(57)【要約】【課題】チャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法及びその装置を提供する。【解決手段】データ保存システムの制御方法において，（ａ）チャンネル毎に各々性能に関連した所定の特性値を測定する段階，（ｂ）前記段階（ａ）で測定されたチャンネル別の各々の特性値に相応して各チャンネルのデータ処理特性を決定するチャンネル別パラメータ値を決定する段階，及び（ｃ）前記段階（ｂ）で決定されたチャンネル別パラメータを当該チャンネルデータ処理プロセスに適用して，ディフェクトスキャン処理を実行する段階を含む。【選択図】図１
2004310982.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ保存システムの制御方法において，
（ａ）チャンネル毎に各々性能に関連した所定の特性値を測定する段階と，
（ｂ）前記段階（ａ）で測定されたチャンネル毎に各々の特性値に相応して各チャンネルのデータ処理特性を決定するチャンネル別パラメータ値を決定する段階と，
（ｃ）前記段階（ｂ）で決定されたチャンネル別パラメータを当該チャンネルデータ処理プロセスに適用して，ディフェクトスキャン処理を実行する段階と，を含む，
ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項２】
前記所定の特性値は，ＢＥＲ値を含む，ことを特徴とする請求項１に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項３】
前記パラメータは，ＥＣＣ長を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項４】
前記パラメータは，記録電流の値を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項５】
前記パラメータは，リードバイアス電流を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項６】
前記パラメータは，信号処理に使われるフィルターの特性を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項７】
前記パラメータは，各々のチャンネル毎に別々に設定される，ことを特徴とする請求項１に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項８】
データ保存システムの制御方法において，
（ａ）所定の基準ＥＣＣ長を適用して各チャンネル毎に所定領域にテストデータを記録する段階と，
（ｂ）各チャンネル毎に各前記テストデータが記録された領域をリードして，チャンネル毎にＢＥＲ値を測定する段階と，
（ｃ）前記段階（ｂ）で測定された各チャンネル別ＢＥＲ値と基準ＢＥＲ値とを比較する段階と，
（ｄ）前記段階（ｃ）の比較結果によってＥＣＣ長の値を決定する段階と，
（ｅ）前記段階（ｄ）で各チャンネル毎に各々決定されたＥＣＣ長の値を適用してディフェクトスキャン処理を実行する段階と，を含む，ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項９】
前記基準ＢＥＲ値は，エラー訂正コードの長さ変更によって決定される，ことを特徴とする請求項８に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項１０】
データ保存システム制御装置において，
データ保存システムの性能に関連した所定の特性値に対応する所定のパラメータ値が設定されたテーブルを保存するメモリと，
各チャンネル毎に性能に関連した所定の特性値を測定し，各チャンネル毎に測定された特性値に対応するパラメータ値を前記メモリに保存されたテーブルからリードし，各チャンネル毎にリードされたパラメータ値を当該チャンネルデータ処理プロセスに適用して，ディフェクトスキャン処理を実行するように制御するコントローラとを含む，ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【請求項１１】
前記所定の特性値は，ＢＥＲ値を含む，ことを特徴とする請求項１０に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【請求項１２】
前記所定のパラメータは，ＥＣＣ長を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１０に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【請求項１３】
前記所定のパラメータは，記録電流の値を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１０に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【請求項１４】
前記所定のパラメータは，リードバイアス電流を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１０に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【請求項１５】
