(57)【要約】【課題】穀物乾燥機等に設置する水分計の演算に関し、下限制限値の算出を合理的となして測定精度の向上をはかる。【解決手段】乾燥中の穀物を単粒ごとに取り込んで水分値に換算し所定粒数毎に平均処理する水分測定装置であって、平均値と標準偏差とから測定下限制限値を設定して当該制限値未満の水分測定値を除外し、この制限値以上の水分値のデータを平均値とするものにおいて、該下限制限値以上の水分値の標準偏差と平均水分値とから再度下限制限値を設定する手段と、当該下限制限値以上の水分値の平均水分値と前回の平均水分値とを比較する手段とを構成する。【選択図】　　　　　　　　図１４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
乾燥中の穀物を単粒ごとに取り込んで水分値に換算し所定粒数毎に平均処理する水分測定装置であって、平均値と標準偏差とから測定下限制限値を設定して当該制限値未満の水分測定値を除外し、この制限値以上の水分値のデータを平均値とするものにおいて、該下限制限値以上の水分値の標準偏差と平均水分値とから再度下限制限値を設定する手段と、当該下限制限値以上の水分値の平均水分値と前回の平均水分値とを比較する手段とを構成してなる穀物水分測定装置。
【請求項２】
乾燥中の穀物を単粒ごとに取り込んで水分値に換算し所定粒数毎に平均処理する水分測定装置であって、メジアンと標準偏差とから測定下限制限値を設定して当該制限値未満の水分測定値を除外し、この制限値以上の水分値のデータを平均値とする穀物水分測定装置。
【請求項３】
乾燥中の穀物を単粒ごとに取り込んで水分値に換算し所定粒数毎に平均処理する水分測定装置であって、メジアンとメジアンからの所定順位移動した水分値データの偏差とから測定下限制限値を設定して当該制限値未満の水分測定値を除外し、この制限値以上の水分値のデータを平均値とする穀物水分測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、単粒毎に測定する穀物の水分測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、穀粒水分の測定に当たっては、サンプル穀粒を順次測定してその平均値をもって水分値とするが、異常値やノイズの除去のため、測定下限を設定してその値以上の値を穀粒水分として採用する構成とし、実公平６−５０７６６号公報に記載されるように、前回測定水分の平均値から標準偏差の定数倍を減算する構成として、当該測定における下限値を設定している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
上記の構成では、サンプル粒が大粒の場合には、圧砕が円滑に行われないことがあり、特に高水分の穀粒では上記の標準偏差の算出に異常値を多く含んで、１回の下限処理では適切でなく、水分測定精度が劣ることとなる。つまり、大粒の場合には一対の電極ロール間に達した粒の噛み込みが円滑でなく結局圧砕が不十分のまま測定されるため、電気的抵抗値としては実測値よりも低い値となって出力されて上記のように異常値を含んで下限処理を適切に実行できない。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明は次のような技術的手段を講じた。
即ち、請求項１に記載の発明は、乾燥中の穀物を単粒ごとに取り込んで水分値に換算し所定粒数毎に平均処理する水分測定装置であって、平均値と標準偏差とから測定下限制限値を設定して当該制限値未満の水分測定値を除外し、この制限値以上の水分値のデータを平均値とするものにおいて、該下限制限値以上の水分値の標準偏差と平均水分値とから再度下限制限値を設定する手段と、当該下限制限値以上の水分値の平均水分値と前回の平均水分値とを比較する手段とを構成してなる穀物水分測定装置の構成とする。
【０００５】
