(57)【要約】【課題】　磁気ヘッドによるオーバーライト改善方法及びその制御装置を提供する。【解決手段】　（ａ）記録命令を伝達されてハードディスクドライブの周辺温度を測定して臨界温度を超過するかどうかを判別する段階と，（ｂ）測定した周辺温度が臨界温度を超過する場合に，ハードディスクドライブの磁気ヘッドの位置によって記録電流の大きさを調節する段階と，（ｃ）記録電流のオーバーシュート値が所定の標準値を超過すれば記録電流のオーバーシュート値を調節する段階と，（ｄ）（ｂ）段階及び（ｃ）段階で各々調節された電流の大きさ及びオーバーシュート値を有する記録電流をヘッドに印加してデータを記録する段階とを含む。【選択図】　図３
2004111042.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
　記録命令の伝達により，ハードディスクドライブの周辺温度を測定し，該周辺温度が臨界温度を超過するか否かを判別する測定段階と，
　前記測定した周辺温度が前記臨界温度を超過する場合，前記ハードディスクドライブの磁気ヘッドの位置によって記録電流の大きさを調節する記録電流調節段階と，
　前記記録電流のオーバーシュート値が所定の標準値を超過する場合，前記記録電流のオーバーシュート値を調節するオーバーシュート値調節段階と，
　前記記録電流調節段階及び前記オーバーシュート値調節段階で各々調節された記録電流の大きさ及びオーバーシュート値を有する記録電流を前記磁気ヘッドに印加することで記録する記録段階と，
　を含むことを特徴とする，オーバーライト改善方法。
【請求項２】
　前記記録電流調節段階は，
　前記磁気ヘッドが磁気ディスク上の位置によって前記記録電流の大きさを調節することを特徴とする，請求項１に記載の磁気ヘッドによるオーバーライト改善方法。
【請求項３】
　前記オーバーシュート値に対する標準値は，少なくとも前記磁気ヘッドの特性，前記ハードディスクドライブの周辺温度，もしくはビットエラー率のうちいずれか一つまたは任意の組合せに基づき，定められることを特徴とする，請求項１に記載のオーバーライト改善方法。
【請求項４】
　前記記録段階は，Ｎ及びＭは１以上の自然数で，前記記録電流が印加された磁気ヘッドによって磁気ディスクにＮ回記録する記録動作または該記録動作をＭ回反復して記録する動作のうち少なくとも一方の動作の前後にインターバルをとることを特徴とする，請求項１に記載のオーバーライト改善方法。
【請求項５】
　記録命令の伝達により，ハードディスクドライブの周辺温度を測定する温度センサーと，
　前記ハードディスクドライブの周辺温度及び／又は磁気ヘッドの位置に応じて，記録電流の大きさ及び記録電流のオーバーシュート値を調節するコントローラと，
　前記調節された記録電流の大きさ及びオーバーシュート値を有する記録電流を前記磁気ヘッドに供給するライト駆動部と，
　を備えることを特徴とする，ハードディスクドライブの制御装置。
【請求項６】
　前記コントローラは，Ｎ及びＭは１以上の自然数で，前記調節された記録電流が印加された磁気ヘッドによって，Ｎ回記録する記録動作または該記録動作をＭ回反復して記録させる動作のうち少なくとも一方の動作の前後にインターバルをとることを特徴とする，請求項５に記載のハードディスクドライブの制御装置。
【請求項７】
　コンピュータをして，ハードディスクドライブを制御する制御装置として機能せしめるコンピュータプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体であって：
　記録命令の伝達により，前記ハードディスクドライブの周辺温度を測定する測定手段と，
　前記ハードディスクドライブの周辺温度及び／又は磁気ヘッドの位置に応じて，記録電流の大きさ及び記録電流のオーバーシュート値を調節する調節手段と，
　前記調節された記録電流の大きさ及びオーバーシュート値を有する記録電流を前記磁気ヘッドに供給する供給手段と，
