(57)【要約】【課題】データ保持手段が異常となり揮発性の第１記憶手段の設定値データが消失したときでも、第１記憶手段の設定値データを回復させ、ショーケースを安定的に運転できるショーケースの集中制御装置を提供する。【解決手段】ショーケースの集中制御装置の上位制御装置１は、庫内設定温度、除霜設定時間、圧縮機の吸入圧力値等の設定値データが入力される入力手段１２と、入力された設定値データを記憶する揮発性の第１記憶手段１１２及び不揮発性の第２記憶手段１１３と、第１記憶手段１１２に記憶された設定値データを保持させる内蔵電池１１４とを備えている。これにより、内蔵電池１１４の不良・異常により第１記憶手段１１２の設定値データが消失したときでも、第２記憶手段１１３の設定値データを用いてショーケースを運転することができる。【選択図】　図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
上位制御装置と複数のショーケースにそれぞれ設けられた端末制御装置との間で運転データを送受信し各ショーケースの運転を集中制御するショーケースの集中制御装置であって、
上位制御装置は、庫内設定温度、除霜設定時間、圧縮機の吸入圧力値等の設定値データが入力される入力手段と、入力された設定値データを記憶する揮発性の第１記憶手段及び不揮発性の第２記憶手段と、該第１記憶手段に記憶された設定値データを保持させるデータ保持手段とを備えた
ことを特徴とするショーケースの集中制御装置。
【請求項２】
新たな設定値データが入力されたときは、前記第１記憶手段及び第２記憶手段の設定値データを書き換えるよう制御する制御手段を有する
ことを特徴とする請求項１記載のショーケースの集中制御装置。
【請求項３】
前記各記憶手段の設定値データと前記データ保持手段の性能を検査する検査手段を有するとともに、該検査手段の判定結果を表示する表示手段を有し、該検査手段が少なくとも該データ保持手段が異常であると判定したときは、前記制御手段は該表示手段にデータ保持手段の異常を表示するよう制御することを特徴とする請求項１又は請求項２記載のショーケースの集中制御装置。
【請求項４】
前記検査手段が前記第１記憶手段をデータ異常と判定し、かつ、前記第２記憶手段をデータ正常と判定したときは、前記制御手段は該第１記憶手段のデータを該第２記憶手段のデータで書き換えるよう制御する
ことを特徴とする請求項３記載のショーケースの集中制御装置。
【請求項５】
前記検査手段が前記第２記憶手段をデータ異常と判定し、また、前記第１記憶手段をデータ正常と判定し、更に、前記データ保持手段を正常と判定したときは、前記制御手段は該第２記憶手段の設定値データを該第１記憶手段の設定値データで書き換えるよう制御する
ことを特徴とする請求項３記載のショーケースの集中制御装置。
【請求項６】
前記検査手段が、前記第１記憶手段及び前記第２記憶手段を異常と判定したとき、又は、該第２記憶手段及び前記データ保持手段を異常と判定したときは、前記制御手段は該表示手段に該第１及び第２記憶手段を初期化するよう表示するとともに、各ショーケースの運転を中止するよう制御する
ことを特徴とする請求項３記載のショーケースの集中制御装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は店舗内に設置された複数のショーケースを集中制御するショーケースの集中制御装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種のショーケースの集中制御装置においては、上位制御装置の入力手段（キーボード）を通じて庫内設定温度、除霜設定時間、圧縮機の吸入圧力値等の設定値データが入力されており、これらの設定値データを揮発性のメモリに記憶する一方、設定値データがメモリ内から消失することがないよう、データ保持手段、例えば内蔵電池により電気的に保持している。この設定値データはショーケース毎に設置されたケース端末制御装置や冷凍機毎に設置された冷凍機端末制御装置に通信され、また、各端末制御装置から運転データを収集して一括して管理するシステムとなっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上位制御装置のメモリに設定値データを記憶させる作業は、店舗内でショーケースを稼動する前、具体的にはショーケースの生産出荷時において店舗内の温度環境、販売商品の冷却維持温度等に対応するよう入力され格納される。また、メモリは事後的にデータの書き換えができるようＲＡＭとなっている。
【０００４】
しかしながら、メモリに設定値データを記憶させた後、内蔵電池の故障等により通電が断たれたときは、メモリが揮発性のものとなっているため、設定値データが消失するという問題点を有していた。
【０００５】
