(57)【要約】【課題】　缶巻締め部の各部の寸法を高精度に測定できるとともに、この状態を高効率に維持することが可能な缶巻締め部の測定方法及び測定装置を提供することにある。【解決手段】　缶巻締め部にＸ線を照射するＸ線照射装置と、前記照射されたＸ線を受像する受像機５３と、予め設定された２値化の閾値に基づいて巻締め部の透視画像を得、該透視画像に基づいて巻締め部各部の寸法を算出する画像処理部５７を備えた画像処理装置とを備えた缶巻締め部寸法測定装置であって、前記巻締め部寸法測定装置は、巻締め部の厚さを把持により機械的に実測する厚さ測定装置１３を備え、前記画像処理装置は、前記透視画像に基づいて得られる前記厚さの測定値を、前記実測値と同値にするように、前記２値化の閾値を設定する第１の演算部５９ａと、前記実測値を記憶する記憶部５８とを備えている。【選択図】　　　　図４
2004144743.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
缶巻締め部に照射されたＸ線を受像し、予め設定された２値化の閾値に基づいて前記巻締め部の透視画像を得、該透視画像に基づいて前記巻締め部各部の寸法を測定する缶巻締め部寸法測定方法であって、
　前記巻締め部各部の寸法を測定するに際し、予め、前記巻締め部の厚さ又は高さのうち少なくとも一方を、把持することによる機械的実測、及び前記透視画像に基づいた測定を各別に実施し、
　前記透視画像に基づいて得られた測定値が、前記機械的実測により得られた実測値と同値になるように、前記２値化の閾値を設定し、
　該設定値に基づいて得られた透視画像から前記巻締め部各部の寸法を測定することを特徴とする缶巻締め部寸法測定方法。
【請求項２】
缶巻締め部に照射されたＸ線を受像し、予め設定された２値化の閾値に基づいて前記巻締め部の透視画像を得、該透視画像に基づいて前記巻締め部各部の寸法を測定する缶巻締め部寸法測定方法であって、
　前記巻締め部各部の寸法を測定するに際し、予め、前記巻締め部の厚さ又は高さのうち少なくとも一方を、把持することによる機械的実測、及び前記透視画像に基づいた測定を各別に実施し、
　前記透視画像に基づいて得られた測定値が、前記機械的実測により得られた実測値と同値になるように、缶巻締め部に照射するＸ線の照射線量を設定し、
　該設定された線量のＸ線を前記缶巻締め部に照射して得られた透視画像に基づいて、前記巻締め部各部の寸法を測定することを特徴とする缶巻締め部寸法測定方法。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の缶巻締め部寸法測定方法において、
　前記巻締め部各部の寸法を測定する際に予め、前記巻締め部の厚さ又は高さのうち少なくとも一方を、前記透視画像に基づいて測定するに際し、
　前記機械的実測をするときに巻締め部を把持する把持部により、該巻締め部を把持しておき、
　前記巻締め部から離間した領域における、前記把持部の前記巻締め部との当接面同士の間の画素数を算出し、該画素数と予め設定された単位画素当たりの寸法値とに基づいて、前記巻締め部の厚さ又は高さの測定値を算出することを特徴とする缶巻締め部寸法測定方法。
【請求項４】
請求項１又は２に記載の缶巻締め部寸法測定方法において、
　前記２値化の閾値又は前記Ｘ線の照射線量を設定した後に得られる前記巻締め部の透視画像のうち、前記巻締め部を含む領域における、前記把持部の前記巻締め部との当接面同士の間の画素数を算出し、該画素数と前記機械的実測により得られた実測値とに基づいて、単位画素当たりの寸法値を算出し、該単位画素当たりの寸法値を用いて、前記巻締め部各部の寸法を測定することを特徴とする缶巻締め部寸法測定方法。
【請求項５】
缶巻締め部にＸ線を照射するＸ線照射装置と、該照射されたＸ線を受像する受像機と、予め設定された２値化の閾値に基づいて前記巻締め部の透視画像を得、該透視画像に基づいて前記巻締め部各部の寸法を算出する画像処理部を備えた画像処理装置とを備えた缶巻締め部寸法測定装置であって、
　前記巻締め部寸法測定装置は、缶巻締め部を把持する把持部により、巻締め部の厚さを機械的に実測する厚さ測定装置,又は巻締め部の高さを実測する高さ測定装置のうち少なくとも一つを備え、
　前記画像処理装置は、前記透視画像に基づいて得られる前記厚さ又は高さのうち少なくとも一方の測定値が、前記機械的実測により得られる実測値と同値になるように、前記２値化の閾値を設定する第１の演算部を備えていることを特徴とする缶巻締め部寸法測定装置。
【請求項６】
缶巻締め部にＸ線を照射するＸ線照射装置と、該照射されたＸ線を受像する受像機と、予め設定された２値化の閾値に基づいて前記巻締め部の透視画像を得、該透視画像に基づいて前記巻締め部各部の寸法を算出する画像処理部を備えた画像処理装置とを備えた缶巻締め部寸法測定装置であって、
　前記巻締め部寸法測定装置は、缶巻締め部を把持する把持部により、巻締め部の厚さを機械的に実測する厚さ測定装置,又は巻締め部の高さを実測する高さ測定装置のうち少なくとも一つを備え、
　前記画像処理装置は、前記透視画像に基づいて得られる前記厚さ又は高さのうち少なくとも一方の測定値が、前記機械的実測により得られる実測値と同値になるように、前記Ｘ線の照射線量を設定する操作部を備えていることを特徴とする缶巻締め部寸法測定装置。
【請求項７】
請求項５又は６に記載の缶巻締め部寸法測定装置において、
　前記画像処理装置は、前記透視画像のうち、前記把持部の缶巻締め部との当接面同士の間の画素数と、前記機械的実測により得られる実測値とに基づいて、単位画素当たりの寸法値を算出する第２の演算部を備えていることを特徴とする缶巻締め部寸法測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は、缶巻締め部の各部の寸法を測定する缶巻締め部寸法測定方法及び測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
　清涼飲料水等が充填される缶は、有底円筒状の缶本体に缶蓋を被冠した構成のものが一般的である。通常、この種の缶は図１５に示すように、缶体３と缶蓋１との結合を、缶体３上端縁部と缶蓋１の周縁部とを巻き締めることにより行うようにしている。この巻締め部２は、缶Ｃの内容物が漏れたり、巻締め部２から雑菌が侵入することを防止するために、確実に行われなければならない。
【０００３】
