(57)【要約】【課題】パワー可変範囲と温度可変範囲とを満足する任意の値を設定値とすることで、歩留りの低下を回避できる光通信モジュール、波長ロッカーモジュールを提供する。また、上記の光通信モジュール、波長ロッカーモジュールを実現するための設定値取得装置及び設定値取得方法、並びにそのプログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体を提供する。【解決手段】レーザモジュールの温度依存性及び出力強度依存性に応じた設定値に基づいて、レーザモジュールの温度及び出力強度を制御するように構成する。これにより、図４（ａ）に示すように、レーザモジュールの制御範囲が１点でなく線分（設定範囲）となる。このため、図４（ｂ）に示すように、パワーの設定値であるＰ＿Ｃｅｎｔ上でなくとも設定値を生成することが可能となる。【選択図】　　　　　図４
2004047589.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を出力するレーザ光出力手段と、該レーザ光出力手段の温度を制御する温度制御手段と、該レーザ光出力手段から出力されるレーザ光の出力強度を制御する出力強度制御手段とを有し、前記レーザ光出力手段が温度及び出力強度に依存した波長のレーザ光を出力する光通信モジュールであって、
所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度と、前記所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する最適な温度とに基づく設定値を格納する設定値格納手段を有し、
前記温度制御手段及び前記出力強度制御手段は、前記設定値格納手段に格納された前記設定値に基づいて、前記レーザ光出力手段の温度及び出力強度を制御することを特徴とする光通信モジュール。
【請求項２】
請求項１記載の前記光通信モジュールにおいて、
前記レーザ光出力手段は、波長可変であり、
前記設定値格納手段は、波長毎に前記設定値を格納することを特徴とする光通信モジュール。
【請求項３】
請求項１又は２記載の前記光通信モジュールにおいて、
前記レーザ光出力手段と前記温度制御手段と前記出力強度制御手段とを複数有することを特徴とする光通信モジュール。
【請求項４】
請求項１から３の何れか１項に記載の前記光通信モジュールにおいて、
前記温度制御手段は、レーザダイオードが組み込まれるレーザモジュール内部に設けられた温度センサと、前記レーザモジュール内部に設けられた冷熱素子と、前記温度センサで検出される温度が前記設定値を満たすように前記冷熱素子を駆動する温度駆動回路と、を含み、
前記出力強度制御手段は、前記レーザモジュール内部及び／又は外部に設けられたフォトディテクタと、前記レーザダイオードへ駆動電流を入力するレーザ駆動回路と、前記フォトディテクタで検出された出力強度が前記設定値を満たすように前記レーザ駆動回路を制御する出力強度制御回路と、を含むことを特徴とする光通信モジュール。
【請求項５】
レーザモジュールのレーザ光を所定波長に維持させる波長ロッカーモジュールであって、
前記レーザモジュールの温度を制御する温度制御手段と、
前記レーザモジュールから出力されるレーザ光の出力強度を制御する出力強度制御手段と、
所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度と、前記所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する最適な温度とに基づく設定値を格納する設定値格納手段と、を有し、
前記温度制御手段及び前記強度制御手段は、前記設定値格納手段に格納された前記設定値に基づいて、前記レーザモジュールの温度及び出力強度を制御することで、出力される前記レーザ光を前記所定波長に維持することを特徴とする波長ロッカーモジュール。
【請求項６】
請求項５記載の前記波長ロッカーモジュールにおいて、
前記レーザモジュールは、波長可変レーザを含み、
前記設定値格納手段は、波長毎に前記設定値を格納することを特徴とする波長ロッカーモジュール。
【請求項７】
請求項５又は６記載の前記波長ロッカーモジュールにおいて、
前記温度制御手段と前記出力強度制御手段とを複数有することを特徴とする波長ロッカーモジュール。
【請求項８】
請求項５から７の何れか１項に記載の前記波長ロッカーモジュールにおいて、
前記温度制御手段は、レーザモジュール内部に設けられた温度センサに基づいて前記レーザモジュールの温度をモニタする温度モニタ回路と、前記レーザモジュール内部に設けられた冷熱素子を駆動する冷熱素子駆動回路と、前記温度モニタ回路でモニタされる温度が前記設定値を満たすように前記冷熱素子駆動回路を制御する温度制御回路と、を含み、
前記出力強度制御手段は、前記レーザモジュール内部及び／又は外部に設けられたフォトディテクタと、前記レーザダイオードへ駆動電流を入力するレーザ駆動回路と、前記フォトディテクタで検出された出力強度が前記設定値を満たすように前記レーザ駆動回路を制御する出力強度制御回路と、を含むことを特徴とする波長ロッカーモジュール。
【請求項９】
レーザモジュールから出力されるレーザ光が所定波長となり、且つ、所定の温度条件と所定の出力強度条件とを満足する設定値を生成するための設定値生成装置であって、
前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度を算出する最適出力強度算出手段と、
前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な温度を算出する最適温度算出手段と、
前記最適出力強度算出手段で算出された前記最適な出力強度と前記最適温度算出手段で算出された前記最適な温度とに基づいて前記設定値を生成する設定値生成手段と、
を有することを特徴とする設定値生成装置。
【請求項１０】
請求項９記載の前記設定値生成装置において、
前記レーザモジュールに前記所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係式を特定する関係式特定手段と、
前記関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する出力強度の上限値及び下限値を算出又は特定する出力強度上下限値算出／特定手段と、を有し、
前記最適出力強度算出手段は、前記出力強度上下限値算出／特定手段で算出又は特定された前記出力強度の上限値と下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、
前記最適温度算出手段は、前記関係式特定手段で特定された前記関係式に前記最適出力強度算出手段で算出された前記最適な出力強度を代入して前記最適な温度を算出することを特徴とする設定値生成装置。
【請求項１１】
請求項１０記載の前記設定値生成装置において、
前記レーザモジュールが波長可変であり、前記設定値を全ての所定波長に関して生成することを特徴とする設定値生成装置。
【請求項１２】
請求項９記載の前記設定値生成装置において、
前記レーザモジュールは、波長可変であり、
前記レーザモジュールに最短の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最短波長関係式を特定する最短波長関係式特定手段と、
前記レーザモジュールに最長の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最長波長関係式を特定する最長波長関係式特定手段と、
前記最短波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の上限値を算出又は特定する出力強度上限値算出／特定手段と、
前記最長波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の下限値を算出又は特定する出力強度下限値算出／特定手段と、を有し、
前記最適出力強度算出手段は、前記出力強度上限値算出／特定手段で特定された前記出力強度の上限値と、前記出力強度下限値算出／特定手段で特定された前記出力強度の下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、
前記最適温度算出手段は、前記最短波長関係式及び／又は前記最長波長関係式に前記最適出力強度算出手段で算出された前記最適な出力強度を代入して前記最短の所定波長及び／又は前記最長の所定波長に関する前記最適な温度を算出し、前記設定値生成手段は、前記最適な出力強度と、前記最短又は最長の所定波長に関して算出された前記最適な温度とに基づいて、全ての所定波長に関して前記設定値を生成することを特徴とする設定値生成装置。
【請求項１３】
請求項９から１２の何れか１項に記載の前記設定値生成装置において、
前記設定値生成手段で生成された前記設定値を記憶する設定値記憶手段を有し、
前記レーザモジュールは、ユニークな識別情報を有し、
前記設定値記憶手段は、前記ユニークな識別情報に対応づけて前記設定値を記憶することを特徴とする設定値生成装置。
【請求項１４】
レーザモジュールから出力されるレーザ光が所定波長となり、且つ、所定の温度条件と所定の出力強度条件とを満足する設定値を生成する情報処理装置における設定値生成方法であって、
前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度を算出する最適出力強度算出ステップと、
前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な温度を算出する最適温度算出ステップと、
前記最適出力強度算出ステップで算出された前記最適な出力強度と前記最適温度算出ステップで算出された前記最適な温度とに基づいて前記設定値を生成する設定値生成ステップと、
を有することを特徴とする設定値生成方法。
【請求項１５】
請求項１４記載の前記設定値生成方法において、
前記レーザモジュールに前記所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係式を特定する関係式特定ステップと、
前記関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する出力強度の上限値及び下限値を算出又は特定する出力強度上下限値算出／特定ステップと、を有し、
前記最適出力強度算出ステップは、前記出力強度上下限値算出／特定ステップで算出又は特定された前記出力強度の上限値と下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、
前記最適温度算出ステップは、前記関係式特定ステップで特定された前記関係式に前記最適出力強度算出ステップで算出された前記最適な出力強度を代入して前記最適な温度を算出することを特徴とする設定値生成方法。
【請求項１６】
請求項１５記載の前記設定値生成方法において、
前記レーザモジュールが波長可変であり、前記設定値を全ての所定波長に関して生成することを特徴とする設定値生成方法。
【請求項１７】
請求項１４記載の前記設定値生成方法において、
前記レーザモジュールは、波長可変であり、
前記レーザモジュールに最短の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最短波長関係式を特定する最短波長関係式特定ステップと、
前記レーザモジュールに最長の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最長波長関係式を特定する最長波長関係式特定ステップと、
前記最短波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の上限値を算出又は特定する出力強度上限値算出／特定ステップと、
前記最長波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の下限値を算出又は特定する出力強度下限値算出／特定ステップと、を有し、
前記最適出力強度算出ステップは、前記出力強度上限値算出／特定ステップで特定された前記出力強度の上限値と、前記出力強度下限値算出／特定ステップで特定された前記出力強度の下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、
前記最適温度算出ステップは、前記最短波長関係式及び／又は前記最長波長関係式に前記最適出力強度算出ステップで算出された前記最適な出力強度を代入して前記最短の所定波長及び／又は前記最長の所定波長に関する前記最適な温度を算出し、
前記設定値生成ステップは、前記最適な出力強度と、前記最短又は最長の所定波長に関して算出された前記最適な温度とに基づいて、全ての所定波長に関して前記設定値を生成することを特徴とする設定値生成方法。
【請求項１８】
請求項１４から１７の何れか１項に記載の前記設定値生成方法において、
前記レーザモジュールにユニークな識別情報が付与されており、
前記ユニークな識別情報に対応づけて前記設定値を記憶する設定値記憶ステップを有することを特徴とする設定値生成方法。
【請求項１９】
レーザモジュールから出力されるレーザ光が所定波長となり、且つ、所定の温度条件と所定の出力強度条件とを満足する設定値を生成するコンピュータを機能させるためのプログラムであって、
前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度を算出する最適出力強度算出処理と、
前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な温度を算出する最適温度算出処理と、
前記最適出力強度算出処理で算出された前記最適な出力強度と前記最適温度算出処理で算出された前記最適な温度とに基づいて前記設定値を生成する設定値生成処理と、
を前記コンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項２０】
請求項１９記載の前記プログラムにおいて、
前記レーザモジュールに前記所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係式を特定する関係式特定処理と、
前記関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する出力強度の上限値及び下限値を算出又は特定する出力強度上下限値算出／特定処理と、を前記コンピュータに実行させ、
前記最適出力強度算出処理は、前記出力強度上下限値算出／特定処理で算出又は特定された前記出力強度の上限値と下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、
前記最適温度算出処理は、前記関係式特定処理で特定された前記関係式に前記最適出力強度算出処理で算出された前記最適な出力強度を代入して前記最適な温度を算出することを特徴とするプログラム。
【請求項２１】
請求項２０記載の前記プログラムにおいて、
波長可変な前記レーザモジュールの全ての所定波長に関して前記設定値を生成することを特徴とするプログラム。
【請求項２２】
請求項１９記載の前記プログラムにおいて、
波長可変な前記レーザモジュールに最短の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最短波長関係式を特定する最短波長関係式特定処理と、前記レーザモジュールに最長の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最長波長関係式を特定する最長波長関係式特定処理と、
前記最短波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の上限値を算出又は特定する出力強度上限値算出／特定処理と、
前記最長波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の下限値を算出又は特定する出力強度下限値算出／特定処理と、を前記コンピュータに実行させ、
前記最適出力強度算出処理は、前記出力強度上限値算出／特定処理で特定された前記出力強度の上限値と、前記出力強度下限値算出／特定処理で特定された前記出力強度の下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、
