(57)【要約】【課題】中心電極の先端と対向する位置に凸形状の貴金属チップが固着された接地電極を有するスパークプラグについて、一度の撮影で中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップの両方の画像を取得することができ、高い精度で両者の相対位置情報を取得することが可能な内燃機関用スパークプラグの製造方法及び製造装置を提供する。【解決手段】本発明の内燃機関用スパークプラグの製造方法は、第１照明装置２５３によって接地電極１１０の後背部１１４ｂに光を照射し、撮影カメラ２５１によって、接地電極１１０の後背部１１４ｂを明るい背景として、中心電極１２０の貴金属チップ１２１及び接地電極１１０の貴金属チップ１１３のシルエットが明瞭化された画像を撮影する撮影工程と、この画像に基づいて、中心電極１２０の貴金属チップ１２１に対する接地電極１１０の貴金属チップ１１３の第１特定方向の偏位寸法Ｐを取得する位置情報取得工程とを備える。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
軸線方向に貫通する軸孔を有する筒状の絶縁体と、
上記絶縁体の上記軸孔に挿設された中心電極であって、上記絶縁体の先端面から突出する先端部を有する中心電極と、
上記絶縁体の周囲を取り囲む主体金具と、
基端部が上記主体金具に固着され、屈曲された接地電極であって、上記中心電極側を向く内側面のうち上記中心電極の先端と対向する位置に固着された凸形状の貴金属チップを含み、この貴金属チップの先端と上記中心電極の先端との間に火花放電ギャップを形成する接地電極と、
を有する内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、
上記中心電極が手前側、上記接地電極の上記基端部が奥側となり、且つ上記中心電極と上記接地電極の上記基端部とが重なる画像が得られるようにカメラを配置した状態で、上記カメラによって撮影される画像のうち、上記中心電極の上記先端部に対応する先端部画像及び上記接地電極の上記貴金属チップに対応する貴金属チップ画像が、背景に対してシルエットとなるように照明を施して、上記中心電極の上記先端部及び上記接地電極の上記貴金属チップを撮影する撮影工程と、
上記撮影工程で得られた画像に基づいて、上記中心電極の上記先端部と上記接地電極の上記貴金属チップとの相対位置情報を取得する位置情報取得工程と、
を備える内燃機関用スパークプラグの製造方法。
【請求項２】
請求項１に記載の内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、
前記撮影工程は、前記接地電極の前記内側面のうち前記中心電極よりも前記奥側に位置する後背部を照明装置により照らした状態で撮影する
内燃機関用スパークプラグの製造方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、
前記相対位置情報は、前記貴金属チップ画像から抽出される接地電極特定位置と、前記先端部画像から抽出される中心電極特定位置との間の特定方向についての距離であり、
前記位置情報取得工程では、上記接地電極特定位置の前記画像上での座標値と上記中心電極特定位置の上記画像上での座標値とに基づいて、上記特定方向についての距離を算出する
内燃機関用スパークプラグの製造方法。
【請求項４】
請求項３に記載の内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、
前記接地電極特定位置は、前記貴金属チップ画像のうち先端の幅方向中心位置である接地電極中心位置であり、
前記中心電極特定位置は、前記先端部画像のうち先端の幅方向中心位置である中心電極中心位置であり、
前記特定方向は、前記画像上において前記主体金具の中心軸に直交する方向である第１特定方向であり、
前記特定方向についての距離は、上記中心電極中心位置に対する上記接地電極中心位置の上記第１特定方向の偏位寸法である
内燃機関用スパークプラグの製造方法。
【請求項５】
請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、
前記相対位置情報に基づいて、前記接地電極を変形させ、前記中心電極の前記先端部に対する上記接地電極の前記貴金属チップの位置を調整する調整加工工程を備える
内燃機関用スパークプラグの製造方法。
【請求項６】
軸線方向に貫通する軸孔を有する筒状の絶縁体と、
上記絶縁体の上記軸孔に挿設された中心電極であって、上記絶縁体の先端面から突出する先端部を有する中心電極と、
上記絶縁体の周囲を取り囲む主体金具と、
基端部が上記主体金具に固着され、屈曲された接地電極であって、上記中心電極側を向く内側面のうち上記中心電極の先端と対向する位置に固着された凸形状の貴金属チップを含み、この貴金属チップの先端と上記中心電極の先端との間に火花放電ギャップを形成する接地電極と、
を有する内燃機関用スパークプラグの製造装置であって、
上記中心電極が手前側、上記接地電極の上記基端部が奥側となり、且つ上記中心電極と上記接地電極の上記基端部とが重なる画像が得られるように配置されたカメラと、
上記カメラによって撮影される画像のうち、上記中心電極の上記先端部に対応する先端部画像及び上記接地電極の上記貴金属チップに対応する貴金属チップ画像が、背景に対してシルエットとなるように、上記内燃機関用スパークプラグを照らす照明装置と、
上記カメラによって撮影された画像に基づいて、上記中心電極の上記先端部と上記接地電極の上記貴金属チップとの相対位置情報を取得する位置情報取得手段と、
を備える内燃機関用スパークプラグの製造装置。
【請求項７】
請求項６に記載の内燃機関用スパークプラグの製造装置であって、
前記照明装置は、前記接地電極の前記内側面のうち前記中心電極よりも前記奥側に位置する後背部を照らす
内燃機関用スパークプラグの製造装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、内燃機関用スパークプラグの製造方法及び製造装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
内燃機関用スパークプラグでは、中心電極に対する接地電極の位置精度が重要である。しかしながら、スパークプラグを製造する際、接地電極の曲げ加工のばらつきや、接地電極あるいは中心電極に固着した貴金属チップの位置ずれ等が生じ、中心電極に対する接地電極の位置が所定範囲から外れてしまう場合がある。この場合には、接地電極あるいは中心電極の偏った消耗による寿命低下や、点火不良といったトラブルにつながる。
