(57)【要約】【課題】表示装置の中間調輝点の不良を、的確に検出できるようにする表示装置の検査方法を提供すること。【解決手段】表示装置の検査方法は、各画素が２つの電極を有し、表示すべき画像の画像信号に基づく各画素の２つの電極間への電荷の蓄積を、予め決められた時間内に行い、その電荷の蓄積を予め決められた第１の周期で繰り返すことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置を検査する方法である。そして、電荷の蓄積の繰り返しを、第１の周期よりも長い第２の周期で行い、ある画素の輝度が、他の画素の輝度と相違することを検出する。【選択図】　図３
2004125437.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
各画素が２つの電極を有し、表示すべき画像の画像信号に基づく各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を、予め決められた時間内に行い、その電荷の蓄積を予め決められた第１の周期で繰り返すことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査方法であって、
前記電荷の蓄積の繰り返しを、前記第１の周期よりも長い第２の周期で行い、ある画素の輝度が、他の画素の輝度と相違することを検出することによって、表示装置の検査を行うことを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項２】
前記第２の周期で前記電荷の蓄積を繰り返している場合、前記画素毎の前記２つの電極間への電荷の蓄積は、前記予め決められた時間と同じ時間で行われることを特徴とする請求項１に記載の表示装置の検査方法。
【請求項３】
各画素が２つの電極を有し、表示すべき画像の画像信号に基づく各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を、予め決められた時間内に行い、その電荷の蓄積を予め決められた第１の周期で繰り返すことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査装置であって、
スクリーンと、
前記表示装置の表示画像を前記スクリーンに投影する投影装置と、
前記表示装置における前記電荷の蓄積の繰り返しを、前記第１の周期よりも長い第２の周期で行うように前記表示装置を駆動する駆動制御手段とを有することを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項４】
各画素が２つの電極を有し、表示すべき画像の画像信号に基づく各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を、予め決められた時間内にトランジスタを介して行い、その電荷の蓄積を繰り返すことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査方法であって、
前記２つの電極の一方に、他方に与えられた電位とは別の第１の直流電圧を供給することによって、前記２つの電極間に電荷を蓄積し、前記２つの電極間に蓄積した電荷を保持している間に、
前記２つの電極の前記一方に、前記第１の直流電圧よりも前記他方に与えられた前記電位の方向に離れた第２の直流電圧を、与えることを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項５】
さらに、前記２つの電極の前記一方への前記第２の直流電圧の供給を、停止するようにしたことを特徴とする請求項４に記載の表示装置の検査方法。
【請求項６】
各画素が２つの電極を有し、表示すべき画像の画像信号に基づく各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を、予め決められた時間内にトランジスタを介して行い、その電荷の蓄積を繰り返すことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査装置であって、
スクリーンと、
前記表示装置の表示画像を前記スクリーンに投影する投影装置と、
前記２つの電極の一方に、他方に与えられた電位とは別の第１の直流電圧を供給することによって、前記２つの電極間に電荷を蓄積し、前記２つの電極間に蓄積した電荷を保持している間に、前記２つの電極の前記一方に、前記第１の直流電圧よりも前記他方に与えられた前記電位の方向に離れた第２の直流電圧を、与えるように前記表示装置を駆動するための駆動制御手段とを有することを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項７】
各画素が、２つの電極と、前記２つの電極と並列に設けられた付加容量とを有し、表示すべき画像の画像信号に基づいて、各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を行うことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査方法であって、
