(57)【要約】【課題】少なくとも１枚の基板の情報記録層には金属の薄膜が形成されている２枚の基板を紫外線硬化型組成物からなる接着剤で貼合わせた貼り合わせ型光ディスクの評価方法において、短時間・簡便かつ直接的な評価方法でありながら、信号特性の評価結果と良く一致する貼り合わせ型光ディスクの評価方法の提供、また、信号の長期安定性に優れた貼り合わせ型光ディスクの製造方法の提供。【解決手段】貼り合わせ型光ディスクにおける接着剤硬化膜の熱刺激電流を測定し、熱刺激電流ピーク値により光ディスクとしての特性を判定する、また、貼り合わせ型光ディスクの製造方法を、▲１▼任意に準備した紫外線硬化型組成物からなる接着剤を前記評価方法により合否判定する工程と、▲２▼合格となった接着剤に対し直接または間接的に紫外線を照射し接着剤を硬化させて貼り合わせ型光ディスクとする工程、とを含む製造方法とする。【選択図】　なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１枚の基板の情報記録層には金属の薄膜が形成されている２枚の基板を紫外線硬化型組成物からなる接着剤で貼合わせた貼り合わせ型光ディスクの評価方法において、前記接着剤硬化膜の熱刺激電流を測定し、熱刺激電流ピーク値により光ディスクとしての特性を判定することを特徴とする光ディスクの評価方法。
【請求項２】
前記測定において、印可電圧１００Ｖ／ｍｍ、保持温度２５℃、降温速度−２０℃／ｍｉｎで−１００℃まで降温後５分間保持、その後電圧除去し、昇温速度５℃／ｍｉｎで１００℃まで昇温させた時に測定される熱刺激電流ピーク値により光ディスクとしての特性を判定する請求項１に記載の光ディスクの評価方法。
【請求項３】
熱刺激電流ピーク値が１．５ｎＡ以下となるものを合格と判定する請求項２記載の光ディスク評価方法。
【請求項４】
紫外線硬化型組成物からなる接着剤で２枚の基板を貼り合わせて貼り合わせ型光ディスクとする光ディスクの製造方法であって、▲１▼任意に準備した紫外線硬化型組成物からなる接着剤を請求項１ないし請求項３に記載の何れかの評価方法により合否判定する工程と、▲２▼合格となった接着剤に対し直接または間接的に紫外線を照射し接着剤を硬化させて貼り合わせ型光ディスクとする工程、とからなることを特徴とする光ディスクの製造方法。
【請求項５】
光ディスクが再生専用型のＤＶＤである請求項４に記載の光ディスクの製造方法。
【請求項６】
光ディスクが書換え可能型または書き込み型のＤＶＤである請求項４に記載の光ディスクの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、貼り合わせ型光ディスクの評価方法および製造方法に関し、更に詳しくは金属を情報記録層に有する貼り合わせ型光ディスクの評価方法およびその評価方法によって合否判定した材料を用いることを特徴とする光ディスクの製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＤＶＤ（デジタルビデオディスクまたはデジタルバーサタイルディスク）は、少なくとも１枚のディスクに情報記録層を有する２枚のディスクを貼り合わせる方法で作製され、紫外線硬化型組成物が接着剤として使用されている。
【０００３】
再生専用型ＤＶＤの場合、貼り合わせる２枚の基板として、共にポリカーボネート基板の片面に記録情報に対応するピットと称する凹凸を設け、情報読み取りのためのレーザー光の反射膜として例えばアルミニウムの層を形成し情報記録層としたもの（ＤＶＤ−１０）、このうち１枚には情報記録層を持たない透明なポリカーボネート基板を使用したもの（ＤＶＤ−５）、あるいは１枚には金を主成分とする金属、ケイ素化合物、銀合金の半透明膜を形成し情報記録層としたもの（ＤＶＤ−９）等がある。さらに、片面に情報記録層を２層有する基板を２枚貼り合わせた構造を有するもの（ＤＶＤ−１８）もあり、用途によって使い分けられている。
【０００４】