　そこで、従来から缶Ｃの巻締め状態を検査し、巻締め不良の缶の発生を未然に阻止している。近年、この巻締め状態の検査をより確実に行うため、巻締め部の外形寸法のみならず、その内部寸法の検査測定（非破壊検査測定）も行われている。この非破壊検査測定は、缶巻締め部に照射されたＸ線を受像し、この受像データに基づいて前記寸法を得る構成のものが一般的である。
　しかしながら、缶巻締め部は、円環状又は楕円状等全体として環状をなしているため、ここに接線方向からＸ線の照射方向において測定部位に対して前後に位置する巻締め部の透視画像が重畳することになる。このため、巻締め部の内周面の透視画像が不鮮明となり、巻締め部の外部寸法である巻締め部厚さについては、このＸ線透視画像からの情報では、正確な測定を行うことができない等の問題があった。
【０００４】
　この問題を解決するため、特許文献１には、Ｘ線の照射軸線に対してほぼ垂直な面内で、巻締め部を互いに平行な先端部で内外周側から挟む一対の基準ブロックが設けられた構成の装置が提案されている。さらに、この基準ブロックは、巻締め部よりＸ線の透過量が少ない構成とされている。これにより、前記一対の基準ブロックが明瞭に撮像されるため、この基準ブロックの巻締め部の当接面同士の間の画素数を正確に把握することができ、前記巻締め部の厚さ寸法を高精度に測定することができる構成となっている。
【特許文献１】特開平９−２１０６６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
　ところで、前述したように、Ｘ線を缶巻締め部に照射してこれを受像することにより缶巻締め部の外部及び内部寸法を測定する装置においては、Ｘ線を照射するＸ線照射装置の経時劣化が著しいため、受像装置により得られる透視画像において巻締め部の輪郭線が短期間で不明瞭となり、高精度な測定を実現することが困難である場合があった。この場合、製造ラインにおいて、連続的に検査測定し、この検査測定結果に基づいて缶の良否を判断,選別する際に、良品を不良品と判断する,あるいは不良品を良品と判断するといった誤選別が発生する場合があり、製造トラブルを発生する場合があった。
【０００６】
　本発明は、このような事情を考慮してなされたもので、缶巻締め部の各部の寸法を高精度に測定できるとともに、この状態を高効率に維持することができる缶巻締め部の測定方法及び測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
　前記課題を解決して、このような目的を達成するために、本発明は以下の手段を提案している。
　請求項１に係る発明は、缶巻締め部に照射されたＸ線を受像し、予め設定された２値化の閾値に基づいて前記巻締め部の透視画像を得、該透視画像に基づいて前記巻締め部各部の寸法を測定する缶巻締め部寸法測定方法であって、前記巻締め部各部の寸法を測定するに際し、予め、前記巻締め部の厚さ又は高さのうち少なくとも一方を、把持することによる機械的実測、及び前記透視画像に基づいた測定を各別に実施し、前記透視画像に基づいて得られた測定値が、前記機械的実測により得られた実測値と同値になるように、前記２値化の閾値を設定し、該設定値に基づいて得られた透視画像から前記巻締め部各部の寸法を測定することを特徴とする。
【０００８】
　この発明に係る缶巻締め部寸法測定方法によれば、前記巻締め部各部の寸法を測定するに際し、予め、前記巻締め部の厚さ又は高さのうち少なくとも一方を、把持による機械的実測、及び前記透視画像に基づいた測定を各別に実施し、透視画像に基づいて得られた測定値が、機械的実測により得られた実測値と同値になるように、２値化の閾値を設定し、この設定値に基づいて得られた巻締め部の透視画像から巻締め部各部の寸法を測定することとなる。従って、Ｘ線照射装置の経時劣化により、得られる透視画像における巻締め部の輪郭線が不明瞭となった場合でも、改めて設定された２値化の閾値により、前記輪郭線を正確に補捉した透視画像が得られるようになる。
【０００９】
　請求項２に係る発明は、缶巻締め部に照射されたＸ線を受像し、予め設定された２値化の閾値に基づいて前記巻締め部の透視画像を得、該透視画像に基づいて前記巻締め部各部の寸法を測定する缶巻締め部寸法測定方法であって、前記巻締め部各部の寸法を測定するに際し、予め、前記巻締め部の厚さ又は高さのうち少なくとも一方を、把持することによる機械的実測、及び前記透視画像に基づいた測定を各別に実施し、前記透視画像に基づいて得られた測定値が、前記機械的実測により得られた実測値と同値になるように、缶巻締め部に照射するＸ線の照射線量を設定し、該設定された線量のＸ線を前記缶巻締め部に照射して得られた透視画像に基づいて、前記巻締め部各部の寸法を測定することを特徴とする。
【００１０】
　この発明に係る缶巻締め部寸法測定方法によれば、前記巻締め部各部の寸法を測定するに際し、予め、前記巻締め部の厚さ又は高さのうち少なくとも一方を、把持による機械的実測、及び前記透視画像に基づいた測定を各別に実施し、前記透視画像に基づいて得られた測定値が、前記機械的実測により得られた実測値と同値になるように、缶巻締め部に照射するＸ線の照射線量を設定し、該設定された線量のＸ線を前記缶巻締め部に照射して得られた透視画像に基づいて、巻締め部各部の寸法を測定することとなる。従って、Ｘ線照射装置の経時劣化により、得られる透視画像における巻締め部の輪郭線が不明瞭となった場合でも、照射するＸ線の照射線量を再設定することにより、前記輪郭線を正確に補捉した透視画像が得られるようになる。
【００１１】
　請求項３に係る発明は、請求項１又は２に記載の缶巻締め部寸法測定方法において、前記巻締め部各部の寸法を測定する際に予め、前記巻締め部の厚さ又は高さのうち少なくとも一方を、前記透視画像に基づいて測定するに際し、前記機械的実測をするときに前記巻締め部を把持する把持部により、該巻締め部を把持しておき、前記巻締め部から離間した領域における、前記把持部の前記巻締め部との当接面同士の間の画素数を算出し、該画素数と予め設定された単位画素当たりの寸法値とに基づいて、前記巻締め部の厚さ又は高さの測定値を算出することを特徴とする。
【００１２】