前記各画素の前記付加容量を、前記付加容量に接続された容量線の電位を、前記付加容量にかかる電圧が大きくなる方向に変化させ、
ある画素の輝度が、他の画素の輝度と相違することを検出することによって、表示装置の検査を行うことを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項８】
各画素が、２つの電極と、前記２つの電極と並列に設けられた付加容量とを有し、表示すべき画像の画像信号に基づいて、各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を行うことによって、前記表示すべき画像を表示する複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査装置であって、
スクリーンと、
前記表示装置の表示画像を前記スクリーンに投影する投影装置と、
前記各画素の前記付加容量を、前記付加容量に接続された容量線の電位を、前記付加容量にかかる電圧が大きくなる方向に変化させるように、前記表示装置を駆動する駆動制御手段とを有することを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項９】
前記表示装置は、予め温められていることを特徴とする請求項１、請求項２、請求項４、請求項５又は請求項７に記載の表示装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、表示装置の検査方法及び表示装置の検査装置に関し、特に、表示装置の不良の検出を行うための表示装置の検査方法及び表示装置の検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、表示装置の一つである液晶装置は、プロジェクター等の種々の製品に利用されている。液晶装置には、中間調輝点という不良がある。中間調輝点の不良は、真白と真黒の中間の階調の画像を表示したときに、明るく光る点ができてしまうという不良である。中間調輝点の不良は、中間調画像を表示したときに、目立つため、当然に好ましいものではない。中間調輝点の不良の原因は、画素電極に保持された電荷が画素トランジスタ等を経由してリークするものと考えられている。
【０００３】
基本的に、液晶装置の各画素を構成する画素トランジスタは、ゲート線を介して行選択されてゲートに所定の電圧が印加されているときに、ソース線であるデータ線から、階調に応じた電圧信号である画像信号が供給されることによって、画像信号に応じた電荷を、画素電極と対向電極との間に蓄積する。電荷が蓄積された後、画素トランジスタをオフ状態にしても、２つの電極間の電荷は、液晶層自身の容量性や付加容量等によって保持される。例えば、特許文献１を参照。
【０００４】
【特許文献１】
特開２００１−３３０８２１号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、中間調輝点の不良の原因は、上述したように、画素トランジスタ等のリークであると考えられているものの、製造された液晶装置が、そのような不良を有するものであるかどうかを検査する適切な方法はなかった。特に画素トランジスタのリーク量は温度依存性があり、検査で良品と判定された液晶装置がユーザーに渡ってから温度環境の違いにより、中間調輝点の不良が発生するという問題があった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明は、表示装置の中間調輝点の不良を、的確に検出できるようにする表示装置の検査方法を提供することを目的とする。
【０００７】
本発明の表示装置の検査方法は、各画素が２つの電極を有し、表示すべき画像の画像信号に基づく各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を、予め決められた時間内に行い、その電荷の蓄積を予め決められた第１の周期で繰り返すことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査方法であって、前記電荷の蓄積の繰り返しを、前記第１の周期よりも長い第２の周期で行い、ある画素の輝度が、他の画素の輝度と相違することを検出することによって、表示装置の検査を行う。
【０００８】
本発明の表示装置の検査装置は、各画素が２つの電極を有し、表示すべき画像の画像信号に基づく各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を、予め決められた時間内に行い、その電荷の蓄積を予め決められた第１の周期で繰り返すことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査装置であって、スクリーンと、前記表示装置の表示画像を前記スクリーンに投影する投影装置と、前記表示装置における前記電荷の蓄積の繰り返しを、前記第１の周期よりも長い第２の周期で行うように前記表示装置を駆動する駆動制御手段とを有する。
【０００９】
