(57)【要約】【課題】ＡＶデータを扱う用途で磁気ディスクを使用するために必要な性能を、任意の精度で、かつ汎用インターフェースを介した情報のみを用いて検出可能とし、ＡＶデータを扱う上での性能欠陥をなくす。【解決手段】磁気ディスク２に対して、汎用インターフェース３を介してＡＶデータを読み書きするＡＶデータ読み書き手段４を備え、磁気ディスク２に対する書き込み時または読み込み時のアクセス時間を測定し、そのアクセス時間がＡＶデータを読み書きする上で、システムとして許容可能か否かを統計的手法に基づいて判断することにより、磁気ディスク２上の読み書きするのに適切でない位置を任意の精度で、かつ汎用インターフェース３を介した情報のみを用いて検出する。また、アクセス時間の測定回数を増やすことにより、ＡＶデータを扱う上での性能欠陥部位の検出精度を任意に高めることができる。【選択図】　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
汎用インターフェイスを介して、磁気ディスク媒体にＡＶデータを読み書きする手段を備えた磁気ディスク装置におけるＡＶ性能検査方法であって、
前記磁気ディスク媒体上の読み書き可能な領域へのアクセス時間を、前記汎用インターフェースを介して測定し、測定されたアクセス時間がＡＶデータを読み書きするのに許容可能か否かを判断することにより、前記磁気ディスク媒体上の読み書きするのに適切でない位置を検出するＡＶ性能検査工程を有するＡＶ性能検査方法。
【請求項２】
前記ＡＶ性能検査工程は、前記磁気ディスク媒体に連続してアクセスする最小単位毎にアクセス時間を測定することを特徴とする請求項１記載のＡＶ性能検査方法。
【請求項３】
前記ＡＶ性能検査工程は、前記磁気ディスク媒体上の同一位置に対して複数回、アクセス時間の測定を行うことを特徴とする請求項１または２に記載のＡＶ性能検査方法。
【請求項４】
前記ＡＶ性能検査工程は、前記磁気ディスク媒体上のゾーン毎に有する基準アクセス時間と測定されたアクセス時間との比較から、その位置が読み書きするのに適切か否かを判定することを特徴とする請求項１または２に記載のＡＶ性能検査方法。
【請求項５】
前記汎用インターフェイスは、ＩＤＥまたはＳＣＳＩであることを特徴とする請求項１または２に記載のＡＶ性能検査方法。
【請求項６】
請求項１ないし５のいずれかに記載のＡＶ性能検査方法によりＡＶデータの読み書きに不適切な磁気ディスク媒体上の位置を検出する工程と、検出された位置の情報を記録媒体に記録するとともに、その位置に対して交替処理を施す工程とを有する磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項７】
前記記録媒体は、不揮発性メモリまたは磁気ディスク媒体であることを特徴とした請求項６記載の磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項８】
前記交替処理は、磁気ディスク媒体に連続してアクセスする最小単位であるディスクアクセスユニットごとに交替を行うことを特徴とした請求項６記載の磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項９】
請求項６ないし８のいずれかに記載の磁気ディスク装置の製造方法により製造された磁気ディスク装置。
【請求項１０】
請求項１ないし５のいずれかに記載のＡＶ性能検査方法を実行する手段を備え、ＡＶデータの読み書きに不適切な磁気ディスク媒体上の位置を検出し、検出された位置の情報を記録媒体に記録するとともに、その位置に対して交替処理を施すことを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項１１】
前記記録媒体は、不揮発性メモリまたは磁気ディスク媒体であることを特徴とした請求項１０記載の磁気ディスク装置。
【請求項１２】
前記交替処理は、磁気ディスク媒体に連続してアクセスする最小単位であるディスクアクセスユニットごとに交替を行うことを特徴とした請求項１０記載の磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＡＶデータを記録再生する磁気ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、映像、音声などのＡＶデータを記録再生するデジタルＡＶ機器に、大容量、高速性を生かした磁気ディスク装置が用いられつつある。このようなＡＶデータを扱う場合、映像、音声が途切れることのないように磁気ディスクへのアクセスの連続性を保証しなければならない。しかし、磁気ディスク装置は、コンピュータ用の補助記憶装置として発展してきた経緯から、信頼性良くデータを読み書きすることに優れているが、所定時間以内に記録再生動作が完了することへの保証はなされていない。このような、記録再生の連続性を阻害する代表的な要因としては、リトライ処理が挙げられる。
