(57)【要約】【課題】低い処理負荷で、かつ簡便な操作により禁則情報に対応したテスト計画の作成を支援できるテスト計画作成支援装置を提供する。【解決手段】複数の設定ファクター同士の互換性テストの計画作成を支援する装置であって、制御部１１が、複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成し、複数の設定ファクターのうち、ｎ個の設定ファクターをそれぞれ第１，…，第ｎ注目設定ファクターとして、当該ｎ個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定できない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類し、禁則情報に係る設定ファクターについては、分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、テスト計画テーブルのテスト条件に、設定ファクターの各設定値を割り当てる。【選択図】        図１
2004288034.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の設定ファクター同士の互換性をテストする計画の作成を支援する装置であって、
複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する手段と、
前記複数の設定ファクターのうち、ｎ個の設定ファクターをそれぞれ第１，第２，…，第ｎ注目設定ファクターとして、当該ｎ個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する分類手段と、
前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる割当手段と、
を含むことを特徴とするテスト計画作成支援装置。
【請求項２】
請求項１に記載のテスト計画作成支援装置であって、
前記分類手段は、前記禁則情報を、
（ａ）前記第１注目設定ファクターが特定の設定値であるか、又は前記第２から第ｎ注目設定ファクターがそれぞれ特定の設定値の組み合わせであるときにのみ共に設定可能となる第１禁則パターンと、
（ｂ）前記第１注目設定ファクターの設定値に関わらず、当該第１注目設定ファクターの設定値と共に設定可能となる前記第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値の組み合わせ、又は
前記第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値の組み合わせに関わらず、当該第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値の組み合わせと共に設定可能となる前記第１注目設定ファクターの設定値、
のいずれか一方が存在する、第２禁則パターンと、
（ｃ）前記第１禁則パターンと、第２禁則パターンとのいずれでもない、第３禁則パターンと、
のいずれかに分類し、
前記割当手段は少なくとも、第１禁則パターンと、第２禁則パターンとのいずれかに分類された禁則情報について、
（ａ）第１禁則パターンとして分類された２つの第１、第２注目設定ファクターについては、それぞれの共に設定可能となる設定値を組とした、設定値を有する仮想設定ファクターを生成する処理を行い、当該仮想設定ファクターを前記作成されたテスト計画テーブルのテスト条件の一つに割り当てる処理を行い、
（ｂ）第２禁則パターンとして分類されたｎ個の注目設定ファクターについては、前記第１注目設定ファクターの特定の設定値と、それと共に設定可能な第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値とをテスト条件として割り当てた副テスト計画テーブルを作成し、前記テスト計画テーブルに、前記第１注目設定ファクターの各設定値をテスト条件として割り当ててから、当該テスト計画テーブルに、前記副テスト計画テーブルを合成する処理を行うことを特徴とするテスト計画作成支援装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のテスト計画作成支援装置であって、
前記割当手段によって設定値の割当が行われた後のテスト計画テーブルに従って行われるテストの数を、禁則情報に係る設定の組み合わせを除くすべての組み合わせのパターンの数で除した値を網羅率として演算する手段をさらに含み、
当該演算した網羅率を所定の処理に供することを特徴とするテスト計画作成支援装置。
【請求項４】
請求項３に記載のテスト計画作成支援装置であって、
前記網羅率が予め定められた値より低い場合に、禁則情報に係る各設定ファクターについて、それらの設定値の組み合わせのうち、禁則情報により規定されない組み合わせであって、かつ、テスト計画テーブルに含まれない組み合わせを、少なくとも一つ選択的にテスト計画テーブルに追加する、ことを特徴とするテスト計画作成支援装置。
【請求項５】
請求項４に記載のテスト計画作成支援装置において、
前記テスト計画テーブルに追加される設定値の組み合わせの選択においては、各設定ファクターについて予め定められた優先順位を参照し、優先順位の高い設定ファクターに係る設定値から順に選択を行うことを特徴とするテスト計画作成支援装置。
【請求項６】
複数の設定ファクター同士の互換性をテストする計画の作成を支援する方法であって、コンピュータを用い、