これに対し、近年、中心電極に対する接地電極の位置精度を良好とするために、カメラにより接地電極及び中心電極の画像を撮影し、この画像に基づいて中心電極及び接地電極の位置情報を取得する技術が提案されている。さらに、この位置情報に基づいて、中心電極に対する接地電極の位置を所定範囲内に調整する技術についても提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１１−１２１１４３号公報（第３，２３，２４図）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、接地電極及び中心電極の画像を撮影する際、撮影方向によっては、両者のうち一方が他方の背景となったり、あるいは別の部位（例えば、主体金具）と像が重なり合ったりすることがある。ところが、スパークプラグの接地電極、中心電極、及び主体金具はいずれも金属製で、同様な金属光沢を有している場合があるため、撮影対象部位（例えば、中心電極の先端部）と背景をなす部位（例えば、接地電極）との境界が不明瞭となる場合がある。このため、撮影対象部位の輪郭線を検出することが困難となり、撮影対象部位について、精度の良い位置情報を取得することが困難となる虞があった。
【０００５】
また、近年、内燃機関用スパークプラグについて、高い着火性能が要求されるようになっている。この要求に応えるために、例えば、接地電極のうち中心電極の先端と対向する位置に凸形状の貴金属チップを固着したスパークプラグが開発されている。このタイプのスパークプラグについては、高い着火性能を発揮するために、中心電極の先端部に対する接地電極の貴金属チップの位置精度が特に重要である。このため、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップの位置情報を取得し、さらには、中心電極の先端部に対する接地電極の貴金属チップの位置を所定範囲内に調整しなければならないが、前述のように困難となる虞があった。
【０００６】
本発明は、かかる現状に鑑みてなされたものであって、中心電極の先端と対向する位置に凸形状の貴金属チップが固着された接地電極を有するスパークプラグについて、一度の撮影で中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップの両方の画像を取得することができ、高い精度で両者の相対位置情報を取得することが可能な内燃機関用スパークプラグの製造方法及び製造装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】
その解決手段は、軸線方向に貫通する軸孔を有する筒状の絶縁体と、上記絶縁体の上記軸孔に挿設された中心電極であって、上記絶縁体の先端面から突出する先端部を有する中心電極と、上記絶縁体の周囲を取り囲む主体金具と、基端部が上記主体金具に固着され、屈曲された接地電極であって、上記中心電極側を向く内側面のうち上記中心電極の先端と対向する位置に固着された凸形状の貴金属チップを含み、この貴金属チップの先端と上記中心電極の先端との間に火花放電ギャップを形成する接地電極と、を有する内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、上記中心電極が手前側、上記接地電極の上記基端部が奥側となり、且つ上記中心電極と上記接地電極の上記基端部とが重なる画像が得られるようにカメラを配置した状態で、上記カメラによって撮影される画像のうち、上記中心電極の上記先端部に対応する先端部画像及び上記接地電極の上記貴金属チップに対応する貴金属チップ画像が、背景に対してシルエットとなるように照明を施して、上記中心電極の上部先端部及び上記接地電極の上記貴金属チップを撮影する撮影工程と、上記撮影工程で得られた画像に基づいて、上記中心電極の上記先端部と上記接地電極の上記貴金属チップとの相対位置情報を取得する位置情報取得工程と、を備える内燃機関用スパークプラグの製造方法である。
【０００８】
本発明の内燃機関用スパークプラグの製造方法では、中心電極の先端と対向する位置に凸形状の貴金属チップが固着された接地電極を有するスパークプラグについて、中心電極が手前側、接地電極の基端部が奥側となり、且つ中心電極と接地電極の基端部とが重なる画像が得られるようにカメラを配置する。このようにして、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップを撮影する場合、接地電極の内側面のうち中心電極の奥側に位置する後背部がこれらの背景となる。この場合、従来の撮影工程では、例えば、カメラとスパークプラグとの間に配置した照明装置によってスパークプラグを照らして、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップを撮影していた。ところが、接地電極の後背部は、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップと同様な金属光沢を有しているため、接地電極の後背部と中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップとの境界が不明瞭となることがあった。また、スパークプラグを挟んでカメラと対向する位置に配置した照明装置によってスパークプラグを照らして撮影した場合は、接地電極に光が遮られてしまうので、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップの画像を取得することができなかった。従って、従来の撮影工程では、中心電極が手前側、接地電極の基端部が奥側となり、且つ中心電極と接地電極の基端部とが重なる画像が得られるようにカメラを配置した場合、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップを明瞭に撮影することが困難であった。
【０００９】
これに対し、本発明の撮影工程では、カメラによって撮影される画像のうち、中心電極の先端部に対応する先端部画像及び接地電極の貴金属チップに対応する貴金属チップ画像が、背景に対してシルエットとなるように照明を施して、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップを撮影する  具体的には、例えば、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップと接地電極の後背部との間の空間に、微小の照明装置（例えば、光ファイバ照明）を配置して、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップに光を照射する方法が挙げられる。あるいは、これとは反対に、接地電極の内側面のうち中心電極の奥側に位置する後背部に光を照射するようにしても良い。この方法では、接地電極の後背部での反射光が中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップに遮られることにより、接地電極の後背部を明るい背景として、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップのシルエットが明瞭化した画像を取得することができる。
