(57)【要約】【課題】　異なる多数の記憶層を効率的にかつ正確に読み出すことができるように、記憶層に記憶された情報を読み出すための装置と方法を改良する。【解決手段】　本発明は、記憶層１２に記憶された情報を読み出すための装置と方法に関する。記憶層１２は支持面１６上に置くことができる。記憶層１２から放出された放出ビームはレシーバ１４によって受け取られる。本発明に従い、レシーバ１４と支持面１６の間隔が可変調節可能である。【選択図】　　　図１
2004040800.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
　記憶層（１２）を支持するための支持面（１６）と、記憶層（１２）から放出された放出ビームを受け取るためのレシーバ（１４）とを備えている、記憶層（１２）に記憶された情報を読み出すための装置（１０）において、
　装置がレシーバ（１４）と支持面（１６）の間の間隔を可変調節するための調節ユニット（１８）を備えていることを特徴とする装置。
【請求項２】
　調節装置（１８）が、レシーバ（１４）と支持面（１６）に支持された記憶層（１２）との間に設定された間隔が生じるよう、レシーバ（１４）と支持面（１６）の間隔を調節するように形成されていることを特徴とする請求項１記載の装置。
【請求項３】
　装置が更に、レシーバ（１４）と記憶層（１２）の相対運動を発生するための駆動装置と、相対運動の発生中案内面（１６）に沿ってレシーバ（１４）または記憶層（１２）を案内するための案内手段（２０ａ，２０ｂ）とを備えていることを特徴とする請求項１または２記載の装置。
【請求項４】
　案内面（１６）が記憶層（１２）から独立していることを特徴とする請求項３記載の装置。
【請求項５】
　調節ユニット（１８）が特に平行に案内された２個の連結要素（６２ａ，６２ｂ）を有するスピンドル（６９）を備え、レシーバ（１４）が案内手段（２０ａ，２０ｂ）との連結個所（６４ａ，６４ｂ）の回りに回転可能に、スピンドルが案内手段（２０ａ，２０ｂ）に連結されていることを特徴とする請求項３または４記載の装置。
【請求項６】
　支持面（１６）によってｘ−ｙ平面が定められ、駆動装置がｘ方向に相対運動を生じるように形成され、装置が少なくとも２個の調節ユニット（１８ａ，１８ｂ，２０ａ，２０ｂ）を備え、第１の調節ユニット（１８ａ，２０ａ）がレシーバ（１４）の側にｙ方向に配置され、第２の調節ユニット（１８ｂ，２０ｂ）がレシーバ（１４）の他方の側に配置されていることを特徴とする請求項３〜５のいずれか一つに記載の装置。
【請求項７】
　間隔を制御または調整するための制御ユニット（１５）が設けられ、調節ユニット（１８）がこの制御ユニット（１５）に接続されていることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一つに記載の装置。
【請求項８】
　調節ユニット（１８）が支持面（１６）に支持された記憶層（１２）の表面の位置を検出するための標準化要素（２２）、特に精密キャリパを備えていることを特徴とする請求項１〜７のいずれか一つに記載の装置。
【請求項９】
　記憶層の表面の検出位置から出発して、レシーバ（１４）と記憶層（１２）の間の間隔を設定された値に調節するように、調節ユニット（１８）が形成されていることを特徴とする請求項８記載の装置。
【請求項１０】
　記憶層（１２）の表面の検出位置を記憶するためあるいは設定された間隔に調節した後のレシーバ（１４）の位置を記憶するためのメモリ（１７）を備えていることを特徴とする請求項８または９記載の装置。
【請求項１１】
　前もってメモリ（１７）に記憶された記憶層（１２）の表面の位置によってあるいは設定された間隔に調節した後で前もってメモリ（１７）に記憶されたレシーバ（１４）の位置によって、記憶層（１２）を読み出すために、設定された間隔に調節するように、調節ユニット（１８）が形成されていることを特徴とする請求項１０記載の装置。
【請求項１２】
　支持面（１６）上に記憶層（１２）を置き、
