(57)【要約】【課題】プリチャージしたデータ線に書き込むデータの書き込み不足の検査を簡単な構成で精度よく検査を行うことができる電気光学表示装置を提供する。【解決手段】赤用検査スイッチＳＴＲは、赤用検査線ＴＬＲと赤用データ線ＤＬＲの間に接続されている。緑用検査スイッチＳＴＧは、緑用検査線ＴＬＧと緑用データ線ＤＬＧの間に接続されている。青用検査スイッチＳＴＢは、青用検査線ＴＬＢと青用データ線ＤＬＢの間に接続されている。各検査スイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢは、制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘ３に基づいてオンされると、各データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに供給されたデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａに基づく同データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢにかかる電圧が検出信号Ｖｍｒ，Ｖｍｇ，Ｖｍｂとして赤、緑及び青用検査線ＴＬＲ，ＴＬＧ，ＴＬＢにそれぞれ出力される。【選択図】　　　　図２
2004145224.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数の電気光学素子と、
を含む電気光学装置であって、
前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続されたプリチャージ信号供給線からのプリチャージ信号の該少なくとも１つのデータ線への供給を制御する第１のスイッチと、
前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続された、該少なくとも１つのデータ線から検査線への検出信号の出力を制御する第２のスイッチと、
前記第２のスイッチのオン状態またはオフ状態に設定するデータ線選択回路とを含むことを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数の電気光学素子と
を含む電気光学装置であって、
前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続された入出力信号線からのプリチャージ信号の該少なくとも１つのデータ線への供給を、及び、該少なくとも１つのデータ線から前記入出力信号線への検査信号の出力を制御する第３のスイッチと、
前記第３のスイッチのオン状態またはオフ状態に設定するデータ線選択回路とを含むことを特徴とする電気光学装置。
【請求項３】
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数の電気光学素子と、
を含む電気光学装置であって、
前記複数のデータ線の少なくとも２つのデータ線へのプリチャージ信号を供給するためのプリチャージ線と、
前記少なくとも２つのプリチャージ線から前記少なくとも２つのデータ線へのプリチャージ信号の出力をそれぞれ制御する第１のスイッチと、
前記複数のデータ線の少なくとも２つのデータ線から検査線への検出信号の出力をそれぞれ制御する第２のスイッチと
を含むことを特徴とする電気光学装置。
【請求項４】
請求項３項に記載の電気光学装置において、
前記第２のスイッチを順番に動作させ、前記少なくとも２つのデータ線から前記検査線へ出力するプリチャージ信号を制御するデータ線選択回路を設けたことを特徴とする電気光学装置。
【請求項５】
複数の走査線と、
前記各走査線に対して交差するように配線された複数のデータ線と、
前記各走査線と前記各データ線との交差部に対応してそれぞれ設けられた電子回路と、
前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続されたプリチャージ信号供給線からのプリチャージ信号の該少なくとも１つのデータ線への供給を制御する第１のスイッチと、
前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続された、該少なくとも１つのデータ線から検査線への検出信号の出力を制御する第２のスイッチと
を備えた電気光学装置の駆動方法において、
複数の走査線の一つを選択した時、第１のスイッチを介して前記データ線にプリチャージ信号供給線からのプリチャージ信号を供給する第１のステップと、
前記選択された一つの走査線に接続された電子回路に前記データ線を介してデータ信号を供給する第２のステップと、
前記第２のスイッチを介して前記データ線に供給されたデータ信号を検出信号として検査線に出力させるための第３のステップと
からなる電気光学装置の駆動方法。
【請求項６】
複数の走査線と、
前記各走査線に対して交差するように配線された複数のデータ線と、
前記各走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応してそれぞれ設けられた電子回路と、
前記複数のデータ線の少なくとも２つのデータ線へのプリチャージ信号を供給するためのプリチャージ線と、
前記少なくとも２つのプリチャージ線から前記少なくとも２つのデータ線へのプリチャージ信号の出力をそれぞれ制御する第１のスイッチと、
前記複数のデータ線の少なくとも２つのデータ線から検査線への検出信号の出力をそれぞれ制御する第２のスイッチと
を含む電気光学装置の駆動方法において、
複数の走査線の一つを選択した時、前記第１のスイッチを介して前記データ線にプリチャージ信号供給線からのプリチャージ信号をそれぞれ供給する第１のステップと、
前記選択された一つの走査線に接続された電子回路に前記データ線を介してそれぞれのデータ信号を供給する第２のステップと、
前記第２のスイッチを介して前記データ線に供給されたデータ信号を検出信号として前記検査線にそれぞれ出力させるための第３のステップと
からなる電気光学装置の駆動方法。
【請求項７】
請求項１〜４のいずれか１つに記載の電気光学装置が実装されている電子機器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気光学装置、電気光学装置の駆動方法及び電子機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、電気光学装置、例えば有機ＥＬ表示装置においては、基板上に形成された走査線とデータ線の各交差部に対応した位置にそれぞれ設けた（有機ＥＬ素子）を適宜選択して発光させる１つ方法してアクティブマトリクス駆動方法（以下、アクティブ法という）がある。アクティブ法は、一般に、走査線にて発光させるＥＬ素子の画素回路を選択し、データ線を介してその選択された画素回路に有機ＥＬ素子の階調を決定するデータ値（有機ＥＬ素子に流す電流値を決定するデータ）を供給する。
【０００３】
ところで、この種の表示装置において、前記データ線に付加される寄生容量が大きいため、データ線に書き込むデータの書き込み不足が生じる。データ線は走査線と相違して、同データ線に対して上方の位置にあって近距離位置に形成された陰極配線が交差するように形成されている。その結果、データ線は、走査線に比べて寄生容量が大きい。
【０００４】
そこで、書き込み不足によって所定時間内に所定のデータが画素回路に供給されないことを防止するために、プリチャージ回路が用いられている（例えば、特許文献１参照）。詳述すると、画素回路にデータを書き込む前の段階でデータ線を中間レベルまで引き上げるべくプリチャージ回路から各データ線に電荷を供給するようにしていた。これによって、データ線を介して画素回路にデータを書き込む際、データ線は中間レベルに既にプリチャージされているため、目的のデータ値に達するまでの時間が短縮される。従って、この種の表示装置においては、プリチャージ回路は精度の高い制御をするためにはなくてはならないものである。
【０００５】
【特許文献１】
特開２００２−１７５０４５号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、各画素回路及び各ＥＬ素子は基板上に形成する製造プロセスにおいて、製造ばらつきによって各画素回路や各ＥＬ素子を同一の精度で製造することができない。そこで、出荷前に、各種の検査を行う必要がある。
【０００７】
しかしながら、検査はドット抜け等の簡単な外観検査が主であって、電気的な検査は電源電圧のショート又は断線といった程度の簡単な検査に留まっていた。
従って、有機ＥＬ素子が目的の動作状態になるためのデータの書き込みが目的通りに行われているかを精度よく検査を行うことが必要である。特に、データ線の寄生容量を考慮しデータ線をプリチャージした後にデータを書き込んで、その書き込み不足の有無を定量的に検査することは現実に即した検査であるが、現実には非常に難しく行なわれていなかった。従って、このような定量的な検査を行うことは高品質な表示を行うためには今後益々必要性が増大する。
【０００８】