　を含むことを特徴とする，コンピュータプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明はデータ貯蔵システムに対する制御分野に係り，特にハードディスクドライブ（以下，ＨＤＤ）における制御方法，制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
　従来におけるハードディスクドライブの隣接トラックのオーバーライト現象防止は，図１に示すような方法により行われていた。図１は，従来の隣接トラックにオーバーライトされる現象を改善するための方法を示したフローチャートである。
【０００３】
　隣接トラックにオーバーライトされるＡＴＥ（ａｄｊａｃｅｎｔ　ｔｒａｃｋ ｅｒａｓｅ）効果を減らすためにＨＤＤ（ハードディスク）内の適応的リードチャンネル最適化（ａｄａｐｔｉｖｅ ｒｅａｄ ｃｈａｎｎｅｌ ｏｐｔｉｍｉｚａｔｉｏｎ：ＡＲＣＯ）を通じてデータゾーン別または温度別に記録電流を抑制することが一般的である。なお，記録電流は，例えば，磁気ヘッドによりディスクに記録するための電流等である。
【０００４】
　一般的にＨＤＤの製造工程中，数百または数千のサイドライティング（ｓｉｄｅ　ｗｒｉｔｉｎｇ）を通じてＡＴＥが発生するヘッドをスクリーンする。一般的にＨＤＤ製造時，サーボライト，機能テスト，バーンインテストなどの工程を経る。
【０００５】
　上記サーボライト工程ではディスクに位置情報を記録し，機能テスト工程ではメンテナンスシリンダの欠陥有無及びデータ領域のリード／ライトの如何を判断する。そしてバーンインテスト工程ではデータ領域の欠陥有無を判断する。バーンインテスト工程ではＨＤＤのリードチャンネルを最適化するためのリードチャンネル最適化過程も含まれて行われる。最適化方法はＨＤＤのコントローラで行われる。
【０００６】
　従来の隣接トラックのオーバーライトを制御するための方法は，図１に示すように，まず，ホストコンピュータで記録命令を受信する（３１０段階）。ＨＤＤのコントローラは温度センサー１４４で感知した温度Ｔが臨界温度（Ｔｔｈ）より高いかどうかを判断する（３２０段階）。ここで臨界温度（Ｔｔｈ）はヘッドポールチップの収縮率及び記録媒体の保磁力などの値を考慮して記録性能が低下し始める温度に決定される。
【０００７】
　また，本実施の形態にかかる温度センサー１４４は，ハードディスクドライブの内部に備わる場合に限られず，例えば，温度センサー１４４がディスク１１２の上部またはその周辺部に備わる場合，ハードディスクドライブの外部表面上に備わる場合などでも実施可能である。
【０００８】
　上記３２０段階で臨界温度以下である場合には，ＡＴＥに対する補償をせずに終了する。３２０段階でＨＤＤの温度Ｔが臨界温度Ｔｔｈより高い場合にはヘッドの位置がデータゾーンのどの領域に存在するかを判断して（３３０段階），ヘッドがミドルディスク（ｍｉｄｄｌｅ　ｄｉｓｋ，ＭＤ）の位置に位置すれば温度の影響だけを補償することにより記録電流の大きさまたはオーバーシュートを少しだけ減らして調節し，ヘッドの位置がゾーンの内部または外部に位置すればデータゾーンによる影響及び温度による影響まで補償することによって記録電流の大きさまたはオーバーシュートを多く減らして印加する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
　しかしながら，温度変化によって記録電流またはオーバーシュートに対する制御を行うリードチャンネル制御ＲＣＯを行っても記録回数の増加により，局部的／全体的に隣接トラックに対する影響を避けられない。そしてＡＴＥを製造工程で完全に除去できない。数万回または数千回の記録回数は磁気ディスクの敏感度に影響を与えて誤動作の原因となりうる。記録動作を行う時，磁気ディスクにおいてコイルから発生する熱によるポールチップの突出現象（Ｔｈｅｒｍａｌ　Ｐｏｌｅ Ｔｉｐ Ｐｒｏｔｒｕｓｉｏｎ，ＴＰＴＰ）が激しい場合，ヘッドの記録失敗率が高まってしまう。また局部的な記録の失敗またはスクラッチなどの影響を与えてしまう（すなわち，軽い問題を引き起こす）。したがって，記録処理による上記ポールチップの過熱は再生ヘッドに影響を与えて再生エラーを発生させ，または寿命に影響を与える問題点があった。
