(57)【要約】【課題】搬送システムにおいて周期欠陥が発生したときに、前記周期欠陥を発生させている搬送ローラを早期に特定できる検査システムおよび周期欠陥発生箇所の特定方法の提供。【解決手段】外径の異なる少なくとも２種類の搬送ローラによって帯状体を一定の方向に搬送する搬送ラインにおいて、一定の周期を有する周期欠陥が発生したときに、前記周期欠陥の発生周期に基いて前記周期欠陥を生じさせている搬送ローラの外径を推定し、前記外径の推定値に最も近い外径を有する搬送ローラにおいて前記周期欠陥が発生したものと推定する周期欠陥発生箇所の特定方法、検査システム。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
外径の異なる少なくとも２種類のローラによって帯状体を一定の方向に搬送する搬送ラインにおける周期欠陥発生箇所の特定方法であって、
一定の周期を有する周期欠陥が発生したときに、前記周期欠陥の発生周期に基いて前記周期欠陥を生じさせているローラの外径を推定し、前記外径の推定値に最も近い外径を有するローラにおいて前記周期欠陥が発生したものと推定することを特徴とする周期欠陥発生箇所の特定方法。
【請求項２】
前記搬送ラインにおける周期欠陥発生箇所の特定方法であって、
一定の周期を有する周期欠陥が発生したときに、前記搬送ラインにおけるローラの一部につき、前記ローラと前記帯状体との間における前記帯状体の幅方向に沿った相対的な位置関係を変更して前記周期欠陥の検出位置が前記帯状体の幅方向に沿って変化するか否かを検出し、前記検出位置が変化したときは、前記位置関係を変更したローラにおいて前記周期欠陥が発生したものと推定することを特徴とする周期欠陥発生箇所の特定方法。
【請求項３】
前記搬送ラインにおいて帯状体の欠陥の有無を検査する検査システムであって、
前記帯状体の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段が検出した欠陥の発生位置および発生周期に関する欠陥情報を収集する欠陥情報管理手段とを
備えてなり、
前記欠陥検出手段が一定の周期で発生する周期欠陥を検出すると、前記欠陥情報管理手段は、前記周期欠陥の発生周期に基いて前記周期欠陥を生じさせているローラの外径を推定し、前記外径の推定値に最も近い外径を有するローラにおいて前記周期欠陥が発生しているものと推定する検査システム。
【請求項４】
前記搬送ラインにおいて帯状体の欠陥の有無を検査する検査システムであって、
前記帯状体の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段が検出した欠陥の発生位置および発生周期に関する欠陥情報を収集する欠陥情報管理手段と、
前記搬送ラインにおけるローラと前記帯状体との間の相対的な位置を、前記帯状体の幅方向に沿って変更する相対位置変更手段とを
有してなり、
前記欠陥検出手段が前記周期欠陥を検出すると、前記相対位置変更手段は、前記ローラの一部につき、前記帯状体との間の相対的な位置関係を変更し、
前記欠陥情報管理手段は、周期欠陥の検出位置が前記帯状体の幅方向に沿って変化するか否かを検出することを特徴とする検査システム。
【請求項５】
前記相対位置変更手段を有してなり、前記周期欠陥の周期から推定される外径を有するローラが複数存在すると前記欠陥検出手段が推定した場合には、前記相対位置変更手段は、前記複数のローラのそれぞれにつき、前記帯状体の幅方向に沿った前記ローラと帯状体との間の相対的な位置関係を変更し、前記欠陥情報管理手段は、何れのローラについて前記帯状体との相対的な位置関係を変更したときに周期欠陥の検出位置が変化するかを検出する請求項３に記載の検査システム。
【請求項６】
前記搬送ラインは、１のローラまたは外径の異なる２以上のローラを有する２以上の区間に区分されてなり、前記区間のそれぞれに前記相対位置変更手段が設けられてなる請求項４または５に記載の検査システム。
【請求項７】
前記搬送ラインにおけるローラの外径は全て異なっている請求項３〜６の何れか１項に記載の検査システム。
【請求項８】
前記相対位置変更手段は、前記帯状体を幅方向に移動させる帯状体移動手段である請求項４〜７の何れか１項に記載の検査システム。
【請求項９】
前記相対位置変更手段は、前記ローラを前記帯状体の幅方向に移動させるローラ移動手段である請求項４〜７の何れか１項に記載の検査システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査システムおよび周期欠陥発生箇所の特定方法に関し、特に、一連のローラによって帯状体を搬送する搬送システムにおいて周期欠陥が発生したときに、前記周期欠陥を発生させているローラを早期に特定して故障品の発生を最小限に押さえることのできる検査システムおよび周期欠陥発生箇所の特定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
平版印刷版は、一般に、連続した帯状のアルミニウム薄板であるアルミニウムウェブに、砂目立て、陽極酸化、シリケート処理などの表面処理を順次行い、次いで、感光液を塗布・乾燥して感光層を形成した後、所望のサイズに裁断するという工程を経て製造される。
【０００３】
前記裁断工程に移行する前に、感光層の欠陥部（金属光沢傷、色筋、擦り傷、塗布ムラ、異物の付着など）の有無について、オンライン面検査装置（以下、「ＯＤＤ」という。）によって光学的に検査される。
【０００４】
そして、前記ＯＤＤが前記欠陥部を検出した時には、欠陥の発生位置および発生周期に関する欠陥情報がディスプレーやプリンタなどの表示手段で表示されると同時に、前記欠陥の発生箇所に識別ラベルを貼付して、前記欠陥部の存在する区間の始点と終点とが判るようにしていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記アルミニウムウェブまたは平版印刷版を搬送する搬送ラインにおけるローラの表面に傷や汚れが付着していると、前記平版印刷版の表面に一定の周期を有する欠陥である周期欠陥が発生することがある。
【０００６】
したがって、前記ＯＤＤにおいて、前記周期欠陥の原因になっているローラを特定できれば、前記ローラの表面の汚れや傷を除去したり、前記ローラを新品に交換したりするなどの対策を早期にとることができるから、前記周期欠陥を有する故障品の発生を最小限に押さえることができる。
【０００７】
本発明は、一連のローラによって前記平版印刷版などの帯状体を搬送する搬送ラインにおいて周期欠陥が発生したときに、前記周期欠陥を発生させているローラを早期に特定して故障品の発生を最小限に押さえることのできる検査システムおよび周期欠陥発生箇所の特定方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、外径の異なる少なくとも２種類のローラによって帯状体を一定の方向に搬送する搬送ラインにおける周期欠陥発生箇所の特定方法であって、一定の周期を有する周期欠陥が発生したときに、前記周期欠陥の発生周期に基いて前記周期欠陥を生じさせているローラの外径を推定し、前記外径の推定値に最も近い外径を有するローラにおいて前記周期欠陥が発生したものと推定することを特徴とする周期欠陥発生箇所の特定方法に関する。
【０００９】
帯状体に一定の周期、換言すれば一定の間隔で発生する欠陥である周期欠陥は、一般的には、前記帯状体を搬送するローラの表面の異物や傷によって発生すると考えられる。したがって、前記周期欠陥の周期、言い替えれば隣接する２つの欠陥の間の距離は、原因となっているローラの周長に等しいか、またはその整数倍であると考えられる。
【００１０】
したがって、周期欠陥の発生周期をｉとすると、前記周期欠陥を生じさせているローラの外径は、ｉ／π、またはａ・ｉ／π（ａは任意の整数）と推定できる。
【００１１】
前記周期欠陥発生箇所の特定方法においては、前記の考え方に基づき、前記周期欠陥のローラがどれであるかを推定しているから、前記搬送ラインにおける全てのローラの表面を直接調べる必要がない。
【００１２】
