(57)【要約】【課題】光ファイバの温度変化分の歪みを補正して被測定対象物の歪みを正確に測定する。【解決手段】歪みセンサ１０１は、被測定対象物に固定される扁平なプラスッチクのテープによって形成された基盤２が備えられている。基盤２には光ファイバ３が取り付けられており、光ファイバ３の一端側には光ファイバ歪み計測装置５が接続されている。光ファイバ３の他端には、光ファイバ３の終端部における反射を防止するためのシリコーンオイル７が設けられている。そして、光ファイバ３は第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂとから構成されている。第１の測定部３ａは、固定部材４によって測定区間Ａに緊張した状態で直線状となるように両端部が基盤２に固定されている。第２の測定部３ｂは、基盤２に弛みをもって曲線状となるように両端部が基盤２に固定されている。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定対象物に固定される基盤と、この基盤に取り付けられた光ファイバと、この光ファイバの一端に設けられ光ファイバ歪み計測装置が接続される接続部とからなる歪みセンサにおいて、前記光ファイバを、前記基盤の測定区間に緊張した状態で固定した第１の測定部と、前記基盤に弛みをもって固定した第２の測定部とによって構成したことを特徴とする歪みセンサ。
【請求項２】
請求項１記載の歪みセンサにおいて、前記第１の測定部と第２の測定部とを交互に複数設けたことを特徴とする歪みセンサ。
【請求項３】
請求項１記載の歪みセンサにおいて、前記第１の測定部と第２の測定部との間に折り返し部を設け、これら第１の測定部と第２の測定部とを前記基盤の同じ測定区間に設けたことを特徴とする歪みセンサ。
【請求項４】
請求項２記載の歪みセンサにおいて、前記複数の第１の測定部と複数の第２の測定部との間のうちの一つの間に折り返し部を設け、複数の第１の測定部のそれぞれと複数の第２の測定部のそれぞれとを同じ測定区間に設けたことを特徴とする歪みセンサ。
【請求項５】
請求項１ないし４記載の歪みセンサにおいて、前記第１の測定部のうち前記基盤に固定された部位以外を相対する面が小さい摩擦係数を有する２枚のテープで挟み、前記第２の測定部を、前記２枚のテープによって前記第１の測定部と交差せず、かつ２枚のテープから一部が露呈するように挟み、露呈した部分を前記基盤に固定したことを特徴とする歪みセンサ。
【請求項６】
請求項１ないし５記載の歪みセンサにおいて、前記第１および第２の測定部を前記基盤に固定する固定部材に相対的に剛性の高い棒状部材を埋設し、この棒状部材に沿って前記光ファイバを前記基盤に固定したことを特徴とする歪みセンサ。
【請求項７】
請求項１ないし６記載の歪みセンサにおいて、前記基盤を相対的に弾性係数の小さい材料によって形成し、この基板の表面に相対的に弾性係数の大きい材料によって形成した剥離可能なテープを貼り付けることを特徴とする歪みセンサ。
【請求項８】
請求項１ないし７記載の歪みセンサにおいて、前記基盤を円筒形に形成し、この基盤内に前記光ファイバを収容したことを特徴とする歪みセンサ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コンクリート等の構造物の伸縮（亀裂）を検知する歪みセンサに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の歪みセンサは、光ファイバの周囲を強化プラスチックで被覆しこの被覆材の外周にスパイラル状の突起を設けたものや、被覆部を幅広のシート状に形成したものがある。そして、これらの歪みセンサをコンクリートに埋設したり、接着剤によってコンクリートの表面に固着し、この歪みセンサの光ファイバに測定装置を接続することにより、入射した光の散乱光や光損失を測定し、歪みセンサが敷設されている部分の歪みを測定している。（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
なお、本出願人は、本明細書に記載した先行技術文献情報で特定される先行技術文献以外には、本発明に密接に関連する先行技術文献を出願時までに発見するには至らなかった。
【０００４】
【特許文献１】
