(57)【要約】【課題】記録再生装置の動作中に形成されるキズ、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズを略完全に再現したテスト用光ディスクを提供することを課題とする。【解決手段】記録再生装置の動作中に形成されるキズとして、読取面７３に、略半径方向に延びる複数の微細な第１キズ２９と、略トラック方向に延びる複数の微細な第２キズ３１とを設ける。光ディスクを取り扱う際に形成されるキズとして、読取面７３に、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズ５５と、第３キズ５５と交差する複数の微細な第４キズ５７とを形成する。【選択図】　　　図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
読取面に、
略半径方向に延びる複数の微細な第１キズと、
略トラック方向に延びる複数の微細な第２キズと、
を設けたことを特徴とするテスト用光ディスク。
【請求項２】
読取面に、
トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズと、
該第３キズと交差する複数の微細な第４キズと、
を設けたことを特徴とするテスト用光ディスク。
【請求項３】
読取面に、
略半径方向に延びる複数の微細な第１キズと、
略トラック方向に延びる複数の微細な第２キズと、
前記トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズと、
該第３キズと交差する複数の微細な第４キズと、
を設けたことを特徴とするテスト用光ディスク。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、テスト用光ディスクに関し、更に詳しくは、読取面に発生した微細なキズに対する再生性能をテストするために用いられるテスト用光ディスクに関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクの読取面にキズがある場合には、ピックアップから出射された光（レーザビーム）が読取面で干渉及び乱反射されることによって、光学／電気特性に変化が発生し、光ディスクの再生／記録装置の信号検出能力、エラー検出／訂正能力、トラッキング／フォーカスサーボのコントロール能力に影響を与える。
【０００３】
再生／記録装置のこれらのキズに対するプレイアビリティを保証するために、キズをシミュレートしたテスト用光ディスクが開発されている。
現在、このようなテスト用光ディスクには次のようなものがある。
（１）図６に示すように、テスト用光ディスク１の読取面３に、トラック方向に延びる複数のキズ５を形成する。
（２）図７に示すように、テスト用光ディスク１１の読取面１３に、トラック方向に延びる複数のキズ１５を形成する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述した（１）のテスト用光ディスク１、（２）のテスト用光ディスク１１のキズの方向はそれぞれ一つの方向のみであるので、現実の光ディスクに形成されるキズの一部分しか再現していない問題点がある。
【０００５】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、その第１の課題は、記録再生装置の動作中に形成されるキズを略完全に再現したテスト用光ディスクを提供することにある。
【０００６】
本発明の第２の課題は、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズを略完全に再現したテスト用光ディスクを提供することにある。
本発明の第３の課題は、記録再生装置の動作中に形成されるキズ及び光ディスクを取り扱う際に形成されるキズを略完全に再現したテスト用光ディスクを提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
光ディスクの読取面に形成されるキズ（スクラッチキズ）は、以下の３つに大別される。
（１）光ディスクが記録再生装置へロードされる場合、又はイジェクトされる場合に形成されるキズ。
【０００８】
この場合のキズは、光ディスクの略半径方向に延びる直線である。
（２）光ディスクが記録再生装置によって回転駆動されている最中に、光ピックアップ等が光ディスクの読取面に接触する場合に形成されるキズ。
【０００９】
この場合のキズは、略トラック方向に延びる曲線である。
（３）人が光ディスクを取り扱う際に形成されるキズ。
この場合のキズは、略直線が多く、延びる方向は一定ではない。
【００１０】
請求項１記載の発明は、読取面に、略半径方向に延びる複数の微細なキズと、略トラック方向に延びる複数の微細なキズとを設けたことを特徴とするテスト用光ディスクである。
【００１１】
読取面に、略半径方向に延びる複数の微細なキズを設けたことにより、光ディスクが記録再生装置へロードされる場合、又はイジェクトされる場合に形成されるキズが再現される。
【００１２】
又、読取面に、略トラック方向に延びる複数の微細なキズを設けたことにより、光ディスクが記録再生装置によって回転駆動されている最中に、光ピックアップ等が光ディスクの読取面に接触する場合に形成されるキズが再現される。
【００１３】
従って、記録再生装置の動作中に形成されるキズを略完全に再現することができる。
請求項２記載の発明は、読取面に、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズと、該第３キズと交差する複数の微細な第４キズとを設けたことを特徴とするテスト用光ディスクである。
【００１４】
