(57)【要約】【課題】検査回路のリーク量を低減すると共に回路規模を削減する。【解決手段】アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７はデータ線３−１〜３−３と検査線Ｔ１〜Ｔ３との間に接続される。検査時において、アナログスイッチＡＳＷ１、ＡＳＷ２はオンとなり選択信号ＳＥＬ及び反転選択信号ＳＥＬＸをアナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７の制御端子に供給する。一方、非検査時にアナログスイッチＡＳＷ１、ＡＳＷ２はオフとなるが、アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７の制御端子はアナログスイッチＡＳＷ３、ＡＳＷ４を介して高電位電源ＶＤＤ又は低電位電源ＶＳＳに接続されるので、アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７は確実にオフとなる。【選択図】      図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の走査線と、複数のデータ線と、前記走査線と前記データ線との交差に対応してマトリックス状に配置されたスイッチング素子とを備える電気光学パネルに用いる検査回路であって、
検査信号を供給するための検査線と、
前記走査線又は前記データ線と前記検査線との間に接続された分離スイッチと、
選択信号が一方の入出力端子に供給され、他方の入出力端子が信号線を介して前記分離スイッチの制御端子に接続される選択スイッチと、
前記選択スイッチの制御端子に接続され、検査時に前記選択スイッチをオンし非検査時に前記選択スイッチをオフする制御信号を供給するための制御線と、
前記分離スイッチをオフする電位が供給される配線と前記信号線との間に接続され、前記選択スイッチとは排他的にオン・オフする補助スイッチと
を備えたことを特徴とする検査回路。
【請求項２】
前記配線は、電源を供給する電源ラインであることを特徴とする請求項１に記載の検査回路。
【請求項３】
前記配線は、前記制御線であることを特徴とする請求項１に記載の検査回路。
【請求項４】
所定の電位が供給される電位線と前記検査線との間に接続され、検査時にオフとなり非検査時にオンとなる検査線スイッチを備えたことを特徴とする請求項１乃至３のうちいずれか１項に記載の検査回路。
【請求項５】
前記検査線スイッチの制御端子は前記制御線に接続されることを特徴とする請求項４に記載の検査回路。
【請求項６】
複数の走査線と、複数のデータ線と、前記走査線と前記データ線との交差に対応してマトリックス状に配置されたスイッチング素子とを備える電気光学パネルに用いる検査回路であって、
検査信号を供給するための検査線と、
前記走査線又は前記データ線と前記検査線との間に接続され、検査時にオンとなり、非検査時にオフとなる分離スイッチと、
所定の電位が供給される電位線と前記検査線との間に接続され、検査時にオフとなり非検査時にオンとなる検査線スイッチと
を備えたことを特徴とする検査回路。
【請求項７】
前記複数の走査線、前記複数のデータ線、及び前記スイッチング素子が形成される素子基板と、共通電極を有する対向基板と、前記素子基板と前記対向基板との間に電気光学物質を挟持してなる電気光学パネルに用いられる検査回路であって、
前記所定の電位は前記共通電極の電位であることを特徴とする請求項４乃至６のうちいずれか１項に記載の検査回路。
【請求項８】
前記共通電極の電位は、基準電位を中心に所定周期で反転することを特徴とする請求項７に記載の検査回路。
【請求項９】
請求項１乃至８のうちいずれか１項に記載した検査回路を備えたことを特徴とする電気光学パネル。
【請求項１０】
請求項９に記載の電気光学パネルを備えたことを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気光学パネルの検査に関する技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶パネルは素子基板と対向基板を備える。対向基板には共通電極が形成される一方、素子基板には走査線やデータ線の他にデータ線の断線・短絡の検査を行うために検査回路が設けられることがある（例えば、特許文献１及び特許文献２参照）。
【０００３】
図１０は、検査回路を備えた素子基板のブロック図である。素子基板には、複数の走査線２と複数のデータ線３とが形成される。そして、走査線２とデータ線３との交差に対応して、各画素Ｐがマトリックス状に形成される。データ線３の一端は、サンプリングスイッチＳＷに接続される一方、その他端は検査回路３００Ｄに接続される。
【０００４】