【０００３】
リトライ処理は、データの記録再生時に、磁気ディスクのトラック上に媒体欠陥が存在したり、あるいは機械的な衝撃が加わった場合等に行われる。通常、磁気ディスク装置への記録再生は、セクタと呼ばれる単位で行われるが、記録再生を行うセクタに欠陥が存在し、正常に記録再生できなかった場合には、磁気ヘッドの位置をずらし、再度当該セクタが戻ってくるまで待ち、記録再生が行われる。このようなリトライ処理が正常に記録再生されるまで、所定回数、行われる。リトライが１回行われると、例えば５４００ｒｐｍの磁気ディスクの場合、約１１ｍｓの回転待ちが生じることになり、実時間性が阻害される。ＡＶ用途に磁気ディスク装置を使用し、特に同時に録画と再生を行う要求があった場合には、数回のリトライが発生しただけで映像、音声が途切れるという現象が起こる。
【０００４】
また、一つのセクタ再生時に誤り訂正不可能なエラーが発生した時には、当該セクタに対して交替処理が行われる。このように交替処理されたセクタへ以降、記録再生する時は、セクタが連続していないので、常にシーク動作や回転待ちが発生することになる。このような場合も実時間性が阻害されることになる。
【０００５】
また、ＩＤＥ（ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　ｄｅｖｉｃｅ　ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ）やＳＣＳＩ（ｓｍａｌｌ　ｃｏｍｐｕｔｅｒ　ｓｙｓｔｅｍ　ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）などの汎用インターフェース（以下、汎用ＩＦと称す）が使われる磁気ディスク装置を用いて、ＡＶデータの読み書きを行う場合、汎用ＩＦからはリトライが発生した情報はわからないのが一般的である。従って、ＡＶデータを磁気ディスク装置に送受信するホスト側は、ＡＶデータの連続性を保証することができる所定時間までに記録再生が終了しない場合には、磁気ディスク装置に対してソフトリセットを行う等の方法が取られる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記のようなことから、ＡＶデータの実時間性（リアルタイム性）を保証することができないセクタに対しては、予めアクセスしない方法を取る必要がある。しかしながら、汎用ＩＦを介して入出力する磁気ディスク装置を用いて、ＡＶデータの読み書きを行う場合、汎用ＩＦからはリトライが発生した情報がわからないのが一般的である。
【０００７】
また、近年の磁気ディスク装置は、記録密度の高密度化、アクセスタイムの高速化への技術革新が著しい。それに伴い、ハード的なマージンは減少し、リトライの発生に関しても、必ずしも再現性はなく、単発的であったり、時間的にランダムであったりする。ＡＶ用途に磁気ディスク装置を使用するには、リトライに対する許容度を厳しくするあまり、上述のような単発的あるいは時間的にランダムなリトライが発生したセクタを全て交替処理することは、非効率的である。
【０００８】
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、汎用ＩＦからの情報のみで、読み書きに不適切な位置を統計的手法に基づいて検出することにより、効率的にＡＶ性能を保証できるＡＶ性能検査方法とそれを用いた磁気ディスク装置の製造方法および磁気ディスク装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するために、本発明は、汎用インターフェイスを介して、磁気ディスク媒体にＡＶデータを読み書きする手段を備えた磁気ディスク装置におけるＡＶ性能検査方法であって、磁気ディスク媒体上の読み書き可能な領域へのアクセス時間を、汎用インターフェースを介して測定し、測定されたアクセス時間がＡＶデータを読み書きする際の連続性を保証することが可能か否かを判断することにより、磁気ディスク媒体上の読み書きするのに適切でない位置を検出するＡＶ性能検査工程を有する。
