(57)【要約】【課題】　高記録密度時であっても、変調符号における最短マークを良好に形成できる記録条件を設定できる記録条件設定方法を提供する。【解決手段】　光ディスクに、変調符号における最短マークより１記録単位長い第１テストマークと、最短マーク長より２記録単位長以上長い第２テストマークとを含むテストパターンを複数の記録条件で記録する（ステップＳ２）。記録されたテストパターンを再生し（ステップＳ３）、得られた複数の再生信号に基づいて、第１テストマーク及び第２テストマークを良好に形成できる記録条件をそれぞれ選定する（ステップＳ４）。第１テストマーク及び第２テストマークの記録条件に基づいて、最短マークの記録条件を推定により求める（ステップＳ５）。高記録密度時にも、変調符号における最短マークを良好に形成できる。【選択図】　　図１
2004146040.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
　情報記録媒体の記録条件設定方法であって、
　情報記録に使用される変調符号における最短マークより１記録長単位だけ長い第１テストマークを複数の記録条件で記録し、該記録された第１テストマークを再生して得られた複数の再生信号に基づいて第１の記録条件を選定し、
　最短マーク長より２記録単位長以上長くかつ最長マーク以下の長さを有するマークから選定される１つ以上の第２テストマークを複数の記録条件で記録し、該記録された第２テストマークを再生して得られた複数の再生信号に基づいて第２の記録条件を選定し、
　前記第１及び第２の記録条件に基づいて、前記最短マークの記録条件を求めることを特徴とする情報記録媒体の記録条件設定方法。
【請求項２】
　前記最短マークの再生振幅が、最長マークの再生振幅の１０％以下である、請求項１に記載の情報記録媒体の記録条件設定方法。
【請求項３】
　前記最短マークの再生信号を含む再生信号のジッタが、１５％以上であることを特徴とする、請求項１又は２に記載の情報記録媒体の記録条件設定方法。
【請求項４】
　前記複数の記録条件は、記録レーザのレーザパワー、先頭パルス幅、中間パルス幅、後端パルス幅、及び、後端冷却幅の少なくとも１つを可変として得られる、請求項１から３の何れかに記載の記録条件設定方法。
【請求項５】
　前記第１及び第２の記録条件は、前記再生信号のアシンメトリ又はジッタに基づいて選定される、請求項１から４の何れかに記載の記録条件設定方法。
【請求項６】
　情報記録媒体の記録条件設定方法であって、
　情報記録密度を通常記録時の記録密度よりも低くした複数の記録密度で、少なくとも最短マークを含むテストマークを記録し、
　前記記録されたテストマークを再生して、前記複数の記録密度のそれぞれにおいて良好な再生信号が得られる記録条件を求め、
　前記通常記録時の記録密度で記録する少なくとも最短マークの記録条件を、前記複数の記録密度と、前記良好な再生信号が得られた記録条件とに基づいて求めることを特徴とする記録条件設定方法。
【請求項７】
　前記複数の記録密度は、通常の情報記録に使用されるチャネルクロックよりも長い周期のチャネルクロック、及び、通常の情報記録に使用される記録媒体の線速度よりも速い線速度の少なくとも一方を採用して得られることを特徴とする、請求項６に記載の記録条件設定方法。
【請求項８】
　前記通常記録時の記録密度では、前記最短マークの再生振幅は、最長マークの再生振幅の１０％以下であり、前記通常記録時の記録密度よりも低くした複数の記録密度では、前記最短マークの再生振幅は、最長マークの再生振幅の１０％以上である、請求項６又は７に記載の記録条件設定方法。
【請求項９】
　前記最短マークの記録条件は、２次関数の近似によって求められる、請求項６から８の何れかに記載の記録条件設定方法。
【請求項１０】
　前記最短マーク長は、情報記録媒体に光スポットを形成する集光レンズの開口数ＮＡと、光源波長λと、情報記録媒体の基板厚dと、定数αとによって規定される以下の式：
　最短マーク長≧（α／ｄ）×λ／（４×ＮＡ）（但し、１．０<α／ｄ<１．２）
を満たす、請求項１から９の何れかに記載の記録条件設定方法。
【請求項１１】
　前記開口数ＮＡは０．６以上０．７以下、光源波長λは３９０ｎｍ以上４１０ｎｍ以下、記録を行う光ディスクの基板厚が０．６ｍｍ、最短マーク長の下限が１４５ｎｍである、請求項１から１０の何れかに記載の記録条件設定方法。
【請求項１２】
　前記開口数ＮＡは０．７以上０．８５以下、光源波長λは３９０ｎｍ以上４１０ｎｍ以下、記録を行う光ディスクの基板厚が０．１ｍｍ、最短マーク長の下限が１２０ｎｍである、請求項１から１１の何れかに記載の記録条件設定方法。
【請求項１３】
　情報記録媒体に光学的に情報を記録する情報記録装置であって、
　情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定する記録条件設定手段と、
　前記記録条件設定手段によって設定された複数の記録条件を採用して、情報記録に使用される変調符号における最短マークより１記録長単位だけ長い第１テストマーク、及び、最短マーク長より２記録単位長以上長くかつ最長マーク以下の長さを有するマークから選定される１つ以上の第２テストマークを、それぞれ情報記録媒体に記録する記録手段と、
　前記情報記録媒体から前記第１テストマーク及び第２テストマークを再生し再生信号を生成する再生手段と、
　前記第１テストマークの再生信号に基づいて第１の記録条件を、前記第２テストマークの再生信号に基づいて第２の記録条件をそれぞれ選定する信号処理手段と、
　前記信号処理手段によって選定された第１の記録条件及び第２の記録条件に基づいて、前記最短マークの記録条件を設定する記録条件設定手段とを備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項１４】
　情報記録媒体に光学的に情報を記録する情報記録装置であって、
　情報記録密度を通常記録時の記録密度よりも低くした複数の記録密度で、少なくとも最短マークを含むテストマークを記録する記録手段と、
　前記記録手段によって記録されたテストマークを再生して再生信号を生成する再生手段と、
　前記複数の記録密度のそれぞれにおいて、前記再生信号の内から良好な再生信号が得られる記録条件を求める信号処理手段と、
　前記通常記録時の記録密度で記録する少なくとも最短マークの記録条件を、前記複数の記録密度と、前記良好な再生信号が得られた記録条件とに基づいて設定する記録条件設定手段とを備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項１５】
　情報記録再生媒体に情報を記録するための記録条件を設定するためのプログラムであって、
　前記情報記録媒体又は情報記録再生装置にあらかじめ設定された初期記録条件に基づいて、複数のテスト記録条件を設定するステップと、
　前記設定された各テスト記録条件のもとで、情報記録に使用される変調符号における最短マークよりも１記録長単位だけ長い記録マーク（第１テストマーク）と、前記最短マークよりも２記録単位長以上長くかつ最長マーク以下の長さを有するマークから選定される１つ以上の記録マーク（第２テストマーク）とを含むデータを用いて信号を記録するステップと、
　前記記録された信号を再生し、該再生された再生信号のアシンメトリ又はジッタを検出するステップと、
　前記テスト記録条件のそれぞれについて検出されたアシンメトリ又はジッタの絶対値に基づいて、前記第１テストマーク及び第２テストマークのそれぞれについて１つのテスト記録条件を抽出するステップと、
　前記第１テストマークについて得られたテスト記録条件と、前記第２テストマークについて得られたテスト記録条件とに基づいて、最短マークの記録条件を決定するステップとを有することを特徴とするプログラム。
【請求項１６】
　情報記録再生媒体に情報を記録するための記録条件を設定するためのプログラムであって、
　前記情報記録媒体又は情報記録再生装置にあらかじめ設定された初期記録条件又は修正された記録条件に基づいて、複数のテスト記録条件を選定する第１ステップと、
　前記選定されたテスト記録条件のもとで、情報記録に使用される変調符号における最短マークよりも１記録長単位だけ長い記録マーク（第１テストマーク）と、前記最短マークよりも２記録単位長以上長くかつ最長マーク以下の長さを有するマークから選定される１つ以上の記録マーク（第２テストマーク）とを含むデータを用いて信号を記録する第２ステップと、
　前記記録された信号を再生し、該再生された再生信号のアシンメトリ又はジッタを検出する第３ステップと、
　前記テスト記録条件のそれぞれについて検出されたアシンメトリ又はジッタの絶対値に基づいて各テスト記録条件の良否を判定し、第１テストマーク及び第２テストマークの何れかについて良と判定されたテスト記録条件がないときには第２ステップに戻って前記テスト記録条件の選定をやり直し、第１テストマーク及び第２テストマークの双方について良と判定されたテスト記録条件があるときには次のステップに移行する第４ステップと、
　前記第１テストマークについて得られ良と判定されたテスト記録条件と、前記第２テストマークについて得られ良と判定されたテスト記録条件とに基づいて、最短マークの記録条件を決定する第５ステップとを順次に有することを特徴とするプログラム。
【請求項１７】
　情報記録再生媒体に情報を記録するための記録条件を設定するためのプログラムであって、
　情報記録密度を通常記録時の記録密度よりも低い複数の記録密度に設定するステップと、
　前記複数の記録密度のそれぞれについて、前記情報記録媒体又は情報記録再生装置にあらかじめ設定された初期記録条件に基づいて複数のテスト記録条件を選定するステップと、
　前記複数の記録密度のそれぞれについて、前記選定された複数のテスト記録条件で、所定の記録単位長を有するマークを含む信号を記録するステップと、
　前記複数の記録密度のそれぞれについて、前記記録された信号を再生し、該再生された再生信号のアシンメトリ又はジッタを検出するステップと、
　前記複数の記録密度のそれぞれについて、前記テスト記録条件のそれぞれについて検出されたアシンメトリ又はジッタの絶対値に基づいて、前記所定の記録単位長を有するマークについて１つのテスト記録条件を選定するステップと、
　前記複数の記録密度と、前記記録密度のそれぞれについて選定されたテスト記録条件とに基づいて、通常記録時の記録密度における、前記所定の記録単位長を有するマークの記録条件を設定するステップとを有することを特徴とするプログラム。
【請求項１８】
　情報記録再生媒体に情報を記録するための記録条件を設定するためのプログラムであって、
　情報記録密度を通常記録時の記録密度よりも低い所定数の記録密度の内の１つに設定する第１ステップと、
　前記情報記録媒体又は情報記録再生装置にあらかじめ設定された初期記録条件又は修正された記録条件に基づいて、複数のテスト記録条件を選定する第２ステップと、
　前記選定された複数のテスト記録条件で、所定の記録単位長を有するマークを含む信号を記録する第３ステップと、
　前記記録された信号を再生し、該再生された再生信号のアシンメトリ又はジッタを検出する第４ステップと、
　前記テスト記録条件のそれぞれについて検出されたアシンメトリ又はジッタの絶対値に基づいて各テスト記録条件の良否を判定し、良と判定されたテスト記録条件がないときには前記第２ステップに戻って前記複数のテスト記録条件の選定をやり直し、良と判定されたテスト記録条件があるときであって、前記所定数の記録密度の全ての選定が終わっていないときには前記第１のステップに戻って別の記録密度を選定し、前記所定数の記録密度の全ての選定が終わっているときには次のステップに移行する第５ステップと、
