(57)【要約】【課題】光ディスクの明欠陥をサーボの外乱とすることなく安定したサーボ制御を行い、通常の傷などの欠陥を問題とすることなく、情報の記録／再生を行う。【解決手段】光ディスクに照射した光の上記光ディスクからの反射光から得られる再生ＲＦ信号のピークレベルをクリップ回路５５により所定のクリップ電位Ｖｃでクリップし、上記再生ＲＦ信号をドループレートの異なる第１のピークホールド回路５１及び第２のピークホールド回路５２によりピークホールドし、上記各ピークホールド回路５２によるピークホールド出力信号ＰＨ１，ＰＨ２のレベル差を第１のレベルコンパレータ５３により検出し、上記レベル差が所定の基準レベルＤＦＣＴＬＶＬを超えたときに第２のレベルコンパレータ５４から欠陥検出パルスＤＦＣＴを出力する。【選択図】        図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに照射した光の上記光ディスクからの反射光を検知することにより得られる再生信号から上記光ディスクの欠陥領域を検出する欠陥検出方法であって、
上記再生信号のピークレベルを所定のクリップ電位でクリップし、
上記再生信号をドループレートの大きい第１のピークホールド手段及びドループレートの小さい第２のピークホールド手段によりピークホールドし、
上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差を検出し、
上記レベル差が所定の基準レベルを超えたときに欠陥検出パルスを出力することを特徴とする欠陥検出方法。
【請求項２】
上記第２のピークホールド手段により得られるピークホールドレベルを上記所定のクリップ電位とすることを特徴とする請求項１記載の欠陥検出方法。
【請求項３】
光ディスクに照射した光の上記光ディスクからの反射光を検知することにより得られる再生信号から上記光ディスクの欠陥領域を検出する欠陥検出回路であって、
上記再生信号が入力されるドループレートの大きい第１のピークホールド手段及びドループレートの小さい第２のピークホールド手段と、
上記第１のピークホールド手段及び第２のピークホールド手段に入力される再生信号のピークレベルを所定のクリップ電位でクリップするクリップ手段と、
上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差を検出するレベル差検出手段と、
上記レベル差検出手段による検出出力の信号レベルを所定の基準レベルと比較し、上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差が上記所定の基準レベルを超えたときに欠陥検出パルスを出力するレベル比較手段と
を備えることを特徴とする欠陥検出回路。
【請求項４】
上記第２のピークホールド手段により得られるピークホールドレベルを上記所定のクリップ電位として設定するクリップ電位設定手段を備えることを特徴とする請求項３記載の欠陥検出回路。
【請求項５】
上記クリップ電位設定手段は、上記第２のピークホールド手段により得られるピークホールドレベルの平均値を所定期間毎に求めて上記所定のクリップ電位として設定することを特徴とする請求項４記載の欠陥検出回路。
【請求項６】
光ディスクに照射した光の上記光ディスクからの反射光を検知することにより得られる再生信号からサーボエラー信号を生成してサーボ制御を行うサーボループを有する光ディスク駆動装置であって、
上記再生信号が入力されるドループレートの大きい第１のピークホールド手段及びドループレートの小さい第２のピークホールド手段と、上記第１のピークホールド手段及び第２のピークホールド手段に入力される再生信号のピークレベルを所定のクリップ電位でクリップするクリップ手段と、上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差を検出するレベル差検出手段と、上記レベル差検出手段による検出出力の信号レベルを所定の基準レベルと比較し、上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差が上記所定の基準レベルを超えたときに欠陥検出パルスを出力するレベル比較手段とからなる欠陥検出回路を備え、
上記欠陥検出回路により得られる欠陥検出パルスによりサーボループを所定値に切り換えることを特徴とする光ディスク駆動装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ゴミや指紋の付着による欠陥が生じたかどうかを検出する欠陥検出方法、欠陥検出回路及びディスク駆動装置に関し、特に、反射率が高く極めて微細な欠陥（以下、明欠陥という）に対する対策を施した欠陥検出方法、欠陥検出回路及び光ディスク駆動装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
