(57)【要約】【課題】放射線検出手段の感度を低下させることなく、検出器の幅よりも詳細な分布を得て、表面汚染密度に換算したときも精度良く求めることができるようにする。【解決手段】放射線検出手段１と、増幅器および、カウンタと計数値を読み出し記憶するための計算機またはマルチチャンネルスケーラなどにより構成される放射線計数手段２と、計数積算手段３と、放射能量および汚染密度換算手段４と、汚染分布表示手段５と、測定対象物の搬送速度と計数時間間隔を設定し制御するための搬送速度および計数時間制御手段６と、測定対象物搬送手段７とを備える。【選択図】  図１
2004233160.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線検出面を有する放射線検出手段と、この放射線検出手段の前記放射線検出面に沿って測定対象物を移動させる搬送手段と、この搬送手段による移動方向における前記放射線検出面の長さを整数で除算した長さ間隔にて放射線を計数および記録する放射線計数手段と、前記移動方向における前記放射線検出面の長さに対応するように放射線の計数を積算する計数積算手段と、積算した計数を放射能量および表面汚染密度に換算する放射能量および汚染密度換算手段と、換算した結果および放射線の分布を表示する汚染分布表示手段とを備えたことを特徴とする汚染検査装置。
【請求項２】
前記測定対象物を静止させた状態で、前記放射線検出手段の前記放射線検出面を前記測定対象物に沿って移動させる搬送手段を有することを特徴とする請求項１記載の汚染検査装置。
【請求項３】
測定領域が重なり合う部分のデータを比較して計数値の大きい方を選択する積算計数比較手段と、選択された前記領域の計数値を記憶する選択計数記憶手段とを有することを特徴とする請求項１記載の汚染検査装置。
【請求項４】
前記測定対象物の移動方向における放射線検出面の長さより短い幅にて放射線の計数を積算する任意幅積算手段と、任意の幅に積算した放射線の計数分布を表示する手段とを有することを特徴とする請求項１記載の汚染検査装置。
【請求項５】
放射線検出面を有する放射線検出手段と、この放射線検出手段の前記放射線検出面に沿って測定対象物を移動させる搬送手段と、この搬送手段による移動方向における前記放射線検出面の長さを整数で除算した長さ間隔にて放射線を計数および記録する放射線計数手段と、前記移動方向における前記放射線検出面の長さに対応するように放射線の計数を積算する計数積算手段と、予め求めておいた前記放射線検出手段の応答関数を記憶しておく応答関数記憶手段と、測定された計数値に応答関数の逆関数をかけることで放射線分布を求める応答関数分布補正手段と、積算した計数を放射能量および表面汚染密度に換算する放射能量および汚染密度換算手段と、換算した結果および放射線の分布を表示する汚染分布表示手段とを備えたことを特徴とする汚染検査装置。
【請求項６】
予め設定された統計精度となる計数値を閾値として記憶する判定閾値記憶手段と、放射線計測によって得られた計数値と前記閾値とを比較する分布精度判定手段と、前記計数値が前記閾値より低い場合には放射線分布を求めることなく一律の換算処理を行い、前記計数値が前記閾値より高い場合には放射線分布を求める分布補正手段とを有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置。
【請求項７】
測定によって得られた放射線分布情報から汚染分布の面積を求める汚染面積算出手段と、測定された放射能の総量を得られた汚染面積で徐算することにより表面汚染密度に換算する表面汚染密度補正および算出手段とを有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置。
【請求項８】
予め設定された放射能量、それに対応する計数値および計数率を閾値として記憶しておく閾値記憶手段と、任意の間隔の放射線計数結果を逐次読み出して積算する逐次積算手段と、逐次積算した結果と前記閾値とを比較して、逐次積算した放射線計数結果が前記閾値を越えた時点で測定を終了させる基準値判定および測定終了手段を有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置。
【請求項９】
予め設定された表面汚染密度を判定レベルとした閾値を記憶しておく閾値記憶手段と、任意の間隔の放射線計数結果を逐次読み出して積算する逐次積算手段と、逐次積算された計数を放射能量に換算する逐次放射能量換算手段と、逐次積算された計数から汚染面積を算出する逐次汚染面積算出手段と、逐次換算された放射能量を逐次算出した汚染面積で除算することにより表面汚染密度に換算する逐次表面汚染密度換算手段と、換算した表面汚染密度と前記閾値とを比較して前記閾値を超えた場合に測定を終了させる基準値判定および測定終了手段とを有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置。
【請求項１０】