本発明の表示装置の検査方法は、各画素が２つの電極を有し、表示すべき画像の画像信号に基づく各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を、予め決められた時間内にトランジスタを介して行い、その電荷の蓄積を繰り返すことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査方法であって、前記２つの電極の一方に、他方に与えられた電位とは別の第１の直流電圧を供給することによって、前記２つの電極間に電荷を蓄積し、前記２つの電極間に蓄積された電荷を保持している間に、前記２つの電極の前記一方に、前記第１の直流電圧よりも前記他方に与えられた前記電位の方向に離れた第２の直流電圧を、与える。
【００１０】
本発明の表示装置の検査装置は、各画素が２つの電極を有し、表示すべき画像の画像信号に基づく各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を、予め決められた時間内にトランジスタを介して行い、その電荷の蓄積を繰り返すことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査装置であって、スクリーンと、前記表示装置の表示画像を前記スクリーンに投影する投影装置と、前記２つの電極の一方に、他方に与えられた電位とは別の第１の直流電圧を供給することによって、前記２つの電極間に電荷を蓄積し、前記２つの電極間に蓄積された電荷を保持している間に、前記２つの電極の前記一方に、前記第１の直流電圧よりも前記他方に与えられた前記電位の方向に離れた第２の直流電圧を、与えるように前記表示装置を駆動するための駆動制御手段とを有する。
【００１１】
本発明の表示装置の検査方法は、各画素が、２つの電極と、前記２つの電極と並列に設けられた付加容量とを有し、表示すべき画像の画像信号に基づいて、各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を行うことによって、前記表示すべき画像を表示する、複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査方法であって、前記各画素の前記付加容量を、前記付加容量に接続された容量線の電位を、前記付加容量にかかる電圧が大きくなる方向に変化させ、ある画素の輝度が、他の画素の輝度と相違することを検出することによって、表示装置の検査を行う。
【００１２】
本発明の表示装置の検査装置は、各画素が、２つの電極と、前記２つの電極と並列に設けられた付加容量とを有し、表示すべき画像の画像信号に基づいて、各画素の前記２つの電極間への電荷の蓄積を行うことによって、前記表示すべき画像を表示する複数の画素を有するマトリックス型の表示装置の検査装置であって、スクリーンと、前記表示装置の表示画像を前記スクリーンに投影する投影装置と、前記各画素の前記付加容量を、前記付加容量に接続された容量線の電位を、前記付加容量にかかる電圧が大きくなる方向に変化させるように、前記表示装置を駆動する駆動制御手段とを有する。
【００１３】
このような構成によれば、表示装置の中間調輝点の不良を、的確に検出することができる。
【００１４】
また、本発明の表示装置の検査方法において、前記第２の周期で前記電荷の蓄積を繰り返している場合、前記画素毎の前記２つの電極間への電荷の蓄積は、前記予め決められた時間と同じ時間で行われることが望ましい。
【００１５】
このような構成によれば、画像信号を各画素に書き込む時間は変えずに、蓄積電荷を保持する時間を長くしたので、中間調輝点の不良が目立ち易くすることができる。特に検査時とは温度が異なる使用環境で表示装置を使用した場合に発生する中間調輝点の不良を、未然に検出することができる。
【００１６】
また、本発明の表示装置の検査方法において、さらに、前記２つの電極の前記一方への前記第２の直流電圧の供給を、停止することが望ましい。
【００１７】
このような構成によれば、中間調輝点の不良原因を判別できる。
【００１８】
また、本発明の表示装置の検査方法において、前記表示装置は、予め温められていることが望ましい。
【００１９】
このような構成によれば、中間調輝点の不良の検出を確実に行うと共に、検査時間を短くすることができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【００２１】
（第１の実施の形態）
本実施の形態に係る電気光学装置としての液晶装置は、素子基板と対向基板とが、互いに一定の間隙を保って貼付され、その間隙に電気光学材料である液晶が挟持される構成となっている。また、本実施の形態に係る表示装置である液晶装置は、素子基板としてのガラス基板等の透明基板が用いられ、透明基板上に画素を駆動するトランジスタと共に、周辺駆動回路等を形成したものである。まず、図１に基づき、本実施の形態に係わる液晶装置の構成を説明する。
【００２２】
