(57)【要約】【課題】標準偏差を利用したワークの監視装置において、記憶容量を有効に使用する方法を提供する。【解決手段】監視用データを作成するためのサンプリングデータを記憶部の第１のエリアに記憶させ、サンプリングデータの演算結果を第２のエリアに記憶させ、第２のエリアに保存したデータから上限値波形および下限値波形を作成し第３のエリアに記憶させる。第３のエリアに記憶したデータによりワークを監視する。監視用データはワーク製作中、複数回更新させる。本発明では、このとき、次期サンプリング時［ｎ，１〜ｍ］において、第１のエリアは上書きを行ない、第２のエリアでは累積して記憶に残る。ｍ＝２のときはｎ×２のサンプリングデータから監視用データを作成する。そして、次期サンプリング時の上限値波形および下限値波形が第３のエリアに記憶されると共に、ワークを監視する。【選択図】　　　図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ワークの測定開始点から終了点までの１サイクル内に複数のサンプリングポイントを設定し、データ処理装置の記憶部を第１のエリア、第２のエリアおよび第３のエリアに区分し、
最初に、第１のエリアに、各サンプリングポイントの複数サイクルによる複数のサンプリングデータを記憶し、
次に、第２のエリアに、前記第１のエリアのデータから演算により得られる各サンプリングポイントの最大値、最小値、平均値および標準偏差値を単位として複数組記憶させた後、
第３のエリアに、第２のエリアから複数組のいずれかから選んだ平均値および標準偏差値を演算して上限データおよび下限データを得て記憶させ、
次期サンプリングに備えて前記第１のエリアの記憶を消去可能にするとともに、前記上限データおよび下限データにより前記ワークの実測値を監視するようにしたことを特徴とする標準偏差利用のデータ処理方法。
【請求項２】
次期サンプリングにおいて、サンプリングデータを前記第１のエリアに上書き保存させ、該サンプリングデータの演算結果を第２のエリアの空所に記憶させ、前記サンプリングデータの演算により得られる上限データおよび下限データを第３のエリアに記憶すると共に前記上下限データにより前記ワークの実測値を監視するようにしたことを特徴とする請求項１記載の標準偏差利用のデータ処理方法。
【請求項３】
記憶部の第２のエリアに保存された複数の平均値および標準偏差値を標準偏差処理して、監視用の上限データおよび下限データを作成して第３のエリアに記憶させ、該上限データおよび下限データにより前記ワークの実測値を監視するようにしたことを特徴とする請求項１または２に記載の標準偏差利用のデータ処理方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
工作機械の監視、製品の管理等においては比較データを作成し、現状、もしくは現物をこの比較データと付き合わせることで正常異常の判定、もしくは良否を判定し、異常箇所の検査、良品の保存・供給、不良品の廃棄・回収をする。
本発明は、このような監視・管理を行なうための比較データを作成する標準偏差利用のデータ処理方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、製作加工の監視を行なうための比較用データは、寸法、電流値、反射率等、種々の測定可能な検出装置により、その時の製作開始から終了までのデータを複数回の試行によって得ている。
例えば、比較用の平均値データ、最大値データおよび最小値データは、製作加工の開始から終了までの時間を等間隔に複数区分してサンプリングポイントを複数箇所に設け、各サンプリングポイントにおいて複数回の試行による測定値を記憶部に記憶し、これらを演算することによって得ることができる。
【０００３】
上記の比較データを得るには、図１１に示す検出装置１に記憶部２をｎ個用意し、サンプリングポイントをｎ個とする。また、記憶部２に３つのエリア２ａ，２ｂ，２ｃを備える。また、出力端末において監視用の表示装置３を設ける。なお、符号４は制御装置であり、記憶部での演算制御や得られたデータの変換、転送等の処理を行なうことができる。
そして、製作開始から終了までを測定の１サイクルと決め、最初の測定サイクルは記憶部２の３つのエリア２ａ，２ｂ，２ｃに同じ値を記憶する。また、サンプリングポイントの１〜ｎまで測定した値はそれぞれ同じように記憶させる。
【０００４】
