(57)【要約】【課題】短時間で簡単に金属イオンの微量分析をすることができる分析用部材、分析装置、および分析方法を提供する。【解決手段】保持体１１には分析試料を入れる複数のウェル１２が設けられており、ウェル１２の内壁面１２Ａおよび底面１２ＢにはＰｂ2+と錯体あるいはイオン対を形成し得るポルフィリンなどの化合物が吸着あるいは結合している。分析試料をウェル１２に入れ、分析試料に含まれるＰｂ2+をポルフィリンとの錯体形成により保持体１１に固定する。そののち、ウェル１２に光を照射し、ポルフィリンのＰｂ錯体による吸収スペクトルを検出してＰｂ2+の含有量を測定する。よって、検出試薬を入れる必要もなく、簡単に短時間で分析することができる。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
分析試料を保持する保持体の少なくとも一部に、金属イオンと錯体あるいはイオン対を形成し得る化合物を、吸着あるいは結合させたことを特徴とする分析用部材。
【請求項２】
前記化合物と前記保持体とは静電的に結合していることを特徴とする請求項１記載の分析用部材。
【請求項３】
前記化合物は、カチオン性あるいはアニオン性を有することを特徴とする請求項１または請求項２記載の分析用部材。
【請求項４】
前記化合物は、ポルフィリンを含むことを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の分析用部材。
【請求項５】
前記化合物は、５，１０，１５，２０−テトラキス（１−メチルピリジニウム−２−イル）ポルフィン、５，１０，１５，２０−テトラキス（１−メチルピリジニウム−３−イル）ポルフィン、および５，１０，１５，２０−テトラキス（１−メチルピリジニウム−４−イル）ポルフィンのうちの少なくとも１種を含むことを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の分析用部材。
【請求項６】
前記保持体は、少なくとも一部にアニオン性あるいはカチオン性を有することを特徴とする請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載の分析用部材。
【請求項７】
前記保持体は、高分子材料またはガラスよりなることを特徴とする請求項１ないし請求項６のいずれか１項に記載の分析用部材。
【請求項８】
分析試料に含まれる金属イオンを固定する請求項１ないし請求項７のいずれか１項に記載の分析用部材と、
この分析用部材に対して光を照射する照射部と、
前記金属イオンを固定した分析用部材による前記光の変化を検出する検出部と
を備えたことを特徴とする分析装置。
【請求項９】
請求項１ないし請求項７のいずれか１項に記載の分析用部材を用い、分析試料に含まれる金属イオンを検出することを特徴とする分析方法。
【請求項１０】
分析試料に含まれる金属イオンを前記分析用部材に固定する工程と、
前記金属イオンを固定した分析用部材に光を照射し、その光の変化を検出することにより、金属イオンの含有量を測定する工程と
を含むことを特徴とする請求項９記載の分析方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、錯体あるいはイオン対を利用する金属イオンの分析方法、それに用いる分析用部材および分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
水溶液中の微量金属イオンを分析する方法としては、金属イオンと配位子とが反応して錯体あるいはイオン対を生成する現象を利用する化学分析、例えばキレート滴定、吸光分析法、蛍光分析法、あるいは化学発光分析法が古くから広範に研究・利用されている。これらの化学分析は、簡単に説明すると、試料である水溶液に分析試薬および緩衝溶液を添加して測定するという手順で行われる。化学分析に用いられる配位子は多数有り、それらを全てここに記すことは不可能であるが、一般的なものとしては、アルミニウムイオン（Ａ１3+）などの分析に用いられる８−キノリノール、あるいは鉛イオン（Ｐｂ2+）などの分析に用いられるジチゾンなどがある。
【０００３】
また、これらの配位子のモル吸光係数は数万程度であるが、モル吸光係数が数十万にも及ぶ配位子としてポルフィリンが知られており、その分析化学的応用が本発明者の一人である五十嵐によって精力的に研究されている。ポルフィリンはモル吸光係数が大きいので、金属イオンの含有量がｐｐｂからｐｐｔ単位の超微量であっても分析が可能となる。しかし、ポルフィリンを金属イオンの比色試薬として利用する場合、ポルフィリンとその金属錯体の吸収スペクトルの分離が悪く、実質的な吸光度変化を大きくできないことが問題であった。そこで、ポルフィリンの鉛（ＩＩ）錯体の吸収スペクトルがポルフィリンのそれと比較的分離していることを利用して亜鉛イオンを分析する方法が、本発明者の一人である五十嵐らによって発表されている（例えば、非特許文献１参照。）。
【０００４】
また、ポルフィリンを用いた分析としては、生物マトリックス中の鉛イオンを分光光度計により測定する方法も報告されている（例えば、特許文献１参照。）。更に、カチオン性ポルフィリンである５，１０，１５，２０−テトラキス（４−トリメチルアミノフェニル）ポルフィンを、スルホン化したポリスチレンに静電的に結合させたオプティカルｐＨセンサーが本発明者の一人である五十嵐らにより報告されている（例えば、非特許文献２参照。）。
【０００５】
このような化学分析法や、または原子吸光法、ＩＣＰ発光分析法、あるいはＩＣＰ−質量分析法などの機器分析法は、一試料を測定だけするのに数秒〜数分を要し、しかもこのような機器分析装置は大型かつ高価であり、さらに排気設備も必要であるという問題があった。また、代表的な多検体分析法であるフローインジェクション（ＦＩＡ）でさえも、一試料を測定だけするのに数分〜数１０分を要していた。
【０００６】
一方、生体関連物質（生化学検査）では、マイクロプレートという多数のウェル（窪み）があるポリスチレン製の部材に測定溶液と試薬とを入れ、これをマイクロプレートリーダーという装置で分光（吸光、蛍光、化学発光）分析する装置が常用されている。この装置は１枚のマイクロプレートを数秒で測定することができる。例えば、９６個のウェルのあるマイクロプレートの場合、最大９６試料の分析が数秒で可能である。ポリスチレン製マイクロプレートは、エンザイムイムノアッセイにおいて抗体あるいは抗原などをウェル表面に固定化させて使用する酵素標識固相免疫測定（ＥＬＩＳＡ）法のために開発されたものである。マイクロプレートのウェルは一つ一つ独立したもので反応容器と比色セルを兼ね備えている。そのウェル容量はおよそ０．３ｍｌである。一度に多検体の測定ができるほか、貴重な試料や高価な試薬の少量化が可能である。また、マイクロプレートの測定を行うマイクロプレートリーダーは、一般的な機器分析装置に比べ安価で、小型であるため広いスペースを必要としないなどの利点を有している。そこで、マイクロプレートを用いて金属イオンを分析する方法も報告されている（例えば、非特許文献３参照。）。