図１は、本実施の形態に係わる液晶装置１００の構成を示す構成図である。図１において、１０１ａは、表示領域であり、複数本の走査線１１２が、図においてＸ（行）方向に延在して形成され、また複数本のデータ線１１４が、Ｙ（列）方向に沿って延在して形成されている。そして、各画素１１０は、走査線１１２とデータ線１１４との各交差に対応して設けられて、マトリックス状に配列して設けられている。ここでは、液晶装置１００は、走査線１１２の総本数をｍ本とし、データ線１１４の総本数をｎ本として（ｍ、ｎはそれぞれ２以上の整数）、ｍ行×ｎ列のマトリックス型表示装置である。
【００２３】
図１には、一つの画素のみの構成が示されている。各画素１１０は、スイッチング手段としてのトランジスタ（ポリシリコンＴＦＴ（Ｔｈｉｎ　Ｆｉｌｍ　Ｔｒａｎｓｉｓｔｅｒ））１１６と、画素電極１１８と、対向電極１０８と、付加容量１１９を含む。トランジスタ１１６のゲートが走査線１１２に、ソースがデータ線１１４に、ドレインが画素電極１１８に、それぞれ接続されている。画素電極１１８と対向電極１０８の間に電気光学材料である液晶（図示せず）が挟持されている。対向電極１０８は、画素電極１１８と対向するように対向基板の１面に形成される透明電極である。対向電極１０８には、対向電極電圧ＬＣＣＯＭが印加されるようになっている。また、画素電極１１８と容量線１２０間に、付加容量１１９が形成され、液晶層を挟む電極と共に電荷を蓄積する。容量線１２０には通常、０「ゼロ」Ｖ（ボルト）の電位である。
【００２４】
図１において、４００は、Ｙドライバであり、５００は、Ｘドライバである。図示しないタイミング信号生成回路において、データスタートパルスＤＸ、データ転送クロックＣＬＸ、データイネーブル信号ＥＮＢ、画像信号ＶＩＤＥＯ、走査スタートパルスＤＹ及び走査転送クロックＣＬＹが生成される。データスタートパルスＤＸ、データ転送クロックＣＬＸ、データイネーブル信号ＥＮＢ及び画像信号ＶＩＤＥＯは、Ｘドライバ５００に供給され、走査スタートパルスＤＹ及び走査転送クロックＣＬＹは、Ｙドライバ４００に供給される。Ｘドライバ５００には、駆動用の２つの電源電圧ＶＤＤＸとＶＳＳＸが供給されており、Ｙドライバ４００には、駆動用の２つの電源電圧ＶＤＤＹとＶＳＳＹが供給されている。ＶＤＤＸ、ＶＤＤＹは正の電圧、例えば１５Ｖで、ＶＳＳＸ、ＶＳＳＹは０（ゼロ）Ｖである。
【００２５】
データスタートパルスＤＸは、Ｘドライバ５００内のシフトレジスタから最初にデータを出力させるタイミングを規定するパルス信号である。データ転送クロックＣＬＸは、Ｘドライバ５００内のシフトレジスタでデータを転送するための速度を規定するクロック信号である。データイネーブル信号ＥＮＢは、Ｘドライバ５００中のシフトレジスタに蓄えられたデータを水平画素数分並列に出力させるタイミングを決定する信号である。走査スタートパルスＤＹは、Ｙドライバ４００による垂直走査を開始するためのパルス信号である。走査転送クロックＣＬＹは、走査速度を規定するクロック信号である。データ転送クロックＣＬＸと走査転送クロックＣＬＹに基づいて、各画素電極１１８と対向電極１０８の間への電荷の蓄積が行われるので、画像信号の書き込み時間は、常に予め決められた一定時間となる。
【００２６】
Ｙドライバ４００は、走査スタートパルスＤＹを走査転送クロックＣＬＹに従って転送し、夫々の走査線１１２に走査信号Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、・・、Ｇｍを順次排他的に供給する。Ｘドライバ５００は、ある水平走査期間において、画像データＶＩＤＥＯを、ソース線であるデータ線本数に相当するｎ個、順次ラッチした後、対応するデータ線１１４に画像信号Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３、・・、Ｖｎを一斉に供給する。
【００２７】
以上のように構成された液晶装置１００の検査装置について説明する。
図２は、本実施の形態に係る液晶装置１００の検査システムの構成を示す構成図である。１は、上述した液晶装置１００にフレキシブルプリント基板（以下、ＦＰＣと略す。）が接続され、ケーシングされた液晶パネルである。液晶パネル１は、投影機２にセットされ、液晶装置駆動制御手段であるチェッカ３から、ケーブル４とコネクタ５を介して制御信号及びデータ信号が供給される。制御信号及びデータ信号に基づいて液晶パネル１に表示された画像は、投影機２からスクリーン６に投射されて拡大表示される。
【００２８】
次に、本実施の形態に係る液晶パネル１の検査方法について説明する。チェッカ３から液晶パネル１へ供給されるＶＩＤＥＯ信号は、連続して供給される中間調の画像データである。チェッカ３は、各種制御信号を任意のタイミングで出力できるようになっており、特に、走査スタートパルスＤＹの周波数あるいは周期を自由に変更して、液晶装置１へ出力できるようになっている。さらに、チェッカ３は、１フレーム毎にＶＩＤＥＯ信号の極性を反転して出力するが、その極性の反転周波数あるいは反転周期も走査スタートパルスＤＹの周波数あるいは周期に応じて変更して、液晶装置１へ出力する。
【００２９】
なお、走査転送クロックＣＬＹの周波数あるいは周期は、変更されないので、検査時における全画素への電荷の蓄積時間は、通常駆動時における全画素への電荷の蓄積時間と同じ予め決められた時間となる。また、走査スタートパルスＤＹの周波数が変更されると、チェッカ３によって、画像信号ＶＩＤＥＯの出力も、その変更された走査スタートパルスＤＹの周波数に応じて、制御される。
