(57)【要約】【課題】解消すべき接地電極の偏心の調整を行なう際にギャップ間隔が縮小する場合においても、到達目標ギャップ間隔ｇｔを下回ることなく偏心の解消を的確に行うことができるスパークプラグの製造方法を提供する。【解決手段】複数のスパークプラグワークのギャップ間隔を到達目標ギャップ間隔ｇｔよりも広い所定の目標間隔まで減少させ、接地電極の幅方向に調整量ｕにて調整曲げ加工を行い、さらに、ギャップ間隔ｇ１を測定して、到達目標ギャップ間隔ｇｔとのギャップ変位ｇ１−ｇｔが正である場合に到達目標ギャップｇｔになるように押圧を加える。【選択図】　図１５
2004087471.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁体中に配置された中心電極と、その絶縁体の外側に配置された主体金具と、一端がその主体金具の先端側端面に結合される一方、他端側が側方に曲げ返されて側面が前記中心電極の先端面と対向することにより、該中心電極先端面との間に火花放電ギャップを形成する接地電極とを備えたスパークプラグの製造方法であって、
前記火花放電ギャップのギャップ間隔を調整するために、スパークプラグワークの接地電極に対し、前記中心電極の先端面に近づく向きに押圧を加えることにより、該スパークプラグワークのギャップ間隔ｇ１を、到達目標ギャップ間隔の許容範囲上限値ｇｍａｘよりも広い仮ギャップ間隔まで減少させる仮押圧工程と、該仮押圧工程終了後に、前記接地電極に対し、該接地電極の幅方向における目標位置からの偏心量δを解消するための調整曲げ加工を行なう調整曲げ加工工程と、
該調整曲げ加工工程終了後に前記ギャップ間隔ｇ１を測定するギャップ間隔測定するギャップ間隔測定工程と、
測定されたギャップ間隔ｇ１が前記許容範囲上限値ｇｍａｘよりも大きい場合に、前記接地電極に対して前記中心電極の先端面に近づく向きに調整押圧を加える調整押圧工程とを含むことを特徴とするスパークプラグの製造方法。
【請求項２】
前記調整曲げ加工は、複数のスパークプラグワークの接地電極に対し、該接地電極の幅方向の調整量μにて行い、前記接地電極に生ずる加工方向への変位量λを実測することにより、前記調整量μを前記変位量λの関数μ＝Ｆ（λ）（以下、調整量関数という）として求め、該調整量関数μ＝Ｆ（λ）に基づいて、調整すべきスパークプラグワークの接地電極の、目標位置からの偏心量δを解消するために必要な調整量μを見出す請求項１記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項３】
前記調整量μ及び前記変位量λのデータ（μ，λ）の組を、スパークプラグの生産時に新たに収集されるデータ（μ，λ）により更新し、その更新された（μ，λ）のデータ組に基づいて前記調整量関数μ＝Ｆ（λ）を更新しつつ用いる請求項２記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項４】
現在の製造に係るスパークプラグワークへの前記調整量μを定める調整量関数μ＝Ｆ（λ）を、当該スパークプラグワークに先立つ全ての、もしくは直近の所定数個のスパークプラグワークの前記（μ，λ）のデータ組に基づいて求める請求項３記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項５】
前記調整量関数μ＝Ｆ（λ）を、前記調整量μ及び前記変位量λのデータ（μ，λ）の組に最小二乗回帰を行うことにより、λの一次関数として求める請求項１ないし４のいずれか１項に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項６】
スパークプラグの生産に先立って、所定数ｎ個のスパークプラグワークについて予め得られている前記調整量μ及び前記変位量λのデータ（μ，λ）の組を用いて、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）をλのｎ次関数として求め、スパークプラグの生産開始後、ｎ番目までのスパークプラグワークについては、該初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を用いて前記調整量μを求める一方、ｎ＋１番目以降のスパークプラグワークについては、該スパークプラグワークに先立つ全ての、もしくは直近の所定数個のスパークプラグワークの前記（μ，λ）のデータ組に対し、最小二乗回帰を行うことにより得られる、λの一次関数として前記調整量関数μ＝Ｆ（λ）を求め、当該調整量関数を用いて前記調整量μを求める請求項５記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項７】
前記初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を、ｎ個の（μ，λ）のデータ組を用いてλのｎ次関数として求める請求項６記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項８】
関数決定試験用のスパークプラグワークを必要数用意し、予め定められた複数の調整量μを、それぞれ複数のスパークプラグワークに与えたときの各変位量λを求め、それら（μ，λ）の組に対して前記最小二乗回帰を行うことにより、前記初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）をλの１次関数として求める請求項６記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項９】
前記最小二乗回帰により、前記変位量λの前記調整量μへの回帰直線λ＝ｆ（μ）を求め、前記初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を前記λ＝ｆ（μ）の逆関数として求める請求項８記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項１０】
前記ギャップ間隔測定工程及び前記調整押圧工程は、前記到達目標ギャップ間隔に達するまで繰り返される請求項１ないし９のいずれか１項に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項１１】
前記調整曲げ加工は、前記偏心量δが許容偏心量δｔに達するまで繰り返される請求項１ないし１０のいずれか１項に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項１２】
