(57)【要約】      （修正有）【課題】ＰＴＣ素子の進行性破損を防止するための安全構造を有するＰＴＣサーミスタを提供する。【解決手段】チタン酸バリウム系のセラミックを主成分としたコイン状の胴体の両面に銀などの導電素材を塗布して電極を形成したＰＴＣ素子３と、ＰＴＣ素子３がケース２の中に安定して収納されるようにＰＴＣ素子３を保持する絶縁ホルダー４と、ケースに収納される一対の導電性のタップ端子５と、タップ端子５のそれぞれに連結され、ＰＴＣ素子３を介して対向するようにＰＴＣ素子３の電極と接触する一対のバネ端子６と、タップ端子５に対応する位置に端子孔が設けられ、下面に２つの絶縁壁が設けられているキャップ７とを備え、バネ端子６はＰＴＣ素子３と接続して電流を伝導するが、過電流が流れたらヒューズとして溶断され電流を遮断するように、バネ端子６の一部に構造的に脆弱な脆弱部が設けられている。【選択図】図２
2004221535.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＰＣＴ素子の進行性破損を防止するための安全構造を有するＰＴＣサーミスタであって、
耐熱性と、絶縁性と、難燃性とを有する材質のケースと、
チタン酸バリウム系のセラミックを主成分としたコイン状の胴体の両面に銀などの導電素材を塗布して電極を形成したＰＴＣ素子と、
前記ＰＴＣ素子が前記ケースの中に安定して収納されるように前記ＰＴＣ素子を保持する絶縁ホルダーと、
前記ケースに収納される一対の導電性のタップ端子と、
前記一対のタップ端子のそれぞれに連結されたバネ端子と、
前記タップ端子に対応する位置に端子孔が設けられ、下面に２つの絶縁壁が設けられているキャップとを備え、
前記２つのバネ端子は、互いに上下対称となるように反対方向へ折り曲げられる接点部位を備えた先端部を有し、それぞれの先端部は前記ＰＴＣ素子を介して対向するように前記ＰＴＣ素子の電極と接触し、
前記バネ端子は、前記ＰＴＣ素子と接続して電流を前記ＰＴＣ素子に伝導し、
過電流が流れた場合にヒューズとして溶断され電流を遮断する構造的に脆弱な脆弱部が前記バネ端子又は前記タップ端子の一部分に設けられることを特徴とするＰＴＣサーミスタ。
【請求項２】
前記脆弱部は、前記バネ端子の一部分に設けられ、前記バネ端子と同じ材質で前記バネ端子と一体的になることを特徴とする請求項１に記載のＰＴＣサーミスタ。
【請求項３】
前記脆弱部は、前記バネ端子の一部分において１箇所以上に設けられることを特徴とする請求項１又は２に記載のＰＴＣサーミスタ。
【請求項４】
前記脆弱部は、前記タップ端子に設けられることを特徴とする請求項１に記載のＰＴＣサーミスタ。
【請求項５】
前記脆弱部は、角状又は円弧状のノッチを形成することにより設けられることを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載のＰＴＣサーミスタ。
【請求項６】
前記脆弱部は、前記バネ端子の一部分の両端部中の一端部のみを加工するか、或いは両端部を加工して中間部分を残すことにより形成されることを特徴とする請求項１から３のいずれか又は請求項５に記載のＰＴＣサーミスタ。
【請求項７】
前記脆弱部は、前記バネ端子又は前記タップ端子の加工作業が容易に行われる部分に設けられることを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載のＰＴＣサーミスタ。
【請求項８】
前記脆弱部は、ヒューズとして安定して電流を伝導するために、0.1ｍｍ〜0.8ｍｍの範囲内の寸法を有するように設けられることを特徴とする請求項１から７のいずれかに記載のＰＴＣサーミスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般的に、冷蔵庫やエアコンなどの圧縮機に取り付けられ、圧縮機の初期起動に用いられる無接点起動リレーのＰＴＣ（Positive Temperature Coefficient）素子の進行性破損を防止するための安全構造を有するＰＴＣサーミスタに関する。