(57)【要約】【課題】複数種類のＩＣ試験プログラムを同一のＩＣ試験プログラム検査装置とＩＣ試験装置において検査可能とするＩＣ試験プログラムの検査装置を提供する。【解決手段】ＩＣ試験プログラムに依存しない、アプリケーションプログラム５０が参照するためのＩＣ試験プログラムの検査情報６０をＩＣ試験プログラムの検査装置３０内に内蔵し、アプリケーションプログラム５０が、これを参照してＩＣ試験装置４０への制御信号を送付することにより、ＩＣ試験装置４０の制御を行うことにより、ＩＣ試験プログラムの検査を行う。【選択図】図２
2004085345.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＩＣ試験装置の制御を行うためのＩＣ試験プログラムの検査を行うＩＣ試験プログラムの検査装置であって、
前記検査装置内に、複数種類のＩＣ試験プログラムを検査可能なアプリケーションプログラムを具備することを特徴とするＩＣ試験プログラムの検査装置。
【請求項２】
前記検査装置内には、アプリケーションプログラムが管理する共通の検査情報を具備することを特徴とする請求項１に記載のＩＣ試験プログラムの検査装置。
【請求項３】
前記検査情報は、前記アプリケーションプログラムによって参照される特有の情報であり、ＩＣ試験プログラムに依存しない形式でＩＣ試験プログラムの検査装置内に配置され、アプリケーションプログラムによって管理されていることを特徴とする請求項１に記載のＩＣ試験プログラムの検査装置。
【請求項４】
前記アプリケーションプログラムは、入力手段からの制御命令に応答して、制御結果を出力する出力手段を具備することを特徴とする請求項１又は２に記載のＩＣ試験プログラムの検査装置。
【請求項５】
ＩＣ試験装置における制御を行うためのＩＣ試験プログラムの検査方法であって、
アプリケーションプログラムに対して制御命令を送出するステップと、
前記アプリケーションプログラムからＩＣ試験プログラムの検査情報を参照して、その検査情報を取得するステップと、
前記検査情報に対応した制御信号をＩＣ試験装置に送出するステップと、
前記ＩＣ試験装置からの結果信号を受信して解析して、出力手段に送出するステップと、
を含むことを特徴とするＩＣ試験プログラムの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＩＣ（集積回路）等の被測定デバイスの試験を行うＩＣ試験装置において、ＩＣ試験装置を制御するためのＩＣ試験プログラムの検査を行うための検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ＩＣ試験装置では、従来より、当該ＩＣ試験装置の制御を行うためにＩＣ試験プログラムが用いられおり、ＩＣ試験プログラムの検査を行うためにアプリケーションプログラムが用いられている。
ＩＣ試験プログラムは、ＩＣ試験装置毎に異なり、検査を行うためのアプリケーションもＩＣ試験装置毎に異なるものが用いられている。
図１は、アプリケーションプログラムを用いてＩＣ試験プログラムの検査を行うための構成を示したブロック図である。
【０００３】
同図において、入力装置１０はＩＣ試験装置を制御することにより、ＩＣ試験プログラムの検査を行う目的で、アプリケーションプログラムのユーザが制御命令を入力する等してＩＣ試験装置に対する各種の操作を行うための入力機器であって、キーボード、マウス等で実現される。
出力装置２０はＣＲＴ（陰極線管）やプリンタなどの出力機器であって、制御結果を例えばＣＲＴ画面上に表示させる。
この制御結果は、入力装置１０から入力された制御命令に対する応答として得られるものである。
【０００４】
ＩＣ試験装置４０は、ＩＣ等の被測定デバイスに対して、ＤＣ（直流）特性試験、ＡＣ（交流）特性試験、機能試験等の各種試験を行う装置であって、ユーザは被測定デバイスの試験内容をＩＣ試験プログラム内にＩＣ試験装置毎に、固有の言語により記述し、これを用いてＩＣ試験装置での試験を行うものである。
【０００５】
ＩＣ試験プログラムの検査装置３０は、入力装置１０から送られる制御命令に従ってＩＣ試験装置４０を制御することにより、ＩＣ試験プログラムの検査を行うものであり、検査を行うための１つ以上のアプリケーションプログラムを有している。
【０００６】
