(57)【要約】【課題】電気的なショート・オープン検査により、対向電極間のずれ量の良否判定を容易に行うことができるようにする。【解決手段】第１回路基板１０側の電極端子群１２と第２回路基板２０側の電極端子群２０とを異方性導電材を介して電気的・機械的に接続するにあたって、いずれか一方の例えば電極端子群２０に含まれる端部電極端子２２ａ，２２ｎの各々に、その端部電極端子の電極端子群の中心側の内縁ＩＥに沿う内縁延長線と端部電極端子の外縁ＯＥに沿う外縁延長線とで挟まれる端部電極端子延長領域であって、かつ、いずれか他方の電極端子群１２に含まれる相手方端部電極端子１２ａ，１２ｎが重ねられる領域内に、端部電極端子２２ａ，２２ｎよりも狭いずれ許容幅を有するずれ量検出電極４１Ｌ，４１Ｒを形成し、端部電極端子２２ａ−ずれ量検出電極４１Ｌ間および端部電極端子２２ｎ−ずれ量検出電極４１Ｒ間のショート・オープン検査により、ずれ量の良否判定を可能とした。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
短冊状の電極端子が所定のピッチで配列された第１電極端子群を有する第１回路基板と、上記第１電極端子群に対応する第２電極端子群を有する第２回路基板とを含み、上記第１電極端子群と上記第２電極端子群とを異方性導電材を介して電気的・機械的に接続する回路基板の接続構造において、
いずれか一方の上記電極端子群に含まれる電極端子のうち、少なくとも両端に配置される端部電極端子の各々に、上記電極端子群の配列方向に沿う上記両回路基板間の相対的なずれ量を電気的に検出するずれ量検出手段が設けられており、
上記ずれ量検出手段が、上記端部電極端子の電極端子群の中心側の内縁に沿う内縁延長線と上記端部電極端子の外縁に沿う外縁延長線とで挟まれる端部電極端子延長領域であって、かつ、いずれか他方の上記電極端子群に含まれる相手方端部電極端子が重ねられる領域内において、上記端部電極端子よりも狭い幅をもって上記端部電極端子とは電気的に絶縁して形成されたずれ量検出電極を備えていることを特徴とする回路基板の接続構造。
【請求項２】
上記端部電極端子の一部分および上記ずれ量検出電極の一部分が、それぞれ上記相手方端部電極端子が重ねられる領域の外側に引き出されている請求項１に記載の回路基板の接続構造。
【請求項３】
上記ずれ量検出電極が上記内縁延長線に接して配置されている請求項１または２に記載の回路基板の接続構造。
【請求項４】
上記ずれ量検出電極と、上記外縁延長線との間には、ずれ量の検出に関与しないダミー電極が上記ずれ量検出電極とは独立して形成されている請求項３に記載の回路基板の接続構造。
【請求項５】
上記ずれ量検出電極が、その中心線が上記端部電極端子の中心線上に合致するように配置されている請求項１または２に記載の回路基板の接続構造。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路基板の接続構造に関し、さらに詳しく言えば、２枚の回路基板に形成されている電極端子群同士を異方性導電材を介して電気的・機械的に接続する際のずれ量検出手段に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
回路基板の接続例として、液晶表示素子の分野について説明すると、液晶パネルの端子部には、ＴＣＰ（ｔａｐｅ  ｃａｒｒｉｅｒ  ｐａｃｋａｇｅ）やＣＯＦ（ｃｈｉｐ  ｏｎ  ｆｉｌｍ）などのフレキシブル基板を介して制御回路基板が接続される。
【０００３】
液晶パネルの端子部とフレキシブル基板の接続およびフレキシブル基板と制御回路基板との接続には、多数の電極端子同士を一括して電気的・機械的に接続することができる異方性導電材が多用されている。
【０００４】
異方性導電材とは、例えば熱硬化性樹脂内に多数の導電粒子が分散されており、熱圧着することにより単一方向の導電性を示す電気接続手段で、樹脂の接着力を利用した機械的な接続手段でもある。異方性導電材には、フィルム状とした異方性導電膜と液状とした異方性導電樹脂とがある。
【０００５】
異方性導電材による接続では、一方の回路基板の電極面と他方の回路基板の電極面との間に例えば異方性導電膜を配置して、それらの各電極面同士を重ね合わせて接続することになるため、その片側が液晶パネルの端子部のように透明基板である場合を除いて、その接続状態を目視にて検査することができない。
【０００６】
