(57)【要約】【課題】光学的手法により試料液の特定成分を定量する場合において、反応系に照射される光の波長領域が目的とするものからずれていたとしても、精度良く特定成分の定量を行えるようにする。【解決手段】光学的手法を利用して試料液を分析を行う分析装置において、光照射手段５０と、試料液および試薬によって構築される反応系５６に対して、光照射手段５０から出射された光を照射したときの第１応答状態、および光照射時の応答状態に波長依存性がある基準板５４に対して、光照射手段５０から出射された光を照射したときの第２応答状態を検知するための検知手段５２，５３，５５と、第１応答状態に加えて、基準板５４に対する第２応答状態を勘案して試料液中の特定成分の濃度を演算する演算手段と、を備えた。【選択図】　図３
2004132706.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料液および試薬によって構築される反応系に対して光を照射し、そのときの反応系における第１応答状態を検知するための第１検知ステップと、
光照射時の応答状態に波長依存性がある基準板に対して光を照射し、そのときの上記基準板における第２応答状態を検知するための第２検知ステップと、
上記第１および第２検知ステップでの検知結果に基づいて、試料液中の特定成分の濃度を演算する演算ステップと、
を含むことを特徴とする、分析方法。
【請求項２】
光照射手段と、
試料液および試薬によって構築される反応系に対して、上記光照射手段から出射された光を照射したときの第１応答状態、および光照射時の応答状態に波長依存性がある基準板に対して、上記光照射手段から出射された光を照射したときの第２応答状態を検知するための検知手段と、
上記第１および第２応答状態に基づいて、試料液中の特定成分の濃度を演算する演算手段と、
を備えたことを特徴とする、分析装置。
【請求項３】
上記第１応答状態に対応する第１検知結果と特定成分の濃度との関係を表す複数の検量線を記憶した記憶手段と、
上記第２応答状態に対応する第２検知結果に基づいて、上記複数の検量線の中から演算に最適な検量線を選択するための選択手段と、
をさらに備えており、
上記演算手段は、上記選択手段により選択された検量線および上記第１検知結果に基づいて、特定成分の濃度を演算するように構成されている、請求項２に記載の分析装置。
【請求項４】
上記演算手段は、上記第２応答状態に対応する第２検知結果に基づいて、上記第１応答状態に対応する第１検知結果を補正してから濃度演算を行い、あるいは上記第１検知結果に基づいて濃度演算を行った後、この演算値を補正するように構成されている、請求項２に記載の分析装置。
【請求項５】
上記検知手段において上記第２応答状態を検知するタイミングを制御するための制御手段をさらに備えており、
上記制御手段は、上記検知手段における上記第２応答状態の検知を、上記第１応答状態の検知と相前後し、あるいは同時的に行うように制御する、請求項２ないし４のいずれかに記載の分析装置。
【請求項６】
上記検知手段において上記第２応答状態を検知するタイミングを制御するための制御手段をさらに備えており、
上記制御手段は、上記検知手段における上記第２応答状態の検知を、装置の立ち上げ時に行うように制御する、請求項２ないし４のいずれかに記載の分析装置。
【請求項７】
上記第１および第２応答状態のうちの少なくとも一方は、反射光、透過光または散乱光の光量として検知される、請求項２ないし６のいずれかに記載の分析装置。
【請求項８】
試料液および試薬によって構築される反応系に対して光を照射するための光照射手段と、光照射時における上記反応系での応答状態を検知するための検知手段と、この検知手段での検知結果に基づいて、試料液中の特定成分の濃度を演算するための演算手段と、特定成分の演算に必要な情報を記憶するための記憶手段と、を備えた分析装置を製造する方法であって、
光照射時の応答状態に波長依存性がある基準板に上記光照射手段からの光を照射し、そのときの上記基準板での応答状態から、上記光照射手段から出射される光の出射状態を検知する検知ステップと、
