(57)【要約】【課題】通常再生モードで見えるノイズ成分を軽減し、特に狭トラックピッチ化を可能とする。【解決手段】ビームスプリッタ１４は、光磁気ディスク１からの反射光の光路（復路）を半導体レーザ１１からの出射レーザ光の光路（往路）と分離し、遮光部材１６に導く。遮光部材１６には、反射光の光磁気ディスク１上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリット１６ａが形成されており、線方向のＮＡの高い部分の光が除去される。【選択図】  図４
2004241085.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体に前記再生光スポットを照射すると共に反射光の光量を検出する光学ピックアップ装置において、
レーザ光を出射する光源と、
前記光源から出射されたレーザ光を前記光磁気記録媒体上に集光する対物レンズと、
前記光磁気記録媒体からの反射光の光路を前記光源からの出射レーザ光の光路と分離する分離光学系と、
前記分離光学系によって分離された前記反射光の光路上に設けられ、かつ前記反射光の前記光磁気記録媒体上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリットを有する遮光部材と、
前記遮光部材のスリットを透過した反射光の光量を検出する光検出手段と
を備えることを特徴とする光学ピックアップ装置。
【請求項２】
前記遮光部材を前記反射光の光路上に設けることにより、前記光磁気記録媒体線方向のＭＴＦを劣化させることを特徴とする請求項１記載の光学ピックアップ装置。
【請求項３】
少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体に前記再生光スポットを照射すると共に反射光の光量を検出する光学ピックアップ装置において、
レーザ光を出射する光源と、
前記光源から出射されたレーザ光を前記光磁気記録媒体上に集光する対物レンズと、
前記光磁気記録媒体からの反射光の光路を前記光源からの出射レーザ光の光路と分離する分離光学系と、
前記分離光学系によって分離された前記反射光の光量を、前記光磁気記録媒体の半径方向に分割した一部分のみから検出する光検出手段と
を備えることを特徴とする光学ピックアップ装置。
【請求項４】
前記光検出手段は、前記光磁気記録媒体の線方向のＭＴＦを劣化させることを特徴とする請求項３記載の光学ピックアップ装置。
【請求項５】
少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体を再生する再生方法において、
光源から出射されたレーザ光を前記光磁気記録媒体上に対物レンズで集光し、
前記光磁気記録媒体からの反射光の光路を前記光源からの出射レーザ光の光路と分離し、
前記分離された前記反射光の光路上に設けられ、かつ前記反射光の前記光磁気記録媒体上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリットを有する遮光部材の当該スリットを透過した反射光の光量を検出する
ことを特徴とする再生方法。
【請求項６】
少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体を再生する再生方法において、
光源から出射されたレーザ光を前記光磁気記録媒体上に対物レンズで集光し、
前記光磁気記録媒体からの反射光の光路を前記光源からの出射レーザ光の光路と分離し、
前記分離された前記反射光の光量を、前記光磁気記録媒体の半径方向に分割した一部分のみから検出する
ことを特徴とする再生方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁壁移動により記録磁区を拡大して信号の再生を行う際に用いる光学ピックアップ装置及び再生方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、少なくとも拡大層、スイッチング層及び記録層の３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として用い、信号の再生時に、膜温度がスイッチ層のキュリー温度以上となった領域での拡大層の磁壁移動を利用することにより、実効的に記録磁区の大きさを拡大して再生信号を大きくする光磁気再生方式が提案されている。
【０００３】