検査回路３００Ｄは、アナログスイッチＳＷＡ及びアナログスイッチＳＷＢを備える。アナログスイッチＳＷＢには制御信号Ｃが供給され、アナログスイッチＳＷＢがオン状態になると、検査回路とデータ線３とが接続される。一方、アナログスイッチＳＷＢがオフ状態になると、検査回路３００Ｄとデータ線３とが非接続となる。データ線３の検査はアナログスイッチＳＷＢをオン状態にして実行し、通常の動作状態ではアナログスイッチＳＷＢをオフ状態にする。
【０００５】
また、アナログスイッチＳＷＡの制御端子には選択信号Ｓが供給され、選択信号のアクティブ期間に検査線とデータ線３とが接続される。このとき、サンプリングスイッチＳＷをオン状態にすることによって、検査線→アナログスイッチＳＷＡ→アナログスイッチＳＷＢ→データ線３→サンプリングスイッチＳＷ→信号線の経路が形成される。この経路によって断線を知ることができる。
【０００６】
【特許文献１】
特開平１１−２７１８０６号公報（図５及び図６）
【０００７】
【特許文献２】
特開平５−３０７１６７号公報（図１）
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
液晶パネルにおける画像表示では、走査線を介して走査信号を印加すると、当該走査線に接続される各ＴＦＴがオン状態となる。ある走査線が選択されている期間に、各サンプリングスイッチを順次オン状態にすると、各データ線を介して、各画素電極に画像信号が順次印加され、当該画素電極及び共通電極（共通電極）の間の液晶層に所定の電荷が蓄積される。そして、サンプリングスイッチＳＷがオフ状態となって走査信号が非アクティブになると、書き込みが終了する。このような走査方式は点順次方式と呼ばれる。
【０００９】
点順次方式には、サンプリングスイッチＳＷによって信号線の電圧をサンプリングしてから、走査信号が非アクティブになり書き込みが終了するまでにタイムラグがある。この期間にデータ線と検査回路３００Ｄとの間で電荷のリークが起こり、書き込み電圧が変動する可能性がある。データ線と検査回路との間のリーク量は、アナログスイッチＳＷＡ及びＳＷＢのオフ抵抗が小さくなる程、増加する。オフ抵抗は、スイッチを構成するＴＦＴのソース・ドレイン間の電位差に依存する。非検査時において、アナログスイッチＳＷＢの検査回路側端子より検査回路側はフローティング状態となり、その電位が定まらない。従って、従来の液晶パネルにおいては、リーク量が大きくなり、表示画像の品質が劣化するといった問題があった。
【００１０】
また、液晶に直流電圧を印加すると組成が変化していわゆる焼付けを起こすため、交流電圧を印加して駆動する交流駆動によって液晶を駆動するのが一般的である。交流駆動には、共通電極の電位を一定にしてデータ線の電位を所定周期で反転させる方法と、共通電極の電位を所定周期で反転させる方法とがある。特に、後者の駆動方法を採用すると、アナログスイッチＳＷＢを構成するＴＦＴのソース・ドレイン間の電位差が大きくなり、リーク量が大きくなるといった問題があった。
【００１１】
さらに、検査時においては、アナログスイッチＳＷＡ及びＳＷＢの抵抗値を下げる必要があるが、アナログスイッチＳＷＡ及びＳＷＢを構成するトランジスタのチャネル幅を広くする必要があり、検査回路の回路規模が大きくなるといった問題があった。
【００１２】
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、簡易な構成で電荷のリーク量を抑圧できる検査回路及び電気光学パネル等を提供することを課題とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明に係る検査回路は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記走査線と前記データ線との交差に対応してマトリックス状に配置されたスイッチング素子とを備える電気光学パネルに用いるものであって、検査信号を供給するための検査線と、前記走査線又は前記データ線と前記検査線との間に接続された分離スイッチと、選択信号が一方の入出力端子に供給され、他方の入出力端子が信号線を介して前記分離スイッチの制御端子に接続される選択スイッチと、前記選択スイッチの制御端子に接続され、検査時に前記選択スイッチをオンし非検査時に前記選択スイッチをオフする制御信号を供給するための制御線と、前記分離スイッチをオフする電位が供給される配線と前記信号線との間に接続され、前記選択スイッチとは排他的にオン・オフする補助スイッチとを備える。
【００１４】
