(57)【要約】【課題】半導体レーザにおいて、供給される駆動電流パルスに応じてレーザ光の波長が瞬間的に変化してしまうことを防止する。【解決手段】先ず半導体レーザ装置として、第１のレーザ部が形成される第１の領域と、第２のレーザ部または抵抗体が形成された第２の領域とを熱的に結合するようにし、それぞれの領域で発生した熱が互いの領域に伝達されるようにする。そして、この半導体レーザ装置に対する駆動方法として、上記第１の領域と上記第２の領域における発熱量の和が一定となるように、上記第１の領域と上記第２の領域とにそれぞれ異なるパルスによる電流を供給するようにする。これにより、第１の領域と第２の領域との発熱量の和が一定となると共に、それぞれの領域で発生した熱が互いの領域に伝達されることとなって、第１の領域と第２の領域のそれぞれにおける温度を一定とすることができる。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ発振を行う第１のレーザ部が形成される第１の領域と、上記第１のレーザ部とは異なる第２のレーザ部または抵抗体が形成されると共に、上記第１の領域に対して熱的に結合されている第２の領域とが形成されていることを特徴とする半導体レーザ装置。
【請求項２】
上記第１の領域と上記第２の領域とは、同一基板上に形成されていると共に、上記第２の領域には、上記第２のレーザ部が形成されている、
ことを特徴とする請求項１に記載の半導体レーザ装置。
【請求項３】
上記第２のレーザ部が発光不能に構成されていることを特徴とする請求項１に記載の半導体レーザ装置。
【請求項４】
レーザ発振を行う第１のレーザ部が形成される第１の領域と、上記第１のレーザ部とは異なる第２のレーザ部または抵抗体が形成されると共に、上記第１の領域に対して熱的に結合されている第２の領域とが形成される半導体レーザ装置の駆動方法として、
上記第１の領域と上記第２の領域における発熱量の和が一定となるように、異なるパルスによる電流を上記第１の領域と上記第２の領域にとにそれぞれ供給する、
ことを特徴とする半導体レーザ駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光を射出する半導体レーザ装置、及びこの半導体レーザ装置を駆動するための半導体レーザ駆動方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、化合物半導体によるＰＮ接合に電流を流すことによりレーザ発振を行う、半導体レーザが広く知られている。
図５は、このような半導体レーザとして、光ディスクの記録・再生に用いられる半導体レーザ５０の構造を簡略的に示した斜視図である。
この半導体レーザ５０としては、図示するようにマウント材としてのヒートシンク５１上にマウントされるようにして用いられる。そして、この半導体レーザ５０に対しては、レーザ駆動回路により図のような矩形波による駆動電流が供給されることにより、半導体レーザ５０がレーザ発振を行うようにされる。これにより、この半導体レーザ５０からは、上記駆動電流のパルスに応じたレーザ光が射出されるようになっている。
【０００３】
この際、上記のように駆動電流が供給され、半導体レーザ５０によりレーザ発振が行われることによっては、これに伴って半導体レーザ５０が発熱するものとなる。そして、このようなレーザ発振に伴う半導体レーザ５０の発熱の温度としては、駆動電流のレベルが増加し、レーザ光の出力が上昇することによりさらに上昇するものとなる。
【０００４】
このように半導体レーザ５０の温度が上昇することに伴っては、レーザ光の波長が長くなってしまうことがわかっている。
そして、このようにレーザ光の波長が長くなることによっては、このレーザ光を適正な焦点位置でもってディスク面上に照射させるための対物レンズの色収差により、レーザ光の焦点深度にずれが生じてしまうこととなる。
つまり、次の図６に示すようにして、レーザ光の波長が長くなったことに伴う対物レンズの色収差により、焦点がディスクの記録面に対する適正な位置に保たれなくなってしまうものである。
【０００５】
ここで、近年において、例えば光ディスクに対する信号記録・再生用途の半導体レーザにおいては、中心発光波長４０５ｎｍの青紫レーザが実用化されて、高密度記録が実現されている。しかしながら、一般に光ディスク記録・再生装置における対物レンズの硝材は、このような４０５ｎｍ付近で色収差が大きいものとされ、この場合、例えば波長１ｎｍのずれに対しても、無視できないほどのフォーカス点のずれが生じるものとされている。
つまり、このように光ディスクに対する高密度記録を行うとした場合は、特に、上記のようなレーザ光の波長変化に伴う焦点のずれの影響を受け易くなるものである。
