(57)【要約】【課題】ロード／アンロード機構を持つ磁気ディスク装置において、ロード／アンロード時に発生する可能性のあるディスク表面の打痕等の損傷に起因する、ヘッド素子の損傷を防止し、データの記録再生が不可となってしまうような障害を未然に防止し、長期に渡り信頼性を保つことができる磁気ディスク装置を提供する。【解決手段】磁気ヘッドスライダが磁気ディスクに対してロード／アンロードした回数をカウントし、その回数が所定の条件を満たすか判定し、データを記録するデータ領域から、磁気ヘッドスライダが磁気ディスクに対してロード／アンロードするロード／アンロード領域の方向へ磁気ヘッドスライダを移動させながら、ロード／アンロード領域上を通過させて、磁気ヘッドスライダがロード／アンロードした際に発生した可能性のある磁気ディスク表面上の打痕を含む損傷による突起を処理する磁気ディスク突起除去方法を提供する。【選択図】　図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体である磁気ディスクと、記録再生を行うヘッドを搭載した磁気ヘッドスライダと、前記磁気ディスク及び前記磁気ヘッドスライダの動作を監視し制御する制御部と、前記磁気ディスクの回転開始時及び停止時に前記磁気ヘッドスライダを前記磁気ディスクに対してロード或いはアンロードするメカニズムとを備えた磁気ディスク装置において実施される磁気ディスク突起除去方法であって、前記磁気ヘッドスライダが前記磁気ディスクに対してロード或いはアンロードした回数を前記制御部にてカウントするステップと、
前記回数が所定の条件を満たすか否かを判定するステップと、
前記回数が所定の条件を満たした時に、前記磁気ディスクの表面に対して突起の除去処理を実施するステップとを含むことを特徴とする磁気ディスク突起除去方法。
【請求項２】
請求項１記載の磁気ディスク突起除去方法において、
前記ロードした回数が予め任意に設定された所定の前記ロード回数に比べ大きいか否か、前記アンロードした回数が予め任意に設定された所定の前記アンロード回数に比べ大きいか否か、或いは前記ロードした回数と前記アンロードした回数の差が予め任意に設定された所定の回数に比べ大きいか否かを前記所定の条件とし、前記判定するステップにおいて、前記制御部は前記回数が前記所定の条件の内、少なくとも１つの条件を満足するか否かを判断することを特徴とする磁気ディスク突起除去方法。
【請求項３】
請求項１記載の磁気ディスク突起除去方法において、
前記実施するステップにおいて、前記磁気ヘッドスライダが前記磁気ディスク上のデータを記録するデータ領域から前記磁気ディスク上のロード或いはアンロード領域の方向へ移動する際、前記ロード或いはアンロード領域上を通過中に前記磁気ヘッドスライダがロード或いはアンロードした際に発生しうる損傷により形成される前記磁気ディスク表面上の突起を表面処理することを特徴とする磁気ディスク突起除去方法。
【請求項４】
請求項３記載の磁気ディスク突起除去方法において、
さらに前記データ領域以外の前記ロード或いはアンロード領域にサーボ信号が記録されている場合、前記サーボ信号の入力により前記制御部が前記ヘッドの位置決めを制御し前記突起を表面処理し、前記サーボ信号が記録されていない場合、前記制御部は前記メカニズムに備えられている前記ヘッドを駆動するモータを制御し前記突起を表面処理することを特徴とする磁気ディスク突起除去方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は磁気ディスク装置に係り、特に磁気ヘッドスライダを当該磁気ディスクに対してロード／アンロードするロード／アンロード機構を備えた磁気ディスク装置において実施される磁気ディスク突起除去方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より周知と成っているロード／アンロード機構を備えた磁気ディスク装置では、磁気ヘッドスライダを当該磁気ディスク表面上にロードする際や、アンロードする際にはどうしても磁気ヘッドスライダが当該磁気ディスク表面と接触摺動を起こす危険性を含んでいる。そのため、従来からその接触摺動によるデータ損失等の危険性を回避するために、磁気ディスク表面上の、データを記録再生する領域（データゾーン）と、磁気ヘッドスライダを当該磁気ディスク表面上にロード／アンロードする付近の領域（ロード／アンロードゾーン）とを分離してきた。
