(57)【要約】【課題】容易にテストパターン入力と変更ができると共に、テストパターンの再利用ができるようにしたテストパターン生成装置を提供する。【解決手段】テストパターン生成装置５のテストパターン作成手段７における箱形式入力手段７Ａでパターンを部品化した時間方向と信号方向を有する箱形式でパターンデータを入力し、箱配置形式変換指示手段７Ｂで入力された変換指示どおりに時刻方向および信号方向にパターン変換してテストパターンを生成し、テストパターン変換手段７Ｃで入力された変換指示とパターンデータからテストパターンに変換する。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストパターンを作成するテストパターン作成手段と、この作成したテストパターンを表示するための画面表示制御手段と、作成したテストパターンを保存するテストパターン保存手段からなるテストパターン生成装置において、上記テストパターン作成手段は、生成するテストパターンのパターンデータをパターン部品毎に時刻方向および信号方向を有する箱形式で入力する箱形式パターン入力手段と、この箱形式パターン入力手段で作成した箱内の時刻方向および信号方向にパターンデータの変換指示を指示する箱配置形式変換指示手段と、上記箱形式パターン入力手段で入力したパターンデータを前記箱配置形式変換指示手段の指示に従ってパターン変換を行うテストパターン変換手段とを備えたことを特徴とするテストパターン生成装置。
【請求項２】
ディスプレイ装置を有する出力装置と、キーボードを有する入力装置と、プログラム制御により動作する演算処理装置と、情報を記憶するデータ記憶装置とを備えたコンピュータに、上記演算処理装置を用いてテストパターンを作成するテストパターン作成手段と、この作成したテストパターンを表示するための画面表示制御手段と、作成したテストパターンを保存するテストパターン保存手段からなるテストパターン生成装置を接続したものにおいて、上記テストパターン作成手段は、生成するテストパターンのパターンデータをパターン部品毎に時刻方向および信号方向を有する箱形式で上記入力装置から入力する箱形式パターン入力手段と、この箱形式パターン入力手段で作成した箱内の時刻方向および信号方向にパターンデータの変換指示を上記入力装置から指示する箱配置形式変換指示手段と、上記箱形式パターン入力手段で入力したパターンデータを前記箱配置形式変換指示手段の指示に従ってパターン変換を行うテストパターン変換手段とを備えたことを特徴とするテストパターン生成装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子回路等の動作をテストするためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種のテストパターン生成装置として特開２０００−３３８２００号公報に記載のものが知られ、図１０に示すように画面表示制御手段６と、テストパターン作成手段７と、テストパターン保存手段８を備えて構成され、ディスプレイ装置やプリンタ装置等の出力装置１と、キーボードやマウス等の入力装置２と、プログラム制御により動作する演算処理装置３と、テストパターンデータ４Ａを含む情報を記憶するデータ記憶装置４とからなるコンピュータに接続されて使用される。テストパターン作成手段７は、入力装置２からの表形式の入力指示を表形式変換指示手段７Ａおよび表形式パターン入力手段７Ｂで受け付け、テストパターン変換手段７Ｃで入力された変換指示とパターンデータからテストパターンに変換し、生成されたパターンを画面表示制御手段６により出力装置１に表示すると共に、テストパターン保存手段８によってデータ記憶装置４にテストパターンデータとして保存していた。
【０００３】
