(57)【要約】【課題】輝度ムラのない発光装置の提供を課題とする。【解決手段】各画素に供給される映像信号を補正する補正回路を発光装置に設けた。該補正回路には、画素間の駆動用ＴＦＴの特性のばらつきのデータと、発光素子の輝度の経時変化のデータを記憶しておく。そして上記２つのデータに基づき、発光装置に入力された映像信号を、輝度むらが生じないように、各画素の駆動用ＴＦＴの特性及び発光素子の劣化の度合いに合わせて補正することで、電界発光層の劣化による輝度むら及び駆動用ＴＦＴの特性のばらつきによる輝度むらを抑える。【選択図】　図１
2004145257.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
映像信号により画像を表示する複数の発光素子と、
前記複数の発光素子に印加される電圧を制御する電圧源と、
前記複数の各発光素子間の相対的な輝度の差を情報として含む第１のデータが記憶された第１の記憶手段と、
前記発光素子の階調数の累積値に対する、劣化による輝度の低下の度合いを、情報として含む第２のデータが記憶された第２の記憶手段と、
前記映像信号から前記複数の各発光素子の階調数の累積値を検出する手段と、
前記第１のデータを用いて、前記複数の発光素子間の輝度の差をうめるように前記映像信号を補正し、なおかつ、前記検出された階調数の累積値と、前記第２のデータとを照らし合わせることで前記複数の各発光素子の劣化による輝度の低下を推測し、前記複数の発光素子のうちの一の発光素子の輝度を初期値に戻すように、前記電圧源から前記複数の発光素子に供給される電圧を補正し、前記一の発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量と、前記一の発光素子以外の各発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量との差をうめるように、前記映像信号を補正して前記一の発光素子以外の各発光素子の階調を補正する手段と、を有することを特徴とする発光装置。
【請求項２】
映像信号により画像を表示する複数の発光素子と、
前記複数の発光素子に印加される電圧を制御する電圧源と、
前記複数の各発光素子間の相対的な輝度の差を情報として含む第１のデータが記憶された第１の記憶手段と、
前記発光素子の発光期間に対する、劣化による輝度の低下の度合いを、情報として含む第２のデータが記憶された第２の記憶手段と、
前記映像信号から前記複数の各発光素子の発光期間の累積値を検出する手段と、
前記第１のデータを用いて、前記複数の発光素子間の輝度の差をうめるように前記映像信号を補正し、なおかつ、前記検出された発光期間の累積値と、前記第２のデータとを照らし合わせることで前記複数の各発光素子の劣化による輝度の低下を推測し、前記複数の発光素子のうちの一の発光素子の輝度を初期値に戻すように、前記電圧源から前記複数の発光素子に供給される電圧を補正し、前記一の発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量と、前記一の発光素子以外の各発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量との差をうめるように、前記映像信号を補正して前記一の発光素子以外の各発光素子の階調を補正する手段と、
を有することを特徴とする発光装置。
【請求項３】
映像信号により画像を表示する複数の発光素子と、
前記複数の発光素子に印加される電圧を制御する電圧源と、
前記複数の各発光素子間の相対的な輝度の差を情報として含む第１のデータが記憶された第１の記憶手段と、
前記発光素子に流れる電流の累積値に対する、劣化による輝度の低下の度合いを、情報として含む第２のデータが記憶された第２の記憶手段と、
前記映像信号から前記複数の各発光素子に流れる電流の累積値を検出する手段と、
前記第１のデータを用いて、前記複数の発光素子間の輝度の差をうめるように前記映像信号を補正し、なおかつ、前記検出された電流の累積値と、前記第２のデータとを照らし合わせることで前記複数の各発光素子の劣化による輝度の低下を推測し、前記複数の発光素子のうちの一の発光素子の輝度を初期値に戻すように、前記電圧源から前記複数の発光素子に供給される電圧を補正し、前記一の発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量と、前記一の発光素子以外の各発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量との差をうめるように、前記映像信号を補正して前記一の発光素子以外の各発光素子の階調を補正する手段と、
を有することを特徴とする発光装置。
【請求項４】
映像信号により画像を表示する複数の発光素子と、
前記複数の発光素子に印加される電圧を制御する電圧源と、
前記複数の各発光素子間の相対的な輝度の差を情報として含む第１のデータが記憶された第１の記憶手段と、
前記発光素子の階調数の累積値に対する、劣化による輝度の低下の度合いを、情報として含む第２のデータが記憶された第２の記憶手段と、
前記映像信号から前記複数の各発光素子の階調数の累積値を検出する手段と、
前記第１のデータを用いて、前記複数の発光素子間の輝度の差をうめるように前記映像信号を補正し、なおかつ、前記検出された階調数の累積値と、前記第２のデータとを照らし合わせることで前記複数の各発光素子の劣化による輝度の低下を推測し、前記複数の発光素子のうちの一の発光素子の輝度を初期値に戻すように、前記電圧源から前記複数の発光素子に供給される電圧を補正し、前記一の発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量と、前記一の発光素子以外の各発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量との差をうめるように、前記映像信号を補正して前記一の発光素子以外の各発光素子の階調を補正する手段と、を有し、
前記映像信号が有するビットの１つは補正用に用いられることを特徴とする発光装置。
【請求項５】
映像信号により画像を表示する複数の発光素子と、
前記複数の発光素子に印加される電圧を制御する電圧源と、
前記複数の各発光素子間の相対的な輝度の差を情報として含む第１のデータが記憶された第１の記憶手段と、
前記発光素子の発光期間に対する、劣化による輝度の低下の度合いを、情報として含む第２のデータが記憶された第２の記憶手段と、
前記映像信号から前記複数の各発光素子の発光期間の累積値を検出する手段と、
前記第１のデータを用いて、前記複数の発光素子間の輝度の差をうめるように前記映像信号を補正し、なおかつ、前記検出された発光期間の累積値と、前記第２のデータとを照らし合わせることで前記複数の各発光素子の劣化による輝度の低下を推測し、前記複数の発光素子のうちの一の発光素子の輝度を初期値に戻すように、前記電圧源から前記複数の発光素子に供給される電圧を補正し、前記一の発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量と、前記一の発光素子以外の各発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量との差をうめるように、前記映像信号を補正して前記一の発光素子以外の各発光素子の階調を補正する手段と、
を有し、
前記映像信号が有するビットの１つは補正用に用いられることを特徴とする発光装置。
【請求項６】
映像信号により画像を表示する複数の発光素子と、
前記複数の発光素子に印加される電圧を制御する電圧源と、
前記複数の各発光素子間の相対的な輝度の差を情報として含む第１のデータが記憶された第１の記憶手段と、
前記発光素子の階調数の累積値に対する、劣化による輝度の低下の度合いを、情報として含む第２のデータが記憶された第２の記憶手段と、
前記映像信号を複数回サンプリングし、前記複数の各発光素子の発光の有無を検出する手段と、
前記第１のデータを用いて、前記複数の発光素子間の輝度の差をうめるように前記映像信号を補正し、なおかつ、前記複数回サンプリングしたうちの、前記複数の各発光素子の発光していた回数の割合と、前記第２のデータとを照らし合わせることで前記複数の各発光素子の劣化による輝度の低下を推測し、前記複数の発光素子のうちの一の発光素子の輝度を初期値に戻すように、前記電圧源から前記複数の発光素子に供給される電圧を補正し、前記一の発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量と、前記一の発光素子以外の各発光素子の前記推測により得られた輝度の低下量との差をうめるように、前記映像信号を補正して前記一の発光素子以外の各発光素子の階調を補正する手段と、
を有することを特徴とする発光装置。
【請求項７】
請求項１乃至請求項６のいずれか１項において、前記第１または第２の記憶手段は不揮発性メモリであることを特徴とする発光装置。
【請求項８】
請求項１乃至請求項７のいずれか１項において、前記一の発光素子の輝度の変化量の、前記初期値に対する割合が一定の値に達したときに、前記電圧源から前記複数の発光素子に供給される電圧の補正を停止することを特徴とする発光装置。
【請求項９】
補正回路を有する発光装置の生産システムであって、
複数の発光素子を有するパネルを形成する手段と、
前記複数の各発光素子を順に発光させ、流れる電流を順に測定する手段と、
前記測定された電流を順に第１のデータとして記憶した後、前記補正回路が有する第２の記憶手段に一斉に前記第１のデータを送る第１の記憶手段と、
前記発光素子の階調数の累積値に対する、劣化による輝度の低下の度合いを情報として含む第２のデータを、前記補正回路が有する第３の記憶手段に送る手段と、
前記補正回路を前記パネルに実装する手段と、
を有することを特徴とする発光装置の生産システム。
【請求項１０】
補正回路を有する発光装置の生産システムであって、
複数の発光素子と前記補正回路とを有するパネルを形成する手段と、
前記複数の各発光素子を順に発光させ、流れる電流を順に測定する手段と、
前記測定された電流を順に第１のデータとして記憶した後、前記補正回路が有する第２の記憶手段に一斉に前記第１のデータを送る第１の記憶手段と、
前記発光素子の階調数の累積値に対する、劣化による輝度の低下の度合いを情報として含む第２のデータを、前記補正回路が有する第３の記憶手段に送る手段と、
を有することを特徴とする発光装置の生産システム。
【請求項１１】
