(57)【要約】【課題】ゾーンＣＬＶ方式で光ディスクにデータを書込む場合に、線速度の変更時にレーザダイオード近傍の温度を検出して、温度を考慮に入れたレーザパワーで補正をし、温度の変化による書込んだデータの品質や信頼性が低下を防止する。【解決手段】光ディスク１０の外周側へ向かうにしたがって、段階的に書込み時の線速度を速くして書込み可能としたゾーンＣＬＶ方式により制御されている光ディスク記録再生装置３０の書込み用のレーザパワーを制御する制御方法であって、書込み時の線速度が変更される際に、レーザ光を照射するレーザダイオード１２近傍の温度を検出し、書込み時の線速度が変更された後のレーザパワーが、検出されたレーザダイオード１２近傍の温度に対応し且つ線速度が変更された後の新たな線速度に対応する補正値分だけ変化するように制御することを特徴とする。【選択図】　　　　図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの外周側へ向かうにしたがって、段階的に書込み時の線速度を速くして書込み可能としたゾーンＣＬＶ方式により制御されている光ディスク記録再生装置の書込み用のレーザパワーを制御する制御方法であって、
書込み時の線速度が変更される際に、
レーザ光を照射するレーザダイオード近傍の温度を検出し、
書込み時の線速度が変更された後のレーザパワーが、該検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応し且つ線速度が変更された後の新たな線速度に対応する補正値分だけ変化するように制御することを特徴とする光ディスク記録再生装置におけるレーザパワー制御方法。
【請求項２】
前記書込み時の線速度が変更される際に、
前記補正値が、
線速度が変更された後の新たな線速度に対応するため予め設定されている線速度補正値と、検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応するため予め設定されている温度補償係数とから算出されることを特徴とする請求項１記載の光ディスク記録再生装置におけるレーザパワー制御方法。
【請求項３】
光ディスクの外周側へ向かうにしたがって、段階的に書込み時の線速度を速くして書込み可能としたゾーンＣＬＶ方式により制御されている光ディスク記録再生装置において、
レーザを照射するレーザダイオードと、
該レーザダイオード近傍の温度を検出する温度検出器と、
書込み時の線速度が変更される際に、書込み時の線速度が変更された後のレーザパワーが、前記温度検出器により検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応し且つ線速度が変更された後の新たな線速度に対応する補正値分だけ変化するように制御するレーザ制御手段とを具備することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項４】
前記レーザ制御手段は、
線速度が変更された後の新たな線速度に対応するため予め設定されている線速度補正値を記憶している第１の記憶手段と、
検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応するため予め設定されている温度補償係数を記憶している第２の記憶手段と、
前記第１の記憶手段から抽出した線速度補正と、第２の記憶手段から抽出した温度補償係数とから前記補正値を算出する算出手段とを備えることを特徴とする請求項３記載の光ディスク記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷ等の光ディスクにデータを記録することができる光ディスク記録再生装置装置のレーザ書込み出力の制御方法、および光ディスク記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクにデータを記録するための光ディスク記録再生装置として、ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｎｐａｃｔ　Ｄｉｓｃ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）装置やＣＤ−ＲＷ（Ｃｏｎｐａｃｔ　Ｄｉｓｃ−Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）装置が知られている。