中心電極と、基端側が主体金具の端面に接合されるとともに先端側が前記中心電極と対向するように配置され、前記中心電極との間に火花放電ギャップを形成する接地電極とを備えたスパークプラグを製造するために、複数のスパークプラグワークの接地電極に対し、該接地電極の幅方向の調整量μにて前記調整曲げ加工を行い、前記接地電極に生ずる加工方向への変位量λを実測することにより、前記調整量μを前記変位量λの関数μ＝Ｆ（λ）（以下、調整量関数という）として求め、該調整量関数μ＝Ｆ（λ）に基づいて、調整すべきスパークプラグワークの接地電極の、目標位置からの偏心量δを解消するために必要な調整量μを見出すことを特徴とするスパークプラグの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スパークプラグの製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
【特許文献１】
特開平３−６４８８２号公報
【特許文献２】
特開平１１−１２１１４３号公報
【特許文献３】
特開２０００−１６４３２０号公報
【特許文献４】
特開２０００−１６４３２２号公報
【０００３】
内燃機関に使用されるスパークプラグにおいては、接地電極及び中心電極の位置決め精度が重要である。例えば、火花放電ギャップを挟んで対向する接地電極の中心軸線と、中心電極の中心軸線とが、接地電極の曲げ加工の不具合や、電極に固着された貴金属の位置ずれ等により偏心することがある。このような位置ずれが生ずると、例えば電極の偏った消耗による寿命低下や、発火ミスといったトラブルにつながる。また、ギャップ間隔が規定の値よりも大きすぎる場合は放電電圧が過度に上昇して点火不能となり、逆に小さすぎる場合には、火花放電ギャップの短絡等を生じやすくなる。
【０００４】
火花放電ギャップの偏心や間隔を調整する方法として、押圧パンチを備えた曲げ装置により、接地電極に調整曲げ加工を施す方法が知られている。例えば特許文献１にはには、ＣＣＤカメラ等によりギャップ間隔をモニタしながら、ギャップ間隔が目標値に達するまで押圧パンチにより接地電極への押圧を繰り返す方法が開示されている。この場合、ギャップ間隔の目標値は、押圧解除時に接地電極に生ずるスプリングバック（弾性復帰）を考慮に入れ、理想のギャップ間隔よりも一定量だけ小さく設定するようにしている。
【０００５】
また、特許文献２には、火花放電ギャップの検査後に接地電極側に配設された貴金属チップの中心軸線と中心電極の中心軸線との偏心量を算出し、接地電極の幅方向位置の調整を行なう方法が開示されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
接地電極と中心電極との偏心を接地電極の幅方向に調整するための調整曲げ加工は、電極の偏心量δを画像処理等により測定し、該偏心量δが解消される向きに調整量μの加工を行う。しかし、この調整曲げ加工を行うことによって、ギャップ間隔が拡大または縮小してしまうことがあり、多くの場合、ギャップ間隔は縮小してしまう傾向にある。例えば、ギャップ間隔の仕様値に一定の幅（公差）が許容されている場合であっても、上記仕様値も公差範囲内に設定された到達目標ギャップ間隔にまで一旦接地電極を中心電極の先端面に近づく向きに押圧した後、接地電極の幅方向に調整曲げ加工を行なったのでは、調整曲げ加工によるギャップ間隔の縮小代が大きいと、最終的なギャップ間隔ｇ１がギャップ公差範囲の下限値よりも小さく外れてしまう場合が生じてしまう。ギャップ公差範囲の上限値よりも大きいのであれば、接地電極の背面側、即ち火花放電ギャップの反対面側を押さえることによってギャップ間隔を公差範囲内に適正化することが可能である。しかし、公差範囲の下限値よりも小さくなると、接地電極の火花放電ギャップ側に矯正治具を挿入して接地電極を起こすか、若しくは接地電極の幅方向面を矯正治具で強く挟んで接地電極を起こす必要がある。いずれにしても、ギャップ公差範囲の下限値よりも小さくなった場合に矯正するためには、接地電極を傷つけてしまうことになり、耐久性等に影響を及ぼしかねない。
【０００７】
一方、前述した調整量μを偏心量δと等しく定めたのでは、加工工具３２による付勢を解除すると接地電極５４がスプリングバックを起こし、偏心量δを解消することができない。そこで、このスプリングバックを見込んで偏心量δよりも大きな調整量μを与える必要が生ずる。換言すれば、調整量μからスプリングバック量ＳＢを減じた値が、調整曲げ加工の結果として接地電極５４に残留する変位量λとなって表れる。この変位量λが偏心量δと等しくなるように調整量μを設定するとき、偏心量δを解消することができる。以上を式にまとめると、以下のようになる。
μ＝λ＋ＳＢ　‥‥▲１▼
λ＝δ　‥‥▲２▼
▲１▼及び▲２▼より、
μ＝δ＋ＳＢ　‥‥▲３▼
【０００８】
金属は塑性変形量が大きくなると加工硬化を起こすため、調整量μが大きくなるほど、加工荷重付加時に生じている弾性変形量も高くなる。従って、接地電極５４のスプリングバック量ＳＢは、調整量μの値に応じて異なる値となる。これをＳＢ（μ）と表すと、▲３▼式は以下の通りとなる。
μ＝δ＋ＳＢ（μ）　‥‥▲４▼
もし、ＳＢ（μ）を合理的に予測することができれば、加工の際に与えるべき調整量μは、その予測されたＳＢ（μ）と、実測により求めた偏心量δとによって見出すことができる。しかし、偏心量解消のために接地電極に加える曲げ加工は、通常、単純な一軸引張り変形等では近似できないので、各種調整量μにおけるＳＢ（μ）の値を、材料の応力歪曲線等から予測することが一般には困難である。
【０００９】
本発明の課題は、解消すべき接地電極の偏心の調整を行なった後においても、ギャップ間隔が公差範囲の下限値を下回ることのないスパークプラグの製造方法を提供することにある。また、接地電極の偏心量がスパークプラグワークによって異なり、その調整のための曲げ加工時に見込まれるスプリングバック量に差が生じる場合においても、該位置ずれの解消を的確に行うことができるスパークプラグの製造方法を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段及び作用・効果】
上記の課題を解決するために、本第１発明のスパークプラグの製造方法は、
絶縁体中に配置された中心電極と、その絶縁体の外側に配置された主体金具と、一端がその主体金具の先端側端面に結合される一方、他端側が側方に曲げ返されて側面が中心電極の先端面と対向することにより、該中心電極先端面との間に火花放電ギャップを形成する接地電極とを備えたスパークプラグの製造方法であって、
