(57)【要約】【課題】スカウト画像の品質や取得方法を診断目的や被検体の条件に応じて任意に変更可能な放射線断層像撮影装置を提供する。【解決手段】被検体に対する放射線照射手段・放射線検出器の回転位置を一定にし、被検体に対してスライス厚の方向に移動させながら放射線検出器により放射線を検出し、この検出データに基づいて生成されるスカウト画像の生成条件を規定するパラメータを決定するパラメータ決定部５１と、このパラメータに基づいて、放射線検出器の検出する各検出データのスカウト画像内における割当位置を決定するデータ割当位置決定部５２とを有する。【選択図】図５
2004283418.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体を挟むようにして相対向して配置される放射線照射手段と複数の検出素子を備える放射線検出器を有し、前記放射線照射手段から前記被検体に向けて放射線を照射して透過した放射線を前記放射線検出器により検出し、前記放射線照射手段の照射方向を被検体の回りに移動させて、前記被検体の所定位置における所定のスライス厚の断層像を生成する放射線断層像撮影装置であって、
前記放射線照射手段の前記被検体に対する照射方向を一定にし、前記放射線照射手段を前記被検体に対して前記スライス厚の方向に移動させながら前記放射線検出器により放射線を検出し、この検出データに基づいて生成されるスカウト画像の生成条件を規定するパラメータを決定するパラメータ決定手段と、
前記パラメータに基づいて、前記放射線検出器の検出する各検出データの前記スカウト画像内における割当位置を決定するデータ割当位置決定手段と
を有する放射線断層像撮影装置。
【請求項２】
前記放射線検出器の複数の検出素子は、前記スライス厚の方向に沿って複数列配列されており、
前記データ割当位置決定手段は、前記スライス厚の方向に配列された各検出素子のサンプリング毎の検出データの前記スカウト画像内における割当位置を決定する
請求項１に記載の放射線断層像撮影装置。
【請求項３】
前記データ割当位置決定手段は、前記検出データが検出されるときの検出素子の位置に基づいて、前記スカウト画像内における割当位置を決定する
請求項１に記載の放射線断層像撮影装置。
【請求項４】
前記パラメータ決定手段は、入力される前記スカウト画像の生成条件に基づいて、前記パラメータを決定する
請求項１に記載の放射線断層像撮影装置。
【請求項５】
被検体を挟むようにして相対向して配置される放射線照射手段と複数の検出素子を備える放射線検出器を有し、前記放射線照射手段から前記被検体に向けて放射線を照射して透過した放射線を前記放射線検出器により検出し、前記放射線照射手段の照射方向を被検体の回りに移動させて、前記被検体の所定位置における所定のスライス厚の断層像を生成する放射線断層像撮影装置において、前記被検体に対する前記放射線照射手段の照射方向を一定にし、前記被検体に対して前記スライス厚の方向に移動させながら前記放射線検出器により放射線を検出し、この検出データに基づいてスカウト画像を生成するスカウト画像生成方法であって、  前記スカウト画像の生成条件を規定するパラメータを決定し、
前記パラメータに基づいて、前記放射線検出器の検出する各検出データの前記スカウト画像内における割当位置を決定し、
前記割当位置に基づいて、前記スカウト画像を生成する
スカウト画像生成方法。
【請求項６】
前記放射線検出器の複数の検出素子は、前記スライス厚の方向に沿って複数配列されており、
前記スライス厚の方向に配列された各検出素子のサンプリング毎の検出データの前記スカウト画像内における割当位置を決定する
請求項５に記載のスカウト画像生成方法。
【請求項７】
前記検出データが検出されるときの検出素子の位置に基づいて、前記スカウト画像内における割当位置を決定する
請求項５に記載のスカウト画像生成方法。
【請求項８】
入力される前記スカウト画像の生成条件に基づいて、前記パラメータを決定する