したがって、前記周期欠陥が発生したときに、早期のうちに、どのローラが前記周期欠陥の原因になっているかを特定できるから、前記周期欠陥に起因する故障品が大量に発生する前に、対策を講じることができる。
【００１３】
帯状体としては、たとえば平版印刷版が挙げられるが、他には、前記アルミニウムウェブ、録音テープやビデオテープなどの磁気テープ、写真フィルムや映画フィルムなどの銀塩感光層を有する帯状銀塩感光材料、帯状鋼鈑や帯状ステンレス板などの帯状金属板、各種プラスチックフィルム、紙、および布帛などが挙げられる。
【００１４】
前記ローラとしては、モータ等により回転させて前記帯状体を搬送する搬送ローラ、および前記帯状体に張力を付与するテンションローラなど、帯状体の搬送ラインで通常に使用されるローラが挙げられる。
【００１５】
請求項２に記載の発明は、前記搬送ラインにおける周期欠陥発生箇所の特定方法であって、一定の周期を有する周期欠陥が発生したときに、前記搬送ラインにおけるローラの一部につき、前記ローラと前記帯状体との間における前記帯状体の幅方向に沿った相対的な位置関係を変更して前記周期欠陥の検出位置が前記帯状体の幅方向に沿って変化するか否かを検出し、前記検出位置が変化したときは、前記位置関係を変更したローラにおいて前記周期欠陥が発生したものと推定することを特徴とする周期欠陥発生箇所の特定方法に関する。
【００１６】
前記周期欠陥発生箇所の特定方法によれば、前記搬送ラインにおいてローラの直径が全て同一である場合にも、周期欠陥の原因になっているローラを容易に特定できる。
【００１７】
前記帯状体に対する前記帯状体の走行位置を変更する方法の例としては、例えば、前記帯状体の搬送経路の方を固定し、前記ローラのほうを移動させる方法、および前記帯状体の搬送経路の方を移動させる方法などが挙げられる。
【００１８】
帯状体については、請求項１に述べたとおりである。
【００１９】
請求項３に記載の発明は、前記搬送ラインにおいて帯状体の欠陥の有無を検査する検査システムであって、前記帯状体の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段が検出した欠陥の発生位置および発生周期に関する欠陥情報を収集する欠陥情報管理手段とを備えてなり、前記欠陥検出手段が一定の周期で発生する周期欠陥を検出すると、前記欠陥情報管理手段は、前記周期欠陥の発生周期に基いて前記周期欠陥を生じさせているローラの外径を推定し、前記外径の推定値に最も近い外径を有するローラにおいて前記周期欠陥が発生しているものと推定する検査システムに関する。
【００２０】
前記検査システムにおいては、請求項１に記載の周期欠陥発生箇所の特定方法と同様に、周期欠陥の発生周期は、原因となっているローラの周長に等しいか、またはその整数倍であるとの考え方に基き、周期欠陥の発生周期からどのローラが周期欠陥の原因になっているかを推定している。
【００２１】
したがって、周期欠陥の原因になっているローラを特定するのに、前記搬送ラインにおける全てのローラの表面を調べる必要がない。
【００２２】
また、前記欠陥検出手段と、前記欠陥情報管理手段と、前記欠陥情報管理手段で収集された欠陥情報および前記欠陥情報管理手段における推定結果を表示する前記表示手段としては、従来のＯＤＤと殆ど同様のものが使用できるから、前記検査システムは安価に構成できる。
【００２３】
請求項４に記載の発明は、前記搬送ラインにおいて帯状体の欠陥の有無を検査する検査システムであって、前記帯状体の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段が検出した欠陥の発生位置および発生周期に関する欠陥情報を収集する欠陥情報管理手段と、前記搬送ラインにおけるローラと前記帯状体との間の相対的な位置を、前記帯状体の幅方向に沿って変更する相対位置変更手段とを有してなり、前記欠陥検出手段が前記周期欠陥を検出すると、前記相対位置変更手段は、前記ローラと前記帯状体との間の相対的な位置関係を変更し、前記欠陥情報管理手段は、周期欠陥の検出位置が前記帯状体の幅方向に沿って変化するか否かを検出することを特徴とする検査システムに関する。
【００２４】
前記周期欠陥発生箇所の特定方法によれば、前記搬送ラインにおいてローラの直径が全て同一である場合にも、周期欠陥の原因になっているローラを容易に特定できる。
【００２５】
また、前記搬送ラインにおける全てのローラの表面を直接調べる必要がないから、前記周期欠陥が発生したときに、早期のうちに、どのローラが前記周期欠陥の原因になっているかを特定できる。したがって、前記周期欠陥に起因する故障品が大量に発生する前に、対策を講じることができる。
【００２６】
前記相対位置変更手段においては、前記帯状体の搬送経路の方を固定し、前記ローラのほうを移動させてもよく、反対に、前記帯状体の搬送経路の方を移動させてもよい。
【００２７】
請求項５に記載の発明は、前記相対位置変更手段を有してなり、前記欠陥検出手段が、前記周期欠陥の発生周期から推定される外径を有するローラが複数存在すると推定した場合には、前記相対位置変更手段は、前記複数のローラのそれぞれにつき、前記帯状体との間の相対的な位置関係を変更し、前記欠陥情報管理手段は、何れのローラについて前記帯状体との相対的な位置関係を変更したときに周期欠陥の検出位置が変化するかを検出する請求項３に記載の検査システムに関する。
【００２８】
前記検査システムは、請求項３に記載の検査システムに前記相対位置変更手段を付加した検査システムである。
【００２９】
前記検査システムにおいては、周期欠陥の発生周期から推定される外径を有するローラが複数本存在する場合において、ローラの絞込みが可能であるから、周期欠陥を生じさせているローラの特定が、高い確度で、しかも迅速に行える。
【００３０】
請求項６に記載の発明は、前記搬送ラインが、１のローラまたは外径の異なる２以上のローラを有する２以上の区間に区分されてなり、前記区間のそれぞれに前記相対位置変更手段が設けられてなる検査システムに関する。
【００３１】
前記検査システムにおいては、前記搬送ラインがローラを多数備えている場合においても、前記搬送ラインの一端に位置する区間から他端に位置する区間に向かって順次ローラと帯状体との間の相対位置を変更することにより、周期欠陥の原因となっているローラを短時間で特定できる。
【００３２】
請求項８に記載の発明は、前記搬送ラインにおけるローラの外径が全て異なっている検査システムに関する。
【００３３】
前記検査システムにおいては、周期欠陥の発生周期とローラの外径とは１対１で対応するから、周期欠陥の原因となっているローラの特定を特に高い精度で行うことができる。
【００３４】
請求項９に記載の発明は、前記相対位置変更手段が、前記帯状体を幅方向に移動させる帯状体移動手段である検査システムに関する。
【００３５】
搬送ラインには、ローラのほかに、通常、搬送される帯状体の中心位置を一定位置に制御するセンタ位置制御装置（以下、「ＣＰＣ」という。）が設けられている。
【００３６】
前記検査システムにおいては、前記ＣＰＣを用いて前記帯状体の中心位置を移動させ、換言すれば前記ＣＰＣを前記帯状体移動手段として機能させることにより、前記帯状体を幅方向に移動させることができるから、前記帯状体移動手段として新たな装置を付加する必要がない。
【００３７】
請求項１０に記載の発明は、前記相対位置変更手段が、前記ローラを前記帯状体の幅方向に移動させるローラ移動手段である検査システムに関する。
【００３８】
前記検査システムは、搬送ラインに前記ＣＰＣが設けられていない場合においても、ローラと帯状体との間の相対位置を変更することができる。
【００３９】
【発明の実施の形態】
１．実施形態１
本発明に係る検査システムの一例でであるオンライン表面検査システムにつき、以下に説明する。
【００４０】
実施形態１に係るオンライン表面検査システム１００は、図１に示す搬送ライン２００において搬送される平版印刷版Ｐの表面に存在する欠陥の有無、位置、および発生周期などを検査する機能を有し、搬送ライン２００において、平版印刷版Ｐの搬送方向ａに沿って最も下流側に設けられる。
【００４１】
１−１　搬送ラインの構成