　この発明に係る缶巻締め部寸法測定方法によれば、２値化の閾値を再設定するために前記透視画像から巻締め部の厚さ又は高さを測定する際に、巻締め部を前記把持部により把持しておき、巻締め部から離間した領域における、把持部の巻締め部との当接面同士の間の画素数に基づいて算出するため、適切な２値化の閾値を算出することになる。すなわち、環状に形成された巻締め部の内周面の透視画像は、接線方向からＸ線の照射方向において測定部位に対して前後に位置する巻締め部の透視画像が重畳するため不鮮明となるが、この不鮮明となる領域を回避した領域の前記当接面同士の画素数から巻締め部の外形寸法を算出することになる。
【００１３】
　請求項４に係る発明は、請求項１又は２に記載の缶巻締め部寸法測定方法において、前記２値化の閾値又は前記Ｘ線の照射線量を設定した後に得られる前記巻締め部の透視画像のうち、前記巻締め部を含む領域における、前記把持部の前記巻締め部との当接面同士の間の画素数を算出し、該画素数と前記機械的実測により得られた実測値とに基づいて、単位画素当たりの寸法値を算出し、該単位画素当たりの寸法値を用いて、前記巻締め部各部の寸法を測定することを特徴とする。
【００１４】
　この発明に係る缶巻締め部寸法測定方法によれば、２値化の閾値又はＸ線の照射線量を設定した後に得られる巻締め部の透視画像のうち、この巻締め部を含む領域における前記把持部の巻締め部との当接面同士の間の画素数と、前記機械的実測により得られた実測値とに基づいて、単位画素当たりの寸法値を算出し、この単位画素当たりの寸法値から巻締め部各部の寸法を測定するため、適切な単位画素当たりの寸法値を得ることができ、巻締め部各部の高精度な測定を実現することになる。
　すなわち、前記得られた透視画像のうち、巻締め部を含む領域における前記把持部の当接面同士の間の画素数を算出するため、前記把持部の取り付けガタなどに起因して、前記当接面が巻締め部の内外壁面に対して傾く量がばらついた場合でも、適切な画素数を算出することが可能になり、画素数算出誤差の発生を最小限に抑制することができる。
【００１５】
　請求項５に係る発明は、缶巻締め部にＸ線を照射するＸ線照射装置と、前記照射されたＸ線を受像する受像機と、予め設定された２値化の閾値に基づいて前記巻締め部の透視画像を得、該透視画像に基づいて前記巻締め部各部の寸法を算出する画像処理部を備えた画像処理装置とを備えた缶巻締め部寸法測定装置であって、前記巻締め部寸法測定装置は、缶巻締め部を把持する把持部により、巻締め部の厚さを機械的に実測する厚さ測定装置,又は巻締め部の高さを実測する高さ測定装置のうち少なくとも一つを備え、前記画像処理装置は、前記透視画像に基づいて得られる前記厚さ又は高さのうち少なくとも一方の測定値が、前記機械的実測により得られる実測値と同値になるように、前記２値化の閾値を設定する第１の演算部を備えていることを特徴とする。
【００１６】
　この発明に係る缶巻締め部寸法測定装置によれば、前記測定値が前記実測値と同値になるように、２値化の閾値を設定する第１の演算部を備えているため、この２値化の閾値に基づいて得られた巻締め部の透視画像から巻締め部各部の寸法を測定する構成とすることができるようになる。これにより、Ｘ線照射装置の経時劣化により、得られる透視画像における巻締め部の輪郭線が不明瞭となった場合でも、改めて設定された２値化の閾値により、前記輪郭線を正確に補捉した透視画像が自動で得られるようになる。
【００１７】
　請求項６に係る発明は、缶巻締め部にＸ線を照射するＸ線照射装置と、前記照射されたＸ線を受像する受像機と、予め設定された２値化の閾値に基づいて前記巻締め部の透視画像を得、該透視画像に基づいて前記巻締め部各部の寸法を算出する画像処理部を備えた画像処理装置とを備えた缶巻締め部寸法測定装置であって、前記巻締め部寸法測定装置は、缶巻締め部を把持する把持部により、巻締め部の厚さを機械的に実測する厚さ測定装置,又は巻締め部の高さを実測する高さ測定装置のうち少なくとも一つを備え、前記画像処理装置は、前記透視画像に基づいて得られる前記厚さ又は高さのうち少なくとも一方の測定値が、前記機械的実測により得られる実測値と同値になるように、前記Ｘ線の照射線量を設定する操作部を備えていることを特徴とする。
【００１８】
　この発明に係る缶巻締め部寸法測定装置によれば、前記測定値が前記実測値と同値になるように、Ｘ線の照射線量を設定する操作部を備えているため、Ｘ線照射装置の経時劣化により、得られる透視画像における巻締め部の輪郭線が不明瞭となった場合でも、改めて設定された線量のＸ線により、前記輪郭線を正確に捕捉した透視画像が自動で得られるようになる。
【００１９】
　請求項７に係る発明は、請求項５又は６に記載の缶巻締め部寸法測定装置において、前記画像処理装置は、前記透視画像のうち、前記把持部の缶巻締め部との当接面同士の間の画素数と、前記機械的実測により得られる実測値とに基づいて、単位画素当たりの寸法値を算出する第２の演算部を備えていることを特徴とする。
【００２０】
　この発明に係る缶巻締め部寸法測定装置によれば、前記把持部の缶巻締め部との当接面同士の間の画素数と、前記実測値とに基づいて、単位画素当たりの寸法値を算出する第２の演算部を備えているため、適切な単位画素当たりの寸法値を得ることができ、巻締め部各部の寸法を高精度に測定することができるようになる。すなわち、請求項５又は６に係る発明により、適正な透視画像を得た後に、更に、単位画素当たりの寸法値を算出し、この値に基づいて缶巻締め部各部の寸法を測定する構成とすることをできるようになる。
【発明の効果】
【００２１】
　請求項１に係る発明によれば、Ｘ線照射装置の経時劣化により、得られる透視画像における巻締め部の輪郭線が不明瞭となった場合でも、改めて設定された２値化の閾値により、前記輪郭線を正確に補捉した透視画像が得ることができ、缶巻締め部の測定を高精度に行うことができる。
【００２２】
　請求項２に係る発明によれば、Ｘ線照射装置の経時劣化により、得られる透視画像における巻締め部の輪郭線が不明瞭となった場合でも、照射するＸ線の照射線量を再設定することにより、前記輪郭線を正確に補捉した透視画像を得ることができ、缶巻締め部の測定を高精度に行うことができる。
【００２３】
　請求項３に係る発明によれば、得られた透視画像において、巻締め部の透視画像が重畳する不鮮明となる領域を回避した領域内の、前記当接面同士の画素数に基づいて２値化の閾値又はＸ線の照射線量を設定するため、この各設定を高精度に実施することができる。
【００２４】
　請求項４に係る発明によれば、適切な単位画素当たりの寸法値を得ることができ、巻締め部各部の高精度な測定を実現することになる。
