(57)【要約】【課題】小型で且つ安価な設備費用で不良検出及び過電圧印加の検査を行うことができるプリント基板の検査装置を提供することを課題とする。【解決手段】通常検査時には、バイパススイッチ６が導通され、電源回路３から出力された電源電圧Ｅ１、Ｅ２が端子Ｔ１及びＴ２を介してプリント基板Ｐ１、Ｐ２の第１の電圧検出回路Ｄ０及び第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２に入力される（ａ）。一方、過電圧印加検査時には、バイパススイッチ６が遮断され、電源回路３から出力された過電圧Ｅｍａｘが端子Ｔ１を介してプリント基板Ｐ１、Ｐ２の第１の電圧検出回路Ｄ０に印加されると共に保護抵抗Ｒの電圧降下により低下した電圧値がプリント基板Ｐ１、Ｐ２の第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２に印加される（ｂ）。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電源が供給されたときにその電源電圧に対応した値の電圧をＣＰＵへ出力する第１の電圧検出回路とその電源電圧と自らの電圧仕様との関係に基づいて演算された値の電圧をＣＰＵへ出力する第２の電圧検出回路とを有するプリント基板の検査を行う検査装置であって、
プリント基板の第１及び第２の電圧検出回路にそれぞれ接続される第１及び第２の端子と、
第１及び第２の端子に接続され且つ検査のための電源電圧と過電圧のうち一方を選択的に出力する電源回路と、
前記電源回路と第２の端子との間に直列に接続された保護抵抗と、
前記保護抵抗に並列に接続されると共に前記電源回路から検査のための電源電圧が出力されるときには導通状態となって前記保護抵抗をバイパスすると共に前記電源回路から過電圧が出力されるときには遮断状態となることにより前記保護抵抗を介して過電圧を第２の端子に出力させるバイパススイッチと
を備えたことを特徴とするプリント基板の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、プリント基板の検査装置に係り、特にプリント基板に過電圧を印加して検査を行う検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から不良ワークを検出する各種の装置が考案され、使用されている。例えば、特許文献１に示される検査装置では、多数のバッテリセルが直列に接続されて収容されたバッテリ組立体に対して、各バッテリセルの両端電圧を測定したり、バッテリ組立体の両端電圧を測定することにより、規格内にあるワークと規格外の不良ワークとを判別している。この検査装置によれば、測定された電圧値が規格範囲内にあるか否かを判定する回路あるいはソフトウエアを備えることでバッテリセル及びバッテリ組立体の不良を検出することができる。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１０−２５３７２３号公報
【０００４】
ところが、例えば、それぞれ共通の基板ソフトＳが搭載された複数の電圧仕様Ｅ１、Ｅ２のプリント基板Ｐ１、Ｐ２に対し、電圧仕様Ｅ１、Ｅ２毎に専用の検査ソフトＫ１、Ｋ２で不良品検査をしようとすると、プリント基板Ｐ１の検査に対して検査ソフトＫ２がセットされる、あるいはプリント基板Ｐ２の検査に対して検査ソフトＫ１がセットされるという組み合わせの不良が生じる虞があり、それらの場合には正確な動作確認を行えないこととなる。
【０００５】
そこで、図２に示されるような検査システムにより検査を行おうとする試みがなされている。電圧仕様Ｅ１及びＥ２にそれぞれ対応したプリント基板Ｐ１及びＰ２には共通して第１の電圧検出回路Ｄ０が搭載されると共に、プリント基板Ｐ１に電圧仕様Ｅ１に対応した第２の電圧検出回路Ｄ１が、プリント基板Ｐ２に電圧仕様Ｅ２に対応した第２の電圧検出回路Ｄ２がそれぞれ搭載されている。プリント基板Ｐ１及びＰ２のＣＰＵ１には共通の基板ソフトＳが格納される。
【０００６】
一方、検査装置２には、本来、電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１の動作確認を行う際には検査ソフトＫ１が、電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２の動作確認を行う際には検査ソフトＫ２がそれぞれ格納される。検査ソフトＫ１が格納されると、検査装置２内の電源回路３から電源電圧Ｅ１がプリント基板の第１及び第２の電圧検出回路へ供給され、検査ソフトＫ２が格納されると、電源回路３から電源電圧Ｅ２がプリント基板の第１及び第２の電圧検出回路へそれぞれ供給される。
【０００７】
このような電源供給を受けると、プリント基板の第１の電圧検出回路Ｄ０は、電源回路３からの電源電圧に対応した値の電圧をＣＰＵ１へ出力し、一方、第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２は、電源回路３からの電源電圧と自らの電圧仕様とからプリント基板と検査ソフトとの組み合わせを表わす値の電圧を演算して出力する。
【０００８】
そして、ＣＰＵ１に格納されている基板ソフトＳが、第１の電圧検出回路Ｄ０から入力した電圧値と第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２から入力した電圧値とを比較することにより、プリント基板と検査ソフトとの組み合わせの不良が検出される。
【０００９】
