(57)【要約】【課題】欠陥が存在するディスクであっても信頼性を低下させることなく処理することが可能なディスク装置を提供すること。【解決手段】ディスクの欠陥を検出する欠陥検出手段（３０）と、前記欠陥検出手段による欠陥検出結果に基づき、前記ディスクの全記録領域のうち実際に記録可能な実記録領域を設定する設定手段（２６）と、前記設定手段により設定された実記録領域に対してユーザ情報を記録する記録手段（２３）とを備えている。【選択図】    図１
2004171700.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクの欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段による欠陥検出結果に基づき、前記ディスクの全記録領域のうち実際に記録可能な実記録領域を設定する設定手段と、
前記設定手段により設定された実記録領域に対してユーザ情報を記録する記録手段と、
を備えたことを特徴とするディスク装置。
【請求項２】
前記欠陥検出手段は、所定の領域単位で欠陥を検出し、
前記設定手段は、前記欠陥検出手段による欠陥検出結果に基づき、所定の領域単位で記録性能を求め、前記ディスクの全記録領域のうち所定レベルの記録性能を満たす領域を実際に記録可能な実記録領域として設定する、
ことを特徴とする請求項１に記載のディスク装置。
【請求項３】
前記欠陥検出手段は、半径距離に応じた所定の領域単位で欠陥を検出し、
前記設定手段は、前記欠陥検出手段による欠陥検出結果に基づき、所定の領域単位で記録性能を求め、前記ディスクの全記録領域のうち所定レベルの記録性能を満たさない領域のうち、最も内周側に位置する領域よりもさらに内周側の領域を実際に記録可能な実記録領域として設定する、
ことを特徴とする請求項１に記載のディスク装置。
【請求項４】
前記欠陥検出手段は、半径距離に応じた所定の領域単位で半径距離毎に異なる第１の欠陥を検出し、ディスク全体で共通な第２の欠陥を検出し、
前記設定手段は、前記欠陥検出手段による欠陥検出結果に基づき、所定の領域単位で記録性能を求め、前記ディスクの全記録領域のうち所定レベルの記録性能を満たさない領域のうち、最も内周側に位置する領域よりもさらに内周側の領域を実際に記録可能な実記録領域として設定する、
ことを特徴とする請求項１に記載のディスク装置。
【請求項５】
前記設定手段は、前記ディスクの全記録領域のうち、前記実記録領域以外に既にユーザ情報が記録されている場合、このディスクを追記不可として設定する、
ことを特徴とする請求項１に記載のディスク装置。
【請求項６】
ディスクの欠陥を検出し、
欠陥検出結果に基づき、前記ディスクの全記録領域のうち実際に記録可能な実記録領域を設定する、
ことを特徴とするディスク処理方法。
【請求項７】
所定の領域単位で欠陥を検出し、
欠陥検出結果に基づき、所定の領域単位で記録性能を求め、前記ディスクの全記録領域のうち所定レベルの記録性能を満たす領域を実際に記録可能な実記録領域として設定する、
ことを特徴とする請求項６に記載のディスク処理方法。
【請求項８】
半径距離に応じた所定の領域単位で欠陥を検出し、
欠陥検出結果に基づき、所定の領域単位で記録性能を求め、前記ディスクの全記録領域のうち所定レベルの記録性能を満たさない領域のうち、最も内周側に位置する領域よりもさらに内周側の領域を実際に記録可能な実記録領域として設定する、
ことを特徴とする請求項６に記載のディスク処理方法。
【請求項９】
半径距離に応じた所定の領域単位で半径距離毎に異なる第１の欠陥を検出し、ディスク全体で共通な第２の欠陥を検出し、
欠陥検出結果に基づき、所定の領域単位で記録性能を求め、前記ディスクの全記録領域のうち所定レベルの記録性能を満たさない領域のうち、最も内周側に位置する領域よりもさらに内周側の領域を実際に記録可能な実記録領域として設定する、
ことを特徴とする請求項６に記載のディスク処理方法。
【請求項１０】
前記ディスクの全記録領域のうち、前記実記録領域以外に既にユーザ情報が記録されている場合、このディスクを追記不可として設定する、
