(57)【要約】【課題】不良品に対応して補正する制御対象の選定を容易かつ効率的に行うとともに、非熟練オペレータであっても適切な制御対象を迅速に選定できるようにする。【解決手段】予め、順位を付けた複数の補正項目Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３を設定するとともに、各補正項目Ｘ１…に対して補正を許容する補正上限値Ａｕ及び補正下限値Ａｄを設定し、成形時に、順位に従って所定の補正項目Ｘ１…により補正するとともに、この補正項目Ｘ１…による補正が補正上限値Ａｕ又は補正下限値Ａｄに達したなら、次の順位の補正項目Ｘ２…により補正する補正処理を順次行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ショット毎に検出される監視対象をモニタし、この監視対象がモニタ上限値とモニタ下限値により設定したモニタ範囲から外れたなら制御量を補正する成形機の制御方法において、予め、順位を付けた複数の補正項目を設定するとともに、各補正項目に対して補正を許容する補正上限値及び補正下限値を設定し、成形時に、前記順位に従って所定の補正項目により補正するとともに、この補正項目による補正が前記補正上限値又は前記補正下限値に達したなら、次の順位の補正項目により補正する補正処理を順次行うことを特徴とする成形機の制御方法。
【請求項２】
前記複数の補正項目は、予め設定した補正項目リストから任意に選択して設定することを特徴とする請求項１記載の成形機の制御方法。
【請求項３】
前記補正項目リストには、補正項目として、少なくとも射出速度，射出圧力，保圧力，背圧，スクリュ回転速度，速度−圧力切換位置，計量値，金型温度，加熱筒温度，ノイズ温度，ホットランナ温度の二以上を含むことを特徴とする請求項２記載の成形機の制御方法。
【請求項４】
前記補正処理は、各補正項目に対して一回だけ行うノーマルモードと、前記補正項目が順位に従って順次ローテーションするローテーションモードを選択できることを特徴とする請求項１記載の成形機の制御方法。
【請求項５】
前記ノーマルモードにおいて、最後の補正項目による補正が前記補正上限値又は前記補正下限値に達したときは、対応するメッセージを表示する表示処理を行うことを特徴とする請求項４記載の成形機の制御方法。
【請求項６】
前記補正処理は、予め、前記ショットに対するモニタショット数を設定し、成形時に、前記モニタショット数毎に、前記監視対象が前記モニタ上限値と前記モニタ下限値から外れる不良数をそれぞれカウントし、前記モニタショット数に対する前記不良数の割合を出度数として求めるとともに、予め設定した単位補正値と前記出度数の演算により補正量を求め、この補正量により前記制御量を補正することを特徴とする請求項１記載の成形機の制御方法。
【請求項７】
前記監視対象は、成形機に備える金型の型内圧であることを特徴とする請求項１記載の成形機の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ショット毎に検出される監視対象がモニタ範囲から外れたなら制御量を補正するようにした成形機の制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、射出成形機により成形品（製品）を生産するに際しては、成形品に対する良否判定を行い、不良品が発生した場合には、射出成形機における当該不良品の発生に関係する制御対象の制御量を補正することにより、成形品が良品になるように制御しており、この種の制御方法としては、特公平４−８１９３０号公報及び特公平５−５５２９１号公報で開示される射出成形機の制御方法が知られている。
【０００３】