【００１０】
　本発明は，上記問題点に鑑みてなされたものであり，本発明の目的は，隣接トラックに対するオーバーライトを改善することが可能な，新規かつ改良されたオーバーライト改善方法，ＨＤＤ制御装置，記録媒体を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
　上記課題を解決するため，本発明の第１の観点によれば，オーバーライト改善方法が提供され，上記オーバーライト改善方法は，記録命令の伝達により，ハードディスクドライブの周辺温度を測定し，該周辺温度が臨界温度を超過するか否かを判別する測定段階と，測定した周辺温度が前記臨界温度を超過する場合，ハードディスクドライブの磁気ヘッドの位置によって記録電流の大きさを調節する記録電流調節段階と，記録電流のオーバーシュート値が所定の標準値を超過する場合，記録電流のオーバーシュート値を調節するオーバーシュート値調節段階と，記録電流調節段階及びオーバーシュート値調節段階で各々調節された記録電流の大きさ及びオーバーシュート値を有する記録電流を磁気ヘッドに印加することで記録する記録段階とを含むことを特徴としている。
【００１２】
　本発明によれば，上記オーバーライト改善方法は，ハードディスクドライブの周辺温度を測定し，磁気ヘッドの位置などに基づき，記録電流やオーバーシュート値を調節する。かかる構成により，記録電流を弱めることで，周辺温度を臨界温度よりも低くすることができ，記録処理の失敗の軽減化を図れる。ディスクにデータを記録する記録処理する度に所定のインターバルをおくことで，記録回数を減少させ，さらなるハードディスクドライブの冷却効果を可能とする。
【００１３】
　記録電流調節段階は，磁気ヘッドが磁気ディスク上の位置によって記録電流の大きさを調節するように構成してもよい。
【００１４】
　オーバーシュート値に対する標準値は，少なくとも磁気ヘッドの特性，ハードディスクドライブの周辺温度，もしくはビットエラー率のうちいずれか一つまたは任意の組合せに基づき，定められるように構成してもよい。
【００１５】
　記録段階は，Ｎ及びＭは１以上の自然数で，記録電流が印加された磁気ヘッドによって磁気ディスクにＮ回の記録動作の前後または該記録動作をＭ回反復して記録する前後のうち少なくとも一方にインターバルをとるように構成してもよい。
【００１６】
　上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，ハードディスクドライブの制御装置が提供される。上記ハードディスクドライブの制御装置は，記録命令の伝達により，ハードディスクドライブの周辺温度を測定する温度センサーと，ハードディスクドライブの周辺温度及び／又は磁気ヘッドの位置に応じて，記録電流の大きさ及び記録電流のオーバーシュート値を調節するコントローラと，調節された記録電流の大きさ及びオーバーシュート値を有する記録電流を前記磁気ヘッドに供給するライト駆動部とを備えることを特徴としている。
【００１７】
　本発明によれば，上記ハードディスクドライブの制御装置は，ハードディスクドライブの周辺温度を測定し，磁気ヘッドの位置などに基づき，記録電流やオーバーシュート値を調節する。かかる構成により，記録電流を弱めることで，周辺温度を臨界温度よりも低くすることができ，記録処理の失敗の軽減化を図れる。ディスクにデータを記録する記録処理する度に所定のインターバルをおくことで，記録回数を減少させ，さらなるハードディスクドライブの冷却効果を可能とする。
【００１８】
　コントローラは，Ｎ及びＭは１以上の自然数で，調節された記録電流が印加された磁気ヘッドによって，Ｎ回記録する記録動作または該記録動作をＭ回反復して記録させる動作のうち少なくとも一方の動作の前後にインターバルをとるように構成してもよい。
【００１９】
