(57)【要約】【課題】被検査側と治具側のコネクタの位置合わせを容易に視認でき、しかも消耗品となる部品が少なく、測定検査のコストを低減したコネクタ検査用治具を提供する。【解決手段】被検査側のコネクタに治具側のコネクタ１２を嵌合し、被検査側のコネクタを治具側のコネクタ１２を介して測定器に電気的接続するコネクタ検査用治具である。治具側のコネクタ１２を絶縁中継基板３０の一方の面に配設し治具側のコネクタ１２の端子を絶縁中継基板３０の他方の面に配設された当接電極３６に電気的接続する。絶縁材からなるプローブユニット３８に、絶縁中継基板３０を当接電極３６の面を当接させて着脱自在に配設する。プローブユニット３８に当接電極３６に一端が弾接するようにプローブ４６を嵌合方向と平行に配設し、プローブ４６の他端を測定器へ電気的接続するように構成する。【選択図】  図３
2004273192.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板に配設された被検査側のコネクタに、前記コネクタと一対で他の基板に配設される構造の治具側のコネクタを嵌合して、前記被検査側のコネクタを前記治具側のコネクタを介して測定器に電気的接続するコネクタ検査用治具であって、前記治具側のコネクタを絶縁中継基板の一方の面に配設するとともに前記治具側のコネクタの端子を前記絶縁中継基板の他方の面に配設された当接電極に電気的接続し、絶縁材からなるプローブユニットに前記絶縁中継基板を前記他方の面を当接させて着脱自在に配設し、前記プローブユニットに前記当接電極に一端が弾接するようにプローブを前記嵌合方向と平行に配設し、前記プローブの他端を前記測定器へ電気的接続するように構成したことを特徴とするコネクタ検査用治具。
【請求項２】
請求項１記載のコネクタ検査用治具において、前記絶縁中継基板に配設された前記治具側のコネクタの端子と前記当接電極を、前記絶縁中継基板に前記嵌合方向と平行に配設されたスルーホールにより電気的接続して構成したことを特徴とするコネクタ検査用治具。
【請求項３】
請求項１記載のコネクタ検査用治具において、前記治具側のコネクタの端子のピッチと、前記当接電極に前記プローブが弾接する位置のピッチとを相違させて構成したことを特徴とするコネクタ検査用治具。
【請求項４】
基板に配設された被検査側のコネクタに、前記コネクタと一対で他の基板に配設される構造の治具側のコネクタを嵌合して、前記被検査側のコネクタを前記治具側のコネクタを介して測定器に電気的接続するコネクタ検査用治具であって、前記治具側のコネクタの前記嵌合方向と反対の面に取付用ブラケットを固定配設し、絶縁材からなるプローブユニットに前記取付用ブラケットを着脱自在に配設し、前記プローブユニットに前記治具側のコネクタの端子に一端が弾接するようにプローブを前記嵌合方向と平行に配設し、前記プローブの他端を前記測定器へ電気的接続するように構成したことを特徴とするコネクタ検査用治具。
【請求項５】
基板に配設された被検査側のコネクタに、前記コネクタと一対で他の基板に配設される構造の治具側のコネクタを嵌合して、前記被検査側のコネクタを前記治具側のコネクタを介して測定器に電気的接続するコネクタ検査用治具であって、絶縁材からなるプローブユニットに前記治具側のコネクタの前記嵌合方向と反対の面を当接させた状態で前記治具側のコネクタの側方に突出する端子を絶縁押さえ部材で前記プローブユニットに押さえ付けて前記治具側のコネクタを前記プローブユニットに着脱自在に配設し、前記プローブユニットに前記治具側のコネクタの端子に一端が弾接するようにプローブを前記嵌合方向と平行に配設し、前記プローブの他端を前記測定器へ電気的接続するように構成したことを特徴とするコネクタ検査用治具。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、２枚の基板が、それぞれに配設されたコネクタにより電気的接続される構造において、一方の基板とコネクタを検査するために測定器に電気的接続するためのコネクタ検査用治具に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
