(57)【要約】【課題】複数のコンデンサを有するコンデンサモジュールであって、一部のコンデンサにショートによる故障が発生した場合、直ちに対処することができ、かつ、一部のコンデンサにショートによる故障が発生してもその故障を１つの回路で検知することができる、コンデンサモジュールを提供する。【解決手段】コンデンサモジュール１０の基板１２には、入出力電極１４ａ、１４ｂや検知電極１８ａ、１８ｂが形成される。入出力電極１４ａ、１４ｂ間において、４つの積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｄの２つずつが直列に接続され、それらが並列に接続される。並列に接続された各電流経路には、カレントトランス２４ａ、２４ｂが、それぞれ設けられる。カレントトランス２４ａ、２４ｂの２次コイル３０ａ、３０ｂは、検知電極１８ａ、１８ｂ間において、極性が互いに逆になるようにして直列に接続される。【選択図】　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンデンサを複数個直列接続したコンデンサ直列接続群を複数列並列に接続したコンデンサ群を有するコンデンサモジュールであって、
コンデンサ直列接続群に対して電流センサがそれぞれ設けられ、
前記複数の電流センサは、それぞれの電流センサの出力が相殺されるように直列に接続され、１つの検知回路を構成した、コンデンサモジュール。
【請求項２】
前記コンデンサ直列接続群の列数が偶数であり、
前記電流センサは、極性が交互に逆になるようにして直列に接続された、請求項１に記載のコンデンサモジュール。
【請求項３】
前記コンデンサ直列接続群の列数が奇数であり、
前記コンデンサ群の入出力に対して前記電流センサとは別の電流センサが設けられ、
前記別の電流センサは前記電流センサの出力と比べて、同等の電流を検出した場合に、前記コンデンサ直列接続群の列数で除した出力が得られるものであり、前記電流センサは、極性が互いに逆になるようにして直列に接続され、かつ、前記別の電流センサが、極性が逆になるように前記電流センサの１つに直列に接続された、請求項１に記載のコンデンサモジュール。
【請求項４】
前記電流センサはコンデンサ直列接続群に対して、非接触検出する方式の電流センサである、請求項１ないし請求項３のいずれかに記載のコンデンサモジュール。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明はコンデンサモジュールに関し、特に複数のコンデンサを直並列に接続した、たとえばインバータ装置などに用いられるコンデンサモジュールに関する。
【０００２】
【従来の技術】
この発明の背景となる従来のインバータ装置の一例が、特開平１−１３７６１５号公報に開示されている。図５はそのような従来のインバータ装置の一例を示す回路図である。図５に示すインバータ装置１は、交流を直流に変換するための整流器２を含む。整流器２の出力側には、整流器２の出力を平滑にするための平滑用コンデンサ群３が接続され、さらに、パワートランジスタなどの半導体を用いた直流を交流に変換するための逆変換回路４が接続される。平滑用コンデンサ群３としては、２つのコンデンサ３ａ、３ａを直列に接続したコンデンサ直列接続群を２組並列に接続した４つのコンデンサ３ａ、３ａ、・・が用いられる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
このようなインバータ装置１に用いられる平滑用コンデンサ群３では、１つのコンデンサ３ａにショートによる故障が発生した場合、全体の静電容量に変化が見られるが、全体の電流通電性や耐電圧性に直ちに問題が起こることは少ない。
そのため、図５に示す平滑用コンデンサ群３では、１つのコンデンサ３ａにショートによる故障が起きた場合、故障の発見が遅れ、他のコンデンサ３ａに２倍の負荷がかかることになり、寿命を短くしてしまうという問題がある。