上記出射状態を上記演算手段における演算結果に反映できる情報として上記記憶手段に記憶させる記憶ステップと、
を含んでいることを特徴とする、分析装置の製造方法。
【請求項９】
上記検知ステップでの検知結果に基づいて、検知手段での検知結果と特定成分の濃度との関係を表す複数の検量線の中から、上記出射状態に応じた検量線を選択する検量線選択ステップをさらに含んでおり、
上記記憶ステップでは、上記検量線選択ステップにおいて選択された検量線を、上記演算手段における演算用の検量線として上記記憶手段に記憶させる、請求項８に記載の分析装置の製造方法。
【請求項１０】
上記検知ステップでは、上記出射状態は、出射光のピーク波長として把握される、請求項８または９に記載の分析装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料液中の特定成分の濃度を分析するための技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
尿や血液などの試料液中の特定成分を定量する場合には、光学的手法が利用されている。この手法では、試料液と発色物質を含む反応系に対して光を照射し、そのときの反応系における応答状態が、反射光、透過光あるいは散乱光の光量として測定される。その上で、測定された光量を予め定められた検量線に当てはめることにより、特定成分の濃度が演算される。
【０００３】
光学的手法においては、試料液相互の特定成分の濃度差を、比較的に大きな測定光量の差として反映させ、高い分解能を確保する必要がある。このため、反応系に照射すべき光としては、反応系（より正確には特定成分と発色試薬との反応生成物）における光吸収量が大きな波長のものを選択し、その波長の光を照射する必要がある。たとえば、発色物質としては、Ｐ−ニトロアニリンやｐ−ニトロフェノールが用いられることがあるが、これらの発色物質を使用する場合には、４０５ｎｍの光を照射して、ＧＧＴ（ガンマグルタミルトランスぺプチターゼ）、ＡｌＰ（アルカリフォスファターゼ）、Ａｍｙ（アミラーゼ）の応答状態が測定される。このようなことから、光源から出射された光を波長選択フィルタに入射させ、この波長選択フィルタから特定波長の光を取り出してから反応系に光を照射する方法が採用されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
波長選択フィルタとしては、たとえば干渉フィルタが用いられている。この干渉フィルタは、光の波長程度の厚さの透明薄膜で生じる干渉を利用して、目的とする波長領域の光を透過または反射させるものである。透明薄膜は、たとえば蒸着などの手法により成膜されるが、同一波長を選択するために製造されたものであっても、製品毎の膜厚のバラツキなどに起因して、選択できる波長範囲にも若干バラツキが生じる。測定精度を向上させるためには、干渉フィルタの波長選択性のバラツキを抑える必要があり、そのためには誤差の大きな干渉フィルタを使用することができないため、干渉フィルタ製造時の歩留まりが低下し、コストが高くなるという問題がある。
【０００５】
一方、光源としてはＬＥＤが使用されることがあるが、ＬＥＤは、出射光の波長に温度依存性がある。そのため、測定環境の雰囲気温度やＬＥＤを駆動した場合のＬＥＤ自体の温度上昇によって、出射光の波長が変化する。このような出射光の波長変化は、ピーク波長を基準とすれば、±１０ｎｍ程度に達する。
【０００６】
このようなピーク波長のバラツキや変化は、測定時における反応系から得られる光量に反映される。たとえば図９にＧＧＴの例を模式的に示したように、反応系での吸光度が同じであっても、測定波長が異なれば演算結果として得られる値は大きく異なったものとなる。その結果、測定波長の不均一さによって測定精度が低下してしまう。このような事実は、図１０に示したシミュレーション結果のグラフからも伺える。
【０００７】
