(57)【要約】【課題】記録品質に関わる光ピックアップの性能を低コストで精度良く評価することができる評価方法を提供する。【解決手段】評価対象の光ピックアップ２３から出射され、板状部材１０を透過したレーザ光は、光検出器２０１で受光され、受光量に応じた信号が出力される。そして、この信号のパルス形状に基づいて、光ピックアップの性能が評価される。ここでは、板状部材が情報記録媒体とほぼ同じ光学特性を有しているため、光検出器から出力される信号のパルス形状は、情報記録媒体の記録面に形成される光スポットのパワー変化を示すこととなる。そこで、情報記録媒体に実際にデータを記録することなく、光ピックアップの性能を評価することができる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体の記録面上にレーザ光を集光する光ピックアップの性能評価を行う評価方法であって、
評価対象の光ピックアップから出射され、情報記録媒体とほぼ同じ光学特性を有する板状部材に集光されたレーザ光のうち、該板状部材を透過したレーザ光を受光した光検出器からの信号のパルス形状に基づいて、前記光ピックアップの性能を評価する工程を含む評価方法。
【請求項２】
情報記録媒体の記録面上にレーザ光を集光する光ピックアップの性能評価を行う評価方法であって、
評価対象の光ピックアップの光源から出射されたレーザ光を集光位置近傍で受光する光検出器からの信号と、前記光源の発光パワーをモニタするために前記光ピックアップに設けられた受光素子からの信号とをほぼ同時に計測する第１工程と；
前記計測結果に基づいて、前記光ピックアップの性能を評価する第２工程と；を含む評価方法。
【請求項３】
前記第２工程では、計測された各信号のパルス形状に基づいて、前記光ピックアップの性能を評価することを特徴とする請求項２に記載の評価方法。
【請求項４】
前記第２工程では、前記光源の発光性能及び前記受光素子の実装位置精度の少なくとも一方を評価することを特徴とする請求項２又は３に記載の評価方法。
【請求項５】
情報記録媒体の記録面上にレーザ光を集光する光ピックアップの性能評価を行う評価装置であって、
評価対象の光ピックアップから出射されるレーザ光を、該レーザ光の集光位置近傍に配置された、情報記録媒体とほぼ同じ光学特性を有する板状部材を介して、その透過光路上で受光する光検出器と；
前記光検出器の出力信号に基づいて、前記レーザ光のパルス形状を検出するパルス形状検出手段と；を備える評価装置。
【請求項６】
前記板状部材は、前記レーザ光に対して情報記録媒体の記録面とほぼ同じ反射率を有することを特徴とする請求項５に記載の評価装置。
【請求項７】
前記板状部材は、情報記録媒体とほぼ同じ光学的異方性を有することを特徴とする請求項５又は６に記載の評価装置。
【請求項８】
情報記録媒体の記録面上にレーザ光を集光する光ピックアップの性能評価を行う評価装置であって、
評価対象の光ピックアップの光源から出射されたレーザ光の集光位置近傍に配置され、該レーザ光を受光する光検出器と；
前記光源の発光パワーをモニタするために前記光ピックアップに設けられたモニタ用受光素子の出力信号と前記光検出器の出力信号とをほぼ同時に計測する計測手段と；を備える評価装置。
【請求項９】
前記光検出器の出力信号に基づいて、前記レーザ光におけるピークパワー値を検出するピークパワー検出手段をさらに備えることを特徴とする請求項８に記載の評価装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、評価方法及び評価装置に係り、更に詳しくは、情報記録媒体の記録面上にレーザ光を集光する光ピックアップの性能を評価する評価方法及び評価装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、パーソナルコンピュータは、その機能が向上するに伴い、音楽や映像といったＡＶ（Ａｕｄｉｏ−Ｖｉｓｕａｌ）情報を取り扱うことが可能となってきた。これらＡＶ情報の情報量は非常に大きいために、情報記録媒体としてＣＤ（ｃｏｍｐａｃｔ  ｄｉｓｃ）やＤＶＤ（ｄｉｇｉｔａｌ  ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  ｄｉｓｃ）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、情報記録装置としての光ディスク装置がパーソナルコンピュータの周辺機器の一つとして普及するようになった。光ディスク装置では、光ディスクのスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光の微小スポットを形成することにより情報の記録及び消去を行い、記録面からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。そして、光ディスク装置には、情報記録媒体の記録面にレーザ光を集光するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置として、光ピックアップが設けられている。
【０００３】
通常、光ピックアップは、レーザ光を所定の発光パワーで出射する光源、その光源から出射されたレーザ光を情報記録媒体の記録面に集光するとともに、記録面で反射されたレーザ光を所定の受光位置まで導く光学系、及びその受光位置に配置された光検出器などを備えている。
【０００４】
光ディスクでは、互いに反射率の異なるマーク領域及びスペース領域のそれぞれの長さとそれらの組み合わせとによって情報が記録される。そこで、光ディスクに情報を記録する際には所定位置にマーク領域及びスペース領域がそれぞれ形成されるように光源の発光パワーが制御される。
【０００５】
記録層に有機色素を含むＣＤ−Ｒ（ＣＤ−ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）及びＤＶＤ＋Ｒ（ＤＶＤ＋ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）などの追記型の光ディスク（以下、便宜上「色素型ディスク」ともいう）では、マーク領域を形成するときには発光パワーを大きくして色素を加熱及び溶解し、そこに接している基板部分を変質・変形させている。一方、スペース領域を形成するときには基板が変質・変形しないように発光パワーを再生時と同程度に小さくしている。これにより、マーク領域ではスペース領域よりも反射率が低くなる。このような発光パワーの制御方式は、単パルス記録方式とも呼ばれている。なお、マーク領域を形成するときの発光パワーはピークパワー、スペース領域を形成するときの発光パワーはボトムパワーとも呼ばれている。
【０００６】
また、記録層に特殊合金を含むＣＤ−ＲＷ（ＣＤ−ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷ（ＤＶＤ−ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）、及びＤＶＤ＋ＲＷ（ＤＶＤ＋ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）などの書き換え可能な光ディスク（以下、便宜上「相変化型ディスク」ともいう）では、マーク領域を形成する時には、特殊合金を第１の温度に加熱したのち急冷し、アモルファス（非晶質）状態にしている。一方、スペース領域を形成する時には、特殊合金を第２の温度（＜第１の温度）に加熱したのち徐冷し、結晶状態にしている。これにより、マーク領域ではスペース領域よりも反射率が低くなる。この場合には、蓄熱の影響を除去するために、マーク領域を形成するときの発光パワーを複数のパルスに分割（マルチパルス化）することが行なわれている。このような発光パワーの制御方式はマルチパルス記録方式とも呼ばれている。マルチパルス化された発光パワーの最大値はピークパワー、最小値はボトムパワーとも呼ばれている。また、スペース領域を形成するときの発光パワーはイレーズパワー（ピークパワー＞イレーズパワー＞ボトムパワー）とも呼ばれている。なお、記録速度の高速化に伴い、色素型ディスクであっても、例えばＤＶＤ系の光ディスク（ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒなど）では、マルチパルス記録方式が提案されている。但し、この場合には、スペース領域を形成するときの発光パワーとボトムパワーとはほぼ一致している。
