(57)【要約】【課題】試験データ格納領域の容量を増やすことなく大量の固定試験データを発生する。【解決手段】ベースフレーム部２は、任意のパターンを有する任意試験データ、または処理されることによって大量の固定試験データが生成される１つのベースフレームデータのいずれかを試験データ出力モードに応じて格納する。可変データ部３のＩＤカウンタ３１はカウント値が設定され順次にカウントアップする。コミュテーションレジスタ３２はデータ挿入位置情報および挿入データを格納する。データ挿入部４は、任意データ出力モードではベースフレーム部からの任意試験データを出力し、固定パターン出力モードではベースフレーム部からのベースフレームデータの内の所定のビットをＩＤカウンタ値と入れ替え、コミュテーションレジスタからのデータ挿入位置情報で指定されるベースフレームデータの内のビットを挿入データと入れ替え固定試験データとして出力する。【選択図】　　　　図１
2004088680.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれが試験データとして相応しい任意のパターンを有する任意試験データ、または処理されることによって大量の固定試験データが生成される１つの基本試験データのいずれかを試験データ出力モードに応じて格納するデータ格納用メモリと、
前記基本試験データに対する前記処理用のデータを順次に生成する可変データ部と、
任意データ出力モードでは前記データ格納用メモリからの前記任意試験データを出力し、また固定パターン出力モードでは前記データ格納用メモリからの前記基本試験データの内の所定のビットを前記可変データ部が生成する処理用のデータと入れ替え前記固定試験データとして出力するデータ挿入部とを備えたことを特徴とする試験データ発生装置。
【請求項２】
衛星またはロケットなどの搭載機器の遠隔計測データ用の試験データを発生する試験データ発生装置において、
それぞれが試験データとして相応しい任意のパターンを有する任意試験データ、または処理されることによって大量の固定試験データが生成される１つのベースフレームデータのいずれかを試験データ出力モードに応じて格納するベースフレーム部と、
前記固定試験データの量を定めるカウント値が設定され順次にカウントアップするＩＤカウンタを含む可変データ部と、
任意データ出力モードでは前記ベースフレーム部からの前記任意試験データを出力し、また固定パターン出力モードでは前記ベースフレーム部からの前記ベースフレームデータの内の所定のビットを前記ＩＤカウンタからのＩＤカウンタ値と入れ替え前記固定試験データとして出力するデータ挿入部とを備えたことを特徴とする試験データ発生装置。
【請求項３】
衛星またはロケットなどの搭載機器の遠隔計測データ用の試験データを発生する試験データ発生装置において、
それぞれが試験データとして相応しい任意のパターンを有する任意試験データ、または処理されることによって大量の固定試験データが生成される１つのベースフレームデータのいずれかを試験データ出力モードに応じて格納するベースフレーム部と、
前記固定試験データの量を定めるカウント値が設定され順次にカウントアップするＩＤカウンタならびにデータ挿入位置情報および挿入データを格納するコミュテーションレジスタを含む可変データ部と、
任意データ出力モードでは前記ベースフレーム部からの前記任意試験データを出力し、また固定パターン出力モードでは前記ベースフレーム部からの前記ベースフレームデータの内の所定のビットを前記ＩＤカウンタからのＩＤカウンタ値と入れ替え、また前記コミュテーションレジスタからのデータ挿入位置情報で指定される前記ベースフレームデータの内のビットを前記挿入データと入れ替え前記固定試験データとして出力するデータ挿入部とを備えたことを特徴とする試験データ発生装置。
【請求項４】
前記データ挿入部における挿入データとの入れ替えは、前記ＩＤカウンタにおける所定のカウントアップに同期して行われることを特徴とする請求項３に記載の試験データ発生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は大量の試験データを発生させる試験データ発生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
