(57)【要約】【課題】動作の信頼性が高く、高精度の異物混入検査を行うことができる異物検査装置を提供する。【解決手段】粉粒体を二次元カメラ１７で撮像し、当該カメラ１７から出力される画像データを画像処理することで、粉粒体に混入する異物の検出を行う異物検査装置１であって、上部開口面３が略水平な状態で回転可能に支持された収容体５と、収容体５の内部において昇降可能に支持された昇降部材７と、収容体５の回転及び昇降部材の昇降を制御する駆動制御手段と、収容体５の開口面３に沿って配置された掻き取り板２５とを備え、収容体５に収容された粉粒体が昇降部材７の上昇により押し上げられて、掻き取り板２５により掻き取られるように構成されており、二次元カメラ１７は、開口面３において露出する粉粒体を撮像可能に配置される異物検査装置１。【選択図】　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
粉粒体を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像データを画像処理することで、粉粒体に混入する異物の検出を行う異物検査装置であって、
上部開口面が略水平な状態で回転可能に支持された収容体と、
前記収容体の内部において昇降可能に支持された昇降部材と、
前記収容体の回転及び昇降部材の昇降を制御する駆動制御手段と、
前記収容体の開口面に沿って配置された掻き取り部を有する除去手段とを備え、
前記収容体に収容された粉粒体が、前記昇降部材の上昇により押し上げられて、前記除去手段により掻き取られるように構成されており、
前記撮像手段は、前記開口面において露出する粉粒体を撮像可能に配置される異物検査装置。
【請求項２】
前記昇降部材に螺合する送りネジ棒をさらに備え、
前記駆動制御手段は、前記収容体を所定の回転数で回転させる駆動部と、前記収容体の回転を前記昇降部材に伝動する伝動部とを備えており、
前記昇降部材は、前記収容部とともに回転することで、前記送りネジ棒に沿って昇降する請求項１に記載の異物検査装置。
【請求項３】
前記送りネジ棒は、前記昇降部材の回転数と所定の回転数差をもって回転駆動可能に構成されている請求項２に記載の異物検査装置。
【請求項４】
前記昇降部材は、前記収容体の上方から支持されている請求項１から３のいずれかに記載の異物検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、医薬品、食品等の各種粉粒体中の異物を検出する異物検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、医薬品、食品等の分野では、粉粒体への異物の混入を検査するために、例えば特公平７−４８０６５号公報に記載の異物検査装置が提案されている。図５に示すように、この装置１０１では、ホッパー１０３から排出された粉粒体Ｐを振動板１０５で振動させることにより、定量の粉粒体Ｐをベルトコンベア１０７上に供給する。そして、コンベア１０７上に配設されたスキージ１０９によって粉粒体Ｐの表面を掻き取ることで、粉粒体Ｐの厚さを均一にする。こうして、厚さを均一にされた粉粒体Ｐは、その表面を二次元カメラ１１１によって撮像される。撮影された画像は、明度の差を利用することによる画像処理がなされ、粉粒体Ｐ中に混入する異物の検出が行われる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
上記のような装置において精度の高い検査を行うためには、コンベア１０７とスキージ１０９との間隔をできるだけ小さくして粉粒体Ｐの厚さを薄くする必要がある。しかしながら、このようにすると、コンベア１０７とスキージ１０９との間隙で粉粒体Ｐの詰まりが生ずるという問題があった。
【０００４】
また、定量の粉粒体Ｐをコンベア１０７に供給するためには、コンベア１０７への粉粒体Ｐの供給量と、コンベア１０７の搬送速度とをバランスよく調節する必要があるが、粉粒体Ｐの厚さが薄くなると、この調整が難しく粉粒体Ｐの供給量を一定に維持することが困難になる。特に、コンベア１０７の搬送速度は詰まりの大きな原因となるため、粉粒体Ｐを供給するための制御は容易ではなかった。そのため、コンベア上の粉粒体の厚さを均一にするのが困難となり、検査面、つまり粉粒体の表面を均一に均すことが難しいという問題があった。