【０００６】
ところで、このような半導体レーザ５０を用いて光ディスクに対する信号記録を行うとした場合には、例えば図７に示すような矩形パルスによる駆動電流を半導体レーザ５０に供給して行うようにされる。
この図７に示す駆動電流は、例えばＣＤ−ＲＷ（ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）やＤＶＤ−ＲＷ等のリライタブル光ディスクに対して信号記録を行う場合に対応したものである。つまり、この場合の駆動電流としては、図示するように、光ディスクにおける記録膜を溶融させるための記録パワー、この溶融された記録膜を急冷してフェイズチェンジマークを形成させるためのバイアスパワー、記録信号の消去を行うための消去パワーのそれぞれに対応した３段階のレベルを有するものとなる。
【０００７】
ここで、例えばこの図に示される駆動電流パルスに基づいて信号記録を行うとすると、図中記録パワーとして示したＨレベルのパルス部分に対応しては、この瞬間に比較的大きなレベルの駆動電流が半導体レーザ５０に供給されることとなる。そして、これに応じては、半導体レーザ５０から高出力のレーザ光が発光されるのであるが、この際、このように比較的大きなレベルの駆動電流が供給されることに伴って、半導体レーザ５０の温度が瞬間的に上昇することとなる。
また、これとは逆に、バイアスパワーとして示したパルス部分では、駆動電流のレベルがＬレベルとなっており、従ってこの瞬間には駆動電流レベルが下がって半導体レーザ５０の温度が瞬間的に低下するものとなる。
【０００８】
すなわち、このように半導体レーザ５０を用いて光ディスクに信号記録を行う場合には、供給される駆動電流のパルス周期に応じて、半導体レーザ５０の温度が瞬間的に変化するものとなる。
そして、上記もしたようにこのような温度上昇に伴っては出力されるレーザ光の波長が長くなるから、この場合、レーザ光の波長も駆動電流パルスに応じた周期で瞬間的に変化する。つまり、レーザ光のフォーカス点が駆動電流パルスに応じて瞬間的に変化しているものである。
【０００９】
このようなフォーカス点の変化に対しては、フォーカスサーボ制御により一定のフォーカスを得るようにすることが考えられる。しかしながら、この際、光ディスク記録・再生装置に備えられるフォーカスサーボ回路においては、一般に比較的低い周波数（例えば数ｋＨｚ）によりディスクに追従するようにされている。つまり、このようなフォーカスサーボは、平均的なフォーカスのずれに対して追従するようにされているものであり、上記のような瞬間的な波長変化に伴う焦点のずれには応答することができない。
従って、この場合は、記録パルスの各部分でレーザ光の焦点がデフォーカスしてしまうこととなり、記録信号の品質を著しく低下させてしまう可能性がある。
【００１０】
このような問題点に対し、従来の技術では、上記のようなレーザ光の波長変化を引き起こす原因となる、半導体レーザ５０の発熱を一定とするように構成したものがある（下記特許文献１参照）。
図８は、このように半導体レーザ５０の発熱を一定とするために、冷却素子を設けた構成を簡略的に示した斜視図である。
この冷却素子を用いる技術は、例えば上記のような波長変化を特に抑制する必要のある、通信用の半導体レーザなどの分野において多用される技術である。そしてこの場合、図示するように冷却素子５５は、半導体レーザ５０のマウント材として設置される。
【００１１】
この際、冷却素子５５としては、例えば各種コンピュータに備えられるＣＰＵの冷却装置として多用される、ペルチェ素子などが用いられる。周知のようにこのペルチェ素子は、電力供給に応じた熱移動効果により、一方の面で吸熱を行いこれを他方の面に放熱するように動作するものである。
そして、このペルチェ素子としての冷却素子５５は、その吸熱面が半導体レーザ５０の底面と接するようにされ、放熱面がこの吸熱面と対向する側となるようにして設けられる。
これにより、この冷却素子５５が動作することで、半導体レーザ５０に発生した熱が外部に効率よく放出されるようになっている。
【００１２】
その上で、このような冷却素子５５に対しては、半導体レーザ５０の温度を一定とするための構成として、図示されない誤差検出回路、温度センサ等が設けられるものとなる。そして、この温度センサにより半導体レーザ５０の温度を測定し、測定された温度と目標温度との誤差を上記誤差検出回路において検出する。さらに、この誤差に基づいて上記冷却素子５５を駆動することにより、半導体レーザ５０の温度が一定となるように制御するものである。
【特許文献１】
特開平６−２５２８５７