レーザを用いて光学ディスク状記録媒体（以下、単に光ディスクという）上に情報を記録し、上記光ディスクから記録されたデータを読み出す光記録／再生技術では、光ディスクに対するレーザビーム反射光の変化量を検出して情報を読み出す。反射光の変化量を用いて光ディスク上にデータを記録する方法には、ディスク基板上に凹状のピットを形成し、このピットと基準面との干渉を用いる方法と、光磁気ディスクのように光磁気記録媒体の偏光方向の変化を用いる方法と、相変化ディスク（ＣＤ−ＲＷ：Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ−ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）のように記録材料の結晶化状態による反射光の変化量を用いる方法と、ＣＤ−Ｒ（ＣＤ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）のように有機色素の変形による方法などがある。これら方法のうち、データの反復記録／再生可能な方法、特に相変化型方法は、現在ＣＤやＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｉｄｅｏ  Ｄｉｓｃ、あるいはＤｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）に広く適用されている。
【０００３】
光ディスクを介して情報の記録又は再生を行う光ディスク駆動装置では、光学ヘッドに設けられているレーザ光源から出射されたレーザ光を対物レンズにより光ディスクの信号面に対して収束させ、上記光ディスクの信号面にて反射された反射レーザ光に基づいて、信号面に形成されているトラックに対する上記レーザ光の光スポットの相対位置を示すトラッキングエラー信号を生成する。そして、このトラッキングエラー信号に基づいて、レーザ光のスポットがトラックを適正にトレースするように制御を行う、いわゆるトラッキングサーボ制御を行うようにしている。
【０００４】
このため、光ディスクドライブ装置には、レーザ光源からのレーザ光をディスクの信号面に対して収束させるように調整するとともに、レーザ光の光スポットがトラックを適正にトレースするように、対物レンズをディスク接離方向（フォーカス方向）、及びディスク半径方向（トラッキング方向）に移動させる二軸機構と、光学ヘッド全体をディスク半径方向に移動させるスレッド機構とが備えられている。
【０００５】
光ディスクに対するトラッキングサーボ制御方法としては、例えば３ビームによる３ビーム法や、１ビームによる、いわゆるプッシュプル法などが良く知られているが、近年、ディスクドライブ装置の小型化や簡略化、及び信頼性の観点からトラッキングサーボ方法としてはプッシュプル法が採用されている。
【０００６】
プッシュプル法は、レーザ光源から出射されたレーザ光を対物レンズにより収束させて、光ディスクの信号面に照射した際に、信号面で反射される反射光の光強度分布が信号面に形成されているピットや案内溝の回折によって変化することを利用してトラッキングエラー信号を得るようにしたものである。すなわち、光ディスクで反射されたレーザ光は、光学ヘッド内に備えられているディスク半径方向において２分割されたフォトディテクタの各検出領域で検出される光の強度分布が、トラック上のピット又は案内溝に対する光スポットとの相対的な位置により変化する。そこで、プッシュプル法では、これら２分割された検出領域からの検出出力に基づいて、トラッキングエラー信号を生成するようにしている。
【０００７】
ところで、例えば、ディジタルオーディオ信号が記録された光ディスクにおいては、ディスク面にゴミや指紋等の汚れあるいは傷が付いたり、記録領域の一部が欠けているといった欠陥領域が存在していることがある。このように光ディスクに欠陥が生じると、トラッキングサーボやフォーカスサーボが正常に動作しなくなる虞がある。
【０００８】
例えばトラッキングサーボ制御が実行されている状態のもとで、このような欠陥領域を光スポットが通過した場合、光スポットがディスクの欠陥領域を通過している時に検出される検出信号は、ディスクの欠陥がない領域（正常領域）から検出される検出信号とは全く異なったレベルとなる。
【０００９】
このため、ディスクの欠陥領域から得られるトラッキングエラー信号は、トラッキングサーボ制御エラー（デトラック）を発生させる要因になり、サーボがオンしていると、光学系が誤ったエラー信号に従って動いてしまうことになり、特に、ディスクの欠陥領域がトラック上に連続的に存在している場合は、トラッキングサーボ制御が不能状態に陥り、サーボが外れてしまい暴走を引き起こすこともあった。
【００１０】
また、光スポットがディスクの欠陥領域を通過している時は、あえてサーボをオフにした方が問題なくデータ読めることが多い。つまり、正しいエラー信号が得られないときは、今までのエラー信号に従って慣性で走った方が良い。
【００１１】
そこで、従来の光ディスク駆動装置では、情報記録面上に傷等の欠陥が存在していると、再生ＲＦ信号のエンベロープに変化が生じるので、エンベロープの変化を検知することによりキズ等の欠陥を検出して、必要な対応を行っている。
【００１２】
すなわち、従来の光ディスク駆動装置では、例えば図７に示すように、光ディスクの欠陥を検出する欠陥検出回路が設けられており、この欠陥検出回路の出力に応じて、トラッキングサーボ回路やフォーカスサーボ回路の動作が制御されている（例えば、特許文献１参照）。