　コンピュータをして，ハードディスクドライブを制御する制御装置として機能せしめるコンピュータプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体が提供される。この記録媒体は，記録命令の伝達により，前記ハードディスクドライブの周辺温度を測定する測定手段と，ハードディスクドライブの周辺温度及び／又は磁気ヘッドの位置に応じて，記録電流の大きさ及び記録電流のオーバーシュート値を調節する調節手段と，調節された記録電流の大きさ及びオーバーシュート値を有する記録電流を磁気ヘッドに供給する供給手段とを含むコンピュータプログラムが記録されることを特徴としている。
【００２０】
　また，上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，磁気ヘッドによるオーバーライト改善方法は，（ａ）記録命令を伝達されてＨＤＤの周辺温度を測定して臨界温度を超過するかどうかを判別する段階と，（ｂ）前記測定した周辺温度が前記臨界温度を超過する場合に，前記ＨＤＤの磁気ヘッドの位置によって記録電流の大きさを調節する段階と，（ｃ）前記記録電流のオーバーシュート値が所定の標準値を超過すれば前記記録電流のオーバーシュート値を調節する段階と，（ｄ）前記（ｂ）段階及び（ｃ）段階で各々調節された電流の大きさ及びオーバーシュート値を有する記録電流をヘッドに印加してデータを記録する段階と，を含む。
【００２１】
　また，上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，磁気ヘッドによるオーバーライトを改善する制御装置は，記録命令を伝達されてＨＤＤの周辺温度を測定する温度センサーと，前記ＨＤＤの周辺温度及び磁気ヘッドの位置によって各々記録電流の大きさ及び記録電流のオーバーシュート値を調節するコントローラと，前記調節された電流の大きさ及びオーバーシュート値を有する記録電流を前記磁気ヘッドに供給するライト駆動部と，を含む。
【発明の効果】
【００２２】
　以上説明したように，本発明によれば，磁気ヘッドによるデータ記録時に起こる不良率を減らすことで，磁気ヘッドの寿命改善及び欠陥率を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
　以下，本発明の好適な実施の形態について，添付図面を参照しながら詳細に説明する。なお，以下の説明及び添付図面において，略同一の機能及び構成を有する構成要素については，同一符号を付することにより，重複説明を省略する。
【００２４】
　まず，図２を参照しながら，本実施の形態にかかるＨＤＤについて説明する。図２は，本実施の形態にかかるＨＤＤの概略的な構成を示すブロック図である。
【００２５】
　図２に示すように，ＨＤＤ１００はスピンドルモータ１１４によって回転する少なくとも一つのディスク１１２を含んでいる。ＨＤＤ１００はディスク１１２の表面に隣接して位置した変換器（図示せず。）も含んでいる。
【００２６】
　変換器はディスク１１２の表面に形成された磁界を感知したり，ディスクの表面を磁化させることによって回転するディスク１１２から情報を再生（ｒｅａｄ），またはディスク１１２に情報を記録（ｗｒｉｔｅ）できる。なお，本実施の形態にかかる変換器は，単一の変換器で説明されているが，これはディスク１１２を磁化させるための記録用変換器とディスク１１２の磁界を感知するための分離された再生用変換器とから構成されていることによる。
【００２７】
　変換器はヘッド１２０に統合される。ヘッド１２０は変換器とディスク１１２の表面間に空気軸受を生成させる構造となっている。ヘッド１２０はヘッドスタックアセンブリ（ＨＳＡ）１２２に結合されている。ヘッドスタックアセンブリ１２２はボイスコイル１２６を有するアクチュエータアーム１２４に付着されている。
【００２８】
　ボイスコイル１２６はボイスコイルモータ（Ｖｏｉｃｅ　Ｃｏｉｌ Ｍｏｔｏｒ，ＶＣＭ）１３０を特定する（または，支持する）マグネチックアセンブリ１２８に隣接して位置している。ボイスコイル１２６に供給される電流は軸受アセンブリ１３２に対してアクチュエータアーム１２４を回転させるトルクを発生させる。アクチュエータアーム１２４の回転はディスク１１２の表面を横切って変換器を移動させる。
【００２９】