往復移動が可能な測定対象物移動手段と、この測定対象物移動手段に対して往路と復路とで異なる任意の速度に設定が可能な搬送速度および計数時間制御手段と、前記往路の設定速度で放射線を計測した結果、検出下限レベル以下であった場合に前記復路で低速測定による判定を行い、前記往路よりも低速の設定速度で前記復路にて測定する手段とを有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、放射能汚染検査装置に係り、特に放射線検出精度の向上を図った放射能汚染検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、放射能汚染検査装置には、検出器前面を測定対象物が通過することにより走査測定を行う手段が用いられており、このような装置として大型物品搬出モニタなどが知られている（例えば特許文献１，２参照）。
【０００３】
これらの装置では、一般的に検出器の幅（移動または走査の方向）分の距離を測定対象物が移動する時間毎に計数して、検出器入射面に対する感度から汚染密度を求めている。なお、感度校正は一般に、１０ｃｍ×１０ｃｍの面線源を測定することにより行われている。
【０００４】
このような走査測定は、検出器の幅分だけ分割された汚染分布情報が得られることから、汚染の概略位置を示すための簡易的な手段として用いられている。また、このような走査測定の一種として、測定対象物が検出器の幅分移動し、停止して測定するというサイクルを繰り返しながら、測定対象物全体を測定することも行われている。
【０００５】
図１１は、従来の汚染検査装置の構成を示している。この図１１に示すように、従来の汚染検査装置は、放射線検出手段１と、検出した放射線の計数を行う放射線計数手段２と、測定対象物を積載して走査させるための測定対象物搬送手段としてのトレー７とを備え、計数手段２では、検出手段１の走査方向における幅分の距離をトレー７が移動する毎に、放射線検出手段１からの信号を計数するようになっている。
【０００６】
汚染検査に際しては、まずトレー７に測定対象物８を載せ、トレー先端から走査を開始し、検出器の幅分の位置まで計数を行う。次にこの位置から計数を再び開始し、トレー７’および測定対象物８’の位置に検出器が来るまで計数を行う。次にトレー７”および測定対象物８”の位置と繰り返しデータを取得する。
【０００７】
以上のように、トレー全体の測定を終えた後、測定対象物の放射能汚染密度を求め、測定が終了する。
【０００８】
【特許文献１】
特開平１１−２１１８３５号公報
【０００９】
【特許文献２】
特開平１１−８４０１２号公報
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の汚染検査装置では、１０ｃｍ×１０ｃｍの面線源で感度校正を行い、実際の汚染の分布に拘らず、１０ｃｍ×１０ｃｍ相当の汚染分布としたときの校正値で算出される。検出器の面積が大きく、汚染分布が均一の場合には、１０ｃｍ×１０ｃｍに汚染が偏在していた場合と比較して、総量のＢｑ値は同じであっても、汚染密度Ｂｑ／ｃｍ２は検出器の入射面積分過大側に評価されてしまう。
【００１１】
このような影響を避けるためには、より小さい面積で汚染の分布を測定する必要があるが、この場合には検出器の幅を狭くしなければならず、幅を狭くすると汚染に対する検出感度が悪くなるという問題があった。
【００１２】
また、１回の測定が終了するまでは、汚染レベルの結果が出ないため、判定レベルに対して測定対象物の汚染レベルが極めて大きく、短時間で計測可能な場合でも、判定レベル付近の感度を得るためには相応の測定時間に設定して測定を行う必要があり、測定終了まで待つ時間が長くなり、それだけ測定時間が多くかかる問題があった。
【００１３】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、放射線検出手段の感度を低下させることなく、検出器の幅よりも詳細な分布を得ることができ、表面汚染密度に換算したときも精度良く求めることができる汚染検査装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、請求項１に係る発明では、放射線検出面を有する放射線検出手段と、この放射線検出手段の前記放射線検出面に沿って測定対象物を移動させる搬送手段と、この搬送手段による移動方向における前記放射線検出面の長さを整数で除算した長さ間隔にて放射線を計数および記録する放射線計数手段と、前記移動方向における前記放射線検出面の長さに対応するように放射線の計数を積算する計数積算手段と、積算した計数を放射能量および表面汚染密度に換算する放射能量および汚染密度換算手段と、換算した結果および放射線の分布を表示する汚染分布表示手段とを備えたことを特徴とする汚染検査装置を提供する。
【００１５】
請求項２に係る発明では、前記測定対象物を静止させた状態で、前記放射線検出手段の前記放射線検出面を前記測定対象物に沿って移動させる搬送手段を有することを特徴とする請求項１記載の汚染検査装置を提供する。
【００１６】
請求項３測定領域が重なり合う部分のデータを比較して計数値の大きい方を選択する積算計数比較手段と、選択された前記領域の計数値を記憶する選択計数記憶手段とを有することを特徴とする請求項１記載の汚染検査装置を提供する。
【００１７】
請求項４に係る発明では、前記測定対象物の移動方向における放射線検出面の長さより短い幅にて放射線の計数を積算する任意幅積算手段と、任意の幅に積算した放射線の計数分布を表示する手段とを有することを特徴とする請求項１記載の汚染検査装置を提供する。
【００１８】
