(57)【要約】【課題】複数の光トランシーバを１個ずつテストすることによる時間の浪費および作業効率の低下を解消すること。【解決手段】多数のテストマシンを光トランシーバのテスト環境に集積し、ユーザが光トランシーバ用テストシステムを使用して多数の製品の迅速且つ同時測定を可能にして生産効率を改善する。更に、光チャネルセレクタとデジタル通信アナライザおよび光スペクトラムアナライザを組み合わせ、テストされる複数の製品を切り替えてパラメトリック検査し、またツリーカプラを組み合わせ、標準サンプルの測定信号をテストされる製品に同期的にマルチポート送信し、更にビットエラーレートを測定する。よって、ユーザへの製品解析レポートはリアルタイムであり、業界での競争力を維持する。【選択図】図４
2004061514.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
　複数の光トランシーバをテストする光トランシーバ用テストシステムにおいて、
　パルスパターン発生器（ＰＰＧ）およびマルチポートからの光トランシーバの受信信号のビットエラー率を検出可能なエラー検出器を有するデジタルデータアナライザ、
　前記ＰＰＧが出力するデジタル信号を送信し、光信号として変換する標準光トランシーバ、
　前記標準光トランシーバにより送信された光信号を減衰する光減衰器、
　減衰された光信号を複数の光トランシーバへ送るツリーカプラ、および
　複数の光トランシーバを１台ずつ切り替えてデジタル信号から変換された光信号を受けて、前記光信号のパワーおよび波形を測定する光チャネルセレクタを備えることを特徴とする光トランシーバ用テストシステム。
【請求項２】
　前記光トランシーバは、レシーバおよびトランスミッタよりなることを特徴とする請求項１に記載の光トランシーバ用テストシステム。
【請求項３】
　前記デジタルデータアナライザは、マルチプレックスチャネルデータバスを有し、デジタル信号をテストされる複数の光トランシーバのトランスミッタへ送ることができ、テストされる複数の光トランシーバの受信信号のビットエラー率をマルチポートで測定することを特徴とする請求項１に記載の光トランシーバ用テストシステム。
【請求項４】
　前記光チャネルセレクタは、テストされる複数の光トランシーバにより送信される光信号を１つずつデジタル通信アナライザおよび光スペクトラムアナライザに切り替え、テストされる各光トランシーバのパラメータテストを見つけ出すことを特徴とする請求項１に記載の光トランシーバ用テストシステム。
【請求項５】
　前記デジタル通信アナライザおよび光スペクトラムアナライザは、前記光チャネルセレクタの信号出力において測定することを特徴とする請求項４に記載の光トランシーバ用テストシステム。
【請求項６】
　前記ツリーカプラは、前記光減衰器の出力信号に接続された入力およびテストされる複数の光トランシーバのレシーバに接続された出力を有することを特徴とする請求項２に記載の光トランシーバ用テストシステム。
【請求項７】
　テストされる各光トランシーバに対し更に波長分割マルチプレクサおよび２×２光スイッチを備え、トランスミッタおよびレシーバに１つの共通光端子を有する双方向性トランシーバであることを特徴とする請求項１に記載の光トランシーバ用テストシステム。
【請求項８】
　各々レシーバおよびトランスミッタを有するテストされる複数の光トランシーバをテストするテストシステムにおいて、
　前記複数の光トランシーバのレシーバに標準光信号を送るツリーカプラ、
　前記テストされる複数の光トランシーバを順次切り替えデジタル信号から変換された光信号を受信して該光信号のパワーおよび波形を測定する光チャネルセレクタ、および
　パルスパターン発生器およびエラー検出器を有するデジタルデータアナライザを備え、
　前記標準光信号は、前記パルスパターン発生器から出力されるデジタル信号よりなり、前記エラー検出器は、前記複数の光トランシーバの受信信号のビットエラーレートを測定することを特徴とするテストシステム。
【請求項９】
