(57)【要約】【課題】光ディスクなどに対する情報記録装置において、記録パルス波形のバイアスパワーレベルを変化させた場合でも、良好な記録特性を得る。【解決手段】記録パルス波形のバイアスパワーレベルを全体又は部分的に変化させる場合に、その変化に応じて記録パルス波形の形状を変化させる。例えば、バイアスパワーレベルを増加させる場合には、その分記録パルス波形のトップパルスやマルチパルスなどの幅やエッジ位置を変化させて、記録レーザ光の総熱量が増加しないようにし、良好な記録特性を維持する。【選択図】　　　図１
2004095007.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体にレーザ光を照射して、記録データに応じた記録マークを形成する情報記録装置において、
前記レーザ光を出射する光源と、
前記記録データに基づいて、第１のレベルと第２のレベルとの間で変化する記録パルス波形を生成する記録波形生成手段と、
前記記録パルス波形に基づいて前記光源を駆動することにより、前記記録媒体上に記録マークを形成する記録手段と、を備え、
記録波形生成手段は、前記第１のレベルに応じて、前記記録パルス波形中の前記第２のレベルを有するパルス部分のエッジ位置を調整することを特徴とする情報記録装置。
【請求項２】
前記記録波形生成手段は、
前記第１のレベルを決定するレベル決定手段と、
前記第１のレベルを所定の基準レベルと比較し、比較結果に基づいて前記エッジ位置を調整する調整手段と、を備えることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項３】
前記調整手段は、前記第１のレベルが前記基準レベルよりも高いときには前記パルス部分の前方エッジを後方にシフトし、前記第１のレベルが前記基準レベルよりも低いときには前記パルス部分の前方エッジを前方にシフトすることを特徴とする請求項２に記載の情報記録装置。
【請求項４】
前記記録パルス波形はトップパルスを含み、前記記録波形生成手段は、前記トップパルスの前方エッジ位置を調整することを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項５】
前記記録パルス波形はさらに１つ以上のマルチパルスを含み、前記記録波形生成手段は前記マルチパルスの各々の前方エッジ位置を調整することを特徴とする請求項４に記載の情報記録装置。
【請求項６】
前記記録波形生成手段は、前記パルス部分のエッジ位置を調整することにより、前記パルス部分のパルス幅を変化させることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項７】
前記記録パルス波形は１つのトップパルスと１つ以上のマルチパルスとを含み、
前記記録波形生成手段は、前記トップパルスの前の期間のレベルに応じて前記トップパルスの前方エッジの位置を調整し、前記複数のマルチパルス間のレベルに応じて前記複数のマルチパルスの各前方エッジの位置を調整することを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項８】
記録媒体にレーザ光を照射して、記録データに応じた記録マークを形成する情報記録装置において実行される情報記録方法であって、
前記記録データに基づいて、第１のレベルと第２のレベルとの間で変化する記録パルス波形を生成する記録波形生成工程と、
前記記録パルス波形に基づいて光源を駆動することにより、前記記録媒体上に記録マークを形成する記録工程と、を備え、
記録波形生成工程は、前記第１のレベルに応じて、前記記録パルス波形中の前記第２のレベルを有するパルス部分のエッジ位置を調整することを特徴とする情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光線などを利用して光ディスクに情報を記録する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷ（ＤＶＤ−Ｒｅ−ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）などの書き込み又は書き換え可能な光ディスクには、ディスクの記録面上にレーザ光を照射して情報を記録する。光ディスクの記録面上のレーザ光が照射された部分は、温度が上昇するために光ディスクを構成する光記録媒体に変化が生じ、これにより記録マークが記録面上に形成される。
【０００３】
よって、記録すべき情報に応じた時間幅を有する記録パルスでレーザ光を変調して記録すべき信号に応じた長さのレーザパルスを生成し、これを光ディスクに照射することにより、記録すべき情報に応じた長さの記録マークを光ディスク上に形成することができる。
【０００４】
一方、最近では１つの記録マークを１つのレーザパルスで形成するのではなく、複数の短いパルスを含むパルス列により記録マークを形成する手法が利用されている。このような手法はライトストラテジーとも呼ばれ、単一の記録パルスを照射する方法に比べて、光ディスクの記録面上における熱蓄積が減少するので、記録マークが形成される記録面上の温度分布を均一化することができる。その結果、記録マークが涙滴形状となることを防止して好ましい形状の記録マークを形成することができる。
