(57)【要約】【課題】文化財の着色部分の収蔵材によるわずかな変質を検出し、あるいはその変質を正確に予測することが可能で、大型文化財についても移動することなくその場分析が可能となる、文化財の変質評価方法、変質評価装置及び変質原因物質の特定方法を提供する。【解決手段】文化財表面を構成する被測定物をラマン分光法により分析して得られる表面状態情報から、周辺雰囲気ガス中の化学物質による前記被測定物の変質に関する評価を行う。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
文化財表面を構成する被測定物をラマン分光法により分析して得られる表面状態情報から周辺雰囲気ガス中の化学物質による前記被測定物の変質に関する評価を行うことを特徴とする文化財の変質評価方法。
【請求項２】
前記雰囲気ガス中の化学物質が、文化財の収蔵材から揮散する物質であることを特徴とする請求項１に記載の文化財の変質評価方法。
【請求項３】
文化財の変質評価に用いられる変質評価装置であって、
レーザ光を発生するレーザ発生部と、
文化財表面を構成する被測定物にレーザ光を照射する光学顕微鏡部と、
前記照射された部分から発生した散乱光を分光処理する分光部と、
分光された光から被測定部の表面状態情報を得るラマンスペクトル検知部と
からなることを特徴とする文化財の変質評価装置。
【請求項４】
前記光学顕微鏡部が光ファイバープローブであることを特徴とする請求項３に記載の文化財の変質評価装置。
【請求項５】
文化財表面を構成する被測定物の周辺雰囲気ガスによる変質の原因物質を特定する方法であって、
周辺雰囲気ガス中に前記被測定物を曝した時の被測定物表面をラマン分光法により分析し、
前記周辺雰囲気ガス中に含まれる化学物質毎に、該化学物質中に前記被測定物を曝した時の被測定物表面をラマン分光法により分析し、
前記の各分析結果から変質原因物質を特定することを特徴とする文化財の変質原因物質の特定方法。
【請求項６】
前記雰囲気ガス中の化学物質が、文化財の収蔵材から揮散する物質であることを特徴とする請求項５に記載の文化財の変質原因物質の特定方法。
【請求項７】
前記被測定物は、あらかじめ文化財の表面を分析することによってその成分を特定し、ラマン分光分析用試料としたものを用いることを特徴とする請求項５に記載の文化財の変質原因物質の特定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、文化財または美術工芸品の変質評価方法、変質評価装置及び変質原因物質の特定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
文化財の展示あるいは収蔵には、その文化財の変色、変質、腐食などを防止するために細心の注意が払われている。とくに、文化財には着色のために緑青（塩基性炭酸銅）、密陀僧（酸化鉛）、鉛白（塩基性炭酸鉛）を始めとする無機顔料や装飾としての金属が使われていることが多いため、その着色部分への悪影響を及ぼす物質を含まない、若しくは除去した環境を保つ必要がある。
【０００３】
ところが、文化財の収蔵庫の材料として多く使用される木材からは、揮発性の樹脂成分が多数放出されることが分かっており、これらの揮発成分が無機顔料表面に付着したり、更に反応したりすることによって変色をはじめとする変質を引き起こすことが多々あった（例えば、非特許文献１参照。）。なお、ここでいう文化財とは、文化によって生み出された有形のものであり、美術工芸品も含まれるものとする。
【０００４】
収納庫用木材の最適化についてはこれまでにも、様々な検討がなされているが、含まれる揮発性樹脂成分の種類の多さや複雑さから、研究途上の段階である。これまで、収蔵庫の候補材料に含まれる揮発成分との反応試験において目視や非破壊分析可能な蛍光Ｘ線分析法による分析によって文化財の変質の判定が行われることが多かった。また、試料の形態によってはＸ線回折法やＸ線光電子分光法などが用いられていた。
【０００５】
【非特許文献１】
及川、外３名，「ベイスギ（Ｔｈｕｊａ  ｐｌｉｃａｔａ）を内装材に用いた収蔵庫の空気環境とその揮発成分の文化財材質への影響−鉄の腐食の場合−」，文化財保存修復学会誌，社団法人文化財保存修復学会，平成１４年３月，第４６巻，ｐ．５８−６５