搬送ライン２００は、図１において（Ａ）〜（Ｃ）に示すように、平版印刷版Ｐを搬送方向ａに沿って搬送する搬送ラインであり、平版印刷版Ｐの中心線を一定の位置に保持するＣＰＣ２０２Ａ〜２０２Ｅを有している。ＣＰＣ２０２Ａ〜２０２Ｅは、また、周期欠陥の原因となっているローラの絞込みを行う際には前記中心線の位置を平版印刷版Ｐの幅方向に移動させる機能も有する。
【００４２】
搬送ライン２００は、ＣＰＣ２０２Ａ〜２０２Ｅにより、搬送方向に沿って区間２０４Ａ、区間２０４Ｂ、区間２０４Ｃ，および区間２０４Ｄの４区間に区分されている。以下、ＣＰＣ２０２Ａ〜２０２Ｅを総称して「ＣＰＣ２０２」と言うことがあり、区間２０４Ａ〜２０４Ｄを総称して「区間２０４」ということがある。
【００４３】
区間２０４Ａ〜２０４Ｄには、平版印刷版Ｐを搬送する搬送ローラ２０６Ａ〜２０６Ｄと、ＣＰＣ２０２を通過した平版印刷版を搬送ローラ２０６に導入する導入ローラ２０８Ａ〜２０８Ｄ（以下、総称して「導入ローラ２０８」という。）と、搬送ローラ２０６を通過した平版印刷版Ｐを次のＣＰＣ２０２に向かって導出する導出ローラ２１０Ａ〜２１０Ｄ（以下、総称して「導出ローラ２１０」という。）とがそれぞれ設けられている。
【００４４】
平版印刷版Ｐの巻出し側に位置する巻出し側ロール２２０とＣＰＣ２０２Ａとの間には、巻出しロール２２０から巻き出された平版印刷版ＰをＣＰＣ２０２Ａに案内する導入ローラ２１２が設けられている。一方、平版印刷版Ｐの巻き取り側に位置する巻き取り側ロール２２２とＣＰＣ２０２Ｅとの間には、ＣＰＣ２０２Ｅを通過した平版印刷版Ｐを巻き取り側ロール２２２に案内する導出ローラ２１４が設けられている。
【００４５】
なお、区間２０４Ａ〜２０４Ｄのそれぞれにおいて、搬送ローラ２０６と導入ローラ２０８と導出ローラ２１０とは互いに外径が異なる。また、導入ローラ２１２、および導出ローラ２１４は、搬送ローラ２０６、導入ローラ２０８、および導出ローラ２１０の何れとも外径が異なる。
【００４６】
ＣＰＣ２０２の構成の詳細を図２および図３に示す。
【００４７】
ＣＰＣ２０２は、図２に示すように、水平面上に設けられ、平版印刷版Ｐを案内する１対の互いに平行なローラである案内ローラ２０２ａと、案内ローラ２０２ａが軸支されている長方形状の枠体であるローラ支持枠２０２ｂと、ローラ支持枠２０２ｂを下方から支持する基台２０２ｃとを有する。ローラ支持枠２０２ｂは、搬送方向ａに沿って下流側の側縁部において、ピン２０２ｄによって基台２０２ｃに軸着されている。
【００４８】
ＣＰＣ２０２は、さらに、ローラ支持枠２０２ｂをピン２０２ｄの回りに回動させるモータアクチュエータ２０２ｅを備える。
【００４９】
ＣＰＣ２０２は、さらに、モータアクチュエータ２０２ｅのモータｅ１を回転させるモータ駆動制御部２０２ｆと、モータ駆動制御部２０２ｆを介してモータｅ１を制御するデジタル制御器２０２ｇと、案内ローラ２０２ａを通過した平版印刷版Ｐに、搬送方向ａに対して直角な方向のレーザ光を照射する投光器２０２ｈと、投光器２０２ｈからのレーザ光のうち、平版印刷版Ｐに遮られなかったものを受光して光電流に変換し、受光光量に応じた光電流をデジタル制御器２０２ｇに出力するリニアセンサー２０２ｉおよび２０２ｊとを備える。
【００５０】
モータアクチュエータ２０２ｅは、モータｅ１と、モータｅ１が一端に固定された略円柱状の本体ｅ２とを有する。本体ｅ２の内部には、モータｅ１によって回転するナットと、前記ナットに螺合し、前記ナットの回転に応じて前記本体ｅ２の他端から突出し、または引き込まれる螺子軸ｅ３とからなるボール螺子が設けられている。モータｅ１と本体ｅ２との間には、モータｅ１の回転を減速して本体ｅ２のナットに伝達する減速機ｅ４が設けられている。モータｅ１と本体ｅ２と減速機ｅ４とは一体に形成され、基台２０２ｃに対して固定された取付部材ｅ５に回動可能に保持されている。螺子軸ｅ３の端部は、ローラ支持枠２０２ｂの一方の側縁における下流側の端部に枢着されている。したがって、モータｅ１が回転すると、螺子軸ｅ３は本体ｅ２から突出し、または引き込まれて、ローラ支持枠２０２ｂの前記下流側端部が下流側または上流側に移動して、ローラ支持枠２０２ｂがピン２０２ｄを中心に回動する。
【００５１】
螺子棒ｅ３が本体ｅ２に引き込まれる方向に移動した状態を図３に示す。図３に示すように、前記状態においては、ローラ支持枠２０２ｂのモータアクチュエータ２０２ｅに近い側の側縁が下流側に移動するから、ローラ支持枠２０２ｂは、ピン２０２ｄを中心に上方から見て時計回り方向に回動する。したがって、案内ローラ２０２ａは、モータアクチュエータ２０２ｅに近い側の端部が下流側に移動し、モータアクチュエータ２０２ｅから遠い側の端部が上流側に移動するから、平版印刷版Ｐの搬送経路、言い返れば中心線は、モータアクチュエータ２０２ｅから遠ざかる方向に移動する。
【００５２】
逆に、螺子棒ｅ３が本体ｅ２から突出する方向に移動すると、図３に示す状態とは反対に、ローラ支持枠２０２ｂは、ピン２０２ｄを中心に上方から見て反時計回り方向に回動するから、平版印刷版Ｐの中心線は、モータアクチュエータ２０２ｅに近付く方向に移動する。
【００５３】
デジタル制御器２０２ｇは、通常の搬送時においては、リニアセンサー２０２ｉとリニアセンサー２０２ｊとの受光光量が互いに等しくなるように、モータアクチュエータ２０２ｅのモータｅ１を回転させ、平版印刷版Ｐの中心線が一定の点を通過するように、平版印刷版Ｐの搬送経路を制御する。
【００５４】
一方、周期欠陥の原因になっているローラの特定を行う場合には、デジタル制御器２０２ｇは、リニアセンサー２０２ｉとリニアセンサー２０２ｊとの受光光量に関係無くモータｅ１を回転させて平版印刷版Ｐの中心線の位置を移動させる。
【００５５】
これにより、区間２０４において平版印刷版Ｐが幅方向に移動し、導入ローラ２０８、搬送ローラ２０６、および導出ローラ２１０に対する平版印刷版Ｐの幅方向に沿った相対的な位置が変更される。
【００５６】
なお、ＣＰＣ２０２によって平版印刷版Ｐを移動させる代わりに、図４に示すように、搬送ローラ２０６Ａ〜２０６Ｄ、導入ローラ２０８Ａ〜２０８Ｄ、および導出ローラ２１０Ａ〜２１０Ｄを、上流側から下流側に向って１本づつ搬送方向ａに対して直角の方向に移動させてもよい。
【００５７】
１−２　オンライン表面検査システムの構成
オンライン表面検査システム１００は、図５に示すように、平版印刷版Ｐの感光層を形成した側の面であるＡ面の全幅に亘ってレーザ光を走査して前記Ａ面上の光沢傷を検出するＡ面レーザ光走査型検出装置２と、平版印刷版ＰのＡ面とは反対側の面であるＢ面の全幅に亘ってレーザ光を走査して前記Ｂ面上の光沢傷を検出するＢ面レーザ光走査型検出装置４と、電荷結合素子（ＣＣＤ）により、前記Ａ面に形成された感光層表面の欠陥を検出する色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８とを備える。
【００５８】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２とＢ面レーザ光走査型検出装置４とは、欠陥信号処理装置５０に接続され、色筋検出装置１２と擦り傷検出装置１４と光沢検出装置１６と色検出装置１８とは、欠陥信号処理装置５２に接続されている。
【００５９】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２と、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４と、色筋検出装置１２と、擦り傷検出装置１４と、光沢検出装置１６と、色検出装置１８とは、何れも本発明の検査システムにおける欠陥検出部に相当する。
【００６０】
オンライン表面検査システム１００は、さらに、平版印刷版Ｐの搬送ラインに設けられ、平版印刷版Ｐの側縁部に、欠陥の発生した区間の始点と終点とを示すマークを附するマーキング装置８０も備えている。