補正回路を有する発光装置の生産システムであって、
複数の発光素子を有するパネルを形成する手段と、
前記複数の各発光素子を発光させ、該各発光素子の輝度を測定する手段と、
前記測定された輝度を情報として含む第１のデータを記憶した後、前記補正回路が有する第２の記憶手段に一斉に前記第１のデータを送る第１の記憶手段と、
前記発光素子の階調数の累積値に対する、劣化による輝度の低下の度合いを情報として含む第２のデータを、前記補正回路が有する第３の記憶手段に送る手段と、
前記補正回路を前記パネルに実装する手段と、
を有することを特徴とする発光装置の生産システム。
【請求項１２】
補正回路を有する発光装置の生産システムであって、
複数の発光素子と前記補正回路とを有するパネルを形成する手段と、
前記複数の各発光素子を発光させ、該各発光素子の輝度を測定する手段と、
前記測定された輝度を情報として含む第１のデータを記憶した後、前記補正回路が有する第２の記憶手段に一斉に前記第１のデータを送る第１の記憶手段と、
前記発光素子の階調数の累積値に対する、劣化による輝度の低下の度合いを情報として含む第２のデータを、前記補正回路が有する第３の記憶手段に送る手段と、
を有することを特徴とする発光装置の生産システム。
【請求項１３】
請求項９乃至請求項１２のいずれか１項において、
前記第１の記憶手段は、ＳＲＡＭ、ＤＲＡＭまたはＦＲＡＭであることを特徴とする発光装置の生産システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板上に形成された発光素子を、該基板とカバー材の間に封入した電界発光パネル（以下、単にパネルとする）に関する。また、該パネルにコントローラを含むＩＣ等を実装した、電界発光モジュールに関する。なお本明細書において、該パネル及び電界発光モジュールを共に発光装置と総称する。
【０００２】
【従来の技術】
発光素子は自ら発光するため視認性が高く、液晶表示装置（ＬＣＤ）で必要なバックライトが要らず薄型化に最適であると共に、視野角にも制限が無い。そのため近年、発光素子を用いた発光装置は、ＣＲＴやＬＣＤに代わる表示装置として注目されている。
【０００３】
なお、本明細書において発光素子は、電流または電圧によって輝度が制御される素子全般を含んでおり、ＯＬＥＤ（Ｏｒｇａｎｉｃ　Ｌｉｇｈｔ　Ｅｍｉｔｔｉｎｇ　Ｄｉｏｄｅ）や、ＦＥＤ（Ｆｉｅｌｄ　Ｅｍｉｓｓｉｏｎ　Ｄｉｓｐｌａｙ）に用いられているＭＩＭ型の電子源素子（電子放出素子）等を含んでいる。
【０００４】
発光素子の１つであるＯＬＥＤは、電場を加えることで発生するルミネッセンス（Ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）が得られる化合物（電界発光材料）を含む層（以下、電界発光層と記す）と、陽極層と、陰極層とを有している。電界発光材料におけるルミネッセンスには、一重項励起状態から基底状態に戻る際の発光（蛍光）と三重項励起状態から基底状態に戻る際の発光（リン光）とがある。
【０００５】
電界発光層には具体的に、発光層、正孔注入層、電子注入層、正孔輸送層、電子輸送層等が含まれる。基本的にＯＬＥＤは、陽極／発光層／陰極が順に積層された構造を有しており、この構造に加えて、陽極／正孔注入層／発光層／陰極や、陽極／正孔注入層／発光層／電子輸送層／陰極等の順に積層した構造を有していることもある。またこれらの層の中に無機化合物を含んでいる場合もある。
ところで、電界発光材料の劣化に伴うＯＬＥＤの輝度の低下は、発光装置を実用化する上で深刻な問題となっている。
【０００６】
図１７（Ａ）に、発光素子の２つの電極間に一定の電流を供給したときの発光素子の輝度の時間変化を示す。図１７（Ａ）に示すように、一定の電流を流していても、時間の経過と共に電界発光材料が劣化し、発光素子の輝度は低くなる。
【０００７】
また、図１７（Ｂ）に、発光素子の２つの電極間に一定の電圧を印加したときの発光素子の輝度の時間変化を示す。図１７（Ｂ）に示すように、一定の電圧を印加していても、時間の経過と共に発光素子の輝度が低下している。これは、図１７（Ａ）に示したように、電界発光材料の劣化により一定の電流に対する輝度が低くなるためと、図１７（Ｃ）に示すように、一定の電圧を印加したときに発光素子に流れる電流が、時間と共に小さくなるためと考えられる。
【０００８】
大抵の場合、画像によって画素毎に表示される階調が異なるので、デジタルの映像信号を用いた時間階調方式の場合、発光素子の発光している時間が画素間で異なる。またアナログの映像信号を用いた場合でも、発光素子の発光している時間や、発光素子に供給される電流量が画素間で異なる。このため、時間の経過にともない各画素の発光素子の劣化に差が出てしまい、輝度にばらつきが生じる。
【０００９】
劣化による発光素子の輝度の低下は、発光素子に供給する電流を大きくしたり、印加する電圧を高くしたりすることで補うことができる。しかし、電圧または電流を供給するための電源を各画素に対応して設けるのは現実的ではないので、実際には全ての画素または幾つかの画素毎に電圧または電流を供給するための共通の電源を設けている。劣化に伴う発光素子の輝度の低下を補うために、共通の電源から供給される電圧または電流を単純に大きくすると、該電圧または電流が供給された画素全てにおいて平均的に発光素子の輝度が高くなり、画素間の輝度のばらつきは解消されない。
【００１０】
劣化に伴って生じる画素間の輝度のバラツキを解消するために、下記特許文献１では、発光素子の点灯時間の累積をカウントしてメモリに保存し、あらかじめ用意した劣化特性のデータを基に、映像信号に補正をかけることで画面内の輝度を劣化前と同等に保つことが記載されている。上記構成によって、劣化に起因する画素間の輝度のバラツキを抑えることができる。
【００１１】
【特許文献１】
特開２００２−１７５０４１号公報
【００１２】
しかし、画素間の輝度のバラツキは、劣化に起因するものだけではなく、以下に説明するように、画素間におけるＴＦＴの特性のバラツキによっても生じる。
【００１３】
アクティブマトリクス型の発光装置の場合、各画素の発光素子に流れる電流は、同じく各画素に設けられた薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）によって制御されている。図１８に、一般的な発光装置の画素の回路図を示す。図１８に示す画素は、スイッチング用ＴＦＴ５０００及び駆動用ＴＦＴ５００１の２つのＴＦＴと、発光素子５００２と、保持容量５００３とを有している。
【００１４】
スイッチング用ＴＦＴ５０００のゲートは走査線５００４に接続されている。またソースとドレインは、一方は信号線５００５に、もう一方は駆動用ＴＦＴ５００１のゲートに接続されている。駆動用ＴＦＴ５００１のソースとドレインは、一方は電源線５００６に、もう一方は発光素子５００２が有する画素電極（陽極と陰極のいずれか一方）に接続されている。保持容量が有する２つの電極は、一方が電源線５００６に、もう一方が駆動用ＴＦＴ５００１のゲートに接続されている。
【００１５】
なお、本明細書において接続とは、特に記載のない限り電気的な接続を意味する。
【００１６】
走査線５００４に印加される電圧によって、スイッチング用ＴＦＴ５０００のスイッチングが制御される。スイッチングＴＦＴ５０００がオンのとき、信号線５００５に入力された映像信号が、駆動用ＴＦＴ５００１のゲートに入力される。そして駆動用ＴＦＴ５００１のゲートに入力された映像信号に見合った量の電流が、発光素子５００２に供給され、発光素子５００２の輝度が制御される。
【００１７】
画素間において、発光素子５００２に電流を供給する駆動用ＴＦＴ５００１の特性にばらつきが生じると、発光素子５００２に供給される電流にもばらつきが生じる。つまり、駆動用ＴＦＴ５００１の特性のばらつきは、画素間の輝度にばらつきが生じる原因となっていた。
【００１８】
上記特許文献１に記載の技術では、ＴＦＴの特性のバラツキに起因する輝度のバラツキを抑えることができない。
【００１９】
【発明が解決しようとする課題】
【００２０】
本発明は上述したことに鑑み、電界発光層の劣化や、画素間のＴＦＴ特性のばらつきによる輝度むらを抑えることができ、なおかつ画面全体の輝度の低下を抑えることができる発光装置及び該発光装置の生産システムの提供を課題とする。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
本発明では、上述した問題に鑑み、以下のような手段を講じた。
【００２２】
本発明では、電界発光層の劣化による輝度むら及び駆動用ＴＦＴの特性のばらつきによる輝度むらを抑えるために、各画素に供給される映像信号を補正する補正回路を発光装置に設けた。補正回路は、発光素子及びＴＦＴが形成されている素子基板上に、ＴＦＴと共に作りこまれていても良いし、別途形成してパネルに実装する様にしても良い。
【００２３】
該補正回路には、画素間の駆動用ＴＦＴの特性のばらつきのデータと、発光素子の輝度の経時変化のデータを記憶しておく。そして上記２つのデータに基づき、発光装置に入力された映像信号を、輝度むらが生じないように、各画素の駆動用ＴＦＴの特性及び発光素子の劣化の度合いに合わせて補正する。
【００２４】
駆動用ＴＦＴの特性のばらつきのデータは、発光装置を製品として出荷する前、つまりエンドユーザーにより使用される前に、メーカーによって補正回路内に記憶させておく。具体的には、まず発光素子を該基板とカバー材の間に封入し、パネルとして完成させた後、各画素の発光素子に流れる電流を順に測定する。この測定により得られた駆動用ＴＦＴの特性のばらつきを情報として有するデータを、順に揮発性メモリに書き込んでいく。
【００２５】
そして、該揮発性メモリに記憶されたデータを、補正回路内の不揮発性のメモリに書き込み、記憶させておく。補正装置では、該不揮発性のメモリ内に記憶されている、駆動用ＴＦＴの特性のばらつきのデータに基づいて、発光装置に入力される映像信号を補正する機能を有している。例えば駆動用ＴＦＴのオン電流が大きくて、所望の値よりも低い階調が表示される場合、階調数を増やすように映像信号が補正される。逆に、駆動用ＴＦＴのオン電流が小さくて、所望の値よりも高い階調が表示される場合、階調数を落とすように映像信号が補正される。
【００２６】
よって、エンドユーザーによる使用の際、あらかじめメーカーにより記憶された駆動用ＴＦＴの特性のばらつきのデータに基づき、映像信号が画素毎に補正され、駆動用ＴＦＴのばらつきによる輝度むらが抑えられる。