本発明は、上記問題点を解消するためになされたものであって、その目的は、プリチャージしたデータ線に書き込んだデータの書き込み不足の検査を簡単な構成で精度よく行えることが可能な電気光学装置、その駆動方法及び電子機器を提供するにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明における電気光学表示装置は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数の電気光学素子とを含む電気光学装置であって、前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続されたプリチャージ信号供給線からのプリチャージ信号の該少なくとも１つのデータ線への供給を制御する第１のスイッチと、前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続された、該少なくとも１つのデータ線から検査線への検出信号の出力を制御する第２のスイッチと、前記第２のスイッチのオン状態またはオフ状態に設定するデータ線選択回路とを含む。
【００１０】
これによれば、データ線選択回路にて、データ線に設けられた第２のスイッチを動作させることによって、データ線からの検出信号を検査線に出力させることができる。その結果、簡単な構成でプリチャージしたデータ線に書き込むデータの書き込み不足の検査を精度よく行える。
【００１１】
本発明における電気光学表示装置は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数の電気光学素子とを含む電気光学装置であって、前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続された入出力信号線からのプリチャージ信号の該少なくとも１つのデータ線への供給を、及び、該少なくとも１つのデータ線から前記入出力信号線への検査信号の出力を制御する第３のスイッチと、前記第２のスイッチのオン状態またはオフ状態に設定するデータ線選択回路とを含む。
【００１２】
これによれば、データ線選択回路にて、データ線に設けられた第３のスイッチを動作させることによって、データ線からの検出信号を入出力信号線に出力させることができる。その結果、簡単な構成でプリチャージしたデータ線に書き込むデータの書き込み不足の検査を精度よく行える。さらに、回路規模をより小型化することができる。
【００１３】
本発明における電気光学表示装置は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数の電気光学素子とを含む電気光学装置であって、前記複数のデータ線の少なくとも２つのデータ線へのプリチャージ信号を供給するためのプリチャージ線と、前記少なくとも２つのプリチャージ線から前記少なくとも２つのデータ線へのプリチャージ信号の出力をそれぞれ制御する第１のスイッチと、前記複数のデータ線の少なくとも２つのデータ線から検査線への検出信号の出力をそれぞれ制御する第２のスイッチとを含む。
【００１４】
これによれば、第１のスイッチにより、複数のデータ線の少なくとも２つのデータ線へのプリチャージ信号が供給される。また、第２のスイッチにより、２つのプリチャージ線から前記少なくとも２つのデータ線からのプリチャージ信号を検出信号として検査線に出力をすることができる。その結果、少なくとも２つのデータ線に対して最適なプリチャージ信号を供給することができるとともに、プリチャージの結果を出力することができる。
【００１５】
この電気光学装置において、前記第２のスイッチを順番に動作させ、前記少なくとも２つのデータ線から前記検査線へ出力するプリチャージ信号を制御するデータ線選択回路を設けた。
【００１６】
これによれば、データ線選択回路にて、第２のスイッチを順番に動作させることによって、各データ線からその検出信号を順番に出力させることができる。その結果、プリチャージ信号をプリチャージしたデータ線に書き込むデータについて、その書き込み不足の有無を精度よく検査することができる。
【００１７】
本発明における電気光学表示装置の駆動方法は、複数の走査線と、前記各走査線に対して交差するように配線された複数のデータ線と、前記各走査線と前記各データ線との交差部に対応してそれぞれ設けられた電子回路と、前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続されたプリチャージ信号供給線からのプリチャージ信号の該少なくとも１つのデータ線への供給を制御する第１のスイッチと、前記複数のデータ線の少なくとも１つのデータ線に接続された、該少なくとも１つのデータ線から検査線への検出信号の出力を制御する第２のスイッチとを備えた電気光学装置の駆動方法において、複数の走査線の一つを選択した時、前記第１のスイッチを介して前記データ線にプリチャージ信号供給線からのプリチャージ信号を供給する第１のステップと、前記選択された一つの走査線に接続された電子回路に前記データ線を介してデータ信号を供給する第２のステップと、前記第２のスイッチを介して前記データ線に供給されたデータ信号を検出信号として検査線に出力させるための第３のステップとからなる。
【００１８】
これによれば、データ線に設けられた第２のスイッチを動作させることによって、そのデータ線からの検出信号を検査線に出力させることができる。その結果、簡単な構成でプリチャージしたデータ線に書き込むデータの書き込み不足の検査を精度よく行える。
【００１９】
本発明における電気光学表示装置の駆動方法は、複数の走査線と、前記各走査線に対して交差するように配線された複数のデータ線と、前記各走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応してそれぞれ設けられた電子回路と、前記複数のデータ線の少なくとも２つのデータ線へのプリチャージ信号を供給するためのプリチャージ線と、前記少なくとも２つのプリチャージ線から前記少なくとも２つのデータ線へのプリチャージ信号の出力をそれぞれ制御する第１のスイッチと、前記複数のデータ線の少なくとも２つのデータ線から検査線への検出信号の出力をそれぞれ制御する第２のスイッチと含む電気光学装置の駆動方法において、複数の走査線の一つを選択した時、第１のスイッチを介して前記データ線にプリチャージ信号供給線からのプリチャージ信号をそれぞれ供給する第１のステップと、前記選択された一つの走査線に接続された電子回路に前記データ線を介してそれぞれのデータ信号を供給する第２のステップと、前記第２のスイッチを介して前記データ線に供給されたデータ信号を検出信号として前記検査線にそれぞれ出力させるための第３のステップとからなる。
【００２０】
これによれば、第２のスイッチを順番に動作させることによって、データ線からの検出信号を順番に検査線に出力させることができる。その結果、電子回路毎にプリチャージ信号をプリチャージした各データ線に書き込む各のデータについて、その書き込み不足の有無を精度よく検査することができる。
【００２１】
本発明における電子機器は、請求項１〜４のいずれか１つに記載の電気光学表示装置が実装されている。
これによれば、プリチャージ信号をプリチャージしたデータ線に書き込むデータについて、その書き込み不足の有無を精度よく検査することができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
（第１実施形態）
以下、本発明を具体化した第１実施形態を図１〜図５に従って説明する。
【００２３】
図１は、電気光学装置としての有機ＥＬディスプレイ１０の回路構成を示すブロック回路図を示す。図２は、表示パネル部と検査回路の内部回路構成を示す回路図を示す。図３は、画素回路とプリチャージ回路の内部回路構成を示す回路図を示す。
【００２４】
図１において、有機ＥＬディスプレイ１０は、表示パネル部１１、データ線駆動回路１２、走査線駆動回路１３、メモリ回路１４、発振回路１５、プリチャージ回路１６、検査回路１７及びデータ線選択回路としての制御回路１８を備えている。
【００２５】
有機ＥＬディスプレイ１０の表示パネル部１１及び各回路１２〜１８は、それぞれが独立した電子部品によって構成されていてもよい。例えば、各回路１２〜１８が１チップの半導体集積回路装置によって構成されていてもよい。また、表示パネル部１１及び各回路１２〜１８の全部若しくは一部が一体となった電子部品として構成されていてもよい。例えば、表示パネル部１１に、データ線駆動回路１２と走査線駆動回路１３とが一体的に形成されていてもよい。各回路１２〜１７の全部若しくは一部がプログラマブルなＩＣチップで構成され、その機能がＩＣチップに書き込まれたプログラムによりソフトウェア的に実現されてもよい。
【００２６】