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながらこの場合、上記もしたように半導体レーザ５０の発熱温度は、レーザ駆動電流のパルス周期に応じて変化するものである。つまり、このような半導体レーザ５０の温度変化は、例えば約数ｎｓｅｃという非常に速い周期の駆動電流パルスに応じて生じているものである。
従ってこの場合、上記のような冷却素子５５を用いた温度制御によっては、半導体レーザ５０の温度を一定に保つために、少なくとも数ｎｓｅｃ程度の周期により温度管理を行わなければならないこととなる。
しかしながら、現状において、このような温度制御を行うための構成を実際に光ディスク記録・再生装置に実装することは不可能に近い。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明では以上のような問題点に鑑み、半導体レーザ装置として以下のように構成することとした。
すなわち、本発明の半導体レーザ装置としては、レーザ発振を行う第１のレーザ部が形成される第１の領域と、上記第１のレーザ部とは異なる第２のレーザ部または抵抗体が形成されると共に、上記第１の領域に対して熱的に結合されている第２の領域とが形成されているものである。
【００１５】
また、本発明では、上記半導体レーザ装置の駆動方法として以下のようにすることとした。
つまり、上記第１の領域と上記第２の領域における発熱量の和が一定となるように、異なるパルスによる電流を上記第１の領域と上記第２の領域にとにそれぞれ供給するようにした。
【００１６】
上記のような本発明の半導体レーザ装置は、第１の領域と第２の領域とが熱的に結合されることにより、それぞれの領域で発生した熱が互いの領域に伝達されるようになっている。
そして、上記した本発明の半導体レーザ駆動方法によっては、上記第１の領域と上記第２の領域における発熱量の和が一定となるように、上記第１の領域と上記第２の領域とにそれぞれ異なるパルスによる電流が供給されるようになる。
このようにして、第１の領域と第２の領域との発熱量の和が一定となることによっては、当該半導体レーザ装置全体の発熱量を一定とすることができる。
そして、このように半導体レーザ装置全体の発熱量が一定となることで、上記したようにそれぞれの領域で発生した熱は互いの領域に伝達されるようになっていることから、これら第１の領域と第２の領域のそれぞれにおける発熱量も一定となる。
つまり、これにより上記第１の領域における温度が一定に保たれるようになって、この第１の領域に形成された第１のレーザ部から出力されるレーザ光の波長も、一定に保たれるようになるものである。
【００１７】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の実施の形態としての半導体レーザ装置１の構造を簡略的に示した斜視図である。
本実施の形態の半導体レーザ装置１は、例えば光ディスクの記録・再生に用いられるものとして想定される。そして、この半導体レーザ装置１としては、図示するようにマウント材としてのヒートシンク４上にマウントされるようにして用いられる。
【００１８】
本実施の形態の場合、この半導体レーザ装置１には、図示するように第１の領域としての第１のレーザ素子２と、第２の領域としての第２のレーザ素子３とが形成されるものとなる。そして、これら第１のレーザ素子２と第２のレーザ素子３とは、それぞれにおいて発生した熱が互いに伝達し合うように、熱的に結合されている。すなわち、上記第１のレーザ素子２と第２のレーザ素子３とが、例えば熱伝導率の高い物質を介して結合されているか、或いは熱伝導が可能に接合されているものである。
【００１９】
また、この場合、上記第２のレーザ素子の代わりに、第２の領域として抵抗体５を設けるようにしてもよい。
なお、この抵抗体５としては、電流の供給に応じて発熱するものであれば特に限定されるものではない。
【００２０】
或いは、本実施の形態の半導体レーザ装置１としては、次の図２に示すようにして形成されてもよい。
すなわち、この図２に示すようにして、半導体レーザ装置１としての同一基板上に、第１の領域としての第１のレーザ発光部２ａと、第２の領域としての第２のレーザ発光部３ａとを形成するものである。
この場合は、上記第１のレーザ部２ａと第２のレーザ部３ａとが同一基板上にあることから、それぞれに発生した熱が互いの領域に伝達される状態が得られている。つまり、この場合も第１の領域と第２の領域との熱的結合が得られているものである。
【００２１】
続いては、上記のように構成される半導体レーザ装置１についての駆動方法について説明する。
図３は、このような半導体レーザ装置１を備えて、本発明の駆動方法を実現するディスクドライブ装置１０の内部構成を示したブロック図である。
