(57)【要約】【課題】光学ヘッドのラジアルチルト位置の最適化学習により高信頼なデータの再生を行う。【解決手段】再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段４１と、光学ヘッドのラジアルチルト位置を変更するラジアルチルト位置可変手段４３と、異なるラジアルチルト位置における前記ジッター量測定手段４１の出力信号からジッター量が最小となるラジアルチルト位置を判定するラジアルチルト位置学習手段４２を有し、ラジアルチルトを最適な位置に設定する。【選択図】図４
2004047109.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのラジアルチルト位置を変更するラジアルチルト位置可変手段と、前記ジッター量測定手段の出力信号からジッター量が最小となるラジアルチルト位置を判定するラジアルチルト位置学習手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのタンジェンシャルチルト位置を変更するタンジェンシャルチルト位置可変手段と、前記ジッター量測定手段の出力信号からジッター量が最小となるタンジェンシャルチルト位置を判定するタンジェンシャルチルト位置学習手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのフォーカス位置を変更するフォーカス位置可変手段と、前記ジッター量測定手段の出力信号からジッター量が最小となるフォーカス位置を判定するフォーカス位置学習手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのオフトラック位置を変更するオフトラック位置可変手段と、前記ジッター量測定手段の出力信号からジッター量が最小となるオフトラック位置を判定するオフトラック位置学習手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
ジッター量測定手段は信号の高周波成分を取り出すハイパスフィルターと、ハイパスフィルターの出力信号を検波する検波器と、検波器の出力信号をディジタル化するＡ／Ｄ変換器から構成されることを特徴とする請求項１、２、３または４記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明はディジタル信号を記録再生する情報再生装置に関するものであり、このうち特に光学的に記録再生を行う光ディスク装置ならびに光ディスク媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
　近年、光ディスク装置は大容量のデータを記録再生する手段として盛んに開発が行われ、より高い記録密度を達成するためのアプローチがなされている。このような高記録密度を達成する際の課題はＳ／Ｎや記録ピット間干渉の改善と同時に、光ディスク媒体や光ディスク装置のばらつきに対して信号品質を補償することである。このことは特に、光学ヘッドと光ディスク媒体との位置関係のばらつきとして代表されるデフォーカス、オフトラック（光スポットのトラック中心からのずれ）、タンジェンシャルチルト（記録トラック接線方向の傾き）、ラジアルチルト（ディスク半径方向の傾き）等による再生チャンネルの特性変化として指摘されており、これらに起因するエラーレートの増加の小さい装置が要求されている。
【０００３】
　以下図面を参照しながら、上記した従来の光ディスク装置の再生方法の一例について説明する。
【０００４】
　図１１は従来の光ディスク媒体の記録領域を示した図であり、図１２は従来の光ディスク装置の構成図である。図１３は図１２におけるＰＬＬの構成図である。
【０００５】
　図１１において１１１は光ディスク媒体、１１２はトラック、１１３はディジタルデータが記録されたデータ領域、１１４はピットである。
【０００６】
　図１２において１２２は光学系、１２３は半導体レーザＬＤ、１２４はピンフォトダイオードＰＤ、１２５はプリアンプ、１２６は波形等化器、１２７は整形器、１２９はＰＬＬ、１２１１は復調・誤り訂正手段である。
【０００７】
　図１３において１３１は位相比較器、１３２はローパスフィルター、１３３はＶＣＯ、１３４は分周回路、１３５はゲート回路、１３８はＤ型フリップフロップである。
【０００８】
　図１１において光ディスク媒体１１１では圧縮された音声や画像情報等のプログラムがディジタルデータとしてディジタル変調されて、長さが所定の規則で変化するように凹凸で形成されたピット１１４の列がトラック１１２を構成するように、内周部から外周部に向かって螺旋状に配置され、この配列によって光スポットのトラッキングが行えるようにデータ領域全域に記録されている。
【０００９】
　図１２において半導体レーザ１２３の出力光は光学系１２２で処理されて光ディスク媒体１１１上に光スポットとして集光され、その反射光がピンフォトダイオード１２４に入射される。プリアンプ１２５はピンフォトダイオード１２４により検出された反射光変化を増幅し、結果として光ディスク媒体上のピット長さ変化により変化する再生信号を出力する。再生信号は波形等化器１２６で波形干渉の小さい信号に変えられ、整形器１２７で信号の有無を表すパルス信号１２８に変換される。信号１２８はＰＬＬ１２９に入力され、光ディスク媒体１１１に記録されたリードデータである２値化信号１２１０を出力し、復調・誤り訂正手段１２１１で復調・誤り訂正処理を行ってエラーのないディジタルデータ信号１２１２を出力する。
【００１０】
　図１３においてパルス信号１２８が位相比較器１３１に入力されると、位相比較器１３１は入力信号１２８とゲート回路１３５の出力信号との位相差を検出し、２つの入力信号の位相差と周波数差に関係する誤差電圧１３９を発生する。誤差電圧１３９はローパスフィルター１３２で低周波成分だけが取り出され、ＶＣＯ１３３の制御電圧となる。ＶＣＯ１３３は制御電圧によって決まる周波数でクロック信号１３７を発生する。クロック信号１３７は分周回路１３４で分周され、ゲート回路１３５でパルス信号１２８に対応した信号のみが出力される。このときＶＣＯは２つの入力信号の位相が等しくなるように制御され、結果的にパルス信号１２８をその基本周期に同期させた同期信号１３６が得られる。信号１３６はＤ型フリップフロップ１３８に入力され、２値化信号１２１０を出力する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
　光ディスクの特長として媒体交換可能であることが注目されており、高密度化の進展に伴って前述のようなばらつきに対する補償性能が問題となってきた。例えばディスク内周部と外周部とではディスクの成型と反射膜の状態のばらつきに加えて、ディスクの反り等によって光学ヘッドとディスクとの平行度がずれてディスク半径方向および接線方向のチルトが発生し、このチルトによって再生信号品質が劣化する。加えてディスク装着はそのセンターホールを用いて行われる中心支持のため、装着によってもチルト変化が生じる。
【００１２】
　しかしながら上記のような構成では、より高密度化をはかった場合に光ディスク媒体間あるいは装置間のばらつきが大きくなって信頼性が低下するという課題を有していた。
【００１３】
　本発明は上記課題に鑑み、情報を記録するデータ領域とは異なる領域に、光学ヘッドの自動調整用の領域を有した光ディスク媒体を提供するものである。
【００１４】
　また本発明は上記課題に鑑み、前記自動調整用の領域を再生して光学ヘッドの自動調整を可能とする光ディスク装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
　上記問題点を解決するために本発明の光ディスク媒体は、隣接する３本のトラックにランダム信号が記録されている。
【００１６】
　また本発明の光ディスク媒体は、隣接する３本のトラックの両端のトラックにランダム信号が記録され、中央のトラックにはデータ領域における変調方式の最小反転間隔と最大反転間隔の信号から構成された信号が記録されている。
【００１７】
　また本発明の光ディスク媒体は、隣接する３本のトラックの両端のトラックにデータ領域における変調方式の最大反転間隔の信号が記録され、中央のトラックにはランダム信号が記録されている。
【００１８】
　また本発明の光ディスク媒体は、隣接する３本のトラックの両端のトラックにデータ領域における変調方式の最大反転間隔の信号が記録され、中央のトラックにはデータ領域における変調方式の、最小反転間隔と最大反転間隔の信号から構成された信号が記録されている。
【００１９】
　また本発明の光ディスク媒体は、隣接する３本のトラックの一部または全部のトラック幅と、データ領域のトラック幅が異なる。
【００２０】
　また本発明の光ディスク装置は、再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのラジアルチルト位置を変更するラジアルチルト位置可変手段と、異なるラジアルチルト位置における前記ジッター量測定手段の出力信号からジッター量が最小となるラジアルチルト位置を判定するラジアルチルト位置学習手段を有する。
【００２１】
　また本発明の光ディスク装置は、再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのタンジェンシャルチルト位置を変更するタンジェンシャルチルト位置可変手段と、異なるタンジェンシャルチルト位置における前記ジッター量測定手段の出力信号からジッター量が最小となるタンジェンシャルチルト位置を判定するタンジェンシャルチルト位置学習手段を有する。
【００２２】
　また本発明の光ディスク装置は、再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのフォーカス位置を変更するフォーカス位置可変手段と、異なるフォーカス位置における前記ジッター量測定手段の出力信号からジッター量が最小となるフォーカス位置を判定するフォーカス位置学習手段を有する。
