(57)【要約】【課題】銀粉含有量が低くても高い導電性が得られる導電性ペーストを提供する。【解決手段】３〜８μｍの平均粒径、１．５〜４．０ｍ２／ｇの比表面積および０．４〜１．１ｇ／ｃｍ３の見掛け密度を有する薄片状銀粉Ａ、３〜１０μｍの平均粒径、０．６〜１．２ｍ２／ｇの比表面積および１．５〜２．１ｇ／ｃｍ３の見掛け密度を有する薄片状銀粉Ｂならびに樹脂を含有する導電性ペースト組成物であって、薄片状銀粉Ａを薄片状銀粉Ａと薄片状銀粉Ｂとの合計重量１００部に対して３０〜９５重量部となる割合で含有し、そして薄片状銀粉Ａと薄片状銀粉Ｂとの合計を導電性ペーストの固形分に対して３５〜８５重量％となるように含有する導電性ペースト組成物。【選択図】　なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
３〜８μｍの平均粒径、１．５〜４．０ｍ２／ｇの比表面積および０．４〜１．１ｇ／ｃｍ３の見掛け密度を有する薄片状銀粉Ａ、３〜１０μｍの平均粒径、０．６〜１．２ｍ２／ｇの比表面積および１．５〜２．１ｇ／ｃｍ３の見掛け密度を有する薄片状銀粉Ｂならびに樹脂を含有する導電性ペースト組成物であって、薄片状銀粉Ａを薄片状銀粉Ａと薄片状銀粉Ｂとの合計重量１００部に対して３０〜９５重量部となる割合で含有し、そして薄片状銀粉Ａと薄片状銀粉Ｂとの合計を導電性ペーストの固形分に対して３５〜８５重量％となるように含有する導電性ペースト組成物。
【請求項２】
前記薄片状銀粉Ｂは前記薄片状銀粉Ａの見掛け密度の１．５〜５．０倍の見掛け密度を有する請求項１記載の導電性ペースト組成物。
【請求項３】
前記薄片状銀粉Ａは前記薄片状銀粉Ｂの比表面積の２．０〜５．０倍の比表面積を有する請求項１または２記載の導電性ペースト組成物。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の導電性ペースト組成物を基材に塗布、硬化してなる導電性物品。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は導電性ペースト組成物、特に銀粉および樹脂を含有する導電性ペーストに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、導電性ペーストとして、エポキシ樹脂などの熱硬化樹脂からなるバインダーに導電材料を分散したものが知られている。例えば厚さの異なる少なくとも２種類のりん片状金属粉及び樹脂組成物を含むペーストが知られている（例えば特許文献１参照）。ここにおいて、平均粒径が３．２μｍで厚さが０．１μｍのりん片状銀粉２０重量部と平均粒径が７．７μｍで厚さが０．５μｍのりん片状銀粉８０重量部を樹脂に配合している。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００１−２６１９７４号公報（第３頁、実施例１）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
高い導電性を得るためにはこの導電性ペースト中の銀粉含有量を８５重量％を超えるようにすることが多い。しかし省資源の観点からより低い銀粉含有率で高い導電性が得られる導電性ペーストが要望されている。
【０００５】
本発明は、導電性ペースト中の銀粉含有量が低くても高い導電性が得られる導電性ペーストを提供することを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、３〜８μｍの平均粒径、１．５〜４．０ｍ２／ｇの比表面積および０．４〜１．１ｇ／ｃｍ３の見掛け密度を有する薄片状銀粉Ａ、３〜１０μｍの平均粒径、０．６〜１．２ｍ２／ｇの比表面積および１．５〜２．１ｇ／ｃｍ３の見掛け密度を有する薄片状銀粉Ｂならびに樹脂を含有する導電性ペースト組成物であって、薄片状銀粉Ａを薄片状銀粉Ａと薄片状銀粉Ｂとの合計重量１００部に対して３０〜９５重量部となる割合で含有し、そして薄片状銀粉Ａと薄片状銀粉Ｂとの合計を導電性ペーストの固形分に対して３５〜８５重量％となるように含有する導電性ペースト組成物である。
【０００７】
