(57)【要約】【構成】ディスク装置１０はピックアップ１２を含み、ピックアップ１２の光学レンズ１４を通して放出されるレーザ光は光磁気ディスク５６の記録面に形成されたトラックに照射される。ＴＥ信号およびＲＦ信号はそれぞれ、記録面から反射されたレーザ光に基づいて検出される。たとえば、フォーカス調整処理においては、光学レンズ１４を光軸方向に移動させて、ＴＥ信号の振幅が最大となるレンズ位置を特定する。一方、ＴＥ信号の振幅が最大となるレンズ位置を基準に光学レンズ１４を光軸方向に移動させてＲＦ信号の振幅が最大となるレンズ位置を特定する。【効果】ＲＦ信号の振幅が最大となるレンズ位置は、ＴＥ信号の振幅が最大となるレンズ位置を基準に特定するので、ＲＦ信号のオフセットが大幅にずれている場合であっても確実にＲＦ信号が最大となるレンズ位置を特定できる。【選択図】　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスク記録媒体の記録面に形成されたトラックにレンズを通してレーザ光を照射し、前記トラックから反射されたレーザ光に基づいてトラッキングエラー信号およびＲＦ信号を検出するディスク装置において、
前記レンズを光軸方向に移動させて前記トラッキングエラー信号の振幅が最大となる第１レンズ位置を特定する第１レンズ位置特定手段、および
前記第１レンズ位置を基準に前記レンズを光軸方向に移動させて前記ＲＦ信号の振幅が最大となる第２レンズ位置を特定する第２レンズ位置特定手段を備えることを特徴とする、ディスク装置。
【請求項２】
前記レンズを前記第１レンズ位置に配置した状態で前記記録面に所定信号を記録する記録手段をさらに備え、
前記第２レンズ位置特定手段は前記所定信号に対応するＲＦ信号に基づいて前記第２レンズ位置を特定する、請求項１記載のディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この発明は、ディスク装置に関し、特にたとえば、ディスク記録媒体の記録面に形成されたトラックにレンズを通してレーザ光を照射し、トラックから反射されたレーザ光に基づいてトラッキングエラー信号およびＲＦ信号を検出する、ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のこの種のディスク装置の一例が、平成１４年５月３１日付で出願公開された特開２００２−１５７７５５号公報［Ｇ１１Ｂ　７／０９］に開示されている。この従来技術は、ＴＥ（Ｔｒａｃｋｉｎｇ　Ｅｒｒｏｒ）信号に基づくシーク処理を行うときとＲＦ（Ｒａｄｉｏ　Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ　）信号のデコード処理を行うときとでレジスタに設定するフォーカスオフセット値を変更し、これによって、シーク処理時およびデコード処理時でＴＥ信号およびＲＦ信号をそれぞれ適切に検出できるようにしたものである。具体的には、まずＴＥ信号の振幅が最大となるフォーカスオフセット値が検出され、当該オフセット値を維持した状態でＲＦ信号がディスク記録媒体の記録面に記憶され、そして当該ＲＦ信号の振幅が最大となるフォーカスオフセット値が検出されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来技術では、ＲＦ信号の振幅が最大となるフォーカスオフセット値を検出するとき、フォーカスオフセット値はまず初期値（＝０）に設定され、これを基準として検出動作が行われていた。このため、最適フォーカスオフセット値が初期値から大きく外れる場合、当初からＲＦ信号を再生することができず、結局、最適フォーカスオフセット値を検出できないという問題があった。
【０００４】
それゆえに、この発明の主たる目的は、最適フォーカスオフセット値を確実に検出することができる、ディスク装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
この発明は、ディスク記録媒体の記録面に形成されたトラックにレンズを通してレーザ光を照射し、トラックから反射されたレーザ光に基づいてトラッキングエラー信号およびＲＦ信号を検出するディスク装置において、レンズを光軸方向に移動させてトラッキングエラー信号の振幅が最大となる第１レンズ位置を特定する第１レンズ位置特定手段、および第１レンズ位置を基準にレンズを光軸方向に移動させてＲＦ信号の振幅が最大となる第２レンズ位置を特定する第２レンズ位置特定手段を備えることを特徴とする、ディスク装置である。
