(57)【要約】【課題】小さすぎて取り扱いにくい為、高い周波数まで正確な測定が難しかった極小チップ部品の電気特性の測定用接触端子を、接触電極の先端にコンタクトプローブ等の余分な物を設けず又はんだ付けなどをしなくても、測定するチップ部品の交換が簡単で、接触不良も起こさず、測定精度も高く、高い周波数まで簡単に測定出来る接触端子にする事である。【解決手段】測定基板▲２▼の様に接触電極又は電極先端の両横に切り込みを入れ、各接触電極部分を個々に独立して板ばねの様に上下に動く様にし、それをベース▲１▼の上に板ばね▲８▼を下にして対向して取り付け、その部分にチップ部品▲３▼の位置が決まりやすい様にガイドカバー▲９▼を取り付けた上で、測定するチップ部品▲３▼を押し付ける。これにより、それぞれの電極がしなり、チップ部品の各電極が確実に接触をする。【選択図】  図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁体板面に電極を構成し、その電極端部を接触電極として絶縁体板面の端部近くに位置させ、さらにその電極又は電極の横に切り込みを入れ、先端部分が独立して動き易い様にした物（以後これを測定基板と呼ぶ）を、それを固定する台に、その切り込みを入れた先端部だけを台から浮かせて動くように取り付けた測定用接触端子。
【請求項２】
測定基板を、それを固定する台に、その切り込みを入れた先端部だけを台から浮かせて動くように取り付けた物において、その先端接触部をばね性の物質で支えて接触する様にした、測定用接触端子。
【請求項３】
測定基板を、それを固定する台に、その切り込みを入れた先端部だけを台から浮かせて動くように取り付けた物において、その先端接触面を被測定物の電極面に対して少し角度をつけて接触する様にした測定用接触端子。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、テレビや携帯電話等の電子装置の中に使われる、フイルタや半導体等３端子あるいはそれ以上の端子を持つチップ部品の電気特性を、高周波帯で簡単に測定出来る様にする、測定端子である。
最近の電子機器の高周波化でそれに使用されるチップ部品は、使用周波数帯がマイクロ波帯にまで及び、その電気特性の測定範囲もその３倍までの高い周波数まで測定し評価しなければならない。
この様な高い周波数では、測定するチップ部品から測定器までを、インピーダンスが５０オームに整合した反射の少ない線路で繋がなければチップ部品本来の電気特性が測定出来ない。
【０００２】
【従来の技術】
従来から良く行われる方法として、図１に示す様に測定器に接続されたマイクロストリップライン線路測定基板の途中を、測定するチップ部品の寸法に合わせてカットしその部分に押さえつけるか、はんだ付けする方法が良く行われている。
しかし押さえ付けるだけだと３端子までは接触不良を起こさないが、４端子以上になると接触不良を起こし、特性が正確に見れない。
またはんだ付けだと、接触不良も無く正確に測定できるが交換に大変手間が掛かり、量産向きでない。
これらを改善する方法として、図２に示す様にマイクロストリップ線路測定基板の先端に、接触を良くする様にスプリング内蔵の小型のコンタクトプローブをはんだ付けし、それにチップ部品の先端を押さえつける方法が取られる事もある。
しかしこの方法も、接触不良も少なくチップ部品の交換も簡単であるが、コンタクトプローブをマイクロストリップ線路の先端に直角に埋め込む為先端に大きな浮遊容量を持ち、この浮遊容量は周波数が低い時は無視できる範囲であるが、周波数が高くなって１ＧＨｚを超えてくると無視出来なくなり測定値に誤差を生じてくる。
【０００３】
【発明が可決しようとする課題】
本発明は、接触電極の先端にコンタクトプローブ等の余分な物を設けず又はんだ付けなどをしなくても、測定するチップ部品の交換が簡単で、接触不良も起こさず、測定精度も高く、高い周波数まで簡単に測定出来る様にする事である。
【０００４】
【課題を解決する為の手段】
先の図２で説明したコンタクトプローブを設ける代わりに、マイクロストリップ線路先端の各接触電極部分を個々に独立して板ばねの様に上下に動く様にし、その部分に測定するチップ部品の電極を押し付け接触をする様にする。
【０００５】
【発明実施の形態】
本発明は、図３に示すように図１の基板を中央で２つにカットし、さらにそのストリップライン線路電極とグランド電極の横に切り込みを入れ、先端電極部分が独立して動き易い様にし、その切り込みを入れた先端部だけを台から飛び出させるか、切り込みを入れた先端部が乗る台の部分を少し削って動くようにして固定する。
この上に測定するチップ部品を乗せ、上から軽く押さえ付ける事により、切り込みを入れた先端電極部が板ばねの様にしなり、チップ部品の各電極に確実に接触する。
この時基板のみではばね性や耐久性が不足する時は、基板の下に板ばねを重ねたりゴムや絶縁したばね等で下や側面から支え、補強する事が出来る。
また測定するチップ部品を押さえ付けた時測定基板の電極部がしなり、チップ部品の電極面と平行にならず接触しづらい時は、測定基板全体を山形に少し角度をつけて取り付けると接触が良くなる。
【０００６】
【実施例】
本発明の詳細な実施例を図で説明する。
実施例はグランディドコプレーナラインで行うが、本発明はこれに限定されるものではなくマイクロストリップラインなど基板を用いた線路では全て可能であり又その測定基板の数も必要に応じて１個から実施可能である。
図４に示す様に、ベース▲１▼の上に測定基板▲２▼と同じ形にカットした板ばね▲８▼を重ねて取り付け穴▲１１▼によりネジで取り付け、その両端に測定器と接続する為のコネクタ▲４▼を取り付け、その中心導体をライン線路電極にはんだ付けする。
その上に、位置を正確に決めて測定をしやすくする為、測定するチップ部品▲３▼と同じ大きさに穴をくりぬいたプラスチック製のガイドカバー▲９▼を取り付ける。
ガイドカバー▲９▼の穴の中に測定するチップ部品▲３▼を入れ、上から押さえ棒で押さえ測定する。
従来技術では６ＧＨｚ程度までしか正確に測定出来なかったが、本実施例では３０ＧＨｚまで測定が可能になり、その性能もアイソレーションは５０ｄＢ以上、リターンロスも校正する前の裸の状態でチップ部品の代わりにスルーを測定し、３０ＧＨｚで１７ｄＢ以上取れ素晴らしい性能を示した。
【０００７】
【発明の効果】
本発明は、測定する部分に余分な物を付けずマイクロストリップラインやコプレーナラインの途中をカットして、その中央に測定するチップ部品を接続するだけなので、コストも安く非常に高い周波数まで正確に測定する事が出来、今後電気機器の高周波化の発展に貢献するものと思う。
【図面の簡単な説明】
【図１】マイクロストリップラインの中央をカットした従来技術の構造図
【図２】マイクロストリップラインの中央をカットした基板に、コンタクトプローブをはんだ付けした従来技術の構造図
【図３】本発明の概略説明構造図
【図４】本発明の実施構造図
【符号の説明】
１  ベース
２  測定基板
３  被測定チップ部品
４  測定器接続用コネクタ
５  ライン線路電極
６  裏面電極と接続されたグランド電極
７  スプリング内臓コンタクトプローブ
８  板ばね
９  ガイドカバー
１０  押さえ棒
１１  取り付け穴
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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