(57)【要約】【課題】アイ・ダイヤグラム解析用ディジタル波形を効率的にサンプリングする。【解決手段】本発明は、ディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出す装置または方法により提供される。本発明の方法は、前記ディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性を割り出す情報を含む波形の少なくとも一つの領域を特定するステップと、前記ディジタルデータ信号の十分なサンプルを採取し、前記波形全体を完全に構成することなく、前記波形の前記特定した少なくとも一つの領域だけを完全に構成するステップと、前記波形の前記完全に構成した少なくとも一つの領域から関心のある少なくとも一つの特性を割り出すステップを有することを特徴とする。【選択図】図１０
2004144748.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
　ディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出す方法であって、
　前記ディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性を割り出す情報を含む波形の少なくとも一つの領域を特定するステップと、
　前記ディジタルデータ信号の十分なサンプルを採取し、前記波形全体を完全に構成することなく、前記波形の前記特定した少なくとも一つの領域だけを完全に構成するステップと、
　前記波形の前記完全に構成した少なくとも一つの領域から関心のある少なくとも一つの特性を割り出すステップを有する、
　ことを特徴とする方法。
【請求項２】
　前記ディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性を選択するステップをさらに有し、前記特定ステップが、前記選択した関心のある少なくとも一つの特性を割り出す少なくとも一つの特徴を含む前記波形の少なくとも一つの領域の特定を含み、前記割り出しステップが、前記少なくとも一つの特徴を計測し、前記ディジタルデータ信号の前記選択した関心のある少なくとも一つの特性を割り出すステップを有する、
　ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
　前記ディジタルデータ信号の限定数のサンプルを採取し、前記波形の前記少なくとも一つの領域を特定する前に前記波形全体を大雑把に構成するステップをさらに有する、
　ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
　十分なサンプルを採取する前記ステップは、前記ディジタルデータ信号に同期したトリガー基準に対するサンプルのタイミングを制御することによるサンプルの採取を含む、
　ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項５】
　十分なサンプルを採取する前記ステップは、前記ディジタルデータ信号中の特定ビットのサンプリングを含む、
　ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項６】
　前記波形は、アイ・ダイヤグラムを含む、
　ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項７】
　前記特定ステップは、前記アイ・ダイヤグラム上に重畳させた少なくとも一つのマスク領域の近くにある前記アイ・ダイヤグラムの少なくとも一つの領域の特定を含み、前記割り出しステップは、前記少なくとも一つのマスク領域に関して前記ディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性の割り出しを含む、
　ことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項８】
　前記割り出しステップは、前記アイ・ダイヤグラムの前記少なくとも一つの領域がマスク領域を侵犯するか否かの判定を含む、
　ことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項９】
　ディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出す装置であって、
　前記ディジタルデータ信号を表わす波形を表示するディスプレイを有するサンプリング装置と、
　前記ディジタルデータ信号のサンプルの採取を制御して前記ディスプレイ上の前記波形の生成を制御するプロセッサで、トリガー基準に対して採取したサンプルのタイミングを制御する第１のプロセッサ部と、サンプリングする特定ビットを制御する第２のプロセッサ部を有し、前記波形全体を完全に構成することなく該波形の選択された１又は複数の領域だけを完全に構成させ、前記サンプリング装置の前記ディスプレイに表示されるようにする前記プロセッサを備える、
