(57)【要約】【課題】半導体集積回路において、出荷前には外部から操作可能なテスト回路や機能切替え回路を出荷後には外部から操作不可能にする機能を提供する。【解決手段】内部回路２の信号配線３に切断可能な部分を持たせ、外部から配線３の切断を制御可能にする。その場合、配線３を切断するための切断制御信号をリセット信号入力部５のリセット信号と兼用させ、オープンドレイン回路６を駆動することにより配線３を切断し、切断を制御するための信号を経由しての内部回路２の制御を不可能にすることにより、外部からの操作を不能にする。【選択図】　　図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
内部回路と、この内部回路に切断可能な配線を介して接続されて制御信号を入力する入力部と、前記配線の切断を制御する手段を備えた集積回路。
【請求項２】
手段は、配線を切断するための切断制御信号を、通常動作時に他の機能となる信号で兼用した請求項１記載の集積回路。
【請求項３】
通常動作時に他の機能となる信号は内部回路のリセット信号である請求項２記載の集積回路。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、切断可能な配線を持つ半導体集積回路などの集積回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、集積回路の複雑化に伴いテスト専用回路を集積回路の内部に持つものがある。この場合、テスト専用回路をユーザに利用されると不正利用や内部解析が可能となり問題となることがある。
【０００３】
また、複数の機能を１つの集積回路に内蔵し、外部からの設定で機能を切り替える場合、意図しない機能をユーザに使われてしまうことがある。
【０００４】
図５は従来の制御信号の入力部を持つ集積回路の構成図である。図５において、１はテスト用途または機能切替えのための制御信号の入力部、２は内部回路、５はリセット信号の入力部である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の構成では、制御信号の入力部１が外部から可制御であり、ユーザにも使用可能となってしまうという欠点があった。
【０００６】
したがって、この発明の目的は、ユーザが制御入力を外部から操作することを不可能にできる集積回路を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の集積回路は、内部回路と、この内部回路に切断可能な配線を介して接続されて制御信号を入力する入力部と、配線の切断を制御する手段を備えたものである。
【０００８】
請求項１記載の集積回路によれば、外部から切断可能な配線部分とその配線切断を制御するための回路を備え、制御信号の入力部の配線に切断可能な配線を用い、出荷前に切断可能部分に大きな電流を流すことによって、配線を切断してから出荷し、ユーザが制御入力を外部から操作することを不可能にする。
【０００９】
これにより、制御信号の入力部の切断可能な配線を外部から切断制御信号によって切断することで、テスト用途または機能の切替えのための制御を可能にしながら、出荷後にユーザがこれらの制御を行うことを防止する効果を実現するものである。
【００１０】
請求項２記載の集積回路は、請求項１において、手段が、配線を切断するための切断制御信号を、通常動作時に他の機能となる信号で兼用したものである。
【００１１】
請求項２記載の集積回路によれば、請求項１と同様な効果のほか、切断制御信号を通常動作時に他の機能となる信号と兼用させることにより、配線切断後の回路を外部から制御することを不可能にする機能を備えたため、配線切断のための切断制御信号を例えばリセット信号と兼用するなどにより、制御信号の操作を切断制御信号の入力部の経由でも不可能にすることができる。
【００１２】
請求項３記載の集積回路は、請求項２において、通常動作時に他の機能となる信号は内部回路のリセット信号である。
【００１３】
請求項３記載の集積回路によれば、請求項２と同様な効果がある。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、ここで示す実施の形態はあくまで一例であって、必ずしもこれに限定されるものではない。
【００１５】
（実施の形態１）
以下に、実施の形態１に係る集積回路について図１および図２を参照しながら説明する。本実施の形態１は請求項１に対応するものである。
【００１６】
図１は、実施の形態１に係る集積回路の構成図である。図１において、１は制御信号入力部であり、２は内部回路、３は切断可能な配線であり、例えばヒューズとしている。４は切断制御信号入力部であり、配線３の制御信号入力部１と反対側に接続しており、配線の切断を制御する手段を構成している。５はリセット信号入力部、７、８はバッファである。
【００１７】
制御信号入力部１に入力された制御信号は切断可能な配線３を経由して内部回路２に入力される。出荷前のテスト時には切断可能な配線３はまだ切断されていないため、外部の制御信号入力部１から制御信号を入力することにより、内部回路２の内部を制御することが可能である。
【００１８】
出荷前の試験が終わって制御信号が不要になると、図２に示すように、制御信号入力部１と切断制御信号入力部４を使って切断可能な配線３に電流を流して、配線３を溶断切断することができる。一度配線３を切断してしまえば、制御信号入力部１から内部回路２の制御信号の入力を操作することができなくなり、不正利用の防止が可能である。
【００１９】
（実施の形態２）
以下に、実施の形態２に係る集積回路について図３および図４を参照しながら説明する。本実施の形態２は請求項２に対応するものである。
【００２０】
図３は、実施の形態２に係る集積回路の構成図である。図３において、１は制御信号入力部であり、２は内部回路、３は切断可能な配線、４は切断制御信号入力部、５はリセット信号入力部である。第１の実施の形態と異なる点は、切断制御信号入力部４は配線３の切断を制御するための切断制御信号を、通常動作時に他の機能となる信号で兼用するものであり、実施の形態ではオープンドレイン回路６を通して、リセット信号入力部５のリセット信号で制御される。
【００２１】
出荷前の試験が終わって制御信号入力部１が不要になると、図４に示すように、制御信号入力部１とリセット信号入力部５を使ってオープンドレイン回路６を駆動し、配線３に電流を流して、配線３を切断することができる。すなわち制御信号入力部１を接地し、リセット信号入力部５を接地してオープンドレイン回路６を通して配線３に電流を流す。リセット信号５は通常動作には‘１’側に固定されているため、制御信号入力部１の状態には影響しない。
【００２２】
本実施形態に示すように、切断制御信号入力部４の切断制御信号をリセット信号と共通化すれば、切断制御のための入力が不要になり、また、制御入力を切断制御信号側の入力から操作することも防ぐ事が可能になる。
【００２３】
【発明の効果】
請求項１記載の集積回路によれば、外部から切断可能な配線部分とその配線切断を制御するための回路を備え、制御信号の入力部の配線に切断可能な配線を用い、出荷前に切断可能部分に大きな電流を流すことによって、配線を切断してから出荷し、ユーザが制御入力を外部から操作することを不可能にする。
【００２４】
これにより、制御信号の入力部の切断可能な配線を外部から切断制御信号によって切断することで、テスト用途または機能の切替えのための制御を可能にしながら、出荷後にユーザがこれらの制御を行うことを防止する効果を実現するものである。
【００２５】
請求項２記載の集積回路によれば、請求項１と同様な効果のほか、切断制御信号を通常動作時に他の機能となる信号と兼用させることにより、配線切断後の回路を外部から制御することを不可能にする機能を備えたため、配線切断のための切断制御信号を例えばリセット信号と兼用するなどにより、制御信号の操作を切断制御信号の入力部の経由でも不可能にすることができる。
【００２６】
請求項３記載の集積回路によれば、請求項２と同様な効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１に係る集積回路の構成図である。
【図２】本発明の実施の形態１に係る集積回路において切断可能な配線の切断を行う時の接続図である。
【図３】本発明の実施の形態２に係る集積回路の構成図である。
【図４】本発明の実施の形態２に係る集積回路において切断可能な配線の切断を行う時の接続図である。
【図５】従来の集積回路の構成図である。
【符号の説明】
１　制御信号入力部
２　内部回路
３　切断可能な配線
４　切断制御信号入力部
５　リセット信号入力部
６　オープンドレイン回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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