複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する工程と、
前記複数の設定ファクターのうち、ｎ個の設定ファクターをそれぞれ第１，第２，…，第ｎ注目設定ファクターとして、当該ｎ個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する分類工程と、
前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる割当工程と、
を実行することを特徴とするテスト計画作成支援方法。
【請求項７】
複数の設定ファクター同士の互換性をテストする計画の作成を支援するプログラムであって、コンピュータに、
複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する手順と、
前記複数の設定ファクターのうち、ｎ個の設定ファクターをそれぞれ第１，第２，…，第ｎ注目設定ファクターとして、当該ｎ個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する手順と、
前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる手順と、
を実行させることを特徴とするテスト計画作成支援プログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、機器のソフトウエアのテスト計画の作成を支援するテスト計画作成支援装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、多くの機器がコンピュータ・ソフトウエアにより制御されるようになるとともに、機器の高機能化が進み、機器の動作を制御する設定ファクターとしての設定パラメータも数多くなってきている。こうしたソフトウエアは、機能ごとにモジュールとして作成されるため、個々の機能に係る設定ファクターについて、その設定値をテストすることは、ソフトウエアの作成工程で容易に為し得る。しかし、機能間の互換性、すなわち設定ファクター同士の互換性のテストは、ソフトウエアの作成工程の後で、各ソフトウエアを組み合わせて初めて行い得るものである。
【０００３】
この設定ファクターの組み合わせの数は一般に膨大になることが知られている。例えばプリンタ等のドライバ・ソフトウエアにおいて各設定値の組み合わせを数えると、その組み合わせの数は１億のオーダーになるものもある。このため、人手によって設定値の組み合わせを検討することは現実的でない。そこで、これらの設定値の組み合わせをコンピュータによって生成し、ソフトウエアのテスト計画の作成を支援する装置が開発されている。
【０００４】
その一例として、実験計画法を利用した装置では、直交表と呼ばれるテーブルを用いてテスト計画を作成する。この直交表は、行うべきテストの一覧を縦軸に配列し、設定値の一覧を横軸に配列して、それぞれの設定値が２水準（ＯＮ又はＯＦＦの２つの状態のうちいずれかの状態のみとなり得るとするもの）としたときは、ｎ個の設定値について２のｎ乗個の組み合わせを作成する。そしてこの作成した組み合わせを参照しながら、各テストについてのそれぞれの設定値を設定させて、処理を行わせるプログラム（テストスクリプト）を作成する。
【０００５】
また別の例では、組み合わせ理論を用いて、各テストにおける設定値の組み合わせを作成するというものもある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の実験計画法を利用した装置は、すべての設定値の組み合わせを直交表に含めてしまう。そのため機器の仕様として、禁止される組み合わせ、例えば仮にカラー原稿の印刷時は、両面印刷ができない、といった仕様においては、カラー／白黒の設定ファクターについてカラーの設定値を選択し、片面／両面印刷の設定ファクターについて両面の設定値を選択したような組み合わせはテストの必要がないにもかかわらず、上記従来の実験計画法を利用した装置では、この組み合わせもテストに含められてしまう。
【０００７】
組み合わせ理論を用いる装置では、こうした、共に設定することができない設定値同士（禁則設定）を避けたテストを作成することは可能であるが、この場合、常に、禁則設定以外のすべての設定値の組み合わせを列挙して、テストの対象としてしまう。これによると、テストの品質としては望ましいものの、禁則設定を避ける処理のためにテスト計画の作成に係る処理負荷が高くなるといった問題点がある。さらに、組み合わせ理論を採用して禁則設定を避けるため、共に設定できないとする設定値同士を規定する情報（禁則情報）の設定を、組み合わせ理論に沿って、論理式で行わなければならない。このため、テスト担当者が論理式を作成しなければならず、操作が煩雑であるといった問題点もある。
【０００８】
本発明は上記実情に鑑みて為されたもので、低い処理負荷で、かつ簡便な操作により禁則情報に対応したテスト計画の作成を支援できるテスト計画作成支援装置を提供することを、その目的の一つとする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記従来例の問題点を解決するための本発明は、複数の設定ファクター同士の互換性をテストする計画の作成を支援する装置であって、複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する手段と、前記複数の設定ファクターのうち、ｎ個の設定ファクターをそれぞれ第１，第２，…，第ｎ注目設定ファクターとして、当該ｎ個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する分類手段と、前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる割当手段と、を含むことを特徴としている。