【０００７】
光ピックアップの性能は、情報の記録及び再生に大きな影響を与えるため、光ピックアップの性能を評価するための装置が種々提案されている（例えば、特許文献１及び特許文献２参照）。
【０００８】
【特許文献１】
特開２０００−６７４４０号公報
【特許文献２】
特開平５−２５８３３２号公報
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特許文献１及び特許文献２に開示されている評価装置では、評価結果に影響する要因が多岐に亘っているため、性能が十分でないときに、その原因及び関連する部品を特定することが困難であった。従って、例えば１つの部品の不良が原因であっても光ピックアップそのものが不良品とされ、製品歩留りが低下し、製品のコストアップにつながるおそれがあった。
【００１０】
また、記録品質に関わる光ピックアップの性能を個別に精度良く評価する方法として、光ディスクの記録領域に実際にデータを記録し、そのデータの再生信号に基づいて記録品質を評価する方法があるが、多大な光ディスクを消費することとなり、製品のコストアップを招来するという不都合があった。また、この場合には、記録処理と再生処理とが必要となるため、評価装置が複雑になるとともに、評価結果が得られるまでに要する時間が長くなり、製品のコストアップにつながるおそれがあった。さらに、光ディスクの特性のばらつきによって評価結果が左右される場合があり、客観的な評価結果が得られないおそれがあった。
【００１１】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その目的は、記録品質に関わる光ピックアップの性能を低コストで精度良く評価することができる評価方法及び評価装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、情報記録媒体の記録面上にレーザ光を集光する光ピックアップの性能評価を行う評価方法であって、評価対象の光ピックアップから出射され、情報記録媒体とほぼ同じ光学特性を有する板状部材に集光されたレーザ光のうち、該板状部材を透過したレーザ光を受光した光検出器からの信号のパルス形状に基づいて、前記光ピックアップの性能を評価する工程を含む評価方法である。
【００１３】
これによれば、評価対象の光ピックアップから出射され、板状部材に集光されたレーザ光のうち、板状部材を透過したレーザ光は光検出器で受光される。そして、この光検出器からの信号のパルス形状に基づいて、光ピックアップの性能が評価される。ここでは、板状部材が情報記録媒体とほぼ同じ光学特性を有しているため、光検出器からの信号のパルス形状は、情報記録媒体の記録面に形成される光スポットのパワー変化を示すこととなる。従って、情報記録媒体に実際にデータを記録することなく、光ピックアップの性能を評価することができる。すなわち、記録品質に関わる光ピックアップの性能を低コストで精度良く評価することができる。
【００１４】
請求項２に記載の発明は、情報記録媒体の記録面上にレーザ光を集光する光ピックアップの性能評価を行う評価方法であって、評価対象の光ピックアップの光源から出射されたレーザ光を集光位置近傍で受光する光検出器からの信号と、前記光源の発光パワーをモニタするために前記光ピックアップに設けられた受光素子からの信号とをほぼ同時に計測する第１工程と；前記計測結果に基づいて、前記光ピックアップの性能を評価する第２工程と；を含む評価方法である。
【００１５】
これによれば、評価対象の光ピックアップの光源から出射されたレーザ光を集光位置近傍で受光する光検出器からの信号と、光源の発光パワーをモニタするために光ピックアップに設けられた受光素子からの信号とがほぼ同時に計測される（第１工程）。そして、計測結果に基づいて、光ピックアップの性能が評価される（第２工程）。そこで、例えば計測された各信号のうち一方の信号が異常のときに、他方の信号の状態を加味することにより異常の要因を精度良く評価することが可能となる。従って、結果として記録品質に関わる光ピックアップの性能を低コストで精度良く評価することができる。
【００１６】
この場合において、請求項３に記載の評価方法の如く、前記第２工程では、計測された各信号のパルス形状に基づいて、前記光ピックアップの性能を評価することとすることができる。
【００１７】
上記請求項２及び３に記載の各評価方法において、請求項４に記載の評価方法の如く、前記第２工程では、前記光源の発光性能及び前記受光素子の実装位置精度の少なくとも一方を評価することとすることができる。
【００１８】
請求項５に記載の発明は、情報記録媒体の記録面上にレーザ光を集光する光ピックアップの性能評価を行う評価装置であって、評価対象の光ピックアップから出射されるレーザ光を、該レーザ光の集光位置近傍に配置された、情報記録媒体とほぼ同じ光学特性を有する板状部材を介して、その透過光路上で受光する光検出器と；前記光検出器の出力信号に基づいて、前記レーザ光のパルス形状を検出するパルス形状検出手段と；を備える評価装置である。
【００１９】
これによれば、光ピックアップの性能評価の開始要求に応じて、評価対象の光ピックアップから出射されたレーザ光は、該レーザ光の集光位置近傍に配置された、情報記録媒体とほぼ同じ光学特性を有する板状部材を介して、その透過光路上に配置された光検出器により受光される。この光検出器からは受光量に応じた光電変換信号が出力される。そして、パルス形状検出手段により、光検出器の出力信号に基づいてレーザ光のパルス形状が検出される。ここでは、板状部材が情報記録媒体とほぼ同じ光学特性を有しているため、パルス形状検出手段で検出されるパルス形状は、情報記録媒体の記録面に形成される光スポットのパワー変化を示すこととなる。従って、情報記録媒体に実際にデータを記録することなく、記録品質に関する情報を精度良く求めることが可能となる。すなわち、記録品質に関わる光ピックアップの性能を低コストで精度良く評価することができる。
【００２０】
この場合において、請求項６に記載の評価装置の如く、前記板状部材は、前記レーザ光に対して情報記録媒体の記録面とほぼ同じ反射率を有することとすることができる。
【００２１】
上記請求項５及び６に記載の各評価装置において、請求項７に記載の評価装置の如く、前記板状部材は、情報記録媒体とほぼ同じ光学的異方性を有することとすることができる。
【００２２】
請求項８に記載の発明は、情報記録媒体の記録面上にレーザ光を集光する光ピックアップの性能評価を行う評価装置であって、評価対象の光ピックアップの光源から出射されたレーザ光の集光位置近傍に配置され、該レーザ光を受光する光検出器と；前記光源の発光パワーをモニタするために前記光ピックアップに設けられたモニタ用受光素子の出力信号と前記光検出器の出力信号とをほぼ同時に計測する計測手段と；を備える評価装置である。
【００２３】
