(57)【要約】【課題】光ファイバ素線の薄膜紫外線硬化型皮膜の密着力を向上させる方法を提供すること、前記薄膜光ファイバ素線を用いた光ファイバ心線とすることによって、紫外線硬化型樹脂被覆の除去性を向上させること、さらにはこのような光ファイバ心線を用いて接続時等の研磨加工処理を施しても、光ファイバのガラス端面に傷やガラス欠け等が発生せず、そのコネクタ接続部は、接続損失が小さく、同心度にも優れたものとすることにある。【解決手段】光ファイバ冷却装置、紫外線硬化型樹脂供給加圧装置並びに紫外線硬化装置を、順次通過させる薄膜光ファイバ素線の製造方法において、前記光ファイバ冷却装置と前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置の間に、非接触型の温度計を配置すると共に、前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置に導入される光ファイバの温度を、４０〜１００℃とする薄膜光ファイバ素線の製造方法とすることによって、解決される。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバ冷却装置、紫外線硬化型樹脂供給加圧装置並びに紫外線硬化装置を順次通過させる、薄膜光ファイバ素線の製造方法において、前記光ファイバ冷却装置と前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置の間に、非接触型の温度計を配置すると共に、前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置に導入される光ファイバの温度を、４０〜１００℃とすることを特徴とする、薄膜光ファイバ素線の製造方法。
【請求項２】
前記光ファイバの温度制御を、前記非接触型の温度計の温度情報を前記光ファイバ冷却装置にフィードバックすることによって、温度制御をすることを特徴とする、請求項１に記載される薄膜光ファイバ素線の製造方法。
【請求項３】
前記請求項１または２のいずれかの製造方法によって得られた薄膜光ファイバ素線上に、紫外線硬化型樹脂被覆を設けた光ファイバ心線であって、前記被覆を除去したときに前記薄膜の剥離が生じないことを特徴とする、光ファイバ心線。
【請求項４】
前記光ファイバ心線を用い、コネクタ接続のためのコネクタ研磨加工処理を行ったときに、光ファイバ心線のガラス端面に傷等の発生がないことを特徴とする、コネクタ接続部。
【請求項５】
前記コネクタ接続部は、接着剤の密着力が１．５ｋｇ／ｃｍ以上で、かつ接続損失が０．２ｄＢ以下であることを特徴とする、請求項４に記載のコネクタ接続部。
【請求項６】
前記コネクタ接続部は、同心度が１．２〜２．０μｍであることを特徴とする、請求項４または５のいずれかに記載されるコネクタ接続部。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、密着力の優れた薄膜光ファイバ素線の製造方法、それを用いた光ファイバ心線並びにコネクタ接続部に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
薄膜光ファイバ心線は、例えば８０〜１００μｍの光ファイバ上に薄肉の紫外線硬化樹脂被覆を施した薄膜光ファイバ素線上に、通常この上に着色層やプラスチックの２次被覆を設けて、前記薄膜光ファイバ素線を保護するように構成されている。例えば、外径８０μｍ石英ファイバ上に４５μｍの薄肉の紫外線硬化樹脂被覆を設けて薄膜光ファイバ素線とし、その上に厚肉のソフトタイプ紫外線硬化樹脂層、ハードタイプ紫外線硬化樹脂被覆等が順次設けられて、外径が２５０μｍの薄膜光ファイバ心線として使用される。このような薄膜光ファイバ心線の製造は、前記薄膜皮膜を形成する際に光ファイバの温度を、厳密には制御しないことと、通常紫外線硬化型樹脂被覆の硬化処理を大気中で行うので、酸素阻害によって十分な硬化が行われないために、石英光ファイバとの密着力が十分でないことや、薄膜光ファイバ素線の外径変動が大きいという問題もあった。そのため、その上に設けるソフトタイプやハードタイプの紫外線硬化型樹脂被覆は、紫外線硬化型樹脂どうしの関係から密着力は、通常前記光ファイバとの密着力よりも大きくなっている。このような密着力の関係になっている薄膜光ファイバ心線の、ソフトタイプやハードタイプの紫外線硬化型樹脂被覆を除去しようとすると、前記薄膜の紫外線硬化型樹脂皮膜の方が剥がれたりすることがあった。