請求項５に係る発明では、放射線検出面を有する放射線検出手段と、この放射線検出手段の前記放射線検出面に沿って測定対象物を移動させる搬送手段と、この搬送手段による移動方向における前記放射線検出面の長さを整数で除算した長さ間隔にて放射線を計数および記録する放射線計数手段と、前記移動方向における前記放射線検出面の長さに対応するように放射線の計数を積算する計数積算手段と、予め求めておいた前記放射線検出手段の応答関数を記憶しておく応答関数記憶手段と、測定された計数値に応答関数の逆関数をかけることで放射線分布を求める応答関数分布補正手段と、積算した計数を放射能量および表面汚染密度に換算する放射能量および汚染密度換算手段と、換算した結果および放射線の分布を表示する汚染分布表示手段とを備えたことを特徴とする汚染検査装置を提供する。
【００１９】
請求項６に係る発明では、予め設定された統計精度となる計数値を閾値として記憶する判定閾値記憶手段と、放射線計測によって得られた計数値と前記閾値とを比較する分布精度判定手段と、前記計数値が前記閾値より低い場合には放射線分布を求めることなく一律の換算処理を行い、前記計数値が前記閾値より高い場合には放射線分布を求める分布補正手段とを有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置を提供する。
【００２０】
請求項７に係る発明では、測定によって得られた放射線分布情報から汚染分布の面積を求める汚染面積算出手段と、測定された放射能の総量を得られた汚染面積で徐算することにより表面汚染密度に換算する表面汚染密度補正および算出手段とを有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置を提供する。
【００２１】
請求項８に係る発明では、予め設定された放射能量、それに対応する計数値および計数率を閾値として記憶しておく閾値記憶手段と、任意の間隔の放射線計数結果を逐次読み出して積算する逐次積算手段と、逐次積算した結果と前記閾値とを比較して、逐次積算した放射線計数結果が前記閾値を越えた時点で測定を終了させる基準値判定および測定終了手段を有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置を提供する。
【００２２】
請求項９に係る発明では、予め設定された表面汚染密度を判定レベルとした閾値を記憶しておく閾値記憶手段と、任意の間隔の放射線計数結果を逐次読み出して積算する逐次積算手段と、逐次積算された計数を放射能量に換算する逐次放射能量換算手段と、逐次積算された計数から汚染面積を算出する逐次汚染面積算出手段と、逐次換算された放射能量を逐次算出した汚染面積で除算することにより表面汚染密度に換算する逐次表面汚染密度換算手段と、換算した表面汚染密度と前記閾値とを比較して前記閾値を超えた場合に測定を終了させる基準値判定および測定終了手段とを有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置を提供する。
【００２３】
請求項１０に係る発明では、往復移動が可能な測定対象物移動手段と、この測定対象物移動手段に対して往路と復路とで異なる任意の速度に設定が可能な搬送速度および計数時間制御手段と、前記往路の設定速度で放射線を計測した結果、検出下限レベル以下であった場合に前記復路で低速測定による判定を行い、前記往路よりも低速の設定速度で前記復路にて測定する手段とを有することを特徴とする請求項１または５記載の汚染検査装置を提供する。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る汚染検査装置の実施形態について、図１〜図１０を参照して説明する。
【００２５】
第１実施形態（図１（Ａ），（Ｂ））
図１（Ａ）は、本発明の第１実施形態を示す構成図であり、図１（Ｂ）は作用説明図である。
【００２６】
図１（Ａ）に示すように、本実施形態では、例えばプラスチックシンチレーション検出器、またはＮａＩ（Ｔｌ）検出器などに代表されるような検出器を用いた放射線検出手段１と、例えば増幅器および、カウンタと計数値を読み出し記憶するための計算機またはマルチチャンネルスケーラなどにより構成される放射線計数手段２と、計数積算手段３と、放射能量および汚染密度換算手段４と、汚染分布表示手段５とを備えている。
【００２７】
また、測定対象物の搬送速度と計数時間間隔を設定し制御するための搬送速度および計数時間制御手段６と、測定対象物搬送手段７とを備えている。そして、測定対象物８が測定対象物搬送手段７により、放射線検出手段１の放射線検出面に沿って移動する構成とされている。なお、放射線検出手段１は、１個以上の任意数の検出器が移動方向と直交する向きに一列に１層または多層構造で並んだ構造のものであれば良く、特に検出機能等についての種類は限定されない。
【００２８】
このような構成において、検査時には、図１（Ｂ）に示すように、搬送速度および計数時間制御手段６により予め定めた速度に設定された測定対象物搬送手段７を用いて測定対象物８を任意の速度で移動させながら、放射線検出手段１で放射線を検出する。このとき、搬送速度および計数時間制御手段６は、設定した速度で、測定対象物が検出器幅の距離を移動する時間を、任意の整数で除算した時間間隔で、放射線計数手段２が放射線検出手段１で検出した放射線信号を計数するように、放射線計数手段２を制御する。
【００２９】