次サイクルの測定値は、同一サンプリングポイントにおいて、エリア２ａには記憶された値に加算して上書きされ、エリア２ｂは記憶された値と入力された値が比較され大きい方が新たに記憶され、エリア２ｃは記憶された値と入力された値が比較され小さい方が新たに記憶される。このようにして複数サイクルのデータを記憶させる。
そして、表示装置３により平均値波形、最大値波形及び最小値波形が表示され、実測値と比較することができる。
【０００５】
一方、上記記憶部２の使用例として、サンプリングポイントのうち１箇所を指定してここだけをｎ回測定することで、この箇所の監視精度を上げることができる。すなわち、記憶部２にエリア２ａ，２ｂ，２ｃが区分されているのを利用してサンプリングポイントを３箇所指定すれば、それぞれのエリアでｎ回の測定値が記憶され、サンプリングポイントでの平均値および標準偏差値が得られる。
【０００６】
上記の監視方法では指定ポイントを近付けて設定することで局所の監視ができる。このほか、全体を監視するには別な手段がある。これは設計時において考えられる上限値波形と下限値波形をプログラムに組み込み、製品と比較する。つまり、図１１に示すエリア２ａに上限値波形を記憶させ、エリア２ｂに下限値波形を記憶させる。測定開始後、実測データをサンプリングポイントごとに比較して、上限値波形および下限値波形から外れた時点で警報を出力し、そのときの実測データをエリア２ｃに保存して測定中止とするか、あるいは、さらに監視を続け実測データをエリア２ｃに上書きする。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
このように記憶部２を３つのエリアから構成したものにおいて、その使用方法をまとめると以下のようになる。▲１▼最大値波形、最小値波形および平均値波形のデータを収納する。▲２▼指定ポイントにおける標準偏差値を収納する。▲３▼プログラムされた上限値波形、下限値波形および異常値を収納する。
【０００８】
しかしながら、前記▲１▼、▲２▼、▲３▼の特長を備えた装置は一長一短であり、また、いずれかを組み合わせることも難しかった。これは、当時の技術では大容量のメモリー等の記憶機器使用が一般的でなく高価であり、データを処理する側のソフトも同時に大容量のデータを扱えなかったためである。
【０００９】
本発明は、従来の最大値波形、最小値波形および平均値波形を求めるだけでなく、標準偏差値波形を作成し、また、これらのデータを収納する記憶部を改善した標準偏差利用のデータ処理方法を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記目的を達成するために、請求項１の発明は、ワークの測定開始点から終了点までの１サイクル内に複数のサンプリングポイントを設定し、データ処理装置の記憶部を第１のエリア、第２のエリアおよび第３のエリアに区分し、最初に、第１のエリアに、各サンプリングポイントの複数サイクルによる複数のサンプリングデータを記憶し、次に、第２のエリアに、前記第１のエリアのデータから演算により得られる各サンプリングポイントの最大値、最小値、平均値および標準偏差値を単位として複数組記憶させた後、第３のエリアに、第２のエリアから複数組のいずれかから選んだ平均値および標準偏差値を演算して上限データおよび下限データを得て記憶させ、次期サンプリングに備えて前記第１のエリアの記憶を消去可能にするとともに、前記上限データおよび下限データにより前記ワークの実測値を監視するようにしたことを特徴とする。
【００１１】
請求項２の発明は請求項１の発明において、次期サンプリングにおいて、サンプリングデータを前記第１のエリアに上書き保存させ、該サンプリングデータの演算結果を第２のエリアの空所に記憶させ、前記サンプリングデータの演算により得られる上限データおよび下限データを第３のエリアに記憶すると共に前記上下限データにより前記ワークの実測値を監視するようにしたことを特徴とする。
【００１２】
請求項３の発明は請求項１または２の発明において、記憶部の第２のエリアに保存された複数の平均値および標準偏差値を標準偏差処理して、監視用の上限データおよび下限データを作成して第３のエリアに記憶させ、該上限データおよび下限データにより前記ワークの実測値を監視するようにしたことを特徴とする。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
まず、ワークを監視するためのサンプリングデータを抽出する場合、ワークの測定開始点から終了点までを１サイクルとする。この１サイクル中に複数のサンプリングポイント（ｋ個とする）を設定し、所定サイクル数ｎのサンプリングデータを記憶させる。この複数のデータに基づき監視データまたは監視波形を得るものである。この時のデータ数はｋ・ｎになり、記憶個数もｋ・ｎとなる。