前記所定のパラメータは，信号処理に使われるフィルターの特性を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１０に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【請求項１６】
データ保存システムの制御方法において，
（ａ）第１チャンネルに対する第１特性値を得るために第１チャンネル特性を測定する段階と，
（ｂ）第２チャンネルに対する第２特性値を得るために第２チャンネル特性を測定する段階と，
（ｃ）データ保存システムの前記第１及び第２チャンネル各々の性能に関連した所定のチャンネル値に相応するパラメータが設定されたテーブルを利用して前記第１チャンネル値に対応する第１パラメータと前記第２チャンネル値に対応する第２パラメータとを決定する段階と，
（ｄ）前記段階（ｃ）で決定された第１及び第２パラメータを各々第１及び第２チャンネルデータ処理プロセスに適用してディフェクトスキャン処理を実行する段階と，を含む，ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項１７】
前記第１及び第２特性値は，ＢＥＲ値を含む，ことを特徴とする請求項１６に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項１８】
前記第１及び第２パラメータは，ＥＣＣ長を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１６に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項１９】
前記第１及び第２パラメータは，記録電流の値を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１６に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項２０】
前記第１及び第２パラメータは，リードバイアス電流を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１６に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項２１】
前記第１及び第２パラメータは，信号処理に使われるフィルターの特性を決定するパラメータを含む，ことを特徴とする請求項１６に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項２２】
前記段階（ｄ）は，
（ｄ１）ディフェクトスキャンを行うためのリトライ回数を決定する段階と，
（ｄ２）ディフェクトの位置を決定するために各チャンネル毎にテストデータをライトする段階と，
（ｄ３）前記各チャンネル毎にテストデータをリードする段階と，
（ｄ４）エラー訂正コードを利用してテストデータでエラーを検出する段階と，
（ｄ５）前記段階（ｄ４）で検出されたエラーを訂正する段階と，
（ｄ６）前記段階（ｄ５）でのエラー訂正処理が失敗してエラーが発生するかの如否を判断する段階と，を含む，ことを特徴とする請求項１６に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項２３】
データ保存システムの制御方法において，
（ａ）第１チャンネルに相応する第１パラメータと第２チャンネルに対する第１及びパラメータとは相異なる第２パラメータを決定する段階と，
（ｂ）ディフェクトスキャンを行う間，前記第１及び第２チャンネルに対するデータ処理を実行する時に前記第１チャンネルに第１パラメータを，前記第２チャンネルに第２パラメータを適用する段階と，を含む，ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法。
【請求項２４】
複数のチャンネルを有するデータ保存システム制御装置において，
ディスクの性能に関連した所定の特性値に対応する所定のパラメータ値が設定されたテーブルを保存するメモリと，
第１チャンネルの性能に関連した第１特性値及び第２チャンネルの性能に関連した第２特性値を各々測定し，測定された第１及び第２特性値に各々対応する第１及び第２パラメータ値を前記メモリに保存されたテーブルからリードし，リードされた前記第１及び第２パラメータ値を各々第１及び第２チャンネルデータ処理プロセスに適用して，ディフェクトスキャン処理を実行するように制御するコントローラと，を含む，ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【請求項２５】
前記コントローラは，デジタル信号プロセッサ，マイクロプロセッサ，マイクロコントローラのうち何れか一つを含む，ことを特徴とする請求項２４に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【請求項２６】
