(57)【要約】【課題】被測定光ファイバの非線形定数の測定結果の精度を向上させる。【解決手段】所定の波長の第１のコヒーレンス光と、上記所定の波長に近接した波長の第２のコヒーレンス光とを合波して、この合波された合波光の強度を変化させ、その強度を検出してから被測定光ファイバの一端から入射させ、上記被測定光ファイバの他端から出射される透過光を分光して検出し、検出結果に基づいて被測定光ファイバの非線形定数を測定する非線形定数測定方法であって、上記透過光における第１のコヒーレンス光の強度と第２のコヒーレンス光の強度が等しくなるように上記第１あるいは第２のコヒーレンス光の強度を検出結果に基づいて微調整する。【選択図】　　　　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の波長の第１のコヒーレンス光（Ｌ１）を発生する第１の光源（１）と、前記所定の波長に近接した波長の第２のコヒーレンス光（Ｌ２）を発生する第２の光源（２）と、前記第１及び第２のコヒーレンス光（Ｌ１，Ｌ２）を合波して、合波光（Ｌ３）として出射する光合波部（３）と、前記合波光（Ｌ３）の強度を変化させて被測定光ファイバ（Ｘ）の一端から入射させる光可変減衰器（５）と、被測定光ファイバ（Ｘ）の一端から入射される合波光（Ｌ３）の強度検出する光パワーメータ（７）と、前記被測定光ファイバ（Ｘ）の他端から出射される透過光（Ｌ４）を各波長成分に分光して検出する光スペクトラムアナライザ（８）と、前記光パワーメータ（７）の検出結果及び前記光スペクトラムアナライザ（８）の検出結果に基づいて被測定光ファイバ（Ｘ）の非線形定数を測定する演算処理部（９）を具備した非線形定数測定装置であって、
前記光スペクトラムアナライザ（８）の検出結果に基づいて、前記透過光（Ｌ４）における第１のコヒーレンス光（Ｌ１）の強度と第２のコヒーレンス光（Ｌ２）の強度が等しくなるように、前記第１あるいは第２の光源（１，２）の強度を微調整する光強度調整部（９）をさらに具備することを特徴とする非線形定数測定装置。
【請求項２】
演算処理部（９）は、
第１のコヒーレンス光（Ｌ１）の強度と該第１のコヒーレンス光（Ｌ２）の隣に発生するサイドバンドの強度との比と、
第２のコヒーレンス光（Ｌ２）の強度と該第２のコヒーレンス光（Ｌ２）の隣に発生するサイドバンドの強度との比と
を平均した値に基づいて被測定光ファイバ（Ｘ）の非線形定数を算出することを特徴とする請求項１記載の非線形定数測定装置。
【請求項３】
光強度調整部（９）のみ、あるいは光強度調整部（９）及び演算処理部（９）は、パーソナルコンピュータであることを特徴とする請求項１または２記載の非線形定数測定装置。
【請求項４】
所定の波長の第１のコヒーレンス光（Ｌ１）と、前記所定の波長に近接した波長の第２のコヒーレンス光（Ｌ２）とを合波して、この合波された合波光（Ｌ３）の強度を変化させ、その強度を検出してから被測定光ファイバ（Ｘ）の一端から入射させ、前記被測定光ファイバ（Ｘ）の他端から出射される透過光（Ｌ４）を分光して検出し、検出結果に基づいて被測定光ファイバ（Ｘ）の非線形定数を測定する非線形定数測定方法であって、
前記透過光（Ｌ４）における第１のコヒーレンス光（Ｌ１）の強度と第２のコヒーレンス光（Ｌ２）の強度が等しくなるように前記第１あるいは第２のコヒーレンス光（Ｌ１，Ｌ２）の強度を検出結果に基づいて微調整することを特徴とする非線形定数測定方法。
【請求項５】
第１のコヒーレンス光（Ｌ１）の強度と該第１のコヒーレンス光（Ｌ１）の隣に発生するサイドバンドの強度との比と、第２のコヒーレンス光（Ｌ２）の強度と該第２のコヒーレンス光（Ｌ２）の隣に発生するサイドバンドの強度との比とを平均した値に基づいて被測定光ファイバ（Ｘ）の非線形定数を測定することを特徴とする請求項４記載の非線形定数測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被測定光ファイバの非線形特性を測定する非線形定数測定装置及び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＷ−ＳＰＭ（Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ　Ｗａｖｅ−Ｓｅｌｆ　Ｐｈａｓｅ　Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）法によって被測定光ファイバの非線形定数を測定する際には、所定の波長及び強度の第１のコヒーレンス光と上記第１のコヒーレンス光の波長に近接した波長及び上記第１のコヒーレンス光の強度と同一な強度の第２のコヒーレンス光とを被測定光ファイバの一端に入射させ、その透過光から第１あるいは第２のコヒーレンス光の強度と第１あるいは第２のコヒーレンス光の隣に発生するサイドバンドの強度との比を測定し、この測定結果に基づいて被測定光ファイバの非線形定数を算出する。上記サイドバンドの強度は、被測定光ファイバの非線形定数を正確に算出するためにその発生効率を正確に把握する必要がある。このサイドバンドの強度は、透過光における第１のコヒーレンス光及び第２のコヒーレンス光の強度に比例するので、透過光における第１のコヒーレンス光及び第２のコヒーレンス光の強度を同一に設定する必要がある。
【０００３】
【非特許文献１】