　前記複数の記録密度と、前記記録密度のそれぞれについて選定された記録条件とに基づいて、前記通常記録時の記録密度における、前記所定の記録単位長を有するマークの記録条件を設定する第６ステップとを順次に有することを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は、記録条件設定方法、それを用いた情報記録装置、及び、プログラムに関し、特に、光学回折限界近傍の記録マークを含む複数の記録マークを良好に形成するための記録条件設定方法、それを用いた情報記録装置、及び、プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
　近年、ＤＶＤ等に代表される大容量光ディスクが、広く普及している。光ディスクに情報を記録する際には、情報記録用光ディスク装置によって記録用レーザ光を光ディスクの情報記録面に集光し、記録マークを形成する。光ディスクから情報を再生する際には、情報再生用光ディスク装置によって再生用レーザ光を光ディスクの情報記録面に集光し、記録マークによって変調された反射光を検出して情報の再生が行われる。光ディスクは、同じ規格の光ディスクを再生する光ディスク装置であれば、記録を行った光ディスク装置とは異なる装置でも記録情報の再生が可能である。
【０００３】
　光ディスクに情報を記録する方式としては、記録マークの位置に情報を持たせるマークポジション記録方式と、記録マークの前端及び後端に情報を持たせるマークエッジ記録方式との２種類の方式がある。両者の方式を比較すると、マークエッジ記録方式は、より高密度化に適した記録方式ではあるが、記録マークの長さには特に高精度な制御が要求される。
【０００４】
　書き込み可能な光ディスクでは、一般に、レーザ光照射による記録膜の温度上昇によって記録マークが形成される。記録マークの長さは、光ディスクに使用する色素や、金属、トラックピッチなどを含むディスクの構成や、記録クロック、線速度などの条件によって変化する。このため、記録マーク長を高精度に制御するためには、光ディスクに照射するレーザ光のパルス光の強度、パルス形状及びパルス幅（以下、記録ストラテジという）を含む記録条件を、ディスクの構成や線速度に応じて適切に設定する必要がある。
【０００５】
　図１７は、光ディスクに記録マークを形成する際のレーザ出力の波形例を示している。記録マークを形成する際には、例えば、同図（ａ）から（ｄ）までの何れかの波形パターンでレーザ出力を制御し、光ディスクの記録面に照射するレーザ光を制御する。同図（ａ）では、記録マークの長さに相当する時間だけ一定出力のレーザ光を印加して記録マークを形成する。同図（ｂ）及び（ｃ）では、ｎ個、又は、（ｎ−１）個のパルストレインによって、所望のマーク長の記録マークを形成する。同図（ｄ）では、非パルストレインで記録マークの先頭及び後端に対応してレーザ出力を上げて、所望のマーク長の記録マークを形成する。
【０００６】
　一般に、記録マークは、記録再生を行なう際に基準となるクロック（チャネルクロック）の周期をＴとして、Ｔの整数倍の長さに形成される。各記録マークは、例えば、符号化を２／３変換とする（１、７）ＲＬＬ方式では、２Ｔから８Ｔまでの長さの記録マークの何れかによって構成される。ここで、２Ｔは、チャネルクロックの周期Ｔの２倍の長さのスペースと、２倍の長さのマークとからなる周期の信号で構成され、８Ｔは、チャネルクロックの周期Ｔの８倍の長さのスペースと、８倍の長さのマークとからなる周期の信号で構成される。
【０００７】
　光ディスク装置では、光ディスクの記録に先立って、図１７中に示す書き込みパルスの先頭幅Ｔｔｏｐや、中間のパルス幅Ｔｍｐ（又はＴｗ）、書き込みパルスの後端幅Ｔｌｐ、冷却制御時間として設定される後端冷却幅Ｔｃｌなどを、記録ストラテジのパラメータとして設定する。これらパラメータのうち、記録マーク形成の良し悪しに強い影響を与えるパラメータは、媒体の種類によって異なり、先頭幅Ｔｔｏｐの影響が大きい媒体や、後端冷却幅Ｔｃｌの影響がより大きい媒体、後端幅Ｔｌｐの影響が大きい媒体、或いは、それらのパラメータが複合し影響する媒体等が知られている。マークエッジ記録方式では、記録マークの先頭、及び、後端が良好に記録される必要があるため、先頭幅Ｔｔｏｐや後端冷却幅Ｔｃｌが重要なパラメータとなることが多い。
【０００８】
　光ディスク装置では、通常、回路規模や対象媒体の制約があるため、記録ストラテジは一定の規則で構成される。例えば、先頭幅Ｔｔｏｐがある時間幅に設定された記録ストラテジで記録を行う場合には、先頭幅Ｔｔｏｐを同じ値（またはＴｔｏｐ相当）に設定して記録マークの形成が行われる。（１、７）ＲＬＬ方式を例に挙げると、各構成マーク２Ｔ〜８Ｔは、先頭パルス幅Ｔｏｐや後端冷却幅Ｔｃｌが各マーク共通に設定された記録ストラテジで記録されることになる。
【０００９】
　記録ストラテジを適切に設定する方法としては、ＤＶＤ−Ｒを含むＤＶＤリライタブル系で採用されているβ法が知られている。図１８は、β法で使用される信号波形の例を示している。β法では、長いマーク（例えば１１Ｔ）及びスペースと、短いマーク（例えば３Ｔ）及びスペースとを記録条件を変更しながら記録し、その信号を再生してアシンメトリ値（β値）を求め、記録ストラテジを含む記録条件を設定する。
【００１０】
　β値は、図１８に示すように、１１Ｔ及び３Ｔの記録マークの再生波形からまず基準点Ｒｅｆを求め、次いで、１１ＴのピークレベルをＡとし、１１ＴのボトムレベルをＢとして、
　β＝０．５×（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ）
によって算出される。β値は、記録信号品質の評価指標であるジッタσと相関があり、β値が所定範囲以内に収まるように記録条件を設定することで、再生信号中のジッタが少ない良好な記録マークの形成が可能となる。
【００１１】
　一般に、ジッタσが１５％以上になると、エラー訂正処理を行っても再生信号のエラーが訂正できなくなるため、ジッタσは１５％以下に抑える必要がある。例えば、ジッタσとビットエラーレートＢＥＲの相関としては、ビットエラーレートＢＥＲ＝１０-4で、ジッタσ＝１２．８％程度の相関が知られている。ジッタσの劣化要因としては、記録パワーの設定誤差や、記録ストラテジの設定誤差、フォーカスの設定誤差、チルトの設定誤差等があげられる。
【００１２】
　現在の光ディスク装置では、全ての記録条件が最適値に設定されている場合であっても、ジッタσは８％程度までしか低下しない。記録パワー及び記録ストラテジの設定誤差に許容されるジッタ劣化分は２％程度であるため、記録条件の設定に当たっては、ジッタσが１０％以下になるように、記録パワー及び記録ストラテジの各パラメータを調整することが望ましい。
【００１３】
　記録条件を最適化する技術として、特開２０００−３０２５４号公報（特許文献１）には、記録パワーに関しては最長マークの理論的なマーク長を指針として決定し、記録ストラテジに関しては全記録マークを含んだジッタ、又は、最短記録マークのみのジッタが最小になる記録ストラテジを選択する技術が記載されている。
【００１４】
　また、光ディスク装置での高密度化再生技術としては、パーシャルレスポンス波形等化と最尤検出を組み合わせたＰＲＭＬ(Partial Response Maximum Likelihood)技術（「1994年、テレビジョン学会年次大会(ITE’94)予稿集、287〜288頁」（非特許文献１））が知られている。この技術では、再生チャネルを考慮した最尤検出器の特性を最大限に引き出すために、再生信号を波形等化によって補正した後に、最尤検出する。ＰＲＭＬ技術を用いた場合には、最短マークの再生分解能が十分になくても高密度再生性能が確保できる利点がある。
【特許文献１】特開２０００−３０２５４号公報
【非特許文献１】1994年、テレビジョン学会年次大会(ITE’94)予稿集、287〜288頁
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
　ここで、図１９は、記録データの例（ａ）、及び、その記録データの再生信号波形の例（ｂ）を示している。同図（ｂ）中の実線２２は、点線２１で示すときよりも記録密度が高いときの再生信号波形を示している。高密度化がより進み、ディスク上に記録される記録マーク長が短くなっていくと、同図（ｂ）に示すように、短い記録マークでは再生信号の振幅が低下し、記録マークが形成されているにも拘わらず、マーク位置測定のための信号スライスレベル２３を下回ることがある。再生信号の振幅がスライスレベル２３を下回ると、記録マークの前端及び後端の位置を精度よく測定することができなくなるという問題が発生する。
【００１６】
　特に、光学回折限界に近い長さの記録マークでは、十分な再生信号の振幅が得られず、符号間干渉の影響が大きくなるために、ジッタやアシンメトリ値の検出精度が低下する。このため、上記特許文献１を含め、従来のジッタを用いる方法やアシンメトリ値を用いる方法では、再生信号を直接用いて記録ストラテジの最適化を行うことが困難となる。
【００１７】
　図２０は、レーザ波長４０５ｎｍ、開口数ＮＡ＝０．８５の光ヘッドを搭載した光ディスクで、カバー層厚（基板厚）０．１ｍｍの相変化ディスクで記録／再生を行って得られた再生アイパタンの波形例を示している。同図（ａ）は変調符号における最短マークの記録マーク長が０．１６６μｍとなる記録密度で記録を行った場合の再生アイパタンを示し、同図（ｂ）は最短マークの記録マーク長が０．１４８μｍとなる記録密度で記録を行った場合の再生アイパタンを示し、同図（ｃ）は最短マークの記録マーク長が０．１２５μｍとなる記録密度で記録を行った場合の再生アイパタンを示している。同図（ａ）から（ｃ）に示すように、最短マークの記録マーク長が短くなるに従って、つまり、記録密度が高くなるに従って、振幅中心の短マーク部分で波形の分離ができなくなることがわかる。
【００１８】
　図２１は、最短マーク長とジッタの関係を示している。記録密度を高くしていき、変調符号における最短マーク長を短くしていくと、再生信号のジッタが増えていくことがわかる。特に、変調符号における最短マークの再生信号振幅と、最長マークの再生信号振幅との比が１０％以下になる、同図中に点線で示すマーク長よりも短いマーク長を最短マーク長とする記録マークの再生信号では、ジッタが１５％を超えることがわかる。ジッタが１５％を超える状態では、各々の記録マークの分散が大きく、各マークに許容されるウインドウを超える状態になることがわかっている。これは、特に短い記録マークでの再生信号の分離が不十分であるために符号間干渉が引き起こされ、記録密度が低いときに検出できたマークの生成確度をジッタを用いて精度よく検出することができなくなることを示している。同様に、β法では最短マークのアシンメトリ値の検出精度が低下し、記録マークが良好に形成できたか否かの的確な判断ができなくなることを示している。
【００１９】
　十分な再生信号の振幅が得られない程度に記録マークを高密度に記録した場合には、ＰＲＭＬ技術が有効である。しかし、ＰＲＭＬ技術は、ＰＲＭＬ検出回路が別途必要になるため回路構成が複雑になる。また、ＰＲＭＬ技術では、既知データとＰＲＭＬ検出した記録再生データとを比較してビットエラーレートを算出するため、比較元のデータが既知である必要があり、ジッタやアシンメトリ値を使用する場合とは異なり、汎用的な扱いが難しいという欠点がある。