この発明によれば、検査信号は分離スイッチを介して走査線又はデータ線に供給されるから、オン抵抗値を下げることができる。また、補助スイッチは、選択スイッチと排他的にオン・オフするから、選択スイッチがオフとなる非検査時においてオンとなる。このため、非検査時において信号線の電位は分離スイッチをオフする電位となる。従って、非検査時に分離スイッチの制御端子はフローティング状態となることはなく、分離スイッチは確実にオフとなる。これにより、検査回路に流れ込む電荷のリーク量を減少させることが可能となる。さらに、選択スイッチ及び補助スイッチは、分離スイッチの制御端子の電位を制御できれば十分であり、そこに検査信号が流れることはない。従って、選択スイッチ及び補助スイッチを構成するトランジスタサイズは極めて小さくてよい。これにより、検査回路の回路規模を大幅に削減することが可能となる。なお、分離スイッチ、選択スイッチ、及び補助スイッチは、スイッチング素子と同様の素子を用いて構成することができ、例えば、ＴＦＴを用いてもよい。
【００１５】
ここで、前記配線は、電源を供給する電源ラインであることが好ましい。電源ラインはローインピーダンスであるから、確実に分離スイッチをオフすることができる。また、前記配線は、前記制御線であることが好ましい。この場合には、制御線と配線とを兼用することができ、検査回路の回路規模を削減することが可能となる。
【００１６】
また、上述した検査回路は、所定の電位が供給される電位線と前記検査線との間に接続され、検査時にオフとなり非検査時にオンとなる検査線スイッチを備えることが好ましい。この場合には、非検査時において検査線に所定の電位を供給することができるから、検査回路に流れ込む電荷のリーク量を低減させることが可能となる。
【００１７】
ここで、前記検査線スイッチの制御端子は前記制御線に接続されることが好ましい。この場合には、制御線を介して制御信号を検査線スイッチに供給することができるので、別途、配線を設ける必要がなく回路規模を削減することができる。
【００１８】
次に、本発明に係る他の検査回路は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記走査線と前記データ線との交差に対応してマトリックス状に配置されたスイッチング素子とを備える電気光学パネルに用いるものであって、検査信号を供給するための検査線と、前記走査線又は前記データ線と前記検査線との間に接続され、検査時にオンとなり、非検査時にオフとなる分離スイッチと、所定の電位が供給される電位線と前記検査線との間に接続され、検査時にオフとなり非検査時にオンとなる検査線スイッチとを備える。この発明によれば、非検査時において検査線に所定の電位を供給することができるから、検査回路に流れ込む電荷のリーク量を低減させることが可能となる。
【００１９】
上述した検査回路は、前記複数の走査線、前記複数のデータ線、及び前記スイッチング素子が形成される素子基板と、共通電極を有する対向基板と、前記素子基板と前記対向基板との間に電気光学物質を挟持してなる電気光学パネルに用いられるものであるならば、前記所定の電位は前記共通電極の電位であることが望ましい。液晶等の電気光学物質は、直流電圧を印加すると組成が変化して、いわゆる焼き付きが発生する。このため、印加電圧を反転させる交流駆動によって駆動されるのが通常である。交流駆動には、基準電位を中心として共通電極の電位を所定周期で反転させる方法と、共通電極の電位を固定として、この電位を中心に画像信号の極性を所定周期で反転させる方法がある。いずれの方法でも、共通電極の電位は、中心電位となる。一方、電荷のリーク量は、分離スイッチのオフ抵抗と分離スイッチの入出力端子間の電位差とに依存する。この発明によれば、非検査時において、分離スイッチにおいて一方の入出力端子の電位を共通電極の電位にできるので、リーク量を低減させることが可能となる。ここで、前記共通電極の電位は、基準電位を中心に所定周期で反転するものであってもよい。
【００２０】
また、本発明に係る電気光学パネルは上述した検査回路を備える。さらに、本発明に係る電子機器は、上述した電気光学パネルを備える。例えば、液晶装置、ビデオカメラに用いられるビューファインダ、携帯電話機、ノート型コンピュータ、ビデオプロジェクタ等が該当する。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
＜１．第１実施形態＞
＜１−１：液晶装置の全体構成＞
図１は実施形態に係る液晶装置の全体構成を示すブロック図である。この液晶装置は、液晶パネルＡＡ、タイミング発生回路４００及び画像処理回路５００を備える。液晶パネルＡＡは、その素子基板上に画素領域Ａ、走査線駆動回路１００、データ線駆動回路２００及び検査回路３００Ａを備える。
【００２２】
