(57)【要約】【課題】チップ型電子部品の外部電極と接触する球状の測定端子の汚れを確実にクリーニングでき、チップ型電子部品の電気的特性を常時誤差なく測定可能な特性測定装置を得る。【解決手段】測定位置Ｂに間欠的に搬送されてくるチップ型コンデンサ６５の外部電極６６に接触して電気的特性を測定するための装置であって、ホルダ１５の先端部に球状の測定端子１１を回転自在に保持し、該ホルダ１５を支持部材２０に上下動可能に取り付けた測定ユニット１０を備えている。ホルダ１５にはその軸心部に貫通孔が設けられ、該貫通孔を通じて圧縮空気等のガスが測定端子１１に対して噴出され、測定端子１１の表面をクリーニングする。【選択図】　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
チップ型電子部品の電気的特性を測定するための装置であって、
チップ型電子部品の外部電極に接触して電気的に導通する球状の測定端子と、
前記測定端子を回転自在に保持するホルダと、
前記ホルダを通じて前記測定端子に対して清浄用ガスを供給して測定端子を清浄するガス清浄手段と、
を備えたことを特徴とする電子部品の特性測定装置。
【請求項２】
前記清浄用ガスは、空気、酸化防止ガス又は不活性ガスのいずれかであることを特徴とする請求項１に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項３】
前記清浄用ガスは前記ホルダの内部にその後端から供給されることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項４】
前記清浄用ガスは少なくとも非測定時に供給されることを特徴とする請求項１、請求項２又は請求項３に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項５】
前記ホルダは電気的に導通する中継体として機能する導電性材料からなることを特徴とする請求項１に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項６】
前記ホルダは支持部材によってばね部材を介して前記測定端子がチップ型電子部品の外部電極に弾性的に圧接可能に支持されていることを特徴とする請求項１又は請求項５に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項７】
前記測定端子、ホルダを備えた一対の測定ユニットが、チップ型電子部品の搬送経路を挟んで対向して設置されると共に、該チップ型電子部品の外部電極に前記測定端子がそれぞれ接触することを特徴とする請求項１から請求項６のいずれかに記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項８】
前記測定端子、ホルダを備えた一対の測定ユニットが、チップ型電子部品の搬送経路上に並置されると共に、該チップ型電子部品の外部電極に前記測定端子がそれぞれ接触することを特徴とする請求項１から請求項６のいずれかに記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項９】
前記測定端子はその直径が０．２〜０．５ｍｍであることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれかに記載の電子部品の特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、チップ型電子部品の特性測定装置、特に、コンデンサやコイルや高周波複合部品などのチップ型電子部品の電気的特性を自動的に測定するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術と課題】
一般に、コンデンサやチップコイルなどの電子部品は出荷する前に検査工程に付す。ここでの検査工程では、例えばコンデンサであれば、静電容量や絶縁抵抗といった電気的特性を測定し、測定結果に基づいて良品のみを選別して出荷する。この種の検査工程は、大量の電子部品を取り扱うために能率的に進めなければならない。
【０００３】
