(57)【要約】【課題】マークの形状によって反射率を異ならせて画像を表現する場合に、データの読取エラーの発生または不正なマークの形成を防止する。【解決手段】異なるマークを形成する第１および第２変換則のいずれかを用いて、記録データを、レーザ光の照射タイミングを規定するパルス列信号に変換するストラテジ回路２６と、光ディスク８０に画像を形成する際に、当該画像の輪郭の形成タイミングを経過した後であって、ＥＦＭデータに同期パターンが付加されるタイミングに至ったときに、ストラテジ回路２６に用いる変換則を変更する制御部２０と、ストラテジ回路２６によるパルス列信号にしたがった電流を選択して半導体レーザ６０に供給する電流選択部２８とを備える。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光の照射によってマークの列を形成する光ディスク記録装置であって、
異なる幅のマークを形成するための複数の変換則のいずれかを用いて、記録データを、レーザ光の照射タイミングを規定するパルス列信号に変換するストラテジ回路と、
前記光ディスクに画像を形成する際に、当該画像の輪郭の形成タイミングを経過した後であって、前記記録データの補完が可能な部位または再生信号の破棄が無視できる部位に至ったときに、前記ストラテジ回路に用いる変換則を一の変換則から他の変換則に変更する変更手段と、
前記ストラテジ回路によるパルス列信号にしたがってレーザ光の照射を制御する照射制御手段と
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
前記記録データは、同期パターンが付加されて、前記ストラテジ回路に供給され、
前記変更手段は、当該画像の輪郭の形成タイミングを経過した後であって、前記同期パターンが前記ストラテジ回路に供給されたときに、前記ストラテジ回路に用いる変換則を一の変換則から他の変換則に変更する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置。
【請求項３】
前記記録データは、サブコードが付加されて、前記ストラテジ回路に供給され、
前記変更手段は、当該画像の輪郭の形成タイミングを経過した後であって、前記サブコードが前記ストラテジ回路に供給されたときに、前記ストラテジ回路に用いる変換則を一の変換則から他の変換則に変更する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ−Ｒなどの光ディスクに対し、データを記録するとともに可視画像を形成する光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）などの光ディスクには、グルーブと呼ばれる螺旋状の案内溝が設けられている。そして、データを記録するときは、このグルーブに沿って高レベルのレーザ光を間欠的に照射することによって記録層を変色させて、マークを形成する。そして、再生時には、グルーブに沿って低レベルのレーザ光を照射する。マークが形成されていないランドではレーザ光の反射光レベルはそれほど変化しないが、マークが形成された部分ではレーザ光の反射光レベルは低下するので、その反射光のレベルが一定の基準レベル以上であるか否かを判別することによりデータを再生することが可能となる。なお、ここでいうマークとは、再生専用の光ディスクにおけるエンボスピットと光学的に同等の効果を有するものをいう。
一方、近年では、データを記録するほかに、可視画像を形成する技術も提案されている。この技術は、描画領域におけるマークを、非描画領域のマークよりも太く（または細く）なるように補正して形成することによって、描画領域の反射率を非描画領域とは異ならせるとともに、この反射率の相違を用いて可視画像を表現する、というものである（例えば、特許文献１、２参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平０９−３１２０２１号公報
【特許文献２】
