(57)【要約】【課題】ＤＷＤＤの再生特性を損なうことなく、通常再生モードで見えるノイズ成分を軽減することが可能となり、特に狭トラックピッチ化が可能となる光磁気記録媒体を提供する。【解決手段】グルーブＧの光学的な深さｄ＊ηが、λ／４に近づくほど、対物レンズ上の回折パターンの線方向の強度Ａは落ちてくる。その結果、線方向の再生のＭＴＦが劣化する。しかし、ディスク盤面上のスポットの強度分布はディスク形状には影響されないので、ＤＷＤＤ信号の品質は落ちることはない。つまりＤＷＤＤ信号そのものはそのままで、「通常再生モード」でのクロストークなどのノイズ成分を低減することができる。【選択図】  図６
2004241086.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に光学ピックアップ装置から照射された再生レーザ光による再生光スポットの走行方向前方における再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体において、
基板の屈折率をηとし、ｎを整数とすると、ランドに対するグルーブの深さｄを前記再生レーザ光の波長λに対して、
ｄ＊η＝（λ／４）＋（ｎ＊λ／２）
の式を満たして設定することを特徴とする光磁気記録媒体。
【請求項２】
前記グルーブの深さｄを前記式を満たして設定することにより、前記線方向のＭＴＦを劣化させることを特徴とする請求項１記載の光磁気記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁壁移動により記録磁区が拡大されて信号の再生が行われる光磁気記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、少なくともディスプレイスメント層、スイッチ層及びメモり層の３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として用い、信号の再生時に、膜温度がスイッチ層のキュリー温度以上となった領域でのディスプレイメント層の磁壁移動を利用することにより、実効的に記録磁区の大きさを拡大して再生信号を大きくする光磁気再生方式が提案されている。
【０００３】
ＤＷＤＤ（Ｄｏｍａｉｎ  Ｗａｌｌ  Ｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）と呼ばれるこの方式では、再生時に、再生光スポットの走行方向前方において再生光照射側の磁性層（すなわちディスプレイスメント層）の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大される。したがって、ＤＷＤＤ方式を採用することにより、再生光の光学的な限界分解能以下の周期の微小記録磁区からも非常に大きな信号を再生することが可能となり、再生光の波長や対物レンズの開口数等を変更することなく、更なる高密度化を図ることが可能となる。
【０００４】
しかしながら、ＤＷＤＤ方式を採用した光磁気記録媒体を含め、ランドとグルーブとの双方に記録がなされるいわゆるランドグルーブ記録の光記録媒体の場合、ランドとグルーブに十分な段差が設けられていないと、隣接するトラックからの熱クロストークの影響が大きくなってしまう、という課題があった。
【０００５】
このため、本件出願人は、特開２００１−１８４７２７号公報にて、段差を８０ｎｍ以上１６５ｎｍ以下にするとか、１００ｎｍ以上にするという物理的な絶対値を特定している。
【０００６】
【特許文献１】
特開２００１−１８４７２７号
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記ＤＷＤＤ方式の光磁気記録媒体は、盤面上のスポットの熱勾配によってマークを拡大することにより、見かけ上、光学ピックアップのＭＴＦが無限大まで伸びたような信号波形が得られる。しかし、スポット内のＤＷＤＤ動作している以外の部分からは、通常のＭＯ再生と同様にＭＴＦ内のノイズ成分がそのまま見え、特に高密度化のために狭トラックピッチ化した場合には隣接トラックからのクロストーク成分が顕著に見えてしまい、その結果、信号のＳ／Ｎを劣化させることになり、面密度を詰める際に障害となる。