【００１４】
このようにすれば、各サンプリングポイントにおいて、ｎ個のデータがあるので同一箇所の最大値、最小値、平均値および標準偏差値を求めることができ、後述する手段により少ないデータ記憶容量で標準偏差を利用した監視データが作成できる。
ところで、監視データは実態に合わせて作成しなければ意味を成さず、監視するワークが多ければ時間経過と共に何回も作り直して精確性を維持する必要がある。したがって、監視データを作成する回数を増やすことが良いが記憶容量が増加する。また、所定サイクル数ｎ以上にサンプル数が必要なときは所定サイクル数ｎを繰り返せば良いが、この繰り返す回数をｍとすると、［ｋ・ｎ，ｍ］のマトリックスで示す記憶容量が必要になる。本発明では、記憶部を複数のエリアに分け、各エリアに特長を持たせ、第１のエリア（ｎの保存領域）を上書き保存することで大容量となることを回避したものである。
【００１５】
記憶部の構成は図１に示すように、サンプリングデータ［ｋ・ｎ］個を収容する第１のエリアと演算結果を記憶する第２のエリアがあり、空きメモリが存在する。第３のエリアには監視用の上限値波形および下限値波形のデータが記憶されている。
【００１６】
第２のエリアは最初に１回目の監視データ、すなわちｍ＝１；［ｎ，１］における波形の、記憶部の第１のエリアに記憶されたサンプリングデータを演算して求めた各サンプリングポイントの最大値、最小値、平均値および標準偏差値が記憶される。また、第３のエリアには、平均値±標準偏差値σが監視用の上限値波形および下限値波形として記憶されるが、実際には注意報知、危険報知の段階を設けており、警報基準を設定している。図２に示すように、記憶部の第３のエリアは、平均値±標準偏差値３σを良品とし、注意判定の基準として平均値±標準偏差値４σを上下限値波形としている。また、危険判定の基準として平均値±標準偏差値５σを上下限値波形としている。これにより、ワークの監視中に異常判定が出た時に一律に異常を報知するのではなく、ワークの状況を細かく監視することができる。
【００１７】
前述したように、監視データは、製作した個数が増えてきた時、もしくは時間が経過すると現状に見合った監視データが求められ、図３に示すように、第２のエリアにはサンプルデータｎｍ個の演算結果を保存する記憶容量（例えばｍ＝５００の記憶容量を持つ。したがってｍ＝１０の場合は累積保存ができる）を備えている。また、第１のエリアは、第２，第３のエリアに演算結果が記憶されることにより、上書き可能となってその分の記憶容量を他に利用することができる。また、第３のエリアも上書き可能となっている。
【００１８】
次に、監視データを作成するための条件設定手順を図４を参照して説明する。操作パネルは図９に示す簡易なものを例にとる。まず、図４のステップ１で条件設定画面を選択する。このとき図９に示す画面上でカーソルを指定表示に合わせエンターキーを押すと、さらに択一の画面になる（図１０参照）。数値入力はテンキーまたは移動キーにより行い、確認、訂正を行なうための指示も表示される。
【００１９】
ステップ２ではサンプリングポイントの測定間隔時間を設定する。この測定間隔は全体が一定の場合と、部分部分が異なる一定の時間間隔（設定サンプリング速度）ｔで構成される場合がある。したがってステップ３では測定データ個数ａを設定するので、総合時間間隔はｔ１×ａ１＋ｔ２×ａ２＋・・となる。ここでｔ１，ｔ２・・が同じ場合もある（即ち、ステップ４）。よって、ステップ５においては測定１サイクル時間に対するサンプリングポイントの配置が表示される。
設定サンプリング速度ｔを１サイクル中で変化させるのは、製品管理において精度の必要箇所においてサンプリングポイントを多く取り、精度を必要としない箇所は時系列的にサンプリングポイントを粗く取って記憶部の負担を少なくし、利用度を向上させるものである。
【００２０】
次に、測定入力側のセンサ入力レンジを選択する（ステップ６）。また、センサスケール値を設定し（ステップ７）、サンプリング用のトリガー条件を選択する（ステップ８）。
【００２１】
次に、サンプリングを何回繰り返すか、その測定サイクル回数ｎを設定する（ステップ９）。また、比較データを更新する標準偏差処理回数（ｍ）を設定する（ステップ１０）。測定データを比較するとき、上限下限の帯の中に入っているか否かを判定するので、上限、上々限、上々々限、下限、下々限および下々々限の幅を設定する（ステップ１１〜１３）。これは平均値にプラスする標準偏差値σの掛け率（例えば、±３、±４、±５）により決められる。但し、実質的な校正を行なうことで上下限の幅が同じになるとは限らないことがある。また、掛け率は２．５、３．２等の実数でもよい。