特開平１１−１３４６４８号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、光ディスクでは、マークまたはランドが連続しないようにＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）形式でデータが記録されるので、本来的にはＥＦＭデータにしたがってレーザをオンオフさせれば良いはずであるが、マークを正確な長さで形成するために、ストラテジと呼ばれる変換則（補正則）にしたがってレーザ光の照射タイミングを補正するのが一般的である。このため、描画領域と非描画領域とにおいて、ストラテジを切り替える構成が想定された。
【０００５】
しかしながら、マークの形成動作と画像の形成動作とは、本来的に無関係であるので、例えば描画領域において補正則にしたがったマークの形成中に非描画領域に切り替わってしまう場合や、逆に、非描画領域におけるマークの形成中に描画領域に切り替わってしまう場合などが発生し得る。このような場合、ストラテジも突如として切り替わる結果、不連続なビットが形成されて、読取エラーを誘発させてしまう、という不都合が指摘された。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、マークの形状によって反射率を異ならせて画像を表現する場合に、データの読取エラーの防止を図った光ディスク記録装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明に係る光ディスク記録装置は、レーザ光の照射によってマークを並べて形成する光ディスク記録装置であって、異なる幅のマークを形成するための複数の変換則のいずれかを用いて、記録データを、レーザ光の照射タイミングを規定するパルス列信号に変換するストラテジ回路と、前記光ディスクに画像を形成する際に、当該画像の輪郭の形成タイミングを経過した後であって、前記記録データの補完が可能な部位または再生信号の破棄が無視できる部位に至ったときに、前記ストラテジ回路に用いる変換則を一の変換則から他の変換則に変更する変更手段と、前記ストラテジ回路によるパルス列信号にしたがってレーザ光の照射を制御する照射制御手段とを具備することを特徴とする。この光ディスク記録装置において、ストラテジ回路における変換則の変更タイミングは、当該画像の輪郭の形成タイミングを経過した後であって、前記記録データの補完が可能な部位または再生信号の破棄の欠落が無視できる部位に至ったタイミングである。このタイミングとしては、記録データに同期パターンが付加されて、ストラテジ回路に供給される場合には、当該同期パターンの供給タイミングが好ましく、また、記録データにサブコードが付加されて、ストラテジ回路に供給される場合には、当該サブコードの供給タイミングが好ましい。
【０００７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図１は、実施形態に係る光ディスク記録装置の要部構成を示すブロック図である。
この光ディスク記録装置１０には、データ記録および画像形成の対象となるＣＤ−Ｒなどの光ディスク８０がセットされる。この光ディスク８０は、スピンドルモータ７０によって回転させられる。ここで、スピンドルモータ７０には、図示せぬ回転検出器が取り付けられて、１回転する毎に、予め定められた個数のパルスを伴う検出信号を、制御部２０に供給する。制御部２０は、この検出信号の周波数を逓倍するとともに、当該逓倍信号においてパルスが出力される毎に、光ディスク８０が一定角度だけ回転したことを検出する。例えば、スピンドルモータ７０が１回転する毎に８個のパルスが出力される場合に、検出信号の逓倍率が「４５０」であるとき、当該逓倍信号のパルス周期は、光ディスク８０が０．１度（＝３６０÷８÷４５０）だけ回転する期間に相当するので、制御部２０は、当該逓倍信号におけるパルスが出力される毎に、光ディスク８０が０．１度だけ回転したことを検出する。
【０００８】
制御部２０に入力される輪郭データは、光ディスク８０に対するレーザ光の照射点が描画領域であればＨレベルとなり、照射点が非描画領域であればＬレベルとなる信号である。このため、その論理レベルがＬレベルからＨレベルに遷移した場合、レーザ光の照射点が非描画領域から描画領域に移行したことを示す一方、ＨレベルからＬレベルに遷移した場合、レーザ光の照射点が描画領域から非描画領域に移行したことを示す。いずれの場合でも、光ディスク８０に画像を形成する場合において輪郭部分の形成タイミングを示している。