前者の制御方法は、成形品質に影響する物理量に対して上限値と下限値による許容範囲を設定し、物理量の実測値が許容範囲から連続して外れる回数を計数するとともに、この回数が所定数に達したなら、次のサイクルにて物理量を可変する制御手段の制御量を、予め設定した補正量により補正し、補正が不要な突発的な外乱と、補正が必要な成形環境の経時変化を判別することにより的確な補正ができるようにしたものである。また、後者の制御方法は、予め、スクリュの最前進位置に対するモニタ範囲，スクリュの最前進位置を可変する保圧力を制御する制御量に対する補正量及び制御量に対する限界値をそれぞれ設定し、成形時に、各成形サイクルにおけるスクリュの最前進位置を検出し、検出したスクリュの最前進位置がモニタ範囲の許容範囲を外れたときに、次の成形サイクルにおけるスクリュの最前進位置がモニタ範囲に入る方向に、制御量に補正量を加算又は減算する補正を行うものである。
【特許文献１】
特公平４−８１９３０号公報
【特許文献２】
特公平５−５５２９１号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述した従来の制御方法は、次のような解決すべき課題が存在した。即ち、補正時には、一定の補正量により所定の制御量（制御対象）に対する補正を行うが、通常、成形品のバラつきと制御量は、明確な相関関係があるわけではない。したがって、成形品のバラつきに対して、制御量である計量値，射出圧力，背圧，射出速度，速度−圧力切換位置等の何が最も影響しているかを見出すのは容易でないとともに、成形品の形状や樹脂の種類等も影響するため、実際に、熟練オペレータが最も相関関係がありそうであると判断して選択した制御対象の制御量を補正しても、不良品の発生がさほど改善されない場合もある。
【０００５】
このように、熟練オペレータであっても、不良品に対応して補正する制御対象の選定は容易でない。結局、このような選定には試行錯誤的な作業も必要になるなど時間的ロスが大きくなり、効率的な選定作業を行うことができないとともに、制御対象が適切でない場合には、成形時の歩留りや成形品の均一性に対する悪影響も拡大してしまう。
【０００６】
本発明は、このような従来の技術に存在する課題を解決したものであり、不良品に対応して補正する制御対象の選定を容易かつ効率的に行うことができるとともに、非熟練オペレータであっても適切な制御対象を迅速に選定することができる成形機の制御方法の提供を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段及び実施の形態】
本発明に係る成形機Ｍの制御方法は、ショット毎に検出される監視対象をモニタし、この監視対象がモニタ上限値Ｌｕとモニタ下限値Ｌｄにより設定したモニタ範囲Ｚｍから外れたなら制御量を補正するに際し、予め、順位を付けた複数の補正項目Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３を設定するとともに、各補正項目Ｘ１…に対して補正を許容する補正上限値Ａｕ及び補正下限値Ａｄを設定し、成形時に、順位に従って所定の補正項目Ｘ１…により補正するとともに、この補正項目Ｘ１…による補正が補正上限値Ａｕ又は補正下限値Ａｄに達したなら、次の順位の補正項目Ｘ２…により補正する補正処理を順次行うようにしたことを特徴とする。
【０００８】