また、ショーケースを店舗内に設置した後は、店舗内外部電源によりメモリの設定値データが保持されるが、停電等により通電が断たれた際、内蔵電池が故障しているときは、これまた、メモリから設定値データが消失し、停電が復旧した際、ショーケースの運転が再開されなかったり、或いは、メモリに残存する異なる設定値データにより異常なショーケース運転が行われるという問題点を有していた。
【０００６】
本発明の目的は前記従来の問題点に鑑み、データ保持手段が異常となり揮発性の第１記憶手段の設定値データが消失したときでも、第１記憶手段の設定値データを回復させ、ショーケースを安定的に運転できるショーケースの集中制御装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は前記課題を解決するため、請求項１の発明は、上位制御装置と複数のショーケースにそれぞれ設けられた端末制御装置との間で運転データを送受信し各ショーケースの運転を集中制御するショーケースの集中制御装置であって、上位制御装置は、庫内設定温度、除霜設定時間、圧縮機の吸入圧力値等の設定値データが入力される入力手段と、入力された設定値データを記憶する揮発性の第１記憶手段及び不揮発性の第２記憶手段と、第１記憶手段に記憶された設定値データを保持させるデータ保持手段とを備えた構造となっている。
【０００８】
請求項１の発明によれば、設定値データが揮発性の第１記憶手段と不揮発性の第２記憶手段の両者に記憶されるため、データ保持手段の不良・異常により第１記憶手段の設定値データが消失したときでも、第２記憶手段の設定値データを用いてショーケースを運転することができる。なお、入力手段により新たな設定値データが入力されたときは、第１及び第２記憶手段の設定値データは随時書き換えられる（請求項２の発明）。
【０００９】
請求項３の発明は、請求項１又は請求項２の発明に係るショーケースの集中制御装置において、各記憶手段の設定値データとデータ保持手段の性能を検査する検査手段を有するとともに、検査手段の判定結果を表示する表示手段を有し、検査手段が少なくともデータ保持手段が異常であると判定したときは、制御手段は表示手段にデータ保持手段の異常を表示する構造となっている。
【００１０】
請求項３の発明によれば、検査手段によりデータ保持手段が異常であると判定したときは、制御手段は表示手段にデータ保持手段の異常を表示するよう制御するため、データ保持手段の異常、例えば電池の電力消耗、電池の給電回路の故障などが起きたときは、これを直ちに認識することができ、これにより、データ保持手段の交換等を直に行うことができる。
【００１１】
請求項４の発明は、請求項３の発明に係るショーケースの集中制御装置において、検査手段が第１記憶手段をデータ異常と判定し、かつ、第２記憶手段をデータ正常と判定したときは、制御手段は第１記憶手段のデータを第２記憶手段のデータで書き換えるよう制御する。
【００１２】
請求項４の発明によれば、第１記憶手段のデータ異常、例えばデータ保持手段の故障により第１記憶手段の設定値データが消失したときは、第１記憶手段が第２記憶手段に記憶されている適切な設定値データで書き換えられ、ショーケース運転が正常に運転される。
【００１３】
請求項５の発明は、請求項３の発明に係るショーケースの集中制御装置において、検査手段が第２記憶手段をデータ異常と判定し、また、第１記憶手段をデータ正常と判定し、更に、データ保持手段を正常であると判定したときは、制御手段は第２記憶手段の設定値データを第２記憶手段の設定値データで書き換える。
【００１４】
請求項５の発明によれば、第２記憶手段のデータが異常となっているときは、第１記憶手段及びデータ保持手段が正常であることを条件として、第２記憶手段の設定値データが第１記憶手段の設定値データで書き換えられ、これにより、第１及び第２記憶手段を常に適正にし、ショーケースを運転することができる。
【００１５】
請求項６の発明は、請求項３の発明に係るショーケースの集中制御装置において、検査手段が、第１記憶手段及び第２記憶手段を異常と判定したとき、又は、第２記憶手段及びデータ保持手段を異常と判定したときは、制御手段は表示手段に第１及び第２記憶手段を初期化するよう表示するとともに、各ショーケースの運転を中止するよう制御する。
【００１６】
請求項６の発明によれば、ショーケースが正常に運転できない状態となったときは、ショーケースの運転を中止するとともに、第１及び第２記憶手段を初期化するよう促す。これにより、各記憶手段の設定値データを再設定してショーケースの運転を再開する。
【００１７】
【発明の実施の形態】
図１乃至図４は本発明に係るショーケースの集中制御装置の一実施形態を示すもので、図１は上位制御装置と各端末制御装置との接続構成図、図２は上位制御装置のブロック図、図３は各メモリ及び内蔵電池の正常・異常に伴う処理制御を示す図、図４は上位制御装置の制御フローチャートである。
【００１８】
集中制御装置は、上位制御装置１と端末制御装置２とから構成されるもので、各上位制御装置１と端末制御装置２との接続関係を図１を参照して説明する。
【００１９】