【０００７】
【非特許文献１】
五十嵐他、「日本化学会誌」、１９７９年、第５巻、ｐ．６０２−６０６
【特許文献１】
特開平１０−６２４２５号公報
【非特許文献２】
五十嵐他、「アナリティカル  サイエンス（ANALYTICAL SCIENCES ）」、（日本）、１９９４年、第１０巻、ｐ．８２１−８２２
【非特許文献３】
牧野他、「日本臨床検査自動化学会会誌」、１９８９年、第１４巻、ｐ．４５１
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、マイクロプレートを用いた分光分析では、試料に光が当たっている距離（光路長）が短いので、ライトパスすなわち液高に依存して感度が低下してしまうなどの問題があった。よって、金属イオンの微量分析にそのまま用いることは難しく、まだ実用化に至っていない。また、化学分析法による金属イオンの分析および生体関連物質の分析のどちらにおいても、一試料の分析毎に検出試薬を毎回添加しなければならないという問題もあった。例えば、アルミニウムイオンを分析する際には、検出試薬である８−キノリノールを一つ一つの試料に毎回添加する必要があった。
【０００９】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、短時間で簡単に金属イオンの微量分析をすることができる分析用部材、分析装置、および分析方法を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明による分析用部材は、分析試料を保持する保持体の少なくとも一部に、金属イオンと錯体あるいはイオン対を形成し得る化合物を、吸着あるいは結合させたものである。
【００１１】
本発明による分析用部材では、保持体に吸着あるいは結合された化合物が金属イオンと錯体あるいはイオン対を形成することにより、分析試料に含まれる金属イオンを検出する。
【００１２】
なお、化合物と保持体とは静電的に結合していてもよく、化合物はカチオン性あるいはアニオン性のどちらを有していてもよい。化合物としては、ポルフィリンを含むことが好ましく、特に、５，１０，１５，２０−テトラキス（１−メチルピリジニウム−２−イル）ポルフィン、５，１０，１５，２０−テトラキス（１−メチルピリジニウム−３−イル）ポルフィン、および５，１０，１５，２０−テトラキス（１−メチルピリジニウム−４−イル）ポルフィンのうちの少なくとも１種を含むことが好ましい。また、保持体はアニオン性あるいはカチオン性のどちらを有していてもよく、高分子材料またはガラスよりなることが好ましい。
【００１３】
本発明による分析装置は、分析試料に含まれる金属イオンを固定する上述の分析用部材と、この分析用部材に対して光を照射する照射部と、金属イオンを固定した分析用部材による前記光の変化を検出する検出部とを備えるものである。
【００１４】
本発明による分析装置では、本発明の分析用部材に固定した金属イオンを、照射した光の変化により検出する。
【００１５】
本発明による分析方法は、上述の分析用部材を用い、分析試料に含まれる金属イオンを検出するものである。
【００１６】
分析に際しては、分析用部材に固定した金属イオンを、照射した光の変化により検出するようにしてもよい。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【００１８】
（一実施の形態）
図１は本発明の一実施の形態に係る分析用部材１０の構成を表すものである。分析用部材１０は、いわゆるマイクロプレートと言われるものであり、分析試料を保持する保持体１１を有している。保持体１１には、分析試料を入れる複数のウェル１２が設けられており、複数の分析試料を同時に分析することができるようになっている。
【００１９】
図２はウェル１２の構成を概念的に表すものである。ウェル１２の内壁面１２Ａおよび底面１２Ｂには、金属イオンと錯体あるいはイオン対を形成し得る化合物１３が吸着あるいは結合している。化合物１３は、目的とする金属イオンを錯体あるいはイオン対の形成により固定し、それによる光学的特性の変化から目的とする金属イオンを検出可能とする検出試薬である。化合物１３は、内壁面１２Ａおよび底面１２Ｂの全面に吸着あるいは結合していてもよいが、その一部に吸着あるいは結合していてもよい。例えば、底面１２Ｂの少なくとも一部のみに吸着あるいは結合していてもよく、底面１２Ｂと内壁面１２Ａの一部に吸着あるいは結合していてもよい。
【００２０】
なお、ウェル１２の内壁面１２Ａおよび底面１２Ｂには、レーザ、紫外線、スパッターあるいは化学エッチングなどにより、表面積を大きくするための粗さ加工がされていてもよい。化合物１３を多く吸着あるいは結合させることができ、感度を向上させることができるからである。
【００２１】
保持体１１と化合物１３とは、静電的に結合していることが好ましく、例えば、保持体１１をアニオン性、化合物１３をカチオン性のものにより構成するか、または保持体１１をカチオン性、化合物１３をアニオン性のものにより構成することが好ましい。保持体１１の表面に化合物１３を強く吸着あるいは結合させることができるので、高い分析精度を得ることができると共に、複数回にわたって繰り返し使用することができるからである。なお、保持体１１は全体がアニオン性あるいはカチオン性を有していてもよいが、少なくとも化合物１３を吸着あるいは結合させる部分、例えばウェル１２の内壁面１２Ａおよび底面１２Ｂがアニオン性あるいはカチオン性を有していればよい。
【００２２】
保持体１１を構成する材料としては、化合物１３と目的とする金属イオンとの錯体あるいはイオン対の吸収スペクトル、蛍光スペクトル、あるいは発光スペクトル付近に吸収スペクトル、蛍光スペクトルあるいは発光スペクトルを有さないものであればいずれでもよい。具体的には、高分子材料あるいはガラスなどが挙げられる。なお、ガラスは表面にヒドロキシ基（−ＯＨ基）が存在するのでアニオン性となる。
【００２３】
アニオン性を有する高分子材料としては、ポリスチレン、ポリエチレン、ポリプロピレン、アクリルポリマ、塩化ビニル、あるいはポリカーボネートなどに、スルホ基（−ＳＯ3 Ｈ基）、カルボキシ基（−ＣＯＯＨ基）、あるいはヒドロキシ基を導入したものが挙げられる。化１にポリスチレンをスルホン化した高分子材料の構造を示す。アニオン性を有する高分子材料としては、また、Ｎａｆｉｏｎ (登録商標）のようなスルホ基を有するフッ素系の材料なども挙げられる。
【００２４】
【化１】
