(57)【要約】【課題】裁断後のテープの形状を正確に検査することのできる検査手段を有する裁断装置を提供する。【解決手段】本発明に係る裁断装置１０は、スリッタ２２の後段に検査部４４が設けられ、スリッタ２２で裁断した磁気テープ２６が全域において検査される。検査部４４は、投光部４６、受光部４８、及びノズル５０を備え、投光部４６と受光部４８に向けてノズル５０からエアが吹き出される。これにより、検査部４４の周囲の温度を一定に保つことができ、磁気テープ２６の幅寸法を高精度で検査することができる。【選択図】　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ウエブをスリッタに連続的に通過させ、複数本のテープに裁断する裁断装置において、
前記テープの走行方向に対して前記スリッタの後段に設けられ、前記テープ幅が所定の寸法内にあるか否か検査する検査手段と、
前記検査手段の温度を制御する温度制御手段と、
を有することを特徴とする裁断装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は裁断装置に係り、特に、コンピュータバックアップテープなど、高い幅精度が要求されるテープの製造工程に使用される裁断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】コンピュータバックアップテープを始めとする磁気テープは、幅広のウエブをスリッタで複数本に裁断することによって製造される。製造された磁気テープは、製造工程と別工程で抜き取り検査することによって、製品の形状が規格内に収まっているかを検査し、これによって、製品全体を保証している。
【０００３】
しかし、近年のコンピュータバックアップテープに代表されるように、テープの幅精度の要求は年々厳しくなっており、抜き取り検査だけでは製品全体を保証することが難しくなっている。このため、テープの幅精度に最も影響するとされる裁断装置に検査装置を組み込むことによって、裁断後のテープを全域において検査することが望まれている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、一般の検査装置を裁断装置に組み込むと、検査装置が裁断装置の影響を受け、検査精度が低下するという問題がある。このため、テープが実際には規格範囲内に収まっていても、規格外として判断され、生産性が低下するおそれがある。
【０００５】
本発明はこのような事情に鑑みて成されたもので、裁断後のテープの形状を高精度で検査することのできる検査手段を有する裁断装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は前記目的を達成するために、ウエブをスリッタに連続的に通過させ、複数本のテープに裁断する裁断装置において、前記テープの走行方向に対して前記スリッタの後段に設けられ、前記テープ幅が所定の寸法内にあるか否か検査する検査手段と、前記検査手段の温度を制御する温度制御手段と、を有することを特徴としている。
【０００７】
本発明の発明者は、検査手段を裁断装置に組み込んだ際に検査精度が低下する原因として、検査手段の温度に着目した。そして、裁断処理が進むにつれて、検査手段の温度が変化していること、さらには、その温度変化に伴ってテープの検査精度が低下していることを見いだした。例えば、検査手段の温度が±１℃以上変化した場合には、テープの幅寸法の検査精度が±２μｍよりも低くなることが試験により明らかになった。
【０００８】
本発明はこのような知見に基づいて成されたもので、温度制御手段によって検査手段の温度を制御するようにしたので、温度変化によって検査精度が低下することを防止できる。これにより、裁断装置に組み込んだ検査手段によって、テープの形状をテープの全域において精度良く検査することができる。したがって、検査規格が厳しい場合にも、テープの形状に関する品質を確実に保証することができる。なお、検査手段の温度制御範囲は、要求される検査精度に応じて設定すればよい。例えば、テープの幅寸法を±２μｍ以内の精度で検査する場合には、検査手段の温度が±１℃の範囲内になるように制御すればよい。