【００２０】
　本発明は、上記問題点を解消し、最短マークの再生信号を直接に使用することができないほど高い記録密度で記録を行う場合であっても、簡易かつ高精度に記録条件を設定することができる記録条件設定方法、それを用いた情報記録装置、及び、プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
　上記目的を達成するために、本発明の第１の視点の記録条件設定方法は、情報記録媒体の記録条件設定方法であって、情報記録に使用される変調符号における最短マークより１記録長単位だけ長い第１テストマークを複数の記録条件で記録し、該記録された第１テストマークを再生して得られた複数の再生信号に基づいて第１の記録条件を選定し、最短マーク長より２記録単位長以上長くかつ最長マーク以下の長さを有するマークから選定される１つ以上の第２テストマークを複数の記録条件で記録し、該記録された第２テストマークを再生して得られた複数の再生信号に基づいて第２の記録条件を選定し、前記第１及び第２の記録条件に基づいて、前記最短マークの記録条件を求めることを特徴とする。
【００２２】
　本発明の第１の視点の記録条件設定方法では、複数の記録条件で記録した第１及び第２テストマークのそれぞれについて、テストマークを再生した信号が良好になる記録条件を求め、第１及び第２のテストマークを良好に形成できる記録条件に基づいて、例えば、線形推定補間を利用して最短マークを良好に形成できる記録条件を求める。このため、記録密度が高いために最短マークの再生信号から最短マークを良好に形成できる記録条件を直接的に求めることができない場合についても、簡易に最短マークの記録条件を求めることができる。
【００２３】
　本発明の第１の視点の記録条件設定方法は、前記最短マークの再生振幅が最長マークの再生振幅の１０％以下である情報記録媒体への記録や、前記最短マークの再生信号を含む再生信号のジッタが１５％以上である情報媒体への記録に適用することができる。これらの場合には、最短マークを再生した信号の品質が悪く、再生信号から直接的に記録条件を求めることができないが、再生信号から直接的に記録条件が求まるより長い記録マークを良好に形成できる記録条件に基づいて、最短マークの記録条件を設定することができる。
【００２４】
　本発明の第１の視点の記録条件設定方法では、前記複数の記録条件を、記録レーザのレーザパワー、先頭パルス幅、中間パルス幅、後端パルス幅、及び、後端冷却幅の少なくとも１つを可変として得ることが好ましい。これらのパラメータのうち、記録媒体に記録を行う際に影響が大きいパラメータを適切に設定することで、最短マークについても、記録マークを良好に形成することができる。
【００２５】
　本発明の第１の視点の記録条件設定方法では、前記第１及び第２の記録条件を、前記再生信号のアシンメトリ又はジッタに基づいて選定することが好ましい。第１及び第２の記録条件は、第１及び第２テストパターンの再生信号に基づいて、従来の方法と同様な方法で選定することができる。
【００２６】
　本発明の第２の視点の記録条件設定方法は、情報記録媒体の記録条件設定方法であって、情報記録密度を通常記録時の記録密度よりも低くした複数の記録密度で、少なくとも最短マークを含むテストマークを記録し、前記記録されたテストマークを再生して、前記複数の記録密度のそれぞれにおいて良好な再生信号が得られる記録条件を求め、前記通常記録時の記録密度で記録する少なくとも最短マークの記録条件を、前記複数の記録密度と、前記良好な再生信号が得られた記録条件とに基づいて求めることを特徴とする。
【００２７】
　本発明の第２の視点の記録条件設定方法では、通常記録時よりも記録密度を低くした複数の記録密度のそれぞれにおいて、少なくとも変調符号における最短マークを含むテストマークを、記録条件を変化させて情報記録媒体に記録し、テストマークに含まれる各マーク長の記録マークを良好に形成できる記録条件をその再生信号に基づいて求める。複数の記録密度における記録条件の関係に基づいて、少なくとも最短マークの通常記録時の記録条件を、推定により求める。このため、通常記録時には最短マークの再生信号を直接的に使用して記録条件を設定することができない場合についても、記録密度を低くして求めた記録条件を使用することで、最短マークの記録条件を簡易に求めることができる。
【００２８】
　本発明の第２の視点の記録条件設定方法では、前記複数の記録密度を、通常の情報記録に使用されるチャネルクロックよりも長い周期のチャネルクロック、及び、通常の情報記録に使用される記録媒体の線速度よりも速い線速度の少なくとも一方を採用して得ることが好ましい。この場合、通常記録時よりも低い、複数の記録密度を簡易に得ることができる。
【００２９】
　本発明の第２の視点の記録条件設定方法は、前記通常記録時の記録密度では、前記最短マークの再生振幅は、最長マークの再生振幅の１０％以下であり、前記通常記録時の記録密度よりも小さくした複数の記録密度では、前記最短マークの再生振幅は、最長マークの再生振幅の１０％以上であることが好ましい。この場合、記録密度を低下させたときの最短マークの再生信号を直接的に使用してその記録密度での最短マークを良好に形成できる記録条件を求め、それらを使用して通常記録時の最短マークを良好に形成できる記録条件を設定することができる。
【００３０】
　本発明の第２の視点の記録条件設定方法では、前記最短マークの記録条件を、２次関数の近似によって求めることが好ましい。複数の記録密度における最短マークを良好に形成できる記録条件の関係を２次曲線で近似することで、通常記録時の最短マークを良好に形成できる記録条件を求めることができる。
【００３１】
　本発明の記録条件設定方法では、前記最短マーク長が、情報記録媒体に光スポットを形成する集光レンズの開口数ＮＡと、光源波長λと、情報記録媒体の基板厚ｄと、定数αとによって規定される以下の式：
　最短マーク長≧（α／ｄ）×λ／（４×ＮＡ）（但し、１．０<α／ｄ<１．２）
を満たすことが好ましい。最短マーク長が光学回折限界近傍に設定されている場合には、最短マークの再生信号の振幅が小さく、再生信号を直接的に使用して最短マークの記録条件を求めることができないが、本発明では、その場合であっても、簡易に最短マークを良好に形成できる記録条件を簡易に求めることができる。
【００３２】
　本発明の記録条件設定方法では、前記開口数ＮＡを０．６以上０．７以下、光源波長λを３９０ｎｍ以上４１０ｎｍ以下、記録を行う光ディスクの基板厚を０．６ｍｍとし、最短マーク長の下限を１４５ｎｍとすることができる。
【００３３】
　本発明の記録条件設定方法では、前記開口数ＮＡを０．７以上０．８５以下、光源波長λを３９０ｎｍ以上４１０ｎｍ以下、記録を行う光ディスクの基板厚を０．１ｍｍとし、最短マーク長の下限を１２０ｎｍとすることができる。
【００３４】
　本発明の第１の視点の情報記録装置は、情報記録媒体に光学的に情報を記録する情報記録装置であって、情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定する記録条件設定手段と、前記記録条件設定手段によって設定された複数の記録条件を採用して、情報記録に使用される変調符号における最短マークより１記録長単位だけ長い第１テストマーク、及び、最短マーク長より２記録単位長以上長くかつ最長マーク以下の長さを有するマークから選定される１つ以上の第２テストマークを、それぞれ情報記録媒体に記録する記録手段と、前記情報記録媒体から前記第１テストマーク及び第２テストマークを再生し再生信号を生成する再生手段と、前記第１テストマークの再生信号に基づいて第１の記録条件を、前記第２テストマークの再生信号に基づいて第２の記録条件をそれぞれ選定する信号処理手段と、前記信号処理手段によって選定された第１の記録条件及び第２の記録条件に基づいて、前記最短マークの記録条件を設定する記録条件設定手段とを備えることを特徴とする。
【００３５】
　本発明の第１の視点の情報記録装置では、信号処理手段は、複数の記録条件で記録した第１及び第２テストマークのそれぞれについて、テストマークを再生した信号が良好になる記録条件を選定する。記録条件設定手段は、選定された第１及び第２のテストマークを良好に形成できる記録条件に基づいて、例えば、線形推定補間を利用して最短マークを良好に形成できる記録条件を設定する。このため、情報記録装置は、記録密度が高く、最短マークの再生信号から最短マークを良好に形成できる記録条件を直接的に求めることができない場合についても、最短マークの記録条件を簡易に設定することができる。
【００３６】
　本発明の第２の視点の情報記録装置は、情報記録媒体に光学的に情報を記録する情報記録装置であって、情報記録密度を通常記録時の記録密度よりも低くした複数の記録密度で、少なくとも最短マークを含むテストマークを記録する記録手段と、前記記録手段によって記録されたテストマークを再生して再生信号を生成する再生手段と、前記複数の記録密度のそれぞれにおいて、前記再生信号の内から良好な再生信号が得られる記録条件を求める信号処理手段と、前記通常記録時の記録密度で記録する少なくとも最短マークの記録条件を、前記複数の記録密度と、前記良好な再生信号が得られた記録条件とに基づいて設定する記録条件設定手段とを備えることを特徴とする。
【００３７】
　本発明の第２の視点の情報記録装置では、信号処理手段は、通常記録時よりも記録密度を低くした複数の記録密度のそれぞれにおいて、少なくとも変調符号における最短マーク含むテストマークを記録条件を変化させて情報記録媒体に記録し、テストマークに含まれる各マーク長の記録マークを良好に形成できる記録条件をその再生信号に基づいて求める。記録条件設定手段は、複数の記録密度における記録条件の関係に基づいて、少なくとも最短マークの通常記録時の記録条件を推定により求める。このため、情報記録装置は、通常記録時には最短マークの再生信号を直接的に使用して記録条件を設定することができない場合についても、記録密度を低くして求めた記録条件を使用することで、最短マークの記録条件を簡易に設定することができる。
【００３８】
　本発明の第１の視点のプログラムは、情報記録再生媒体に情報を記録するための記録条件を設定するためのプログラムであって、前記情報記録媒体又は情報記録再生装置にあらかじめ設定された初期記録条件に基づいて、複数のテスト記録条件を設定するステップと、前記設定された各テスト記録条件のもとで、情報記録に使用される変調符号における最短マークよりも１記録長単位だけ長い記録マーク（第１テストマーク）と、前記最短マークよりも２記録単位長以上長くかつ最長マーク以下の長さを有するマークから選定される１つ以上の記録マーク（第２テストマーク）とを含むデータを用いて信号を記録するステップと、前記記録された信号を再生し、該再生された再生信号のアシンメトリ又はジッタを検出するステップと、前記テスト記録条件のそれぞれについて検出されたアシンメトリ又はジッタの絶対値に基づいて、前記第１テストマーク及び第２テストマークのそれぞれについて１つのテスト記録条件を抽出するステップと、前記第１テストマークについて得られたテスト記録条件と、前記第２テストマークについて得られたテスト記録条件とに基づいて、最短マークの記録条件を決定するステップとを有することを特徴とする。
【００３９】