【０００３】
また一方では、記憶容量を増加させるためにデータゾーンをより広くして、データゾーンとロード／アンロードゾーンとを分離せず、二つの領域を重ね合わせた方式を採り、近年の高記憶容量を達成する方法も考え出されてもいる。
【０００４】
このように、データゾーンとロード／アンロードゾーンとを分離するしないにかかわらず、ロード／アンロード時に接触摺動が発生した場合、当該箇所には磁気ディスク表面上に打痕等の損傷が発生し、異常突起を形成してしまう可能性がある。その異常突起が仮にそのまま放置されていると、その後のロード／アンロード時に磁気ヘッドスライダが異常突起上を通過すると磁気ヘッド素子に損傷を発生させ、データの記録再生が不可となってしまうような、装置として致命的に信頼性を損ねる状況を招く可能性が少なからずあった。
【０００５】
特開平１１−８６２０４号公報（以下、文献１と称する）には、磁気抵抗効果型磁気ヘッドスライダ（以下ＭＲヘッド）を用いた記録媒体の表面突起部処置方法が示されている。ヘッド出力信号を監視し、ＭＲヘッドが突起部と接触すると熱抵抗変化によるリード信号出力異常（サーマルアスペリティ、以下ＴＡ）の発生により検出しており、主にデータゾーンにおける経時的な後発エラーの防止を主眼としている。また、特開２００１−１１８３３８号公報（以下、文献２と称する）には、ロード／アンロード時における磁気ディスク表面と磁気ヘッドスライダとの接触摺動が起因となって起こる傷などによるデータ消失を救済するために、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ　Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ　Ｃｏｄｅ）の書き込み量及び読み出し量を増加させることにより信頼性を確保する方法が開示されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
前述のように、磁気ディスク装置が動作中にデータの記録再生が不可となる状況が発生する事柄等は、装置の信頼性の著しい低下につながるため、防止しなくてはならない。そこで、ロード／アンロード時に発生する可能性の有る打痕等の損傷については、発生させないことが最も良い解決方法である。しかし、現実的には非常に困難であり、このような打痕等の損傷が発生してしまった場合の処理方法を具体化することが重要となる。しかしながら、上記文献１では、ＴＡの発生によるリード信号出力変化を突起部の検出方法として用いており、ロード／アンロード時に発生する可能性の有る打痕等の損傷については検出が困難であり、問題と成る。
【０００７】
本発明の目的は、ロード／アンロード機構を備えた磁気ディスク装置において、装置でのデータの記録再生が不可となってしまうような障害を未然に防止し、長期に渡り信頼性を保つことができる磁気ディスク装置、及び当該磁気ディスク装置において実施される磁気ディスク突起除去方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明は記録媒体である磁気ディスクと、記録再生を行うヘッドを搭載した磁気ヘッドスライダと、前記磁気ディスク及び前記磁気ヘッドスライダの動作を制御する制御部と、前記磁気ディスクの回転開始時及び停止時に前記磁気ヘッドスライダを前記磁気ディスクに対してロード／アンロードするロード／アンロード機構とを備えた磁気ディスク装置において、前記磁気ヘッドスライダが前記磁気ディスクに対してロード／アンロードした回数をカウントし、その回数が所定の条件を満たすか判定し、データを記録するデータ領域から、前記磁気ヘッドスライダが前記磁気ディスクに対してロード／アンロードするロード／アンロード領域の方向へ前記磁気ヘッドスライダを移動させながら、ロード／アンロード領域上を通過させて、前記磁気ヘッドスライダがロード／アンロードした際に発生した可能性のある前記磁気ディスク表面上の打痕を含む損傷による突起を処理する磁気ディスク突起除去方法を提供する事に有る。