ことを特徴とする請求項６に記載のディスク処理方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、及びＤＶＤ−ＲＷ等のディスクに情報を記録するディスク装置に関する。また、これらディスクを処理するディスク処理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、及びＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクが登場し、これに伴いこれら光ディスクに対して情報を記録したり、これら光ディスクから情報を再生したりする光ディスクドライブも登場している。
【０００３】
光ディスクドライブは、光ディスクを受け取ったとき、受け取った光ディスクの論理的及び物理的仕様を測定することにより、光ディスクに対して再生動作及び記録動作を正常に行なうことができる。
【０００４】
また、光ディスクドライブは、論理的及び物理的仕様の測定以外にも、光ディスクの各種の欠陥を測定する場合がある。その欠陥の測定の結果に応じて、光ディスクドライブが最適記録パワー値を求める技術が開示されている（特許文献１）。
【０００５】
【特許文献１】
特開平１０−３１２５６８
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した従来技術によると、欠陥が存在する領域にも情報が記録されるため、光ディスクの信頼性低下という問題が起こり得る。また、一部の酷い欠陥により光ディスク全体が使用できなくなってしまうおそれもある。
【０００７】
この発明の目的は、上記したような事情に鑑み成されたものであって、欠陥が存在するディスクであっても信頼性を低下させることなく処理することが可能なディスク装置及びディスク処理方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決し目的を達成するために、この発明のディスク装置及びディスク処理方法は、以下のように構成されている。
【０００９】
（１）この発明のディスク装置は、ディスクの欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段による欠陥検出結果に基づき、前記ディスクの全記録領域のうち実際に記録可能な実記録領域を設定する設定手段と、前記設定手段により設定された実記録領域に対してユーザ情報を記録する記録手段と、を備えている。
【００１０】
（２）この発明のディスク処理方法は、ディスクの欠陥を検出し、欠陥検出結果に基づき、前記ディスクの全記録領域のうち実際に記録可能な実記録領域を設定する。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００１２】
図１は、この発明の一例に係る光ディスク装置の概略構成を示す図である。この光ディスク装置は、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、及びＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクＤに情報を記録したり、これら光ディスクＤに記録されたデータを再生したりする。
【００１３】
図１に示すように、光ディスク装置は、光ピックアップ１０、変調回路２１、記録制御部２２、レーザ制御回路２３、信号処理回路２４、復調回路２５、記録可能領域設定部２６、アクチュエータ２７、欠陥検出部３０を備えている。
【００１４】
また、光ピックアップ１０は、レーザ１１、コリメートレンズ１２、偏光ビームスプリッタ（以下ＰＢＳ）１３、４分の１波長板１４、対物レンズ１５、集光レンズ１６、光検出器１７を備えている。
【００１５】
また、欠陥検出部３０は、フォーカスエラー信号生成回路３１、フォーカス制御回路３２、トラッキングエラー信号生成回路３３、トラッキング制御回路３４を備えている。
【００１６】