前記コントローラは，ディスクに対して情報をリード／ライトするためのリード／ライトチャンネル回路に制御信号を供給する，ことを特徴とする請求項２４に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【請求項２７】
前記コントローラは，ディスクのディフェクトスキャン処理を実行し，ヘッドを利用してディスクから／にデータをリード／ライトするように制御する，ことを特徴とする請求項２４に記載のチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，データ保存システムの制御方法及び装置に関し，さらに詳細には，データ保存システムのチャンネル別特性差をディフェクトスキャン処理時に設計パラメータに反映して効果的なディフェクトスキャン処理を実行するためのチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法及びその装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
本発明と関連した先行技術としては，特許文献１及び特許文献２がある。
【０００３】
特許文献１には，磁気ディスク上の欠陥及びヘッドの性能劣化によるデータの喪失を事前に防止し，再生する際にデータ誤り率を向上させるためにデータ情報をＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ Ｃｏｄｅ）の訂正可能な長さに分割し，複数の磁気ディスク及び磁気ヘッドを使用して記録及び再生を処理する技術が開示されている。
【０００４】
特許文献２には，ディフェクトを検出するためにディスク全面をスキャンする検出過程と，検出過程でヘッド／ディスク組合わせのディスク面から検出されたディフェクトの数が各ヘッド／ディスク組合わせに対する設定値より大きい場合，各ヘッド／ディスク組合わせを不良であると判断する過程と，不良ヘッド／ディスク組合わせの数を削除する過程とを介するハードディスクドライブ（以下，ＨＤＤと称する）の製造方法に関する技術が開示されている。
【０００５】
ＨＤＤは，コンピュータの補助記憶装置中の一つであって，磁気ヘッドによってディスクに記録されたデータを再生するか，またはディスクに新しいデータを記録することによってコンピュータシステムに寄与する。このようなＨＤＤは，次第に高容量化，高密度化及び小型化しつつ，ディスクの回転方向の密度であるＢＰＩ（Ｂｉｔ  Ｐｅｒ Ｉｎｃｈ）と厚さ密度であるＴＰＩ（Ｔｒａｃｋｓ Ｐｅｒ Ｉｎｃｈ）とが増大し，これにより，さらに精密で迅速なヘッドの位置制御が要求されている。
【０００６】
一般的に，ＨＤＤは，高容量化の趨勢によって一つ以上のディスクと一つ以上のヘッドとよりなる。即ち，マルチチャンネルディスクあるいはヘッドよりなる。
【０００７】
各ディスク面は，磁性物質でコーティングされているが，磁性層の塗布が均一でない場合，あるいは組立て時に流入された埃のような異質物によって微細なディフェクト（磁化されていないセクター）が存在する。ディフェクトが発生した場合には，磁化が正常的に行われず，情報を記録できないか，または情報を損失する可能性が高くなる。
【０００８】
かかる理由により，ＨＤＤの製造時にディフェクトスキャンという方法を利用してディスク上のディフェクトをスキャンし，ディフェクトが発生したディスクの領域をスリップさせてユーザが使用できないように制御することによって，情報の損失を防止する技術が広く利用されている。
【０００９】
このような従来技術によれば，チャンネル別特性に関係なくＥＣＣ長の設計パラメータを画一的に同一に設定してディフェクトスキャン処理が実行される。
【００１０】
【特許文献１】特開平１３−１７６０１３号公報
【特許文献２】特開平１０−３４０４０１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら，ＨＤＤは，大部分マルチチャンネルであり，各チャンネルはディスク状態，ヘッドを含む各種素子及び組立て状態によって相異なる特性を有する。したがって，上記従来技術によれば，ディフェクトスキャンの処理時にチャンネル特性に関係なく設計パラメータを画一的に同一に設定されるので，同一サイズのディフェクトに対してチャンネル毎に相異なるディフェクトスキャンの処理結果を発生させて品質に影響を与える，という問題があった。
【００１２】
したがって，本発明の目的は，ディフェクトスキャンの処理前に各チャンネル別特性を判定した後，判定された結果によって設計特性因子をチャンネル毎に別々に設定して正確なディフェクトスキャンを実行することが可能な新規かつ改良されたチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法及びその装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するため，本発明の第１の観点においては，は，データ保存システムの制御方法において，（ａ）チャンネル毎に各々性能に関連した所定の特性値を測定する段階，（ｂ）前記段階（ａ）で測定されたチャンネル毎に各々の特性値に相応して各チャンネルのデータ処理特性を決定するチャンネル別パラメータ値を決定する段階，及び（ｃ）前記段階（ｂ）で決定されたチャンネル別パラメータを当該チャンネルデータ処理プロセスに適用して，ディフェクトスキャン処理を実行する段階を含む，ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法が提供される。