表示パネル部１１は、図２に示すように、マトリクス状に配列された複数の電子回路としての赤、緑及び青用の画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂを有している。つまり、一つの赤、緑及び青用の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂが１組となって、その１組を１画素としてその列方向に沿ってのびる複数のデータ線Ｘ１〜Ｘｍ（ｍは整数）と、行方向に沿ってのびる複数の走査線Ｙ１〜Ｙｎ（ｎは整数）との間にそれぞれ接続される。従って、一つの赤、緑及び青用の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂからなる組がマトリクス状に配列されている。
【００２７】
赤、緑及び青用の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂには電気光学素子として発光層が有機材料で構成された有機ＥＬ素子２１を有している。詳述すると、赤用の画素回路２０Ｒには赤色の光を放射する有機ＥＬ素子２１を有している。緑用の画素回路２０Ｇには緑色の光を放射する有機ＥＬ素子２１を有している。青用の画素回路２０Ｂには青色の光を放射する有機ＥＬ素子２１を有している。尚、各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂ内に形成される後記するトランジスタは、通常はＴＦＴで構成している。
【００２８】
図３に示すように、各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂは、駆動用トランジスタＱ１、プログラム用トランジスタＱ２及び容量素子としての保持キャパシタＣ１を備えている。駆動用トランジスタＱ１及びプログラム用トランジスタＱ２はＮチャネルＦＥＴより構成されている。
【００２９】
駆動用トランジスタＱ１は、ソースが前記有機ＥＬ素子２１の陽極に接続され、ドレインが駆動電源線ＶＬに接続されている。駆動用トランジスタＱ１のゲートと駆動電源線ＶＬとの間には、保持キャパシタＣ１が接続されている。
【００３０】
前記駆動電源線ＶＬは、本実施形態では、赤用駆動電源線ＶＬＲ、緑用駆動電源線ＶＬＧ及び青用駆動電源線ＶＬＢから構成されている。そして、赤用の画素回路２０Ｒの駆動用トランジスタＱ１は赤用駆動電源線ＶＬＲに接続され、電源電圧ＶＲが印加される。緑用の画素回路２０Ｇの駆動用トランジスタＱ１は緑用駆動電源線ＶＬＧに接続され、電源電圧ＶＧが印加される。青用の画素回路２０Ｂの駆動用トランジスタＱ１は青用駆動電源線ＶＬＢに接続され，電源電圧ＶＢが印加される。
【００３１】
これは、有機ＥＬ素子２１は、赤色、緑色、青色の光をそれぞれ放射する有機ＥＬ素子２１毎に特性がそれぞれ相違するからである。そのため、赤色、緑色、青色の光をそれぞれ放射する有機ＥＬ素子２１をそれぞれ発光させるとき、その駆動用トランジスタＱ１に供給する電源電圧ＶＲ，ＶＧ，ＶＢを、その有機ＥＬ素子２１にあうようにそれぞれ相違させるようにしている。尚、各有機ＥＬ素子２１の陰極は陰極線Ｌ０と接続されている。
【００３２】
各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂのプログラム用トランジスタＱ２のゲートは、対応する走査線Ｙ１〜Ｙｎにそれぞれ接続されている。又、プログラム用トランジスタＱ２は、ドレインがデータ線Ｘ１〜Ｘｍに接続され、ソースが駆動用トランジスタＱ１のゲート及び保持キャパシタＣ１に接続されている。前記各データ線Ｘ１〜Ｘｍは、赤用データ線ＤＬＲ、緑用データ線ＤＬＧ及び青用データ線ＤＬＢから構成されている。従って、赤用の画素回路２０Ｒのプログラム用トランジスタＱ２は赤用データ線ＤＬＲに接続されている。又、緑用の画素回路２０Ｇのプログラム用トランジスタＱ２は緑用データ線ＤＬＧに接続されている。
さらに、青用の画素回路２０Ｂのプログラム用トランジスタＱ２は青用データ線ＤＬＢに接続されている。
【００３３】
つまり、赤用の画素回路２０Ｒには、赤用データ線ＤＬＲを介してデータ線駆動回路１２から赤用のデータ信号（データ電圧ＶＲｄａｔａ）が出力される。又、緑用の画素回路２０Ｇには、緑用データ線ＤＬＧを介してデータ線駆動回路１２から緑用のデータ信号（データ電圧ＶＧｄａｔａ）が出力される。さらに、青用の画素回路２０Ｂには、青用データ線ＤＬＢを介してデータ線駆動回路１２から青用のデータ信号（データ電圧ＶＢｄａｔａ）が出力される。
【００３４】
データ線駆動回路１２は、制御回路１８からのビデオ信号を入力し、前記各データ線Ｘ１〜Ｘｍを介して選択された１つの走査線上の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂに輝度階調に相対したレベルの電気信号（データ信号（データ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａ））を順番に供給する。
【００３５】
つまり、本実施形態では、行方向、即ち、選択された走査線上に接続された一つの赤、緑及び青用の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂからなる１画素が１つの単位として順番にその列方向にデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａが供給される。
【００３６】
そして、例えば、輝度階調が、６通りあるとすると、６段階のレベルのデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａがそれぞれ生成され、階調に応じたレベルのデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａがデータ線駆動回路１２から各組毎にそれぞれ出力される。各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂは、このデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａに応じて同各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂの内部状態が設定される。これに応じて各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂの有機ＥＬ素子２１に流れる電流値がそれぞれ制御され、同有機ＥＬ素子２１の輝度階調が制御される。
【００３７】
又、データ線駆動回路１２は、赤、緑及び青用の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂに階調に応じて出力するデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａのレンジをそれぞれ相違させている。前記したように、有機ＥＬ素子２１は、赤色、緑色、青色の光をそれぞれ放射する有機ＥＬ素子毎に特性がそれぞれ相違するからである。そのため、同じ階調で赤色、緑色、青色の光をそれぞれ放射する有機ＥＬ素子２１をそれぞれ発光させるとき、そのデータ線駆動回路１２から出力するデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａは各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂで相違する。従って、各データ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａはその最大値〜０ボルトの間の各階調における電圧レベルもそれぞれ相違する。
【００３８】
走査線駆動回路１３は、前記複数の走査線Ｙｎの中の１本を選択駆動して１行分の画素回路群を選択する。メモリ回路１４は、コンピュータ２３から供給される画像データを記憶する。又、メモリ回路１４は、検査装置２２から供給される検査用画像データを記憶するようになっている。発振回路１５は、基準動作信号を有機ＥＬディスプレイ１０の他の回路に供給する。
【００３９】
プリチャージ回路１６は、表示パネル部１１とデータ線駆動回路１２との間に設けられ、第１ゲート回路３１、赤色用プリチャージ電圧発生回路３２、緑色用プリチャージ電圧発生回路３３、青色用プリチャージ電圧発生回路３４を備えている。
【００４０】
第１ゲート回路３１は、各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑及び青用のデータ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに対して接続されたＮチャネルＦＥＴよりなるアナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢにて構成されている。そして、赤用データ線ＤＬＲに接続された赤用の各アナログスイッチＳＰＲの各ドレインは、プリチャージ供給線としての赤用プリチャージ電源線ＰＲＥＬＲを介して赤色用プリチャージ電圧発生回路３２に接続されている。又、緑用データ線ＤＬＧに接続された緑用の各アナログスイッチＳＰＧの各ドレインは、プリチャージ供給線としての緑用プリチャージ電源線ＰＲＥＬＧを介して緑色用プリチャージ電圧発生回路３３に接続されている。さらに、青用データ線ＤＬＢに接続された青用各アナログスイッチＳＰＢの各ドレインは、プリチャージ供給線としての青用プリチャージ電源線ＰＲＥＬＢを介して青色用プリチャージ電圧発生回路３４に接続されている。