ここで、光ディスク８０に形成すべき画像は、例えば図２に示されるように、光ディスク８０の円周方向を内周から外周に向かって順番に１行、２行、３行、…、ｐ行とし、光ディスク８０を半時計回りに回転させたときに走査される順番で１列、２列、３列、…、ｑ列とした極座標で規定される。そして、画像は、この極座標で規定されるドットを描画すべきか否かによって表現される。このため、描画領域とは、上記極座標において描画すべきドットの領域をいう。
【０００９】
光ディスク８０には、図３に示されるように、グルーブ８２が、内周側から外周側に向かって時計回りで螺旋状に形成されている。ここで、光ディスク８０を半時計回りに回転させるとともに、レーザ光の照射点がグルーブ８２をトレースするようにトラッキング制御し、さらに、レーザ光の照射強度の高低を制御することによって、マークが形成される。
【００１０】
ところで、図２における基準線とは、極座標においてレーザ光の照射点が座標を把握するときに列基準となるべき仮想線である。本実施形態では、例えば、グルーブのウォブル（蛇行）状態を復調した時間情報（ＡＴＩＰ：Ａｂｓｏｌｕｔｅ  Ｔｉｍｅ  Ｉｎ  Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）がゼロ時ゼロ分ゼロ秒であることを検出した後に、回転検出器による１発目のパルスが出力されるタイミングを、レーザ光の照射点が基準線を通過したタイミングである判断し、以降、回転検出器からパルスが８回出力される毎に、光ディスク８０が１回転してレーザ光の照射点が基準線を通過したと判断する。
そして、この基準線通過タイミング後に、上述したように逓倍信号のパルスをカウントすることによって、レーザ光の照射点がドットの何列目に位置しているのかを把握することができる。
【００１１】
一方、図２では、ドットサイズを説明のため拡大しているが、画像の解像度が例えば２５０ｄｐｉ（ｄｏｔ  ｐｅｒ  ｉｎｃｈ）である場合、１ドットの大きさは約０．１ｍｍ角となる。ＣＤ−Ｒであれば、グルーブ８２の間隔（トラック間隔）は１．６μｍであるので、１個のドットは、６３本のトラックにまたがることになる。したがって、この例でいえば、基準線を６３回通過したとき、レーザ光の照射点は、外周方向に１ドット分だけ移動したことになる。このため、時間情報がゼロ時ゼロ分ゼロ秒であることを検出した後、基準線の通過回数が１ドッドでまたぐトラック数本と等しい回数に達する毎にアップカウントすることによって、レーザ光の照射点がドットの何行目に位置しているのかを把握することができる。
このようにしてレーザ光の照射点が何行何列のドットに位置しているのかを把握することができる。制御部２０に供給される輪郭データは、レーザ光の照射点が位置するドットに対応したドットデータを、バッファメモリから読み出したものである。
なお、ドットデータについては、例えばホストコンピュータ上で、光ディスクに対し仮想的に割り付けられたビットマップデータを上記極座標に変換することによって得られる。なお、極座標に変換されたドットデータは、光ディスク記録装置１０において、図示せぬバッファメモリに一時的に蓄積される。
【００１２】
一方、エンコーダ２２から出力されるＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）データは、ホストコンピュータから供給された記録データを、８−１４ビット変換したものであって、符号誤り訂正方式をＣＩＲＣ（Ｃｒｏｓｓ  Ｉｎｔｅｒｌｅａｖｅ  Ｒｅｅｄ−Ｓｏｌｏｍｏｎ  Ｃｏｄｅ）としたものである。エンコーダ２２は、このＥＦＭデータを、逐次、図４および図５示される記録フォーマットにして出力する。
詳細には、エンコーダ２２は、まず、図４に示されるように、２４シンボル（１シンボルは１４ビット）のＥＦＭデータに、パリティとして８シンボルを加えるとともに、同期をとるための２４ビットの同期パターンと、１シンボルのサブコードとを付加し、さらに、各シンボル（同期パターンも２４ビットのシンボルとみなす）間に結合のための３ビットを付加して、１フレーム（計５８８ビット）とさせる。
