(57)【要約】【課題】物品をＣＴ装置で多数の断層像にして撮像することにより得られる３次元ビットマップデータ（ＣＴデータ）を直接に入力することを可能とする積層造形装置の提供。【解決手段】積層造形装置は、造形用データに基づいた造形材料の薄層形成とこの薄層の選択的硬化による単位造形層の形成を順次繰り返し、この繰り返し形成の単位造形層の積層により立体物の造形をなすようになっている。そして、目的造形物の原となる物品をＣＴ装置で多数の断層像にして撮像することにより得られる３次元ビットマップデータを直接入力できるＣＴデータ入力部７を備えている。【選択図】　　　　図１
2004090406.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力された造形用データに基づいた造形材料の薄層形成とこの薄層の選択的硬化による単位造形層の形成を順次繰り返し、この繰り返し形成の単位造形層の積層により立体物の造形をなすようになっている積層造形装置において、
目的造形物の原となる物品をＣＴ装置で多数の断層像にして撮像することにより得られる３次元ビットマップデータを前記造形用データとして直接入力できる入力部を備えていることを特徴とする積層造形装置。
【請求項２】
前記３次元ビットマップデータに対して内側へのオフセットを施した後に外側へのオフセットを施すことで、当該３次元ビットマップデータに含まれるノイズを除去するノイズ除去手段を備えている請求項１に記載の積層造形装置。
【請求項３】
前記３次元ビットマップデータにおける各断層像間に前記薄層用として補間断層像を加えるための層間補間手段を備えている請求項１または請求項２に記載の積層造形装置。
【請求項４】
層間補間手段は、前記各断層像にぼかし処理を施すステップ、このぼかし処理を受けた断層像に対し、互いに隣接する断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１について、断層像Ｓｎの画素とこの画素に位置対応する断層像Ｓｎ＋１の画素との間での輝度の変化量に関して補間する層数に応じた平均値を求め、この平均輝度変化量に基づいて前記各補間断層像における対応位置の画素の輝度を設定する平均内挿処理を施すステップ、前記平均内挿処理で設定された輝度に基づいて前記各補間断層像の画素の輝度を所定のしきい値で二値化する二値化処理を施すステップを含んで前記各補間断層像を設定するようにされている請求項３に記載の積層造形装置。
【請求項５】
層間補間手段は、互いに隣接する断層像を断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１として、前記断層像Ｓｎの輪郭をＹボルトの電極とみなす一方で、前記断層像Ｓｎ＋１の輪郭をＹ´ボルトの電極とみなし、そして前記断層像ＳｎからＸ層目の補間断層像の輪郭を（｜Ｙ−Ｙ´｜）・Ｘ／Ｚ（ただしＺは補間断層像の層数）の等電位面として求めることで前記補間断層像の設定がなされるようにされている請求項３に記載の積層造形装置。
【請求項６】
入力された造形用データに基づいた造形材料の薄層形成とこの薄層の選択的硬化による単位造形層の形成を順次繰り返し、この繰り返し形成の単位造形層の積層により立体物の造形をなすようになっている積層造形装置において、
前記造形用データに対して、当該造形用データに基づいて造形される目的造形物の表面に近接する部分に、影像を担う画素の所望のパターンによる増減を加えることで前記目的造形物の表面に質感用凹凸を形成する質感付与手段を備えていることを特徴とする積層造形装置。
【請求項７】
造形用データとして、目的造形物の原となる物品をＣＴ装置で多数の断層像にして撮像することにより得られる３次元ビットマップデータが入力され、この３次元ビットマップデータに基づいた造形材料の薄層形成とこの薄層の選択的硬化による単位造形層の形成を順次繰り返し、この繰り返し形成の単位造形層の積層により立体物の造形をなすようになっている積層造形装置で用いられる制御用のプログラムであって、
前記３次元ビットマップデータに対して内側へのオフセットを施した後に外側へのオフセットを施すことで、当該３次元ビットマップデータに含まれるノイズを除去するノイズ除去処理：前記３次元ビットマップデータにおける各断層像間に前記薄層用として補間断層像を加える層間補間処理：前記３次元ビットマップデータに対して、当該３次元ビットマップデータに基づいて造形される目的造形物の表面に近接する部分に、影像を担う画素の所望のパターンによる増減を加えることで前記目的造形物の表面に質感用凹凸を形成する質感付与処理の何れか一つを少なくとも含んでなる積層造形装置制御用プログラム。
