(57)【要約】【課題】メモリ検査をより柔軟に行なうことができ、しかも、検査異常の際には不良エリアの特定が極めて容易となる携帯可能電子装置を提供する。【解決手段】データを記憶するデータメモリを有し、このデータメモリに対してデータの読出しおよびまたは書込みを行なって選択的にカードリーダ・ライタとの間でデータの入出力を行なうもので、そのデータの入出力はカードリーダ・ライタから送信されるコマンドに基づいて行なうＩＣカードにおいて、カードリーダ・ライタから送信される、任意のデータ列が付加された検査用コマンドを受信すると、その検査用コマンドに付加されたデータ列のデータメモリに対する書込み、読出し、照合を行なうことによりデータメモリの正当性検査を行ない、その検査結果をカードリーダ・ライタへ出力する。【選択図】　　図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
データを記憶するメモリを有し、このメモリに対してデータの読出し、書込みを行なって選択的に外部装置との間でデータの入出力を行なうもので、そのデータの入出力は前記外部装置から送信されるコマンドに基づいて行なう携帯可能電子装置において、
前記外部装置から送信される、任意のデータが付加された検査用コマンドを受信する検査用コマンド受信手段と、
この検査用コマンド受信手段により検査用コマンドが受信されると、その検査用コマンドに付加されたデータの前記メモリに対する書込み、読出しを行なうことにより前記メモリの正当性検査を行なう検査手段と、
この検査手段の検査結果を前記外部装置へ送信する検査結果送信手段と、
前記検査手段による前記メモリの正当性検査の結果、異常と判定された場合、その異常と判定されたエリアの絶対アドレスを前記検査結果送信手段により前記外部装置へ送信する検査結果に対し付加する手段と、
を具備したことを特徴とする携帯可能電子装置。
【請求項２】
前記メモリは複数のエリアからなり、前記検査手段は、その複数のエリアごとにデータの書込み、読出しを行なうことにより前記メモリの正当性検査を行なうことを特徴とする請求項１記載の携帯可能電子装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、たとえば、データを記憶する不揮発性メモリを有し、このメモリに対してデータの読出しおよび書込みを行なって選択的に外部との間でデータの入出力を行なうＩＣカードなどの携帯可能電子装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
最近、携帯可能電子装置として、ＥＥＰＲＯＭなどの不揮発性メモリ、および、これらを制御するＣＰＵ（セントラル・プロセッシング・ユニット）などの制御素子を有するＩＣチップを内蔵したＩＣカードが産業各方面で利用され始めている。
一般に、この種のＩＣカードは、コマンドやレスポンスを用いて、外部装置（ＩＣカードリーダ・ライタ）との間でデータの入出力を行なうようになっている。
【０００３】
ところで、このようなＩＣカードは、その製造工程などにおいて、データを書込む不揮発性メモリが正常に動作するか否かの正当性検査が行なわれており、その検査方法には、カード運用時などに使用できる汎用コマンドを用いて行なう第１の方法、および、専用の検査用コマンドを用いて行なう第２の方法がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、汎用コマンドを用いる第１の方法は、１つのコマンドで送れるデータ数が限られているため、メモリエリアをその単位に分割して、エリアごとにコマンドを用いて検査する必要がある。このため、メモリのサイズに応じて送受信するコマンド数が増加し、検査に多くの時間が必要であるという問題がある。
【０００５】
また、専用の検査用コマンドを用いる第２の方法は、特定の検査パターンのみを使用してメモリへのデータ書込み、読出しを行なっているため、検査の自由度が低いという問題があり、また、検査後のメモリ状態が固定的な値にしかできないという問題がある。
さらに、検査を行なった結果についても、検査結果が正常であったか、異常であったかを応答するだけのため、メモリ内のどのエリアで検査異常が発生したのかを知ることができない。
【０００６】
そこで、本発明は、メモリ検査をより柔軟に行なうことができ、しかも、検査異常の際には不良エリアの特定が極めて容易となる携帯可能電子装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明の携帯可能電子装置は、データを記憶するメモリを有し、このメモリに対してデータの読出し、書込みを行なって選択的に外部装置との間でデータの入出力を行なうもので、そのデータの入出力は前記外部装置から送信されるコマンドに基づいて行なう携帯可能電子装置において、前記外部装置から送信される、任意のデータが付加された検査用コマンドを受信する検査用コマンド受信手段と、この検査用コマンド受信手段により検査用コマンドが受信されると、その検査用コマンドに付加されたデータの前記メモリに対する書込み、読出しを行なうことにより前記メモリの正当性検査を行なう検査手段と、この検査手段の検査結果を前記外部装置へ送信する検査結果送信手段と、前記検査手段による前記メモリの正当性検査の結果、異常と判定された場合、その異常と判定されたエリアの絶対アドレスを前記検査結果送信手段により前記外部装置へ送信する検査結果に対し付加する手段とを具備している。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【０００９】
