(57)【要約】【課題】帯状体の実際の幅よりも狭い検査幅が設定されて未検査部の残存する帯状体が生じるのを防止する検査システムの提供。【解決手段】一定方向に搬送される帯状体の幅を測定する幅検出手段と、前記幅検出手段で検出した帯状体の幅である検出幅を、前記帯状体の実際の幅である製品幅と比較する幅比較手段とを備えてなることを特徴とする検査システム。【選択図】　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一定方向に搬送される帯状体の幅を測定する幅検出手段と、
前記幅検出手段で検出した帯状体の幅である検出幅を、前記帯状体の実際の幅である製品幅と比較する幅比較手段とを
備えてなることを特徴とする検査システム。
【請求項２】
一定方向に搬送される帯状体を幅方向に走査して前記帯状体表面の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段が検出した欠陥の種類、発生位置、および発生周期に関する欠陥情報を収集し、管理する欠陥情報管理手段と、
前記欠陥情報管理手段から前記欠陥情報を読み出す中央情報処理手段と、
前記中央情報処理手段により読み出された欠陥情報を表示する表示手段とを
備えてなり、
前記幅検出手段は、前記検出幅として、前記欠陥検出手段において前記帯状体を走査する検査幅を検出し、
前記中央情報処理手段は、前記幅比較手段を有してなり、前記幅比較手段において前記検査幅と前記製品幅とを比較し、前記検査幅と前記製品幅との差が一定範囲内のときは、前記検査幅は正常であると判定し、前記差が前記範囲を超えたときは、前記検査幅は異常であると判定する請求項１に記載の検査システム。
【請求項３】
前記帯状体のロットに関するロット情報が格納されてなるロット情報管理手段を備えてなり、
前記中央情報処理手段は、前記ロット情報管理手段から前記ロット情報を読み出し、読み出したロット情報と、前記欠陥情報管理手段から読み出した欠陥情報と、前記検査幅についての判定結果とを互いに関連付けて管理用フォーマットを構成し、
前記表示手段は、前記中央情報処理手段において構成された管理用フォーマットを表示する請求項１または２に記載の検査システム。
【請求項４】
前記ロット情報管理手段に格納されるロット情報は、前記帯状体の品種、ロット番号、幅、厚み、および前記帯状体の基材のロール数量であるロール引当数量に関する情報である請求項１〜３のいずれか１項に記載の検査システム。
【請求項５】
前記欠陥検出手段を複数有してなる請求項１〜４のいずれか１項に記載の検査システム。
【請求項６】
前記欠陥検出手段は、前記帯状体の表面に光を照射する光源と、前記帯状体の表面からの反射光を受光する受光部とを備えてなる光学的欠陥検出手段である請求項１〜５の何れか１項に記載の検査システム。
【請求項７】
前記中央情報処理手段は、前記光学的欠陥検出手段の備える受光部における受光波形の立上りおよび立下りに基いて前記検査幅を求める請求項６に記載の検査システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査システムに関し、特に、表面の欠陥の有無が検査されていない未検査部の残存する帯状体が製品として出荷されるのを効果的に防止できる検査システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
平版印刷版は、一般に、連続した帯状のアルミニウム薄板であるアルミニウムウェブに、砂目立て、陽極酸化、シリケート処理などの表面処理を順次行って得られた支持体の砂目立て面に、感光層形成液を塗布・乾燥して感光層を形成した後、所望のサイズに裁断する裁断工程を経て製造される。
【０００３】
前記平版印刷版は、裁断工程に移行する前に、感光層の欠陥部（金属光沢傷、色筋、擦り傷、塗布ムラ、異物の付着など）の有無について、オンライン表面検査装置によって検査される。
【０００４】
そして、前記オンライン表面検査装置が前記欠陥部を検出した時には、平版印刷版の側縁部に識別ラベルを貼付して、前記欠陥部の存在するる区間の始点と終点とが判るようにし、裁断時に前記始点と終点とにおいて前記平版印刷版を裁断し、前記区間を不良品として排除する。
【０００５】
前記オンライン表面検査装置においては、前記帯状体の幅方向に沿ってレーザ光を走査し、前記レーザ光が前記帯状体の表面に当って反射した反射光を受光して前記感光層の表面における欠陥の有無を検出するレーザ走査型検査装置が一般的に使用されてきた。
【０００６】
【特許文献１】
特開平１０−３２５８０９号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、前記レーザ走査型検査装置においては、受光波形の急激な上昇である立上りおよび急激な下降である立下りの大きさに基いて前記検査幅を自動設定することが多い。
【０００８】
したがって、感光層形成液が過剰に塗布されて形成された濃い縦筋である黒筋を平版印刷版の中央部において検出した場合には、前記受光波形は、大きな立下りを示す。前記立下りが所定の大きさを超えるときは、前記レーザ走査型検査装置は、前記黒筋を検出した時点で前記平版印刷版の全幅を検査したものと判断し、前記平版印刷版を検査する幅である検査幅を、平版印刷版の実際の幅よりも狭く設定してしまうことが考えられる。
【０００９】
また、前記レーザ走査型検査装置そのものの異常によっても前記検査幅が狭く設定されることがあった。
【００１０】
本発明は、検査幅を自動的に設定する帯状体の検査システムにおいて、前記検査幅が平版印刷版などの帯状体の実際の幅よりも狭く設定されることを防止することにより、前記帯状体に、表面の欠陥の生有無が検査されていない未検査部が生じることを効果的に防止できる検査システムを提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、一定方向に搬送される帯状体の幅を測定する幅検出手段と、前記幅検出手段で検出した帯状体の幅である検出幅を、前記帯状体の実際の幅である製品幅と比較する幅比較手段とを備えてなることを特徴とする検査システムに関する。
【００１２】
前記検査システムは、オンライン表面検査装置において、レーザ走査型検査装置における検査幅の設定が正しいか否かを判定するのに使用できる。
【００１３】
また、幅の異なる２種類の帯状体を長手方向に接続した帯状体を搬送するとともに、前記帯状体の接続部を裁断して除去する搬送ラインにおいて、前記検査システムを用いて前記検出幅と前記製品幅とを連続的に比較することにより、前記帯状体を裁断するタイミングを高精度で制御できる。
【００１４】
請求項２に記載の発明は、一定方向に搬送される帯状体を幅方向に走査して前記帯状体表面の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段が検出した欠陥の種類、発生位置、および発生周期に関する欠陥情報を収集し、管理する欠陥情報管理手段と、前記欠陥情報管理手段から前記欠陥情報を読み出す中央情報処理手段と、前記中央情報処理手段により読み出された欠陥情報を表示する表示手段とを備えてなり、前記幅検出手段は、前記検出幅として、前記欠陥検出手段において前記帯状体を走査する検査幅を検出し、前記中央情報処理手段は、前記幅比較手段を有してなり、前記幅比較手段において前記検査幅と前記製品幅とを比較し、前記検査幅と前記製品幅との差が一定範囲内のときは、前記検査幅は正常であると判定し、前記差が前記範囲を超えたときは、前記検査幅は異常であると判定する検査システムに関する。
【００１５】
前記検査システムは、請求項１に記載の検査システムを前記帯状体の表面を検査するオンライン検査装置などが配設されている、
前記検査システムにおいては、前記欠陥検出手段において検査幅が実際の帯状体の幅よりも狭く設定された場合には、前記中央情報処理手段により、前記検査幅が異常であると判定されるから、オペレータが検査幅の異常に気付かずに、未検査部の残存する帯状体が大量に発生することが効果的に防止される。
【００１６】
前記判定結果は、前記表示手段において表示してもよく、また、他の任意の手段で表示してもよい。
【００１７】
前記検査幅は、前記欠陥検出手段において自動的に設定してもよく、前記中央情報処理手段において設定してもよい。