火花放電ギャップのギャップ間隔を調整するために、スパークプラグワークの接地電極に対し、中心電極の先端面に近づく向きに押圧を加えることにより、該スパークプラグワークのギャップ間隔ｇ１を、到達目標ギャップ間隔の許容範囲上限値ｇｍａｘよりも広い仮ギャップ間隔まで減少させる仮押圧工程と、
該仮押圧工程終了後に、接地電極に対し、該接地電極の幅方向における目標位置からの偏心量δを解消するための調整曲げ加工を行なう調整曲げ加工工程と、該調整曲げ加工工程終了後にギャップ間隔ｇ１を測定するギャップ間隔測定するギャップ間隔測定工程と、
測定されたギャップ間隔ｇ１が前記許容範囲上限値ｇｍａｘよりも大きい場合に、接地電極に対して中心電極の先端面に近づく向きに調整押圧を加える調整押圧工程とを含むことを特徴とする。
【００１１】
スパークプラグのギャップ調整工程において、到達目標ギャップ間隔ｇｔを一点に定め、ギャップ間隔ｇ１をこれに完全一致させることは通常困難であるから、最終的に得るべきギャップ間隔としての到達目標ギャップ間隔には、代表値ｇｔ（以下、これを用いて到達目標ギャップ間隔ｇｔとも記載する）に一定の公差を付与することにより許容範囲を設定し、該許容範囲内の任意のギャップ間隔に到達すれば、到達目標ギャップ間隔ｇｔが実質的に得られたものとみなす。他方、測定されたギャップ間隔が許容範囲の上限値ｇｍａｘよりも大きければ、さらに調整押圧を行なうことにより、上記許容範囲内のギャップ間隔が得られるようにする。具体的にはギャップ間隔ｇ１を測定し、到達目標ギャップ間隔ｇｔと測定されたギャップ間隔ｇ１との比較演算を行なえば、その演算結果に基づいて、現在のギャップ間隔ｇ１が許容範囲の上限値ｇｍａｘよりも大きいかどうかを判定することができる。上記の比較演算は、（代表値としての）到達目標ギャップ間隔ｇｔと許容範囲の上限値ｇｍａｘとが判明していれば、数学的には常に一義的に行なうことができる。例えば、到達目標ギャップ間隔ｇｔが許容範囲の上限値ｇｍａｘと一致するように定められていれば、測定されたギャップ間隔ｇ１と到達目標ギャップ間隔ｇｔとの差分ｇ１−ｇｔが正であるとき、調整押圧が必要となる。
【００１２】
上記本第１発明の方法によると、仮押圧工程により、該スパークプラグワークのギャップ間隔ｇ１を、到達目標ギャップ間隔の許容範囲上限値ｇｍａｘよりも広い仮ギャップ間隔まで減少させる。そして、その後、ギャップ間隔を許容範囲内のものとするための調整押圧を直ちに行なうのではなく、先に接地電極の幅方向の変位量を解消するための調整曲げ加工を行なう。そして、その調整曲げ加工が終わった後ギャップ間隔を測定し、その測定されたギャップ間隔ｇ１が許容範囲の上限値ｇｍａｘよりも大きければ調整押圧を行う（換言すれば、調整曲げ加工後の時点で既にギャップ間隔が許容範囲に入っていれば、調整押圧は行なわない）。つまり、許容範囲のギャップ間隔を得るための調整押圧の後に、上記の調整曲げ加工など、ギャップ間隔を減少側に変化させる可能性のある加工工程が行なわれない。その結果、ギャップ間隔が到達目標ギャップ間隔の許容範囲（例えば公差範囲）の下限値を下回る懸念を生ずることなく、火花放電ギャップの調整を容易に行うことができる。
【００１３】
また、本第２発明のスパークプラグの製造方法は、中心電極と、基端側が主体金具の端面に接合されるとともに先端側が中心電極と対向するように配置され、中心電極との間に火花放電ギャップを形成する接地電極とを備えたスパークプラグを製造するために、
複数のスパークプラグワークの接地電極に対し、所定の方向に種々の調整量μにて調整曲げ加工を行い、接地電極に生ずる加工方向への変位量λを実測することにより、調整量μを変位量λの関数μ＝Ｆ（λ）（以下、調整量関数という）として求め、該調整量関数μ＝Ｆ（λ）に基づいて、調整すべきスパークプラグワークの接地電極の、目標位置からの偏心量δを解消するために必要な調整量μを見出すことを特徴とする。
【００１４】
上記本第２発明の方法によると、スプリングバック量をはじめから組み込んだ形で、調整量μを、変位量λのみの調整量関数μ＝Ｆ（λ）として実験的に決定しておくと、該調整量関数μ＝Ｆ（λ）に基づいて、測定された偏心量δに対応する調整量μを容易に見出すことができる。例えば、解消すべき接地電極の偏心量がスパークプラグワークによって異なり、その調整のための曲げ加工時に見込まれるスプリングバック量に差が生じる場合においても、調整量関数μ＝Ｆ（λ）のλに、測定された偏心量δを代入するだけで、スプリングバック量を考慮した調整量μを簡単に決定できる。そして、該調整量による曲げ加工を接地電極に施すことにより、上記位置ずれの解消を的確に行うことができる。なお、本第２発明は本第１発明と組み合わせることも可能である。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、図面を用いて説明する。
図１は、本発明のスパークプラグの製造方法を実施するための装置の、撮影系の一例を示す模式図である。スパークプラグワーク（以下、単にワークともいう）５０は、中心電極５３と、基端側が主体金具５１の端面５１ａに接合されるとともに先端側が中心電極５３と対向するように配置され、中心電極５３との間に火花放電ギャップｇを形成する接地電極５４とを備えたものである。具体的には、ワーク５０は、接地電極５４の先端側が中心電極５３側に曲げ返されるとともに、該接地電極５４の先端部側周面が中心電極５３の先端面に対向して火花放電ギャップｇが形成されたものである。本実施形態においては、中心電極５３の先端部が、Ｎｉ合金からなる電極本体の先端に溶接された貴金属チップ５３ａ（以下、先端部５３ａと呼ぶこともある）とされている。
【００１６】
撮影系２２は、切換可能な第一の照明１９及び第二の照明２４を有する。第一の照明１９は、第二の照明２４よりも接地電極５４の撮影対象部位（後述する先端面５４ａ）の輪郭が明瞭化するようにワーク５０を照らすものである。また、第二の照明２４は、第一の照明１９にて照射したときよりも、中心電極５３の撮影対象部位（後述の先端部５３ａである）の輪郭が明瞭化するようにワーク５０を照らすものである。ワーク５０は、上記第一の照明１９により照射されながら第一のカメラ３により第一の撮影がなされ、第一の画像が取得される。また、第二の照明２４により照射されながら第一のカメラ３により第二の撮影がなされ、第二の画像が取得される。なお、第一の撮影と第二の撮影とは、順序が逆転してもかまわない。また、第二のカメラ４は、後述する通り、ワーク５０の軸線決定のための第三の画像を撮影するためのものである。
