(57)【要約】【課題】バッファメモリにおけるバッファリングが正常に機能しているか否かを検証することができる高密度光ディスク装置、およびバッファリング機能の検証方法を提供する。【解決手段】光ピックアップ２６によって、高密度光ディスク２０から読み出されてきたデータをバッファリングするバッファメモリ３６と、バッファメモリ３６の機能を検証するために、所定情報量おきに連続した値が記述された検証用データを生成する検証用データ生成手段３７と、検証用データ生成手段３７によって生成された検証用データをバッファメモリ３６へバッファリングするデコーダ３８と、バッファリングされた検証用データの全部または一部を読み出し、検証用データ内の連続した値から、バッファリングが正常にされているか否かを判定してバッファメモリの機能を検証する検証手段３９を具備する。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクからのレーザ光の反射率を複数種類とすることで高密度化された高密度光ディスクからデータの読み出しが可能な高密度光ディスク装置において、
高密度光ディスクにレーザ光を照射して高密度光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、
光ピックアップによって、読み出されてきたデータをバッファリングするバッファメモリと、
該バッファメモリの機能を検証するために、所定情報量おきに連続した値が記述された検証用データを生成する検証用データ生成手段と、
該検証用データ生成手段によって生成された前記検証用データをバッファメモリへバッファリングするデコーダと、
該バッファリングされた前記検証用データの全部または一部を読み出し、検証用データ内の連続した値から、バッファリングが正常にされているか否かを判定してバッファメモリの機能を検証する検証手段を具備することを特徴とする高密度光ディスク装置。
【請求項２】
前記検証用データの所定位置の値を予め記憶してある比較用データ記憶手段が設けられ、
前記検証手段は、
バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値を読み出し、
前記比較用データ記憶手段内に記憶されている前記検証用データの所定位置の値を読み出し、
バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値と、前記比較用データ記憶手段内に記憶されている前記検証用データの所定位置の値とを比較することによって、バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値が正しいか否かを判定してバッファメモリの機能を検証することを特徴とする請求項１記載の高密度光ディスク装置。
【請求項３】
光ディスクからのレーザ光の反射率を複数種類とすることで高密度化された高密度光ディスクから光ピックアップによってデータの読み出しが可能であって、光ピックアップによって読み出されてきたデータをバッファリングするバッファメモリを有する高密度光ディスク装置におけるバッファリング機能を検証する方法において、
前記高密度光ディスクからデータの読み出しを行なっていないときに、前記所定情報量づつ連続した値が記述された検証用データを生成し、
前記検証用データをバッファメモリにバッファリングし、
該バッファリングした検証用データの全部または一部を読み出し、
バッファメモリから読み出した検証用データ内の連続した値から、バッファリングが正常にされているか否かを判定してバッファメモリの機能を検証することを特徴とする高密度光ディスク装置におけるバッファリング機能検証方法。
【請求項４】
前記検証用データの所定位置の値を、予め比較用データ記憶手段に記憶しておき、
バッファメモリの機能を検証する際に、
バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値を読み出し、
前記比較用データ記憶手段内に記憶されている前記検証用データの所定位置の値を読み出し、
バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値と、前記比較用データ記憶手段内に記憶されている前記検証用データの所定位置の値とを比較することによって、バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値が正しいか否かを判定してバッファメモリの機能を検証することを特徴とする請求項３記載の高密度光ディスク装置におけるバッファリング機能検証方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクを従来のデータ容量の数倍になるようにした高密度光ディスクからデータを読み出すことができる高密度光ディスク装置、および高密度光ディスク装置におけるバッファリング機能の検証方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ―ＲＷ等の光ディスクは、音楽データ等のデジタルデータの保存に用いられ、広く普及している。