この検査方法として、ピール力（接続部分の引き剥がし力）の強弱や、樹脂のはみ出し方などで圧着状態を検査する方法が古くから知られているが、これらの方法では、対向電極間が接続されているかどうかを検査することは困難であるため、多分に信頼性に乏しく確実な検査方法ではない。
【０００７】
なお、圧着後において、各電極に実際に検査信号を印加して対向電極間の導通の有無を調べる方法もあるが、これには各回路基板ごとに例えばコネクタなどの専用の治具が必要であり、また、電極の本数が多い場合には、検査時間が長くなるため、好ましい検査方法とは言えない。
【０００８】
そこで、本出願人は、例えば下記の特許文献１において、電極本数などに関わらずに、対向電極間の接続状態を簡単かつ確実に電気的に検査できる技術を先に提案している。
【０００９】
この先行技術では、一方の回路基板の電極端子群の両側に、互いに離間された一対の検出電極を形成し、他方の回路基板の電極端子群の両側には、正規の位置合わせ時に上記一対の検出電極間に配置される導通用電極を形成して、各電極端子群間のずれが上記一対の検出電極と導通用電極とに反映するようにしており、これによれば、圧着後に上記一対の検出電極にプローブを当てて、その検出電極間の導通状態を測定することにより、対向電極間の接続の有無を検査することができる。
【００１０】
【特許文献１】
特開平１０−３０１１３７号公報
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
図６に、異方性導電材３を介して圧着された第１回路基板１と第２回路基板２の接続部分を模式的に拡大して示す。このように、第１回路基板１と第２回路基板２の対向電極１ａ，２ａは、異方性導電材３に含まれている導電粒子３ａによって電気的に接続される。
【００１２】
対向電極１ａ，２ａ間に存在する導電粒子３ａの個数が多いほど、確実な電気的接続状態が得られるが、第１回路基板１と第２回路基板２とがずれて、極端な場合、対向電極１ａ，２ａ間に存在する導電粒子３ａが１個になったときでも、対向電極１ａ，２ａは導通する。
【００１３】
しかしながら、位置ずれにより対向電極１ａ，２ａ間に存在する導電粒子３ａの数が少なくなると、長期間にわたっての接続の信頼性が低下してしまう。したがって、長期間にわたって接続の高い信頼性を得るには、対向電極１ａ，２ａ間に所定数の導電粒子３ａが存在し得るような対向面積が必要とされる。
【００１４】
すなわち、対向電極１ａ，２ａ間のずれ量が所定値以下であることが必要とされるが、上記先行技術では、対向電極１ａ，２ａ間の接続の有無は検査し得るものの、対向電極１ａ，２ａ間のずれ量までを正確に検査することは難しい。
【００１５】
本発明は、上記した課題を解決するためになされたもので、その目的は、対向電極間のずれ量を電気的に容易に検査できるずれ量検出手段を備えた回路基板の接続構造を提供することにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、短冊状の電極端子が所定のピッチで配列された第１電極端子群を有する第１回路基板と、上記第１電極端子群に対応する第２電極端子群を有する第２回路基板とを含み、上記第１電極端子群と上記第２電極端子群とを異方性導電材を介して電気的・機械的に接続する回路基板の接続構造において、いずれか一方の上記電極端子群に含まれる電極端子のうち、少なくとも両端に配置される端部電極端子の各々に、上記電極端子群の配列方向に沿う上記両回路基板間の相対的なずれ量を電気的に検出するずれ量検出手段が設けられており、上記ずれ量検出手段が、上記端部電極端子の電極端子群の中心側の内縁に沿う内縁延長線と上記端部電極端子の外縁に沿う外縁延長線とで挟まれる端部電極端子延長領域であって、かつ、いずれか他方の上記電極端子群に含まれる相手方端部電極端子が重ねられる領域内において、上記端部電極端子よりも狭い幅をもって上記端部電極端子とは電気的に絶縁して形成されたずれ量検出電極を備えていることを特徴としている。
【００１７】
この構成によれば、上記相手方端部電極端子が上記ずれ量検出電極上に重ねられている場合には、上記端部電極端子と上記ずれ量検出電極とが上記相手方端部電極端子を介して導通状態となり、上記相手方端部電極端子が上記ずれ量検出電極から外れている場合には、上記端部電極端子と上記ずれ量検出電極は非導通となる。
【００１８】
したがって、異方性導電材を介しての圧着後において、上記端部電極端子と上記ずれ量検出電極との間が、ショート（導通）であるかオープン（非導通）であるかを電気的に検査することにより、ずれ量の許容範囲内，許容範囲外を判定することができる。