【００１０】
また、前記分類手段は、前記禁則情報を、（ａ）前記第１注目設定ファクターが特定の設定値であるか、又は前記第２から第ｎ注目設定ファクターがそれぞれ特定の設定値の組み合わせであるときにのみ共に設定可能となる第１禁則パターンと、（ｂ）前記第１注目設定ファクターの設定値に関わらず、当該第１注目設定ファクターの設定値と共に設定可能となる前記第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値の組み合わせ、又は前記第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値の組み合わせに関わらず、当該第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値の組み合わせと共に設定可能となる前記第１注目設定ファクターの設定値、のいずれか一方が存在する、第２禁則パターンと、（ｃ）前記第１禁則パターンと、第２禁則パターンとのいずれでもない、第３禁則パターンと、のいずれかに分類し、前記割当手段は少なくとも、第１禁則パターンと、第２禁則パターンとのいずれかに分類された禁則情報について、（ａ）第１禁則パターンとして分類された２つの第１、第２注目設定ファクターについては、それぞれの共に設定可能となる設定値を組とした、設定値を有する仮想設定ファクターを生成する処理を行い、当該仮想設定ファクターを前記作成されたテスト計画テーブルのテスト条件の一つに割り当てる処理を行い、（ｂ）第２禁則パターンとして分類されたｎ個の注目設定ファクターについては、前記第１注目設定ファクターの特定の設定値と、それと共に設定可能な第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値とをテスト条件として割り当てた副テスト計画テーブルを作成し、前記テスト計画テーブルに、前記第１注目設定ファクターの各設定値をテスト条件として割り当ててから、当該テスト計画テーブルに、前記副テスト計画テーブルを合成する処理を行うこととしてもよい。
【００１１】
さらに、前記割当手段によって設定値の割当が行われた後のテスト計画テーブルに従って行われるテストの数を、禁則情報に係る設定の組み合わせを除くすべての組み合わせのパターンの数で除した値を網羅率として演算する手段をさらに含み、当該演算した網羅率を所定の処理に供することとしてもよい。
【００１２】
ここで、前記網羅率が予め定められた値より低い場合に、禁則情報に係る各設定ファクターについて、それらの設定値の組み合わせのうち、禁則情報により規定されない組み合わせであって、かつ、テスト計画テーブルに含まれない組み合わせを、少なくとも一つ選択的にテスト計画テーブルに追加する、こととするのも好ましい。この場合は、前記テスト計画テーブルに追加される設定値の組み合わせの選択においては、各設定ファクターについて予め定められた優先順位を参照し、優先順位の高い設定ファクターに係る設定値から順に選択を行うこととするのも好ましい。
【００１３】
また、上記従来例の問題点を解決するための本発明は、複数の設定ファクター同士の互換性をテストする計画の作成を支援する方法であって、コンピュータを用いたテスト計画作成支援方法であって、複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する工程と、前記複数の設定ファクターのうち、ｎ個の設定ファクターをそれぞれ第１，第２，…，第ｎ注目設定ファクターとして、当該ｎ個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する分類工程と、前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる割当工程と、を実行することを特徴としている。
【００１４】
さらに、本発明の別の態様に係る複数の設定ファクター同士の互換性をテストする計画の作成を支援するプログラムは、コンピュータに、複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する手順と、前記複数の設定ファクターのうち、ｎ個の設定ファクターをそれぞれ第１，第２，…，第ｎ注目設定ファクターとして、当該ｎ個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する手順と、前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる手順と、を実行させる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。本発明の実施の形態に係るテスト計画作成支援装置は、図１に示すように、制御部１１と、記憶部１２と、操作部１３と、表示部１４とを含むコンピュータによって実現される。この制御部１１は、記憶部１２に格納されているプログラムに従って動作し、テスト計画テーブルを作成して、設定ファクターの設定値を割り当てる、直交表の作成を行う。また、この制御部１１は、予め規定されている禁則情報を参照し、禁則情報に基づく所定の処理を行って、直交表を作成する。これら制御部１１の処理の具体的内容については、後に詳しく述べる。