2004205290.tif 000003
【００２５】
カチオン性の高分子材料としては、例えば、ポリスチレン、ポリエチレン、ポリプロピレン、アクリルポリマ、塩化ビニル、ポリカーボネート、あるいはスチレン−ジビニルベンゼン共重合体に第４級アンモニウム基を結合させたもの、またはこれらをホスホニウム塩化したものが挙げられる。化２および化３に第４級アンモニウム基を結合させたものの一例を示すと共に、化４にホスホニウム塩化したものの一例を示す。
【００２６】
【化２】
2004205290.tif 000004
【００２７】
【化３】
2004205290.tif 000005
【００２８】
【化４】
2004205290.tif 000006
【００２９】
化合物１３は目的とする金属イオンと錯体あるいはイオン対を形成するものであればいずれでもよいが、モル吸光係数εが大きいものの方が微量の金属イオンについても高い精度で分析することができるので好ましい。中でも、ポルフィリンおよびその錯体は、４００ｎｍ〜５００ｎｍ付近にモル吸光係数εが２×１０5 ｄｍ3 ／ｍｏｌ・ｃｍ〜６×１０5 ｄｍ3 ／ｍｏｌ・ｃｍのソーレー帯と呼ばれる吸収を持っているので好ましい。
【００３０】
なお、ポルフィリンというのは、化５に示したポルフィンおよびその誘導体の総称である。ポルフィリンは、例えば化６に示したように、金属イオンＭ+ ，Ｍ2+，Ｍ3+，Ｍ4+がポルフィン核の窒素に配位することにより錯体を形成する。なお、化６では金属イオンＭ2+が配位している場合を示している。ポルフィリンと錯体を形成する金属イオンとしては、銀イオン（Ａｇ+ ）、リチウムイオン（Ｌｉ+ ）、鉄イオン（Ｆｅ2+，Ｆｅ3+）、カドミウムイオン（Ｃｄ2+）、コバルトイオン（Ｃｏ2+，Ｃｏ3+）、銅イオン（Ｃｕ2+）、鉛イオン（Ｐｂ2+）、パラジウムイオン（Ｐｄ2+）、亜鉛イオン（Ｚｎ2+）、クロムイオン（Ｃｒ3+）、マンガンイオン（Ｍｎ3+）、およびスズイオン（Ｓｎ4+）などが知られている（例えば、五十嵐他、「ケミストリ  レターズ（Chemistry Letters ）」、第１１巻、１９８４年、ｐ．１８７１−１８７４（以下、非特許文献４という）参照。）。
【００３１】
【化５】
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【００３２】
【化６】
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【００３３】
カチオン性のポルフィリンとしては、例えば、化７に示した構造のＲ１，Ｒ２，Ｒ３およびＲ４が化８に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（１−メチルピリジニウム−４−イル）ポルフィン（以下、Ｔ（４−ＭＰｙ）Ｐと言う）、化９に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（１−メチルピリジニウム−３−イル）ポルフィン（以下、Ｔ（３−ＭＰｙ）Ｐと言う）、化１０に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（１−メチルピリジニウム−２−イル）ポルフィン（以下、Ｔ（２−ＭＰｙ）Ｐと言う）、化１１に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（４−トリメチルアミノフェニル）ポルフィン、あるいは化１２に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（４−ピリジル）ポルフィンが挙げられる。
【００３４】
【化７】
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【００３５】
【化８】
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【００３６】
【化９】
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【００３７】
【化１０】
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【００３８】
【化１１】
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【００３９】
【化１２】
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【００４０】
中でも、化７および化８に示したＴ（４−ＭＰｙ）Ｐは、カドミウムイオン（Ｃｄ2+）、コバルトイオン（Ｃｏ2+）、銅イオン（Ｃｕ2+）、鉛イオン（Ｐｂ2+）、パラジウムイオン（Ｐｄ2+）、および亜鉛イオン（Ｚｎ2+）と錯体を形成することが知られている（例えば、非特許文献４参照。）。また、化７および化９に示したＴ（３−ＭＰｙ）Ｐは、カドミウムイオン（Ｃｄ2+）、銅イオン（Ｃｕ2+）、および水銀イオン（Ｈｇ2+）と錯体を形成することが知られている（例えば、イシイ（ISHII ）他、「タランタ（Talanta ）」、（オランダ）、第２９巻、１９８２年、ｐ５４５−５５０（以下、非特許文献５という）参照。）。更に、化７および化１０に示したＴ（２−ＭＰｙ）Ｐは、これら２つのポルフィリンと構造が近似しており、同様に金属イオンと錯体を形成するものと考えられる。
【００４１】
アニオン性のポルフィリンとしては、例えば、化７に示した構造のＲ１，Ｒ２，Ｒ３およびＲ４が化１３に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（４−スルホフェニル）ポルフィン（以下、Ｔ（４−ＳＰ）Ｐと言う）、化１４に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（４−カルボキシフェニル）ポルフィン、化１５に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（４−ヒドロキシフェニル）ポルフィン、化１６に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（スルホナフチル）ポルフィン、化１７に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（５−スルホ−２−チエニル）ポルフィン、あるいは化１８に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（４−スルホテトラフルオロフェニル）ポルフィンが挙げられる。
【００４２】
【化１３】
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【００４３】
