(57)【要約】【課題】工場等において、ある光ディスクに対して不具合が発生したとき、デバッガがなくても制御プログラムの状態を見ることができるようにした光ディスク再生装置を提供する。【解決手段】リモコン２０等を操作してテスト表示指示を行うと、ＣＰＵ１７５は表示装置２１へのテスト表示を可能状態に設定し、次いで、リモコン２０等を操作して表示したいＲＡＭ１７３のアドレスのデータを読み出すために該アドレス情報を指定すると、ＣＰＵ１７５は該アドレス情報に対応するＲＡＭ１７３のアドレスからデータを読み出して出力する。そして、前記読み出され出力されたデータは表示装置２１に表示される。ある光ディスクに対して不具合が発生した場合、前記表示データを見ることにより不具合の原因を調べることができる。【選択図】      図１
2004171639.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録された情報を光学的に読み取る光学系と、前記光ディスクを回転駆動するディスク駆動系と、前記光学系で読み取られた信号を所定処理して映像信号および音声信号を再生して表示装置および音響装置にそれぞれ供給する再生系とを備えた光ディスク再生装置において、前記各系を含む装置全体を制御するための制御プログラムを記憶したフラッシュメモリと、該フラッシュメモリから制御プログラムを読み出し該制御プログラムに従って装置全体を制御するＣＰＵと、該ＣＰＵの処理に必要なデータを一時的に格納するＲＡＭと有した制御部を備え、操作手段からのテスト表示指示があったときに前記表示装置へのテスト表示を可能状態に設定するテスト表示設定手段と、前記テスト表示が可能状態に設定されたあと前記操作手段により指定されたアドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力するＲＡＭデータ出力手段とを、前記ＣＰＵに持たせ、前記ＲＡＭのアドレスから読み出され出力されたデータを前記表示装置に表示させることを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項２】
光ディスクに記録された情報を再生する光ディスク再生装置において、装置全体を制御するための制御プログラムを記憶したフラッシュメモリと、該フラッシュメモリから制御プログラムを読み出し該制御プログラムに従って装置全体を制御するＣＰＵと、該ＣＰＵの処理に必要なデータを一時的に格納するＲＡＭと有し、操作手段により指定されたアドレス情報を入力したとき、該アドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出し、該データを表示装置に表示させるための制御を行う制御部を備えたことを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項３】
前記操作手段により指定されたアドレス情報を入力したとき、該アドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出し、該データを表示装置に表示させるための制御は、前記ＣＰＵにより行うことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク再生装置。
【請求項４】
前記制御部は、操作手段からのテスト表示指示があったときに表示装置へのテスト表示を可能状態に設定するテスト表示設定手段と、前記テスト表示が可能状態に設定されたあと前記操作手段により指定されたアドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力するＲＡＭデータ出力手段とを備えたことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク再生装置。
【請求項５】
前記テスト表示設定手段と前記ＲＡＭデータ出力手段とを前記ＣＰＵに持たせたことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスクに記録された情報を再生する光ディスク再生装置に関し、特に、装置全体を制御する制御部のメモリ内容を表示装置に表示できる機能を備えた光ディスク再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、記録媒体としてＤＶＤ（ｄｉｇｉｔａｌ  ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  ｄｉｓｋ）を用い、そのＤＶＤに記録された映像音声情報を再生する光ディスク再生装置が普及してきている。このような光ディスク再生装置は、従来から知られているように、装置全体を制御するための制御プログラムを記憶した書き換え可能なフラッシュメモリと、該フラッシュメモリから制御プログラムを読み出し該制御プログラムに従って装置全体を制御するＣＰＵと、該ＣＰＵの処理に必要なデータを一時的に格納するＲＡＭと有した制御部を備えており、メディアや機能の変更、あるいは新しいメディアや機能の追加をする必要が生じた場合、前記フラッシュメモリの制御プログラムを書き換えて、それに対処している。
