(57)【要約】【課題】入力信号の測定値に対する合否判定と併せて測定値の余裕度および不足度を具体的に認識させ得る波形判定方法を提供する。【解決手段】入力信号Ｓ１の測定値Ｖ１と合格範囲Ａ１とを比較して測定値Ｖ１の合否を判定すると共に、上限値Ｕ１または下限値Ｌ１に対する測定値Ｖ１の余裕度および上限値Ｕ１または下限値Ｌ１に対する測定値Ｖ１の不足度の少なくとも一方を算出して報知する波形判定方法であって、合格範囲Ａ１内の中間値Ｍ１を測定値Ｖ１が超えたときの上限値Ｕ１に対する余裕度または不足度として、上限値Ｕ１と中間値Ｍ１との差ＩＡ１に対する上限値Ｕ１と測定値Ｖ１との差ＩＢ１の割合を算出し、測定値Ｖ１が中間値Ｍ１以下のときの下限値Ｌ１に対する余裕度または不足度として、中間値Ｍ１と下限値Ｌ１との差に対する測定値Ｖ１と下限値Ｌ１との差の割合を算出する。【選択図】        図４
2004205239.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号の電気的パラメーターを所定タイミングで測定した測定値と当該測定値に対応する上限値および下限値によって特定される合格範囲とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に、前記合格の判定時における前記上限値または前記下限値に対する前記測定値の余裕度および前記不合格の判定時における前記上限値または前記下限値に対する前記測定値の不足度の少なくとも一方を算出して報知する波形判定方法であって、
前記合格範囲内に設定された中間値を前記測定値が超えたときの前記上限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該上限値と当該中間値との差に対する当該上限値と当該測定値との差の割合を算出し、
前記測定値が前記中間値以下のときの前記下限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間値と当該下限値との差に対する当該測定値と当該下限値との差の割合を算出する波形判定方法。
【請求項２】
所定の時点から入力信号の電気的パラメーターが所定条件を満たすまでの所要時間を測定してその測定値と当該測定値に対応する許容最長時間および許容最短時間によって特定される合格時間範囲とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に、前記合格の判定時における前記許容最長時間または前記許容最短時間に対する前記測定値の余裕度および前記不合格の判定時における前記許容最長時間または前記許容最短時間に対する前記測定値の不足度の少なくとも一方を算出して報知する波形判定方法であって、前記合格時間範囲内に設定された中間時間を前記測定値が超えたときの前記許容最長時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該許容最長時間と当該中間時間との差に対する当該許容最長時間と当該測定値との差の割合を算出し、
前記測定値が前記中間時間以下のときの前記許容最短時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間時間と当該許容最短時間との差に対する当該測定値と当該許容最短時間との差の割合を算出する波形判定方法。
【請求項３】
前記余裕度を正の百分率で表示部に表示させ、前記不足度を負の百分率で表示部に表示させる請求項１または２記載の波形判定方法。
【請求項４】
入力信号の電気的パラメーターを所定タイミングで測定して測定値を出力する測定部と、前記測定値を記憶する第１の記憶部と、前記測定値に対応する上限値および下限値を記憶する第２の記憶部と、前記上下限値によって特定される合格範囲と前記測定値とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に当該合格の判定時における当該上限値または当該下限値に対する当該測定値の余裕度および当該不合格の判定時における当該上限値または当該下限値に対する当該測定値の不足度の少なくとも一方を算出する判定部と、前記算出した余裕度および不足度の少なくとも一方を報知する報知部とを備えた波形判定装置であって、
前記判定部は、前記合格範囲内に設定された中間値を前記測定値が超えたときの前記上限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該上限値と当該中間値との差に対する当該上限値と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間値以下のときの前記下限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間値と当該下限値との差に対する当該測定値と当該下限値との差の割合を算出する波形判定装置。
【請求項５】
所定の時点から入力信号の電気的パラメーターが所定条件を満たすまでの所要時間を測定して測定値として出力する測定部と、前記測定値を記憶する第１の記憶部と、前記測定値に対応する許容最短時間および許容最長時間を記憶する第２の記憶部と、前記許容最短時間および前記許容最長時間によって特定される合格時間範囲と前記測定値とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に当該合格の判定時における当該許容最長時間または当該許容最短時間に対する当該測定値の余裕度および当該不合格の判定時における当該許容最長時間または当該許容最短時間に対する当該測定値の不足度の少なくとも一方を算出する判定部と、前記算出した余裕度および不足度の少なくとも一方を報知する報知部とを備えた波形判定装置であって、