そして、図５に示す平滑用コンデンサ群３では、コンデンサ３ａがショートした場合、そのショートによる故障を早く検知して対処しないと、平滑用コンデンサ群全体がショートによる故障にいたるおそれがある。
また、図５に示す平滑用コンデンサ群３において、一部のコンデンサ３ａにショートによる故障が発生した場合、その故障を１つの回路で検知することができることが望ましい。
【０００４】
それゆえに、この発明の主たる目的は、複数のコンデンサを有するコンデンサモジュールであって、一部のコンデンサにショートによる故障が発生した場合、直ちに対処することができ、かつ、その故障を１つの回路で検知することができる、コンデンサモジュールを提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
この発明にかかるコンデンサモジュールは、コンデンサを複数個直列接続したコンデンサ直列接続群を複数列並列に接続したコンデンサ群を有するコンデンサモジュールであって、コンデンサ直列接続群に対して電流センサがそれぞれ設けられ、複数の電流センサは、それぞれの電流センサの出力が相殺されるように直列に接続され、１つの検知回路を構成した、コンデンサモジュールである。
この発明にかかるコンデンサモジュールでは、コンデンサ直列接続群の列数が偶数であり、電流センサは、極性が交互に逆になるようにして直列に接続されてもよい。
また、この発明にかかるコンデンサモジュールでは、コンデンサ直列接続群の列数が奇数であり、コンデンサ群の入出力に対して電流センサとは別の電流センサが設けられ、別の電流センサは電流センサの出力と比べて、同等の電流を検出した場合に、コンデンサ直列接続群の列数で除した出力が得られるものであり、電流センサは、極性が互いに逆になるようにして直列に接続され、かつ、別の電流センサが、極性が逆になるように電流センサの１つに直列に接続されてもよい。
さらに、この発明にかかるコンデンサモジュールでは、電流センサはコンデンサ直列接続群に対して、非接触検出する方式の電流センサであってもよい。
【０００６】
この発明にかかるコンデンサモジュールでは、各コンデンサ直列接続群毎に電流センサを配置しているので、コンデンサに故障が生じて電流値が変化した場合に、直ちに故障を検知することができる。また、各電流センサは１つの検知回路を構成しているので、シンプルな構造にすることができ、故障を検知するための回路システムも１系列で済む。
また、この発明にかかるコンデンサモジュールにおいて、コンデンサ直列接続群の列数が偶数であり、電流センサは、極性が互いに逆になるようにして直列に接続されているので、各コンデンサに故障がない場合には、各電流センサの出力が相殺されるので、検知回路の検知端子の出力がほぼ０となるが、いずれかのコンデンサにショートによる故障が発生した場合には、偶数の電流センサの出力が相殺されなくなるので、検知回路の検知端子からの出力の絶対値が大きくなる。したがって、検知回路の出力の絶対値によってコンデンサ群のコンデンサの故障を検知することができる。
さらに、この発明にかかるコンデンサモジュールにおいて、コンデンサ直列接続群の列数が奇数であり、コンデンサ群の出力に対して別の電流センサが設けられ、コンデンサ直列群に設けられた各電流センサおよび別の電流センサは、極性が互いに逆になるようにして直列に接続されているので、各コンデンサに故障がない場合には、各電流センサの出力が相殺されるので、検知回路の検知端子の出力がほぼ０となるが、いずれかのコンデンサにショートによる故障が発生した場合には、偶数の電流センサの出力が相殺されなくなるので、検知回路の検知端子からの出力の絶対値が大きくなる。したがって、検知回路の出力の絶対値によってコンデンサ群のコンデンサの故障を検知することができる。
【０００７】
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点は、図面を参照して行う以下の発明の実施の形態の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【０００８】
