(57)【要約】【課題】本発明は、試験装置に関し、例えば液晶表示パネルを駆動する集積回路の試験装置に適用して、各種の集積回路で共通に使用することができるようにする。【解決手段】本発明は、タイミング信号生成等に供する制御ファームウエアを複数種類用意し、試験対象２に応じて切り換える。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスプレイパネルを駆動する集積回路に、動作基準のタイミング信号と画像データとを供給して前記集積回路を試験する試験装置において、
画像生成用データに基づいて、前記画像データを生成して前記集積回路に出力する画像データ生成手段と、
信号生成用データに基づいて、前記タイミング信号を生成して前記集積回路に出力するタイミング信号生成手段と、
前記画像生成用データと、前記信号生成用データと、前記集積回路の試験手順を記述した試験プログラムと、前記試験プログラムに従って各部を制御する制御プログラムと、前記制御プログラムにより動作して前記画像データ生成手段、前記タイミング信号生成手段の動作を制御する制御ファームウエアとを保持する記憶手段と、
前記試験プログラム、前記制御プログラムの実行により、前記制御ファームウエアを介して前記画像データ生成手段及び前記タイミング信号生成手段の動作を制御する制御手段とを備え、
前記記憶手段は、
複数種類の集積回路に対応可能に、前記制御ファームウエアを複数種類有し、
前記制御手段は、
前記試験プログラム及び又は前記制御プログラムの実行により、前記試験対象の集積回路に対応する前記制御ファームウエアを介して、前記画像データ生成手段及び前記タイミング信号生成手段の動作を制御する
ことを特徴とする試験装置。
【請求項２】
前記記憶手段は、
試験内容に応じて前記試験プログラムを複数種類有し、
前記制御手段は、
前記試験内容に応じて前記試験プログラムを実行する
ことを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記記憶手段は、
前記画像生成用データを複数種類有し、
前記制御手段は、
前記集積回路及び又は前記試験内容に応じて対応する前記画像生成用データを前記画像データ生成手段に供給する
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の試験装置。
【請求項４】
前記記憶手段は、
前記信号生成用データを複数種類有し、
前記制御手段は、
前記集積回路に応じて対応する前記信号生成用データを前記タイミング信号生成手段に供給する
ことを特徴とする請求項１、請求項２又は請求項３に記載の試験装置。
【請求項５】
前記制御手段は、
主の記憶手段より前記試験プログラムをロードして前記記憶手段に保持した前記試験プログラムを更新することにより、実行可能な前記試験プログラムを更新する
ことを特徴とする請求項１、請求項２、請求項３又は請求項４に記載の試験装置。
【請求項６】
前記制御手段は、
主の記憶手段より前記制御プログラムをロードして前記記憶手段に保持した前記制御プログラムを更新することにより、実行可能な前記制御プログラムを変更する
ことを特徴とする請求項１、請求項２、請求項３、請求項４又は請求項５に記載の試験装置。
【請求項７】
前記制御手段は、
主の記憶手段より前記制御ファームウエアをロードして前記記憶手段に保持した前記制御ファームウエアを更新することにより、実行可能な前記制御ファームウエアを更新する
ことを特徴とする請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５又は請求項６に記載の試験装置。
【請求項８】
前記制御手段は、
主の記憶手段より前記画像生成用データをロードして前記記憶手段に保持した前記画像生成用データを更新することにより、前記集積回路に供給可能な画像データを更新する
ことを特徴とする請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５、請求項６又は請求項７に記載の試験装置。
【請求項９】
前記制御手段は、
主の記憶手段より前記信号生成用データをロードして前記記憶手段に保持した前記信号生成用データを更新することにより、前記集積回路に供給可能な前記タイミング信号を更新する
ことを特徴とする請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５、請求項６、請求項７又は請求項８に記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試験装置に関し、例えば液晶表示パネルを駆動する集積回路の試験装置に適用することができる。本発明は、タイミング信号生成等に供する制御ファームウエアを複数種類用意し、試験対象に応じて切り換えて使用することにより、液晶表示パネル等を駆動する各種の集積回路で共通に使用することができるようにする。
【０００２】
【従来の技術】