【００１４】
上記課題を解決するため，本発明の第２の観点においてはデータ保存システム制御装置において，データ保存システムの性能に関連した所定の特性値に対応する所定のパラメータ値が設定されたテーブルを保存するメモリ及びリード／ライトモードを制御し，各チャンネル毎に性能に関連した所定の特性値を測定し，各チャンネル毎に測定された特性値に対応するパラメータ値を前記メモリに保存されたテーブルからリードし，各チャンネル毎にリードされたパラメータ値を当該チャンネルデータ処理プロセスに適用して，ディフェクトスキャン処理を実行するように制御するコントローラーを含む，ことを特徴とするチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理装置が提供される。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば，データ保存システムで各チャンネル別特性を判定した後，判定された結果によってディフェクトスキャン処理に適合するように設計パラメータをチャンネル毎に別々に決定してディフェクトスキャン処理を実行するので，チャンネル別の特性差によるディフェクト検出のエラーが防止可能であり，正確なディフェクトスキャン処理を実行することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下に添付図面を参照しながら，本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお，本明細書及び図面において，実質的に同一の機能構成を有する構成要素については，同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００１７】
（第１の実施の形態）
まず，図１に基づいて，第１の実施の形態にかかるＨＤＤ１０の構成を説明する。なお，図１は，本実施形態にかかるＨＤＤ１０の構成を示す平面図である。
【００１８】
図１に示すように，ドライブ１０は，スピンドルモータ１４によって回転される少なくとも一つの磁気ディスク１２を含む。ドライブ１０は，ディスク表面１８に隣接位置する変換機（図示せず）も含む。
【００１９】
変換機は，各々のディスク１２の磁界を感知し，磁化させることによって回転するディスク１２から／に情報を再生／記録できる。通常，変換機は各ディスク表面１８に結合されている。たとえ単一の変換機として説明されているが，これはディスク１２を磁化させるための記録用変換機及びディスク１２の磁界を感知するための分離された再生用変換機よりなると理解されなければならない。再生用変換機は，例えば，磁気抵抗（ＭＲ：Ｍａｇｎｅｔｏ−Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）素子よりなる。
【００２０】
かかる変換機は，ヘッド２０に統合することができる。ヘッド２０は，変換機とディスク表面１８間に空気弁を生成させる構造になっている。ヘッド２０は，ヘッドスタックアセンブリ（ＨＳＡ：Ｈｅａｄ
Ｓｔａｃｋ Ａｓｓｅｍｂｌｙ）２２に結合されている。ＨＳＡ２２は，ボイスコイル２６を有するアクチュエータアーム２４に付着されている。ボイスコイル２６は，ボイスコイルモータ（ＶＣＭ：Ｖｏｉｃｅ
Ｃｏｉｌ Ｍｏｔｏｒ）３０を特定するマグネチックアセンブリ２８に隣接して位置している。ボイスコイル２６に供給される電流は，弁アセンブリ３２に対してアクチュエータアーム２４を回転させるトルクを発生させる。アクチュエータアーム２４の回転は，ディスク表面１８を横切って変換機を移動させる。
【００２１】
情報は，通常，ディスク１２の環状トラック内に保存される。各トラック３４は，一般的に複数のセクターを含む。各セクターは，データフィールドと識別フィールドとを含むデータセクターとサーボセクターとからなり，各データセクター間にはインターセクターギャップ（ＩＳＧ：Ｉｎｔｅｒ
Ｓｅｃｔｏｒ Ｇａｐ）領域が存在する。識別フィールドは，セクター及びトラック（シリンダー）を識別するグレーコードを含む。変換機は，他のトラックにある情報を再生または記録するためにディスク表面１８を横切って移動される。
【００２２】
次に，図２に基づいて，本実施形態にかかる電気システム４０の構成について説明する。なお，図２は，本実施形態にかかるＨＤＤ１０を制御する電気システム４０を示すブロック図である。
【００２３】
本実施形態にかかる電気システム４０は，リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャンネル回路４４及びリードプリアンプ及びライトドライバ回路４６によってヘッド２０に結合されたコントローラ４２を含む。コントローラ４２は，例えば，デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ：Ｄｉｇｉｔａｌ
Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ），マイクロプロセッサ，ソフトウェアを利用して制御するマイクロコントローラの何れかを含む。しかし，コントローラ４２は，実際に回路及び機械的な手段よりなることもある。コントローラ４２は，ディスク１２から／に情報を再生／記録するためにＲ／Ｗチャンネル４４に制御信号を供給する。情報は，通常，Ｒ／Ｗチャンネルからホストインタフェース回路４７に伝送される。ホストインタフェース回路４７は，ＰＣ（パーソナルコンピュータ）などのシステムにインタフェースするためにディスクドライブを許すバッファメモリ及び制御回路を含む。
【００２４】
Ｒ／Ｗチャンネル回路４４は，再生モードではヘッド２０からリードされてリードプリアンプ回路４６で増幅されたアナログ信号をホストコンピュータ（図示せず）が判読できるデジタル信号に変換させてホストインタフェース回路４７に出力し，ホストコンピュータから使用者データをホストインタフェース回路４７を通じて受信してディスクに記録できるように記録電流に変換させてライトドライバ回路４６に出力させるように信号処理を実行する。
【００２５】
コントローラ４２は，ボイスコイル２６に駆動電流を供給するＶＣＭ駆動回路４８にも結合されている。コントローラ４２は，ＶＣＭの励起及び変換機の動きを制御するために駆動回路４８に制御信号を供給する。
【００２６】
コントローラ４２は，リード専用メモリ（ＲＯＭ：Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）またはフラッシュメモリ素子５０のような不揮発性メモリ及びランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ：Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）素子５２に結合されている。メモリ素子５０，５２は，ソフトウェアルーチンを実行させるためにコントローラ４２によって使用される命令語及びデータを含む。実際の設計において，メモリの他のタイプがＲＯＭ５０及びＲＡＭ５２の代りに使用されても，必要に応じて，ＲＯＭ５０及びＲＡＭ５２に追加されて使用されても良い。
【００２７】
ソフトウェアルーチンの一つとして，あるトラックから他のトラックに変換機を移動させるシークルーチン及びトラック内で目標セクターを捜し出す追従ルーチンがある。シークルーチンは，変換機を正確なトラックに移動させることを保証するためのサーボ制御ルーチンを含む。例えば，メモリ素子５０はシークルーチン及び追従ルーチンを実行するための加速度，速度及び位置軌跡方程式を含む。
【００２８】
また，メモリ素子５０，５２には，図３または図４に示すように，本実施形態にかかるチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理を実行させるためのプログラム及びデータ保存システムのチャンネル性能を評価する特性値に対応するパラメータ値が設定されたテーブルが保存されている。
【００２９】
ここで，データ保存システムのチャンネル性能を評価する特性値として，本実施形態においては，ＢＥＲ（Ｂｉｔ  ｐｅｒ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）値を利用する。さらに，チャンネル毎にディフェクトスキャン処理時に別々に設定できるパラメータにはＥＣＣ長を決定するパラメータ，記録電流の値を決定するパラメータ，リードバイアス電流を決定するパラメータ，信号処理に使用されるフィルターの特性を決定するパラメータを含むことができる。
【００３０】
このことにより，コントローラ４２は，メモリ素子５０，５２に保存されたプログラム及びパラメータデータ値を利用してリード／ライトモードを制御し，各チャンネル毎に性能に関連した所定の特性値を測定し，各チャンネル毎に測定された特性値に対応するパラメータ値を前記メモリに保存されたテーブルからリードし，各チャンネル毎にリードされたパラメータ値を当該チャンネルデータ処理プロセスに適用して，ディフェクトスキャン処理を実行するように制御する。
【００３１】
次に，図３に基づいて，本実施形態にかかるチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法について説明する。なお，図３は，チャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法を示すフローチャートである。
【００３２】
まず，段階３０１では，ディフェクトスキャン処理を実行する前に各チャンネル別特性を測定する（段階３０１）。例えば，各チャンネル別特性はＢＥＲ値で測定する。
【００３３】
次いで，段階３０２で，各チャンネル毎に測定された特性値に適したパラメータ値をメモリ素子５０，５２に保存されたテーブルを利用して決定する（段階３０２）。ここで，パラメータにはＥＣＣ長を決定するパラメータ，記録電流の値を決定するパラメータ，リードバイアス電流を決定するパラメータ，信号処理に使われるフィルターの特性を決定するパラメータが含まれうる。
【００３４】