【０００３】
また、このような薄膜光ファイバ心線は、コネクタ接続時にはその端面をＰＣ研磨（フィジカルコンタクト）、ＡＰＣ研磨（アドバンストフィジカルコンタクト）やフラット研磨等の研磨加工を施す必要がある。そしてその際には、前記紫外線硬化型樹脂被覆も除去する必要があるが、前記紫外線硬化型樹脂被覆によっては、このような作業によって光ファイバのガラス端面に傷がついたり、ガラス欠けと称する割れ等が発生するものがあった。そして、このような傷等が生じた光ファイバ心線を用いて接続部を形成すると、接着剤の密着力が小さくなったり、接続損失が増大したり、同心度が悪くなる等の問題が生じていた。このような問題に対する提案の一つとして、光ファイバのクラッド層上に密着性が良好なフッ素系樹脂の薄層を設ける技術が、特許文献１に見られる。
【０００４】
【特許文献１】
特開２０００−１５５２４４号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
よって本発明が解決しようとする課題は、光ファイバ素線の薄膜紫外線硬化型樹脂皮膜の密着力を向上させる方法を提供すること、前記薄膜光ファイバ素線を用いた光ファイバ心線とすることによって、紫外線硬化型樹脂被覆の除去性を向上させ、また研磨加工処理を施しても光ファイバのガラス端面に傷やガラス欠け等が発生しないようにすること、さらには前記光ファイバ心線を用いたコネクタ接続部は、接着剤との密着力が大きく、接続損失が小さく、同心度にも優れたものとすることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前記解決しようとする課題は、請求項１に記載されるように、光ファイバ冷却装置、紫外線硬化型樹脂供給加圧装置並びに紫外線硬化装置を順次通過させる、薄膜光ファイバ素線の製造方法において、前記光ファイバ冷却装置と前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置の間に、非接触型の温度計を配置すると共に、前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置に導入される光ファイバの温度を、４０〜１００℃とする薄膜光ファイバ素線の製造方法とすることによって、解決される。また、請求項２に記載されるように、前記光ファイバの温度制御を、前記非接触型の温度計の温度情報を前記光ファイバ冷却装置にフィードバックすることによって、温度制御をすることを特徴とする、請求項１に記載される薄膜光ファイバ素線の製造方法とすることによって、解決される。
【０００７】
また、請求項３に記載されるように、前記請求項１または２のいずれかの製造方法によって得られた薄膜光ファイバ素線上に、紫外線硬化型樹脂被覆を設けた光ファイバ心線であって、前記被覆を除去したときに前記薄膜の剥離が生じない光ファイバ心線とすることによって、解決される。
【０００８】
さらに、請求項４に記載されるように、前記光ファイバ心線を用い、コネクタ接続のためのコネクタ研磨加工処理を行ったときに、光ファイバ心線のガラス端面に傷等の発生がないコネクタ接続部とすることによって、解決される。また、請求項５に記載されるように、前記コネクタ接続部は、接着剤の密着力が１．５ｋｇ／ｃｍ以上で、かつ接続損失が０．２ｄＢ以下であることを特徴とする、請求項４に記載のコネクタ接続部とすることによって、解決される。さらにまた、請求項６に記載されるように、前記コネクタ接続部は、同心度が１．２〜２．０μｍであることを特徴とする、請求項４または５のいずれかに記載されるコネクタ接続部とすることによって、解決される。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下に本発明を詳細に説明する。