【００２７】
なお、各画素の発光素子に流れる電流を順に測定した際に用いた揮発性メモリは、補正回路内の不揮発性メモリに駆動用ＴＦＴの特性のばらつきを情報として有するデータを書き込んだ後は不要となるので、製品として出荷してエンドユーザーに渡る前に、発光装置から切り離しておくのが望ましい。
【００２８】
さらに、補正装置において、発光装置に供給される映像信号を常時または定期的にサンプリングする。そして各画素の発光素子の発光する期間または発光素子に供給される電流量から、各画素において表示される階調を検出する。次に、基準とする１つの画素を選び、その検出した値の累積値（総和）と、あらかじめ記憶してある発光素子の輝度の経時変化のデータと、とを比較して、供給する電圧を補正し、該画素において所望の輝度が得られるようにする。基準とする画素は設計者が適宜設定することができる。
【００２９】
例えば、最も劣化が著しくて輝度が低下している画素を基準とした場合、最も劣化が著しい画素と共通の電源から電圧が供給されている他の画素は、過剰の電圧が供給されることになるので、最も劣化の著しい画素に比べて輝度が高くなり、階調数が高くなってしまうと考えられる。これらの画素においては、各画素毎の検出値の累積値と、あらかじめ記憶してある発光素子の輝度の経時変化のデータとを比較して、発光素子の劣化した画素に入力される映像信号をその都度補正し、階調数を落とす。
【００３０】
逆に、最も劣化が小さい画素を基準として補正を行う場合、該画素の検出値の累積値と、あらかじめ記憶してある発光素子の輝度の経時変化のデータとを比較して、該画素に供給される電圧を補正し、所望の輝度が得られるようにする。このとき、最も劣化が小さい画素と共通の電源から電圧が供給されている他の画素においては、供給される電圧がまだ不足していることになるので、最も劣化の小さい画素に比べて輝度が低く、階調数が所望の値よりも低いままであると考えられる。これらの画素においては、各画素毎に検出値の累積値と、あらかじめ記憶してある発光素子の輝度の経時変化のデータとを比較して、発光素子の劣化した画素に入力される映像信号をその都度補正し、階調数を高くする。
【００３１】
つまり、基準となる画素よりも劣化が進んでいる画素においては、階調数を高めるように映像信号を補正し、劣化が進んでいない画素においては、階調数を落とすように映像信号を補正すれば良い。
【００３２】
上記構成によって、各画素における発光素子の劣化の度合いが異なってしまっても、輝度ムラを生ずることなく画面の輝度の均一性を保つことが出来、なおかつ劣化による輝度の低下を抑えることができる。
【００３３】
なお本発明で用いられる発光素子は、正孔注入層、電子注入層、正孔輸送層または電子輸送層等が、無機化合物単独で、または有機化合物に無機化合物が混合されている材料で形成されている形態をも取り得る。また、これらの層どうしが互いに一部混合していても良い。
【００３４】
【発明の実施の形態】
（実施の形態１）
以下、本発明の発光装置の構成について説明する。図１は、本発明の発光装置のブロック図であり、補正回路１００と、パネル１０１と、電圧源１０５とを有している。またこの他に、コントローラ等の駆動に必要な回路を含んでいても良い。
【００３５】
図１に示すパネル１０１は、信号線駆動回路１０２と、走査線駆動回路１０３と、画素部１０４とを有している。なお図１では、補正回路１００及び電圧源１０５が、信号線駆動回路１０２、走査線駆動回路１０３及び画素部１０４が形成されている素子基板とは異なる基板に形成されているが、可能であれば同一基板に形成しても良い。また、信号線駆動回路１０２、走査線駆動回路１０３を、画素部１０４が形成されている素子基板とは異なる基板に形成するようにしても良い。電圧源１０５と画素部との接続は画素の構成によって異なるが、必ず発光素子に印加される電圧の高さを制御できるように接続することが肝要である。
【００３６】
画素部１０４には、発光素子を有する画素が複数備えられている。図１では１つの画素１０６のみ示す。画素１０６はスイッチング用ＴＦＴ１０７と、駆動用ＴＦＴ１０８と、発光素子１０９と、保持容量１１０を有している。スイッチング用ＴＦＴ１０７のゲートは走査線１１１に、ソースとドレインは一方が信号線１１２に、もう一方が駆動用ＴＦＴ１０８のゲートに接続されている。駆動用ＴＦＴ１０８のソースとドレインは、一方が電源線１１３に、もう一方が発光素子１０９の画素電極に接続されている。発光素子は画素電極と対向電極の間に電界発光層を有しており、陽極と陰極のいずれを画素電極とし、対向電極とするかは、設計者が適宜定めることができる。保持容量が有する２つの電極は、一方が電源線１１３に、もう一方が駆動用ＴＦＴ１０８のゲートに接続されている。
【００３７】
電源供給線１１３と発光素子１０９の対向電極の間には、電圧源１０５により所定の電圧差が設けられている。そして電流計１１４により、電源供給線１１３と発光素子１０９の対向電極の間に流れる電流が測定できるようになっている。
【００３８】
なお図１で示した画素は、本発明の発光装置が有する画素の構成のほんの一例である。電圧源１０５により各画素の発光素子に印加される電圧が制御可能であれば良い。
【００３９】
一方補正回路１００は、入力された映像信号から、各画素の発光素子の発光期間または発光素子に流れる電流量をモニターするモニター部１１５と、各画素の駆動用ＴＦＴの特性のばらつきを情報として有しているデータを記憶する画素特性補正データ格納部（第１の記憶手段）１１６と、発光素子の輝度の経時変化または電流量に対する発光素子の輝度の変化をデータとして記憶する劣化特性補正データ格納部（第２の記憶手段）１１７と、電圧源１０５から供給される電圧を制御する電圧補正回路１１８とを有している。モニター部１１５は、具体的にはカウンタ部１２０、映像信号用揮発性メモリ１２１、映像信号用不揮発性メモリ１２２を有している。さらに、入力された映像信号を補正し、各画素の発光素子の輝度を変えたり、発光する期間を変えたりすることができる映像信号補正回路１１９を有している。
【００４０】
画素特性補正データ格納部１１６と、劣化特性補正データ格納部１１７は共に不揮発性メモリで構成されている。
【００４１】
また１２３は画素用揮発性メモリであり、電流計１１４で測定された各画素の発光素子１０９に流れる電流量を、一旦記憶しておく部分である。
【００４２】
次に、補正回路１００の動作について説明する。まず、パネルが完成した時点で、各画素の発光素子に流れる電流をモニターし、駆動用ＴＦＴの特性のばらつきを把握する。
【００４３】
図２（Ａ）に画素部の構成を示す。画素部１０４には、信号線１１２（Ｓ１〜Ｓｘ）、電源線１１３（Ｖ１〜Ｖｘ）、走査線１１１（Ｇ１〜Ｇｙ）が設けられている。なお信号線と電源線の数は必ずしも同じであるとは限らない。またこれらの配線の他に、別の異なる配線が設けられていても良い。
【００４４】
各画素１０６の発光素子１０９の対向電極と、電源線Ｖ１〜Ｖｘとの間には、電圧源１０５によって所定の電圧が印加されている。そして発光素子１０９の対向電極と、電源線Ｖ１〜Ｖｘとの間の電流は、電流計１１４で測定することができる。
【００４５】
電圧源１０５は、回路や素子に供給する電圧が可変である可変電源である。
【００４６】
なお、電流計１１４と電圧源１０５は、画素部１０４が形成されている素子基板と異なる基板上に形成されていても良いし、作製が可能であれば画素部１０４と同じ素子基板上に形成しても良い。
【００４７】
またカラー化表示方式の場合、各色ごとに電圧源、電流計を設け、色毎に電圧源から供給される電圧を変えるようにしても良い。
【００４８】
そして、各画素の発光素子１０９を順に発光させ、電流計１１４により発光素子１０９の対向電極と、電源線Ｖ１〜Ｖｘとの間に流れる電流を順に測定していく。このとき、各画素の正確な電流量を測定するために、電流を測定した後、次の画素の発光素子を発光させる前に、測定を行った画素の発光素子を発光させないようにする必要がある。
【００４９】
つまり、測定する画素に、発光素子を発光させるようなモニター用の映像信号を入力して発光素子を発光させた状態において電流を測定し、その後、発光素子の発光が終了するようなモニター用の映像信号を該画素に入力し、発光を強制的に終了させる。そして全ての画素において順にこの動作を繰り返す。
【００５０】
電流モニター時における、図２（Ａ）に示した画素部の各配線に入力される信号のタイミングチャートを、図２（Ｂ）に示す。図２（Ｂ）に示すように、走査線Ｇ１〜Ｇ２は順に選択されており、各走査線の選択期間において、各信号線Ｓ１〜Ｓｘに順に、発光素子を発光させる電圧と、発光素子の発光を強制的に終了させるような電圧とが連続して印加される
【００５１】
なお電流を測定する画素の順序は設計者が適宜決めることができ、画素の測定順序に合わせて、各配線に入力される信号の電圧を定める必要がある。
【００５２】
各画素の電流量は順に画素用揮発性メモリ１２３に記憶される。そして測定が一部または全部終了したら、画素用揮発性メモリ１２３に記憶されている各画素の電流量のデータが、補正回路１００が有する画素特性補正データ格納部１１６に記憶される。なお、画素特性補正データ格納部１１６に記憶されているデータは、各画素の電流量のデータが情報として含まれていれば良く、各画素の電流量のデータは各画素の駆動用ＴＦＴの特性のばらつきをデータとして含んでいると言える。
【００５３】
画素特性補正データ格納部１１６に記憶されているデータは、発光装置の電源を落とした後も連続して記憶しておく必要があるため、不揮発性メモリを用いるのが望ましい。揮発性メモリは書き込み時間が不揮発性のメモリに比べて短く、また不揮発性メモリは一般的にその書き込みの回数が限られているため、電流の測定時は画素用揮発性メモリ１２３を用いて順に記憶を行い、測定が一部終了するごと、または全部終了した後に、不揮発性メモリである画素特性補正データ格納部１１６に書き込むようにするのが望ましい。
【００５４】
画素特性補正データ格納部１１６に各画素の電流量のデータを記憶した後は、画素用揮発性メモリ１２３及び電流計１１４は不要となる。画素用揮発性メモリ１２３及び電流計１１４は発光装置を製品として出荷する際に取り外しても良い。
【００５５】
補正回路１００では、画素特性補正データ格納部１１６に記憶されているデータから、各画素の電流のばらつきを把握し、各画素の階調を一律にするように、映像信号を補正する機能を有する。
【００５６】
