(57)【要約】【課題】小容量のメモリを用いて、簡単なキー操作で一度設定したことがある測定条件や設定の再設定が行える操作性の優れた電子機器を提供することにある。【解決手段】処理目的に応じた所定の操作対象を操作して演算制御部に操作条件を指示入力することにより、所望の処理を実行するように構成された電子機器において、操作対象の操作により実行される処理の種類を時系列に従って格納する操作履歴メモリと、この操作履歴メモリに格納されている処理の種類データを時系列の所望の方向に沿って読み出すように指示する読み出し方向指示部、を設けたことを特徴とするもの。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
処理目的に応じた所定の操作対象を操作して演算制御部に操作条件を指示入力することにより、所望の処理を実行するように構成された電子機器において、
操作対象の操作により実行される処理の種類を時系列に従って格納する操作履歴メモリと、
この操作履歴メモリに格納されている処理の種類データを時系列の所望の方向に沿って読み出すように指示する読み出し方向指示部、
を設けたことを特徴とする電子機器。
【請求項２】
読み出し方向指示部は、アンドゥキーとリドゥキーであることを特徴とする請求項１記載の電子機器。
【請求項３】
読み出し方向指示部は、正逆方向に回転可能なノブであることを特徴とする請求項１記載の電子機器。
【請求項４】
ノブの回転に応じて読み出し速度が変化することを特徴とする請求項３記載の電子機器。
【請求項５】
一つのノブに読み出し方向指示部機能と他の制御機能とを割り当てておき、これらの機能をスイッチにより交互に切り換えることを特徴とする請求項３または４記載の電子機器。
【請求項６】
電子機器はデジタルオシロスコープや電力計を含む測定器であることを特徴とする請求項１から５のいずれかに記載の電子機器。
【請求項７】
電子機器は家庭電化製品および産業機器のいずれかであることを特徴とする請求項１から５のいずれかに記載の電子機器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、キーやスイッチやロータリーノブなどの操作対象（以下操作対象という）を操作して演算制御部に操作条件を指示入力することにより所望の処理を実行するように構成されたオシロスコープや電力計等の測定器や各種家庭電化製品、産業用機器等の電子機器に関し、詳しくは、それらの操作性の改善に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図１０は電子機器の一例として示すデジタルオシロスコープの構成ブロック図である。
演算制御部（以下ＣＰＵという）１０１はオシロスコープ全体を統括制御するものであり、以下に説明する各機能ブロックがバスを介して接続されている。
【０００３】
アナログ・ＡＤＣ部１０２は、アナログ入力信号をＡ／Ｄ変換に適した値になるように増幅あるいは減衰させてＡ／Ｄ変換器に入力し、デジタルデータを変換出力する。
【０００４】
アクイジション部（以下ＡＣＱ部という）１０３は、アナログ・ＡＤＣ部１０２から出力されるデジタルデータを記憶するとともにこれらデジタルデータに演算を加え、波形表示部分のピクセル表示データを生成する。
【０００５】
表示器１０４は例えばＬＣＤであり、アナログ入力信号の波形や設定、測定値等の文字情報、グリッドやカーソルなどを表示する。
【０００６】
メモリ１０５は、ＣＰＵのプログラムを格納するＲＯＭ、一時的にデータを記憶するＲＡＭ、バッテリでバックアップされるＳＲＡＭ等を含むものである。
【０００７】
外部記憶装置１０６は、ハードディスクドライブ、フロッピー（登録商標）ディスクドライブやＺＩＰドライブなどである。
【０００８】
インターフェイス部（Ｉ／Ｆ部）１０７は、パソコンやプリンタ等の外部装置とデータをやりとりを行う。
【０００９】
キー操作部１０８〜１１９は、マンマシンインターフェイスとして機能する操作パネル部を構成するものである。
【００１０】