【化１４】
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【００４４】
【化１５】
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【００４５】
【化１６】
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【００４６】
【化１７】
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【００４７】
【化１８】
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【００４８】
また、非対称性のものでもよく、例えば、化７に示した構造のＲ１が化１９に示した基で表され、Ｒ２，Ｒ３およびＲ４が化２０に示した基で表されるもの、化２１に示した５，１０，１５，２０−テトラキス（４−スルホナトフェニル）−２１−メチル−２３Ｈ−ポルフィン、あるいは化２２に示したコプロポルフィリンIII （ＣｏｐｒｏIII ）も挙げられる。
【００４９】
【化１９】
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【００５０】
【化２０】
2004205290.tif 000022
【００５１】
【化２１】
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【００５２】
【化２２】
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【００５３】
更に、両性のポルフィリンとしては、例えば、化７に示した構造のＲ１，Ｒ２，Ｒ３およびＲ４が化２３に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（１−スルホエチルピリジウム−４−イル）ポルフィン（以下、Ｔ（４−ＳＥＰｙ）Ｐと言う）、あるいは化７に示した構造のＲ１，Ｒ２，Ｒ３およびＲ４が化２４に示した基で表される５，１０，１５，２０−テトラキス（１−カルボキシメチルピリジウム−４−イル）ポルフィンが挙げられる。これら両性のものは、カチオン性を有するものとして利用することも、アニオン性を有するものとして利用することも可能である。
【００５４】
【化２３】
2004205290.tif 000025
【００５５】
【化２４】
2004205290.tif 000026
【００５６】
保持体１１と化合物１３との結合状態を、保持体１１がスルホン化したポリスチレン、化合物１３が化７および化８に示したＴ（４−ＭＰｙ）Ｐである場合について、化２５に代表して示す。
【００５７】
【化２５】
2004205290.tif 000027
【００５８】
化合物１３としては、また、ポルフィリンほどのモル吸光係数εは大きくないが、ビスアゾクロモトロープ酸誘導体、トリフェニルメタン誘導体、ピリジルアゾ化合物、あるいはメチレンブルーなども好ましく挙げられる。
【００５９】
ビスアゾクロモトロープ酸誘導体には、ウランイオン（Ｕ4+）、トリウムイオン（Ｔｈ4+）、ジルコニウムイオン（Ｚｒ4+）、サマリウムイオン（Ｓｍ3+）、カルシウムイオン（Ｃａ2+）、ランタンイオン（Ｌａ3+）、あるいはネオジムイオン（Ｎｄ3+）などと錯体を形成するものが知られている（例えば、四ツ柳他、「化学の領域」、１９７７年、３１−２、ｐ１４６−１５３（以下、非特許文献６という）参照。）。例えば、化２６に示したアルセナゾIII は、例えば化２７に示したようにＵＯ22+ と錯体を形成すると共に、スルホ基の少なくとも一方がカチオン性の保持体１１に吸着あるいは結合する。化２７に示したアルセナゾIII のＵＯ22+ 錯体のモル吸光係数εは５．３×１０4 ｄｍ3 ／ｍｏｌ・ｃｍ程度、吸収波長は６６５ｎｍである。
【００６０】
【化２６】
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【００６１】
【化２７】
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【００６２】
トリフェニルメタン誘導体には、アルミニウムイオン（Ａｌ3+）、鉄イオン（Ｆｅ3+）、パラジウムイオン（Ｐｄ2+）、あるいは希土類イオンなどと錯体を形成するものが知られている（例えば、非特許文献６参照。）。例えば、化２８に示したクロムアズロールＳは、例えば化２９に示したようにアルミニウムイオンと錯体を形成すると共に、スルホ基がカチオン性の保持体１１に吸着あるいは結合する。化２９に示したクロムアズロールＳのアルミニウムイオン錯体のモル吸光係数εは５．１×１０4 ｄｍ3 ／ｍｏｌ・ｃｍ程度、吸収波長は５８５ｎｍである。
【００６３】
【化２８】
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【００６４】
【化２９】
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【００６５】
ビリジルアゾ化合物には、ガリウムイオン（Ｇａ3+）、ロジウムイオン（Ｒｈ3+）、コバルトイオン（Ｃｏ3+）、銅イオン（Ｃｕ2+）、ニッケルイオン（Ｎｉ2+）、亜鉛イオン（Ｚｎ2+）、ビスマスイオン（Ｂｉ3+）、あるいはインジウムイオン（Ｉｎ3+）などと錯体を形成するものが知られている（例えば、非特許文献６参照。）。例えば、化３０に示した５−Ｂｒ−ＰＡＰＳは、例えば化３１に示したように亜鉛イオンと錯体を形成すると共に、スルホ基がカチオン性の保持体１１に吸着あるいは結合する。化３１に示した５−Ｂｒ−ＰＡＰＳの亜鉛イオン錯体のモル吸光係数εは１．３３×１０5 ｄｍ3 ／ｍｏｌ・ｃｍ程度、吸収波長は５５２ｎｍである。
【００６６】
【化３０】
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【００６７】
【化３１】
2004205290.tif 000033
【００６８】
メチレンブルーは化３２に示した構造を有し、化３３に示したようにＲｅＯ4-（Ｒｅはレニウム元素を表す）とイオン対を形成すると共に、アニオン性の保持体１１に吸着あるいは結合する。化３３においてＭＢ+ はメチレンブルーを表す。メチレンブルーとＲｅＯ4-とのイオン対のモル吸光係数εは１．１×１０5 ｄｍ3 ／ｍｏｌ・ｃｍ程度である。
【００６９】
【化３２】
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【００７０】
【化３３】
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【００７１】