【０００３】
ところで、メーカの工場等でのテスト工程において、光ディスクを光ディスク再生装置にセットして再生する時や、再生中などに不具合が見つかった場合、メーカの技術部等にその不具合が通知され、その技術部等では、当該光ディスク再生装置の不具合に対処するため、その工場等から不具合に関する情報を教えてもらうと共に、不具合が発生したときの光ディスクを送ってもらい、その不具合の原因は制御プログラムによるものであるかを調べるため、当該光ディスクを当該光ディスク再生装置と同機種の光ディスク再生装置（あるいは工場等から送られてきた当該光ディスク再生装置がある場合は当該光ディスク再生装置）にセットして、その光ディスク再生装置を再生動作させ、デバッガにより当該制御プログラムの動作状態を確認している。
【０００４】
なお、ユーザ側において、光ディスクを光ディスク再生装置にセットして再生する時や再生中などに不具合が見つかり、メーカの技術部等にその不具合が通知された場合、技術部等では、当該光ディスク再生装置の不具合に対処するため、ユーザから不具合に関する情報を教えてもらうと共に、不具合が発生したときの光ディスクを送ってもらい、その不具合の原因は制御プログラムによるものであるかを調べるため、当該光ディスクを当該光ディスク再生装置と同機種の光ディスク再生装置（あるいはユーザから送られてきた当該光ディスク再生装置がある場合は、当該光ディスク再生装置）にセットして、その光ディスク再生装置を再生動作させ、デバッガにより当該制御プログラムの動作状態を確認している。
【０００５】
【特許文献１】
特開２００１−２９７５１６号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、メーカの工場等において、ある光ディスクに対して光ディスク装置に不具合が発生した場合、その不具合の原因は制御プログラムによるものであるかを調べるため、メーカの技術部等では、その不具合が発生したときの光ディスクを工場等から送ってもらって用意し、その光ディスクを同機種の光ディスク再生装置にセットして、この光ディスク再生装置を通常の再生動作させ、デバッガを用いて制御プログラムの動作状態を確認しなければならないので、不具合に対する処置に多くの時間と手間がかかることになる。
【０００７】
なお、特許文献１に記載のディスク再生装置は、ディスク（光ディスク）から読み取ったデータに含まれる各種ディスク情報を信号処理手段から取得し、この取得したディスク情報に基づいてディスクの状態を表示手段に表示するようにしているので、ディスクの傷や汚れをユーザに知らせることができるが、あるディスクに対して不具合が発生した場合、その不具合の原因は制御プログラムによるものであるかを調べるには、メーカの技術部等では、その不具合が発生したときの光ディスクをユーザから送ってもらって用意し、デバッガを用いて制御プログラムの動作状態を確認しなければならないので、不具合に対する処置に多くの時間と手間がかかることになる。
【０００８】
本発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、工場等においてある光ディスクに対して不具合が発生したとき、デバッガがなくても制御プログラムの状態を見ることができるようにした光ディスク再生装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために請求項１の発明は、光ディスクに記録された情報を光学的に読み取る光学系と、前記光ディスクを回転駆動するディスク駆動系と、前記光学系で読み取られた信号を所定処理して映像信号および音声信号を再生して表示装置および音響装置にそれぞれ供給する再生系とを備えた光ディスク再生装置において、前記各系を含む装置全体を制御するための制御プログラムを記憶したフラッシュメモリと、該フラッシュメモリから制御プログラムを読み出し該制御プログラムに従って装置全体を制御するＣＰＵと、該ＣＰＵの処理に必要なデータを一時的に格納するＲＡＭと有した制御部を備え、操作手段からのテスト表示指示があったときに前記表示装置へのテスト表示を可能状態に設定するテスト表示設定手段と、前記テスト表示が可能状態に設定されたあと前記操作手段により指定されたアドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力するＲＡＭデータ出力手段とを、前記ＣＰＵに持たせ、前記ＲＡＭのアドレスから読み出され出力されたデータを前記表示装置に表示させることを特徴とする光ディスク再生装置を提供する。
