(57)【要約】【課題】　被検デバイスの偏光の主要状態の光学特性のモードスペクトルをスペクトルパラメータに従って求めること。【解決手段】　本発明では、ＤＵＴへの入射光の可能な偏光状態について、光学特性の最小および最大エンベロープ値を求める第１ステップを有している。これらの最小および最大エンベロープ値は、ＤＵＴのＰＳＰの少なくとも１つの光学特性のモードスペクトルを導出するための出発点として機能する。本発明によれば、ＰＳＰモードスペクトルと最小および最大エンベロープ値の部分的な一致を使用してモードスペクトルを導出する。　 【選択図】図５
2004132982.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
　スペクトルパラメータに従った被検デバイス（ＤＵＴ）の光学特性のモードスペクトルを求める方法であって、該モードスペクトルは、前記デバイスの偏光の主要状態（ＰＳＰ）に対応し、
　前記ＤＵＴへの入射光の偏光の起こりうる状態に関して、前記光学特性の最小エンベロープ値および最大エンベロープ値、または該エンベロープ値を求めることができる他の計測値を求めるステップを含み、該最小エンベロープ値および該最大エンベロープ値は、前記スペクトルパラメータの対象スペクトル範囲で求められ、
　前記光学特性のモードスペクトルを、前記ＰＳＰのうち少なくとも１つについて、前記対象スペクトル範囲の前記スペクトルパラメータの関数として導出するステップを含み、前記モードスペクトルと前記最小および最大エンベロープ値の部分的な一致を使用して該モードスペクトルを導出する、前記方法。
【請求項２】
　前記スペクトルパラメータは、前記ＤＵＴに入射する光の波長または周波数のいずれかである請求項１に記載の方法。
【請求項３】
　前記モードスペクトルから、前記ＤＵＴの偏光依存性波長シフトを求める請求項２に記載の方法。
【請求項４】
　前記ＤＵＴは、アレイ導波路回折格子や半導体光増幅器などのプレーナー光波回路であり、前記モードスペクトルは、前記プレーナー光波回路のＴＥおよびＴＭモードスペクトルである請求項１から３のいずれか１つに記載の方法。
【請求項５】
　前記モードスペクトルが互いに交差する交点を識別するにあたり、前記最大エンベロープと前記最小エンベロープ間の差が既定のしきい値よりも小さいところを分析するステップを含む請求項１から４のいずれか１つに記載の方法。
【請求項６】
　前記交点は、前記対象のスペクトル範囲にわたるサーチウィンドウを利用して求められ、該サーチウィンドウは十分に定義されたスペクトル幅をもち、前記サーチウィンドウ内において、前記最小エンベロープと前記最大エンベロープ間の最接近点が求められる請求項５に記載の方法。
【請求項７】
　前記サーチウィンドウ内の最接近点での前記最小エンベロープと最大エンベロープ間の差が、既定のしきい値と比較され、前記の差が前記しきい値を下回っている場合に、前記最接近点を交点として識別する請求項６に記載の方法。
【請求項８】
　前記最小エンベロープまたは前記最大エンベロープのピークの周辺に、スペクトル帯域が定義され、前記スペクトル帯域の幅は、前記サーチウィンドウのスペクトルの幅を上回り、最大でも１つの交点が前記スペクトル帯域内で識別される請求項６に記載の方法。
【請求項９】
　前記対象の範囲は前記交点によってサブセクションの組に分割され、前記サブセクションは前記交点によって区切られる、請求項５に記載の方法。
【請求項１０】
　前記モードスペクトルは、前記サブセクションごとに、前記最大エンベロープおよび前記最小エンベロープの前記それぞれのセグメントを前記ＰＳＰの前記モードスペクトルのいずれか１つに割り当てることによって構築され、２つの隣接するサブセクションの第１のものにおいては、前記最大エンベロープを第１のモードスペクトルに割り当て、前記最小エンベロープを第２のモードスペクトルに割り当て、隣接するサブセクションにおいては、前記最大エンベロープを前記第２のモードスペクトルに割り当て、前記最小エンベロープを前記第１のモードスペクトルに割り当てる請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
　最初に、前記最大エンベロープを第１のモードスペクトルに、前記最小エンベロープを第２のモードスペクトルに割り当てるステップと、
　前記スペクトルパラメータの交点を昇順または降順に識別し、それぞれの交点から始まる前記スペクトルパラメータの範囲で、前記最大および最小エンベロープのテーリングの前記第１のモードスペクトルおよび前記第２のモードスペクトルへの割り当てを交換するステップとをさらに含む、請求項５に記載の方法。
【請求項１２】
　前記ＤＵＴのミューラー行列などの前記ＤＵＴの伝達行列の少なくとも一部を、前記スペクトルパラメータの関数として求めるステップと、
　１つまたは複数の基準点において、前記ＰＳＰの少なくとも１つの偏光パラメータを求めるステップと、
　前記１つまたは複数の基準点における前記偏光パラメータおよび前記伝達行列の行列要素から、前記スペクトルパラメータに基づいて前記光学特性のモードスペクトルを導出するステップを含み、該偏光パラメータは、前記基準点の周辺のスペクトル範囲において一定であると仮定され、前記モードスペクトルのスペクトル変動は、前記行列要素の前記スペクトルパラメータに対する依存性によって生成される、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
　前記１つまたは複数の基準点は、前記基準点において、前記光学特性の最小エンベロープおよび前記最大エンベロープが明瞭に区別できるように十分に離れるように、また前記計測信号の値が計測誤差と比べて大きくなるように選択される請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
　前記光学特性は、透過、挿入損失、反射などの、前記ＰＳＰの偏光パラメータと前記伝達行列の行列要素で表現可能な前記ＤＵＴの光学特性である請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
　前記ＰＳＰのスペクトルの展開が、多数の基準点について前記ＰＳＰの少なくとも１つの偏光パラメータを求めることによって追跡され、前記基準点の間隔は、第１の基準点におけるＰＳＰが、隣接する基準点におけるＰＳＰに明瞭に関連付けられる程度に前記偏光パラメータの変化が小さくなるように、選択される請求項１２に記載の方法。
