(57)【要約】【課題】電極等の欠陥検査を簡略化することが可能な手段を提供する。【解決手段】本発明の液晶セルユニットは、下基板母材２２上に複数のコモン電極用引き廻し配線１１が形成され、その上に各コモン電極用引き廻し配線１１と電気的に接続されたコモン電極９が絶縁膜を介して形成されている。また、絶縁膜の下層側に全ての奇数本目のコモン電極９と電気的に接続されたコモン電極検査用導電部２５Ａが形成され、絶縁膜１０の上層側に全ての偶数本目のコモン電極９と電気的に接続されたコモン電極検査用導電部２５Ｂが形成されている。上基板母材２２側の全てのセグメント電極と電気的に接続されたセグメント電極検査用導電部２７が形成されている。【選択図】　　図９
2004045821.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の表示用電極が形成された複数の第１の基板形成領域を有する第１の基板母材と、第２の表示用電極が形成された複数の第２の基板形成領域を有する第２の基板母材とを具備するとともに、前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域と前記第２の基板母材の各第２の基板形成領域とがそれぞれシール材を介して貼着された液晶セルユニットであって、
前記第２の基板母材上に、前記第２の基板形成領域に形成された前記第２の表示用電極と電気的に接続されているとともに前記第２の基板形成領域内から当該第２の基板形成領域外に導出された複数の第２検査用引き廻し配線と、前記第２の基板形成領域外で前記複数の第２検査用引き廻し配線のうちの１本おきもしくは複数本おきの複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第１導電部と、前記第２検査用第１導電部に結合された第２検査用引き廻し配線以外の残りの複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第２導電部とが設けられ、前記第２検査用第１導電部と前記第２検査用第２導電部とは異なる層で形成され、これらの間に絶縁膜が介在していることを特徴とする液晶セルユニット。
【請求項２】
第１の表示用電極が形成された複数の第１の基板形成領域を有する第１の基板母材と、第２の表示用電極が形成された複数の第２の基板形成領域を有する第２の基板母材とを具備するとともに、前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域と前記第２の基板母材の各第２の基板形成領域とがそれぞれシール材を介して貼着された液晶セルユニットであって、
前記第２の基板母材上に、前記第２の基板形成領域に形成された前記第２の表示用電極と電気的に接続されているとともに前記第２の基板形成領域内から当該第２の基板形成領域外に導出された複数の第２検査用引き廻し配線と、前記第２の基板形成領域外で前記複数の第２検査用引き廻し配線のうちの３ｎ＋１（ｎ：０，１，２，…）本目の複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第１導電部と、３ｎ＋２（ｎ：０，１，２，…）本目の複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第２導電部と、３ｎ＋３（ｎ：０，１，２，…）本目の複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第３導電部とが設けられ、前記第２検査用第１導電部、前記第２検査用第２導電部、および前記第２検査用第３導電部のいずれか一つは他の２つとは異なる層で形成され、異なる層で形成された導電部の間には絶縁膜が介在していることを特徴とする液晶セルユニット。
【請求項３】
前記第２の基板母材上の前記第２検査用引き廻し配線と前記第２の表示用電極は、前記第２の表示用電極の下層側に前記絶縁膜を介して設けられ個々の前記第２の表示用電極と導電接続された各第２表示電極用引き廻し配線によって電気的に接続されていることを特徴とする請求項１または２に記載の液晶セルユニット。
【請求項４】
前記第２の基板母材上に、前記第１の基板形成領域に形成された前記第１の表示用電極と電気的に接続されているとともに前記第２の基板形成領域内から当該第２の基板形成領域外に導出された複数の第１検査用引き廻し配線と、前記第２の基板形成領域外で前記複数の第１検査用引き廻し配線を結合した第１検査用導電部とが形成されていることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか一項に記載の液晶セルユニット。
【請求項５】
前記第２の基板母材上の前記第１検査用引き廻し配線と前記第１の基板母材の前記第１基板形成領域に形成された前記第１の表示用電極とは両基板母材間での検査用上下導通部を介して電気的に接続されていることを特徴とする請求項４に記載の液晶セルユニット。
【請求項６】
前記第２の基板母材上の前記第１検査用導電部、前記第２検査用第１導電部および前記第２検査用第２導電部は、前記第２の基板母材の最端部にまで延設されていることを特徴とする請求項４または５に記載の液晶セルユニット。
【請求項７】
前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域に外部接続用端子部が形成されているとともに、前記第１検査用導電部が、前記第１の基板母材に形成された前記外部接続用端子部と対向する端材部分に形成されていることを特徴とする請求項４ないし６のいずれか一項に記載の液晶セルユニット。
【請求項８】
前記第２の基板形成領域外で前記複数の第１検査用引き廻し配線のうちの１本おきもしくは複数本おきの複数の第１検査用引き廻し配線を結合して配線された第１検査用第１導電部と、前記第１検査用第１導電部に結合された第１検査用引き廻し配線以外の残りの複数の第１検査用引き廻し配線を結合して配線された第１検査用第２導電部とが設けられ、前記第１検査用第１導電部と前記第１検査用第２導電部とは異なる層で形成され、これら第１検査用第１導電部と第１検査用第２導電部との間に絶縁膜が介在していることを特徴とする請求項４ないし７のいずれか一項に記載の液晶セルユニット。
【請求項９】
前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域に外部接続用端子部が形成されているとともに、前記第２検査用第１導電部および前記第２検査用第２導電部が、前記第１の基板母材に形成された前記外部接続用端子部と対向する端材部分に形成されていることを特徴とする請求項１ないし８のいずれか一項に記載の液晶セルユニット。
【請求項１０】
請求項１ないし９のいずれか一項に記載の液晶セルユニットから製造された液晶装置であって、
前記第１の基板母材の前記第１の基板形成領域から得られた第１の基板と、前記第２の基板母材の前記第２の基板形成領域から得られた第２の基板とを具備し、前記第１の基板と前記第２の基板との間に液晶層が挟持されているとともに、前記第２検査用引き廻し配線の少なくとも一部を具備することを特徴とする液晶装置。
【請求項１１】
請求項１ないし９に記載の液晶セルユニットから液晶装置を製造する液晶装置の製造方法であって、
前記液晶セルユニットの前記第１の表示用電極および前記第２の表示用電極の欠陥検査を行う検査工程と、前記液晶セルユニットの前記第１の基板母材を各第１の基板形成領域の外周に沿って切断し、前記第２の基板母材を各第２の基板形成領域の外周に沿って切断することにより、複数の液晶セルに分割する切断工程とを有することを特徴とする液晶装置の製造方法。
【請求項１２】
前記検査工程において、前記第２検査用第１導電部および前記第２検査用第２導電部に各々検査用プローブを接触させ、電気的特性を計測することにより、前記液晶セルユニットの前記第１の表示用電極および前記第２の表示用電極の欠陥検査を行うことを特徴とする請求項１１に記載の液晶装置の製造方法。
【請求項１３】
請求項１０に記載の液晶装置を備えたことを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶セルユニット、液晶装置、液晶装置の製造方法、並びに電子機器に関し、特に、液晶装置を製造する際の検査工程を簡略化する技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
携帯電話等の電子機器に搭載される直視型表示装置などに用いられる液晶装置は、液晶層を挟持して対向配置された第１の基板（例えば上基板）と第２の基板（例えば下基板）がシール材を介して貼着されて概略構成されている。一般に、複数の液晶装置を同時に製造し、製造プロセスの合理化を図ることを目的として、液晶装置は、第１の基板を複数切り出すための第１の基板母材と第２の基板を複数切り出すための第２の基板母材とを用いて製造する、いわゆる「複数個取り」と呼ばれる方法が用いられている。本明細書では、第１の基板母材において、最終的に第１の基板が形成される領域のことを「第１の基板形成領域」、第２の基板母材において、最終的に第２の基板が形成される領域のことを「第２の基板形成領域」と称す。
【０００３】
以下、従来の液晶装置の製造方法の一例として、第１の基板と第２の基板の双方がストライプ状に形成された複数の電極を具備するパッシブマトリクス型液晶装置の製造方法について簡単に説明する。
初めに、第１の基板母材の各第１の基板形成領域と、第２の基板母材の各第２の基板形成領域に、電極や配向膜等の必要な構成要素を形成する。次に、第１の基板母材の各第１の基板形成領域と、第２の基板母材の各第２の基板形成領域とを未硬化のシール材を介して貼り合わせた後、シール材を硬化することにより、複数の液晶セルが一体化された液晶セルユニットを製造する。なお、この工程において、シール材の一部には液晶を注入するための液晶注入口が形成された状態となっている。
【０００４】
次に、全ての液晶注入口が最端部に位置するように液晶セルユニットを切断し、複数の液晶セルが一方向に配列した短冊状の液晶セルユニットに分割した後、短冊状の液晶セルユニットの各液晶セルに、真空注入法等により液晶を注入し、液晶層を形成した後、液晶注入口を封止材により封止する。次に、短冊状の液晶セルユニットを切断し、単品の液晶セルに分割した後、各液晶セルについて、電極の欠陥、電極（例えば電極−引き廻し配線）間での電気的接続不良（導通不良）、表示上の欠陥の有無等を検査する。最後に、各液晶セルの外側に偏光子、位相差板等の光学部品を貼着することにより、複数のパッシブマトリクス型液晶装置を同時に製造することができる。
【０００５】
このように、従来のパッシブマトリクス型液晶装置の製造方法においては、単品の液晶セルに分割した後、各液晶セルについて電極の欠陥、導通不良、表示上の欠陥の有無等を検査している。ここで、これらの検査方法としては、例えば、複数本の検査用プローブを、隣接する複数本の電極に接触させ、電気的特性を計測することにより電極のパターン欠陥や導通不良を検出する方法や、第１の基板に形成された全ての電極、第２の基板に形成された全ての電極にそれぞれ幅広の電極を接触させ、電圧を印加することにより、全てのドットが正常に点灯するか否かを検査する点灯検査を行う方法などが知られている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、従来のパッシブマトリクス型液晶装置の製造方法においては、単品の液晶セルに分割した後、各液晶セルについて電極の欠陥検査を行っているため、複数の液晶セルの電極の欠陥検査を一括して行うことができず、検査工程で多くの時間を必要とする上、検査工程が複雑化するという問題点を有している。なお、第１の基板母材と第２の基板母材に各々電極を形成した後、第１の基板母材と第２の基板母材とを貼り合わせる前に、各基板母材に対して電極の欠陥検査を一括して行う場合があるが、この場合にも、その後の工程において異物等により生じた電極のパターン欠陥を検出するために、第１の基板母材と第２の基板母材とを貼り合わせた後に再度、電極の欠陥検査を行っている。したがって、この場合にも上記の問題点は存在する。本明細書において、「検査」とは、第１の基板母材と第２の基板母材とを貼り合わせた後の検査のことを意味しているものとする。
【０００７】
