(57)【要約】【課題】モニタ画面上で欠陥素子を特定し、モニタ画面上からのメニュー操作により欠陥素子の置換え処理を行なう機能を撮影装置に備えることによって、製品出荷後の欠陥素子が発生した場合に、製造元での欠陥素子補正作業を実施する必要がなく、欠陥素子置換え作業時間を大幅に短縮できる。【解決手段】検知器ｎ列の画像データとＴＤＩ後の画像データを並べてモニタ画面に表示し、視覚的に欠陥素子を判断して位置を特定し、次に欠陥素子の座標（ｎ列，ｍ画素）を、メニュー操作からモニタ画面上で選択し、欠陥素子を特定後、次に欠陥画素と置換える正常な画素をメニュー操作からモニタ画面上で選択し、メニュー項目の欠陥素子置換えを実施することで、装置内部の欠陥素子補正用メモリデータの書替えを行い、欠陥素子の置換え処理を実施する。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学走査型で一次元時間遅延積分型多素子型検知器を使用した撮像装置において、
同一画面内に時間積分処理を行った映像と、時間積分処理の各段ごとの映像をモニタ画面に並べて表示する画像データ合成部と、
欠陥素子の座標を、メニュー操作からモニタ画面上で選択して欠陥素子のアドレスを指定する表示モード制御部と、
欠陥素子と置換える正常な素子をメニュー操作からモニタ画面上で選択し、装置内部の欠陥素子補正用メモリデータの書替えを行う置換え制御部と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
光学走査型で一次元時間遅延積分型多素子型検知器を使用した撮像装置における欠陥素子補正方法であって、
同一画面内に時間積分処理を行った映像と、時間積分処理の各段ごとの映像をモニタ画面に並べて表示して欠陥素子の位置を特定するステップと、
欠陥素子の座標を、メニュー操作からモニタ画面上で選択して欠陥素子のアドレスを指定するステップと、
欠陥素子と置換える正常な素子をメニュー操作からモニタ画面上で選択し、装置内部の欠陥素子補正用メモリデータの書替えを行うステップと、
を含むことを特徴とする欠陥素子補正方法。
【請求項３】
請求項２に記載の欠陥素子補正方法において、
更に、各光学走査ごと又は一定間隔ごとにオフセット補正および感度補正のための基準光源を見込み、各画素から得られる信号を補正用の基準値として入力するステップと、
前記基準光源の一方を見込んだときの各段の信号を補正するステップと、
を含むことを特徴とする欠陥素子補正方法。
【請求項４】
請求項２の記載の欠陥素子補正方法において、
更に、前記基準光源を見込んだ場合の映像信号をフレーム加算して表示するステップを含むことを特徴とする欠陥素子補正方法。
【請求項５】
請求項２乃至請求項４のいずれかに記載の欠陥素子補正方法において、
前記欠陥画素をモニタ画面上のカーソル操作で欠陥画素の段数及び画素数を選択するとともに、置換える正常な画素の段数及び画素数を選択するステップと、
目標物を撮像しながら前記欠陥画素の置換え処理を実行するステップと、
前記欠陥画素を置換えた正常な画像を確認するステップと、
を含むことを特徴とする欠陥素子補正方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学走査型で一次元時間遅延積分型（ＴＤＩ：Ｔｉｍｅ  Ｄｅｌａｙ  ａｎｄ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）多素子赤外線検知器を用いた撮像装置の欠陥素子補正方法および装置に係り、特に、撮像装置単体にて欠陥素子を特定し補正処理する撮像装置および欠陥素子置換え方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の赤外線検知器の欠陥素子の置換え作業には、検知器出荷データによる欠陥素子情報と、装置の電源投入後、欠陥素子データの無いＲＯＭで補正した画像を画面に表示させ、モニタ画面上で予め規定しておいた判定基準から作業者が視覚により欠陥素子を判断し、オシロスコープ等で実際の信号の振幅を確認して欠陥素子を特定している。