ステップ１４では、上下限自動更新の標準偏差の標準偏差処理回数（ｋ）を設定する。また、ステップ１５において測定におけるＸ軸方向の振れ幅を設定する。以上の設定を行なった後、データの抽出を行なう。
【００２２】
次に、ワークを測定して監視データを作成する手順を図５を参照して説明する。
測定Ｘ軸に対しトリガーの入力が検出されると、測定開始となる（ステップ２１，２２）。ステップ２３では設定サンプリング速度でデータを測定し、記憶部の第１のエリアに収容する。
ここで１サイクル中、サンプリング速度を一定にした場合、ステップ２６に進むが、前述したように、設定サンプリング速度をｔ１，ｔ２・・と区分した場合、ステップ２４において設定サンプリング速度ｔ１でのデータ個数が完了するまで、設定サンプリング速度ｔ１でサンプリングデータを作成し記憶部の第１のエリアに収容する。設定サンプリング速度ｔ１でのデータ個数が完了すると、ステップ２５において設定サンプリング速度がｔ２になる。ステップ２６ではサンプリング速度ｔ２のデータがないのでステップ２３に戻りデータを採取することになる。このデータも第１のエリアに収容する。
【００２３】
ステップ２６において、１サイクルのデータ数ｋが採取できると（Ｙｅｓ）、ステップ２７へ進む。ステップ２７では同一サンプリングポイントにおいて標準偏差処理を行なうため、複数サイクルのデータが必要になる。したがって、設定サイクル数ｎに達していない場合（Ｎｏ）は引き続きデータを採取する。
【００２４】
ステップ２７において、設定サイクル数ｎに達すると、ステップ２８に進みサイクル波形中の各ポイントで平均値および標準偏差値を求め、各サイクルの同ポイントデータと平均値の差がプラス側に一番大きい値はそのポイントの最大値としてポイントごとに保存する。また、各サイクルの同ポイントデータと平均値の差がマイナス側に一番大きい値はそのポイントの最小値としてポイントごとに保存する。これらは記憶部の第２のエリアに記憶させる。
この段階（ｍ＝１）で上限値波形及び下限値波形を作成し実測値を監視してもよい。この上限値波形及び下限値波形は第３のエリアに記憶される。
ステップ２９では標準偏差処理回数ｍを３とすれば、３回目ごとにステップ３０へ進んで上限値波形及び下限値波形を作成し、実測値を監視することになる。そして、常時監視を行ないながら監視データを作成する場合（Ｙｅｓ）は、再度、データを採取しながらワークを監視する。監視データを作成しない場合（Ｎｏ）、同一の監視データでそのまま監視を続行する。
【００２５】
また、複数サイクルｎのデータで標準偏差値σを演算して求めても、監視用データとして採用しない限り、上限値波形及び下限値波形は作成せず、また記憶部の第３エリアも使用しない。
ここでサンプルデータの個数とｎ，ｍナンバーとの関係を説明する。
ｎの設定個数を５０として［ｋ・ｎ］のマトリックス分の記憶容量を確保する。５０個のワークを（１〜５０）順次測定したとき、ｎ＝５０と表記し、このサンプルデータで監視データを作成するとｍ＝１となる。
５１〜１００個目のワークを測定したとき、ｍは２カウントするがｎの個数は５０である。よってｎ（５１〜１００）個のとき測定当初にｎナンバーをリセットしてデータ採取し監視データを作成すればｍ＝１と等価である（図３参照）。この実施例では監視データを作成したときにｎ，ｍのナンバーをリセットして数値を当て嵌めることで説明している。
また、処理回数ｍを３としたときには、ｎ＝５０として１５０個のワークのデータにより監視データを作成する。
また、処理回数ｍの最終データ採取後、毎度監視データを作成せず、数回おきに監視データを作成する場合、例えば、ｍ＝２のとき（ｎナンバーは１００まで振られる）で１回おきに監視データを作成する場合、ｍ＝４（ｎナンバーは２００まで振られる）で監視データを作成するのと同等である。このデータ採取においては従来では、第１エリアにおいて４ｋ・ｎの記憶容量が必要であるが、本発明ではｎ＝５０ごとに測定データが第１エリアで上書きされ、ｋ・ｎ＋４（計算結果を保存）の記憶容量で済む。そして、第１エリアの上書き前に保存した測定値を演算して得たデータ１（１￣５０）、データ２（５１￣１００）、データ３（１０１￣１５０）、データ４（１５１￣２００）が第２エリアに保存される。