【００１３】
ここで、図７に示す光ディスク駆動装置１００は、図示しない光学ピックアップ内のレーザダイオードから照射されたビームが光ディスクで反射され、対物レンズを介して集光される６分割ディテクタ１１０、上記６分割ディテクタ１１０の出力が供給されるマトリクス演算回路１２０、上記マトリクス演算回路１２０により得られるフォーカスエラー信号ＦＥが供給されるフォーカスサーボ回路１３０、上記マトリクス演算回路１２０により得られるトラッキングエラー信号ＴＥが供給されるトラッキングサーボ回路１４０、上記マトリクス演算回路１２０により得られる再生信号ＲＦが供給される欠陥検出回路１５０を備え、上記欠陥検出回路１５０の出力に応じて上記フォーカスサーボ回路１３０やトラッキングサーボ回路１４０の動作が制御されるようになっている。
【００１４】
上記６分割ディテクタ１１０は、フォーカスエラー検出用のディテクタ１１０Ａ〜１１０Ｄと、トラッキングエラー検出用のディテクタ１１０Ｅ，１１０Ｆからなる。
【００１５】
また、上記マトリクス演算回路１２０は、フォーカスエラー検出用のディテクタ１１０Ａ〜１１０Ｄの各出力ＳＡ，ＳＢ，ＳＣ，ＳＤのうちのディテクタ１０１Ａ，１０１Ｂの各出力ＳＡ，ＳＢを加算する加算器１２１と、ディテクタ１０１Ｃ，１０１Ｄの各出力ＳＣ，ＳＤを加算する加算器１２２と、上記加算器１２１による加算出力（ＳＡ＋ＳＢ）と上記加算器１２２による加算出力（ＳＣ＋ＳＤ）を加算する加算器１２３及び減算する減算器１２４、トラッキングエラー検出用のディテクタ１１０Ｅ，１１０Ｆの各出力ＳＥ，ＳＦを減算する減算器１２５からなる。
【００１６】
このマトリクス演算回路１２０は、フォーカスエラー検出用のディテクタ１１０Ａ〜１１０Ｄの各出力ＳＡ，ＳＢ，ＳＣ，ＳＤを加算器１２１〜１２３により加算した加算信号（ＳＡ＋ＳＢ＋ＳＣ＋ＳＤ）として、上記加算器１２３からディスクの再生信号ＲＦを出力する。また、上記加算器１２１による加算出力（ＳＡ＋ＳＢ）と上記加算器１２２による加算出力（ＳＣ＋ＳＤ）を減算することにより得られる減算信号（（ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ））として、上記減算器１２４からフォーカスエラー信号ＦＥを出力する。さらに、トラッキングエラー検出用のディテクタ１１０Ｅ，１１０Ｆの各出力ＳＥ，ＳＦを減算することにより得られる減算信号（ＳＥ−ＳＦ）として、上記減算器１２５からトラッキングエラー信号ＴＥを出力する。
【００１７】
上記マトリクス演算回路１２０により得られたフォーカスエラー信号ＦＥは、フォーカスサーボ回路１３０のゲイン調整回路１３１に供給される。
【００１８】
フォーカスサーボ回路１３０は、上記ゲイン調整回路１３１の出力すなわちゲイン調整されたフォーカスエラー信号ＦＥが直接及びホールド回路１３２を介して各端子１３３Ａ，１３３Ｂに供給されるスイッチ１３３を備え、上記スイッチ１３３の出力を位相補償回路１３４、駆動増幅器１３５を介してフォーカスコイル１３６に供給することにより、光学ピックアップ内の対物レンズを光軸方向すなわちフォーカス方向に移動させるフォーカスサーボ制御を行う。
【００１９】
また、上記マトリクス演算回路１２０により得られたトラッキングエラー信号ＴＥは、トラッキングサーボ回路１４０のゲイン調整回路１４１に供給される。
【００２０】
トラッキングサーボ回路１４０は、上記ゲイン調整回路１４１の出力すなわちゲイン調整されたトラッキングエラー信号ＴＥが直接及びホールド回路１４２を介して各端子１４３Ａ，１４３Ｂに供給されるスイッチ１４３を備え、上記スイッチ１４３の出力を位相補償回路１４４、駆動増幅器１４５を介してトラッキングコイル１４６に供給することにより、光学ピックアップ内の対物レンズを光軸方向に直交するトラッキング方向に移動させるトラッキングサーボ制御を行う。
【００２１】
さらに、上記マトリクス演算回路１２０により得られたディスクの再生信号ＲＦは、ＥＦＭ信号として出力されるとともに欠陥検出回路１５０に供給される。
【００２２】
上記欠陥検出回路１５０は、上記再生信号ＲＦのエンベロープを検出して基準レベルと比較することにより欠陥検出を行い、欠陥検出信号ＤＦをスイッチ制御信号として上記フォーカスサーボ回路１３０及びトラッキングサーボ回路１４０の各スイッチ１３３，１４３に供給する。
【００２３】
ここで、光ディスクの再生信号ＲＦのエンベロープレベルは、ディスクに傷等に起因する欠陥が生じていると、基準レベルより小さくなり、ディスクに欠陥が生じていない場合に基準レベルより大きくなる。
【００２４】
上記欠陥検出回路１５０は、再生信号ＲＦのエンベロープレベルが基準レベルより大きいことを検出した場合、すなわち、ディスクに欠陥が生じていない場合には、スイッチ制御信号により、上記フォーカスサーボ回路１３０及びトラッキングサーボ回路１４０の各スイッチ１３３，１４３を端子１３３Ａ，１４３Ａ側に設定する。これにより、上記フォーカスサーボ回路１３０及びトラッキングサーボ回路１４０は、上記マトリクス演算回路１２０により得られたフォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥを直接用いて、フォーカスエラー信号ＦＥに基づくフォーカスサーボ制御及びトラッキングエラー信号ＴＥに基づくトラッキングサーボ制御を行う。