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、目視判定ではごくわずかな変質は見逃されてしまうことがあった。また、蛍光Ｘ線法やＸ線回折法はバルク分析には適しているが、無機顔料の変質など表面のみの僅かな変化や、主要な揮発成分である有機物については検出することができず、収蔵庫の候補材料による文化財の変質の予測が困難であった。さらに、Ｘ線光電子分光法は、超高真空中での分析を要することから、非破壊分析が難しく、さらに、大まかな化学状態は検出できても、詳細な構造解析には至らない場合が多く、収蔵庫の候補材料による文化財の変質の正確な予測が困難であった。
【０００７】
本発明は、以上の従来技術における問題に鑑みてなされたものであり、文化財の着色部分の収蔵材によるわずかな変質を検出し、あるいはその変質を正確に予測することが可能で、大型文化財についても移動することなくその場分析が可能となる文化財の変質評価方法及び変質評価装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために提供する請求項１の発明に係る文化財の変質評価方法は、文化財表面を構成する被測定物をラマン分光法により分析して得られる表面状態情報から周辺雰囲気ガス中の化学物質による前記被測定物の変質に関する評価を行うことを特徴とする。
【０００９】
請求項１の発明により、ごく表層の被測定物の状態を確認することができるため、目視観察だけでは検出が困難である表面のわずかな変質を検出することが可能となる。また、文化財の変質に関する評価が手軽に行え、変質防止の対策を容易に立てることが可能となる。
【００１０】
前記課題を解決するために提供する請求項２の発明に係る文化財の変質評価方法は、請求項１の発明において、前記雰囲気ガス中の化学物質が、文化財の収蔵材から揮散する物質であることを特徴とする。
【００１１】
請求項２の発明により、文化財の収蔵材に含まれる揮発成分に関する変質評価を行うことができるため、すでに文化財を収蔵している収蔵材の適否を評価することが可能であり、また収蔵材の候補の材料の選定を行うことも可能となる。
【００１２】
前記課題を解決するために提供する請求項３の発明に係る文化財の変質評価装置は、文化財の変質評価に用いられる変質評価装置であって、レーザ光を発生するレーザ発生部と、文化財表面を構成する被測定物にレーザ光を照射する光学顕微鏡部と、前記照射された部分から発生した散乱光を分光処理する分光部と、分光された光から被測定部の表面状態情報を得るラマンスペクトル検知部とからなることを特徴とする。
【００１３】
請求項３の発明により、文化財の着色部分を構成する金属または無機顔料の数μｍの深さまでの極表面の主要元素の結合状態の情報を得ることができるため、ごくわずかな変質の兆候を検出することが可能となる。
【００１４】
前記課題を解決するために提供する請求項４の発明に係る文化財の変質評価装置は、請求項３の発明において、前記光学顕微鏡部が光ファイバープローブであることを特徴とする。
【００１５】
請求項４の発明により、遠隔測定が可能となるため、その貴重性などから破壊分析をすることができない文化財、とくに大型の文化財などを破壊することなく、そのままの状態でその場分析できる装置を提供することが可能となる。
【００１６】
前記課題を解決するために提供する請求項５の発明に係る文化財の変質原因物質の特定方法は、文化財表面を構成する被測定物の周辺雰囲気ガスによる変質の原因物質を特定する方法であって、周辺雰囲気ガス中に前記被測定物を曝した時の被測定物表面をラマン分光法により分析し、前記周辺雰囲気ガス中に含まれる化学物質毎に、該化学物質中に前記被測定物を曝した時の被測定物表面をラマン分光法により分析し、前記の各分析結果から変質原因物質を特定することを特徴とする。
【００１７】
請求項５の発明により、目視観察だけでは検出が困難である表面のわずかな変質の兆候を検出することができるため、変質原因物質を特定することが可能である。
【００１８】
前記課題を解決するために提供する請求項６の発明に係る文化財の変質原因物質の特定方法は、請求項５の発明において、前記雰囲気ガス中の化学物質が、文化財の収蔵材から揮散する物質であることを特徴とする。
【００１９】
請求項６の発明により、文化財の収蔵材に含まれる揮発成分の中から変質原因物質を特定することができるため、収蔵材の候補材料の選定、あるいはその候補材料に含まれる変質原因物質の除去を行うことが可能となる。
