(57)【要約】【課題】自己発熱により発生する照射位置変動を抑制すること。【解決手段】光源である半導体レーザＳと、半導体レーザを保持する保持部材１０と、半導体レーザＳ及び保持部材１０から構成されるレーザ光源装置１と、レーザ光源装置１から射出されたビームを偏向走査する走査手段と、走査手段を収納する光学ケース８とを有し、前記保持部材１０は光軸と直交するフランジ１６部を持ち、レーザ光源装置１と光学ケース８は、フランジ部１６に設けられ且つ光軸と直交する面で形成された固定部１８のみで光学ケース８と接していることを特徴とする【選択図】      図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源である半導体レーザと、前記半導体レーザを保持する保持部材と、該半導体レーザ及び該保持部材から構成されるレーザ光源装置と、該レーザ光源装置から射出されたビームを偏向走査する走査手段と、該走査手段を収納する光学ケースとを有し、
前記保持部材は光軸と直交するフランジ部を持ち、前記レーザ光源装置と前記光学ケースは、前記フランジ部に設けられ且つ光軸と直交する面で形成された固定部のみで前記光学ケースと接していることを特徴とする走査光学装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、走査光学装置を用いるカラーレザービームプリンタやカラーデジタル複写機等のカラー画像形成装置に関し、特に走査光学装置による走査線ずれを抑制して、色ずれのない高画質のカラー画像情報を記録する事のできる走査光学装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、レーザービームプリンタやデジタル複写機等に用いられる走査光学装置においては、画像信号に応じて光源から光変調されて出射した光束を、例えば回転多面鏡等の光偏向器によって周期的に偏向走査させ、ｆθ特性を有する結像光学系によって感光ドラム上の結像面にスポット状に集束させる。結像面上のスポットは、偏向器による主走査と、感光ドラムの回転による副走査に伴って静電潜像を形成し、画像記録を行っている。
【０００３】
図１７は従来例による走査光学装置１００を示すもので、光源１０１から放射した発散光束は、コリメータレンズ１０２によって略平行光束とされ、絞り１０３によって光束の光量を調整し、副走査方向にのみ屈折力を有するシリンドリカルレンズ１０４に入射する。
【０００４】
シリンドリカルレンズ１０４に入射した平行光束は、主走査断面内においてはそのまま略平行光束の状態で、副走査断面内においてのみ集束する光束として出射し、回転多面鏡１０５の反射面１０５ａに線像として結像する。
【０００５】
回転多面鏡１０５の回転によって偏向走査された光束は、ｆθ特性を有する結像光学素子であるｆθレンズ１０６を経て感光ドラム１２０の結像面上に結像する。結像面上に結像する点像（スポット）は、回転多面鏡１０５を矢印Ａ方向に回転させることで、感光ドラム１２０上を矢印Ｂ方向に走査する。このような主走査と、感光ドラム１２０がその回転軸周りに回転することによる副走査を伴って、記録媒体である感光ドラム１２０上に画像記録を行っている。
【０００６】
特許文献１から抜粋した図１８は光源装置（上記光源１０１、コリネータレンズ１０２を含む）を拡大して示すものである。Ｓ１は、光源であるところの半導体レーザであり、Ｐ１は、半導体レーザＳ１を駆動するＩＣ（不図示）を有する回路基板である。１５０はレーザホルダであり、このレーザホルダ１５０は円筒部１６１の内周部１６２の一端に前記半導体レーザＳ１を保持し、円筒部１６１の半導体レーザＳ１側に、筐体の嵌合穴（不図示）に嵌合する円筒部１６３と、筐体に光源装置をネジＫ１０にて固定する取付け部１６４と、回路基板Ｐ１と半導体レーザＳ１を接続しネジＫ２０にて固定する取付け部１６５によって構成されている。
【０００７】