　情報は，ディスク１１２の環状トラック内に保存される。一般的にディスク１１２は，ユーザーデータが記録されるデータゾーンや，ドライブを使用しない場合にヘッドが位置する（ヘッドの置かれる位置）パーキングゾーン，及びメンテナンスシリンダで構成される。
【００３０】
　図２に示すように，各トラック１３４には，複数のセクタが含まれる。各セクタは，データフィールド及び識別フィールド（ＩＤフィールド）を含むデータセクタと，サーボ情報を含むサーボセクタとから少なくとも構成されており，各データセクタ間にはインターセクタギャップ（ＩＳＧ）領域が存在する。データフィールドにはディジタルデータが記録されて，識別フィールドはセクタ及びトラック（シリンダ）を識別するための情報を含んでいる。
【００３１】
　サーボセクタに記録されるサーボ情報はプリアンブル，サーボアドレスマーク（ＳＡＭ），グレーコード，バースト，及びパッド（ｐａｄ）で構成される。上記プリアンブルはサーボ情報をリード（ｒｅａｄ）する時にクロック同期を提供し，サーボセクタであることを示すためにサーボセクタ前のギャップを提供する，サーボ同期（ｓｅｒｖｏ　ｓｙｎｃ）と表記することもある。
【００３２】
　上記サーボアドレスマークはサーボの開始を知らせて後続のグレーコードを再生するための同期を提供し，サーボ制御に関するタイミングパルスの生成のための基準点を提供する。グレーコードは各トラックに対するトラック番号を指定する。バーストはトラック探索及びトラック追従のために必要な位置エラー信号（Ｐｏｓｉｔｉｏｎ　Ｅｒｒｏｒ　Ｓｉｇｎａｌ：ＰＥＳ）を供給する。
【００３３】
　パッドはサーボセクタからデータセクタまでのトランジションマージンを供給する。変換器は他のトラックにある情報を再生／記録するためにディスク１１２の表面を横切って移動する。
【００３４】
　図３は，本実施の形態にかかるＨＤＤを制御する制御装置のブロック図である。
【００３５】
　図３に示すように，制御装置１４０は，リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャンネル回路１４５とリードプリアンプ＆ライトドライバ回路１４６とを介して，磁気ヘッド１２０に接続するコントローラ１４１とを備える。
【００３６】
　コントローラ１４１はデジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ），マイクロプロセッサ，マイクロコントローラ等として具現される。コントローラ１４１はディスク１１２からデータをリード，またはディスク１１２にデータをライト（ｗｒｉｔｅ）するためにリード／ライトチャンネル１４５に制御信号を供給し，特に温度センサー１４４で感知した温度が臨界温度未満であれば，磁気ヘッド１２０がディスク１１２のデータ領域のうちどの位置にあるかを判断し，定常状態での記録電流の大きさまたは過渡状態での記録電流のオーバーシュート値を調整し，及び所定のライトインターバル（記録処理間隔）をおいてディスク１１２にデータ（情報）が記録されるように制御する。なお，記録電流の過渡状態のオーバーシュート値は，過度状態中，平均値を超過して流れる電流である。
【００３７】
　情報は典型的にＲ／Ｗチャンネル１４５からホストインターフェース回路１４７に伝送される。ホストインターフェース回路１４７は，ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）などを，パソコン（パーソナルコンピュータ）のようなホストにインターフェースするための制御回路等を含んでいる。
【００３８】
　Ｒ／Ｗチャンネル回路１４５は，再生モードでは磁気ヘッド１２０から再生されてリードプリアンプ回路１４６で増幅したアナログ信号をホストコンピュータ（図示せず。）が判読できるデジタル信号に変調してホストインターフェース回路１４７に出力し，ホストコンピュータからユーザーデータを，ホストインターフェース回路１４７を通じて受信してディスク１１２に記録できるように記録電流に変換してリードプリアンプ＆ライトドライバ回路１４６に出力させるように信号処理を実行する。
【００３９】