図１０（ａ）〜（ｃ）は、ＧＧＴ、ＡｌＰ、Ａｍｙについて、測定波長を４０５ｎｍに設定した場合における設定波長からのずれと測定誤差との関係をシミュレーションした結果を示したものである。図１０からは、測定対象成分の濃度が高いか低いかに関わらず、設定波長からのずれが大きいほど誤差が大きくなることが伺える。
【０００８】
本発明は、このような事情のもとに考えだされたものであって、光学的手法により試料液の特定成分を定量する場合において、反応系に照射される光の波長領域が目的とするものからずれていたとしても、精度良く特定成分の定量を行えるようにすることを課題としている。
【０００９】
【発明の開示】
本発明では、上述した課題を解決するために次の技術的手段を講じている。
【００１０】
すなわち、本発明の第１の側面により提供される分析方法は、試料液および試薬によって構築される反応系に対して光を照射し、そのときの反応系における第１応答状態を検知するための第１検知ステップと、光照射時の応答状態に波長依存性がある基準板に対して光を照射し、そのときの上記基準板における第２応答状態を検知するための第２検知ステップと、上記第１および第２検知ステップでの検知結果に基づいて、試料液中の特定成分の濃度を演算する演算ステップと、を含むことを特徴としている。
【００１１】
第１および第２応答状態のうちの少なくとも一方は、たとえば反射光量（反射率）、透過光量、散乱光量として検知される。
【００１２】
演算ステップにおいては、たとえば第２検知ステップにおける検知結果に基づいて、予め準備された複数の検量線の中から最適な検量線を選択した上で、当該検量線および第１検知ステップでの検知結果に基づいて、特定成分の濃度が演算される。演算ステップにおいては、第２検知ステップにおける検知結果に基づいて、第１検知ステップでの検知結果の補正を行った上でこの補正値と検量線により演算を行うようにしてもよいし、第１検知ステップでの検知結果と検量線に基づいて演算を行った上でこの演算値の補正を行うようにしてもよい。
【００１３】
本発明の第２の側面においては、光照射手段と、試料液および試薬によって構築される反応系に対して、上記光照射手段から出射された光を照射したときの第１応答状態、および光照射時の応答状態に波長依存性がある基準板に対して、上記光照射手段から出射された光を照射時の第２応答状態を検知するための検知手段と、上記第１応答状態に加えて、上記基準板に対する第２応答状態を勘案して試料液中の特定成分の濃度を演算する演算手段と、を備えたことを特徴とする、分析装置が提供される。
【００１４】
第１および第２応答状態のうちの少なくとも一方は、たとえば反射光（反射率）、透過光または散乱光の光量として検知される。
【００１５】
本発明の分析装置は、たとえば第１応答状態に対応する第１検知結果と特定成分の濃度との関係を表す複数の検量線を記憶した記憶手段と、第２応答状態に対応する第２検知結果に基づいて、複数の検量線の中から演算に最適な検量線を選択するための選択手段と、をさらに備えたものとして構成される。この場合、演算手段は、選択手段により選択された検量線および第１検知結果に基づいて、特定成分の濃度を演算するように構成される。
【００１６】
演算手段は、第２検知結果に基づいて、第１検知結果を補正した後に、この補正値と検量線に基づいて演算を行うように構成してもよい。演算手段は、第１検知結果および検量線に基づいて演算を行った後に、この演算値を補正するように構成してもよい。
【００１７】
本発明の分析装置は、検知手段において第２応答状態を検知するタイミングを制御するための制御手段をさらに備えたものとして構成するのが好ましい。制御手段は、たとえば検知手段における第２応答状態の検知を、第１応答状態の検知と相前後して行うように制御する。もちろん、第１応答状態の検知と第２応答状態の検知とを同時的に行うようにしてもよい。制御手段は、検知手段における第２応答状態の検知を、装置の立ち上げ時に行うように構成することもできる。
【００１８】