【００１７】
第一の撮影工程により得られた第一の画像と、第二の撮影工程により得られた第二の画像とに基づいて、接地電極と中心電極との位置情報が解析・取得される。この位置情報の解析・取得は、解析装置あるいは制御装置として機能する図２のコンピュータ１０が行う。
【００１８】
図１に戻り、本実施形態においては、接地電極５４の偏心量として、ワーク５０の接地電極５４と中心電極５３との偏心量が測定される。カメラ３から見て中心電極５３が前方側、接地電極５４の基端部が後方側となるように、当該中心電極５３と接地電極５４の基端部とが互いに重なって見える方向を正面方向として、カメラ３は、ワーク５０の火花放電ギャップｇ及びその周辺部分を、上記正面方向から撮影する。図３に示すように、該アングルでは、中心電極５３の火花放電ギャップｇに臨む部位の画像が、接地電極５４の画像の前方に重なって現れる。
【００１９】
図１に戻り、第一の照明１９は、接地電極５４の先端面５４ａを正面方向から照らすものである。本実施形態において第一の照明１９は、面発光型ＬＥＤあるいは多数のＬＥＤを平面的に配列したＬＥＤ照明とされ、画像ビームＢの通る位置に貫通部（あるいは透光部）が設けられている。該第一の照明１９を用いて撮影された第一の画像においては、接地電極５４の平坦な先端面５４ａにより光がカメラ３側に一様に反射され、他のスパークプラグ部分よりも明るく浮き立って撮影される。つまり、接地電極５４の先端面５４ａの輪郭線を明瞭に識別することができる。
【００２０】
次に、第二の照明２４は、図５に示すように、接地電極５４の、中心電極５３の背後にある側面部位５４ｂを照射するものであり、本実施形態においては、接地電極５４と中心電極５３との隙間に、斜め前方側から光を照射する光ファイバー照明が用いられている。該第二の照明２４を用いて撮影された第二の画像は、中心電極５３の先端部５３ａがシルエットとなり、その輪郭線が明るい背景とのコントラストにより明瞭化する。
【００２１】
図１に戻り、カメラ４は、ワーク５０の軸線Ｏを決定するために、上記第一の画像及び第二の画像のいずれよりも視野が大きい第三の画像を撮影するためのものである。図３に示すように、第一のカメラ３は、火花放電ギャップｇの近傍が拡大されるように撮影視野ＶＡ２が定められている。また、第二のカメラ４は、端面５１ａを含む主体金具５１の画像が取得できるように撮影視野ＶＡ１が定められている。
【００２２】
図１に示すように、第一のカメラ３と第二のカメラ４とは、レンズユニット２に取り付けられている。該レンズユニット２内には、ワーク５０に対する共通の対物光学系１５が設けられ、その対物光学系１５に導かれた画像ビームＢが、ビームスプリッタ１６（ハーフプリズム（ハーフミラーでもよい）により構成されている）により２つの画像ビームＢ１，Ｂ２に分離される。第一の画像ビームＢ１は、ミラー１６ａにて方向転換された後、第一の結像光学系１７にて第一の倍率にて拡大され、第一のカメラ３により撮影される（第一の画像又は第二の画像）。他方、第二の画像ビームＢ２は、第二の結像光学系１８により第一の倍率よりも小さい第二の倍率にて像拡大された後、第二のカメラ４にて撮影される（第三の画像）。対物光学系１５が第一のカメラ３と第二のカメラ４との間で共用化されるため、両カメラ３，４は、倍率が異なるのみで、ワーク５０への撮影アングルは同一となる。
【００２３】
また、カメラ３，４による撮影方向においてワーク５０の背後には、背景ユニット２０が配置されている。図４に示すように、該背景ユニット２０は、接地電極５４の背景を形成する暗色部２０ｂと、中心電極５３及びその背後の接地電極部分の背景を形成するとともに、前記暗色部２０ｂよりも外観明度の高い明色部２０ａとを有する。暗色部２０ｂは、つや消しの黒色板等として構成され、正面からの第一の照明１９（図１）により接地電極５４の撮影を行う際に、その背景部分の明度を小さくして、明るく撮影される接地電極５４とのコントラストを強め、先端面５４ａの輪郭線をより明瞭化させる役割を果たす。また、明色部２０ａは、つや消しの白色板等により構成され、第二の照明２４（図５）によりシルエット化される中心電極５３の先端部５３ａの背景明度を大きくして、暗く撮影される中心電極５３とのコントラストを強め、その輪郭線をより明瞭化させる役割を果たす。なお、本実施形態では、暗色部２０ｂと明色部２０ａとの境界は、接地電極５４の先端面５４ａの、火花放電ギャップｇに面する外形線に対して位置合わせされている。
【００２４】
図２は、本発明のスパークプラグの製造装置の、調整曲げ加工を行う加工装置の主制御部の第一の例を示すブロック図である。該製造装置１は、前記した解析装置と加工装置全体の制御部として機能するコンピュータ１０を有する。コンピュータ１０は、ＣＰＵ１０２、該ＣＰＵ１０２のワークエリアを与え、かつ、制御処理及び解析処理にて使用する種々のデータのメモリ１９８〜２２７として機能するＲＡＭ１０４、コンピュータの基本システムプログラムを格納したＲＯＭ１０３、及び入出力インターフェース１０１などを有する。製造装置１の制御機能を実現する制御ソフトウェア２３０は、ハードディスクドライブ等で構成された記憶装置１０５にインストールされている。また、該記憶装置１０５には、画像上における接地電極あるいは中心電極の輪郭線抽出・確定処理などの画像処理を行う画像処理ソフトウェア２３１、その抽出された輪郭線のデータに基づき、接地電極と中心電極との偏心量を解析する偏心解析ソフトウェア２３２もインストールされている。また、後述する調整量μと変位量λとの実績値データ２３３が記憶されている。さらに、入出力インターフェース１０１には、キーボードやマウスなどで構成された入力部１０６（種々の設定入力に使用される）と、モニタ１０７とが接続されている。
【００２５】
また、コンピュータ１０の入出力インターフェース１０１には、前記した第一のカメラ３及び第二のカメラ４（いずれもデジタルカメラにて構成されている）、第一の照明１９及び第二の照明２４（点灯制御ユニットの図示は省略している）が接続されている。また、ホルダに対するワークの着脱を行うワークロード／アンロード機構１４、固定金具駆動機構１３、チャック駆動機構１２、加工装置５及び加工検知部１１も入出力インターフェース１０１に接続されている。
【００２６】