【０００３】
また、欠陥素子判定後、装置内部の欠陥素子補正用のメモリ上には、ｎ列×ｍ画素に割り付けたアドレスがあり、欠陥素子アドレスの画像データを正常な検知画素アドレスの画像データと置換えることで欠陥素子補正処理を行っている。
さらに装置納入後に発生した欠陥素子には、納入先で欠陥素子置換え作業が不可能なため、欠陥素子発生後、製造者へ返却し上記作業を再度行うことで欠陥素子置換えを実施している。
【０００４】
図１５は、従来技術による撮像装置の構成図である。図１５において、１はペルチェ素子等の温度制御可能な素子からなり、均一な基準温度（高温および低温）の赤外線を放射する基準温度板、２は赤外線レンズを有し、外界の目標（撮影対象）からの赤外線を検知部に集光させる赤外線光学系、３は外界目標からの赤外線入力と基準温度板１からの赤外線入力を赤外線検知器５に取り込むスキャナ、４は補正板、５は赤外線光学系２を介して受光した赤外線を電気信号に変換する赤外線検知器、６は赤外線検知器５の出力信号を所定のレベルに増幅するアンプ、７はアンプ６の出力アナログ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、８は基準温度（高温および低温）による温度データを検知素子ごとに記憶している基準温度データメモリ、９は基準温度データメモリ８からの基準温度による温度データに基づいて、検知素子ごとにゲイン調整、オフセット調整を行って感度のばらつきを補正する補正処理部、１０は赤外線検知器５の走査に応じて、画像情報を組み立てるとともに、置換メモリ１６の置換え情報から欠陥素子に対応する画素情報を特定の画素の情報と置換する走査変換を行うフレームメモリ、１１は一次元ＴＤＩ（Ｔｉｍｅ  Ｄｅｌａｙ  ａｎｄ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）  素子による画像情報の遅延蓄積機能を用いて、複数回の走査による検出信号を蓄積することにより、Ｓ／Ｎを改善するＴＤＩ処理部、１６は欠陥素子と判定された画素の情報から、特定の画素に置換えを行うための情報を記憶する置換メモリ、１８は表示変換部、１９は表示変換部１８からの画像情報を画面上に表示する表示器である。
【０００５】
この従来の撮像装置において、欠陥素子の補正処理は、出荷前の赤外線検知器５の状態を撮像装置内部の置換メモリ１６（欠陥素子に基づく欠陥画素補正用メモリ）に予め格納する方式であり、欠陥症状には、▲１▼検知器製造時点で欠陥と判定できるもの、▲２▼装置製造時点で欠陥として判定したもの、▲３▼検知器の経年変化により発生する欠陥素子等、がある。上記▲１▼、▲２▼に対しては運用前に補正され、良好な画像が得られる。しかし、上記▲３▼については内部ＲＯＭで補正できないため、製品出荷後の欠陥素子雑音の変動で運用中に欠陥素子が発生した場合、製造元で上記に示すような欠陥置換え処理を実施する必要があった。
【０００６】
図１６は、従来技術による製造元での欠陥素子置換え方法の説明図である。同図において、表示器１９に表示されるＴＤＩ後映像（運用）画面１００の点線部分は、運用開始後に発生した欠陥素子信号を示す。納入先では欠陥素子に基づく欠陥画素の置換え作業が不可能なため、欠陥素子の発生した赤外線撮像装置を製造者へ返却し、製造元である工場にて欠陥素子の特定と欠陥素子に基づく画素補正処理が行われる。
【０００７】
従来の製造元での欠陥素子置換え作業において、表示画像からの欠陥素子の判定は、確認した欠陥画素信号を有するＴＤＩ後のｍ画素×ｎ列の映像画面１０１に対し、１列目（ｍ画素）の映像画面１０２、２列目（ｍ画素）の映像画面１０３、３列目（ｍ画素）の映像画面１０４、４列目（ｍ画素）の映像画面１０５に示すように、１列ごとに表示器１９に表示し、欠陥画素と考えられる信号が２列目（ｍ画素）の映像画面１０３に表示されるのを確認する。
【０００８】
