(57)【要約】【課題】寿命が長く、小型で、且つ、導電線路を短くして、導通抵抗、及びインダクタンスを小さくすると共に、特に、高周波において正確な測定が可能なものを提供する。【解決手段】本発明の電子ユニットの測定装置は、電子ユニット６の配線パターン７に接触可能で、導電線からなる複数の接触部材４と、この接触部材４を保持するための保持部材１と、導電パターン２が設けられたプリント基板３とを備え、接触部材４は、自由端部を有し、上下方向に延びる一対の腕部４ａ、４ｂと、この一対の腕部４ａ、４ｂ間を繋ぐ曲げ部４ｃとを有し、接触部材４の腕部４ａ、４ｂの端部がそれぞれ導電パターン２，配線パターン７に圧接されるようにしたため、接触部材４の並列方向の間隔を小さくできて、小型化された電子ユニットの測定装置に好適である。【選択図】　　　　図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子ユニットの配線パターンに接触可能で、導電線からなる複数の接触部材と、この接触部材を保持するための保持部材と、導電パターンが設けられたプリント基板とを備え、前記接触部材は、自由端部を有し、上下方向に延びる一対の腕部と、この一対の腕部間を繋ぐ曲げ部とを有し、前記接触部材の一方の前記腕部の端部が前記導電パターンに圧接されると共に、前記接触部材の他方の前記腕部の端部が前記配線パターンに圧接されるようにしたことを特徴とする電子ユニットの測定装置。
【請求項２】
前記接触部材がバネ性ある導電線で形成されたことを特徴とする請求項１記載の電子ユニットの測定装置。
【請求項３】
前記曲げ部が円形状に形成されたことを特徴とする請求項１、又は２記載の電子ユニットの測定装置。
【請求項４】
前記曲げ部内には、ゴム部材が配置されたことを特徴とする請求項１から３の何れかに記載の電子ユニットの測定装置。
【請求項５】
前記接触部材の前記一対の腕部は互いに交叉した状態で配置されたことを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の電子ユニットの測定装置。
【請求項６】
前記一対の腕部は、交叉した箇所で互いに電気的に導通したことを特徴とする請求項６記載の電子ユニットの測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、種々の電子ユニットに使用して好適な測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の電子ユニットの測定装置を図５に基づいて説明すると、絶縁材からなる保持部材５１は、複数個が並列して設けられた比較的大きな孔５２ａを有し、厚板から構成された第１の保持板５２と、複数個が並列して設けられた比較的小さな孔５３ａを有し、薄板から構成された第２の保持板５３とで構成されている。
そして、孔５２ａ、５３ａは、互いに連通するように配置されている。
【０００３】
導電パターン５４が形成されたプリント基板５５は、第１の保持板５２の下部に重ね合わされて配置され、導電パターン５４の一部が孔５２ａ内に露出した状態となっている。
また、この導電パターン５４は、電気的な性能を測定する測定機器に適宜手段により接続された構成となっている。
【０００４】
金属等の導電材からなるプローブ５６は、柱状部５６ａと、この柱状部５６ａの下部に設けられた鍔部５６ｂと、柱状部５６ａの上部に設けられた円錐状の接触部５６ｃとを有し、このプローブ５６は、柱状部５６ａを孔５３ａに挿通した状態で、鍔部５６ｂを孔５２ａに位置して、保持部材５１に移動（上下方向の移動）可能に保持されており、このような構成によって、複数個のプローブ５６が保持部材５１に配置されている。
【０００５】
金属等の導電材からなるコイル状のバネ５７は、孔５２ａ内に収納され、一端が導電パターン５４に当接すると共に、他端がプローブ５６の鍔部５６ｂの下部に当接し、プローブ５６を常時上方に付勢しており、個々のバネ５７によって、複数個のプローブ５６をそれぞれ付勢している。
【０００６】
このような構成によって測定装置が形成され、そして、その測定方法は、図５に示すように、先ず、測定装置上に電子ユニット５８を配置して、電子ユニット５８に設けられた配線パターン５９をプローブ５６上に当接する。
すると、プローブ５６がバネ５７に抗して下方に移動すると共に、配線パターン５９とプローブ５６の接触部５６ｃとの接触が確実な状態となる。
【０００７】
この状態で、電子ユニット５８からの種々の信号がプローブ５６とバネ５７を介して導電パターン５４に伝達され、この導電パターン５４から測定機器に伝達されて、種々の電気的な性能が測定されるようになっている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来の電子ユニットの測定装置は、プローブ５６が柱状部５６ａと、鍔部５６ｂとで構成されているため、プローブ５６が大きくなると共に、プローブ５６の並列方向の間隔が大きくなって、小型化された電子ユニットの測定装置に適さないという問題がある。
