(57)【要約】【課題】ノイズの統計パラメータである振幅確率分布，交差率分布，パルス継続時間分布，パルス間隔分布を同時に指定することができる擬似雑音発生装置を提供する。【解決手段】必要な複数の指定レベルに対応して指定振幅確率分布と交差率分布に従う複数の擬似乱数をそれぞれ発生する。指定パルス間隔分布またはパルス継続時間分布に従う条件指定用擬似乱数を発生する。この条件指定用擬似乱数と予め内部に格納された状態シーケンス決定情報に基づき、前記複数の擬似乱数のいずれかを順次選択して前記指定振幅確率分布，前記交差率分布，前記指定パルス間隔分布及び前記パルス継続時間分布の４パラメータに従う擬似乱数列を出力して、その擬似乱数列をＤ／Ａ変換して所望の擬似雑音として出力する。【選択図】　　　図６
2004088320.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
必要な複数の指定レベルに対応して指定振幅確率分布と交差率分布に従う複数の擬似乱数をそれぞれ発生するための複数の第一の擬似乱数発生器と、
指定パルス間隔分布またはパルス継続時間分布に従う条件指定用擬似乱数を発生するための第二の擬似乱数発生器と、
前記条件指定用擬似乱数を受け取り、該条件指定用擬似乱数が示す指定パルス間隔分布またはパルス継続時間分布に対応する条件付き確率を発生し前記複数の第一の擬似乱数発生器の初期値を設定する第三の擬似乱数発生器と、
前記条件指定用擬似乱数を受け取り、該条件指定用擬似乱数と予め内部に格納された状態シーケンス決定情報に基づき、前記複数の第一の擬似乱数発生器から発生される前記複数の擬似乱数のいずれを選択するかを指定する選択信号を出力する制御部と、
該選択信号を受け取り、該選択信号が指定する前記複数の擬似乱数のいずれかを順次選択して前記指定振幅確率分布，前記交差率分布，前記指定パルス間隔分布及び前記パルス継続時間分布の４パラメータに従う擬似乱数列を出力するスイッチと、
該擬似乱数列をＤ／Ａ変換して所望の擬似雑音として出力するＤ／Ａ変換器と、
を備えた擬似雑音発生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタル通信システムの通信品質の評価，電磁妨害波に対する電子機器の耐妨害性（Ｉｍｍｕｎｉｔｙ）の評価を行うための擬似雑音源として使用する擬似雑音発生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
熱雑音，都市雑音の場合などではノイズの振幅は正規分布となる。これらをシミュレートするものにホワイトノイズ発生器がある。
狭帯域デジタル通信では通信システムのビット誤り率（ＢＥＲ：Ｂｉｔ　Ｅｒｒｏｒ　Ｒａｔｅ）の劣化と電磁妨害波の振幅確率分布（ＡＰＤ：Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ　Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔｙ　Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ）との間に相関関係があり、電磁妨害波の振幅確率分布（ＡＰＤ）から通信システムのビット誤り率（ＢＥＲ）の劣化が推定できるという報告がなされている。そこで任意分布乱数発生器を用いて指定振幅確率分布（ＡＰＤ）に従うノイズを発生させるものなどがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ノイズの性質をあらわす際の重要な統計パラメータとして振幅確率分布（ＡＰＤ）、交差率分布（ＣＲＤ：Ｃｒｏｓｓｉｎｇ　Ｒａｔｅ　Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ）、パルス継続時間分布（ＰＤＤ：Ｐｕｌｓｅ　Ｄｕｒａｔｉｏｎ　Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ　）、パルス間隔分布（ＰＳＤ：Ｐｕｌｓｅ　Ｓｐａｃｉｎｇ　Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ）がある。
振幅確率分布は電磁妨害波が観測振幅レベルを超えている時間率で定義される。交差分布は単位時間内に電磁妨害波が観測振幅レベルを正交差する回数で定義される。パルス継続時間分布は電磁妨害波が単位時間内に観測振幅レベルを連続して超えている時間長の分布で定義され、パルス間隔分布は電磁妨害波が観測振幅レベルを連続して下回っている時間長の分布で定義される。
【０００４】
ホワイトノイズを発生させる装置は、ノイズの分散と平均を制御することができるが、ノイズの分布は正規分布に限定されており振幅確率分布を制御することができない。