なお、化合物１３は１種類を用いるようにしてもよいが、２種以上を混合して用いてもよい。その場合、例えば、ポルフィリンを複数種用いてもよく、ポルフィリンと他の配位子とを混合して用いてもよい。
【００７２】
図３は図１および図２に示した分析用部材１０の一製造方法を表すものである。まず、保持体１１を成形し（ステップＳ１０１）、必要に応じて、例えばウェル１２の内壁面１２Ａおよび底面１２Ｂをアニオン性あるいはカチオン性とする処理を行う（ステップＳ１０２）。この処理は、保持体１１をガラスあるいはスルホ基を有するフッ素系の材料などのアニオン性あるいはカチオン性を有する材料により構成する場合には必要ないが、アニオン性あるいはカチオン性を有さない高分子材料により構成した場合には行う必要がある。
【００７３】
例えば、保持体１１を高分子材料により構成し、その表面にスルホ基を導入する場合には、濃硫酸をウェル１２に入れ、室温あるいは加熱した状態で数時間保持する。ヒドロキシ基を導入する場合には、例えば、上述したようにしてスルホン化したのち、水酸化ナトリウムあるいは水酸化カリウムで処理し、塩酸で中和する。カルボキシ基を導入する場合には、例えば、上述したようにしてヒドロキシ基を導入したのち、二酸化炭素と反応させる。なお、ヒドロキシ基あるいはカルボキシ基を導入する場合には、保持体１１に大気中で紫外線照射、レーザ照射、あるいは放射線照射などの処理を行うようにしてもよい。更に、保持体１１をポリエチレンあるいはポリプロピレンなどのオレフィンにより構成する場合には、三酸化クロムと水と硫酸との混合液で処理したのちに硝酸で処理することにより、ヒドロキシ基あるいはカルボキシ基を導入するようにしてもよい。また、第４級アンモニウム基あるいはホスホニウム基を導入する場合には、例えば、高分子材料をクロロメチル化したのちに第４級アンモニウム塩あるいはホスホニウム塩と反応させる。
【００７４】
次いで、保持体１１を蒸留水で洗浄したのち（ステップＳ１０３）、ウェル１２に化合物１３を含む水溶液を入れて例えば室温で数分間〜数時間保持し、内壁面１２Ａおよび底面１２Ｂに化合物１３を吸着あるいは結合させる（ステップＳ１０４）。これにより、図１および図２に示した分析用部材１０が得られる。
【００７５】
図４は図１に示した分析用部材１０を用いた本発明の一実施の形態に係る分析装置の構成を表すものである。この分析装置は、分析用部材１０と、分析用部材１０にレーザー光などの光を照射する照射部２０と、照射部２０から照射された光の分析用部材１０による変化を検出する検出部３０と、検出部３０で検出した結果を処理し表示する処理部４０と、操作を制御する制御部５０とを備えている。また、照射部２０と分析用部材１０と検出部３０とは、外来光が入らないように遮光板により囲まれた測光室６０の内部に設けられている。
【００７６】
照射部２０は、複数の波長のレーザー光などを選択的に照射することができる光源２１を有している。光源２１は１つでもよいが、分析用部材１０のウェル１２に合わせて複数設けられていてもよい。その場合、全てのウェル１２に対応して設けられていてもよいが、例えば列に対応して設けられており、同一列のウェル１２に同時に光を照射しつつ、光源２１あるいは分析用部材１０を移動させて全てのウェル１２に光を照射するようにしてもよい。光源２１には例えば制御部５０が接続されており、制御部５０から指示により波長が選択される。光源２１から出射された光は、プリズム２２で調整されたのち、レンズ２３で集光されて分析用部材１０に照射されるようになっている。なお、特定の金属イオンの分析のみを目的とする場合には、その測定に用いる特定の波長のみを照射する光源２１を用いてもよい。
【００７７】
検出部３０は、照射部２０から照射された光の変化として、金属イオンが固定された分析用部材１０の吸収スペクトルを検出するようにしてもよく、また蛍光スペクトルを検出するようにしてもよく、さらに発光スペクトルを検出するようにしてもよい。検出部３０は、例えば、金属イオンを固定した分析用部材１０を透過した光あるいは金属イオンを固定した分析用部材１０で発生した光を集光する対物レンズ３１と、対物レンズ３１で集められた光をフィルタ３２を介して受光する受光器３３とを有している。受光器３３は例えばフォトダイオードにより構成されており、例えば光源２１が複数設けられている場合には、それに対応して複数設けられている。受光器３３は、複数の波長を検出できるものでもよく、特定の金属イオンの分析のみを目的とする場合には、その測定に用いる特定の波長のみを検出するものでもよい。なお、図４では、検出部３０を分析用部材１０を介して照射部２０と対向する位置に配置するようにしたが、蛍光あるいは発光を検出する場合には、それらを測定可能な他の位置に配置するようにしてもよい。また、吸収を検出する場合でも、図示しない反射板などを用い、検出部３０を他の位置に配置するようにしてもよい。
【００７８】
処理部４０は、検出部３０からの出力信号を増幅し、波形整形あるいはパルス信号への変換などを行う変換部４１と、変換部４１から出力された検出結果を表示するディスプレイあるいはプリンタなどの表示部４２とを有している。更に、所定の波長における標準試料の吸収強度、蛍光強度あるいは発光強度を記憶しておき、その波長における分析試料の強度と比較して、分析試料に含まれる特定の金属イオンの濃度を算出する算出部４３を有していてもよい。
【００７９】
図５は図４に示した分析装置を用いた本発明の一実施の形態に係る金属イオンの分析方法である。ここでは、化合物１３として化７および化８に示したＴ（４−ＭＰｙ）Ｐを用い、鉛イオン（Ｐｂ2+）を測定する場合について具体的に説明する。
【００８０】
まず、分析用部材１０のウェル１２にｐＨ緩衝溶液として四ホウ酸ナトリウム水溶液を入れ、ｐＨが８以上となるように調整する（ステップＳ２０１）。Ｔ（４−ＭＰｙ）Ｐと鉛イオン（Ｐｂ2+）との反応はｐＨ８以上において安定して進行するからである。次いで、ウェル１２に分析試料を入れる（ステップＳ２０２）。
【００８１】
続いて、必要に応じて、ウェル１２に妨害金属イオンを除去するためのマスクキング剤を入れる（ステップＳ２０３）。例えば、カドミウムイオン（Ｃｄ2+）を除去する場合にはビス（２−ヒドロキシエチル）ジチオカルバミン酸塩を用い、銅イオン（Ｃｕ2+）およびニッケルイオン（Ｎｉ2+）を除去する場合にはチオシアン酸カリウムを用い、鉄イオン（Ｆｅ2+，Ｆｅ3+）を除去する場合にはクエン酸ナトリウムを用いる。
【００８２】
