(57)【要約】【課題】  特殊な繰り返しパターンに限定されることなく、ランダムな信号を記録し、その信号から読み出された再生信号に基づいて、記録パルスのパラメータを変化する記録再生方法および記録再生装置を提供すること。【解決手段】  本発明による記録再生方法は、再生信号を２値化することによって２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号を用いて、クロック信号に同期した同期信号を生成するステップと、前記２値化信号と前記同期信号との間のずれ量を測定するステップと、前記ずれ量に基づいて記録パルスのパラメータを変化するステップとを包含する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
再生信号を２値化することによって２値化信号を生成するステップと、
前記２値化信号を用いて、クロック信号に同期した同期信号を生成するステップと、
前記２値化信号と前記同期信号との間の時間間隔を測定し、前記時間間隔と前記クロック信号によって指定されるクロック時間間隔との間のずれ量を測定するステップと、
前記ずれ量に基づいて記録パルスのパラメータを変化するステップと
を包含する、記録再生方法。
【請求項２】
前記ずれ量を測定するステップは、前記クロック信号のクロック数毎にずれ量を測定するステップを含む、請求項１に記載の記録再生方法。
【請求項３】
前記ずれ量を測定するステップは、前記２値化信号と前記同期信号との間の時間間隔を繰り返し測定し、前記測定した時間間隔を積算することによって、前記ずれ量の平均値を測定するステップを含む、請求項１に記載の記録再生方法。
【請求項４】
前記記録パルスのパラメータは、前記記録パルスの移動量、パワー、幅の少なくとも１つを含む、請求項１に記載の記録再生方法。
【請求項５】
前記ずれ量を測定するステップは、前記２値化信号のマーク始端エッジと前記同期信号のマーク終端エッジとの間の始端時間間隔を測定し、前記始端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の始端ずれ量を測定するステップを含む、請求項１に記載の記録再生方法。
【請求項６】
前記ずれ量を測定するステップは、前記２値化信号のマーク終端エッジと前記同期信号のマーク始端エッジとの間の終端時間間隔を測定し、前記終端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の終端ずれ量を測定するステップを含む、請求項１に記載の記録再生方法。
【請求項７】
前記ずれ量を測定するステップは、前記２値化信号のマーク始端エッジと前記同期信号のマーク終端エッジとの間の始端時間間隔を測定し、前記始端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の始端ずれ量を測定し、前記２値化信号のマーク終端エッジと前記同期信号のマーク始端エッジとの間の終端時間間隔を測定し、前記終端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の終端ずれ量を測定するステップを含む、請求項１に記載の記録再生方法。
【請求項８】
前記再生信号は、任意のランダムな信号系列を再生した信号である、請求項１に記載の記録再生方法。
【請求項９】
前記記録パルスは、ファーストパルスと、クーリングパルスとを含み、
前記ファーストパルスと前記クーリングパルスのパラメータは、マーク長に応じて少なくとも３つ以上に分類されている、請求項１に記載の記録再生方法。
【請求項１０】
前記測定するステップは、ジッタ値を測定するステップを含み、
前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、
前記記録パルスのパラメータを変化するステップは、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化し、前記ジッタ値に基づいて前記マルチパルスの移動量を変化するステップを含む、請求項７に記載の記録再生方法。
【請求項１１】
前記測定するステップは、ジッタ値を測定するステップを含み、
前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、
前記記録パルスのパラメータを変化するステップは、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記マルチパルスの移動量を変化し、前記ジッタ値に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化するステップを含む、請求項７に記載の記録再生方法。
【請求項１２】
前記測定するステップは、ジッタ値を測定するステップを含み、
前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、
前記記録パルスのパラメータを変化するステップは、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記マルチパルスのパワーを変化し、前記ジッタ値に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化するステップを含む、請求項７に記載の記録再生方法。
【請求項１３】
再生信号を２値化することによって２値化信号を生成する２値化信号生成部と、
前記２値化信号を用いて、クロック信号に同期した同期信号を生成する同期信号生成部と、
前記２値化信号と前記同期信号との間の時間間隔を測定し、前記時間間隔と前記クロック信号によって指定されるクロック時間間隔との間のずれ量を測定するずれ測定部と、
前記ずれ量に基づいて記録パルスのパラメータを変化するパルス変化部と
を備える、記録再生装置。
【請求項１４】
前記ずれ測定部は、前記クロック信号のクロック数毎にずれ量を測定する、請求項１３に記載の記録再生装置。
【請求項１５】
前記ずれ測定部は、前記２値化信号と前記同期信号との間の時間間隔を繰り返し測定し、前記測定した時間間隔を積算することによって、前記ずれ量の平均値を測定する、請求項１３に記載の記録再生装置。
【請求項１６】
前記記録パルスのパラメータは、前記記録パルスの移動量、パワー、幅の少なくとも１つを含む、請求項１３に記載の記録再生装置。
【請求項１７】
前記ずれ測定部は、前記２値化信号のマーク始端エッジと前記同期信号のマーク終端エッジとの間の始端時間間隔を測定し、前記始端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の始端ずれ量を測定する、請求項１３に記載の記録再生装置。
【請求項１８】
前記ずれ測定部は、前記２値化信号のマーク終端エッジと前記同期信号のマーク始端エッジとの間の終端時間間隔を測定し、前記終端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の終端ずれ量を測定する、請求項１３に記載の記録再生装置。
【請求項１９】
前記ずれ測定部は、前記２値化信号のマーク始端エッジと前記同期信号のマーク終端エッジとの間の始端時間間隔を測定し、前記始端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の始端ずれ量を測定し、前記２値化信号のマーク終端エッジと前記同期信号のマーク始端エッジとの間の終端時間間隔を測定し、前記終端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の終端ずれ量とを測定する、請求項１３に記載の記録再生装置。
【請求項２０】
前記再生信号は、任意のランダムな信号系列を再生した信号である、請求項１３に記載の記録再生装置。
【請求項２１】
前記記録パルスは、ファーストパルスと、クーリングパルスとを含み、
前記ファーストパルスと前記クーリングパルスのパラメータは、マーク長に応じて少なくとも３つ以上に分類されている、請求項１３に記載の記録再生装置。
【請求項２２】
前記ずれ測定部は、ジッタ値を測定し、
前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、
前記パルス変化部は、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化し、前記ジッタ値に基づいて前記マルチパルスの移動量を変化する、請求項１９に記載の記録再生装置。
【請求項２３】
前記ずれ測定部は、ジッタ値を測定し、
前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、
前記パルス変化部は、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記マルチパルスの移動量を変化し、前記ジッタ値に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化する、請求項１９に記載の記録再生装置。
【請求項２４】
前記ずれ測定部は、ジッタ値を測定し、
前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、
