(57)【要約】【課題】低インダクタンス化を促進して測定精度を高めつつ、被測定コンデンサや測定治具等を破損させることなく、周波数測定の利便性を高めた周波数特性測定用治具を提供する。【解決手段】銅板１３２をスライドさせて、グランド線側と芯線側との間に被測定チップコンデンサＣを配置した後、ネジ１４１及びナット１４２によりこのチップコンデンサＣを挟持する。したがって、測定毎にチップコンデンサを半田づけする必要がなくなる。また、同軸線５の端部は互いに併行に密着されており、ここから剥き出されたグランド線同士は互いに半田づけされてグランド線側接触部が形成されているので、従来のような基板パターンによるインダクタンスが発生することもない。【選択図】　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
チップコンデンサの周波数特性を測定可能なアナライザの入出力端子にそれぞれ接続される線材に含まれるグランド線同士が接合されて形成された、前記チップコンデンサの一端に電気的に接触するグランド線側接触部と、
前記線材に含まれる芯線が接合された固定導体板と、
前記固定導体板に形成された貫通孔と、
前記固定導体板と摺接する可動導体板と、
前記可動導体板の一部であり、前記チップコンデンサの他端に電気的に接触する芯線側接触部と、
前記可動導体板に形成されたスライド孔と、
前記グランド線側接触部と前記芯線側接触部との間に前記チップコンデンサを挟持すべく、前記貫通孔及び前記スライド孔を利用して前記可動導体板を前記固定導体板に固定可能な固定部材と、
を含むことを特徴とする周波数特性測定用治具。
【請求項２】
請求項１記載の周波数特性測定用治具において、
前記線材における、前記ネットワークアナライザに接続される側とは反対の端部側は、互いに併行に密着されており、
この端部側から剥き出された前記グランド線同士は、互いに半田づけされている、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。
【請求項３】
請求項２記載の周波数特性測定用治具において、
前記グランド線側接触部には、前記チップコンデンサの一端に電気的に接触する小片状の接点板も半田づけされている、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、
前記芯線は、略直角に折り曲げられて前記固定導体板に半田づけされている、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、
前記芯線側接触部は、前記チップコンデンサの他端に電気的に接触する突起部から構成される、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、
前記固定導体板及び前記可動導体板は共に、摺接方向に垂直な略同幅の辺を有する四角形状をしている、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、
前記固定導体板が、上面側に取り付けられ、この固定導体板を安定的に支持するための専用台、
を更に含むことを特徴とする周波数特性測定用治具。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、チップコンデンサの周波数特性測定用治具に関し、特に、測定精度及び利便性を高めたチップコンデンサの周波数特性測定用治具に関する。
【０００２】
【従来の技術】
チップコンデンサの容量や共振点等の周波特性をデシベル値で表示することが可能なネットワークアナライザが知られている。このようなネットワークアナライザを用いてコンデンサの周波特性を測定する場合には、図４に示すように、芯線５ａ′とグランド線５ｃ′との間に、被測定チップコンデンサＣを並列接続し、出力端子Ｔｘ５及び入力端子Ｒｘ５にそれぞれネットワークアナライザの入出力端子を接続する。そして、チップコンデンサＣに対して試験信号ｆ１を与え、これによる出力信号に基づいて、チップコンデンサの容量や共振点等の周波特性を測定するようにしている。
【０００３】
ところが、ネットワークアナライザを使用してチップコンデンサの周波数特性を測定する治具は、現在販売されておらず、通常、図５に示すような方法で周波数特性が測定されていた。図５（Ａ）は第１の従来の測定方法に係り、図５（Ｂ）は第２の従来の測定方法に係る図である。
【０００４】