任意分布乱数発生器を用いたものはノイズ振幅確率分布を指定して任意の振幅確率分布を持つノイズを発生することができるが、時間相関のない独立事象を対象としたものに限定される。一方、電子レンジや一般の電子機器からのノイズは、電源電圧の周期や動作クロックの周期に依存した非独立事象であるため、任意分布乱数発生器を使用した擬似雑音発生器により発生させたときには、交差率分布，パルス継続時間分布，パルス間隔分布などがその時間相関のある非独立事象のノイズと異なることになる。
【０００５】
本発明の目的は、ノイズの統計パラメータである振幅確率分布，交差率分布，パルス継続時間分布，パルス間隔分布を同時に指定することができる擬似雑音発生装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この目的を解決するために、本発明による擬似雑音発生装置は、必要な複数の指定レベルに対応して指定振幅確率分布と交差率分布に従う複数の擬似乱数をそれぞれ発生するための複数の第一の擬似乱数発生器と、
指定パルス間隔分布またはパルス継続時間分布に従う条件指定用擬似乱数を発生するための第二の擬似乱数発生器と、
前記条件指定用擬似乱数を受け取り、該条件指定用擬似乱数が示す指定パルス間隔分布またはパルス継続時間分布に対応する条件付き確率を発生し前記複数の第一の擬似乱数発生器の初期値を設定する第三の擬似乱数発生器と、
前記条件指定用擬似乱数を受け取り、該条件指定用擬似乱数と予め内部に格納された状態シーケンス決定情報に基づき、前記複数の第一の擬似乱数発生器から発生される前記複数の擬似乱数のいずれを選択するかを指定する選択信号を出力する制御部と、
該選択信号を受け取り、該選択信号が指定する前記複数の擬似乱数のいずれかを順次選択して前記指定振幅確率分布，前記交差率分布，前記指定パルス間隔分布及び前記パルス継続時間分布の４パラメータに従う擬似乱数列を出力するスイッチと、
該擬似乱数列をＤ／Ａ変換して所望の擬似雑音として出力するＤ／Ａ変換器と、
を備えた構成を有している。
【０００７】
【発明の実施の形態】
本発明の実施例を説明する前に、まず、本発明の原理について説明する。
【０００８】
（４パラメータに従う擬似乱数生成方法１）
指定確率密度関数と指定交差率分布，及び任意の１レベルにおける指定パルス間隔分布と指定パルス継続時間分布に従う擬似乱数の生成方法（以下、生成方法１）について述べる。
【０００９】
図１に示すように、標本化周期Ｔ秒毎に生成された２つの擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝と｛Ｘ１（ｔ）｝からＮ（ｔ）　個ずつ交互に選択し、新たに擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝とする。ここで、０≦Ｘ０　（ｔ）　＜ｈ≦Ｘ１（ｔ）＜ｎとすると、Ｎ（ｔ２ｖ）（ｖ＝０，１，２，．．．　）は連続してＸ（ｔ）　＜ｈとなる区間　［ｔ２ｖ　，ｔ２ｖ＋１−１］　の標本数を表し、Ｎ（ｔ２ｖ＋１）は連続してｈ≦Ｘ（ｔ）　となる区間　［ｔ２ｖ＋１　，ｔ２ｖ＋２−１］　の標本数を表している。
【００１０】
今Ｎ（ｔ２ｖ）がＮＳ　（ｒ）　≦Ｎ（ｔ２ｖ）　＜Ｎｓ　（ｒ＋１）（０＜ｒ＜ｍ）に存在する確率をｓ（ｒ）　で表し、ｓ（ｒ）　をパルス間隔分布と定義する。同様にＮ（ｔ２ｖ＋１）　がＮＤ　（ｒ）　≦Ｎ（ｔ２ｖ＋１）　＜ＮＤ　（ｒ＋１）　（０＜ｒ＜ｍ）に存在する確率をｄ（ｒ）　で表し、ｄ（ｒ）　をパルス継続時間分布と定義する。以後、ＮＳ　（ｒ）　・Ｔをレベルｈにおけるパルス間隔、ＮＤ　（ｒ）　・Ｔをレベルｈにおけるパルス継続時間と呼ぶ。
【００１１】
以下に３つの擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝，｛Ｘ０（ｔ）｝，｛Ｘ１（ｔ）｝の確率密度，交差率の関係を求める。レベルｈにおける擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝のパルス間隔分布ｓ（ｒ）　とパルス継続時間分布ｄ（ｒ）　が既知であると、レベルｈにおける擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の振幅確率分布ａ（ｈ）　と交差分布ｃ（ｈ）　を推定することができる。ｓ（ｒ），ｄ（ｒ）　より、レベルｈにおける振幅確率分布ａ（ｈ）　は（１）式、交差率ｃ（ｈ）　は（２）式で表される。ここで、ｆｓ　は擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の標本化周波数である。また、レベルｘ（０≦ｘ＜ｎ）における交差率ｃ（ｘ）　とは擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が単位時間内にレベル（ｘ−１）とレベルｘの間を正方向又は負方向に交差する回数で定義する。以後、ｘ−１とレベルｘの間を交差することをレベルｘを交差すると省略する。
【００１２】
【数１】