これによって、平均水分値と標準偏差とによって下限制限値処理を複数に亘って行いながら異常値の除去を行いつつ平均水分値を算出する。
また請求項２に記載の発明は、乾燥中の穀物を単粒ごとに取り込んで水分値に換算し所定粒数毎に平均処理する水分測定装置であって、メジアンと標準偏差とから測定下限制限値を設定して当該制限値未満の水分測定値を除外し、この制限値以上の水分値のデータを平均値とする穀物水分測定装置の構成とする。
【０００６】
これによって、メジアンと標準偏差とから下限制限値設定処理を行い、下限制限値以上の水分値のデータで平均水分値を算出する。
さらに請求項３に記載の発明は、乾燥中の穀物を単粒ごとに取り込んで水分値に換算し所定粒数毎に平均処理する水分測定装置であって、メジアンとメジアンからの所定順位移動した水分値データの偏差とから測定下限制限値を設定して当該制限値未満の水分測定値を除外し、この制限値以上の水分値のデータを平均値とする穀物水分測定装置の構成とする。
【０００７】
これによって、メジアンとこのメジアンからの所定順位幅の水分差を演算して下限制限値を決定し、この下限制限値以上の水分値のデータで平均水分値を算出する。
【０００８】
【発明の効果】
よって、請求項１に係る発明は、標準偏差と平均水分値とから下限制限値を求め、これを繰り返して得た平均水分値と前回の平均水分値との差で下限制限処理の繰り返し処理の要否を判断するものであるから、電極ロールにて圧砕の不十分な穀粒による異常値を除去し得て、精度の向上がはかれる。
【０００９】
請求項２に係る発明は、標準偏差に代えてメジアンを採用するものであり、精度の向上を図れるほか、処理の容易化がはかれる。
請求項３に係る発明は、メジアンとメジアンからの所定順位幅の水分差をもって精度の向上を図ることができるものとなる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
この発明の一実施の形態を図面に基づき説明する。１は穀物乾燥装置の機枠で、内部には貯留室２、乾燥室３、集穀室４の順に積み重ねられ、外部に設ける昇降機５の駆動によって穀物を循環させながら、乾燥室３部でバーナ６燃焼と吸引ファン７とにより発生する熱風を浴びせて乾燥する公知の形態である。
【００１１】
８は繰り出しドラムで正逆に回転しながら所定量の穀物を流下させる。９は上記昇降機５に通じる下部移送装置、１０は昇降機５上部側に接続する上部移送装置で、貯留室２上部の拡散盤１１に穀物供給できる。バーナ６や穀物循環機構等は、乾燥制御に必要な制御プログラムや各種データ等を記憶するメモリを備えるコンピュータによって行なわれる。即ち、操作盤１２には液晶形態の表示部１３を設け、該表示部１３の下縁に沿って４個の押しボタン形態のスイッチ１４〜１７、及びやや離れて非常停止スイッチ１８を配設している。該スイッチ１４〜１７はその機能が表示部１３に表示されるもので、図例では、順に張込・乾燥・排出・通風の各運転用スイッチに構成されるが、表示部１３の画面変更に従って異なる機能を具備せしめ得る構成である。
【００１２】
内蔵の制御部は操作盤１２面のスイッチ情報や乾燥機機枠１各部に配設したセンサ類からの検出情報等を受けて必要な比較演算のもと、バーナ燃焼量の制御，穀物循環系の起動・停止制御，表示部１３の表示内容制御等を行う。上記操作盤１２のスイッチ類は、張込・乾燥・排出・通風の各設定のほか、穀物種類、設定水分（仕上げ水分）、張込量、タイマ増・減等を設定できる。
【００１３】
図４は制御ブロック図を示し、上記操作盤１２を有する制御ボックスに内蔵するコンピュータの演算制御部１９には上記スイッチ類からの設定情報のほか、水分計２０検出情報、昇降機５の投げ出し部に設ける穀物流れ検出器２１の穀物検出情報、熱風温度検出情報等が入力される。一方出力情報としては、バーナ６の燃焼系２２信号、例えば燃料供給信号，その流量制御信号、あるいは上下移送螺旋，昇降機５，繰出バルブ８等の穀物循環系モータ２３制御信号、吸引ファン７モータ制御信号，各表示部２４への表示出力等がある。