【０００８】
なお、ここで問題となっているのは、通常の再生モードで隣接トラックから見えてしまうクロストーク成分のようなノイズ成分であり、前記特許文献１で課題としている、ランドグルーブ記録における隣接トラック間の熱伝搬特性の改善ではない。
【０００９】
本発明は、前記実情に鑑みてなされたものであり、ＤＷＤＤの再生特性を損なうことなく、通常再生モードで見えるノイズ成分を軽減することが可能となり、特に狭トラックピッチ化が可能となる光磁気記録媒体の提供を目的としている。また、記録媒体形状だけを換えることになり、再生装置の光学系、電気系には手を加えず、システムとして考慮した場合には、非常に安価かつ簡単に実現ができることになる。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光磁気記録媒体は、前記課題を解決するために、少なくとも３層の磁性層からなる磁性多層膜を記録層として備え、再生時に光学ピックアップ装置から照射された再生レーザ光による再生光スポットの走行方向前方における再生光照射側の磁性層の磁壁がスポット中心方向に移動して記録磁区が拡大されるようになされた光磁気記録媒体において、基板の屈折率をηとし、ｎを整数とすると、ランドに対するグルーブの深さｄを前記再生レーザ光の波長λに対して、ｄ＊η＝（λ／４）＋（ｎ＊λ／２）の式を満たして設定する。グルーブの深さｄを前記式を満たして設定することにより、前記線方向のＭＴＦを劣化させる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る光磁気記録媒体について図面を参照しながら説明する。
【００１２】
この実施の形態は、高密度記録されたデータを、磁壁移動検出（Ｄｏｍａｉｎ  Ｗａｌｌ  Ｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ：ＤＷＤＤ）によって読み出すた光磁気ディスク（ＭＯディスク）である。
【００１３】
磁壁移動検出は、情報信号の書き換えが可能な記録媒体である光磁気（ＭＯ）ディスクにおける高密度記録再生を実現するために、データが高密度記録された光磁気ディスクにおけるデータの再生を可能とするものである。この磁壁移動検出は、再生時の光スポットよりも小さなマークを、光スポットで誘起された熱分布により、磁区拡大して読み取る技術である。磁壁移動検出は、マークのエッジをきれいに検出できるので、いわゆる「マークエッジ記録」を採用した光磁気ディスクを再生する場合に適している。
【００１４】
この磁壁移動検出を行うための光磁気ディスク１は、図１に示すように、拡大層１ａと記録層１ｂとを有して構成されており、これら拡大層１ａと記録層１ｂとの間には、スイッチング層１ｃを有している。磁壁移動検出による再生原理は、孤立マークを用いて説明すると、図１に示すように、拡大層１ａの磁壁が、レーザで誘起されたキュリー温度以上の等温領域前端に差し掛かった時、最高温度部分へすばやく移動することを利用して、マークがあることを検出するものである。
【００１５】
前記ＤＷＤＤ方式の光磁気記録媒体は、盤面上のスポットの熱勾配によってマークを拡大することにより、見かけ上、光学ピックアップのＭＴＦが無限大まで伸びたような信号波形が得られる。しかし、スポット内のＤＷＤＤ動作している以外の部分からは、通常のＭＯ再生と同様にＭＴＦ内のノイズ成分がそのまま見えてしまう。
【００１６】
図２には、ディスク盤面上のスポット２を模式的に示す。図中の斜線部５は、スポット２によって熱せられてＤＷＤＤ動作をしている部分を示す。白抜きの部分４はＤＷＤＤ動作するほど熱せられていないため、通常膜と同様に光学的なＭＴＦに制限された信号が見える。ここで前者を「ＤＷＤＤ再生モード」で見えている部分５、後者を「通常再生モード」で見えている部分４とする。また、スポット２内には、「ＤＷＤＤ再生モード」でノイズ部分３も見える。
【００１７】
例えば、光学ピックアップ装置における、光学系の仕様の概要を、対物レンズの開口数ＮＡ＝０．４５、再生レーザ光の波長λ＝７８０ｎｍ、復路ビーム径φ＝２．７ｍｍとする。また、光磁気ディスク１の仕様を、トラックピッチ＝１．２５μｍ、線密度＝０．１６／ビットとし、信号の変調方式を１−７変調とする。