アプリケーションプログラム５０は、入力装置１０から入力される制御命令等のデータＤ１を解析して、ＩＣ試験装置４０に対して制御信号Ｃ１を送ることにより、ＩＣ試験装置４０の制御を行い、ＩＣ試験装置４０からの結果信号Ｃ２を受信して解析し、解析結果であるデータＤ２を出力装置２０に対して送信する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
以上のように、ＩＣ試験装置においてＩＣの試験を行うためにＩＣ試験プログラムが使用されるが、ＩＣ試験プログラムはＩＣ試験装置毎に異なるため、ＩＣ試験プログラムの検査装置と、これに含まれるアプリケーションプログラムもＩＣ試験装置毎に用意する必要が生じる。
そして、一般的にＩＣ試験装置やＩＣ試験プログラムの検査装置は高価であり、これらを複数用意することはユーザにとって大きな負担となっていた。
【０００８】
本発明の課題
（目的）は、上記の点を解決するものであって、ＩＣ試験装置及びＩＣ試験プログラムの検査装置において、複数種類のＩＣ試験プログラムを検査可能とするためのＩＣ試験プログラムの検査装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、ＩＣ試験装置の制御を行うためのＩＣ試験プログラムの検査を行うＩＣ試験プログラムの検査装置であって、前記検査装置内に、複数種類のＩＣ試験プログラムを検査可能なアプリケーションプログラムを具備する構成とする。（請求項１）
【００１０】
また、前記検査装置内には、アプリケーションプログラムが管理する共通の検査情報を具備する構成とする。（請求項２）
また、前記検査情報は、前記アプリケーションプログラムによって参照される特有の情報であり、ＩＣ試験プログラムに依存しない形式でＩＣ試験プログラムの検査装置内に配置され、アプリケーションプログラムによって管理される構成とする。（請求項３）
また、前記アプリケーションプログラムは、入力手段からの制御命令に応答して、制御結果を出力する出力手段を具備する構成とする。（請求項４）
【００１１】
ＩＣ試験装置における制御を行うためのＩＣ試験プログラムの検査方法であって、アプリケーションプログラムに対して制御命令を送出するステップと、前記アプリケーションプログラムからＩＣ試験プログラムの検査情報を参照して、その検査情報を取得するステップと、前記検査情報に対応した制御信号をＩＣ試験装置に送出するステップと、前記ＩＣ試験装置からの結果信号を受信して解析して、出力手段に送出するステップとでＩＣ試験プログラムの検査を実行する。（請求項５）
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
図２は、本発明の実施形態によるＩＣ試験プログラムを検査を行うための構成を示すブロック図である。
同図において、入力装置１０はＩＣ試験装置を制御することにより、ＩＣ試験プログラムの検査を行う目的で、アプリケーションプログラムのユーザが制御命令を入力する等してＩＣ試験装置に対する各種の操作を行うための入力機器であって、キーボード、マウス等で実現される。
出力装置２０はＣＲＴ（陰極線管）やプリンタなどの出力機器であって、制御結果を例えばＣＲＴ画面上に表示させる。
この制御結果は、入力装置１０から入力された制御命令に対する応答として得られるものである。
【００１３】
ＩＣ試験装置４０はＩＣ等の被測定デバイスに対して、ＤＣ（直流）特性試験、ＡＣ（交流）特性試験、機能試験等の各種試験を行う装置であって、ユーザは被測定デバイスの試験内容をＩＣ試験プログラム内にＩＣ試験装置毎に、固有の言語により記述し、これを用いてＩＣ試験装置での試験を行うものである。
【００１４】
ＩＣ試験プログラムの検査装置３０は、入力装置１０から送られる制御命令に従ってＩＣ試験装置４０を制御することにより、ＩＣ試験プログラムの検査を行うものであり、検査を行うための１つ以上のアプリケーションプログラムを有している。
【００１５】
アプリケーションプログラム５０は、入力装置１０から入力される制御命令等のデータＤ１を解析して、ＩＣ試験装置４０に対して制御信号Ｃ１を送ることにより、ＩＣ試験装置４０の制御を行い、ＩＣ試験装置４０からの結果信号Ｃ２を受信して解析し、解析結果であるデータＤ２を出力装置２０に対して送信する。
ここまでは、図１の従来のものと同様であるが、本発明では、新たにＩＣ試験プログラムの検査情報を追加したことが特徴である。
