンとして、任意の位置関係のＰＫＧ間配線に係る、適切な等化パラメータを自動的に検出し、送信回路に対して設定する事が可能となる。
【００４０】
なお、等化は送信側のプリエンファシスで行うことを想定する。すなわち、等化送信回路１１０にプリエンファシスを施す回路を設ける。この回路では、入力信号の低周波成分に対しては周波数に対して一定の透過率を持つ一方、所定の周波数以上の高周波成分に対しては、周波数に対して増加する透過率を有する。この場合、等化パラメータとしては、透過率が一定から増加に転じる周波数（遮断周波数）、あるいは、高周波域での透過率の増加率を用いることができる。
【００４１】
以下、より具体的な実施の形態に即して本発明を詳細に説明する。
（第１の実施の形態）
図１は、本発明による等化送受信回路の実施例の構成を表す図である。
【００４２】
設定を行う回路は、等化送信回路１１０、アイ開口検出回路１２３、等化パラメータ設定回路１３０、及び初期設定制御回路３０とからなる。
【００４３】
なお、以下、（“０１”のような）パルス成分を持つ波形の振幅をＶｓ、同符号連続波形の振幅をＶｃとする。アイ開口率をＶｃ／Ｖｓで定義する。図７に示すように、等化送信を行うと、高周波成分の強調がなされるために、ＶｓはＶｃよりも大きな値となる。
【００４４】
初期設定回路３０は、装置全体の一連の初期設定の一つの手順として、等化パラメータの設定処理を起動させる。
【００４５】
等化送信回路１１０は、送信入力信号Ｓ１１０２に対して、等化パラメータ入力Ｓ１３０１に従った強度の送信等化処理を行い、高周波成分を強調した送信信号Ｓ１１０１を、パタン配線２０ａに送出する。
【００４６】
アイ開口検出回路１２３は、パタン伝送路２０ｂで伝送された受信信号Ｓ１２０１のアイ開口率を測定する。
【００４７】
等化パラメータ設定回路１３０は、最適等化パラメータ設定処理の開始信号Ｓ３００３を受けると、カウンタを、図５に示すように、所定の時間Ｔ毎に、所定のＮ段階に分割して、最大から最小まで掃引する。等化パラメータＳ１３０１は、カウンタ値に従って変化する。
【００４８】
等化パラメータ設定回路１３０の内部のカウンタが零の時、等化送信回路の出力は、図６に示すような、通常のアイパターンの波形となる。パタン配線２０の伝送後の受信波形Ｓ１２０１は、高周波成分の減衰により、図８あるいは図１８のように変形し、Ｖｓ＜Ｖｃとなり、十分なアイ開口が得られず、受信特性が劣化する。
【００４９】
等化パラメータ設定回路１３０の内部のカウンタが最大値Ｎの時、等化送信回路１１０の出力信号Ｓ１１０１は、図７あるいは図１９に示すような波形となる。パタン配線２０での伝送後の波形Ｓ１２０１は、高周波成分の減衰により、図９に示すように変形する。この場合には、等化による強調された高周波成分が残るため、Ｖｓ＞Ｖｃとなり、全振幅に対してアイ開口が若干減少しているため、受信特性が劣化する。
【００５０】
そして、カウンタ値が零とＮの中間のある特定の値の時、等化送信回路１１０の出力Ｓ１１０１は、図７と図８の中間的なＶｓ＞Ｖｃの波形で送信される。この送信信号の伝送後に受信を行うと、パタン配線で伝送後の波形は、図６に示すような、高周波成分の損失が適切に補正されたＶｓ＝Ｖｃの波形となり、最大のアイ開口率となる。このとき最も安定した受信が可能となる。
【００５１】
次にこの構成における最適な等化パラメータの設定手順について、図１０（ａ）を用いて説明する。
【００５２】
等化パラメータ設定処理の開始すると、まず、カウンタを零にリセットする。次に、等化送信回路に対して、カウンタ値に相当する等化パラメータを設定し、その等化パラメータで等化を行った波形を送信する。送信する信号はランダムパタンを用いる。次に、受信回路では、受信された波形のアイ開口率Ｖｓ／Ｖｃを測定する。前記のように、一般に、カウンタが零の場合には、パタン配線の高周波成分の大きな損失によって、アイ開口率Ｖｓ／Ｖｃは１より小さい値を取り、カウンタ値が大きくなるに従い、等化率が大きくなり、アイ開口率Ｖｓ／Ｖｃは１に近づく。