【００１４】
昇降機５はバケット式で、無端ベルト３０に多数のバケット３１，３１…を取り付け、外周を側壁５ａにより覆った構造で、バケット３１により集穀室４より出る穀粒を掬い上げて上昇し貯留室２へと運ぶ。昇降機５の側壁５ａの正面内側に、一粒式水分計２０の穀粒取り込み部３２の前縁をバケット用無端ベルト３０のバケット３１の近くまで差し込んで設置し、側壁５ａの内側で、穀粒取り込み部３２の底部排出口下方に、穀粒送り螺旋３３の始端部をのぞませる。
【００１５】
この穀粒取り込み部３２の前縁と穀粒送り螺旋３３の始端部は、バケット用無端ベルト３０の上昇側と下降側のベルト内側に位置するので、ベルト３０やバケット３１の移動に支障はない。一粒水分計２０の筐体は、フレーム３４と、そのフレーム３４を覆うカバー３５とからなる。このうち、フレーム３４は、昇降機５の側面に沿い、昇降機５との間を仕切る底板３６と、底板３６上に一体的に起立させた仕切板３７とからなり、フレーム３４に組付けたモータ３８，制御部３９と機構部４０とを当該仕切板３７により仕切る。
【００１６】
仕切板３７にモータ３８の駆動軸４１を貫通して水平に固定し、この駆動軸４１の先端に、はすば歯車４２を固定する。上記はすば歯車４２とは回転軸心を一致させて順次下位に第２はすば歯車４３ａ，第３はすば歯車４３ｂ、第４はすば歯車４４ａ，第５はすば歯車４４ｂを噛合させるものである。そして、第４はすば歯車４４ａの軸４５には第１電極ロール４６ａを、第５はすば歯車４４ｂの軸４７には第２電極ロール４６ｂを夫々固定するものである。
【００１７】
上記仕切板３７と平行に、いずれも透明の樹脂材からなる中間仕切４８と電極ロール取付板４９とを、仕切板３７から突出すべく一体に成形する取付脚部５０，５０…に着脱自在にボルト（図示せず）止めにより共締めしている。なお、仕切板３７と中間仕切４８との間隔は上記取付脚部５０の存在によって確保し、中間仕切４８と電極ロール取付板４９との間隔はこの取付板４９と一体成形する幅狭の起立部５１によって確保する。従って、前記軸４５及び軸４７は一端を仕切板３７に軸受し、他端を電極ロール取付板４９に軸受支持させる構成である。
【００１８】
さらに、底板３６の所定位置に、穀粒送り螺旋３３の回転軸５２を挿通し、この回転軸５２にはすば歯車５３を固定し、駆動軸４１のはすば歯車４２と直角に噛合する。図８は一粒式水分計を昇降機５内側から見た背面図で、穀粒取り込み部３２は、底板３６より昇降機５内部に突出し、その上部開口５５の開口縁を斜め下方に傾斜させ、開口面積を大きく形成すると共に、この開口５５に複数の弾線を並べてその根元を固定することにより、櫛状の異物除去体５６を形成している。
【００１９】
穀粒取り込み部３２の下部は、断面Ｖ字状に間隔を狭め、その一側を穀粒送り螺旋３３の真上まで延伸し、他側の下端に底部排出口５７を形成し、これに穀粒送り螺旋３３の先端部を接続する。そして穀粒送り螺旋３３と平行で上縁を穀粒取り込み部３２の外側に回転自在に軸支した穀粒送り板５８を垂設し、バネ５９により穀粒送り螺旋３３の外周に接するように付勢する。
【００２０】
前記穀粒送り螺旋３３の終端部の下方に穀粒落下路６０を設ける。この穀粒落下路６０の上部入口と穀粒送り板５８との間に形成される間隙に穀粒飛込防止板（図示せず）を設置してこの間隙を閉鎖している。この穀粒落下路６０は、一対の電極ロール４６ａ，４６ｂが斜めに位置してこれらの接近する部分に向けて誘導壁を形成し、穀粒を電極ロール４６ａ，４６ｂの間隙に誘導する。
【００２１】
なお穀粒落下路６０は、電極ロール４６ａ，４６ｂの左右に接近する中間仕切４８と電極ロール取付板４９とによって形成されるものであるが、その間隔は、両電極ロール４６ａ，４６ｂによる圧砕部付近では圧砕穀粒の侵入を防止しうるよう狭く形成している。すなわち、当該圧砕部付近の間隔が狭くなるよう中間仕切４８と電極ロール取付板４９の内壁面をやや膨出状に形成するものである。