さらに詳しく、本発明は、電流をＰＴＣ素子に伝導するバネ端子又はバネ端子と連結されたタップ端子の一部分に脆弱部を設けることにより、ＰＴＣ素子の破損又は過電流が発生した場合、当該脆弱部がヒューズとして瞬間的に溶断され過電流を遮断して、ＰＴＣ素子の進行性破損を防止する安全構造を有するＰＴＣサーミスタに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、ＰＴＣサーミスタが無接点リレーとして冷蔵庫或いはエアコンの圧縮機に取り付けられて圧縮機を起動させる役割を果たす場合、外部からの電圧或いは電流の異常、或いは熱応力によるＰＴＣサーミスタの破損が発生する場合がある。この場合、持続通電（電流が持続的に流れる）による第２次及び第３次の破損が発生すると、ＰＴＣ素子が完全に燃やされると同時にＰＴＣ素子を囲むケースが融けて、汚染物及び火事の発生を引き起こす可能性がある。
【０００３】
即ち、従来のモータ起動用のＰＴＣサーミスタは、熱応力或いは異常電圧などの環境条件によって破損し、連続通電による第２次及び第３次の破損が次々と発生する。この際、ＰＴＣ素子は、外部電源と接続しているタップ端子に連結されたバネ端子と電気的に接続しているので、完全に破損する。
【０００４】
このような進行性破損を防止するために、先行技術として用いられた安全構造が特許文献1〜３に開示されている。これらの構造は、端子の対称性を使って機械的に破損を防止するように設計されている。
【特許文献１】韓国公開特許第１９９７−７７３７９号明細書
【特許文献２】韓国公開実用新案第１９９８−２６１８７号明細書
【特許文献３】韓国公開特許第２００１−２９５３２号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、ＰＴＣサーミスタの特性によってＰＴＣ素子の破損が不規則な形となるので、従来技術に用いられる安全構造はこのような破損を防止することが難しいという問題がある。また、従来の安全構造は動作速度が遅いという問題もある。そのため、先行技術の安全構造の効果が低くなり、これらの安全構造を適用した製品の信頼性も低くなるという問題がある。
【０００６】
本発明は、ＰＴＣ素子の進行性破損によって引き起こされる汚染物及び火事の発生を防止し、製品の信頼性を向上させるべく、ＰＴＣ素子の進行性破損を有効的に防止することのできる安全構造を有するＰＴＣサーミスタを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記課題を解決するために、本発明は、請求項１に記載の如く、ＰＣＴ素子の進行性破損を防止するための安全構造を有するＰＴＣサーミスタであって、耐熱性と、絶縁性と、難燃性とを有する材質のケースと、チタン酸バリウム系のセラミックを主成分としたコイン状の胴体の両面に銀などの導電素材を塗布して電極を形成したＰＴＣ素子と、前記ＰＴＣ素子が前記ケースの中に安定して収納されるように前記ＰＴＣ素子を保持する絶縁ホルダーと、前記ケースに収納される一対の導電性のタップ端子と、前記一対のタップ端子のそれぞれに連結されたバネ端子と、前記タップ端子に対応する位置に端子孔が設けられ、下面に２つの絶縁壁が設けられているキャップとを備え、前記２つのバネ端子は、互いに上下対称となるように反対方向へ折り曲げられる接点部位を備えた先端部を有し、それぞれの先端部は前記ＰＴＣ素子を介して対向するように前記ＰＴＣ素子の電極と接触し、前記バネ端子は、前記ＰＴＣ素子と接続して電流を前記ＰＴＣ素子に伝導し、過電流が流れた場合にヒューズとして溶断され電流を遮断する構造的に脆弱な脆弱部が前記バネ端子又は前記タップ端子の一部分に設けられることを特徴とするＰＴＣサーミスタを提供するものである。
【０００８】
