(57)【要約】【課題】検索機能を有するメモリは種々のレジスタがあり、それぞれ検索するために必要な情報を有する。このメモリの機能をテストするには、レジスタの内容を場合に応じて変化させる必要がある。【解決手段】検索機能を有するメモリのレジスタの内容を場合に応じて変化させるために、検索機能や試験項目に応じたレジスタの内容を信号情報ファイルに格納し、信号生成識別子により一意的に決まる信号生成情報を信号情報ファイルから取得し、この信号生成情報を元に、メモリのレジスタの内容を変化することができる。【効果】本発明により、検索機能を有するメモリのレジスタの内容を検索機能あるいは試験項目に応じて動的に割り当てることにより、広範囲にメモリモデルのテストを実現できる。【選択図】  図１
2004295453.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検索機能を有するメモリのテスト方法において、検索機能に応じた信号情報を有する信号情報ファイルと、検索機能に応じて信号情報ファイルの情報を元に生成する信号の内容を制御する信号生成制御部と、信号生成制御部の制御で信号を生成する信号生成部とを備え、信号生成部が検索機能を有するメモリのレジスタに信号を生成することを特徴とするメモリモデルテスト方法。
【請求項２】
検索機能を有するメモリのテスト方法において、試験項目を制御するための試験項目制御信号と、試験項目制御信号と請求項１の信号情報ファイルの試験項目に対する信号情報を一意的に決める信号生成識別子とを備え、請求項１の信号生成制御部は試験項目制御信号から取得した信号生成識別子と一致する請求項１の信号情報ファイルの情報を取得し、請求項１の信号生成部により試験項目に応じ、レジスタに信号を生成することを特徴とするメモリモデルテスト方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検索機能を有するメモリモデルをテストする一手法である。検索機能を有するメモリは検索機能に応じ多くのレジスタがある。メモリモデルのテストを効率良く行うために、検索機能あるいは試験項目に応じてレジスタの内容を制御し、一度に多くの試験項目を消化する。
【０００２】
【従来の技術】
特開平８−２８７１１３号公報に記載のシミュレータ上でのメモリモデルの規模縮小に関する技術はあるが、メモリモデルの確からしさについての記述はない。
【０００３】
【特許文献１】
特開平８−２８７１１３号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
検索機能を有するメモリは、検索機能に応じて多くのレジスタがあるが、このレジスタの内容を試験項目の都度、変更していたのでは効率が悪く、テスト期間も増大する。本発明では、検索機能に必要なレジスタの内容と試験項目とを結びつけ、メモリモデルをテストする際に効率良くテストする方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
前記課題は、検索機能を有するメモリをテストするために、検索に必要なレジスタ群の信号情報を信号情報ファイルの中に格納し、検索に必要なレジスタの内容を制御する信号生成制御部が信号情報ファイルを入力とし、試験項目を制御する試験項目制御信号の信号生成識別子が信号情報ファイルの信号生成識別子と一意的に決まることにより、信号生成制御部は一意的に決まった信号情報ファイルの信号情報を信号生成部に送り、それぞれのレジスタに信号を送ることにより達成される。
【０００６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を図面により詳細に説明する。
【０００７】
図１は、本発明であるメモリモデルテスト方法の主要部位を表したブロック図、図２は、メモリモデルをテストするための一実施例を表したブロック図、図３は、検索機能および信号生成識別子の各レジスタの値を格納した信号情報ファイル、図４は、本発明を説明するためのフォローチャートである。
【０００８】
図１において、各部位を説明する。
【０００９】
メモリモデルレジスタ群１は、メモリモデルの検索機能に必要なレジスタ群を持ったメモリモデルの一部、信号生成部２は、信号情報ファイル５の情報を１６進数から２進数に変換してメモリモデルのレジスタに登録処理をする生成部、試験項目制御部３は、信号生成識別子を含む試験項目制御信号を発生し、信号生成制御部４は、試験項目制御信号の信号生成識別子及び検索機能をキーに信号情報ファイル５を検索し、該当するレジスタの内容を取得し、取得したレジスタの内容を信号生成部２に転送する制御部、信号情報ファイル５は、信号生成識別子及び検索機能毎にメモリモデルのレジスタの内容を定義してあるディスク装置である。
【００１０】
図２において、各部位を説明する。
【００１１】
