(57)【要約】【課題】温度変化が生じた場合にも、検出温度に応じて容易にオフセットを補正することができる制御装置および光ディスク装置を提供する。【解決手段】半導体デバイスであるＨＡＩＣ１０１及びサーボ信号生成ＩＣ１０７内に設けた温度センサ１０６、１１４により、各ＩＣ１０１、１０７の温度変化に対応するオフセット値をテーブル化してメモリ１１９に保持することが可能となり、温度検出結果によってメモリ１１９に保持したテーブルからオフセット補正の為に必要なオフセット値を求めて、オフセット補正を行う。【選択図】    図１
2004246973.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
内蔵素子の駆動制御時に前記内蔵素子から出力される複数の信号を入力信号として、その入力信号に基づいて得られる制御信号により、前記内蔵素子を駆動制御する制御装置において、前記複数の入力信号に基づいて前記制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号生成手段の複数部分の温度を検出する温度検出手段と、前記制御信号生成手段で前記制御信号の生成動作上に発生するオフセットを検出するオフセット検出手段と、前記温度検出手段により検出した各部の温度と前記オフセット検出手段により検出したオフセットとを保持する保持手段と、前記温度検出手段で検出した各部の温度に応じて、前記保持手段で保持したオフセットに基づき、前記制御信号生成手段のオフセットを補正する温度補正機能を有するオフセット補正手段とを備えたことを特徴とする制御装置。
【請求項２】
請求項１記載の制御装置であって、前記オフセット検出手段によるオフセットの検出時には、前記制御信号生成手段への各入力信号による電位をそれぞれ基準電圧に切替える切替手段を設けたことを特徴とする制御装置。
【請求項３】
前記オフセット検出手段は、そのオフセット検出時に、前記切替手段を前記制御信号生成手段に基準電圧が入力されるように切替えて、前記制御信号生成手段の各部のオフセットを検出するよう構成したことを特徴とする請求項２記載の制御装置。
【請求項４】
前記オフセット補正手段は、前記温度検出手段の検出温度が所定量変化した場合に前記オフセット補正を行うよう構成したことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の制御装置。
【請求項５】
内蔵素子は、情報担体に対して光学的に情報を記録再生するために、前記情報担体からの反射光を検出する光検出器を備えた光ピックアップとし、前記制御信号生成手段は、前記光検出器の出力を基に前記光ピックアップを駆動制御するための制御信号を生成するよう構成したことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載の制御装置。
【請求項６】
情報担体に光ビームを照射する光ピックアップの駆動制御時に、前記光ピックアップに設けられた光検出器により前記情報担体からの反射光を検出し、その反射光を基に前記光ピックアップから出力される複数の信号を入力信号として、その入力信号に基づいて得られる制御信号により、前記光ピックアップを駆動制御しつつ、情報担体に対して、光学的に情報を記録再生する光ディスク装置であって、前記複数の入力信号に基づいて前記光ピックアップを駆動制御するための制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号生成手段の複数部分の温度を検出する温度検出手段と、前記制御信号生成手段で前記制御信号の生成動作上に発生するオフセットを検出するオフセット検出手段と、前記温度検出手段により検出した各部の温度と前記オフセット検出手段により検出したオフセットとを保持する保持手段と、前記温度検出手段で検出した各部の温度に応じて、前記保持手段で保持したオフセットに基づき、前記制御信号生成手段のオフセットを補正する温度補正機能を有するオフセット補正手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項６記載の光ディスク装置であって、前記オフセット検出手段によるオフセットの検出時には、前記制御信号生成手段への各入力信号による電位をそれぞれ基準電圧に切替える切替手段を設けたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