請求項１に記載される発明は、光ファイバ冷却装置、紫外線硬化型樹脂供給加圧装置並びに紫外線硬化装置を順次通過させる、薄膜光ファイバ素線の製造方法において、前記光ファイバ冷却装置と前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置の間に、非接触型の温度計を配置すると共に、前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置に導入される光ファイバの温度を、４０〜１００℃とした薄膜光ファイバ素線の製造方法とすることによって、光ファイバ上の紫外線効果型樹脂からなる薄膜皮膜の密着力を向上することができ、また薄膜光ファイバ素線としての外径変動を小さなものとすることができるようになる。そして、このような薄膜光ファイバ素線を用いた薄膜光ファイバ心線は、前記素線上に設けられた樹脂被覆の除去を、光ファイバに傷等を付けずに行うことができ、また、コネクタ接続部の為の研磨加工処理を行ってもガラス欠けや傷の発生を防止でき、さらに、この光ファイバ心線を用いたコネクタ接続部は、接着剤との密着力が大きく、接続損失が小さく、また同心度にも優れたものとすることができる。
【００１０】
図１により詳細に説明すると、母材溶融炉（図示せず）から出てきた光ファイバ１は、冷却装置２を通過させた後に、加圧式の紫外線硬化型樹脂供給装置３に導入して、前記紫外線硬化型樹脂を薄膜状に形成した後、紫外線硬化装置４によって薄膜の硬化皮膜として薄膜光ファイバ素線５とするものであるが、前記光ファイバ１を加圧式の樹脂供給装置３に導入するときの温度制御を厳密には行っていないので、光ファイバ１とその上に設けられる薄膜の紫外線硬化型樹脂皮膜の密着力が好ましくなく、また得られる薄膜光ファイバ素線の外径変動も大きくなり、その後の種々の処理作業に問題を生じていた。すなわち、このような薄膜光ファイバ素線を用いて紫外線硬化型樹脂等の樹脂被覆を施した光ファイバ心線を製造し、この光ファイバ心線をコネクタ接続のために、前記紫外線硬化型樹脂等の被覆を除去したときに、光ファイバ上の前記薄膜紫外線硬化型樹脂皮膜が剥離してしまうという、問題が生じていた。そこで、本発明では前記光ファイバ１の温度を４０〜１００℃とした状態で、前記加圧式紫外線硬化型樹脂供給装置３へ導入するようにしたものである。そしてこのような温度範囲は、以下の実験を行うことによって決定したものである。
【００１１】
すなわち、図２に示すような光ファイバ心線９を作製して、その特性を調べた。具体的には、外径１００μｍの石英ファイバ１上に薄膜の紫外線硬化型樹脂皮膜６を施すに当たり、前記光ファイバの温度を表１に示すような種々の温度、すなわち２５、４０、７０、１００並びに１２０℃として、薄膜の紫外線硬化型樹脂皮膜６を施して薄膜光ファイバ素線５とし、その上に順次、比較的厚肉のソフトタイプの紫外線硬化型樹脂被覆７、ハードタイプの紫外線硬化型樹脂被覆８を設けて、光ファイバ心線９を作製した。ついで、これらの光ファイバ心線９について、前記薄膜６の密着力を、ＪＩＳ規格Ｃ６４７１の銅箔の引剥がし強さを測定する方法Ａに準拠して、測定した。また前記紫外線硬化型樹脂被覆を、被覆除去器であるマイクロストリッパ（ＭＳ）並びにホットジャケットストリッパ（ＨＪＳ）を用いて、長さ３０ｍｍ除去したときの、前記薄膜の状態並びに前記光ファイバと前記薄膜の剥離の発生率を測定した。結果を、表１に示した。
【００１２】
表１から明らかなように、光ファイバの温度を４０〜１００℃に制御した状態で、薄膜の紫外線硬化型樹脂皮膜を形成したものは、薄膜の密着力が５０ｇ／ｃｍ以上と優れたものであることがわかる。また実験例１や６のように２５℃のものは、密着力が１０ｇ／ｃｍ以下であり、さらに実験例５や１０のように１２０℃では、光ファイバ素線径の変動が大きく好ましくないものであった。よって、光ファイバに薄膜の紫外線硬化型樹脂皮膜を形成する場合には、光ファイバの温度を、４０〜１００℃に制御して行うことが好ましいことがわかる。また、そのときの薄膜の状態を観察したところ、実験例２〜４並びに７〜９に示される、光ファイバの温度を４０〜１００℃としたものは剥離が見られなかったが、実験例１や６においては樹脂被覆の除去前に多少剥離が見られ、さらにガラスと薄膜の剥離の発生率についても、被覆除去器が前記ＭＳ或いは前記ＨＪＳのいずれにおいても、６０％以上の傷の発生が見られて、好ましくないものであった。
