(57)【要約】【課題】電子機器に実装されエンドユーザによって使用されていてもテストを行うことができる半導体装置等を提供する。【解決手段】ＭＰ３データのデコード等を行う信号処理コアブロック１１と、所定の電源電位を検出してパワーオン検出信号を出力するパワーオン検出回路２１及びパワーオン検出信号とリセット信号のＯＲ演算を行ってテスト開始信号を出力するＯＲゲート回路２２を有する信号検出回路２０と、ＯＲゲート回路２２がテスト開始信号を出力したときに、信号処理コアブロック１１のテストを行い、テスト結果を表す信号を出力するビルトインセルフテスト回路１２とを具備する。【選択図】　図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の機能を実現する機能ブロックと、
所定の信号を検出する第１の回路と、
前記第１の回路が前記所定の信号を検出したときに、前記機能ブロックのテストを行い、テスト結果を表す信号を出力する第２の回路と、
を具備する半導体装置。
【請求項２】
前記第１の回路が、所定の電源電位又は前記半導体装置をリセットするためのリセット信号を検出することを特徴とする請求項１記載の半導体装置。
【請求項３】
電子機器に実装された後に、前記機能ブロックのテストを行うことを特徴とする請求項１又は２記載の半導体装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の半導体装置と、
文字又は画像を表示する表示装置と、
前記テスト結果を表す信号に基づいて、前記機能ブロックのテスト結果を前記表示装置に表示させる制御回路と、
を具備する電子機器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体装置に関する。さらに、本発明は、そのような半導体装置を用いた電子機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】
半導体装置は、半導体メーカにおいて、半導体テスタによるテスト、エージングと呼ばれるテスト等で良品と判定されたもののみが出荷され、電子機器メーカにおいて、電子機器等に実装される。
このように、半導体装置は、半導体メーカにおいて出荷前に検査され、電子機器に実装された後に検査されることは殆どない。
【０００３】
このような半導体装置が実装された電子機器がエンドユーザによって使用されると、電子機器内に実装されている半導体装置は、電気的ストレスにさらされ、いずれ必ず故障する。
しかしながら、電子機器には多数の電子部品が実装されているため、半導体装置の故障が原因で電子機器が動作しなくなった場合に、電子機器が動作しなくなった原因が半導体装置の故障であることを特定することは非常に困難であった。
【０００４】
ところで、日本国特許出願公開（特開）平６−３０３０５８号公報（以下、「文献１」ともいう）には、データ及びプログラムを格納するメモリブロックと、プログラムに従いマイクロコンピュータ全体の動作を制御する中央処理装置ブロックと、マイクロコンピュータ全体をリセットするシステムリセット信号によりリセットされ、原振クロックを分周して各種の周波数の基準クロックを発生するタイムベースカウンタと、基準クロックに基づき動作する複数の周辺回路からなる周辺回路ブロックとを備え、テストプログラムに基づき中央処理装置ブロックの制御によって各ブロックのテストが連続的に行えるマイクロコンピュータにおいて、テストプログラムに基づく周辺回路のテスト開始時に、カウンタリセット信号によってタイムベースカウンタをリセットするリセット手段を、設けたことを特徴とするマイクロコンピュータが掲載されている。
【０００５】
しかしながら、文献１に掲載されたマイクロコンピュータは、タイムベースカウンタによって分周された複数の周波数の基準クロックに従って動作する複数の周辺回路のテストを行うために、複数の周波数の基準クロックの位相を調整すべくタイムベースカウンタをリセットするリセット手段を設けたものであり、電子機器に実装された後にテストを行うことを可能とするものではない。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、上記の点に鑑み、本発明は、電子機器に実装されエンドユーザによって使用されていても、テストを行うことができる半導体装置を提供することを目的とする。さらに、本発明は、そのような半導体装置を用いた電子機器を提供することを更なる目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
以上の課題を解決するため、本発明に係る半導体装置は、所定の機能を実現する機能ブロックと、所定の信号を検出する第１の回路と、第１の回路が所定の信号を検出したときに、機能ブロックのテストを行い、テスト結果を表す信号を出力する第２の回路とを具備する。
【０００８】
ここで、第１の回路が、所定の電源電位又は半導体装置をリセットするためのリセット信号を検出することとしても良い。また、電子機器に実装された後に、前記機能ブロックのテストを行うこととすることができる。
【０００９】
また、本発明に係る電子機器は、本発明に係る半導体装置と、文字又は画像を表示する表示装置と、テスト結果を表す信号に基づいて、機能ブロックのテスト結果を表示装置に表示させる制御回路とを具備する。