本発明の導電材料である銀粉として、３〜８μｍの平均粒径、１．５〜４．０ｍ２／ｇの比表面積および０．４〜１．１ｇ／ｃｍ３の見掛け密度を有する薄片状銀粉Ａと、３〜１０μｍの平均粒径、０．６〜１．２ｍ２／ｇの比表面積および１．５〜２．１ｇ／ｃｍ３の見掛け密度を有する薄片状銀粉Ｂを併用する。薄片状銀粉Ａの平均粒径が３μｍ未満であるかまたは８μｍを超える場合には、高い導電性が得られ難い。薄片状銀粉Ｂの平均粒径が３μｍ未満であるかまたは１０μｍを超える場合には、高い導電性が得られ難い。また薄片状銀粉Ａの比表面積が１．５ｍ２／ｇ未満であるかまたは薄片状銀粉Ａの見掛け密度が１．１ｇ／ｃｍ３を超える場合には、塗膜層内での銀粉の重なりが少なくなり、塗膜の体積固有抵抗率が高くなる。また薄片状銀粉Ａの比表面積が４．０ｍ２／ｇを超えるかまたは薄片状銀粉Ａの見掛け密度が０．４ｇ／ｃｍ３未満である場合には、導電性ペーストの混練時に薄片状銀粉Ａが変形を起こし、塗膜の体積固有抵抗率が高くなることがある。薄片状銀粉Ｂの比表面積が０．６ｍ２／ｇ未満であるかまたは薄片状銀粉Ｂの見掛け密度が２．１ｇ／ｃｍ３を超える場合には、塗膜層内での銀粉の重なりが少なくなって塗膜の体積固有抵抗率が高くなる。また薄片状銀粉Ｂの比表面積が１．２ｍ２／ｇを超えるかまたは薄片状銀粉Ｂの見掛け密度が１．５ｇ／ｃｍ３未満である場合には、導電性ペーストの混練時に薄片状銀粉Ｂが変形を起こし、塗膜の体積固有抵抗率が高くなることがある。
【０００８】
薄片状銀粉の原料粉は還元法、電解法、アトマイズ法などによって製造することができる。薄片状銀粉Ａの原料粉はアトマイズ法または電解法により製造することが望ましく、薄片状銀粉Ｂの原料粉は還元法により製造することが望ましい。
【０００９】
本発明において、導電性ペースト組成物中に、薄片状銀粉Ａの重量は薄片状銀粉Ａと薄片状銀粉Ｂとの合計重量１００部に対して３０〜９５％となる割合で含有される。薄片状銀粉Ａの割合が３０％未満では体積固有抵抗率が大きくなる。またこの割合が９５％を超えると、導電性ペーストの粘度が高くなって作業性が悪くなるまたこの割合が９５％を超えると導電性はほぼ飽和するので、相対的にコストの高い薄片状銀粉Ａの割合を９５％以下にすることでコストダウンにもなる。薄片状銀粉Ａのより好ましい割合は７０〜９５％である。この割合を７５〜８５％にすることにより硬化温度の変動による体積固有抵抗率の変動率を最も小さくすることができる。またこの割合を８５〜９５％にすることにより体積固有抵抗率を最も小さくすることができる。
【００１０】
薄片状銀粉Ｂの見掛け密度と前記薄片状銀粉Ａの見掛け密度の比が小さ過ぎたり大き過ぎると併用効果が小さくなって体積固有抵抗率が高くなり易くなる。従って薄片状銀粉Ｂは前記薄片状銀粉Ａの見掛け密度の１．５〜５．０倍の見掛け密度を有することが好ましく、２．５〜４．５倍の見掛け密度を有することがより好ましい。これと同様の理由で薄片状銀粉Ａは前記薄片状銀粉Ｂの比表面積の２．０〜５．０倍の比表面積を有することが好ましい。
【００１１】
なお、薄片状銀粉の平均粒径はレーザー回折法で測定する。薄片状銀粉の比表面積は（株）島津製作所製　フローソーブＩＩ　２３００を用いてＢＥＴ法（気体吸着法）により測定する。また薄片状銀粉の見掛け密度はＪＩＳ　Ｚ　２５０４により測定する。なお、薄片状銀粉の厚みｄ（μｍ）は、銀の比重を１０．５とし、薄片状銀粉の比表面積をＳ（ｍ２／ｇ）として、ｄ＝０．１９／Ｓ　から計算することができる。
【００１２】
導電性ペーストの固形分中の銀粉含有量が大きいほど得られる塗膜の導電性が高くなる。本発明において、薄片状銀粉Ａと薄片状銀粉Ｂとの合計は導電性ペーストの固形分に対して３５〜８５重量％となるように含有される。３５重量％未満では塗膜の体積固有抵抗率が高くなってしまう。８５重量％を超えると、導電性の向上が飽和したり、塗膜の付着性が低下する。より好ましい含有率は５０〜８０重量％である。
【００１３】
本発明において使用するバインダーである樹脂としては、常温で液状である樹脂でもよく、固形の樹脂を溶剤に溶解させたものでもよい。例えばアクリル樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、エポキシ／フェノール樹脂のような熱硬化性樹脂、ポリエステルのような熱可塑性樹脂など一般の有機合成樹脂が使用できる。エポキシ樹脂、フェノール樹脂は固形でも溶剤に溶解させたものであればよい。銀粉の含有率は使用する樹脂の種類により調整させると良い。