光照射手段は、光源を備えたものとして構成されるが、光源としては、たとえばＬＥＤやハロゲンランプが使用される。光照射手段は、出射光の波長を選択するためのフィルタ、たとえば干渉フィルタや色フィルタをさらに備えたものとして構成してもよい。
【００１９】
本発明の第３の側面においては、試料液および試薬によって構築される反応系に対して光を照射するための光照射手段と、光照射時における上記反応系での応答状態を検知するための検知手段と、この検知手段での検知結果に基づいて、試料液中の特定成分の濃度を演算するための演算手段と、特定成分の演算に必要な情報を記憶するための記憶手段と、を備えた分析装置を製造する方法であって、光照射時の応答状態に波長依存性がある基準板に上記光照射手段からの光を照射し、そのときの上記基準板での応答状態から、上記光照射手段から出射される光の出射状態を検知する検知ステップと、上記出射状態を上記演算手段における演算結果に反映できる情報として上記記憶手段に記憶させる記憶ステップと、を含んでいることを特徴とする、分析装置の製造方法が提供される。
【００２０】
上記製造方法は、検知ステップでの検知結果に基づいて、検知手段での検知結果と特定成分の濃度との関係を表す複数の検量線の中から、上記出射状態に応じた検量線を選択する検量線選択ステップをさらに含んでいてもよい。この場合、記憶ステップにおいては、検量線選択ステップにおいて選択された検量線が、演算手段における演算用の検量線として記憶手段に記憶させられる。
【００２１】
検知ステップでは、上記出射状態は、たとえば出射光のピーク波長として把握される。出射状態をピーク波長として把握する場合には、記憶ステップにおいて、そのピーク波長を記憶手段に記憶させるようにしてもよい。この場合には、記憶手段に予め複数の検量線を記憶させておき、演算手段における演算実行時に、記憶手段に記憶されたピーク波長を参照して、最適な検量線を選択するように構成してもよい。演算手段はまた、ピーク波長に基づいて、濃度演算結果を補正し、あるいは検知手段での検知結果を補正した上でこの補正値に基づいて濃度演算を行うように構成することもできる。
【００２２】
検知ステップにおいて使用される基準板は、予め分析装置に組み込んでおいたものであってもよいし、検知ステップを行うために別途準備されたものであってもよい。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本願発明の好ましい実施の形態について、図面を参照して具体的に説明する。
【００２４】
図１は本発明に係る分析装置のブロック図であり、図２は検量線情報の例を示すグラフであり、図３は図１に示した分析装置における検知ユニットの模式図である。
【００２５】
図１に示したように、分析装置Ｘは、制御部１、記憶部２、選択部３、演算部４および検知ユニット５を備えている。
【００２６】
制御部１は、記憶部２に記憶された制御用プログラムに基づいて、各部２〜５の動作制御をするためのものである。
【００２７】
記憶部２は、各種のプログラムや測定波長に応じた複数の検量線情報の他、必要に応じて、測定値や演算値を補正するために必要な情報を記憶している。検量線情報は、図２に示したように吸光度と特定成分の濃度との関係を示すものである。検量線情報は、数式や対応表として記憶されているが、本実施の形態では、記憶部２には、測定波長のずれを考慮して、そのずれ量に応じた複数の検量線が記憶されている。
【００２８】
図１に示した選択部３は、検知ユニット５での検知結果に基づいて、記憶部２に記憶された複数の検量線情報から実際の測定波長に最も適合する検量線情報を選択するためのものである。
【００２９】
演算部４は、検知ユニット５での検知結果と選択部３によって選択された検量線情報に基づいて、試料液中の特定成分の分析に必要な演算を行うためのものである。
【００３０】
検知ユニット５は、図３に示したように光源５０、波長選択フィルタ５１、第１および第２受光素子５２，５３、基準板５４および検知演算部５５を備えており、試料液が供給された分析用具５６を装着できるように構成されている。
【００３１】
