(57)【要約】【課題】ＣＲＴパネル内面の蛍光体形成位置を３次元的に測定する。【解決手段】ブラックストライプが形成されたＣＲＴパネル８の内面に向けて投光器２ａ，２ｂからスリット光が投射される。その反射光はＣＣＤカメラ３により撮像される。測定ヘッド１は投光器２ａ，２ｂ及びＣＣＤカメラ３をこれらの光軸が所定の角度をなすようにして保持しているので、ＣＣＤカメラ３の撮像画像より、蛍光体形成位置を３次元的に測定できる。測定ヘッド１を移動機構５により移動させることにより、ＣＲＴパネル８の内面の蛍光体形成位置の３次元座標値を測定することができる。【選択図】  図１
2004247172.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ブラックストライプが形成されたＣＲＴパネルの内面にスリット光を照射する投光器と、
前記ＣＲＴパネルに照射されたスリット光を撮像するカメラと、
前記投光器の光軸と前記カメラの光軸とが所定の角度をなすように前記投光器及び前記カメラを保持する測定ヘッドと、
前記測定ヘッドを前記ＣＲＴパネルに対して相対的に移動させる移動機構と、
前記測定ヘッドの前記ＣＲＴパネルに対する相対的位置を検出する位置検出手段と、
前記カメラによる撮像画像及び前記位置検出手段による前記測定ヘッドの位置信号を演算処理する演算装置とを備え、
前記演算装置は、前記撮像画像及び前記位置信号より前記ＣＲＴパネル内面の蛍光体を形成すべき位置の３次元座標値を演算することを特徴とするＣＲＴパネルの蛍光体形成位置の測定装置。
【請求項２】
ブラックストライプが形成されたＣＲＴパネルの内面にスリット光を照射する投光器と、前記ＣＲＴパネルの内面に向けられたカメラとが、前記投光器及び前記カメラの各光軸が互いに所定の角度をなすように保持された測定ヘッドを用い、前記スリット光を前記ＣＲＴパネルの内面に照射させ、その反射光を前記カメラで撮像する撮像工程と、
前記測定ヘッドを前記ＣＲＴパネルに対して相対的に移動させて前記撮像工程を繰り返す繰り返し工程と、
前記カメラによる撮像画像と前記測定ヘッドの前記ＣＲＴパネルに対する相対的位置情報とを演算処理して、前記ＣＲＴパネルの内面の蛍光体を形成すべき位置の３次元座標値を演算する演算工程と
を含むことを特徴とするＣＲＴパネルの蛍光体形成位置の測定方法。
【請求項３】
ＣＲＴパネルの内面にブラックストライプを形成する工程と、
前記ブラックストライプ間の位置を測定する工程と、
前記測定された位置情報を用いて前記ブラックストライプ間に蛍光体を塗布する工程とを含む陰極線管の製造方法であって、
前記ブラックストライプ間の位置を測定する工程は、
前記ブラックストライプが形成されたＣＲＴパネルの内面にスリット光を照射する投光器と、前記ＣＲＴパネルの内面に向けられたカメラとが、前記投光器及び前記カメラの各光軸が互いに所定の角度をなすように保持された測定ヘッドを用い、前記スリット光を前記ＣＲＴパネルの内面に照射させ、その反射光を前記カメラで撮像する撮像工程と、
前記測定ヘッドを前記ＣＲＴパネルに対して相対的に移動させて前記撮像工程を繰り返す繰り返し工程と、
前記カメラによる撮像画像と前記測定ヘッドの前記ＣＲＴパネルに対する相対的位置情報とを演算処理して、前記ブラックストライプ間の位置の３次元座標値を演算する演算工程と