【０００５】
本発明は、上記問題を解決するためになされたものであり、動作の信頼性が高く、高精度の異物混入検査を行うことができる異物検査装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の前記目的は、粉粒体を撮像手段で撮像し、該撮像手段から出力される画像データを画像処理することで、粉粒体に混入する異物の検出を行う異物検査装置であって、上部開口面が略水平な状態で回転可能に支持された収容体と、前記収容体の内部において昇降可能に支持された昇降部材と、前記収容体の回転及び昇降部材の昇降を制御する駆動制御手段と、前記収容体の開口面に沿って配置された掻き取り部を有する除去手段とを備え、前記収容体に収容された粉粒体が前記昇降部材の上昇により押し上げられて、前記除去手段により掻き取られるように構成されており、前記撮像手段は、前記開口面において露出する粉粒体を撮像可能に配置される異物検査装置により達成される。
【０００７】
前記異物検査装置は、前記昇降部材に螺合する送りネジ棒をさらに備え、前記駆動制御手段は、前記収容体を所定の回転数で回転させる駆動部と、前記収容体の回転を前記昇降部材に伝動する伝動部とを備えており、前記昇降部材は、前記収容部とともに回転することで、前記送りネジ棒に沿って昇降することが好ましい。ここで、前記送りネジ棒は、前記昇降部材の回転数と所定の回転数差をもって回転駆動可能に構成されていることがさらに好ましい。
【０００８】
また、前記異物検査装置において、前記昇降部材は、前記収容体の上方から支持されていることが好ましい。
【０００９】
【発明の実施の形態】
（第１実施形態）
以下、本発明に係る異物検査装置の第１実施形態について図面を参照しつつ説明する。図１は本実施形態に係る異物検査装置の正面断面図、図２は図１の平面図である。
【００１０】
本実施形態に係る異物検査装置は、医薬品、食品等の各種粉粒体をカメラで撮像し、粉粒体の画像データを画像処理することで、粉粒体中に混入する異物を検出する装置である。図１に示すように、この異物検査装置１は、カップ状に形成され検査対象となる粉粒体Ｐを収容する収容体５と、この収容体５内に配置され粉粒体Ｐを昇降させる昇降部材７とを備えている。粉粒体を撮像するカメラ９は収容体５の上方に配置され、開口面３を介して露出する粉粒体Ｐの表面を上方から撮像する。
【００１１】
収容体５は、底部に略鉛直方向に延びるボス６を有し、このボス６の下部にベアリング１０が嵌合している。そして、このベアリング１０を介して上部開口面３が略水平な状態で回転自在に支持されている。昇降部材７は、略鉛直方向に延びる軸部１１と、この軸部１１の外周面から径方向に延びて粉粒体Ｐを載置する環状部１３とからなり、収容体５内で昇降自在に支持されている。環状部１３の外径は、収容体５の内径と略同径であり、昇降部材７はほぼ隙間のない状態で収容体５の内部を昇降する。
【００１２】
昇降部材７の環状部１３上には、環状のリング部材１５が着脱自在に配置されており、検査対象となる粉粒体Ｐは、このリング部材１５と収容体５の内壁面との間に環状に収容される。このように収容された粉粒体Ｐは、後述する駆動制御手段によって収容体５が回転されることにより、環状の経路に沿って移動する。なお、外径の異なるリング部材１５を配置することで、粉粒体が収容される環状部分の径方向の幅を変更することができる。
【００１３】
図１及び図２に示すように、収容体５の上方には粉粒体Ｐを撮像する公知の２次元カメラ（撮像手段）９が２台設けられている。各カメラ９ａ，９ｂは上記した環状の経路上に配置され、第１のカメラ９ａは収容体５の中心寄りに、第２のカメラ９ｂは第１のカメラ９ａから約９０度ずれた下流側で収容体５の外周寄りに配置されている。すなわち、第１のカメラ９ａは径方向の内側を移動する粉粒体Ｐを撮像する一方、第２のカメラ９ｂは径方向の外側を移動する粉粒体Ｐを撮像し、これにより径方向の全幅に亘って粉粒体Ｐを撮像することができる。なお、粉粒体の幅が広い場合には、２台以上のカメラを使用することもできる。
【００１４】