放射線計数手段２では、放射線検出手段１によって検出された信号を、搬送速度および測定時間制御手段６によって設定された測定時間に基づいて計数を行い、順番に計数した値を記録する。そして、放射線計数手段２により計数した値を、計数積算手段３によって読み出し、測定対象物が検出器幅の距離だけ移動する時間になるまで各計数を順次積算し、測定対象物を計数した時間に相当する移動距離で分割した分割数に対応する分布データを得る。
【００３０】
次に、計数積算手段３で得られた分布データを、放射能量および汚染密度換算手段４によって、測定対象物の放射能量と表面汚染密度に換算し、汚染分布表示手段５によって、換算結果と汚染分布の情報を表示する。
【００３１】
ここで一例として、放射線検出手段１の幅の３倍の長さを持つ測定対象物６を、放射線検出手段１の幅の２分の１の移動時間間隔で放射線計数手段２により計数する場合について説明する。
【００３２】
まず、測定対象物８が放射線検出手段１上にまだ位置しておらず、測定対象物８の先端が、放射線検出手段１の放射線検出面の端にある状態で、測定を開始する。
【００３３】
第１の計数時間で測定されるのは、測定対象物８を６等分した１番目の領域が放射線検出手段１の放射線検出面上にある状態であり、このとき放射線計数手段２により計数される計数値はＭ１として記録される。第２の計数時間で測定されるのは、測定対象物８を６等分した１番目の領域と２番目の領域が放射線検出手段１の放射線検出面上にある状態であり、、このとき放射線計数手段２により計数される計数値はＭ２として記録される。
【００３４】
第３の計数時間で測定されるのは、測定対象物８を６等分した２番目の領域と３番目の領域が放射線検出手段１の放射線検出面上にある状態であり、、このとき放射線計数手段２により計数される計数値はＭ３として記録される。第４の計数時間で測定されるのは、測定対象物８を６等分した３番目の領域と４番目の領域が放射線検出手段１の放射線検出面上にある状態であり、、このとき放射線計数手段２により計数される計数値はＭ４として記録される。
【００３５】
第５の計数時間で測定されるのは、測定対象物８を６等分した４番目の領域と５番目の領域が放射線検出手段１の放射線検出面上にある状態であり、、このとき放射線計数手段２により計数される計数値はＭ５として記録される。第６の計数時間で測定されるのは、測定対象物８を６等分した５番目の領域と６番目の領域が放射線検出手段１の放射線検出面上にある状態であり、、このとき放射線計数手段２により計数される計数値はＭ６として記録される。
【００３６】
第７の計数時間で測定されるのは、測定対象物８を６等分した６番目の領域が放射線検出手段１の放射線検出面上にある状態であり、このとき放射線計数手段２により計数される計数値はＭ７として記録される。
【００３７】
次に、放射線計数手段２によって計数および記録された値を、計数積算手段３が読み出し、放射線検出手段１の幅に相当する移動時間に相当する計数値を積算し記録する。
【００３８】
この場合、第１の計数時間と第２の計数時間に相当する計数値Ｍ１とＭ２を加算したものをＡ１として記録し、第２の計数時間と第３の計数時間に相当する計数値Ｍ２とＭ３を加算したものをＡ２として記録し、第３の計数時間と第４の計数時間に相当する計数値Ｍ３とＭ４を加算したものをＡ３として記録する。
【００３９】
また、第４の計数時間と第５の計数時間に相当する計数値Ｍ４とＭ５を加算したものをＡ４として記録し、第５の計数時間と第６の計数時間に相当する計数値Ｍ５とＭ６を加算したものをＡ５として記録し、第６の計数時間と第７の計数時間に相当する計数値Ｍ６とＭ７を加算したものをＡ６として記録する。
【００４０】
次に、計数積算手段３で得られたＡ１からＡ６までの６個の分布データを、放射能量および汚染密度換算手段４により、それぞれの定量値に換算し、更に汚染分布表示手段により、換算結果と分布情報を表示して、測定を終了する。
【００４１】
本実施形態によれば、放射線検出手段の放射線検出面に沿って測定対象物を移動させ、放射線検出面の幅（移動方向の距離）よりも短い移動距離になるような任意の時間間隔で計測し、検出器幅分の移動時間分積算することにより、計数が減少しない。そのため、検出器の幅を狭くして感度を低下させることなく、より細かいパターンで測定することができ、精度良く放射線分布を測定することが可能である。
【００４２】
したがって、放射線検出手段の幅で計数したのと同等の測定時間で計数を得ることができ、かつ移動方向に２倍の数の放射線分布情報を得ることが可能となる。
【００４３】
第２実施形態（図２）
図２は、本発明の第２実施形態を示す構成図である。
【００４４】
本実施形態は、第１実施形態の測定対象物搬送手段７に代えて、放射線検出器移動手段７ａを設けた構成としたものである。
【００４５】
すなわち、図２に示すように、本実施形態では、測定対象物８が静止した状態において、放射線検出器移動手段７ａにより放射線検出手段１を測定対象物１に沿って移動させながら、放射線検出面の幅（移動方向の距離）よりも短い移動距離になるような任意の時間間隔で計測するようにしたものである。そして、壁面などの固定物や大型で移動困難な測定対象物８に対し、放射線検出手段１の幅を狭くして感度を低下させることなく、精度良く放射線分布を測定することを可能としたものである。
【００４６】