【００１９】
なお、上記ずれ量検出電極の幅は、上記第１電極端子群と上記第２電極端子群との間で許容されるずれ量に応じて、例えば端部電極端子の１／２幅，１／３幅などのように適宜決められる。
【００２０】
上記端部電極端子と上記ずれ量検出電極との間のショート・オープン検査は、その双方にプローブを立てて行なわれるが、その作業を容易にするうえで、上記端部電極端子の一部分および上記ずれ量検出電極の一部分が、それぞれ上記相手方端部電極端子が重ねられる領域の外側に引き出されていることが好ましい。
【００２１】
また、上記ずれ量検出電極が上記内縁延長線に接して配置されていることが好ましく、これによれば、上記端部電極端子の双方でショートであれば、ずれ量が許容範囲内と判定でき、いずれか一方の上記端部電極端子側でオープンであれば、ずれ量が許容範囲外と判定できる。
【００２２】
上記端部電極端子を含めて電極端子が銅箔からなる場合、通常、その厚みは約３５μｍであり、これに対して、導電粒子の粒径は約１０μｍ以下である。上記ずれ量検出電極は、上記端部電極端子よりも幅が狭く、しかも上記端部電極端子が上記のように上記内縁延長線に接して配置される場合には、その外縁側がブランク部分となり、異方性導電材による接着力が確保され難くなる。
【００２３】
これを防止する意味で、上記ずれ量検出電極と、上記外縁延長線との間には、ずれ量の検出に関与しないダミー電極が上記ずれ量検出電極とは独立して形成されていることが好ましい。
【００２４】
また、別の態様として、上記ずれ量検出電極は、その中心線が上記端部電極端子の中心線上に合致するように配置されていてもよく、これによっても、上記と同様な作用・効果が得られる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
次に、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。図１（ａ）は第１回路基板１０の電極接続部１０ａを示す平面図、図１（ｂ）は第２回路基板２０の電極接続部２０ａを示す平面図で、図２は第１回路基板１０と第２回路基板２０の各電極接続部１０ａ，２０ａを異方性導電膜３０を挟んで対向させた状態を示す断面図である。
【００２６】
第１回路基板１０と第２回路基板２０は、ともにフレキシブル基板，ともに硬質基板もしくは一方がフレキシブル基板，他方が硬質基板のいずれの組み合わせであってもよい。なお、いずれか一方が例えば液晶パネルの端子部のようなＩＴＯからなる透明電極のリード端子を備えたガラス基板もしくはプラスチック基板であってもよい。また、異方性導電膜３０に代えて、異方性導電樹脂が用いられてもよい。
【００２７】
第１回路基板１０と第２回路基板２０とが、ともにフレキシブル基板であるとして、第１回路基板１０の電極接続部１０ａには、ベースフィルム１１上に形成された銅箔よりなる各リード配線から引き出された電極端子１２ａ〜１２ｎ（ｎは特定の数を意味しない）を含む電極端子群１２が露出されており、電極接続部１０ａ以外の部分はレジスト膜１３によって被覆されている。電極端子１２ａ〜１２ｎは短冊形状であって、所定のピッチで配列されている。なお、第１回路基板１０の電極接続部１０は、ベースフィルム１１の端部に配置されている。
【００２８】
第２回路基板２０の電極接続部２０ａには、ベースフィルム２１上に形成された銅箔よりなる各リード配線から引き出された電極端子２２ａ〜２２ｎを含む電極端子群２２が露出されている。電極接続部２０ａ以外の部分はレジスト膜２３によって被覆されているが、この場合、電極接続部２０ａは窓枠状に開口されており、その周囲がレジスト膜２３にて囲まれている。電極端子群２２は電極端子群１２と対応しており、電極端子２２ａ〜２２ｎの幅寸法および配列ピッチは、電極端子１２ａ〜１２ｎと同一である。
【００２９】
なお、この例では、第２回路基板２０の電極接続部２０ａ上に異方性導電膜３０を介して第１回路基板１０の電極接続部１０ａを重ねるようにしており、したがって実際には、第１回路基板１０の電極接続部１０ａは、図１（ａ）において紙面の裏側に位置している。
【００３０】
また、この例において、第１回路基板１０と第２回路基板２０は、図２に示すように、電極接続部１０ａに対する電極端子群１２の引き出し方向と、電極接続部２０ａに対する電極端子群２２の引き出し方向とが同じ向きとなるようにして重ね合わされる。
【００３１】