このように，チャンネル別特性に適合するようにチャンネル毎にパラメータ値を決定した後に，チャンネル毎に決定されたパラメータ値を適用して，以下のようなディフェクトスキャン処理を実行する。
【００３５】
まず，段階３０３で，ディフェクトスキャン処理に適用されるリトライ回数を決定する（段階３０３）。
【００３６】
次いで，段階３０４で，チャンネル毎にディスクのディフェクト位置を確認するためにテストデータを記録する（段階３０４）。
【００３７】
さらに，段階３０５で，チャンネル毎にディスクに記録されたテストデータをリードする（段階３０５）。
【００３８】
その後，段階３０６で，リードされたデータは，パラメータによって決定されたバイト長のＥＣＣを適用してエラーを検出し，エラーが検出された場合にエラー訂正を実行するが，ＥＣＣエラーが訂正できず最終的にエラーが発生するかの如否を判断する（段階３０６）。当然ながら，エラー判定は，リトライ回数だけ反復してデータリードによるエラー訂正を実行した後に決定する。
【００３９】
段階３０７で，段階３０６でエラーが発生した場合には，ディフェクトリストにエラーが発生したセクターを追加してディフェクトが発生したディスクの領域をスリップさせて使用者が使用できないようにする（段階３０７）。
【００４０】
次に，図４に基づいて，本実施形態にかかるデータ保存システムのチャンネル性能を評価する特性値としてＢＥＲ値を利用し，各チャンネル毎に測定された特性値によって可変させるパラメータとしてＥＣＣ長を決定するパラメータを適用する場合におけるチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法ついて詳細に説明する。なお，図４は，本実施形態にかかるデータ保存システムのチャンネル性能を評価する特性値としてＢＥＲ値を利用し，各チャンネル毎に測定された特性値によって可変させるパラメータとしてＥＣＣ長を決定するパラメータを適用する場合におけるチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法示すフローチャートである。
【００４１】
まず，段階４０１で，基準ＥＣＣ長を適用して各チャンネル毎に特定領域にテストデータのライトモードを実行する（段階４０１）。
【００４２】
次いで，段階４０２で，各チャンネル毎にテストデータが記録された特定領域をリードしてチャンネル毎にＢＥＲを測定する（段階４０２）。
【００４３】
さらに，段階４０３で，測定された各チャンネルのＢＥＲ値と基準ＢＥＲ値（ＢＥＲ(ｔｈ)）とを比較する（段階４０３）。ここで，基準ＢＥＲ値ＢＥＲ(ｔｈ)は，エラー検出能力を一定に維持するためにＥＣＣ長を変更させる必要がある臨界値で実験によって決定できる（例えば，６.５）。
【００４４】
その後，測定されたＢＥＲ値が基準ＢＥＲ値ＢＥＲ（ｔｈ）を超過するチャンネルでは，段階４０４で，ＥＣＣ長をαバイトに決定する（段階４０４）。
【００４５】
一方，測定されたＢＥＲ値が基準ＢＥＲ値ＢＥＲ（ｔｈ）を超過しないチャンネルでは，段階４０５で，ＥＣＣ長をｎ×αバイトに決定する（段階４０５）。例えば，αは１に，ｎは２に決定できる。即ち，測定されたＢＥＲ値が基準ＢＥＲ値ＢＥＲ（ｔｈ）より大きいチャンネルではＥＣＣ長は１バイトに決定されて１バイトエラー訂正を実行し，そうでないチャンネルではＥＣＣ長は２バイトに決定されて２バイトエラー訂正を実行する。
【００４６】
これは，チャンネルの特性が基準ＢＥＲ値ＢＥＲ（ｔｈ）を超過する場合には，ＥＣＣ長を短くして初めてエラー検出能力を高め，チャンネルの特性が基準ＢＥＲ値ＢＥＲ（ｔｈ）を超過しない場合にはＥＣＣ長を長く決定するか短く決定するかに関係なく，高いエラー検出能力を発揮できるのでディフェクトスキャンのドライブの効率性を高めるためにＥＣＣ長を長く決定する。
【００４７】
次いで，段階４０６で，各チャンネル毎に測定されたＢＥＲ値によって各チャンネルのＥＣＣ長を別々に決定した後に，ディフェクトスキャン処理のためのリトライ回数を設定する（段階４０６）。
【００４８】
さらに，段階４０７で，チャンネル毎にディスクのディフェクトが発生するセクターを確認するためにテストデータを記録する（段階４０７）。
【００４９】
その後，段階４０８で，チャンネル毎にディスクに記録されたテストデータをリードする（段階４０８）。
【００５０】
次いで，段階４０９で，リードされたデータは，各チャンネル毎に性能によって決定されたＥＣＣ長によってエラーを検出し，エラーが検出された場合にエラー訂正を実行するが，ＥＣＣエラーが訂正できなくて最終的にエラーが発生するかの如否を判断する（段階４０９）。当然ながら，エラー判定は，リトライ回数だけ反復してデータリードによるエラー訂正を試みた後に，エラー訂正できないセクターが発生するかの如否を判断する。
【００５１】
最後に，段階４１０で，段階４０９でエラーが発生した場合には，エラーが発生したセクターをディフェクトリストに追加してディフェクトが発生したディスクの領域をスリップさせて使用者が使用できないようにする（段階４１０）。
【００５２】