近年は、画像データを光ディスクに保存しようとする要求も増加しているが、画像データは特にデータ量が大きく、従来の光ディスクでは容量不足となる場合があった。また、画像データに限らず全てのデータにおいて、近年は高密度化がすすんでおり、従来の光ディスクの容量では充分ではなくなってきている。
そこで、光ディスクの容量を、従来の光ディスクよりも増加させる技術が開発されてきている。
【０００３】
従来の光ディスクでは、光ディスクの記録面にピットが形成されており、ピットが形成されている部分と形成されていない部分とではレーザー光の反射率が異なる。そこで、レーザー光の反射率の違い、即ちピットの有無により、０か１を表し、デジタルデータとして情報を記録しておくことができるのである（本明細書中では、この様な光ディスクを単密度光ディスクと呼ぶ）。
【０００４】
一方、現在開発されてきている高密度光ディスクは、ピットの大きさを何段階か設けることにより、レーザー光の反射率の種類を増やし、反射率の種類の分だけ多くの情報量を記録可能としたものである（例えば、非特許文献１参照）。
例えば、図５に示すように、ピットの大きさをピットａからｈまでの８種類となるように設定する。この場合には、光ディスクから反射される反射率が８（２の３乗）種類となり、従来３つ分のピットで表現していたデータを１つのピットで表すことができるため、同じピット数で、従来の３倍の情報量を記録することができるのである。
【０００５】
一方、このような大容量光ディスクに書き込まれているデータのフォーマットは、従来の光ディスクに書き込まれているようなデータのフォーマットとは全く異なるフォーマットを採用せざるを得ない。
従来のデータフォーマットについて、図６に基づいて説明する。
読み取り時の基本単位としての１ブロック（１フレームという場合もある）が２３５２ｂｙｔｅで形成され、さらに詳細には、通常のデータ１０の場合は、メインデータ１１の前方（時間的に先の方）にＳｙｎｃ１２やヘッダー１３などの同期信号や時間情報が設けられ、またメインデータ１１の時間的に後にはＥＤＣ１４やＥＣＣ１５等の誤り訂正情報が設けられている。
なお、オーディオデータ１６の場合、１ブロック（２３５２ｂｙｔｅ）はほとんどの領域がメインデータ１１で占められている。
【０００６】
一方で、光ディスクのアドレス情報は、図７に示すように、１ブロックのオーディオデータに対して４２ｂｉｔのＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ  Ｔｉｍｅ  Ｉｎ  Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）フレーム９を有している。ＡＴＩＰフレーム９は、Ｓｙｎｃ１、分情報２、秒情報３、フレーム情報４、ＣＲＣ６を有している。分、秒、フレームの各情報はそれぞれ１ｂｙｔｅずつで構成されている。なお、データ書込み時のレーザパワーに関する情報が、分情報２、秒情報３、フレーム情報４のそれぞれの最上位ｂｉｔの組み合わせで提供可能に設けられている。
【０００７】
一方、図８に示すように、開発中の大容量光ディスクのデータフォーマットは、従来の光ディスクの場合と全く異なっている。
大容量光ディスクのデータフォーマットは、２０４８ｂｙｔｅ（２ｋｂｙｔｅ）ずつ区切られたデータが複数（図８ではｎ個）まとめられて、読み取り時の基本単位としての１ブロック（１フレームという場合もある）７を形成している。
具体的には、ｎ＝１６で実施することが考えられており、かかる場合には１ブロックは、２ｋ×１６で３２ｋｂｙｔｅとなる。
【０００８】
大容量光ディスクのアドレス情報は、図９に示すように、１ブロックのオーディオデータに対して４９ｂｉｔのＡＩＰ（Ａｄｄｒｅｓｓ  Ｉｎ  Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）フレーム９を有している。ＡＩＰフレーム８は、Ｓｙｎｃ１６、ＳｐｅｃｉａｌＩｎｆｏ１７、各１ｂｙｔｅずつのアドレスＣ〜Ａ（１８ｃ〜１８ａ）、ＣＲＣ１９を有している。アドレス情報は従来の光ディスクの場合と異なり、分、秒、フレーム等から構成されておらず、アドレスＣ〜アドレスＡａには符号付き整数でアドレス情報が書込まれている。またＣＲＣは誤り符号の巡回検出であり、データ部分のエラー訂正を行なうことができる。
このような構成のＡＩＰフレーム９は、大容量データ１ブロックにつき５つずつ設けられている。
【０００９】
高密度光ディスクからデータを読み出し可能な高密度光ディスク装置においては、上述してきたようなフォーマットのデータが読み出された場合、データは一旦バッファメモリ内に貯留（バッファリング）されてから、接続先のコンピュータ等へ出力される。
【００１０】
【非特許文献１】
ＴＤＫメディアテックレポート、第３回  「ＣＤ−Ｒ／ＲＷの容量を３倍に高める多値（ＭＬ）記録技術」、インターネット