【請求項８】
前記層間補間処理は、前記各断層像にぼかし処理を施すステップ、このぼかし処理を受けた断層像に対し、互いに隣接する断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１について、断層像Ｓｎの画素とこの画素に位置対応する断層像Ｓｎ＋１の画素との間での輝度の変化量に関して補間する層数に応じた平均値を求め、この平均輝度変化量に基づいて前記各補間断層像における対応位置の画素の輝度を設定する平均内挿処理を施すステップ、前記平均内挿処理で設定された輝度に基づいて前記各補間断層像の画素の輝度を所定のしきい値で二値化する二値化処理を施すステップを含んでなる処理である請求項７に記載のプログラム。
【請求項９】
前記層間補間処理は、互いに隣接する断層像を断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１として、前記断層像Ｓｎの輪郭をＹボルトの電極とみなす一方で、前記断層像Ｓｎ＋１の輪郭をＹ´ボルトの電極とみなし、そして前記断層像ＳｎからＸ層目の補間断層像の輪郭を（｜Ｙ−Ｙ´｜）・Ｘ／Ｚ（ただしＺは補間断層像の層数）の等電位面として求めることで前記補間断層像の設定がなされる処理である請求項７に記載のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、立体物の造形に用いられる積層造形装置およびその制御用プログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
積層造形法は、目的造形物に関する３次元形状データを造形用データとして当該目的造形物の立体形状を造形する技術であり、造形用データに基づいた造形材料の薄層形成と、レーザ光の照射などを受けてのこの薄層の選択的硬化による単位造形層の形成を順次繰り返し、この繰り返し形成の単位造形層を積層させて立体物の造形をなす。このような積層造形法には、ＳＬＳ法（選択的レーザ焼結法）（例えば特表平１１−５０８３２２号公報、特開平１１−２１９５３８号公報）、光造形法（例えば特開２００１−３４７５７２号公報）、シート積層法（例えば特開平７−１９５５３３号公報、特開２０００−３７７８２号公報）、インクジェット法（例えば特開２００２−６７１７１号公報、特開２００２−１７８４１３号公報）、ＦＤＭ法などがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
従来における積層造形では、目的造形物をＣＡＤで設計し、そのＣＡＤデータに基づいて造形用データを作成するのが一般的であった。つまり従来の積層造形は、ＣＡＤによる設計データを前提にするのが一般的であった。これに対して、既存の物品やクレイモデルなどからその３次元形状データを得て、この３次元形状データを造形用データにして既存物品の複製品を製作したり、あるいはクレイモデルに基づく製品を製作したりする場合にも積層造形法を用いることが有力であるという考え方がある。この場合には３次元形状データとして、既存物品やクレイモデルなどを例えばＸ線ＣＴ装置などのＣＴ装置で多数の断層像にして撮像することにより得られる３次元ビットマップデータつまりＣＴデータが基になる。
【０００４】
ところで、従来の積層造形装置は、その開発の歴史的背景などの関係から、ポリゴンデータの一種であるＳＴＬ（Ｓｔｅｒｅｏｌｉｔｈｏｇｒａｐｈｙ　Ｆｉｌｅ）データにして造形用データを入力し、これを内部で３次元ビットマップデータに変換して積層造形の制御に用いている。このようにＳＴＬデータを入力データとすることには、ＣＡＤデータに基づいて造形用データを作成する従来の一般的な方式ではさして問題はない。しかしＣＴデータを造形用データの基にする場合には大きな障害となる。すなわちＣＴデータをＳＴＬデータ形式に変換して積層造形装置の入力データにしようとすると、その際にデータサイズが１０〜１００倍に膨れ上がってしまう。このためデータ処理に多大の時間を要することになり、ＣＴデータのＳＴＬデータへの変換を行なうことは現実的でないことになる。そこで、ＣＴデータを直接に積層造形装置へ入力できるようにすることが望まれる。本発明はこのような要求に応えるためになされたものであり、ＣＴデータを直接に入力することを可能とする積層造形装置の提供を目的の一つとしている。