具体的には、基準となる電流値を決めておき、該基準となる電流値よりも大きい電流が流れる画素は階調数を落とすように、小さい電流が流れる画素は階調数を増やすように、映像信号を補正する。
【００５７】
またどの電流値を基準として補正するかは、設計者が適宜設定することができる。例えば全ての画素、または不規則に選んだ幾つかの画素の電流量の平均値を基準としても良いし、最も大きい、または小さい電流量を基準としても良いし、予め計算により定められた電流量を基準としても良い。どの電流量を基準とするかによって、別途基準となる電流量を記憶しておくメモリを設けるようにしても良い。
【００５８】
一方、発光装置に用いる発光素子について、その輝度の経時変化のデータまたは電流量の累積値に対する輝度の変化のデータを、劣化特性補正データ格納部１１７にあらかじめ記憶させておく。劣化特性補正データ格納部１１７に記憶させておくデータはこれらに限られず、映像信号から得られる情報と照らし合わせることで、エンドユーザーが発光装置を使用していく過程において、発光素子の劣化により変化するだろう各画素の階調数を推測することができる情報を含んでいれば良い。
【００５９】
劣化特性補正データ格納部１１７に記憶されているデータは、後に説明するが、主に各画素の発光素子の劣化の程度に従って、電圧源１０５から画素に供給される電圧及び映像信号の補正を行う際に用いる。
【００６０】
このように、画素特性補正データ格納部１１６及び劣化特性補正データ格納部１１７に、それぞれ必要とするデータが書き込まれ、発光装置として製品が完成すると、発光装置はエンドユーザーの手に渡り、実際に画像を表示することになる。次に、実際に画像が表示されたときの、映像信号の補正について説明する。
【００６１】
映像信号が発光装置に供給されると、補正回路１００では、常時または定期的（例えば１秒毎）に、発光装置に供給された映像信号をサンプリングし、該映像信号が有する情報をもとに、各画素における発光素子の発光期間または電流量などの階調数に関する情報を、カウンタ部１２０においてカウントする。ここでカウントされた各画素における階調数に関する情報は、順次、メモリにデータとして記憶されていく。ここで、この階調数に関する情報は累積して記憶していく必要があるため、不揮発性メモリを用いるのが望ましいが、不揮発性メモリは一般的にその書き込みの回数が限られているため、図１に示すように、発光装置の動作中は揮発性メモリからなる映像信号用揮発性メモリ１２１を用いて記憶を行い、一定時間毎に（例えば１時間毎、あるいは電源のシャットダウン時など）不揮発性メモリからなる映像信号用不揮発性メモリ１２２に書き込むようにしても良い。
【００６２】
また、揮発性メモリとしては、スタティック型メモリ（ＳＲＡＭ）、ダイナミック型メモリ（ＤＲＡＭ）、強誘電体メモリ（ＦＲＡＭ）等が挙げられるが、本発明はこれらを限定することはなく、いずれの形式のメモリを用いた構成としても良い。同様に、不揮発性メモリに関しても、フラッシュメモリを始めとする、一般に用いられているものを用いて構成すれば良い。ただし、揮発性メモリにＤＲＡＭを用いる場合には、定期的なリフレッシュ機能を付加する必要がある。
【００６３】
映像信号用揮発性メモリ１２１または映像信号用不揮発性メモリ１２２に記憶された発光期間または電流量などの階調数に関する情報の累積したデータは、映像信号補正回路１１９及び電圧補正回路１１８に入力される。
【００６４】
電圧補正回路１１８では、あらかじめ劣化特性補正データ格納部１１７に記憶された、輝度の経時変化のデータまたは電流量に対する輝度の変化のデータ等と、映像信号用不揮発性メモリ１２２に記憶された各画素の階調数に関する情報の累積したデータとを比較し、各画素の劣化の程度を把握する。そして劣化が一番著しい特定の画素を検出し、該特定の画素の劣化の度合いに合わせて、電圧源１０５から画素部１０４に供給される電圧の値を補正する。具体的には、該特定の画素において所望の階調を表示することができるように、発光素子に印加される電圧の値を高くする。
【００６５】
該特定の画素に合わせて、画素部１０４に供給される電圧の値が補正されるので、該特定の画素より劣化が進んでいないその他の画素においては、発光素子に過剰の電圧が供給されることになり、所望の階調が得られない。そこで、映像信号補正回路１１９において、その他の画素の階調を決定する映像信号を補正する。映像信号補正回路１１９には、各画素の階調数に関する情報の累積したデータの他に、映像信号が入力されている。映像信号補正回路１１９では、あらかじめ劣化特性補正データ格納部１１７に記憶された輝度の経時変化のデータまたは電流量に対する輝度の変化のデータ等と、各画素の階調数に関する情報の累積したデータとを比較し、各画素の劣化の程度を把握する。そして本実施の形態では、劣化が一番著しい特定の画素を検出し、該特定の画素の劣化の度合いに合わせて、入力された映像信号の補正を行う。具体的には、所望の階調数が得られるように映像信号の補正を行う。補正された映像信号は、信号線駆動回路１０２に入力される。さらに前述した通り、映像信号補正回路１１９では、画素特性補正データ格納部１１６に記憶されているパネルが作製された時点で検出した各画素の電流量のばらつきをも補正するように、上記劣化の補正と合わせて映像信号を補正する。
【００６６】
なお、特定の画素は、劣化が最も著しい画素でなくとも良く、劣化が最も進んでいない画素、または設計者が定めた任意の画素であっても良い。いずれの画素を選ぶにしろ、該画素を基準として電圧源１０５から画素部１０４に供給される電圧の値を定め、該画素よりも劣化が進んでいる画素においては階調数を高めるように映像信号を補正し、劣化が進んでいない画素においては階調数を落とすように映像信号を補正する。
【００６７】
具体的に図２（Ａ）に示した発光装置の場合、電圧源１０５から電源線１１３（Ｖ１〜Ｖｘ）に供給される電圧の高さを、電圧補正回路１１８において補正している。なお、映像信号がデジタルの場合、画素に入力される映像信号の電圧は２値のみなので、画素の階調を制御するためには、発光素子１０９の発光する期間の長さを変えるように映像信号補正回路１１９において映像信号を補正する。映像信号がアナログの場合は、駆動用ＴＦＴ１０８のドレイン電流の大きさが変わるように映像信号補正回路１１９において映像信号を補正し、画素の階調を制御する。
【００６８】
図３（Ａ）に補正をかけない場合の、発光素子の輝度の変化を示す。図３（Ａ）において横軸は時間を対数で示しており、縦軸は輝度を示している。時間の経過と共に、電界発光層の劣化により輝度が低下しているのがわかる。
【００６９】
図３（Ｂ）に本発明の発光装置が有する発光素子における、発光素子に印加される電圧の時間変化を示す。横軸は時間を対数で示しており、縦軸は発光素子の陽極と陰極の間に印加される電圧を示している。劣化に伴う輝度の低下を補うため、発光素子に印加される電圧は増加する。
【００７０】
図３（Ｃ）に、本発明の発光装置が有する発光素子における、輝度の時間変化を示す。横軸は時間を対数で示しており、縦軸は発光素子の輝度を示している。上記補正によって、発光素子の輝度は一定に保たれる。
【００７１】
なお、図３では発光素子の輝度が常に一定になるように補正を行っているが、例えば一定期間毎に補正を行った場合は、発光素子の輝度がある程度低下したところで補正が行われるため、常に輝度が一定になるとは限らない。
【００７２】
なお、発光素子の劣化がより進むと、発光素子に印加される電圧は際限なく大きくなる。発光素子に印加される電圧が大きくなりすぎると、発光素子の劣化が早くなり、光らない部分（ダークスポット）の発生を促進してしまう。そこで、本発明においては図４に示すように、発光素子に印加される電圧が、初期値に対してある一定の値（α％）だけ増加したら、補正による電圧の増加を停止し、電圧源から発光素子に供給される電圧を一定に保つようにしても良い。
【００７３】
なお、本発明の発光装置の画素は、図２に示した構成に限定されない。本発明の画素は、発光素子に印加される電圧を電圧源によって制御することが可能であれば良い。
【００７４】
なお、本発明の発光装置では、電源遮断時に、映像信号用揮発性メモリ１２１に記憶されているデータを、映像信号用不揮発性メモリ１２２に記憶されているデータに加算して記憶しておいても良い。これにより、次回の電源投入後、継続して発光素子の発光期間または階調数の累積したデータの収集が行われる。
【００７５】
以上のようにして、常時または定期的に映像信号をサンプリングし、各画素の階調数に関する情報の累積したデータを記憶しておくことで、この蓄積したデータとあらかじめ記憶してある輝度の経時変化のデータまたは電流量に対する輝度の変化のデータ等とを比較して、映像信号をそのつど補正し、劣化した発光素子には、劣化していないものと同等の輝度が達成できるように映像信号に補正を加えることが出来る。よって、輝度ムラを生ずることなく、画面の均一性を保つことが出来る。
【００７６】
さらに、パネルを作製した後、測定により各画素の発光素子に流れる電流のばらつきを把握し、各画素の階調を一律にするように映像信号を補正することで、劣化が進行する以前に生じていた画素間の輝度ムラを抑えることができる。
【００７７】
なお、発光素子の発光期間または階調数を検出するのではなく、ある時点における発光素子の発光の有無のみを検出するようにしても良い。そして、発光の有無の検出回数を増やしていき、全検出回数に占める発光素子が発光していた回数の割合から、発光素子の劣化の度合いを推し量ることが可能である。
【００７８】
なお、図１では補正後の映像信号をそのまま信号線駆動回路に入力しているが、信号線駆動回路がアナログの映像信号に対応している場合、図５に示すようにＤ／Ａ変換回路を設けてデジタルの映像信号をアナログに変換してから入力するようにしても良い。
【００７９】
アナログの映像信号を用いて駆動するパネルの場合、映像信号をサンプリングして、各画素の発光素子に流れる電流量を情報として含むデータを得て、該データをもとに劣化の度合いを推し量ることができる。
【００８０】
以上は、発光素子としてＯＬＥＤを用いたものを例に挙げて説明したが、本発明の発光装置はＯＬＥＤに限らず、ＰＤＰ、ＦＥＤなど他の発光素子を用いていても良い。
【００８１】
（実施の形態２）
実施の形態１では、各画素の電流量のデータを用いて駆動用ＴＦＴの特性のばらつきを把握し、各画素の階調を一律にする例について説明した。発光素子に流れる電流と輝度は比例関係にあるので、発光素子の輝度のバラツキは、流れる電流のバラツキであるとも言える。よって、各画素の電流量のデータの代わりに各画素の輝度のデータを用いて各画素の階調を補正することも可能である。本実施の形態では、各画素の電流量のデータの代わりに各画素の輝度のデータを用いて、各画素の階調を一律にする例について説明する。