【００６１】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８は、図６に示すように、前記搬送方向ａに沿って上流側（以下、単に「上流側」という。）から下流側（以下、単に「下流側」という。）に向かってＢ面レーザ光走査型検出装置４、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、色検出装置１８、Ａ面レーザ光走査型検出装置２の順で配置されている。
【００６２】
そして、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４と光沢検出装置１６、および色検出装置１８のそれぞれの下方には検査ローラ４０が配設され、各検査ロール４０に対して上流側であって下方には、平版印刷版Ｐを巻き掛けてテンションをとるテンションローラ４２が設けられている。
【００６３】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４の近傍にはそれぞれ検査ローラ４４および４６が配設されている。
【００６４】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４は、図６および図７に示すように、レーザ光源（図示せず。）からのレーザ光を検査ローラ４４または４６に巻き掛けられて搬送される平版印刷版Ｐの全幅に亘って、図７において矢印ｂで示す方向に走査するレーザ光照射部２Ａ（４Ａ）と、平版印刷版Ｐの幅方向に沿って受光素子を配列した受光素子アレイからなり、Ａ面またはＢ面からの反射光を受光してその強度に応じた光電流を出力するレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）とを備える。レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）においては、一定速度で回転するポリゴンミラー（図示せず。）によりレーザ光を一方向に走査することができる。また、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、平版印刷版Ｐの全幅に亘って延在する。
【００６５】
レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）およびレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、何れも欠陥信号処理装置５０に接続されている。レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、前記レーザ光が平版印刷版Ｐに照射される位置である受光位置と前記受光位置における光電流の強さとを欠陥信号処理装置５０に出力する。
【００６６】
一方、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）およびレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）から入力された反射光強度およびレーザ光照射位置についての情報に基き、欠陥信号処理装置５０からの指令により、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）におけるレーザ光強度、走査速度、および走査幅が制御される。
【００６７】
検査ローラ４４（４６）には、平版印刷版Ｐの搬送距離を検出するタコメータ２Ｃ（４Ｃ）が接続され、前記タコメータ２Ｃ（４Ｃ）も欠陥信号処理装置５０に接続されている。
【００６８】
色筋検出装置１２は、図６に示すように、前記Ａ面の全幅に亘って帯状の光を照射する１対の光源２０と、平版印刷版Ｐの幅方向に配列されたＣＣＤからなり、前記Ａ面からの反射光を受光するＣＣＤアレイ２２Ａと、光源２０からの光がＡ面で反射された反射光をＣＣＤアレイ２２Ａに集光させる集光レンズ２２Ｂと有するＣＣＤカメラ２２とを備える。なお、光源２０は、Ａ面上において、照射光が平版印刷版Ｐの全幅に亘る同一直線上に集中するように配設されている。色筋検出装置１２は、平版印刷版Ｐの搬送方向ａに沿って伸び、周囲とは色彩の異なる筋状の欠陥である色筋を検出する機能を有する。
【００６９】
色筋検出装置１２について、ＣＣＤカメラ２２および光源２０と検査ローラ４０および平版印刷版Ｐとの相対的な位置関係を図８に示す。色筋検出装置１２においては、図８に示すように、ＣＣＤカメラ２２からの受光電圧を欠陥信号処理装置５２に出力し、欠陥信号処理装置５２は、前記受光電圧に基いて光源２０に光量制御信号を出力し、光源２０は、前記光量制御信号に基いて平版印刷版Ｐに照射する光量を調節する。これは、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８についても同様である。
【００７０】
擦り傷検出装置１４もまた、前記Ａ面の全幅に亘って帯状の光を照射する光源２４とＣＣＤカメラ２２と同様の構成を有するＣＣＤカメラ２６とを備える。しかし、色筋検出装置１２にとは異なり、光源２４の個数は１個である。そして、ＣＣＤカメラ２６の正面に、光源２４からの光がＡ面で反射された反射光中の縦波をカットし、横波だけを通過させる偏光フィルタ２８が設けられ、Ａ面上の擦り傷を検出する機能を有する。
【００７１】
光沢検出装置１６は、点状の明暗および傷と異物とを光学的に検出する機能を有し、前記Ａ面に光を照射する蛍光灯からなる光源３２と、前記光源３２からの光が前記Ａ面で反射された反射光を検知するＣＣＤカメラ３４とを備える。ＣＣＤカメラ３４は、ＣＣＤが正方形状に配列されたＣＣＤアレイ３４Ａと、前記Ａ面からの反射光をＣＣＤアレイ３４Ａに集光させる集光レンズ３４Ｂとを備える。
【００７２】
色検出装置１８は、点状の色むらや異物を検出する機能を有し、光沢検出装置１６と同様に、前記Ａ面に光を照射する蛍光灯からなる光源３６と、ＣＣＤカメラ３４と同様の構成を有し、前記光源３６からの光が前記Ａ面で反射された反射光を検知するＣＣＤカメラ３８とを備える。但し、光沢検出装置１６とは異なり、光源３６は１対設けられ、照射光が、平版印刷版Ｐの全幅に亘る同一直線上に集中するように配設されている。
【００７３】
色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８においては、ＣＣＤカメラ２２（２６、３４、３６）を、平版印刷版Ｐの搬送経路である搬送面の幅方向に亘って複数台設けることができる。
【００７４】
欠陥信号処理装置５０は、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４からのデータを処理してＡ面およびＢ面における欠陥の位置、種類を判定する機能と、前述のように、入力された設定情報に基いてＡ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４を制御する機能とを有する。
【００７５】
欠陥信号処理装置５０は、図５に示すように制御コンピュータ５４に接続されている。
【００７６】
欠陥信号処理装置５０には、更に、欠陥信号処理装置５０において判定された１または２以上の種類の欠陥について、発生周期を判定する欠陥周期判定コンピュータ６４と、欠陥信号処理装置５０および欠陥周期判定コンピュータ６４の判定結果に基いてＡ面およびＢ面における欠陥の位置および種類を表示する欠陥表示モニター６６とが接続されている。
【００７７】
欠陥周期判定コンピュータ６４は、制御コンピュータ５４に接続されている。
【００７８】
制御コンピュータ５４は、欠陥信号処理装置５０および欠陥周期判定コンピュータ６４を制御したり、欠陥信号処理装置５０および欠陥周期判定コンピュータ６４とデータおよび制御指令を授受したりする機能を有し、他に、マーキング装置８０を制御する機能も有している。制御コンピュータ５４は、信号中継装置５８に接続され、さらに、警報ランプや警報ブザーなどの各種外部警報装置（図示せず。）を作動させる外部接点出力部６８にも接続されている。
【００７９】
欠陥信号処理装置５０、制御コンピュータ５４、欠陥周期判定コンピュータ６４、および外部接点出力部６８は、本発明の検査システムにおける欠陥情報管理手段に相当する。
【００８０】