　テストされる各光トランシーバは、波長分割マルチプレクサおよび２×２光スイッチを更に備え、トランスミッタおよびレシーバ用に１つの共通光端子を有する双方向性トランシーバであることを特徴とする請求項８に記載のテストシステム。
【請求項１０】
　前記デジタルデータアナライザは、マルチプレックスチャネルデータバスを有し、デジタルデータを前記テストされる複数の光トランシーバのトランスミッタへデジタル信号を送り、前記テストされる複数の光トランシーバの受信信号のビットエラーレートをマルチプルポートで測定することを特徴とする請求項８に記載のテストシステム。
【請求項１１】
　前記光チャネルセレクタは、前記テストされる複数の光トランシーバにより送信される光信号を順次デジタル通信アナライザおよび光スペクトラムアナライザに切り替え、テストされる各光トランシーバのパラメータテストを見つけ出すことを特徴とする請求項８に記載のテストシステム。
【請求項１２】
　１チャネルを有する前記デジタルデータアナライザが適用され、２個のＲＦスイッチが前記パルスパターン発生器および前記エラー検出器のインタフェースに設けられ、テストされる複数の光トランシーバを切り替えることを特徴とする請求項８に記載のテストシステム。
【請求項１３】
　１つのチャネルを有するデジタルデータアナライザが適用され、ＲＦ増幅器およびＲＦスプリッタが前記パルスパターン発生器のインタフェースに設けられてテストされる光トランシーバにデジタル信号をドライブし、ＲＦスイッチが前記エラー検出器のインタフェースに設けられることを特徴とする請求項８に記載のテストシステム。
【請求項１４】
　テストされる複数の光トランシーバをテストするテスト方法において、
　光チャネルセレクタを使用して前記複数の光トランシーバにより変換された光信号を順次切り替えて光信号のパワーおよび波形を測定するステップと、および
　ツリーカプラを使用して標準光信号を前記複数の光レシーバのレシーバへ送り且つエラー検出器を使用して前記複数の光トランシーバの受信信号のビットエラーレートをマルチプルポートで測定するステップを少なくとも有することを特徴とする複数の光トランシーバ用テスト方法。
【請求項１５】
　前記光チャネルセレクタを使用するステップは、前記光チャネルセレクタが光信号をデジタル通信アナライザおよび光スペクトラムアナライザに順次切り替えてテストされる核光トランシーバのパラメータテストを見つけ出すことよりなることを特徴とする請求項１４に記載の複数の光トランシーバ用テスト方法。
【請求項１６】
　前記ツリーカプラを使用するステップは、パルスパターン発生器から出力されるデジタル信号を標準光トランシーバを介して標準光信号に変換されることよりなることを特徴とする請求項１４に記載の複数の光トランシーバ用テスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は光トランシーバ用テストシステムおよび方法に関し、特に多数のテスト機器を集積又は統合することにより、ユーザがこれを使用して多数の光トランシーバを高速且つ同時にテストし、テスト効率を改善する光トランシーバのテストシステムおよび方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
　光伝送装置の最適な性能評価方法は、トランスミッタ（送信機）からレシーバ（受信機）にビットを送信する際に生じるエラー発生確率、所謂ビットエラーレート（ＢＥＲ）を計算することである。
【０００３】
　通常のＢＥＲテストシステムは、パルスパターン発生器（ＰＰＧ）およびエラー検出器（ＥＤ）により構成される。図１を参照して、従来の光トランシーバのテストシステム構成を説明する。この従来の光トランシーバ用テストシステムは、デジタルデータアナライザ（以下、ＤＤＡという）１を備え、このＤＤＡ１はデータ入力およびデータ出力を有し、パルスパターン発生器（以下、ＰＰＧという）２およびエラー検出器（以下、ＥＤという）３が組み込まれて一体化されている。
【０００４】