【００２３】
　また本発明の光ディスク装置は、再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのオフトラック位置を変更するオフトラック位置可変手段と、異なるオフトラック位置における前記ジッター量測定手段の出力信号からジッター量が最小となるオフトラック位置を判定するオフトラック位置学習手段を有する。
【００２４】
　本発明の光ディスク媒体ならびに光ディスク装置は上記した構成によってディスク装着後のプログラム再生の前に所定の領域を再生することにより、光学ヘッドのラジアルチルト位置を最適にする学習を行うものであり、これによりプログラム再生時のエラーレート改善を実現する。
【００２５】
　また、本発明の光ディスク媒体ならびに光ディスク装置は上記した構成によってディスク装着後のプログラム再生の前に所定の領域を再生することにより、光学ヘッドのタンジェンシャルチルト位置を最適にする学習を行うものであり、これによりプログラム再生時のエラーレート改善を実現する。
【００２６】
　また、本発明の光ディスク媒体ならびに光ディスク装置は上記した構成によってディスク装着後のプログラム再生の前に所定の領域を再生することにより、光学ヘッドのフォーカス位置を最適にする学習を行うものであり、これによりプログラム再生時のエラーレート改善を実現する。
【００２７】
　また、本発明の光ディスク媒体ならびに光ディスク装置は上記した構成によってディスク装着後のプログラム再生の前に所定の領域を再生することにより、光学ヘッドのオフトラック位置を最適にする学習を行うものであり、これによりプログラム再生時のエラーレート改善を実現する。
【発明の効果】
【００２８】
　以上のように本発明は既定のデータが記録された学習領域を設け、これを再生して光学ヘッドのラジアルチルト位置、タンジェンシャルチルト位置、フォーカス位置、オフトラック位置を最適化することにより高信頼にデータの再生を行うものであり、光ディスク媒体、光ディスク装置および両者の組み合わせによって生じるディスクの再生特性の変化を補償する自動調整機能を実現する優れた光ディスク媒体ならびに光ディスク装置を提供するものである。
【００２９】
　また、学習領域を内周部と外周部の各々に設定することにより、全周に渡った補償が可能になる。
【００３０】
　さらに、学習領域の一部または全部のトラック幅をデータ領域のトラック幅より狭くすることにより、再生トラックの両隣のトラックからの信号の漏れ込みであるクロストーク量を大きくすることで調整の精度を更に向上することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
　（実施例）
　以下本発明の実施例における光ディスク媒体ならびに光ディスク装置について、図面を参照しながら説明する。なお、従来例と同一の構成要素については同一の番号を付与しその説明を省略ないしは簡略化する。
【００３２】
　図１に本発明の第１の実施例における光ディスク媒体の構成を示す。図１において、１は光ディスク媒体、２はデータ領域、３は内周部の学習領域、４は外周部の学習領域である。
【００３３】
　光ディスク媒体１の学習領域３、４には既定のデータが記録されており、光ディスク媒体１が光ディスク装置に装着されると光ディスク装置は内周部の学習領域をアクセスし、学習領域３の再生を開始する。
【００３４】
　ここで光ディスク媒体１の成型と反射膜の状態のばらつきや反り等によっては内周部と外周部とで主としてチルト量が変わる可能性がある。
【００３５】
　この場合には、チルト量の変化に伴ってディスク全周にわたって補償量を変えることが望ましい。前述の動作において、内周部の学習領域３での学習結果を学習手段に保持しておき、続いて外周部の学習領域４において学習を行うことにより外周部での学習結果を得て、内外周での結果から全ての領域における補償量を設定することが可能となる。
【００３６】
　図２に学習領域の構成を示す。図２において２１はトラック、２２はピット、２３は学習トラックである。本実施例では学習領域は３本のトラックから構成される。
【００３７】
　なお、再生専用ディスク等でピットが並んでいるのみでディスク半径方向の隣合うピットとの間を分ける溝等が存在しないときでも説明の便宜上、連続して再生する１周のピット列をトラックと呼び、仮想の境界２４を設ける。さらに隣合う２本の仮想の境界の距離をトラック幅と呼ぶことにする。なお、本実施例では図１における全ての領域のトラック幅は等しい。
【００３８】
　なお、書換え型のＲＡＭディスク等のランド部とグルーブ部が存在するディスクでは図３３に一例を示すように例えばグルーブ部のみに記録する場合には境界２４はランド部として考え、ランド部のみに記録する場合には境界２４はグルーブ部として考える。またランド部・グルーブ部の両方に記録する場合には隣合う２本の境界２４にはさまれた領域がランド部ないしはグルーブ部に対応する。
【００３９】
　図３に学習トラック２３に記録されている信号を示す。図３において第１トラック３２にはランダム信号３５が記録されている。第２トラック３３にはランダム信号３６が記録されている。第３トラック３４にはランダム信号３７が記録されている。
【００４０】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。また本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【００４１】
　図３におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。なお、Ｔは基本周波数の逆数であり、ウィンドウ幅である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【００４２】
　図４に本実施例の光ディスク装置の構成を示す。図４において４１はジッター量測定手段、４２はラジアルチルト位置学習手段、４３はラジアルチルト位置可変手段である。
【００４３】
　図５にジッター量測定手段４１とＰＬＬ１２９の構成を示す。図５において５１はハイパスフィルター、５２はＡ／Ｄ変換器、５４は検波器である。
【００４４】
　図６にラジアルチルト位置可変手段４３の構成を示す。図６において６１は光学系１２２を支える台座、６２は台座６１を傾けるスクリュー、６５は台座が傾くときの支点、６７はラジアルチルト位置可変回路である。スクリュー６２はラジアルチルト位置可変回路６７によって上下に移動する。また、６４は光学系１２２、ラジアルチルト位置可変回路６７等を備えた光学ヘッドであり、紙面上で左右に移動する。
【００４５】
　以下で学習時の動作について説明する。光ディスク媒体１が光ディスク装置に装着されると光ディスク装置は学習トラック２３の第２トラック３３を再生する。
【００４６】
　図４において半導体レーザ１２３の出力光は光学系１２２で処理されて光ディスク媒体１上に光スポットとして集光され、その反射光がピンフォトダイオード１２４に入射される。プリアンプ１２５はピンフォトダイオード１２４により検出された反射光変化を増幅し、結果として光ディスク媒体上のピット長さ変化により変化する再生信号を出力する。再生信号は波形等化器１２６で波形干渉の小さい信号に変えられ、整形器１２７で信号の有無を表すパルス信号１２８に変換され、ＰＬＬ１２９に入力される。
【００４７】
　このとき信号１２８には、ラジアルチルト（ディスク半径方向の傾き）、オフトラック（スポットのトラック中心からのずれ）等による隣接トラックからの反射回折光によるクロストークや、タンジェンシャルチルト（記録トラック接線方向の傾き）、オフトラック、デフォーカス（焦点ずれ）、ディスクの経時変化、回路雑音等による再生信号振幅の低下や、波形干渉（マーク間隔が狭いときに前後のマークから受ける影響）等により、ジッターと呼ばれる原信号との時間的なずれが発生している。ジッター量が大きくなると再生系における読み出し誤りが増大する。
【００４８】
　図５においてパルス信号１２８が位相比較器１３１に入力されると、位相比較器１３１は入力信号１２８とゲート回路１３５の出力信号との位相差を検出し、２つの入力信号の位相差と周波数差に関係する誤差電圧１３９を発生する。誤差電圧１３９はローパスフィルター１３２で低周波成分だけが取り出され、ＶＣＯ１３３の制御電圧となる。ＶＣＯ１３３は制御電圧によって決まる周波数でクロック信号１３７を発生する。クロック信号１３７は分周回路１３４で分周され、ゲート回路１３５でパルス信号１２８に対応した信号のみが出力される。このときＶＣＯは２つの入力信号の位相が等しくなるように制御され、結果的にパルス信号１２８をその基本周期に同期させた同期信号１３６が得られる。
【００４９】
　誤差電圧１３９は一方でジッター量測定手段４１に入力される。図５において誤差電圧１３９はハイパスフィルター５１によってその高周波成分だけが取り出され、検波器５４で検波されて信号５３となる。信号１２８のジッター量が大きいほど信号５３も大きい。信号５３はＡ／Ｄ変換器５２でディジタル化された後、ラジアルチルト位置学習手段４２に入力され、現ラジアルチルト位置でのジッター量として保持される。
【００５０】
　以下ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させながらジッター量を測定し、ラジアルチルト位置学習手段４２にその値を保持していく。
【００５１】
　ラジアルチルト位置を変化させることによって光学ヘッド６４と光ディスク媒体１とのディスク半径方向の相対角度が変化し、学習トラック２３の第１トラック３２もしくは第３トラック３４からの信号が第２トラック３３へ漏れ込むクロストーク量が変化し、これにより再生信号波形が変化してジッター量が変わる。
【００５２】
　従ってジッター量の最も小さい位置もしくはジッター量極小となる位置が２箇所存在する場合はその中央位置が両隣のトラックからの影響の最も小さい位置である。
【００５３】
　このサイクルはラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定するまで続けられ、全測定が終了すると各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。図３４に学習のフローチャートの一例を示す。
【００５４】
　以上のように本実施例の光ディスク媒体を用いてラジアルチルト位置の学習を行うことにより、領域ごとに、両隣のトラックからのクロストーク量の小さい最適ラジアルチルト位置での再生が可能になり、より高い信頼性で再生を行えることになる。
【００５５】
　また、本実施例のように学習トラック２３を設けて常に同一のトラックを再生することにより、ラジアルチルト位置学習手段４２に記憶手段を備えていれば出荷時や過去の学習時のデータとの比較が可能になるので、動作状態のチェック手段として使用できる。
【００５６】
　なお、本実施例の学習はディスク装着時に行うが、使用中に何らかの異常があって再起動を行うときはもちろん、振動の多い場所での使用時には使用中に何度でも学習を行って良い。
【００５７】
　なお、本実施例では波形等化器１２６を用いているが、波形等化を行うことで各ラジアルチルト位置におけるジッター量の差が出にくくなる場合は、学習時にはプリアンプ１２５の出力を整形器１２７に入力し、波形等化を行わなくても良い。
【００５８】
　なお、本実施例ではラジアルチルト位置可変手段４３の構成として、台座６１をスクリュー６２で傾ける方式を用いているが、光学ヘッド６４と光ディスク媒体１とのディスク半径方向の相対角度を変化させることが可能な構成であればどのような構成でも良い。
【００５９】
　なお、本実施例ではジッター量測定手段４１の構成例として、ＰＬＬ１２９の位相比較器１３１の出力をハイパスフィルター５１に入力し、検波器５４を通してＡ／Ｄ変換する方式を用いているが、ジッター量もしくはジッター量に関係する量を検出する構成であればどのような構成でも良い。
【００６０】
　以下本発明の第２の実施例について図面を参照しながら説明する。図７は本発明の第２の実施例の光ディスク装置の構成図である。
【００６１】
　図７において、４１はジッター量測定手段、７１はタンジェンシャルチルト位置学習手段、７２はタンジェンシャルチルト位置可変手段である。
【００６２】
　図８にタンジェンシャルチルト位置可変手段７２の構成を示す。図８において６１は光学系１２２を支える台座、６２は台座６１を傾けるスクリュー、６５は台座が傾くときの支点、８２はタンジェンシャルチルト位置可変回路である。スクリュー６２はタンジェンシャルチルト位置可変回路８２によって上下に移動する。また、８１は光学系１２２、タンジェンシャルチルト位置可変回路８２等を備えた光学ヘッドであり、紙面に向かって垂直方向に移動する。
【００６３】
　本実施例の光ディスク装置は第１の実施例の光ディスク装置におけるラジアルチルト位置学習手段４２、ラジアルチルト位置可変手段４３の代わりに、タンジェンシャルチルト位置学習手段７１、タンジェンシャルチルト位置可変手段７２を備えたものであり、それ以外の構成および使用する光ディスク媒体については同様である。
【００６４】
　本実施例ではタンジェンシャルチルト位置可変手段７２により一定量づつタンジェンシャルチルト位置を変化させながらジッター量を測定し、タンジェンシャルチルト位置学習手段７１にその値を保持していく。
【００６５】
　タンジェンシャルチルト位置を変化させることによって光学ヘッド６４と光ディスク媒体１との記録トラック接線方向の相対角度が変化し、学習トラック２３の第２トラック３３の再生信号振幅が変化し、これによりジッター量が変化する。
【００６６】
　このサイクルはタンジェンシャルチルト位置学習手段７１が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適タンジェンシャルチルト位置を判定するまで続けられ、全測定が終了すると各領域における最適タンジェンシャルチルト位置を決定する。
【００６７】
　以上のように本実施例の光ディスク媒体を用いてタンジェンシャルチルト位置の学習を行うことにより、領域ごとに、再生信号振幅の大きい最適タンジェンシャルチルト位置での再生が可能になり、より高い信頼性で再生を行えることになる。
【００６８】
　また、本実施例のように学習トラック２３を設けて常に同一のトラックを再生することにより、タンジェンシャルチルト位置学習手段７１に記憶手段を備えていれば出荷時や過去の学習時のデータとの比較が可能になるので、動作状態のチェック手段として使用できる。
【００６９】
　なお、本実施例の学習はディスク装着時に行うが、使用中に何らかの異常があって再起動を行うときはもちろん、振動の多い場所での使用時には使用中に何度でも学習を行って良い。
【００７０】
　なお、本実施例ではタンジェンシャルチルト位置可変手段７２の構成として、台座６１をスクリュー６２で傾ける方式を用いているが、光学ヘッド８１と光ディスク媒体１との記録トラック接線方向の相対角度を変化させることが可能な構成であればどのような構成でも良い。
【００７１】
　以下本発明の第３の実施例について図面を参照しながら説明する。図９は本発明の第３の実施例の光ディスク装置の構成図である。
【００７２】
　図９において、４１はジッター量測定手段、９１はフォーカス位置学習手段、９２はフォーカス位置可変手段、９３はフォーカスサーボ回路である。
【００７３】
　本実施例の光ディスク装置は第１の実施例の光ディスク装置におけるラジアルチルト位置学習手段４２、ラジアルチルト位置可変手段４３の代わりに、フォーカス位置学習手段９１、フォーカス位置可変手段９２を備えたものであり、それ以外の構成および使用する光ディスク媒体については同様である。
【００７４】
　フォーカス位置可変手段９２は例えばＤ／Ａ変換器を備えており、フォーカス位置学習手段９１の信号に応じた電圧をフォーカスサーボ回路９３のフォーカスエラー信号にオフセット電圧として加えることにより焦点位置をずらす。
【００７５】
　本実施例ではフォーカス位置可変手段９２により一定量づつフォーカス位置を変化させながらジッター量を測定し、フォーカス位置学習手段９１にその値を保持していく。フォーカス位置を変化させることによって学習トラック２３の第２トラック３３の再生信号振幅が変化し、これによりジッター量が変化する。
【００７６】
　このサイクルはフォーカス位置学習手段９１が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適フォーカス位置を判定するまで続けられ、全測定が終了すると各領域における最適フォーカス位置を決定する。
【００７７】
　以上のように本実施例の光ディスク媒体を用いてフォーカス位置の学習を行うことにより、領域ごとに、再生信号振幅の大きい最適フォーカス位置での再生が可能になり、より高い信頼性で再生を行えることになる。
【００７８】
　また、本実施例のように学習トラック２３を設けて常に同一のトラックを再生することにより、フォーカス位置学習手段９１に記憶手段を備えていれば出荷時や過去の学習時のデータとの比較が可能になるので、動作状態のチェック手段として使用できる。
【００７９】
　なお、本実施例の学習はディスク装着時に行うが、使用中に何らかの異常があって再起動を行うとき等、使用中に何度でも学習を行って良い。
【００８０】
　以下本発明の第４の実施例について図面を参照しながら説明する。図１０は本発明の第４の実施例の光ディスク装置の構成図である。
【００８１】
　図１０において、４１はジッター量測定手段、１０１はオフトラック位置学習手段、１０２はオフトラック位置可変手段、１０３はトラッキングサーボ回路である。
【００８２】
　本実施例の光ディスク装置は第１の実施例の光ディスク装置におけるラジアルチルト位置学習手段４２、ラジアルチルト位置可変手段４３の代わりに、オフトラック位置学習手段１０１、オフトラック位置可変手段１０２を備えたものであり、それ以外の構成および使用する光ディスク媒体については同様である。
【００８３】
　オフトラック位置可変手段１０２は例えばＤ／Ａ変換器を備えており、オフトラック位置学習手段１０１の信号に応じた電圧をトラッキングサーボ回路１０３のトラッキングエラー信号にオフセット電圧として加えることによりオフトラック位置をずらす。
【００８４】
　本実施例ではオフトラック位置可変手段１０２により一定量づつオフトラック位置を変化させながらジッター量を測定し、オフトラック位置学習手段１０１にその値を保持していく。
【００８５】
　オフトラック位置を変化させることによって学習トラック２３の第２トラック３３の再生信号振幅が変化し、更に第１トラック３２もしくは第３トラック３４に近づくことによりクロストーク量が変化し、これによりジッター量が変化する。
【００８６】
　このサイクルはオフトラック位置学習手段１０１が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適オフトラック位置を判定するまで続けられ、全測定が終了すると各領域における最適オフトラック位置を決定する。
【００８７】
　以上のように本実施例の光ディスク媒体を用いてオフトラック位置の学習を行うことにより、領域ごとに、再生信号振幅が大きくクロストーク量の小さい最適オフトラック位置での再生が可能になり、より高い信頼性で再生を行えることになる。
【００８８】
　また、本実施例のように学習トラック２３を設けて常に同一のトラックを再生することにより、オフトラック位置学習手段１０１に記憶手段を備えていれば出荷時や過去の学習時のデータとの比較が可能になるので、動作状態のチェック手段として使用できる。
【００８９】
　なお、本実施例の学習はディスク装着時に行うが、使用中に何らかの異常があって再起動を行うとき等、何度でも学習を行って良い。
【００９０】
　以下本発明の第５の実施例について図面を参照しながら説明する。図１４は本発明の第５の実施例の光ディスク媒体の学習トラック２３に記録されている信号の説明図である。