ここで、２４ビットの同期パターンとしては、「１」でデータが反転する表記とすれば、
１００００００００００１００００００００００１０
で示されるパターンが選ばれる。この同期パターンが供給される期間は、１ビットに相当する単位期間をＴで示すと、「１１Ｔ／１１Ｔ／２Ｔ」と表される。エンコーダ２２は、同期パターンを付加すべき期間「１１Ｔ／１１Ｔ／２Ｔ」のうち、期間「１１Ｔ／１１Ｔ」においてＬレベルとなる信号Ｓｙｎｃを制御部２０に供給する（図７参照）。
【００１３】
さらに、エンコーダ２２は、このような１フレームを９８個まとめて、図５に示されるように１ブロックとする。なお、１ブロック分のサブコードの先頭部分を識別するために、第１番目のフレームにおけるサブコードと、第２番目のフレームにおけるサブコードとは、それぞれ同期信号Ｓ０、Ｓ１として用いられる。ここで、ブロック化されたサブコードは、音楽データを記録する場合の頭出しや、ディスプレイ表示などに用いられる付加的性質を有するデータである。
【００１４】
メモリ２４には、第１ライトストラテジ情報ＷＳ１、および、第２ライトストラテジ情報ＷＳ２が記憶されている。このうち、第１ライトストラテジ情報ＷＳ１は、ドットを描画しない非描画領域における変換則であって、エンコーダ２２によってフレーム化されたデータを、レーザ光の照射タイミングを示すパルス列信号に変換する第１変換則を規定する情報である。第２ライトストラテジ情報ＷＳ２は、ドットを描画する描画領域における変換則であって、第１ライトストラテジ情報ＷＳよりも、レーザ光の照射期間を狭める内容の第２変換則を規定する情報である。
【００１５】
ここで、フレーム化されたデータの一部が、図６（ａ）に示されるような第１変換則によって、照射レベルＷを照射期間Ｔ１だけ維持するパルス列信号に変換されるとした場合に、当該パルス列信号にしたがって形成されるマークが、図６（ｂ）に示されるような形状であるとする。
同じデータは、図６（ｃ）に示されるような第２変換則によって、照射レベルＷに一定レベルＢを加算したレベル（＝Ｗ＋Ｂ）を、照射期間Ｔ２だけ維持するパルス列信号に変換される。当該パルス列信号にしたがって形成されるマークは、図６（ｄ）に示されるような形状となり、図６（ｂ）と比較して、マークが太くなる。なお、マークについて太いとは、グルーブ８２に対して直行する方向（光ディスクの径方向）の距離が大きいということであり、絶対的ではなく、相対的な表現である。
なお、図６（ｂ）および図６（ｄ）に示したマークは、濃度が一定となっているが、実際には、マークの中心部から外縁部に向かうにつれて薄くなる傾向がある。
【００１６】
ここで、第２ライトストラテジ情報ＷＳ２、および、描画領域におけるレーザ光の照射レベルは、マークを単純に太くするためだけのものではない。すなわち、リードパワー情報の照射レベルに相当する強度でこれらのマークにレーザ光を照射したとき、図６（ｅ）に示されるように、反射光の強度を一定の基準レベルＶＲＥＦでスライスすることにより得られる再生信号が互いに同一となるように、第２ライトストラテジ情報ＷＳ２および描画領域におけるレーザ光の照射レベルが定められているのである。なお、同図のａは、第１ライトストラテジ情報ＷＳ１によるマークの反射光強度を示し、同図のｂは、第２ライトストラテジ情報ＷＳ２によるマークの反射光強度を示す。
ところで、実際には、光ディスク８０の種別が異なると、変色の程度も異なる場合が多い。このため、光ディスク８０の種別に応じて、第１ライトストラテジ情報ＷＳ１と非描画領域におけるレーザ光の照射レベルを示す情報とは複数組用意されるとともに、種別に対して適切なものが１つ選択される。
【００１７】
制御部２０は、非描画領域におけるレーザ光の照射レベルＷを示す情報を、ライトパワー用としてＤＡＣ３２に供給し、描画領域におけるレーザ光の照射レベル（Ｗ＋Ｂ）から、非描画領域におけるレーザ光の照射レベルＷを引いた差分のレベルＢを示す情報を、バイアスパワー用としてＤＡＣ４２に供給する。なお、制御部２０は、データ再生用のレーザ光の照射レベルを示す情報をリード用としてＤＡＣ５２に供給する。