ＤＷＤＤ（Ｄｏｍａｉｎ  Ｗａｌｌ  Ｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）と呼ばれるこの方式では、再生時に、再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層（すなわち拡大層）の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大される。したがって、ＤＷＤＤ方式を採用することにより、再生光の光学的な限界分解能以下の周期の微小記録磁区からも非常に大きな信号を再生することが可能となり、再生光の波長や対物レンズの開口数等を変更することなく、更なる高密度化を図ることが可能となる。
【０００４】
しかしながら、ＤＷＤＤ方式により信号の再生を行うと、ある記録磁区に対応する信号が現れた後、当該記録磁区に対応する信号が一旦消え、その後、ある時間を経過した後に再び当該記録磁区に対応する信号が現れるという挙動を示すことがある。ゴーストと呼ばれる現象であり、再び現れる信号はゴースト信号と呼ばれる。このようなゴースト信号は、再生信号のノイズとなるため、ＤＷＤＤ方式を採用して高記録密度化を図る上で妨げとなっている。
【０００５】
そこで、本件出願人は、特開平１１−３３９３３８号にて、ゴースト信号成分を含む部分の光を遮光手段によって遮光することにより、再生信号に含まれるゴースト信号の成分を減衰させる技術を開示した。遮光手段は、光ビームの光磁気記録媒体からの反射光を再結合させる集光レンズによって反射光を再結像させることにより形成された再結像スポットを含む面上に配され、当該再結像スポットを部分的に遮る。そして、遮光手段によって遮られることなく通過してきた光を光検出手段で検出し、再生信号に含まれるゴースト信号成分が減衰された信号とする。
【０００６】
光磁気記録媒体等のディスク上に形成されるスポットの強度分布は、対物レンズに入射する光の強度と位相分布を示す瞳関数を２次元フーリエ変換することにより得られる。つまり対物レンズに入射する光とディスク上のスポットは単なる相似形で表されるものではない。よって、前記特開平１１−３３９３３８号のようにディスク上のスポットの中でノイズ成分となる部分をカットするためには、集光した状態の中にスリットを入れる必要がある。よって挿入する遮光手段の位置精度は非常に高いものが要求される。またこれにより得られる効果は、「ディスク上のスポットの一部をマスクするので、光学的には“より小さいスポットで再生する”＝“より高いＮＡ相当の光学特性を得る”となり、等価的に再生のＭＴＦを上げる」、ということになる。
【０００７】
また、前記ゴースト信号と同じ様なノイズ成分を除去するために、本願出願人は、特開２００１−５６９７９号公報にて、フォトディテクタの再生視野を、光量変化部分を含まない後半部分と、光量変化部分を含む前半部分に分割し、差分をとるという技術を開示している。この技術でも、ノイズ成分をマスクするために、フォトディテクタ上でスポットを極限まで絞り、よってＮＡをみかけ上高くしている。よって、等価的に再生のＭＴＦを上げることになる。
【０００８】
【特許文献１】
特開平１１−３３９３３８号
【特許文献２】
特開２００１−５６９７９号
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記ＤＷＤＤ方式の光磁気記録媒体は、盤面上のスポットの熱勾配によってマークを拡大することにより、見かけ上、光学ピックアップのＭＴＦが無限大まで伸びたような信号波形が得られる。しかし、スポット内のＤＷＤＤ動作している以外の部分からは、通常のＭＯ再生と同様にＭＴＦ内のノイズ成分がそのまま見え、特に高密度化のために狭トラックピッチ化した場合には隣接トラックからのクロストーク成分が顕著に見えてしまい、その結果、信号のＳ／Ｎを劣化させることになり、面密度を詰める際に障害となる。
【００１０】
なお、ここで問題となっているのは、通常の再生モードで隣接トラックから見えてしまうクロストーク成分のようなノイズ成分であり、前記特許文献１、特許文献２で課題としている、ＤＷＤＤ再生モードで同じ記録磁区から見えてしまうゴースト現象によるゴースト信号ではない。
【００１１】