【００１０】
このように、本発明の撮影工程では、中心電極が手前側、接地電極の基端部が奥側となり、且つ中心電極と接地電極の基端部とが重なる画像が得られるようにカメラを配置して、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップを撮影する場合でも、両者のシルエットの輪郭線が明るい背景とのコントラストによって明瞭化された画像を一度の撮影で取得することができる。
【００１１】
さらに、本発明の内燃機関用スパークプラグの製造方法は、この画像に基づいて、中心電極の先端部と接地電極の貴金属チップとの相対位置情報を取得する位置情報取得工程を有している。上述のように、撮影工程で得られた画像は、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップの輪郭線が明瞭となっているため、本発明の位置情報取得工程では、高い精度で、中心電極の先端部と接地電極の貴金属チップとの相対位置情報を取得することが可能となる。従って、この相対位置情報を用いて、内燃機関用スパークプラグの選別（合格品と不良品とに選別）や、中心電極の先端部に対する接地電極の貴金属チップ位置の調整加工等を適切に行うことができる。
【００１２】
さらに、上記の内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、前記撮影工程は、前記接地電極の前記内側面のうち前記中心電極よりも前記奥側に位置する後背部を照明装置により照らした状態で撮影する内燃機関用スパークプラグの製造方法とすると良い。
【００１３】
先端部画像及び貴金属チップ画像が背景に対してシルエットとなるような照明方法の１つとして、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップと接地電極との間の空間に微小の照明装置（例えば、光ファイバ照明）を配置して、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップに光を照射する方法を例示した。しかし、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップと接地電極の後背部との間の空間は狭小のため、この空間に照明装置を配置するのは困難な場合がある。
これに対し、本発明の撮影工程では、照明装置によって接地電極の後背部を照らすようにしている。具体的には、例えば、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップと接地電極との間の空間の外部に光ファイバ照明を配置し、この光ファイバ照明によって接地電極の後背部に対し斜めに光を照射する方法が挙げられる。
【００１４】
この照明方法では、接地電極の後背部での反射光が中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップに遮られることにより、接地電極の後背部を明るい背景として、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップのシルエットが明瞭化した画像を取得することができる。この照明方法は、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップと接地電極の後背部との間の狭小空間に照明装置を配置する必要がないため、簡易な照明装置で容易に行うことができる。さらに、接地電極の後背部を、いわば、明るい背景を作り出すスクリーンとして用いるので、別途、明るい背景として用いるスクリーンを設置する必要がなく、簡易な装置で容易に実施することができる。
【００１５】
さらに、上記いずれかの内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、前記相対位置情報は、前記貴金属チップ画像から抽出される接地電極特定位置と、前記先端部画像から抽出される中心電極特定位置との間の特定方向についての距離であり、前記位置情報取得工程では、上記接地電極特定位置の前記画像上での座標値と上記中心電極特定位置の上記画像上での座標値とに基づいて、上記特定方向についての距離を算出する内燃機関用スパークプラグの製造方法とすると良い。
【００１６】
本発明の位置情報取得工程では、接地電極特定位置の画像上での座標値と中心電極特定位置の画像上での座標値とに基づいて、特定方向についての距離を算出する。ところで、前述のように、撮影工程で得られた画像は、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップのシルエットの輪郭線が明瞭化した画像である。このため、高い精度で、接地電極特定位置の画像上での座標値及び中心電極特定位置の画像上での座標値を取得することができる。従って、本発明の位置情報取得工程では、このような精度の高い座標値に基づいて特定方向についての距離を算出するため、高い精度で特定方向についての距離を取得することができる。
【００１７】
なお、特定方向は、その後のスパークプラグの処理工程や選別工程に応じて選択すれば良く、例えば、画像上において主体金具の中心軸に直交する方向（以下、第１特定方向ともいう）が挙げられる。この場合に、例えば、中心電極特定位置として中心電極の先端の中心位置を選択し、接地電極特定位置として接地電極の貴金属チップ先端の中心位置を選択すると、中心電極特定位置と接地電極特定位置との間の第１特定方向についての距離として、偏位寸法を得ることができる。さらには、特定方向として、画像上において主体金具の中心軸に沿う方向（以下、第２特定方向ともいう）も挙げられる。この場合にも、中心電極特定位置及び接地電極特定位置を上述と同様に選択すると、中心電極特定位置と接地電極特定位置との間の第２特定方向についての距離として、ギャップ寸法を得ることができる。
【００１８】
さらに、上記の内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、前記接地電極特定位置は、前記貴金属チップ画像のうち先端の幅方向中心位置である接地電極中心位置であり、前記中心電極特定位置は、前記先端部画像のうち先端の幅方向中心位置である中心電極中心位置であり、前記特定方向は、前記画像上において前記主体金具の中心軸に直交する方向である第１特定方向であり、前記特定方向についての距離は、上記中心電極中心位置に対する上記接地電極中心位置の上記第１特定方向の偏位寸法である内燃機関用スパークプラグの製造方法とすると良い。