前記最適温度算出処理は、前記最短波長関係式及び／又は前記最長波長関係式に前記最適出力強度算出処理で算出された前記最適な出力強度を代入して前記最短の所定波長及び／又は前記最長の所定波長に関する前記最適な温度を算出し、前記設定値生成処理は、前記最適な出力強度と、前記最短又は最長の所定波長に関して算出された前記最適な温度とに基づいて、全ての所定波長に関して前記設定値を生成することを特徴とするプログラム。
【請求項２３】
請求項１９から２２の何れか１項に記載の前記プログラムにおいて、
前記レーザモジュールに付与されているユニークな識別情報に対応づけて前記設定値を記憶する設定値記憶処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項２４】
請求項１９から２３の何れか１項に記載のプログラムを記録した記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光通信モジュール、波長ロッカーモジュール、その設定値取得装置及び設定値取得方法、並びにそのプログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体に関し、特にパワー可変範囲と温度可変範囲とを満足する任意の値を設定値とすることができる光通信モジュール、波長ロッカーモジュール、その設定値取得装置及び設定値取得方法、並びにそのプログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
現在、光通信分野ではデータ伝送の高速化や大容量化を実現するために厳しい規格が定められている。波長ロッカーモジュール等の波長を安定化させるための光モジュールは、このような規格に適合するための光コンポーネントの１つである。
【０００３】
波長ロッカーモジュールに要求される制御能力は、従来、１波長レーザダイオード（レーザダイオードを以下ＬＤという）に対して、一定条件下で１ポイントのパワー（出力強度ともいう）であった。また近年、多波長チューニングの必要性から、そのパワーに一定の規格幅（パワーマージン）が設定された。
【０００４】
以下に、従来の波長ロッカーモジュールを用いた光波長チューニングについて図面を用いて説明する。
【０００５】
図１は、一般的な波長チューニングによりＬＤモジュール１１の駆動条件を決定する際に用いられる測定系の構成を示すブロック図である。図１を参照すると、この測定系は、ＬＤモジュール１１と波長電流モニタ電源１０１とレーザＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ　Ｐｏｗｅｒ　Ｃｏｎｔｒｏｌ）電源モニタ装置１０２とレーザ温度コントロールモニタ装置１０３と測定制御用コンピュータ１２０とを含んで構成される。
【０００６】
この構成において、波長電流モニタ電源１０１は、ＬＤモジュール１１内部に設けられた波長モニタ用のフォトディテクタからの波長モニタ信号を入力してＬＤモジュール１１内部のＬＤから出力されるレーザ光の波長を測定する。測定された値は、計測機器制御用ＧＰＩＢ１１０を介して測定制御用コンピュータ１２０へ入力される。
【０００７】
レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２は、ＬＤモジュール１１内部に設けられた出力光のパワーモニタ用のフォトディテクタからのパワーモニタ信号を入力してＬＤモジュール１１のＬＤから出力されるレーザ光のパワーを測定する。測定された値は、計測機器制御用ＧＰＩＢ１１０を介して測定制御用コンピュータ１２０へ入力される。また、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２は、測定制御用コンピュータ１２０から入力された指示に従いＬＤドライブ信号を出力して、ＬＤモジュール１１内部のＬＤから出力されるレーザ光のパワーを制御する。
【０００８】
レーザ温度コントロールモニタ装置１０３は、ＬＤモジュール１１内部に設けられた温度センサ（サーミスタ等）からの温度モニタ信号を入力して、ＬＤモジュール１１、特にレーザチップ近傍の温度を測定する。測定された値は、計測機器制御用ＧＰＩＢ１１０を介して測定制御用コンピュータ１２０へ入力される。また、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３は、測定制御用コンピュータから入力された指示に従い、ＬＤモジュール１１内部に設けられたペルチェ素子等へ温度コントロール信号を出力して、ＬＤモジュール１１、特に光共振器の温度を制御する。
【０００９】
但し、ＬＤモジュール１１内部に設けた上記フォトディテクタで検出される波長やパワーは、ＬＤモジュール１１の温度が変化するに伴い、実際の値からはずれてゆく。そこで、図１に示す測定系には、ＬＤモジュール１１より外部へ出力されたレーザ光の波長及びパワーを測定するための光波長測定器１０４と光パワー測定器１０５とが設けられている。
【００１０】
光波長測定器１０４は、ＬＤモジュール１１から出力されたレーザ光を入力し、その光波長を測定するフォトディテクタよりなり、光パワー測定器１０５は、ＬＤモジュール１１から出力されたレーザ光を入力し、そのパワーを測定するフォトディテクタを含んで構成される。これらで測定された値は、計測機器制御用ＧＰＩＢ１１０を介して測定制御用コンピュータ１２０へ入力される。
【００１１】
次に、測定制御用コンピュータ１２０による処理手順について、図２及び図３を用いて説明する。
【００１２】
図２を参照すると、測定制御用コンピュータ１２０は、まず、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３に初期温度Ｔ１を設定し（ステップＳ１１）、この温度に基づくＡＴＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ　Ｔｅｍｐｅｌａｔｕｒｅ　Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１２）。また、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワー可変範囲（パワーマージンに相当）の中心Ｐ＿Ｃｅｎｔを設定し（ステップＳ１３）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１４）。
【００１３】
次に、測定制御用コンピュータ１２０は、波長電流モニタ電源１０１及び光波長測定器１０４から入力される測定値に基づいて、初期温度Ｔ１における実際の出力光の波長（以下、初期波長という）Ｗ１を測定し（ステップＳ１５）、この初期波長Ｗ１と目標波長λ＿ｔａｒｇとの誤差波長Δλを計算する（ステップＳ１６）。尚、目標波長λ＿ｔａｒｇの値は予め又はこのステップで測定制御用コンピュータ１２０にユーザから設定される。また、誤差波長Δλの計算は、以下の式１を用いて行われる。
【００１４】
【数１】
2004047589.tif 000003
【００１５】
このように誤差波長Δλを計算すると、測定制御用コンピュータ１２０は、この誤差波長Δλを補正するための論理上の温度可変量（以下、論理温度可変量という）Ｔ＿Ｃａｌを計算する（ステップＳ１７）。この計算は、以下の式２を用いて行われる。尚、ΔｔＷｓｔｄは温度波長係数である。
【００１６】
【数２】
2004047589.tif 000004
【００１７】
次に、測定制御用コンピュータ１２０は、計算した論理温度可変量Ｔ＿Ｃａｌを現在設定している温度（この段階では初期温度Ｔ１）に加算し、次に設定する温度（以下、設定温度という）Ｔ＿Ｓｅｔを計算する（ステップＳ１８）。また、測定制御用コンピュータ１２０は、計算した設定温度Ｔ＿Ｓｅｔが温度可変範囲以内であるか否かを判定する（ステップＳ１９）。尚、温度可変範囲とは、上記パワーと同様、規格により定められた範囲である。
【００１８】
ステップＳ１９の判定の結果、温度可変範囲以内に含まれていない場合（ステップＳ１９のＮｏ）、測定制御用コンピュータ１２０は、このＬＤモジュール１１を不良と決定し（ステップＳ２５）、処理を終了する。この際、測定制御用コンピュータ１２０がＬＤモジュール１１の識別番号と判定結果（不良）とを所定のファイルに保存するように構成するとよい。
【００１９】
また、ステップＳ１９の判定の結果、温度可変範囲以内に含まれている場合（ステップＳ１９のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ１２０は、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３にステップＳ１８で計算した設定温度Ｔ＿Ｓｅｔを設定し（ステップＳ２０）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ２１）。
【００２０】
次に、測定制御用コンピュータ１２０は、波長電流モニタ電源１０１及び光波長測定器１０４から入力される測定値に基づいて、設定温度Ｔ＿Ｓｅｔにおけるチューニング後の実際の出力光の波長（以下、実測波長という）λ＿ａｃｔを測定し（ステップＳ２２）、この実測波長λ＿ａｃｔと目標波長λ＿ｔａｒｇとの誤差波長Δλを計算する（ステップＳ１６）。この誤差波長Δλの計算は、以下の式３を用いて行われる。
【００２１】
【数３】
2004047589.tif 000005
【００２２】
このようにチューニング後の波長誤差Δλを計算すると、測定制御用コンピュータ１２０は、誤差波長Δλが許容範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ２４）。この判定の結果、測定制御用コンピュータ１２０は、誤差波長Δλが許容範囲内であればステップＳ２６へ移行し、許容範囲外であればステップＳ１７へ帰還して以降の処理を繰り返すことで誤差波長Δλが許容範囲内に納まるように制御する。尚、上記フローにおいて、ステップＳ１５〜ステップＳ２４を波長チューニングルーチン１と呼ぶ。
【００２３】
また、ステップＳ２６では、目標波長λ＿ｔａｒｇから誤差範囲内にチューニングされた状態時の温度やその他の特性に基づいて設定値を生成する。また、この設定値は、ステップＳ２７においてＬＤモジュール１１の識別番号と対応づけられて所定のファイルに保存される。
【００２４】
その後、測定制御用コンピュータ１２０は、同一の波長ロッカーモジュール内に未チューニングの目標波長λ＿ｔａｒｇがあるか否かを判定し（ステップＳ２８）、これがある場合（ステップＳ２８のＹｅｓ）、その目標波長λ＿ｔａｒｇを設定し（ステップＳ２９）、その後、ステップＳ１５へ帰還し、上記と同様の処理により、設定値を測定して、これを所定のファイルに保存する。また、未チューニングの目標波長λ＿ｔａｒｇがない場合（ステップＳ２８のＮｏ）、測定制御用コンピュータ１２０は処理を終了する。
【００２５】
以上の処理を経ることで、図３（ａ）に示すように、目標波長λ＿ｔａｒｇを維持する関数（λ＿ＣＯＮＳＴ）とパワー可変範囲の中心Ｐ＿Ｃｅｎｔとの交点を制御点（設定値）とする設定値が特定される。
【００２６】
【発明が解決しようとする課題】
但し、従来技術では、図３（ａ）に示すように、上記の処理で特定された制御点（設定値）が温度可変範囲内に位置していれば、設定値を特定することが可能であるが、図３（ｂ）に示すように、制御点（設定値）が温度可変範囲外に位置している場合、設定値を特定することが不可能である。即ち、制御点（設定値）が温度可変範囲外に位置するＬＤモジュールは、従来、不良品として使用されていなかった。
【００２７】
しかしながら、図３（ｂ）に示すように、制御点（設定値）が温度可変範囲内に位置していなくとも、目標波長λ＿ｔａｒｇを維持する関数λ＿ＣＯＮＳＴが、パワー可変範囲と温度可変範囲との重畳した範囲と交わる場合も存在する。上記従来技術では、このような場合でも、このＬＤモジュール１１を不良品としていた。このため、ＬＤモジュールの歩留りが低かった。
【００２８】
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、歩留りの低下を抑えられる光通信モジュール、波長ロッカーモジュールを提供することを目的とする。更に、本発明は、上記の光通信モジュール、波長ロッカーモジュールを実現するための設定値取得装置及び設定値取得方法、並びにそのプログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体を提供することを目的とする。
【００２９】
【課題を解決するための手段】
かかる目的を達成するために、本発明は、レーザ光を出力するレーザ光出力手段と、該レーザ光出力手段の温度を制御する温度制御手段と、該レーザ光出力手段から出力されるレーザ光の出力強度を制御する出力強度制御手段とを有し、前記レーザ光出力手段が温度及び出力強度に依存した波長のレーザ光を出力する光通信モジュールであって、所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度と、前記所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する最適な温度とに基づく設定値を格納する設定値格納手段を有し、前記温度制御手段及び前記出力強度制御手段が、前記設定値格納手段に格納された前記設定値に基づいて、前記レーザ光出力手段の温度及び出力強度を制御することを特徴とする。これにより、本発明では、予め格納された設定値に基づいてレーザ光出力手段の温度及び出力強度を制御するため、光通信モジュールの歩留りの低下を抑えることができる。即ち、従来固定であった出力強度を出力強度条件であるパワー可変範囲において任意に制御できるため、従来不良品とされていたレーザモジュールも使用することが可能となり、結果として光通信モジュールの歩留りが向上される。
【００３０】
また、上記の構成において、例えば、前記レーザ光出力手段が、波長可変であり、前記設定値格納手段が、波長毎に前記設定値を格納する。これにより、波長可変なレーザモジュールを含む光通信モジュールの歩留りも向上させることが可能となる。
【００３１】
また、別の例として、前記レーザ光出力手段と前記温度制御手段と前記出力強度制御手段とを複数有する。これにより、多波長レーザ出力の光通信モジュールの歩留りも向上させることが可能となる。
【００３２】
また、その具体的構成として、前記温度制御手段が、レーザダイオードが組み込まれるレーザモジュール内部に設けられた温度センサと、前記レーザモジュール内部に設けられた冷熱素子と、前記温度センサで検出される温度が前記設定値を満たすように前記冷熱素子を駆動する温度駆動回路と、を含み、前記出力強度制御手段が、前記レーザモジュール内部及び／又は外部に設けられたフォトディテクタと、前記レーザダイオードへ駆動電流を入力するレーザ駆動回路と、前記フォトディテクタで検出された出力強度が前記設定値を満たすように前記レーザ駆動回路を制御する出力強度制御回路と、を含む。
【００３３】
また、本発明は、レーザモジュールのレーザ光を所定波長に維持させる波長ロッカーモジュールであって、前記レーザモジュールの温度を制御する温度制御手段と、前記レーザモジュールから出力されるレーザ光の出力強度を制御する出力強度制御手段と、所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度と、前記所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する最適な温度とに基づく設定値を格納する設定値格納手段と、を有し、前記温度制御手段及び前記強度制御手段が、前記設定値格納手段に格納された前記設定値に基づいて、前記レーザモジュールの温度及び出力強度を制御することで、出力される前記レーザ光を前記所定波長に維持することを特徴とする。これにより、本発明では、予め格納された設定値に基づいてレーザ光出力手段の温度及び出力強度を制御するため、光通信モジュールの歩留りの低下を抑える波長ロッカーモジュールを提供することができる。即ち、従来固定であった出力強度を出力強度条件であるパワー可変範囲において任意に制御できるため、従来不良品とされていたレーザモジュールも使用することが可能となり、結果として光通信モジュールの歩留りが向上される。
【００３４】