メニューキー１０８は、波形の表示条件、通信、ファイル操作等のソフトキーの項目等で構成されるメニューを表示させる。
【００１１】
ファンクションキー１０９〜１１２は、メニューキー１０８を押すことに呼び出されたメニューに対応し、これらの項目から所望の操作を選択する。
【００１２】
チャンネルキー１１３，１１４は、波形に関するキーおよびノブの操作が有効になる測定チャンネルを選択指定するものであり、これらが押されると入力抵抗やプローブの減衰比等の設定を行うメニューが表示される。チャンネルキー１１３は測定チャンネル１（以後ＣＨ１）を選択指定し、チャンネルキー１１４は測定チャンネル２（以後ＣＨ２）を選択指定する。
【００１３】
スタート／ストップキー１１５はサンプリングの始動・停止を指示する。
【００１４】
ズームキー１１６は、表示器１０４に表示された波形を拡大表示するためのメニューを表示させる。
【００１５】
エンコーダノブ１１７は、波形表示画面の時間軸の格子１目盛り分（１ｄｉｖ）あたりの時間を設定する。一般的にオシロスコープでは、１，２，５，１０（桁上がり）の刻みで設定が可能である。
【００１６】
エンコーダノブ１１８は、チャンネルキー１１３および１１４で選択されたチャンネルの波形に対して、電圧軸の格子１目盛り分（１ｄｉｖ）あたりの電圧値を設定する。
【００１７】
ＵＰ／ＤＯＷＮノブ１１９は、設定値を増減変化させる。
【００１８】
エンターキー１２０は、ＵＰ／ＤＯＷＮノブ１１９で設定した値を確定入力する。
【００１９】
リセットキー１２１は、ＵＰ／ＤＯＷＮキー１１９で設定した値を初期値に戻す。
【００２０】
図１１は、操作パネル部のキー操作部１０８〜１１９に割り当てられているメニュー構成の一部を示す。
例えば、ＺＯＯＭ画面の倍率を変更する場合には、
１）ＺＯＯＭキー１１６
２）Ｆ２キー１１０
の順序で各キーを押す。これにより、ＺＯＯＭ画面の倍率を変更するメニューを表示させることができ、ＵＰ／ＤＯＷＮノブ１１９で倍率値を変更できる。
【００２１】
一方、測定条件や通信の設定をバックアップＳＲＡＭに保存するには、以下のキー操作を行う。
まず、保存先メディアとしてバックアップＳＲＡＭに設定する。
１）ＭＥＮＵキー１０８
２）Ｆ２キー１１０
３）Ｆ３キー１１１
４）Ｆ４キー
次に、保存の指示を行う。
１）ＭＥＮＵキー１０８
２）Ｆ２キー１１０
３）Ｆ１キー１０９
４）Ｆ３キー１１１
【００２２】
逆に測定条件や通信の設定をバックアップＳＲＡＭから読み込む場合には、以下のキー操作を行う。
まず、読み込み先メディアとしてバックアップＳＲＡＭに設定する。
１）ＭＥＮＵキー１０８
２）Ｆ２キー１１０
３）Ｆ３キー１１１
４）Ｆ４キー
次に、読み込みの指示を行う。
１）ＭＥＮＵキー１０８
２）Ｆ２キー１１０
３）Ｆ２キー１１０
４）Ｆ３キー１１１
【００２３】
このように従来のデジタルオシロスコープでは、測定条件や設定を保持する場合にキー操作等の指示が必要である。
また、これらを読み込み再設定を行う場合には、保存を指示した時点での設定しか読み出せない。
これは、測定条件や設定の変更頻度が低い場合には便利であるが、例えば電子回路の評価にあたっては測定条件や設定に決まったものはなくて変更が頻繁に行われることから、読み込み再設定機能を使用できる機会は限られてしまう。
【００２４】
一例として、１００ｎｓ程度の立ち上がりと１０ｍｓ程度の立ち下がりをもつ一定振幅で５０Ｈｚの矩形波形を観測した場合で考える。なお説明を簡単にするために、波形の変化をとらえられる最小の設定変更を行うものとする。
まず、１００ｎｓ程度の立ち上がり波形を以下の設定で観測し、これをプリンタで印刷する。
ａ）時間軸設定　：　１００ｎｓ／ｄｉｖ
ｂ）トリガエッジ：　立ち上がり
ｃ）トリガポジション　：　画面の中央
その後、１０ｍｓ程度の立ち下がり以下の設定で観測し、これをプリンタで印刷する。
ａ）時間軸設定　：　５ｍｓ／ｄｉｖ
ｂ）トリガエッジ：　立ち下がり
ｃ）トリガポジション　：　画面の左から１ｄｉｖの地点
ここで、再度１００ｎｓ程度の立ち上がり波形を観測しようとすると、
ａ）時間軸設定　：　１００ｎｓ／ｄｉｖ