　記憶層（１２）から放出される放出ビームを、レシーバ（１４）によって受け取る、
　記憶層（１２）に記憶された情報を読み出すための方法において、
　レシーバ（１４）と支持面（１６）の間の間隔が可変に調節されることを特徴とする方法。
【請求項１３】
　記憶層（１２）の表面の位置が検出され、この位置を基礎として、設定された間隔が調節されることを特徴とする請求項１２記載の方法。
【請求項１４】
　読み出し中に設定された間隔の調節が繰り返されることを特徴とする請求項１２または１３記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は、請求項１の前提部分と請求項１２の前提部分に記載した、記憶層に記憶された情報を読み出すための装置と方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
　このような装置とこのような方法は例えば特許文献１によって知られている。この文献は、レシーバが記憶層に支持された空気軸受を介して記憶層と相対的に支承されている装置を示している。レシーバと記憶層の間隔は小さな許容誤差範囲内で一定に保持される。これは空気軸受と記憶層の間の均一な空気圧力によって保証される。このような空気軸受は約２μｍのオーダーの小さな空隙のため、情報の最適な読み出しを可能にするために記憶層に沿って摺動可能に形成することは困難である。
【特許文献１】欧州特許出願公開第１０８１５０７号公報
【発明の開示】
【０００３】
　本発明の根底をなす課題は、異なる多数の記憶層を効率的にかつ正確に読み出すことができるように、冒頭に述べた種類の装置と方法を改良することである。
【０００４】
　この課題は、請求項１記載の特徴を有する装置と、請求項１２記載の特徴を有する方法によって解決される。
【０００５】
　本発明の根底をなす認識は、間隔の基礎をなす基準表面として、記憶層自体ではなく、記憶層によって異なる基準表面が使用されると、上記課題が解決されることにある。この場合、少なくとも読み出し中に記憶層を置く支持面が考慮されると有利である。レシーバと支持面の間隔の可変調節に基づいて、多数の異なる厚さの記憶層を読み出すことができる。そのために、レシーバと異なる記憶層、特にその表面の間にその都度同じ間隔が生じるように、間隔が調節される場合、それぞれの記憶層の厚さは、レシーバと支持面の間隔調節時に考慮に入れることができる。記憶層の製作プロセスによって、記憶層は既に異なる厚さを有し、この厚さは所定の許容誤差を下回らない。
【０００６】
　記憶層は良好な製作条件では、その全面にわたってほぼ同じ厚さを有する。しかし、異なるバッチの層は異なる厚さを有する。この場合、厚さの差は、読み出し時に像の鮮鋭度が悪くなるようなオーダーである。更に、使用されるレシーバの焦点の三次元的な位置が、レシーバ毎に変動する。これはサービスインサートの場合に焦点が例えばレシーバの交換によって変化するときに特に有利である。焦点は試験像の評価によって決定可能である。調節ユニットによって、受取りが最も良好となるようにレシーバの焦点を配向し、記憶層に対するいろいろなレシーバの異なる最適な間隔を考慮することができる。その結果、最適な像を生じることになる。
【０００７】
　本発明による解決策は更に、基準表面が空気軸受の使用に関して最適化可能であるという利点がある。すなわち、実際に示されたように、記憶層、例えば燐の表面は、その上に空気軸受を支持するために条件付きでのみ適している。これは、空気軸受に要求される極端な滑らかさを考慮して、このような表面の粗さに起因する。これを理解するためには、空隙が特に１〜４μｍであると有利であることを判っていなければならない。この場合既に２μｍのくさび隙間が混合摩擦を生じる。すなわち軸受が擦る。記憶層ではない基準表面を使用すると、この基準面は例えばガラスによってきわめて滑らかに形成可能である。それによって、基準表面に対してレシーバを支持するために、空気軸受を問題なく使用することができる。この空気軸受は後述するような他の利点を生じる。
【０００８】