また、上記の構成において、例えば、前記レーザモジュールが、波長可変レーザを含み、前記設定値格納手段が、波長毎に前記設定値を格納する。これにより、波長可変なレーザモジュールを含む光通信モジュールの歩留りも向上させることが可能となる。
【００３５】
また、別の例として、前記温度制御手段と前記出力強度制御手段とを複数有する。これにより、多波長レーザ出力の光通信モジュールの歩留りも向上させることが可能となる。
【００３６】
また、その具体的構成として、前記温度制御手段が、レーザモジュール内部に設けられた温度センサに基づいて前記レーザモジュールの温度をモニタする温度モニタ回路と、前記レーザモジュール内部に設けられた冷熱素子を駆動する冷熱素子駆動回路と、前記温度モニタ回路でモニタされる温度が前記設定値を満たすように前記冷熱素子駆動回路を制御する温度制御回路と、を含み、前記出力強度制御手段が、前記レーザモジュール内部及び／又は外部に設けられたフォトディテクタと、前記レーザダイオードへ駆動電流を入力するレーザ駆動回路と、前記フォトディテクタで検出された出力強度が前記設定値を満たすように前記レーザ駆動回路を制御する出力強度制御回路と、を含む。
【００３７】
また、本発明は、レーザモジュールから出力されるレーザ光が所定波長となり、且つ、所定の温度条件と所定の出力強度条件とを満足する設定値を生成するための設定値生成装置であって、前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度を算出する最適出力強度算出手段と、前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な温度を算出する最適温度算出手段と、前記最適出力強度算出手段で算出された前記最適な出力強度と前記最適温度算出手段で算出された前記最適な温度とに基づいて前記設定値を生成する設定値生成手段と、を有することを特徴とする。これにより、本発明では、出力強度条件であるパワー可変範囲においてレーザ光出力手段の出力強度を任意に制御するための設定値を生成できるため、光通信モジュールの歩留りの低下を抑えることができる。
【００３８】
また、上記構成において、例えば、前記レーザモジュールに前記所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係式を特定する関係式特定手段と、前記関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する出力強度の上限値及び下限値を算出又は特定する出力強度上下限値算出／特定手段と、を有し、前記最適出力強度算出手段が、前記出力強度上下限値算出／特定手段で算出又は特定された前記出力強度の上限値と下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、前記最適温度算出手段が、前記関係式特定手段で特定された前記関係式に前記最適出力強度算出手段で算出された前記最適な出力強度を代入して前記最適な温度を算出する。
【００３９】
また、別の例として、前記レーザモジュールが波長可変であり、前記設定値を全ての所定波長に関して生成する。
【００４０】
また、別の例として、前記レーザモジュールが、波長可変であり、前記レーザモジュールに最短の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最短波長関係式を特定する最短波長関係式特定手段と、前記レーザモジュールに最長の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最長波長関係式を特定する最長波長関係式特定手段と、前記最短波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の上限値を算出又は特定する出力強度上限値算出／特定手段と、前記最長波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の下限値を算出又は特定する出力強度下限値算出／特定手段と、を有し、前記最適出力強度算出手段が、前記出力強度上限値算出／特定手段で特定された前記出力強度の上限値と、前記出力強度下限値算出／特定手段で特定された前記出力強度の下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、前記最適温度算出手段が、前記最短波長関係式及び／又は前記最長波長関係式に前記最適出力強度算出手段で算出された前記最適な出力強度を代入して前記最短の所定波長及び／又は前記最長の所定波長に関する前記最適な温度を算出し、前記設定値生成手段が、前記最適な出力強度と、前記最短又は最長の所定波長に関して算出された前記最適な温度とに基づいて、全ての所定波長に関して前記設定値を生成する。
【００４１】
また、別の例として、前記設定値生成手段で生成された前記設定値を記憶する設定値記憶手段を有し、前記レーザモジュールが、ユニークな識別情報を有し、前記設定値記憶手段が、前記ユニークな識別情報に対応づけて前記設定値を記憶する。
【００４２】
また、本発明は、レーザモジュールから出力されるレーザ光が所定波長となり、且つ、所定の温度条件と所定の出力強度条件とを満足する設定値を生成する情報処理装置における設定値生成方法であって、前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度を算出する最適出力強度算出ステップと、前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な温度を算出する最適温度算出ステップと、前記最適出力強度算出ステップで算出された前記最適な出力強度と前記最適温度算出ステップで算出された前記最適な温度とに基づいて前記設定値を生成する設定値生成ステップと、を有することを特徴とする。これにより、本発明では、出力強度条件であるパワー可変範囲においてレーザ光出力手段の出力強度を任意に制御するための設定値を生成できるため、光通信モジュールの歩留りの低下を抑えることができる。
【００４３】
また、上記の構成において、例えば、前記レーザモジュールに前記所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係式を特定する関係式特定ステップと、前記関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する出力強度の上限値及び下限値を算出又は特定する出力強度上下限値算出／特定ステップと、を有し、前記最適出力強度算出ステップが、前記出力強度上下限値算出／特定ステップで算出又は特定された前記出力強度の上限値と下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、前記最適温度算出ステップが、前記関係式特定ステップで特定された前記関係式に前記最適出力強度算出ステップで算出された前記最適な出力強度を代入して前記最適な温度を算出する。
【００４４】
また、別の例として、前記レーザモジュールが波長可変であり、前記設定値を全ての所定波長に関して生成する。
【００４５】
また、別の例として、前記レーザモジュールが、波長可変であり、前記レーザモジュールに最短の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最短波長関係式を特定する最短波長関係式特定ステップと、前記レーザモジュールに最長の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最長波長関係式を特定する最長波長関係式特定ステップと、前記最短波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の上限値を算出又は特定する出力強度上限値算出／特定ステップと、前記最長波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の下限値を算出又は特定する出力強度下限値算出／特定ステップと、を有し、前記最適出力強度算出ステップが、前記出力強度上限値算出／特定ステップで特定された前記出力強度の上限値と、前記出力強度下限値算出／特定ステップで特定された前記出力強度の下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、前記最適温度算出ステップが、前記最短波長関係式及び／又は前記最長波長関係式に前記最適出力強度算出ステップで算出された前記最適な出力強度を代入して前記最短の所定波長及び／又は前記最長の所定波長に関する前記最適な温度を算出し、前記設定値生成ステップが、前記最適な出力強度と、前記最短又は最長の所定波長に関して算出された前記最適な温度とに基づいて、全ての所定波長に関して前記設定値を生成する。
【００４６】
また、別の例として、前記レーザモジュールにユニークな識別情報が付与されており、前記ユニークな識別情報に対応づけて前記設定値を記憶する設定値記憶ステップを有する。
【００４７】
また、本発明は、レーザモジュールから出力されるレーザ光が所定波長となり、且つ、所定の温度条件と所定の出力強度条件とを満足する設定値を生成するコンピュータを機能させるためのプログラムであって、前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な出力強度を算出する最適出力強度算出処理と、前記所定波長を維持し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する最適な温度を算出する最適温度算出処理と、前記最適出力強度算出処理で算出された前記最適な出力強度と前記最適温度算出処理で算出された前記最適な温度とに基づいて前記設定値を生成する設定値生成処理と、を前記コンピュータに実行させる。これにより、本発明では、出力強度条件であるパワー可変範囲においてレーザ光出力手段の出力強度を任意に制御するための設定値を生成できるため、光通信モジュールの歩留りの低下を抑えることができる。
【００４８】
また、上記の構成において、例えば、前記レーザモジュールに前記所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係式を特定する関係式特定処理と、前記関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件を満足する出力強度の上限値及び下限値を算出又は特定する出力強度上下限値算出／特定処理と、を前記コンピュータに実行させ、前記最適出力強度算出処理が、前記出力強度上下限値算出／特定処理で算出又は特定された前記出力強度の上限値と下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、前記最適温度算出処理が、前記関係式特定処理で特定された前記関係式に前記最適出力強度算出処理で算出された前記最適な出力強度を代入して前記最適な温度を算出する。
【００４９】
また、別の例として、波長可変な前記レーザモジュールの全ての所定波長に関して前記設定値を生成する。
【００５０】
また、別の例として、波長可変な前記レーザモジュールに最短の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最短波長関係式を特定する最短波長関係式特定処理と、前記レーザモジュールに最長の所定波長を維持させるための温度と出力強度との関係を示す最長波長関係式を特定する最長波長関係式特定処理と、前記最短波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の上限値を算出又は特定する出力強度上限値算出／特定処理と、前記最長波長関係式を満足し且つ前記所定の温度条件及び前記所定の出力強度条件とを満足する出力強度の下限値を算出又は特定する出力強度下限値算出／特定処理と、を前記コンピュータに実行させ、前記最適出力強度算出処理が、前記出力強度上限値算出／特定処理で特定された前記出力強度の上限値と、前記出力強度下限値算出／特定処理で特定された前記出力強度の下限値との中間値を前記最適な出力強度として算出し、前記最適温度算出処理が、前記最短波長関係式及び／又は前記最長波長関係式に前記最適出力強度算出処理で算出された前記最適な出力強度を代入して前記最短の所定波長及び／又は前記最長の所定波長に関する前記最適な温度を算出し、前記設定値生成処理が、前記最適な出力強度と、前記最短又は最長の所定波長に関して算出された前記最適な温度とに基づいて、全ての所定波長に関して前記設定値を生成する。
【００５１】
また、別の例として、前記レーザモジュールに付与されているユニークな識別情報に対応づけて前記設定値を記憶する設定値記憶処理を前記コンピュータに実行させる。
【００５２】
また、本発明は、上記のプログラムを記録媒体に記録して提供する。
【００５３】
【発明の実施の形態】
〔原理〕
本発明を好適に実施した形態について説明するにあたり、本発明の原理について先に述べる。
【００５４】
本発明は、パワー可変範囲と温度可変範囲とを満足する任意の値を設定値とすることで、レーザモジュールを含む光通信モジュールの歩留りの低下を回避するためのものである。
【００５５】
これを実現するために、本発明は、レーザモジュールの温度依存性及び出力強度依存性に応じた設定値に基づいて、レーザモジュールの温度及び出力強度を制御するように構成される。
【００５６】
これにより、本発明では、図４（ａ）に示すように、レーザモジュールの制御範囲が１点でなく線分（設定範囲）となる。このため、図４（ｂ）に示すように、Ｐ＿Ｃｅｎｔとλ＿ＣＯＮＳＴとが温度可変範囲内で交わらなくとも設定値を生成することが可能となる。
【００５７】
また、本発明は、所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する範囲の中心でレーザモジュールが制御されるように設定値を決定するため、レーザモジュール及びこれを含む光通信モジュールの動作の信頼性を最大限に高めることが可能となる。
【００５８】
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。
【００５９】
〔第１の実施形態〕
図５は本発明の第１の実施形態において、光波長チューニングによりＬＤモジュール１１（これはレーザモジュールであり、レーザ光出力手段に相当する）を駆動させる際の設定値を生成する際に用いられる測定系の構成を示すブロック図である。
【００６０】
図１を参照すると、この測定系は、ＬＤモジュール１１と波長電流モニタ電源１０１とレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２とレーザ温度コントロールモニタ装置１０３と測定制御用コンピュータ５とを含んで構成される。
【００６１】
この構成において、波長電流モニタ電源１０１は、ＬＤモジュール１１内部に設けられた波長モニタ用のフォトディテクタからの波長モニタ信号を入力して出力されたレーザ光の波長の相対値を測定する。尚、波長モニタ信号は波長強度信号である。測定された値は、計測機器制御用ＧＰＩＢ１１０を介して測定制御用コンピュータ５へ入力される。尚、この測定制御用コンピュータ５は、設定値を生成するための情報処理装置として機能する。
【００６２】
レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２は、ＬＤモジュール１１内部に設けられたパワーモニタ用のフォトディテクタからのパワーモニタ信号を入力して出力されたレーザ光のパワーの相対値を測定する。測定された値は、計測機器制御用ＧＰＩＢ１１０を介して測定制御用コンピュータ５へ入力される。また、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２は、測定制御用コンピュータ５から入力された指示に従いＬＤドライブ信号を出力して、ＬＤモジュール１１から出力されるレーザ光のパワーを制御する。
【００６３】
レーザ温度コントロールモニタ装置１０３は、ＬＤモジュール１１内部に設けられた温度センサ（サーミスタ等）からの温度モニタ信号を入力して、ＬＤモジュール１１、特にレーザチップ近傍の温度を測定する。測定された値は、計測機器制御用ＧＰＩＢ１１０を介して測定制御用コンピュータ５へ入力される。また、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３は、測定制御用コンピュータから入力された指示に従い、ＬＤモジュール１１内部に設けられた冷熱素子（ペルチェ素子等）へ温度コントロール信号を出力して、ＬＤモジュール１１、特にレーザチップ近傍の温度を制御する。