本発明は、前記実情に鑑みてなされたものであり、通常再生モードで見えるノイズ成分を軽減することが可能となり、特に狭トラックピッチ化が可能となる光学ピックアップ装置及び再生方法の提供を目的としている。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光学ピックアップ装置は、前記課題を解決するために、少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体に前記再生光スポットを照射すると共に反射光の光量を検出する光学ピックアップ装置において、レーザ光を出射する光源と、前記光源から出射されたレーザ光を前記光磁気記録媒体上に集光する対物レンズと、前記光磁気記録媒体からの反射光の光路を前記光源からの出射レーザ光の光路と分離する分離光学系と、前記分離光学系によって分離された前記反射光の光路上に設けられ、かつ前記反射光の前記光磁気記録媒体上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリットを有する遮光部材と、前記遮光部材のスリットを透過した反射光の光量を検出する光検出手段とを備える。
【００１３】
光検出手段が光量を検出する反射光は、前記反射光の前記光磁気記録媒体上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリットを透過した反射光である。
【００１４】
本発明に係る光学ピックアップ装置は、前記課題を解決するために、少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体に前記再生光スポットを照射すると共に反射光の光量を検出する光学ピックアップ装置において、レーザ光を出射する光源と、前記光源から出射されたレーザ光を前記光磁気記録媒体上に集光する対物レンズと、前記光磁気記録媒体からの反射光の光路を前記光源からの出射レーザ光の光路と分離する分離光学系と、前記分離光学系によって分離された前記反射光の光量を、前記光磁気記録媒体の半径方向に分割した一部分のみから検出する光検出手段とを備える。
光検出手段が光量を検出する反射光は、光磁気記録媒体の半径方向に分割した一部分のみから検出された反射光である。
【００１５】
本発明に係る再生方法は、前記課題を解決するために、少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体を再生する再生方法において、光源から出射されたレーザ光を前記光磁気記録媒体上に対物レンズで集光し、前記光磁気記録媒体からの反射光の光路を前記光源からの出射レーザ光の光路と分離し、前記分離された前記反射光の光路上に設けられ、かつ前記反射光の前記光磁気記録媒体上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリットを有する遮光部材の当該スリットを透過した反射光の光量を検出する。
【００１６】
本発明に係る再生方法は、前記課題を解決するために、少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体を再生する再生方法において、光源から出射されたレーザ光を前記光磁気記録媒体上に対物レンズで集光し、前記光磁気記録媒体からの反射光の光路を前記光源からの出射レーザ光の光路と分離し、前記分離された前記反射光の光量を、前記光磁気記録媒体の半径方向に分割した一部分のみから検出する。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る光学ピックアップ装置及び再生方法の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
【００１８】
この実施の形態は、データが高密度記録された光磁気ディスク（ＭＯディスク）から磁壁移動検出（Ｄｏｍａｉｎ  Ｗａｌｌ  Ｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ：ＤＷＤＤ）によってデータを読み出す光学ピックアップ装置である。
【００１９】
磁壁移動検出は、情報信号の書き換えが可能な記録媒体である光磁気（ＭＯ）ディスクにおける高密度記録再生を実現するために、データが高密度記録された光磁気ディスクにおけるデータの再生を可能とするものである。この磁壁移動検出は、再生時の光スポットよりも小さなマークを、光スポットで誘起された熱分布により、磁区拡大して読み取る技術である。磁壁移動検出は、マークのエッジをきれいに検出できるので、いわゆる「マークエッジ記録」を採用した光磁気ディスクを再生する場合に適している。