請求項５に記載のスカウト画像生成方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、たとえば、Ｘ線ＣＴ装置等の放射線断層像撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線ＣＴ装置は、放射線出射系・検出系、すなわち、Ｘ線出射・検出系を被検体を挟んで相対向させた状態でＸ線を被検体に照射しながら被検体の回りで回転（スキャン（ｓｃａｎ））させて、被検体の周囲の複数のビュー（ｖｉｅｗ）方向で被検体を透過したＸ線を検出系により検出し、それぞれＸ線による被検体の投影データを測定し、この投影データに基づいて、被検体の断層像を再構成するように構成されている。なお、スカウト画像に関する記載がある先行技術文献として、特許文献１〜特許文献５を挙げる。
【０００３】
【特許文献１】
特開平５−２９３０９６号公報
【特許文献２】
特開平７−２２７３９１号公報
【特許文献３】
特開平７−３０３６３０号公報
【特許文献４】
特開平１１−１０４１２１号公報
【特許文献５】
特開２００２−１８６６１２号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記のＸ線ＣＴ装置では、被検体の位置決めを行う等の目的で、被検体の断層像を撮影するのに先立って、スカウト（ｓｃｏｕｔ）  画像を取得することが行われている。スカウト画像は、放射線出射系・検出系は固定したまま、被検体を乗せたテーブルを一定方向に移動させるスキャンを行うことにより取得される。
従来において、上記のスカウト画像の取得方法は、Ｘ線ＣＴ装置の仕様毎に決まっており、得られるスカウト画像の画質はＸ線ＣＴ装置毎に一定であった。
しかしながら、診断目的、被検体の大小等のオペレータ（ユーザ）の希望する画像条件に応じて任意にスカウト画像の画質や、スカウト画像の取得方法を変更したい場合もあり、スカウト画像の画質や、スカウト画像の取得方法を変更可能なＸ線ＣＴ装置への要請が存在した。
【０００５】
本発明は、上述の問題に鑑みて成されたものであって、その目的は、スカウト画像の品質や取得方法を診断目的や被検体の条件に応じて任意に変更可能な放射線断層像撮影装置およびスカウト画像生成方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の放射線断層像撮影装置は、被検体を挟むようにして相対向して配置される放射線照射手段と複数の検出素子を備える放射線検出器を有し、前記放射線照射手段から前記被検体に向けて放射線を照射して透過した放射線を前記放射線検出器により検出し、前記放射線照射手段の照射方向を被検体の回りに移動させて、前記被検体の所定位置における所定のスライス厚の断層像を生成する放射線断層像撮影装置であって、前記放射線照射手段の前記被検体に対する照射方向を一定にし、前記放射線照射手段を前記被検体に対して前記スライス厚の方向に移動させながら前記放射線検出器により放射線を検出し、この検出データに基づいて生成されるスカウト画像の生成条件を規定するパラメータを決定するパラメータ決定手段と、前記パラメータに基づいて、前記放射線検出器の検出する各検出データの前記スカウト画像内における割当位置を決定するデータ割当位置決定手段とを有する。
【０００７】
好適には、前記放射線検出器の複数の検出素子は、前記スライス厚の方向に沿って複数れる配列されており、前記データ割当位置決定手段は、前記スライス厚の方向に配列された各検出素子のサンプリング毎の検出データの前記スカウト画像内における割当位置を決定する。
【０００８】
さらに好適には、前記データ割当位置決定手段は、前記検出データが検出されるときの検出素子の位置に基づいて、前記スカウト画像内における割当位置を決定する。
【０００９】
好適には、前記パラメータ決定手段は、入力される前記スカウト画像の生成条件に基づいて、前記パラメータを決定する。
【００１０】