【０００６】
【作用】
レーザ光は、レンズを通してディスク記録媒体の記録面に形成されたトラックに照射される。トラッキングエラー信号およびＲＦ信号はそれぞれ、記録面から反射されたレーザ光に基づいて検出される。第１レンズ位置特定手段は、レンズを光軸方向に移動させて、トラッキングエラー信号の振幅が最大となる第１レンズ位置を特定する。一方、第２レンズ位置特定手段は、第１レンズ位置特定手段によって特定された第１レンズ位置を基準にレンズを光軸方向に移動させてＲＦ信号の振幅が最大となる第２レンズ位置を特定する。
【０００７】
たとえば、記録手段は、レンズが第１レンズ位置に配置された状態で、記録面に所定信号を記録し、第２レンズ位置特定手段は所定信号に対応するＲＦ信号に基づいて第２レンズ位置を特定する。
【０００８】
【発明の効果】
この発明によれば、トラッキングエラー信号が最大となる場合のオフセット値を用いてＲＦ信号の最適フォーカスオフセットを検出するので、ＲＦ信号のオフセット値が基準値から大きく外れている場合であってもＲＦ信号を読み出すことができ、ＲＦ信号の最適フォーカスオフセット値を確実に検出することができる。
【０００９】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【００１０】
【実施例】
図１を参照して、この実施例のディスク装置１０は、光学レンズ１４が設けられた光ピックアップ（光学系）１２を含む。光学レンズ１４は、トラッキングアクチュエータ１６およびフォーカスアクチュエータ１８によって支持される。レーザダイオード２０から放出されたレーザ光は、図２に示す光学系部品を経てＡＳＭＯ（Ａｄｖａｎｃｅｄ　Ｓｔｏｒａｇｅ　Ｍａｇｎｅｔｏ　Ｏｐｔｉｃａｌ　ｄｉｓｃ　）のような光磁気ディスク５６の記録面に照射される。なお、光磁気ディスク５４はスピンドル５６の上に搭載され、スピンドルモータ５８によって回転する。光磁気ディスク５４はＺＣＬＶ（Ｚｏｎｅ　Ｃｏｎｓｔａｎｔ　Ｌｉｎｅａｒ　Ｖｅｌｏｃｉｔｙ　）方式のディスクであり、回転数は光ピックアップ１２が内周から外周へ移動するにつれて低下する。
【００１１】
図２を参照して、レーザダイオード２０から放出されたレーザ光は、グレーティング２２によって分光される。これによって、１つのメインビームＭと２つのサブビームＳ１およびＳ２とが生成される。これらのビームは、ビームスプリッタ２４およびコリメータレンズ２６を経て、立ち上げミラー２８に照射される。立ち上げミラー２８で反射されたビームは、光学レンズ１４で収束された後、図３に示す要領で光磁気ディスク５６の記録面に照射される。つまり、メインビームＭは所望のトラックに照射され、サブビームＳ１およびＳ２は所望のトラックの両側に隣接するトラックに照射される。なお、光磁気ディスク５６の記録面には、凸状のランドトラックおよび凹状のグルーブトラックが１トラック毎に交互に形成される。図３に示す“Ｌ”および“Ｇ”は、それぞれ、ランドトラックおよびグルーブトラックを意味する。
【００１２】
記録面で反射されたメインビームＭ，サブビームＳ１およびＳ２は、光学レンズ１４，立ち上げミラー２８およびコリメータレンズ２６を経て、つまり上述と逆の経路でビームスプリッタ２４まで戻される。ビームスプリッタ２４に入射されたメインビームＭ，サブビームＳ１およびＳ２は、３ビーム方式のウォラストンプリズム３０と平凹レンズ３２とを経て光検出器３４に照射される。
【００１３】
ウォラストンプリズム３０から出射されるとき、メインビームＭ，サブビームＳ１およびＳ２はいずれも３つに分光される。つまり、メインビームＭはビームＭａ，ＭｂおよびＭｃに分光され、サブビームＳ１はＳ１ａ，Ｓ１ｂおよびＳ１ｃに分光され、サブビームＳ２はＳ２ａ，Ｓ２ｂおよびＳ２ｃに分光される。ビームＭａはメインビームＭと同じ成分を有するが、ビームＭｂおよびＭｃはそれぞれメインビームＭの垂直偏向成分および水平偏向成分のみを有する。サブビームＳ１およびＳ２についても同様であり、ビームＳ１ａ（Ｓ２ａ）はサブビームＳ１（Ｓ２）と同じ成分を有するが、ビームＳ１ｂ（Ｓ２ｂ）およびＳ１ｃ（Ｓ２ｃ）はそれぞれサブビームＳ１（Ｓ２）の垂直偏向成分および水平偏向成分のみを有する。
【００１４】
