(57)【要約】【課題】多層記録層構成の未初期化相変化型光ディスクに対し、２層同時に初期化が行える初期化方法と初期化装置を提供する。【解決手段】少なくとも２層以上の相変化記録層を有している未初期化の相変化型光ディスク６に対し、２つの半導体レーザを用いた光学ヘッドから、２つの光Ａ、Ｂが同一のフォーカスサーボ用アクチュエータＡ５の対物レンズ１７から照射される。照射された光Ａはフォーカスサーボ用アクチュエータＡ５でフォーカスサーボをかけ相変化記録層を初期化し、光Ｂは光路中のフォーカスサーボ用アクチュエータＢ１３で光Ａとは別の相変化記録層にフォーカスサーボをかけ初期化を行う。２層同時にフォーカスサーボをかけられることにより、２層同時初期化が可能となる。【選択図】　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
２つの光を有した光学系で同一の対物レンズから照射される照射手段を備え、少なくとも２層以上の相変化記録層を有している未初期化相変化型光ディスクに対し、２層同時に初期化を行う光学ヘッドであって、２つの光は同一の対物レンズから照射されるが、それぞれの光は個々にフォーカスサーボ用アクチュエータから個々にフォーカスサーボをかけられることを特徴とする相変化型光ディスクの初期化装置。
【請求項２】
請求項１記載の初期化装置において、第一の光Ａの光軸に対し光Ｂの光軸に角度をつけることにより相変化記録層の初期化を行う順番を選択できる機構を有していることを特徴とする初期化装置。
【請求項３】
第１の半導体レーザと、
第２の半導体レーザと、
前記第１の半導体レーザからの第１の光と前記第２の半導体レーザからの第２の光を初期化しようとする多層の光ディスクに同時に伝達する第１の光路手段と、
前記第１の半導体レーザからの第１の光を前記第１の光路手段に伝達する第２の光路手段と、
前記第２の半導体レーザからの第２の光を第１の光と異なった偏光として前記第１の光路手段に伝達するとともにフォーカスサーボ用レンズを含む第３の光路手段と、
光ディスクの１つの相変化記録層の表面に対して前記第１の半導体レーザからの第１の光が焦点を結びかつ光ディスクの他の相変化記録層の表面に対して前記第２の半導体レーザからの第２の光が焦点を結ぶように前記第１の光路手段中に配置された対物レンズと、
前記光ディスクからの第１の光の反射光を前記第１の光路手段から取り出す第１の取出し手段と、
前記第１の取出し手段から取り出された第１の光の反射光のフォーカスエラーを検出する第１のフォーカスエラー検出手段と、
前記第１のフォーカスエラー手段によって検出されたフォーカスエラーに応答して、前記対物レンズにフォーカスサーボをかける第１のフォーカスサーボ手段と、
前記光ディスクからの第２の光の反射光を前記第３の光路手段から取り出す第２の取出し手段と、
前記第２の取出し手段から取り出された第２の光の反射光のフォーカスエラーを検出する第２のフォーカスエラー検出手段と、
前記第２のフォーカスエラー手段によって検出されたフォーカスエラーに応答して、前記ファーカスサーボ用レンズにフォーカスサーボをかける第２のフォーカスサーボ手段と、
を有することを特徴とする相変化型光ディスクの初期化装置。
【請求項４】
請求項３記載の初期化装置において、前記第１の半導体レーザと第２の半導体レーザは同一の偏光を発光するものであり、前記第２または３の光路手段のいずれか一方にいずれか一方の光を異なった偏光に変換する変換手段が配置されていることを特徴とする初期化装置。
【請求項５】
請求項３記載の初期化装置において、前記第１の半導体レーザと第２の半導体レーザは異なった偏光を発光するものであることを特徴とする初期化装置。
【請求項６】
請求項３記載の初期化装置において、前記光ディスクの回転方向に、前記第１の光の光軸に対して前記第２の光の光軸に角度をつけるように構成されていることを特徴とする初期化装置。
【請求項７】
請求項３記載の初期化装置において、前記第１の光および第２の光は前記光ディスクの各相変化記録層上で焦点を結ぶとき前記光ディスクの半径方向に長いスポット形状を持つように構成されていることを特徴とする初期化装置。