これによれば、光ピックアップの性能評価の開始要求に応じて、評価対象の光ピックアップの光源から出射されたレーザ光は集光位置近傍に配置された光検出器で受光され、受光量に応じた光電変換信号が光検出器から出力される。そして、該光検出器の出力信号は、光源の発光パワーをモニタするために光ピックアップに設けられたモニタ用受光素子の出力信号とほぼ同時に計測手段により計測される。そこで、例えば計測された各信号のうち一方の信号が異常のときに、他方の信号の状態を加味することにより異常の要因を精度良く評価することが可能となる。従って、結果として記録品質に関わる光ピックアップの性能を低コストで精度良く評価することができる。
【００２４】
この場合において、請求項９に記載の評価装置の如く、前記光検出器の出力信号に基づいて、前記レーザ光におけるピークパワー値を検出するピークパワー検出手段をさらに備えることとすることができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
《第１の実施形態》
以下、本発明の第１の実施形態を図１〜図７（Ｂ）に基づいて説明する。
【００２６】
図１には、本発明の第１の実施形態に係る評価装置２００の概略構成が示されている。
【００２７】
この図１に示される評価装置２００は、光検出器としての受光素子２０１、評価対象となる光ピックアップ２３及び板状部材としての評価用ディスク１０を所定位置に保持する支持台２０２、及び制御装置２１０などを備えている。なお、本実施形態では、一例としてＤＶＤ＋Ｒに対応する光ピックアップを評価するものとする。
【００２８】
評価用ディスク１０は、円盤状の透明基板１０ａと、入射光の一部を透過させる半透明膜１０ｂとから構成されている。ここでは、一例として、半透明膜１０ｂは透明基板１０ａの一側の面に蒸着等により形成されている。この評価用ディスク１０は、透明基板１０ａの他側の面が光ピックアップ２３側となるように支柱２０５を介して支持台２０２に支持されている。すなわち、光ピックアップ２３からの光束は透明基板１０ａを介して半透明膜１０ｂに到達する。
【００２９】
一般に光ディスクでは、透明の基板上に記録面が形成されており、光ピックアップからの光束はその基板を透過して記録面に集光されるようになっている。そして、その基板は通常樹脂成形品であり、その大部分は生産性の点から、成形品と類似した形状のキャビティを有する成形用型（通常は金型）に溶融状態の樹脂（例えばポリカーボネート）を加圧しながら注入する射出成形法及びそれに類似する方法により製造されている。成形品が光ディスクのような円盤状の場合には、キャビティの中央部（基板の回転中心部分に対応する部分）にダイレクトゲート（注入口）を持つラジアルフロータイプの成形用型を用いた成形方式が通常採用され、溶融樹脂はダイレクトゲートを介してキャビティの中央部から外周部に向かって流れていく。キャビティ内に注入された樹脂は、その温度及び冷却速度が一様ではないために、成形品に内部応力が残留したり、樹脂の密度が不均一となることがある。そこで、上記のようにして製造された光ディスクの基板は、光学的異方性を有する場合がある。例えば常光線に対する屈折率（常光線屈折率）と異常光線に対する屈折率（異常光線屈折率）とが異なる場合がある。
【００３０】
透明基板１０ａは、一例として上記光ディスクの基板の製造方法とほぼ同様にして製造されたポリカーボネート製の円盤であり、一般的なＤＶＤ＋Ｒの基板とほぼ同じ光学的異方性を有している。具体的には、異常光線屈折率と常光線屈折率との差は約０．０００６である。また、透明基板１０ａの板厚はＤＶＤ＋Ｒの基板とほぼ同じである。具体的には、約０．６ｍｍである。なお、上記異常光線屈折率と常光線屈折率との差及び板厚は一例であり、これに限定されるものではない。
【００３１】
半透明膜１０ｂは、一例として一般的なＤＶＤ＋Ｒの記録面と同様に約６５％の反射率を有している。従って、入射光の約３５％は、半透明膜１０ｂを透過することとなる。
【００３２】
前記支持台２０２は、光ピックアップ２３を着脱するための着脱機構を備えている。
【００３３】
受光素子２０１は、光ピックアップ２３から出射され評価用ディスク１０を透過した光束の光路上に配置され、光電変換信号Ｉｐ１を制御装置２１０に出力する。この受光素子２０１は、数百ＭＨｚ帯域の周波数に対応できる特性を有する、いわゆる高速受光素子である。なお、受光素子２０１は、アーム２０３及びスタンド２０４を介して支持台２０２に支持されている。
【００３４】
ここで評価対象となる光ピックアップ２３の構成等について簡単に説明する。この光ピックアップ２３は、一例として図２に示されるように、光源ユニット５１、コリメートレンズ５２、偏光ビームスプリッタ５４、λ／４板５５、対物レンズ６０、検出レンズ５８、受光器５９、フォーカシングアクチュエータＦＡ、トラッキングアクチュエータ（図示省略）などを備えている。
【００３５】
前記光源ユニット５１は、駆動信号Ｉｄｒｖに応じた発光パワーで波長が６６０ｎｍの光束を発光する光源としての半導体レーザ５１ａを含んで構成されている。なお、本実施形態では、光源ユニット５１からはＰ偏光の光束が出射され、その最大強度出射方向を＋Ｚ方向とする。前記コリメートレンズ５２は、光源ユニット５１の＋Ｚ側に配置され、光源ユニット５１から出射された光束を略平行光とする。
【００３６】
前記偏光ビームスプリッタ５４は、コリメートレンズ５２の＋Ｚ側に配置され、評価用ディスク１０からの戻り光束を＋Ｘ方向に分岐する。この偏光ビームスプリッタ５４は、一例としてＰ偏光の光束に対しては低い反射率を有し、Ｓ偏光の光束に対しては高い反射率を有するように設定されている。従って、コリメートレンズ５２にて略平行光とされた光束の殆どは偏光ビームスプリッタ５４を透過し、評価用ディスク１０からの戻り光束に含まれるＳ偏光成分は＋Ｘ方向に分岐される。一方、評価用ディスク１０からの戻り光束に含まれるＰ偏光成分は偏光ビームスプリッタ５４を透過し、コリメートレンズ５２を介して光源ユニット５１に戻ることとなる。
【００３７】
前記λ／４板５５は、偏光ビームスプリッタ５４の＋Ｚ側に配置され、入射光にλ／４の光学的位相差を付与する。このλ／４板５５の＋Ｚ側には前記対物レンズ６０が配置されている。
【００３８】
前記検出レンズ５８は、偏光ビームスプリッタ５４の＋Ｘ側に配置され、偏光ビームスプリッタ５４で＋Ｘ方向に分岐された戻り光束を前記受光器５９の受光面に集光する。受光器５９は、ウォブル信号情報、再生データ情報、フォーカスエラー情報及びトラックエラー情報などを含む光電変換信号Ｉｐ２を出力する。
【００３９】
前記フォーカシングアクチュエータＦＡは、後述するフォーカス駆動信号Ｉｆａに応じて対物レンズ６０を保持している不図示のレンズホルダをＺ軸方向（図２の紙面上下方向）に微少駆動する。これにより、対物レンズ６０によって集光される光束のＺ軸方向に関する集光位置が調整される。
【００４０】
次に、前記制御装置２１０について図３を用いて説明する。この制御装置２１０は、処理装置２１１、Ｉ／Ｖ変換装置２１３、波形表示装置２１４、発光パワー制御装置２１５、記憶装置２１６、モータドライバ２１７、入力装置２１８及びモニタ装置２１９を備えている。
【００４１】
Ｉ／Ｖ変換装置２１３は、受光素子２０１の出力信号Ｉｐ１を電圧信号Ｖｐ１に変換する。この電圧信号Ｖｐ１は波形表示装置２１４に出力される。また、Ｉ／Ｖ変換装置２１３は、受光器５９の出力信号Ｉｐ２を電圧信号Ｖｐ２に変換する。この電圧信号Ｖｐ２は処理装置２１１に出力される。
【００４２】
波形表示装置２１４は、電圧信号Ｖｐ１の信号波形を表示する。なお、表示内容は不図示のプリンタで印刷することが可能である。また、表示内容を処理装置２１１に出力することも可能である。これにより、例えば表示内容を光ピックアップ２３の製造番号と関連付けてデータベース化することができる。