【０００３】
光ディスクへデータを書込む際には、書込んだピットの密度が一定となるように書込みの線速度を一定に保つ、いわゆるＣＬＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ　Ｌｉｎｅｒ　Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式により光ディスクの回転が制御され、書込みが行なわれてきた。ＣＬＶ方式は、線速度を一定に保つため、光ディスクの内周側を書込む際には回転速度が速くなり、光ディスクの外周側に向かうにしたがって回転速度は遅くなる。
一方、近年の光ディスク記録再生装置においては、従来以上の速度でデータを光ディスクに書込むようにすることが望まれているが、ＣＬＶ方式で単に速度の上昇だけを行なうと光ディスクの内周側の回転速度が速くなりすぎてしまい、内周側においては確実なデータの書込みが行なわれないという問題があった。
【０００４】
そこで、光ディスクの内周側の回転速度は上げずに光ディスク全体の書込み時間を短縮し、全体として書込み速度を上げるべく、ゾーンＣＬＶという制御方式により制御される光ディスク記録再生装置が開発されている。
ゾーンＣＬＶ方式は、光ディスクの内周側においては低速の線速度一定で書込みを行なうので、内周側の回転速度は従来と同じであり、光ディスクの外周側に移行するにしたがって、段階的に線速度を上げていき回転速度を速くして、光ディスク全体として書込み速度を上げようとする方式である。
【０００５】
ゾーンＣＬＶ方式によるデータ書込みの一例を図５に示す。
この例では、光ディスク１０の内周側では１６倍速で書込み、所定時間経過後に外周へ移行すると２０倍速で書込み、さらに所定時間経過後に外周に移行すると２４倍速で書込みを行なうという方式である。
このようにゾーンＣＬＶ方式を採用することによって、光ディスク１０の内周側は従来の回転速度で回転するので内周側で書込みエラーを生じさせず、且つ全体として書込み速度を上げることができた。
【０００６】
なお、光ディスク記録再生装置は、光ディスクへデータを書込む際に光ディスクの記録面の最内周に位置するＰＣＡ（図５の符号９参照）においてデータ書込みの試験（いわゆるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ　Ｐｏｗｅｒ　Ｃｏｎｔｒｏｌ））を行ない、書込み時のレーザ光のパワーを適正な値となるように設定している。
以下、光ディスク記録再生装置におけるレーザ光のパワー設定について説明する。
光ディスク記録再生装置は、まず光ディスクからＡＴＩＰを読み出す。ＡＴＩＰは光ディスクを製造するメーカにおいて光ディスクの製品名等の光ディスク情報を記録しておくところである。
光ディスク記録再生装置は、この光ディスク情報に基づいて、予め設定してあるデータテーブルから推奨レーザパワー値を読み出し、読み出した推奨レーザパワー値を中心として、レーザ光のパワーを上下にふって試し書きを行なう。試し書きしたデータは読み出され、読み出した光強度の波形の上下対照性（アシンメトリ）を確認する。上下対照性の確認により、最も上下対照性の良い時点でのレーザパワーが、その光ディスクの最適なレーザパワー値であるとして設定される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、光ディスク記録再生装置においては、光ディスクの最内周のＰＣＡにおいて、レーザパワーの最適値を設定するためにＯＰＣが行なわれていた。
しかし、ゾーンＣＬＶ方式を採用した光ディスク記録再生装置においては、光ディスクの外周側では線速度を上げているので、最初にディスク最内周のＰＣＡで設定したレーザ光の出力値では、最適なパワー値であるとはいえなくなってしまうというという課題がある。
つまり、図５に示した例では、ＯＰＣのときは１６倍速でレーザパワー値を設定していたが、書込みが光ディスク外周側に至った場合には、線速度が２０倍速や２４倍速になり、最適なレーザパワー値は、１６倍速で設定した場合とは違ってきて、線速度が速いほど大きなパワーが必要になってくるのである。