ここで、過電圧印加の検査を行うために、検査装置２の電源回路３から過電圧Ｅｍａｘをプリント基板Ｐ１、Ｐ２へ出力すると、第１の電圧検出回路Ｄ０からは過電圧Ｅｍａｘに対応し且つＣＰＵ１の許容電圧範囲内の値の電圧がＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ１に出力されるが、第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２では過電圧Ｅｍａｘと自らの電圧仕様とからプリント基板と検査ソフトとの組み合わせを表わす値の電圧を演算するため、ＣＰＵ１の許容電圧範囲を超える値の電圧がＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ２に出力されることがある。
【００１０】
このようにしてＣＰＵ１の許容電圧範囲を超える値の電圧が入力されると、ＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ２に接続されているＡ／Ｄコンバータがダメージを受け、ＣＰＵ１が損傷する虞が発生する。
このため、図２に示されるように、検査装置２内に電源電圧Ｅ１またはＥ２のみを出力するもう一つの電源回路４を設け、過電圧印加の検査を行う際には、スイッチＳＷを切り替えて電源回路４を選択することにより、第１の電圧検出回路Ｄ０へ電源回路３から過電圧Ｅｍａｘを印加しながら、第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２へは電源回路４から電源電圧Ｅ１またはＥ２を印加する必要があった。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、検査装置２内に二つの電源回路３及び４を設定するのでは、検査装置２が大型化すると共に設備費用が嵩むという問題点があった。
この発明はこのような問題点を解消するためになされたもので、小型で且つ安価な設備費用で不良検出及び過電圧印加の検査を行うことができるプリント基板の検査装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るプリント基板の検査装置は、電源が供給されたときにその電源電圧に対応した値の電圧をＣＰＵへ出力する第１の電圧検出回路とその電源電圧と自らの電圧仕様との関係に基づいて演算された値の電圧をＣＰＵへ出力する第２の電圧検出回路とを有するプリント基板の検査を行う検査装置であって、プリント基板の第１及び第２の電圧検出回路にそれぞれ接続される第１及び第２の端子と、第１及び第２の端子に接続され且つ検査のための電源電圧と過電圧のうち一方を選択的に出力する電源回路と、電源回路と第２の端子との間に直列に接続された保護抵抗と、保護抵抗に並列に接続されると共に電源回路から検査のための電源電圧が出力されるときには導通状態となって保護抵抗をバイパスすると共に電源回路から過電圧が出力されるときには遮断状態となることにより保護抵抗を介して過電圧を第２の端子に出力させるバイパススイッチとを備えたものである。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
図１（ａ）に、この発明の実施の形態に係るプリント基板の検査装置の構成を示す。この検査装置５の検査対象となるプリント基板には、電圧仕様Ｅ１及びＥ２にそれぞれ対応したプリント基板Ｐ１及びＰ２の２種類がある。これらプリント基板Ｐ１、Ｐ２には共通して第１の電圧検出回路Ｄ０が搭載されると共に、プリント基板Ｐ１に電圧仕様Ｅ１に対応した第２の電圧検出回路Ｄ１が、プリント基板Ｐ２に電圧仕様Ｅ２に対応した第２の電圧検出回路Ｄ２がそれぞれ搭載されている。プリント基板Ｐ１及びＰ２のＣＰＵ１には共通の基板ソフトＳが格納される。
【００１４】
検査装置５は、電源電圧Ｅ１、Ｅ２及び過電圧Ｅｍａｘを選択的に出力する電源回路３を有すると共にプリント基板の第１の電圧検出回路Ｄ０に接続される第１の端子Ｔ１と第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２に接続される第２の端子Ｔ２とを有している。第１の端子Ｔ１は電源回路３に直接接続され、第２の端子Ｔ２と電源回路３の間には保護抵抗Ｒが直列に接続されている。さらに、保護抵抗Ｒに並列にバイパススイッチ６が接続されている。
【００１５】
また、検査装置５には、本来、電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１の動作確認を行う際には検査ソフトＫ１が、電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２の動作確認を行う際には検査ソフトＫ２がそれぞれ格納される。検査ソフトＫ１が格納されると、電源回路３から電源電圧Ｅ１が第１及び第２の端子Ｔ１及びＴ２へ出力され、検査ソフトＫ２が格納されると、電源回路３から電源電圧Ｅ２が第１及び第２の端子Ｔ１及びＴ２へ出力される。
【００１６】
プリント基板Ｐ１、Ｐ２の第１の電圧検出回路Ｄ０は、電源回路３から電源電圧Ｅ１、Ｅ２を受けると、この電源電圧に対応した値の電圧をＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ１へ出力し、一方、第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２は、電源回路３からの電源電圧と自らの電圧仕様とからプリント基板と検査ソフトとの組み合わせを表わす値の電圧を演算してＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ２へ出力する。
【００１７】