このように，各チャンネル別特性を測定した後に，測定されたチャンネル特性によってディフェクトスキャン処理に使われる設計パラメータ値を別々に決定することによって，エラー検出能力を向上させることができる。特に，本実施形態においては，チャンネル特性はＢＥＲ値で判断し，ディフェクトスキャン処理でチャンネル特性によって可変させる設計パラメータとしてＥＣＣ長を適用した。
【００５３】
次に，本実施形態における効果を理解するために，図５及び図６に基づいて，ＢＥＲ値が６.２であるチャンネルと７.１であるチャンネルとのディフェクト発生波形について説明する。なお，図５は，本実施形態にかかるＢＥＲ値が６.２であるチャンネルのディフェクト発生波形を示す説明図である。図６は，本実施形態にかかるＢＥＲ値が７.１であるチャンネルとのディフェクト発生波形を示す説明図である。
【００５４】
図５のＢＥＲ値が６.２であるチャンネルにＥＣＣ長を１バイトに決定した場合及び２バイトに決定した場合に，各々のエラー検出能力を表１に示す。
【００５５】
【表１】
2004310982.tif 000003
【００５６】
表１に示すように，ＢＥＲ値が６.２に比較的低い場合には，１バイト及び２バイトのＥＣＣ各々で全て１００％のエラー検出能力を有する。
【００５７】
次に，図６のＢＥＲ値が７.１であるチャンネルにＥＣＣ長を１バイトに決定した場合及び２バイトに決定した場合に，各々のエラー検出能力を表２に示す。
【００５８】
【表２】
2004310982.tif 000004
【００５９】
表２に示すように，ＢＥＲ値が７.１に比較的大きい場合には，２バイトのＥＣＣを適用する場合にはエラー検出能力が２４％，１５％に非常に低調でディフェクトスキャン時に正確なディフェクトを検出し難くなるが，１バイトのＥＣＣを適用する場合にはエラー検出能力が９７％，９９％に向上してディフェクトスキャン時に正確なディフェクトを検出できる。
【００６０】
したがって，チャンネル毎に測定されたＢＥＲ値によってＥＣＣ長を別々に設定すれば，表１及び表２から理解されるように，ディフェクトスキャン時に正確にディフェクトを検出することができる。
【００６１】
以上，添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが，本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された範疇内において，各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【００６２】
本実施形態においては，方法，装置，システムで実行することができる。ソフトウェアで実行される時，本実施形態の構成手段は必然的に必要な作業を実行するコードセグメントである。プログラムまたはコードセグメントは，プロセッサ判読可能媒体に保存されるか，または伝送媒体または通信網で搬送波と結合されたコンピュータデータ信号によって伝送することができる。プロセッサ判読可能媒体は，情報を保存または伝送できるいかなる媒体も含む。プロセッサ判読可能媒体の例としては，電子回路，半導体メモリ素子，ＲＯＭ，フラッシュメモリ，イレーザブルＲＯＭ（ＥＲＯＭ：Ｅｒａｓａｂｌｅ  ＲＯＭ），フロッピー（登録商標）ディスク，光ディスク，ハードディスク，光繊維媒体，無線周波数（ＲＦ）網がある。コンピュータデータ信号は，電子網チャンネル，光繊維，空気，電子界，ＲＦ網のような伝送媒体上に伝播されるいかなる信号も含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明は，データ保存システムに適用され，特に，本発明がマルチチャンネルを使用するディスクドライブに適用されれば，各チャンネルの個別的な特性に適合にディフェクトスキャン処理を実行できる。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】第１の実施形態にかかるＨＤＤの構成を示す平面図である。
【図２】第１の実施の形態にかかるＨＤＤを制御する電気システムの回路を示すブロック図である。
【図３】第１の実施の形態にかかるチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法を示すフローチャートである。
【図４】第１の実施の形態にかかるチャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法を示すフローチャートである。
【図５】ＢＥＲ６.２であるチャンネルのハードディスク面にあるディフェクトの状態を示す説明図である。
【図６】ＢＥＲ７.１であるチャンネルのハードディスク面にあるディフェクトの状態を示す説明図である。
【符号の説明】
【００６５】
１０    ＨＤＤ
１２    磁気ディスク
１４    スピンドルモータ
１８    ディスク表面
２０    ヘッド
２２    ＨＳＡ
２４    アクチュエータアーム
２６    ボイスコイル
２８    マグネチックアセンブリ
３０    ＶＣＭ
３２    弁アセンブリ
３４    トラック
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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