【００１６】
記憶部１２は、制御部１１が実行するプログラムを保持するハードディスク等のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を含んでなり、また、制御部１１がその処理の過程で作成する情報を保持するワークメモリとしても動作する。操作部１３は、キーボードやマウス等であり、ユーザの操作内容を制御部１１に出力する。表示部１４は、制御部１１から入力される指示に従って情報を表示するディスプレイ等である。
【００１７】
ここで制御部１１による処理の内容について説明する。この制御部１１の処理は、具体的に、情報の入力受付、テスト計画テーブルの作成、禁則情報の分類、禁則に係る設定ファクターに対する処理、テスト計画テーブルへの各設定値の割当、といったものであり、まずこれらをそれぞれ説明する。なお、以下の例ではプリンタドライバのソフトウエアをテストする場合を例として説明する。
【００１８】
［情報の入力受付］
本実施の形態においては、ユーザは、各設定ファクター（因子）を特定する情報と、各設定ファクターに係る設定値（水準）と、禁則情報と、及び要求品質情報としての網羅率しきい値とをそれぞれ入力する。各設定ファクターを特定する情報とは、設定パラメータの名称等であり、例えば「用紙サイズ」、「出力トレイ」といったものである。各設定ファクターに係る設定値は、設定ファクターごとに設定可能な値のリストであり、例えば「用紙サイズ」の設定ファクターについて「Ａ４」、「Ｂ４」等の値である。
【００１９】
禁則情報は、本実施の形態においては、図２に示すような案内表示を用いて入力する。制御部１１は、設定ファクターを特定する情報と、それぞれの設定ファクターに対する設定値の入力を受けると、これらを記憶部１２に保持させ、次に設定ファクターを特定する情報の一覧を表示部１４に表示する。ユーザは、この表示から禁則情報の設定対象となる設定ファクターを複数選択する。具体的にユーザは、設定ファクターの一つを禁則設定ファクターとして選択し、少なくとも一つの設定ファクターを禁則条件ファクターとして選択する。制御部１１は、禁則条件ファクターに係る設定値の組み合わせを縦軸に配列し、禁則設定ファクターに係る設定値を横軸に配列する（図２）。図２（ａ）の例では、用紙サイズを禁則条件ファクターとし、両面印刷の設定ファクターを禁則設定ファクターとして選択した例を表しており、図２（ｂ）の例では、原稿の向きと、両面印刷との各設定ファクターを条件ファクターとし、とじしろ位置の設定ファクターを禁則設定ファクターとして選択した例を表している。図２（ｂ）に示すように、複数の禁則条件ファクターを選択したときには、それぞれの値の全部の組み合わせを列挙する。
【００２０】
ユーザは、この図２（ａ），（ｂ）のマトリクス表示のうち、共に設定できない組み合わせ（禁則関係にある組み合わせ）に係るマトリクス部分をマウスでクリックする等する。このとき、制御部１１は、当該クリックされたマトリクス部分の色を変更したり、「×」等の記号を表示するなど、禁則情報が規定されたことを示す表示を行うことが好ましい。ここでユーザが入力を完了した旨を指示すると、制御部１１は、表示しているマトリクスの情報を、禁則情報として記憶部１２に格納する。禁則情報が複数ある場合は、制御部１１は、それぞれを記憶部１２に格納する。
【００２１】
また、ユーザは、要求品質情報としての網羅率しきい値を入力してもよい。このしきい値は、０から１００％の値であり、数値として入力することができ、制御部１１は、当該入力された値を記憶部１２に格納して保持する。
【００２２】
［テスト計画テーブルの作成］
制御部１１は、ユーザから入力されている設定ファクターのうち、禁則設定ファクターとして選択されたものを除く各設定ファクターについて、それらの設定ファクターの各設定値のすべての組み合わせを配列可能なサイズのテスト計画テーブル（直交表）を作成し、記憶部１２に格納する。この時点では具体的な設定値を割り当てておく必要はなく、設定値の代わりに識別子に対する直交表を作成すればよい（図３）。この直交表の作成は、従来の実験計画法を用いる装置と同様の処理であるので、その詳細な説明を省略する。以下、この直交表を主テスト計画テーブルと呼ぶ。
【００２３】
この直交表の各行が、各テストに対応し、各欄にそれぞれ各設定ファクターの設定値が割り当てられて、当該割り当てられた設定値の組み合わせからなるテスト条件となる。
【００２４】
［禁則情報の分類］
制御部１１は、次に、ユーザから入力された各禁則情報を参照し、それらを予め定められた禁則パターンに分類する。具体的に、ユーザが禁則設定ファクターとして選択した設定ファクター（以下、第１注目設定ファクターと呼ぶ）と、禁則条件ファクターとして選択した複数（以下、第２から第ｎ注目設定ファクターとそれぞれ呼ぶ）と、を参照し、まず、第１注目設定ファクターが特定の設定値であるか、又は第２から第ｎ注目設定ファクターが特定の設定値の組み合わせであるときにのみ共に設定可能となる、というパターンでないかを調べる。
【００２５】