作業者は、更に、オシロスコープ１０６等でライン数を数えながら雑音信号の確認をし、欠陥素子チャンネルの特定をしていた。即ち、従来の欠陥素子補正方法は、一次元ＴＤＩ多素子型検知器のｎ列ごとの映像を出力し、ＴＤＩ処理後の映像とｎ列ごとの映像を切換えながら欠陥素子を特定していた為、作業の効率が非常に悪くなっていた。また、従来の撮像装置では、一次元ＴＤＩ多素子型検知器から出力される画像信号をＴＤＩ処理させた後、オフセットやゲイン等の映像系補正処理を行い、Ｄ／Ａ変換してモニタ等の表示器１９へ信号を出力していた。これは、欠陥素子の補正という点では検知器から出力された直後にＴＤＩ処理を行っているため、一次元ＴＤＩ多素子型検知器のｎ列の画像データを個別に取り出すことが困難であった。（各列ごとの画像データを見る為にはＴＤＩ処理回路でｎ列単独の画像データのみ出力するため、スイッチで切替えていた。また、従来の補正データの置換えは、欠陥素子を特定後、オシロスコープ等の測定器を使い、モニタ出力するＴＶ信号を数える等して欠陥素子ライン数を特定し、正常な素子データを特定した欠陥素子のラインに置換えたＲＯＭデータを作成し、欠陥素子補正処理とした。
【０００９】
ＲＯＭは、基板上に実装されている為、このＲＯＭを交換するには、装置の電源をＯＦＦし、基板を外し実装されているＲＯＭを取外し、新たな補正データをＲＯＭライタで書き込み後、再度ＲＯＭを基板へ実装していた。この様な作業は、装置の製造工場でしか実施できず経年変化などで発生した欠陥素子についてはその場で対応できなかった。また、まれではあるが、欠陥素子の発生が間欠的なものもあり、欠陥素子置換え判定作業中に症状が発生しない場合、欠陥素子置換えは事実上不可能な状態になるものもあった。
【００１０】
なお、従来技術として、対象が２次元の多素子赤外線検知器を用いた赤外線撮像装置の画素置換方法において、ポインタによる欠陥素子置換方法の技術が開示されている。（例えば、特許文献１参照）
【００１１】
【特許文献１】
特開平９−１６３２２８号公報
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、工場での欠陥素子補正作業を実施することなく、装置単体においてモニタ表示画面上で欠陥素子を特定し、モニタ画面上からのメニュー操作より欠陥素子に基づく欠陥画素を正常素子に基づく正常画素に置換え処理を可能にし、欠陥画素の置換え結果を目視で、瞬時に確認できるようにする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するための第１の発明は、光学走査型で一次元時間遅延積分型多素子型検知器を使用した撮像装置において、同一画面内に時間積分処理を行った映像と、時間積分処理の各段ごとの映像をモニタ画面に並べて表示する画像データ合成部と、欠陥素子の座標を、メニュー操作からモニタ画面上で選択して欠陥素子のアドレスを指定する表示モード制御部と、欠陥素子と置換える正常な素子をメニュー操作からモニタ画面上で選択し、装置内部の欠陥素子補正用メモリデータの書替えを行う置換え制御部とを有する。
【００１４】
この第１の発明によれば、欠陥素子の特定を容易にし、欠陥素子の置換え処理を行う機能を撮像装置に備えることにより、工場での欠陥素子補正作業を実施する必要がなくなり、欠陥素子置換え作業時間を大幅に短縮できる撮像装置を提供できる。
第２の発明は、光学走査型で一次元時間遅延積分型多素子型検知器を使用した撮像装置における欠陥素子補正方法であって、同一画面内に時間積分処理を行った映像と、時間積分処理の各段ごとの映像をモニタ画面に並べて表示して欠陥素子の位置を特定するステップと、欠陥素子の座標を、メニュー操作からモニタ画面上で選択して欠陥素子のアドレスを指定するステップと、欠陥素子と置換える正常な素子をメニュー操作からモニタ画面上で選択し、装置内部の欠陥素子補正用メモリデータの書替えを行うステップとを含んでいる。
【００１５】
この第２の発明によれば、欠陥素子の特定を容易にし、欠陥素子置換え作業時間を大幅に短縮できる欠陥素子補正方法を提供できる。