　ユーザが実際のテストを実行するには、ユーザは、先ずゴールデンサンプル４として光トランシーバを使用する。このゴールデンサンプル４は、テストされる同じタイプの他の光トランシーバ５の標準光源として使用される。一般に、光トランシーバ５は、トランスミッタ（Ｔｘ）およびレシーバ（Ｒｘ）の２つの部分を有する。
【０００５】
　次に、図２は、従来の光トランシーバ用テスト方法のフローチャートを示し、図１を参照する。一般的な光トランシーバ用テスト方法において、光トランシーバの完全なテストは、レシーバ（Ｒｘ）テストおよびトランスミッタ（Ｔｘ）テストの両方を含まなければならない。トランスミッタテストは、光スペクトラムアナライザ測定手順１０８およびデジタル通信アナライザテスト手順１０９にて行わなければならず、これは先ずＰＰＧ２からデジタル信号を被試験デバイス（ＤＵＴ）である光トランシーバ５のトランスミッタ（Ｔｘ）へ出力する。
【０００６】
　次に、トランスミッタからの信号をデジタル通信アナライザ（以下、ＤＣＡという）７および光スペクトラムアナライザ（以下、ＯＳＡという）１４へ送信する。ここで、ＤＣＡ７は、平均パワー、エクスティンクションレシオ（消滅率）、ジッタ、立ち上がり時間、立ち下がり時間、アイマスクテストおおびアイ幅等を含むパラメータのテストに使用される。そして、ＯＳＡ１４は、光信号の中心波長およびスペクトラム幅のテストに使用される。
【０００７】
　光トランシーバのレシーバ（Ｒｘ）テストは、入力光パワーの調節手順１０１を含んでいる。これは、ＰＰＧ２からのデジタル信号をゴールデンサンプル４のトランスミッタ（Ｔｘ）へ出力し、トランスミッタからの信号を光減衰器（以下、ＡＴＴという）６へ伝送する。ＡＴＴ６は、ユーザ要求により調節され、光信号パワーの期待減衰を得る。光パワーユニット（以下、ＯＰＵという）８を使用して、ＤＵＴである光トランシーバ５の入力光パワーの測定に使用される。減衰された光信号は、光トランシーバ５のレシーバ（Ｒｘ）およびＥＤ３へ伝送され、自動テストポイントサーチ手順１０２を実行する。これは、ＤＵＴである光トランシーバ５の最適テストポイントを見つけ出すために使用される。
【０００８】
　最適テストポイントを見つけた後、ＢＥＲ測定手順１０３において、ＥＤ３による信号のＢＥＲ測定を行い、トランスミッタからレシーバへビットを送信する際に生じるエラー発生確率を計算する。手順１０４は、ＤＵＴである光トランシーバ５の測定したＢＥＲがあらゆる条件で完了したか否かを判断する。もし完了していなければ、上述した手順１０１へ戻り、次のテストポイントの入力光パワーの調節を行う。もし完了していれば、手順１０５を使用してＤＵＴである光トランシーバ５の感度を計算する。
【０００９】
　図３は、光トランシーバ用感度テストの原理説明図を示す。全てのパラメータ測定が完了すると、結果計算手順１０５が実行される。これは、レシーバの入力パワーおよびＢＥＲに基づいて光トランシーバの感度１３を計算して性能を評価する。図３に示す如く、ＥＤ３の受信パワーが減少すると、ＢＥＲは増加する。従来の光トランシーバ用テストシステムおよび方法は、同時に１台のみの測定が可能であるので、テストされる製品の数量が増加すると、製造時のテスト時間も増加し、生産効率は低下する。そして、テストに余りにも長い時間を浪費すると、経済的なコストおよび時間効率が得られない。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
　本発明は、従来技術の上述した課題に鑑みなされたものであり、多数のテスト機器を集積することにより、ユーザが多数の光トランシーバを同時にテストしてテスト効率を改善する光トランシーバ用テストシステムおよび方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
　本発明の光トランシーバ用テストシステムおよび方法は、多数のテスト機器を集積又は統合し、ユーザが光トランシーバ用テストシステムを使用して迅速且つ同時に多数の製品を測定し、生産効率を改善する。
【００１２】