【０００５】
上記の記録パルス列は、例えばＤＶＤ−Ｒの場合、所定のバイアスパワーレベルとライト（書き込み）パワーレベルとの間で振幅が変動する複数のパルスにより構成される。即ち、記録データに従って、記録マークを形成しない光ディスクの記録面上の領域（以下、「スペース期間」とも呼ぶ。）ではバイアスパワーでレーザ光が記録面上に照射され、記録マークを形成すべき光ディスクの記録面上の領域（以下、「マーク期間」とも呼ぶ。）では、バイアスパワーとライトパワーの間で振幅が変化する記録パルス列に応じたパワーでレーザ光が記録面上に照射され、それにより記録マークが記録面上に形成される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
記録パルス中のバイアスパワーレベルは、ＤＶＤ−Ｒなどの規格により規定されているが、光ディスクのドライブ装置においては規定値とは異なるバイアスパワーレベルが使用されることもある。例えば、情報の記録時には、記録マークの形成が行われない期間において、バイアスパワーのレベルを用いて記録レーザパワーの利得制御や各種のサーボ制御が行われる。従って、レーザパワーの制御やサーボ制御などを安定させるために、バイアスパワーレベルを規格値より高めに設定することが考えられる。一方、記録パルスによる情報の記録特性を向上させるという観点では、バイアスパワーレベルは低い方が望ましく、そのためバイアスパワーレベルを規格値より低めに設定することも考えられる。
【０００７】
しかし、バイアスパワーレベルが変動すると、予め指定されているライトストラテジーで記録を行っても、最適な記録特性が得られなくなるという問題がある。本発明が解決しようとする課題には、例えば上記のようなものが例として挙げられる。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、記録媒体にレーザ光を照射して、記録データに応じた記録マークを形成する情報記録装置において、前記レーザ光を出射する光源と、前記記録データに基づいて、第１のレベルと第２のレベルとの間で変化する記録パルス波形を生成する記録波形生成手段と、前記記録パルス波形に基づいて前記光源を駆動することにより、前記記録媒体上に記録マークを形成する記録手段と、を備え、記録波形生成手段は、前記第１のレベルに応じて、前記記録パルス波形中の前記第２のレベルを有するパルス部分のエッジ位置を調整することを特徴とする。
【０００９】
請求項８に記載の発明は、記録媒体にレーザ光を照射して、記録データに応じた記録マークを形成する情報記録装置において実行される情報記録方法において、前記記録データに基づいて、第１のレベルと第２のレベルとの間で変化する記録パルス波形を生成する記録波形生成工程と、前記記録パルス波形に基づいて光源を駆動することにより、前記記録媒体上に記録マークを形成する記録工程と、を備え、記録波形生成工程は、前記第１のレベルに応じて、前記記録パルス波形中の前記第２のレベルを有するパルス部分のエッジ位置を調整することを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について説明する。
【００１１】
本発明の実施形態では、記録パルス波形のバイアスパワーの変化に応じて、記録パルス波形中のパルスの形状を変化させることを特徴とする。これにより、バイアスパワーの変化による記録特性の変動を抑制する。記録パルス波形の形状の変化は、例えばパルス幅の変更やパルスのエッジ位置の移動などにより行われる。
【００１２】
図１を参照して、本実施形態の基本的な手法を説明する。図１（ａ）はいわゆるマルチパルス型の記録パルス波形の一例を示す。マルチパルス型の記録パルス波形は、基本的には１つのトップパルス６０と、記録データ長に応じた数のパルス６１（以下、「マルチパルス」とも呼ぶ。）により構成される。複数のマルチパルス６１の集合をマルチパルス部と呼ぶ。なお、ライトストラテジーによるが、３Ｔ及び４Ｔなどの短い記録データはトップパルスのみを有し、マルチパルス部を有しない場合がある。
【００１３】
図１（ａ）に示すように、レーザパワーは、バイアスパワーレベルＰｂとライトパワーレベルＰｗとの間で変動する。なお、図１（ａ）においては、バイアスパワーレベルは、スペース期間に対応するバイアスパワーレベルと、マルチパルス部のパルス６１間におけるバイアスパワーレベルとが存在する。以下、スペース期間におけるバイアスパワーレベルをＰｂ１、マルチパルス部におけるバイアスパワーレベルをＰｂ２として両者を区別することがある。
【００１４】
図１（ａ）に示す記録パルス波形において、スペース期間のバイアスパワーレベルＰｂ１を変化させる場合には（矢印７０参照）、その変化量に応じてトップパルス６０の前エッジ位置を変更する（矢印７５参照）。具体的には、スペース期間のバイアスパワーレベルＰｂ１を増加させるときにはトップパルス６０の前エッジを後方（図１（ａ）における右方向）へ所定量シフトし、バイアスパワーレベルＰｂ１を減少させるときにはトップパルス６０の前エッジを前方にシフトする。このようにトップパルス６０の前エッジ位置をシフトすることにより、バイアスパワーレベルを変化させた場合でも、全体としてディスクに印加される記録パワーは等しくなる。