そののち、分析用部材１０を例えばウォータバスなどで６０℃程度に加熱し、Ｔ（４−ＭＰｙ）Ｐと鉛イオン（Ｐｂ2+）とを反応させ、鉛イオン（Ｐｂ2+）を保持体１１に固定する（ステップＳ２０４）。その際、加熱しなくても反応は進行するが、加熱した方が短時間で反応するので好ましい。鉛イオン（Ｐｂ2+）を保持体１１に固定したのち、分析試料が白濁している場合などには、必要に応じて、ウェル１２内の分析試料を蒸留水により洗浄除去する（ステップＳ２０５）。本実施の形態では、分析対象である鉛イオン（Ｐｂ2+）は保持体１１に固定されるので、それにより鉛イオン（Ｐｂ2+）が存在しなくなった分析試料は除去しても問題がないからである。なお、分析試料をウェル１２に入れる前に、前処理を行い沈殿物をろ過により除去するようにしてもよい。
【００８３】
必要に応じて分析試料を除去したのち、ウェル１２に照射部２０から光を照射して、検出部３０により鉛イオン（Ｐｂ2+）を固定した保持体１１の吸収スペクトル、蛍光スペクトル、あるいは発光スペクトルを検出する（ステップＳ２０６）。その際、ステップＳ２０６の測定に要する時間は数秒程度であり、ステップＳ２０１〜ステップＳ２０６までに要する時間は数分〜３０分程度と極めて短時間である。
【００８４】
図６にＴ（４−ＭＰｙ）Ｐの吸光スペクトルおよびＴ（４−ＭＰｙ）Ｐの鉛錯体の吸収スペクトルを示す。図６に示したように、Ｔ（４−ＭＰｙ）Ｐの吸収スペクトルは４２３ｎｍ、その鉛錯体の吸収スペクトルは４７８ｎｍと比較的分離している。よって、鉛錯体の吸収スペクトルを測定することにより、容易に鉛イオン（Ｐｂ2+）の含有量が求められる。鉛イオン（Ｐｂ2+）の含有量は、鉛錯体の吸収スペクトルの強度から算出部４３により算出するようにしてもよく、表示部４２に表示された鉛錯体の吸収スペクトルの強度から、予め求めておいた検量線に基づき算出するようにしてもよい。
【００８５】
鉛イオン（Ｐｂ2+）の測定が終了したのち、分析用部材１０を例えば塩酸および蒸留水で洗浄する（ステップＳ２０７）。これにより、鉛イオン（Ｐｂ2+）は保持体１１から離れ、洗い流される。なお、化合物１３は保持体１１に吸着あるいは結合した状態で保持される。よって、ステップＳ２０１〜ステップＳ２０７を繰り返すことにより、同一の分析用部材１０を用い、新しい分析試料について順次分析が行える。
【００８６】
なお、カドミウムイオン（Ｃｄ2+）、コバルトイオン（Ｃｏ2+）、銅イオン（Ｃｕ2+）、パラジウムイオン（Ｐｄ2+）、および亜鉛イオン（Ｚｎ2+）などの他の金属イオンを分析する場合にも、同様にして分析することができる。但し、これらの錯体は、鉛錯体ほど吸収スペクトルがＴ（４−ＭＰｙ）Ｐと分離していないので、遊離のＴ（４−ＭＰｙ）Ｐを鉛錯体として吸収スペクトルを分離するようにしてもよい（例えば、非特許文献１参照。）。
【００８７】
また、化合物１３として他のポルフィリンまたは他の配位子を用る場合についても、同様にしてウェル１２に分析試料を入れ、金属イオンを固定させて、その吸収スペクトル、蛍光スペクトル、あるいは発光スペクトルを検出することにより、それらと錯体あるいはイオン対を形成する金属イオンの測定をすることができる。
【００８８】
次に、本分析方法を用いたセラミックスの製造方法について説明する。まず、原料粉末を混合してセラミックスを焼成する。セラミックスとしては、例えば、チタン酸バリウムを含むもの、あるいはフェライトが挙げられるが、これ以外のセラミックスについても広く適用可能である。また、必要に応じて、仮焼成工程、粉砕・造粒工程、あるいは成形工程などを行うようにしてもよい。
【００８９】
次いで、焼成したセラミックスの少なくとも一部を溶液に溶解して分析試料を作製する。その際、焼成したセラミックスの１個体ごとに分析試料を作製してもよいが、複数の個体ごとに１個の割合で抜き出して一定の割合で間欠的に分析試料を作製するようにしてもよい。
【００９０】
続いて、必要に応じて分析試料について前処理を行い、妨害イオンを除去する。例えば、チタン酸バリウムを含むセラミックスの分析を行う際には、このセラミックス１ｇに塩酸２５ｍｌと過酸化水素水８ｍｌとを加え、６０℃で３０分間加熱して溶解させたのち、１００ｍｌとなるまで蒸留水を加えたものを分析試料とするが、本分析方法では測定時のｐＨを８以上とするので、チタンイオンが沈殿する場合がある。そこで、チタンイオンの沈殿を防止するために、過酸化水素水の量を増加したり、フッ化物イオン（Ｆ- ）を添加するなどの処理を行ってもよい。
【００９１】
そののち、図５に示したステップＳ２０１〜ステップＳ２０６に従って、分析試料に含まれる特定の金属イオンの含有量を分析し、セラミックスに含まれる特定の金属の含有量を測定する。その結果、特定の金属の含有量が基準値以下であれば良と判断し、基準値を超えれば不良と判断して、分別する。
【００９２】
このように本実施の形態によれば、金属イオンと錯体あるいはイオン対を形成し得る化合物１３を保持体１１に吸着あるいは結合させた分析用部材１０を用いるようにしたので、ウェル１２に分析試料などを入れ、錯体あるいはイオン対を形成させることにより、金属イオンを分析用部材１０に容易に固定させることができる。よって、例えば、金属イオンを固定した分析用部材１０に光を照射し、その光の変化を検出することにより、短時間で容易に金属イオンを分析することができる。また、検出試薬である化合物１３を一つ一つの分析試料ごとに毎回添加する必要がなくなり、簡単に分析することができる。更に、検出試薬である化合物１３を消費しないので、１つの分析用部材１０を新しい分析試料の測定に繰り返し用いることができる。
【００９３】
特に、複数のウェル１２が設けられたマイクロプレートを用いるようにすれば、９６個のウェル１２があるマイクロプレートの場合には最大９６試料の測定を数秒で行うことができ、３８４個のウェル１２があるマイクロプレートの場合には最大３８４試料の測定を数秒で行うことができる。また、マイクロプレートの測定を行う分析装置は安価であり、排気設備も不要であるので、簡単に安い費用でどこでも分析することができる。
【００９４】
また、化合物１３としてポルフィリンを用いるようにすれば、モル吸光係数εが大きいので、数ｐｐｂから数百ｐｐｂの微量金属イオンを高い精度で検出することができる。
【００９５】
（変形例）
上記実施の形態では、分析用部材１０をいわゆるマイクロプレートにより構成する場合について説明したが、例えば、薄板状などの他の形状を有するようにしてもよい。例えば、薄板状とする場合には、分析用部材の少なくとも一部に化合物１３を吸着あるいは結合させておき、その部分を分析試料の中に浸漬させることにより、金属イオンを固定させるようにすれば、同様にして分析することができる。
【００９６】
【実施例】
更に、本発明の具体的な実施例について説明する。
【００９７】
（実施例１）