請求項１に記載の発明によれば、ＰＣＴ素子の進行性破損を防止するための安全構造を有するＰＴＣサーミスタであって、耐熱性と、絶縁性と、難燃性とを有する材質のケースと、チタン酸バリウム系のセラミックを主成分としたコイン状の胴体の両面に銀などの導電素材を塗布して電極を形成したＰＴＣ素子と、前記ＰＴＣ素子が前記ケースの中に安定して収納されるように前記ＰＴＣ素子を保持する絶縁ホルダーと、前記ケースに収納される一対の導電性のタップ端子と、前記一対のタップ端子のそれぞれに連結されたバネ端子と、前記タップ端子に対応する位置に端子孔が設けられ、下面に２つの絶縁壁が設けられているキャップとを備えるＰＴＣサーミスタにおいて、ＰＴＣ素子と機械的及び電気的に接続している前記バネ端子又は前記バネ端子と連結された前記タップ端子の一部分に電気的に脆弱な脆弱部が設けられている。これにより、正常な動作電流が前記脆弱部に流れる場合、前記脆弱部は安定して電流を前記ＰＴＣサーミスタに伝導するが、ＰＴＣ素子の熱応力による前記ＰＴＣ素子の破損、或いは外部電源の異常による過電流が発生して、前記脆弱部の許容電流値を越えた電流が前記脆弱部に流れた場合、前記脆弱部はヒューズとして瞬間的に溶断され電気回路を開放することにより、ＰＴＣ素子が破損した時に発生する短絡による過電流或いは外部からＰＴＣサーミスタに流れる過電流を遮断することができる。そのため、ＰＴＣ素子の進行性破損が防止され、さらに、ＰＴＣ素子の進行性破損に引き起こされる汚染或いは火事の発生が防止され、製品の信頼性を最大限に向上させることができる。
【０００９】
好ましくは、請求項２に記載の如く、前記脆弱部は、前記バネ端子の一部分に設けられ、前記バネ端子と同じ材質で前記バネ端子と一体的になるように設けられる。
【００１０】
好ましくは、請求項３に記載の如く、前記脆弱部は、前記バネ端子の一部分において１箇所以上にするように設けられる。
【００１１】
または、請求項４に記載の如く、前記脆弱部は、前記タップ端子に設けられるようにすることもできる。
【００１２】
好ましくは、請求項５に記載の如く、前記脆弱部は、角状又は円弧状のノッチを形成することにより設けられる。
【００１３】
好ましくは、請求項６に記載の如く、前記脆弱部は、前記バネ端子の一部分の両端部中の一端部のみを加工するか、或いは両端部を加工して中間部分を残すことにより形成される。
【００１４】
または、請求項７に記載の如く、前記脆弱部は、前記バネ端子或いは前記タップ端子の加工作業が容易に行われる部分に設けられるようにすることもできる。
【００１５】
好ましくは、請求項８に記載の如く、前記脆弱部は、ヒューズとして安定して電流を伝導するために、0.1ｍｍ〜0.8ｍｍの範囲内の寸法を有するように設けられる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は、ＰＴＣ素子と接続して電流をＰＴＣ素子に伝導するバネ端子又はバネ端子と連結されたタップ端子の一部分に脆弱部を設けることにより、ＰＴＣ素子の熱応力によるＰＴＣ素子の破損、或いは外部の電源異常による過電流が発生した場合、当該脆弱部がヒューズとして瞬間的に溶断され電気回路を開放して、ＰＴＣ素子が破損した時に発生する短絡による過電流或いは外部からの過電流を遮断する。これにより、ＰＴＣ素子の進行性破損が防止されるため、ＰＴＣ素子の進行性破損に引き起こされる汚染或いは火事の発生を防止し、製品の信頼性を最大限に向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、添付図面を参照しつつ、本発明の実施形態について説明する。
【００１８】
以下の説明において、関連する慣用及び公知の技術に属する機能又は構成に対する詳細な説明が本発明の要旨を混乱させる可能性があると判断された場合には、その詳細な説明が省略される。
【００１９】
また、以下の説明に使われる用語は、本発明に係る機能を考慮して設定されたものであり、当業者に慣用されたものではなく、本明細書に記載されている全ての内容に基づいて定義されるべきである。
【００２０】
まず、図１及び図２に示す一般的なＰＴＣサーミスタの構成について概略的に説明する。図１と図２に示すように、ＰＴＣサーミスタ１は、耐熱性、絶縁性及び難燃性を有する材質のケース２と、チタン酸バリウム系のセラミックを主成分としたコイン状の胴体の両面に銀などの導電素材を塗布して電極を形成したＰＴＣ素子３と、当該ＰＴＣ素子３がケース２の中に安定して収納されるようにＰＴＣ素子３を保持する絶縁ホルダー４と、ケース２に収納される一対の導電性のタップ端子５と、タップ端子５と連結されているバネ端子６と、タップ端子５と対応する位置に端子孔７ａが設けられ、下面に２つの絶縁壁７ｂが設けられているキャップ７とを備える。バネ端子６は、上下対称となるように反対方向へ折り曲げられる接点部位６aを備える先端部を有し、それぞれの先端部は前記ＰＴＣ素子を介して対向するように前記ＰＴＣ素子の電極と接触する。