光源５０は図中のＡ１およびＡ２方向に移動可能に構成されており、基準板５４および分析用具５６に光を照射するためのものである。光源５０は、たとえばＬＥＤにより構成される。光源としては、ハロゲンランプなどの他の発光媒体を利用することもできる。
【００３２】
波長選択フィルタ５１は、光源５０とともに図中のＡ１およびＡ２方向に移動可能に構成されており、光源５０から出射された光から特定波長の光を取り出すためのものである。波長選択フィルタ５１は、たとえば干渉フィルタや色フィルタにより構成される。
【００３３】
複数の項目を検査できるように分析装置Ｘを構成する場合には、波長選択フィルタは、波長選択特性の異なる複数のものを準備しておいてもよい。光源および波長選択フィルタは、必ずしも移動可能に構成する必要はなく、たとえば光源と１または複数の波長選択フィルタの組を複数組設けてもよいし、１組の光源および１または複数の波長選択フィルタを固定化し、光ファイバなどを用いて波長選択フィルタからの光を複数箇所に振り分けるように構成してもよい。また、単色光を出射可能な光源を用いる場合には、波長選択フィルタを省略してもよい。
【００３４】
第１受光素子５２は基準板５４から反射してきた光を受光するためのものであり、第２受光素子５３は分析用具５６から反射してきた光を受光するためのものである。これらの受光素子５２，５３は、たとえばフォトダイオードなどにより構成される。
【００３５】
基準板５４は、たとえば図４に例示したように、その表面に照射された光の波長に対して、その表面での反射率が依存するように構成されたものである。言い換えれば、基準板５４に光を照射したときの反射率を測定すれば、基準板５４に照射された光の波長を測定することができる。
【００３６】
図３に示した検知演算部５５は、第１受光素子５２での受光量に基づいて基準板５４の反射率ひいては照射光の波長を演算するとともに、第２受光素子５３での受光量に基づいて分析用具５６での吸光度を演算するためのものである。ただし、検知演算部５５を省略し、検知演算部５５の役割を演算部４などに担保させてもよい。
【００３７】
制御部１、記憶部２、選択部３、演算部４および検知演算部５５のそれぞれは、たとえばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭを単独で、あるいはそれらを組み合わせて構成することができるが、これらの全てを、１つのＣＰＵに対して複数のメモリを接続することにより構成することもできる。
【００３８】
次に、分析装置Ｘの動作について、図１〜図３に加えて、図５〜図８に示したフローチャートを参照しつつ説明する。ただし、測定波長の確認は、本来であれば電源ＯＮ時（装置の立ち上げ時）および濃度測定時のうちの一方のタイミングにおいて行えばよいが、以下においては、説明の便宜上、電源ＯＮ時および濃度測定時の双方において、測定波長の確認が行われる場合を例にとって説明する。
【００３９】
図５に示したように、分析装置Ｘを立ち上げるにあたっては、分析装置Ｘにおいて電源スイッチがオンされたか否かが判断される（Ｓ１０）。電源がオンされた場合には（Ｓ１０：ＹＥＳ）、各種の電気回路などを立ち上げ、測定波長の確認を行う（Ｓ１１）。
【００４０】
測定波長の確認は、図６に示したような手順にしたがって行われる。まず、光源５０をオン駆動し、波長選択フィルタ５１を透過した光を基準板５４に照射する（Ｓ２０）。基準板５４からの反射光は受光素子５２において受光され、その光量が測定される（Ｓ２１）。反射光の光量は、検知演算部５５において認識され、この検知演算部５５では、反射光の光量に基づいて、基準板５４での反射率が演算される（Ｓ２２）。
【００４１】
基準板５４は、表面での反射率に波長依存性のあるものである。したがって、検知演算部５５では、基準板５４における反射率から基準板５４に照射された光の波長、ひいては分析用具５６に照射されるであろう光の波長（測定波長）が決定される（Ｓ２３）。測定波長は、たとえば反射率と波長との関係を予め記憶部２に記憶させておいた上で、記憶部２に記憶された関係と、測定された反射率から決定される。測定波長が決定した場合には（Ｓ２３）、図５に示したように分析装置Ｘは待機状態とされ（Ｓ１２）、装置の立ち上げ動作が終了する。