【００１３】
これに対して、光ファイバの温度を４０〜１００℃の範囲で製造した薄膜光ファイバ心線は、傷の発生率を２０％以下に抑えることができる。このように、光ファイバの温度を４０〜１００どの範囲に制御した状態で、薄膜の紫外線硬化型樹脂皮膜を形成した薄膜光ファイバ素線の製造方法によって得られた薄膜光ファイバ素線を用いて、これに紫外線硬化型樹脂被覆を施した光ファイバ心線は、請求項３に記載されるように、前記被覆を除去したときに前記薄膜の剥離が生じない光ファイバ心線とすることができる。そして、このような光ファイバ心線の端末部は、接続のために研磨処理を施しても、光ファイバに傷の発生率が少ないものとすることができ、好ましいもである。以上のように本発明の光ファイバ心線は、請求項３に記載されるように、前記請求項１または２のいずれかの製造方法によって得られた薄膜光ファイバ素線上に、紫外線硬化型樹脂被覆を設けた光ファイバ心線であって、前記被覆を除去したときに前記薄膜の剥離が生じない光ファイバ心線とすることができる。
【００１４】
【表１】
2004196612.tif 000003
【００１５】
そして前記光ファイバの温度制御に関しては、請求項２に記載するように、前記光ファイバの温度制御を、前記非接触型の温度計の温度情報を前記光ファイバ冷却装置にフィードバックすることによって、温度制御をする薄膜光ファイバ素線の製造方法とするものである。すなわち、前記光ファイバ１を加圧式紫外線硬化型樹脂供給装置３に導入するときの温度制御を厳密に行うために冷却装置を設置し、前記冷却装置２と加圧式紫外線硬化型樹脂供給装置３との間に、非接触タイプの温度測定装置１０を配置し、測定した温度情報を→印のように冷却装置２にフィードバックして、冷却用のガス量等を調整することによって、光ファイバ１の温度が前記の温度範囲となるように、制御することができる。このように、光ファイバ１の温度をコントロールしながら紫外線硬化型樹脂の薄膜を形成することにより、前記薄膜光ファイバ素線の外径変動を抑え、ガラスと前記薄膜の密着力の高いものとすることができる。また従来装置の大幅な変更もなく好ましい薄膜光ファイバ素線を、実用的に製造できることになる。なお、ここで使用される冷却用のガスとしては、窒素ガス、ヘリウム・窒素混合ガス等のガスが使用できるが、ヘリウムガスが好ましく用いられる。
【００１６】
前述のようにして製造された、薄膜光ファイバ素線を用いて光ファイバ心線とすることによって、傷等の発生がないコネクタ接続の為の研磨加工処理が、可能となる。すなわち請求項４に記載されるように、前記光ファイバ心線を用い、コネクタ接続のためのコネクタ研磨加工処理を行ったときに、光ファイバ心線のガラス端面に傷等の発生がない、コネクタ接続部とすることができるものである。まず研磨加工処理について簡単に説明すると、光ファイバ心線はコネクタ接続時には、その端面をＰＣ研磨（フィジカルコンタクト）、ＡＰＣ研磨（アドバンストフィジカルコンタクト）やフラット研磨等の研磨加工を施されるものである。より具体的には、前記ＰＣ研磨はフェルール先端を凸球面に加工し、コネクタ突合せ部での空気層をなくしてガラスを直に接触させることにより、フレネル反射を低減させるためのものであり、また前記フラット研磨は、光ファイバ端面をファイバ軸に対して直角に研磨するものである。しかし、いずれの場合もその際には、前記紫外線硬化型樹脂被覆を除去する必要があり、この作業によって光ファイバのガラス端面に傷がついたり、ガラス欠けと称する割れ等が発生するものがあった。
【００１７】