【００１５】
また、図１（ａ）において、マルチパルス部のバイアスパワーレベルＰｂ２を変化させる場合には（矢印７１参照）、その変化量に応じて、マルチパルス部内のマルチパルス６１の前方エッジ位置を変更する（矢印７６参照）。具体的には、バイアスパワーレベルＰｂ２を増加させたときにはマルチパルス部のパルス６１の前エッジを後方（図１（ａ）における右方向）へ所定量シフトし、バイアスパワーレベルＰｂ２を減少させたときにはパルス６１の前エッジを前方にシフトする。このようにマルチパルス部のパルス６１の前エッジ位置をシフトすることにより、バイアスパワーレベルを変化させた場合でも、全体としてディスクに印加される記録パワーは等しくなる。
【００１６】
図１（ｂ）に、ノンマルチパルス型の記録パルス波形の一例を示す。ノンマルチパルス型の記録パルス波形は、トップパルス６０と、ラストパルス６７と、両者の間の中間バイアス部６８とにより構成される。このようなノンマルチパルス型の記録パルス波形の場合も、パルス形状の変更方法は基本的にマルチパルス型の場合と同様である。即ち、バイアスパワーレベルＰｂ１を変化させる場合には（矢印７０参照）、その変化量に応じてトップパルス６０の前方エッジ位置を変化させる（矢印７５参照）。
【００１７】
以上のように、本実施形態では、バイアスパワーレベルの変化に応じて、トップパルス及び／又はマルチパルス部のパルスの前方エッジ位置を前後に移動させることにより、記録パルスによりディスクに照射されるレーザパワーの総和を一定に維持して、記録特性の悪化を防止する。
【００１８】
図２に、本実施形態による情報記録装置の概略構成を示す。図２において、情報記録装置は、記録波形生成部５０と、記録部５５とを備える。記録波形生成部５０は、記録データを受け取り、予め決められたストラテジー情報に従って、入力された記録データに応じた記録パルス信号を生成して記録部５５へ供給する。記録部５５は、例えば光ピックアップなどを含み、入力された記録パルス信号に応じてレーザドライバなどを駆動して、記録光を生成し、ディスクＤに照射する。こうして、記録データに応じた長さの記録マークがディスクＤ上に形成される。
【００１９】
記録波形生成部５０は、パルス形状制御部５１と、第１レベル決定部５２とを有する。第１レベルとは、図１（ａ）及び（ｂ）におけるバイアスパワーレベルのことであり、スペース期間のバイアスパワーレベルＰｂ１とマルチパルス部のバイアスパワーレベルＰｂ２の両方を含む概念である。一方、第２レベルはライトパワーレベルＰｗである。
【００２０】
第１レベル決定部５２は、図１（ａ）や図１（ｂ）に示すような、特定のライトストラテジーに従って記録パルス波形を生成する際にバイアスパワーレベルを決定する。具体的なバイアスパワーレベルの決定は、本実施形態が適用される情報記録装置やドライブ装置の様々な特性などにより異なり、あるドライブ装置ではバイアスパワーレベルＰｂを高めに設定し、他のドライブ装置ではバイアスパワーレベルＰｂを低めに設定することがある。また、あるドライブ装置では、スペース期間のバイアスパワーレベルＰｂ１は高めに設定し、マルチパルス部のバイアスパワーレベルＰｂ２は低めに設定する（又はその逆）ということがありうる。
【００２１】
パルス形状制御部５１は、第１レベル決定部５２が決定した第１レベル、つまりバイアスパワーレベルＰｂ（場合によっては、Ｐｂ１とＰｂ２）に応じて、記録パルス波形におけるパルス形状を変化させる。具体的には、先に述べたように、スペース期間のバイアスパワーレベルＰｂ１の増加／減少に応じてトップパルス６０の前方エッジ位置を後退／前進させるとか、マルチパルス部のバイアスパワーレベルＰｂ２の増加／減少に応じてマルチパルス部の各マルチパルス６１の前方エッジ位置を後退／前進させるなどの処理を実行する。こうして、バイアスパワーレベルの変動により、ディスクに与えられる熱の総和が変動しないようにして、安定的な記録を行う。
【００２２】
【実施例】
次に、本発明の実施例について説明する。
【００２３】
［情報記録再生装置の構成］
次に、上述の記録パルス波形を利用する情報記録再生装置の構成について説明する。図３に、本発明の実施例にかかる情報記録再生装置の全体構成を概略的に示す。情報記録再生装置１は、光ディスクＤに情報を記録し、また、光ディスクＤから情報を再生する。光ディスクＤとしては、例えば１回に限り記録が可能なＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐａｃｔ　Ｄｉｓｃ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−Ｒや、複数回にわたって消去及び記録が可能なＣＤ−ＲＷ（Ｃｏｍｐａｃｔ　Ｄｉｓｃ−Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷなどの種々の光ディスクを使用することができる。なお、以下の説明では、光ディスクＤはＤＶＤ−Ｒであるとする。
【００２４】