【０００８】
かかる場合に、最適なレーザパワーから外れてしまっても、書込みができなくなるほどではないので、レーザパワーをそのまま変えずに書込みを続けることは可能ではある。
しかし、最適なレーザパワーで書込んでいるわけではないので、書込んだデータ読み出す時にデータが読めないなど、書込んだデータの品質や信頼性が低下するというおそれがある。
【０００９】
そこで、本発明者等は、ゾーンＣＬＶ方式で制御している場合には、線速度の変更時にレーザパワーも変更するようにして書込んだデータの品質や信頼性を維持すべきであるという考えに至った。
この場合、レーザパワーの変更は、線速度変更後のレーザパワーが好適な値となるようにパワーに足し込む補正値を予め設定しておき、レーザパワーがこの補正値を足した値となるようにレーザダイオードを制御するようにすれば良いと考えられた。
【００１０】
しかし、レーザダイオードに印加する電圧値は一定であっても、温度状態によって出力値が異なるという特性がレーザダイオードにはある。さらに、レーザダイオードは、温度状態によって出力されるレーザ光の波長も変化する。
このレーザ光の波長の変化は、１〜３Å／ｄｅｇ（温度１ｄｅｇ変化あたり１Å）程度の変化であって、データ書込みが不能になるなどの大きな影響は無いが、光ディスクに対するライト効率が変化するので、書込んだデータの品質や信頼性が低下するおそれがあるという課題がある。
【００１１】
そこで、本発明は上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、ゾーンＣＬＶ方式で光ディスクにデータを書込む場合に、線速度の変更時にレーザダイオード近傍の温度を検出することにして、レーザパワーを補正する際に温度を考慮に入れた値で補正をし、温度の変化による書込んだデータの品質や信頼性が低下を防止することができる光ディスク記録再生装置におけるレーザ書込み出力の制御方法および光ディスク記録再生装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
すなわち、本発明にかかる光ディスク記録再生装置のレーザパワーの制御方法によれば、光ディスクの外周側へ向かうにしたがって、段階的に書込み時の線速度を速くして書込み可能としたゾーンＣＬＶ方式により制御されている光ディスク記録再生装置の書込み用のレーザパワーを制御する制御方法であって、書込み時の線速度が変更される際に、レーザ光を照射するレーザダイオード近傍の温度を検出し、書込み時の線速度が変更された後のレーザパワーが、該検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応し且つ線速度が変更された後の新たな線速度に対応する補正値分だけ変化するように制御することを特徴としている。
この方法によれば、書込み時の線速度を変更する際に、レーザダイオード近傍の温度に合わせて温度補償をするため、変更後の線速度に合わせたレーザパワーとした場合でも温度によるレーザ光の波長の変化に対応することができ、ゾーンＣＬＶ方式で高速書込みを実現した場合であっても、書込んだデータの品質や信頼性が低下しないようにすることができる。
【００１３】
また、前記書込み時の線速度が変更される際に、前記補正値が、線速度が変更された後の新たな線速度に対応するため予め設定されている線速度補正値に、検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応するため予め設定されている温度補償係数を乗算することで算出されるよにしてもよい。
これによれば、レーザパワーに対する温度に対する補償を正確に行なうことができる。
【００１４】
