(57)【要約】【課題】プローブ端子の位置について微調整を容易に行うことができる動作試験装置を提供することを目的とする。【解決手段】被試験装置１のコンタクト端子６に接触させる多数のプローブ端子５と、それぞれが複数のプローブ端子５からなる複数のプローブブロック２と、複数のプローブブロック２が位置調整可能に取り付けられたプローブ基板３と、プローブ基板３上で架張されるプローブ調整用線材３２と、プローブ基板３を挟んで配置され、プローブ調整用線材３２が巻き付けられ、手動操作によりプローブ調整用線材３２を巻き取る一対の線材巻取手段３０，３１と、プローブブロック２をプローブ調整用線材３２に連結するプローブ連結部材３３とを備える。【選択図】　　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験装置のコンタクト端子に接触させる多数のプローブ端子が位置調整可能に取り付けられたプローブ基板と、プローブ基板上で架張されるプローブ調整用線材と、プローブ調整用線材の端部がそれぞれ巻き付けられ、手動操作によりプローブ調整用線材を巻き取る一対の線材巻取手段と、プローブ端子をプローブ調整用線材に連結するプローブ連結部材とを備えたことを特徴とする動作試験装置。
【請求項２】
上記プローブ調整用線材は、プローブ端子の位置調整方向に架張されることを特徴とする請求項１に記載の動作試験装置。
【請求項３】
被試験装置のコンタクト端子に接触させる多数のプローブ端子と、それぞれが複数のプローブ端子からなる複数のプローブブロックと、複数のプローブブロックが位置調整可能に取り付けられたプローブ基板と、プローブ基板上で架張されるプローブ調整用線材と、プローブ基板を挟んで配置され、プローブ調整用線材が巻き付けられ、手動操作によりプローブ調整用線材を巻き取る一対の線材巻取手段と、プローブブロックをプローブ調整用線材に連結するプローブ連結部材とを備えたことを特徴とする動作試験装置。
【請求項４】
上記プローブ調整用線材は、プローブブロックの位置調整方向に架張されることを特徴とする請求項１に記載の動作試験装置。
【請求項５】
２以上のプローブブロックがプローブ基板上で直線上に配列され、プローブ調整用線材が直線上に配列されたプローブブロックに平行に架張され、プローブ連結部材が直線上に配列されたプローブブロックを選択的にプローブ調整用線材に連結することを特徴とする請求項３に記載の動作試験装置。
【請求項６】
プローブブロックが取り付けられた動作試験装置のプローブ基板上で架張されるプローブ調整用線材と、プローブ調整用線材の両端が巻き付けられ、手動操作によりプローブ調整用線材を巻き取る一対の線材巻取手段と、複数のプローブ端子からなるプローブブロックをプローブ調整用線材に連結するプローブ連結部材とを備えたことを特徴とするプローブ端子の位置調整用治具。
【請求項７】
上記一対の線材巻取手段が、動作試験装置筐体の両側面に着脱可能に取り付けられることを特徴とする請求項６に記載のプローブ端子の位置調整用治具。
【請求項８】
上記プローブ調整用線材及び線材巻取手段が、動作試験装置筐体に着脱可能に取り付けられることを特徴とする請求項６に記載のプローブ端子の位置調整用治具。
【請求項９】
被試験装置のコンタクト端子に複数のプローブ端子を接触させて動作試験を行う際、複数のプローブ端子からなるプローブブロックごとにプローブ端子の位置調整を行うプローブ端子の位置調整方法において、一対の線材巻取手段に両端を巻き付けてプローブ調整用線材を架張するステップと、線材連結部材を用いてプローブブロックをプローブ調整用線材に連結するステップと、線材巻取手段によりプローブブロックの位置を微調整するステップからなるプローブ端子の位置調整方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、動作試験装置、プローブ端子の位置調整用治具及びプローブ端子の位置調整方法に係り、さらに詳しくは、液晶表示パネル等の被試験装置のコンタクト端子に接触させるプローブ端子の位置を微調整するための動作試験装置の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図５及び図６は、従来の表示装置の動作試験装置の概略構成を示した図であり、図５には前面から見た装置外観が示され、図６には側面から見た一部破断図が示されている。この動作試験装置は、ドライバ回路等の周辺回路が取り付けられていない半製品の液晶表示装置について点灯動作試験を行うための点灯試験装置であり、液晶表示パネルの各コンタクト端子に対し、動作試験装置のプローブ端子を接触させて、液晶表示パネルを動作試験装置のドライバ回路に接続し、所定の電圧信号を供給することにより、液晶表示パネルを点灯動作させる。