また、近年、液晶装置の高精細化に伴って、電極ピッチの微細化が進められているが、微細なピッチで形成された電極の欠陥検査を正確かつ迅速に行うことは難しく、検査工程が一層複雑化するという問題点を有している。特に検査用プローブを用いて電極の欠陥検査を行う場合には、微細なピッチで形成された隣接する複数本の電極毎に正確に検査用プローブを接触させ、全ての電極の欠陥検査を行う必要があるため、電極の欠陥検査を正確かつ迅速に行うことは極めて難しくなっている。
【０００８】
以上の問題は、パッシブマトリクス型液晶装置に限らず、スイッチング素子として薄膜ダイオード（Ｔｈｉｎ　Ｆｉｌｍ　Ｄｉｏｄｅ，以下、ＴＦＤと略記する）を用いたアクティブマトリクス型液晶装置においても同様に生じる問題である。なお、スイッチング素子としてＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型液晶装置では、第１の基板、第２の基板が、各々ストライプ状に形成されたデータ線（もしくは走査線）、走査線（もしくはデータ線）を具備しており、データ線および走査線に対して同様の欠陥検査を行っている。
【０００９】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、電極等の欠陥、表示上の欠陥等の検査を合理的に短時間で行うことができ、検査の簡略化が可能な手段を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の第１の液晶セルユニットは、第１の表示用電極が形成された複数の第１の基板形成領域を有する第１の基板母材と、第２の表示用電極が形成された複数の第２の基板形成領域を有する第２の基板母材とを具備するとともに、前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域と前記第２の基板母材の各第２の基板形成領域とがそれぞれシール材を介して貼着された液晶セルユニットであって、前記第２の基板母材上に、前記第２の基板形成領域に形成された前記第２の表示用電極と電気的に接続されているとともに前記第２の基板形成領域内から当該第２の基板形成領域外に導出された複数の第２検査用引き廻し配線と、前記第２の基板形成領域外で前記複数の第２検査用引き廻し配線のうちの１本おきもしくは複数本おきの複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第１導電部と、前記第２検査用第１導電部に結合された第２検査用引き廻し配線以外の残りの複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第２導電部とが設けられ、前記第２検査用第１導電部と前記第２検査用第２導電部とは異なる層で形成され、これらの間に絶縁膜が介在していることを特徴とする。
【００１１】
なお、本明細書において、「液晶セル」は、液晶層を具備する液晶セルと、液晶層を具備しない空の液晶セルの双方を含んでいるものとする。また、「液晶セルユニット」は、複数の液晶セルが一体化されたものであり、液晶セルユニットから複数の液晶装置を製造することが可能な構造のものを意味しているものとする。
【００１２】
すなわち、本発明の液晶セルユニットにおいては、第２の基板母材に形成された第２の表示用電極に対して第２検査用引き廻し配線、第２検査用第１，第２導電部を順次電気的に接続する構成としているので、第２検査用第１，第２導電部に対して欠陥検査を行うことにより、第２検査用第１，第２導電部に電気的に接続された第２表示用電極の欠陥検査を少なくとも行うことができる。さらに、複数の第２検査用引き廻し配線を束ねて第２検査用第１導電部または第２検査用第２導電部に結合する構成としているので、これら２本の検査用導電部に対して検査を行うことにより、同時に複数の表示用電極もしくはこの電極に電気的に接続された配線の欠陥検査を行うことができる。
【００１３】
よって、本発明の液晶セルユニットを用いて液晶装置を製造することにより、本発明の液晶セルユニット、もしくは本発明の液晶セルユニットを分割して得られる全ての液晶セルに対して、表示用電極もしくはこれに電気的に接続された配線の欠陥検査を一括して行うことができる。その結果、検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロセスの簡略化を図ることができる。
【００１４】
また、第２の表示用電極の数と第２検査用引き廻し配線の数は１：１に対応していたとしても、複数の第２検査用引き廻し配線を束ねて第２検査用第１，第２導電部に接続する構成を採用しているので、検査用導電部の数を表示用電極の数に比較して大幅に低減することができる。したがって、表示用電極のピッチが非常に微細な高精細な液晶装置を製造する液晶セルユニットに対して、検査プローブを用いて検査を行う場合においても、検査する検査用導電部の数が少ないことに加えて、検査用プローブを接触させる検査用導電部のピッチを大きく確保することができるので、正確かつ迅速に検査を行うことができる。
【００１５】
特に本発明の場合、全ての第２検査用引き廻し配線を一括して束ねているわけではなく、１本おきもしくは複数本おきの第２検査用引き廻し配線を束ねて第２検査用第１導電部で結合し、残りの第２検査用引き廻し配線を束ねて第２検査用第２導電部で結合しているので、第２検査用第１導電部、第２検査用第２導電部のそれぞれに対応した第２検査用引き廻し配線（第２の表示用電極）毎の検査が可能となる。例えば１本おきの場合、隣り合う２本の第２の表示用電極の各々が第２検査用第１導電部、第２検査用第２導電部のそれぞれに電気的に接続されることになるので、これら第２検査用第１，第２導電部を用いて、隣接する第２の表示用電極間の短絡不良の検査が可能となる。
【００１６】
また、第２検査用第１導電部と第２検査用第２導電部とが絶縁膜を挟んでその上下に設けられており、第２の基板母材上の配線の引き廻し構造が３次元的に構成されているので、例えば第２検査用第１導電部と第２検査用第２導電部とを平面的に重ねて配置することもできる。その結果、検査用導電部にそれ程大きな占有面積を必要としないため、液晶装置の額縁領域をより狭くすることができ、装置の外周の割に大きな表示領域を確保することができる。また、１枚の基板母材から取れる液晶セルの個数を多くすることができる。
【００１７】
本発明の第２の液晶セルユニットは、第１の表示用電極が形成された複数の第１の基板形成領域を有する第１の基板母材と、第２の表示用電極が形成された複数の第２の基板形成領域を有する第２の基板母材とを具備するとともに、前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域と前記第２の基板母材の各第２の基板形成領域とがそれぞれシール材を介して貼着された液晶セルユニットであって、前記第２の基板母材上に、前記第２の基板形成領域に形成された前記第２の表示用電極と電気的に接続されているとともに前記第２の基板形成領域内から当該第２の基板形成領域外に導出された複数の第２検査用引き廻し配線と、前記第２の基板形成領域外で前記複数の第２検査用引き廻し配線のうちの３ｎ＋１（ｎ：０，１，２，…）本目の複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第１導電部と、３ｎ＋２（ｎ：０，１，２，…）本目の複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第２導電部と、３ｎ＋３（ｎ：０，１，２，…）本目の複数の第２検査用引き廻し配線を結合して配線された第２検査用第３導電部とが設けられ、前記第２検査用第１導電部、前記第２検査用第２導電部、および前記第２検査用第３導電部のいずれか一つは他の２つとは異なる層で形成され、異なる層で形成された導電部の間には絶縁膜が介在していることを特徴とする。
【００１８】
本発明の第２の液晶セルユニットにおいても、この液晶セルユニットを用いて液晶装置を製造することにより、本発明の液晶セルユニット、もしくは本発明の液晶セルユニットを分割して得られる全ての液晶セルに対して、表示用電極もしくはこれに電気的に接続された配線の欠陥検査を一括して行え、検査工程を大幅に簡略化でき、製造プロセスの簡略化が図れる、表示用電極のピッチが非常に微細な高精細な液晶装置を製造する液晶セルユニットに対して検査プローブを用いて検査を行う場合においても、検査する検査用導電部の数が少ないことに加えて検査用プローブを接触させる検査用導電部のピッチを大きく確保することができるので、正確かつ迅速に検査を行うことができる、といった第１の液晶セルユニットと同様の作用、効果を得ることができる。
【００１９】
さらに上記の構成においては、第２検査用引き廻し配線のうちの３ｎ＋１（ｎ：０，１，２，…）本目（すなわち１，４，７，…本目）の第２検査用引き廻し配線を束ねて配線された第２検査用第１導電部と、３ｎ＋２（ｎ：０，１，２，…）本目（すなわち２，５，８，…本目）の第２検査用引き廻し配線を束ねて配線された第２検査用第２導電部と、３ｎ＋３（ｎ：０，１，２，…）本目（すなわち３，６，９，…本目）の第２検査用引き廻し配線を束ねて配線された第２検査用第３導電部とが設けられているので、例えば、これら３組の第２検査用引き廻し配線に対応する第２の表示用電極に合わせてＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の各色が配置されたカラーフィルターを備えている場合、これら３つの検査用導電部を用いてＲ，Ｇ，Ｂ各色毎の点灯検査を行うことができる。
【００２０】
また、上記構成において、第２の基板母材上の第２検査用引き廻し配線と第２の表示用電極とが、第２の表示用電極の下層側に絶縁膜を介して設けられ個々の第２の表示用電極と導電接続された各第２表示電極用引き廻し配線によって電気的に接続されていることが望ましい。
【００２１】
この構成によれば、第２の表示用電極を外部接続用端子部まで引き廻す目的で設けられた第２表示電極用引き廻し配線が、第２の表示用電極を第２検査用引き廻し配線まで引き廻す引き廻し配線としても機能し、引き廻し配線の構成の簡略化を図ることができる。またその結果、本発明の液晶セルユニットを構成する複数の液晶セルの配列ピッチを小さくすることができ、１個の液晶セルユニットにより多くの液晶セルを形成することができるので、好適である。
【００２２】
また、第２の基板母材上に、第１の基板形成領域に形成された第１の表示用電極と電気的に接続されているとともに第２の基板形成領域内から当該第２の基板形成領域外に導出された複数の第１検査用引き廻し配線と、第２の基板形成領域外で複数の第１検査用引き廻し配線を結合した第１検査用導電部とが形成されていることが望ましい。
【００２３】
この構成によれば、上述の第２の表示用電極のみならず、第１の表示用電極についても、第１検査用導電部を用いて同様に検査することができ、第１の表示用電極の検査工程の簡略化を図ることができ、検査を確実かつ迅速に行うことができる。
【００２４】
また、本発明の液晶セルユニットにおいて、第２の基板母材上の第１検査用引き廻し配線と第１の基板母材の第１基板形成領域に形成された第１の表示用電極とが、両基板母材間での検査用上下導通部を介して電気的に接続されていることが望ましい。すなわち、第１の基板母材側の第１の表示用電極を検査用上下導通部を用いて第２の基板母材上の第１検査用引き廻し配線に引き廻す構成とすることが望ましい。
【００２５】
上記の構成とすることにより、第１の基板母材側の第１の表示用電極を３次元の引き廻し構造を持つ第２の基板母材側の第１検査用引き廻し配線に容易に引き廻すことができる。
【００２６】
また、第２の基板母材上の第１検査用導電部、第２検査用第１導電部および第２検査用第２導電部は、第２の基板母材の最端部にまで延設されていることが望ましい。
【００２７】
この構成とすることにより、各検査用導電部に対して検査用プローブや検査用電極の接触を容易に行うことができ、検査工程のより一層の簡略化を図ることができる。
【００２８】
また、第１の基板母材の各第１の基板形成領域に外部接続用端子部が形成されているとともに、第２検査用第１導電部および第２検査用第２導電部が、第１の基板母材に形成された前記外部接続用端子部と対向する端材部分に形成されていることが望ましい。さらに第１検査用導電部を設けた場合には、第１検査用導電部も、第１の基板母材に形成された外部接続用端子部と対向する端材部分に形成されていることが望ましい。
【００２９】