前記パルス変化部は、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記マルチパルスのパワーを変化し、前記ジッタ値に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化する、請求項１９に記載の記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録再生方法および記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
データを高密度に記録することができるディスク状記録媒体の一つとして、相変化型光ディスクが知られている。
【０００３】
相変化型光ディスクは、データを記録するための記録膜を有している。
【０００４】
相変化型光ディスクにデータを記録する場合には、回転する相変化型光ディスクに絞ったレーザ光を照射し、記録膜を加熱融解させて、記録膜を物理的に変化させる。レーザ光のパワーに応じて、記録膜が到達する温度およびその温度からの冷却過程が異なっており、相変化型光ディスクにデータを記録することができる。
【０００５】
より具体的には、レーザ光の強度が大きい場合、記録膜は高温状態から急速に冷却され、アモルファス化する。一方、レーザ光の強度が比較的小さい場合、記録膜は中高温状態から徐々に冷却され、結晶化する。
【０００６】
一般的には、記録膜のアモルファス化した部分をマークとよび、記録膜の結晶化した部分をスペースとよんでいる。このように、記録膜にマークとスペースとを形成することによって、２値の情報を記憶することができる。
【０００７】
また、相変化型光ディスクでは、１つのレーザ光によって、過去のデータを消去するとともに、新しいデータを記録すること、即ち、ダイレクトオーバーライトが可能である。
【０００８】
相変化型光ディスクを再生する場合には、記録膜が相変化を起こさない程度の弱いレーザ光を照射し、相変化型光ディスクからの反射光を検出する。アモルファス化したマークは反射率が低く、結晶化したスペースは反射率が高い。したがって、マークとスペースとの反射光量の違いを検出することで、相変化型光ディスクに記録されたデータを再生することができる。
【０００９】
このような相変化型光ディスクに、一定のパワーを有するレーザを照射して長いマークを記録すると、記録膜の蓄熱効果に起因して、マークの後半部分ほどマークの半径方向に沿った幅が太くなる。したがって、ダイレクトオーバーライトの時にマークの消し残りが発生したり、相変化型光ディスクを再生する場合に隣接するトラック間に信号クロストークが発生し、その結果、相変化型光ディスクの品質を大きく損ねることになる。
【００１０】
また、上述したように相変化型光ディスクは、マークの反射率はスペースの反射率よりも低い。このことは、マークの熱吸収率が、スペースの熱吸収率よりも高いことを意味している。また、アモルファスを融解するのに必要な融解熱は、結晶を融解するのに必要な融解熱とは異なっている。
【００１１】
したがって、ダイレクトオーバーライトの時に、既に形成されたマークとスペースとに同じパワーのレーザ光を照射して新たなマークを形成しても、マークが形成されていたか、スペースが形成されていたに応じて、熱吸収量および到達する温度が異なるため、前の記録状態に応じて新たなマークのエッジ位置が変動する。特に、従来の記録動作では、マークの後半部分で照射する光量を弱くしているため、マークの後半部分のエッジ位置の変動が顕著になるという問題が生じる。
【００１２】
さらに、今後、データの記録密度を高める目的で、マークおよびスペースの長さが短くなることが考えられる。この場合、特にスペースの長さが短いと、形成したマークの終端部分の熱がそのマークに隣接するスペースを伝導して次のマークの始端部分に伝わり、次のマークの温度上昇に影響を与えたり、また、反対に、形成するマークの始端部分の熱が前のマークの終端部分の冷却過程に影響を与えたりするといった熱干渉が生じるおそれがある。従来の記録動作において熱干渉が生じると、マークのエッジ位置が変動することになり、相変化型光ディスクを再生する場合の誤り率が増加するという問題が生じる。
【００１３】
そこで、上述した問題を解決するために、特許文献１では、ＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ  Ｗｉｄｔｈ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）記録のマークに相当する信号を、一定幅の始端部分、バースト状の中間部分、一定幅の終端部分に分解した信号とし、これで２値のレーザ出力を高速にスイッチングして記録している。長いマークの中間部分を形成するために、バースト状にレーザ電流を駆動して、最小限のパワーを照射することにより、マークの中間部分の幅が広がらず、ほぼ一定幅を有する。マークの始端部分および終端部分を形成するために、一定幅のレーザ光が十分に照射されるので、ダイレクトオーバーライトの時にも、形成されるマークのエッジ部分のジッタが増加しない。さらに、特許文献１では、マークの長さが小さく、かつ、そのマークの前後に形成されるスペースの長さが小さい場合を検出し、その場合に、マークの始端部分と終端部分の位置が、マークとスペースが長い場合とは異なるようにマークを形成することにより、熱干渉、または、再生周波数特性に起因するピークシフトを記録時に補償している。
【００１４】
また、特許文献２では、特殊な繰り返しパターンを記録して、データのパターンに応じたファーストパルスおよびラストパルスの最適な移動量を求め、求めたファーストパルスおよびラストパルスの移動量の両方あるいはいずれか一方を示す移動量情報を製造段階で記録媒体上に記録する。ユーザがこの記録媒体にデータを記録する場合には、記録媒体に記録された移動量情報を読み出し、その移動量情報を用いて記録することによって、正しい位置にマークを記録するための学習を省略したり、または、学習時間を短縮するとともに、マーク位置精度の向上を図ることができ、ジッタを少なくしている。
【特許文献１】特許第２６７９５９６号公報（第２図）
【特許文献２】特開２０００−２３１７１９号公報（第２図、第１１図〜第１４図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかしながら、今後、ますますデータの高密度化がすすむと考えられており、その場合、上述の特許文献のいずれもそれぞれ課題を有している。
【００１６】
特許文献１に記載された記録動作では、マークの長さと、そのマークの前後に形成されるスペースの長さとを検出し、マークの長さが小さく、かつ、そのマークの前後に形成されるスペースの長さが小さい場合には、マークの始端部分および終端部分を、マークの長さとスペースの長さが長い場合に形成するマークの始端部分および終端部分とは異なるように形成することにより、熱干渉、または、再生周波数特性に起因するピークシフトを記録時に補償しているが、この記録動作は、高性能である反面、この記録動作を実現するための装置の規模が増大し、コストが上昇してしまう。
【００１７】
また、特許文献２に記載された記録動作では、特殊な繰り返しパターンを記録し、データのパターンに応じてファーストパルスおよびラストパルスの最適な移動量を求め、求めたファーストパルスおよびラストパルスの両方あるいはいずれか一方の移動量を示す移動量情報を製造段階で記録媒体上に記録し、ユーザがこの記録媒体にデータを記録する場合に、記録媒体に記録された移動量情報を読み出し、正しい位置にマークを記録する。この記録動作は、特殊な繰り返しパターンを記録するため、この記録動作を実現するための装置の規模が増大し、コストが上昇してしまう。
【００１８】
また、特許文献２には、ファーストパルスとラストパルスとをディスクに応じて最適な移動量だけ移動させる記録動作について記載されているが、ファーストパルスとラストパルスとの間のパルス（マルチパルス）の幅を変化することあるいはクーリングパルスの幅を変化することによって、記録再生特性を最適化する動作については述べられていない。
【００１９】
本発明は、上記問題点に鑑み、特殊な繰り返しパターンに限定されることなく、ランダムな信号を記録し、その信号から読み出された再生信号に基づいて、記録パルスのパラメータを変化する記録再生方法、および、ディスク構造および記録膜組成のタイプ、記録媒体の種類（例えば、書き換え型記録媒体、追記型記録媒体）が異なっても、最適に記録することができる記録再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
本発明による記録再生方法は、再生信号を２値化することによって２値化信号を生成するステップと、前記２値化信号を用いて、クロック信号に同期した同期信号を生成するステップと、前記２値化信号と前記同期信号との間の時間間隔を測定し、前記時間間隔と前記クロック信号によって指定されるクロック時間間隔との間のずれ量を測定するステップと、前記ずれ量に基づいて記録パルスのパラメータを変化するステップとを包含する。
【００２１】
前記ずれ量を測定するステップは、前記クロック信号のクロック数毎にずれ量を測定するステップを含む。