　ことを特徴とする装置。
【請求項１０】
前記サンプリング装置は、サンプリングオシロスコープを具備する、
　ことを特徴とする請求項９に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は、一般にディジタル信号の計測に係り、より詳しくはアイ・ダイヤグラム解析を活用してディジタルデータ信号の特性を割り出す方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
　アイ・ダイヤグラム解析は、高速のディジタルの電気的・光学的通信信号の挙動を研究するための重要なツールである。アイ・ダイヤグラムは、オシロスコープや他の適当なディスプレイデバイス上にディジタルデータ信号の論理１，０の波形を組み合わせた合成像を表示する一つの方法である。例えば、アイ・ダイヤグラムは、例えばディジタル信号のデータレートで同期クロック信号によりトリガーしながら、オシロスコープの垂直チャンネルに波形を印加することでオシロスコープ上で生成される。高速ディジタル信号のアイ・ダイヤグラムは、しばしば繰り返しサンプリングオシロスコープ（例えば、アジレント・テクノロジーズ（Ａｇｉｌｅｎｔ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ）社製８６１００Ｂサンプリングオシロスコープ）を用いて生成される。生成されたアイ・ダイヤグラムの特徴を計測することで、信号対雑音比や消光比やジッタやデューティサイクル歪等のディジタルデータ信号の様々な特性を簡単に割り出す（測定する）ことができる。
【０００３】
　完全なアイ・ダイヤグラムの構成には２００，０００乃至１，０００，０００サンプルを必要とすることがあり、この量のデータを得るのに何十秒かが必要とされよう。この種の時間長は、部品やシステムの製造者の効率及び適応性やアイ・ダイヤグラム解析を用いるその他の人に悪影響を及ぼすことがある。
【０００４】
　従って、アイ・ダイヤグラム解析を用いてディジタルデータ信号の特性を効率的に割り出す方法と装置に対する要求が存在する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、アイ・ダイヤグラム解析を用いてディジタルデータ信号の特性を割り出す効率的な方法と装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
　本発明になるディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出す方法には、ディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性を割り出すための情報を含むアイ・ダイヤグラムの少なくとも一つの領域の特定が含まれる。ディジタルデータ信号の十分なサンプルを採取し、アイ・ダイヤグラム全体を完全に構成することなくアイ・ダイヤグラムの特定された少なくとも一つの領域だけを完全に構成し、アイ・ダイヤグラムの完全構成した少なくとも一つの領域から少なくとも一つの関心のある特性をそこで割り出す。
【０００７】
　本発明は、ディジタルデータ信号の多くの特性をアイ・ダイヤグラムの１又は数個の領域のみに含まれる情報を活用することで割り出すことを認めるものである。従って、本発明はディジタルデータ信号の関心のある特定の特性を割り出すのに必要なアイ・ダイヤグラムの１又は複数の領域だけを完全に構成し、アイ・ダイヤグラムの他の領域は完全に構成はしない。その結果、ディジタルデータ信号の関心のある特定の特性を、アイ・ダイヤグラム全体を完全に構成するのに必要とされるであろうディジタルデータ信号よりも少ないサンプルで構成されるアイ・ダイヤグラムから正確に割り出すことができ、サンプリング時間の相当の低減をもたらすことができる。
【０００８】
　本発明の例示実施形態によれば、消光比やコントラスト比やオーバーシュートやアンダーシュートや１と０のレベルや信号対雑音比や立ち上がり時間や立ち下がり時間やビットレートや交差百分率やジッタやデューティサイクル歪やアイ高やアイ幅やアイ振幅や光変調振幅（ＯＭＡ）といったディジタルデータ信号の特性を、必要な計測をなさしめるのに必要なアイ・ダイヤグラムの１又は複数の領域だけを完全に構成することで容易に割り出すことができる。
【０００９】
　本発明の他の例示的実施形態によれば、特定ステップはアイ・ダイヤグラム上に重畳した少なくとも一つのマスク領域に近いアイ・ダイヤグラムの少なくとも一つの領域の特定を含み、割り出しステップは少なくとも一つのマスク領域に対するディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性の割り出しを含む。
【００１０】