【００２５】
　請求項５に係る発明によれば、Ｘ線照射装置の経時劣化により、得られる透視画像における巻締め部の輪郭線が不明瞭となった場合でも、改めて設定された２値化の閾値により、前記輪郭線を正確に補捉した透視画像を得ることができ、缶巻締め部の測定を高精度に行うことができる。
【００２６】
　請求項６に係る発明によれば、Ｘ線照射装置の経時劣化により、得られる透視画像における巻締め部の輪郭線が不明瞭となった場合でも、改めて設定された線量のＸ線により、前記輪郭線を正確に補捉した透視画像が得ることができ、缶巻締め部の測定を高精度に行うことができる。
【００２７】
　請求項７に係る発明によれば、請求項５又は６に係る発明により、適正な透視画像を得た後に、更に、単位画素当たりの寸法値を算出し、この値に基づいて缶巻締め部各部の寸法を測定するため、缶巻締め部の測定をより高精度に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
　以下、図面を参照し、この発明の実施の形態について説明する。図１から図１３はこの発明の第一実施形態を示すものである。図１は、この発明による缶巻締め部寸法の測定方法を実施するための測定装置の概略構成が示されている。これらの図において、符号Ｃは被測定対象となる缶、符号５０は測定装置である。
【００２９】
　まず、図３に示す缶Ｃの巻締め部２の拡大断面図に従い、巻締め部２の構成について説明する。図３において、巻締め部２における缶蓋１は、上方に延在する第１の壁部４と、この第１の壁部４の上端縁が缶軸に対して外方に曲率を有し折り曲げられたシーミングパネル部９と、このシーミングパネル部９の下端部から下方に略垂下する第２の壁部５と、この第２の壁部５の下端部が缶軸に対して内方に曲率を有し折り曲げられたカバーフックラジアス下部１０と、このカバーフックラジアス下部１０の上端部から上方に延在する第３の壁部６とを備えた構成となっている。また、巻締め部２における缶体３は、上方に延在する第１の壁部７と、この第１の壁部７の上端縁が缶軸に対して外方に曲率を有し折り曲げられたフランジ頂部１１と、このフランジ頂部１１の下端部から下方に略垂下する第２の壁部８とを備えた構成となっている。
【００３０】
　この構成において、缶蓋１を構成する第１の壁部４と第３の壁部６との間には、缶体３の第１の壁部７が設けられ、缶蓋１の第２の壁部５と第３の壁部６との間には、缶体３の第２の壁部８が設けられた構成となっている。すなわち、缶Ｃの巻締め部２は、缶体３が缶蓋１に覆われるとともに、缶体３を構成する第２の壁部８と、缶蓋１を構成する第３の壁部６とが噛み合った構成となっている。
　ここで、缶蓋１の第１の壁部４の缶軸側の壁面と、缶蓋１の第２の壁部５の缶軸から離間した側の壁面との距離を、以下、巻締め部厚さＴという。また、缶蓋１のシーミングパネル部９の上側頂部と、缶蓋１のカバーフックラジアス下部１０の下側頂部との缶軸方向における距離を、以下、巻締め部高さＷという。なお、巻締め部厚さＴの方向（Ｘ’方向）に対して直交する方向（Ｙ’方向）と、巻締め部高さＷの方向（Ｙ方向）とは、所定角度θだけ傾斜しており、このＹ方向は缶軸方向となっている。
【００３１】
　図１において、測定装置５０は、缶Ｃを保持し缶軸回りに回転自在に支持されたテーブル５１と、缶Ｃの側面外方に配置され缶Ｃの巻締め部２にＸ線を照射するＸ線照射装置５２と、Ｘ線照射装置５２により照射されたＸ線を受像する受像機５３と、缶Ｃの巻締め部２の厚さＴを測定する厚さ測定装置１３と、受像機５３及び厚さ測定装置１３により得られたデータを基に測定装置５０を制御する制御装置５４とを備えている。
【００３２】
　Ｘ線照射装置５２及び受像機５３は、テーブル５１表面に保持された缶Ｃを挟んで互いに対向する位置に設けられ、これらの高さ方向の位置は、缶Ｃの巻締め部２と、Ｘ線照射装置５２から受像機５３に向かうＸ線の照射中心軸線とが略一致する高さに設定されている。また、Ｘ線照射装置５２及び受像機５３の水平方向の位置は、前記Ｘ線の照射中心軸線が、巻締め部２に対して接線方向となる位置に設定されている。以上により、Ｘ線の照射中心軸線は、仮に、巻締め部２を缶軸方向に平行な平面で切断した際に得られる断面を垂直に照射することになる。
【００３３】
　厚さ測定装置１３は、テーブル５１の外方部に設けられ、巻締め部厚さ測定器２１と、巻締め部厚さ測定器２１をテーブル５１に対して上下及び前後方向に移動させる図示しない駆動装置を備えたフレーム２２とから構成されている。この厚さ測定装置１３の詳細図を図２に示す。図２に示すように、巻締め部厚さ測定器２１は、基台部２３と測定部２４とから構成されている。基台部２３は、スライダ２５を介してフレーム２２に取付けられており、スライダ２５にはベースプレート２６が取付けられている。ベースプレート２６の下面には、スライダユニット２７が設けられ、この一端側には、測定部２４の配設位置を缶Ｃの外径に対応して移動させるための調整ボルト２８が設けられている。さらにその他端側には、調整ボルト２８により配設位置を調整された測定部２４を保持するシリンダー２９が設けられている。
【００３４】
　測定部２４は、スライダユニット２７を介してベースプレート２６に取付けられている。スライダユニット２７の下面には、第２の基台３０が取付けられ、該基台３０の下方には、第１の基台３１が、第２の基台３０に対して傾斜可能に軸３２でヒンジ結合されている。第１の基台３１の下面には、缶Ｃから離れる方向に対して順次、クランプ３３と、クランプスライダ３４と、リニアゲージ３５とが設けられ、これらは第１の基台３１が軸３２を中心に回動した際、これに追従する構成となっている。
【００３５】
　クランプスライダ３４は、リニアゲージ３５と巻締め部２との間で水平方向に移動可能に支持される図示しないスライダユニットを備え、クランプスライダ３４が水平移動する際、その一端に当接したリニアゲージ３５の心棒が出没駆動されることにより、巻締め部２の厚さを測定する構成となっている。さらに、クランプスライダ３４の先端には、ベアリング３６が回転自在に設けられ、巻締め部２の厚さを缶Ｃの周方向に対して連続的に測定できる構成となっている。なお、このベアリング３６は、Ｘ線が透過しない材質、例えばステンレス鋼により形成されている。
【００３６】