第１回路基板１０側の電極端子群１２に含まれる電極端子１２ａ〜１２ｎのうち、両端に位置する電極端子１２ａ，１２ｎを端部電極端子、同じく第２回路基板２０側の電極端子群２２に含まれる電極端子２２ａ〜２２ｎのうち、両端に位置する電極端子２２ａ，２２ｎを端部電極端子として、この例においては、第２回路基板２０側の端部電極端子２２ａ，２２ｎの部分に、第１回路基板１０と第２回路基板２０との間のずれ量を検出するずれ量検出手段４０がそれぞれ設けられている。
【００３２】
このずれ量検出手段４０は、端部電極端子２２ａ側と端部電極端子２２ｎ側とで左右対称である点を除いて同一構成であるため、一方の端部電極端子２２ａ側の構成要素には参照符号の末尾にＬを付し、他方の端部電極端子２２ｎ側の構成要素には参照符号の末尾にＲを付して、その構成を説明する。なお、他方の端部電極端子２２ｎ側の構成要素については、その参照符号を括弧内に記す。
【００３３】
このずれ量検出手段４０には、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）自体と、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）とが含まれる。ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）は、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の電極端子群の中心側の内縁ＩＥに沿う内縁延長線と端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の外縁に沿う外縁延長線とで挟まれる端部電極端子延長領域であって、かつ、異方性導電膜３０を介して相手方の端部電極端子１２ａ（１２ｎ）が重ねられる領域（図４のハッチング部分）内に配置されている。
【００３４】
ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）は、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）と同じく銅箔パターンよりなるが、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）とは電気的に絶縁するように形成されており、その幅Ｗ２は端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の幅Ｗ１よりも狭い。
【００３５】
端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の電極端子群２２の中心側寄りの縁を内縁ＩＥとし、その反対側の縁を外縁ＯＥとして、この例においては、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）は、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の内縁ＩＥの延長線である内縁延長線に接するように配置されており、ずれの許容値に応じて、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）の幅Ｗ２が選択される。
【００３６】
例えば、第１回路基板１０と第２回路基板２０との間のずれの許容値を、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の幅Ｗ１の１／２とするならばＷ２＝Ｗ１／２に設定され、ずれの許容値を端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の幅Ｗ１の１／３とするならばＷ２＝Ｗ１／３に設定される。なお、第１回路基板１０側の電極端子を含めて他の電極端子の幅も、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）と同じくすべてＷ１である。
【００３７】
本発明によると、第１回路基板１０と第２回路基板２０とを異方性導電膜３０を介して圧着した後、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）とずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）との間を対象として、導通チェッカーなどの検査器を用いて電気的なショート・オープン検査を実施することにより、回路基板１０，２０間のずれ量の良否判定を行うことができる。
