(57)【要約】【課題】磁気抵抗効果型ヘッドと磁気テープ間のスペーシングを測定することができるスペーシング測定方法を提供する。【解決手段】に存在する突起Ｐの高さ及び位置が判明している測定用テープＭＴからＭＲヘッド３２が読み出した再生信号において、サーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されたときに、サーマルアスペリティの発生原因となった突起Ｐの高さを、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングと判定する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
表面に存在する突起の高さ及び位置が判明している測定用テープを磁気抵抗効果型ヘッドで再生し、
前記磁気抵抗効果型ヘッドから出力された再生信号において、サーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されたときに、前記サーマルアスペリティの発生原因となった突起の高さを、前記磁気抵抗効果型ヘッドと前記測定用テープ間のスペーシングとすることを特徴とするスペーシングの測定方法。
【請求項２】
表面に存在する突起の高さ及び位置が判明している測定用テープを、一定のエア圧で磁気抵抗効果型ヘッドの磁気抵抗効果素子側に押圧しつつ、前記磁気抵抗効果型ヘッドで再生し、
前記磁気抵抗効果型ヘッドから出力された再生信号において、サーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されたときに、前記サーマルアスペリティの発生原因となった突起の高さを、前記磁気抵抗効果型ヘッドと前記測定用テープ間のスペーシングとして、前記測定用テープをそれぞれ異なるエア圧で前記磁気抵抗効果素子側に押圧しつつ複数回走行させて、前記エア圧と前記スペーシングとの対応関係を調べておき、
磁気テープを記録／再生する際は、前記対応関係に従い、前記エア圧によって前記スペーシングを調整することを特徴とするスペーシングの調整方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気抵抗効果型ヘッドと磁気テープ間のスペーシングを測定することができるスペーシング測定方法と、前記スペーシングを調整することができるスペーシング調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、磁気テープに記録されている信号を再生するための磁気ヘッドとして、磁気抵抗効果を応用した磁気抵抗効果型ヘッド（以下、「ＭＲヘッド」という）が多用されている。このＭＲヘッドは外部磁界の変動に応じて電気抵抗が変化する素子（磁気抵抗効果素子）を備えており、この磁気抵抗効果素子で磁気テープに磁場として記録されている信号を抵抗値に変換して読み出している。具体的には、磁気テープの再生時に、磁気抵抗効果素子に定電流であるセンス電流を流し、磁気抵抗効果素子の電気抵抗値の変化を電圧の変化分として取り出すことによって磁気テープに記録されている信号を読み出している。
【０００３】
しかし、ＭＲヘッドの磁気抵抗効果素子は温度変化により特性が変化しやすいため、ＭＲヘッドが磁気テープの再生時に磁気テープの記録面に存在する突起と衝突すると、ＭＲヘッドと磁気テープとの間に摩擦熱が発生し、この摩擦熱によって磁気抵抗効果素子の温度が局部的に急上昇し、抵抗値が瞬時に変化するという欠点がある。磁気抵抗効果素子の抵抗値が変化すると、ＭＲヘッドから出力される電圧が変化するため、磁気テープに記録されている信号を正しく読み出せないことがある。この現象を、「サーマルアスペリティ」という。
【０００４】
そのため、従来、サーマルアスペリティの防止あるいは低減のための様々な方法が提案されている。例えば、特許文献１には、予め磁気記録媒体におけるサーマルアスペリティが発生するトラック及びセクタの位置を調べておき、データの記録／再生を行う際にその位置では記録／再生を行わないようにして、サーマルアスペリティの発生を回避することにより、サーマルアスペリティを防止する技術が開示されている。また、特許文献２には、予めサーマルアスペリティを模擬した模擬信号を用意しておき、サーマルアスペリティの発生時に、模擬信号と再生信号とを差し引いてサーマルアスペリティを相殺することにより、サーマルアスペリティを低減させる技術が開示されている。