【００８２】
発光素子の輝度の測定方法は様々である。図１９（Ａ）に、輝度計を用いて輝度を測定する例を示す。４０００は発光素子が設けられた画素４００２を有するパネルであり、各画素４００２の輝度を輝度計４００１で測定する。
【００８３】
図１９（Ｂ）に、エリアセンサを用いて輝度を測定する例を示す。パネル４００３は発光素子が設けられた画素４００４を有している。またエリアセンサ４００５は、各画素に対応する受光素子４００６を有している。そして、パネル４００３とエリアセンサ４００５とを、各画素４００４と受光素子４００６とが対応するように重ね合わせることで、各画素の輝度を測定することが可能である。
【００８４】
図１９（Ｃ）に、ラインセンサを用いて輝度を測定する例を示す。パネル４００８は発光素子が設けられた画素４００９を有している。またラインセンサ４０１０は、ライン状に配列された受光素子４０１１を有している。そして、ラインセンサ４０１０をパネル４００８上で走査することで、画素４００９と受光素子４０１１とが対応するように重ね合わせることができ、各画素の輝度を測定することが可能である。
【００８５】
各画素の輝度のデータは、画素特性補正データ格納部に記憶される。本実施の形態では、各画素の電流を測定するための電流計を用いる必要がない。映像信号補正回路では、画素特性補正データ格納部に記憶されているデータから、各画素の階調のばらつきを把握し、各画素の階調を一律にするように、映像信号を補正する機能を有する。
【００８６】
図２０に、映像信号補正回路の構成を一例として示す。図２０（Ａ）に、アナログの映像信号を補正する映像信号補正回路のブロック図を示す。映像信号補正回路４１００に入力されたアナログの映像信号は、Ａ／Ｄ変換回路４１０１においてデジタルに変換されて、映像信号用メモリ４１０２に記憶される。演算回路４１０３では、画素特性補正データ格納部４１０５に記憶されている各画素の輝度のデータを用いて、映像信号用メモリ４１０２に記憶されているデジタル化された映像信号を、各画素の輝度が均一になるように補正する。
【００８７】
補正された映像信号はＤ／Ａ変換回路４１０４においてアナログに変換され、信号線駆動回路に供給される。前記補正後の映像信号によって各画素の駆動用ＴＦＴの特性のバラツキに起因する画素間の輝度のバラツキが低減される。
【００８８】
具体的には、基準となる輝度を決めておき、該輝度よりも高い輝度の画素は階調数を落とすように、輝度が低い画素は階調数を増やすように、映像信号を補正する。
【００８９】
図２０（Ｂ）に、デジタルの映像信号を補正する映像信号補正回路のブロック図を示す。映像信号補正回路４２００に入力されたデジタルの映像信号は、映像信号用メモリ４２０１に記憶される。演算回路４２０２では、画素特性補正データ格納部４２０３に記憶されている各画素の輝度のデータを用いて、映像信号用メモリ４２０１に記憶されているデジタルの映像信号を、各画素の輝度が均一になるように補正する。
【００９０】
補正された映像信号は信号線駆動回路に供給される。前記補正後の映像信号によって各画素の駆動用ＴＦＴの特性のバラツキに起因する画素間の輝度のバラツキが低減される。
【００９１】
具体的には、基準となる輝度を決めておき、該輝度よりも高い輝度の画素は階調数を落とすように、輝度が低い画素は階調数を増やすように、映像信号を補正する。
【００９２】
なお、どの輝度を基準として補正するかは、設計者が適宜設定することができる。例えば全ての画素、または不規則に選んだ幾つかの画素の輝度の平均値を基準としても良いし、最も高い、または低い輝度を基準としても良いし、予め計算により定められた輝度を基準としても良い。どの輝度を基準とするかによって、別途基準となる輝度のデータを記憶しておくメモリを設けるようにしても良い。
【００９３】
また輝度の測定は、ある特定の１つの階調を情報として有する映像信号を用いて行なっても良いし、複数のまたは全部の各階調を情報として有する映像信号を用いて、各階調ごとに輝度の測定を行なっても良い。前者の場合、演算回路において、定められた階調数を該輝度のデータに従って単純に加算または減算することで、映像信号を補正することができる。よって、輝度の測定がより容易になり、画素特性補正データ格納部として用いるメモリの容量を抑えることができる。また後者の場合、映像信号と輝度との関係をより正確に把握することができるので、各画素の階調をより一律にすることができる。
【００９４】
（実施の形態３）
実施の形態１においては、電圧補正回路１１８及び映像信号補正回路１１９の両方で、あらかじめ劣化特性補正データ格納部１１７に記憶された輝度の経時変化のデータまたは電流量に対する輝度の変化のデータ等と、映像信号用不揮発性メモリ１２２に記憶された各画素の階調数に関する情報の累積したデータとを比較し、各画素の劣化の程度を把握する例について説明した。本実施の形態では実施の形態１とは異なる構成について説明する。
【００９５】
図２１に本実施の形態の構成を示す。映像信号補正回路１１９においては、電圧補正回路１１８で得られた各画素の劣化の程度に関するデータを用いて映像信号の補正を行っている。
【００９６】
上記構成によって、映像信号補正回路１１９において、あらかじめ劣化特性補正データ１１７に記憶された輝度の経時変化のデータまたは電流量に対する輝度の変化のデータ等と、各画素の階調数に関する情報の累積したデータとを比較して各画素の劣化の程度を把握する処理を省略することが出来、補正回路の動作効率を向上させることができる。
【実施例】
以下に本発明の実施例について記述する。
【００９７】
（実施例１）
本実施例では、本発明の生産システムの流れについて説明する。なお、補正回路をパネル上に画素部と共に作りこんでしまう場合と、別途補正回路を別基板上に作製し、後でパネルに実装する方法とがある。
【００９８】
図６に、補正回路をパネルに作り込んだ場合の、本発明の生産システムのフローチャートを示す。この場合、補正回路はパネルの一部と見なすことができる。補正回路を含んだパネルが完成した後、各画素の発光素子を順に点灯させ、発光素子に流れる電流を測定する。測定した電流値は各画素の駆動用ＴＦＴの特性のばらつきを情報として含んでいる。そして測定された電流値を情報として含んでいるデータ（以下、特性補正データと呼ぶ）を、画素用揮発性メモリに順に欠き込んでいく。
【００９９】
なお、電流値を情報として含んでいるデータとは、電流の値そのものでなくともよく、画素間の電流値の相対的なばらつきを何らかの形で含んでいる情報であれば良い。
【０１００】
そして、画素用揮発性メモリへの特性補正データの書き込みがある程度終了したら、該特性補正データを、画素用揮発性メモリから補正回路へ書き込む。具体的には補正回路内の、不揮発性メモリで形成された画素特性補正データ格納部に書き込む。
【０１０１】
画素特性補正データ格納部への特性補正データの書き込みが終了したら、画素用揮発性メモリは不要となり、実装しておくとパネルの小型化を妨げるので、切り離してしまうのが望ましい。
【０１０２】
一方、発光素子に用いられる電界発光層の材料や層の構成が決定したら、該発光素子の特性のデータベースを作成する。発光素子は色によって電界発光層に用いる電界発光材料が異なる場合がある。異なる電界発光材料を用いていたり、電界発光層の構造が異なる場合は、各構成毎に発光素子の特性のデータベースを作成するのが望ましい。
【０１０３】
発光素子の特性とは、具体的には発光素子の発光期間（時間）に対する輝度の値、または発光素子に流れる電流量に対する輝度の値を用いることができる。なおこれらの特性に限定されず、映像信号と照らし合わせることで、各画素の劣化による輝度の低下を推測することができるならば、どのような特性でも用いることができる。
【０１０４】
なお、これらの発光素子の特性のデータベースは、パネルを作っているメーカにおいて作成しても良いし、既存のデータベースを取得し、用いるようにしても良い。これらの発光素子の特性に関するデータは、劣化特性補正データとして、補正回路に格納される。具体的には、補正回路が有する不揮発性メモリから形成される劣化特性補正データ格納部に記憶しておく。
【０１０５】
そして、発光装置が完成すると、製品として出荷され、エンドユーザーによって使用可能な状態となる。製品として完成するまでの流れが、本発明の生産システムに含まれる。
【０１０６】
エンドユーザーにより発光装置が使用されると、画素特性補正データ格納部内の特性補正データを参照して映像信号が補正され、駆動用ＴＦＴの特性のばらつきによって生じる画素間の輝度むらが常に補正される。
【０１０７】
そして、映像信号をモニターすることで、各画素における発光素子の発光期間または電流量等の、劣化の度合いを推測することができるデータを蓄積していく。そして、劣化の度合いを推測することができる蓄積されたデータと、劣化特性補正データ格納部の劣化特性補正データとから、各画素の発光素子の劣化の度合いを推測し、発光素子の劣化のばらつきによって生じる画素間の輝度むらが補正されるように、映像信号を補正する。
【０１０８】
次に図７を用いて、別途補正回路を作製し、後でパネルに実装する場合の、本発明の生産システムのフローチャートを示す。まずパネルが完成した後、各画素の発光素子を順に点灯させ、発光素子に流れる電流を測定することで得られる特性補正データを、画素用揮発性メモリに順に欠き込んでいく。
【０１０９】
一方で、パネルとは別に補正回路を作製する。
【０１１０】
そして、画素用揮発性メモリへの特性補正データの書き込みがある程度終了したら、該特性補正データを、画素用揮発性メモリから補正回路へ書き込む。具体的には補正回路内の、不揮発性メモリで形成された画素特性補正データ格納部に書き込む。
【０１１１】
画素特性補正データ格納部への特性補正データの書き込みが終了したら、画素用揮発性メモリは不要となり、実装しておくとパネルの小型化を妨げるので、切り離してしまうのが望ましい。
【０１１２】
一方、発光素子の特性のデータベースを作成する。発光素子の特性のデータベースは、パネルを作っているメーカにおいて作成しても良いし、既存のデータベースを取得し、用いるようにしても良い。これらの発光素子の特性に関するデータは、劣化特性補正データとして、補正回路に格納される。具体的には、補正回路が有する不揮発性メモリから形成される劣化特性補正データ格納部に記憶しておく。