【００３８】
ショート・オープン検査には、図示しない２本のプローブが用いられる。すなわち、一方のプローブを端部電極端子２２ａ（２２ｎ）側に接触させ、他方のプローブをずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）側に接触させるのであるが、その作業を容易にするため、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）およびずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）の各一部分を、相手方の端部電極端子１２ａ（１２ｎ）が重ねられる領域の外側に引き出している。
【００３９】
具体的に説明すると、この例においては、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の外縁ＯＥ側からリード線４２Ｌ（４２Ｒ）を引き出して、このリード線４２Ｌ（４２Ｒ）の端部と、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）の端部とを、電極接続部２０ａから反端部電極端子側に向けてレジスト膜２３の下に潜り込ませるように延在させ、レジスト膜２３の一部分にプローブ接触用として、それらの各端部を露出させるための開口部２３ａを形成している。
【００４０】
ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）は、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）よりも幅が狭く、しかもずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）が端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の内縁ＩＥ側寄りに配置されているため、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）の脇（端部電極端子２２ａ（２２ｎ）の外縁ＯＥ側）には、銅箔が存在しない比較的大きなブランク部分ができる。
【００４１】
通常、パターンを形成する銅箔の厚みは約３５μｍであるため、銅箔が存在する部分と存在しないブランク部分とでは大きな高低差が生じ、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）の接続安定性と、異方性導電膜３０による接着力が確保され難くなる。
【００４２】
これを防止する意味で、図１（ｂ）に示すように、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）の脇に、ずれ量の検出に関与しない銅箔よりなるダミー電極４３Ｌ（４３Ｒ）を、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）と独立，離間して形成することが好ましい。
【００４３】
図３に、一方のずれ量検出電極４１Ｌの脇にダミー電極４３Ｌを形成した状態の断面図を示すが、これによれば、ずれ量検出電極４１Ｌの近辺での高低差がなくなり、異方性導電膜３０に含まれている粒子径が１０μ以下の導電粒子３ａによるずれ量検出電極４１Ｌの接続安定性と、異方性導電膜３０による接着力が確保されることになる。
【００４４】
次に、図４（ａ）〜（ｃ）を参照して、第１回路基板１０と第２回路基板２０とを異方性導電膜３０を圧着した後において、上記したずれ量検出手段４０を用いて、その相対的なずれ量の良否判定の仕方について説明する。なお、異方性導電膜３０は、電極接続部１０ａ，２０ａのほぼ全面にわたって配置される。また、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）の幅Ｗ２は、Ｗ１／２幅であるとする。
【００４５】
図４（ａ）は、第１回路基板１０と第２回路基板２０とが、それらの間にほとんどずれがない状態で接続された状態を示している。この場合、左側の端部電極端子２２ａとずれ量検出電極４１Ｌとは、異方性導電膜３０を介して相手方の端部電極端子１２ａにより導通され、また、右側の端部電極端子２２ｎとずれ量検出電極４１Ｒとは、異方性導電膜３０を介して相手方の端部電極端子１２ｎにより導通状態となる。したがって、ショート・オープン検査では、ずれ量検出電極４１Ｌ−リード線４２Ｌ間およびずれ量検出電極４１Ｒ−リード線４２Ｒ間は、ともにショートとなる。