欠陥信号処理装置５２は、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８から送出された各種欠陥データを処理してＡ面上における欠陥の種類および位置を判定する機能と、設定情報が入力され、この設定情報に基いて色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８を制御する機能を有する。
【００８１】
欠陥信号処理装置５２には、図５に示すように、欠陥信号処理装置５２において判定された欠陥の位置および種類を表示する欠陥表示ディスプレー６８と、制御コンピュータ５６とに接続されている。
【００８２】
制御コンピュータ５６は、欠陥信号処理装置５２とデータおよび制御指令を授受する機能を有し、他に、マーキング装置８０を制御する機能も有している。制御コンピュータ５６もまた、信号中継装置５８に接続されている。
【００８３】
欠陥信号処理装置５２、制御コンピュータ５６、および欠陥表示ディスプレー６８もまた、本発明の検査システムにおける欠陥情報管理部に相当する。
【００８４】
信号中継装置５８には、更に、制御コンピュータ５４および５６から出力された各種欠陥情報を総合すると同時に、制御コンピュータ５４および５６に欠陥信号処理装置５０および欠陥信号処理装置５２を設定・制御する各種設定情報を送出する統括コンピュータ６０、および統括コンピュータ６０に平版印刷版のロットに関するロット情報および現在時刻などの情報を送出するとともに、統括コンピュータ６０から各種欠陥情報を受けとり、ある特定のロットの平版印刷版の生産に必要なアルミニウムウェブのロール数量であるロール引当数量を再割り当てするなどの生産計画の変更を行う生産管理コンピュータ６２が接続されている。生産管理コンピュータ６２で取り扱うロット情報としては、平版印刷版Ｐの品種、ロット番号、幅、厚み、およびロール引当数量などがある。生産管理コンピュータ６２には、また、搬送ライン２００の搬送ローラ２０６Ａ〜２０６Ｄ、導入ローラ２０８Ａ〜２０８Ｄ、導出ローラ２１０Ａ〜２１０Ｄ、導入ローラ２１２、および導出ローラ２１４のそれぞれの外径が記憶されている。
【００８５】
統括コンピュータ６０には、マウスによって各種の指示が入力されるとともに前記欠陥情報および前記ロット情報を表示するディスプレー７０、およびディスプレー７０で表示した内容をプリントアウトするプリンタ７２が接続されている。
【００８６】
生産管理コンピュータ６２は、本発明の検査システムにおけるロット情報管理部に相当し、統括コンピュータ６０は、前記検査システムにおける中央処理管理部に相当する。そして、ディスプレー７０およびプリンタ７２は、前記検査システムにおける表示部に相当する。
【００８７】
１−３　オンライン表面検査システムおよび搬送ラインの作用
以下、オンライン表面検査システム１００の作用について説明する。
【００８８】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４におけるレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）から欠陥信号処理装置５０に入力される受光信号は、図５に示すように、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）の受光素子アレイにおいて前記反射光を受光した受光素子の位置を示す位置データＬと、前記受光素子において発生した光電流Ｉの大きさとについての情報を含む。ここで、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、平版印刷版Ｐの搬送面の近傍に配設されているから、位置データＬは、前記レーザ光の平版印刷版Ｐの幅方向に沿った照射位置にほぼ一致する。
【００８９】
欠陥信号処理装置５０においては、図１０に示すように、前記受光信号のうち、光電流ＩをＡ／Ｄ変換器５０ＡにおいてＡ／Ｄ変換し、次いで微分回路５０Ｂにおいて微分して微分信号Ｉ’を得る。
【００９０】
光沢傷は、下地のアルミニウム層が露出するほどの深い傷であるから、創面は通常強い金属光沢を帯びている。故に、図９および図１０に示すように、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）からのレーザ光が光沢傷ｓに当ると強く反射され、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）にも強度の高いレーザ光が入射して光電流Ｉが急激に増大する。
【００９１】
したがって、微分回路５０Ｂで発生した微分信号Ｉ’においても、光電流Ｉｐに対応する急峻な正のスパイク状ピークＳ１とそれに引き続く急峻な負のスパイク状ピークＳ２とが出現する。
【００９２】
そこで、微分回路５０Ｂで発生した微分信号Ｉ’を比較回路５０Ｃに入力し、比較回路５０Ｃにおいて、スパイク状ピークＳ１およびＳ２の有無、およびスパイク状ピークＳ１の高さが予め設定された基準値ｉを超えたかどうかを判定し、スパイク状ピークＳ１およびＳ２が出現し、しかもスパイク状ピークＳ１の高さが基準値ｉを超えたとき、前記スパイク状ピークＳ１からＳ２までの部分に光沢欠陥があると判定する。そして、光沢傷の大きさを示すデータとして、前記スパイク状ピークＳ１からＳ２までの光電流Ｉのピーク値である光電流Ｉｄｆを出力する。
【００９３】
ここで、平版印刷版Ｐは、図９に示すように、幅方向に沿ってレーン１（Ｌ１）、レーン２（Ｌ２）、レーン３（Ｌ３）…、レーン１５（Ｌ１５）の１５の帯域に分割される。そして、欠陥信号処理装置５０における受光位置信号処理部５０Ｄには、入力された位置データＬがＬ１〜Ｌ１５の何れに対応するかという対応関係が記憶されている。
【００９４】
受光位置信号処理部５０Ｄは、スパイク状ピークＳ１およびＳ２に対応する位置データＬが入力されると、光沢傷の位置を示す欠陥位置データＬｄｆを出力する。
【００９５】
比較回路５０Ｃから出力された光電流Ｉｄｆと受光位置信号処理部５０Ｄから入力された欠陥位置データＬｄｆとは、欠陥判定部５０Ｅに入力される。また、タコメータ２Ｃ（４Ｃ）から出力されたスパイク状ピークＳ１およびＳ２に対応する平版印刷版Ｐの搬送距離ｄｃｖも、適宜Ａ／Ｄ変換されて欠陥判定部５０Ｅに入力される。
【００９６】
欠陥判定部５０Ｅにおいては、光電流Ｉｄｆと搬送距離ｄｃｖと欠陥発生レーンＬｄｆとから、光沢傷の幅、長さおよび搬送方向ａに沿った位置を求め、予め設定された光沢傷の幅および長さと種類（欠陥Ａ〜Ｈ（Ａ面）および欠陥ａ〜ｈ（Ｂ面））に基き、前記光沢傷が欠陥Ａ〜Ｈおよび欠陥ａ〜ｈの何れに相当するかを判定する。そして、前記判定結果に基き、光沢傷について、位置および種類に関する欠陥情報を、制御コンピュータ５４および欠陥表示モニター６６および欠陥周期判定コンピュータ６４に入力する。
【００９７】
また、欠陥判定部５０Ｅは、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）における１回の走査において、最初にレーザ光を受光した受光素子の位置データＬｆｉｒｓｔと最後にレーザ光を受光した受光素子の位置データＬｌａｓｔも制御コンピュータ５４に入力する。
【００９８】
欠陥周期判定コンピュータ６４においては、前記データに基き、光沢傷が搬送方向ａに沿ってどの位の間隔で発生しているかという光沢傷の発生周期を求め、前記発生周期を制御コンピュータ５４に入力する。
【００９９】
制御コンピュータ５４は、欠陥信号処理装置５０の光沢傷に関する欠陥情報、および欠陥周期判定コンピュータ６４からの前記発生周期に関する発生周期情報を、信号中継装置５８を介して統括コンピュータ６０に出力する。
【０１００】
制御コンピュータ５４は、また、前記位置データＬｆｉｒｓｔおよびＬｌａｓｔに基き、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４において平版印刷版Ｐを検査する幅である検査幅Ｗ１を求める。検査幅Ｗ１も、信号中継装置５８を介して統括コンピュータ６０に入力される。
【０１０１】