前記判定部は、前記合格時間範囲内に設定された中間時間を前記測定値が超えたときの前記許容最長時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該許容最長時間と当該中間時間との差に対する当該許容最長時間と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間時間以下のときの前記許容最短時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間時間と当該許容最短時間との差に対する当該測定値と当該許容最短時間との差の割合を算出する波形判定装置。
【請求項６】
前記判定部は、表示部に対して、前記余裕度を正の百分率で表示させると共に前記不足度を負の百分率で表示させる請求項４または５記載の波形判定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、入力信号についての測定値に対して合否判定を行う波形判定方法および波形判定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、製品の出荷検査時には、例えば、オーディオ機器における規定電圧入力時における出力信号の電圧値等を測定器で測定して評価することで、その製品を検査している。具体的には、例えば、測定器としての波形判定装置（一例として、特開平１１−１１８５３２号公報に開示されている記録計）を用いて、入力信号（製品の出力信号）を所定周期で測定した各測定値と各測定値に対して予め設定された例えば上限値から下限値までの合格範囲とを比較する波形判定を実施して製品の合否を判定している。この波形判定装置では、各測定値がいずれも合格範囲内のときにのみ、その製品を合格と判定する。一方、いずれかの測定値が合格範囲から外れているときには、その製品を不合格と判定する。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１１−１１８５３２号公報（第１頁）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、従来の波形判定装置には、以下の問題点がある。すなわち、この波形判定装置では、入力信号の測定値に対して合格範囲内か否かのみを判定するに止まっている。このため、測定者は、合格と判定されたときであっても、上限値（または下限値）に対してどのような余裕度で合格したのかまでを認識することはできない。つまり、入力信号の測定値が合格範囲に対してぎりぎりの状態で合格したのか、または十分な余裕を持って合格したのか（合格のレベル）を認識することができない。同様にして、不合格と判定されたときにも、上限値（または下限値）に対してどのような不足度で不合格になったのかまでを認識することはできない。つまり、もう少しで合格に達する状態なのか、合格にはほど遠い状態なのか（不合格のレベル）を認識することができない。したがって、合格と判定された製品であっても、入力信号の測定値が上限値（または下限値）ぎりぎりであって、その上限値（または下限値）に対する余裕が殆どないこともある。このような場合、販売後における市場での不具合の発生を確実に回避するためには、再調整を行ってこの測定値の上限値（または下限値）に対して十分な余裕度を確保した後に出荷するのが好ましい。しかしながら、測定時における余裕度を認識できない以上、このような再調整を行うこと自体が困難であるという問題点が存在する。また、不合格と判定されたとしても、測定値が合格範囲を僅かに外れているだけのこともある。このような製品の場合、簡単な再調整を行うだけで測定値を合格範囲内に収めて合格品として扱える可能性が高いものの、上限値（または下限値）に対する不足度を認識できない状況下では再調整を行うことができない結果、このような製品が廃棄処分されているという問題がある。
【０００５】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、入力信号についての測定値に対する合否判定と併せて測定値の余裕度および不足度を具体的に認識させ得る波形判定方法および波形判定装置を提供することを主目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく請求項１記載の波形判定方法は、入力信号の電気的パラメーターを所定タイミングで測定した測定値と当該測定値に対応する上限値および下限値によって特定される合格範囲とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に、前記合格の判定時における前記上限値または前記下限値に対する前記測定値の余裕度および前記不合格の判定時における前記上限値または前記下限値に対する前記測定値の不足度の少なくとも一方を算出して報知する波形判定方法であって、前記合格範囲内に設定された中間値を前記測定値が超えたときの前記上限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該上限値と当該中間値との差に対する当該上限値と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間値以下のときの前記下限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間値と当該下限値との差に対する当該測定値と当該下限値との差の割合を算出する。