【００１８】
前記製品幅は、たとえば、後述するロット情報管理手段に前記帯状体の幅として予め記憶された数値であってもよく、また、前記帯状体の幅を適宜の手段により、実際に測定した数値であってもよい。
【００１９】
前記欠陥検出手段としては、後述する光学的欠陥検出手段が挙げられるが、その他、電気抵抗や電気容量など、前記帯状体の電気的特性の変化に基いて表面の欠陥を検出する電気的欠陥検出手段なども使用できる。
【００２０】
前記欠陥情報管理手段および前記中央情報処理手段としては、通常のコンピュータが使用される。
【００２１】
前記表示手段としては、ＣＲＴディスプレー、液晶ディスプレー、およびプリンタなどが挙げられる。
【００２２】
前記帯状体としては、たとえば平版印刷版およびその支持体が挙げられるが、他には、録音テープやビデオテープなどの磁気テープ、写真フィルムや映画フィルムなど、帯状フィルムの表面に銀塩感光層を形成した銀塩感光材料、帯状鋼鈑や、帯状ステンレス板、帯状アルミニウム板などの帯状金属板、各種プラスチックフィルム、紙、および布帛などが挙げられる。
【００２３】
前記欠陥検出手段で検出される欠陥としては、平版印刷版における光沢傷のように、前記帯状体の基材が露出する大きな傷、前記帯状体の表面のむら、表面に形成された微細な傷、表面に付着した異物などが挙げられる。また、表面に塗布層が設けられている平版印刷版や磁気テープなどにおいては、ほかに、前記塗布層を形成する塗布層形成液が塗布されていない未塗布部や前記塗布層形成液が過剰に塗布された黒筋などの過剰塗布部が挙げられる。
【００２４】
請求項３に記載の発明は、前記帯状体のロットに関するロット情報が格納されてなるロット情報管理手段を備えてなり、前記中央情報処理手段は、前記ロット情報管理手段から前記ロット情報を読み出し、読み出したロット情報と、前記欠陥情報管理手段から読み出した欠陥情報と、前記検査幅についての判定結果とを互いに関連付けて管理用フォーマットを構成し、前記表示手段は、前記中央情報処理手段において構成された管理用フォーマットを表示する検査システムに関する。
【００２５】
前記検査システムにおいては、前記検査幅についての判定結果は、ほかの欠陥情報および前記ロット情報とともに管理用フォーマットとして表示されるから、オペレータが前記検査幅の異常の有無を把握することが特に容易である。
【００２６】
請求項４に記載の発明は、前記ロット情報管理手段に格納されるロット情報が、前記帯状体の品種、ロット番号、幅、厚み、および前記帯状体の基材のロール数量であるロール引当数量に関する情報であるの検査システムに関する。
【００２７】
前記検査システムにおいては、前記帯状体の品種名およびロット番号と欠陥情報とを互いに関連付けて表示することにより、前記帯状体の生産管理がより木目細かに行える。
【００２８】
また、生産計画量と前記欠陥情報とを互いに関連付けて表示することにより、オペレータは、欠陥の発生の多いロットについて前記ロール引当数量を増加させ、新たなロール引当数量に基いて基材のロールを追加発注するなどの生産計画の修正を容易に行うことができる。
【００２９】
請求項５に記載の発明は、前記欠陥検出手段を複数有してなる検査システムに関する。
【００３０】
前記検査システムにおいては、前記帯状体の２種類以上の欠陥が前記複数の欠陥検出手段の少なくとも１つにより検出される。そして、前記欠陥のそれぞれについて欠陥情報が出力され、前記帯状体に関するロット情報と関連付けされて特定のフォーマットとして表示される。
【００３１】
したがって、オペレータは、前記帯状体に発生する可能性のある複数種の欠陥について、ロット毎の欠陥の種類、発生位置、および発生頻度を容易に把握できる。
【００３２】
また、前記帯状体のロット情報から前記帯状体の製造条件などを容易に割り出すことができるから、前記欠陥を解消するために必要な対策を、容易に、且つ迅速に立てることができる。
【００３３】
請求項６に記載の発明は、前記欠陥検出手段が、前記帯状体の表面に光を照射する光源と、前記帯状体の表面からの反射光を受光する受光部とを備えてなる光学的欠陥検出手段である検査システムに関する。
【００３４】
前記検査システムにおいては、前記帯状体の表面の欠陥を連続的に非接触で検出できる。
【００３５】
前記光学的欠陥検出手段としては、例えば［従来技術］の欄で述べたレーザ走査型検査装置が挙げられるが、他に、前記帯状体の全幅に亘って帯状の光を照射する棒状の光源と、前記光源からの光が前記帯状体によって反射された反射光を受光するＣＣＤアレイまたはＣＣＤカメラとからなる光学検査装置などが挙げられる。前記光学検査装置においては、必要に応じて前記光源と前記帯状体との間に偏光フィルタなどを配設してもよい。
【００３６】
請求項７に記載の発明は、前記中央情報処理手段が、前記光学的欠陥検出手段の備える受光部における受光波形の立上りおよび立下りに基いて前記検査幅を求める検査システムに関する。
【００３７】
前記欠陥検出手段として前述のレーザ走査型検査装置を用いる場合には、レーザ走査型検査装置から照射されたレーザ光は、前記帯状体に当ると前記帯状体において反射されるから、受光波形に立上りが生じる。そして、前記レーザ光が前記帯状体の表面を通過すると、前記帯状体からの反射光も無くなるから、受光波形に立下りが生じる。
【００３８】
したがって、前記立上りと立下りとの間の区間を検査幅として設定することにより、前記欠陥検出手段においては自動的に検査幅を設定できる。
【００３９】
【発明の実施の形態】
１．実施形態１
本発明に係る検査システムの一例であり、一定の速度で搬送される平版印刷版の表面に存在する欠陥の有無、位置、および周期などを検査するオンライン表面検査システムの構成を、図１および図２を用いて説明する。
【００４０】
図１および図２に示すように、実施形態１に係るオンライン表面検査システム１００は、欠陥検出手段として、平版印刷版Ｐの感光層を形成した側の面であるＡ面上の光沢傷の有無を検出するＡ面レーザ光走査型検出装置２と、平版印刷版ＰのＡ面とは反対側の面であるＢ面上の光沢傷の有無を検出するＢ面レーザ光走査型検出装置４と、前記Ａ面に形成された感光層表面の欠陥である感光面欠陥を検出する色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８と、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４からデータを読み取ってＡ面およびＢ面における光沢傷についての欠陥情報を収集・管理する光沢傷データ管理部６と、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８からデータを読み取って感光面欠陥についての欠陥情報を収集・管理する感光面欠陥データ管理部８と、平版印刷版Ｐに関するロット情報が格納されている生産管理コンピュータ７と、光沢傷データ管理部６、感光面欠陥データ管理部８、および生産管理コンピュータ７を統括制御する統括制御部１０と、光沢傷データ管理部６、感光面欠陥データ管理部８、生産管理コンピュータ７、および統括制御部１０の間の信号を中継する信号中継装置９とを備える。
【００４１】
ここで、前記光沢傷は、前記平面印刷版の感光層が形成された側の面であるＡ面、またはＡ面とは反対側の面であるＢ面に生じた欠陥であって、下地のアルミニウム層が露出するほどの深い傷状の欠陥である。光沢傷は、通常強い金属光沢を有するから、光沢欠陥とも言い替えられる。
【００４２】
感光面欠陥としては、たとえば、周囲よりも色彩が濃いかまたは薄い筋状の欠陥である色筋などが挙げられる。
【００４３】
感光層は、［従来の技術］の欄で述べたように、アルミニウムウェブに粗面化および陽極酸化処理などの処理を施して製造された支持体を長手方向に連続的に搬送しつつ感光液を塗布し、乾燥することにより形成されるから、平版印刷版Ｐの感光層における厚さが過大な部分および厚さが過小な部分は、平版印刷版Ｐの長手方向に沿った筋状に現れる。感光層は、通常、濃緑色または藍色に着色しているから、前記感光層の厚さの過大な部分は、周囲よりも色の濃い濃色筋として現れ、前記感光層の厚さの過小な部分は、周囲よりも色の薄い淡色筋として現れる。前記濃色筋および淡色筋を色筋という。