まず、この光ディスク装置による光ディスクＤに対する情報の記録について説明する。変調回路２１は、所定の変調方式に従って記録情報（データシンボル）をチャネルビット系列に変調する。記録情報に対応したチャネルビット系列は、記録制御部２２に入力される。記録制御部２２は、アクチュエータ２７に制御信号を出力し、目的の記録位置に光ビームが適切に集光されるように光ピックアップを駆動させる。さらに、記録制御部２２は、チャネルビット系列をレーザ制御回路２３に供給する。レーザ制御回路２３は、チャネルビット系列をレーザ駆動波形に変換し、レーザ１１を駆動させる。つまり、レーザ制御回路２３は、レーザ１１をパルス駆動させる。これに伴い、レーザ１１は、所望のビット系列に対応した記録用の光ビームを照射する。レーザ１１から照射された記録用の光ビームは、コリメートレンズ１２で平行光となり、ＰＢＳ１３に入射し、透過する。ＰＢＳ１３を透過したビームは、４分の１波長板１４を透過し、対物レンズ１５により光ディスクＤの情報記録面に集光される。集光された記録用の光ビームは、フォーカス制御回路３２並びにアクチュエータ２７によるフォーカス制御、及びにトラッキング制御回路３４並びにアクチュエータ２７によるトラッキング制御により、記録面上に最良の微小スポットが得られる状態で維持される。
【００１７】
続いて、この光ディスク装置による光ディスクＤからのデータの再生について説明する。レーザ制御回路２３は、再生制御信号に基づきレーザ１１を駆動させる。これに伴いレーザ１１は、再生用の光ビームを照射する。レーザ１１から照射された再生用の光ビームは、コリメートレンズ１２で平行光となり、ＰＢＳ１３に入射し、透過する。ＰＢＳ１３を透過した光ビームは４分の１波長板１４を透過し、対物レンズ１５により光ディスクＤの情報記録面に集光される。集光された再生用の光ビームは、フォーカス制御回路１６並びにアクチュエータ２７によるフォーカス制御、及びトラッキング制御回路１７並びにアクチュエータ２７によるトラッキング制御により、記録面上に最良の微小スポットが得られる状態で維持される。このとき、光ディスクＤ上に照射された再生用の光ビームは、情報記録面内の反射膜あるいは反射性記録膜により反射される。反射光は対物レンズ１５を逆方向に透過し、再度平行光となる。反射光は４分の１波長板１４を透過し、入射光に対して垂直な偏光を持ち、ＰＢＳ１３では反射される。ＰＢＳ１３で反射されたビームは集光レンズ１６により収束光となり、光検出器１７に入射される。光検出器１７は、例えば、４分割のフォトディテクタから構成されている。光検出器１７に入射した光束は光電変換されて電気信号となり増幅される。増幅された信号は信号処理回路２４にて等化され２値化され、復調回路２５に送られる。復調回路２５では所定変調方式に対応した復調動作が施されて、再生データが出力される。
【００１８】
また、光検出器１７から出力される電気信号の一部に基づき、フォーカスエラー信号生成回路３１によりフォーカスエラー信号が生成される。同様に、光検出器１７から出力される電気信号の一部に基づき、トラッキングエラー信号生成回路３３によりトラッキングエラー信号が生成される。フォーカス制御回路３２は、フォーカスエラー信号に基づきアクチュエータ２７を制御し、ビームスポットのフォーカスを制御する。トラッキング制御回路３４は、トラッキングエラー信号に基づきアクチュエータ２７を制御し、ビームスポットのトラッキングを制御する。
【００１９】
また、欠陥検出部３０は、例えばフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を監視して、光ディスクの欠陥を検出する。なお、光ディスクの欠陥検出には、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号以外にも、様々な要素を利用することができる。光ディスクの欠陥は、光ディスクの記録再生性能を低下させるものである。欠陥検出部３０が検出する欠陥は、例えば、次のようなものがある。
・ディスクの反り
・ディスクの重心の偏り
・ディスクの中心の偏り
・ディスクの波うち