第１の基板母材の各第１の基板形成領域に外部接続用端子部が形成されている場合、第２の基板母材のうちの外部接続用端子部と対向する部分は、複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材部分となる。この端材部分は従来から存在するため、この端材部分に第２検査用第１導電部および第２検査用第２導電部、もしくは第１検査用導電部を形成することにより、新たな端材部分を設けることなくこれら検査用導電部を配設することができ、本発明の液晶セルユニットを構成する複数の液晶セルの配列ピッチを従来と同程度とすることができるので、１個の液晶セルユニットにより多くの液晶セルを形成することができ、好適である。
【００３０】
前記第２の基板形成領域外で前記複数の第１検査用引き廻し配線のうちの１本おきもしくは複数本おきの複数の第１検査用引き廻し配線を結合して配線された第１検査用第１導電部と、前記第１検査用第１導電部に結合された第１検査用引き廻し配線以外の残りの複数の第１検査用引き廻し配線を結合して配線された第１検査用第２導電部とが設けられ、前記第１検査用第１導電部と前記第１検査用第２導電部とは異なる層で形成され、これら第１検査用第１導電部と第１検査用第２導電部との間に絶縁膜が介在していることが望ましい。
【００３１】
すなわち、上述した第２の表示用電極側のみならず、第１の表示用電極側についても、第１検査用引き廻し配線のうちの１本おきもしくは複数本おきの第１検査用引き廻し配線を束ねて第１検査用第１導電部で結合し、残りの第１検査用引き廻し配線を束ねて第１検査用第２導電部で結合する構成とすれば、隣接する第１の表示用電極間の短絡不良の検査等を行うことができる。
【００３２】
なお、本発明の液晶セルユニットでは、各液晶セルに液晶層が形成されている場合と、形成されていない場合とが存在する。
具体的には、各シール材が、液晶を注入するための液晶注入口を有しない場合には、一方の基板母材に未硬化のシール材を印刷し、そのシール材で囲まれた領域に液晶を滴下した後、シール材を介して他方の基板母材と貼り合わせて本発明の液晶セルユニットを製造するため、本発明の液晶セルユニットにおいて、第１の基板母材の各第１の基板形成領域と第２の基板母材の各第２の基板形成領域との間には、液晶層が形成されていることになる。
【００３３】
また、各シール材が液晶を注入するための液晶注入口を有するとともに、全ての液晶セルが、液晶注入口が液晶セルユニットの最端部に位置するように、一方向に配列している場合には、本発明の液晶セルユニットを製造する際に、全ての液晶セルに液晶を注入することができるので、本発明の液晶セルユニットにおいて、第１の基板母材の各第１の基板形成領域と第２の基板母材の各第２の基板形成領域との間には、液晶層が形成されていることになる。
【００３４】
これに対して、各シール材が液晶を注入するための液晶注入口を有していても、複数の液晶注入口が液晶セルユニットの最端部に位置していない場合には、本発明の液晶セルユニットを製造する段階では未だ液晶を注入することができず、各液晶注入口が液晶セルユニットの最端部に位置するように液晶セルユニットを分断した後でなければ液晶を注入できないので、本発明の液晶セルユニットにおいて、第１の基板母材の各第１の基板形成領域と第２の基板母材の各第２の基板形成領域との間に、液晶層が形成されていないことになる。
【００３５】
ここで、検査用プローブを用いた電極の欠陥検査は液晶層の有無に関係なく行うことができるのに対して、点灯検査については液晶層を形成してからでなければ行うことができない。すなわち、本発明の液晶セルユニットの各シール材が液晶注入口を有していない場合、もしくは、本発明の液晶セルユニットの各シール材が液晶注入口を有しており、液晶注入口が液晶セルユニットの最端部に位置するように複数の液晶セルが一方向に配列している場合には、本発明の液晶セルユニットに液晶層が形成されているので、本発明の液晶セルユニットに対して電極欠陥検査と点灯検査の双方が可能である。
【００３６】
これに対して、本発明の液晶セルユニットの各シール材が液晶注入口を有するとともに、複数の液晶注入口が液晶セルユニットの最端部に位置していない場合には、本発明の液晶セルユニットに液晶層が形成されていないので、本発明の液晶セルユニットに対して点灯検査を行うことはできず、電極欠陥検査のみが可能である。したがって、この構成の液晶セルユニットの各液晶セルに対して点灯検査を行う場合には、短冊状の液晶セルユニットに分割し、液晶層を形成した後、分割された短冊状の液晶セルユニットに対して点灯検査を行えば良い。また、検査用プローブを用いた電極欠陥検査を行う場合についても、液晶層を形成し、液晶セルを完成させてから行うことが好ましいため、この場合にも、短冊状の液晶セルユニットに分割し、液晶層を形成した後、分割された短冊状の液晶セルユニットに対して検査を行うことが好ましい。
【００３７】
以上の本発明の液晶セルユニットから、以下の本発明の液晶装置を製造することができる。
本発明の液晶装置は、上記本発明の液晶セルユニットから製造された液晶装置であって、前記第１の基板母材の前記第１の基板形成領域から得られた第１の基板と、前記第２の基板母材の前記第２の基板形成領域から得られた第２の基板とを具備し、前記第１の基板と前記第２の基板との間に液晶層が挟持されているとともに、前記第２検査用引き廻し配線の少なくとも一部を具備することを特徴とする。
【００３８】
本発明の液晶セルユニットに設けられていた検査用導電部は複数の検査用引き廻し配線を電気的に接続したものであるから、液晶装置とした完成した状態でも依然として検査用導電部が残っていたのでは第２検査用引き廻し配線を介して第２の表示用電極同士が短絡してしまい、表示が不可能となる。したがって、本発明の液晶セルユニットから液晶装置を製造する際には、検査用導電部を切り離すことになり、第２検査用引き廻し配線の少なくとも一部が残った状態となる。上記本発明の液晶装置は、本発明の液晶セルユニットを用いて製造されたものであるから、液晶装置を製造する際の検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロセスの簡略化を図ることができる。
【００３９】
本発明の液晶装置の製造方法は、上記本発明の液晶セルユニットから液晶装置を製造する液晶装置の製造方法であって、前記液晶セルユニットの少なくとも前記第２の表示用電極の欠陥検査を行う検査工程と、前記液晶セルユニットの前記第１の基板母材を各第１の基板形成領域の外周に沿って切断し、前記第２の基板母材を各第２の基板形成領域の外周に沿って切断することにより、複数の液晶セルに分割する切断工程とを有することを特徴とする。
【００４０】
なお、本発明の液晶装置の製造方法では、前記検査工程において第２の基板母材上に形成された第２検査用第１導電部および第２検査用第２導電部に各々検査用プローブを接触させ、電気的特性を計測することにより、液晶セルユニットの第２の表示用電極の欠陥検査を行うことができる。
【００４１】
本発明の液晶装置の製造方法によれば、複数の液晶セルの第２の表示用電極の欠陥検査を一括して行うことができるので、検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロセスの簡略化を図ることができる。
【００４２】
上記の本発明の液晶装置を備えることにより、本発明の電子機器を提供することができる。本発明の電子機器は、本発明の液晶装置を備えたものであるので、製造プロセスの簡略化を図ることができるものとなる。
【００４３】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、各実施の形態においては図面を参照しながら説明するが、各図において、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。
【００４４】
［第１の実施の形態］
（液晶装置の構成）
まず最初に、図１〜図６に基づいて、本発明の第１の実施の形態の液晶装置の構成について説明する。本実施の形態では、パッシブマトリクス型の液晶装置の例を挙げて説明する。図１は本実施の形態の液晶装置を構成する上基板（上基板形成領域）の構成を示す平面図、図２は同、下基板の構成を示す平面図、図３は上基板と下基板を貼り合わせた状態を示す平面図、図４は同、液晶装置の断面構造を示す図であって、図３のＡ−Ａ’線に沿う断面図、図５は同、図３のＢ−Ｂ’線に沿う断面図、図６は同、図３のＣ−Ｃ’線に沿う断面図である。
【００４５】
本実施の形態の液晶装置１は、図３に示すように、平面視矩形状の上基板２（第１の基板）と下基板３（第２の基板）とがシール材４を介して対向配置されている。本実施の形態の場合、シール材４は各基板２，３の周縁に沿って略矩形で環状に切れ目なく形成されており、液晶注入口を有していない。そして、双方の基板２，３とシール材４とに囲まれた空間内には両基板の貼り合わせ前に滴下された液晶が封入されている。
【００４６】
本実施の形態では、下基板３よりも上基板２の外形寸法（図３における縦方向の長さ）の方が大きく、対向して貼り合わされる上基板と下基板において、上基板には４辺のうち１辺側が下基板から張り出している領域３５が設けられている。したがって、上基板３と下基板２の３辺（図３における上辺、右辺、左辺）では縁が揃っているが、下基板３の残りの１辺（図３における下辺）からは上基板２の端部がはみ出すように配置されている。そして、上基板２の張り出し領域３５の端部には、例えば上基板３、下基板２双方の表示用電極を駆動するための駆動用半導体素子７が実装されたフレキシブルプリント配線板（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ　ＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ，　ＦＰＣ）等を接続するための複数の外部接続用端子５，６が形成されている。
【００４７】
本実施の形態の場合、図１に示すように、シール材４で囲まれた上基板２上には、図中縦方向（下基板から上基板がはみ出す側の方向、および外部接続用端子５，６が存在する側の方向）に延在する複数の表示用電極となるセグメント電極７がストライプ状に形成されている。したがって、各セグメント電極７が延在する一方の側はシール材４の形成領域を貫通して張り出し領域３５に導出された後に外部接続用端子５に接続されているとともに、各セグメント電極７の延在する他方の側（図１における各セグメント電極７の上端）は、シール材４の形成領域（矩形の上辺側）より内側に位置している。
【００４８】
また上述したように、上基板２の下辺側の端部に複数の外部接続用端子５，６が形成されているが、これら外部接続用端子５，６はその上端がシール材４の形成領域（矩形の下辺側）にかかるように延在して配置されている。複数の外部接続用端子５，６のうち、中央寄りの端部に配列された端子５は、上基板２上に形成されたセグメント電極用引き廻し配線８を介して各セグメント電極７と電気的に接続されたセグメント電極駆動用の外部接続用端子であり、その両側の端子６は、後述する上下導通部を介して下基板３側の各コモン電極と電気的に接続されるコモン電極駆動用の外部接続用端子である。したがって、セグメント電極駆動用の外部接続用端子５、およびコモン電極駆動用の外部接続用端子６に接続されたＦＰＣ上の駆動用ＩＣ等から、セグメント電極７に対して表示画像に基づいたデータ信号が供給され、後述するコモン電極９に対して走査信号が供給される。
【００４９】
一方、下基板３上には、図２に示すように、上基板２上の表示用電極であるセグメント電極７と略直交するように図中横方向に延在する複数の表示用電極であるコモン電極９がストライプ状に形成されている。下基板３の断面構造については後述するが、全てのコモン電極９は下基板３上に形成された絶縁膜１０上に形成されており、絶縁膜１０の下層側には、コモン電極９と交差（略直交）する方向に延在する複数のコモン電極用引き廻し配線１１が形成されている。なお、図２中の符号１０ａで示す１点鎖線は絶縁膜１０の縁であり、この縁１０ａよりも上側が絶縁膜１０が形成された領域、下側が絶縁膜１０が形成されていない領域である。コモン電極用引き廻し配線１１はコモン電極９の数と同じ数だけ形成されており、コモン電極９とコモン電極用引き廻し配線１１とが、これらが交差する位置に設けられた絶縁膜１０を貫通するコンタクトホール１２を通じて電気的に接続されている。
【００５０】