図８は、設計されたテストパターンの一例を示すタイムチャートである。
信号名ＣＴＬ＿Ａ、ＤＡＴＡ＿Ａ、ＣＴＬ＿Ｂ、ＤＡＴＡ＿Ｂにそれぞれ入力する信号値の「０」、「１」を連続した時刻で表す波形で表現しており、従来は、このタイムチャートを波形エディタ等を使って入力していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来のテストパターン生成装置は、第一に、信号を入力する電子回路のすべての信号について、時刻方向に最終パターンまで信号を入力するため、テストパターンの一部の変更や再利用が困難である。また、生成後の波形はタイムチャートで確認する必要があり、表示された「０」、「１」のパターンを信号方向および時刻方向に追って確認しなければならず、信号間依存関係の検証や、テストの内容を理解することがきわめて困難であった。
【０００５】
本発明の目的は、容易にテストパターン入力と変更ができると共に、テストパターンの再利用ができるようにしたテストパターン生成装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記目的を達成するために、テストパターンを作成するテストパターン作成手段と、この作成したテストパターンを表示するための画面表示制御手段と、作成したテストパターンを保存するテストパターン保存手段からなるテストパターン生成装置において、上記テストパターン作成手段は、生成するテストパターンのパターンデータをパターン部品毎に時刻方向および信号方向を有する箱形式で入力する箱形式パターン入力手段と、この箱形式パターン入力手段で作成した箱内の時刻方向および信号方向にパターンデータの変換指示を指示する箱配置形式変換指示手段と、上記箱形式パターン入力手段で入力したパターンデータを前記箱配置形式変換指示手段の指示に従ってパターン変換を行うテストパターン変換手段とを備えたことを特徴とする。
【０００７】
本発明によるテストパターン生成装置は、箱形式パターン入力手段でパターン部品毎に時刻方向および信号方向を有する箱形式でパターンデータを入力し、箱形式パターン入力手段で入力された変換指示どおりに箱配置形式変換指示手段によって時刻方向および信号方向にパターン変換してテストパターンを生成することができるようになり、パターンデータの入力が箱形式毎で容易になると共に、変換指示も箱形式で行うことによってパターンの確認と変更が極めて容易にできる。また、パターン部品毎の箱とすることによって、部品を再利用して類似のパターン作成が容易になる。
【０００８】
また請求項２に記載の本発明は上記目的を達成するために、ディスプレイ装置を有する出力装置と、キーボードを有する入力装置と、プログラム制御により動作する演算処理装置と、情報を記憶するデータ記憶装置とを備えたコンピュータに、上記演算処理装置を用いてテストパターンを作成するテストパターン作成手段と、この作成したテストパターンを表示するための画面表示制御手段と、作成したテストパターンを保存するテストパターン保存手段からなるテストパターン生成装置を接続したものにおいて、上記テストパターン作成手段は、生成するテストパターンのパターンデータをパターン部品毎に時刻方向および信号方向を有する箱形式で上記入力装置から入力する箱形式パターン入力手段と、この箱形式パターン入力手段で作成した箱内の時刻方向および信号方向にパターンデータの変換指示を上記入力装置から指示する箱配置形式変換指示手段と、上記箱形式パターン入力手段で入力したパターンデータを前記箱配置形式変換指示手段の指示に従ってパターン変換を行うテストパターン変換手段とを備えたことを特徴とする。
【０００９】