【００６４】
但し、ＬＤモジュール１１内部設けた上記フォトディテクタで検出される波長やパワーは、ＬＤモジュール１１の温度が変化するに伴い、実際の値からはずれてゆく。そこで、図５に示す測定系には、ＬＤモジュール１１より外部へ出力されたレーザ光の波長及びパワーを測定するための光波長測定器１０４と光パワー測定器１０５とが設けられている。
【００６５】
光波長測定器１０４は、ＬＤモジュール１１から出力されたレーザ光を入力して、その光波長を測定する。これは例えば入力されたレーザ光と基準光との合波による干渉縞の数に基づいて測定する。光パワー測定器１０５は、ＬＤモジュール１１から出力されたレーザ光を入力して、そのパワーを測定するフォトディテクタを有する。これらで測定された値は、計測機器制御用ＧＰＩＢ１１０を介して測定制御用コンピュータ５へ入力される。
【００６６】
次に、本実施形態の測定制御用コンピュータ５による設定値を生成する際の処理手順について、図２及び図６〜図９のフローチャート並びに図１０を用いて詳細に説明する。
【００６７】
この処理手順において測定制御用コンピュータ５は、まず、レーザ温度コントローラモニタ装置１０３に温度可変範囲の下限Ｔ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ１０１）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１０２）。また、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワー可変範囲（パワーマージンともいう）の下限Ｐ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ１０３）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１０４）。その後、測定制御用コンピュータ５は、波長電流モニタ電源１０１及び光波長測定器１０４から入力される測定値に基づいて、実際の出力光の波長λ１を測定する（ステップＳ１０５）。このように、温度可変範囲の下限Ｔ＿Ｌｏｗとパワー可変範囲の下限Ｐ＿Ｌｏｗとをそれぞれ設定し、その際の波長を測定することで、図１０（ａ）におけるＡ点での波長λ１を測定できる。即ち、最も波長が短くなる条件下での波長を測定することができる。尚、ステップＳ１０１〜ステップＳ１０５までの行程をＡ点波長λ１測定ルーチンと呼ぶ。
【００６８】
次に、測定制御用コンピュータ５は、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３に温度可変範囲の上限Ｔ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ１０６）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１０７）。また、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワー可変範囲の下限Ｐ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ１０８）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１０９）。その後、測定制御用コンピュータ５は、波長電流モニタ電源１０１及び光波長測定器１０４から入力される測定値に基づいて、実際の出力光の波長λ２を測定する（ステップＳ１１０）。このように、温度可変範囲の上限Ｔ＿Ｈｉｇｈとパワー可変範囲の下限Ｐ＿Ｌｏｗとをそれぞれ設定し、その際の波長を測定することで、図１０（ａ）におけるＢ点での波長λ２を測定できる。尚、ステップＳ１０６〜ステップＳ１１０までの行程をＢ点波長λ２測定ルーチンと呼ぶ。但し、設定するパワーは実質変化しないため、ステップＳ１０８及びＳ１０９を省略してもよい。
【００６９】
次に、測定制御用コンピュータ５は、レーザ温度コントローラモニタ装置１０３に温度可変範囲の下限Ｔ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ１１１）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１１２）。また、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワー可変範囲の上限Ｐ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ１１３）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１１４）。その後、測定制御用コンピュータ５は、波長電流モニタ電源１０１及び光波長測定器１０４から入力される測定値に基づいて、実際の出力光の波長λ３を測定する（ステップＳ１１５）。このように、温度可変範囲の下限Ｔ＿Ｌｏｗとパワー可変範囲の上限Ｐ＿Ｈｉｇｈとをそれぞれ設定し、その際の波長を測定することで、図１０（ａ）におけるＣ点での波長λ３を測定できる。尚、ステップＳ１１１〜ステップＳ１１５までの行程をＣ点波長λ３測定ルーチンと呼ぶ。
【００７０】
更に、測定制御用コンピュータ５は、レーザ温度コントローラモニタ装置１０３に温度可変範囲の上限Ｔ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ１１６）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１１７）。また、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワー可変範囲の上限Ｐ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ１１８）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１１９）。その後、測定制御用コンピュータ５は、波長電流モニタ電源１０１及び光波長測定器１０４から入力される測定値に基づいて、実際の出力光の波長λ４を測定する（ステップＳ１２０）。このように、温度可変範囲の上限Ｔ＿Ｈｉｇｈとパワー可変範囲の上限Ｐ＿Ｈｉｇｈとをそれぞれ設定し、その際の波長を測定することで、図１０（ａ）におけるＤ点での波長λ４を測定できる。即ち、最も波長が長くなる条件下での波長を測定することができる。尚、ステップＳ１１６〜ステップＳ１２０までの行程をＤ点波長λ４測定ルーチンと呼ぶ。但し、設定するパワーは実質変化しないため、ステップＳ１１８及びＳ１１９を省略してもよい。
【００７１】
このように、図１０（ａ）におけるＡ点，Ｂ点，Ｃ点，Ｄ点での波長を測定すると、測定制御用コンピュータ５は、次に、目標波長λ＿ｔａｒｇが波長λ１以上で且つ波長λ４以下の範囲に納まるか否かを判定する（ステップＳ１２１）。これにより、この行程では、本実施形態によりＬＤモジュール１１の設定値を得られるか否かが判定される。この判定の結果、λ＿ｔａｒｇがλ１以上λ４以下の範囲に納まらない場合（ステップＳ１２１のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、このＬＤモジュール１１を不良と決定し（ステップＳ１２２）、処理を終了する。
【００７２】
また、ステップＳ１２１の判定の結果、λ＿ｔａｒｇがλ１以上λ４以下の範囲に納まる場合（ステップＳ１２１のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、まず、λ＿ｔａｒｇがλ３以上で且つλ２以下に納まるか否かを判定する（ステップＳ１２３）。これにより、この行程では、λ＿ｔａｒｇを維持するための関数λ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｂ）のように交わるか否かが判定される。
【００７３】
この判定の結果、λ３以上λ２以下の範囲に納まる場合（ステップＳ１２３のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワーの上限Ｐ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ１２４）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１２５）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇとなるように制御し（ステップＳ１２６）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇに達した際の温度をＴｅとして取得する（ステップＳ１２７）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１０（ｂ）におけるＥ点のパワー（Ｐ＿Ｈｉｇｈ）と温度（Ｔｅ）とを取得する。
【００７４】
次に、測定制御用コンピュータ５は、パワーをＰ＿Ｌｏｗに設定し（ステップＳ１２８）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１２９）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇとなるように制御し（ステップＳ１３０）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇに達した際の温度をＴｆとして取得する（ステップＳ１３１）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１０（ｂ）におけるＦ点のパワー（Ｐ＿Ｌｏｗ）と温度（Ｔｆ）とを取得する。
【００７５】
これにより、図１０（ｂ）に示す、λ＿ｔａｒｇを維持するための関数λ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｅ，Ｆが特定される。
【００７６】
また、ステップＳ１２３の判定の結果、λ＿ｔａｒｇがλ３以上λ２以下の範囲に納まらない場合（ステップＳ１２３のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、次に、λ＿ｔａｒｇがλ３以上で且つλ２以上であるか否かを判定する（ステップＳ１３２）。これにより、この行程では、λ＿ｔａｒｇを維持するための関数λ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｃ）のように交わるか否かが判定される。
【００７７】
この判定の結果、λ３以上で且つλ２以上である場合（ステップＳ１３２のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワーの上限Ｐ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ１３３）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１３４）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇとなるように制御し（ステップＳ１３５）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇに達した際の温度をＴｅとして取得する（ステップＳ１３６）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１０（ｃ）におけるＥ点のパワー（Ｐ＿Ｈｉｇｈ）と温度（Ｔｅ）とを取得する。
【００７８】
次に、測定制御用コンピュータ５は、温度をＴ＿Ｈｉｇｈに設定し（ステップＳ１３７）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１３８）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュール１１の駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇとなるように制御し（ステップＳ１３９）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇに達した際のパワーをＰｆとして取得する（ステップＳ１４０）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１０（ｃ）におけるＦ点のパワー（Ｐｆ）と温度（Ｔ＿Ｈｉｇｈ）とを取得する。
【００７９】
これにより、図１０（ｃ）に示す、λ＿ｔａｒｇを維持するための関数λ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｅ，Ｆが特定される。
【００８０】
また、ステップＳ１３２の判定の結果、λ＿ｔａｒｇがλ３以上で且つλ２以上でない場合（ステップＳ１３２のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、次に、λ＿ｔａｒｇがλ２以上で且つλ３以下の範囲に納まるか否かを判定する（ステップＳ１４１）。これにより、この行程では、λ＿ｔａｒｇを維持するための関数λ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｄ）のように交わるか否かが判定される。
【００８１】
この判定の結果、λ２以上λ３以下の範囲に納まる場合（ステップＳ１４１のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３に温度の下限Ｔ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ１４２）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１４３）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュール１１の駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇとなるように制御し（ステップＳ１４４）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇに達した際のパワーをＰｅとして取得する（ステップＳ１４５）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１０（ｄ）におけるＥ点のパワー（Ｐｅ）と温度（Ｔ＿Ｌｏｗ）とを取得する。
【００８２】
次に、測定制御用コンピュータ５は、温度をＴ＿Ｈｉｇｈに設定し（ステップＳ１４６）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１４７）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュール１１の駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇとなるように制御し（ステップＳ１４８）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇに達した際のパワーをＰｆとして取得する（ステップＳ１４９）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１０（ｄ）におけるＦ点のパワー（Ｐｆ）と温度（Ｔ＿Ｈｉｇｈ）とを取得する。
【００８３】
これにより、図１０（ｄ）に示す、λ＿ｔａｒｇを維持するための関数λ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｅ，Ｆが特定される。
【００８４】