【００１０】
この構成の光ディスク再生装置において、操作手段を操作してテスト表示指示を行うと、ＣＰＵは表示装置へのテスト表示を可能状態に設定し、次いで、前記操作手段を操作して表示したいＲＡＭのアドレスのデータを読み出すために該アドレス情報を指定すると、ＣＰＵは該アドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力する。このようにして、前記ＲＡＭの指定アドレスから読み出され出力されたデータは、前記表示装置に表示される。
【００１１】
したがって、この構成の光ディスク再生装置によれば、工場等において、ある光ディスクに対して不具合が発生した場合、その不具合の原因は制御プログラムによるものであるかを調べるため、前記ＲＡＭの指定アドレスのデータを前記表示装置に表示させることができるので、デバッガを用いずに不具合の原因を調べることができ、技術部等では不具合に対する処置が効率良く行える。
【００１２】
請求項２の発明は、光ディスクに記録された情報を再生する光ディスク再生装置において、装置全体を制御するための制御プログラムを記憶したフラッシュメモリと、該フラッシュメモリから制御プログラムを読み出し該制御プログラムに従って装置全体を制御するＣＰＵと、該ＣＰＵの処理に必要なデータを一時的に格納するＲＡＭと有し、操作手段により指定されたアドレス情報を入力したとき該アドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出し、該データを表示装置に表示させるための制御を行う制御部を備えたことを特徴とする光ディスク再生装置を提供する。
【００１３】
この構成の光ディスク再生装置において、操作手段を操作して表示したいＲＡＭのアドレスのデータを読み出すために該アドレス情報を指定すると、制御部は該アドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力する。このようにして、前記ＲＡＭの指定アドレスから読み出され出力されたデータは、前記表示装置に表示される。
【００１４】
したがって、この構成の光ディスク再生装置によれば、工場等において、ある光ディスクに対して不具合が発生した場合、その不具合の原因は制御プログラムによるものであるかを調べるため、前記ＲＡＭの指定アドレスのデータを前記表示装置に表示させることができるので、デバッガを用いずに不具合の原因を調べることができ、技術部等では不具合に対する処置が効率良く行える。
【００１５】
請求項３の発明では、前記操作手段により指定されたアドレス情報を入力したとき、該アドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出し、該データを表示装置に表示させるための制御は、前記ＣＰＵにより行うので、この制御のための回路を追加することなく実現できる。
【００１６】
請求項４の発明では、前記制御部は、操作手段からのテスト表示指示があったときに表示装置へのテスト表示を可能状態に設定するテスト表示設定手段と、前記テスト表示が可能状態に設定されたあと前記操作手段により指定されたアドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力するＲＡＭデータ出力手段とを備えているので、前記操作手段を操作してテスト表示指示を行うと表示装置へのテスト表示を可能状態に設定することができ、次いで、前記操作手段を操作して表示したいＲＡＭのアドレスのデータを読み出すために該アドレス情報を指定すると、該アドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出し出力することができる。このようにして、前記ＲＡＭの指定アドレスから読み出されたデータは、前記制御部から出力され、前記表示装置に表示させることができる。
【００１７】
