(57)【要約】【課題】測定対象物との接触抵抗を測定でき、そのことによって、測定対象物との接触抵抗が正常の場合には、そのまま測定対象物の電気的特性の測定を行うことができる接触抵抗を測定することができるインサーキットテスタを提供する。【解決手段】インサーキットテスタ１１は、測定対象物を測定する第１測定回路１７、電源ピン１３の接触抵抗を測定する第２測定回路２５、制御装置２４、及び、前記各回路の切り替えを行うリレー回路２３を備えている。まず、インサーキットテスタ１１は、第２測定回路２５により、電源ピン１３の接触抵抗の測定を行う。そして、制御装置２４が、電源ピン１３の接触抵抗が異常であると判断すれば、測定対象物の電気的特性の測定を行わない。一方、制御装置２４が、電源ピン１３の接触抵抗が正常であると判断すれば、第１測定回路１７に切り替える。従って、インサーキットテスタ１１は、測定対象物の電気的特性を測定できる。【選択図】　　　　図２
2004132727.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電源側に配設された電源ピンと、アース側に配設されたアースピンとを備えたインサーキットテスタであって、
前記電源ピン又はアースピンのうち少なくともいずれか一方には、相互に離間して配置された第１接触子及び第２接触子が形成され、前記第１接触子及び第２接触子を並列に配設するとともに前記電源ピンとアースピンとの間に配置された測定対象物の抵抗を測定する第１測定回路と、前記第１接触子及び第２接触子を直列に配設するとともに該第１接触子及び第２接触子の測定対象物との接触抵抗を測定する第２測定回路と、前記第１測定回路と第２測定回路とのうちいずれの回路で測定するかを選択する切り替え手段とを備えていることを特徴とするインサーキットテスタ。
【請求項２】
前記切り替え手段による切り替えを制御する制御手段を備え、同制御手段は、第１接触子及び第２接触子の測定対象物との接触抵抗が正常であるか否かを判定するとともに、正常である場合に、第１測定回路で測定するように切替え制御することを特徴とする請求項１に記載のインサーキットテスタ。
【請求項３】
前記切り替え手段による切り替えは、手動で行われることを特徴とする請求項１に記載のインサーキットテスタ。
【請求項４】
前記第１接触子又は第２接触子のうち、少なくともいずれか一方は、複数の接触部材を備えていることを特徴とする請求項１〜３のうちいずれか一項に記載のインサーキットテスタ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、インサーキットテスタに係り、詳しくは接触抵抗の測定機能を備えたインサーキットテスタに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、例えば半田付け等で基板に装着された電子部品等の抵抗を測定したい場合には、インサーキットテスタの電源ピンと、アースピンとを、その電子部品の入力端子側と出力端子側に対してそれぞれ接触させることにより行っている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１０−１０１８３号公報（段落番号「００１０」〜「００２０」）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記のような測定において、電源ピン又はアースピンと、プリント基板との間に発生する接触抵抗が大きい場合や接触不良等が生じている場合には、測定対象物の抵抗測定を正確に行うことができない。その結果、インサーキットテスタによる測定において不正確な測定結果が得られた場合には、既に測定した測定対象物の抵抗測定を再び行わなければならないという問題があった。さらに、インサーキットテスタによる測定結果が不正確であることに気づかないような場合には、測定対象物が正常であるにも関わらず、不良品として処理される場合があるという問題があった。また、逆に、不良品であるにも関わらず、正常な回路として処理される場合があるという問題があった。
【０００５】