　少なくとも１個の調節ユニットが制御ユニットに接続されていると有利である。この制御ユニットは、設定可能な目標値を考慮して間隔を制御または調整するように設計されている。それによって、例えば読み出しの経過において、すなわちレシーバと記憶層が相対運動を行う際に、レシーバと記憶層の間隔が制御されるかまたは再調整されるので、この間隔は常に最適である。
【０００９】
　装置は好ましくは第１と第２の調節ユニットを備えている。この場合、第１の調節ユニットは相対運動に対して横方向に、走査ヘッドの一方の側に配置され、第２の調節ユニットは走査ヘッドの他方の側に配置されている。２個の調節ユニットがこの装置で使用されることにより、レシーバと記憶層の間隔をきわめて正確に調節することができる。
【００１０】
　有利な他の実施形では、少なくとも１個の調節ユニットがそれぞれ少なくとも１個の軸受装置を介して基準表面に支承されている。軸受装置が空気軸受として形成されると有利である。この空気軸受は、装置の運転中軸受装置と支持面の間に空隙が形成されるように配置されている。本発明による装置は例えばデジタル式Ｘ線スキャナとして使用される。このＸ線スキャナは読み出し中に記憶層を読み出す速度の不変性に関してきわめて高度な要求がなされる。一般的に使用される滑り軸受の場合、完全に防止できない摩擦作用に基づいて、均一な運動が乱される。すべての種類のころがり軸受も無効である。
【００１１】
　支持面によってｘｙ平面が定められる。この場合、読み出しのための相対運動はｘ方向に行われ、調節ユニットによって間隔がｚ方向に調節可能である。軸受装置は好ましくは少なくとも２個の空気軸受を備えている。少なくとも２個の空気軸受は一対の軸受を形成し、支持面の両側でｚ方向に配置されている。２個の空気軸受が軸受とカウンタ軸受のように協働することにより、レシーバはほとんど摩擦なしに支持面に沿って確実に案内される。
【００１２】
　きわめて正確な間隔調節と、レシーバの正確な搬送は、空気軸受の空隙が１〜５μｍ、特に２μｍであるときに達成可能である。
【００１３】
　レシーバの重量を考慮して、装置が第１と第２の調節装置を備えていると有利である。この場合、第１の調節ユニットが記憶層の読み出し時にレシーバの相対運動に対して横方向にレシーバの一方の側に配置され、第２の調節ユニットがレシーバの他方の側に配置されている。それによって、所望な間隔が迅速にかつ正確に調節可能である。その際、レシーバの左半分と右半分のために最適な間隔が決定され、その都度付設された調節ユニットが調節されると有利である。
【００１４】
　最適でできるだけ正確なセッティングのために記憶層に対してレシーバを調節すべきである寸法が非常に小さいことを考慮して、調節ユニットが非常に小さなピッチを有するスピンドルを備えていると有利である。このスピンドルは、レシーバが軸受装置との連結個所を中心に回転できるように、軸受装置に連結されている。有利な実施形の場合、スピンドルは平行に案内された少なくとも２個の連結要素に作用する。しかし、他の調節機構によってμｍ範囲の精密な調節を行ってもよい。
【００１５】
　本発明による手段は、支持面の方向、例えば水平方向または垂直方向に関係なく、レシーバと記憶層の間隔を精密に調節することができるという利点がある。この支持面上には、少なくとも読み出し中記憶層が置かれる。
【００１６】
　調節ユニットは例えば異なる２つの機構に基づいている。調節ユニットは一方では少なくとも１個の間隔測定ユニットを備えている。この間隔測定ユニットは記憶層とレシーバの間隔を測定するように設計されている。この場合、間隔測定ユニットが間隔測定のための少なくとも１個の測定ホイールまたは非接触式間隔測定のための装置を備えていると有利である。調節ユニットはその代わりに、少なくとも１個の標準化ユニット（スケーリングユニット）、特に精密キャリパを備えることができる。この標準化ユニットは、間隔標準化を行うことができるように、記憶層に作用することができる。この間隔標準化から出発して、所望な間隔が調節可能である。
【００１７】
