(57)【要約】【課題】被測定物から放出される放射線を短時間で正確に測定することができる放射線測定器を提供する。【解決手段】放射線測定器１の演算部３は、第１計数率を算出する第１ステップと、第２計数率を算出する第２ステップと、第１比較計数率が第１区間内にあるかを判断する第３ステップと、第３ステップで第１比較計数率が第１区間内にあると判断すると、第１標本を単位時間１個分だけ過去から未来に向かってスライドさせて第２および第３ステップを繰り返し実行する第４ステップと、第３ステップで第１比較計数率が第１区間内にないと判断すると、その直後における新パルス数を計数して第３および第４計数率を算出する第５ステップと、第５ステップに続いて多数の第５計数率を算出する第６ステップと、第６ステップに続いてパルス数を新パルス数に置き換えて第２および第３ステップを実行する第７ステップとを有する。放射線測定器１の出力部４は、第２計数率と第４および第５計数率とを表示する。【選択図】      図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物から放出される放射線を時系列で検出し、検出した前記放射線を電気的なパルスに変換する検出部と、前記検出部から入力された前記パルスに基づいて前記放射線の計数率を算出する演算部と、前記演算部で算出された前記計数率を出力する出力部とを備えた放射線測定器において、
前記演算部が、
前記検出部から入力されたパルスをあらかじめ設定した単位時間毎に順次計数し、前記単位時間毎に計数したパルス数を該単位時間で除して第１計数率を算出する第１ステップと、
前記第１計数率を時間的に連続するあらかじめ設定した所定個数の第１標本として集計して第１積算値を算出し、前記第１積算値を前記所定個数で除して第１平均値を算出しつつ、前記第１平均値の算出に用いた各因子に基づいて第１計数誤差を算出し、前記第１平均値に前記第１計数誤差を加減算して第２計数率を算出する第２ステップと、
前記所定個数から未来に向かって時間的に連続する前記単位時間１個分だけ進んだときのパルス数を該単位時間で除して第１比較計数率を算出し、前記第１比較計数率が前記第１計数誤差に所定の係数を乗じた値を前記第１平均値に加減算することで定まる第１区間内にあるかを判断する第３ステップと、
前記第３ステップで前記第１比較計数率が前記第１区間内にあると判断すると、前記第１ステップに戻って前記第１計数率を継続して算出するとともに、前記第１標本を前記単位時間１個分だけ過去から未来に向かってスライドさせて前記第２ステップおよび前記第３ステップを繰り返し実行する第４ステップと、
前記第３ステップで前記第１比較計数率が前記第１区間内にないと判断すると、その直後の前記単位時間における新パルス数を計数し、前記単位時間１個における新パルス数を該単位時間で除して第３計数率を算出しつつ、前記第３計数率の算出に用いた各因子に基づいて第２計数誤差を算出し、前記第３計数率に前記第２計数誤差を加減算して第４計数率を算出する第５ステップと、
前記第５ステップに続き、前記第３計数率が時間的に連続する２個から前記所定個数になるまで多数の該第３計数率を順次算出するとともに、前記第３計数率を２個から前記所定個数−１個の各個数に対応する多数の第２標本として集計して前記各個数に対応する多数の第２積算値を算出し、それら第２積算値を前記各個数で除して該各個数に対応する多数の第２平均値を算出しつつ、前記第２平均値の算出に用いた各因子に基づいて前記各個数に対応する多数の第３計数誤差を算出し、それら第２平均値にそれら第３計数誤差を加減算して前記各個数に対応する多数の第５計数率を算出する第６ステップと、
前記第６ステップに続き、前記第３計数率が前記所定個数になった時点で、前記第１ステップに戻り、パルス数を前記第１比較計数率が前記第１区間内にないと判断した直後に計数した新パルス数に置き換えて前記第１計数率を継続して算出するとともに、前記第２ステップおよび前記第３ステップを実行する第７ステップと、
を有することを特徴とする放射線測定器。
【請求項２】
前記第５ステップでは、前記単位時間から未来に向かって時間的に連続する該単位時間１個分だけ進んだときの新パルス数を該単位時間で除して第２比較計数率を算出し、前記第２比較計数率が前記第２計数誤差に前記係数を乗じた値を前記第３計数率に加減算することで定まる第２区間内にあるかを判断し、
前記第２比較計数率が前記第２区間内にあると判断すると、前記第６ステップに進み、前記第２比較計数率が前記第２区間内にないと判断すると、その直後に計数した前記単位時間における新パルス数に基づいて再び前記第５ステップを実行する請求項１記載の放射線測定器。
【請求項３】
前記第６ステップでは、前記各個数から時間的に連続する前記単位時間１個分だけ進んだときの新パルス数を該単位時間で除して該各個数に対応する多数の第３比較計数率を算出し、それら第３比較計数率が前記各個数に対応する前記第３計数誤差に前記係数を乗じた値を該各個数に対応する前記第２平均値に加減算することで定まる多数の第３区間内にあるかを判断し、
前記各個数毎に前記第３比較計数率が前記第３区間内にあると判断すると、前記第７ステップに進み、前記各個数毎に前記第３比較計数率が前記第３区間内にないと判断すると、その直後に計数した前記単位時間における新パルス数に基づいて再び前記第５ステップを実行する請求項１または請求項２に記載の放射線測定器。
【請求項４】
前記放射線測定器では、前記単位時間を０．１〜１２０秒の範囲で変更可能である請求項１ないし請求項３いずれかに記載の放射線測定器。
【請求項５】
前記放射線測定器では、前記所定個数を変更可能であり、前記所定個数が３個以上である請求項１ないし請求項４いずれかに記載の放射線測定器。
【請求項６】
前記演算部が、算出した前記第１〜第５計数率のうちの少なくとも前記第２計数率と前記第４および第５計数率とを記憶するメモリ機能を有する請求項１ないし請求項５いずれかに記載の放射線測定器。
【請求項７】
前記出力部が、前記第２計数率と前記第４および第５計数率とを前記検出部の放射線検出中にリアルタイムで表示する請求項１ないし請求項６いずれかに記載の放射線測定器。
【請求項８】
前記放射線測定器には、シンチレーションカウンタ、半導体検出器、比例計数管、ＧＭ計数管のうちのいずれかが使用されている請求項１ないし請求項７いずれかに記載の放射線測定器。
【請求項９】
被測定物から放出される放射線を時系列で検出し、検出した前記放射線を電気的なパルスに変換する検出手段と、前記検出手段から入力された前記パルスに基づいて前記放射線の計数率を算出する演算手段と、前記演算手段で算出された前記計数率を出力する出力手段とを備えた放射線測定方法において、
前記演算手段が、
前記検出手段から入力されたパルスをあらかじめ設定した単位時間毎に順次計数し、前記単位時間毎に計数したパルス数を該単位時間で除して第１計数率を算出する第１プロセスと、
前記第１計数率を時間的に連続するあらかじめ設定した所定個数の第１標本として集計して第１積算値を算出し、前記第１積算値を前記所定個数で除して第１平均値を算出しつつ、前記第１平均値の算出に用いた各因子に基づいて第１計数誤差を算出し、前記第１平均値に前記第１計数誤差を加減算して第２計数率を算出する第２プロセスと、
前記所定個数から未来に向かって時間的に連続する前記単位時間１個分だけ進んだときのパルス数を該単位時間で除して第１比較計数率を算出し、前記第１比較計数率が前記第１計数誤差に所定の係数を乗じた値を前記第１平均値に加減算することで定まる第１区間内にあるかを判断する第３プロセスと、
前記第３プロセスで前記第１比較計数率が前記第１区間内にあると判断すると、前記第１プロセスに戻って前記第１計数率を継続して算出するとともに、前記第１標本を前記単位時間１個分だけ過去から未来に向かってスライドさせて前記第２プロセスおよび前記第３プロセスを繰り返し実行する第４プロセスと、
前記第３プロセスで前記第１比較計数率が前記第１区間内にないと判断すると、その直後の前記単位時間における新パルス数を計数し、前記単位時間１個における新パルス数を該単位時間で除して第３計数率を算出しつつ、前記第３計数率の算出に用いた各因子に基づいて第２計数誤差を算出し、前記第３計数率に前記第２計数誤差を加減算して第４計数率を算出する第５プロセスと、
前記第５プロセスに続き、前記第３計数率が時間的に連続する２個から前記所定個数になるまで多数の該第３計数率を順次算出するとともに、前記第３計数率を２個から前記所定個数−１個の各個数に対応する多数の第２標本として集計して前記各個数に対応する多数の第２積算値を算出し、それら第２積算値を前記各個数で除して該各個数に対応する多数の第２平均値を算出しつつ、前記第２平均値の算出に用いた各因子に基づいて前記各個数に対応する多数の第３計数誤差を算出し、それら第２平均値にそれら第３計数誤差を加減算して前記各個数に対応する多数の第５計数率を算出する第６プロセスと、
前記第６プロセスに続き、前記第３計数率が前記所定個数になった時点で、前記第１プロセスに戻り、パルス数を前記第１比較計数率が前記第１区間内にないと判断した直後に計数した新パルス数に置き換えて前記第１計数率を継続して算出するとともに、前記第２プロセスおよび前記第３プロセスを実行する第７プロセスと、
を有することを特徴とする放射線測定方法。
【請求項１０】
前記第５プロセスでは、前記単位時間から未来に向かって時間的に連続する該単位時間１個分だけ進んだときの新パルス数を該単位時間で除して第２比較計数率を算出し、前記第２比較計数率が前記第２計数誤差に前記係数を乗じた値を前記第３計数率に加減算することで定まる第２区間内にあるかを判断し、
前記第２比較計数率が前記第２区間内にあると判断すると、前記第６プロセスに進み、前記第２比較計数率が前記第２区間内にないと判断すると、その直後に計数した前記単位時間における新パルス数に基づいて再び前記第５プロセスを実行する請求項９記載の放射線測定方法。
【請求項１１】
前記第６プロセスでは、前記各個数から時間的に連続する前記単位時間１個分だけ進んだときの新パルス数を該単位時間で除して該各個数に対応する多数の第３比較計数率を算出し、それら第３比較計数率が前記各個数に対応する前記第３計数誤差に前記係数を乗じた値を該各個数に対応する前記第２平均値に加減算することで定まる多数の第３区間内にあるかを判断し、
前記各個数毎に前記第３比較計数率が前記第３区間内にあると判断すると、前記第７プロセスに進み、前記各個数毎に前記第３比較計数率が前記第３区間内にないと判断すると、その直後に計数した前記単位時間における新パルス数に基づいて再び前記第５プロセスを実行する請求項１または請求項２に記載の放射線測定器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被測定物から放出される放射線を時系列で測定する放射線測定器および放射線測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
被測定物から放出された放射線を測定する放射線測定器には、シンチレータ（蛍光体）と光電子倍増管とから形成されたシンチレーションカウンタ、半導体を利用した半導体検出器、不活性ガスと有機多原子気体とを利用したＧＭ計数管等がある。シンチレーションカウンタは、放射線がシンチレータを透過するときに生じる光を光電子倍増管を介して電流パルスに変換し、その電流パルスを計測する。半導体検出器は、半導体に逆方向電圧を印加し、半導体に放射線が入射すると、半導体に電子・正孔対が生成されてエネルギー損失に比例した電流が流れ、その電流をパルスとして計測する。ＧＭ計数管は、放射線が計数管の内部に封入されたガス中を通過すると、ガスが電離されてイオン対となり、ガス増幅されたイオンを電離電流として取り出し、電離電流を電圧パルスとして計測する。それら放射線測定器は、放射線を電気的なパルスに変換し、パルスから放射線の量を測定することにおいて共通する。
【０００３】
なお、放射性原子の壊変や放射線と物質との反応は、量子論によって支配される現象であり、確率的法則に従って起こる。ゆえに、被測定物から放射線を一定時間測定したとしても、確率分布にしたがって測定値がその平均値の付近に分布し、測定値が常時一定の値を示すことはなく、平均値を含むその近傍の値として測定される。
【０００４】
それら放射線測定器は、所定の時定数に基づいてパルスを計測する。ただし、それら測定器で計測されるパルスの測定値は、時定数の略３倍の時間が経過しないと安定することはない。また、放射線の計測誤差は、時定数に依存する。すなわち、時定数が短い場合は、放射線に対して素早く反応するが、測定値の変動が大きく、安定した測定値を得ることができない。一方、時定数が長い場合は、測定値の変動は少ないが、正確な測定値を得るまでに長時間を要する。このような特性を考慮して長い時定数と短い時定数とで放射線を測定し、時間的に異なる時定数で測定した測定値の差を表示する放射線測定器が提案されている（特許文献１参照）。
【０００５】
特許文献１に開示の放射線測定器は、長い時定数で測定した測定値と短い時定数で測定した測定値との差が大きいとき、測定器が測定した測定値が安定していないものと判断する。この測定器は、長い時定数で測定した測定値と短い時定数で測定した測定値との差が次第に小さくなることで、測定値が安定に向かっていると判断する。この測定器は、変動表示部に表示された長い時定数と短い時定数とによる測定値の差が０または０に近づいたときに測定値が安定したと判断し、そのときの測定値を被測定物から放出される放射線の量として読み取る。
【０００６】
【特許文献１】
特開平７−１８１２６５号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
前記特許文献１に開示の測定器では、長い時定数で測定した測定値が正確な値を示すまでに長時間を要し、測定値の安定が長い時定数に依存するので、長い時定数で測定した測定値と短い時定数で測定した測定値との差が小さくなり、測定値が安定したと判断し得るまでに長時間を要する。この測定器は、短時間で放射線の安定した測定値を得ることができない。
【０００８】