　重畳したマスク領域に近いアイ・ダイヤグラムの１又は複数の領域にだけサンプルを集中させることで、より効率的にサンプルを分布させ、例えば試験対象の特定の製品がマスク試験に合格するかどうか、仮にそうである場合にその製品がマスク試験に合格する余地があるかどうかを正確に判定することができる。さらに、本発明は上述のものに加え或いはこれに代え他の特徴と効果を備えた実施形態を供給するものである。これらの特徴と効果の多くは、以下の図面を参照することで下記の説明から明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
　図１は、ディジタルの光学的或いは電気的な通信信号等のディジタルデータ信号の特性を表わし、本発明の説明を助ける例示的アイ・ダイヤグラムを概略示している。このアイ・ダイヤグラムは概ね参照符号１０で表わされるようなものであり、適当なサンプリング装置のディスプレイ上、例えばサンプリングオシロスコープの表示スクリーン１２上に表示される。
【００１２】
　アイ・ダイヤグラム１０はディジタルデータ信号の論理１，０の組み合わせ波形の合成像であり、同期クロック信号を例えばディジタルデータ信号のデータレートでもってトリガーしつつサンプリングオシロスコープの垂直チャンネルへ波形を印加することで生成される。アイ・ダイヤグラム１０の特徴を計測することで、ディジタルデータ信号の様々な特性を容易に割り出す（測定する）ことができる。
【００１３】
　１Ｇｂ／ｓ未満のデータレートでは、一般に実時間サンプリングオシロスコープが用いられ、図１のアイ・ダイヤグラム１０などのアイ・ダイヤグラムを生成する。実時間サンプリングオシロスコープは、連続するデータビットの完全なシーケンスからなる波形記録を捕捉するのに非常に高速のＡ／Ｄ変換器を用いている。実時間サンプリングにより、一例として例えば緩慢な立ち上がり時間や過度のオーバーシュートといった波形誤差に先行するデータパターンの特性が分かるようになる。アイ・ダイヤグラムは、エッジを位置決めし、互いの頂部にビットを配置することで実時間サンプリングオシロスコープにより生成することができる。
【００１４】
　実時間サンプリングオシロスコープのＡ／Ｄ変換器は、データレートよりも遥かに高速で波形をサンプリングする。例えば商用の実時間サンプリングオシロスコープはデータレートの４〜１０倍のサンプリングレートを採用することもできる。商用の実時間サンプリングオシロスコープは通常約２ＧＨｚの帯域と約１Ｇｂ／ｓのデータレートに限られる。より高いデータレートについては、繰り返しサンプリングオシロスコープがアイ・ダイヤグラムの構成に用いられる。繰り返しサンプリングオシロスコープでは、各トリガー事象によりオシロスコープはデータ波形の単純なサンプルを採取し、そのサンプルを表示スクリーン上に単一点として表示する。各後続のサンプリング点（新たなトリガー事象に続く）は、トリガー時点に対し次第に遅れるようになる。様々なトリガー事象の後で、オシロスコープはサンプリングした波形の表示を含むアイ・ダイヤグラムでもって表示スクリーンを満たす。
【００１５】
　ディジタル通信信号を正確に表わす図１のアイ・ダイヤグラム１０などのアイ・ダイヤグラム全体を完全に構成するには、約２００，０００乃至約１，０００，０００サンプルが必要であろう。この量のデータの入手には何十秒も必要になりそうであり、この試験時間の低減をもたらすであろうディジタルデータ信号の特性割り出しに有効な技法をもたらすことが望まれる。
【００１６】
　本発明は、ディジタルデータ信号の多くの特性がアイ・ダイヤグラムの１又は数個の領域にのみ含まれる特徴を計測することで割り出せることを認めるものである。従って、特定の関心のある特性を割り出すのに計測しなければならない特徴を含むアイ・ダイヤグラムの特定の１又は複数の領域を完全に構成することだけが必要であり、アイ・ダイヤグラム全体を完全に構成することは必要でない。
【００１７】
　例えば、ディジタルデータ信号の消光比は、一般にアイ・ダイヤグラム中央の２０％ほどにヒストグラムを構築し、二つの得られたヒストグラムの平均値を配置して１と０のレベルを計測することで割り出される。従って、アイ・ダイヤグラム中央の２０％内に含まれるサンプルだけが消光比の割り出しに関係し、多数のサンプルを採取してアイ・ダイヤグラムのその領域のみを完全構成する必要がある（何故なら１，０レベル、特に０レベルを正確に計測するには、多数のサンプルが必要だからである）。アイ・ダイヤグラム全体を完全に構成するのに通常採取するであろう他のサンプルは、この特定の計測には必要ではなく、かくして限られた数のサンプルを採取して１と０の交点に対するアイ中央の２０％を配置すること（このことは後述する）以外は必要ではない。
【００１８】