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであり、その目的は、測定対象物との接触抵抗を測定でき、そのことによって、測定対象物との接触抵抗が正常の場合には、そのまま測定対象物の電気的特性の測定を行うことができる接触抵抗を測定することができるインサーキットテスタを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記問題点を解決するために、請求項１に記載の発明は、電源側に配設された電源ピンと、アース側に配設されたアースピンとを備えたインサーキットテスタであって、前記電源ピン又はアースピンのうち少なくともいずれか一方には、相互に離間して配置された第１接触子及び第２接触子が形成され、前記第１接触子及び第２接触子を並列に配設するとともに前記電源ピンとアースピンとの間に配置された測定対象物の抵抗を測定する第１測定回路と、前記第１接触子及び第２接触子を直列に配設するとともに該第１接触子及び第２接触子の測定対象物との接触抵抗を測定する第２測定回路と、前記第１測定回路と第２測定回路とのうちいずれの回路で測定するかを選択する切り替え手段とを備えていることを要旨とする。
【０００７】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載のインサーキットテスタにおいて、前記切り替え手段による切り替えを制御する制御手段を備え、同制御手段は、第１接触子及び第２接触子の測定対象物との接触抵抗が正常であるか否かを判定するとともに、正常である場合に、第１測定回路で測定するように切替え制御することを要旨とする。
【０００８】
請求項３に記載の発明は、請求項１に記載のインサーキットテスタにおいて、前記切り替え手段による切り替えは、手動で行われることを要旨とする。
請求項４に記載の発明は、請求項１〜３のうちいずれか一項に記載のインサーキットテスタにおいて、前記第１接触子又は第２接触子のうち、少なくともいずれか一方は、複数の接触部材を備えていることを要旨とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】
（第１実施形態）
以下、本発明を具体化した一実施形態を図１〜図４に従って説明する。
【００１０】
図１に示すように、インサーキットテスタ１１は、テスタ本体１２、電源側に配設された電源ピン１３及びアース側に配設されたアースピン１４とから構成されている。
【００１１】
円柱形状をなす電源ピン１３の先端には、針状をなす複数のピン部１５が形成されている。一方、アースピン１４も同様に円柱形状をなし、その先端には針状をなすピン部１６が形成されている。そして、インサーキットテスタ１１は、ピン部１５及びピン部１６が測定対象物に接触することにより、テスタ本体１２→電源ピン１３→測定対象物→アースピン１４→テスタ本体１２の順に電流が流れる構成となっている。すなわち、テスタ本体１２、電源ピン１３及びアースピン１４から第１測定回路１７が構成され、インサーキットテスタ１１は、同第１測定回路１７により測定対象物の抵抗を測定する構成となっている。また、測定対象物とは、例えば、基板４４上に形成された素子等をいう。
【００１２】
電源ピン１３は、図３に示すように、円筒状をなすケース１８と、円柱形状をなし、ケース１８に対して摺動可能に貫通された第１接触子１９とから構成されている。
【００１３】
導体からなる第１接触子１９の先端にはピン部１５ａが一体形成され、その基端面にはリード線３０が半田付けにより固着されている。同第１接触子１９の外周面１９ｃの所定の位置には、径方向に突出された第１突条部１９ａが形成されている。また、第１接触子１９には、第１突条部１９ａから先端側に所定の間隔をおいて、第１突条部１９ａと同様の形状をなす第２突条部１９ｂが形成されている。
【００１４】
図３に示すように、ケース１８は、第２接触子２２と、第２接触子２２の長手方向の両端部を除いた部分を覆う絶縁部２１とから構成されている。絶縁部２１は絶縁性の合成樹脂にて形成されている。ケース１８において、絶縁部２１の内周面１８ａには、第１突条部１９ａと対応する位置に、径方向に突出された突条１８ｂが形成されており、第１突条部１９ａは、突条１８ｂに先端側から係止可能にされている。そして、第１突条部１９ａが突条１８ｂに係止された状態では、第１接触子１９の先端は、ケース１８から、その先端方向に突出されるようになっている。
【００１５】
また、第１接触子１９は、同突条１８ｂと第２突条部１９ｂとの間にて、コイルスプリング２０を巻装している。そのため、第１接触子１９は、コイルスプリング２０によって、先端方向に付勢される構成となっている。
【００１６】
また、第１接触子１９の先端部は、ケース１８を把持しつつ、第１接触子１９をコイルスプリング２０の付勢力に抗して測定対象物等に押圧させると、ケース１８内を収納可能に移動する。