従来、例えば、チップ型コンデンサの検査工程においては、図４に示す特性測定装置を用いていた。この特性測定装置は、概略、ターンテーブル５０と、パーツフィーダ６０と、静電容量測定器７０（以下、Ｃ測定器と記す）と、絶縁抵抗測定器７５（以下、ＩＲ測定器と記す）と、取出し装置（図示せず）と、装置全体を制御するコントローラ８０とで構成されていた。
【０００４】
ターンテーブル５０は、周縁部にチップ型コンデンサを１個ずつ保持する保持部５１を等間隔に備え、矢印ａ方向に間欠的に回転駆動可能である。即ち、ターンテーブル５０は保持部５１にコンデンサを１個ずつ保持して矢印ａ方向に間欠的に搬送する循環搬送経路を構成している。パーツフィーダ６０は供給位置Ａにおいてコンデンサを１個ずつ前記保持部５１に供給する。Ｃ測定器７０は測定位置Ｂにおいてコンデンサの静電容量を測定する。ＩＲ測定器７５は測定位置Ｃにおいてコンデンサの絶縁抵抗を測定する。
【０００５】
絶縁抵抗の測定は、充電、測定、放電のそれぞれを行うために時間を要することから、例えば図４の装置では、測定位置Ｃは２７個分のコンデンサを一度に測定できる領域に設定され、ターンテーブル５０の回転を止めて２７個のコンデンサに対して同時にＩＲ測定を行う。取出し装置は特に図示していないが、取出し位置Ｄにおいて測定済みのコンデンサを良品と不良品を選別的に取り出す。
【０００６】
以上の構成からなる特性測定装置において、コンデンサは、供給位置Ａにおいて保持部５１に１個ずつ供給されて間欠的に搬送され、まず、測定位置Ｂにおいて静電容量が測定され、測定位置Ｃに順次搬送されていく。測定位置Ｃに２７個のコンデンサが揃うとターンテーブル５０の回転を停止させ、２７個のコンデンサに対して一度に絶縁抵抗の測定が行われる。
【０００７】
次に、ターンテーブル５０を再度間欠回転させつつ、取出し位置Ｄにて測定済みコンデンサを１個ずつ選別的に取り出す。このとき、パーツフィーダ６０からは新たなコンデンサが１個ずつ供給され、前述の静電容量の測定位置Ｂ及び絶縁抵抗の測定位置Ｃへの搬送が行われる。
【０００８】
そして、前記Ｃ測定器７０やＩＲ測定器７５の測定ユニットとしては、例えば、特開平８−３３８８５２号公報に開示されているテストプローブが知られている。このテストプローブは、筒状体からなる軸芯の先端に球状の測定端子を回転自在に保持し、軸芯の後端からグリス等の潤滑剤を充填して測定端子を滑らかに回転させるようにしたものである。
【０００９】
しかしながら、前記テストプローブにおいては、潤滑剤を使用しているために潤滑剤に混入した異物が測定端子に付着したり、測定室内のほこりや被測定物であるコンデンサに付着したほこりが測定端子に転写され、異物やほこりによる測定端子の汚れがクリーニングされないという問題点を有していた。測定端子にこのような汚れが蓄積すると測定端子とコンデンサの外部電極との接触不良が発生し、電気的特性の測定値に誤差を生じることになる。
【００１０】
そこで、本発明の目的は、チップ型電子部品の外部電極と接触する球状の測定端子の汚れを確実にクリーニングでき、チップ型電子部品の電気的特性を常時誤差なく測定可能な特性測定装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段及び作用】
以上の目的を達成するため、本発明に係る特性測定装置は、チップ型電子部品の電気的特性を測定するための装置であって、チップ型電子部品の外部電極に接触して電気的に導通する球状の測定端子と、前記測定端子を回転自在に保持するホルダと、前記ホルダを通じて前記測定端子に対して清浄用ガスを供給して測定端子を清浄するガス清浄手段とを備えたことを特徴とする。
【００１２】
以上の構成からなる本発明に係る特性測定装置おいては、回転自在な球状の測定端子にグリス等の潤滑剤を供給することはないので潤滑剤中の異物が付着することはなく、また、測定端子に対する清浄用ガスの供給にて測定端子の表面からほこり等が除去される。従って、測定端子の表面は常時清浄に保たれ、チップ型電子部品の電気的特性を誤差なく測定することが可能となる。なお、清浄用ガスは潤滑剤とは異なってフィルタを使用すれば微小な異物やほこりを予め確実に除去しておくことができる。
【００１３】