【００４３】
モニタ装置２１９は、例えばＣＲＴ、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）及びプラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ）などを用いた表示部（図示省略）を備え、処理装置２１１からの各種情報を表示する。
【００４４】
入力装置２１８は、例えばキーボード、マウス、タブレット、トラックボール、ライトペン及びタッチパネルなどのうち少なくとも１つの入力媒体（図示省略）を備え、オペレータから入力された各種情報を処理装置２１１に通知する。なお、入力媒体からの情報はワイヤレス方式で入力されても良い。
【００４５】
処理装置２１１は、通常の光ディスク装置と同様にして、電圧信号Ｖｐ２に含まれるフォーカスエラー情報を抽出し、Ｚ軸方向に関する集光位置の半透明膜面からのずれを補正するためのフォーカス補正信号を生成する。このフォーカス補正信号はモータドライバ２１７に出力される。また、処理装置２１１は、オペレータが入力装置２１８を介して設定した発光パルスの各種条件（ピークパワー、イレーズパワー、ボトムパワー、パルス幅（加熱パルス幅、冷却パルス幅）など）を発光パワー制御装置２１５に通知する。ここで、加熱パルス幅はピークパワーを維持する時間を示し、冷却パルス幅はボトムパワーを維持する時間を示している。
【００４６】
記憶装置２１６は、処理装置２１１での処理に用いられる情報などが格納されている。
【００４７】
モータドライバ２１７は、処理装置２１１からのフォーカス補正信号に基づいてフォーカス駆動信号Ｉｆａを生成し、フォーカシングアクチュエータＦＡに出力する。
【００４８】
発光パワー制御装置２１５は、処理装置２１１から通知された発光パルスの各種条件に基づいて駆動信号Ｉｄｒｖを生成し、光源ユニット５１に出力する。
【００４９】
次に、前述のように構成される評価装置２００を用いて光ピックアップ２３の性能を評価する手順について説明する。なお、評価装置２００に電源が供給されると、処理装置２１１は一例として図４（Ａ）に示されるような待機画面をモニタ装置２１９に表示する。
【００５０】
１．入力装置２１８を介して「評価開始」が選択されると、処理装置２１１は、一例として図４（Ｂ）に示されるように、モニタ装置２１９に評価対象のピックアップに関する情報（以下、便宜上「ピックアップ情報」と略述する）の入力を要求する画面を表示する。ピックアップ情報には、製造番号、型式、製造されたライン番号、及び半導体レーザの定格値等が含まれる。なお、例えば型式毎にピックアップ情報を予め記憶装置２１６に格納しておき、処理装置２１１は、型式が入力されると対応するピックアップ情報を読み出して、モニタ装置２１９に表示しても良い。これにより、オペレータの入力作業を簡略化することができる。
【００５１】
２．入力装置２１８を介してピックアップ情報が入力されると、処理装置２１１は、入力されたピックアップ情報を記憶装置２１６に格納した後、一例として図５（Ａ）に示されるように、モニタ装置２１９に発光パルスの各種条件（以下、便宜上「パルス条件」ともいう）の入力を要求する画面を表示する。なお、例えば型式毎にパルス条件を予め記憶装置２１６に格納しておき、処理装置２１１は、入力された型式に対応するパルス条件を読み出して、モニタ装置２１９に表示しても良い。
【００５２】
３．入力装置２１８を介してパルス条件が入力されると、処理装置２２１は、入力されたパルス条件を記憶装置２１６に格納した後、一例として図５（Ｂ）に示されるように、光ピックアップ２３のセットを要求するメッセージを表示する。なお、ここでは、一例として図６（Ａ）に示されるようなパルス条件が設定されたものとする。すなわち、ピークパワーは３８ｍＷ、イレーズパワーは２０ｍＷ、ボトムパワーは２ｍＷ、加熱パルス幅は１００ｎｓ、冷却パルス幅は１００ｎｓである。これは、５ＭＨｚの単純矩形波である。
【００５３】
４．オペレータは、光ピックアップ２３を支持台２０２にセットし、所定のケーブル（ここでは、Ｉｄｒｖ、Ｉｆａ及びＩｐ２の信号線を含むケーブル）を光ピックアップ２３に接続した後、入力装置２１８を介して「セット完了」を入力する。
【００５４】
５．処理装置２１１は、発光パワー制御装置２１５を介して、イレーズパワー（ここでは２０ｍＷ）に対応する信号Ｉｅを駆動信号Ｉｄｒｖとして光源ユニット５１に出力する。これにより、半導体レーザ５１ａは駆動信号Ｉｄｒｖに対応する発光パワーのレーザ光を発光する。
【００５５】
６．光源ユニット５１から出射された直線偏光（ここではＰ偏光）の光束（以下「出射光束」ともいう）は、コリメートレンズ５２で略平行光とされた後、偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した出射光束の殆どは偏光ビームスプリッタ５４を透過し、λ／４板５５で円偏光となり、対物レンズ６０を介して光ピックアップ２３から出射される。
【００５６】
７．光ピックアップ２３から出射された光束は、透明基板１０ａを透過する際に、透明基板１０ａの光学的異方性及び板厚に応じた光学的位相差が付与された後、半透明膜１０ｂに到達する。
【００５７】
８．半透明膜１０ｂに到達した光束の約６５％は、半透明膜１０ｂで反射され、透明基板１０ａを透過する際に、再び透明基板１０ａの光学的異方性及び板厚に応じた光学的位相差が付与された後、戻り光束として光ピックアップ２３（厳密には対物レンズ６０）に入射する。
【００５８】
９．この戻り光束は対物レンズ６０で再び略平行光とされ、λ／４板５５でλ／４の光学的位相差が付与された後、偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した戻り光束は楕円偏光であり、戻り光束に含まれるＳ偏光成分は＋Ｘ方向に反射され、検出レンズ５８を介して受光器５９で受光される。受光器５９は、受光量に応じた光電変換信号Ｉｐ２を出力する。一方、偏光ビームスプリッタ５４に入射した戻り光束に含まれるＰ偏光成分は偏光ビームスプリッタ５４を透過する。
【００５９】
１０．受光器５９の出力信号Ｉｐ２は、Ｉ／Ｖ変換装置２１３で電圧信号Ｖｐ２に変換される。
【００６０】
１１．処理装置２１１は、Ｉ／Ｖ変換装置２１３からの電圧信号Ｖｐ２に基づいて、前述した如くフォーカスエラー情報を抽出し、フォーカスずれが予め設定されている値よりも大きければ、そのフォーカスずれを補正するためのフォーカス補正信号をモータドライバ２１７に出力する。これにより、フォーカス駆動信号Ｉｆａがモータドライバ２１７からフォーカシングアクチュエータＦＡに出力され、フォーカスずれが補正される。
【００６１】
１２．処理装置２１１は、フォーカスずれが予め設定されている値未満であることを確認すると、発光パワー制御装置２１５を介して、図６（Ｂ）に示されるようなパルス形状の駆動信号Ｉｄｒｖを光源ユニット５１に出力する。ここで、Ｉｗはピークパワーに対応する信号であり、Ｉｂはボトムパワーに対応する信号である。これにより、半導体レーザ５１ａは駆動信号Ｉｄｒｖに応じてレーザ光をパルス発光することとなる。
【００６２】
１３．光源ユニット５１からの出射光束は前述の如くして半透明膜１０ｂに集光される。半透明膜１０ｂに集光した光束の約３５％は、半透明膜１０ｂを透過し、受光素子２０１で受光される。受光素子２０１は、受光量に応じた光電変換信号Ｉｐ１を出力する。
【００６３】
１４．受光素子２０１の出力信号Ｉｐ１は、Ｉ／Ｖ変換装置２１３で電圧信号Ｖｐ１に変換され、その信号波形が波形表示装置２１４に表示される。
【００６４】