光検出器３４は、図４に示すように構成される。ビームＭａは検出素子３４ａ〜３４ｄによって検出され、ビームＭｂおよびＭｃはそれぞれ検出素子３４ｉおよび３４ｊによって検出される。一方、ビームＳ１ａは検出素子３４ｅおよび３４ｆによって検出され、ビームＳ２ａは検出素子３４ｇおよび３４ｈによって検出される。他方、ビームＳ１ｂ，Ｓ１ｃ，Ｓ２ｂおよびＳ２ｃは、いずれの検出素子によっても検出されない。
【００１５】
図１に戻って、ＦＥ信号検出回路３６は、検出素子３４ａ〜３４ｄの出力に数１に従う演算を施し、ＦＥ（Ｆｏｃｕｓ　Ｅｒｒｏｒ　）信号を検出する。また、ＴＥ信号検出回路３８は、検出素子２４ａ〜２４ｈの出力に数２に従う演算を施し、ＤＰＰ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ　Ｐｕｓｈ　Ｐｕｌｌ）方式でＴＥ（Ｔｒａｃｋｉｎｇ　Ｅｒｒｏｒ）信号を生成する。さらに、ＲＦ信号検出回路４０は、検出素子３４ｉおよび３４ｊの出力に数３に従う演算を施し、ＲＦ（Ｒａｄｉｏ　Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ　）信号を検出する。なお、数１〜数３における“Ａ”〜“Ｊ”はそれぞれ検出素子２２ａ〜２２ｊの出力に対応する。
【００１６】
【数１】
ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）
【００１７】
【数２】
ＴＥ＝｛（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）｝−α｛（Ｅ＋Ｈ）−（Ｆ＋Ｇ）｝
【００１８】
【数３】
ＲＦ＝Ｉ−Ｊ
ＦＥ信号検出回路３６から出力されたＦＥ信号は、Ａ／Ｄ変換器３４ａを介して加算器４４に与えられる。加算器４４は、ＦＥ信号のレベル値からレジスタ４６に設定されたオフセット値を加算し、加算値（加算信号）をＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ　Ｓｉｇｎａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）４８に与える。ＤＳＰ４８は、与えられた加算信号に基づいてフォーカスサーボを実行し、フォーカス制御電圧を生成する。生成されたフォーカス制御電圧はＰＷＭ変調回路５０ａに入力され、ＰＷＭ変調回路５０ａは、入力されたフォーカス制御電圧に対応するパルス幅を持つＰＷＭ信号をフォーカスアクチュエータ１８に与える。これによって、フォーカスつまり光学レンズ１４の光軸上の位置（レンズ位置）が調整される。
【００１９】
ＴＥ信号検出回路３８から出力されたＴＥ信号は、Ａ／Ｄ変換器４２ｂを介してＤＳＰ４８に与えられる。ＤＳＰ４８は、与えられたＴＥ信号に基づいて、シーク処理またはトラッキング制御処理を実行し、トラッキングアクチュエータ制御電圧およびスレッド制御電圧を生成する。ＰＷＭ変調回路５０ｂおよび５０ｃはそれぞれ、トラッキングアクチュエータ制御電圧およびスレッド制御電圧に対応するパルス幅のＰＷＭ信号を生成し、トラッキングアクチュエータ１６およびスレッドモータ５２に与える。これによって、光学レンズ１４の径方向の位置と、スレッドモータ５２の回転速度および回転方向とが制御される。
【００２０】
ＤＳＰ４８はまた、フォーカスサーボが実行されている状態でＴＥ信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットを検出する。具体的には、互いに異なるフォーカスオフセットをレジスタ４４に設定してフォーカスサーボを実行し、各々のフォーカスオフセットで調整されたフォーカスに対応するＴＥ信号の振幅（ＴＥ振幅）を検出する。そして、ＴＥ振幅が最大となるフォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥを決定する。つまり、ＴＥ振幅が最大となる場合のレンズ位置が特定される。
【００２１】
ＲＦ信号検出回路４０から出力されたＲＦ信号は、ＥＣＣデコーダ５４によってデコード処理を施され、これによって再生信号が生成される。ＲＦ信号はまた、Ａ／Ｄ変換器４２ｃを介してＤＳＰ４８に与えられる。ＤＳＰ４８は、ＲＦ信号についても、上述と同じ要領でフォーカスオフセット決定処理を施す。つまり、互いに異なるフォーカスオフセットをレジスタ４４に設定してフォーカスサーボを実行し、各々のフォーカスオフセットで調整されたフォーカスに対応するＲＦ信号の振幅（ＲＦ振幅）を検出する。そして、ＲＦ振幅が最大となるフォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦを決定する。つまり、ＲＦ振幅が最大となる場合のレンズ位置が特定される。