【００１０】
これにより、汎用インターフェースからの情報のみで、ＡＶデータの連続性の保証が可能否かの検査を実施することができ、この方法を製造方法に用いることでＡＶ性能保証がされた磁気ディスク装置を提供することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項１に係る第１の発明は、汎用インターフェイスを介して、磁気ディスク媒体にＡＶデータを読み書きする手段を備えた磁気ディスク装置におけるＡＶ性能検査方法であって、前記磁気ディスク媒体上の読み書き可能な領域のアクセス時間を測定し、測定されたアクセス時間がＡＶデータを読み書きするのに許容可能か否かを判断することにより、前記磁気ディスク媒体上の読み書きするのに適切でない位置を任意の精度で、かつ前記汎用インターフェイスを介した情報のみを用いて検出するＡＶ性能検査工程を有するＡＶ性能検査方法である。これにより、汎用インターフェースを介する磁気ディスクであっても、精度良くＡＶデータの連続性の保証が可能か否かの検査を行うことができる。
【００１２】
また、請求項２に係る第２の発明は、上記第１の発明において、前記ＡＶ性能検査工程は、前記磁気ディスク媒体に連続してアクセスする最小単位ごとにアクセス時間を測定することを特徴とするＡＶ性能検査方法である。これにより、最小単位を例えば、ディスクアクセスユニットとすれば、ＡＶデータの連続性の保証および検査を確実なもとのすることができる。
【００１３】
また、請求項３に係る第３の発明は、上記第１、第２の発明において、前記ＡＶ性能検査工程は、前記磁気ディスク媒体上の同一位置に対して複数回、アクセス時間の測定を行うことを特徴とするＡＶ性能検査方法である。これにより、統計的な手法を適用することができ、検査精度を向上することができる。
【００１４】
また、請求項４に係る第４の発明は、上記第１、第２の発明において、前記ＡＶ性能検査工程は、前記磁気ディスク媒体上のゾーン毎に有する基準アクセス時間と測定されたアクセス時間との比較から、その位置が読み書きするのに適切か否かを判定することを特徴とするＡＶ性能検査方法である。これにより、ゾーン毎に精度良く検査を行うことができる。
【００１５】
また、請求項５に係る第５の発明は、上記第１、第２の発明において、前記汎用インターフェイスは、ＩＤＥまたはＳＣＳＩであることを特徴とするＡＶ性能検査方法である。これにより、特別なインターフェースを用いることなく、ＡＶ性能の検査を行うことができ、ＡＶデータ用途に汎用インターフェース対応の磁気ディスクを用いることができる。
【００１６】
また、請求項６に係る第６の発明は、上記第１ないし第５のいずれかに記載の発明に基づくＡＶ性能検査方法により、ＡＶデータの読み書きに不適切な磁気ディスク媒体上の位置を検出する工程と、検出された位置の情報を記録媒体に記録するとともに、その位置に対して交替処理を施す工程とを有する磁気ディスク装置の製造方法である。これにより、ＡＶデータの連続性が保証されない位置を予め交替処理するので、確実にＡＶ性能が保証された磁気ディスク装置を製造することができる。
【００１７】
また、請求項７に係る第７の発明は、上記第６の発明において、前記記録媒体は、不揮発性メモリまたは磁気ディスク媒体であることを特徴とした磁気ディスク装置の製造方法である。これにより、検査結果を記録保持するので、様々なタイミングで検査結果の利用が可能となる。
【００１８】
また、請求項８に係る第８の発明は、上記第６の発明において、前記交替処理は、磁気ディスク媒体に連続してアクセスする最小単位であるディスクアクセスユニットごとに交替を行うことを特徴とした磁気ディスク装置の製造方法である。これにより、最小単位であるディスクアクセスユニットにおいて、ＡＶデータの連続性の保証および検査を確実なもとのすることができる。
【００１９】
また、請求項９に係る第９の発明は、上記第６ないし第８のいずれかに記載の発明に基づく磁気ディスク装置の製造方法により製造された磁気ディスク装置である。これにより、ＡＶデータに対する連続性が保証された磁気ディスク装置を得ることができる。
【００２０】
また、請求項１０に係る第１０の発明は、上記第１ないし第５のいずれかに記載の発明に基づくＡＶ性能検査方法を実行する手段を備え、ＡＶデータの読み書きに不適切な磁気ディスク媒体上の位置を検出し、検出された位置の情報を記録媒体に記録するとともに、その位置に対して交替処理を施すことを特徴とする磁気ディスク装置である。これにより、製造工程時はもとより、ユーザーの使用時においてもＡＶ性能の検査および保証するための交替処理を行うことができる。