１５．オペレータは、波形表示装置２１４に表示される電圧信号Ｖｐ１の信号波形に基づいて、光ピックアップ２３の合否を判断する。ここでは、一例として図７（Ａ）に示されるように、駆動信号Ｉｄｒｖに対応した信号波形が得られれば合格と判定する。一方、一例として図７（Ｂ）に示されるように、ピークレベルになまりが生じ、その低下量ΔＤが振幅（ここでは３６０ｍＶ）の２０％を超える場合には不合格と判定する。
【００６５】
１６．オペレータは、入力装置２１８を介して判定結果及び低下量ΔＤを入力し、所定のデータベースに追加登録する。
【００６６】
なお、図４（Ａ）において、「メンテナンス」が選択されると、例えば波形表示装置２１４での表示スケールを変更することができる。また、図４（Ａ）において、「データ検索」が選択されると、例えば製造番号をキーとして過去の評価結果及び低下量ΔＤを検索することができる。
【００６７】
以上の説明から明らかなように、本第１の実施形態に係る評価装置２００では、制御装置２１０によってパルス形状検出手段が実現されている。また、上記手順１４及び１５における処理によって、本発明の請求項１に係る評価方法の工程が実施されている。
【００６８】
以上説明したように、本第１の実施形態に係る評価装置２００によると、制御装置２１０から評価対象の光ピックアップの光源ユニット５１に所定のパルス形状の駆動信号が供給され、その駆動信号に応じて光源ユニット５１から出射された光束は、ＤＶＤ＋Ｒとほぼ同じ光学的異方性及び板厚の透明基板１０ａを介して、ＤＶＤ＋Ｒの記録面とほぼ同じ反射率を有する半透明膜１０ｂに集光される。そして、半透明膜１０ｂを透過した光束は受光素子２０１で受光され、その光電変換信号は波形表示装置２１４にてパルス波形として表示される。波形表示装置２１４に表示されたパルス波形は、ＤＶＤ＋Ｒの記録面に形成される光スポットのパワー変化を示すこととなる。従って、ＤＶＤ＋Ｒに実際にデータを記録することなく、光ピックアップの性能を評価することができる。すなわち、記録品質に関わる光ピックアップの性能を低コストで精度良く評価することができる。
【００６９】
通常光ピックアップの光学系には、戻り光束を受光位置に導くための分岐光学素子が含まれている。この分岐光学素子としては、分岐作用が入射する光束の偏光方向に依存しない無偏光性分岐光学素子と、入射する光束の偏光方向に応じて分岐作用が異なる偏光性分岐光学素子とがある。分岐光学素子が往路と復路の共通光路上に配置される場合に、無偏光性分岐光学素子では、出射光束もその一部が分岐されるため、光ディスクの記録面に照射される光量が減少し、高速記録への対応が困難となる。そこで、高速記録に対応した光ピックアップでは、光利用効率を向上させるために、分岐光学素子として偏光性分岐光学素子が多く用いられている。この場合には、出射光束の偏光方向に対して、例えばλ／４板などを用いて戻り光束の偏光方向をほぼ９０度変更することにより、出射光束の殆どが偏光性分岐光学素子を透過し、戻り光束の大部分が偏光性分岐光学素子で分岐されるようになる。
【００７０】
但し、偏光性分岐光学素子が用いられた光ピックアップを搭載した光ディスク装置で前記光学的異方性を有する光ディスクをアクセスすると、出射光束と偏光性分岐光学素子に入射する戻り光束との光学的位相差が所望の値であるπからずれることとなる。すなわち、偏光性分岐光学素子で分岐されずに半導体レーザに戻る光束の光量が増加する。その結果、半導体レーザのＩ−Ｌ特性におけるキンクレベルが低下し、記録品質が低下するおそれがある。例えば、異常光線屈折率と常光線屈折率との差が０．０００６で、基板の板厚が１．２ｍｍの光ディスクでは、一例として図８に示されるように、対物レンズの開口数が大きくなり、光ディスクに対するレーザ光の入射角が大きくなると、半導体レーザに戻る光束の光量が急激に増加し、Ｉ−Ｌ特性におけるキンクレベル低下に及ぼす影響が大きくなる。一般に対物レンズの開口数は、ＤＶＤに対応した光ピックアップでは約０．６５であり、ＣＤに対応した光ピックアップでは約０．５である。また、記録速度の高速化に伴い、光利用効率を更に向上させるため、対物レンズの開口数は大きくなる傾向にある。本第１の実施形態では、透明基板１０ａが通常のＤＶＤ＋Ｒと同等の光学的異方性を有しているため、評価装置２００で合格と判定された光ピックアップを搭載した光ディスク装置では、光ディスクの光学的異方性に起因する記録品質の低下を抑制することができ、記録品質に優れた記録を安定して行うことが可能となる。
【００７１】
なお、上記第１の実施形態では、低下量ΔＤが振幅の２０％を超える場合に不合格と判定する場合について説明したが、これに限定するものではなく、例えば光ピックアップの種類に応じて異なる判定基準を用いても良い。また、パルス条件（例えばパルス幅）に応じて異なる判定基準を用いても良い。
【００７２】
また、上記第１の実施形態では、ピークレベルの低下量ΔＤに基づいて合否の判定を行う場合について説明したが、これに限定されるものではない。要するに記録品質に影響する波形部分に基づいて合否の判定を行えば良い。また、複数箇所の波形部分に基づいて合否の判定をしても良い。
【００７３】
また、上記第１の実施形態では、合格か不合格かのみを判定しているが、低下量ΔＤの値に応じて、不合格を複数の判定レベルに分けても良い。例えば、「再評価」判定、「要調整」判定、「要交換」判定などを含めても良い。
【００７４】
なお、上記第１の実施形態では、評価用ディスク１０がピックアップに対して固定されている場合について説明したが、これに限定するものではなく、例えば、レーザ光の集光によって半透明膜１０ｂの温度が上昇し、その特性が変化するおそれがあるときには、通常の光ディスクに記録するときのように、対物レンズの光軸方向とほぼ一致する方向の回転軸回りに評価用ディスク１０を回転しても良い。この場合には、一例として図９に示されるように、評価用ディスク１０を回転するためのスピンドルモータ２３１が更に設けられ、第１の実施形態における制御装置２１０に代えて、スピンドルモータ２３１を駆動するためのモータ駆動信号Ｉｓｐｉｎを出力する機能が付加された制御装置２１０’が用いられる。この制御装置２１０’では、一例として図１０に示されるように、処理装置２１１’及びモータドライバ２１７’によってモータ駆動信号Ｉｓｐｉｎが出力されるようになっている。すなわち、処理装置２１１’は駆動信号Ｉｄｒｖを光ピックアップに供給する際に、評価用ディスク１０が所定の線速度で回転するように、所定の回転制御信号をモータドライバ２１７’に出力する。そして、モータドライバ２１７’はその回転制御信号に応じたモータ駆動信号Ｉｓｐｉｎを出力する。これにより、半透明膜１０ｂの一部のみにレーザ光が集光されるのを防止することができる。
【００７５】
また、上記第１の実施形態では、透明基板１０ａの一側の面に半透明膜１０ｂがほぼ前面に亘って形成された場合について説明したが、これに限らず、透明基板の一側の面の一部に半透明膜が形成されても良い。要するに、光ピックアップから出射されたレーザ光が確実に半透明膜に集光されれば良い。そこで、一例として図１１（Ａ）に示されるように、上記第１の実施形態で用いられる領域Ｒ１以外に、ＲＦ信号に基づいてジッタ等を計測するための領域として所定のピットが形成されている領域Ｒ２が評価用ディスクに含まれていても良い。また、一例として図１１（Ｂ）に示されるように、更にプッシュプル信号を計測するための領域として所定のグルーブが形成されている領域Ｒ３が評価用ディスクに含まれていても良い。このような場合に、光ピックアップから出射されたレーザ光が確実に半透明膜面に集光されるようにするため、スピンドルモータ２３１が図９におけるＸ軸方向（紙面左右方向）に移動できることが好ましい。なお、支持台２０２を図９におけるＸ軸方向に移動しても良い。