また、短い時定数で測定した測定値は、時間が経過したとしても安定することはなく、測定値の変動が大きい状態が継続するので、長い時定数で測定した測定値と短い時定数で測定した測定値との差が小さくなったとしても、そのときの値が必ずしも正確な測定値であるとは限らない。
【０００９】
本発明の目的は、被測定物から放出される放射線を短時間で正確に測定することができる放射線測定器および放射線測定方法を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するための第１の発明の前提は、被測定物から放出される放射線を時系列で検出し、検出した前記放射線を電気的なパルスに変換する検出部と、前記検出部から入力された前記パルスに基づいて前記放射線の計数率を算出する演算部と、前記演算部で算出された前記計数率を出力する出力部とを備えた放射線測定器である。
【００１１】
前記前提における第１の発明の特徴は、前記演算部が、
前記検出部から入力されたパルスをあらかじめ設定した単位時間毎に順次計数し、前記単位時間毎に計数したパルス数を該単位時間で除して第１計数率を算出する第１ステップと、
前記第１計数率を時間的に連続するあらかじめ設定した所定個数の第１標本として集計して第１積算値を算出し、前記第１積算値を前記所定個数で除して第１平均値を算出しつつ、前記第１平均値の算出に用いた各因子に基づいて第１計数誤差を算出し、前記第１平均値に前記第１計数誤差を加減算して第２計数率を算出する第２ステップと、
前記所定個数から未来に向かって時間的に連続する前記単位時間１個分だけ進んだときのパルス数を該単位時間で除して第１比較計数率を算出し、前記第１比較計数率が前記第１計数誤差に所定の係数を乗じた値を前記第１平均値に加減算することで定まる第１区間内にあるかを判断する第３ステップと、
前記第３ステップで前記第１比較計数率が前記第１区間内にあると判断すると、前記第１ステップに戻って前記第１計数率を継続して算出するとともに、前記第１標本を前記単位時間１個分だけ過去から未来に向かってスライドさせて前記第２ステップおよび前記第３ステップを繰り返し実行する第４ステップと、
前記第３ステップで前記第１比較計数率が前記第１区間内にないと判断すると、その直後の前記単位時間における新パルス数を計数し、前記単位時間１個における新パルス数を該単位時間で除して第３計数率を算出しつつ、前記第３計数率の算出に用いた各因子に基づいて第２計数誤差を算出し、前記第３計数率に前記第２計数誤差を加減算して第４計数率を算出する第５ステップと、
前記第５ステップに続き、前記第３計数率が時間的に連続する２個から前記所定個数になるまで多数の該第３計数率を順次算出するとともに、前記第３計数率を２個から前記所定個数−１個の各個数に対応する多数の第２標本として集計して前記各個数に対応する多数の第２積算値を算出し、それら第２積算値を前記各個数で除して該各個数に対応する多数の第２平均値を算出しつつ、前記第２平均値の算出に用いた各因子に基づいて前記各個数に対応する多数の第３計数誤差を算出し、それら第２平均値にそれら第３計数誤差を加減算して前記各個数に対応する多数の第５計数率を算出する第６ステップと、
前記第６ステップに続き、前記第３計数率が前記所定個数になった時点で、前記第１ステップに戻り、パルス数を前記第１比較計数率が前記第１区間内にないと判断した直後に計数した新パルス数に置き換えて前記第１計数率を継続して算出するとともに、前記第２ステップおよび前記第３ステップを実行する第７ステップと、を有することにある。
【００１２】
第１の発明は、以下の実施態様を有する。
（１）前記第５ステップでは、前記単位時間から未来に向かって時間的に連続する該単位時間１個分だけ進んだときの新パルス数を該単位時間で除して第２比較計数率を算出し、前記第２比較計数率が前記第２計数誤差に前記係数を乗じた値を前記第３計数率に加減算することで定まる第２区間内にあるかを判断し、前記第２比較計数率が前記第２区間内にあると判断すると、前記第６ステップに進み、前記第２比較計数率が前記第２区間内にないと判断すると、その直後に計数した前記単位時間における新パルス数に基づいて再び前記第５ステップを実行する。
（２）前記第６ステップでは、前記各個数から時間的に連続する前記単位時間１個分だけ進んだときの新パルス数を該単位時間で除して該各個数に対応する多数の第３比較計数率を算出し、それら第３比較計数率が前記各個数に対応する前記第３計数誤差に前記係数を乗じた値を該各個数に対応する前記第２平均値に加減算することで定まる多数の第３区間内にあるかを判断し、前記各個数毎に前記第３比較計数率が前記第３区間内にあると判断すると、前記第７ステップに進み、前記各個数毎に前記第３比較計数率が前記第３区間内にないと判断すると、その直後に計数した前記単位時間における新パルス数に基づいて再び前記第５ステップを実行する。
（３）前記放射線測定器では、前記単位時間を０．１〜１２０秒の範囲で変更可能である。
（４）前記放射線測定器では、前記所定個数を変更可能であり、前記所定個数が３個以上である。
（５）前記演算部が、算出した前記第１〜第５計数率のうちの少なくとも前記第２計数率と前記第４および第５計数率とを記憶するメモリ機能を有する。
（６）前記出力部が、前記第２計数率と前記第４および第５計数率とを前記検出部の放射線検出中にリアルタイムで表示する。
（７）前記放射線測定器には、シンチレーションカウンタ、半導体検出器、比例計数管、ＧＭ計数管のうちのいずれかが使用されている。
【００１３】
前記課題を解決するための第２の発明の前提は、被測定物から放出される放射線を時系列で検出し、検出した前記放射線を電気的なパルスに変換する検出手段と、前記検出手段から入力された前記パルスに基づいて前記放射線の計数率を算出する演算手段と、前記演算手段で算出された前記計数率を出力する出力手段とを備えた放射線測定方法である。
【００１４】
前記前提における第２の発明の特徴は、前記演算手段が、
前記検出手段から入力されたパルスをあらかじめ設定した単位時間毎に順次計数し、前記単位時間毎に計数したパルス数を該単位時間で除して第１計数率を算出する第１プロセスと、
前記第１計数率を時間的に連続するあらかじめ設定した所定個数の第１標本として集計して第１積算値を算出し、前記第１積算値を前記所定個数で除して第１平均値を算出しつつ、前記第１平均値の算出に用いた各因子に基づいて第１計数誤差を算出し、前記第１平均値に前記第１計数誤差を加減算して第２計数率を算出する第２プロセスと、
前記所定個数から未来に向かって時間的に連続する前記単位時間１個分だけ進んだときのパルス数を該単位時間で除して第１比較計数率を算出し、前記第１比較計数率が前記第１計数誤差に所定の係数を乗じた値を前記第１平均値に加減算することで定まる第１区間内にあるかを判断する第３プロセスと、
前記第３プロセスで前記第１比較計数率が前記第１区間内にあると判断すると、前記第１プロセスに戻って前記第１計数率を継続して算出するとともに、前記第１標本を前記単位時間１個分だけ過去から未来に向かってスライドさせて前記第２プロセスおよび前記第３プロセスを繰り返し実行する第４プロセスと、
前記第３プロセスで前記第１比較計数率が前記第１区間内にないと判断すると、その直後の前記単位時間における新パルス数を計数し、前記単位時間１個における新パルス数を該単位時間で除して第３計数率を算出しつつ、前記第３計数率の算出に用いた各因子とに基づいて第２計数誤差を算出し、前記第３計数率に前記第２計数誤差を加減算して第４計数率を算出する第５プロセスと、
前記第５プロセスに続き、前記第３計数率が時間的に連続する２個から前記所定個数になるまで多数の該第３計数率を順次算出するとともに、前記第３計数率を２個から前記所定個数−１個の各個数に対応する多数の第２標本として集計して前記各個数に対応する多数の第２積算値を算出し、それら第２積算値を前記各個数で除して該各個数に対応する多数の第２平均値を算出しつつ、前記第２平均値の算出に用いた各因子に基づいて前記各個数に対応する多数の第３計数誤差を算出し、それら第２平均値にそれら第３計数誤差を加減算して前記各個数に対応する多数の第５計数率を算出する第６プロセスと、
前記第６プロセスに続き、前記第３計数率が前記所定個数になった時点で、前記第１プロセスに戻り、パルス数を前記第１比較計数率が前記第１区間内にないと判断した直後に計数した新パルス数に置き換えて前記第１計数率を継続して算出するとともに、前記第２プロセスおよび前記第３プロセスを実行する第７プロセスと、を有することにある。
【００１５】
第２の発明は、以下の実施態様を有する。
（１）前記第５プロセスでは、前記単位時間から未来に向かって時間的に連続する該単位時間１個分だけ進んだときの新パルス数を該単位時間で除して第２比較計数率を算出し、前記第２比較計数率が前記第２計数誤差に前記係数を乗じた値を前記第３計数率に加減算することで定まる第２区間内にあるかを判断し、前記第２比較計数率が前記第２区間内にあると判断すると、前記第６プロセスに進み、前記第２比較計数率が前記第２区間内にないと判断すると、その直後に計数した前記単位時間における新パルス数に基づいて再び前記第５プロセスを実行する。
（２）前記第６プロセスでは、前記各個数から時間的に連続する前記単位時間１個分だけ進んだときの新パルス数を該単位時間で除して該各個数に対応する多数の第３比較計数率を算出し、それら第３比較計数率が前記各個数に対応する前記第３計数誤差に前記係数を乗じた値を該各個数に対応する前記第２平均値に加減算することで定まる多数の第３区間内にあるかを判断し、前記各個数毎に前記第３比較計数率が前記第３区間内にあると判断すると、前記第７プロセスに進み、前記各個数毎に前記第３比較計数率が前記第３区間内にないと判断すると、その直後に計数した前記単位時間における新パルス数に基づいて再び前記第５プロセスを実行する。
【００１６】
【発明の実施の形態】
添付の図面を参照し、本発明に係る放射線測定器および放射線測定方法の詳細を説明すると、以下のとおりである。
【００１７】
図１は、一例として示す放射線測定器１の概略ブロック図である。測定器１は、被測定物１７から放出される放射線を電気的なパルスに変換する検出部２（検出手段）と、検出部２から入力されたパルスに基づいて放射線の計数率を算出する演算部３（演算手段）と、演算部３で算出された計数率を表示する出力部４（出力手段）とから構成されている。測定器１を使用して被測定物１７の放射線を測定するには、図１に示すように、被測定物１７の表面近傍に検出部２を対向させた状態で、測定器１を矢印Ｘ方向へ所定の速度で移動させる。または、被測定物１７の表面近傍に検出部２を対向させた状態で測定器１を固定し、被測定物１７を矢印Ｘ方向へ所定の速度で移動させる。
【００１８】
検出部２は、被測定物１７から放出される放射線を時系列で検出する。検出部２は、検出器５と、検出器５に接続された高圧電源６と、検出器５に接続されたプリ増幅器７と、プリ増幅器７に接続された比例増幅器８と、比例増幅器８に接続されたＡ／Ｄコンバータ９とから形成されている。検出器５には、シンチレーションヘッドや半導体検出器ヘッド、比例計数管、ＧＭ計数管のうちのいずれかを使用することができる。検出部２から出力されたパルスは、プリ増幅器７と比例増幅器８とで増幅された後、Ａ／Ｄコンバータ９でデジタル信号に変換される。検出部２は、デジタル信号を演算部３に出力する。
【００１９】
シンチレーションヘッドは、シンチレータと光電子倍増管とから形成されている。シンチレーションヘッドでは、放射線のエネルギーがシンチレータ内で光電効果、コンプトン散乱、電子対生成の各反応によって電子に移り、その電子が吸収されてシンチレータが励起され、シンチレータが光を放出する。放出された光が光電子倍増管に達すると、光電面から光電子が放出されて管内で倍増され、電気的なパルスとして出力される。このパルスの波高値（発光量）がシンチレータ内に吸収された放射線のエネルギースペクトルに相当する。シンチレータには、無機シンチレータや有機シンチレータが使用される。
【００２０】
半導体検出器ヘッドでは、半導体の空乏層に放射線が入射すると、その飛跡に沿って価電子バンドから伝導バンドに電子が励起され、価電子バンドに電子・正孔対が生ずる。ここで、半導体に逆方向電圧を印加すると、半導体内に電場が生じ、電子と正孔とがドリフト速度でｎ側電極とｐ側電極とに集められ、半導体に放射線のエネルギー損失に比例した電流が流れ、この電流をパルスとして計測する。半導体検出器ヘッドには、Ｇｅ（Ｌｉ）検出器やＳｉ（Ｌｉ）検出器、ＣｄＴｅ検出器、ＣｄＺｎＴｅ検出器等を使用することができる。また、半導体検出器ヘッドには、印加電圧によって空乏層の厚みが変化する障壁型や印加電圧に依存しない均一電場の均一型を使用することができる。
【００２１】
比例計数管は、不活性ガスを封入した管内に架設された芯線に高電圧を印加し、イオンと電子とがガスに衝突して増幅作用が起こる比例領域で動作させる計数管であり、増幅して生じる二次電子数が一次電子数に比例するように、印加する電圧の値が設定されている。比例計数管では、入射した放射線がガスに光電吸収され、放射線のエネルギーに比例した数の一次電子が生じ、一次電子が電場によって芯線に移動する。一次電子が芯線近傍の電場が強い領域に達すると、加速された電子がガスを電離し、増幅作用によって二次電子が増加し、電子が芯線に達して電気的なパルスが発生する。このパルスの波高値（発光量）が比例計数管内に入射した放射線のエネルギースペクトルに相当する。比例計数管には、反跳陽子比例計数管や３Ｈｅ比例計数管を使用することができる。
【００２２】
ＧＭ計数管は、一次イオン対の数に無関係に一定の出力電流が得られるガイガー領域で動作させる計数管である。ＧＭ計数管では、不活性ガスを封入した管内に同軸の互いに絶縁された陰極と陽極とを有する電極を設置し、電極間に一定の電圧を印加して入射した放射線によって生じた一次イオン対をガス増幅し、ガス増幅されたイオンを電離電流として取り出し、電離電流を電圧パルスとして計測する。ＧＭ計数管には、外部消滅計数管や内部消滅計数管を使用することができる。
【００２３】
演算部３は、Ａ／Ｄコンバータ９にインターフェイス１０を介して接続されたコントローラ１１と、コントローラ１１に接続されたキャッシュメモリ１２（主記憶装置）とから形成されたマイクロコンピュータである。コントローラ１１は、マイクロプロセッサと入出力処理装置とから形成されている（図示せず）。