【００１７】
第２接触子２２は、複数（本実施形態では、４つ。）の導体からなる接触部材２２ａから構成されている。円柱形状をなす各接触部材２２ａは、先端にピン部１５ｂがそれぞれ一体形成されており、その基端面にリード線３１ａが半田付けによりそれぞれ固着されている。各リード線３１ａは、相互に接続され、リード線３１となって、リード線３０とともにインサーキットテスタ１１と電気的に接続されている。
【００１８】
また、各接触部材２２ａは、同一仮想円の円周に沿って等間隔に形成されるとともに、断面リング状をなす絶縁部２１を長さ方向に貫通して形成されている。すなわち、ケース１８は、４つの接触部材２２ａを絶縁部２１で包むようにして断面リング状に形成されている。従って、第１接触子１９と４つの接触部材２２ａ（すなわち第２接触子２２）とは、絶縁部２１を介して近接配置され、第１接触子１９と第２接触子２２とは、相互に直接接触し得ない構成となっている。
【００１９】
アースピン１４は、ピン部１６と一体形成された円柱形状をなす導体部４１と、同導体部４１を覆うように固着して形成された絶縁カバー４２とから構成されている。導体部４１の基端面には、リード線３２が半田付けにより固着されており、同リード線３２は、インサーキットテスタ１１の制御装置２４と電気的に接続されている。
【００２０】
テスタ本体１２は、切り替え手段としてのリレー回路２３、制御手段としての制御装置２４、シャント抵抗２７、電圧計２８を備えている。
リレー回路２３は、３接点型（トランスファ型）のリレーＲＬ１及びリレーＲＬ２を備えている。同リレーＲＬ１は、接点ＣＰ１、ＣＰ２及びコモン接点としてのコモン接点ＣＰ３から構成されている。また、リレーＲＬ２も同様に、接点ＣＰ４、ＣＰ５及びコモン接点としてのコモン接点ＣＰ６から構成されている。そして、コモン接点ＣＰ３は、リード線３０を介して第１接触子１９に接続され、コモン接点ＣＰ６は、リード線３１を介して第２接触子２２に接続されている。一方、接点ＣＰ１及び接点ＣＰ４は、電線３３を介して制御装置２４の電源端子に接続されている。
【００２１】
制御装置２４は、その内部に図示しないマイクロコンピュータ（以下、マイコンという。）を備えている。そして、制御装置２４は、測定対象物の抵抗又は第１接触子１９と第２接触子２２との接触抵抗の和に基づいて、リレー回路２３のリレーＲＬ１及びリレーＲＬ２の切り替えを制御する構成となっている。　また、制御装置２４には、第１測定回路１７に接続され、測定対象物に印加される電圧を測定する公知の電圧検出部（図示しない）が備えられている。そして、マイコンは、同電圧検出部が検出した値に基づいて測定対象物の抵抗を演算するようになっている。
【００２２】
また、制御装置２４は、図示しないＲＯＭを備えている。同ＲＯＭには、前記マイコンが演算した前記測定対象物の抵抗や、第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗の和が、正常か否かを前記マイコンが比較して判断できるように、予め閾値Ａ及び閾値Ｂが記憶されている。閾値Ａは、測定対象物の抵抗の正常値の範囲を示すものであり、閾値Ｂは、第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗の和の正常値の範囲を示すものである。すなわち、制御装置２４のマイコンは、閾値Ａ又は閾値ＢをＲＯＭから読み出し、測定対象物の抵抗と閾値Ａ又は第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗と閾値Ｂとを比較することにより、測定対象となっている抵抗が正常か否かを判断する。
【００２３】
そして、コモン接点ＣＰ３と接点ＣＰ１及びコモン接点ＣＰ６と接点ＣＰ４がそれぞれ接続されているときには、第１接触子１９と第２接触子２２とが並列に接続され、電源ピン１３、リレー回路２３、制御装置２４及びアースピン１４が接続されて、測定対象物の抵抗を測定する第１測定回路１７が形成される。
【００２４】
従って、インサーキットテスタ１１は、第１接触子１９及び第２接触子２２の両方を測定対象物に接触させて測定対象物の抵抗測定を行うことにより、いずれか一方に測定対象物に対する接触不良があっても、他方が測定対象物に正常に接触していれば正常な抵抗測定を行え得る構成となっている。
【００２５】