【０００５】
【特許文献１】
特開平７−３２０２１６号公報
【特許文献２】
特開平１０−１６２３０６号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
サーマルアスペリティの発生原因は、磁気抵抗効果型ヘッドが磁気テープの記録面に存在する突起に接触することにあると考えられているため、サーマルアスペリティの発生は、磁気抵抗効果型ヘッドと磁気テープ間のスペーシング（隙間）に大きく影響されると推測される。そのため、前記スペーシングを測定することが求められているが、前記スペーシングは一般に１００ｎｍ程度であるため、従来は前記スペーシングを簡便に、かつ精度良く検査することができないという問題があった。
【０００７】
そこで、本発明は、磁気抵抗効果型ヘッドと磁気テープ間のスペーシングを測定することができるスペーシング測定方法を提供することを課題とする。また、本発明は、前記スペーシングを調整することができるスペーシング調整方法を提供することを課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載のスペーシング測定方法は、表面に存在する突起の高さ及び位置が判明している測定用テープを磁気抵抗効果型ヘッドで再生し、前記磁気抵抗効果型ヘッドから出力された再生信号において、サーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されたときに、前記サーマルアスペリティの発生原因となった突起の高さを、前記磁気抵抗効果型ヘッドと前記測定用テープ間のスペーシングとすることを特徴とする。
【０００９】
請求項１に記載のスペーシング測定方法によれば、表面に存在する突起の高さ及び位置が判明している測定用テープから磁気抵抗効果型ヘッドが読み出した再生信号において、サーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されたときに、サーマルアスペリティの発生原因となった突起の高さを、磁気抵抗効果型ヘッドと測定用テープ間のスペーシングと判定することができる。
【００１０】
請求項２に記載のスペーシング調整方法は、表面に存在する突起の高さ及び位置が判明している測定用テープを、一定のエア圧で磁気抵抗効果型ヘッドの磁気抵抗効果素子側に押圧しつつ、前記磁気抵抗効果型ヘッドで再生し、前記磁気抵抗効果型ヘッドから出力された再生信号において、サーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されたときに、前記サーマルアスペリティの発生原因となった突起の高さを、前記磁気抵抗効果型ヘッドと前記測定用テープ間のスペーシングとして、前記測定用テープをそれぞれ異なるエア圧で前記磁気抵抗効果素子側に押圧しつつ複数回走行させて、前記エア圧と前記スペーシングとの対応関係を調べておき、磁気テープを記録／再生する際は、前記対応関係に従い、前記エア圧によって前記スペーシングを調整することを特徴とする。
【００１１】
請求項２に記載のスペーシング調整方法によれば、予め測定用テープを磁気抵抗効果型ヘッドの磁気抵抗効果素子側に押圧する際のエア圧と、磁気抵抗効果型ヘッドと測定用テープ間のスペーシングとの関係を求めておくことにより、実際に、磁気テープを記録／再生する際は、前記エア圧によって、磁気抵抗効果型ヘッドと磁気テープ間のスペーシングを調整することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るスペーシング測定方法及びスペーシング調整方法の一実施の形態について、適宜図面を参照して詳細に説明する。本実施の形態では、本発明に係るスペーシング測定方法及びスペーシング調整方法を、磁気テープの記録／再生装置である磁気テープドライブに適用した場合を想定している。
【００１３】
まず、スペーシング測定方法の一実施の形態について、図１〜図３を参照して説明する。図１は、スペーシング測定方法に使用されるスペーシング測定装置１０と、スペーシング測定装置１０が設置される磁気テープドライブ３０の概略構成図である。また、図２は、測定用テープＭＴを示す概略斜視図である。また、図３は、スペーシング測定装置１０の再生信号分析部１１に入力された再生信号の一例を示すグラフである。なお、図３のグラフでは、横軸は時間、縦軸は電圧を表している。以下、磁気テープドライブ３０、測定用テープＭＴ、スペーシング測定装置１０について、順に説明する。
