(57)【要約】【課題】プローブピンに生じがちであった使用に伴う緩みを構造的に発生させないようにして、安全性と測定精度との向上を図ることができるプローブピン付き小型テスタを提供する。【解決手段】回路基板２２等の必要部材２１を内蔵させて対面合致するように組み合わされる一対のケース部からなるテスタ本体１２と、該テスタ本体１２の頂端１３からその先端部４４側を突出させてなるプローブピン４２とで少なくとも構成され、プローブピン４２は、その基端部４３に備える取付け片４７を介して必要部材２１と接続関係をとってテスタ本体１２内に着脱自在に固定させるとともに、先端部４４側にあって頂端１３との隣接部位にて該頂端１３側との関係で回転不能に配設された被固定材５２を隣接部位の側にその着脱を自在に位置固定させてテスタ本体１２と一体化させた。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
回路基板等の必要部材を内蔵させて対面合致するように組み合わされる一対のケース部からなるテスタ本体と、該テスタ本体の頂端からその先端部側を突出させてなるプローブピンとで少なくとも構成されるプローブピン付き小型テスタにおいて、
前記プローブピンは、その基端部に備える取付け片を介して所定の前記必要部材と接続関係をとってテスタ本体内に着脱自在に固定させるとともに、
前記先端部側にあって前記頂端との隣接部位にて該頂端側との関係で回転不能に配設された被固定材を前記隣接部位の側にその着脱を自在に位置固定させて前記テスタ本体と一体化させたことを特徴とするプローブピン付き小型テスタ。
【請求項２】
プローブピンは、前記隣接部位に雄ねじ部を設けて形成し、
前記被固定材は、その先端面側にナット材の導入を許す凹部を設け、
該凹部内にて露呈している前記雄ねじ部に対し前記ナット材を着脱自在に緊締螺着して位置固定させた請求項１に記載のプローブピン付き小型テスタ。
【請求項３】
テスタ本体は、前記頂端を含む先端領域を覆う絶縁性の保護カバーを備え、該保護カバーを介してテスタ本体の側に前記被固定材を位置固定させた請求項１又は２に記載のプローブピン付き小型テスタ。
【請求項４】
前記プローブピンには、テスタ本体の導出口部にてその対向縁部が係止される溝状の細径部を設けた請求項１ないし３のいずれかに記載のプローブピン付き小型テスタ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、測定作業を繰り返し行うことでプローブピンの側に負荷を受けてもテスタ本体の側との接続状態を安定的に維持させることができるプローブピン付き小型テスタに関する技術である。
【０００２】
【従来の技術】
図５は、従来から携帯用として用いられているプローブピン付き小型テスタの要部をその一部を切り欠いて示す説明図であり、プローブピン付き小型テスタ１は、回路基板２２等の必要部材２１を内蔵させて対面合致するように組み合わされる一対のケース部３，３からなるテスタ本体２と、該テスタ本体２の頂端２ａからその先端部４ａ側を突出させてなるプローブピン４とで少なくとも構成されている。
【０００３】
プローブピン４は、その基端部４ｂと連結させた断面略Ｌ字形を呈する取付け片５を介して回路基板２２の側に電気的に接続させた状態のもとで一方のケース部３側にねじ２３で固定されている。
【０００４】
この場合、プローブピン４は、その基端部４ｂに雄ねじ部５が形成されており、取付け片６の対応部位に設けられている雌ねじ部７に螺着することで取付け片６と連結されている。
【０００５】
また、プローブピン４の先端部４ａ側にあってテスタ本体２の頂端２ａとの隣接部位には、プローブピン４を手指で回転させる際に用いる抓み部８が一体的に固着されている。なお、図中の符号９は、作業上の安全性を高めるためにテスタ本体２の頂端２ａを含む所定領域に被着される絶縁性の保護カバーを示す。
【０００６】
このため、プローブピン４は、交換の必要が生じた際などに抓み部８を手指で抓んで回転させることにより、取付け片６（テスタ本体２）との関係で容易に着脱することができることになる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来例による場合、テスタ本体２の側に対するプローブピン４の取り付けは、単に取付け片６への螺着により行われるものであることから、使用を繰り返す度にかかるプローブピン４への負荷によって当初の螺合状態に次第に緩みが生じ、プローブピン４がガタついて不安定になるという不都合があった。
【０００８】
しかも、プローブピン４に生じるこのような緩みは、作業性を損なうばかりでなく、プローブピン４と回路基板２２側との間の電気的な接続状態にも支障を来し、測定結果に対する信頼性を低下させる不具合もあった。
【０００９】
さらに、プローブピン４に生じた緩みの解消は、抓み部８を手指で操作して螺着方向に回転させることで緊締状態とすることができるものの、特に、測定中にこのような締め付け作業を行うことは、安全性確保の観点からも問題であった。
【００１０】