【請求項１６】
　コンピュータなどのデータ処理システム上で実行された際に、請求項１または前項までの請求項中のいずれか１つに記載の方法を実行する、好ましくはデータキャリア上に保存されたソフトウェアプログラム。
【請求項１７】
　スペクトルパラメータに従った被検デバイス（ＤＵＴ）の光学特性のモードスペクトルを求める装置であって、前記モードスペクトルは、前記デバイスの偏光の主要状態（ＰＳＰ）に対応し、
　前記ＤＵＴに入射する光の偏光の可能な状態に関して、前記光学特性の最小エンベロープ値および最大エンベロープ値、または前記エンベロープ値を求めることができる他の計測値を求める最小／最大ユニットを含み、該最小エンベロープ値および該最大エンベロープ値は、前記スペクトルパラメータの対象スペクトル範囲で求められ、
　前記光学特性のモードスペクトルを、前記入射光の前記ＰＳＰのうち少なくとも１つについて、前記スペクトルパラメータの関数として導出するモードスペクトル生成ユニットを含み、前記モードスペクトルの前記最小および最大エンベロープ値との部分的な一致を使用して該モードスペクトルを導出する、前記装置。
【請求項１８】
前記最小値／最大値ユニットは、前記ＤＵＴのミューラー行列などの前記ＤＵＴの伝達行列の少なくとも一部を、前記スペクトルパラメータの関数として求め、前記最小エンベロープ値および前記最大エンベロープ値は、前記伝達行列から導出される請求項１７に記載の装置。
【請求項１９】
　前記最小値／最大値ユニットは、偏光の様々な異なる状態にわたって前記入射光の偏光を変化させることにより、前記光学特性の前記最小エンベロープ値および前記最大エンベロープ値を求める請求項１７に記載の装置。
【請求項２０】
　前記モードスペクトル生成ユニットは、前記モードスペクトルが互いに交差する交点を識別するにあたり、前記最大エンベロープと前記最小エンベロープ間の差が既定のしきい値よりも小さいところを分析する請求項１７に記載の装置。
【請求項２１】
　前記モードスペクトル生成ユニットは、前記対象の範囲をサブセクションの組に分割され、前記サブセクションは、前記交点によって区切られる請求項２０に記載の装置。
【請求項２２】
　前記モードスペクトル生成ユニットは、前記各サブセクションごとに、前記最大エンベロープおよび前記最小エンベロープの前記それぞれのセグメントを、前記ＰＳＰの前記モードスペクトルのいずれか１つに割り当て、第１のサブセクションでは、前記最大のエンベロープを第１のモードスペクトルに割り当て、前記最小エンベロープを第２のモードスペクトルに割り当て、隣接するサブセクション内では、前記最大エンベロープを前記第２のモードスペクトルに割り当て、前記最小エンベロープを前記第１のモードスペクトルに割り当てる請求項２１に記載の装置。
【請求項２３】
　前記モードスペクトル生成ユニットは、前記最大エンベロープを第１のモードスペクトルに、前記最小エンベロープを第２のモードスペクトルに割り当て、前記スペクトルパラメータの交点を昇順または降順に識別し、前記最大および最小エンベロープのテーリングの前記第１モードスペクトルおよび前記第２モードスペクトルへの割当てを、それぞれの交点から始まる前記スペクトルパラメータの範囲で交換する、請求項２０に記載の装置。
【請求項２４】
　前記ＤＵＴのミューラー行列などの前記ＤＵＴの伝達行列の少なくとも一部を前記スペクトルパラメータの関数として求め、
　１つまたは複数の基準点で、前記ＰＳＰの少なくとも１つの偏光パラメータを求め、
　前記１つまたは複数の基準点における前記偏光パラメータと前記伝達行列の行列要素から、前記スペクトルパラメータに基づいて前記光学特性のモードスペクトルを導出し、該偏光パラメータは、前記基準点周辺のスペクトル範囲において一定であると仮定され、モードスペクトルのスペクトル変動は、前記行列要素の前記スペクトルパラメータに対する依存性によって生成される請求項１７に記載の装置。
【請求項２５】
　前記モードスペクトル生成ユニットは、前記基準点において、前記光学特性の前記最小エンベロープおよび前記最大エンベロープが明瞭に区別できるように十分に離れるように、また前記光学特性の値が計測誤差と比べて大きくなるように、前記１つまたは複数の基準点を選択する請求項２４に記載の装置。
【請求項２６】
　前記ＤＵＴのミューラー行列などの前記ＤＵＴの伝達行列の少なくとも一部を前記スペクトルパラメータの関数として求め、
　１つまたは複数の基準点で、前記ＰＳＰの少なくとも１つの偏光パラメータを求め、
　前記偏光パラメータおよび前記伝達行列の少なくとも一部に従って、偏光コントローラから前記ＤＵＴへの光の偏光状態を設定し、それぞれの基準点周辺の前記スペクトルパラメータの範囲において前記ＰＳＰの少なくとも１つの前記光学特性を計測する、請求項１７に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は、「偏光の主要状態（Principal States of Polarization：ＰＳＰ）」と呼ばれる入射光の特定偏光状態のスペクトルパラメータに基づく、被検デバイスの光学特性の算出に関する。本発明は、デバイスに光を印加することによって使用または試験されるデバイスに関連する。この光学特性により、デバイスからの出射光の特性を求めたり、出力電気信号などの入力光に対するデバイスの別の応答特性を求めることができる。
【背景技術】
【０００２】
　非特許文献１には、スクランブル法、並びに被検デバイス（ＤＵＴ）のミューラー行列の判定に基づいたミューラー法を利用し、最小および最大挿入損失と偏光依存損失（ＰＤＬ）を取得する方法が記述されている。この非特許文献１には、インターネットを介してhttp://literature.agilent.com/litweb/pdf/5964-9937E.pdfというＵＲＬにより、アクセスすることができる。
【非特許文献１】クリスチャン・ヘンツェル（Christian　Hentschel）およびシーグマー・シュミット（Siegmar　Schmidt）著、製品ノート「Agilent　8169A偏光コントローラによるＰＤＬ計測（PDL　Measurements　using　the　Agilent　8169A　Polarization　Controller）」
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