本実施形態によれば、第１実施形態と同様の放射線計数が得られ、測定対象物８が、装置により搬送することが困難な大型の機器や、壁などの建築物であっても、第１の実施形態と同様の詳細な放射線分布情報を得ることが可能となる。
【００４７】
第３実施形態（図３）
図３は、本発明の第３実施形態を示す構成図である。
【００４８】
図３に示すように、本実施形態では、計数積算手段３で積算した分布データに対し、簡易に移動方向の放射線分布情報の補正を行うための手段として、計数積算手段３の出力に積算計数比較手段９と、選択計数記憶手段１０を設けた構成としている。他の構成については前記実施形態とほぼ同様である。
【００４９】
このような構成において、検査時には、計数積算手段３の出力Ａ１とＡ２は、互い検出器幅の２分の１ずつ位置が重なり合う。この場合、１次元の分布として表そうとすると、重なった部分のデータ処理が必要となる。そこで、複雑な演算や校正を行うことなく簡易に処理を行う手段として、重なった部分の領域を比較し、この領域については値の大きい方を選択して採用する。
【００５０】
以下順に述べると、計数積算手段３のＡ１からＡ６の出力を積算計数比較手段９で比較し、重なり合う領域を判定する。このＡ１の重なっていない領域は、Ａ１の値として選択し、選択計数記憶手段１０により、この領域の値として記憶する。
【００５１】
Ａ１とＡ２は、互い検出器幅の２分の１ずつ位置が重なり合う。これらＡ１とＡ２を比較して大きい方を重なった領域の値として選択し、選択計数記憶手段１０で、この領域の値として記憶する。
【００５２】
Ａ２とＡ３は、互い検出器幅の２分の１ずつ位置が重なり合う。これらＡ２とＡ３を比較して大きい方を重なった領域の値として選択し、選択計数記憶手段１０により、この領域の値として記憶する。Ａ３とＡ４は、互い検出器幅の２分の１ずつ位置が重なり合う。これらＡ３とＡ４を比較して大きい方を重なった領域の値として選択し、選択計数記憶手段１０によりこの領域の値として記憶する。
【００５３】
Ａ４とＡ５は、互い検出器幅の２分の１ずつ位置が重なり合う。これらＡ４とＡ５を比較して、大きい方を重なった領域の値として選択し、選択計数記憶手段１０によりこの領域の値として記憶する。
【００５４】
Ａ５とＡ６は、互い検出器幅の２分の１ずつ位置が重なり合う。これらＡ５とＡ６を比較して、大きい方を重なった領域の値として選択し、選択計数記憶手段１０により、この領域の値として記憶する。Ａ６の重なっていない領域は、Ａ６の値として選択し、選択計数記憶手段１０により、この領域の値として記憶する。
【００５５】
このような構成において、検査時には、選択計数記憶手段に記憶された各領域の値から、重なり合った領域の処理をした結果の分布情報が得られる。
【００５６】
本実施形態によれば、放射線検出面の幅分の計数の積算結果から放射線の分布を求めたとき、測定領域の重なる領域があるためデータ処理が必要であるが、測定領域の重なり合う積算結果同士を比較し、数値の大きい方を、その領域の値として選択する手段を設けることにより、簡易な構成でのデータ処理となり、また、常に大きい値が選択されるため、安全側に評価することが可能である。
【００５７】
したがって、計数積算手段３の値を簡易に補正し放射線分布情報として得ることが可能となり、また大きい値が選択されるため、安全を重視した指標が提供されるという効果も得られる。
【００５８】
第４実施形態（図４）
図４は、本発明の第４実施形態を示す構成図である。
【００５９】
図４に示すように、本実施形態では、検出器の幅分の移動時間に相当する計数値を積算する手段とは別に、検出器の幅よりも短い任意の移動時間に相当する計数値を積算する、任意幅積算手段９を設けた構成としている。他の構成については前記実施形態とほぼ同様である。
【００６０】
すなわち、上述した実施形態では、放射能量および汚染密度換算手段４へ入力する値として、放射線検出手段１の幅分の移動時間に相当する計数値を積算する計数積算手段３で求めた値を用いるが、本実施形態では、更に正確な分布情報を得るため、検出器の幅よりも短い任意の移動時間に相当する計数値を積算する任意幅積算手段９ａによって、より細かく値を求めて、汚染分布の表示を行うものである。
【００６１】
このような構成において、検査時には、任意の移動時間に相当する計数値を積算する任意幅積算手段９ａで設定する移動時間は放射線計数手段２で計数した時間間隔と同じであるとした場合、放射線計数手段２の出力である計数Ｍ１はＢ１として任意幅積算手段９ａに記録される。放射線計数手段２の出力である計数Ｍ２はＢ２として任意幅積算手段９ａに記録され、放射線計数手段２の出力である計数Ｍ３はＢ３として任意幅積算手段９ａに記録される。
【００６２】
放射線計数手段２の出力である計数Ｍ４はＢ４として任意幅積算手段９ａに記録される、放射線計数手段２の出力である計数Ｍ５はＢ５として任意幅積算手段９ａに記録される。放射線計数手段２の出力である計数Ｍ６は、Ｂ６として任意幅積算手段９ａに記録される。なお、放射線計数手段２の出力である計数Ｍ７は積算しないので使用しない。
【００６３】
本実施形態によれば、放射線計数手段での計数時間間隔から放射線検出面の幅分の移動時間間隔の間の任意の時間に放射線計数結果を積算する手段を設けることにより、放射線検出面の幅分の積算で得られた分布情報よりも分布の中心位置を詳細に得ることができ、精度良く汚染分布を測定することが可能である。
【００６４】
したがって、検出器幅で積算した値を用いた場合よりも、より詳細な分布の中心を得ることが可能となる。