本発明にかかる光ディスク記録再生装置によれば、光ディスクの外周側へ向かうにしたがって、段階的に書込み時の線速度を速くして書込み可能としたゾーンＣＬＶ方式により制御されている光ディスク記録再生装置において、レーザを照射するレーザダイオードと、該レーザダイオード近傍の温度を検出する温度検出器と、書込み時の線速度が変更される際に、前記温度検出器により検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応し且つ線速度が変更された後の新たな線速度に対応する補正値分を、書込み時のレーザパワーに加えることによって、書込み時のレーザパワーを変化させるように制御するレーザ制御手段とを具備することを特徴としている。
この構成を採用することによって、温度検出器がリアルタイムにレーザダイオード近傍の温度を検出し、また、線速度の変更時には、この検出温度に対応すると共に変更後の線速度に合わせたレーザパワーにすることができるので、Ｚ−ＣＬＶ方式で書込み時間を短縮する場合であっても書込んだデータの品質や信頼性が低下しないようにすることができる。
【００１５】
また、前記レーザ制御手段は、線速度が変更された後の新たな線速度に対応するため予め設定されている線速度補正値を記憶している第１の記憶手段と、検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応するため予め設定されている温度補償係数を記憶している第２の記憶手段と、前記第１の記憶手段から抽出した線速度補正値に、第２の記憶手段から抽出した温度補償係数を乗算する算出手段とを備えることを特徴としてもよい。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。
まず、図１に光ディスク記録再生装置（以下、単に光ディスク装置という場合がある）の実施形態の説明図を示し、動作原理を説明する。
図１は横軸に１枚の光ディスクにデータを書込む際の書込み時間をとり、縦軸にデータ書込み時に各速度に合わせて必要なレーザパワーをとったグラフを示している。
従来の技術でも説明したように、ゾーンＣＬＶ方式によって光ディスクにデータを書込む場合、段階的に線速度を上げるようにしているが、本実施形態においては例えば、１６倍速、２０倍速、２４倍速となるように段階的に線速度を上げるようにしている。
【００１７】
まず１６倍速で書込みを行なう場合のレーザパワーは、ＯＰＣによって決定される値Ｐ１である。
データ書込み開始から時間ｔ１経過後、線速度が２０倍速に切り替わる。このとき、レーザパワーも２０倍速に合わせたパワーに切換えられる。２０倍速に合わせたレーザパワーは、Ｐ２であるとする。このレーザパワーＰ２は、１６倍速におけるレーザパワーＰ１に補正値Ａ１分だけ加えたものである。
さらに、データ書込み開始から時間ｔ２経過後、線速度が２４倍速に切り替わる。このとき、レーザパワーも２４倍速に合わせたパワーに切換えられる。このときのレーザパワーはＰ３であるとする。レーザパワーの切換えは、予め設定された補正値Ａ２を最初のレーザパワーＰ１に加えた値にするようにして行なわれる。
【００１８】
ここで、補正値Ａ１，Ａ２について説明する。
各補正値は、照射するレーザを各線速度に対して適正なレーザパワーとするために線速度変更前に照射していたレーザのレーザパワーに足し込む値である。
補正値は、単に線速度の上昇に対応するだけの値であり温度変化にたいしては何ら考慮していない値である線速度補正値ａ１，ａ２，ｂ１，ｂ２，ｃ１，ｃ２（後述する）と、温度変化によって線速度補正を若干変更するための温度補償係数α１，α２，β１，β２，γ１，γ２，δ１，δ２（後述する）とから算出される。
【００１９】
一般的なレーザダイオードの特性として、高温下においては設定したレーザパワーが発光された場合でも、波長変動によって常温に対するライト効率が低下する。一方低温下においては、逆に設定したレーザパワーが発光された場合でも、波長変動によって常温に対するライト効率が上昇してしまう。
このため、本発明ではゾーンＣＬＶ制御時の線速度が変更になるときに、常に一定の補正値を上乗せしてレーザパワーを上げるのではなく、その時点での温度に応じた補正値を上乗せすると、より適正なレーザパワーで書込むことができ、光ディスクへの書込みデータの品質向上を図れる。
【００２０】
次に、図２に光ディスク装置の内部構造についてのブロック図を示し、これに基づいて本実施形態の装置の構成について説明する。