【００２５】
また、上記欠陥検出回路１５０は、再生信号ＲＦのエンベロープレベルが基準レベルより小さいことを検出した場合、すなわち、ディスクに欠陥が生じていた場合には、スイッチ制御信号により、上記フォーカスサーボ回路１３０及びトラッキングサーボ回路１４０の各スイッチ１３３，１４３を端子１３３Ｂ，１４３Ｂ側に設定する。これにより、上記フォーカスサーボ回路１３０及びトラッキングサーボ回路１４０は、各ホールド回路１３２，１４２にホールドされていたフォーカスサーボ制御及びトラッキングエラー信号ＴＥに基づくトラッキングサーボ制御を行う。
【００２６】
ここで、従来より知られている欠陥検出回路１５０の具体的な構成例を図８に示す。
【００２７】
この欠陥検出回路１５０は、通常ＲＦ増幅部内に上記マトリクス演算回路１２０とともに配置されており、ドループレートの大きい、すなわち時定数の小さい高速の第１のピークホールド回路１５１とドループレートの小さい、すなわち時定数の大きい低速の第２のピークホールド回路１５２、各ピークホールド回路１５１，１５２の出力が供給される第１のレベルコンパレータ１５３、第１のレベルコンパレータ１５３の出力が供給される第２のレベルコンパレータ１５４を備え、上記マトリクス演算回路１２０の加算器１２１〜１２３を代表して示した演算増幅器１１２０Ａにより得られる再生ＲＦ信号が上記２つのピークホールド回路１５１，１５２に供給されている。
【００２８】
ディスクに傷などがあるとディスクからの反射光が減少するので、その部分の再生ＲＦ信号のレベルはＲＦグランドレベルまで小さくなり、窪んだような形になる。
【００２９】
図８に示す欠陥検出回路１５０では、再生ＲＦ信号から第１のピークホールド回路１５１と第２のピークホールド回路１５２により得られる２種類のピークホールド信号ＰＨ１，ＰＨ２を第１のレベルコンパレータ１５３で比較する。
【００３０】
ドループレートの大きい高速のピークホールド動作を行う第１のピークホールド回路１５１により得られるピークホールド信号ＰＨ１は、再生ＲＦ信号の窪みに追従した波形になり、一方ドループレートの小さい低速のピークホールド動作を行う第２のピークホールド回路１５２により得られるピークホールド信号ＰＨ２は、元々の再生ＲＦ信号のピークを保持した波形になる。
【００３１】
そして、上記第１のレベルコンパレータ１５３により２種類のピークホールド信号ＰＨ１，ＰＨ２を比較し、その比較出力すなわち２種類のピークホールド信号の差（ＰＨ２−ＰＨ１）を第２のレベルコンパレータ１５４により基準レベルＤＦＣＴＬＶＬと比較する。上記第２のレベルコンパレータ１５４は、上記２種類のピークホールド信号の差（ＰＨ２−ＰＨ１）が基準レベルＤＦＣＴＬＶＬ以上あれば、そこに傷があるとみなし、この区間に欠陥検出パルスＤＦＣＴを出力する。
【００３２】
このようにして検出された欠陥検出パルスＤＦＣＴをサーボブロックに渡すことにより、サーボを瞬間的にＯＦＦにすることができる。
【００３３】
【特許文献１】特開平９−２９３２４１号公報
【発明が解決しようとする課題】
ところで、図９に示すように、透明基板２０１、下部保護層２０２、記録層２０３、上部保護層２０４、反射層２０５、ＵＶ保護層２０６、印刷層２０７からなるＣＤ−ＲＷメディア２００には、明欠陥と呼ばれる反射率が高く非常に小さな（φ数十〜数百μｍ）欠陥２１０が生じる場合がある。明欠陥２１０は、ＣＤ−ＲＷメディア２００の製造過程において、異物が混入し、反射層２０５の成膜中に剥離することで、下部保護層２０２，記録層２０３，上部保護層２０４を貫通する微細なピンホールが形成されてしまうことに起因するものである。明欠陥はメディア製造の都合上、完全に無くすことは難しいとされている。
【００３４】
従来の光ディスク駆動装置では、光ディスクの明欠陥部分を再生すると、その部分の反射率が他のエリアと比べて２〜３倍高いために、図１０の（Ａ）に示すように、再生ＲＦ信号に短い時間（数百マイクロ秒から数ミリ秒）、レベルが突出して大きい明欠陥信号が現れる。この明欠陥信号が従来の欠陥検出回路１５０に入力されることにより、図１０の（Ｂ）に示すようにドループレートの小さい低速のピークホールド動作を行う第２のピークホールド回路１５２により得られるピークホールド信号ＰＨ２が長い間、本来の再生ＲＦ信号からずれてしまう。このため、図１０の（Ｃ）に示すように、実際の傷の幅よりもかなり長い区間に亘って欠陥検出パルスＤＦＣＴが立ってしまう。
【００３５】
すなわち、ピークホールド回路は、ピークレベルを保持する（具体的にはコンデンサに蓄えた電荷によりレベルを保つ）回路なので、ピークレベルの上昇にはそのまま追従してしまい、各ピークホールド回路１５１，１５２のピークホールド信号ＰＨ１，ＰＨ２は、明欠陥信号に追従してピークレベルが上昇する。各ピークホールド信号ＰＨ１，ＰＨ２のレベルが降下する速度は、各ピークホールド回路１５１，１５２のドループレートで決まり、ドループレートの小さい低速のピークホールド動作を行う第２のピークホールド回路１５２により得られるピークホールド信号ＰＨ２のレベル降下の速度が圧倒的に遅いので、長い区間に亘って欠陥検出パルスＤＦＣＴが立ってしまうことになる。