【００４６】
図４（ｂ）は、第２回路基板２０に対して第１回路基板１０が左側にＷ１／２幅以上ずれた状態を示している。この場合、左側の端部電極端子２２ａにおいては、相手方の端部電極端子１２ａがずれ量検出電極４１Ｌから外れる。これに対して、右側の端部電極端子２２ｎでは、相手方の端部電極端子１２ｎがずれ量検出電極４１Ｒ上に存在している。したがって、ショート・オープン検査では、ずれ量検出電極４１Ｌ−リード線４２Ｌ間はオープンで、ずれ量検出電極４１Ｒ−リード線４２Ｒ間はショートとなる。
【００４７】
図４（ｃ）は図４（ｂ）とは反対に、第２回路基板２０に対して第１回路基板１０が右側にＷ１／２幅以上ずれた状態を示している。この場合、左側の端部電極端子２２ａにおいては、相手方の端部電極端子１２ａがずれ量検出電極４１Ｌ上に存在しており、これに対して、右側の端部電極端子２２ｎでは、相手方の端部電極端子１２ｎがずれ量検出電極４１Ｒから外れる。したがって、ショート・オープン検査では、ずれ量検出電極４１Ｌ−リード線４２Ｌ間はショートで、ずれ量検出電極４１Ｒ−リード線４２Ｒ間はオープンとなる。
【００４８】
このようにして、ずれ量検出電極４１Ｌ−リード線４２Ｌ間もしくはずれ量検出電極４１Ｒ−リード線４２Ｒ間のいずれか一方がオープンであれば、第１回路基板１０と第２回路基板２０とのずれ量が許容値（上記の例では、Ｗ１／２幅）を超えており、接続不良と判定することができる。
【００４９】
変形例として、図５に示すように、ずれ量検出電極４１Ｌ（４１Ｒ）を端部電極端子２２ａ（２２ｎ）に対して、例えばそれらの中心線を合わせて配置してもよい。この場合、第１回路基板１０と第２回路基板２０のずれが許容値を超えたときには、ずれ量検出電極４１Ｌ−リード線４２Ｌ間およびずれ量検出電極４１Ｒ−リード線４２Ｒ間はともにオープンとなる。
【００５０】
なお、端部電極端子２２ａ（２２ｎ）およびその相手方の端部電極端子１２ａ（１２ｎ）は、ずれ量検出のためだけに設けられてもよいし、第１回路基板１０と第２回路基板２０との電気的な接続に関与する電極端子のいずれであってもよい。また、ずれ量検出手段４０を第２回路基板２０側ではなく、第１回路基板１０側設けてもよい。
【００５１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、第１回路基板側の電極端子群と第２回路基板側の電極端子群とを異方性導電材を介して電気的・機械的に接続する回路基板の接続構造において、いずれか一方の電極端子群に含まれる端部電極端子の各々に、その端部電極端子の電極端子群の中心側の内縁に沿う内縁延長線と端部電極端子の外縁に沿う外縁延長線とで挟まれる端部電極端子延長領域であって、かつ、いずれか他方の電極端子群に含まれる相手方端部電極端子が重ねられる領域内に、端部電極端子よりも狭いずれ許容幅を有するずれ量検出電極を形成したことにより、第１，第２回路基板の圧着後に、端部電極端子−ずれ量検出電極間を対象として電気的なショート・オープン検査を行うだけで、対向電極間のずれ量の良否判定を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係る第１回路基板および第２回路基板の各電極接続部を示す平面図。
【図２】上記第１回路基板および第２回路基板の対応関係を示す断面図。
【図３】本発明におけるずれ量検出電極部分を示す拡大断面図。
【図４】上記第１回路基板および第２回路基板のずれ量検出方法を説明するための模式図。
【図５】本発明におけるずれ量検出電極の変形例を示す平面図。
【図６】従来技術の説明において、異方性導電材による接続状態を示す拡大断面図。
【符号の説明】
１０，２０  回路基板
１０ａ，２０ａ  電極接続部
１２，２２  電極端子群
１２ａ，１２ｎ，２２ａ，２２ｎ  端部電極端子
３０  異方性導電膜
４０  ずれ量検出手段
４１Ｌ，４１Ｒ  ずれ量検出電極
４２Ｌ，４２Ｒ  リード線
４３Ｌ，４３Ｒ  ダミー電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
2004186169.tif 000006
【図５】
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【図６】
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