この種の従来技術の一例が特開平１０−１７３６２０に「ＰＣＭ試験データ発生器の試験データパターン設定装置」として記載されている。この装置は、衛星通信分野における追跡管制用地上システムの試験、校正時に用いる衛星またはロケットなどの搭載機器の遠隔計測データ用の試験データを迅速に発生するものである。すなわち、そのために設けられた試験データパターン設定モードにて設定されたパラメータを元に、図４に示すように、制御部１００において新たな試験データが生成され、１つの連続したメモリ領域であるデータ格納部２００に格納される。データ格納部２００に格納された試験データは格納されている順番で外部へ出力される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述した従来技術では、１つのデータ格納部を使用して試験データを格納しているので、データ格納部のメモリ容量の最大値によって格納できる試験データの最大出力フレーム数が決まる。このため、試験データを必要とする装置側では、データ格納部のメモリ容量で足りる任意試験データの使用による衛星またはロケットからのデータ処理の確認は行えても、衛星やロケットから送出される実データの最大ＩＤカウント値まで模擬した上限処理確認が行えないという問題がある。この場合、単純にメモリ容量を増やすといった方法も考えられるが、それではハードウェアが大規模になるため現実的ではない。
【０００４】
そこで、本発明の目的は、試験データ格納領域の容量を増やすことなく、大量の固定試験データを使用した上限処理確認を行うことが可能な試験データ発生装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明の試験データ発生装置は、それぞれが試験データとして相応しい任意のパターンを有する任意試験データ、または処理されることによって大量の固定試験データが生成される１つの基本試験データのいずれかを試験データ出力モードに応じて格納するデータ格納用メモリと、基本試験データに対する処理用のデータを順次に生成する可変データ部と、任意データ出力モードではデータ格納用メモリからの任意試験データを出力し、また固定パターン出力モードではデータ格納用メモリからの基本試験データの内の所定のビットを可変データ部が生成する処理用のデータと入れ替え固定試験データとして出力するデータ挿入部とを備えたことを特徴とするものである。
【０００６】
より詳しくは、本発明の第１の試験データ発生装置は、衛星またはロケットなどの搭載機器の遠隔計測データ用の試験データを発生する試験データ発生装置において、それぞれが試験データとして相応しい任意のパターンを有する任意試験データ、または処理されることによって大量の固定試験データが生成される１つのベースフレームデータのいずれかを試験データ出力モードに応じて格納するベースフレーム部（図３の２）と、固定試験データの量を定めるカウント値が設定され順次にカウントアップするＩＤカウンタ（図３の３１）を含む可変データ部（図３の３）と、任意データ出力モードではベースフレーム部からの任意試験データを出力し、また固定パターン出力モードではベースフレーム部からのベースフレームデータの内の所定のビットをＩＤカウンタからのＩＤカウンタ値と入れ替え固定試験データとして出力するデータ挿入部（図３の４）とを備えたことを特徴とする。
【０００７】
また、本発明の第２の試験データ発生装置は、衛星またはロケットなどの搭載機器の遠隔計測データ用の試験データを発生する試験データ発生装置において、それぞれが試験データとして相応しい任意のパターンを有する任意試験データ、または処理されることによって大量の固定試験データが生成される１つのベースフレームデータのいずれかを試験データ出力モードに応じて格納するベースフレーム部（図１の２）と、固定試験データの量を定めるカウント値が設定され順次にカウントアップするＩＤカウンタ（図１の３１）ならびにデータ挿入位置情報および挿入データを格納するコミュテーションレジスタ（図１の３２）を含む可変データ部（図１の３）と、任意データ出力モードではベースフレーム部からの任意試験データを出力し、また固定パターン出力モードではベースフレーム部からのベースフレームデータの内の所定のビットをＩＤカウンタからのＩＤカウンタ値と入れ替え、またコミュテーションレジスタからのデータ挿入位置情報で指定されるベースフレームデータの内のビットを挿入データと入れ替え固定試験データとして出力するデータ挿入部（図１の４）とを備えたことを特徴とする。