【００２４】
マイクロプロセッサは、メモリ１２に記憶されたオペレーティングシステムによる制御に基づいて、メモリ１２からアプリケーションプログラムを起動し、プログラムに従って後記する第１〜第７ステップ（第１〜第７プロセス）を実行する。マイクロプロセッサは、実行する各ステップ（各プロセス）に対応するプログラムをメモリ１２から随時取り込んで解読し、必要なコマンドを検出部２や入出力処理装置を介して出力部４に出力する。メモリ１２は、マイクロプロセッサから出力された放射線の測定値（算出データ）を内部アドレスファイルに記憶する。なお、演算部３には、マイクロプロセッサの他に、ゲートアレイやフィールドプログラマブルゲートアレイ、専用ハードウェアのうちのいずれかを使用することもできる。
【００２５】
出力部４は、放射線の測定値（算出データ）をリアルタイムで表示するディスプレイ１３（表示装置）と、放射線の測定値を印字情報として出力するプリンタ１４（出力装置）と、測定条件や測定値の変更を行うキーボード１５（入力装置）とから形成されている。ディスプレイ１３やプリンタ１４、キーボード１５は、コントローラ１１にインターフェイス１６を介して接続されている。
【００２６】
図２は、演算部３が計数したパルスの時間的変化の一例を示す第１イメージ図であり、図３は、演算部３における処理の一例を示すフローチャート図である。図２では、縦に延びる棒が計数されたパルスを表し、横軸が経過時間を表している。
【００２７】
図２に矢印で区分した区間のうち、Ａ区間は、経過時間に対するパルスの間隔が大きく、被測定物１７から放出された放射線の量が少ないことを示し、被測定物１７の低い放射線場（バックグラウンド）を測定していることを示す。Ｂ区間は、経過時間に対するパルスの間隔が小さく、被測定物１７から放出された放射線の量が多いことを示し、被測定物１７の高い放射線場を測定していることを示す。Ｃ区間は、経過時間に対するパルスの間隔がＡ，Ｂ区間のほぼ中間であり、被測定物１７から放出された放射線の量がＡ，Ｂ区間のほぼ中間にあることを示している。それら区間では、検出部２が被測定物１７の放射線を電気的なパルスに変換し、パルスをデジタル信号として演算部３に時間的に連続して出力（時系列で出力）している。以下、検出部２から入力されたパルスに基づいて演算部３が行う放射線の計数率の算出過程を説明する。
【００２８】
最初に、Ａ区間における計数率の算出を説明する。演算部３は、検出部２から入力されたパルスをあらかじめ設定した単位時間Ｔ０毎に順次計数し、単位時間Ｔ０毎に計数したパルス数Ｎを単位時間Ｔ０で除して時間的に連続する多数の第１計数率Ｃ１＝Ｎ／Ｔ０を算出する（第１ステップ、第１プロセス）（Ｓ−１）。
【００２９】
単位時間Ｔ０は、メモリ１２にあらかじめ記憶されている。測定器１では、キーボード１５を介してメモリ１２に記憶された単位時間Ｔ０を変更することができる。単位時間Ｔ０は、０．１〜１２０秒の範囲で変更可能である。
【００３０】
演算部３は、第１計数率Ｃ１を時間的に連続する所定個数ｍの第１標本（Ｎ１／Ｔ０〜Ｎｍ／Ｔ０）として集計して第１積算値Ｗ１＝（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）を算出し（Ｓ−２）、第１積算値Ｗ１を所定個数ｍで除して第１平均値Ｄ１＝（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）／ｍを算出する（Ｓ−３）。演算部３は、第１平均値Ｄ１や第１平均値Ｄ１の算出に用いた各因子（単位時間Ｔ０、パルス数Ｎ、所定個数ｍ）に基づいて第１計数誤差δ１を算出し（Ｓ−４）、第１平均値Ｄ１に第１計数誤差δ１を加減算して第２計数率Ｃ２＝｛（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）／ｍ｝±δ１を算出する（第２ステップ、第２プロセス）（Ｓ−５）。演算部３は、第１計数誤差δ１を以下に示す（ａ）〜（ｅ）のいずれかの方式で算出する。
（ａ）所定個数ｍまでのパルス数Ｎの積算値Ｈ＝Ｎ１＋Ｎ２＋Ｎ３＋・・・＋Ｎｍを算出し、積算値Ｈを所定個数ｍで除して平均パルス数Ｎａを算出するとともに、この平均パルス数Ｎａをさらに所定個数ｍで除した値Ｉ＝Ｎａ／ｍを算出する。次に、この値Ｉの平方根√Ｉを単位時間Ｔ０で除して第１計数誤差δ１＝√Ｉ／Ｔ０を算出する。
（ｂ）所定個数ｍまでのパルス数Ｎの積算値Ｈ＝Ｎ１＋Ｎ２＋Ｎ３＋・・・＋Ｎｍを算出し、積算値Ｈを所定個数ｍで除して平均パルス数Ｎａを算出するとともに、平均パルス数Ｎａの平方根√Ｎａを単位時間Ｔ０で除して第１計数誤差δ１＝√Ｎａ／Ｔ０を算出する。
（ｃ）第１平均値Ｄ１を所定個数ｍで除した値Ｊ＝Ｄ１／ｍを算出し、この値Ｊの平方根√Ｊを第１計数誤差δ１＝√Ｊとする。
（ｄ）第１平均値Ｄ１の平方根√Ｄ１を第１計数誤差δ１＝√Ｄ１とする。
（ｅ）所定個数ｍまでのパルス数Ｎの積算値Ｈ＝Ｎ１＋Ｎ２＋Ｎ３＋・・・＋Ｎｍと、所定個数ｍまでの単位時間Ｔ０の積算値Ｋ＝Ｔ０１＋Ｔ０２＋Ｔ０３＋・・・＋Ｔ０ｍとを算出し、積算値Ｈの平方根√Ｈを積算値Ｋで除して第１計数誤差δ１＝√Ｈ／Ｋを算出する。
【００３１】
演算部３は、第２計数率Ｃ２をメモリ１２に記憶するとともに（Ｓ−６）、第２計数率Ｃ２を入出力処理装置を介して出力部４に出力する。出力部４では、ディスプレイ１３を介して第２計数率Ｃ２をリアルタイムで表示する（Ｓ−７）。所定個数ｍは、メモリ１２にあらかじめ記憶されている。測定器１では、キーボード１５を介してメモリ１２に記憶された所定個数ｍを変更することができる。所定個数ｍは、３個以上であれば特に限定はない。所定個数ｍは、５個以上であることが好ましい。
【００３２】
演算部３は、所定個数ｍから未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数ＮＡを単位時間Ｔ０で除して第１比較計数率ＣＡ＝ＮＡ／Ｔ０を算出し（Ｓ−８）、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかを判断する（第３ステップ、第３プロセス）（Ｓ−９）。第１区間は、第１計数誤差δ１に所定の係数Ｓを乗じた値Ｓδ１を第１平均値Ｄ１に加減算することで確定される。第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかは、Ｄ１−Ｓδ１＜ＣＡ＜Ｄ１＋Ｓδ１、すなわち、｛（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１で判断する。なお、第１比較計数率ＣＡは、その算出過程が第１計数率Ｃ１と同一である。しかし、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかを判断するための計数率であることから、第１計数率Ｃ１とは別に第１比較計数率ＣＡという語を用いた。
【００３３】
被測定物１７に対する放射線の測定中に、被測定物１７から放出される放射線に変動がないとすると、たとえば、係数Ｓが１．６４の場合、第１比較計数率ＣＡがＤ１±１．６４δ１の間にある確率が９０％であることを表し、係数Ｓが１．９６の場合、第１比較計数率ＣＡがＤ１±１．９６δ１の間にある確率が９５％であることを表している。また、係数Ｓが２．５６の場合、第１比較計数率ＣＡがＤ１±２，５６δ１の間にある確率が９９％であることを表している。係数Ｓは、メモリ１２にあらかじめ記憶されている。測定器１では、キーボード１５を介してメモリ１２に記憶された係数Ｓを変更することができる。
【００３４】
演算部３は、第３ステップ（第３プロセス）で第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあると判断すると、第１ステップ（第１プロセス）に戻り、統計法の移動平均に準じて第１標本を単位時間Ｔ０１個分だけ過去から未来に向かってスライドさせ、第２ステップ（第２プロセス）と第３ステップ（第３プロセス）とを実行する（第４ステップ、第４プロセス）。
【００３５】
第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあると判断して第１ステップ（第１プロセス）に戻ると、演算部３は、単位時間Ｔ０毎に計数したパルス数Ｎを単位時間Ｔ０で除して第１計数率Ｃ１＝Ｎ／Ｔ０を算出する（第１ステップ、第１プロセス）（Ｓ−１）。演算部３は、第１計数率Ｃ１を所定個数ｍの第１標本（Ｎ２／Ｔ０〜Ｎｍ＋１／Ｔ０）として集計して第１積算値Ｗ１＝（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）を算出し（Ｓ−２）、第１積算値Ｗ１を所定個数ｍで除して第１平均値Ｄ１＝（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）／ｍを算出する（Ｓ−３）。演算部３は、第１計数誤差δ１を算出し（Ｓ−４）、第１平均値Ｄ１に第１計数誤差δ１を加減算して第２計数率Ｃ２＝｛（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝±δ１を算出する（第２ステップ、第２プロセス）（Ｓ−５）。
【００３６】
演算部３は、所定個数ｍから未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数ＮＡを単位時間Ｔ０で除して第１比較計数率ＣＡ＝ＮＡ／Ｔ０を算出し（Ｓ−８）、第１比較計数率ＣＡが第１平均値Ｄ１に値Ｓδ１（第１計数誤差δ１×係数Ｓ）を加減算することで定まる第１区間内にあるかを判断する（第３ステップ、第３プロセス）（Ｓ−９）。第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかは、Ｄ１−Ｓδ１＜ＣＡ＜Ｄ１＋Ｓδ１、すなわち、｛（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１で判断する。
【００３７】
演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあると判断すると、再び第１ステップ（第１プロセス）に戻って第１計数率Ｃ１を継続して算出するとともに、統計法の移動平均に準じて第１標本を単位時間Ｔ０１個分だけ過去から未来に向かってスライドさせ、第２ステップ（第２プロセス）と第３ステップ（第３プロセス）とを実行する（第４ステップ、第４プロセス）。
【００３８】
以後、演算部３が算出した第２計数率Ｃ２は、
Ｃ２＝｛（Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋３／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋４／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋Ｎ８／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋５／Ｔ０）／ｍ｝±δ１で表される。それら計数率Ｃ２を図２の（１）〜（６）に示す。
【００３９】
また、それら第２計数率Ｃ２の算出後における第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかは、Ｄ１−Ｓδ１＜ＣＡ＜Ｄ１＋Ｓδ１、すなわち、
｛（Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１、｛（Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋３／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋３／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１、｛（Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋４／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋４／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１、｛（Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋Ｎ８／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋５／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋Ｎ８／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋５／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１で判断する。第１比較計数率ＣＡが第１区間内にある場合、演算部３は、第１〜第３ステップ（第１〜第３プロセス）を繰り返し実行する。
【００４０】
なお、第１計数誤差δ１の算出に用いるパルス数Ｎの積算値Ｈと単位時間Ｔ０の積算値Ｋとは、積算値Ｈ：（Ｎ２＋Ｎ３＋Ｎ４＋・・・＋Ｎｍ＋１）、（Ｎ３＋Ｎ４＋Ｎ５＋・・・＋Ｎｍ＋２）、（Ｎ４＋Ｎ５＋Ｎ６＋・・・＋Ｎｍ＋３）、（Ｎ５＋Ｎ６＋Ｎ７＋・・・＋Ｎｍ＋４）、（Ｎ６＋Ｎ７＋Ｎ８＋・・・＋Ｎｍ＋５）で算出され、積算値Ｋ：（Ｔ０２＋Ｔ０３＋Ｔ０４＋・・・＋Ｔ０ｍ＋１）、（Ｔ０３＋Ｔ０４＋Ｔ０５＋・・・＋Ｔ０ｍ＋２）、（Ｔ０４＋Ｔ０５＋Ｔ０６＋・・・＋Ｔ０ｍ＋３）、（Ｔ０５＋Ｔ０６＋Ｔ０７＋・・・＋Ｔ０ｍ＋４）、（Ｔ０６＋Ｔ０７＋Ｔ０８＋・・・＋Ｔ０ｍ＋５）で算出される。
【００４１】
次に、Ｂ区間における計数率の算出を説明する。Ｂ区間では、被測定物１７から放出される放射線の量がＡ区間よりも多く、放射線が急激に増加した状態にあり、第１比較計数率ＣＡが第１区間の範囲外、すなわち、第１比較計数率ＣＡ＝ＮＡ／Ｔ０がＤ１＋Ｓδ１よりも大きくなる。したがって、測定器１がＡ区間からＢ区間に移動した直後に、演算部３は、第３ステップ（第３プロセス）で第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断する。