　図２は、本発明の一実施形態になるディジタルデータ信号の消光比を割り出すのに用いることのできるアイ・ダイヤグラムを概略示すものである。アイ・ダイヤグラム２０は、先ず数個のサンプルを採取しアイ・ダイヤグラム２０全体を大雑把に画定し、これによりアイ・ダイヤグラム２０の関心のある領域２５ａ，２５ｂを特定し、続いて領域２５ａ，２５ｂ内で十分な数を採取してその領域を完全に構成することで構成される。かくして、図２に示した如く、アイ・ダイヤグラム２０は完全に構成された領域２５ａ，２５ｂと、部分的にのみ構成された領域２６，２７を備える。完全に構成された領域２５ａ，２５ｂには、通常（交点間の）ビット周期の中央２０％が含まれ、領域２５ａ，２５ｂが２８，２９に概略図示した完全構成ヒストグラムであるため、ディジタルデータ信号の消光比は正確に割り出すことのできる領域２５ａ，２５ｂ内のデータを用いて構築することができる。
【００１９】
　ここで用いる用語「完全に構成」が、十分な数のサンプルを採取してアイ・ダイヤグラム全体を正確に構成するか、或いはディジタルデータ信号の関心のある特性を正確に割り出せるよう計測をなすことができるアイ・ダイヤグラムの一領域を正確に構成することを概ね指すことは理解されたい。アイ・ダイヤグラム全体を完全に構成したりアイ・ダイヤグラムの一領域を完全構成するのに必要とされるであろうサンプルの数は、例えば割り出そうとしている関心のある特定の特性やユーザの精度要件に応じて変化しよう。
【００２０】
　用語「アイ・ダイヤグラム全体」が、ここでは図１のアイ・ダイヤグラムなどの全ての領域を含むアイ・ダイヤグラムの記述に用いていることもまた理解されたい。図１のアイは二つのエッジ交差を示し、データ信号の１．６ビット周期の表示であることを意味する約１．６ＵＩ（単位周期）を備える。しかしながら、アイ・ダイヤグラム全体は１．６ＵＩを超えるかそれ未満であるが、通常は１ＵＩ以上であり、２ＵＩ未満である。１ＵＩを超えるアイは冗長データサンプルを有しており、それ故データ信号に関する追加の情報を一切供給しない。これにも拘わらず、明瞭にしかつ幾つかの計測値がより複雑化しないよう、これらの追加の冗長サンプルは通常アイ・ダイヤグラム内に含まれる。この理由から、用語「アイ・ダイヤグラム全体」はここでは少なくとも１ＵＩのデータからなる全領域を意味するのに用いられる。
【００２１】
　また、図１のアイは、その二つのエッジが交差する領域を左右に等間隔に置いた状態で表示領域内で中央寄せして図示してある。しかしながら、ディスプレイの各側にある交点を備える二つの交差領域が示すのはアイ・ダイヤグラムの通常の位置であり、本発明の好適な実施形態はそのように中央寄せしていないアイ・ダイヤグラム上で同じく良好に機能するが、例えば、単一の交差領域がディスプレイ中央或いは他の位置に配置される場合である。
【００２２】
　図１のアイ・ダイヤグラムは、ＮＲＺデータ信号或いはノン・リターン・ゼロ・データ信号から生成されたノンリターン・ツー・ゼロ・アイである。アイは、必ずしもこの形式だけであるとは限らない。本発明の好適な実施形態は、ＲＺ（リターン・ツー・ゼロ）や３以上の信号レベルを用いるデータ信号から生成された複数レベル変調アイなどの他の信号形式を用いても同じく良好に機能する。
【００２３】
　図２に示した本発明の例示実施形態では、約２，０００程度のみのサンプルを採取してアイ・ダイヤグラム２０全体を大雑把に画定している。領域２５ａ，２５ｂ内に残るサンプルを集中させ、ビット周期の中央２０％を構成することで、かくしてディジタルデータ信号の消光比の割り出しには１．６単位期間のアイ・ダイヤグラムを完全に構成した場合に必要とされるであろうものよりも約８８％少ないデータが必要とされることになろう。このことで、試験時間全体の約８８％が低減される結果となる。アイ・ダイヤグラム全体を完全に構成するのに１，０００，０００サンプルを採取することになる例示実施形態では、約１２０，０００個のサンプルだけがアイ・ダイヤグラムの領域２５ａ，２５ｂの完全な構成に必要とされよう。
【００２４】
　ディジタルデータ信号の他の特性もまた、アイ・ダイヤグラム内の中央２０％のビット周期にのみ含まれるデータを用いることで割り出すことができる。例えば、１，０レベルや信号対雑音比やアイ高さやアイ振幅を割り出すための計測は、アイ・ダイヤグラム２０の領域２５ａ，２５ｂだけを用いて作成することができる。
【００２５】
　ディジタルデータ信号の他の特性を割り出すには、アイ・ダイヤグラムの他の領域を完全構成する。例えば、図３に示すように、アイ・ダイヤグラム３０の領域３５にサンプルを集中させることでジッタを割り出すことができる。図４に示す如く、立ち上がり時間はサンプルをアイ・ダイヤグラム４０の領域４５，４６に集中させることで割り出すことができ、図５に示す如く、立ち下がり時間はアイ・ダイヤグラム５０の領域５５，５６にサンプルを集中させることで割り出すことができる。図６に示す如く、ビットレートとアイ幅はアイ・ダイヤグラム６０の領域６５，６６にサンプルを集中させることで割り出すことができる。
【００２６】
　図２乃至６から明らかな如く、ディジタルデータ信号の多くの特性はアイ・ダイヤグラムの比較的小さな１又は複数の領域だけを構成することで割り出すことができる。