前記リレー回路２３は、リレーＲＬ１とリレーＲＬ２とを連動して切り替える構成となっている。すなわち、図２に示すように、制御装置２４によるリレー回路２３への制御信号に基づいてリレーＲＬ１がコモン接点ＣＰ３と接点ＣＰ１との接続に切り替わると、同時にリレーＲＬ２はコモン接点ＣＰ６と接点ＣＰ４との接続に切り替わる構成とされている。また、リレー回路２３は、制御装置２４からの制御信号に基づいてリレーＲＬ１がコモン接点ＣＰ３と接点ＣＰ２との接続に切り替わると、同時に、リレーＲＬ２はコモン接点ＣＰ６と接点ＣＰ５との接続に切り替わる構成とされている。
【００２６】
また、コモン接点ＣＰ３と接点ＣＰ２及びコモン接点ＣＰ６と接点ＣＰ５がそれぞれ接続されているときには、第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗を測定する第２測定回路２５が形成される。すなわち、接点ＣＰ２は、電線３４を介してバッテリからなる電源２６のマイナス側に接続され、同電源２６のプラス側は、電線３５を介して接点ＣＰ５と接続されている。同電線３５の電源２６と接点ＣＰ５との間には、直列に配設されたシャント抵抗２７が形成されるとともに、同シャント抵抗２７と並列に電圧計２８が接続されている。
【００２７】
そのため、図２に示すように、第２測定回路２５は、電源ピン１３、電源２６、シャント抵抗２７、電圧計２８から構成されている。そして、同第２測定回路２５は、例えばランド４５等の導体部に第１接触子１９、第２接触子２２を接触させることにより、電源２６→シャント抵抗２７→第２接触子２２→ランド４５→第１接触子１９→リレー回路２３→電源２６の順に電流が流れる。すなわち、第２測定回路２５では、第１接触子１９と第２接触子２２とは、直列に配置されている。
【００２８】
従って、インサーキットテスタ１１は、第２測定回路２５による接触抵抗の測定では、アースピン１４を使用することなく、第１接触子１９及び第２接触子２２を接触させるだけで、電源ピン１３の接触抵抗の測定を行い得る構成とされている。また、同第１接触子１９と第２接触子とは、絶縁部２１を介して近傍に形成されているため、第２測定回路２５による接触抵抗の測定において、接触抵抗以外の無用な抵抗を測定するのを抑制し得る構成とされている。
【００２９】
電圧計２８は、シャント抵抗２７に印加された電圧を測定し、その結果を制御装置２４のマイコンに伝達する。そして、同マイコンは、電圧計２８から入力された検出値に基づいて、第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗の和（合成抵抗）を演算する。
【００３０】
次に、マイコンは演算した第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗の和（合成抵抗）を前記閾値Ｂと比較する。その結果、合成抵抗の値が閾値Ｂ以上である場合には、マイコンは、接触抵抗が異常であると判定し、制御装置２４はインサーキットテスタ１１による測定を中断する。一方、合成抵抗の値が閾値Ｂ未満である場合には、マイコンは、接触抵抗が正常であると判定し、制御装置２４は第２測定回路２５から第１測定回路１７による測定に切り替える。
【００３１】
他方で、第１測定回路１７により測定対象物の抵抗を測定している際には、まず、マイコンは、演算した測定対象物の抵抗値と閾値Ａとを比較する。その結果、測定対象物の抵抗値が閾値Ａ以上である場合には、マイコンは、接触抵抗が異常であると判定し、制御装置２４は第１測定回路１７から第２測定回路２５による測定に切り替える。一方、測定対象物の抵抗値が閾値Ａ未満である場合には、マイコンは、接触抵抗が正常であると判定し、制御装置２４は第１測定回路１７による測定を維持する構成となっている。そのため、インサーキットテスタ１１は、リレー回路２３がリレーＲＬ１及びリレーＲＬ２の接続を切り替えることにより、インサーキットテスタ１１は、第１測定回路１７による測定を行うか、第２測定回路２５による測定を行うかが決定される構成となっている。
【００３２】
次に、電源ピン１３の作用について説明する。
さて、インサーキットテスタ１１を用いて測定対象物の抵抗又は電源ピン１３の接触抵抗を測定する場合には、電源ピン１３及びアースピン１４は、その外周面を図示しない支持機構により把持され、上下左右等の移動がされる。そして、第１接触子１９のピン部１５を測定対象物（又は、ランド４５等）に接触させた状態では、図３に示すように、第１接触子１９は、第２接触子２２よりも先端方向に突出している。そして、この状態から支持機構にて、コイルスプリング２０の付勢に抗して電源ピン１３が測定対象物に対して押圧されると、第１接触子１９は、ケース１８に対して基端方向に摺動する。