【００５３】
アイ開口率測定回路で測定したアイ開口率が、１より小さい場合には、カウンタの計数値を１増加させ、等化パラメータの送信回路への設定へ戻る。この一連の処理を、所定の時間間隔Ｔで繰り返す。アイ開口率が１を越えたとき、その時のカウンタの計数値を等化パラメータとして固定して、等化パラメータ設定処理を終了する。カウンタの計数値が０となった時、アイ開口率Ｖｓ／Ｖｃが１に満たない場合でも、等化の効果が最も大きいと判断出来るので、Ｎを等化パラメータとする。この一連の処理の実行は、パタン配線の対向側にも、同様な回路があり、同時に処理を開始し、時間間隔Ｔで同様の手順で操作をしている。
【００５４】
以上の手順をより具体的に説明する。
【００５５】
設定開始信号Ｓ３００３を受け取った等化パラメータ設定回路１３０は、その内部に持つカウンタを零にリセットする。次に、零の値を等化送信回路１１０に設定することで、図６のような、アイ開口率（Ｖｓ／Ｖｃ）＝１の非等化波形をパタン配線２０ａへ送信する。受信回路側のアイ開口検出回路１２３が、同時に動作している対向する送信回路から、パタン配線２０ｂを経由して送信された信号Ｓ１２０１の、図８のような受信波形のアイ開口率（Ｖｓ／Ｖｃ）を測定する。高周波成分が減衰するために、Ｖｓ／Ｖｃは１より小さい値を取る事が一般的である。このときアイ開口率測定に際して、測定誤差やノイズによる値の揺らぎを軽減するため、多数回のサンプリングを行い、その平均値を求める方法がありうる。例えば、測定繰り返しループの時間を１００ｍｓｅｃ間隔として、サンプリング周波数を１ｋＨｚとすると、１００回の測定が可能となり、その１００サンプルを平均化する事で、十分に安定した測定が可能である。
【００５６】
次に、カウンタを１増加させ、その値が最大値Ｎ（例えばＮ＝１６）より大きくなった場合には、最大値である１６が最適な等化パラメータとみなされる。カウンタがＮ（＝１６）以下の場合には、次に、測定した等化アイ開口率の値について、それが１以上であるかを比較する。アイ開口率が１以上であるとき、その時のカウンタ値を最適な等化パラメータとして固定する。アイ開口率が１未満の場合は、カウンタ値を１つ増加して、再度、等化パラメータ設定に戻る。
【００５７】
以上の繰り返し処理により、最適な等化パラメータの設定が完了する。
（第２の実施の形態）
図２に本発明の第２の実施の形態の構成を、図１０（ｂ）にその処理の流れ図を示す。
【００５８】
本構成では、先に説明した第１の実施の形態に於いて、等化パラメータ設定回路１３０に接続された、メモリ１３１も用いて、最適なアイ開口率の判定処理を厳密に行っている。
【００５９】
具体的には、等化パラメータ設定処理開始で、カウンタを零から最大値Ｎまで全ての値に対して、アイ開口測定回路１２３でアイ開口率を測定し、それぞれのアイ開口率の測定値を、カウンタ値と対応させたデータ形式としてメモリ１３１に保管する。測定をＮ回行い、処理ループを抜け出てから、メモリに格納されたアイ開口率が最も１に近い値を検索し、その時のカウンタ値を、最適な等化パラメータとして固定する。
【００６０】
（第３の実施の形態）
図１１は、全二重回路の詳しい実施の形態の説明図である。
【００６１】
構成は、対向するＰＫＧ　１ａと１ｂと、往復一組となるパタン配線２０ａと２０ｂと、初期設定制御回路３０とからなる。
【００６２】
初期設定制御回路３０は、双方のＰＫＧ１ａと１ｂの等化パラメータ設定回路１３０ａと１３０ｂが同時に動作開始するために、共通の開始信号Ｓ３００１を与える。ＰＫＧ　１の等化送信回路１１０の上流には、セレクタ１２１を介してパタン生成回路１１３を持ち、等化パラメータ設定処理の間は、セレクタ１１２がパタン生成回路１１３を選択する。パタン生成回路は、等化パラメータ設定処理中に、マーク率１／２の疑似ランダムパタンあるいは、それに類する、パタンの生成を行う。受信側回路側は、パタン配線２０を伝送された信号Ｓ１２０１を、スプリッタ１２１で二分岐して、アイ開口検出回路１２０と、受信回路１２３に分配する。