記録可能領域設定部３０は、欠陥検出結果に基づき、光ディスクＤの全記録領域のうち、実際に記録可能な記録可能領域（＝実記録領域）を設定する。記録可能領域設定部３０で設定された記録可能領域に関する情報は、記録制御部２２に通知される。記録制御部２２は、記録可能領域内にユーザ情報が記録されるように、アクチュエータ２７を制御する。
【００２０】
次に、光ディスクの欠陥の測定及び光ディスクの記録性能について説明する。図１に示す光ディスク装置に光ディスクＤが挿入されると、光ディスク装置は、挿入された光ディスクＤの記録性能を低下させる欠陥を測定する。つまり、上述したように、欠陥検出部３０が、例えばフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を監視して、光ディスクの欠陥を検出する。
【００２１】
ここで、測定する欠陥の要素の個数をｎとする。欠陥の各要素をＤ１、Ｄ２、、、Ｄｎとする。挿入された光ディスクＤをｍ（ｍは自然数）個の領域１、２、、、ｍに分割する。欠陥の要素Ｄｉの各領域ｊに対応する値をＤｉｊとする。つまり、ある欠陥の要素Ｄｉが各領域毎に測定可能である場合、領域ｊにおいて測定された欠陥の要素Ｄｉの値を、Ｄｉｊとする。ある欠陥の要素Ｄｉが各領域に依存性が無く一定の場合、Ｄｉ１＝Ｄｉ２＝、、、＝Ｄｉｍとなる。挿入された光ディスクＤの記録性能を低下させる欠陥の測定の結果、以下が求まる。
・領域１に対する欠陥の各要素の測定値の集合｛Ｄ１１、Ｄ２１、、、Ｄｎ１｝
・領域２に対する欠陥の各要素の測定値の集合｛Ｄ１２、Ｄ２２、、、Ｄｎ２｝
・・・
・領域ｊに対する欠陥の各要素の測定値の集合｛Ｄ１ｊ、Ｄ２ｊ、、、Ｄｎｊ｝
・・・
領域ｍに対する欠陥の各要素の測定値の集合｛Ｄ１ｍ、Ｄ２ｍ、、、Ｄｎｍ｝
領域ｊに対する欠陥の各要素の測定値の集合｛Ｄ１ｊ、Ｄ２ｊ、、、Ｄｎｊ｝
より領域ｊにおける予測される記録性能Ａｊが求まる。
【００２２】
Ａｊ＝ｆ（Ｄ１ｊ、Ｄ２ｊ、、、Ｄｎｊ）
記録可能領域設定部２６は、このＡｊを用いて各領域の記録可能判定を行なう。
【００２３】
次に、より具体的に光ディスクの欠陥の測定及び光ディスクの記録性能について説明する。同時に、図２に示すフローチャートを参照して、光ディスクの処理方法について説明する。ここでは、例えばＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクＤの欠陥の測定について説明する。
【００２４】
光ディスクをｎ（ｎは自然数）個の領域１、、、ｎ（内周側より１を与える）に分割する。つまり、半径距離の異なるリング状のｎ個の領域に分割する。ディスクの欠陥の測定から得られる各欠陥成分から推測される記録性能Ａは各領域毎に与えられ、領域ｋ（ｋはｋ＜ｎ＋１である自然数）の記録性能はＡｋと表される。
【００２５】
ディスクの欠陥には、例えばディスクの反り（反り成分Ｓ）、ディスクの波うち（面ぶれ成分Ｍ）、ディスクの重心の偏り（偏重心成分Ｈ）、ディスクの中心の偏り（偏心成分Ｃ）がある。反り成分Ｓ、面ぶれ成分Ｍは各領域毎に測定可能であり、各領域毎の反り成分はＳｋ、面ぶれ成分はＭｋと表される。つまり、これら反り成分Ｓ、面ぶれ成分Ｍは、半径距離毎に検出可能な欠陥要素である。
【００２６】
光ディスク装置に光ディスクＤが挿入されると、光ディスク装置は光ディスクＤを検出し（ＳＴ１）、上記欠陥成分を測定する（ＳＴ２）。反り成分Ｓは各領域でディスク面の傾きを測定し、領域毎にＳ１、Ｓ２、、、Ｓｎを求める。面ぶれ成分Ｍは各領域でのフォーカスエラー信号より測定し、各領域毎にＭ１、Ｍ２、、、Ｍｎを求める。偏重心成分Ｈ、偏心成分Ｃは全領域共通で、Ｈ、Ｃを求める。求められた各領域の欠陥成分から各領域の記録性能Ａｋを求める。領域ｋの記録性能は、以下のように示される。
【００２７】
Ａｋ＝ｆ（Ｓｋ、Ｍｋ、Ｈ、Ｃ）
Ａｋの値が大きいほど記録性能が悪くなるようにｆを定義する。
【００２８】
十分な記録性能が得られる閾値をＴと定義する。
【００２９】
Ａｋ＜Ｔを満たす領域ｋは記録可能な領域と決定され、満たさない領域ｋは記録不可な領域と決定される。