ｂ）トリガエッジ：　立ち上がり
ｃ）トリガポジション　：　画面の中央
の再設定を、再度下記のキー操作により行わなければならない。
１）時間設定用のノブ１１７で１００ｎｓ／ｄｉｖに変更
２）メニューキー１０８
３）Ｆ１キー１０９
４）Ｆ２キー１１０
５）Ｆ１キー１１０でトリガエッジを立ち上がりに変更
６）メニューキー１０８
７）Ｆ１キー１０９
８）Ｆ３キー
９）ＵＰ／ＤＯＷＮノブ１１９でトリガ位置を中央に変更
これら一連の操作にあたっては、キーの押す位置がバラバラであるとともにノブの調整も必要であることから、非常に煩雑である。
【００２５】
また、例えばパソコンのアプリケーションソフトには、ＵＮＤＯ、ＲＥＤＯ機能が組み込まれているが、これらは操作に伴って実行処理される演算や表示などを記憶しているため、処理が複雑で大容量のデータを扱うためにはそれに見合うだけのメモリや外部記憶装置が必要になる。
【００２６】
【特許文献１】
特開平６−３３３０６０号（第３，４頁、図２）
【００２７】
特許文献１には、ホストコンピュータから履歴機能命令「ＫＲ」を発行することにより、それ以降のキー操作の状況が逐次ホストコンピュータに返されことが記載されている。
この機能により、作業者や学習者に対処する学習カリキュラム情報や教育的配慮が可能になるものの、具体的な測定作業におけるキー操作の煩雑さを少ないメモリ容量によって解決することは意図していない。
【００２８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、小容量のメモリを用いて、簡単なキー操作で一度設定したことがある測定条件や設定の再設定が行える操作性の優れた電子機器を提供することにある。
【００２９】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成する請求項１の発明は、
処理目的に応じた所定の操作対象を操作して演算制御部に操作条件を指示入力することにより、所望の処理を実行するように構成された電子機器において、
操作対象の操作により実行される処理の種類を時系列に従って格納する操作履歴メモリと、
この操作履歴メモリに格納されている処理の種類データを時系列の所望の方向に沿って読み出すように指示する読み出し方向指示部、
を設けたことを特徴とする。
【００３０】
請求項２の発明は、請求項１記載の電子機器において、
読み出し方向指示部は、アンドゥキーとリドゥキーであることを特徴とする。
【００３１】
請求項３の発明は、請求項１記載の電子機器において、
読み出し方向指示部は、正逆方向に回転可能なノブであることを特徴とする。
【００３２】
請求項４の発明は、請求項３記載の電子機器において、
ノブの回転に応じて読み出し速度が変化することを特徴とする。
【００３３】
請求項５の発明は、請求項３または請求項４記載の電子機器において、
一つのノブに読み出し方向指示部機能と他の制御機能とを割り当てておき、これらの機能をスイッチにより交互に切り換えることを特徴とする。
【００３４】
請求項６の発明は、請求項１から５のいずれかに記載の電子機器において、
電子機器はデジタルオシロスコープや電力計を含む測定器であることを特徴とする。
【００３５】
請求項７の発明は、請求項１から５のいずれかに記載の電子機器において、
電子機器は家庭電化製品および産業機器のいずれかであることを特徴とする。
【００３６】
これらにより、電子測定器の場合に一度設定したことがある測定条件や、家庭電化製品や産業機器などの各種電子機器の場合に一度設定したことがある使用条件などの再設定を、簡単なキー操作で行える。これらの再設定にあたり、メモリにはキー操作によって指示された演算や表示などの処理結果を記憶させずにキー操作による実行処理の種類のみを記憶させているので、小容量のメモリで実現できる。
【００３７】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図１は本発明の実施の形態の一例を示す構成ブロック図であり、図１０と共通する部分には同一の符号を付けて、重複する部分のそれらの説明は省略する。