　即ち、光チャネルセレクタ（ＯＣＳ）をデジタル通信アナライザおよび光スペクトラムアナライザと組み合わせ、テストされる多数の製品を切り替えて完全自動テスト可能にする。また、ツリーカプラ（ＴＣ）により、ゴールデンサンプルの測定信号をテストされる多数の製品へマルチ送信方法で同期送信し、更にビットエラーレート（ＢＥＲ）を測定する。よって、製品解析レポートは、業界における競争力を効果的に改善する。
【発明の効果】
【００１３】
　以上の説明から明らかな如く、本発明による光トランシーバ用テストシステムおよび方法は、次の如き種々の実用上の顕著な効果を有する。先ず、光トランシーバのテスト環境に複数のテスト機器を集積するので、本発明は、光トランシーバ用テストシステムおよび方法を提供し、ユーザが光トランシーバ用のテストシステムを使用して多数の光トランシーバを迅速且つ同時に測定可能であり、これにより生産性を改善する。また、本発明は、光チャネルセレクタ（ＯＣＳ）、ＤＣＡおよびＯＳＡを組み合せて、テストされる複数の製品を切り替えて全体的な自動検出を行い、従来技術の１台毎の検出時間の累積時間を低減することが可能である。
【００１４】
　本発明による光トランシーバ用テストシステムおよび方法の他の効果は、ツリーカプラ（ＴＣ）を組み込むことにより、標準サンプルの測定信号をマルチポート伝送方法でテストされる製品のレシーバへ同時に送信してＢＥＲ測定を行い、テストされる製品の診断レポートを得るために従来浪費した時間を節約することが可能である。従って、ユーザが得る製品解析レポートは、リアルタイム（実時間）であり、業界における競争力を改善することが可能である。
【実施例１】
【００１５】
　以下、本発明による光トランシーバ用テストシステムおよび方法の好適実施形態の構成および動作を、添付図面を参照して詳細に説明する。尚、これらの実施形態は、本発明の単なる例示に過ぎず、何ら本発明を限定するものではないことに留意されたい。また、本発明の要旨を逸脱することなく、特定用途に応じて種々の変形変更が可能であること、当業者には容易に理解できよう。
【００１６】
　先ず、図４は、本発明による光トランシーバ用テストシステムの好適実施形態の構成を示すブロック図である。この実施形態は、１５台の製品（又は光トランシーバ）をテストするために使用される。各製品は、デュープレックス型トランシーバであり、トランスミッタ（Ｔｘ）およびレシーバ（Ｒｘ）用にそれぞれ２つの光端子を有する。図４に示す如く、本発明による光トランシーバ用高速テストシステムは、複数台の光トランシーバのテスト環境に適用されるものであって、ユーザに複数の製品のテスト結果を同時に提供することが可能である。
【００１７】
　送信テスト手順では、光チャネルセレクタ１１を組み込むことにより、このシステムは、ＤＵＴである複数台の製品の測定が可能である。他方、受信テスト手順では、ツリーカプラ１０を使用することにより、ＤＵＴである多数の製品からの信号のＢＥＲを、マルチプレックス（多重化）チャネルデータバス９を介して同時に測定することが可能である。
【００１８】
　本発明の好適実施形態によると、１個のテストプラットフォーム上でテストされる光トランシーバ５の高速テストシステムは、マルチプレックスチャネルを有するＤＤＡ１、マルチプレックスチャネルデータバス９、光減衰器（ＡＴＴ）６、光パワーユニット８およびツリーカプラ１０を備えている。ここで、ＤＤＡ１は、標準光トランシーバ４のトランスミッタにデジタル信号を出力する。トランスミッタは、ＰＰＧ２が出力した信号を受信し、テストされる複数の光トランシーバ５（例えば、＃１〜＃１５の１５台のＤＵＴ）の受信サンプルとして送信する。マルチプレックスチャネルデータバス９は、ＤＤＡ１、標準光トランシーバ４および複数の光トランシーバ５間の信号伝送媒体である。ＡＴＴ６は、標準光トランシーバサンプル４のトランスミッタを接続し、このトランスミッタにより送信される光信号の出力パワーを期待値に減衰させる。
【００１９】
