(57)【要約】【課題】出力ピンのすべてのビットをトグルさせることのできる集積回路、及びそのモニタ回路のデバッグ方法を提供する。【解決手段】各段の機能ブロック１・・・は、当該機能ブロックが出力するモニタ信号、および前段の機能ブロックから出力されるモニタ信号、あるいはさらにパターン発生回路２０２より発生されるパターン信号のうちからいずれか１つを選択するセレクタ回路１０１・・・を備え、該セレクタ回路は通常モードもしくはモニタ回路テストモードのセレクタ信号に応じてモードを切替え、モニタ回路テストモード時には、モニタ回路２０のいずれかの機能ブロック内において上記パターン信号を発生させ、該パターン信号を、該モニタ回路内の各段の機能ブロックを経由させ、その最終段の機能ブロックからの出力を出力ピン２００にて観測することにより、デイジーチェーン接続のモニタ回路の接続をデバッグする。【選択図】      図１
2004185232.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の機能ブロックをデイジーチェーン接続してなるモニタ回路を備えた集積回路において、
前記モニタ回路を構成する前記複数の機能ブロックのうちのいずれか内に設けられ、該機能ブロック内にパターン信号を発生させるパターン発生回路と、
前記モニタ回路を構成する前記複数の機能ブロックの最終段の出力を観測し、外部に出力する出力ピンと、
前記各機能ブロック内におのおの設けられ、前段の機能ブロックから出力されるモニタ信号、該機能ブロック内で発生するモニタ信号、あるいは前記パターン発生回路により発生された前記パターン信号のいずれかを選択するセレクタ回路と、
前記各機能ブロック内のセレクタ回路に、通常モードおよびモニタ回路テストモードのいずれかを選択するセレクト信号を送るモード切替ピンと、
を備えたことを特徴とする集積回路。
【請求項２】
請求項１に記載の集積回路における、複数の機能ブロックをデイジーチェーン接続してなるモニタ回路の接続をデバッグする方法であって、前記モード切替ピンは、前記各機能ブロック内のセレクタ回路に、モニタ回路テストモードを選択するセレクト信号を与え、
前記各機能ブロック内のセレクタ回路は、前記パターン発生回路が発生した前記パターン信号を順次選択し、
前記出力ピンは、前記各段の機能ブロックを経て、最終段の機能ブロックから出力される信号を観測する、
ことを特徴とするデイジーチェーン接続モニタ回路のデバッグ方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、集積回路、及びデイジーチェーン接続モニタ回路のデバッグ方法に関し、特に、デイジーチェーン接続構成のモニタ回路の接続をデバッグする方法、およびこれを行うことのできる集積回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
集積回路上の複数の機能ブロックの接続方法には、各機能ブロックを１つずつ順番に配線したデイジーチェーン接続と、１つの機能ブロックを中心にして集中的に配線したスター接続等がある。本発明で取り扱うデイジーチェーン接続は、スター接続に比べ、機能ブロック間の管理や接続の手間が少なくて済むという利点がある反面、どこか１箇所でも接続ができていなければ、そこで全てが途切れてしまうという欠点がある。このため、デイジーチェーン接続においては、常にその接続をデバッグし、確認する必要がある。
【０００３】
図２は、従来のデイジーチェーン接続のモニタ回路を備えた集積回路の構成を示すブロック図である。
図２に示されるように、従来のデイジーチェーン接続のモニタ回路を備えた集積回路１０は、機能ブロック１，２，・・・，ｋ−１，ｋが、デイジーチェーン接続してなるモニタ回路２０と、前記モニタ回路２０の出力を外部に出力する出力ピン２００と、から構成される。
【０００４】
以上のように構成された、従来のデイジーチェーン接続構成のモニタ回路の接続をデバッグする方法について説明する。
出力ピン２００において、既存のマイクロコードのうち、なるべく多くのビットがトグルするような既存のマイクロコードを使用し、ｋ個（ｋは２以上の任意の整数）の機能ブロックがデイジーチェーン接続してなるモニタ回路２０を通って、出力ピン２００に出力されるモニタ信号３００＋ｋのビットが、前記出力ピン２２０にてトグルすることを確認する。これにより、デイジーチェーン接続構成のモニタ回路の接続をデバッグしている。（例えば、特許文献１、および特許文献２参照。）