【００１４】
図１に示す磁気テープドライブ３０は磁気テープに記録されている信号を再生するための装置であり、磁気テープを走行させる磁気テープ走行系３１と、磁気テープに記録されている信号を再生する磁気抵抗効果型ヘッド（以下、「ＭＲヘッド」という）３２とを備えて構成されている。
【００１５】
磁気テープ走行系３１は、巻回されている磁気テープを送り出す送出リール３１ａと、送出リール３１ａから送り出された磁気テープを巻き取る巻取リール３１ｂと、送出リール３１ａと送出リール３１ｂ間を走行する磁気テープを案内する複数のガイドローラ３１ｃ，３１ｃと、送出リール３１ａ及び巻取リール３１ｂを駆動する図示しない駆動装置とから構成されている。
【００１６】
この磁気テープ走行系３１は、スペーシング測定装置１０によって磁気テープドライブ３０のＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングを測定する際は、図２に示すような、記録面Ｓに存在する突起Ｐの高さ及び位置が判明している測定用テープＭＴを走行させる。図２に示す測定用テープＭＴには、その記録面Ｓに、高さが８０ｎｍの突起Ｐ１、高さが１００ｎｍの突起Ｐ２、高さが１５０ｎｍの突起Ｐ３、高さが１００ｎｍのＰ４、高さが２１０ｎｍのＰ５が、測定用テープＭＴの走行方法Ａに沿って順に存在している。これらの突起Ｐ１〜Ｐ５の高さ及び位置は、測定用テープＭＴの記録面Ｓを原子間顕微鏡（ＡＦＭ）やレーザ干渉計顕微鏡等で測定することによって調べることができる。そして、これらの突起Ｐ１〜Ｐ５の高さ及び位置の情報は、スペーシング測定装置１０の突起情報記憶部１１に記憶させておく。
【００１７】
ＭＲヘッド３２は、磁気テープ走行系３１の適所に配置されており、走行する磁気テープと摺動して、磁気テープに記録されている信号を再生する。具体的には、磁気テープの再生時に、ＭＲヘッド３２に含まれる磁気抵抗効果素子に定電流であるセンス電流を流し、前記磁気抵抗効果素子の電気抵抗値の変化を電圧の変化分として取り出すことによって磁気テープに記録されている信号を読み出している。ＭＲヘッド３２が磁気テープから読み出した信号（再生信号）は、スペーシング測定装置１０の再生信号分析部１２に出力される。
【００１８】
図１に示すスペーシング測定装置１０は、磁気テープドライブ３０のＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングを測定するためのものであり、突起情報記憶部１１と、再生信号分析部１２と、スペーシング判定部１３とを備えて構成されている。以下、スペーシング測定装置１０の各部の詳細について説明する。
【００１９】
突起情報記憶部１１には、測定用テープＭＴの突起の高さ及び位置の情報が記憶されている。具体的には、測定用テープＭＴの記録面Ｓに形成されている突起Ｐ１〜Ｐ５の高さと位置とが記憶されている。以下、突起Ｐ１〜Ｐ５の高さ情報及び位置情報を、まとめて「突起情報」という。
【００２０】
再生信号分析部１２は、具体的にはオシロスコープであり、磁気テープドライブ３０のＭＲヘッド３２から入力された再生信号から、サーマルアスペリティ及びサーマルクーリングを検出する。ここでは、ＭＲヘッド３２が測定用テープＭＴの記録面Ｓ上に存在する突起Ｐ１〜Ｐ５上を通過した際に出力される再生信号から、サーマルアスペリティ及びサーマルクーリングを検出する。
【００２１】
スペーシング判定部１３は、再生信号分析部１２においてサーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されたときに、そのサーマルアスペリティの発生原因となった突起Ｐの高さを、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングと判定する。なお、サーマルアスペリティの発生原因となった突起Ｐは、突起情報記憶部１１に記憶されている突起情報を参照することによって特定する。なお、図３のグラフにおいて、電圧が急激に上昇している部分がサーマルアスペリティが発生している部分であり、電圧が急激に下降している部分がサーマルクーリングが発生している部分である。
【００２２】