請求項５の発明では、前記テスト表示設定手段と前記ＲＡＭデータ出力手段とを前記ＣＰＵに持たせたので、操作手段からのテスト表示指示があったときに表示装置へのテスト表示を可能状態に設定する制御と、前記テスト表示が可能状態に設定されたあと前記操作手段により指定されたアドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力する制御とを、回路を追加することなく実現できる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。図１は本発明の一実施形態に係る光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。この光ディスク再生装置は、光ディスクに記録された情報を光学的に読み取る光学系と、前記光ディスクを回転駆動するディスク駆動系と、前記光学系で読み取られた信号を所定処理して映像信号および音声信号を再生して表示装置および音響装置にそれぞれ供給する再生系と、前記各系を含む装置全体を制御する制御部を備えている。
【００１９】
詳しくは、この光ディスク再生装置は、記録媒体としての光ディスク１に記録された情報を再生するためのレーザ光を出射すると共に、光ディスク１からの反射光を受光する光ピックアップ３と、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、スピンドルモータ２を駆動するスピンドルドライブ回路１５と、光ピックアップ３のトラッキングサーボを行うアクチュエータ（図示せず）を駆動するトラッキングドライブ回路１３と、光ピックアップ３のフォーカスサーボを行うアクチュエータ（図示せず）を駆動するフォーカスドライブ回路１２と、光ピックアップ３を光ディスク１の半径方向に移動させるためのスレッド４と、スレッド４を駆動するスレッドドライブ回路１４とを備えている。
【００２０】
また、この光ディスク再生装置は、光ディスク１の再生時に光ピックアップ３からの再生信号を入力して該再生信号よりＲＦ（ｒａｄｉｏ  ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号を作成して増幅するＲＦアンプ５と、ＲＦアンプ５からのＲＦ信号を入力してデータと同期信号を分離するデータ／同期信号分離回路６と、前記分離された同期信号を入力して該同期信号と予め定めた基準信号との位相差に応じた電圧を作成し該電圧をスピンドルモータ２へのモータ制御信号として出力するＶＣＯ（ｖｏｌｔａｇｅ  ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ  ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ）を含むＰＬＬ（ｐｈａｓｅ  ｌｏｃｋｅｄ  ｌｏｏｐ）１０と、前記分離されたデータを入力してデコード化することによりエラーチェックを行い、データに誤りがある場合はエラー訂正を行って正しいデータとし、この正しいデータをデコード化して映像データと音声データとして出力するデコード回路７と、デコード回路７からの映像データと音声データを入力してデジタル／アナログ変換しアナログの映像信号と音声信号を出力するＤ／Ａ変換回路１６とを備えている。
【００２１】
このＤ／Ａ変換回路１６からの映像信号は表示装置２１に供給され、音声信号は音響装置２２に供給される。なお、表示装置２１と音響装置２２は、例えば、テレビジョン受信機のように表示装置と音響装置が内蔵され、一体化したものでも良い。
【００２２】
更に、この光ディスク再生装置は、光ピックアップ３からの再生信号に含まれるトラッキングエラー信号を検出するトラッキングエラー検出回路８と、光ピックアップ３からの再生信号に含まれるフォーカスエラー信号を検出するフォーカスエラー検出回路１１と、トラッキングエラー検出回路８からのトラッキングエラー信号に基づいてトラッククロスを検出してトラックパルスを出力するトラッククロス検出回路９とを備えている。
【００２３】
更に、この光ディスク再生装置は、装置全体を制御する制御部１７が備えられている。制御部１７は、装置全体を制御するための制御プログラムを記憶したフラッシュメモリ１７２と、該フラッシュメモリ１７２から制御プログラムを読み出し該制御プログラムに従って装置全体を制御するＣＰＵ１７５と、該ＣＰＵ１７５の処理に必要なデータを一時的に格納するＲＡＭ１７３と、入力信号を受け付けＣＰＵ１７５に入力する入力ポート１７１と、ＣＰＵ１７５からの信号を出力する出力ポート１７４とを備えている。なお、入力ポート１７１と出力ポート１７４は別々に設けたが、入力ポートと出力ポートが一体化された入出力ポートを設けても良い。
【００２４】