尚、本実施形態では、アナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢは、特許請求範囲の第１のスイッチを構成している。
【００４１】
赤色用プリチャージ電圧発生回路３２は、赤用データ線ＤＬＲにプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲを供給する。本実施形態では、前記データ線駆動回路１２から赤用の画素回路２０Ｒに出力されるデータ電圧ＶＲｄａｔａの最大値の１／２の電圧値をプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲとして出力する。又、緑色用プリチャージ電圧発生回路３３は、緑用データ線ＤＬＧにプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＧを供給する。
本実施形態では、前記データ線駆動回路１２から緑用の画素回路２０Ｇに出力されるデータ電圧ＶＧｄａｔａの最大値の１／２の電圧値をプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＧして出力する。さらに、青色用プリチャージ電圧発生回路３４は、青用データ線ＤＬＢにプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＢを供給する。本実施形態では、前記データ線駆動回路１２から青用の画素回路２０Ｂに出力されるデータ電圧ＶＢｄａｔａの最大値の１／２の電圧値をプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＢして出力する。従って、各プリチャージ電圧発生回路３２〜３４が出力するプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲ，ＶＤＣＰＲＥＧ，ＶＤＣＰＲＥＢはそれぞれ相違する。
【００４２】
前記アナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢのゲートには、制御回路１８からプリチャージ制御信号ＰＲＥＩＮＲ，ＰＲＥＩＮＧ，ＰＲＥＩＮＢが入力される。そして、プリチャージ制御信号ＰＲＥＩＮＲ，ＰＲＥＩＮＧ，ＰＲＥＩＮＢに応答して、アナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢはオンされる。このオンに基づいて各プリチャージ電圧発生回路３２〜３４からプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲ，ＶＤＣＰＲＥＧ，ＶＤＣＰＲＥＢが対応するデータ線Ｘ１〜Ｘｍ（赤、緑、青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢ）に供給される。
【００４３】
検査回路１７は、図２に示すように、検査線ＴＬ及び第２ゲート回路４１を備え、前記検査線ＴＬは第２ゲート回路４１を介して前記データ線Ｘ１〜Ｘｍと接続されている。前記検査線ＴＬは、赤用検査線ＴＬＲ、緑用検査線ＴＬＧ及び青用検査線ＴＬＢから構成されている。赤用検査線ＴＬＲは、赤用データ線ＤＬＲと第２ゲート回路４１を介して接続されている。緑用検査線ＴＬＧは、緑用データ線ＤＬＧと第２ゲート回路４１を介して接続されている。青用検査線ＴＬＢは、青用データ線ＤＬＢと第２ゲート回路４１を介して接続されている。
【００４４】
第２ゲート回路４１は、前記データ線Ｘ１〜Ｘｍを挟んで前記第１ゲート回路３１と反対側に設けられている。第２ゲート回路４１は、各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑及び青用のデータ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに対してそれぞれ接続されたＮチャネルＦＥＴよりなるアナログスイッチ（以下、検査スイッチという）ＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢにて構成されている。つまり、本実施形態では、行方向、即ち、選択された走査線上に接続された一つの赤、緑及び青用の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂからなる組毎に、検査スイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢが１つの組として設けられている。尚、本実施形態では、アナログスイッチ（検査スイッチ）ＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢは、特許請求範囲の第２スイッチを構成している。
【００４５】
そして、赤用の各検査スイッチＳＴＲは、ソースが赤用検査線ＴＬＲに接続され、そのドレインが対応する赤用データ線ＤＬＲにそれぞれ接続されている。緑用の各検査スイッチＳＴＧは、ソースが緑用検査線ＴＬＧに接続され、そのドレインが対応する緑用データ線ＤＬＧにそれぞれ接続されている。青用の各青用検査スイッチＳＴＢは、ソースが青用検査線ＴＬＢに接続され、そのドレインが対応する青用データ線ＤＬＢにそれぞれ接続されている。
【００４６】
そして、各データ線Ｘ１〜Ｘｍ毎の、即ち、各組の検査スイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢは、そのゲートに入力される制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍに基づいてオンされる。各組の検査スイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢがオンされると、本実施形態では各データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢにかかる電圧が、対応する赤用検査線ＴＬＲ、緑用検査線ＴＬＧ及び青用検査線ＴＬＢにそれぞれ出力される。詳述すると、各データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに供給されたデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａに基づく同データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢにかかる電圧が検出信号Ｖｍｒ，Ｖｍｇ，Ｖｍｂとして赤用検査線ＴＬＲ、緑用検査線ＴＬＧ及び青用検査線ＴＬＢにそれぞれ出力される。
【００４７】
前記検査回路１７は、前記制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍを生成するための信号生成回路４２を備えている。信号生成回路４２は、クロックドインバータよりなる入力部４３ａと２つのクロックドインバータよりなるラッチ部４３ｂからなるラッチ回路部４３をデータ線Ｘ１〜Ｘｍの数だけ直列に接続したシフトレジスタを備えている。そして、初段のラッチ回路部４３から入力された高電位（Ｈレベル）の１パルスの検査信号ＤＩＮＴを、相補信号よりなる第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢに応答して順次に次段にラッチ回路部４３にシフトさせる。
【００４８】
尚、１パルスの検査信号ＤＩＮＴは、制御回路１８によって生成され、検査装置２２を使って各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂの検査を行う検査モード時に所定のタイミングに出力され、通常の動作時（通常モード）には出力されることはない。又、第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢは、制御回路１８によって生成され、検査モードの時には所定に周期で出力され、通常モード時には出力されない。従って、通常モード時には、それら信号線は低電位（Ｌレベル）となっている。
【００４９】
詳述すると、奇数段目のラッチ回路部４３は、第１検査用クロック信号が入力部４３ａに、第２検査用クロック信号ＣＬＴＢがラッチ部４３ｂに入力される。
反対に、偶数段目のラッチ回路部４３は、第２検査用クロック信号ＣＬＴＢが入力部４３ａに、第１検査用クロック信号ＣＬＴがラッチ部４３ｂに入力される。
【００５０】
従って、第１検査用クロック信号ＣＬＴが出力されると、奇数段のラッチ回路部４３の入力部４３ａは入力信号を入力し、偶数段のラッチ回路部４３のラッチ部４３ｂは入力部４３ａから出力された出力信号を反転させてラッチし出力し続ける。反対に、第２検査用クロック信号ＣＬＴＢが出力されると、偶数段のラッチ回路部４３の入力部４３ａは入力信号を入力し、奇数段のラッチ回路部４３のラッチ回路部４３は入力部４３ａから出力された出力信号を反転させてラッチし出力し続ける。