欠陥信号処理装置５０は、更に、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）に印加される印加電圧ｖの価も、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）の運転状態を示すデータとして制御コンピュータ５４に入力し、制御コンピュータ５４は、前記印加電圧ｖの価を、信号中継装置５８を介して統括コンピュータ６０に入力する。
【０１０２】
色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８からのデータは、欠陥信号処理装置５２において以下の手順に従って処理される。
【０１０３】
以下、前記手順について、色筋検出装置１２を例にとって説明する。
【０１０４】
色筋検出装置１２の備えるＣＣＤカメラ２２から欠陥信号処理装置５２に、ＣＣＤアレイ２２Ａにおける受光電圧Ｖと、前記受光電圧Ｖを発生したＣＣＤがＣＣＤアレイ２２ＡにおけるどのＣＣＤに当るかを示す位置データＬとが入力される。
【０１０５】
図１１に示すように、欠陥信号処理装置５２におけるＡ／Ｄ変換部５２Ａで受光電圧Ｖはアナログ量からデジタル量に変換される。そして、前記デジタル量に変換された受光電圧は、前記ＣＣＤの位置データＬと関連付けて記憶装置５２Ｂに一旦記憶される。そして、信号処理回路５２Ｃでノイズ低減処理される。
【０１０６】
信号処理回路５２Ｃでノイズ低減処理された受光電圧Ｖと位置データＬとは、比較器５２Ｄに入力される。
【０１０７】
ここで、前述のように、感光層は、アルミニウムウェブに砂目立てなどの処理を施して製造された基材を長手方向に連続的に搬送しつつ、感光液を塗布し、乾燥することにより形成されるから、平版印刷版Ｐの感光層における厚さが過大な部分および厚さが過小な部分は、平版印刷版Ｐの長手方向に沿った筋状に現れる。
【０１０８】
ここで、感光層は、通常、濃緑色または藍色に着色しているから、前記感光層の厚さの過大な部分は、周囲よりも色の濃い濃色筋として現れ、前記感光層の厚さの過小な部分は、周囲よりも色の薄い淡色筋として現れる。前記濃色筋および淡色筋を色筋という。
【０１０９】
したがって、前記色筋の現れた平版印刷版をＣＣＤカメラ２２で撮影すると、色筋の部分においては、周囲よりも低い受光電圧（濃色筋の場合）または高い受光電圧（淡色筋の場合）が出力される。
【０１１０】
そこで、比較器５２Ｄにおいては、入力された受光電圧Ｖを、比較器５２Ｄに予め入力された上限電圧Ｖｍａｘおよび下限電圧Ｖｍｉｎと比較し、受光電圧Ｖが上限電圧Ｖｍａｘを超えた場合および下限電圧Ｖｍｉｎよりも低かった場合、色筋が存在すると判定する、そして、前記色筋の程度を示すデータとして、前記受光電圧Ｖの大きさが出力され、前記色筋の位置を示すデータとして、前記色筋からの反射光を受光したＣＣＤの位置データＬが出力される。
【０１１１】
そして、比較器５２Ｄから制御コンピュータ５６に、前記色筋についての欠陥情報として、色筋の有無、前記色筋における受光電圧Ｖ、および色筋を検出したＣＣＤの位置データＬが入力される。
【０１１２】
また、比較器５２Ｄは、ＣＣＤアレイ２２ＡにおけるＡ面からの反射光を受光したＣＣＤのうち、両端のものの位置データＬも制御コンピュータ５６に入力する。制御コンピュータ５６は、前記位置データＬに基いて色筋検査装置１２の検査幅Ｗ２を求める。
【０１１３】
制御コンピュータ５６は、前記位置データＬから、前記色筋が、平版印刷版の帯域Ｌ１〜Ｌ１５の何れに存在するかを判定する。また、受光電圧Ｖから前記色筋が厚み過大部および厚み過小部の何れに相当するか、および前記色筋の程度を判定する。
【０１１４】
擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８からのデータも、欠陥信号処理装置５２において、同様の手順に従って処理され、擦り傷、点状の明暗および傷、および点状の色むらと異物を検出したＣＣＤにおける受光電圧および前記ＣＣＤの位置データが制御コンピュータ５６に入力される。制御コンピュータ５６は、受光電圧およびＣＣＤの位置データに基いて擦り傷、点状の明暗および傷、および点状の色むらと異物の有無、大きさ、および平版印刷版ＰにおけるＬ１〜Ｌ１５のどの帯域に存在するかという位置を判定する。
【０１１５】
制御コンピュータ５６においては、さらに、前記位置データに基いて擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８のそれぞれ検査幅である検査幅Ｗ３、Ｗ４、およびＷ５を求める。
【０１１６】
制御コンピュータ５６は、これらの欠陥情報および検査幅についての情報を欠陥表示ディスプレー６８において表示するとともに、信号中継装置５８を介して統括コンピュータ６０に入力する。
【０１１７】
統括コンピュータ６０においては、図１２に示すように、制御コンピュータ５４から光沢傷についての欠陥情報が入力され、色筋、擦り傷、点状の明暗および傷、および点状の色むらと異物についての欠陥情報が制御コンピュータ５６から入力され、生産管理コンピュータ６２から平版印刷版Ｐについてロット番号、幅（アルミ幅）、厚み、アルミニウムウェブのメーカー、品種名、ロール引当数量などのロット情報、および搬送ライン２００における各ローラの外径が入力されると、中央処理装置６０Ｂは、これらの情報を記憶装置６０Ａの所定の領域に格納する。
【０１１８】
中央処理装置６０Ｂは、また、ディスプレー７０から入力された各種指示に応じて、記憶装置６０Ａから前記欠陥常法およびロット情報を読み出し、所定のフォーマットを構成してディスプレー７０に出力する。
【０１１９】
そして、ディスプレー７０は、前記フォーマットに基いて、グラフおよび帳簿形式の各種傾向管理画面を表示する。
【０１２０】
ディスプレー７０に表示される傾向管理画面は、たとえば、図１３に示すように、画面の左上部に位置し、平版印刷版のＡ面の帯域Ｌ１〜Ｌ１５における欠陥の発生状況をグラフで示すＡ面傾向管理画面、画面の右上部に位置し、平版印刷版のＢ面の帯域Ｌ１〜Ｌ１５における欠陥の発生状況をグラフで表示するＢ面傾向管理画面、画面の左下部に位置し、前記Ａ面において欠陥を検出した帯域である検出レーンと、前記検出レーンにおける欠陥の検出位置および発生周期とを示すＡ面周期判定結果と、画面の右下部に位置し、前記Ｂ面における検出レーンと、前記検出レーンにおける欠陥の検出位置および発生周期とを示すＢ面周期判定結果とから構成される。
【０１２１】
前記Ａ面傾向管理画面における前記グラフの下方には、表示しようとする欠陥の種類を指定するキーであるＪ、Ｋ、Ｍ、Ｎ、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌと、前記欠陥を全て表示させる全選択キーと、前記欠陥の指定を解除する解除キーとが表示されている。ここで、Ｊ、Ｋ、Ｍ、Ｎ、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌは、表１に示すように、Ａ面における以下の欠陥に対応する。
【０１２２】
【表１】
2004125485.tif 000003
【０１２３】
なお、前記欠陥のうち、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌについては、前記図９および表１には示されていないが、ｓ１とｓ２との２つの感度設定を行うことができる。感度をｓ１に設定すると、不良品として排除すべきＮＧレベルの欠陥のみが検出される。一方、感度をｓ２に設定すると、不良品として排除するほどではないＯＫレベルの欠陥も検出され、得られたデータから欠陥の発生傾向を管理する傾向管理を行うことができる。
【０１２４】
同様に、前記Ｂ面傾向管理画面における前記グラフの下方には、表示しようとする欠陥の種類を指定するキーであるｊ、ｋ、ｍ、ｎと、前記欠陥を全て表示させる全選択キーと、前記欠陥の指定を解除する解除キーとが表示されている。ここで、ｊ、ｋ、ｍ、ｎは、表２に示すように、Ｂ面における以下の欠陥に対応する。
【０１２５】
【表２】
2004125485.tif 000004
【０１２６】