【００４２】
演算部３は、第１比較数率ＣＡが第１区間内にないと判断すると、第１および第２ステップ（第１および第２プロセス）で算出したＡ区間の第１計数率Ｃ１や第２計数率Ｃ２、第１積算値Ｗ１、第１平均値Ｄ１、第１計数誤差δ１、第１比較数率ＣＡの各算出データを無視し、計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−１０）。
【００４３】
なお、演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断すると、第１および第２ステップ（第１および第２プロセス）で算出したＡ区間の第１計数率Ｃ１と第２計数率Ｃ２との各第１算出データを消去することもできる。演算部３は、それら計数率Ｃ１，Ｃ２の他に、Ａ区間で算出した第１積算値Ｗ１や第１平均値Ｄ１、第１計数誤差δ１、第１比較計数率ＣＡの全ての算出データを消去することもできる。演算部３は、それら算出データを消去した後、計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−１０）。ここで、消去とは、メモリ１２に記憶されたそれら算出データを消去することではなく、マイクロプロセッサに一時的に読み込まれたそれら算出データをマイクロプロセッサから消去することをいう。
【００４４】
演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断した直後（第１算出データを消去する場合は、第１算出データを消去した直後）の単位時間Ｔ０におけるパルス数Ｎ’（パルス数Ｎに対する新パルス数Ｎ’）を計数し、単位時間Ｔ０１個におけるパルス数Ｎ’を単位時間Ｔ０で除して第３計数率Ｃ３＝Ｎ’／Ｔ０を算出する（Ｓ−１１）。演算部３は、第３計数率Ｃ３の算出に用いた各因子（パルス数Ｎ’、単位時間Ｔ０）に基づいて第２計数誤差δ２を算出し（Ｓ−１２）、第３計数率Ｃ３に第２計数誤差δ２を加減算して第４計数率Ｃ４＝（Ｎ’／Ｔ０）±δ２を算出する（第５ステップ、第５プロセス）（Ｓ−１３）。第４計数率Ｃ４を図２の（７）に示す。なお、演算部３は、第２計数誤差δ２を以下に示す（ｆ）の方式で算出する。（ｆ）パルス数Ｎ’の平方根√Ｎ’を単位時間Ｔ０で除して第２計数誤差δ２＝√Ｎ’／Ｔ０を算出する。
【００４５】
演算部３は、第４計数率Ｃ４をメモリ１２に記憶するとともに（Ｓ−１４）、第４計数率Ｃ４を入出力処理装置を介して出力部４に出力する。出力部４では、ディスプレイ１３を介して第４計数率Ｃ４をリアルタイムで表示する（Ｓ−１５）。
【００４６】
演算部３は、第３計数率Ｃ３が時間的に連続する２個から所定個数ｍになるまで多数の第３計数率Ｃ３を順次算出するとともに、第３計数率Ｃ３を２個から所定個数ｍ−１の各個数（２個，３個・・・ｍ−１個）に対応する多数の第２標本として集計して各個数に対応する多数の第２積算値Ｗ２を算出する（Ｓ−１６）。演算部３は、それら第２積算値Ｗ２を各個数で除して各個数に対応する多数の第２平均値Ｄ２を算出しつつ（Ｓ−１７）、第２平均値Ｄ２や第２平均値Ｄ２の算出に用いた各因子（単位時間Ｔ０、パルス数Ｎ’、所定個数ｍ）に基づいて各個数に対応する多数の第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−１８）、それら第２平均値Ｄ２にそれら第３計数誤差δ３を加減算して各個数に対応する多数の第５計数率Ｃ５を算出する（第６ステップ、第６プロセス）（Ｓ−１９）。
【００４７】
演算部３は、第５計数率Ｃ５をメモリ１２に記憶するとともに（Ｓ−２０）、第５計数率Ｃ５を入出力処理装置を介して出力部４に出力する。出力部４では、ディスプレイ１３を介して第５計数率Ｃ５をリアルタイムで表示する（Ｓ−２１）。以下、Ｂ区間における演算部３での第５計数率Ｃ５の算出の詳細を説明する。
【００４８】
第３計数率Ｃ３を２個の第２標本（Ｎ’１／Ｔ０、Ｎ’２／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０）を算出し、第２積算値Ｗ２を２個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０）／２を算出するとともに、第３計数誤差δ３を算出し、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０）／２｝±δ３を算出する。
【００４９】
第３計数率Ｃ３を３個の第２標本（Ｎ’１／Ｔ０〜Ｎ’３／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０）を算出し、第２積算値Ｗ２を３個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０）／３を算出するとともに、第３計数誤差δ３を算出し、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０）／３｝±δ３を算出する。
【００５０】
第３計数率Ｃ３をｍ−１個の第２標本（Ｎ’１／Ｔ０〜Ｎ’ｍ−１／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ−１／Ｔ０）を算出し、第２積算値Ｗ２をｍ−１個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１を算出するとともに、第３計数誤差δ３を算出し、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１｝±δ３を算出する。それら計数率Ｃ２を図２の（８）〜（１０）に示す。なお、演算部３は、第３計数誤差δ３を以下に示す（ｇ）〜（ｋ）のいずれかの方式で算出する。
（ｇ）２個から所定個数ｍ−１までの各個数（２個，３個・・・ｍ−１個）に対するパルス数Ｎ’の積算値Ｈ’を算出し、積算値Ｈ’を各個数で除して各個数に対応する平均パルス数Ｎａ’を算出するとともに、平均パルス数Ｎａ’をさらに各個数で除した値Ｉ’を算出する。次に、値Ｉ’の平方根√Ｉ’を単位時間Ｔ０で除して各個数に対応する第３計数誤差δ３＝√Ｉ’／Ｔ０を算出する。積算値Ｈ’は、（Ｎ’１＋Ｎ’２）、（Ｎ’１＋Ｎ’２＋Ｎ’３）、（Ｎ’１＋Ｎ’２＋Ｎ’３＋・・・＋Ｎ’ｍ−１）で算出され、平均パルス数Ｎａ’は、｛（Ｎ’１＋Ｎ’２）／２｝、｛（Ｎ’１＋Ｎ’２＋Ｎ’３）／３｝、｛（Ｎ’１＋Ｎ’２＋Ｎ’３＋・・・＋Ｎ’ｍ−１）／ｍ−１｝で算出される。値Ｉ’は、［｛（Ｎ’１＋Ｎ’２）／２｝／２］、［｛（Ｎ’１＋Ｎ’２＋Ｎ’３）／３｝／３］、［｛（Ｎ’１＋Ｎ’２＋Ｎ’３＋・・・＋Ｎ’ｍ−１）／ｍ−１｝／ｍ−１］で算出される。
（ｈ）２個から所定個数ｍ−１までの各個数（２個，３個・・・ｍ−１個）に対するパルス数Ｎ’の積算値Ｈ’を算出し、積算値Ｈ’を各個数で除して各個数に対応する平均パルス数Ｎａ’を算出するとともに、平均パルス数Ｎａ’の平方根√Ｎａ’を単位時間Ｔ０で除して各個数に対応する第３計数誤差δ３＝√Ｎａ’／Ｔ０を算出する。
（ｉ）第２平均値Ｄ２を各個数（２個，３個・・・ｍ−１個）で除して各個数に対応する値Ｊ’を算出し、値Ｊ’の平方根√Ｊ’を各個数に対応する第３計数誤差δ３＝√Ｊ’とする。値Ｊ’は、［｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０）／２｝／２］、［｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０）／３｝／３］、［｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１｝／ｍ−１］で算出される。
（ｊ）第２平均値Ｄ２の平方根√Ｄ２を各個数に対応する第３計数誤差δ３＝√Ｄ２とする。
（ｋ）２個から所定個数ｍ−１までの各個数（２個，３個・・・ｍ−１個）に対するパルス数Ｎ’の積算値Ｈ’と、２個から所定個数ｍ−１までの各個数に対する単位時間Ｔ０の積算値Ｋ’とを算出し、積算値Ｈ’の平方根√Ｈ’を積算値Ｋ’で除して各個数に対応する第３計数誤差δ３＝√Ｈ’／Ｋ’を算出する。積算値Ｋ’は、（Ｔ０１＋Ｔ０２）、（Ｔ０１＋Ｔ０２＋Ｔ０３）、（Ｔ０１＋Ｔ０２＋Ｔ０３＋・・・＋Ｔ０ｍ−１）で算出される。
【００５１】
演算部３は、第３計数率Ｃ３の積算個数が時間的に連続する所定個数ｍになったかを判断し（Ｓ−２２）、積算個数が所定個数ｍ未満であると、第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになるまで第５計数率Ｃ５を算出する。
【００５２】
演算部３は、第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになった時点で、第１ステップ（第１プロセス）に戻り、パルス数Ｎを第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断した直後（第１測定データを消去する場合は、第１測定データを消去した直後）に計数したパルス数Ｎ’（新パルス数）に置き換えて第１計数率Ｃ１＝Ｎ’／Ｔ０を継続して算出するとともに（第１ステップ、第１プロセス）（Ｓ−１）、第２ステップおよび第３ステップを実行する（第７ステップ、第７プロセス）。
【００５３】
第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになると、演算部３は、パルス数Ｎ’に置き換えて算出した第１計数率Ｃ１を所定個数ｍの第１標本（Ｎ’１／Ｔ０〜Ｎ’ｍ／Ｔ０）として集計して第１積算値Ｗ１＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ／Ｔ０）を算出し（Ｓ−２）、第１積算値Ｗ１を所定個数ｍで除して第１平均値Ｄ１＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ／Ｔ０）／ｍを算出する（Ｓ−３）。演算部３は、第１平均値Ｄ１やそれの算出に用いた各因子（単位時間Ｔ０、パルス数Ｎ’、所定個数ｍ）に基づいて前記（ａ）〜（ｅ）のいずれかの方式で第１計数誤差δ１を算出し（Ｓ−４）、第１平均値Ｄ１に第１計数誤差δ１を加減算して第２計数率Ｃ２＝｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ／Ｔ０）／ｍ｝±δ１を算出する（第２ステップ、第２プロセス）（Ｓ−５）。第２計数率Ｃ２は、メモリ１２に記憶されるとともに（Ｓ−６）、ディスプレイ１３に表示される（Ｓ−７）。
【００５４】
演算部３は、所定個数ｍから未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ’Ａを単位時間Ｔ０で除して第１比較計数率ＣＡ＝Ｎ’Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−８）、第１比較計数率ＣＡが第１平均値Ｄ１に値Ｓδ１（第１計数誤差δ１×係数Ｓ）を加減算することで定まる第１区間内にあるかを判断する（第３ステップ、第３プロセス）（Ｓ−９）。第１比較数率ＣＡが第１区間内にあるかは、Ｄ１−Ｓδ１＜ＣＡ＜Ｄ１＋Ｓδ１、すなわち、｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（Ｎ’Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１で判断する。演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にある場合、第１〜第３ステップ（第１〜第３プロセス）を繰り返し実行し、第２計数率Ｃ２を算出する。演算部３が算出した第２計数率Ｃ２は、
Ｃ２＝｛（Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋Ｎ’４／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ’３／Ｔ０＋Ｎ’４／Ｔ０＋Ｎ’５／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ’４／Ｔ０＋Ｎ’５／Ｔ０＋Ｎ’６／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ＋３／Ｔ０）／ｍ｝±δ１で表される。それら第２計数率Ｃ２を図２の（１１）〜（１４）に示す。演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断した場合、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行する。
【００５５】
次に、Ｃ区間における計数率の算出を説明する。Ｃ区間では、被測定物１７から放出される放射線の量がＢ区間よりも少なく、放射線が減少した状態にあり、第１比較計数率ＣＡが第１区間の範囲外、すなわち、第１比較計数率ＣＡ＝Ｎ’Ａ／Ｔ０がＤ１−Ｓδ１よりも小さくなる。したがって、測定器１がＢ区間からＣ区間に移動した直後に、演算部３は、第３ステップ（第３プロセス）で第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断する。
【００５６】
演算部３は、第１比較数率ＣＡが第１区間内にないと判断すると、第１および第２ステップ（第１および第２プロセス）で算出したＢ区間の第１〜第５計数率Ｃ１〜Ｃ５、第１および第２積算値Ｗ１，Ｗ２、第１および第２平均値Ｄ１，Ｄ２、第１〜第３計数誤差δ１〜δ３、第１比較計数率ＣＡの各算出データを無視し、計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−１０）。
【００５７】
なお、演算部３は、第１比較数率ＣＡが第１区間内にないと判断すると、第１および第２ステップ（第１および第２プロセス）で算出したＢ区間の第１〜第５計数率Ｃ１〜Ｃ５の各第１算出データをマイクロプロセッサから消去し、計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）こともできる（Ｓ−１０）。演算部３は、それら計数率Ｃ１〜Ｃ５の他に、Ｂ区間で算出した第１および第２平均値Ｄ１，Ｄ２、第１〜第３計数誤差δ１〜δ３、第１比較計数率ＣＡの全てのデータをマイクロプロセッサから消去することもできる。