【０００７】
請求項２記載の波形判定方法は、所定の時点から入力信号の電気的パラメーターが所定条件を満たすまでの所要時間を測定してその測定値と当該測定値に対応する許容最長時間および許容最短時間によって特定される合格時間範囲とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に、前記合格の判定時における前記許容最長時間または前記許容最短時間に対する前記測定値の余裕度および前記不合格の判定時における前記許容最長時間または前記許容最短時間に対する前記測定値の不足度の少なくとも一方を算出して報知する波形判定方法であって、前記合格時間範囲内に設定された中間時間を前記測定値が超えたときの前記許容最長時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該許容最長時間と当該中間時間との差に対する当該許容最長時間と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間時間以下のときの前記許容最短時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間時間と当該許容最短時間との差に対する当該測定値と当該許容最短時間との差の割合を算出する。
【０００８】
請求項３記載の波形判定方法は、請求項１または２記載の波形判定方法において、前記余裕度を正の百分率で表示部に表示させ、前記不足度を負の百分率で表示部に表示させる。
【０００９】
請求項４記載の波形判定装置は、入力信号の電気的パラメーターを所定タイミングで測定して測定値を出力する測定部と、前記測定値を記憶する第１の記憶部と、前記測定値に対応する上限値および下限値を記憶する第２の記憶部と、前記上下限値によって特定される合格範囲と前記測定値とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に当該合格の判定時における当該上限値または当該下限値に対する当該測定値の余裕度および当該不合格の判定時における当該上限値または当該下限値に対する当該測定値の不足度の少なくとも一方を算出する判定部と、前記算出した余裕度および不足度の少なくとも一方を報知する報知部とを備えた波形判定装置であって、前記判定部は、前記合格範囲内に設定された中間値を前記測定値が超えたときの前記上限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該上限値と当該中間値との差に対する当該上限値と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間値以下のときの前記下限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間値と当該下限値との差に対する当該測定値と当該下限値との差の割合を算出する。
【００１０】
請求項５記載の波形判定装置は、所定の時点から入力信号の電気的パラメーターが所定条件を満たすまでの所要時間を測定して測定値として出力する測定部と、前記測定値を記憶する第１の記憶部と、前記測定値に対応する許容最短時間および許容最長時間を記憶する第２の記憶部と、前記許容最短時間および前記許容最長時間によって特定される合格時間範囲と前記測定値とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に当該合格の判定時における当該許容最長時間または当該許容最短時間に対する当該測定値の余裕度および当該不合格の判定時における当該許容最長時間または当該許容最短時間に対する当該測定値の不足度の少なくとも一方を算出する判定部と、前記算出した余裕度および不足度の少なくとも一方を報知する報知部とを備えた波形判定装置であって、前記判定部は、前記合格時間範囲内に設定された中間時間を前記測定値が超えたときの前記許容最長時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該許容最長時間と当該中間時間との差に対する当該許容最長時間と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間時間以下のときの前記許容最短時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間時間と当該許容最短時間との差に対する当該測定値と当該許容最短時間との差の割合を算出する。
【００１１】
請求項６記載の波形判定装置は、請求項４または５記載の波形判定装置において、前記判定部は、表示部に対して、前記余裕度を正の百分率で表示させると共に前記不足度を負の百分率で表示させる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る波形判定方法および波形判定装置の好適な発明の実施の形態について説明する。