図１に示すように、各カメラ９ａ，９ｂと収容体５との間には、照明装置１７ａ，１７ｂが設けられている（図１では１つのみ表示）。各照明装置１７は、環状の貫通孔１９が形成された本体部２０を備えている。本体部２０の底面には、貫通孔１９の下端から裾拡がりに延びるテーパ面２１が形成されており、このテーパ面２１に複数の光源２３が配設されている。そして、光源２３から粉粒体Ｐの表面に照射された光の反射光が、貫通孔１９を介してカメラ９に入射するように構成されており、粉粒体Ｐ表面の所定面積が貫通孔１９を介して各カメラ９により撮像される。撮像された粉粒体Ｐの画像は、画像データとしてカメラ９から図示を省略する公知の画像処理装置へ出力されて画像処理が行われる。
【００１５】
画像処理は次のように行われる。すなわち、粉粒体Ｐの中に、これと色調の異なる異物が存在すると、異物は取り込まれた画像中に明度又は輝度の変化として表れるため、これにより異物の混入が検出される。なお、画像処理の方法は、この方法に限られず、粉粒体中の異物を検出できるものであれば、特に限定されない。また、上記説明では、二次元カメラを用いた例を示したが、これに限定されるものではない。すなわち、使用されるカメラは、異物の検出において画像処理可能な画像を撮像できるものであれば、特に限定されず、例えば一次元カメラを用いることもできる。一次元カメラを使用する場合には、径方向に亘って粉粒体の全幅を撮像できるように、複数のカメラを径方向に一直線上に並ぶように配設することが好ましい。
【００１６】
また、図２に示すように、収容体５の上部における第２カメラ９ｂの下流には、粉粒体Ｐを掻き取る掻き取り具（除去手段）２４が設けられている。掻き取り具２４は、収容体５の開口面３に沿って配置された掻き取り板（掻き取り部）２５と、これを支持する支持台２６とから構成されている。掻き取り板２５は、収容体５を径方向に横切るように配置され、その先端部がリング部材１５の外周面に当接し、リング部材１５から収容体５の回転方向へ略接線方向に延びている。また、掻き取り板２５の下面は、収容体５の外周壁の上面に当接し、後述するように収容体５の開口面３より上方にある粉粒体Ｐの表面部分を掻き取るようになっている。掻き取られた粉粒体Ｐは、掻き取り板２５の下方で収容体５の外周壁に当接するシュート２７から回収される。
【００１７】
収容体５及び昇降部材７を駆動する駆動制御手段は、次のように構成されている。図１に示すように、収容体５の底面に形成されたボス６の上部、つまりベアリング１０の上方には、第１歯車３１が固着されている。第１歯車３１は、モータ（駆動部）３５により回転駆動される第２歯車３７に噛合している。
【００１８】
収容体５の底面中央には、ボス６と連通する貫通孔３９が形成されており、この貫通孔３９には、略鉛直方向に延び外周面に雄ネジが形成された送りネジ棒４１が挿通されている。この送りネジ棒４１は、昇降部材７の軸部１１に形成され雌ネジ部４２に螺合するとともに、下端部がボス６に挿通された軸体４３に固着されている。軸体４３は、この異物検査装置１の底部に固定されている。また、収容体５における底面の偏心した位置には、略鉛直方向に上方へ延びる棒状部材（伝動部）４３が取り付けられている。この棒状部材４３は、昇降部材７の軸部１１に形成された縦孔４５に摺動自在に挿入されている。
【００１９】
したがって、モータ３５が駆動すると、第１及び第２歯車３１，３７を介して収容体５が回転されるとともに、棒状部材４３によって昇降部材７が収容体５とともに一体的に回転される。さらに、昇降部材７は、送りネジ棒４１に螺合しているため、収容体５とともに回転することで、上下方向に移動する。なお、収容体５の回転数は、検査対象となる粉粒体Ｐの粒子の性質、カメラの性能等にもよるが、移動する粉粒体Ｐを撮像できる回転数であればよく、例えば１〜６０ｒｐｍにすることができる。
【００２０】
次に、上記のように構成された異物検査装置１の動作について説明する。まず、図１に示すように、昇降部材７を収容体５の底面付近まで下降させた後、収容体５内に検査対象となる粉粒体Ｐを充填する。このとき、粉粒体Ｐは昇降部材７上に環状に載置される。続いて、開口面３を平坦な蓋部材（図示省略）で閉鎖した後、昇降部材７を上昇させる。これにより、粉粒体Ｐが蓋部材と昇降部材７との間で圧縮されるため、粉粒体Ｐ中に含まれる固まりを砕いたり、或いは空気を除去することができ、粉粒体Ｐの密度を均一にすることができる。