【００１８】
ＤＡＣ３２、４２、５２は、それぞれ供給された情報を変換して電圧信号に変換する。定電流源３４、４４、５４は、それぞれ電圧信号に対応した一定電流を供給する。スイッチ３６、４６、５６は、それぞれ定電流源３４、４４、５４を選択するものであり、そのオンオフがそれぞれ電流選択部２８によって制御される。
半導体レーザ（レーザダイオード）６０は、図示せぬ光ピックアップに備えられるものである。このため、半導体レーザ６０によって発せられた光は、光ディスク８０のグルーブ８２に集光する。ここで、半導体レーザ６０には、スイッチ３６、４６、５６によって選択された定電流源の電流が加算されて供給される。
【００１９】
なお、角速度一定のＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式でデータを記録する場合、レーザ光の照射点が光ディスク８０の外側に向かうほど周速度が高くなるので、マークの形成に必要なレーザ光の照射レベルも高くする必要がある。このため、制御部２０は、レーザ光の照射点が光ディスク８０の外側に向かうにつれて、ＤＡＣ３２、４２に供給する情報内容が高くなるように補正する場合がある。このような補正は、ＤＡＣ３２、４２、５２にて、または、定電流源３４、４４、５４にて実行しても良い。
【００２０】
一方、制御部２０は、後述するように、第１変換則または第２変換則の一方から他方に切り替えて、ストラテジ回路２６にセットする。
ストラテジ回路２６は、エンコーダ２２によってフレーム化されたＥＦＭデータを、制御部２０によってセットされた変換則を用いて、レーザ光の照射タイミングを規定するパルス列信号に変換する。
電流選択部２８は、データ記録時において、ストラテジ回路２６に第１変換則がセットされている場合であって、ストラテジ回路２６により変換されたパルス列信号がＨレベルであるとき、スイッチ３６のみをオンさせ、ストラテジ回路２６に第２変換則がセットされている場合であってパルス列信号がＨレベルであるとき、スイッチ３６、４６の双方をオンさせる。一方、変換されたパルス列信号がＬレベルであるとき、ストラテジ回路２６にセットされた変換則にかかわらず、スイッチ３６、４６、５６のいずれもオフにさせる。なお、電流選択部２８は、データ再生時には、スイッチ５６のみを常時オンさせる。
【００２１】
次に、光ディスク記録装置１０のデータ記録および画像形成動作について説明する。
まず、制御部２０は、スピンドルモータ７０を回転開始させるとともに、光ピックアップを移動させて、光ディスク８０の固有情報（メディアコード）を読み取る。そして、制御部２０は、読み取った固有情報に対応する第１ライトストラテジ情報ＷＳ１をメモリ２４から読み出して、その情報で示される第１変換則をストラテジ回路２６に初期状態としてセットする一方、ＤＡＣ３２、４２、５２に、それぞれ上述した情報を供給する。
【００２２】
続いて、バッファメモリにドットデータが蓄積された状態において、エンコーダ２２は、ＥＦＭデータをフレーム化してストラテジ回路２６に供給する。
また、上述したように、時間情報がゼロ時ゼロ分ゼロ秒であることが検出されると、レーザ光の照射点が位置するドットの座標が把握されて、そのドットに対応するドットデータが輪郭データとして制御部２０に供給される。
ここで、輪郭データが図７に示されるようにＬレベルである場合、ストラテジ回路２６は、フレーム化されたＥＦＭデータを、初期状態でセットされた第１変換則にしたがって、レーザ光の照射タイミングを規定するパルス列信号に変換し、電流選択部２８は、該パルス列信号のＨまたはＬレベルに応じて、スイッチ３６をオンまたはオフする。したがって、スイッチ３６のオン時には、ライトパワーに相当する電流だけが半導体レーザ６０に流れるので、相対的に細いマークが形成される。
【００２３】
一方、輪郭データがＬレベルからＨレベルに変化した場合、制御部２０は、エンコーダ２２による信号ＳｙｎｃがＬレベルになるまで、ストラテジ回路２６のセット状態を維持する。したがって、輪郭データがＨレベルに変化しても、信号ＳｙｎｃがＬレベルになるまでは、第１変換則が適用される。