＜ＵＲＬ：ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｔｄｋ．ｃｏ．ｊｐ／ｍｅｄｉａｔｅｃｈ／ｍｔｒ０３０００．ｈｔｍ＞
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
上述してきたように、高密度光ディスク装置内では、データを一旦バッファリングしているが、バッファメモリ内での機能が確実に動作しているか否かについては、それを検証する手段がなく、正しくデータが読み出されているかが判断できないという課題があった。
【００１２】
そこで、本発明は上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、バッファメモリにおけるバッファリングが正常に機能しているか否かを検証することができる高密度光ディスク装置、およびバッファリング機能の検証方法を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
すなわち、本発明にかかる高密度光ディスク装置によれば、光ディスクからのレーザ光の反射率を複数種類とすることで高密度化された高密度光ディスクからデータの読み出しが可能な高密度光ディスク装置において、高密度光ディスクにレーザ光を照射して高密度光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、光ピックアップによって、読み出されてきたデータをバッファリングするバッファメモリと、該バッファメモリの機能を検証するために、所定情報量おきに連続した値が記述された検証用データを生成する検証用データ生成手段と、該検証用データ生成手段によって生成された前記検証用データをバッファメモリへバッファリングするデコーダと、該バッファリングされた前記検証用データの全部または一部を読み出し、検証用データ内の連続した値から、バッファリングが正常にされているか否かを判定してバッファメモリの機能を検証する検証手段を具備することを特徴としている。
この構成を採用することによって、実際に高密度光ディスクを装着して高密度光ディスクからデータを読み出すことがなくとも、バッファリング機能が正常に作動しているか否かを確実に検証することができる。すなわち、実際の高密度光ディスクからデータを読み出して検証する場合にはデータサイズに限界があるが、本発明の構成によれば検証用データのサイズに制限がないので確実な検証ができる。また、実際の高密度光ディスクからデータを読み出して検証する場合には、データ読み出し時のエラー等のおそれもあるが、本発明の構成によればバッファリング機能の検証だけを確実に、且つリアルタイムで行なうことができる。
【００１４】
また、前記検証用データの所定位置の値を予め記憶してある比較用データ記憶手段が設けられ、前記検証手段は、バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値を読み出し、前記比較用データ記憶手段内に記憶されている前記検証用データの所定位置の値を読み出し、バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値と、前記比較用データ記憶手段内に記憶されている前記検証用データの所定位置の値とを比較することによって、バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値が正しいか否かを判定してバッファメモリの機能を検証することを特徴としてもよい。
このようにすれば、検証用データの全ての値を判定しなくとも、正確且つ迅速に検証用データが正しくバッファリングされているか否かを判定可能である。
【００１５】
本発明にかかる高密度光ディスク装置におけるバッファリング機能検証方法によれば、光ディスクからのレーザ光の反射率を複数種類とすることで高密度化された高密度光ディスクから光ピックアップによってデータの読み出しが可能であって、光ピックアップによって読み出されてきたデータをバッファリングするバッファメモリを有する高密度光ディスク装置におけるバッファリング機能を検証する方法において、前記高密度光ディスクからデータの読み出しを行なっていないときに、前記所定情報量づつ連続した値が記述された検証用データを生成し、前記検証用データをバッファメモリにバッファリングし、該バッファリングした検証用データの全部または一部を読み出し、バッファメモリから読み出した検証用データ内の連続した値から、バッファリングが正常にされているか否かを判定してバッファメモリの機能を検証することを特徴としている。
この方法によれば、実際に高密度光ディスクを装着してデータを読み出すことがなくとも、バッファリング機能が正常に作動しているか否かを確実に検証することができる。すなわち、実際の高密度光ディスクからデータを読み出して検証する場合にはデータサイズに限界があるが、本発明の構成によれば検証用データのサイズに制限がないので確実な検証ができる。また、実際の高密度光ディスクからデータを読み出して検証する場合には、データ読み出し時のエラー等のおそれもあるが、本発明の構成によればバッファリング機能の検証だけを確実に、且つリアルタイムで行なうことができる。