2004088320.tif 000003
【００１３】
次に、レベルｘ（０≦ｘ＜ｎ）における擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の確率密度ｐ（ｘ）　を求める。レベルｘにおける擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝の確率密度をｐ０（ｘ）、レベルｘにおける擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝の確率密度をｐ１（ｘ）とすると、０≦Ｘ０（ｔ）＜ｈ≦Ｘ１（ｔ）＜ｎであるから、ｐ（ｘ）　はレベルｈ未満においてｐ０（ｘ）に比例し、レベルｈ以上においてはｐ１（ｘ）に比例する。また、レベルｈにおける振幅確率分布ａ（ｈ）　が式（１）で表されることから、ｐ（ｘ）　は（３）式で表される。
【００１４】
【数２】
2004088320.tif 000004
【００１５】
次に、レベルｘ（０≦ｘ＜ｎ）における擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の交差率ｃ（ｘ）　を求める。レベルｘにおける擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝の交差率をｃ０　（ｘ）　、擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝の交差率をｃ１　（ｘ）　とすると、０≦Ｘ０（ｔ）＜ｈ≦Ｘ１（ｔ）＜ｎであるから、交差率ｃ（ｘ）　は（４）式で表される。ここで、右辺第２項のｃＭ　（ｘ）　は、擬似乱数系列｛Ｘ（ｔ）　｝が単位時間内にレベルｘとレベルｈを１標本化周期に同時に正交差する回数であり、（５）式で表されれる。
【００１６】
【数３】
2004088320.tif 000005
【００１７】
以上より、レベルｘにおける擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝の確率密度ｐ０（ｘ）と交差率ｃ０（ｘ）、及び擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝の確率密度ｐ１（ｘ）と交差率ｃ１（ｘ）、さらにレベルｈにおける擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝のパルス間隔分布ｓ（ｒ）　、パルス継続時間分布ｄ（ｒ）　が既知であれば、（３），（４）式より擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の確率密度ｐ（ｘ）　，交差率ｃ（ｘ）　を推定できることが分かる。逆に、ｐ（ｘ）　，ｃ（ｘ）　，ｓ（ｒ）　，ｄ（ｒ）　が既知であれば、（６）〜（９）式よりｐ０（ｘ），ｃ０（ｘ），ｐ１（ｘ），ｃ１（ｘ）を推定することも可能である。
【００１８】
【数４】
2004088320.tif 000006
【００１９】
確率密度ｐ０（ｘ），交差率ｃ０（ｘ）に従う擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝の生成と、確率密度ｐ１（ｘ），交差率ｃ１（ｘ）に従う擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝の生成は指定ＡＰＤ，ＣＲＤに従う擬似乱数の生成法を用いれば可能である。従って、レベルｘにおける電磁妨害波の確率密度をｐ（ｘ）　，交差率をｃ（ｘ）　，レベルｈにおけるパルス間隔分布をｓ（ｒ）　，パルス継続時間分布をｄ（ｒ）　とし、これが観測可能であれば、（６）〜（９）式を満足する擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝，｛Ｘ１（ｔ）｝を用いて電磁妨害波と同じｐ（ｘ）　，ｃ（ｘ）　，ｓ（ｒ）　，ｄ（ｒ）　を持つ擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝を生成することが可能である。
【００２０】
（生成方法１の問題点）
以上のように２つの擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝，｛Ｘ１（ｔ）｝を用いれば４パラメータｐ（ｘ）　，ｃ（ｘ）　，ｓ（ｒ）　，ｄ（ｒ）　に従う擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の生成が可能である。ただし、擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝，｛Ｘ１（ｔ）｝，｛Ｘ（ｔ）　｝の交差率ｃ０　（ｘ）　，ｃ１（ｘ），ｃ（ｘ）　には（４）式で示した関係があり、ｃ（ｘ）　＜ｃＭ　（ｘ）　となる場合ｃ０（ｘ）＜０又はｃ１（ｘ）＜０となる。交差率は必ず正の値となる必要があるため、ｃ０（ｘ）＜０又はｃ１（ｘ）＜０の場合、｛Ｘ０（ｔ）｝，｛Ｘ１（ｔ）｝が生成することができない。