【００１８】
ここで、「ＤＷＤＤ再生モード」の信号品質は、主に盤面上でのスポットの熱分布（熱勾配）で決まるため、「熱勾配が急峻」＝「スポットが小さい（高ＮＡ、短波長）」の方が有利である。それに対し、「通常再生モード」の信号は再生系のＭＴＦに依存している。
【００１９】
図３には前記光磁気ディスク１での２Ｔ繰り返しパターンのスペクトラムを示す。低域に斜めにみえるノイズ成分が「通常再生モード」で見えるノイズ成分（主に隣接するランドからのクロストーク）である。この低域ノイズが大きいと、信号のＳ／Ｎが劣化する。特に狭トラックピック化することにより、クロストークが増大し、この低域ノイズが増加するために、面密度を上げる障害となる。
【００２０】
そこで、光磁気ディスク１は、基板の屈折率をηとすると、図４に示すランドＬに対するグルーブＧの深さｄを再生レーザ光の波長λに対して、
ｄ＊η＝（λ／４）＋（ｎ＊λ／２）
の式を満たして設定する。ｎは整数であり、ここではＮ＝０とし、
ｄ＊η＝λ／４
ｄ＝λ／（４＊η）
となる。
【００２１】
グルーブＧの深さｄを前記式を満たして設定することにより、ディスク線方向の光学ピックアップ装置のＭＴＦを劣化させる。
【００２２】
次に、図５には、図４に示したような光磁気ディスク１から記録信号を読み出す光学ピックアップ装置１０の構成を示す。
【００２３】
この光学ピックアップ装置１０は、ＤＷＤＤ方式によって光磁気ディスク１からの信号を読みだす。レーザ光を出射する半導体レーザ１１と、この半導体レーザ１１から出射されたレーザ光を光磁気ディスク１に集光する対物レンズ１５と、光磁気ディスク１からの反射光の光路を半導体レーザ１１からの出射レーザ光の光路と分離するビームスプリッタ１４と、ビームスプリッタ１４によって分離された反射光の光量を検出するフォトディテクタ２０とを備える。
【００２４】
また、この光学ピックアップ装置１０は、半導体レーザＬＤ１１から出射されたレーザ光を平行光にするコリメータレンズ１２と、このレーザ光をメインビーム、先行サブビーム、後行サブビームの３本に分離する回折格子１３と、ＦＡＰＣ（Ｆｒｏｎｔ  Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）用のフォトディテクタ２１と、ウォラストン・プリズム１７と、収光レンズ１８と、マルチレンズ１９とをさらに備える。
【００２５】
半導体レーザＬＤ１１から出射された波長λ＝７８０ｎｍのレーザ光は、コリメータレンズ１２で平行光とされ、回折格子１３によって０次光、±１次光に分離される。これら３本に分離されたレーザ光は、メインビーム、先行サブビーム、後行サブビームであり、ビームスプリッタ１４を透過し、ＮＡが０．４５の対物レンズ１５で集光されて光磁気ディスク１の前記拡大層１ａに照射される。
【００２６】
光磁気ディスク１の拡大層１ａから反射された反射光は、対物レンズ１５を通してビームスプリッタ１４に達する。ビームスプリッタ１４は、光磁気ディスク１からの反射光の光路（復路）を半導体レーザ１１からの出射レーザ光の光路（往路）と分離し、ウォラストン・プリズム１７に導く。ウォラストン・プリズム１７は反射光をカー効果に適するように調整し、収光レンズ１８、マルチレンズ１９を介してフォトディテクタ２０上の各受光面に集光する。フォトディテクタ２０は、反射光の光量を検出する。
【００２７】
ＦＡＰＣ用ＰＤ２１は、往路においてビームスプリッタ１４により反射された一部のレーザ光光量を検出する。この検出出力は、半導体レーザ１１の再生光出力パワーのコントロール信号の生成に用いられ、レーザ駆動回路に供給される。
【００２８】
光磁気ディスク１は、基板の屈折率をηとすると、ランドＬに対するグルーブＧの深さｄを再生レーザ光の波長７８０ｎｍに対して、ｄ×η＝λ／４の式を満たして設定する。
【００２９】
図６に示すように、グルーブＧの光学的な深さｄ＊ηが、λ／４に近づくほど、対物レンズ１５上の回折パターンの線方向の強度Ａは落ちてくる。その結果、線方向の再生のＭＴＦが劣化する。
【００３０】