【０００３】
図中の１は液晶表示パネル、２はプローブブロック、３はプローブ基板、４は顕微鏡、９はパネル設置部である。被試験装置としての液晶表示パネル１は、周辺回路を接続するための多数のコンタクト端子を有している。この液晶表示パネル１は、コンタクト端子を試験装置の前面に向けてパネル設置部９に取り付けられる。プローブブロック２は、多数のプローブ端子からなり、点灯試験装置のプローブ基板３に取り付けられている。プローブ基板３を液晶表示パネル１上に重ね合わせて配置することにより、プローブ基板３の背面側にあるプローブ端子が、液晶表示パネル１の前面側にあるコンタクト端子に接触して通電可能となる。
【０００４】
図７は、プローブ端子をコンタクト端子に接触させる様子を示した図である。図中の１は液晶表示パネル、５はプローブ端子、６はコンタクト端子、７はカラーフィルタ、８はアレイ基板である。液晶表示パネル１は、ガラス基板上にカラーパターンが形成されたカラーフィルタ７と、ガラス基板上に半導体回路が形成されたアレイ基板８とを貼り合わせて構成され、アレイ基板８上に形成されたコンタクト端子６が露出している。プローブ端子５は、針状の尖鋭な先端部を有する薄板状金属からなり、この先端部がコンタクト端子に接触するように位置決めされる。
【０００５】
図８は、プローブブロックに取り付けられたプローブ端子の様子を示した概略図であり、図９は、プローブ端子をコンタクト端子に接触させる様子を示した図である。１つのプローブブロック２には、通常２００〜３００本のプローブ端子５が、直線上に所定の間隔で取り付けられており、各プローブ端子５が、液晶表示パネル１の一辺で直線上に配置されたコンタクト端子と通電する。
【０００６】
例えば、コンタクト端子の幅が４０〜４５μｍ程度、コンタクト端子の間隔が２０〜２５μｍ程度であるのに対し、プローブ端子５の幅は、２５〜３０μｍ程度である。このため、コンタクト端子の幅方向に１０〜数十μｍ程度の精度で位置決めを行う必要がある。
【０００７】
図１０は、プローブブロック２の構成を詳細に示した図である。図中の１は液晶表示パネル、２はプローブブロック、６はコンタクト端子、７はカラーフィルタ、８はアレイ基板、２２はフレキシブル回路（ＦＰＣ）、２３はドライバ回路、２４は調整用ブロック、２５は調整用ハンドルである。
【０００８】
プローブブロック２は、液晶表示パネルの表示素子を駆動するためのドライバ回路２３と、ドライバ回路に駆動信号及び電源を供給するためのフレキシブル回路２２を備えて構成される。ドライバ回路２３は、液晶表示パネル１に付属するドライバ回路と同じ電気的特性を有する回路からなる。
【０００９】
調整用ブロック２４は、液晶表示パネル１に対するプローブブロック２の位置調整のための治具であり、着脱可能な調整用ブロック２４をプローブブロック２に取り付けることにより、様々な方向についてプローブ端子５の位置調整を行うことができる。
【００１０】
調整用ハンドル２５は、コンタクト端子の幅方向についてプローブ端子５の位置調整を行うためのハンドル部であり、調整用ブロック２４に取り付けられている。顕微鏡４を用いてプローブ端子５の先端部を見ながら、オペレータが手でハンドル２５を矢印の方向（コンタクト端子６の幅方向）に動かすことによって、プローブブロック２ごとにプローブ端子５の位置調整が行われる。すなわち、プローブ端子５を所望のコンタクト端子６に接触させるとともに、隣接するコンタクト端子６に接触させないように位置調整が行われる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
上述したとおり、従来の動作試験装置は、プローブブロック２に調整用ブロック２４を取り付けて、調整用ハンドル２５を手で操作して、プローブ端子５の位置調整を行っていた。しかしながら、コンタクト端子６の幅方向に関して、位置調整に要求される精度は１０μｍ〜数十μ程度であるため、オペレータが調整用ハンドルを微妙に動かしながら、プローブ端子５の位置調整を行う作業は容易ではなく、時間がかかるという問題があった。