【００１６】
図２に示す本発明のＩＣ試験プログラムの検査装置では図１に示したＩＣ試験プログラムの検査装置に対して、ＩＣ試験プログラムの検査情報６０を内蔵している。
これは、アプリケーションプログラムがＩＣ試験装置４０に制御信号Ｃ１を送るための情報であり、アプリケーションプログラム５０はＩＣ試験プログラムの検査情報６０の内容を参照（Ｅ１）し、その結果を取得Ｅ２することにより、ＩＣ試験装置に送る制御信号Ｃ１を判断し、制御信号Ｃ１を送付する。
この点以外では、図１により示した従来の機能と同等の機能を具備する。
【００１７】
ＩＣ試験プログラムの検査情報６０は、アプリケーションプログラム５０が参照する（Ｅ２）特有の情報であり、ＩＣ試験プログラムに依存しない形式でＩＣ試験プログラムの検査装置内３０に配置され、アプリケーションプログラム５０によって管理されている。
【００１８】
上述した説明では、ＩＣ試験プログラムの検査情報６０はアプリケーションプログラム５０が管理を行うが、ＩＣ試験プログラムの検査情報６０を管理する専用のプログラムをＩＣ試験プログラムの検査装置３０に配置し、アプリケーションプログラム５０と専用のプログラムが通信を行う形態を採り、アプリケーションプログラム５０がＩＣ試験プログラムの検査情報６０の管理を直接行わない形態を採ってもよい。
【００１９】
次に図３のフローチャートを用いて、ＩＣ試験装置における制御を行うためのＩＣ試験プログラムの検査方法の手順の説明をする。
・先ず、アプリケーションプログラムに対して制御命令を送出する。（ステップＳ１）
・次にアプリケーションプログラムからＩＣ試験プログラムの検査情報を参照して、その検査情報を取得する。（ステップＳ２）
・そして、検査情報に対応した制御信号をＩＣ試験装置に送出する。（ステップＳ３）
・ＩＣ試験装置からの結果信号を受信して解析して、出力手段に送出する。（ステップＳ４）
とでＩＣ試験プログラムの検査を実行する。
【００２０】
【発明の効果】
本発明の検査装置では、ＩＣ試験装置の制御を行うためのＩＣ試験プログラムの検査を行うＩＣ試験プログラムの検査装置であって、前記検査装置内に、複数種類のＩＣ試験プログラムを検査可能なアプリケーションプログラムを具備する構成としているので、ＩＣ試験プログラム内のアプリケーションプログラムが一旦ＩＣ試験プログラムの検査情報を参照して、ＩＣ試験装置を制御することにより、同一のＩＣ試験プログラムの検査装置とＩＣ試験装置において複数種類のＩＣ試験プログラムの検査を行うことができ、ＩＣ試験プログラムの検査における作業効率を向上させることができる。
【００２１】
また、本発明の検査方法では、ＩＣ試験装置における制御を行うためのＩＣ試験プログラムの検査方法であって、アプリケーションプログラムに対して制御命令を送出するステップと、前記アプリケーションプログラムからＩＣ試験プログラムの検査情報を参照して、その検査情報を取得するステップと、前記検査情報に対応した制御信号をＩＣ試験装置に送出するステップと、前記ＩＣ試験装置からの結果信号を受信して解析して、出力手段に送出するステップとでＩＣ試験プログラムの検査を実行するので、ＩＣ試験プログラムの検査の作業効率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のＩＣ試験プログラムの検査装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明のＩＣ試験プログラムの検査装置の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明のＩＣ試験プログラムの検査の作業手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１０・・・入力装置
２０・・・出力装置
３０・・・ＩＣ試験プログラムの検査装置
４０・・・ＩＣ試験装置
５０・・・アプリケーションプログラム
６０・・・ＩＣ試験プログラムの検査情報
Ｄ１，Ｄ２・・・データ
Ｃ１・・・制御要求
Ｃ２・・・制御結果通知
Ｅ１・・・検査情報の参照
Ｅ２・・・検査情報の通知
【図１】
2004085345.tif 000003
【図２】
2004085345.tif 000004
【図３】
2004085345.tif 000005