携帯電話機のごとく小型な電子機器にあっては、小さなスペースに多くの回路を搭載するために、複数枚の基板が重ねられるように配設され、基板間がそれぞれに配設されたコネクタを介して電気的接続されるものがある。
【０００３】
そこで、基板とそれに配設されたコネクタを検査するには、コネクタに測定器を適宜に電気的接続すれば良い。ここで、被検査側のコネクタ自体の電気的特性も含めて検査するためには、当接コネクタに対となるコネクタを嵌合させ、この嵌合させたコネクタを介して測定器に電気的接続されることが望ましい。
【０００４】
被検査側のコネクタに、対となって嵌合される治具側のコネクタを含む従来のコネクタ検査用治具の一例を図１に示す。図１は、従来のコネクタ検査用治具の一例を示し、（ａ）は側面図、（ｂ）は（ａ）の平面図、（ｃ）は被検査側のコネクタが配設された基板の側面図、（ｄ）は（ｃ）の平面図である。図１において、治具側基板１０の中央部に治具側のコネクタ１２が配設され、その端子が適宜に半田付けなどにより接続電極１４，１４…の一端部に固定および電気的接続される。そして、治具側基板１０の縁部で、接続電極１４，１４…の他端部に測定器に電気的接続される配設ケーブル１６，１６…が半田付け固定されるとともに電気的接続される。被検査側の基板１８には、治具側のコネクタ１２が対となって嵌合し得る被検査側のコネクタ２０が半田付けなどで適宜に固定および電気的接続される。
【０００５】
そこで、被検査側のコネクタ２０に、治具側のコネクタ１２を嵌合することで、被検査側の基板１８およびコネクタ２０が測定器に電気的接続され、被検査側のコネクタ２０の電気的特性も含めた測定検査がなし得る。
【０００６】
また、従来のコネクタ検査用治具の他の例を図２に示す。図２は、従来のコネクタ検査用治具の他の例を示し、（ａ）は側面図、（ｂ）は（ａ）の平面図である。この図２に示す従来のコネクタ検査用治具にあっては、治具側基板１０の１つの縁部に偏寄させて治具側のコネクタ１２が配設され、その端子が適宜に半田付けなどにより接続電極１４，１４…に固定および電気的接続される。そして、治具側基板１０の治具側のコネクタ１２が配設されたのと反対側の縁部で、片側の端子が接続された接続電極１４，１４…の他端部に測定器に電気的接続される配線ケーブル１６，１６…が半田付けで固定されるとともに電気的接続される。また、他方の片側の端子が接続された接続電極１４，１４…はスルーホール（図示せず）を介して治具側基板１０のコネクタ１２が配設されたのと反対側の面に配設された第２の接続電極２２，２２…の一端部に電気的接続され、治具側基板１０の治具側のコネクタ１２が配設されたのと反対側の縁部で、第２の接続電極２２，２２…の他端部が再びスルーホール（図示せず）を介してコネクタ１２が配設された面に電気的接続されて配線ケーブル１６，１６…に半田付けなどで電気的接続される。
【０００７】
かかる図２に示すコネクタ検査用治具にあっても、被検査側のコネクタ２０に治具側のコネクタ１２を嵌合することで、被検査側の基板１８とコネクタを測定検査することができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