【００２２】
前記ずれ量を測定するステップは、前記２値化信号と前記同期信号との間の時間間隔を繰り返し測定し、前記測定した時間間隔を積算することによって、前記ずれ量の平均値を測定するステップを含む。
【００２３】
前記記録パルスのパラメータは、前記記録パルスの移動量、パワー、幅の少なくとも１つを含む。
【００２４】
前記ずれ量を測定するステップは、前記２値化信号のマーク始端エッジと前記同期信号のマーク終端エッジとの間の始端時間間隔を測定し、前記始端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の始端ずれ量を測定するステップを含む。
【００２５】
前記ずれ量を測定するステップは、前記２値化信号のマーク終端エッジと前記同期信号のマーク始端エッジとの間の終端時間間隔を測定し、前記終端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の終端ずれ量を測定するステップを含む。
【００２６】
前記ずれ量を測定するステップは、前記２値化信号のマーク始端エッジと前記同期信号のマーク終端エッジとの間の始端時間間隔を測定し、前記始端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の始端ずれ量を測定し、前記２値化信号のマーク終端エッジと前記同期信号のマーク始端エッジとの間の終端時間間隔を測定し、前記終端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の終端ずれ量を測定するステップを含む。
【００２７】
前記再生信号は、任意のランダムな信号系列を再生した信号である。
【００２８】
前記記録パルスは、ファーストパルスと、クーリングパルスとを含み、前記ファーストパルスと前記クーリングパルスのパラメータは、マーク長に応じて少なくとも３つ以上に分類されている。
【００２９】
前記測定するステップは、ジッタ値を測定するステップを含み、前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、前記記録パルスのパラメータを変化するステップは、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化し、前記ジッタ値に基づいて前記マルチパルスの移動量を変化するステップを含む。
【００３０】
前記測定するステップは、ジッタ値を測定するステップを含み、前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、前記記録パルスのパラメータを変化するステップは、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記マルチパルスの移動量を変化し、前記ジッタ値に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化するステップを含む。
【００３１】
前記測定するステップは、ジッタ値を測定するステップを含み、前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、前記記録パルスのパラメータを変化するステップは、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記マルチパルスのパワーを変化し、前記ジッタ値に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化するステップを含む。
【００３２】
本発明による記録再生装置は、再生信号を２値化することによって２値化信号を生成する２値化信号生成部と、前記２値化信号を用いて、クロック信号に同期した同期信号を生成する同期信号生成部と、前記２値化信号と前記同期信号との間の時間間隔を測定し、前記時間間隔と前記クロック信号によって指定されるクロック時間間隔との間のずれ量を測定するずれ測定部と、前記ずれ量に基づいて記録パルスのパラメータを変化するパルス変化部とを備える。
【００３３】
前記ずれ測定部は、前記クロック信号のクロック数毎にずれ量を測定する。
【００３４】
前記ずれ測定部は、前記２値化信号と前記同期信号との間の時間間隔を繰り返し測定し、前記測定した時間間隔を積算することによって、前記ずれ量の平均値を測定する。
【００３５】
前記記録パルスのパラメータは、前記記録パルスの移動量、パワー、幅の少なくとも１つを含む。
【００３６】
前記ずれ測定部は、前記２値化信号のマーク始端エッジと前記同期信号のマーク終端エッジとの間の始端時間間隔を測定し、前記始端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の始端ずれ量を測定する。
【００３７】
前記ずれ測定部は、前記２値化信号のマーク終端エッジと前記同期信号のマーク始端エッジとの間の終端時間間隔を測定し、前記終端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の終端ずれ量を測定する。
【００３８】
前記ずれ測定部は、前記２値化信号のマーク始端エッジと前記同期信号のマーク終端エッジとの間の始端時間間隔を測定し、前記始端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の始端ずれ量を測定し、前記２値化信号のマーク終端エッジと前記同期信号のマーク始端エッジとの間の終端時間間隔を測定し、前記終端時間間隔と前記クロック時間間隔との間の終端ずれ量とを測定する。
【００３９】
前記再生信号は、任意のランダムな信号系列を再生した信号である。
【００４０】
前記記録パルスは、ファーストパルスと、クーリングパルスとを含み、
前記ファーストパルスと前記クーリングパルスのパラメータは、マーク長に応じて少なくとも３つ以上に分類されている。
【００４１】
前記ずれ測定部は、ジッタ値を測定し、前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、前記パルス変化部は、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化し、前記ジッタ値に基づいて前記マルチパルスの移動量を変化する。
【００４２】
前記ずれ測定部は、ジッタ値を測定し、前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、前記パルス変化部は、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記マルチパルスの移動量を変化し、前記ジッタ値に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化する。
【００４３】
前記ずれ測定部は、ジッタ値を測定し、前記記録パルスは、ファーストパルスと、マルチパルスと、クーリングパルスとを含み、前記パルス変化部は、前記始端ずれ量に基づいて前記ファーストパルスの移動量を変化し、前記終端ずれ量に基づいて前記マルチパルスのパワーを変化し、前記ジッタ値に基づいて前記クーリングパルスの移動量を変化する。
【発明の効果】
【００４４】
本発明によれば、再生信号を２値化することによって生成した２値化信号と、その２値化信号を用いてクロック信号と同期するように生成した同期信号との間の時間間隔を測定し、その時間間隔とクロック信号によって指定されるクロック時間間隔との間のずれ量を測定し、そのずれ量に基づいて、記録パルスのパラメータを変化する。このようにパラメータを変化した記録パルスを用いて記録を行うと、その後にその記録を再生した場合のずれ量が少なくなり、より正確に再生される。
【００４５】
また、特殊な繰返しパターンを記録することなく、任意のランダムな信号を再生することによって、ずれ量を測定し、このずれ量に基づいて、記録パルスのパラメータを変化することで、ディスクに応じて最適な記録補償を行い、ディスクの記録再生特性を向上させることができる。また、記録パターンを削減できることから記録再生装置を大幅に簡略化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４６】
以下に、本発明の実施の形態による記録再生装置について、図面を参照しながら説明する。
【００４７】
図１は、本発明の実施の形態による記録再生装置１００のブロック図である。
【００４８】
記録再生装置１００は、例えば、情報記録媒体を製造する業者のための記録再生装置として使用される。ただし、記録再生装置１００は、これに限定されるものではない。記録再生装置１００は、一般のユーザのための記録再生装置としても使用される。
【００４９】