また、ステップＳ１４１の判定の結果、λ＿ｔａｒｇがλ２以上で且つλ３以下の範囲に納まらない場合（ステップＳ１４１のＮｏ）、λ＿ｔａｒｇは残りの条件であるλ３以下で且つλ２以下であるに当てはまるため、測定制御用コンピュータ５は以下の処理を実行する。即ち、以下の行程では、λ＿ｔａｒｇを維持するための関数λ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｅ）のように交わるものとして実行される。
【００８５】
この処理において測定制御用コンピュータ５は、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３に温度の下限Ｔ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ１５０）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１５１）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュールの駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇとなるように制御し（ステップＳ１５２）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇに達した際のパワーをＰｅとして取得する（ステップＳ１５３）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１０（ｅ）におけるＥ点のパワー（Ｐｅ）と温度（Ｔ＿Ｌｏｗ）とを取得する。
【００８６】
次に、測定制御用コンピュータ５は、パワーをＰ＿Ｌｏｗに設定し（ステップＳ１５４）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１５５）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇとなるように制御し（ステップＳ１５６）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇに達した際の温度をＴｆとして取得する（ステップＳ１５７）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１０（ｅ）におけるＦ点のパワー（Ｐ＿Ｌｏｗ）と温度（Ｔｆ）とを取得する。
【００８７】
これにより、図１０（ｅ）に示す、λ＿ｔａｒｇを維持するための関数λ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｅ，Ｆが特定される。
【００８８】
尚、図１０におけるＥ点のパワーは、本実施形態においてＬＤモジュール１１を制御するための設定値として取り得るパワーの上限値を示し、Ｅ点の温度は同じく設定値として取り得る温度の下限値を示す。また、Ｆ点のパワーは、本実施形態においてＬＤモジュール１１を制御するための設定値として取り得るパワーの下限値を示し、Ｆ点の温度は同じく設定値として取り得る温度の上限値を示す。
【００８９】
以上のような処理により、２点Ｅ，Ｆを特定すると、次に、測定制御用コンピュータ５は、２点Ｅ，Ｆを通過する直線の方程式ｆ（ｘ）を求める（ステップＳ１５８）。尚、この直線は上記の関係式λ＿ＣＯＮＳＴであり、ステップＳ１５８は、この関係式を特定する手段を実現するものである。
【００９０】
また、測定制御用コンピュータ５は、特定した関係式ｆ（ｘ）と温度可変範囲及びパワー可変範囲とに基づいて最適なパワー（パワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ）を求める（ステップＳ１５９）。より詳細には、関係式ｆ（ｘ）と温度可変範囲及びパワー可変範囲とを満足するパワーの上限値及び下限値を算出し、この上限値及び下限値の中間点をパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔとして算出する。即ち、ステップＳ１５９は、パワーの上限値と下限値とを算出する手段と、これから最適なパワーを算出する手段とを実現するものである。
【００９１】
次に、測定制御用コンピュータ５は、求めたＰ＿ｓｕｉｔを関数ｆ（ｘ）に代入することで、対応する温度を求める（ステップＳ１６０）。この温度は、目標波長λ＿ｔａｒｇへ波長をチューニングする際に最適となる温度の目安となり、且つ、２点Ｅ，Ｆの温度の値の中間点に相当する。即ち、ステップＳ１６０は、最適な温度を算出する手段を実現するものである。以下、この値を最適温度Ｔ＿ｔｅｍｐという。
【００９２】
このようにＰ＿ｓｕｉｔとＴ＿ｔｅｍｐとを求めると、測定制御用コンピュータ５は、温度をＴ＿ｔｅｍｐに設定し（ステップＳ１６１）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ１６２）。また、パワーをＰ＿ｓｕｉｔに設定し（ステップＳ１６３）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ１６４）。
【００９３】
その後、測定制御用コンピュータ５は、波長チューニングルーチン（図２参照）を実行し（ステップＳ１６５）、実測波長λ＿ａｃｔを目標波長λ＿ｔａｒｇにチューニングする。但し、図２のステップＳ１５における初期波長Ｗ１は、初期温度Ｔ１とパワー可変範囲の中心Ｐ＿Ｃｅｎｔとに基づく波長ではなく、上記行程で求めたパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔと最適温度Ｔ＿ｔｅｍｐとに基づく波長である。
【００９４】
このように、ＬＤモジュール１１の光出力を目標波長λ＿ｔａｒｇから誤差範囲内にチューニングすると、測定制御用コンピュータ５は、この状態時のレーザ光の実際のパワー及び温度（これらが設定値である）やその他の特性を測定する（ステップＳ１６６）。また、測定制御用コンピュータ５は、測定したデータに基づいて設定値を生成し、これをＬＤモジュール１１の識別番号と対応づけて所定のファイルに保存する（ステップＳ１６７）。即ち、波長チューニングルーチンからデータ測定、保存までの流れにより設定値を生成する手段とこれを保存する手段とが実現される。
【００９５】
その後、測定制御用コンピュータ５は、同一の波長ロッカーモジュール内に未チューニングの目標波長λ＿ｔａｒｇがあるか否かを判定し（ステップＳ１６８）、これがある場合（ステップＳ１６８のＹｅｓ）、測定対象を次のＬＤモジュール１１に変更し（ステップＳ１６９）、その後、ステップＳ１０１に帰還して上記と同様の処理により、設定値を生成し、これを所定のファイルに保存する。また、未チューニングの目標波長λ＿ｔａｒｇがない場合（ステップＳ１６８のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は処理を終了する。
【００９６】
このように、本実施形態によれば、パワー可変範囲と温度可変範囲とを満足する任意の値を設定値とすることで、ＬＤモジュールを含む光通信モジュールの歩留りの低下が回避される。更に、所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する範囲の中心で制御されるように設定値を決定するため、ＬＤモジュール及びこれを含む光通信モジュールの動作の信頼性が最大限に高められる。
【００９７】
また、以上のような測定制御用コンピュータ５の処理は、プログラムにより実現することが可能である。但し、この際に使用する測定制御用コンピュータ５には一般的なパーソナルコンピュータ等を適用してよい。また、このプログラムをＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ　Ｄｉｓｃ）−ＲＯＭや書込／書換可能なＣＤやＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ　Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ　Ｄｉｓｃ）−ＲＯＭや書込／書換可能なＤＶＤやその他の記録媒体に記録して提供することも可能である。
【００９８】
また、以上により設定値が保存されたＬＤモジュール１１は、例えば図１１に示すように、多波長レーザ出力の光通信モジュールに組み込まれる（図中１１．１〜１１．ｎ）。また、この光通信モジュールにはＬＤモジュール１１．１〜１１．ｎを駆動するためのＬＤドライバ１０．１〜１０．ｎが組み込まれている。このＬＤドライバ１０．１〜１０．ｎは、内部又は外部に設けられたＷＤＭ（Ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ　Ｄｉｖｉｓｉｏｎ　Ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｉｎｇ）通信処理メインプロセッサ１５及びＷＤＭ波長ロック条件メモリ（ＲＯＭ）１６と信号バスライン１７を介して通信可能に接続される。この構成において、ＬＤドライバ１１．１〜１１．ｎとＷＤＭ通信処理メインプロセッサ１５とＷＤＭ波長ロック条件メモリ１６と信号バスライン１７とは、波長ロッカモジュールとして機能するものである。
【００９９】
この構成を更に詳細に説明する。ＷＤＭ通信処理メインプロセッサ１５は、設定値である設定値を格納する設定値格納手段であるＷＤＭ波長ロック条件メモリ１５に格納された設定値を読み出し、これに基づいてＬＤドライバ１０．１〜１０．ｎを制御する。尚、以下の説明では、任意のＬＤドライバの符号を１０とし、任意のＬＤモジュールの符号を１１とする。
【０１００】
ＬＤドライバ１１は、ＡＰＣ制御系１０ａとＡＴＣ／ＡＦＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ　Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ　Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御系１０ｂとを含んで構成される。ＡＰＣ制御系１０ａは、ＬＤモジュール１１の出力強度（パワー）を制御する出力強度制御手段であり、ＡＰＣ制御回路１０ａ１とパワーモニタ回路１０ａ２とレーザドライブ回路１０ａ３とを含んで構成される。パワーモニタ回路１０ａ２はＬＤモジュール１１から入力されたパワーモニタ信号に基づいてレーザ光のパワーをモニタする。ＡＰＣ制御回路１０ａ１はＷＤＭ通信処理プロセッサ１５から入力された設定値におけるパワーとパワーモニタ回路１０ａ２から入力された測定値とに基づいてレーザドライブ回路１０ａ３を制御する（出力強度制御回路ともいう）。レーザドライブ回路１０ａ３はＡＰＣ制御回路１０ａ１による制御に従ってＬＤモジュール１１を駆動するためのＬＤドライブ信号をＬＤモジュール１１へ入力する。
【０１０１】
また、ＡＴＣ／ＡＦＣ制御系１０ｂは、ＬＤモジュール１１の温度を制御する温度制御手段であり、ＡＴＣ／ＡＦＣ制御回路１０ｂ１と温度センサモニタ回路１０ｂ２と波長ロック信号モニタ回路１０ｂ３と温度コントローラドライブ回路１０ｂ４とを含んで構成される。また、ＡＴＣ／ＡＦＣ制御系１０ｂは、ＬＤモジュール１１からのレーザ光の波長を温度により制御する機能も有している。温度センサモニタ回路１０ｂ２はＬＤモジュール１１から入力された温度モニタ信号に基づいてＬＤモジュール１１の温度をモニタする。尚、ＡＴＣ／ＡＦＣ制御系１０ｂは、温度モニタ回路ともいう。
【０１０２】
波長ロック信号モニタ回路１０ｂ３はＬＤモジュール１１から入力された波長モニタ信号基づいてＬＤモジュール１１から出力されているレーザ光の波長をモニタする。
【０１０３】
温度コントローラドライブ回路１０ｂ４はＡＴＣ／ＡＦＣ制御回路１０ｂ１からの制御に基づいてＬＤモジュール１１内の冷熱素子を駆動してＬＤモジュール１１の温度をコントロールする。尚、温度コントローラドライブ回路１０ｂ４は冷熱素子駆動回路ともいう。
【０１０４】
ＡＴＣ／ＡＦＣ制御回路１０ｂ１はＷＤＭ通信処理プロセッサ１５から入力された設定値における温度及び／又は温度モニタ回路１０ｂ２から入力された測定値及び／又は波長ロック信号モニタ回路１０ｂ３から入力された波長に基づいて温度コントローラドライブ回路１０ａ４を制御することで、ＬＤモジュール１１の出力光を目標波長にする。尚、ＡＴＣ／ＡＦＣ制御回路１０ｂ１は温度制御回路ともいう。
【０１０５】
また、ＬＤモジュール１１．１〜１１．ｎから出力されたレーザ光はＬＮ変調器１２．１〜１２．ｎにおいて所定の変調が施され、Ｎ対１のマルチプレクサ（ＭＵＸ）１３において多重化された後に、伝送媒体である光ファイバ１４へ出力される。
【０１０６】
以上のように、上述の処理手順において生成された設定値を内部又は外部に設けたメモリに格納し、これに基づいてＬＤモジュールを駆動することで、本実施形態による光通信モジュールは、パワー可変範囲と温度可変範囲とを満足する任意の設定値に基づいて動作することが可能となる。即ち、ＬＤモジュール光通信モジュールを所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する範囲の中心で制御することが可能となる。従って、ＬＤモジュール及びこれを含む光通信モジュールの動作の信頼性が最大限に高められる。
【０１０７】
〔第２の実施形態〕
また、上記した第１の実施形態では、目標波長をセットし直すたびに、不良か否かを判定するように構成していた。しかしながら、従来、１つのＬＤモジュールで波長を変えてレーザ光を出力させる場合、各波長でのパワーを上述と同様に１点（中心パワーＰ＿Ｃｅｎｔ）に設定していたため、図１２（ａ）に示すように、ある波長に対する設定温度が温度可変範囲からはずれてしまう場合が存在する（図１２（ａ）波長λ１４参照）。従来では、このようなＬＤモジュールも不良としているため、本実施形態では前もってこれを判定できるように構成する。
【０１０８】
尚、本実施形態でも、ＬＤモジュールの歩留りを向上させることを目的としているため、ＬＤモジュールの温度依存性及び出力強度依存性に応じた設定値に基づいてＬＤモジュールの温度及び出力強度を制御するという本発明の基本格子に基づくことにより、図１２（ｂ）のように、それぞれの波長に応じて温度とパワーとを組み合わせ、これに基づいて制御できるように構成する。
【０１０９】
即ち、本実施形態では、１つのＬＤモジュールにおける複数の目標波長に関して、図１３に示すように、最適なパワーと温度と（図中最適点Ｋ１１〜Ｋ１４）を特定する。このように本実施形態では、パワー可変範囲と温度可変範囲とを満足する任意の設定値を生成するため、波長可変なＬＤモジュールを含む光通信モジュールの歩留りの低下を回避することができる。
【０１１０】
尚、本実施形態によるＬＤモジュール１１の設定値を生成する際に用いる測定系の構成は、第１の実施形態において図５を用いて説明したものと同様のものでよい。
【０１１１】
以下に本実施形態における測定制御用コンピュータ５の設定値生成時の動作について、以下に図面を用いて詳細に説明する。
【０１１２】
本動作における測定制御用コンピュータ５の基本動作は、第１の実施形態において図６〜図９（一部図２を含む）を用いて説明したものど同様である。但し、図７におけるステップＳ１２１は、図１４に示すステップＳ１２１−１に置き換えられる。
【０１１３】
即ち、図６に示す一連の処理によりＡ点〜Ｄ点におけるそれぞれの波長λ１〜λ４を求めた後、測定制御用コンピュータ５は、ＬＤモジュール１１の複数の目標波長λ＿ｔａｒｇ（例えλ１１〜λ１４：図１２参照）の全てがλ１以上で且つλ４以下の範囲に納まるか否かを判定する（ステップＳ１２１−１）。これにより、この行程では、本実施形態によりＬＤモジュール１１の全ての波長に関して設定値を得られる否かが判定される。この判定の結果、全てのλ＿ｔａｒｇがλ１以上λ４以下の範囲に納まらない場合（ステップＳ１２１−１のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、第１の実施形態と同様に、ステップＳ１２２に移行してこのＬＤモジュール１１を不良と決定し、処理を終了する。
【０１１４】
また、ステップＳ１２１−１の判定の結果、全てのλ＿ｔａｒｇがλ１以上λ４以下の範囲に納まる場合（ステップＳ１２１−１のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、複数の目標波長λ＿ｔａｒｇのうち何れかを選択し（ステップＳ１２１−２）、次に図７のステップＳ１２３に移行して、選択したλ＿ｔａｒｇに関して以降の動作を実行する。その後、測定制御用コンピュータ５は、第１の実施形態と同様の処理を実行する。