また、コモン電極用引き廻し配線１１は絶縁膜１０を挟んで全てのコモン電極９と交差する方向に延在して形成され、延在方向の一方の側（図２の下辺側）では左右の側方に２分（分割）されてシール材４の形成領域にかかるように配置されている。形成されたシール材４には導電粒子等の導通材が混入されており、シール材４の形成領域に配置されたコモン電極用引き廻し配線１１は、上基板２と下基板３を貼り合わせた際に、上述した上基板２上の同シール材４の形成領域に配置された外部接続用端子６と平面的に重なる位置に配置され、電気的に接続される。つまり、混入された導通材の作用によって、シール材４内で上基板２の外部接続用端子６と下基板３のコモン電極引き廻し配線１１とを電気的に接続する上下導通部１３が存在する。したがって、コモン電極９は、絶縁膜１０を貫通するコンタクトホール１２、コモン電極用引き廻し配線１１、上下導通部１３を介してコモン電極駆動用の外部接続用端子６と電気的に接続されている。
【００５１】
また、コモン電極用引き廻し配線１１の延在方向の他方の側（図２の上辺側）については、１本おきに端部の延在している位置が異なっている。すなわち、図２において、左側から１，３，…本目（奇数本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ａはそのままシール材４の形成領域を貫通して基板端部まで形成されている一方、左側から２，４，…本目（偶数本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ｂはシール材４の形成領域までは延在しているが、それ以上は延在していない。
【００５２】
よって、左側から奇数本目のコモン電極用引き廻し配線１１Ａは、基板端部まで延在した後、後述する下基板形成領域の外側に導出されており、液晶セルユニットにおけるコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａとしての役割を果たしている。一方、左側から偶数本目のコモン電極用引き廻し配線１１Ｂについては、コモン電極用引き廻し配線１１Ｂの端部と平面的に重なる位置に、後述するコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂの一部が絶縁膜１０上に残存している。さらに、コモン電極用引き廻し配線１１Ｂの端部とコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂの一部とが重なる部分に絶縁膜１０を貫通するコンタクトホール１６が形成されており、コンタクトホール１６を介してコモン電極用引き廻し配線１１Ｂとコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂとが電気的に接続されている。
【００５３】
また、図２に示す下基板３の下端側については、下基板３と上基板２を貼り合わせた際に上基板２側のセグメント電極用の外部接続用端子５と平面的に重なる位置に、後述するセグメント電極検査用引き廻し配線１４の一部が絶縁膜１０上に残存している。
【００５４】
上記構成の上基板２と下基板３を貼り合わせると図３のような平面パターンとなるが、セグメント電極７とコモン電極９とが交差し、平面的に見て重なり合った各領域が文字や絵柄等の表示を構成する「１ドット」である。本実施の形態での構造では、上基板２のセグメント電極７と下基板３のコモン電極引き廻し配線１１とが平面的に重なる位置に配置され、コンタクトホール１２も各ドット内にそれぞれ配置されているが、それぞれドット外にコンタクトホール１２やこれに対応するコモン電極引き廻し配線１１を配置してもよい。また、下基板３上の絶縁膜１０の形成領域は、コンタクトホール１２を除いた部分のコモン電極９とコモン電極引き廻し配線１１との絶縁と、コモン電極引き廻し配線１１とコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂとの絶縁が図られて、コモン電極引き廻し配線１１と上基板２の外部接続用端子６との電気的な接続（上下導通部）が確保されるものであればよく、絶縁膜の縁は図２，図３の符号１０ａに示す位置に限定されるものではない。また、図示は省略したが、両基板２，３の周縁部には例えば周辺見切りなどと呼ばれる遮光層が形成されており、遮光層よりも内側にある多数のドットがマトリクス状に配列された領域を「表示領域」という。
【００５５】
次に、本実施の形態の液晶装置１の断面構造を、図４〜図６を用いて説明する。図４は、図３の液晶装置１を、左側から奇数本目（１本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ａとコモン電極駆動用の外部接続用端子６とを縦断する線（図３のＡ−Ａ’線）で切断した断面図であり、図５は、左側から偶数本目（２本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ｂとコモン電極駆動用の外部接続用端子６とを縦断する線（図３のＢ−Ｂ’線）で切断した断面図であり、図６は、左側から偶数本目（６本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ｂとセグメント電極駆動用の外部接続用端子５を縦断する線（図３のＣ−Ｃ’線）で切断した断面図である。
【００５６】
これらの図に示すように、ガラス、プラスチック等の透光性基板からなる上基板２の下面には、インジウム錫酸化物（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｔｉｎ　Ｏｘｉｄｅ，　以下、ＩＴＯと略記する）等の透明導電膜からなるセグメント電極７、セグメント電極駆動用の外部接続用端子５、およびコモン電極駆動用の外部接続用端子６がそれぞれ形成されている。
【００５７】
また、ガラス、プラスチック等の透光性基板からなる下基板３の上面には、ＩＴＯ等の透明導電膜からなるコモン電極用引き廻し配線１１が形成され、コモン電極用引き廻し配線１１を覆うように例えばアクリル系樹脂等からなる絶縁膜１０が形成され、絶縁膜１０上にＩＴＯ等の透明導電膜からなるコモン電極９、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂの一部が形成されている。セグメント電極７、コモン電極９およびコモン電極用引き廻し配線１１は表示領域内に位置するため、透過型液晶装置を構成する場合にはＩＴＯ等の透明導電膜で形成する必要がある。その一方、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂの一部は非表示領域に位置するため、透明導電膜で形成する必要はない。むしろ、製造プロセスが多少複雑になることを許容すれば、この部分は低抵抗化を考慮して低抵抗の金属膜を用いて形成することが望ましい。また、反射型液晶装置を構成する場合には、コモン電極９をアルミニウム等の反射性を有する金属膜を用いて形成するとともに、下基板３上の各種配線や接続部や端子についても適宜アルミニウム等の反射性を有する金属膜を用いて形成する。
【００５８】
図４に示すように、左側から奇数本目（１本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ａとコモン電極駆動用の外部接続用端子６とを結ぶ断面に関しては、コモン電極用引き廻し配線１１Ａの一端（図４における右端）が基板端面まで延在してコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａとなる一方、他端（図４における左端）が絶縁膜１０から露出してシール材４の上下導通部１３を介してコモン電極駆動用の外部接続用端子６に電気的に接続されている。また、コモン電極９とコモン電極用引き廻し配線１１Ａとは、絶縁膜１０を貫通するコンタクトホール１２を介して電気的に接続されている。
【００５９】
図５に示すように、左側から偶数本目（２本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ｂとコモン電極駆動用の外部接続用端子６とを結ぶ断面に関しては、コモン電極用引き廻し配線１１Ｂの一端（図５における右端）が、絶縁膜１０を貫通するコンタクトホール１６を介してコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂの一部と電気的に接続される一方、他端（図５における左端）は、図４と同様、絶縁膜１０から露出してシール材４の上下導通部１３を介してコモン電極駆動用の外部接続用端子６に電気的に接続されている。また、コモン電極９とコモン電極用引き廻し配線１１Ｂとはコンタクトホール１２を介して電気的に接続されている。
【００６０】
図６に示すように、左側から偶数本目（６本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ｂとセグメント電極駆動用の外部接続用端子５を結ぶ断面に関しては、コモン電極用引き廻し配線１１Ｂの一端（図６における右端）が、図５と同様、絶縁膜１０を貫通するコンタクトホール１６を介してコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂの一部と電気的に接続される一方、他端（図６における左端）は、シール材４に達しない位置で途切れ、端面が絶縁膜１０に覆われている。そして、上基板２側のセグメント電極７が上基板２の端面にまで延在し、セグメント電極駆動用の外部接続用端子５となっている。セグメント電極駆動用の外部接続用端子５は、シール材４の上下導通部１３を介してセグメント電極検査用引き廻し配線の一部と電気的に接続されている。
【００６１】
上基板２と下基板３とはシール材４によって貼り合わされ、双方の基板２，３とシール材４によって囲まれた空間にＳＴＮ（Ｓｕｐｅｒ　Ｔｗｉｓｔｅｄ　Ｎｅｍａｔｉｃ）液晶等からなる液晶１５が封入されている。なお、図４〜図６では図示を省略したが、双方の基板２，３の最も液晶層側には配向膜が形成されている。
【００６２】
（液晶セルユニットの構成）
次に、液晶セルユニットおよび検査用導電部の構成について図７〜図１５を用いて説明する。
図７は、本実施の形態の液晶セルユニットのうち、上基板母材２０のみを取り出して示す平面図、図８は、下基板母材２２のみを取り出して示す平面図、図９は、下基板母材２２のうちの図８の右上の下基板形成領域２３の周辺部分を拡大して示す平面図、図１０は、上下の基板母材を貼り合わせた状態で図７、図８の右上の上基板形成領域２１と下基板形成領域２３によって構成される液晶セルの部分を拡大して示す平面図、図１１は、下基板母材２２の断面構造を示す図であって図９のＡ−Ａ’線に沿う断面図、図１２は、下基板母材２２の断面構造を示す図であって図９のＢ−Ｂ’線に沿う断面図、図１３は、下基板母材２２の断面構造を示す図であって図９のＣ−Ｃ’線に沿う断面図、図１４は、液晶セルユニットの全体構成を示す図であって図１０のＤ−Ｄ’線に沿う断面図、図１５は、液晶セルユニットの全体構成を示す図であって図１０のＥ−Ｅ’線に沿う断面図、である。
【００６３】
図７、図８に示すように、本実施の形態の液晶セルユニットは、複数の上基板形成領域（第１の基板形成領域）２１を有し、各上基板形成領域２１の外周に沿って切断することで複数の上基板２（第１の基板）を切り出すことが可能なガラス、透明樹脂等からなる上基板母材（第１の基板母材）２０と、複数の下基板形成領域（第２の基板形成領域）２３を有し、各下基板形成領域２３の外周に沿って切断することで複数の下基板３を切り出すことが可能なガラス、透明樹脂等からなる下基板母材（第２の基板母材）２２とを具備している。そして、上基板母材２０の各上基板形成領域２１と、下基板母材２２の各下基板形成領域２３とがシール材４を介して貼着されている。
【００６４】
そして、本実施の形態の液晶セルユニットにおいて、シール材４を介して貼着された各上基板形成領域２１と各下基板形成領域２３により１個の液晶セルが構成されており、本実施の形態の液晶セルユニットを各上基板形成領域２１と各下基板形成領域２３の外周に沿って切断することにより、複数の液晶セルに分割することができ、各液晶セルから液晶装置を製造することが可能な構成になっている。なお、１組の液晶セルユニットの中に形成する液晶セルの個数については適宜設計することが可能である。
【００６５】