【００４２】
一方、分析装置Ｘにおける濃度測定処理は、図７および図８（ａ）に示した手順にしたがって行われる。
【００４３】
図７に示したように、まず、光源５０をオン駆動し、光源５０からの光を波長選択フィルタ５１を透過させてから分析用具５６に照射する（Ｓ３０）。分析用具５６からの反射光は受光素子５３において受光され、その光量が測定される（Ｓ３１）。反射光の光量は、検知演算部５５において認識され、この検知演算部５５では、反射光の光量に基づいて、分析用具５６での吸光度が演算される（Ｓ３２）。
【００４４】
検知ユニット５ではさらに、測定波長の確認が行われる（Ｓ３３）。測定波長の確認は、図６を参照して先に説明したのと同様な手法によって行われる。測定波長の確認は、吸光度の測定よりも先に行ってもよいし、同時的に行ってもよい。
【００４５】
次いで、図８（ａ）に示したように、測定波長の確認結果に基づいて、選択部３によって記憶部２に記憶された複数の検量線の中から上記確認結果に最も適合する検量線を選択する（Ｓ３４）。演算部４では、検知演算部５５において演算された吸光度と、選択部３によって選択された検量線に基づいて、濃度演算が行われる（Ｓ３５）。
【００４６】
濃度測定処理においては、図８（ａ）に示したＳ３４およびＳ３５に代えて、図８（ｂ）に示したＳ４４およびＳ４５や図８（ｃ）に示したＳ５４およびＳ５５を実行してもよい。ただし、図８（ｂ）および（ｃ）に示した例では、１つの測定項目に対して１つの検量線しか記憶部４に記憶されていないものとする。
【００４７】
図８（ｂ）に示した例では、検知ユニット５において確認された測定波長に基づいて、検知演算部５５において演算された吸光度が補正された後（Ｓ４４）、この補正値と記憶部４に記憶された検量線に基づいて濃度演算が行われる（Ｓ４５）。一方、図８（ｃ）に示した例では、検知演算部５５において演算された吸光度と記憶部４に記憶された検量線に基づいて濃度演算を行った後（Ｓ５４）、この演算値が検知ユニット５において確認された測定波長に基づいて補正される（Ｓ５５）。
【００４８】
本実施の形態では、分析装置Ｘの立ち上げ時および濃度測定時のうち、少なくともいずれか一方において測定波長の確認が行われる。そのため、実際の測定波長が、たとえば波長選択フィルタや光源の劣化、製品誤差などによって、目的とする測定波長からずれていたとしてもそれの影響を是正し、精度良く濃度測定を行うことができるようになる。
【００４９】
分析装置Ｘの立ち上げ時に測定波長を確認する場合には、濃度測定毎に測定波長の確認を行う必要がない分だけ、測定波長の確認動作によって測定時間が長くなってしまうことはない。一方、濃度測定時に測定波長の確認を行う場合には、環境条件による測定波長の変化や光源としてＬＥＤを使用する場合におけるＬＥＤ自身の温度上昇による波長の変化に対応し、より精度良く濃度測定を行うことができるようになる。
【００５０】
本実施の形態においては、測定波長の確認を基準板からの反射光に基づいて行っていたが、基準板での散乱光や透過光に基づいて測定波長の確認を行うようにしてもよい。濃度演算に必要な分析用具での吸光度についても、散乱光や透過光に基づいて演算するようにしてもよい。また、測定波長の確認を基準板からの反射光に基づいて行う場合であっても、必ずしも反射率を演算してから測定波長を演算する必要はなく、反射光の光量から直接測定波長を確認するようにしてもよい。同様に、濃度演算においても、吸光度を必ずしも演算する必要はなく、分析用具から進行してくる光の光量（応答状態）から濃度演算を行うようにしてもよい。
【００５１】
以上においては、分析装置において測定波長の確認を行う場合について説明したが、測定波長の確認は、分析装置を出荷する前に行うようにしてもよい。
【００５２】