　本発明の目的は、偏光の主要状態（ＰＳＰ）の光学特性のモードスペクトルを求めることである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
　この目的は、独立請求項によって解決され、好適な実施例は、従属請求項によって示される。
【０００５】
　本発明では、被検デバイスの偏光の主要状態の光学特性のモードスペクトルをスペクトルパラメータに従って求める。この方法は、ＤＵＴへの入射光の可能な偏光状態について、光学特性の最小および最大エンベロープ値を求める第１ステップを有している。これらの最小および最大エンベロープ値は、ＤＵＴのＰＳＰの少なくとも１つの光学特性のモードスペクトルを導出するための出発点として機能する。本発明によれば、ＰＳＰモードスペクトルと最小および最大エンベロープ値の部分的な一致を使用してモードスペクトルを導出する。
【０００６】
　被検デバイスの光学特性の最小および最大エンベロープ値を求める技法としては、様々なものが存在している。その１つが、入力の偏光状態を様々な偏光状態にわたって変化させる（「スクランブル」）ものであり、その他は、ＤＵＴの伝達行列に基づくものである。最小および最大エンベロープ値を求めるためのその他の技法も、同様に適している。
【０００７】
　偏光の第１主要状態の第１モードスペクトルにおける特徴を、偏光の第２主要状態の第２モード曲線についてスペクトル的にシフトさせることができる。即ち、１つのモードスペクトルは、もう一方のものには存在しない特徴を示すことができる。この結果、いくつかのスペクトルパラメータ値について最大エンベロープと一致していたＰＳＰモードが、その代わりに、その他のスペクトルパラメータ値について最小エンベロープと一致するのである。
【０００８】
　このスペクトルパラメータは、ＤＵＴに入射する光の波長または周波数であることが好ましい。また、本発明の範囲に属するその他のスペクトルパラメータには、ＤＵＴに印加する入力信号パワー、電流、または電圧、並びに温度および圧力が含まれる（但し、これらに限定されるものではない）。
【０００９】
　本発明の好適な実施例によれば、偏光の主要状態のモードスペクトルを使用して偏光依存性波長シフトを導出する。ＰＳＰのスペクトルが判明すれば、スペクトルのシフトから偏光依存性波長シフトを求めることができる。偏光依存性波長シフトは、偏光現象が光学コンポーネントの動作に与える影響を示すものである。偏光依存性波長シフトは、光学コンポーネントの複屈折に関連するものであり、これは、例えば、製造プロセスにおいて生じる応力によって発生したり、意図的に生成可能である。
【００１０】
　ＤＵＴとしては、プレーナー光波回路（ＰＬＣ）であることが好ましい。この場合には、被検デバイスのＰＳＰについて得られるモードスペクトルは、ＴＭ（Transverse　Magnetic）モード曲線およびＴＥ（Transverse　Electric）モード曲線である。
【００１１】
　本発明の第１の実施例によれば、最小および最大エンベロープが、互いに実質的に接するスペクトルポイントで分析される。本発明が基づくモデルによれば、最大／最小エンベロープ値とＰＳＰのモードスペクトルの部分的な一致を想定している。このモデルによれば、最小および最大エンベロープが互いに接するポイントは、同時に、ＰＳＰのモード曲線の交点である。従って例えば、光学特性の最小および最大エンベロープの差を既定のしきい値と比較することによって、これらのポイントを検出できる。この場合、前記しきい値は計測の不確定性を表す。特定のスペクトルパラメータの値において、この差がしきい値を下回った場合に、ＰＳＰモード曲線の交点をそのスペクトルパラメータの値に想定する。
【００１２】
　交点の近傍に、最小エンベロープが最大エンベロープに非常に近接するスペクトルパラメータの範囲が存在している。適用したアルゴリズムが、この範囲内で、１つではなく複数の交点を識別する可能性がある。１つの交点のみを識別するよう、特定の既定幅を有するサーチウィンドウは、対象のスペクトル範囲にわたることが好ましい。このサーチウィンドウ内では、最大１つの交点の割り当てが許容されている。この結果、交点が正しく識別されるようになる。この既定幅は、試験するか、あるいは、例えば、このアルゴリズムによって求めた偏光依存性波長シフトに基づいて設定可能であり、必要に応じて、アルゴリズムを再度繰り返す際に変更することができる。最小および最大エンベロープのピーク周辺のスペクトルパラメータの広い範囲においても、同様の問題が発生する可能性がある。この場合にも、これらのピークの周辺にスペクトル帯域を定義し、そのスペクトル帯域内で１つの交点のみを許容するのが有利である。
【００１３】
　対象とするスペクトルパラメータの範囲は、それぞれのサブセクションが２つの連続する交点によって区切られるよう、交点に従ってサブセクションの組に分割することが好ましい。これは、それら２つの連続交点の間には、更なる交点が存在していないことを意味している。従って、特定のサブセクションに対応する最小または最大エンベロープセグメントは、全体として、第１ＰＳＰのモードスペクトルおよび第２ＰＳＰのモードスペクトルのいずれかと一致する。
【００１４】
　最小および最大エンベロープセグメントのモード曲線に対する割り当ては、次のように行うことが好ましい。即ち、第１のサブセクションにおいては、最大エンベロープを第１モードスペクトルに割り当てると共に、最小エンベロープを第２モードスペクトルに割り当てる。そして、隣接するサブセクションにおいては、第１サブセクションとこの隣接サブセクション間に交点が存在しているため、スペクトルの割り当てをスワップする。即ち、この隣接サブセクションにおいては、最大エンベロープを第２モードスペクトルに割り当て、最小エンベロープを第１モードスペクトルに割り当てる。
【００１５】
　初期段階で、選択したスペクトルパラメータ値において、最大エンベロープを第１モード曲線に割り当て、最小エンベロープを第２モード曲線に割り当てることが好ましい。そして、スペクトルの昇順または降順で交点を識別する。交点を識別するごとに、識別した交点から始まるスペクトルパラメータの範囲で、最大／最小エンベロープの第１および第２モードスペクトルへの割り当てをスワップする。最大および最小エンベロープのテーリングを反復してスワップすることにより、ＰＳＰの第１および第２モード曲線が生成される。交点の識別とモードスペクトルの構築を１つのパスで実行するため、この方法は非常に効率的である。