【００１３】
最初に、波形判定装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１４】
波形判定装置１は、図１に示すように、測定部２、ＲＡＭ３、ＲＯＭ４、制御部５および表示部６を備えている。測定部２は、一例として図３に示すように電圧が時間的に変化する入力信号Ｓ１の電圧（電気的パラメーター）を所定周期（所定タイミング）で例えば同図に示す測定ポイントＰ１，Ｐ２・・の時点において測定して、図４に示す各測定値Ｖ１，Ｖ２・・（以下、区別しないときは単に「測定値Ｖ」ともいう）の各測定値データＤ１，Ｄ２・・（以下、区別しないときは単に「測定値データＤ」ともいう）を出力する。ＲＡＭ３は、本発明における第１の記憶部に相当し、測定部２によって出力されて制御部５によって転送された測定値データＤを記憶する。また、ＲＡＭ３は、制御部５によって出力された余裕度Ｒ１，Ｒ２・・（以下、区別しないときは単に「余裕度Ｒ」ともいう）および不足度Ｅ１，Ｅ２・・（以下、区別しないときは単に「不足度Ｅ」ともいう）を記憶する。
【００１５】
ＲＯＭ４は、本発明における第２の記憶部に相当し、図４に示すように、測定ポイントＰ１，Ｐ２・・における各測定値Ｖにそれぞれ対応させて予め設定された上限値Ｕ１，Ｕ２・・（以下、区別しないときは単に「上限値Ｕ」ともいう）および下限値Ｌ１，Ｌ２・・（以下、区別しないときは単に「下限値Ｌ」ともいう）を記憶する。この場合、下限値Ｌ１，Ｌ２・・および上限値Ｕ１，Ｕ２・・によって各測定値Ｖ１，Ｖ２・・の合否（合格または不合格）を判定するための合格範囲Ａ１，Ａ２・・（以下、区別しないときは単に「合格範囲Ａ」ともいう）が特定される。
【００１６】
制御部５は、ＲＯＭ４に記憶されている動作プログラムに従って作動し、測定部２によって出力された測定値データＤをＲＡＭ３に記憶させる。また、制御部５は、後述する合否判定処理４０を実行することにより、測定値Ｖ１，Ｖ２・・の合否を判定すると共に下限値Ｌ１，Ｌ２・・または上限値Ｕ１，Ｕ２・・に対する測定値Ｖ１，Ｖ２・・の余裕度Ｒ１，Ｒ２・・または不足度Ｅ１，Ｅ２・・を算出する。この場合、この余裕度Ｒ１，Ｒ２・・は、測定値Ｖ１，Ｖ２・・が下限値Ｌ１，Ｌ２・・または上限値Ｕ１，Ｕ２・・に対してどの位の余裕で合格したかを示す値であって、本実施例では、下限値Ｌまたは上限値Ｕと測定値Ｖとが等しいときに余裕度Ｒを０％と規定し、測定値Ｖ１，Ｖ２・・と中間値Ｍ１，Ｍ２・・（上限値Ｕ１，Ｕ２・・と、対応する下限値Ｌ１，Ｌ２・・との各平均値。以下、区別しないときは単に「中間値Ｍ」ともいう）とが等しいときには余裕度Ｒを１００％と規定している。一方、本発明における不足度Ｅは、測定値Ｖが下限値Ｌまたは上限値Ｕに対してどの位不足（超過）して不合格となったかを示す値であって、本実施例では、中間値Ｍと下限値Ｌとの差分だけ下限値Ｌよりも測定値Ｖが小さいとき、および中間値Ｍと上限値Ｕとの差分だけ上限値Ｕよりも測定値Ｖが大きいときに不足度Ｅを−１００％と規定し、下限値Ｌまたは上限値Ｕに測定値Ｖが接近するに従って不足度Ｅが−０％に近づくように規定している。したがって、余裕度Ｒが正の百分率で表示され、不足度Ｅが負の百分率で表示されるため、表示された数値が余裕度Ｒを示すものか不足度Ｅを示すものかを明確に区別させることが可能となる。
【００１７】
また、制御部５は、入力信号Ｓ１における各測定値Ｖの各余裕度Ｒを平均して平均余裕度ＲＭを算出すると共に、各余裕度Ｒのうちの最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬなどを特定する。さらに、制御部５は、図２に示すように、測定値データＤに基づく入力信号Ｓ１の波形画像ＧＷおよび合格範囲Ａを表す合格範囲画像ＧＡを表示部６に表示させる。また、制御部５は、同図に示すように、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬを表す画像ＧＲを表示部６に表示させる。さらに、制御部５は、各測定値Ｖについての合否判定結果に基づいて入力信号Ｓ１全体としての合否を判定してその判定結果を表す画像ＧＪを表示部６に表示させる。表示部６は、本発明における報知部に相当し、制御部５の制御下で各種画像を表示する。
【００１８】
次に、波形判定装置１の全体的な動作について、図面を参照して説明する。
【００１９】
最初に、図３に示す入力信号Ｓ１について合否判定を行う例について図面を参照して説明する。
【００２０】
まず、測定部２が、入力信号Ｓ１の電圧値を所定周期で図３に示す測定ポイントＰ１，Ｐ２・・の時点において測定し、測定した各測定値Ｖ１，Ｖ２・・の各測定値データＤ１，Ｄ２・・を順次出力する。次に、制御部５が測定部２によって出力された各測定値データＤ１，Ｄ２・・をＲＡＭ３に記憶させる。次いで、制御部５は、図２に示すように、測定値データＤ１，Ｄ２・・に基づく入力信号Ｓ１の波形画像ＧＷと、ＲＯＭ４に記憶されている下限値Ｌ１，Ｌ２・・および上限値Ｕ１，Ｕ２・・に基づく合格範囲Ａを表す合格範囲画像ＧＡとを表示部６に表示させる。続いて、制御部５は、図５に示す合否判定処理４０を実行する。この合否判定処理４０では、制御部５は、まず、ＲＡＭ３に記憶されている測定値データＤ１を読み出して（ステップ４１）、測定値Ｖ１を特定する。次に、制御部５は、図４に示す測定値Ｖ１（測定ポイントＰ１）に対応する下限値Ｌ１（この場合、−０．８５Ｖ）および上限値Ｕ１（この場合、１．７５Ｖ）をＲＯＭ４から読み出して、両者によって特定される合格範囲Ａ１と測定値Ｖ１（この場合、１．１５Ｖ）とを比較することによって合否を判定すると共に（ステップ４２）、その判定結果をＲＡＭ３に記憶させる。この場合、図４に示すように、測定値Ｖ１が合格範囲Ａ１内のため、制御部５は、測定値Ｖ１を合格と判定する。