前記オフセット検出手段は、そのオフセット検出時に、前記切替手段を前記制御信号生成手段に基準電圧が入力されるように切替えて、前記制御信号生成手段の各部のオフセットを検出するよう構成したことを特徴とする請求項７記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記オフセット補正手段は、前記温度検出手段の検出温度が所定量変化した場合に前記オフセット補正を行うよう構成したことを特徴とする請求項６から請求項８のいずれかに記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば光ディスク装置等のサーボ制御などの制御時に温度ドリフトにより発生する制御オフセットを補正する技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、内蔵素子を駆動制御する機器においては、駆動制御時に内蔵素子から得られた信号を制御用ＩＣの入力信号として、その制御用ＩＣから入力信号に基づいて出力される制御信号を用いて、内蔵素子を駆動制御する際には、制御用ＩＣやその他の素子からの発熱による温度ドリフトによって制御オフセットが発生するため、これらの機器に組み込まれる制御装置としては、その制御オフセットを補正する温度補正機能付き制御装置が広く使用されている。
【０００３】
このような、従来の温度補正機能付き制御装置の一例としては、例えば光ディスク装置において、サーボ制御などの制御時に発生する温度ドリフトに対して温度補正を行うために、この温度補正制御の際に用いるデータとして必要な庫内温度を検出する温度検出手段となる庫内温度センサを備え、例えばサーボ制御の際に温度ドリフトにより発生する制御オフセットを、庫内温度センサにより検出した庫内温度を基に補正する方式の制御装置（例えば、特許文献１を参照）がある。
【０００４】
以上のような温度補正機能付き制御装置を有する従来の光ディスク装置を以下に説明する。
図２は従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。この光ディスク装置では、光ピックアップ２１７内に設けられた信号増幅のためのヘッドアンプＩＣ（以下、ＨＡＩＣと称す）２０１と、ＨＡＩＣ２０１に内蔵された各チャネルのアンプｐｄＡ（Ｖａ）２０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）２０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）２０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）２０５と、サーボ信号を生成するためのサーボ信号生成ＩＣ２０６と、サーボ信号生成ＩＣ２０６に内蔵の演算処理回路２０７と、オフセット補正回路２０８と、光ピックアップ２１７のサーボ制御を行うデジタルシグナルプロセッサ（以下、ＤＳＰと称す）２０９と、サーボ信号生成ＩＣ２０６からのエラー信号をＡ／Ｄ変換して取り込むＤＳＰ２０９に内蔵のＡ／Ｄ変換器２１０と、光ディスク装置の庫内温度検出信号をＡ／Ｄ変換して取り込むＤＳＰ２０９に内蔵のＡ／Ｄ変換器２１１と、サーボ制御を行うためのサーボコア２１２と、オフセット検出を行うためのオフセット検出部２１３と、光ディスク装置の検出温度を保持するためのメモリ２１４と、光ディスク装置の筐体２１５と、光ディスク装置の筐体２１５内の温度を検出するための庫内温度センサ２１６と、情報担体である光ディスクからの反射光を検出する光検出器（図示せず）を備えた光ピックアップ２１７とを有している。
【０００５】
以上のように構成された光ディスク装置について、その動作を以下に説明する。
通常、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６では基準電圧に基づいて出力を後段へ伝送するが、各ＩＣの回路で発生するオフセットにより、光ピックアップ２１７の制御目標がずれ、制御が不安定となる。
【０００６】
そこで、まず初期に、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６の電気的なオフセットを検出してオフセット補正すると共に、オフセット検出時の庫内温度をＤＳＰ２０９のメモリ２１４に保持しておく。
【０００７】
一般的に、半導体デバイスであるＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６には電力損失と熱抵抗があるため、それらの動作時には多量の熱を発生する。このように各ＩＣで発生する熱のために、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６では、各ＩＣで発生したオフセットが、各ＩＣ自体から発生する熱により変動する。このため、ＤＳＰ２０９からのサーボ制御信号により光ピックアップ２１７を制御目標に対して安定に制御するには、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６で発生したオフセットの温度変動分（以下、温度ドリフトと称す）を補正する必要がある。
【０００８】