【００２１】
また、ｃ（ｘ）　＝ｃＭ　（ｘ）　となる場合、ｃ０（ｘ）＝０又はｃ１（ｘ）＝０となる。ｃ０（ｘ）の場合、擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝はレベルｘを交差しないため、ｐ０（ｉ０）　＞０（０≦ｉ０　＜ｘ）かつｐ０（ｊ０）　＞０（ｘ≦ｊ０＜ｈ）となるレベルｉ０，ｊ０　が存在すると、レベルｈ未満を１つの擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝で表すことができない。同様にｃ１（ｘ）＝０の場合、擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝はレベルｘを交差しないため、ｐ１（ｉ１）　＞０（ｈ≦ｉ１＜ｘ）かつｐ１（ｊ１）　＞０（ｘ≦ｊ１＜ｎ）となるレベルｉ１，ｊ１　が存在すると、レベルｈ以上を１つの擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝で表すことができない。
【００２２】
以下に、この２つの問題点を解決した本発明に用いる擬似乱数生成方法について述べる。提案する４パラメータに従う擬似乱数生成方法２（以下、生成方法２）では生成方法１から２つの点を変更する。以下に述べる変更点その１でｃ（ｘ）　＜ｃＭ　（ｘ）　となる場合に発生する問題点を解決し、変更点その２でｃ（ｘ）　＝ｃＭ　（ｘ）　となる場合に発生する問題点を解決している。
【００２３】
（４パラメータに従う擬似乱数生成方法１からの変更点その１）
パルス間隔開始点とパルス継続時間開始時における擬似乱数Ｘ（ｔ）　の振幅確率密度を変更する。
生成方法１ではパルス間隔開始時ｔ２ｖ（ｖ＝０，１，２，．．．　）に擬似乱数Ｘ（ｔ２ｖ）　＝ｘとなる確率はレベルｘにおける擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝の確率密度ｐ０（ｘ）で表され、パルス継続時間開始時ｔ２ｖ＋１（ｖ＝０，１，２，．．．　）にＸ（ｔ）　＝ｘ（０≦ｘ＜ｎ）となる確率はレベルｘにおける擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝の確率密度ｐ１（ｘ）で表される（図２（ａ））。しかし、パルス間隔時間開始時ｔ２ｖとパルス継続時間開始時ｔ２ｖ＋１の擬似乱数Ｘ（ｔ）　（ｔ＝ｔ２ｖ　ｏｒ　ｔ２ｖ＋１）が確率密度ｐ０（ｘ）とｐ１（ｘ）に従い決定されると、ｃ（ｘ）　≦ｃＭ　（ｘ）　となる場合があり、４パラメータに従う擬似乱数を生成することができない。
【００２４】
そこで生成方法２では、最初にレベルｘ（０≦ｘ＜ｎ）において、ｃＭ　’（ｘ）≦ｃ（ｘ）　となるｃＭ　’（ｘ）を定義し、ｃＭ　（ｘ）　の代わりにｃＭ　’（ｘ）を使用する。ただし、ｃＭ　’（ｘ）＝ｃ（ｘ）　の時は、先に述べたようにレベルｈ未満を１つの擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝で、レベルｈ以上を１つの擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝で表すことができない場合があるが、この解決法は変更点２で解説する。
【００２５】
次に、「擬似乱数系列｛Ｘ（ｔ）　｝が単位時間内にレベルｘとレベルｈを同時に正交差する回数」をｃＭ　’（ｘ）　　と等しくするために、パルス間隔開始時ｔ２ｖにおける擬似乱数Ｘ（ｔ２ｖ）　をパルス間隔ＮＳ　（ｒ）　・Ｔが与えられたときのｘの条件付き確率ｗＳ　（ｘ，ＮＳ　（ｒ）　・Ｔ）（０≦ｘ＜ｎ，０≦ｒ＜ｍ）に従い決定する。同様に、パルス継続時間開始時ｔ２ｖ＋１における擬似乱数Ｘ（ｔ２ｖ＋１）をパルス継続時間ＮＤ　（ｒ）　・Ｔが与えられたときのｘの条件付き確率ｗＤ　（ｘ，ＮＤ　（ｒ）　・Ｔ）（０≦ｘ＜ｎ，０≦ｒ＜ｍ）に従い決定する。以後は、これらの条件付き確率をｗＳ　（ｘ，　ｒ），　ｗＤ　（ｘ，　ｒ）と表している。例えば、図２（ｂ）のように、パルス間隔がＮＳ　（ｒＳ　）　であった場合Ｘ（ｔ２ｖ）　はｗＳ　（　ｘ，　ｒＳ　）　から決定され、パルス間隔がＮＤ　（ｒＤ　）　でった場合Ｘ（ｔ２ｖ＋１）　はｗＤ　（　ｘ，　ｒ　Ｄ　）から決定される。
【００２６】
最初にレベルｘ（０≦ｘ＜ｎ）において、ｃＭ　’（ｘ）≦ｃ（ｘ）　となるｃＭ　’（ｘ）を決定し、その後交差率ｃＭ　’（ｘ）を用いてｗＳ　（ｘ，　ｒ），　ｗＤ　（ｘ，　ｒ）を決定する。レベルｘにおけるｃＭ　’（ｘ）は（１０）式から決定する。ここで、β（ｘ）　はレベルｘにおいてｃＭ　’（ｘ）≦ｃ（ｘ）　とするための係数であり、（１１）式より決定される。
【００２７】
【数５】
2004088320.tif 000007
【００２８】