これらの光ディスクは、高温高湿条件下で長時間経過後のエラーを測定し信号の長期安定性を評価する。エラーが増加する要因としては，酸素や水分，または未硬化の残存紫外線硬化型組成物などによって金属反射膜が腐食する場合が多い。特にＤＶＤ−９の場合、接着剤層を介して２種類の金属が接合する構造を有するため、電気化学反応が進行して金属反射膜の劣化が促進され、読みとり不良を引き起こすことがＷＯ９９／６１５４２号公報に記載されている。
【０００５】
このため、ＤＶＤ−９の信号を安定に保持するためには、電気化学反応を進行させる紫外線硬化型組成物からなる硬化接着剤層中の電気電導成分を定量する評価方法が必要であった。
【０００６】
従来の評価方法としては、化学的分析法や電気化学的分析法がある。
化学的分析法は、紫外線硬化型組成物に含まれるハロゲンや残存触媒の含有量等を化学的に定量する方法である。その提案としては、例えば特開２０００−２３０１３６号公報が有り、そこでは、残留塩素量の少ない紫外線硬化型樹脂を使用することで、信号の長期安定性の良い光ディスクが提供できることを開示している。
しかしながら、この評価方法は、電気電導成分をハロゲンや残存触媒に限定するために信号特性の評価結果を支持しない場合が多く、また、定量分析に非常に時間がかかるという欠点があった。
【０００７】
一方、電気化学的分析法としては、例えば、ＷＯ９９／６１５４２号公報に開示が有る。該公報の方法は、接着剤硬化膜を所定時間水に浸漬して電気電導成分を水中に抽出し、その被抽出物が含まれた水の比電導度を測定する。そして、浸漬水の比電導度が１００μＳ／ｃｍ以下である紫外線硬化型組成物を接着剤として使用することにより、信号の長期安定性に優れる光ディスクが生産できるとするものである。
この評価方法は、硬化膜中の電気電導成分を比較的簡便に測定できる方法ではあるが、測定対象を水に抽出される電気電導成分に限定するものであるため、硬化膜の評価としては間接的な方法というべきものであった。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
上記実情に鑑み、本発明の課題は、貼り合わせ型光ディスクの評価方法を提供することであり、また、その評価方法によって合否判定した材料を用いて信号の長期安定性に優れた光ディスクの製造方法を提供することである。
すなわち本発明の目的は、硬化接着剤層に対して、短時間・簡便かつ直接的な評価方法でありながら、信号特性の評価結果と良く一致する貼り合わせ型光ディスクの評価方法の提供であり、また、その評価方法を使用する貼り合わせ型光ディスクの製造方法の提供である。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意検討した結果、接着剤として用いる紫外線硬化型組成物の硬化膜中に流れる電流値を熱刺激電流測定法によって測定することにより、貼り合わせ型光ディスクの信号の長期安定性を短時間・簡便かつ直接的に評価できることを見いだした。また、その評価方法により合否判定した接着剤を用いる製造方法とすることにより、信号の長期安定性に優れる光ディスクが製造できることを見出し、本発明に至った。
【００１０】
すなわち本発明は、少なくとも１枚の基板の情報記録層には金属の薄膜が形成されている２枚の基板を紫外線硬化型組成物からなる接着剤で貼合わせた貼り合わせ型光ディスクの評価方法において、前記接着剤硬化膜の熱刺激電流を測定し、熱刺激電流ピーク値により光ディスクとしての特性を判定する光ディスクの評価方法である。
【００１１】
また、本発明は、紫外線硬化型組成物からなる接着剤で２枚の基板を貼り合わせて貼り合わせ型光ディスクとする光ディスクの製造方法であって、▲１▼任意に準備した紫外線硬化型組成物からなる接着剤を前記の評価方法により合否判定する工程と、▲２▼合格となった接着剤に対し直接または間接的に紫外線を照射し接着剤を硬化させて貼り合わせ型光ディスクとする工程、とからなる光ディスクの製造方法である。