【００６５】
第５実施形態（図５）
図５は、本発明の第５実施形態を示す構成図である。
【００６６】
図５に示すように、本実施形態では、より正確な分布情報を得るため、予め求めておいた放射線検出手段１の応答関数を記憶する応答関数記憶手段９ｂと、測定された計数値に応答関数を掛けることで放射線分布を求める応答関数分布補正手段１０ａを加えた構成としている。他の構成については前記実施形態とほぼ同様である。
【００６７】
すなわち、放射線検出手段１に対し、検出器の大きさと個数、および複数の種類の測定対象物８の寸法に対応した、それぞれの測定位置について規格化された放射線の検出効率である応答関数を求め、応答関数記憶手段９ｂに記憶させておく。そして、応答関数分布補正手段１０ａにて、測定対象物８の測定の結果得られた各測定位置の計数値に、対応する応答関数の逆関数を掛けることで、正確な放射線分布情報を得る。
【００６８】
前述の例で説明すると、汚染の分布はＤ１からＤ６までの６位置で、検出器は領域の長さの２倍である。これに対し、測定結果はＭ１〜Ｍ７の７個データが測定されるものとする。各位置ごとの汚染に対する、未知の放射線分布のとき得られる計数は、以下の関係で示される。
【００６９】
【数１】
2004233160.tif 000003
ここで、Ｒ１１からＲ７６までは放射線検出手段１の応答関数、Ｄ１からＤ６までは放射線分布、Ｍ１からＭ７までは放射線計数手段２で得られた計数結果である。
【００７０】
上式により、汚染分布Ｄ１からＤ６までの値は、計数結果Ｍ１からＭ７までの値に、応答関数Ｒ１１からＲ７６までの逆関数を掛けることで得られる。
【００７１】
たとえば、求める放射線分布の位置が検出器の前面に来た場合の検出器の応答を１とし、前面ではないときの検出器の応答を０とした場合、以下のような応答関数となる。
【００７２】
【数２】
2004233160.tif 000004
なお、Ｍ１からＭ７については、計数積分結果で得られたＡ１からＡ６としても良い。
【００７３】
本実施形態によれば、予め求めておいた放射線検出手段に対する放射線検出感度の応答関数の逆関数を測定データに掛け放射線分布情報を求めるので、検出器の大きさより細かい分布を求めることができ、精度良く汚染分布を測定することが可能である。
【００７４】
第６実施形態（図６）
図６は、本発明の第６実施形態を示す構成図である。
【００７５】
図６に示すように、本実施形態では、任意の統計精度となるような計数値を閾値として記憶しておく判定閾値記憶手段９ｇを備えている。また、計数積算手段３から入力される計数値と閾値を比較して、閾値以下であれば分布補正をしないと判定する分布精度判定手段１０ｂとを備えている。また、判定の結果、分布補正しない場合の処理を行うとともに、分布補正を行うと判定した場合に放射線分布を求め補正する処理を行う分布補正手段１１を備えている。他の構成については前記実施形態とほぼ同様である。
【００７６】
このような構成において、検査時には、放射線検出手段１、放射線計数手段２、計数積算手段３により求められた計数値は、分布精度判定手段１０ｂにより、前もって判定閾値記憶手段９ｇに記憶されている閾値と比較される。そして、計数値が閾値より低い場合には分布精度が得られず、分布補正を行わないと判定される。また、計数値が閾値より高い場合には、分布精度を高めるため放射線分布を求め補正すると判定される。
【００７７】
分布補正を行わないと判定された場合には、分布補正手段１１において、例えば放射能量を所定の面積で除算して表面汚染密度を算出するような、安全側に評価される換算処理が一律に行われる。また、一律に均一汚染と仮定して補正が行われる場合もある。分布補正を行うと判定された場合には、分布補正手段１１において、求められた計数から分布情報を求めて補正処理が行われる。
【００７８】
本実施形態ではこのように、予め設定された統計誤差となる計数値を閾値として記憶し、放射線計数値と閾値を比較して閾値より低い場合には、計数精度が悪いので放射線分布は求めず一律の換算処理を行い、閾値以上なら測定結果から放射線分布を求める。これにより、放射線計数値が小さく十分な統計精度が得られない場合においても、十分に信頼性の高い測定をすることが可能となる。
【００７９】
したがって、測定対象物８の汚染レベルが例えば放射線検出手段１の検出限界付近であるなど、微小で統計精度が充分に得られない場合に、誤った分布補正となるのを防ぐことができる。そして、予め任意の統計精度となるような計数値を設定しておき、この値以下では分布情報が得られないという判断を行うことにより、統計精度が充分に得られない低いレベルの測定でも、誤った分布情報に基づいた結果を出力することを防止することが可能となる。
【００８０】
第７実施形態（図７）
図７は、本発明の第７実施形態を示す構成図である。
【００８１】
図７に示すように、本実施形態では、汚染面積算出手段９ｃと、表面汚染密度補正および算出手段１０ｃを備えている。
【００８２】
汚染面積算出手段９ｃは、計数結果から求めた放射線分布情報を使用して、放射線強度のプロファイルを求めるものである。すなわち、測定対象物８の移動方向の汚染の長さを求め、移動方向と直交する方向の長さ、例えば検出器の長さなど、予め決めた長さを使用して、汚染面積を算出する。
【００８３】