従来、液晶表示パネルにおいては、専用の集積回路で駆動するようになされており、この集積回路の製造工程においては、試験装置によりこの種の集積回路を試験して出荷するようになされている。
【０００３】
すなわちこの種の集積回路においては、液晶表示パネルの各画素の階調を指示する画像データの入力を受け、この画像データに対応する駆動信号により各画素を駆動するようになされている。このため試験装置においては、動作基準のタイミング信号、電源と共に、試験用の画像データを供給して集積回路の出力信号を測定することにより、この種の集積回路を試験するようになされている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところでこの種の集積回路の駆動対象である液晶表示パネルにおいては、液晶の種類、画面の大きさ、画素数、階調等が種々に異なり、これによりこの種の集積回路においては、画像データのインターフェース、出力信号の精度、液晶の駆動方法等が種々に異なる特徴がある。これにより従来の製造工程においては、各集積回路にそれぞれ専用の試験装置を設け、この専用の試験装置により対応する集積回路を試験しなければならない問題があった。
【０００５】
この種の試験装置を各集積回路で共用化することができれば、その分、設備の無駄を省くことができる等により、便利であると考えられる。
【０００６】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、液晶表示パネル等を駆動する各種の集積回路で共通に使用することができる試験装置を提案しようとするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため請求項１の発明においては、ディスプレイパネルを駆動する集積回路に、動作基準のタイミング信号と画像データとを供給して集積回路を試験する試験装置に適用して、画像生成用データに基づいて、画像データを生成して集積回路に出力する画像データ生成手段と、信号生成用データに基づいて、タイミング信号を生成して集積回路に出力するタイミング信号生成手段と、画像生成用データと、信号生成用データと、集積回路の試験手順を記述した試験プログラムと、試験プログラムに従って各部を制御する制御プログラムと、制御プログラムにより動作して画像データ生成手段、タイミング信号生成手段の動作を制御する制御ファームウエアとを保持する記憶手段と、試験プログラム、制御プログラムの実行により、制御ファームウエアを介して画像データ生成手段及びタイミング信号生成手段の動作を制御する制御手段とを備え、記憶手段は、複数種類の集積回路に対応可能に、制御ファームウエアを複数種類有し、制御手段は、試験プログラム及び又は制御プログラムの実行により、試験対象の集積回路に対応する制御ファームウエアを介して、画像データ生成手段及びタイミング信号生成手段の動作を制御する。
【０００８】
また請求項２の発明においては、請求項１の構成において、記憶手段は、試験内容に応じて試験プログラムを複数種類有し、制御手段は、試験内容に応じて試験プログラムを実行する。
【０００９】
また請求項３の発明においては、請求項１又は請求項２の構成において、記憶手段は、画像生成用データを複数種類有し、制御手段は、集積回路及び又は試験内容に応じて対応する画像生成用データを画像データ生成手段に供給する。
【００１０】
また請求項４の発明においては、請求項１、請求項２又は請求項３の構成において、記憶手段は、信号生成用データを複数種類有し、制御手段は、集積回路に応じて対応する信号生成用データをタイミング信号生成手段に供給する。
【００１１】
また請求項５の発明においては、請求項１、請求項２、請求項３又は請求項４の構成において、制御手段は、主の記憶手段より試験プログラムをロードして記憶手段に保持した試験プログラムを更新することにより、実行可能な試験プログラムを更新する。
【００１２】
また請求項６の発明においては、請求項１、請求項２、請求項３、請求項４又は請求項５の構成において、制御手段は、主の記憶手段より制御プログラムをロードして記憶手段に保持した制御プログラムを更新することにより、実行可能な制御プログラムを変更する。
【００１３】
また請求項７の発明においては、請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５又は請求項６の構成において、制御手段は、主の記憶手段より制御ファームウエアをロードして記憶手段に保持した制御ファームウエアを更新することにより、実行可能な制御ファームウエアを更新する。
【００１４】
また請求項８の発明においては、請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５、請求項６又は請求項７の構成において、制御手段は、主の記憶手段より画像生成用データをロードして記憶手段に保持した画像生成用データを更新することにより、集積回路に供給可能な画像データを更新する。