【００７６】
また、上記第１の実施形態では、板状部材として円盤状の評価用ディスクを用いる場合について説明したが、これに限らず、例えば三角形、四角形、及び多角形などの形状の板状部材であっても良い。
【００７７】
また、上記第１の実施形態では、パルス条件が設定された後に、光ピックアップのセットを要求しているが、これに限らず、パルス条件が設定される前に光ピックアップのセットを要求しても良い。
【００７８】
また、上記第１の実施形態において、波形表示装置として市販のオシロスコープを用いても良い。この場合に、処理装置としてコンピュータを用い、それにモータドライバ、発光パワー制御装置及びＩ／Ｖ変換装置と同等の機能を有する処理回路が一体化された回路基板を接続しても良い。さらに、記憶装置としてハードディスクを用いても良い。
【００７９】
また、上記第１の実施形態では、波形表示装置２１４に表示されている信号波形に基づいて、オペレータが合否を判断する場合について説明したが、処理装置が合否を判断しても良い。この場合には、電圧信号Ｖｐ１はＩ／Ｖ変換装置から処理装置に出力され、処理装置で高速サンプリングされる。そして、処理装置は前記低下量ΔＤを求め、前記判定基準に基づいて合否を決定するとともに、その合否結果をモニタ装置２１９に表示する。
【００８０】
また、上記第１の実施形態では、評価用ディスク１０が支柱２０５を介して支持台２０２に支持されている場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば支持台２０２とは異なる部材に支持されていても良い。要するに、光ピックアップとの位置関係が上記第１の実施形態と同様であれば良い。
【００８１】
《第２の実施形態》
以下、本発明の第２の実施形態を図１２〜図１８に基づいて説明する。
【００８２】
図１２には、本発明の第２の実施形態に係る評価装置３００の概略構成が示されている。
【００８３】
この図１２に示される評価装置３００は、光検出器としての受光素子３０１、評価対象となる光ピックアップ１２３を所定位置に保持する支持台３０２、及び制御装置３１０などを備えている。なお、本第２の実施形態では、一例として前記第１の実施形態と同様にＤＶＤ＋Ｒに対応する光ピックアップを評価するものとする。
【００８４】
支持台３０２は、光ピックアップ１２３を着脱するための着脱機構を備えている。
【００８５】
前記受光素子３０１は、光ピックアップ１２３からのレーザ光の集光位置に配置され、光電変換信号Ｉｐ１を制御装置３１０に出力する。この受光素子３０１は、数百ＭＨｚ帯域の周波数に対応できる特性を有する、いわゆる高速受光素子である。なお、受光素子３０１は、アーム３０３及びスタンド３０４を介して支持台３０２に支持されている。また、スタンド３０４は受光素子３０１をＸ軸方向、Ｙ軸方向及びＺ軸方向にそれぞれ微少駆動するためのマイクロステージ機能を備えている。さらに、光ピックアップ１２３を支持台３０２に着脱する際の作業性を向上させるため、受光素子３０１はスタンド３０４を回転軸として回動可能となっている。
【００８６】
ここで評価対象となる光ピックアップ１２３の構成等について簡単に説明する。この光ピックアップ１２３は、一例として図１３に示されるように、光源ユニット１５１、コリメートレンズ１５２、ビームスプリッタ１５４、対物レンズ１６０、第１の検出レンズ１５８、第１の受光器１５９、反射ミラー７１、第２の検出レンズ７２、第２の受光器７３、及び駆動系（フォーカシングアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータ（いずれも図示省略））などを備えている。
【００８７】
前記光源ユニット１５１は、駆動信号Ｉｄｒｖに応じた発光パワーで波長が６６０ｎｍのレーザ光を発光する光源としての半導体レーザ１５１ａを含んで構成されている。なお、本実施形態では、光源ユニット１５１から出射される光束の最大強度出射方向を＋Ｚ方向とする。前記コリメートレンズ１５２は、光源ユニット１５１の＋Ｚ側に配置され、光源ユニット１５１から出射された光束を略平行光とする。
【００８８】
前記反射ミラー７１は、コリメートレンズ１５２の近傍に配置され、光源ユニット１５１から出射された光束の一部をモニタ用光束として＋Ｘ方向に反射する。
【００８９】
前記ビームスプリッタ１５４は、コリメートレンズ１５２の＋Ｚ側に配置され、戻り光束を＋Ｘ方向に分岐する。前記対物レンズ１６０は、ビームスプリッタ１５４の＋Ｚ側に配置され、ビームスプリッタ１５４を透過した光束を集光する。
【００９０】
前記第１の検出レンズ１５８は、ビームスプリッタ１５４の＋Ｘ側に配置され、ビームスプリッタ１５４で＋Ｘ方向に分岐された戻り光束を前記第１の受光器１５９の受光面に集光する。第１の受光器１５９は、通常の光ディスク装置と同様に、ウォブル信号情報、再生データ情報、フォーカスエラー情報及びトラックエラー情報などを含む信号を出力する複数の受光素子を含んで構成されている。
【００９１】
前記第２の検出レンズ７２は、反射ミラー７１の＋Ｘ側に配置され、反射ミラー７１で＋Ｘ方向に反射されたモニタ用光束を前記第２の受光器７３の受光面に集光する。第２の受光器７３からは光電変換信号Ｉｐ３が出力される。すなわち、第２の受光器７３は半導体レーザ１５１ａの発光パワーをモニタするためのモニタ用受光素子、いわゆる前方受光素子である。
【００９２】
次に、前記制御装置３１０について図１４を用いて説明する。制御装置３１０は、処理装置３１１、Ｉ／Ｖ変換装置３１３、波形表示装置３１４、発光パワー制御装置３１５、記憶装置３１６、ピークパワー検出手段としてのピークパワー検出装置３１７、入力装置３１８及びモニタ装置３１９を備えている。
【００９３】
Ｉ／Ｖ変換装置３１３は、受光素子３０１の出力信号Ｉｐ１を電圧信号Ｖｐ１に変換する。この電圧信号Ｖｐ１は波形表示装置３１４及びピークパワー検出装置３１７に出力される。また、Ｉ／Ｖ変換装置３１３は、第２の受光器７３の出力信号Ｉｐ３を電圧信号Ｖｐ３に変換する。この電圧信号Ｖｐ３は波形表示装置３１４に出力される。
【００９４】
波形表示装置３１４は、電圧信号Ｖｐ１及びＶｐ３の信号波形をそれぞれ同一画面に表示する。なお、表示内容は不図示のプリンタで印刷することが可能である。また、表示内容を処理装置３１１に出力することも可能である。これにより、例えば表示内容を光ピックアップ１２３の製造番号と関連付けてデータベース化することができる。
【００９５】
モニタ装置３１９は、前記第１の実施形態におけるモニタ装置２１９と同様な表示部（図示省略）を備え、処理装置３１１からの各種情報を表示する。
【００９６】
入力装置３１８は、前記第１の実施形態における入力装置２１８と同様な入力媒体（図示省略）を備え、オペレータから入力された各種情報を処理装置３１１に通知する。
【００９７】
ピークパワー検出装置３１７は、一例として図１５に示されるように、サンプリング部３１７ａ、比較部３１７ｂ及びパワー値変換部３１７ｃなどを備えている。サンプリング部３１７ａは処理装置３１１からのサンプリング信号Ｓｓｍｐに同期して電圧信号Ｖｐ１をサンプリングする。比較部３１７ｂはサンプリング部３１７ａの出力信号と基準信号Ｖｒｅｆとを比較し、大きいほうの信号を出力する。比較部３１７ｂの出力信号はパワー値変換部３１７ｃに出力されるとともに、基準信号Ｖｒｅｆとして比較部３１７ｂに入力される。パワー値変換部３１７ｃは、記憶装置３１６に格納されている後述する変換式を参照し、比較部３１７ｂの出力信号をパワー値に変換する。
【００９８】