【００１９】
本発明の製造方法では、特定方向についての距離を、中心電極中心位置に対する接地電極中心位置の第１特定方向の偏位寸法としている。すなわち、位置情報取得工程において、中心電極中心位置に対する接地電極中心位置の第１特定方向の偏位寸法を取得することができる。このため、この偏位寸法に基づいて、製造したスパークプラグを合格品と不良品とに選別したり、中心電極中心位置に対する接地電極中心位置の第１特定方向の偏位を所定範囲内に納めるように接地電極の位置を調整することも可能となる。
【００２０】
さらに、上記いずれかの内燃機関用スパークプラグの製造方法であって、前記相対位置情報に基づいて、前記接地電極を変形させ、前記中心電極の前記先端部に対する上記接地電極の前記貴金属チップの位置を調整する調整加工工程を備える内燃機関用スパークプラグの製造方法とすると良い。
【００２１】
本発明の内燃機関用スパークプラグの製造方法は、位置情報取得工程で得られた相対位置情報に基づいて、中心電極の先端部に対する接地電極の貴金属チップの位置を調整する調整加工工程を備えている。前述のように、位置情報取得工程で得られた中心電極の先端部と接地電極の貴金属チップとの相対位置情報は精度が高い。このため、本発明の調整加工工程では、中心電極の先端部に対する接地電極の貴金属チップの位置を、精度良く調整することができる。
【００２２】
なお、調整加工工程としては、例えば、接地電極の先端部を第１特定方向に変形させ、中心電極中心位置に対する接地電極中心位置の第１特定方向の偏位を所定範囲内に納めるように調整する偏位調整工程が挙げられる。さらには、接地電極の先端部を第２特定方向に押圧し、接地電極の貴金属チップの先端と中心電極の先端との間に形成された火花放電ギャップのギャップ寸法を所定範囲内に納めるように調整するギャプ寸法調整工程も挙げられる。
【００２３】
他の解決手段は、軸線方向に貫通する軸孔を有する筒状の絶縁体と、上記絶縁体の上記軸孔に挿設された中心電極であって、上記絶縁体の先端面から突出する先端部を有する中心電極と、上記絶縁体の周囲を取り囲む主体金具と、基端部が上記主体金具に固着され、屈曲された接地電極であって、上記中心電極側を向く内側面のうち上記中心電極の先端と対向する位置に固着された凸形状の貴金属チップを含み、この貴金属チップの先端と上記中心電極の先端との間に火花放電ギャップを形成する接地電極と、を有する内燃機関用スパークプラグの製造装置であって、上記中心電極が手前側、上記接地電極の上記基端部が奥側となり、且つ上記中心電極と上記接地電極の上記基端部とが重なる画像が得られるように配置されたカメラと、上記カメラによって撮影される画像のうち、上記中心電極の上記先端部に対応する先端部画像及び上記接地電極の上記貴金属チップに対応する貴金属チップ画像が、背景に対してシルエットとなるように、上記内燃機関用スパークプラグを照らす照明装置と、上記カメラによって撮影された画像に基づいて、上記中心電極の上記先端部と上記接地電極の上記貴金属チップとの相対位置情報を取得する位置情報取得手段と、を備える内燃機関用スパークプラグの製造装置である。
【００２４】
本発明の内燃機関用スパークプラグの製造装置は、中心電極の先端と対向する位置に凸形状の貴金属チップが固着された接地電極を有するスパークプラグについて、中心電極が手前側、接地電極の基端部が奥側となり、且つ中心電極と接地電極の基端部とが重なる画像が得られるように配置されたカメラを有している。
さらに、このカメラによって撮影される画像のうち中心電極の先端部に対応する先端部画像及び接地電極の貴金属チップに対応する貴金属チップ画像が、背景に対してシルエットとなるようにスパークプラグを照らす照明装置を有している。このようなカメラと照明装置とを有する本発明の製造装置では、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップのシルエットの輪郭線が、明るい背景とのコントラストによって明瞭化された画像を、一度の撮影で取得することができる。
【００２５】
さらに、本発明の内燃機関用スパークプラグの製造装置は、カメラによって撮影された画像に基づいて、中心電極の先端部と接地電極の貴金属チップとの相対位置情報を取得する位置情報取得手段を有している。上述のように、本発明のカメラによって撮影された画像は、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップの輪郭線が明瞭となっているため、本発明の位置情報取得手段は、高い精度で両者の相対位置情報を取得することが可能となる。さらに、この相対位置情報を用いれば、内燃機関用スパークプラグの選別（合格品と不良品とに選別）や、中心電極の先端部に対する接地電極の貴金属チップ位置の調整加工等を適切に行うこともできる。
【００２６】
さらに、上記の内燃機関用スパークプラグの製造装置であって、前記照明装置は、前記接地電極の前記内側面のうち前記中心電極よりも前記奥側に位置する後背部を照らす内燃機関用スパークプラグの製造装置とすると良い。
【００２７】
本発明の照明装置は、接地電極の後背部を照らすようにしている。このような照明装置としては、例えば、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップと接地電極との間の空間の外部に配置され、接地電極の後背部に向けられた光ファイバ照明が挙げられる。この照明装置によって接地電極の後背部を照らした場合、接地電極の後背部での反射光が中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップに遮られる。その結果、接地電極の後背部を明るい背景として、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップのシルエットが明瞭化した画像を取得することができる。この照明装置は、中心電極の先端部及び接地電極の貴金属チップと接地電極との間の狭小空間に照明装置を配置する必要がないため、簡易な構造の照明装置とすることができる。さらに、接地電極の後背部を明るい背景を作り出すスクリーンとして用いるので、別途、明るい背景として用いるスクリーンを設置する必要がなく、安価な製造装置となる。
【００２８】
【発明の実施の形態】
（実施形態）
本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