前記画面における前記Ａ面周期判定結果および前記Ｂ面周期判定結果の下方には、表示などの切替を行う１２個のファンクションキーである「Ｆ１：傾向管理」、「Ｆ２：Ａ面傾向」、「Ｆ３：Ｂ面傾向」、「Ｆ４：ＳＬ幅データ」、「Ｆ５：ＳＬ状態」、「Ｆ６：ＭＩＴ−４状態」、「Ｆ７：Ａ面周期」、「Ｆ８：Ｂ面周期」、「Ｆ９：印刷」、「Ｆ１０：メンテナンス」、「Ｆ１１：出側ジャンボ」、および「Ｆ１２：終了」の１２個のキーが表示されている。なお、図１３に示す傾向管理画面は、「Ｆ１：傾向管理」キーをクリックすることにより表示される。
【０１２７】
傾向管理画面の左上端部には、生産管理コンピュータ６２から入力されたロット情報のうちの、平版印刷版Ｐの品種名が表示される。
【０１２８】
ディスプレー７０の表示画面において、図１３における「Ｆ２：Ａ面傾向」キーをクリックすると、前記傾向管理画面の中のＡ面傾向管理画面を拡大して表示すべき旨の指示がディスプレー７０から中央処理装置６０Ｂに入力される。
【０１２９】
中央処理装置６０Ｂは、前記指示を受け取ると、記憶装置６０ＡからＡ面における欠陥情報を読み出し、ディスプレー７０に入力する。
【０１３０】
ディスプレー７０は、前記欠陥情報が入力されると、図１４に示すようなＡ面傾向管理画面を表示する。
【０１３１】
Ａ面傾向管理画面においては、図１４に示すように、帯域Ｌ１〜Ｌ１５のそれぞれについて平版印刷版Ｐの搬送距離と欠陥の発生個数との関係を示すグラフが表示される。前記グラフにおいては、縦軸が搬送距離であり、横軸が欠陥の発生個数である。また、欠陥が０個のときは黒丸が、欠陥が２個以上のときは赤丸が表示される。制御コンピュータ５４または５６から欠陥の発生周期のデータが入力されると、前記グラフのそれぞれの下方に、前記発生周期がミリメートル単位で表示される。
【０１３２】
なお、図１４は、欠陥Ｊ、Ｋ、Ｍ、Ｎ、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌの全てについて帯域Ｌ１〜Ｌ１５毎の発生状況を表示している状態を示すが、たとえば「Ｊ」キーをクリックすることにより、欠陥Ｊの発生状況のみを表示させることができる。
【０１３３】
ディスプレー７０において、図１３または図１４における「Ｆ３：Ｂ面傾向」キーをクリックすると、図１３に示す傾向管理画面の中のＢ面傾向管理画面を拡大して表示すべき旨の指示がディスプレー７０から中央処理装置６０Ｂに入力される。
【０１３４】
中央処理装置６０Ｂは、前記指示を受け取ると、記憶装置６０ＡからＢ面における欠陥情報を読み出し、ディスプレー７０に入力する。
【０１３５】
ディスプレー７０は、前記欠陥情報が入力されると、図１５に示すようなＢ面傾向管理画面を表示する。
【０１３６】
前記Ｂ面傾向管理画面においても、同様に、帯域Ｌ１〜Ｌ１５のそれぞれについて平版印刷版Ｐの搬送距離と欠陥の発生個数との関係を示すグラフが表示される。その他の点についても、表示すべき欠陥を指定するキーとして、ｊ、ｋ、ｍ、ｎの４個のキーが設けられている以外は、前記Ａ面傾向管理画面と同様である。
【０１３７】
図１３、図１４、または図１５に示す画面における「Ｆ７：Ａ面周期」キーをクリックすると、前記Ａ面傾向管理画面で指定した欠陥についての詳細情報を表示すべき旨の指示がディスプレー７０から中央処理装置６０Ｂに入力される。また、前記画面における「Ｆ８：Ｂ面周期」キーをクリックすると、前記Ｂ面傾向管理画面で指定した欠陥についての詳細情報を表示すべき旨の指示がディスプレー７０から中央処理装置６０Ｂに入力される。
【０１３８】
中央処理装置６０Ｂは、前記指示が入力されると、欠陥情報の中の前記欠陥についての発生周期、発生位置、ロット情報の中の品種名、ロット番号、アルミ幅、および搬送ライン２００における搬送ローラ２０６、導入ローラ２０８、導出ローラ２１０のそれぞれの外径を記憶装置６０Ａから呼び出し、ディスプレー７０に伝達する。
【０１３９】
ディスプレー７０は、前記情報が入力されると、図１６に示すＡ面周期判定結果、または図１７に示すＢ面周期判定結果を表示する。Ａ面周期判定結果およびＢ面周期判定結果は、何れも帳簿形式の画面である
Ａ面周期判定結果およびＢ面周期判定結果の画面には、図１６および図１７における左側から、「年月日」、「時刻」、「品番」、「ロットＮｏ．」、「アルミニウム幅」、「検出幅」、「周期」、「検出レーン」、「該当ロール径」、および「該当ロールＮｏ．」の１０個の欄が設けられている。
【０１４０】
ここで、「品番」の欄には、検査中の平版印刷版の品番が示され、「ロットＮｏ．」には、前記品番の平版印刷版のロット番号が支援される。「アルミニウム幅」の欄には、前記平版印刷版の基材であるアルミニウムウェブの幅が示され、「検出幅」の欄には、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４におけるレーザ光の走査幅である検査幅が表示される。「検出レーン」には、前記欠陥が、平版印刷版ＰのレーンＬ１〜Ｌ１５のどのレーンで検出されたかを示す。「周期」の欄には、周期欠陥の発生が検出されたときに前記周期欠陥の発生周期が表示される。そして、「該当ロール径」の欄には、前記「周期」の欄に示された周期欠陥の発生周期（ｍｍ）を円周率πで除した値である該当ロール径が表示される。たとえば、図１６の最上欄においては、「周期」の欄に、前記発生周期として８９６９ｍｍが示されているので、前記「該当ロール径」の欄には、前記発生周期８９６９ｍｍを円周率πで除した２９５５．０１ｍｍが示されている。「該当ロールＮｏ．」の欄には、前記周期欠陥を発生させているローラの外径の、該当ロール径に基いた推測値、または一定の誤差範囲内で前記推測値に一致するローラの番号が表示される。
【０１４１】
「該当ロールＮｏ．」の欄において、前記ローラの外径の推測値、および前記ローラの番号の何れを示すかを決定するアルゴリズムを図１８に示す。
【０１４２】
図１８に示すように、オンライン表面検査システム１００で周期欠陥が検出されると、中央処理装置６０Ｂは、ステップ１８Ａにおいて、前記周期欠陥の発生周期を、前記「Ａ面周期判定結果」画面または前記「Ｂ面周期判定結果」画面における「周期」欄に表示する。そして、ステップ１８Ｂにおいて、前記発生周期を円周率πで乗じて該当ロール径を求め、前記「Ａ面周期判定結果」画面または前記「Ｂ面周期判定結果」画面における「該当ロール径」欄に表示する。次に、ステップ１８Ｃにおいて、前記該当ロール径を２以上の自然数であるｎで除して該当ロール径の推測値を求め、ステップ１８Ｄにおいて、搬送ライン２００における搬送ローラ２０６、導入ローラ２０８、および導出ローラ２１０のうち、一定の誤差範囲、例えば±３ｍｍの範囲で前記推測値に一致する外径を有するローラがあるかどうかを判定する。そして、前記推測値に一致するローラがある場合には、前記ローラの番号を、前記「Ａ面周期判定結果」画面または前記「Ｂ面周期判定結果」画面の「該当ロールＮｏ．」欄に表示し、前記推測値に一致するローラがない場合には、前記「該当ロールＮｏ．」欄に前記推測値を示す。図１６および図１７における「該当ロールＮｏ．」欄において、「７１４φ」、「９５２φ」、「１４２８φ」、「７２６φ」など、末尾にφが附された数字は、前記推測値を示し、「５」、「５０」、「１３３」、「１３４」、「Ａ２」などの末尾にφのない数字および記号は、前記推測値に一致する外径を有するローラの番号または記号を示す。
【０１４３】
図１６および図１７に示すように、前記推測値に一致するローラが複数存在する場合には、搬送ライン２００において、区間２０４Ａから区間２０４Ｄに向かって順次平版印刷版Ｐまたはローラを幅方向に移動させて周期欠陥の発生位置が幅方向に沿って移動するか否かを調べる。
【０１４４】
区間２０４Ａにおいて平版印刷版Ｐを移動させるには、ＣＰＣ２０２Ａにおいてローラ支持枠２０２ｂを回動させて平版印刷版ＰにおけるＣＰＣ２０２Ａよりも下流側の部分を幅方向に移動させ、ＣＰＣ２０２Ｂにおいて、平版印刷版Ｐを元の位置に戻す。
【０１４５】
同様に、区間２０４Ｂにおいて平版印刷版Ｐを移動させるには、平版印刷版ＰにおけるＣＰＣ２０２Ｂよりも下流側の部分を幅方向に移動させ、ＣＰＣ２０２Ｃにおいて、平版印刷版Ｐを元の位置に戻す。