この場合、好適な実施の態様により、複数の補正項目Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３は、予め設定した補正項目リストから任意に選択して設定することができ、この補正項目リストには、補正項目として、少なくとも射出速度，射出圧力，保圧力，背圧，スクリュ回転速度，速度−圧力切換位置（Ｖ−Ｐ切換位置），計量値，金型温度，加熱筒温度，ノイズ温度，ホットランナ温度の二以上を含ませることができる。また、補正処理は、各補正項目Ｘ１…に対して一回だけ行うノーマルモードと、補正項目Ｘ１…が順位に従って順次ローテーションするローテーションモードを選択して行うことができる。このノーマルモードにおいては、最後の補正項目Ｘ３による補正が補正上限値Ａｕ又は補正下限値Ａｄに達したときに、対応するメッセージを表示する表示処理を行うことができる。さらに、補正処理は、予め、ショットに対するモニタショット数Ｎ（Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３…）を設定し、成形時に、モニタショット数Ｎ毎に、監視対象がモニタ上限値Ｌｕとモニタ下限値Ｌｄから外れる不良数ＥｕとＥｄをそれぞれカウントし、モニタショット数Ｎに対する不良数Ｅｕ，Ｅｄの割合を出度数Ｋｕ（＝Ｅｕ／Ｎ），Ｋｄ（＝Ｅｄ／Ｎ）として求めるとともに、予め設定した単位補正値Ａｏｕ，Ａｏｄと出度数Ｋｕ，Ｋｄの演算により補正量を求め、この補正量により制御量を補正することができる。なお、監視対象には、成形機Ｍに備える金型Ｃの型内圧Ｐｃを適用することができる。
【０００９】
【実施例】
次に、本発明に係る好適な実施例を挙げ、図面に基づき詳細に説明する。
【００１０】
まず、本実施例に係る制御方法を実施できる制御装置１の構成及びこの制御装置１を搭載する射出成形機Ｍの概略構成について、図３，図５及び図６を参照して説明する。
【００１１】
図３には射出成形機Ｍの概略構成を仮想線で示す。射出成形機Ｍは、機台Ｍｂと、この機台Ｍｂ上に設置された射出装置Ｍｉ及び型締装置Ｍｃを備える。射出装置Ｍｉは、加熱筒２を備え、この加熱筒２の前端に図に現れない射出ノズルを有するとともに、加熱筒２の後部には材料を供給するホッパ３を備える。また、型締装置Ｍｃには可動型と固定型からなる金型Ｃを備える。一方、機台Ｍｂ上には側面パネル４を起設し、この側面パネル４にタッチパネルを付設したカラー液晶ディスプレイ等のディスプレイ５を配設する。
【００１２】
さらに、射出成形機Ｍには制御装置１を搭載する。制御装置１は、制御装置本体１０を備え、この制御装置本体１０には、金型Ｃに付設した型内圧センサ１１を接続する。この型内圧センサ１１により金型Ｃの型内圧Ｐｃを検出することができる。
【００１３】
図５は、制御装置１のブロック系統図を示す。制御装置１は各種制御処理及び演算処理等を実行するコンピュータ機能を備える。１２はＣＰＵであり、このＣＰＵ１２にはバスライン１３を介してＲＡＭ１４及びＲＯＭ１５等の内部メモリを接続する。この場合、ＲＡＭ１４はＣＰＵ１２に管理され、作業メモリとして機能する。また、ＲＯＭ１５には本実施例に係る制御方法を実行する制御プログラムが格納されている。
【００１４】
一方、バスライン１３には、インタフェース１６を介して前述した型内圧センサ１１を接続するとともに、入力インタフェース１７及び出力インタフェース１８を介してディスプレイ（タッチパネル）５を接続する。また、入力インタフェース１７には各種センサ及び各種スイッチ類を接続する。これにより、射出圧力，保圧力，背圧，スクリュ位置（射出速度，速度−圧力切換位置（Ｖ−Ｐ切換位置）），スクリュ回転速度（計量値），金型温度，加熱筒温度，ノイズ温度，ホットランナ温度等に係わる各種検出信号Ｓｉ…が入力する。さらに、射出インタフェース１８には各種アクチュエータを接続する。これにより、各種指令信号（制御信号（制御量））Ｓｏ…が対応するアクチュエータに対して出力する。
【００１５】
他方、ディスプレイ（タッチパネル）５には、本実施例に係る制御方法に用いる図６の補正画面Ｖａを表示する。これにより、この補正画面Ｖａから、モニタショット数Ｎ，モニタ上下限値，補正上下限値，単位補正値等の各種設定情報Ｆ…を入力することができる。
【００１６】