を含むことを特徴とする陰極線管の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ブラックストライプ形成済みのＣＲＴパネルに対してディスペンサを用いて蛍光体を塗布形成するべき位置情報を取得する為の測定装置及び測定方法に関するものである。また、本発明は、陰極線管の製造方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＲＴパネルの蛍光面の形成方法として、ＣＲＴパネルの内面に多数のブラックストライプを形成し、次いで、ブラックストライプ間にＲ（赤），Ｇ（緑），Ｂ（青）の各蛍光体を、ディスペンサを用いて塗布する方法が知られている。この方法の場合、蛍光体を形成するべき位置を予め知っておく必要がある。この蛍光体形成位置の測定は、従来は、ＣＣＤカメラを用いた画像処理により行っていた（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平７−２１９１３号公報（段落［００３３］、図２）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述のような測定方法によると、ＣＣＤカメラはＣＲＴパネルの内面を上方から撮像しているために、蛍光体形成位置の位置情報としては、蛍光体が形成される面と略平行な面内での位置情報しか得られず、該面と直交する方向（高さ方向）の位置情報が得られない。従って、ＣＲＴパネルの内面が曲面である場合などではディスペンサのノズル位置とＣＲＴパネル内面との間隔が適切に設定できず、塗布される蛍光体幅が変動し、必要な蛍光体幅が得られずに未形成部分が出来てしまったり、或いは、蛍光体幅が大きくなり過ぎて隣のストライプ部分へはみ出し、混色が生じてしまったりする問題があった。
【０００５】
本発明は、ディスペンサを用いてＣＲＴパネルの内面に蛍光体を塗布形成する際の上記の従来の問題を解決し、蛍光体形成位置を面内方向に加えて高さ方向にも同時に測定することができ、その結果、ディスペンサのノズルとパネル面との間隔を所定の大きさに制御することを可能にする蛍光体形成位置の測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。また、本発明は、ブラックストライプ間に高品位の蛍光体が形成された陰極線管を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明の蛍光体形成位置の測定装置は、ブラックストライプが形成されたＣＲＴパネルの内面にスリット光を照射する投光器と、前記ＣＲＴパネルに照射されたスリット光を撮像するカメラと、前記投光器の光軸と前記カメラの光軸とが所定の角度をなすように前記投光器及び前記カメラを保持する測定ヘッドと、前記測定ヘッドを前記ＣＲＴパネルに対して相対的に移動させる移動機構と、前記測定ヘッドの前記ＣＲＴパネルに対する相対的位置を検出する位置検出手段と、前記カメラによる撮像画像及び前記位置検出手段による前記測定ヘッドの位置信号を演算処理する演算装置とを備え、前記演算装置は、前記撮像画像及び前記位置信号より前記ＣＲＴパネル内面の蛍光体を形成すべき位置の３次元座標値を演算することを特徴とする。
【０００７】
また、本発明の蛍光体形成位置の測定方法は、ブラックストライプが形成されたＣＲＴパネルの内面にスリット光を照射する投光器と、前記ＣＲＴパネルの内面に向けられたカメラとが、前記投光器及び前記カメラの各光軸が互いに所定の角度をなすように保持された測定ヘッドを用い、前記スリット光を前記ＣＲＴパネルの内面に照射させ、その反射光を前記カメラで撮像する撮像工程と、前記測定ヘッドを前記ＣＲＴパネルに対して相対的に移動させて前記撮像工程を繰り返す繰り返し工程と、前記カメラによる撮像画像と前記測定ヘッドの前記ＣＲＴパネルに対する相対的位置情報とを演算処理して、前記ＣＲＴパネルの内面の蛍光体を形成すべき位置の３次元座標値を演算する演算工程とを含むことを特徴とする。
【０００８】