【００５１】
つまり、第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢの半周期毎に、初段のラッチ回路部４３に入力された検査信号ＤＩＮＴが、順番に次段のラッチ回路部４３にシフトする。従って、Ｈレベルの検査信号ＤＩＮＴが入力されるラッチ回路部４３のみが、検査信号ＤＩＮＴによってその入力端子と出力端子が共にＨレベルとなる。
【００５２】
信号生成回路４２は、各ラッチ回路部４３に対応して信号出力回路部４４を備えている。各信号出力回路部４４は、それぞれ対応するラッチ回路部４３の入力信号と出力信号に基づいて制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍをそれぞれ生成する。信号出力回路部４４は、ラッチ回路部４３の入力信号と出力信号を入力するナンド回路４４ａを備えている。ナンド回路４４ａは、共にＨレベルの信号（検査信号ＤＬＮＴ）を入力すると、低電位（Ｌレベル）の出力信号を出力する。ナンド回路４４ａは、インバータ回路４４ｂを介してオア回路４４ｃに出力される。
【００５３】
オア回路４４ｃは２入力端子のオア回路であって、もう一方の入力端子は、インバータ回路４４ｄを介してモード選択線ＭＤＬに接続されている。モード選択線ＭＤＬは、インバータ回路４５を介して制御回路１８から検査イネーブル信号ＥＮＢＴが出力される。検査イネーブル信号ＥＮＢＴは、制御回路１８によって生成され、検査装置２２を使って各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂの検査を行う検査モードの時には低電位（Ｌレベル）となり、通常の動作時（通常モード）にはＨレベルとなる。
【００５４】
従って、オア回路４４ｃは、検査モード（検査イネーブル信号ＥＮＢＴがＬベルとなる）であって、ナンド回路４４ａからＬレベルの出力信号が出力されると、Ｈレベルの出力信号（制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍ）を出力する。又、検査モードにおいて、オア回路４４ｃは、ナンド回路４４ａからＨレベルの出力信号が出力されると、Ｌレベルの出力信号を出力する。
【００５５】
反対に、通常モード時（検査イネーブル信号ＥＮＢＴがＨベルとなる）には、オア回路４４ｃは、ナンド回路４４ａからの出力信号に関係なくＬレベルの出力信号を出力する。
【００５６】
各オア回路４４ｃは、偶数個（本実施形態では２個）のインバータ回路４４ｅ，４４ｆを介して前記各組の対応する検査スイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢのゲートに接続される。つまり、各信号出力回路部４４のオア回路４４ｃからのＨレベルの出力信号は、それぞれ制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍとして各組の対応する検査スイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢのゲートに出力される。
【００５７】
従って、検査モードにおいて、Ｈレベルの検査信号ＤＩＮＴが出力されると、第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢに応答して動作する各ラッチ回路部４３を介して順番に対応する組のアナログスイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢのゲートに制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍが順番に出力される。
【００５８】
制御回路１８は、前記表示パネル部１１及び各回路１２〜１７を統括制御する。制御回路１８は、表示パネル部１１の表示状態を表す前記メモリ回路１４に記憶したコンピュータ２３からの画像データを、各有機ＥＬ素子２１の発光の輝度階調を表すマトリクスデータに変換する。マトリクスデータは、１行分の画素回路群を順次選択するための走査線駆動信号と、選択された画素回路群の有機ＥＬ素子２１の輝度を設定するデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａのレベルを決定するデータ線駆動信号とを含む。そして、走査線駆動信号は、走査線駆動回路１３に供給する。また、データ線駆動信号は、データ線駆動回路１２に供給される。
【００５９】
又、制御回路１８は、有機ＥＬディスプレイ１０が検査装置２２を使って表示パネル部１１の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂについての検査を行う時、検査モードとなる。検査モードになると、制御回路１８は、前記メモリ回路１４に記憶した検査装置２２からの検査用画像データを、各有機ＥＬ素子２１の発光の輝度階調を表すマトリクスデータ（検査用マトリクスデータ）に変換する。
【００６０】
この検査用マトリクスデータは、１行分の画素回路群を順次選択するための検査用の走査線駆動信号と、選択された画素回路群の有機ＥＬ素子２１の検査用輝度を設定する検査用のデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａのレベルを決定する検査用のデータ線駆動信号とを含む。そして、検査用の走査線駆動信号は、走査線駆動回路１３に供給する。また、検査用のデータ線駆動信号（ビデオ信号）は、データ線駆動回路１２に供給される。
【００６１】
又、検査モードにおいて、制御回路１８は、所定のタイミングで、検査信号ＤＩＮＴ、第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢ及び検査イネーブル信号ＥＮＢＴを出力する。
【００６２】
次に、上記のように構成した有機ＥＬディスプレイ１０の作用を画素回路２０の動作に従って説明する。
駆動方法の一態様である検査モードについて説明する。有機ＥＬディスプレイ１０は検査装置２２に接続することによって検査モードとなる。詳述すると、本実施形態の検査は、有機ＥＬディスプレイ１０の製造プロセスにおいて、有機ＥＬ素子２１を除く、前記表示パネル部１１及び各回路１２〜１８が形成された状態で、最後に有機ＥＬ素子２１を作り込む工程の前段階で行う検査である。
【００６３】
つまり、各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂに有機ＥＬ素子２１が無い状態、即ち、有機ＥＬ素子２１による発光動作が行われないだけで、表示パネル部１１及び各回路１２〜１８は通常の通りに動作する状態までにでき上がったものを検査装置２２にて検査するものである。従って、有機ＥＬ素子２１を作り込む前の検査であるため、事前に不良品を検出し無駄な有機ＥＬ素子２１を作り込み作業をしなくてもよくなる。
【００６４】
さて、検査装置２２から有機ＥＬディスプレイ１０に検査用画像データが出力されると、制御回路１８は、検査モードとなり、検査用画像データを各有機ＥＬ素子２１の発光の輝度階調を表すマトリクスデータ（テスト用マトリクスデータ）に変換する。
【００６５】
そして、まず制御回路１８は、プリチャージ制御信号ＰＲＥＩＮＲ，ＰＲＥＩＮＧ，ＰＲＥＩＮＢを出力し、各アナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢをオンさせる。各アナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢのオンに基づいて各プリチャージ電圧発生回路３２〜３４のプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲ，ＶＤＣＰＲＥＧ，ＶＤＣＰＲＥＢが対応する各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑、青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに供給される。各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑、青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢは、プリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲ，ＶＤＣＰＲＥＧ，ＶＤＣＰＲＥＢにプリチャージされる。
【００６６】
続いて、制御回路１８は、プリチャージ制御信号ＰＲＥＩＮＲ，ＰＲＥＩＮＧ，ＰＲＥＩＮＢを消失させて各アナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢをオフさせることによって、プリチャージ動作は終了する。
【００６７】
プリチャージ動作が終了すると、制御回路１８は、検査用の走査線駆動信号及びテスト用のデータ線駆動信号（ビデオ信号）を走査線駆動回路１３及びデータ線駆動回路１２に出力する。