【００２２】
上記電極ロールの両方はその外周を円形となし、外周面をローレット仕上げして投入された穀粒を圧砕できるようになし、また、両方の電極ロール４６ａ，４６ｂ表面部には回転軸に沿って直線状のＶ溝６１ａ，６１ｂを形成している。
また前記穀粒送り螺旋３３は、円柱体の外周に２本の線状突起の間に穀粒の１粒に見合う浅い凹部６３を形成し、穀粒送り螺旋３３の先端の一定範囲を除き、上記２本の線状突起の外側を断面台形に切削して螺旋状の深い溝６４を形成する。
【００２３】
６５は、傾斜状に配設する電極ロール４６ａ，４６ｂの下方に沿って設ける圧砕済穀粒の排出案内部で、この圧砕済穀粒を昇降機内空間へ還元案内する構成である。この排出案内部６５は、前記電極ロール取付板４８と一体成形される起立部５１と同様に成形される構成である。
【００２４】
前記電極ロール４６ａと電極ロール４６ｂの回転比は例えば１：２に構成し、低回転側の電極ロール側のＶ溝６１ａは対角状に２条形成し、高回転側の電極ロール４６ｂ側のＶ溝６１ｂは１条に形成されて（図１０）、両ロールの回転に伴ってＶ溝６１ａとＶ溝６１ｂとが同期して対向し合い当該対向部に穀粒を取り込み得て下方側に排出できる構成である。従来粒径の小さい穀粒は一対の電極ロール４６ａ，４６ｂによって圧砕処理され得るが、大径穀粒（例えば大豆や大麦）では一部に電極間で挟まれたまま噛み込まれないものがあり、例えば特開昭５８−８６３７７号公報に記載されるように電極ロールの一部を切欠き、これを対向させてサンプリング口からの穀粒を戻し口に向け直接落下させる間隔溝を形成する構成があるが、この従来技術は多量穀粒の排出構成に係るため電極の１回転毎に多量排出を行う構成となって単粒測定には不向きであり、異なる回転数の電極ロールには採用しがたいものであるが、上記のように低回転側電極ロール４６ａに複数Ｖ溝６１ａを形成し高回転側電極ロール４６ｂのＶ溝６１ｂを同期し合うよう形成することにより、噛み込まれずに停滞する穀粒を当該同期によって対向するＶ溝空間内に取り込み得て非圧砕のまま回転後位に送出すものとなって、上記停滞を防止し測定精度を向上する。上例では１：２の電極ロール回転数のため低回転側の電極ロール４６ａ側に２条、他に１条を形成したが、高低回転の電極ロールの回転比に応じて適宜設定するものである。なお、一対の電極ロールは図１０のように左右に併設する構成でもよく、支持軸が上下に配置される構成でもよい。
【００２５】
上記Ｖ溝６１ａ，６１ｂの配置構成について、前記穀粒送り螺旋３３の終端部から下方の穀粒落下路６０を経て電極ロール４６ａ，４６ｂに達するが、この行程の所要時間を予測できるから、同期するＶ溝の配置を穀粒が電極ロール４６ａ，４６ｂに到達する時点ではこの到達位置に一致しないよう構成するものとする（図１１）。例えば、穀粒が電極面に到達する時点ではＶ溝は穀粒取り込み位置よりもやや回転前位に配置することにより、穀粒の電極ロール面到達時点では、先ず穀粒圧砕処理が行われてＶ溝による穀粒取り込みを行われることがなく、電極面に残る穀粒を確実に排除することができる。
【００２６】
前記制御部３９には、回路基板６６上に各種制御回路を構成するものであるが、この基板６６には数ボルトまでの弱電回路を一まとめにして構成する。一方、モータトランス６７に代表される強電部はこの基板６６から離れた位置に、例えばモータ３８と制御部３９との間の底板３６に支持させる構成としている。
【００２７】
６８は、前記操作盤１２を備える制御部と水分計の制御部３９やモータトランス６７を接続するためのハーネスであって、底板３６に開口６９を形成すると共に、昇降機５にはこの開口６９に一致して断面矩形のトンネル状貫通筒７０を当該昇降機５の前後に亘って設けてある。
【００２８】