更に、本発明の陰極線管の製造方法は、ＣＲＴパネルの内面にブラックストライプを形成する工程と、前記ブラックストライプ間の位置を測定する工程と、前記測定された位置情報を用いて前記ブラックストライプ間に蛍光体を塗布する工程とを含む陰極線管の製造方法であって、前記ブラックストライプ間の位置を測定する工程は、前記ブラックストライプが形成されたＣＲＴパネルの内面にスリット光を照射する投光器と、前記ＣＲＴパネルの内面に向けられたカメラとが、前記投光器及び前記カメラの各光軸が互いに所定の角度をなすように保持された測定ヘッドを用い、前記スリット光を前記ＣＲＴパネルの内面に照射させ、その反射光を前記カメラで撮像する撮像工程と、前記測定ヘッドを前記ＣＲＴパネルに対して相対的に移動させて前記撮像工程を繰り返す繰り返し工程と、前記カメラによる撮像画像と前記測定ヘッドの前記ＣＲＴパネルに対する相対的位置情報とを演算処理して、前記ブラックストライプ間の位置の３次元座標値を演算する演算工程とを含むことを特徴とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】
本発明では、ブラックストライプが形成されたＣＲＴパネルの内面にスリット光が照射され、このＣＲＴパネルからの反射光がカメラによって撮像される。光の拡散反射率は、ブラックストライプの形成箇所では大きく、ブラックストライプの非形成箇所であるガラス部分では小さい為、ブラックストライプで拡散反射したスリット光のみがカメラで撮像される。従って、撮像画像から反射されたスリット光の位置を測定することにより、ブラックストライプの位置と蛍光体を形成すべき位置の、ＣＲＴパネルの内面と略平行な面内での位置を測定できる。
【００１０】
また、投光器の光軸とカメラの光軸とが所定の角度を有しているので、カメラに対するＣＲＴパネル内面の高さ方向の位置が変化すると、撮像されるスリット光の位置が変化する。従って、このスリット光の位置の変化量を測定することにより、ＣＲＴパネル内面の高さ方向の変化量を知ることができ、その結果、蛍光体を形成すべき位置の高さ方向の位置を測定できる。
【００１１】
移動機構によって、カメラの撮像範囲を変えてこの操作を繰り返し行うことによりＣＲＴパネル内面の蛍光体形成領域の全域に渡って蛍光体形成位置の３次元座標値を測定することができる。
【００１２】
このように、本発明の測定装置及び測定方法によれば、蛍光体形成位置を、ＣＲＴパネルの蛍光体形成面と略平行な面内方向のみならずこれと垂直な方向にも測定することができる。従って、得られた蛍光体形成位置の３次元座標データを用いることにより、ディスペンサを用いたＣＲＴパネルの蛍光面形成工程において、ディスペンサのノズル位置を３次元空間内において最適に制御することが可能となり、高品位の蛍光面を形成することができる。
【００１３】
また、本発明の陰極線管の製造方法によれば、高品位の蛍光面を備えた陰極線管を提供できる。
【００１４】
上記の本発明の測定装置においては、前記投光器及び前記カメラのうちの一方は他方を挟んで一対配置されていることが好ましい。この好ましい構成によれば、ＣＲＴパネルの側壁近傍においても、側壁に遮られることなく蛍光体形成位置を測定することができる。
【００１５】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
【００１６】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係るＣＲＴパネルの蛍光体形成位置の測定装置の概略構成を示す側面図である。図１に示すように、水平面内をＸＹ面とし高さ方向をＺ方向とするＸＹＺ直交座標系を設定する。図１において、１は測定ヘッドで、ＣＣＤカメラ３と、この両側に配置されたレーザースリット光投光器２ａ，２ｂとを備える。光投光器２ａ，２ｂから投射されたスリット光の各光軸とＣＣＤカメラ３の光軸とが角度θをなすように、ＣＣＤカメラ３とレーザースリット光投光器２ａ，２ｂとの相対的位置が保持されて固定されている。