【００６８】
そして、走査線駆動回路１３にて走査線Ｙｎが選択されると、走査線Ｙｎ上にある各組の画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂのプログラム用トランジスタＱ２がオンされる。
【００６９】
これと同時に、データ線駆動回路１２は、制御回路１８からのビデオ信号を入力し、順番に各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑、青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢにデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａを供給する。従って、選択された１つの走査線上の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂに輝度階調に相対したレベルのデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａが順番に供給されることになる。つまり、選択された走査線上に接続された一つの赤、緑及び青用の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂからなる組が１つの単位として順番にその列方向にデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａが供給される。
【００７０】
順番にその列方向へのデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａの供給が開始された所定時間経過後、前記検査回路１７を活性化させる。すなわち、制御回路１８は、検査回路１７に、１パルスの検査信号ＤＩＮＴを出力するとともに、第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢを出力する。さらに、制御回路１８は、検査回路１７に、Ｌレベルの検査イネーブル信号ＥＮＢＴを出力する。
【００７１】
その結果、第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢに応答して、各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑、青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに設けた検査スイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢからなる組毎に順番に制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍが出力される。
【００７２】
各検査スイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢは、データ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａが順番に書き込まれた画素回路４０ａ，２０Ｇ，２０Ｂの赤、緑、青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢを、順番に対応する赤、緑、青用検査線ＴＬＲ，ＴＬＧ，ＤＬＢと接続する。その結果、赤、緑、青用検査線ＴＬＲ，ＴＬＧ，ＤＬＢには、順番に各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑、青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに供給されたデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａに基づくその時の赤、緑、青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢの電圧が検出信号Ｖｍｒ，Ｖｍｇ，Ｖｍｂとして順番に読み出される。赤、緑、青用検査線ＴＬＲ，ＴＬＧ，ＤＬＢから読み出された検出信号Ｖｍｒ，Ｖｍｇ，Ｖｍｂは検査装置２２に出力される。
【００７３】
検査装置２２は、その検出信号Ｖｍｒ，Ｖｍｇ，Ｖｍｂに基づいて各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂの特性を検査する。即ち、検査装置２２は、プリチャージしてデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａを書き込みという実際の動作に則した各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂの特性の検査をすることができる。
【００７４】
そして、検査装置２２は、検査結果が基準範囲内にない場合には製造途中のディスプレイ１０を不良品と判断するようにすれば、次の製造工程に移るか否かの判断材料にすることができる。
【００７５】
次に、上記のように構成した有機ＥＬディスプレイ１０の特徴を以下に記載する。
（１）本実施形態によれば、プリチャージ回路１６を備えた有機ＥＬディスプレイ１０に検査回路１７を設けた。そして、検査回路１７によって、データ線Ｘ１〜Ｘｍをプリチャージした後にデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａを書き込む通常の動作を実行させそのデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａを書き込んだ後のデータ線にかかる電圧（検出信号Ｖｍｒ，Ｖｍｇ，Ｖｍｂ）を取り出すことができるようにした。従って、その取り出した電圧を検出信号として検査装置２２に出力し、検査装置２２において各画素回路に対するデータの書き込み不足の有無、即ち、データ線を含む各画素回路の検査を精度よく行うことができる。
【００７６】
（２）本実施形態によれば、検査装置２２をシフトレジスタよりなる信号生成回路４２を設け、同信号生成回路４２にてデータ線Ｘ１〜Ｘｍに接続した検査スイッチＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢをオンさせるだけでデータ線に書き込んだデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａに対する検出信号Ｖｍｒ，Ｖｍｇ，Ｖｍｂを取り出すことができるため、非常に簡単な回路構成で前記した精度の高い検査を行うことができる。
【００７７】
（３）本実施形態では、データ線Ｘ１〜Ｘｍがそれぞれ赤用、緑用及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢで構成され、その各赤用、緑用及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに対して検査回路１７において、赤用、緑用及び青用検査線ＴＬＲ，ＴＲＧ，ＴＲＢを設けた。そして、その各赤用、緑用及び青用検査線ＴＬＲ，ＴＲＧ，ＴＲＢを用いてそれぞれ対応する各赤用、緑用及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢから書き込んだデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａに対する電圧（検出信号Ｖｍｒ，Ｖｍｇ，Ｖｍｂ）を検出するようにした。
【００７８】
従って、有機ＥＬ素子２１の発光色がそれぞれ異なってそれぞれプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲ，ＶＤＣＰＲＥＧ，ＶＤＣＰＲＥＢ等、動作状態が異なる画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂについて個別に精度よく検査ができる。
【００７９】
（４）本実施形態では、検査を、有機ＥＬ素子２１を除く、他の表示パネル部１１及び各回路１２〜１８が形成された状態で、最後に有機ＥＬ素子２１を作り込む工程の前段階で行うようにした。
【００８０】
従って、有機ＥＬ素子２１を作り込む前に各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂの良否が判断されるため、検査結果が基準範囲内にない場合には、無駄な有機ＥＬ素子２１の製造プロセスを行わなくても済む。
【００８１】
（５）本実施形態では、検査回路１７は、第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢの半周期毎に、赤用、緑用及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢからなるデータ線Ｘ１〜Ｘｍを順番に選択するようにした。そして、赤用、緑用及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢからなるデータ線Ｘ１〜Ｘｍを順番にデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａを書き込んで行く動作の後を、追従してその書き込まれた赤用、緑用及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢからなるデータ線Ｘ１〜Ｘｍの電圧を順番に取り込むようにした。その結果、検査時間の短縮を図ることができる。