【００２１】
そして、蓋部材を取り外した後、モータ３５を駆動すると、第１及び第２歯車３１，３７を介して収容体５が回転され、収容体５とともに昇降部材７も回転する。これにより、昇降部材７は、送りネジ棒４１に沿って上昇する。したがって、昇降部材７上の粉粒体Ｐは、回転しつつ上方へ押し上げられることになる。
【００２２】
図２に示すように、収容体５が回転することで環状の経路を移動する粉粒体Ｐは、２箇所において二次元カメラ９ａ，９ｂにより撮像される。撮像の時間的間隔は任意であるが、例えば１５ｒｐｍで回転させる場合には１秒ごとに行うことができる。粉粒体Ｐは、回転しながら押し上げられるため、二次元カメラ９を通過した粉粒体Ｐは収容体５の開口面３から上昇した分だけ掻き取り板２５によって掻き取られる。掻き取られた粉粒体Ｐは、掻き取り板２５に沿いながら収容体５の外周壁を乗り越えてシュート２７へと流れ出す。こうして、粉粒体Ｐは、収容体５が１回転するごとに所定の量だけ掻き取られるため、新たな撮像面が連続的に創出される。したがって、粉粒体Ｐ中の異物の検査を連続的に行うことができる。なお、１回の撮像によって検査される粉粒体の体積は、（撮像面積×１回転当たりの粉粒体の上昇量）で計算され、この体積中の異物の検出が行われる。
【００２３】
上記カメラ９による画像処理では、粉粒体Ｐの表面層のみを撮像しているため、正確な異物の検査のためには、撮像対象となる粉粒体Ｐの厚さをできるだけ小さくすることが好ましい。そのためには、昇降部材７の上昇速度をできるだけ小さくことが必要であるが、１回転当たりの昇降部材７の上昇距離を例えば０．０５〜５ｍｍ程度にすることが好ましい。例えば、二次元カメラ９による撮像面積を１５ｃｍ２，昇降部材７の上昇を１回転当たり０．２ｍｍとすると、１回の撮像で粉粒体０．３ｃｍ３中の異物の検査を行うことができる。
【００２４】
以上のように、本実施形態では、収容体５及び昇降部材７を回転させることで、開口面３を介して露出しながら回転する粉粒体Ｐを二次元カメラ９により撮像している。そして、昇降部材７を上昇させて粉粒体Ｐを押し上げ、開口面３より上方にある粉粒体Ｐの表面部分を掻き取ることで、新たな撮像面を連続的に創出するとともに粉粒体Ｐの表面を均している。したがって、狭い間隙に粉粒体を通過させて表面を均す従来例とは異なり、粉粒体が詰まって検査作業に支障をきたすことがなく、装置の信頼性を向上することができる。
【００２５】
また、昇降部材９の上昇速度を制御するだけで、粉粒体Ｐの掻き取り量を制御できるため、撮像対象となる粉粒体Ｐの厚みを容易に制御することができる。特に、本実施形態では、送りネジ棒４１を用いているため、昇降部材７をより高精度で上昇させることができる。すなわち、昇降部材７の回転速度を一定にすることで、自動的に昇降部材７の上昇速度を一定にすることができる。その結果、粉粒体Ｐの掻き取り量を高い精度で一定にすることが可能となり、検査精度をより向上することができる。
【００２６】
また、検査装置１を清掃する際には、収容体５の内部のみを清掃すればよいため、従来のようにホッパー及びコンベアを清掃するのに比べ、清掃作業を容易に、しかも短時間で行うことができる。
【００２７】
さらに、従来の装置では、粉粒体を直線的に搬送するためのコンベアを配置しなければならないため、設置スペースが大きくなるという問題があった。これに対して、本実施形態に係る異物検査装置は、粉粒体Ｐを収容体５内で回転させながら異物の検査を行うため、収容体５の設置スペースを確保するだけでよく、装置の設置スペースを小さくすることができる。
【００２８】
ところで、検査の精度をより向上するためには、１回の撮像で検査する粉粒体の厚さができるだけ小さくなるように、昇降部材７の上昇速度を小さくしなければならず、そのためには、送りネジ棒４１及び雌ネジ部４２のピッチを小さくする必要がある。しかしながら、これらのピッチを小さくすると、機械強度が低下するという問題があり、また、その加工が困難であるという問題もある。そこで、駆動制御手段を次に示すような構成にすることで、機械強度を低下させることなく、上昇速度を小さくすることができる。
【００２９】
（第２実施形態）