【００２１】
次いで、制御部５は、測定値Ｖ１の余裕度を算出する。この余裕度の算出処理では、まず、図４に示す下限値Ｌ１および上限値Ｕ１の中間の値である中間値Ｍ１（＝（上限値Ｕ１＋下限値Ｌ１）／２）を算出する（ステップ４３）。なお、中間値ＭをＲＯＭ４に予め記憶させておく構成を採用することもでき、この構成では、中間値Ｍの算出処理に代えて、ＲＯＭ４から中間値Ｍを読み出す。次に、制御部５は、測定値Ｖ１が中間値Ｍ１を超えているか否かを判別する（ステップ４４）。この場合、同図に示すように、測定値Ｖ１が中間値Ｍ１を超えているため、制御部５は、ステップ４５を実行する。このステップ４５では、制御部５は、上限値Ｕ１から中間値Ｍ１（この場合、０．４５Ｖ）を減算して、同図に示す差ＩＡ１（以下、上限値Ｕ１，Ｕ２・・から中間値Ｍ１，Ｍ２・・をそれぞれ減算した差ＩＡ１，ＩＡ２・・を区別しないときは単に「差ＩＡ」ともいう）を算出する。次いで、制御部５は、上限値Ｕ１から測定値Ｖ１を減算して差ＩＢ１（以下、上限値Ｕ１，Ｕ２・・から測定値Ｖ１，Ｖ２・・をそれぞれ減算した差ＩＢ１，ＩＢ２・・を区別しないときは単に「差ＩＢ」ともいう）を算出する（ステップ４６）。続いて、制御部５は、差ＩＢ１（この場合、０．６Ｖ）を差ＩＡ１（この場合、１．３Ｖ）で除算して余裕度Ｒ１（＝（差ＩＢ１／差ＩＡ１×１００）％）を算出すると共に、算出した余裕度Ｒ１（この場合、４６．２％）をＲＡＭ３に記憶させる（ステップ４７）。
【００２２】
次いで、制御部５は、次の測定値データＤ（測定値データＤ２）が存在するか否かを判別する（ステップ４８）。この例では、次の測定値データＤ２が存在するため、制御部５は、ステップ４１〜４７を実行して、測定値Ｖ２に対する余裕度Ｒ２をＲＡＭ３に記憶させた後にステップ４８を実行する。次に、制御部５は、ステップ４１〜４８を３回繰り返して実行することにより、測定値Ｖ３〜Ｖ５の合否を判定すると共に余裕度Ｒ３〜Ｒ５を算出してＲＡＭ３に記憶させる。次いで、制御部５は、ステップ４１〜４２を実行して測定値Ｖ６の合否判定を行った後に、ステップ４３，４４を実行する。この場合、図４に示すように、測定値Ｖ６が中間値Ｍ６よりも小さいため、制御部５は、ステップ４４において、測定値Ｖ６が中間値Ｍ６以下であると判別して、ステップ４９を実行する。このステップ４９では、制御部５は、図４に示す中間値Ｍ６から下限値Ｌ６を減算して差ＩＣ６を算出する。次に、制御部５は、測定値Ｖ６から下限値Ｌ６を減算して差ＩＤ６を算出する（ステップ５０）。次いで、制御部５は、差ＩＤ６を差ＩＣ６で除算して余裕度Ｒ６（＝（差ＩＤ６／差ＩＣ６×１００）％）を算出すると共に、算出した余裕度Ｒ６をＲＡＭ３に記憶させる（ステップ５１）。以下、同様にして、制御部５はステップ４１〜４８またはステップ４１〜４４，４９〜５１，４８を繰り替えして実行する。
【００２３】
続いて、制御部５は、ステップ４８において、次の測定値データＤがＲＡＭ３に存在しないとき（入力信号Ｓ１についての全ての測定値Ｖに対する合否判定および余裕度Ｒの算出を終了したとき）には、入力信号Ｓ１全体としての合否を判定する（ステップ５２）。本実施例に係る波形判定装置１では、制御部５は、全ての測定値Ｖが合格範囲Ａ内のときにのみ合格と判定する。したがって、図４に示すように、入力信号Ｓ１についての全ての測定値Ｖ１，Ｖ２・・が各合格範囲Ａ１，Ａ２・・内のため、制御部５は、入力信号Ｓ１について合格と判定する。続いて、制御部５は、ＲＡＭ３に記憶されている各余裕度Ｒ１，Ｒ２・・の平均余裕度ＲＭを算出すると共に、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬを特定する（ステップ５３）。次に、制御部５は、図２に示すように、入力信号Ｓ１が全体として合格である旨を表す画像ＧＪ（例えば同図に示す「ＯＫ」の文字）と、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬを表す画像ＧＲとを表示部６に表示（報知）させて（ステップ５４）、この合否判定処理４０を終了する。これにより、図２に示すように、入力信号Ｓ１の判定結果、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬを示す画像が表示部６に表示される。この場合、合格の判定結果と共に、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬが表示されるため、入力信号Ｓ１が合格範囲Ａに対して十分な余裕度で合格したのか、ぎりぎりの余裕度で合格したのかを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。
【００２４】