Ａ．Ｂｏｓｋｏｖｉｃ，Ｓ．Ｖ．Ｃｈｅｒｎｉｋｏｖ，Ｊ．Ｒ．Ｔａｙｌｏｒ，Ｌ．Ｇｒｕｎｅｒ−Ｎｉｅｌｓｅｎ　ａｎｄ　Ｏ．Ａ．Ｌｅｖｒｉｎｇ　「Ｄｉｒｅｃｔ　ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ−ｗａｖｅ　ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ　ｏｆ　ｎ２　ｉｎ　ｖａｒｉｏｕｓ　ｔｙｐｅｓ　ｏｆ　ｔｅｌｅｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｏｉｎ　ｆｉｂｅｒ　ａｔ　１．５５　μｍ」　ＯＰＴＩＣＳ　ＬＥＴＴＥＲＳ／Ｖｏｌ．２１，Ｎｏ．２４／Ｄｅｃｅｍｂｅｒ　１５，１９９６　ｐ．１９６６−１９６８
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、第１の光源と第２の光源において第１及び第２のコヒーレンス光の強度を同一に設定しても上記第１及び第２のコヒーレンス光が被測定光ファイバに入射されるまでの間に通過する測定系において、第１及び第２のコヒーレンス光の強度が若干ながらずれてしまう。これによって上記サイドバンドの発生効率が変化してしまうので、被測定光ファイバの非線形定数の測定結果の精度が劣化するという問題点が生じる。
【０００５】
本発明は、上述する問題点に鑑みてなされたもので、被測定光ファイバの非線形定数の測定結果の精度を向上させることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明では、非線形定数測定装置に係わる第１の手段として、所定の波長の第１のコヒーレンス光を発生する第１の光源と、上記所定の波長に近接した波長の第２のコヒーレンス光を発生する第２の光源と、上記第１及び第２のコヒーレンス光を合波して、合波光として出射する光合波部と、上記合波光の強度を変化させて被測定光ファイバの一端から入射させる光可変減衰器と、被測定光ファイバの一端から入射される合波光の強度検出する光パワーメータと、上記被測定光ファイバの他端から出射される透過光を各波長成分に分光して検出する光スペクトラムアナライザと、上記光パワーメータの検出結果及び上記光スペクトラムアナライザの検出結果に基づいて被測定光ファイバの非線形定数を測定する演算処理部を具備した非線形定数測定装置であって、上記光スペクトラムアナライザの検出結果に基づいて、上記透過光における第１のコヒーレンス光の強度と第２のコヒーレンス光の強度が等しくなるように、上記第１あるいは第２の光源の強度を微調整する光強度調整部をさらに具備するという構成を採用する。
【０００７】
非線形定数測定装置に係わる第２の手段として、上記第１の手段において、演算処理部は、第１のコヒーレンス光の強度と該第１のコヒーレンス光の隣に発生するサイドバンドの強度との比と、第２のコヒーレンス光の強度と該第２のコヒーレンス光の隣に発生するサイドバンドの強度との比とを平均した値に基づいて被測定光ファイバの非線形定数を算出するという構成を採用する。
【０００８】
非線形定数測定装置に係わる第３の手段として、上記第１あるいは第２の手段において、光強度調整部のみ、あるいは光強度調整部及び演算処理部は、パーソナルコンピュータであるという構成を採用する。
【０００９】
非線形定数測定方法に係わる第１の手段として、所定の波長の第１のコヒーレンス光と、上記所定の波長に近接した波長の第２のコヒーレンス光とを合波して、この合波された合波光の強度を変化させ、その強度を検出してから被測定光ファイバの一端から入射させ、上記被測定光ファイバの他端から出射される透過光を分光して検出し、検出結果に基づいて被測定光ファイバの非線形定数を測定する非線形定数測定方法であって、上記透過光における第１のコヒーレンス光の強度と第２のコヒーレンス光の強度が等しくなるように上記第１あるいは第２のコヒーレンス光の強度を検出結果に基づいて微調整するという構成を採用する。
【００１０】
非線形定数測定方法に係わる第２の手段として、上記第１の手段において、第１のコヒーレンス光の強度と該第１のコヒーレンス光の隣に発生するサイドバンドの強度との比と、第２のコヒーレンス光の強度と該第２のコヒーレンス光の隣に発生するサイドバンドの強度との比とを平均した値に基づいて被測定光ファイバの非線形定数を算出するという構成を採用する。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明に係わる非線形定数測定装置及び方法の一実施形態について説明する。
【００１２】
図１は、本実施形態における非線形測定装置の全体構成図である。この図において、符号１は第１の光源、２は第２の光源、３は第１の光カプラ（入射部）、４は光ファイバアンプ（入射部）、５は光可変減衰器（入射部）、６は第２の光カプラ、７は光パワーメータ、８は光スペクトラムアナライザ、９はＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ　Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）（光強度調整部、演算処理部）、またＸは被測定光ファイバである。
【００１３】
第１の光源１は、所定の波長の第１のコヒーレンス光Ｌ１を発生するものであり、第２の光源２は、上記第１のコヒーレンス光Ｌ１の波長に近接した波長の第２のコヒーレンス光Ｌ２を発生するものである。第１の光カプラ３は、上記第１のコヒーレンス光Ｌ１と第２のコヒーレンス光Ｌ２を合波するものであり、合波した第１のコヒーレンス光Ｌ１と第２のコヒーレンス光Ｌ２を合波光Ｌ３として光ファイバアンプ４に出射するものである。