【００１２】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施形態を好ましい態様に基づいて説明する。
（熱刺激電流測定用の接着剤硬化膜の調製）
まず、重合性モノマーまたは重合性オリゴマーとして、アクリロイル基またはメタクリロイル基を有する（メタ）アクリレートを２種以上用い、光重合開始剤を紫外線硬化型組成物１００重量部あたり２〜１０部使用して紫外線硬化型組成物を調製する。その後紫外線硬化型組成物を電極付きガラスセルに封入し、紫外線をガラスセル上から照射することで紫外線硬化型組成物の硬化膜を得る。
【００１３】
紫外線照射にあたっては公知慣用の方法で行う。例えば、メタルハライドランプや高圧水銀ランプなどを用いる連続光照射方式で行うこともできるし、ＵＳＰ５９０４７９５記載の閃光照射方式で行うこともできる。
【００１４】
（熱刺激電流の測定）
熱刺激電流は、熱刺激電流測定装置（ＴＳＣ／ＲＭＡ９０００　Ｓｙｓｃｏｍ製）により測定する。測定用サンプルは電極間に硬化膜が保持できる形であればよい。すなわち、前述のように紫外線硬化型組成物に紫外線照射して硬化膜を得ても良いし、貼り合わせ型光ディスクを破壊し接着剤層を取り出しても良い。測定誤差を少なくするためには紫外線照射して硬化膜を得る方法が好ましい。
【００１５】
図１に典型的な熱刺激電流測定結果を示す。熱刺激電流は低温のうちはほとんど流れないが、温度上昇に伴い増加しピークを過ぎた後また減少する。これは低温時は誘起された分極が凍結されており電流値が測定されないが、温度上昇に伴い分子運動が激しくなると分極が緩和するために電流値として測定されることを表す。更に温度上昇し誘起された分極が緩和すると電流値は観測されなくなるため熱刺激電流の測定結果はピーク値を有する。
【００１６】
電流ピーク値は測定条件によって変化するので、測定条件は、まず、印可電圧が１００〜２００Ｖ／ｍｍ、好ましくは１００Ｖ／ｍｍ、保持温度は０℃〜６０℃、好ましくは０℃〜３０℃、更に好ましくは２５℃とする。この時、印可電圧が高すぎると誘電破壊が生じ、低すぎると、分極が十分に誘起されないため電流値が測定できない。次に、冷却時は降温速度−２０℃／ｍｉｎで冷却する。冷却時に到達する温度は−５０℃以下、更に好ましくは−１００℃以下とする。
【００１７】
昇温速度は、１℃／ｍｉｎ〜２０℃／ｍｉｎとし、好ましくは１℃／ｍｉｎ〜１０℃／ｍｉｎ、さらに好ましくは５℃／ｍｉｎで行う。加温時に到達する温度は電圧印可時の保持温度以上の温度とし、好ましくは１００℃以上とするが、硬化膜のガラス転移温度が１００℃以上である場合はガラス転移温度より５０℃以上高い温度とする。
【００１８】
本発明の評価対象または製造対象となる光ディスクは、好ましくは再生専用型ＤＶＤであるＤＶＤ−５、ＤＶＤ−１０、ＤＶＤ−９およびＤＶＤ−１８、書き込み可能型のＤＶＤ−Ｒ、書き換え可能型のＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等のＤＶＤであり、より好ましくはＤＶＤ−９である。しかしながら、これらに限定されず、例えば、厚さ約１．１ｍｍの基板の上に紫外線硬化型組成物で透明フィルムを貼り合わせ厚さ約０．１ｍｍのカバー層を設けたものであっても良い。
【００１９】
【実施例】
次に実施例を挙げて本発明を詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
【００２０】
（実施例）
紫外線硬化型の接着剤として市販品Ａ、Ｂ、Ｃの３種類を用い、下記試験方法１により熱刺激電流を測定した。併せて、下記試験方法３により、ＤＶＤ−９貼り合わせディスク信号の長期安定性を評価した。結果は、表１に示した。
【００２１】
（比較例）
