(57)【要約】【課題】液晶表示パネルの配線に直接検査装置の端子を接続させる検査を容易、確実に、短時間で行う。【解決手段】複数の第１電極を有する基板３と複数の第２電極を有する基板４のいずれか一方の基板において、第１電極から延在した第１配線および第２電極から延在した第２配線を一方の基板の一辺に向けて引き出し、その一辺に沿って存在する延長部において、第１配線および第２配線をそれぞれ１つ或いは複数の集合６ａ，６ｂ，７ａ，７ｂにまとめて配置し、検査用の基板に液晶表示パネルの配線の集合に対応する端子を設け、当該端子に対応する液晶表示パネルの配線の集合とを接続する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の第１電極を有する基板と複数の第２電極を有する基板とを備えた液晶表示パネルの検査方法であって、
前記両基板のいずれか一方の基板において、前記第１電極から延在した第１配線および前記第２電極から延在した第２配線を前記一方の基板の一辺に向けて引き出し、
前記一辺に沿って存在する延長部において、前記第１配線および前記第２配線をそれぞれ１つ或いは複数の集合にまとめて配置し、
検査用の基板に前記液晶表示パネルの前記配線の集合に対応する端子を設け、
前記延長部において、前記検査用の基板の端子と当該端子に対応する液晶表示パネルの配線の集合とを接続し、
前記液晶表示パネルの電極に検査用の信号を印加することを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。
【請求項２】
前記延長部の検査用の基板の端子と液晶表示パネルの配線の集合とが接続した領域において、前記第１配線の集合とその隣に位置する前記第２配線の集合との間隔は、０．３ｍｍ以上離れている請求項１に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項３】
前記液晶表示パネルは、前記延長部において直接ＩＣチップを実装するための端子を有する請求項１または２に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネルの検査方法に係り、特に液晶表示パネルの電極に電圧を印加して点灯状態を判定する検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、ＬＣＤコントローラやドライバＩＣ等の外部回路を液晶表示パネルに実装する前に、液晶表示パネルが正常に点灯するか否かを確認するために点灯確認検査が行われていた。
【０００３】
従来の点灯確認検査は、一方の基板が他方の基板より大きくされた延長部に引き回された配線に検査装置のプローブピンを直接接触させて所定の点灯電圧を印加し、その点灯状態によって液晶表示パネルの電極の断線もしくは短絡の有無を検査するものであった。
【０００４】
この点灯確認検査は、各配線とプローブピンを正確に位置合わせしなければならなかったため、例えば、液晶表示パネルに設けられているアライメントマークをＣＣＤカメラによって撮像し、その撮像信号を画像処理ユニットで処理して液晶表示パネルの配線の位置を特定し、その位置データに基づいて液晶表示パネルもしくはプローブピンのいずれかを移動させ、配線とプローブピンとの位置合わせを行う位置合わせ機構を備えていた（特許文献１参照）。
【０００５】
ところで、近年、液晶表示パネルの基板に直接ＩＣチップを実装させたＣＯＧ（Ｃｈｉｐ  Ｏｎ  Ｇｌａｓｓ）型の液晶表示装置が製造されている。ＣＯＧ型の液晶表示装置は、ＩＣチップを液晶表示パネルの基板上に直接実装しているので、ファインピッチ化でき、軽量薄型化に有利であり、ＩＣチップのパッケージを節約できるのでコスト低下等の効果があった。
【０００６】
ＣＯＧ型の液晶表示装置用の液晶表示パネルにおいて、一方の基板に形成されたセグメント側電極の配線と他方の基板に形成された制御側電極の配線とを一方の基板の一辺に向けて延長部まで引き出し、外部回路との接続を取るための端子とした構成のものが知られている（特許文献２参照）。
【０００７】
【特許文献１】
特開２００３−４３５１７号公報（段落０００２−０００４）
【特許文献２】
特開２０００−３２１５９４号公報（図１）
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