以下、本発明に係る異物検査装置の第２実施形態について図面を参照しつつ説明する。図３は、本実施形態に係る異物検査装置の正面断面図である。本実施形態に係る異物検査装置が第１実施形態と異なるのは駆動制御手段であり、その他の構成については同一であるため、同一構成には同一符号を付してその説明を省略する。
【００３０】
図３に示すように、この異物検査装置５１の駆動制御手段では、上記した送りネジ棒４１を鉛直軸周りに回転させるように構成されている。すなわち、送りネジ棒４１が固着している軸体５３が、ボス６の下方に設けられたベアリング５５に回転自在に支持されている。軸体５３の下端部には、第３歯車５７が着脱自在に接続されている。また、軸体５３を挟んで第２歯車３７と対向する位置には、第１歯車３１と噛合する第４歯車５９が設けられている。第４歯車５９は、回転自在に支持されて下方に延びる軸部材６１に取り付けられており、軸部材６１の下端部には、第３歯車５７と噛合する第５歯車６３が着脱自在に取り付けられている。ここで、第４歯車５９の歯数は第２歯車３７と同一であり、第３歯車５７の歯数は第５歯車６３より多くなっている。したがって、これら歯車機構により、収容体５の回転が送りネジ棒４１に減速して伝達される。
【００３１】
以上の構成によれば、第３及び第５歯車５７，６３による減速によって、送りネジ棒４１は収容体３より遅い速度で回転するため、昇降部材７の送りネジ棒４１に対する相対的な回転数は、収容体５と送りネジ棒４１との回転数の差になる。そのため、例えばモータ３５の回転数を第１実施形態と同じにすると、昇降部材７の上昇速度は小さくなる。したがって、送りネジ棒４１及び雌ネジ部４２のピッチを大きくしても、昇降部材７の上昇速度を小さいままに維持することが可能となる。このように、ネジのピッチを大きくすることができるため、機械強度を高くすることができ、装置の信頼性を向上することができる。また、送りネジ棒４１及び雌ネジ部４２の加工も容易になる。
【００３２】
なお、第３及び第５歯車５７，６３は、着脱自在に取り付けられているため、これら歯車を取り替えることで、所望の減速比で送りネジ棒４１を回転させることができる。これにより、昇降部材７の上昇速度を適宜変更することが可能となる。
【００３３】
また、送りネジ棒４１を回転させるための構成は上記したものに限定されるものではなく、収容体５と所定の回転数差をもって回転駆動させ、昇降部材７の上昇速度を低下できるものであればよい。例えば、収容体５を回転させるモータ３５とは別に他のモータを設け、これによって送りネジ棒４１を回転させることもできる。このとき、送りネジ棒４１の回転数を適宜変更することで、昇降部材７の上昇速度を変更することができる。
【００３４】
ところで、上記各実施形態で説明したような異物検査装置では、昇降部材７の外周部と収容体５内壁面との間の隙間を完全に埋めることができないため、粉粒体Ｐはこの隙間を介して収容体５の底面に溜まってしまうことがある。ここで、収容体５の底面中央には、貫通孔３９が形成されているため、収容体７の底面に溜まった粉粒体Ｐがこの貫通孔３９から下方へと流れ出ることがあり、このように粉粒体Ｐが流れ出すと、収容体５の下方に配設された歯車やモータの作動に支障をきたすことも考えられる。そこで、駆動制御手段を次のように構成することで、上記問題を解決することができる。
【００３５】
（第３実施形態）
以下、本発明に係る異物検査装置の第３実施形態について図面を参照しつつ説明する。図４は、本実施形態に係る異物検査装置の正面断面図である。本実施形態に係る異物検査装置が上記第１実施形態と異なるのは収容体及び駆動制御手段の構成であり、その他の構成については同一であるため、同一構成には同一符号を付してその説明を省略する。なお、図４ではカメラ及び照明装置の図示を省略している。
【００３６】
図４に示すように、この異物検査装置７１の駆動制御手段では、昇降部材７を上下動させるための送りネジ棒７３を支持台７５によって支持し、昇降部材７の軸部１１に向けて上方から垂下させている。そして、送りネジ棒７３が軸部１１の雌ネジ部４２と螺合するように構成されている。なお、送りネジ棒７３を上方から昇降部材７に螺合させているため、収容体５の底面には、第１実施形態のように送りネジ棒挿通用の貫通孔３９（図１参照）が形成されていない。