テストベンチ１１は、メモリモデルを動作させるためのクロックをポートＣＬＫから発生、メモリモデルへの周期的に命令をポートＩから発生、検索するデータをポートＤａｔａから発生、検索結果をポートＯｕｔから取得し、試験項目に該当する信号を試験項目制御部１３に送出するテストプログラム、被テストメモリモデル１２は、検索機能を有するメモリモデル、レジスタ１７、１８、１９は、信号情報ファイルの信号生成識別子のレジスタの内容を格納するレジスタ、レジスタ２０、２１、２２は、信号情報ファイルの検索機能のレジスタの内容を格納するレジスタ、信号生成部１６、試験項目制御部１３、信号生成制御部１４、信号情報ファイル１５は前述した通りである。
【００１２】
以下に述べる一実施例は、図４のフローチャートにおいて、メモリモデルのテストを行う場合、場合に応じてメモリモデルのレジスタの内容を動的に可変し、効率良くテストする方法について、図２と図３を用いて説明する。
【００１３】
図２のような構成のメモリモデルテスト環境において、図４のステップ４１において、テストベンチ１１からメモリモデル１２にクロックを印加する。ステップ４２は、信号生成制御部がポートＩの命令を取得、例えば、０ｘ０８の命令を取得する。ステップ４３では、信号生成制御部が試験項目制御信号を取得、例えば、制御信号１を取得する。ステップ４４では、ステップ４２で取得した０ｘ０８で図３の信号情報ファイルを検索し、検索機能０ｘ０８のレジスタＸの０ｘｆｆ、レジスタＹの０ｘｆ０、レジスタＺの０ｘ０ｆを取得する。ステップ４５では、ステップ４３で取得した信号生成識別子１で図３の信号情報ファイルを検索し、信号生成識別子１のレジスタＡの０ｘａ９、レジスタＢの０ｘ１ａ、レジスタＣの０ｘ２ｃを取得する。ステップ４６では、ステップ４４で取得したレジスタＸ、Ｙ、Ｚのレジスタの値を、レジスタＸの０ｘｆｆを１１１１１１１１に変換してレジスタ２０に設定し、レジスタＹの０ｘｆ０を１１１１００００に変換してレジスタ２１に設定し、レジスタＺの０ｘ０ｆを００００１１１１に変換してレジスタ２２に設定する。ステップ４７では、ステップ４５で取得したレジスタＡ、Ｂ、Ｃのレジスタの値を、レジスタＡの０ｘａ９を１０１０１００１に変換してレジスタＡに設定し、レジスタＢの０ｘ１ａを０００１１０１０に変換してレジスタＢに設定し、レジスタＣの０ｘ２ｃを００１０１１００に変換してレジスタＣに設定する。ステップ４８では、設定されたレジスタの情報を使い、検索機能を有するメモリモデルは検索を実行し、その結果をＯｕｔポートに出力し、テストベンチ１１は、その結果を評価する。全ての試験項目が終了していないので、ステップ４２に進む。
【００１４】
ステップ４２は、信号生成制御部がポートＩの命令を取得、例えば、０ｘ１０の命令を取得する。ステップ４３では、例えば、制御信号２を取得する。ステップ４４では、ステップ４２で取得した０ｘ１０で信号情報ファイルを検索し、検索機能０ｘ１０のレジスタＸの０ｘｆｆｆｆ、レジスタＹの０ｘｆ０ｆ０、レジスタＺの０ｘ０ｆ０ｆを取得する。ステップ４５では、ステップ４３で取得した信号生成識別子２で信号情報ファイルを検索し、信号生成識別子２のレジスタＡの０ｘ１ｂ０ｃ、レジスタＢの０ｘ１ｃ２ｅ、レジスタＣの０ｘ０ｃ３ａを取得する。ステップ４６では、ステップ４４で取得したレジスタＸ、Ｙ、Ｚのレジスタの値を、レジスタＸの０ｘｆｆｆｆを１１１１１１１１１１１１１１１１に変換してレジスタ２０に設定し、レジスタＹの０ｘｆ０ｆ０を１１１１００００１１１１００００に変換してレジスタ２１に設定し、レジスタＺの０ｘ０ｆ０ｆを００００１１１１００００１１１１に変換してレジスタ２２に設定する。ステップ４７では、ステップ４５で取得したレジスタＡ、Ｂ、Ｃのレジスタの値を、レジスタＡの０ｘ１ｂ０ｃを０００１１０１１００００１１００に変換してレジスタＡに設定し、レジスタＢの０ｘ１ｃ２ｅを０００１１１００００１０１１１０に変換してレジスタＢに設定し、レジスタＣの０ｘ０ｃ３ａを００００１１００００１１１０１０に変換してレジスタＣに設定する。ステップ４８では、設定されたレジスタの情報を使い、検索機能を有するメモリモデルは検索を実行し、その結果をＯｕｔポートに出力し、テストベンチ１１は、その結果を評価する。
【００１５】
このように、検索機能やメモリモデルをテストするための試験項目に応じて、検索に必要なレジスタの内容を制御することにより、検索機能を有するメモリモデルのテストを効率良く行うことができる。
【００１６】
【発明の効果】
本発明により、検索機能を有するメモリのレジスタの内容を検索機能あるいは試験項目に応じて動的に割り当てることにより、広範囲にメモリモデルのテストを実現できる。また、検索機能を有するメモリを用いたシステム検証の場合にも応用できるので、検証範囲を広げることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】メモリモデルをテストするための主要部位。
【図２】メモリモデルをテストする構成。
【図３】信号情報ファイルの定義内容。
【図４】本発明を説明するフローチャート。
【符号の説明】
１…メモリモデルレジスタ群、２…信号生成部、３…試験項目制御信号、４…信号生成制御部、５…信号情報ファイル。
【図１】
2004295453.tif 000003
【図２】
2004295453.tif 000004
【図３】
2004295453.tif 000005
【図４】
2004295453.tif 000006