上述したとおり、従来の検査方法は、液晶表示パネルの配線と検査装置のプローブピンとの位置合わせ作業を行うので、位置合わせ機構として配線の幅程度の位置決め精度が必要であった。特に、ＣＯＧ型の液晶表示パネルにおいては、基板の延長部で配線がファインピッチ化されているため、精密な位置決め精度が求められていた。このため、位置決め精度が約０．２ｍｍもある簡易で敏速な位置合わせ機構を使用することができず、高精度の位置合わせ機構を採用していたので、非常に時間がかかっていた。
【０００９】
また、多数本の配線をプローブピンと一対一で接続させるので、接続不良の確率が高く、検査の信頼性に影響を与えていた。
【００１０】
更に、狭額縁化の要求から延長部の面積が小さくなり、液晶表示パネルの配線と検査装置のプローブピンとの接続を取る作業の困難性が高まっていた。
【００１１】
本発明は、液晶表示パネルの配線に直接検査装置の端子を接続させる検査を容易、確実に行うことができ、検査時間を短縮し、生産性を向上するための検査方法を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
前述した目的を達成するために本発明の液晶表示パネルの検査方法は、複数の第１電極を有する基板と複数の第２電極を有する基板とを備え、前記両基板のいずれか一方の基板において、前記第１電極から延在した第１配線および前記第２電極から延在した第２配線を前記一方の基板の一辺に向けて引き出し、前記一辺に沿って存在する延長部において、前記第１配線および前記第２配線をそれぞれ１つ或いは複数の集合にまとめて配置し、検査用の基板に前記液晶表示パネルの前記配線の集合に対応する端子を設け、前記延長部において、前記検査用の基板の端子と当該端子に対応する液晶表示パネルの配線の集合とを接続し、前記液晶表示パネルの電極に検査用の信号を印加することを特徴とする。
【００１３】
このような構成を採用したことにより、検査用の基板の各端子と液晶表示パネルの各配線の集合とを一括して接続させるため、配線毎に細かく位置合わせをする必要がなく、容易、確実に行うことができ、且つ短時間で液晶表示パネルの検査を行うことができる。このため、液晶表示パネルの生産性を向上することができる。
【００１４】
また、本発明の液晶表示パネルの検査方法は、前記延長部の検査用の基板の端子と液晶表示パネルの配線の集合とが接続した領域において、前記第１配線の集合とその隣に位置する前記第２配線の集合との間隔が、０．３ｍｍ以上離れていることを特徴とする。
【００１５】
簡易で敏速な位置合わせ機構の位置決め精度が約０．２ｍｍであるから、このような構成を採用したことにより、隣り合った異なる電極の配線の集合までの距離をマージンを考慮して０．３ｍｍ以上離しているので、簡易で敏速な位置合わせ機構を使用することができ、更に短時間で検査を行うことができる。
【００１６】
また、本発明の液晶表示パネルの検査方法は、前記液晶表示パネルが、前記延長部において直接ＩＣチップを実装するための端子を有することを特徴とする。
【００１７】
延長部において直接ＩＣチップを実装するための端子を有する液晶表示パネルは、配線がファインピッチ化されているため、検査用の基板の端子を配線の集合と接続する本発明を適用するのに好適である。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。
【００１９】
図１（Ａ）および（Ｂ）は、液晶表示パネル１と検査用の基板２の概略平面図であり、図１（Ａ）は両者を接続する前の状態を（Ｂ）は両者を接続した後の状態を示す。
【００２０】
液晶表示パネル１は、複数の第１電極を有する第１基板３および複数の第２電極を有する第２基板４を有しており、両基板３，４は各電極をマトリクス状に交差するように対向させてシールによって貼り合わされ、その間に液晶を封入している。図１においては、第１基板３の方が第２基板４よりも寸法が大きく、両基板３，４を貼り合わせた時に第１基板３がはみ出して延長部を形成している。
【００２１】
液晶表示パネル１には、両基板３，４が重なった部分の中に各電極に電圧を印加して液晶を駆動する表示領域５が形成されており、表示領域５の両電極から配線が延在している。なお、図１において、電極は図示せず、また配線は一本一本ではなく、配線の集合として、電極毎にそれぞれ斜線のハッチングを付して示している。
