(57)【要約】【課題】蛍光ランプの寿命末期過渡現象をシミュレーションしながらも、数多くの試験を短時間に行う蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法を得ること。【解決手段】この発明に係る蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法は、蛍光ランプの電子安定器において、電子安定器の負荷側にインピーダンス可変素子を接続し、実際の蛍光ランプが寿命末期に過渡現象として通過する履歴を、インピーダンス可変素子にて再現させ、電子安定器の保護動作を確認することを特徴とする。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
蛍光ランプの管電圧を検出して蛍光ランプの保護を行う保護回路が組み込まれた電子安定器において、
前記電子安定器の負荷側にインピーダンス可変素子を接続し、実際の蛍光ランプが寿命末期に過渡現象として通過する履歴を、前記インピーダンス可変素子にて再現させ、前記電子安定器の保護回路の保護動作を確認することを特徴とする蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法。
【請求項２】
前記履歴はプログラムされて自動的に繰り返され、前記電子安定器の保護動作は別途自動的に記録されることを特徴とする請求項１に記載の蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法。
【請求項３】
蛍光ランプの管電圧を検出して蛍光ランプの保護を行う保護回路が組み込まれた蛍光ランプの電子安定器において、
前記電子安定器の負荷側にインピーダンス可変素子を接続し、実際の蛍光ランプが寿命末期に過渡現象として通過する履歴を、前記インピーダンス可変素子にて再現させ、前記電子安定器の出荷検査時、該電子安定器の保護動作を確認することを特徴とする蛍光灯用電子安定器の出荷検査時の保護動作確認方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、蛍光ランプの電子安定器に係わり、蛍光ランプの管電圧を検出して蛍光ランプの保護を行う保護回路の信頼性試験方法及び出荷検査時の保護動作確認方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
蛍光ランプは電極に塗布された電子放射物質を消耗しながら点灯する。従って電子放射物質が消耗し尽くした時点で、蛍光ランプは不点寿命となる。
しかし、２次電圧が高いため電子安定器で点灯されると、電子放射物質が消耗し尽くしても蛍光ランプは点灯しつづけ、稀に発熱による口金溶融等の問題を発生させる場合がある。これを防ぐため、電子安定器には蛍光ランプの不点寿命を検出し、出力を停止する等の保護動作を行う保護回路を設けている。
【０００３】
一般に電子安定器の保護回路の設計検証には、エミレスランプと呼ばれる電子放射物質がはじめから塗られていない蛍光ランプを用い、このランプを電子安定器で点灯させ、保護動作の確認を行っている。この方法は比較的短時間に、多くの検証が可能である。
【０００４】
一方、極少エミランプと呼ばれる、電子放射物質を極少量付着させたランプで、実際にランプの寿命末期を再現する方法もある。これによれば確実にランプの寿命末期のシミュレーションを行える。
【０００５】
【特許文献１】
特開平５−１７４９９０号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
エミレスランプと呼ばれる電子放射物質がはじめから塗られていない蛍光ランプを用いる電子安定器の保護回路の設計検証は、はじめから寿命のランプを点灯させるシミュレーションになっても、ランプを点灯しながら寿命を迎える現象は再現できない。
【０００７】
また、極少エミランプと呼ばれる、電子放射物質を極少量付着させたランプで、実際にランプの寿命末期を再現する方法は、寿命末期の過渡現象はおよそ数分間であるにもかかわらず、寿命になるまで数週間から数ヶ月、電子放射物質の消耗を待たねばならず、かつ何時寿命になるか分からないため、現象に立ち会えなかったり、無駄に記録紙を使うなど、現実的には数多く行うことが困難である。
【０００８】
この発明は上記のような問題点を解決するためになされたもので、蛍光ランプの寿命末期過渡現象をシミュレーションしながらも、数多くの試験を短時間に行う蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法及び蛍光灯用電子安定器の出荷検査時の保護動作確認方法を得ることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法は、蛍光ランプの電子安定器において、電子安定器の負荷側にインピーダンス可変素子を接続し、実際の蛍光ランプが寿命末期に過渡現象として通過する履歴を、インピーダンス可変素子にて再現させ、電子安定器の保護動作を確認することを特徴とする。
【００１０】
また、この発明に係る蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法は、履歴はプログラムされて自動的に繰り返され、電子安定器の保護動作は別途自動的に記録されることを特徴とする。
【００１１】
この発明に係る蛍光灯用電子安定器の出荷検査時の保護動作確認方法は、蛍光ランプの管電圧を検出して蛍光ランプの保護を行う保護回路が組み込まれた蛍光ランプの電子安定器において、電子安定器の負荷側にインピーダンス可変素子を接続し、実際の蛍光ランプが寿命末期に過渡現象として通過する履歴を、インピーダンス可変素子にて再現させ、電子安定器の出荷検査時、電子安定器の保護動作を確認することを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態１を図面に基づいて説明する。