【０１４６】
区間２０４Ｃおよび２０４Ｄについても同様である。
【０１４７】
なお、図１において（Ｃ）に、ＣＰＣ２０２Ｃおよび２０２Ｄにおいて平版印刷版Ｐを移動させて平版印刷版Ｐにおける区間２０４Ｃの部分を幅方向に移動させた状態を示す。前記（Ｃ）に示す例においては、区間２０４Ｃに位置する搬送ローラ２０６Ｃにおいて周期欠陥が発生しているから、周期欠陥の発生位置も平版印刷版Ｐの幅方向に移動する。
【０１４８】
ＣＰＣ２０２において平版印刷版Ｐを移動させるには、それぞれのＣＰＣ２０２におけるデジタル制御器２０２ｇに制御指令を直接入力すればよい。また、オンライン表面検査システム１００におけるディスプレー７０から統括コンピュータ６０を介してデジタル制御器２０２ｇに制御指令を入力してもよい。
【０１４９】
前記発生位置の幅方向の移動は、前記「Ａ面周期判定結果」画面または前記「Ｂ面周期判定結果」画面の「検出レーン」欄に表示されるレーンの変化として捕らえることができる。また、前記幅方向の移動が、前記「検出レーン」欄に表示されるレーンの変化として捕らえられない場合には、前記幅方向の移動を、搬送ライン２００における巻き取り側ロール２２２の近傍部分である出側において、目視または光学的な手段で検出してもよい。
【０１５０】
実施形態１に係るオンライン表面検査システム１００においては、Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置２、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８の何れかにおいて周期欠陥が検出されたときに、どのローラで前記欠陥が発生しているかを短時間で特定できる。したがって、前記周期欠陥に起因する故障品が大量に発生する前に、原因となっているローラを交換したり、前記ローラの表面を清掃したりするなどの対策を講じることができる。
【０１５１】
オンライン表面検査システム１００においては、さらに、発生した欠陥の種類、発生位置、および発生周期などの欠陥情報を、平版印刷版Ｐのロット情報と関連させて表示するから、オペレータは、どのロットの平版印刷版にどのような種類の欠陥がどの程度の頻度で発生したか、および前記ロットにおける不良品の発生量はどの程度かを容易に把握できる。
【０１５２】
したがって、オペレータは、前記ロットの平版印刷版を生産するのに必要なアルミニウムウェブロールの再引当を行うなどの生産計画の修正をリアルタイムで行えるから、たとえ、不良品が大量に発生して製品として出荷できる平版印刷版の得率が減少しても、アルミニウムウェブに不足が生じる前に、不足分のアルミニウムウェブロールを発注できる。故に、前記場合においても、アルミニウムウェブに不足が生じて生産に支障が生じることが防止される。
【０１５３】
また、不良品として排除する必要のない微小な欠陥についても、発生した帯域、発生頻度、発生位置をグラフ化して表示するから、オペレータは、前記欠陥の発生傾向を容易に把握できる。したがって、前記欠陥が出側停止欠陥のような重大な欠陥に到る前に対策を講じることができるから、平版印刷版Ｐの損失を大幅に減らすことができる。
【０１５４】
更に、Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置２、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８の運転状況もディスプレー７０に表示されるから、オペレータは、欠陥の検出が異常に多い場合、平版印刷版Ｐ側の異常によるものなのか、Ａ面レーザ光走査型検出装置２などの欠陥検出部の側の異常によるものなのかを容易に判断できる。
【０１５５】
更に、前記欠陥情報およびロット情報は、互いに関連付けられた状態で統括コンピュータ６０における記憶装置６０Ａに格納されるから、製造条件と欠陥の発生傾向との関係を整理・検討することが容易に行える。
【０１５６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、前記搬送システムにおいて帯状体に周期欠陥が発生したときに、前記周期欠陥を発生させているローラを早期に特定して故障品の発生を最小限に押さえることのできる検査システムおよび周期欠陥発生箇所の特定方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、実施形態１に係るオンライン表面検査システムが使用される搬送ラインの一例を示す概略側面図および平面図である。
【図２】図２は、図１に示す搬送ラインの備えるＣＰＣの構成の詳細を示す斜視図である。
【図３】図３は、図２に示すＣＰＣの上面図である。
【図４】図４は、実施形態１に係るオンライン表面検査システムが使用される搬送ラインの別の例を示す概略側面図および平面図である。
【図５】図５は、実施形態１に係るオンライン表面検査システムの構成を示すブロック図である。
【図６】図６は、図５に示すオンライン表面検査システムが備えるＡ面レーザ光走査型検出装置、Ｂ面レーザ光走査型検出装置、色筋検出装置、擦り傷検出装置、光沢検出装置、および色検出装置の配置を示す概略図である。
【図７】図７は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置におけるレーザ光照射部およびレーザ光受光部の相対的な位置関係を示す斜視図である。
【図８】図８は、色筋検出装置について、ＣＣＤカメラおよび光源と検査ローラおよび平版印刷版との相対的な位置関係を示す斜視図である。
【図９】図９は、図７に示すＡ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置において、平版印刷版に照射されたレーザ光をレーザ光受光部において受光した状態を示す概略平面図である。
【図１０】図１０は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置からのデータを処理する欠陥信号処理装置の構成およびデータの流れを示すブロック図である。
【図１１】図１１は、色筋検査装置、擦り傷検出装置、光沢検出装置、および色検出装置からのデータを処理する欠陥信号処理装置の構成およびデータの流れを示すブロック図である。
【図１２】図１２は、統括コンピュータ６０の構成および情報の流れを示すブロック図である。
【図１３】図１３は、図５に示すオンライン表面検査システムの備えるディスプレーに傾向管理画面が表示されたところを示す平面図である。
【図１４】図１４は、前記ディスプレーにＡ面傾向管理画面が表示されたところを示す平面図である。
【図１５】図１５は、前記ディスプレーにＢ面傾向管理画面が表示されたところを示す平面図である。
【図１６】図１６は、前記ディスプレーに帳簿形式の画面であるＡ面周期判定結果が表示されたところを示す平面図である。
【図１７】図１７は、前記ディスプレーにＢ面周期判定結果が表示されたところを示す平面図である。
【図１８】図１８は、図１６に示す「Ａ面周期判定結果」画面または図１７に示す「Ｂ面周期判定結果」画面における「該当ロールＮｏ．」の欄に、前記ローラの外径の推測値、および前記ローラの番号の何れを示すかを決定するアルゴリズムを示すブロック図である。
【符号の説明】
２　　　　Ａ面レーザ光走査型検出装置
４　　　　Ｂ面レーザ光走査型検出装置
１２　　　　色筋検出装置
１４　　　　擦り傷検出装置
１６　　　　光沢検出装置
１８　　　　色検出装置
５０　　　　欠陥信号処理装置
５２　　　　欠陥信号処理装置
５４　　　　制御コンピュータ
５６　　　　制御コンピュータ
６０　　　　統括コンピュータ
７０　　　　ディスプレー
１００　　　　オンライン検査システム
２００　　　　搬送ライン
２０２　　　　ＣＰＣ
２０６　　　　搬送ローラ
２０８　　　　導入ローラ
２１０　　　　導出ローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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