(57)【要約】【課題】電極などの金属光沢を有する構成部品の輪郭線を、背景をなす部分が同じ金属光沢を有している場合であっても、正確に画像抽出でき、ひいては電極偏心等の検出及び矯正等を正確に行うことができるスパークプラグの製造方法及び装置を提供する。【解決手段】接地電極５４の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するようにスパークプラグワーク５０を照らす第一の照明１９と、中心電極５３の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するようにスパークプラグワーク５０を照らす第二の照明２４とを用いる。そして、スパークプラグワーク５０を第一の照明１９により照射しながら撮影し、第一の画像を得る。また、スパークプラグワーク５０を第二の照明２４により照射しながら撮影し、第二の画像を得る。それら第一の画像と第二の画像とに基づいて、接地電極５４と中心電極５３との位置情報を取得し、偏心量δを算出する。【選択図】　図１
2004031069.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
中心電極と、基端側が主体金具の端面に接合されるとともに先端側が前記中心電極と対向するように配置され、前記中心電極との間に火花放電ギャップを形成する接地電極とを備えたスパークプラグを製造するために、
互いに切り替え可能な第一の照明及び第二の照明であって、第二の照明よりも接地電極の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するようにスパークプラグワークを照らす第一の照明と、該第一の照明にて照射したときよりも、前記中心電極の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するように前記スパークプラグワークを照らす前記第二の照明とを用い、
スパークプラグワークを前記第一の照明により照射しながら撮影する第一の撮影工程と、
スパークプラグワークを前記第二の照明により照射しながら撮影する第二の撮影工程と、
前記第一の撮影工程により得られた第一の画像と、前記第二の撮影工程により得られた第二の画像とに基づいて、前記接地電極と前記中心電極との位置情報を取得する位置情報取得工程と、
を有することを特徴とするスパークプラグの製造方法。
【請求項２】
前記位置情報に基づいて前記接地電極に施す調整曲げ加工の量（以下、調整量という）を決定する加工量決定工程と、
その決定された調整量により前記接地電極に調整曲げ加工を施す調整曲げ加工工程とを含む請求項１記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項３】
前記位置情報を検査情報として前記スパークプラグワークの検査を行う検査工程と、
その検査結果に基づいて前記スパークプラグワークの選別を行う選別工程とを含む請求項１又は２に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項４】
前記第一の画像と前記第二の画像とは、位置固定の同一のカメラにより同一の視野にて、前記第一の照明と前記第二の照明とを切り替えつつ撮影される請求項１ないし３のいずれか１項に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項５】
前記位置情報は、前記第一の画像において前記接地電極側に定められる接地電極側基準位置と、前記第二の画像において前記中心電極側に定められる中心電極側基準位置との、特定方向における隔たりを表すものであり、前記第一の画像と前記第二の画像とは、画像視野内の座標原点が共通となるように設定され、前記第一の画像における前記接地電極側基準位置の絶対座標と、前記第二の画像における前記中心電極側基準位置の絶対座標とに基づいて、前記隔たりが算出される請求項１ないし４のいずれか１項に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項６】
前記位置情報は、前記第一の画像において前記接地電極側に定められる接地電極側基準位置と、前記第二の画像において前記中心電極側に定められる中心電極側基準位置との、特定方向における隔たりを表すものであり、前記第一の画像と前記第二の画像とは、画像視野内に共通のマーカ画像が生ずるように定められ、前記第一の画像における前記接地電極側基準位置及び前記第二の画像における前記中心電極側基準位置の、前記マーカ画像に対する相対的な位置関係に基づいて前記隔たりが算出される請求項１ないし４のいずれか１項に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項７】
前記スパークプラグワークは、前記接地電極の先端側が前記中心電極側に曲げ返されるとともに、該接地電極の先端部側周面が前記中心電極の先端面に対向して前記火花放電ギャップが形成されたものであり、
カメラから見て前記中心電極が前方側、前記接地電極の基端部が後方側となるように、当該中心電極と接地電極基端部とが互いに重なって見える方向を正面方向として、