図１〜４は実施の形態１を示す図で、図１は電子安定器の構成を示すブロック図、図２は電子安定器の保護回路の信頼性試験方法を示すブロック図、図３は信頼性試験の動作モデル図、図４は電子安定器の保護回路の動作不良検知例を示す図である。
図１において、電子安定器は、電源１に接続され交流を直流に整流し平滑する整流回路２と、整流回路２の出力電圧を昇圧または降圧する昇降圧回路３と、スイッチング素子により直流を交流に変換するスイッチ回路４と、スイッチ回路４の出力電圧を検知する管電圧検知回路５と、スイッチ回路４を制御し、管電圧検知回路５の出力に基づいて負荷７（蛍光ランプ）を保護する保護回路を有する制御回路６とを備える。
【００１３】
蛍光ランプは電極に塗布された電子放射物質を消耗し尽くした時点で不点寿命となるが、電子安定器で点灯されると電子放射物質を消耗し尽くしても蛍光ランプは点灯しつづけ、稀に発熱による口金溶融等の問題を発生させる場合がある。これを防ぐために電子安定器は、管電圧検知回路５により蛍光ランプの不点寿命を検出し、制御回路６の保護回路が動作してスイッチ回路４の出力を停止する。
【００１４】
この発明は、電子安定器の保護回路の設計検証としての信頼性試験を、実際の蛍光ランプを使用せずに、蛍光ランプが寿命末期に過渡現象として通過する履歴を再現させたインピーダンス可変素子を負荷として用いて行うもので、実際のランプ寿命末期と同じ負荷履歴を取りながら、短時間に数多く検証できることを特徴とする。寿命末期の負荷履歴は、ランプの種類によって異なるため、一度実際のランプで観測し、それを再現する必要があり、この際、時間とインピーダンスの変化を観測すればよい。
【００１５】
図２において、電子安定器８にインピーダンス可変素子９を蛍光ランプの代わりに接続する。インピーダンス可変素子９は、例えば可変抵抗を用いてもよいし、その他、抵抗、インダクタンス、キャパシタンスを組み合わせたものでもよい。インピーダンス制御回路１０は、インピーダンス可変素子９のインピーダンスを可変制御するものである。インピーダンス可変素子９のインピーダンスＺを、インピーダンス制御回路１０により緩やかに増加させながら、電流検出器１１により電子安定器８の出力電流を検出して保護回路の動作を観察する。保護回路が動作すれば、電子安定器８の出力電流はゼロになるので、電子安定器８の出力電流を観察することで保護回路が正常に機能しているか検証できる。この状態は、保護動作観察自動記録装置１２により、自動的に記録される。
【００１６】
上記の説明では、電子安定器８の出力電流を電流検出器１１により検出するものを示したが、電子安定器８の出力電圧を検出してもよい。
【００１７】
図３において、インピーダンス可変素子９のインピーダンスＺを正常な蛍光ランプのインピーダンスに相当する値から緩やかに増加させ、蛍光ランプの不点寿命に相当する或るインピーダンスＺにおいて、制御回路６の保護回路が動作し、電子安定器８の出力電圧はゼロになる。その時点から、さらにインピーダンス可変素子９のインピーダンスＺを所定時間緩やかに増加させて１サイクルを完了する。そして、インピーダンス可変素子９のインピーダンスＺを再び正常な蛍光ランプのインピーダンスに相当する値に戻し、前のサイクルと同様のことを行う。１サイクルは約５分である。
【００１８】
この試験は、電子安定器８の保護回路の信頼性を調べるものであるから、上記サイクルを１〜１０万回繰り返して行う。
【００１９】
図４は電子安定器の保護回路の動作不良検知例を示すものであり、インピーダンス可変素子９のインピーダンスＺが蛍光ランプの不点寿命に相当する値になっても、何らかの不具合により、即ち保護回路を構成する電子部品の不良により、電子安定器８の保護回路が動作せずに、電子安定器８の出力電圧が増加しつづける状態を示している。
この現象は、保護動作観察自動記録装置１２に自動的に記録させる。
【００２０】
以上のように、電子安定器８の保護回路の設計検証としての信頼性試験を、実際の蛍光ランプを使用せずに、蛍光ランプが寿命末期に過渡現象として通過する履歴を再現させたインピーダンス可変素子９を負荷として用いて行うもので、実際のランプ寿命末期と同じ負荷履歴を取りながら、短時間に数多く検証できる。
【００２１】
また、電子安定器８の保護回路の設計検証としての信頼性試験として説明したが、この発明は、電子安定器８の出荷検査時の保護動作確認試験にも適用できる。その場合は、電子安定器１個について、図３に示した１サイクルの試験を行うことになる。
【００２２】
【発明の効果】
以上のように、この発明に係る電子安定器の保護動作確認方法によれば、電子安定器の保護動作確認を、実際のランプ寿命末期と同じ負荷履歴を取りながら、短時間に数多く検証できる。これにより、かってはできなかったＰＰＭオーダーの保護動作不良回数を統計的に取り扱うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施の形態１を示す図で、電子安定器の構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１を示す図で、電子安定器の保護回路の信頼性試験方法を示すブロック図である。
【図３】実施の形態１を示す図で、信頼性試験の動作モデル図である。
【図４】実施の形態１を示す図で、電子安定器の保護回路の動作不良検知例を示す図である。
【符号の説明】
１  電源、２  整流回路、３  昇降圧回路、４  スイッチ回路、５  管電圧検知回路、６  制御回路、７  負荷、８  電子安定器、９  インピーダンス可変素子、１０  インピーダンス制御回路、１１  電流検出器、１２  保護動作観察自動記録装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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