【００２７】
　ディジタルデータ信号の若干の特性は、図２乃至６のアイ・ダイヤグラム内に図示した領域の一部組み合わせ或いはアイ・ダイヤグラムの他の領域の一部組み合わせを用いて割り出すことができる。例えば、交差百分率は１，０レベルとジッタの両方の割り出しに収集するデータから割り出すことができる。デューティサイクル歪の割り出しもまた、１，０レベルとジッタの割り出しに用いるのと同じデータを必要とするが、データサイクル歪が大である場合は、交点周りに収集するデータを増大させる必要があるかも知れない。
【００２８】
　ディジタルデータ信号の特性を割り出す他の一般的な方法は、「マスク試験」である。従来、マスク試験は、ディジタルデータ信号の十分なサンプルを採取してアイ・ダイヤグラム全体を完全に構成し、続いて構成済みアイ・ダイヤグラム全体に「締め出し」領域のマスク或いはテンプレートを重畳させることで構成していた。例えば１以上のサンプルが、マスク領域の内側に含まれることでマスクを侵犯する場合は、試験は失敗である。
【００２９】
　本発明の一実施形態によれば、アイ・ダイヤグラムは近接してマスク領域を侵犯するアイ・ダイヤグラムの１又は複数の領域内にのみ完全構成してある。例えば図７は、その上に重畳した複数のマスク領域７２，７４，７６を有するアイ・ダイヤグラム７０を示している。また、図７に示す如く、各マスク領域の区域７２ａ，７４ａ，７６ａはマスクと各マスク領域の領域７２ｂ，７４ｂ，７６ｂは、マスク縁部を備えている。
【００３０】
　また、図７に示す如く、アイ・ダイヤグラム７０の領域７８はマスク領域７６の近くにある。従って、領域７８内にサンプルを集中させることで、マスク領域に対するディジタルデータ信号の特性、例えばサンプルがマスク或いはマスク縁部内に落ちるか否かを確認することができる。アイ・ダイヤグラム７０の残りはマスク領域の近くにはなく、従ってアイ・ダイヤグラム７０の残りを完全構成する必要はなく、何故ならその中に含まれる情報はマスク試験にとって重要でないからである。本発明の例示実施形態では、アイ・ダイヤグラム７０全体の少数のサンプルを採取してマスクが適切に配置されるようにし、マスクに近い領域を特定し、続いてより多数のサンプルを採取して近接領域を構成するようにしてある。図７の領域７８などの領域は、約１２，０００のサンプルだけを採取することで正確に構成することができ、その生成に約３００ｍｓが必要であり、対照的に例えばアイ・ダイヤグラム全体を完全構成するには約５００，０００サンプルを採取し、その生成には約１３秒が必要である。この点で、他のアイ・ダイヤグラムはマスクに近い別の領域或いは複数の領域を有し、大半のサンプルがこの種の領域の完全構成に必要とされることになろうことは認識されたい。しかしながら、ここでもアイ・ダイヤグラム全体を完全構成する必要はない。
【００３１】
　図８は、図２乃至７に示した全ての領域を完全構成して全ての一般的なアイ計測が実行できるようにするアイ・ダイヤグラム８０を概略示す。図８から明らかな如く、たとえこの「最悪のケース」の筋書きにあっても、アイ・ダイヤグラム全体の完全構成に必要なデータの約５０％だけが必要である（ただし、どのアイ・ダイヤグラムの領域、或いは、どれ位の数のアイ・ダイヤグラムの領域がマスクに近いかに応じて厳密な百分率は変わることがある）。
【００３２】
　図９は、本発明の一実施形態になるディジタルデータ信号の特性を割り出す装置９０を概略示すブロック線図である。図９に示す如く、信号源９３からのディジタルデータ信号９２は試験対象デバイス（ＤＵＴ）９４を通過する。別々の構成要素として示したが、信号源９３はそれらの固有信号を生成することのできる特定のＤＵＴ内に組み込むことができる。ディジタルデータ信号９５はＤＵＴ９４から出力され、ディジタルデータ信号９５を表わすアイ・ダイヤグラムがサンプリング装置９６により生成される。サンプリング装置９６は、好ましくはサンプリングオシロスコープを含み、アイ・ダイヤグラムを生成するプロセッサ部９７と生成されたアイ・ダイヤグラムを表示する表示部９８を含む。生成されたアイ・ダイヤグラムから出力ディジタルデータ信号９５の特性を割り出すことで、ＤＵＴによるディジタルデータ信号９２の変化態様を割り出すことができる。
【００３３】
　アイ・ダイヤグラム全体を完全構成することなく、アイ・ダイヤグラムの１以上の領域を完全構成するよう選択的なサンプリングを達成するため、サンプリング装置９６はトリガー基準に対するサンプリングタイミングとサンプリング対象波形中の特定ビットの両方を制御できることが好ましい。前述の如く、サンプリングオシロスコープはトリガーに対するサンプリング時間の制御能力を既に含んでおり、この能力は第１のプロセッサ部９７ａにより図９に表わしてある。サンプリング対象波形中の特定ビットを制御することには、ＤＵＴを駆動するのに用いるパターン発生器を制御するか、さもなくば制御されたパターン発生器から、すなわちサンプリング装置内の長期プログラム遅延又はパターン長に設定したカウンタでもってトリガーした既知の固定パターンからトリガーを生成する必要がある。サンプリング対象波形中の特定ビットを制御する能力は、第２のプロセッサ部９７ｂにより図９に表わしてある。