光ピックアップ２１７で光ディスク等の情報担体からの反射光より検出した信号は、ＨＡＩＣ２０１のアンプｐｄＡ（Ｖａ）２０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）２０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）２０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）２０５のいずれかを経由して、サーボ信号生成ＩＣ２０６の演算処理回路２０７で演算処理した後、ＤＳＰ２０９に内蔵のＡ／Ｄ変換器２１０によりＡ／Ｄ変換してＤＳＰ２０９に取り込む。
【０００９】
この際に、ＨＡＩＣ２０１に内蔵の各アンプ２０２、２０３、２０４、２０５からの出力信号、及びサーボ信号生成ＩＣ２０６に内蔵の演算処理回路２０７からの出力信号に含まれるオフセットが、温度ドリフトにより変動するが、このオフセット変動に対して、光ディスク装置筐体２１５内の庫内温度センサ２１６より得た庫内温度検出信号を、ＤＳＰ２０９に内蔵のＡ／Ｄ変換器２１１によりＡ／Ｄ変換して取り込み、メモリ２１４内に保持している初期にオフセット検出した時の温度との相違を演算して、温度変化が生じた場合は、再びオフセット検出を行うと共に、オフセット補正を行う。
【００１０】
このオフセット補正は、ＤＳＰ２０９によってサーボ信号生成ＩＣ２０６のオフセット補正回路２０８に対して行っているが、庫内温度が変化した場合、その都度、再生または記録制御中に、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生ＩＣ２０６全体のオフセット検出を行う必要がある。
【００１１】
以上のような従来の光ディスク装置の制御方式について、特性図を用いてさらに説明する。
図３は一般的な光ディスク装置に内蔵の駆動制御用ＩＣにおける温度変化と装置の庫内温度変化の関係を示す特性図であり、この特性図により、従来の光ディスク装置における庫内温度変化と各ＩＣの温度変化を示す。なお、図３は、横軸に時間、縦軸に温度を示し、横軸の時間変化に対するＨＡＩＣの温度、サーボ信号生成ＩＣの温度、光ディスク装置庫内の温度変化を示すグラフである。
【００１２】
また、図４は一般的な光ディスク装置に内蔵の駆動制御用ＩＣにおけるオフセットの温度ドリフト特性図であり、この特性図により、従来の光ディスク装置における各ＩＣの温度変化に対するオフセットの温度ドリフトを示す。なお、図４は、横軸に温度、縦軸にオフセットを示し、横軸の温度変化に対するＨＡＩＣのオフセット、サーボ信号生成ＩＣのオフセットの変化を示すグラフである。
【００１３】
図３のグラフが示すように、光ディスク装置庫内温度３０４は、実際にオフセットの温度ドリフトが発生するＨＡＩＣ温度３０２、サーボ信号生成ＩＣ温度３０３と温度が異なる。また図４のグラフに示すように、温度ドリフトに対するＨＡＩＣのオフセット４０２と、温度ドリフトに対するサーボ信号生成ＩＣのオフセット４０３の特性が異なる。
【００１４】
図３及び図４のグラフに示すように、各ＩＣの温度及び各ＩＣのオフセットの温度ドリフトが異なるために、庫内温度センサ２１６で検出した温度だけでオフセット補正を行なおうとした場合、各ＩＣでオフセット補正するためのオフセットの値が求められない。
【００１５】
この問題を解決するために、従来の方式では、光ディスク装置の庫内温度が変化すると、前述のように、再生または記録制御中に、その都度、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６全体のオフセット検出を行い、オフセット補正を行う必要がある。
【００１６】
【特許文献１】
特開平５−６２２２０号（第１頁の請求項１）
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上記のような従来の光ディスク装置では、各ＩＣごとの温度検出を行ってないために、各ＩＣごとの温度が不明であることから、温度変化によるオフセット変動を補正するためには、庫内温度変化を検出して、その都度、各ＩＣ内の回路における全てのオフセット検出を行う必要があり、そのために、温度変化によりオフセットが変動した場合には、そのオフセットを簡易に補正することができないという問題点を有していた。
【００１８】
さらに、装置のスリム化及び高倍速化が進むとレーザ出力の増加、及び温度上昇物の密度が高くなり、庫内温度変化が大きくなることが予測され、このような光ディスク装置では、特に再生から記録への切替え時に頻繁にオフセット検出を繰返して行うようになり、ＤＳＰのサーボ制御上での負荷の増加だけでなく、光ディスク装置のシステム制御上での再生及び記録動作が中断に至る可能性が考えられる。
【００１９】
特に、記録が中断した場合、光ディスクとしてＣＤ−Ｒのライトワンスのメディアでは、ディスクアットワンス（ｄｉｓｃ  ａｔ  ｏｎｃｅ）やトラックアットワンス（ｔｒａｃｋ  ａｔ  ｏｎｃｅ）のように、あらかじめ書き込むファイル群を指定する場合は、その記録メディアが使用できなくなってしまうという問題点をも有していた。