Ｃ１は、半導体レーザＳ１のレーザ光を平行光化するコリメータレンズである。２００はレンズホルダであり、このレンズホルダ２００はコリメータレンズＣ１を内蔵する取付け穴２１０と半導体レーザＳ１のレーザ光を所定のスポット形状にする光学絞り２２０を有するところのレンズ保持部２３０と、内周部２５０をレーザホルダ１５０の円筒部１６１の半導体レーザ保持部と反対側部位と外嵌しレーザホルダ１５０の円筒部１６１の外周とレンズホルダ２００の内周部２５０の間に充填された接着剤Ｑ１によって、レーザホルダ１５０と一体的に設けられている。
【０００８】
図１９は、上記と同様の走査光学装置を複数個用いて、複数個の感光ドラム上に各色毎の画像情報を記録し、カラー画像を形成するカラー画像形成装置を説明するものである。この装置は、４個の走査光学装置１００と、それぞれ４個の感光ドラム１２１〜１２４及び現像装置１３１〜１３４と、搬送ベルト１４１を有する。
【０００９】
４個の走査光学装置１００は、Ｃ（シアン）、Ｍ（マゼンダ）、Ｙ（イエロー）、Ｂ（ブラック）の各色に対応し、それぞれ感光ドラム１２１，１２２，１２３，１２４上に画像信号を記録し、現像装置１３１〜１３４によって現像して搬送ベルト１４１上のシート材等に転写することで、カラー画像を高速に印字するものである。
【００１０】
このようなカラー画像形成装置では複数の走査線を重ね合わせて画像形成を行うため、特に各色間の走査線ずれ（レジストレーションずれ）を少なくすることは画像形成装置の連続動作中においても重要である。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、光源部、レンズ系等、ポリゴンミラーを回転するのに使用されるモータが連続動作中に発熱することで、熱膨張してビームと光軸との不一致を招くという問題があった。発熱源は、光源部プリント板等の発熱、ポリゴンミラーを回転するのに使用されるモータなどであり、その結果、光学ユニットの温度は常温（約２５℃）から約５０℃に上昇し、走査光学装置のコンポーネントは熱膨張し、走査光学装置のビームと光軸は、動作の進行と共にずれることになる。
【００１２】
レーザービームの変位方向を主走査方向と副走査方向によって表現すると、主走査方向はポリゴンミラーの周方向に、副走査方向はその高さ方向にそれぞれ相当する。主走査方向の許容変位量に比較して副走査方向の許容変位量は大変小さい。レーザービームは主走査方向に変位しても、回転するポリゴンミラーとＢＤセンサが印字タイミングを調節することによって主走査方向のずれを修正することができる。一方、副走査方向にずれたビームはポリゴンミラーには到達するものの、連続動作中に補正する機能がないため、ずれた状態で印字する。
【００１３】
図１９に走査光学装置を複数使う画像形成装置の例を示したが、光源部プリント基板やポリゴンミラーを回転するのに使用されるモータからの熱で走査光学装置が変形し、副走査方向にビームｆ１〜ｆ４がずれた状態を図２０に示す。この時、ビームのずれる方向やずれる量が各走査光学装置で違うと走査線ずれが大きくなる。本発明は、ビームのずれる方向やずれる量のばらつきが発生する要因を鋭意検討した結果、従来の光源ユニット（レーザユニット）のコンポーネントの取付け方法に着目した。
【００１４】
この問題を解決するために特許文献２のようにレーザユニットと光学箱（光学ケース）の間に断熱部材を挟み、圧入ピンとねじを併用して固定する方法などが挙げられている。しかしこの方法はレーザが取り付く台座の変形を軽減する方法であり、自己発熱によるレーザユニットの変形を抑える方法でないため、照射位置変動の根本的な解決ではない。
【００１５】
【特許文献１】
特開平１１−２３１２３７号公報
【特許文献２】
特開平０９−１９７２３３号公報
【００１６】
ここで、レーザユニットの変形するメカニズムを紹介する。レーザユニットの発熱源として半導体レーザとレーザを駆動するＩＣが上げられる。この各々の発熱源による温度上昇は３０分で約８℃上がる。図２１に発熱源が半導体レーザでレーザホルダの温度分布を示す。また、プリント板にあるレーザを駆動するＩＣが発熱源で発生する温度分布を図２２に示す。
【００１７】
この２つの発熱源からの影響で半導体レーザやレンズ等を保持しているレーザホルダには図２３に示すような温度分布が発生することとなる。この温度分布をもとに、プリント板とレーザホルダの取付け位置、光学箱とレーザホルダの取付け位置等がビームをずらす要因となる。