【００２１】
また、請求項１１に係る第１１の発明は、上記第１０の発明において、前記記録媒体は、不揮発性メモリまたは磁気ディスク媒体であることを特徴とした磁気ディスク装置である。これにより、これにより、検査結果を記録保持するので、様々なタイミングで検査結果の利用が可能となる。
【００２２】
また、請求項１２に係る第１１の発明は、上記第１０の発明において、前記交替処理は、磁気ディスク媒体に連続してアクセスする最小単位であるディスクアクセスユニットごとに交替を行うことを特徴とした磁気ディスク装置である。これにより、最小単位であるディスクアクセスユニットにおいて、ＡＶデータの連続性の保証および検査を確実なもとのすることができる。
【００２３】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
【００２４】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１による磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【００２５】
図１において、１は磁気ディスク装置、２は磁気ディスク装置１の記録媒体としての磁気ディスク、３は磁気ディスク３に使用される汎用ＩＦ、４は汎用ＩＦ３を介してＡＶデータを磁気ディスク２に読み書きするＡＶデータ読み書き制御手段、５はマイクロプロセッサ、６はＡＶデータ制御回路、７はバッファ、８はＡＶデータ入出力ＩＦである。ＡＶデータ読み書き制御手段４は、マイクロプロセッサ５、ＡＶデータ制御回路６、バッファ７およびＡＶデータ入出力ＩＦ８から構成される。また、９はＡＶデータ入出力ＩＦ８を介して磁気ディスク装置１と接続される上位装置（あるいは、ホスト装置）である。
【００２６】
以上の様に構成された磁気ディスク装置の動作について説明する。
【００２７】
図１において、磁気ディスク２または、図示しないＡＶデータ読み書き制御手段４内部のリード・オンリー・メモリー（ＲＯＭ）には、本実施の形態１による磁気ディスクアクセスプログラムが記録されており、マイクロプロセッサ５はこの磁気ディスクアクセスプログラムを実行することにより、磁気ディスク装置１は以下のような動作を行う。
【００２８】
まずは、ＡＶデータを記録する際の動作について説明する。ＡＶデータ読み書き制御手段４は、上位装置９からの指示により、ＡＶデータ入出力ＩＦ８を介して送られてくるＡＶデータを一旦バッファ７に格納する。ＡＶデータ制御回路６は、バッファ７にＡＶデータがディスクアクセスユニット分、貯まった時、コマンドを発行して磁気ディスク２に書くべきディスクアクセスユニットの先頭ＬＢＡ（Ｌｏｇｉｃａｌ　Ｂｌｏｃｋ　Ａｄｄｒｅｓｓｉｎｇ）とディスクアクセスユニット分のセクタ数を指示して、バッファ７に蓄積されたデータアクセスユニットのサイズ分、汎用ＩＦ３を介して磁気ディスク２に転送する。磁気ディスク２への書き込みが完了すると、汎用ＩＦ３を通じてＡＶデータ書き込み制御手段４に書き込みが完了したことを通知する。ＡＶデータ制御回路６は、磁気ディスク２が書き込みを完了したと知ると、バッファ７に貯まった次のディスクアクセスユニットの書き込み処理を行う。
【００２９】
ＡＶデータ読み書き制御手段４は、各ディスクアクセスユニットに対して、磁気ディスク２に対しての書き込みコマンド発行後から、磁気ディスク２からの書き込み完了の通知がくるまでの時間を計測する。測定されたディスクアクセスユニットごとのアクセス時間の情報は、ＡＶデータ読み書き手段４に設けられたメモリーや磁気ディスク２に保存される。
【００３０】
続いて、ＡＶデータを再生する際の動作について説明する。ＡＶデータ制御回路６は、読み取るべきＡＶデータの開始ＬＢＡと読み取るべきセクタ数を指定し、磁気ディスク２に読み取りコマンドを発行する。汎用ＩＦ３を介して、磁気ディスク２から読み出すべきディスクアクセスユニット分のデータをバッファ７に蓄積する。バッファ７に読み出すべきディスクアクセスユニット分のデータが蓄積されたら、ＡＶデータ入出力ＩＦ８を介して、上位装置９へＡＶデータが送出される。
【００３１】