【００３３】
すると、図４に示すように、各接触部材２２ａにおけるピン部１５が測定対象物に接触する。すなわち、電源ピン１３は、コイルスプリング２０の付勢に抗して測定対象物に対して押圧されることにより、第１接触子１９及び第２接触子２２が測定対象物に対して接触する。なお、第２接触子２２が測定対象物に接触した後は、電源ピン１３を測定対象物に対して押圧しても、第２接触子２２が測定対象物に接触しているため、第１接触子１９はケース１８に対して摺動しない。
【００３４】
次に、次位の測定対象物の測定を行いたい場合には、電源ピン１３を測定対象物から離間させるために基端方向に移動させる。すると、まず、ケース１８は基端方向に移動し、測定対象物から離間する一方で、第１接触子１９は、コイルスプリング２０の付勢力により、ケース１８に対して摺動しつつ、測定対象物との接触を維持する。さらに、電源ピン１３を基端方向に移動すると、図３に示すように、第１突条部１９ａが突条１８ｂに対して係止される。その結果、この状態からさらに電源ピン１３を基端方向に移動させると、第１突条部１９ａが突条１８ｂに係止されているため、第１接触子１９は第２接触子２２に対して摺動することなく第２接触子２２とともに基端方向に移動し、電源ピン１３は測定対象物から離間する。そして、次に、次位の測定対象物の測定を行う。
【００３５】
次に、インサーキットテスタ１１の電気的作用について説明する。
測定対象物の抵抗の測定を行う際には、電源ピン１３の接触抵抗が正常な状態であることが必要がある。そのため、まず始めに、インサーキットテスタ１１は、第２測定回路２５によって、電源ピン１３の接触抵抗の測定を行う。
【００３６】
すなわち、制御装置２４は、リレー回路２３がリレーＲＬ１及びリレーＲＬ２の接続をそれぞれコモン接点ＣＰ３と接点ＣＰ２及びコモン接点ＣＰ６と接点ＣＰ５の接続に切り替えるように、リレー回路２３を制御する。そして、電源ピン１３の第１接触子１９及び第２接触子２２をランド４５に接触させ、第２測定回路２５を導通させる。すると、電源２６によってシャント抵抗２７に電圧がかかり、電圧計２８はシャント抵抗２７における電圧を測定する。そして、その測定結果は、制御装置２４のマイコンに伝達され、同マイコンは同測定結果から、第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗の和（合成抵抗）を演算する。
【００３７】
同接触抵抗の和が、予めＲＯＭに記憶された閾値Ｂの範囲外のものであれば、前記マイコンは、電源ピン１３の接触抵抗が異常であると判断する。すると、制御装置２４は、インサーキットテスタ１１による測定を中断する。そして、制御装置２４は、この測定対象物の電気的特性が異常である旨の処理を行う。この異常である旨の処理とは、報知などの処理である。また、インサーキットテスタ１１は、電源ピン１３の交換又は洗浄等が行われた後に、再び第２測定回路２５による測定を行う。
【００３８】
一方、接触抵抗の和が、予めＲＯＭに記憶された閾値Ｂの範囲内のものであれば、マイコンは、電源ピン１３の接触抵抗は正常であると判断する。そして、制御装置２４は、次に測定対象物の測定を行うために、第２測定回路２５による測定から、第１測定回路１７による測定に切り替える。
【００３９】
測定対象物の抵抗を測定する場合には、まず、制御装置２４は、制御信号をリレー回路２３に出力し、リレー回路２３のリレーＲＬ１及びリレーＲＬ２を制御し、第１測定回路１７を形成する。すなわち、リレー回路２３は、コモン接点ＣＰ３と接点ＣＰ１及びコモン接点ＣＰ６と接点ＣＰ４の接続にする。そして、第１接触子１９の先端に形成されたピン部１５ａ及びアースピン１４のピン部１６を測定対象物に接触すると、制御装置２４→アースピン１４→測定対象物→第１接触子１９→リレーＲＬ１→制御装置２４の順に電流が流れる。
【００４０】
すると、測定対象物に印加される電圧を前記電圧検出部が測定し、その測定結果はマイコンに伝達される。同マイコンは、その測定結果から測定対象物の抵抗を演算する。そして、制御装置２４は、計算された測定対象物の抵抗が予めＲＯＭに記憶された閾値Ａの範囲内のものであれば、正常な抵抗として第１測定回路１７による測定を続行する。
【００４１】