【請求項８】
２つの半導体レーザからの光を互いに異なった偏光として初期化しようとする多層の光ディスクに同時に伝達し、対物レンズで２つの半導体レーザからの光を光ディスクの少なくとも２つの層の表面にそれぞれ焦点を結ばせ、前記光ディスクからの２つの光の反射光を取り出し、反射光のうちの１つからフォーカスエラーを検出し、検出されたフォーカスエラーに応答して、前記対物レンズにフォーカスサーボをかけて１つの半導体レーザの光を光ディスクの１つの相変化記録層の表面に合焦させ、反射光のうちの他の１つからフォーカスエラーを検出し、検出されたフォーカスエラーに応答して、他の１つの半導体レーザ用レンズにフォーカスサーボをかけて他の１つの半導体レーザの光を光ディスクの他の１つの相変化記録層の表面に合焦させる、ことを特徴とする相変化型光ディスクの初期化方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、結晶状態と非結晶状態という物質の相変化によって情報記録する多層記録層構成の相変化型光ディスクの初期化方法および初期化装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の技術では、多層記録層構成の未初期化相変化型光ディスクに対し各相変化記録層を順に光を照射し初期化を行ってきた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、多層記録層構成の相変化型光ディスクにおいて、２層同時に初期化を行える初期化方法および初期化装置（光学ヘッド）は未だ提案されていない。２つの半導体レーザを有する初期化用光学ヘッドは提案されているが（例えば、特開２０００−２４２９３８参照）、この公開公報に提案された初期化装置は、一層の複数箇所に対して半導体レーザから光を同時に照射して初期化するものであり、多層に対して同時に初期化するものではなかった、多層記録層構成の相変化型光ディスクに対応するためには、複数の（例えば、２つの）半導体レーザを各相変化記録層に対して個別にフォーカスサーボをかける必要がある。その理由は、光ディスクは各相変化記録層間に厚みムラが存在しているためである。また、各相変化記録層を個別に初期化する場合時間がかかるため、初期化時間の効率化をはかる必要がある。
【０００４】
したがって、本発明は多層記録層構成の未初期化相変化型光ディスクにおいて２層同時に初期化を行える方法および装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
図１または４に示すように、少なくとも２層以上の相変化記録層を有している未初期化の相変化型光ディスク６に対し、２つの半導体レーザを用いた光学ヘッドから、光路中の偏光方向を変えた２つの光Ａ、Ｂが同一のフォーカスサーボ用アクチュエータＡ５の対物レンズ１７から照射される。照射された光Ａはフォーカスサーボ用アクチュエータＡ５でフォーカスサーボをかけ相変化記録層を初期化し、光Ｂは光路中のフォーカスサーボ用アクチュエータＢ１３で光Ａとは別の相変化記録層にフォーカスサーボをかけ初期化を行う。これらの光Ａ、Ｂはおのおのにフォーカスエラー検出系を有している。上述のように２層同時にフォーカスサーボをかけられることにより、２層同時初期化が可能となる。
【０００６】
また、図２に示すように、光Ａ、Ｂの光軸に角度θをつけることにより、多層記録層構成の相変化型光ディスク６に対し任意の相変化記録層を先行させて初期化を行うことが可能となる。
【０００７】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
（実施例１）
図１は本発明の概略光学構成図を示す。先ず、図１に示すように、本発明の初期化光学ヘッド（初期化装置）には、２つの半導体レーザ１，１１と、コリメートレンズ２，１２と、フォーカスサーボ用アクチュエータ５，１３と、フォーカスエラー検出系１０，１６が設けられている。
【０００８】