紫外線硬化型の接着剤として実施例で用いたものと同じ市販品Ａ、Ｂ、Ｃを用い、下記試験方法２により硬化膜の比電導度を測定した。併せて、実施例と同様に、下記試験方法３により、ＤＶＤ−９貼り合わせディスク信号の長期安定性を評価した。結果は、表１に示した。
【００２２】
＜試験方法１：熱刺激電流の測定方法＞
ＩＴＯ付きのガラスセル（電極面積１ｃｍ２、セルギャップ１５μｍ）に試料とする各接着剤を封入し、メタルハライドランプ１２０Ｗ／ｃｍ、積算光量０．５Ｊ／ｃｍ２の条件で硬化させた。熱刺激電流はＴＳＣ／ＲＭＡ９０００（Ｓｙｓｃｏｍ製）により測定を行った。測定は、印可電圧１００Ｖ／ｍｍ、保持温度２５℃、降温速度−２０℃／ｍｉｎで−１００℃まで降温後５分間保持し、電圧除去した後に昇温速度５℃／ｍｉｎで１００℃まで加温する条件で行った。
【００２３】
＜試験方法２：浸漬水比電導度の測定方法＞
ガラス基板上に、試料とする各接着剤を膜厚が約１００μｍとなるように塗布した後、メタルハライト゛ランプ１２０Ｗ／ｃｍ、積算光量０．５Ｊ／ｃｍ２の条件で窒素雰囲気中に置いて硬化させた。その後、硬化塗膜をガラス基板上から剥離し蒸留水に浸漬した。８０℃で９６時間浸漬・放置し、試験前後の電気電導度を測定した。測定値は、硬化塗膜１ｇあたりに換算した〔比電導度（μＳ／ｃｍ／ｇ）〕。
【００２４】
＜試験方法３：ＤＶＤ−９貼り合わせディスク信号の長期安定性試験方法＞
記録情報のピットが形成され、アルミニウムが５０ｎｍ積層されたポリカーボネート円版に上記組成物をディスペンサで塗布し、半透明膜として金を主成分とする合金が積層されたポリカーボネート円版を重ね合わせた。次いでスピンコーターで硬化塗膜の膜厚が約５０〜６０μｍになるよう回転させた。次いで、ウシオ電機株式会社製「クセノンフラッシュ照射装置　ＳＢＣ−０４型」を用い、設定電圧１８００Ｖで、金半透明膜付基板側から空気中で１０ショット紫外線を照射しＤＶＤ−９を作製した。この貼り合わせディスクを用いて、楠本化成株式会社製「エタック恒温恒湿器ＳＤ０１」内で８０℃８５％ＲＨの高温高湿環境下に２４０時間放置する環境試験を実施し、環境試験前後における信号特性の評価（ＰＩエラーの測定）をソニー・プレシジョン・テクノロジー株式会社製「ＤＶＤテスター　ＤＱＬ−３００Ｄ」を用いて行い、試験前後でのＰＩエラーの比率（環境試験後／環境試験前）を求めた。ここで、ＰＩエラーの比率が１０以下の場合は良好、１０超過の場合は不良と判定した。なお、「測定不可」は、環境試験後のＰＩエラー測定値が著しく大きくなり、ＰＩエラー比率が１０超過の意味を表す。
【００２５】
上記の実施例および比較例の結果を、表１に示す。
【００２６】
表１．実施例および比較例の評価結果
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【００２７】
＜評価結果のまとめ＞
表１より、接着剤硬化膜の熱刺激電流ピーク値が１．２ｎＡ以下、比電気電導度が９０μＳ／ｃｍ以下、すなわち、試料ＡおよびＢであると、信号の長期安定性が良好なＤＶＤ−９が得られることがわかる。
これに対し、試料Ｃ：熱刺激電流ピーク値が１．７ｎＡ、比電気電導度が１６３μＳ／ｃｍでは、信号の長期安定性が不良であることがわかる。
【００２８】
【発明の効果】
本発明の光ディスク評価方法は、接着剤硬化膜の電流を直接測定できるので、高温高湿の環境試験後における貼り合わせディスク信号の長期安定性の結果と良く一致する。このため、長時間の環境試験を行うことなく信号の長期安定性が評価できる。本発明の光ディスク評価方法によって合否判定した材料を選ぶことで信号の長期安定性の優れた光ディスクを製造できる。さらに本発明の光ディスク評価方法は、生産した光ディスクの品質管理にも用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】熱刺激電流の測定結果の例を示す図である。
【図１】
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