【００２２】
シーク処理時は、フォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥがレジスタ４４に設定され、デコード処理時（トラッキング制御時）は、フォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦがレジスタ４４に設定される。このため、シーク処理時のフォーカスサーボはＦＥ信号およびフォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥに基づいて実行され、デコード処理時のフォーカスサーボはＦＥ信号およびフォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦに基づいて実行される。この結果、シーク処理時は、ＴＥ信号の振幅が最大となるようにフォーカスが制御され、デコード処理時は、ＲＦ信号の振幅が最大となるようにフォーカスが制御される。
【００２３】
なお、ＤＳＰ４８は、以上のフォーカスサーボ，トラッキングサーボおよびスレッドサーボに加えて、スピンドルサーボも実行する。このサーボ処理によって、スピンドルモータ５８から出力されたＦＧパルスの周期が所定値を示すように、スピンドルモータ５８の回転が制御される。
【００２４】
ＤＳＰ４８は、オフセットを算出するとき図５〜図９に示すフロー図に従って動作し、再生処理を行なうとき図１０に示すフロー図に従って動作する。ＤＳＰ４８は、実際には論理回路によって形成されるが、説明の便宜上、フロー図を用いる。
【００２５】
オフセットの算出については、まず図５のステップＳ１でスピンドルサーボを開始し、ステップＳ３で磁気ヘッド（図示せず）を光磁気ディスク５６上の所定位置にセットする。続いて、ステップＳ５でレーザダイオード２０をオンし、ステップＳ７でフォーカスサーボを開始する。なお、磁気ヘッドは、光磁気ディスクにテスト信号を記録するために用いられる。
【００２６】
ステップＳ９では、図６および図７に示すサブルーチンに従ってＴＥ信号を用いたフォーカスバランス調整を行ない、フォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥを決定する。この時点では、トラッキングサーボおよびスレッドサーボのいずれも開始されていないため、レーザ光の照射位置は、光磁気ディスク５６の偏芯の影響を受けて複数のトラックを跨ぐように周期的に移動する。このため、ＴＥ信号検出回路３８によって検出されるＴＥ信号は、正極側および負極側に正弦波状に変化する信号となる。
【００２７】
ステップＳ９の処理が完了すると、ステップＳ１１およびＳ１３の各々でトラッキングサーボおよびスレッドサーボを開始し、ステップＳ１５でプリライトを行う。つまり、磁気ヘッドによって光磁気ディスク５６に磁界をかけて所定のテスト信号（ＲＦ信号）を特定のアドレスから記録する。続くステップＳ１７では、図８および図９に示すサブルーチンに従ってＲＦ信号を用いたフォーカスバランス調整を行ない、フォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦを決定する。この時点では、トラッキングサーボおよびスレッドサーボが開始されており、レーザ光は、テスト信号の記録を終了した後、特定のアドレス以降のトラックを正確にトレースする。このため、記録されたテスト信号に対応するＲＦ信号が、ＲＦ信号検出回路４０から出力される。
【００２８】
図６を参照して、ＴＥ信号を用いたフォーカスバランス調整について説明する。まず、ステップＳ２１でＴＥ信号の最大振幅ＴＥ＿ＭＡＸを初期化し、ステップＳ２３でフォーカスオフセット＝０をレジスタ４６にセットする。続いて、ステップＳ２５でフォーカスオフセットを１ステップ減少し（レジスタ４６の設定値から“１”を減算し）、ステップＳ２７でＴＥ振幅を検出する。ステップＳ２９では検出されたＴＥ振幅を最大振幅ＴＥ＿ＭＡＸと比較する。そして、ＴＥ振幅≦ＴＥ＿ＭＡＸであればそのままステップＳ３５に進むが、ＴＥ振幅＞ＴＥ＿ＭＡＸであれば、ステップＳ３１で現ＴＥ振幅を最大振幅ＴＥ＿ＭＡＸと決定し、ステップＳ３３で現フォーカスオフセットをＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥと決定してからステップＳ３５に進む。