【発明の実施の形態】
図１はこの発明にかかるコンデンサモジュールの一例を示す斜視図である。図１に示すコンデンサモジュール１０は、たとえば矩形の基板１２を含む。
【０００９】
基板１２の一方主面には、その長手方向における一端部に、たとえば矩形の入出力電極１４ａおよび接続電極１６ａが間隔を隔てて形成される。さらに、基板１２の一方主面には、その長手方向における他端部に、たとえば矩形の入出力電極１４ｂおよび接続電極１６ｂが間隔を隔てて形成される。この場合、入出力電極１４ａおよび接続電極１６ｂは、基板１２の幅方向における一端側に形成される。また、入出力電極１４ｂおよび接続電極１６ａは、基板１２の幅方向における他端側に形成される。さらに、入出力端子として用いられる２つの入出力電極１４ａおよび１４ｂには、外部のリード線などをはんだ付けしやすくするために、２つずつの円形の孔１５ａ、１５ａおよび１５ｂ、１５ｂが形成されている。なお、これらの孔１５ａ、１５ａおよび１５ｂ、１５ｂは、特に形成されなくてもよい。
【００１０】
また、基板１２の一方主面には、入出力電極１４ａおよび接続電極１６ｂ間にたとえば矩形の接続電極１６ｃが形成され、入出力電極１４ｂおよび接続電極１６ａ間にたとえば矩形の接続電極１６ｄが形成される。
【００１１】
さらに、基板１２の一方主面には、その長手方向における一端部において、基板１２の幅方向における他端側に、検知端子としてたとえば矩形の検知電極１８ａおよび１８ｂが間隔を隔てて形成される。
【００１２】
この基板１２の一方主面には、複数のコンデンサとして同じ特性を有する４つの積層セラミックコンデンサ２２ａ、２２ｂ、２２ｃおよび２２ｄが実装される。この場合、積層セラミックコンデンサ２２ａは、入出力電極１４ａおよび接続電極１６ｃにはんだで接続される。また、積層セラミックコンデンサ２２ｂは、接続電極１６ａおよび接続電極１６ｄにはんだで接続される。さらに、積層セラミックコンデンサ２２ｃは、接続電極１６ｃおよび接続電極１６ｂにはんだで接続される。また、積層セラミックコンデンサ２２ｄは、接続電極１６ｄおよび入出力電極１４ｂにはんだで接続される。
【００１３】
さらに、基板１２の一方主面には、電流センサとして同じ特性を有する２つのカレントトランス２４ａおよび２４ｂが実装される。一方のカレントトランス２４ａは、積層セラミックコンデンサ２２ｂおよび２２ｄに流れる電流を検出するためのものである。また、他方のカレントトランス２４ｂは、積層セラミックコンデンサ２２ａおよび２２ｃに流れる電流を検出するためのものである。
【００１４】
一方のカレントトランス２４ａの１次コイルとなるライン２６ａは、入出力電極１４ａおよび接続電極１６ａにはんだで接続される。また、他方のカレントトランス２４ｂの１次コイルとなるライン２６ｂは、接続電極１６ｂおよび入出力電極１４ｂにはんだで接続される。したがって、このコンデンサモジュール１０は、その回路を図２に示すように、入出力電極１４ａおよび１４ｂ間において、２つの積層セラミックコンデンサ２２ａおよび２２ｃを直列に接続したコンデンサ直列接続群と２つの積層セラミックコンデンサ２２ｂおよび２２ｄを直列に接続したコンデンサ直列接続群とを並列に接続したコンデンサ群を有する。
【００１５】
また、一方のカレントトランス２４ａのライン２６ａは、コア２８ａに挿通される。コア２８ａには、２次コイル３０ａが巻かれる。２次コイル３０ａの両端は、引出し電極２０ａおよび２０ｂにそれぞれはんだで接続される。同様に、他方のカレントトランス２４ｂのライン２６ｂは、コア２８ｂに挿通される。コア２８ｂには、２次コイル３０ｂが巻かれる。２次コイル３０ｂの両端は、引出し電極２０ｂおよび２０ｃにそれぞれはんだで接続される。したがって、このコンデンサモジュール１０は、その回路を図２に示すように、検知電極１８ａおよび１８ｂ間において、２つのカレントトランス２４ａおよび２４ｂの２次コイル３０ａおよび３０ｂを直列に接続した検知回路を有する。この場合、２つのカレントトランス２４ａおよび２４ｂの２次コイル３０ａおよび３０ｂは、検知電極１８ａおよび１８ｂ間において、極性が互いに逆になるようにして直列に接続される。