【００３０】
本実施の形態では、走査転送クロックＣＬＹの周波数は変えずに、すなわち画像信号を書き込む時間は変えずに、走査スタートパルスＤＹの周波数、すなわちフレームのリフレッシュレートが、通常駆動時よりも低い周波数に変更されて、液晶装置１へ供給される。すなわち、
図３は、上述した液晶装置への各種信号の内の走査スタートパルスＤＹ及び走査転送クロックＣＬＹのタイミングを示すタイミングチャートである。図３の（ａ）は、通常駆動時における走査スタートパルスＤＹ及び走査転送クロックＣＬＹのタイミングを示すタイミングチャートである。図３の（ｂ）は、本実施の形態に係る検査駆動時における走査スタートパルスＤＹ及び走査転送クロックＣＬＹのタイミングを示すタイミングチャートである。
【００３１】
図３（ａ）に示すように、走査スタートパルスＤＹは、製品がユーザによって使用される時、すなわち通常駆動時は、多くの場合６０Ｈｚ（ヘルツ）の周波数で出力されている。このとき、走査転送クロックＣＬＹは、その走査スタートパルスＤＹに合わせて所定の周波数で出力されているので、各画素への電荷の蓄積は、常に予め決められた時間で行われる。
【００３２】
一方、図３の（ｂ）に示すように、本発明に係わる中間調輝点の検査時は、走査スタートパルスＤＹは、通常駆動時の周波数よりも低い周波数である例えば３０Ｈｚ（ヘルツ）の周波数で出力されている。図３の（ａ）の場合は通常駆動時の走査スタートパルスＤＹの周期で電荷の蓄積が繰り返されるが、図３の（ｂ）の場合、検査時の走査スタートパルスＤＹの周期は、通常駆動時の走査スタートパルスＤＹの周期よりも長い。
【００３３】
言い換えると、中間調輝点の検査時、走査転送クロックＣＬＹは、通常駆動時の周波数のままで出力されているので、画像信号の書き込み時間は通常駆動時の画像信号の書き込み時間と同じである。しかし、走査スタートパルスＤＹが出力されてから後に出力される、次の走査スタートパルスＤＹは、通常駆動時よりも遅れて供給されて、画素電極１１８と対向電極１０８間における電荷が保持される時間が長くなるので、ある画素トランジスタ１１６の電荷のリーク量が、周囲の正常な画素トランジスタ１１６の電荷リーク量よりも大きいと、その画素の電位が低下し、その画素の輝度は、周囲の画素の輝度より大きくなって、その画素は輝点となる。
【００３４】
正常な画素トランジスタの電荷リーク量よりも電荷のリーク量が大きな画素トランジスタ（以下、不良画素トランジスタともいう。）を含む画素は、電荷が蓄積された後、画素トランジスタをオフ状態にしても、電荷リーク量が周囲の画素よりも大きいので、不良画素トランジスタの画素は、周囲の正常な画素トランジスタの画素よりも明るくなる。
【００３５】
図４は、画素間において輝度差が生じることを説明するための図である。図４の（ａ）は、通常駆動時における走査スタートパルスＤＹと、画素の蓄積電荷の変化を説明するための図である。図４の（ｂ）は、本発明の実施の形態に係る検査駆動時における走査スタートパルスＤＹと、画素の蓄積電荷の変化を説明するための図である。図４の（ａ）と（ｂ）を比較すると、通常駆動時、走査スタートパルスＤＹの各周期の終り、すなわち走査スタートパルスＤＹの発生直前において、正常画素トランジスタの蓄積電荷に基づく電圧Ｖ１と、不良画素トランジスタの蓄積電荷に基づく電圧Ｖ２との差は、図４の（ｂ）の検査駆動時のＶ１とＶ２の差よりも大きくない。すなわち、図４の（ｂ）に示すように、検査駆動時は、走査スタートパルスＤＹの各周期の終りにおいて、正常画素トランジスタの蓄積電荷に基づく電圧Ｖ１と、不良画素トランジスの蓄積電荷に基づく電圧Ｖ２との差は、大きく拡大され、不良画素トランジスタを有する画素は、輝点となって目立ちやすくなる。従って、本実施の形態の検査方法によれば、蓄積電荷が画素トランジスタを通してデータ線へリークするものと、付加容量を介して容量線へリークするもののリーク系の不良全般を検出することができる。
【００３６】
なお、本実施の形態では、走査スタートパルスＤＹの周波数を、６０Ｈｚから３０Ｈｚへ変更した例で説明しているが、中間調輝点を生じるような、通常駆動時の周波数よりも低い周波数である４０Ｈｚ、５０Ｈｚ等であってもよい。
【００３７】
以上のように、本実施の形態に係る方法によれば、画像信号を各画素に書き込む時間は変えずに、蓄積電荷を保持する時間を長くしたので、中間調輝点の不良が目立ち易くなったので、従来に比べ、中間調輝点の不良をより確実に発見することができる。
【００３８】
（第２の実施の形態）
次に、本発明の第２の実施の形態について説明する。本実施の形態では、対向電極の電位ＬＣＣＯＭよりも高い直流電圧を、画像信号として入力することによって、画素電極１１８と対向電極１０８の間に電荷を蓄積し、その後データ線に対向電極の電位ＬＣＣＯＭより低い直流電圧を供給することによって、中間調輝点の不良の検出を的確に行うものである。さらに、その低い直流電圧の供給を制御することによって、中間調輝点の不良原因が、画素トランジスタのリークによるものか、あるいは付加容量のリークによるかを判別できるようにするものである。本実施の形態においても、図２に示すように、チェッカ３からの制御信号及びデータ信号に基づいて液晶パネル１に表示された画像は、投影機２からスクリーン６に投射されて拡大表示される。本実施の形態を、図５から図８を用いて説明する。