【００４４】
感光面欠陥としては、他に、感光層表面に生じた擦り傷、点状の明暗や傷、色むら、異物などがある。
【００４５】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８は、本発明の検査システムにおける欠陥検出手段に相当し、中でも前記欠陥検出手段のうちの光学的欠陥検出手段に相当する。光沢傷データ管理部６および感光面欠陥データ管理部８は、前記検査システムにおける欠陥情報管理手段に相当する。そして、統括制御部１０は、前記検査システムにおける中央情報処理手段に相当し、生産管理コンピュータ７は、前記検査システムにおけるロット情報管理手段および幅検出手段に相当する。
【００４６】
オンライン表面検査システム１００は、さらに、平版印刷版Ｐの搬送ラインにおいて、平版印刷版Ｐの側縁部に、欠陥の発生した区間の始点と終点とを示すマークを附するマーキング装置８０も備えている。
【００４７】
１−１　欠陥検出手段の構成
本発明に係る検査システムにおける欠陥検出手段に相当するＡ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８は、図２に示すように、平版印刷版Ｐの搬送方向ａに沿って上流側から下流側に向かって色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、色検出装置１８、Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４の順で配置されている。
【００４８】
そして、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４と光沢検出装置１６、および色検出装置１８のそれぞれの下方には検査ローラ４０が配設され、各検査ロール４０に対して上流側であって下方には、平版印刷版Ｐを巻き掛けてテンションをとるテンションローラ４２が設けられている。
【００４９】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４の近傍にはそれぞれ検査ローラ４４および４６が配設されている。
【００５０】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４は、図２および図３に示すように、レーザ光源（図示せず。）からのレーザ光を、図３において矢印ｂで示すように、検査ローラ４４または４６に巻き掛けられて搬送される平版印刷版Ｐの幅方向に沿って平版印刷版Ｐの全幅に亘って走査するレーザ光照射部２Ａ（４Ａ）と、平版印刷版Ｐの幅方向に沿って受光素子を配列した受光素子アレイからなり、Ａ面またはＢ面からの反射光を受光してその強度に応じた光電流を出力するレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）とを備える。
【００５１】
レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）においては、一定速度で回転するポリゴンミラー（図示せず。）によりレーザ光を一方向に走査することができる。また、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、平版印刷版Ｐの全幅に亘って延在する。
【００５２】
レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）において平版印刷版Ｐの幅方向に走査されるレーザ光は、図５に示すように、平版印刷版Ｐの表面で反射され、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）を構成する受光素子のうち、光沢傷Ｓに対応する位置にある受光素子において受光されて光電流Ｉを発生する。したがって、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）は、前記反射光を受光した受光素子の位置を示す位置データＬと、前記受光素子で受光した反射光の強度に対応する光電流Ｉとからなる受光データを出力する。
【００５３】
検査ローラ４４（４６）には、平版印刷版Ｐの搬送距離を検出するタコメータ２Ｃ（４Ｃ）が接続され、前記タコメータ２Ｃ（４Ｃ）も光沢傷データ管理部６に接続されている。
【００５４】
前記光電流Ｉ、検査幅、および平版印刷版Ｐの搬送距離は、何れも光沢傷データ管理部６に入力される。
【００５５】
色筋検出装置１２は、図２に示すように、前記Ａ面の全幅に亘って帯状の光を照射する１対の光源２０と、平版印刷版Ｐの幅方向に配列されたＣＣＤからなり、前記Ａ面からの反射光を受光するＣＣＤアレイ２２Ａと、光源２０からの光がＡ面で反射された反射光をＣＣＤアレイ２２Ａに集光させる集光レンズ２２Ｂと有するＣＣＤカメラ２２とを備える。なお、光源２０は、Ａ面上において、照射光が平版印刷版Ｐの全幅に亘る同一直線上に集中するように配設されている。色筋検出装置１２は、前記感光面欠陥のうちの色筋を検出する機能を有する。
【００５６】
色筋検出装置１２においては、図４に示すように、ＣＣＤカメラ２２からの受光電圧を感光層欠陥データ管理部８に出力し、感光層欠陥データ管理部８は、前記受光電圧に基いて光源２０に光量制御信号を出力し、光源２０は、前記光量制御信号に基いて平版印刷版Ｐに照射する光量を調節する。これは、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８についても同様である。
【００５７】
擦り傷検出装置１４もまた、前記Ａ面の全幅に亘って帯状の光を照射する光源２４とＣＣＤカメラ２２と同様の構成を有するＣＣＤカメラ２６とを備える。しかし、色筋検出装置１２にとは異なり、主に擦り傷を検出する機能を有するので、光源２４の個数は１個であり、ＣＣＤカメラ２６の正面に、光源２４からの光がＡ面で反射された反射光中の縦波をカットし、横波だけを通過させる偏光フィルタ２８が設けられている。
【００５８】
光沢検出装置１６は、点状の明暗および傷と異物とをに検出する機能を有し、前記Ａ面に光を照射する蛍光灯からなる光源３２と、前記光源３２からの光が前記Ａ面で反射された反射光を検知するＣＣＤカメラ３４とを備える。ＣＣＤカメラ３４は、ＣＣＤが正方形状に配列されたＣＣＤアレイ３４Ａと、前記Ａ面からの反射光をＣＣＤアレイ３４Ａに集光させるおける集光レンズ３４Ｂとを備える。
【００５９】
色検出装置１８は、点状の色むらや異物を検出する機能を有し、光沢検出装置１６と同様に、前記Ａ面に光を照射する蛍光灯からなる光源３６と、ＣＣＤカメラ３４と同様の構成を有し、前記光源３６からの光が前記Ａ面で反射された反射光を検知するＣＣＤカメラ３８とを備える。但し、光沢検出装置１６とは異なり、光源３６は１対設けられ、照射光が、平版印刷版Ｐの全幅に亘る同一直線上に集中するように配設されている。
【００６０】
色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８においては、ＣＣＤカメラ２２（２６、３４、３６）を、平版印刷版Ｐの搬送経路である搬送面の幅方向に亘って複数台設けることができる。図４は、色筋検出装置１２について、ＣＣＤカメラ２２および光源２０と検査ローラ４０および平版印刷版Ｐとの相対的な位置関係を示す。
【００６１】
図４に示すように、光源２０は、平版印刷版Ｐの搬送経路に対して幅方向に延在する棒状の透明部材から形成され、一端に接続された光ファイバ（図示せず。）によってメタルハライド光源（図示せず。）などの適宜の光源からの光が導入される。光源２０に導入された光は、平版印刷版ＰのＡ面に向かって照射される。
【００６２】
Ａ面からの反射光を受光する複数のＣＣＤカメラ２２は、平版印刷版Ｐの搬送経路に対して幅方向に一定間隔で配設されている。
【００６３】
ＣＣＤカメラ２２から出力されたデジタル画像信号は、感光面欠陥データ管理部８に入力される。
【００６４】
１−２　光沢傷データ管理部、感光面欠陥データ管理部、統括制御部の構成