【００２２】
各配線は、いずれか一方の基板の一辺に向けて引き出され、当該基板の一辺に沿って存在する延長部において外部回路との接続端子を構成している。配線としては、電極をそのまま延長した構成であっても、端子等を介して他の導電材料と接続した構成であってもよい。また、配線が引き出される方向としては、長辺側でも短辺側でもよいが、一般的に長辺側の方が画素数が多く、それ故に配線の数も多いため、長辺側に引き出す方が配線の総引き回し距離を短くできるし、基板の寸法を小さくできるので好ましい。
【００２３】
第１電極から延在した第１配線および第２電極から延在した第２配線は、複数本の配線をまとめて集合として配置している。集合の数は、例えば、外部回路との接続端子の配置等によって適宜設定することができる。なお、同じ電極の配線の集合同士を隣接するように配置すれば（例えば図１における集合６ａ，６ｂ）、検査用の基板の端子をまとめることができるため、集合を隣接させずに分けて配置する場合（図１における集合７ａ，７ｂ）よりも、検査用の基板の端子の数を少なくすることができるので好ましい（図１における端子８と端子９ａ，９ｂ）。
【００２４】
図１において、第１配線は、２つの集合６ａ，６ｂにまとめられ、第１基板３の上辺に向けて延長部まで引き出されている。また、第２配線は、両基板を接続する端子（図示せず）を介して第２基板４から第１基板３に延び、２つの集合７ａ，７ｂにまとめられ、第１基板３で一旦横方向に延びた後に上辺に向けて引き出されている。図示していないが、各配線は、上辺近傍の延長部において、外部回路との接続端子を構成している。なお、第２配線の集合７ａと集合７ｂを横方向に延ばす時に、左右逆方向にすることで、集合７ｂの配線の長さを短くすることができ、配線の抵抗を小さくすることができる。
【００２５】
検査用の基板２には、液晶表示パネルの第１配線の集合６ａ，６ｂに対応する端子８および液晶表示パネルの第２配線の集合７ａ，７ｂに対応する端子９ａ，９ｂが設けられている。検査用の基板２として、ＦＰＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）基板を用いると、液晶表示パネル１の延長部が狭くても対応することができる。
【００２６】
検査用の基板の端子８，９ａ，９ｂは、液晶表示パネルの配線の集合と一括して接続できる幅を有しており、特に液晶表示パネルの同じ電極の配線の集合同士が隣接するように配置されている場合は、それら隣接する集合全体と一括して接続できる幅としてもよい。
【００２７】
検査用の基板の端子８，９ａ，９ｂは、液晶表示パネル１の上辺に沿って存在する延長部において、液晶表示パネルの配線（配線の外部回路との接続端子を構成する部分でもよい）の集合と接続される。検査用の基板の端子は、液晶表示パネルの配線の集合と直接接続させてもよいし、異方性導電ゴムなどの異方性導電材によって接続させてもよい。
【００２８】
図１（Ｂ）では、接続領域１０（検査用の基板の端子と液晶表示パネルの配線の集合とが接続した領域）において、液晶表示パネルの第１配線の集合６ａ，６ｂと検査用の基板の端子８とが接続され、第２配線の集合７ａと検査用の基板の端子９ａとが、また集合７ｂと端子９ｂとが接続されている。
【００２９】
この部分について、図２を用いて更に詳しく説明する。図２は、図１（Ｂ）の四角で囲んだ部分Ｘを拡大した概略平面図である。図２に示すとおり、接続領域１０において、第１配線１１ａ，１１ｂ，１１ｃは検査用の基板の端子８と接続されており、第２配線１２ａ，１２ｂ，１２ｃは検査用の基板の端子９ｂと接続されている。
【００３０】
従って、液晶表示パネル１と検査用の基板２との位置は、第１配線の集合６ａ，６ｂと検査用の基板の端子８とが重なるように、また第２配線の集合７ａと検査用の基板の端子９ａとが、更に集合７ｂと端子９ｂとが重なるように合わせればよいだけなので、容易で確実なものとなり、検査時間を短縮することができる。
【００３１】
また、検査装置の位置決め精度は、第１配線の集合と隣に位置する第２配線の集合との間隔（例えば、図２の集合６ｂと集合７ｂとの間隔Ｌ）に依存するので、従来要求されていた配線の幅程度の位置決め精度に比べると、かなり易しくなっていることが明らかである。
【００３２】