前記カバー３５は、逆皿型の形状となし、前記仕切板３７，中間仕切４８，電極ロール取付板４９の上端面に接するように取付られるもので、このカバー３５の取付状態で、左右に、モータ３８，制御基板６６及びモータトランス６７を配置する制御部３９、歯車を上下に配置する伝動機構部４０ａ、並びに一対の電極ロール４６ａ，４６ｂを備える検出機構部４０ｂに区分けされる。
【００２９】
前記制御部３９の機能について説明する。この制御部３９から所定時間間隔で水分測定信号が出力される。例えば１５分間隔である。水分測定信号が出力されると、モータ３８が起動し各部を回転連動し、穀粒の取り込みが始まり、水分測定信号について各粒毎の電気抵抗信号が入力される。制御部３９では、測定電極ロール４６ａ，４６ｂからの電気抵抗信号を入力しながら電圧信号に変換し、次の換算式に当てはめて水分値を算出する。即ち、
Ｍ＝ａ×Ｅｒ＋ｂ＋ｃ×（Ｔｒ−Ｔｏ）
ここで、Ｍは水分値、ａ，ｂ及びｃは水分換算係数、Ｅｒは検出電圧信号、Ｔｒは電極温度、Ｔｏは基準温度である。
【００３０】
上記の単粒毎の測定は例えば５０粒について連続して行われる。その水分値データは図１２であり、度数分布は図１３のようになって、低水分値の部分に分布が認められている。即ち、１５％以下の水分値を呈する穀粒が９粒存在するが、これらは圧砕不十分により電気的抵抗値が低く検出されたことが原因と推定され、元来は平均水分値に取り込み処理されるべきではない穀粒群である。
【００３１】
そこで、検出水分値の上・下限制限値（リミット水分値）処理を次のように実行することにより精度の向上を図っている。即ち、制御部３９は、５０粒処理粒数水分値から、平均水分値Ｍｎ０及び標準偏差σ０を求める。
上・下限制限値（リミット水分値）算出の第１段階は、
平均水分値Ｍｎ±ｋ・σ　…（イ）
の範囲以外について除去する構成である。上記の図１２による実施例では、
平均水分値Ｍｎ０±２σ０＝２８．８％±２×８．５
となって、１１．８％＜Ｍ＜４５．８％を取り込むこととする。即ち上限制限値（リミット水分値）ＭＬＨ１は４５．９％であり、下限制限値（リミット水分値）ＭＬＬ１は１１．７％となる。従って、前記５０粒の測定水分値のうち、４粒が対象外となる。ここで、（１）式中、標準偏差σの係数ｋを「２」としたが、これは経験的に規定する定数である。
【００３２】
次いで、第２段階では、上記の（イ）式による第１段階の処理後の平均値Ｍｎ１（＝３０．３％），標準偏差σ１（＝７．０）を元に、上記第１段階の処理と同じく、式（イ）に従って第２の上・下限制限値（リミット水分値）が算出される。第２段階では、同じく係数ｋに「２」を採用し、
平均水分値Ｍｎ１±２σ１＝３０．３％±２×７．０
となって、１６．４％＜Ｍ＜４４．２％を取り込み、上限制限値（リミット水分値）ＭＬＨ２は４４．２％であり、下限制限値（リミット水分値）ＭＬＬ２は１１．７％となる。従って、更に５粒の穀粒水分値が除去されることとなる。
【００３３】
ここで、前回と今回の平均水分値Ｍｎ１，Ｍｎ２の比較を行い所定範囲ｓ以下になると、平均値処理を終了するが、当該所定範囲ｓ以上のときは再度上記処理を繰り返す。ここで、所定範囲ｓは異常粒の除去に鑑みて例えば１．０％以下に設定するとよい。仮にｓ＝１．０％とすると、平均水分値Ｍｎ２は３２．４％となるから、
平均水分値Ｍｎ２−平均水分値Ｍｎ１＝３２．４％−３０．３％　＞１．０
となって、未だ終了には達せず次段階の処理を行う旨判定される。
【００３４】
第３段階では、平均水分値Ｍｎ２が３２．４％、標準偏差σ２が３．５となるから、上記（イ）式に代入すると、
平均水分値Ｍｎ２±２σ２＝３２．４％±２×３．５
となって、２５．５％＜Ｍ＜３９．４％を取り込み、上限制限値（リミット水分値）ＭＬＨ３は３９．５％であり、下限制限値（リミット水分値）ＭＬＬ３は２５．４％となる。この処理後の平均水分値Ｍｎ３は３３．０％であり、終了判定すると、
平均水分値Ｍｎ３−平均水分値Ｍｎ２＝３３．０％−３２．４％＜１．０
となって、以後の制限値算出処理は不要の旨判断され、当該水分測定に係る平均水分値は、前回の平均水分値Ｍｎ２（＝３２．４％）が採用されるものとする。