図７には、グルーブＧの光学的な深さｄ×ηとＭＴＦとの関係を示す。いま、光磁気ディスク１の屈折率ηを１．５７２５８、波長λを７８０ｎｍとすると、
ｄ＝７８０／（４＊１．５７２５８）＝１２４ｎｍ
が得られる。グルーブＧの深さｄを１２４ｎｍとしたときのＭＴＦの変化に対する検出信号の振幅（ａｍｐｌｉｔｕｄｅ）特性を（１）として図７に示す。ＭＴＦを９００［ｌｉｎｅ／ｍｍ］としたときには振幅は０となる。比較のために、ｄを９３ｎｍとしたときの特性（２）、７８ｎｍとしたときの特性（３）、６２ｎｍとしたときの特性（４）も示す。これらは、ｄ＝３＊λ／（１６＊η）、波長の１／１０、ｄ＝λ／（８＊η）の条件で得た値である。また、図７には、２ＮＡ／λで表されるカットオフ周波数も破線で示しているが、特性（１）は、他の３つの特性（２）、（３）、（４）がカットオフ周波数（＝１１５０［ｌｉｎｅ／ｍｍ］）に達しているのにもかかわらず、９００［ｌｉｎｅ／ｍｍ］という値となっている。つまり、前述したように、グルーブＧの光学的な深さｄ＊ηが、λ／４に近づくほど、対物レンズ１５上の回折パターンの線方向の強度は落ちてくる。このように、線方向の再生のＭＴＦの劣化が確認できる。
【００３１】
なお、前記式において、ｎを１としたとき、ｄは、
ｄ
＝｛（λ／４）＋（ｎλ／２）｝＊１／η
＝｛（７８０／４）＋（７８０／２）｝＊１／η
＝３７２ｎｍ
となる。
【００３２】
また、前記式において、ｎを２としたとき、ｄは、
ｄ
＝｛（λ／４）＋（ｎλ／２）｝＊１／η
＝｛（７８０／４）＋（２＊７８０／２）｝＊１／η
＝６２０ｎｍ
となる。
【００３３】
これらｄの値は、図７における、（１）特性と同じになる。このようにｄを、ｄ＊η＝（λ／４）＋（ｎ＊λ／２）を満たして設定すると、線方向の再生のＭＴＦが劣化するが、ディスク盤面上のスポットの強度分布はディスク形状には影響されないので、ＤＷＤＤ信号の品質は落ちることはない。つまりＤＷＤＤ信号そのものはそのままで、「通常再生モード」でのクロストークなどのノイズ成分を低減することができる。これにより、図８に示すように、光学系のＭＴＦのカットオフ周波数が低域側にシフトし、全体的にノイズ成分が減少しているのがわかる。
【００３４】
線方向のＭＴＦを劣化させた場合に、ノイズを低減する効果について図９を参照しながら説明する。ＤＷＤＤ方式の場合、光学ピックアップ装置１０のＭＴＦを超えた信号を再生することができるが、これはディスク盤面上の微少なマークがスポットによって温められることにより伸びることによって実現される。つまり、「伸びた」マークはスポットに対して十分長いマークとなり、ＭＴＦ内の信号のように見える。これは図９を用いて説明すると、空間周波数βのＤＷＤＤ信号が伸びることにより、光学ピックアップ装置１０にとっては空間周波数αの信号であるかのように見えるということである。
【００３５】
次に、ＭＴＦを実線で示す特性から、破線で示す特性まで劣化させた場合を考える。ここでは、グルーブＧの光学的な深さｄ＊ηをλ／４とするので、ディスク盤面上での熱分布は変わらない。よって、ＤＷＤＤの動きそのものには影響しない。カットオフ周波数が低くなることにより、空間周波数αの振幅もΔだけ減少することにより、空間周波数βのＤＷＤＤ信号もΔだけ減少する。しかしながら主に信号のＳ／Ｎを決めるノイズ分はＭＴＦ内に存在し、それらは斜線部に示した差分だけ小さくなる。これにより信号振幅が減少するにもかかわらず、信号のＳ／Ｎは向上する。
【００３６】
次に、図１０を参照し、本発明の光磁気ディスク１を記録再生の対象とする光磁気ディスク記録再生装置５０について説明する。先ず、光磁気ディスク記録再生装置５０が光磁気ディスク１を回転する構成、この光磁気ディスク１に対して光学ピックアップ装置１０を移動させる構成について説明する。光磁気ディスク１は、スピンドルモータ５１によって所定の回転数で回転操作される。スピンドルモータ５１は、ドライバ５２によって駆動される。ドライバ５２は、後述するデジタルサーボプロセッサ（ＤＳＳＰ）７２により制御されて、スピンドルモータ５１を回転する。
【００３７】