【０００９】
検査精度をより向上させるためには、ウエブの走行方向に対して検査手段の前段に、不織布などを用いたクリーニング手段を設置し、このクリーニング手段によって、テープに付着した塵埃を除去すると良い。また、検査手段の前段に静電気式の除塵手段を設置し、この除塵手段によってテープに静電エアを吹き付けてもよい。これにより、テープに静電吸着した塵埃を除去することができ、さらにテープに塵埃が静電吸着することを防止できるので、検査手段に塵埃が入り込んで検査精度が低下することを防止できる。
【００１０】
なお、本発明の温度制御手段としては、検査手段に気体を吹き付ける方法、検査手段の近傍に液体の流路を設け、この流路に温度制御された液体を流す方法、或いは、ペルチェ素子などを検査手段に直接取り付ける方法が考えられる。また、検査手段が検査するテープの形状としては、テープの幅寸法やテープの直線性が挙げられる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下添付図面に従って本発明に係る裁断装置の好ましい実施の形態について説明する。
【００１２】
図１は本発明に係る裁断装置１０の全体構成を模式的に示す側面図である。
【００１３】
同図に示すように、裁断装置１０は主として、巻き戻しリール１２、フィードローラ１６、スリッタ２２、及び巻取ハブ２８で構成される。
【００１４】
巻き戻しリール１２には、ロール状に巻回された磁気テープ原反１４のバルクが装着される。磁気テープ原反１４は、通常、非磁性支持体上に強磁性微粒子を含む磁性層を塗布法や真空蒸着法等により形成し、その磁性層に配向処理、乾燥処理、表面処理等を行うことによって製造される。
【００１５】
巻き戻しリール１２に装着された磁気テープ原反１４は、フィードローラ１６を駆動することによって巻き戻しリール１２から連続的に引き出される。フィードローラ１６は、磁気テープ原反１４を走行させるためのローラであり、例えば、図示されるように、サクションドラムが使用される。サクションドラムは、磁気テープ原反１４を表面に吸着しながら回転するドラムであり、ドラムの表面には、磁気テープ原反１４の保持力を増加させるための溝が形成される。なお、フィードローラ１６として、磁気テープ原反１４を挟圧して搬送する一対のニップローラなど、他の公知手段を用いてもよい。このフィードローラ１６の回転速度が基準となって、後述する巻取ハブ２８やスリッタ２２の回転下刃３０、回転上刃３２の回転速度が制御される。
【００１６】
巻き戻しリール１２から送り出された磁気テープ原反１４は、フィードローラ１６の前段に設置された複数のガイドローラ１８、１８、…と、フィードローラ１６の後段に設置された複数のガイドローラ２０、２０、…にガイドされながらスリッタ２２に送られる。
【００１７】
スリッタ２２は、幅広の磁気テープ原反１４を幅狭の複数本の磁気テープ２６、２６、…に裁断する装置であり、図２に示す如く、円筒状の回転下刃３０と、薄い円盤状の回転上刃３２とを備えている。回転下刃３０は、下側シャフト３４にスペーサ３６を介して嵌合固定され、回転上刃３２は、下側シャフト３４と平行な上側シャフト３８にスペーサ４０を介して嵌合固定される。また、回転上刃３２は、不図示の弾性手段によって図２の軸方向右側に付勢されており、回転上刃３２の刃先部分が、回転下刃３０の刃先部分の側面に当接されて位置決めされる。上側シャフト３８と下側シャフト３４は、回転速度を自由に可変可能なモータ（不図示）に接続されており、図１のフィードローラ１６の回転速度に応じて、回転上刃３２と回転下刃３０の回転速度が調節される。
【００１８】
上記の如く構成されたスリッタ２２に磁気テープ原反１４が導入されると、磁気テープ原反１４は、受け刃である回転下刃３０に巻きかけられながら、回転上刃３２によって剪断力が付与される。これにより、磁気テープ原反１４は、１００〜２５０本に裁断され、規定の幅寸法（例えば１２．６５ｍｍ、２５．４ｍｍ、３．８１ｍｍ等）の磁気テープ２６が形成される。形成された磁気テープ２６は、図１に示す如く、サクションドラムなどのフィードローラ２４に巻きかけられた後、複数段（例えば図示されるように三段）に配置された巻取ハブ２８に巻回される。なお、図２の符号４２は、磁性層のないクリアー部４２であり、裁断した際に除去される。