前述の図１に示す従来のコネクタ検査用治具にあっては、治具側基板１０の面積が比較的に大きいため、被検査側のコネクタ２０に治具側のコネクタ１２を嵌合させる際に、治具側基板１０が障害となって、その位置合わせが視認しずらく、作業に時間が掛かっていた。また、位置合わせが正確になされがたいために、被検査側のコネクタ２０および治具側のコネクタ１２を破損させ易いものであった。また、図２に示す従来のコネクタ検査用治具は、治具側のコネクタ１２を治具側基板１０の縁部に配設することで、位置合わせを視認し易くしたものである。しかし、コネクタ検査用治具に対して位置合わせを視認できる方向が限定され、図１に示す従来例よりは改善されるものの、やはり作業がしずらいという不具合があった。
【０００９】
さらに、コネクタの嵌合引き抜耐久回数は５０回程度と少ない。そこで、治具側のコネクタ１２にあっては、検査回数が耐久回数に達すると交換しなければならない。しかるに、治具側のコネクタ１２は治具側基板１０に半田付け固定され、この治具側基板１０に配線ケーブル１６，１６…が半田付け固定され、治具側のコネクタ１２のみを簡単に交換することはできない。そこで、治具側のコネクタ１２と治具側基板１０および配線ケーブル１６，１６…を含めた全体の交換をせざるを得ない。そのために、この全体が消耗品となることにより、測定検査のコストが大きいという不具合があった。
【００１０】
本発明は、上述のごとき従来のコネクタ検査用治具の事情に鑑みてなされたもので、被検査側と治具側のコネクタの位置合わせが容易に視認できるとともに、一部分のみが消耗品となるようにして、測定検査のコストが低減されるようにしたコネクタ検査用治具を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
かかる目的を達成するために、本発明のコネクタ検査用治具は、基板に配設された被検査側のコネクタに、前記コネクタと一対で他の基板に配設される構造の治具側のコネクタを嵌合して、前記被検査側のコネクタを前記治具側のコネクタを介して測定器に電気的接続するコネクタ検査用治具であって、前記治具側のコネクタを絶縁中継基板の一方の面に配設するとともに前記治具側のコネクタの端子を前記絶縁中継基板の他方の面に配設された当接電極に電気的接続し、絶縁材からなるプローブユニットに前記絶縁中継基板を前記他方の面を当接させて着脱自在に配設し、前記プローブユニットに前記当接電極に一端が弾接するようにプローブを前記嵌合方向と平行に配設し、前記プローブの他端を前記測定器へ電気的接続するように構成されている。
【００１２】
また、基板に配設された被検査側のコネクタに、前記コネクタと一対で他の基板に配設される構造の治具側のコネクタを嵌合して、前記被検査側のコネクタを前記治具側のコネクタを介して測定器に電気的接続するコネクタ検査用治具であって、前記治具側のコネクタの前記嵌合方向と反対の面に取付用ブラケットを固定配設し、絶縁材からなるプローブユニットに前記取付用ブラケットを着脱自在に配設し、前記プローブユニットに前記治具側のコネクタの端子に一端が弾接するようにプローブを前記嵌合方向と平行に配設し、前記プローブの他端を前記測定器へ電気的接続するように構成しても良い。
【００１３】
そして、基板に配設された被検査側のコネクタに、前記コネクタと一対で他の基板に配設される構造の治具側のコネクタを嵌合して、前記被検査側のコネクタを前記治具側のコネクタを介して測定器に電気的接続するコネクタ検査用治具であって、絶縁材からなるプローブユニットに前記治具側のコネクタの前記嵌合方向と反対の面を当接させた状態で前記治具側のコネクタの側方に突出する端子を絶縁押さえ部材で前記プローブユニットに押さえ付けて前記治具側のコネクタを前記プローブユニットに着脱自在に配設し、前記プローブユニットに前記治具側のコネクタの端子に一端が弾接するようにプローブを前記嵌合方向と平行に配設し、前記プローブの他端を前記測定器へ電気的接続するように構成することもできる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の第１実施例を図３および図４を参照して説明する。図３は、本発明のコネクタ検査用治具の第１実施例を示し、（ａ）は底面図、（ｂ）は（ａ）のＡ断面矢視図、（ｃ）は（ａ）のＢ断面矢視図である。図４は、図３の本発明のコネクタ検査用治具を分解した状態を示し、（ａ）は縦断面図、（ｂ）は（ａ）のＣ矢視図、（ｃ）は（ａ）のＤ矢視図である。