【００９１】
　図１４において第１トラック３２にはランダム信号１４５が記録されている。第２トラック３３にはワーストパターン信号１４６が記録されている。第３トラック３４にはランダム信号１４７が記録されている。
【００９２】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【００９３】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【００９４】
　図１４におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【００９５】
　またワーストパターン信号１４６は例えば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【００９６】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワーストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。
【００９７】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２３に記録されている信号の違い以外は第１の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２３の第２トラック３３を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【００９８】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２３の第２トラック３３のワーストパターン信号１４６は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【００９９】
　以下本発明の第６の実施例について図面を参照しながら説明する。図１５は本発明の第６の実施例の光ディスク媒体の学習トラック２３に記録されている信号の説明図である。
【０１００】
　図１５において第１トラック３２には１１Ｔ信号１５５が記録されている。第２トラック３３にはランダム信号１５６が記録されている。第３トラック３４には１１Ｔ信号１５７が記録されている。
【０１０１】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０１０２】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０１０３】
　図１５におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０１０４】
　また１１Ｔ信号１５５、１５７は１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０１０５】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分が多く含まれていれば良い。
【０１０６】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２３に記録されている信号の違い以外は第１の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２３の第２トラック３３を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０１０７】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２３の第１トラック３２の１１Ｔ信号１５５、第３トラック３４の１１Ｔ信号１５７は、最長ピットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック３３を再生するときの第１トラック３２、第３トラック３４からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、より精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１０８】
　以下本発明の第７の実施例について図面を参照しながら説明する。図１６は本発明の第７の実施例の光ディスク媒体の学習トラック２３に記録されている信号の説明図である。
【０１０９】
　図１６において第１トラック３２には１１Ｔ信号１６５が記録されている。第２トラック３３にはワーストパターン信号１６６が記録されている。第３トラック３４には１１Ｔ信号１６７が記録されている。
【０１１０】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０１１１】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０１１２】
　ワーストパターン信号１６６は例えば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０１１３】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワーストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。
【０１１４】
　また１１Ｔ信号１６５、１６７は１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０１１５】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分が多く含まれていれば良い。
【０１１６】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２３に記録されている信号の違い以外は第１の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２３の第２トラック３３を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０１１７】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２３の第２トラック３３のワーストパターン信号１６６は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１１８】
　加えて、本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２３の第１トラック３２の１１Ｔ信号１６５、第３トラック３４の１１Ｔ信号１６７は、最長ピットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック３３を再生するときの第１トラック３２、第３トラック３４からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１１９】
　以下本発明の第８の実施例について図面を参照しながら説明する。図１は本発明の第８の実施例における光ディスク媒体の構成を示すものであり、１は光ディスク媒体、２はデータ領域、３は内周部の学習領域、４は外周部の学習領域である。
【０１２０】
　図１７に本実施例における光ディスク媒体の学習領域の構成を示す。図１７において１７１はトラック、１７２はピット、１７３は学習トラックである。本実施例では学習領域は３本のトラックから構成される。
【０１２１】
　なお、再生専用ディスク等でピットが並んでいるのみでディスク半径方向の隣合うピットとの間を分ける溝等が存在しないときでも説明の便宜上、連続して再生する１周のピット列をトラックと呼び、仮想の境界１７４を設ける。さらに隣合う２本の仮想の境界の距離をトラック幅と呼ぶことにする。
【０１２２】
　なお、書換え型のＲＡＭディスク等のランド部とグルーブ部が存在するディスクでは図３３に一例を示すように例えばグルーブ部のみに記録する場合には境界１７４はランド部として考え、ランド部のみに記録する場合には境界１７４はグルーブ部として考える。またランド部・グルーブ部の両方に記録する場合には隣合う２本の境界１７４にはさまれた領域がランド部ないしはグルーブ部に対応する。
【０１２３】
　図１７において第１トラック１７５と第３トラック１７７のトラック幅はデータ領域２のトラック幅に等しく、第２トラック１７６のトラック幅は第１トラック１７５のトラック幅よりも狭い。
【０１２４】
　図１８に学習トラック１７３に記録されている信号を示す。図１８において第１トラック１７５にはランダム信号１８１が記録されている。第２トラック１７６にはランダム信号１８２が記録されている。第３トラック１７７にはランダム信号１８３が記録されている。
【０１２５】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０１２６】
　図１８におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０１２７】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック１７３の構成の違い以外は第１の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック１７３の第２トラック１７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０１２８】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３のように、第２トラック１７６のトラック幅を狭くすると、第２トラック１７６を再生するときの第１トラック１７５、第３トラック１７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１２９】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０１３０】