【００１４】
光ファイバアンプ４は、上記合波光Ｌ３を増幅して光可変減衰器５に出力するものであり、光可変減衰器５は、この増幅された合波光Ｌ３の強度を変化させて第２の光カプラ６に入射するものである。
【００１５】
第２の光カプラ６は、入力された合波光Ｌ３を１対９９に分岐するものであり、分岐した合波光Ｌ３の一方（１／１００）を光パワーメータ７に入射し、他方（９９／１００）をＶ溝接続器を介して被測定光ファイバＸの一端に入射するものである。光パワーメータ７は、第２の光カプラ６から入射された合波光Ｌ３の強度を検出して、その検出結果を表示すると共に、検出結果を合波光強度検出信号としてＰＣ９に出力するものである。
【００１６】
光スペクトラムアナライザ８は、上記被測定光ファイバＸの他端から出射された透過光Ｌ４を各波長成分に分光して検出することによって、その検出結果を画面上に図２に図示するような測定画面として表示すると共に、上記検出結果を透過光検出信号としてＰＣ９に出力するものである。なお、図２の測定画面において、ａは第１のコヒーレンス光Ｌ１成分、ａ’は第１のコヒーレンス光Ｌ１側の１次のサイドバンド成分（以下第１のサイドバンド成分と言う）、ａ”は　第１のコヒーレンス光Ｌ１側の２次のサイドバンド成分（以下高次のサイドバンド成分と言う）、ｂは第２のコヒーレンス光Ｌ２成分、ｂ’は第２のコヒーレンス光Ｌ２側の１次のサイドバンド成分（以下第２のサイドバンド成分と言う）、ｂ”は第２のコヒーレンス光Ｌ２側の２次のサイドバンド成分（以下高次のサイドバンド成分と言う）であり、縦軸が強度、横軸が波長である。
【００１７】
ＰＣ９は、上記合波光強度検出信号及び透過光検出信号に基づいて、被測定光ファイバＸの非線形定数を算出して測定すると共に、上記透過光検出信号に基づいて、第１の光源１あるいは第２の光源２によって発生される第１のコヒーレンス光Ｌ１あるいは第２のコヒーレンス光Ｌ２の強度を微調整するものである。
【００１８】
続いて、このように構成された本非線形定数測定装置の動作及び非線形定数測定方法について説明する。
【００１９】
第１の光源１によって発生された第１のコヒーレンス光Ｌ１及び第２の光源２によって発生された第２のコヒーレンス光Ｌ２は、第１の光カプラ３によって合波され、合波光Ｌ３として光ファイバアンプ４に入射される。この合波光Ｌ３は、光ファイバアンプ４によって増幅された後、光可変減衰器５によって所定の強度に変化されて、第２の光カプラ６に入射される。そして、合波光Ｌ３は、第２の光カプラ６によって１対９９に分岐され、一方（１／１００）が光パワーメータ７に入射されると共に、他方（９９／１００）がＶ溝接続器によって第２の光カプラと接続された被測定光ファイバＸの一端に入射される。
【００２０】
光パワーメータ７に入射された合波光Ｌ３は、光パワーメータ７によって合波光Ｌ３の強度を検出され、被測定光ファイバＸの一端に入射された合波光Ｌ３は、被測定光ファイバＸを通過する際に非線形現象が起こることによってサイドバンドａ’，ａ”，ｂ’，ｂ”が発生した透過光Ｌ４として被測定光ファイバＸの他端から出射され、光スペクトラムアナライザ８に入射される。
【００２１】
光スペクトラムアナライザ８に入射された透過光Ｌ４は、光スペクトラムアナライザ８によって各波長成分に分光されてから検出され、その検出結果を示す透過光検出信号としてＰＣ９に入力される。
【００２２】
続いて、ＰＣ９の動作について、図３のフローチャートを参照して詳説する。
【００２３】
ＰＣ９は、光スペクトラムアナライザ８から透過光検出信号を入力されると、該透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度とを比較する（ステップＳ１）。すなわち、ＰＣ９は、図２におけるコヒーレンス光Ｌ１成分ａの高さと第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの高さを比較する。
【００２４】
そして、ＰＣ９は、第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度が第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度よりも大きい場合（ステップＳ２）には、第１のコヒーレンス光Ｌ１の強度を微調整する（ステップＳ３）ことによって透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度が同一になるようにして、再び第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度とを比較する（ステップＳ１）。すなわち、ＰＣ９は、第１の光源１に第１のコヒーレンス光Ｌ１の強度を小さくする指示信号を出力することによって、第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度を小さくし、図２における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの高さと第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの高さを同一にする。なお、ＰＣ９は、第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度が第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度よりも大きくない場合（ステップＳ２）には、次の処理（ステップＳ４）に進む。