しかしながら、前述した薄膜の密着力（ＪＩＳ規格Ｃ６４７１の銅箔の引剥がし試験方法Ａに準拠して測定）が、５０ｇ／ｃｍ以上の薄膜光ファイバ素線を用いた光ファイバ心線においては、このような研磨作業におけるガラス端面の傷の発生を、無くすことが可能となる。具体的には、表１に記載される光ファイバ心線を用い、コネクタ接続のための前記ＰＣ研磨加工を行った後、前記光ファイバ心線のガラス端面の状態を観測したところ、光ファイバ素線の薄膜皮膜の密着力が５０ｇ／ｃｍ以上の光ファイバ心線を用いた場合には、ＰＣ研磨加工による傷の発生が殆どないものであることが判った。これに対して、密着力が１０ｇ／ｃｍのものでは多数の傷が見られ、また密着力が３０ｇ／ｃｍのものにも傷の発生が見られた。
【００１８】
さらに、請求項５に記載されるように、前記コネクタ接続部を、接着剤の密着力が１．５ｋｇ／ｃｍ以上で、かつ接続損失が０．２ｄＢ以下であるコネクタ接続部とすることによって、実用的なコネクタ接続部とすることが可能となる。すなわち、コア径が５０μｍで、クラッド径が１００μｍのＧＩタイプの光ファイバの温度を種々代えて、紫外線硬化型樹脂からなる薄膜皮膜を施し、外径１２５μｍの薄膜光ファイバ素線とし、この上に順次、比較的厚肉のソフトタイプの紫外線硬化型樹脂被覆、ハードタイプの紫外線硬化型樹脂被覆を設けて、外径２５０μｍの光ファイバ心線を製造した。次いでこれらの光ファイバ心線を用いて、接着剤の接着力を種々代えたコネクタ接続部を形成し、前記ＰＣ研磨加工を行った後に、接続損失（ｄＢ）を測定した。
【００１９】
結果は表２に記載されるごとく、前記光ファイバの温度が４０〜１００℃で製造された、薄膜光ファイバ素線を用いた光ファイバ心線である実験例１２〜１４のものは、前記接着剤の接着力が１．５ｋｇ／ｃｍ以上であり、またコネクタ接続損失も０．２ｄＢ以下と、実用上問題がない数値のものとなった。これに対して、実験例１１のように光ファイバの温度が２５℃で製造された、薄膜光ファイバ素線を用いた光ファイバ心線の場合は、接着剤の接着力が１．５ｋｇ／ｃｍ未満となり、接続損失も０．６ｄＢと実用上問題があるものとなった。また実験例１５のように、光ファイバの温度を１２０℃として製造した、薄膜光ファイバ素線を用いた光ファイバ心線の場合には、前記薄膜光ファイバ素線の外径変動が大きく、接着剤との密着力も小さなものであり、前記薄膜の剥離や研磨処理によるガラス欠け等の発生が数多く見られ、実用的なものではなかった。このように前記コネクタ接続部を、接着剤の密着力が１．５ｋｇ／ｃｍ以上で、かつ接続損失が０．２ｄＢ以下であるコネクタ接続部とすることによって、実用的なコネクタ接続部とすることが可能となる。
【００２０】
さらにまた、請求項６に記載されるように、前記コネクタ接続部は同心度が、１．２〜２．０μｍであるコネクタ接続部とすることによって、接続損失が０．２ｄＢ以下の、実用的なコネクタ接続部を得ることができる。すなわち、コア径が５０μｍで、クラッド径が１００μｍのＧＩタイプの光ファイバの温度を種々代えて、紫外線硬化型樹脂からなる薄膜皮膜を施して、外径１２５μｍの薄膜光ファイバ素線とし、この上に順次、比較的厚肉のソフトタイプの紫外線硬化型樹脂被覆、ハードタイプの紫外線硬化型樹脂被覆を設けて、外径２５０μｍの光ファイバ心線を製造した。次いでこれらの光ファイバ心線を用いて、接着剤の接着力を種々代えたコネクタ接続部を形成し、前記ＰＣ研磨加工を行った後に、同心度（μｍ）並びに接続損失（ｄＢ）を測定した。なおここでの同心度とは、ＪＩＳ規格Ｃ５９６１に規定される、フェルールの中心軸と光ファイバのコア中心軸との距離の２倍として定義されるもので、測定方法はフェルール外径基準方法によるものある。
【００２１】
結果は前記表２に記載されるように、光ファイバの温度を４０〜１００℃として製造された、薄膜光ファイバ素線を用いた光ファイバ心線としたものは、実験例１２〜１４に記載されるように、接着剤の接着力が１．５ｋｇ／ｃｍ以上であり、同心度が１．２〜１．８μｍと非常に小さなものとすることができ、またコネクタ接続損失が０．２ｄＢ以下と、実用上好ましい数値のものとなった。これに対して、実験例１１のように、光ファイバの温度を２５℃として製造した、薄膜光ファイバ素線を用いた光ファイバ心線の場合は、接着剤の接着力が１．５ｋｇ／ｃｍ未満となり、同心度も５．２μｍと大きく、また接続損失も０．６ｄＢと、実用上問題があるものであった。また、実験例１５のように光ファイバの温度を１２０℃で製造した、薄膜光ファイバ素線を用いた光ファイバ心線の場合には、前記薄膜光ファイバ素線の外径変動が大きく、接着剤との密着力も小さなものであり、前記薄膜の剥離や研磨処理によるガラス欠け等の発生が数多く見られ、実用的なものではなかった。よって前記コネクタ接続部は、同心度が１．２〜２．０μｍであることが、好ましいものであることがわかった。