　以下本発明の第９の実施例について図面を参照しながら説明する。図１９は本発明の第９の実施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３に記録されている信号の説明図である。
【０１３１】
　図１９において第１トラック１７５にはランダム信号１９１が記録されている。第２トラック１７６にはワーストパターン信号１９２が記録されている。第３トラック１７７にはランダム信号１９３が記録されている。
【０１３２】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０１３３】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０１３４】
　図１９におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０１３５】
　またワーストパターン信号１９２は例えば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０１３６】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワーストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。
【０１３７】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック１７３に記録されている信号の違い以外は第８の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第８の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック１７３の第２トラック１７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０１３８】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３の第２トラック１７６のワーストパターン信号１９２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１３９】
　また、本実施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３のように、第２トラック１７６のトラック幅を狭くすると、第２トラック１７６を再生するときの第１トラック１７５、第３トラック１７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１４０】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０１４１】
　以下本発明の実施の形態１０について図面を参照しながら説明する。図２０は本発明の実施の形態１０の光ディスク媒体の学習トラック１７３に記録されている信号の説明図である。
【０１４２】
　図２０において第１トラック１７５には１１Ｔ信号２０１が記録されている。第２トラック１７６にはランダム信号２０２が記録されている。第３トラック１７７には１１Ｔ信号２０３が記録されている。
【０１４３】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０１４４】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０１４５】
　図２０におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０１４６】
　また１１Ｔ信号２０１、２０３は１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０１４７】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分が多く含まれていれば良い。
【０１４８】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック１７３に記録されている信号の違い以外は第８の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第８の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック１７３の第２トラック１７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０１４９】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３の第１トラック１７５の１１Ｔ信号２０１、第３トラック１７７の１１Ｔ信号２０３は、最長ピットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック１７６を再生するときの第１トラック１７５、第３トラック１７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、より精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１５０】
　また、本実施例の光ディスク媒体の学習トラックのように、第２トラック１７６のトラック幅を狭くすると、第２トラック１７６を再生するときの第１トラック１７５、第３トラック１７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１５１】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０１５２】
　以下本発明の第１１の実施例について図面を参照しながら説明する。図２１は本発明の第１１の実施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３に記録されている信号の説明図である。
【０１５３】
　図２１において第１トラック１７５には１１Ｔ信号２１１が記録されている。第２トラック１７６にはワーストパターン信号２１２が記録されている。第３トラック１７７には１１Ｔ信号２１３が記録されている。
【０１５４】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０１５５】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０１５６】
　ワーストパターン信号２１２は例えば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０１５７】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワーストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。
【０１５８】
　また１１Ｔ信号２１１、２１３は１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０１５９】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分が多く含まれていれば良い。
【０１６０】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック１７３に記録されている信号の違い以外は第８の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第８の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック１７３の第２トラック１７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０１６１】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３の第２トラック１７６のワーストパターン信号２１２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１６２】
　加えて、本実施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３の第１トラック１７５の１１Ｔ信号２１１、第３トラック１７７の１１Ｔ信号２１３は、最長ピットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック１７６を再生するときの第１トラック１７５、第３トラック１７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１６３】
　また、本実施例の光ディスク媒体の学習トラックのように、第２トラック１７６のトラック幅を狭くすると、第２トラック１７６を再生するときの第１トラック１７５、第３トラック１７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１６４】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０１６５】
　以下本発明の第１２の実施例について図面を参照しながら説明する。図１は本発明の第１２の実施例における光ディスク媒体の構成を示すものであり、１は光ディスク媒体、２はデータ領域、３は内周部の学習領域、４は外周部の学習領域である。
【０１６６】
　図２２に本実施例における光ディスク媒体の学習領域の構成を示す。図２２において２２１はトラック、２２２はピット、２２３は学習トラックである。本実施例では学習領域は３本のトラックから構成される。
【０１６７】