情報記録再生装置１は、光ディスクＤに対して記録ビーム及び再生ビームを照射する光ピックアップ２と、光ディスクＤの回転を制御するスピンドルモータ３と、光ディスクＤへの情報の記録を制御する記録回路１０と、光ディスクに既に記録されている情報の再生を制御する再生回路２０と、スピンドルモータ３の回転を制御するスピンドルサーボ、光ピックアップ２の光ディスクＤに対する相対的位置制御であるフォーカスサーボ及びトラッキングサーボ、並びにチルトサーボなどを含む各種サーボ制御を行うためのサーボ制御部３０と、コントローラ４０と、を備える。
【００２５】
記録回路１０は、記録データを受け取り、光ピックアップ２内部のレーザダイオードを駆動するための駆動信号ＳＤを生成して、これを光ピックアップ２へ供給する。
【００２６】
再生回路２０は、光ピックアップ２から出力される読取ＲＦ信号Ｓｒｆを受け取り、これに対して所定の復調処理、復号化処理などを施して再生信号を生成して出力する。
【００２７】
サーボ制御部３０は、光ピックアップ２からの読取ＲＦ信号Ｓｒｆを受け取り、これに基づいてトラッキングエラー信号及びフォーカス信号などのサーボ信号Ｓ７を光ピックアップ２へ供給するとともに、スピンドルサーボ信号Ｓ８をスピンドルモータ３へ供給する。これにより、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボなどの各種サーボ処理が実行される。
【００２８】
なお、本発明は主として記録回路１０における記録方法に関するものであり、再生制御及びサーボ制御については既知の種々の方法が適用できるので、それらについての詳細な説明は行わない。
【００２９】
コントローラ４０は、記録パルス波形の作成を行う部分であり、後述する各種制御信号Ｓ２１〜Ｓ２３を記録回路１０へ供給する。また、コントローラ４０は、情報の記録速度を示す情報、即ち、例えば１倍速、２倍速、４倍速などのいずれかを示す信号Ｓ３０をサーボ制御部３０へ供給する。
【００３０】
また、図３は本発明の１つの実施例として情報記録再生装置を例示しているが、本発明は記録専用の情報記録装置に適用することも可能である。
【００３１】
図４に、光ピックアップ２及び記録回路１０の内部構成を示す。図４に示すように、光ピックアップ２は、光ディスクＤに対して情報を記録するための記録ビーム及び光ディスクＤから情報を再生するための再生ビームを生成するレーザダイオード（ＬＤ）１１と、レーザダイオード１１から出射されたレーザ光を受光して、レーザ光に対応するレーザパワーレベル信号Ｓ１０を出力するフロントモニタダイオード（ＦＭＤ）１６とを備える。
【００３２】
なお、光ピックアップ２は、この他に再生ビームの光ディスクＤによる反射ビームを受光して読取ＲＦ信号Ｓｒｆを生成するための光検出器や、記録ビーム及び再生ビーム並びに反射ビームを適切な方向に案内する光学系などの既知の構成要素を備えるが、それらの図示及び詳細な説明は省略する。
【００３３】
一方、記録回路１０は、レーザダイオード（ＬＤ）ドライバ１２と、ＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ　Ｐｏｗｅｒ　Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路１３と、サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路１４と、制御ユニット１５と、バッファ１７とを備える。
【００３４】
ＬＤドライバ１２は、記録データに応じた電流をレーザダイオード（ＬＤ）１１に供給して、光ディスクＤへ情報の記録を行う。
【００３５】
図４に示すように、ＬＤドライバ１２は、電圧／電流（Ｖ／Ｉ）変換器１２１と、インターフェース（Ｉ／Ｆ）１２２と、Ｄ／Ａコンバータ１２４と、ドライバ１２６と、スイッチＳＷ２とを備える。
【００３６】
サンプルホールド回路１４は、サンプルホールド信号Ｓ５により規定されるタイミングでレーザパワーレベル信号Ｓ１０のレベルをサンプルし、ホールドする。
【００３７】
ＡＰＣ回路１３は、サンプルホールド回路１４の出力信号Ｓ１１に基づき、ＬＤドライバ１２のパワー制御を行う。具体的には、サンプルホールド回路１４は、ＤＶＤ−Ｒの場合、レーザダイオード１１から出射されるレーザ光のバイアスパワーレベルＰｂが一定となるようにＬＤドライバ１２の制御を行う。
【００３８】
制御ユニット１５は、主として記録動作とＡＰＣ制御とを行う。図４に示すように、制御ユニット１５は、ライトパルス生成部１５２と、記録レベル制御部１５４と、ＡＰＣ制御部１５５とを備える。
【００３９】
ライトパルス生成部１５２は、入力される記録データに基づいて、ＬＤドライバ１２内のスイッチＳＷ２のスイッチング信号Ｓ２を生成する。また、ライトパルス生成部１５２には、コントローラ４０からパルス形状制御信号Ｓ２２が供給される。パルス形状制御信号Ｓ２２は、コントローラ４０により生成され、バイアスパワーレベルＰｂの変動に応じて、記録パルス信号中のトップパルス／マルチパルスの形状、より具体的には前方エッジ位置の変化量を示す信号である。よって、ライトパルス生成部１５２は、パルス形状制御信号Ｓ２２に基づいて、記録パルス信号中のトップパルス及び／又はマルチパルスの前方エッジ位置を変化させる。
【００４０】
さらに、ライトパルス生成部１５２には、サンプルホールド回路１４から出力される発光レベル信号Ｓ２６が供給される。
【００４１】