図６に示すように、ホルダ３１は、ワーク５０を火花放電ギャップｇ側が上となるように挿通するためのワーク装着孔３１ａを有し、その開口周縁部にて、主体金具５１の六角部５７を支持する。ワーク５０の主体金具５１には、取付ねじ部５６の基端側にフランジ状の突出部５５が設けられている。固定金具３０，３０は、合わせ面３０ｓ，３０ｓにおいて型合わせされる２部材からなり、固定金具駆動機構１３により軸線Ｏに向けて水平に接近・離間し、かつ型合わせ状態にて、突出部５５の上面に向け軸線Ｏ方向に接近・離間するように駆動される。なお、合わせ面３０ｓ，３０ｓには、取付ねじ部５６との干渉を避けるための半円状の切欠３０ａが形成されている。また、金具３０，３０の下面には、切欠３０ａ，３０ａに沿うガイド３０ｂ，３０ｂが突出形成されている。固定金具３０，３０は、接地電極５４に曲げ加工を施す際の、ワーク固定用に用いられるものであり、切欠３０ａの下面周縁にて突出部５５の上面に当接し、ホルダ３１に向けてこれを軸線Ｏ方向に押し付けることにより、ワーク５０をホルダ３１の上面に密着させる。また、ガイド３０ｂ，３０ｂの内周面にて突出部５５の外周面と当接し、軸線Ｏに関する半径方向へのワーク５０の移動やがたつきを規制する。
【００２７】
次に、図１７は、仮押圧装置６０の一例を示す。本装置は、特許文献３等により既に公知の手法であるため詳細は省略し、概要のみ説明する。仮押圧装置６０は、ワーク５０の中心電極５３の先端面と対向するように仮押圧スペーサ４２を配置し、その仮押圧スペーサ４２に対し接地電極５４の先端側を、曲げパンチ４３を用いて中心電極５３とは反対側から押しつけることにより仮押圧工程を行うものである。仮押圧装置６０には、図示しない仮押圧スペーサ位置決め機構部と曲げ機構部が設けられている。仮押圧スペーサ位置決め機構部は、仮押圧スペーサ４２を中心電極５３の先端面との間に所定の隙間ｄを生じるように位置決めする。また、曲げ機構部は、その状態で接地電極５４を仮押圧スペーサ４２に向けて押しつけるように曲げパンチ４３を駆動するためのものである。仮押圧スペーサ４２の形状を適宜に選択して仮押圧加工を施すことにより、接地電極５４と中心電極５３の先端面との間のギャップ間隔ｇ１を到達目標ギャップ間隔ｇｔの上限値よりも大きい仮ギャップ間隔まで減少させることができる。
【００２８】
そして、図７に示すように、加工装置５は、接地電極５４への調整曲げ加工を実施するためのものであり、加工工具３２を有する。加工工具３２は、下面側に接地電極５４を受け入れる加工溝３２ｇが形成され、その加工溝３２ｇの幅方向の両内側面が、それぞれ接地電極５４の幅方向における第一方向及び第二方向への曲げ作用面３２ａ１，３２ａ２とされている。加工工具３２は、例えばこれと一体に設けられた雌ねじ部３３に螺合するねじ軸３４を、加工駆動モータ８により正逆いずれかの向きに駆動され、曲げ作用面３２ａ１，３２ａ２にて接地電極５４と当接することにより、これに曲げ加工力を加える。
【００２９】
加工駆動モータ８の回転角度位置は、パルスジェネレータ（ＰＧ）６により検出される。図２に示すように、加工駆動モータ８のサーボ駆動ユニット９がコンピュータ１０の入出力インターフェース１０１に接続されており、ＰＧ６からの角度位置は、サーボ駆動ユニット９とともに、入出力インターフェース１０１を介してコンピュータ１０にも入力される。
【００３０】
また、図２において加工検知部１１は、加工工具３２と接地電極５４との接触を検知するものである。例えば、図７に示すように、金属製のホルダ３１と加工工具３２との間に検知電源電圧Ｖｃｃを印加しておき、加工検知部１１は、接地電極５４及び主体金具５１を介した加工工具３２とホルダ３１との間の短絡電流を検出するものとして構成することができる。
【００３１】
図２に戻り、コンピュータ１０からサーボ駆動ユニット９には、接地電極５４への曲げ調整方向に応じた正方向又は逆方向への駆動指令が出される。そして、加工駆動モータ８の回転が開始すると、ＰＧ６からのパルスがコンピュータ１０に入力される。接地電極５４は最初は加工工具３２と非当接状態にあり、加工検知部１１は接触非検知の信号をコンピュータ１０に入力している。そして、所定量加工駆動モータ８が回転すると、接地電極５４と加工工具３２とが接触状態となり、加工検知部１１による接触検知信号がコンピュータ１０に入力される。接地電極５４へは、加工工具３２と接触後に、後述の偏心量測定結果から算出された調整量μに相当する加工変位を付与する必要がある。そこでコンピュータ１０は、上記接触検知信号を受信したタイミングにて、調整量μに対応する角度量だけ加工駆動モータ８を回転駆動する指令をサーボ駆動ユニット９に与える。そして、該角度量の回転が完了すれば、加工駆動モータ８を逆転駆動して工具３２による加工付勢状態を解除し、曲げ加工を終了する。なお、コンピュータ１０からサーボ駆動ユニット９へ加工終了を指令する制御形態としては種々の形態がありえる。例えば、加工終了角度位置（あるいはパルス数）をサーボ駆動ユニット９に指令しておき、サーボ駆動ユニット９が、ＰＧ６からのパルスカウントと加工終了の角度位置の認識とを自発的に行うように構成することができる。他方、ＰＧ６からのパルスカウントをコンピュータ１０側にて行い、加工終了の角度位置が到来した時点で、コンピュータ１０からサーボ駆動ユニット９に対し、加工駆動モータ８の停止及び逆転指令を出すように構成することもできる。
【００３２】
調整曲げ加工工程が終了すれば、火花放電ギャップｇを再度測定し、到達目標ギャップ間隔ｇｔに達していない場合には図１８に示す調整押圧装置７０による調整押圧工程を実施してギャップ間隔を最終的な値とする。調整押圧装置７０は、ワーク５０の接地電極５４の先端側を、調整押圧パンチ９０を用いて中心電極５３とは反対側から押しつけることにより調整押圧工程を実施するものである。そして、カメラ９２によりギャップ間隔ｇ２を測定する。なお、図１８の調整押圧装置においては、中心電極５３の先端面と接地電極５４の先端部との間に、ギャップ間隔を規定するナイフ状のスペーサを挟み込んで、接地電極５４への曲げ加工を行うようにしてもよい。しかしながら、仮押圧工程と同様、中心電極５３とスペーサとの接触による傷発生等の不具合を防止する観点からは、スペーサを用いずに曲げ加工を行うことが望ましいといえる。
【００３３】
図１９は、本発明のスパークプラグの製造装置の、調整曲げ加工を行う加工装置の主制御部の第二の例を示すブロック図である。第一の例と共通する部分は説明を省略する。この製造装置１’では、偏心量δを許容偏心量δｔに達するまで矯正するために、一定の調整量μによって、調整曲げ加工が繰り返される。従って、種々のデータメモリとして機能するＲＡＭ１０４内には、調整量μメモリ２２３、初期近似用関数Ｆ’（λ）メモリ２２５、（μ、λ）実績値メモリ２２６、調整量関数Ｆ（λ）メモリ２２７が形成されず、調整量μ’メモリ２２８及び許容偏心量δｔメモリ２２９をもっている。調整量μ’メモリ２２８に記憶される調整量μ’は一定値である。また、記憶装置１０５においては、調整量μと変位量λとの実績値データ２３３は記憶されていない。なお、本明細書では、許容偏心量δｔを、±０．１ｍｍ等一定の幅を持った所定値として定義する。従って、該範囲内の任意の偏心量に到達すれば、許容偏心量δｔの状態になったものとみなす。