　なお、再生専用ディスク等でピットが並んでいるのみでディスク半径方向の隣合うピットとの間を分ける溝等が存在しないときでも説明の便宜上、連続して再生する１周のピット列をトラックと呼び、仮想の境界２２４を設ける。さらに隣合う２本の仮想の境界の距離をトラック幅と呼ぶことにする。
【０１６８】
　なお、書換え型のＲＡＭディスク等のランド部とグルーブ部が存在するディスクでは図３３に一例を示すように例えばグルーブ部のみに記録する場合には境界２２４はランド部として考え、ランド部のみに記録する場合には境界２２４はグルーブ部として考える。またランド部・グルーブ部の両方に記録する場合には隣合う２本の境界２２４にはさまれた領域がランド部ないしはグルーブ部に対応する。
【０１６９】
　図２２において第２トラック２２６のトラック幅はデータ領域２のトラック幅に等しく、第１トラック２２５と第３トラック２２７のトラック幅は第２トラック２２６のトラック幅よりも狭い。
【０１７０】
　図２３に学習トラック２２３に記録されている信号を示す。図２３において第１トラック２２５にはランダム信号２３１が記録されている。第２トラック２２６にはランダム信号２３２が記録されている。第３トラック２２７にはランダム信号２３３が記録されている。
【０１７１】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０１７２】
　図２３におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０１７３】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２２３の構成の違い以外は第１の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２２３の第２トラック２２６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０１７４】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラックのように、第１トラック２２５、第３トラック２２７のトラック幅を狭くすると、第２トラック２２６を再生するときの第１トラック２２５、第３トラック２２７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１７５】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０１７６】
　以下本発明の第１３の実施例について図面を参照しながら説明する。図２４は本発明の第１３の実施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３に記録されている信号の説明図である。
【０１７７】
　図２４において第１トラック２２５にはランダム信号２４１が記録されている。第２トラック２２６にはワーストパターン信号２４２が記録されている。第３トラック２２７にはランダム信号２４３が記録されている。
【０１７８】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０１７９】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０１８０】
　図２４におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０１８１】
　またワーストパターン信号２４２は例えば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０１８２】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワーストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。
【０１８３】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２２３に記録されている信号の違い以外は第１２の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１２の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２２３の第２トラック２２６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０１８４】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３の第２トラック２２６のワーストパターン信号２４２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１８５】
　また、本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３のように、第１トラック２２５、第３トラック２２７のトラック幅を狭くすると、第２トラック２２６を再生するときの第１トラック２２５、第３トラック２２７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１８６】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０１８７】
　以下本発明の第１４の実施例について図面を参照しながら説明する。図２５は本発明の第１４の実施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３に記録されている信号の説明図である。
【０１８８】
　図２５において第１トラック２２５には１１Ｔ信号２５１が記録されている。第２トラック２２６にはランダム信号２５２が記録されている。第３トラック２２７には１１Ｔ信号２５３が記録されている。
【０１８９】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０１９０】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０１９１】
　図２５におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０１９２】
　また１１Ｔ信号２５１、２５３は１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０１９３】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分が多く含まれていれば良い。
【０１９４】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２２３に記録されている信号の違い以外は第１２の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１２の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２２３の第２トラック２２６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０１９５】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３の第１トラック２２５の１１Ｔ信号２５１、第３トラック２２７の１１Ｔ信号２５３は、最長ピットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック２２６を再生するときの第１トラック２２５、第３トラック２２７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、より精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１９６】
　また、本実施例の光ディスク媒体の学習トラックのように、第１トラック２２５、第３トラック２２７のトラック幅を狭くすると、第２トラック２２６を再生するときの第１トラック２２５、第３トラック２２７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０１９７】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０１９８】
　以下本発明の第１５の実施例について図面を参照しながら説明する。図２６は本発明の第１５の実施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３に記録されている信号の説明図である。
【０１９９】
　図２６において第１トラック２２５には１１Ｔ信号２６１が記録されている。第２トラック２２６にはワーストパターン信号２６２が記録されている。第３トラック２２７には１１Ｔ信号２６３が記録されている。
【０２００】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０２０１】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０２０２】
　ワーストパターン信号２６２は例えば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０２０３】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワーストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。
【０２０４】
　また１１Ｔ信号２６１、２６３は１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０２０５】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分が多く含まれていれば良い。