【００３４】
　図１０は、本発明の一実施形態になる等価時間サンプリングシステム内でのアイ・ダイヤグラムを生成するサンプリング装置９０のプロセッサ部９７ａの詳細を示す。プロセッサ部９７ａは、同期トリガー事象（例えば、印加したトリガー信号１０２中の立ち上がりエッジ或いは立ち下がりエッジなど）をトリガー検出ユニット１０４を介して検出する連続的なタイムベースを用い、高精度遅延発生器１０６を介してトリガー事象とトリガー検出ユニットのサンプリングストローブとの間の正確にプログラム可能な遅延を生成する。高精度遅延発生器１０６は、微遅延発生器１０８と粗遅延発生器１１０を含む。サンプルは、タイムベース遅延により決まる可変時間においてサンプリングチャンネル１２０，１２２により採取され、採取したサンプルはＡ／Ｄ変換器１２４，１２６によりディジタル値へ変換される。（図１０に示した装置は例示のみを意図したものであって、本発明が図示した特定のアーキテクチャに限定されないことは理解されたい。例えば、プロセッサ部９７ａは２を超えるか或いはこれよりも少ないサンプリングチャンネルを有するかし、本発明はどんな特定数のサンプリングチャンネルに限定されないことは理解されたい）。
【００３５】
　データストリーム内の個々のビットを視認し計測するのに、パターントリガーが用いられる。パターントリガーは、パターンを反復するたびに一回発生するトリガーパルスである。例えば、２７−１ＰＲＢＳパターンを用いた場合、パターン発生器は１２７ビットごとにトリガーパルスを生成するよう設定される。ビットストリーム内の特定ビットに着目するため、一つの方法として高精度遅延発生器１０６内の時間遅延をパターントリガーと関心のあるビットとの間の時間期間に等しくプログラムすることがある。別の仕方では、トリガーパルスを時間軸上でビットに整列配置する。パターン発生器はパターン内のどのビットが１であり、どれが０であるかを先験的に知っており、それ故それは特にビット種或いはサブパターンに着目するようパターントリガーを配置することができる。
【００３６】
　例えば２３１−１ＰＲＢＳほどパターンが長くなると、パターントリガー間の時間はデータレートに応じて極端に長くなることがある。そのような場合、パターン発生器は各パターンごとに複数のトリガーパルスを生成することができ、オシロスコープが各トリガーごとに個別にデータをグループ分けする。例えば、パターンごとに三つのトリガーパルスが存在する場合、この範囲がそれぞれ（複数値アイ・ダイヤグラムに対し）異なる単一値波形に対応するデータの三つの個別データベースを維持する。このことは、例えば立ち上がりエッジの合成が望まれる場合、或いはサンプルをアイ・ダイヤグラム内で併せ載置する前に先ずサンプルを平均化することが望ましい場合に役立つ。
【００３７】
　クロックトリガーに対するタイミングだけを用いてアイ・ダイヤグラムの領域を選択して完全に構成する場合、アイ・ダイヤグラムの任意の領域に対してアイの垂直スライス（垂直薄片）だけを完全に構成することができ、通常はより多くの数のサンプルを採取する必要がある。例えば、ジッタ計測用のサンプリングが交点だけをサンプリングする（すなわち、選択的サンプリング法を用いた）場合、アイ・ダイヤグラム全体を完全に構成するのに必要とされるであろうサンプル内の約９０％の節約を達成することができる。タイミング制御だけを用いた場合、交点の上方或いは下方の１，０もまたサンプリングされ、より多くの数のサンプルの採取が必要となる。この場合にサンプリング効率における重要な節約（約８０％の節約）が依然達成できるが、これは交差を含む垂直スライス内のサンプルだけを採取する必要があるからである。
【００３８】
　サンプリング対象のアイの領域とそれらの領域の密度は、サンプルを採取する間に動的に調整することができる。一部の計測数が安定化し、その一方で他のものがより多くのデータが必要とされるのに伴ない依然変化している場合、残るサンプルは未だ安定化していない計測に集中させることができる。さもなくば、各計測用にどれ位の数が必要とされるかという先験的知識を用いて異なる領域を評価することもできる。また、マスク試験を実行する場合、定期点検によりアイの他の領域がマスク侵犯へ向けてドリフトしているかどうかを割り出すこともできる。そうである場合は、将来のサンプルをそれらの領域に集中させることができる。
【００３９】