【００１９】
ところで、磁気テープ２６の走行方向に対して、スリッタ２２の後段には、検査部４４が設けられている。検査部４４は、図３に示すように、磁気テープ２６を挟んで対向配置された投光部４６と受光部４８とを備えている。投光部４６は、例えば発光ダイオードが使用され、受光部４８に向けて光を照射する。受光部４８はフォトダイオードやＣＣＤラインセンサなどが使用され、投光部４６から照射された光を受光する。制御装置４９は、受光部４８が受光した光量やタイミングによって磁気テープ２６の幅寸法を算出し、この算出値が検査規格に収まっているかを検査する。なお、投光部４６と受光部４８はそれぞれ、磁気テープ２６の幅方向に複数配列され、各磁気テープ２６の幅寸法を検査できるようになっている。
【００２０】
投光部４６と受光部４８の近傍には、ノズル５０、５０が設置されている。ノズル５０は、不図示のエア供給源に接続されるとともに、そのエア供給源から供給されたエアを投光部４６の投光面、或いは受光部４８の受光面に向けて吹き出すように構成される。吹き出すエアの流量は、流量調節弁５１によって制御され、吹き出すエアの温度は不図示の温度調節手段によって一定に制御される。なお、エアの代わりに、Ｎ２　などの不活性ガスを使用してもよい。
【００２１】
また、投光部４６と受光部４８は、ケーシング５２に覆われている。このケーシング５２は、磁気テープ２６に対向する面が開口されるとともに、不図示の吸引装置に排気ライン５３を介して接続される。排気ライン５３には、流量調節弁５５が配設されており、この流量調節弁５５によって、吸引する風量が、ノズル５０から吹き出すエアの風量と略同じ風量になるように調節される。これにより、ノズル５０から吹き出したエアは、ケーシング５２の外部に殆ど漏れずに外部に排気される。したがって、ノズル５０から吹き出したエアがスリッタ２２など、他の部分に影響することを防止できる。
【００２２】
磁気テープ２６の走行方向に対して検査部４４の前段には、不織布５７を用いたクリーニング装置５４が設けられている。不織布５７は、帯状に形成されるとともに、巻回された状態で供給軸５６に取り付けられる。供給軸５６に取り付けられた不織布５７は、巻回軸６０を回転させることによって、供給軸５６から送り出されて巻回軸６０に巻回される。供給軸５６と巻回軸６０との間には、ローラ５８が設けられており、不織布５７は、このローラ５８にガイドされ、磁気テープ２６に摺動する。これにより、磁気テープ２６に付着した塵埃（例えば、スリッタ２２で裁断した際に発生した切り粉）は、不織布５７によって捕集され、磁気テープ２６から取り除かれる。したがって、ケーシング５２の内部に塵埃が入り込むことを防止できる。なお、クリーニング装置５４は、図２に示すように磁気テープ２６に対して両側（すなわち、図１の上下両側）に設けるとよい。
【００２３】
磁気テープ２６の走行方向に対して検査部４４の後段には、テンション保持装置６２が設けられる。テンション保持装置６２は、磁気テープ２６を一定のテンションに保持するための装置であり、例えばダンサローラなどが使用される。なお、テンション保持装置６２は、検査部４４における磁気テープ２６のテンションの変動を抑制する装置であればよく、他の公知手段を用いてもよい。また、テンション保持装置６２の配置は、磁気テープ２６の走行方向に対して検査部４４の前段であってもよい。
【００２４】
次に上記の如く構成された裁断装置１０の作用について説明する。
【００２５】
スリッタ２２の後段には検査部４４が設けられているため、スリッタ２２で裁断された磁気テープ２６は、その全域において幅寸法が検査される。その際、検査部４４の投光部４６と受光部４８には、ノズル５０からエアが吹き付けられ、その周囲は略一定の温度に保たれている。したがって、検査部４４は、温度変化の影響を受けることなく、高精度で磁気テープ２６の幅寸法を検査することができる。例えば、検査部４４の温度変化を±１℃以内に制御すれば、磁気テープ２６の幅寸法を±２μｍの精度で検査することができる。