　また、クランプスライダ３４は、アジャストナット３７により弾発力の調整が可能とされたコイルバネ３８によって、巻締め部２と当接する方向に付勢されている。これに伴って、クランプスライダ３４の先端に設けられたベアリング３６も巻締め部２の方向に付勢され、巻締め部２の外周形状に沿って追従する構成となっている。
【００３７】
　クランプ３３の先端には、回転自在に取付けられたピン３９が設けられ、測定する際、ピン３９は巻締め部２の内周側に当接する構成となっている。なお、このピン３９は、Ｘ線が透過しない材質、例えばステンレス鋼により形成されている。このように、巻締め部厚さを測定する際、巻締め部２は、クランプ３３とクランプスライダ３４とによって狭持され、クランプスライダ３４とリニアゲージ３５の心棒とは一体の状態となって水平方向に進退移動する構成となっている。また、第１の基台３１と第２の基台３０とをヒンジ結合する軸３２により、クランプ３３とクランプスライダ３４とから構成される狭持部による巻締め部２の狭持方向が傾斜される。
【００３８】
　ここで、第１の基台３１の上面には、第２の基台３０と対向した位置に凹部４０が形成され、この凹部４０と第２の基台３０との間にピン４１が狭持可能とされている。これにより、ピン４１の外径を適宜変更し、第１の基台３１を所定の傾斜角度に保持可能としたところで、前記狭持部の初期狭持方向を予め所定の角度に設定しておくことが可能になる。
【００３９】
　ところで、第１の基台３１上面部と第２の基台３０上面部にかけて、コイルバネ４１が配設されており、このバネ４１の弾発力によって、第１の基台３１が支持されている構成となっている。これにより、測定するに際し、缶軸に対する巻締め部２の傾斜角度が部位毎で変動しても、このバネ４１が伸縮することにより、第１の基台３１が前記軸３２を中心にして揺動するので、前記狭持部による狭持方向を巻締め部２の傾斜変動に追従させることが可能になる。
【００４０】
　図１に示す制御装置５４は、測定装置５０全体を制御するもので、入力部５５により、測定に必要な各種データが入力されると、それに基づいて、缶Ｃを搬出する図示しない搬出機構,缶Ｃをテーブル５１表面に供給する図示しない供給部等の各種駆動系を制御するようになっている。この制御装置５４は、Ｘ線照射装置５２により、缶Ｃの巻締め部２に照射されたＸ線を受像する受像機５３からの出力信号を受信及び処理する画像処理装置５６と、前述した入力部５５とを備えている。
【００４１】
　画像処理装置５６は、缶巻締め部２に照射されたＸ線を受像し、予め設定された２値化の閾値に基づいて、この巻締め部２の透視画像を算出するとともに、この透視画像に基づいて巻締め部２各部の寸法を算出する画像処理部５７と、厚さ測定装置１３により得られた実測値を受信及び記憶する記憶部５８と、厚さ測定装置１３により得られる実測値,及び画像処理部５７により得られる巻締め部２の厚さの測定値に基づいて、２値化の閾値を再設定する第１の演算部５９ａと、この再設定された２値化の閾値に基づいて得られた透視画像,及び前記実測値に基づいて、巻締め部２を含む領域における単位画素当たりの寸法値を算出する第２の演算部５９ｂとを備えている。
【００４２】
　すなわち、画像処理装置５６は、まず、記憶部５８が、厚さ測定装置１３により得られた実測値を記憶しておき、その後、画像処理部５７が算出した巻締め部２の厚さの測定値と、前記実測値とを第１の演算部５９ａに送信する。そして、この第１の演算部５９ａは、前記測定値が前記実測値と同等となるように、２値化の閾値を再設定し、この設定値を画像処理部５７へ送信する。そして、画像処理部５７は、再設定された２値化の閾値に基づいて巻締め部２の透視画像を再度算出する。その後、この透視画像に基づいて巻締め部２の厚さと対応する画素数を算出し、この画素数を第２の演算部５９ｂに送信する。そして、この第２の演算部５９ｂは、前記画素数と前記実測値とに基づいて単位画素当たりの寸法値を算出し、画像処理部５７に送信する。以下、前記再度算出された透視画像と、再設定された単位画素当たりの寸法値とに基づいて缶巻締め部２の他の各部の寸法を測定する構成となっている。
【００４３】
　ここで、本実施形態において、測定する項目は、図３に示す８項目である。すなわち、巻締め部厚さＴ、巻締め部高さＷ、缶体３のフランジ頂部１１の上側頂部と第２の壁部８の下端部との距離ＢＨ、缶蓋１のカバーフックラジアス下部１０の下側頂部と第３の壁部６の上端部との距離ＣＨ、缶蓋１の第３の壁部６の上端部と缶体３の第２の壁部８の下端部との距離ＯＬ、缶蓋１の第３の壁部６の上端部と缶体３のフランジ頂部１１の下側頂部との距離ＵＣ、缶体３の第２の壁部８の下端部と缶蓋１のカバーフックラジアス下部１０の上側頂部との距離ＬＣ、缶蓋１のシーミングパネル部９の下側頂部と缶体３のフランジ頂部１１の上側頂部との距離ＳＧである。
　これらの測定項目のうち、巻締め部厚さＴは、厚さ測定装置１３による測定とＸ線による測定との両者によりなされ、巻締め部厚さＴを除く他の測定項目は全て、Ｘ線による測定のみでなされる構成となっている。
　なお、図３に示すように、これらの測定項目のうち、巻締め部高さＷは缶軸方向（Ｙ方向）の大きさであり、巻締め部厚さＴは缶軸方向（Ｙ方向）に直交する方向（Ｘ方向）に対して所定角度θだけ、図３における時計回りに傾いた方向（Ｘ’方向）の大きさであり、これらの厚さＴおよび高さＷを除く他の測定項目は全て、缶軸方向（Ｙ方向）に対して所定角度θだけ図３における時計回りに傾いた方向（Ｙ’方向）の大きさとなっている。
【００４４】
　以上のように構成された測定装置５０により缶Ｃの巻締め部２各部の寸法を測定する測定方法について説明する。概略フローを図４に示す。
　まず、厚さ測定装置１３により巻締め部２の厚さを測定する。すなわち、図示しない供給部によりテーブル５１表面に供給された缶Ｃが、テーブル５１表面に保持された際、厚さ測定装置１３が巻締め部２の外方近傍に近づく。そして、厚さ測定装置１３を構成するベアリング３６及びピン３９により、それぞれが巻締め部２の外周面及び内周面に当接するように巻締め部２を把持する。この際のベアリング３６及びピン３９の缶Ｃの径方向に対する位置をリニアゲージ３５が検出することで、巻締め部厚さＴを測定する。なお、この厚さＴは、前述したように、缶軸方向（Ｙ方向）に直交する方向（Ｘ方向）に対して所定角度θだけ傾いた方向（Ｘ’方向）の大きさとして測定される。
　そして、この測定値（以下、実測値という）は画像処理装置５６を構成する記憶部５８に記憶される。