【０２０６】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２２３に記録されている信号の違い以外は第１２の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１２の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２２３の第２トラック２２６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０２０７】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３の第２トラック２２６のワーストパターン信号２６２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２０８】
　加えて、本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３の第１トラック２２５の１１Ｔ信号２６１、第３トラック２２７の１１Ｔ信号２６３は、最長ピットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック２２６を再生するときの第１トラック２２５、第３トラック２２７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２０９】
　また、本実施例の光ディスク媒体の学習トラックのように、第１トラック２２５、第３トラック２２７のトラック幅を狭くすると、第２トラック２２６を再生するときの第１トラック２２５、第３トラック２２７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２１０】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０２１１】
　以下本発明の第１６の実施例について図面を参照しながら説明する。図１は本発明の第１６の実施例における光ディスク媒体の構成を示すものであり、１は光ディスク媒体、２はデータ領域、３は内周部の学習領域、４は外周部の学習領域である。
【０２１２】
　図２７に本実施例における光ディスク媒体の学習領域の構成を示す。図２７において２７１はトラック、２７２はピット、２７３は学習トラックである。本実施例では学習領域は３本のトラックから構成される。
【０２１３】
　なお、再生専用ディスク等でピットが並んでいるのみでディスク半径方向の隣合うピットとの間を分ける溝等が存在しないときでも説明の便宜上、連続して再生する１周のピット列をトラックと呼び、仮想の境界２７４を設ける。さらに隣合う２本の仮想の境界の距離をトラック幅と呼ぶことにする。
【０２１４】
　なお、書換え型のＲＡＭディスク等のランド部とグルーブ部が存在するディスクでは図３３に一例を示すように例えばグルーブ部のみに記録する場合には境界２７４はランド部として考え、ランド部のみに記録する場合には境界２７４はグルーブ部として考える。またランド部・グルーブ部の両方に記録する場合には隣合う２本の境界２７４にはさまれた領域がランド部ないしはグルーブ部に対応する。
【０２１５】
　図２７において学習トラック２７３の３本のトラックのトラック幅は全てデータ領域２のトラック幅よりも狭い。
【０２１６】
　図２８に学習トラック２７３に記録されている信号を示す。図２８において第１トラック２７５にはランダム信号２８１が記録されている。第２トラック２７６にはランダム信号２８２が記録されている。第３トラック２７７にはランダム信号２８３が記録されている。
【０２１７】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０２１８】
　図２８におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０２１９】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２７３の構成の違い以外は第１の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２７３の第２トラック２７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０２２０】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３のように、学習トラックのトラック幅を狭くすると、第２トラック２７６を再生するときの第１トラック２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２２１】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０２２２】
　以下本発明の第１７の実施例について図面を参照しながら説明する。図２９は本発明の第１７の実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３に記録されている信号の説明図である。
【０２２３】
　図２９において第１トラック２７５にはランダム信号２９１が記録されている。第２トラック２７６にはワーストパターン信号２９２が記録されている。第３トラック２７７にはランダム信号２９３が記録されている。
【０２２４】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０２２５】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０２２６】
　図２９におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０２２７】
　またワーストパターン信号２９２は例えば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０２２８】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワーストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。
【０２２９】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２７３に記録されている信号の違い以外は第１６の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１６の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２７３の第２トラック２７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０２３０】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３の第２トラック２７６のワーストパターン信号２９２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２３１】
　また、本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３のように、学習トラックのトラック幅を狭くすると、第２トラック２７６を再生するときの第１トラック２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２３２】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０２３３】
　以下本発明の第１８の実施例について図面を参照しながら説明する。図３０は本発明の第１８の実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３に記録されている信号の説明図である。
【０２３４】
　図３０において第１トラック２７５には１１Ｔ信号３０１が記録されている。第２トラック２７６にはランダム信号３０２が記録されている。第３トラック２７７には１１Ｔ信号３０３が記録されている。
【０２３５】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０２３６】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０２３７】
　図３０におけるランダム信号はＥＦＭ変調の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が組合わさった状態である。
【０２３８】
　また１１Ｔ信号３０１、３０３は１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０２３９】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分が多く含まれていれば良い。
【０２４０】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２７３に記録されている信号の違い以外は第１６の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１６の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２７３の第２トラック２７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０２４１】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３の第１トラック２７５の１１Ｔ信号３０１、第３トラック２７７の１１Ｔ信号３０３は、最長ピットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック２７６を再生するときの第１トラック２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、より精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２４２】