次に、本実施例に係る制御方法について、図３〜図６を参照しつつ図１（図２）に示すフローチャートに従って説明する。
【００１７】
まず、本実施例に係る制御方法は、成形品の良否を判定し、成形品が不良の場合、この不良に関係（相関）のある制御量を補正しようとするものである。本実施例では、成形品の良否を判定する物量量（監視対象）として、型内圧センサ１１から検出される金型Ｃの型内圧Ｐｃを用いる。成形品に直接関係する型内圧Ｐｃを用いることにより、成形品の良否を的確に判定することができる。したがって、制御装置本体１０には、図４に示すように、ショット毎に検出される型内圧Ｐｃ（検出値）に対するモニタ範囲Ｚｍを、モニタ上限値Ｌｕとモニタ下限値Ｌｄにより予め設定する。この場合、モニタ上限値Ｌｕとモニタ下限値Ｌｄは、オペレータが実際の成形品を観察するなどにより任意に設定できる。これにより、検出される型内圧Ｐｃがモニタ範囲Ｚｍ内にあれば良とし、モニタ上限値Ｌｕ及びモニタ下限値Ｌｄのいずれかを外れれば不良とする。
【００１８】
一方、ディスプレイ５に表示される図６に示す補正画面Ｖａは、タッチパネルによる入力機能とディスプレイ５による表示機能を兼ねている。補正画面Ｖａは、所定の制御量に対して補正を許容する補正上限値Ａｕの設定及び表示を行う補正上限値欄Ｄ１，所定の制御量に対して補正を許容する補正下限値Ａｄの設定及び表示を行う補正下限値欄Ｄ２，補正項目（補正対象）の設定及び表示を行う補正項目欄Ｄ３，補正前のデータ（制御量）を表示する補正前データ欄Ｄ４，型内圧Ｐｃがモニタ上限値Ｌｕを外れた際の補正に用いる単位補正値Ａｏｕの設定及び表示を行う上限外補正値欄Ｄ５，型内圧Ｐｃがモニタ下限値Ｌｄを外れた際の補正に用いる単位補正値Ａｏｄの設定及び表示を行う下限外補正値欄Ｄ６，補正処理のスタート又はストップを選択するスタート／ストップ選択ボタンＤ７，ノーマルモード又はローテーションモードの選択及び表示を行う補正モード選択ボタンＤ８及びモニタショット数Ｎの設定及び表示を行うモニタショット数欄Ｄ９等を備えている。この場合、補正上限値欄Ｄ１〜下限外補正値欄Ｄ６までの六つの欄は、１〜３の三つの表示部（設定部）があり、これらは選択した三つの補正項目Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３に対応する。
【００１９】
次に、補正画面Ｖａを用いて本実施例に係る制御方法を実施する際の設定情報を入力する手順について説明する。まず、補正項目欄Ｄ３を用いて補正項目の設定を行う（ステップＳ１）。この場合、補正項目欄Ｄ３は、上から順位番号が付された三つの表示部（設定部）を有する。設定時には、一番上の表示部をタッチすることにより、補正画面Ｖａ上に補正項目リストがウィンドウ表示される。補正項目としては、一例として、「射出速度」，「射出圧力」，「保圧力」，「背圧」，「スクリュ回転速度」，「速度−圧力切換位置（Ｖ−Ｐ切換位置）」，「計量値」，「金型温度」，「加熱筒温度」，「ノイズ温度」，「ホットランナ温度」等を適用できる。
【００２０】
そして、オペレータは、この補正項目リストから型内圧Ｐｃに対して最も関係（相関）があると判断した補正項目Ｘ１をタッチにより選択する。これにより、選択した補正項目Ｘ１が一番上の表示部に表示される。実施例は補正項目Ｘ１として「射出圧力」を設定した場合を示している。同様に、上から二番目の表示部には、型内圧Ｐｃに対して二番目に関係（相関）があると判断した補正項目Ｘ２を設定できるとともに、同様に、上から三番目の表示部には、型内圧Ｐｃに対して三番目に関係（相関）があると判断した補正項目Ｘ３を設定できる。実施例は、二番目の補正項目Ｘ２として「保圧力」、三番目の補正項目Ｘ３として「背圧」を設定した場合を示している。このように、オペレータは、補正項目リストから任意の補正項目Ｘ１…を選択できるため、オペレータの持つ経験や勘等も反映させることができる。