【００３６】
そして、欠陥検出パルスＤＦＣＴが立っているＤＦＣＴ＝Ｈの区間はサーボをＯＦＦするので、この区間が実際の傷の長さより長いとサーボの安定性が落ちてしまい、再生できないことが多い。
【００３７】
そこで、本発明の目的は、上述の如き従来の問題点に鑑み、光ディスクの明欠陥をサーボの外乱とすることなく安定したサーボ制御を行い、光ディスクについた通常の傷などの欠陥を問題とすることなく、光ディスクに対して情報の記録／再生を行うことができるようにすることにある。
【００３８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、光ディスクに照射した光の上記光ディスクからの反射光を検知することにより得られる再生信号から上記光ディスクの欠陥領域を検出する欠陥検出方法であって、上記再生信号のピークレベルを所定のクリップ電位でクリップし、上記再生信号をドループレートの大きい第１のピークホールド手段及びドループレートの小さい第２のピークホールド手段によりピークホールドし、上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差を検出し、上記レベル差が所定の基準レベルを超えたときに欠陥検出パルスを出力することを特徴とする。
【００３９】
また、本発明は、光ディスクに照射した光の上記光ディスクからの反射光を検知することにより得られる再生信号から上記光ディスクの欠陥領域を検出する欠陥検出回路であって、上記再生信号が入力されるドループレートの大きい第１のピークホールド手段及びドループレートの小さい第２のピークホールド手段と、上記第１のピークホールド手段及び第２のピークホールド手段に入力される再生信号のピークレベルを所定のクリップ電位でクリップするクリップ手段と、上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差を検出するレベル差検出手段と、上記レベル差検出手段による検出出力の信号レベルを所定の基準レベルと比較し、上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差が上記所定の基準レベルを超えたときに欠陥検出パルスを出力するレベル比較手段とを備えることを特徴とする。
【００４０】
さらに、本発明は、光ディスクに照射した光の上記光ディスクからの反射光を検知することにより得られる再生信号からサーボエラー信号を生成してサーボ制御を行うサーボループを有する光ディスク駆動装置であって、上記再生信号が入力されるドループレートの大きい第１のピークホールド手段及びドループレートの小さい第２のピークホールド手段と、上記第１のピークホールド手段及び第２のピークホールド手段に入力される再生信号のピークレベルを所定のクリップ電位でクリップするクリップ手段と、上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差を検出するレベル差検出手段と、上記レベル差検出手段による検出出力の信号レベルを所定の基準レベルと比較し、上記第１のピークホールド手段によるピークホールド出力信号と上記第２のピークホールド手段によるピークホールド出力信号のレベル差が上記所定の基準レベルを超えたときに欠陥検出パルスを出力するレベル比較手段とからなる欠陥検出回路を備え、上記欠陥検出回路により得られる欠陥検出パルスによりサーボループを所定値に切り換えることを特徴とする。
【００４１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００４２】
本発明は、例えば図１に示すような構成の光ディスク駆動装置１０に適用される。
【００４３】
この光ディスク駆動装置１０は、光学ヘッド２により光ディスク１を介して情報の記録又は再生を行うもので、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ３、光学ヘッド２を光ディスク１の径方向に移動させるスレッドモータ４、スピンドルモータ３やスレッドモータ４を駆動する駆動部５、上記光学ヘッド２に接続されたＲＦ増幅部６、上記ＲＦ増幅部６に接続された信号処理部７、これらを制御する制御部８などからなる。
【００４４】
この光ディスク駆動装置１０において、光ディスク１は、信号処理部７から駆動部５に供給されるスピンドル駆動制御信号に応じたスピンドル駆動信号ＳＰＤが上記駆動部５から与えられるスピンドルモータ３によって例えば線速度一定で回転される。上記光ディスク１は、ＣＤ−ＲＷメディア等の相変化型の光ディスクであって、光学ヘッド２から記録データによりパルス変調されたレーザビームが照射されることにより情報が記録される。
【００４５】
光学ヘッド２は、光ディスク１の記録面にレーザビームを照射するレーザダイオード、レーザダイオードを駆動するドライバ、上記レーザビームを光ディスク１の記録面に集光させる対物レンズ、上記対物レンズを光軸方向及び光軸方向に直交する方向に移動させてフォーカス及びトラッキングの制御を行うための２軸デバイス、上記光ディスク１の記録面で反射されたレーザビームを受光する例えば６分割ディテクタなどからなる。