　記憶層とレシーバの間隔は、軸受装置、例えば空気軸受から生じる寄与部分と、調節ユニットからの寄与部分とからなっている。
【００１８】
　本発明による方法の場合、各々の記憶層のための間隔調節は読み出しの前に決定され、読み出し中維持される。しかし、記憶層とレシーバの間隔を読み出し中に再調整することもできる。連続的な再調整は一層良好な結果をもたらす。
【００１９】
　更に、測定された間隔または標準化結果が記憶層に付設されたメモリに記憶されると有利である。それによって、同じ記憶層を繰り返して読み出す際に、測定ステップまたは標準化ステップを先行させる必要はない。その代わりに、間隔または標準化結果をメモリから本発明による読み出し装置に伝送し、続いてトランスポンダを使用して記憶層を読み出し装置に近づけることで充分である。
【００２０】
　他の有利な実施形は従属請求項から明らかである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
　次に、図を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【００２２】
　図１には、情報を読み出すための本発明による装置としての、Ｘ線用のデジタルスキャナ１０を示している。この情報は、支持面１６上に配置された記憶層１２に記憶されている。支持面１６はｘ−ｙ平面を形成している。ｚ方向はこのｘ−ｙ平面に対して垂直である。スキャナ１０は走査ヘッド１４を備えている。この走査ヘッド内には、記憶層１２から放出される放出ビームを受け取るためのレシーバ（受信装置）が配置されている。レシーバは手前に接続配置された結像光学系を備えたＣＣＤセルを含んでいてもよい。励起ビームを放出するためのビーム源は同様に走査ヘッド１４内に配置されているかあるいは透過光型スキャナの場合には支持面１６の下方に配置されている。ビーム源は並べて配置された多数の半導体レーザを備えていてもよい。この半導体レーザのビームは光学系を経て記憶層１２に案内される。この場合、記憶層１２の１つのラインが励起可能である。走査ヘッド１４は第１と第２の調節ユニット１８ａ，１８ｂを介して第１と第２の軸受装置２０ａ，２０ｂに連結されている。この軸受装置によって走査ヘッド１４は支持面１６上で案内される。その際、両軸受装置２０ａ，２０ｂは支持面１６の２つのエッジ範囲１１ａ，１１ｂ内に配置されている。それによって、エッジ範囲１１ａ，１１ｂの延長形状がｚ方向において支持面１６の延長形状と一致している。エッジ範囲１１ａ，１１ｂのｚ方向にそれぞれのレベルは、支持面１６のｚ方向のレベルと一致している。読み出し中、走査ヘッド１４は図示していない駆動装置によって駆動されて記憶層１２上をｘ方向に案内される。支持面１６は好ましくはガラスで作られている。ガラスの表面は非常に滑らかに製作可能であり、それによって走査ヘッド１４のきわめて正確な案内を保証する。図１は更に、スキャナ１０によって記憶層１２の読み出しを制御する働きをする制御手段１５を示している。制御手段１５は本実施の形態では走査ヘッド１４に取付けられ、メモリ１７を含んでいる。このメモリには、読み出すために必要ないろいろな情報が記憶され、必要時に制御手段１５がアクセス可能である。第１と第２の精密キャリパス２２ａ，２２ｂについては後で詳しく述べる。その際勿論、２個の精密キャリパスの代わりに、１個のキャリパスを使用することができる。
【００２３】
　図２ａ〜２ｃは、本発明による装置の構造を示している。この装置の場合、支持面１６はｙ方向の両端側に、走査ヘッド１４を支持面１６に対して簡単に支承および案内するために、はっきりしたエッジリム２４を備えている。このエッジリム２４はｙ方向において走査ヘッド１４を案内する働きをする。図２ａは被覆キャップを取り外した後の走査ヘッド１４を示している。調節ユニット１８ａ，１８ｂは同様に取り外されており、従って図示していない。図２ｂは走査ヘッド１４を備えていない図２ａの構造体を示している。図２ｃは左側と右側の軸受装置２０ａ，２０ｂのケースカバーが取り外されている図２ｂの構造体を示している。