【００１５】
図３および図４において、絶縁中継基板３０の一方の面に治具側のコネクタ１２が配設され、その端子が接続電極３２，３２…の一端部に半田付けされて固定されるとともに電気的接続される。そして、この接続電極３２，３２…は、スルーホール３４，３４…を介して絶縁中継基板３０の他方の面に配設された当接電極３６，３６…に電気的接続される。
【００１６】
絶縁材からなるプローブユニット３８に、当接電極３６，３６…を当接させるようにして絶縁中継基板３０がビス４０，４０により容易に着脱自在に配設固定される。絶縁中継基板３０に穿設された孔４２，４２とプローブユニット３８に突設された突起４４，４４が嵌合して、プローブユニット３８に対して絶縁中継基板３０の位置決めがなされる。さらに、プローブユニット３８には、絶縁中継基板３０の当接電極３６，３６…に、その一端が弾接するようにプローブ４６，４６…が配設される。これらのプローブ４６，４６…は、被検査側のコネクタ２０に治具側のコネクタ１２を嵌合する方向と平行に配設される。そして、プローブ４６，４６…の他端に配線ケーブル１６，１６…が適宜に電気的接続されて図示していない測定器へと電気的接続される。
【００１７】
かかる構成において、治具側のコネクタ１２による被検査側のコネクタ２０に対する挿抜回数が耐久回数に達したならば、ビス４０，４０を取り外して、プローブユニット３８から絶縁中継基板３０を取り外し、プローブユニット３８に治具側のコネクタ１２が配設された新しい絶縁中継基板３０を、再びビス４０，４０で取り付けて固定すれば良い。治具側のコネクタ１２と絶縁中継基板３０が消耗品として廃棄され、プローブユニット３８とプローブ４６，４６…および配線ケーブル１６，１６…は繰り返して使用に供される。したがって、従来の全体が消耗品として廃棄されるコネクタ検査用治具に比較して、本発明の一部のみが消耗品として廃棄されるコネクタ検査用治具を用いることで、測定検査のコストを低減することができる。
【００１８】
また、治具側のコネクタ１２の端子は、嵌合方向と平行に配設されるプローブ４６，４６…を介して配線ケーブル１６，１６…に電気的接続されており、絶縁中継基板３０の面積を、従来の治具側基板１０に比較して小さくでき、特に幅を小さくすることができ、それだけ被検査側のコネクタ２０に治具側のコネクタ１２を嵌合させる際に、位置合わせの視認性が良好となって作業がし易いとともに正確に嵌合させることができる。もって、被検査側のコネクタ２０に治具側のコネクタ１２を嵌合させる際に、破損させるような虞がない。
【００１９】
図３および図４に示す第１実施例では、治具側のコネクタ１２の端子のピッチと、プローブユニット３８に配設したプローブ４６，４６…のピッチは、同一であるが、図５に示す応用例のごとく、ピッチを相違させても良い。図５の（ａ）のごとく絶縁中継基板４８の治具側のコネクタ１２側の面には、端子に一致したピッチＰ１で接続電極５０，５０…が配設され、これらの接続電極５０，５０…に治具側のコネクタ１２の端子が半田付け固定される。そして、図５の（ｂ）のごとく、絶縁中継基板４８の反対側の面でプローブユニット３８側の面には、プローブ４６，４６…に一致したピッチＰ２で当接部を有する当接電極５２，５２…が配設される。接続電極５０，５０…と当接電極５２，５２…は、嵌合方向と平行に配設されたスルーホール５４，５４…により電気的接続されている。