【００１６】
　本発明の第２の好適な実施例によれば、選択した１つまたは複数のスペクトル基準点におけるＤＵＴの伝達行列からＰＳＰの偏光パラメータを求めることにより、ＤＵＴの伝達行列からＰＳＰの光学特性のモード曲線を求める。ＰＳＰにおいては、偏光パラメータのスペクトル依存性は弱いものに過ぎない（例：ストークスベクトル成分）。従って、基準点周辺のスペクトル範囲内では、偏光パラメータを定数として取り扱うことができる。これは、ＰＳＰのモード曲線のスペクトル依存性が、伝達行列要素の周知のスペクトル依存性によって生成されることを意味している。
【００１７】
　この１つまたは複数の基準点は、それらのポイントにおいて、最小および最大エンベロープの差が小さくなり過ぎないように選択することが好ましい。この結果、偏光の２つの主要状態の偏光パラメータが最も正確に求められることになる。更なる前提条件は、それらの基準点における光学特性の値が十分に大きな計測光信号に対応するよう、１つまたは複数の基準点を選択することである。さもなければ、計測結果が雑音の影響によって劣化することになる。
【００１８】
　本発明を１つまたは複数の好適なソフトウェアプログラムによって部分的または全体的に実施またはサポート可能であることは明らかであり、これらのソフトウェアプログラムは、あらゆる種類のデータキャリアに保存したり、あるいは、それらによって提供可能であって、あらゆる好適なデータ処理システムにおいて、あるいは、それらによって実行することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
　本発明のその他の目的および付随する利点の多くは、以下の添付の図面との関連で本明細書の詳細な説明を参照することにより、容易に理解されると共に、その理解を深めることができるであろう。これらの図面においては、実質的にあるいは機能的に等価または類似の機能を同一の参照符号によって参照している。
【００２０】
　ＤＵＴの挿入損失（ＩＬ）を計測する際には、ほとんどのケースにおいて、入射光の偏光状態に対する挿入損失の依存性が検出される。図１Ａには、入力偏光状態に依存するＤＵＴの最小損失１および最大損失２が、被検デバイスの入射光の波長の関数として示されている。このＤＵＴは、例えば、選択した波長範囲のみを通過させるのに使用する光フィルタである。最小損失１および最大損失２は、挿入損失のエンベロープを定義している。これは、デバイスが示す挿入損失が、あらゆる偏光状態において、最小損失１と最大損失２が定義する限度内で発生することを意味している。特定の波長λ１における偏光依存損失（ＰＤＬ）は、波長λ１における最大損失２と最小損失１の間の差３（単位：ｄＢ）として定義される。この定義によれば、最小および最大損失曲線が交差することはない。しかしながら、いくつかのポイントにおいて（例：ポイント４）、最小損失１と最大損失２が互いに接することがある。
【００２１】
　選択された波長では、最大および最小損失がＰＳＰで発生する。また偏光のすべてのその他の状態は、ＰＳＰを混合したものであるので、ＰＳＰの最大および最小損失の間の損失値に対応する。被検デバイス（ＤＵＴ）の偏光依存伝送特性は、偏光依存損失（ＰＤＬ）によって表現されるだけでなく、しばしば伝送特性の明白な波長シフトによっても表される。最大の波長シフトは、被検デバイスの偏光の２つの主要状態間において観測される。本明細書では、製品ノート「Agilent　8169A偏光コントローラによるＰＤＬ計測（PDL Measurements using the Agilent 8169A Polarization Controller）」に記述されているように、２つの偏光の主要状態を、Ｊ状態とＫ状態と称して区別する。
【００２２】
　光ファーバネットワーク用の多くのコンポーネントは、平らな基板上に形成された薄膜（即ち、層）に光の導波路（即ち、光の経路）を定義することによって製造される。このようなコンポーネントは、しばしばプレーナー光波回路（ＰＬＣ）と呼ばれる。光は導波路に沿って伝播し、導波路は基板に平行な平面内に存在している。電界がこの平面に垂直になるように光が直線偏光されている場合には、その偏光状態を、普通、ＴＥ（Transverse　Electric）と呼び、電界が平面と平行になるように偏光されている場合には、その偏光状態をＴＭ（Transverse　Magnetic）と呼んでいる。これらＴＥおよびＴＭ偏光状態は、モードスペクトルの取得が望ましいことが多いＰＳＰで特に重要なケースである。
【００２３】
　図１Ｂには、ＰＬＣに基づいたスペクトルフィルタのＴＥおよびＴＭ損失曲線５、６が波長の関数として示されている。ＴＥおよびＴＭ損失曲線５、６が波長軸に沿って互いに対応した関係にあることがわかる。水平方向の両曲線間の距離が、普通、偏光依存性波長シフト７として示されるものである。波長のシフトは、フィルタの全体的な性能に影響を与えるので、偏光に関連するスペクトルフィルタ曲線の波長シフトは、例えば、アレイ導波路回折格子（ＡＷＧ）などのコンポーネントの特性を求める上で、主要なパラメータである。偏光の影響を受けないコンポーネントに関し、ＰＬＣおよびＡＷＧ技術が最近発展してきたのだが、大部分のコンポーネント製造者にとって、偏光依存性波長シフトを求めることは、依然として主要なパラメータである。フィルタ応答の波長シフトは、帯域幅、リップル、クロストーク、中心波長などのフィルタの高次パラメータに対して明らかに影響を与える。また、偏光依存性波長シフトの大きさに関する知識は、ＰＬＣ製造プロセスの品質の尺度として使用される。波長シフトは、導波路の複屈折に直接関係している。そして、複屈折は、導波路のコアとクラッドによって生成される導波路に沿う応力プロファイルに依存している。
【００２４】
　例えば、図１Ａに示されている最小損失１および最大損失２などの、最小および最大損失曲線とは対照的に、ＴＥとＴＭ損失曲線は交差する（複数回交差することもある）。図１Ｂからは、ＴＥおよびＴＭ損失曲線５、６間に交点８が存在することがわかる。
【００２５】
　最小および最大損失曲線とＴＥおよびＴＭ損失曲線の間には関係がある。最小および最大損失曲線は、コンポーネントの損失の偏光依存性エンベロープを表す。偏光のすべてのその他の状態などのＰＳＰに対応する損失曲線は、最小エンベロープと最大エンベロープの間の領域に含まれる。偏光の２つの主要状態（ＪおよびＫ）の損失曲線は、波長の観点で互いに最も遠くに離れているので、最小および最大損失曲線は、２つのＰＳＰの第１のものおよび第２のものとそれぞれ部分的に一致する。