この図に示すディスクドライブ装置１０は、例えば中心発光波長４０５ｎｍの青紫レーザにより信号記録・再生が行われる、所謂ブルーレイディスクに対応したものとされる。
【００２２】
この図において、先ずディスク１００は、図示しないターンテーブルに積載され、記録／再生動作時においてスピンドルモータ１２によって一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。
そして光学ピックアップ（光学ヘッド）１１によってディスク１００上のデータ、即ちＲＯＭディスクの場合のエンボスピットによるデータや、リライタブルディスクの場合のフェイズチェンジマークによるデータの読出が行われる。
またリライタブルディスクの場合、グルーブトラックのウォブリングとして埋め込まれたＡＤＩＰ情報やディスクインフォメーションの読み出しがおこなわれる。
またリライタブルディスクに対する記録時には光学ピックアップによってグルーブトラックにデータがフェイズチェンジマークとして記録される。
【００２３】
ピックアップ１１内には、レーザ光源として、先の図１或いは図２に示した構成による半導体レーザ装置１が備えられる。また、この他にも、例えば反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、レーザ光を対物レンズを介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタに導く光学系（図示せず）が形成される。
この場合、上記もしたように半導体レーザ装置１としては、波長４０５ｎｍのいわゆる青紫レーザを出力するようにされる。また光学系によるＮＡは０．８５である。
【００２４】
ピックアップ１１内において対物レンズは二軸機構によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。
またピックアップ１１全体はスレッド機構１３によりディスク半径方向に移動可能とされている。
またピックアップ１１における、半導体レーザ装置１はレーザドライバ２３からのドライブ信号（駆動電流）によってレーザ発光駆動される。
【００２５】
ディスク１００からの反射光情報はフォトディテクタによって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてマトリクス回路１４に供給される。
マトリクス回路１４には、フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データに相当する高周波信号（再生データ信号）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などを生成する。
トラッキングエラー信号としては、ディスク１００がリライタブルディスクの場合は、例えばプッシュプル信号を生成し、ディスク１００がＲＯＭディスクの場合は、ＤＰＤ信号を生成する。
さらに、グルーブのウォブリングに係る信号、即ちウォブリングを検出する信号としてプッシュプル信号を生成する。
なお、マトリクス回路１４は、ピックアップ１１内に形成される場合もある。
【００２６】
マトリクス回路１４から出力される再生データ信号はリーダ／ライタ回路１５へ、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号はサーボ回路２１へ、ウォブリンググルーブの検出情報であるプッシュプル信号はウォブル回路５８へ、それぞれ供給される。
【００２７】
リーダ／ライタ回路１５は、再生データ信号に対して２値化処理、ＰＬＬによる再生クロック生成処理等を行い、フェイズチェンジマークやエンボスピットから読み出されたデータを再生して、変復調回路１６に供給する。
変復調回路１６は、再生時のデコーダとしての機能部位と、記録時のエンコーダとしての機能部位を備える。
再生時にはデコード処理として、再生クロックに基づいてランレングスリミテッドコードの復調処理を行う。
【００２８】
またＥＣＣ／スクランブル回路１７は、記録時にエラー訂正コードを付加するＥＣＣエンコード処理やスクランブル処理を行う。
再生時には、スクランブル処理に対するデスクランブル処理を行うとともに、エラー訂正のためのＥＣＣデコード処理を行う。
この再生時には、変復調回路１６で復調されたデータを内部メモリに取り込んで、デスクランブル処理及びエラー検出／訂正処理を行って再生データを得ることになる。