【００２２】
【表２】
2004196612.tif 000004
【００２３】
【発明の効果】
以上説明したとおり、光ファイバ冷却装置、紫外線硬化型樹脂供給加圧装置並びに紫外線硬化装置を、順次通過させる薄膜光ファイバ素線の製造方法において、前記光ファイバ冷却装置と前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置の間に、非接触型の温度計を配置すると共に、前記紫外線硬化型樹脂供給加圧装置に導入される光ファイバの温度を、４０〜１００℃とする薄膜光ファイバ素線の製造方法とすることによって、また前記光ファイバの温度制御を、前記非接触型の温度計の温度情報を前記光ファイバ冷却装置にフィードバックすることによって、温度制御をする薄膜光ファイバ素線の製造方法とすることによって、光ファイバ上の紫外線硬化型樹脂からなる薄膜皮膜の密着力（ＪＩＳ規格Ｃ６４７１の銅箔の引剥がし強さを測定する方法Ａに準拠して測定）を向上することができ、また薄膜光ファイバ素線の外径変動が小さなものとなる。具体的には、前記薄膜の密着力（ＪＩＳ規格Ｃ６４７１の銅箔の引剥がし強さを測定する方法Ａに準拠して測定）を、５０ｇ／ｃｍ以上とすることができる。
【００２４】
また、前記の製造方法によって得られた薄膜光ファイバ素線上に、紫外線硬化型樹脂被覆を設けた光ファイバ心線は、前記樹脂被覆を除去したときに前記薄膜皮膜の剥離が生じない光ファイバ心線とすることができる。そしてこの光ファイバ心線は、被覆除去器である前記ＭＳ或いは前記ＨＪＳのいずれを用いて前記樹脂被覆を除去しても、前記薄膜皮膜の剥離やガラス部分に傷の発生が見られず好ましいものである。またこのような光ファイバ心線を用いたコネクタ接続部は、研磨処理加工によりガラス欠けや傷を発生させること等がない。
【００２５】
さらに、前記光ファイバ心線を用いたコネクタ接続は、研磨加工処理を行ったときに、光ファイバ心線のガラス端面に傷等の発生がないコネクタ接続部とすることができる。また前記コネクタ接続部は、接着剤の密着力が１．５ｋｇ／ｃｍ以上で、かつ接続損失が０．２ｄＢ以下とすることができ、さらにまた前記コネクタ接続部は、同心度が１．２〜２．０μｍのものとすることができる。すなわち、光ファイバの温度を４０〜１００℃とした、薄膜光ファイバ素線の製造方法とすることによって、紫外線硬化型樹脂の薄膜皮膜の前記密着力を、向上することができ、また前記薄膜光ファイバ素線は、外径変動を小さなものとすることができるので、得られる光ファイバ心線の前記樹脂被覆の剥離性が好ましものとなる。そしてこれを用いたコネクタ接続部には、研磨処理加工による傷、ガラス欠け等の問題がないので、接続損失が０．２ｄＢ以下と小さなものとすることができる。このことにより、コネクタ接続部の接着剤の密着力が１．５ｋｇ／ｃｍ以上と高く、併せて同心度も１．２〜２．０μｍと小さなものとすることができ、実用的なコネクタ接続部を形成することができることになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の薄膜光ファイバ素線の製造方法の概要を示す、概略図面である。
【図２】図２（Ａ）および（Ｂ）は、光ファイバ心線の一例を示す、概略断面図である。
【符号の説明】
１    光ファイバ
２    冷却装置
３    紫外線硬化型樹脂供給加圧装置
４    紫外線硬化装置
５    薄膜光ファイバ素線
６    薄膜皮膜
７、８    紫外線硬化型樹脂被覆
９    光ファイバ心線
１０    温度測定装置
【図１】
2004196612.tif 000005
【図２】
2004196612.tif 000006