【０１１５】
以上のように動作することで、１つのＬＤモジュール１１に異なる波長のレーザ光を出力させるための設定値を生成し、これを保存することが可能となる。また、このように生成された設定値は、第１の実施形態と同様に、例えば図１１に示すＷＤＭ波長ロック条件メモリ１６に格納される。但し、この際のＬＤモジュール１１．１〜１１．ｎは波長可変なＬＤモジュール１１として機能する。また、他の構成は上記した第１の実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【０１１６】
〔第３の実施形態〕
また、第１及び第２の実施形態とは別に、波長可変レーザの設定値を生成する好適な一実施形態について、以下に第３の実施形態として図面を用いて詳細に説明する。
【０１１７】
第２の実施形態では、１つのＬＤモジュール１１に関し、複数の波長に対する設定値のパワーがそれぞれ任意の値となっていたが、本実施形態では、これを１つにまとめる。即ち、図１６に示すように、本実施形態では、各波長（λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ〜λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ）に関する設定値のパワーが、パワー可変範囲の任意の１点（Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔ）となる。また、ＬＤモジュールの出力波長の切替は、温度を切り替えることで行われる。
【０１１８】
尚、本実施形態では、パワーに関する任意の１点を決定するにあたり、本実施形態では図１７に示すように、最短の目標波長（以下、最短目標波長という）λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに関するパワーの可変範囲と、最長の目標波長（以下、最長目標波長という）λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに関するパワーの可変範囲との重なる範囲（図１７中、使用範囲２に相当）を特定し、この範囲の中間点をパワー最適点（Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔ）とする。尚、この使用範囲２は、温度可変範囲及びパワー可変範囲の重畳する範囲内におけるλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴのパワーの上限値と、温度可変範囲及びパワー可変範囲の重畳する範囲内におけるλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴのパワーの下限値と、から決定される領域である。尚、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴは最短目標波長を維持するための温度とパワーとの関係を示す関係式（最短波長関係式）であり、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴは最長目標波長を維持するための温度とパワーとの関係を示す関係式（最長目標波長関係式）である。
【０１１９】
このように複数の波長に関して共通なパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔを設定することで、本実施形態では少ないデータでより簡略化してＬＤモジュール１１を制御することが可能となる。また、このパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔをパワー可変範囲における任意の値に設定することが可能であるため、上記各実施形態と同様に、ＬＤモジュールを含む光通信モジュールの歩留りの低下を防止することが可能となる。
【０１２０】
尚、本実施形態によるＬＤモジュール１１の設定値を生成する際に用いる測定系の構成は、第１の実施形態において図５を用いて説明したものと同様のものでよい。但し、本実施形態ではＬＤモジュール１１が単一波長のレーザ光出力手段でなく、波長可変なレーザ光出力手段であるとする。
【０１２１】
また、本実施形態における測定制御用コンピュータ５の設定値生成時の処理手順について、以下に図１８〜図２４を用いて詳細に説明する。
【０１２２】
この処理手順において測定制御用コンピュータ５は、第１の実施形態と同様に、ステップＳ２０１〜Ｓ２０５のＡ点波長λ１測定ルーチン及びステップＳ２０６〜Ｓ２１０のＢ点波長λ２測定ルーチン及びステップＳ２１１〜Ｓ２１５のＣ点波長λ３測定ルーチン及びステップＳ２１６〜Ｓ２２０のＤ点波長λ４測定ルーチンを順序実行して、各点（Ａ〜Ｄ：図１０（ａ）参照）の波長（λ１〜λ４）を測定する。
【０１２３】
このように、Ａ点，Ｂ点，Ｃ点，Ｄ点での波長を測定すると、測定制御用コンピュータ５は、次に、ＬＤモジュール１１に設定すべき全ての目標波長λ＿ｔａｒｇ（λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ〜λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ）が波長λ１以上で且つ波長λ４以下の範囲に納まるか否かを判定する（ステップＳ２２１）。これにより、この行程では、本実施形態によりＬＤモジュール１１の全ての目標波長に関して設定値を得られる否かが判定される。この判定の結果、何れかの目標波長がλ１以上λ４以下の範囲に納まらない場合（ステップＳ２２１のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、このＬＤモジュール１１を不良と決定し（ステップＳ２２２）、処理を終了する。
【０１２４】
また、ステップＳ２２１の判定の結果、全てのλ＿ｔａｒｇがλ１以上λ４以下の範囲に納まる場合（ステップＳ２２１のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、図１７に示す２点Ｇ，Ｈのパワー及び温度を特定する。
【０１２５】
この動作にあたり、測定制御用コンピュータ５は、まず、最短目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎを選択し（ステップＳ２２３）、これがλ３以上で且つλ２以下に納まるか否かを判定する（ステップＳ２２４）。これにより、この行程では、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｂ）に示すλ＿ＣＯＮＳＴと同様に交わるか否かが判定される。
【０１２６】
この判定の結果、λ３以上λ２以下の範囲に納まる場合（ステップＳ２２４のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワーの上限Ｐ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ２２５）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ２２６）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎとなるように制御し（ステップＳ２２７）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに達した際の温度をＴｇとして取得する（ステップＳ２２８）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、最短目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに関する図１７におけるＧ点のパワー（Ｐ＿Ｈｉｇｈ）と温度（Ｔｇ）とを取得する。
【０１２７】
次に、測定制御用コンピュータ５は、パワーをＰ＿Ｌｏｗに設定し（ステップＳ２２９）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ２３０）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎとなるように制御し（ステップＳ２３１）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに達した際の温度をＴｈとして取得する（ステップＳ２３２）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、最短目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに関する図１７におけるＨ点のパワー（Ｐ＿Ｌｏｗ）と温度（Ｔｈ）とを取得する。
【０１２８】
これにより、図１７に示す、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｇ，Ｈが特定される。
【０１２９】
また、ステップＳ２２４の判定の結果、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎがλ３以上λ２以下の範囲に納まらない場合（ステップＳ２２４のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、次に、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎがλ３以上で且つλ２以上であるか否かを判定する（ステップＳ２３３）。これにより、この行程では、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｃ）に示すλ＿ＣＯＮＳＴと同様に交わるか否かが判定される。
【０１３０】
この判定の結果、λ３以上で且つλ２以上である場合（ステップＳ２３３のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワーの上限Ｐ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ２３４）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ２３５）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎとなるように制御し（ステップＳ２３６）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに達した際の温度をＴｇとして取得する（ステップＳ２３７）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＧ点のパワー（Ｐ＿Ｈｉｇｈ）と温度（Ｔｇ）とを取得する。
【０１３１】
次に、測定制御用コンピュータ５は、温度をＴ＿Ｈｉｇｈに設定し（ステップＳ２３８）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ２３９）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュール１１の駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎとなるように制御し（ステップＳ２４０）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに達した際のパワーをＰｈとして取得する（ステップＳ２４１）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＨ点のパワー（Ｐｈ）と温度（Ｔ＿Ｈｉｇｈ）とを取得する。
【０１３２】
これにより、図１７に示す、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｇ，Ｈが特定される。
【０１３３】
また、ステップＳ２３３の判定の結果、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎがλ３以上で且つλ２以上でない場合（ステップＳ２３３のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、次に、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎがλ２以上で且つλ３以下の範囲に納まるか否かを判定する（ステップＳ２４２）。これにより、この行程では、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｄ）に示すλ＿ＣＯＮＳＴと同様に交わるか否かが判定される。
【０１３４】
この判定の結果、λ２以上λ３以下の範囲に納まる場合（ステップＳ２４２のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３に温度の下限Ｔ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ２４３）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ２４４）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュール１１の駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎとなるように制御し（ステップＳ２４５）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに達した際のパワーをＰｇとして取得する（ステップＳ２４６）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＧ点のパワー（Ｐｇ）と温度（Ｔ＿Ｌｏｗ）とを取得する。
【０１３５】
次に、測定制御用コンピュータ５は、温度をＴ＿Ｈｉｇｈに設定し（ステップＳ２４７）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ２４８）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュール１１の駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎとなるように制御し（ステップＳ２４９）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに達した際のパワーをＰｈとして取得する（ステップＳ２５０）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＨ点のパワー（Ｐｈ）と温度（Ｔ＿Ｈｉｇｈ）とを取得する。
【０１３６】
これにより、図１７に示す、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｇ，Ｈが特定される。
【０１３７】
また、ステップＳ２４２の判定の結果、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎがλ２以上で且つλ３以下の範囲に納まらない場合（ステップＳ２４２のＮｏ）、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎは残りの条件であるλ３以下で且つλ２以下であるに当てはまるため、測定制御用コンピュータ５は以下の処理を実行する。即ち、以下の行程では、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｅ）に示すλ＿ＣＯＮＳＴと同様に交わるものとして実行される。
【０１３８】