記録再生装置１００は、情報記録媒体として光ディスク１０１を回転するスピンドルモータ１０２と、光ディスク１０１の所定の領域にレーザ光の光スポットを照射する光ヘッド１３０と、光ヘッド１３０を駆動するレーザ駆動回路１０９と、記録パルスのパラメータを変化するパルス変化回路１１０と、記録データ信号を用いて記録パルスを生成するパルス発生回路１１１と、光ディスク１０１によって反射された反射光に対応する信号を用いて再生信号を生成する再生信号生成部１４０と、再生信号を２値化することによって２値化信号を生成する２値化信号生成部１５０と、２値化信号を用いてクロック信号に同期した同期信号を生成する同期信号生成部１６０と、同期信号を復調し、誤り訂正を行うことによって、再生データ信号を生成する復調・誤り訂正回路１１７と、光ディスク１０１に照射するためのレーザ光のパワーを設定するパワー設定回路１１９と、２値化信号と同期信号との間の時間間隔を測定し、その時間間隔とクロック信号によって指定されるクロック時間間隔との間のずれ量から記録パルスのパラメータを求めるずれ測定部１７０と、記録パルスのパラメータを記憶するメモリ１２１とを備える。メモリ１２１は、記録パルスのパラメータをテーブルに記憶している。
【００５０】
光ヘッド１３０は、レーザ光を出射する半導体レーザ１０３と、半導体レーザ１０３から出射されたレーザ光をコリメートするコリメータレンズ１０４と、コリメータレンズ１０４によってコリメートされたレーザ光を透過し、かつ、光ディスク１０１によって反射された反射光の進行方向を変化するビームスプリッタ１０５と、コリメータレンズ１０４を透過したレーザ光を収束して、光ディスク１０１上に光スポットを形成する対物レンズ１０６と、ビームスプリッタ１０５によって進行方向が変化した反射光を集める集光レンズ１０７と、集光レンズ１０７にて集められた光を検出して、信号を生成する光検出器１０８とを含む。
【００５１】
再生信号生成部１４０は、光検出器１０８によって生成された信号を増幅するプリアンプ１１２と、プリアンプ１１２にて増幅された信号のうち、所定の周波数以上の周波数を有する信号を減衰するローパスフィルタ１１３と、ローパスフィルタ１１３から出力される信号の望ましくない特性を補償するイコライザ１１４とを含む。イコライザ１１４は、再生信号として、出力信号を２値化信号生成部１５０に出力する。
【００５２】
２値化信号生成部１５０は、再生信号をスライスレベルでスライスすることによって２値化信号を生成する２値化回路１１５を含む。
【００５３】
同期信号生成部１６０は、ＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋ  Ｌｏｏｐ）１１６を含む。ＰＬＬ１１６は、２値化信号を用いて、クロック信号に同期した同期信号を繰り返し生成することによって、平均値のパルス幅を含む同期信号を生成する。
【００５４】
ずれ測定部１７０は、ずれ測定回路１２０を含み、ずれ測定回路１２０は、２値化信号と同期信号との間の時間間隔を繰返し測定し、測定した時間間隔を積算することによって、時間間隔の平均値を求める。次いで、ずれ測定回路１２０は、時間間隔の平均値とクロック信号によって指定されるクロック時間間隔との間のずれ量の平均値を検出し、ずれ量の平均値に基づいて記録パルスのパラメータを求める。ここで、記録パルスのパラメータは、記録パルスの移動量、幅、パワーの少なくとも１つを含む。
【００５５】
メモリ１２１は、ずれ測定回路１２０によって求められた記録パルスのパラメータを記憶する。
【００５６】
パルス発生回路１１１は、記録データ信号を用いて、記録パルスを生成し、記録パルスを含む出力信号をパルス変化回路１１０に出力する。
【００５７】
パルス変化回路１１０は、メモリ１２１に記憶された記録パルスのパラメータを用いて、記録パルスのパラメータを変化し、パラメータを変化した記録パルスを含む出力信号をレーザ駆動回路１０９に出力する。
【００５８】
レーザ駆動回路１０９は、パルス変化回路１１０からの出力信号を用いて、パワー設定回路１１９によって設定されたパワーで半導体レーザ１０３がレーザ光を出射するように半導体レーザ１０３を駆動する。
【００５９】
半導体レーザ１０３が出射するレーザ光のピークパワーと、バイアスパワーと、ボトムパワーとは、パワー設定回路１１９によって設定される。
【００６０】
記録再生装置１００に光ディスク１０１が装着されると、記録再生装置１００は、光ディスク１０１の所定の領域を用いて、２値化信号と同期信号との間の時間間隔を測定し、その測定した時間間隔とクロック時間間隔との間のずれ量を検出する。
【００６１】
所定の領域は、例えば、ディスクの最内周または最外周に設けられた、ユーザがデータを記録するユーザ領域以外の記録領域（たとえばドライブテストゾーン）を含む。
【００６２】
しかし、本発明において、２値化信号と同期信号との間のずれ量を測定する光ディスク１０１上の領域は、そのような記録領域に限定されず、任意の領域を使用してもよい。また、ずれ量を測定するタイミングも、記録再生装置１００に光ディスク１０１が装着される場合に限定されず、任意のタイミングで測定されてもよい。
【００６３】
例えば、光ディスク１０１上のユーザ領域を用いて、ずれ量を測定してもよい。その場合、データをユーザ領域に記録している途中にずれ量を測定する必要が生じたときに、予め決められた領域に戻ることなく、既に記録したユーザ領域を用いてずれ量を測定することができる。したがって、ずれ量を測定するために光ヘッド１３０を移動させる必要がないか、または、光ヘッド１３０を移動させるための時間を大幅に減少させることができる。このことは、リアルタイム性が要求されるＡＶデータを記録する場合に、特に有用である。また、データを記録する領域の近傍でずれ量を測定すると、ずれ量をより正確に求めることができる。
【００６４】
また、記録再生装置１００によってモニタしている所定の条件が変化した場合に、記録再生装置１００はずれ量を測定してもよい。
【００６５】
一般に、記録再生装置１００は、所定の条件をモニタしており、その条件が変化したと判断すると、記録再生装置１００は所定の動作の最適化を行う。
【００６６】
記録再生装置１００は、例えば、別の動作の最適化のために記録再生装置１００の温度をモニタしたり、光ディスク１０１のチルト角をモニタしている。例えば、記録再生装置１００の温度が５℃以上変化した場合、または、光ディスク１０１のチルト角が０．５°以上変化した場合に、記録再生装置１００は、別の動作の最適化を行うとともに、ずれ量を測定してもよい。
【００６７】
このように、記録再生装置１００では、光ディスク１０１を再生して、再生信号を生成し、その再生信号から２値化信号と同期信号とを生成する。次いで、光ディスク１０１に記録された状態を反映している２値化信号とそのデータから読み出されるべき信号を示す同期信号とを用いてずれ量を測定し、そのずれ量に基づいて記録パルスのパラメータを変化することによって、ずれ量を反映してデータを記録することができ、その結果、その記録されたデータは、より正確に再生される。
【００６８】
図２は、本発明の実施の形態における記録データ信号および記録データ信号に対応する信号の波形図および光ディスクの記録状態の模式図である。
【００６９】
以下の説明では、図１および図２を参照して、記録データ信号を光ディスク１０１に記録する態様について説明する。
【００７０】
図２では、ＮＲＺＩ系列の記録データ信号２０１と、パルス発生回路１１１の出力信号２０２と、パルス変化回路１１０の出力信号２０３との波形図、および、光ディスク１０１の記録状態２０４が示されている。
【００７１】
記録データ信号２０１と、パルス発生回路１１１の出力信号２０２と、パルス変化回路１１０の出力信号２０３とは、実際には、必ずしも全てが同じ時間に発生するわけではないが、図２では、説明を分かりやすくするために、対応する部分が縦に並ぶように示している。
【００７２】
また、光ディスク１０１の記録状態２０４は、出力信号２０３と対応付けて示している。
【００７３】
出力信号２０３のピークパワー（Ｐｗ）と、バイアスパワー（Ｐｅ）と、ボトムパワー（Ｐｂ）とは、図２に示されるように変調されている。
【００７４】
ここでは、ＮＲＺＩ系列の記録データ信号２０１として、１７ＰＰ変調された変調データ信号を使用している。１７ＰＰ変調された変調データ信号をマークエッジ記録方式で記録する場合、最短の２Ｔから最長の９Ｔ（９ＴはＳＹＮＣコード）までのマークおよびスペースがそれぞれ存在する。ここでＴは基準周期を表しており、ＮＲＺＩ系列の記録データ信号２０１は、Ｔの整数倍のデータ系列を有している。
【００７５】
以下の説明では、ＮＲＺＩ系列の記録データ信号２０１について説明するが、記録データ信号２０１は、実際のユーザーデータ、または、ユーザーデータに相当するシンボルデータを１７ＰＰの変調規則に沿って変調したデータ系列を有していてもよい。
【００７６】
パルス発生回路１１１は、ＮＲＺＩ系列の記録データ信号２０１を用いて、記録パルスを生成し、パルス発生回路１１１は、記録パルスを含む出力信号２０２をパルス変化回路１１０に出力する。パルス発生回路１１１は、２Ｔから９Ｔまでの各マークに対応する記録パルスを含む出力信号２０２を出力する。図２の出力信号２０２では、３Ｔ、２Ｔ、４Ｔのマークに対応する記録パルスを含む出力信号が示されている。
【００７７】
なお、本明細書の以下の説明では、記録パルスにおいて、先頭にあるパルスをファーストパルスとよび、最後尾にあるパルスをクーリングパルスとよぶ。またファーストパルスとクーリングパルスとの間にあるパルスをマルチパルスとよぶ。マルチパルスは、一定周期のパルスによって形成されている。
【００７８】