　本発明の第１の視点のプログラムは、情報記録再生媒体を読み書きする装置を制御するコンピュータの制御により、記録密度が高いために最短マークの再生信号から最短マークを良好に形成できる記録条件を直接的に求めることができない場合についても、簡易に最短マークの記録条件を求めることができる。
【００４０】
　または、上記に代えて、本発明の第１の視点の別のプログラムは、情報記録再生媒体に情報を記録するための記録条件を設定するためのプログラムであって、前記情報記録媒体又は情報記録再生装置にあらかじめ設定された初期記録条件又は修正された記録条件に基づいて、複数のテスト記録条件を選定する第１ステップと、前記選定されたテスト記録条件のもとで、情報記録に使用される変調符号における最短マークよりも１記録長単位だけ長い記録マーク（第１テストマーク）と、前記最短マークよりも２記録単位長以上長くかつ最長マーク以下の長さを有するマークから選定される１つ以上の記録マーク（第２テストマーク）を含むデータを用いて信号を記録する第２ステップと、前記記録された信号を再生し、該再生された再生信号のアシンメトリ又はジッタを検出する第３ステップと、前記テスト記録条件のそれぞれについて検出されたアシンメトリ又はジッタの絶対値に基づいて各テスト記録条件の良否を判定し、第１テストマーク及び第２テストマークの何れかについて、良と判定されたテスト記録条件がないときには第２ステップに戻って前記テスト記録条件の選定をやり直し、第１テストマーク及び第２テストマークの双方について良と判定されたテスト記録条件があるときには次のステップに移行する第４ステップと、前記第１テストマークについて得られ良と判定されたテスト記録条件と、前記第２テストマークについて得られ良と判定されたテスト記録条件とに基づいて、最短マークの記録条件を決定する第５ステップとを順次に有することを特徴とする。
【００４１】
　本発明の第１の視点の別のプログラムでは、第４ステップで、第１テストマーク及び第２テストマークの双方について良と判定されたテスト記録条件があると判断された段階で、第５ステップに進むため、例えば記録条件の２つのパラメータの値をそれぞれ所定の範囲で変動させて記録条件を設定する際には、全ての組合せについて第２ステップを実行しなくてもよいため、全ての組合せで第２ステップを実行する場合に比して、記録条件の設定に要する時間を短縮することができる。
【００４２】
　本発明の第２の視点のプログラムは、情報記録再生媒体に情報を記録するための記録条件を設定するためのプログラムであって、情報記録密度を通常記録時の記録密度よりも低い複数の記録密度に設定するステップと、前記複数の記録密度のそれぞれについて、前記情報記録媒体又は情報記録再生装置にあらかじめ設定された初期記録条件に基づいて複数のテスト記録条件を選定するステップと、前記複数の記録密度のそれぞれについて、前記選定された複数のテスト記録条件で、所定の記録単位長を有するマークを含む信号を記録するステップと、前記複数の記録密度のそれぞれについて、前記記録された信号を再生し、該再生された再生信号のアシンメトリ又はジッタを検出するステップと、前記複数の記録密度のそれぞれについて、前記テスト記録条件のそれぞれについて検出されたアシンメトリ又はジッタの絶対値に基づいて、前記所定の記録単位長を有するマークについて１つのテスト記録条件を選定するステップと、前記複数の記録密度と、前記記録密度のそれぞれについて選定されたテスト記録条件とに基づいて、通常記録時の記録密度における、前記所定の記録単位長を有するマークの記録条件を設定するステップとを有することを特徴とする。
【００４３】
　本発明の第２の視点のプログラムは、情報記録再生媒体を読み書きする装置を制御するコンピュータの制御により、例えば、情報記録媒体に、所定の記録単位長を有するマークとして、最短マークを記録することで、通常記録時には最短マークの再生信号を直接的に使用して記録条件を設定することができない場合についても、記録密度を低くして求めた最短マークの記録条件を使用して、通常記録時の最短マークの記録条件を簡易に求めることができる。
【００４４】
　または、上記に代えて、本発明の第２の視点の別のプログラムは、情報記録再生媒体に情報を記録するための記録条件を設定するためのプログラムであって、情報記録密度を通常記録時の記録密度よりも低い所定数の記録密度の内の１つに設定する第１ステップと、前記情報記録媒体又は情報記録再生装置にあらかじめ設定された初期記録条件又は修正された記録条件に基づいて、複数のテスト記録条件を選定する第２ステップと、前記選定された複数のテスト記録条件で、所定の記録単位長を有するマークを含む信号を記録する第３ステップと、前記記録された信号を再生し、該再生された再生信号のアシンメトリ又はジッタを検出する第４ステップと、前記テスト記録条件のそれぞれについて検出されたアシンメトリ又はジッタの絶対値に基づいて各テスト記録条件の良否を判定し、良と判定されたテスト記録条件がないときには前記第２ステップに戻って前記複数のテスト記録条件の選定をやり直し、良と判定されたテスト記録条件があるときであって、前記所定数の記録密度の全ての選定が終わっていないときには前記第１のステップに戻って別の記録密度を選定し、前記所定数の記録密度の全ての選定が終わっているときには次のステップに移行する第５ステップと、前記複数の記録密度と、前記記録密度のそれぞれについて選定された記録条件とに基づいて、前記通常記録時の記録密度における、前記所定の記録単位長を有するマークの記録条件を設定する第６ステップとを順次に有することを特徴とする。
【００４５】
　本発明の第２の視点の別のプログラムでは、第５ステップで、第１テストマーク及び第２テストマークの双方について良と判定されたテスト記録条件があるか否かを判断するため、例えば記録条件の２つのパラメータの値をそれぞれ所定の範囲で変動させて記録条件を設定する際には、全ての組合せについて第３ステップを実行しなくてもよいため、全ての組合せで第２ステップを実行する場合に比して、記録条件の設定に要する時間を短縮することができる。
【発明の効果】
【００４６】
　本発明の第１の視点の記録条件設定方法、それを用いた情報記録装置、及び、プログラムは、第１及び第２のテストマークのそれぞれの再生信号に基づいて、第１及び第２のテストマークが良好に再生（形成）できる記録条件をそれぞれ選定し、選定された第１及び第２テストマークの記録条件に基づいて、最短マークの記録条件を求める。このため、最長マークの再生信号の振幅と、最短マークの生成信号の振幅との比がほぼ１０％以下となり、最短マークの再生信号を直接的に用いて記録条件を求めることができない場合についても、最短マークの記録条件を簡易に求めることができる。
　また、第２の視点の記録条件設定方法、それを用いた情報記録装置、及び、プログラムは、通常記録時よりも記録密度を低くした複数の記録密度のそれぞれにおいて、少なくとも変調符号における最短マークを含むテストマークに含まれる各マーク長の記録マークを良好に形成できる記録条件をその再生信号に基づいて求め、複数の記録密度における記録条件の関係に基づいて、少なくとも最短マークの通常記録時の記録条件を推定により求める。このため、通常記録時には最短マークの再生信号を直接的に使用して記録条件を設定することができない場合についても、新規な検出機能を付加することなく、最短マークの記録条件を求めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４７】
　以下、図面を参照し、本発明の実施形態例に基づいて、本発明を更に詳細に説明する。図１は、本発明の第１実施形態例の記録条件調整方法の処理の概略を示している。情報の記録・再生を行う光ディスク装置は、光ディスク（情報記録媒体）に情報を記録するのに先立って、同図に示す手順に従って記録ストラテジの各パラメータを含む記録条件を設定する。
【００４８】
　はじめに、記録に用いる記録パワーを含む、記録ストラテジの各パラメータの規定値を、光ディスク装置から、或いは、記録対象の光ディスク自身から読み出す（ステップＳ１１）。これら規定値は、例えば、記録対象の光ディスクに適した記録条件として、メーカによってあらかじめ設定されており、光ディスク装置内の記憶装置に記憶されている。或いは、光ディスクの所定領域に記録されている。ステップＳ１１では、例えば、記録ストラテジのパラメータとして、図１７（ｂ）に示す波形と同様な（ｎ−１）Ｔパルストレインにおける先頭幅Ｔｔｏｐや後端冷却幅Ｔｃｌなどのパラメータや、記録対象の光ディスクに適した記録パワーが読み出される。
【００４９】
　次いで、所定記録パターンを、記録条件を変えながら光ディスクに記録する。記録に用いられる所定記録パターンには、ラン長制限された記録変調後のデータにおける最長マーク（Ｌｍａｘ）の再生信号の振幅と、最短マーク（Ｌｍｉｎ）の再生信号の振幅との比がほぼ１０％以下になるマークを最短マークとして、少なくとも最短マークよりも１Ｔ長い記録マーク（第１テストマーク）と、最短マークよりも２Ｔ以上長く、かつ最長マーク以下の記録マーク（第２テストマーク）が含まれる。ステップＳ１２では、例えば、ステップＳ１１で読み出された規定記録パワーや、（ｎ−１）Ｔパルストレインにおける規定先頭幅Ｔｔｏｐを±０．１５Ｔの範囲で変動させ、１セクタ毎に記録条件を変化させながら、所定記録パターンを、２０４８バイト／セクタ単位で光ディスクに記録する。
【００５０】
　次いで、ステップＳ１２で記録した所定記録パターンを再生し、所定記録パターンから、最短マーク長の再生信号を除いて、記録マーク長ごとにアシンメトリ値を算出する（ステップＳ１３）。アシンメトリ値が算出されると、ジッタ値とアシンメトリ値との相関関係から、記録マークの再生が良好に行える記録パワーと、最短マーク長を除く記録マーク長ごとの記録ストラテジの各パラメータとを決定する（ステップＳ１４）。ステップＳ１４で決定された記録マーク長ごとの記録ストラテジの各パラメータから、最短マーク長における記録ストラテジの各パラメータを計算により求める。具体的には、例えば記録変調後データを（１、７）ＲＬＬとしたときは、ステップＳ１４で決定した４Ｔマーク長の先頭パルス幅４Ｔｔｏｐと、３Ｔマーク長の先頭パルス幅３Ｔｔｏｐから推定補間を用いて、最短マーク長２Ｔの先頭パルス幅２Ｔｔｏｐを計算する。推定補間としては、例えば次式を用いることができる。
２Ｔｔｏｐ＝２×３Ｔｔｏｐ−４Ｔｔｏｐ
【００５１】
　本実施形態例では、所定記録パターンに含まれる最短マーク長よりも１Ｔ長い記録マークの記録ストラテジの各パラメータと、最短マーク長よりも２Ｔ以上長く、かつ最長マーク以下の記録マークの記録ストラテジの各パラメータとを用いて、最短マーク長の記録ストラテジの各パラメータを設定する。このため、再生信号のジッタが大きく、最短マーク長の再生信号から記録ストラテジの各パラメータを設定できない場合であっても、最短マーク長の記録マークを良好に記録するための記録ストラテジの各パラメータを簡易に設定することができる。
【００５２】
　実施例１
　一例として、開口数ＮＡ０．８５、レーザ波長λ４０５ｎｍの光ヘッドを搭載する光ディスク装置を用いて、実験を行った。実験では、カバー層厚０．１ｍｍの相変化型光ディスクに、線速度が５ｍ／ｓ、(１，７)ＲＬＬでの最短マーク２Ｔ長を０．１３μｍ（最短ビット長を０．１０４μｍ／ビット）に設定して記録を行う際の記録条件を、図１に示す手順に従って設定した。光ディスクに記録マークを形成する際のレーザの駆動波形は、図１７（ｂ）に示す（ｎ−１）Ｔパルストレインを採用した。光ディスク装置では、記録パワーＰｗ、先頭幅Ｔｔｏｐ、及び、後端冷却幅Ｔｃｌ以外の各パラメータを、ステップＳ１１（図１）で光ディスク自身から読み出した規定値に設定した。