ここで、端末制御装置２は各ショーケース３毎に設置されたショーケース端末制御装置２１と一群の各ショーケース３を対象とする冷凍機端末制御装置２２とから構成されている。各ショーケース端末制御装置２１には、例えば各ショーケース３毎に収納商品が最適温度で保冷されるよう設定庫内温度や設定除霜時間等の設定値データが格納され、この設定値データに基づき冷却運転が制御される。また、冷凍機端末制御装置２２には例えば冷凍機４の設定吸入圧力値が格納されており、冷凍機４の運転が効率よく行われるよう制御される。
【００２０】
一方、上位制御装置１は、図２に示すように、各種設定値データを通信回線５を通じて各端末制御装置２１，２２に出力するものである。上位制御装置１はマイクロコンピュータ（以下、マイコンという）１１と、マイコン１１に各種設定値データを入力する入力装置（例えば入力キー）１２と、各種情報を表示する表示装置（例えばＣＲＴ）１３と、マイコン１１と端末制御装置２との間で送受信する通信装置１４を有している。ここで、入力装置１２から入力された設定値データはマイコン１１で処理され表示装置１３にその入力内容が表示されるとともに、通信装置１４及び通信回線５を通じて端末制御装置２に送信される。また、端末制御装置２で取得されたデータは同じく通信回線５及び通信装置１４を通じてマイコン１１に入力される。
【００２１】
このマイコン１１は内部に検査部１１１ａを備えたＣＰＵ１１１と、揮発性の第１メモリ（例えばＲＡＭ）１１２と、不揮発性の第２メモリ（例えばＥＥＰＲＯＭ）１１３と、内蔵電池（例えばバッテリ）１１４とを有している。ここで、第１メモリ１１２及び第２メモリ１１３には、入力装置１２を通じて入力された、各ショーケース３の設定庫内温度、設定除霜時間、設定吸入圧力値等の各種設定値データが記憶されている。また、第１メモリ１１２が揮発性となっているため、第１メモリ１１２に記憶されている各種データが内蔵電池１１４により保持され、この内蔵電池１１４がデータ保持手段として機能している。
【００２２】
マイコン１１の内部の検査部１１１ａは、第１メモリ１１２、第２メモリ１１３及び内蔵電池１１４が正常か否かを検査するもので、店舗内の各ショーケースを運転するため店舗内外部電源（商用電源）を投入する時（運転開始時）、また、店舗内外部電源の投入後所定インターバル（定常運転時）で検査を行う。
【００２３】
即ち、運転開始時では内蔵電池１１４が第１メモリ１１２内のデータを保持できる性能を満足しているか否か（正常又は異常）、第１メモリ１１２内の設定値データに矛盾がないか否か（正常又は異常）、第２メモリ１１３内の設値置データに矛盾がないか否か（正常又は異常）を検査する。また、定常運転時は内部電池１１４が第１メモリ１１２内のデータを保持できる性能を満足しているか否か（正常又は異常）、第１メモリ１１２内の設定値データに矛盾がないか否か（正常又は異常）を検査する。
【００２４】
ここで、内蔵電池１１４の正常又は異常は、例えば内蔵電池１１４の電圧が所定値以上となっているか否かに基づき判定する。第１メモリ１１２及び第２メモリ１１３の正常か否かは、例えば次のような各メモリ１１２，１１３の比較に基づき判定する。即ち、各メモリ１１２，１１３の一部領域に書き込まれたパターンデータ（例、あいうえお）により比較し、各メモリ１１２，１１３の各種設定値データの記憶領域全体のデータ総和により比較し、各メモリ１１２，１１３の関連ある設定値データの内容毎に比較することにより判定する。なお、この比較判定は何れか一つを用いて判定するようにしてもよい。
【００２５】
本実施形態に係るショーケースの集中制御装置は、検査部１１１ａの正常・異常の判定に基づき図３及び図４に示すように制御する。以下、集中制御装置の制御を図３及び図４を参照して説明する。なお、図３は運転開始時の制御を示し、図４は運転開始時及び定常運転時の制御を示している。
【００２６】
即ち、図４のフローチャートに示すように、第２メモリ１１３、第１メモリ１１２及び内蔵電池１１４が正常か否かを判定し（Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３）、何れも正常であると判定したときは第１処理を行う（Ｓ４）。第１処理では図３に示すようにショーケースを通常運転させる。
【００２７】
ステップＳ２で第１メモリ１１２が異常と判定したときは、内蔵電池１１４が正常か否かを判定する（Ｓ５）。内蔵電池１１４が正常と判定したときは、第２処理を行う（Ｓ６）。第２処理では図３に示すように異常となっている第１メモリ１１２を復旧させるため、第１メモリ１１２の設定値データを第２メモリ１１３の設定値データで書き換える。他方、内蔵電池１１４が異常と判定したときは、第３処理を行う（Ｓ７）。第３処理では図３に示すように第２処理の制御に加えて内蔵電池１１４の異常を報知するため表示装置１３に内蔵電池１１４の異常を表示する。
【００２８】