【００４６】
上記光学ヘッド２は、信号処理部７から駆動部５に供給されるスレッド駆動制御信号に応じたスレッド駆動信号ＳＬＤが上記駆動部５から与えられるスレッドモータ４によって光ディスク１の径方向に移動されるとともに、信号処理部７から駆動部５に供給されるフォーカス駆動制御信号及びトラッキング駆動制御信号に応じたフォーカス駆動信号ＦＣＳ及びトラッキング駆動信号ＴＲＫが上記駆動部５から与えられる上記２軸デバイスによって上記対物レンズが光軸方向及び光軸方向に直交する方向に移動される。また、上記光学ヘッド２は、レーザダイオードから対物レンズを介して光ディスク１の記録面にレーザビームを照射し、上記光ディスク１の記録面で反射されたレーザビームを６分割ディテクタで受光することによりフォーカスエラー検出用の検出出力ＳＡ，ＳＢ，ＳＣ，ＳＤとトラッキングエラー検出用の検出出力ＳＥ，ＳＦを得てＲＦ増幅部６に供給する。さらに、上記光学ヘッド２は、記録モード時に、信号処理部７からＲＦ増幅部６に供給される符号化された記録データに応じてレーザダイオードがパルス駆動されることにより、上記符号化された記録データでパルス変調したレーザビームを光ディスク１の記録面に照射して、記録データで示される情報を上記光ディスク１に記録する。
【００４７】
ＲＦ増幅部６は、上記光学ヘッド２の６分割ディテクタで得られる検出出力ＳＡ〜ＳＦから再生ＲＦ信号、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥを得て、具体的には、フォーカスエラー検出用の検出出力ＳＡ，ＳＢ，ＳＣ，ＳＤの差信号（（ＳＡ＋ＳＢ）−（ＳＣ＋ＳＤ））をフォーカスエラー信号ＦＥとし、和信号（ＳＡ＋ＳＢ＋ＳＣ＋ＳＤ）を再生ＲＦ信号とし、さらに、トラッキングエラー検出用の検出出力ＳＥ，ＳＦの差信号（ＳＥ−ＳＦ）をトラッキングエラー信号ＴＥとして、信号処理部７に供給する。また、上記ＲＦ増幅部６は、上記和信号（ＳＡ＋ＳＢ＋ＳＣ＋ＳＤ）すなわち再生ＲＦ信号に基づいて欠陥検出を行う図２に示すような構成の欠陥検出回路５０を内蔵しており、この欠陥検出回路５０により得られる欠陥検出パルスＤＦＣＴを信号処理部７に供給する。さらに、上記ＲＦ増幅部６は、記録モード時に、記録パワーに応じた電圧を上記光学ヘッド２のレーザダイオードのドライバに与える。
【００４８】
この光ディスク駆動装置１０は、動作モードが制御部８によって切り換えられる。そして、記録モード時には、入力された記録データが信号処理部７で符号化されて光学ヘッド２に供給されることにより、上記光学ヘッド２は、上記符号化された記録データで光強度変調したレーザビームを光ディスク１の記録面に照射して、記録データで示される情報を上記光ディスク１に記録する。また、再生モード時には、光学ヘッド２から光ディスク１に照射したレーザビームの反射光を受光する６分割ディテクタによる検出出力ＳＡ，ＳＢ，ＳＣ，ＳＤをＲＦ増幅部６により加算した加算信号（ＳＡ＋ＳＢ＋ＳＣ＋ＳＤ）が再生ＲＦ信号として供給される信号処理部７で上記再生ＲＦ信号に復号処理を施すことにより、再生データを得て出力する。
【００４９】
信号処理部７は、制御部８による制御にしたがい、上記光ディスク１を線速度一定で回転させるためのスピンドル駆動制御信号及び上記光学ヘッド２を目的のトラック位置に移動させるためのスレッド駆動制御信号を上記駆動部５に供給して、スピンドルサーボ制御及びスレッドサーボ制御を行う。また、上記信号処理部７は、上記ＲＦ増幅部６から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥに基づいてフォーカス駆動制御信号及びトラッキング駆動制御信号を生成して上記駆動部５に供給して、フォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御を行う。さらに、上記信号処理部７は、上記欠陥検出回路５０により得られる欠陥検出パルスＤＦＣＴに応じて、欠陥検出時にフォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御を瞬間的にＯＦＦにすることにより、光ディスク１の欠陥領域のサーボへの影響を除去するようにしている。
【００５０】
この光ディスク駆動装置１０において、上記ＲＦ増幅部６に内蔵されている上記欠陥検出回路５０は、図２に示すように、ドループレートの異なる第１のピークホールド回路５１と第２のピークホールド回路５２、各ピークホールド回路５１，５２の出力が供給される第１のレベルコンパレータ５３、第１のレベルコンパレータ５３の出力が供給される第２のレベルコンパレータ５４を備えるもので、加算増幅器６１により得られる再生ＲＦ信号が供給される上記２つのピークホールド回路５１，５２の信号入力端にダイオード５５Ａによるクリップ回路５５が接続されている。
【００５１】
上記第１のピークホールド回路５１は、ドループレートの大きい高速のピークホールド動作を行うもので、第２のピークホールド回路５２は、ドループレートの小さい低速のピークホールド動作を行うものである。例えば、第１のピークホールド回路５１は４ｍＶ／μｓの応答速度でピークホールド動作を行うのに対し、第２のピークホールド回路５２は０．２ｍＶ／μｓの応答速度でピークホールド動作を行う。