このパターンは、具体的には図４（ａ）に示すように、図２で入力されたマトリクスにおいて、共に設定できる設定値の組が、１列分あるか、又は１行分あるか、の少なくとも一方であるか否かを調べることで検出できる。図４（ａ）の例では、拡大縮小の設定ファクターと、複数枚の原稿をまとめて一枚の用紙に印刷する設定ファクター（便宜的にＮアップ設定ファクターと呼ぶ）との間の禁則情報を規定しているが、この場合、拡大縮小を「しない」という設定値であれば、Ｎアップ設定ファクターの設定値がいかなるものであっても設定できる。同様に、Ｎアップ設定ファクターが「しない」の設定値であれば、拡大縮小の設定値がいかなる設定値であっても構わない。このため、双方の「しない」の行及び列に、共に設定できる設定値の組が現れる。
【００２６】
このようなパターンが検出されると、制御部１１は、当該禁則情報を「第１禁則パターン」と分類して、その分類結果を記憶部１２に格納する。具体的には、記憶部１２内の各禁則情報に識別子を割り振り、当該識別子に禁則パターンの分類結果を関連づけたテーブルを作成して格納すればよい。
【００２７】
また、制御部１１は、第１注目設定ファクターの設定値に関わらず、当該第１注目設定ファクターの設定値と共に設定可能となる第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値の組み合わせ、又は、第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値の組み合わせに関わらず、当該第２から第ｎ注目設定ファクターの設定値の組み合わせと共に設定可能となる第１注目設定ファクターの設定値、のいずれか一方が存在するか否かを調べる。
【００２８】
これは例えば、図４（ｂ）に示すように、用紙サイズの設定ファクターと両面の設定ファクターとについて、用紙サイズが「Ａ６」又は「Ｂ４」であるときに、両面の設定ファクターがいかなる設定値であっても禁則でないと規定されているといったように、複数行分又は複数列分、共に設定できる設定値の組み合わせが存在するか否かを調べることによって行うことができる。制御部１１は、このような禁則情報を「第２禁則パターン」と分類して、その分類結果を記憶部１２に格納する。
【００２９】
さらに制御部１１は、これらのいずれにも当てはまらない禁則パターンを「第３禁則パターン」と分類して、その分類結果を記憶部１２に格納する。
【００３０】
要するに制御部１１は、図５に示すように、記憶部１２に格納されている禁則情報のうち、分類が完了していないものについて、そのうち一つの禁則情報を選択し（Ｓ１）、当該選択した禁則情報が第１禁則パターンであるか否かを調べ（Ｓ２）、第１禁則パターンであれば、当該選択した禁則情報を特定する情報と、「第１禁則パターン」であることを表す情報とを関連づけて記憶部１２に格納し（Ｓ３）、さらに分類が完了していない禁則情報があるか否かを調べ（Ｓ４）、そのような禁則情報があれば、処理Ｓ１に戻って処理を続ける。
【００３１】
また、処理Ｓ４においてそのような禁則情報がなければ処理を終了する。さらに、処理Ｓ２において、選択した禁則情報が第１禁則パターンでなければ、第２禁則パターンであるか否かを調べ（Ｓ５）、第２禁則パターンであれば、選択した禁則情報を特定する情報と、「第２禁則パターン」であることを表す情報とを関連づけて記憶部１２に格納して（Ｓ６）、処理Ｓ４に移行する。また、処理Ｓ５において、第２禁則パターンでなければ、選択した禁則情報を特定する情報と、「第３禁則パターン」であることを表す情報とを関連づけて記憶部１２に格納して（Ｓ７）、処理Ｓ４に移行する。
【００３２】
［禁則に係る設定ファクターに対する処理］
次に制御部１１は、各禁則情報について、それぞれの分類の結果に基づき、次のような処理を行う。以下、各分類の結果に対応する処理を分説する。
【００３３】
［第１禁則パターンに対する処理］
第１禁則パターンとして分類された禁則情報については、その禁則情報を参照して、共に設定可能な設定値の組を抽出し、当該抽出した設定値の組のそれぞれを、仮想的な設定値とする、仮想的な設定ファクターを作成する。
【００３４】
具体的に、図４（ａ）に示した例を用いて説明すると、拡大縮小・まとめて一枚の設定ファクターの組について、拡大縮小が「しない」で、かつ、まとめて一枚も「しない」とする、「しない・しない」の組をはじめ、以下同様に、「２５％・しない」、「７０％・しない」、「４００％・しない」、「しない・２アップ」、「しない・４アップ」、「しない・８アップ」の７通りの仮想的設定値のいずれかを採る、「拡大縮小」の設定ファクターと、「まとめて一枚」の設定ファクターを融合した、仮想的な設定ファクターを作成する。
【００３５】
そしてこの仮想的な設定ファクターを主テスト計画テーブルに線点図を用いて割り当てる。この割り当ての結果は、図６（ａ）に示すようなものとなる。線点図については、実験計画法において広く知られた割り当て補助法であるので、その詳細な説明を省略する。なお、線点図の数が、割り当ての対象となった仮想的な設定ファクターの仮想的設定値の数より大きい場合は、ダミーを割り当てる。図６（ａ）では、ダミーとして「ＤＭＹ＿しない・２アップ」を割り当てている。
【００３６】
次に、割り当てた後の主テスト計画テーブルについて、仮想的設定ファクターから、元の（融合前の）設定ファクターを分離する（図６（ｂ））。これにより、割り当てが完了する。
【００３７】
［第２禁則パターンに対する処理］
また制御部１１は、第２禁則パターンとして分類された禁則情報については、次のように処理する。以下、説明のため、処理の対象となる第２禁則パターンの禁則情報を「注目禁則情報」と呼ぶ。
【００３８】