　リードプリアンプ＆ライトドライバ１４６は，ディスク１１２に記録可能な記録電流を受信すると，磁気ヘッド１２０を介して，コントローラ１４１の指示下，上記記録電流をディスク１１２に記録する。なお，リードプリアンプ＆ライトドライバ１４６は，例えばライト駆動部などに該当する。
【００４０】
　コントローラ１４１はボイスコイル１２６に駆動電流を供給するＶＣＭ駆動回路１４８にも接続されている。コントローラ１４１はＶＣＭの励起及び変換器の動作を制御するためにＶＣＭ駆動回路１４８に制御信号を供給する。
【００４１】
　コントローラ１４１は，再生専用メモリ（ＲＯＭ：Ｒｅａｄ　Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）またはフラッシュメモリ素子等のような不揮発性メモリ１４２−１及びランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ：Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）素子１４２−３に接続している。メモリ素子１４２−１，メモリ素子１４２−３はソフトウェアルーチン等を実行するためのコントローラ１４１が使用する命令語（ｃｏｍｍａｎｄ）及びデータ（情報）を含んでいる。
【００４２】
　ソフトウェアルーチンの一つとして，一のトラックから他のトラックに変換器を移動させるシークルーチンや，トラック内で目標（ｔａｒｇｅｔ）セクタを捜し出す追従ルーチンがある。シークルーチンは変換器を正確なトラックに移動させることを保証するためのサーボ制御ルーチンを含んでいる。
【００４３】
　また，メモリ素子１４２−１，１４２−３には温度によって記録電流の大きさ及び記録電流のオーバーシュート値を制御するプログラムが予め保存されており，さらに臨界温度値が保存されている。これにより，コントローラ１４１は電源が供給された状態で，温度センサー１４４で感知された温度が臨界温度未満であると判断した場合，磁気ヘッド１２０の位置を判断して記録電流に対する定常状態値（ｓｔｅａｄｙ−ｓｔａｔｅ）及び過渡状態値（ｔｒａｎｓｉｅｎｔ　ｖａｌｕｅ）を制御する。
【００４４】
　ここで，臨界温度値はヘッドポールチップの収縮率及び記録媒体の保磁力などの値を考慮して記録性能が低下し始める温度に定められる。バッファメモリ１４３は，ホストコンピュータからの記録命令により，記録するデータを第１バッファメモリ１４３−１に保存する。第２バッファメモリ１４３−３はディスク１１２から再生されたデータを臨時保存する。
【００４５】
　次に，図４を参照しながら，本実施の形態にかかるオーバーライト改善方法について説明する。図４は，本実施の形態にかかる磁気ヘッドによるオーバーライト改善方法の概略を示すフローチャートである。
【００４６】
　図４に示すように，ＨＤＤ １００がホストコンピュータからの記録命令を受信すると（４１０段階），第１バッファメモリ１４３−１に記録されたデータを格納する。温度センサー１４４はコントローラ１４１からの制御信号によってＨＤＤ１００の温度Ｔを感知する（４２０段階）。
【００４７】
　次に，温度センサー１４４から伝達された測定された温度Ｔが臨界温度Ｔｔｈを超過するかどうかを判別する（４３０段階）。４３０段階で測定された温度Ｔが臨界温度Ｔｔｈを超過した場合，コントローラ１４１は記録電流の定常状態値の大きさを減らして出力するように制御する（４４０段階）。
【００４８】
　一方，４３０段階で，臨界温度以下であれば，記録電流の定常状態値は初期に設定された値で，記録電流がヘッド１２０に印加される。また記録電流の定常状態値以外に記録電流の過渡状態のオーバーシュート値もＴＰＴＰ（Ｔｈｅｒｍａｌ　Ｐｏｌｅ　Ｔｉｐ　Ｐｒｏｔｒｕｓｉｏｎ）に影響を与えるため，記録電流のオーバーシュート値ＯＳが臨界のオーバーシュート値ＯＳｔｈを超過しているかどうかを判別する（４５０段階）。ここでは，臨界のオーバーシュート値ＯＳｔｈは各温度別または記録電流の定常状態値によって実験的に求めた値に定義する。上記４５０段階でオーバーシュート値が臨界オーバーシュート値を超過する場合，記録性能が低下し始めるため，記録電流のオーバーシュート値を調節する（４６０段階）。上記臨界オーバーシュート値は，少なくとも磁気ヘッドの特性，ハードディスクの周辺温度，もしくはビットエラー率のうちいずれか一つまたは任意の組合せに基づき，標準的に定められる。