【００５３】
　図２は、記録条件の変化の組合せ例を示している。ステップＳ１２（図１）では、記録パワーＰｗを、例えば、ステップＳ１１で読み取った値を中心として、−１０〜＋１０（％）の範囲で５％ステップで変化させる。また、先頭幅Ｔｔｏｐ、及び、後端冷却幅Ｔｃｌを、それぞれ、例えば、ステップＳ１１で読みとった規定値を中心として、−０．１５〜＋０．１５（Ｔ）の範囲で、０．０５Ｔステップで変化させる。例えば、ステップＳ１１で読み取った先頭パルス幅Ｔｏｐが１Ｔであったときには、先頭パルス幅Ｔｏｐを０．８５Ｔ〜１．１５Ｔの範囲で変化させ、先頭幅Ｔｔｏｐが０．５Ｔであったときは、先頭パルス幅Ｔｏｐを０．３５Ｔ〜０．６５Ｔの範囲で変化させる。
【００５４】
　実験では、ステップＳ１２において、変化させた先頭幅Ｔｔｏｐ、及び、後端冷却幅Ｔｃｌのそれぞれについて、記録パワーＰｗを、図２中の網掛け部分で示す範囲（２５通り）で変化させた。先頭幅Ｔｔｏｐ及び後端冷却幅Ｔｃｌは、先頭幅Ｔｔｏｐを固定して後端冷却幅Ｔｃｌを変化させる組み合わせ、或いは、その逆に後端冷却幅Ｔｃｌを固定して先頭幅Ｔｔｏｐを変化させる組み合わせを適宜山登り的に決定して変化させた。
【００５５】
　ステップＳ１２では、光ディスクのＰＣＡ（power calibration area）に、２０４８バイト／セクタ単位で、最短マーク（２Ｔ）から最長マーク（８Ｔ）までの各マークを、図２に示す組合せで変化させて記録を行った。ステップＳ１２では、まず、各先頭幅Ｔｔｏｐ及び後端冷却幅Ｔｃｌにおける記録パワーを選定した。記録パワーの選定にあたっては、信号振幅が大きく、調整対象として適している８Ｔマーク及びスペースを使用した。具体的には、従来から用いられている、８Ｔマーク及びスペースの大きさが理論値に最も近くなるレーザパワーを記録パワーとして選定する手法を採用した。
【００５６】
　ステップＳ１３では、次いで、記録した記録マークを再生し、最短マーク（２Ｔ）を除く各記録マーク長について、記録条件ごとにアシンメトリ値を計算し、そのアシンメトリ値に基づいて、記録が良好に行える記録ストラテジのパラメータ（Ｔｔｏｐ、Ｔｃｌ）を記録マーク長ごとに求めた。アシンメトリ値は、光ヘッドと光ディスクの種類との組合せで値が変わるため、あらかじめ、光ヘッドの構成に従って記録が良好に行えると判定される範囲を見積もっておくとよい。また、光ディスクごとに奨励値があるときにはその奨励値に基づいて判定してもよい。なお、４Ｔマークから８Ｔマークを記録する際の先頭幅Ｔｔｏｐ及び後端冷却幅Ｔｃｌは、それらの記録マークについて共通に同じ値を採用することができる。そこで、本実施例では、４Ｔマークについて記録が良好に行える記録ストラテジのパラメータを求め、５Ｔマークから８Ｔマークについては、４Ｔマークと同じパラメータを採用した。
【００５７】
　ステップＳ１５では、最短マーク２Ｔよりも１Ｔ大きな３Ｔマークにおける記録ストラテジのパラメータ（３Ｔｔｏｐ、３Ｔｃｌ）と、最短マーク２Ｔよりも２Ｔ大きな４Ｔとにおける記録ストラテジのパラメータ（４Ｔｔｏｐ、４Ｔｃｌ）の関係から、推定補間によって最短マーク２Ｔにおける記録ストラテジのパラメータ（２Ｔｔｏｐ、２Ｔｃｌ）を求めた。推定補間には線形補間を用い、３Ｔマークにおけるパラメータから、３Ｔマークと４Ｔマークにおけるパラメータの差分を引いて、
　２Ｔｔｏｐ＝２×（３Ｔｔｏｐ）−（４Ｔｔｏｐ）
　２Ｔｃｌ＝２×（３Ｔｃｌ）−（４Ｔｃｌ）
によって求めた。
【００５８】
　なお、ステップＳ１２で記録した信号の再生信号に関しては、ラン長制限された記録変調後データのおける、最短記録マーク２Ｔと最長記録マーク８Ｔとを再生した際の振幅比が１０％以下であるため、各記録マークにおけるジッタは分散が大きく、クロック−データ間のジッタは１５％を越えて、再生信号を使用したジッタでの性能測定は不可能であった。
【００５９】
　図３及び図４は、上記実施例で求めた記録ストラテジのパラメータとマーク長の関係を示している。図３において、縦軸は先頭幅Ｔｔｏｐを示し、横軸は記録マーク長を示している。また、２Ｔマーク長の先頭幅Ｔｔｏｐは、３Ｔマーク長と４Ｔマーク長（４Ｔマーク長以上）の双方の先頭幅Ｔｔｏｐの関係から求めている。図４において、縦軸は後端冷却幅Ｔｃｌを示し、横軸は記録マーク長を示している。また、２Ｔマーク長の後端冷却幅Ｔｃｌは、３Ｔマーク長と４Ｔマーク長（４Ｔマーク長以上）の双方の後端冷却幅Ｔｃｌの関係から求めている。また、図３及び図４では、ステップＳ１４（図１）で決定された記録パワーを中心（◇）として、−１０％〜＋５％までの記録パワーについての各パラメータがプロットされている。図３及び図４に示すようの、記録パワーが上がるにつれて、各記録マーク長における先頭幅Ｔｔｏｐは短く(小さく)なっていく。
【００６０】
　次いで、図１に示す手順に従って決定された記録条件が、適当であるか否かを検証するために、ＰＲＭＬ検出により検証を行った。上記のように決定した記録条件で記録を行ったところ、ＰＲＭＬ検出でのビットエラーレート（以下、ＢＥＲ）は目標の１０-4以下となることが確かめられた。また、参考として、ステップＳ１４で決定された記録パワーを中心として、−１０％〜＋５％までの記録パワーについての各パラメータ（Ｔｔｏｐ、Ｔｃｌ）を求め、ビットエラーレートを検証したところ、それらの記録条件で記録を行った場合についても、ＢＥＲは１０-4以下となった。つまり、−１０％〜＋５％までの記録パワーは、中心の記録パワーに対してのマージンを示している。
【００６１】
　以上実施例で示したように、３Ｔマークと、４Ｔマーク以上の記録ストラテジから２Ｔマークの記録ストラテジのパラメータを設定することで、再生信号を用いてジッタやアシンメトリ値を求めることができない記録密度で２Ｔマークが形成される場合についても、２Ｔマークの形成に使用する記録ストラテジのパラメータを簡易かつ高精度に設定できることが確認された。
【００６２】
　図５は、本発明の第２実施形態例の記録条件設定方法の手順の概略を示している。本実施形態例では、線速度やチャネルクロック周期を変更することで、最短マークについても再生信号を用いてジッタやアシンメトリ値が算出できる程度に記録密度を低くし、その記録密度で記録ストラテジの各パラメータを求め、そのパラメータに基づいて記録密度を高く設定した際の記録ストラテジの各パラメータを決定する。
【００６３】
　図５に示すように、はじめに、図１に示すステップＳ１１と同様に、記録パワー及び記録ストラテジの各パラメータを読み出し、規定値として設定する（ステップＳ２１）。光ディスク装置又は光ディスクに、複数の記録条件（記録密度）に応じた記録パワーや記録ストラテジの各パラメータが記憶（記録）されているときには、記録条件に対応して、記録パワーや記録ストラテジの各パラメータが読み出される。
【００６４】
　次いで、変調規則における各記録マーク長が含まれる所定記録パターンを、記録パワーや記録ストラテジの各パラメータを変更しつつ、記録条件を緩和し記録密度を変化させて光ディスクに記録する（ステップＳ２２）。このとき、本来であれば、光ディスク上に形成される記録マークを再生したときに、最長マーク長の再生信号の振幅と、最短マーク長の再生信号の振幅との比が１０％以下になる記録密度を、記録条件を緩和することで振幅比が１０％より大きくなる記録密度に設定する。ステップＳ２では、本来の記録密度における最短マーク長をＬｍｉｎとすると、例えば、最短マーク（テストマーク）長がＬｐ２、Ｌｐ１、Ｌｐ０(Ｌｐ２＞Ｌｐ１＞Ｌｐ０＞Ｌｍｉｎ)となる各記録密度について、記録パワーや記録ストラテジの各パラメータを変化させて記録する。
【００６５】
　ステップＳ２２で記録したデータを再生し、再生信号に基づいてジッタ値、或いは、β値を算出する（ステップＳ２３）。本来の記録密度であれば、最長マークと最短マークとの再生振幅比は１０％以下であるため、再生信号から最短マークのジッタ値やβ値を算出することはできないが、記録密度を低下させて記録しているため、再生信号を直接使用して、ジッタ値やβ値の算出が可能となる。ステップＳ２３で算出したジッタ値或いはβ値に基づいて、各記録マーク長における記録信号が良好に再生できる記録パワーや記録ストラテジの各パラメータを、記録密度ごとに求める（ステップＳ２４）。
【００６６】
　本来の記録密度よりも低い記録密度で求めた記録ストラテジの各パラメータに基づいて、本来の記録密度で記録を行う際の記録ストラテジの各パラメータを決定する（ステップＳ２５）。例えば、最短マーク長がＬｐ２、Ｌｐ１、Ｌｐ０(Ｌｐ２＞Ｌｐ１＞Ｌｐ０＞Ｌｍｉｎ)となるような３つの記録密度で記録を行った場合には、各記録マーク長における３つの記録ストラテジのパラメータを基に推定補間を行い、最短マーク長がＬｍｉｎとなる本来の記録密度での各記録マーク長におけるパラメータ値を決定する。例えば、推定補間として、最短記録マーク長、及び、最短記録マーク長よりも１チャネルクロック周期長い記録マーク長では２次程度の近似を使用することができ、それらよりも長い記録マーク長では１次近似を使用することができる。
【００６７】
　本実施形態例では、記録密度を低下させて再生信号のジッタ値やβ値を算出し、それらに基づいて求められた記録ストラテジのパラメータから、推定補間により本来の高い記録密度における記録ストラテジのパラメータが決定される。記録密度が低い状態でのパラメータの設定は、従来と同様の方法で行うことができ、新たな装置を必要としない。このため、再生信号を直接用いてジッタ値やβ値が算出できない高密度記録を行う場合についても、良好な記録が行える記録ストラテジのパラメータを、簡易に決定することができる。
【００６８】
　実施例２
　一例として、開口数ＮＡ０．６５、レーザ波長λ４０５ｎｍの光ヘッドを搭載する光ディスク装置を用いて、実験を行った。実験では、カバー層厚０．６ｍｍの相変化型光ディスクに、(１，７)ＲＬＬでの最短マーク２Ｔ長（Ｌｍｉｎ）を０．１２５μｍに設定して記録を行う際の記録条件を図５に示す手順に従って設定した。なお、最短マーク２Ｔ長を０．１２５μｍに設定したときの最長マークの再生信号の振幅と、最短マークの再生信号の振幅との比は１０％以下となり、最短マークの再生信号を含む再生信号のジッタは１５％を超え、再生信号を直接使用して記録ストラテジのパラメータ等を決定することは不可能であった。
【００６９】
　実験では、光ディスクに記録マークを形成する際のレーザの駆動波形は、図１７（ｂ）に示す（ｎ−１）Ｔパルストレインを採用した。光ディスク装置では、記録パワーＰｗ、先頭幅Ｔｔｏｐ、及び、後端冷却幅Ｔｃｌ以外の各パラメータを、ステップＳ２１（図５）で光ディスク装置から読み出した、或いは、光ディスク自身から読み出した規定値に設定した。
【００７０】
　ステップＳ２２では、光ディスクのＰＣＡ（power calibration area）に、２０４８バイト／セクタ単位で、最短マーク（２Ｔ）から最長マーク（８Ｔ）までの各マークで構成される所定記録パターンを、図２に示す組合せと同様な組合せで変化させつつ、記録密度を変化させて記録した。このとき、記録密度は、線速度を一定として、チャネルクロックを低速化することで変化させた。具体的には、最短マーク長がＬｍｉｎ＝０．１２５であった記録密度から、Ｌｐ２＝０．１７μｍ、Ｌｐ１＝０．１６μｍ、Ｌｐ０＝０．１５μｍとなる記録密度に低下させた。このとき、最短マーク長がＬｐ０以上となる記録密度では、最長マーク長の再生信号の振幅と、最短マーク長の再生信号の振幅との比が１０％を超え、再生信号のジッタ値は１５％未満となった。