まず、保持体１１として市販されている図１に示したようなポリスチレン製のマイクロプレートを用意し（ステップＳ１０１；図３参照）、ウェル１２に濃硫酸０．２ｍｌを入れ、７０℃で４時間保持して内壁面１２Ａおよび底面１２Ｂのスルホン化を行った（ステップＳ１０２；図３参照）。次いで、蒸留水でよく洗浄した（ステップＳ１０３；図３参照）。続いて、ウェル１２に化７および化８に示したＴ（４−ＭＰｙ）Ｐの１．０×１０-4ｍｏｌ／ｌ水溶液を０．２ｍｌ入れ、室温で３０分間放置して、検出試薬である化合物１３としてＴ（４−ＭＰｙ）Ｐを吸着あるいは結合させた（ステップＳ１０４；図３参照）。そののち、蒸留水で良く洗浄し（ステップＳ１０５；図３参照）、分析用部材１０とした。
【００９８】
また、鉛イオン（Ｐｂ2+）の分析試料として、市販されている原子吸光測定用の標準溶液（Ｐｂ2+：１０００質量ｐｐｍ）に硝酸を加え、それを水道水で１．０質量ｐｐｍに希釈したものを用意した。
【００９９】
次いで、分析用部材１０の２０個のウェル１２それぞれに、ｐＨ緩衝溶液として０．１ｍｏｌ／ｌの四ホウ酸ナトリウム水溶液０．０５ｍｌを入れたのち（ステップＳ２０１；図５参照）、用意した分析試料０．０５ｍｌ、および鉄イオン（Ｆｅ2+，Ｆｅ3+）のマスキング剤として０．１ｍｏｌ／ｌのクエン酸ナトリウム水溶液０．０５ｍｌを添加した（ステップＳ２０２，Ｓ２０３；図５参照）。続いて、分析試料を入れた分析用部材１０をウォーターバスにより約６０℃で５分間加熱し、分析試料に含まれる鉛イオン（Ｐｂ2+）を固定した（ステップＳ２０４；図５参照）。
【０１００】
そののち、鉛イオン（Ｐｂ2+）を固定した分析用部材１０について、コロナ電気株式会社製のマイクロプレートリーダー「ＭＴＰ−５００」を用い、波長４８０ｎｍの吸光度を測定して、鉛イオン（Ｐｂ2+）の濃度を求めた（ステップＳ２０６；図５参照）。表１にその結果を示す。なお、ステップＳ２０６において分析装置により２０個の分析試料を測定するのに要した時間は５秒であり、ステップＳ２０１〜ステップＳ２０６における分析試料のサンプリングから測定までに要した時間は２０分であった。
【０１０１】
【表１】
2004205290.tif 000036
【０１０２】
本実施例に対する比較例１として、実施例１と同一の分析試料を２０個用意し、原子吸光分析法で鉛イオン（Ｐｂ2+）の濃度を分析した。その結果を表１に合わせて示す。なお、２０個の分析試料を原子吸光分析法で測定するのに要した時間は５分であり、サンプリングから測定までに要した時間は２時間であった。
【０１０３】
本実施例に対する比較例２として、実施例１と同一の分析試料を２０個用意し、非特許文献４に従い、化７および化２３に示したＴ（４−ＳＥＰｙ）Ｐを検出試薬として用いて、フローインジェクション分析法により鉛イオン（Ｐｂ2+）の濃度を分析した。その結果も表１に合わせて示す。なお、２０個の分析試料をフローインジェクション分析法で測定するのに要した時間は１時間であり、サンプリングから測定までに要した時間は３時間であった。
【０１０４】
表１から分かるように、実施例１によれば、比較例１，２と同様にばらつきの小さい良好な結果が得られ、かつ比較例１，２に比べて分析に要する時間が大幅に短かった。すなわち、本発明の分析用部材１０を用いるようにすれば、金属イオンを高い精度で分析することができると共に、分析時間を大幅に短縮できることが分かった。
【０１０５】
（実施例２）
実施例１と同様の標準溶液を希釈して、鉛イオン（Ｐｂ2+）の濃度を変化させた７個の分析試料を作製した。作製した分析試料について、実施例１と同様の分析用部材１０を用い、実施例１と同様にして鉛イオン（Ｐｂ2+）の濃度を求めた。その結果を図７に示す。
【０１０６】
図７に示したように、７．５×１０-7ｍｏｌ／ｌ（１５５質量ｐｐｂ）〜１．０×１０-4ｍｏｌ／ｌ（２１質量ｐｐｍ）の範囲で良好な直線関係が得られた。その相関係数は０．９９であった。検出限界はブランク値の３σn-1 とし、その値は５．０×１０-7ｍｏｌ／ｌ（１０４質量ｐｐｂ）であった。
【０１０７】
また、得られた検量線の中央値の濃度に調整した９６個の分析試料を用意し、同様にして鉛イオン（Ｐｂ2+）の濃度を求めたところ、その相対標準偏差は４．０４％と十分に小さかった。なお、分析装置により９６個の分析試料を測定するのに要した時間は、実施例１と同様にわずか５秒であり、分析試料のサンプリングから測定までに要した時間も２０分であった。
【０１０８】
すなわち、ポルフィリンを保持体１１に吸着あるいは結合させた分析用部材１０を用いるようにすれば、１００ｐｐｂ程度の微量金属イオンについても、高い精度でかつ短い時間で簡単に分析できることが分かった。
【０１０９】
（実施例３）
１つの分析用部材１０で何回まで鉛イオン（Ｐｂ2+）の定量が可能かを検討した。分析用部材１０には実施例１と同様のものを用い、分析試料には実施例１と同様の標準溶液に硝酸を加えて鉛イオン（Ｐｂ2+）の濃度を１．０×１０-4ｍｏｌ／ｌに希釈したものを用いた。実験は、分析用部材１０のウェル１２に０．１ｍｏｌ／ｌの四ホウ酸ナトリウム水溶液０．０５ｍｌおよび分析試料０．０５ｍｌを入れ、約６０℃で１０分間加熱し、実施例１と同様にしてマイクロプレートリーダーで吸光度を測定したのち、０．１ｍｏｌ／ｌの塩酸および蒸留水で洗浄するという工程を１０回繰り返した。すなわち、図５に示したステップＳ２０１〜ステップＳ２０７を１０回繰り返した。その結果を表２に示す。
【０１１０】
【表２】
2004205290.tif 000037
【０１１１】
表２から分かるように、鉛イオン（Ｐｂ2+）の濃度は１０回の測定までほぼ一定であった。すなわち、化合物１３を保持体１１吸着あるいは結合させた分析用部材１０は、検出試薬である化合物１３を添加しなくても、繰り返し用いることができることが分かった。
【０１１２】
（実施例４）
化合物１３としてカチオン性のポルフィリンである化７および化９に示したＴ（３−ＭＰｙ）Ｐを用い、カドミウムイオン（Ｃｄ2+）の分析を行った。分析用部材１０は、化合物１３をＴ（３−ＭＰｙ）Ｐとしたことを除き、実施例１と同様にして作製した。カドミウムイオン（Ｃｄ2+）の分析試料は、市販されている原子吸光測定用の標準溶液（Ｃｄ2+：１０００質量ｐｐｍ）に硝酸を加え、それを水道水で１．０質量ｐｐｍに希釈したものを用意した。作製した分析試料について、作製した分析用部材１０を用い、吸光度の測定波長を４４１ｎｍとしたことを除き、実施例１と同様にしてカドミウムイオン（Ｃｄ2+）の濃度を求めた。その結果を実施例１の結果と共に表３に示す。
【０１１３】
【表３】
2004205290.tif 000038
【０１１４】
表３から分かるように、実施例４によれば、実施例１と同様にばらつきの小さい良好な結果が得られ、かつ分析に要する時間も短かった。すなわち、本発明の分析用部材１０を用いるようにすれば、鉛イオン（Ｐｂ2+）以外の他の金属イオンについても、高い精度でかつ短時間で簡単に分析できることが分かった。
【０１１５】
（実施例５〜７）