ここで、信号ＳｙｎｃがＬレベルになったとき、すなわち、エンコーダ２２が、同期パターンを付加してストラテジ回路２６に供給したときに、制御部２０は、メモリ２４から第２ライトストラテジ情報ＷＳ２をメモリ２４から読み出す。そして、信号Ｓｙｎｃが再びＨレベルになったときに、すなわち、同期パターンの期間「１１Ｔ／１１Ｔ／２Ｔ」のうち、最終の「２Ｔ」の期間となったときに、制御部２０は、読み出した第２ライトストラテジ情報ＷＳ２で規定される第２変換則をストラテジ回路２６にセットするとともに、電流選択部２８に対しスイッチ４６のオンを許可する。
このため、以後ストラテジ回路２６は、フレーム化されたＥＦＭデータを、第２変換則にしたがってパルス列信号に変換し、電流選択部２８は、該パルス列信号のＨまたはＬレベルに応じて、スイッチ３６、４６をともにオンまたはオフする。したがって、スイッチ３６、４６のオン時には、ライトパワーにバイアスパワーを上乗せした電流が半導体レーザ６０に流れるので、相対的に太いマークが形成される。
【００２４】
次に、輪郭データがＨレベルからＬレベルに再度変化した場合、制御部２０は、エンコーダ２２による信号ＳｙｎｃがＬレベルになるまで、ストラテジ回路２６のセット状態を維持する。したがって、輪郭データがＬレベルに変化しても、信号ＳｙｎｃがＬレベルになるまでは、第２変換則が適用される。
ここで、信号ＳｙｎｃがＬレベルになったとき、制御部２０は、メモリ２４から第１ライトストラテジ情報ＷＳ１をメモリ２４から再度読み出す。そして、信号Ｓｙｎｃが再びＨレベルになったときに、制御部２０は、読み出した第１ライトストラテジ情報ＷＳ１で規定される第１変換則をストラテジ回路２６にセットするとともに、電流選択部２８に対しスイッチ４６のオンを禁止する。
このため、以後ストラテジ回路２６は、フレーム化されたＥＦＭデータを、再度第１変換則にしたがってパルス列信号に変換し、電流選択部２８は、該パルス列信号のＨまたはＬレベルに応じて、スイッチ３６をオンまたはオフする。したがって、相対的に細いマークの形成動作に戻ることになる。
以降、同様な動作が、輪郭データの論理レベルが変化する毎に繰り返される。
【００２５】
したがって、本実施形態では、図７に示されるように、第１変換則が適用される場合には、ライトパワーの電流でマークが形成される一方、第２変換則が適用される場合には、ライトパワーにバイアスパワーを上乗せした電流でマークが形成される。
このため、図８（ａ）に示されるように、光ディスク８０に「Ａ」という文字を描画する場合、その文字「Ａ」を構成するドットについては、同図（ｂ）および同図（ｃ）に示されるように、太いマークで形成されるので、その分、反射光量が低下する一方、文字「Ａ」の背景を構成するドットについては、細いマークで形成されるので、その分、反射光量が増大する。このため、明るい背景に、文字「Ａ」が暗く表現されることになる。
【００２６】
本実施形態において、第１変換則または第２変換則の一方から他方に切り替わるタイミングは、同期パターンが付加される期間であるので、２４シンボルのＥＦＭデータおよび８シンボルのパリティに相当するマークが不連続的に形成されることはない。一方、本実施形態では、同期パターンの付加期間において不連続のマークが形成される可能性があるが、同期パターンとして不連続のマークが仮に形成されたとしても、再生装置によって補完（Ｃｏｍｐｌｉｍｅｎｔ）可能である。
さらに、太いマークも、細いマークも、反射光の強度を基準レベルＶＲＥＦでスライスした結果は、同一となるので、データ再生するときに、読取エラーが多発することもない。
【００２７】
また、実施形態に係る光ディスク記録装置１０では、信号ＳｙｎｃがＬレベルの期間、スイッチ４６のオンが禁止されるので、当該期間では、図７に示されるように、バイアスパワーが上乗せされない。このため、信号ＳｙｎｃがＬレベルの期間たる１１Ｔ／１１Ｔでは、該期間の前半または後半期間のいずれか一方において、ライトパワーに相当する電流のみが半導体レーザに強制的に供給されることになる。そこで、この供給期間に、照射レベルを変化させながら試し書きするとともに、当該試し書き部分を読み取って、ライトパワーでの最適な照射レベルを探し出すＲＯＰＣ（Ｒｕｎｎｉｎｇ  Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を実行しても良い。