【００２５】
続いて、ＰＣ９は、第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度が第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度よりも大きい場合（ステップＳ４）には、第２のコヒーレンス光Ｌ２の強度を微調整する（ステップＳ５）ことによって透過光検出信号における第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度と第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度が同一になるようにして、再び第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度とを比較する（ステップＳ１）。すなわち、ＰＣ９は、第２の光源２に第２のコヒーレンス光Ｌ２の強度を小さくする指示信号を出力することによって、第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度を小さくし、図２における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの高さと第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの高さを同一にする。なお、ＰＣ９は、第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度が第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度よりも大きくない場合（ステップＳ４）には、次の処理（ステップＳ６）に進む。
【００２６】
ここで、ＰＣ９は、透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第１のサドバンド成分ａ’の強度との比を算出し（ステップＳ６）、続いて第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度と第２のサドバンド成分ｂ’の強度との比を算出する（ステップＳ７）。そして、ＰＣ９は、算出した両方の比を平均化し（ステップＳ８）、当該平均化された比の値をＰＣ９の画面上に表示された、縦軸が比の値で横軸が光パワーメータ７によって検出された合波光Ｌ３の強度である座標上にプロットする。なお、図２における高次のサイドバンドａ”，ｂ”に係わる透過光検出信号は、被測定光ファイバＸの非線形定数を算出するにあたって必要ないために切り捨てられる。
【００２７】
そして、ＰＣ９は、測定終了の指示がない場合（ステップＳ９）には、光可変減衰器５に合波光Ｌ３の強度を変化させることを示した指示信号を出力して（ステップＳ１０）、再び透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第１のサドバンド成分ａ’の強度との比を算出する処理以降の処理（ステップＳ６〜Ｓ９）を行う。つまり、ＰＣ９は、測定終了の指示がある（ステップＳ９）まで、徐々に光可変減衰器５によって合波光Ｌ３の強度を変化させながら上述した透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第１のサドバンド成分ａ’の強度との比を算出する処理以降の処理処理（ステップＳ６〜Ｓ９）を繰り返す。
【００２８】
ＰＣ９は、測定終了の指示がある場合（ステップＳ９）には、上記所定の座標上にプロットされた複数の比の値を連続させることによって得られるグラフの傾きを被測定光ファイバＸの非線形定数として算出する（ステップＳ１１）。
【００２９】
すなわち、本実施形態によれば、光スペクトラムアナライザ８の検出結果を第１の光源１あるいは第２の光源２にフィードバックさせることによって自動的に透過光Ｌ４における第１のコヒーレンス光Ｌ１の強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２の強度を同一に設定できると共に、被測定光ファイバＸの非線形定数を自動的に測定できる。
【００３０】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のような変形例も考えられる。