【００２６】
　ＰＬＣの場合の最小および最大損失曲線とＴＥおよびＴＭ損失曲線が、以上のように部分的に一致することが、図１Ｃに示されている。交点８において、ＴＥ損失曲線は、ＴＭ損失曲線と交差する。波長λｉは、交点８における波長を表す。λｉ未満の波長では、最小損失曲線９は、ＴＥおよびＴＭ損失曲線の第１のものと一致し、最大損失曲線１０は、ＴＥおよびＴＭ損失曲線の第２のものと一致する。λｉを上回る波長範囲では状況は異なる。即ち、この領域においては、最小損失曲線１１は、ＴＥおよびＴＭ曲線の第２のものと一致し、最大損失曲線１２は、ＴＥおよびＴＭ曲線の第１のものと一致する。最小／最大損失曲線と、ＴＥおよびＴＭ曲線が部分的に一致するということは、異なる波長範囲のそれぞれに対し、ＴＥおよびＴＭモードがそれぞれ別々に、最小および最大損失曲線に割り当てられることを意味している。これら異なる波長範囲は、ＰＳＰに対応する損失曲線の交点によって区切られている。
【００２７】
　この偏光のＪおよびＫ状態について取得された曲線と最大および最小曲線が、部分的に一致するということは、損失計測の場合に限定されるものではない。ＤＵＴのあらゆる光学特性で、ＰＳＰについて求められたその光学特性のスペクトル依存性は、その光学特性の最大または最小曲線のどちらかと一致する。このため、以下に説明する入射光のＪ状態およびＫ状態の光学特性スペクトルを取得する方法は、ＤＵＴの損失計測に限定されるものではない。それらは、反射、透過、減衰、グループ遅延、感度などのその他の光学特性にも適用可能である。
【００２８】
　求められる光学特性が被検デバイスの挿入損失（ＩＬ）の場合には第１段階として、図１Ａに示されている最小損失曲線および最大損失曲線、あるいは平均ＩＬおよびＰＤＬなどのこれらの曲線を得るための値を、求めなければならない。以下では、これら最大および最小挿入損失と偏光依存損失（ＰＤＬ）を求めるための、２つの計測方法について説明する。
【００２９】
　第１の方法によれば、偏光コントローラを利用して可能な多数の偏光状態を生成し、被検デバイスの出力パワーの損失の変化を観測する。各波長ごとに、最小および最大損失を求めることができる。この方法は、しばしば「偏光スクランブル」と呼ばれる。偏光コントローラは、各波長の値ごとに、方向が変化する直線および円偏光を混合した様々な多数の偏光状態に入射光の偏光状態を設定しなければならない。
【００３０】
　最大および最小挿入損失とＰＤＬを求める第２の方法は、ＤＵＴの伝達行列を求めるものである。この方法によれば、入射光の偏光状態が、連続していくつかの（普通、４つ）異なる周知の偏光状態に設定される。なお、これらの状態は通常、偏光状態を設定する機器の出力で分かるものである。またこの状態は通常、入力および出力方向間の関係の制御が困難な光ファイバを伝播する際に、ＤＵＴへの伝播の途中でＤＵＴによって変化する。各状態について、例えば光源の波長を掃引することにより、選択された波長での光損失が計測される。これらの計測値から、ＤＵＴの波長依存伝達行列の一部またはすべてを導出することができる。この伝達行列は、偏光した光がどのように光コンポーネントと相互作用するかを説明するものである。一般的に、４ｘ４の実数行列であるミューラー行列Ｍを用いることによりＤＵＴの動作が説明され、ストークスベクトルによって入射および出射する偏光した光の両方を表される。ストークスベクトルＳin＝（Ｓ０in，Ｓ１in，Ｓ２in，Ｓ３in）によって表される入射偏光波と、ミューラー行列Ｍによって表される光コンポーネント（ＤＵＴ）との間の相互作用により、ストークスベクトルＳout＝（Ｓ０out，Ｓ１out，Ｓ２out，Ｓ３out）によって表される出射光波が生成される。行列式Ｓout＝Ｍ・Ｓｉｎは、４つの線形式を表しているが、ＳＯoutは合計出力パワーを表すので、挿入損失（ＩＬ）およびＰＤＬの算出では、第１のもののみが対象となる。ミューラー行列の第１行からは次の式が得られる。この場合ミューラー行列要素ｍ1k（k=1,2,3,4）は、ミューラー行列の第１行を表す。
【００３１】
S0out=m11・S0in+m12・S1in+m13・S2in+m14・S3in　　(1)
　偏光の４状態に伴う計測値を使用し、ｍ１ｋ要素を求める。この偏光には４つの異なる状態があり、例えば、直線水平（０°）状態、直線垂直（９０°）状態、直線対角（＋４５°）状態、および右円状態からなる。これら偏光の４つの状態について、ＤＵＴに入力する光パワーＰa,ｂ,c,d（λ）とＤＵＴから出射される光パワーＰ1,2,3,4（λ）を、波長の関数として計測する。これらはすべてパワーメーターで計測可能である。４つの異なる偏光状態に基づいたアルゴリズムを用いることにより、行列要素m11(λ)、m12(λ)、m13(λ)、m14(λ)を有するミューラー行列の第１行を、これらの計測値から求めることができる。直線水平（０°）状態、直線垂直（９０°）状態、直線対角（＋４５°）状態、および右円状態を用いてこれに基づき、例えば、次のアルゴリズムが構築される。
【数１】
2004132982.tif 000003
【００３２】
　この第１行の垂直の表現は、わかりやすくするために選択されたものである。ミューラー行列要素m11(λ)、m12(λ)、m13(λ)、m14(λ)で、被検デバイスの最小・最大挿入損失ＩＬmin・ＩＬmax、および偏光依存損失ＰＤＬを表現することができる。透過率Ｔ＝Ｓ０out／Ｓ０inの極値のサーチにより、次のように、最小透過率Ｔminおよび最大透過率Ｔｍａｘが得られる。
【００３３】
Tmin=m11- (m122+m132+m142) 1/2、Tmax=m11+ (m122+m132+m142) 1/2　　(3)
　透過率の極値が求められた後、最小および最大挿入損失ＩＬminおよびＩＬmaxを、次のように求めることができる。
【００３４】
ILmin=-10・logTmax、　ILmax=-10・logTmin　　(4)
　偏光依存損失は、次のように記述することができる。
【００３５】
PDLdB=10・log(Tmax=/Tmin)　　(5)