【００５８】
演算部３は、第１比較数率ＣＡが第１区間内にないと判断した直後（第１算出データを消去する場合は、第１算出データを消去した直後）の単位時間Ｔ０におけるパルス数Ｎ”（パルス数Ｎ’に対する新パルス数Ｎ”）を計数し、単位時間Ｔ０１個におけるパルス数Ｎ”を単位時間Ｔ０で除して第３計数率Ｃ３＝Ｎ”／Ｔ０を算出する（Ｓ−１１）。演算部３は、第３計数率Ｃ３の算出に用いた各因子（パルス数Ｎ”、単位時間Ｔ０）に基づいて前記（ｆ）の方式で第２計数誤差δ２＝√Ｎ”／Ｔ０を算出し（Ｓ−１２）、第３計数率Ｃ３に第２計数誤差δ２を加減算して第４計数率Ｃ４＝（Ｎ”／Ｔ０）±δ２を算出する（第５ステップ、第５プロセス）（Ｓ−１３）。第４計数率Ｃ４は、メモリ１２に記憶される（Ｓ−１４）。出力部４では、ディスプレイ１３を介して第４計数率Ｃ４を表示する（Ｓ−１５）。第４計数率Ｃ４を図２の（１５）に示す。
【００５９】
演算部３は、第３計数率Ｃ３が時間的に連続する２個から所定個数ｍになるまで多数の第３計数率Ｃ３を順次算出するとともに、第３計数率Ｃ３を２個から所定個数ｍ−１の各個数（２個，３個・・・ｍ−１個）に対応する多数の第２標本として集計して各個数に対応する多数の第２積算値Ｗ２を算出し（Ｓ−１６）、それら第２積算値Ｗ２を各個数で除して多数の第２平均値Ｄ２を算出する（Ｓ−１７）。演算部３は、第２平均値Ｄ２やそれの算出に用いた各因子（単位時間Ｔ０、パルス数Ｎ”、所定個数ｍ）に基づいて前記（ｇ）〜（ｋ）のいずれかの方式で各個数に対応する多数の第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−１８）、それら第２平均値Ｄ２にそれら第３計数誤差δ３を加減算して各個数に対応する多数の第５計数率Ｃ５を算出する（第６ステップ、第６プロセス）（Ｓ−１９）。
【００６０】
演算部３は、第５計数率Ｃ５をメモリ１２に記憶するとともに（Ｓ−２０）、第５計数率Ｃ５を入出力処理装置を介して出力部４に出力する。出力部４では、ディスプレイ１３を介して第５計数率Ｃ５を表示する（Ｓ−２１）。以下、Ｃ区間における演算部３での第５計数率Ｃ５の算出の詳細を説明する。
【００６１】
第３計数率Ｃ３を２個の第２標本（Ｎ”１／Ｔ０、Ｎ”２／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０）を算出し、第２積算値Ｗ２を２個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０）／２を算出するとともに、第３計数誤差δ３を算出し、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０）／２｝±δ３を算出する。
【００６２】
第３計数率Ｃ３を３個の第２標本（Ｎ”１／Ｔ０〜Ｎ”３／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０）を算出し、第２積算値Ｗ２を３個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０）／３を算出するとともに、第３計数誤差δ３を算出し、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０）／３｝±δ３を算出する。
【００６３】
第３計数率Ｃ３をｍ−１個の第２標本（Ｎ”１／Ｔ０〜Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）を算出し、第２積算値Ｗ２をｍ−１個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１を算出するとともに、第３計数誤差δ３を算出し、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１｝±δ３を算出する。それら計数率Ｃ５を図２の（１６）〜（１８）に示す。
【００６４】
演算部３は、第３計数率Ｃ３の積算個数が時間的に連続する所定個数ｍになったかを判断し（Ｓ−２２）、積算個数が所定個数ｍ未満であると、Ｂ区間と同様に、第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになるまで第５計数率Ｃ５を算出する。
【００６５】
演算部３は、第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになった時点で、第１ステップ（第１プロセス）に戻り、パルス数Ｎ’を第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断した直後（第１測定データを消去する場合は、第１測定データを消去した直後）に計数したパルス数Ｎ”（新パルス数）に置き換えて第１計数率Ｃ１＝Ｎ”／Ｔ０を継続して算出するとともに（第１ステップ、第１プロセス）（Ｓ−１）、第２および第３ステップ（第２および第３プロセス）を実行する（第７ステップ、第７プロセス）。
【００６６】
演算部３は、第１計数率Ｃ１を所定個数ｍ個の第１標本（Ｎ”１／Ｔ０〜Ｎ”ｍ／Ｔ０）として集計して第１積算値Ｗ１＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）を算出し（Ｓ−２）、第１積算値Ｗ１を所定個数ｍで除して第１平均値Ｄ１＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）／ｍを算出する（Ｓ−３）。演算部３は、第１平均値Ｄ１やそれの算出に用いた各因子（単位時間Ｔ０、パルス数Ｎ”、所定個数ｍ）に基づいて前記（ａ）〜（ｅ）のいずれかの方式で第１計数誤差δ１を算出し（Ｓ−４）、第１平均値Ｄ１に第１計数誤差δ１を加減算して第２計数率Ｃ２＝｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）／ｍ｝±δ１を算出する（第２ステップ、第２プロセス）（Ｓ−５）。
【００６７】
演算部３は、所定個数ｍから未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ”Ａを単位時間Ｔ０で除して第１比較計数率ＣＡ＝Ｎ”Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−８）、第１比較計数率ＣＡが第１平均値Ｄ１に値Ｓδ１（第１計数誤差δ１×係数Ｓ）を加減算することで定まる第１区間内にあるかを判断する（第３ステップ、第３プロセス）（Ｓ−９）。第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかは、Ｄ１−Ｓδ１＜ＣＡ＜Ｄ１＋Ｓδ１、すなわち、｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（Ｎ”Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１で判断する。演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にある場合、第１〜第３ステップ（第１〜第３プロセス）を繰り返し実行し、第２計数率Ｃ２を算出する。演算部３が算出した第２計数率Ｃ２は、
Ｃ２＝｛（Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋Ｎ”４／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ”３／Ｔ０＋Ｎ”４／Ｔ０＋Ｎ”５／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝±δ１で表される。それら計数率Ｃ２を図２の（１９）〜（２１）に示す。演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断した場合、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行する。
【００６８】
図４は、この測定器１で測定したときの計数率の第１特性図である。図４における計数率の変化は、図２のＡ区間〜Ｃ区間に対応する。図４では、縦軸が測定した放射線の計数率Ｃ（ｃｐｓ）を表し、横軸が時間ｔ（秒）を表している。
【００６９】
この測定器１は、図４に示すように、Ａ区間における計数率が第２計数率Ｃ２で示されるので、確率分布にしたがって放射線の計数率がその平均値の付近に分布したとしても、常に放射線の平均値を含むその近似の値が表示されることになり、計数率を第１計数率Ｃ１で示す場合と比較し、計数率の変動が小さく、計数率のばらつき（図３における縦軸方向への振れ）が少ない。測定器１は、常時安定した計数率を表示することができる。
【００７０】
また、ＢおよびＣ区間における計数率が第４計数率Ｃ４や多数の第５計数率Ｃ５で示され、第４計数率Ｃ４における計数率の変動が大きいとしても、第５計数率Ｃ５を順次算出するにつれて計数率の変動（ばらつき）が次第に小さくなり、計数率が安定する。この測定器１は、被測定物１７の放射線を安定した計数率として迅速に算出かつ表示することができ、被測定物１７から放出される放射線を短時間で正確に測定することができる。
【００７１】
図５は、測定器１が測定したパルスの時間的変化の他の一例を示す第２イメージ図である。図６，７は、演算部３における処理の他の一例を示すフローチャート図と、図６から続くフローチャート図とである。図５では、縦に延びる棒が計数されたパルスを表し、横軸が経過時間を表している。
【００７２】
図５に矢印で区分した区間のうち、Ｄ区間は、パルスの経過時間に対する間隔が大きく、被測定物１７から放出された放射線の量が少ないことを示し、低い放射線場（バックグラウンド）を測定していることを示す。Ｅ区間は、パルスの経過時間に対する間隔が小さく、被測定物１７から放出された放射線の量が多いことを示し、高い放射線場を測定していることを示す。Ｆ区間は、パルスの経過時間に対する間隔がＤ，Ｅ区間のほぼ中間であり、被測定物１７から放出された放射線の量がＤ，Ｅ区間のほぼ中間にあることを示している。それら区間では、検出部２が被測定物１７の放射線を電気的なパルスに変換し、パルスを演算部３に時間的に連続して出力（時系列で出力）している。以下、検出部２から入力されたパルスに基づいて演算部３が行う放射線の計数率の算出過程を説明する。
【００７３】
最初に、Ｄ区間における計数率の算出を説明する。演算部３は、検出部２から入力されたパルスを単位時間Ｔ０毎に順次計数し、計数したパルス数Ｎを単位時間Ｔ０で除して時間的に連続する多数の第１計数率Ｃ１＝Ｎ／Ｔ０を算出する（第１ステップ、第１プロセス）（Ｓ−３０）。単位時間Ｔ０は、演算部３のメモリ１２にあらかじめ記憶されている。単位時間Ｔ０は、０．１〜１２０秒の範囲で変更可能である。
【００７４】
演算部３では、第１計数率Ｃ１を時間的に連続する所定個数ｍの第１標本（Ｎ１／Ｔ０〜Ｎｍ／Ｔ０）として集計して第１積算値Ｗ１＝（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）を算出し（Ｓ−３１）、第１積算値Ｗ１を所定個数ｍで除して第１平均値Ｄ１＝（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）／ｍを算出する（Ｓ−３２）。演算部３は、第１平均値Ｄ１やそれの算出に用いた各因子（単位時間Ｔ０、パルス数Ｎ、所定個数ｍ）に基づいて第１計数誤差δ１を算出し（Ｓ−３３）、第１平均値Ｄ１に第１計数誤差δ１を加減算して第２計数率Ｃ２＝｛（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）／ｍ｝±δ１を算出する（第２ステップ、第２プロセス）（Ｓ−３４）。第２計数率Ｃ２は、メモリ１２に記憶されるとともに（Ｓ−３５）、ディスプレイ１３に表示される（Ｓ−３６）。演算部３は、第１計数誤差δ１を既述の（ａ）〜（ｅ）のいずれかの方式で算出する。所定個数ｍは、メモリ１２にあらかじめ記憶されている。所定個数ｍは、３個以上で変更可能である。
【００７５】
演算部３は、所定個数ｍから未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数ＮＡを単位時間Ｔ０で除して第１比較計数率ＣＡ＝ＮＡ／Ｔ０を算出し（Ｓ−３７）、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかを判断する（第３ステップ、第３プロセス）（Ｓ−３８）。第１区間は、第１計数誤差δ１に所定の係数Ｓを乗じた値Ｓδ１を第１平均値Ｄ１に加減算することで確定される。第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかは、Ｄ１−Ｓδ１＜ＣＡ＜Ｄ１＋Ｓδ１、すなわち、｛（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ１／Ｔ０＋Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１で判断する。係数Ｓは、変更可能であり、メモリ１２にあらかじめ記憶されている。
【００７６】
演算部３は、第３ステップ（第３プロセス）で第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあると判断すると、第１ステップ（第１プロセス）に戻り、統計法の移動平均に準じて第１標本を単位時間Ｔ０１個分だけ過去から未来に向かってスライドさせ、第２および第３ステップ（第２および第３プロセス）を実行する（第４ステップ、第４プロセス）。
【００７７】