【００３５】
上記のように、平均水分値Ｍｎに標準偏差σの定数倍を作用させて上限制限値ＭＬＨあるいは下限制限値ＭＬＬを決定するに際して、この上下限制限値をクリアする測定水分値を再度上下限処理して、前後の平均水分値ＭｎとＭｎ−１との変化状態（上例では差値）を勘案して上下限処理の繰り返しを終了すべく判定する構成であるから、異常検出水分値を除去することができ、平均水分値の精度を向上する。
【００３６】
なお、上記の例では、式（イ）において、平均水分値として、複数粒数の単純平均値を採用したが（図１４）、メジアンを採用しても同様の効果を得られる（図１５）。なお、このメジアンを採用する場合には、この値から所定区間ΔＭの上下限制限値を設定する。この所定区間ΔＭは標準偏差σ、定数ｋのとき、ΔＭ＝ｋ・σで現わされることとし、メジアンをＭｍとすると、上・下限制限値は、
メジアンＭｍ−ｋ・σ＜Ｍ＜メジアンＭｍ＋ｋ・σ　…（ロ）
で現わされる。上例の測定例によると、ｋ＝２、標準偏差σ＝８．５であり、これを代入すると、
メジアンは順位２５と順位２６の中間値を採用して、
メジアンＭｍ＝３２％
であるから、上・下限制限値は、式（ロ）に代入して、
３２−２×８．５＜Ｍ＜３２＋２×８．５
よって、１５＜Ｍ＜４７
となり、下限制限値１５％により、９粒の測定水分値が除外される。
【００３７】
上記のように、平均水分値Ｍｎの代わりにメジアンを採用すると、計算処理が単純化され高速処理を行うことができる。
更にメジアンを採用すると共に、メジアンから上下に所定順位を移動した水分データの偏差ΔＭを算出し、この算出値から下限制限値Ｌを算出し、該下限制限値を越えるデータの平均値を測定水分値とする方法としてもよい。即ち、
下限制限値＝メジアン−ｋ・ΔＭ　…（ハ）
とするものである。
【００３８】
図１２の測定例において、下限制限値Ｌを算出すると以下のようになる。メジアンは順位２５と順位２６の中間値を採用して、メジアンＭｍ＝３２％となる。上下に所定順位の移動について、例えば測定粒数の１／４を基準に採用して１３粒目とすると、ばらつき規定上・下限値は夫々以下のようになる。即ち、
ばらつき規定上限値＝（メジアンから上１３粒目を採用して）３４．３％
ばらつき規定下限値＝（メジアンから下１３粒目を採用して）２７．３％
である。よってメジアンから所定順位幅の水分差ΔＭから、
ΔＭ＝３４．３−２７．３＝７．０
となるから、式（ハ）に代入するが、ここでｋ＝２．５を採用すると、下限制限値Ｌは、
下限制限値Ｌ＝３２−２．５×ΔＭ＝３２−２．５×７．０＝１４．５
となる。この場合には測定データのうち９粒が除外される。
【００３９】
なお、上記ばらつき規定下限値２７．３％を採用すると、
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となって、同じく水分データのうち９粒が除外される。このように、メジアンを用いて上・下限制限値を求めることとすると、異常値の除去を迅速に行うことができる。
【００４０】
なお、図１４〜図１６においては上下限制限値のうち、下限制限値についての処理を実行する手順を示したものであるが、穀粒の異常値は噛み込み不足等に鑑みると低水分側に発生し易く、制限値設定の際は下限制限値による取り込み制限は必須であるためである。同様の手順で上限値を制限してもよい。
【００４１】
図１７は水分計２０への穀粒取り込み状況を監視しながら穀粒循環不良検出、又は穀粒排出自動停止検出を行わせる場合の精度向上を図るものである。