【００１５】
また請求項９の発明においては、請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５、請求項６、請求項７又は請求項８の構成において、制御手段は、主の記憶手段より信号生成用データをロードして記憶手段に保持した信号生成用データを更新することにより、集積回路に供給可能なタイミング信号を更新する。
【００１６】
請求項１の構成によれば、ディスプレイパネルを駆動する集積回路に、動作基準のタイミング信号と画像データとを供給して集積回路を試験する試験装置に適用して、画像生成用データに基づいて、画像データを生成して集積回路に出力する画像データ生成手段と、信号生成用データに基づいて、タイミング信号を生成して集積回路に出力するタイミング信号生成手段と、画像生成用データと、信号生成用データと、集積回路の試験手順を記述した試験プログラムと、試験プログラムに従って各部を制御する制御プログラムと、制御プログラムにより動作して画像データ生成手段、タイミング信号生成手段の動作を制御する制御ファームウエアとを保持する記憶手段と、試験プログラム、制御プログラムの実行により、制御ファームウエアを介して画像データ生成手段及びタイミング信号生成手段の動作を制御する制御手段とを備え、記憶手段は、複数種類の集積回路に対応可能に、制御ファームウエアを複数種類有し、制御手段は、試験プログラム及び又は制御プログラムの実行により、試験対象の集積回路に対応する制御ファームウエアを介して、画像データ生成手段及びタイミング信号生成手段の動作を制御することにより、制御ファームウエアを切り換えて、例えば画像データの伝送に供するインターフェース等を切り換えることができ、これにより画像データのインターフェースが異なる集積回路等で試験装置を共用化することができる。
【００１７】
また請求項２の構成によれば、請求項１の構成において、記憶手段は、試験内容に応じて試験プログラムを複数種類有し、制御手段は、試験内容に応じて試験プログラムを実行することにより、試験内容の異なる集積回路等について、試験プログラムの変更により試験装置を共用化することができる。
【００１８】
また請求項３の構成によれば、請求項１又は請求項２の構成において、記憶手段は、画像生成用データを複数種類有し、制御手段は、集積回路及び又は試験内容に応じて対応する画像生成用データを画像データ生成手段に供給することにより、集積回路に供給する画像データを変更することにより、異なる階調を表現する集積回路及び又は異なる試験内容等について、画像データの変更により試験装置を共用化することができる。
【００１９】
また請求項４の構成によれば、請求項１、請求項２又は請求項３の構成において、記憶手段は、信号生成用データを複数種類有し、制御手段は、集積回路に応じて対応する信号生成用データをタイミング信号生成手段に供給することにより、タイミング信号の異なる集積回路について、試験装置を共用化することができる。
【００２０】
また請求項５の構成によれば、請求項１、請求項２、請求項３又は請求項４の構成において、制御手段は、主の記憶手段より試験プログラムをロードして記憶手段に保持した試験プログラムを更新することにより、実行可能な試験プログラムを変更することにより、試験項目、画素数等が異なる集積回路について、試験装置を共用化することができる。
【００２１】
また請求項６の構成によれば、請求項１、請求項２、請求項３、請求項４又は請求項５の構成において、制御手段は、主の記憶手段より制御プログラムをロードして記憶手段に保持した制御プログラムを変更することにより、実行可能な制御プログラムを変更することにより、試験項目の詳細設定等が異なる集積回路について、試験装置を共用化することができる。
【００２２】
また請求項７の構成によれば、請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５又は請求項６の構成において、制御手段は、主の記憶手段より制御ファームウエアをロードして記憶手段に保持した制御ファームウエアを更新することにより、実行可能な制御ファームウエアを更新することにより、新規な画像データのインターフェースに係る集積回路等について、対応するインターフェースにより試験装置を共用化することができる。
【００２３】
また請求項８の構成によれば、請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５、請求項６又は請求項７の構成において、制御手段は、主の記憶手段より画像生成用データをロードして記憶手段に保持した画像生成用データを更新することにより、集積回路に供給可能な画像データを変更することにより、画素数、階調等が異なる新規な集積回路についても、試験装置を共用化することができる。
【００２４】