記録レベル制御部１５４は、コントローラ４０から入力されるライトパワー制御信号Ｓ２３に基づいて、ライトパワーレベルを決定するための記録レベル信号Ｓ３を生成し、ＬＤドライバ１２のＩ／Ｆ１２２へ供給する。ライトパワー制御信号Ｓ２３は、ライトパワーＰｗ（図１参照）のレベルを示す信号である。
【００４２】
ＡＰＣ制御部１５５は、ＡＰＣループによるサーボ制御の目標値であるＡＰＣ目標値Ｓ４を生成してＡＰＣ回路１３へ供給するとともに、サンプルホールド回路１４によるサンプル及びホールドのタイミングを示すサンプルホールド信号Ｓ５をサンプルホールド回路１４へ供給する。ＡＰＣループによるサーボ制御の目標値は基本的にはバイアスパワーレベルＰｂ（図１参照）であり、コントローラ４０はバイアスパワーレベルＰｂを示すバイアスパワー制御信号Ｓ２１を生成してＡＰＣ制御部１５５へ供給する。ＡＰＣ制御部１５５は、バイアスパワー制御信号Ｓ２１に基づいて、ＡＰＣ目標値Ｓ４を決定する。よって、ＡＰＣループはコントローラ４０から指定されるバイアスパワーレベルＰｂに追従する。
【００４３】
なお、上記の構成例では、サンプルホールド回路１４を利用してＡＰＣループを構成しているが、サンプルホールド回路１４に代えてボトムホールド回路を使用し、フロントモニタダイオード１６から出力されるレーザパワーレベル信号Ｓ１０のボトム値を利用してＡＰＣサーボを実行することも可能である。
【００４４】
［記録時の動作］
次に、図４に示す記録回路１０が光ピックアップ２を利用して行う記録制御について説明する。記録回路１０は、大別して記録制御とＡＰＣ制御とを実行する。
（１）記録制御
まず、記録制御について説明する。なお、以下の説明はまずＤＶＤ−Ｒの場合について行う。記録動作では、制御ユニット１５内の記録レベル制御部１５４は、電流Ｉ３を生成するための記録レベルデータＳ３をＬＤドライバ１２へ供給する。電流Ｉ３は、図１（ａ）に示す記録パルス波形のライトパワーレベルＰｗを作り出すために使用される。
【００４５】
記録レベル信号Ｓ３はＬＤドライバ１２内のＩ／Ｆ１２２を通じて、Ｄ／Ａコンバータ１２４へ供給される。Ｄ／Ａコンバータ１２４は、対応するアナログ信号を生成し、それによりドライバ１２６を駆動して電流Ｉ３を生成してスイッチＳＷ２へ供給する。
【００４６】
制御ユニット１５内のライトパルス生成部１５２は、図１（ａ）に示す記録データに基づいて、複数のパルス列から構成されるライトパルス信号を生成し、これをスイッチング信号Ｓ２としてＬＤドライバ１２へ供給する。
【００４７】
ＬＤドライバ１２内では、電流Ｉ１がＶ／Ｉ変換器１２１からレーザダイオード１１へ供給されている。図１（ａ）に示すように、電流Ｉ１は記録パルス信号のバイアスパワーレベルＰｂを規定している。
【００４８】
図１（ａ）を参照すると、マーク期間においては、ライトパルス信号と同様のスイッチング信号Ｓ２によりスイッチＳＷ２が制御されるので、ライトパルス信号に従ってスイッチＳＷ２が切り換えられて電流Ｉ３が間欠的にレーザダイオード１１に供給される。その結果、図１（ａ）に示すように、マーク期間においては、バイアスレベル（電流Ｉ１のみに対応する）と、ライトパワーレベル（電流Ｉ１＋Ｉ３に対応する）の間でレベルが間欠的に変化する記録パルス波形が得られる。
【００４９】
一方、スペース期間では、ライトパルス生成部１５２はライトパルスを生成しないため、スイッチＳＷ２は常にオフとなり、電流Ｉ３はレーザダイオード１１に供給されない。よって、スペース期間では、図１（ａ）に示すように、記録パルス信号はバイアスパワーレベルＰｂ（電流Ｉ１に対応する）に維持される。
【００５０】
（２）ＡＰＣ制御
次に、ＡＰＣ制御について説明する。ＡＰＣ制御は、再生時、及び記録時のスペース期間において制御のための信号生成が実行され、記録時のマーク期間には実行されない。ＡＰＣ制御は、レーザダイオード１１、フロントモニタダイオード１６、バッファ１７、サンプルホールド回路１４、ＡＰＣ回路１３及びＶ／Ｉ変換器１２１により構成されるＡＰＣループにより実行される。
【００５１】
ＡＰＣ制御は、レーザダイオード１１により出力されるレーザ光のレベルがバイアスパワーレベルＰｂに常に維持されるように、ＬＤドライバ１２からレーザダイオード１１に供給されるバイアス電流Ｉ１のレベルを調整するものである。より詳細には、記録データ（８−１６変調されており、３Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔの長さのマーク期間及びスペース期間を有する）のスペース期間のうち、長いスペース期間（例えば５Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔのスペース期間）中において、バイアスパワーレベルＰｂが一定となるようにＬＤドライバ１２からのバイアス電流Ｉ１を調整する。
【００５２】
具体的には以下のように動作する。制御ユニット１５は、上述のように記録データに対応する記録パルス波形を生成し、当該記録パルス波形に従ってＬＤドライバ１２を駆動してレーザダイオード１１からレーザ光を出射させる。
【００５３】
フロントモニタダイオード１６は、光ピックアップ２内のレーザダイオード１１の近傍に配置され、レーザダイオード１１から出射したレーザ光を受光してそのレベルを示すレーザパワーレベル信号Ｓ１０を生成し、バッファ１７を介してサンプルホールド回路１４に供給する。