本発明は、従来技術にからあるプローブピン付き小型テスタにみられた上記課題に鑑み、プローブピンに生じがちであった緩みを構造的に発生させないようにして、安全性と測定精度との向上を図ることができるプローブピン付き小型テスタを提供することに目的がある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、回路基板等の必要部材を内蔵させて対面合致するように組み合わされる一対のケース部からなるテスタ本体と、該テスタ本体の頂端からその先端部側を突出させてなるプローブピンとで少なくとも構成されるプローブピン付き小型テスタにおいて、前記プローブピンは、その基端部に備える取付け片を介して所定の前記必要部材と接続関係をとってテスタ本体内に着脱自在に固定させるとともに、前記先端部側にあって前記頂端との隣接部位にて該頂端側との関係で回転不能に配設された被固定材を前記隣接部位の側にその着脱を自在に位置固定させて前記テスタ本体と一体化させたことに構成上の特徴がある。
【００１２】
この場合、プローブピンは、前記隣接部位に雄ねじ部を設けて形成し、前記被固定材は、その先端面側にナット材の導入を許す凹部を設け、該凹部内にて露呈している前記雄ねじ部に対し前記ナット材を着脱自在に緊締螺着して位置固定させるようにするのが好ましい。
【００１３】
また、テスタ本体は、前記頂端を含む先端領域を覆う絶縁性の保護カバーを備え、該保護カバーを介してテスタ本体の側に前記被固定材を位置固定させるのが望ましい。さらに、前記プローブピンには、テスタ本体の導出口部にてその対向縁部が係止される溝状の細径部を設けておくこともできる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の全体構成例をその一部を省略して示す斜視図であり、プローブ付き小型テスタ１１は、対面合致するように組み合わされる一対のケース部１５，１６からなる回路基板２２等の必要部材２１を内蔵させたテスタ本体１２と、該テスタ本体１２の頂端１３を含む先端側領域を覆う絶縁性の保護カバー３２と、該保護カバー３２からその先端部４４側を突出させて配設されるプローブピン４２と、該プローブピン４２の接触端４４ａ側から送り込まれて保護カバー３２側に回転不能に配設される被固定材５２と、該被固定材５２の先端面５３側に設けられている凹部５４内に位置しているプローブピン４２の側に緊締螺着されるナット材５８とでその全体が構成されている。なお、図中の符号６１は、テスタ本体１２にコード６２を介して別途接続されている把持用プローブを、６３は、不使用時にプローブピン４２の先端部４４を着脱自在に覆うことができる保護キャップをそれぞれ示す。
【００１５】
図２は、図１に示す例をその天地を逆にして配置した上で平面側からみた要部をその一部を切り欠いて必要な拡大図とともに示す説明図であり、図３は、図２に示されている部位に対応させて示す分解斜視図である。
【００１６】
これらの図によれば、プローブピン４２は、その基端部４３が断面略Ｌ時形を呈する取付け片４７の起立片部４８にかしめ固着したり溶着するなどして一体的に連結され、その水平片部４９上に配置した回路基板２２とともに一方のケース部１５の雌ねじ部２０にワッシャー２４を介在させたねじ２３を螺着することにより、着脱自在に固定されている。
【００１７】
また、一対のケース部１５，１６は、それぞれの先端１７側の対向縁部１８にプローブピン４２を導出するための略半円形を呈する切欠部１９が設けられており、これら切欠部１９，１９相互を組み合わせて形成される導出口部１４にプローブピン４２の周方向に溝状に設けられた細径部４５を係止することにより、プローブピン４２自体を進退不能に抱持できるようになっている。
【００１８】
さらに、プローブピン４２を挿通させるために保護カバー３２に設けられた通孔３３の周囲には、例えば円形部３５と、該円形部３５の外方に等間隔に突出させた計４個の突起３６とからなる鍔部３４が隆設されており、該鍔部３４は、被固定材５２がその対向面である基端面５５側に設けた凹陥部５６と略対面合致するように嵌合して被固定材５２の回転を阻止できるようになっている。
【００１９】
しかも、プローブピン４２の先端部４４におけるテスタ本体１２の頂端１３との隣接部位には、被固定材５２がその先端面５３側にナット材５８を導入するために設けた凹部５４内にてその一部が露呈する配置関係のもとで雄ねじ部４６が設けられている。
【００２０】
また、被固定材５２の凹部５４内にて露呈している雄ねじ部４６には、プローブピン４２の接触端４４ａ側から送り込まれたナット材５８がその着脱を自在に緊締螺着されており、これにより被固定材５２がテスタ本体１２の頂端１３側に押し付けられてプローブピン４２と保護カバー３２とテスタ本体１２とが一体化されている。
【００２１】
次に、図３と図４とを参酌して本発明の作用・効果を説明すれば、まず、プローブピン４２の細径部４５を一方のケース部１５の切欠部１９内に配置した上で、その基端部４３側と一体的に連結されている取付け片４７の水平片部４９上に回路基板２２の対応部位を載置し、ワッシャー２４を介在させたねじ２３を挿通して雌ねじ部２０に螺着することで、一方のケース部１５にプローブピン４２が図２に示されているように固定配置される。
【００２２】
次に、一方のケース部１５に他方のケース部１６を対面合致させた上で、双方をねじ止めするなどして一体化することにより、図４に示すようにその頂端１３から先端部４４側を突出させたプローブピン４２を備えるテスタ本体１２が形成される。
【００２３】