また上述したように、液晶装置１を構成する上基板２と下基板３の形状が異なっている（下基板から上基板の一端がはみ出している）ことから、液晶セルユニットにおいても、各液晶セルを構成する上基板形成領域２１と下基板形成領域２３とは異なる形状で形成されている。具体的には、各液晶セルにおいて、上基板形成領域２１、下基板形成領域２３は、上基板形成領域２１の図示下端部が下基板形成領域２３よりも外側に位置してはみ出しており、この上基板形成領域２１のはみ出した領域３５に外部接続用端子５，６が設けられている。また、下基板母材２２のうち、上基板形成領域２１の外部接続用端子５，６と対向する部分は、本実施の形態の液晶セルユニットを複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材部分Ｈ１となっている。
【００６６】
また、図７、図８に示すように、本実施の形態の液晶セルユニットにおいて、上基板母材２０の上基板形成領域２１は、図示上下左右方向（セグメント電極７が配列する方向、及びセグメント電極７が延在する方向）にはともに隙間なく形成されている。また、下基板母材２２の下基板形成領域２３は、図示左右方向（コモン電極９が延在する方向）には隙間なく形成されているとともに、最密に配置されている。なお、液晶セルユニットにおいて、液晶セルが形成されていない周縁部は、複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材部分Ｈ２になっている。
【００６７】
（検査用導電部の構成）
以下、各電極と各電極検査用引き廻し配線と各検査用導電部の接続構造について、図９〜図１５を用いて詳述する。
【００６８】
上述したように、コモン電極用引き廻し配線１１については、１本おきに一端側の延在している位置が異なっている。図９、図１０、図１１に示すように、左側から１，３，…本目（奇数本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ａは、下基板形成領域２３内から外部にまで延在してコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａとなっており、全ての奇数本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａを電気的に接続する奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａが形成されている。奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａは、絶縁膜１０の下側でコモン電極用引き廻し配線１１Ａと略直交する方向に延在しており、図８に示すように、下基板母材２２の両端部にまで達している。
【００６９】
一方、図９、図１０、図１２に示すように、左側から２，４，…本目（偶数本目）のコモン電極用引き廻し配線１１Ｂはシール材４の形成領域までは延在しているが、それ以上は延在していない。絶縁膜１０上におけるコモン電極用引き廻し配線１１Ｂの端部と平面的に重なる位置に、コンタクトホール１６を介してコモン電極用引き廻し配線１１Ｂと電気的に接続されたコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂが形成されている。さらに、コモン電極用引き廻し配線１１Ｂは絶縁膜１０上で下基板形成領域２３内から外部にまで延在し、全ての偶数本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂを電気的に接続する偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂが形成されている。偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂは、絶縁膜１０の上側でコモン電極用引き廻し配線１１Ｂと略直交する方向に延在しており、図８に示すように、下基板母材２２の両端部にまで達している。
【００７０】
また、図９、図１０、図１３に示すように、下基板３における上基板２側のセグメント電極用の外部接続用端子５と平面的に重なる位置に、セグメント電極検査用引き廻し配線１４が形成されており、全てのセグメント電極検査用引き廻し配線１４を電気的に接続するセグメント電極検査用導電部２７が形成されている。セグメント電極検査用導電部２７は、図１５に示すように、複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材部分Ｈ１における絶縁膜１０の上側でセグメント電極用引き廻し配線１４と略直交する方向に延在しており、図８に示すように、下基板母材２２の両端部にまで達している。
【００７１】
また本実施の形態では、図９に示すように、奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａおよび偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂを下基板形成領域２３の同じ側（図９における上側）に配置し、セグメント電極検査用導電部２７を上記２本のコモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂとは反対側（図９における下側）に配置した例を示している。しかしながら、これら３本の検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ，２７は絶縁膜１０を介することによって互いに短絡しない配置を採りさえすれば、下基板形成領域２３のいずれの側に設けてもよい。
【００７２】
ここでは、セグメント電極検査用導電部２７、コモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂの両端をそれぞれ下基板母材２２の最端部にまで延在した例を示したが、これら検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ，２７の少なくとも一端を、下基板母材２２の最端部にまで延設した構成であればよい。また、セグメント電極検査用導電部２７とセグメント電極検査用引き廻し配線１４とは同じ導電性材料で一体に形成してもよいし、異なる導電性材料で個別に形成したものを接続しても良い。また、奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａとコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａ、もしくは偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂとコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂは同じ導電性材料で一体に形成してもよいし、異なる導電性材料で個別に形成したものを接続しても良い。
【００７３】
すなわち、本実施の形態のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａ，２６Ｂ、および検査用導電部２５Ａ，２５Ｂは、同様な形状、構成の引き廻し配線と検査用導電部とが絶縁膜１０の上下に形成された構成となっている。ただし、奇数本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａおよび検査用導電部２５Ａと、偶数本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂおよび検査用導電部２５Ｂとは、コモン電極用引き廻し配線がそのまま絶縁膜１０の下側で延在してコモン電極検査用引き廻し配線および検査用導電部に接続されているか、コモン電極用引き廻し配線がコンタクトホール１６を介して絶縁膜１０の上側に配線されてコモン電極検査用引き廻し配線および検査用導電部に接続されているかが異なっている。
【００７４】
１本の奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａは、図９、図１０に示すように１個の液晶セル内の全ての奇数本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａを電気的に接続するのみならず、図８に示すように、図８における左右方向（コモン電極検査用導電部２５Ａの延在する方向）に並ぶ１行の全ての液晶セルの全ての奇数本目のセグメント電極検査用引き廻し配線２６Ａを電気的に接続している。偶数本目についても同様であって、１本の偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂは、図８における左右方向（コモン電極検査用導電部２５Ｂの延在する方向）に並ぶ１行の全ての液晶セルの全ての偶数本目のセグメント電極検査用引き廻し配線２６Ｂを電気的に接続している。セグメント電極９側も同様であり、１本のセグメント電極検査用導電部２７は、図８における左右方向（コモン電極検査用導電部２７の延在する方向）に並ぶ１行の全ての液晶セルの全てのセグメント電極検査用引き廻し配線１４を電気的に接続している。
【００７５】
図１０において、Ｃ１−Ｃ１’線、Ｃ２−Ｃ２’線、Ｃ３−Ｃ３’線、Ｃ４−Ｃ４’線はこれらの線に沿って上基板母材２０と下基板母材２２の双方を切断する切断線、Ｄ１−Ｄ１’線は下基板母材２２のみを切断する切断線を示している。このように、奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａ、偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂ、およびセグメント電極検査用導電部２７と、奇数本目、偶数本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａ，２６Ｂおよびセグメント電極検査用引き廻し配線１４の基板形成領域外に導出された部分は、液晶セルユニットを複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材部分Ｈ３に形成されている。よって、分割前には、一つの液晶セル内の全ての奇数本目のコモン電極９、さらには左右方向に隣接する１行全ての液晶セルの全ての奇数本目のコモン電極９が奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａに接続され、一つの液晶セル内の全ての偶数本目のコモン電極９、さらには左右方向に隣接する１行全ての液晶セルの全ての偶数本目のコモン電極９が偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂに接続され、一つの液晶セル内の全てのセグメント電極７、さらには左右方向に隣接する１行全ての液晶セルの全てのセグメント電極７がセグメント電極検査用導電部２７に接続されており、検査時に一括して電圧印加が可能である。ところが、分割後は、奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａ、偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂ、およびセグメント電極検査用導電部２７と、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ａ，２６Ｂとセグメント電極検査用引き廻し配線１４との基板形成領域外に導出された部分が切り落とされることになり、全てのセグメント電極７、コモン電極９が電気的に接続されず、絶縁された状態となる。
【００７６】
図１０においては、この図に示した液晶セルの全ての奇数本目のコモン電極９を検査するための奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａ、全ての偶数本目のコモン電極９を検査するための偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂ、および全てのセグメント電極７を検査するためのセグメント電極検査用導電部２７と、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ａ，２６Ｂとセグメント電極検査用引き廻し配線１４との基板形成領域外に導出された部分がＣ１−Ｃ１’線の上側に図示されているが、これら検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ，２７と検査用引き廻し配線２６Ａ，２６Ｂ，１４の基板形成領域外に導出された部分は、Ｄ１−Ｄ１’線とＣ２−Ｃ２’線との間の下基板母材２２上にも当該液晶セルの図示下側に位置する液晶セル用（隣接する他の液晶セル用）として繰り返し形成されている。そして、これら検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ，２７と検査用引き廻し配線２６Ａ，２６Ｂ，１４の基板形成領域外に導出された部分は、図１４、図１５に示すように、上基板形成領域２１の外部接続用端子５，６が形成された領域３５と対向する位置関係にある。