【０００５】
また本発明では、ＣＴデータの積層造形装置への直接入力に付随する問題の解決も目的としている。その問題の一つは、ＣＴデータに含まれているノイズの問題である。すなわち目的造形物の原となる物品（既存物品やクレイモデルなど）をＣＴ装置で撮像すると、本来は影像源の無いはずの部分に何らかの要因で細かな像がノイズとして生じることが少なからずある。そしてこのようなノイズを含んだままのＣＴデータを造形データとすると、例えば上記のＳＬＳ法の場合であれば、未溶着の粉末を回収して再使用する際に、ノイズのために溶着して生じた小さな塊が再使用の粉末に混入してしまうことになり、これをそのまま使うと積層造形の精度が低下するなどの不具合を招くことになる。そこで、ＣＴデータを積層造形装置の入力データとするについては、このノイズを効果的に除去できるようにすることが望まれることになるが、本発明の目的の一つはこの要求に応えることにある。
【０００６】
ＣＴデータの積層造形装置への直接入力に付随する問題の他の一つとして、ＣＴ装置における断層像の撮像間隔と積層造形における薄層の厚みとのギャップの問題がある。すなわちＣＴ装置における撮像間隔は一般的に例えば１ｍｍ程度であるのに対して、積層造形における薄層の厚みは例えば０．１ｍｍ程度となるのが通常であり、１０倍程度のギャップがある。そこで、このギャップを埋めるためにＣＴデータにおける断層像の間を補間してやる必要があるが、本発明の目的の一つはこの要求に応えることにある。
【０００７】
さらに本発明では、ＣＴデータを用いた積層造形法における他の問題の解決も目的としている。その問題は、複製品を製作する場合に特に重要になるもので、造形物に質感（テクスチャ）を与えることである。すなわち表面に微細な凹凸を有しており、それにより特有の質感を原物品が呈している場合でも、これを撮像して得られるＣＴデータではその質感情報が失われている。そのためＣＴデータを用いた積層造形による複製品には、表面がのっぺりした造形物しか得られないのが通常でであり、複製品の製作として不十分であった。そこで本発明では、質感用の凹凸を目的造形物の表面に形成できるようにすることも目的の一つとしている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明では、ＣＴデータを直接の入力データとできるようにするために、入力された造形用データに基づいた造形材料の薄層形成とこの薄層の選択的硬化による単位造形層の形成を順次繰り返し、この繰り返し形成の単位造形層の積層により立体物の造形をなすようになっている積層造形装置において、目的造形物の原となる物品をＣＴ装置で多数の断層像にして撮像することにより得られる３次元ビットマップデータを前記造形用データとして直接入力できる入力部を備えていることを特徴としている。
【０００９】
また本発明では、３次元ビットマップデータからノイズを効果的に除去できるようにするために、３次元ビットマップデータに対して内側へのオフセットを施した後に外側へのオフセットを施すことで、当該３次元ビットマップデータに含まれるノイズを除去するノイズ除去手段を積層造形装置に設けるものとしている。
【００１０】
また本発明では、ＣＴ装置による３次元ビットマップデータにおける断層像の間隔と積層造形における薄層の厚みとのギャップを埋めることができるようにするために、３次元ビットマップデータにおける各断層像間に前記薄層用として補間断層像を加えるための層間補間手段を積層造形装置に設けるものとしている。そして、この層間補間手段は、一つの形態として、前記各断層像にぼかし処理を施すステップ、このぼかし処理を受けた断層像に対し、互いに隣接する断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１について、断層像Ｓｎの画素とこの画素に位置対応する断層像Ｓｎ＋１の画素との間での輝度の変化量に関して補間する層数に応じた平均値を求め、この平均輝度変化量に基づいて前記各補間断層像における対応位置の画素の輝度を設定する平均内挿処理を施すステップ、前記平均内挿処理で設定された輝度に基づいて前記各補間断層像の画素の輝度を所定のしきい値で二値化する二値化処理を施すステップを含んで前記各補間断層像を設定するように構成している。また他の形態として、互いに隣接する断層像を断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１として、前記断層像Ｓｎの輪郭をＹボルトの電極とみなす一方で、前記断層像Ｓｎ＋１の輪郭をＹ´ボルトの電極とみなし、そして前記断層像ＳｎからＸ層目の補間断層像の輪郭を（｜Ｙ−Ｙ´｜）・Ｘ／Ｚ（ただしＺは補間断層像の層数）の等電位面として求めることで前記補間断層像の設定がなされる構成としている。