前記清浄用ガスは、空気、酸化防止ガス又は不活性ガスのいずれかをホルダの内部にその後端から供給することが好ましく、少なくとも非測定時に供給すればよい。即ち、清浄用ガスの供給は測定時にはオフするか、あるいは、非測定時を含めて装置の稼働中は常時オンしておいてもよい。
【００１４】
本発明に係る特性測定装置において、前記ホルダは電気的に導通する中継体として機能する導電性材料から構成することができる。この場合、電気信号は、電源回路からホルダ、測定端子を介してチップ型電子部品の外部電極に通じ、かつ、測定信号は逆の流れで測定回路に通じることになる。
【００１５】
また、前記ホルダは支持部材によってばね部材を介して前記測定端子がチップ型電子部品の外部電極に弾性的に圧接可能に支持されていることが好ましい。測定端子と外部電極との接触性を良好に保つことができる。
【００１６】
さらに、前記測定端子、ホルダを備えた一対の測定ユニットが、チップ型電子部品の搬送経路を挟んで対向して設置されていてもよく、あるいは、チップ型電子部品の搬送経路上に並置されていてもよい。
【００１７】
また、測定端子の直径は、非測定物であるチップ型電子部品が小型化している現状では、０．２〜０．５ｍｍであることが好ましい。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る電子部品の特性測定装置の実施形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１９】
（第１実施形態、図１、図２参照）
第１実施形態である特性測定装置は、図１に示すように、概略、一対の測定ユニット１０と測定器３０とガス供給器４０とで構成されている。一対の測定ユニット１０は、図４に示すターンテーブル５０の保持部５１に保持されたコンデンサ６５の搬送経路（図１の矢印ａに示すターンテーブル５０の周方向）を挟んで上下に対向する状態で、例えば、静電容量の測定位置Ｂに設置されている。
【００２０】
各測定ユニット１０は、球状の測定端子１１と、該測定端子１１をその先端部で回転自在に保持するホルダ１５と、該ホルダ１５を弾性的に上下動可能に支持する支持部材２０とで構成されている。
【００２１】
前記測定端子１１は導電性材料（例えばスチール製）からなる。また、前記ホルダ１５も導電性材料（例えば、黄銅製）からなり、リード線３１を介して測定器３０に接続されている。
【００２２】
ホルダ１５は、図２に示すように、軸心部分に貫通孔１６を有する筒状体であり、先端部分に球状の測定端子１１を保持するための保持空間１７を備えている。保持空間１７は奥側の座面１７ａと先端側の座面部材１７ｂとで構成され、座面１７ａ及び座面部材１７ｂと測定端子１１は接触している。測定端子１１は摺動してあらゆる方向に回転自在に保持されると共に、その一部分がホルダ１５の先端から外部に突出した状態で保持されている。
【００２３】
ホルダ１５の貫通孔１６は、再び図１に戻ると、その後端部において供給パイプ４１を介してガス供給器４０に接続されている。ガス供給器４０はクリーンな圧縮空気をパイプ４１を介してホルダ１５の貫通孔１６に供給し、この圧縮空気は前記保持空間１７に噴出される。すると、奥側の座面１７ａ及び先端側の座面部材１７ｂと測定端子１１との間に微小な間隙が発生し、これによりほこり等の異物が座面部材１７ｂと測定端子１１との間から外部に排出され、測定端子１１の表面が清浄される。なお、前述した微小な間隙が発生しなくても、球状の測定端子１１が摺動して回転することにより、異物は外部に排出される。
【００２４】
一方、ホルダ１５は支持部材２０によって定位置で上下動可能に支持されている。即ち、ホルダ１５は支持部材２０の水平バー２１の孔２２に挿入され、上下動可能である。また、垂直バー２３にてホルダ１５を上下方向にガイドするように構成してもよい。
【００２５】
そして、ホルダ１５はその軸部に巻回したコイルばね２４にて、上方のユニット１０にあっては下方に弾性的に付勢され、下方のユニット１０にあっては上方に弾性的に付勢されている。ホルダ１５の後端部分にはストッパ１８が取り付けられ、該ストッパ１８によって、上方のユニット１０にあってはホルダ１５の下限位置が決められ、下方のユニット１０にあってはホルダ１５の上限位置が決められる。
【００２６】