【００２０】
図５に示すごとき絶縁中継基板４８を用いることで、端子のピッチが異なる種々の治具側のコネクタ１２に対しても、プローブユニット３８を共用することができる。
【００２１】
なお、上記第１実施例において、絶縁中継基板３０，４８に配設した接続電極３２，３２…、５０，５０…と当接電極３６，３６…、５２，５２…は、スルーホール３４，３４…、５４，５４…を介して電気的接続されるが、これに限られず、接続電極３２，３２…、５０，５０…と当接電極３６，３６…、５２，５２…が絶縁中継基板３０，４８の側面を経て配設された適宜な導電パターンで電気的接続されても良く、またジャンパー線などによって電気的接続されても良い。また、プローブユニット３８に絶縁中継基板３０を固定する手段は、ビス４０，４０に限られず、着脱が自在であればいかなる構造であっても良い。そして、プローブユニット３８に対する絶縁中継基板３０の位置決め手段は、上記実施例の構造に限られないことは勿論である。
【００２２】
次に、本発明の第２実施例を図６および図７を参照して説明する。図６は、本発明のコネクタ検査用治具の第２実施例を示し、（ａ）は底面図、（ｂ）は（ａ）のＥ断面矢視図、（ｃ）は（ａ）のＦ断面矢視図である。図７は、図６の本発明の第２実施例のコネクタ検査用治具を分解した状態を示し、（ａ）は縦断正面図、（ｂ）は縦断側面図、（ｃ）は（ａ）のＧ矢視図、（ｄ）は（ａ）のＨ矢視図である。
【００２３】
図６および図７において、治具側のコネクタ１２の嵌合方向と反対の面に端子を覆うことのない厚さの絶縁材からなる取付用ブラケット５６が貼着などにより固定される。絶縁材からなるプローブユニット５８の底面には、取付用ブラケット５６が挿入し得る溝６０が設けられ、治具側のコネクタ１２の端子が底面に当接し得るように構成される。そして、プローブユニット５８に、治具側のコネクタ１２の端子に一端が弾接するようにプローブ４６，４６…が、治具側コネクタ１２を嵌合させる方向と平行に配設される。そして、プローブ４６，４６…の他端に配線ケーブル１６，１６…が適宜に電気的接続されて測定器へと電気的接続される。また、プローブユニット５８の底面には、治具側のコネクタ１２の端子のピッチ方向の位置を規制する位置決めガイド６２，６２が突設される。さらに、プローブユニット５８の溝６０のコネクタ１２の端子にプローブ４６，４６…が弾接した状態を維持すべく、プローブユニット５８と取付用ブラケット５６に貫通孔６４，６４…、６６，６６…が穿設され適宜に固定ピン６８，６８が圧入される。
【００２４】
かかる構成の第２実施例にあっては、治具側のコネクタ１２をプローブユニット５８に固定する構造が極めて簡単であり、治具全体として安価である。また、治具側のコネクタ１２の端子にプローブ４６，４６…が直接に弾接して電気的接続がなされるので、測定の信頼性が向上する。しかも、治具側のコネクタ１２が耐久回数に達したならば、固定ピン６８，６８を抜き取り、取付用ブラケット５６が固定された治具側のコネクタ１２を交換すれば良い。消耗品として交換される部品が安価に製造でき、測定検査のコストを低減し得る。
【００２５】
なお、上記第２実施例において、位置決めガイド６２，６２は、治具側のコネクタ１２の端子のピッチ方向の位置を規制できれば、いかなる構造であっても良い。さらに、位置決めガイド６２，６２を設けることなく、プローブユニット５８に取付用ブラケット５６を長孔に貫通したボルトとナットで締め付け固定できる構造として、治具側のコネクタ１２のピッチ方向の位置を調整して固定するようにしても良い。ここで、治具側のコネクタ１２の端子は、側方に突出する方向には長く、突出方向の位置調整は必ずしも必要でない。さらに、上記第２実施例では、取付用ブラケット５６で治具側のコネクタ１２の端子を覆わないように構成したが、取付用ブラケット５６で端子まで覆い、この覆う部分に端子に臨んでプローブ４６，４６…が挿通できる透孔を穿設しても良い。この取付用ブラケット５６で端子まで覆う構造は、治具側のコネクタ１２と取付用ブラケット５６との貼着面積を大きく設定することができ、それだけ強固に治具側のコネクタ１２に取付用ブラケット５６を固定することができる。