図１と図１０の異なる点は、図１には、メモリ１０５または記憶装置１０６に操作対象の操作により実行される処理の種類を時系列に従って格納する操作履歴メモリを設けていること、この操作履歴メモリに格納されている処理の種類データを時系列の所望の方向に沿って読み出すように指示する読み出し方向指示部としてのアンドゥー（ＵＮＤＯ）キー１２２とリドゥー（ＲＥＤＯ）キー１２３を設けていることである。
【００３８】
ＵＮＤＯキー１２２は、現在の設定状態から過去の設定状態に、あらかじめ決められた操作分だけ戻すためのキーである。
ＲＥＤＯキー１２３は、ＵＮＤＯキー１２２で過去の設定状態に戻された状態から、再度あらかじめ決められた操作分だけ、時間経過方向に戻すためのキーである。
【００３９】
図２は操作履歴メモリとして用いるリングバッファメモリの初期状態説明図、図３は操作対象を操作したときのリングバッファメモリの状態説明図である。例えばリングバッファメモリは容量を２５６バイトとし、キーの履歴を２５４個保存可能とする。また、動作説明を簡単にするため、メモリ上のアドレスは００Ｈ番地から始まるものとする。
【００４０】
図４〜図７は操作対象が操作された場合の処理の流れを示すフローチャート、図８は操作対象の操作により実行される処理の種類に対応するデジタルオシロスコープの設定変更とそれを認識するためのコードとの対応リストである。
【００４１】
はじめに、操作対象の操作が行われると、ＫＥＹ割り込みルーチンが起動するようにしておく。
図４に示すＫＥＹ割り込みルーチンでは、まずＵＮＤＯキー１２２が押されているか（ＳＰ１）、ＲＥＤＯキー１２３が押されているか（ＳＰ２）、それともそれ以外の操作対象が操作されているかを判別する。
【００４２】
ＵＮＤＯキー１２２およびＲＥＤＯキー１２３以外の操作対象の操作が行われた場合は、図８のリストから測定対象の単独・および組み合わせ操作に対応した実行コードを割り出す（ＳＰ３）。割り出した実行コードは、図４のＡで示すルーチンでリングバッファメモリに書き込む（ＳＰ４）。その後、このコードがＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送られ（ＳＰ５）、このコードに対応した処理が実行される。
【００４３】
ＵＮＤＯキー１２２の操作が行われた場合は、図４のＢで示すルーチンでＵＮＤＯ時におけるリングバッファメモリから実行コードの読み込み処理を行う（ＳＰ６）。その後、このコードがＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送られ（ＳＰ５）、このコードに対応した処理が実行される。
【００４４】
ＲＥＤＯキー１２３の操作が行われた場合は、図４のＣで示すルーチンでＲＥＤＯ時におけるリングバッファメモリから実行コードの読み込み処理を行う（ＳＰ７）。その後、このコードがＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送られ（ＳＰ５）、このコードに対応した処理が実行される。
【００４５】
図４のルーチンＡの処理の流れを図５のフローチャートで説明する。
まず、前処理で割り出された実行されるコマンドの実行コードＣｃｏｄｅをリングバッファ上のアドレスＰａｄｄ（以下書き込みポインタという）に書き込む（ＳＰ１）。続いて、書き込みポインタＰａｄｄに１を加算する（ＳＰ２）。その後、書き込みポインタＰａｄｄがＦＦＨを越えているか否かを判断し（ＳＰ３）、越えている場合にはこれを００Ｈとする（ＳＰ４）。これにより、書き込みアドレスがリング状になるように補正される。このようにして最終的に求めた書き込みポインタＰａｄｄが、次に実行コードを書き込むアドレスとなる。
【００４６】
ＳＰ２またはＳＰ４で処理された書き込みポインタＰａｄｄのアドレス上に、ＲＥＤＯ禁止を示す実行コードを書き込むが、この書き込みにあたっては、書き込みポインタＰａｄｄに１を加算したアドレスとして暫定的にＰａｄｄ０を代入する（ＳＰ５）。その後、書き込みポインタＰａｄｄ０がＦＦＨを越えているか否かを判断し（ＳＰ６）、越えている場合にはこれを００Ｈとする（ＳＰ７）。そして、Ｐａｄｄ０の示すアドレスにＵＮＤＯ禁止を示す実行コード００Ｈを書き込む（ＳＰ８）。