【０００８】
なお、データ挿入部における挿入データとの入れ替えは、ＩＤカウンタにおける所定のカウントアップに同期して行われるようにしてもよい。
【０００９】
本発明では、図１において、固定パターン出力モード時には、ベースフレーム部２に１フレーム分のベースフレームデータを格納しておき、可変データ部３にＩＤカウンタ３１のカウント値を設定する。データ挿入部４にてＩＤカウンタ３１からのＩＤカウンタ値をベースフレーム部２から出力されるベースフレームデータに挿入し固定試験データとして出力する。ＩＤカウンタ３１を設けることにより、試験データの格納領域を増やすことなく、ＩＤカウンタ３１のビット数を１ビット増やすことで２倍、２ビット増やすことで４倍のＩＤまでの試験データ出力ができることになる。なお、任意試験データ出力モード時には、ベースフレーム部２には全ての任意試験データを格納する。
【００１０】
このように、本発明によると、任意データ出力モードでは試験データ格納領域容量までのデータ量の中で任意試験データを出力するとともに、固定パターン出力モードでは試験データ格納領域の容量以上の実データの最大ＩＤカウントまでを模擬する固定試験データを出力できるようになる。したがって、試験データ格納領域の容量を増やすことなく、大量の固定試験データを使用した上限処理確認を行うことが可能となる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
【００１２】
図１は本発明の試験データ発生装置の一実施例を示すブロック図である。この装置は、衛星通信分野における追跡管制用地上システムの試験、校正時に用いる衛星またはロケットなどの搭載機器の遠隔計測データ用の試験データを発生するものであり、制御部１，ベースフレーム部２，可変データ部３およびデータ挿入部４で構成されている。
【００１３】
ベースフレーム部２は、試験データに対するデータ格納用メモリであり、制御部１からの制御によって、任意試験データ出力モードでは任意試験データ、固定パターン出力モードではベースフレームデータを格納する。任意試験データとは、試験データとして相応しい任意のパターンを有するデータをいい、データ格納用メモリのメモリ容量に達するまでの異なるパターンをとり得る。
【００１４】
ベースフレーム部２のデータ格納領域容量を１メガバイトとすると、ベースフレーム部２には、１フレーム２５６バイトのロケットテレメータ用試験データであれば、最大４，０９６フレームの任意試験データを格納することができる。被試験対象装置は、任意試験データによって試験されることにより、大方のパターン（内容）のデータに対しても正常に動作することが保障される。
【００１５】
これに対して、ベースフレームデータは、データ内容は略固定されるが、処理されることによって大量の固定試験データを用意するための基本となる１フレーム２５６バイトのデータである。ベースフレームデータに基づく試験は、被試験対象装置が処理するフレームの上限処理確認としての意義を有する。なお、ベースフレームデータの内の所定のバイトは、図２に示し以下にも詳述するように、データ挿入部４における可変データ部３からのデータによって処理される。
【００１６】
可変データ部３は、ベースフレーム部２が格納するベースフレームデータを可変化するためのＩＤカウンタ３１とコミュテーションレジスタ３２を備える。ＩＤカウンタ３１には、固定パターン出力モードにおいて制御部１からの制御により、固定試験データに必要なＩＤを満足するビット数のカウント値が設定される。ここで、ＩＤとはフレーム数に対応した数値であり、例えば６５，５３６フレームに対する試験を行うのであれば、１６ビットのカウント値がＩＤカウンタ３１に設定される。設定されたカウント値は順次にカウントアップされ、０〜６５，５３５の間を遷移し、それぞれがベースフレームデータの所定のビットとバイト単位で入れ替わる。
【００１７】
コミュテーションレジスタ３２には、固定パターン出力モードにおいて制御部１からの制御により、必要に応じてデータ挿入位置情報および挿入データ（これらを「コミュテーションデータ」という）が格納される。挿入データとは、ＩＤカウンタ３１の所定のカウントアップに同期して、ベースフレームデータの所定のバイトと入れ替わる固定データである。なお、以下の説明では、このような入れ替えを「挿入」と記す。