第３の発明は、第２の発明に記載の欠陥素子補正方法において、更に、各光学走査ごと又は一定間隔ごとにオフセット補正および感度補正のための基準光源を見込み、各画素から得られる信号を補正用の基準値として入力するステップと、前記基準光源の一方を見込んだときの各段の信号を補正するステップとを含んでいる。
【００１６】
この第３の発明によれば、動作中に発生した欠陥素子や素子の揺らぎなどの長時間観察しなければ発見できない欠陥をリアルタイムに特定できる欠陥素子補正方法を提供できる。
第４の発明は、第２の発明に記載の欠陥素子補正方法において、更に、前記基準光源を見込んだ場合の映像信号をフレーム加算して表示するステップを含んでいる。
【００１７】
この第４の発明によれば、長期間の変動がある場合は、基準光源を撮像した場合の信号にむらが発生することにより、欠陥素子の特定が容易になる欠陥素子補正方法を提供できる。
第５の発明は、第２の発明乃至第４の発明のいずれかに記載の欠陥素子補正方法において、前記欠陥画素をモニタ画面上のカーソル操作で欠陥画素の段数及び画素数を選択するとともに、置換える正常な画素の段数及び画素数を選択するステップと、目標物を撮像しながら前記欠陥画素の置換え処理を実行するステップと、前記欠陥画素を置換えた正常な画像を確認するステップとを含んでいる。
【００１８】
この第５の発明によれば、欠陥素子を置換えた画像をリアルタイムで確認できる欠陥素子補正方法を提供できる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図を参照しながら説明する。なお、全図を通じて理解を容易とするために同様箇所には、同一符号を付して示すものとする。
図１は、本発明の一実施形態における撮像装置の欠陥素子に基づく欠陥画素補正処理の原理説明図である。同図において、表示器１９の画面には、目標物が表示されるとともに、目標物の下に点線で示されるような欠陥画素信号が運用開始後に発生した場合を示す。
（ａ）欠陥画素の特定
作業者は、この欠陥画素の特定をするために、表示器１９の表示モード切替操作を行って、図示されるように、ＴＤＩ（時間遅延積分による平均値演算）前の各段の画像と、ＴＤＩ（時間遅延積分による平均値演算）後の画像を並べてモニタ画面上に同時に表示し、視覚的に欠陥素子を判断し、位置を特定する。図では２段目の画像に欠陥画素となる原因と思われる素子の信号が表れていることから、欠陥画素を特定することができる。
（ｂ）欠陥素子のアドレス指定
作業者は、次にこの欠陥素子のアドレスを指定するために、表示器１９のメニュー操作を行い、欠陥素子の座標（ｎ列，ｍ画素）を、モニタ画面上で選択する。図示されるように、メニュー操作によって連動するマークを欠陥素子信号の位置と一致させることによって、欠陥素子のアドレス（Ｌｉｎｅ  ２１０Ｌ）の指定を行う。
（ｃ）欠陥補正処理の確認
作業者は、更にこの欠陥素子と置換える正常な素子をメニュー操作からモニタ画面上で選択し、メニュー項目の欠陥置換えを実施することで、装置内部の欠陥素子補正用メモリデータの書替を行い、欠陥素子の置換え処理を実施する。
【００２０】
本作業により、装置運用時に発生した欠陥素子も、現場で上記処理を実施することで、欠陥素子を容易に置換えることが可能となる。さらに装置製造時の置換え作業工数も大幅に削減できる。
図２は、本発明の一実施形態における欠陥素子を特定／補正処理する撮像装置の構成図であり、図１５にて説明した従来技術による撮像装置の構成図と重複する同一の部分については、同一の符号を付して重複説明を省略する。
【００２１】
図２において、１２はＴＤＩ処理後画像データと４列分の画像データとから、画像表示上の同一アドレス上の画像データを１フレームに表示できるようにデータ合成処理を行う画像データ合成部、１３は通常動作時には切換動作を行わずＴＤＩ処理部１１より出力された画像データをそのまま出力し、「欠陥素子置換モード」時には画像データ合成部１２から出力される合成画像データを出力するように切換えるデータ切換部、１４は外部入力装置２０からのモード切換指令により「欠陥素子置換モード」に変更制御する表示モード制御部、１５は表示モード制御部１４からの位置指令信号により置換メモリ１６上の欠陥素子のｍ列、ｎ画素の該当アドレスを決定する位置制御部、１７は欠陥素子置換データが保存されるデータ保存メモリ、２０は外部入力装置である。