図１は、本実施形態で製造されるスパークプラグ１００の側面図である。スパークプラグ１００は、筒状の絶縁体１４０、これに挿設された中心電極１２０、絶縁体１４０の周囲を取り囲む主体金具１３０、及び主体金具１３０に固着された接地電極１１０を有する。接地電極１１０は、基端部１１１で主体金具１３０の先端面１３０ｃに固着され、屈曲され、内側面１１４の対向部１１４ｃが中心電極１２０の先端１２０ｂと対向している。さらに、内側面１１４の対向部１１４ｃには凸形状の貴金属チップ１１３が溶接されており、貴金属チップ１１３の先端１１３ｂと中心電極１２０の先端１２０ｂとの間に火花放電ギャップｇを形成している。なお、本実施形態のスパークプラグ１００では、中心電極の先端１２０ｂは、Ｎｉ合金からなる電極本体部１２２の先端に溶接された貴金属チップ１２１の先端によって構成されている。
【００２９】
図２は、偏位寸法測定装置２５０を模式的に表した側面図である。図２に示すように、偏位寸法測定装置２５０は、第１照明装置２５３、接地電極チャック２５５、撮影カメラ２５１、及びこれに接続された図示しないコンピュータによって構成される。
接地電極チャック２５５は、接地電極１１０の先端部１１２を把持し、被成形スパークプラグ（以下、ワークともいう）１０１を中心軸Ｃの廻りに回転させ、撮影カメラ２５１に対するワーク１０１の向きを調整する（図４参照）。
撮影カメラ２５１は、例えば、ＣＣＤカメラであり、上記のように接地電極チャック２５５によってワーク１０１の向きを調整することで、ワーク１０１の中心電極１２０が手前側、接地電極１１０の基端部１１１が奥側となり、且つ中心電極１２０と接地電極１１０の基端部１１１とが重なる画像を取得することができる。
【００３０】
第１照明装置２５３は、光ファイバ照明であり、撮影カメラ２５１からワーク１０１を見たときに、接地電極１１０の内側面１１４のうち中心電極１２０より奥側に位置する後背部１１４ｂを照らすように、接地電極チャック２５５の下端面２５５ｂに固設されている。さらに、第１照明装置２５３について詳細に説明するために、図２のＡ−Ａ断面図を図３に示す。図３に示すように、第１照明装置２５３は、中心電極１２０を挟んで対称な位置に２つ設けられており、それぞれが接地電極１１０の後背部１１４ｂに対し、カメラ撮影方向（図中右方向）から約４５度ずれた斜めの方向に光を照射するように配置される。この第１照明装置２５３によって接地電極１１０の後背部１１４ｂを照らしたときには、接地電極１１０の後背部１１４ｂでの反射光が中心電極１２０の貴金属チップ１２１及び接地電極１１０の貴金属チップ１１３に遮られる。その結果、撮影カメラ２５１によって、接地電極１１０の後背部１１４ｂを明るい背景として、中心電極１２０の貴金属チップ１２１及び接地電極１１０の貴金属チップ１１３のシルエットが明瞭化された画像を取得することができる（図５参照）。
【００３１】
なお、本実施形態では、この撮影画像上において、主体金具１３０の中心軸Ｃに直交する方向を第１特定方向とし、主体金具１３０の中心軸Ｃに沿う方向を第２特定方向とする。
このような撮影画像に基づいて、図示しないコンピュータによって、接地電極１１０の貴金属チップ１１３の特定位置（以下、接地電極特定位置とも言う）及び中心電極１２０の貴金属チップ１２１の特定位置（以下、中心電極特定位置とも言う）が決定される。  具体的には、本実施形態では、貴金属チップ１１３の先端１１３ｂの中心位置を接地電極特定位置Ｉ６として決定し（図５（ｃ）参照）、貴金属チップ１２１の先端１２０ｂの中心位置を中心電極特定位置Ｊ６として決定する（図６（ｃ）参照）。すると、このように決定された接地電極特定位置Ｉ６と中心電極特定位置Ｊ６とに基づいて、中心電極１２０の貴金属チップ１２１に対する接地電極１１０の貴金属チップ１１３の第１特定方向の偏位寸法Ｐを算出することができる（図７参照）。
【００３２】
図８は、偏位調整装置２６０を模式的に表した側面図である。偏位調整装置２６０は、接地電極１１０の先端部１１２を第１特定方向に押圧する曲げ部材２６１、これと一体に設けられた雌ネジ部２６２、この雌ネジ部２６２と螺合する雄ネジ部２６３、及び雄ネジ部２６３を軸廻りに回転させる駆動モータ２６４を有している。この偏位調整装置２６０では、駆動モータ２６４によって雄ネジ部２６３をその軸廻りに回転させ、曲げ部材２６１を第１特定方向に移動させることで、曲げ部材２６１に形成された溝部２６１ｂが接地電極１１０の先端部１１２と係合しつつ、接地電極１１０の先端部１１２を第１特定方向に押圧して変形させる。このようにして、中心電極１２０の貴金属チップ１２１に対する接地電極１１０の貴金属チップ１１３の第１特定方向の偏位を調整することができる。なお、偏位調整装置２６０では、偏位寸法測定装置２５０によって算出された偏位寸法Ｐに基づいて、図示しないコンピュータを用いて、偏位寸法Ｐが０．０ｍｍとなるように駆動モータ２６４の駆動回転数が算出される。
【００３３】
次に、これらの装置を用いたスパークプラグ１００の製造方法について説明する。図９は、スパークプラグ１００の製造方法の工程の流れを示すフローチャート（メインルーチン）である。まず、ステップＳ１（ワークセット工程）において、ワーク１０１をワークホルダ２１０（図８参照）に装着し、固定する。
次に、ステップＳ２（偏位寸法測定工程）に進み、ワーク１０１の中心電極１２０に対する接地電極１１０の偏位寸法を測定する。具体的には、偏位寸法測定装置２５０によって、中心電極１２０の貴金属チップ１２１に対する接地電極１１０の貴金属チップ１１３の第１特定方向の偏位寸法Ｐを測定する（図２参照）。
【００３４】
ここで、ステップＳ２のサブルーチンを図１０に示し、偏位寸法測定処理について詳細に説明する。まず、ステップＳ２１において、ワーク１０１の上方から接地電極チャック２５５を下降させ（図４（ａ）参照）、所定の位置で停止させる（図４（ｂ）参照）。次いで、ステップＳ２２に進み、この接地電極チャック２５５によって接地電極１１０の先端部１１２を把持し、ワーク１０１を中心軸Ｃの廻りに回転させ、所定の位置に設置されている撮影カメラ２５１に対するワーク１０１の向きを調整する（図４（ｃ）参照）。この結果、撮影カメラ２５１によって、中心電極１２０が手前側、接地電極１１０の基端部１１１が奥側となり、且つ中心電極１２０と接地電極１１０の基端部１１１とが重なる画像が得られるようになる。また、これと同時に、接地電極チャック２５５の下端面２５５ｂに固設されている第１照明装置２５３が、所定の位置に配置される（図２参照）。
【００３５】
次いで、ステップＳ２３に進み、第１照明装置２５３を点灯させ、接地電極１１０の後背部１１４ｂに光を照射する（図３参照）。次いで、ステップＳ２４に進み、撮影カメラ２５１によって、接地電極１１０の後背部１１４ｂを明るい背景として、中心電極１２０の貴金属チップ１２１及び接地電極１１０の貴金属チップ１１３のシルエットが明瞭化した画像を撮影する（図２参照）。次いで、ステップＳ２５に進み、撮影カメラ２５１で撮影した画像を取り込む（図５（ａ）参照）。このように、本実施形態では、一度の撮影で中心電極１２０の貴金属チップ１２１及び接地電極１１０の貴金属チップ１１３の両方が明瞭な画像を取得することができる。