【００７１】
　ステップＳ２４では、まず、実施例１におけるステップＳ１４と同様な手順で、記録パワーを選定した。次いで、記録した記録マークを再生し、記録条件ごとにアシンメトリ値を計算し、そのアシンメトリ値に基づいて、記録が良好に行える記録ストラテジのパラメータ（Ｔｔｏｐ、Ｔｃｌ）を、各記録密度について、記録マーク長ごとに求めた。
【００７２】
　図６は、上記実施例で求めた記録ストラテジのパラメータと記録密度（最短マーク長）の関係を示している。ステップＳ２５では、各記録密度における最短マーク２Ｔにおける記録ストラテジのパラメータ（グラフ（ａ）の●）の関係から、２次近似により、本来の記録密度（最短マーク長Ｌｍｉｎ）における記録ストラテジのパラメータ（グラフ（ａ）の○）を決定した。同様に、各記録密度における３Ｔマークにおける記録ストラテジのパラメータ（グラフ（ｂ）の●）の関係から、２次近似により、本来の記録密度（最短マーク長Ｌｍｉｎ）における記録ストラテジのパラメータ（グラフ（ｂ）の○）を決定し、各記録密度における４Ｔマークにおける記録ストラテジのパラメータ（グラフ（ｃ）の●）の関係から、１次近似により、本来の記録密度（最短マーク長Ｌｍｉｎ）における記録ストラテジのパラメータ（グラフ（ｂ）の○）を決定した。
【００７３】
　次いで、図５に示す手順に従って決定された記録条件が適当であるか否かを検証するために、ＰＲＭＬ検出により検証を行った。上記のように決定した記録条件で記録を行ったところ、ＰＲＭＬ検出でのビットエラーレート（以下、ＢＥＲ）は目標の１０-4以下となることが確かめられた。
【００７４】
　以上、実施例で示したように、記録密度が低いときの記録ストラテジの各パラメータを、複数の記録密度について求め、複数の記録密度における各パラメータの関係から、推定補間により記録密度が高いときのパラメータを計算することで、再生信号を用いてジッタやアシンメトリ値が算出できない記録密度についても、記録ストラテジの各パラメータを簡易に設定できることが確かめられた。
【００７５】
　図７は、本発明の第３実施形態例の記録条件設定方法の手順の概略を示している。はじめに、図５に示すステップＳ２１と同様に、記録パワー及び記録ストラテジの各パラメータを読み出し、規定値として設定する（ステップＳ３１）。次いで、変調規則における各記録マーク長が含まれる所定記録パターンを、記録パワーや記録ストラテジの各パラメータを変更しつつ、複数の記録密度で光ディスクに記録する（ステップＳ３２）。このとき、複数のうち何れの記録密度についても、最長マークの再生信号振幅と、最短マークの再生信号振幅との比が１０％以上となるようにする。ステップＳ３２では、例えば最短マーク長がＬｐ２、Ｌｐ１、Ｌｐ０(Ｌｐ２＞Ｌｐ１＞Ｌｐ０)となる各記録密度で、所定記録パターンを２０４０バイト／セクタ単位で記録する。
【００７６】
　ステップＳ３２で記録したデータを再生し、それに基づいて再生信号の性能を測定する（ステップＳ３３）。性能の測定では、例えば、ＰＲＭＬ検出を用いたビットエラーレートを使用することができる。測定された性能に基づいて、所定の性能指標を満たす各記録マーク長の記録条件の範囲を導出する（ステップＳ３４）。
【００７７】
　図８は、先頭幅Ｔｔｏｐを変化させた際にエラービットレートが１０-4以下となる範囲を、記録マーク長ごとに示している。ステップＳ３４では、記録マーク長ごとに、各記録密度における所定の性能を満たすか否かの境界から、例えば、同図中に斜線で示すビットエラーレートＢＥＲが１０-4以下となる範囲を求める。
【００７８】
　ステップＳ３４で求めた範囲を使用して、最大マーク長の再生信号の振幅と、最短マーク長の再生信号の振幅との比が１０％以下、つまり、再生信号から直接性能を求めることができない記録密度での、記録条件を決定する。例えば、図８に示す範囲から、記録密度を高めたときの最短マーク２Ｔにおける先頭幅２Ｔｔｏｐを決定する際には、Ｌｐ２、Ｌｐ１、及び、Ｌｐ０のそれぞれにおける所定の性能を満たす範囲の境界となるパラメータ値を用い、近似にて複数の関係式を求め、求めた関係式を用いて２Ｔｔｏｐの記録パラメータを決定すればよい。
【００７９】
　本実施形態例では、所定の性能を満たす範囲の境界に基づいて複数の関係式で近似するため、記録密度が高く、再生信号のジッタが１５％を超えるような場合であっても、記録条件の設定にあたって、複数の関係式で規定されるパラメータを、所定の性能を満たす範囲内から選択することができる。なお、複数の関係式は、所定の性能を満たす範囲の境界だけでなく、範囲内の値を複数用いる構成とすることもできる。
【００８０】
　図９は、上記本発明の記録条件設定方法を採用する光ディスク装置の構成を示している。光ディスク装置１０は、レーザ（ＬＤ）を有する光ヘッド２、ＬＤドライバ３、判定回路４、ストラテジ選定回路５、及び、ストラテジ設定回路６を備える。光ヘッド２は、光ディスク１にレーザ光を照射し、光ディスクを読み書きする。ＬＤドライバ３は、ストラテジ設定回路６が設定した記録ストラテジで、光ヘッド２内のレーザを駆動する。判定回路４は、光ディスク１の記録に用いる記録条件が良好であるか否かを判定する。ストラテジ選定回路５は、判定回路４の判定結果に基づいて、光ディスク１の記録に使用する記録ストラテジをストラテジ設定回路６に指示する。
【００８１】
　光ディスク装置１０では、データを記録する際には、図示しないフォーマットコントローラからの信号が、図示しないデータ変調回路に供給され、データが変調される。ストラテジ設定回路６は、記録再生が良好となるように設定されたストラテジによってＬＤトライバ３を介して光ヘッド２内のレーザを駆動し、変調されたデータが光ディスク１に記録される。記録ストラテジを設定する際には、光ディスク１からの再生信号が、図示しない再生アンプを通して判定回路４に供給され、判定回路４では記録が良好に行えるか否かが判定される。判定回路４の判定結果に基づいて、ストラテジ選定回路５は、ストラテジの選定動作を実行する。
【００８２】
　図１０は、ストラテジ選定回路５の詳細な構成を示している。ストラテジ選定回路５は、記録条件導出回路５１と、制御変数設定/記憶回路５２と、高密度記録条件設定回路５３と、記録条件設定回路５４とを備える。記憶条件導出回路５１は、上記実施形態例で示した手順に従って、記録条件を設定する。制御変数設定/記憶回路５２は、判定回路４の判定に基づいて、記録を良好に行えるストラテジ制御変数の選択や、その記憶、設定を行う。高密度記録条件設定回路５３は、記録密度が高く、再生信号を直接使用して記録ストラテジの各パラメータが設定できない記録マークの記録ストラテジを、推定補間を用いて設定する。記録条件設定回路５４は、再生信号を使用して記録ストラテジの各パラメータが設定できる記録マークの記録ストラテジを設定する。
【００８３】
　なお、上記実施形態例で光ディスクに記録する所定記録パターンは、全ての構成マークを含んでいる必要はなく、最短記録マークよりも２Ｔ以上長い記録マークについては、そのうちの何れかの記録マークを１以上含んでいればよい。また、記録パワー及び記録ストラテジの各パラメータの変化の組合せは、図２以外の組合せであってもよく、組合せや変化の範囲は任意に設定することができる。
【００８４】
　以下、記録条件の設定を、光ディスク装置に搭載されたマイクロコンピュータ等により実行する実施形態について説明する。なお、ここでは、記録ストラテジの各パラメータのうち、先頭幅Ｔｔｏｐを選定する例について説明する。また、４Ｔマーク以上のマーク（≧４Ｔマーク）の記録ストラテジの各パラメータとしては、４Ｔマークのパラメータと同じ値が用いることができるため、≧４Ｔマークの各パラメータを４Ｔマークの各パラメータとして説明する。
【００８５】
　図１１は、図１に示すフローチャートに示された手順と同様な手順によって記録条件を選定するプログラムの処理手順をフローチャートで示している。光ディスク装置では、図９の判定回路４、ストラテジ選定回路５、及び、ストラテジ設定回路６に相当する機能を実現するコントローラの制御により、先頭幅Ｔｔｏｐが設定される。コントローラは、レーザ等を搭載する光ヘッドを、光ディスクのＰＣＡ領域に移動させ、光ディスク装置から、或いは、光ディスクから記録条件の規定値を読み出す（ステップＳ４１）。コントローラは、読み出した規定値に基づいて、少なくとも３Ｔマーク及び４Ｔマークを含む所定記録パターンを複数の記録条件で記録する際に用いる記録条件テーブルを作成する（ステップＳ４２）。
【００８６】
　図１２（ａ）及び（ｂ）は、それぞれステップＳ４２で作成される記録条件テーブルの例を示している。なお、同図において、相対パワーの初期値「×１」は、ステップＳ４１で読み込んだ規定値×１の記録パワーを意味する。また、テーブルにおいて、相対パワー以外の項目の値の単位はチャネルクロックＴであり、表中の「−」は、その欄の１つ上の欄と同じ値を使用することを意味する。ステップＳ４２では、例えば、ステップＳ４１で読み込んだ規定値を初期値とし、選定対象のパラメータについて、所定の範囲で値を変動させた記録条件テーブルが作成される。
【００８７】
　ステップＳ４２では、例えば図１２（ａ）に示すような、３Ｔマークの先頭幅３Ｔｔｏｐが、初期値（０．５Ｔ）から±０．１Ｔの範囲、つまり、０．４Ｔ〜０．６Ｔの範囲内で０．０５Ｔ刻みで変動し、他のパラメータとして、初期値と同じ値が使用される、条件１１〜１５までの５通りの記録条件を有する記録条件テーブルが作成される。また、同図（ｂ）に示すような、４Ｔマーク（４Ｔマーク以上）の先頭幅４Ｔｔｏｐが、初期値（０．６Ｔ）から±０．１Ｔの範囲、つまり、０．５Ｔ〜０．７Ｔの範囲内で０．０５Ｔ刻みで変動し、他のパラメータとして、初期値と同じ値が使用される、条件２１〜２５までの５通りの記録条件を有する記録条件テーブルが作成される。
【００８８】
　図１１に戻り、コントローラは、ステップＳ４２で作成した記録条件テーブルを参照し、記録条件を変えながら、光ディスクに所定記録パターンを記録する（ステップＳ４３）。ステップＳ４２で、図１２（ａ）及び（ｂ）に示す記録条件テーブルが作成されているとき、ステップＳ４３では、同図（ａ）のテーブル中の条件１１〜１５のそれぞれと、同図（ｂ）のテーブル中の条件２１〜２５それぞれとを組み合わせた、２５（５×５）通りの記録条件で、所定記録パターンが記録される。ステップＳ４３では、例えば、まず、条件１１と、条件２１〜２５のそれぞれとを組み合わせた５通りの記録条件で所定記録パターンが記録され、次いで、条件１２〜１５について、順次に、条件２１〜２５を組み合わせた各々５通りの記録条件で所定記録パターンが記録される。
【００８９】
　コントローラは、光ディスクに記録された所定記録パターンを再生し（ステップＳ４４）、所定記録パターンに含まれる最短マーク以外のマークを再生した際のβ値又はジッタσを計測する（ステップＳ４５）。コントローラは、最短マーク以外のマークについて、計測したβ値又はジッタσの絶対値に基づいて、所定記録パターンの再生が最も良好に行える記録条件を、選定された記録条件として選択する（ステップＳ４６）。ステップＳ４６では、３Ｔマーク及び４Ｔマーク以上の記録マークを記録する際の各パラメータが、例えば図１２（ａ）及び（ｂ）に示す記録条件テーブルの中から選択される。
【００９０】