デスクランブル処理の際には、記録単位のブロック（ＲＵＢ）毎のリンキングフレーム及びデータフレームについてのデータに対し、アドレスデコーダ１９で得られる物理セクタアドレスのうちのクラスタナンバに基づいてスクランブリングバイトを発生させる。そしてそのスクランブリングバイトを用いて、上述したスクランブルに対するデスクランブル処理を行うことになる。
また、このＥＣＣ／スクランブル回路１７でのＥＣＣエンコード処理、及びＥＣＣデコード処理は、ＲＳ（２４８，２１６，３３）、符号長２４８、データ２１６、ディスタンス３３のＲＳ（ｒｅｅｄ  ｓｏｌｏｍｏｎ）コードを用いたＥＣＣフォーマットに対応する処理となる。
【００２９】
ＥＣＣ／スクランブル回路１７で再生データにまでデコードされたデータは、システムコントローラ２０の指示に基づいて、読み出され、ＡＶ（Ａｕｄｉｏ−Ｖｉｓｕａｌ）システム３０に転送される。
【００３０】
ディスク１００がリライタブルディスクの場合において、グルーブのウォブリングに係る信号としてマトリクス回路１４から出力されるプッシュプル信号は、ウォブル回路１８において処理される。ＡＤＩＰ情報としてのプッシュプル信号は、ウォブル回路１８において復調され、ＡＤＩＰアドレスを構成するデータストリームに復調されてアドレスデコーダ１９に供給される。
アドレスデコーダ１９は、供給されるデータについてのデコードを行い、アドレス値を得て、システムコントローラ２０に供給する。
またアドレスデコーダ１９はウォブル回路１８から供給されるウォブル信号を用いたＰＬＬ処理でクロックを生成し、例えば記録時のエンコードクロックとして各部に供給する。
【００３１】
ディスク１００がＲＯＭディスクの場合には、アドレスデコーダ１９において、再生データ信号からフレームシンク同期処理が行われ、アドレス情報、即ち物理セクターナンバは上述したＢＩＳに含まれているアドレスフィールドの情報を得ることで読み出される。そして得られたアドレス情報はシステムコントローラ２０に供給される。この場合、アドレス検出のためのクロックは、リーダ／ライタ回路１５におけるＰＬＬによる再生クロックが用いられる。
【００３２】
リライタブルディスクに対する記録時には、ＡＶシステム３０から記録データが転送されてくるが、その記録データはＥＣＣ／スクランブル回路１７におけるメモリに送られてバッファリングされる。
この場合ＥＣＣ／スクランブル回路１７は、バファリングされた記録データのエンコード処理として、エラー訂正コード付加やスクランブル処理、サブコード等の付加を行う。
またＥＣＣエンコード及びスクランブル処理されたデータは、変復調回路１６においてＲＬＬ（１−７）ＰＰ方式の変調が施され、リーダ／ライタ回路１５に供給される。
記録時においてこれらのエンコード処理のための基準クロックとなるエンコードクロックは上述したようにウォブル信号から生成したクロックを用いる。
【００３３】
エンコード処理により生成された記録データは、リーダ／ライタ回路１５で記録補償処理として、記録層の特性、レーザ光のスポット形状、記録線速度等に対する最適記録パワーの微調整やレーザドライブパルス波形の調整などが行われた後、レーザドライブパルス（駆動電流パルス）としてレーザドライバ２３に送られる。
レーザドライバ２３では供給された駆動電流パルスをピックアップ１１内の半導体レーザ装置１に与え、レーザ発光駆動を行う。これによりディスク１００に記録データに応じたピット（フェイズチェンジマーク）が形成されることになる。
なお、このようにしてレーザドライバ２３が半導体レーザ装置１を駆動する際の動作については後述する。
【００３４】
また、この場合、レーザドライバ２３は、いわゆるＡＰＣ回路（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を備え、ピックアップ１１内に設けられたレーザパワーのモニタ用ディテクタの出力によりレーザ出力パワーをモニタしながらレーザ出力が温度などによらず一定になるように制御する。記録時及び再生時のレーザ出力の目標値はシステムコントローラ２０から与えられ、記録時及び再生時にはそれぞれレーザ出力レベルが、その目標値になるように制御する。
【００３５】
サーボ回路２１は、マトリクス回路１４からのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号から、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
即ちフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、ピックアップ１１内の二軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによってピックアップ１１、マトリクス回路１４、サーボ回路２１、二軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