【００１８】
データ挿入位置情報とは、ベースフレームデータの内の挿入データが挿入されるバイト位置を示す情報をいう。この場合、例えばデータ挿入位置情報が２つであれば、２つのバイト位置とも絶対値で示してもよいが、１つ目の挿入データが挿入されるバイト位置と、そのバイト位置から２のべき乗で示される挿入間隔とで示すようにしてもよい。
【００１９】
データ挿入部４は、任意データ出力モードと固定パターン出力モードの２つのデータ出力モードに対応した試験データ出力機能を有している。任意データ出力モードでは、データ挿入部４は、ベースフレーム部２からの任意試験データに対して処理を加えずスルー出力する。一方、固定パターン出力モードでは、データ挿入部４は、ベースフレーム部２からベースフレームデータの内の所定のバイトを、可変データ部３のＩＤカウンタ３１からのカウント値と、コミュテーションレジスタ３２からの挿入データを挿入し固定試験データとして出力する。
【００２０】
制御部１は、ベースフレーム部２に対して、任意データ出力モードには任意試験データ、固定パターン出力モードにはベースフレームデータを格納する。また、制御部１は、可変データ部３に対して、固定パターン出力モードにはデータ挿入位置情報と挿入データを格納する。データ格納中は、ベースフレーム部２，可変データ部３およびデータ挿入部４からのデータ出力を禁止し、データ格納が完了するとそれぞれのデータ出力を許可する。
【００２１】
更に、制御部１は、データ挿入部４に対して、任意データ出力モードではベースフレーム部２からの任意試験データに対して処理を加えずスルー出力させ、固定パターン出力モードではベースフレーム部２からのベースフレームデータを可変データ部３からのデータによる処理させる。
【００２２】
次に、以上のように構成された本試験データ発生装置の動作について説明する。
【００２３】
先ず、任意データ出力モード時においては、制御部１，ベースフレーム部２およびデータ挿入部４が動作し、可変データ部３からの出力データは使用されない。出力しようとする任意試験データの全てを制御部１からの制御によりベースフレーム部２に格納する。このデータ格納処理中は、ベースフレーム部２およびデータ挿入部４からのデータ出力は禁止される。
【００２４】
ベースフレーム部２へのデータ格納が完了すると、制御部１からベースフレーム部２およびデータ挿入部４へデータ出力許可制御が行われる。ベースフレーム部２に格納されている任意試験データは順次にデータ挿入部４へ読み出される。読み出される任意試験データは、前述のロケットテレメータ用試験の例では１フレームが２５６バイトの４，０９６フレーム分である。データ挿入部４は、任意データ出力モード時にはベースフレーム部２からのデータに処理は加えないスルー出力モードとなっているので、入力された任意試験データをそのまま外部へ出力する。
【００２５】
一方、固定パターン出力モード時においては、制御部１，ベースフレーム部２，可変データ部３およびデータ挿入部４が動作し、可変データ部３からの出力データが使用されるようになる。制御部１は、出力しようとする試験データのベースとなる１フレームのベースフレームデータをベースフレーム部２に格納する。ここで、ベースフレーム部２に格納されるベースフレームデータは、１フレーム２５６バイトのロケットテレメータ用試験データであれば２５６バイトである。
【００２６】
また、制御部１は、可変データ部３のＩＤカウンタ部３１には試験データに必要なＩＤを満足するビット数のカウント値を設定する。更に、コミュテーションレジスタ３２には必要に応じて、コミュテーションデータを格納する。以上のデータ格納処理中は，ベースフレーム部２，可変データ部３およびデータ挿入部４からのデータ出力は禁止される。
【００２７】
ベースフレーム部２および可変データ部３へのデータ格納が完了すると，制御部１からベースフレーム部２，可変データ部３およびデータ挿入部４へデータ出力許可制御が行われ、ベースフレーム部２からは格納されているベースフレームデータが順次にデータ挿入部４へ読み出される。また、可変データ部３からはＩＤカウント値およびコミュテーションデータがデータ挿入部４へ読み出される。データ挿入部４は、ベースフレーム部２からのベースフレームデータに対し、可変データ部３からのＩＤカウント値およびコミュテーションデータを指定箇所に挿入し固定試験データとして外部へ出力する。
