(57)【要約】【課題】簡単な構成でセンサ入力型のプリント基板とスイッチ入力型のプリント基板のいずれに対しても動作試験を行うことができるプリント基板の検査装置を提供することを課題とする。【解決手段】センサ入力型のプリント基板Ａの検査時には、スイッチＳＷｋにより基準電位回路３を選択し、基準電位回路３から所定の基準電位を生成して中間点Ｐに出力させる一方、制御部４によりＤ／Ａ変換器２からプリント基板Ａの動作試験に必要な入力信号の電位を出力させ（ａ）、一方、スイッチ入力型のプリント基板Ｂの検査時には、スイッチＳＷｋによりグラウンドを選択し、制御部４によりＤ／Ａ変換器２からＨレベルに相応する所定の電位を生成して出力させ（ｂ）、この状態で、入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎを適宜切り替える。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
任意の電位を生成する任意電位回路と、
基準電位を生成する基準電位回路と、
中間点を前記基準電位回路及びグラウンドの一方に選択的に接続するための中間点用スイッチと、
検査対象となるプリント基板の複数の入力端子にそれぞれ対応して配設され且つ各入力端子を前記任意電位回路及び前記中間点の一方に選択的に接続するための複数の入力端子用スイッチと
を備え、
センサ入力型のプリント基板を検査する際には前記任意電位回路で検査に必要な任意の電位を生成すると共に前記中間点用スイッチにより前記中間点を前記基準電位回路に接続した状態で複数の入力端子用スイッチを切り替えることによりプリント基板の各入力端子に任意の電位及び基準電位のいずれかを入力させ、
スイッチ入力型のプリント基板を検査する際には前記任意電位回路でＨレベルに相当する所定の電位を生成すると共に前記中間点用スイッチにより前記中間点をグラウンドに接続した状態で複数の入力端子用スイッチを切り替えることによりプリント基板の各入力端子に所定の電位からなるＨレベル及び接地電位からなるＬレベルのいずれかを入力させる
ことを特徴とするプリント基板の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、プリント基板の検査装置に係り、特にセンサ入力型のプリント基板とスイッチ入力型のプリント基板のいずれをも検査することができる検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えば、特許文献１にはプリント基板等の外部機器内の配線の導通状態を検査する検査装置が開示されている。この検査装置では、外部機器の複数の端子に選択的に入力信号を入力し、このとき外部機器から出力される出力信号を検出することにより外部機器内の導通状態が検査される。
【０００３】
【特許文献１】
実開平５−５９３４７号公報
【０００４】
このような検査装置により、プリント基板内の配線の導通状態の検査が可能であるが、プリント基板の動作試験を実施するためには、それぞれのプリント基板に適合した電位の入力信号を入力させなければならず、上記特許文献１の検査装置ではプリント基板の動作試験を行うことはできない。
また、検査ソフトによりプリント基板の動作試験を行う検査装置も開発されているが、一般にＣＰＵ等を搭載したプリント基板には、アナログ信号が入力されるセンサ入力型のプリント基板と、ＨレベルあるいはＬレベルの信号が入力されるスイッチ入力型のプリント基板とがあり、これら双方のプリント基板に対して同一の検査装置で動作試験を実施しようとすると、検査装置の構成が極めて複雑になる。
【０００５】
例えば図２（ａ）に示されるように、検査装置１は、プリント基板の複数の入力端子に対応した複数の端子Ｔ１〜Ｔｎにそれぞれ接続された複数の入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎを有している。これらの入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎにスイッチＳＷ０を介してＤ／Ａ変換器２が接続されると共にスイッチＳＷｋを介して基準電位回路３が接続されている。入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎはそれぞれスイッチＳＷ０及びスイッチＳＷｋのいずれか一方を選択して端子Ｔ１〜Ｔｎに接続し、スイッチＳＷ０はＤ／Ａ変換器２及びプルアップ抵抗Ｒのいずれか一方を選択して入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎに接続し、スイッチＳＷｋは基準電位回路３及びグラウンドのいずれか一方を選択して入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎに接続する。Ｄ／Ａ変換器２には制御部４が接続され、プルアップ抵抗Ｒは内部電源に接続されている。