【００７７】
このように、本実施の形態の液晶セルユニットでは、下基板母材２２上に形成されたコモン電極９が下基板母材２２の最端部にまで延設されたコモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂに電気的に接続されるとともに、上基板母材２０上に形成されたセグメント電極７が下基板母材２２の最端部にまで延設されたセグメント電極検査用導電部２７に電気的に接続されているので、下基板母材２２の最端部にまで延設されたセグメント電極検査用導電部２７、コモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂに対して電圧を印加し、欠陥検査を行うことにより、液晶セルユニットを構成する全ての液晶セルの電極欠陥検査を一括して行うことができる。また、セグメント電極検査用導電部２７、コモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂの少なくとも一端が最端部に位置するように、本実施の形態の液晶セルユニットを複数の液晶セルユニットに分割することができるので、この液晶セルユニットを分割して得られる液晶セルユニットについても同様に、全ての液晶セルの欠陥検査を一括して行うことができる。
【００７８】
よって、本実施の形態の液晶セルユニットを用いて液晶装置を製造することにより、本実施の形態の液晶セルユニット、もしくは本実施の形態の液晶セルユニットを分割して得られる液晶セルユニットに対して、欠陥検査を行うことができるので、単品の液晶セルに分割する前に複数の液晶セルの欠陥検査を一括して行うことができる。その結果、検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロセスの簡略化を図ることができる。さらに、全てのコモン電極９のうち、奇数本目と偶数本目に分けて１本おきに異なるコモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂに接続しているので、これら２本のコモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂを用いて隣接するコモン電極９間の短絡不良検査を行うことが可能となる。なお、本実施の形態の液晶セルユニット、あるいは、本実施の形態の液晶セルユニットを分割して得られる液晶セルユニットの欠陥検査方法の詳細については後述する。
【００７９】
また、本実施の形態の液晶セルユニットでは、各コモン電極９に対してコモン電極検査用引き廻し配線１１をそれぞれ接続するとともに、複数の奇数本目のセグメント電極検査用引き廻し配線２６Ａを束ねて奇数本目セグメント電極検査用導電部２５Ａに接続し、複数の偶数本目のセグメント電極検査用引き廻し配線２６Ｂを束ねて偶数本目セグメント電極検査用導電部２５Ｂに接続する構成を採用しているので、コモン電極検査用導電部の本数をコモン電極９の本数に比較して大幅に低減することができる。また同様に、各セグメント電極７に対してセグメント電極検査用引き廻し配線１４をそれぞれ接続するとともに、複数のセグメント電極検査用引き廻し配線１４を束ねてセグメント電極検査用導電部２７に接続する構成を採用しているので、セグメント電極検査用導電部の本数をセグメント電極９の本数に比較して大幅に低減することができる。
【００８０】
つまり、本実施の形態の液晶セルユニット内には左右方向（セグメント電極検査用導電部２７、コモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂの延在する方向）に複数個の液晶セルが並び、各液晶セルには多数のセグメント電極７、コモン電極９が形成されているにもかかわらず、検査用導電部の本数は僅か３本である。したがって、電極ピッチが非常に微細な高精細な液晶装置を製造するための液晶セルユニットに対して検査用プローブを用いて検査を行う場合においても、検査する検査用導電部の数が少ないことに加えて、検査用プローブを接触させる検査用導電部のピッチを大きく確保することができるので、正確かつ迅速に検査を行うことができる。
【００８１】
さらに、本実施の形態の液晶セルユニットでは、各検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ，２７を複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材部分Ｈ１に形成する構成としている。この構成により、本実施の形態の液晶セルユニットに検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ，２７を形成しても液晶装置１にはこれら検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ，２７が残らないため、得られる液晶装置において隣接するセグメント電極７、あるいは隣接するコモン電極９が検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ，２７の存在によって短絡することがなく、得られる液晶装置の非表示領域（額縁領域）が検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ，２７の存在によって大きくなる恐れもない。
【００８２】
さらに本実施の形態の場合、図９に示したように、下基板母材２２上の複数のコモン電極９の下層側に絶縁膜１０を介して複数のコモン電極用引き廻し配線１１が設けられており、これらコモン電極用引き廻し配線１１の各々とコモン電極９の各々とがコンタクトホール１２を通じて電気的に接続されているので、下基板母材２２上の配線の引き廻し構造が３次元的に構成されている。すなわち、複数のコモン電極９が短絡しないように配線を引き廻す際に、複数のコモン電極９と平面的に重なる位置にコモン電極用引き廻し配線１１を配置することができる。このような構成により、液晶装置１の額縁領域をより狭くすることができ、表示領域の大きな液晶装置を提供することができる。
【００８３】
［液晶セルユニットの製造方法、および液晶装置の製造方法］
次に、上記液晶セルユニットの製造方法、および本実施形態の液晶セルユニットから液晶装置を製造する方法について説明する。
最初に、上基板母材２０を用意し、上基板母材２０の内面に必要な要素を形成する。すなわち、上基板母材２０に、フォトリソグラフィー法等により所定のパターンのセグメント電極７、外部接続用端子５，６等を形成し、次いで、セグメント電極７上に配向膜を形成する。次に、必要な要素を形成した上基板母材２０の各上基板形成領域２１の周縁部に未硬化のシール材４を印刷した後、未硬化のシール材４により囲まれた領域にディスペンス法等によって液晶の液滴を滴下することにより、各上基板形成領域２１に液晶層１５を形成する。
【００８４】
一方、下基板母材２２を用意し、下基板母材２２の内面に必要な要素を形成する。すなわち、下基板母材２２に、フォトリソグラフィー法等により所定のパターンのコモン電極用引き廻し配線１１、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ａ、奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａ等を形成し、これらを覆う絶縁膜１０を形成した後、フォトリソグラフィー法により絶縁膜１０の縁１０ａとして示した位置でパターニングすると同時にコンタクトホール１２を形成する。次に、再度フォトリソグラフィー法等により所定のパターンのコモン電極９、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｂ、偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂ、セグメント電極検査用引き廻し配線１４、セグメント電極検査用導電部２７等を形成し、次いで、コモン電極９上に配向膜（図示略）を形成する。次に、必要な要素を形成した下基板母材２２の各下基板形成領域２３にセルギャップを保持するためのスペーサを散布する。
【００８５】
次に、液晶層１５を形成した上基板母材２０とスペーサを散布した下基板母材２２とを、真空雰囲気中で未硬化のシール材４を介して貼着する。この工程において、各上基板形成領域２１と各下基板形成領域２３とを未硬化のシール材４を介して貼着する。次に、常圧に戻すことにより、液晶セルの内部と外部の圧力差を利用して上基板母材２０と下基板母材２２とを外部から加圧した後、未硬化のシール材４を硬化することにより、本実施の形態の液晶セルユニットを容易に製造することができる。なお、未硬化のシール材４を塗布し、液晶層１５を形成する基板母材と、スペーサを散布する基板母材とは、適宜選択することが可能である。
【００８６】
次に、以上のようにして製造した本実施の形態の液晶セルユニットの欠陥検査を行う。
本実施形態の液晶セルユニットに対して、複数のセグメント電極検査用導電部２７、複数のコモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂに各々検査用プローブを接触させ、電気的特性を計測することにより、液晶セルユニットのセグメント電極７、コモン電極９の欠陥検査を行うことができる。
【００８７】
例えば、液晶セルユニットの最端部にまで延設された全てのセグメント電極検査用導電部２７と全てのコモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂに各々電極を接触させ、セグメント電極検査用導電部２７、コモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂに各々異なる電圧を印加することにより、セグメント電極検査用導電部２７、コモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂに電気的に接続されたセグメント電極７、コモン電極９に異なる電圧を印加することができ、全ての液晶セルを点灯させることができるので、各液晶セルについて全てのドットが正常に点灯するか否かを検査する点灯検査を行うことができ、全ての液晶セルの電極のパターン欠陥を一度に検出することができる。
【００８８】
さらに、奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａと偶数本目コモン電極検査用導電部２５Ｂに異なる電圧を印加することにより、奇数本目のコモン電極９と偶数本目のコモン電極９に異なる電圧を印加することができるので、隣接するコモン電極９間の短絡不良検査を行うことができ、全ての液晶セルにおける隣接する電極の短絡欠陥を一度に検出することができる。
【００８９】
なお、セグメント電極検査用導電部２７、コモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂは下基板母材２２の内面に形成されているので、セグメント電極検査用導電部２７、コモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂに検査用プローブなどを接触させる際には、検査用プローブを上基板母材２０と下基板母材２２との間に挿入する必要がある。ここで、液晶セルのセルギャップは数〜１０μｍ程度と微小であるので、検査用プローブを上基板母材２０と下基板母材２２との間に挿入することが難しい場合には、上基板母材２０と下基板母材２２とを若干寸法だけずらして液晶セルユニットを構成することが好ましい。
【００９０】
以上のようにして、液晶セルユニットに対して電極欠陥検査を行った後、図１０に示したように、切断線Ｃ１−Ｃ１’、Ｃ２−Ｃ２’、Ｃ３−Ｃ３’、Ｃ４−Ｃ４’、Ｄ１−Ｄ１’に沿って上基板母材２０、下基板母材２２を切断することにより、液晶セルユニットが個々の液晶セルに分割されるとともに、コモン電極検査用導電部２５Ａ，２５Ｂ、セグメント電極検査用導電部２７と検査用引き廻し配線１４，２６Ａ，２６Ｂの一部とが切り落とされる。以上のようにして、液晶セルユニットを個々の液晶セルに分割し、最後に、各液晶セルの外側に偏光子、位相差板等の光学素子を貼着することにより、複数個のパッシブマトリクス型液晶装置を同時に製造することができる。