すなわち、図５（Ａ）に示すように、第１の従来の測定方法においては、ネットワークアナライザの入出力端子にそれぞれ接続される同軸線５を、基板８上に形成されたグランド線パターン５ｃ１及び信号線パターン５ａ１に入出力コネクタ７ａ、７ｂを介して接続する。そして、グランド線パターン５ｃ１と信号線パターン５ａ１との間に、被測定チップコンデンサＣを並列に半田づけＰ３にて接合する。なお、グランド線パターン５ｃ１及び信号線パターン５ａ１の長さＬは通常３０ｍｍ〜５０ｍｍである。
【０００５】
また、図５（Ｂ）に示すように、第２の従来の測定方法においては、同じくネットワークアナライザの入出力端子にそれぞれ接続される同軸線５のグランド線５ｃと芯線５ａとの間に、直接、被測定チップコンデンサＣを並列に半田づけＰ４にて接合する。なお、図中、５ｂ及び５ｄはそれぞれ、同軸線５の絶縁内皮及び絶縁外皮を示す。なお、測定時における図５（Ａ）及び図５（Ｂ）の方法の等価回路は、図４と同様になる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記第１の従来の測定方法においては、同軸線５からチップコンデンサＣに至るまでのインダクタンスの影響で、コンデンサＣの共振点等の周波数特性が正確に測定できなくなるという問題があった。また、連続して異なるコンデンサＣを測定する場合には、半田づけ及び半田はずしを繰り返さなければならず、その過程で、基板８、パターン５ａ１、５ｃ１、コンデンサＣが、破損する可能性が高かった。
【０００７】
上記第２の従来の測定方法においては、同軸線５からチップコンデンサＣに至るまでのインダクタンスの影響は軽減されるものの、チップコンデンサＣとグランド線５ｃ、芯線５ａとの細かい半田づけ作業のために、技術的難易度が高く、熟練が求められていた。また、測定するまでのセッティングに多くの時間を要することになっていた。更に、第１の従来の測定方法と同様、連続して異なるコンデンサＣを測定する場合には、半田づけ及び半田はずしを繰り返さなければならず、その過程で、同軸線５及びコンデンサＣが、破損する可能性が高かった。
【０００８】
よって本発明は、上述した現状に鑑み、低インダクタンス化を促進して測定精度を高めつつ、被測定コンデンサや測定治具等を破損させることなく、周波数測定の利便性を高めた周波数特性測定用治具を提供することを課題としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するためになされた請求項１記載の周波数特性測定用治具は、チップコンデンサの周波数特性を測定可能なアナライザの入出力端子にそれぞれ接続される線材に含まれるグランド線同士が接合されて形成された、前記チップコンデンサの一端に電気的に接触するグランド線側接触部と、前記線材に含まれる芯線が接合された固定導体板と、前記固定導体板に形成された貫通孔と、前記固定導体板と摺接する可動導体板と、前記可動導体板の一部であり、前記チップコンデンサの他端に電気的に接触する芯線側接触部と、前記可動導体板に形成されたスライド孔と、前記グランド線側接触部と前記芯線側接触部との間に前記チップコンデンサを挟持すべく、前記貫通孔及び前記スライド孔を利用して前記可動導体板を前記固定導体板に固定可能な固定部材と、を含むことを特徴とする。
【００１０】
請求項１記載の発明によれば、可動導体板をスライドさせて、グランド線側接触部と芯線側接触部との間にチップコンデンサを配置した後、固定部材によりチップコンデンサを挟持することができる。したがって、測定毎にチップコンデンサを半田づけする必要がなくなる。また、測定までのセッティングに熟練が求められることもない。
【００１１】
上記課題を解決するためになされた請求項２記載の周波数特性測定用治具は、請求項１記載の周波数特性測定用治具において、前記線材における、前記ネットワークアナライザに接続される側とは反対の端部側は、互いに併行に密着されており、この端部側から剥き出された前記グランド線同士は、互いに半田づけされている、ことを特徴とする。
【００１２】
請求項２記載の発明によれば、線材のネットワークアナライザに接続される側とは反対の端部側は互いに併行に密着されており、この端部側から剥き出されたグランド線同士は互いに半田づけされてグランド線側接触部が形成されているので、基板パターンによるインダクタンスが発生することがない。
【００１３】
上記課題を解決するためになされた請求項３記載の周波数特性測定用治具は、請求項２記載の周波数特性測定用治具において、前記グランド線側接触部には、前記チップコンデンサの一端に電気的に接触する小片状の接点板も半田づけされている、ことを特徴とする。
【００１４】