【００５４】
サンプルホールド回路１４は、制御ユニット１５のＡＰＣ制御部１５５から供給されるサンプルホールド信号Ｓ５により与えられるタイミングで、フロントモニタダイオード１６から供給されるレーザパワーレベル信号Ｓ１０をサンプルし、そのレベルを所定期間ホールドする。制御ユニット１５から出力されるサンプルホールド信号Ｓ５は、ＡＰＣ制御のための信号生成を実行する期間を示すパルスであり、具体的には、記録データ中の比較的長いスペース期間（５Ｔ〜１１Ｔ）中の所定期間（ＡＰＣ制御のための信号生成を実行する期間であり、以下「ＡＰＣ期間」とも呼ぶ。）を示すパルス信号である。よってサンプルホールド回路１４は、記録データのスペース期間中のＡＰＣ期間においてレーザパワーレベル信号Ｓ１０のレベルをサンプルし、それ以外の期間、そのサンプルレベルをホールドしてＡＰＣ回路１３へ供給する。
【００５５】
ＡＰＣ回路１３には、制御ユニット１５内のＡＰＣ制御部からＡＰＣ目標値Ｓ４が供給されている。ＡＰＣ目標値Ｓ４は、ＡＰＣにより維持すべきレーザ光のレベルを示す値であり、この例ではバイアスパワーレベルＰｂに対応する値である。ＡＰＣ回路１３は、ＡＰＣ期間におけるレーザパワーレベル信号Ｓ１０のレベルが、ＡＰＣ目標値Ｓ４により示される一定レベルとなるように、ＬＤドライバ１２内のＶ／Ｉ変換器１２１へ制御信号Ｓ１２を供給する。Ｖ／Ｉ変換器１２１は、入力された制御信号Ｓ１２により示される電圧を電流に変換し、バイアス電流Ｉ１を出力する。
【００５６】
記録時のスペース期間及び再生時においては、レーザダイオード１１はバイアスパワーレベルＰｂに対応する電流Ｉ１で駆動され、バイアスパワーレベルＰｂでレーザ光を出力する。温度その他の要因でレーザダイオード１１が出力するレーザ光の出力レベルが変動すると、その変動分を吸収するようにＡＰＣループが動作してバイアス電流Ｉ１を変化させる。その結果、スペース期間においては、光出力波形はＡＰＣにより常にバイアスパワーレベルＰｂに維持されることになる。
（３）記録パルス波形制御
次に、記録パルス波形の制御について説明する。本実施例では、コントローラ４０が記録回路１０に供給する制御信号Ｓ２１〜Ｓ２３により、記録パルス波形の形状が制御される。コントローラ４０は、前述のように、バイアスパワーレベルＰｂの変化に応じて記録パルス波形の形状を変化させる。
【００５７】
具体的には、まず、コントローラ４０は、ライトパワーレベルＰｗ（図１参照）を示すライトパワー制御信号Ｓ２３を記録レベル制御部１５４へ供給し、記録レベル制御部１５４はライトパワー制御信号Ｓ２３が示すレベルにライトパワーレベルＰｗを設定する。
【００５８】
また、コントローラ４０は、バイアスパワーレベルＰｂを示すバイアスパワー制御信号Ｓ２１をＡＰＣ制御部１５５に供給する。コントローラ４０は、各種の理由に基づいて、バイアスパワーレベルＰｂを変更することができる。各種の理由とは、例えばサーボ制御の安定化のためにバイアスパワーレベルを規定値よりも高い所定値に設定するとか、記録特性の改善のためにバイアスパワーレベルを規定値よりも低い所定値に設定するなどである。そして、そのような変更後のバイアスパワーレベルを示すバイアスパワー制御信号Ｓ２１をＡＰＣ制御部１５５へ供給する。ＡＰＣ制御部１５５は、バイアスパワー制御信号Ｓ２１で示されたレベルにバイアスパワーレベルＰｂを維持するように目標値Ｓ４を出力してＡＰＣを実行させる。
【００５９】
これと同時に、コントローラ４０は、バイアスパワー制御信号Ｓ２１が示すバイアスパワーレベルの変動に対応して記録パルス波形中のパルス形状を調整するためのパルス形状制御信号Ｓ２２をライトパルス生成部１５２へ供給する。例えば、コントローラ４０は、バイアスパワーレベルを規格値よりも所定値だけ増加させることを示すバイアスパワー制御信号Ｓ２１をＡＰＣ制御部１５５へ出力したときには、それに応じて記録パルス波形中のトップパルスの前方エッジを所定量だけ後方へシフトすることを指示するパルス形状制御信号Ｓ２２をライトパルス生成部１５２へ供給する。これにより、ライトパルス生成部１５２は、記録パルス波形中のトップパルスの前方エッジを後方へ所定量シフトした記録パルス波形を生成し、スイッチＳＷ２を制御してレーザダイオード１１を駆動する。
【００６０】
このように、コントローラ４０は、バイアスパワーレベルＰｂを変動させるときには、その変動分に応じて記録パルス波形中のパルス（トップパルス及び／又はマルチパルス）の前方エッジをシフトさせるようにライトパルス生成部１５２を制御する。
【００６１】
一例として、図５（ａ）はマルチパルス部のバイアスパワーＰｍと、それに応じたマルチパルス幅Ｔｍｐとの関係を示している。マルチパルス部のバイアスパワーレベルの増加に応じて、マルチパルス幅Ｔｍｐを減少させている。これにより、バイアスパワーレベルを変動させることにより記録特性が悪化することを防止することができる。
【００６２】
（４）記録パルス波形の修正