【００２１】
ＰＴＣサーミスタ１のより詳細な構成について、図２に示すように、２組の機械的に互いに連結された伝導性のタップ端子５とバネ端子６との連結組が互いに対向するように耐熱性、絶縁性及び難燃性を有する材質のケース２の左側及び右側にそれぞれ取り付けられる。絶縁ホルダー４と結合されたＰＴＣ素子３が２つのバネ端子６の中間でケース２の中央部分に取り付けられる。ケース２の上端部をキャップ７で覆うと、キャップ７の楔部分（絶縁壁７ｂ）によりバネ端子６がケース２のより中央部へに押えられ、バネ端子６と連結されたタップ端子５の下端部が前記ケース２の外側に突出し、左右にあるバネ端子６の先端部の接点部位６aはＰＴＣ素子３の両面とそれぞれ機械的及び電気的に接続することになる。
【００２２】
従来技術に属するＰＴＣサーミスタ１の締結及び組立に対するさらなる詳細な説明はここでは省略する。
【００２３】
このように組立られた状態で、ケース２の外側に突出しているタップ端子５の下端部を介して外部から電流を加えると、電流はタップ端子５からタップ端子５と機械的及び電気的に連結されたバネ端子６に流れ、さらにバネ端子６と接続しているＰＴＣ素子３に流れることによりＰＴＣサーミスタ１を発熱させる。
【００２４】
正常な動作電流が加えられた場合、ＰＴＣサーミスタ１は安定して動作するが、ＰＴＣ素子３の熱応力による素子の破損、或いは外部電源の異常による過電流が発生した場合、ＰＴＣ素子が破損する。さらに、図６ａと図６ｂに示すように第２次と第３次の破損が次々と発生すると、過熱による汚染物或いは火災の発生が引き起こされることになる。
【００２５】
このような問題の発生を防止するために、本発明では、外部と接続されているタップ端子５と機械的に連結されたバネ端子６が、ＰＴＣ素子３と機械的及び電気的に接続している状態で過電流などの異常が発生した場合、ヒューズのように瞬間的に溶断されるようにする。即ち、図３〜図５に示すように、電流をＰＴＣ素子に伝導するバネ端子６の一部分に構造的に脆弱な脆弱部６ｂを設けることにより、過電流が流れた場合に当該脆弱部６ｂが溶断されるように、ヒューズの機能を脆弱部６ｂに持たせる。
【００２６】
バネ端子６に設けられた脆弱部６ｂは、正常的な動作電流が流れた場合に安定して電流をＰＴＣ素子３に伝導する。しかしながら、ＰＴＣ素子３の熱応力による素子の破損或いは外部電源の異常による過電流が発生した場合、電気負荷の急増によって、脆弱部６ｂに流れる電流が脆弱部６ｂの耐えられる許容電流値を超えたら、脆弱部６ｂはヒューズのように瞬間的に溶断される（図７に示す）。
【００２７】
脆弱部６ｂの溶断で電気回路が開放されるため、ＰＴＣ素子３の破損によって発生する短絡電流又は外部からの過電流を遮断することができる。そのため、ＰＴＣ素子の破損による進行性破損が止められ、汚染物又は火災の発生を防止することができる。
【００２８】
以下に本発明の様々な具体的な実施形態について説明する。
【００２９】
図３に示すように、脆弱部６ｂは、バネ端子６の一部分に設けられ、バネ端子６と同じ材質で、バネ端子６と一体的になるように加工される。
【００３０】
必要に応じて、脆弱部６ｂを１箇所以上にすることができる。
【００３１】
または、脆弱部６ｂをタップ端子５の一部に設けるようにしても同じ効果が得られる。
【００３２】
バネ端子６及びタップ端子５の加工作業の便利性に応じて、図３、図４ａ及び図４ｃに示すように、脆弱部６ｂは角状又は円弧状のノッチを形成することにより設けられる。
【００３３】
前記脆弱部は、前記バネ端子の一部分の両端部中の一端部のみを加工する（図４ａ及び図４ｂに示す）か、或いは両端部を加工して中間部分を残す（図４ｃに示す）ことにより形成される。
【００３４】
図３に示す実施形態において、脆弱部６ｂは、バネ端子６のタップ端子５と連結する部分に設けられているが、バネ端子６又はタップ端子５の加工し易い他の部分に設けることもできる。
【００３５】