　光パワーユニット８は、ＡＴＴ６の出力側に接続され、光信号の出力パワーを測定するよう構成されている。ツリーカプラ１０は、１対多数ポートの光スプリット（分割）伝送機能を有する。信号の入出力は、ＡＴＴ６の信号出力に接続され、テストされる各光トランシーバ５のレシーバは、それぞれＡＴＴ６で減衰された光信号をテストされる各光トランシーバ５のレシーバに同時に送信する。そして、ＤＤＡ１のＥＤ３は、マルチプレックスチャネルデータバス９を介してテストされる光トランシーバ５を検出し、信号のＢＥＲを同時に測定し、各トランスミッタがレシーバにビットを送信する際に起こり得るエラー確率を計算する。また、テストされる複数の光トランシーバ５の性能テストおよび評価を行うことも可能である。
【００２０】
　更に、本発明による光トランシーバ用高速テストシステムは、光チャネルセレクタ（ＯＣＳ）１１およびデジタル電気メータ（ＤＥＭ）１５を備えている。このＯＣＳ１１は、複数対１選択機能を有し、その入力はそれぞれテストされる光トランシーバ５のトランスミッタに接続される。そして、テストされる各光トランシーバ５からの出力光信号をデジタル通信アナライザ（ＤＣＡ）７および／又は光スペクトラムアナライザ（ＯＳＡ）１４に接続し、テストされる光トランシーバ５のトランスミッタの各種パラメータを測定する。ＤＥＭ１５は、テストされる光トランシーバ５のレシーバの検出信号（ＳＤ）の最低電圧および最高電圧を検出する。
【００２１】
　次に、図５Ａは、本発明による光トランシーバ用テスト方法の第１実施形態のテストフローチャートを示す。図４および図５Ａを参照して本発明の光トランシーバ用テスト方法を説明する。このテスト方法は、受信テスト手順および送信テスト手順により構成される。
【００２２】
　送信テスト手順は、次の手順を含んでいる。
手順１０７：テスト対象のスイッチング
　テストされる複数の製品の測定時には、ＰＰＧ２が最初にデジタル信号をデータバス９からテストされる複数の光トランシーバ５へ送信する。そして、ＯＣＳ１１を組み込んでテストされる各光トランシーバ５からの光出力信号をＤＣＡ７および／又はＯＳＡ１４へ順次スイッチングする。そして、後述する手順１０８を実行して、ＯＳＡ１４による測定および手順１０９を実行して、ＤＣＡ７による測定を行い、テストされる光トランシーバ５のトランスミッタの各種パラメータを測定する。
【００２３】
手順１０８：ＯＳＡ１４による測定手順
　この手順１０８は、ＯＳＡ１４を使用し、ＰＰＧ２からデータバス９を介してテストされる複数の光トランシーバ５のトランスミッタへ送信される光信号の中心波長および帯域幅を測定する。
【００２４】
手順１０９：ＤＣＡ７によるテスト手順
　この手順１０９は、ＤＣＡ７を使用してテストされる複数の光トランシーバ５のトランスミッタのパラメータを測定する。これらのパラメータは、平均パワー、消滅率、ジッタ、立ち上がり時間、立ち下がり時間、アイマスクテスト、アイ幅等を含んでいる。
【００２５】
手順１０６：テスト完了判断
　この手順１０６は、テストされる複数の製品の全てについて、ＯＣＳ１１により順次スイッチングして手順１０８および手順１０９における光信号のパワーおよび波長のパラメータテストが完了したかを検証するために使用される。もし完了していれば、送信テスト手順は終了する。もし未完了であれば、手順１０７へ戻り、ＯＣＳ１１を使用して順次テストされる次の製品へ切り換えてテストされる全ての製品の測定が完了するまで、手順１０７から再開する。
【００２６】
　本発明による光トランシーバ用高速テストシステムを実行する方法の受信テスト（Ｒｘ）手順は、次の手順１０１〜手順１０５により構成される。
【００２７】
手順１０１：入力光パワーの調節
　最初に、ＰＰＧ２は、標準光トランシーバサンプル４のトランスミッタへデジタル信号を出力する。そして、この信号をトランスミッタを介してＡＴＴ６へ伝送する。ＡＴＴ６は、光信号パワーをユーザの要求する期待値に毎回調節し、入力光パワーを光パワーユニット８により、光トランシーバ５の入力光パワーが大きい値から小さい値まで測定可能にする。そして、このＡＴＴ６により減衰された光信号をツリーカプラ１０へ導き、光信号をツリーカプラ１０のマルチポート送信機能によりテストされる各光トランシーバ５のレシーバへ送信し、その後に手順１０２が実行される。