【００１８】
また、図２４にレーザホルダが光学箱と嵌合する状態を示す。レーザホルダ嵌合部１６３は嵌合の公差内で光学箱嵌合部１５２との接する位置が取付け方法によってばらつく。図中にレーザホルダの嵌合部１６３がＡ〜Ｄの方向で光学箱嵌合部１５２に突き当たった場合の照射位置変動を図２５に示す。横軸に連続駆動の時間、縦軸に副走査方向の照射位置の変動を示し、突き当て方向により副走査方向の照射位置の変動方向がばらつくことが判る。
【００１９】
よって、本発明の課題は、走査光学装置による走査線ずれを抑制して、色ずれのない高画質のカラー画像情報を記録することのできる技術を提供することにある。
【００２０】
【課題を解決するための手段】
本発明の走査光学装置は、光源である半導体レーザと、半導体レーザを保持する保持部材と、半導体レーザ及び保持部材から構成されるレーザ光源装置と、レーザ光源装置から射出されたビームを偏向走査する走査手段と、走査手段を収納する光学ケースとを有し、保持部材は光軸と直交するフランジ部を持ち、レーザ光源装置と光学ケースは、フランジ部に設けられた固定部のみで光学ケースと接していることを特徴とする。これにより、レーザユニットの取付けによる照射位置変動のばらつきを抑えることが出来る。ここで、レーザ光源装置と光学ケースとの位置決めを工具などの走査光学装置以外の手段で行うことが望ましい。
【００２１】
また、固定部が走査光により規定出来る走査面に対して副走査方向で線対称に配置され、半導体レーザまでの距離が略同等である構成とすることが望ましい。またフランジ部の形状が走査面に対して副走査方向で線対称に構成されていることが望ましい。これにより、半導体レーザから発生した熱による変形を抑え、照射位置ずれを低減することが出来る。
【００２２】
また、半導体レーザを発光駆動させる電気回路基板と保持部材とを締結する締結部と、半導体レーザと電気回路基板とを接続する接続部が走査面と略平行の直線上に配置されていることが望ましい。また電気回路基板に設けられたレーザ駆動ＩＣと接続部を結ぶ直線が、固定部と接続部とを結ぶ直線と直交する構成であることが望ましい。これにより、半導体レーザ、駆動ＩＣから発生した熱による影響を低減することが出来る。
【００２３】
また、本発明は、光源である半導体レーザと、半導体レーザを保持する保持部材と、半導体レーザを発光駆動させる電気回路基板と、半導体レーザ、保持部材、電気回路基板から構成されるレーザ光源装置と、レーザ光源装置から射出されたビームを偏向走査する走査手段と、走査手段を収納する光学ケースとを有し、レーザ光源装置と光学ケースを固定するためにフランジ部に固定部を設け、電気回路基板とフランジ部の距離をｙ、回路基板の上昇温度をΔＴ（想定温度０〜１５℃）として、
ｙ  ≧  １．５×  ΔＴ
の関係が成立することを特徴とする。
これにより、駆動ＩＣから受ける熱の影響を低減することが可能となる。
【００２４】
【発明の実施の形態】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の実施の形態１に係る構成を示す走査光学装置であり、本発明の特徴を最もよく表わす図である。
【００２５】
光源ユニット１から発生させたレーザ光Ｌ１を、シリンドリカルレンズ２によって偏向器４に取付けられた回転多面鏡３の反射面に線状に集光させ、回転多面鏡３を回転駆動させることによりレーザ光Ｌ１を偏向走査する。偏向走査されたレーザ光Ｌ１は、屈折光学素子６からなる屈折部と回折光学素子７からなる回折部から構成されるｆθレンズに入射され、像担持体である回転ドラム１２上の感光体に結像される。上記光学部品は樹脂成形品である光学箱（光学ケース）８に収納されている。
【００２６】
ただし、この実施形態で示される回折光学素子は、ｆθレンズを構成する他の非球面レンズに置き換えることが可能である。
【００２７】