【００２６】
さらに、本発明の第３実施例を図８および図９を参照して説明する。図８は、本発明のコネクタ検査用治具の第３実施例を示し、（ａ）は正面図、（ｂ）は底面図、（ｃ）は（ｂ）のＩ断面矢視図である。図９は、図８の本発明の第３実施例のコネクタ検査用治具を分解した状態を示す縦断面図である。
【００２７】
図８および図９において、絶縁材からなるプローブユニット７０の底面に、端子を含め治具側のコネクタ１２が嵌合方向と反対の面を当接するようになし、プローブユニット７０に端子に一端を弾接するようにプローブ４６，４６…が嵌合方向と平行に配設される。プローブ４６，４６…の他端に配線ケーブル１６，１６…が電気的接続される。そして、治具側のコネクタ１２に嵌合方向から箱状で底面に側方に突出した端子のみが挿通し得ない大きさの角孔が穿設された絶縁押さえ部材７２が被せられ、この絶縁押さえ部材７２がプローブユニット７０に固定ピン７４，７４により着脱自在に固定される。そして、この固定ピン７４，７４は、絶縁押さえ部材７２とプローブユニット７０を貫通するように圧入固定される。絶縁押さえ部材７２は、一例として板金製でその表面に絶縁膜が配設されて構成される。また、プローブユニット７０の底面には、治具側のコネクタ１２を位置決めするガイド７６，７６が設けられている。
【００２８】
かかる構成の第３実施例にあっては、治具側のコネクタ１２が耐久回数に達したならば、治具側のコネクタ１２のみを交換すれば良く、測定検査のコストをより低減することができる。
【００２９】
なお、上記第３実施例では、絶縁押さえ部材７２は、底面に角孔が穿設された箱状に形成さているが、これに限られず、治具側のコネクタ１２の側方に突出した端子を押さえ付けることで、治具側のコネクタ１２をプローブユニット７０の底面に着脱自在に固定できれば、いかなる構造であっても良い。例えば、断面Ｌ字状の絶縁部材で治具側のコネクタ１２から側方に突出する端子を、片側づつプローブユニット７０に押さえ付けて固定する構造としても良い。
【００３０】
ところで、上記いずれの実施例にあっても、プローブユニット３８，５８，７０に設けられたプローブ４６，４６…の数は、治具側のコネクタ１２の端子と同数であるが、プローブユニット３８，５８，７０に設けるプローブ４６，４６の数は治具側のコネクタ１２の端子の数よりも多くても良い。プローブ４６，４６…の数を多数本配設するならば、端子の数が異なる治具側のコネクタ１２に対してもプローブユニット３８，５８，７０を共用することができる。
【００３１】
また、上記いずれの実施例も、被検査側のコネクタ２０が雌コネクタで治具側のコネクタ１２が雄コネクタであるが、被検査側が雄コネクタで治具側が雌コネクタであっても良いことは容易に理解されるであろう。
【００３２】
さらに、上記第１と第２実施例において、治具側のコネクタ１２として、端子が側方に突出するものが示されているが、端子が嵌合方向と反対の面に配設されて側方に突出しない構造のコネクタにも適用することができる。
【００３３】
【発明の効果】
以上説明したように本発明のコネクタ検査用治具は構成されているので、以下のごとき格別な効果を奏する。
【００３４】