図２の出力信号２０２には、例示として、ファーストパルスをＴｔｏｐ、マルチパルスをＴｍｐ、クーリングパルスをｄＴｅとして示している。
【００７９】
３Ｔのマークに対応する記録パルスには１個のマルチパルスが存在し、４Ｔのマークに対応する記録パルスには２個のマルチパルスが存在し、５Ｔのマークに対応する記録パルスには３個のマルチパルスが存在するというように、マークがＴだけ長くなるごとにマルチパルスの個数が１つ増え、反対に、Ｔだけ短くなるごとにマルチパルスの個数が１つ減る。２Ｔのマークは、ファーストパルスおよびクーリングパルスを含み、マルチパルスは存在しない。
【００８０】
なお、本実施の形態では、ファーストパルスの時間長を０．５Ｔ、クーリングパルスの時間長を０．５Ｔ、マルチパルスの時間長を０．５Ｔとしている。しかし、光ディスク１０１の構成によっては、この時間長でなくてもよい。またマルチパルスの数または周期も上記に限定されるものではない。
【００８１】
パルス発生回路１１１は、出力信号２０２をパルス変化回路１１０に出力し、パルス変化回路１１０は、出力信号２０３をレーザ駆動回路１０９に出力する。図２に示される出力信号２０３の波形図は、出力信号２０２の波形図と同じであり、パルス変化回路１１０における、記録パルスのパラメータの変化はゼロである。
【００８２】
パルス変化回路１１０は、出力信号２０２の記録パルスのパラメータを変化して、パラメータを変化させた記録パルスを含む出力信号２０３をレーザ駆動回路１０９に出力する。
【００８３】
以下の説明では、１つの具体例として、パルス変化回路１１０が、記録パルスのパラメータとして、記録パルスの移動量を変化する場合について説明する。
【００８４】
この場合、パルス変化回路１１０は記録パルスの移動量を変化するが、より具体的には、ファーストパルスと、クーリングパルスと、マルチパルスとのうちの少なくとも１つを任意の移動量だけ変化する。その場合、ファーストパルス、クーリングパルス、マルチパルスのうちの少なくとも１つの移動量はマークの長さに応じて決定されてもよい。
【００８５】
本実施の形態では、２Ｔから９Ｔまでのマークを、２Ｔのマークと、３Ｔのマークと、４Ｔ以上のマークとの３通りに分類し、分類した毎に移動量を設定する。マルチパルスの移動量は、マークの長さに応じてゼロであってもよいが、光ディスク１０１に応じてマルチパルスを所定の移動量だけ変化してもよい。
【００８６】
ここで光ディスク１０１を装着して、記録再生装置１００を起動する場合には、光ディスク１０１の内周部のディスクインフォメーションエリアに記載された値（初期値）に応じて、ファーストパルス、クーリングパルス、マルチパルスの位置を設定し、その後、試験的に記録を行い、その記録から移動量を設定し直してもよい。
【００８７】
記録再生装置１００では、記録データ信号２０１は、パルス発生回路１１１とパルス変化回路１１０に送られる。
【００８８】
メモリ１２１は、予めファーストパルスおよびクーリングパルスのマークの長さごとの移動量とマルチパルスの移動量を記憶している。パルス発生回路１１１は、出力信号２０２をパルス変化回路１１０に出力する。
【００８９】
パルス変化回路１１０は、記録データ信号２０１を分析し、記録データ信号２０１のマークの長さを検出する。たとえば、記録データ信号２０１の３Ｔのマークがパルス変化回路１１０に入力される場合、パルス変化回路１１０は、マークの長さ３Ｔを検出し、この検出したマークの長さ３Ｔに応じて、メモリ１２１から３Ｔのマークの移動量を読み出す。このように、パルス変化回路１１０は、マークの長さのそれぞれに対する移動量をメモリ１２１から読み出し、パルス発生回路１１１から所定時間遅延されて出力された出力信号２０２に含まれる記録パルスのファーストパルス、マルチパルス、クーリングパルスを、メモリ１２１から読み出した移動量だけ変化する。
【００９０】
記録再生装置１００を起動した直後は、メモリ１２１から移動量の初期値が読み出される。パルス変化回路１１０は、パルス発生回路１１１から所定時間遅延されて出力された出力信号２０２のファーストパルス、マルチパルス、クーリングパルスを、移動量の初期値だけ変化する。
【００９１】
パルス変化回路１１０は、レーザ駆動回路１０９に出力信号２０３を出力し、レーザ駆動回路１０９は、出力信号２０３を用いて、半導体レーザ１０３を駆動して、それにより、光ディスク１０１にデータが記録される。
【００９２】
次に、光ディスク１０１に記録されたデータを再生する再生動作について説明する。
【００９３】
図３は、本発明の実施の形態における再生信号および再生信号に対応する信号の波形図および光ディスクの記録状態の模式図である。
【００９４】
以下の説明では、図１および図３を参照して、光ディスク１０１の記録状態をデータとして再生する態様について説明する。
【００９５】
図３では、光ディスク１０１の記録状態３０１の模式図と、再生信号３０２と、２値化信号３０３と、クロック信号３０４と、同期信号３０５との波形図が示されている。
【００９６】
再生信号３０２と、２値化信号３０３と、クロック信号３０４と、同期信号３０５とは、実際には、必ずしも全てが同じ時間に発生するわけではないが、説明を分かりやすくするために、対応する部分が縦に並ぶように示している。
【００９７】
図３では、光ディスク１０１を再生する場合に光ディスク１０１のトラック上に形成された記録状態３０１を、再生信号３０２と対応付けて示している。
【００９８】
記録状態３０１に示されるように、光ディスク１０１上にはマークおよびスペースが形成されている。
【００９９】
光ディスク１０１によって反射された反射光に対応する信号がプリアンプ１１２、ローパスフィルタ１１３、イコライザ１１４を介することにより、再生信号３０２が生成される。
【０１００】
２値化信号３０３は、イコライザ１１４の後に配置された２値化回路１１５において、再生信号３０２をスライスレベルでスライスすることによって生成される。
【０１０１】
クロック信号３０４は、２値化信号３０３をＰＬＬ１１６において抽出するための信号であり、時間間隔Ｔのパルス列である。すなわち、クロック信号３０４における基準クロックの周期は、時間Ｔであり、クロック信号３０４によって指定されるクロック時間間隔は、ｎＴ（ここで、ｎ：整数）である。
【０１０２】
同期信号３０５は、クロック信号３０４の基準クロックによって２値化信号３０３を同期化した信号である。
【０１０３】
ＰＬＬ１１６は、同期信号３０５を復調・誤り訂正回路１１７に出力し、復調・誤り訂正回路１１７は、同期信号３０５に復調・誤り訂正を行い、再生データ信号１１８を生成する。
【０１０４】
また、２値化回路１１５は、２値化信号３０３をずれ測定回路１２０に出力し、ＰＬＬ１１６は、同期信号３０５とクロック信号３０４とをずれ測定回路１２０に出力する。
【０１０５】
ずれ測定回路１２０は、２値化信号３０３と同期信号３０５との間の時間間隔を測定し、測定した時間間隔とクロック信号３０４によって指定されるクロック時間間隔との間のずれ量を検出する。
【０１０６】
図４は、本発明の実施の形態におけるずれ量の測定を説明するための波形図である。
【０１０７】
以下の説明では、図１および図４を参照して、ずれ測定回路１２０がずれ量を測定する態様について説明する。
【０１０８】
図４では、２値化回路１１５で生成された２値化信号４０１と、ＰＬＬ１１６で生成された同期信号４０２と、ＰＬＬ１１６のクロック信号４０３との波形図が示されている。
【０１０９】
はじめに、これらの波形図を参照して、マークの始端ずれ量の測定について説明する。
【０１１０】
２値化信号４０１と、同期信号４０２と、クロック信号４０３とは、実際には、必ずしも全てが同じ時間に発生するわけではないが、説明を分かりやすくするために、対応する部分が縦に並ぶように示している。
【０１１１】
ずれ測定回路１２０は、２値化回路１１５において生成された２値化信号４０１のパルスの立ち上がりエッジから、ＰＬＬ１１６にて生成された同期信号４０２のパルスの立ち下りエッジまでの始端時間間隔を測定する。ここで、信号のパルスは光ディスク１０１のマークに対応しており、パルスの立ち上がりエッジは、マーク始端エッジに対応し、パルスの立ち下がりエッジは、マーク終端エッジに対応している。
【０１１２】
同期信号４０２は、ＰＬＬ１１６のクロック信号４０３と同期しているため、同期信号４０２のパルスの長さは基準クロックＴの整数倍の長さになっている。
【０１１３】
ずれ測定回路１２０にて測定された時間間隔の平均値は、同期信号４０２のパルスの長さに応じて、２Ｔｍ、３Ｔｍ、４Ｔｍ、・・・８Ｔｍ、９Ｔｍの長さに分別される。ここで、２Ｔｍ、３Ｔｍ、４Ｔｍ、・・は、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔのそれぞれの長さのマークに対する始端時間間隔の測定値を示す。
【０１１４】
２値化信号４０１の立ち上がりエッジの位置は、実際のマークの始端エッジ位置を反映しており、時間間隔２Ｔｍ、３Ｔｍ、４Ｔｍ、・・を繰り返し測定することによって形成される分布は、マークのジッタ値とずれ量とを示している。２値化信号４０１のパスルの立ち上がりエッジと同期信号４０２のパルスの立ち上がりエッジとの間は一定時間だけ位置ずれしている。また、２値化信号４０１と同期信号４０２との間には、回路および測定器の遅延に起因する遅延量ΔＸが全てのマークの長さに対して一律に加算されている。したがって、実際に測定されるマークの長さごとの測定値は以下の式であらわされる。