【００２０】
この問題の解決のために、温度変化が生じた場合には、その都度、オフセット測定を行わなくても、オフセット補正することができる光ディスク装置が望まれている。
【００２１】
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、温度変化が生じた場合にも、検出温度に応じて容易にオフセットを補正することができる制御装置および光ディスク装置を提供する。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために本発明の請求項１に記載の制御装置は、内蔵素子の駆動制御時に前記内蔵素子から出力される複数の信号を入力信号として、その入力信号に基づいて得られる制御信号により、前記内蔵素子を駆動制御する制御装置において、前記複数の入力信号に基づいて前記制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号生成手段の複数部分の温度を検出する温度検出手段と、前記制御信号生成手段で前記制御信号の生成動作上に発生するオフセットを検出するオフセット検出手段と、前記温度検出手段により検出した各部の温度と前記オフセット検出手段により検出したオフセットとを保持する保持手段と、前記温度検出手段で検出した各部の温度に応じて、前記保持手段で保持したオフセットに基づき、前記制御信号生成手段のオフセットを補正する温度補正機能を有するオフセット補正手段とを備えた構成としたことを特徴とする。
【００２３】
また、本発明の請求項２に記載の制御装置は、請求項１記載の制御装置であって、前記オフセット検出手段によるオフセットの検出時には、前記制御信号生成手段への各入力信号による電位をそれぞれ基準電圧に切替える切替手段を設けた構成としたことを特徴とする。
【００２４】
また、本発明の請求項３に記載の制御装置は、請求項２記載の制御装置であって、前記オフセット検出手段は、そのオフセット検出時に、前記切替手段を前記制御信号生成手段に基準電圧が入力されるように切替えて、前記制御信号生成手段の各部のオフセットを検出するよう構成したことを特徴とする。
【００２５】
また、本発明の請求項４に記載の制御装置は、請求項１から請求項３のいずれかに記載の制御装置であって、前記オフセット補正手段は、前記温度検出手段の検出温度が所定量変化した場合に前記オフセット補正を行うよう構成したことを特徴とする。
【００２６】
また、本発明の請求項５に記載の制御装置は、請求項１から請求項４のいずれかに記載の制御装置であって、内蔵素子は、情報担体に対して光学的に情報を記録再生するために、前記情報担体からの反射光を検出する光検出器を備えた光ピックアップとし、前記制御信号生成手段は、前記光検出器の出力を基に前記光ピックアップを駆動制御するための制御信号を生成するよう構成したことを特徴とする。
【００２７】
また、本発明の請求項６に記載の光ディスク装置は、情報担体に光ビームを照射する光ピックアップの駆動制御時に、前記光ピックアップに設けられた光検出器により前記情報担体からの反射光を検出し、その反射光を基に前記光ピックアップから出力される複数の信号を入力信号として、その入力信号に基づいて得られる制御信号により、前記光ピックアップを駆動制御しつつ、情報担体に対して、光学的に情報を記録再生する光ディスク装置であって、前記複数の入力信号に基づいて前記光ピックアップを駆動制御するための制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号生成手段の複数部分の温度を検出する温度検出手段と、前記制御信号生成手段で前記制御信号の生成動作上に発生するオフセットを検出するオフセット検出手段と、前記温度検出手段により検出した各部の温度と前記オフセット検出手段により検出したオフセットとを保持する保持手段と、前記温度検出手段で検出した各部の温度に応じて、前記保持手段で保持したオフセットに基づき、前記制御信号生成手段のオフセットを補正する温度補正機能を有するオフセット補正手段とを備えた構成としたことを特徴とする。
【００２８】
また、本発明の請求項７に記載の光ディスク装置は、請求項６記載の光ディスク装置であって、前記オフセット検出手段によるオフセットの検出時には、前記制御信号生成手段への各入力信号による電位をそれぞれ基準電圧に切替える切替手段を設けた構成としたことを特徴とする。
【００２９】
また、本発明の請求項８に記載の光ディスク装置は、請求項７記載の光ディスク装置であって、前記オフセット検出手段は、そのオフセット検出時に、前記切替手段を前記制御信号生成手段に基準電圧が入力されるように切替えて、前記制御信号生成手段の各部のオフセットを検出するよう構成したことを特徴とする。
【００３０】