また請求項９の構成によれば、請求項１、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５、請求項６、請求項７又は請求項８の構成において、制御手段は、主の記憶手段より信号生成用データをロードして記憶手段に保持した信号生成用データを更新することにより、集積回路に供給可能なタイミング信号を更新することにより、タイミング信号の異なる新規な集積回路等について、信号生成用データの変更により試験装置を共用化することができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。
【００２６】
（１）実施の形態の構成
図３は、本発明の実施の形態に係る試験装置を示すブロック図である。この試験装置１は、図示しないプローブを介して液晶表示パネルを駆動する集積回路２の各端子に接続され、この集積回路２の特性を試験する。この試験装置１においては、このプローブが集積回路２の形状に応じて交換されるように構成され、これにより種々の集積回路２を試験対象に設定できるようになされている。
【００２７】
ＤＣ電源３は、この試験装置１の各部に動作用の電源を供給する。通信装置４は、この試験装置１が設置されてなる工場のネットワークを介して、試験装置１に係る各種メンテナンスのデータ等を管理用コンピュータとの間で送受する。これによりこの試験装置１では、各集積回路２の試験に必要なデータ、プログラムをダウンロードし、さらに制御ファームウエア等を更新できるようになされている。
【００２８】
手操作入力器５は、キーボード、マウス等の入力手段であり、ユーザーによる操作を中央処理ユニット（ＣＰＵ）６に通知する。表示器７は、ディスプレイ装置であり、試験結果等の各種の情報をユーザーに通知する。定電流源、定電圧源９は、中央処理ユニット６の制御により動作を切り換え、プローブを介して試験対象である集積回路２に動作用電源を供給する。
【００２９】
信号発生インターフェース１０は、制御ファームウエアによる中央処理ユニット６の制御により、集積回路２の試験に供する各種タイミング信号を信号生成用データに基づいて生成して出力する。また同様の制御ファームウエアによる中央処理ユニット６の制御により、試験に供する画像データを画像生成用データより生成し、対応する伝送フォーマットで集積回路２に出力する。また信号発生インターフェース１０は、集積回路２を駆動して得られる集積回路２の出力信号を取得して処理し、処理結果を中央処理ユニット６に通知する。なおここでこのような伝送フォーマットは、例えば３出力×６ビットによるパラレル転送方式、１２０ビットパラレル転送方式、６０ビット２分割によるパラレル転送、１ビットの１６タイムスロットによるシリアル転送等である。これにより信号発生インターフェース１０は、画像生成用データに基づいて、画像データを生成して集積回路に出力する画像データ生成手段と、信号生成用データに基づいて、タイミング信号を生成して集積回路に出力するタイミング信号生成手段とを構成するようになされている。
【００３０】
データ用メモリ１１は、書き換え可能なリードオンリメモリにより構成され、集積回路２の試験に供する各種データを保持する。ここでこの実施の形態において、この試験に供するデータは、集積回路２に供給するタイミング信号の生成に供する信号生成用データ、集積回路２に供給する画像データの生成に供する画像生成用データ等により構成され、データ用メモリ１１は、信号生成用データ、画像生成用データにそれぞれバイナリ用データ領域１１Ｂ、画像用データ領域１１Ａが確保され、さらには他のデータを格納するその他のデータ領域１１Ｃが確保されるようになされている。
【００３１】
データ用メモリ１１は、これらの各領域１１Ａ、１１Ｂに、それぞれ複数の画像生成用データ、信号生成用データを保持し、これにより試験装置１では、試験対象に応じてこれら画像生成用データ、信号生成用データをそれぞれ選択的に使用して、種々の試験対象に対応できるようになされている。
【００３２】
ソフトウエア用メモリ１２は、書き換え可能なリードオンリメモリにより構成され、集積回路２の試験に必要な各種プログラムを保持する。ここでこの実施の形態において、このようなプログラムは、この集積回路２の具体的な試験内容を記述した試験プログラム、この試験プログラムに従って各部を制御する制御プログラム、この制御プログラムにより動作する信号発生インターフェース１０の制御ファームウエア等である。ソフトウエア用メモリ１２は、これら試験プログラム及び制御ファームウエアにそれぞれプログラム用メモリ領域１２Ａ、制御ファーム用メモリ領域１２Ｂが確保され、さらにはその他のプログラムにその他のメモリ領域１２Ｃが確保されるようになされている。
【００３３】
またソフトウエア用メモリ１２は、これらプログラム用メモリ領域１２Ａに、異なる試験内容による試験プログラムが複数格納され、これによりこの試験装置１では、このメモリ領域１２Ａに格納した試験プログラムを選択的に実行して、所望する試験を実行できるようになされている。またソフトウエア用メモリ１２は、制御ファーム用メモリ領域１２Ｂに、複数種類の集積回路、試験内容に対応可能に、複数の制御ファームウエアを保持するようになされ、これにより試験装置１においては、信号発生インターフェース１０から集積回路２に制御ファームウエアに対応する種々の伝送フォーマットにより画像データを伝送できるようになされている。