【００３６】
なお、本実施形態では、ステップＳ２３〜Ｓ２５が撮影工程に相当する。また、本実施形態では、各画像において、鉛直方向（図中上下方向）をＹ方向、これと直交する水平方向（図中左右方向）をＸ方向とする。なお、本実施形態では、Ｘ方向と第１特定方向とが一致し、Ｙ方向と第２特定方向とが一致している。また、画像はいずれも、画素に濃淡階調が設定されたグレースケール画像である。
【００３７】
次いで、ステップＳ２６に進み、図５（ａ）に示すように、取得した画像において、接地電極１１０の貴金属チップ１１３の存在が見込まれる領域に、Ｙ方向に一定の幅を有しＸ方向に延びる帯状の判定領域Ｉ１を設定する。そして、Ｘ方向の各画素位置において求めたＹ方向濃度分布に基づいて、先端位置Ｉ２を決定する。次いで、ステップＳ２７に進み、図５（ｂ）に示すように、先端位置Ｉ２から所定距離（例えば０．１ｍｍ）だけ−Ｙ方向（図中上方向）にずらした位置に、サーチ線Ｉ３を設定する。そして、このサーチ線Ｉ３に沿ってＸ方向の画素濃度分布を求め、この画素濃度分布に基づいて、左端位置Ｉ４，右端位置Ｉ５の座標値を決定する。次いで、ステップＳ２８に進み、左端位置Ｉ４及び右端位置Ｉ５のＸ座標値の平均値をＸｉとし、先端位置Ｉ２のＹ座標値をＹｉとして、接地電極中心位置Ｉ６の座標値を（Ｘｉ，Ｙｉ）として決定する（図５（ｃ）参照）。このように、本実施形態では、接地電極中心位置Ｉ６の座標値（Ｘｉ，Ｙｉ）を、接地電極１１０の貴金属チップ１１３のシルエットが明瞭化した画像に基づいて算出するため、高い精度で接地電極中心位置の座標値を取得することができる。
【００３８】
次いで、ステップＳ２９に進み、図６（ａ）に示すように、取得した画像において、中心電極１２０の先端１２０ｂを構成する貴金属チップ１２１の存在が見込まれる領域に、Ｙ方向に一定の幅を有しＸ方向に延びる帯状の判定領域Ｊ１を設定する。そして、Ｘ方向の各画素位置において求めたＹ方向濃度分布に基づいて、先端位置Ｊ２を決定する。次いで、ステップＳ２Ａに進み、図６（ｂ）に示すように、先端位置Ｊ２から所定距離（例えば０．１ｍｍ）だけＹ方向（図中下方向）にずらした位置に、サーチ線Ｊ３を設定する。そして、このサーチ線Ｊ３に沿ってＸ方向の画素濃度分布を求め、この画素濃度分布に基づいて、左端位置Ｊ４，右端位置Ｊ５の座標値を決定する。次いで、ステップＳ２Ｂに進み、左端位置Ｊ４及び右端位置Ｊ５のＸ座標値の平均値をＸｊとし、先端位置Ｊ２のＹ座標値をＹｊとして、中心電極中心位置Ｊ６の座標値を（Ｘｊ，Ｙｊ）として決定する（図６（ｃ）参照）。このように、本実施形態では、中心電極中心位置Ｊ６の座標値（Ｘｊ，Ｙｊ）を、中心電極１２０の貴金属チップ１２１のシルエットが明瞭化した画像に基づいて算出するため、高い精度で中心電極中心位置の座標値を取得することができる。
【００３９】
次いで、ステップＳ２Ｃに進み、図７に示すように、接地電極中心位置Ｉ６を通りＹ軸に平行な接地電極中心線Ｉ８を設定する。そして、この接地電極中心線Ｉ８を基準として、中心電極中心位置Ｊ６のＸ座標値が接地電極中心線Ｉ８の左右いずれにあるかを判定し、偏位寸法の符号を決定する。この符号は、後のステップＳ４（偏位調整工程）での接地電極１１０の曲げ加工の向きを規定するものである。次いで、接地電極中心線Ｉ８と中心電極中心位置Ｊ６との距離を、中心電極１２０の貴金属チップ１２１に対する接地電極１１０の貴金属チップ１１３の第１特定方向の偏位寸法Ｐとして算出し、図９に示すメインルーチンに戻る。
このように、本実施形態では、精度の高い、接地電極中心位置Ｉ６（Ｘｉ，Ｙｉ）及び中心電極中心位置Ｊ６（Ｘｊ，Ｙｊ）に基づいて偏位寸法Ｐを算出するため、高い精度で偏位寸法Ｐを取得することができる。なお、本実施形態では、ステップＳ２６〜Ｓ２Ｃが位置情報取得工程に相当する。
【００４０】
次に、ステップＳ３に進み、偏位寸法Ｐが所定の公差範囲内（例えば、±０．１５（ｍｍ））にあるかどうか判定する。所定の公差範囲内にあるときは、ステップＳ５（ワーク取出工程）に進み、ワーク１０１をワークホルダ２１０から取り出す。このようにして、図１に示したようなスパークプラグ１００が完成する。
【００４１】
これに対し、偏位寸法Ｐが所定の公差範囲内から外れている場合には、ステップＳ４（偏位調整工程）に進み、ワーク１０１について、中心電極１２０の貴金属チップ１２１に対する接地電極１１０の貴金属チップ１１３の第１特定方向の偏位寸法Ｐを所定範囲内に納めるように調整する。具体的には、図８に示した偏位調整装置２６０を用いて、偏位寸法Ｐを減少させる向き（ステップＳ２（偏位寸法測定工程）で決定した向きであり、本実施例では図中右向き）に、接地電極１１０の先端部１１２について曲げ加工を行う。なお、曲げ加工量（曲げ部材２６１の移動量）は、偏位寸法Ｐに、曲げ部材２６１による付勢を解除したときの接地電極１１０のスプリングバックの量を加えた値としている。このようにして、中心電極１２０の貴金属チップ１２１に対する接地電極１１０の貴金属チップ１１３の第１特定方向の偏位寸法Ｐが０．０ｍｍとなるように調整する。なお、本実施形態では、ステップＳ４（偏位調整工程）が調整加工工程に相当する。
【００４２】
最後に、ステップＳ５（ワーク取出工程）に進み、ワーク１０１をワークホルダ２１０から取り出す。このようにして、図１に示したようなスパークプラグ１００が完成する。
【００４３】
（変形形態）
次に、実施形態にかかるスパークプラグ１００の製造装置及び製造方法の変形形態について、図面を参照しつつ説明する。本変形形態のスパークプラグ１００の製造装置は、実施形態の製造装置と比較して、偏位寸法測定装置が異なり、その他の装置についてはほぼ同様である。また、本変形形態のスパークプラグ１００の製造方法は、実施形態の製造方法と比較して、ステップＳ２（偏位寸法測定工程）が異なり、その他の工程についてはほぼ同様である。具体的には、ワーク１０１の傾きを計測する工程を追加すると共に、接地電極中心位置及び中心電極中心位置の座標値の取得方法を変更している。従って、実施形態と異なる部分を中心に説明し、同様な部分については、説明を省略または簡略化する。
【００４４】
図１１は、本変形形態の偏位寸法測定装置３５０を模式的に表した側面図である。図１１に示すように、偏位寸法測定装置３５０は、ワーク１０１の傾きを計測するために、実施形態の偏位寸法測定装置２５０に対して、さらに第２照明装置３５２及び背景スクリーン３５４を追加し、撮影カメラ２５１に代えて撮影カメラユニット３７０を配置したものである。従って、実施形態と同様な部分については、説明を省略あるいは簡略化する。