次に、記録パルス波形の修正について説明する。上記の方法では、コントローラ４０がバイアスパワーレベルを変化させるとともに、その変化に対応するように記録パルス波形の前方エッジ位置を変化させている。しかし、実際にはパルス形状制御信号Ｓ２２により記録パルス波形を変形させた通りに記録光が発光し、ディスクに意図した記録パワーが照射されているとは限らない。例えば、レーザダイオードの特性の変動、ディスク記録面の反りなどに起因して、実際にディスクに照射されている記録パワーはコントローラ４０が意図した値と異なっていることがある。よって、実際のバイアスパワーの変化を直接的又は間接的にモニタし、変化量に応じて記録パルス波形の調整を行うことが望ましい。この調整は、以下の３つの方法で行うことができる。なお、モニタできないバイアスパワーの変化で、予め既知であるものに関しては、以下の方法とは別に予め調整を行っておく。
【００６３】
第１の方法は、ピックアップ２のフロントモニタダイオード１６を利用して、ＡＰＣ制御部１５５が設定したバイアスパワーに対応するレーザ出射パワーを検出し、これをライトパルス生成部１５２にフィードバックすることにより、記録パルス波形の修正を行う。具体的には、図４に示すように、サンプルホールド回路１４の検出信号Ｓ２６をライトパルス生成部１５２に入力し、ライトパルス生成部１５２は検出信号Ｓ２６に応じて記録パルス波形の修正を行う。
【００６４】
第２の方法は、ディスクに照射した記録レーザ光の戻り光を利用する方法であり、具体的にはピックアップ２内に設けられるフォトディテクタの出力信号を、図３に示す再生回路２０からライトパルス生成部１５２に供給すればよい。記録中の戻り光の変化からはディスクの感度差によるバイアスパワーの熱的な実効値の変化を検出できるので、これに基づいて記録パルス波形を修正することにより、ディスクの感度差を吸収することができる。
【００６５】
また、第３の方法は、図３に示すサーボ制御部３０が生成するチルトサーボ制御信号をライトパルス生成部１５２に供給する。チルトサーボ信号からは、チルトのずれによるバイアスパワーの熱的な実効値の変化を検出することができるので、同様に実際にディスクに照射されているバイアスパワーを検出して、記録パルス波形を修正することができる。
【００６６】
以上のいずれかの方法で、実際にディスクに照射されているバイアスパワーを検出した場合は、それに基づいて記録パルス波形の修正を行う。例えば、コントローラ４０がバイアスパワーレベルを所定値だけ増加させるバイアスパワー制御信号Ｓ２１をＡＰＣ制御部１５５に入力するとともに、記録パルス波形のトップパルスの前方エッジを所定量だけシフトさせることを指示するパルス形状制御信号Ｓ２２をライトパルス生成部１５２に供給したとする。しかし、実際にはレーザダイオード１１の特性やディスクの反りにより、ディスクに照射されているバイアスパワーレベルは１／２しか増加していないことが分かった場合には、ライトパルス生成部１５２は記録パルス波形のトップパルスの前方エッジ位置を例えば半分だけ元の位置に戻す修正を行う。これにより、実際にディスクに照射されているレーザパワーを考慮して正しい記録を行うことができる。
【００６７】
なお、上記のように記録パルス波形の修正を行う代わりに、バイアスパワーを変更することもできる。また、記録パルス波形の修正及びバイアスパワーの修正の両方を行うこともできる。
【００６８】
（５）短スペース後の記録パルス波形の修正
上述のように、基本的にはバイアスパワーレベルの増加に応じて、記録パルス波形の調整を行えばよいのであるが、３Ｔスペースなどの短スペース後に３Ｔマークなどの短マークを記録する場合には、熱干渉の影響を受けやすい。そこで、３Ｔスペースなどの短スペース後においては、記録パルス波形の調整量、具体的にはトップパルスの前方エッジのシフト量を大きくすることが効果的である。
【００６９】
図５（ｂ）に、そのような場合のシフト量の一例を示す。なお、図５（ａ）〜（ｃ）に示すパルス幅などの各値は、図６に示す各部分に相当する。図５（ｂ）は、３Ｔスペース後の３Ｔマークと、それ以外の３Ｔマークについて、バイアスパワーＰｂと、トップパルス幅Ｔｔｏｐとの関係を示している。図示のように、３Ｔスペース後の３Ｔマークの場合は、その他の３Ｔマークの場合に比べて、同一のバイアスパワーに対してトップパルス幅を小さく、即ち、前方エッジ位置の後方へのシフト量を大きく設定している。
【００７０】
また、図５（ｃ）は、同一のバイアスパワーに設定したときに、３Ｔスペース後の３Ｔマークと、それ以外の３Ｔマークに対して適切なトップパルスの前方エッジシフト量Ｔｌｄの差を示している。３Ｔバイアスパワーが高くなるほど、トップパルスの前方エッジシフト量Ｔｌｄをより大きくする必要があることがわかる。これにより、３Ｔスペースなどの短スペース部分においてバイアスパワーを増加させた場合における熱干渉の影響を軽減することができる。
【００７１】
（６）記録パルス波形の補正例
次に、記録パルス波形の他の補正例について説明する。上記の説明では、バイアスパワーレベルの増加に応じて、記録パルス波形のトップパルス及び／又はマルチパルスの前方エッジを後方にシフトする方法を述べた。しかし、バイアスパワーレベルの増加／減少分に応じて、記録パルス波形全体による熱量の総和を減少／増加させることができれば、トップパルスの前方エッジをシフトする以外の他の方法で記録パルス波形を補正することも可能である。以下に、そのような場合を含む幾つかの例を示す。