この液晶装置に供給される入力画像データＤは、例えば、３ビットパラレルの形式である。タイミング発生回路４００は、入力画像データＤに同期してＹクロック信号ＹＣＫ、反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢ、Ｘクロック信号ＸＣＫ、反転Ｘクロック信号ＸＣＫＢ、Ｙ転送開始パルスＤＹ及びＸ転送開始パルスＤＸを生成して、走査線駆動回路１００及びデータ線駆動回路２００に供給する。また、タイミング発生回路４００は、画像処理回路５００を制御する各種のタイミング信号を生成しこれを出力する。
【００２３】
ここで、Ｙクロック信号ＹＣＫは、走査線２を選択する期間を特定し、反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢはＹクロック信号ＹＣＫの論理レベルを反転したものである。Ｘクロック信号ＸＣＫは、データ線３を選択する期間を特定し、反転Ｘクロック信号ＸＣＫＢはＸクロック信号ＸＣＫの論理レベルを反転したものである。
【００２４】
画像処理回路５００は、入力画像データＤに、液晶パネルＡＡの光透過特性を考慮したガンマ補正等を施した後、ＲＧＢ各色の画像データをＤ／Ａ変換して、画像信号Ｒ、Ｇ、Ｂを生成して液晶パネルＡＡに供給する。
【００２５】
次に、画素領域Ａには、図１に示されるように、ｍ（ｍは２以上の自然数）本の走査線２が、Ｘ方向に沿って平行に配列して形成される一方、３ｎ（ｎは１以上の自然数）本のデータ線３が、Ｙ方向に沿って平行に配列して形成されている。そして、走査線２とデータ線３との交差付近においては、ＴＦＴ５０のゲートが走査線２に接続される一方、ＴＦＴ５０のソースがデータ線３に接続されるとともに、ＴＦＴ５０のドレインが画素電極６に接続される。そして、各画素は、画素電極６と、対向基板に形成される共通電極（後述する）と、これら両電極間に挟持された液晶とによって構成される。この結果、走査線２とデータ線３との各交差に対応して、画素はマトリクス状に配列されることとなる。
【００２６】
説明を図１に戻す。ＴＦＴ５０のゲートが接続される各走査線２には、走査信号Ｙ１、Ｙ２、…、Ｙｍが、パルス的に線順次で印加されるようになっている。このため、ある走査線２に走査信号が供給されると、当該走査線に接続されるＴＦＴ５０がオンするので、データ線３から所定のタイミングで供給されるデータ線信号Ｘ１、Ｘ２、…、Ｘ３ｎは、対応する画素に順番に書き込まれた後、所定の期間保持されることとなる。
【００２７】
各画素に印加される電位レベルに応じて液晶分子の配向や秩序が変化するので、光変調による階調表示が可能となる。例えば、液晶を通過する光量は、ノーマリーホワイトモードであれば、印加電位が高くなるにつれて制限される一方、ノーマリーブラックモードであれば、印加電位が高くなるにつれて緩和されるので、液晶装置全体では、画像信号に応じたコントラストを持つ光が各画素毎に出射される。このため、所定の表示が可能となる。また、保持された画像信号がリークするのを防ぐために、蓄積容量５１が、画素電極６と共通電極との間に形成される液晶容量と並列に付加される。
【００２８】
＜１−２：検査回路の構成＞
図２は検査回路の構成を示すブロック図である。この図に示すように検査回路３００Ａには、開始パルスＳＰ、クロック信号ＣＬＫ、反転クロック信号ＣＬＫＸ、制御信号ＧＣ、反転制御信号ＧＣＸ、及び第１〜第３検査信号ＴＳ１〜ＴＳ３が供給される。制御信号ＧＣは、検査時においてハイレベルとなる一方、非検査時においてローレベルになる。反転制御信号ＧＣＸは制御信号ＧＣを反転したものである。第１〜第３検査信号ＴＳ１〜ＴＳ３は、検査線Ｔ１〜Ｔ３を介して各ユニットＵ１〜Ｕｎに供給される。
【００２９】
また、検査回路３００Ａはｎ個のユニットＵ１〜Ｕｎを備える。各ユニットＵ１〜Ｕｎは同様に構成されており、３本のデータ線３が各々接続されている。ユニットＵ１は、単位シフト回路ＳＲ及び第１〜第７アナログスイッチＡＳＷ１〜ＡＳＷ７を備える。各ユニットＵ１〜Ｕｎの単位シフト回路ＳＲは、クロック信号ＣＬＫ及び反転クロック信号ＣＬＫＸに従って開始パルスＳＰをシフトして、選択信号ＳＥＬと反転選択信号ＳＥＬＸとを生成する。選択信号ＳＥＬはハイレベルでアクティブとなる。反転選択信号ＳＥＬＸは選択信号ＳＥＬＸを反転したものであり、ローレベルでアクティブとなる。そして、あるユニットの選択信号ＳＥＬがハイレベルの期間において、当該ユニットに接続される３本のデータ線３の検査が実行される。
【００３０】
第１及び第２アナログスイッチＡＳＷ１，ＡＳＷ２の正転制御端子には制御信号ＧＣが供給される共に、それらの反転制御端子には反転制御信号ＧＣＸが供給される。従って、検査時において第１及び第２アナログスイッチＡＳＷ１，ＡＳＷ２はオン状態となる一方、非検査時において第１及び第２アナログスイッチＡＳＷ１，ＡＳＷ２はオフ状態となる。すなわち、第１及び第２アナログスイッチＡＳＷ１，ＡＳＷ２は、検査時において選択信号ＳＥＬ及び反転選択信号ＳＥＬＸを供給する選択スイッチとして機能する。