【０００９】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態に係る磁気ディスク装置について、図１〜図５を用いて以下説明する。各実施例の図における同一符号は同一物または相当物を示す。
【００１０】
図１は、本実施形態に係わる磁気ディスク装置の概略図であり、図２は、前記磁気ディスク装置のブロック図を示している。
【００１１】
図３は、本実施形態例に係わるロード／アンロード機構を備える磁気ディスク装置のデータゾーン及びロード／アンロードゾーンの例を示している。
【００１２】
図４は、図３のロード／アンロード部位に直接かかわる部分の断面概略図の例及び本実施形態に係わる実施例の状況を示す概略図を示している。
【００１３】
図５は、本実施形態に係わる実施例のロード／アンロードゾーンに発生した可能性のある打痕等の損傷による突起の検出方法及び表面処理方法を説明するためのフローチャートである。
【００１４】
以下、磁気ディスクをディスク、磁気ヘッドスライダをスライダと呼ぶことにする。
【００１５】
磁気ディスク装置は、図１及び図２に示すように、記憶媒体であるディスク１、記録再生を行うヘッド２、及び、ディスク１を回転駆動するためのディスク駆動機構１０、ヘッド２をディスク１の半径方向に移動させるためのヘッド駆動機構２０、さらに、これらを制御する制御機構（図１では非表示）を有する。通常一つの磁気ディスク装置には複数枚のディスク１が設けられていることが多いが、ここでは、便宜上１枚として説明する。
【００１６】
ディスク駆動機構１０は、スピンドルモータ１０１、モータドライバ１０２からなる。モータドライバ１０２は、制御機構３０のＣＰＵ３０６の制御によりスピンドルモータ１０１に駆動電流を供給する。
【００１７】
ヘッド駆動機構２０は、ヘッド２を保持するキャリッジ２０１、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）２０２、ボイスコイルモータドライバ（ＶＣＭドライバ）２０３からなる。キャリッジ２０１は、ＶＣＭ２０２により回転駆動されて、ヘッド２をディスク１上の指定された位置（トラック）に位置決めする。同様にＶＣＭドライバ２０３も、ＣＰＵ３０６の制御によりＶＣＭ２０２に駆動電流を供給する。
【００１８】
ヘッド２は、ディスク１の両面に対向して設置されているので、ここではヘッド２を２個として説明する。ヘッド２は、記録用ヘッドとして用いる薄膜誘導型ヘッド（インダクティブヘッド）と再生用として用いる磁気抵抗効果型ヘッド（ＭＲヘッド）とが一体となった複合型のヘッドである。
【００１９】
ヘッド２からの読み出し信号は、ヘッド２に接続されたリード／ライトＩＣ３０１を介してリード／ライトチャネル３０２に送られ等化される。この等化された読み出し信号のうち一つはリード／ライト回路３０３に送られ読み出しデータとして復調され、またもう一つはサーボデータ検討回路３０４に送られる。サーボデータ検討回路３０４においては、ヘッド２からトラック情報やオフトラック情報等が検出され、ＣＰＵ３０６へ送られる。サーボ制御回路３０５は、　ＣＰＵ３０６からのこれらトラック情報やオフトラック情報等を用いて、位置制御用信号をＶＣＭドライバ２０３に送り、さらにＶＣＭ２０２を用いてヘッド２の位置決めを制御する。リード／ライト回路３０３、サーボデータ検討回路３０４、サーボ制御回路３０５の各種パラメータは、ＣＰＵ３０６によりその全ての設定が可能である。ＣＰＵ３０６により制御されたリード／ライト回路３０３は、等化された読み出し信号よりデータ記録系及び再生系に関しての各種の再生パラメータをあらかじめ各ヘッド別に設定する。その各種再生パラメータの値は、ＣＰＵ３０６によりメモリ３０７ヘ記録される。