次に、検査装置５の動作について説明する。まず、通常の検査を行う際には、図１（ａ）に示されるように、バイパススイッチ６が導通状態とされ、これにより電源回路３は保護抵抗Ｒをバイパスして端子Ｔ２に直結される。この状態で、検査装置５に格納されている検査ソフトＫ１、Ｋ２に基づいて電源回路３から電源電圧Ｅ１、Ｅ２を出力すると、この電源電圧が端子Ｔ１及びＴ２を介してプリント基板Ｐ１、Ｐ２の第１の電圧検出回路Ｄ０及び第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２に入力され、第１の電圧検出回路Ｄ０から電源電圧に対応した値の電圧がＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ１へ出力されると共に第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２から電源電圧と自らの電圧仕様とから演算されたプリント基板と検査ソフトとの組み合わせを表わす値の電圧がＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ２へ出力される。
【００１８】
ＣＰＵ１に格納されている基板ソフトＳは、第１の電圧検出回路Ｄ０から入力した電圧値と第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２から入力した電圧値とを比較することにより、プリント基板と検査ソフトとの組み合わせの不良を判定する。この判定の結果は、プリント基板Ｐ１、Ｐ２から検査装置５へ伝送される。
【００１９】
次に、過電圧印加の検査を行う際には、図１（ｂ）に示されるように、バイパススイッチ６が遮断状態とされ、これにより電源回路３は保護抵抗Ｒを介して端子Ｔ２に接続されることとなる。この状態で、検査装置５の電源回路３から過電圧Ｅｍａｘを出力すると、この過電圧Ｅｍａｘが端子Ｔ１を介してプリント基板Ｐ１、Ｐ２の第１の電圧検出回路Ｄ０に印加され、第１の電圧検出回路Ｄ０から過電圧Ｅｍａｘに対応した値の電圧がＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ１に出力される。ここで、第１の電圧検出回路Ｄ０から出力される電圧値はＣＰＵ１の許容電圧範囲内の値となるように予め設定されている。
【００２０】
このとき、電源回路３と端子Ｔ２との間に保護抵抗Ｒが接続されているので、電源回路３から出力された過電圧Ｅｍａｘは保護抵抗Ｒの電圧降下によってその電圧値が下がった上でプリント基板Ｐ１、Ｐ２の第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２に印加される。ここで、保護抵抗Ｒと第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２の分圧比により第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２からＣＰＵ１の許容電圧範囲を超える値の電圧が出力されることがないように、予め保護抵抗Ｒの値が設定されている。このため、第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２は、検査装置５の端子Ｔ２から受けた電圧値と自らの電圧仕様とに基づいて、上述した通常の検査時と同様に演算した値の電圧をＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ２に出力するが、ＣＰＵ１の許容電圧範囲内の値の電圧がＣＰＵ１の端子Ａ／Ｄ２に入力されることとなる。
【００２１】
これにより、許容電圧範囲を超える値の電圧の入力に起因してＣＰＵ１を損傷することなく、過電圧印加の検査を実行することが可能となる。
過電圧印加の検査終了後は、図１（ａ）に示されるように、再びバイパススイッチ６が導通状態とされ、電源回路３が保護抵抗Ｒをバイパスして端子Ｔ２に直結される。
【００２２】
また、上述の実施の形態に係るプリント基板の検査装置５を、フォークリフト等の走行・荷役の制御を行うためのプリント基板とこのプリント基板の動作確認を行う検査ソフトとの組み合わせに関する不良判定に利用することができ、その場合、例えば電圧仕様Ｅ１＝４８Ｖ及びＥ２＝８０Ｖにそれぞれ対応するプリント基板Ｐ１、Ｐ２及び検査ソフトＫ１、Ｋ２として組み合わせの不良を検出することができる。また、走行・荷役の制御を行うためのプリント基板及び検査ソフトだけでなく、他の各種のプリント基板と検査ソフトとの組み合わせの不良検出にも利用することができる。
さらに、上記の実施の形態では、２種類のプリント基板と２種類の検査ソフトとが存在する場合について述べたが、３種類以上のプリント基板と検査ソフトとの組み合わせに対しても同様にして不良検出を行うことができる。
【００２３】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、電源回路と第２の端子との間に保護抵抗を直列に接続すると共にこの保護抵抗に並列にバイパススイッチを接続し、電源回路から検査のための電源電圧が出力されるときにはバイパススイッチを導通状態として保護抵抗をバイパスさせ、電源回路から過電圧が出力されるときにはバイパススイッチを遮断状態とすることにより保護抵抗を介して過電圧を第２の端子に出力させるようにしたので、一つの電源回路でもプリント基板のＣＰＵを損傷する虞なく過電圧印加の検査が可能となり、小型で且つ安価な設備費用で不良検出及び過電圧印加の検査を実行することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態に係るプリント基板の検査装置の構成を示し、（ａ）は通常検査時を示すブロック図、（ｂ）は過電圧印加検査時を示すブロック図である。
【図２】従来のプリント基板の検査装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１  ＣＰＵ、３  電源回路、５  検査装置、６  バイパススイッチ、Ｒ  保護抵抗、Ｔ１  第１の端子、Ｔ２  第２の端子、Ｄ０  第１の電圧検出回路、Ｄ１，Ｄ２  第２の電圧検出回路、Ｐ１，Ｐ２  プリント基板。
【図１】
2004340675.tif 000003
【図２】
2004340675.tif 000004