【００２４】
　図３ａは支承面１６を取り外した図２ｂの構造体を示している。左側と右側の軸受装置２０ａ，２０ｂは２個のウェブ２８ａ，２８ｂを介して互いに連結されている。図３ｂは図３ａの右側の軸受装置２０ｂを、図３ｃは左側の軸受装置２０ａを詳しく示している。図３ｄは左側の軸受装置２０ａを後側から見た図である。
【００２５】
　図４は図３ａの構造体の部分断面図である。この図から判るように、軸受装置２０ａ，２０ｂはｚ軸方向において協働する２個の空気軸受３０ａ，３０ｂまたは３０ｃ，３０ｄを備えている。右側の軸受装置２０ｂの空気軸受３０ａ，３０ｂは連結部３２ａを介して、そして左側の軸受装置２０ａの空気軸受３０ｃ３０ｄは連結部３２ｂを介してｚ軸方向において弾性的に相互の方に付勢されている。この付勢を生じるための力は例えば連結部３２ａ，３２ｂに作用する皿ばねによって発生させることができる。運転中空気軸受によってその都度発生する空気圧は、皿ばねによって発生する力の反力である。２個の軸受３４ａ，３４ｂはｙ方向において１個の軸受と１個のカウンタ軸受のように協働する。ｙ方向における空気軸受３４ａ，３４ｂは同様に弾性的に相互の方に付勢されている。異なる空気軸受が支持された支持面１６は、対の空気軸受によって、ペンチの間のように挟持されている。
【００２６】
　図５ａは左側の軸受装置２０ａの空気軸受３０ｃ，３０ｄ，３４ｂを、図５ｂは右側の軸受装置２０ｂの空気軸受３０ａ１，３０ａ２，３０ｂ，３４ａを一層正確に示している。使用される空気軸受の１つが代表して図６ａ〜６ｃに示してある。この場合、空気軸受は軸受装置２０ａ，２０ｂにおける組み込み個所を特定せずに、全体を参照符号３６で示してある。空気軸受３６は空気接続部３８と支承部４０を備えている。この支承部には、例えば点状の支承を行うために、円錐ねじ４２が配置されている。この円錐ねじはそれぞれの軸受装置２０ａ，２０ｂの関連するケースカバーと、支承すべき走査ヘッド１４に固定連結される。そのために、円錐ねじ４２の頭にはねじが形成されている。円錐ねじ４２の尖端部を介して点状に支承することにより、自己調節軸受が実現される。
【００２７】
　図６ｂは空気軸受３６の平面図である。空気軸受３６が図６ｂにおいて矢印４７で示した方向に回転しないようにするために、空気軸受３６には回転防止部材４４が設けられている。空気軸受３６の空気出口側は参照符号４８で示してある。空気出口側は空気流出口を備えている。空気接続部３８から軸受に供給された空気はこの空気流出口から吹き出される。
【００２８】
　図５ｂを再び参照する。上側の空気軸受３０ａ（図４参照）はｘ方向に並べて配置された２個の空気軸受３０ａ１，３０ａ２を備えている。それによって、走査ヘッド１４は空気軸受の作動中ｙ軸線回りに傾動しない。上記の回転防止部材４４はここでは、空気軸受３０ａ２のための回転防止部材４６と、空気軸受３０ａ２のための回転防止部材４９と、空気軸受３４ａのための回転防止部材５０に一致している。回転防止部材４６，４９，５０は図５ｂに示したその端部が、軸受装置２０ｂの図示していないケースカバーに固定されている。図５ａ，５ｂの円錐ねじ４２は軸受とカウンタ軸受を互いに連結した連結部材３２ａ，３２ｂを介して走査ヘッド１４に連結されている。
【００２９】
　図５ｂは更に皿ばね５１ｂを示している。この皿ばねはｚ方向において対の空気軸受３０ａ１，３０ａ２および３０ｂを付勢するための力を発生する働きをする。皿ばね５１ｂはその上側に、ねじを備えている。このねじによって、皿ばね５１ｂは軸受装置２０ｂのケースカバーに固定可能である（図３ｂ参照）。皿ばね５１ｂによって発生した力は連結板５５ｂを経て連結板５５ｂに連結された空気軸受３０ｂに伝達される。その際、連結板５５ｂはｘ方向に延びる回転軸５３ｂに連結されている。この回転軸は回転方向Ｄに沿った連結板５５ｂひいては空気軸受３０ｂの傾動を可能にする。回転軸５３ｂはその両端が軸受装置２０ｂの（図示していない）ケースに固定されている。運転中空気軸受３０ａ１，３０ａ２，３０ｂによって発生した空気圧は、皿ばね５１ｂによって発生した力の反力を形成する。それによって、軸受３０ａ１，３０ａ２，３０ｂの間にある支持面１６のペンチ状の支承が行われる。支持面１６のペンチ状の支承を保証するために、皿ばね５１ｂに一致する他の皿ばね（図示していない）と、連結板５５ａと、回転軸５３ａが軸受装置２０ａのために設けられている。