光ディスク装置３０は、光ディスクの一例としてのＣＤ−ＲまたはＣＤ−ＲＷにデータを書込み可能な装置である。
【００２１】
光ディスク装置３０は、光ディスク１０に照射するレーザ光を発振するレーザダイオード１２（以下、単にＬＤという場合もある）と、該ＬＤ１２を駆動する駆動電流をＬＤ１２へ供給するレーザドライバー１４とを光ピックアップ１１内に内蔵して具備している。ＬＤ１２は、光ピックアップ１１内に内蔵され、光ピックアップ１１と共に光ディスク１０の内周側から外周側に移動して光ディスク１０にデータを書込む。ＬＤ１２は、レーザドライバー１４による電流制御によってそのレーザパワーが制御される。
【００２２】
光ピックアップ１１内のＬＤ１２近傍には温度検出器の一例としてのサーミスタ１５が設けられている。ただし、温度検出器としてはサーミスタに限定されるものではない。
温度検出器１５は、ＬＤ１２近傍の温度を測定し、ＣＰＵ２４へ温度検出信号を送信する。具体的にはサーミスタ１５は、周囲の温度によって電気抵抗が変化するので、ＣＰＵ２４はサーミスタ１５に印加する電圧値の変化を検出することによって、ＬＤ１２近傍の温度を検出するようにしている。
【００２３】
レーザドライバー１４には、レーザドライバー１４を電圧制御するＡＰＣ（Ａｕｔｏ　Ｐｏｗｅｒ　Ｃｏｎｔｏｒｏｌ）回路１６が接続されている。このＡＰＣ回路１６が、レーザドライバー１４に印加される電圧を調整し、設定されたレーザパワー値において変動が生じないように、一定のレーザパワーが出力されるようにしている。
【００２４】
光ディスク１０から反射する光は、図示しない検出器を介して反射信号としてＲＦアンプ１８に入力され増幅される。
ＲＦアンプ１８に入力した光ディスク１０からの反射信号は、サーボプロセッサ２０に入力される。サーボプロセッサ２０は、反射信号に基づいてスピンドルモータ２２の回転、光ピックアップ１１のフォーカスおよびトラッキング等のサーボ制御を行なう。
【００２５】
ＣＰＵ２４には、ＲＯＭ等からなる記憶手段２６が接続されている。記憶手段２６内にはデータテーブルＸ，Ｙが構築されている。
ＣＰＵ２４はデータテーブルＸ，Ｙに記憶されているデータを読み出し、このデータに基づいてＯＰＣ時のレーザパワーの設定、および線速度が変更されるときのレーザパワーの変更を行なうことができる。
【００２６】
ＣＰＵ２４は、ＲＦアンプ１８からの反射信号を受け、ＡＰＣ回路１６を制御する中央処理装置である。
ここで、以下に説明するようなＣＰＵ２４の動作は、制御プログラムに基づいて行なわれるものであり、このような制御プログラムはファームウェアとして予め図示しないメモリ内に記憶されている。
なお、本実施形態では、ＡＰＣ回路１６とＣＰＵ２４がレーザ制御手段２８を構成している。
【００２７】
データテーブルＸの内容を説明する。
このデータテーブルＸの内容は、当該光ディスク装置３０の出荷前に予め設定されているものである。データテーブルＸには、光ディスクの種類に対応して、最初にＯＰＣを行なう際の推奨レーザパワーＰ０（Ａ社〜各社）が記憶されている。
Ｐ０は、ＯＰＣを行なう際に基準とするレーザパワー値であり、実際にこのＰ０という値で書込みが開始されるわけではない。ＯＰＣの動作については従来の技術で説明したのでここでは説明を省略するが、ＯＰＣではＰ０を基準として書込み試験を行ない、実際に書込む際のレーザパワーＰ１を算出する。
なお、ここでＰ０の値は、各メーカ毎に異なる物だけを図示しているが、メーカが同じであっても光ディスクの種類によってはＰ０の値が異なるものも当然ある。しかし、図２では各メーカだけを図示しており、メーカが同じでも種類が異なり、Ｐ０の値が異なる場合については省略している。
【００２８】
データテーブルＸには、ゾーンＣＬＶの動作によって線速度が変更になった際に、レーザパワーＰ１に上乗せする線速度補正値ａ１，ｂ１，ｃ１と、さらに線速度を変更したときにレーザパワーＰ１に上乗せする線速度補正値ａ２，ｂ２，ｃ２が、各光ディスクの種類に対応して予め設定されている。
各線速度補正値ａ１，ｂ１，ｃ１は、各光ディスクメーカ毎に線速度を１６倍速から２０倍速にしたときに、温度環境について何ら考慮しないでＯＰＣで導出したレーザパワーＰ１に足し込む値である。