まず、注目禁則情報の禁則条件ファクターと禁則設定ファクターとに係る設定値の組み合わせのうち、禁則設定ファクターのすべての設定値が禁則関係にないようになる、禁則条件ファクターの特定の設定値のすべてを配列可能なサイズのテスト計画テーブル（直交表）を、副テスト計画テーブルとして作成して記憶部１２に格納する（図７（ａ））。そして、当該副テスト計画テーブルに禁則条件ファクターに係る設定値を割り当てる。ここで、作成した副テスト計画テーブルに配列可能な数よりも、設定値の数が少なければ、ダミーの設定値を作成して副テスト計画テーブルに割り当てる。
【００３９】
具体的な処理内容を、図４（ｂ）に示した例を参照しながら説明すると、次のようになる。この例では、禁則条件ファクター「用紙サイズ」の７つの設定値のうち、禁則設定ファクターのすべての設定値と禁則関係のない、特定の設定値は「Ａ４」と「Ｂ４」との２つであり、禁則設定ファクター「両面」に３つの設定値があるので、これを配列可能な数、例えば禁則条件ファクターについて４種類のテスト計画を含む副テスト計画テーブルを作成し、余剰の２つ分についてはダミーの用紙サイズ「ＤＭＹ＿Ａ４」及び「ＤＭＹ＿Ｂ４」を割り当てることとする。
【００４０】
禁則設定ファクターについても同様の処理を行うと、副テスト計画テーブルが図７（ｂ）のように作成される。
【００４１】
一方、主テスト計画テーブル上には、禁則条件ファクターに係るすべての設定値を割り当てる。そして、この主テスト計画テーブル上の禁則条件ファクターの設定値のうち、副テスト計画テーブル上の設定値と同じ設定値となっている行に、副テスト計画テーブルの行を含める（この処理をテスト計画テーブルの合成処理と呼ぶ）。このとき、主テスト計画テーブル上に、禁則設定ファクターの欄が追加される。
【００４２】
なお、副テスト計画テーブルにない設定値に係る行、ここの例でいえば、「用紙サイズ」が「はがき」等となっている行については、追加した禁則設定ファクターの欄を既定の値（デフォルト値）とする。もし、予め当該禁則設定ファクターである設定ファクターにデフォルト値が定められておらず、記憶部１２に当該デフォルト値の情報がなければ、当該欄にＮＵＬＬ（ヌル）値を割り当てておく。こうして、図７（ｃ）に示すように、主テスト計画テーブルへの割り当てが完了する。
【００４３】
さらに、この副テスト計画テーブル上の禁則設定ファクターに係る設定ファクターを、禁則条件ファクターとする別の禁則情報が記憶部１２に設定されている場合もある。すなわち、この例において、禁則設定ファクターに係る設定ファクターは「両面」であるが、この設定ファクター「両面」を禁則条件ファクターとする別の禁則情報（図８）が含まれる場合がある。この場合は、さらにこの禁則情報について、上記副テスト計画テーブル（第１副テスト計画テーブル）の副テスト計画テーブル（第２副テスト計画テーブル）を作成し、当該第２副テスト計画テーブルを第１副テスト計画テーブルに対して合成処理し、さらに合成処理後の第１副テスト計画テーブルを主テスト計画テーブルに合成処理するようにすればよい。
【００４４】
同様に、第２副テスト計画テーブル上の禁則設定ファクターに係る設定ファクターを、禁則条件ファクターとするさらに別の禁則情報が含まれている場合も同様に処理することができる。
【００４５】
なお、記憶部１２に格納されている禁則情報のうち、現在処理している禁則情報と、その禁則条件ファクターを共通にし、かつ、それに対する禁則関係が共通する禁則情報が他にあれば、現在処理している禁則情報と、当該他の禁則情報とを同じ副テスト計画テーブルに割り当ててもよい。例えば、図９に示すように、禁則条件ファクター「用紙サイズ」に対して禁則設定ファクター「給紙トレイ」を設定する禁則情報があり、これにおける禁則の関係が、用紙サイズ「Ａ４」又は「Ｂ４」の場合に、給紙トレイの各設定値が設定可能となるとする、「用紙サイズ」に対する「両面」との場合と同一の関係にある。この場合は、３つの設定ファクター（禁則条件ファクター１つと、禁則設定ファクター２つ）について、それぞれ、禁則条件ファクターの設定値のうち、禁則設定ファクターのどの設定値とも禁則関係のない設定値（特定設定値）に係るものを配列した副テスト計画テーブルを作成して、主テスト計画テーブルに合成すればよい。
【００４６】
また、ここまでの説明では、禁則条件ファクターが特定の設定値であるときに禁則関係がなくなる例（禁則関係のない行が複数ある例）について説明したが、禁則設定ファクターが特定の値であるときに禁則関係がなくなる例（禁則関係のない列が複数ある例）でも同様の処理を行うことができる。
【００４７】
［第３禁則パターンに対する処理］
第３禁則パターンは、第１、第２の禁則パターンのいずれにも属さないもので、いわば禁則関係がランダムに配列されているかに見えるものである。例えば、２つの設定ファクター「原稿の向き」及び「両面」に対して、ステープラー等によるとじしろを設定する位置の設定ファクターは、図１０（ａ）に示されるように、「原稿の向き」と「両面」との設定値が特定の設定値の組み合わせになっているときに、とじしろ位置に係るすべての設定値が共に設定可能となるといった関係にはない。
【００４８】
制御部１１は、こうした第３禁則パターンとして分類された禁則情報については、（１）禁則情報を無視して、各設定値について総当たりのテスト計画を作成するか、（２）直交性を犠牲にして禁則情報に示された禁則関係を避けながら割り当てを行うか、のいずれかを選択的に実行する。この選択は、ユーザにより設定された内容に基づいて行うこととしてもよい。このようにすることで、（１）のように処理する場合は、第３禁則パターンの禁則関係の設定値の組み合わせはテストに含まれてしまうが、第１、第２禁則パターンの禁則関係にある設定値の組み合わせのテストが省略されるので、テストの効率の向上は見込まれる。また、（２）のようにすれば、テスト計画の作成に係る処理負荷は高まるが、テストの効率をより向上できる。