【００２９】
ステップＳ３５では、現フォーカスオフセットがマイナス側リミット値（この実施例では、フォーカスオフセットの初期値（０）−１０ステップ）であるかどうか判断し、“ＮＯ”であればステップＳ２５〜Ｓ３３の処理を繰り返す。これによって、マイナス側の各々のフォーカスオフセットに対応するＴＥ振幅が検出され、マイナス側で最大となるＴＥ振幅およびこのＴＥ振幅が得られたときのフォーカスオフセットがＴＥ＿ＭＡＸおよびＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥとして決定される。
【００３０】
ステップＳ３５で“ＹＥＳ”と判断されると、ステップＳ３７でフォーカスオフセットを“０”に戻し（レジスタ４６の設定値を“０”に戻し）、ステップＳ３９でフォーカスオフセットを１ステップ増加させる（レジスタ４６の設定値に“１”を加算する）。ステップＳ４１ではＴＥ振幅を検出し、続くステップＳ４３では検出されたＴＥ振幅を最大振幅ＴＥ＿ＭＡＸと比較する。ここでＴＥ振幅≦ＴＥ＿ＭＡＸであればそのままステップＳ４９に進むが、ＴＥ振幅＞ＴＥ＿ＭＡＸであれば、ステップＳ４５で現ＴＥ振幅を最大振幅ＴＥ＿ＭＡＸと決定し、ステップＳ４７で現フォーカスオフセットをＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥと決定してからステップＳ４９に進む。
【００３１】
ステップＳ４９では、現フォーカスオフセットがプラス側リミット値（この実施例では、フォーカスオフセットの初期値（０）＋１０ステップ）であるかどうか判断し、“ＮＯ”であればステップＳ３９〜Ｓ４７の処理を繰り返す。これによって、全てのフォーカスオフセットに対応するＴＥ振幅が検出され、検出された全てのＴＥ振幅の中で最大となるＴＥ振幅がＴＥ＿ＭＡＸとして決定されるとともに、このＴＥ＿ＭＡＸが得られたときのフォーカスオフセットがＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥとして決定される。
【００３２】
ＲＦ信号を用いたフォーカスバランス調整は、図８および図９に示すサブルーチンに従う。このサブルーチンは、ステップＳ５１でＲＦ信号の最大振幅ＲＦ＿ＭＡＸを初期化し、ステップＳ５３でフォーカスオフセット＝ＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥをレジスタ４６にセットする。
【００３３】
ここで、フォーカスオフセットの初期値としてＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥの値（この実施例では、−１０≦ＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥ≦＋１０である。）を設定するのは、ＲＦ信号のフォーカスオフセットが大きく外れて（ずれて）いる場合に、フォーカスオフセットの初期値を０から開始すると、特定のアドレスを検出することがでず、ＲＦ信号を再生することができないからである。また、経験的に得られた傾向としては、ＴＥ信号のフォーカスオフセットのずれ方向とＲＦ信号のフォーカスオフセットのずれ方向とは同じだからである。
【００３４】
続いて、ステップＳ５５でフォーカスオフセットを１ステップ減少し（レジスタ４６の設定値から“１”を減算し）、ステップＳ５７でＲＦ振幅を検出する。ステップＳ５９では検出されたＲＦ振幅を最大振幅ＲＦ＿ＭＡＸと比較する。そして、ＲＦ振幅≦ＲＦ＿ＭＡＸであればそのままステップＳ６５に進むが、ＲＦ振幅＞ＲＦ＿ＭＡＸであれば、ステップＳ６１で現ＲＦ振幅を最大振幅ＲＦ＿ＭＡＸと決定し、ステップＳ６３で現フォーカスオフセットをＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦと決定してからステップＳ６５に進む。
【００３５】
ステップＳ６５では、現フォーカスオフセットがマイナス側リミット値（この実施例では、フォーカスオフセットの初期値（ＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥ）−１０ステップ）であるかどうか判断し、“ＮＯ”であればステップＳ５５〜Ｓ６３の処理を繰り返す。これによって、マイナス側の各々のフォーカスオフセットに対応するＲＦ振幅が検出され、マイナス側で最大となるＲＦ振幅およびこのＲＦ振幅が得られたときのフォーカスオフセットＲＦ＿ＭＡＸおよびＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦとして決定される。