【００２２】
図３は、本発明の一実施形態における画像データ合成部の機能ブロック図であり、「ＴＤＩ処理後画像データ」と「１列目〜４列目分の画像データ」とがそれぞれデータラッチ２１を経由してマルチプレクサ２２に入力され、１つを選択してデータ合成部２３へ出力する。データ合成部２３では、画像表示上の同一アドレス上のデータのみを抽出し、画像蓄積用メモリ２４に送られる。画像蓄積用メモリ２４に蓄積された同一アドレス上の画像データを１フレームに表示できるようＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）等でデータ合成処理を行う。
【００２３】
図４は、本発明の一実施形態における置換制御部の機能ブロック図であり、位置制御部１５の構成は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）２６とアドレスカウンタ２７と制御タイミング生成部２８から構成される。
ＤＳＰ２６の処理内容は、（１）  欠陥素子データ読出し、（２）  置換え素子データ読出し、（３）  欠陥素子データの置換え処理、（４）  置換えＲＡＭへの置換えデータの書込み、（５）  ＴＤＩ処理部へ補正データ出力、（６）  保存ＲＯＭへのデータの書込み処理である。
【００２４】
以下、本発明の一実施形態における撮像装置の動作を図２〜図４を用いて説明する。
一次元ＴＤＩ多素子型検知器（赤外線検知器５）から出力される画像信号を各列ごとにフレームメモリ１０に蓄積する。
通常時の動作は、フレームメモリ１０に蓄積された一次元ＴＤＩ多素子型検知器のｎ列分の画像データをＴＤＩ処理部１１へ出力し、ＴＤＩ（平均値演算）処理を行いデータ切換部１３に出力する。通常動作時にはこのデータ切換部１３は切換動作を行わずＴＤＩ処理部１１より出力された画像データをそのまま出力し、表示変換器１８を通して表示器（モニタ）１９で画像として表示する。
【００２５】
欠陥素子の置換作業をする場合は、外部入力装置２０から表示モード制御部１４へモード切替指令を入力し、「欠陥素子置換モード」へ変更する。
画像データの流れは、一次元ＴＤＩ多素子型検知器からの出力をＴＤＩ（平均値演算）処理後、データ切換部１３へ出力するまでは通常動作時と同一であるが、データ切換部１３へ出力したＴＤＩ（平均値演算）処理画像データとは別に並行して画像データ合成部１２にも画像データを出力する。
【００２６】
「欠陥素子置換モード」時には、フレームメモリ１０からｎ列数分の検知器出力画像データが画像データ合成部１２へ出力される。これは、ＴＤＩ処理部１１へ出力するｎ列分の検知器画像データと同一のデータである。（通常動作時も画像データ合成部１２へフレームメモリ１０から画像データは出力されているが、画像データ合成部１２は「欠陥素子置換モード」時以外は動作させていない為データ自体は破棄されている。）
画像データ合成部１２へ入力された、「ＴＤＩ処理後画像データ」と「ｎ列分の画像データ（今回は４列分とする）」は、画像表示上の同一アドレス上のデータのみ抽出し、画像蓄積用メモリ２４に送られる。
【００２７】
画像蓄積用メモリ２４に蓄積された同一アドレス上の画像データを１フレームに表示できるようＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）等でデータ合成処理を行い、データ切換部１３へ出力される。
「欠陥素子置換モード」の場合、データ切換部１３の切換スイッチは画像データ合成部１２側へ倒されているため、画像データ合成部１２から出力された５画面分の合成画像データは、データ切換部１３から表示変換部１８へ出力され、「欠陥素子置換モード」時にモニタ画面に表示されるキャラクタ（文字，数字等）と合成し、表示器１９へ出力される。