【００２１】
次に、各種設定情報Ｆ…を入力する（ステップＳ２）。なお、以下には補正項目Ｘ１に対応する設定情報を入力する場合について説明するが、他の補正項目Ｘ２，Ｘ３の場合も補正項目Ｘ１の場合と同様に入力することができる。この場合、各欄Ｄ１〜Ｄ６における三つの表示部の順番は、補正項目Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３の順番に対応している。
【００２２】
まず、補正上限値欄Ｄ１における補正上限値Ａｕの設定を行う。この場合、補正上限値欄Ｄ１の一番上の表示部をタッチすることにより、補正画面Ｖａ上にテンキーボードがウィンドウ表示される。したがって、オペレータは設定する数字をタッチすることにより補正上限値Ａｕを入力することができる。実施例は「７０」を入力した場合を示している。これにより、７０〔％〕の補正上限値Ａｕが設定されるとともに表示部に表示される。なお、この場合の設定値は、最大射出圧力に対するパーセンテイジである。同様に、補正下限値欄Ｄ２における補正下限値Ａｄ（実施例は「３０〔％〕」）の設定、上限外補正値欄Ｄ５における単位補正値Ａｏｕ（実施例は「−５〔％〕」）の設定、下限外補正値欄Ｄ６における単位補正値Ａｏｄ（実施例は「＋５〔％〕」）の設定をそれぞれ行うことができる。なお、補正前データ欄Ｄ４には、補正前のデータ（実施例は「５０〔％〕」）が表示される。
【００２３】
また、補正モード選択ボタンＤ８によりノーマルモード又はローテーションモードの選択を行う。この場合、ノーマルモードを選択すれば、補正項目Ｘ１〜Ｘ３に対してそれぞれ一回の補正処理が行われるとともに、ローテーションモードを選択すれば、補正項目Ｘ１〜Ｘ３に対する補正処理が繰り返し行われる。選択する際には、補正モード選択ボタンＤ８をタッチすることにより、「ノーマル」及び「ローテーション」の双方の文字が表示されるため、いずれかをタッチすれば、選択されたモードが表示される。実施例はローテーションモードを選択した場合を示している。なお、ローテーションモードは、例えば、成形を長時間続ける際に、温度変化等に対応して制御量を逐次設定変更できる利点があるとともに、ノーマルモードは、型内圧Ｐｃ（監視対象）に関係（相関）のある補正項目を探し出す場合等に利用できる。
【００２４】
さらに、モニタショット数欄Ｄ９によりモニタショット数Ｎを設定する。実施例は、モニタショット数Ｎとして「５」を設定した場合を示している。この場合、成形初期は、動作が安定しないため、数値を小さくして単位時間当たりの補正回数を多くし、かつ補正量（出度数）を大きくするとともに、動作が安定したなら数値を大きくして頻繁な補正を回避し、かつ補正量（出度数）を小さくすることができる。
【００２５】
そして、補正処理を開始するには、スタート／ストップ選択ボタンＤ７によりスタートを選択する（ステップＳ３）。この場合の選択の方法は、補正モード選択ボタンＤ８と同じである。これにより、最初に補正項目Ｘ１（射出圧力）に対する補正処理が行われる（ステップＳ４）。以下、補正項目Ｘ１（射出圧力）に対する補正処理について、図２に示すフローチャートを参照して説明する。
【００２６】
まず、型内圧センサ１１によりショット毎に検出される型内圧Ｐｃ（検出信号）は、制御装置本体１０に付与される（ステップＳ２１）。一方、制御装置本体１０では、付与された型内圧Ｐｃがモニタ範囲Ｚｍ内にあるか否かを判断する（ステップＳ２２）。この際、モニタ上限値Ｌｕ又はモニタ下限値Ｌｄを外れた場合には、モニタ上限値Ｌｕ又はモニタ下限値Ｌｄから外れた不良数Ｅｕ又はＥｄをそれぞれ区別してカウントする（ステップＳ２３）。このカウントは、ソフトウェアによるカウンタ機能により実行され、ショット毎に行われる。そして、ショット毎の検出が設定したモニタショット数Ｎに達したなら、各カウント値を取込むとともに、カウンタ機能のカウンタ値をリセットする（ステップＳ２４，Ｓ２５）。