即ち、穀粒運転中（及び所謂通風運転中も同様）においては、水分測定中は水分測定を優先し、その後一定時間（例えば３分）周期で、電極ロール他水分計駆動部を逆転・正転させ、正転中一定時間内の水分電圧を監視するよう構成している。水分計モータ３８を所定周期で逆転・正転させながら当該正転時に穀粒の検出信号の有無を検出している。図１７において、Ｔは穀物循環監視周期（３分）、制御部３９から穀物循環監視信号の出力を受けるとメカ部損傷防止の微小時間ｘを置いて電極ロール４６の逆転指令信号が出力され、次いでメカ部損傷防止の微小時間ｙを置いて電極ロール４６には正転指令信号が出力される。この正転指令信号によって電極ロール４６が正転中に穀粒が圧砕され水分測定信号が立ち上がることで穀粒の循環を確認するが、予め設定した所定時間ｔ、例えば５０秒の間電極ロール４６が正転したにも関らず水分測定信号が立ち上がらないとき、これが連続複数回（例えば２回）続くと「穀物循環異常」として各部の運転停止等の処置を行う構成である。なお上記の穀物循環監視周期Ｔは繰り返しおこなわれるものである。上記穀物循環監視と本来の水分測定指令とが重なる場合があり、このときは、穀物循環監視のために電極ロール４６が正転中であっても、即ち上記所定時間ｔの実行中であっても一旦中断され水分測定のための動作に移行するもので、水分測定指令信号に基づき所定の微小時間を置いて電極ロール逆転信号が出力されその後継続して水分測定のための電極ロール正転に切り換わる。
【００４２】
また、穀物排出中の穀物監視の場合、上記の穀物乾燥中における循環監視との相違は、穀物循環監視時間Ｔが「１分」と短い時間に設定して小刻みに監視出力されている点である。
従来昇降機出口等穀物循環経路途中にマイクロスイッチ形態の籾流れ検出器を設ける構成とするが、埃等による影響が大きく誤検出を惹き起こす場合もあって改良が望まれていた。上記のように構成すると、既存の水分計を利用して穀物循環不良の検出を行うことができ、かつ検出精度も向上する。また、一定時間逆転する構成であるから、水分計電極ロール４６のみならず穀粒取り込み部３２の残留穀物を除去でき誤検出を防止できる。また、穀物循環監視中であっても水分測定信号を入力するとこれを優先処理させるから水分測定及び乾燥制御に支障がなく、しかもこの水分測定信号を穀物循環監視出力に兼用できるため、穀物循環監視についても遅れがないものとなる。また、穀粒排出の監視にあっては、比較的短い時間での繰り返しとなるよう、穀物循環監視時間ｔを設定するから、無駄な待ち時間を少なくする。
【００４３】
図１８に示すグラフは、一対の電極ロール４６ａ，４６ｂのローレットによる表面仕上げを種々に選択設定したときの分布を示すものである。これらのグラフは、横軸に既知の基準水分（％）を、縦軸に種々のローレット仕上げした電極ロールを用いて得た検出水分（％）を示す。
【００４４】
一対の電極ロール軸芯を上下方向にずらせて設ける構成において、外周速度を両者異ならせて回転連動すべくなし、軸位置が上位の高速側電極ロール４６ａ圧砕面形状を平目ロールでモジュール０．５、のロール形状とし、軸位置が下位の低速側電極ロール４６ｂをアヤ目形状に構成している（図１８白丸）。
【００４５】
従来、実開昭６３−１１８５５５号公報、同６２−１７４２６５号公報には電極ロールを共にアヤ目形状に形成したものがあるが、当該構成では穀粒の噛み込み性能は良好であるが、測定精度が悪い欠点がある。そこで、上記のように、上位高速側ロールを平目ロールとし、下位低速側ロールをアヤ目ロールに構成すると、穀粒とロールとの接触が点接触となり、又、圧砕面がちどり状であるので穀粒に接触する摩擦抵抗が増加するため、噛み込み不良を大幅に改善でき、また上側に平目ロールを配置するため測定精度を良好になす（図１８黒丸）。この場合のその他の要因による変動（誤差）、即ち（１−Ｒ２）は約０．０７となって上記の場合の０．２３に比較して更に精度が向上している。
【００４６】
図１９は上記低速側平目ロールを台形ロール、すなわち先端側ａが基部側ｂよりも短寸法に成形され台形状を呈する構成にしたものを示すものである。従来電極間隙が相対的に広くなるため、穀粒を充分に挟圧された状態での測定となり難く、測定精度を悪くしている。そこで、上記のように、台形ロールにより先端加工を施すと上記の不具合を解消することができる。なお、上位のアヤ目ロールも先端をカットして台形ロールとすれば一層効果的である。