表面汚染密度補正および算出手段１０ｃは、放射能量換算手段４による計数結果から換算される放射能量を、求めた汚染面積で除算することにより、表面汚染密度を算出するものである。他の構成については前記実施形態とほぼ同様である。
【００８４】
本実施形態によれば、得られた放射線分布情報から汚染面積を算出する手段を設けているので、放射能量換算手段で得た総放射能量を測定した汚染面積で除算し表面汚染密度を求めることにより、実際の汚染面積を使用して表面汚染密度を求めるため正確な表面汚染密度を求めることが可能である。したがって、実際の汚染面積を用いて表面汚染密度を算出するため、過大な安全側評価とはならず、適正な評価結果を得ることが可能である。
【００８５】
第８実施形態（図８）
図８は、本発明の第８実施形態を示す構成図である。
【００８６】
図８に示すように、本実施形態では、放射線計数手段１からの値を逐次積算する逐次積算手段９ｄと、予め設定しておいた放射能量となるような計数値または計数率を閾値として記憶しておく閾値記憶手段１０ｄとを備えている。また、逐次積算された計数値または計数率と閾値を比較し、閾値以上となった場合に測定を終了させる、基準値判定および測定終了手段１１ａを備えている。他の構成については前記実施形態とほぼ同様である。
【００８７】
このような構成において、測定が開始されてから測定対象物８の全体の測定が終了するまでの間、放射線計数手段２の計測が終了した領域の計数値を逐次積算手段９によって逐次読み出され、読み出された値の積算が行われる。更に、基準値判定および測定終了手段１１ａにおいて、積算した計数値または計数率と、予め閾値設定手段１０ｄに設定記憶されている閾値とを比較し、設定した判定レベルの閾値を超えた場合、測定を終了させる。
【００８８】
本実施形態によれば、予め設定された放射能量に対応する計数率を閾値として記憶する手段と、放射線計数結果を逐次積算して前記閾値と比較する判定手段により、測定対象物全体の測定が終了する前に逐次積算した計数など測定結果が閾値を超えた時点で、測定を終了させるので、汚染レベルの高いものを測定したとき、短時間で汚染レベルの測定が可能である。
【００８９】
第９実施形態（図９）
図９は、本発明の第９実施形態を示す構成図である。
【００９０】
図９に示すように、本実施形態では、放射線計数手段２からの値を逐次積算する逐次計数積算手段３ａと、予め設定しておいた表面汚染密度を判定レベルとした閾値を記憶する閾値記憶手段１０ｄと、逐次放射能量に換算する放射能量換算手段４ａとを備えている。また、逐次汚染面積を算出する汚染面積算出手段９ｅと、逐次表面汚染密度に換算する表面密度算出手段１０ｅと、換算した表面汚染密度と閾値を比較して、閾値を超えた場合測定を終了させる基準値判定および測定終了手段１２とを備えている。他の構成については前記実施形態とほぼ同様である。
【００９１】
このような構成において、測定が開始されてから測定対象物８の全体の測定が終了するまでの間に、放射線計数手段２により計測が終了した領域の計数値を、逐次計数積算手段３ａにより、逐次読出しを行い積算する。更に放射能量換算手段４ａで逐次積算の終わったものから放射能量へ逐次換算する。
【００９２】
これと並行して、汚染面積算出手段９ｅにより、逐次積算の終わったものに対し、その時点で得られている放射線分布情報をもとに、その放射線強度のプロファイルを求める。これにより、測定対象物８の移動方向の汚染の長さを求め、移動方向と直交する方向の長さ、例えば検出器の長さなど前もって決めた長さを使用して、汚染面積を逐次算出する。
【００９３】
そして、表面汚染密度換算手段１０ｅにより、放射能量換算手段４ａで逐次換算された値を、汚染面積算出手段９ｅで逐次求めた面積で除算することにより、逐次表面汚染密度を算出する。
【００９４】
さらに、基準値判定および測定終了手段１２により、予め閾値記憶手段１１ｂに設定および記憶させておいた判定レベルと、表面汚染密度換算手段１０ｅにより逐次算出された値を、逐次比較し、閾値を超えた場合、測定を打ち切る。
【００９５】
本実施形態によれば、予め設定された表面汚染密度を閾値として記憶する手段と、放射線計数結果を逐次積算する手段と、更に逐次積算された結果から逐次放射線分布を求め、汚染面積を算出する手段と、逐次積算された結果から放射能量に換算し逐次算出された汚染面積で割り表面汚染密度を算出する手段と、逐次算出されてくる表面汚染密度と閾値を比較する判定手段により、測定対象物全体の測定が終了する前に逐次算出した表面汚染密度が閾値を越えた時点で測定を終了させるので、表面汚染密度の高いものを測定したとき、短時間で汚染レベルの判定が可能である。したがって、汚染の判定を早く行うことが可能であり、測定時間を短縮することができる。
【００９６】
第１０実施形態（図１０）
図１０は、本発明の第１０実施形態を示す構成図である。
【００９７】
図１０に示すように、本実施形態では、本実施形態は、往復で移動が可能な測定対象物往復搬送手段７ｂと、低速モード移行判定手段９ｆとを備えている。そして、例えば放射線検出手段１の検出下限レベルが高低の任意の２段階に設定され、往路では高いレベルでの測定が行われ、更に復路では往路より低いレベルでの測定が行われるようになっている。測定対象物往復搬送手段７ｂには、それぞれのレベルに対応した検出下限が得られる移動速度で、往路の速度は復路に比べ高速となるように設定される。また、往路の測定で汚染が検出された場合には、復路の測定は行う必要がなくなるため、最大速度で戻り移動が行われる。他の構成については前記実施形態とほぼ同様である。