図２は光源ユニット１の断面図を示す。Ｓは、光源であるところの半導体レーザであり、半導体レーザＳは、レーザチップ（不図示）を支持するステムＳ１０とレーザチップを保護するキャップＳ２０を備える。Ｐは、半導体レーザＳを駆動するＩＣ（不図示）を有する回路基板である。１０は、内周部１１を半導体レーザのレーザ光光路とする、外周部１３でなる円筒部１４と、円筒部１４の一端に設けられる半導体レーザＳを保持する取付け穴１５を含み、レーザ光光軸に直交する面に、平板状なるフランジ１６とが一体的に形成されるレーザホルダである。
【００２８】
Ｃは、半導体レーザＳのレーザ光を平行光化するコリメータレンズである。４０は略円筒状のレンズホルダであり、この一端側にはコリメータレンズＣを保持している。レーザホルダ１０とレンズホルダ４０は、接着剤で接着固定されている。１７は、円筒部１４のフランジ１６側に設けられた円筒部で、工具２１で光学箱８との位置決めを行う。１８は、フランジ１６に配せられる、光学箱８に光源ユニット１をねじＫ１によって固定するための取付部である。また、１９は、フランジ１６に配せられる、半導体レーザＳが接続された回路基板ＰをねじＫ２によって固定するための取付部である。
【００２９】
図３に光源ユニット１を光学箱８に取り付ける例を示す。光源ユニット１は光学箱８と接している個所は取付部１８のみで接している。そのため、光源ユニット１はｘ方向（図中）の位置決めは光学箱８の壁面に当接し、ｙ、ｚ方向は組み立て工具に備えられている突き当て様の工具２１で光学箱８との位置出しを行う。
【００３０】
従来例で説明したレーザホルダの円筒部１７と光学箱に設けられた嵌合用の穴で光源ユニット１の位置決めを行うと、嵌合用の穴の当接位置によって照射位置の変動がばらつくことが判っているが、光学箱８に設けられ、ホルダ円筒部１４及び１７が挿入される収容円筒部ｗ８と光源ユニット１とは当接しないような構成となる本発明により、上記のばらつく要因を排除することが出来た。その効果を図４に示す。横軸に駆動時間を、縦軸に副走査方向の照射位置変動を示している。従来例の照射位置のばらつきに比べて、変動する挙動やばらつきが抑えられていることが判る。
【００３１】
尚、光源ユニット１と光学箱８との位置だしを行う工具は図５に示す方法で行うことも可能である。工具２２はレーザホルダ１０を貫通して光学箱８の穴ｖ８に挿入し、光学箱８に対する光源ユニット１の位置出しを行い、図示しないねじで取付部１８を用い光学箱８に固定し、固定後、工具２２を取り外す。この方法で上記構成と同じ効果を得ることが出来る。
【００３２】
（第２の実施形態）
図６に本発明の第２の実施形態を示す。この図６は図５の矢印１９から見た光源ユニット１の正面図である。Ｓは、光源であるところの半導体レーザであり、半導体レーザＳはレーザホルダ１０に固定されている。Ｐは回路基板であり、ねじＫ２でレーザホルダ１０に固定されている。２８は、フランジ１６に配せられる、光学箱に光源ユニットをねじによって固定するための取付部であり、３箇所ある取付部をレンズ走査面ａに対して線対称になるように配置されている。フランジ１６の形状においてもレンズ走査面ａに対して線対称になるように構成されている。
【００３３】
このような構成により、レンズ走査面ａに対して、取付部２８までの距離が副走査方向の距離ｂで均等に配置されていることとなる。フランジ１６の輪郭形状においても、レンズ走査面ａに対して、取付部２８までの距離が副走査方向の距離ｄで均等に配置されていることとなる。また、本発明の課題として上げられている電装部品、半導体レーザＳから発生する発熱の分布を図７に示す。この結果から半導体レーザＳを中心に等分布で温度勾配が発生していることがわかる。
【００３４】
このような構成を取る場合のシミュレーションを図８に示す。取付部は２８で光学ケース（光学箱）８と取り付く。円筒部１４はレーザの出射方向を示していて、シミュレーション上で傾きを発生させていないことは熱による変形で出射方向が変動していないことを示している。結果から副走査方向の変形が、レンズ走査面ａを中心に均等に変形していることがわかる。
【００３５】
尚、取付部２８までの距離が副走査方向で均等に配置されていないときのシミュレーション結果を図９に示す。この結果から取付部２８からなる面に対して、円筒部１４が傾いているのが判る。これは副走査方向の照射位置を変動させる要因であり、本発明により副走査方向の変動を抑えることが出来る。