【００３６】
またサーボ回路２１は、システムコントローラ２０からのトラックジャンプ指令に応じて、トラッキングサーボループをオフとし、ジャンプドライブ信号を出力することで、トラックジャンプ動作を実行させる。
【００３７】
またサーボ回路２１は、トラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号や、システムコントローラ２０からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、スレッド機構１３を駆動する。スレッド機構１３には、図示しないが、ピックアップ１１を保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライブ信号に応じてスレッドモータを駆動することで、ピックアップ１１の所要のスライド移動が行なわれる。
【００３８】
スピンドルサーボ回路２２はスピンドルモータ２をＣＬＶ回転させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路２２は、ウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成されるクロックを、現在のスピンドルモータ１２の回転速度情報として得、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することで、スピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、リーダ／ライタ回路１５内のＰＬＬによって生成される再生クロック（デコード処理の基準となるクロック）が、現在のスピンドルモータ１２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成することもできる。
そしてスピンドルサーボ回路２２は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルモータ２２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路２２は、システムコントローラ２０からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。
【００３９】
以上のようなサーボ系及び記録再生系の各種動作はマイクロコンピュータによって形成されたシステムコントローラ２０により制御される。
システムコントローラ２０は、ＡＶシステム３０からのコマンドに応じて各種処理を実行する。
【００４０】
例えばＡＶシステム３０から書込命令（ライトコマンド）が出されると、システムコントローラ２０は、まず書き込むべきアドレスにピックアップ１１を移動させる。そしてＥＣＣ／スクランブル回路１７、変復調回路１６により、ＡＶシステム３０から転送されてきたデータ（例えばＭＰＥＧ２などの各種方式のビデオデータや、オーディオデータ等）について上述したようにエンコード処理を実行させる。そして上記のようにリーダ／ライタ回路１５からのレーザドライブパルスがレーザドライバ２３に供給されることで、記録が実行される。
【００４１】
また例えばＡＶシステム３０から、ディスク１００に記録されている或るデータ（ＭＰＥＧ２ビデオデータ等）の転送を求めるリードコマンドが供給された場合は、まず指示されたアドレスを目的としてシーク動作制御を行う。即ちサーボ回路２１に指令を出し、シークコマンドにより指定されたアドレスをターゲットとするピックアップ１１のアクセス動作を実行させる。
その後、その指示されたデータ区間のデータをＡＶシステム３０に転送するために必要な動作制御を行う。即ちディスク１００からのデータ読出を行い、リーダ／ライタ回路１５、変復調回路１６、ＥＣＣ／スクランブル回路１７におけるデコード／バファリング等を実行させ、要求されたデータを転送する。
【００４２】
なお、これらのデータの記録時や再生時には、システムコントローラ２０は、アドレスデコーダ１９によって検出されるＡＤＩＰアドレス、或いはＢＩＳに含まれるアドレスを用いてアクセスや記録再生動作の制御を行う。
【００４３】
ところで、この図３の例では、ＡＶシステム３０に接続されるディスクドライブ装置を挙げたが、この他にも例えばパーソナルコンピュータ等と接続されるものとしてもよい。
また、本例では所謂ブルーレイディスクに対応して信号の記録・再生を行う場合を例に挙げたが、その他のＣＤやＤＶＤ等の光ディスクに対応するものとされてもよい。
【００４４】