【００１４】
上記の熱硬化性樹脂に添加される硬化剤としては、アミン類、酸無水物類、イミダゾール、ジシアンジアミドなどの化合物系硬化剤やフェノール樹脂、ポリアミド樹脂等の樹脂系硬化剤が使用できる。
【００１５】
固形樹脂を溶解するために、または粘度調整のために使用する溶剤は、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテルなどの有機溶剤を使用し、樹脂組成物に合わせて任意に使用すればよい。溶剤の使用量は、樹脂の種類、塗布方法、塗布厚みなどによって異なるが通常は、樹脂成分に対して２０〜５０重量％の範囲で用いられる。
【００１６】
本発明の導電性ペーストには必要に応じて、カップリング剤、消泡剤などの添加剤を含有させることができる。本発明になる導電性ペーストは薄片状銀粉、樹脂組成物、溶剤、硬化剤および添加剤を、ニーダー、ディスパー、三本ロール等で均一に混合、分散して得られる。
【００１７】
得られた導電性ペーストは基材表面に、バーコート法、ディップ法、フロー法、スピンコート法、スプレー法などの塗布方法により、透明プラスチックシート、フィルム、ガラス板などに塗布し、１２０〜２００℃で３０秒〜６０分間加熱するかまたは電子線、紫外線、可視光線などの照射により硬化される。硬化された導電性塗膜の膜厚は通常、２〜５０μｍである。例えば電気、電子部品に適用する場合には導電性ペーストを例えば約５μｍの最終厚みで電気、電子部品の所定部分に塗布硬化させることにより等価直列抵抗の小さな電極を形成させることができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
次に、本発明を実施例及び比較例に基づき詳細に説明する。
【００１９】
導電性ペーストには次の材料を使用した。
（１）薄片状銀粉として次のような４種を準備した。これらを表１にまとめて示す。なお薄片状銀粉（Ｂ−２）の比表面積は本発明の薄片状銀粉Ｂの比表面積よりも小さい。
薄片状銀粉（Ａ−１）−−平均粒径５．４μｍ、比表面積２．３４ｍ２／ｇ、見かけ密度０．５４ｇ／ｃｍ３、厚み０．０８μｍ、「ナノメルトＡｇ−ＸＦ３０１」福田金属箔粉工業（株）製。
薄片状銀粉（Ａ−２）−−平均粒径４．６μｍ、比表面積１．９５ｍ２／ｇ、見かけ密度１．６ｇ／ｃｍ３、厚さ０．１μｍ、商品名「ＴＣＧ１」、（株）徳力化学研究所製。
薄片状銀粉（Ｂ−１）−−平均粒径６．３μｍ、比表面積０．７２ｍ２／ｇ、見かけ密度１．９８ｇ／ｃｍ３、厚み０．２６μｍ、「シルコートＡｇＣ−Ａ」福田金属箔粉工業（株）製。
薄片状銀粉（Ｂ−２）−−平均粒径７．７μｍ、比表面積０．３８ｍ２／ｇ、見かけ密度２．８２ｇ／ｃｍ３、厚さ０．５μｍ。
【００２０】
（２）樹脂組成物
フェノール樹脂−−「レヂトップＰＬ−２２４３」、郡栄化学工業（株）製
エポキシ／フェノール樹脂−−エポキシ樹脂（「エピコート−１００７」、ジャパンエポキシレジン（株）製）７重量部、フェノール樹脂（「ヒタノール−４０１０」日立化成工業（株）製）３重量部
ポリエステル樹脂−−「バイロン　２００」、東洋紡績（株）製。
（３）溶剤
ジエチレングリコールモノエチルエーテル（「ＥＣＲ」、ダイセル化学工業（株）製）
ジエチレングリコールモノブチルエーテル（「ＢＣＲ」、ダイセル化学工業（株）製）
【００２１】
［実施例１］
フェノール樹脂組成物を固形分として１０重量部、ジエチレングリコールモノエチルエーテル（ＥＣＲ）３重量部、薄片状銀粉（Ａ−１）　１２重量部、薄片状銀粉（Ｂ−１）　３重量部を混合攪拌し、三本ロールにて分散させて塗膜固形分中の導電粉含有率６０％の導電性ペーストを得た。
【００２２】
この導電性ペーストの導電性は次のようにして評価した。ガラス板に幅１ｍｍ、長さ１６３．５ｍｍ、厚さ約１０μｍになるように導電性ペーストを塗布し、その後に１５０℃、１８０℃または２００℃で３０分間加熱して塗膜を硬化させた。その硬化後の塗膜の体積固有抵抗率は次の測定値から算出した。抵抗値および塗膜膜厚はそれぞれデジタルマルチメーター（岩崎通信機（株）製）および表面粗度計（東京精密（株）製）で測定した。
【００２３】