各線速度補正値ａ２，ｂ２，ｃ２は、各光ディスクメーカ毎に線速度を２０倍速から２４倍速にしたときに、温度環境について何ら考慮しないでＯＰＣで導出したレーザパワーＰ１に足し込む値である。
【００２９】
また、記憶手段２６には、別のデータテーブルＹが設定されている。
データテーブルＹには、検出したレーザダイオード近傍の温度α〜εに対応する温度補償係数α１，α２，β１，β２，γ１，γ２，δ１，δ２が、線速度を２０倍速および２４倍速に変更した場合それぞれについて設定されている。
レーザダイオード近傍の温度Ｔは、α＜Ｔ＜β、β＜Ｔ＜γ、γ＜Ｔ＜δ、γ＜Ｔ＜εの４段階に区分されており、各区分毎に該当する温度補償係数が設定されている。
なお、データテーブルＹについては、各光ディスクのメーカ毎に設定されているところを示していないが、データテーブルＸと同様に各光ディスクのメーカ毎に異なる数値として設定されているものであるとする。
このような各線速度補正値、温度補償係数については当該光ディスク装置の出荷前に予め設定してデータテーブルＸ、Ｙに記録されている。
【００３０】
上述したデータテーブルＸ，Ｙの内容に基づき、光ディスク装置３０がどのように制御されるかを図３および図４のフローチャートに基づいて説明する。なおここでは、光ディスクは図１に示すＡ社製のものであるとする。
まず、ステップＳ１００において、データを書込むべく光ディスク１０が装着されると、光ピックアップ１１は、光ディスクのメーカー側で予め光ディスクに書込んであるＡＴＩＰを読み出す。
ＡＴＩＰを読み出したＣＰＵ２４は、データテーブルＸ内に記録してある装着された光ディスクの種類に対応する推奨レーザパワー値Ｐ０を読み出す。
ＣＰＵ２４は、読み出したＰ０の値に基づいてＯＰＣを実行し、最初にデータを書込むときのレーザパワー値Ｐ１を設定する。
【００３１】
次のステップＳ１０２において、ＣＰＵ２４は、設定したレーザパワー値Ｐ１でデータの書込みを開始する。
次に、ステップＳ１０４において、速度変更しない場合にはそのままのレーザパワーで書込みを続け、速度変更する場合にはステップＳ１０６へ移行する。
【００３２】
ステップＳ１０６では、ＣＰＵ２４は、レーザパワーに足し込むべき補正値を算出する。
以下補正値算出については、図４に移行して説明する。
まず、ステップＳ２００において、温度検出器であるサーミスタ１５がレーザダイオード近傍の温度を検出し、ＣＰＵ２４は、次のステップＳ２０４において検出した温度毎に異なる制御を行なう。
すなわち、検出された温度Ｔが、α＜Ｔ＜βであればステップＳ２０４からステップＳ２１２へ、β＜Ｔ＜γであればステップＳ２０６からステップＳ２１４へ、γ＜Ｔ＜δであればステップＳ２０８からステップＳ２１６へ、γ＜Ｔ＜εであればステップＳ２１０からステップＳ２１８へ移行する。
【００３３】
ステップＳ２１２では、ＣＰＵ２４はデータテーブルＸから検出温度α＜Ｔ＜βに該当する温度補償係数α１またはα２を読み出し、ステップＳ２２０においてデータテーブルＸから読み出した線速度補正値ａ１またはａ２に乗算する。
ステップＳ２１４では、ＣＰＵ２４はデータテーブルＸから検出温度β＜Ｔ＜γに該当する温度補償係数β１またはβ２を読み出し、ステップＳ２２２においてデータテーブルＸから読み出した線速度補正値ａ１またはａ２に乗算する。
ステップＳ２１６では、ＣＰＵ２４はデータテーブルＸから検出温度γ＜Ｔ＜δに該当する温度補償係数γ１またはγ２を読み出し、ステップＳ２２４においてデータテーブルＸから読み出した線速度補正値ａ１またはａ２に乗算する。
ステップＳ２１８では、ＣＰＵ２４はデータテーブルＸから検出温度δ＜Ｔ＜εに該当する温度補償係数δ１またはδ２を読み出し、ステップＳ２２６においてデータテーブルＸから読み出した線速度補正値ａ１またはａ２に乗算する。
このような各ステップＳ２２０〜Ｓ２２６で線速度補正値に温度補償係数をかけ合わせた、実際に足し込まれる値である補正値が算出される。
【００３４】
補正値が算出されると、図３のフローチャートのステップＳ１０８へ戻る。
ステップＳ１０８では、ＣＰＵ２４が算出した補正値に基づき、レーザダイオード１２が照射するレーザ光のレーザパワーが、線速度変更前のレーザパワーに算出された補正値を加えた値となるように、ＣＰＵ２４は、ＡＰＣ回路１６を制御し、レーザパワーを変更する。