本発明のスカウト画像生成方法は、被検体を挟むようにして相対向して配置される放射線照射手段と複数の検出素子を備える放射線検出器を有し、前記放射線照射手段から前記被検体に向けて放射線を照射して透過した放射線を前記放射線検出器により検出し、前記放射線照射手段の照射方向を被検体の回りに移動させて、前記被検体の所定位置における所定のスライス厚の断層像を生成する放射線断層像撮影装置において、前記被検体に対する前記放射線照射手段の照射方向を一定にし、前記被検体に対して前記スライス厚の方向に移動させながら前記放射線検出器により放射線を検出し、この検出データに基づいてスカウト画像を生成するスカウト画像生成方法であって、前記スカウト画像の生成条件を規定するパラメータを決定し、前記パラメータに基づいて、前記放射線検出器の検出する各検出データの前記スカウト画像内における割当位置を決定し、前記割当位置に基づいて、前記スカウト画像を生成する。
【００１１】
本発明では、たとえば、画質等のスカウト画像の生成条件を規定するパラメータをまず決定する。次いで、決定されたパラメータに基づいて、放射線検出器の検出する各検出データのスカウト画像内における割当位置を決定される。スカウト画像は決定された割当位置にしたっがって生成される。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
第１実施形態
図１は、本発明の放射線断層像撮影装置の一実施形態としてのＸ線ＣＴ装置の全体構成を示すブロック図である。
【００１３】
図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１は、走査ガントリ（ｇａｎｔｒｙ）２、操作コンソール（ｃｏｎｓｏｌｅ）  ３、および撮影テーブル（クレードル）４を有している。
【００１４】
走査ガントリ２は、Ｘ線管２１を有する。Ｘ線管２１から放射された図示しないＸ線は、コリメータ（ｃｏｌｌｉｍａｔｏｒ）２２により、たとえば、扇状のＸ線ビーム（ｂｅａｍ）となるように成形され、Ｘ線検出器２３に照射される。
【００１５】
Ｘ線検出器２３は、ファンビームＸ線の広がり方向にアレイ状に配列された複数のＸ線検出素子を有する。Ｘ線検出器２３は、複数のＸ線検出素子をアレイ状に配列した、多チャネル（ｃｈａｎｎｅｌ）  の検出器となっている。
【００１６】
Ｘ線検出器２３は、全体として、円筒凹面状に湾曲したＸ線入射面を形成する。Ｘ線検出器２３は、たとえば、シンチレータ（ｓｃｉｎｔｉｌｌａｔｏｒ）とフォトダイオード（ｐｈｏｔｏ  ｄｉｏｄｅ）  の組み合わせによって構成される。なお、これに限られず、たとえば、カドミウム・テルル（ＣｄＴｅ）等を利用した半導体Ｘ線検出素子またはＸｅガス（ｇａｓ）  を用いる電離箱型のＸ線検出素子であっても良い。
【００１７】
Ｘ線検出器２３にはデータ収集部２４が接続されている。データ収集部２４は、Ｘ線検出器２３の個々のＸ線検出素子の検出データを収集する。Ｘ線管２１からのＸ線の照射は、Ｘ線コントローラ（ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）２５によって制御される。なお、Ｘ線管２１とＸ線コントローラ２５との接続関係およびコリメータ２２とコリメータコントローラ２６との接続関係については図示を省略する。コリメータ２２は、コリメータコントローラ２６によって制御される。
【００１８】
Ｘ線管２１、コリメータ２２、Ｘ線検出器２３、データ収集部２４、Ｘ線コントローラ２５およびコリメータコントローラ２６が、走査ガントリ２の回転部２７に搭載されている。ここで、被検体は、回転部２７の中心に位置するボア（ｂｏｒｅ）２９内のクレードル（ｃｒａｄｌｅ）上に載置される。回転部２７は、回転コントローラ２８により制御されつつ回転し、Ｘ線管２１からＸ線を爆射し、Ｘ線検出器２３において被検体の透過Ｘ線を、各ビューごとの投影情報として検出する。なお、回転部２７と回転コントローラ２８との接続関係については図示を省略する。
【００１９】
操作コンソール６は、中央処理装置３１、入力装置３２、表示装置３３および記憶装置３４を有する。
なお、中央処理装置３１および記憶装置３４が、本発明の画像再構成装置を構成している。
【００２０】
中央処理装置３１は、たとえば、マイクロプロセッサ、メモリ等によって構成される。