このように設けられた脆弱部の寸法ｔ（図３に示す）を０.１ｍｍ〜０.８ｍｍの範囲内にすると、脆弱部６ｂはヒューズの機能を有しながら、正常状態において安定して電流を伝導することができる。寸法ｔを０.１ｍｍより小さくすると、正常範囲内の電流が流れた場合でも脆弱部６ｂが溶断されることがある。逆に、寸法ｔを０.８ｍｍより大きくすると、脆弱部６ｂの溶断時間が長くなるため、過電流による第２次及び第３次の進行性破損を避けることが出来なくなる。これについて、以下の実施例にさらに詳細に説明する。
【００３６】
一般的に、バネ端子６はステンレス材料からなるが、本発明において燐青銅又は他の銅系列を用いることもできる。
【００３７】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明に係る実施形態を他の様々な形に変形することもできる。しかしながら、本発明は、前述した詳細な説明の記載に限定されるものではなく、特許請求の範囲に定義される本発明の主旨と範囲に包含される全ての変形、同等化、置換えを含むことが理解されるべきである。
【００３８】
本発明の効果を示すために、次の実施例において、本発明を適用した製品の性能を実験により確認し、従来の製品と比較する。
【実施例】
【００３９】
まず、人為的にＰＴＣ素子を破損させた場合、バネ端子６に設けられた脆弱部６ｂがヒューズとして溶断され電流を遮断する動作を確認し、従来の製品と比較する。このため、可変電源を使ってＰＴＣサーミスタ１に電圧を加え、大きな電流を加えて人為的に素子の破損を誘発した場合、ＰＴＣ素子３の破損状態を確認する。その結果、従来の製品は、第１次の破損が発生した後も通電状態が続いていたので第２次及び第３次の破損が次々と発生したことが分かった（図６ａ及び図６ｂ参照）。これに対して、本発明を適用した製品では、第１次の破損が発生した時に、図７に示すように脆弱部６ｂが過電流に耐えられないため溶断され電気回路を開放したことにより、電流が自動的に遮断されたことが分かった。
【００４０】
そして、脆弱部６ｂの容量を確認するために、１５０Ａの電流計を用いて、脆弱部６ｂの両端に異なる電流値の電流を加えた場合、ヒューズとした脆弱部６ｂの動作時間を測定した（電流別に溶断時間）。その測定結果を次の表１に示す。
【表１】
2004221535.tif 000003
【００４１】
また、電源及びオシロスコープを用いて、正常条件でＰＴＣ素子３の初期抵抗値による過電流が流れた時のＰＴＣ素子３の動作時間を測定した。その測定結果を次の表２に示す。表２に示すように、ＰＴＣ素子３が破損した時に瞬間的に発生する過電流値は少なくとも１００Ａ〜１２０Ａの程度であることが分かった。
【表２】
2004221535.tif 000004
【００４２】
また、次の表３に示す電流に対して、ヒューズとした脆弱部６ｂの動作状況について確認した結果を表３に示す。表３に示すように、ヒューズとした脆弱部６ｂは、加えられた電流に対して動作しなかったことが分かった。
【表３】
2004221535.tif 000005
【００４３】
さらに、次の表４は、加えられた電流とＰＴＣ素子３の動作時間との相関関係を測定した結果を示す。この相関関係を図８のグラフからも容易に確認することができる。表４に示すように、加えられた電流の増加とともにＰＴＣ素子の動作時間は短くなるような反比例相関関係が存在することが分かった。
【表４】
2004221535.tif 000006
【００４４】
一方、正常電流が加えられた場合（サージ電流などの異常電流が発生した場合、ＰＴＣ素子の破損が発生した場合などを除く）、ＰＴＣ素子の動作時間内で、脆弱部６ｂはヒューズとして動作するかどうか、または過電流（サージ電流が流れた時、ＰＴＣ素子の破損時）が流れた場合、ヒューズとした脆弱部６ｂの動作時間を確認するために、１５０Ａの電流計を使ってバネ端子６とタップ端子５に電流を加えた場合、異なる電流値に対するヒューズとした脆弱部６ｂの動作時間を測定した。その結果を次の表５及び図９のグラフに示す。各電流値における脆弱部６ｂの動作時間を１０回測定した。毎回の測定値及び１０回中の最大値、最小値と平均値がそれぞれ表５に示す。
【表５】
2004221535.tif 000007