また、本発明の請求項９に記載の光ディスク装置は、請求項６から請求項８のいずれかに記載の光ディスク装置であって、前記オフセット補正手段は、前記温度検出手段の検出温度が所定量変化した場合に前記オフセット補正を行うよう構成したことを特徴とする。
【００３１】
以上により、各ＩＣに配設した温度センサにより各ＩＣの温度変化を常時検出し、各ＩＣの各温度によるオフセット値を保持手段に保持することにより、各ＩＣの温度検出結果に含まれる各ＩＣのオフセットの温度ドリフト分を、保持手段に保持したオフセット値で補正することができる。
【００３２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を示す制御装置および光ディスク装置について、図面を参照しながら具体的に説明する。
（実施の形態１）
本発明の実施の形態１の制御装置および光ディスク装置を説明する。
【００３３】
図１は本実施の形態１の制御装置により駆動制御される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。この光ディスク装置では、光ピックアップ１２２内に設けられた信号増幅のためのＨＡＩＣ１０１と、ＨＡＩＣ１０１に内蔵された各チャネルのアンプｐｄＡ（Ｖａ）１０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）１０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）１０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）１０５と、ＨＡＩＣ１０１内の温度検出を行うための温度センサ１０６と、サーボ信号を生成するためのサーボ信号生成ＩＣ１０７と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵され各入力信号を基準電圧に切替え可能な各スイッチ１０８〜１１１と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵の基準電圧（Ｖｒｅｆ）１１２と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵の演算処理回路１１３と、サーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出を行うための温度センサ１１４と、光ピックアップ１２２のサーボ制御を行うＤＳＰ１１５と、サーボ信号生成ＩＣ１０７からのエラー信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１６と、温度センサ１１４からのサーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１７と、温度センサ１０６からのＨＡＩＣ１０１内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１８と、Ａ／Ｄ変換した各ＩＣの検出温度及びオフセット値を保持するためのメモリ１１９と、サーボ制御を行うためのサーボコア１２０と、オフセット検出及び補正を行うためのオフセット検出・補正部１２１とを有している。
【００３４】
以上のように構成された光ディスク装置において、ＨＡＩＣ１０１及びサーボ信号生成ＩＣ１０７の各温度で変動する既知のオフセットの代表値を、ＤＳＰ１１５内のメモリ１１９にデジタル値として扱えるように、オフセット値のテーブル（以下、単に「テーブル」と記す）として保持している。このテーブルは、各ＩＣ１０１、１０７の温度とオフセット値をマトリックス状でメモリ１１９に保持しており、各ＩＣ１０１、１０７の温度検出結果からテーブルのオフセット値を用いて、ＤＳＰ１１５にてオフセット補正を行う。
【００３５】
図３はＩＣの温度変化と庫内温度変化の関係を示す特性図であり、図４はオフセットと温度ドリフトの関係を示す特性図であり、図３のグラフに示すような各ＩＣの異なる温度上昇特性と、図４のグラフに示すような各ＩＣ毎のオフセットの温度ドリフトとが存在する。
【００３６】
ＤＳＰ１１５では、各ＩＣ１０１、１０７内の各温度センサ１０６、１１４で常に各ＩＣ１０１、１０７の温度検出を行い、得られた各温度検出値に対応してメモリ１１９内のテーブルの各オフセット値を用いて、ＤＳＰ１１５内で一括して制御オフセットを補正する構成とする。ここで検出した各ＩＣ１０１、１０７の温度と初期にオフセット検出した時の各ＩＣ１０１、１０７の温度が異なる場合、メモリ１１９内のテーブルから各ＩＣ１０１、１０７の温度に応じた各オフセット値を読み出して、これらのオフセット値を用いて制御オフセットを補正するための演算処理を実行する。
【００３７】