【００２８】
外部入力装置２０からのモード切替操作により「欠陥素子置換モード」へ移行した場合のモニタに表示される画面は図７の様になる。この画面より、欠陥素子を抽出，欠陥素子の選択（ｍ列，ｎ素子）と置き換える正常な素子の選択（ｍ列，ｎ素子）を選択し置換え処理を行う。
モニタ表示画面上で、欠陥素子と特定し、欠陥素子の選択した場合、外部入力装置２０より列数，ライン数を選択することにより、該当のメモリ上アドレスが位置指令として位置制御部１５へ送られる。
【００２９】
位置制御部１５は、置換メモリ１６上の欠陥素子のｍ列，ｎ画素の該当アドレスを決定する。
次に置換える正常な素子の列数，ライン数を外部入力装置２０から選択することにより、該当のメモリ上アドレスが位置指令として位置制御部１５へ送られ、欠陥素子と同様に置換メモリ１６上の該当アドレスを決定する。
【００３０】
次に外部入力装置２０より置換え実行指示が位置制御部１５へ送られると置換メモリ１６上で欠陥素子アドレス上のデータを置換え用正常素子のアドレス上のデータへ上書きする処理を実行し、その置換用の補正データは直ちにＴＤＩ処理部１１へ送られ次のフレームのＴＤＩ処理時に適用される。これにより置換後のＴＤＩ処理データが画像データ合成部１２へ出力され、表示変換部１８を経て表示器１９の画面に表示される。
【００３１】
次に、外部入力装置２０よりデータの保存指令が位置制御部１５に送られると、置換メモリ１６上のデータはメモリ上の置換えたデータをデータ保存用メモリ１７へ出力し、データ保存用メモリ１７はこの保存データの更新を行い欠陥素子置換データが保存される。
また、置換データの保存を行わない場合は、外部入力装置２０よりキャンセル信号が入力され、データ保存メモリ１７にある補正データが置換メモリ１６にロードされ、置換え前のデータが置換メモリ１６に蓄積され、次のフレームよりＴＤＩ処理後、表示画像が更新され、置換処理前の画像データへ置き換わる。
【００３２】
次に、比較的間隔の長い素子の揺らぎ等の欠陥を判定用するために、オフセット板投入時の画像データのみをｎ列画像データとして出力するため、オフセット板の制御信号とフレームメモリ１０より出力する画像データの出力タイミングの同期をとり、オフセット板投入時の画像のみを画像蓄積用メモリ２４に蓄積し表示機１９の画面上に表示する。
【００３３】
図５は、本発明の一実施形態における撮像装置の欠陥素子補正処理の表示画面図である。図５において、通常のＴＤＩ表示画面の横に、ＴＤＩの各段の基準光源を見込んだ時の撮像信号を補正して表示している。
このように表示することにより、撮像対象にかかわらず雑音のみが観測でき、欠陥素子の特定が容易になる。なぜならば、固体撮像素子の雑音には常時発生しているだけではなく、動作中に雑音が多く発生したり、長期間でレベルが変動するものがあるからである。
【００３４】
図６〜図１３は、本発明の一実施形態における欠陥素子置換モードの操作画面図（その１）から（その８）を示す。
外部入力装置２０からモード切替により、「欠陥素子置換えモード」にした場合、表示器１９の画面は、通常の画像表示画面から、図６に示す画像データに変化する。置換操作をしていない場合、画面上のＬｉｎｅ数表示はＴＤＩ処理後画像データのカーソルのあるライン数が表示される。（デフォルト値は１となる）外部入力装置２０からカーソルを移動することで、カーソル位置のＬｉｎｅ数が画面上に表示される。
【００３５】
次に図７に示す様に、ＴＤＩ処理後の画像データに欠陥素子を発見した場合は、外部入力装置２０からカーソルを動かし、欠陥素子のライン数にカーソルを合わせることで欠陥素子のライン数が表示器１９の画面上に表示される。（今回は２１０ライン目が欠陥素子である）
このＴＤＩ処理後の画像データ上にある欠陥素子がどの列の画像データの情報であるかを確認する。図７の場合、ＴＤＩ処理後の画像データ上の欠陥素子は３列目の画像データが影響していることが判る。置換えなければならない列を特定した場合、外部入力装置２０の実行ボタンを押すことで、欠陥素子選択モードへ移行する。（選択をキャンセルする場合は、外部入力装置のＭＯＤＥボタンにより解除される）