【００１１】
また本発明では、目的の造形物に質感を与えることができるようにするために、入力された造形用データに基づいた造形材料の薄層形成とこの薄層の選択的硬化による単位造形層の形成を順次繰り返し、この繰り返し形成の単位造形層の積層により立体物の造形をなすようになっている積層造形装置において、前記造形用データに対して、当該造形用データに基づいて造形される目的造形物の表面に近接する部分に、影像を担う画素の所望のパターンによる増減を加えることで前記目的造形物の表面に質感用凹凸を形成する質感付与手段を備えていることを特徴としている。
【００１２】
また本発明では、造形用データとして、目的造形物の原となる物品をＣＴ装置で多数の断層像にして撮像することにより得られる３次元ビットマップデータが入力され、この３次元ビットマップデータに基づいた造形材料の薄層形成とこの薄層の選択的硬化による単位造形層の形成を順次繰り返し、この繰り返し形成の単位造形層の積層により立体物の造形をなすようになっている積層造形装置で用いられる制御用のプログラムであり、前記３次元ビットマップデータに対して内側へのオフセットを施した後に外側へのオフセットを施すことで、当該３次元ビットマップデータに含まれるノイズを除去するノイズ除去処理：前記３次元ビットマップデータにおける各断層像間に前記薄層用として補間断層像を加える層間補間処理：前記３次元ビットマップデータに対して、当該３次元ビットマップデータに基づいて造形される目的造形物の表面に近接する部分に、影像を担う画素の所望のパターンによる増減を加えることで前記目的造形物の表面に質感用凹凸を形成する質感付与処理の何れか一つを少なくとも含んでなる積層造形装置制御用プログラムを提供する。
【００１３】
また本発明では、上記のような積層造形装置制御用プログラムにおける層間補間処理として、前記各断層像にぼかし処理を施すステップ、このぼかし処理を受けた断層像に対し、互いに隣接する断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１について、断層像Ｓｎの画素とこの画素に位置対応する断層像Ｓｎ＋１の画素との間での輝度の変化量に関して補間する層数に応じた平均値を求め、この平均輝度変化量に基づいて前記各補間断層像における対応位置の画素の輝度を設定する平均内挿処理を施すステップ、前記平均内挿処理で設定された輝度に基づいて前記各補間断層像の画素の輝度を所定のしきい値で二値化する二値化処理を施すステップを含んでなる処理：または互いに隣接する断層像を断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１として、前記断層像Ｓｎの輪郭をＹボルトの電極とみなす一方で、前記断層像Ｓｎ＋１の輪郭をＹ´ボルトの電極とみなし、そして前記断層像ＳｎからＸ層目の補間断層像の輪郭を（｜Ｙ−Ｙ´｜）・Ｘ／Ｚ（ただしＺは補間断層像の層数）の等電位面として求めることで前記補間断層像の設定がなされる処理の何れかを用いるものとしている。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について説明する。図１に、本発明の一実施形態による積層造形装置の構成をブロック図にして示す。この積層造形装置は、データ入力部１、データ処理部２、制御部４および造形処理部５を有している。データ入力部１にはＳＴＬデータ入力部６とＣＴデータ入力部７が設けられている。ＳＴＬデータ入力部６は従来の積層造形装置にも設けられているものであり、ここからは従来と同様にＣＡＤデータなどから変換されたＳＴＬデータが造形用データとして入力される。一方、ＣＴデータ入力部７は本発明に特徴的なもので、目的造形物の原となる物品を例えばＸ線ＣＴ装置などのＣＴ装置で多数の断層像にして撮像することにより得られたる次元ビットマップデータ（ＣＴデータ）を造形用データとしてここから積層造形装置に直接に入力させることができる。