請求項３記載の発明によれば、小片状の接点板によりグランド線側接触部においてコンデンサとの接触面積が広くなるため、この分インダクタンスを減少させることができる。したがって、より正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。
【００１５】
上記課題を解決するためになされた請求項４記載の周波数特性測定用治具は、請求項１〜３のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、前記芯線は、略直角に折り曲げられて前記固定導体板に半田づけされている、ことを特徴とする。
【００１６】
請求項４記載の発明によれば、芯線は略直角に折り曲げられて固定導体板に半田づけされているので、最短距離で芯線を固定導体板に接合することができる。
【００１７】
上記課題を解決するためになされた請求項５記載の周波数特性測定用治具は、請求項１〜４のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、前記芯線側接触部は、前記チップコンデンサの他端に電気的に接触する突起部１３２ｂから構成される、ことを特徴とする。
【００１８】
請求項５記載の発明によれば、芯線側接触部はチップコンデンサの他端に電気的に接触する突起部１３２ｂから構成されているので、コンデンサのセッティングが容易であるうえ、コンデンサを安定的に挟持することができる。
【００１９】
上記課題を解決するためになされた請求項６記載の周波数特性測定用治具は、請求項１〜５のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、前記固定導体板及び前記可動導体板は共に、摺接方向に垂直な略同幅の辺を有する四角形状をしている、ことを特徴とする。
【００２０】
請求項６記載の発明によれば、固定導体板及び可動導体板は共に、摺接方向に垂直な略同幅の辺を有する四角形状をしているので、必要以上に装置が大型化することなく固定導体板と可動導体板との接触面積を広げることができる。
【００２１】
上記課題を解決するためになされた請求項７記載の周波数特性測定用治具は、請求項１〜６のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、前記固定導体板が、上面側に取り付けられ、この固定導体板を安定的に支持するための専用台、を更に含むことを特徴とする。
【００２２】
請求項７記載の発明によれば、この固定導体板を安定的に支持するための専用台を備えているので、測定精度を非常に安定させることができる。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図１（Ａ）及び図１（Ｂ）はそれぞれ、本発明の周波数特性測定用治具の一実施形態を示す平面図及び側面図である。図１（Ａ）及び図１（Ｂ）に示すように、本周波数特性測定用治具１は、チップコンデンサの周波数特性を測定可能なネットワークアナライザの入出力端子に、コネクタ６を介して、その一端が接続される同軸線５の他端が接続されている。周波数特性測定用治具１は、箱型の専用台を構成する基台２及び支持台３上に固定されている。この専用台により、周波数特性測定用治具１が確実に支持されて、測定精度をより安定させることができる。なお、周波数特性測定用治具１を支持台３上に取り付ける際には、コ字状のガイドリブ４が利用される。
【００２４】
同軸線５は、芯線５ａ、絶縁内皮５ｂ、編組線５ｃ及び絶縁内皮５ｂから構成される公知の線材である。但し、高周波特性を安定させるためには、芯線５ａができるだけ太いものを選択することが好ましい。同軸線５は、その絶縁外皮５ｄが剥きとられ、編組線５ｃ同士が半田づけにて接合され、更に、小片状の導体の接点板１１も同時にここに半田づけされている。また、絶縁内皮５ｂからは芯線５ａがそれぞれ剥きだされて、銅板１２３に半田づけＰ１にて接合されている。
【００２５】
また、支持台３上に固定された周波数特性測定用治具１は、基本的に、固定部１２及びスライド部１３とから構成されている。更に、固定部１２は、固定部基板１２１及びこの固定部基板１２１に重積された銅板１２２、銅板１２３から構成され、スライド部１３は、スライド部基板１３１及び銅板１３２から構成される。
【００２６】
固定部１２及びスライド部１３は、固定部１２に穿設された貫通孔１２ａ（ここでは不図示）及びスライド部１３に穿設されたスライド孔１３ａにネジ１４１が貫通された後ナット１４２が締め付られて固定される。詳しくは、スライド部１３は、スライド孔１３ａの長さ分だけ、固定部１２の銅板１２３上を矢印で示す方向に摺接又はスライド可能であり、被測定チップコンデンサＣをグランド線側（例えば接点板１１）と芯線側（例えば突起部１３２ｂ）との間に挟持するような位置でナット１４２が締め付られると、両者の位置関係は固定される。これら固定部１２及びスライド部１３の構成は、以下に図２及び図３を用いて説明する。