【００１０】
上記のように構成した本発明によれば、電子機器に実装されエンドユーザによって使用されていても、テストを行うことができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係る電子機器として、携帯用のＭＰ３（ＭＰＥＧ−１
Ａｕｄｉｏ　Ｌａｙｅｒ−ＩＩＩ）プレーヤの回路構成を示す図である。
図１に示すように、ＭＰ３プレーヤ１は、入力部２と、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）３と、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ　Ｃｒｙｓｔａｌ　Ｄｉｓｐｌａｙ）モジュール４と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｍｅｍｏｒｙ）５と、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ　Ｓｉｇｎａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）６と、音声信号出力回路７と、ヘッドフォン８とを具備する。
【００１２】
入力部２は、ユーザが音楽の再生等を指示するためのスイッチ等である。
ＣＰＵ３は、入力部２を介してユーザの指示を受け取り、ユーザの指示に応じて、ＭＰ３プレーヤ１全体の制御を行う。
【００１３】
ＬＣＤモジュール４は、ＣＰＵ３の制御に応じて、再生されている音楽の曲名等を表示する。
ＲＡＭ５は、ＭＰ３形式のデータを格納しており、ＤＳＰ６は、ＣＰＵ３の制御に応じて、ＲＡＭ５に格納されているＭＰ３形式のデータのデコード等を行う。
【００１４】
音声信号出力回路７は、ＤＳＰ６から音声データを受け取り、アナログ信号に変換し、増幅して出力する。
ヘッドフォン８は、音声信号出力回路７から音声信号（アナログ信号）を受け取って、音声を出力する。
【００１５】
図２は、本発明の一実施形態に係る半導体装置として、図１のＤＳＰ６の内部構成を示す図である。図２に示すように、ＤＳＰ６は、信号処理コアブロック１１と、ビルトインセルフテスト（Ｂｕｉｌｄ　Ｉｎ　Ｓｅｌｆ　Ｔｅｓｔ：　ＢＩＳＴ）回路１２と、信号検出回路２０とを具備する。また、信号検出回路２０は、パワーオン検出回路２１と、ＯＲゲート回路２２とを具備する。信号処理コアブロック１１、ビルトインセルフテスト回路１２、パワーオン検出回路２１、及び、ＯＲゲート回路２２は、電源電位（ここでは、ＶＤＤ）に接続されると、動作を開始する。
信号処理コアブロック１１は、ＲＡＭ５からＭＰ３データを受け取り、デコード等の信号処理を施して音声信号出力回路７に出力する。
【００１６】
パワーオン検出回路２１は、電源電位（ここでは、ＶＤＤ）に接続されたときに、ハイレベルのパワーオン検出信号を出力する。
ＯＲゲート回路２２は、パワーオン検出回路２１が出力するパワーオン検出信号と、ＭＰ３プレーヤ１又はＤＳＰ６をリセットするときにハイレベルとなるリセット信号とのＯＲ演算を行い、テスト開始信号を出力する。
【００１７】
ビルトインセルフテスト回路１２は、テスト開始信号がハイレベルとなったときに、信号処理コアブロック１１のテストを開始し、テスト結果を表すテスト結果信号をＣＰＵ３に出力する。ＣＰＵ３は、ビルトインセルフテスト回路１２からテスト結果信号を受け取ると、テスト結果をＬＣＤモジュール４の表示画面に表示させる。
【００１８】
このように、本実施形態によれば、電源電位（ここでは、ＶＤＤ）に接続されたとき又はリセット信号が入力されたときに、ＤＳＰ６内の信号処理コアブロック１１のテストを行い、テスト結果をＬＣＤモジュール４の表示画面に表示させることができる。すなわち、ＤＳＰ６がＭＰ３プレーヤ１内に実装され、ＭＰ３プレーヤ１がエンドユーザの手に渡った後に、ＤＳＰ６内の信号処理コアブロック１１のテストを行うことが可能となる。
これにより、ＭＰ３プレーヤ１が動作しなくなった場合に、その原因がＤＳＰ６にあるのか否かを速やかに判断することができ、ＭＰ３プレーヤ１の修理を容易に行うことができる。また、ＤＳＰ６が原因でＭＰ３プレーヤ１が動作しなくなったことをＤＳＰ６のメーカにフィードバックすることにより、ＤＳＰ６のメーカがＤＳＰ６の改善を行うことができる。
【００１９】
【発明の効果】
以上述べた様に、本発明によれば、電子機器に実装されエンドユーザによって使用されていても、テストを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係るＭＰ３プレーヤの回路構成を示す図である。
【図２】図１のＤＳＰの回路構成を示す図である。
【符号の説明】
１　ＭＰ３プレーヤ
２　入力部
３　ＣＰＵ
４　ＬＣＤモジュール
５　ＲＡＭ
６　ＤＳＰ
７　音声信号出力回路
８　ヘッドフォン
１１　信号処理コアブロック
１２　ビルトインセルフテスト回路
２０　信号検出回路
２１　パワーオン検出回路
２２　ＯＲゲート回路
【図１】
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【図２】
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