４は、レーザースリット光投光器２及びＣＣＤカメラ３を駆動する為の電源部である。５ｘ、５ｙ、５ｚは測定ヘッド１をＸ、Ｙ、Ｚの各方向にそれぞれ任意の位置に移動させる移動機構であり、これらの移動機構５ｘ、５ｙ、５ｚにより３軸直交ロボット５が構成される。６はこの３軸直交ロボット５を制御するロボットコントローラである。７はブラックストライプ形成済のＣＲＴパネル８を固定するパネルステージ、９は３軸直交ロボット５の位置座標及びＣＣＤカメラ３の撮像画像信号を入力して処理する演算処理装置である。
【００１７】
図２は、測定ヘッド１のレーザースリット光投光器２ａ，２ｂ及びＣＣＤカメラ３とＣＲＴパネル８に形成されたブラックストライプ１０及び３軸直交ロボット５の座標軸との位置関係を表す斜視図である。ＣＣＤカメラ３の光軸はＺ軸に平行であり、レーザースリット光投光器２ａ，２ｂの各光軸はいずれもＹＺ面に平行である。レーザースリット光投光器２ａ，２ｂから投射されるスリット光はＹＺ面と直交する面内での拡散光である。ＣＲＴパネル８は、その内面に形成されたブラックストライプ１０がＹ軸と平行となるように配置される。従って、レーザースリット光投光器２ａ，２ｂから照射されたスリット光がＣＲＴパネル８の内面に形成する照明ストライプは、ブラックストライプ１０と略直交する（厳密にはＣＲＴパネル８の内面が曲面である場合には、照明ストライプとブラックストライプ１０とは直交しない）。ＣＣＤカメラ３は、ＣＲＴパネル８の内面に形成されたブラックストライプ１０でのスリット光の反射光を撮像する。
【００１８】
測定は、測定ヘッド１を３軸直交ロボット５により、例えば図３の矢印に示す方向に移動させながら行われる。即ち、測定ヘッド１を、ＣＲＴパネル８のＥ側の端部近傍に配置して、Ｙ軸に沿ってＣＲＴパネル８の一方（Ｎ側）の端から他方（Ｓ側）の端に移動し、次いで測定ヘッド１をＸ軸に沿ってＷ側にわずかに移動させ、測定ヘッド１をＹ軸に沿ってＣＲＴパネル８の他方（Ｓ側）の端から一方（Ｎ側）の端に移動させる。このようにして、ＣＲＴパネル８の蛍光体形成面の全面を走査する。この際、レーザースリット光投光器２ａ，２ｂからの各スリット光のうちの少なくとも一方のＣＲＴパネル８の蛍光体形成面からの反射光が常にＣＣＤカメラ３の視野内に入射するように、測定ヘッド１はＣＲＴパネル８の蛍光体形成面に対してＺ軸方向にも移動される。
【００１９】
図４に示すように、測定ヘッド１の位置がＣＲＴパネル８のＮ側寄りにある時には、レーザースリット光投光器２ｂの投光は中止され、レーザースリット光投光器２ａから投射されたスリット光によりＣＲＴパネル８のブラックストライプ形成面が照射される。
【００２０】
ブラックストライプ部分の拡散反射率は大きく、ブラックストライプが形成されていないガラス部分の拡散反射率は小さい。従って、ＣＣＤカメラ３は、図５に示すように、破線状に延びるスリット光の反射光を撮像する。この撮像画像が演算処理装置９へ入力される。演算処理装置９は、この破線を構成する各線分の両端位置の座標をブラックストライプ位置として算出する。次いで、この破線を構成する隣り合う線分の互いに近い方の端（例えば（ＸＮＰ，ＹＮＰ）と（ＸＮＮ，ＹＮＮ））の中間位置の座標（ｘ，ｙ）（例えば、中間位置ＰＮの座標（（ＸＮＰ＋ＸＮＮ）／２，（ＹＮＰ＋ＹＮＮ）／２））を撮像画像内での蛍光体形成位置の座標値として算出する。このようにして、反射光の破線に沿って蛍光体形成位置・・・，ＰＮ−１，ＰＮ，ＰＮ＋１，・・・の撮像画像内での座標値（ｘ，ｙ）を順に算出する。
【００２１】
このようにして得たＣＣＤカメラ３の撮像画像内の蛍光体形成位置・・・，ＰＮ−１，ＰＮ，ＰＮ＋１，・・・の座標値（ｘ，ｙ）に、ロボットコントローラ６から入力される、その時点における測定ヘッド１の位置座標（Ｘ，Ｙ）が合成されて、ＸＹＺ座標系内における蛍光体形成位置・・・，ＰＮ−１，ＰＮ，ＰＮ＋１，・・・の座標値（Ｘ＋ｘ，Ｙ＋ｙ）が算出される。