【００２７】
図２（Ａ）は同軸線を取り付ける前の固定部の状態を示す平面図であり、図２（Ｂ）は同軸線が取り付けられた固定部の状態を示す平面図であり、図２（Ｃ）は図２（Ｂ）のＸＸ線断面図である。図３（Ａ）、図３（Ｂ）及び図３（Ｃ）はそれぞれ、スライド部１３の平面図、背面図及び側面図である。
【００２８】
まず、図２（Ａ）に示すように、ネットワークアナライザに接続される同軸線５の端部近傍は互いに併行に密着されている。同軸線５は、その絶縁外皮５ｄが剥きとられ、グランド線としての編組線５ｃ同士が半田づけにて接合されている。したがって、従来のような基板パターンによるインダクタンスが発生することなく、正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。更に、ここには、小片状の接点板１１も同時に半田づけされている。この接点板１１により、コンデンサとの接触面積が広くなるため、この分、インダクタンスを減少させることができる。また、絶縁内皮５ｂからは芯線５ａがそれぞれ剥きだされている。
【００２９】
このような同軸線５の編組線５ｃは、図２（Ｂ）及び図２（Ｃ）に示すように、固定部１２を構成する固定部基板１２１上に重積された四角形の銅板１２２に半田づけＰ２にて固定されている。また、同軸線５の芯線５ａはそれぞれ、固定部基板１２１上に重積された凹字形の銅板１２３に半田づけＰ１にて接合されている。詳しくは、芯線５ａは、略直角に折り曲げられて銅板１２３に半田づけされている。すなわち、最短距離で芯線５ａが銅板１２３に接合されているので、芯線５ａからコンデンサＣに至るまでのインダクタンスを更に減少させることができる。これら銅板１２２及び銅板１２３は電気的に絶縁されている。
【００３０】
一方、図３（Ａ）〜図３（Ｃ）に示すように、スライド部１３を構成するスライド部基板１３１上には、この基板１３１を略覆うように、銅板１３２が重積されている。詳しくは、このスライド部基板１３１には、図中、上辺に相当する部位に突起部１３１ｂが形成されており、銅板１３２もこの突起部１３１ｂに対応する突起部１３２ｂを有している。これら突起部１３１ｂ、１３２ｂにより、コンデンサＣのセッティングが容易になるうえ、コンデンサＣをより安定的に挟持することができる。また、銅板１３は突起部１３１ｂ、１３２ｂの両側部分がコ字状に折り曲げられて、スライド部基板１３１に固定されている。スライド部基板１３１及び銅板１３２の略中央部には共に、上記スライドを可能にするための細長いスライド孔１３ａが穿設されている。この銅板１３２は、上記固定部１２の銅板１２３と略同幅の辺を有する略四角形状をしているので、必要以上に装置が大型化することなく、銅板１２３との接触面積を広げることができる。したがって、コンパクトでありながら、インダクタンス増加を抑えることができる。
【００３１】
このような構成の周波数特性測定用治具１において、チップコンデンサＣの周波数特性を測定する際には、まず、チップコンデンサＣの長さより大きい間隙が接点板１１と突起部１３１ｂとの間に形成されるように、スライド部１３を図１の下方にスライドさせる。次に、被測定チップコンデンサＣを接点板１１と突起部１３１ｂ、１３２ｂとの間に位置決めする。次に、スライド部１３を図１の上方にスライドさせて、チップコンデンサＣの両端が、接点板１１と突起部１３２ｂとに電気的に接触するようにする。そして、この位置で、ナット１４２を締め付けてスライド部１３を固定する。これにより、チップコンデンサＣは、接点板１１と突起部１３１ｂ、１３２ｂとに挟持される。このとき、チップコンデンサＣの一端は同軸線５のグランド線側に接続され、コンデンサＣの他端はスライド部１３の銅板１３２、固定部１２の銅板１２３を経由して同軸線５の芯線側に電気的に接続される。すなわち、その等価回路は図４と同様になる。この後は、公知の方法でネットワークアナライザを用いて、現在セッティングされているチップコンデンサＣの周波数特性を測定することができる。
【００３２】
また、測定終了時には、ナット１４２を緩めた後、上記と逆方向にスライド部１３をスライドさせて現在セッティングされているチップコンデンサＣを取り外す。そして、次のチップコンデンサＣを上記と同様の手順でセッティングして、同様に、ネットワークアナライザを用いて、このチップコンデンサＣの周波数特性を測定することができる。測定にはネットワークアナライザが使用可能なので、チップコンデンサＣの周波数特性をデシベル値で取得することができる。