請求項１記載のコネクタ検査用治具にあっては、治具側のコネクタが配設される絶縁中継基板の面積が小さくて足りるので、被検査側のコネクタと治具側のコネクタを嵌合させる際に、位置合わせの視認性が良好で、作業がし易い。また、治具側のコネクタが耐久回数に達すれば、治具側のコネクタとこれが配設される絶縁中継基板を交換すれば良く、従来例に比較して交換部品が少なく、それだけ測定検査を安価になし得る。
【００３５】
請求項２記載のコネクタ検査用治具にあっては、絶縁中継基板のそれぞれの面に配設される治具側のコネクタの端子とプローブが弾接する当接電極とを、スルーホールにより電気的接続するので、絶縁中継基板を小型でかつ安価に製造し得る。
【００３６】
請求項３記載のコネクタ検査用治具にあっては、絶縁中継基板により、プローブユニットのプローブのピッチと、治具側のコネクタの端子のピッチとの違いを吸収でき、異なるピッチを有する治具側のコネクタに対して適宜な絶縁中継基板を形成することで、プローブユニットを共用することができる。
【００３７】
請求項４記載のコネクタ検査用治具にあっては、治具側のコネクタの端子にプローブが直接に弾接して電気的接続がなされるので、測定検査の信頼性が向上する。そして、治具側のコネクタが耐久回数に達すれば、治具側のコネクタと取付用ブラケットを交換すれば良く、消耗品としての交換部品の構成がより簡単であり、その交換部品のコストが低減され、測定検査のコストをより低減できる。
【００３８】
請求項５記載のコネクタ検査用治具にあっては、治具側のコネクタが耐久回数に達すれば、治具側のコネクタのみを交換すれば良く、測定検査のコストをより一層低減できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のコネクタ検査用治具の一例を示し、（ａ）は側面図、（ｂ）は（ａ）の平面図、（ｃ）は被検査側のコネクタが配設された基板の側面図、（ｄ）は（ｃ）の平面図である。
【図２】従来のコネクタ検査用治具の他の例を示し、（ａ）は側面図、（ｂ）は（ａ）の平面図である。
【図３】本発明のコネクタ検査用治具の第１実施例を示し、（ａ）は底面図、（ｂ）は（ａ）のＡ断面矢視図、（ｃ）は（ａ）のＢ断面矢視図である。
【図４】図３の本発明のコネクタ検査用治具を分解した状態を示し、（ａ）は縦断面図、（ｂ）は（ａ）のＣ矢視図、（ｃ）は（ａ）のＤ矢視図である。
【図５】第１実施例の応用例で、治具側のコネクタの端子のピッチとプローブユニットに配設したプローブのピッチが相違した絶縁中継基板の構造を示し、（ａ）は絶縁中継基板の治具側のコネクタ側の面に配設した接続電極を示し、（ｂ）は絶縁中継基板のプローブユニット側の面に配設した当接電極を示す。
【図６】本発明のコネクタ検査用治具の第２実施例を示し、（ａ）は底面図、（ｂ）は（ａ）のＥ断面矢視図、（ｃ）は（ａ）のＦ断面矢視図である。
【図７】図６の本発明の第２実施例のコネクタ検査用治具を分解した状態を示し、（ａ）は縦断正面図、（ｂ）は縦断側面図、（ｃ）は（ａ）のＧ矢視図、（ｄ）は（ａ）のＨ矢視図である。
【図８】本発明のコネクタ検査用治具の第３実施例を示し、（ａ）は正面図、（ｂ）は底面図、（ｃ）は（ｂ）のＩ断面矢視図である。
【図９】図８の本発明の第３実施例のコネクタ検査用治具を分解した状態を示す縦断面図である。
【符号の説明】
１２  治具側のコネクタ
１４，３２，５０  接続電極
１６  配線ケーブル
１８  被検査側の基板
２０  被検査用のコネクタ
３０，４８  絶縁中継基板
３４，５４  スルーホール
３６，５２  当接電極
３８，５８，７０  プローブユニット
４０  ビス
４６  プローブ
５６  取付用ブラケット
６０  溝
６８，７４  固定ピン
７２  絶縁押さえ部材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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