【００２２】
測定ヘッド１を図３に示すように移動させながらこれらの操作を繰り返し行うことにより、図６に示すようにブラックストライプ１０間の略格子点状の点・・・，Ｐ＿Ｒｍｎ，Ｐ＿Ｇｍｎ，Ｐ＿Ｂｍｎ，・・・の各座標値を蛍光体形成位置として求めることができる。
【００２３】
測定ヘッド１がＮ側からＳ側に向けて移動してＣＲＴパネル８の中央を通過し、Ｓ側寄りの領域に入ると、レーザースリット光投光器２ａは投光を止め、代わってレーザースリット光投光器２ｂからスリット光が照射され、このスリット光の反射光をＣＣＤカメラ３は撮像し、上記と同様の処理が繰り返される。このように、測定ヘッド１がＮ側寄りの領域にある時は投光器２ａから、Ｓ側寄りの領域にある時には投光器２ｂから、それぞれスリット光が投射される。ＣＣＤカメラ３を挟んで２つのレーザースリット光投光器２ａ，２ｂを設けることにより、投射されたスリット光がＣＲＴパネル８の側壁によって遮られることなく、ＣＲＴパネル８の蛍光体形成面の全面にわたって計測が可能になる。
【００２４】
なお、各蛍光体形成位置（ブラックストライプ１０間の略格子点状の点・・・，Ｐ＿Ｒｍｎ，Ｐ＿Ｇｍｎ，Ｐ＿Ｂｍｎ，・・・）のＺ軸座標値は、ＣＣＤカメラ３によって観察されるスリット光１１のＹ方向位置を計測することにより算出される。即ち、図７に示すように、ＣＣＤカメラ３の光軸に対してレーザースリット光投光器２ａ（２ｂ）の光軸が角度θだけ傾いているので、基準位置０からのスリット光のＹ方向変位ｙｍ−ｙ０を測定する事により、基準位置０からのＺ軸方向変位がｚｍ−ｚ０＝（ｙｍ−ｙ０）／ｔａｎθより求められる。これに、上記ＸＹ面内での座標値の測定と同様に、この時の測定ヘッド１のＺ軸座標値を合成することにより、各蛍光体形成位置のＺ軸座標値が得られる。
【００２５】
以上のように、本実施の形態の測定装置によれば、ブラックストライプ１０の間の蛍光体を形成すべきストライプ状部分内に存在する略格子点状の点・・・，Ｐ＿Ｒｍｎ，Ｐ＿Ｇｍｎ，Ｐ＿Ｂｍｎ，・・・の各ＸＹＺ座標値を求めることができる。従って、得られた各点のＸＹＺ座標値に従って、ディスペンサのノズル位置をＸＹＺの３軸方向に制御しながら移動させることにより、蛍光体形成面の全面にわたって蛍光体ストライプを適正な幅でブラックストライプ１０間に形成することができるので、高品位の蛍光体面の形成が可能になる。
【００２６】
（実施の形態２）
図８は、本発明の実施の形態２に係るＣＲＴパネルの蛍光体形成位置の測定装置の概略構成を示す側面図である。実施の形態１の測定装置では、測定ヘッド１が、２つのレーザースリット光投光器２ａ，２ｂ及び１つのＣＣＤカメラ３によって構成されたが、本実施の形態２の測定装置では、測定ヘッド１が、１つのレーザースリット光投光器２及び２つのＣＣＤカメラ３ａ，３ｂによって構成されている。本実施の形態において、レーザースリット光投光器２を挟むようにＣＣＤカメラ３ａ，３ｂが配置されており、レーザースリット光投光器２の光軸に対してＣＣＤカメラ３ａ，３ｂの各光軸が角度θをなすように、レーザースリット光投光器２とＣＣＤカメラ３ａ，３ｂとの相対的位置が保持されて固定されている。上記以外の構成は、実施の形態１と同様である。
【００２７】