スピンドルモータ５１によって回転されている光磁気ディスク１に対しては、光ピックアップ装置１０からレーザ光が照射される。光磁気ディスク１上におけるデータの読み取りは、光ピックアップ装置１０を光磁気ディスク１の半径方向に移動することによって行われる。光ピックアップ装置１０は、スレッドモータ５４を備えたスレッド機構に支持されることにより、光磁気ディスク１の半径方向に移動可能となされている。読み取り位置の大きな移動は、このスレッド機構によって行われる。また、光ピックアップ装置１０の対物レンズ１５が２軸駆動回路により支持され、ドライバ５２によって光磁気ディスク１の半径方向にトラッキングサーボ動作によって移動されることにより、読み取り位置の小さな移動が行われる。また、対物レンズ１５が２軸駆動回路により光磁気ディスク１に接離する方向にフォーカスサーボ動作によって移動されることにより、光磁気ディスク１の信号記録面上におけるレーザ光のフォーカス制御が行われる。
【００３８】
次に、再生部の構成について説明する。光ピックアップ装置１０は、ＲＦ信号を生成し、ＲＦアンプ５５に供給する。ＲＦアンプ５５で所定のゲインで増幅された信号は、信号処理部を形成する、Ａ／Ｄ変換部５６、オートゲインコントロール（ＡＧＣ）回路５７、イコライザ（ＥＱ）＆ディジタルＰＬＬ部５８、デコーダ５９、復調部６０に、順番に供給される。復調部６０は、内部バス６１を介して、メモリ部６２、誤り訂正部６３、スクランブルエンコーダ６６、デスクランブルデコーダ６４に接続している。
【００３９】
そして、この再生部は、以下のように動作する。すなわち、光ピックアップ装置１０により光磁気ディスク１からフォトディテクタの一部の領域のみを用いて検出されたＭＯ信号は、光ピックアップ措置１０内で光電変換され、ＲＦ（ＭＯ）信号として出力される。このＲＦ（ＭＯ）信号は、ＲＦアンプ５５に入力され、所定のゲインで増幅されてから、信号処理部を構成するＡ／Ｄ変換部５６に供給される。Ａ／Ｄ変換部５６に供給された、前記ＲＦ（ＭＯ）信号は、量子化される。その後、ＡＧＣ処理部５７でゲインがコントロールされてからイコライザ（ＥＱ）＆ディジタルＰＬＬ部５８により波形整形と抜き取りクロックが生成され、デコーダ５９を経て、復調部６０で復調される。なお、ここでは、Ａ／Ｄ変換後のＲＦ信号を用いてＡＧＣ、イコライズ、ＤＰＬＬを掛けているが、Ａ／Ｄ変換前にアナログのＡＧＣ、イコライズ、ＰＬＬをかけてもよい。復調部６０で復調されたデータストリームは、メモリ６２上に展開され、誤り訂正ブロック単位に誤り訂正部６３で誤り訂正される。誤り訂正されたデータは、デスクランブル＆デコーダ６４によりデスクランブル処理とデコード処理が施され、ＤＡＴ１信号として、クロック発生部６５からの転送クロックＳＣＬＫと共に出力される。このＲＦ（ＭＯ）信号は、光磁気ディスク１のグルーブＧの光学的な深さがλ／４とされており、等価的に光学ピックアップ装置の線方向のＭＴＦを劣化させて、クロストーク等のノイズを低減する。
【００４０】
次に、記録部の構成について説明する。入力された信号ＤＡＴ０は、スクランブラ＆エンコーダ６６で処理されたから、内部バス６１を介して、メモリ部６２、誤り訂正部６３、変調部６０に順番に供給される。変調部６０は、変調データを磁気ヘッド駆動部６８に供給する。磁気ヘッド駆動部６８は、磁気ヘッド６９を駆動する。また、変調部６７は、レーザＡＰＣ回路及びドライバ７０にクロック信号を供給する。
【００４１】
そして、この記録部は、以下のように動作する。すなわち、転送クロックＳＣＬＫに同期して入力された信号ＤＡＴ０は、スクランブラ＆エンコーダ６６によりスクランブル処理とエンコード処理が施されてから、メモリ部６２に書き込まれる。メモリ部６２に書き込まれたデータには、誤り訂正部６３で、エラー訂正パリティが追加され、内部バス６１を介して変調部６０に供給される。変調部６０で変調されたデータは、磁気ヘッド駆動部６８を経て磁気ヘッド６９に供給される。一方、レーザＡＰＣ回路及びドライバ７０には、変調部６７からレーザストローブ変調クロックが与えられる。
【００４２】