【００４７】
例えば時間軸軸変更ノブ１１７を右側に回した場合、時間軸の１ｄｉｖあたりの時間を１段階大きくなるよう操作しているので実行コード０５Ｈが判定され、これがリングバッファに書き込まれる。そしてＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送られて、これに対応するアナログ・ＡＤＣ部１０２のＡＤＣサンプリング時間やＡＣＱ部１０３の演算設定、および表示器１０４の変更などが行われる。
【００４８】
さらに、１ＣＨキー１１３を押した後に電圧軸変更ノブ１１８を右側に回した場合、電圧レンジが１段階大きくなるよう操作しているので、実行コード０１Ｈが判定され、これがリングバッファに書き込まれ、さらにＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送られて、これに対応するアナログ・ＡＤＣ部１０２のデバイダの変更や表示の変更などが行われる。図２のリングバッファの説明図はこれらの操作が行われた後の状態を示している。
【００４９】
図４のルーチンＢの処理の流れを図６のフローチャートで説明する。
書き込みポインタＰａｄｄから１を減算し、暫定的にＰａｄｄ０に代入する（ＳＰ１）。
ここでＰａｄｄ０が００Ｈを下回っているか否かを判断し（ＳＰ２）、下回っていたら、これをＦＦＨとする（ＳＰ３）。これにより、書き込みアドレスがリング状になるように補正される。このようにして求めたＰａｄｄ０が、現状の設定状態とした最後の設定変更処理の実行コードが書き込まれているアドレスとなる。
【００５０】
Ｐａｄｄ０の示すアドレスから、現状の設定状態とした最後の設定変更処理の実行コードＣｃｏｄｅを読み込む（ＳＰ４）。そして、Ｃｃｏｄｅが００Ｈであるか否かを判断し（ＳＰ５）、Ｃｃｏｄｅが００ＨであったらＵＮＤＯすべき実行コードがないことを示しているので、このルーチンを抜ける。Ｃｃｏｄｅが００Ｈでない場合には、書き込みポインタＰａｄｄにＰａｄｄ０の値を代入する（ＳＰ６）。
【００５１】
例えばリングバッファが図３の状態でＵＮＤＯキー１２２が押されると、リングバッファから実行コード０１Ｈが読み込まれる。この実行コードに対応するＵＮＤＯ時の実行コード０２Ｈが図８のテーブルから選択され、ＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送られる。このルーチンでは、実行コード０２Ｈから電圧軸変更ノブ１１８を左側に回したときと同じ処理を行うため、電圧レンジが１段階小さくなる。
【００５２】
さらに、ＵＮＤＯキー１２２が押された場合、リングバッファから実行コード０５Ｈが読み込まれる。この実行コードに対応するＵＮＤＯ時実行コード０６Ｈが図８のテーブルから選択され、ＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送られる。このルーチンでは、コード０６Ｈから時間軸軸変更ノブ１１７を左側に回したときと同じ処理を行うため、時間軸の１ｄｉｖあたりの時間が１段階小さくなる。この状態は、時間軸軸変更ノブ１１７が右側に回され、さらに１ＣＨキー１１３が押された後に電圧軸変更ノブ１１８が右側に回される前の状態である。
【００５３】
なお、この状態はそれ以前のキー及びノブ操作がない状態なので、さらにＵＮＤＯキー１２２が押された場合は、無視するか警告表示等を出す必要がある。
そこで本実施例では、さらにＵＮＤＯキー１２２が押された場合はリングバッファから実行コードとして００Ｈを読み出し、図８のテーブルからＵＮＤＯ時実行コードは００Ｈを取り出してＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送る。この実行コード００ＨはＵＮＤＯ禁止表示処理であるため、ＫＥＹ・ノブ実行ルーチンで無視するか警告表示等を出す処理をコーディングしておくようにする。