【００４５】
　そして、厚さ測定装置１３が缶Ｃの巻締め部２を把持した状態で、Ｘ線照射装置５２が巻締め部２にＸ線を照射し、このＸ線を受像機５３が受像する。この際得られた受像データは、画像処理装置５６を構成する画像処理部５７へ送信され、該部５７は、前記受像データと予め設定された２値化の閾値とに基づいて、図５に示すような巻締め部２の透視画像を算出する。
　なお、前述したように、Ｘ線照射装置５２および受像機５３は、前述したような高さ方向位置および水平方向位置に設定されているので、算出される巻締め部２の透視画像は、巻締め部２を缶軸方向に平行な平面で切断したときの断面をこの面に対して垂直方向から見たときの形状と略同一の形状となる。
【００４６】
　その後、画像処理部５７は、得られた透視画像のうち、巻締め部２の上端から上方へ離間した領域ａ（巻締め部２の外形輪郭線から離間した領域）における、ベアリング３６及びピン３９の、巻締め部２との当接面３６ａ，３９ａ同士の間の画素数を算出する。そして、この画素数に予め設定された単位画素当たりの寸法値を乗じ、巻締め部厚さ測定値を算出する。ここで、前記透視画像から得られる画素数とは、前記当接面３６ａ，３９ａ同士の間における、缶軸方向（Ｙ方向）に直交する方向（Ｘ方向）に連続して位置する画素の数のことをいう。
【００４７】
　そして、巻締め部厚さ測定値と記憶部５８に記憶されている前記実測値とを第１の演算部５９ａに送信し、第１の演算部５９ａにおいて、巻締め部厚さ測定値と前記実測値とが同値となるように、２値化の閾値を再設定する。その後、この再設定された２値化の閾値を画像処理部５７に送信し、該部５７において、前記設定された２値化の閾値に基づいて巻締め部２の透視画像の再算出を行う。次に、画像処理部５７は、再算出された透視画像のうち、巻締め部２を含む領域ｂにおいて、厚さ測定装置１３を構成するベアリング３６及びピン３９の、巻締め部２との当接面３６ａ，３９ａ同士の間におけるＸ方向に連続して位置する画素数を算出する。
【００４８】
　そして、画像処理部５７は得られた画素数を、記憶部５８は前記実測値を各々、第２の演算部５９ｂに送信し、該部５９ｂにおいて、前記実測値を画像処理部５７により送信された画素数で除し、巻締め部２における単位画素当たりの寸法値を算出する。ここで、画素数が、前記透視画像のうち、前記当接面３６ａ，３９ａ同士の間で、Ｘ方向に連続して位置する画素の数として得られ、また、巻締め部厚さＴが、Ｘ’方向における大きさとして得られるので、この巻締め部厚さＴを得られた画素数で除すことにより得られる単位画素あたりの寸法値は、Ｘ’方向またはＹ’方向に投影された大きさとして得られることになる。
【００４９】
　次に、図５に示す透視画像から、缶巻締め部厚さＴの方向（Ｘ’方向）と、缶軸方向（Ｙ方向）に直交する方向（Ｘ方向）とがなす角度θを算出する。
　まず、予め記憶部５８に入力して記憶させたＹ方向における所定位置を特定する設定値、およびＸ方向における所定位置を特定する設定値に基づいて、図５の透視画像上に、Ｘ方向に延在する仮想直線Ｌ１７、およびＹ方向に延在する仮想直線Ｌ１８を特定する。また、得られた透視画像から、本実施形態では、ベアリング３６の巻締め部２との当接面３６ａの輪郭線を補捉し、この輪郭線上に延在する仮想直線Ｌ１９を特定する。
　そして、直線Ｌ１７と、直線Ｌ１８およびＬ１９との各交点間に位置する画素数を算出して、この距離ｈを測定する。また、直線Ｌ１８と、直線Ｌ１７およびＬ１９との各交点間に位置する画素数を算出して、この距離ｉを測定する。
　これらの距離ｈおよびｉにより、角度θは次式により得られる。
　θ＝ｔａｎ−１（ｈ／ｉ）
【００５０】
　なお、前述した２値化の閾値、および単位画素あたりの寸法値の再設定のうち、単位画素あたりの寸法値の再設定については、例えば測定装置５０を初めて起動させるときなどに実施してもよく、また、２値化の閾値の再設定については、測定装置５０を所定時間（日数）使用した後に適宜実施してもよく、測定する度に行う必要は必ずしもない。
　以下、前述のようにして得られた透視画像、単位画素当たりの寸法値、および角度θに基づいて、巻締め部２の厚さを除く他の部位の寸法を測定する。
　以下、この測定方法について各別に説明する。
【００５１】
　[巻締め部高さＷの測定]
　巻締め部高さＷの測定方法を図６に従い説明する。まず、前記設定された２値化の閾値に基づいて得られた透視画像において、缶蓋１のシーミングパネル部９の上側頂部を含む領域に領域Ｗ３を設定し、領域Ｗ３内における前記輪郭線の前記上側頂部と接する接線Ｌ３を特定する。さらに、同様にして、缶蓋１のカバーフックラジアス下部１０の下側頂部を含む領域に領域Ｗ４を設定し、領域Ｗ４内における前記輪郭線の前記下側頂部と接し且つ接線Ｌ３と平行な接線Ｌ４を特定する。そして、接線Ｌ３とＬ４との間の画素数を算出し、この画素数に、前述のようにして得られた単位画素当りの寸法値を乗じ、第１の巻締め部高さＷ’を算出する。
　この第１の巻締め部高さＷ’は、缶軸方向（Ｙ方向）に対して角度θだけ図６における時計回りに傾斜したＹ’方向に投影された大きさとして算出されるので、これをＹ方向における大きさに補正する必要がある。すなわち、次式により巻締め部高さＷが算出される。
　Ｗ＝Ｗ’／ｃｏｓθ
【００５２】
　[ＢＨの測定]
　缶体３のフランジ頂部１１の上側頂部と第２の壁部８の下端部との距離ＢＨの測定を図７に従い説明する。まず、前記輪郭線において、缶体３のフランジ頂部１１の上側頂部を含む領域に領域Ｗ５を設定し、領域Ｗ５内における前記輪郭線の前記上側頂部と接する接線Ｌ５を特定する。さらに、同様にして、缶体３の第２の壁部８の下端部を含む領域に領域Ｗ６を設定し、領域Ｗ６内における前記輪郭線の前記下端部と接し且つ接線Ｌ５と平行な接線Ｌ６を特定する。そして、接線Ｌ５とＬ６との間におけるＹ方向に連続して位置する画素数を算出し、この画素数に、単位画素あたりの寸法値を乗じることにより、ＢＨを算出する。
【００５３】
　[ＣＨの測定]
　缶蓋１のカバーフックラジアス下部１０の下側頂部と第３の壁部６の上端部との距離ＣＨの測定を図８に従い説明する。まず、前記輪郭線において、缶蓋１のカバーフックラジアス下部１０の下側頂部を含む領域に領域Ｗ７を設定し、領域Ｗ７内における前記輪郭線の前記下側頂部と接する接線Ｌ７を特定する。さらに、同様にして、缶蓋１の第３の壁部６の上端部を含む領域に領域Ｗ８を設定し、領域Ｗ８内における前記輪郭線の前記上端部と接し且つ接線Ｌ７と平行な接線Ｌ８を特定する。そして、前述と同様にして、接線Ｌ７とＬ８とに基づいて、ＣＨを算出する。