第２照明装置３５２は、面発光型ＬＥＤあるいは多数のＬＥＤを平面的に配列したＬＥＤ照明で、撮影カメラユニット３７０の視野を確保するための貫通孔３５２ｂを有している。このような第２照明装置３５２は、撮影カメラユニット３７０の撮影方向（図中右方向）に光を照射して、ワーク１０１を照らすように設けられている。
【００４５】
撮影カメラユニット３７０は、第１カメラ３７１、第２カメラ３７２、対物レンズ３７３、ハーフミラー３７４、ミラー３７４ｂ、第１画像拡大部３７５、及び第２画像拡大部３７６を有する。
このうち、第１カメラ３７１では、図１１に示す経路Ｂ１のように、対物レンズ３７３、ハーフミラー３７４、ミラー３７４ｂの順に経由して、第１画像拡大部３７５で第１の倍率に拡大された画像を撮影する。なお、第１カメラ３７１で画像を撮影するときは、実施形態と同様に、第１照明装置２５３によって接地電極１１０の後背部１１４ｂを照らすようにしている（図１２（ｂ）参照）。このため、第１カメラ３７１では、実施形態の撮影カメラ２５１と同様に、接地電極１１０の後背部１１４ｂを明るい背景として、中心電極１２０の貴金属チップ１２１及び接地電極１１０の貴金属チップ１１３のシルエットが明瞭化した画像を取得することができる（図１５参照）。本変形形態では、このように第１カメラ３７１で撮影した画像に基づいて、接地電極中心位置及び中心電極中心位置の座標値を算出する。
【００４６】
これに対し、第２カメラ３７２では、図１１に示す経路Ｂ２のように、対物レンズ３７３、ハーフミラー３７４の順に経由して、第２画像拡大部３７６で第１の倍率より低い第２の倍率に拡大された画像を撮影する。なお、第２カメラ３７２で画像を撮影するときは、第２照明装置３５２によってワーク１０１を照らすようにしている（図１２（ａ）参照）。このため、第２カメラ３７２では、主体金具１３０の輪郭線が、明るい背景ユニット３５４とのコントラストによって明瞭化した画像を取得することができる（図１３（ａ）参照）。本変形形態では、このように第２カメラ３７２で撮影した画像に基づいて、ワーク１０１の傾きを計測する。
【００４７】
次に、本変形形態のスパークプラグ１００の製造方法について説明する。
図１７は、スパークプラグ１００の製造方法の工程の流れを示すフローチャート（メインルーチン）である。なお、本変形形態の製造方法は、図１７に示すように、実施形態のステップＳ２の処理をステップＴ２の処理に変更したものであり、その他の部分については同様である。従って、実施形態と同様な部分については、説明を省略あるいは簡略化する。
【００４８】
まず、実施形態と同様に、ステップＳ１（ワークセット工程）においてワーク１０１をセットする。次に、ステップＴ２（偏位寸法測定工程）に進み、ワーク１０１の中心電極１２０に対する接地電極１１０の偏位寸法を測定する。
ここで、ステップＴ２のサブルーチンを図１８に示し、偏位寸法測定処理について詳細に説明する。まず、ステップＴ２１、Ｔ２２において、実施形態のステップＳ２１、Ｓ２２と同様にして、接地電極チャック２５５によって接地電極１１０の先端部１１２を把持して、固定する（図４参照）。
【００４９】
次に、ステップＴ２３に進み、第２照明装置３５２を点灯させ、ワーク１０１に光を照射する。次いで、ステップＴ２４に進み、第２カメラ３７２によって、主体金具１３０の輪郭線を、明るい背景ユニット３５４とのコントラストによって明瞭化させた画像を撮影する（図１３（ａ）参照）。次いで、ステップＴ２５に進み、第２カメラ３７２で撮影した画像を取り込む。
【００５０】
次に、ステップＴ２６に進み、ステップＴ２５で撮影した画像に基づいて、ワーク１０１の傾きを計測する。具体的には、まず、図１３（ａ）に示すように、Ｙ方向に一定の幅を有し、主体金具１３０を横切るようにＸ方向に帯状に延びる判定領域Ｇ５を設定する。次いで、この判定領域Ｇ５内において、Ｙ方向の各画素位置についてＸ方向濃度分布を求め、この濃度分布に基づいて主体金具１３０の左右端位置Ｇ１、Ｇ２を決定する。次いで、図１３（ｂ）に示すように、この左右端位置Ｇ１、Ｇ２から画像のＸ方向中心側に一定の画素数だけ離れた位置に、Ｙ方向に延びるサーチ線Ｇ３，Ｇ４を設定する。次いで、このサーチ線Ｇ３，Ｇ４上の濃度分布を求めることにより先端面位置Ｇ６，Ｇ７を決定し、この先端面位置Ｇ６，Ｇ７を結ぶ先端面基準線Ｌ２を設定する。そして、図１４に示すように、この先端面基準線Ｌ２と直交するワーク中心線Ｌ１を設定し、ワーク中心線Ｌ１と鉛直方向（Ｙ軸方向）に延びる鉛直方向線Ｋ１とのなす角θ１をワーク１０１の傾きとして算出する。
【００５１】
次に、ステップＴ２７に進み、第２照明装置３５２を消灯し、第１照明装置２５３を点灯させ、実施形態と同様に、接地電極１１０の後背部１１４ｂに光を照射する（図３参照）。次いで、ステップＴ２８，Ｔ２９に進み、実施形態のステップＳ２４，Ｓ２５と同様にして、接地電極１１０の後背部１１４ｂを明るい背景として、中心電極１２０の貴金属チップ１２１及び接地電極１１０の貴金属チップ１１３のシルエットが明瞭化した撮影画像Ｈを取得する（図１５参照）。
なお、本変形形態では、ステップＴ２７〜Ｔ２９が撮影工程に相当する。
【００５２】
次に、ステップＴ２Ａに進み、図１５に示すように、まず、ステップＴ２９で取得した撮影画像Ｈ上で、予め登録されている貴金属チップ１１３のモデル画像Ｍ２を平行移動させる。そして、モデル画像Ｍ２と撮影画像Ｈとの間で、対応する画素間の濃度差を演算し、その総計を算出する。このようにして算出した濃度差の総計が最小となった位置に、モデル画像Ｍ２を位置決めする。次いで、位置決めされたモデル画像Ｍ２の先端中心位置Ｍ１の座標値を求め、これを接地電極中心位置Ｍ６の座標値（Ｘｍ，Ｙｍ）として決定する。次いで、ステップＴ２Ｂに進み、これと同じ要領で、図示しないモデル画像を用いて中心電極中心位置Ｎ６の座標値を（Ｘｎ，Ｙｎ）として決定する（図１６参照）。
【００５３】
次いで、ステップＴ２Ｃに進み、図１６に示すように、接地電極中心位置Ｍ６を通り、鉛直方向線Ｋ１に対し角度θ１だけ傾斜した接地電極中心線Ｌ３を設定する。そして、この接地電極中心線Ｌ３を基準として、中心電極中心位置Ｎ６のＸ座標値が接地電極中心線Ｌ３の左右いずれにあるかを判定し、偏位寸法の符号を決定する。この符号は、後のステップＳ４（偏位調整工程）での接地電極１１０の曲げ加工の向きを規定するものである。次いで、接地電極中心線Ｌ３と中心電極中心位置Ｎ６との距離を、中心電極１２０の貴金属チップ１２１に対する接地電極１１０の貴金属チップ１１３の第１特定方向の偏位寸法Ｐとして算出し、図１７に示すメインルーチンに戻る。
【００５４】
このように、本変形形態では、ワーク１０１の傾きθ１を計測し、この傾きθ１を考慮して偏位寸法Ｐを算出している。従って、本変形形態では、ワーク１０１が基準方向（鉛直方向）に対し傾いている場合でも、高い精度で偏位寸法Ｐを取得することができる。なお、本実施形態では、ステップＴ２Ａ〜Ｔ２Ｃが位置情報取得工程に相当する。