【００２８】
手順１０２：自動テストポイントのサーチ
　この手順１０２は、光信号がツリーカプラ１０のマルチポート機能により複数のテストされる光トランシーバ５のレシーバに送信されるとき、ＥＤ３は、テストされる各製品を自動的にサーチ（探索）し、最適テストポイントを見つけ出す。
【００２９】
手順１０３：ＢＥＲの測定
　手順１０２を終えると、テストされる全ての光トランシーバ５の最適テストポイントが完了する。従って、ＥＤ３は、マルチチャネルデータバス９を介して一度に全てのテストデータを読むことが可能である。これは、カプラ１０による光スプリット動作を含み、受信信号のＢＥＲの測定およびテストされる各製品のレシーバから送られる送信ビットのエラー確率の計算を行う。
【００３０】
手順１０６：テスト完了判断
　この手順１０６は、テストされる光トランシーバ５で測定されたＢＥＲが手順１０２および手順１０３において十分なテストポイントで行われたか否かを判断する。もし不十分であれば、手順１０１へ戻り、次のテストポイントの入力光パワーの調節を行う。もし十分であれば、以下に説明する手順１０５へ移行する。
【００３１】
手順１０５：結果の計算
　この手順１０５は、手順１０６のテストされる光トランシーバ５のＢＥＲの測定の完了判断結果に基づき、図３に示す如く、標準光トランシーバ４およびテストされる光トランシーバ５により測定されたＢＥＲおよび入力パワーによる対応する測定パラメータポイントを得て、テストされる各光トランシーバ５の感度を計算する。
【００３２】
　次に、図４および図５Ａと共に図５Ｂを参照して説明する。図５Ｂは、本発明による光トランシーバ５の高速テスト方法の第２実施形態のフローチャートを示す。この実施形態の送信テスト手順は、手順２０７、２０８、２０９および２０６を含んでいる。これらの手順は、図５Ａに示す第１実施形態の手順１０７、１０８、１０９および１０６と同様である。そして、第２実施形態の受信テスト手順は、テストされる各光トランシーバ５のレシーバ用のＳＤ信号のパラメータ測定およびＤＥＭ測定手順を更に含んでいる。本発明によるこの第２実施形態の受信テスト手順は、次の手順２０１、２１０、２０６、２１１、２１２、２０２、２０３、２０６および２０５を含んでいる。
【００３３】
手順２０１：入力光パワーの調節
　先ず、ＰＰＧ２がデジタル信号を標準光トランシーバ４のトランスミッタへ出力し、この信号をトランスミッタからＡＴＴ６へ伝送する。ＡＴＴ６は、毎回ユーザの要求により光信号パワーに期待減衰が与えられるように調節し、光トランシーバ５の入力光パワーに対し、光パワーユニット８により小から大まで入力光パワーが測定可能にする。そして、ＡＴＴ６により減衰された光信号を、ツリーカプラ１０へ導き、このツリーカプラ１０のマルチポート伝送機能により光信号をテストされる各光トランシーバ５へ伝送する。その後、手順２１０へ移行する。
【００３４】
手順２１０：ＤＥＭ１５による測定
　この手順２１０は、テストされる各光トランシーバ５の受信端の出力に接続されたＤＥＭ１５を使用して、ＳＤ信号のＳＤ電圧パラメータを測定する。図６は、光トランシーバ５のＳＤ信号測定の説明図である。テストされる各光トランシーバ５のＳＤ信号の光パワーおよび電圧値ＳＤは、光パワーユニット８およびＤＥＭ１５により測定可能である。
【００３５】
手順２０６：テスト完了判断
　この手順２０６では、テストされる各光トランシーバ５のＳＤ信号がＨ値からＬ値へ変換されたか決定する。もし変換されていれば、ＤＥＭ１５の電圧をＳＤＬ電圧として記録する。もし変換されていなければ、手順２０１へ戻り、テストされる各光トランシーバ５のＳＤ信号がＨ値からＬ値へ変換されるまで、入力光パワーを連続的に調節し、それぞれＳＤＬ電圧およびＳＤＤ（デザーテッド信号検出を示す）光パワー値を記録する。
【００３６】
手順２１１：入力光パワーの調節