【００３６】
図１０に取付け部２８が４箇所の場合を示す。この図１０も図６と同様に、図５の矢印１９から見た光源ユニット１の正面図である。Ｓは、光源であるところの半導体レーザであり、半導体レーザＳはレーザホルダ１０に固定されている。Ｐは回路基板であり、ねじＫ２でレーザホルダ１０に固定されている。２８は、フランジ１６に配せられる、光学箱に光源ユニットをねじによって固定するための取付部であり、４箇所ある取付部をレンズ走査面ａに対して線対称になるように配置されている。フランジ１６の形状においてもレンズ走査面ａに対して線対称になるように構成されている。
【００３７】
このような構成により、レンズ走査面ａに対して、取付部２８までの距離が副走査方向の距離ｂで均等に配置されていることとなる。フランジ１６の輪郭形状においても、レンズ走査面ａに対して、取付部２８までの距離が副走査方向の距離ｄで均等に配置されていることとなる。
【００３８】
このように取付部２８は図６のように３箇所でも、図１０のように４箇所でもかまわない。さらに、図１１のようにフランジ１６の形状が円形状でもかまわない。なお、この図１１において、図１０と共通する構成要素については同一符号を付してその説明を省略する。
【００３９】
（第３の実施形態）
図１２に本発明の第３の実施形態を示す。図１２は図５の矢印１９から見た光源ユニット１の図である。Ｓは、光源であるところの半導体レーザであり、半導体レーザＳはレーザホルダ１０に固定されている。Ｐは回路基板で、半導体レーザＳとつながっていて、ねじＫ３、Ｋ４でレーザホルダ１０に固定されている。３１は半導体レーザを駆動させるためのＩＣである。
【００４０】
回路基板Ｐと半導体レーザＳをつなぐ個所は回路基板Ｐをレーザホルダ１０に固定するためのねじＫ３、Ｋ４を結ぶ直線３０上にあり、直線３０は副走査方向と略平行である。ＩＣ３１はレンズ走査面ａ上にあり、ＩＣ３１と半導体レーザＳを結ぶ直線ａと直線３０は略直交する関係にある。
【００４１】
光源ユニット１には本発明の課題である発熱源として、半導体レーザＳと半導体レーザを駆動させるＩＣの２つを有していることは上記解決する課題として説明した。そこで上記の構成から半導体レーザＳ及び半導体レーザを駆動させるＩＣを発熱源に、レーザホルダ１０に発生する温度分布を図１３のようにすることで、課題解決の方法とした。
【００４２】
同図において、ハッチング部は連続駆動により発生した温度分布で、ハッチング部３３は連続駆動開始から変動した温度勾配で例えば＋６℃の領域である。ハッチング部３４は例えば温度勾配＋４℃の領域、ハッチング部３５は例えば温度勾配＋２℃の領域である。発熱源が２つ存在するために温度分布が特殊は分布を示すが、レンズ走査面ａで線対称に分布していることが判る。これにより、レーザホルダ１０の変形がレンズ走査面ａに対して線対称に変形を起こすため、副走査方向の照射位置変動を起こす要因を低減することが出来る。
【００４３】
（第４の実施形態）
図１４に本発明の第４の実施形態を示す。図１４は光源ユニット１の断面図を示す。Ｓは、光源であるところの半導体レーザであり、半導体レーザＳは、レーザチップ（不図示）を支持するステムＳ１０とレーザチップを保護するキャップＳ２０を備える。Ｐは、半導体レーザＳを駆動するＩＣ（不図示）を有する回路基板である。１０は、内周部１１を半導体レーザのレーザ光光路とする、外周部１３でなる円筒部１４と、円筒部１４の一端に設けられる半導体レーザＳを保持する取付け穴１５を含み、レーザ光光軸に直交する面に、平板状なるフランジ１６とが一体的に形成されるレーザホルダである。
【００４４】
Ｃは、半導体レーザＳのレーザ光を平行光化するコリメータレンズである。４０は略円筒状のレンズホルダであり、この一端側にはコリメータレンズＣを保持している。レーザホルダ１０とレンズホルダ４０は接着剤により接着固定されている。１７は、円筒部１４のフランジ１６側に設けられた円筒部で、工具２１で光学箱８との位置決めを行う。１８は、フランジ１６に配せられる、光学箱８に光源ユニット１をねじによって固定するための取付部であり、また、１９は、フランジ１６に配せられる、半導体レーザＳが接続された回路基板ＰをねじＫ５によって固定するための取付部である。