【００３４】
そして、加工装置５では、コンピュータ１０からサーボ駆動ユニット９に、接地電極５４への曲げ調整方向に応じた正方向又は逆方向への駆動指令が出される。加工検知部１１が、加工工具３２と接地電極５４との接触を検知した後、一定の調整量μに応じたＰＧ６からのパルスカウントを検知した時点で、サーボ駆動ユニット９による加工駆動モータ８の回転を止める。そして、加工駆動モータ８を逆転駆動して工具３２による加工付勢状態を解除する。
【００３５】
以下、上記装置を用いた本発明のスパークプラグの製造方法の実施形態について、詳細に説明する。まず、前述した図１７の仮押圧装置１４により、ワーク５０の中心電極Ｗ１の先端面と対向するように仮押圧スペーサ４２を配置し、その仮押圧スペーサ４２に対し接地電極Ｗ２の先端側を、曲げパンチ４３を用いて中心電極Ｗ１とは反対側から押しつけることにより仮押圧加工を行う。
【００３６】
そして、図１の第一のカメラ３と第二のカメラ４との光軸周りのカメラ角度位置を調整して、２つのカメラの視野上での基準方向を合わせ込む操作を行う。ワークの代わりに、図８に示すような棒状の治具２７（基準被写体）を、ホルダ３１を固定する図示しないベースに垂直に取り付け、各カメラ３，４の焦点を該治具２７に合わせる。そして、カメラ３，４のファインダ（撮影視野ＶＡ２，ＶＡ１）に形成された基準線Ｂが、治具２７の垂直な外形線（基準方向Ａ０（図１１）を表す）Ａと平行になるように、各カメラ３，４を光軸周りに回転させて調整を行う。
【００３７】
次に、図６に示すホルダ３１をベースに装着し、周知のロボットアーム機構等で構成されたワークロード／アンロード機構１４（図２）を用いて、ワーク５０をホルダ３１に装着する。以下の処理の流れを図１０に示している。また、図１１及び図１２は、主要工程を抜き出して示す工程説明図である。図１０のＳ１及びＳ２において、ホルダ３１に装着されたワーク５０は、図１に示すように、接地電極５４の先端面５４ａがカメラ３，４の方向、すなわち正面方向を向くように整列させられる。具体的には、図１２の（Ｓ１）及び（Ｓ２）に示すように、１対のチャック３５，３５をワーク５０の上方から接地電極５４に向けて下降させ、該接地電極５４を幅方向両側からチャック把持する。このチャック３５，３５の把持面が前記正面方向に一致するように定めてあり、ワーク５０は、接地電極５４のチャック把持に伴い回転して正面方向に整列する。
【００３８】
図１０に戻り、ワーク５０の整列が終了したら、Ｓ３において図１の第一の照明１９を点灯させる。Ｓ４において、コンピュータ１０（図２）により、第二のカメラ４により第三の画像の取り込みを行い、メモリ２００に記憶する。そして、Ｓ５（図１１及び図１２も参照）において、その第三の画像を用いてワーク５０の軸線Ｏの基準方向Ａ０からの傾き角度θ１を測定し、メモリ２０５に記憶する。Ｓ６では、第一のカメラ３に切り替え、第一の照明１９の点灯を継続したまま、第一の画像の取り込みを行い、メモリ１９８に記憶する。Ｓ７（図１１及び図１２も参照）においては、その第一の画像に基づいて、接地電極５４の先端面５４ａの、火花放電ギャップｇに面するエッジの幅方向中心位置、すなわち接地電極中心位置Ｅ１（Ｘｍ，Ｙｍ）を求め、メモリ２１３に記憶する（本実施形態では、画像視野上にて、基準方向Ａ０にＹ軸を定め、これと直交する向きにＸ軸を定める）。
【００３９】
次に、Ｓ８に進み、照明を第二の照明２４（図１）に切り替える。Ｓ９では、第一のカメラ３により第二の画像の取り込みを行い、メモリ１９９に記憶する。Ｓ１０（図１１及び図１２も参照）において、その第二の画像に基づいて、中心電極５３の先端面エッジの中心位置、すなわち中心電極中心位置Ｅ２（Ｘｍ，Ｙｍ）を求め、メモリ２２１に記憶する。そして、Ｓ１１において、接地電極中心位置Ｅ１、中心電極中心位置Ｅ２及び軸線の傾き角度θ１とを用いて両電極の偏心量δを算出し、メモリ２２２に記憶する。すなわち、接地電極中心位置Ｅ１を通り、角度θ１だけ傾斜した接地電極中心線Ｌ２を基準として、中心電極中心点Ｅ２のＸ座標がＬ２よりも右側にあるか左側にあるかを判定し、偏心量δの符号を決定する。この符号は、接地電極５４の曲げ加工の向きを規定するものである。そして、接地電極中心線Ｌ２と中心電極中心位置Ｅ２との距離を偏心量δとして算出する。
【００４０】
接地電極中心位置Ｅ１及び中心電極中心位置Ｅ２は、異なる２つの画像、つまり、第一の画像及び第二の画像により決定されるものであるが、同じ第一のカメラ３により撮影されるものであり、視野は完全に共通している（第二の視野ＶＡ２）。従って、接地電極中心位置Ｅ１及び中心電極中心位置Ｅ２は、第二の視野ＶＡ２上に定められた共通のＸ−Ｙ座標系上での絶対座標にて、相互の位置関係を把握でき、偏心量δの算出も問題なく行うことができる。しかし、第一の画像及び第二の画像に、共通の被写体からなるマーカ画像を組み入れておき、そのマーカ画像上の基準位置に対する相対座標表示より、接地電極中心位置Ｅ１及び中心電極中心位置Ｅ２の相互の位置関係把握を行うことができる。
【００４１】
以下、調整曲げ加工工程について説明する。
この調整曲げ加工は、図７の加工装置５を用いて行われる。接地電極５４に対し、上記偏心量δが解消される向きに調整量μの加工を行う。具体的には、上述した主制御部の第一の例を用いて行う。複数のワークの接地電極に対し、種々の調整量μにて調整曲げ加工を行い、接地電極に生ずる変位量λを実測することにより、調整量μを変位量λの関数μ＝Ｆ（λ）（調整量関数）として求めておく。すなわち、スプリングバック量をはじめから組み込んだ形で、調整量μを変位量λのみの調整量関数μ＝Ｆ（λ）として実験的に決定しておくことで、該調整量関数μ＝Ｆ（λ）に基づいて、測定された偏心量δに対応する調整量μを見出すことができる。つまり、調整量関数μ＝Ｆ（λ）のλに、偏心量δを代入するだけで、調整量μを簡単に決定できる。
【００４２】
スパークプラグの実生産時においては、種々の偏心量δを生じているワークに対し、対応する調整量μにより調整曲げ加工がその都度行われる。そして、その調整曲げ加工後に、再び偏心量を測定してその値をδ’とすれば、実際に接地電極に加えられた変位量λは、調整曲げ加工前に測定した偏心量δを用いて、