【００３６】
ステップＳ６５で“ＹＥＳ”と判断されると、ステップＳ６７でフォーカスオフセットをＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥに戻し（レジスタ４６の設定値をＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥの値に戻し）、ステップＳ６９でフォーカスオフセットを１ステップ増加させる（レジスタ４６の設定値に“１”を加算する）。ステップＳ７１ではＲＦ振幅を検出し、続くステップＳ７３では検出されたＲＦ振幅を最大振幅ＲＦ＿ＭＡＸと比較する。ここでＲＦ振幅≦ＲＦ＿ＭＡＸであればそのままステップＳ７９に進むが、ＲＦ振幅＞ＲＦ＿ＭＡＸであれば、ステップＳ７５で現ＲＦ振幅を最大振幅ＲＦ＿ＭＡＸと決定し、ステップＳ７７で現フォーカスオフセットをＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦと決定してからステップＳ７９に進む。
【００３７】
ステップＳ７９では、現フォーカスオフセットがプラス側リミット値（この実施例では、フォーカスオフセットの初期値（ＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥ）＋１０ステップ）であるかどうか判断し、“ＮＯ”であればステップＳ６９〜Ｓ７７の処理を繰り返す。これによって、全てのフォーカスオフセットに対応するＲＦ振幅が検出され、検出された全てのＲＦ振幅の中で最大となるＲＦ振幅がＲＦ＿ＭＡＸとして決定されるとともに、このＲＦ＿ＭＡＸが得られたときのフォーカスオフセットがＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦとして決定される。
【００３８】
再生処理については、まず図１０のステップＳ８１で再生命令が与えられたかどうか判断し、“ＹＥＳ”であればステップＳ８３でＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥをレジスタにセットする。フォーカスサーボは既に開始されており、ＤＳＰ４８は、ＦＥ信号とＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥとの加算信号に基づいてフォーカスを調整する。このようなＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥを考慮したフォーカス調整によって、ＴＥ信号検出回路３８から出力されるＴＥ信号の振幅は最大となる。
【００３９】
ステップＳ８５では、最大振幅を有するＴＥ信号に基づいて再生先トラックをシークする。メインビームＭの照射先が再生先トラックの１トラック手前に到達すると、ステップＳ８７で“ＹＥＳ”と判断し、ステップＳ８９およびＳ９１の各々でトラッキングサーボおよびスレッドサーボを開始するとともに、ステップＳ９３でＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦをレジスタ４６にセットする。ＤＳＰ４８は、ＦＥ信号とＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦとの加算信号に基づいてフォーカスを調整し、これによってＲＦ信号検出回路４０から出力されるＲＦ信号の振幅は最大となる。
【００４０】
メインビームＭの照射先が目的アドレスに到達すると、ステップＳ９５からステップＳ９７に進み、ＥＣＣデコーダ５４を起動して再生処理を行なう。再生処理が完了すると、リターンする。ＦＡＴ方式やＵＤＦ方式によって信号が離散的に記録されている場合、以上のような再生処理が何回も繰り返され、信号は所定量ずつ間欠的に再生される。
【００４１】
以上の説明から分かるように、レーザ光は、光学レンズ１４を含む光学系を通して光磁気ディスク５６の記録面に照射される。ＴＥ信号およびＲＦ信号はそれぞれ、記録面から反射されたレーザ光に基づいてＴＥ信号検出回路３８およびＲＦ信号検出回路４０によって検出される。シーク処理を行なうとき、ＤＳＰ４８は、ＴＥ信号の振幅が最大となるように光学レンズ１４のフォーカスを制御し、ＲＦ信号のデコード処理を行なうとき、ＤＳＰ４８は、ＲＦ信号の振幅が最大となるように光学レンズ１４のフォーカスを制御する。