図９は、測定ヘッド１のレーザースリット光投光器２及びＣＣＤカメラ３ａ，３ｂとＣＲＴパネル８に形成されたブラックストライプ１０及び３軸直交ロボット５の座標軸との位置関係を表す斜視図である。レーザースリット光投光器２の光軸はＺ軸に平行であり、ＣＣＤカメラ３ａ，３ｂの各光軸はいずれもＹＺ面に平行である。レーザースリット光投光器２から投射されるスリット光はＹＺ面と直交する面内での拡散光である。ＣＲＴパネル８は、その内面に形成されたブラックストライプ１０がＹ軸と平行となるように配置される。従って、レーザースリット光投光器２から照射されたスリット光がＣＲＴパネル８の内面に形成する照明ストライプは、ブラックストライプ１０と直交する。ＣＣＤカメラ３ａ，３ｂは、ＣＲＴパネル８の内面に形成されたブラックストライプ１０でのスリット光の反射光を撮像する。
【００２８】
測定は、実施の形態１と同様に、測定ヘッド１を３軸直交ロボット５により例えば図３の矢印に示す方向に移動させながら行われる。この際、レーザースリット光投光器２からのスリット光のＣＲＴパネル８の蛍光体形成面からの反射光が常にＣＣＤカメラ３ａ，３ｂの少なくとも一方の視野内に入射するように、測定ヘッド１はＣＲＴパネル８の蛍光体形成面に対してＺ軸方向にも移動される。
【００２９】
測定中、測定ヘッド１が、図１０のようにＹ軸方向においてＮ側寄りの領域にある時はＣＣＤカメラ３ａによる撮像画像が、Ｓ側寄りの領域にある時にはＣＣＤカメラ３ｂによる撮像画像が、それぞれ蛍光体形成位置を求めるために処理される。レーザースリット光投光器２を挟んで２つのＣＣＤカメラ３ａ，３ｂを設けることにより、レーザースリット光投光器２からのスリット光のＣＲＴパネル８面での反射光をＣＲＴパネル８の側壁によって遮られることなく、常に２つのＣＣＤカメラ３ａ，３ｂの少なくとも一方で撮像することができ、ＣＲＴパネル８の蛍光体形成面の全面にわたって計測が可能になる。
【００３０】
ＣＣＤカメラ３ａ（又は３ｂ）は、図１１に示すように、ブラックストライプ１０上に照射されたスリット光の破線状に延びる反射光を撮像する。演算処理装置９は、この撮像画像をもとに実施の形態１の場合と同様の演算処理を行って、蛍光体形成位置・・・，ＰＮ−１，ＰＮ，ＰＮ＋１，・・・の撮像画像内でのｘ座標値を順に算出する。
【００３１】
このようにして得たＣＣＤカメラ３ａ（又は３ｂ）の撮像画像内の蛍光体形成位置・・・，ＰＮ−１，ＰＮ，ＰＮ＋１，・・・のｘ座標値と、ロボットコントローラ６から入力される、その時点における測定ヘッド１の位置座標（Ｘ，Ｙ）とが合成されて、実施の形態１と同様にＸＹＺ座標系内における蛍光体形成位置・・・，ＰＮ−１，ＰＮ，ＰＮ＋１，・・・の座標値（Ｘ＋ｘ，Ｙ）が算出される。
【００３２】
本実施の形態では、レーザースリット光投光器２の光軸がＺ軸と平行であり、且つそのスリット光１１がＸ軸方向に延びるので、蛍光体形成位置・・・，ＰＮ−１，ＰＮ，ＰＮ＋１，・・・のＹ座標値は、図１１に示すように全て同じになるので、実施の形態１の場合に比べて、測定値保存用のメモリを少なくする事ができる。
【００３３】
各蛍光体形成位置のＺ軸座標値は、ＣＣＤカメラ３ａ（又は３ｂ）によって観察されるスリット光１１の撮像画像内でのｙ方向位置を計測することにより算出される。即ち、図１２に示すように、ＣＣＤカメラ３ａ（又は３ｂ）の光軸に対してレーザースリット光投光器２の光軸が角度θだけ傾いているので、基準位置０からのスリット光のｙ方向変位ｙｍ−ｙ０を測定する事により、基準位置０からのＺ軸方向変位がｚｍ−ｚ０＝（ｙｍ−ｙ０）／ｓｉｎθより求められる。これに、上記ＸＹ面内での座標値の測定と同様に、この時の測定ヘッド１のＺ軸座標値を合成することにより、各蛍光体形成位置のＺ軸座標値が得られる。
【００３４】
以上のように、本実施の形態の測定装置によれば、ブラックストライプ１０の間の蛍光体を形成すべきストライプ状部分内に存在する略格子点状の点（蛍光体形成位置）の各ＸＹＺ座標値を求めることができる。従って、得られた各点のＸＹＺ座標値に従って、ディスペンサのノズル位置をＸＹＺの３軸方向に制御しながら移動させることにより、蛍光体形成面の全面にわたって蛍光体ストライプを適正な幅でブラックストライプ１０間に形成することができるので、高品位の蛍光体面の形成が可能になる。