次に、サーボ系の構成について説明する。このサーボ系は、光ピックアップ装置１０が生成した信号からサーボエラー信号や後述するウォブル信号を抽出するマトリックスアンプ７１と、サーボエラー信号を基にドライバ５２を介して前記スレッド機構、光ピックアップ装置１０のアクチュエータに所定のサーボ処理を施すと共に、スピンドルモータ５１に後述するＣＬＶ制御信号に応じたスピンドルサーボ処理を施すＤＳＳＰ７２と、ＤＳＳＰ７２を制御するシステムコントローラ７６とを備える。また、このサーボ系は、マトリックスアンプ７１が抽出したウォブル信号から、ＡＤＩＰ（Ａｄｄｒｅｓｓ  Ｉｎ  Ｐｒｅ−ｇｒｏｏｖｅ）信号を検出するＢＰＦ７３と、前記ＡＤＩＰ信号をデコードするＡＤＩＰデコーダ７４と、ＤＳＳＰ７２にＣＬＶ制御信号を供給するＣＬＶ制御部７５とを備える。
【００４３】
次に、サーボ系の動作について説明する。マトリックスアンプ７１で光ピックアップ装置１０からの信号から抽出されたサーボエラー信号にはＤＳＳＰ７２にて位相補償、ゲイン・目標値設定処理が施され、ドライバ５２を経て光ピックアップ装置１０内のアクチュエータ及びスレッドモータ５４へ供給される。トラッキングエラー信号は、光磁気ディスクのランド部とグルーブ部では極性が逆になるためどちらを記録再生するかによってシステムコントローラ７６が極性を切り換える。また、特にランド／グルーブディスクにおける、フォーカス検出では非点収差法を用いた場合、ランド部とグルーブ部でオフセットがでることが知られている。これによる影響を取り去るためにシステムコントローラ７６がランド部とグルーブ部で別々にフォーカスオフセットを設定してやる。
【００４４】
一方、マトリックスアンプ７１から出力されたウォブル信号はバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）７３でその成分が抽出され、ＡＤＩＰデコーダ７４で復号されたアドレス情報がシステムコントローラ７６に転送される。また、ＢＰＦ７３の出力とＡＤＩＰデコーダ７４内のＰＬＬ位相誤差の積分及びシステムコントローラ７６からの制御信号はＣＬＶ制御部７５へ供給され、ＤＳＳＰ７２、ドライバ５２を経てスピンドルモータ５１に供給される。
【００４５】
【発明の効果】
本発明に係る光磁気ディスクは、基板の屈折率をηとし、ｎを整数とすると、ランドに対するグルーブの深さｄを前記再生レーザ光の波長λに対して、ｄ＊η＝（λ／４）＋（ｎ＊λ／２）の式を満たして設定するのでＤＷＤＤの再生特性を損なうことなく、通常再生モードで見えるノイズ成分を軽減することが可能となり、特に狭トラックピッチ化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＤＷＤＤの原理を説明するための図である。
【図２】ＤＷＤＤによる盤面上のスポットを示す図である。
【図３】ＤＷＤＤ信号のスペクトラムを示す図である。
【図４】光磁気ディスクのグルーブＧの深さについて示す図である。
【図５】光学ピックアップ装置の光学系の概略図である。
【図６】グルーブ深さに対する対物レンズ上の回折光強度特性を示す図である。
【図７】グルーブ深さと再生のＭＴＦの関係を示す特性図である。
【図８】光学系のスペクトラムを示す図である。
【図９】ＭＴＦを劣化させた場合のノイズ低減効果を説明するための特性図である。
【図１０】光磁気ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１  光磁気ディスク、１ａ  拡大層、１ｂ  記録層、１ｃ  スイッチング層、１０  光学ピックアップ装置、１１  半導体レーザ、１３  回折格子、１４  ビームスプリッタ、１５  対物レンズ、１７  ウォラストンプリズム、２０  フォトディテクタ
【図１】
2004241086.tif 000003
【図２】
2004241086.tif 000004
【図３】
2004241086.tif 000005
【図４】
2004241086.tif 000006
【図５】
2004241086.tif 000007
【図６】
2004241086.tif 000008
【図７】
2004241086.tif 000009
【図８】
2004241086.tif 000010
【図９】
2004241086.tif 000011
【図１０】
2004241086.tif 000012