制御部１７には、データ／同期信号分離回路６、トラッキングエラー検出回路８、トラッククロス検出回路９、フォーカスエラー検出回路１１、フォーカスドライブ回路１２、トラッキングドライブ回路１３、スレッドドライブ回路１４、スピンドルドライブ回路１５、ＰＬＬ１０、表示処理回路１８、および操作部１９が接続されている。その操作部１９は、複数のキーを有しており、キーを操作すると、操作したキーに対応する電気信号を出力し、また、リモコン２０からのキー操作による光信号を受信したとき、この光信号を電気信号に変換し、この電気信号を出力するように構成されている。
【００２５】
制御部１７に備えられているＣＰＵ１７５は、本実施形態の特徴として、操作部１９またはリモコン２０からのテスト表示指示があったときに表示装置２１へのテスト表示を可能状態に設定するテスト表示設定手段と、前記テスト表示が可能状態に設定されたあと操作部１９またはリモコン２０により指定されたアドレス情報に対応するＲＡＭ１７３のアドレスからデータを読み出して出力するＲＡＭデータ出力手段とを備えている。
【００２６】
図２は本発明の一実施形態に係る光ディスク再生装置におけるＲＡＭデータ表示処理を説明するためのフローチャートである。以下、図１および図２を参照して、この光ディスク再生装置におけるＲＡＭデータ表示処理について説明する。
【００２７】
例えば、メーカの工場等でのテスト工程において、光ディスクを光ディスク再生装置にセットして再生する時や、再生中などに不具合が見つかった場合、不具合が発生したときの光ディスクを光ディスク再生装置にセットして、この光ディスク再生装置の通常の再生動作を開始させる（ステップＳ１）。  これにより、光ディスクの情報が光ディスク再生装置により再生され、映像が表示装置２１に表示され、音声が音響装置２２から出力される。
【００２８】
ここで、当該光ディスクの情報を再生したときに発生する不具合の原因を調べるため、操作者は光ディスク再生装置の操作部１９またはリモコン２０を操作して、表示装置２１へのテスト表示を可能状態に設定するためのテスト表示指示を行う。このテスト表示指示の信号は、制御部１７において入力ポート１７１を介してＣＰＵ１７５に入力される。これにより、ＣＰＵ１７５はテスト表示の操作があったと判定し（ステップＳ２）、  表示装置２１へのテスト表示を可能状態に設定する（ステップＳ３）。  なお、このテスト表示は、表示装置２１の画面の一部あるいは全領域に表示可能である。このテスト表示を、表示装置２１の画面の一部に表示させた場合は、当該光ディスクの再生による映像状態も見ることができる。
【００２９】
ところで、フラッシュメモリ１７２に予め記憶されている制御プログラムはＣＰＵ１７５により読み出され、これによりＣＰＵ１７５は制御を行うが、この制御に関連して制御プログラムのデータが一時的にＲＡＭ１７３に格納される。したがって、制御プログラムの流れに従って、不具合の原因となる制御プログラムのデータもＲＡＭ１７３に一時的に格納されるので、不具合の原因となるＲＡＭ１７３のアドレスを指定して、このアドレスのデータを調べれば、不具合の原因を解明できる可能性がある。
【００３０】
そこで、操作者は、当該不具合の原因となるデータが格納されるＲＡＭ１７３のアドレスを、例えば技術部等の技術者から教えてもらい、操作部１９またはリモコン２０を操作して、アドレス情報を入力する（ステップＳ４）。  このアドレス情報の信号は、制御部１７において入力ポート１７１を介してＣＰＵ１７５に入力される。これにより、ＣＰＵ１７５は、前記アドレス情報に対応するＲＡＭ１７３のアドレスからデータを読み出し、出力ポート１７４を介して表示処理回路１８に入力する。
【００３１】
表示処理回路１８に入力されたデータは、画面上で数字や文字で表示できるような形式のデータに変換処理され、更にＤ／Ａ変換回路１６によりアナログの映像信号に変換され、この映像信号による映像（制御プログラムの当該不具合に関係するデータ）が表示装置２１に表示される（ステップＳ５）。  そして、この表示装置２１に表示されたデータを見た操作者は、この内容を技術部等の技術者に伝え、ここで、不具合の原因が解明できた場合はＲＡＭアドレスの入力は終了するが（ステップＳ６）、  ここでは未だ不具合の原因が解明できない場合は、ＲＡＭ１７３の不具合の原因となる次のアドレス情報に対する入力処理を行う（ステップＳ４）。  このような処理により、例えば、工場側の操作者は、表示装置２１に表示されたＲＡＭのデータと、このデータの変化状態を技術部側の技術者に知らせることにより、技術者は制御プログラムの不具合箇所に見当をつけることができる。
【００３２】