【００２０】
次にロード／アンロード機構について図３及び図４を用いて簡単に説明する。装置の停止時には、ヘッド２はアンロードした状態（図４（ａ））にあり、ランプ３の上にリフトタブ４を乗せた形としてディスク１の外に退避している。装置の回転開始時には、リフトタブ４の位置をランプ３からディスク１の方向（ロード方向）へ移動（図４（ｂ））させることによりヘッド２をディスク１の上にロードしディスク上のロードゾーン（Ａ）に浮上させる（図４（ｃ））。また、装置停止時には、ディスク１からランプ３の方向（アンロード方向）へ移動させることによりヘッド２をディスク１の外に退避させる（図４（ａ））。このようなロード／アンロード時にはヘッド２をディスク１表面上にロードする際（図４（ｃ））や、逆にアンロードする際（図４（ａ））にはロードアンロードゾーン（Ｂ）においてヘッド２が当該ディスク１表面と接触摺動を起こす。その結果、打痕等の損傷による異常突起１０５を発生させる危険性があることがわかる。この様子を図式的に示したのが、図４（ｄ）である。前述したように、この異常突起１０５がそのまま放置されていると、その後のロード／アンロード時にヘッド２が異常突起１０５上を通過するとヘッド素子２１に異常突起１０５が接触する。その結果、ヘッド素子２１が損傷を起こし、データの記録再生が不可となってしまう。このようなヘッド素子の損傷は、装置として致命的に信頼性を損ねる状況を招く可能性がある。
【００２１】
そこで、本発明の実施形態に係わるロード／アンロードゾーン（Ｂ）に発生した可能性のある打痕等の損傷による突起の検出方法及び表面処理方法について、実施例１の構成を図５のフローチャートを参照して説明する。まず、ＳＭＡＲＴについて簡単に説明する。ＳＭＡＲＴ（Ｓｅｌｆ　Ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ　Ａｎａｌｙｓｉｓ　ａｎｄ　Ｒｅｐｏｒｔｉｎｇ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ）と呼ばれる磁気ディスク装置の信頼性向上技術は、広く知られている。このＳＭＡＲＴ技術は、時系列とともに装置内部の情報を監視している。この技術により装置の稼働時間が監視できるのと同時に、ロード回数及びアンロード回数をカウントすることができる。まず、このＳＭＡＲＴ情報を参照し（ステップ４０１）（ステップ４０２）、ロード回数ｎ１及びアンロード回数ｎ２をカウントする（ステップ４０３）。ロード回数ｎ１及びアンロード回数ｎ２を、あらかじめ任意に設定されたそれぞれの所定回数、ロード所定回数ｎＡ及びアンロード所定回数ｎＢとそれぞれ比較する。またロード回数ｎ１とアンロード回数ｎ２の差ｎ１−ｎ２を、同様にロード回数とアンロード回数の差としてあらかじめ任意に設定された回数ｎＣと比較する。ｎ１＞ｎＡまたは、ｎ２＞ｎＢ、または（ｎ１−ｎ２）＞ｎＣの条件の内、少なくともひとつの条件を満たしているかどうかを判定する（ステップ４０４）。条件を満たしていない場合には上記ステップ４０２に戻り、再度ＳＭＡＲＴ情報を参照する。少なくともひとつの条件を満たしていた場合には、ロード／アンロードゾーン（Ｂ）に打痕等の損傷による異常突起１０５が発生した可能性があると判断する。そして、表面処理する方法に移る。すなわち、サーボ制御回路３０５により、位置制御用信号をＶＣＭドライバ２０３に送る。さらにＶＣＭ２０２を用いてヘッド２の位置決めしながらヘッド２をデータゾーン（Ａ）からロードアンロードゾーン（Ｂ）方向（アンロード方向）へ移動（シーク）させる（ステップ４０５）。