【００３９】
図５は、本実施の形態に係る液晶装置１００の回路構成を示す構成図である。本実施の形態に係る液晶装置１００は、第１の実施の形態に係る液晶装置と略同じ構成であるので、同じ構成要素については同一の符号を付けて説明は省略し、異なる事項のみを説明する。
【００４０】
図５において、Ｘドライバ５００の複数の出力は、各データ線へ、対応する画像信号ＶＩＤＥＯを供給するための選択信号Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３、・・、Ｓｎである。Ｘドライバ５００からの選択信号Ｓｉ（ｉは１からｎのいずれか）は、第１の実施の形態と異なり、一斉に同時に出力されるのではなく、Ｓ１からＳｎまで順次出力されることによって、各データ線１１４に設けられた第１のスイッチング手段としてのトランジスタ１３０のゲートに順次供給される。図５では、トランジスタ１３０は、１つしか示していないが、ｎ本のデータ線全てにトランジスタ１３０は設けられている。
【００４１】
トランジスタ１３０のゲートに選択信号Ｓｉが入力されると、トランジスタ１３０はオンになり、電圧信号である画像信号ＶＩＤＥＯがデータ線１１４に与えられる。
【００４２】
また、各データ線１１４には、さらに第２のスイッチング手段としてのトランジスタ１３１が接続されている。トランジスタ１３１のゲートにはプリチャージ信号ＮＲＧが入力される。図５では、トランジスタ１３１は、１つしか示していないが、ｎ本のデータ線全てにトランジスタ１３１は設けられているので、トランジスタ１３１のゲートにプリチャージ信号ＮＲＧが供給されると、プリチャージ電圧ＮＲＳが、全データ線１１４に一斉に与えられる。次に、図５の回路の動作を図６を用いて説明する。
【００４３】
まず、通常駆動時の動作について説明する。
図６は、通常駆動時すなわち　液晶装置１００が組み込まれた製品をユーザが使用する時における画像信号ＶＩＤＥＯとプリチャージ電圧ＮＲＳのタイミングを示すタイミングチャートである。ここでは、１水平走査行毎に反転する１Ｈ反転駆動が行われる。すなわち隣り合った上下の行で供給されるＶＩＤＥＯ信号の印加電圧の方向は、中心電圧Ｖ（ＣＥＮ）に対して反対になるように、ＶＩＤＥＯ信号の駆動方向が反転される。
【００４４】
図６の（ａ）に示すように、１水平走査行（１Ｈ）のＶＩＤＥＯ信号が反転してから画像信号が始まるまでの期間（ｔ１）（以下、プリチャージ期間という。）内において、プリチャージ信号ＮＲＧのパルス信号が各データ線１１４に設けられたトランジスタ１３１のゲートに供給されることによって、全データ線１１４をプリチャージ電圧ＮＲＳにする。プリチャージ期間（ｔ１）後に、画像信号ＶＩＤＥＯが、選択信号Ｓｉに基づいて選択された行の各画素トランジスタ１１６に順次供給される。ここで、プリチャージとは、画像信号ＶＩＤＥＯを各画素に書き込む前に予め決められたタイミングで、データ線１１４を予め決められた電圧にすることをいう。
【００４５】
従って、このようにデータ線１１４を予め決められた電圧にチャージしておくことによって、ＶＩＤＥＯ信号の書き込みがスムーズに行われる。
【００４６】
１Ｈ毎の極性反転に応じて、ＶＩＤＥＯ信号が、中心電圧Ｖ（ＣＥＮ）に対して、マイナス方向に与えられて画素に電荷が書き込まれるときは、プリチャージ電圧ＮＲＳは低い方の電圧に、プラス方向に与えられて画素に電荷が書き込まれるときは、プリチャージ電圧ＮＲＳは高い方の電圧になるように、プリチャージ電圧ＮＲＳは変更される。例えば、低い方の電圧は２Ｖで、高い方の電圧は７Ｖである。
【００４７】
通常駆動時、１Ｈ期間のプリチャージ期間（ｔ１）において、画像信号ＶＩＤＥＯは供給されていない。しかし、プリチャージ期間（ｔ１）において、プリチャージ信号ＮＲＧがデータ線１１４に供給されることによって、データ線１１４は、２Ｖになる。プリチャージ期間（ｔ１）後、Ｘドライバ５００へ入力されるデータスタートパルスＤＸに基づいて、１Ｈ期間分の画像信号ＶＩＤＥＯが、データ線１１４に供給される。このような動作を全行について行われることによって、画像信号ＶＩＤＥＯに基づく画像が液晶装置上に表示される。
【００４８】
次に中間調輝点検査時の動作について説明する。
図７は、中間調輝点検査時における画像信号ＶＩＤＥＯとプリチャージ電圧ＮＲＳのタイミングを示すタイミングチャートである。図７の（ａ）に示すように、走査信号Ｇｉによって選択された行では、１水平走査行（１Ｈ）のプリチャージ期間（ｔ１）後に、対向電極電位であるＬＣＣＯＭよりも高い、例えば９Ｖの一定の直流電圧である画像信号ＶＩＤＥＯが、選択信号Ｓｉに基づいて選択された行の各画素トランジスタ１１６のソースに順次供給されていくことにより、画素電極１１８と対向電極１０８の間に電荷が蓄積される。