【００４９】
以下、この第３禁則パターンに関し、直交性を犠牲にして禁則情報に示された禁則関係を避けながら割り当てを行う場合の制御部１１の処理について説明する。この処理においては、制御部１１は、パターン分析、仮想設定値の生成、仮想設定値の選択、仮想設定値の割り当ての４段階の処理を行う。
【００５０】
まず、パターン分析では、各禁則条件ファクターに対する禁則設定ファクターの禁則関係を参照し、禁則関係が共通する禁則条件ファクター側の設定値同士をまとめた仮想設定値を作成する。具体的に図１０（ａ）の例では、「原稿の向き」、「両面」の２つの設定ファクターからなる禁則条件ファクターについて、「たて・短辺とじ」、「よこ・なし」、「よこ・短辺とじ」の３つの設定値の禁則関係が共通しているので、これらをまとめて、図１０（ｂ）に示す分析パターンを生成する。
【００５１】
次に、この分析パターンの各行について、禁則関係のないものをセットとして抽出する。すると、図１０（ｂ）に示した例からは、禁則設定ファクター「とじしろ位置」について、その第１行目からは「しない・短辺上・長辺左・長辺右」のセットが抽出され、第２行目からは「しない・長辺左・長辺右」のセットが抽出され、第３行目からは「しない・短辺左・短辺右」のセットが抽出され、第４行目からは「しない・長辺上」のセットが抽出される。制御部１１は、これらの抽出したセットのそれぞれを仮想設定ファクターとし、仮想設定ファクターのそれぞれに含まれる各値を仮想設定値として、記憶部１２に格納する。
【００５２】
制御部１１は、次に、各仮想設定ファクターについて、それぞれの仮想設定値のすべてを割り当て可能な２のｎ乗個（ｎは２以上）のエントリーからなるテーブルを作成する。すなわち、ここでの例の場合は、最大でも４つの仮想設定値が含まれるだけであるので、４つのエントリーからなるテーブルを作成することになる。そして、それぞれのエントリーについて、主テスト計画テーブルへの割り当てのための線点図を関連付ける。線点図については、実験計画法において広く知られた割り当て補助法であるので、その詳細な説明を省略する。
【００５３】
この例で、仮想設定ファクターは４種類あるが、線点図の割り当ての際に使用する線点図は同じものを使用する。制御部１１は、主テスト計画テーブル上に「とじしろ位置」に係る線点図を割り当てておき（図１１）、次に禁則情報において、禁則条件ファクター側の各設定値が、どの仮想設定ファクターに対応するかを表す対応テーブルを作成する（図１２）。
【００５４】
制御部１１は、この対応テーブルを参照しながら、主テスト計画テーブル上の各行における、上記禁則条件ファクターの各設定値の組を調べ、その組に対応する仮想設定ファクターを特定する。そして、当該特定した仮想設定ファクターにおける、当該行における線点図に対応する「とじしろ位置」の設定値を割り当てる（図１３）。
【００５５】
図１３の例でより詳細に説明すれば、その第１行目では禁則条件ファクターの設定値の組は、「たて・なし」であり、これは対応テーブル上の仮想設定ファクターの「１」に対応する。そして、その第１行目の「とじしろ位置」の線点図は「０」であるので、仮想設定ファクター「１」における線点図「０」の設定値、「しない」が当該行の「とじしろ位置」に割り当てられる。
【００５６】
また第２行目は、同様に「たて・長辺とじ」の禁則条件ファクターの設定値の組に対応し、これは仮想設定ファクターの「２」に対応する。そして、その第２行目の「とじしろ位置」の線点図は「１１」であるので、仮想設定ファクター「２」における線点図「１１」の設定値、「長辺左」が当該行の「とじしろ位置」に割り当てられる。
【００５７】
このようにして行われた第３禁則パターンに係る設定値の割り当てによっては、各仮想設定ファクター上の設定値（水準）のすべてが主テスト計画テーブルに割り当てられるとは限らず、その直交性は確実なものとはならない。
【００５８】
［禁則情報に係らない設定ファクターの設定値の割り当て］
なお、禁則情報に係らない設定ファクターの設定値の割り当てにおいては、従来の実験計画法を用いた装置における設定値の割り当てと変わらない処理が行われるので、その詳細な説明を省略する。
【００５９】
［主テスト計画テーブルの利用］
こうして各設定値の割り当てが行われた主テスト計画テーブルを用いて、制御部１１は、その各行の設定値をテスト条件として設定し、実際のテストを行わせるためのテストスクリプトを作成する。この場合において、いずれかの設定値がダミーである場合は、その行に対応するテストスクリプトの作成を行わない。また、いずれかの設定値がＮＵＬＬ（ヌル）である場合は、その設定値の設定を省いたテストスクリプトを作成する。
【００６０】
具体的に、設定ファクターＡからＣについて、それぞれ「１」、「２」、「３」をテスト条件として設定する場合、制御部１１は、「Ａ＝１．Ｂ＝２．Ｃ＝３」と設定させる指示を出力し、次にテスト開始の指示を出力するというテストスクリプトを作成するのであるが、設定ファクターＡからＣについて、それぞれ「１」、「ＮＵＬＬ」、「３」をテスト条件として設定する場合、制御部１１は、Ｂに係る設定を省略し、「Ａ＝１．Ｃ＝３」と設定させる指示を出力し、次にテスト開始の指示を出力するというテストスクリプトを作成する。