図１４に戻り、処理装置３１１は、オペレータが入力装置３１８を介して設定したパルス条件を発光パワー制御装置３１５に出力する。また、処理装置３１１は、設定されたパルス幅に応じたサンプリング信号Ｓｓｍｐをピークパワー検出装置３１７に出力する。
【００９９】
記憶装置３１６には、一例として図１６に示されるように、予め光パワーメータ等を用いて実測した発光パワーＰと電圧信号Ｖｐ１との相関関係を示す関係式（ここでは、Ｐ＝Ｖｐ１／１０）が前記変換式として格納されている。また、記憶装置３１６には、処理装置３１１での処理に用いられる情報が格納されている。
【０１００】
発光パワー制御装置３１５は、処理装置３１１からのパルス条件に基づいて駆動信号Ｉｄｒｖを生成し、光源ユニット１５１に出力する。
【０１０１】
次に、前述のように構成される評価装置３００を用いて光ピックアップ１２３の性能を評価する手順について説明する。なお、評価装置３００に電源が供給されると、処理装置３１１は前記第１の実施形態と同様な待機画面をモニタ装置３１９に表示する（図４（Ａ）参照）。
【０１０２】
１．入力装置３１８を介して「評価開始」が選択されると、処理装置３１１は、前記第１の実施形態と同様に、モニタ装置３１９に製造番号等のピックアップ情報の入力を要求する画面を表示する（図４（Ｂ）参照）。なお、前記第１の実施形態と同様にして、オペレータの入力作業を簡略化しても良い。
【０１０３】
２．入力装置３１８を介してピックアップ情報が入力されると、処理装置３１１は、入力されたピックアップ情報を記憶装置３１６に格納した後、前記第１の実施形態と同様に、モニタ装置３１９に発光パルスの各種条件の入力を要求する画面を表示する（図５（Ａ）参照）。
【０１０４】
３．入力装置３１８を介して発光パルスの各種条件が入力されると、処理装置３１１は、入力されたパルス条件を記憶装置３１６に格納した後、前記第１の実施形態と同様に、光ピックアップ１２３のセットを要求するメッセージを表示する（図５（Ｂ）参照）。なお、ここでは、一例として前記第１の実施形態と同様な発光パルスが設定されたものとする（図６（Ａ）参照）。すなわち、ピークパワーは３８ｍＷ、イレーズパワーは２０ｍＷ、ボトムパワーは２ｍＷ、加熱パルス幅は１００ｎｓ、冷却パルス幅は１００ｎｓである。
【０１０５】
４．オペレータは、光ピックアップ１２３を支持台３０２にセットし、所定のケーブル（ここでは、Ｉｄｒｖ及びＩｐ３の信号線を含むケーブル）を光ピックアップ１２３に接続した後、入力装置３１８を介して「セット完了」を入力する。
【０１０６】
５．処理装置３１１は、発光パワー制御装置３１５を介して、前記第１の実施形態と同様なパルス形状の駆動信号Ｉｄｒｖを光源ユニット１５１に出力する（図６（Ｂ）参照）。
【０１０７】
６．光源ユニット１５１から出射された光束（出射光束）は、コリメートレンズ１５２で略平行光とされた後、ビームスプリッタ１５４に入射する。ビームスプリッタ１５４を透過した出射光束は対物レンズ６０を介して受光素子３０１の受光面に集光される。受光素子３０１は、受光量に応じた光電変換信号Ｉｐ１を出力する。
【０１０８】
７．光源ユニット１５１から出射された光束（出射光束）の一部は、反射ミラー７１及び第２の検出レンズ７２を介して第２の受光器７３で受光される。第２の受光器７３は、受光量に応じた光電変換信号Ｉｐ３を出力する。
【０１０９】
８．受光素子３０１の出力信号Ｉｐ１は、Ｉ／Ｖ変換装置３１３で電圧信号Ｖｐ１に変換される。この電圧信号Ｖｐ１は波形表示装置３１４及びピークパワー検出装置３１７に出力される。
【０１１０】
９．第２の受光器７３の出力信号Ｉｐ３は、Ｉ／Ｖ変換装置３１３で電圧信号Ｖｐ３に変換される。この電圧信号Ｖｐ３は波形表示装置３１４に出力される。
【０１１１】
１０．波形表示装置３１４は、電圧信号Ｖｐ１及び電圧信号Ｖｐ３をそれぞれ同一画面に表示する。
【０１１２】
１１．オペレータは、図１７に示されるように、波形表示装置３１４に表示される電圧信号Ｖｐ１及びＶｐ２の信号波形に基づいて、半導体レーザ１５１ａの発光性能及び第２の受光器７３の実装位置がそれぞれ正常であるか否かを判断する。すなわち、Ｖｐ１の信号波形とＶｐ３の信号波形とがいずれも正常（図１８（Ａ）参照）であれば、半導体レーザ１５１ａ及び第２の受光器７３はいずれも正常と判断する。Ｖｐ３の信号波形のみが異常（図１８（Ｂ）及び図１８（Ｃ）参照）であれば、第２の受光器７３のみが異常と判断する。Ｖｐ１の信号波形のみが異常（図１８（Ｂ）及び図１８（Ｃ）参照）であれば、受光素子３０１の異常であり、半導体レーザ１５１ａ及び第２の受光器７３はいずれも正常と判断する。Ｖｐ１の信号波形とＶｐ３の信号波形がいずれも異常であれば、半導体レーザ１５１ａが異常と判断する。これにより、光ピックアップの性能に関する情報を取得することができる。
【０１１３】
１２．ピークパワー検出装置３１７は、前述の如くして電圧信号Ｖｐ１におけるピークパワー値を検出する。このピークパワー値は処理装置３１１を介してモニタ装置３１９に表示される。これにより、オペレータは半導体レーザ１５１ａの発光パワーが定格値を超えていないかどうか、及び記録に必要な最低レベルを超えているかどうかを知ることができる。
【０１１４】
１３．オペレータは、入力装置３１８を介して評価結果を入力し、データベースに追加登録する。
【０１１５】
以上の説明から明らかなように、本第２の実施形態に係る評価装置３００では、制御装置３１０によって計測手段が実現されている。また、上記手順８〜１０における処理によって、本発明の請求項２に係る評価方法の第１工程が実施され、上記手順１１における処理によって、第２工程が実施されている。
【０１１６】
以上説明したように、本第２の実施形態に係る評価装置３００によると、制御装置３１０から評価対象の光ピックアップの半導体レーザに所定のパルス形状の駆動信号が供給され、その駆動信号に応じて半導体レーザから出射された光束は、集光位置に配置された受光素子３０１で受光される。また、半導体レーザから出射された光束の一部は第２の受光器７３で受光される。受光素子３０１の光電変換信号及び第２の受光器７３の光電変換信号は、それぞれ電圧信号に変換された後、いずれも波形表示装置３１４にてパルス波形として同一画面に表示される。従って、半導体レーザ１５１ａが所定の発光特性を有しているか否か、第２の受光器７３が正しい位置に取り付けられているか否かをそれぞれ正しく評価することができる。すなわち、記録品質に関わる光ピックアップの性能を低コストで精度良く評価することができる。
【０１１７】
一般に、半導体レーザでは駆動電流の一部が熱に変換されるため、使用中に半導体レーザ及びその近傍の温度が徐々に上昇し、Ｉ−Ｌ特性が変化する場合がある。すなわち、駆動電流が一定であっても発光パワーが変動する。そこで、記録中には随時、半導体レーザから出射される光束の発光パワーをモニタし、発光パワーの変動を抑制する、いわゆるＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）が行われている。しかしながら、モニタ用の受光素子が正しい位置に実装されていなければ、ＡＰＣの精度が低下し、記録品質が低下するおそれがあった。本第２の実施形態では、モニタ用の受光素子である第２の受光器７３が正しい位置に実装されているか否かを判定することができるため、評価装置３００で合格と判定された光ピックアップでは、ＡＰＣを精度良く行うことが可能となり、記録品質を向上させることができる。
【０１１８】
また、本第２の実施形態によると、ピックアップを評価する際に、ピークパワー値を検出しているため、光ディスク装置に搭載され、情報の記録を行うときに、ピークパワー値が半導体レーザの定格値を超えることを防止でき、半導体レーザの急激な劣化を抑えることが可能となる。また、情報の記録を行うときに、ピークパワー値が記録に必要な最低値以下となることを防止でき、記録品質の低下を抑えることが可能となる。