【００３１】
第１及び第２アナログスイッチＡＳＷ１，ＡＳＷ２と、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７の正転制御端子及び反転制御端子とは、信号線を介して接続されている。検査時において、反転選択信号ＳＥＬＸが第１アナログスイッチＡＳＷ１を介して第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７の反転制御端子に供給されると共に、選択信号ＳＥＬが第２アナログスイッチＡＳＷ２を介して第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７の正転制御端子に供給される。一方、非検査時においては、第３アナログスイッチＡＳＷ３及び第４アナログスイッチＡＳＷ４（補助スイッチ）がオン状態になる。従って、非検査時において、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７の反転制御端子は高電位電源ＶＤＤが供給される電源ラインに接続され、また、それらの正転制御端子は低電位電源ＶＳＳが供給される電源ラインに接続される。
【００３２】
この結果、検査時には、第１〜第３検査信号ＴＳ１〜ＴＳ３が、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７を介してデータ線３−１〜３−３に各々供給され、断線等の検査を実行することが可能となる。すなわち、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７は、検査回路３００Ａとデータ線３とを分離・接続する分離スイッチとして機能する。
【００３３】
本実施形態における検査回路３００Ａによれば、以下の利点がある。第１に非検査時におけるデータ線３と検査回路３００Ａとの間の電荷のリーク量を大幅に低減できる。非検査時において、第１及び第２アナログスイッチＡＳＷ１及びＡＳＷ２はオフとなるから、信号線に何等かの電位を与えないと、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７の入出力端子の一方はフローティング状態となる。従って、信号線にノイズが重畳する等その電位が振れると、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７のオフ抵抗が低下してリーク量が増加することもありえる。しかしながら、本実施形態にあっては、第３及び第４アナログスイッチＡＳＷ３及びＡＳＷ４によって、信号線の電位を高電位電源又は低電位電源に接続するから、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７を確実にオフ状態とすることができ、リーク量を低減することが可能となる。
【００３４】
第２に検査回路３００Ａの抵抗値を低減することができる。従来の検査回路では、検査線とデータ線との間にアナログスイッチが２個直列に接続されていたのに対し、本実施形態では１個のアナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７を介して検査線Ｔ１〜Ｔ３とデータ線３−１〜３−３とが接続されているからである。
【００３５】
第３に回路規模を大幅に削減することができる。図１０に示す従来の検査回路と図２に示す本実施形態に係る検査回路３００Ａを比較すると、第３及び第４アナログスイッチＡＳＷ３，ＡＳＷ４だけ回路構成が増加しているように見える。しかしながら、図１０に示すアナログスイッチＳＷＡは検査信号が通過するため、そのオン抵抗値を低く抑える必要があるため、それを構成するＴＦＴのチャネル幅を大きくせざるを得ない。これに対して、本実施形態の第１〜第４アナログスイッチＡＳＷ１〜ＡＳＷ４は、いずれも第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７の制御端子に接続されているに過ぎない。従って、第１〜第４アナログスイッチＡＳＷ１〜ＡＳＷ４は、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７のゲート電圧を制御するだけの電流を供給すれば足りるから、トランジスタサイズを大幅に小さくすることができる。この結果、検査回路３００Ａの占有面積を大幅に削減することができると共に、額縁面積を小さくして液晶パネルＡＡのコストを低減することができる。
【００３６】
＜１−３：液晶パネルＡＡの電気的構成＞