　続いて、最短マークを記録する際のパラメータを、ステップＳ４６で求められた、最短マークよりも大きな記録マークを記録する際のパラメータに基づいて導出する（ステップＳ４７）。ステップＳ４７では、第１実施形態例で説明したのと同様に、最短マークの先頭幅２Ｔｔｏｐが、３Ｔマークの先頭幅３Ｔｔｏｐと、４Ｔマークの先頭幅４Ｔｔｏｐとに基づいて導出される。コントローラは、ステップＳ４６で選択された記録条件と、ステップＳ４７で導出された最短マークを記録する際のパラメータとを、データの記録に用いる記録条件に設定し、光ディスクのあらかじめ定められた領域に設定した記録条件を記録する（ステップＳ４８）。このような手順で動作するプログラムを用いることにより、第１実施形態例と同様に、光ディスク装置では、最短マークを記録する際の各パラメータを含む記録条件を、簡易に選定することができる。
【００９１】
　なお、上記実施形態例では、記録パワーを固定して、所定記録パターンを記録したが、ステップＳ４２において、相対パワー（図１２）が異なる複数の記録条件テーブルを作成して、複数の記録パワーで所定記録パターンを記録してもよい。このとき、記録ストラテジのパラメータについて、記録パワーごとに所定記録パターンの再生が最も良好に行えるパラメータを求めると、図３に示すのと同様に、所定記録パターンの再生が最も良好に行えるパラメータが、ある範囲の領域を持つようになる。この場合には、ステップＳ４７において、領域の中心値を最短マークよりも大きな記録マークを記録する際のパラメータとして採用し、それに基づいて最短マークを記録する際のパラメータを導出するとよい。
【００９２】
　図１３は、図１１に示す処理手順を有するプログラムの一部を変更したプログラムの処理手順をフローチャートで示している。この例では、コントローラは、記録条件テーブルの一部の組合せで所定記録パターンを光ディスクに記録し、記録した所定記録パターンを読み取って、β値又はジッタσが計測される。この例では、計測したβ値又はジッタσが、所定の性能を満たさないときには、記録条件を、既に使用した組合せとは異なる記録条件の組合せに変更し、計測したβ値又はジッタσが所定の性能を満たすまで、或いは、記録条件テーブルの全ての組合せで所定記録パターンを記録するまで、所定記録パターンを、記録条件を変えつつ光ディスクに記録し、最短マークのパラメータを導出する手法が採用される。
【００９３】
　コントローラは、図１１に示す手順と同様に、ステップＳ４１で、記録条件の規定値を読み出し、ステップＳ４２で、記録条件テーブルを作成する。コントローラは、ステップＳ４３において、ステップＳ４２で作成した記録条件テーブルの記録条件の組合せの一部のみを用いて、所定記録パターンを光ディスクに記録する。例えば、ステップＳ４２で作成された記録条件テーブルが図１２に示すのもであったとき、コントローラは、計２５通りの組合せのうち、条件１１〜１３（同図（ａ））の３通り記録条件と、条件２１〜２３（同図（ｂ））の３通りの記録条件とを組み合わせた、計９通りの組合せの記録条件を用いて、所定記録パターンを光ディスクに記録する。
【００９４】
　コントローラは、ステップＳ４４で、記録した所定記録パターンを再生し、ステップＳ４５で、再生信号のβ値又はジッタσを計測する。コントローラは、計測されたβ値又はジッタσのうち、所定記録パターンの再生が最も良好に行える記録条件でのβ値（β０）又はジッタ（σ０）が、所定の性能を満たしているか否かを判断する（ステップＳ５１）。つまり、コントローラは、ステップＳ４３で記録に用いられた記録条件のうち、所定記録パターンの再生が最も良好に行える記録条件を用いて記録を行った際の再生信号の性能が、所定の性能を満たすか否かを判断する。コントローラは、β０値又はσ０が所定の性能を満たすときには、ステップＳ４７に進み、最短記録マークを記録する際のパラメータを導出して、ステップＳ４８で、記録条件を設定する。
【００９５】
　コントローラは、ステップＳ５１で、β０又はσ０が所定の性能を満たしていないと判断したときには、そのβ０又はσ０の値、及び、β０又はσ０に対応する記録条件を一時記憶装置に記憶し、次のループのステップＳ４３で所定記録パターンを記録する際に用いる記録条件を、ステップＳ４２で作成された記録条件テーブルの組合せのうち、まだ使用されていない組合せに設定して（ステップＳ５２）、ステップＳ４３へ戻り、ステップＳ４３からステップＳ５１を繰り返し実行する。ステップＳ５２では、次のループのステップＳ４３で所定記録パターンを記録する際に用いる記録条件を、例えば条件１１〜１５（図１２（ａ））と、条件２４、２５（図１２（ｂ））とを組み合わせた１０通りの組合せに設定する。
【００９６】
　コントローラは、ステップＳ４３で、ステップＳ５２で設定された複数の記録条件を用いて、再び所定記録パターンを記録し、その再生信号のβ値又はジッタσを計測する。コントローラは、ステップＳ５１において、今回のループでのβ０又はσ０が、所定の性能を満たしているか否かを判断する。コントローラは、今回のループでのβ０又はσ０が所定の性能を満たすと判断すると、ステップＳ４７へ進み、最短マークを記録する際のパラメータを導出する。
【００９７】
　コントローラは、ステップＳ５１で、今回のループのβ０又はσ０が所定の性能を満たしていないと判断すると、前回のループでのβ０又はσ０と、今回のループでのβ０又はσ０とを比較し、所定記録パターンの再生が良好に行える方のβ０又はσ０を記憶して、再びステップ５２へ進み、次のループのステップＳ４３で所定記録パターンを記録する際に用いられる記録条件を、まだ使用されていない組合せに設定する。コントローラは、ステップＳ５１でβ０又はσ０が所定の性能を満たすと判断するまで、或いは、ステップＳ５２で設定すべき記録条件の組合せがなくなるまで、つまりは、記録条件テーブルの全ての組合せで所定記録パターンを記録するまで、ステップＳ４３からステップＳ５１を繰り返し実行する。
【００９８】
　図１３の例では、所定記録パターンを、記録条件テーブルの全ての組合せを用いて記録する前に、所定の性能を満たす記録条件を見つけることができるため、図１１に示す例に比して、記録条件の設定に要する時間を短縮できる。また、記録条件を設定するために光ディスク上に記録する所定記録パターン数を減らすことができるため、記録媒体上の所定記録パターンを記録するエリアをあまり大きくする必要がない。
【００９９】
　また、この図１３の例において、ステップＳ４２で、図１２（ａ）及び（ｂ）に示す記録条件テーブルと、同図（ａ）及び（ｂ）とは相対パワーのみが異なる記録条件テーブルとが作成されているときには、第１回目のループのステップＳ４３で、同図（ａ）及び（ｂ）に示す記録条件テーブルの組合せ（２５通り）の記録条件で所定記録パターンの記録を行い、２回目のループのステップＳ４３で、同図（ａ）及び（ｂ）とは相対パワーのみが異なる記録条件テーブルの組合せ（２５通り）の記録条件で所定記録パターンの記録を行うこともできる。この場合には、先頭幅Ｔｔｏｐの選定と、記録パワーの選定とを同時に行うことができる。
【０１００】
　図１４は、図５に示すフローチャートに示された手順と同様な手順によって記録条件を選定するプログラムの処理手順をフローチャートで示している。コントローラは、光ヘッドを、光ディスクのＰＣＡ領域に移動させ、光ディスク装置から、或いは、光ディスクから記録条件の規定値を読み出す（ステップＳ６１）。光ディスク装置又は光ディスクに、複数の記録密度に対応した記録条件が記憶されているとき、ステップＳ６１では、記録密度ごとに、記録条件の規定値が読み出す構成を採用することができる。
【０１０１】
　コントローラは、光ディスクに、少なくとも２Ｔマーク、３Ｔマーク、及び４Ｔマークを含む所定記録パターンを記録する際に用いられる複数の記録密度を設定する（ステップＳ６２）。ここで設定される記録密度は、本来の記録密度よりも密度が低く、その何れの記録密度についても、２Ｔマークの再生信号からβ値又はジッタσが良好に計測できる記録密度である。ステップＳ６２では、例えば、本来記録に用いられる記録密度での２Ｔマーク長をＬｍｉｎとして、２Ｔマーク長がＬｐ２、Ｌｐ１、Ｌｐ０(Ｌｐ２＞Ｌｐ１＞Ｌｐ０＞Ｌｍｉｎ)となる記録密度が設定される。
【０１０２】
　コントローラは、読み出した規定値に基づいて、光ディスクに、複数の記録条件で所定記録パターンを記録する際に用いる記録条件テーブルを作成する（ステップＳ６３）。図１５（ａ）、（ｂ）、及び、（ｃ）は、それぞれステップＳ６３で作成される記録条件テーブルの例を示している。ステップＳ６３では、例えば、ステップＳ６２で設定された複数の記録密度のそれぞれに対応して、ステップＳ６１で読み込んだ規定値を初期値とし、選定対象のパラメータについて、所定の範囲で値を変動させた記録条件テーブルが作成される。
【０１０３】
　ステップＳ６３では、複数の記録密度のそれぞれについて、例えば図１５（ａ）に示すような、２Ｔマークの先頭幅２Ｔｔｏｐが、初期値（０．５Ｔ）から±０．１Ｔの範囲、つまり、０．４Ｔ〜０．６Ｔの範囲内で０．０５Ｔ刻みで変動し、他のパラメータとして、初期値と同じ値が使用される、条件３１〜３５までの５通りの記録条件を有する記録条件テーブルが作成される。また、同図（ｂ）に示すような、３Ｔマークの先頭幅３Ｔｔｏｐが、初期値（０．５Ｔ）から±０．１Ｔの範囲内で０．０５Ｔ刻みで変動し、他のパラメータとして、初期値と同じ値が使用される、条件４１〜４５までの５通りの記録条件を有する記録条件テーブルが作成され、同図（ｃ）に示すような、４Ｔマーク（４Ｔマーク以上）の先頭幅４Ｔｔｏｐが、初期値（０．６Ｔ）から±０．１Ｔの範囲内で０．０５Ｔ刻みで変動し、他のパラメータとして、初期値と同じ値が使用される、条件５１〜５５までの５通りの記録条件を有する記録条件テーブルが作成される。
【０１０４】
　コントローラは、ステップＳ６３で作成した記録条件テーブルを参照し、ステップＳ６２で設定した複数の記録密度のそれぞれについて、記録条件を変えながら、光ディスクに所定記録パターンを記録する（ステップＳ６４）。ステップＳ６３で、図１５（ａ）、（ｂ）、及び、（ｃ）に示す記録条件テーブルが作成されているときには、ステップＳ６４では、各記録密度につき、同図（ａ）のテーブル中の条件３１〜３５のそれぞれと、同図（ｂ）のテーブル中の条件４１〜４５のそれぞれと、同図（ｂ）のテーブル中の条件５１〜５５のそれぞれとを組み合わせた５×５×５＝１２５通りの記録条件で、所定記録パターンが記録される。
【０１０５】
　ステップＳ６４では、例えばステップＳ６２において、２Ｔマーク長がＬｐ２、Ｌｐ１、Ｌｐ０となる３つの記録密度が設定されているとき、まず、２Ｔマーク長がＬｐ２となる記録密度について、所定記録パターンが、上記した１２５通りの記録条件で記録される。次いで、２Ｔマーク長がＬｐ１となる記録密度について、所定記録パターンが、上記した１２５通りの記録条件で記録され、２Ｔマーク長がＬｐ０となる記録密度について、所定記録パターンが、上記した１２５通りの記録条件で記録される。この場合には、光ディスクには、１２５×３通りの所定記録パターンが記録されることになる。
【０１０６】