以上のようにして、各ＩＣの温度とオフセット値をメモリに保持することにより、各ＩＣの温度検出結果から各ＩＣのオフセットの温度ドリフト分をメモリに保持した値で補正可能となり、温度変化が生じた場合に、その都度再生または記録制御中にオフセット検出することなく各ＩＣの温度検出を行うだけで、演算したテーブルからのオフセット値を用い、温度検出結果のみからＤＳＰのオフセット補正部でオフセット補正が可能な光ディスク装置を実現することができる。
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２の制御装置および光ディスク装置を説明する。
【００３８】
本実施の形態２の制御装置により駆動制御される光ディスク装置では、図１に示す実施の形態１の光ディスク装置と同様に、光ピックアップ１２２内に設けられた信号増幅のためのＨＡＩＣ１０１と、ＨＡＩＣ１０１に内蔵された各チャネルのアンプｐｄＡ（Ｖａ）１０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）１０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）１０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）１０５と、ＨＡＩＣ１０１内の温度検出を行うための温度センサ１０６と、サーボ信号を生成するためのサーボ信号生成ＩＣ１０７と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵され各入力信号を基準電圧に切替え可能な各スイッチ１０８〜１１１と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵の基準電圧（Ｖｒｅｆ）１１２と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵の演算処理回路１１３と、サーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出を行うための温度センサ１１４と、光ピックアップ１２２のサーボ制御を行うＤＳＰ１１５と、サーボ信号生成ＩＣ１０７からのエラー信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１６と、温度センサ１１４からのサーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１７と、温度センサ１０６からのＨＡＩＣ１０１内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１８と、Ａ／Ｄ変換した各ＩＣの検出温度及びオフセット値を保持するためのメモリ１１９と、サーボ制御を行うためのサーボコア１２０と、オフセット検出及び補正を行うためのオフセット検出・補正部１２１とを有している。
【００３９】
以上のように構成された光ディスク装置において、ＨＡＩＣ１０１及びサーボ信号生成ＩＣ１０７の各温度で変動する既知のオフセット値を、デジタル値として扱えるように、ＤＳＰ１１５内のメモリ１１９にオフセット値のテーブルとして保持しているが、本実施の形態２においては、まず、初期にＨＡＩＣ１０１及びサーボ信号生成ＩＣ１０７全体のオフセット検出を行い得られたオフセット値と、各ＩＣの温度をＡ／Ｄ変換した値とを、ＤＳＰ１１５のメモリ１１９に保持する。この時のオフセット値をＡ、ＨＡＩＣ１０１の温度をＢ、サーボ信号生成ＩＣ１０７の温度をＣとする。
【００４０】
次に、サーボ信号生成ＩＣ１０７内のスイッチ１０８〜１１１を基準電圧１１２側に切替え、サーボ信号生成ＩＣ１０７のみのオフセットを検出してＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５のメモリ１１９に保持して、このオフセット値をＤとする。また、初期のオフセット検出で保持したオフセット値Ａからオフセット値Ｄを差し引いたオフセット値をＥとして、各ＩＣのオフセットの求め方を以下に示す。
Ｅ＝Ａ−Ｄ
ただし
Ａ＝（ＨＡＩＣのオフセット）＋（サーボ信号生成ＩＣのオフセット）
Ｄ＝（サーボ信号生成ＩＣのオフセット）
であるので、
Ｅ＝（ＨＡＩＣのオフセット）
Ｂ＝ＨＡＩＣの温度
Ｃ＝サーボ信号生成ＩＣの温度
ＢとＥを一対でメモリ１１９に保持する。また、ＣとＤを一対でメモリ１１９に保持する。
【００４１】
以上の演算結果で得られたオフセット値ＥがＨＡＩＣ１０１のみのオフセット値となり、ＨＡＩＣ１０１の温度Ｂと一対でＤＳＰ１１５のメモリ１１９に保持する。同様に、オフセット値Ｄがサーボ生成信号ＩＣ１０７のみのオフセット値であり、オフセット値Ｄとオフセット検出時に得られたサーボ信号生成ＩＣ１０７の温度Ｃと一対でＤＳＰ１１５のメモリ１１９に保持する。
【００４２】
メモリ１１９に保持するデータは、オフセット検出時の各ＩＣの温度とオフセット値を一対で保持していくために、実施の形態１の場合に対してはメモリ容量を削減することが可能である。
【００４３】