　図２は、明白な偏光依存性を示すプロトタイプＡＷＧのチャネルの１つのＰＤＬと共に、最小損失および最大損失を示している。最小損失の判定には、前述の最大損失およびＰＤＬスペクトルと、第２のミューラー行列に基づいた上述の方法が使用されている。ＡＷＧの偏光現象に起因するモードシフトを、最小および最大損失曲線および関連するＰＤＬ曲線から視覚的に観測することができる。ＰＤＬが０ｄＢに近接している場合には常に、交点であることが示され、ＴＥ曲線とＴＭ曲線が交差していると想定される。
【００３６】
　本発明の第１の実施例によれば、交点を識別し、隣接する交点間の最小および最大損失曲線の曲線区間を、Ｊ状態曲線またはＫ状態曲線に割り当てることにより、Ｊ状態およびＫ状態の損失曲線を得ることができる。交点は、ＰＤＬ曲線に基づいて識別され、この場合に、偏光依存損失の最小値が２つのモード曲線の交点に対応すると想定している。
【００３７】
　図３には、ＴＥ／ＴＭモード曲線とＰＤＬ曲線間の対応関係が示されている。挿入損失（ＩＬ）とＰＤＬは、いずれも波長の関数として示されている（単位ｄＢ）。最小損失曲線１４と最大損失曲線１５は、ポイント１３で互いに接している。従って、ポイント１３は、ＴＥおよびＴＭモード曲線間の望ましい交点の１つである。偏光依存損失は、特定の波長における最小および最大損失の差として定義される。理想的には、ポイント１３に対応するＰＤＬ値はゼロである。しかしながら、試験機器と被検デバイスの両方に物理的に制約されるので、交点におけるＰＤＬはゼロではなく、最小値であると想定する。交点を示すにあたり、交点のＰＤＬ値がその値未満に降下しなければならない限度を定義可能である。即ち、ＴＥおよびＴＭ曲線が交差するポイント１３は、対応するＰＤＬ曲線１７の最小点１６を利用して識別することができる。
【００３８】
　図４には、ＰＤＬ曲線を分析することによって得られた交点１８の明瞭な標識と共に、図２に示されている最小および最大損失スペクトルが再び示されている。
【００３９】
　次のアルゴリズムは、本発明の第１の実施例による方法を実装するのに使用可能である。このアルゴリズムは、ミューラー法によって得られる最大および最小損失曲線から始まり、ＴＥおよびＴＭ損失曲線を生成できる。
【００４０】
平均挿入損失のピーク波長を検出する
交差帯域内で分析を行う
While（交差帯域内である）
　次のサーチステップに移動
　if（現在のλは損失ピークの帯域限度内であるか）
　　帯域限度内で１つの最小ＰＤＬを検出する
　Else
　　サーチステップ内で１つの最小ＰＤＬを検出する
　end　if
　if（最小ＰＤＬはＰＤＬ限度内であるか）
　　最小ＰＤＬのλから最小および最大損失曲線をスワップする
　end　if
end　while
　図５に、このアルゴリズムで使用するパラメータ（ピーク波長１９、交差帯域２０、サーチステップ２１、帯域限度２２、およびＰＤＬ限度２３）が示されている。更に、交点２４も示されている。
【００４１】
　第１段階「平均挿入損失のピーク波長を検出する」において、損失曲線のピーク波長１９を識別する。この損失曲線が光フィルタに対応するものである場合には、ピーク波長１９は、フィルタの透過率がそのピークに到達する波長である。交差帯域２０は、対象とする波長範囲であり、この中で、ＴＥおよびＴＭモードを最小および最大曲線から抽出する。この交差帯域２０は、雑音が優勢なフィルタの高孤立部分を除外するべく、ユーザーが定義可能である。命令「While（交差帯域内である）」から「end　while」までのwhileループを利用することにより、交差帯域２０内にのみ、このアルゴリズムを適用することが可能になる。
【００４２】
　交差帯域２０が定義する波長範囲では、更に小さく定義された波長帯域の中で最小および最大損失スペクトルからのＴＥおよびＴＭ曲線の抽出が継続される。この場合、この小さな波長帯域は、図５に示されているサーチステップ２１によって定義される。命令「次のサーチステップに移動する」で、隣接するサーチステップに進むことができる。サーチステップ２１が定義する各サーチウィンドウ内に、ＴＥおよびＴＭ曲線の交点２４が最大で１つ存在するよう、サーチステップによって交差帯域２０が小さなセクションに分割されている。このサーチステップ２１の幅は、これに従って定義する必要がある。各サーチステップ内で、ＰＤＬ曲線の最小値は、交点の候補として識別される。
【００４３】
　比較的小さいサーチウィンドウでＴＥおよびＴＭ曲線の交点を識別することは、フィルタの通過帯域外ではうまく機能する。しかしながら、ＡＷＧのＰＤＬは、ピーク波長の周辺では低くなる傾向がある。通過帯域内では、ＰＤＬ曲線の多数のポイントは、ＰＤＬ限度２３未満に降下する。各サーチステップにおいて、交点とは一致しない最小ＰＤＬ値が検出されることになろう。中心波長の周辺に限度を設けなければ、望ましくないスペクトルの交換が発生する可能性がある。これは、ＴＥおよびＴＭ曲線に、ある種のジグザグとして表れる。
【００４４】
　このため、通過帯域（または、ＰＤＬが低い範囲）をカバーする広い波長範囲を導入し、この広い波長範囲内でＰＤＬの最小値をサーチしなければならない。この波長範囲が、図５に示されている帯域限度２２である。帯域限度２２は、サーチステップ２１よりも大きくなければならない。帯域限度２２は、例えば、ピーク波長１９、ＩＴＵ、またはユーザーが定義した波長の周辺にすることができる。その他、帯域限度２２を、ピーク波長１９において計測される最小損失を例えば0.5dB（またはその他のｄＢ値）だけ上回るまでの波長範囲として、定義することもできる。帯域限度２２内では、交点の数は１つに制限されている。このアルゴリズムは、基本的に２段階を有している。まず、ＰＤＬの最小値を検出するべく、帯域限度２２の外で、サーチステップ２１によるスキャンを実行する。次いで、帯域限度２２の低ＰＤＬ領域内で、ＰＤＬ最小値のサーチを実行する。このサーチ動作は、次のif命令を利用して実行する。
【００４５】
　if（現在のλは損失ピークの帯域限度内であるか）
　　帯域限度内で１つの最小ＰＤＬを検出する
　Else
　　サーチステップ内で１つの最小ＰＤＬを検出する
　end　if
　次に、サーチステップ２１内または帯域限度２２内で検出された最小ＰＤＬ値が交点であるかどうかをチェックする。チェックに当たり、最小ＰＤＬ値を、ユーザーが定義したＰＤＬ限度２３と比較する。最小ＰＤＬ値がＰＤＬ限度２３を下回っていれば、ＴＥおよびＴＭ曲線の交点２４に対応するものと仮定する。最小ＰＤＬ値が交点として識別された場合には、最小および最大挿入損失スペクトルの交換がなされる。交換は、その最小ＰＤＬ値の波長から始まる。この交点の識別と最小および最大挿入損失スペクトルの交換は、次のif文を利用して実施される。