光沢傷データ管理部６は、図１に示すように、欠陥信号処理装置５０と制御コンピュータ５２と欠陥周期判定コンピュータ５４と光沢傷情報表示モニター５６とを備える。制御コンピュータ５２は、信号中継装置９を介して統括制御部１０に接続され、さらに、警報ランプや警報ブザーなどの各種外部警報装置（図示せず。）を作動させる外部接点出力部５８にも接続されている。
【００６５】
欠陥信号処理装置５０は、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４のレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）から出力された光電流の強さに基いて光沢傷の種類を判定し、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）における受光位置およびタコメータ２Ｃ（４Ｃ）において検出された平版印刷版Ｐの搬送距離に基いて発生位置を特定する。そして、前記光沢傷の種類および発生位置のついてのデータを制御コンピュータ５２に出力するとともに、制御コンピュータ５２からの指令に基いてレーザ光照射部２Ａ（４Ａ）およびレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）におけるレーザ光の照射強度、およびレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）への印加電圧の大きさを制御する。
【００６６】
欠陥信号処理装置５０の構成の詳細を図６に示す。
【００６７】
前述のように、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）から光沢傷データ管理部６へは、光電流Ｉと位置データＬとからなる受光データが入力されるが、図６に示すように、欠陥信号処理装置５０は、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）から欠陥信号処理装置５０に入力された光電流ＩをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器５０Ａと、Ａ／Ｄ変換器５０ＡでＡ／Ｄ変換した光電流Ｉの値を微分して微分信号Ｉ’を得る微分回路５０Ｂと、微分回路５０Ｂで発生した微分信号Ｉ’を分析して光沢傷Ｓの有無を判定する比較回路５０Ｃとを有する。欠陥信号処理装置５０は、さらに、位置データＬが入力されると、前記位置データＬが平版印刷版Ｐの幅方向の帯域であるレーン１（Ｌ１）、レーン２（Ｌ２）、レーン３（Ｌ３）…、レーン１５（Ｌ１５）の１５の帯域のうち、何れに対応するかという欠陥位置データＬｄｆを出力する受光位置信号処理部５０Ｄと、比較回路５０Ｃにおける光電流Ｉの分析結果と、受光位置信号処理部５０Ｄからの欠陥位置データＬｄｆと、タコメータ２Ｃ（４Ｃ）から入力された平版印刷版Ｐの搬送距離ｄｃｖとから、前記光沢傷Ｓの有無、種類、および発生位置を特定する欠陥判定部５０Ｅとを備える。
【００６８】
欠陥判定部５０Ｅは、制御コンピュータ５２、欠陥周期判定コンピュータ５４、および光沢傷情報表示モニター５６に接続されている。
【００６９】
欠陥周期判定コンピュータ５４は、欠陥判定部５０Ｅから光沢傷についての特定結果が入力されると、前記光沢傷について発生周期を求め、その結果を制御コンピュータ５２に出力する機能を有する。
【００７０】
制御コンピュータ５２は、欠陥信号処理装置５０から前記光沢傷についての特定結果を読み出して欠陥周期判定コンピュータ５４から読み出した前記光沢傷の発生周期と組み合わせ、前記光沢傷の種類、発生位置、および発生周期に関する欠陥情報を構成する機能を有する。構成された欠陥情報は、信号中継装置９を介して統括制御部１０に向かって出力される。制御コンピュータ５２は、他に、欠陥信号処理装置５０から入力された光電流Ｉの立上りおよび立下りのデータに基き、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４におけるレーザ光の走査幅、言い替えれば検査幅を求める機能も有する。
【００７１】
制御コンピュータ５２は、更に、欠陥信号処理装置５０および欠陥周期判定コンピュータ５４に制御指令を出力する機能、およびマーキング装置８０を制御する機能も有する。
【００７２】
感光面欠陥データ管理部８は、図１に示すように、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８から送出された各種欠陥データを処理してＡ面上における欠陥の種類、発生位置、および発生周期を判定するとともに、入力された設定情報に基いて色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８を制御する欠陥信号処理装置６０と、欠陥信号処理装置６０を制御する制御コンピュータ６２と、欠陥信号処理装置６０において判定された欠陥の位置および種類を表示する感光面欠陥表示モニター６４とを備える。
【００７３】
欠陥信号処理装置６０の構成の詳細を図７に示す。
【００７４】
図７に示すように、欠陥信号処理装置６０は、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８の備えるＣＣＤカメラ２２から入力された受光電圧ＶをＡ／Ｄ変換するるＡ／Ｄ変換部６０Ａと、前記Ａ／Ｄ変換された受光電圧Ｖを時系列で一端記憶する記憶装置６０Ｂと、記憶装置６０Ｂに記憶された受光電圧Ｖを読み出してノイズ低減処理する信号処理回路６０Ｃと、信号処理回路６０Ｃでノイズ低減処理された受光電圧Ｖを予め設定された上限電圧Ｖｍａｘおよび下限電圧Ｖｍｉｎと比較して欠陥の位置および種類を判定する比較器６０Ｄとを有する。
【００７５】
欠陥信号処理装置６０においては、比較器６０Ｄが制御コンピュータ６２に接続されている。
【００７６】
制御コンピュータ６２は、比較器６０Ｄから出力された判定結果に基き、感光面欠陥の種類、発生位置、発生周期に関する欠陥情報を構成し、また、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８における検査幅、即ちＣＣＤがカバーする幅を求める機能を有する。
【００７７】
制御コンピュータ６２は、また、前記欠陥情報を、欠陥表示ディスプレー６４に表示するとともに、信号中継装置９を介して統括制御部１０に入力する機能も有する。
【００７８】
制御コンピュータ６２は、更に、欠陥信号処理装置６０とデータおよび制御指令を授受する機能を有し、他に、マーキング装置８０を制御する機能も有している。
【００７９】
統括制御部１０の構成の詳細を図８に示す。
【００８０】
図８に示すように、統括制御部１０は、制御コンピュータ５２および制御コンピュータ６２から入録された欠陥情報や検査幅、および生産管理コンピュータ７から入力された前記平版印刷版に関するロット情報を互いに関連付けて管理用フォーマットを構成する統括コンピュータ７０と、統括コンピュータ７０において構成された構成された管理用フォーマットを表示するディスプレー７２と、ディスプレー７２に表示された管理用フォーマットを印刷するプリンタ７４とを備える。
【００８１】
生産管理コンピュータ７に収納されるロット情報としては、平版印刷版Ｐの品種、ロット番号、幅、厚み、およびロール引当数量などがある。
【００８２】
統括コンピュータ７０は、前記欠陥情報や検査幅、ロット情報などのデータを一時的に格納する記憶装置７０Ｂと、記憶装置７０Ｂに前記データを書き込み、または読み出すとともに、読み出したデータに基いて管理用フォーマットを構成する中央処理装置７０Ａとを備える。
【００８３】
中央処理装置７０Ａは、また、生産管理コンピュータ７から読み出した前記平版印刷版の幅、即ち製品幅と、制御コンピュータ５２から入力された検査幅とを比較して、前記検査幅が正常範囲内か否かを判定して前記管理用フォーマットにおいて表示する機能も有する。
【００８４】
統括コンピュータ７０は、また、制御コンピュータ５２および６２を介してＡ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８を制御する機能を有する。
【００８５】
１−３　オンライン検査システムの作用
以下、オンライン表面検査システム１００の作用について説明する。