この中央処理装置３１は、記憶装置３４に記憶されたソフトウエアにしたがって、走査ガントリ２の動作を制御し、被検体を透過したＸ線をＸ線検出器２３で検出して得られる投影データを収集する機能と、収集したＸ線投影データに基づいて、被検体の断層像を再構成する機能とを少なくとも有する。
【００２１】
中央処理装置３１には、データ収集部２４で収集されたデータが図示しないデータ収集バッファを介して入力され、中央処理装置３１は、収集した投影データを用いて画像再構成を行う。この中央処理装置３１による画像再構成処理については後述する。
【００２２】
中央処理装置３１には、表示装置３３と入力装置３２がそれぞれ接続されている。表示装置３３は、中央処理装置３１から出力される断層画像情報やその他の情報を表示する。入力装置３２は、オペレータによって操作され、各種の指示や情報等を中央処理装置３１に入力する。オペレータは表示装置３３および入力装置３２を使用してインタラクティブ（ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ）  に本装置を操作する。
【００２３】
上記構成のＸ線ＣＴ装置１では、走査ガントリ２において、Ｘ線管２１およびＸ線検出器２３とを相対的に移動させ、被検体の被検対象領域を走査することにり、データ収集部２４に被検体の投影データが収集され、この投影データが中央処理装置３１へ送られ、中央処理装置３１において被検体の断層画像が再構成される。
また、Ｘ線ＣＴ装置１では、断層像の再構成に先立って、被検体の位置決めを行う等の目的で、スカウト（ｓｃｏｕｔ）  画像を取得する。
【００２４】
ここで、図２は、スカウト画像を取得する方法を説明するための図である。
スカウト画像を取得するには、まず、図２（ａ）に示すように、撮影テーブル４に被検体８を載せ、Ｘ線管２１およびＸ線検出器２３を固定したまま、Ｘ線管２１からＸ線４０を被検体８に照射する。
Ｘ線４０を被検体８に照射するとともに、図２（ｂ）に示すように、撮影テーブル４を所定のスキャン方向Ｚに一定の速度で移動させて、被検体８をスキャンする。
Ｘ線検出器２３は、被検体８を透過したＸ線４０を検出する。この検出データ（投影データ）がデータ収集部２４から中央処理装置３１に送られる。
【００２５】
図３は、Ｘ線検出器２３の構成の一例を示す図である。
図３に示すように、Ｘ線検出器２３は検出素子２３ａは、チャンネル方向に多数配列されているとともに、スキャン方向Ｚにも複数配列されている。
図３において、検出素子２３ａは、スキャン方向Ｚに４列配列されており、これらを列１Ａ，１Ｂ，２Ａ，２Ｂとする。
撮影テーブル４を一定の速度でスキャン方向Ｚに移動させたとき、Ｘ線検出器２３の各検出素子２３ａの検出データを所定のサンプリングレートでサンプリングすることにより、スカウト画像を取得するためのデータは収集される。なお、なお、所定のサンプリングレート毎にＸ線検出器２３の全ての検出素子２３ａが一括してサンプリングしたデータをビュー（ｖｉｅｗ）データと呼んでいる。
【００２６】
図４は、スカウト画像の構成の一例を説明するための図である。
図４に示すように、スカウト画像ＳＩはスキャン方向Ｚに所定のサイズＰｉｘＳ毎に分割された分割領域Ｐ（ｎ）（ｎは自然数）を最小単位として構成されている。
スカウト画像ＳＩは、各分割領域Ｐ（ｎ）に、Ｘ線検出器２３の検出したビュー単位の検出データを適宜割当ることにより構成される。
【００２７】
図５は、上記した中央処理装置３１のスカウト画像を生成する観点からの機能ブロック図である。なお、図５に示す各機能は、たとえば、プロセッサ等のハードウエアと所要のソフトウエアによって構成される。
【００２８】
図５に示すように、中央処理装置３１は、スカウトスキャン条件入力部５０と、パラメータ決定部５１と、データ割当部５２と、スカウト画像生成部５４と、データ入力部５３と、制御部５５とを有する。なお、パラメータ決定部５１は本発明のパラメータ決定手段の一実施態様であり、データ割当位置決定部５２は本発明のデータ割当位置決定手段の一実施態様である。
【００２９】