ここで、図３に示したレーザドライバ２３によるレーザ駆動動作について説明する。
本実施の形態の場合、このレーザドライバ２３は、例えば図４（ａ）、図４（ｂ）に示すような、それぞれ異なるパルスとされる２つの駆動電流Ｉ１、駆動電流Ｉ２を供給して、第１のレーザ素子２、第２のレーザ素子３をそれぞれ駆動するようにされている。
例えばこの場合、レーザドライバ２３は、図４（ａ）に示すようなパルスによる駆動電流Ｉ１を、レーザ素子２の電極に対して供給することで、このレーザ素子２にディスク１００に対するレーザ光の照射を行わせる。
そして、これに対応しては、一方のレーザ素子３の電極に対して、例えばこの図４（ａ）に示した駆動電流Ｉ１を反転させた、図４（ｂ）に示すような駆動電流Ｉ２を供給してレーザ素子３を駆動する。
【００４５】
ところで、このように駆動電流が供給されてレーザ素子が発光駆動されることによっては、先にも説明したように、それぞれのレーザ素子は駆動電流のレベルに応じて発熱するものとなる。
つまり、この場合、レーザ素子２及びレーザ素子３はそれぞれ、図４（ａ）に示した駆動電流Ｉ１、図４（ｂ）に示した駆動電流Ｉ２のパルスの周期に応じて発熱するものとなる。
【００４６】
そして、この場合、上記したように駆動電流Ｉ２は、例えば駆動電流Ｉ１のパルスを反転したものとされることから、レーザ素子２、３は、それぞれの発熱量が相補的なものとなるように駆動されることとなる。すなわちこの場合、例えば図４（ａ）に示す駆動電流Ｉ１のレベルが立ち下がってレーザ素子２の温度が瞬間的に低下するのに対応しては、図４（ｂ）の駆動電流Ｉ２のレベルが立ち上がってレーザ素子３の温度が瞬間的に上昇するといったものである。
またこのことに加え、この場合は上記のように駆動電流Ｉ２は駆動電流Ｉ１を反転したものであることから、レーザ素子２での温度低下のレベルと、レーザ素子３の温度上昇のレベルはほぼ同等のものとなる。
従って、図４（ａ）、（ｂ）に示したような駆動電流Ｉ１、Ｉ２によりそれぞれのレーザ素子を駆動することによっては、レーザ素子２とレーザ素子３の発熱量の和をほぼ一定とすることができるものである。
【００４７】
このようにレーザ素子２、３の発熱量の和が一定となることによっては、半導体レーザ装置１全体における温度が一定となる。
そして、先にも説明したように、レーザ素子２とレーザ素子３とは、互いが熱伝達可能に結合されていることから、この場合、上記のように半導体レーザ装置１全体における温度が一定となることによっては、レーザ素子２とレーザ素子３のそれぞれにおける温度も一定に保たれるようになる。
【００４８】
このようにして、レーザ素子２の温度を一定に保つことができることにより、このレーザ素子２が出力する、ディスク１００に照射すべきレーザ光の波長が、温度変化により変化してしまうことを防止することが可能となる。
そして、このようにレーザ素子２から出力されるレーザ光の波長変化を防止することが可能となることで、このような波長変化に伴う対物レンズの色収差により、レーザ光の焦点がずれてしまうことを防止することができるようになる。
【００４９】
この結果、従来では駆動電流のパルス周期でレーザ光がデフォーカスしていたものを、本実施の形態ではこれを防止することができるようになる。
そして、これにより、本実施の形態の半導体レーザ装置１によっては、ディスク１００に記録される信号の品質低下を防止することが可能となる。
【００５０】
なお、本実施の形態の半導体レーザ装置１として、図１に示したようにしてレーザ素子２とレーザ素子３とが別体とされる（別々の基板とされる）ように構成した場合は、これらのレーザ素子２、３としての２つの基板における、例えば電気的特性が同一でない場合が考えられる。つまりこの場合、上記のように単に反転したパルスを供給するのみでは、例えばこのような電気的特性などの違いから、レーザ素子２の発熱量に対するレーザ素子３の発熱量が、相補的なものとならない可能性があるものである。
また、同様に、レーザ素子３の代わりに抵抗体５を形成する場合も、レーザ素子１とこの抵抗体５との特性の違いから、レーザ素子２の発熱量に対する抵抗体５の発熱量を相補的なものとすることができない可能性がある
従ってこれらの場合、使用するレーザ素子３、又は抵抗体５の特性に応じて駆動電流Ｉ２のパルスを生成する必要がある。つまりこの場合は、駆動電流Ｉ１に応じたレーザ素子２における発熱量に対して、相補的な発熱量が得られるような駆動電流Ｉ２のパルスを生成してレーザ素子３又は抵抗体５を駆動するようにすればよいものである。
【００５１】