そして、不具合の原因が解明できれば、本処理は終了する。その後は、不具合の原因が制御プログラムによるものであると分かれば、フラッシュメモリ１７２に記憶されている制御プログラムを書き換えれば、解決することになる。このように制御プログラムを書き換えることによって、制御プログラムはバージョンアップし、メディアや機能の変更、あるいは新しいメディアや機能の追加をする必要が生じた場合に対処することができる。
【００３３】
以上説明した実施形態によれば、工場等において、ある光ディスクに対して不具合が発生した場合、その不具合の原因は制御プログラムによるものであるかを調べるため、ＲＡＭ１７３の指定アドレスのデータを表示装置２１に表示させることができるので、デバッガを用いずに不具合の原因を調べることができ、技術部等では不具合に対する処置が効率良く行える。
【００３４】
【発明の効果】
以上のように請求項１の発明によれば、操作手段からのテスト表示指示があったときに表示装置へのテスト表示を可能状態に設定するテスト表示設定手段と、前記テスト表示が可能状態に設定されたあと前記操作手段により指定されたアドレス情報に対応するＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力するＲＡＭデータ出力手段とを、ＣＰＵに持たせ、前記ＲＡＭのアドレスから読み出され出力されたデータを前記表示装置に表示させるようにしたので、工場等において、ある光ディスクに対して不具合が発生した場合、その不具合の原因は制御プログラムによるものであるかを調べるため、前記ＲＡＭの指定アドレスのデータを前記表示装置に表示させることができ、したがって、デバッガを用いずに不具合の原因を調べることができ、技術部等では不具合に対する処置が効率良く行える。
【００３５】
請求項２の発明によれば、操作手段により指定されたアドレス情報を入力したとき該アドレス情報に対応するＲＡＭのアドレスからデータを読み出し、該データを表示装置に表示させるための制御を行う制御部を備えたので、工場等において、ある光ディスクに対して不具合が発生した場合、その不具合の原因は制御プログラムによるものであるかを調べるため、前記ＲＡＭの指定アドレスのデータを前記表示装置に表示させることができ、したがって、デバッガを用いずに不具合の原因を調べることができ、技術部等では不具合に対する処置が効率良く行える。
【００３６】
請求項３の発明によれば、前記操作手段により指定されたアドレス情報を入力したとき、該アドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出し、該データを表示装置に表示させるための制御は、ＣＰＵにより行うので、この制御のための回路を追加することなく実現できる。
【００３７】
請求項４の発明によれば、前記制御部は、操作手段からのテスト表示指示があったときに表示装置へのテスト表示を可能状態に設定するテスト表示設定手段と、前記テスト表示が可能状態に設定されたあと前記操作手段により指定されたアドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力するＲＡＭデータ出力手段とを備えているので、前記ＲＡＭの指定アドレスから読み出されたデータは、前記制御部から出力され、前記表示装置に表示させることができる。
【００３８】
請求項５の発明によれば、前記テスト表示設定手段と前記ＲＡＭデータ出力手段とを前記ＣＰＵに持たせたので、操作手段からのテスト表示指示があったときに表示装置へのテスト表示を可能状態に設定する制御と、前記テスト表示が可能状態に設定されたあと前記操作手段により指定されたアドレス情報に対応する前記ＲＡＭのアドレスからデータを読み出して出力する制御とを、回路を追加することなく実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る光ディスク再生装置におけるＲＡＭデータ表示処理を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１    光ディスク
２    スピンドルモータ（ディスク駆動系）
３    光ピックアップ（光学系）
５    ＲＦアンプ（再生系）
６    データ／同期信号分離回路（再生系）
７    デコード回路（再生系）
１６    Ｄ／Ａ変換回路（再生系）
１７    制御部
１９    操作部（操作手段）
２０    リモコン（操作手段）
２１    表示装置
２２    音響装置
１７２    フラッシュメモリ
１７３    ＲＡＭ
１７５    ＣＰＵ（テスト表示設定手段、ＲＡＭデータ出力手段）
【図１】
2004171639.tif 000003
【図２】
2004171639.tif 000004