スカウトスキャン条件入力部５０は、スカウト画像を取得する際に、スキャン条件が入力装置３２によって入力され、このスキャン条件を所定の制御情報に変換して制御部５５へ出力する。
スキャン条件としては、たとえば、被検体８の向き、スカウト画像を撮影する角度、Ｘ線管に印加する電圧および電流、スキャンする範囲などである。
【００３０】
パラメータ決定部５１は、スカウト画像ＩＳの生成条件を規定するパラメータを決定する。
スカウト画像ＩＳの生成条件を規定するパラメータとしては、たとえば、以下のものが挙げられる。
【００３１】
スライス数ＳＮ
スライス数ＳＮは、上記したＸ線検出器２３の各列１Ａ，１Ｂ，２Ａ，２Ｂの検出素子２３ａのうち、データ収集に使用する列の数である。たとえば、列１Ａおよび１Ｂを使用する場合には、スライス数ＳＮは２であり、列１Ａ，１Ｂ，２Ａ，２Ｂを使用する場合にはスライス数ＳＮは４である。
スライス数ＳＮは、スカウト画像のＳ／Ｎ比に影響を与える。このスライス数ＳＮを増やすと、Ｓ／Ｎ比が向上する。
【００３２】
スライス厚Ｓｔｈ
スライス厚Ｓｔｈは、Ｘ線検出器２３の各検出素子２３ａのスキャン方向Ｚにおける厚さである。このスライス厚Ｓｔｈは、使用するＸ線検出器２３の仕様に応じて決まっている。
【００３３】
サンプリングレートＳＲ
サンプリングレートＳＲは、データ収集部２４がデータを収集するサンプリング周期である。Ｘ線検出器２３の各検出素子２３ａの検出データは、ビュー単位で収集される。サンプリングレートＳＲは、スカウト画像のＳ／Ｎ比に影響を与え、このサンプリングレートＳＲを長くするほど、スカウト画像のＳ／Ｎ比が向上する。
【００３４】
テーブル速度ＴＳ
テーブル速度ＴＳは、スカウトスキャンの際のテーブル４の移動速度である。テーブル速度ＴＳは、遅いほどスカウト画像のＳ／Ｎ比が向上する。また、テーブル４の移動速度が遅いほど、被検体８のＸ線の被曝量が増加する。
【００３５】
分割領域Ｐ（ｎ）のサイズＰｉｘＳ
分割領域Ｐ（ｎ）のサイズＰｉｘＳは、スカウト画像を最小単位に分割したときの各分割領域Ｐ（ｎ）の寸法である。このサイズＰｉｘＳは、スカウト画像の分解能に影響を与える。サイズＰｉｘＳが小さいほどスカウト画像の分解能が向上する。
【００３６】
パラメータ決定部５１は、上記の各パラメータを、たとえば、ユーザ（オペレータ）によって入力されるスカウト画像の生成条件に基づいて決定する。
図６は、パラメータ決定部５１へ入力するスカウト画像の生成条件の一例を示す入力画面である。
たとえば、表示装置３３に図６に示す入力画面Ｉｍを表示する。
入力画面Ｉｍには、設定ボタンＢＴ１〜ＢＴ４が表示されている。
設定ボタンＢＴ１は、パラメータを標準値を設定するためのものである。設定ボタンＢＴ２は、分解能・Ｓ／Ｎ比等の画質を重視したパラメータを設定にするためのものである。設定ボタンＢＴ３は、被曝量を最小化するパラメータを設定にするためのものである。設定ボタンＢＴ４は、各パラメータを直接任意に設定するためのものである。
【００３７】
たとえば、設定ボタンＢＴ１を選択すると、パラメータ決定部５１ではデフォルト値のパラメータが設定される。設定ボタンＢＴ２を選択すると、スライス数ＳＮ、テーブル速度ＴＳ、サイズＰｉｘＳ等の画質に関係するパラメータが画質を向上させる値に設定される。設定ボタンＢＴ３を選択すると、被曝量が最小化されるように、たとえば、テーブル速度ＴＳ等のパラメータが設定される。
設定ボタンＢＴ４を選択すると、たとえば、各パラメータを個別に設定可能な画面が表示され、オペレータはこの画面を参照してパラメータを直接設定する。
なお、パラメータ決定部５１に入力するスカウト画像の生成条件は、これに限定されるわけではない。
また、パラメータ決定部５１において設定されたパラメータは、データ割当位置決定部５２および制御部５５に送られる。
【００３８】
データ割当位置決定部５２は、パラメータ決定部５１において設定されたパラメータに基づいて、Ｘ線検出器２３の各検出素子２３ａが検出するデータのスカウト画像内における割当位置を決定する。
ここで、データ割当位置決定部５２における具体的な処理内容を説明するために、パラメータに具体的な値を設定して説明する。