【００２０】
この磁壁移動検出を行うための光磁気ディスク１は、図１に示すように、拡大層１ａと記録層１ｂとを有して構成されており、これら拡大層１ａと記録層１ｂとの間には、スイッチング層１ｃを有している。磁壁移動検出による再生原理は、孤立マークを用いて説明すると、図１に示すように、拡大層１ａの磁壁が、レーザで誘起されたキュリー温度以上の等温領域前端に差し掛かった時、最高温度部分へすばやく移動することを利用して、マークがあることを検出するものである。
【００２１】
前記ＤＷＤＤ方式の光磁気記録媒体は、盤面上のスポットの熱勾配によってマークを拡大することにより、見かけ上、光学ピックアップのＭＴＦが無限大まで伸びたような信号波形が得られる。しかし、スポット内のＤＷＤＤ動作している以外の部分からは、通常のＭＯ再生と同様にＭＴＦ内のノイズ成分がそのまま見えてしまう。
【００２２】
図２には、ディスク盤面上のスポット２を模式的に示す。図中の斜線部５は、スポット２によって熱せられてＤＷＤＤ動作をしている部分を示す。白抜きの部分４はＤＷＤＤ動作するほど熱せられていないため、通常膜と同様に光学的なＭＴＦに制限された信号として見える。ここで前者を「ＤＷＤＤ再生モード」で見えている部分５、後者を「通常再生モード」で見えている部分４とする。また、スポット２内には、「ＤＷＤＤ再生モード」でノイズ部分３も見える。
【００２３】
例えば、光学ピックアップ装置における、光学系の仕様の概要を、対物レンズの開口数ＮＡ＝０．４５、再生レーザ光の波長λ＝７８０ｎｍ、復路ビーム径φ＝２．７ｍｍとする。また、光磁気ディスク１の仕様を、トラックピッチ＝１．２５μｍ、線密度＝０．１６／ビットとし、信号の変調方式を１−７変調とする。
【００２４】
ここで、「ＤＷＤＤ再生モード」の信号品質は、主に盤面上でのスポットの熱分布（熱勾配）で決まるため、「熱勾配が急峻」＝「スポットが小さい（高ＮＡ、短波長）」の方が有利である。それに対し、「通常再生モード」の信号は再生系のＭＴＦに依存している。
【００２５】
図３には前記光磁気ディスク１での２Ｔ繰り返しパターンのスペクトラムを示す。低域に斜めにみえるノイズ成分が「通常再生モード」で見えるノイズ成分（主に隣接するランドからのクロストーク）である。この低域ノイズが大きいと、信号のＳ／Ｎが劣化する。特に狭トラックピック化することにより、クロストークが増大し、この低域ノイズが増加するために、面密度を上げる障害となる。
【００２６】
そこで、図４に示すように、光学ピックアップ装置１０は、復路に線方向の光をけるような向きのスリットを設けた遮光部材１６を挿入することにより、「再生系のみ」のＭＴＦを劣化させる光学系を備える。線方向の光をけるような向きのスリットとは、反射光の光磁気ディスク１上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリットのことであり、このスリットの向きによってビームスプリッタによって反射されてきた光のうち線方向（ｔａｎ方向）の光は遮光される。
【００２７】
この光学ピックアップ装置１０は、ＤＷＤＤ方式によって光磁気ディスク１からの信号を読みだす。レーザ光を出射する半導体レーザ１１と、この半導体レーザ１１から出射されたレーザ光を光磁気ディスク１に集光する対物レンズ１５と、光磁気ディスク１からの反射光の光路を半導体レーザ１１からの出射レーザ光の光路と分離するビームスプリッタ１４と、ビームスプリッタ１４によって分離された反射光の光路上に設けられ、かつ反射光の光磁気ディスク１上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリット１６ａを有する遮光部材１６と、遮光部材１６のスリット１６ａを透過した反射光の光量を検出するフォトディテクタ２０とを備える。
【００２８】
また、この光学ピックアップ装置１０は、半導体レーザＬＤ１１から出射されたレーザ光を平行光にするコリメータレンズ１２と、このレーザ光をメインビーム、先行サブビーム、後行サブビームの３本に分離する回折格子１３と、ＦＡＰＣ（Ｆｒｏｎｔ  Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）用のフォトディテクタ２１と、ウォラストン・プリズム１７と、収光レンズ１８と、マルチレンズ１９とをさらに備える。
【００２９】