【００１６】
また、前記検証用データの所定位置の値を、予め比較用データ記憶手段に記憶しておき、バッファメモリの機能を検証する際に、バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値を読み出し、前記比較用データ記憶手段内に記憶されている前記検証用データの所定位置の値を読み出し、バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値と、前記比較用データ記憶手段内に記憶されている前記検証用データの所定位置の値とを比較することによって、バッファリングされた前記検証用データの所定位置の値が正しいか否かを判定してバッファメモリの機能を検証することを特徴としてもよい。
このようにすれば、検証用データの全ての値を判定しなくとも、正確且つ迅速に検証用データが正しくバッファリングされているか否かを判定可能である。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。
最初に高密度光ディスクの概要について説明する。
ここで説明する高密度光ディスク２０は、従来の技術（図５）で説明したように８種類のピットの大きさを有しているものであって、情報量が従来の光ディスクの記憶容量（６５０Ｍｂｙｔｅ〜７００Ｍｂｙｔｅ）の３倍程度の記憶容量（２Ｇｂｙｔｅ）を有するものである（いわゆる３倍密）。
【００１８】
まず、図１に高密度光ディスク装置３０の内部構造についてのブロック図を示し、これに基づいて、本実施形態の装置の構成について説明する。図面上では太字の矢印がデータの流れを、細字の矢印が制御信号の流れについて示している。
本実施形態では、高密度光ディスク装置３０はホストコンピュータ５０に接続され、ホストコンピュータ５０からのコマンド指示によって動作するものについて開示している。
【００１９】
高密度光ディスク２０は、スピンドルモータ２２によって回転駆動されるように装着される。スピンドルモータ２２は、サーボプロセッサ２４からの回転制御信号によって高密度光ディスク２０を回転させる。
高密度光ディスク２０に記録されているデータは、レーザ光を出力するレーザダイオードや、高密度光ディスク２０からの反射光を受光するフォトディテクタ等が内蔵されている光ピックアップ２６によって読み出される。
【００２０】
光ピックアップ２６は、移動手段２７によってディスク半径方向に移動可能に設けられている。移動手段２７は、光ピックアップ２６を移動方向に移動可能に保持するガイドシャフトや、ガイドシャフト上で光ピックアップ２６を移動させる送り用サーボモータ（図示せず）等から構成される。
光ピックアップ２６の移動手段２７の移動制御は、サーボプロセッサ２４からの移動制御信号によって制御される。
【００２１】
光ピックアップ２６には、リードアンプ３２が接続されている。
リードアンプ３２は、高密度光ディスク２０から読み出したデータの高周波成分を増幅し、これを２値化処理してデジタルデータとしている。またリードアンプ３２では、高密度光ディスク２０から読み出したデータからトラッキング、フォーカス等の各誤差信号を抽出してサーボプロセッサ２４へ送出している。
サーボプロセッサ２４は、これら各誤差信号に基づいて、トラッキング制御信号、フォーカス制御信号等を光ピックアップ２６へ送出して光ピックアップ２６の制御を行なう。
【００２２】
リードアンプ３２には、読み出したデータのＥＦＭ復調等の信号処理を行なうＬＳＩである信号処理部３４が接続されている。信号処理部３４の後段側には、データをホストコンピュータ５０へ送出する前に一旦バッファリングするバッファメモリ３６が設けられている。
また、信号処理部３４から出力されてきたデータをバッファメモリ３６に書込むためのバッファリング処理機能と、バッファメモリ３６からデータを読み出して、読み出したデータをインターフェイス部４０へ出力する出力処理機能とを備えているデコーダ３８がバッファメモリ３６と信号処理部３４との間に設けられている。
なお、信号処理部３４内部にもバッファメモリ（図示せず）が設けられており、信号処理したデータを内部のバッファメモリ内に一旦貯留（バッファリング）するようにしている。
【００２３】
信号処理部３４には、バッファメモリ３６のバッファリング機能を検証するための検証用データを生成する検証用データ生成手段３７と、検証用データ生成手段３７で生成した検証用データを高密度光ディスク２０から読み出したデータと同じ形式となるようにデータ変換して信号処理部３４に出力する信号発生手段３５とが接続されている。
【００２４】
バッファメモリ３６には、検証用データをバッファリングした場合に、これを読み出してバッファリング時にデータがズレたり、欠けたり、あるいは全く異なるデータとなってしまったりしていないかをチェックし、バッファリング機能を検証する検証手段３９が接続されている。
【００２５】