このときのシーク速度は任意である。データゾーン（Ａ）と同様にロードアンロードゾーン（Ｂ）にサーボ信号が記録されているか否かを判断する（ステップ４０６）。当該サーボ信号が記録されている場合には、サーボ制御回路３０５により、位置制御用信号をＶＣＭドライバ２０３に送る。さらにＶＣＭ２０２を用いてヘッド２の位置決めしながらロードアンロードゾーン（Ｂ）の範囲をアンロード方向へシークさせる。そして、ヘッド２の素子部以外のスライダレール面、あるいはレールのエッジ部により突起部を表面処理する（ステップ４０７）。ロードアンロードゾーン（Ｂ）にサーボ信号が記録されていない場合には、サーボ制御回路３０５により、位置制御用信号をＶＣＭドライバ２０３に送ることができない。しかしながら、ＣＰＵ３０６より、サーボ制御回路３０５を通過させて直接ＶＣＭドライバ２０３を電流制御し、ＶＣＭ２０２を動作させる。したがって、ヘッド２をアンロード方向へ移動（シーク）させることができ、同様にヘッド２の素子部以外のスライダレール面、あるいはレールのエッジ部により突起部を表面処理する（ステップ４０８）。ここで、表面処理とは当該エッジ部を用いて、突起部の高さを下げる事である。
【００２２】
ロードアンロードゾーン（Ｂ）にサーボ信号が途中までしか記録されておらず、途中からは記録されていない場合には上記のステップ４０７とステップ４０８とを切り替えることにより実施できることがわかる。
【００２３】
このときのアンロード方向へのシーク動作は、リフトタブ４がランプ３に接触し、アンロード状態（図４（ａ））になるまでの間続けられる（ステップ４０９）。この操作を繰り返して、ヘッド２をアンロード方向へ連続的にシークさせることにより突起部を表面処理することができることがわかる。
【００２４】
また、上記のアンロード方向へのシーク動作は、通常の装置稼働時におけるアンロード動作とは異なっていることを付け加えておく。通常の装置稼働時におけるアンロード動作では、ヘッド２はデータゾーン（Ａ）からロードアンロードゾーン（Ｂ）を経由してランプ３へ移動する。しかし、その際、ロードアンロードゾーン（Ｂ）は単に通過するだけで、ほとんど浮上している時間はないに等しい。これに対し、本発明では、ヘッド２の素子部以外のスライダレール面、あるいはレールのエッジ部により突起部を表面処理する。そのために、一定時間以上の間、例えば少なくとも１シーク毎にディスク１の１周分に相当する時間の間、ヘッド２をロードアンロードゾーン（Ｂ）の領域内で浮上させる。このことにより、効果的に突起部を表面処理することができる。
【００２５】
また、これら一連の処理を行う際に、同時に、スピンドルモータ１０１によりディスクの回転数を制御してヘッド２の浮上量を低下させて突起部を表面処理することも可能である。
【００２６】
この方法を用いると、図４（ｅ）及び図４（ｄ）からわかるように、ヘッド２が異常突起部１０５を表面処理する場合に、ヘッド２が異常突起部１０５に接触開始するのは、スライダレールの外側（ディスク１の外端側）であるということである。そのため、ヘッド素子２１が突起部に直接接触する危険性は非常に少なく、ヘッド素子２１の損傷に伴うデータの記録再生不可という障害を防止することができる。
【００２７】
前述した図５のフローチャートに従う打痕等の損傷による突起の検出方法及び表面処理方法は、以下の項目（ａ）から（ｄ）の特徴を有する磁気ディスク突起除去方法として提供することも可能である。
【００２８】
（ａ）記録媒体である磁気ディスクと、記録再生を行うヘッドを搭載した磁気ヘッドスライダと、前記磁気ディスク及び前記磁気ヘッドスライダの動作を監視し制御する制御部と、前記磁気ディスクの回転開始時及び停止時に前記磁気ヘッドスライダを前記磁気ディスクに対してロード或いはアンロードするメカニズムとを備えた磁気ディスク装置において実施される磁気ディスク突起除去方法であって、前記磁気ヘッドスライダが前記磁気ディスクに対してロード或いはアンロードした回数を前記制御部にてカウントするステップと、前記回数が所定の条件を満たすか否かを判定するステップと、前記回数が所定の条件を満たした時に、前記磁気ディスクの表面に対して突起の除去処理を実施するステップとを含むことを特徴とする磁気ディスク突起除去方法。