【００４６】
　if（最小ＰＤＬはＰＤＬ限度内であるか）
　　最小ＰＤＬのλから最小および最大損失曲線をスワップする
　end　if
　識別した交点から始まるトレーリング損失スペクトルの残りについて、スペクトルのスワップを実行する。識別したそれぞれの交点ごとに、損失スペクトルの交換を別個に実行する。交点の識別とトレーリング損失スペクトルの交換のプロセスは、交差帯域２０によって定義されるすべての波長範囲を完全にサーチするまで、whileループ内で継続される。
【００４７】
　次に、本発明の第２の実施例について説明する。この実施例においては、ＤＵＴの伝達行列（特に、ミューラー行列）に基づいた計算からＰＳＰの挿入損失スペクトルを取得する。第１段階として、ミューラー行列の最上位行を求める。前述のように、４つの異なる偏光状態についてスペクトル計測を実行することにより、ミューラー行列要素m11(λ)、m12(λ)、m13(λ)、m14(λ)を求め、これにより、所望の波長における４つの基準データの配列(Pa,Pb,Pc,Pd)および４つのＤＵＴデータの配列(P1,P2,P3,P4)を取得する。これら８つのデータ配列に基づき、Pa、Pb、Pc、PdとP1、P2、P3、P4を前述の式（２）に適用することにより、ミューラー行列要素を取得することができる。このミューラー行列要素から最小透過率Ｔminおよび最大透過率Ｔmaxを、前述の式（３）を利用して取得可能である。また、ＴminおよびＴmaxから、前述の式（４）を利用し、最小および最大挿入損失ＩＬminおよびＩＬmaxを導出可能である。Ｔmax、Ｔmin、ＩＬmax、およびＩＬminは、波長における透過率または損失データの配列を表している。
【００４８】
　本発明の第２の実施例は、ＤＵＴの透過率または損失特性の判定に限定されるものではない。吸収や反射など、ミューラー行列要素m11 (λ)、m12(λ)、m13 (λ)、m14 (λ)の関数として表現可能なＤＵＴのあらゆる光学特性を判定可能である。
【００４９】
　ＰＳＰの挿入損失曲線を導出するには、２つのモード曲線の算出の出発点として使用する少なくとも１つのスペクトル基準点が必要である。この基準点が満足しなければならない要件は２つ存在する。異なるモード曲線間を明瞭に区別できるよう、基準点における偏光依存損失が十分に大きくなければならない。第２の要件は、基準点に対応する波長において、ＤＵＴ信号の信号強度が十分に大きいことである。従って、基準点における挿入損失の値は、例えば、挿入損失の最小値から３ｄＢ以内であるなど、十分に低いことが好ましい。挿入損失は、波長におけるパワーの配列であるため、基準点における波長λｎによってｎ番目の配列要素を識別することができる。
【００５０】
　次の段階において、偏光のＪおよびＫ状態のストークスベクトルを求める。２つのストークスベクトルＸＪおよびＸＫの中の１つは、波長λｎにおける挿入損失の最大値に対応し、もう１つのストークスベクトルは、波長λｎにおける挿入損失の最小値に対応している。次の式は、２つのＰＳＰに対応する２つのストークスベクトルＸＪおよびＸＫを、固定波長λｎにおける行列要素ｍ11（λｎ）、ｍ12（λｎ）、ｍ13（λｎ）、ｍ14（λｎ）でどのように表現できるかを示している。プレーナーデバイスの場合には、２つのストークスベクトルＸＪおよびＸＫは、ＴＥおよびＴＭモードに対応している。
【数２】
2004132982.tif 000004
【数３】
2004132982.tif 000005
【００５１】
　この式の導出方法の詳細は、前述の製品ノート「Agilent　8169A偏光コントローラによるＰＤＬ計測(PDL Measurements using the Agilent 8169A Polarization Controller)」の付属書Ａ１「ＰＤＬ算出（PDL　Calculation）」に記載される。
【００５２】
　次の段階で、波長λｎにおいて求められたストークスベクトルＸＪおよびＸＫを使用し、所定の波長範囲にわたってＪおよびＫ状態の挿入損失スペクトルの両方を求める。被検デバイスの入力におけるストークスベクトルＳinとそのデバイスの出力におけるストークスベクトルＳout間の関係は、行列式Ｓout＝Ｍ・Ｓinで表現可能である。この行列式の第１コンポーネントＳ０outは、次のように記述することができる。
【００５３】
S0out=m11(λ)・S0in+m12(λ)・S1in+m13(λ)・S2in+m14(λ)・S3in　　　(8)
　被検デバイスの透過率は、出力におけるパワーＳ０outをデバイスの入力におけるパワーＳ０inに関連付けることにより、取得可能である。前述のＳ０outの式により、透過率Ｔは、次のように記述することができる。
【００５４】
　T=(m11 (λ)・S0in+m12(λ)・S1in+m13(λ)・S2in+m14(λ)・S3in)/S0in　　　(9)
　x1=S1in/S0in、x2=S2in/S0in、x3=S3in/S0inにより、波長λに基づいた偏光の２つの主要状態Ｊ、Ｋの透過率ＴＪ、ＴＫは、次のように記述することができる。
【００５５】
　TJ(λ)=m11(λ)＋m12(λ)・x1J+m13(λ)・x2J+m14(λ)・x3J
　TK(λ)= m11(λ)＋m12(λ)・x1K+m13(λ)・x2K+m14(λ)・x3K　　　(10)
　前述のように、偏光状態ｘ１Ｊ、ｘ２Ｊ、ｘ３Ｊおよびｘ１Ｋ、ｘ２Ｋ、ｘ３Ｋは波長λｎにおいて求められており、ＴＪ、ＴＫを求めなければならない波長λとは必ずしも等しくない。ここで、ｘ１Ｊ、ｘ２Ｊ、ｘ３Ｊおよびｘ１Ｋ、ｘ２Ｋ、ｘ３Ｋは、λｎの周辺の波長範囲において一定であるという近似を行う。対象の波長範囲に存在する基準点が１つだけの場合には、更に、対象の波長範囲全体においてｘ１Ｊ、ｘ２Ｊ、ｘ３Ｊおよびｘ１Ｋ、ｘ２Ｋ、ｘ３Ｋが一定であると仮定する。普通、波長λに対するストークスパラメータＸＪ、ＸＫの依存性は、２次依存性しか存在しないことが明らかであるため、偏光の主要状態Ｊ、Ｋに対応するストークスベクトルＸＪ、ＸＫが波長に強く依存しないというこの仮定は、かなり優れた近似である。この２次依存性は、普通、「２次偏光モード分散（ＰＭＤ）」として特徴付けられているものである。前述の仮定を行った場合、ＪおよびＫ状態の損失曲線の波長依存性は、行列要素ｍ11（λｎ）、ｍ12（λｎ）、ｍ13（λｎ）、ｍ14（λｎ）の波長依存性によって生成され、この場合に、ｘ１Ｊ、ｘ２Ｊ、ｘ３Ｊおよびｘ１Ｋ、ｘ２Ｋ、ｘ３Ｋは、定数として見なされる。