特開２０００−２２７３６８号（段落０００４、図２、図３、図５）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の歪みセンサにおいては、被測定物の歪みを歪みセンサを構成する光ファイバの伸縮を介して測定することはできるが、温度変化に対しては光ファイバが伸縮したことについては何ら考慮されていないため、温度変化を補償することができず、必ずしも正確な歪みの量を測定できないといった問題があった。
【０００６】
本発明は上記した従来の問題に鑑みなされたものであり、その目的とするところは、光ファイバの温度変化分の歪みを補正して被測定対象物の歪みを正確に測定することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するために、請求項１に係る発明は、被測定対象物に固定される基盤と、この基盤に取り付けられた光ファイバと、この光ファイバの一端に設けられ光ファイバ歪み計測装置が接続される接続部とからなる歪みセンサにおいて、前記光ファイバを、前記基盤の測定区間に緊張した状態で固定した第１の測定部と、前記基盤に弛みをもって固定した第２の測定部とによって構成したものである。
したがって、第２の測定部で測定された温度補償用のデータを、第１の測定部３ａで測定されたデータに加えることにより、光ファイバの温度変化に対する補正がなされる。
【０００８】
また、請求項２に係る発明は、請求項１に係る発明において、前記第１の測定部と第２の測定部とを交互に複数設けたものである。
したがって、複数の測定区間を一度に測定できる。
【０００９】
また、請求項３に係る発明は、請求項１に係る発明において、前記第１の測定部と第２の測定部との間に折り返し部を設け、これら第１の測定部と第２の測定部とを前記基盤の同じ測定区間に設けたものである。
したがって、光ファイバの出入り口を同じ側に設けることができる。
【００１０】
また、請求項４に係る発明は、請求項２に係る発明において、前記複数の第１の測定部と複数の第２の測定部との間のうちの一つの間に折り返し部を設け、複数の第１の測定部のそれぞれと複数の第２の測定部のそれぞれとを同じ測定区間に設けたものである。
したがって、被測定対象物における測定区間の長さを半分にすることができる。
【００１１】
また、請求項５に係る発明は、請求項１ないし４に係る発明において、前記第１の測定部のうち前記基盤に固定された部位以外を相対する面が小さい摩擦係数を有する２枚のテープで挟み、前記第２の測定部を、前記２枚のテープによって前記第１の測定部と交差せず、かつ２枚のテープから一部が露呈するように挟み、露呈した部分を前記基盤に固定したものである。
したがって、第１および第２の測定部は自由に伸縮でき、かつ第２の測定部は所定の形状に弛む。
【００１２】
また、請求項６に係る発明は、請求項１ないし５に係る発明において、前記第１および第２の測定部を前記基盤に固定する固定部材に相対的に剛性の高い棒状部材を埋設し、この棒状部材に沿って前記光ファイバを前記基盤に固定したものである。
したがって、固定部材において基盤の伸縮による影響を排除できる。
【００１３】
また、請求項７に係る発明は、請求項１ないし６に係る発明において、前記基盤を相対的に弾性係数の小さい材料によって形成し、この基板の表面に相対的に弾性係数の高い材料によって形成したテープを貼り付ける。
したがって、歪みセンサを被測定対象物の曲面部分に固定することが可能になる。
【００１４】
また、請求項８に係る発明は、請求項１ないし７に係る発明において、前記基盤を円筒形に形成し、この基盤内に前記光ファイバを収容したものである。
したがって、第２の測定部をファイバの軸線方向および軸線方向と直交する方向へ弛ませることができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図に基づいて説明する。図１は請求項１に記載した発明に係るもので、本発明に係る歪みセンサの第１の実施の形態を示し、単一区間を測定する方法を説明するためのモデル図である。
同図に示すように、全体を符号１０１で示す歪みセンサは、図示を省略した被測定対象物に固定される扁平なプラスッチックのテープによって形成された基盤２と、この基盤２に取り付けられた光ファイバ３と、この光ファイバ３の一端側に設けられた光ファイバ歪み計測装置５が接続される配線用の光ファイバ６とによって概略構成されている。また、光ファイバ３の他端には、光ファイバ３の終端部は反射を防止するためのシリコーンオイル７に浸漬されている。そして、光ファイバ３は３個の固定部材４によって、測定区間Ａに緊張した状態で直線状となるように両端部が基盤２に固定された第１の測定部３ａと、基盤２に弛みをもって曲線状となるように両端部が基盤２に固定された第２の測定部３ｂとによって構成したものである。