【００２０】
前記課題を解決するために提供する請求項７の発明に係る文化財の変質原因物質の特定方法は、請求項５の発明において、前記被測定物は、あらかじめ文化財の表面を分析することによってその成分を特定し、ラマン分光分析用試料としたものを用いることを特徴とする。
【００２１】
請求項７の発明により、シミュレーションにより文化財の変質を正確に予測することができるため、収蔵材の候補材料の選定、あるいはその候補材料に含まれる変質原因物質の除去を行うことが可能となる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明に係る文化財の変質評価方法の実施の形態を説明する。なお、以下に示す実施の形態は例示であり、これに限定されるものではない。
ここでは所定の木材（収蔵材）を用いた収蔵庫に収蔵された文化財の変質を評価する場合を例にとり、文化財の変質評価方法の流れを説明する。
【００２３】
（ｓ１）文化財の着色部分を構成する被測定物について、ラマン分光分析を行う。この分析により、被測定物の表面状態を示すラマンスペクトルを得る。
（ｓ２）ステップｓ１の被測定物と同じ成分の表面が変質していない物質についてラマン分光分析を行い、そのラマンスペクトルを得る。
（ｓ３）ステップｓ１のラマンスペクトルとステップｓ２のラマンスペクトルとを比較し、文化財の被測定物の変質状態を評価する。
【００２４】
本発明の評価方法によれば、目視観察だけでは検出が困難である数μｍの深さまでの表面のわずかな変質の兆候を検出することが可能であり、径１μｍ程度の微小な範囲の分析も可能である。具体的には、両者のスペクトルの特徴が合わない場合には収蔵庫内の雰囲気ガスの中の化学物質により被測定物のごく表層に何らかの変質が発生していると推定される。両者のスペクトルの特徴が合う場合には被測定物は変質していないと判定することが可能である。なお、収蔵庫内の雰囲気ガスの中の化学物質は収蔵材から揮散する物質である。
【００２５】
また、評価に当って、被測定物と同じ成分の物質についてすでに変質状態ごとにラマンスペクトルの特徴がわかっている場合には、それを参酌して被測定物の変質状態を推定するようにしてもよい。
【００２６】
つぎに、上記文化財の変質評価方法におけるステップｓ１，ｓ２のラマン分光分析を行うための文化財の変質評価装置の実施の形態を説明する。
図１は、本発明に係る文化財の変質評価装置の構成を示す光学図である。
文化財の変質評価装置１０は、レーザ光発生部１１と第１レンズ１２とホログラフィック・ノッチフィルタ１３と光学顕微鏡部１４と第２レンズ１５と分光部１６とラマンスペクトル検知部１７とを備えたレーザラマン分光分析装置である。
【００２７】
本装置１０によりラマン分光分析はつぎのように行われる。
レーザ光発生部１１から出射されたレーザ光は第１レンズ１２でビームが絞られ、ホログラフィック・ノッチフィルタ１３で反射された後に光学顕微鏡部１４からサンプルＳに照射される。
【００２８】
サンプルＳのレーザ光が照射された部分で発生した散乱光（ラマン光後方散乱）は光学顕微鏡部１４のレンズから取り込まれ、ホログラフィック・ノッチフィルタ１３を通過する際にレイリー光が除去される。ついで、ホログラフィック・ノッチフィルタ１３を通過した光は第２レンズ１５で集光され、分光部１６のグレーティングで分光された後、光電変換素子（ＣＣＤ）で構成されるラマンスペクトル検知部１７に分光光が入射されラマンスペクトルの検出を行う。
【００２９】
ここで、サンプルＳは、文化財の着色部分を構成する金属または無機顔料が化学物質と反応した部分であり、上記ステップｓ１の被測定物が測定に供される。
【００３０】
また、ラマンスペクトルとは、サンプルＳに所定波長のレーザ光を照射することでレーザ波長と異なる波長を持つラマン散乱光が発生し、これを分光してラマン散乱光の波長と照射レーザ光の波長との差が描かれたスペクトルである。本発明においては、反応試験後の評価目的対象物（文化財の着色部分を構成する金属または無機顔料）の数μｍの深さまでの極表面の主要元素の結合状態の情報を示すものであり、ごくわずかな変質の兆候を検出することが可能となる。
【００３１】
つぎに、光学顕微鏡部１４を光ファイバープローブ２４の態様とした構成を図２に示す。