【００２６】
以上説明したように、ｍ＝１のサイクル中のデータ量はｎ回×ｋ個（サンプリングポイント）であり、第１のエリアに保存される。
２回目（ｍ＝１）のデータ測定と標準偏差処理が開始されると、第１のエリアの保存データは１サイクル（ｋ個）ごとに消去され、波形データが上書きされて記憶されていく。データ採取が完了すると、標準偏差処理が行なわれ、図３に示すように、記憶部の第２エリアに各ポイントの最大値、最小値、平均値、標準偏差値が記憶される。これを各ポイントごとに繋ぐことにより波形を表示できる。第２のエリアでは、１回目で使用された４波形分のデータにさらに４波形分のデータが追加記憶される。
【００２７】
また、標準偏差処理がｍ回行なわれるとき、第２のエリアでは、測定されたサイクル数はｎ１からｎｍ回までの総合計が記憶される。また、ワークを測定しながらそのデータを監視用データを作成するサンプリングデータとしたときに、注意・危険の報知があった場合に割り込みプログラムによりサンプリングデータへの採取をストップさせ、次サイクルから採取するようにセットする。
【００２８】
しかるに、監視データを作成する上で、サイクル数ｎは常に同じでなくても良い。
例えば、［ｎ，１］＝５００回（５００×ｋ個のデータ量）、［ｎ，２］＝３００個、［ｎ，３］＝４００回でもよい。
すなわち、ｎ１からｎｍまでを同一回数としても、測定中に何かの理由で測定を停止せざるを得ない場合、そこまで測定した回数の波形の標準偏差処理を行なえば、波形中の各ポイントの最大値、最小値、平均値、標準偏差値は得られる。この何かの理由で停止した場合、最大値（ｋ個）または最小値（ｋ個）は停止した途中から後は役に立たないデータ値となっていることが多いが、標準偏差値（ｋ個）にはほとんど影響がない。
【００２９】
実際に、自動車会社や家電メーカーで製作する合成樹脂の部品を例にすると、射出成形の所要時間が１分程度であれば、１時間で５０〜６０個、２４時間連続で１２００〜１４４０個、それを次の金型交換まで２週間稼動させるとして１６８００個〜２０１６０個が製作される。したがって、１度（ｍ＝１）の繰り返しサイクル数を５０、処理回数ｍを２０としてその周期１０００に対して監視データを更新して製品の監視を行なうとすると、金型交換まで１６〜２０回の上下限波形の更新をすることになる。
【００３０】
次に、別な方法で得られる監視データについて説明する。
監視データを複数採取するため、処理回数をｍ回繰り返し行なうと、第２エリアには、４データエリア×ｍのデータエリアには、ｍ×ｋ個の最大値データ、ｍ×ｋ個の最小値データ、ｍ×ｋ個の平均値データ、ｍ×ｋ個の標準偏差値データ、が保存されている。
【００３１】
この第２のエリアのデータ全体を使用して、ｍ回数の最大値の標準偏差値、ｍ回数の最小値の標準偏差値、ｍ回数の平均値の標準偏差値およびｍ回数の標準偏差値の標準偏差値を求める。
【００３２】
次に、最大値の標準偏差値をつないだ「最大値の標準偏差波形」、最小値の標準偏差値をつないだ「最小値の標準偏差波形」、平均値の標準偏差値をつないだ「平均値の標準偏差波形」、および標準偏差値の標準偏差値を±１σ、±２σ、±３σ等整数倍にして平均値の標準偏差値にプラスして上限値波形と下限値波形を作成し第３のエリアに記憶する。
この上限値波形と下限値波形とでワークを監視することができる。また、上限値波形と下限値波形で監視を行ないながら、測定する波形を同様にして処理し、監視動作中の全ての波形に対して同じ処理と結果を求めることができる。
【００３３】
上記と同じような手順でサンプリングデータを連続に採取し、所定の処理回数ｍのときに監視データを作成するプログラムを図６ないし図８を参照して説明する。
図６のステップ４１において測定条件を設定する。
測定トリガが入力されたら（ステップ４２）合致していることの判定をし（ステップ４３）、Ｙｅｓであれば１サイクルのデータを採取し第２のエリアに保存する（ステップ４４）。ステップ４５では処理回数Ａに達しているか判定し、Ｎｏの場合にはステップ４２に戻り再度１サイクルのデータを採取する。
処理回数Ａに達していれば、ステップ４６〜４８において、標準偏差値を算出し、最大値波形、最小値波形、平均値波形と共に第２エリアに保存する。
ステップ４９では処理回数Ｂの設定があるか判定し、あれば図７のＢに進む。処理回数Ｂの設定がなければステップ５０において上下限値波形を設定し第３のエリアに保存する。これを監視波形としてワークを監視する。
【００３４】