【０１１５】
２Ｔｍ＝２Ｔ＋Δ２Ｔｍ＋ΔＸ
３Ｔｍ＝３Ｔ＋Δ３Ｔｍ＋ΔＸ
４Ｔｍ＝４Ｔ＋Δ４Ｔｍ＋ΔＸ
（以下、５Ｔ以上も同様の関係を有している）
ここで、Δ２Ｔｍ、Δ３Ｔｍ、Δ４Ｔｍが始端ずれ量であり、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔは、クロック信号によって指定される時間間隔である。
【０１１６】
上式において２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、・・は基準クロックＴの２倍、３倍、４倍をあらわしており、再生信号のクロック周波数によって決まっている。また、計測器、計測手段および回路の遅延に起因して生じる遅延量ΔＸを予め測定あるいは保持しておくことでΔＸを決めることができる。
【０１１７】
したがって、ずれ測定回路１２０が、時間間隔２Ｔｍ、３Ｔｍ、４Ｔｍ、・・を測定することで、実際のマークの長さのそれぞれの始端ずれ量ΔｎＴｍ（ｎ：整数）を求めることができる。
【０１１８】
次にマークの終端ずれ量の測定について説明する。
【０１１９】
図４では、２値化回路１１５において生成された２値化信号４０４と、ＰＬＬ１１６において生成された同期信号４０５と、ＰＬＬ１１６のクロック信号４０６との波形図も示されている。
【０１２０】
２値化信号４０４と、同期信号４０５と、クロック信号４０６とは、実際には、必ずしも全てが同じ時間に発生するわけではないが、説明を分かりやすくするために、対応する部分が縦に並ぶように示している。
【０１２１】
ずれ測定回路１２０は、２値化信号４０４のパルスの立ち下がりエッジから、同期信号４０５のパルスの立ち上がりエッジまでの終端時間間隔を測定する。ここでも、信号のパルスは光ディスク１０１のマークに対応しており、パルスの立ち上がりエッジは、マーク始端エッジに対応し、パルスの立ち下がりエッジは、マーク終端エッジに対応している。
【０１２２】
同期信号４０５は、ＰＬＬ１１６のクロック信号４０６の基準クロックと同期しているため、Ｔの整数倍の長さになっている。したがって、ずれ測定回路１２０にて測定された時間間隔の平均値は、同期信号４０５のパルスの長さに応じて、２Ｔｓ、３Ｔｓ、４Ｔｓ、・・・８Ｔｓ、９Ｔｓの長さに分別される。ここで、２Ｔｓ、３Ｔｓ、４Ｔｓ、・・とは、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔのそれぞれのマークに対する終端時間間隔の測定値を示す。
【０１２３】
２値化信号４０４のパルスの立ち下がりエッジの位置は、実際のマークの終端エッジ位置を反映しており、時間間隔２Ｔｓ、３Ｔｓ、４Ｔｓ、・・を繰り返し測定することによって形成される分布は、マークのジッタ値とずれ量とを示している。２値化信号４０４の立ち下がりエッジと同期信号４０５の立ち下がりエッジとの間は、一定時間だけずれている。また、２値化信号４０４のパルスと同期信号４０５のパルスとの間には回路および測定器の遅延に起因して、遅延量ΔＸが全てのマークの長さに対して一律に加算されている。したがって、実際に計測されるマークの長さごとの測定値は以下の式であらわされる。
【０１２４】
２Ｔｓ＝２Ｔ＋Δ２Ｔｓ＋ΔＸ
３Ｔｓ＝３Ｔ＋Δ３Ｔｓ＋ΔＸ
４Ｔｓ＝４Ｔ＋Δ４Ｔｓ＋ΔＸ
（以下５Ｔ以上も同様も同様の関係を有している）
ここで、Δ２Ｔｓ、Δ３Ｔｓ、Δ４Ｔｓが終端ずれ量であり、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔは、クロック信号によって指定される時間間隔である。
【０１２５】
上式において２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、・・は基準クロックＴの２倍、３倍、４倍をあらわしており、再生信号のクロック周波数によって決まっている。また計測器、計測手段および回路の遅延に起因して生じる遅延量ΔＸを予め測定あるいは保持しておくことで遅延量ΔＸを決めることができる。
【０１２６】
したがって、ずれ測定回路１２０が、時間間隔２Ｔｓ、３Ｔｓ、４Ｔｓ、・・の値を測定することで、実際のマークの長さのそれぞれに対する終端ずれ量ΔｎＴｓ（ｎ：整数）を求めることができる。
【０１２７】
ずれ測定回路１２０は、上述したように求められたマークの長さのそれぞれに対する始端ずれ量および終端ずれ量を、メモリ１２１に出力し、メモリ１２１は、始端ずれ量および終端ずれ量を記録パルスの移動量として記憶する。
【０１２８】
または、ずれ測定回路１２０は、始端ずれ量および終端ずれ量をメモリ１２１に出力する代わりに、始端ずれ量および終端ずれ量に対応する記録パルスのパラメータを予め有しており、始端ずれ量および終端ずれ量に対応する記録パルスのパラメータをメモリ１２１に出力し、メモリ１２１が、その記録パルスのパラメータを記憶してもよい。
【０１２９】
なお、上述した説明では、エッジ位置の検出方法についてマークの長さに応じて検出結果を分類したが、極性を反転させることにより、スペースの長さのそれぞれに応じて検出結果を分類することも可能である。より具体的には、スペースの長さのそれぞれに応じた始端ずれ量および終端ずれ量を同様に求めることができる。
【０１３０】
図５は、本発明の実施の形態のずれ測定回路１２０において測定された測定値の分布を示すグラフである。
【０１３１】
図５では、図４を参照して説明した始端ずれ量を求めるために測定した時間間隔２Ｔｍ〜９Ｔｍの分布を示している。
【０１３２】
図５に示されるように、２値化回路１１５において生成された２値化信号４０１のパルスの立ち上がりエッジから、ＰＬＬ１１６にて生成された同期信号４０２のパルスの立ち下りエッジまでの時間間隔は、マークの長さに応じた分布を有している。
【０１３３】
図５に示される２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ・・・は、クロック信号によって指定されるクロック時間間隔である。
【０１３４】
ここで、始端ずれ量は、測定した時間間隔とクロック時間間隔との間のずれ量を示す。
【０１３５】
測定した時間間隔とクロック時間間隔とが等しい場合、始端ずれ量はゼロである。しかし、マークを再生した信号にはジッタが含まれるため、時間間隔は、図５に示すような分布を有している。
【０１３６】
したがって、ずれ測定回路１２０は、時間間隔の分布の分散から、マークのジッタ値を測定することができる。
【０１３７】
以下の説明では、図５を参照して、２値化信号４０１および同期信号４０２に用いられた再生信号に対応するマークが、最適なマークであるか否かについて説明する。
【０１３８】
時間間隔の分布の中心が、基準クロックＴの整数倍である場合、再生信号に対応するマークは最適なマークである。
【０１３９】
分布の分散は、再生信号に対応するマークが最適なマークよりも大きいほど、あるいは、再生信号に対応するマークが最適なマークよりも小さいほど、大きくなる。
【０１４０】
分布の分散が小さいほど、データは正確に再生されるため、好ましいが、分布の分散は、記録パルスのパラメータ（ファーストパルス、マルチパルス、クーリングパルスを含む記録パルスの移動量、幅またはパワー、特に、マルチパルスの幅）を変化させることによって、小さくすることができる。
【０１４１】
なお、図５では、時間間隔２Ｔｍ〜９Ｔｍの分布を示したが、時間間隔２Ｔｓ〜９Ｔｓの分布も同様の形状を有している。
【０１４２】
図６は、本発明の実施の形態の変形例による記録再生装置１００Ａのブロック図である。
【０１４３】
記録再生装置１００Ａは、再生信号生成部１４０にて生成された再生信号がずれ測定回路１２０に入力される点を除いて、図１を参照して説明した記録再生装置１００と同様の構成を有している。
【０１４４】
したがって、以下の説明では、再生信号生成部１４０にて生成された再生信号がずれ測定回路１２０に入力されることについて説明する。
【０１４５】
記録再生装置１００Ａのように、再生信号がずれ測定回路１２０に入力されることによって、ずれ測定回路１２０は、再生信号の振幅に基づいて、どのような記録パルスのパラメータ（特にマルチパルスの幅）が最適であるかを求めることができる。
【０１４６】
次に、記録補償の手順について述べる。記録補償とは、ずれ量に基づいて記録パルスのパラメータを最適にするように調整することをいう。
【０１４７】
ここでは、マークの始端部分と終端部分において、記録パルスの移動量を調整する態様について説明する。それぞれにおいて記録パルスに含まれる複数のパルスを移動して調整することが可能である。
【０１４８】
図７は、本発明の実施の形態における記録補償時の記録パルスのパラメータの変化を説明するための波形図である。
【０１４９】
以下の説明では、図１および図７を参照して、記録補償の態様について説明する。
【０１５０】
図７では、記録データ信号５０１と、パルス発生回路１１１の出力信号５０２と、パルス変化回路１１０の出力信号５０３〜５０６との波形図が示されている。
【０１５１】