【００８２】
（６）本実施形態では、信号生成回路４２の各出力回路部４４は、データ線Ｘ１〜Ｘｍを構成する赤用、緑用及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに対して一つの制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍを使ってそれぞれの赤用、緑用及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢの電圧を、対応する赤用、緑用及び青用検査線ＴＬＲ，ＴＲＧ，ＴＲＢに出力させるようにした。従って、回路構成を簡単にすることができる。
【００８３】
（第２実施形態）
次に、本発明の第２実施形態を図４及び図５に従って説明する。本実施形態は、前記した第１実施形態で説明した赤用、緑用及び青用検査線ＴＬＲ，ＴＬＧ，ＴＬＢと赤用、緑用及び青用プリチャージ電源線ＰＲＥＬＲ，ＰＲＥＬＧ，ＰＲＥＬＢとを共用した点に特徴を有している。従って、説明の便宜上、その特徴の部分についてのみ説明する。
【００８４】
図４において、プリチャージ兼検査回路５０は、前記第１実施形態で説明した第１ゲート回路３１と第２ゲート回路４１とを兼用するゲート回路５１が設けられている。
【００８５】
ゲート回路５１は、各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑及び青用のデータ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに対してそれぞれ接続されたＮチャネルＦＥＴよりなるアナログスイッチＱＲ，ＱＧ，ＱＢにて構成されている。つまり、本実施形態では、行方向、即ち、選択された走査線上に接続された一つの赤、緑及び青用の各画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂからなる組毎に、アナログスイッチＱＲ，ＱＧ，ＱＢが１つの組として設けられている。
【００８６】
そして、赤用の各アナログスイッチ（以下、赤用スイッチという）ＱＲは、ソースが入出力信号線としての赤用検査兼プリチャージ線ＴＰＬＲに接続され、そのドレインが対応する赤用データ線ＤＬＲにそれぞれ接続されている。緑用の各アナログスイッチ（以下、緑用スイッチという）ＱＧは、ソースが入出力信号線としての緑用検査兼プリチャージ線ＴＰＬＧに接続され、そのドレインが対応する緑用データ線ＤＬＧにそれぞれ接続されている。青用の各アナログスイッチ（以下、青用スイッチという）ＱＢは、ソースが入出力信号線としての青用検査兼プリチャージ線ＴＰＬＢに接続され、そのドレインが対応する青用データ線ＤＬＢにそれぞれ接続されている。
【００８７】
赤、緑及び青用アナログスイッチＱＲ，ＱＧ，ＱＢは、信号生成回路５３からの制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍに基づいてオン・オフ制御される。本実施形態の信号生成回路５３の回路構成は、検査イネーブル信号ＥＮＢＴが検査兼プリチャージイネーブル信号ＰＲＥＩＮになる点が相違するたけで前記第１実施形態の信号生成回路４２と同じ回路構成である。従って、説明の便宜上各回路素子に第１実施形態と同じ符号を付して詳細な説明は省略する。
【００８８】
そして、通常モード時には、検査信号ＤＩＮＴが出力されて第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢは出力されることなく、Ｌレベル状態になっている。そして、検査兼プリチャージイネーブル信号ＰＲＥＩＮは、プリチャージするタイミングになると、ＬレベルからＨレベルとなる。そして、プリチャージが完了すると、検査兼プリチャージイネーブル信号ＰＲＥＩＮはＨレベルからＬレベルとなる。従って、通常モード時には、各データ線Ｘ１〜Ｘｍに対応する全ての制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍが一斉にＨレベルになって、全ての赤、緑及び青用アナログスイッチＱＲ，ＱＧ，ＱＢがオンするため、全てのデータ線Ｘ１〜Ｘｍは一斉にプリチャージされる。
【００８９】
一方、検査モード時には、検査兼プリチャージイネーブル信号ＰＲＥＩＮはＬレベルなる。そして１パルスの検査信号ＤＩＮＴが出力されて第１及び第２検査用クロック信号ＣＬＴ，ＣＬＴＢと同期して前記第１実施形態と同様にして制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍが生成される。そして、制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍに応答して赤、緑及び青用アナログスイッチＱＲ，ＱＧ，ＱＢがオンされる。これによって、各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑及び青用のデータ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢからプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲ，ＶＤＣＰＲＥＧ，ＶＤＣＰＲＥＢに基づく電圧が赤用、緑用及び青用検査兼プリチャージ線ＴＰＬＲ，ＴＰＬＧ，ＴＰＬＢに出力される。
【００９０】
赤用、緑用及び青用検査兼プリチャージ線ＴＰＬＲ，ＴＰＬＧ，ＴＰＬＢの一端は、それぞれ切換回路５２Ｒ，５２Ｇ，５２Ｂが接続されている。各切換回路５２Ｒ，５２Ｇ，５２Ｂは、図５に示すように第１ゲートトランジスタＱ１１と第２ゲートトランジスタＱ１２とからそれぞれ構成されている。尚、本実施形態の第１ゲートトランジスタＱ１１と第２ゲートトランジスタＱ１２は、第３のスイッチを構成している。
【００９１】
各切換回路５２Ｒの第１ゲートトランジスタＱ１１は、第１のゲート信号φ１に基づいてオンされる。第１ゲートトランジスタＱ１１がオンされることにより、それぞれ前記赤、緑及び青用プリチャージ電圧発生回路３２〜３４からのプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲ，ＶＤＣＰＲＥＧ，ＶＤＣＰＲＥＢは、それぞれ対応する赤用、緑用及び青用検査兼プリチャージ線ＴＰＬＲ，ＴＰＬＧ，ＴＰＬＢに供給されるようになっている。尚、第１のゲート信号φ１は、本実施形態では制御回路１８から出力されるようになっていて、通常モード及び検査モードのときであって、プリチャージのタイミング時のみＨレベルの第１のゲート信号φ１が出力される。
【００９２】
一方、各切換回路５２Ｒの第２ゲートトランジスタＱ１２は、第２のゲート信号φ２に基づいてオンされる。第２ゲートトランジスタＱ１２がオンされることにより、それぞれ対応する赤用、緑用及び青用検査兼プリチャージ線ＴＰＬＲ，ＴＰＬＧ，ＴＰＬＢを介して取り込まれた赤、緑及び青用のデータ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢの電圧は図示しない前記検査装置２２に出力されるようになっている。尚、第２のゲート信号φ２は、本実施形態では制御回路１８から出力されるようになっていて、検査モードのときであって、制御信号ＳＧｘ１〜ＳＧｘｍが出力されている間、Ｈレベルの第２のゲート信号φ２が出力される。
【００９３】
本実施形態によれば、赤、緑及び青用検査兼プリチャージ線ＴＰＬＲ，ＴＰＬＧ，ＤＬＢを設け、検査兼プリチャージ線ＴＰＬＲ，ＴＰＬＧ，ＤＬＢによって前記第１実施形態で説明した赤用、緑用及び青用検査線ＴＬＲ，ＴＬＧ，ＴＬＢと赤用、緑用及び青用プリチャージ電源線ＰＲＥＬＲ，ＰＲＥＬＧ，ＰＲＥＬＢとを共用できるようにした。又、本実施形態によれば、ゲート回路５１を設け、同ゲート回路５１によって前記第１実施形態で説明した第１ゲート回路３１と第２ゲート回路４１とを共用できるようにした。
【００９４】
従って、前記第１実施形態の（１）〜（６）効果に加えて、本実施形態は、回路規模を小さくことができる。
（第３実施形態）
次に、本発明の第３実施形態を図６に従って説明する。
【００９５】
前記した第１実施形態では、緑及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに対してそれぞれ対応した赤用、緑用及び青用プリチャージ電源線ＰＲＥＬＲ，ＰＲＥＬＧ，ＰＲＥＬＢをそれぞれ設けた。これに対して本実施形態では、緑及び青用データ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに対してそれぞれ同じプリチャージ電圧を供給する点に特徴を有している。従って、説明の便宜上、その特徴の部分についてのみ説明する。