実施の形態１の場合においては、メモリ１１９に保持したデータは、温度とオフセット値をマトリックス状に保持しているために、次に示すようなデータ量となる。オフセットの温度範囲を０度〜１００度までとして、温度１度毎にメモリにオフセット値を保持した場合、ＨＡＩＣ１０１のメモリ１１９に保持するデータ量は、０度〜１００度＝１００となる。ＨＡＩＣ１０１のメモリ１１９に保持した１００のデータに対して、サーボ信号生成ＩＣ１０７の０度〜１００度までのオフセット値のデータをメモリ１１９に保持するために、２つのＩＣの総データ量は、１００×１００＝１００００となる。
【００４４】
このデータ量に対して、本実施の形態２の場合では、各ＩＣのメモリ１１９に保持するデータ量は、実施の形態１の場合と同じ温度範囲を考えれば、１００＋１００＝２００のデータ量とすることができる。
【００４５】
また、図３はＩＣの温度変化と庫内温度変化の関係を示す特性図であり、図４はオフセットと温度ドリフトの関係を示す特性図であり、図３のグラフに示すような各ＩＣの異なる温度上昇特性と、図４のグラフに示すような各ＩＣ毎のオフセットの温度ドリフトとが存在する。
【００４６】
ＤＳＰ１１５では、各ＩＣ１０１、１０７内の各温度センサ１０６、１１４で常に各ＩＣ１０１、１０７の温度検出を行い、得られた各温度検出値に対応してメモリ１１９内のテーブルの各オフセット値を用いて、ＤＳＰ１１５内で一括して制御オフセットを補正する構成とする。
【００４７】
以上のようにして、実際に光ディスク装置毎にオフセット検出を複数回行い、代表値のテーブルを使用するだけでなく、実際に各ＩＣの温度とオフセットを検出して、各ＩＣの温度とオフセットを補正値のテーブルとしてメモリに保持し、このテーブルを使用してオフセットを補正することにより、実施の形態１の場合のように、代表値である既知のオフセット補正のテーブルを使用したオフセット補正に比べて、各ＩＣで異なるオフセットの温度ドリフトのバラツキを吸収する精度の高いオフセット補正が可能な光ディスク装置が実現できると共に、ＤＳＰのメモリ容量を大幅に削減することが可能である。
【００４８】
また、本実施の形態２においては、実施の形態１の場合に対して、ＤＳＰのメモリに保持した各ＩＣの代表値として、既知の各ＩＣの温度とオフセット値のテーブルを保持して使うのではなく、各ＩＣの温度検出及び各ＩＣのオフセット検出が可能なことから、オフセット検出を複数回行い、このオフセット検出で得られた温度とオフセット値を、順次メモリに保持する。これににより、実際の各ＩＣの温度ドリフト特性に応じた精度の高いオフセット補正が可能である。
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３の制御装置および光ディスク装置を説明する。
【００４９】
本実施の形態３の制御装置により駆動制御される光ディスク装置においては、実施の形態１及び実施の形態２の場合のように、常時温度検出した結果から、常にその都度オフセット補正を行うのではなく、オフセット補正が必要なオフセット変動レベルに達した場合に限り、オフセット補正を実行する。
【００５０】
これにより、各ＩＣにおけるオフセット補正制御時のＤＳＰ１１５に対する負荷を低減することができ、この一例を、図５にオフセットキャンセル制御特性として示す。なお、図５は、横軸に温度、縦軸にオフセットを示しており、横軸の温度変化に対するＨＡＩＣ１０１のオフセット補正ステップ５０２、サーボ信号生成ＩＣ１０７のオフセット補正ステップ５０３を示すグラフである。
【００５１】
図５に示すオフセットキャンセル制御特性のように、各ＩＣの温度により変動するオフセットの補正を段階的行うことにより、オフセット補正制御によるＤＳＰ１１５に対する負荷の低減を図ることができる。
【００５２】
また、ＨＡＩＣ１０１のオフセット補正ステップ５０２は、サーボ信号生成ＩＣ１０７のオフセット補正ステップ５０３に比較して、当該ＩＣの温度変化に対するオフセットレベルの変動幅が狭いために、常に各ＩＣのオフセット補正を行う必要がない。
【００５３】
この理由により、図５のオフセットキャンセル制御特性に示すように、階段状の一定範囲では、温度検出の都度、常にオフセット補正を行う必要がなく、ステップ毎にオフセット補正を行えばよいため、温度検出の都度にオフセット補正を実行する場合に比較して、ＤＳＰ１１５の処理負担の低減を図ることが可能である。
【００５４】
また、サーボ信号生成ＩＣ１０７においても、オフセットの温度ドリフトの傾きにより、一定レベルの変動が発生した場合に限りオフセット補正を行うことによって、ＨＡＩＣ１０１と同様に、一定の温度変化が生じた場合に、段階的にオフセット補正を実行することも可能であり、温度検出のタイミングに合わせて常時オフセット補正する場合に比較して、ＤＳＰ１１５の処理負担を低減した光ディスク装置が実現可能である。
【００５５】