半導体レーザＬＤ１１から出射された波長λ７８０ｎｍのレーザ光は、コリメータレンズ１２で平行光とされ、回折格子１３によって０次光、±１次光に分離される。これら３本に分離されたレーザ光は、メインビーム、先行サブビーム、後行サブビームであり、ビームスプリッタ１４を透過し、ＮＡが０．４５の対物レンズ１５で集光されて光磁気ディスク１の拡大層１ａに照射される。
【００３０】
光磁気ディスク１の拡大層１ａから反射された反射光は、対物レンズ１５を通してビームスプリッタ１４に達する。ビームスプリッタ１４は、光磁気ディスク１からの反射光の光路（復路）を半導体レーザ１１からの出射レーザ光の光路（往路）と分離し、遮光部材１６に導く。遮光部材１６には、反射光の光磁気ディスク１上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリット１６ａが形成されており、線方向のＮＡの高い部分の光が除去される。
【００３１】
遮光部材１６のスリット１６ａを透過した反射光は、ウォラストン・プリズム１７によりカー効果に適するように調整され、収光レンズ１８、マルチレンズ１９を介してフォトディテクタ２０上の各受光面に集光される。フォトディテクタ２０は、遮光部材１６のスリット１６ａを透過した反射光の光量を検出する。
【００３２】
ＦＡＰＣ用ＰＤ２１は、往路においてビームスプリッタ１４により反射された一部のレーザ光光量を検出する。この検出出力は、半導体レーザ１１の再生光出力パワーのコントロール信号の生成に用いられ、レーザ駆動回路に供給される。
【００３３】
この光学ピックアップ装置１０の復路の光学系は、光磁気ディスク１の線方向（ｔａｎ方向）の光をけるような向きのスリット１６ａを形成した遮光部材１６をビームススプリッタ１４とウォラストン・プリズム１７との間に挿入したので、「再生系のみ」のＭＴＦを劣化させる。往路は何もしていないので、通常の光学系と同じスポットが盤面上に形成されるため、「ＤＷＤＤ再生モード」の信号はほとんど変化はしない。
【００３４】
しかし、復路にスリット１６ａを形成した遮光部材１６を挿入することで、線方向のＮＡの高い部分の光が除去されることにより、再生のＭＴＦは、あたかも低ＮＡの光学系の信号にようにＭＴＦのカットオフ周波数が低域側にシフトする。
【００３５】
図５には、復路に間隔２ｍｍのスリット１６ａを形成した遮光部材１６を挿入した場合のスペクトラムを示す。スリット１６ａを形成した遮光部材１６を入れたため、光学系のＭＴＦのカットオフ周波数が低域側にシフトし、全体的にノイズ成分が減少しているのがわかる。
【００３６】
以下には、スリット１６ａを形成した遮光部材１６によって、線方向のＭＴＦを劣化させた場合に、ノイズを低減する効果について図６を参照しながら説明する。ＤＷＤＤ方式の場合、光学ピックアップ装置１０のＭＴＦを超えた信号を再生することができるが、これはディスク盤面上の微少なマークがスポットによって温められることにより伸びることによって実現される。つまり、「伸びた」マークはスポットに対して十分長いマークとなり、ＭＴＦ内の信号のように見える。これは図６を用いて説明すると、空間周波数βのＤＷＤＤ信号が伸びることにより、光学ピックアップ装置１０にとっては空間周波数αの信号であるかのように見えるということである。
【００３７】
次に、スリットによりＭＴＦを実線で示す特性から、破線で示す特性まで劣化させた場合を考える。ここでは、復路に遮光部材１６を入れるので、ディスク盤面上での熱分布は変わらない。よって、ＤＷＤＤの動きそのものには影響しない。カットオフ周波数が低くなることにより、空間周波数αの振幅もΔだけ減少することにより、空間周波数βのＤＷＤＤ信号もΔだけ減少する。しかしながら主に信号のＳ／Ｎを決めるノイズ分はＭＴＦ内に存在し、それらは斜線部に示した差分だけ小さくなる。これにより信号振幅が減少するにもかかわらず、信号のＳ／Ｎは向上する。
【００３８】
また、図７に「グルーブ幅と２Ｔ  Ｃ／Ｎの関係」、図８に「グルーブ幅と５００ｋＨｚのノイズの関係」、図９に「グルーブ幅とビット・エラー・レートの関係」を示す。グルーブ幅が狭くなるとスポットのランドにかかる面積が増えるので、クロストークによる低域ノイズが増えるが、スリットを入れた場合、ない場合に比べ、ノイズ分は低減されており、また「ＤＷＤＤ再生モード」の特性は盤面上のスポット形状が変わらないため、２Ｔ  Ｃ／Ｎは変わらないので、結果として再生信号のＳ／Ｎが改善され、エラーレートが下がることが分かる。