【００５４】
ＲＥＤＯキー１２３が押された場合は、図４のＣおよび図７で示されたルーチンでＵＮＤＯキー１２２が押される前の設定状態に設定した実行コードをリングバッファから読み込み、ＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送る。これにより、キーやノブにより実行コードが書き込まれたときと同じ処理となるため、ＵＮＤＯキー１２２が押される前の状態に戻ることになる。
【００５５】
図４のＣで示すルーチンの処理の流れを図７のフローチャートで説明する。
Ｐａｄｄ０の示すアドレスから、ＵＮＤＯを行う前の設定状態とした設定変更処理の実行コードＣｃｏｄｅを読み込み（ＳＰ１）、書き込みポインタＰａｄｄに１を加算する（ＳＰ２）。その後、Ｐａｄｄ０がＦＦＨを越えているか否かを判断し（ＳＰ３）、越えている場合にはこれを００Ｈとする（ＳＰ４）。これにより、書き込みアドレスがリング状になるように補正される。このようにして最終的に求めた書き込みポインタＰａｄｄが、次に実行コードを書き込むアドレスまたは再度ＲＥＤＯされたときに実行コードの読み込み先のアドレスとなる。
【００５６】
ＵＮＤＯキー１２２が２回押された状態からＲＥＤＯキー１２３が押された場合には、リングバッファから実行コード０１Ｈが読み込まれ、ＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送られる。このルーチンでは、コード０１Ｈから電圧軸変更ノブ１１８を右側に回したときと同じ処理を行うため、電圧レンジが１段階大きくなる。さらに、ＲＥＤＯキー１２３が押されると、リングバッファから実行コード０５Ｈが読み込まれ、ＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送られる。このルーチンでは、コード０５Ｈから時間軸軸変更ノブ１１７を右側に回したときと同じ処理を行うため、時間軸の１ｄｉｖあたりの時間が１段階大きくなる。
【００５７】
この状態は、ＲＥＤＯキー１２３が２回押される前の状態、すなわち一番最初に時間軸軸変更ノブ１１８を右側に回わしてさらに１ＣＨキー１１３を押し、その後に電圧軸変更ノブ１１８を右側に回したときの設定内容に戻っている。
【００５８】
この状態はそれ以上のキー及びノブ操作がない状態なので、さらにＲＥＤＯキー１２３が押された場合は、無視するか警告表示等を出す必要がある。
そこで本実施例では、さらにＲＥＤＯキー１２３が押された場合はリングバッファから実行コードとしてＦＦＨを読み出して図８のテーブルからＲＥＤＯ時実行コードＦＦＨを取り出し、ＫＥＹ・ノブ実行ルーチンに送る。この実行コードはＲＥＤＯ禁止表示処理であるため、ＫＥＹ・ノブ実行ルーチンで無視するか警告表示等を出す処理をコーディングしておくようにする。
おくようにする。
【００５９】
以上に説明したＵＮＤＯ／ＲＥＤＯ機能において、ＵＮＤＯおよびＲＥＤＯで実行されると好ましくない操作がある。例えば、プリンタ内蔵形のデジタルオシロスコープにおける印刷、ペーパーフィード、メディアのフォーマット、通信等のシステム的な設定操作等である。これらの操作処理に関しては、これらの処理を実行する際には、ＥＮＴＥＲキー等のオペレータによる実行決定操作を付加し、これらの操作に関してはＵＮＤＯおよびＲＥＤＯ実行を無視するようにしておけばよい。
【００６０】
このように構成される装置の効果を、従来例の動作説明例と同様な１００ｎｓ程度の立ち上がりと１０ｍｓ程度の立ち下がりをもつ一定振幅で５０Ｈｚの波形を観測した場合について説明する。
【００６１】
オペレータは、ＵＮＤＯキー１２２のみを１００ｎｓ程度の立ち上がり波形を観測した状態になるまで繰り返し押すだけで、所望の測定条件を再設定できる。ここで、設定を戻す途中でプリンタへの波形印字が行われていたとしても、ＵＮＤＯ時には印刷実行に必要なＥＮＴＥＲキーは無視されるため、印刷のメニュー表示はされるものの印刷動作が行われることはない。もし、ＵＮＤＯキー１２２を繰り返して押しすぎた場合には、ＲＥＤＯキー１２３を押すことにより設定変更の戻りすぎを修正できる。