ステップ４９から図７のＢに進んだとき、ステップ５１〜５４までは処理回数Ｂになるまで繰り返し１サイクルのデータを採取し、第１のエリアに上書き保存する。また、ステップ５５〜５７までは処理回数Ｂの最大値波形、最小値波形、平均値波形および標準偏差値を算出し、第２エリアに保存する。ステップ５８ではステップ４８で保存したデータとステップ５７で作成したデータを複合し、ＡＢ標準偏差値波形を作成保存する。
【００３５】
ステップ５９では処理回数Ｃの設定があるか判定し、あれば図８のＣに進む。処理回数Ｃの設定がなければステップ６０において上下限値波形を設定し第３のエリアに保存する。これを監視波形としてワークを監視する。
【００３６】
ステップ５９から図８のＣに進んだとき、図７のＢ以降の手順とほぼ同じ繰り返しであるので、要点を説明する。
即ち、処理回数Ｃに対応する１サイクルのデータを第１のエリアに保存し（ステップ６３）、処理回数Ｃに対応する最大値波形、最小値波形、平均値波形および標準偏差値を算出し、第２エリアに保存する（ステップ６７）。
ステップ６８ではステップ５８で保存したデータとステップ６７で作成したデータを複合し、ＡＢＣ標準偏差値波形を作成保存する。
【００３７】
ステップ６９では処理回数Ｄの設定があるか判定し、あれば次サイクルに移行するが、処理回数Ｄの設定がなければステップ７０において上下限値波形を設定し第３のエリアに保存する。これを監視波形としてワークを監視する。
なお、ここでの標準偏差値波形は、Ａ→ＡＢ→ＡＢＣ→、のように作成するが、Ａ→ＡＢ→ＢＣ→ＣＤ→、のように監視データを作成しても良い。例えば、Ａ＝１，Ｂ＝１，Ｃ＝１でもよく、Ａ，Ｃ＝１，Ｂ＝２としてもよい。
【００３８】
【発明の効果】
本発明は以上述べた通りであり、請求項１に記載の発明では、複数サイクルのデータをサンプリングポイントごとに採取し、これを第１のエリアに記憶し、前記各サンプリングポイントの所定サイクル数個のデータから演算により得られる最大値、最小値、平均値および標準偏差値を第２のエリアに記憶し、平均値および標準偏差値から得られる上限データおよび下限データを第３のエリアに記憶し、前記上限データおよび下限データにより前記ワークの実測値を監視するので、ワークの個々のサンプリングポイントで精確な監視を行なうことができる。また、次期サンプリングの時には第１のエリアに上書きするので、記憶容量を節約でき、その分サンプリングポイント数を増やすことができ、より精確な監視を行なうことができる。
請求項２に記載の発明では、サンプリングデータはその演算結果がすべて第２のエリアに順次記憶されるので、後からデータチェックをすることができる。
請求項３に記載の発明では、記憶部の第２のエリアに保存された複数の平均値および標準偏差値を標準偏差処理して、監視用の上限データおよび下限データを作成して第３のエリアに記憶させ、該上限データおよび下限データにより前記ワークの実測値を監視するようにしたので、総合的なワークの監視を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による実施の形態の、監視装置の記憶部の構成図である。
【図２】図１の記憶部の第３のエリアの詳細図である。
【図３】図１の記憶部の処置回数ｍのときの詳細図である。
【図４】本発明における監視装置の測定条件設定のフローチャートである。
【図５】本発明における監視装置の監視データ作成のフローチャートである。
【図６】本発明における監視装置の監視データ作成の処置回数Ａのときのフローチャートである。
【図７】本発明における監視装置の監視データ作成の処置回数Ｂのときのフローチャートである。
【図８】本発明における監視装置の監視データ作成の処置回数Ｃのときのフローチャートである。
【図９】本発明における監視装置の操作面の初期表示を示す模式図である。
【図１０】本発明における監視装置の操作面の始動表示を示す模式図である。
【図１１】従来の監視装置のブロック図である。
【符号の説明】
２　記憶部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2004020525.tif 000009
【図８】
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【図９】
2004020525.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
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