次に、図６に示す入力信号Ｓ２について合否判定を行う例について図面を参照して説明する。
【００２５】
まず、測定部２が、入力信号Ｓ２を所定周期で図６に示す測定ポイントＰ２１，Ｐ２２・・の時点において測定し、測定した図７に示す各測定値Ｖ２１，Ｖ２２・・の各測定値データＤ２１，Ｄ２２・・を順次出力する。次に、制御部５が、各測定値データＤ２１，Ｄ２２・・をＲＡＭ３に記憶させる。次いで、制御部５は、上記した合否判定処理４０を実行する。この際に、制御部５は、ステップ４１〜４８を例えば２回実行することにより、測定値Ｖ２１，Ｖ２２の合否判定および余裕度Ｒ２１，Ｒ２２の算出を行う。次いで、制御部５は、ステップ４１，４２を実行して同図に示す測定値Ｖ２３についての合否判定を行う。この際に、同図に示すように、測定値Ｖ２３が合格範囲Ａ２３から外れている（上限値Ｕ２３を超えている）ため、制御部５は、ステップ４２において測定値Ｖ２３を不合格と判定する。次いで、制御部５は、ステップ４３〜４８を実行する。この際に、ステップ４６において算出された差ＩＢ２３（＝上限値Ｕ２３−測定値Ｖ２３）は、測定値Ｖ２３が上限値Ｕ２３を超えているために負の値となる。このため、ステップ４７における余裕度Ｒ２３（＝（差ＩＢ２３／差ＩＡ２３×１００）％）も負の値となる。この場合、制御部５は、この負の余裕度Ｒ２３を不足度Ｅ２３（以下、ステップ４７において算出した負の余裕度Ｒを区別しないときには単に「不足度Ｅ」ともいう）としてＲＡＭ３に記憶させる。以下、制御部５は、ステップ４１〜４８またはステップ４１〜４４，４９〜５１，４８を繰り返し実行する。
【００２６】
次に、ステップ４８において、入力信号Ｓ２についての次の測定値データＤがＲＡＭ３に存在しないときには、制御部５は、入力信号Ｓ２全体としての合否を判定する（ステップ５２）。この場合、測定値Ｖ２３に対して不合格と判定しているため、制御部５は、入力信号Ｓ２を不合格と判定する。続いて、制御部５は、ステップ５３を実行する。この場合、制御部５は、ＲＡＭ３に記憶されている各余裕度Ｒおよび各不足度Ｅを平均して平均余裕度ＲＭを算出する。また、制御部５は、最小余裕度ＲＬに代えて、絶対値が最大の最大不足度ＥＵを特定する。次に、制御部５は、入力信号Ｓ２が全体として不合格である旨を表す画像ＧＪと、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最大不足度ＥＵ（この場合、最大不足度ＥＵは負の数値となる）を表す画像ＧＲとを表示部６に表示させて（ステップ５４）、この合否判定処理４０を終了する。この場合、不合格の判定と共に、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最大不足度ＥＵが表示されるため、入力信号Ｓ２が合格範囲Ａに対して僅かに外れたのか、大きく外れたのかを客観的に認識させることができる。具体的には、例えば、平均余裕度ＲＭおよび最大余裕度ＲＵが共に５０％以上で最大不足度ＥＵの絶対値が１０％以下のときには、入力信号Ｓ２が合格範囲Ａに対して僅かに外れたと認識させることができる。また、例えば、平均余裕度ＲＭが負の数値でかつ最大不足度ＥＵの絶対値が１００％を超えるようなときには、最大余裕度ＲＵの大小に拘わらず入力信号Ｓ２が合格範囲Ａに対して大きく外れたと認識させることができる。
【００２７】
このように、この波形判定装置１によれば、測定値Ｖが合格範囲Ａ内の中間値Ｍを超えたときの余裕度Ｒまたは不足度Ｅとして、上限値Ｕと中間値Ｍとの差ＩＡに対する上限値Ｕと測定値Ｖとの差ＩＢの割合を算出し、測定値Ｖが中間値Ｍ以下のときの測定値Ｖの余裕度Ｒまたは不足度Ｅとして、中間値Ｍと下限値Ｌとの差ＩＣに対する測定値Ｖと下限値Ｌとの差ＩＤの割合を算出することにより、入力信号Ｓ１，Ｓ２の測定値Ｖに対する合否の判定と共に、合格のときに余裕度Ｒを表示させて不合格のときには不足度Ｅを表示させることができる。このため、合否結果だけではなく、合格となった余裕度つまり合格のレベルや、不合格となった不足度つまり不合格のレベルを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。したがって、例えば、入力信号Ｓ１，Ｓ２の測定値Ｖが上限値（または下限値）ぎりぎりの状態で合格となって販売後に故障する確率の高い製品が市場に出回る事態を確実に回避することができる。また、例えば各測定値Ｖのうちの一部だけが合格範囲を僅かに外れて不合格となった製品を選別することができるため、再調整を行うだけで測定値Ｖを合格範囲内に収めて合格品として扱える可能性が高いこれらの製品が廃棄処分される事態を確実に防止することができる。
【００２８】