【００６３】
初期設定制御回路３０からの開始信号Ｓ３００１に従って、図１１に示す構成においても、前述した最適な等化パラメータの設定処理の手順を同様に開始する。設定完了後に、等化パラメータ設定回路１３０から、初期設定制御回路３０に、設定完了信号を送信することで、等化パラメータ設定処理は完了し、装置全体の初期設定処理を続行する。
【００６４】
（第４の実施の形態）
最適な等化パラメータの設定処理は、例えば、カウンタのカウントアップ毎に１００ｍｓｅｃのサンプリング処理を行い、カウンタが零から最大値Ｎ＝２５６までカウントアップする場合を想定すると、約３０秒の時間を要する。装置の電源を切断し再投入した場合に、再度同様の設定処理を避けるため、一度設定した等化パラメータをＰＫＧ内に持つ不揮発メモリに保管する構成を図１２に示す。
【００６５】
前述の手順で最適な等化パラメータの設定が完了した後に、等化パラメータ設定回路１３０に接続された不揮発メモリ１３２に、設定値を保管する。
【００６６】
装置電源投入後の初期設定の等化パラメータ設定処理開始時に、等化パラメータ設定回路１３０は、まず、不揮発メモリ１３２の中に等化パラメータが設定されているか否かを確認する。設定されていない場合には、前述の等化パラメータ設定処理を行う。不揮発メモリ１３２に等化パラメータが保管されている場合には前述の等化パラメータ設定処理は行わずに、初期設定制御回路３０に対して、設定完了信号を送信する。
【００６７】
装置電源切断中に、ＰＫＧ　１の交換や、ＢＷＢ　２上での接続位置の変更など、パタン配線２０の伝送条件の変化に対応するために、各々のＰＫＧにＩＤコードを持ち、不揮発メモリ１３２の中に、最適等化パラメータと同時に、対向ＰＫＧ　ＩＤコードと、ＢＷＢ　２への接続位置（スロット番号）情報を保管する。そして、電源再投入時の、不揮発メモリ１３２の中の等化パラメータ保管の有無確認と同時に、対向ＰＫＧ　ＩＤと、スロット番号の照合も行い、ＰＫＧ構成、接続条件に矛盾が無い事を確認出来た場合にのみ、等化パラメータ設定処理を省略し、矛盾がある場合には、設定処理を行うこととする。
【００６８】
（第５の実施の形態）
図１３に示す構成は、図１２に示す回路構成を単一のＩＣチップ１４に集積したものである。ＩＣ１４は、Ｍチャネルの低速パラレル信号を１チャネルの高速信号に時間多重するため、Ｍ：１のシリアライザ１４１、デシリアライザ１４２を備えている。
【００６９】
（第６の実施の形態）
以上に説明した回路構成に於いて、図１４に示すように、パタン生成回路１１３から出力する疑似ランダムパタンの代替として、２種類の固定パタンを出力する固定パタン生成回路１１４と、アイ開口率検出回路１２０の代替として、振幅測定回路１２４とに置換した構成が可能である。
【００７０】
本構成は、疑似ランダムパタンからアイ開口率を測定する方式の代替機能を果たす。
【００７１】
パタン生成回路１１４は、等化パラメータ設定回路１３０からの制御信号Ｓ１３０３に基づき、パタンＡとパタンＢの２種類の、固定パタンを生成する。パタンＡ、Ｂは、それぞれ、マーク率０．５の異なる周期の正矩形波状の連続パタンを取り、パタンＡは、最大ビットレートに対応する”０１０１０１・・・・”とする。パタンＢは、ＢＷＢの配線からの高周波成分の減衰を受けず、かつ、信号伝送に関与する素子の同符号連続耐力以下の、十分に長周期なパタンである。
【００７２】
受信波形の振幅測定回路１２４は、整流と平滑回路による、一般に知られる包絡線検波回路などの回路構成で十分である。
【００７３】
測定の原理を図１７に示す。受信波形の高周波成分、つまり短周期パタンと、低周波成分、つまり長周期パタンの、両方の振幅が等しい時に、最適なアイ開口を得られる。
【００７４】
短周期のパタンＡ、長周期のパタンＢを用いた２回の測定で得られた、Ｖａ（０）とＶｂ（０）から、高周波成分の減衰率を、Ｖａ（０）／Ｖｂ（０）と求める事が出来る。つまり、送信波形の高周波成分を、Ｖｂ（０）／Ｖａ（０）倍に強調すると、伝送後に最適なアイ開口が得られる。