【００３９】
スライス数ＳＮ：２
スライス厚Ｓｔｈ：０．６２５ｍｍ
サンプリングレートＳＲ：３００Ｈｚ
テーブル速度ＴＳ：７５ｍｍ／ｓｅｃ
サイズＰｉｘＳ：１ｍｍ
なお、スライス数ＳＮが２の場合には、Ｘ線検出器２３の列１Ａ，１Ｂの検出素子２３ａが使用されるものとする。
【００４０】
データ割当位置決定部５２では、まず、Ｘ線検出器２３の列１Ａ，１Ｂの各ビューにおける位置Ｐ＿１Ａ（ｖｉｅｗ），  Ｐ＿１Ｂ（ｖｉｅｗ）を次式（１），（２）により算出する。
【００４１】
Ｐ＿１Ａ（ｖｉｅｗ）＝（ＴＳ／ＳＲ）×（ｖｉｅｗ−１）＋Ｓｔｈ／ＳＮ…（１）
Ｐ＿１Ｂ（ｖｉｅｗ）＝（ＴＳ／ＳＲ）×（ｖｉｅｗ−１）−Ｓｔｈ／ＳＮ…（２）
【００４２】
（１），（２）式に具体的な値を代入すると、次式（３），（４）が得られる。
【００４３】
Ｐ＿１Ａ（ｖｉｅｗ）＝０．２５×ｖｉｅｗ＋０．０６２５…（３）
Ｐ＿１Ｂ（ｖｉｅｗ）＝０．２５×ｖｉｅｗ−０．０６２５…（４）
【００４４】
次いで、データ割当位置決定部５２では、位置Ｐ＿１Ａ（ｖｉｅｗ），Ｐ＿１Ｂ（ｖｉｅｗ）にある列１Ａ，１Ｂの検出素子２３ａの検出したデータが割り当てられるスカウト画像ＳＩの分割領域Ｐの位置（割当位置）Ｐｉｘ＿Ｐ（ｖｉｅｗ）を次式（５）により算出する。式（５）において、Ｄ＿Ｐ（ｖｉｅｗ）は、位置Ｐ＿１Ａ（ｖｉｅｗ）または位置Ｐ＿１Ｂ（ｖｉｅｗ）である。
【００４５】
Ｐｉｘ＿Ｐ（ｖｉｅｗ）＝Ｒｏｕｎｄ  ｛Ｄ＿Ｐ（ｖｉｅｗ）／ＰｉｘＳ｝＋１  …（５）
【００４６】
（５）式に（３），（４）式に示す位置Ｐ＿１Ａ（ｖｉｅｗ）または位置Ｐ＿１Ｂ（ｖｉｅｗ）具体的な値を代入すると、次式（６），（７）が得られる。
【００４７】
Ｐｉｘ＿Ｐ（ｖｉｅｗ）＝Ｒｏｕｎｄ  ｛（０．２５×（ｖｉｅｗ）＋０．０６２５）／１．０  ｝＋１…（６）
Ｐｉｘ＿Ｐ（ｖｉｅｗ）＝Ｒｏｕｎｄ  ｛（０．２５×（ｖｉｅｗ）−０．０６２５）／１．０  ｝＋１…（７）
【００４８】
式（６）のビュー（ｖｉｅｗ）に値を代入すると、列１Ａの検出素子２３ａの割当位置が求まり、式（７）のビュー（ｖｉｅｗ）に値を代入すると、列１Ｂの検出素子２３ａの割当位置が求まる。
【００４９】
図７は、上記した具体的なパラメータの値において、列１Ａ，１Ｂの検出素子２３ａの割当位置を示す図である。
図７からわかるように、Ｘ線検出器２３の列１Ａ，１Ｂの位置Ｐ＿１Ａ，Ｐ＿１Ｂは、ビュー毎に移動し、各ビューにおいて検出したデータが各分割領域Ｐに割り当てられる。
具体的には、図７において、たとえば、１ビュー目から４ビュー目の列１Ｂの検出素子２３ａの検出値と、１ビュー目の列１Ａの検出素子２３ａの検出値が分割領域Ｐ（１）へ割り当てられられる。これらの検出値は、スカウト画像生成部５４で足し合わされた後、所定の処理が施される。
同様に、５ビュー目から８ビュー目の列１Ｂの検出素子２３ａの検出値と、２ビュー目から５ビュー目の列１Ａの検出素子２３ａの検出値とが分割領域Ｐ（２）へ割り当てられる。
以上のような処理によって、データ割当位置決定部５２は、決定したデータ割当位置データをスカウト画像生成部５４へ出力する。
【００５０】
スカウト画像生成部５４は、データ割当位置決定部５２で決定されたデータ割当位置の情報と、データ入力部５３から入力されるデータ収集部２４から得られたビュー毎の投影データとからスカウト画像ＳＩを生成する。また、生成したスカウト画像ＳＩを表示装置３３へ出力する。
【００５１】
データ入力部５３は、データ収集部２４から得られたビュー毎の投影データを受け取り、スカウト画像生成部５４へ出力する。
制御部５５は、スカウトスキャン条件入力部５０からスカウトスキャンに関する制御情報が入力されるとともに、パラメータ決定部５１で決定された各パラメータが入力される。制御部５５は、入力された制御情報およびパラメータに基づいて、テーブル４および走査ガントリー２を制御する。
【００５２】
次に、上記構成のＸ線ＣＴ装置１におけるスカウト画像の生成手順の一例について図８を参照して説明する。