【００４５】
フランジ１６と回路基板Ｐとの間には距離５０ほど空いている。これは、フランジ１６と回路基板Ｐの間に空間を作ることで、空気の流れを確保し、回路基板Ｐに取り付けられている半導体レーザＳを駆動するＩＣからの熱をフランジ１６に伝えにくくさせている。その効果を図１５に示す。これはフランジ１６と回路基板Ｐとの距離をパラメータにレーザホルダ１０に伝わる熱を測定したものである。横軸に時間、縦軸に温度の変化量をしめしている。
【００４６】
ＰＣＢ（プリント回路基板）なしのグラフは半導体レーザのみで駆動し、ＩＣからの熱を除去した状態である。この結果からＩＣから受ける熱とフランジ１６と回路基板Ｐとの距離の関係を図１６に示す。
ＰＣＢとフランジの距離をｙ、レーザ連続駆動による温度変化量をΔＴとし、測定結果から、
ｙ  ＝  １．５  ×  ΔＴの近似曲線が得られる。
この結果から、ｙ  ≧  １．５  ×  ΔＴの関係を保てばＩＣからの発熱の影響を抑えることが出来る。
【００４７】
本発明の実施の形態には、実施態様１に加えて、次の各実施態様２〜７も含まれる。
【００４８】
（実施態様１）
光源である半導体レーザＳと、前記半導体レーザを保持する保持部材１０と、該半導体レーザ及び該保持部材から構成されるレーザ光源装置１と、該レーザ光源装置から射出されたビームを偏向走査する走査手段と、該走査手段を収納する光学ケース８とを有し、前記保持部材１０は光軸と直交するフランジ部１６を持ち、前記レーザ光源装置１と前記光学ケース８は、前記フランジ部１６に設けられ且つ光軸と直交する面で形成された固定部１８のみで前記光学ケースと接していることを特徴とする走査光学装置。
【００４９】
（実施態様２）
前記光学ケース８と前記レーザ光源装置１の位置決めを行う位置決め手段をガイドするガイド部１７が、少なくとも前記光学ケース８または前記光源装置１に設けられていることを特徴とする実施態様１記載の走査光学装置。
【００５０】
（実施態様３）
前記固定部１８は前記走査手段の走査面ａに対して副走査方向で線対称に配置されており、前記半導体レーザＳまでの距離が略同等であることを特徴とする実施態様１記載の走査光学装置。
【００５１】
（実施態様４）
前記フランジ部１６の形状が前期走査手段の走査面ａに対して副走査方向に線対称であることを特徴とする実施態様１記載の走査光学装置。
【００５２】
（実施態様５）
前記半導体レーザＳを発光駆動させる電気回路基板Ｐと前記保持部材１０とを締結する締結部と、前記半導体レーザＳと該電気回路基板Ｐとを接続する接続部が前記走査面ａと略平行の直線上に配置されていることを特徴とする実施態様１記載の走査光学装置。
【００５３】
（実施態様６）
前記電気回路基板Ｐに設けられたレーザ駆動ＩＣと前記接続部を結ぶ直線が、前記固定部１８と前記接続部とを結ぶ直線と直交していることを特徴とする実施態様１及び４記載の走査光学装置。
【００５４】
（実施態様７）
光源である半導体レーザＳと、該半導体レーザＳを保持する保持部材１０と、該半導体レーザを発光駆動させる電気回路基板Ｐと、該半導体レーザＳ、該保持部材１０、該電気回路基板Ｐから構成されるレーザ光源装置１と、該レーザ光源装置１から射出されたビームを偏向走査する走査手段と、該走査手段を収納する光学ケースと８を有し、前記レーザ光源装置１と前記光学ケース８を固定するために前記フランジ部１６に固定部２８を設け、前記電気回路基板Ｐと前記フランジ部１６の距離をｙ、前記回路基板の上昇温度をΔＴとして、
ｙ  ≧  １．５  ×  ΔＴ
の関係が成立することを特徴とする走査光学装置。
【００５５】
【発明の効果】
本発明は上述のように構成されているので、以下に記載するような効果を有する。
【００５６】
光源ユニットと光学ケースを固定するために基台の光軸と直交する面に固定部を設け、その固定部のみで光学ケースと接し、光学ケースとの位置決めを工具にて行うための突き当て部を有することを特徴としている。これにより、レーザユニットの取付けによる照射位置変動のばらつきを抑えることが出来る。
【００５７】