【０１１３】
そして、補正回路をパネルに実装する。なお、補正回路のパネルへの実装は、劣化特性補正データを格納する前でも良いし、画素特性補正データを格納する前でも良い。
【０１１４】
そして、発光装置が完成すると、製品として出荷され、エンドユーザーによって使用可能な状態となる。製品として完成するまでの流れが、本発明の生産システムに含まれる。
【０１１５】
なお、補正回路を別途作製することで、発光装置の歩留りを高めることができる。また、パネル内に作り込むことで、発光装置の大きさを抑えることができる。
【０１１６】
（実施例２）
本実施例では、本発明の発光装置の補正回路における、映像信号の補正方法について説明する。
【０１１７】
劣化した発光素子の輝度を、映像信号で補正する方法の１つとして、入力される映像信号にある補正値を加算し、実質的に数階調上の信号に変換することによって、劣化前と同等の輝度を得る方法が挙げられる。これを回路設計で最も簡単に実現するには、上乗せ用の階調を処理出来るだけの回路をあらかじめ用意しておけばよい。
【０１１８】
具体的には、例えば本発明の劣化補正機能を有する６ビットデジタル階調（６４階調）仕様の発光装置の場合、補正を行うための上乗せ用として１ビット分の処理能力を追加し、実質７ビットデジタル階調（１２８階調）として設計、作成し、通常の動作においては、下位６ビットを使用して動作させる。そして、発光素子に劣化が生じた場合には、通常の映像信号に補正値を加算し、その加算分の信号処理は、前述の上乗せ用１ビットを用いて行う。この場合、ＭＳＢ（Ｍｏｓｔ　Ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ　Ｂｉｔ：最上位ビット）は信号補正用としてのみ用いられ、実際の表示階調は６ビットである。
【０１１９】
本実施例は、実施例１と自由に組み合わせて実施することが可能である。
【０１２０】
（実施例３）
本実施例においては、実施例２とは異なった映像信号の補正方法について説明する。
【０１２１】
図８（Ａ）は、画素部の一部を拡大した図であり、複数の画素が配置されている。図８（Ａ）は、エンドユーザーによる使用が開始された直後の画素の様子を示しており、駆動用ＴＦＴの特性のばらつきによって生じる画素間の輝度むらは解消された状態である。
【０１２２】
そして、使用を重ねるにつれて、発光素子の劣化の度合いが画素間でばらつき、輝度むらが生じる。この状態を図８（Ｂ）に示す。ここで、画素２０１〜２０３の３画素について考える。画素２０１は、３つの画素のうち最も劣化が進んでいない画素であり、画素２０２は画素２０１よりも劣化が進んでおり、画素２０３は最も劣化が進んでいると仮定する。
【０１２３】
このとき、劣化が進んでいる画素ほど、輝度の低下も大きい。よって、輝度の補正を行わないと、ある中間調を表示したときに、図８（Ｂ）に示すように輝度ムラが生ずる。画素２０１の輝度に対し、画素２０２の輝度は低くなり、さらに画素２０３の輝度は低くなる。
【０１２４】
次に、実際の補正動作について説明する。発光素子の発光期間または階調数の累積したデータと、劣化に伴う輝度低下との関係をあらかじめ測定しておく。なお、発光期間または階調数の累積したデータと、劣化に伴う発光素子の輝度低下は、必ずしも単調であるとは限らない。発光期間または階調数の累積したデータに対する発光素子の劣化の度合いを、予め劣化特性補正データ格納部に記憶しておく。
【０１２５】
電圧補正回路１１８は、劣化特性補正データ格納部１１７に記憶されたデータに基づき、電圧源１０５から供給される電圧の補正量を決める。電圧の補正量は、基準となる画素における発光期間または階調数の累積したデータをもとに定める。例えば最も劣化が進んでいる画素２０３を基準とすると、画素２０３は所望の階調が得られるが、画素２０１、２０２においては過剰の電圧が供給されることになるので、映像信号の補正が必要となる。よって、映像信号補正回路１１９では、劣化が一番著しい特定の画素の劣化の度合いに合わせて、所望の階調数が得られるように入力された映像信号の補正を行う。具体的には、基準となる画素とその他の画素とで、発光期間または階調数の累積したデータを比較し、その階調数の差を算出し、階調数の差を補うように映像信号を補正する。
【０１２６】
映像信号補正回路１１９においては、映像信号の入力と、各画素の発光期間または階調数の累積したデータとを照らし合わせ、各々の映像信号の補正値を決定する。
【０１２７】
例えば画素２０３を基準として補正を行う場合、画素２０１、２０２は画素２０３と劣化の度合いが異なるため、映像信号による階調数の補正が必要となる。画素２０１は、その発光期間または階調数の累積したデータから、画素２０２に比べて画素２０３との劣化の進み具合の差が大きいと予測されるため、画素２０２よりも大幅な階調数の補正がなされる。
【０１２８】
図８（Ｃ）に、基準となる画素との、発光期間または階調数の累積したデータの差と、映像信号によって補正される階調数の関係を示す。なお、発光期間または階調数の累積したデータと、劣化に伴う発光素子の輝度低下は必ずしも単調であるとは限らなので、映像信号の補正により加算される階調数も、発光期間または階調数の累積したデータに対して必ずしも単調であるとは限らない。以上のように、加算処理による補正によって、均一な輝度の画面を得ることが出来る。
【０１２９】
本発明の発光装置において、映像信号の各ビットに対応する発光素子の発光する期間（Ｔｓ）の長さと階調の関係を、図９を用いて説明する。図９では映像信号が３ビットの場合を例に挙げ、０〜７までの８階調を表示する場合の、１フレーム期間に出現する発光期間の長さを示す。
【０１３０】
３ビットの映像信号の各ビットは、３つの発光期間Ｔｓ１〜Ｔｓ３にそれぞれ対応している。Ｔｓ１：Ｔｓ２：Ｔｓ３＝２２：２：１で表される。なお本実施例では映像信号が３ビットの場合について説明しているが、ビット数はこれに限定されない。例えばｎビットの映像信号を用いる場合、発光期間の長さの比は、Ｔｓ１：Ｔｓ２：…：Ｔｓ（ｎ−１）：Ｔｓｎ＝２ｎ−１：２ｎ−２：…：２：１で表される。
【０１３１】
１フレーム期間に出現する、発光している発光期間の長さの総和によって、階調数が決まる。例えば全ての発光期間において発光素子が発光している場合は、階調数が７になる。全ての発光期間において発光素子が発光していない場合は、階調数が０になる。
【０１３２】
そして、例えば画素２０１、２０２、２０３に階調数３を表示させようとして電圧を補正した結果、画素２０３においては階調数３が得られたが、画素２０１においては階調数５、画素２０２においては階調数４が表示されてしまうと仮定する。この場合、画素２０１においては階調数が２つ高くなっており、画素２０２においては階調数が１つ高くなっていることになる。
【０１３３】
よって、映像信号補正回路によって映像信号を補正し、画素２０１においては所望の階調数３よりも２つ低い階調数１の補正済みの映像信号を入力し、Ｔｓ３のみ発光素子が発光するようにする。また、映像信号補正回路によって映像信号を補正し、画素２０２においては所望の階調数３よりも１つ低い階調数２の補正済みの映像信号を入力し、Ｔｓ２のみ発光素子が発光するようにする。
【０１３４】
なお、本実施例では、最も劣化の著しい画素を基準として補正を行った例について示したが、本発明はこの構成に限定されない。基準とする画素は設計者が適宜設定することができ、該基準となる画素と階調数が一致するように、映像信号を適宜補正するようにすれば良い。
【０１３５】
最も劣化の小さい画素を基準とする場合、映像信号は加算処理によって補正されており、白表示における補正が利かない（具体的には、例えば６ビット映像信号として、”１１１１１１”が入力された場合、これ以上の加算が出来ない）という欠点がある。また、最も劣化が著しい画素を基準とする場合、映像信号は減算処理によって補正されており、加算処理による補正とは逆に、補正の利かない範囲が黒表示の範囲であるため、ほとんど影響がない（具体的には、例えば６ビット映像信号として、”００００００”が入力された場合、これ以上の減算を行う必要なく、通常の発光素子と劣化した発光素子との間で正確な黒表示（単に発光素子を非点灯状態としておけばよい）が可能である。また、黒近辺の数階調も、表示装置の対応ビット数がある程度高ければほとんど問題とならないという特徴がある。両者とも、多階調化に有利な方法である。
【０１３６】
また例えば、ある階調を境界として、加算処理と減算処理の両方の補正方法を併用することで、双方のデメリットを補うことも有効な手段といえる。
【０１３７】
なお発光期間の補正と、発光素子に流れる電流の大きさの補正とを組み合わせて階調を補正することも可能である。
【０１３８】
本実施例は、実施例１と自由に組み合わせて実施することが可能である。
【０１３９】
（実施例４）
本実施例では、本発明の発光装置が有する信号線駆動回路及び走査線駆動回路の構成について説明する。
【０１４０】
図１０に本実施例の発光装置の駆動回路のブロック図を示す。図１０（Ａ）はデジタルの映像信号を処理する信号線駆動回路６０１であり、シフトレジスタ６０２、ラッチＡ６０３、ラッチＢ６０４を有している。
【０１４１】
信号線駆動回路６０１において、シフトレジスタ６０２にクロック信号（ＣＬＫ）およびスタートパルス（ＳＰ）が入力される。シフトレジスタ６０２は、これらのクロック信号（ＣＬＫ）およびスタートパルス（ＳＰ）に基づきタイミング信号を順に発生させ、バッファ等（図示せず）を通して後段の回路へタイミング信号を順次入力する。
【０１４２】
シフトレジスタ６０２からのタイミング信号は、バッファ等によって緩衝増幅される。タイミング信号が入力される配線には、多くの回路あるいは素子が接続されているために負荷容量（寄生容量）が大きい。この負荷容量が大きいために生ずるタイミング信号の立ち上がりまたは立ち下がりの”鈍り”を防ぐために、このバッファが設けられる。なおバッファは必ずしも設ける必要はない。
【０１４３】
バッファによって緩衝増幅されたタイミング信号は、ラッチＡ６０３に入力される。ラッチＡ６０３は、補正回路において補正された補正後映像信号を処理する複数のステージのラッチを有している。ラッチＡ６０３は、前記タイミング信号が入力されると、補正回路から入力される補正後映像信号を順次取り込み、保持する。
【０１４４】