【００３０】
　図７ａ，７ｂは図１に示した精密キャリパ２２の実施の形態を示している。この精密キャリパ２２は定置されて走査ヘッド１４に連結されている。この場合、精密キャリパがｙ方向に摺動可能に配置されていると有利である。記憶層１２と走査ヘッド１４内に含まれるレシーバとの間の間隔を標準化（較正、スケーリング）するために、接触ピン５８の上面５２が接触ばね５４に接触するまで、精密キャリパ２２に連結された走査ヘッド１４はｚ1 方向、すなわち記憶層１２の方向に下降させられる。この場合、接触ピン５８の下面６０は記憶層１２に接触する。ばね５６により、接触ピン５８の下面６０に押圧力を加えないで、すなわち記憶層１２によって抵抗を生じないで、接触ピン５８の上面５２と接触ばね５４は接触することがない。このようにして行われた標準化の後で、図８に示した調節ユニット１８によって、記憶層１２と走査ヘッド１４のレシーバとの間の間隔が最適に調節される。この調節は、接触ピン５８の上面５２によって走査ヘッド１４を接触ばね５４に接触させた後で、走査ヘッド１４を最適な間隔だけ反対方向ｚ1 に後退させることによって行われる。それによって、接触ピン５８の下面６０と記憶層１２の間に間隔が生じる。最適な間隔の調節は、簡単化するために制御手段１５（図１）によって制御される。最適な間隔はその前に行われたスキャナの較正によって決定可能である。最適な間隔によって特に、記憶層１２を読み出す際の像の鮮鋭度が非常に良好になり、記憶層１２の全面にわたって均一になる。
【００３１】
　図８において、調節ユニット１８は平行に案内された２本のロッド６２ａ，６２ｂを備えている。このロッドは一方では軸受６４ａ，６４ｂを介して軸受装置２０ａ，２０ｂに連結され、他方では軸受６６ａ，６６ｂを介して走査ヘッド１４に連結されている。スピンドル６９を一体化したステップモータ６８によって、ロッド６２ａを偏向させることができる。この運動は対応する偏向としてロッド６２ｂに伝達される。それによって、記憶層１２とレシーバ、すなわち走査ヘッド１４の間隔が高精度で調節可能である。ばね７０ａ，７０ｂは調節ユニット１８をできるだけ遊びのないように付勢する。
【００３２】
　このような間隔の調節は、いろいろな記憶層について、その都度読み出しの開始前に行うことができる。この場合、読み出し中間隔が維持されるという利点がある。これは読み出し品質を改善する。というのは、いろいろな記憶層が製作条件によって特に異なる厚さを有するので、記憶層１２が異なる場合、それぞれの記憶層１２の表面と走査ヘッド１４に含まれるレシーバとの間に、異なる間隔が存在するからである。この間隔は読み出し中再調整可能であるという利点がある。これは簡単にするために制御手段１５によって達成される。特に最後に述べた方法を実現するために、走査中間隔が連続的に測定されると有利である。そのために例えば測定ホイールによる機械的な走査が適している。この測定ホイールは走査中記憶層１２の表面に対する最小の支持力によって一緒に回転し、記憶層のレベルを測定システムに伝達する。その代わりに、非接触式間隔測定方法を用いることができる。この場合しかし、それによって記憶層がビームの放出を励起されないように留意すべきである。
【００３３】