ＡＶデータ読み書き制御手段４は、各ディスクアクセスユニットに対して、磁気ディスク２に対しての読み込みコマンド発行後から、磁気ディスク２から読み込むべきディスクアクセスユニット分の読み込みが完了するまでの時間を計測する。測定されたディスクアクセスユニットごとのアクセス時間の情報は、ＡＶデータ読み書き手段４に設けられたメモリーや磁気ディスク２に保存される。
【００３２】
システム上、ＡＶデータの連続性を保証するためのディスクアクセスユニットごとの許容アクセス時間ＴＣは、扱うＡＶデータの転送レート、磁気ディスクの転送レート、磁気ディスクの回転待ち時間およびシーク時間、ディスクアクセスユニットの大きさによって決定される。
【００３３】
ディスクアクセスユニットのアクセス時間が、許容アクセス時間ＴＣを越える場合には、当ディスクアクセスユニットは、ＡＶデータを記録するには適当ではないことになる。
【００３４】
しかし、「発明が解決しようとする課題」の欄で述べたように、昨今の磁気ディスクは、大容量化に伴い、アクセス時間の再現性が乏しくなっており、測定したアクセス時間が許容アクセス時間ＴＣよりも十分に大きい時でも、その後のアクセスでは、二度と許容アクセス時間ＴＣを越えない場合や、逆に測定したアクセス時間が許容アクセス時間ＴＣよりも十分に小さいときでも、次回のアクセス時には許容アクセス時間ＴＣを越えてしまうことがある。
【００３５】
従って、本実施の形態１におけるＡＶ性能検査方法においては、予め磁気ディスク２のアクセス時間の挙動を統計的手法に基づき把握しておき、どのような場合に再現良く、許容アクセス時間ＴＣを越えるのかを、実アクセス時間の測定結果から確率的に判断を行う。
【００３６】
次に、本実施の形態１におけるＡＶデータの連続性を保証するか否かのＡＶ性能検査方法について、図２を用いて説明する。図２は、本発明の実施の形態１によるＡＶ性能検査方法の手順を示すフローチャートである。
【００３７】
ＡＶデータ読み書き手段４は、ステップＳ１として、磁気ディスク２に対して、書き込みコマンドまたは読み込みコマンドを発行する。次に、ステップＳ２として、ディスクアクセスユニットのアクセス時間の測定を開始する。磁気ディスク２からの書き込みまたは読み込み完了の通知が返ってきたら（ステップＳ３）、ディスクアクセスユニットの測定を終了し、測定されたディスクアクセスユニットのアクセス時間をＡＶデータ読み書き手段４内のＲＡＭ（図示せず）に記録する（ステップＳ４）。測定されたアクセス時間と予め統計的手法に基づきゾーンごとに算出した基準アクセス時間との比較を行い、基準アクセス時間よりも大きい時は（ステップＳ５）、当該ディスクアクセスユニットを記録手段としての磁気ディスク２またはＡＶデータ書き込み手段４に設けられた不揮発性メモリーにある欠陥候補テーブルに登録する（ステップＳ６）。
【００３８】
欠陥候補テーブルに登録されたディスクアクセスユニットは、予め統計的手法に基づいて設定された回数だけリトライを行う（ステップＳ７）。リトライを行った結果、許容アクセス時間を越えた回数が、所定値を上回った場合（ステップＳ８）、当該ディスクアクセスユニットは、交替処理を行う（ステップＳ９）。この交替処理は、ディスクアクセスユニット単位で行われ、ＡＶデータに対する連続性の保証がされないディスクアクセスユニットが使用されないようにすることができる。
【００３９】
以上の様なステップにより、ＡＶ性能検査方法が実行される。なお、上記の処理手順は、図２に示したものに限られるものではなく、種々の改良が可能である。
【００４０】
次に、ステップＳ５で使用されるゾーン毎の基準アクセス時間の算出方法を説明する。
【００４１】
磁気ディスク媒体のゾーンごとの理論的なアクセス時間は、磁気ディスク媒体の転送レート、汎用ＩＦの転送レート、データアクセスユニットの大きさによって算出される。図３に、本実施の形態１で使用された磁気ディスクの理論アクセス時間の算出結果の一例を示す。図３において、本実施の形態で使用の磁気ディスクは、ゾーン（図３のＺｏｎｅ１〜１０）毎に転送レートが異なるため、ゾーン毎にアクセス時間が異なる。各ゾーンのアクセス時間は、図３に示す様に、３０ｍｓ〜４５ｍｓの間で、少しずつ異なっている。
【００４２】