【００６１】
このテストスクリプトに基づくテストがテストの対象となったソフトウエアに対して行われ、そのテスト結果の一覧が記憶部１２に格納され、ユーザの指示に応じて、表示部１４に、主テスト計画テーブル上の各テストに関連付けて、当該テスト結果が表示される。この表示により、ユーザは、各設定ファクターの互換性に関する情報を取得する。例えば、各テストを順次行いながら、それらの結果を順次表示していくときに、設定ファクターＡについて「１」、Ｃについて「３」である組み合わせにおいて、常にテストが失敗する場合、これらの設定値間の互換性が疑われる。
【００６２】
［網羅率の計算］
また、制御部１１は、割り当てが行われた主テスト計画テーブルについて、そこから得られるテストの数（作成されたテストスクリプトの数）を、禁則情報に係る設定の組み合わせを除くすべての設定値の組み合わせのパターンの数で除した値を網羅率として演算し、表示部１４に表示出力してもよい。
【００６３】
この場合、制御部１１は、ユーザにより予め網羅率しきい値が入力され、記憶部１２に保持されているときには、上記演算した網羅率と、当該網羅率しきい値とを比較し、網羅率が網羅率しきい値より低い場合に、禁則情報に係る各設定ファクターについて、それらの設定値の組み合わせのうち、禁則情報により規定されない組み合わせであって、かつ、テスト計画テーブルに含まれない組み合わせを、少なくとも一つ選択的にテスト計画テーブルに追加する。
【００６４】
これは具体的には、第３禁則パターンとして分類された禁則情報に、禁則設定ファクターとして含まれている設定ファクターの設定値のうち、出現していない設定値があれば、当該出現していない設定値を含む、各設定ファクターの設定値の組（主テスト計画テーブル上の行）をユーザが個別に入力して作成し、追加するようにしてもよい。
【００６５】
制御部１１は、このようにして追加された後の主テスト計画テーブルの網羅率を再計算し、網羅率しきい値を超えるまで、当該追加の処理を繰り返して行う。
【００６６】
この場合に、テスト計画テーブルに追加される設定値の組み合わせの選択においては、各設定ファクターについて予め定められた優先順位を参照し、優先順位の高い設定ファクターに係る設定値から順に選択を行うこととするのも好ましい。すなわち、第３禁則パターンとして分類された禁則情報が複数ある場合、それらの禁則情報の各々における禁則設定ファクターのうち、予め設定ファクターのうち、より優先的にテストを行う順として定められた優先順位の高いものについて、その設定ファクターの設定値のうち、出現していない設定値を含むテストを作成するようにする。
【００６７】
［動作］
このように本実施の形態のテスト計画作成支援装置によると、マトリクスの関係によって禁則情報の設定がされ、当該禁則情報がそれぞれ禁則パターンに分類される。そして、その分類の結果に従って、禁則関係のある設定値の組を低減した（又はそうした設定値の組を含まない）テスト計画テーブル（主テスト計画テーブル）が作成され、当該テスト計画テーブルに基づいてテストスクリプトが作成される。
【００６８】
また、網羅率の計算が行われ、作成したテスト計画テーブルの品質が客観的に演算される。このとき、要求された品質が達成されない場合は、テストが追加され、品質が担保される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係るテスト計画作成支援装置の構成ブロック図である。
【図２】禁則情報の入力インタフェースの例を表す説明図である。
【図３】割り当て前の直交表の例を表す説明図である。
【図４】禁則情報の例を表す説明図である。
【図５】禁則情報の分類処理の例を表すフローチャート図である。
【図６】第１禁則パターンに関する処理の過程を表す説明図である。
【図７】第２禁則パターンに関する処理の過程で作成される副テスト計画テーブルと、それらの主テスト計画テーブルへの割り当ての例を表す説明図である。
【図８】第２禁則パターンに関する処理の際に参照される他の禁則情報の例を表す説明図である。
【図９】第２禁則パターンに関する処理の際に参照される他の禁則情報の例を表す説明図である。
【図１０】第３禁則パターンに関する処理のパターン分析の状況を表す説明図である。
【図１１】第３禁則パターンに係る設定ファクターを割り当てるための主テスト計画テーブル上の設定例を表す説明図である。
【図１２】第３禁則パターンに係る仮想設定値の選択のための対応テーブルの例を表す説明図である。
【図１３】第３禁則パターンに係る設定ファクターを主テスト計画テーブルに割り当てた例を表す説明図である。
【符号の説明】
１１  制御部、１２  記憶部、１３  操作部、１４  表示部。
【図１】
2004288034.tif 000003
【図２】
2004288034.tif 000004
【図３】
2004288034.tif 000005
【図４】
2004288034.tif 000006
【図５】
2004288034.tif 000007
【図６】
2004288034.tif 000008
【図７】
2004288034.tif 000009
【図８】
2004288034.tif 000010
【図９】
2004288034.tif 000011
【図１０】
2004288034.tif 000012
【図１１】
2004288034.tif 000013
【図１２】
2004288034.tif 000014
【図１３】
2004288034.tif 000015