【０００６】
このような検査装置１の端子Ｔ１〜Ｔｎに検査対象となるプリント基板の入力端子Ｕ１〜Ｕｎを接続する。
図２（ａ）に示されるように、プリント基板Ａが、センサ入力端子Ａ／Ｄ１〜Ａ／Ｄｎを有するＣＰＵ５とセンサ入力インタフェイス６とを備えたセンサ入力型のプリント基板である場合には、スイッチＳＷ０によりＤ／Ａ変換器２を選択すると共にスイッチＳＷｋにより基準電位回路３を選択する。制御部４によりＤ／Ａ変換器２からプリント基板Ａの動作試験に必要な入力信号の電位を出力する一方、基準電位回路３から所定の基準電位を生成して出力し、この状態で、入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎを適宜切り替えることによりプリント基板ＡのＣＰＵ５の任意のセンサ入力端子Ａ／Ｄ１〜Ａ／ＤｎにＤ／Ａ変換器２からの入力信号を入力させて、動作試験を行う。
【０００７】
一方、図２（ｂ）に示されるように、プリント基板Ｂが、スイッチ入力端子Ｈ／Ｌ１〜Ｈ／Ｌｎを有するＣＰＵ７とスイッチ入力インタフェイス８とを備えたスイッチ入力型のプリント基板である場合には、スイッチＳＷ０によりプルアップ抵抗Ｒを選択すると共にスイッチＳＷｋによりグラウンドを選択する。この状態で、入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎを適宜切り替えることによりプリント基板ＢのＣＰＵ７のスイッチ入力端子Ｈ／Ｌ１〜Ｈ／Ｌｎのそれぞれにプルアップ抵抗ＲによるＨレベル及び接地電位からなるＬレベルのいずれかを入力させて、動作試験が行われる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このようにセンサ入力型のプリント基板とスイッチ入力型のプリント基板の双方に対して同一の検査装置で動作試験を実施しようとすると、検査装置の構成が極めて複雑になるという問題点があった。
この発明はこのような問題点を解消するためになされたもので、簡単な構成でセンサ入力型のプリント基板とスイッチ入力型のプリント基板のいずれに対しても動作試験を行うことができるプリント基板の検査装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るプリント基板の検査装置は、任意の電位を生成する任意電位回路と、基準電位を生成する基準電位回路と、中間点を基準電位回路及びグラウンドの一方に選択的に接続するための中間点用スイッチと、検査対象となるプリント基板の複数の入力端子にそれぞれ対応して配設され且つ各入力端子を任意電位回路及び中間点の一方に選択的に接続するための複数の入力端子用スイッチとを備えており、センサ入力型のプリント基板を検査する際には任意電位回路で検査に必要な任意の電位を生成すると共に中間点用スイッチにより中間点を基準電位回路に接続した状態で複数の入力端子用スイッチを切り替えることによりプリント基板の各入力端子に任意の電位及び基準電位のいずれかを入力させ、スイッチ入力型のプリント基板を検査する際には任意電位回路でＨレベルに相当する所定の電位を生成すると共に中間点用スイッチにより中間点をグラウンドに接続した状態で複数の入力端子用スイッチを切り替えることによりプリント基板の各入力端子に所定の電位からなるＨレベル及び接地電位からなるＬレベルのいずれかを入力させるものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
図１（ａ）にこの発明の実施の形態に係るプリント基板の検査装置の構成を示す。検査装置１１は、プリント基板の複数の入力端子に対応した複数の端子Ｔ１〜Ｔｎを有すると共にこれらの端子Ｔ１〜Ｔｎにそれぞれ接続された複数の入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎを有している。各入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎの第１接点にＤ／Ａ変換器２が接続されると共に第２接点は中間点Ｐに接続されている。中間点Ｐには中間点用スイッチＳＷｋが接続され、この中間点用スイッチＳＷｋの第１接点に基準電位回路３が接続されると共に第２接点はグラウンドに接続されている。なお、Ｄ／Ａ変換器２には制御部４が接続されている。なお、Ｄ／Ａ変換器２と制御部４によりこの発明の任意電位回路が形成されている。
【００１１】