【００９１】
以上の液晶装置の製造方法によれば、個々の液晶セルに分割する前に、複数の液晶セルの欠陥検査を一括して行うことができるので、検査工程を大幅に簡略化することができ、液晶装置の製造プロセスの簡略化を図ることができる。
【００９２】
なお、液晶セルユニットを複数の液晶セルに分割する際に、液晶セルユニットをより小さい短冊状の液晶セルユニットに分割してから複数の液晶セルに分割しても良い。このように、一旦短冊状の液晶セルユニットに分割した後、複数の液晶セルに分割する場合には、液晶セルユニットに対して電極欠陥検査を行う代わりに、液晶セルユニットを分割して得られた短冊状の液晶セルユニットに対して電極欠陥検査を行うこともできる。この場合でも、短冊状の液晶セルユニットを構成する全ての液晶セルの欠陥検査を一括して行うことができる。
【００９３】
なお、本実施の形態では、セグメント電極側については全てのセグメント電極７を１本のセグメント電極検査用導電部２７にまとめて接続する構成を採用したが、セグメント電極側についてもコモン電極側と同様、奇数本目と偶数本目に分けて異なる２本のセグメント電極検査用導電部に接続する構成としてもよい。この構成とした場合、横に並ぶ１行の液晶セル全体で検査用導電部は４本必要になるが、セグメント電極側についても隣接する電極間の短絡不良検査を行うことができるようになる。また、上下基板間でセグメント電極７と外部接続用端子６とを電気的に接続する上下導通部１３を導電粒子等の導通材を混入させたシール材４で構成したが、これら上下導通部をシール材とは別個に設ける構成としても良い。
【００９４】
［第２の実施の形態］
（液晶セルユニットの構造）
次に、図１６〜図２５に基づいて、本発明に係る第２の実施の形態の液晶装置および液晶セルユニットの構造について説明する。
図１６は本実施の形態の液晶装置を構成する上基板（上基板形成領域）の構成を示す平面図、図１７は同、下基板の構成を示す平面図、図１８は同、下基板のうち、絶縁膜の下層側の導電部の構成のみを取りだして示す平面図、図１９は同、下基板のうち、絶縁膜の上層側の導電部の構成のみを取りだして示す平面図、図２０は上基板と下基板を貼り合わせた状態を示す平面図、図２１は図２０における外部接続用端子の周辺の拡大図、図２２は同、液晶装置の断面構造を示す図であって、図２１のＡ−Ａ’線に沿う断面図、図２３は同、図２１のＢ−Ｂ’線に沿う断面図、図２４は同、図２１のＣ−Ｃ’線に沿う断面図、図２５は同、図２１のＤ−Ｄ’線に沿う断面図、である。本実施の形態の液晶セルユニットの基本構造は第１の実施の形態と同様であるが、第１の実施の形態ではコモン電極を１本おきに同じコモン電極検査用導電部に接続していたのに対し、本実施の形態では２本おきに同じコモン電極検査用導電部に接続している点のみが異なっている。第１の実施の形態と同じ構成要素については図面において同じ参照符号を付し、詳細な説明は省略する。
【００９５】
第１の実施の形態においては、図９に示したように、奇数本目のコモン電極用引き廻し配線１１Ａを絶縁膜１０の下側で下基板形成領域２３の外部にまで延在させてコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａとし、全ての奇数本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ａを束ねて奇数本目コモン電極検査用導電部２５Ａに接続し、偶数本目も同様に構成していた。これに対して、本実施の形態の液晶セルユニットにおいては、図１７に示すように、左右方向に並ぶ複数のコモン電極検査用引き廻し配線１１のうち、例えば左から数えて３ｎ＋１（ｎ：０，１，２，…）本目（すなわち１，４，７，…本目）のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘと、３ｎ＋２（ｎ：０，１，２，…）本目（すなわち２，５，８，…本目）のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙと、３ｎ＋３（ｎ：０，１，２，…）本目（すなわち３，６，９，…本目）のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｚとが、それぞれ異なる３本のコモン電極検査用導電部２５Ｘ，２５Ｙ，２５Ｚに接続されている。
【００９６】
詳細に説明すると、３ｎ＋１（ｎ：０，１，２，…）本目については、図１７、図１８、図２２に示すように、第１の実施の形態の奇数本目と同様、絶縁膜１０の下側に形成された各コモン電極用引き廻し配線１１Ｘがそのまま下基板形成領域２３の外部にまで延在してコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘとなり、これら全てのコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘが絶縁膜の下側に形成された３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘに接続されている。３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘは、絶縁膜１０の下側でコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘと略直交する方向に延在しており、下基板母材２２の両端部にまで達している。
【００９７】
３ｎ＋２（ｎ：０，１，２，…）本目については、図１７、図１８、図２３に示すように、絶縁膜１０の下側に形成されたコモン電極用引き廻し配線１１Ｙが、３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘと短絡しないように、３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘの手前で途切れている。そして、図１７、図１９に示すように、絶縁膜１０の上層側にコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙが形成されている。コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙの一端（図１７の下端）は、絶縁膜１０の下層側のコモン電極用引き廻し配線１１Ｙの一端（図１７の上端）と平面的に重なるように配置されており、これらコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙの一端とコモン電極用引き廻し配線１１Ｙの一端とが平面的に重なる位置に、絶縁膜１０を貫通するコンタクトホール１６Ａが形成されている。一方、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙの他端（図１７の上端）と平面的に重なる位置には、絶縁膜１０の下層側に３ｎ＋２本目コモン電極検査用導電部２５Ｙが形成されている。３ｎ＋２本目コモン電極検査用導電部２５Ｙは、絶縁膜１０の下側でコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙと略直交する方向（３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘと略平行な方向）に延在しており、下基板母材２２の両端部にまで達している。また、これらコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙの他端と３ｎ＋２本目コモン電極検査用導電部２５Ｙとが平面的に重なる位置には、絶縁膜１０を貫通するコンタクトホール１６Ｂが形成されている。すなわち、絶縁膜１０の下層側に位置する各コモン電極用引き廻し配線１１Ｙは、３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘの手前でコンタクトホール１６Ａを介して絶縁膜１０の上層側に位置する各コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙに接続され、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙによって３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘを跨いだ後でコンタクトホール１６Ｂを介して絶縁膜１０の下層側に位置する３ｎ＋２本目コモン電極検査用導電部２５Ｙに接続されている。
【００９８】
３ｎ＋３（ｎ：０，１，２，…）本目については、図１７、図１８、図２４に示すように、３ｎ＋２本目と同様、絶縁膜１０の下側に形成されたコモン電極用引き廻し配線１１Ｚが、３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘと短絡しないように、３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘの手前で途切れている。そして、図１７、図１９に示すように、第１の実施の形態の偶数本目と同様、コモン電極用引き廻し配線１１Ｚの端部と平面的に重なる絶縁膜１０上の位置に、コンタクトホール１６Ｃを介してコモン電極用引き廻し配線１１Ｚと電気的に接続されたコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｚが形成されている。さらに、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｚは絶縁膜１０上で下基板形成領域２３内から外部にまで延在しており、全ての３ｎ＋３本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｚを電気的に接続する３ｎ＋３本目コモン電極検査用導電部２５Ｚが形成されている。３ｎ＋３本目コモン電極検査用導電部２５Ｚは、絶縁膜１０の上側でコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｚと略直交する方向（３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘ、３ｎ＋２本目コモン電極検査用導電部２５Ｙと略平行な方向）に延在しており、下基板母材２２の両端部にまで達している。
【００９９】
また、セグメント電極側については、第１の実施の形態と全く同様であって、図１７、図２５に示すように、下基板３における上基板２側のセグメント電極用の外部接続用端子５と平面的に重なる位置に、セグメント電極検査用引き廻し配線１４が形成されており、全てのセグメント電極検査用引き廻し配線１４を電気的に接続するセグメント電極検査用導電部２７が形成されている。セグメント電極検査用導電部２７は、図２０に示すように、複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材部分における絶縁膜１０の上側でセグメント電極用引き廻し配線１４と略直交する方向に延在しており、下基板母材２２の両端部にまで達している。
【０１００】
３ｎ＋１本目、３ｎ＋２本目、３ｎ＋３本目の各コモン電極検査用導電部２５Ｘ，２５Ｙ，２５Ｚは、第１の実施の形態と同様、１個の液晶セル内の全ての３ｎ＋１本目、３ｎ＋２本目、３ｎ＋３本目それぞれのコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘ，２６Ｙ，２６Ｚを電気的に接続するのみならず、液晶セルユニット全体において、左右方向に並ぶ１行の全ての液晶セルの全ての３ｎ＋１本目、３ｎ＋２本目、３ｎ＋３本目それぞれのコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘ，２６Ｙ，２６Ｚを電気的に接続している。セグメント電極９側も同様であり、１本のセグメント電極検査用導電部２７は、左右方向に並ぶ１行の全ての液晶セルの全てのセグメント電極検査用引き廻し配線１４を電気的に接続している。
【０１０１】