次に、ｒが与えられたときのｘの条件付き確率ｗＳ　（ｘ，　ｒ）　，ｗＤ　（ｘ，　ｒ）の決定について述べる。パルス間隔開始時ｔ２ｖの擬似乱数Ｘ（ｔ２ｖ）　のレベルを条件付き確率ｗＳ　（ｘ，　ｒ）に従って決定し、パルス継続時間開始時ｔ２ｖ＋１の擬似乱数Ｘ（ｔ２ｖ）　の値を条件付き確率ｗＤ　（ｘ，　ｒ）に従って決定すると、ｗＳ　（ｘ，　ｒ），　ｗＤ　（ｘ，　ｒ）とｃＭ　’（ｘ）の関係は（１２）式で表される。（１２）式より条件付き確率ｗＳ　（ｘ，　ｒ），　ｗＤ　（ｘ，　ｒ）はｃＭ　’（ｘ），　ｄ（ｒ），ｓ（ｒ）　が定まれば最適化法などによって決定することができる。
【００２９】
従って、ｃＭ　’（ｘ），　ｄ（ｒ），ｓ（ｒ）　からｗＳ　（ｘ，　ｒ），　ｗＤ　（ｘ，　ｒ）を推定し、パルス間隔開始時ｔ２ｖにはｗＳ　（ｘ，　ｒ）、パルス継続時間開始時ｔ２ｖ＋１にはｗＤ　（ｘ，　ｒ）に従い擬似乱数Ｘ（ｔ）　（ｔ＝ｔ２ｖ　ｏｒ　ｔ２ｖ＋１）のレベルを決定することで、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝がレベルｘとレベルｈを同時に正交差したときの交差率をｃＭ　’（ｘ）≦ｃ（ｘ）　であるｃＭ　’（ｘ）と一致させることができる。
【００３０】
【数６】
2004088320.tif 000008
【００３１】
（４パラメータに従う擬似乱数生成方法１からの変更点その２）
発生方法１では、ｃ（ｘ）　＝ｃＭ　（ｘ）　となる場合ｃ０（ｘ）＝０又はｃ１（ｘ）＝０となる。ｃ０（ｘ）＝０の場合、図３（ａ）に黒丸で示す擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝はレベルｘを交差しないため、ｐ０（ｉ０）　＞０（０≦ｉ０＜ｘ）かつｐ０（ｊ０）　＞０（ｘ≦ｊ０＜ｈ）となるレベルｉ０，ｊ０　が存在すると、レベルｈ未満を１つの擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝で表すことができない。同様にｃ１（ｘ）＝０の場合、図３（ａ）に黒△印で示す擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝はレベルｘを交差しないため、ｐ１（ｉ１）　＞０（ｈ≦ｉ１＜ｘ）かつｐ１（ｊ１）　＞０（ｘ≦ｊ１＜ｎ）となるレベルｉ１，ｊ１　が存在すると、レベルｈ以上を１つの擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝で表すことができない。
【００３２】
生成方法２でもｃ（ｘ）　＝ｃＭ　’（ｘ）となる場合、ｐ０（ｉ０）　＞０（０≦ｉ０＜ｘ）かつｐ０（ｊ０）　＞０（ｘ≦ｊ０＜ｈ）となるレベルｉ０，ｊ０　が存在するとレベルｈ未満を１つの擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝で表すことができない。同様にｐ１（ｉ１）　＞０（ｈ≦ｉ１＜ｘ）かつｐ１（ｊ１）　＞０（ｘ≦ｊ１＜ｎ）となるレベルｉ１，ｊ１　が存在すると、レベルｈ以上を１つの擬似乱数列｛Ｘ１（ｔ）｝で表すことができない。
【００３３】
そこで生成方法２では２つの擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝，｛Ｘ１（ｔ）｝ではなく、図３（ｂ）に示すようにレベルｈ未満をｆ個の擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝，｛Ｘ１（ｔ）｝，…，｛Ｘｆ−１（ｔ）｝を用いて表し、レベルｈ以上をｕ−ｆ個の擬似乱数列｛Ｘｆ　（ｔ）　｝，｛Ｘｆ＋１（ｔ）｝，…，　｛Ｘｕ−１（ｔ）｝を用いて表すことで、この問題を解決している。図３（ｂ）に示すようにレベルｘ＝ｈ１　，　ｈ２，…，　ｈｆ　，　…，　ｈｕ−１　のｕ−１箇所でｃ（ｘ）　とｃＭ　’（ｘ）が等しくなると、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝はｘ＝ｈ１　，　ｈ２，…，　ｈｆ　，　…，　ｈｕ−１　を境界としたｕ個の擬似乱数列｛Ｘｋ　（ｔ）　｝（ｈｋ　≦Ｘｋ　（ｔ）　＜ｈｋ＋１　，ｋ＝０，１，２，…，ｕ−１）を用いて表される。例えば、擬似乱数Ｘ（ｔ）　がｈｋ　≦Ｘ（ｔ）　＜ｈｋ＋１　に存在するとき、擬似乱数Ｘ（ｔ）　＝Ｘｋ　（ｔ）　とする。この状態をＳｋ　とする。ただし、ｈ０　＝０，ｈｆ　＝ｈ，ｈｕ　＝ｎとする。
【００３４】
パルス間隔開始時ｔ２ｖにｗＳ　（ｘ，　ｒ）に従い擬似乱数Ｘ（ｔ２ｖ）　がレベルｘに遷移し、パルス間隔ＮＳ　（ｒ）　・Ｔの間レベルｘに留まったとすると、レベルｘにおける擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の確率密度ｐ’（ｘ）は（１３）式上段で表される。同様に、パルス継続時間開始時ｔ２ｖ＋１にｗＤ　（ｘ，　ｒ）に従い擬似乱数Ｘ（ｔ２ｖ＋１）　がレベルｘに遷移し、パルス継続時間ＮＤ　（ｒ）　・Ｔの間レベルｘに留まったとすると、レベルｘにおける擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の確率密度ｐ’（ｘ）は（１３）式下段で表される。