次いで、ステップＳ３〜Ｓ５の処理については、実施形態と同様にして行い、図１に示したようなスパークプラグ１００が完成する。
【００５５】
以上において、本発明を実施形態及び変形形態に即して説明したが、本発明は上記実施形態等に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、適宜変更して適用できることはいうまでもない。
例えば、実施形態等では、ステップＳ２，Ｔ２（偏位寸法測定工程）の後、ステップＳ３に進み、偏位寸法Ｐが所定の公差範囲内（例えば、±０．１５（ｍｍ））にあるかどうかを判定している。しかし、偏位寸法Ｐが所定の公差範囲内にあるかどうかを判定することなく、全てのワーク１０１についてステップＳ４（偏位調整工程）を行うようにしても良い。このようにすることで、製造ライン上でワーク１０１を一定の間隔で送ることができる。
【００５６】
また、実施形態では、ステップＳ２６〜Ｓ２Ｂの処理によって、接地電極中心位置Ｉ６の座標値（Ｘｉ，Ｙｉ）及び中心電極中心位置Ｊ６の座標値（Ｘｊ，Ｙｊ）を決定したが、変形形態のように、ステップＴ２Ａ，Ｔ２Ｂの処理によって決定するようにしても良い。これとは反対に、変形形態では、ステップＴ２Ａ，Ｔ２Ｂの処理によって、接地電極中心位置Ｍ６の座標値（Ｘｍ，Ｙｍ）及び中心電極中心位置Ｎ６の座標値（Ｘｎ，Ｙｎ）を決定したが、実施形態のように、ステップＳ２６〜Ｓ２Ｂの処理によって決定するようにしても良い。
【００５７】
また、実施形態等では、調整加工工程として、ステップＳ４（偏位調整工程）を設けているが、これ以外の調整加工工程を設けるようにしても良い。例えば、接地電極１１０の先端部１１２を第２方向に押圧し、接地電極１１０の貴金属チップ１１３の先端１１３ｂと中心電極１２０の先端１２０ｂとの間に形成された火花放電ギャップｇのギャップ寸法を所定範囲内に納めるように調整するギャプ寸法調整工程を設けるようにしても良い。なお、このギャップ寸法調整工程において、第１特定方向及び第２特定方向に直交する方向（例えば、図５中紙面に直交する方向）を第３特定方向としたとき、中心電極中心位置Ｊ６，Ｎ６に対する接地電極中心位置Ｉ６，Ｍ６の第３特定方向の位置を所定範囲内に納めるように、接地電極１１０の先端面１１２ｃの第３特定方向の位置を規制しつつ、ギャップ寸法を調整するようにしても良い。
【００５８】
また、接地電極１１０を第３特定方向に変形させ、中心電極に対する接地電極第３特定方向の位置を所定範囲内に納めるように調整する被り調整工程を設けるようにしても良い。
また、ステップＳ４（偏位調整工程）の後に、ワーク１０１の偏位寸法Ｐが所定の寸法範囲内の値であるかどうかを確認するために、偏位寸法測定工程を実施するようにしても良い。さらに、この偏位寸法測定工程で測定したワーク１０１の偏位寸法Ｐが所定の寸法範囲内から外れている場合には、再度、偏位調整工程を実施するようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施形態にかかるスパークプラグ１００の側面図である。
【図２】実施形態にかかる偏位寸法測定装置２５０を模式的に表した側面図である。
【図３】図２のＡ−Ａ断面図であり、第１照明装置２５３による照明方法を説明する説明図である。
【図４】実施形態にかかる偏位寸法測定工程において、接地電極１１０のチャックを説明する説明図である。
【図５】実施形態にかかる偏位寸法測定工程において、接地電極中心位置Ｉ６の測定方法を説明する説明図である。
【図６】実施形態にかかる偏位寸法測定工程において、中心電極中心位置Ｊ６の測定方法を説明する説明図である。
【図７】実施形態にかかる偏位寸法測定工程において、偏位寸法Ｐの測定方法を説明する説明図である。
【図８】実施形態にかかる偏位調整装置２６０を模式的に表した側面図である。
【図９】実施形態にかかるスパークプラグ１００の製造方法の工程の流れを示すフローチャートである。
【図１０】実施形態にかかる偏位寸法測定処理の流れを示すフローチャートである。
【図１１】変形形態にかかる偏位寸法測定装置３５０を模式的に表した側面図である。
【図１２】変形形態にかかる偏位寸法測定工程を説明する説明図である。
【図１３】変形形態にかかる偏位寸法測定工程において、ワーク１０１の傾き測定方法を説明する説明図である。
【図１４】変形形態にかかる偏位寸法測定工程において、ワーク１０１の傾き測定方法を説明する説明図である。
【図１５】変形形態にかかる偏位寸法測定工程において、接地電極中心位置Ｍ６の測定方法を説明する説明図である。
【図１６】変形形態にかかる偏位寸法測定工程において、偏位寸法Ｐの測定方法を説明する説明図である。
【図１７】変形形態にかかるスパークプラグ１００の製造方法の工程の流れを示すフローチャートである。
【図１８】変形形態にかかる偏位寸法測定処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１００  スパークプラグ
１０１  ワーク
１１０  接地電極
１１１  接地電極の基端部
１１３  接地電極の貴金属チップ
１１３ｂ  貴金属チップの先端
１１４  接地電極の内側面
１１４ｂ  内側面の後背部
１２０  中心電極
１２０ｂ  中心電極の先端
１２１  中心電極の貴金属チップ
１３０  主体金具
１３０ｃ  主体金具の先端面
１４０  絶縁体
２５１  撮影カメラ
２５３  第１照明装置
３５２  第２照明装置
３７０  カメラユニット
３７１  第１カメラ
３７２  第２カメラ
Ｃ  主体金具の中心軸
ｇ  火花放電ギャップ
Ｐ  偏位寸法
【図１】
2004241267.tif 000003
【図２】
2004241267.tif 000004
【図３】
2004241267.tif 000005
【図４】
2004241267.tif 000006
【図５】
2004241267.tif 000007
【図６】
2004241267.tif 000008
【図７】
2004241267.tif 000009
【図８】
2004241267.tif 000010
【図９】
2004241267.tif 000011
【図１０】
2004241267.tif 000012
【図１１】
2004241267.tif 000013
【図１２】
2004241267.tif 000014
【図１３】
2004241267.tif 000015
【図１４】
2004241267.tif 000016
【図１５】
2004241267.tif 000017
【図１６】
2004241267.tif 000018
【図１７】
2004241267.tif 000019
【図１８】
2004241267.tif 000020