また、図４は、任意のディスクアクセスユニットにおける実アクセス時間の再現性を示すものである。同図において、横軸は、ディスクアクセスユニットの番号、縦軸は理論アクセス時間で規格化（あるいは正規化）されたアクセス時間を示し、各ディスクアクセスユニットへは、数百回アクセス時間の測定を行っている。図４において、規格アドレス時間が１とは、図３に示した理論アドレス時間と一致する値である。図４からわかるように、大多数のディスクアクセスユニットは、数百回の測定の結果、測定値は１．３以下である。ここに示した磁気ディスクにおいて、規格化アドレス時間が１．３とは、１回転待ち時間（あるいは１回のリトライの発生）に相当する。一方、測定時間が、許容アクセス時間を越えるディスクアクセスユニットは、必ず規格化アクセス時間が１．６以上のアクセス時間を記録している。規格化アクセス時間が１．６とは２回転待ち（あるいは２回のリトライの発生）に相当する。本磁気ディスクの場合、１回転待ちは日常的に起こるレベルであるが、２回転待ちが起こるのは、その後、許容アクセス時間を上回る危険性があるといえる。従って、本磁気ディスクを使用する場合の基準アクセス時間は、理論アクセス時間を１．６倍した時間とすればよい。基準アクセス時間が、ゾーンごとに異なる場合は、ゾーンごとに基準時間を設定する。
【００４３】
また、ここでは、理論アクセス時間を基準に、リトライ発生回数を予測したが、必ずしも正規化の必要はなく、同一ディスクアクセスユニットに対して、複数回アクセス時間を測定することによってもリトライ発生回数を予測することができる。図４の例で見れば、理論アクセス時間は、複数回測定したアクセス時間の最小値と一致している。このように、複数回測定したアクセス時間の最小値を基準にしてリトライ発生回数を予測できる。この方法は、ゾーンごとの転送レートが未知の場合に有効である。さらに、複数回アクセス時間の測定を行うことにより、同一ディスクアクセスユニットの再現性を確認できるので、ステップＳ５における比較判断する際の精度が向上することになり、アクセス時間を測定する回数により、検査精度を任意に選ぶことができる。
【００４４】
ステップＳ７で設定されるリトライ回数も、上述のようにアクセス時間の再現性の十分な検討結果から決定される。ステップＳ８における、許容アクセス時間を越えた回数の決定は、システム構成により決定する。
【００４５】
本実施の形態１による磁気ディスクのＡＶ性能検査方法によれば、アクセス時間を測定し、その測定時間から予め統計処理に基づいた基準アクセス時間との比較判断を行うことにより、その磁気ディスク装置上の読み書きするのに適切でない位置を任意の精度で予測することができ、かつ汎用ＩＦを介したアクセス時間という情報のみを用いて検査することができる。
【００４６】
従って、本実施の形態によれば、汎用ＩＦとして、ＩＤＥ（ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　ｄｅｖｉｃｅ　ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ）またはＳＣＳＩ（ｓｍａｌｌ　ｃｏｍｐｕｔｅｒ　ｓｙｓｔｅｍ　ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）において実施可能である。
【００４７】
そして、ＡＶ性能検査方法の実行による検査結果に基づいて、適切に交替処理が施されるので、ＡＶデータに対する性能が保証されることになる。上記のＡＶ性能検査方法を磁気ディスク装置の製造過程において実施することで、性能保証された磁気ディスク装置を得ることができる。
【００４８】
また、磁気ディスク装置が本実施の形態１によるＡＶ性能検査方法を実行する手段を備えることにより、一般ユーザーの実使用時においても、許容アクセス時間を越えるディスクアクセスユニットを検出することが可能となり、ＡＶデータの損失などの被害を受けない高信頼性の磁気ディスク装置が提供可能である。
【００４９】
（実施の形態２）
以下に、実施の形態２について図１および図５を用いて説明する。
【００５０】
本実施の形態２における磁気ディスク装置の構成は、上述の実施の形態１における図１の構成と同じである。また、図５は、本実施の形態によるＡＶ性能検査方法の手順を示すフローチャートである。
【００５１】
図１において、磁気ディスク２またはＡＶデータ読み書き手段４内部のＲＯＭ（図示せず）には、ＡＶ性能検査プログラムが記録されている。製造工程において、ＡＶ性能検査を行う際、本磁気ディスク装置１は、ＡＶ性能検査プログラムに基づき、以下のような動作を行う。
【００５２】