さらに、テスタ本体１２の頂端１３を含む先端側領域は、保護カバー３２で覆うことにより、その一体化をより強固なものとすることができる。
【００２４】
次いで、プローブピン４２の接触端４４ａ側から被固定材５２の後端面５５側を介して送り込み、その凹陥部５６を保護カバー３２の鍔部３４に回転不能に嵌合させて配置する。
【００２５】
このようにして被固定材５２を配置した後は、同じくプローブピン４２の接触端４４ａ側からナット材５８を送り込み、被固定材５２の凹部５４内で露呈している雄ねじ部４６にナット材５８をその係止溝５９にドライバーなどの締め付け具を係合させて緊締螺着する。これにより、被固定材５２は保護カバー３２を介してテスタ本体１２の頂端１３４側に強く押し付けられるので、テスタ本体１２と保護カバー３２とプローブピン４２とをさらに強固に一体化することができる。
【００２６】
このため、プローブピン４２は、その基端部４３側が一方のケース１５側に回転不能に固定される結果、測定時にその接触端４４ａを介して負荷がかかっても、常に回路基板２２などの必要部材２１に対し安定的に接続しておくことができるので、測定結果に対する信頼性を高めてやることができる。
【００２７】
また、プローブピン４２は、その細径部４５がテスタ本体１２の導出口部１４にて進退不能に係止されているので、軸方向での動きを規制することでガタつきの発生をより確実に防止することができる。
【００２８】
さらに、被固定材５２の凹部５４内で露呈しているプローブピン４２の雄ねじ部４６にナット材５８を緊締螺着することで、被固定材５２をテスタ本体１２の頂端１３４側に強く押し付けることができるので、テスタ本体１２と保護カバー３２とプローブピン４２との間の一体化を強固なものとすることができるほか、プローブピン４２に緩みの生ずる余地をなくすことができる。
【００２９】
以上は、本発明の実施形態を図示例に即して説明したものであり、その具体的な内容はこれに限定されることなく、本発明から逸脱しない範囲で上記実施形態に対し様々な変形を施すことが可能である。例えば、保護カバー３２は、安全性を確保する観点からはこれを用いるのが好ましいものの、所望によりこれを用いないこともできる。この場合には、テスタ本体１２の頂端１３側に保護カバー３２の鍔部３４に相当するものを隆設しておき、被固定材５２の凹陥部５６と直接に嵌合させることができる。
【００３０】
また、雄ねじ部４６を設けずにプローブピン４２を形成するとともに、凹部５４を設けずに形成した被固定材５２の外周面側から送り込んだねじをプローブピン４２の側に圧接させることで、プローブピン４２に被固定材５２を固定配置させることもできる。
【００３１】
さらに、保護カバー３２を黄色とし、被固定材５２を赤色とするなど、所望に応じた色分けをして配設することにより、作業上の識別性を高める一助とすることもできる。
【００３２】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、プローブピンは、テスタ本体の側に回転不能に取り付けることができるので、測定時にプローブピン側に負荷がかかっても緩みを生じさせることなく、回路基板等の必要部材との電気的な接続状態を強固なものにして測定結果に対する信頼性を高めてやることができる。また、測定中にプローブピンの緩みを直したりする作業を構造的に不要とすることができるので、作業者の安全性をより高めてやることができる。
【００３３】
さらに、プローブピンの細径部がテスタ本体の導出口部にて進退不能に係止されている場合には、軸方向での動きを規制することでガタつきの発生をより確実に防止することができる。
【００３４】
しかも、被固定材の凹部内に位置するプローブピンの雄ねじ部にナット材を緊締螺着してある場合には、被固定材をテスタ本体側に強く押し付けることができるので、その全体の一体化を強固なものとすることができるほか、プローブピンに緩みの生ずる余地をそれだけなくすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用した全体構成例をその一部を省略して示す斜視図。
【図２】図１に示す例をその天地を逆にして配置した上で平面側からみた要部をその一部を切り欠いて必要な拡大図とともに示す説明図。
【図３】図２に示されている部位に対応させて示す分解斜視図。
【図４】図３との対応関係のもとで部材相互の関係を一部を分解して示す説明図。
【図５】従来からあるプローブ付き小型テスタを図２に対応させて示す説明図。
【符号の説明】
１１　プローブ付き小型テスタ
１２　テスタ本体
１３　頂端
１５，１６ケース部
１７先端
１８対向縁部
１９　切欠部
２０　雌ねじ部
２１　必要部材
２２　回路基板
２３　ねじ
２４　ワッシャー
３２　保護カバー
３３　通孔
３４　鍔部
３５　円形部
３６　突起
４２　プローブピン
４３　基端部
４４　先端部
４５　細径部
４６　雄ねじ部
４７　取付け片
４８　起立片部
４９　水平片部
５０　通孔
５２　被固定材
５３　先端面
５４　凹部
５５　後端面
５６　凹陥部
５８　ナット材
５９　係止溝
６１　把持用プローブ
６２　コード
６３　保護キャップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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