【００３５】
【数７】
2004088320.tif 000009
【００３６】
従って、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝がパルス間隔開始時又はパルス継続時間開始時に状態Ｓｋ　内のレベルに遷移し、パルス間隔又はパルス継続時間の間に状態Ｓｋ　に留まり続けた場合、状態Ｓｋ　における擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の確率密度Ｐ’（Ｓｋ　）　は（１４）式で表される。
【００３７】
一方、レベルｘ（０≦ｘ＜ｎ）における擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の確率密度がｐ（ｘ）　であった場合、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓｋ　に存在する確率Ｐ（Ｓｋ　）　は（１５）式で表される。発生方法２を用いて確率密度ｐ（ｘ）　に従う擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝を生成する場合Ｐ（Ｓｋ　）　＝Ｐ’　（Ｓｋ　）　となる必要があるが、（１３），（１４）式で示されるように擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓｋ　に留まり続けると、Ｐ（Ｓｋ　）　≠Ｐ’　（Ｓｋ　）　となることも考えられる。
【００３８】
従ってＰ（Ｓｋ　）　≠Ｐ’　（Ｓｋ　）　の時、ｗＳ　（ｘ，　ｒ）又はｗＤ　（ｘ，　ｒ）に従い状態Ｓｋ　内のあるレベルに遷移した擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝の状態Ｓｋ　における確率密度をＰ（Ｓｋ　）　と一致させるために、以下に示す条件に従って擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝のレベルを隣接状態Ｓｋ＋１（ｗＳ　（ｘ，　ｒ）に従い遷移した場合）又はＳｋ−１（ｗＤ　（ｘ，　ｒ）に従い遷移した場合）に遷移させて擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓｋ　に留まる時間、すなわち状態Ｓｋ　の継続時間を調整する。
【００３９】
【数８】
2004088320.tif 000010
【００４０】
パルス間隔中に擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓｋ−１　に存在する確率をＰ（Ｓｋ−１）と一致させるため、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝のレベルを状態Ｓｋ−１　から状態Ｓｋ　に遷移させると、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓｋ　に存在する確率が増加する。この確率Ｐ’’（Ｓｋ　）　は（１６）式中段で表される。ここで、（１６）式のα（ｋ−１）は状態Ｓｋ−１　の継続時間を制御するための値である。
【００４１】
α（ｋ−１）は（１７）式を用いてＰ（Ｓｋ−１）とＰ’’（Ｓｋ　）　から求められる。Ｐ’’（Ｓｋ−１　）がＰ（Ｓｋ−１）の１／｛１−α（ｋ−１）｝倍であった場合、状態Ｓｋ−１　の継続時間を｛１−α（ｋ−１）｝倍にすれば擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓｋ−１　に存在する確率をＰ（Ｓｋ　）と一致させることができる。例えば、図４に示すように、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓｋ−１　内のあるレベルに遷移した時点からｈを交差するまでの時間がＴ’　［ｓｅｃ］　であるとき、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓｋ−１　内のあるレベルに遷移した時点から｛１−α（ｋ−１）｝Ｔ’　［ｓｅｃ］　後に擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝を状態Ｓｋ　に遷移する。
【００４２】
同様に、状態Ｓｋ　における確率密度Ｐ’’（Ｓｋ　）をＰ（Ｓｋ　）と一致させるためには、（１７）式を満たすα（ｋ）　を求める。そのα（ｋ）　に従って状態Ｓｋ　の継続時間を調整し、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝のレベルをＳｋ＋１　に遷移させる。すべてのｋにおいてα（ｋ）　を計算し、このα（ｋ）　に従って状態Ｓｋ　の継続時間を調整すれば、状態Ｓｋ　の確率密度を（１５）式と一致させることができる。