【００２９】
（ｂ）前記ロードした回数が予め任意に設定された所定の前記ロード回数に比べ大きいか否か、前記アンロードした回数が予め任意に設定された所定の前記アンロード回数に比べ大きいか否か、或いは前記ロードした回数と前記アンロードした回数の差が予め任意に設定された所定の回数に比べ大きいか否かを前記所定の条件とし、前記判定するステップにおいて、前記制御部は前記回数が前記所定の条件の内、少なくとも１つの条件を満足するか否かを判断することを特徴とする、上記（ａ）に記載の磁気ディスク突起除去方法。
【００３０】
（ｃ）前記実施するステップにおいて、前記磁気ヘッドスライダが前記磁気ディスク上のデータを記録するデータ領域から前記磁気ディスク上のロード或いはアンロード領域の方向へ移動する際、前記ロード或いはアンロード領域上を通過中に前記磁気ヘッドスライダがロード或いはアンロードした際に発生しうる損傷により形成される前記磁気ディスク表面上の突起を表面処理することを特徴とする、上記（ａ）に記載の磁気ディスク突起除去方法。
【００３１】
（ｄ）さらに前記データ領域以外の前記ロード或いはアンロード領域にサーボ信号が記録されている場合、前記サーボ信号の入力により前記制御部が前記ヘッドの位置決めを制御し前記突起を表面処理し、前記サーボ信号が記録されていない場合、前記制御部は前記メカニズムに備えられている前記ヘッドを駆動するモータを制御し前記突起を表面処理することを特徴とする、上記（ｃ）に記載の磁気ディスク突起除去方法。
【００３２】
【発明の効果】
以上説明したように本発明の実施形態によれば、ロード／アンロード機構を備えた磁気ディスク装置において、装置でのデータの記録再生が不可となってしまうような障害を未然に防止し、長期に渡り信頼性を保つことができる磁気ディスク装置及び当該磁気ディスク装置において実施される磁気ディスク突起除去方法を提供する事ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の本実施形態に係わる磁気ディスク装置の概略図である。
【図２】本発明の本実施形態に係わる磁気ディスク装置の構成ブロック図である。
【図３】本実施形態例に係わるロード／アンロード機構を備える磁気ディスク装置のデータゾーン及びロード／アンロードゾーンの一例を示す図である。
【図４】図４（ａ）から図４（ｅ）は、図３のロード／アンロード部位に直接かかわる部分の断面概略図の例及び本実施形態に係わる実施例の状況を示す概略図である。
【図５】本実施形態に係わる実施例のロード／アンロードゾーンに発生した可能性のある損傷打痕突起の検出方法及び表面処理方法を説明するためのフローチャート図である。
【符号の説明】
１…ディスク、２…ヘッド、２１…ヘッド素子、３…ランプ、４…リフトタブ、１０…ディスク駆動機構、１０１…スピンドルモータ、１０２…モータドライバ、１０３…ディスク外端、１０４…ディスク内端、１０５…打痕等の損傷による異常突起、１０６…表面処理後の異常突起、２０…ヘッド駆動機構、２０１…キャリッジ、２０２…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、２０３…ＶＣＭドライバ、３０…制御機構、３０１…リード／ライトＩＣ、３０２…リード／ライトチャネル、３０３…リード／ライト回路、３０４…サーボデータ検討回路、３０５…サーボ制御回路、３０６…ＣＰＵ、３０７…メモリ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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