【０００５】
【特許文献１】
特開２００１−１４２７３３号公報
【特許文献２】
特開２００１−１３４４６５号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の集積回路におけるデバッグ方法では、デイジーチェーン接続構成のモニタ回路の接続のデバッグを考慮していない既存のマイクロコードを使用しているため、出力ピンのすべてのビットをトグルさせることは困難であり、また、出力ピンのすべてのビットがトグルするようなマイクロコードを作成することも困難であるため、デイジーチェーン接続のモニタ回路の接続のデバッグを正確に行うことが困難であるという問題があった。
【０００７】
本発明は、上記従来の問題点を解決するためになされたもので、既存のマイクロコードを使用せず、また、すべてのビットがトグルするようなマイクロコードを新たに作成することなく、デイジーチェーン接続のモニタ回路の接続をデバッグすることのできる集積回路、および、該集積回路における、デイジーチェーン接続のモニタ回路の接続をデバッグする方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る集積回路は、複数の機能ブロックをデイジーチェーン接続してなるモニタ回路を備えた集積回路において、前記モニタ回路を構成する前記複数の機能ブロックのうちのいずれか内に設けられ、該機能ブロック内にパターン信号を発生させるパターン発生回路と、前記モニタ回路を構成する前記複数の機能ブロックの最終段の出力を観測し、外部に出力する出力ピンと、前記各機能ブロック内におのおの設けられ、前段の機能ブロックから出力されるモニタ信号、該機能ブロック内で発生するモニタ信号、あるいは前記パターン発生回路により発生された前記パターン信号のいずれかを選択するセレクタ回路と、前記各機能ブロック内のセレクタ回路に、通常モードおよびモニタ回路テストモードのいずれかを選択するセレクト信号を送るモード切替ピンと、を備えたものである。
【０００９】
また、本発明の請求項２に係るデイジーチェーン接続のモニタ回路のデバッグ方法は、請求項１に記載の集積回路における、複数の機能ブロックをデイジーチェーン接続してなるモニタ回路の接続をデバッグする方法であって、前記モード切替ピンは、前記各機能ブロック内のセレクタ回路に、モニタ回路テストモードを選択するセレクト信号を与え、前記各機能ブロック内のセレクタ回路は、前記パターン発生回路が発生した前記パターン信号を順次選択し、前記出力ピンは、前記各段の機能ブロックを経て、最終段の機能ブロックから出力される信号を観測するものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１による集積回路を示すブロック図である。
図１に示されるように、本発明の実施の形態１による集積回路１０は、複数個、即ち、ｋ個（ｋは２以上の任意の整数）の機能ブロック１，２，・・・，ｋ−１，ｋと、デイジーチェーン接続構成に接続されたモニタ回路２０と、前記モニタ回路２０の出力を集積回路１０外部へ出力し、これを観測することができるものとする出力ピン２００と、前記各機能ブロック内に設けられたセレクタ回路１０１，１０２，・・・，９９＋ｋ，１００＋ｋにセレクト信号を送るモード切替ピン２０１と、前記モニタ回路２０のいずれかの段の機能ブロック内に設けられ、パターン信号を出力するパターン発生回路２０２と、から構成される。
【００１１】
以上のように構成された、本実施の形態１における集積回路の動作について説明する。
本発明の実施の形態１における集積回路１０は、その動作モードとして、通常モードと、モニタ回路テストモードとを有するものであり、該両モードは、モード切替ピン２０１から出力されるセレクト信号により切り替えることのできるものである。まず、通常モードにおいては、モード切替ピン２０１から、通常モードを選択するセレクト信号が、デイジーチェーン接続のモニタ回路２０を構成するｋ個の機能ブロック１，２，・・・，ｋ−１，ｋ内のセレクタ回路１０１，１０２，・・・，９９＋ｋ，１００＋ｋに入力される。デイジーチェーン接続のモニタ回路２０の初段の機能ブロック１内のセレクタ回路１０１は、上記通常モードのセレクト信号を受けた通常モードにおいては、機能ブロック１内で発生したモニタ信号群４０１、のうちから、特定のビット数の信号、ここでは“１”を選択し、機能ブロック１のモニタ信号３０１として、図１に示す、各ビット１，ｘ，・・・，ｘ（ここで、ｘは未確定の値を示す。）の配列よりなる信号を出力する。このようにして機能ブロック１より出力された機能ブロック１のモニタ信号３０１は、次段の機能ブロック２に入力され、該機能ブロック２内のセレクタ回路１０２に入力される。