λ＝δ−δ’　‥‥▲５▼
により求めることができる（ここでは、偏心量を表すパラメータは、正負の符号を含むものとし、その符号によって偏心の向きも同時に表すものとする）。
【００４３】
従って、上記のようなλの測定により、調整量μ及び変位量λのデータ（μ，λ）の組は、スパークプラグの生産時に新たに収集されるデータ（μ，λ）により更新することができるようになる。その更新された（μ，λ）のデータ組に基づいて調整量関数μ＝Ｆ（λ）を更新しつつ用いれば、関数μ＝Ｆ（λ）によるμの決定精度をより高めることができる。
【００４４】
この場合、現在の製造に係るワークへの調整量μを定める調整量関数μ＝Ｆ（λ）を、当該ワークに先立つ全てのデータ組に基づいて求めることができる。ただし、ロットの相違や操業条件の不可抗力的な推移により、μ＝Ｆ（λ）の傾向が経時的に変化しうると考えられる場合は、直近の所定数個（Ｎとする）のワークの（μ，λ）を用いて調整量μを決定するほうが望ましい。
【００４５】
調整量関数μ＝Ｆ（λ）は、調整量μ及び変位量λのデータ（μ，λ）の組に最小二乗回帰を行うことにより、λの一次関数として求めることができる。この方法は、製造上採用可能性のある調整量μの範囲内において、λがμにほぼ比例して増加する傾向にあると考えられる場合に、非常に有効な手法である。ただし、曲げ前の接地電極５４の加工状態や材料組成により、該傾向は一定の範囲内でばらつくことが見込まれる。従って、最小二乗回帰による近似は、（μ，λ）のデータ点数をある程度増やして（例えば５個以上）行うことが望ましい。
【００４６】
スパークプラグの生産実績が進み、集められた（μ，λ）のデータ点数が増加すれば、上記のような最小二乗近似の精度は必然的に高められる。しかし、生産開始直後は、十分な数の（μ，λ）のデータを集めることはできない。従って、スパークプラグの生産に先立って、試験等により、所定数のワークについて予めデータ（μ，λ）の組を収集しておくことが必要である。しかし、試験等により収集できる（μ，λ）のデータ数は限られている。
【００４７】
そこで、次のような方法が採用可能である。最小二乗近似を行う上で十分なデータ数ｎに達するまでは、試験等によりｎ個のワークのデータ（μ，λ）の組を予め求めておき、そのデータ組を用いて初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を求める。例えば、図１４に示すように、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）は、ｎ個のワークのデータ（μ，λ）の組を用いて一義的に決定される、λのｎ次関数として求めることができる。そして、スパークプラグの生産開始後、ｎ番目までのワークについては、該ｎ次関数を用いて調整量μを求める。このようにすると、データ数の少ない生産初期段階においても、調整量μの決定精度を比較的高く維持することができる。
【００４８】
他方、ｎ＋１番目以降のワークについては、該ワークに先立つ全ての、もしくは直近の所定数個のワークの（μ，λ）のデータ組に対し、最小二乗回帰を行うことにより得られる、λの一次関数として調整量関数μ＝Ｆ（λ）を求め、当該調整量関数を用いて調整量μを求めるようにする。データ点数が十分に増加すれば、最小二乗回帰によるμの決定精度を向上させることができ、しかも多項式近似よりも演算がはるかに簡単である。
【００４９】
例えば試験によりｎ個の（μ，λ）のデータ組を求める場合、μを少しずつ変えてλの測定を行い、その結果に対して前述の多項式近似を行うことができる。但し、ワークが異なれば、同じμに対してもλがばらつくことがあり、得るべき初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）としては、そのλのばらつきの平均的な傾向を反映したものであることが望ましい。そこで、試験用のワークを必要数用意し、予め定められた複数の調整量μを、それぞれ複数のワークに与えたときの各変位量λを求め、例えば調整量μ毎のλの平均値を用いて多項式近似を行う方法が有効である。
【００５０】
また、複数の調整量μのそれぞれにおいて、複数ワークの変位量λを測定する場合は、μ毎にλの値を平均化せず、図１５に示すように、それら（μ，λ）の組に対して最小二乗回帰を行い、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を一次関数として求めることもできる。μの値毎に複数個の変位量λを測定するから、ばらつきの影響が軽減され、データ点数が少ない生産開始直後の段階においても、最小二乗回帰による簡便な方法により、μを比較的高精度に決定することができる。この場合、最小二乗回帰により、変位量λの調整量μへの回帰直線λ＝ｆ（μ）を求め、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）をλ＝ｆ（μ）の逆関数として求めることが、関数決定のための試験では、与える調整量を真値と仮定し、変位率を確率変数と考えて近似しているため高精度になるので望ましい。
【００５１】
いずれにしても、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を用いる方法は、データ点数が少ない生産開始直後において、調整量μの決定をなるべく正確に行うための便法である。従って、データ数が十分に集まった後は、それらデータを用いて最小二乗回帰により調整量関数μ＝Ｆ（λ）を決定する処理に移行することが望ましい。ただし、μに対するλのばらつきが十分小さい場合は、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を恒常的に使用することも可能である。
【００５２】
図１３は、上記調整量μの決定に係る、コンピュータ１０による制御の流れの一例を示すものである（制御ソフトウェア２３０の実行によりなされる）。まず、Ｐ１においては、生産に先立って、ｎ個の試験用のワークを用いて、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を求める（メモリ２２５に記憶される）。Ｐ２では、ワーク番号ｋを１とし、Ｐ３において、既に説明した方法により偏心量δの測定を行う。Ｐ４ではワーク番号ｋがｎ個を超えたかどうかを判定し、超えていない場合はＰ５に進んで、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を用いて調整量μを算出する（メモリ２２３に記憶される）。