なお、ラッチＡ６０３に映像信号を取り込む際に、ラッチＡ６０３が有する複数のステージのラッチに、順に映像信号を入力しても良い。しかし本発明はこの構成に限定されない。ラッチＡ６０３が有する複数のステージのラッチをいくつかのグループに分け、各グループごとに並行して同時に映像信号を入力する、いわゆる分割駆動を行っても良い。なおこのときの１つのグループに含まれるステージの数を分割数と呼ぶ。例えば４つのステージごとにラッチをグループに分けた場合、４分割で分割駆動すると言う。
【０１４５】
ラッチＡ６０３の全てのステージのラッチに映像信号の書き込みが一通り終了するまでの時間を、ライン期間と呼ぶ。実際には、上記ライン期間に水平帰線期間が加えられた期間をライン期間に含むことがある。
【０１４６】
１ライン期間が終了すると、ラッチＢ６０４にラッチシグナル（Ｌａｔｃｈ　Ｓｉｇｎａｌ）が入力される。この瞬間、ラッチＡ６０３に書き込まれ保持されている映像信号は、ラッチＢ６０４に一斉に送出され、ラッチＢ６０４の全ステージのラッチに書き込まれ、保持される。
【０１４７】
映像信号をラッチＢ６０４に送出し終えたラッチＡ６０３には、シフトレジスタ６０２からのタイミング信号に基づき、映像信号の書き込みが順次行われる。この２順目の１ライン期間中には、ラッチＢ６０４に書き込まれ、保持されている映像信号が信号線に入力される。
【０１４８】
なお、シフトレジスタの代わりにデコーダ回路等の別の回路を用いて、ラッチ回路に順に映像信号を書きこむようにしても良い。
【０１４９】
図１０（Ｂ）は走査線駆動回路の構成を示すブロック図である。走査線駆動回路６０５は、それぞれシフトレジスタ６０６、バッファ６０７を有している。また場合によってはレベルシフタを有していても良い。
【０１５０】
走査線駆動回路６０５において、シフトレジスタ６０６からのタイミング信号がバッファ６０７に入力され、対応する走査線に入力される。走査線には、１ライン分の画素の、スイッチング素子として機能するＴＦＴのゲートが接続されている。そして、１ライン分の画素のＴＦＴを一斉にＯＮにしなくてはならないので、バッファは大きな電流を流すことが可能なものが用いられる。
【０１５１】
なお、シフトレジスタの代わりにデコーダ回路等の別の回路を用いて、ゲート信号を選択し、タイミング信号を供給するようにしても良い。
【０１５２】
次に、アナログの映像信号を処理する信号線駆動回路の構成について説明する。
【０１５３】
図１１に、アナログの映像信号を処理する信号線駆動回路のブロック図を示す。信号線駆動回路６１０は、シフトレジスタ６１１、レベルシフタ６１２、サンプリング回路６１３を有している。なお図１１では、レベルシフタ６１２をシフトレジスタ６１１とサンプリング回路６１３の間に設けているが、シフトレジスタ６１１の中にレベルシフタ６１２が組み込まれている構成にしても良い。
【０１５４】
クロック信号（ＣＬＫ）、スタートパルス信号（ＳＰ）がシフトレジスタ６１１に供給されると、シフトレジスタ６１１では映像信号をサンプリングするタイミングを制御するための、タイミング信号を生成する。生成されたタイミング信号は、レベルシフタ６１２に供給される。レベルシフタ６１２では供給されたタイミング信号の電圧の振幅を増幅する。
【０１５５】
レベルシフタ６１２において増幅されたタイミング信号は、サンプリング回路６１３に入力される。そして補正回路において補正された映像信号は、サンプリング回路６１３に入力されたタイミング信号に同期してサンプリングされ、信号線を介して画素部に入力される。
【０１５６】
本発明において用いられる駆動回路は、本実施例で示した構成に限定されない。本実施例の構成は、実施例１〜３と自由に組み合わせて実施することが可能である。
【０１５７】
（実施例５）
補正回路を画素部、信号線駆動回路及び走査線駆動回路と同じ基板に形成する場合、部品点数の大幅削減による低コスト化、省スペース化、高速駆動を実現することができる。一方、補正回路が画素部とは異なる基板に形成する場合、発光装置に供給された映像信号が補正回路において補正された後に、ＦＰＣを介して画素部と同じ基板に形成された信号線駆動回路に入力される。このような方法によるメリットとしては、補正回路のユニット化による互換性があり、一般的なパネルを、そのまま用いることが出来るというのが挙げられる。
【０１５８】
補正回路を画素部、信号線駆動回路及び走査線駆動回路と同一の基板に一体形成した、本発明の発光装置の構成を、図１２に示す。基板４０１上に、信号線駆動回路４０２、走査線駆動回路４０３、画素部４０４、ＦＰＣ４０６及び補正回路４０７が一体形成されている。なお、図１２では、各回路のレイアウトを明確にするために素子基板のみを示しているが、実際は発光素子が大気に曝されないように、カバー材で封止されている。
【０１５９】
また、基板上のレイアウトは図の例に限定されないが、信号線等の配置、配線長等を考慮しつつ、ブロックごとに近接するように配置するのが望ましい。
【０１６０】
映像信号は、外部の映像ソースからＦＰＣ４０６を介して補正回路４０７内の映像信号補正回路に入力される。その後、補正が行われた補正済み映像信号が信号線駆動回路４０２に入力される。
【０１６１】
一方、補正回路内の電圧補正回路において、電圧源から出力される電圧量が補正される。なお、本実施例では、補正回路が有する電圧源から出力される電圧の高さを電圧補正回路において補正しているが、本実施例はこの構成に限定されない。発光素子に印加される電圧の高さを制御する電圧源は、必ずしも補正回路内に設けられている必要はない。
【０１６２】
図１２に示した例では、ＦＰＣ４０６と信号線駆動回路４０２との間に補正回路４０７を配置しており、制御信号の引き回しが容易となっている。
【０１６３】
次に、別途形成された補正回路を、ワイヤボンディング法、ＣＯＧ（チップ・オン・グラス）法等の手段によってパネルに実装する場合の、本発明の発光装置の構成について説明する。
【０１６４】
図１３に本実施例の発光装置の外観図を示す。基板４２０上に設けられた画素部４２１と、信号線駆動回路４２２と、第１及び第２の走査線駆動回路４２３とを囲むようにして、シール材４２４が設けられている。また画素部４２１と、信号線駆動回路４２２と、第１及び第２の走査線駆動回路４２３との上にカバー材４２５が設けられている。よって画素部４２１と、信号線駆動回路４２２と、第１及び第２の走査線駆動回路４２３とは、基板４２０とシール材４２４とカバー材４２５とによって、充填材（図示せず）と共に密封されている。
【０１６５】
カバー材４２５の基板４２０側の面に凹部４２６を設けて吸湿性物質または酸素を吸着しうる物質を配置する。
【０１６６】
基板４２０上に引き回されている配線（引き回し配線）は、シール材４２４と基板４２０との間を通り、ＦＰＣ４２７を介して発光装置の外部の回路または素子に接続されている。
【０１６７】
本発明の発光装置が有する補正回路は、基板４２０とは異なる基板（以下、チップと呼ぶ）４２８に形成され、ＣＯＧ（チップ・オン・グラス）法等の手段によって基板４２０上に取り付けられ、基板４２０上に形成された電源線及び陰極（図示せず）に電気的に接続されている。
【０１６８】
補正回路が形成されたチップ４２８を、ワイヤボンディング法、ＣＯＧ法等により基板４２０上に取り付けることで、発光装置が１枚の基板で構成することができ、装置自体がコンパクトになり、機械的強度も上がる。
【０１６９】
なお、基板上にチップを接続する方法に関しては、公知の方法を用いて行うことが可能である。また、補正回路以外の回路及び素子を、基板４２０上に取りつけても良い。
【０１７０】
本実施例は、実施例１〜実施例４と組み合わせて実施することが可能である。
【０１７１】
（実施例６）
本実施例では、本発明の発光装置が有する画素の構成について、図１４に示した回路図を用いて説明する。
【０１７２】
本実施例の画素８００の回路図を図１４に示す。画素８００は信号線Ｓｉ（Ｓ１〜Ｓｘのうちの１つ）、電圧源に接続された電源線Ｖｉ（Ｖ１〜Ｖｘのうちの１つ）、第１走査線Ｇａｊ（Ｇａ１〜Ｇａｙのうちの１つ）、第２走査線Ｇｅｊ（Ｇｅ１〜Ｇｅｙのうちの１つ）を有している。
【０１７３】
また画素８００は、スイッチング用ＴＦＴ８０３、駆動用ＴＦＴ８０４、消去用ＴＦＴ８０５と、保持容量８０１と、発光素子８０２とを有している。スイッチング用ＴＦＴ８０３のゲートは、第１走査線Ｇａｊに接続されている。スイッチング用ＴＦＴ８０３のソースとドレインは、一方が信号線Ｓｉに、もう一方が駆動用ＴＦＴ８０４のゲートに接続されている。
【０１７４】
消去用ＴＦＴ８０５のゲートは第２走査線Ｇｅｊに接続されている。消去用ＴＦＴ８０５のソースとドレインは、一方は電源線Ｖｉに、もう一方は駆動用ＴＦＴ８０４のゲートに接続されている。
【０１７５】
保持容量８０１が有する２つの電極は、一方は電源線Ｖｉに、もう一方が駆動用ＴＦＴ８０４のゲートに接続されている。保持容量８０１はスイッチング用ＴＦＴ８０３が非選択状態（オフ状態）にある時、駆動用ＴＦＴ８０４のゲート電圧を保持するために設けられている。なお本実施例では保持容量８０１を設ける構成を示したが、本発明はこの構成に限定されず、保持容量８０１を設けなくても良い。
【０１７６】
駆動用ＴＦＴ８０４のソースとドレインは、一方は電源線Ｖｉに、もう一方は発光素子８０２が有する画素電極に接続されている。
【０１７７】
発光素子８０１は陽極と陰極と、陽極と陰極との間に設けられた電界発光層とからなる。陽極が駆動用ＴＦＴ８０４のソースまたはドレインと接続している場合、陽極が画素電極、陰極が対向電極となる。逆に陰極が駆動用ＴＦＴ８０４のソースまたはドレインと接続している場合、陰極が画素電極、陽極が対向電極となる。
【０１７８】
電源線Ｖｉに与えられる電圧は、補正回路が有する電圧補正回路において補正される。また、信号線Ｓｉに入力される映像信号は、補正回路が有する映像信号補正回路において補正される。
【０１７９】
スイッチング用ＴＦＴ８０３、駆動用ＴＦＴ８０４、消去用ＴＦＴ８０５は、ｎチャネル型ＴＦＴでもｐチャネル型ＴＦＴでもどちらでも用いることができる。またスイッチング用ＴＦＴ８０３、駆動用ＴＦＴ８０４、消去用ＴＦＴ８０５は、シングルゲート構造ではなく、ダブルゲート構造、やトリプルゲート構造などのマルチゲート構造を有していても良い。
【０１８０】
（実施例７）
本実施例では、本発明の発光装置が有する画素の構成について、図１５に示した回路図を用いて説明する。
【０１８１】
本実施例の画素９００の回路図を図１５に示す。画素９００は信号線Ｓｉ（Ｓ１〜Ｓｘのうちの１つ）、電圧源に接続された電源線Ｖｉ（Ｖ１〜Ｖｘのうちの１つ）、第１走査線Ｇａｊ（Ｇａ１〜Ｇａｙのうちの１つ）、第２走査線Ｇｅｊ（Ｇｅ１〜Ｇｅｙのうちの１つ）を有している。