光ファイバープローブ２４は、プローブ部２４１と、プローブ部２４１と文化財の変質評価装置１０本体のホログラフィック・ノッチフィルタ１３とを光学的につなぐ光ファイバー２４２とからなる。
【００３２】
プローブ部２４１は、光ファイバー２４２を介してレーザ光発生部１１からのレーザ光を受け、このレーザ光をサンプルＳに照射する。ついで、プローブ部２４１は、レーザ光照射後にサンプルＳからの散乱光をプローブ部２４１のレンズにより集光し、光ファイバー２４２を経由させてホログラフィック・ノッチフィルタ１３に送る。
【００３３】
通常の測定では、プレパラートなどに載せた状態で測定に供する必要があるため、サンプルＳは光学顕微鏡で測定可能なサイズに破壊加工されるが、光ファイバープローブ２４により、文化財の変質評価装置１０から離れた遠隔測定が可能となり、その貴重性などから破壊分析をすることができない文化財、とくに大型の文化財などのサンプルＳを破壊することなく、そのままの状態でその場分析が可能となる。
【００３４】
つぎに、本発明に係る文化財の変質原因物質の特定方法の実施の形態を説明する。なお、以下に示す実施の形態は例示であり、これに限定されるものではない。
図３は、本発明に係る文化財の変質原因物質の特定方法の構成を示すフローチャートである。図３に示すフローチャートの手順に従って文化財の変質原因物質の特定方法の内容を説明する。文化財の着色部分を変質させる化学物質は数多くあるが、ここでは文化財を収蔵する収蔵庫に用いる候補木材の揮発成分の影響を評価する場合を例にとり説明する。
【００３５】
（ｓ１１）文化財の着色部分の中で変質評価を行う対象物を決め、その評価目的対象物を構成する材料を確認する。材料の確認には、例えば蛍光Ｘ線法やＸ線回折法により同定すればよく、これにより金属または無機顔料が確認される。
【００３６】
（ｓ１２）収蔵庫に用いる候補木材（収蔵材料）の揮発成分を特定する。揮発成分の特定には、例えばガスクロマトグラフィー質量分析法によればよい。
【００３７】
（ｓ１３）評価目的対象物のダミーサンプルと単体揮発成分との反応試験を行う。ここで、評価目的対象物のダミーとは、文化財の評価目的対象物そのものではなく、ステップｓ１１で確認された材料に相当するものであり、市販されている試薬などをもちいればよい。また、単体揮発成分とは、収蔵材料の揮発成分そのものではなく、ステップｓ１２で特定された複数の揮発成分の中の１つの揮発成分であり、市販されている試薬などを用いればよい。また、反応試験とは、評価目的対象物のダミーと単体揮発成分とを一定温度の密閉空間に所定時間放置することにより、単体揮発成分を揮発させてダミーサンプルに作用させる試験であり、試験後にダミーの変質状態について目視観察を行う。
なお、必ずしも収蔵材料の揮発成分を構成する単体揮発成分すべてについて反応試験を行う必要はなく、主要な単体揮発成分について適宜行うようにすればよい。
【００３８】
（ｓ１４）評価目的対象物のダミーサンプルと収蔵材料の揮発成分との反応試験を行う。ここで、収蔵材料の揮発成分とは、例えば収蔵材料の抽出物を用いればよく、ステップｓ１３の反応試験と同様の試験を行う。
【００３９】
（ｓ１５）ステップｓ１３、ｓ１４の反応試験後のダミーサンプルについて、ラマン分光分析を行う。この分析により、ステップｓ１３のダミーサンプルからは特定の単体揮発成分との反応部分の表面状態を示すラマンスペクトルが得られ、ステップｓ１４のダミーサンプルからは収蔵材料の揮発成分との反応部分の表面状態を示すラマンスペクトルが得られる。なお、この分析に当っては、図１で示した文化財の変質評価装置を用いて所定の測定を行えばよい。
【００４０】
（ｓ１６）最後に評価目的対象物の変質原因物質を特定する。具体的には、ステップｓ１３において変質が確認されたダミーサンプルのラマンスペクトルと、ステップｓ１４のダミーサンプルのラマンスペクトルとを照合し、両者のスペクトルの特徴が合う場合にその単体揮発成分を変質原因物質と特定する。また、ステップｓ１３において変質が確認されていても両者のスペクトルの特徴が合わない場合には、その単体揮発成分を変質原因物質とはしない。
【００４１】
以上の評価により変質原因物質の存在が確認された場合には、その候補木材を用いた収蔵庫に対象の文化財を収蔵すると変質原因物質である単体揮発成分により着色部分が変質することが予測される。したがって、この評価結果に基づいて、変質原因物質となる単体揮発成分を除去すればよい。