読取面に、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズと、該第３キズと交差する複数の微細な第４キズとを設けたことにより、人が光ディスクを取り扱う際に形成されるキズが再現される。
【００１５】
従って、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズを略完全に再現することができる。
請求項３記載の発明は、読取面に、略半径方向に延びる複数の微細な第１キズと、略トラック方向に延びる複数の微細な第２キズと、前記トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズと、該第３キズと交差する複数の微細な第４キズとを設けたことを特徴とするテスト用光ディスクである。
【００１６】
読取面に、略半径方向に延びる複数の微細なキズを設けたことにより、光ディスクが記録再生装置へロードされる場合、又はイジェクトされる場合に形成されるキズが再現される。
【００１７】
又、読取面に、略トラック方向に延びる複数の微細なキズを設けたことにより、光ディスクが記録再生装置によって回転駆動されている最中に、光ピックアップ等が光ディスクの読取面に接触する場合に形成されるキズが再現される。
【００１８】
従って、記録再生装置の動作中に形成されるキズを略完全に再現することができる。
更に、読取面に、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズと、該第３キズと交差する複数の微細な第４キズとを設けたことにより、人が光ディスクを取り扱う際に形成されるキズが再現される。
【００１９】
従って、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズをも略完全に再現することができる。
このため、本発明では、テスト用光ディスクの読取面に形成される微細なキズを略完全に再現することができる。
【００２０】
尚、請求項１〜３記載の発明において、読取面に設けるキズは、金型を用いて形成する方法、切削加工により形成する方法等があるが、これらに限定するものではない。
【００２１】
【発明の実施の形態】
（第１の実施の形態例）
図１及び図２を用いて説明する。図１は第１の実施の形態例のテスト用光ディスクの平面図、図２は図１のＡ部分の拡大図である。
【００２２】
これらの図に示すように、テスト用光ディスク２１の読取面２３には、半径方向に延び、線幅３０μｍ、キズ間の角度１°、長さがリードイン開始径２５からプログラム終了径２７まで至る３０本の第１キズ２９でなるパターンが形成されている。
【００２３】
更に、第１キズ２９を形成した部分には、トラック方向に延び、線幅３０μｍ、ピッチ１００μｍ、中心角３０°の円弧状の３０本の第２キズ３１でなるパターンを４又は５組形成した。
【００２４】
このような構成のテスト用光ディスク２１によれば、読取面２３に、半径方向に延びる複数の微細な第１キズ２９を設けたことにより、光ディスクが記録再生装置へロードされる場合、又はイジェクトされる場合に形成されるキズが再現される。
【００２５】
又、読取面２３に、トラック方向に延びる複数の微細な第２キズ３１を設けたことにより、光ディスクが記録再生装置によって回転駆動されている最中に、光ピックアップ等が光ディスクの読取面に接触する場合に形成されるキズが再現される。
【００２６】
従って、記録再生装置の動作中に形成されるキズを略完全に再現することができる。
尚、本発明は、上記実施の形態例に限定するものではなく、第１キズ２９と、第２キズ３１とを別々の場所に形成してもよい。
【００２７】
又、第１キズ２９、第２キズ３１の長さ／線幅／ピッチ／本数などを変更して異なるパターンを形成してもよい。
（第２の実施の形態例）
図３及び図４を用いて説明する。図３は第２の実施の形態例のテスト用光ディスクの平面図、図４は図３のＢ部分の拡大図である。
【００２８】
これらの図に示すように、テスト用光ディスク５１の読取面５３には、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズ５５と、第３キズ５５と交差する（本実施の形態例では直交する）複数の微細な第４キズ５７とからなるパターンを５組設けた。
【００２９】
第３キズ５５、第４キズ５７の線幅は３０μｍ、ピッチは１００μｍである。
このような構成のテスト用光ディスク５１によれば、読取面５３に、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズ５５と、第３キズ５５と交差する複数の微細な第４キズ５７とを設けたことにより、人が光ディスクを取り扱う際に形成されるキズが再現される。
【００３０】
従って、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズを略完全に再現することができる。
尚、本発明は、上記実施の形態例に限定するものではなく、第３キズ５５と、第４キズ５７とを別々の場所に形成してもよい。
【００３１】
又、第３キズ５５、第４キズ５７の長さ／線幅／ピッチ／本数などを変更して異なるパターンを形成してもよい。
（第３の実施の形態例）
図５を用いて説明する。図５は第３の実施の形態例のテスト用光ディスクの平面図である。
【００３２】
図に示すように、テスト用光ディスク７１の読取面７３の内周側には、第１の実施の形態例で説明したキズのパターンが形成されている。すなわち、リードイン開始径２５からテスト用光ディスクの半径方向の略中間部分まで延びる３０本の第１キズ２９でなるパターンが形成され、更に、第１キズ２９を形成した部分には、トラック方向に延び、線幅３０μｍ、ピッチ１００μｍ、中心角３０°の円弧状の３０本の第２キズ３１でなるパターンを２組形成した。
【００３３】