保持体１１の構成材料を変えたことを除き、実施例１と同様にして鉛イオン（Ｐｂ2+）の分析を行った。保持体１１には、実施例５では市販されているガラス製のマイクロプレートを用い、実施例６では市販されているポリプロピレン製のマイクロプレートを用い、実施例７では試作したポリカーボネート製のマイクロプレートを用いた。なお、実施例５ではウェル１２をアニオン性とする処理を行う必要がないので、その処理を省略した。表４に実施例５〜７の結果を実施例１の結果と共に示す。
【０１１６】
【表４】
2004205290.tif 000039
【０１１７】
表４から分かるように、実施例５〜７についても、実施例１と同様にばらつきの小さい良好な結果が得られ、かつ分析に要する時間も短かった。すなわち、保持体１１を他の材料で構成しても、同様に高い精度でかつ短時間で簡単に分析できることが分かった。
【０１１８】
（実施例８，９）
保持体１１がカチオン性を有し、化合物１３がアニオン性を有する材料で分析用部材１０を作製したことを除き、実施例１と同様にして鉛イオン（Ｐｂ2+）の分析を行った。実施例８では、ポリスチレンに第４級アンモニウム基を結合させたアニオン交換樹脂により保持体１１を作製し、ウェル１２に化７および化１３に示したＴ（４−ＳＰ）Ｐの１．０×１０-4ｍｏｌ／ｌ水溶液を０．２ｍｌ入れ、室温で３０分間放置して化合物１３であるＴ（４−ＳＰ）Ｐを吸着あるいは結合させたのち、蒸留水で良く洗浄することにより分析用部材１０を作製した。実施例９では、ポリスチレン製のマイクロプレートをホスホニウム塩化したものを保持体１１としたことを除き、実施例８と同様にして分析用部材１０を作製した。測定波長は実施例８，９共に４６４ｎｍとした。表５に実施例８，９の結果を実施例１の結果と共に示す。
【０１１９】
【表５】
2004205290.tif 000040
【０１２０】
表５から分かるように、実施例８，９についても、実施例１と同様にばらつきの小さい良好な結果が得られ、かつ分析に要する時間も短かった。すなわち、保持体１１をカチオン性を有し、化合物１３をアニオン性としても、同様に高い精度でかつ短時間で簡単に分析できることが分かった。
【０１２１】
（実施例１０）
実施例１と同様の分析用部材１０を用い、白濁した分析試料について鉛イオン（Ｐｂ2+）の分析を行った。分析試料には、実施例１と同様の標準溶液に硝酸を加え、それを牛乳で希釈し、鉛イオン（Ｐｂ2+）の濃度を１．０質量ｐｐｍとしたものを用いた。この分析試料を実施例１と同様にしてウェル１２に入れ、分析試料に含まれる鉛イオン（Ｐｂ2+）を固定させたのち、ウェル１２内の分析試料を捨てて水で洗浄し（ステップＳ２０５；図５参照）、実施例１と同様にして吸光度を測定した。表６に実施例１０の結果を実施例１の結果と共に示す。
【０１２２】
【表６】
2004205290.tif 000041
【０１２３】
表６から分かるように、実施例１０によれば、実施例１と同様にばらつきの小さい良好な結果が得られ、かつ分析に要する時間も短かった。すなわち、本発明の分析用部材１０を用いるようにすれば、白濁した分析試料についても、高い精度でかつ短時間で簡単に分析できることが分かった。
【０１２４】
以上、実施の形態および実施例を挙げて本発明を説明したが、本発明は、上記実施の形態および実施例に限定されるものではなく、種々変形することができる。例えば、上記実施の形態および実施例では、保持体１１および化合物１３を構成する材料について具体的に例を挙げて説明したが、保持体１１の少なくとも一部に化合物１３を吸着あるいは結合させることができれば、他の材料を用いてもよい。
【０１２５】
また、上記実施の形態および実施例では、分析用部材１０の形状、および分析装置の構成について具体的に例を挙げて説明したが、他の形状および構成を有するようにしてもよい。
【０１２６】
更に、上記実施の形態および実施例では、金属イオンの分析方法について具体的に例を挙げて説明したが、必ずしも全ての工程を含む必要はなく、また、他の工程を含んでいてもよい。加えて、上記実施の形態では、本発明の分析方法をセラミックスの製造方法に用いる場合について説明したが、他の材料の製造方法、例えば、希土類磁石材料あるいは磁歪材料などの金属材料の製造方法についても適用することができる。
【０１２７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明による分析用部材、または分析装置、または分析方法によれば、金属イオンと錯体あるいはイオン対を形成し得る化合物を保持体に吸着あるいは結合させるようにしたので、分析試料に含まれる金属イオンを、錯体あるいはイオン対の形成により分析用部材に容易に固定させることができる。よって、例えば、金属イオンを固定した分析用部材に光を照射し、その光の変化を検出することにより、短時間で容易に金属イオンを分析することができる。また、検出試薬である化合物を一つ一つの分析試料ごとに毎回添加する必要がなくなり、簡単に分析することができる。更に、検出試薬である化合物を消費しないので、１つの分析用部材を新しい分析試料の測定に繰り返し用いることができる。
【０１２８】
特に、この化合物としてポルフィリンを用いた上述の分析用部材、または分析装置、または分析方法によれば、モル吸光係数εを大きくすることができ、数ｐｐｂから数百ｐｐｂの微量金属イオンを高い精度で検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態に係る分析用部材の構成を表す部分断面斜視図である。
【図２】図１に示した分析用部材のウェルの構成を表す断面図である。
【図３】図１に示した分析用部材の一製造方法を表す流れ図である。
【図４】図１に示した分析用部材を用いた本発明の一実施の形態に係る分析装置を表す構成図である。
【図５】図４に示した分析装置を用いた金属イオンの分析方法を表す流れ図である。
【図６】Ｔ（４−ＭＰｙ）Ｐの吸光スペクトルおよびＴ（４−ＭＰｙ）Ｐの鉛錯体の吸収スペクトルを表す特性図である。
【図７】Ｔ（４−ＭＰｙ）Ｐを用いた鉛イオンの濃度と波長４８０ｎｍにおける吸光度との関係を表す特性図である。
【符号の説明】
１０…分析用部材、１１…保持体、１２…ウェル、１２Ａ…内壁面、１２Ｂ…底面、１３…化合物、２０…照射部、２１…光源、２２…プリズム、２３…レンズ、３０…検出部、３１…対物レンズ、３２…フィルタ、３３…受光器、４０…処理部、４１…変換部、４２…表示部、４３…算出部、５０…制御部、６０…測光室。
【図１】
2004205290.tif 000042
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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