【００４２】
このように、本発明に係る文化財の変質原因物質の特定方法によれば、目視観察だけでは検出が困難である表面のわずかな変質の兆候を検出することが可能であり、さらに変質原因物質を特定し、必要に応じて除去することも可能である。また、径１μｍ程度の微小な範囲の分析も可能である。
【００４３】
【実施例】
上記本発明を実際に実施した例を以下に説明する。この実施例は例示であり、本発明はこの実施例に限定されるものではない。
【００４４】
（実施例１）
評価目的対象物、候補材料及び反応試験、ラマン分光分析の条件を以下に示す。なお、変質評価に当っては図１に示す文化財の変質評価方法の手順にしたがって試験及び評価を実施した。
（１）評価目的対象物：ＰｂＯ（密陀僧）
（２）候補材料：ベイスギ
（３）反応試験：
・評価目的対象物のダミーサンプル：ＰｂＯ特級試薬
・単体揮発成分：ヒノキチオール、ギ酸、酢酸の特級試薬
・揮発成分：ベイスギ抽出物（ＵＶ照射あり）
ＰｂＯ特級試薬をＸ線回折測定用スライドガラスのくぼみに均一に埋め込み試験片とし、上記単体揮発成分の中の１試薬、あるいはベイスギ抽出物の入ったサンプルビンとともに密閉容器に入れ、恒温槽の中で４０℃に保ち、２８日間放置した。単体揮発成分の使用量はヒノキチオールが１ｍｍｏｌ、その他は５ｍｎｏｌを目安とした。また、比較のため、揮発成分を何も入れない状態で同じ反応試験を行った。
（４）ラマン分光分析
文化財の変質評価としてラマン分光分析装置（日本電子（Ｒｅｎｉｓｈａｗ）製、装置名：ＪＲＳ−ＳＹＳ１０００）を使用し、波長５１４．５ｎｍのＡｒレーザを光源として、試料上出力０．３ｍＷ、ビーム径２０μｍの条件でラマン分光分析を行った。
【００４５】
（評価結果）
（１）ベイスギ揮発成分の特定
ベイスギの揮発成分をパージアンドトラップ  ヘッドスペースサンプリング（Ｐ＆Ｔ−ＨＳＳ）−ＧＣ−ＭＣ法によりガスクロマトグラフィー質量分析装置で分析した結果を下記表１に示す。ヒノキチオール、フェノール、ギ酸、酢酸を始めとして、多種の揮発成分が検出された。
【００４６】
【表１】
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【００４７】
（２）外観評価
単体揮発成分との反応試験により、単体揮発成分なし及びヒノキチオールの場合にはＰｂＯの変質は認められず、ギ酸及び酢酸の場合に白く変質することが認められた。
また、候補材料の揮発成分（ベイスギ抽出物）との反応試験により、ＰｂＯは目視上ほとんど変化が認められなかった。
【００４８】
（３）ラマン分光分析
ラマン分光分析の結果を図４〜図８に示す。
単体揮発成分ヒノキチオールのラマンスペクトル（図５）は、揮発成分なしのラマンスペクトル（図４）と同様のスペクトルパターンであった。また、単体揮発成分ギ酸、酢酸のラマンスペクトル（図６、図７）は、それぞれ揮発成分なしのラマンスペクトル（図４）とは異なるスペクトルパターンを呈していた。
これに対して、ベイスギ抽出物のラマンスペクトル（図８）は、図中矢印で示す波数で小さなピークが認められ、図７の酢酸のラマンスペクトルのピークと一致することから、ベイスギ抽出物によって酢酸を作用させた場合と同様の反応が起こっていることが認められた。したがって、ベイスギの揮発成分の中に含まれる酢酸がＰｂＯの変質原因物質となり、ベイスギの揮発成分の濃度や保存状態及び期間によっては、酢酸単体が作用した時と同様にＰｂＯが全く色相が変化してしまう恐れがある。
本発明によれば、このように目視では確認できない僅かな変化も感度良く検出することが可能である。
【００４９】
（実施例２）
評価目的対象物を銅（Ｃｕ）、そのダミーサンプルを銅板（ＪＩＳ：Ｃ１１００Ｐ）とし、単体揮発成分をヒノキチオール、酢酸の特級試薬として、それ以外の条件は実施例１の条件と同じとして、反応試験を行った。評価に当っては、実施例１と同様の評価試験とともに、Ｘ線回折法及びＸ線光電子分光法による分析も行った。
【００５０】
（評価結果）
（１）外観評価
単体揮発成分との反応試験により、単体揮発成分なし及び酢酸の場合にはＣｕの変質は認められず、ヒノキチオールの場合に黄色く変質することが認められた。
また、候補材料の揮発成分（ベイスギ抽出物）との反応試験により、Ｃｕはヒノキチオールの場合と同様に黄色く変質することが認められた。