【００９８】
このような構成において、まず往路の検出下限レベルより高い汚染レベルの測定対象物８を測定した場合について説明する。この場合には、往路の設定速度で測定対象物８が測定対象物往復搬送手段７ｂにより移動しながら測定が行われ、往路の測定が終了する。この時点で、検出下限レベル以上で汚染が計測されたため、低速モード移行判定手段９ｆにより、この値をもって測定完了とされる。すなわち、復路は測定しないと判定され、搬送速度および計測時間制御手段６ａにより、測定対象物往復搬送手段７ｂが高速に設定されて元の位置に戻る。
【００９９】
次に、往路の検出下限より低い汚染レベルの測定対象物を測定した場合について説明する。往路の測定が終了した時点では、測定結果が検出下限レベル以下となるため、汚染が検出されない。ここで低速モード移行判定手段９ｆにより、復路も測定と判定される。そして、搬送速度および計数時間制御手段６ａにより、更に低レベルの検出下限測定に対応した速度と計数時間間隔の設定がされる。次いで、往路よりも低速で復路の測定が行われる。復路の測定が終了した時点で、復路の検出下限レベル以上であれば汚染検出となり、この値をもって判定が行われる。なお、検出下限レベル以下であれば汚染無しと判定される。
【０１００】
また、別の例として、復路の速度設定を、往路と同一またはこれに近い速度とすることが可能である。この場合、往路の測定により汚染が検出下限レベル以下であると、復路での測定を行い、往路のデータを加算する。これにより、往路と復路を加算した時間分の測定データとなり、往路よりも低い検出下限レベルとすることもできる。
【０１０１】
本実施形態によれば、復路より往路が高い速度で移動できる測定対象物往復移動手段７ｂと、対象とする２種類の汚染レベルの検出下限値に対応した搬送速度および計数時間制御手段６ａと、往路の走査で検出下限値以下であった場合に復路の走査で更に低い汚染レベルに対応した移動速度に移行するための低速モード移行判定手段９ｆを備え、２段階の汚染レベル区分が可能となる。そして、往路の測定で検出下限以上の場合は、復路は最大速度で戻ることで測定時間の短縮が可能である。また、往路の測定で検出下限より低い場合は、更に低い速度で測定することができる。この場合には計数が増えるので、計数精度が向上し、精度良く汚染分布を測定することができる。したがって、往復測定で２段階の検出下限レベルを設定して測定することにより、比較的レベルの高いものと低いものを交えて測定する場合、レベル区分と測定時間の短縮が可能となる。
【０１０２】
【発明の効果】
以上で説明したように、本発明によれば、放射線検出手段の感度を低下させることなく、検出器の幅よりも詳細な分布を得ることができ、表面汚染密度に換算したときも精度良く求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（Ａ）は本発明の第１実施形態による汚染検査装置を示す構成図、（Ｂ）は作用説明図。
【図２】本発明の第２実施形態による汚染検査装置を示す構成図。
【図３】本発明の第３実施形態による汚染検査装置を示す構成図。
【図４】本発明の第４実施形態による汚染検査装置を示す構成図。
【図５】本発明の第５実施形態による汚染検査装置を示す構成図。
【図６】本発明の第６実施形態による汚染検査装置を示す構成図。
【図７】本発明の第７実施形態による汚染検査装置を示す構成図。
【図８】本発明の第８実施形態による汚染検査装置を示す構成図。
【図９】本発明の第９実施形態による汚染検査装置を示す構成図。
【図１０】本発明の第１０実施形態による汚染検査装置を示す構成図。
【図１１】従来の汚染検査装置を示す構成図。
【符号の説明】
１  放射線検出手段
２  放射線計数手段
３  計数積算手段
３ａ  逐次計数積算手段
４  放射能量および汚染密度換算手段
４ａ  放射能量換算手段
５  汚染分布表示手段
６  搬送速度および計数時間制御手段
７  測定対象物搬送手段
７ａ  検出器搬送手段
７ｂ  測定対象物往復搬送手段
８  測定対象物
９  積算計数比較手段
９ａ  任意積算手段
９ｂ  応答関数記憶手段
９ｃ  汚染面積算出手段
９ｄ  逐次積算手段
９ｇ  判定閾値記憶手段
１０  選択計数記憶手段
１０ａ  応答関数分布補正手段
１０ｂ  分布精度判定手段
１０ｃ  表面汚染密度補正および算出手段
１０ｄ  閾値記憶手段
１０ｅ  表面汚染密度換算手段
１１  分布補正手段
１１ａ  基準値判定および測定終了手段
１１ｂ  閾値記憶手段
【図１】
2004233160.tif 000005
【図２】
2004233160.tif 000006
【図３】
2004233160.tif 000007
【図４】
2004233160.tif 000008
【図５】
2004233160.tif 000009
【図６】
2004233160.tif 000010
【図７】
2004233160.tif 000011
【図８】
2004233160.tif 000012
【図９】
2004233160.tif 000013
【図１０】
2004233160.tif 000014
【図１１】
2004233160.tif 000015