【００９６】
図６は、本実施形態を説明する画素回路とプリチャージ回路の内部回路構成を示す回路図である。図６において、各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑及び青用のデータ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに対して本実施形態のプリチャージ回路１６はプリチャージ信号供給線としての一本のプリチャージ電源線ＰＲＬが設けられている。従って、プリチャージ電源線ＰＲＬは、第１ゲート回路３１の各アナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢを介して各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑及び青用のデータ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに接続される。又、プリチャージ電源線ＰＲＬは、プリチャージ電圧発生回路５５に接続され、同発生回路５５からプリチャージ電圧ＶＤＣｐが供給される。
【００９７】
又、第１ゲート回路３１の各アナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢは、共通のプリチャージ制御信号ＰＲＥが制御回路１８から入力されるようになっている。従って、制御回路１８からプリチャージ制御信号ＰＲＥが各アナログスイッチＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢに出力されると、各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑及び青用のデータ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに一斉にプリチャージ電圧ＶＤＣｐが供給されることになる。
【００９８】
本実施形態によれば、一本のプリチャージ電源線ＰＲＬで各データ線Ｘ１〜Ｘｍの赤、緑及び青用のデータ線ＤＬＲ，ＤＬＧ，ＤＬＢに対して、プリチャージ電圧発生回路５５のプリチャージ電圧ＶＤＣｐを供給するようにした。従って、第１実施形態に比べて配線の数を減らすことができる。その結果、前記第１実施形態の（１）（２）（４）〜（６）効果に加えて、本実施形態は、回路規模を小さくことができる。
【００９９】
（第４実施形態）
次に、第１〜第３実施形態で説明した電気光学装置としての有機ＥＬディスプレイ１０の電子機器の適用について図７及び図８に従って説明する。有機ＥＬディスプレイ１０は、モバイル型のパーソナルコンピュータ、携帯電話、デジタルカメラ等種々の電子機器に適用できる。
【０１００】
図７は、モバイル型パーソナルコンピュータの構成を示す斜視図を示す。図７において、パーソナルコンピュータ６０は、キーボード６１を備え本体部６２と、前記有機ＥＬディスプレイ１０を用いた表示ユニット６３を備えている。この場合でも、有機ＥＬディスプレイ１０を用いた表示ユニット６３は前記実施形態と同様な効果を発揮する。その結果、パーソナルコンピュータ６０は、欠陥の少ない画像表示を実現することができる。
【０１０１】
図８は、携帯電話の構成を示す斜視図を示す。図８において、携帯電話７０は、複数の操作ボタン７１、受話口７２、送話口７３、前記有機ＥＬディスプレイ１０を用いた表示ユニット７４を備えている。この場合でも、有機ＥＬディスプレイ１０を用いた表示ユニット７４は前記実施形態と同様な効果を発揮する。その結果、携帯電話７０は、欠陥の少ない画像表示を実現することができる。
【０１０２】
尚、本発明の実施形態は、以下のように変更してもよい。
○前記実施形態では、検査を、有機ＥＬ素子２１を除く、他のパネル表示部及び各回路１２〜１８が形成された状態で、最後に有機ＥＬ素子２１を作り込む工程の前段階で行うようにした。これを、有機ＥＬ素子２１を作り込んだ後に実施してもよい。
【０１０３】
○前記実施形態では、データ線Ｘ１〜Ｘｍをプリチャージした後にデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａを書き込む通常の動作を実行させそのデータ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａを書き込んだ後のデータ線にかかる電圧を取り出すようにした。
【０１０４】
これを、データ電圧ＶＲｄａｔａ，ＶＧｄａｔａ，ＶＢｄａｔａを書き込まないで、データ線Ｘ１〜Ｘｍをプリチャージした後にそのプリチャージ電圧に基づくデータ線にかかる電圧を取り出して、データ線Ｘ１〜Ｘｍの配線容量についての検査等、その他の検査に応用してもよい。
【０１０５】
前記実施形態では、各色の有機ＥＬ素子２１の電気特性にあわせてプリチャージ電圧ＶＤＣＰＲＥＲ，ＶＤＣＰＲＥＧ，ＶＤＣＰＲＥＢを変えたが、例えば、赤と緑の有機ＥＬ素子が電気特性が同じ場合には、プリチャージ電圧を同じにしてもよい。この場合、プリチャージ電源線の数を及びプリチャージ電圧発生回路の数を減らすことができる。
【０１０６】
○前記実施形態では、電子回路として画素回路２０に具体化して好適な効果を得たが、有機ＥＬ素子２１以外の例えばＬＥＤやＦＥＤ等の発光素子のような電流駆動素子を駆動する電子回路に具体化してもよい。
【０１０７】
前記実施形態では、画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂの電流駆動素子として有機ＥＬ素子２１について具体化したが、無機ＥＬ素子に具体化してもよい。つまり、無機ＥＬ素子からなる無機ＥＬディスプレイに応用しても良い。
【０１０８】
○前記実施形態では画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂは、電圧駆動型の画素回路に具体化したが、電流駆動型の画素回路の有機ＥＬディスプレイに応用してもよい。又、時分割、面積階調等のデジタル駆動される画素回路に有機ＥＬディスプレイに応用しても良い。
【０１０９】
○前記実施形態では、３色の有機ＥＬ素子２１に対して各色用の画素回路２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂを設けた有機ＥＬディスプレイであったが、１色からなるＥＬ素子の画素回路からなるＥＬディスプレイに応用しても良い。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施形態を説明するための有機ＥＬディスプレイの回路構成を示すブロック回路図。
【図２】同じく表示パネル部と検査回路の内部回路構成を示す回路図。
【図３】同じく画素回路とプリチャージ回路の内部回路構成を示す回路図。
【図４】第２実施形態を説明するための表示パネル部と検査兼プリチャージ回路の内部回路構成を示す回路図。
【図５】同じく検査兼プリチャージ回路のゲート回路の構成を示す回路図
【図６】第３実施形態を説明するための画素回路とプリチャージ回路の内部回路構成を示す回路図。
【図７】第４実施形態を説明するためのモバイル型パーソナルコンピュータの構成を示す斜視図。
【図８】第４実施形態を説明するための携帯電話の構成を示す斜視図。
【符号の説明】
１０…電気光学装置としての有機ＥＬディスプレイ、１１…表示パネル部、１６…プリチャージ回路、１７…検査回路、１８…データ線選択回路としての制御回路、２０Ｒ…電子回路としての赤用画素回路、２０Ｇ…電子回路としての緑用画素回路、２０Ｂ…電子回路としての青用画素回路、２１…有機ＥＬ素子、２２…検査装置、３１…第１のスイッチを構成する第１ゲート回路、４１…第２のスイッチを構成する第２ゲート回路、５０…プリチャージ兼検査回路、５１…ゲート回路、ＴＬ…検査線、ＴＬＲ…赤用検査線、ＴＬＧ…緑用検査線、ＴＬＢ…青用検査線、Ｙ１〜Ｙｎ…走査線、Ｘ１〜Ｘｍ…データ線、ＤＬＲ…赤用データ線、ＤＬＧ…緑用データ線、ＤＬＢ…青用データ線、ＳＰＲ，ＳＰＧ，ＳＰＢ…第１のスイッチとしてのアナログスイッチ、ＳＴＲ，ＳＴＧ，ＳＴＢ…第２のスイッチとしてのアナログスイッチ（検査スイッチ）、ＰＲＥＬＲ…プリチャージ供給線としての赤用プリチャージ電源線、ＰＲＥＬＧ…プリチャージ供給線としての緑用プリチャージ電源線、ＰＲＥＬＢ…プリチャージ供給線としての青用プリチャージ電源線、ＴＰＬＲ…入出力信号線としての赤用検査兼プリチャージ線、ＴＰＬＧ…入出力信号線としての緑用検査兼プリチャージ線、ＴＰＬＢ…入出力信号線としての青用検査兼プリチャージ線、Ｑ１１…第３のスイッチを構成する第１ゲートトランジスタ、Ｑ１２…第３のスイッチを構成する第２ゲートトランジスタ、Ｖｍｒ，Ｖｍｇ，Ｖｍｒ…検出信号、ＤＩＮＴ…検査信号。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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