【００３５】
本発明が適用される陰極線管の構成は特に限定はなく、公知のものに適用可能である。また、本発明の陰極線管の製造方法は、蛍光体形成位置の測定を上記の実施の形態１又は２に従って行う点、及びブラックストライプ間に蛍光体を塗布する際に上記の測定によって得られた３次元データを用いる点を除いて、公知の工程を用いて行うことができる。
【００３６】
【発明の効果】
以上のように、本発明の測定装置及び測定方法によれば、蛍光体形成位置を、ＣＲＴパネルの蛍光体形成面と略平行な面内方向のみならずこれと垂直な方向にも測定することができる。従って、得られた蛍光体形成位置の３次元座標データを用いることにより、ディスペンサを用いたＣＲＴパネルの蛍光面形成工程において、ディスペンサのノズル位置を３次元空間内において最適に制御することが可能となり、高品位の蛍光面を形成することができる。
【００３７】
また、本発明の陰極線管の製造方法によれば、高品位の蛍光面を備えた陰極線管を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１に係るＣＲＴパネルの蛍光体形成位置の測定装置の概略構成を示した側面図
【図２】本発明の実施の形態１の測定装置において、投光器及びＣＣＤカメラとブラックストライプの空間内配置を示した斜視図
【図３】本発明の実施の形態１の測定装置において、測定ヘッドの移動方向を一例を示した平面図
【図４】本発明の実施の形態１の測定装置において、スリット光とパネル側壁との干渉を説明するための側面図
【図５】本発明の実施の形態１の測定装置において、ＣＲＴパネル内面に照射されたスリット光を示した部分拡大平面図
【図６】本発明の実施の形態１の測定装置において、蛍光体形成位置の測定箇所を示した図
【図７】本発明の実施の形態１の測定装置において、蛍光体形成位置の高さ方向の位置を測定する原理を示した図
【図８】本発明の実施の形態２に係るＣＲＴパネルの蛍光体形成位置の測定装置の概略構成を示した側面図
【図９】本発明の実施の形態２の測定装置において、投光器及びＣＣＤカメラとブラックストライプの空間内配置を示した斜視図
【図１０】本発明の実施の形態２の測定装置において、スリット光の反射光とパネル側壁との干渉を説明するための側面図
【図１１】本発明の実施の形態２の測定装置において、ＣＲＴパネル内面に照射されたスリット光を示した部分拡大平面図
【図１２】本発明の実施の形態２の測定装置において、蛍光体形成位置の高さ方向の位置を測定する原理を示した図
【符号の説明】
１  測定ヘッド
２，２ａ，２ｂ  レーザースリット光投光器
３，３ａ，３ｂ  ＣＣＤカメラ
４  レーザースリット光投光器及びＣＣＤカメラの駆動電源部
５  ３軸直交ロボット
６  ロボットコントローラ
７  パネルステージ
８  ＣＲＴパネル
９  演算処理装置
１０  ブラックストライプ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2004247172.tif 000007
【図６】
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【図７】
2004247172.tif 000009
【図８】
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【図９】
2004247172.tif 000011
【図１０】
2004247172.tif 000012
【図１１】
2004247172.tif 000013
【図１２】
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