【００２８】
図２は、データ挿入部４に読み出されてきたベースフレームデータ２０に、ＩＤカウンタ３１からのＩＤカウント値およびコミュテーションレジスタ３２からのコミュテーションデータを挿入する場合の相互の関係を示す概念図である。
【００２９】
ベースフレームデータ２０は、それぞれが１バイトのＷ０〜Ｗ２５５から成る２５６バイトのデータ群である。このデータが順次にデータ挿入部４へ２５６バイトの繰返しデータとして読み出される。図２では、ベースフレームデータ２０中のＷ３およびＷ２５３を挿入データの挿入ワードとして、Ｗ１６０およびＷ１６１の２バイトをＩＤカウント値の挿入ワードとして割り当てている。
【００３０】
図２に示す関係を築くためには、ＩＤカウンタ３１には、Ｗ１６０およびＷ１６１への挿入のために、例えば１６ビットのＩＤカウンタ値が設定されている必要がある。また、コミュテーションレジスタ３２には、データ挿入位置情報としてＷ３およびＷ２５３を指定するための情報と、それぞれの挿入データが格納されている必要がある。
【００３１】
データ挿入部４は、ベースフレーム部２のベースフレームデータ２０のＷ１６０およびＷ１６１にＩＤカウント値を挿入する。ＩＤカウント値は１つずつカウントアップされていき、その都度にベースフレームデータ２０のＷ１６０およびＷ１６１にＩＤカウント値が挿入される。ＩＤカウンタ３１の所定のカウントアップ、例えばカウント値が偶数になる場合に、ベースフレームデータ２０のＷ３およびＷ２５３にコミュテーションレジスタ３２の挿入データが挿入される。挿入データが挿入されない場合には、Ｗ３およびＷ２５３のデータは、例えば「０」とされる。ベースフレームデータ２０にＩＤカウント値、および場合によっては挿入データが挿入されると、それが固定パターン出力モード時における試験データとして出力される。
【００３２】
このようにして、ＩＤカウンタ３１が１６ビットであれば、６５，５３６フレームまでの固定試験データを出力できることになる。これは、任意データ出力モードで出力する任意試験データの総フレームの１６倍に相当する。
【００３３】
以上に説明した実施例では、ＩＤカウンタ３１のビット数を２バイトトしたが、これは１バイトでも４バイトでもよい。ＩＤカウンタ３１のビット数は、フレーム上限処理確認と関連するので、必要に応じて加減すればよい。ビット数が多いほど数多くのフレーム数に対する試験ができる。
【００３４】
また、コミュテーションレジスタ３２に格納するコミュテーションデータは、コミュテーションレジスタ３２を複数設けることによって増やすことができる。
【００３５】
また、以上に説明した実施例では、コミュテーションレジスタ３２を設けているが、コミュテーションレジスタ３２は、本発明に必須の構成要素ではなく、固定パターン出力モード時において、ＩＤカウント値と共に固定試験データの内容に変化をつける役割を果たしているにすぎない。したがって、図３に示すように、可変データ部３０にＩＤカウンタ３１のみを備えた他の実施例も考えられる。
【００３６】
【発明の効果】
本発明によると、任意データ出力モードでは試験データ格納領域容量までのデータ量の中で任意試験データを出力するとともに、固定パターン出力モードでは試験データ格納領域の容量以上の実データの最大ＩＤカウントまでを模擬する固定試験データを出力できるようになる。したがって、試験データ格納領域の容量を増やすことなく、大量の固定試験データを使用した上限処理確認を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の試験データ発生装置の一実施例を示すブロック図
【図２】図１に示した試験データ発生装置のデータ挿入部４におけるベースフレームデータ処理を示す概念図
【図３】本発明の試験データ発生装置の他の実施例を示すブロック図
【図４】従来の試験データ発生装置の概念図
【符号の説明】
１　　　　制御部
２　　　　ベースフレーム部
３　　　　可変データ部
４　　　　データ挿入部
２０　　　ベースフレームデータ
３０　　　可変データ部
３１　　　ＩＤカウンタ
３２　　　コミュテーションレジスタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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