図１は、本発明に係る携帯可能電子装置としてのＩＣカードを取扱うシステムの全体的な構成例を示すものである。すなわち、このシステムは、ＩＣカード１１をカードリーダ・ライタ（外部装置）１２を介して端末装置１３と接続可能にするとともに、端末装置１３にキーボード１４、ＣＲＴディスプレイ装置１５、および、プリンタ１６を接続して構成される。
【００１０】
図２は、ＩＣカード１１の構成例を示すもので、ＣＰＵなどの制御素子（制御部）１０１、メモリとしてのデータメモリ１０２、ワーキングメモリ１０３、プログラムメモリ１０４、および、カードリーダ・ライタ１２との電気的接触を得るためのコンタクト部１０５によって構成されている。そして、これらのうち、破線内の部分（制御素子１０１、データメモリ１０２、ワーキングメモリ１０３、プログラムメモリ１０４）は１つのＩＣチップ（あるいは、複数のＩＣチップ）で構成され、さらに、ＩＣチップとコンタクト部１０５とが一体的にＩＣモジュール化されて、ＩＣカ―ド本体内に埋設されている。
【００１１】
データメモリ１０２は、各種データの記憶に使用され、たとえば、ＥＥＰＲＯＭなどの消去可能な不揮発性メモリで構成されている。ワーキングメモリ１０３は、制御素子１０１が処理を行なう際の処理データを一時的に保持するためのメモリであり、たとえば、ＲＡＭなどの揮発性メモリで構成されている。プログラムメモリ１０４は、たとえば、マスクＲＯＭで構成されており、制御素子１０１の制御プログラムなどを記憶するものである。
【００１２】
図３は、データメモリ１０２の概念図である。図示するように、データメモリ１０２内は、ＩＣカード１１内で固定的に使用されるシステムエリア１１１、および、ユーザが任意の目的に使用できるユーザエリア１１２に分類することができ、データメモリ１０２内の先端（先頭アドレス）から最終端（最終アドレス）までの各エリアに一義の絶対アドレスが割り付けられ、このアドレスを知ることで、どのエリアであるかを特定することができるようになっている。
【００１３】
図４は、カードリーダ・ライタ１２からＩＣカード１１へ送信される検査用コマンドの一例を示すものであり、制御素子１０１がコマンドを認識するためのデータであるコマンドヘッダ部４１と、当該コマンド特有の任意のデータを指定するためのデータ部４２とで構成される。本実施の形態では、データ部４２に設定したデータ列を使用してデータメモリ１０２のユーザエリア１１２へのデータ書込み、読出し検査を行なうようになっている。
【００１４】
ここで、上記コマンドヘッダ部４１は、クラスコードＣＬＳ、イントラクションコードＩＮＳ、パラメータＰ１，Ｐ２、データ部４２のレングスＬｃから構成されている。
なお、図４（ａ）は、たとえば、データ「ＦＦｈ」を使用して検査を行なう場合の検査用コマンドを示し、図４（ｂ）は、たとえば、データ「ＡＡ　５５ｈ」を使用して検査を行なう場合の検査用コマンドを示している。
【００１５】
次に、上記のような構成において、図４に示した検査用コマンドを用いた際の具体的なメモリの検査動作について図５に示すフローチャートを参照して説明する。
まず、カードリーダ・ライタ１２から、図４に示した検査用コマンドが送信される。ＩＣカード１１の制御素子１０１は、カードリーダ・ライタ１２からのコマンドを受信すると（ステップＳ１）、受信したコマンドが検査用コマンドであるか否かを、当該コマンドのコマンドヘッダ部４１を参照することで判定する（ステップＳ２）。この判定の結果、検査用コマンドでないと判定された場合、当該コマンドに対応する処理に進む。
【００１６】
ステップＳ２の判定の結果、検査用コマンドであると判定された場合、当該検査用コマンドのデータ部４２に格納されている検査用の任意のデータ列（たとえば、「ＦＦｈ」または「ＡＡ　５５ｈ」）をワーキングメモリ１０３内に展開する（ステップＳ３）。以降、ワーキングメモリ１０３内に展開されたデータ列をデータメモリ１０２のユーザエリア１１２に書込む処理、書込んだ後に同エリアからデータ列を読出す処理を行なうことにより、データメモリ１０２の正当性検査を実施する。
【００１７】
すなわち、まず、データ列を書込む初期アドレスを設定することにより（ステップＳ４）、そのアドレスに対してワーキングメモリ１０３内に展開されたデータ列を書込む（ステップＳ５）。次に、当該書込みが正常に終了したか否かをチェックし（ステップＳ６）、正常に終了していなければ、当該書込みアドレスをエラーアドレスとして、そのエラー（異常）が発生した絶対アドレスをワーキングメモリ１０３内のデータ列を展開したエリアとは別のエリアに記憶し（ステップＳ７）、ステップＳ８に進む。ステップＳ６のチェックの結果、書込みが正常に終了していれば、そのままステップＳ８に進む。