【００２７】
なお、図４は、ショット毎に検出される型内圧Ｐｃ（検出値）を時系列的にプロットした一例を示したものであリ、Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３，Ｎ４…は、モニタショット数Ｎを順番に示す。この場合、最初のモニタショット数Ｎ１は、モニタ上限値Ｌｕから外れた不良数Ｅｕが１及びモニタ下限値Ｌｄから外れた不良数Ｅｄが１であることを示し、次のモニタショット数Ｎ２は、モニタ下限値Ｌｄから外れた不良数Ｅｄが３であることを示し、次のモニタショット数Ｎ３は、全てモニタ範囲Ｚｍ内に入っていることを示している。
【００２８】
一方、取込んだカウント値に対して次の処理を行う。まず、カウンタ値がゼロ、即ち、図４に示すモニタショット数Ｎ３のように、型内圧Ｐｃが全てモニタ範囲Ｚｍ内に入っている場合には、補正処理は行わず、次のショットに移行する（ステップＳ２６，Ｓ３３，Ｓ２１…）。
【００２９】
また、カウンタ値が、図４に示すモニタショット数Ｎ１のように、モニタ上限値Ｌｕ及びモニタ下限値Ｌｄの双方から外れている場合には、制御が安定していない状態であるため、対応するメッセージを表示する表示処理を行う（ステップＳ２６，Ｓ２７，Ｓ２８）。この場合のメッセージは、成形条件の設定又はモニタ範囲Ｚｍの設定の確認を促すメッセージとなる。これにより、オペレータは制御が安定していないことを容易に知ることができ、成形条件の設定又はモニタ範囲Ｚｍの設定を速やかに確認することができる。なお、この場合、成形動作は中止してもよいし継続させてもよい。
【００３０】
さらに、カウンタ値が、図４に示すモニタショット数Ｎ２のように、モニタ下限値Ｌｄ（又はモニタ上限値Ｌｕ）のみから外れている場合には、補正項目Ｘ１（射出圧力（制御量））に対する補正処理を行う。補正に際しては、まず、モニタショット数Ｎに対する不良数Ｅｄ（又はＥｕ）の割合を出度数Ｋｄ＝Ｅｄ／Ｎ（又はＫｕ＝Ｅｕ／Ｎ）として求める。そして、求めた出度数Ｋｄ＝Ｅｄ／Ｎ（又はＫｕ＝Ｅｕ／Ｎ）を、予め設定した単位補正値Ａｏｄ（又はＡｏｄ）に乗算（演算）して補正量を求める（ステップＳ２９）。具体的には、実施例の場合、Ｎ＝５，Ｅｄ＝３，Ａｏｄ＝＋５〔％〕であるため、出度数Ｋｄは、Ｋｄ＝Ｅｄ／Ｎ＝３／５となる。したがって、補正量は、Ｋｄ×Ａｏｄ＝（３／５）×（＋５）＝＋３〔％〕となる。
【００３１】
そして、補正による制御量が補正上限値Ａｕ（又は補正下限値Ａｄ）に達するか否かを判断し、補正しても制御量が補正上限値Ａｕ（又は補正下限値Ａｄ）内にあれば、補正項目Ｅ１（射出圧力（制御量））に対する補正を行う。即ち、補正により射出圧力を設定変更する（ステップＳ３０，Ｓ３１）。具体的には、実施例の場合、補正前データが５０〔％〕であるため、補正により射出圧力は、５０〔％〕＋３〔％〕＝５３〔％〕に設定変更される。この場合、補正上限値Ａｕは７０〔％〕であるため、５３〔％〕≦７０〔％〕となり、補正が行われる。
【００３２】
これに対して、補正により制御量が補正上限値Ａｕ（又は補正下限値Ａｄ）を越えてしまう場合には補正を中止し、他の補正処理に変更する。即ち、次の補正項目Ｘ２による補正処理へ移行させる（ステップＳ３２，Ｓ５，Ｓ６）。例えば、実施例において、補正前データが６８〔％〕になっているような場合、補正すれば７１〔％〕になるため、７１〔％〕＞７０〔％〕となり、補正は行わない。これにより、オペレータは、補正項目Ｅ１と型内圧Ｐｃが相関関係のないことを容易に知ることができる。
【００３３】