なお、本発明は、上記した本発明の実施の形態に限定されない。例えば、本発明の実施の形態では、電気的パラメータとして入力信号Ｓ１，Ｓ２における各測定値Ｖ（電圧軸方向に対する特性値）に対する合否判定および余裕度Ｒ（または不足度Ｅ）の算出を行う例について説明したが、電気的パラメータとして入力信号の立ち上がり時間や立ち下がり時間（時間軸方向に対する特性値）に対する合否判定および余裕度（または不足度）の算出を行うこともできる。具体的には、例えば、図８に示すステップ応答を示す入力信号Ｓ３を入力して、立ち上がり開始時点（立ち上がりエッジ、本発明における所定の時点）ＴＰから各電圧ＶＡ１，ＶＡ２・・に到達した時点（所定条件を満たした時点）までの立ち上がり時間（所要時間、測定値）Ｔ１，Ｔ２・・（以下、区別しないときは単に「立ち上がり時間Ｔ」ともいう）のそれぞれの合否判定および余裕度Ｒ（または不足度Ｅ）の算出を行う例について説明する。この場合、図８に示すように、各電圧ＶＡ１，ＶＡ２・・（以下、区別しないときは単に「電圧ＶＡ」ともいう）にそれぞれ対応して規定された許容最長時間ＵＴ１，ＵＴ２・・（以下、区別しないときは単に「許容最長時間ＵＴ」ともいう）および許容最短時間ＬＴ１，ＬＴ２・・（以下、区別しないときは単に「許容最短時間ＬＴ」ともいう）により、各立ち上がり時間Ｔ１，Ｔ２・・の合否を判定するための合格時間範囲ＡＴ１，ＡＴ２・・（ＡＴ１のみを図示し、以下、区別しないときは単に「合格時間範囲ＡＴ」ともいう）が規定される。
【００２９】
この入力信号Ｓ３の立ち上がり時間Ｔの合否を判定する際には、まず、測定部２が、入力信号Ｓ３の電圧が電圧ＶＡ１，ＶＡ２・・に到達した時間をそれぞれ測定し、図８に示す立ち上がり開始時点ＴＰからの経過時間を立ち上がり時間Ｔ１，Ｔ２・・として特定すると共に、各立ち上がり時間Ｔについての時間データＤＴ１，ＤＴ２・・（以下、区別しないときは単に「時間データＤＴ」ともいう）を出力する。次に、制御部５が、各時間データＤＴをＲＡＭ３に記憶させる。次いで、制御部５は、上記した合否判定処理４０を実行する。この場合、制御部５は、ステップ４１において、測定値データＤに代えて時間データＤＴを読み出して、立ち上がり時間Ｔを特定する。次に、制御部５は、ステップ４２において、立ち上がり時間Ｔに対応する許容最短時間ＬＴおよび許容最長時間ＵＴをＲＯＭ４から読み出して、両時間ＬＴ，ＵＴによって特定される合格時間範囲ＡＴと立ち上がり時間Ｔとを比較することによって合否を判定する。
【００３０】
次いで、制御部５は、ステップ４３において、許容最短時間ＬＴおよび許容最長時間ＵＴの中間時間ＭＴ（＝（許容最短時間ＬＴ＋許容最長時間ＵＴ）／２を算出する。続いて、制御部５は、ステップ４４において、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴを超えているか否かを判別する。この際に、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴを超えていると判別したときには、制御部５は、ステップ４５を実行する。このステップ４５では、制御部５は、差ＩＡに代えて、許容最長時間ＵＴから中間時間ＭＴを減算して時間差ＴＡを算出する。次いで、制御部５は、ステップ４６において、差ＩＢに代えて、許容最長時間ＵＴから立ち上がり時間Ｔを減算して時間差ＴＢを算出する。続いて、制御部５は、ステップ４７において、時間差ＴＢを時間差ＴＡで除算して余裕度Ｒ１（＝（時間差ＴＢ／時間差ＴＡ×１００）％）を算出すると共に、算出した余裕度Ｒ１をＲＡＭ３に記憶させる。
【００３１】
一方、ステップ４４において、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴ以下であると判別したときには、制御部５は、ステップ４９を実行する。この場合、制御部５は、差ＩＣに代えて、中間時間ＭＴから許容最短時間ＬＴを減算して時間差ＴＣを算出する。次に、制御部５は、ステップ５０において、差ＩＤに代えて、立ち上がり時間Ｔから許容最短時間ＬＴを減算して時間差ＴＤを算出する。次いで、制御部５は、ステップ５１において、時間差ＴＤを時間差ＴＣで除算して余裕度Ｒ（＝（時間差ＴＤ／時間差ＴＣ×１００）％）を算出すると共に、算出した余裕度ＲをＲＡＭ３に記憶させる。以下、同様にして、制御部５はステップ４１〜４８またはステップ４１〜４４，４９〜５１，４８を繰り替えして実行する。ここで、上記した、入力信号Ｓ１，Ｓ２の合否判定と同様にして、立ち上がり時間Ｔが許容最長時間ＵＴを超えるとき、または立ち上がり時間Ｔが許容最短時間ＬＴ未満のときには、制御部５は、ステップ４２において不合格と判定すると共に、ステップ４７およびステップ５１において余裕度Ｒに代えて不足度Ｅを算出する。次に、ステップ４８において入力信号Ｓ３についての次の時間データＤＴがＲＡＭ３に存在しないときには、制御部５は、ステップ５２〜５４を実行して画像ＧＪおよび画像ＧＲを表示部６に表示（報知）させて合否判定処理４０を終了する。この場合、入力信号Ｓ３の立ち下がり波形についても上記の処理を実行することにより、立ち下がり時間についての合否判定および余裕度Ｒ（不足度Ｅ）を算出することができる。
【００３２】
このように、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴを超えたときの余裕度Ｒまたは不足度Ｅとして、時間差ＴＡに対する時間差ＴＢの割合を算出し、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴ以下のときの余裕度Ｒまたは不足度Ｅとして、時間差ＴＣに対する時間差ＴＤの割合を算出することにより、例えばステップ応答を示す入力信号Ｓ３の立ち上がり時間Ｔの合否を判定すると共に、合格のときに余裕度Ｒを算出し不合格のときには不足度Ｅを算出して表示することができる。このため、時間軸方向に対する特性値に対しても合否の結果だけではなく、合格となった余裕度つまり合格のレベルや、不合格となった不足度つまり不合格のレベルを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。