ＡＶデータ読み書き手段４は、図５に示すステップＳ１０として、ＡＶデータを記録する領域全面に対して、書き込み命令を行う。各ディスクアクセスユニットに対しての書き込み命令発行後から、磁気ディスク２からの書き込み完了までの時間を測定し（ステップＳ１１）、測定結果をＡＶデータ読み書き手段４内部のＲＡＭ（図示せず）に記録する（ステップＳ１２）。ＡＶ領域全面に対しての書き込みが終了（ステップＳ１３）したら、ＡＶ領域全面に対して読み込み命令を行う（ステップＳ１５）。各ディスクアクセスユニットに対しての読み込み命令発行後から、磁気ディスク２からの読み込み完了までの時間を測定し（ステップＳ１６）、ＲＡＭに保存する（ステップ１７）。
【００５３】
全面読み込みが終了したら（ステップＳ１８）、ステップＳ１０からステップＳ１８を複数回、繰り返す（ステップＳ２０）。ここで繰り返し数Ｎ（Ｎは自然数）は多いほど検査精度は向上する。
【００５４】
Ｎ回の全面読み書き検査が終了したら、予め統計的手法に基づき決定された基準アクセス時間との比較を行い、基準アクセス時間よりも大きい時は、当該ディスクアクセスユニットを磁気ディスク上または不揮発性メモリにある欠陥候補テーブルに登録する（ステップＳ２１）。
【００５５】
欠陥候補テーブルに登録されたディスクアクセスユニットは、予め統計的手法に基づいて設定された回数だけリトライを行う（ステップＳ２２）。リトライを行った結果、許容アクセス時間を越えた回数が、所定値を上回った場合（ステップＳ２３）、当該ディスクアクセスユニットは、交替処理を行う（ステップＳ２４）。
【００５６】
このように本実施の形態２による磁気ディスク装置のＡＶ性能検査方法においては、汎用ＩＦを経由したアクセス時間という情報だけでＡＶ性能の検査を行えるので、いかなる汎用磁気ディスクを用いたＡＶ性能検査も可能である。汎用ＩＦは、ＩＤＥであってもＳＣＳＩであっても良い。また、予め検討された統計的手法に基づく検査基準によりＡＶ性能の検査を行うため、効率的に再現性の良いＡＶ性能検査を行うことが可能である。
【００５７】
また、本実施の形態２による製造方法を用いることにより、信頼性の良いＡＶ性能を保証する磁気ディスク装置を提供することが可能となる。
【００５８】
なお、上記の処理手順は、図５に示したものに限られるものではなく、種々の改良が可能である。
【００５９】
なお、上記各実施の形態においては、ＡＶ性能検査方法を実行するためのプログラムを予めＡＶデータ読み書き手段４内のＲＯＭまたは磁気ディスク２に記録されているとしたが、上位装置９から実行プログラムをロードする様に構成してもよい。
【００６０】
【発明の効果】
以上のように本発明は、磁気ディスクのアクセスユニット毎に書き込みまたは読み出しのアクセス時間を統計的手法に基づき測定し、この測定結果に基づきＡＶデータの連続性の保証が可能か否かの判断を行うので、精度が良く、かつ汎用ＩＦからの情報のみでＡＶデータに対する性能検査を実施することができる。
【００６１】
また、本発明によるＡＶ性能検査方法を用いて、ＡＶデータに対する連続性が保証できないディスクアクセスユニットを交替処理するので、ＡＶデータに対する連続性が保証された磁気ディスク装置を得ることができる。
【００６２】
また、磁気ディスク装置に本発明によるＡＶ性能検査方法を実施する手段を備えるので、製造工程は無論のこと、一般ユーザーの実使用時においてもＡＶ性能検査方法を実施することが可能となり、適宜、装置の性能を検査し、性能の維持をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１および２による磁気ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】同実施の形態１による磁気ディスク装置の動作およびＡＶ性能検査方法の手順を示すフローチャート
【図３】同実施の形態１による磁気ディスク装置の各ゾーン毎のアクセス時間を示した図
【図４】同実施の形態１による磁気ディスク装置の任意のディスクアクセスユニットにおける実アクセス時間の再現性を示した図
【図５】同実施の形態２による磁気ディスク装置の動作およびＡＶ性能検査方法の手順を示すフローチャート
【符号の説明】
１　磁気ディスク装置
２　磁気ディスク
３　汎用インターフェース
４　ＡＶデータ読み書き手段
５　マイクロプロセッサ
６　ＡＶデータ制御回路
７　バッファ
８　ＡＶデータ入出力ＩＦ
９　上位装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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