(57)【要約】【課題】システム装置における高品質の機能テスト手順を得ることができるようにした機能テスト手順自動生成方法およびその自動生成システムを提供する。【解決手段】入力した機能仕様を解析し機能を抽出する機能仕様解析処理部２０と、機能毎に機能テスト項目を生成し、対応する機能テスト項目内容を知識データベース３６から抽出する知識データベース制御処理部３０と、機能テスト項目内容から機能テスト手順を出力する機能テスト自動生成処理部４０とを有して構成し、従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得る。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力した機能仕様を解析し機能を抽出するステップと、抽出した機能毎に機能テスト項目を生成するステップと、生成した機能テスト項目に対応する機能テスト項目内容を知識データベースから抽出するステップと、この抽出した機能テスト項目内容に複合性を示す参照機能テスト項目がある場合は単機能テスト項目から学習するステップと、この抽出した機能テスト項目内容に複合性を示す参照機能テスト項目がない場合は上記知識データベースから対応する機能テスト項目内容を抽出するステップと、抽出した機能テスト項目内容から機能テスト手順を出力するステップとを有することを特徴とする機能テスト手順自動生成方法。
【請求項２】
システム装置の機能テスト手順を生成する機能テスト手順自動生成システムにおいて、入力した機能仕様を解析し機能を抽出する機能仕様解析処理部と、この機能仕様解析処理部によって抽出した機能毎に機能テスト項目を生成し、対応する機能テスト項目内容を知識データベースから抽出する知識データベース制御処理部と、上記機能テスト項目内容から機能テスト手順を出力する機能テスト手順出力制御部とを有することを特徴とする機能テスト手順自動生成システム。
【請求項３】
請求項２記載のものにおいて、上記知識データベース制御処理部は、上記機能仕様解析処理部によって抽出した機能毎に機能テスト項目を生成する機能テスト項目生成制御部と、機能テスト項目に複合機能が含まれるか否かを判定し、含まれる場合に単機能テスト項目に分解する複合テスト分解ルーチン手段と、この複合テスト分解ルーチン手段によって分解した単機能テスト項目に対応する機能テスト項目内容を知識データベースから抽出する知識データベース編集制御部とを有することを特徴とする機能テスト手順自動生成システム。
【請求項４】
請求項３記載のものにおいて、知識データベース編集制御部に、上記複合テスト分解ルーチン手段によって分解された単機能テスト項目に対応する上記知識データベース内のテスト項目内容に複合性を示す参照するテスト項目があるとき、上記知識データベース内の単機能テスト項目から複合機能テスト項目を学習して出力するテスト項目学習制御部を設けたことを特徴とする機能テスト手順自動生成システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、システム装置の機能テスト手順を自動的に生成する機能テスト手順自動生成方法およびその自動生成システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来におけるシステム装置の機能テストは、ハードウェア設計者の助けを得ながら過去の類似装置を参考にして作成した機能テスト手順によって行っていた。このような手法では、システム装置に搭載する論理規模が増大するに伴って効率が悪く、機能テストにおける検証項目の漏れが発生する可能性も大きい。そこで、ＣＰＵと周辺回路とを含むＬＳＩ装置に対して、外部からの信号やプログラムを実行せずに、そのＬＳＩ装置に内蔵される各機能に対する試験を行うようにすることが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１１−３２８１４７号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特許文献１に記載された従来のものでは、ＬＳＩの故障検出はできてもシステム装置の機能検証には適用できない。従って、システム装置の機能テストは依然として人手に頼らざるを得ず、俗人的なテスト項目の品質のばらつきが発生して、有効な効率よいテストが行えない。
【０００５】
本発明の目的は、システム装置における高品質の機能テスト手順を得ることができるようにした機能テスト手順自動生成方法およびその自動生成システムを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記目的を達成するために、入力した機能仕様を解析し機能を抽出するステップと、抽出した機能毎に機能テスト項目を生成するステップと、生成した機能テスト項目に対応する機能テスト項目内容を知識データベースから抽出するステップと、この抽出した機能テスト項目内容に複合性を示す参照機能テスト項目がある場合は単機能テスト項目から学習するステップと、この抽出した機能テスト項目内容に複合性を示す参照機能テスト項目がない場合は上記知識データベースから対応する機能テスト項目内容を抽出するステップと、抽出した機能テスト項目内容から機能テスト手順を出力するステップとを有することを特徴とする。
【０００７】