【００３３】
なお、上記した本発明の各実施の形態では、上限値Ｕ、下限値Ｌ、許容最長時間ＵＴおよび許容最短時間ＬＴを予めＲＯＭ４に記憶させている例について説明したが、これらの値を入力部から入力する構成を採用することもできる。また、本発明の各実施の形態では平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵ、最小余裕度ＲＬおよび最大不足度ＥＵを表示する例について説明したが、例えば表示部６の画面上で任意の測定値Ｖを選択して、その測定値Ｖに対する余裕度Ｒまた不足度Ｅを個別的に表示させる構成を採用することもできる。また、本発明の各実施の形態では上限値Ｕおよび下限値Ｌの平均値を中間値Ｍとして設定（算出）した例について説明したが、中間値Ｍの設定方法はこれに限定されず、合格範囲Ａ内の任意の値に設定することができる。また、上限値Ｕおよび下限値Ｌと共に中間値Ｍを予め設定してＲＯＭ４等に記憶させることもできる。さらに、余裕度Ｒまたは不足度Ｅのいずれか一方のみを報知することもできる。また、本発明における「報知は」文字や記号等の表示だけでなく、音声による報知も含まれる。また、上記の実施の形態では、余裕度Ｒの正負を＋および−で表示（報知）する例について説明したが、色、大きさ、形、または他の記号等で表示することもできる。また、測定値Ｖの余裕度Ｒ（または不足度Ｅ）を算出した後にその測定値Ｖについての合否判定を行うこともできる。
【００３４】
【発明の効果】
以上のように、請求項１，４記載の波形判定方法および波形判定装置によれば、合格範囲内の中間値を測定値が超えたときの余裕度または不足度として、上限値と中間値との差に対する上限値と測定値との差の割合を算出し、測定値が中間値以下のときの余裕度または不足度として、中間値と下限値との差に対する測定値と下限値との差の割合を算出することにより、入力信号の測定値に対する合否の結果だけではなく、合格となった余裕度つまり合格のレベルや、不合格となった不足度つまり不合格のレベルを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。
【００３５】
また、請求項２，５記載の波形判定方法および波形判定装置によれば、合格時間範囲内の中間時間を測定値が超えたときの余裕度または不足度として、許容最長時間と中間時間との差に対する許容最長時間と測定値との差の割合を算出し、測定値が中間時間以下のときの余裕度または不足度として、中間時間と許容最短時間との差に対する測定値と許容最短時間との差の割合を算出することにより、入力信号の時間軸方向に対する測定値に対しても、合否の結果だけではなく、合格となった余裕度つまり合格のレベルや、不合格となった不足度つまり不合格のレベルを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。
【００３６】
また、請求項３，６記載の波形判定方法および波形判定装置によれば、余裕度を正の百分率で表示部に表示させ、不足度を負の百分率で表示部に表示させることにより、表示された数値が余裕度を示すものか不足度を示すものかを明確に区別させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る波形判定装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】波形判定装置１の表示部６に入力信号Ｓ１についての波形画像ＧＷ、合格範囲画像ＧＡ、画像ＧＪおよび画像ＧＲを表示させた表示画面図である。
【図３】入力信号Ｓ１の信号波形を示す信号波形図である。
【図４】上限値Ｕ１〜Ｕ６および下限値Ｌ１〜Ｌ６を用いた入力信号Ｓ１の測定値Ｖ１〜Ｖ６に対する波形判定処理４０を説明するための説明図である。
【図５】波形判定装置１による波形判定処理４０のフローチャートである。
【図６】入力信号Ｓ２の信号波形を示す信号波形図である。
【図７】上限値Ｕ２１〜Ｕ２５および下限値Ｌ２１〜Ｌ２５を用いた入力信号Ｓ２の測定値Ｖ２１〜Ｖ２５に対する波形判定処理４０を説明するための説明図である。
【図８】入力信号Ｓ３の信号波形を示す信号波形図である。
【符号の説明】
１  波形判定装置
２  測定部
３  ＲＡＭ
４  ＲＯＭ
５  制御部
６  表示部
４０  合否判定処理
Ａ  合格範囲
ＡＴ１  合格時間範囲
ＤＴ  時間データ
Ｅ  不足度
ＩＡ〜ＩＤ  差
Ｌ  下限値
ＬＴ１〜ＬＴ７  許容最短時間
Ｍ１〜Ｍ６  中間値
ＭＴ１〜ＭＴ７  中間時間
Ｒ  余裕度
Ｓ１〜Ｓ３  入力信号
Ｔ１〜Ｔ７  立ち上がり時間
ＴＡ〜ＴＤ  時間差
ＴＰ  開始時点
Ｕ１〜Ｕ６  上限値
ＵＴ１〜ＵＴ７  許容最長時間
Ｖ  測定値
【図１】
2004205239.tif 000003
【図２】
2004205239.tif 000004
【図３】
2004205239.tif 000005
【図４】
2004205239.tif 000006
【図５】
2004205239.tif 000007
【図６】
2004205239.tif 000008
【図７】
2004205239.tif 000009
【図８】
2004205239.tif 000010