出荷前における測定波長の確認は、少なくとも光源と受光素子を含む検知ユニットが組み上がった後に行われる。すなわち、測定波長の確認は、分析装置の全体が製造された後において行ってもよいし、検知ユニットが組み上がった段階において、検知ユニットを用いて行ってもよい。測定波長の確認は、先に説明したのと同様にして基準板を用いて行われるが、この基準板は、出荷後の分析装置を測定波長の確認が行えるように構成する場合には、検知ユニットに基準板を組み込んでおき、その基準板を利用して行うようにしてもよい。一方、出荷後の分析装置において測定波長の確認を行わない場合には、別途基準板を準備し、この基準板を用いて測定波長の確認を行うようにすればよい。
【００５３】
測定波長が確認された場合には、様々な測定波長に対応した複数の検量線の中から、測定波長に最も適合する検量線を選択し、その検量線を分析装置の記憶部に記憶させるようにしてもよい。この場合、複数の検量線は、記憶部に予め記憶させておいたものであってもよく、その場合には選択された検量線を使用して演算を行うようなプログラムが組み込まれる。もちろん、選択された検量線のみを記憶部に記憶させるようにしてもよい。測定波長の適合する検量線の選択においては、必ずしも測定波長を演算する必要はなく、基準板からの反射光量などに応じて、直接的に検量線を選択するようにしてもよい。
【００５４】
一方、光照射時における基準板の応答状態に基づいて、測定波長に関する情報を記憶部に記憶させるようにしてもよい。この場合には、分析装置は当該情報を考慮して演算部において演算を行うように構成される。たとえば、分析装置は、検知ユニットにおいて得られた吸光度を補正してから補正値に基づいて濃度演算を行い、あるいは吸光度に基づいて濃度演算を行った後、この演算値を補正するように構成される。
【００５５】
このようにして分析装置の出荷前に測定波長の確認を行うようにすれば、波長選択フィルタや光源の製品誤差の影響が予め排除され、精度良く濃度測定を行うことができる分析装置を提供できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る分析装置のブロック図である。
【図２】濃度と吸光度との関係を複数の測定波長に関して示したグラフである。
【図３】図１に示した分析装置における検知ユニットの模式図である。
【図４】基準板における照射波長と反射率との関係の一例を模式的に示すグラフである。
【図５】分析装置立ち上げ時における測定波長確認動作を説明するためのフローチャートである。
【図６】測定波長確認処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】分析装置における濃度測定動作を説明するためのフローチャートである。
【図８】分析装置における濃度測定動作を説明するためのフローチャートである。
【図９】特定成分（ＧＧＴ）についての測定波長と吸光度との関係を複数の濃度に関して示したグラフである。
【図１０】測定波長と測定誤差との関係を示すグラフである。
【符号の説明】
Ｘ　分析装置
１　制御部（制御手段）
２　記憶部（記憶手段）
３　選択部（選択手段）
４　演算部（演算手段）
５０　光源（光照射手段）
５１　波長選択フィルタ（光照射手段）
５２　第１受光素子（検知手段を構成する）
５３　第２受光素子（検知手段を構成する）
５４　基準板
５５　検知演算部（検知手段を構成する）
５６　分析用具（反応系を構築する）
【図１】
2004132706.tif 000003
【図２】
2004132706.tif 000004
【図３】
2004132706.tif 000005
【図４】
2004132706.tif 000006
【図５】
2004132706.tif 000007
【図６】
2004132706.tif 000008
【図７】
2004132706.tif 000009
【図８】
2004132706.tif 000010
【図９】
2004132706.tif 000011
【図１０】
2004132706.tif 000012