欠陥素子選択モードへ移行した場合は、図８に示す様にＬｉｎｅ数の下に各列数が表示される。これを外部入力装置２０のカーソルキーで欠陥素子のある列数を選択し実行ボタンで確定すると選択した列の画像データにカーソルが表示される。（今回は３列目を選択）選択した列数は図８の様になる。（選択をキャンセルする場合は外部入力装置のＭＯＤＥボタンにより解除される）
列の選択後は、図９に示す様に指定した列の画像データにカーソルが動かせる様になる。
【００３６】
外部入力装置のカーソルキーで欠陥素子のラインまでカーソルを移動させると左側にある欠陥素子選択画面の３列目の場所にカーソル移動したライン数が表示される。（今回は２１０ライン目を選択）
指定の欠陥素子までカーソルを移動させたら外部入力装置２０の実行ボタンを押し欠陥素子を確定する。（選択をキャンセルする場合は外部入力装置２０のＭＯＤＥボタンにより解除される）
欠陥素子を選択すると、次にその欠陥素子と置換える素子の選択モードへ移行する。これを置換素子選択モードとする。欠陥素子置換モードになった場合、画面には上記で選択した欠陥素子と置換えるための正常な検知素子を選択することになる。
【００３７】
置換素子選択モードとなった場合、図１０に示す様に上記で選択した欠陥素子選択画面の下に置換選択のための列数が表示される。ここで、目視により置換えに最適な列数及びライン数を選択し、欠陥素子選択と同様に外部入力装置２０のカーソルキーにて置換用の正常な素子のある列数を選択し、外部入力装置２０の実行ボタンを押す。（選択をキャンセルする場合は外部入力装置２０のＭＯＤＥボタンにより解除される）
欠陥素子選択時と同様に選択された列が表示され選択した列の画像データにカーソルが移動する。
【００３８】
列の選択後は、図１１に示す様に指定した列の画像データにカーソルが動かせる様になる。
選択した列へ移動したカーソルは、外部入力装置２０により移動が可能となり、置換える正常な素子へカーソルを移動させると左側にある置換素子選択画面の１列目の場所にカーソル移動したライン数が表示される。（今回は２１０ライン目を選択）
指定の欠陥素子までカーソルを移動させたら外部入力装置２０の実行ボタンを押し欠陥素子を確定する。（選択をキャンセルする場合は外部入力装置２０のＭＯＤＥボタンにより解除される）
欠陥素子と置換素子の選択が終了すると図１２に示す画面となり、それぞれ欠陥素子と置換素子の列数とライン数の画面下へ「ＯＫか」と表示される。
【００３９】
これを外部入力装置２０の実行ボタンを押すことで確定することで、欠陥素子の置換処理を実行することになる。実行ボタンを押されると、画面上のＴＤＩ処理後の画像データが更新され欠陥素子が正常な素子に置換わることで正常な画像データが表示されることを確認する。
正常に素子が置換わった場合、現状の補正データを保存する必要があり、画像データ更新後、画面上に図１３の様に「保存ＯＫか」と表示される。この時、正常に欠陥素子が置換わったなら外部入力装置より「実行ボタン」を押すことで、補正データ用のＲＯＭが更新され、補正データが保存され、図６の欠陥素子置換モードの初期画面へ移行する。
【００４０】
もし表示された画像データの欠陥素子が正常に置換わらなかった場合は、外部入力装置２０の「ＭＯＤＥボタン」を押すことで全てのフローがキャンセルされ図６の欠陥素子置換モードの初期画面となり、置換えた補正データもキャンセルされ置換処理前の画像データに更新され、新たに欠陥素子，置換素子を選択し、置換処理を行うことになる。
【００４１】
欠陥素子置換モードから通常動作モードへ戻る場合は、図６の欠陥素子置換モードの初期画面で「ＭＯＤＥボタン」を押すことで通常動作モードへ戻る。
図１４は、図６〜図１３の欠陥素子置換処理のフローチャートである。以下、図１４の動作フローについて、図６〜図１３を用いて説明する。