一方、計算された測定対象物の抵抗が、予めＲＯＭに記憶された閾値Ａの範囲外のものであれば、前記マイコンは、その抵抗が異常な抵抗であると判断する。すると、制御装置２４は、この測定対象物の電気的特性が異常である旨の処理を行う。そして、制御装置２４は、電源ピン１３の接触抵抗が正常か否かを測定するため、第１測定回路１７による測定から、第２測定回路２５による測定に切り替え、インサーキットテスタ１１は、再び電源ピン１３の接触抵抗の測定を行う。
【００４２】
従って、上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
（１）上記実施形態では、インサーキットテスタ１１を、測定対象物の抵抗を測定する第１測定回路１７の他に、比較的簡単な回路であり、第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗を測定する第２測定回路２５を追加して形成した。また、インサーキットテスタ１１は、第１測定回路１７又は第２測定回路２５による測定を行うように、リレーＲＬ１及びリレーＲＬ２の接続を切り替えるリレー回路２３を備えている。
【００４３】
従って、インサーキットテスタ１１は、第２測定回路２５による測定により、第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗が閾値Ｂの範囲内であり、正常であれば、第１測定回路１７による測定に切り替えるだけで、そのまま測定対象物の電気的特性の測定を行うことができる。また、第２測定回路２５による測定により、第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗が閾値Ｂの範囲外であれば、測定対象物の電気的特性の測定を行うことがないため、誤測定の防止ができる。
【００４４】
すなわち、測定対象物が正常であるにも関わらず、不良品として処理されたり、逆に、不良品であるにも関わらず、正常品として処理されるような問題が生ずるのを抑制できる。その結果、後に抵抗測定が誤判定であったことに気づき、抵抗測定を再び行うような場合が生ずるのを抑制できる。
【００４５】
（２）上記実施形態では、インサーキットテスタ１１は、内部にマイコンを有する制御装置２４を備えている。そして、制御装置２４は、測定対象物の抵抗又は第１接触子１９と第２接触子２２との接触抵抗の和（合成抵抗）に基づいて、リレー回路２３のリレーＲＬ１及びリレーＲＬ２の切り替えを制御する構成となっている。すなわち、リレーＲＬ１及びリレーＲＬ２の切り替えは自動的に行われる構成となっている。
【００４６】
従って、インサーキットテスタ１１における第１測定回路１７による測定と第２測定回路２５による測定の選択において、人が手動で行う必要がない。
（３）上記実施形態では、制御装置２４のマイコンは、閾値Ａ又は閾値ＢをＲＯＭから読み出し、測定対象物の抵抗と閾値Ａ又は第１接触子１９及び第２接触子２２の接触抵抗と閾値Ｂとを比較し、測定対象となっている抵抗が正常か否かを判断する構成となっている。
【００４７】
従って、測定対象となっている抵抗が正常な値かどうかの判断を人が目視等により行う必要がない。また、インサーキットテスタ１１による測定結果の適否は機械的に処理されるため、予めＲＯＭに記憶された数値範囲を基準とした場合には、インサーキットテスタ１１の測定結果が不正確であることに気づかないような場合がない。
【００４８】
（４）上記実施形態では、第２接触子２２は、複数（本実施形態では、４つ。）の導体からなる接触部材２２ａから構成されている。
従って、各接触部材２２ａは、第１測定回路１７、第２測定回路２５によるいずれの測定においても、相互に並列に接続されるため、複数の接触部材２２ａに不具合が生じても、正常な接触部材２２ａが一つでもあれば、インサーキットテスタ１１は、正常に測定を行うことができる。
【００４９】
（５）上記実施形態では、第１接触子１９と第２接触子２２とは、絶縁部２１を介して近傍に、かつ、離間して形成した。
従って、第２測定回路２５による接触抵抗の測定において、接触抵抗以外の無用な抵抗をも測定してしまうのを抑制することができる。また、測定対象物の広い範囲で電圧がかからないため、誤って、基板４４上の素子に過電圧をかけ、素子が故障するのを防止することができる。さらに、第１接触子１９と第２接触子２２とは離間配置されているため、第１接触子１９と第２接触子２２とが、誤って直接短絡してしまうことを防止することができる。
【００５０】