また、電子ユニット５８からプリント基板５５への信号の伝達がプローブ５６とコイル状のバネ５７を介して行われるため、配線パターン５９と導電パターン５４との間の導電線路が長くなる。
従って、配線パターン５９と導電パターン５４間の導通抵抗、及びインダクタンスが大きくなって、導電パターン５４における信号の大きさが小さくなり、正確な電気測定ができないという問題がある。
また、インダクタンスが大きくなるため、特に、周波数が高くなる程、導電パターン５４における信号の大きさがより小さくなり、正確な電気測定ができないという問題がある。
また、プローブ５６、コイル状のバネ５７、及び保持部材５１を必要とし、部品点数が多くなって、コスト高になると共に、装置が大型になるという問題がある。
また、プローブ５６は、円錐状の接触部５６ｃを有するため、繰り返し使用によって接触部５６ｃの先端部が摩耗し、このため、プローブ５６の交換時期が早いという問題がある。
【０００９】
そこで、本発明は、寿命が長く、小型で、且つ、導電線路を短くして、導通抵抗、及びインダクタンスを小さくすると共に、特に、高周波において正確な測定が可能な電子ユニットの測定装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するための第１の解決手段として、電子ユニットの配線パターンに接触可能で、導電線からなる複数の接触部材と、この接触部材を保持するための保持部材と、導電パターンが設けられたプリント基板とを備え、前記接触部材は、自由端部を有し、上下方向に延びる一対の腕部と、この一対の腕部間を繋ぐ曲げ部とを有し、前記接触部材の一方の前記腕部の端部が前記導電パターンに圧接されると共に、前記接触部材の他方の前記腕部の端部が前記配線パターンに圧接されるようにした構成とした。
【００１１】
また、第２の解決手段として、前記接触部材がバネ性ある導線線で形成された構成とした。
また、第３の解決手段として、前記曲げ部が円形状に形成された構成とした。また、第４の解決手段として、前記曲げ部内には、ゴム部材が配置された構成とした。
【００１２】
また、第５の解決手段として、前記接触部材の前記一対の腕部は互いに交叉した状態で配置された構成とした。
また、第６の解決手段として、前記一対の腕部は、交叉した箇所で互いに電気的に導通した構成とした。
【００１３】
【発明の実施の形態】
本発明の電子ユニットの測定装置の図面を説明すると、図１は本発明の電子ユニットの測定装置の第１実施例に係る側面図、図２は本発明の電子ユニットの測定装置の第１実施例に係る要部断面図、図３は本発明の電子ユニットの測定装置の第２実施例に係る側面図、図４は本発明の電子ユニットの測定装置の第２実施例に係る要部断面図である。
【００１４】
次に、本発明の電子ユニットの測定装置の第１実施例の構成を図１、図２に基づいて説明すると、絶縁材からなり、合成樹脂の成型品等で形成されたコ字状の保持部材１は、側板１ａと、この側板１ａの上下から平行に延びる一対の支持板１ｂ、１ｃと、この支持板１ｂ、１ｃに並設された複数個の孔１ｄ、１ｅと、側板１ａと支持板１ｂ、１ｃとで囲まれた収容部１ｆとを有する。
【００１５】
導電パターン２が形成されたプリント基板３は、保持部材１の下部に重ね合わされて配置され、プリント基板３と保持部材１は、ネジ等の適宜手段により、結合されている。
そして、プリント基板３と保持部材１とが結合された際、導電パターン２の一部と対向した状態で、孔１ｄが位置している。
また、導電パターン２は、電気的な性能を測定する測定機器（図示せず）に適宜手段により接続された構成となっている。
【００１６】
バネ性を有する導電線からなる複数個の接触部材４は、自由端部を有して上下方向に延びる一対の腕部４ａ、４ｂと、この一対の腕部４ａ、４ｂ間を繋ぎ、バネ性を付与するための円形状の曲げ部４ｃとを有する。
なお、曲げ部４ｃは、円形状以外のＶ字状やＷ字状等を使用しても良い。
【００１７】
そして、この接触部材４は、曲げ部４ｃが収容部１ｆ内に位置した状態で、一対の腕部４ａ、４ｂがそれぞれ孔１ｄ、１ｅ内を貫通して、自由端部の先端が外方に突出している。
このようにして、複数個の接触部材４が並列状態で保持部材１に保持されると共に、保持された複数個の接触部材４の一方の腕部４ａの端部は、導電パターン２に接触した状態となっている。
このように、腕部４ａ、４ｂが孔１ｄ、１ｅで保持されると、腕部４ａ、４ｂの支持が確実となり、腕部４ａ、４ｂの曲がりの少ないものが得られる。
【００１８】
そして、他方の腕部４ｂの端部が押圧されると、曲げ部４ｃが撓んで、他方の腕部４ｂを上方に押し上げる力が働くと共に、一方の腕部４ａが下方に押圧されて、一方の腕部４ａの端部が導電パターン２に圧接された状態となる。
【００１９】
シリコンゴム等からなるゴム部材５は、円柱状をなし、このゴム部材５は、複数個の接触部材４の曲げ部４ｃ内に跨って配置されている。
そして、このゴム部材５も収容部１ｆ内に収容されると共に、ゴム部材５は、接触部材４の曲げ部４ｃが撓んだ際、曲げ部４ｃを押して、腕部４ａ、４ｂの反発力（接触圧）を大きくしている。
【００２０】
なお、ゴム部材５は、径が大きくなるように、両端部から押圧力を加えると、一層、接触圧を大きくすることができる。