【００３３】
このように本実施形態によれば、低インダクタンス化を促進して測定精度を高めつつ、コンデンサや測定治具等を破損することなく、周波数測定の利便性を高めた周波数特性測定用治具を得ることができる。なお、本発明は上記実施形態に限定されず、その主旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
【００３４】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１記載の発明によれば、可動導体板をスライドさせて、グランド線側接触部と芯線側接触部との間にチップコンデンサを配置した後、固定部材によりチップコンデンサを挟持することができる。したがって、従来のように測定毎にチップコンデンサを半田づけする必要がなくなり、チップコンデンサや測定ジグの破損を防止することができる。また、従来のように測定までのセッティングに熟練が求められることもないので、測定時間も短縮される。
【００３５】
請求項２記載の発明によれば、線材のネットワークアナライザに接続される側とは反対の端部側は互いに併行に密着されており、この端部側から剥き出されたグランド線同士は互いに半田づけされてグランド線側接触部が形成されているので、従来のような基板パターンによるインダクタンスが発生することなく、正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。
【００３６】
請求項３記載の発明によれば、小片状の接点板によりグランド線側接触部においてコンデンサとの接触面積が広くなるため、この分インダクタンスを減少させることができる。したがって、より正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。
【００３７】
請求項４記載の発明によれば、芯線は略直角に折り曲げられて固定導体板に半田づけされているので、最短距離で芯線を固定導体板に接合することができる。したがって、芯線からコンデンサに至るまでのインダクタンスを更に減少させることができ、更に正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。
【００３８】
請求項５記載の発明によれば、芯線側接触部はチップコンデンサの他端に電気的に接触する突起部１３２ｂから構成されているので、コンデンサのセッティングが容易であるうえ、コンデンサを安定的に挟持することができる。
【００３９】
請求項６記載の発明によれば、固定導体板及び可動導体板は共に、摺接方向に垂直な略同幅の辺を有する四角形状をしているので、必要以上に装置が大型化することなく固定導体板と可動導体板との接触面積を広げることができる。したがって、コンパクトでありながら、インダクタンス増加を抑えることができる。
【００４０】
請求項７記載の発明によれば、この固定導体板を安定的に支持するための専用台を備えているので、測定精度を非常に安定させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１（Ａ）及び図１（Ｂ）はそれぞれ、本発明の周波数特性測定用治具の一実施形態を示す平面図及び側面図である。
【図２】図２（Ａ）は同軸線を取り付ける前の固定部の状態を示す平面図であり、図２（Ｂ）は同軸線が取り付けられた固定部の状態を示す平面図であり、図２（Ｃ）は図２（Ｂ）のＸＸ線断面図である。
【図３】図３（Ａ）、図３（Ｂ）及び図３（Ｃ）はそれぞれ、スライド部の平面図、背面図及び側面図である。
【図４】この種の周波数特性測定に係る基本回路構成を示す図である。
【図５】図５（Ａ）は第１の従来の測定方法に係り、図５（Ｂ）は第２の従来の測定方法に係る図である。
【符号の説明】
１　周波数特性測定用治具
２　基台（専用台）
３　支持台（専用台）
４　ガイドリブ
５　同軸線（線材）
５ａ　芯線
５ｃ　編組線（グランド線側接触部）
１１　接点板（グランド線側接触部）
１２　固定部
１３　スライド部
１２１　固定部基板
１２３　銅板（固定導体板）
１３１　スライド部基板
１３２　銅板（可動導体板）
１３２ｂ　突起部（芯線側接触部）
１４１　ネジ（固定部材）
１４２　ナット（固定部材）
【図１】
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【図２】
2004063857.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
2004063857.tif 000007