【０１１９】
また、上記第２の実施形態において、波形表示装置３１４として市販のオシロスコープを用いても良い。この場合に、処理装置としてコンピュータを用い、それにピークパワー検出装置、発光パワー制御装置及びＩ／Ｖ変換装置と同等の機能を有する処理回路が一体化された回路基板を接続しても良い。さらに、記憶装置としてハードディスクを用いても良い。
【０１２０】
また、上記第２の実施形態では、波形表示装置３１４に表示されている信号波形に基づいて、オペレータが良否を判断する場合について説明したが、処理装置が良否を判断しても良い。この場合には、電圧信号Ｖｐ１及びＶｐ３はＩ／Ｖ変換装置から処理装置に出力され、処理装置でそれぞれ高速サンプリングされる。そして、処理装置は所定の判定基準に基づいて良否を決定するとともに、その結果をモニタ装置３１９に表示する。
【０１２１】
また、上記第２の実施形態では、半導体レーザ１５１ａ及び第２の受光器７３のそれぞれが正常であるか否かを評価しているが、これに限らずいずれか一方が正常であるか否かを評価してもよい。
【０１２２】
また、上記第２の実施形態において、処理装置はピークパワー検出装置からのピークパワー値を、半導体レーザの定格値及び記録に必要な最低値などと比較し、その結果をモニタ装置３１９に表示しても良い。この場合に、光ピックアップの種類毎に、定格値などの半導体レーザに関する情報をデータベース化し、記憶装置３１６に格納しておくと良い。
【０１２３】
また、上記第２の実施形態において、ピークパワー値の検出が不要な場合には、ピークパワー検出装置はなくても良い。
【０１２４】
なお、上記各実施形態において、光ピックアップを着脱するための着脱機構にセンサ機能を付加し、光ピックアップがセットされているか否かを制御装置で検出しても良い。
【０１２５】
また、上記各実施形態では、光検出器として数百ＭＨｚ帯域の周波数に対応できる特性を有する高速受光素子を用いる場合について説明したが、これに限らず、例えば光源ユニットへの駆動信号Ｉｄｒｖの周波数の約１０倍の周波数帯域を有する受光素子を用いても良い。
【０１２６】
また、上記各実施形態では、光ディスクの記録面における光スポットの形成位置を検出する方法として、記録面に形成された１つの光スポットからの戻り光束を利用する方法（１ビーム方式）に対応した光ピックアップを評価対象としているが、これに限らず、記録面に形成された３つの光スポットからの戻り光束を利用する方法（３ビーム方式）に対応した光ピックアップを評価対象としても良い。なお、３ビーム方式に対応した光ピックアップは、光源から出射される光束を３つに分割（３ビーム化）するための回折素子を備えている。
【０１２７】
また、上記各実施形態では、光ピックアップと制御装置との間の情報のやりとりはケーブルを介して行われる場合について説明したが、これに限定されるものではなく、例えば赤外線などを利用したワイヤレスであっても良い。
【０１２８】
また、上記各実施形態では、評価対象となる光ピックアップがＤＶＤ＋Ｒに対応する場合について説明したが、これに限定されるものではなく、パルス発光されたレーザ光を用いて情報が記録される情報記録媒体に対応する光ピックアップであれば良い。
【０１２９】
また、上記各実施形態では、評価対象となる光ピックアップが１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、評価対象となる光ピックアップが、互いに波長が異なるレーザ光をそれぞれ出射する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、波長が４０５ｎｍ、６６０ｎｍ及び７８０ｎｍのレーザ光のうちいずれかの波長のレーザ光を出射する半導体レーザを含んでいても良い。
【０１３０】
また、上記各実施形態の評価装置を光ピックアップの製造ラインに設けても良い。そして、例えば半導体レーザの交換が必要と判断された光ピックアップを所定のラインに自動的に搬送しても良い。
【０１３１】
また、上記各実施形態において、評価装置をＬＡＮ及びイントラネットなどのネットワークで接続し、例えば製造管理者が必要なときにほぼリアルタイムで評価結果を読み出すことができるようにしても良い。
【０１３２】
また、上記各実施形態において、不合格あるいは異常と判断された光ピックアップの割合が所定値に達すると、モニタ装置に警告メッセージを表示しても良い。
【０１３３】
【発明の効果】
本発明に係る評価方法及び評価装置によれば、記録品質に関する光ピックアップの性能を低コストで精度良く評価することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る評価装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１の評価装置で評価対象となる光ピックアップの構成を説明するための図である。
【図３】図１の評価装置における制御装置の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図４】図４（Ａ）及び図４（Ｂ）は、それぞれ図３のモニタ装置に表示される画面を説明するための図（その１）である。
【図５】図５（Ａ）及び図５（Ｂ）は、それぞれ図３のモニタ装置に表示される画面を説明するための図（その２）である。
【図６】図６（Ａ）は発光パワーの一例を説明するための波形図であり、図６（Ｂ）は図６（Ａ）に対応して半導体レーザに供給される駆動信号を説明するための波形図である。
【図７】図７（Ａ）及び図７（Ｂ）は、それぞれ波形表示装置に表示される信号波形を説明するための図である
【図８】半導体レーザへの戻り光量と、光ディスクに対する入射角との関係を説明するための図である。
【図９】図１の評価装置の変形例を説明するための図である
【図１０】図９の評価装置における制御装置の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図１１】図１１（Ａ）及び図１１（Ｂ）は、それぞれ評価用ディスクの変形例を説明するための図である。
【図１２】本発明の第２の実施形態に係る評価装置の概略構成を示す図である。
【図１３】図１２の評価装置で評価対象となる光ピックアップの構成を説明するための図である。
【図１４】図１２の評価装置における制御装置の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図１５】図１２の評価装置におけるピークパワー検出装置の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図１６】発光パワーの実測値と受光素子の出力信号との相関関係を説明するための図である。
【図１７】波形表示装置に表示される信号波形と判定結果との関係を説明するための図である。
【図１８】図１８（Ａ）〜図１８（Ｃ）は、それぞれ波形表示装置に表示される信号波形を説明するための図である。
【符号の説明】
１０…評価用ディスク（板状部材）、１０ａ…透明基板（板状部材の一部）、１０ｂ…半透明膜（板状部材の一部）、２３，１２３…光ピックアップ、２００…評価装置、２０１…受光素子（光検出器）、２１０…制御装置（パルス形状検出手段）、３００…評価装置、３０１…受光素子（光検出器）、３１０…制御装置（計測手段）、３１７…ピークパワー検出装置（ピークパワー検出手段）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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