【００４９】
　コントローラ１４１からの制御信号を受信し，記録電流のオーバーシュートを調節する多様な電流制動回路が公示されているが，制動抵抗（ｄａｍｐｉｎｇ　ｒｅｓｉｓｔｏｒｓ）を記録ヘッドに並列に接続し，その制動抵抗を制御することによって，電流制動回路が記録電流のオーバーシュートを調整することができる。
【００５０】
　記録電流の定常状態値及び過渡状態のオーバーシュート値が調節されれば，その調節された記録電流を記録ヘッドに印加して記録動作を行う（４７０段階）が，例えばＮ回の記録動作がディスク１１２のデータ領域で行われるならば，１回の記録処理で，Ｎ回のディクスへの記録処理が，Ｍ回実行される。ここで，Ｎ及びＭは１以上の自然数であり，最適な反復回数Ｍは実験的に求めることができる。
【００５１】
　なお，本実施の形態にかかる記録動作は，１回の記録処理で，Ｎ回のディスクへの記録処理がＭ回実行されるが，上記Ｎ回の記録処理のうち各記録処理に所定のインターバルをおいて実行，または上記Ｍ回の反復処理のうち各処理ごとに所定のインターバルをおいて実行等してもよい。かかる所定のインターバルにより，単位時間の記録処理回数が低減され，その分ハードディスクの周辺温度が下がる等の冷却効果が発揮される。
【００５２】
　図５は，本実施の形態にかかる記録回数に応じたＡＴＥ効果の概略を示したグラフである。
【００５３】
　図５に示すように，本実施の形態では，隣接トラックに対するオーバーライトによりトラックに記録されたデータが低下するＡＴＥ効果を改善するために，基本的な概念であるジュールの法則によるヒーティング効果を利用して冷却時間を延長させることによってＡＴＥ効果がＨＤＤ内で最適化される。
【００５４】
　まず，ジュールの法則により以下のような式（１）となる。
【００５５】
　Ｑ＝Ｉ＊Ｉ＊Ｒ＊ｔ…式（１）
【００５６】
　なお，Ｉは電流，Ｒは抵抗，ｔは時間である。図５に示すグラフで，ＯＤは“ｏｕｔｔｅｒ　ｄｉｓｋ”，ＩＤは“ｉｎｎｅｒ ｄｉｓｋ”，及びＭＤは“ｍｉｄｄｌｅ ｄｉｓｋ”を各々示す。
【００５７】
　そして図５に示すグラフは，反復回数で測定したビットエラー率に対する点を以下，式（２）に示す。
【００５８】
　ｙ＝０．２８ｌｎ（ｘ）−５．９４０５…式（２）
【００５９】
　上記式（２）によって，上記反復回数で測定したビットエラー率を描いたものである。
【００６０】
　したがって，磁気ヘッド１２０がディスク１１２上に記録動作を行う時，磁気ヘッド１２０の記録コイルには記録電流が印加され，したがって，ジュール熱が発生し，記録コイルは膨脹して発熱量が増加する。
【００６１】
　すなわち，記録電流は時間，コイルの断面積またはコイルの材料の特性によって変わる。ところで，ＨＤＤにおいて隣接トラックによるＡＴＥ効果は記録電流の定常状態値，記録電流のオーバーシュート値，温度または磁気ヘッドの幾何学的特性により影響度が変わる。
【００６２】
　図５に示すグラフはＡＴＥ効果の典型的な形態及び特徴だけを示したものである。図５を参照すれば，ヘッドの位置と温度，記録電流の定常状態値，記録電流のオーバーシュート値の増加及び記録回数によりＡＴＥ効果が増加することが分かる。したがって，ＡＴＥによる効果をＨＤＤ内で減らそうとする本実施の形態では，記録回数を減らすことによってジュールの発熱量を減らす冷却効果をもたらす。すなわち，記録回数を減らしてヘッドの記録コイルが発熱・膨脹するＴＰＴＰを制限する。また，瞬間的にこのような効果を最小化する冷却センサーシステムをアルゴリズム化してより効果的な記録動作を行わせる。
【００６３】
　図６は，本実施の形態により記録動作を行う時，総記録回数を５００回ずつ反復した場合及び５０００回ずつ反復した場合に対するＴＴＦ率（ｔｉｍｅ　ｔｏ ｆａｉｌｕｒｅ ｒａｔｅ）を示したグラフである。
【００６４】