（６）上記実施形態では、第１測定回路１７において、第１接触子１９と第２接触子２２とは、並列に接続される構成となっている。
従って、インサーキットテスタ１１は、第１接触子１９及び第２接触子２２の両方を測定対象物に接触させて測定対象物の抵抗測定を行うことにより、いずれか一方に接触不良がであっても、その影響は微少なものとなるため、正常に抵抗測定を行うことができる。
【００５１】
（７）上記実施形態では、第１接触子１９及び第２接触子２２を直列に接続して、第２測定回路２５を、電源ピン１３、電源２６、シャント抵抗２７、電圧計２８から構成した。
【００５２】
従って、第２測定回路２５による接触抵抗の測定では、アースピン１４を使用することなく、第１接触子１９及び第２接触子２２を接触させるだけで、電源ピン１３の接触抵抗の測定を行うことができる。
【００５３】
なお、前記実施形態は以下のように変更してもよい。
○前記実施形態では、電源ピン１３のみに第１接触子１９及び第２接触子２２を設けたが、アースピン１４も電源ピン１３と同様な構造に形成し、第１接触子及び第２接触子を設けてもよい。そして、アースピン側も、第１測定回路１７と同様の第１測定回路、第２測定回路２５と同様の第２測定回路及びリレー回路２３と同様のリレー回路を設け、制御装置２４にて、接触抵抗が所定閾値未満の場合、リレー回路を制御して、第２測定回路から第１測定回路に切り替えするように構成してもよい。このようにすれば、電源ピン１３の接触抵抗だけでなく、アースピン１４の接触抵抗をも測定することができる。また、アースピン１４のみに第１接触子１９及び第２接触子２２を設けてもよい。
【００５４】
○前記実施形態では、リレー回路２３、第２測定回路２５をテスタ本体１２に備えたが、テスタ本体１２とは別体のボックスを設け、同ボックスにリレー回路２３、第２測定回路２５を備えてもよい。
【００５５】
○前記実施形態では、自動的に第１測定回路１７と第２測定回路２５との切り替えを行ったが、例えば、テスタ本体１２のケース外面に突出された切替えスイッチを設けてもよい。すなわち、電圧計２８の図示しない表示部の表示結果を見て、人が同切替えスイッチの切替え操作を行うことにより、回路の切り替えが行われるようにしてもよい。
【００５６】
○前記実施形態では、制御装置２４は、ＲＯＭに記憶された閾値と電圧計２８の測定結果との比較に基づいて、第１測定回路１７と第２測定回路２５との切り替えを制御したが、例えば、単位経過時間や測定回数等に基づいて切り替えを制御してもよい。
【００５７】
○前記実施形態では、第２接触子２２のみを複数の接触部材２２ａから構成したが、第１接触子１９も同様に、複数の接触部材から構成してもよい。若しくは、第１接触子１９のみを複数の接触部材から構成してもよい。また、第２接触子２２は複数の接触部材２２ａから構成せず、単一の部材にて構成してもよい。
【００５８】
○前記実施形態における第２測定回路２５の電源２６を、第１測定回路１７の電源として共有してもよい。
次に、上記実施形態及び各別例から把握できる技術的思想について、それらの効果と共に以下に記載する。
【００５９】
（１）前記第１測定回路と第２測定回路とは、電源を共有していることを特徴とする請求項１〜４のうちいずれか一項に記載のインサーキットテスタ。
従って、この（１）に記載の発明によれば、インサーキットテスタにおける電源を配置するスペースを節約することができる。
【００６０】
【発明の効果】
以上詳述したように、インサーキットテスタに測定対象物との接触抵抗を測定でき、そのことによって、測定対象物との接触抵抗が正常の場合には、そのまま測定対象物の電気的特性の測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明のインサーキットテスタの実施形態を示す概略斜視図。
【図２】図１のインサーキットテスタの概略構成を示すブロック図。
【図３】図１のインサーキットテスタの電源ピンを示す断面図。
【図４】図１のインサーキットテスタの電源ピンを示す断面図。
【符号の説明】
１１…インサーキットテスタ、１３…電源ピン、１４…アースピン、１７…第１測定回路、１９…第１接触子、２２…第２接触子、２２ａ…接触部材、２３…切り替え手段としてのリレー回路、２４…制御手段としての制御装置、２５…第２測定回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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