【００１６】
また、図１に示すコンデンサモジュール１０では、積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｄに不良がない場合、積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｄに同等の電流が流れ、２つのカレントトランス２４ａおよび２４ｂの１次コイルにも同等に電流が流れる。２つのカレントトランス２４ａおよび２４ｂの２次コイル３０ａおよび３０ｂは、検知電極１８ａおよび１８ｂ間において、極性が互いに逆になるようにして直列に接続されている。そのため、積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｄに不良がない場合、カレントトランス２４ａおよび２４ｂの２次コイル３０ａおよび３０ｂの出力が相殺され、検知電極１８ａおよび１８ｂの出力がほぼ０になる。
一方、図１に示すコンデンサモジュール１０では、上述の性能の低下状態によって、積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｄのうち不良になった積層セラミックコンデンサ側に流れる電流が大きくなると、その不良になった積層セラミックコンデンサ側に接続されているカレントトランスの１次コイルに流れる電流も大きくなるため、検知電極１８ａおよび１８ｂの出力の絶対値が大きくなる。そのため、上述の性能の低下状態を検知電極１８ａおよび１８ｂの出力から検知することができる。
そして、図１に示すコンデンサモジュール１０では、その検知によって、コンデンサモジュール１０全体のショートによる破壊を防止し、コンデンサモジュール１０が接続されている他のシステムへの影響を防ぐことができる。
【００１７】
図３はこの発明にかかるコンデンサモジュールの他の例を示す斜視図である。図３に示すコンデンサモジュール１０も、たとえば矩形の基板１２を含む。
【００１８】
基板１２の一方主面には、その長手方向における一端部に、入出力端子としてたとえば矩形の２つの入出力電極１４ａおよび１４ｂが間隔を隔てて形成される。入出力電極１４ａおよび１４ｂには、外部のリード線などをはんだ付けしやすくするために、２つずつの円形の孔１５ａ、１５ａおよび１５ｂ、１５ｂが形成されている。
【００１９】
また、基板１２の一方主面には、基板１２の両端に沿って、たとえば長方形の２つの接続電極１６ａおよび１６ｂが形成される。この場合、接続電極１６ａは、入出力電極１４ａからのびて形成される。また、接続電極１６ｂは、入出力電極１４ｂと間隔を隔てて形成される。
【００２０】
さらに、基板１２の一方主面には、接続電極１６ａおよび１６ｂ間において、たとえば矩形の６つの接続電極１６ｃ、１６ｄ、１６ｅ、１６ｆ、１６ｇおよび１６ｈが２行３列の配列で間隔を隔てて形成される。
【００２１】
また、基板１２の一方主面には、入出力電極１４ａおよび１４ｂ間において、検知端子としてたとえば矩形の検知電極１８ａおよび１８ｂが間隔を隔てて形成される。
【００２２】
この基板１２の一方主面には、同様の６つの積層セラミックコンデンサ２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、２２ｄ、２２ｅおよび２２ｆが実装される。この場合、積層セラミックコンデンサ２２ａは、接続電極１６ｃおよび１６ｆにはんだで接続される。また、積層セラミックコンデンサ２２ｂは、接続電極１６ｄおよび１６ｇにはんだで接続される。さらに、積層セラミックコンデンサ２２ｃは、接続電極１６ｅおよび１６ｈにはんだで接続される。また、積層セラミックコンデンサ２２ｄは、接続電極１６ｆおよび１６ｂにはんだで接続される。さらに、積層セラミックコンデンサ２２ｅは、接続電極１６ｇおよび１６ｂにはんだで接続される。また、積層セラミックコンデンサ２２ｆは、接続電極１６ｈおよび１６ｂにはんだで接続される。