【００３４】
記憶装置１３は、ハードディスク装置等の大容量の記憶装置により構成され、通信装置４を介してダウンロードした各種のプログラム、各種データ、この試験装置１の制御ファームウエア等を保持する。ここでこの実施の形態において、記憶装置１３は、複数種類の集積回路２をそれぞれ試験する試験プログラム、制御プログラム、制御ファームウエア、画像生成用データ、信号生成用データを保持するようになされ、また各種試験項目について対応する試験プログラムを保持するようになされ、中央処理ユニット６の制御により、試験対象の集積回路２、試験内容に応じた対応する試験プログラム、制御プログラム、制御ファームウエア、画像データ、信号生成用データをソフトウエア用メモリ１２、データ用メモリ１１に出力するようになされている。なお記憶装置１３は、ハードディスク装置に代えて、メモリカード、光ディスク装置等の種々の記録手段により構成することができる。
【００３５】
中央処理ユニット６は、図示しないランダムアクセスメモリにワークエリアを確保した図１及び図２に示す処理手順の実行によりこの試験装置１全体の動作を制御する。すなわち中央処理ユニット６は、ユーザーによりソフトウエア用メモリ１２に記録した試験プログラムの実行が指示されると、ステップＳＰ１に移り、ここでソフトウエア用メモリ１２に記録した複数の制御プログラムから対応する制御プログラムをロードする。さらに続くステップＳＰ２において、この制御プログラムに従って対応する制御ファームウエアをロードする。
【００３６】
続いて中央処理ユニット６は、ステップＳＰ３に移り、通信装置４、手操作入力器５からの入力を所定時間待機した後、ステップＳＰ４に移り、通信装置４又は手操作入力器５から入力が得られたか否か判断する。ここで否定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ３に戻るのに対し、肯定結果が得られると、ステップＳＰ５に移る。
【００３７】
ここで中央処理ユニット６は、試験の開始が指示されたか否か判断し、ここで肯定結果が得られると、ステップＳＰ６に移り、試験プログラム、制御プログラムに従って定電流源、定電圧源９を立ち上げて試験対象に駆動用電源を供給し、ステップＳＰ３に戻る。これに対して電源が既に立ち上げられている場合、さらにはステップＳＰ４で否定結果が得られると、ステップＳＰ５からステップＳＰ７に移り、ここで試験の終了が指示されたか否か判断する。ここで肯定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ７からステップＳＰ８に移り、定電流源、定電圧源９により試験対象への電源の供給を停止した後、ステップＳＰ３に戻る。
【００３８】
これに対して電源が既に立ち上げられている状態でステップＳＰ７で否定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ７からステップＳＰ９に移る（図２）。ここで中央処理ユニット６は、画像データの出力が指示されたか否か判断し、ここで肯定結果が得られると、ステップＳＰ１０に移り、試験対象２に画像データを出力して試験対象２を試験する。この処理において、中央処理ユニット６は、ユーザーにより指示された試験プログラムに従った制御プログラムの実行により、対応する制御ファームウエアを介して信号発生インターフェース１０の動作を制御し、これによりメモリ１１に保持した複数種類の制御ファームウエアによる複数種類の伝送フォーマットより、試験対象に対応する伝送フォーマットで画像データを供給する。また試験プログラムに従って、データ用メモリ１１に保持された複数の画像生成用データを選択的に使用して画像データを生成し、これにより試験内容、試験対象に対応する画像データを生成して試験対象に供給する。
【００３９】
またデータ用メモリ１１に保持した複数の信号生成用データより、対応する信号生成用データを信号発生インターフェース１０に供給し、これによりこの信号生成用データで決まる集積回路２に対応するタイミング信号を集積回路２に出力する。
【００４０】
中央処理ユニット６は、この処理において、信号発生インターフェース１０を介して得られる集積回路２の出力信号を判定し、この判定結果により集積回路２の良否を判定する。また中央処理ユニット６は、この判定結果を図示しないインターフェースを介して集積回路２の搬送機構に出力し、またこれら一連の処理結果を記憶装置１３に記録する。中央処理ユニット６は、このような一連の処理を繰り返して集積回路２を順次試験し、オペレータによる指示が得られると、ステップＳＰ１０からステップＳＰ３に戻る。
【００４１】