【００４７】
図示省略するが、一対の電極ロール４６ａ，４６ｂを配置するにあたり、上位のロール回転速度を低速回転にし圧砕面を平目台形ロールとし、下位側のロールを高速回転にしてアヤ目台形ロールに成形するものである。上位の電極ロールを高速回転でアヤ目台形ロールに構成し、下位の電極ロールを低速回転で平目台形ロールに構成すると、測定精度は向上するが、大粒径穀粒を測定する場合噛み込み不良が発生し所定粒数の測定時間が長くなる恐れがある。ところが、上記のように上下位の回転の高低を逆に設定することにより、測定精度を良好になしながら、穀粒の噛み込み不良を解消するものである。
【００４８】
前記図９に示すように、水分計２０には例えば電極ロール軸４５又は４６に電極回転検出手段７１を設け、電極ロール４６の回転状況をパルス信号で入力する構成である。この電極回転検出手段７１によって水分測定信号出力中であるに拘わらず、電極ロール４６非回転の出力を受けるときは、例えば電極ロール４６のロック異常として警報報知すうことができる。ところで上記パルス信号が制御部３９の入力端子（ＩＲＱ１）を介して信号入力するが、その時ノイズが入り易い。このため水分計２０は正常状態にあるにも関らず、「水分計モータ異常」にて停止される場合がある。
【００４９】
図２０に示すように、水分計２０作動中、例えば約２．５秒間隔でパルス信号を入力できる構成とし、割込み信号を入力してから所定短時間（例えば８３μ秒）後に上記入力端子（ＩＲＱ１）がローレベルにあるか否かで正常か回転異常かを判定できる構成としている。ところで当初の読み込み時又は８３μ秒後の読み込みがハイレベルを出力するとノイズの影響と推定され、ノイズカウンタを＋１加えていくこととする。従ってノイズが入り易いときにはパルスの読み込み時間に補正をかけることによりノイズ入力を防止しようとするものである。具体的には、
パルスの読み込み時間（秒）＝Ａ＋Ｂ×（カウンタの値）
ここで、Ａはパルスを継続して読み込みできない場合の異常認識までの当該継続時間、Ｂはパルス信号２．５秒に近い整数を当てはめると、
パルスの読み込み時間（秒）＝８＋３×（カウンタの値）
となり、以上によって、ノイズが入り易いときにはパルスの読み込み時間を長く変更でき、ノイズに強い回路構成を具現できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】穀物乾燥機の正面図である。
【図２】穀物乾燥機の正断面図である。
【図３】コントロールボックスの制御盤正面図である。
【図４】制御ブロック図である。
【図５】水分計の斜視図である。
【図６】水分計の正断面図である。
【図７】水分計の側断面図である。
【図８】水分計の背面図である。
【図９】水分計の制御ブロック図である。
【図１０】電極ロール正面図である。
【図１１】穀粒取り込み部及び電極ロール側面図である。
【図１２】水分計データ一例である。
【図１３】データ度数表及び度数分布である。
【図１４】フローチャートである。
【図１５】フローチャートである。
【図１６】フローチャートである。
【図１７】タイムチャートである。
【図１８】基準水分―水分検出値関係グラフである。
【図１９】電極ロール表面部拡大図である。制御ボックス部の概要図である。
【図２０】フローチャートである。
【符号の説明】
１…乾燥機枠、２…貯留室、３…乾燥室、４…集穀室、５…昇降機、６…バーナ、７…吸引ファン、８…繰出バルブ、９…下部移送装置、１０…上部移送装置、１１…拡散盤、１２…操作盤、１３…表示部、１９…（乾燥機）制御部、２０…水分計、４６ａ，４６ｂ…電極ロール、３９…（水分計）制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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