【００８６】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４からのデータは、光沢傷データ管理部６において、以下の手順で処理される。
【００８７】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４の備えるレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）から欠陥信号処理装置５０に受光信号が入力されると、欠陥信号処理装置５０においては、前記受光信号のうち、光電流ＩをＡ／Ｄ変換器５０ＡにおいてＡ／Ｄ変換し、次いで微分回路５０Ｂにおいて微分して微分信号Ｉ’を得る。
【００８８】
光沢傷Ｓの創面は、前述のように通常強い金属光沢を帯びているから、図５に示すように、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）からのレーザ光が光沢傷Ｓで反射された反射光は強度が高い。したがって、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）からのレーザ光が光沢傷Ｓに当ると、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）で前記反射光が受光されて光電流Ｉが急激に増大し、前記レーザ光が光沢傷Ｓを通過すると、光電流Ｉは急激に減少する。
【００８９】
したがって、微分回路５０Ｂで発生した微分信号Ｉ’においても、光電流Ｉの急激な増大に対応する急峻な正のスパイク状ピークＳ１、とそれに引き続く光電流の急激な減少に対応する急峻な負のスパイク状ピークＳ２とが出現する。
【００９０】
そこで、微分回路５０Ｂで発生した微分信号Ｉ’を比較回路５０Ｃに入力し、比較回路５０Ｃにおいて、スパイク状ピークＳ１およびＳ２の有無、およびスパイク状ピークＳ１の高さが予め設定された基準値ｉを超えたかどうかを判定し、スパイク状ピークＳ１およびＳ２が出現し、しかもスパイク状ピークＳ１の高さが基準値ｉを超えたとき、光沢傷Ｓがあると判定する。そして、光沢傷Ｓの大きさを示すデータとして、前記スパイク状ピークＳ１からＳ２までの区間に対応する光電流Ｉのピーク値である光電流Ｉｄｆを出力する。
【００９１】
微分回路５０Ｂにおいてスパイク状ピークＳ１およびＳ２が検出され、比較回路５０Ｃにおいて、光沢傷Ｓがあると判定されると、受光位置信号処理部５０Ｄは、スパイク状ピークＳ１およびＳ２を検出したときの位置データＬを光沢傷Ｓの発生位置を示す光沢欠陥位置データＬｄｆとして出力する。
【００９２】
比較回路５０Ｃから出力された光電流Ｉｄｆと受光位置信号処理部５０Ｄから入力された光沢欠陥位置データＬｄｆとは、欠陥判定部５０Ｅに入力される。また、タコメータ２Ｃ（４Ｃ）から入力された平版印刷版Ｐの搬送距離ｄｃｖも、適宜Ａ／Ｄ変換されて欠陥判定部５０Ｅに入力される。
【００９３】
欠陥判定部５０Ｅにおいては、光電流Ｉｄｆと搬送距離ｄｃｖとのデータから、光沢傷Ｓの深さ、幅、長さおよび搬送方向ａに沿った発生位置を求める。そして、光沢傷の深さ、幅、長さと光沢傷の種類（欠陥Ａ〜Ｈ（Ａ面）および欠陥ａ〜ｈ（Ｂ面））とに関して予め設定された関係式に基き、光沢傷Ｓが欠陥Ａ〜Ｈおよび欠陥ａ〜ｈの何れに相当するかを判定する。そして、光沢傷Ｓについての判定結果と光沢欠陥位置データＬｄｆとを制御コンピュータ５２および欠陥周期判定コンピュータ５４に入力するとともに、光沢傷情報表示モニター５６において表示する。
【００９４】
欠陥周期判定コンピュータ５４においては、たとえば、欠陥判定部５０Ｅにおいて欠陥Ａであると判定された光沢傷Ｓが搬送方向ａに沿ってどの位の間隔で発生しているかという発生周期を求め、前記発生周期を制御コンピュータ５２に入力する。
【００９５】
制御コンピュータ５２は、欠陥信号処理装置５０から入力された光沢傷Ｓに関する判定結果および光沢欠陥位置データＬｄｆと、欠陥周期判定コンピュータ５４から入力された発生周期とから光沢傷Ｓに関する欠陥情報を構成し、信号中継装置９を介して統括制御部１０に出力する。
【００９６】
制御コンピュータ５２は、また、欠陥信号処理装置５０から入力された光電流Ｉおよび位置データＬに基き、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４における検査幅Ｗ１を求める。検査幅Ｗ１を求める手順を図９に示す。
【００９７】
図９において（Ａ）に示すように、レーザ光照射部２Ａ（４Ａ）からのレーザ光によって平版印刷版Ｐを幅方向に沿って走査すると、前記レーザ光が平版印刷版Ｐに当るまでは、前記レーザ光は何物にも反射されずに直進するから、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）における受光量は０である。したがって、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）から欠陥信号処理装置５０に入力される光電流Ｉも０である。
【００９８】
前記レーザ光は、位置１において平版印刷版Ｐに当り始め、位置２において平版印刷版Ｐを通過する。
【００９９】
したがって、レーザ光が位置１を通過すると、前記レーザ光が平版印刷版Ｐに平版印刷版Ｐによってレーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）に向かって反射されるから、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）においては、光電流Ｉが０からある電流値Ｘまで立ち上る。一方、レーザ光が位置２を通過すると、ぞれまで平版印刷版Ｐにおいて反射されていたレーザ光が反射されなくなるから、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）においては、光電流Ｉは、電流値Ｘから０まで立ち下がる。
【０１００】
故に、位置１は光電流Ｉの立上がり位置であり、位置２は光電流Ｉの立下がり位置である。制御コンピュータ５２は、光電流Ｉの立ち上がりおよび立ち下がりを検出することにより、前記立ち上がり位置および立ち下がり位置を検出する。そして、図９における（Ｂ）に示すように、前記立ち上がり位置に対応する位置データＬｒｉｓｅと、前記立ち下がり位置に対応する位置データＬｄｒｏｐとから、前記立ち上がり位置から立ち下がり位置までの距離、即ちレーザ光の走査幅、換言すれば検査幅Ｗ１を求める。
【０１０１】
このようにして求められた検査幅Ｗ１も、信号中継装置９を介して統括制御部１０に入力される。
【０１０２】
欠陥信号処理装置５０は、更に、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）に印加される印加電圧ｖの価も、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）の運転状態を示すデータとして制御コンピュータ５２に入力し、制御コンピュータ５２は、前記印加電圧ｖの価を、総括制御部１０に入力する。
【０１０３】
一方、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８からのデータは、感光面欠陥データ管理部８において以下の手順に従って処理される。
【０１０４】
以下、前記手順について、色筋検出装置１２を例にとって説明する。
【０１０５】
色筋検出装置１２の備えるＣＣＤカメラ２２から欠陥信号処理装置６０に、ＣＣＤアレイ２２Ａにおける受光電圧Ｖが時系列で入力されると、Ａ／Ｄ変換部６０Ａで受光電圧Ｖはアナログ量からデジタル量に変換される。そして、前記デジタル量に変換された受光電圧は、前記ＣＣＤの位置データＬと関連付けて記憶装置６０Ｂに一旦記憶される。そして、信号処理回路６０Ｃでノイズ低減処理される。
【０１０６】
信号処理回路６０Ｃでノイズ低減処理された受光電圧Ｖは、比較器６０Ｄに入力される。
【０１０７】
したがって、前記色筋の現れた平版印刷版をＣＣＤカメラ２２で撮影すると、色筋の部分においては、周囲よりも低い受光電圧（濃色筋の場合）または高い受光電圧（淡色筋の場合）が出力される。
【０１０８】