【００５３】
そして、Ｐ９に進み、算出された調整量μにより接地電極５４に対して調整加工を行う。Ｐ１０では、加工後のワークに対して偏心量の再測定を行い、その値をδ’とする。また、Ｐ１１では、変位量λをδ−δ’により求め、（μ，λ）の値をメモリ２２６に記憶する（Ｐ１２）。Ｐ１３で、終了の割り込みが入っていなければＰ１４に進み、ワーク番号ｋをインクリメントして次のワークに交換し、Ｐ３以降の処理を繰り返す。
【００５４】
そして、Ｐ４でワーク番号ｋがｎ個を超えた場合は、Ｐ６に進み、現在のｋに至る直近のｔ個の（μ，λ）の値を読み出す。そして、Ｐ７において、そのｔ個の（μ，λ）の値に対して最小二乗回帰直線μ＝ａλ＋ｂを求め、これを調整量関数として設定して、メモリ２２７に記憶する。Ｐ８では、該μ＝ａλ＋ｂのλに偏心量δを代入し、調整量μを算出する（メモリ２２３に記憶する）。
【００５５】
なお、調整加工の後に行う偏心量の再測定工程は、一種の検査工程として用いることもできる。すなわち、その偏心量の再測定結果を検査結果として、ワークの選別を行うことが可能である。そして、再測定された偏心量が規定範囲外となっているものは、不良品として製品ロットから除外する。除外された不良品は、例えば調整曲げ加工を追加して、偏心量δが規定範囲内に収まるようにし、良品化することも可能である。
【００５６】
また、上述した主制御部の第二の例を用いてもよい。図２０は、上記調整曲げ加工に係る、コンピュータ１０による制御の流れの一例を示すものである（制御ソフトウェア２３０’の実行によりなされる）。まず、Ｌ１において、既に説明した方法により偏心量δの測定を行う。そして、Ｌ２に進み、メモリ２２８に記憶されている予め定められた一定の調整量μ’により接地電極５４に対して調整加工を行う。次にＬ３に進み、一旦、加工駆動モータ８を逆転駆動して工具３２による加工付勢状態を解除する。Ｌ４では、ワークの偏心量の再測定を行い、その値をδ’とし、Ｌ５において、許容偏心量δｔの範囲代表値（例えば中央値：本実施形態では該中央値はゼロである）と比較する。再測定値δ’が許容偏心量δｔよりも大きい場合にはＬ２以降の処理を繰り返す（つまり、調整曲げ加工が、偏心量δが許容偏心量δｔに達するまで繰り返される）。また、再測定値δ’が許容偏心量δｔとなった場合には調整加工を終了する。
【００５７】
調整曲げ加工工程の終了後、ギャップ間隔ｇ１を再度測定し、到達目標ギャップｇｔ（本実施形態では、許容範囲の上限値ｇｍａｘに定められている）に達していない場合、つまり、ギャップ変位ｇ１−ｇｔが正の場合は、図１８に示す調整押圧工程を実施してギャップ間隔の量を最終的な値とする。図２１にその制御の流れの一例を示す。まず、Ｍ１において、ギャップ間隔ｇ１を測定する（ギャップ間隔測定工程）。ギャップ間隔の測定方法は、特許文献２等により公知の手法であるため、詳細は省略する。そして、Ｍ２に進み、メモリに記憶されている目標ギャップ間隔ｇｔとのギャップ変位（ｇ１−ｇｔ）を測定する。次にＭ３に進み、ギャップ変位（ｇ１−ｇｔ）が０よりも大きいか否かを判断する。場合は、前工程の調整曲げ加工では目標ギャップ間隔ｇｔに到達せず、ギャップ間隔の縮小が不十分であることを意味するので、Ｍ４に進み、調整押圧を行うことによってギャップ間隔の縮小を行った後、Ｍ５において、調整押圧を解除し、Ｍ１以降の処理を繰り返す（つまりギャップ間隔測定工程及び調整押圧工程が、到達目標ギャップ間隔に達するまで繰り返される）。なお、この調整押圧時に、特許文献４によって公知となっているスプリングバック量を考慮した押圧量にて押圧してもよい。また、ギャップ変位（ｇ１−ｇｔ）が０以下である場合には、前工程の調整曲げ加工によって、許容範囲内の値にまでギャップ間隔が縮小したことを示すことになるため、ここで終了する。
【００５８】
上記の実施形態では、スパークプラグワークのギャップ間隔を到達目標ギャップ間隔ｇｔよりも広い所定の目標間隔まで減少させる仮押圧工程調整において、仮押圧スペーサ４２の形状を適宜に選択して仮押圧加工を施すことにより、到達目標ギャップ間隔ｇｔよりも広い所定の目標間隔まで減少させたが、画像処理によって到達目標ギャップ間隔ｇｔになるように調整しても良い。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のスパークプラグの製造方法を実施するための、装置撮影系の構成例を示す模式図。
【図２】本発明のスパークプラグの製造方法を実施するため、調整曲げ加工を行う加工装置の主制御部の第一の例を示すブロック図。
【図３】第一のカメラと第二のカメラとの視野の関係を模式的に示す図。
【図４】背景ユニットの説明図。
【図５】第二の照明の説明図。
【図６】ワークを保持するホルダ及び固定金具の説明図。
【図７】加工装置の模式図。
【図８】基準被写体となる治具の例を示す正面図。
【図９】図８の治具の使用方法の説明図。
【図１０】図２の装置を用いたスパークプラグの製造方法の概略的な工程の流れを示すフローチャート。
【図１１】図１０の製造方法の要旨を示す説明図。
【図１２】図１０の製造方法の主要な工程を抜き出して説明する図。
【図１３】調整曲げ加工工程の処理の流れの第一の例を示すフローチャート。
【図１４】初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）の決定方法の一例を概念的に示す図。
【図１５】初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）の決定方法の別例を概念的に示す図。
【図１６】火花放電ギャップの調整に本発明を適用する例を示す概念図。
【図１７】仮押圧装置の例を示す概念図。
【図１８】調整押圧装置の例を示す概念図。
【図１９】本発明のスパークプラグの製造方法を実施するため、調整曲げ加工を行う加工装置の主制御部の第二の例を示すブロック図。
【図２０】調整曲げ加工工程の処理の流れの第二の例を示すフローチャート。
【図２１】調整曲げ加工工程の終了後に火花放電ギャップｇを再測定する例を示すフローチャート。
【符号の説明】
Ｅ１　接地電極中心位置
Ｅ２　中心電極中心位置
５０　スパークプラグワーク
５３　中心電極
ｇ　火花放電ギャップ
５４　接地電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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