【００７２】
図７は、マルチパルス型のライトストラテジーを使用する場合の補正例を示す。
【００７３】
補正例１−１及び補正例１−２はこれまで述べてきた方法である。補正例１−１では、バイアスパワーレベルが基準バイアスパワーレベルより低いため、その分トップパルス及びマルチパルスの前方エッジを前方へシフトしている。逆に、補正例１−２では、バイアスパワーレベルが基準バイアスパワーレベルより高いため、トップパルス及びマルチパルスの前方エッジを後方へシフトしている。
【００７４】
補正例１−３では、スペース期間のバイアスパワーレベルのみが基準バイアスパワーレベルより低いため、当該スペース期間の前のパルス波形中のトップパルスの後方エッジを後方へシフトし、かつ、当該スペース期間に続くパルス波形中のトップパルスの前方エッジを前方へシフトしている。マルチパルス部のバイアスパワーレベルは基準バイアスパワーレベルと等しいため、マルチパルスに変化はない。
【００７５】
補正例１−４では、記録パルス後のスペース期間のバイアスパワーレベルが所定期間にわたり高いため、当該記録パルスの後方エッジを前方にシフトするとともに、次の記録パルスの前方エッジも後方にシフトしている。
【００７６】
補正例１−５では、記録パルス後のスペース期間のバイアスパワーレベルが所定期間にわたり高いため、次の記録パルスの前方エッジを後方にシフトしている。
【００７７】
補正例１−６では、記録パルスの前のスペース期間のバイアスパワーレベルが所定期間にわたり低いため、当該記録パルスのトップパルスの前方エッジを前方にシフトしている。
【００７８】
補正例１−７では、マルチパルス部のバイアスパワーレベルが高いため、各マルチパルスの前方エッジをそれぞれ後方にシフトしている。
【００７９】
一方、図８はノンマルチ型のライトストラテジーを使用する場合の補正例を示す。
【００８０】
補正例２−１では、バイアスパワーレベルが基準バイアスパワーレベルより低いため、その分トップパルスの前方エッジを前方へシフトしている。また、図８には示していないが、補正例２−１とは逆に、スペース期間のバイアスパワーレベルが高いときに、それに続く記録パルス波形のトップパルスの前方エッジを後方にシフトさせてもよい。
【００８１】
補正例２−２では、スペース期間のバイアスパワーレベルが基準バイアスパワーレベルより高いため、当該スペース期間の前の記録パルスにおけるラストパルスの後方エッジを前方にシフトしている。
【００８２】
補正例２−３では、スペース期間のバイアスパワーレベルが基準バイアスパワーレベルより低いため、当該スペース期間の前の記録パルスにおけるラストパルスの後方エッジを後方にシフトし、かつ、当該スペース期間の後の記録パルスにおけるトップパルスの前方エッジを前方へシフトしている。
【００８３】
補正例２−４では、記録パルス後のスペース期間のバイアスパワーレベルが所定期間にわたり高いため、当該記録パルスの後方エッジを前方にシフトするとともに、次の記録パルスの前方エッジも後方にシフトしている。
【００８４】
補正例２−５では、記録パルス後のスペース期間のバイアスパワーレベルが所定期間にわたり高いため、次の記録パルスの前方エッジを後方にシフトしている。
【００８５】
補正例２−６では、記録パルスの前のスペース期間のバイアスパワーレベルが所定期間にわたり低いため、当該記録パルスのトップパルスの前方エッジを前方にシフトしている。
【００８６】
補正例２−７では、記録パルスの前のスペース期間のバイアスパワーレベルが低いため、その分、記録パルスのトップパルスの後方エッジを後方にシフト（即ち、中間バイアス期間を短縮）している。
【００８７】
以上説明したように、本発明の実施例では、バイアスパワーの変化に応じて、記録パルス波形の形状を変化させることとしたので、全体としてディスクに照射される記録レーザ光の総熱量を維持し、良好な記録特性を維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態によるバイアスパワーの変化と記録パルス波形の形状との関係を模式的に示す。
【図２】本発明の実施形態に係る情報記録装置の概略構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施例に係る情報記録再生装置の概略構成を示すブロック図である。
【図４】図１に示すピックアップ及び記録回路の構成を示すブロック図である。
【図５】バイアスパワーと記録パルスの各部のパルス幅との関係を示すグラフである。
【図６】マルチパルス型の記録パルス波形例を示す。
【図７】マルチパルス型の記録パルス波形の補正例を示す。
【図８】ノンマルチパルス型の記録パルス波形の補正例を示す。
【符号の説明】
１　情報記録再生装置
２　光ピックアップ
３　スピンドルモータ
１０　記録回路
１２　ＬＤドライバ
１３　ＡＰＣ回路
１４　サンプルホールド回路
１５　制御ユニット
１６　フロントモニタダイオード
２０　再生制御部
３０　サーボ制御部
４０　コントローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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