【００１２】
該２段目の機能ブロック２内のセレクタ回路１０２は、モード切替ピン２０１から通常モードのセレクト信号を受けると、機能ブロック２内で発生したモニタ信号群４０２と、前段の機能ブロック１からのモニタ信号３０１とのうちから、特定のビット数の信号、ここでは“２”を選択し、該機能ブロック２のモニタ信号３０２として、図１に示す、各ビット１，２，ｘ，・・・，ｘの配列よりなる信号を出力する。このようにして機能ブロック２より出力された機能ブロック２のモニタ信号３０２は、該機能ブロック２の次段の機能ブロックに入力され、以下、機能ブロックｋに至るまで、同様の動作が繰り返される。
【００１３】
次に、デイジーチェーン接続のモニタ回路２０を構成するｋ個の機能ブロックのうち最終段の機能ブロックｋ内のセレクタ回路１００＋ｋは、モード切替ピン２０１から通常モードのセレクト信号を受けると、該機能ブロックｋ内で発生したモニタ信号群４００＋ｋと、その前段の機能ブロックｋ−１から出力されたモニタ信号２９９＋ｋ、すなわち図１に示す、各ビット１，２，・・・ｋ−１，ｘの配列よりなる信号とのうちから、特定のビット数の信号、ここでは“ｋ”を選択し、該機能ブロックｋのモニタ信号３００＋ｋとして、図１に示す、各ビット１，２，・・・，ｋ−１，ｋの配列より信号を出力する。ここで、機能ブロックｋは、デイジーチェーン接続のモニタ回路２０を構成するうちの最終段の機能ブロックであるため、該モニタ信号３００＋ｋは、本モニタ回路２０の最終モニタ出力であり、出力ピン２００から、集積回路１０外部に出力される。
【００１４】
次に、モニタ回路テストモードにおいては、モード切替ピン２０１から出力されるモニタ回路テストモードを選択するセレクタ信号が、デイジーチェーン接続のモニタ回路２０を構成するｋ個の機能ブロック１，２，・・・，ｋ−１，ｋ内のセレクタ回路１０１，１０２，・・・，９９＋ｋ，１００＋ｋに入力される。デイジーチェーン接続のモニタ回路２０の初段の機能ブロック１内のセレクタ回路１０１は、上記モニタ回路テストモードのセレクト信号を受けたモニタ回路テストモードにおいては、機能ブロック１内で発生したモニタ信号群４０１と、パターン発生回路２０２で発生したｎビットのパターン信号とのうちから、ｎビットのパターン信号を選択し、これを該機能ブロック１のモニタ信号出力線に出力する。該機能ブロック１から出力されたｎビットのパターン信号は、次段の機能ブロック２に入力され、該機能ブロック２内のセレクタ回路１０２に入力される。
【００１５】
該２段目の機能ブロック２内のセレクタ回路１０２は、モニタ回路テストモード時には、機能ブロック２内で発生したモニタ信号群４０２と、機能ブロック１からモニタ信号出力線に出力された上記ｎビットのパターン信号と、のうちから、ｎビットのパターン信号を選択し、機能ブロック２のモニタ信号出力線に出力する。この動作を以下繰り返すことにより、デイジーチェーン接続のモニタ回路２０を構成する各段の機能ブロックを経て最終段の機能ブロックｋから、そのモニタ信号出力線に上記パターン信号が出力され、該パターン信号が出力ピン２００から出力される。したがって、該出力ピン２００から出力される信号が毎サイクル変化するか否かを、観測することにより、デイジーチェーン接続のモニタ回路２０の各機能ブロック間の接続をデバックすることができる。
【００１６】
即ち、前記モニタ回路テストモードにおいて、機能ブロック１内に設けた前記パターン発生回路２０２より既知のパターン信号を発生させると、該既知のパターン信号は、ｋ個の機能ブロックのすべてを通過して出力ピン２００へ出力されるから、これを観測すればよい。パターン発生回路２０２で発生させる既知のパターン信号は、ｎビットの全てのビットが“０”または“１”で構成されていればどのようなパターンでも良いが、最初のサイクルで“０１０１・・・”となり、次のサイクルで“１０１０・・・”となるようなトグルパターンは、パターン発生回路２０２にてパターンを発生させ易く、出力パターンを出力ピン２００にて２サイクル観測するだけで良いという理由により最も適しているものであり、前記パターン発生回路２０２にて前記パターンを発生させ、出力ピン２００にて観測した結果、ｎビットの全てのビットで、“０”と“１”の変化が見られた場合、デイジーチェーン接続のモニタ回路の接続は正しく行われており、ｎビットのうち、２サイクル連続して“０”あるいは“１”である場合、デイジーチェーン接続のモニタ回路の接続は正しく行われていないと判定することができる。