　図６に示すように，ユーザー条件下で，［％］単位の不良率のカウント比較を通じてＴＴＦ（Ｔｉｍｅ　Ｔｏ　Ｆａｉｌｕｒｅ）率を改善できる。結果は最適化作業をせずに単純に５００回と５０００回とを総２００００回記録時に，温度別にＡＴＥによる失敗率及びビットエラー率の降下を示す。
【００６５】
　図６のグラフから分かるように，ビットエラー率が飽和される点は５００回と５０００回であまり差がない。総記録回数は２００００回で同一であるが，ＡＴＥ効果による局部的なビット変調がおきる臨界点では，記録動作の反復回数により非常に変動するという結論が得られる。実験結果でも冷却効果が加えられた５００回反復を有する試料のＰＡＳＳ率（ｐａｓｓ　ｒａｔｅ）は，５０００回反復に比べて２０［％］程度の向上を示す。なお，ＰＡＳＳ率は，成功した割合を示す。
【００６６】
　また，本実施の形態にかかるオーバーライト改善方法は，コンピュータで再生できる記録媒体にコンピュータが判読できるコードとして具現することができる。コンピュータで再生できる記録媒体はコンピュータシステムによって再生できるデータが保存されるあらゆる記録装置を含む。コンピュータで再生できる記録媒体の例にはＲＯＭ，ＲＡＭ，ＣＤ−ＲＯＭ，磁気テープ，ハードディスク，フロッピー（登録商標）ディスク，フラッシュメモリ，光データ貯蔵装置などがあり，またキャリヤウェーブ（例えば，インターネットを通じた伝送）の形態に具現されるものも含む。またコンピュータで再生できる記録媒体はネットワークに連結されたコンピュータシステムに分散されて，分散方式でコンピュータが判読できるコードとして保存されて実行される。
【００６７】
　以上説明したように，磁気ヘッドから発生するジュール熱により，ＡＴＥ効果のデータ記録時に起こる不良率を減らすことができる。また記録電流の定常状態値及び過渡状態のオーバーシュート値を減らすことによって，ヘッド／ディスクのビットエラー率に対する余裕を高めることができる。そしてＴＰＴＰの性能を改善する，磁気ヘッドの寿命が延び，欠陥率を最小化することができる。
【００６８】
　以上，添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが，本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例を想定し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【産業上の利用可能性】
【００６９】
　本発明は，データ貯蔵システムにおけるハードディスクドライブの制御装置に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】従来におけるの隣接トラックにオーバーライトされる現象を改善するための方法を示したフローチャートである。
【図２】本実施の形態に適用されるＨＤＤの構成を示した説明図である。
【図３】本実施の形態にかかるＨＤＤを制御する制御装置のブロック図である。
【図４】本実施の形態にかかる磁気ヘッドによるオーバーライト改善方法を示したフローチャートある。
【図５】本実施の形態にかかる記録回数によるＡＴＥ効果を示したグラフである。
【図６】本実施の形態にかかる総記録回数を５００回反復した場合及び５０００回反復した場合に対するＴＴＦ率を示したグラフである。
【符号の説明】
【００７１】
　１００　　　装置
　１０２　　　部品
　１１２　　　ディスク
　１２０　　　ヘッド
　１２６　　　ボイスコイル
　１４０　　　制御装置
　１４１　　　コントローラ
　１４２−１　ＲＯＭ
　１４２−３　ＲＡＭ
　１４３−１　第１バッファメモリ
　１４３−３　第２バッファメモリ
　１４４　　　温度センサー
　１４５　　　Ｒ／Ｗチャンネル回路
　１４６　　　リードプリアンプ＆ライトドライバー回路
　１４７　　　ホストインターフェース回路
　１４８　　　ＶＣＭ駆動回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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