　また、本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３のように、学習トラックのトラック幅を狭くすると、第２トラック２７６を再生するときの第１トラック２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２４３】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【０２４４】
　以下本発明の第１９の実施例について図面を参照しながら説明する。図３１は本発明の第１９の実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３に記録されている信号の説明図である。
【０２４５】
　図３１において第１トラック２７５には１１Ｔ信号３１１が記録されている。第２トラック２７６にはワーストパターン信号３１２が記録されている。第３トラック２７７には１１Ｔ信号３１３が記録されている。
【０２４６】
　なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデータ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦＭ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式を用いた場合にも同様である。
【０２４７】
　その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、例えば１−７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調における１１Ｔ信号は１−７変調では８Ｔ信号に対応させる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。
【０２４８】
　ワーストパターン信号３１２は例えば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０２４９】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワーストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。
【０２５０】
　また１１Ｔ信号３１１、３１３は１１Ｔ信号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の連続パターンである。
【０２５１】
　なお、アドレスを有したディスク媒体等で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分が多く含まれていれば良い。
【０２５２】
　本実施例の光ディスク媒体は、学習トラック２７３に記録されている信号の違い以外は第１６の実施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１６の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２７３の第２トラック２７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジアルチルト位置を決定する。
【０２５３】
　本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３の第２トラック２７６のワーストパターン信号３１２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２５４】
　加えて、本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３の第１トラック２７５の１１Ｔ信号３１１、第３トラック２７７の１１Ｔ信号３１３は、最長ピットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック２７６を再生するときの第１トラック２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２５５】
　また、本実施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３のように、学習トラックのトラック幅を狭くすると、第２トラック２７６を再生するときの第１トラック２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。
【０２５６】
　また、本実施例のようにトラック幅を狭くすると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすことが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０２５７】
　本発明の光ディスク装置は、光ディスク媒体、光ディスク装置および両者の組み合わせによって生じるディスクの再生特性の変化を補償する自動調整機能を実現する優れたものである。
【図面の簡単な説明】
【０２５８】
【図１】本発明の第１の実施例における光ディスク媒体の構成図
【図２】同実施例における光ディスク媒体の学習トラックの構成図
【図３】同実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図４】同実施例における光ディスク装置のブロック図
【図５】同実施例におけるジッター量測定手段ならびにＰＬＬのブロック図
【図６】同実施例におけるラジアルチルト位置可変手段の構成図
【図７】本発明の第２の実施例における光ディスク装置のブロック図
【図８】同実施例におけるタンジェンシャルチルト位置可変手段の構成図
【図９】本発明の第３の実施例における光ディスク装置のブロック図
【図１０】本発明の第４の実施例における光ディスク装置のブロック図
【図１１】従来の光ディスク媒体の構成図
【図１２】従来の光ディスク装置のブロック図
【図１３】従来のＰＬＬのブロック図
【図１４】本発明の第５の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図１５】本発明の第６の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図１６】本発明の第７の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図１７】本発明の第８の実施例における光ディスク媒体の学習トラックの構成図
【図１８】同実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図１９】本発明の第９の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図２０】本発明の実施の形態１０における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図２１】本発明の第１１の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図２２】本発明の第１２の実施例における光ディスク媒体の学習トラックの構成図
【図２３】同実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図２４】本発明の第１３の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図２５】本発明の第１４の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図２６】本発明の第１５の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図２７】本発明の第１６の実施例における光ディスク媒体の学習トラックの構成図
【図２８】同実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図２９】本発明の第１７の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図３０】本発明の第１８の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図３１】本発明の第１９の実施例における学習トラックに記録されている信号の説明図
【図３２】本発明の第５の実施例におけるワーストパターン信号の説明図
【図３３】書換え型の光ディスク媒体断面の模式図
【図３４】本発明の第１の実施例における学習のフローチャート
【図３５】セクタの構成図
【図３６】セクタの構成図
【符号の説明】
【０２５９】
　１　　光ディスク媒体
　２　　データ領域
　３　　学習領域
　４　　学習領域
　２３　　学習トラック
　３２　　第１トラック
　３３　　第２トラック
　３４　　第３トラック
　４１　　ジッター量測定手段
　４２　　ラジアルチルト位置学習手段
　４３　　ラジアルチルト位置可変手段
　５１　　ハイパスフィルター
　５２　　Ａ／Ｄ変換器
　７１　　タンジェンシャルチルト位置学習手段
　７２　　タンジェンシャルチルト位置可変手段
　９１　　フォーカス位置学習手段
　９２　　フォーカス位置可変手段
　９３　　フォーカスサーボ回路
　１０１　　オフトラック位置学習手段
　１０２　　オフトラック位置可変手段
　１０３　　トラッキングサーボ回路
　１２３　　半導体レーザＬＤ
　１２４　　ピンフォトダイオードＰＤ
　１２９　　ＰＬＬ
　１３１　　位相比較器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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