図３は、液晶パネルＡＡの構成を示す斜視図であり、図４は、図３におけるＺ−Ｚ’線の断面図である。これらの図に示されるように、液晶パネルＡＡは、画素電極６等が形成されたガラス等の素子基板１５１と、共通電極１５８等が形成されたガラス等の透明な対向基板１５２とを、スペーサ１５３が混入されたシール材１５４によって一定の間隙を保って、互いに電極形成面が対向するように貼り合わせるとともに、この間隙に電気光学材料としての液晶１５５を封入した構造となっている。なお、シール材１５４は、対向基板１５２の基板周辺に沿って形成されるが、液晶１５５を封入するために一部が開口している。このため、液晶１５５の封入後に、その開口部分が封止材１５６によって封止されている。
【００３７】
ここで、素子基板１５１の対向面であって、シール材１５４の外側一辺においては、データ線駆動回路２００が形成されて、Ｙ方向に延在するデータ線３を駆動する構成となっている。この一辺には複数の接続電極１５７が形成されて、図示せぬタイミング発生回路からの各種信号の他、検査回路３００Ａの制御に必要な各種信号を入力する構成となっている。また、この一辺に隣接する一辺には、走査線駆動回路１００が形成されて、Ｘ方向に延在する走査線２をそれぞれ両側から駆動する構成となっている。さらに、この一辺に対向する一辺には、検査回路３００Ａが形成されて、検査時においてデータ線３の検査が実行できるようになっている。
【００３８】
一方、対向基板１５２の共通電極１５８は、素子基板１５１との貼合部分における４隅のうち、少なくとも１箇所において設けられた導通材によって、素子基板１５１との電気的導通が図られている。ほかに、対向基板１５２には、液晶パネルＡＡの用途に応じて、例えば、第１に、ストライプ状や、モザイク状、トライアングル状等に配列したカラーフィルタが設けられ、第２に、例えば、クロムやニッケルなどの金属材料や、カーボンやチタンなどをフォトレジストに分散した樹脂ブラックなどのブラックマトリクスが設けられ、第３に、液晶パネルＡＡに光を照射するバックライトが設けられる。特に色光変調の用途の場合には、カラーフィルタは形成されずにブラックマトリクスが対向基板１５２に設けられる。さらに、対向基板１５２の周辺領域には光を遮光する遮光膜が形成されており、これにより非表示領域である額縁が形成されるようになっている。
【００３９】
くわえて、素子基板１５１及び対向基板１５２の対向面には、それぞれ所定の方向にラビング処理された配向膜などが設けられる一方、その各背面側には配向方向に応じた偏光板（図示省略）がそれぞれ設けられる。ただし、液晶１５５として、高分子中に微小粒として分散させた高分子分散型液晶を用いれば、前述の配向膜、偏光板等が不要となる結果、光利用効率が高まるので、高輝度化や低消費電力化などの点において有利である。
【００４０】
なお、走査線駆動回路１００、データ線駆動回路２００、及び検査回路３００Ａ等の周辺回路の一部または全部を、素子基板１５１に形成する替わりに、例えば、ＴＡＢ（Ｔａｐｅ  Ａｕｔｏｍａｔｅｄ  Ｂｏｎｄｉｎｇ）技術を用いてフィルムに実装された駆動用ＩＣチップを、素子基板１５１の所定位置に設けられる異方性導電フィルムを介して電気的及び機械的に接続する構成としても良いし、駆動用ＩＣチップ自体を、ＣＯＧ（Ｃｈｉｐ  Ｏｎ  Ｇｒａｓｓ）技術を用いて、素子基板１５１の所定位置に異方性導電フィルムを介して電気的及び機械的に接続する構成としても良い。
【００４１】
＜２．第２実施形態＞
第２実施形態に係る液晶装置は、検査回路３００Ａの替わりに検査回路３００Ｂを用いる点を除いて、第１実施形態の液晶装置と同様に構成されている。図５は第２実施形態に係る検査回路３００Ｂの構成を示すブロック図である。
【００４２】
図５に示す検査回路３００Ｂが図２に示す検査回路３００Ａと相違するのは、第３アナログスイッチＡＳＷ３を構成するＴＦＴのドレインに反転制御信号ＧＣＸが供給されると共に、第４アナログスイッチＡＳＷ４を構成するＴＦＴのソースに制御信号ＧＣが供給される点である。
【００４３】
非選択時において制御信号ＧＣはローレベルとなる一方、反転制御信号ＧＣＸはハイレベルとなるから、非検査時において、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７の反転制御端子はプルアップされ、また、それらの正転制御端子はプルダウンされる。
【００４４】
従って、正電源ＶＤＤ及び負電源ＶＳＳを供給する電源線を引き回す必要がなくなり、構成を簡易することができると共に、検査回路３００Ｂの占有面積を削減することが可能となる。
【００４５】
＜３．第３実施形態＞
第３実施形態に係る液晶装置は、共通電極の電位を中心として画像信号Ｒ，Ｇ，Ｂの信号電位を所定周期で反転させることによって、交流駆動を行う。この液晶装置は検査回路３００Ｂの替わりに検査回路３００Ｃを用いる点を除いて、第２実施形態の液晶装置と同様に構成されている。
【００４６】