【００４９】
そして、図７の（ｂ）に示すように、プリチャージ期間（ｔ１）内において、プリチャージ信号ＮＲＧのパルス信号が各データ線に設けられたトランジスタ１３１のゲートに供給されることによって、全データ線１１４はプリチャージ電圧ＮＲＳの電圧になる。すなわち、９Ｖの画像信号が書き込まれた各画素に接続されたデータ線１１４は各プリチャージ期間（ｔ１）において２Ｖの電圧に低下する。ここで、一定の直流電圧である画像信号ＶＩＤＥＯは、対向電極電位ＬＣＣＯＭよりも高い直流電圧であり、プリチャージ電圧ＮＲＳは、画像信号ＶＩＤＥＯの直流電圧よりも、対向電極電位ＬＣＣＯＭの方向に離れた、更には対向電極電位ＬＣＣＯＭよりも低い直流電圧である。
【００５０】
図８は、中間調輝点検査時におけるある画素の蓄積電荷の変化を示すタイミングチャートである。画像信号ＶＩＤＥＯとして一定の９Ｖの直流電圧が画素トランジスタ１１６を介して画素電極１１８に供給されることによって、ある画素に９Ｖに対応する電荷が蓄積された後、プリチャージ電圧ＮＲＳとして２Ｖの一定値が繰り返しデータ線１１４に与えられている。データ線１１４は画素トランジスタ１１６のソースに接続されている。
【００５１】
ある画素に着目した場合、画素トランジスタ１１６へのゲート信号ＧＡＴＥが供給されて、画素電極１１８と対向電極１０８の間に９Ｖの電荷が蓄積された後、プリチャージ期間（ｔ１）毎に２Ｖがデータ線１１４に供給されると、画素トランジスタ１１６が不良画素トランジスタの場合、蓄積電荷はプリチャージ電圧ＮＲＳ側に流れ易くなり、かつそのリーク量は、正常な画素トランジスタに比べて大きい。よって、不良な画素トランジスタの場合の蓄積電荷による電圧（Ｖ４）は、正常なトランジスタの場合の蓄積電荷による電圧（Ｖ３）よりも早く低下するので、不良画素トランジスタの画素が輝点となって現れ、検出することができる。
【００５２】
以上のように、画像信号として、対向電極電位であるＬＣＣＯＭよりも高い直流電圧を各画素の画素電極１１８と対向電極１０８の間に蓄積し、その後プリチャージ電圧として、対向電極電位ＬＣＣＯＭよりも低い直流電圧を繰り返しデータ線１１４に与える。不良画素トランジスタを有する画素において、対向電極電位ＬＣＣＯＭ側ではなく、プリチャージ電圧ＮＲＳ側に蓄積電荷がリークするので、輝点として検出することができる。
【００５３】
また、チェッカ３は、データ線１１４へのプリチャージ電圧ＮＲＳを繰り返し供給した後、その供給を停止するようにプリチャージ信号ＮＲＧを制御するようにしてもよい。プリチャージをしているときに、スクリーン６上に輝点が生じていたが、プリチャージ電圧ＮＲＳの供給停止によって、輝点が消えるような画素があれば、その画素の中間調輝点の不良は、不良画素トランジスタによるデータ線１１４へのリークが原因であることがわかる。
【００５４】
一方、プリチャージをしているときに、輝点が生じていたが、プリチャージ電圧の供給停止によっても、輝点が消えないような画素があれば、その画素の中間調輝点の不良は、付加容量１１９から容量線１２０へのリークが原因であることがわかる。
【００５５】
以上のように、本実施の形態に係る方法によれば、対向電極の電位ＬＣＣＯＭよりも高い直流電圧を、画像信号として入力して、画素電極と対向電極の間に電荷を蓄積し、その後データ線に対向電極の電位より低い直流電圧を供給することによって、中間調輝点の不良の検出を的確に行うことができる。さらに、その低い直流電圧の供給を制御することによって、中間調輝点の不良原因が、画素トランジスタのリークによるものか、あるいは付加容量のリークによるかを判別できるので、従来に比べ、中間調輝点の不良をより的確に発見することができ、かつ、製造上の対策が早期に取れるようになる。
【００５６】
（第３の実施の形態）
次に、本発明の第３の実施の形態について説明する。第３の実施の形態は、第１の実施の形態と略同じ構成であるので、同じ構成については説明が重複するので省略し、異なる事項のみを説明する。従って、図１と図２の説明は省略する。
【００５７】
本実施の形態に係わる検査方法によれば、画素の付加容量１１９を形成している容量線１２０の電位を、付加容量１１９にかかる電圧が大きくなる方向に変化させる。本実施の形態においても、図２に示すように、チェッカ３からの制御信号及びデータ信号に基づいて液晶パネル１に表示された画像は、投影機２からスクリーン６に投射されて拡大表示される。
【００５８】
図１において、容量線１２０は、専用入力端子として液晶装置１００の外部へ取り出される場合もあるが、液晶装置１００の構造上の簡略化から、Ｙドライバ４００の電源電圧ＶＳＳＹに接続されることが多い。この場合、容量線１２０の電位は電源電圧ＶＳＳＹの電位と同じである。通常駆動時、容量線１２０の電位を０（ゼロ）Ｖ（ボルト）として、液晶パネル１は駆動される。それに対して、検査駆動時では、容量線１２０の電位を、付加容量１２０にかかる電圧が通常駆動時の電圧よりも大きくなる方向に、変化させる。すなわち、電源電位ＶＳＳＹを、マイナス電位、例えば、−１Ｖから−４Ｖに変化させる。その結果、付加容量１１９を構成するコンデンサの絶縁膜等に不良箇所等があるために、蓄積電荷のリークがあるとき、蓄積電荷は、その不良箇所等を介して容量線１２０あるいはデータ線１１４へリークし易くなる。よって、周囲の画素より電荷のリーク量が多い画素は、中間調輝点として目立ち易くなるので、液晶パネルの中間調輝点の検出をより的確に行うことができる。