ところで、補正を行う場合、出度数Ｋｄ（又はＫｕ）が５／５になれば、＋５〔％〕の補正が行われるとともに、出度数Ｋｄ（又はＫｕ）が１／５であれば、＋１〔％〕の補正が行われる。即ち、型内圧Ｐｃがモニタ範囲Ｚｍから外れる頻度が高い場合には、これに対応して補正値（補正量）が大きくなるため、モニタ範囲Ｚｍから外れた型内圧Ｐｃを速やかにモニタ範囲Ｚｍに入れることができるとともに、モニタ範囲Ｚｍから外れる頻度が低い場合には、これに対応して補正値（補正量）が小さくなるため、高精度でキメの細かい補正を行うことができる。したがって、単位補正値Ａｏｄ（又はＡｏｕ）の設定も厳格に行う必要がなく、単位補正値Ａｏｄ（又はＡｏｕ）に対する設定の容易化と迅速化を図ることができる。
【００３４】
他方、補正項目Ｘ２による補正処理に移行した場合も、上述した補正項目Ｘ１の場合と同様の補正処理を行う（ステップＳ７）。この場合、補正する制御量は保圧力となる。そして、補正項目Ｘ２（保圧力）による補正処理によっても型内圧Ｐｃがモニタ範囲Ｚｍに入らず、補正により制御量が補正上限値Ａｕ又は補正下限値Ａｄを越えてしまう場合には補正を中止し、さらに、補正項目Ｘ３による補正処理に移行させ、上述した補正項目Ｘ１の場合と同様の補正処理を行う（ステップＳ８，Ｓ９，Ｓ１０）。この場合、補正する制御量は背圧となる。そして、補正項目Ｘ３（背圧）による補正処理によっても型内圧Ｐｃがモニタ範囲Ｚｍに入らず、補正により制御量が補正上限値Ａｕ又は補正下限値Ａｄを越えてしまう場合には補正を中止し、選択した補正モードに従って次の処理を行なう（ステップＳ１１，Ｓ１２）。
【００３５】
即ち、ノーマルモードを選択した場合には、補正項目Ｘ１〜Ｘ３まで一連の補正処理を実行したにも拘わらず、型内圧Ｐｃがモニタ範囲Ｚｍに入らなかったため、補正項目Ｘ１〜Ｘ３は型内圧Ｐｃに対して関係（相関）がないことを意味する。したがって、この場合には、成形を中止し、対応するメッセージを表示する表示処理を行う（ステップＳ１３）。この場合のメッセージは、選択した三つの補正項目Ｘ１〜Ｘ３では相関関係がない旨及び新しい補正項目の選択を促す旨のメッセージとなる。これにより、オペレータは、補正項目Ｘ１〜Ｘ３以外の補正項目を再設定し、同様の補正処理を行うことができる。ノーマルモードでは、このような処理が行われるため、特に、成形初期において、型内圧Ｐｃ（監視対象）に関係（相関）のある補正項目を探し出す場合等に利用できる。
【００３６】
一方、ローテーションモードを選択した場合には、再度、補正項目Ｘ１による補正処理に移行し、以下、同様の補正処理が繰り返して行われる（ステップＳ１４）。したがって、ローテーションモードでは、三つの補正項目Ｘ１〜Ｘ３による補正処理が繰り返されるため、例えば、成形を長時間続ける場合において、朝と夜のように温度変化があったとしても、この温度変化に対応して制御量を逐次設定変更できる。なお、補正処理の途中で型内圧Ｐｃがモニタ範囲Ａｍに入り、モニタ上限値Ｌｕ及びモニタ下限値Ｌｄを外れない状態を継続すれば、そのときの状態が補正画面Ｖａに表示されたままとなるため、オペレータは、型内圧Ｐｃがどの補正項目と相関関係があったかを知ることができる。
【００３７】
よって、このような制御方法を用いることにより、不良品に対応して補正する制御対象の選定が、いわば自動で行われるため、当該制御対象の選定を容易かつ効率的に行うことができる。しかも、オペレータの熟練の有無に関係なく自動で行われるため、非熟練オペレータであっても適切な制御対象を迅速に選定することができ、成形時の歩留り向上や成形品の均一性向上に寄与できる。
【００３８】