この処理において測定制御用コンピュータ５は、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３に温度の下限Ｔ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ２５１）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ２５２）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュールの駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎとなるように制御し（ステップＳ２５３）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに達した際のパワーをＰｇとして取得する（ステップＳ２５４）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＧ点のパワー（Ｐｇ）と温度（Ｔ＿Ｌｏｗ）とを取得する。
【０１３９】
次に、測定制御用コンピュータ５は、パワーをＰ＿Ｌｏｗに設定し（ステップＳ２５５）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ２５６）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎとなるように制御し（ステップＳ２５７）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに達した際の温度をＴｈとして取得する（ステップＳ２５８）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＨ点のパワー（Ｐ＿Ｌｏｗ）と温度（Ｔｈ）とを取得する。
【０１４０】
これにより、図１７に示す、λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｇ，Ｈが特定される。
【０１４１】
このように、図１７に示す２点Ｇ，Ｈのパワー及び温度を特定すると、次に測定制御用コンピュータ５は、図１７に示す２点Ｉ，Ｊのパワー及び温度を特定する。
【０１４２】
この動作にあたり、測定制御用コンピュータ５は、まず、最長目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘを選択し（ステップＳ２５９）、これがλ３以上で且つλ２以下に納まるか否かを判定する（ステップＳ２６０）。これにより、この行程では、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｂ）に示すλ＿ＣＯＮＳＴと同様に交わるか否かが判定される。
【０１４３】
この判定の結果、λ３以上λ２以下の範囲に納まる場合（ステップＳ２６０のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワーの上限Ｐ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ２６１）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ２６２）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘとなるように制御し（ステップＳ２６３）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに達した際の温度をＴｉとして取得する（ステップＳ２６４）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、最長目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに関する図１７におけるＩ点のパワー（Ｐ＿Ｈｉｇｈ）と温度（Ｔｉ）とを取得する。
【０１４４】
次に、測定制御用コンピュータ５は、パワーをＰ＿Ｌｏｗに設定し（ステップＳ２６５）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ２６６）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘとなるように制御し（ステップＳ２６７）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに達した際の温度をＴｊとして取得する（ステップＳ２６８）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、最長目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに関する図１７におけるＪ点のパワー（Ｐ＿Ｌｏｗ）と温度（Ｔｊ）とを取得する。
【０１４５】
これにより、図１７に示す、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｉ，Ｊが特定される。
【０１４６】
また、ステップＳ２６０の判定の結果、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘがλ３以上λ２以下の範囲に納まらない場合（ステップＳ２６０のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、次に、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘがλ３以上で且つλ２以上であるか否かを判定する（ステップＳ２６９）。これにより、この行程では、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｃ）に示すλ＿ＣＯＮＳＴと同様に交わるか否かが判定される。
【０１４７】
この判定の結果、λ３以上で且つλ２以上である場合（ステップＳ２６９のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、レーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２にパワーの上限Ｐ＿Ｈｉｇｈを設定し（ステップＳ２７０）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ２７１）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘとなるように制御し（ステップＳ２７２）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに達した際の温度をＴｉとして取得する（ステップＳ２７３）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＩ点のパワー（Ｐ＿Ｈｉｇｈ）と温度（Ｔｉ）とを取得する。
【０１４８】
次に、測定制御用コンピュータ５は、温度をＴ＿Ｈｉｇｈに設定し（ステップＳ２７４）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ２７５）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュール１１の駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘとなるように制御し（ステップＳ２７６）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに達した際のパワーをＰｈとして取得する（ステップＳ２７７）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＪ点のパワー（Ｐｊ）と温度（Ｔ＿Ｈｉｇｈ）とを取得する。
【０１４９】
これにより、図１７に示す、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｉ，Ｊが特定される。
【０１５０】
また、ステップＳ２６９の判定の結果、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘがλ３以上で且つλ２以上でない場合（ステップＳ２６９のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、次に、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘがλ２以上で且つλ３以下の範囲に納まるか否かを判定する（ステップＳ２７８）。これにより、この行程では、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｄ）に示すλ＿ＣＯＮＳＴと同様に交わるか否かが判定される。
【０１５１】
この判定の結果、λ２以上λ３以下の範囲に納まる場合（ステップＳ２７８のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３に温度の下限Ｔ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ２７９）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ２８０）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュール１１の駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘとなるように制御し（ステップＳ２８１）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに達した際のパワーをＰｉとして取得する（ステップＳ２８２）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＩ点のパワー（Ｐｉ）と温度（Ｔ＿Ｌｏｗ）とを取得する。
【０１５２】
次に、測定制御用コンピュータ５は、温度をＴ＿Ｈｉｇｈに設定し（ステップＳ２８３）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ２８４）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュール１１の駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘとなるように制御し（ステップＳ２８５）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに達した際のパワーをＰｊとして取得する（ステップＳ２８６）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＪ点のパワー（Ｐｊ）と温度（Ｔ＿Ｈｉｇｈ）とを取得する。
【０１５３】
これにより、図１７に示す、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｉ，Ｊが特定される。
【０１５４】
また、ステップＳ２７８の判定の結果、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘがλ２以上で且つλ３以下の範囲に納まらない場合（ステップＳ２７８のＮｏ）、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘは残りの条件であるλ３以下で且つλ２以下であるに当てはまるため、測定制御用コンピュータ５は以下の処理を実行する。即ち、以下の行程では、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴが、温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線と図１０（ｅ）に示すλ＿ＣＯＮＳＴと同様に交わるものとして実行される。
【０１５５】
この処理において測定制御用コンピュータ５は、レーザ温度コントロールモニタ装置１０３に温度の下限Ｔ＿Ｌｏｗを設定し（ステップＳ２８７）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ２８８）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＴＣ制御下においてＬＤモジュールの駆動電流を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘとなるように制御し（ステップＳ２８９）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに達した際のパワーをＰｉとして取得する（ステップＳ２９０）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＩ点のパワー（Ｐｉ）と温度（Ｔ＿Ｌｏｗ）とを取得する。
【０１５６】
次に、測定制御用コンピュータ５は、パワーをＰ＿Ｌｏｗに設定し（ステップＳ２９１）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ２９２）。その後、測定制御用コンピュータ５は、ＡＰＣ制御下において温度を可変することで、実測波長λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘとなるように制御し（ステップＳ２９３）、λ＿ａｃｔがλ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに達した際の温度をＴｊとして取得する（ステップＳ２９４）。即ち、この行程において測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるＪ点のパワー（Ｐ＿Ｌｏｗ）と温度（Ｔｊ）とを取得する。
【０１５７】
これにより、図１７に示す、λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘを維持するための関数λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴと温度可変範囲とパワー可変範囲とが重畳する範囲の境界線とが交わる２点Ｉ，Ｊが特定される。
【０１５８】
尚、図１７におけるＧ点のパワーは、本実施形態においてＬＤモジュール１１を制御するための設定値として取り得るパワーの上限値を示す。また、Ｊ点のパワーは、本実施形態においてＬＤモジュール１１を制御するための設定値として取り得るパワーの下限値を示す。
【０１５９】
以上のような処理により、４点Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊを特定すると、次に、測定制御用コンピュータ５は、２点Ｇ，Ｈを通過する直線の方程式ｆ１（ｘ）を求める（ステップＳ２９５）。尚、この直線は上記の最短目標波長関係式λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ＿ＣＯＮＳＴであり、ステップＳ２９５は最短目標波長関係式を特定する手段を実現するものである。
【０１６０】
また、測定制御用コンピュータ５は、２点Ｉ，Ｊを通過する直線の方程式ｆ２（ｘ）を求める（ステップＳ２９６）。尚、この直線は上記の最長目標波長関係式λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘ＿ＣＯＮＳＴであり、ステップＳ２９６は最長目標は長関係式を特定する手段を実現するものである。
【０１６１】
このように最短目標波長関係式ｆ１（ｘ）と最長目標波長関係式ｆ２（ｘ）とを求めた後、測定制御用コンピュータ５は、図１７におけるパワーの使用範囲２を求める（ステップＳ２９７）。より詳細には、最短目標波長関係式ｆ１（ｘ）と温度可変範囲及びパワー可変範囲とを満足するパワーの上限値と、最長目標波長関係式ｆ２（ｘ）と温度可変範囲及びパワー可変範囲とを満足するパワーの下限値とを求めることで、使用範囲２を算出する。即ち、ステップＳ２９７は、パワーの上限値と下限値とを算出する手段を実現するものである。
【０１６２】
また、測定制御用コンピュータ５は、使用範囲２を求めると、次にこの使用範囲２のパワーの中間点をパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔとして求める（ステップＳ２９８）。即ち、ステップＳ２９８は、最適なパワーを算出する手段を実現するものである。また、測定制御用コンピュータ５は、求めたパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔを関数ｆ１（ｘ）に代入することで最短目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに関する最適温度Ｔ＿ｔｅｍｐ＿ｍｉｎを求める（ステップＳ２９９）。即ち、ステップＳ２９９は、最適な温度を算出する手段を実現するものである。