１５０℃、１８０℃および２００℃にて硬化させた塗膜の体積固有抵抗率はそれぞれ０．７３×１０−４Ω・ｃｍ、０．６６×１０−４Ω・ｃｍおよび０．６６×１０−４Ω・ｃｍであった。導電性ペーストの配合比および塗膜の体積固有抵抗率を表２にまとめて示す。表中、１００＊（Ａ−１）／［（Ａ−１）＋（Ｂ−１）］の欄には薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を百分率で表している。導電性ペーストの固形分重量に対する薄片状銀粉Ａと薄片状銀粉Ｂとの合計重量の割合（百分率）を銀粉含有率（重量％）で示している。また硬化温度１５０℃、１８０℃および２００℃での体積固有抵抗率について１００＊［（最高値／最小値）−１］で表した硬化温度による体積固有抵抗率の変動の欄に示している。
【００２４】
［実施例２〜４］
表２に示すように薄片状銀粉（Ａ−１）および薄片状銀粉（Ｂ−１）の含有率を変えた他は実施例１と同様にして導電性ペーストを作成し、実施例１と同様に評価した。その結果を表２に示す。
【００２５】
［比較例１〜３］
表２に示すように薄片状銀粉（Ａ−１）および薄片状銀粉（Ｂ−１）の含有率を変えた他は実施例１と同様にして導電性ペーストを作成し、実施例１と同様に評価した。その結果を表２に示す。
【００２６】
実施例１〜４では、銀粉含有率を６０重量％とし、そして薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を５０〜９０重量％とした場合、０．５８〜０．８８×１０−４Ω・ｃｍの体積固有抵抗率が得られた。これに対し銀粉含有率を６０重量％とし薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を２０重量％（本発明の範囲外）とした比較例１で得られる体積固有抵抗率は１．９９〜３．４０×１０−４Ω・ｃｍの高い値を示す。そして上記比率を２０重量％に保った場合には銀粉含有率を７５重量％まで高くすることによって実施例１〜４と同程度の体積固有抵抗率が得られることが比較例２からわかる。また実施例１〜４の硬化温度による体積固有抵抗率の変動は、比較例１および２での７１％および３０％に比して、１１〜２１％と小さい値であった。さらに銀粉含有率を６０重量％とし薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を１００重量％（本発明の範囲外）とした比較例３では０．６０〜０．８３×１０−４Ω・ｃｍの低い値の体積固有抵抗率が得られるものの、硬化温度による体積固有抵抗率の変動は３８％であって実施例１〜４の１１〜２１％に比して高い値を示す。
【００２７】
［比較例４〜５］
薄片状銀粉（Ａ−２）および薄片状銀粉（Ｂ−２）を使用し、表３に示すように薄片状銀粉（Ａ−２）および薄片状銀粉（Ｂ−２）の含有率を変えた他は実施例１と同様にして導電性ペーストを作成し、実施例１と同様に評価した。その結果を表３に示す。
【００２８】
本発明の薄片状銀粉Ｂの比表面積（０．６〜１．２ｍ２／ｇ）よりも小さい比表面積（０．３８ｍ２／ｇ）を有する薄片状銀粉（Ｂ−２）を使用し、銀粉含有率を６０重量％とし、そして薄片状銀粉（Ａ−２）と薄片状銀粉（Ｂ−２）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−２）重量の比率を２０重量％（本発明の範囲外）とした比較例４で得られる体積固有抵抗率は２．２８〜３．８５×１０−４Ω・ｃｍの高い値を示す。そして上記比率を２０重量％に保った場合には銀粉含有率を７５重量％に高くすることによってはじめて実施例１〜４と同程度の体積固有抵抗率が得られることが比較例５からわかる。
【００２９】
［実施例５〜７］
表４に示すような配合比で実施例１と同様にして導電性ペーストを作成し、実施例１と同様に評価した。その結果を表４に示す。
【００３０】
［実施例８〜１２、比較例６〜７］
銀粉含有率を４０重量％または５５重量％とし、表５に示すような配合比で実施例１と同様にして導電性ペーストを作成し、実施例１と同様に評価した。その結果を表５に示す。
【００３１】