【００３９】
ＭＴＦを等価的に劣化させるため、線方向の光をけるスリット１６ａの幅は、図１０の（ａ）、（ｂ）に示す構成により可変することができる。図１０の（ａ）では遮光部材１６のスリット１６ａの両側にメカニカルに可動する可動部材１６ｂを設け、スリット１６ａの幅を可変している。また、図１０（ｂ）では遮光部材１６を液晶により形成し、液晶のａ部とｂ部に異なる電圧を加え、ａ部とｂ部それぞれを透過する光に位相差を生じさせることにより、ａ部の透過光をフォトディテクタ２０上に集光しないようにすることにより、ｂ部のみの透過光でＭＯ信号を検出する。
【００４０】
なお、上記光学ピックアップ装置１０では、遮光部材１６を光学系の復路に入れたが、線方向の光をけるようにフォトディテクタ２０上の一部のみからＭＯ信号を生成することにより、同様の効果を得ることができる。
【００４１】
図１１には非点収差法のＰＤパターン、図１２にはスポット・サイズ法（差動同心円法）のＰＤパターンの一例を示すが、それぞれの図中の斜線部のみからＭＯ信号を生成すればよい。
【００４２】
図１３には、光学ピックアップ装置をレーザカプラー３０を用いて構成した場合において、フォトディテクタ上の一部の受光部３５、３６のみからＭＯ信号を生成することにより、同様の効果を得る具体例を示す。
【００４３】
光学ピックアップ装置は、対物レンズ３７と、対物レンズ３７を駆動するレンズ駆動部と、対物レンズ３７を除く光学系を一体的に形成したレーザカプラー３０とから構成される。
【００４４】
レーザカプラー３０は、集積素子の具体例であり、光源としてのレーザダイオード３１と、ＦＡＰＣ用のＦ−ＰＤ３２と、光を分離させるプリズム３３と、光の強さを検出するフォトディテクタＰＤ群により構成される。
【００４５】
レーザダイオード３１は、入力される電気信号に応じてレーザ光を出射する。レーザダイオード３１から出射されたレーザ光は、プリズム３３の斜面で反射され、対物レンズ３７を通過する。対物レンズ３７を通過したレーザ光は、収束光となり、光磁気ディスク１の信号記録面で合焦する。
【００４６】
光磁気ディスク１の表面を照射した光は、光磁気ディスク１の反射面において反射され、対物レンズ３７により収束光に変換され、プリズム３３の斜面を透過して、フォトディテクタＰＤ群上に集光される。プリズム３３は、異方性を持つ結晶でできており、偏光方向により屈折率が異なって見えるため、入射した光をＭＯ信号に使われるＩ，Ｊ信号に分離することができる。
【００４７】
フォトディテクタの前側ＰＤ３４、後ろ側ＰＤ３５及び３６は、入射した光を電気信号に変換する。前側ＰＤ３４には、ａ，ｂ，ｃ，ｄの４つのディテクタパターンが設けられており、それぞれに入射された光を電気信号に変換する。後ろ側ＰＤ６には、Ｉｘ，Ｉｙ，Ｉｘの３つのディテクタパターンが設けられており、それぞれに入射された光を電気信号に変換する。    後ろ側ＰＤ３６には、Ｊｘ，Ｊｙ，Ｊｘの３つのディテクタパターンが設けられており、それぞれに入射された光を電気信号に変換する。
【００４８】
これらのフォトディテクタパターンからの電気信号を用いて、再生装置のＲＦアンプは、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥ、ＭＯ信号を以下のような式に基づいて生成する。
ＦＥ＝（（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ））−（（Ｉｘ＋Ｊｘ）−（Ｉｙ＋Ｊｙ））
ＴＥ＝（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）
ＲＦ（ＭＯ）＝Ｉｙ−Ｊｙ
ここで、ＭＯ信号は、フォトディテクタ上の一部のみからＭＯ信号を生成することにより、等価的に光学ピックアップ装置の線方向のＭＴＦを劣化させて、クロストーク等のノイズを低減している。
【００４９】
次に、図１４を参照し、本発明の光学ピックアップ装置を備える光磁気ディスク記録再生装置５０について説明する。先ず、光磁気ディスク記録再生装置５０が光磁気ディスク１を回転する構成、この光磁気ディスク１に対して光学ピックアップ装置１０を移動させる構成について説明する。光磁気ディスク１は、スピンドルモータ５１によって所定の回転数で回転操作される。スピンドルモータ５１は、ドライバ５２によって駆動される。ドライバ５２は、後述するデジタルサーボプロセッサ（ＤＳＳＰ）７２により制御されて、スピンドルモータ５１を回転する。