【００４２】
具体的には、フォーカスサーボは、ＦＥ信号検出回路３６によって検出されたＦＥ信号とレジスタ４６に設定されたフォーカスオフセットとに基づいて実行される。このため、ＤＳＰ４８は、まずＴＥ信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥと、ＲＦ信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦとを特定する。再生命令が与えられると、ＤＳＰ４８は、所望のトラックをシークするときフォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＴＥをレジスタ４６にセットし、所望のトラックからＲＦ信号を検出するとき、フォーカスオフセットＯＦＦＳＥＴ＿ＲＦをレジスタ４６にセットする。
【００４３】
このように、レジスタ４６にセットするオフセット値を動作状態に応じて変更するようにしたため、シーク処理時はＴＥ信号を適切に検出でき、デコード処理時はＲＦ信号を適切に検出することができる。つまり、光ピックアップ１２に含まれるグレーティング２２やウォラストンプリズム３０などの光学部品に位置ずれがあると、ＦＥ信号がゼロレベルとなるようにフォーカスを調整しても、ＴＥ信号やＲＦ信号について最大振幅が得られない可能性があるが、この実施例では、シーク処理を行なうときＴＥ信号の振幅が最大となるようにフォーカスを制御し、ＲＦ信号のデコード処理を行なうときＲＦ信号の振幅が最大となるようにフォーカスを制御するようにしているため、シーク処理およびデコード処理が適切に行なわれる。
【００４４】
この実施例によれば、ＴＥ信号の最適フォーカスオフセットを用いてＲＦ信号の最適フォーカスオフセットを検出するようにしているため、ＲＦ信号のフォーカスオフセットが大幅にずれている場合であっても、ＲＦ信号を再生でき、最適フォーカスオフセットを確実に検出することができる。このため、ピックアップに対する規制を緩和することができ、ピックアップやこれを用いたディスク装置の歩留まりの向上を図ることができる。
【００４５】
なお、この実施例では、ＤＰＰ方式によってトラッキングエラー信号を検出しているが、ＤＰＰ方式に代えてＭＰＰ（Ｍａｉｎ　Ｐｕｓｈ　Ｐｕｌｌ）方式でトラッキングエラー信号を検出するようにしてもよい。この場合、光ピックアップにグレーティングを設ける必要はない。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】光ピックアップの構成の一部を示す図解図である。
【図３】メインビームおよびサブビームが記録面に照射されている状態を示す図解図である。
【図４】光検出器の構成を示す図解図である。
【図５】フォーカスオフセットを算出するときのＤＳＰの動作の一部を示すフロー図である。
【図６】フォーカスオフセットを算出するときのＤＳＰの動作の他の一部を示すフロー図である。
【図７】フォーカスオフセットを算出するときのＤＳＰの動作のその他の一部を示すフロー図である。
【図８】フォーカスオフセットを算出するときのＤＳＰの動作のさらにその他の一部を示すフロー図である。
【図９】フォーカスオフセットを算出するときのＤＳＰの動作の他の一部を示すフロー図である。
【図１０】再生処理を行なうときのＤＳＰの動作の一部を示すフロー図である。
【符号の説明】
１０…ディスク装置
１２…光ピックアップ
３６…ＦＥ信号検出回路
３８…ＴＥ信号検出回路
４０…ＲＦ信号検出回路
４４…レジスタ
４８…ＤＳＰ
５４…ＥＣＣデコーダ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
2004022097.tif 000006
【図５】
2004022097.tif 000007
【図６】
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【図７】
2004022097.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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