【００５９】
図９は、画素トランジスタ１１６のゲート・ソース間電圧Ｖ（ＧＳ）とドレイン電流Ｉ（Ｄ）の関係を示すグラフである。図９に示すように、ポリシリコンＴＦＴの場合は、ゲート・ソース間電圧Ｖ（ＧＳ）がマイナスになると、ドレイン電流Ｉ（Ｄ）が増加するという特性を有する。従って、本実施の形態の方法によれば、容量線１２０の電位ＶＳＳＹをマイナスにすると、画素トランジスタ１１６がＯＦＦ状態では、ゲート・ソース間電圧Ｖ（ＧＳ）がマイナスとなるので、図９の点線に示す領域のドレイン電流が生じてデータ線１１４へ蓄積電荷がリークしやすくなる。よって、不良画素トランジスタを有する画素による中間調輝点の検出をより的確に行うことができる。
【００６０】
なお、以上の説明では、容量線１２０は、Ｙドライバ４００の電源の一方に接続されて電圧ＶＳＳＹと同じにしていたが、容量線１２０の電源を、電源電圧ＶＳＳＹとは別個に設けてもよい。そのようにすれば、蓄積電荷のリークが、付加容量１１９であるコンデンサによるものか、不良画素トランジスタによるデータ線１１４へのリークによるものかの峻別をすることができる。容量線１２０の電圧を、電源電圧ＶＳＳＹとは別個に設けた電源から得るようにする。その電源の電圧を変化させることによって、付加容量１１９にかかる電圧を大きくする方向に変化させる。そのようにすれば、電源電圧ＶＳＳＹは変化せずに、容量線１２０の電圧のみ変化させるので、中間調輝点が発生した場合、その原因は、付加容量１１９のコンデンサによるリークであることを突き止めることができる。
【００６１】
以上のように、本実施の形態に係る方法によれば、画素の付加容量を形成している容量線の電位を、付加容量にかかる電圧が大きくなる方向に変化させるので、中間調輝点の不良が目立ち易くなり、従来に比べ、中間調輝点の不良をより的確に発見することができる。
【００６２】
なお、上述した３つの実施の形態において、中間調輝点の不良の検査を行う場合、予め検査対象である液晶パネル１を温めておくことが望ましい。これは、液晶パネルにおける画素トランジスタのリーク特性は温度に依存するので、検査前に液晶パネルを予め投影機２内の温度と同じ程度にしておくことによって、中間調輝点の不良の検出を確実に行うと共に、検査時間を短くすることができる。そのため、図２に示すように、検査前に予め決められた温度に液晶パネル１を予め温めておくための加温装置としてのホットプレート７が使用される。なお、ホットプレートの代わりに恒温槽を用いて、検査前に恒温槽に検査対象の液晶パネルを置いて、液晶パネルを温めておくようにしてもよい。また、検査前に、検査対象の液晶パネルに光を当てておくようにしてもよい。
【００６３】
また、上述した３つの実施の形態では、スクリーン６に投影された画像を検査者が見て、輝点があるか否かを判断していたが、スクリーン６に投影された画像を別途設けた撮像装置（図示せず）によって撮像して、撮像された画像を画像処理して輝点の有無を判断するようにしてもよい。
【００６４】
さらに、例えば、第１の実施の形態と第３の実施の形態との組み合わせ等、上述した実施の形態を組み合せてもよい。例えば、すなわち、画素の付加容量を形成している容量線の電位を、付加容量にかかる電圧が大きくなる方向に変化させると共に、画像信号を書き込む時間は変えずに、蓄積電荷を保持する時間を長くするようにしてもよい。上述した実施の形態を組み合せることによって、より確実に中間調輝点の不良を検出することができる。
【００６５】
本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を変えない範囲において、種々の変更、改変等が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施の形態に係わる液晶装置の構成を示す構成図。
【図２】第１の実施の形態に係わる検査システムの構成を示す構成図。
【図３】液晶装置への各種信号のタイミングを示すタイミングチャート。
【図４】画素間において輝度差が生じることを説明するための図。
【図５】第２の実施の形態に係わる液晶装置の回路構成を示す構成図
【図６】通常駆動時における画像信号等のタイミングを示すタイミングチャート。
【図７】中間調輝点検査時における画像信号等のタイミングを示すタイミングチャート。
【図８】ある画素の蓄積電荷の変化を示すタイミングチャート。
【図９】第３の実施の形態に係わるゲート・ソース間電圧とドレイン電流の関係を示すグラフ。
【符号の説明】
ＤＹ　走査スタートパルス
ＣＬＹ　走査転送クロック
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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