記録データ信号５０１と、パルス発生回路１１１の出力信号５０２と、パルス変化回路１１０の出力信号５０３〜５０６とは、実際には、必ずしも全てが同じ時間に発生するわけではないが、説明を分かりやすくするために、対応する部分が縦に並ぶように示している。
【０１５２】
始めに、マークの始端部分の調整について説明する。
【０１５３】
パルス発生回路１１１は、記録データ信号５０１を用いて記録パルスを生成し、記録パルスを含む出力信号５０２をパルス変化回路１１０に出力する。
【０１５４】
パルス変化回路１１０は、メモリ１２１に記憶された始端ずれ量に基づいて、出力信号５０２の記録パルスのパラメータを変化する。  
【０１５５】
マークの長さのそれぞれに対して始端ずれ量が存在する場合は、マークの長さのそれぞれに対する記録パルスのうちファーストパルスの幅を変化することで、マークの始端部分を調整することができる。
【０１５６】
例えば、３Ｔのマークの始端部分が１ｎｓ短く検出されている場合、すなわち、３Ｔのマークの始端ずれ量が１ｎｓである場合、出力信号５０３に示されるように、３Ｔのマークのファーストパルスの立ち上がりエッジを１ｎｓだけ前に移動させて、ファーストパルスの幅を１ｎｓだけ大きくする。ファーストパルスの幅は、再生周波数特性または記録データ信号のチャネルクロックの周波数に応じて最適に設定することができる。ここでは、ファーストパルスの幅を１ｎｓ単位で変化させている。
【０１５７】
同様にして、他の長さのマークの始端部分の検出値に応じて、記録パルスのファーストパルスの立ち上がりエッジを移動して、ファーストパルスの幅を変化する。
【０１５８】
また、上記以外の方法として、例えば、ファーストパルスの幅の代わりに、ファーストパルスの位置を前後に移動して、すなわち、ファーストパルスを所定量移動させて、マークの始端部分を調整することも可能である。
【０１５９】
次に、マークの終端部分の調整について説明する。
【０１６０】
出力信号５０４は、メモリ１２１に記憶されている終端ずれ量に基づいて、パルス変化回路１１０において記録パルスを変化させた信号である。
【０１６１】
マークの長さのそれぞれに対して終端ずれ量が存在する場合、マークの長さのそれぞれに対して記録パルスのうちクーリングパルスの幅を変化することで、マークの終端部分を調整する。
【０１６２】
例えば、３Ｔのマークの終端が１ｎｓ短く検出されている場合、すなわち、３Ｔのマークの終端ずれ量が１ｎｓである場合、出力信号５０４に示されるように、３Ｔのマークのクーリングパルスの立ち上がりエッジの幅を１ｎｓだけ後に移動させて、クーリングパルスの立ち上がりエッジの幅を変化する。クーリングパルスの立ち上がりエッジの幅は、再生周波数特性および記録信号のチャネルクロックの周波数に応じて最適に設定できるが、ここでは、クーリングパルスの立ち上がりエッジの幅を１ｎｓ単位で変化する。
【０１６３】
また、追記型ディスクのように、記録膜の組成によっては、クーリングパルスの幅または位置を変化するだけでは、マークの終端部分が移動しないディスクもある。そのようなディスクに記録を行う場合には、マルチパルスの幅を変化してもよい。
【０１６４】
例えば、３Ｔのマークの終端が１ｎｓ短く検出されている場合、すなわち、３Ｔのマークの終端ずれ量が１ｎｓである場合、出力信号５０５に示されるように、３Ｔのマークのマルチパルスの幅が１ｎｓだけ大きくなるようにマルチパルスの幅を変化する。マルチパルスの幅は、再生周波数特性および記録信号のチャネルクロックの周波数に応じて最適に設定することができるが、ここでは、１ｎｓ単位で変化する。また、マルチパルスの幅は、１ｎｓ単位ではなく、Ｔ／１６単位というように基準クロックＴに基づいて作成される単位の整数倍で変化することも可能である。
【０１６５】
以上の説明では、記録パルスのパラメータとして、記録パルスの移動量または幅を変化する形態を説明してきたが、本発明は、これに限定されない。本発明では、記録パルスのパラメータとして記録パルスのパワーを変化してもよい。
【０１６６】
例えば、出力信号５０６に示されるように、バイアスパワーとボトムパワーとを等しくしてしてもよい。この場合、パワー変調は２値となり、クーリングパルスが存在しなくなる。
【０１６７】
このような場合は、マルチパルスの幅および位置の少なくとも一方をさらに変化することで、マークの終端部分の位置ずれ量を調整することも可能である。また、マルチパルスの最後のパルスをラストパルスとよび、ラストパルスの幅および移動量の少なくとも一方を変化することで、マークの終端部分の位置ずれ量を調整することも可能である。
【０１６８】
また、ファーストパルスのパラメータと、クーリングパルスのパラメータと、マルチパルスのパラメータとをすべて変化させてもよい。
【０１６９】
例えば、始端ずれ量に基づいてファーストパルスの移動量を変化し、終端ずれ量に基づいてクーリングパルスの移動量を変化し、ジッタ値に基づいてマルチパルスの移動量を変化してもよい。
【０１７０】
または、始端ずれ量に基づいてファーストパルスの移動量を変化し、終端ずれ量に基づいてマルチパルスの移動量を変化し、ジッタ値に基づいてクーリングパルスの移動量を変化してもよい。
【０１７１】
あるいは、始端ずれ量に基づいてファーストパルスの移動量を変化し、終端ずれ量に基づいてマルチパルスのパワーを変化し、ジッタ値に基づいてクーリングパルスの移動量を変化してもよい。
【０１７２】
さらに記録パルスのファーストパルス、クーリングパルス、マルチパルスのパラメータを変化する場合、マークの長さのそれぞれに応じて分類することも可能である。分類する場合に考慮すべき観点を以下に説明する。
【０１７３】
１つめの観点は、マークを記録した場合の記録膜への熱蓄積の影響と、形成するマークの長さ毎の熱蓄積量の大きさの差とによるものである。
【０１７４】
なお、記録膜の熱蓄積の影響については、ファーストパルスまたはマルチパルスのパワー（例えば、ピークパワーＰｗ、バイアスパワーＰｅまたはボトムパワーＰｂ）を適切に求めて、マークの形成に最小限のパワーしか照射しないことで低減できる。また、マルチパルスの幅を変化して、最適化することによって、低減することもできる。
【０１７５】
したがって、記録膜の熱蓄積の影響は、マークの長さに依存することは少なく、マークの長さのそれぞれに対してマルチパルスの幅を同一にすることで、マークの長さに応じた熱蓄積の影響を除くことができる。マルチパルスの最適な移動量を求める場合には、マークの終端部分の位置ずれ量だけでなく、ジッタまたはＢＥＲ（ビットエラーレート）などのマークの信号品質を表す指標に基づいて、それらが最適な値になるように制御することが望ましい。
【０１７６】
２つめの観点は、イコライザ１１４の特性である。イコライザ１１４の特性は、光スポットサイズと最短マーク長等に依存し、光スポットサイズは半導体レーザ１０３の波長、対物レンズ１０６の開口数によって決まる。
【０１７７】
以下に、イコライザ１１４の特性を詳細に説明する。
【０１７８】
図８は、イコライザ１１４の周波数特性を示すグラフである。
【０１７９】
図８のグラフでは、横軸に入力信号周波数（ｄＢ）、縦軸に出力振幅（ｄＢ）がそれぞれ対数表示されており、イコライザ１１４に入力する入力信号周波数に対する出力信号の振幅比を示している。
【０１８０】
横軸の２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、８Ｔは、それぞれ、そのマークに対応する入力信号周波数を示している。入力信号周波数の高い信号ほど（例えば、２Ｔのマークの信号）、小さなマークであり、再生される振幅が小さくなるという光学的な周波数特性の減衰を補正するために、出力振幅が大きくなるようにイコライザ１１４の特性は設定されている。
【０１８１】
このためには、高域通過型フィルター（Ｈｉｇｈ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）または２Ｔより少し高い周波数にピークを有するバンドパスフィルター（Ｂａｎｄ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）、もしくは、それらと増幅器とを組み合わせたものが考えられる。
【０１８２】
従って、スペースまたはマークが例えば２Ｔであり、周波数の高い信号が再生される場合のイコライザ１１４の出力振幅と、スペースまたはマークが例えば８Ｔであり、周波数の低い信号が再生される場合のイコライザ１１４の出力振幅との間の差、すなわち、イコライザ１１４の特性曲線の傾きは、最短マーク長が短くなるほど大きくなる。それに伴い、例えば、マークの長さが４Ｔである場合のイコライザ１１４の出力振幅と、マークの長さが８Ｔである場合のイコライザ１１４の出力振幅との間の差も大きくなる。
【０１８３】
マークの分類を行う際に、出力振幅の差の大きい２つのマークが同じ分類になると、記録膜の熱蓄積または熱干渉の影響を除くように記録を行っても、イコライザ１１４に起因して、正しいエッジ位置が再生されなくなる。
【０１８４】
従って、同じ分類に含まれるマークでは、イコライザ１１４の出力振幅の特性の差ができるだけ小さいことが望ましい。
【０１８５】