本発明による機能テスト手順自動生成方法は、抽出した機能毎に機能テスト項目を生成し、これに対応する機能テスト項目内容を知識データベースから抽出して得るようにし、しかも、複合性を示す参照機能テスト項目があるとき単機能テスト項目から学習して複合性テスト項目内容を得るようにしたため、知識データベースに存在する単機能テスト項目との対応が容易に取れ、従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得ることができる。
【０００８】
また請求項２に記載の本発明は上記目的を達成するために、システム装置の機能テスト手順を生成する機能テスト手順自動生成システムにおいて、入力した機能仕様を解析し機能を抽出する機能仕様解析処理部と、この機能仕様解析処理部によって抽出した機能毎に機能テスト項目を生成し、対応する機能テスト項目内容を知識データベースから抽出する知識データベース制御処理部と、上記機能テスト項目内容から機能テスト手順を出力する機能テスト手順出力制御部とを有することを特徴とする。
【０００９】
請求項２に記載の本発明による機能テスト手順自動生成システムは、機能毎に機能テスト項目を生成し、対応する機能テスト項目内容を知識データベースから抽出し、この抽出した機能テスト項目内容に基づいて機能テスト手順を出力するようにしたため、知識データベース内に蓄積した単機能の機能テスト項目内容を活用して、従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得ることができる。
【００１０】
請求項３に記載の本発明は、請求項２記載のものにおいて、上記知識データベース制御処理部は、上記機能仕様解析処理部によって抽出した機能毎に機能テスト項目を生成する機能テスト項目生成制御部と、機能テスト項目に複合機能が含まれるか否かを判定し、含まれる場合に単機能テスト項目に分解する複合テスト分解ルーチン手段と、この複合テスト分解ルーチン手段によって分解した単機能テスト項目に対応する機能テスト項目内容を知識データベースから抽出する知識データベース編集制御部とを有することを特徴としており、機能テスト項目に複合機能が含まれるか否かを判定し、含まれる場合に単機能テスト項目に分解する複合テスト分解ルーチン手段によって、知識データベースに蓄積したデータベースに対応させることが容易になり、かつ従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得ることができる。
【００１１】
また請求項４に記載の本発明は、請求項３記載のものにおいて、知識データベース制御処理部に、上記複合テスト分解ルーチン手段によって分解された単機能テスト項目に対応する上記知識データベース内のテスト項目内容に複合性を示す参照するテスト項目があるとき、上記知識データベース内の単機能テスト項目から複合機能テスト項目を学習して出力するテスト項目学習制御部を設けたことを特徴としており、単機能に分解された機能テスト項目が複合性を有する場合に、テスト項目学習制御部によって複合機能テスト項目を学習することができ、従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得ることができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図１は、本発明の一実施の形態による機能テスト手順自動生成システムを示すブロック構成図である。
本実施例におけるシステム装置は、ＣＰＵなどの能動部品を含む機能部品で構成された電子機器のうちボードレベルを例示しているが、ＬＳＩを含む機能部品で構成された電子機器であれば良く、このようなシステム装置の仕様１は、一般にドキュメントで与えられ、これを機能テスト手順自動生成システム１０に入力することによって所望の機能テストプログラムまたは信号列パターンの機能テスト出力２を自動的に出力するようにしている。
【００１３】
システム装置の機能動作を検証するためのテストシーケンスを作成する機能テスト手順自動生成システム１０は、機能仕様解析処理部２０と、知識データベース制御処理部３０と、機能テスト自動生成処理部４０とから構成されている。機能仕様解析処理部２０は、自然言語で定義した機能仕様を入力する機能仕様入力部２１と、この機能仕様を解析する仕様解析制御部２２と、この仕様解析制御部２２で解析された仕様を機能毎に抽出する機能抽出制御部２３で構成されている。この機能仕様解析処理部２０の役割は、開発者が理解できるドキュメントで書かれたシステム装置の仕様書を知識データベース制御処理部３０が理解できる機能毎に分解することである。この機能は、最小単位の単機能でもよいし、切り離すことができない複数の単機能を含んだ複合機能であってもよい。
【００１４】
次に、上述した知識データベース制御処理部３０について説明する。
知識データベース制御処理部３０は、機能テスト選択・指示部３１と、テスト項目学習制御部３２と、機能テスト項目生成制御部３３と、知識データベース制御部３４と、知識データベースの編集制御部３５と、知識データベース３６および機能テスト表示部３７とで構成されており、この知識データベース制御処理部３０の役割は、機能抽出制御部２３で得られた機能毎に該当する機能テスト項目を知識データベース３６から選び出し、その結果を機能テスト表示部３７に表示すると共に、機能テスト選択・指示部３１で指定した機能テスト項目に該当する詳細な機能テスト項目内容を知識データベース３６から選び出すことである。