【００１６】
この歪みセンサ１０１を被測定対象物（図示せず）に固定することにより、被測定対象物が変位すると、第１の測定部３ａは緊張した状態で基盤２に固定されているために、この変位に追従して変位する。一方、第２の測定部３ｂは弛みをもって基盤２に固定されているために、被測定対象物の変位に追従した変位は発生しない。したがって、この第２の測定部３ｂにおいては、被測定対象物の変位以外の影響による変位分を測定することができる。これを用いて、第１の測定部３ａの変位に影響を及ぼしている被測定対象物の変位以外による変動分、例えば温度による変動分を補正することができるので、歪みセンサ１０１による計測結果が正確になる。また、この歪みセンサ１０１は全体を扁平のテープ状に形成できるため、巻回することにより運搬等の取り扱いが容易であるばかりでなく、敷設時も巻回した状態から引き出すことにより容易に敷設できる。
【００１７】
図２は請求項２に記載した発明に係るもので、本発明に係る歪みセンサの第２の実施の形態を示し、複数区間を測定する方法を説明するためのモデル図である。
この第２の実施の形態における歪みセンサ１０２では、基盤２に複数の測定区間ＡないしＥが設けられ、これら測定区間ＡないしＥに第１の測定部３ａを固定部材４に固定し、測定区間ＡないしＥの互いに隣接する測定区間の間には、第２の測定部３ｂが固定部材４によって固定されている。そして、これら交互に設けられた複数の第１の測定部３ａと複数の第２の測定部３ｂとが１本の光ファイバ３によって形成されている。したがって、光ファイバ歪み計測装置５によって、複数の測定区間ＡないしＥの変位が複数の第１の測定部３ａによって一度に測定することができる。同時に、測定区間ＡないしＥの互いに隣接する測定区間の間において、複数の第２の測定部３ｂによって温度変化による光ファイバ３の変位を測定することができる。このため、複数の測定区間ＡないしＥにおける被測定対象物の正確な歪みを一度に測定することができる。
【００１８】
図３（ａ）、（ｂ）は請求項３に記載した発明に係るもので、本発明に係る歪みセンサの第３の実施の形態を示したモデル図であって、このうち、同図（ａ）で示すものは１本の光ファイバ３によって第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂとを形成したものである。
この第３の実施の形態における歪みセンサ１０３では、第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂとの間に折り返し部９を設け、第２の測定部３ｂを第１の測定部３ａを設けた測定区間Ａに設けるように、固定部材４によって固定したものである。
【００１９】
このように構成することにより、基盤２に測定区間Ａの他に第２の測定部３ｂを設ける区間を特別に設ける必要がなくなるため、基盤２の全長を短くすることができるばかりではなく、光ファイバ３の出入り口、すなわち光ファイバ歪み計測装置５とシリコーンオイル７が収容された容器とを同じ側に設けることができる。
【００２０】
同図（ｂ）に示すものは、２本の光ファイバ３Ａ，３Ｂによってそれぞれ第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂを形成したものである。すなわち、２本の光ファイバ３Ａ，３Ｂの余長分９を折り返して、それぞれの一端を融着接続して接続部１０を形成したものである。なお、接続部１０は融着接続に限らず、コネクタを介して接続してもよい。
【００２１】
図４は請求項４に記載した発明に係るもので、本発明に係る歪みセンサの第４の実施の形態を示したモデル図であって、同図（ａ）は１本の光ファイバ３によって複数の第１および第２の測定部３ａ，３ｂを形成したものである。