【０１６３】
このように最短目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎに関するパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔと最適温度Ｔ＿ｔｅｍｐ＿ｍｉｎとを求めると、測定制御用コンピュータ５は温度をＴ＿ｔｅｍｐ＿ｍｉｎに設定し（ステップＳ３００）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ３０１）。また、パワーをＰ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔに設定し（ステップＳ３０２）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ３０３）。
【０１６４】
その後、測定制御用コンピュータ５は、波長チューニングルーチン（図２参照）を実行し（ステップＳ３０４）、実測波長λ＿ａｃｔを目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎにチューニングする。但し、この際の初期波長Ｗ１は、初期温度Ｔ１とパワー可変範囲の中心Ｐ＿Ｃｅｎｔとに基づく波長ではなく、上記行程で求めたパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔと最適温度Ｔ＿ｔｅｍｐ＿ｍｉｎとに基づく波長である。
【０１６５】
このように、ＬＤモジュール１１の光出力を最短目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎから誤差範囲内にチューニングすると、測定制御用コンピュータ５は、この状態時のレーザ光の実際のパワー及び温度（これらが設定値である）やその他の特性を測定する（ステップＳ３０５）。また、測定制御用コンピュータ５は、測定したデータに基づいて設定値を生成し、これをＬＤモジュール１１の識別番号と対応づけて所定のファイルに保存する（ステップＳ３０６）。
【０１６６】
次に、測定制御用コンピュータ５は、上記で求めたパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔを関数ｆ２（ｘ）に代入することで最長目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに関する最適温度Ｔ＿ｔｅｍｐ＿ｍａｘを求める（ステップＳ３０７）。
【０１６７】
このように最長目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに関するパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔと最適温度Ｔ＿ｔｅｍｐ＿ｍａｘとを求めると、測定制御用コンピュータ５は温度をＴ＿ｔｅｍｐ＿ｍａｘに設定し（ステップＳ３０８）、この温度に基づくＡＴＣ制御をレーザ温度コントロールモニタ装置１０３に開始させる（ステップＳ３０９）。また、パワーをＰ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔに設定し（ステップＳ３１０）、このパワーに基づくＡＰＣ制御をレーザＡＰＣ電源モニタ装置１０２に開始させる（ステップＳ３１１）。
【０１６８】
その後、測定制御用コンピュータ５は、波長チューニングルーチン（図２参照）を実行し（ステップＳ３１２）、実測波長λ＿ａｃｔを目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘにチューニングする。但し、この際の初期波長Ｗ１は、初期温度Ｔ１とパワー可変範囲の中心Ｐ＿Ｃｅｎｔとに基づく波長ではなく、上記行程で求めたパワー最適点Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔと最適温度Ｔ＿ｔｅｍｐ＿ｍａｘとに基づく波長である。
【０１６９】
このように、ＬＤモジュール１１の光出力を最長目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘから誤差範囲内にチューニングすると、測定制御用コンピュータ５は、この状態時のレーザ光の実際のパワー及び温度（これらが設定値である）やその他の特性を測定する（ステップＳ３１３）。また、測定制御用コンピュータ５は、測定したデータに基づいて設定値を生成し、これをＬＤモジュール１１の識別番号と対応づけて所定のファイルに保存する（ステップＳ３１４）。
【０１７０】
尚、ステップＳ３０４及びステップＳ３１２における波長チューニングルーチンでは、上記で特定した最適温度Ｔ＿ｔｅｍｐ＿ｍｉｎ及びＴ＿ｔｅｍｐ＿ｍａｘに基づいて絞り込みを行うことにより、容易に的確な設定温度を求めることが可能となる。
【０１７１】
このように最短目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍｉｎ及び最長目標波長λ＿ｔａｒｇ＿ｍａｘに関する設定値を保存した後、測定制御用コンピュータ５は、同一のＬＤモジュール１１に関して未チューニングの目標波長λ＿ｔａｒｇが存在するか否かを判定する（ステップＳ３１５）。
【０１７２】
この判定の結果、未チューニングのλ＿ｔａｒｇが存在する場合（ステップＳ３１５のＹｅｓ）、測定制御用コンピュータ５は、ステップＳ３１６に移行して次のλ＿ｔａｒｇを対象としてセットする。その後、測定制御用コンピュータ５は、ステップＳ３１２に帰還して、同様に設定値を生成して、これを所定のファイルに保存する。また、未チューニングのλ＿ｔａｒｇが存在しない場合（ステップＳ３１５のＮｏ）、測定制御用コンピュータ５は、処理を終了する
【０１７３】
以上のように動作することで、１つのＬＤモジュール１１に異なる波長のレーザ光を出力させるための設定値を単一のパワーで生成することが可能となる。また、このように生成された設定値は、第１の実施形態と同様に、例えば図１１に示すＷＤＭ波長ロック条件メモリ１６に格納される。但し、この際のＬＤモジュール１１．１〜１１．ｎは波長可変なＬＤモジュール１１として機能する。また、他の構成は上記した第１の実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【０１７４】
〔他の実施形態〕
以上、説明した実施形態は本発明の好適な一実施形態にすぎず、本発明はその趣旨を逸脱しない限り種々変形して実施可能である。
【０１７５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、予め格納された設定値に基づいてレーザ光出力手段の温度及び出力強度を制御するため、光通信モジュールの歩留りの低下を抑えることができる。即ち、従来固定であった出力強度を出力強度条件であるパワー可変範囲において任意に制御できるため、従来不良品とされていたＬＤモジュールも使用することが可能となり、結果として光通信モジュールの歩留りが向上される。また、本発明によれば、波長可変なＬＤモジュールを含む光通信モジュールの歩留りも向上させることが可能となる。更にまた、本発明によれば、多波長レーザ出力の光通信モジュールの歩留りも向上させることが可能となる。
【０１７６】
また、本発明によれば、予め格納された設定値に基づいてレーザ光出力手段の温度及び出力強度を制御するため、光通信モジュールの歩留りの低下を抑える波長ロッカーモジュールを提供することができる。即ち、従来固定であった出力強度を出力強度条件であるパワー可変範囲において任意に制御できるため、従来不良品とされていたＬＤモジュールも使用することが可能となり、結果として光通信モジュールの歩留りが向上される。
【０１７７】
また、本発明によれば、出力強度条件であるパワー可変範囲においてレーザ光出力手段の出力強度を任意に制御するための設定値を生成できるため、光通信モジュールの歩留りの低下を抑えることができる。
【０１７８】
更に本発明によれば、以上で説明したように、所定波長を維持し且つ所定の温度条件及び所定の出力強度条件を満足する範囲の中心で制御されるように設定値を決定するため、レーザ光出力手段の動作の信頼性を最大限に高めることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】一般的な波長チューニングによりＬＤモジュール１１の設定値を生成する際に用いられる測定系の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す測定制御用コンピュータ１２０による処理を示すフローチャートである。
【図３】図２のフローチャートにより決定される設定値を説明するための図である。
【図４】本発明により決定される設定値の概略を説明するための図である。
【図５】本発明の第１の実施形態による波長チューニングによりＬＤモジュール１１の設定値を生成する際に用いられる測定系の構成を示すブロック図である。
【図６】図５に示す測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（１）。
【図７】図５に示す測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（２）。
【図８】図５に示す測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（３）。
【図９】図５に示す測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（４）。
【図１０】図２〜図９のフローチャートにより決定される設定値を説明するための図である。
【図１１】本発明の第１の実施形態による多波長レーザ出力の光通信モジュールの構成を示すブロック図である。
【図１２】本発明の第２の実施形態の概略を説明するための図である。
【図１３】本発明の第２の実施形態により決定される設定値を説明するための図である。
【図１４】本発明の第２の実施形態における測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（１）。
【図１５】本発明の第２の実施形態における測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（２）。
【図１６】本発明の第３の実施形態の概略を説明するための図である。
【図１７】本発明の第３の実施形態により決定される設定値を説明するための図である。
【図１８】本発明の第３の実施形態における測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（１）。
【図１９】本発明の第３の実施形態における測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（２）。
【図２０】本発明の第３の実施形態における測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（３）。
【図２１】本発明の第３の実施形態における測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（４）。
【図２２】本発明の第３の実施形態における測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（５）。
【図２３】本発明の第３の実施形態における測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（６）。
【図２４】本発明の第３の実施形態における測定制御用コンピュータ５による処理を示すフローチャートである（７）。
【符号の説明】
１、１’　設定範囲
２　使用範囲
５　測定制御用コンピュータ
１０、１０．１〜１０．ｎ　ＬＤドライバ
１０ａ　ＡＰＣ制御系
１０ａ１　ＡＰＣ制御回路
１０ａ２　パワーモニタ回路
１０ａ３　レーザドライブ回路
１０ｂ　ＡＴＣ制御系
１０ｂ１　ＡＴＣ／ＡＦＣ制御回路
１０ｂ２　温度センサモニタ回路
１０ｂ３　波長ロック信号モニタ回路
１０ｂ４　温度コントローラドライブ回路
１１、１１．１〜１１．ｎ　ＬＤモジュール
１２．１〜１２．ｎ　ＬＮ変調器
１３　ＭＵＸ（Ｎ：１）
１４　光ファイバ
１５　ＷＤＭ通信処理メインプロセッサ
１６　ＷＤＭ波長ロック条件メモリ（ＲＯＭ）
１７　信号バスライン
１０１　波長電流モニタ電源
１０２　レーザＡＰＣ電源モニタ装置
１０３　レーザ温度コントロールモニタ装置
１０４　光波長測定器
１０５　光パワー測定器
１１０　測定機器制御用ＧＰＩＢ
Ｋ１、Ｈ１１〜Ｋ１４、Ｋ＿ｍａｘ、Ｋ＿ｍｉｎ　最適点
Ｐ＿ｓｕｉｔ、Ｐ＿ｓｕｉｔ＿Ｃｅｎｔ　パワー最適点
Ｔ＿ｔｅｍｐ、Ｔ＿ｔｅｍｐ＿ｍｉｎ、Ｔ＿ｔｅｍｐ＿ｍａｘ　最適温度
【図１】
2004047589.tif 000006
【図２】
2004047589.tif 000007
【図３】
2004047589.tif 000008
【図４】
2004047589.tif 000009
【図５】
2004047589.tif 000010
【図６】
2004047589.tif 000011
【図７】
2004047589.tif 000012
【図８】
2004047589.tif 000013
【図９】
2004047589.tif 000014
【図１０】
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【図１１】
2004047589.tif 000016
【図１２】
2004047589.tif 000017
【図１３】
2004047589.tif 000018
【図１４】
2004047589.tif 000019
【図１５】
2004047589.tif 000020
【図１６】
2004047589.tif 000021
【図１７】
2004047589.tif 000022
【図１８】
2004047589.tif 000023
【図１９】
2004047589.tif 000024
【図２０】
2004047589.tif 000025
【図２１】
2004047589.tif 000026
【図２２】
2004047589.tif 000027
【図２３】
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【図２４】
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【手続補正書】
【提出日】平成15年8月4日(2003.8.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図２】
2004047589.tif 000030
【手続補正２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図９】
2004047589.tif 000031
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１０】
2004047589.tif 000032
【手続補正４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１１】
2004047589.tif 000033
【手続補正５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１５】
2004047589.tif 000034
【手続補正６】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図２１】
2004047589.tif 000035
【手続補正７】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図２３】
2004047589.tif 000036
【手続補正８】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図２４】
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