【００４３】
パルス継続時間の場合、確率Ｐ’’（Ｓｋ　）は（１６）式の下段で表される。同様に、状態Ｓｋ　における確率密度Ｐ’’（Ｓｋ　）をＰ（Ｓｋ　）と一致させるためには、（１７）式を満たすα（ｋ）　を求める。そのα（ｋ）　に従って状態Ｓｋ　の継続時間を調整し、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝のレベルをＳｋ−１　に遷移させる。すべてのｋにおいてα（ｋ）　を計算し、このα（ｋ）　に従って状態Ｓｋ　の継続時間を調整すれば、状態Ｓｋ　の確率密度を（１５）式と一致させることが可能である。
【００４４】
【数９】
2004088320.tif 000011
【００４５】
（４パラメータに従う擬似乱数生成方法２）
上述のように擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓ０，…，　Ｓｕ−１　間を移動すると、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝が状態Ｓ０　，　…，　Ｓｕ−１　に存在する確率はＰ（Ｓｋ　）＝｛ａ（ｈｋ　）　−ａ（ｈｋ＋１）｝となる。従って、擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝のレベルｘにおける確率密度ｐ（ｘ）　は（１８）式で表される。また、ｗＳ　（ｘ，　ｒ），　ｗＤ　（ｘ，　ｒ）を用いてパルス間隔開始時とパルス継続時間開始時のレベルを決定すると、交差率ｃ（ｘ）　は（１９）式で表される。ここで、ｐ０（ｘ），　ｐ１（ｘ），　…，　ｐｕ−１（ｘ）及びｃ０（ｘ），　ｃ１（ｘ），　…，　ｃｕ−１（ｘ）は、状態Ｓｋ　内では擬似乱数Ｘ（ｔ）　＝Ｘｋ　（ｔ）　と決めたことから、擬似乱数列｛Ｘ０（ｔ）｝，｛Ｘ１（ｔ）｝，…，｛Ｘｕ−１（ｔ）｝の確率密度と交差率を表している。
【００４６】
【数１０】
2004088320.tif 000012
【００４７】
【数１１】
2004088320.tif 000013
【００４８】
（１８），（１９）式よりレベルｘ（０≦ｘ＜ｎ）における擬似乱数列｛Ｘｋ　（ｔ）　｝（０≦ｘ＜ｕ）の確率密度ｐｋ　（ｘ）　と交差率ｃｋ　（ｘ）　は（２０），（２１）式で表される。
【００４９】
【数１２】
2004088320.tif 000014
【００５０】
確率密度ｐｋ　（ｘ）　と交差率ｃｋ　（ｘ）　に従う擬似乱数列｛Ｘｋ　（ｔ）　｝の生成は先に提案したＡＰＤ／ＣＲＤ指定法（特願２００１−３７０３０６参照）を用いれば可能である。従って、電磁妨害波の確率密度をｐ（ｘ）　、交差率ｃ（ｘ）　、パルス間隔分布ｓ（ｒ）　、パルス継続時間分布をｄ（ｒ）　とし、これらが観測可能であれば、（２０），（２１）式を満足する擬似乱数列｛Ｘｋ　（ｔ）　｝を（００２２），（００３０）で述べた条件に従って選択することで、電磁妨害波と同じｐ（ｘ）　，ｃ（ｘ）　，ｓ（ｒ）　，ｄ（ｒ）　を持つ擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝を生成することが可能である。また、擬似乱数発生方法１は擬似乱数発生方法２においてｕ＝２とした場合と等しくなる。
【００５１】
【発明の実施の形態】
図５に発生方法１を用いて指定振幅確率分布ｐ（ｘ）　、交差率分布ｃ（ｘ）　、パルス間隔分布ｓ（ｒ）　、パルス継続時間分布ｄ（ｒ）　に従う擬似雑音を生成する装置の基本構成を示す。最初に、ｐ（ｘ）　，ｃ（ｘ）　，ｓ（ｒ）　，ｄ（ｒ）　から発生方法１を用いてｐ０（ｘ），ｃ０（ｘ），ｐ１（ｘ），ｃ１（ｘ）を計算する。次に、図５に示す装置を用いて擬似雑音を生成する。
【００５２】
基本構成では３つの擬似乱数発生器Ａ０，Ａ１，Ｃを用いる。Ａ０，Ａ１は指定振幅確率分布、交差率に従う擬似乱数の発生器でｐ０（ｘ），ｃ０（ｘ）に従う擬似乱数Ｘ０　とｐ１（ｘ），ｃ１（ｘ）に従う擬似乱数Ｘ１　を生成する。Ｃは指定パルス継続時間分布、パルス間隔分布に従う擬似乱数発生器でｓ（ｒ）　に従うパルス間隔とｄ（ｒ）　に従うパルス継続時間を交互に生成し、パルス継続時間中にはＸ１　を選択する信号を、パルス間隔中にはＸ０　を選択する信号をスイッチ部Ｓに送る。スイッチ部Ｓは発生器Ｃからの選択信号に応じてＸ０　又はＸ１　を選択し、この擬似乱数をＸ（ｔ）　としてＤ／Ａ変換部に送られる。Ｄ／Ａ変換部において擬似乱数Ｘ（ｔ）　を標本化周期ごとにＤ／Ａ変換し、擬似雑音として出力する。
【００５３】
図６に発生方法２を用いた擬似雑音発生装置の基本構成を示す。最初に、ｐ（ｘ）　，　ｃ（ｘ）　，　ｓ（ｒ）　，ｄ（ｒ）　から発生方法２を用いてｗＳ　（ｘ，　ｒ），ｗＤ　（ｘ，　ｒ），α（ｋ）　，ｐｋ　（ｘ）　，　ｃｋ　（ｘ）　を計算する。次に、図６に示す装置を用いて擬似雑音を生成する。