ＣＰＵ４２は、高密度光ディスク装置３０全体の動作を統括制御するように設けられている。ＣＰＵ４２は、予め記憶手段４４あるいは他のＲＯＭ等のメモリ内に記憶されている制御プログラムに基づいて動作する。
【００２６】
なお、検証用データ生成手段３７および検証手段３９は、具体的にはＣＰＵ４２が所定の検証用のデータを生成するプログラム、およびバッファメモリ３６から読み出したデータ内の値を検証するプログラムを読み出して実行することにより、実現される。
【００２７】
なお、検証用データがバッファリングされてからこのデータの値が正しいか否かを比較するために、検証用データの所定位置における正確な値を予め比較用データ記憶手段４４内に記憶させておく。
比較用データ記憶手段４４としては、ＲＯＭ等の半導体メモリ等を採用することができる。
また、本実施形態において、検証用データの所定位置とは、後述するように検証用データの各ブロック毎の最後の４ｂｙｔｅである。
【００２８】
次に、検証用データについて、図２に基づいて説明する。
本願発明における高密度光ディスク用のデータは、２０４８ｂｙｔｅのずつのデータが１６個まとまって、１ブロックという単位を構成しているものである。
検証用データとしては、１ブロック内で所定の情報量おきに値が所定の数ずつ増加するようなデータを用いる。具体的には、４ｂｙｔｅずつを１つの単位として、１ブロック内のデータ４ｂｙｔｅの値が１ずつ増加していくように形成される。
【００２９】
すなわち、図２に示すように、まず最初のブロックにおいて、最初の４ｂｙｔｅは値が０であり、次の４ｂｙｔｅは値が１であり、次の４ｂｙｔｅは値が２であり、というように４ｂｙｔｅ毎に連続して値を１ずつ増やしていくデータを作成する。したがって、１ブロック目の最後の４ｂｙｔｅの値は、「００００１ＦＦＦ」となる。
次の２ブロック目の先頭の４ｂｙｔｅの値は、１ブロック目の最後の４ｂｙｔｅから連続しているのでその値は「００００２０００」である。そして、次の４ｂｙｔｅの値は「００００２００１」である。そして２ブロック目の最後の４ｂｙｔｅの値は、「００００３ＦＦＦ」である。
このような検証用データを作成していくと、６００ブロック目の最後の４ｂｙｔｅの値は、「００４ＡＦＦＦＦ」であり、１２００ブロック目の最後の４ｂｙｔｅの値は、「００９５ＦＦＦＦ」であり、１５００ブロック目の最後の４ｂｙｔｅの値は、「００ＢＢ７ＦＦＦ」である。
【００３０】
なお、比較用データ記憶手段４４内のデータ構造について、図３に示す。
比較用データ記憶手段４４には、検証用データを作成した場合の各ブロックの最後の４ｂｙｔｅの値が予め記憶されている。
【００３１】
次に、図４のフローチャートに基づいて、バッファリング機能の検証動作について説明する。
まず、ホストコンピュータ５０から、バッファリング機能を検証すべき旨のコマンドが入力された場合には、ＣＰＵ４２はバッファリングの検証動作を開始する（ステップＳ１００）。
【００３２】
次のステップＳ１０２において、ＣＰＵ４２は、検証用データ生成手段３７を起動させて、検証用データを生成する。
検証用データ生成手段３７は、図２に示したように、所定の情報量ごと（４ｂｙｔｅごと）に値が１つづつ連続して上昇していくような検証用データを作成する。
作成された検証用データは、信号発生手段３５に入力され、ここで高密度光ディスク２０から読み出したデータと同様の周期となるように所定クロックに同期させた検証用データに変換され、信号処理部３４に出力される。
【００３３】
信号処理部３４は、入力してきた検証用データを１ブロック（上述したように２０４８ｂｙｔｅ×１６）づつまとめてデコーダ３８に転送する。
続くステップＳ１０４において、デコーダ３８では、信号処理部３４から送られてきた転送終了割り込み信号に基づいて、検証用データを１ブロックづつバッファメモリ３６に送り、バッファリングさせる。
このように、デコーダ３８では転送終了割り込み信号に基づいて検証用データを１ブロックずつバッファリングさせるので、１度に大容量のデータを効率よくバッファリングすることができる。
【００３４】
次に、ＣＰＵ４２は、検証手段３９を起動させて、バッファメモリ３６内にバッファリングされている検証用データを読み出し、比較用データ記憶手段４４内に記憶されている値と比較して、検証用データが正しくバッファリングがされているか否かについて検証する工程を実行する。
ここで、検証用データの検証はデータ全部を比較して検証するのではなく、データの一部分のみを比較するようにすれば、検証時間が短くて済む。したがって、本実施形態においては、検証用データのいずれかのブロックの最後の４ｂｙｔｅについてのみ比較するようにしている。
【００３５】
まずステップＳ１０６において、検証手段３９は、バッファメモリ３６に対して所定位置のデータを読み出すようにリード要求を出力する。
具体的には、検証手段３９は、１ブロック目の最後４ｂｙｔｅの値、２ブロック目の最後４ｂｙｔｅの値、６００ブロック目の最後の４ｂｙｔｅの値、１２００ブロック目の最後の４ｂｙｔｅの値、および１５００ブロック目の最後の４ｂｙｔｅの値のそれぞれを読み出すようなリード要求を出力する。