【００５４】
　[ＯＬの測定]
　缶蓋１の第３の壁部６の上端部と缶体３の第２の壁部８の下端部との距離ＯＬの測定を図９に従い説明する。まず、前記輪郭線において、缶蓋１の第３の壁部６の上端部を含む領域に領域Ｗ９を設定し、領域Ｗ９内における前記輪郭線の前記上端部と接する接線Ｌ９を特定する。さらに、同様にして、缶体３の第２の壁部８の下端部を含む領域に領域Ｗ１０を設定し、領域Ｗ１０内における前記輪郭線の前記下端部と接し且つ接線Ｌ９と平行な接線Ｌ１０を特定する。そして、前述と同様にして、接線Ｌ９とＬ１０とに基づいて、ＯＬを算出する。
【００５５】
　[ＵＣの測定]
　缶蓋１の第３の壁部６の上端部と缶体３のフランジ頂部１１の下側頂部との距離ＵＣの測定を図１０に従い説明する。まず、前記輪郭線において、缶蓋１の第３の壁部６の上端部及び缶体３のフランジ頂部１１の下側頂部を含む領域に領域Ｗ１１を設定する。そして、領域Ｗ１１内における前記輪郭線の前記上端部と接する接線Ｌ１１を特定するとともに、前記下側頂部と接し且つ接線Ｌ１１と平行な接線Ｌ１２を特定する。そして、前述と同様にして、接線Ｌ１１とＬ１２とに基づいて、ＵＣを算出する。
【００５６】
　[ＬＣの測定]
　缶体３の第２の壁部８の下端部と缶蓋１のカバーフックラジアス下部１０の上側頂部との距離ＬＣの測定を図１１に従い説明する。まず、前記輪郭線において、缶体３の第２の壁部８の下端部及び缶蓋１のカバーフックラジアス下部１０の上側頂部を含む領域に領域Ｗ１２を設定する。そして、領域Ｗ１２内における前記輪郭線の前記下端部と接する接線Ｌ１３を特定するとともに、前記上側頂部と接し且つ接線Ｌ１３と平行な接線Ｌ１４を特定する。そして、前述と同様にして、接線Ｌ１３とＬ１４とに基づいて、ＬＣを算出する。
【００５７】
　[ＳＧの測定]
　缶蓋１のシーミングパネル部９の下側頂部と缶体３のフランジ頂部１１の上側頂部との距離ＳＧの測定を図１２に従い説明する。まず、前記輪郭線において、缶蓋１のシーミングパネル部９の下側頂部及び缶体３のフランジ頂部１１の上側頂部を含む領域に領域Ｗ１３を設定する。そして、領域Ｗ１３内における前記輪郭線の前記下側頂部と接する接線Ｌ１５を特定するとともに、前記上側頂部と接し且つ接線Ｌ１５と平行な接線Ｌ１６を特定する。そして、前述と同様にして、接線Ｌ１５とＬ１６とに基づいて、ＳＧを算出する。
【００５８】
　ここで、前述した測定方法を適用しない、すなわち２値化の閾値,及び単位画素当たりの寸法値を再設定しないで得られた測定値、及び本第一実施形態の測定方法を適用して得られた測定値と、実測値との具体例を各々図１３に示す。この結果、図１３に示すように、前記２つの測定値と実測値との差は、本第一実施形態の測定方法を適用した場合の方がより小さいことが確認でき、高精度の測定値が得られることが確認できる。
【００５９】
　以上説明したように、本第一実施形態による缶巻締め部寸法測定方法によれば、巻締め部２各部の寸法を測定するに際し、予め、透視画像に基づいて得られた測定値が、厚さ測定装置１３により得られた実測値と同値になるように、２値化の閾値を設定するため、透視画像における巻締め部２の輪郭線を正確に補捉できることになる。従って、Ｘ線照射装置５２の経時劣化により、得られる透視画像における巻締め部２の輪郭線が不明瞭となり、高精度の測定が困難となった場合でも、測定する都度,又は所定の測定回数を経た後に、２値化の閾値を再設定することで、高精度の測定を維持することができる。さらに、本第一実施形態においては、測定装置５０は厚さ測定装置１３を備えているため、前記再設定を全て自動で行うことができ、高精度測定の維持を高効率で実現することができる。
【００６０】
　また、２値化の閾値を再設定するために厚さ測定する際、透視画像において、巻締め部２上端から上方へ離間した領域ａにおける、ベアリング３６及びピン３９の巻締め部２との当接面３６ａ，３９ａ同士の間の画素数を算出するため、適切な２値化の閾値を得ることができる。すなわち、環状に形成された巻締め部２の内周面の透視画像は、接線方向からＸ線の照射方向において測定部位に対して前後に位置する巻締め部２の透視画像が重畳するため不鮮明となるが、この不鮮明となる個所を回避して、領域ａの前記当接面同士の画素数から巻締め部２の外形寸法を算出することになる。従って、得られた透視画像の内、鮮明な画像領域において２値化の閾値を設定するための測定を行うので、適切な２値化の閾値を算出することができ、高精度測定を実現できることになる。
【００６１】
　さらに、２値化の閾値を設定した後に得られる巻締め部２の透視画像において、この巻締め部２を含む領域ｂにおける、厚さ測定装置１３を構成するベアリング３６及びピン３９の巻締め部２との当接面３６ａ，３９ａ同士の間の画素数を算出し、この画素数と前記実測値とに基づいて得られた単位画素当たりの寸法値により、巻締め部２各部の寸法を測定するため、適切な単位画素当たりの寸法値を得ることができ、巻締め部２各部の測定をさらに高精度に実施することができる。
　すなわち、前記得られた透視画像のうち、巻締め部２を含む領域ｂにおける前記当接面３６ａ，３９ａ同士の間の画素数を算出するため、ベアリング３６やピン３９の取り付けガタなどに起因して、前記当接面３６ａ，３９ａが巻締め部２の内外壁面に対して傾く量がばらついた場合でも、適切な画素数を算出することが可能になり、画素数算出誤差の発生を最小限に抑制することができる。
【００６２】
　なお、本発明は前記第一実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。例えば、前述した第一実施形態においては、第１の演算部５９ａにより、２値化の閾値を再設定し、この閾値に基づいて得られた巻締め部２の透視画像において、巻締め部２を含む領域ｂにおける単位画素当たりの寸法値を再設定したが、さらに、経験に基づいた補正を巻締め部２各部の測定値に各別に施すようにしても良い。すなわち、得られる巻締め部の透視画像は、巻締め状態の疎密により、各部で画像の濃淡が異なることになる。従って、巻締め部各部毎で、算出される測定値が所定の量だけ実寸法より大きく,あるいは小さくなる場合がある。この測定値と実寸法との所定量の差は、各缶に拠らず略同一となるので、前記所定量を補正値として予め設定しておけば、高精度な巻締め部各部の測定をより確実に実現することができる。