【００３５】
そして、ステップＳ１１０において、データの書込みがすべて終了したところで終了する。
【００３６】
なお、上述してきた実施形態では、線速度補正値と温度補償係数とを予め記憶しておく記憶手段を同一の記憶手段としていたが、具体的には別々の記憶手段であってもよい。
さらに、上述してきた実施形態では、ゾーンＣＬＶの線速度の変更を１６倍速〜２０倍速〜２４倍速の場合について説明したが、線速度の変更はこのような数字の速度に限定されるものではない。
【００３７】
以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのはもちろんである。
【００３８】
【発明の効果】
本発明に係る光ディスク記録再生装置におけるレーザパワー制御方法によれば、書込み時の線速度を変更する際に、レーザダイオード近傍の温度に合わせて温度補償をするため、変更後の線速度に合わせたレーザパワーとした場合でも温度によるレーザ光の波長の変化に対応することができ、ゾーンＣＬＶ方式で高速書込みを実現した場合であっても、書込んだデータの品質や信頼性が低下しないようにすることができる。
【００３９】
請求項２のレーザ制御方法によれば、書込み時の線速度が変更される際に、補正値が、線速度が変更された後の新たな線速度に対応するため予め設定されている線速度補正値に、検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応するため予め設定されている温度補償係数を乗算することで算出されるので、レーザパワーに対する温度に対する補償を正確に行なうことができる。
【００４０】
本発明にかかる光ディスク記録再生装置によれば、温度検出器がリアルタイムにレーザダイオード近傍の温度を検出し、また、線速度の変更時には、この検出温度に対応すると共に変更後の線速度に合わせたレーザパワーにすることができるので、ゾーンＣＬＶ方式で書込み時間を短縮する場合であっても書込んだデータの品質や信頼性が低下しないようにすることができる。
【００４１】
請求項４の光ディスク記録再生装置によれば、レーザ制御手段は、線速度が変更された後の新たな線速度に対応するため予め設定されている線速度補正値を記憶している第１の記憶手段と、検出されたレーザダイオード近傍の温度に対応するため予め設定されている温度補償係数を記憶している第２の記憶手段と、第１の記憶手段から抽出した線速度補正値に、第２の記憶手段から抽出した温度補償係数を乗算する算出手段とを備えることを特徴としてもよい。このため、線速度補正値と温度補償係数とで、より適切な値でレーザパワーの変更ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光ディスク記録再生装置の線速度変更時の動作を説明する説明図である。
【図２】本発明に係る光ディスク記録再生装置の構成を説明するためのブロック図である。
【図３】本発明に係る光ディスク記録再生装置のレーザパワー制御方法について説明するフローチャートである。
【図４】補正値算出について説明するフローチャートである。
【図５】ゾーンＣＬＶ方式を説明する説明図である。
【符号の説明】
９　　　ＰＣＡ
１０　光ディスク
１１　光ピックアップ
１２　レーザダイオード
１４　レーザドライバー
１５　温度検出器
１６　ＡＰＣ回路
１８　ＲＦアンプ
２０　サーボプロセッサ
２２　スピンドルモータ
２６　記憶手段
２８　レーザ制御手段
３０　光ディスク記録再生装置
Ａ１，Ａ２　補正値
Ｘ，Ｙ　　　　　データテーブル
ａ１，ａ２，ｂ１，ｂ２，ｃ１，ｃ２　線速度補正値
α１，α２，β１，β２，γ１，γ２，δ１，δ２　温度補償係数
【図１】
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【図２】
2004005927.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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