【００１７】
なお、本実施の形態１においては、パターン発生回路はデイジーチェーン構成のモニタ回路の起点となる機能ブロックのみに設けたが、その他の各機能ブロックに設けてもよい。
【００１８】
また、本実施の形態１においては、デイジーチェーン接続のモニタ回路を構成する機能ブロック数を３個以上のｋ個としたが、これは、デイジーチェーン接続で構成されていれば、いくつでもよい。
【００１９】
このように、本実施の形態１による集積回路、及びデイジーチェーン接続のモニタ回路のデバッグ方法においては、複数の機能ブロックをデイジーチェーン接続してなるモニタ回路２０を備えた集積回路１０において、前記モニタ回路２０の出力を観測し、外部に出力する出力ピン２００と、所要の機能ブロック内に、所要のパターン信号を発生させるパターン発生回路２０２と、前記各機能ブロック内に、前段の機能ブロックから出力されるモニタ信号、当該機能ブロック内で発生するモニタ信号、あるいは前記パターン発生回路により発生された前記パターン信号のいずれかを選択するセレクタ回路１０１とを設け、前記各機能ブロック内のセレクタ回路に、通常モードおよびモニタ回路テストモードのいずれかを選択するセレクト信号を、モード切替ピン２０１から送るようにし、モニタ回路テストモード時には、上記各機能ブロック内のセレクタ回路は、前記パターン発生回路が発生した前記パターン信号を順次選択し、前記各段の機能ブロックを経て、最終段の機能ブロックから出力される信号を、前記出力ピン２００にて観測するようにした。これにより、既存のマイクロコードを用いることなく、また、出力ピンのなるべく多くのビットがトグルするようなマイクロコードを新たに作成する必要もなく、デイジーチェーン接続構成のモニタ回路の接続を、容易にデバッグすることができる。
【００２０】
【発明の効果】
以上のように、本発明の請求項１の集積回路、及びデイジーチェーン接続のモニタ回路の接続をデバッグする方法によれば、複数の機能ブロックをデイジーチェーン接続してなるモニタ回路を備えた集積回路において、前記モニタ回路を構成する前記複数の機能ブロックのうちのいずれか内に設けられ、該機能ブロック内にパターン信号を発生させるパターン発生回路と、前記モニタ回路を構成する前記複数の機能ブロックの最終段の出力を観測し、外部に出力する出力ピンと、前記各機能ブロック内におのおの設けられ、前段の機能ブロックから出力されるモニタ信号、該機能ブロック内で発生するモニタ信号、あるいは前記パターン発生回路により発生された前記パターン信号のいずれかを選択するセレクタ回路と、前記各機能ブロック内のセレクタ回路に、通常モードおよびモニタ回路テストモードのいずれかを選択するセレクト信号を送るモード切替ピンと、を備えた構成とし、モニタ回路テストモード時に、前記パターン発生回路より既知のパターン信号を発生し、上記デイジーチェーン接続構成の各機能ブロックをすべて経由して出力ピンから出力される信号を、観測し、該信号が変化するか否かによりデイジーチェーン接続構成のモニタ回路の接続をデバッグするようにしたので、既存のマイクロコードを用いることなく、また、出力ピンのなるべく多くのビットがトグルするようなマイクロコードを新たに作成する必要もなく、集積回路のデイジーチェーン接続のモニタ回路の接続をデバッグすることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１によるデイジーチェーン接続してなるモニタ回路を有する集積回路の構成図。
【図２】従来例による集積回路の構成図。
【符号の説明】
１、２、ｋ−１、ｋ  機能ブロック
１０  集積回路
２０  モニタ回路
１０１、１０２、９９＋ｋ、１００＋ｋ  セレクタ回路
２００  出力ピン
２０１  モード切替ピン
２０２  パターン発生回路
３０１、３０２、２９９＋ｋ、３００＋ｋ  モニタ信号
４０１、４０２、３９９＋ｋ、４００＋ｋ  機能ブロックのモニタ信号群
【図１】
2004185232.tif 000003
【図２】
2004185232.tif 000004