すなわち、この第４の実施の形態における歪みセンサ１０４では、１本の光ファイバ３の半分が基盤２の上部側に、他の半分が基盤２の下部側にそれぞれ位置するように、光ファイバ３の中央部は折り返されて折り返し部９が設けられている。光ファイバ３の基盤２の上部側に位置する部分は、交互に複数の第１の測定部３ａと複数の第２の測定部３ｂを形成するように、固定部材４によってそれぞれの両端部が基盤２に固定されている。したがって、これら複数の第１の測定部３ａによって複数の測定区間ＡないしＥが設けられ、複数の第２の測定部３ｂは、これら複数の測定区間ＡないしＥの間の後述する測定区間ＦないしＪに位置付けられる。
【００２２】
光ファイバ３の基盤２の下部側に位置する部分は、交互に複数の第１の測定部３ａと複数の第２の測定部３ｂを形成するように、固定部材４によって両端部が基盤２に固定されている。したがって、これら下側の複数の第１の測定部３ａによって、複数の測定区間ＦないしＪが設けられ、下側の複数の第２の測定部３ｂは上述した測定区間ＡないしＥに位置付けられる。このように、測定区間ＡないしＪの同じ測定区間に第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂとを位置付けたことにより、基盤２に測定区間ＡないしＪを隣接させた状態で設けることができる。このため、一度に複数の測定区間を計測することができるばかりではなく、基盤２の全長を最小限に形成することができる。
【００２３】
同図（ｂ）に示すものは、２本の光ファイバ３Ａ，３Ｂによってそれぞれ複数の第１の測定部３ａと、複数の第２の測定部３ｂを形成したものである。すなわち、２本の光ファイバ３Ａ，３Ｂの余長分９を折り返して、それぞれの一端を融着接続して接続部１０を形成したものである。
【００２４】
なお、上述した、第１ないし第４の実施の形態では、歪みセンサ１０１ないし１０４を被測定対象物に取り付けることにより、これら歪みセンサ１０１ないし１０４を介して被測定対象物の歪みを検知するようにしたが、直接固定部材４によって光ファイバ３を被測定対象物の被測定個所に固定して歪みを検知するようにしてもよく、その場合には基盤２は不要になる。
【００２５】
図５は本発明に係る歪みセンサの第５の実施の形態を示したモデル図であって、同図（ａ）は平面図、同図（ｂ）は正面図である。
この第５の実施の形態における歪みセンサ１０５では、２本の光ファイバ３Ａ，３Ｂによって、第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂを形成するものであって、一方の光ファイバ３Ａに第１の測定部３ａが形成され、他方の光ファイバ３Ｂに複数の波状の第２の測定部３ｂが形成されている。これら第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂとは、第１および第２の測定部３ａ，３ｂの伸縮を規制することのない、相対する面が小さい摩擦係数を有する２枚の挟持用のテープ１５，１５によって挟まれている。
【００２６】
基盤２は接着剤１９によって被測定対象物２０の上面に固着されており、一方の固定部材４Ａは、基板２を被測定対象物２０に固定するねじ１７によって押え板１６，１７を介して基板２に固定されており、他方の固定部材４Ｂは接着剤によって基板２に固定されている。２本の光ファイバ３Ａ，３Ｂは、固定部材４Ａ，４Ｂを介して基板２に固定されており、互いの一端が融着接続され接着部１０を形成し、一方の光ファイバ３Ａの他端には光ファイバ歪み計測装置５が接続され、他方の光ファイバ３Ｂの他端部にはシリコーンオイル７が設けられている。このような構成とすることにより、上述した第３の実施の形態と同様に、光ファイバ３の出入り口、すなわち光ファイバ歪み計測装置５とシリコーンオイル７が収容された容器とを同じ側に設けることができる。
【００２７】
同図（ｃ）は、この第５の実施の形態において、１本の光ファイバ３によって第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂとを形成するように折り返し部９を設けたものであって、固定部材４，４は共に接着剤によって基盤２に固定されている。
【００２８】
図６は本発明に係る歪みセンサの第６の実施の形態を示したモデル図である。