第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあると判断して第１ステップ（第１プロセス）に戻ると、演算部３は、パルス数Ｎを単位時間Ｔ０で除して第１計数率Ｃ１＝Ｎ／Ｔ０を算出する（第１ステップ、第１プロセス）（Ｓ−３０）。演算部３は、第１計数率Ｃ１を所定個数ｍの第１標本（Ｎ２／Ｔ０〜Ｎｍ＋１／Ｔ０）として集計して第１積算値Ｗ１＝（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）を算出し（Ｓ−３１）、第１積算値Ｗ１を所定個数ｍで除して第１平均値Ｄ１＝（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）／ｍを算出する（Ｓ−３２）。演算部３は、第１計数誤差δ１を算出し（Ｓ−３３）、第１平均値Ｄ１に第１計数誤差δ１を加減算して第２計数率Ｃ２＝｛（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝±δ１を算出する（第２ステップ、第２プロセス）（Ｓ−３４）。
【００７８】
演算部３は、所定個数ｍから未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数ＮＡを単位時間Ｔ０で除して第１比較計数率ＣＡ＝ＮＡ／Ｔ０を算出し（Ｓ−３７）、第１比較計数率ＣＡが第１平均値Ｄ１に値Ｓδ１（第１計数誤差δ１×係数Ｓ）を加減算することで定まる第１区間内にあるかを判断する（第３ステップ、第３プロセス）（Ｓ−３８）。第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかは、Ｄ１−Ｓδ１＜ＣＡ＜Ｄ１＋Ｓδ１、すなわち、｛（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ２／Ｔ０＋Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１で判断する。
【００７９】
演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあると判断すると、第１〜第３ステップを（第１〜第３プロセス）繰り返し実行する。
【００８０】
以後、演算部３が算出した第２係数率Ｃ２は、
Ｃ２＝｛（Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋３／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋４／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋Ｎ８／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋５／Ｔ０）／ｍ｝±δ１で表される。それら計数率Ｃ２を図５の（１）〜（６）に示す。
【００８１】
それら第２係数率Ｃ２の算出後における第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかは、Ｄ１−Ｓδ１＜ＣＡ＜Ｄ１＋Ｓδ１、すなわち、
｛（Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ３／Ｔ０＋Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１、｛（Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋３／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ４／Ｔ０＋Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋３／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１、｛（Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋４／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（ＮＡ／Ｔ０）＜｛（Ｎ５／Ｔ０＋Ｎ６／Ｔ０＋Ｎ７／Ｔ０＋・・・＋Ｎｍ＋４／Ｔ０）／ｍ｝＋Ｓδ１で判断する。第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあると、演算部３は、第１〜第３ステップ（第１〜第３プロセス）を繰り返し実行する。
【００８２】
次に、Ｅ区間における計数率の算出を説明する。Ｅ区間では、被測定物１７から放出される放射線の量がＤ区間よりも多く、放射線が急激に増加した状態にあり、第１比較計数率ＣＡが第１区間の範囲外、すなわち、第１比較計数率ＣＡ＝ＮＡ／Ｔ０がＤ１＋Ｓδ１よりも大きくなる。したがって、測定器１がＤ区間からＥ区間に移動した直後に、演算部３は、第３ステップ（第３プロセス）で第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断する。
【００８３】
演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断すると、第１および第２ステップ（第１および第２プロセス）で算出したＡ区間の第１および第２計数率Ｃ１，Ｃ２や第１積算値Ｗ１、第１平均値Ｄ１、第１計数誤差δ１、第１比較計数率ＣＡの各算出データを無視し、計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−３９）。
【００８４】
なお、演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断すると、第１および第２ステップ（第１および第２プロセス）で算出したＡ区間の第１および第２計数率Ｃ１，Ｃ２の各第１算出データをマイクロプロセッサから消去することもできる。演算部３は、それら計数率Ｃ１，Ｃ２の他に、Ａ区間で算出した第１積算値Ｗ１や第１平均値Ｄ１、第１計数誤差δ１、第１比較計数率ＣＡの全ての算出データをマイクロプロセッサから消去することもできる。演算部３は、それら算出データを消去した後、計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−３９）。
【００８５】
演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断した直後（第１算出データを消去する場合は、第１算出データを消去した直後）の単位時間Ｔ０におけるパルス数Ｎ’（パルス数Ｎに対する新パルス数Ｎ’）を計数し、単位時間Ｔ０１個におけるパルス数Ｎ’を単位時間Ｔ０で除して第３計数率Ｃ３＝Ｎ’／Ｔ０を算出する（Ｓ−４０）。演算部３は、第３計数率Ｃ３の算出に用いた各因子（パルス数Ｎ’、単位時間Ｔ０）に基づいて第２計数誤差δ２＝√Ｎ’／Ｔ０を算出し（Ｓ−４１）、第３計数率Ｃ３に第２計数誤差δ２を加減算して第４計数率Ｃ４＝（Ｎ’／Ｔ０）±δ２算出する（Ｓ−４２）。第４計数率Ｃ４は、メモリ１２に記憶されるとともに（Ｓ−４３）、ディスプレイ１３に表示される（Ｓ−４４）。演算部３は、第２計数誤差δ２を既述の（ｆ）の方式で算出する。第４位計数率Ｃ４を図５の（７）に示す。
【００８６】
演算部３は、単位時間Ｔ０から未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ’（新パルス数）を単位時間Ｔ０で除して第２比較計数率ＣＢ＝Ｎ’Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−４５）、第２比較計数率ＣＢが第２区間内にあるかを判断する（第５ステップ、第５プロセス）（Ｓ−４６）。第２区間は、第２計数誤差δ２に所定の係数Ｓを乗じた値Ｓδ２を第３計数率Ｃ３に加減算することで確定される。第２比較計数率ＣＢが第２区間内にあるかは、Ｃ３−Ｓδ２＜ＣＢ＜Ｃ３＋Ｓδ２、すなわち、（Ｎ’１／Ｔ０）−Ｓδ２＜（Ｎ’Ａ／Ｔ０）＜（Ｎ’１／Ｔ０）＋Ｓδ２で判断する。なお、第２比較計数率ＣＢは、その算出過程が第１計数率Ｃ１や第３計数率Ｃ３と同一である。しかし、第２比較計数率ＣＢが第２区間内にあるかを判断するための計数率であることから、第１および第３計数率Ｃ１，Ｃ３とは別に第２比較計数率ＣＢという語を用いた。
【００８７】
演算部３は、第５ステップ（第５プロセス）で第２比較計数率ＣＢが第２区間内にないと判断すると、第５ステップ（第５プロセス）で算出したＥ区間の第３計数率Ｃ３と第４計数率Ｃ４との各第２算出データを無視し、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−３９）。なお、演算部３は、第２比較計数率ＣＢが第２区間内にないと判断すると、第３計数率Ｃ３と第４計数率Ｃ４との各第２算出データをマイクロプロセッサから消去し、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）こともできる（Ｓ−３９）。
【００８８】
演算部３は、第５ステップ（第５プロセス）で第２比較計数率ＣＢが第２区間内にあると判断すると、第３計数率Ｃ３が時間的に連続する２個から所定個数ｍになるまで多数の第３計数率Ｃ３を順次算出するとともに、第３計数率Ｃ３を２個から所定個数ｍ−１の各個数（２個，３個・・・ｍ−１個）に対応する多数の第２標本として集計して各個数に対応する多数の第２積算値Ｗ２を算出し（Ｓ−４７）、それら第２積算値Ｗ２を各個数で除して各個数に対応する多数の第２平均値Ｄ２を算出する（Ｓ−４８）。演算部３は、第２平均値Ｄ２やそれの算出に用いた各因子（単位時間Ｔ０、パルス数Ｎ’、所定個数ｍ）に基づいて各個数に対応する多数の第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−４９）、それら第２平均値Ｄ２にそれら第３計数誤差δ３を加減算して各個数に対応する多数の第５計数率Ｃ５を算出する（Ｓ−５０）。演算部３は、第３計数誤差δ３を既述の（ｇ）〜（ｋ）のいずれかの方式で算出する。
【００８９】
演算部３は、各個数から時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ’を単位時間Ｔ０で除して各個数に対応する多数の第３比較計数率ＣＣ＝Ｎ’Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−５３）、それら第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあるかを判断する（第６ステップ、第６プロセス）（Ｓ−５４）。第３区間は、各個数に対応する第３計数誤差δ３に所定の係数Ｓを乗じた値Ｓδ３を各個数に対応する第２平均値Ｄ２に加減算することで確定される。なお、第３比較計数率ＣＣは、その算出過程が第１計数率Ｃ１や第３計数率Ｃ３と同一である。しかし、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあるかを判断するための計数率であることから、第１および第３計数率Ｃ１，Ｃ３とは別に第３比較計数率ＣＣという語を用いた。以下、Ｅ区間における演算部３での第５計数率Ｃ５の算出の詳細を説明する。
【００９０】
第３計数率Ｃ３を２個の第２標本（Ｎ’１／Ｔ０、Ｎ’２／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０）を算出し（Ｓ−４７）、第２積算値Ｗ２を２個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０）／２を算出するとともに（Ｓ−４８）、第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−４９）、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０）／２｝±δ３を算出する（Ｓ−５０）。さらに、第２標本から未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ’Ａを単位時間Ｔ０で除して第３比較計数率ＣＣ＝Ｎ’Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−５３）、第３比較計数率ＣＣが第２平均値Ｄ２に値Ｓδ３（第３計数誤差δ３×係数Ｓ）を加減算することで定まる第３区間内にあるかを判断する（Ｓ−５４）。第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあるかは、Ｄ２−Ｓδ３＜ＣＣ＜Ｄ２＋Ｓδ３、すなわち、｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０）／２｝−Ｓδ３＜（Ｎ’Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０）／２｝＋Ｓδ３で判断する。
【００９１】
演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にないと判断すると、第５ステップ（第５プロセス）に戻り、第６ステップ（第６プロセス）で算出したＥ区間の第３〜第５計数率Ｃ３〜Ｃ５の各第３算出データを無視し、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−３９）。なお、演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にないと判断すると、第６ステップ（第６プロセス）で算出したＥ区間の第３〜第５計数率Ｃ３〜Ｃ５の各第３算出データをマイクロプロセッサから消去し、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）こともできる（Ｓ−３９）。ここでは、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあり、演算部３が次の過程を実行する。
【００９２】