【００１２】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、プローブ端子の位置について微調整を容易に行うことができる動作試験装置を提供することを目的とする。また、動作試験装置のプローブ端子の位置について微調整を容易に行うことができるプローブ端子の位置調整用治具を提供することを目的とする。更に、本発明は、動作試験装置のプローブ端子の位置について微調整を容易に行うことができるプローブ端子の位置調整方法を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の本発明による動作試験装置は、被試験装置のコンタクト端子に接触させる多数のプローブ端子が位置調整可能に取り付けられたプローブ基板と、プローブ基板上で架張されるプローブ調整用線材と、プローブ調整用線材の端部がそれぞれ巻き付けられ、手動操作によりプローブ調整用線材を巻き取る一対の線材巻取手段と、プローブ端子をプローブ調整用線材に連結するプローブ連結部材とを備えて構成される。
【００１４】
請求項２に記載の本発明による動作試験装置は、上記プローブ調整用線材が、プローブ端子の位置調整方向に架張されるように構成される。
【００１５】
請求項３に記載の本発明による動作試験装置は、被試験装置のコンタクト端子に接触させる多数のプローブ端子と、それぞれが複数のプローブ端子からなる複数のプローブブロックと、複数のプローブブロックが位置調整可能に取り付けられたプローブ基板と、プローブ基板上で架張されるプローブ調整用線材と、プローブ基板を挟んで配置され、プローブ調整用線材が巻き付けられ、手動操作によりプローブ調整用線材を巻き取る一対の線材巻取手段と、プローブブロックをプローブ調整用線材に連結するプローブ連結部材とを備えて構成される。
【００１６】
請求項４に記載の本発明による動作試験装置は、上記プローブ調整用線材が、プローブブロックの位置調整方向に架張されるように構成される。
【００１７】
請求項５に記載の本発明による動作試験装置は、２以上のプローブブロックがプローブ基板上で直線上に配列され、プローブ調整用線材が直線上に配列されたプローブブロックに平行に架張され、プローブ連結部材が直線上に配列されたプローブブロックを選択的にプローブ調整用線材に連結するように構成される。
【００１８】
請求項６に記載の本発明によるプローブ端子の位置調整用治具は、プローブブロックが取り付けられた動作試験装置のプローブ基板上で架張されるプローブ調整用線材と、プローブ調整用線材の両端が巻き付けられ、手動操作によりプローブ調整用線材を巻き取る一対の線材巻取手段と、複数のプローブ端子からなるプローブブロックをプローブ調整用線材に連結するプローブ連結部材とを備えて構成される。
【００１９】
請求項７に記載の本発明によるプローブ端子の位置調整用治具は、上記一対の線材巻取手段が、動作試験装置筐体の両側面に着脱可能に取り付けられるように構成される。
【００２０】
請求項８に記載の本発明によるプローブ端子の位置調整用治具は、上記プローブ調整用線材及び線材巻取手段が、動作試験装置筐体に着脱可能に取り付けられることを特徴とする請求項６に記載のプローブ端子の位置調整用治具。
【００２１】
請求項９に記載の本発明によるプローブ端子の位置調整方法は、被試験装置のコンタクト端子に複数のプローブ端子を接触させて動作試験を行う際、複数のプローブ端子からなるプローブブロックごとにプローブ端子の位置調整を行うプローブ端子の位置調整方法において、一対の線材巻取手段に両端を巻き付けてプローブ調整用線材を架張するステップと、線材連結部材を用いてプローブブロックをプローブ調整用線材に連結するステップと、線材巻取手段によりプローブブロックの位置を微調整するステップからなる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
図１及び図２は、本発明による動作試験装置の要部の一例を示した図であり、図１は被試験装置が取り付けられた動作試験装置を前面から見た図であり、図２は、図１のＡ−Ａ断面を示した断面図である。図中の１は液晶表示パネル、２はプローブブロック、３はプローブ基板、４は顕微鏡、９はパネル設置部、３０及び３１はワイヤ巻取装置、３２はプローブ調整用ワイヤ、３３はプローブ連結部材である。
【００２３】