【００５６】
　２次ＰＭＤによって生じるＰＳＰの偏光パラメータのスペクトル依存性を追跡することも可能である。この場合、多数の基準点についてＰＳＰの偏光パラメータを求めなければならない。ＰＳＰを求める波長は、１つの波長における２つのＰＳＰが明瞭に次の波長のそれぞれのＰＳＰに関連付けられるよう、互いに十分に近接しており、ＰＳＰの変化が十分に小さくなければならない。
【００５７】
　図６には、最小損失曲線２７および最大損失曲線２８と共に、算出したＴＥモード曲線２５および算出したＴＭモード曲線２６が波長の関数として示されている。ＴＥおよびＴＭモード曲線２５、２６は、ミューラー行列要素を求め、前述の式（１０）に従ってＴＪ（λ）およびＴＫ（λ）を算出し、前述の特性からデシベル単位で挿入損失を導出することにより、取得されたものである。最小および最大損失スペクトル２７、２８は、こちらも前述のミューラー行列要素に基づく算出によって取得されたものである。
【００５８】
　特に、機器とＰＬＣ間の偏光状態を未知の方法で変更し得る光ファイバ入力接続をＤＵＴが有している可能性が高いので、ＤＵＴの入力でＰＳＰを取得するのに必要な計測機器の設定は不明であることが多い。本発明の第２の実施例によれば、ＤＵＴの前に配置される偏光コントローラの様々な設定について、ＤＵＴのミューラー行列要素が既に求められている。前述の式（６）および（７）によって算出したＪおよびＫ状態のＸＪ、ＸＫから始め、偏光コントローラの機器設定を導出して、２つのＰＳＰをＤＵＴの入力において取得することができる。これら２つの機器設定について、式（１０）によって算出したＰＳＰの挿入損失スペクトルが実際の計測結果と一致するかどうかを確認するべく、２つの追加の挿入損失計測値を記録することができる。
【００５９】
　この確認のための計測を実行するには、２組の機器設定を算出しなければならない。Agilent 8169A偏光コントローラまたは対応するタイプの偏光コントローラの場合、ＪおよびＫ状態の両方についてパラメータαＱ、αＨおよび２θを求めなければならない。ここで、αＱ、αＨは、コントローラの１／２波長プレートおよび１／４波長プレートのそれぞれの角度を表し、２θは、ポアンカレ球面の直線偏光（θ平面）の平面における偏光状態の角変位を表す。αＱ、αＨおよび２θの判定に関する更なる詳細は、前述の製品ノート「Agilent　8169A偏光コントローラによるＰＤＬ計測（PDL Measurements using the Agilent 8169A Polarization Controller）」の付属書A2「8169Aでの最小／最大偏光状態の算出および設定（Calculation and Setting of Min/Max Polarization States on the 8169A）」に記述されている。
【００６０】
　ミューラー行列の分析を使用して機器を設定した後に、この前述の方法を使用し、例えば、グループ遅延のようなその他の光学特性のＰＳＰモードスペクトルを取得することも可能である。
【００６１】
　図７には、Ｊ状態算出誤差３３およびＫ状態算出誤差３４と共に、算出したＪおよびＫ状態の損失曲線２９、３０と、計測したＪおよびＫ状態の損失曲線３１、３２が示されている。環境の変化やケーブルの接続／切断などの外部条件によるシステムの不確定性は、通常、約１０ｍｄＢ以上であり、ファイバがどれほど良好に維持されているかに依存する。前述の要因を考慮すれば、この算出誤差は最小限である。
【００６２】
　以上、偏光の主要状態の挿入損失曲線を導出する本発明の２つの実施例について説明した。プレーナーデバイスの場合には、ＴＥおよびＴＭモード曲線が得られる。次に、これら２つのモード曲線が与えられた場合に、偏光依存性波長シフトをどのように求めるかについて説明する。
【００６３】
　図８には、ＴＥ曲線３５とＴＭ曲線３６が波長の関数として示されている。偏光依存性波長シフト３７を算出可能な第１の方法では、ＴＥおよびＴＭ曲線３５、３６の透過率の最大値３８、３９を求め、これらの２つのポイントに対応する波長を減算する。別の方法は、ＴＥおよびＴＭ曲線３５、３６の透過率のピークからｎｄＢ（図８では、３ｄＢ）だけ低いところにおける４つの波長ポイントを求める。これら４つのポイントから、ＴＥおよびＴＭ曲線３５、３６の中心波長４０、４１を導出することができる。この場合にも、両方のスペクトルの中心波長４０、４１の差を算出することにより、偏光依存性波長シフト３７が得られる。同様に、デバイスを特徴付けるべく定義したその他の波長パラメータにおける波長シフトを判定可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１Ａ】被検デバイスの最小および最大損失曲線とデバイスの偏光の主要状態の損失曲線との対応状況の概略図。
【図１Ｂ】被検デバイスの最小および最大損失曲線とデバイスの偏光の主要状態の損失曲線との対応状況の概略図。
【図１Ｃ】被検デバイスの最小および最大損失曲線とデバイスの偏光の主要状態の損失曲線との対応状況の概略図。
【図２】挿入損失（ＩＬ）と偏光依存損失（ＰＤＬ）の両方についてのサンプルデバイスの波長の関数。
【図３】偏光の２つの主要状態の損失曲線の交点と偏光依存損失の最小値との間の対応関係。
【図４】様々なＰＳＰの孤立スペクトルと交点の標識。
【図５】損失曲線の交点を検出するアルゴリズムがどのように機能するか。
【図６】算出したＴＥおよびＴＭモード曲線を最小および最大損失曲線。
【図７】算出および計測したＰＳＰ損失曲線とＰＳＰ曲線算出誤差。
【図８】様々なＰＳＰについて取得したスペクトルから偏光依存性波長シフトを取得する方法。
【符号の説明】
【００６５】
　５，６　モードスペクトル
【図１Ａ】
2004132982.tif 000006
【図１Ｂ】
2004132982.tif 000007
【図１Ｃ】
2004132982.tif 000008
【図２】
2004132982.tif 000009
【図３】
2004132982.tif 000010
【図４】
2004132982.tif 000011
【図５】
2004132982.tif 000012
【図６】
2004132982.tif 000013
【図７】
2004132982.tif 000014
【図８】
2004132982.tif 000015