　同じ記憶層１２の繰り返される読み出しのために、その前に行われた標準化または間隔測定の結果がメモリ１７（図１参照）に記憶され、記憶層に割り当てられる。記憶層１２がカセット内に保管され、このカセットがこのようなメモリを備えていると、上記の記憶および割り当てがきわめて有利に実現可能である。カセットはその中に含まれる記憶層１２の読み出しのために本発明によるスキャナ内に挿入され、続いて記憶層１２がカセットから取り出されてスキャナに入れられる。メモリに記憶された、その前に行われた間隔測定または標準化の結果は、トランスポンダによって、記憶層から情報を読み出すための本発明による装置に簡単に伝送可能である。しかし、方法を実施した後で、その前に行われた間隔測定または標準化の結果を、スキャナのメモリ１７に記憶することもできる。割り当てられた記憶層を新たに認識した後で、支持面１６に対する走査ヘッド１４の記憶された間隔を呼出し、調節することができる。
【００３４】
　図９は空気軸受の使用によって、計算尺（スリップスティック）効果を生じないで、ｚ軸線回りの走査ヘッド１４の揺動が可能であることを示している。それによって、本発明による装置は特に、レシーバ２６の両側での駆動のためにも特に適している。
【００３５】
　記憶層に割り当てられたトランスポンダを介して、記憶層のために標準化または間隔測定が行われなかったことが信号化される場合、これは本発明による読み出し装置によって自動的に開始可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】記憶層に記憶された情報を読み出すための本発明による装置の第１の実施の形態を概略的に示す斜視図である。
【図２ａ】本発明による装置の部品を徐々に分解した後の本発明による装置の第２の実施の形態を示す図である。
【図２ｂ】本発明による装置の部品を徐々に分解した後の本発明による装置の第２の実施の形態を示す図である。
【図２ｃ】本発明による装置の部品を徐々に分解した後の本発明による装置の第２の実施の形態を示す図である。
【図３ａ】レシーバの支承を示す、図２ｂに対応する図であり、図３ｂ〜３ｄから詳細が明らかである。
【図３ｂ】レシーバの支承を示す、図２ｂに対応する図であり、図３ｂ〜３ｄから詳細が明らかである。
【図３ｃ】レシーバの支承を示す、図２ｂに対応する図であり、図３ｂ〜３ｄから詳細が明らかである。
【図３ｄ】レシーバの支承を示す、図２ｂに対応する図であり、図３ｂ〜３ｄから詳細が明らかである。
【図４】図３ａの図示を部分的に切断して示す正面図である。
【図５ａ】図３ｂの一部の詳細図である。
【図５ｂ】図３ｂの一部の詳細図である。
【図６】有利に使用される空気軸受の詳細図である。
【図７ａ】本発明による装置で有利に使用される精密キャリパの側面図である。
【図７ｂ】本発明による装置で有利に使用される精密キャリパの斜視図である。
【図８】有利に使用可能な調節ユニットの詳細図である。
【図９】空気軸受の使用によって可能であるレシーバの揺動を概略的に示す図であり、例えばｚ軸線回りの揺動が例示的に示してある。
【符号の説明】
【００３７】
　１０　　　　装置
　１２　　　　記憶層
　１４　　　　レシーバ
　１５　　　　制御ユニット
　１６　　　　支持面
　１７　　　　メモリ
　１８　　　　調節ユニット
　２０ａ，２０ｂ　　案内手段
　２２　　　　標準化要素
　６２ａ，６２ｂ　　連結要素
　６４ａ，６４ｂ　　連結個所
　６９　　　　スピンドル
【図１】
2004040800.tif 000003
【図２ａ】
2004040800.tif 000004
【図２ｂ】
2004040800.tif 000005
【図２ｃ】
2004040800.tif 000006
【図３ａ】
2004040800.tif 000007
【図３ｂ】
2004040800.tif 000008
【図３ｃ】
2004040800.tif 000009
【図３ｄ】
2004040800.tif 000010
【図４】
2004040800.tif 000011
【図５ａ】
2004040800.tif 000012
【図５ｂ】
2004040800.tif 000013
【図６】
2004040800.tif 000014
【図７ａ】
2004040800.tif 000015
【図７ｂ】
2004040800.tif 000016
【図８】
2004040800.tif 000017
【図９】
2004040800.tif 000018