【００４５】
表１から表５にそれぞれ示したヒューズとした脆弱部６ｂの動作状況に関する測定結果は、脆弱部の寸法ｔを０.３〜０.４ｍｍにした場合に得られたものである。次に、脆弱部の寸法ｔを０.３ｍｍにした場合、０.１ｍｍより小さくした場合、及び０.８ｍｍより大きくした場合、加えられた電流とヒューズとした脆弱部６ｂの動作時間との関係をそれぞれ測定した結果を次の表６に示す。表６に示す測定結果の如く、脆弱部６ｂの寸法ｔを０.８ｍｍより大きくした場合（電流容量が大きい場合）、正常電流が加えられた時に溶断する又はトラブル発生するようなことはないが、素子の破損による過電流が流れた時に脆弱部６ｂの溶断（動作）時間が長すぎるため、ＰＴＣ素子の破損防止が遅れて破裂を引き起こす可能性がある。一方、脆弱部の寸法ｔを０.１ｍｍより小さくした場合（電流容量が小さい場合）、正常動作範囲内の比較的に大きな電流が加えたれた時に脆弱部６ｂの溶断時間はＰＴＣ素子の動作時間より短くなるので、正常状態にトラブルを招く問題がある。したがって、測定した結果によれば、正常動作電流範囲において、電流値に関係なく脆弱部６ｂの溶断時間（電流容量）をＰＴＣ素子の動作時間より長くするために、前記脆弱部の寸法ｔを０.１ｍｍ〜０.８ｍｍの範囲内にすることは好ましい。
【表６】
2004221535.tif 000008
【００４６】
結果として、本発明を適用したＰＴＣサーミスタ１は、正常動作範囲の電流が流れるとＰＴＣ素子が先に動作して、脆弱部がヒューズとして動作しないが、ＰＴＣ素子の破損による過電流が流れると、脆弱部がヒューズとして一定の時間内に動作して電気回路を開放するため、持続通電によるＰＴＣ素子の進行性破損を防止することができることが確認された。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】図１は、本発明を適用したＰＴＣサーミスタの外観を示す斜視図である。
【図２】図２は、図１に示すＰＴＣサーミスタの構成を示す分解斜視図である。
【図３】図３は、本発明に係るバネ端子とタップ端子の構成を示す示斜視図である。
【図４ａ】図４ａは、本発明に係る脆弱部の一つの実施形態を示す構成図である。
【図４ｂ】図４ｂは、本発明に係る脆弱部の一つの実施形態を示す構成図である。
【図４ｃ】図４ｃは、本発明に係る脆弱部の一つの実施形態を示す構成図である。
【図５】図５は、バネ端子の他の部分に脆弱部を設けることを示す構成図である。
【図６ａ】図６ａは、ＰＴＣ素子の破損で発生した過電流によって破損した従来のバネ端子とタップ端子の状態を示す構成図である。
【図６ｂ】図６ｂは、ＰＴＣ素子の破損で発生した過電流によって破損した従来のバネ端子とタップ端子の状態を示す構成図である。
【図７】図７は、ＰＴＣ素子の破損で発生した過電流によって溶断された本発明のバネ端子とタップ端子の状態を示す構成図である。
【図８】図８は、ＰＴＣ素子に加えた電流とＰＴＣ素子の動作時間との相関関係を示すグラフである。
【図９】図９は、異なる印加電流におけるヒューズとした脆弱部の動作時間（溶断）を示すグラフである。
【符号の説明】
【００４８】
１    ＰＴＣサーミスタ
２    ケース
３    ＰＴＣ素子
４    絶縁ホルダー
５    タップ端子
６ａ  接点部位
６ｂ  脆弱部
６    バネ端子
７    キャップ
７ａ  端子孔
７ｂ  絶縁壁
ｔ    ヒューズの機能を有する脆弱部の寸法
【図１】
2004221535.tif 000009
【図２】
2004221535.tif 000010
【図３】
2004221535.tif 000011
【図４ａ】
2004221535.tif 000012
【図４ｂ】
2004221535.tif 000013
【図４ｃ】
2004221535.tif 000014
【図５】
2004221535.tif 000015
【図６ａ】
2004221535.tif 000016
【図６ｂ】
2004221535.tif 000017
【図７】
2004221535.tif 000018
【図８】
2004221535.tif 000019
【図９】
2004221535.tif 000020