図６は第３実施形態に係る検査回路３００Ｃの構成を示すブロック図である。図６に示す検査回路３００Ｃが図５に示す検査回路３００Ｂと相違するのは、ユニットＵ０を備える点である。ユニットＵ０は、非検査時における検査線Ｔ１〜Ｔ３を共通電極電位ＶＣＯＭに固定する機能を有する。
【００４７】
ユニットＵ０は、第８〜第１０アナログスイッチＡＳＷ８〜ＡＳＷ１０を備える。第８〜第１０アナログスイッチＡＳＷ８〜ＡＳＷ１０の一方の入力端子には電位線を介して共通電極電位ＶＣＯＭが供給される。また、それらの他方の入力端子は検査線Ｔ１〜Ｔ３に各々接続されている。第８〜第１０アナログスイッチＡＳＷ８〜ＡＳＷ１０の正転制御端子には反転制御信号ＧＣＸが供給される一方、それらの反転制御端子には制御信号ＧＣが供給される。第８〜第１０アナログスイッチＡＳＷ８〜ＡＳＷ１０は検査時においてオフ状態となる一方、非検査時においてオン状態となる。従って、非検査時において、検査線Ｔ１〜Ｔ３の電位は共通電極電位ＶＣＯＭに固定される。
【００４８】
上述したように画像信号Ｒ，Ｇ，Ｂの電位は、共通電極電位ＶＣＯＭを中心に振れるから、非検査時において検査線Ｔ１〜Ｔ３の電位は共通電極電位ＶＣＯＭに固定すると、第５〜第７アナログスイッチＡＳＷ５〜ＡＳＷ７を構成するＴＦＴのソース・ドレイン間の電位差を小さくすることが可能となる。この結果、データ線３と検査回路３００との間の電荷のリークを大幅に低減させることが可能となる。
【００４９】
また、液晶等の電気光学物質は、直流電圧を印加すると組成が変化して、いわゆる焼き付きが発生する。このため、印加電圧を反転させる交流駆動によって駆動されるのが通常である。交流駆動には、基準電位を中心として共通電極の電位を所定周期で反転させる方法と、共通電極電位ＶＣＯＭを固定として、この電位を中心に画像信号の極性を所定周期で反転させる方法がある。いずれの方法でも、共通電極電位ＶＣＯＭは、中心電位となる。上述した実施形態において共通電極電位ＶＣＯＭを、基準電位を中心に所定周期で反転させてもよく、その場合には、非検査時において、検査線Ｔ１〜Ｔ３の電位が所定周期で振れることになる。
【００５０】
＜４．応用例＞
＜４−１：素子基板の構成など＞
上述した各実施形態においては、液晶パネルＡＡの素子基板１５１をガラス等の透明な絶縁性基板により構成して、当該基板上にシリコン薄膜を形成するとともに、当該薄膜上にソース、ドレイン、チャネルが形成されたＴＦＴによって、画素のスイッチング素子（ＴＦＴ５０）、走査線駆動回路１００、データ線駆動回路２００、及び検査回路３００Ａ〜３００Ｃの素子を構成するものとして説明したが、本発明はこれに限られるものではない。
【００５１】
例えば、素子基板１５１を半導体基板により構成して、当該半導体基板の表面にソース、ドレイン、チャネルが形成された絶縁ゲート型電界効果トランジスタによって、画素のスイッチング素子や各種の回路の素子を構成しても良い。このように素子基板１５１を半導体基板により構成する場合には、透過型の表示パネルとして用いることができないため、画素電極６をアルミニウムなどで形成して、反射型として用いられることとなる。また、単に、素子基板１５１を透明基板として、画素電極６を反射型にしても良い。
【００５２】
さらに、上述した実施の形態にあっては、画素のスイッチング素子を、ＴＦＴで代表される３端子素子として説明したが、ダイオード等の２端子素子で構成しても良い。ただし、画素のスイッチング素子として２端子素子を用いる場合には、走査線２を一方の基板に形成し、データ線３を他方の基板に形成するとともに、２端子素子を、走査線２またはデータ線３のいずれか一方と、画素電極との間に形成する必要がある。この場合、画素は、走査線２とデータ線３との間に直列接続された二端子素子と、液晶とから構成されることとなる。
【００５３】
また、本発明は、アクティブマトリクス型液晶表示装置として説明したが、これに限られず、ＳＴＮ（Ｓｕｐｅｒ  Ｔｗｉｓｔｅｄ  Ｎｅｍａｔｉｃ）液晶などを用いたパッシィブ型にも適用可能である。さらに、電気光学材料としては、液晶のほかに、エレクトロルミネッセンス素子などを用いて、その電気光学効果により表示を行う表示装置にも適用可能である。すなわち、本発明は、上述した液晶装置と類似の構成を有するすべての電気光学装置に適用可能である。
【００５４】
＜４−２：電子機器＞
次に、上述した液晶装置を各種の電子機器に適用される場合について説明する。
＜４−２−１：プロジェクタ＞
まず、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。図７は、プロジェクタの構成例を示す平面図である。この図に示されるように、プロジェクタ１１００内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット１１０２が設けられている。このランプユニット１１０２から射出された投射光は、ライトガイド１１０４内に配置された４枚のミラー１１０６及び２枚のダイクロイックミラー１１０８によってＲＧＢの３原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇに入射される。