　この手順２１１では、ＰＰＧ２が、デジタル信号を標準光トランシーバサンプル４のトランスミッタにデジタル信号を出力し、更にこの信号をトランスミッタを介してＡＴＴ６へ伝送する。ＡＴＴ６は、毎回ユーザの要求により光信号パワーが期待減衰となるよう調節し、光トランシーバ５の入力光パワーを光パワーユニット８により小から大へ測定される。そして、ＡＴＴ６で減衰された光パワー信号をツリーカプラ１０へ導き、このツリーカプラ１０のマルチポート伝送機能により、光信号をテストされる各光トランシーバ５のレシーバ（Ｒｘ）に伝送する。その後、後述する手順２１２へ移行する。
【００３７】
手順２１２：ＤＥＭ１５による測定
　この手順２１２では、ＤＥＭ１５を使用して、ＳＤ信号の電圧変化を測定し、ＳＤＨ電圧パラメータを測定する。更に、光パワーユニット８を使用して、ＳＤＡ（アサーテッド信号検出を示す）光パワー値を測定する。図６中には、光トランシーバ５のＳＤ信号測定を示す。
【００３８】
手順２０２：自動テストポイントのサーチ
　この手順２０２は、光信号がツリーカプラ１０のマルチポート伝送機能によりテストされる複数の光トランシーバ５のレシーバへ伝送されるとき、ＥＤ３がテストされる各製品を自動的にサーチして、最適テストポイントを見つけ出す手順である。
【００３９】
手順２０３：ＢＥＲの測定
　上述した手順２０２の完了後に、テストされる各光トランシーバ５の最適テストポイントは全て完了する。従って、ＥＤ３は、マルチチャネルデータバス９を介して全てのテストデータを一度に読み取る。これは、カプラ１０による光スプリット動作を含み、受信信号のＢＥＲ測定およびテストされる各製品のレシーバからの送信ビットのエラー確率を計算する。
【００４０】
手順２０６：テスト完了判断
　この手順２０６は、手順２１２におけるテストされる光トランシーバ５のＢＥＲ測定が完了したか否かおよび手順２０２および２０３におけるテストされる各光トランシーバ５のＢＥＲ測定が全ての測定条件で完了したか否かを決定する。もし完了していなければ、手順２０１へ戻り、入力光パワーを連続的に調節する。もし完了していれば、後述する手順２０５へ進む。そして、手順２０２および２０３がテストされる各光トランシーバ５の必要とするテストポイントパラメータを測定済みのとき、次のループが手順２０２および２０３を実行することなく、テストされる各光トランシーバ５のＳＤＨ電圧パラメータを測定する。
【００４１】
手順２０５：結果の計算
　手順２１１、２１２、２０２および２０３のループが、テストされる光トランシーバ５のＢＥＲ測定を完了すると、対応する測定パラメータポイントは、標準光トランシーバ４およびテストされる光トランシーバ５により測定されたＢＥＲおよび入力パワーにより得られる。そして、テストされる光トランシーバ５の感度を計算する。図６に示す如く、ＳＤ信号のパラメータ測定および感度測定は、同時に完了できる。
【００４２】
　本発明の好適実施形態による光トランシーバのテストシステムおよび方法は、多数のテスト機器の制御実行にソフトウエアを使用し、１例ではテストされる８個の製品を同時に測定する。本発明のテストシステムによると、全ての製品の測定に２．５分を要し、１製品当りの平均測定時間は０．３分である。しかし、従来技術では１つの測定のみしか行えないので、８個の製品を１個ずつ反復してテストする必要があり、合計測定時間は１２分であり、１製品当りの平均測定時間は１．５分である。このように、本発明の光トランシーバ用テストシステムおよび方法にあっては、多数の製品を同時に測定可能であるので、測定時間を従来技術に比較して約７９％節約可能である。従って、総合的な生産性は、４．８倍になり、製品のテスト効率を改善し且つ生産性を増加することが可能である。
【００４３】
　次に、本発明のテストシステムおよび方法の他の実施形態について説明する。この実施形態は、トランスミッタおよびレシーバとして共通の単一光端子を有する双方向性トランシーバである新規な光製品用のテストシステムおよび方法である。斯かるトランシーバは、共通光端子を介してトランスミッタおよびレシーバの光信号に異なる波長を使用する。斯かる光製品をテストするために、図７に示す如く、波長分割マルチプレクサ（ＷＤＭ）１６および２×２光スイッチ１７が、テストされる光製品５の共通端子に付加される。