【００２６】
このように本実施の形態の裁断装置１０によれば、スリッタ２２の後段に検査部４４を設けて磁気テープ２６の幅寸法を全域において検査するとともに、検査部４４の投光部４６と受光部４８にノズル５０からエアを吹き付けて、略一定の温度に制御したので、磁気テープ２６の幅寸法を磁気テープ２６の全域において精度良く検査することができる。したがって、磁気テープ２６の幅寸法の規格が厳しい場合であっても、磁気テープ２６が全域において規格内であることを確実に保証することができる。
【００２７】
また、裁断装置１０によれば、クリーニング装置５４によって磁気テープ２６に付着した塵埃を除去するようにしたので、ケーシング５２内に塵埃が入り込むことがない。したがって、投光部４６や受光部４８に塵埃が付着しないので、検査部４４の検査精度をさらに向上させることができる。
【００２８】
さらに、裁断装置１０によれば、スリッタ２２で裁断処理を行いながら磁気テープ２６の全域において検査を行うので、磁気テープ２６を全長にわたって品質管理することができる。
【００２９】
なお、上述した実施の形態は、塵埃のクリーニング装置５４として不織布５７を用いたが、これに限定するものではなく、ブラシなどを用いてもよい。また、磁気テープ２６にエアを吹き付けることによって、磁気テープ２６に付着した塵埃を除去してもよい。さらに、検査部４４の前段に静電気式の除塵装置を設置し、この除塵装置から磁気テープ２６に向けて除電エアを吹き付けることによって、磁気テープ２６に静電吸着した塵埃を除去するとともに、磁気テープ２６に塵埃が静電吸着することを防止してもよい。
【００３０】
また、ノズル５０によるエアの吹き付け位置は、投光部４６や受光部４８に限定されるものでなく、投光部４６や受光部４８の周囲であればよい。したがって、温度制御したエアをケーシング５２の内部に供給し、投光部４６と受光部４８の周囲の温度を一定に制御してもよい。
【００３１】
また、ケーシング５２の内部に温度センサを設け、この温度センサの測定値が一定になるように、ノズル５０に供給するエアの温度を制御してもよい。
【００３２】
さらに、上述した実施の形態は、投光部４６や受光部４８の温度を制御するために、ノズル５０からエアを吹き出したが、温度制御手段はこれに限定するものではない。例えば、投光部４６や受光部４８をジャケットで覆い、このジャケットに冷却水などを循環させるようにしてもよい。また、投光部４６や受光部４８にペルチェ素子などを取り付けて温度制御するようにしてもよい。
【００３３】
また、上述した実施の形態は、検出部４４において磁気テープ２６の幅寸法のみを検査したが、磁気テープ２６の幅方向の縁部の直線性など、磁気テープ２６の形状を検査するのであればよい。
【００３４】
【発明の効果】
以上説明したように本発明に係る裁断装置によれば、スリッタの後段にテープの形状を検査する検査手段を設けたので、テープの形状をテープの全域において検査できる。また、検査手段の温度を制御するようにしたので、テープの幅寸法の検査を高精度で行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る裁断装置の構成を模式的に示す側面図
【図２】スリッタを示す正面図
【図３】検査部の構成を示す側面図
【符号の説明】
１０…裁断装置、１２…巻き戻しリール、１４…磁気テープ原反、１６…フィードローラ、１８…ガイドローラ、２０…ガイドローラ、２２…スリッタ、２４…フィードローラ、２６…磁気テープ、２８…巻取ハブ、３０…回転下刃、３２…回転上刃、３４…下側シャフト、３６…スペーサ、３８…上側シャフト、４０…スペーサ、４２…クリアー部、４４…検査部、４６…投光部、４８…受光部、４９…制御装置、５０…ノズル、５１…流量調節弁、５２…ケーシング、５３…排気ライン、５４…クリーニング装置、５５…流量調節弁、５６…供給軸、５７…不織布、５８…ローラ、６０…巻回軸、６２…テンション保持装置
【図１】
2004074320.tif 000003
【図２】
2004074320.tif 000004
【図３】
2004074320.tif 000005