そこで、比較器６０Ｄにおいては、入力された受光電圧Ｖを、比較器６０Ｄに予め入力された上限電圧Ｖｍａｘおよび下限電圧Ｖｍｉｎと比較し、受光電圧Ｖが上限電圧Ｖｍａｘを超えた場合および下限電圧Ｖｍｉｎよりも低かった場合、前記感光面欠陥のうちの色筋が存在すると判定する、そして、前記色筋の程度を示すデータとして、前記受光電圧Ｖの大きさが出力される。そして、前記色筋の位置を示すデータとして、前記色筋からの反射光を受光したＣＣＤの位置データＬが出力される。
【０１０９】
比較器６０Ｄから制御コンピュータ６２に、前記色筋についての欠陥情報として、色筋の有無、前記色筋における受光電圧Ｖ、および色筋を検出したＣＣＤの位置データＬが入力される。
【０１１０】
制御コンピュータ６２は、前記位置データＬから、前記色筋が、平版印刷版の帯域Ｌ１〜Ｌ１５の何れに存在するかを判定する。また、受光電圧Ｖから前記色筋が感光層の厚みが過大な厚み過大部および前記厚みの過小な厚み過小部の何れに相当するかを判定し、さらに前記色筋の程度を判定する。
【０１１１】
欠陥信号処理装置６０は、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８からの受光電圧および前記ＣＣＤの位置データも、同様の手順に従って処理し、制御コンピュータ６２に入力する。制御コンピュータ６２は、受光電圧およびＣＣＤの位置データに基いて前記感光面欠陥のうちの擦り傷、点状の明暗および傷、および点状の色むらと異物の有無、大きさ、および平版印刷版Ｐ上の位置を判定する。
【０１１２】
制御コンピュータ６２においては、色筋検査装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８における受光電圧Ｖと前記位置データＬとに基いて、それぞれの検査装置における検査幅である検査幅Ｗ２、Ｗ３、Ｗ４、およびＷ５を求める機能を有していてもよい。
【０１１３】
制御コンピュータ６２は、これらの欠陥情報および検査幅についての情報を欠陥表示ディスプレー６４において表示するとともに、信号中継装置９を介して統括制御部１０に入力する。
【０１１４】
統括制御部１０の備える統括コンピュータ７０には、図８に示すように、制御コンピュータ５２から光沢傷についての欠陥情報が入力され、制御コンピュータ６２から感光面欠陥についての欠陥情報が入力される。そして、生産管理コンピュータ７から平版印刷版Ｐについてロット番号、幅（製品幅）、厚み、アルミニウムウェブのメーカー、品種名、およびロール引当数量などのロット情報が入力されると、中央処理装置７０Ａは、これらの情報を記憶装置７０Ｂの所定の領域に格納する。
【０１１５】
中央処理装置７０Ａは、また、ディスプレー７２から入力された各種指示に応じて、記憶装置７０Ｂから前記欠陥情報およびロット情報を読み出し、所定のフォーマットを構成してディスプレー７２に出力する。ディスプレー７２は、前記フォーマットに基いて、グラフおよび帳簿形式の各種傾向管理画面を表示する。
【０１１６】
ディスプレー７２に表示される「傾向管理画面」は、たとえば、図１０に示すように、画面の左上部に位置し、平版印刷版のＡ面の帯域Ｌ１〜Ｌ１５における欠陥の発生状況をグラフで示す「Ａ面傾向」ゾーン、画面の右上部に位置し、平版印刷版のＢ面の帯域Ｌ１〜Ｌ１５における欠陥の発生状況をグラフで表示する「Ｂ面傾向」ゾーン、画面の左下部に位置し、前記Ａ面において欠陥を検出した帯域である検出レーンと、前記検出レーンにおける欠陥の検出位置および発生周期とを示す「Ａ面周期」ゾーン、および画面の右下部に位置し、前記Ｂ面における検出レーンと、前記検出レーンにおける欠陥の検出位置および発生周期とを示す「Ｂ面周期」ゾーンとから構成される。
【０１１７】
前記Ａ面傾向管理画面における「Ａ面周期」ゾーンと「Ｂ面周期」ゾーンとの下方には、表示などの切替を行う１２個のファンクションキーである「Ｆ１：傾向管理」、「Ｆ２：Ａ面傾向」、「Ｆ３：Ｂ面傾向」、「Ｆ４：ＳＬ幅データ」、「Ｆ５：ＳＬ状態」、「Ｆ６：ＭＩＴ−４状態」、「Ｆ７：Ａ面周期」、「Ｆ８：Ｂ面周期」、「Ｆ９：印刷」、「Ｆ１０：メンテナンス」、「Ｆ１１：出側ジャンボ」、および「Ｆ１２：終了」の１２個のキーが表示されている。なお、図１０に示す傾向管理画面は、「Ｆ１：傾向管理」キーをクリックすることにより表示される。
【０１１８】
傾向管理画面の左上端部には、生産管理コンピュータ７から入力されたロット情報のうちの、平版印刷版Ｐの品種名が表示される。
【０１１９】
前記１２個のファンクションキーのうち、「Ｆ２：Ａ面傾向」キーをクリックすると、図１０に示す「傾向管理」画面における「Ａ面傾向」ゾーンの内容が拡大されて「Ａ面傾向管理」画面として表示される。
【０１２０】
図１１に示すように、「Ａ面傾向管理」画面には、Ａ面における帯域Ｌ１〜Ｌ１５のそれぞれについて平版印刷版Ｐの搬送距離と欠陥の発生個数との関係を示すグラフが表示される。前記グラフにおいては、縦軸が搬送距離であり、横軸が欠陥の発生個数である。また、欠陥が０個のときは黒丸が、欠陥が２個以上のときは赤丸が表示される。
【０１２１】
前記グラフの下方には、表示しようとする欠陥の種類を指定する「Ｊ」キー、「Ｋ」キー、「Ｍ」キー、「Ｎ」キー、「Ｓ」キー、「Ｔ」キー、「Ｐ」キー、「Ｑ」キー、「Ｒ」キー、「Ｖ」キー、「Ｌ」キー、前記欠陥を全て表示させる「全選択」キー、および前記欠陥の指定を解除する「解除キー」が表示されている。ここで、Ｊ、Ｋ、Ｍ、Ｎ、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌは、表１に示すように、Ａ面における以下の欠陥に対応する。
【０１２２】
【表１】
2004144556.tif 000003
【０１２３】
なお、前記欠陥のうち、Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌについては、前記図１１および表１には示されていないが、検出感度として、不良品として排除すべきＮＧレベルの欠陥のみが検出される感度ｓ１と、不良品として排除するほどではないＯＫレベルの欠陥も検出されるｓ２との２段階の感度の一方を選択できる、検出感度として感度ｓ２を設定することにより、得られたデータから欠陥の発生傾向を管理する傾向管理を行うことができる。
【０１２４】
前記「Ｊ」キー乃至「Ｌ」キーの下方には、前記「傾向管理」画面と同様に、「Ｆ１：傾向管理」乃至「Ｆ１２：終了」の１２個のファンクションキーが表示されている。これは、以下に説明する画面についても同様である。
【０１２５】
前記１２個のファンクションキーのうち、「Ｆ３：Ａ面傾向」キーをクリックすると、図１０に示す「傾向管理画面」における「Ｂ面傾向」ゾーンの内容が拡大されて「Ｂ面傾向管理画面」として表示される。
【０１２６】
図１２に示すように、「Ｂ面傾向管理」画面には、Ａ面における帯域Ｌ１〜Ｌ１５のそれぞれについて平版印刷版Ｐの搬送距離と欠陥の発生個数との関係を示すグラフが表示される。前記グラフについては、前記「Ａ面傾向管理」画面のところで説明した通りである。
【０１２７】
グラフの下方には、「ｊ」キー、「ｋ」キー、「ｍ」キー、「ｎ」キー、「全選択」キー、および「解除」キーが表示されている。「ｊ」キー、「ｋ」キー、「ｍ」キー、「ｎ」キーは、何れも表示しようとする欠陥の種類を指定するキーであり、ｊ、ｋ、ｍ、ｎは、表２に示すように、Ｂ面における以下の欠陥に対応する。
【０１２８】
【表２】
2004144556.tif 000004
【０１２９】
前記１２個のファンクションキーのうち、「Ｆ７：Ａ面周期」キーをクリックすると、図１０に示す「傾向管理画面」における「Ａ面周期」ゾーンの内容が拡大されてＡ面周期判定結果として表示される。
【０１３０】
「Ａ面周期判定結果」画面は、帳簿形式の画面であり、図１３に示すように、左側から、年月日、時刻、品種、ロット番号、アルミニウム幅、欠陥検出位置を示す検出幅、欠陥の発生周期を示す周期、欠陥を検出した帯域を示す検出レーン、前記欠陥の検出位置におけるロール径である該当ロール径、および該当ロール番号の１０個の欄が設けられている。
【０１３１】
「Ｆ８：Ｂ面周期」キーをクリックすると、図１０に示す「傾向管理」画面における「Ｂ面周期」ゾーンの内容が拡大されてＢ面周期判定結果として表示される。
【０１３２】