又、テスト用光ディスク７１の読取面７３の外周側には、第２の実施の形態例で説明したキズのパターンが形成されている。すなわち、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズ５５と、第３キズ５５と交差する（本実施の形態例では直交する）複数の微細な第４キズ５７とからなるパターンを３組設けた。
【００３４】
このような構成のテスト用光ディスク７１によれば、読取面７３に、半径方向に延びる複数の微細な第１キズ２９を設けたことにより、光ディスクが記録再生装置へロードされる場合、又はイジェクトされる場合に形成されるキズが再現される。
【００３５】
又、読取面７３に、トラック方向に延びる複数の微細な第２キズ３１を設けたことにより、光ディスクが記録再生装置によって回転駆動されている最中に、光ピックアップ等が光ディスクの読取面に接触する場合に形成されるキズが再現される。
【００３６】
従って、記録再生装置の動作中に形成されるキズを略完全に再現することができる。
更に、読取面７３に、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズ５５と、第３キズ５５と交差する複数の微細な第４キズ５７とを設けたことにより、人が光ディスクを取り扱う際に形成されるキズが再現される。
【００３７】
従って、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズを略完全に再現することができる。
このように、本実施の形態例によれば、１枚のテスト用光ディスク７１で、記録再生装置の動作中に形成されるキズと、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズとを略完全に再現することができる。
【００３８】
尚、本発明は、上記実施の形態例に限定するものではなく、第１キズ２９と第２キズ３１とを別々の場所に形成してもよいし、第３キズ５５と第４キズ５７とを別々の場所に形成してもよい。
【００３９】
又、第１キズ２９、第２キズ３１、第３キズ５５、第４キズ５７の長さ／線幅／ピッチ／本数などを変更して異なるパターンを形成してもよい。
更に、上記実施の形態例では、読取面の内周側に第１キズ２９と第２キズ３１とからなるパターン、外周側に第３キズ５５と第４キズ５７とからなるパターンを形成したが、逆に、読取面７３の内周側に第３キズ５５と第４キズ５７とからなるパターン、外周側に第１キズ２９と第２キズ３１とからなるパターンを形成してもよい。
【００４０】
【発明の効果】
以上述べたように請求項１記載の発明によれば、読取面に、略半径方向に延びる複数の微細なキズを設けたことにより、光ディスクが記録再生装置へロードされる場合、又はイジェクトされる場合に形成されるキズが再現される。
【００４１】
又、読取面に、略トラック方向に延びる複数の微細なキズを設けたことにより、光ディスクが記録再生装置によって回転駆動されている最中に、光ピックアップ等が光ディスクの読取面に接触する場合に形成されるキズが再現される。
【００４２】
従って、記録再生装置の動作中に形成されるキズを略完全に再現することができる。
請求項２記載の発明によれば、読取面に、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズと、該第３キズと交差する複数の微細な第４キズとを設けたことにより、人が光ディスクを取り扱う際に形成されるキズが再現される。
【００４３】
従って、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズを略完全に再現することができる。
請求項３記載の発明によれば、読取面に、略半径方向に延びる複数の微細なキズを設けたことにより、光ディスクが記録再生装置へロードされる場合、又はイジェクトされる場合に形成されるキズが再現される。
【００４４】
又、読取面に、略トラック方向に延びる複数の微細なキズを設けたことにより、光ディスクが記録再生装置によって回転駆動されている最中に、光ピックアップ等が光ディスクの読取面に接触する場合に形成されるキズが再現される。
【００４５】
従って、記録再生装置の動作中に形成されるキズを略完全に再現することができる。
更に、読取面に、トラックの略接線方向に伸びる複数の微細な第３キズと、該第３キズと交差する複数の微細な第４キズとを設けたことにより、人が光ディスクを取り扱う際に形成されるキズが再現される。
【００４６】
従って、光ディスクを取り扱う際に形成されるキズをも略完全に再現することができる。
このため、本発明では、テスト用光ディスクの読取面に形成される微細なキズを完全に再現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施の形態例のテスト用光ディスクの平面図である。
【図２】図１のＡ部分の拡大図である。
【図３】第２の実施の形態例のテスト用光ディスクの平面図である。
【図４】図３のＢ部分の拡大図である。
【図５】第３の実施の形態例のテスト用光ディスクの平面図である。
【図６】従来のテスト用光ディスクのキズのパターンを説明する図である。
【図７】従来のテスト用光ディスクのキズのパターンを説明する図である。
【符号の説明】
２１，５１，７１　テスト用光ディスク
２３，５３，７３　読取面
２９　第１キズ
３１　第２キズ
５５　第３キズ
５７　第４キズ
【図１】
2004095038.tif 000003
【図２】
2004095038.tif 000004
【図３】
2004095038.tif 000005
【図４】
2004095038.tif 000006
【図５】
2004095038.tif 000007
【図６】
2004095038.tif 000008
【図７】
2004095038.tif 000009