【００５２】
この欠陥検出回路５０では、再生ＲＦ信号から第１のピークホールド回路５１と第２のピークホールド回路５２により得られる２種類のピークホールド信号ＰＨ１，ＰＨ２を第１のレベルコンパレータ５３で比較する。
【００５３】
ここで、図３に示すように、光ディスク１の表面に傷など欠陥領域１Ａがあると上記光ディスク１からの反射光が減少するので、その部分の再生ＲＦ信号のレベルは、図４の（Ａ）に示すように、ＲＦグランドレベルまで小さくなり、窪んだような形になる。
【００５４】
図４の（Ｂ）に示すように、高速のピークホールド動作を行うドループレートの大きい第１のピークホールド回路５１により得られるピークホールド信号ＰＨ１は、再生ＲＦ信号の窪みに追従した波形になり、一方低速のピークホールド動作を行うドループレートの小さい第２のピークホールド回路５２により得られるピークホールド信号ＰＨ２は、元々の再生ＲＦ信号のピークを保持した波形になる。
【００５５】
そして、上記第１のレベルコンパレータ５３により２種類のピークホールド信号ＰＨ１，ＰＨ２を比較し、その比較出力すなわち２種類のピークホールド信号の差（ＰＨ２−ＰＨ１）を第２のレベルコンパレータ５４により基準レベルＤＦＣＴＬＶＬと比較する。上記第２のレベルコンパレータ５４は、上記２種類のピークホールド信号の差（ＰＨ２−ＰＨ１）が基準レベルＤＦＣＴＬＶＬ以上あれば、そこに傷があるとみなし、図４の（Ｃ）に示すように、この区間に欠陥検出パルスＤＦＣＴを出力する。
【００５６】
すなわち、この欠陥検出回路５０は、再生ＲＦ信号のレベルが低下するようなディスク表面の傷などの欠陥領域１Ａを検出して、欠陥検出パルスＤＦＣＴを出力する。
【００５７】
このようにして検出された欠陥検出パルスＤＦＣＴをサーボブロックに渡すことにより、サーボループを瞬間的にＯＦＦにすることができる。
【００５８】
これに対し、図３に示すように、光ディスク１に明欠陥領域１Ｂがあった場合、その部分の反射率が他の領域と比べて２〜３倍高いために、明欠陥領域１Ｂを再生すると、図５の（Ａ）に破線で示すように、再生ＲＦ信号に短い時間（数百マイクロ秒から数ミリ秒）、レベルが突出して大きい明欠陥信号が現れる。
【００５９】
このように明欠陥部分を再生すると、再生ＲＦ信号に突出したレベルの高い明欠陥信号が現れるが、この欠陥検出回路５０では、再生ＲＦ信号のラインにクリップ回路５５を備えることで、図５の（Ａ）に実線で示すように、再生ＲＦ信号のピークレベルをある電位以上でないようにすることができる。
【００６０】
すなわち、各ピークホールド回路５１，５２に入力される再生ＲＦ信号は、クリップ回路５５によりクリップされるので、明欠陥部分でも再生ＲＦ信号がクリップ電位Ｖｃにダイオード５５Ａの順方向電圧Ｖｆを加えた電位（Ｖｃ＋Ｖｆ）を超えることがない。したがって、各ピークホールド回路５１，５２により得られる２種類のピークホールド信号ＰＨ１，ＰＨ２は、短い時間しか上昇しないので、上記２種類のピークホールド信号ＰＨ１，ＰＨ２の差が基準レベルＤＦＴＣＬＶＬ以内なら、図５の（Ｂ）に実線で示すように、欠陥検出パルスＤＦＣＴは立たない。上記２種類のピークホールド信号ＰＨ１，ＰＨ２の差が基準レベルＤＦＣＴＬＶＬを超えるとしても短い時間なので、図５の（Ｂ）に破線で示すように、欠陥検出パルスＤＦＣＴは極めて短い時間しか立たない。
【００６１】
このように、この欠陥検出回路５０は、再生ＲＦ信号のレベルが極めて短時間だけ急激に上昇する明欠陥領域１Ｂを欠陥領域として検出することがなく、欠陥検出パルスＤＦＣＴを立てない。
【００６２】
ここで、クリップ電位Ｖｃすなわちダイオード５５Ａのカソード側の電位は、傷などがない部分の再生ＲＦ信号のピークホールド信号ＰＨ２のレベルとする。ＣＤ−ＲＷディスクを再生しているときの再生ＲＦ信号のピークレベルは、記録された時のレーザーパワーによってレベルが異なるので、ある時間ごとに再生ＲＦ信号のピークレベルをチェックする。再生ＲＦ信号のピークレベルが変動したら、それに応じてクリップ電位も変動するようにする。クリップ電位は、制御部８などの外部Ａ／Ｄ変換から設定するか、ＲＦ増幅部６内で設定する。
【００６３】
例えば、入出力インターフェースとしてＡ／Ｄ変換機能及びＤ／Ａ変換機能を備えるマイクロコンピュータを用いた制御部８によりクリップ電位Ｖｃを与える場合、図６のフローチャートに示す手順に従ってクリップ電位Ｖｃを設定する。
【００６４】
すなわち、制御部８は、ＣＤ−ＲＷメディアの再生を開始すると、まず、再生ＲＦ信号のピークレベルＰＨ２を数十ミリ秒間サンプルしＡ／Ｄ変換する（ステップＳ１）。
【００６５】
次に、上記Ａ／Ｄ変換をしている時間中に欠陥検出パルスＤＦＣＴがＬのままであったであったか否かを判定する（ステップＳ２）。
【００６６】
上記ステップＳ２における判定結果がＮＯすなわち上記Ａ／Ｄ変換をしている時間中に欠陥検出パルスＤＦＣＴがＨになっていたら、上記ステップＳ１に戻って再生ＲＦ信号のピークレベルＰＨ２を再度サンプルし直す。
【００６７】