バッファメモリ３６では、検証手段３９からのリード要求に基づいて、１ブロック目、２ブロック目、６００ブロック目、１２００ブロック目、および１５００ブロック目のそれぞれの最後の４ｂｙｔｅの値を読み出し、検証手段３９へ送出する（ステップＳ１０８）。
【００３６】
そして次のステップＳ１１０において、検証手段３９は、予め比較用データ記憶手段４４に比較のために記憶させてあった、バッファメモリ３６にリード要求した位置（本実施形態では、１ブロック目、２ブロック目、６００ブロック目、１２００ブロック目、および１５００ブロック目のそれぞれの最後の４ｂｙｔｅ）と同じ位置における値を読み出す。
【００３７】
ステップＳ１１２からステップＳ１１４において、検証手段３９は、比較用データ記憶手段４４から取り出した値と、バッファメモリ３６にバッファリングされていた値とを比較する。
比較した結果、１つでも値が違う箇所があった場合には、ステップＳ１１８へ移行し、検証手段３９はバッファリング機能が異常である旨をホストコンピュータ５０へ通知する。
【００３８】
また、ステップＳ１１２からステップＳ１１４において、検証手段３９が、比較用データ記憶手段４４から取り出した値と、バッファメモリ３６にバッファリングされていた値とを比較した結果、値が一致していると判定した場合には、ステップＳ１１６へ移行し、検証手段３９はバッファリング機能が正常である旨をホストコンピュータ５０へ通知する。
ホストコンピュータ５０への通知を行なった後、バッファリング検証動作は終了する。
【００３９】
なお、上述した実施形態では、検証用データとして４ｂｙｔｅを１つのデータのまとまりとして、４ｂｙｔｅおきに値が１つ増加するようなデータを形成したが、特に４ｂｙｔｅに限定するものではなく、他の任意の情報量おきに値が連続するようなデータを形成してもよい。
【００４０】
また、本実施形態では、バッファメモリ３６から所定のブロックの最後の４ｂｙｔｅの値を読み出して検証をしていたが、バッファメモリ３６から読み出す所定の位置もこれに限定するものではなく、各ブロックの最初の４ｂｙｔｅであってもよいし、各ブロックの最初の４ｂｙｔｅと最後の４ｂｙｔｅを両方読み出してそれぞれを比較するようにしてもよい。
【００４１】
以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのはもちろんである。
【００４２】
【発明の効果】
本発明に係る高密度光ディスク装置および高密度光ディスク装置におけるバッファリング検証方法によれば、実際に高密度光ディスクを装着してデータを読み出すことがなくとも、バッファリング機能を検証することができる。すなわち、検証用データのサイズに制限がないので確実な検証ができる。また、実際の高密度光ディスクからデータを読み出して検証する場合には、データ読み出し時のエラー等のおそれもあるが、本発明の構成によればバッファリング機能の検証だけを確実に、且つリアルタイムで行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る高密度光ディスク装置の内部構成を説明するブロック図である。
【図２】検証用データを示す説明図である。
【図３】比較用データ記憶手段内のデータ構造を示す説明図である。
【図４】バッファリング検証方法を説明するためのフローチャートである。
【図５】光ディスクを高密度化するための概念を説明するための説明図である。
【図６】単密度光ディスクのデータ構造を示す説明図である。
【図７】ＡＴＩＰフレームについて説明する説明図である。
【図８】高密度光ディスクのデータ構造を示す説明図である。
【図９】ＡＩＰフレームについて説明する説明図である。
【符号の説明】
２０    高密度光ディスク
２２    スピンドルモータ
２４    サーボプロセッサ
２６    光ピックアップ
２７    移動手段
３０    高密度光ディスク装置
３２    リードアンプ
３４    信号処理部
３５    信号発生手段
３６    バッファメモリ
３７    検証用データ生成手段
３８    デコーダ
３９    検証手段
４０    インターフェイス部
４４    比較用データ記憶手段
５０    ホストコンピュータ
【図１】
2004310945.tif 000003
【図２】
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【図３】
2004310945.tif 000005
【図４】
2004310945.tif 000006
【図５】
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【図６】
2004310945.tif 000008
【図７】
2004310945.tif 000009
【図８】
2004310945.tif 000010
【図９】
2004310945.tif 000011