なお、これとは逆に、信号ＳｙｎｃがＬレベルの期間、電流選択部２８は、スイッチ４６のオフを禁止し、ライトパワーにバイアスパワーが上乗せされる期間を強制的に設けて、当該期間において、ライトパワー＋バイアスパワーでの最適な照射レベルを探し出しても良い。
【００２８】
本実施形態に係る光ディスク記録装置１０によって、ＣＤ−ＲＷに対してデータの記録する場合、定電流源３４をスイッチングすることによって、ライトパワーでマークを形成することが可能であるし、データの消去については、定電流源３４、４４をオンすることによって、ライトパワー＋バイアスパワーでグルーブを結晶化させることが可能である。このため、光ディスク記録装置１０に対し、構成要素を別途追加せずに、電流選択部２８におけるスイッチ制御内容を変更するだけで、ＣＤ−ＲＷのデータ記録・消去機能を追加することができる。
【００２９】
なお、本実施形態において、第１変換則または第２変換則の一方から他方に切り替わるタイミングを、同期パターンが供給される期間としたが、その理由は、上述したように、２４シンボルのＥＦＭデータおよび８シンボルのパリティに影響を与えないためである。このように影響を与えないタイミングとしては、各フレームにおいて、１シンボルのサブコードが供給される期間（図４参照）や、各ブロックのうち、第１番目フレームのサブコードＳ０、および、第２番目フレームのサブコードＳ１の供給タイミングなどが挙げられる。
ここで、サブコードに対しては誤り検出のみがなされ、誤りが検出されたときは、破棄される。しかし、連続データであるので、当該誤りの前後の値からインターポレーション可能である。このため、誤りが検出されたときのサブコードの破棄については無視できる。
【００３０】
実施形態に係る光ディスク記録装置１０では、描画領域に太いドットを、非描画領域に細いドットを、それぞれ形成するようにしたが、その反対に、描画領域に細いドットを、非描画領域に太いドットを、それぞれ形成するようにしても良い。
さらに、ドットを描画する／しないのような２値的な画像だけでなく、変換則を規定するライトストラテジ情報と、レーザ光の照射レベルを規定する情報との組であって、その変換則および照射レベルで形成したマークの反射光強度を基準レベルＶＲＥＦでスライスした結果が同一となるような組を、３組以上予め用意することによって３階調以上で画像を表現することにしても良い。
上述した実施形態においては、ＣＤ−Ｒを想定したが、ＤＶＤ−Ｒ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）などの他の光ディスクに対して、データ記録と画像形成とを同時に実行しても良い。
【００３１】
【発明の効果】
以上説明したように、マークの形状によって反射率を異ならせて画像を表現する場合に、データの読取エラーの防止を図ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置の要部構成を示すブロック図である。
【図２】光ディスクの極座標を示す図である。
【図３】光ディスクにおけるグルーブの構成を示す図である。
【図４】フレームフォーマットを説明するための図である。
【図５】サブコードフォーマットを説明するための図である。
【図６】同光ディスク記録装置により形成されるマークを説明するための図である。
【図７】同光ディスク記録装置の制御内容を示すタイミングチャートである。
【図８】同光ディスク記録装置によるデータ記録例を示す図である。
【符号の説明】
１０…光ディスク記録装置、２０…制御部、２２…エンコーダ、２６…ストラテジ回路、２８…電流選択部、３４、４４、５４…電流源、６０…半導体レーザ、８０…光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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