　コントローラは、光ディスクに記録された所定記録パターンを再生し（ステップＳ６５）、各記録密度ごとに、再生した所定記録パターンのβ値又はジッタσを計測する（ステップＳ６６）。コントローラは、計測したβ値又はジッタσに基づいて、記録密度ごとに、所定記録パターンの再生が最も良好に行える記録条件を、選定された記録条件として選択する（ステップＳ６７）。ステップＳ６７では、例えば２Ｔマーク長がＬｐ２となる記録密度における２Ｔマークの先頭幅２Ｔｔｏｐ（２）、３Ｔマークの先頭幅３ｔｏｐ（２）、及び、４Ｔマークの先頭幅４Ｔｔｏｐ（２）が選定され、２Ｔマーク長がＬｐ１となる記録密度における２Ｔマークの先頭幅２Ｔｔｏｐ（１）、３Ｔマークの先頭幅３ｔｏｐ（１、及び、４Ｔマークの先頭幅４Ｔｔｏｐ（１）が選定され、２Ｔマーク長がＬｐ０となる記録密度における２Ｔマークの先頭幅２Ｔｔｏｐ（０）、３Ｔマークの先頭幅３ｔｏｐ（０）、及び、４Ｔマークの先頭幅４Ｔｔｏｐ（０）が選定される。
【０１０７】
　続いて、ステップＳ６４で所定記録パターンの記録に用いられた記録密度よりも密度が高い本来の記録密度における各パラメータを、ステップＳ６６で求められた、本来の記録密度よりも密度が低い、複数の記録密度におけるパラメータに基づいて導出する（ステップＳ６８）。ステップＳ６８では、第２実施形態例で説明したのと同様に、本来の記録密度における４Ｔマークの先頭幅４Ｔｔｏｐが、ステップＳ６７で求められた４Ｔｔｏｐ（２）、４Ｔｔｏｐ（１）、及び、４Ｔｔｏｐ（０）から、推定補間により導出される。同様に、３Ｔｔｏｐ（２）、３Ｔｔｏｐ（１）、及び、３Ｔｔｏｐ（０）から、本来の記録密度における３Ｔマークの先頭幅３Ｔｔｏｐが導出され、２Ｔｔｏｐ（２）、２Ｔｔｏｐ（１）、及び、２Ｔｔｏｐ（０）から、本来の記録密度における２Ｔマークの先頭幅２Ｔｔｏｐが導出される。
【０１０８】
　コントローラは、ステップＳ６８で導出された記録条件を、データの記録に用いる記録条件として設定し、設定した記録条件を、光ディスクのあらかじめ定められた領域に記録する（ステップＳ６９）。このような手順で動作するプログラムを用いることにより、第２実施形態例と同様に、光ディスク装置では、密度が高い本来の記録密度における最短マークを記録する際の各パラメータを含む記録条件を、簡易に選定することができる。また、この例においても、図１１の例と同様に、相対パワー（図１２）が異なる複数の記録条件テーブルを作成して、複数の記録パワーで所定記録パターンを記録してもよい。この場合には、記録ストラテジのパラメータについて、記録パワーごとに所定記録パターンの再生が最も良好に行えるものを求めると、図８に示すものと同様に、所定記録パターンの再生が最も良好に行えるパラメータが、ある範囲の領域を持つようになる。この場合には、ステップＳ６８において、領域の中心値を代表値として採用し、本来の記録密度でのパラメータを導出するとよい。
【０１０９】
　図１６は、図１４に示す処理手順を有するプログラムの一部を変更したプログラムの処理手順例をフローチャートで示している。この例では、図１３の例と同様に、コントローラは、記録条件テーブルの一部の組合せで所定記録パターンを光ディスクに記録し、記録した所定記録パターンを読み取って、β値又はジッタσが計測される。この例では、計測したβ値又はジッタσが、所定の性能を満たさないときには、記録条件を、既に使用した組合せとは異なる記録条件の組合せに変更し、計測したβ値又はジッタσが所定の性能を満たすまで、或いは、記録条件テーブルの全ての組合せで所定記録パターンを記録するまで、所定記録パターンを、記録条件を変えつつ光ディスクに記録し、本来の記録密度でのパラメータを導出する手法が採用される。
【０１１０】
　コントローラは、図１４に示す手順と同様に、ステップＳ６１で、記録条件の規定値を読み出し、ステップＳ６２で複数の記録密度を設定し、ステップＳ６３で、記録条件テーブルを作成する。コントローラは、ステップＳ６４で、ステップＳ６２で設定された複数のうちの一つの記録密度で、所定記録パターンを光ディスクに記録する。その際、コントローラは、ステップＳ６３で作成した記録条件テーブルの記録条件の組合せの一部のみを用いる。例えば、ステップＳ６３で作成された記録条件テーブルが図１５に示すのもであったとき、コントローラは、条件３１〜１３（同図（ａ））の３通り記録条件と、条件４１〜４３（同図（ｂ））の３通りの記録条件と、条件５１〜５３（同図（ｃ））の３通りの記録条件とを組み合わせた、計２７通りの組合せの記録条件で、所定記録パターンを光ディスクに記録する。
【０１１１】
　コントローラは、ステップＳ６５で、記録した所定記録パターンを再生し、ステップＳ６６で、再生信号のβ値又はジッタσを計測する。コントローラは、計測されたβ値又はジッタσのうち、所定記録パターンの再生が最も良好に行える記録条件でのβ値（β０）又はジッタσ（σ０）が、所定の性能を満たしているか否かを判断する（ステップＳ７１）。つまり、コントローラは、ステップＳ６４で記録に用いられた記録条件のうち、所定記録パターンの再生が最も良好に行える記録条件を用いて記録を行った際の再生信号の性能が、所定の性能を満たすか否かを判断する。コントローラは、β０値又はσ０が所定の性能を満たさないと判断したときには、図１３のステップＳ５２と同様に、β０又はσ０の値、及び、β０又はσ０に対応する記録条件を一時記憶装置に記憶し、次のループのステップＳ６４で所定記録パターンを記録する際に用いる記録条件を、ステップＳ６３で作成された記録条件テーブルの組合せのうち、まだ使用されていない組合せに設定して（ステップＳ７２）、ステップＳ６４へ戻り、ステップＳ６４からステップＳ７１を繰り返し実行する。
【０１１２】
　ステップＳ７２では、次のループのステップＳ６４で所定記録パターンを記録する際に用いる記録条件を、例えば条件３１〜３５（図１５（ａ））と、条件４４、４５（同図（ｂ））と、条件５４、５５（同図（ｃ））とを組み合わせた２０通りの組合せに設定する。コントローラは、ステップＳ６４で、ステップＳ７２で設定された複数の記録条件を用いて、再び所定記録パターンを記録し、その再生信号のβ値又はジッタσ値を再び計測する。コントローラは、ステップＳ７１において、今回のループでのβ０又はσ０が、所定の性能を満たしているか否かを判断する。
【０１１３】
　コントローラは、β０又はσ０が所定の性能を満たすと判断すると、ステップＳ６２で設定した複数の記録密度のうち、まだ所定記録パターンが記録されていない記録密度が残っているか否かを判断する（ステップＳ７３）。コントローラは、まだ所定記録パターンの記録に用いられていない記録密度があると判断すると、記録密度を、ステップＳ６２で設定された複数の記録密度のうち、まだ所定記録パターンの記録に用いられていない記録密度に変更し（ステップＳ７４）、ステップＳ６３に戻り、ステップＳ６３〜ステップＳ６６及びステップＳ７１、Ｓ７２が繰り返し実行される。
【０１１４】
　ステップＳ７３で、所定記録パターンの記録に用いられていない記録密度が残っていないと判断されると、ステップＳ６８へ進み、本来の記録密度でのパラメータが導出される。このようにして、コントローラは、ステップＳ６２で設定した複数の記録密度の全てで、β０又はσ０が所定の性能を満たす記録条件が得られるまで、記録条件及び記録密度を変更しつつ、ステップＳ６３〜ステップＳ７１までを繰り返し行う。この例では、図１３の例と同様に、所定記録パターンを、記録条件テーブルの全ての組合せを用いて記録する前に、所定の性能を満たす記録条件を見つけることができるため、図１４に示す例に比して、記録条件の設定に要する時間を短縮できる。また、記録条件を設定するために光ディスク上に記録する所定記録パターン数を減らすことができるため、記録媒体上の所定記録パターンを記録するエリアをあまり大きくする必要がない。
【０１１５】
　以上の、図１１〜図１６を参照して説明した実施形態では、先頭幅Ｔｔｏｐを設定する例について説明したが、これに代えて、又は、これに加えて、他のパラメータを設定することもできる。例えば、図１１では、選定対象のパラメータが複数であるときには、ステップＳ４２〜ステップＳ４７を、選定するパラメータの数に対応して繰り返し行うとよい。具体的に、図１１に示す手順に従って、先頭幅Ｔｔｏｐ及び後端冷却幅Ｔｃｌの双方を設定する例について説明する。この場合には、まず、１回目のループのステップＳ４２で、先頭幅Ｔｔｏｐ以外のパラメータについては、ステップＳ４１で読み込んだ規定値を使用し、先頭幅Ｔｔｏｐについては値が変動する記録条件テーブルを作成して、先頭幅Ｔｔｏｐを選定する。次いで、２回目のループのステップＳ４２で、先頭幅Ｔｔｏｐについては、１回目のループで選定された値を使用し、後端冷却幅Ｔｃｌについては値が変動する記録条件テーブルを作成して、後端冷却幅Ｔｃｌを選定する。このような手順により、先頭幅Ｔｔｏｐ及び後端冷却幅Ｔｃｌの双方の選定が可能となる。
【０１１６】
　以上、本発明をその好適な実施形態例に基づいて説明したが、本発明の記録条件設定方法、それを用いた情報記録装置、及び、プログラムは、上記実施形態例にのみ限定されるものでなく、上記実施形態例の構成から種々の修正及び変更を施したものも、本発明の範囲に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【０１１７】
【図１】本発明の第１実施形態例の記録条件設定方法における処理の流れを示すフローチャート。
【図２】図１のステップＳ２で変化させる記録条件の組合せの一例を示す表。
【図３】先頭幅Ｔｔｏｐと記録マーク長の関係を示すグラフ。
【図４】後端冷却幅Ｔｃｌと記録マーク長の関係を示すグラフ。
【図５】本発明の第２実施形態例の記録条件設定方法における処理の流れ図を示すフローチャート。
【図６】先頭幅Ｔｔｏｐと最短マーク長（記録密度）の関係を示すグラフ。
【図７】本発明の第３実施形態例の記録条件設定方法における処理の流れを示すフローチャート。
【図８】先頭幅Ｔｔｏｐと最短マーク長（記録密度）の関係を示すグラフ。
【図９】本発明の一実施形態例の情報記録再生装置の構成を示すブロック図。
【図１０】図９のストラテジ選定回路構成５の詳細構成を示すブロック図。
【図１１】図１に示すフローチャートに示された手順と同様な手順によって記録条件を選定するプログラムの処理手順を示すフローチャート。
【図１２】（ａ）及び（ｂ）は、それぞれステップＳ４２で作成される記録条件テーブルの例を示す表。
【図１３】図１１に示す処理手順を有するプログラムの一部を変更したプログラムの処理手順を示すフローチャート。
【図１４】図５に示すフローチャートに示された手順と同様な手順によって記録条件を選定するプログラムの処理手順を示すフローチャート。
【図１５】（ａ）、（ｂ）、及び、（ｃ）は、それぞれステップＳ６３で作成される記録条件テーブルの例を示す表。
【図１６】図１４に示す処理手順を有するプログラムの一部を変更したプログラムの処理手順例を示すフローチャート。
【図１７】記録マーク形成に用いられる一般的なレーザ駆動波形の一例を示す波形図。
【図１８】一般的なアシンメトリ値（β値）に用いる信号の波形例。
【図１９】（ａ）は記録データを示し、（ｂ）はその再生信号の波形を示す波形例。
【図２０】最短ビット長を変えた場合の再生アイパタンの波形例。
【図２１】最短マーク長とその再生信号のジッタとの関係を示すプロット図。
【符号の説明】
【０１１８】
１：光ディスク媒体
２：光ヘッド
３：ＬＤドライバ
４：判定回路
５：ストラテジ選定回路
６：ストラテジ設定回路
１０：光ディスク装置
５１：記録条件導出回路
５２：制御変数設定／記憶回路
５３：高密度記録条件設定回路
５４：記録条件設定回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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