この第６の実施の形態における歪みセンサ１０６では、上述した第５の実施の形態において、１つの基盤２に３つの測定区間Ａ，Ｂ，Ｃを設けたものである。各測定区間Ａ，Ｂ，Ｃには、それぞれ第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂが設けられ、これら第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂの両端部は固定部材４によって基盤２に固定されている。このように構成されていることにより、この歪みセンサ１０６を被測定対象物２０に固定すると、被測定対象物２０の３つの被測定箇所を一度に測定することができる。
【００２９】
図１１はこの第６の実施の形態における歪みセンサ１０６の特性を評価した結果を示したものである。同図から明らかなように、測定区間Ａにおいて、第１の測定部３ａでは、被測定対象物の伸長によって基盤２が引っ張られることによる歪みが発生し、第２の測定部３ｂでは、被測定対象物の伸長によって基盤３５が引っ張られることによる歪みは発生せずに温度変化による僅かな歪みのみが発生していることがわかる。したがって、第２の測定部３ｂに発生した歪みを温度補償分として第２の測定部３ｂに発生した歪みに補正を加えることにより、温度変化分を除去した基盤２の正確な歪みを測定することができる。
【００３０】
図７は請求項５および６に記載した発明に係るもので、本発明に係る歪みセンサの第７の実施の形態を示したモデル図で、同図（ａ）は上側の基盤を取り外した状態の平面図、同図（ｂ）は押えテープを取り外した状態の正面図、同図（ｃ）は同図（ａ）におけるＶＩＩ（ｃ）−ＶＩＩ（ｃ）  線断面図、同図（ｄ）は同図（ａ）におけるＶＩＩ（ｄ）−ＶＩＩ（ｄ）  線断面図である。
【００３１】
この第７の実施の形態における歪みセンサ１０７では、第１の測定部３ａのうち前記基盤２に固定部材４によって固定された部位以外を相対する面が小さい摩擦係数を有する２枚の挟持用のテープ１５，１５で挟んでいる。また、第２の測定部３ｂを、２枚のテープ１５，１５によって第１の測定部３ａと交差せず、かつ２枚のテープ１５，１５から一部が露呈するように挟み、露呈した部位の一部に固定部材２６が取り付けられ、この固定部材２６が固定テープ２５を介して基盤２に固定されている。このように、第２の測定部３ｂの一部が固定部材２６を介して基板２に固定されているために、第２の測定部３ｂの全長が相対的に長くなっても、第２の測定部３ｂの弛みを所定の形状に形成することができるとともに、第１および第２の測定部３ａ，３ｂは自由に伸縮できる。
【００３２】
また、光ファイバ３を基盤２に固定する固定部材４に剛性の高い棒状部材２７を埋設し、この棒状部材２７に沿って光ファイバ３を固定部材４に固定している。したがって、光ファイバ３が固定部材４に直線状に固定することができるだけではなく、基盤２が収縮して光ファイバ３に損失が増加するのを規制できるため、第１の測定部３ａにおいて不要な測定誤差を除去でき精度の高い測定が可能になる。
【００３３】
図８は請求項７に記載した発明に係るもので、本発明に係る歪みセンサの第８の実施の形態を示したモデル図である。
同図（ａ）、（ｂ）に示すように、この第８の実施の形態おける歪みセンサ１０８では、基盤２を相対的に弾性係数の小さいゴム材によって形成し、その表面に弾性係数の大きいプラスチックによって形成した剥離可能なテープ３０を張り付けたり、同図（ｃ）に示すように、基盤２の表裏にテープ３０を張り付けている。したがって、テープ３０によって基盤２の伸縮を規制しながら、基盤２を被測定対象物に固定することができ、基盤２を被測定対象物に固定したらテープ３０を剥離する。このため、弾性変形しやすい基盤２を被測定対象物の曲面部分に沿って固定することができるため使い勝手が向上する。同図（ｄ）、（ｅ）、（ｆ）に示すように、基盤２の表面に２枚のテープ３０を張り付けてもよいし、裏面に１枚のテープ３０を張り付けてもよいし、種々の設計変更が可能である。
【００３４】
図９は請求項８に記載した発明に係るもので、本発明に係る歪みセンサの第９の実施の形態を示したモデル図であり、同図（ａ）は正断面図、同図（ｂ）は同図（ａ）における  ＩＸ（ｂ）−ＩＸ（ｂ）線断面図である。
この第９の実施の形態における歪みセンサ１０９では、基盤３５が円筒形に形成され、両端の開口を閉塞するように固定部材３７，３７が取り付けられており、第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂは両端が固定部材３７，３７を介して基盤３５に固定されて基盤３５内に収容されている。したがって、第２の測定部３ｂを、同図（ｂ）に示すように、Ｘ方向とＹ方向とに弛ませることができるので自由度が増す。基盤３５は外部被覆層３８に覆われており、この第９の実施の形態の歪みセンサ１０９は、被測定対象物内に埋設した状態で使用することができる。