Ｓ１．欠陥素子の有無の判別を行い、欠陥素子が無ければ通常モードへ戻る。
【００４２】
Ｓ２．判別の結果、欠陥素子の有る場合、その欠陥素子を特定する。
Ｓ３．欠陥素子の列数、ライン数の確定をする。
Ｓ４．置換素子の列数、ライン数の確定をする。
Ｓ５．欠陥素子の置換処理を行う。
Ｓ６．置換後の画像の判定を行う。
【００４３】
Ｓ７．判定の結果、置換不良の場合は、置換前データのロードを行い、再び欠陥素子の有無を判別するステップＳ１へ戻る。
Ｓ８．判定の結果、置換ＯＫの場合は、補正データを保存する。
Ｓ９．データの更新を行う。
更に、画像データ合成部１２のプログラミングにより、図５のような画面等も可能となり、撮像装置での監視活動を実施しながら欠陥素子の置換え作業も同時に実施できるような構造となる。
【００４４】
以上処理を実施することで、簡単に欠陥素子の置換え作業が可能となる。
【００４５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、ＴＤＩ（平均値演算）  前の各段の画像とＴＤＩ（平均値演算）  処理後の画像を表示器の画面上に同時に表示することで、欠陥素子を発見・置換え処理をすばやく行え、欠陥素子置換え作業の効率化，簡易化が可能となる。その結果、従来行なっていた工場に戻して欠陥素子補正作業を行なう必要がなくなり、装置単体においてモニタ表示画面上で欠陥素子置換え作業を実施できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態における撮像装置の欠陥素子に基づく欠陥画素補正処理の原理説明図である。
【図２】本発明の一実施形態における欠陥素子を特定／補正処理する撮像装置の構成図である。
【図３】本発明の一実施形態における画像データ合成部の機能ブロック図である。
【図４】本発明の一実施形態における置換制御部の機能ブロック図である。
【図５】本発明の一実施形態における撮像装置の欠陥素子補正処理の表示画面図である。
【図６】本発明の一実施形態における欠陥素子置換モードの操作画面図（その１）である。
【図７】本発明の一実施形態における欠陥素子置換モードの操作画面図（その２）である。
【図８】本発明の一実施形態における欠陥素子置換モードの操作画面図（その３）である。
【図９】本発明の一実施形態における欠陥素子置換モードの操作画面図（その４）である。
【図１０】本発明の一実施形態における欠陥素子置換モードの操作画面図（その５）である。
【図１１】本発明の一実施形態における欠陥素子置換モードの操作画面図（その６）である。
【図１２】本発明の一実施形態における欠陥素子置換モードの操作画面図（その７）である。
【図１３】本発明の一実施形態における欠陥素子置換モードの操作画面図（その８）である。
【図１４】図６〜図１３の欠陥素子置換処理のフローチャートである。
【図１５】従来技術による撮像装置の構成図である。
【図１６】従来技術による製造元での欠陥素子置換方法の説明図である。
【符号の説明】
１    基準板
２    赤外線光学系
３    スキャナ
４    補正板
５    赤外線検知器
６    アンプ
７    Ａ／Ｄ変換器
８    基準温度データメモリ
９    補正処理部
１０    フレームメモリ
１１    ＴＤＩ処理部
１２    画像データ合成部
１３    データ切換部
１４    表示モード制御部
１５    位置制御部
１６    置換メモリ
１７    データ保存メモリ
１８    表示変換部
１９    表示器
２０    外部入力装置
２１    データラッチ
２２    マルチプレクサ
２３    データ合成部
２４    画像蓄積用メモリ
２５    合成用メモリ
２６    ＤＳＰ
２７    アドレスカウンタ
２８    制御タイミング生成部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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