演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあると判断すると、第３計数率Ｃ３の積算個数が時間的に連続する所定個数ｍになったかを判断する（Ｓ−５５）。ここでは、第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになっていない。したがって、演算部３は、第３計数率Ｃ３を３個の第２標本（Ｎ’１／Ｔ０〜Ｎ’３／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０）を算出し（Ｓ−４７）、第２積算値Ｗ２を３個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０）／３を算出するとともに（Ｓ−４８）、第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−４９）、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０）／３｝±δ３を算出する（Ｓ−５０）。さらに、第２標本から未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ’Ａを単位時間Ｔ０で除して第３比較計数率ＣＣ＝Ｎ’Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−５３）、第３比較計数率ＣＣが第２平均値Ｄ２に値Ｓδ３（第３計数誤差δ３×係数Ｓ）を加減算することで定まる第３区間内にあるかを判断する（Ｓ−５４）。第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあるかは、Ｄ２−Ｓδ３＜ＣＣ＜Ｄ２＋Ｓδ３、すなわち、｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０）／３｝−Ｓδ３＜（Ｎ’Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０）／３｝＋Ｓδ３で判断する。
【００９３】
演算部３は、第３計数率Ｃ３を４個の第２標本（Ｎ’１／Ｔ０〜Ｎ’４／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋Ｎ’４／Ｔ０）算出し（Ｓ−４７）、第２積算値Ｗ２を４個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋Ｎ’４／Ｔ０）／４を算出するとともに（Ｓ−４８）、第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−４９）、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋Ｎ’４／Ｔ０）／４｝±δ３を算出する（Ｓ−５０）。演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にないと判断すると、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−３９）。
【００９４】
演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあると判断すると、第３計数率Ｃ３の積算個数が時間的に連続する所定個数ｍになったかを判断し（Ｓ−５５）、積算個数が所定個数ｍ未満であると、Ｂ区間と同様に、第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになるまで第５計数率Ｃ５を算出する。それら第５計数率Ｃ５は、メモリ１２に記憶されるとともに（Ｓ−５１）、ディスプレイ１３に表示される（Ｓ−５２）。それら第５計数率Ｃ５を図５の（８）〜（１０）に示す。
【００９５】
図５では、積算個数が所定個数ｍになる前に測定器１がＥ区間からＦ区間に移動している。Ｆ区間では、被測定物１７から放出される放射線の量がＥ区間よりも少なく、放射線が減少した状態にあり、第３比較計数率ＣＣが第３区間の範囲外、すなわち、第３比較計数率ＣＣ＝Ｎ’Ａ／Ｔ０がＤ２−Ｓδ３よりも小さくなる。したがって、測定器１がＥ区間からＦ区間に移動した直後に、演算部３は、第７ステップ（第７プロセス）で第３比較計数率ＣＣが第３区間内にないと判断する。
【００９６】
なお、ここでも第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあると判断すると、第３計数率Ｃ３をｍ−１個の第２標本（Ｎ’１／Ｔ０〜Ｎ’ｍ−１／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ−１／Ｔ０）を算出し（Ｓ−４７）、第２積算値Ｗ２をｍ−１個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１を算出するとともに（Ｓ−４８）、第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−４９）、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ’１／Ｔ０＋Ｎ’２／Ｔ０＋Ｎ’３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ’ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１｝±δ１を算出する（Ｓ−５０）。演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあるかを判断する（Ｓ−５４）。演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあると、第３計数率Ｃ３の積算個数が時間的に連続する所定個数ｍになったかを判断し（Ｓ−５５）、積算個数が所定個数ｍ未満であると、第３位計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになるまで第５計数率Ｃ５を算出する。
【００９７】
Ｅ区間で第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになると、演算部３は、第１ステップ（第１プロセス）に戻り、パルス数Ｎを第１比較計数率ＣＡが第１区間内にないと判断した直後（第１測定データを消去する場合は、第１測定データを消去した直後）に計数したパルス数Ｎ’（新パルス数）に置き換えて第１計数率Ｃ１＝Ｎ’／Ｔ０を継続して算出するとともに（第１ステップ、第１プロセス）（Ｓ−１）、第２ステップおよび第３ステップ（第３プロセス）を実行する（第７ステップ、第７プロセス）。
【００９８】
測定器１がＥ区間からＦ区間に移動した直後に第３比較計数率ＣＣが第３区間内にないと判断した演算部３は、第５ステップ（第５プロセス）で算出したＥ区間の第３〜第５計数率Ｃ３〜Ｃ５の各第３算出データを無視し、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−３９）。なお、演算部３は、第３比較係数率ＣＣが第３区間内にないと判断すると、第３〜第５計数率Ｃ３〜Ｃ５の各第３算出データをマイクロプロセッサから消去し、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）こともできる（Ｓ−３９）。
【００９９】
演算部３は、第３比較数率ＣＣが第３区間内にないと判断した直後（第３算出データを消去する場合は、第３算出データを消去した直後）の単位時間Ｔ０におけるパルス数Ｎ”（パルス数Ｎ’に対する新パルス数Ｎ”）を計数し、単位時間Ｔ０１個におけるパルス数Ｎ”を単位時間Ｔ０で除して第３計数率Ｃ３＝Ｎ”／Ｔ０を算出する（Ｓ−４０）。演算部３は、第３計数率Ｃ３の算出に用いた各因子（パルス数Ｎ”、単位時間Ｔ０）に基づいて第２計数誤差δ２＝√Ｎ”／Ｔ０を算出し（Ｓ−４１）、第３計数率Ｃ３に第２計数誤差δ２を加減算して第４計数率Ｃ４＝（Ｎ”／Ｔ０）±δ２を算出する（第５ステップ、第５プロセス）（Ｓ−４２）。第４計数率Ｃ４は、メモリ１２に記憶されるとともに（Ｓ−４３）、ディスプレイ１３に表示される（Ｓ−４４）。演算部３は、第２計数誤差δ２を既述の（ｆ）の方式で算出する。第４計数率Ｃ４を図５の（１１）に示す。
【０１００】
演算部３は、第２比較計数率ＣＢ＝Ｎ”Ａ／Ｔ０を算出し、第２比較計数率ＣＢが第２計数誤差δ２に所定の係数Ｓを乗じた値Ｓδ２を第３計数率Ｃ３に加減算することで定められる第２区間内にあるかを判断する（第５ステップ、第５プロセス）（Ｓ−４６）。第２比較計数率ＣＢが第２区間内にあるかは、Ｃ３−Ｓδ２＜ＣＢ＜Ｃ３＋Ｓδ２、すなわち、（Ｎ”１／Ｔ０）−Ｓδ２＜（Ｎ”Ａ／Ｔ０）＜（Ｎ”１／Ｔ０）＋Ｓδ２で判断する。第２比較計数率ＣＢが第２区間内にないと判断すると、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して第３計数率Ｃ３＝（Ｎ”／Ｔ０）±δ２を算出する。
【０１０１】
第２比較計数率ＣＢが第２区間内にあると判断すると、演算部３は、第３計数率Ｃ３が時間的に連続する２個から所定個数ｍになるまで多数の第３計数率Ｃ３を順次算出するとともに、第３計数率Ｃ３を２個から所定個数ｍ−１個の各個数（２個，３個・・・ｍ−１個）に対応する多数の第２標本として集計して各個数に対応する多数の第２積算値Ｗ２を算出し（Ｓ−４７）、それら第２積算値Ｗ２を各個数で除して多数の第２平均値Ｄ２を算出する（Ｓ−４８）。演算部３は、第２平均値Ｄ２やそれの算出に用いた各因子（単位時間Ｔ０、パルス数Ｎ”、所定個数ｍ）に基づいて各個数に対応する多数の第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−４９）、各個数に対応する第２平均値Ｄ２に各個数に対応する第３計数誤差δ３を加減算して多数の第５計数率Ｃ５を算出する（第６ステップ、第６プロセス）（Ｓ−５０）。演算部３は、第３計数誤差δ３を既述の（ｇ）〜（ｋ）のいずれかの方式で算出する。
【０１０２】
演算部３は、第２標本から未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ”Ａを単位時間Ｔ０で除して第３比較計数率ＣＣ＝Ｎ”Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−５３）、第３比較計数率ＣＣが第２平均値Ｄ２に値Ｓδ３（第３計数誤差δ３×係数Ｓ）を加減算することで定まる第３区間内にあるかを判断する（Ｓ−５４）。第５計数率Ｃ５は、メモリ１２に記憶されるとともに（Ｓ−５１）、ディスプレイ１３に表示される（Ｓ−５２）。以下、Ｆ区間における演算部３での第５計数率Ｃ５の算出の詳細を説明する。
【０１０３】
第３計数率Ｃ３を２個の第２標本（Ｎ”１／Ｔ０、Ｎ”２／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０）を算出し（Ｓ−４７）、第２積算値Ｗ２を２個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０）／２を算出するとともに（Ｓ−４８）、第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−４９）、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０）／２｝±δ３を算出する（Ｓ−５０）。さらに、第２標本から未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ”Ａを単位時間Ｔ０で除して第３比較計数率ＣＣ＝Ｎ”Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−５３）、第３比較計数率ＣＣが第２平均値Ｄ２に値Ｓδ３（第３計数誤差δ３×係数Ｓ）を加減算することで定まる第３区間内にあるかを判断する（Ｓ−５４）。第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあるかは、Ｄ２−Ｓδ３＜ＣＣ＜Ｄ２＋Ｓδ３、すなわち、｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０）／２｝−Ｓδ３＜（Ｎ”Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０）／２｝＋Ｓδ３で判断する。
【０１０４】
演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にないと判断すると、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−３９）。演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあると判断すると、第３計数率Ｃ３の積算個数が時間的に連続する所定個数ｍになったかを判断する（Ｓ−５５）。
【０１０５】
演算部３は、第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになっていないと判断し、第３計数率Ｃ３を３個の第２標本（Ｎ”１／Ｔ０〜Ｎ”３／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０）を算出し（Ｓ−４７）、第２積算値Ｗ２を３個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０）／３を算出するとともに（Ｓ−４８）、第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−４９）、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０）／３｝±δ３を算出する（Ｓ−５０）。さらに、第２標本から未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ”Ａを単位時間Ｔ０で除して第３比較計数率ＣＣ＝Ｎ”Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−５３）、第３比較計数率ＣＣが第２平均値Ｄ２に値Ｓδ３（第３計数誤差δ３×係数Ｓ）を加減算することで定まる第３区間内にあるかを判断する（Ｓ−５４）。第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあるかは、Ｄ２−Ｓδ３＜ＣＣ＜Ｄ２＋Ｓδ３、すなわち、｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３Ｔ０）／３｝−Ｓδ３＜（Ｎ”Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０）／３｝＋Ｓδ３で判断する。
【０１０６】