また、光を導くために、ミラープリズム４，９、偏光ビームスプリッター３，８、無偏光ビームスプリッター７，１５、１／２波長板１４が設けられている。
【０００９】
説明の便宜上、実施例１では、２つの半導体レーザ１，１１はＳ偏光で発光していると仮定する。なお、図１はＳ偏光の半導体レーザを使用した時の光路図である。Ｐ偏光で半導体レーザが発光している場合は実施例２として後に説明する。
【００１０】
一方の半導体レーザ１はＳ偏光で発光しており、コリメートレンズ２を通過後、平行光となる。平行光となった光Ａは偏光ビームスプリッター３により反射される。偏光ビームスプリッターはＳ偏光を反射、Ｐ偏光を透過させる性質を有している。偏光ビームスプリッター３により反射された光Ａはミラープリズム４により反射する。ミラープリズム４からの反射光Ａはフォーカスサーボ用アクチュエータＡ５の対物レンズ１７を透過後、光ディスク６に照射される。
【００１１】
光ディスク６に照射された光Ａは、光ディスク６により反射され、対物レンズ１７に入射し、略平行光となる。略平行光Ａはミラープリズム４により反射され、無偏光ビームスプリッター７に入射する。無偏光ビームスプリッターは偏光方向に関係なく光をある一定の割合で透過、反射させる性質を有している。光Ａは無偏光ビームスプリッター７により、ある一定の光が反射され、偏光ビームスプリッター８に入射する。光ＡはＳ偏光であるため、偏光ビームスプリッター８で反射し、ミラープリズム９を反射してフォーカスエラー検出系１０に入射する。
【００１２】
フォーカスエラー検出系１０は入射した光Ａからフォーカスエラー信号を検出する。この信号を元にフォーカスサーボ用アクチュエータＡ５を制御しフォーカスサーボを光ディスク６の任意の相変化記録層にかける。フォーカスサーボがかかった光Ａにより、光ディスク６の初期化が可能となる。
【００１３】
他方の半導体レーザ１１は半導体レーザ１と同じＳ偏光で発光しており、コリメートレンズ１２を通過後、平行光となる。平行光となった光Ｂはフォーカスサーボされるレンズを持つフォーカスサーボ用アクチュエータＢ１３に入射する。このフォーカスサーボ用アクチュエータＢ１３に設けられたレンズから出射された光Ｂは平行光を維持している。光Ｂは１／２波長板１４により偏光方向が９０°回転され、Ｐ偏光となる。１／２波長板は偏光方向を回転させる性質を有している。Ｐ偏光の光Ｂは偏光ビームスプリッター３を透過する。
【００１４】
偏光ビームスプリッター３を透過した光Ｂはミラープリズム４により反射する。反射光Ｂはフォーカスサーボ用アクチュエータＡ５の対物レンズ１７を透過後、光ディスク６に照射される。
【００１５】
光ディスク６に照射された光Ｂは、光ディスク６により反射され、対物レンズ１７に入射し、略平行光となる。略平行光Ｂはミラープリズム４により反射する。反射光Ｂは無偏光ビームスプリッター７、偏光ビームスプリッター３を透過する。光Ｂは１／２波長板１４を透過し、Ｓ偏光となる。光ＢはアクチュエータＢ１３に入射し、出射光Ｂは略平行光でこの光Ｂは無偏光ビームスプリッター１５に入射し、一定の反射光がフォーカスエラー検出系１６に入射する。
【００１６】
フォーカスエラー検出系１６に入射した略平行光Ｂからフォーカスエラー信号を検出する。この信号を元にフォーカスサーボ用アクチュエータＢ１３を制御しフォーカスサーボを光ディスク６の光Ａが照射されている相変化記録層以外の層にかける。フォーカスサーボがかかった光Ｂにより、光ディスク６の初期化が可能となる。
【００１７】
上記フォーカスサーボ用アクチュエータＡ５、Ｂ１３を同時に制御することにより、多層記録層構成の相変化型光ディスク６の２層を同時に初期化することが可能となる。
【００１８】
図２は光Ａ、Ｂを各相変化記録層１８，１９にそれぞれフォーカスサーボをかけたときの光ディスク６上での結像状態の例を示す。この図は光ディスク６の半径方向に対し垂直に見た時の図であり角度θを光Ｂの光軸に与えた例を示している。この角度θを与えることにより光ディスク６の進行方向を矢印の方向とすると光Ｂが結像している相変化記録層１９が先行初期化されており、後から光Ａが結像している相変化記録層１８が初期化されていることになる。