そして、上記ステップＳ２における判定結果がＹＥＳすなわち上記Ａ／Ｄ変換をしている時間中に欠陥検出パルスＤＦＣＴがＬのままであった場合には、上記ステップＳ１でサンプルした再生ＲＦ信号のピークレベルＰＨ２の平均値を設定値ＴＯＰとおく（ステップＳ３）。
【００６８】
次に、設定値ＴＯＰをクリップ電位設定用のＤ／Ａ変換部にセットする（ステップＳ４）。
【００６９】
次に、ある時間が経過したか否かを判定する（ステップＳ５）。
【００７０】
上記ステップＳ５における判定結果がＮＯすなわちある時間が経過してない場合には、再生終了であるか否かを判定する（ステップＳ６）。
【００７１】
また、上記ステップＳ５における判定結果がＹＥＳすなわちある時間が経過した場合には、上記ステップＳ１に戻って再生ＲＦ信号のピークレベルＰＨ２を新たにサンプルする。
【００７２】
上記ステップＳ６における判定結果がＮＯすなわち再生終了でない場合には、上記ステップＳ５に戻ってある時間が経過したか否かを再度判定し、上記ステップＳ６における判定結果がＹＥＳすなわち再生終了になるか、あるいは、ある時間を経過するまで上記ステップＳ５，Ｓ６を繰り返し実行する。
【００７３】
そして、上記ステップＳ６における判定結果がＹＥＳすなわち再生終了になるまで、上記ステップＳ５における判定結果がＹＥＳすなわちある時間が経過する毎に、上記ステップＳ１に戻って再生ＲＦ信号のピークレベルＰＨ２を新たにサンプルして、上記ステップＳ１〜Ｓ６を繰り返し実行する。
【００７４】
このように、この光ディスク駆動装置１０における欠陥検出回路５０は、光ディスク１についた通常の傷など反射光が低下する欠陥領域１Ａを検出して欠陥検出パルスＤＦＣＴを出力し、反射率が他の領域と比べて高い微細な明欠陥領域１Ｂでは、その欠陥の部分で欠陥検出パルスＤＦＣＴを出力しない。これにより、明欠陥があってもサーボは素通りするだけで、サーボが暴れたりはしない。
【００７５】
したがって、上記光ディスク駆動装置１０では、光ディスク１の明欠陥をサーボの外乱とすることなく安定したサーボ制御を行うことができ、光ディスク１についた通常の傷などの欠陥を問題とすることなく、光ディスク１に対して情報の記録／再生を行うことができる。
【００７６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、光ディスクについた通常の傷など反射光が低下する欠陥の場合には、その欠陥に応じた欠陥検出パルスを出力し、反射率が他の領域と比べて高い微細な明欠陥の場合には、その欠陥の部分で欠陥検出パルスを出力しないようにすることができる。このため、通常の傷など欠陥の場合にのみサーボループをオフし、明欠陥の場合にはサーボループをオフしないようにすることができる。これにより、明欠陥をサーボの外乱とすることなく安定したサーボ制御を行うことができ、光ディスクについた通常の傷などの欠陥を問題とすることなく、光ディスクに対して情報の記録／再生を行うことができる。
【００７７】
市場に出回っているＣＤ−ＲＷメディアなどの相変化型の光ディスクには明欠陥が存在し得るので、そのようなメディアに対する再生能力を上げることにより、光ディスク駆動装置の信頼性を向上することができる。
【００７８】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用した光ディスク駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図２】上記光ディスク駆動装置のＲＦ増幅部に内蔵された欠陥検出回路の構成を示すブロック図である。
【図３】光ディスクの欠陥領域を示す平面図である。
【図４】光ディスクの表面に傷など欠陥領域がある場合の上記欠陥検出回路の動作を示す波形図である。
【図５】光ディスクの明欠陥領域がある場合の上記欠陥検出回路の動作を示す波形図である。
【図６】上記光ディスク駆動装置の制御部による上記欠陥検出回路のクリップ電位の設定手順を示すフローチャートである。
【図７】従来の光ディスク駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図８】従来より知られている欠陥検出回路の具体的な構成例を示すブロック図である。
【図９】ＣＤ−ＲＷメディアにおける明欠陥と呼ばれる欠陥領域を模式的示す断面図である。
【図１０】光ディスクの明欠陥領域がある場合の従来の欠陥検出回路の動作を示す波形図である。
【符号の説明】
１  光ディスク、１Ａ  欠陥領域、１Ｂ  明欠陥領域、２  光学ヘッド、３  スピンドルモータ、４  スレッドモータ、５  駆動部、６  ＲＦ増幅部、７  信号処理部、８  制御部、１０  光ディスク駆動装置、５０  欠陥検出回路、５１第１のピークホールド回路、５２  第２のピークホールド回路、５３  第１のレベルコンパレータ、５４  第２のレベルコンパレータ、５５  クリップ回路、５５Ａ  ダイオード、６１  加算増幅器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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