【００１５】
図３は、機能テスト項目生成制御部３３により機能抽出制御部２３で得られた機能毎に該当する機能テスト項目を知識データベース３６から選び出し、その結果を機能テスト表示部３７に表示した画面３を示している。
同図に示したように機能４毎に知識データベース３６から選び出した機能テスト項目５ａ〜５ｎを表示し、機能テスト手順を利用する利用者がこれを確認すると共に、所望の機能テスト項目５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｎを選んでチェックマーク６をつける。このとき、対応する機能テスト項目内容が知識データベース３６に存在するときは、知識データベース編集制御部３５によって所望の機能テスト項目内容を抽出する。
【００１６】
図５は、知識データベース３６の構造の一例を示す模式図である。
知識データベース３６には、図示のように機能テスト（１）から機能テスト（Ｎ）までの信号列パターン７ａ〜７ｎである機能テスト項目内容が予め内蔵している。図３で指定された所望の機能テスト項目５ａ〜５ｎと、図５に示した信号列パターン７ａ〜７ｎとが一致するか否かの対応関係の比較は知識データベース制御処理部３０で行う。
【００１７】
次に、上述した機能テスト自動生成処理部４０について説明する。
機能テスト自動生成処理部４０は、機能テスト生成制御部４１と、仕様リンク制御部４２と、機能テスト手順出力制御部４３と、出力選択指示部４４および出力選択表示部４５とから構成している。この機能テスト自動生成処理部４０の役割は、知識データベース制御処理部３０で生成した機能テスト項目内容をもとに、仕様リンク制御部４２でその他の仕様、例えば該当ボードに依存する入出力インタフェース属性などを付加することであり、さらに、出力選択表示部４５に表示させ、出力選択指示部４４で指示された機能テストデータ出力書式に従って仕様リンク制御部４２で処理した所望の機能テスト手順を出力することである。
【００１８】
図４は、上述した機能テストデータ出力例を出力選択表示部４５の画面８に表示したものである。
出力選択指示部４４で指示する機能テストデータ出力は、テストデータ出力選択９として表示された複数の機能テストデータ出力書式１１ａ〜１１ｎのうち、所望のテストデータ出力書式１１ａ，１１ｎにチェックマーク６を付けて行う。このとき出力された機能テスト出力２が高級言語レベルでのプログラムソース出力の場合、プログラムソースは該当ＣＰＵ上でコンパイルしリンクすることで、該当ボードの機能動作確認が可能となる。一方、機能テスト出力２が信号列パターンの場合、この信号列パターンはＣＰＵを持たない装置への適用が可能となる。
【００１９】
図２は、上述した機能テスト手順自動生成システムの動作および自動生成方法を示すフローチャートである。
先ず、ステップＳ１で仕様入力部２１から仕様１を入力する。次に、ステップＳ２で仕様解析制御部２２は入力された仕様を解析し、ステップＳ３で機能抽出制御部２３はそれを機能毎に抽出する。
【００２０】
続くステップＳ４で知識データベース制御処理部３０の機能テスト項目生成処理部３３は、機能抽出制御部２３で得られた機能毎に該当する機能テスト項目を知識データベース３６から選び出し、機能テスト表示部３７に表示する。この状態で、機能テスト選択・指示部３１で該当する機能テスト項目を確認すると共に、利用するものを選定してチェックマーク６によって指定する。ステップＳ５では判別手段によって、この機能テスト項目が単機能または複合機能であるかを判別し、機能テスト項目が複合機能であればステップＳ６の複合機能テスト分解ルーチン手段による複合機能テスト分解ルーチンへ遷移し、機能テスト項目が単機能であれば、ステップＳ７に移動する。
【００２１】
ここで、上述した複合機能テスト分解ルーチン手段について説明する。
この複合機能テスト分解ルーチン手段は、複合機能テストを単機能テストに分解する。例えば単機能テスト（１）と単機能テスト（２）と単機能テスト（３）の論理和が複合機能Ｂである場合、Ｂ＝（１）＋（２）＋（３）であるとする。一方、単機能テスト（１）と単機能テスト（２）と単機能テスト（３）の論理積が複合機能Ｃである場合、Ｃ＝（１）＆（２）＆（３）であるとする。いかなる複合機能テストも要素に分解すると単機能テストの集まりとなる。従って、分解した単機能テスト項目を用いて知識データベース３６内の機能テスト項目内容を検索する。
【００２２】
続くステップＳ７では、図３で説明したように機能テスト選択・指示部３１で指定すると共に単機能に分解した機能テスト項目に該当する機能テスト項目内容を、知識データベース編集制御部３５により知識データベース３６から検索し抽出する。ステップＳ８では、知識データベース３６から抽出した該当する機能テスト項目内容に参照する機能テスト項目内容があるか否か、つまり、複合性を示唆する機能テスト項目であるか否かを判定し、複合性を示唆する機能テスト項目内容である場合、ステップＳ１０に移行してテスト項目学習制御部３２によりそれらの単機能テスト項目の組み合わせから複合性機能テスト項目内容に相当するものを学習して所望の機能テスト項目内容を生成する。しかし、ステップＳ８で複合性を示唆する参照機能テスト項目がなければ、ステップＳ９に進み、知識データベース編集制御部３５で単機能テスト項目内容を抽出した後、ステップＳ１１に進む。