入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎはそれぞれＤ／Ａ変換器２及び中間点Ｐのいずれか一方を選択して端子Ｔ１〜Ｔｎに接続し、中間点用スイッチＳＷｋは基準電位回路３及びグラウンドのいずれか一方を選択して入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎの第２接点に接続する。
すなわち、この実施の形態に係る検査装置１１は、図２に示した従来の検査装置１において、スイッチＳＷ０とプルアップ抵抗Ｒとを省略し、入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎの第１接点をＤ／Ａ変換器２に直接接続したものである。
【００１２】
次に、この実施の形態に係る検査装置１１の動作について説明する。検査装置１１の端子Ｔ１〜Ｔｎに検査対象となるプリント基板の入力端子Ｕ１〜Ｕｎを接続する。
ここで、図１（ａ）に示されるように、プリント基板Ａが、センサ入力端子Ａ／Ｄ１〜Ａ／Ｄｎを有するＣＰＵ５とセンサ入力インタフェイス６とを備えたセンサ入力型のプリント基板である場合には、スイッチＳＷｋにより基準電位回路３を選択し、基準電位回路３から所定の基準電位を生成して中間点Ｐに出力させる一方、制御部４によりＤ／Ａ変換器２からプリント基板Ａの動作試験に必要な入力信号の電位を出力させる。この状態で、入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎを適宜切り替えることによりプリント基板ＡのＣＰＵ５の任意のセンサ入力端子Ａ／Ｄ１〜Ａ／ＤｎにＤ／Ａ変換器２からの入力信号を入力させて、動作試験を行う。
【００１３】
一方、図１（ｂ）に示されるように、プリント基板Ｂが、スイッチ入力端子Ｈ／Ｌ１〜Ｈ／Ｌｎを有するＣＰＵ７とスイッチ入力インタフェイス８とを備えたスイッチ入力型のプリント基板である場合には、スイッチＳＷｋによりグラウンドを選択して接地電位からなるＬレベルを中間点Ｐに出力させる一方、制御部４によりＤ／Ａ変換器２からはＨレベルに相応する所定の電位を生成して出力させる。この状態で、入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎを適宜切り替えることによりプリント基板ＢのＣＰＵ７のスイッチ入力端子Ｈ／Ｌ１〜Ｈ／ＬｎのそれぞれにＤ／Ａ変換器２からのＨレベル及び中間点ＰのＬレベルのいずれかを入力させて、動作試験を行う。
【００１４】
このように、図２に示した従来の検査装置１に比べて、Ｄ／Ａ変換器２を選択するためのスイッチＳＷ０とＨレベルを形成するためのプルアップ抵抗Ｒとを省略し、入力端子用スイッチＳＷ１〜ＳＷｎの第１接点をＤ／Ａ変換器２に直接接続しても、センサ入力型のプリント基板Ａとスイッチ入力型のプリント基板Ｂの双方に対してそれぞれ動作試験を行うことができる。
【００１５】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、センサ入力型のプリント基板を検査する際には、任意電位回路で検査に必要な任意の電位を生成すると共に中間点用スイッチにより中間点を基準電位回路に接続した状態で複数の入力端子用スイッチを切り替えることによりプリント基板の各入力端子に任意の電位及び基準電位のいずれかを入力させ、スイッチ入力型のプリント基板を検査する際には、任意電位回路でＨレベルに相当する所定の電位を生成すると共に中間点用スイッチにより中間点をグラウンドに接続した状態で複数の入力端子用スイッチを切り替えることによりプリント基板の各入力端子に所定の電位からなるＨレベル及び接地電位からなるＬレベルのいずれかを入力させるので、簡単な構成でセンサ入力型のプリント基板とスイッチ入力型のプリント基板のいずれに対しても動作試験を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態に係るプリント基板の検査装置の構成を示し、（ａ）はセンサ入力型のプリント基板Ａを検査する場合、（ｂ）はスイッチ入力型のプリント基板Ｂを検査する場合をそれぞれ示すブロック図である。
【図２】従来のプリント基板の検査装置の構成を示し、（ａ）はセンサ入力型のプリント基板Ａを検査する場合、（ｂ）はスイッチ入力型のプリント基板Ｂを検査する場合をそれぞれ示すブロック図である。
【符号の説明】
２  Ｄ／Ａ変換器、３  基準電位回路、４  制御部、５，７  ＣＰＵ、６  センサ入力インタフェイス、８  スイッチ入力インタフェイス、１１  検査装置、Ｔ１〜Ｔｎ  端子、ＳＷ１〜ＳＷｎ  入力端子用スイッチ、ＳＷｋ  中間点用スイッチ、Ｕ１〜Ｕｎ  入力端子、Ａ／Ｄ１〜Ａ／Ｄｎ  センサ入力端子、Ｈ／Ｌ１〜Ｈ／Ｌｎ  スイッチ入力端子。
【図１】
2004333322.tif 000003
【図２】
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