演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にないと判断すると、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−３９）。演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあると判断すると、第３計数率Ｃ３の積算個数が時間的に連続する所定個数ｍになったかを判断する（Ｓ−５５）。
【０１０７】
演算部３は、第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになっていないと判断し、第３計数率Ｃ３をｍ−１個の第２標本（Ｎ”１／Ｔ０〜Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）として集計して第２積算値Ｗ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）を算出し（Ｓ−４７）、第２積算値Ｗ２をｍ−１個で除して第２平均値Ｄ２＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１を算出するとともに（Ｓ−４８）、第３計数誤差δ３を算出し（Ｓ−４９）、第２平均値Ｄ２に第３計数誤差δ３を加減算して第５計数率Ｃ５＝｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１｝±δ３を算出する（Ｓ−５０）。さらに、第２標本から未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ”Ａを単位時間Ｔ０で除して第３比較計数率ＣＣ＝Ｎ”Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−５３）、第３比較計数率ＣＣが第２平均値Ｄ２に値Ｓδ３（第３計数誤差δ３×係数Ｓ）を加減算することで定まる第３区間内にあるかを判断する（Ｓ−５４）。第３比較計数率ＣＣが第３区間内にあるかは、Ｄ２−Ｓδ３＜ＣＣ＜Ｄ２＋Ｓδ３、すなわち、｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１｝−Ｓδ３＜（Ｎ”Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ−１／Ｔ０）／ｍ−１｝＋Ｓδ３で判断する。それら第５計数率Ｃ５を図５の（１２）〜（１４）に示す。
【０１０８】
演算部３は、第３比較計数率ＣＣが第３区間内にないと判断すると、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行して計数率の算出をはじめからやり直す（リセット）（Ｓ−３９）。演算部３は、第３計数率Ｃ３の積算個数が時間的に連続する所定個数ｍになったかを判断し（Ｓ−５５）、第３計数率Ｃ３の積算個数が所定個数ｍになった時点で、第１ステップ（第１プロセス）に戻り、パルス数Ｎ’をパルス数Ｎ”（パルス数Ｎ’に対する新パルス数Ｎ”）に置き換えて第１計数率Ｃ１＝Ｎ”／Ｔ０を継続して算出するとともに（Ｓ−３０）、第２および第３ステップ（第２および第３プロセス）を実行する（第７ステップ、第７プロセス）。
【０１０９】
演算部３は、第１計数率Ｃ１を所定個数ｍ個の第１標本（Ｎ”１／Ｔ０〜Ｎ”ｍ／Ｔ０）として集計して第１積算値Ｗ１＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）を算出し（Ｓ−３１）、第１積算値Ｗ１を所定個数ｍで除して第１平均値Ｄ１＝（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）／ｍを算出する（Ｓ−３２）。演算部３は、第１平均値Ｄ１やそれの算出に用いた各因子（単位時間Ｔ０、パルス数Ｎ”、所定個数ｍ）に基づいて第１計数誤差δ１を算出し（Ｓ−３３）、第１平均値Ｄ１に第１計数誤差δ１を加減算して第２計数率Ｃ２＝｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）／ｍ｝±δ１を算出する（第２ステップ、第２プロセス）（Ｓ−３４）。演算部３は、第１計数誤差δ１を既述の（ａ）〜（ｅ）のいずれかの方式で算出する。
【０１１０】
以後、演算部３が算出した第２計数率Ｃ２は、
Ｃ２＝｛（Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋Ｎ”４／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝±δ１、
Ｃ２＝｛（Ｎ”３／Ｔ０＋Ｎ”４／Ｔ０＋Ｎ”５／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝±δ１で表される。それら第２計数率Ｃ２を図５の（１５）〜（１７）に示す。
【０１１１】
演算部３は、所定個数ｍから未来に向かって時間的に連続する単位時間Ｔ０１個分だけ進んだときのパルス数Ｎ”Ａを単位時間Ｔ０で除して第１比較計数率ＣＡ＝Ｎ”Ａ／Ｔ０を算出し（Ｓ−３７）、第１比較計数率ＣＡが第１平均値Ｄ１に値Ｓδ１（第１計数誤差δ１×係数Ｓ）を加減算することで定まる第１区間内にあるかを判断する（第３ステップ、第３プロセス）（Ｓ−３８）。第１比較計数率ＣＡが第１区間内にあるかは、Ｄ１−Ｓδ１＜ＣＣ＜Ｄ１＋Ｓδ１、すなわち、
｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（Ｎ” Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ”１／Ｔ０＋Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ／Ｔ０）／ｍ±δ１｝、
｛（Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋Ｎ”４／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ＋１／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（Ｎ”Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ”２／Ｔ０＋Ｎ”３／Ｔ０＋Ｎ”４／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ＋１／Ｔ０）／ｍ±δ１｝、
｛（Ｎ”３／Ｔ０＋Ｎ”４／Ｔ０＋Ｎ”５／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ＋２／Ｔ０）／ｍ｝−Ｓδ１＜（Ｎ” Ａ／Ｔ０）＜｛（Ｎ”３／Ｔ０＋Ｎ”４／Ｔ０＋Ｎ”５／Ｔ０＋・・・＋Ｎ”ｍ＋２／Ｔ０）／ｍ±δ１｝、で判断する。演算部３は、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にある場合、第１〜第３ステップ（第１〜第３プロセス）を繰り返し実行し、第１比較計数率ＣＡが第１区間内にない場合、再び第５ステップ（第５プロセス）を実行する。
【０１１２】
図８は、この測定器１で測定したときの計数率の第２特性図であり、図８における計数率の変化は、図５のＤ区間〜Ｆ区間に対応する。図８では、縦軸が測定した放射線の計数率Ｃ（ｃｐｓ）を表し、横軸が時間ｔ（秒）を表している。
【０１１３】
この測定器１は、図８に示すように、Ｄ区間における計数率が第２計数率Ｃ２で示されるので、確率分布にしたがって放射線の計数率がその平均値の付近に分布したとしても、常に放射線の平均値を含むその近似の値が表示されることになり、計数率を第１計数率Ｃ１で示す場合と比較し、計数率の変動が小さく、計数率のばらつき（図８における縦軸方向への振れ）が少ない。測定器１は、常時安定した計数率を表示することができる。
【０１１４】
また、ＥおよびＦ区間における計数率が第４計数率Ｃ４や多数の第５計数率Ｃ５で示され、第４計数率Ｃ４における計数率の変動が大きいとしても、第５計数率Ｃ５を順次算出するにつれて計数率の変動（ばらつき）が次第に小さくなり、計数率が安定する。この測定器１は、被測定物１７の放射線を安定した計数率として迅速に算出かつ表示することができ、被測定物１７から放出される放射線を短時間で正確に測定することができる。
【０１１５】
この測定器１は、スイッチをＯＦＦ（電源を切る）にするかまたは被測定物１７から測定器１を離すことによって測定が終了する。なお、ディスプレイには、第２計数率Ｃ２と第４および第５計数率Ｃ４，Ｃ５とが数値表示（ｃｐｓまたはｃｐｍ）、または、グラフ表示される。さらに、単位時間Ｔ０や所定個数ｍ、係数Ｓが数値表示される。
【０１１６】
測定器１では、プリンタ１４を介して第１〜第５計数率Ｃ１〜Ｃ５、第１および第２積算値Ｗ１，Ｗ２、第１および第２平均値Ｄ１，Ｄ２、第１〜第３計数誤差δ１〜δ３の各算出データを印字情報として出力することができる。測定器１は、第２計数率Ｃ２と第４および第５計数率Ｃ４，Ｃ５との他に、第１および第３計数率Ｃ１，Ｃ３、第１および第２積算値Ｗ１，Ｗ２、第１および第２平均値Ｄ１，Ｄ２、第１〜第３計数誤差δ１，δ２，δ３の各算出データをメモリに記憶することもできる。第１〜第３計数誤差δ１〜δ３には、統計法に基づいて算出した標準誤差や標準偏差を用いることができる。
【０１１７】
測定器１では、放射線を測定した日付および時間をメモリ１２に記憶することができ、キーボード１５から被測定物１７を特定する型式や品名を打ち込むことで、それらデータをメモリ１２に記憶することもできる。メモリ１２に記憶したそれらデータは、測定後にプリンタ１４を介して印字情報として出力することもできる。
【０１１８】
【発明の効果】
本発明にかかる放射線測定器および放射線測定方法によれば、被測定物から放出される放射線の計数率が演算部で算出された第２計数率や第５計数率によって表示されるので、被測定物の放射線を安定した計数率として常に表示することができる。この測定器および測定方法は、第１比較計数率が第１区間内にあるかを常時判断するので、測定中に放射線が変化したとしても、それに素早く反応することができる。この測定器および測定方法は、放射線が変化した場合、変化後の放射線の新パルス数を計数するとともに、新パルス数に基づいて演算部が変化後の放射線の計数率を新たに算出し、放射線が変化した後でも、放射線を安定した計数率として迅速に算出かつ表示することができ、被測定物から放出される放射線を短時間で正確に測定することができる。
【０１１９】
第２比較計数率が第２区間内にあるかを判断する測定器および測定方法では、単位時間毎における放射線の変化を常に監視することができるので、単位時間毎の間隔で放射線が変化したとしても、それに素早く対応することができる。この測定器および測定方法は、単位時間毎に放射線が変化した場合、変化後の放射線の新パルス数を計数するとともに、新パルス数に基づいて演算部が変化後の放射線の計数率を新たに算出し、放射線が変化した後でも、放射線を安定した計数率として迅速に算出かつ表示することができ、被測定物から放出される放射線を短時間で正確に測定することができる。
【０１２０】
第３比較計数率が第３区間内にあるかを判断する測定器および測定方法では、各個数毎における放射線の変化を監視することができ、単位時間が所定個数になるまでの間に放射線が変化したとしても、それに素早く対応することができる。この測定器および測定方法は、各個数毎に放射線が変化した場合、変化後の放射線の新パルス数を計数するとともに、新パルス数に基づいて演算部が変化後の放射線の計数率を新たに算出し、放射線が変化した後でも、放射線を安定した計数率として迅速に算出かつ表示することができ、被測定物から放出される放射線を短時間で正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】一例として示す放射線測定器の概略ブロック図。
【図２】測定器が測定したパルスの時間的変化の一例を示す第１イメージ図。
【図３】演算部における処理の一例を示すフローチャート図。
【図４】計数率の第１特性図。
【図５】測定器が測定したパルスの時間的変化の他の一例を示す第２イメージ図。
【図６】演算部における処理の他の一例を示すフローチャート図。
【図７】図６から続くフローチャート図。
【図８】計数率の第２特性図。
【符号の説明】
１              放射線測定器
２              検出部
３              演算部
４              出力部
５              検出器
１１              コントローラ
１２              メモリ
１３              ディスプレイ
１４              プリンタ
１５              キーボード
１７              被測定物
Ｃ１              第１計数率
Ｃ２              第２計数率
Ｃ３              第３計数率
Ｃ４              第４計数率
Ｃ５              第５計数率
ＣＡ            第１比較計数率
ＣＢ            第２比較計数率
ＣＣ            第３比較計数率
Ｄ１            第１平均値
Ｄ２            第２平均値
ｍ              所定個数
Ｎ              パルス数
Ｎ’              パルス数（新パルス数）
Ｎ”            パルス数（新パルス数）
Ｓ              係数
Ｓδ１          値
Ｔ０            単位時間
Ｗ１            第１積算値
Ｗ２            第２積算値
δ１            第１計数誤差
δ２            第２計数誤差
δ３            第３計数誤差
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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