同じ分類に含まれる複数のマークのうち、最も長いマークのイコライザ１１４の出力振幅と、最も短いマークのイコライザ１１４の出力振幅との比は、３ｄＢ以下であることが望ましい。
【０１８６】
３ｄＢは周波数特性を扱う際に分類区分数値として比較的よく用いられる数値であり、その実数値は２の平方根を意味する。つまりどの周波数においても同じ振幅の信号を入れた場合に、イコライザ１１４の入力信号と出力信号の振幅比が２の平方根の差である。同一の分類として扱う限界値として、一般的に、出力振幅の比を３ｄＢ以下にすることにより、再生時のイコライザ１１４による歪み誤差が小さくなり、よりジッタの少ない記録、再生を実現することができる。
【０１８７】
なお、半導体レーザ１０３の波長が４０５ｎｍ、対物レンズ１０６の開口数が０．８５、最短マーク長が０．１６０μｍ、基準クロックの周波数が６６Ｍｚおよび１７ＰＰ変調方式という条件下では、マークエッジ記録を行う場合には、ファーストパルスとクーリングパルスとの移動量は、４Ｔより短いマーク、すなわち３Ｔマークおよび２Ｔマークと、８Ｔマークとを同じ分類にするのは望ましくない。また、パルス変化回路１１０の回路規模を考慮にいれた場合でも、少なくとも４Ｔマーク以上、または、４Ｔマークより長いマークを同じ分類にすることが望ましい。
【０１８８】
３つめの観点は、パルス変化回路１１０の回路規模とパルス移動における設定精度、および、メモリ１２１の回路規模の制限である。上述した２つの要因から、熱蓄積または熱干渉の差の大きいマークを異なる分類にし、イコライザ１１４の出力振幅の比の大きいマークを異なる分類にすればよいということになる。その一方で、分類の数が増えるほど、設定するレジスタの個数が増えるので、パルス変化回路１１０の回路規模は増大する。また分類数が増加すれば、工場または市場のどちらで設定を行うにしても設定に要する時間が増大し、設定に必要な記録トラックの消費量も増大する。従って３つめの観点からは分類を最小化することが望ましい。
【０１８９】
４つめの観点は、マークのエッジ位置を検出するために記録する記録データの種類による。記録データの信号系列として、マークの分類に応じた特定パターンを記録する場合、分類数が増えれば記録する特定パターンの種類が多くなり、測定に時間がかかることに加えて、複数のエッジ検出用のパターンを予め有していなくてはならず装置規模が大きくなる。
【０１９０】
一方、任意のランダムの記録データ信号を用いて記録し、その中に含まれるマークの長さのそれぞれの始端エッジおよび終端エッジを検出する方法によれば、少なくとも１つのランダム系列によって、マークのエッジ位置を検出することが可能となる。また、仮に分類数が増えたとしても、従来であれば増えた分類数に応じてマークの位置を決定するための特定パターンの数も増加していたが、本発明によれば、１つの任意のランダム系列で記録し、２Ｔ〜８Ｔまでの全てのマークの位置ずれ量を測定できるため、マークの分類数を必要に応じて変化させることが可能であり、記録信号の信号品質を必要に応じて改善させることが可能である。
【０１９１】
例えば、ディスク上に予め記録されている記録パルスの分類が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３種類の分類で、ファーストパルス、マルチパルス、クーリングパルスの移動量が記録されていたとしても、上述の試し記録を行った結果、記録信号の品質が基準値を満たしていなかった場合、または、４Ｔ以上の記録パルスのうちたとえば４Ｔマークと５Ｔマークの位置ずれ量に大きな差が生じていた場合に、４Ｔマークと５Ｔマークとを記録補償することにより記録信号の改善を容易に行うことが可能である。ここで、ランダムデータとは、１７ＰＰ変調の変調則に従ったデータ系列、または、変調テーブルを用いて発生させたデータ系列を有し、一般的に短いラン長の出現確率が高く、長いランほど出現確率が減っている。また、変調則ではあらわれない９Ｔは同期信号としてフレーム単位に挿入されている。
【０１９２】
上述したように最適な分類の決定には、いくつかの観点が存在する。本実施の形態では、上記４つの観点を考慮して、２Ｔのマークと、３Ｔのマークと、４Ｔ以上のマークというように、マークを３つに分類し、記録補償を行う。ただし、本発明は、これに限定されるものではない。本発明は、必要に応じて、２Ｔのマークと、３Ｔのマークと、４Ｔのマークと、５Ｔ以上のマークというように４つに分類してもよいし、あるいは、２Ｔのマークと、３Ｔのマークと、４Ｔ〜６Ｔ＋８Ｔのマークと、７Ｔのマークというように、不連続にマークを分類してもよい。
【０１９３】
なお、記録パルスの位置または幅を変化する以外にも、特定のパルスのパワーを変化するなど、マーク始端部分およびマーク終端部分の少なくとも一方を制御する方法として、複数の態様が考えられる。
【０１９４】
例えば、マーク終端部分を調整する場合、クーリングパルスとマルチパルスの移動量だけでなく、記録パルスのパワーのボトムパワー（Ｐｂ）を変化させることでマークの終端部分を調整することも可能である。たとえば、記録パルスのパルスの移動精度が１ｎｓであり、１ｎｓのパルスの移動により再生時のマークのエッジ位置が１ｎｓ以上動くような場合、マークのエッジ位置の微調整をするために記録パルスのパワーのうちのボトムパワー（Ｐｂ）を変化することで、再生時のエッジ位置の精度を向上させることが可能である。
【０１９５】
また、光ディスクに照射される光スポットの形状の違い等、記録装置にばらつきがあると、記録に最適なマーク始端部分とマーク終端部分の最適な位置は異なるので、特定の領域に記録されているディスク製造時における最適な位置情報または代表的な位置情報を再生して、その状態を初期値として試し記録を行ってもよい。これにより、データを記録する際の最適な位置が決定されるまでに繰り返される試し記録の回数が減り、最適化に要する時間を短縮することができる。
【０１９６】
なお、上記説明では、ずれ測定部１７０のずれ測定回路１２０において、２値化信号のパルスと同期信号のパルスとを用いてずれ量を測定したが、本発明は、これに限定されるものでない。本発明におけるずれ測定部１７０は、２値化信号と同期信号とを用いて任意のずれ量を測定し、そのずれ量に基づいて記録パルスのパラメータを求めてもよい。
【０１９７】
また、上記説明では相変化型光ディスクについて説明したが、本発明は、これに限定されない。本発明を、色素等の追記型光ディスクに適用する場合も同様の効果を得ることができることは当業者には明らかであり、この適用は、本発明の範囲に属するものである。
【０１９８】
また、上記説明では光ディスクを用いて説明したが、本発明はこれに限定されない。光ディスクではなく、テープ状またはカード状の記録媒体およびその記録再生装置においても、上述した光ディスクの場合と同様の効果を得ることができることは当業者には明らかであり、これは、本発明の範囲に属するものである。
【０１９９】
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【図面の簡単な説明】
【０２００】
【図１】図１は、本発明の実施の形態による記録再生装置のブロック図である。
【図２】図２は、本発明の実施の形態における記録データ信号および記録データ信号に対応する信号の波形図および光ディスクの記録状態の模式図である。
【図３】図３は、本発明の実施の形態における再生データ信号および再生信号に対応する信号の波形図および光ディスクの記録状態の模式図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態における位置ずれ測定を説明するための波形図である。
【図５】図５は、本発明の実施の形態のずれ測定回路において測定された測定値の分布を示すグラフである。
【図６】図６は、本発明の実施の形態の変形例による記録再生装置のブロック図である。
【図７】図７は、本発明の実施の形態における記録補償時の記録パルスのパラメータの変化を説明するための波形図である。
【図８】図８は、本発明の実施の形態におけるイコライザの周波数特性を示すグラフである。
【符号の説明】
【０２０１】
１０１  光ディスク
１０２  スピンドルモータ
１０３  半導体レーザ
１０４  コリメータレンズ
１０５  ビームスプリッタ
１０６  対物レンズ
１０７  集光レンズ
１０８  光検出器
１０９  レーザ駆動回路
１１０  パルス変化回路
１１１  パルス発生回路
１１２  プリアンプ
１１３  ローパスフィルタ
１１４  イコライザ
１１５  ２値化回路
１１６  ＰＬＬ
１１７  復調・誤り訂正回路
１１８  再生データ信号
１１９  パワー設定回路
１２０  ずれ測定回路
１２１  メモリ
２０１  記録データ信号
４０１  ２値化信号
４０２  同期信号
４０３  クロック
【図１】
2004185796.tif 000003
【図２】
2004185796.tif 000004
【図３】
2004185796.tif 000005
【図４】
2004185796.tif 000006
【図６】
2004185796.tif 000007
【図７】
2004185796.tif 000008
【図８】
2004185796.tif 000009
【図５】
2004185796.tif 000010