【００１５】
データ処理部２は、ＳＴＬデータに対して用いられるＳＴＬ・ビットマップ変換手段８を有し、また３次元ビットマップデータに対して用いられるノイズ除去手段９、層間補間手段１０および質感付与手段１１を有している。そしてＳＴＬデータ入力部６から入力されたＳＴＬデータは、ＳＴＬ・ビットマップ変換手段８により、従来の積層造形装置におけるのと同様に、ビットマップデータに変換されて制御部４に出力され、造形処理部５の制御に用いられる。
【００１６】
一方、ＣＴデータ入力部７から入力されるＣＴデータは、積層造形装置制御用のプログラムにより、図２に示すような流れとなる処理を受け、より適切な造形用データに加工される。すなわちＣＴデータがＣＴデータ入力部７から入力される（ステップ１）と、まずノイズ除去手段９によるノイズ除去処理を受ける（ステップ２）。
【００１７】
ＣＴデータにおけるノイズは、図３に模式化して示すように、原物品の断層像Ｓの周囲など、本来は影像源の無いはずの部分に何らかの要因で細かな像Ｎａ、Ｎｂ、Ｎｃ、……が生じたものである。このようなノイズＮａ、Ｎｂ、Ｎｃ、……の除去には、画像処理分野の汎用的手法であるオフセット処理を利用する。オフセット処理でノイズ除去を行なうには、まず３次元ビットマップデータに対して内側へのオフセットを施す。つまり、図４に点線で示すように、断層像Ｓを痩せさせる。そのオフセット量は、ノイズのサイズよりも若干大きい程度にする。ここで、ノイズのサイズは、通常発生するノイズの内で最も大きなサイズを基準とし、それは経験的に求めることになる。このような内側へのオフセットを行なうと、これに伴なって図３におけるノイズＮａ、Ｎｂ、Ｎｃ、……は消去される。つまりノイズＮａ、Ｎｂ、Ｎｃ、……は内側へのオフセットでそのサイズよりも痩せさせられることにより、その実体が無くなって消去される。このようにノイズを消去した後に外側へのオフセットを内側へのオフセットと同じオフセット量で施して元に戻すと、ノイズを含んでいないデータが得られる。
【００１８】
ノイズ除去処理に続いて層間補間手段１０により層間補間処理を施す（ステップ３）。層間補間処理は、上述のようにＣＴ装置による断層像の撮像間隔と積層造形で扱う造形材料の薄層（単位造形層）の厚みとにギャップがあるので、これを埋めるために断層像の間に補間断層像を挿入する処理である。層間補間処理はいくつかの手法が可能である。代表的なものとしては、補間する断層像間の輝度変化に基づく手法と、補間する断層像間の電圧モデルに基づく手法を挙げることができる。補間する断層像間の輝度変化に基づく手法による層間補間における処理の流れを図５に示し、その処理内容をイメージ化して図６に示す。この層間補間処理では、まずＣＴデータにおける各断層像Ｓにぼかし処理を施す（ステップ１１：図６の（ａ）→（ｂ））。ここで、ぼかし処理は、断層像の各画素の輝度をその周囲の画素の輝度で平均化させた輝度にする、つまり一つの画素の輝度をその周囲の画素の輝度と混ぜ合わせることでなされる。
【００１９】
ぼかし処理を施したら次に平均内挿処理を施す（ステップ１２：図６の（ｂ）→（ｃ））。平均内挿処理では、まず互いに隣接する断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１について、それぞれの位置対応画素間の平均輝度変化量を求める。具体的には、断層像Ｓｎの画素Ｐｎ−１、Ｐｎ−２、……とこの画素に位置対応する断層像Ｓｎ＋１の画素Ｐｎ＋１−１、Ｐｎ＋１−２、……との間で補間断層像Ｃ１、Ｃ２、……の層数つまり補間する層数に応じた輝度の平均変化量を求める。つまり、仮に画素Ｐｎ−１の輝度が１０、これに位置対応する画素Ｐｎ＋１−１の輝度が２０、そして補間断層像の層数が１０であるとすれば、（２０−１０）／１０＝１となり、補間断層像の１層あたりの輝度平均変化量は１と求まる。このようにして両断層像Ｓｎ、Ｓｎ＋１それぞれの全画素について輝度平均変化量を求めたら、これを基に補間断層像Ｃ１、Ｃ２、……それぞれの全画素に輝度を設定する。例えば、断層像Ｓｎに隣接する補間断層像Ｃ１の画素Ｃ１−１は断層像Ｓｎの画素Ｐｎ−１に位置対応するので、画素Ｐｎ−１の輝度＝１０に輝度平均変化量＝１を加えた輝度値＝１１が設定される。また図示は省略してあるが、補間断層像Ｃ１に隣接する補間断層像Ｃ２において画素Ｐｎ−１と対応する画素Ｃ２−１に対しては、輝度平均変化量＝１の２倍である２を画素Ｐｎ−１の輝度値＝１０に加えた輝度値＝１２が設定される。