これに対してステップＳＰ９で否定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ９からステップＳＰ１１に移る。ここで中央処理ユニット６は、メンテナンス等の指示が得られたか否か判断し、ここで肯定結果が得られると、ステップＳＰ１２に移り、対応する処理手順を実行してステップＳＰ３に戻る。なおここでこのようなメンテナンスの処理においては、通信装置４を介して、新規な試験プログラム、制御ファームウエア、画像生成用データ、信号生成用データ等を記憶装置１３にダウンロードする処理、これらの改良されたプログラム、データ等を記憶装置１３にダウンロードする処理、記憶装置１３に格納された試験結果の情報を外部機器にアップロードする処理等である。
【００４２】
これに対してステップＳＰ１１で否定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ１３に移る。ここで中央処理ユニット６は、オペレータにより試験対象の切り換えが指示され、この切り換えによりソフトウエア用メモリ１２に保持した試験プログラムの変更が必要か否か判断する。ここで肯定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ１３からステップＳＰ１４に移り、この指示に係る試験プログラムを記憶装置１３からロードしてソフトウエア用メモリ１２に記録した後、ステップＳＰ３に戻る。これにより試験装置１では、試験対象である集積回路の切り換えに伴い、試験プログラムを変更して試験項目等を変更するようになされている。なお中央処理ユニット６は、オペレータによりソフトウエア用メモリ１２に保持した試験プログラムの更新が指示された場合も、同様にステップＳＰ１３からステップＳＰ１４に移り、試験プログラムを更新し、これにより実行可能な試験プログラムをバージョンアップ等できるようになされている。
【００４３】
これに対してステップＳＰ１３で否定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ１３からステップＳＰ１５に移る。ここで中央処理ユニット６は、試験対象の切り換えが指示され、この切り換えにより画像生成用データの変更が必要か否か判断する。ここで肯定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ１５からステップＳＰ１６に移り、記憶装置１３に保持した対応する画像生成用データをロードしてデータ用メモリ１１の内容を更新し、ステップＳＰ３に戻る。これによりこの試験装置１では、集積回路２に供給可能な画像データを変更するようになされている。なお中央処理ユニット６は、オペレータによりデータ用メモリ１１に保持した画像生成用データの更新が指示された場合も、同様にステップＳＰ１５からステップＳＰ１６に移り、画像生成用データを更新するようになされている。
【００４４】
これに対してステップＳＰ１５で否定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ１７に移る。ここで中央処理ユニット６は、試験対象の切り換えが指示され、この切り換えによりデータ用メモリ１１に保持した信号生成用データの変更が必要か否か判断する。ここで肯定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ１７からステップＳＰ１８に移り、記憶装置１３から対応する信号生成用データをロードしてデータ用メモリ１１の内容を更新した後、ステップＳＰ３に戻る。これによりこの試験装置１は、集積回路２に供給可能なタイミング信号を変更できるようになされている。なお中央処理ユニット６は、オペレータによりデータ用メモリ１１に保持した信号生成用データの更新が指示された場合も、同様にステップＳＰ１７からステップＳＰ１８に移り、画像生成用データを更新するようになされている。
【００４５】
これに対してステップＳＰ１７で否定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ１９に移る。ここで中央処理ユニット６は、試験対象の切り換えが指示され、この切り換えにより制御ファームウエアの変更が必要か否か判断する。ここで肯定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ１９からステップＳＰ２０に移り、記憶装置１３から対応する制御ファームウエアをロードしてソフトウエア用メモリ１２の内容を更新した後、ステップＳＰ２に戻る。これによりこの試験装置１は、集積回路２に供給可能なタイミング信号、選択可能な画像データの伝送フォーマットを変更するようになされている。なお中央処理ユニット６は、オペレータによりデータ用メモリ１１に保持した制御ファームウェアの変更が指示された場合も、同様にステップＳＰ１９からステップＳＰ２０に移り、制御ファームウェアを更新するようになされている。