【００２３】
さらに、基板１２の一方主面には、電流センサとして４つのカレントトランス２４ａ、２４ｂ、２４ｃおよび２４ｄが実装される。カレントトランス２４ａは、積層セラミックコンデンサ２２ａおよび２２ｄに流れる電流を検出するためのものである。また、カレントトランス２４ｂは、積層セラミックコンデンサ２２ｂおよび２２ｅに流れる電流を検出するためのものである。さらに、カレントトランス２４ｃは、積層セラミックコンデンサ２２ｃおよび２２ｆに流れる電流を検出するためのものである。また、カレントトランス２４ｄは、入出力電極１４ｂに流れる電流を検出するためのものである。このカレントトランス２４ｄとしては、他のカレントトランス２４ａ〜２４ｃと比べて、同等の電流を１次コイルに流した場合に２次コイルの出力がほぼ３分の１の大きさとなるものが用いられる。
【００２４】
カレントトランス２４ａの１次コイルとなるライン２６ａは、接続電極１６ａおよび１６ｃにはんだで接続される。また、カレントトランス２４ｂの１次コイルとなるライン２６ｂは、接続電極１６ａおよび１６ｄにはんだで接続される。さらに、カレントトランス２４ｃの１次コイルとなるライン２６ｃは、接続電極１６ａおよび１６ｅにはんだで接続される。また、カレントトランス２４ｄの１次コイルとなるライン２６ｄは、接続電極１６ｂおよび入出力電極１４ｂにはんだで接続される。したがって、このコンデンサモジュール１０は、その回路を図２に示すように、入出力電極１４ａおよび１４ｂ間において、２つの積層セラミックコンデンサ２２ａおよび２２ｄを直列に接続したコンデンサ直列接続群と２つの積層セラミックコンデンサ２２ｂおよび２２ｅを直列に接続したコンデンサ直列接続群と２つの積層セラミックコンデンサ２２ｃおよび２２ｆを直列に接続したコンデンサ直列接続群とを並列に接続したコンデンサ群を有する。
【００２５】
カレントトランス２４ａのライン２６ａは、コア２８ａに挿通される。コア２８ａには、２次コイル３０ａが巻かれる。２次コイル３０ａの両端は、引出し電極２０ａおよび２０ｂにそれぞれはんだで接続される。
同様に、他のカレントトランス２４ｂ〜２４ｄのライン２６ｂ〜２６ｄは、コア２８ｂ〜２８ｄにそれぞれ挿通される。コア２８ｂ〜２８ｄには、２次コイル３０ｂ〜３０ｄがそれぞれ巻かれる。２次コイル３０ｂの両端は引出し電極２０ｂおよび２０ｃに、２次コイル３０ｃの両端は引出し電極２０ｃおよび２０ｄに、２次コイル３０ｄの両端は引出し電極２０ｄおよび２０ｅに、それぞれはんだで接続される。したがって、このコンデンサモジュール１０は、その回路を図２に示すように、検知電極１８ａおよび１８ｂ間において、４つのカレントトランス２４ａ〜２４ｄの２次コイル３０ａ〜３０ｄを直列に接続した検知回路を有する。この場合、４つのカレントトランス２４ａ〜２４ｄの２次コイル３０ａ〜３０ｄは、検知電極１８ａおよび１８ｂ間において、２次コイル３０ａおよび３０ｃと２次コイル３０ｂおよび３０ｄとの極性が互いに逆になるようにして直列に接続される。
【００２６】
また、図３に示すコンデンサモジュール１０では、積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｆに不良がない場合、積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｆに同等の電流が流れ、３つのカレントトランス２４ａ〜２４ｃの１次コイルにも同等に電流が流れるが、カレントトランス２４ｄの１次コイルにはほぼ３倍の電流が流れる。しかし、カレントトランス２４ｄは、他のカレントトランス２４ａ〜２４ｃと比べて、同等の電流を１次コイルに流した場合に２次コイルの出力がほぼ３分の１の大きさとなるので、カレントトランス２４ａ〜２４ｄの２次コイル３０ａ〜３０ｄの出力はほぼ同じ大きさになる。また、４つのカレントトランス２４ａ〜２４ｄの２次コイル３０ａ〜３０ｄは、検知電極１８ａおよび１８ｂ間において、２次コイル３０ａおよび３０ｃと２次コイル３０ｂおよび３０ｄとの極性が互いに逆になるようにして直列に接続されている。そのため、積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｆに不良がない場合、カレントトランス２４ａ〜２４ｄの２次コイル３０ａ〜３０ｄの出力が相殺され、検知電極１８ａおよび１８ｂの出力がほぼ０になる。