図３のグラフでは、ＭＲヘッド３２が突起Ｐ４と突起Ｐ５（図２参照）上を通過した際に、サーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されているので、サーマルアスペリティの発生原因となった突起Ｐは、突起Ｐ４と突起Ｐ５であると特定される。そして、突起Ｐ４の高さは１８０ｎｍで、突起Ｐ５の高さは２１０ｎｍなので、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングは１８０ｎｍ以上であると判定される。
【００２３】
次に、以上のように構成されたスペーシング測定装置１０を用いて行う、スペーシング測定方法について説明する。
【００２４】
まず、磁気テープドライブ３０において、磁気テープ走行系３１を走行する測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２で再生した際に、ＭＲヘッド３２が磁気テープＭＴから読み出した信号（再生信号）が、スペーシング測定装置１０の再生信号分析部１２に出力される。
【００２５】
続いて、再生信号分析部１２では、ＭＲヘッド３２から入力された再生信号から、サーマルアスペリティ及びサーマルクーリングを検出する。
【００２６】
そして、スペーシング判定部１３では、再生信号分析部１２においてサーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されたときに、そのサーマルアスペリティの発生原因となった突起Ｐの高さを、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングと判定する。
【００２７】
以上説明したように、本発明に係るスペーシング測定方法によれば、表面に存在する突起Ｐの高さ及び位置が判明している測定用テープＭＴからＭＲヘッド３２が読み出した再生信号において、サーマルクーリングがサーマルアスペリティの直後に検出されたときに、サーマルアスペリティの発生原因となった突起Ｐの高さを、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングと判定することができる。
【００２８】
次に、スペーシング制御方法の一実施の形態について、図４〜図６を参照して説明する。図４は、スペーシング制御方法に使用されるスペーシング制御装置２０の概略構成図である。このスペーシング制御装置２０は、磁気テープドライブ３０に設置されているスペーシング測定装置１０のスペーシング判定部１３と接続されている。また、図５は、測定用テープＭＴの記録面Ｓに存在する高さが１８０ｎｍの突起Ｐ４上をＭＲヘッド３２が通過した際に、スペーシング測定装置１０の再生信号分析部１１に入力される再生信号の一例を示すグラフであり、（ａ）〜（ｄ）は、測定用テープＭＴに対して噴出させたエアの圧力（エア圧）がそれぞれ、０．０５ＭＰａ、０．０４ＭＰａ、０．０３ＭＰａ、０．０２ＭＰａの場合を示す。なお、図５のグラフでは、横軸は時間、縦軸は電圧を表している。また、図６は、測定用テープＭＴに対して噴出させたエアの圧力と、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングとの関係を示すグラフである。
【００２９】
図４に示すスペーシング制御装置２０は、磁気テープの再生時における、ＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子と磁気テープ間のスペーシングを調整するための装置であり、エア噴出装置２１と、エア圧制御部２２、エア圧記憶部２３とを備えて構成されている。このスペーシング制御装置２０は、磁気テープドライブ３０に設置されているスペーシング測定装置１０のスペーシング判定部１３と接続されており、スペーシング測定装置１０での測定結果に基づいて、前記スペーシングを調整する。以下、スペーシング制御装置２０の各部の詳細について説明する。
【００３０】
エア噴出装置２１は、測定用テープＭＴの再生時、又は磁気テープの記録／再生時に、測定用テープＭＴ（磁気テープ）に対して一定のエア圧でエアを噴出して、測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子側（図示せず）に押圧するための装置である。このエア噴出装置２１は、測定用テープＭＴ（磁気テープ）にエアを噴出するノズル２１ａと、エアを発生させるコンプレサ２１ｂと、コンプレッサ２１ｂで発生したエアをノズル２１ａに送るエアチューブ２１ｃと、ノズル２１ａとコンプレッサ２１ｂ間に配置されるバルブ２１ｄとを備えている。そして、このエア噴出装置２１は、コンプレッサ２１ｂで発生したエアを、バルブ２１ｄを開くことによってエアチューブ２１ｃを経由してノズル２１ａに送り、ノズル２１ａからエアを測定用テープＭＴの下面中央部に向かって噴出させることによって、測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子側に押圧するように構成されている。