【００３０】
光ディスクＤにおける全記録領域がＡｋ＜Ｔを満たす場合は、測定結果が良好であるとして（ＳＴ３、ＹＥＳ）、光ディスクＤは通常のディスクとして扱われる（ＳＴ８）。つまり、光ディスクＤの全記録領域が記録可能領域として扱われる。
【００３１】
光ディスクＤにおける全記録領域がＡｋ＜Ｔを満たさない場合は、測定結果が良好でないとして（ＳＴ３、ＮＯ）、記録可能領域設定部２６により記録可能領域が設定される（ＳＴ４）。Ａｋ＜Ｔを満たさない領域のうち最も内周側の領域にあたるｋ（最小のｋ）をｋ０とすると、光ディスクＤにおける全記録領域のうち、領域１、２、、、ｋ０−１が記録可能領域となる。ここで、光ディスクＤにおける全記録領域のうち領域１、２、、、、ｋ０−１以外の領域に既に情報（ユーザ情報）が記録されている場合は（ＳＴ５、ＹＥＳ）、この光ディスクＤは追記不可、消去可として扱われる（ＳＴ７）。光ディスクＤにおける全記録領域のうち領域１、２、、、、ｋ０−１以外の領域に情報（ユーザ情報）が記録されていなければ（ＳＴ５、ＮＯ）、領域１、２、、、ｋ０−１が占める容量がこのディスクの容量（記録可能領域）として扱われる（ＳＴ６）。
【００３２】
以上説明したように、この発明の光ディスク装置及び光ディスク処理方法は、十分な記録性能が得られない欠陥領域を検出し、欠陥領域の検出結果に基づき、光ディスクの全記録領域のうち実際に記録可能な実記録領域を設定する。ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、及びＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクは、一般的に、内周側から外周側に向かってユーザ情報が記録される。つまり、光ディスクの全記録領域のうち、十分な記録性能が得られない欠陥領域を検出し、検出された欠陥領域のうち、最も内周側の欠陥領域よりさらに内側の領域だけを記録可能領域として設定する。これにより、光ディスクの全記録容量のうち欠陥の無い領域だけが使用されることになり、欠陥が存在する光ディスクであっても信頼性を低下させることなく使用することができる。勿論、一部の酷い欠陥により光ディスクが全く使用できなくなるという事態も回避することができる。
【００３３】
なお、本願発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、各実施形態は可能な限り適宜組み合わせて実施してもよく、その場合組み合わせた効果が得られる。更に、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適当な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【００３４】
【発明の効果】
この発明によれば、欠陥が存在する光ディスクであっても信頼性を低下させることなく処理することが可能なディスク装置及びディスク処理方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一例に係る光ディスク装置の概略構成を示す図である。
【図２】光ディスクの取り扱い方法の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１０…光ピックアップ
１１…レーザ
１２…コリメートレンズ
１３…偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）
１４…４分の１波長板
１５…対物レンズ
１６…集光レンズ
１７…光検出器
２１…変調回路
２２…記録制御部
２３…レーザ制御回路
２４…信号処理回路
２５…復調回路
２６…記録可能領域設定部
２７…アクチュエータ
３０…欠陥検出部
３１…フォーカスエラー信号生成回路
３２…フォーカス制御回路
３３…トラッキングエラー信号生成回路
３３…トラッキング制御回路
【図１】
2004171700.tif 000003
【図２】
2004171700.tif 000004