請求項２に記載の本発明によるテストパターン生成装置は、コンピュータとして使用されている入力装置や表示装置を使用して箱形式パターン入力手段でパターン部品毎に時刻方向および信号方向を有する箱形式でパターンデータを入力し、箱形式パターン入力手段で入力された変換指示どおりに箱配置形式変換指示手段によって時刻方向および信号方向にパターン変換してテストパターンを生成することができるようになり、テストパターンの入力を箱毎に容易に行えると共に、変換指示も配置形式で行うことによってパターンの確認と変更が極めて容易にできる。また、パターン部品毎の箱とすることによって、部品の再利用によって類似のパターン作成が容易になる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図１は、本発明の一実施の形態によるテストパターン生成装置を示すブロック図である。
テストパターンを生成するテストパターン生成装置５は、画面表示制御手段６と、テストパターン作成手段７と、テストパターン保存手段８とから成り、テストパターン作成手段７は箱形式入力手段７Ａと、箱配置形式変換指示手段７Ｂと、テストパターン変換手段７Ｃとを有している。このテストパターン生成装置５は、コンピュータのプログラム制御により動作する演算処理装置３に接続され、この演算処理装置３にはディスプレイ装置やプリンタ装置等の出力装置１と、キーボードやマウス等の入力装置２と、情報を記憶するデータ記憶装置４とが接続されている。演算処理装置５は、入力装置２、データ記憶装置４、さらにテストパターン生成装置５からの各種情報により演算処理を行い、その結果を出力装置１に出力すると共にデータ記憶装置４に記憶する。
【００１１】
テストパターン生成装置５の箱形式入力手段７Ａは、生成するテストパターンの信号名およびパターン値などのパターンデータをコンピュータの入力装置２を用いながらパターン部品毎に時刻方向と信号方向を有する箱形式で箱形式入力を行い、この箱形式入力手段７Ａで作成した各箱内の時刻方向と信号方向にパターンデータを入力装置２を用いながら箱配置形式変換指示手段７Ｂにより変換指示する。これらの箱形式入力手段７Ａよび箱配置形式変換指示手段７Ｂは、入力装置２からの箱形式の入力指示を受け付け、箱形式パターン入力結果および箱配置形式変換指示結果を画面表示制御手段６により出力装置１に表示する。テストパターン変換手段７Ｃは、箱形式入力手段７Ａで入力されたパターンデータを箱配置形式変換指示手段７Ｂで指示されたとおりに時刻方向および信号方向への展開変換を行い、またテストパターン保存手段８は、テストパターン変換手段７Ｃで変換生成されたテストパターンデータをデータ記憶装置４にテストパターンデータ４Ａとして記憶する。
【００１２】
次に、箱形式入力の基本パターン図である図２と、それによって生成されたパターン図を示す図３を参照して箱形式入力について説明する。
箱形式は、箱名称１１と、縦方向に複数並べた信号名欄１４と、横方向に複数並べた時刻欄１７と、これら信号名欄１４および時刻欄１７によって対応関係を有する複数の信号入力値欄１８と、信号名割当て入力欄１５と、信号値割当て入力欄１６とを有している。
【００１３】
まず、箱の外形情報は、箱名称１１に信号名を入力し、縦方向に複数並べた信号名欄１４に信号名１４ａ，１４ｂのように１つ以上を入力し、信号値割当て入力欄１６に外部からの指定で可変とする信号値に割り当てる「変数名」を入力し作成する。ただし、外部からの指定で可変とする信号値がない場合、信号値割当て入力欄１６には何も入力しない。信号名欄１４に信号名１４ａおよび信号名１４ｂを入力すると、信号名割当て入力欄１５に箱配置形式変換指示で入力する信号名として表示されるようにしている。
【００１４】