以上、実施例について詳細に説明したが、本発明はこのような実施例に限定されるものではなく、細部の構成，数値，数量，手法等において、本発明の要旨を逸脱しない範囲で任意に変更，追加，削除することができる。例えば、選択する補正項目は三つの場合を例示したが、二つであってもよいし四つ以上であってもよい。また、監視対象として、型内圧Ｐｃを例示したが、スクリュ最前進位置等、他の監視対象であっても同様に実施できるとともに、射出成形機以外の任意の成形機（広くは工作機を含む）に適用することができる。
【００３９】
【発明の効果】
このように、本発明に係る成形機の制御方法は、予め、順位を付けた複数の補正項目を設定するとともに、各補正項目に対して補正を許容する補正上限値及び補正下限値を設定し、成形時に、順位に従って所定の補正項目により補正するとともに、この補正項目による補正が補正上限値又は補正下限値に達したなら、次の順位の補正項目により補正する補正処理を順次行うようにしたため、次のような顕著な効果を奏する。
【００４０】
（１）  不良品に対応して補正する制御対象の選定が、いわば自動で行われるため、当該制御対象の選定を容易かつ効率的に行うことができる。
【００４１】
（２）  非熟練オペレータであっても適切な制御対象を迅速に選定することができ、成形時の歩留り向上や成形品の均一性向上に寄与できる。
【００４２】
（３）  好適な実施の態様により、複数の補正項目を、予め設定した補正項目リストから任意に選択して設定できるようにすれば、オペレータの持つ経験や勘等も反映させることができる。
【００４３】
（４）  好適な実施の態様により、補正処理を、各補正項目に対して一回だけ行うノーマルモードと、補正項目が順位に従って順次ローテーションするローテーションモードを選択できるようにすれば、ノーマルモードは、監視対象に関係（相関）のある補正項目を探し出すことに利用できるとともに、ローテーションモードは、成形を長時間続ける際に、温度変化等に対応して制御量を逐次設定変更できる。
【００４４】
（５）  好適な実施の態様により、監視対象として、成形機に備える金型の型内圧を適用すれば、成形品の良否を的確に判定することができる。
【００４５】
（６）  好適な実施の態様により、補正処理を、予め、ショットに対するモニタショット数を設定し、成形時に、モニタショット数毎に、監視対象がモニタ上限値とモニタ下限値から外れる不良数をそれぞれカウントし、モニタショット数に対する不良数の割合を出度数として求めるとともに、予め設定した単位補正値と出度数の演算により補正量を求め、この補正量により制御量を補正するようにすれば、監視対象がモニタ範囲から外れる頻度が高い場合には、これに対応して補正量（補正値）が大きくなるため、モニタ範囲から外れた監視対象を速やかにモニタ範囲に入れることができるとともに、モニタ範囲から外れる頻度が低い場合には、これに対応して補正量（補正値）が小さくなるため、高精度でキメの細かい補正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の好適な実施例に係る制御方法の処理手順を示すフローチャート、
【図２】同制御方法の他の処理手順を示すフローチャート、
【図３】同制御方法を実施する制御装置を搭載する射出成形機の概略構成図、
【図４】同制御方法においてショット毎に検出した型内圧のプロット図、
【図５】同制御方法を実施する制御装置のブロック回路図、
【図６】同制御装置のディスプレイに表示される補正画面図、
【符号の説明】
Ｍ      成形機（射出成形機）
Ｌｕ    モニタ上限値
Ｌｄ    モニタ下限値
Ｚｍ    モニタ範囲
Ｘ１…  補正項目
Ｃ      金型
Ｐｃ    型内圧
Ｎ１…  モニタショット数
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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