【００６３】
　また、前記実施形態では、巻締め部厚さＴの機械的実測値および透視画像に基づいた測定値により、２値化の閾値や単位画素あたりの寸法値を算出したが、巻締め部高さＷの実測値および測定値により算出してもよい。ただし、巻締め部高さＷから単位画素あたりの寸法値を算出した場合、この高さＷを除く他の全ての巻締め部各部の寸法を測定するときには、透視画像に基づいて得られた測定値をそれぞれ、傾斜角度θにより補正する、すなわち、得られた測定値にｃｏｓθを乗じて、Ｘ’方向またはＹ’方向における大きさに変換する必要がある。
【００６４】
　さらに、前記実施形態では、Ｘ’方向またはＹ’方向に投影された大きさの単位画素あたりの寸法値を算出し、この単位画素あたりの寸法値に透視画像から得られたＸ方向またはＹ方向に連続して位置する画素の数を乗ずることにより、巻締め部２の各部の寸法のうち、この厚さＴおよび巻締め部高さＷを除く全ての寸法をいわば直接的に算出する方法を示したが、これに限らず、例えば、次のようにしてもよい。
【００６５】
　すなわち、まず、透視画像から前記角度θを算出し、巻締め部厚さＴを機械的に実測した後に、この実測値をｃｏｓθで除することにより、巻締め部厚さＴをＸ方向における大きさに変換する（以下、この大きさを単に「算出値」という）。そして、前記透視画像から、前記当接面３６ａ，３９ａ同士の間でＸ方向に連続して位置する画素の数を算出し、この画素数で前記算出値を除して単位画素あたりの寸法値を算出する。したがって、この単位画素あたりの寸法値は、Ｘ方向またはＹ方向における大きさとして算出される。
【００６６】
　次に、巻締め部２の各部のうち厚さＴを除く他部の寸法値を算出するときに、前記透視画像から巻締め部２の当該他部における画素数を前記実施形態と同様にして算出し、この画素数に、得られた単位画素あたりの寸法値を乗じて、Ｘ方向またはＹ方向における各部の寸法値を算出する。そしてさらに、巻締め部各部のうち高さＷおよび厚さＴを除く部分は、算出した寸法値にｃｏｓθを乗ずることにより、Ｙ’方向における当該他部の寸法を測定するようにしてもよい。
　この場合も、前記実施形態と同様に高精度な測定が可能になる。
【００６７】
　以下、図１４に示す缶巻締め部寸法測定装置６０の概略図に従い、第二実施形態について説明する。
　図１４に示す第二実施形態が、前述した第一実施形態と異なる点は、２値化の閾値を再設定する第１の演算部５９ａに換えて、透視画像から得られた測定値が、厚さ測定装置１３により得られた実測値と同値になるように、巻締め部２に照射するＸ線の線量を調整する操作部５９ｃを備えた点である。この調整した線量のＸ線を巻締め部２に照射して得られた透視画像から、前述した第一実施形態と同様にして、第２の演算部５９ｂにより、単位画素当たりの寸法値を算出する。
　以上説明したように本第二実施形態による缶巻締め部寸法測定方法によれば、巻締め部２に照射するＸ線の線量を前述のようにして調整するため、前述した第一実施形態と同様の作用,効果を奏することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６８】
　缶巻締め部の各部の寸法を高精度に測定できるとともに、この状態を高効率に維持することができる缶巻締め部の測定方法及び測定装置を提供する。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】本発明の第一実施形態として示した缶巻締め部寸法測定方法を実施するための測定装置の概略構成図である。
【図２】図１に示す厚さ測定装置の拡大図である。
【図３】缶巻締め部及び測定個所を説明するための説明図である。
【図４】本発明の第一実施形態に係る缶巻締め部寸法測定方法を示す概略フロー図である。
【図５】２値化の閾値及び単位画素当たりの寸法値を再設定する方法を説明するための説明図である。
【図６】缶巻締め部の高さをＸ線にて測定する方法を説明する説明図である。
【図７】缶巻締め部のＢＨ値をＸ線にて測定する方法を説明する説明図である。
【図８】缶巻締め部のＣＨ値をＸ線にて測定する方法を説明する説明図である。
【図９】缶巻締め部のＯＬ値をＸ線にて測定する方法を説明する説明図である。
【図１０】缶巻締め部のＵＣ値をＸ線にて測定する方法を説明する説明図である。
【図１１】缶巻締め部のＬＣ値をＸ線にて測定する方法を説明する説明図である。
【図１２】缶巻締め部のＳＧ値をＸ線にて測定する方法を説明する説明図である。
【図１３】本発明の第一実施形態として示した測定方法により得られる測定値の妥当性を説明するための説明図である。
【図１４】本発明の第二実施形態として示した缶巻締め部寸法測定方法を実施するための測定装置の概略図である。
【図１５】缶の全体構成を示す断面図である。
【符号の説明】
【００７０】
　２　缶巻締め部
　１３　厚さ測定装置
　３６　ベアリング（把持部）
　３９　ピン（把持部）
　５０　缶巻締め部寸法測定装置
　５２　Ｘ線照射装置
　５３　受像機
　５６　画像処理装置
　５７　画像処理部
　５８　記憶部
　５９ａ　第１の演算部
　５９ｂ　第２の演算部
　５９ｃ　操作部
　ａ　巻締め部外形輪郭線から離間した領域
　ｂ　巻締め部外形輪郭線を含む領域
　Ｃ　缶
　Ｔ　巻締め部の厚さ
　Ｗ　巻締め部の高さ
【図１】
2004144743.tif 000003
【図２】
2004144743.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2004144743.tif 000009
【図８】
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【図９】
2004144743.tif 000011
【図１０】
2004144743.tif 000012
【図１１】
2004144743.tif 000013
【図１２】
2004144743.tif 000014
【図１３】
2004144743.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
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