【００５０】
スピンドルモータ５１によって回転されている光磁気ディスク１に対しては、光ピックアップ装置１０からレーザ光が照射される。光磁気ディスク１上におけるデータの読み取りは、光ピックアップ装置１０を光磁気ディスク１の半径方向に移動することによって行われる。光ピックアップ装置１０は、スレッドモータ５４を備えたスレッド機構に支持されることにより、光磁気ディスク１の半径方向に移動可能となされている。読み取り位置の大きな移動は、このスレッド機構によって行われる。また、光ピックアップ装置１０の対物レンズ１５が２軸駆動回路により支持され、ドライバ５２によって光磁気ディスク１の半径方向にトラッキングサーボ動作によって移動されることにより、読み取り位置の小さな移動が行われる。また、対物レンズ１５が２軸駆動回路により光磁気ディスク１に接離する方向にフォーカスサーボ動作によって移動されることにより、光磁気ディスク１の信号記録面上におけるレーザ光のフォーカス制御が行われる。
【００５１】
次に、再生部の構成について説明する。光ピックアップ装置１０は、ＲＦ信号を生成し、ＲＦアンプ５５に供給する。ＲＦアンプ５５で所定のゲインで増幅された信号は、信号処理部を形成する、Ａ／Ｄ変換部５６、オートゲインコントロール（ＡＧＣ）回路５７、イコライザ（ＥＱ）＆ディジタルＰＬＬ部５８、デコーダ５９、復調部６０に、順番に供給される。復調部６０は、内部バス６１を介して、メモリ部６２、誤り訂正部６３、スクランブルエンコーダ６６、デスクランブルデコーダ６４に接続している。
【００５２】
そして、この再生部は、以下のように動作する。すなわち、光ピックアップ装置１０により光磁気ディスク１からフォトディテクタの一部の領域のみを用いて検出されたＭＯ信号は、光ピックアップ措置１０内で光電変換され、ＲＦ（ＭＯ）信号として出力される。このＲＦ（ＭＯ）信号は、ＲＦアンプ５５に入力され、所定のゲインで増幅されてから、信号処理部を構成するＡ／Ｄ変換部５６に供給される。Ａ／Ｄ変換部５６に供給された、前記ＲＦ（ＭＯ）信号は、量子化される。その後、ＡＧＣ処理部５７でゲインがコントロールされてからイコライザ（ＥＱ）＆ディジタルＰＬＬ部５８により波形整形と抜き取りクロックが生成され、デコーダ５９を経て、復調部６０で復調される。なお、ここでは、Ａ／Ｄ変換後のＲＦ信号を用いてＡＧＣ、イコライズ、ＤＰＬＬを掛けているが、Ａ／Ｄ変換前にアナログのＡＧＣ、イコライズ、ＰＬＬをかけてもよい。復調部６０で復調されたデータストリームは、メモリ６２上に展開され、誤り訂正ブロック単位に誤り訂正部６３で誤り訂正される。誤り訂正されたデータは、デスクランブル＆デコーダ６４によりデスクランブル処理とデコード処理が施され、ＤＡＴ１信号として、クロック発生部６５からの転送クロックＳＣＬＫと共に出力される。このＲＦ（ＭＯ）信号は、遮光部材１６のスリット１６ａにより線方向にけられるか、またはフォトディテクタ上の一部のみから生成されており、等価的に光学ピックアップ装置の線方向のＭＴＦを劣化させて、クロストーク等のノイズを低減する。
【００５３】
次に、記録部の構成について説明する。入力された信号ＤＡＴ０は、スクランブラ＆エンコーダ６６で処理されたから、内部バス６１を介して、メモリ部６２、誤り訂正部６３、変調部６０に順番に供給される。変調部６０は、変調データを磁気ヘッド駆動部６８に供給する。磁気ヘッド駆動部６８は、磁気ヘッド６９を駆動する。また、変調部６７は、レーザＡＰＣ回路及びドライバ７０にクロック信号を供給する。
【００５４】
そして、この記録部は、以下のように動作する。すなわち、転送クロックＳＣＬＫに同期して入力された信号ＤＡＴ０は、スクランブラ＆エンコーダ６６によりスクランブル処理とエンコード処理が施されてから、メモリ部６２に書き込まれる。メモリ部６２に書き込まれたデータには、誤り訂正部６３で、エラー訂正パリティが追加され、内部バス６１を介して変調部６０に供給される。変調部６０で変調されたデータは、磁気ヘッド駆動部６８を経て磁気ヘッド６９に供給される。一方、レーザＡＰＣ回路及びドライバ７０には、変調部６７からレーザストローブ変調クロックが与えられる。
【００５５】