【００６２】
なお、図１の実施例では、ＵＮＤＯキー１２２を押すことでキーおよびノブ操作の過去の状態に戻ることができ、ＲＥＤＯキー１２３を押すことでＵＮＤＯキー１２２で戻した設定を再度進めることができるが、ＵＮＤＯキー１２２による戻りステップ数や進みステップ数が大きいときには同じキーを多数回繰り返し押さければならず、操作者にとっては面倒な操作となってしまう。
【００６３】
図９はこれを解決する構成例であり、図１と共通する部分には同一の符号を付けて、重複する部分のそれらの説明は省略する。
図９と図１の異なる点は、図９には、ＵＰ／ＤＯＷＮノブ１１９を選択的にアンドゥー（ＵＮＤＯ）またはリドゥー（ＲＥＤＯ）キーとして動作するようにその機能を切り換える切換キー１２４を設けていることである。
【００６４】
切換キー１２４を押す毎に、ＵＰ／ＤＯＷＮノブ１１９の動作モードは、ＵＰ／ＤＯＷＮノブの機能とＵＮＤＯ・ＲＥＤＯキーとしての機能とに交互に切り換わる。ＵＮＤＯ・ＲＥＤＯキー機能モードにおいて、例えば左に回すとＵＮＤＯキーとして動作し、右に回すとＲＥＤＯキーとして動作する。ここで、ノブ１１９の回転の大小に応じて変化速度が変化するようにしてもよい。
【００６５】
これにより、キーを繰り返し押すことに比べて操作性が一段と向上し、キーの数を１つ減らすことができる。
【００６６】
なお、設定キー１２４として例えば発光型のスイッチを用い、ＵＮＤＯ・ＲＥＤＯキー機能モードの場合に点灯発光するようにすると、ノブ１１９の動作モードが識別しやすくなる。ノブ１１９またはその近傍に動作モードを点灯状態で識別できるように発光表示素子を設けてもよい。
【００６７】
上記各実施例として、電子測定器であるデジタルオシロスコープにおける測定条件の例を説明したが、本発明は家庭電化製品や産業機器などの各種電子機器における使用条件などの再設定にも適用できるものである。
【００６８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、小容量のメモリを用いて、簡単なキー操作で一度設定したことがある測定条件や設定の再設定が行える操作性の優れた電子機器を提供することができ、測定器・家庭電化製品・産業機器などの各種電子機器に好適である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の一例を示す構成ブロック図である。
【図２】操作履歴メモリとして用いるリングバッファメモリの初期状態説明図である。
【図３】操作対象を操作したときのリングバッファメモリの状態説明図である。
【図４】操作対象が操作された場合の処理の流れを示すフローチャートである。
【図５】図４のルーチンＡの処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】図４のルーチンＢの処理の流れを示すフローチャートである。
【図７】図４のルーチンＣの処理の流れを示すフローチャートである。
【図８】操作対象の操作により実行される処理の種類に対応するデジタルオシロスコープの設定変更とそれを認識するためのコードとの対応リストである。
【図９】本発明の実施の形態の他の例を示す構成ブロック図である。
【図１０】電子機器の一例として示すデジタルオシロスコープの構成ブロック図である。
【図１１】図１０の操作パネル部のキー操作部に割り当てられているメニュー構成の一部を示す説明図である。
【符号の説明】
１０１　ＣＰＵ
１０２　アナログ・ＡＤＣ部
１０３　アクイジション（ＡＣＱ）部
１０４　表示器
１０５　メモリ
１０６　外部記憶装置
１０７　インターフェイス（Ｉ／Ｆ）部
１０８〜１１９　キー操作部
１２０　エンターキー
１２１　リセットキー
１２２　アンドゥー（ＵＮＤＯ）キー
１２３　リドゥー（ＲＥＤＯ）キー
１２４　切換キー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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