この動作試験装置は、半製品の半導体装置、例えば、外部入出力端子に接続される前の半導体装置について動作確認を行うための装置である。ここでは、半製品の液晶表示パネルについて点灯動作を確認するための点灯試験装置の場合について説明する。
【００２４】
被試験装置としての液晶表示パネル１は、各画素を駆動制御するためのドライバ回路及び外部入出力端子に接続される前の状態の液晶表示パネルであり、液晶表示パネル１上には多数のコンタクト端子が設けられている。これらのコンタクト端子は、動作試験後にドライバ回路又は外部入出力端子に接続されるが、動作試験専用端子等のように、その後利用されない端子が含まれていてもよい。
【００２５】
プローブ基板３には、プローブブロック２が予め定められた位置に取り付けられ、各プローブブロック２には多数のプローブ端子５が予め定められた間隔で取り付けられている。すなわち、液晶表示パネル１のコンタクト端子６に対応する位置にプローブブロック２が配置され、コンタクト端子６のピッチに相当するピッチでプローブ端子５が配置されている。
【００２６】
プローブ基板３は、液晶表示パネル１を動作試験装置のパネル設置部９に取り付けた後、液晶表示パネル１上に重ねるように配置される。各プローブ端子５は、このとき、対応するコンタクト端子６の位置に概ね一致するようにプローブ基板３上に配置されているが、対応するコンタクト端子６に完全には一致しない。
【００２７】
このため、プローブ端子５の位置の微調整を行う必要がある。この微調整は、プローブ基板３を液晶表示パネル１から一旦離した後、ワイヤ巻取装置３０，３１、プローブ調整用ワイヤ３２及びプローブ連結部材３３を用いて、プローブブロック２ごとにプローブ端子５の位置が微調整される。
【００２８】
ワイヤ巻取装置３０，３１は、プローブ調整用ワイヤ３２の両端がそれぞれ巻き付けられた線材巻取手段であり、プローブ調整用ワイヤ３２を巻き取り、あるいは巻き出すことができる。プローブ調整用ワイヤ３２は、切断され難く、かつ、容易に巻き取り可能な細い線材（線形状の部材）であり、金属製であることが望ましいが、合成繊維などその他の素材からなる線材であってもよい。
【００２９】
ワイヤ巻取装置３０，３１は、動作試験装置の筐体上であって、液晶表示パネル１を挟んで互いに反対側となるように取り付けられている。ここでは、筐体外側の両側面上に取り付けられている。このため、ワイヤ巻取装置３０，３１によりプローブ調整用ワイヤ３２を適度に巻き取って張力を加えることによって、プローブ調整用ワイヤ３２を動作試験装置の前面で架張することができる。この様にして架張されたプローブ調整用ワイヤ３２は、プローブ連結部材３３を介して、プローブブロック２に連結される。
【００３０】
一般に、コンタクト端子６は矩形形状の液晶表示パネル１の辺上に配置され、これらのコンタクト端子にプローブ端子を接触させるため、２以上のプローブブロック２がプローブ基板上で直線上に配列するように取り付けられている。プローブ調整用ワイヤ３２は、これらのプローブブロック２の配列に平行に架張され、調整対象となる１又は２以上のブロックのみがプローブ調整用ワイヤ３２に連結され、プローブ端子の微調整が行われる。
【００３１】
図３は、プローブブロック２及びプローブ調整用ワイヤ３２が連結された様子を詳細に示した図である。図中の１は液晶表示パネル、２はプローブブロック、７はカラーフィルタ、８はアレイ基板、２３はフレキシブル基板、２４はドライバ回路、３２はプローブ調整用ワイヤ、３３はプローブ連結部材である。
【００３２】
プローブ連結部材３３は、プローブブロック２及びプローブ調整用ワイヤ３２を着脱可能に連結するための細長い部材である。プローブ連結部材３３は、一端がプローブブロック２の取付穴に差し込まれて固定されるとともに、他端にプローブ調整用ワイヤ３２が巻き付けられてプローブ調整用ワイヤ３２に連結される。
【００３３】
この状態で巻取装置３０，３１の一方によってプローブ調整用ワイヤ３２を巻き取れば、プローブ調整用ワイヤ３２を架張方向に移動させ、プローブ連結部材３３がプローブ調整用ワイヤ３２の架張方向に引っ張られる。このため、プローブ連結部材３３が取り付けられたプローブブロック２の各プローブ端子５をプローブ調整用ワイヤ３２の架張方向へ微調整することができる。つまり、プローブ調整用ワイヤ３２は、プローブブロック２の近傍を通って、プローブ端子５の位置を調整したい方向に架張される。