このようにして、検査用の基板２の端子８，９ａ，９ｂと液晶表示パネル１の配線の集合６ａ，６ｂ，７ａ，７ｂとを接続したら、図示しない検査用の外部回路から検査用の基板２の端子を通じて、液晶表示パネル１の電極に検査用の信号を印加して、液晶表示パネルの検査を行う。この結果、本発明の検査方法では、従来の検査方法に比べて、約半分の時間で検査することができる。
【００３３】
更に、簡易で敏速な位置合わせ機構は、位置決め精度が約０．２ｍｍであるので、マージンなどを考慮して、第１配線の集合とその隣に位置する第２配線の集合との間隔Ｌが０．３ｍｍ以上であれば、液晶表示パネルの検査に使用することができ、更に検査時間を短縮できる。
【００３４】
また、延長部において直接ＩＣチップを実装するための端子を有するＣＯＧ型の液晶表示パネルは、配線がファインピッチ化されているので、検査用の基板の端子が液晶表示パネルの配線の集合と一括して接続できる本発明を適用するのに好適である。
【００３５】
次に、液晶表示パネルの配線の引き回しと検査用の基板の端子の配置の変形例を図３（Ａ）および（Ｂ）に示す。
【００３６】
図３（Ａ）において、液晶表示パネル２１の第１電極が延在した第１配線は、２つの集合２６ａ，２６ｂにまとめられ、第１基板の上辺に向けて延長部まで引き出されている。第２電極から延在した第２配線は、両基板を接続する端子を介して第２基板から第１基板に延び、集合２７にまとめられ、第１基板で一旦横方向に延びた後に上辺に向けて引き出されている。そして、検査用の検査用の基板２２には、液晶表示パネルの第１配線の集合２６ａ，２６ｂに対応する端子２８ａ，２８ｂおよび第２配線の集合２７に対応する端子２９が設けられている。検査用の基板の端子２８ａ，２８ｂは、液晶表示パネルの第１配線の２つの集合２６ａ，２６ｂとそれぞれ接続され、端子２９は、液晶表示パネルの第２配線の集合２７と接続される。
【００３７】
また、図３（Ｂ）においては、液晶表示パネル３１の第１電極が延在した第１配線は、集合３６にまとめられ、第１基板の上辺に向けて延長部まで引き出されている。第２電極から延在した第２配線は、両基板を接続する端子を介して第２基板から第１基板に延び、集合３７にまとめられ、第１基板で一旦横方向に延びた後に上辺に向けて引き出されている。そして、検査用の検査用の基板３２には、液晶表示パネルの第１配線の集合３６に対応する端子３８および第２配線の集合３７に対応する端子３９が設けられている。検査用の基板の端子３８は、液晶表示パネルの第１配線の集合３６と接続され、端子３９は、液晶表示パネルの第２配線の集合３７と接続される。
【００３８】
【発明の効果】
以上のとおり、本発明の液晶表示パネルの検査方法は、検査用の基板の各端子と液晶表示パネルの各配線の集合とを一括して接続させるため、配線毎に細かく位置合わせをする必要がなく、容易、確実に行うことができ、且つ短時間で液晶表示パネルの検査を行うことができる。このため、液晶表示パネルの生産性を向上することができる。
【００３９】
また、第１配線の集合とその隣に位置する第２配線の集合との間隔を０．３ｍｍ以上離せば、液晶表示パネルの検査に簡易で敏速な位置合わせ機構を使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（Ａ）および（Ｂ）は本発明の液晶表示パネルと検査用の基板の概略平面図
【図２】図１（Ｂ）の四角で囲んだ部分Ｘを拡大した概略平面図
【図３】（Ａ）および（Ｂ）は本発明の他の液晶表示パネルと検査用の基板の概略平面図
【符号の説明】
１                        液晶表示パネル
２                          検査用の基板
３                        第１基板
４                        第２基板
６ａ，６ｂ        第１配線の集合
７ａ，７ｂ        第２配線の集合
８                        第１配線の集合に対応する端子
９ａ，９ｂ        第２配線の集合に対応する端子
１０                    接続領域
【図１】
2004264596.tif 000003
【図２】
2004264596.tif 000004
【図３】
2004264596.tif 000005