まず、入力装置３２を用いて、たとえば、被検体８の向き、スカウト画像を撮影する角度、Ｘ線管に印加する電圧および電流、スキャンする範囲等のスカウトスキャン条件を入力する（ステップＳＴ１）。
【００５３】
次いで、図６において説明したように、スカウト画像の画質条件や被曝量の条件等を入力装置３２を用いて入力する。
【００５４】
中央処理装置３１のパラメータ決定部３１では、入力された条件データに基づいて、上記した各パラメータが決定される（ステップＳＴ３）。
中央処理装置３１のデータ割当位置決定部５２では、決定されたパラメータニ基づいて、上記したデータ割当位置が決定される（ステップＳＴ４）。
【００５５】
次に、Ｘ線が被検体８へ照射されるとともに（ステップＳＴ５）、撮影テーブル４がスキャン方向Ｚに移動し（ステップＳＴ５）、被検体８の投影データがＸ線検出器２３により検出され、データ収集部２４によって各ビュー毎にデータが収集される（ステップＳＴ７）。
【００５６】
データ収集部２４に収集された投影データは、中央処理装置３１側へ送られ、ここで、リコンプロセス処理が行われる（ステップＳＴ８）。このリコンプロセス処理には、得られたデータからスカウト画像を精度良く生成するための補正処理が含まれる。
【００５７】
リコンプロセス処理されたデータから、データ割当位置決定部５２で決定されたデータ割当位置の情報にしたがって、所望のスカウト画像が生成される（ステップＳＴ９）。
生成されたスカウト画像は、表示装置３３へ出力される（ステップＳ１０）。
【００５８】
以上のように、本実施形態によれば、ユーザ（オペレータ）の好みに合わせたスカウト画像を生成することが可能となる。
また、本実施形態では、パラメータに応じて、スカウト画像へのデータの割当位置を決定するので、ハードウエアの制約を受けることがなく、既存のＸ線ＣＴ装置への適用が容易である。
また、本実施形態によれば、スカウト画像の画質条件だけでなく、被曝量の条件によってスカウトスキャン動作を最適化できるため、被曝量を最小化することが容易となる。
【００５９】
なお、上述した実施形態においては、放射線としてＸ線を用いた例について説明したが、放射線はＸ線に限るものではなく、たとえばγ線等の他の種類の放射線であっても良い。ただし、現時点では、Ｘ線がその発生、検出および制御等に関し実用的な手段が最も充実している点で好ましい。
【００６０】
【発明の効果】
本発明によれば、スカウト画像の画質や取得方法を診断目的や被検体の各種条件に応じて任意に変更可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の放射線断層像撮影装置の一実施形態としてのＸ線ＣＴ装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】スカウト画像を取得する方法を説明するための図である。
【図３】Ｘ線検出器の構成の一例を示す図である。
【図４】スカウト画像の構成の一例を説明するための図である。
【図５】中央処理装置のスカウト画像を生成する観点からの機能ブロック図である。
【図６】パラメータ決定部へ入力するスカウト画像の生成条件の一例を示す入力画面である。
【図７】具体的なパラメータの値による列１Ａ，１Ｂの検出素子のデータ割当位置を示す図である。
【図８】Ｘ線ＣＴ装置におけるスカウト画像の生成手順の一例を説明する図である。
【符号の説明】
１…Ｘ線ＣＴ装置
２…走査ガントリー
３…操作コンソール
４…撮影テーブル
３１…中央処理装置
３２…入力装置
３３…表示装置
３４…記憶装置
５０…スカウトスキャン条件入力部
５１…パラメータ決定部
５２…データ割当位置決定部
５３…データ入力部
５４…スカウト画像生成部
５５…制御部
【図１】
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【図２】
2004283418.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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