【００３４】
図４は、ワイヤ巻取装置３０，３１の一構成例を示した図である。このワイヤ巻取装置は、ダイヤル操作部３５と、ワイヤ巻取軸３６と、取付ベース部３７からなる。取付ベース部３７は、動作試験装置に着脱可能に構成される。例えば、動作試験装置の金属筐体上の任意の位置に取り付けられ、オペレータがダイヤル操作部を回転させても容易には動かない程度の磁石により構成される。
【００３５】
ダイヤル操作部３５は、オペレータが手で回転させるための操作手段であり、ダイヤル操作部３５を回転させることにより、これに連動してワイヤ巻取軸３６も回転し、プローブ調整用ワイヤ３２が巻き取られ、あるいは巻き出される。ワイヤ巻取軸３６は、ダイヤル操作部よりも直径が小さくなっている。
【００３６】
従来の動作試験装置におけるプローブ端子の位置の微調整は、オペレータが手動で調整用ハンドルを動かすことにより行っていた。このため、オペレータの手の動きは、オペレータの肩を支点とする動作であった。これに対し、本実施の形態によるダイヤル操作部を用いた調整作業は、回転操作であるため、手首を支点とする動作である。従って、支点が作用点に近くなり、微妙な調整であっても比較的簡単に行うことができ、より細かな調整が可能となる。
【００３７】
また、本実施の形態による動作試験装置では、ダイヤル操作部３５を着脱可能としているため、動作試験時には取り外すことにより、作業性を低下させない。さらに、ダイヤル操作部３５の取付位置を自在に調整することができ、プローブ調整用ワイヤ３２の架張する位置及び方向を自在に決定することができる。このため、プローブブロック２の位置や、調整方向について制限されることがない。
【００３８】
【発明の効果】
本発明による動作試験装置は、端部を線材巻取手段に巻き付けてプローブ調整用線材をプローブ基板上に架張するとともに、プローブ連結部材によりプローブ端子をプローブ調整用線材に連結している。そして、線材巻取手段を手動操作してプローブ調整用線材の一方の端部を巻き取ることにより、プローブ端子の微調整を比較的簡単に行うことができる。つまり、従来の動作試験装置に比べて、より細かな調整を行うことができ、あるいは、迅速に微調整を行うことができる。
【００３９】
また、本発明によるプローブ端子の位置調整用治具は、動作試験装置に取り付けられ、線材巻取手段を手動操作することによって、プローブ端子の微調整を比較的簡単に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による動作試験装置の要部の一例を示した図であり、被試験装置が取り付けられた動作試験装置を前面から見た図である。
【図２】本発明による動作試験装置の要部の一例を示した図であり、図１のＡ−Ａ断面を示した断面図である。
【図３】プローブブロック２及びプローブ調整用ワイヤ３２が連結された様子を詳細に示した図である。
【図４】ワイヤ巻取装置３０，３１の一構成例を示した図である。
【図５】従来の表示装置の動作試験装置の概略構成を示した図であり、前面から見た装置外観が示されている。
【図６】従来の表示装置の動作試験装置の概略構成を示した図であり、側面から見た一部破断図が示されている。
【図７】プローブ端子をコンタクト端子に接触させる様子を示した図である。
【図８】プローブブロックに取り付けられたプローブ端子の様子を示した概略図である。
【図９】プローブ端子をコンタクト端子に接触させる様子を示した図である。
【図１０】プローブブロック２の構成を詳細に示した図である。
【符号の説明】
１　液晶表示パネル、　　２　プローブブロック、
３　プローブ基板、　　　４　顕微鏡、
５　プローブ端子、　　　６　コンタクト端子、
７　カラーフィルタ、　　８　アレイ基板、
９　パネル設置部、２２　フレキシブル回路、
２３　ドライバ回路、２４　調整用ブロック、
２５　調整用ハンドル、３０，３１　ワイヤ巻取装置、
３２　プローブ調整用ワイヤ、
３３　プローブ連結部材、３５　ダイヤル操作部、
３６　ワイヤ巻取軸、３７　取付ベース部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2004045270.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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