【００２３】
ステップＳ１１では、全ての機能テスト項目について上述の編集作業を実施し終えたかを判断し、残りがあればステップＳ５から再度同様に実施し、一方、全ての機能テスト項目について実施し終えたなら、機能テスト自動再成処理部４０の処理動作であるステップＳ１２に進む。
【００２４】
このステップＳ１２では、出力選択指示部４４から出力選択表示部４５に表示したテストデータ出力に関して図３に示したようにチェックマーク６によって選択を行い、この出力選択に従って入手した機能能テスト項目内容から機能テスト生成制御部４１により機能テストを生成する。ステップＳ１３では仕様リンク制御部４２によりその他の仕様、例えば該当ボードに依存する入出力インタフェース属性などの仕様を付加し、続くステップＳ１４では、機能テスト手順出力制御部４３により機能テストデータの出力書式に従って機能テスト手順を出力する。
【００２５】
このような機能テスト手順自動生成システムによれば、入力した機能仕様を解析し機能を抽出する機能仕様解析処理部２０と、機能毎に機能テスト項目を生成し、それに対応する機能テスト項目内容を知識データベース３６から抽出する知識データベース制御処理部３０と、機能テスト項目内容から機能テスト手順を出力する機能テスト自動生成処理部４０とを有して構成したため、知識データベース内に蓄積した単機能の機能テスト項目内容を活用して、従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得ることができる。
【００２６】
知識データベース制御処理部３０には、機能毎の機能テスト項目を確認すると共に選択可能な機能テスト選択・指示部３１を設けることによって、利用者による確認を行うことができる。また知識データベース制御処理部３０に、機能テスト項目に複合機能が含まれるか否かを判定し、含まれる場合に単機能に分解する複合テスト分解ルーチン手段を設けたため、複合テスト分解ルーチン手段によってテスト項目を単機能に分解することができ、知識データベース３６に蓄積したデータベースに対応させることが容易になり、かつ従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得ることができる。
【００２７】
また、知識データベース制御処理部３０は、知識データベース３６内の単機能テスト項目から複合機能テスト項目を学習するテスト項目学習制御部３２を有して構成したため、上述した複合テスト分解ルーチン手段によって単機能に分解された機能テスト項目が複合性を有する場合には、単機能テスト項目の組み合わせからテスト項目学習制御部３２によって複合機能テスト項目内容を学習し抽出することができる。
【００２８】
また、上述した機能テスト手順自動生成方法では、入力した機能仕様を解析し機能を抽出するステップと、この抽出した機能毎に機能テスト項目を生成するステップと、この生成した機能テスト項目に対応する機能テスト項目内容を知識データベース３６で検索し抽出するステップと、知識データベース３６に複合性を示す参照機能テスト項目がある場合は単機能テスト項目内容から複合機能テスト項目内容を学習するステップと、複合性を示す機能テスト項目がない場合は知識データベース３６の対応する機能テスト項目内容を抽出するステップと、抽出した機能テスト項目内容から機能テスト手順を出力するステップとを有するため、知識データベースに存在する単機能テスト項目との対応が容易に取れ、同様に従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得ることができる。
【００２９】
【発明の効果】
以上説明したように本発明の機能テスト手順自動生成システムおよび機能テスト手順自動生成方法によれば、従来のような人手による俗人的なテスト項目の品質のばらつきを発生させることなく高品質で、機能テストにおける検証項目の漏れの発生を抑えて効率よく機能テスト手順を得ることができ、また機能テスト手順を短期間で自動生成して、システム装置の機能検証開発期間を短縮することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態による機能テスト手順自動生成システムのブロック構成図である。
【図２】図１に示した機能テスト手順自動生成システムの処理動作を示すフローチャートである。
【図３】図１に示した機能テスト手順自動生成システムにおける機能テスト表示部への単機能テスト項目の表示例を示す画面の正面図である。
【図４】図１に示した機能テスト手順自動生成システムにおける出力選択表示部への機能テストデータ出力選択の表示例を示す画面の正面図である。
【図５】図１に示した機能テスト手順自動生成システムにおける知識データベースの構成例を示す模式図である。
【符号の説明】
１　仕様
２０　機能仕様解析処理部
３０　知識データベース制御処理部
３１　機能テスト選択・指示部
３２　テスト項目学習制御部
３３　機能テスト項目生成制御部
３５　知識データベース編集制御部
３６　知識データベース
４０　機能テスト自動生成処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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