【００３１】
エア圧制御部２２は、測定用テープＭＴの再生時、又は磁気テープの記録／再生時に、エア噴出装置２１を制御するためのものである。詳しく説明すると、このエア圧制御部２２は、測定用テープＭＴの再生時、即ちスペーシング測定装置１０によるスペーシングの検査時には、エア噴出装置２１を制御して、測定用テープＭＴに対して一定のエア圧でエアを噴出して、測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子側に押圧する。このときに、エア噴出装置２１のノズル２１ａから測定用テープＭＴに噴出されたエアの圧力（エア圧）と、スペーシング測定装置１０のスペーシング判定部１３において判定されたスペーシングとの対応関係（図６参照）は、エア圧記憶部２３に記憶される。また、このエア圧制御部２２は、磁気テープの記録／再生時には、エア圧記憶部２３に記憶されている、測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子側に押圧する際のエア圧とスペーシングとの対応関係に従い、エア噴出装置２１を制御する。
【００３２】
次に、以上のように構成されたスペーシング調整装置２０を用いて行う、スペーシング調整方法について説明する。
【００３３】
まず、磁気テープドライブ３０において、磁気テープ走行系３１を走行する測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２で再生した際に、ＭＲヘッド３２が測定用テープＭＴから読み出した信号（再生信号）が、スペーシング測定装置１０の再生信号分析部１１に出力される。このとき、スペーシング制御装置２０では、エア圧制御部２２でエア噴出装置２１を制御して、エア圧噴出装置２１のノズル２１ａから測定用テープＭＴに対して一定のエア圧でエアを噴出して、測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子側に押圧する。
【００３４】
また、測定用テープＭＴに対して様々なエア圧でエアを噴出しながら、測定用テープＭＴを複数回走行させ、エア圧とスペーシングとの対応関係を調べた。本実施の形態では、測定用テープＭＴに対して、０．０５ＭＰａ、０．０４ＭＰａ、０．０３ＭＰａ、０．０２ＭＰａの４つの場合でエアを噴出させた。また、エアを噴出させなかった場合もあった。
【００３５】
そして、測定用テープＭＴの突起Ｐ１〜Ｐ５上をＭＲヘッド３２が通過した際にＭＲヘッド３２が測定用テープＭＴから読み出した再生信号は、スペーシング測定装置１０の再生信号分析部１２に出力され、再生信号分析部１２では、前記再生信号から、サーマルアスペリティ及びサーマルクーリングを検出する。
【００３６】
図５のグラフを例に説明すると、図５（ｂ）のグラフにおける破線で囲った部分において、電圧の突発的な上昇が発生しているので、この部分でサーマルアスペリティが発生していると判断することができる。また、図５（ｃ）のグラフにおける破線で囲った部分において、電圧の突発的な低下が発生しているので、この部分でサーマルクーリングが発生していると判断することができる。これらのことから、エア圧が０．０３Ｍｐａのときのグラフである図５（ｃ）においてサーマルクーリングが検出されたので、エア圧が０．０３Ｍｐａのときに、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングが１８０ｎｍであると判定することができる。
【００３７】
そして、測定用テープＭＴの記録面上に存在する他の突起Ｐについても同様のことを繰り返し、図６のグラフに示すような、測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子側に押圧する際のエア圧と、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングとの関係を求める。図６のグラフでは、エア圧が０．００Ｍｐａの場合にスペーシングが２１０ｎｍであり、エア圧が０．０３Ｍｐａの場合にスペーシングが１８０ｎｍであり、エア圧が０．１０Ｍｐａの場合にスペーシングが１５０ｎｍであり、エア圧が１．１０Ｍｐａの場合にスペーシングが８０ｎｍである。これらのエア圧とスペーシングとの対応関係は、エア圧記憶部２３に記憶される。