次に、箱の内部パターン情報は、信号値入力欄１８に「０」や「１」の信号値、または信号値割当て入力欄１６に入力した「変数名」を入力し作成する。各信号名１４ａ，１４ｂの信号値は、時刻欄１７のうち信号が変化する時刻に対応する部分のみに入力する。例えば、図２の例では信号名１４ａが時刻欄１７の時刻「１」で「０」に変化し、時刻「２」で「１」に変化することを入力しており、信号名１４ｂは時刻「１」で「変数名１」に変化、時刻「３」で「変数名２」に変化することを入力している。時刻欄１７には信号値を入力しない時刻も作成することにより、信号値を入力した最大時刻より大きな任意の時刻数とできる。また、時刻「０」が箱の配置基準点１９である。
【００１５】
図３は、このように入力されて作成された箱のパターン図を示している。
図２に示した信号値入力欄１８に信号値「０」、「１」および「変数名」が入力されている場合、それらが入力された値となり、入力されていない場合は前値を保持する。つまり、信号名１４ａでは時刻「０」では前値を保持し、時刻「１」では信号値「０」となり、時刻「２」では信号値「１」となり、その後は前値を保持することになる。また信号名１４ｂでは時刻「０」では前値を保持し、時刻「１」では変数名「１」の値となり、時刻「２」ではその変数名「１」の値を保持し、時刻「３」では変数名「２」の値となり、その後はその変数名「２」の値を保持することになる。
【００１６】
次に、上述したテストパターン生成装置の概略動作を図４に示したフローチャートを用いて説明する。
まず、ステップＳ１では、入力装置２を用いて箱形式パターン入力手段７Ａにより、１つ以上の信号名１４ａ，１４ｂと信号名割当てを有し、信号方向と時刻方向とを有するパターン部品である箱を作成し、入力した情報を画面表示制御手段６により出力装置１に表示する。ステップＳ２では、箱内部の各信号について箱内の時刻欄１７の各時刻でのパターンを信号値「０」、「１」や信号値割当て情報で入力した「変数名」で入力し、入力した情報を面表示制御手段６により出力装置１に表示する。
【００１７】
次に、ステップＳ３で箱配置形式変換指示手段７Ｂにおいて箱形式入力手段７Ａにより作成したパターン部品である図２のような箱を図３に示すように信号方向と時刻方向とを２つの軸とする平面上に配置することで変換指示を行う。まず、箱の信号名割当てを用いて、箱内信号名１４ａ，１４ｂと実際の信号名とを接続する。次に、箱の基準点１９を元に配置時刻を決め、信号名割当てがある場合は、「変数名」に信号値を入力する。箱配置形式変換指示結果は画面表示制御手段６により出力装置１に表示する。
【００１８】
ステップＳ４では、これらの作業が完了したか否かを判定し、すべての情報入力が完了していない場合にはステップＳ１からの作業を繰り返し、情報入力が完了したなら、ステップＳ５に進む。ステップＳ５では、テストパターン変換手段７Ｃにより、各信号ごとに箱配置形式変換指示手段７Ｂで入力された変換指示どおりに箱形式入力手段７Ａで入力されたパターンデータをタイムチャートに変換する。箱内のパターンは図２および図３で説明した方式で変換する。箱と箱の間のパターンは、箱の最後の時刻の論理値が保持されるものとして変換する。
【００１９】
続くステップＳ６で、変換されたテストパターンデータを画面表示制御手段６により出力装置１に表示する。最後にステップＳ７では、テストパターン保存手段８により、生成されたテストパターンデータをデータ記憶装置４にテストパターンデータ４Ａとして記憶する。
【００２０】
次に、上述したテストパターン生成装置の動作を具体的に説明する。
図８は作成するタイムチャートを示しており、図９は図８のタイムチャートから部品化する箱を抽出したタイムチャートであり、縦軸を信号方向、また横軸を時刻方向としている。