一方、図３に示すコンデンサモジュール１０では、積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｆのうちのいずれかがショートして不良になり、その不良になった積層セラミックコンデンサ側に流れる電流が大きくなると、その不良になった積層セラミックコンデンサ側に接続されているカレントトランスの１次コイルに流れる電流も大きくなるため、検知電極１８ａおよび１８ｂの出力の絶対値が大きくなる。そのため、上述の不良状態を検知電極１８ａおよび１８ｂの出力から検知することができる。なお、カレントトランス２４ａ〜２４ｃのいずれかの１次コイルに流れる電流が大きくなると、同時に、カレントトランス２４ｄの１次コイルに流れる電流も大きくなる。しかし、カレントトランス２４ｄの２次コイルの出力の変化は、カレントトランス２４ａ〜２４ｃの２次コイルの出力の変化のほぼ３分の１となる。そのため、積層セラミックコンデンサ２２ａ〜２２ｆのいずれかがショートして不良になり、カレントトランス２４ａ〜２４ｃのいずれかの１次コイルに流れる電流が大きくなると、検知電極１８ａおよび１８ｂ間の出力の絶対値が大きくなり、上述の不良状態を検知することができる。
そして、図３に示すコンデンサモジュール１０でも、その検知によって、コンデンサモジュール１０全体のショートによる破壊を防止し、コンデンサモジュール１０が接続されている他のシステムへの影響を防ぐことができる。
【００２７】
また、上述の各コンデンサモジュールにはコンデンサとして積層セラミックコンデンサが用いられているが、この発明にかかるコンデンサモジュールには積層セラミックコンデンサ以外のコンデンサが用いられてもよい。
【００２８】
さらに、上述の各コンデンサモジュールには電流センサとしてカレントトランスが用いられているが、この発明にかかるコンデンサモジュールには、電流センサとして、たとえば、ホール素子が用いられたり、シャント抵抗器と電圧計を組み合わせたもの、あるいはサーミスタ等が用いられたりしてもよい。
【００２９】
また、図１に示すコンデンサモジュール１０では、カレントトランス２４ａの１次コイルとしてのライン２６ａが入出力電極１４ａおよびコンデンサ２２ｂ間に接続されているが、ライン２６ａはコンデンサ２２ｂおよび２２ｄ間やコンデンサ２２ｄおよび入出力電極１４ｂ間に接続されてもよい。同様に、カレントトランス２４ｂの１次コイルとしてのライン２６ｂは、コンデンサ２２ｃおよび２２ａ間やコンデンサ２２ａおよび入出力電極１４ａ間に接続されてもよい。
【００３０】
同様に、図３に示すコンデンサモジュール１０においても、カレントトランス２４ａ〜２４ｄの１次コイルとしてのライン２６ａ〜２６ｄの位置が変更されてもよい。
また、図３に示すコンデンサモジュール１０では、カレントトランス２４ａ〜２４ｄの２次コイル３０ａ〜３０ｄが接続される順番が変更されてもよい。
さらに、図３に示すコンデンサモジュール１０では、カレントトランス２４ａ〜２４ｄの２次コイル３０ａ〜３０ｄの極性が変更されてもよい。
【００３１】
さらに、上述の各コンデンサモジュールには２つのコンデンサを直列に接続したコンデンサ直列接続群を２群または３群並列に接続した複数のコンデンサが用いられているが、この発明にかかるコンデンサモジュールには、そのような複数のコンデンサ以外であって２つ以上のコンデンサを直列に接続したコンデンサ直列接続群を２群以上並列に接続した複数のコンデンサや２つ以上のコンデンサを並列に接続したコンデンサ並列接続群を２群以上直列に接続した複数のコンデンサなどが用いられてもよい。