図１４に示すように、「Ｂ面周期判定結果」画面も、「Ａ面周期判定結果」画面と同様の帳簿形式の画面であり、同様の欄が設けられている。
【０１３３】
「Ｆ１１：ジャンボ出側」キーをクリックすると、不良品として排除すべき著しい欠陥であるジャンボ押傷についての設定画面である「ジャンボ押傷設定」画面が表示される。
【０１３４】
ジャンボ押し傷設定画面は、図１５に示すように、欠陥Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、およびＨの何れを、ジャンボ押傷に指定するかを入力する「Ａ」キー〜「Ｇ」キーと、前記「Ａ」キー〜「Ｇ」キーの下方に位置し、欠陥Ａ〜Ｇを全てジャンボ押傷として指定する「全選択」キーと、「Ａ」キー〜「Ｇ」キーおよび「全選択」キーからの入力内容を取り消す「全解除」キーとが設けられている。
【０１３５】
ここで、欠陥Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、およびＨは何れも光沢傷であり、意味内容は表３の通りである。
【０１３６】
【表３】
2004144556.tif 000005
【０１３７】
「全選択」キーおよび「全解除」キーの下方には、後述する「出側停止印字設定」画面に移行する「出側設定」キーと、前記「出側停止印字設定」画面から「ジャンボ押し傷設定」画面に戻る「ジャンボ設定」キーとが設けられている。
【０１３８】
「ジャンボ押傷設定」画面において、「Ａ」キー〜「Ｇ」キーの少なくとも１つ、または「全選択」キーをクリックすると、中央処理装置７０Ａにおいては、前記キーに対応する欠陥をジャンボ押傷として指定する。
【０１３９】
次に、ジャンボ押し傷が設定されると、欠陥信号処理装置５０は、Ａ面レーザ光走査型検出装置２またはＢ面レーザ光走査型検出装置４において検出された光沢傷が前記ジャンボ押傷に指定された欠陥か否かを判定する。そして、前記判定がＹｅｓの場合には、警報出力を制御コンピュータ５２に入力する。
【０１４０】
制御コンピュータ５２は、欠陥信号処理装置５０から警報出力が入力されると外部接点出力部５８を通して警報ランプや警報ブザーなどを作動させる。
【０１４１】
前記「ジャンボ押し傷設定」画面において「出側停止」キーをクリックすると、「出側停止印字設定」画面が表示される。
【０１４２】
図１６に示すように、「出側停止印字設定」画面には、Ａ面レーザ光走査型検出装置２で検出される欠陥Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、およびＨの何れを、平版印刷版Ｐの搬送ラインを停止すべき欠陥である出側停止欠陥に指定するかを設定する「Ａ」キー〜「Ｈ」キーと、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８で検出される欠陥Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、およびＬの何れを前記出側停止欠陥に指定するかを設定する「Ｓ」キー〜「Ｌ」キーと、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４で検出される欠陥ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆ、ｇ、およびｈの何れを前記出側停止欠陥に指定するかを設定する「ａ」キー〜「ｈ」キーとが表示されている。
【０１４３】
ここで、欠陥ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆ、ｇ、およびｈは、以下の表４に示す種類の欠陥である。
【０１４４】
【表４】
2004144556.tif 000006
【０１４５】
なお、「Ａ」キーの左側には、欠陥Ａ〜Ｈの全てを前記出側停止欠陥に指定する「ＳＬＡ面全選択」キーが表示され、「Ｓ」キーの左側には、欠陥Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、およびＬの全てを前記出側停止欠陥に指定する「ＭＩＴ全選択」キーが表示されている。そして、「ａ」キーの左側には、欠陥ａ〜ｈの全てを前記出側停止欠陥に指定する「ＳＬＢ面全選択」キーが表示されている。
【０１４６】
「ａ」キー〜「ｈ」キーの下方には、欠陥Ａ〜Ｈ、欠陥Ｓ、Ｔ、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｖ、Ｌ、および欠陥ａ〜ｈの全てを前記出側停止欠陥に指定する「全選択」キーと、「全選択」キーに隣接して設けられ、前記指定を解除する「全解除」キーとが表示されている。
【０１４７】
「全選択」キーと「全解除」キーとの下方には、「出側停止」キーと「ジャンボ設定」キーとが表示されている。
【０１４８】
出側停止印字設定画面において、「Ａ」キー〜「Ｈ」キーまたは「ａ」キー〜「ｈ」キーをクリックすると、中央処理装置７０Ａは、前記キーによって入力された欠陥を、出側停止欠陥に指定する。
【０１４９】
中央処理装置７０Ａにおいて前記出側欠陥が入力されると、欠陥信号処理装置５０および６０は、Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、色検出装置１８が検出した欠陥が出側停止欠陥に包含されるか否かを判定する。そして、前記判定がＹｅｓであったときは、制御コンピュータ５２または６２は、停止信号を平版印刷版Ｐの搬送ラインに入力し、前記搬送ラインを停止させる。同時に、中央処理装置７０Ａからの指示により、プリンタ７４において出側停止印字が行なわれる。
【０１５０】
「Ｆ４：ＳＬ幅データ」キーをクリックすると、中央処理装置７０Ａは、制御コンピュータ５２から入力された検出幅Ｗ１の価と、生産管理コンピュータ６２から入力された日付、時刻、品種名、ロット番号、製品幅とをディスプレー７２に入力して図１７に示す「ＳＬ７０００幅検出データ」画面に表示させる。ここで、「Ｆ４：ＳＬ幅データ」画面における「ＡＬ幅」は、前記製品幅を示す。
【０１５１】
Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４において、たとえば黒筋を検出すると、図９において（Ｃ）に示すように、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）において出力される光電流Ｉも殆ど０まで急降下することがある。ここで、制御コンピュータ５２は、前述のように、光電流Ｉの立ち上がりおよび立ち下がりを検出することによって前記立上り位置および前記立下り位置を検出している。したがって、制御コンピュータ５２は、前記黒筋を検出した位置を前記立下り位置と判断する可能性がある。前記判断に基いて検査幅Ｗ１を求めると、前記検査幅Ｗ１は、図９において（Ｄ）に示すように、実際の製品幅Ｗよりも遥かに小さくなる。
【０１５２】
そこで、中央処理装置７０Ａにおいては、制御コンピュータ５２において求めた検査幅Ｗ１を、生産管理コンピュータ７から入力された製品幅Ｗと比較し、検査幅Ｗ１と製品幅Ｗとの差ΔＷが一定範囲内、たとえば、４ｍｍ以内であれば、検査幅Ｗ１は正常であると判断し、前記差ΔＷが前記範囲を越えたときは、検査幅Ｗ１は異常であると判断して、前記判断結果も、前記「Ｆ４：ＳＬ幅データ」画面の「比較結果」における「判定」の欄に表示する。
【０１５３】
オペレータは、前記画面を見ることにより、検出幅Ｗ１が正常範囲内にあるか否かを判断でき、検出幅Ｗ１が正常範囲内に無い場合には、ディスプレー７２または制御コンピュータ５２において検出幅Ｗ１を再設定することができる。
【０１５４】
前記１２個のファンクションキーのうち、「Ｆ５：ＳＬ状態」キーをクリックすると、「ＳＬ７０００状態表示」画面が表示される。
【０１５５】
「ＳＬ７０００状態表示」画面は、図１８に示すように、日付、時刻、品種名、ロット番号、およびアルミニウム幅などのロット情報と、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４における印加電圧ｖの価とを表示する帳簿形式の画面である。なお、印加電圧ｖの価は、「ＰＭＴＥ印加電圧」の欄に表示される。
【０１５６】