図８に示したタイムチャートを分析すると、図９に示すように信号名ＣＴＬ＿Ａ，ＣＴＬ＿Ｂは、点線で示した領域Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４内の時刻「１」で共通に変化しており、また領域Ｃ１，Ｃ２内の時刻「１」および時刻「５」でも共通に変化している。一方、信号名ＤＡＴＡ＿Ａ，ＤＡＴＡ＿Ｂは点線で示した領域Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４内の時刻「２」で共通に変化しており、また領域Ｃ１，Ｃ２内の時刻「５」でも共通に変化している。このように箱形式入力手段７Ａは、複数の信号がある時刻区間内で共通の時刻で変化しているものをパターン部品である箱としている。
【００２１】
図５および図６は、上述した領域Ｂ１〜Ｂ４および領域Ｃ１，Ｃ２を部品化した箱のパターン図を示している。
図５に示した領域Ｂ１〜Ｂ４の箱は、名称を「箱Ｂ」として箱形式入力手段７Ａにより作成する。すなわち、「箱Ｂ」は、信号名１４ａ，１４ｂとして「ｓｉｇ１」，「ｓｉｇ２」を、また信号値割当て欄１６に「変数Ｖ（）」を入力する。信号名「ｓｉｇ１」，「ｓｉｇ２」を入力することにより信号名割当て欄１５が作成される。ここで箱の信号名として、実際の信号名ＣＴＬ＿Ａ，ＣＴＬ＿Ｂ，ＤＡＴＡ＿Ａ，ＤＡＴＡ＿Ｂを用いず、信号名割当て１５を用いることにより、箱Ｂをパターン部品として再利用可能である。
【００２２】
次に、信号値入力欄１８に信号名「ｓｉｇ１」，「ｓｉｇ２」についてのパターンをそれぞれ入力する。ここで信号名「ｓｉｇ１」は時刻「１」に「変数Ｖ（）」、信号名「ｓｉｇ２」は時刻「２」に「１」を入力する。信号値割当て欄１６に一般的な「変数Ｖ（）」を用いることで、実際の配置時に「変数Ｖ（）」に外部から信号値を与えることができるようになり、１つの箱で複数のパターンを実現できる部品が作成できる。
【００２３】
同様に、図６に示した名称「箱Ｃ」では、信号名１４ａ，１４ｂとして「ｓｉｇ３」，「ｓｉｇ４」を、信号値割当て欄１６に「変数Ｘ（）」，「変数Ｙ（）」を入力し作成する。次に、信号値入力欄１８に「ｓｉｇ３」および「ｓｉｇ４」についてのパターンをそれぞれ入力する。ここでは時刻欄１７における時刻「１」の「ｓｉｇ３」に「変数Ｘ（）」を、また時刻「５」に「変数Ｙ（）」を入力すると共に、「ｓｉｇ４」の時刻「３」に「０」を入力する。
【００２４】
次に、上述の「箱Ｂ」および「箱Ｃ」を箱配置形式変換指示手段７Ｂにより、図７に示すタイムチャートのように横軸を時刻方向また縦軸を信号方向とした平面上に配置する。
図９に示した領域Ｂ１に対応して配置した「箱Ｂ」のパターンに対する配置形式変換指示２０は、まず、「箱Ｂ」の信号名と実際の信号名とを接続する信号名割当てとして、信号名割当て欄１５に「ｓｉｇ１」（ＣＴＬ＿Ａ）と「ｓｉｇ２」（ＤＡＴＡ＿Ａ）を入力する。次に箱Ｂの基準点１９を元に時刻「１」に配置する。これにより領域Ｂ１に配置した「箱Ｂ」の内部時刻「０」が時刻「１」となる。次に信号値割当て欄１６に「Ｖ（１）」を入力し信号値入力欄１８の信号名「ｓｉｇ１」と内部時刻「１」に対応する部分を「Ｖ（１）」とする。
【００２５】
続いて、図９の領域Ｂ３に対応して配置した「箱Ｂ」のパターンに対する配置形式変換指示２２は、まず、「箱Ｂ」の信号名と実際の信号名との接続する信号名割当てとして、信号名割当て欄１５に「ｓｉｇ１」（ＣＴＬ＿Ｂ）と「ｓｉｇ２」（ＤＡＴＡ＿Ｂ）を入力する。次に「箱Ｂ」の基準点１９を元に時刻「３」に配置すると、「箱Ｂ」の内部時刻「０」が時刻「３」となる。次に信号値割当て欄１６に「Ｖ（０）」を入力し信号値入力欄１８の信号名「ｓｉｇ１」と内部時刻「１」に対応する部分を「Ｖ（０）」とする。
【００２６】
また領域Ｂ２，Ｂ４に対しても、「箱Ｂ」の信号名割当て欄１５、基準点１９を元にした配置、信号値割当て欄１６の手順を同様に行うことによりそれぞれ作成することができる。