次に、サーボ系の構成について説明する。このサーボ系は、光ピックアップ装置１０が生成した信号からサーボエラー信号や後述するウォブル信号を抽出するマトリックスアンプ７１と、サーボエラー信号を基にドライバ５２を介して前記スレッド機構、光ピックアップ装置１０のアクチュエータに所定のサーボ処理を施すと共に、スピンドルモータ５１に後述するＣＬＶ制御信号に応じたスピンドルサーボ処理を施すＤＳＳＰ７２と、ＤＳＳＰ７２を制御するシステムコントローラ７６とを備える。また、このサーボ系は、マトリックスアンプ７１が抽出したウォブル信号から、ＡＤＩＰ（Ａｄｄｒｅｓｓ  Ｉｎ  Ｐｒｅ−ｇｒｏｏｖｅ）信号を検出するＢＰＦ７３と、前記ＡＤＩＰ信号をデコードするＡＤＩＰデコーダ７４と、ＤＳＳＰ７２にＣＬＶ制御信号を供給するＣＬＶ制御部７５とを備える。
【００５６】
次に、サーボ系の動作について説明する。マトリックスアンプ７１で光ピックアップ装置１０からの信号から抽出されたサーボエラー信号にはＤＳＳＰ７２にて位相補償、ゲイン・目標値設定処理が施され、ドライバ５２を経て光ピックアップ装置１０内のアクチュエータ及びスレッドモータ５４へ供給される。トラッキングエラー信号は、光磁気ディスクのランド部とグルーブ部では極性が逆になるためどちらを記録再生するかによってシステムコントローラ７６が極性を切り換える。また、特にランド／グルーブディスクにおける、フォーカス検出では非点収差法を用いた場合、ランド部とグルーブ部でオフセットがでることが知られている。これによる影響を取り去るためにシステムコントローラ７６がランド部とグルーブ部で別々にフォーカスオフセットを設定してやる。
【００５７】
一方、マトリックスアンプ７１から出力されたウォブル信号はバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）７３でその成分が抽出され、ＡＤＩＰデコーダ７４で復号されたアドレス情報がシステムコントローラ７６に転送される。また、ＢＰＦ７３の出力とＡＤＩＰデコーダ７４内のＰＬＬ位相誤差の積分及びシステムコントローラ７６からの制御信号はＣＬＶ制御部７５へ供給され、ＤＳＳＰ７２、ドライバ５２を経てスピンドルモータ５１に供給される。
【００５８】
【発明の効果】
本発明に係る光学ピックアップ装置及び再生方法によれば、光検出手段が光量を検出する反射光は、前記反射光の前記光磁気記録媒体上の半径方向に対応する方向を長手方向とするスリットを透過した反射光であるので、通常再生モードで見えるノイズ成分を軽減することが可能となり、特に狭トラックピッチ化が可能となる。
【００５９】
また、本発明に係る光学ピックアップ装置及び再生方法によれば、光検出手段が光量を検出する反射光は、光磁気記録媒体の半径方向に分割した一部分のみから検出された反射光であるので、通常再生モードで見えるノイズ成分を軽減することが可能となり、特に狭トラックピッチ化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＤＷＤＤの原理を説明するための図である。
【図２】ＤＷＤＤによる盤面上のスポットを示す図である。
【図３】ＤＷＤＤ信号のスペクトラムを示す図である。
【図４】光学ピックアップ装置の光学系の概略図である。
【図５】スリットを設けた遮光部材を挿入したスペクトラムを示す図である。
【図６】ＭＴＦを劣化させた場合のノイズ低減効果を説明するための特性図である。
【図７】グルーブ幅と２Ｔ  Ｃ／Ｎの関係を示す特性図である。
【図８】グルーブ幅と５００ｋＨｚのノイズの関係を示す特性図である。
【図９】グルーブ幅とビットエラーレートの関係を示す特性図である。
【図１０】スリットを可変する構成を示す図である。
【図１１】非点収差法用ＰＤパターンを示す図である。
【図１２】スポットサイズ法用のＰＤパターンを示す図である。
【図１３】レーザカプラーを用いた光学ピックアップ装置の光学系の構成図である。
【図１４】光磁気ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１  光磁気ディスク、１ａ  拡大層、１ｂ  記録層、１ｃ  スイッチング層、１０  光学ピックアップ装置、１１  半導体レーザ、１３  回折格子、１４  ビームスプリッタ、１５  対物レンズ、１６  遮光部材、１６ａ  スリット、１７ウォラストン・プリズム、２０  フォトディテクタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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