　図１１は、本発明の一実施形態によりディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出す方法１３０のステップを例示するフローチャートである。図示の如く、ディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出すための情報を含むアイ・ダイヤグラムの少なくとも一つの領域が、ステップ１３２に示す如く特定される。ステップ１３４では十分なステップを採取し、アイ・ダイヤグラム全体を構成することなくアイ・ダイヤグラムの特定された少なくとも一つの領域だけを完全に構成する。ディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性を、次にステップ１３６において完全に構成された少なくとも一つの領域から割り出す。
【００４０】
　説明した内容は本発明の例示的な実施形態を構成するものであり、本発明がそこから逸脱することなく多くの点で変形できることは認識されたい。例えば、本発明は主としてアイ・ダイヤグラムに関連して説明してきたが、本発明は単一値波形などの他の波形の１以上の領域を完全に構成することでディジタルデータ信号の特性の割り出しに用いることもできる。本発明は多くの仕方で変形できるので、本発明が特許請求の範囲が必要とするものにだけ限定されるべきであることは理解されたい。
【００４１】
　以上の説明及び添付の図面から、当該技術者には本発明に対するさまざまな修正が明らかになるであろう。従って、本発明は、付属の特許請求の範囲によってのみ制限されるものとする。しかしながら、本発明の広汎な応用の可能性に鑑み、以下に本発明の実施態様を幾つか例示する。
【００４２】
（実施態様１）
　ディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出す方法であって、
　前記ディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性を割り出す情報を含む波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）の少なくとも一つの領域（２５ａ，２５ｂ，３５，４５，４６，５５，５６，６５，６６，７８）を特定するステップと、
　前記ディジタルデータ信号の十分なサンプルを採取し、前記波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）全体を完全に構成することなく、前記波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）の前記特定した少なくとも一つの領域（２５ａ，２５ｂ，３５，４５，４６，５５，５６，６５，６６，７８）だけを完全に構成するステップと、
　前記波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）の前記完全に構成した少なくとも一つの領域（２５ａ，２５ｂ，３５，４５，４６，５５，５６，６５，６６，７８）から関心のある少なくとも一つの特性を割り出すステップを有する、
　ことを特徴とする方法。
【００４３】
（実施態様２）
　前記ディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性を選択するステップをさらに有し、前記特定ステップが、前記選択した関心のある少なくとも一つの特性を割り出す少なくとも一つの特徴を含む前記波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）の少なくとも一つの領域（２５ａ，２５ｂ，３５，４５，４６，５５，５６，６５，６６，７８）の特定を含み、前記割り出しステップが、前記少なくとも一つの特徴を計測し、前記ディジタルデータ信号の前記選択した関心のある少なくとも一つの特性を割り出すステップを有する、
　ことを特徴とする実施態様１に記載の方法。
【００４４】
（実施態様３）
　前記ディジタルデータ信号の限定数のサンプルを採取し、前記波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）の前記少なくとも一つの領域（２５ａ，２５ｂ，３５，４５，４６，５５，５６，６５，６６，７８）を特定する前に前記波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）全体を大雑把に構成するステップをさらに有する、
　ことを特徴とする実施態様１に記載の方法。
【００４５】
（実施態様４）
　十分なサンプルを採取する前記ステップは、前記ディジタルデータ信号に同期したトリガー基準に対するサンプルのタイミングを制御することによるサンプルの採取を含む、
　ことを特徴とする実施態様１に記載の方法。
【００４６】
（実施態様５）
　十分なサンプルを採取する前記ステップは、前記ディジタルデータ信号中の特定ビットのサンプリングを含む、
　ことを特徴とする実施態様１に記載の方法。
【００４７】
（実施態様６）