【００２７】
一方、図９の領域Ｃ１に対応して配置した「箱Ｃ」のパターンに対する配置形式変換指示２１も「箱Ｂ」の場合と同様に、まず、「箱Ｃ」の信号名割当て欄１５に「ｓｉｇ３」（ＣＴＬ＿Ａ）と「ｓｉｇ４」（ＤＡＴＡ＿Ａ）を入力する。次に、「箱Ｃ」の基準点１９を元に時刻「７」に配置すると、「箱Ｂ」の内部時刻「０」が時刻「７」となる。次に信号値割当て欄１６として「Ｘ（０）」と「Ｙ（１）」を入力し、信号値入力欄１８の信号名「ｓｉｇ３」と内部時刻「１」に対応する部分を「Ｘ（０）」、また信号名「ｓｉｇ３」と内部時刻「１２」に対応する部分を「Ｙ（１）」とする。同様に、図９の領域Ｃ２に対応して配置した「箱Ｃ」の信号名割当て欄１５、基準点１９を元にした配置、信号値割当て欄１６の手順を行うことにより作成することができる。
【００２８】
このように、信号名割当て欄１５と、基準点１９を元にした配置と、信号値割当て欄１６とを用いることにより、信号値の変化する時刻は同一だが、異なる信号名、異なる信号値である各領域に対して、上述した図５に示した「箱Ｂ」および図６に示した「箱Ｃ」をそれぞれパターン部品として再利用しながら、領域Ｂ１〜Ｂ４および領域Ｃ１，Ｃ２にそれぞれ対応する箱のパターンを作成することができる。これらは、いずれも「箱Ｂ」および「箱Ｃ」を再利用しているので容易に作成することができるし、視認性にも優れている。
【００２９】
次に、テストパターン変換手段７Ｃにより箱形式パターンデータと箱配置形式変換指示からタイムチャートを生成する。
ここでのテストパターン変換手段７Ｃによる変換は、値が指定される時刻までは不定信号とし、箱の内部は、値が入力されている場合は入力された値となり、入力されていない場合は、前値を保持するように行う。また、箱と箱の間の値は、箱内部の値の最終値が保持されているものとして変換する。
【００３０】
図７を用いて説明すると、まず、信号名ＣＴＬ＿Ａは新たな時刻「０」では何も入力されていないため、値が指定される時刻までは不定信号を生成する。新たな時刻「２」、すなわち「箱Ｂ」の内部時刻「１」で「ｓｉｇ１」に「Ｖ（１）」が入力されているため、「ｓｉｇ１」（ＣＴＬ＿Ａ）の信号名割当てにより信号名ＣＴＬ＿Ａに「１」のパターンを生成し、次の箱の値が入力される新たな時刻「８」までこの値を保持する。時刻「８」、すなわち「箱Ｃ」の内部時刻「１」で「ｓｉｇ３」に「Ｘ（０）」が入力されているため、「ｓｉｇ３」（ＣＴＬ＿Ａ）の信号名割当てにより信号名ＣＴＬ＿Ａに「０」のパターンを生成し、この値を次の箱の値が入力される時刻「１２」まで保持する。
【００３１】
時刻「１２」、すなわち「箱Ｃ」の内部時刻「５」で「ｓｉｇ３」に「Ｙ（１）」が入力されているため、「ｓｉｇ３」（ＣＴＬ＿Ａ）の信号名割当てにより信号名ＣＴＬ＿Ａに「１」のパターンを生成し、この値を次の箱の値が入力される時刻まで保持する。以降、同様にパターンの変換を行うことでＣＴＬ＿Ａのパターンが生成される。
【００３２】
一方、信号名ＤＡＴＡ＿Ａは時刻「０」では何も入力されていないため、値が指定される時刻までは不定信号を生成する。時刻「３」、すなわち「箱Ｂ」の内部時刻「２」で「ｓｉｇ２」に「１」が入力されているため、「ｓｉｇ２」（ＤＡＴＡ＿Ａ）の信号名割当てにより信号名ＤＡＴＡ＿Ａに「１」のパターンが生成され、この値を次に箱の値が入力される時刻「１０」まで保持する。
【００３３】
時刻「１０」、すなわち「箱Ｃ」の内部時刻「３」で「ｓｉｇ４」に「０」が入力されているため、「ｓｉｇ４」（ＤＡＴＡ＿Ａ）の信号名割当てにより信号名ＤＡＴＡ＿Ａに「０」のパターンが生成され、この値を次の箱の値が入力される時刻まで保持する。以降、同様にパターンの変換を行うことで信号名ＤＡＴＡ＿Ａのパターンが生成される。