【００１９】
図３は光Ａ、Ｂの光ディスク上に結像した焦点の形状を示す。Ｌは光ディスクの半径方向である。Ｄは半径に対し垂直方向である。
【００２０】
図３に示すように、光Ａ、Ｂは半径方向に長さＬをもっているため、複数のトラックを同時に初期化することが可能となっている。半導体レーザは線状発光の光源を用いている。また、Ｌ、Ｄの長さは任意の対物レンズ、コリメートレンズを選択することによりある程度自由にこの長さを選択できる。
【００２１】
（実施例２）
半導体レーザがＰ偏光の場合の概略構成図を図４に示す。半導体レーザがＰ偏光の場合１／２波長板１４の位置を図４の位置に変えることにより、本発明を実現可能となる。図４に基づいて以下の説明をする。
【００２２】
半導体レーザ１はＰ偏光で発光しており、コリメートレンズ２を通過後、平行光となる。平行光となった光Ａは１／２波長板１４’に入射し偏光方向が９０°回転されＳ偏光となる。Ｓ偏光となった光Ａは偏光ビームスプリッター３で反射する。以後の光Ａは実施例１と同様となるため、説明は省略する。
【００２３】
半導体レーザ１１はＰ偏光で発光しており、コリメートレンズ１２を通過後、平行光となる。平行光となった光Ｂはフォーカスサーボ用アクチュエータＢ１３に入射する。このフォーカスサーボ用アクチュエータＢ１３から出射された光Ｂは平行光となっている。光ＢはＰ偏光で偏光ビームスプリッター３に入射することになる。以後の光Ｂは実施例１と同様となるため、説明は省略する。
【００２４】
（実施例３）
半導体レーザ１がＳ偏光、半導体レーザ１１がＰ偏光の場合の概略構成図を図５に示す。半導体レーザ１１がＰ偏光の場合、実施例１における１／２波長板１４は不要となる。半導体レーザ１からの光Ａは実施例１と同様となり、半導体レーザ１１からの光Ｂは実施例２と同様となるため、説明は省略する。
【００２５】
（実施例４）
半導体レーザ１がＰ偏光、半導体レーザ１１がＳ偏光の場合の概略構成図を図６に示す。半導体レーザ１がＰ偏光、半導体レーザ１１がＳ偏光の場合、実施例１における１／２波長板１４に加えて１／２波長板１４’を半導体レーザ１の光路中に加える。半導体レーザ１からの光Ａは実施例２と同様となり、半導体レーザ１１からの光Ｂは実施例１と同様となるため、説明は省略する。
【００２６】
【発明の効果】
以上の説明から、本発明により２層同時初期化が可能となり、先行初期化させる層の選択が可能となった。また、初期化に要する時間の効率化を図ることが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は本発明の実施例１の初期化用光学ヘッドの光路図を示す。
【図２】図２は光ディスク相変化記録層に光Ａ、Ｂが合焦している様子を示す図である。
【図３】図３は光Ａ、Ｂのディスク上での結像状態を示す図である。
【図４】図４は本発明の実施例２の初期化用光学ヘッドの光路図を示す。
【図５】図５は本発明の実施例３の初期化用光学ヘッドの光路図を示す。
【図６】図５は本発明の実施例４の初期化用光学ヘッドの光路図を示す。
【符号の説明】
１、１１　　　　　　　　　半導体レーザ
２、１２　　　　　　　　　コリメートレンズＡ、Ｂ
３、８　　　　　　　　偏光ビームスプリッター
４、９　　　　　　　　　　　ミラープリズム
５、１３　　　　　　　　　　アクチュエータ
６　　　　　　　　　　　　　多層記録層構成相変化型光ディスク
７、１５　　　　　　　　　　　　　無偏光ビームスプリッター
１０、１６　　フォーカスエラー検出系
１４、１４’　　　　　　１／２波長板
１７　　　　　　対物レンズ
１８、１９、２０　相変化記録層
Ｌ　　　　　　　　　　　　　光Ａ、Ｂの光ディスク半径方向長さ
Ｄ　　　　　　　　　　　　　光Ａ、Ｂの光ディスク半径に垂直方向長さ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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