【００２１】
このような構成によって測定装置が形成され、そして、その測定方法は、図１、図２に示すように、先ず、測定装置上に電子ユニット６を配置して、電子ユニット６に設けられた配線パターン７を接触部材４の腕部４ｂの端部上に当接する。
すると、接触部材４の腕部４ｂは、曲げ部４ｃのバネ性、及びゴム部材５に抗して下方に移動して、腕部４ｂと配線パターン７とが圧接状態となると共に、腕部４ａと導電パターン２とが圧接状態となる。
【００２２】
この状態で、電子ユニット６からの種々の信号が接触部材４を介して導電パターン２に伝達され、この導電パターン２から測定機器に伝達されて、種々の電気的な性能が測定されるようになっている。
【００２３】
なお、この実施例では、ゴム部材５を使用したもので説明したが、このゴム部材５を無くしたものでも良い。
また、この実施例では、接触部材がバネ性ある導線線で形成されたもので説明したが、バネ性を有しない導電線からなる接触部材を使用し、ゴム部材やその他の付勢手段により、腕部を付勢するようにしても良い。
また、バネ性を有しない導電線からなる接触部材を使用したものにおいて、径が大きくなるように、ゴム部材の両端部から押圧力を加えた時、腕部が配線パターンに圧接し、また、押圧力を解除した時、腕部と配線パターンの接触が離れるようにしても良い。
【００２４】
また、図３，図４は本発明の電子ユニットの測定装置の第２実施例を示し、この第２実施例は、上下方向に延びる一対の腕部４ａ、４ｂが互いに交叉状態にすると共に、この交叉した箇所で、一対の腕部４ａ、４ｂが接触して、電気的に導通した状態にしたものである。
【００２５】
その結果、一対の腕部４ａ、４ｂの端部間における導電線路の長さを著しく短くできる。
また、その他の構成は、前記第１実施例と同様であるので、同一部品に同一番号付し、ここではその説明を省略する。
【００２６】
【発明の効果】
本発明の電子ユニットの測定装置は、電子ユニットの配線パターンに接触可能で、導電線からなる複数の接触部材と、この接触部材を保持するための保持部材と、導電パターンが設けられたプリント基板とを備え、接触部材は、自由端部を有し、上下方向に延びる一対の腕部と、この一対の腕部間を繋ぐ曲げ部とを有し、接触部材の一方の腕部の端部が導電パターンに圧接されると共に、接触部材の他方の腕部の端部が配線パターンに圧接されるようにした構成とした。
このように、導線線からなる接触部材を使用することによって、接触部材を小さくできると共に、接触部材の並列方向の間隔を小さくできて、小型化された電子ユニットの測定装置に好適である。
また、従来に比して、配線パターンと導電パターン間の導電線路の長さが小さく、導電線路における導通抵抗、及びインダクタンスを小さくできて、正確な測定ができる測定装置を提供できる。
また、配線パターンと導電パターン間の導電線路の長さが小さく、導電線路におけるインダクタンスを小さくできて、特に、高周波において正確な測定が可能な測定装置を提供できる。
また、従来に比して、部品点数が少なく、安価で、組立性の良好な測定装置を提供できる。
また、導線線からなる接触部材を使用しているため、繰り返し使用によって腕部の先端部が摩耗しても、先端部の径は変化せず、従って、長期にわたって使用可能となって、寿命の長いものが得られる。
【００２７】
また、接触部材がバネ性ある導電線で形成されたため、接触部材の導電パターンや配線パターンへの圧接が簡単で、部品点数が少なく、安価なものが得られる。
【００２８】
また、曲げ部が円形状に形成されたため、ゴム部材等の付勢手段の取付が簡単にできる。
【００２９】
また、曲げ部内には、ゴム部材が配置されたため、接触部材に付勢力を持たせることができると共に、接触圧を一層、高めることができる。
【００３０】
また、接触部材の一対の腕部は互いに交叉した状態で配置されたため、曲げ部の形成が簡単で、生産性の良好なものが得られる。
【００３１】
また、一対の腕部は、交叉した箇所で互いに電気的に導通したため、一対の腕部の端部間における導電線路の長さを著しく短くでき、導電線路における導通抵抗、及びインダクタンスを小さくできて、正確な測定ができる測定装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の電子ユニットの測定装置の第１実施例に係る側面図。
【図２】本発明の電子ユニットの測定装置の第１実施例に係る要部断面図。
【図３】本発明の電子ユニットの測定装置の第２実施例に係る側面図。
【図４】本発明の電子ユニットの測定装置の第２実施例に係る要部断面図。
【図５】従来の電子ユニットの測定装置を示す要部断面図。
【符号の説明】
１　保持部材
１ａ　側板
１ｂ　支持板
１ｃ　支持板
１ｄ　孔
１ｅ　孔
１ｆ　収容部
２　導電パターン
３　プリント基板
４　接触部材
４ａ　腕部
４ｂ　腕部
４ｃ　曲げ部
５　ゴム部材
６　電子ユニット
７　配線パターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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