オペレータは、前記ＳＬ７０００状態表示画面を見ることにより、レーザ光受光部２Ｂ（４Ｂ）に適正な範囲の電圧が印加されているかいないか、および受光素子毎の印加電圧の差が余り大きくはないか否かを知ることができる。
【０１５７】
最後に、「Ｆ６：ＭＩＴ−４状態」キーをクリックすると、「ＭＩＴ−４状態表示」画面が表示される。
【０１５８】
「ＭＩＴ−４状態表示」画面は、図１９に示すように、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４と光沢検出装置１６、および色検出装置１８におけるＣＣＤカメラへの印加電圧即ちカメラ電圧の価と、光源設定値とを表示する帳簿形式の画面である。
【０１５９】
オペレータは、前記ＭＩＴ−４状態表示画面を見ることにより、ＣＣＤカメラ２２、２６、３４、および３８が正常に作動しているか否か、および光源２０、２４、３２、および３６の設定電圧が適性であるか否かを知ることができる。
【０１６０】
実施形態１に係るオンライン表面検査システムにおいては、オペレータは、Ａ面レーザ光走査型検出装置２およびＢ面レーザ光走査型検出装置４において検査幅の設定が適切であるか否かを実時間で知ることができるから、未検査部の残存する帯状体が生じた場合には、製品として出荷される前に、検査幅の再設定などの適切な処置をとることができる。
【０１６１】
また、Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置４、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８で検出された欠陥の種類、発生位置、および発生周期などの欠陥情報を、平版印刷版Ｐのロット情報と関連させて表示するから、オペレータは、どのロットの平版印刷版にどのような種類の欠陥がどの程度の頻度で発生したか、および前記ロットにおける不良品の発生量はどの程度かを容易に把握できる。
【０１６２】
したがって、オペレータは、前記ロットの平版印刷版を生産するのに必要なアルミニウムウェブロールの再引当を行うなどの生産計画の修正を実時間で行えるから、たとえ、不良品が大量に発生して製品として出荷できる平版印刷版の得率が減少しても、アルミニウムウェブに不足が生じる前に、不足分のアルミニウムウェブロールを発注できる。故に、前記場合においても、アルミニウムウェブに不足が生じて生産に支障が生じることが防止される。
【０１６３】
更に、不良品として排除する必要のない微小な欠陥についても、発生した帯域、発生頻度、発生位置をグラフ化して表示するから、オペレータは、前記欠陥の発生傾向を容易に把握できる。したがって、前記欠陥が出側停止欠陥のような重大な欠陥に到る前に対策を講じることができるから、平版印刷版Ｐの損失を大幅に減らすことができる。
【０１６４】
加えて、Ａ面レーザ光走査型検出装置２、Ｂ面レーザ光走査型検出装置２、色筋検出装置１２、擦り傷検出装置１４、光沢検出装置１６、および色検出装置１８の運転状況もディスプレー７２に表示されるから、オペレータは、欠陥の検出が異常に多い場合、平版印刷版Ｐ側の異常によるものなのか、Ａ面レーザ光走査型検出装置２などの欠陥検出手段の側の異常によるものなのかを容易に判断できる。
【０１６５】
前記欠陥情報およびロット情報は、互いに関連付けられた状態で統括コンピュータ７０における記憶装置７０Ｂに格納されるから、製造条件と欠陥の発生傾向との関係を整理・検討することが容易に行える。
【０１６６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、帯状体における実際の幅よりも狭い検査幅が設定されて未検査部の残存する帯状体が製品として出荷されることを効果的に防止できる検査システムが提供される。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明に係る検査システムの一例であり、一定の速度で搬送される平版印刷版を検査するオンライン表面検査システムの構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、図１に示すオンライン表面検査システムが備えるＡ面レーザ光走査型検出装置、Ｂ面レーザ光走査型検出装置、色筋検出装置、擦り傷検出装置、光沢検出装置、および色検出装置の配置を示す概略図である。
【図３】図３は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置におけるレーザ光照射部およびレーザ光受光部の相対的な位置関係を示す斜視図である。
【図４】図４は、色筋検出装置について、ＣＣＤカメラおよび光源と検査ローラおよび平版印刷版との相対的な位置関係を示す斜視図である。
【図５】図５は、図３に示すＡ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置において、平版印刷版に照射されたレーザ光をレーザ光受光部において受光した状態を示す概略平面図である。
【図６】図６は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置からのデータを処理する欠陥信号処理装置の構成およびデータの流れを示すブロック図である。
【図７】図７は、色筋検査装置、擦り傷検出装置、光沢検出装置、および色検出装置からのデータを処理する欠陥信号処理装置の構成およびデータの流れを示すブロック図である。
【図８】図８は、統括コンピュータ６０の構成および情報の流れを示すブロック図である。
【図９】図９は、図１に示すオンライン表面検査システムにおいて、欠陥信号処理装置から入力された光電流および位置データに基き、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置における検査幅を求める手順を示すグラフである。
【図１０】図１０は、図１に示すオンライン表面検査システムの備えるディスプレーに傾向管理画面が表示されたところを示す平面図である。
【図１１】図１１は、前記ディスプレーにＡ面傾向管理画面が表示されたところを示す平面図である。
【図１２】図１２は、前記ディスプレーにＢ面傾向管理画面が表示されたところを示す平面図である。
【図１３】図１３は、前記ディスプレーにＡ面周期判定結果が表示されたところを示す平面図である。
【図１４】図１４は、前記ディスプレーにＢ面周期判定結果が表示されたところを示す平面図である。
【図１５】図１５は、不良品として排除すべき著しい欠陥であるジャンボ押傷についての設定画面であるジャンボ押傷設定画面が前記ディスプレーに表示されたところを示す平面図である。
【図１６】図１６は、平版印刷版の搬送を停止する必要がある程の著しい欠陥である出側停止欠陥について設定を行う出側停止印字設定画面が前記ディスプレーに表示されたところを示す平面図である。
【図１７】図１７は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置における検査幅と平版印刷版Ｐの実際の幅であるアルミ幅との関係を表示するＳＬ７０００検出幅データ画面を示す平面図である。
【図１８】図１８は、Ａ面レーザ光走査型検出装置およびＢ面レーザ光走査型検出装置の運転状況を表示するＳＬ７０００状態表示画面を示す平面図である。
【図１９】図１９は、図２に示す色筋検出装置、擦り傷検出装置、光沢検出装置、および色検出装置の運転状態を表示するＭＩＴ−４状態表示画面を示す平面図である。
【符号の説明】
２　　　　Ａ面レーザ光走査型検出装置
４　　　　Ｂ面レーザ光走査型検出装置
６　　　　光沢傷データ管理部
７　　　　生産管理コンピュータ
８　　　　感光面欠陥データ管理部
９　　　　信号中継装置
１０　　　　総括制御部
１２　　　　色筋検出装置
１４　　　　擦り傷検出装置
１６　　　　光沢検出装置
１８　　　　色検出装置
５０　　　　欠陥信号処理装置
５２　　　　制御コンピュータ
６０　　　　欠陥信号処理装置
６２　　　　制御コンピュータ
７０　　　　統括コンピュータ
７０Ａ　　　中央処理装置
７０Ｂ　　　記憶装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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