【００７５】
測定の手順を図１５に示す。等化パラメータを零に設定し、送信等化の無い状態で、パタンＡを送信する。そして、受信波形の振幅Ｖａ（０）を測定し、メモリ１３１に保存する。次に、同一の送信設定で、パタンＢを送信し、受信波形の振幅Ｖｂ（０）の測定と、メモリ１３１への保存を行う。この結果から、図７に示す送信波形のＶｓ，Ｖｃの関係を、
Ｖｓ＝Ｖｃ×Ｖｂ（０）／Ｖａ（０）
となるように、等化パラメータを設定することで、最適な等化パラメータの設定が完了する。
【００７６】
本実施例の測定方式により、最適な等化パラメータの設定時間の短縮が可能である。例えば、等化パラメータの最大値Ｎが２５６の場合、最初の実施例では２５６回の繰り返し測定を行う必要があった。一回の測定周期Ｔが１００ｍｓｅｃとして約３０秒を要した。これに対して、本実施例では、繰り返し測定が２回のみとなり、２００ｍｓｅｃと大幅な時間短縮が可能となる。これは、装置全体の初期設定時間の全体と比較して、十分に短い時間である。
【００７７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、個々のパタン配線に対する最適な等化パラメータを自動的に検出して、設定する事により、従来必要とされていた、人的な工数が削減され、同時に調整時間の削減が可能である。このため、人手を介してＢＷＢの配線長を意識して、個々のＰＫＧに対して等化パラメータを設定していた従来技術に対して装置の製造コストの削減が可能となり、装置価格の低減が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の基本構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の基本構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の適用される装置構成を説明する略図である。
【図４】本発明の適用される装置構成を説明する略図である。
【図５】本発明による、等化パラメータの掃引課程の説明図である。
【図６】波形の例を示す模式図である。
【図７】波形の例を示す模式図である。
【図８】波形の例を示す模式図である。
【図９】波形の例を示す模式図である。
【図１０】等化パラメータの設定手順の流れ図である。
【図１１】本発明の実施の形態を説明する図である。
【図１２】本発明の実施の形態を説明する図である。
【図１３】本発明の実施の形態を説明する図である。
【図１４】本発明の実施の形態を説明する図である。
【図１５】等化パラメータの設定手順の流れ図である。
【図１６】従来の等化パラメータの設定回路構成を示すブロック図である。
【図１７】本発明の実施の形態の原理を説明する図である。
【図１８】高周波成分が減衰した信号波形の測定例である。
【図１９】等化送信を行った信号波形の測定例である。
【符号の説明】
１　プリント基板（ＰＫＧ）
１１　送信回路
１１０　等化送信回路
１１２　セレクタ
１１３　パタン生成回路
１１４　固定パタン生成回路
１２　受信回路
１２０　アイ開口検出回路
１２１　分配回路
１２３　受信回路
１２４　振幅検出回路
１３０　等化パラメータ設定回路
１３１　メモリ
１３２　不揮発メモリ
１４　トランシーバＩＣ
１４１　ＭＵＸ回路
１４２　ＤＥＭＵＸ回路
２　バックボード（ＢＷＢ）
２０　パタン配線
２１　バックボードコネクタ
３０　初期設定制御回路
Ｓ１１０１　等化送信信号
Ｓ１１０２　送信信号
Ｓ１２０１　受信信号
Ｓ１２０２　アイ開口率測定結果
Ｓ１２０３　再生信号
Ｓ１３０１　等化パラメータ
Ｓ１３０３　パタン制御信号
Ｓ３００１　初期設定制御信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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