【００１８】
ステップＳ８では、書込み検査したアドレスが最終アドレスであるか否かをチェックし、最終アドレスでなければ、書込みアドレスを再設定して（ステップＳ９）、ステップＳ５に戻り、上記同様な書込み処理を繰り返す。ステップＳ８のチェックの結果、最終アドレスであれば、書込んだデータ列に対する読出し処理を行なう。
【００１９】
すなわち、まず、データ列を読出す初期アドレスを設定することにより（ステップＳ１０）、そのアドレスからデータ列を読出して、ワーキングメモリ１０３内に展開されたデータ列と照合し（ステップＳ１１）、両データ列が一致したか否か（照合正常終了か否か）をチェックする（ステップＳ１２）。
【００２０】
このチェックの結果、両データ列が不一致であれば、当該読出しアドレスをエラーアドレスとして、そのエラー（異常）が発生した絶対アドレスをワーキングメモリ１０３内のデータ列を展開したエリアとは別のエリアに記憶し（ステップＳ１３）、ステップＳ１４に進む。ステップＳ１２のチェックの結果、両データ列が一致であれば、そのままステップＳ１４に進む。
【００２１】
ステップＳ１４では、読出し検査したアドレスが最終アドレスであるか否かをチェックし、最終アドレスでなければ、読出しアドレスを再設定して（ステップＳ１５）、ステップＳ１１に戻り、上記同様な読出し処理を繰り返す。ステップＳ１４のチェックの結果、最終アドレスであれば、制御素子１０１は、カードリーダ・ライタ１２へ検査結果としてのレスポンスを送信する。
【００２２】
この際のレスポンスの一例を図６に示す。このレスポンスは、検査において異常であると判定されたユーザエリア１１２の絶対アドレスを出力するためのデータ部５１と、検査用コマンドに対する処理が終了した旨を応答するためのステータスワード部５２とで構成される。検査用コマンドにおいて、ユーザエリア１１２の全てが正常であると判定された場合には、ステータスワード部５２のみをレスポンスとして送信し、１箇所でも異常であると判定された場合には、当該絶対アドレスを設定したデータ部５１とステータスワード部５２をレスポンスとして送信する。
なお、図６（ａ）は、ユーザエリア１１２の全てが正常である場合のレスポンスを示し、図６（ｂ）は、たとえば、ユーザエリア１１２の絶対アドレスが「００１１ｈ」のエリアが検査異常の場合のレスポンスを示している。
【００２３】
すなわち、ステップＳ１４のチェックの結果、最終アドレスである場合、ワーキングメモリ１０３内にエラーアドレスが格納されているか否かをチェックし（ステップＳ１６）、エラーアドレスが格納されていなければ、検査結果が正常であるので、図６（ａ）のレスポンスをカードリーダ・ライタ１２へ出力し（ステップＳ１７）、エラーアドレスが格納されていれば、検査結果が異常であるので、図６（ｂ）のレスポンスをカードリーダ・ライタ１２へ出力し（ステップＳ１８）、当該検査処理を終了する。
【００２４】
このように、検査用コマンドのデータ部に設定された任意のデータ列を使用し、データメモリへのデータ列の書込み、読出し、照合というメモリ検査を行ない、検査異常の場合には不良エリアの絶対アドレスを出力するものである。
したがって、ＩＣカードのメモリ検査を、これまでよりも、より柔軟に行なうことができる。また、検査異常の際には、不良エリアの絶対アドレスを出力するので、不良エリアの特定が極めて容易となる。
【００２５】
さらに、検査用コマンドを使用することで、データメモリの各エリア内の初期値を任意の値に設定することが簡単にできるため、本検査用コマンド以降の工程において、初期値を運用コマンドで書込むという処理が不要となり、ＩＣカード発行の高速化を図ることもできる。
【００２６】
【発明の効果】
以上詳述したように本発明によれば、メモリ検査をより柔軟に行なうことができ、しかも、検査異常の際には不良エリアの特定が極めて容易となる携帯可能電子装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係るＩＣカードを取扱うシステムの全体的な構成例を概略的に示すブロック図。
【図２】ＩＣカードの構成を概略的に示すブロック図。
【図３】データメモリの概念図。
【図４】検査用コマンドの一例を示す図。
【図５】ＩＣカードの動作を説明するためのフローチャート。
【図６】検査用コマンドに対するレスポンスの一例を示す図。
【符号の説明】
１１…ＩＣカード（携帯可能電子装置）、１２…カードリーダ・ライタ（外部装置）、１３…端末装置、１０１…制御素子（制御部）、１０２…データメモリ（メモリ）、１０３…ワーキングメモリ、１０４…プログラムメモリ、１０５…コンタクト部、１１１…システムエリア、１１２…ユーザエリア、４１…コマンドヘッダ部、４２…データ部、５１…データ部、５２…ステータスワード部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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