【００３４】
また信号名ＣＴＬ＿Ｂは時刻「０」では何も入力されていないため、値が指定される時刻までは不定信号を生成する。しかし時刻「４」すなわち「箱Ｂ」の内部時刻「１」で「ｓｉｇ１」に「Ｖ（０）」が入力されているため、「ｓｉｇ１」（ＣＴＬ＿Ｂ）の信号名割当てにより信号名ＣＴＬ＿Ｂに「０」のパターンが生成され、この値を次の箱の値が入力される時刻まで保持する。以降、同様にパターンの変換を行うことで信号名ＣＴＬ＿Ａのパターンが生成される。
【００３５】
さらに信号名ＤＡＴＡ＿Ｂは時刻「０」では何も入力されていないため、値が指定される時刻までは不定信号を生成する。しかし、時刻「５」すなわち「箱Ｂ」の内部時刻「２」で「ｓｉｇ２」に「１」が入力されているため、「ｓｉｇ２」（ＤＡＴＡ＿Ｂ）の信号名割当てにより信号名ＤＡＴＡ＿Ｂに「１」のパターンが生成され、この値を次の箱の値が入力される時刻まで保持する。以降、同様にパターンの変換を行う事で信号名ＤＡＴＡ＿Ｂのパターンが生成される。
【００３６】
次に、画面表示制御手段６により、変換されたパターンデータを出力装置１に図８に示すように表示する。最後に、テストパターン保存手段８により、生成されたテストパターンデータをデータ記憶装置４にテストパターンデータ４Ａとして記憶する。
【００３７】
尚、上述した実施の形態では、コンピュータの演算装置３や出力装置１および入力装置２を兼用してテストパターン生成装置５を作動させたが、テストパターン生成装置５に専用の演算装置や出力装置および入力装置を設けて構成しても良い。
【００３８】
【発明の効果】
以上説明したように本発明のテストパターン生成装置によれば、パターン部品毎に時刻方向および信号方向を有する箱形式でパターンデータを入力し、変換指示どおりに時刻方向および信号方向にパターン変換してテストパターンを生成することができるようになり、パターンデータの入力を容易に行えると共に、変換指示を箱の配置形式で行うことによってパターンの確認と変更が容易にできる。また、パターン部品毎の箱とすることによって、部品の再利用によって類似のパターン作成が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態によるテストパターン生成装置を示すブロック図である。
【図２】図１に示したテストパターン生成装置の箱形式入力手段によるパターン図である。
【図３】図１に示したテストパターン生成装置の箱配置形式変換指示手段によるパターン図である。
【図４】図１に示したテストパターン生成装置の動作を示すフローチャートである。
【図５】図１に示したテストパターン生成装置の箱形式入力手段による具体例を示すパターン図である。
【図６】図１に示したテストパターン生成装置の箱形式入力手段による他の具体例を示すパターン図である。
【図７】図１に示したテストパターン生成装置の箱配置形式変換指示手段によるタイムチャートである。
【図８】テストパターンの一例を示すタイムチャートである。
【図９】図８に示したタイムチャートから部品化する箱を抽出した状態を示すタイムチャートである。
【図１０】従来のテストパターン生成装置を示すブロック図である。
【符号の説明】
１　出力装置
２　入力装置
３　演算処理装置
４　データ記憶装置
４Ａ　テストパターンデータ
５　テストパターン生成装置
６　画面表示制御手段
７　テストパターン作成手段
７Ａ　箱形式パターン入力手段
７Ｂ　箱配置形式変換指示手段
７Ｃ　テストパターン変換手段
８　テストパターン保存手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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