ステップＳ３で内蔵電池１１４が異常と判定したときは、同じく第３処理を行う（Ｓ７）。ここで、第１メモリ１１２は正常と判定されているが、第１メモリ１１２が揮発性メモリで内蔵電池１１４の異常により設定値データが実際には異常となっているおそれがある。そこで、第１メモリ１１２の設定値データを第２メモリ１１３の設定値データで書き換えるようにしている。その他、第３処理では内蔵電池１１４の異常を報知するため表示装置１３に内蔵電池１１４の異常を表示する。
【００２９】
ステップＳ１で第２メモリ１１３が異常と判定したときは、第１メモリ１１２が正常か否かを判定する（Ｓ８）。そして、第１メモリ１１２が正常なときは内蔵電池１１４が正常か否かを判定する（Ｓ９）。このステップＳ９で正常と判定されたときは、第４処理を行う（Ｓ１０）。第４処理では図３に示すように異常となっている第２メモリ１１３を回復させるため、第２メモリ１１３の設定値データを第１メモリ１１２の設定値データで書き換える。
【００３０】
ステップＳ８で第１メモリ１１２が異常と判定したときは、内蔵電池１１４が正常か否かを判定する（Ｓ１１）。内蔵電池１１４が正常と判定されたときは、図３に示すように第５処理を行う（Ｓ１２）。第５処理では表示装置１３に、各メモリ１１２，１１３の初期化を行うよう表示し、上位制御装置１から端末制御装置２への通信を中断する。この通信中断状態が所定時間継続するときは、端末制御装置２に既に記憶されている設定値に基づきショーケース３の運転が行われる。
【００３１】
ステップＳ９及びステップＳ１１で内蔵電池１１４が異常と判定したときは、図３に示すように第６処理を行う（Ｓ１３）。第６処理では図３に示すように表示装置１３に各メモリ１１２，１１３の初期化を行うよう表示するとともに、表示装置１３に内蔵電池１１４の異常を表示する。そして、前記第５処理と同様に、上位制御装置１から端末制御装置２への通信が中断され、この通信中断状態が所定時間継続するときは、端末制御装置２に既に記憶されている設定値に基づきショーケース３の運転が行われる。
【００３２】
運転開始時においては以上のような制御が行われ、続いて定常運転時、即ち店舗内外部電源が投入されているときは、外部電源の電力が各メモリ１１２，１１３に給電され、第１メモリ１１２の設定値データは常時保持されるが、停電等により外部電源の電力供給が遮断されることがあることを考慮し、以下の制御を行う。
【００３３】
即ち、第１メモリ１１２が正常か否かを判定し、更に内蔵電池１１４が正常かを判定している（Ｓ１４，Ｓ１５，Ｓ１６）。内蔵電池１１４のみが異常なときは表示装置１３に内蔵電池１１４の異常を表示し（Ｓ１７）、第１メモリ１１２のみが異常なときは表示装置１３に第１メモリ１１２の異常を表示し（Ｓ１８）、内蔵電池１１４及び第１メモリ１１２の両者が異常なときは表示装置１３に両者が異常であると表示する。
【００３４】
以上のような定常運転時の制御により、ショーケース３の運転制御に直接的に関わる第１メモリ１１２のメンテナンスはもとより、内蔵電池１１４の状況も常に監視されている。よって、停電となったときでも第１メモリ１１２の設定値データが確実に保持される。
【００３５】
なお、上位制御装置１は外部の着脱記憶装置１５、例えばコンパクトフラッシュ（登録商標）カードが接続されるインターフェイス装置１６を有しており、着脱記憶装置１５を通じて設定値データが入力できようになっている。
【００３６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、上位制御装置の入力手段により入力される設定値データが揮発性の第１記憶手段と不揮発性の第２記憶手段の両者に記憶されるため、データ保持手段の不良・異常により第１記憶手段の設定値データが消失したときでも、第２記憶手段の設定値データを用いてショーケースを運転することができる。
【００３７】
従って、データ保持手段の消耗を心配することなく、ショーケースの生産出荷時など事前に設定値データを入力することができるし、また、定常運転時に停電となり、かつ、停電時にデータ保持手段が異常となっているときでも、第１記憶手段に設定値データが書き込まれるため、停電が復旧した際、ショーケースの定常運転を直ちに再開することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る上位制御装置と各端末制御装置との接続構成図
【図２】本発明に係る上位制御装置のブロック図
【図３】本発明に係る各メモリ及び内蔵電池の正常・異常に伴う処理制御を示す図
【図４】本発明に係る上位制御装置の制御フローチャート
【符号の説明】
１…上位制御装置、２…端末制御装置、３…ショーケース、４…通信回線、１１…マイコン、１２…入力装置、１３…表示装置、１４…通信装置、１１１…ＣＰＵ、１１１ａ…検査部、１１２…第１メモリ、１１３…第２メモリ、１１４…内蔵電池。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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