具体的には、図５のオフセットキャンセル制御特性に示すように、グラフの範囲をオフセット補正の温度範囲とした場合、ＨＡＩＣ１０１に対しては４回、サーボ信号生成ＩＣ１０７に対しては１１回だけオフセット補正すればよく、検出温度が異なる都度オフセット補正する場合に比べて、オフセット補正回数を大幅に削減することが可能となる。
【００５６】
以上のようにして、庫内温度を検出して初期のオフセット検出時の温度と比較して温度変化が生じた場合、その都度オフセット検出してオフセット補正する従来の方式に比較して、本実施の形態３の場合、各ＩＣの検出温度が所定量変化した場合にのみオフセット補正を行うように選択することが可能なために、実施の形態１のように、温度検出の都度オフセット補正する場合に比べて、更にＤＳＰの処理能力の負担を低減した光ディスク装置が実現可能である。
【００５７】
以上の各実施の形態によれば、各ＩＣに専用の温度センサを有し各ＩＣの温度変化が常時検出可能であるために、各ＩＣの各温度によるオフセット値をＤＳＰのメモリに保持することが可能となる。
【００５８】
以上により、再生または記録制御中にオフセット検出する必要がなく、ＤＳＰのサーボ制御上で負荷の大幅な低減が可能となり、システム制御上で再生及び記録動作が中断に至らない光ディスク装置を実現することができる。
【００５９】
その結果、光ディスク装置として、ＣＤ−Ｒの記録メディアに記録する場合にも、その記録が中断することがなくなり、それらの記録メディアが使用できなくなる等の心配が解消された光ディスク装置を実現することができる。
【００６０】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、各ＩＣに配設した温度センサにより各ＩＣの温度変化を常時検出し、各ＩＣの各温度によるオフセット値を保持手段に保持することにより、各ＩＣの温度検出結果に含まれる各ＩＣのオフセットの温度ドリフト分を、保持手段に保持したオフセット値で補正することができる。
【００６１】
そのため、内蔵素子の駆動制御としてＤＳＰのサーボ制御による再生または記録制御中に温度変化が生じた場合にも、その都度オフセットを検出する必要がなく温度検出結果のみからオフセット補正ができ、ＤＳＰのサーボ制御上で負荷の大幅な低減が可能となり、システム制御上で再生及び記録動作が中断に至らないようにすることができる。
【００６２】
また、光ディスク装置として、ＣＤ−Ｒの記録メディアに記録する場合にも、その記録が中断することがなくなり、それらの記録メディアが使用できなくなる等の心配が解消された光ディスク装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図３】光ディスク装置におけるＩＣ温度変化と庫内温度変化の関係を示す特性説明図
【図４】光ディスク装置におけるＩＣ温度変化とオフセット温度ドリフトの関係を示す特性説明図
【図５】本発明の実施の形態の光ディスク装置におけるオフセット補正制御の特性説明図
【符号の説明】
１０１    ＨＡＩＣ（ヘッドアンプＩＣ）
１０２    アンプｐｄＡ（Ｖａ）
１０３    アンプｐｄＢ（Ｖｂ）
１０４    アンプｐｄＣ（Ｖｃ）
１０５    アンプｐｄＤ（Ｖｄ）
１０６    温度センサ
１０７    サーボ信号生成ＩＣ
１０８、１０９、１１０、１１１    基準電圧切替えスイッチ
１１２    基準電圧（Ｖｒｅｆ）
１１３    演算処理回路
１１４    温度センサ
１１５    ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）
１１６、１１７、１１８    Ａ／Ｄ変換器
１１９    メモリ
１２０    サーボコア
１２１    オフセット検出・補正部
１２２    光ピックアップ
２０１    ＨＡＩＣ（ヘッドアンプＩＣ）
２０２    アンプｐｄＡ（Ｖａ）
２０３    アンプｐｄＢ（Ｖｂ）
２０４    アンプｐｄＣ（Ｖｃ）
２０５    アンプｐｄＤ（Ｖｄ）
２０６    サーボ信号生成ＩＣ
２０７    演算処理回路
２０８    オフセット補正回路
２０９    ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）
２１０、２１１    Ａ／Ｄ変換器
２１２    サーボコア
２１３    オフセット検出部
２１４    メモリ
２１５    筐体
２１６    庫内温度センサ
３０２    ＨＡＩＣ温度
３０３    サーボ信号生成ＩＣ温度
３０４    光ディスク装置庫内温度
４０２    ＨＡＩＣのオフセット
４０３    サーボ信号生成ＩＣのオフセット
５０２    ＨＡＩＣのオフセット補正ステップ
５０３    サーボ信号生成ＩＣのオフセット補正ステップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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