【００４４】
　この実施形態において、ＷＤＭ１６は、光信号を１３１０nmおよび１５５０nmの異なる波長の光信号に分割する。また、２×２光スイッチ１７は、ＷＤＭ１６が波長１３１０ｎｍの光信号を受信し、波長１５５９０nmの光信号を送信し、またＷＤＭ１６が波長１５５０ｎｍの光信号を受信し、波長１３１０nmの光信号を送信するようにスイッチング信号を選択する。従って、斯かる双方向性トランシーバである新規な製品は、テストされる各製品が波長分割マルチプレクサ１６および２×２光スイッチ１７を使用し、本発明のテストシステムによりテスト可能である。
【００４５】
　本発明の更に他の実施形態として、１チャネルを有するＤＤＡを本発明によるテストシステムに実施可能である。図８Ａに示す如く、２個のＲＦスイッチ１８、１９がＤＤＡのインタフェースに付加される。ＲＦスイッチ１８は、ＰＰＧ２が出力するデジタル信号を、マルチプレックスチャネルデータバス９を介してテストされる複数の光トランシーバ５に順次スイッチする。また、ＲＦスイッチ１８は、図８Ｂに示す如く、ＲＦ増幅器２０および１×４ＲＦスプリッタ２１に置換される。ＲＦスイッチ１８は、マルチプレックスチャネルデータバス９を介して、複数の光トランシーバ５の受信信号をＥＤ３へ順次切り替える。ＰＰＧ２により出力されたデジタルデータのインバースが、標準光トランシーバ４に送信される。
【００４６】
　図９は、本発明による光トランシーバ用テスト方法のこの実施形態のテストフローチャートを示す。上述した図５Ａのフローチャートと対比すると、１チャネルのＤＤＡを使用するので、レシーバ（Ｒｘ）テスト手順は、テストされる製品を順次切り替えるステップを含み、入力光パワーの調節、テストポイントのサーチおよびＢＥＲ測定を実行する。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】従来の光トランシーバ用テストシステムの構成を示すブロック図である。
【図２】従来の光トランシーバ用テスト方法のフローチャートである。
【図３】光トランシーバの感度テストの原理図を示す。
【図４】本発明による光トランシーバ用テストシステムの好適実施形態の構成を示すブロック図である。
【図５Ａ】本発明による光トランシーバ用テスト方法の第１実施形態のテストフローチャートである。
【図５Ｂ】本発明による光トランシーバ用テスト方法の第２実施形態のテストフローチャートである。
【図６】本発明による光トランシーバのＳＤ信号および感度テストの原理説明図である。
【図７】本発明によるテストシステムの１個の共通光端子を有する光トランシーバのテストブロック図である。
【図８Ａ】本発明によるテストシステムの１個のチャネルを有するＤＤＡの構成図である。
【図８Ｂ】本発明によるテストシステムの１チャネルを有するＤＤＡの別の構成図である。
【図９】図８に示すテストシステムのテストフローチャートを示す。
【符号の説明】
【００４８】
　１　デジタルデータアナライザ（ＤＤＡ）
　２　パルスパターン発生器（ＰＰＧ）
　３　エラー検出器（ＥＤ）
　４　標準（サンプル）光トランシーバ
　５　テストされる光トランシーバ（ＤＵＴ）
　６　光減衰器（ＡＴＴ）
　７　デジタル通信アナライザ（ＤＣＡ）
　８　光パワーユニット
　９　マルチプレックスチャネルデータバス
１０　ツリーカプラ
１１　光チャネルセレクタ
１４　光スペクトラムアナライザ（ＯＳＡ）
１５　デジタル電気メータ（ＤＥＭ）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図６】
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【図７】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図９】
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