実施例８〜１２では、銀粉含有率を４０重量％とし、そして薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を５０〜９０重量％とした場合、２．１３〜６．６０×１０−４Ω・ｃｍの体積固有抵抗率が得られる。これに対し銀粉含有率を４０重量％とし薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を２０重量％（本発明の範囲外）とした比較例６で得られる体積固有抵抗率は１１．７〜３１．０×１０−４Ω・ｃｍの高い値を示す。また実施例８〜１２の硬化温度による体積固有抵抗率の変動は、比較例６での１６５％に比して、１８〜３８％と小さい値であった。そして上記比率を２０重量％に保った場合には銀粉含有率を５５重量％に高くすることによってはじめて実施例８〜１２と同程度の体積固有抵抗率が得られることが比較例７からわかる。
【００３２】
［実施例１３〜１５、比較例８〜９］
エポキシ／フェノール樹脂を使用し、銀粉含有率を６０重量％または８５重量％とし、表６に示すような配合比で実施例１と同様にして導電性ペーストを作成し、実施例１と同様に評価した。その結果を表６に示す。
【００３３】
実施例１３〜１５では、銀粉含有率を６０重量％とし、そして薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を７０〜９０重量％とした場合、１．０５〜１．９７×１０−４Ω・ｃｍの体積固有抵抗率が得られる。これに対し銀粉含有率を６０重量％とし薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を２０重量％（本発明の範囲外）とした比較例８で得られる体積固有抵抗率は９．１〜１８．３×１０−４Ω・ｃｍの高い値を示す。また実施例１３〜１５の硬化温度による体積固有抵抗率の変動は、比較例８での１０１％に比して、３０〜４８％と小さい値であった。そして上記比率を２０重量％に保った場合には銀粉含有率を８５重量％まで高くすることによってはじめて実施例１３〜１５と同程度の体積固有抵抗率が得られることが比較例９からわかる。
【００３４】
［実施例１６、比較例１０］
ポリエステル樹脂を使用し、銀粉含有率を６０重量％とし、表７に示すような配合比で実施例１と同様にして導電性ペーストを作成し、実施例１と同様に評価した。その結果を表７に示す。
【００３５】
実施例１６では銀粉含有率を６０重量％とし、そして薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を８０重量％とした場合、０．６６３〜０．７５２×１０−４Ω・ｃｍの体積固有抵抗率が得られる。これに対し銀粉含有率を６０重量％とし薄片状銀粉（Ａ−１）と薄片状銀粉（Ｂ−１）との合計重量に対する薄片状銀粉（Ａ−１）重量の比率を２０重量％（本発明の範囲外）とした比較例１０で得られる体積固有抵抗率は２．５４〜３．５６×１０−４Ω・ｃｍの高い値を示す。また実施例１６の硬化温度による体積固有抵抗率の変動は、比較例１０での４０％に比して、１３％と小さい値であった。
【００３６】
【表１】
2004111057.tif 000002
【００３７】
【表２】
2004111057.tif 000003
【００３８】
【表３】
2004111057.tif 000004
【００３９】
【表４】
2004111057.tif 000005
【００４０】
【表５】
2004111057.tif 000006
【００４１】
【表６】
2004111057.tif 000007
【００４２】
【表７】
2004111057.tif 000008
【００４３】
【発明の効果】
以上に説明した通り、本発明の導電性ペーストは見かけ密度、比表面積などの異なる２種の薄片状銀粉を特定の比率で樹脂中に分散させることにより、従来よりも少量の薄片状銀粉で高い導電性の塗膜が得られ、銀の省資源をはかることができる。また得られる導電性が硬化温度による影響を受けにくいものとなった。さらに、導電ペースト中に比表面積が大きく見掛け密度の小さく嵩高い薄片状銀粉が多く含まれるので、導電ペーストはチクソ性を有し、従って薄片状銀粉が沈降し難く、また再分散性も良好でもし沈降が生じても撹拌により容易に分散する作業性の良い導電性ペーストが得られる。８５％を超えて導電材料を含む従来の導電性ペーストと比較して本発明では樹脂量を多くすることができるので、密着性、接着力が向上し、密着性、接着力のバラツキも少なくなる。