（１）上記実施形態において、第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度が第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度よりも大きい場合に、第１のコヒーレンス光Ｌ１の強度を微調整することによって透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度が同一になるようにして、第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度が第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度よりも大きい場合に、第２のコヒーレンス光Ｌ２の強度を微調整することによって透過光検出信号における第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度と第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度が同一になるようにした。しかしながら、第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度が第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度よりも大きい場合に、第２のコヒーレンス光Ｌ２の強度を微調整することによって透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度が同一になるようにして、第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度が第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度よりも大きい場合に、第１のコヒーレンス光Ｌ１の強度を微調整することによって透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度が同一になるようにしても良い。
【００３１】
（２）上記実施形態において、ＰＣ９は、透過光検出信号に基づいて、被測定光ファイバＸの非線形定数を算出すると共に、上記透過光検出信号に基づいて、第１の光源１あるいは第２の光源２によって発生される第１のコヒーレンス光Ｌ１あるいは第２のコヒーレンス光Ｌ２の強度を微調整した。しかしながら、透過光検出信号に基づいて、被測定光ファイバＸの非線形定数を算出する演算処理部を別に設けても良い。また、上記光スペクトラムアナライザ８に表示される測定画面に基づいて、測定者が被測定光ファイバＸの非線形定数を算出し、これに伴って光可変減衰器５を測定者が操作することによって合波光Ｌ３の強度を変化させても良い。
【００３２】
（３）上記実施形態において、ＰＣ９は、第１のコヒーレンス光Ｌ１の強度を微調整する処理（ステップＳ３）または第２のコヒーレンス光Ｌ２の強度を微調整する処理（ステップＳ５）を行った後、再び透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度とを比較する処理（ステップＳ１）を行った。しかしながら、これに限定されるものではなく、例えば第１のコヒーレンス光Ｌ１の強度を微調整する処理（ステップＳ３）または第２のコヒーレンス光Ｌ２の強度を微調整する処理（ステップＳ５）を行った後、再び透過光検出信号における第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第２のコヒーレンス光Ｌ２成分ｂの強度とを比較する処理（ステップＳ１）を行うことなく、第１のコヒーレンス光Ｌ１成分ａの強度と第１のサイドバンド成分ａ’の強度との比を算出（ステップＳ６）しても良い。
【００３３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、非線形定数測定装置に係わる第１の手段として、所定の波長の第１のコヒーレンス光を発生する第１の光源と、上記所定の波長に近接した波長の第２のコヒーレンス光を発生する第２の光源と、上記第１及び第２のコヒーレンス光を合波して、合波光として出射する光合波部と、上記合波光の強度を変化させて被測定光ファイバの一端から入射させる光可変減衰器と、被測定光ファイバの一端から入射される合波光の強度検出する光パワーメータと、上記被測定光ファイバの他端から出射される透過光を各波長成分に分光して検出する光スペクトラムアナライザと、上記光パワーメータの検出結果及び上記光スペクトラムアナライザの検出結果に基づいて被測定光ファイバの非線形定数を測定する演算処理部を具備した非線形定数測定装置であって、上記光スペクトラムアナライザの検出結果に基づいて、上記透過光における第１のコヒーレンス光の強度と第２のコヒーレンス光の強度が等しくなるように、上記第１あるいは第２の光源の強度を微調整する光強度調整部をさらに具備する。すなわち、検出結果を第１の光源あるいは第２の光源にフィードバックさせるので、被測定光ファイバの非線形定数の測定結果の精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係わる非線形定数測定装置の全体構成図である。
【図２】本発明の一実施形態に係わる光スペクトラムアナライザ８に表示される測定画面である。
【図３】本発明の一実施形態に係わる非線形定数測定装置の動作及び非線形定数測定方法を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１……第１の光源
２……第２の光源
３……第１の光カプラ（入射部）
４……光ファイバアンプ（入射部）
５……光可変減衰器（入射部）
６……第２の光カプラ
７……光パワーメータ
８……光スペクトラムアナライザ（光検出処理部）
９……ＰＣ（光強度調整部、演算処理部）
Ｘ……被測定光ファイバ
【図１】
2004125521.tif 000003
【図２】
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【図３】
2004125521.tif 000005