【００２０】
補間する断層像間の電圧モデルに基づく手法による層間補間における処理の内容をイメージ化して図７に示す。互いに隣接する断層像を断層像Ｓｎと断層像Ｓｎ＋１について、断層像Ｓｎの輪郭ＰｎをＹボルト（通常は０ボルト）の電極とみなす一方で、断層像Ｓｎ＋１の輪郭Ｐｎ＋１をＹ´ボルト（通常は１ボルト）の電極とみなす。そして断層像ＳｎからＸ層目の補間断層像Ｃｘの輪郭Ｐｘを（｜Ｙ−Ｙ´｜）・Ｘ／Ｚ（ただしＺは補間断層像の層数）の等電位面として求めることで補間断層像の設定を行なう。その等電位面の計算にはラプラス方程式を解く方法を用いるのが一般的である。
【００２１】
平均内挿処理に続いては、平均内挿処理で設定された補間断層像の画素の輝度を二値化する二値化処理を行なう（ステップ１３：図６の（ｃ）→（ｄ））。そしてこれにより層間補間処理が完了する。二値化処理は所定のしきい値に基づいて行なうことになるが、そのしきい値は、影像部分（図部分）の平均輝度と背景部分（地部分）の平均輝度から求めるのが通常である。
【００２２】
層間補間処理を終えたら、質感付与処理の要否を判断し（図２のステップ４）、不要である場合にはデータ処理を終了する。一方、質感付与処理を必要とする場合には質感付与手段１１でそれを行なう（図２のステップ５）。質感付与処理は、影像を担う画素を目的造形物の表面に近接する部分において所望のパターンで増減させることで行なう。つまり、目的造形物の表面に近接する部分において影像を担う画素をランダムなパターン、あるいは適当な規則にしたがったパターンで加えたり減らしたりすることで、目的造形物の表面に微細な質感用凹凸を形成できるようにする。以上でＣＴデータに対する必要な処理が完了する。そしたら処理済みのＣＴデータを制御部４に送り、造形処理部５で積層造形作業を行なう。
【００２３】
造形処理部５には、上述したＳＬＳ方式や光造形方式などの既によく知られている積層造形方式の何れかを用いる。例えばＳＬＳ方式とする場合であれば、一例として特表平１１−５０８３２２号公報に開示されるような構造の積層造形機構が用いられる。
【００２４】
以上の実施形態ではＣＴデータに対してのみ質感付与処理を施すようにしていた。これはＣＴデータを造形用データとする場合には、目的造形物に対してその原になる物品があり、その物品が有する質感も目的造形物に再現するのが望まれることが多いということからそのようにしたものである。したがって必ずしもこれに限られるものでなく、ＳＴＬデータを入力データとする場合でも必要に応じて質感付与処理を施すようにしてもよい。ただし、この場合にはＳＴＬデータを３次元ビットマップデータに変換してから、質感付与処理を行なうことになる。
【００２５】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によると、ＣＴデータを積層造形装置における造形用データとして直接用いることができるようになる。またＣＴデータを造形用データに直接用いることに伴なう、ＣＴデータに含まれるノイズの問題およびＣＴデータにおける断層像間隔と積層造形における薄層の厚みとのギャップ問題を解消することもできるし、さらに積層造形による複製品の製作などで重要となる造形物への質感付与を可能とすることができる。したがって本発明は、積層造形の有用性をさらに広げることに大きく寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】一実施形態による積層造形装置の構成を示すブロック図である。
【図２】ＣＴデータに対するデータ処理の流れを示す図である。
【図３】ＣＴデータにおけるノイズを模式化して示す図である。
【図４】ＣＴデータに対する内側オフセット処理の内容をイメージにして示す図である。
【図５】層間補間処理における処理の流れを示す図である。
【図６】層間補間処理における処理の内容をイメージにして示す図である。
【図７】他の方式による層間補間処理における処理の内容をイメージにして示す図である。
【符号の説明】
７　ＣＴデータ入力部（入力部）
９　ノイズ除去手段
１０　層間補間手段
１１　質感付与手段
Ｃ　補間断層像
Ｐ　画素
Ｓ　断層像
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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