【０１８２】
また画素９００はスイッチング用ＴＦＴ９０１と、駆動用ＴＦＴ９０２と、ＴＦＴと容量を用いて形成される電荷蓄積部９０３と、保持容量９０４と、発光素子９１１とを有している。
【０１８３】
電荷蓄積部９０３はＴＦＴと容量を用いた昇圧回路で形成されており、本実施例では３つのｎチャネル型ＴＦＴ９０５、９０６、９１０と、昇圧回路用容量９０７、９０８を有している。なおここで示す昇圧回路はほんの一例であり、本実施例はこの昇圧回路に限定されない。
【０１８４】
本実施例では、ｎチャネル型ＴＦＴ９０６のゲートとドレインには、共に電源供給線Ｖｉの電源電圧Ｖｄｄが供給されている。なおＶｄｄ＞Ｇｎｄである。またｎチャネル型ＴＦＴ９０５のゲートとドレインは、共にｎチャネル型ＴＦＴ９０６のソースに接続されている。容量９０８が有する２つの容量用電極は、１つはｎチャネル型ＴＦＴ９０６のソースに接続されており、もう１つにはクロック信号ＣＬＫが供給されている。また、容量９０７が有する２つの容量用電極は、１つはｎチャネル型ＴＦＴ９０５のソースに接続されており、もう１つにはＧｎｄにおとされている。駆動用ＴＦＴ９０２がオンのとき、ｎチャネル型ＴＦＴ９０５のソースの電圧が、スイッチング素子であるｎチャネル型ＴＦＴ９１０を介して発光素子９１１の画素電極に与えられる。
【０１８５】
クロック信号がＶｄｄとＧｎｄの２値の電圧を有しているとする。まずクロック信号の電圧がＧｎｄのとき、容量９０８の２つの電極には、一方に電源供給線の電圧Ｖｄｄ、もう一方にクロック信号の電圧Ｇｎｄが印加され、電荷Ｃ１が蓄積される。
【０１８６】
一方、容量９０７の２つの電極間には、一方に電源供給線の電圧Ｖｄｄが、もう一方にはクロック信号の電圧Ｇｎｄが印加され、電荷Ｃ２が蓄積される。
【０１８７】
次に、クロック信号の電圧がＧｎｄからＶｄｄに上がると、電荷保存則に従って、容量９０８の電荷の一部が容量９０７に蓄積される。そして、駆動用ＴＦＴ９０２がスイッチング用ＴＦＴを介して入力された映像信号によりオンになると、容量９０７に蓄積された電荷は、スイッチング素子であるｎチャネル型ＴＦＴ９１０を介して発光素子９１１に与えられる。なお、電荷蓄積部９０３に設けられたｎチャネル型ＴＦＴ９１０は、駆動用ＴＦＴ９０２と発光素子９１１との間のスイッチングを制御するように接続されていても良い。
【０１８８】
発光素子の電界発光層が全く劣化していない状態だと、容量９０７に蓄積された電荷は全て発光素子に与えられる。しかし発光素子が劣化していると、容量９０７と発光素子９１１とが並列に接続されているので、劣化により増加した発光素子の閾値分の電荷が、容量９０７に蓄積されて残った状態になる。
【０１８９】
そして、ｎチャネル型ＴＦＴ９１０がオフになり、再び容量９０７に電荷が蓄積されると、劣化により増加した発光素子の閾値分の電荷が上乗せして加算される。よって、次に容量９０７から発光素子に与えられる電荷を、発光素子の劣化に関わらず一定に保つことができる。
【０１９０】
本実施例は、実施例１〜６と組み合わせて実施することができる。
【０１９１】
（実施例８）
発光素子を用いた発光装置は自発光型であるため、液晶ディスプレイに比べ、明るい場所での視認性に優れ、視野角が広い。従って、様々な電子機器の表示部に用いることができる。
【０１９２】
本発明の発光装置を用いた電子機器として、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ（ヘッドマウントディスプレイ）、ナビゲーションシステム、音響再生装置（カーオーディオ、オーディオコンポ等）、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末（モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍等）、記録媒体を備えた画像再生装置（具体的にはＤｉｇｉｔａｌ　Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ　Ｄｉｓｃ（ＤＶＤ）等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうるディスプレイを備えた装置）などが挙げられる。特に、斜め方向から画面を見る機会が多い携帯情報端末は、視野角の広さが重要視されるため、発光装置を用いることが望ましい。それら電子機器の具体例を図１６に示す。
【０１９３】
図１６（Ａ）は表示装置であり、筐体２００１、支持台２００２、表示部２００３、スピーカー部２００４、ビデオ入力端子２００５等を含む。本発明の発光装置は表示部２００３に用いることができる。発光装置は自発光型であるためバックライトが必要なく、液晶ディスプレイよりも薄い表示部とすることができる。なお、表示装置は、パソコン用、ＴＶ放送受信用、広告表示用などの全ての情報表示用表示装置が含まれる。
【０１９４】
図１６（Ｂ）はデジタルスチルカメラであり、本体２１０１、表示部２１０２、受像部２１０３、操作キー２１０４、外部接続ポート２１０５、シャッター２１０６等を含む。本発明の発光装置を表示部２１０２に用いることで、本発明のデジタルスチルカメラが完成する。
【０１９５】
図１６（Ｃ）はノート型パーソナルコンピュータであり、本体２２０１、筐体２２０２、表示部２２０３、キーボード２２０４、外部接続ポート２２０５、ポインティングマウス２２０６等を含む。本発明の発光装置を表示部２２０３に用いることで、本発明のノート型パーソナルコンピュータが完成する。
【０１９６】
図１６（Ｄ）はモバイルコンピュータであり、本体２３０１、表示部２３０２、スイッチ２３０３、操作キー２３０４、赤外線ポート２３０５等を含む。本発明の発光装置を表示部２３０２に用いることで、本発明のモバイルコンピュータが完成する。
【０１９７】
図１６（Ｅ）は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置（具体的にはＤＶＤ再生装置）であり、本体２４０１、筐体２４０２、表示部Ａ２４０３、表示部Ｂ２４０４、記録媒体（ＤＶＤ等）読み込み部２４０５、操作キー２４０６、スピーカー部２４０７等を含む。表示部Ａ２４０３は主として画像情報を表示し、表示部Ｂ２４０４は主として文字情報を表示する。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には家庭用ゲーム機器なども含まれる。本発明の発光装置を表示部Ａ、Ｂ２４０３、２４０４に用いることで、本発明の画像再生装置が完成する。
【０１９８】
図１６（Ｆ）はゴーグル型ディスプレイ（ヘッドマウントディスプレイ）であり、本体２５０１、表示部２５０２、アーム部２５０３を含む。本発明の発光装置を表示部２５０２に用いることで、本発明のゴーグル型ディスプレイが完成する。
【０１９９】
図１６（Ｇ）はビデオカメラであり、本体２６０１、表示部２６０２、筐体２６０３、外部接続ポート２６０４、リモコン受信部２６０５、受像部２６０６、バッテリー２６０７、音声入力部２６０８、操作キー２６０９、接眼部２６１０等を含む。本発明の発光装置を表示部２６０２に用いることで、本発明のビデオカメラが完成する。
【０２００】
ここで図１６（Ｈ）は携帯電話であり、本体２７０１、筐体２７０２、表示部２７０３、音声入力部２７０４、音声出力部２７０５、操作キー２７０６、外部接続ポート２７０７、アンテナ２７０８等を含む。なお、表示部２７０３は黒色の背景に白色の文字を表示することで携帯電話の消費電流を抑えることができる。本発明の発光装置を表示部２７０３に用いることで、本発明の携帯電話が完成する。
【０２０１】
なお、将来的に電界発光材料の発光輝度が高くなれば、出力した画像情報を含む光をレンズ等で拡大投影してフロント型若しくはリア型のプロジェクターに用いることも可能となる。
【０２０２】
また、上記電子機器はインターネットやＣＡＴＶ（ケーブルテレビ）などの電子通信回線を通じて配信された情報を表示することが多くなり、特に動画情報を表示する機会が増してきている。電界発光材料の応答速度は非常に高いため、発光装置は動画表示に好ましい。
【０２０３】
また、発光装置は発光している部分が電力を消費するため、発光部分が極力少なくなるように情報を表示することが望ましい。従って、携帯情報端末、特に携帯電話や音響再生装置のような文字情報を主とする表示部に発光装置を用いる場合には、非発光部分を背景として文字情報を発光部分で形成するように駆動することが望ましい。
【０２０４】
以上の様に、本発明の適用範囲は極めて広く、あらゆる分野の電子機器に用いることが可能である。また、本実施例の電子機器は実施例１〜１１に示したいずれの構成の発光装置を用いても良い。
【発明の効果】
本発明によって、電界発光層の劣化や、画素間のＴＦＴ特性のばらつきによる輝度むらを抑えることができ、なおかつ画面全体の輝度の低下を抑えることができる発光装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の発光装置のブロック図。
【図２】本発明の発光装置の画素部回路図及びタイミングチャート。
【図３】本発明の発光装置における、発光素子の電圧と輝度の経時変化を示す図。
【図４】本発明の発光装置における、発光素子の電圧の経時変化を示す図。
【図５】本発明の発光装置のブロック図。
【図６】本発明の生産システムのフローチャートブロック図。
【図７】本発明の生産システムのフローチャートブロック図。
【図８】加算処理による補正方法を示した図。
【図９】階調数と発光期間の関係を示す図。
【図１０】本発明の発光装置の駆動回路のブロック図。
【図１１】本発明の発光装置の信号線駆動回路のブロック図。
【図１２】本発明の発光装置の素子基板の上面図。
【図１３】本発明の発光装置の上面図。
【図１４】本発明の発光装置の画素回路図。
【図１５】本発明の発光装置の画素回路図。
【図１６】本発明の発光装置を用いた電子機器の図。
【図１７】劣化による発光素子の輝度の変化を示す図。
【図１８】一般的な発光装置の画素回路図。
【図１９】輝度の測定方法を示す図。
【図２０】映像信号補正回路の構成を示す図。
【図２１】本発明の発光装置のブロック図。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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