即ち、上下に配置された各測定ユニット１０の測定端子１１の下限位置及び上限位置がストッパ１８によって決められ、一対の測定端子１１が測定位置Ｂに搬送されてきたコンデンサ６５の外部電極６６に上下方向から弾性的に接触することになる。
【００２７】
コンデンサ６５の静電容量はこの状態（図１参照）で行われる。測定器３０には図示しない電源回路や測定回路が内蔵されており、電気信号は電源回路からリード線３１、ホルダ１５、測定端子１１を介してコンデンサ６５の外部電極６６に通じる。また、測定信号は外部電極６６から測定端子１１、ホルダ１５、リード線３１を介して測定回路に通じる。
【００２８】
本第１実施形態においては、コンデンサが測定位置Ｂから次工程に搬送されて次のコンデンサが搬送されてくる間（非測定時）に、ガス供給器４０をオンして圧縮空気をホルダ１５の貫通孔１６に供給し、測定端子１１に対する圧縮空気の噴出によって測定端子１１の表面がクリーニングされ、測定端子１１は常時清浄に保たれる。しかも、本第１実施形態においては、従来のような回転自在な測定端子１１にグリス等の潤滑剤を供給することはないので潤滑剤中の異物が付着するおそれはない。
【００２９】
ところで、近年では非測定物であるチップ型コンデンサが小型化しており、そのサイズは１．６×０．８ｍｍ、１．０×０．５ｍｍ、０．６×０．３ｍｍの角柱のものが多い。このような現状に鑑みて、前記測定端子１１の直径は、例えば、０．２〜０．５ｍｍが妥当である。
【００３０】
（第２実施形態、図３参照）
第２実施形態である特性測定装置は、図３に示すように、一対の測定ユニット１０を、ターンテーブル５０の保持部５１に保持されたコンデンサ６５の搬送経路上に並置したものである。この場合、各測定ユニット１０の測定端子１１は測定位置Ｂに搬送されてきたコンデンサ６５の一対の外部電極６６にそれぞれ上方から弾性的に接触して静電容量を測定する。
【００３１】
なお、各測定ユニット１０、測定器３０、ガス供給器４０の構成、及びその作用は前記第１実施形態で説明したとおりであり、図３では図１と同じ部材に同じ符号を付し、重複した説明は省略する。
【００３２】
（他の実施形態）
なお、本発明に係る電子部品の特性測定装置は前記実施形態に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更できる。
【００３３】
特に、球状の測定端子を回転自在に保持するホルダの構成、支持部材の構成は任意であり、ガス供給器も任意の構成のものを使用することができる。
【００３４】
また、本発明に係る特性測定装置は前記チップ型コンデンサに関しては静電容量のみならず絶縁抵抗の測定にも使用することができる。また、被測定物としては、チップ型コンデンサ以外に、チップ型コイルやチップ型コモンモードチョークコイルや高周波複合部品などであってもよい。チップコイルの場合は直流抵抗（Ｒｄｃ）及び／又はインダクタンスが測定対象となる。コモンモードチョークコイルの場合は直流抵抗（Ｒｄｃ）、インダクタンス及び／又は絶縁抵抗が測定対象となる。高周波複合部品の場合は回路の周波数特性が測定対象になる。また、測定端子の数はチップ型電子部品の外部電極に合わせて２以上でもよい。
【００３５】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、清浄用ガスの噴出によって球状の測定端子の表面がクリーニングされ、チップ型電子部品の電気的特性を常時誤差なく測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る特性測定装置の第１実施形態を示す立面図。
【図２】前記第１実施形態の要部に関する断面図。
【図３】本発明に係る特性測定装置の第２実施形態を示す立面図。
【図４】従来の特性測定装置の一例を示す概略説明図。
【符号の説明】
１０…測定ユニット
１１…測定端子
１５…ホルダ
１７…測定端子保持空間
２０…支持部材
２４…コイルばね
３０…測定器
４０…ガス供給器
５０…ターンテーブル
６５…チップ型コンデンサ
６６…外部電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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