　前記波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）は、アイ・ダイヤグラム（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）を含む、
　ことを特徴とする実施態様１に記載の方法。
【００４８】
（実施態様７）
　前記特定ステップは、前記アイ・ダイヤグラム（７０）上に重畳させた少なくとも一つのマスク領域（７２，７４，７６）の近くにある前記アイ・ダイヤグラム（７０）の少なくとも一つの領域（７８）の特定を含み、前記割り出しステップは、前記少なくとも一つのマスク領域（７２，７４，７６）に関して前記ディジタルデータ信号の関心のある少なくとも一つの特性の割り出しを含む、
　ことを特徴とする実施態様６に記載の方法。
【００４９】
（実施態様８）
　前記割り出しステップは、前記アイ・ダイヤグラムの前記少なくとも一つの領域がマスク領域を侵犯するか否かの判定を含む、
　ことを特徴とする実施態様７に記載の方法。
【００５０】
（実施態様９）
　ディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出す装置であって、
　前記ディジタルデータ信号を表わす波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）を表示するディスプレイ（９８）を有するサンプリング装置（９６）と、
　前記ディジタルデータ信号のサンプルの採取を制御して前記ディスプレイ（９８）上の前記波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）の生成を制御するプロセッサ（９７）で、トリガー基準に対して採取したサンプルのタイミングを制御する第１のプロセッサ部（９７ａ）と、サンプリングする特定ビットを制御する第２のプロセッサ部（９７ｂ）を有し、前記波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）全体を完全に構成することなく該波形（２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０）の選択された１又は複数の領域（２５ａ，２５ｂ，３５，４５，４６，５５，５６，６５，６６，７８）だけを完全に構成させ、前記サンプリング装置（９６）の前記ディスプレイ（９８）に表示されるようにする前記プロセッサ（９７）を備える、
　ことを特徴とする装置。
【００５１】
（実施態様１０）前記サンプリング装置（９６）は、サンプリングオシロスコープ（９６）を具備する、
　ことを特徴とする請求項９に記載の装置。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の説明を助けるディジタルデータ信号の特性を表わす例示的アイ・ダイヤグラムを示す概略図である。
【図２】本発明の一実施形態になるアイ・ダイヤグラムを示す概略図である。
【図３】本発明の他の実施形態になるアイ・ダイヤグラムを示す概略図である。
【図４】本発明の他の実施形態になるアイ・ダイヤグラムに示す概略図である。
【図５】本発明の他の実施形態になるアイ・ダイヤグラムを示す概略図である。
【図６】本発明の他の実施形態になるアイ・ダイヤグラムを示す概略図である。
【図７】本発明の他の実施形態になるアイ・ダイヤグラムを示す概略図である。
【図８】本発明の他の実施形態になるアイ・ダイヤグラムを示す概略図である。
【図９】本発明の一実施形態になるアイ・ダイヤグラム解析を用いたディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出すための装置を概略示すブロック線図である。
【図１０】図９の装置のプロセッサの詳細を概略示すブロック線図である。
【図１１】本発明の他の実施形態になるディジタルデータ信号の少なくとも一つの特性を割り出すための方法のステップを例示するフローチャートである。
【符号の説明】
【００５３】
１０，２０，３０，４０，５０，６０，７０，８０　アイ・ダイヤグラム（波形）
１２　表示スクリーン
２５ａ，２５ｂ，３５，４５，４６，５５，５６，６５，６６，７８　領域
２６，２７　領域
７２，７４，７６　マスク領域
７２ａ，７２ｂ，７４ａ，７４ｂ，７６ａ，７６ｂ　区域
９０　装置
９２，９５　ディジタルデータ信号
９３　信号源
９４　ＤＵＴ
９６　サンプリング装置
９７　プロセッサ部
９７ａ　第１のプロセッサ部
９７ｂ　第２のプロセッサ部
９８　表示部（ディスプレイ）
１０２　トリガー信号
１０４　トリガー検出ユニット
１０６　高精度遅延発生器
１０８　微遅延発生器
１１０　粗遅延発生器
１２０，１２２　サンプリングチャンネル
１２４，１２６　Ａ／Ｄ変換器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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