【００３５】
図１０は本発明に係る歪みセンサの第１０の実施の形態を示したモデル図である。
この第１０の実施の形態おける歪みセンサ１１０では、上述した第９の実施の形態における歪みセンサ１０９よりも基盤３５の全長を相対的に長く形成し、２つの測定区間Ａと測定区間Ｂを設けたものである。さらに、これら測定区間Ａと測定区間Ｂとの全長も長く形成しており、固定部材３７間には、補助固定部材４０が設けられている。同じ測定区間Ａ内および測定区間Ｂ内では、第１の測定部３ａどうしが接続され、かつ第２の測定部３ｂどうしが接続されており、測定区間Ａと測定区間Ｂとの間では、第１の測定部３ａと第２の測定部３ｂとが接続されている。
【００３６】
【実施例】
基盤２，３５の材質はプラスチック、ゴムの他に不織布とした。挟持用のテープ１５はフィルム状のテフロン（登録商標）シートやＰＥスプリットテープを用いた。接着剤１９は基盤２の材質によってプラスチック用またはゴム用あるいはＦＲＰ用の接着剤を使用した。
【００３７】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、光ファイバの温度補償分を補正することができるため測定値が正確になる。全体を扁平のテープ状に形成できるため、巻き込むことにより運搬等の取り扱いが容易であるばかりでなく敷設も容易になる。また、被測定対象物の曲面部分にも固定することができるため、各種の構造物にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る歪みセンサの第１の実施の形態を示すモデル図である。
【図２】本発明に係る歪みセンサの第２の実施の形態を示すモデル図である。
【図３】本発明に係る歪みセンサの第３の実施の形態を示したモデル図であって、同図（ａ）は１本の光ファイバによって第１の測定部と第２の測定部とを形成したもので、同図（ｂ）は２本の光ファイバによってそれぞれ第１および第２の測定部を形成したものである。
【図４】本発明に係る歪みセンサの第４の実施の形態を示すモデル図であって、同図（ａ）は１本の光ファイバによって複数の第１および第２の測定部を形成したもので、同図（ｂ）は２本の光ファイバによってそれぞれ複数の第１および第２の測定部を形成したものである。
【図５】本発明に係る歪みセンサの第５の実施の形態を示したモデル図であって、同図（ａ）は平面図、同図（ｂ）は正面図、同図（ｃ）は変形例を示す平面図である。
【図６】本発明に係る歪みセンサの第６の実施の形態を示したモデル図である。
【図７】本発明に係る歪みセンサの第７の実施の形態を示したモデル図で、同図（ａ）は上側の基盤を取り外した状態の平面図、同図（ｂ）は押えテープを取り外した状態の正面図、同図（ｃ）は同図（ｂ）におけるＶＩＩ（ｃ）−ＶＩＩ（ｃ）  線断面図、同図（ｄ）は同図（ｂ）におけるＶＩＩ（ｄ）−ＶＩＩ（ｄ）線断面図である。
【図８】本発明に係る歪みセンサの第８の実施の形態を示したモデル図であって、同図（ａ）は平面図、同図（ｂ）は正面図、同図（ｃ）は変形例の正面図、同図（ｄ）は他の例の平面図、同図（ｅ）は正面図、同図（ｆ）は変形例の正面図である。
【図９】本発明に係る歪みセンサの第９の実施の形態を示したモデル図であり、同図（ａ）は正断面図、同図（ｂ）は同図（ａ）における  ＩＸ（ｂ）−ＩＸ（ｂ）線断面図である。
【図１０】本発明に係る歪みセンサの第１０の実施の形態を示したモデル図である。
【図１１】第６の実施の形態における歪みセンサの特性評価結果を示す図である。
【符号の説明】
２，３５…基盤、３，３Ａ，３Ｂ…光ファイバ、３ａ…第１の測定部、３ｂ…第２の測定部、４，２６，３７…固定部材、５…光ファイバ歪み計測装置、６…配線用の光ファイバ、７…シリコーンオイル、９…折り返し部、１０…接続部、１５…挟持用のテープ、２７…棒状部材、３０…テープ、１０１ないし１１０…歪みセンサ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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