【００５５】
液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇの構成は、上述した液晶パネルＡＡと同等であり、画像信号処理回路（図示省略）から供給されるＲ、Ｇ、Ｂの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルＡＡによって変調された光は、ダイクロイックプリズム１１１２に３方向から入射される。このダイクロイックプリズム１１１２においては、Ｒ及びＢの光が９０度に屈折する一方、Ｇの光が直進する。したがって、各色の画像が合成される結果、投射レンズ１１１４を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。
【００５６】
ここで、各液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇによる表示像について着目すると、液晶パネル１１１０Ｇによる表示像は、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂによる表示像に対して左右反転することが必要となる。
【００５７】
なお、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇには、ダイクロイックミラー１１０８によって、Ｒ、Ｇ、Ｂの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。
【００５８】
＜４−２−２：モバイル型コンピュータ＞
次に、この液晶パネルＡＡを、モバイル型のパーソナルコンピュータに適用した例について説明する。図８は、このパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。図において、コンピュータ１２００は、キーボード１２０２を備えた本体部１２０４と、液晶表示ユニット１２０６とから構成されている。この液晶表示ユニット１２０６は、先に述べた液晶パネル１００５の背面にバックライトを付加することにより構成されている。
【００５９】
＜４−２−３：携帯電話＞
さらに、この液晶パネルＡＡを、携帯電話に適用した例について説明する。図９は、この携帯電話の構成を示す斜視図である。図において、携帯電話１３００Ａは、複数の操作ボタン１３０２とともに、反射型の液晶パネル１００５を備えるものである。この反射型の液晶パネル１００５にあっては、必要に応じてその前面にフロントライトが設けられる。
【００６０】
なお、図７〜図９を参照して説明した電子機器の他にも、液晶テレビや、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた装置等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態に係る液晶装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】同装置に用いる検査回路３００Ａの構成を示すブロック図である。
【図３】同装置に用いる液晶パネルＡＡの外観を示す斜視図である。
【図４】液晶パネルＡＡの構造を説明するための一部断面図である。
【図５】本発明の第２実施形態に液晶装置に用いる検査回路３００Ａの構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の第３実施形態に液晶装置に用いる検査回路３００Ｂの構成を示すブロック図である。
【図７】同液晶パネルＡＡを適用した電子機器の一例たるビデオプロジェクタの断面図である。
【図８】同液晶パネルＡＡを適用した電子機器の一例たるパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
【図９】同液晶パネルＡＡを適用した電子機器の一例たる携帯電話の構成を示す斜視図である。
【図１０】従来の検査回路を備えた素子基板のブロック図である。
【符号の説明】
ＡＡ…液晶パネル
２…走査線
３…データ線
６…画素電極
３００…検査回路
５０…ＴＦＴ（スイッチング素子）
１００…走査線駆動回路
２００……データ線駆動回路
３００…検査回路
ＡＳＷ１〜ＡＳＷ１０…第１〜第１０アナログスイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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