【００４６】
これに対してステップＳＰ１９で否定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ２１に移る。ここで中央処理ユニット６は、このような試験対象の切り換えにより制御プログラムの変更が必要か否か判断する。ここで肯定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ２１からステップＳＰ２２に移り、記憶装置１３から対応する制御プログラムをロードしてソフトウエア用メモリ１２の内容を更新した後、ステップＳＰ１に戻る。これによりこの試験装置１は、実行可能な制御プログラムを変更するようになされている。なお中央処理ユニット６は、オペレータにより制御プログラムの変更が指示された場合も、同様にステップＳＰ２１からステップＳＰ２２に移り、制御プログラムを更新するようになされている。
【００４７】
これに対してステップＳＰ２１で否定結果が得られると、中央処理ユニット６は、ステップＳＰ２１からステップＳＰ３に戻る。
【００４８】
中央処理ユニット６は、これら試験プログラム、制御ファームウエア、画像生成用データ、信号生成用データ等の更新処理については、手操作入力器５を介して得られるオペレータによる集積回路２の品種名の入力、試験番号等の入力等により、対応する試験プログラム、制御ファームウエア、画像生成用データ、信号生成用データの記録に従って、これら一連の処理を実行するようになされ、これにより試験対象の集積回路２の切り換えに対応して、対応する試験を実行できるようになされている。
【００４９】
（２）実施の形態の動作
以上の構成において、この試験装置１では、オペレータにより集積回路２の試験が指示されると、対応する試験プログラム、この試験プログラムに対応する制御プログラムを中央処理ユニット６により実行することにより、定電流源、定電圧源９が立ち上げられ、対応する電圧、電流により集積回路２に動作用電源が供給される。
【００５０】
またこの試験プログラムの実行により、データ用メモリ１１に保持された画像生成用データより画像データが生成され、この画像データが対応する制御ファームウエアによる伝送フォーマットで信号発生インターフェース１０から出力される。また対応する信号生成用データ、制御ファームウエアにより、信号発生インターフェース１０で集積回路２に対応するタイミング信号が生成され、このタイミング信号が集積回路２に提供される。
【００５１】
試験装置１では、このようにして集積回路２を駆動して、集積回路２の出力信号が信号発生インターフェース１０を介して中央処理ユニット６に取り込まれ、集積回路２の良否が判定される。この集積回路２の製造工程では、この試験の繰り返しにより集積回路２の出荷検査が実行される。
【００５２】
この製造工程において、オペレータが試験の切り換えを指示すると、試験装置１では、これらの試験対象の切り換えが何れの変更を伴うものか判断される。ここでこの変更が、例えば５種類の画像データによる試験を４種類の画像データによる試験に切り換える等の、単なる試験内容の変更にあって、ソフトウエア用メモリ１２に格納してなる複数の試験プログラムより、対応する試験プログラムを選択的に起動することにより対応可能な場合、試験装置１においては、メモリ１２に保持した複数の試験プログラムより、対応する試験プログラムを選択的に実行することにより、種々の集積回路２を試験することができるようになされ、これにより複数の集積回路で共用化できるようになされている。
【００５３】
またこの試験プログラムの実行により、データ用メモリ１１に保持された画像生成用データより、対応する画像生成用データが選択的に信号発生インターフェース１０に出力され、これにより変更に係る画像データにより試験対象が試験される。またこの試験プログラムの実行により、ソフトウエア用メモリ１２に保持した複数の制御ファームウエアのうち、対応する制御ファームウエアを介して信号発生インターフェース１０の動作が制御され、これにより集積回路２に対応する伝送フォーマットにより画像データが出力される。また同様にして試験プログラムの実行により、データ用メモリ１１に保持された信号生成用データより、対応する信号生成用データが選択的に信号発生インターフェース１０に出力され、これにより変更に係るタイミング信号により試験対象が試験される。これらによりこの試験装置１では、試験プログラムに応じて、メモリ１１、１２に格納した複数の制御ファームウェア、画像生成用データ、信号生成用データを選択的に使用して、インターフェース、タイミング信号の異なる集積回路を試験することができ、これによっても複数の集積回路で共用化できるようになされている。
【００５４】