【００３２】
また、電流センサは、複数のコンデンサの電流経路において並列に接続された複数の電流経路にそれぞれ１つ以上ずつ設けられればよい。
そして、コンデンサ直列接続群の列数が偶数の場合には、電流センサは、検知端子間において、極性が互いに逆になるようにして直列に接続されることが好ましい。このように接続すれば、コンデンサに不良がない場合には、各電流センサの出力が相殺されるので、検知回路の検知端子の出力がほぼ０となる。また、いずれかのコンデンサにショートによる不良がある場合には、各電流センサの出力が相殺されないので、検知回路の検知端子の出力の絶対値が大きくなる。
また、コンデンサ直列接続群の列数が奇数の場合には、コンデンサ群の入出力に別の電流センサが設けられ、その別の電流センサは、コンデンサ直列接続群の電流センサと比べて、同等の電流を検出した場合に、コンデンサ直列接続群の列数分の１の出力、たとえばコンデンサ直列接続群の列数が５であれば５分の１の出力が得られ、コンデンサ直列接続群の電流センサおよび別の電流センサは、検知回路の検知端子間において、極性が互いに逆になるようにして直列に接続されることが好ましい。このように接続すると、コンデンサに不良がない場合には、電流センサの出力が相殺されるので、検知回路の検知端子の出力がほぼ０となる。また、いずれかのコンデンサにショートによる不良がある場合には、電流センサの出力が相殺されないので、検知回路の検知端子の出力の絶対値が大きくなる。
【００３３】
【発明の効果】
この発明によれば、コンデンサを複数個直列接続したコンデンサ直列接続群を複数列並列に接続したコンデンサ群のように、一部のコンデンサに故障が発生しても故障が発見し難い構造において、各コンデンサ直列接続群毎に電流センサを配置しているので、直ちに故障を検出することができる。
また、各電流センサは直列に接続され、１つの検知回路を構成しているので、どのコンデンサに故障が生じても、確実に異常を検出することができる。また、検知回路が１つであるためシンプルな構造にすることができ、たとえば、検知した結果を表示する装置等も１つで済む。
さらに、電流センサとして非接触検出する方式のものを用いており、検出のための線路は接続されるものの、センサ部分はコンデンサ群に直接接続されていないので、検出のための電流等の影響をコンデンサに与えずに、正確に故障を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明にかかるコンデンサモジュールの一例を示す斜視図である。
【図２】図１に示すコンデンサモジュールの回路図である。
【図３】この発明にかかるコンデンサモジュールの他の例を示す斜視図である。
【図４】図３に示すコンデンサモジュールの回路図である。
【図５】この発明の背景となる従来のインバータ装置の一例を示す回路図である。
【符号の説明】
１０　コンデンサモジュール
１２　基板
１４ａ、１４ｂ　入出力電極
１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄ、１６ｅ、１６ｆ、１６ｇ、１６ｈ　接続電極
１８ａ、１８ｂ　検知電極
２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄ、２０ｅ　引出し電極
２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、２２ｄ、２２ｅ、２２ｆ　積層セラミックコンデンサ
２４ａ、２４ｂ、２４ｃ、２４ｄ　カレントトランス
２６ａ、２６ｂ、２６ｃ、２６ｄ　ライン
２８ａ，２８ｂ、２８ｃ、２８ｄ　コア
３０ａ、３０ｂ、３０ｃ、３０ｄ　２次コイル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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