【００３７】
この構成によっても、第１実施形態と同様に、収容体５とともに昇降部材７が回転すると、送りネジ棒７３によって昇降部材７が上昇する。
【００３８】
本実施形態によれば、送りネジ棒７３が上方から昇降部材７を支持し、送りネジ棒挿通用の貫通孔が収容体５の底面に形成されていないため、昇降部材７から収容体５の底面に流れ出た粉粒体Ｐが、収容体５から外部に流出するのを防止することができる。そのため、収容体５を回転させるための歯車３１，３７やモータ３５等に粉粒体が付着して、故障等を引き起こすのを未然に防止することができる。
【００３９】
なお、本実施形態では送りネジ棒７３を固定しているが、第２実施形態のように送りネジ棒が回転するように構成することもでき、こうすることにより昇降部材７の上昇速度を小さくしたままで、送りネジ棒７３及び雌ネジ部４２のピッチを大きくすることができる。送りネジ棒７３を回転させる機構としては、例えば収容体５を回転させるものとは別のモータで送りネジ棒７３を回転させたり、或いは歯車によって収容体５の回転を減速して伝動するようにすることが挙げられる。
【００４０】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【００４１】
例えば、上記各実施形態では、収容体５の内部に棒状部材４３を設け、これを昇降部材７の軸部材１１と摺動するようにしているが、これに限定されるものではなく収容体５の回転を昇降部材７に伝動することができるものであればよい。例えば、収容体５の内壁面に上下方向に延びるキーを形成するとともに、これに嵌合可能なキー溝を昇降部材７の外周部に形成する。このような構成によっても、上記各実施形態と同様に、収容体５とともに昇降部材７を回転させつつ上昇させることができる。
【００４２】
また、上記各実施形態では、収容体５及び昇降部材７の回転と、昇降部材７の上昇を一のモータ３５で駆動するような機構を採用しているが、これらを別々のモータでそれぞれ駆動するように構成することもできる。すなわち、収容体を回転させる駆動装置と、昇降部材を上下動させる駆動装置とをそれぞれ設けることもできる。昇降部材７を上下動させる機構としては、例えばラックアンドピニオンを使用することができる。
【００４３】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明の異物検査装置によれば、収容体及び昇降部材を回転させることで、開口面を介して露出しながら回転する粉粒体を撮像手段により撮像している。そして、昇降部材を上昇させて粉粒体を押し上げ、開口面より上方にある粉粒体の表面部分を掻き取ることで、新たな撮像面を連続的に創出するとともに粉粒体の表面を均している。したがって、狭い間隙に粉粒体を通過させて表面を均す従来例とは異なり、粉粒体が詰まって検査作業に支障をきたすことがなく、装置の信頼性を向上することができる。
【００４４】
また、昇降部材の上昇速度を制御するだけで、粉粒体の掻き取り量を制御できるため、撮像対象となる粉粒体の厚みを容易に制御することができる。したがって、粉粒体の掻き取り量を高い精度で一定にすることが可能となり、検査精度をより向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る異物検査装置の第１実施形態を示す正面断面図である。
【図２】図１の平面図である。
【図３】本発明に係る異物検査装置の第２実施形態を示す正面断面図である。
【図４】本発明に係る異物検査装置の第３実施形態を示す正面断面図である。
【図５】従来の異物検査装置を示す正面図である。
【符号の説明】
１，５１，７１　　異物検査装置
３　　開口面
５　　収容体
７　　昇降部材
９　　カメラ（撮像手段）
２４　掻き取り具（除去手段）
２５　掻き取り板（掻き取り部）
３５　モータ（駆動部）
４１，７３　送りネジ棒
４３　棒状部材（伝動部）
Ｐ　　粉粒体
【図１】
2004053448.tif 000003
【図２】
2004053448.tif 000004
【図３】
2004053448.tif 000005
【図４】
2004053448.tif 000006
【図５】
2004053448.tif 000007