また、固定部が走査光により規定出来る走査面に対して副走査方向で線対称に配置され、半導体レーザまでの距離が略同等であることを特徴とする。また少なくとも光軸と直交する面の形状が走査面に対して副走査方向で線対称に構成されていることを特徴とする。これにより、半導体レーザから発生した熱による影響を抑え、照射位置ずれを低減することが出来る。
【００５８】
また、電気回路基板と基台とを締結する締結部と、半導体レーザとその電気回路基板とを組付ける組付部が直線上に配置され、その直線が副走査方向と略平行であることを特徴とする。また電気回路基板に設けられたレーザ駆動ＩＣと組付部を結ぶ直線が、締結部と組付部とを結ぶ直線と直交していることを特徴とする。これにより、半導体レーザ、駆動ＩＣから発生した熱による影響を抑え、照射位置ずれを低減することが出来る。
【００５９】
また、電気回路基板とフランジの距離をｙ、レーザ連続駆動による温度変化量をΔＴとし、ｙ  ≧  １．５  ×  ΔＴの関係式を成立することを特徴とする。これにより、駆動ＩＣから受ける熱の影響を低減することが可能となる。
このように、本発明によれば、安定した画像形成装置を提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る走査光学装置を説明する斜視図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係る走査光学装置を説明する部分断面図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係る走査光学装置を説明する組立て斜視図である。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る走査光学装置の作用を説明するグラフである。
【図５】本発明の第１の実施形態に係る走査光学装置を説明する組立て斜視図である。
【図６】本発明の第２の実施形態に係る走査光学装置を説明する正面図である。
【図７】本発明の第２の実施形態に係る走査光学装置の作用を説明する図である。
【図８】本発明の第２の実施形態に係る走査光学装置の作用を説明する図である。
【図９】本発明の第２の実施形態に係る走査光学装置の作用を説明する図である。
【図１０】本発明の第２の実施形態に係る走査光学装置を説明する正面図である。
【図１１】本発明の第２の実施形態に係る走査光学装置を説明する正面図である。
【図１２】本発明の第３の実施形態に係る走査光学装置を説明する正面図である。
【図１３】本発明の第３の実施形態に係る走査光学装置を説明する図である。
【図１４】本発明の第４の実施形態に係る走査光学装置を説明する部分断面図である。
【図１５】本発明の第４の実施形態に係る走査光学装置の作用を説明するグラフである。
【図１６】本発明の第４の実施形態に係る走査光学装置の作用を説明するグラフである。
【図１７】従来例の走査光学装置を説明する斜視図である。
【図１８】従来例の走査光学装置を説明する断面図である。
【図１９】従来例の走査光学装置を説明する図である。
【図２０】従来例の走査光学装置を説明する図である。
【図２１】従来例の走査光学装置を説明する図である。
【図２２】従来例の走査光学装置を説明する図である。
【図２３】従来例の走査光学装置を説明する図である。
【図２４】従来例の走査光学装置を説明する部分斜視図である。
【図２５】従来例の走査光学装置の作用を説明するグラフである。
【符号の説明】
Ｓ          半導体レーザ
２          シリンドリカルレンズ
３          回転多面鏡
４          偏向面
５          光偏向器
６          ｆθレンズ
７          回折光学素子
８          光学箱（光学ケース）
１０  レーザホルダ（保持部材）
１２      感光体
１６  フランジ
１８  ２８  固定部
２１  工具
Ｐ  回路基板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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