【００５１】
（２）ラマン分光分析
ラマン分光分析の結果を図９〜図１２に示す。
単体揮発成分酢酸のラマンスペクトル（図１０）は、揮発成分なしのラマンスペクトル（図９）とほとんど同様のスペクトルパターンであった。また、単体揮発成分ヒノキチオールのラマンスペクトル（図１１）は、揮発成分なしのラマンスペクトル（図９）とは異なるスペクトルパターンを呈していた。
これに対して、ベイスギ抽出物のラマンスペクトル（図１２）は、図１１のヒノキチオールのラマンスペクトルのピークと一致することから、ベイスギ抽出物によってヒノキチオールを作用させた場合と同様の反応が起こっていることが認められた。したがって、ベイスギの揮発成分の中に含まれるヒノキチオールがＣｕの変質原因物質となり、ベイスギの揮発成分の濃度や保存状態及び期間によっては、ヒノキチオール単体が作用した時と同様にＣｕが全く色相が変化してしまう恐れがある。
【００５２】
Ｘ線回折法による単体揮発成分ヒノキチオールを作用させた場合の回折パターンは、揮発成分なしの場合の回折パターンと同じであり、変質反応の評価ができていないことがわかった。
【００５３】
また、Ｘ線光電子分光法によるＣｕ２ｐ軌道の分析結果を図１３に示す。
図１３において、Ｃｕ２ｐの状態から単体揮発成分ヒノキチオールを作用後はＣｕの水酸化物が生成していることが予想されるものの、この結果からそれ以上の詳細な構造変化を評価することは困難である。
以上の結果から、文化財に使われている金属や無機顔料のような非破壊分析が望ましい試料に対してのラマン分光法を用いた評価法が有効である。
【００５４】
【発明の効果】
上述したように、請求項１の発明によれば、目視観察だけでは検出が困難である表面のわずかな変質を検出することができ、文化財の変質に関する評価が手軽に行える。
請求項２の発明によれば、すでに文化財を収蔵している収蔵材の適否を評価でき、また収蔵材の候補の材料の選定を行うこともできる。
請求項３の発明によれば、文化財の着色部分のごくわずかな変質の兆候を検出できる。
請求項４の発明によれば、その貴重性などから破壊分析をすることができない文化財、とくに大型の文化財などを破壊することなく、そのままの状態でその場分析することができる。
請求項５の発明によれば、その貴重性などから破壊分析をすることができない文化財、とくに大型の文化財などを破壊することなく、そのままの状態でその場分析することが可能となる。
請求項６，７の発明によれば、収蔵材の候補材料の選定、あるいはその候補材料に含まれる変質原因物質の除去を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る文化財の変質評価装置の構成を示す光学図である。
【図２】本発明に係る光ファイバープローブの構成を示す概略図である。
【図３】本発明に係る文化財の変質原因物質の特定方法の構成を示すフローチャートである。
【図４】実施例１の揮発成分なしの場合のラマンスペクトルである。
【図５】実施例１の単体揮発成分ヒノキチオールの場合のラマンスペクトルである。
【図６】実施例１の単体揮発成分ギ酸の場合のラマンスペクトルである。
【図７】実施例１の単体揮発成分酢酸の場合のラマンスペクトルである。
【図８】実施例１の揮発成分ベイスギ抽出物の場合のラマンスペクトルである。
【図９】実施例２の揮発成分なしの場合のラマンスペクトルである。
【図１０】実施例２の単体揮発成分酢酸の場合のラマンスペクトルである。
【図１１】実施例２の単体揮発成分ヒノキチオールの場合のラマンスペクトルである。
【図１２】実施例２の揮発成分ベイスギ抽出物の場合のラマンスペクトルである。
【図１３】実施例２のＸ線光電子分析法によるＣｕ２ｐの状態を示すスペクトルである。
【符号の説明】
１０…文化財の変質評価装置、１１…レーザ光発生部、１２…第１レンズ、１３…ホログラフィック・ノッチフィルタ、１４…光学顕微鏡部、１５…第２レンズ、１６…分光部、１７…ラマンスペクトル検知部、２４…光ファイバープローブ、２４１…プローブ部、２４２…光ファイバー、Ｓ…サンプル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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