これに対して試験対象の集積回路が、例えばパーソナルコンピュータ用の液晶表示パネルを駆動する集積回路から、携帯電話用の液晶表示パネルを駆動する集積回路に切り換えられた場合、タイミング信号、画像データの伝送フォーマットだけでなく、駆動対象の画素数自体も大きく異なるようになり、さらにタイミング信号も大きく異なることにより、メモリ１１、１２に保持した試験プログラム、制御ファームウエア等の切り換えだけでは、対応できなくなる。また試験対象が新規な集積回路の場合等も、メモリ１１、１２に保持した試験プログラム、制御ファームウエア等の切り換えだけでは、対応できなくなる。同様に試験内容の変更により試験プログラム等をバージョンアップする場合等も発生する。
【００５５】
これらの場合、試験装置１においては、集積回路２に応じて、記憶装置１３に保持した対応する試験プログラム、制御プログラム、制御ファームウエアによりソフトウエア用メモリ１２の内容が更新される。また同様にして、記憶装置１３に保持した対応する信号生成用データ、画像生成用データによりデータ用メモリ１１の内容が更新される。さらにこのようにして更新した試験プログラム、制御ファームウエア等により集積回路２が試験される。
【００５６】
これにより試験装置１では、制御プログラム、制御ファームウエアの更新により画像データのインターフェースが異なる集積回路、タイミング信号が異なる集積回路についても試験することができるようになされている。また試験プログラムの更新により、試験内容の異なる集積回路についても試験することができるようになされている。また画像生成用データの更新により、画素数が異なる集積回路、階調が異なる集積回路についても試験することができ、さらには信号生成用データの更新によりタイミング信号が異なる集積回路についても試験することができるようになされている。
【００５７】
（３）実施の形態の効果
以上の構成によれば、タイミング信号生成等に供する制御ファームウエアを複数種類用意し、試験対象に応じて切り換えることにより、液晶表示パネルを駆動する各種の集積回路で共通に試験装置を使用することができる。
【００５８】
また試験内容に応じた試験プログラムを複数種類有し、試験対象に応じて選択的に試験プログラムを実行することによっても、各種の集積回路で共通に試験装置を使用することができる。
【００５９】
また画像生成用データ、信号生成用データを複数種類用意し、必要に応じて選択的に使用することによっても、各種の集積回路で共通に試験装置を使用することができる。
【００６０】
また主の記憶手段である記憶装置１３から画像生成用データをロードして記憶手段であるメモリ１１に保持した画像生成用データを更新することにより、また主の記憶手段より試験プログラムをロードして記憶手段に保持した試験プログラムを更新することにより、さらには主の記憶手段より信号生成用データをロードして記憶手段に保持した信号生成用データを更新することにより、また主の記憶手段より制御ファームウエア、制御プログラムをロードして記憶手段に保持した制御ファームウエア及び又は制御プログラムを更新することにより、タイミング信号、インターフェース、画素数等が異なる場合でも、各種の集積回路で共通に試験装置を使用することができる。
【００６１】
（４）他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、試験プログラム、制御プログラム、制御ファームウエア、画像生成用データ、信号生成用データの全てについて、変更可能とする場合について述べたが、本発明はこれに限らず、必要に応じて、これらの何れかのみを変更可能としてもよい。
【００６２】
また上述の実施の形態においては、液晶表示パネルを駆動する集積回路の試験装置に本発明を適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、プラズマディスプレイパネルを駆動する集積回路等、種々のディスプレイパネルを駆動する集積回路の試験装置に広く適用することができる。
【００６３】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、タイミング信号生成等に供する制御ファームウエアを複数種類用意し、試験対象に応じて切り換えることにより、液晶表示パネル等を駆動する各種の集積回路で共通に使用することができるようにする。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る試験装置における中央処理ユニットの処理手順を示すフローチャートである。
【図２】図１の続きを示すフローチャートである。
【図３】本発明の実施の形態に係る試験装置を示すブロック図である。
【符号の説明】
１……試験装置、２……集積回路、３……ＤＣ電源、４……通信装置、６……中央処理ユニット、７……表示器、９……定電流源、定電圧源、１０……信号発生インターフェース、１１……データ用メモリ、１２……ソフトウエア用メモリ、１３……記憶装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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