【００３８】
そして、磁気テープを記録／再生する際は、エア圧制御部２２は、エア圧記憶部２３に記憶されているエア圧とスペーシングとの対応関係に従い、エア噴出装置２１を制御して、測定用テープＭＴに対して一定のエア圧でエアを噴出して、測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子側に押圧することにより、ＭＲヘッド３２と磁気テープ間のスペーシングを調整する。
【００３９】
以上のように、本発明のスペーシング制御方法によれば、予め測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子側に押圧する際のエア圧と、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングとの関係を求めておくことによって、実際に、磁気テープドライブ３０において磁気テープを記録／再生する際は、前記エア圧によって、ＭＲヘッド３２と磁気テープ間のスペーシングを調整することができる。
【００４０】
以上、本発明の一実施の形態について説明したが、本発明はこのような実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の技術的思想に基づく限りにおいて、種々の変形が可能である。
【００４１】
例えば、スペーシング測定装置１０では、突起情報記憶部１１に測定用テープＭＴの突起の高さ及び位置の情報（突起情報）を記憶させておいたが、測定用テープＭＴに突起情報を記録しておき、ＭＲヘッド３２でその位置情報を読み取るように構成することもできる。
【００４２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、磁気抵抗効果型ヘッドと磁気テープ間のスペーシングを測定することができるスペーシング測定方法及び前記スペーシングを調整することができるスペーシング調整方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】スペーシング測定方法に使用されるスペーシング測定装置１０と、スペーシング測定装置１０が設置される磁気テープドライブ３０の概略構成図である。
【図２】測定用テープＭＴを示す概略斜視図である。
【図３】スペーシング測定装置１０の再生信号分析部１１に入力された再生信号の一例を示すグラフである。
【図４】本発明に係るスペーシング制御方法に使用されるスペーシング制御装置２０と、スペーシング制御装置２０が設置される磁気テープドライブ３０の概略構成図である。
【図５】測定用テープＭＴの記録面Ｓに存在する高さが１８０ｎｍの突起Ｐ４をＭＲヘッド３２が通過した際に、スペーシング測定装置１０の再生信号分析部１１に入力される再生信号の一例を示すグラフであり、（ａ）は０．０５ＭＰａの圧力のエアを測定用テープＭＴに対して噴出した場合、（ｂ）は０．０４ＭＰａのエア圧を噴出した場合、（ｃ）は０．０３ＭＰａのエア圧を噴出した場合、（ｄ）は０．０２ＭＰａのエア圧を噴出した場合をそれぞれ示す。
【図６】測定用テープＭＴをＭＲヘッド３２の磁気抵抗効果素子側に押圧する際のエア圧と、ＭＲヘッド３２と測定用テープＭＴ間のスペーシングとの関係を示すグラフである。
【符号の説明】
１０    スペーシング測定装置
１１    突起情報記憶部
１２    再生信号分析部
１３    スペーシング判定部
２０    スペーシング調整装置
２１    エア噴出装置
２１ａ  ノズル
２１ｂ  コンプレサ
２１ｃ  エアチューブ
２１ｄ  バルブ
２２    エア情報記憶部
２３    エア圧制御部
３０    磁気テープドライブ
ＭＴ    測定用テープ
【図１】
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【図２】
2004171649.tif 000004
【図３】
2004171649.tif 000005
【図４】
2004171649.tif 000006
【図５】
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【図６】
2004171649.tif 000008