基本構成ではｕ＋２個の擬似乱数発生器を用いる。発生器Ａ０，Ａ１，…，Ａｕ−１は、ｐｋ　（ｘ）　，　ｃｋ　（ｘ）　に従う擬似乱数Ｘｋ　を生成する。発生器Ｂは条件付き確率ｗＳ　（ｘ，　ｒ），　ｗＤ　（ｘ，　ｒ）に従う擬似乱数Ｘ’　を生成する。発生器Ｃは指定パルス継続時間分布ｄ（ｒ）　又はパルス間隔分布ｓ（ｒ）　に従う擬似乱数Ｒを交互に生成する。制御部Ｄはα（ｋ）　と発生器Ｃからの信号を用いて選択すべき擬似乱数Ｘ’　，　Ｘ０　，　…，　Ｘｕ−１　を決定し、スイッチ部Ｓを制御する。
本装置ではパルス継続時間開始時又はパルス間隔開始時に発生器Ｃからパルス継続時間分布又はパルス間隔分布に従った擬似乱数Ｒを発生させ、発生器Ｂ、制御部Ｄに送る。
【００５４】
発生器Ｂでは擬似乱数Ｒを受け取り、それがパルス間隔に対応するならば条件付き確率ｗｓ　（ｘ，　ｒ）、それがパルス継続時間に対応するならば条件付き確率ｗＤ　（ｘ，　ｒ）に従い擬似乱数Ｘ’　を生成し、発生器Ａ０，Ａ１，…，Ａｕ−１とスイッチ部に送る。
発生器Ａｋ　（ｋ＝０，１，…，ｕ−１）は、事前に適当な初期値を設定し、ｐｋ　（ｘ）　，　ｃｋ　（ｘ）　に従う擬似乱数Ｘｋ　を生成し続けているが、発生器Ｃからの擬似乱数Ｘ’　がその発生器Ａｋ　の受け持つレベル内ｈｋ　≦Ｘ’　＜ｈｋ＋１　にある場合、発生器Ａｋ　はＸ’　を初期値として設定し、ｐｋ　（ｘ）　，　ｃｋ　（ｘ）　に従う擬似乱数Ｘｋ　を生成する。発生器Ａｋ　により生成された擬似乱数Ｘｋ　は、スイッチ部Ｓに送られる。
【００５５】
制御部Ｄはパルス間隔時間ｔ２ｖの開始時とパルス継続時間ｔ２ｖ＋１の開始時にはＸ’　を出力するようにスイッチ部Ｓを制御する。パルス間隔時間内とパルス継続時間内では、発生器Ｃから入力された擬似乱数Ｒと制御部Ｄの内部に格納された状態Ｓｋ　の継続時間を決定する定数α（ｋ）　から選択すべき発生器Ａｋ　の番号ｋ＝０，…，ｕ−１を決定し、スイッチ部Ｓに選択信号を出力する。
スイッチ部Ｓにより選択された擬似乱数Ｘｋ　又はＸ’　が４パラメータに従う擬似乱数列｛Ｘ（ｔ）　｝として出力される。Ｄ／Ａ変換部において擬似乱数Ｘ（ｔ）　を標本化周期ごとにＤ／Ａ変換し、擬似雑音として出力する。
【００５６】
本方法を用いてシミュレーションを行った結果を示す。図７，図８は擬似雑音の交差率分布と確率密度関数のシミュレーション結果である。図７が指定交差率、図８が指定確率密度を表している。図７，図８より、指定交差率と擬似雑音の交差率、指定確率密度と擬似雑音の確率密度がよく一致していることが分かる。
【００５７】
図９，図１０は擬似雑音のパルス継続時間分布とパルス間隔分布のシミュレーション結果である。図９が指定パルス継続時間分布、図１０が指定パルス間隔分布を表している。図９，図１０より、指定パルス継続時間分布と擬似雑音のパルス継続時間分布、指定パルス間隔分布と擬似雑音のパルス間隔分布がよく一致していることが分かる。
【００５８】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、本発明により、４パラメータに従う擬似乱数が生成可能であることが分かる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に用いる４パラメータに従う擬似乱数生成方法１の原理を説明するための時系列図である。
【図２】擬似乱数生成方法の変更点その１を説明するための時系列図（ａ）（ｂ）である。
【図３】擬似乱数生成方法の変更点その２を説明するための時系列図（ａ）（ｂ）である。
【図４】本発明に用いる擬似乱数列の遷移を説明するためのタイムチャートである。
【図５】本発明の基本原理による擬似乱数発生装置の基本構成を示すブロック図である。
【図６】本発明による擬似乱数発生装置の基本構成を示すブロック図である。
【図７】本発明による擬似雑音の交差分布のシミュレーション結果を示す特性図である。
【図８】本発明による擬似雑音の確率密度のシミュレーション結果を示す特性図である。
【図９】本発明による擬似雑音のパルス継続時間分布のシミュレーション結果を示す特性図である。
【図１０】本発明による擬似雑音のパルス間隔分布のシミュレーション結果を示す特性図である。
【符号の説明】
Ａ０　ｐ０（ｘ），ｃ０（ｘ）に従う擬似乱数発生器
Ａ１　ｐ１（ｘ），ｃ１（ｘ）に従う擬似乱数発生器
Ａｕ−１　　ｐｕ−１（ｘ），ｃｕ−１（ｘ）に従う擬似乱数発生器
Ｂ　条件付き確率ｗＳ　（ｘ，　ｒ），ｗＤ　（ｘ，　ｒ）に従う擬似乱数発生器
Ｃ　ｄ（ｒ）　，ｓ（ｒ）　に従う擬似乱数発生器
Ｄ　制御部
Ｓ　スイッチ部
ＣＯＮ　Ｄ／Ａ　変換部
Ｘ０　，Ｘ１　，Ｘｕ−　１，Ｘ’　，Ｒ　擬似乱数
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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