一方、これに対し、先の図２に示したように同一基板上にレーザ発光部２ａ、レーザ発光部３ａを形成する場合では、例えば電気的特性を同一とすることができる。すなわち、この場合は、駆動電流Ｉ２として、図４（ｂ）に示したような反転パルスをレーザ発光部３ａの電極に供給することで、この半導体レーザ装置１における発熱量をほぼ一定とすることができるものである。
【００５２】
ここで、この図２に示すように、同一基板上にレーザ発光部２ａ、レーザ発光部３ａを形成する場合では特に、レーザ発光部３ａから出力されるレーザ光が、レーザ発光部２ａから出力されるレーザ光によるディスク１００への記録・再生の妨げになる可能性が高い。
そこで、このような場合には、図２に示すようにしてこの半導体レーザ装置１としての基板に形成される、活性層６におけるレーザ発光部３ａに対応した部分に対して大きな欠落（斜線部）を形成するようにする。
このようにすることで、レーザ発光部３ａによる発光が行われないようになって、上記のようにレーザ発光部２ａから出力されるレーザ光によるディスク１００への記録・再生を妨害してしまうのを防止することができるようになる。
またこの際、図１に示したレーザ素子３についても、このように発光不能な状態としてディスク１００への記録・再生の妨害とならないように構成されるの好ましい。
【００５３】
なお、本発明の半導体レーザは、実施の形態で例示した光ディスク１００の記録・再生の用途以外にも、例えば通信用レーザなど他の用途の半導体レーザとしても好適に適用することができるものである。
【００５４】
また、例えば先の図８に示したようにして、半導体レーザ装置１のマウント材として、ヒートシンク４の代わりに、例えばペルチェ素子などの冷却素子５５を設けるようにすれば、半導体レーザ装置１の平均的な温度を低下させることができて好ましい。
【００５５】
【発明の効果】
以上で説明したように、本発明の半導体レーザ装置は、第１のレーザ部が形成される第１の領域と、第２のレーザ部または抵抗体が形成される第２の領域とが熱的に結合されることにより、それぞれの領域で発生した熱が互いの領域に伝達されるようになっている。
そして、本発明の半導体レーザ駆動方法では、上記第１の領域と上記第２の領域における発熱量の和が一定となるように、上記第１の領域と上記第２の領域とにそれぞれ異なるパルスによる電流を供給するようにしている。
【００５６】
このようにして、第１の領域と第２の領域との発熱量の和が一定となることによっては、当該半導体レーザ装置全体の発熱量を一定とすることができる。
そして、上記もしたようにそれぞれの領域で発生した熱は互いの領域に伝達されるようになっていることから、この場合、第１の領域と第２の領域のそれぞれにおける温度も一定とすることができる。
つまり、これにより上記第１の領域における温度を一定に保つことができ、この第１の領域に形成された第１のレーザ部から出力されるレーザ光の波長を一定に保つことが可能となるものである。
【００５７】
このようにして、第１のレーザ部から出力されるレーザ光の波長を一定に保つことができることにより、波長変化に伴う対物レンズの色収差により、レーザ光の焦点がずれてしまうことを防止することができるようになる。
そして、この結果、従来では駆動電流のパルス周期でレーザ光がデフォーカスしていたものを、本実施の形態ではこれを防止することができるようになって、光ディスクに記録される信号の品質低下を防止することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明における実施の形態としての半導体レーザの構造を簡略的に示した斜視図である。
【図２】本発明における実施の形態としての半導体レーザの、他の構造を簡略的に示した斜視図である。
【図３】実施の形態の半導体レーザ装置が備えられる、ディスクドライブ１０の内部構成例を示したブロック図である。
【図４】レーザドライブ２３が供給する駆動電流パルスについて説明するための波形図である。
【図５】従来の半導体レーザの構造を簡略的に示した斜視図である。
【図６】色収差によるレーザ光の焦点変化について説明するための図である。
【図７】光ディスクに対する信号記録時に対応した駆動電流のパルスについて説明するための波形図である。
【図８】冷却素子の備えられた半導体レーザの構造について簡略的に示した図である。
【符号の説明】
１  半導体レーザ装置、２  第１のレーザ素子、２ａ  第１のレーザ発光部、３  第２のレーザ素子、３ａ  第２のレーザ発光部、４  ヒートシンク、５  抵抗体、６  活性層、２３  レーザドライバ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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