図２０において、Ｃ１−Ｃ１’線、Ｃ２−Ｃ２’線、Ｃ３−Ｃ３’線、Ｃ４−Ｃ４’線はこれらの線に沿って上基板母材２０と下基板母材２２の双方を切断する切断線、Ｄ１−Ｄ１’線は下基板母材２２のみを切断する切断線を示している。このように、各コモン電極検査用導電部２５Ｘ，２５Ｙ，２５Ｚおよびセグメント電極検査用導電部２７と、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘ，２６Ｙ，２６Ｚおよびセグメント電極検査用引き廻し配線１４の基板形成領域外に導出された部分は、液晶セルユニットを複数の液晶セルに分割する際に切り落とされる端材部分Ｈ１に形成されている。図２０においては、この図に示した各コモン電極検査用導電部２５Ｘ，２５Ｙ，２５Ｚおよびセグメント電極検査用導電部２７と、コモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘ，２６Ｙ，２６Ｚおよびセグメント電極検査用引き廻し配線１４の基板形成領域外に導出された部分がＣ１−Ｃ１’線の上側に図示されているが、これら検査用導電部２５Ｘ，２５Ｙ，２５Ｚ，２７と検査用引き廻し配線２６Ｘ，２６Ｙ，２６Ｚ，１４の基板形成領域外に導出された部分は、Ｄ１−Ｄ１’線とＣ２−Ｃ２’線との間の下基板母材２２上にも当該液晶セルの図示下側に位置する液晶セル用（隣接する他の液晶セル用）として繰り返し形成されている。そして、これら検査用導電部と検査用引き廻し配線の基板形成領域外に導出された部分は、図２２〜図２５に示すように、上基板形成領域２１の外部接続用端子５，６が形成された領域３５と対向する位置関係にある。
【０１０２】
本実施の形態においても、単品の液晶セルに分割する前に複数の液晶セルの欠陥検査を一括して行うことができるので、検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロセスの簡略化を図ることができる。特に本実施の形態の場合、コモン電極検査用引き廻し配線のうち、３ｎ＋１本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘを束ねて配線された３ｎ＋１本目コモン電極検査用導電部２５Ｘと、３ｎ＋２本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｙを束ねて配線された３ｎ＋２本目コモン電極検査用導電部２５Ｙと、３ｎ＋３本目のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｚを束ねて配線された３ｎ＋３本目コモン電極検査用導電部２５Ｚとが設けられているので、例えば、これら３組のコモン電極検査用引き廻し配線２６Ｘ，２６Ｙ，２６Ｚに対応するコモン電極９に合わせてＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の各色が配置されたカラーフィルターを有する液晶装置の場合、これら３つの検査用導電部２５Ｘ，２５Ｙ，２５Ｚを用いてＲ，Ｇ，Ｂの各色毎の点灯検査を行うことができる。
【０１０３】
なお、第１、第２の実施の形態においては、シール材４に液晶注入口が設けられておらず、上下の基板の貼り合わせ前に液晶を封入するタイプの液晶装置の例を挙げて説明したが、液晶注入口が設けられ、上下の基板の貼り合わせ後に液晶を注入するタイプの液晶装置に本発明を適用することも可能である。例えば第１、第２の実施の形態で用いた平面図において、矩形状のシール材４の左右の縦方向に延びる辺側に液晶注入口を設けるようにすれば、検査用導電部や検査用引き廻し配線の配置は上記実施の形態のままで後者のタイプの液晶装置を実現することができる。ただしその場合、液晶セルユニットを短冊状に分割する際に複数の液晶セルが縦方向に並ぶ方向に分割することになるため、それら複数の液晶セルを貫通する検査用導電部を用いて一括して検査することはできなくなる。もしくは、シール材の上下の横方向に延びる辺側に液晶注入口を設けるようにするのであれば、全ての検査用導電部を、液晶注入口を設けない辺の側に配置するように設計変更する必要がある。
【０１０４】
［第３の実施の形態］
（アクティブマトリクス型液晶装置への適用例）
第１、第２の実施の形態においては、パッシブマトリクス型液晶装置を製造するための液晶セルユニットを取り上げて説明したが、本発明は、スイッチング素子としてＴＦＤ（薄膜ダイオード）を用いたアクティブマトリクス型液晶装置を製造するための液晶セルユニットにも適用可能である。
以下、図２６に基づいて、スイッチング素子としてＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型の透過型液晶装置の構造について簡単に説明した後、本発明への適用例に簡単に説明する。なお、図２６は、後述する素子基板側から見た時の概略斜視図である。
【０１０５】
図２６に示す液晶装置６０は、液晶層（図示略）を挟持して対向配置された素子基板（第１の基板）２１０と対向基板（第２の基板）２２０とが、シール材（図示略）を介して貼着されて概略構成されている。
【０１０６】
素子基板２１０の液晶層側表面には、ＴＦＤ２１４、画素電極２１３等が形成され、これらの液晶層側に配向膜（図示略）が形成されている。より詳細には、素子基板２１０において、多数のデータ線２１２（第１の導電部）がストライプ状に設けられており、各データ線２１２に対して多数の画素電極２１３がＴＦＤ２１４を介して接続されている。素子基板２１０の液晶層側表面全体を見れば、多数の画素電極２１３がマトリクス状に配列されている。
また、対向基板２２０の液晶層側表面には、素子基板２１０のデータ線２１２の延在方向に対して交差する方向に形成された複数の短冊状の走査線（第２の導電部）２２１が形成され、この液晶層側に配向膜（図示略）が形成されている。
【０１０７】
ＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型液晶装置６０は、以上のように概略構成され、液晶装置６０には、第１、第２の実施の形態のセグメント電極、コモン電極に相当するストライプ状に形成されたデータ線２１２、走査線２２１が形成されているので、液晶装置６０を製造可能な液晶セルユニットにおいて、各液晶セルを構成する各データ線２１２、各走査線２２１に対して、第１、第２の実施の形態で説明した検査用導電部を電気的に接続することにより、ＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型液晶装置を製造可能な本発明の液晶セルユニットを提供することができ、第１、第２の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【０１０８】
［電子機器］
次に、本発明の上記実施の形態の液晶装置を備えた電子機器の具体例について説明する。
図２７は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図２７において、符号１０００は携帯電話本体を示し、符号１００１は上記の液晶表示装置を用いた液晶表示部を示している。
【０１０９】
図２８は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図２８において、符号１２００は情報処理装置、符号１２０２はキーボードなどの入力部、符号１２０４は情報処理装置本体、符号１２０６は上記の液晶表示装置を用いた液晶表示部を示している。
【０１１０】
図２９は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図２９において、符号１１００は時計本体を示し、符号１１０１は上記の液晶表示装置を用いた液晶表示部を示している。
【０１１１】
図２７〜図２９に示す電子機器は、上記実施の形態の液晶装置を用いた液晶表示部を備えているので、製造プロセスの簡略化を図ることができるものとなる。
【０１１２】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、本発明によれば、液晶装置を製造する際の検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロセスの簡略化を図ることができる手段を提供することができる。特に本発明の場合、第２の基板母材上の配線の引き廻し構造が３次元的に構成されているため、液晶装置の非表示領域（額縁領域）をより狭くすることができる。さらに本発明によれば、隣接する表示用電極間の短絡不良や１本毎の点灯検査、および各表示色毎の点灯検査を容易に行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態の液晶装置を構成する上基板の構成を示す平面図である。
【図２】同、下基板の構成を示す平面図である。
【図３】同、上基板と下基板を貼り合わせた状態を示す平面図である。
【図４】同、液晶装置の断面構造を示す図であって、図３のＡ−Ａ’線に沿う断面図である。
【図５】同、図３のＢ−Ｂ’線に沿う断面図である。
【図６】同、図３のＣ−Ｃ’線に沿う断面図である。
【図７】本実施の形態の液晶セルユニットのうち、上基板母材のみを取り出して示す平面図である。
【図８】同、下基板母材のみを取り出して示す平面図である。
【図９】同、図８の右上の液晶セルの部分を拡大して示す平面図である。
【図１０】同、上下の基板母材を貼り合わせた状態で一つの液晶セルの部分を拡大して示す平面図である。
【図１１】同、下基板母材の断面構造を示す図であって、図９のＡ−Ａ’線に沿う断面図である。
【図１２】同、図９のＢ−Ｂ’線に沿う断面図である。
【図１３】同、図９のＣ−Ｃ’線に沿う断面図である。
【図１４】同、液晶セルユニットの全体構成を示す図であって、図１０のＤ−Ｄ’線に沿う断面図である。
【図１５】同、図１０のＥ−Ｅ’線に沿う断面図である。
【図１６】本発明の第２の実施形態の液晶セルユニットのうち、１個の液晶セルの部分の上基板母材のみを示す平面図である。
【図１７】同、下基板母材のみを示す平面図である。
【図１８】同、下基板母材の絶縁膜の下の導電部の構成を示す平面図である。
【図１９】同、下基板母材の絶縁膜の上の導電部の構成を示す平面図である。
【図２０】同、上基板母材と下基板母材を貼り合わせた状態を示す平面図である。
【図２１】図２０における外部接続用端子の周辺の拡大図である。
【図２２】同、液晶セルユニットの断面構造を示す図であって、図２１のＡ−Ａ’線に沿う断面図である。
【図２３】同、図２１のＢ−Ｂ’線に沿う断面図である。
【図２４】同、図２１のＣ−Ｃ’線に沿う断面図である。
【図２５】同、図２１のＤ−Ｄ’線に沿う断面図である。
【図２６】スイッチング素子としてＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型の透過型液晶装置の概略斜視図である。
【図２７】本発明に係る電子機器の一例を示す斜視図である。
【図２８】本発明に係る電子機器の他の例を示す斜視図である。
【図２９】本発明に係る電子機器のさらに他の例を示す斜視図である。
【符号の説明】
１　液晶装置
２　上基板（第１の基板）
３　下基板（第２の基板）
４　シール材
５　セグメント電極用外部接続用端子
６　コモン電極用外部接続用端子
７　セグメント電極（第１の表示用電極）
８　セグメント電極用引き廻し配線
９　コモン電極（第２の表示用電極）
１０　絶縁膜
１１，１１Ａ，１１Ｂ，１１Ｘ，１１Ｙ，１１Ｚ　コモン電極用引き廻し配線（第２表示電極用引き廻し配線）
１２，１６，１６Ａ，１６Ｂ，１６Ｃ　コンタクトホール
１３　上下導通部
１４　セグメント電極検査用引き廻し配線（第１検査用引き廻し配線）
１５　液晶層
２０　上基板母材（第１の基板母材）
２１　上基板形成領域（第１の基板形成領域）
２２　下基板母材（第２の基板母材）
２３　下基板形成領域（第２の基板形成領域）
２５Ａ，２５Ｂ，２５Ｘ，２５Ｙ，２５Ｚ　コモン電極検査用導電部（第２検査用第１導電部、第２検査用第２導電部、第２検査用第３導電部）
２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｘ，２６Ｙ，２６Ｚ　コモン電極検査用引き廻し配線（第２検査用引き廻し配線）
２７　セグメント電極検査用導電部（第１検査用導電部）
Ｈ１〜Ｈ３　端材部分
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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