前記第一の画像及び前記第二の画像は、いずれも、前記スパークプラグの前記火花放電ギャップ及びその周辺部分を前記正面方向から撮影して得られるものであり、
前記接地電極側基準位置は、前記火花放電ギャップに臨む接地電極輪郭線の幅方向中心位置（以下、接地電極中心位置という）に設定し、前記中心電極側基準位置は前記中心電極の先端面中心位置（以下、中心電極中心位置という）に設定するとともに、
前記隔たりは、前記接地電極中心位置と前記中心電極中心位置との偏心量δを表すものである請求項１ないし６のいずれか１項に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項８】
前記第一の照明は、前記接地電極の先端面を前記正面方向から照らすものである請求項７記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項９】
前記第二の照明は、前記接地電極の前記中心電極の背後にある側面部位を照射することにより、前記第二の画像において前記中心電極先端部をシルエット化させるものである請求項７又は８に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項１０】
前記第一の画像及び前記第二の画像の視野内における前記スパークプラグワークの軸線の傾きに応じて、前記接地電極中心位置と前記中心電極中心位置との偏心量δの規定方向を定める請求項７ないし９のいずれか１項に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項１１】
前記第一の画像及び前記第二の画像のいずれよりも視野が大きい前記スパークプラグワークの第三の画像を撮影し、該第三の画像を用いて前記スパークプラグワークの前記軸線を決定する請求項１０記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項１２】
前記第一の画像及び前記第三の画像を撮影するに際して、前記第一の照明を併用する請求項１１記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項１３】
前記スパークプラグワークに対する共通の対物光学系を設け、該対物光学系に導かれた画像ビームをビームスプリッタにより２つの画像ビームに分離し、その第一の画像ビームを、第一の倍率にて像拡大する第一の結像光学系を介して第一のカメラに導くことにより前記第一の画像及び前記第二の画像を撮影する一方、第二の画像ビームを、前記第一の倍率よりも小さい第二の倍率にて像拡大する第二の結像光学系を介して第二のカメラに導くことにより前記第三の画像を撮影する請求項１１又は１２に記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項１４】
前記スパークプラグワークに対する前記第一のカメラの撮影視野と、前記第二のカメラの撮影視野とは、位置固定の基準被写体を予め撮影し、当該基準被写体上に定められた被写体側基準方向を、各視野上に定められた基準方向に一致させることにより、視野間の方向合わせがなされる請求項１３記載のスパークプラグの製造方法。
【請求項１５】
中心電極と、基端側が主体金具の端面に接合されるとともに先端側が前記中心電極と対向するように配置され、前記中心電極との間に火花放電ギャップを形成する接地電極とを備えたスパークプラグを製造するために、切換可能な第一の照明及び第二の照明であって、前記第二の照明よりも接地電極の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するようにスパークプラグワークを照らす第一の照明と、該第一の照明にて照射したときよりも、前記中心電極の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するように前記スパークプラグワークを照らす前記第二の照明と、
スパークプラグワークを前記第一の照明又は前記第二の照明により照射しながら撮影するカメラと、
前記第一の照明を用いて撮影された第一の画像と、前記第二の照明を用いて撮影された第二の画像とに基づいて、前記接地電極と前記中心電極との位置情報を解析・取得する解析装置と、
を有することを特徴とするスパークプラグの製造装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スパークプラグの製造方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
内燃機関に使用されるスパークプラグにおいては、接地電極及び中心電極の位置決め精度が重要である。例えば、火花放電ギャップを挟んで対向する接地電極の中心軸線と、中心電極の中心軸線とが、接地電極の曲げ加工の不具合や、電極に固着された貴金属の位置ずれ等により偏心することがある。このような位置ずれが生ずると、例えば電極の偏った消耗による寿命低下や、発火ミスといったトラブルにつながる。
【０００３】
火花放電ギャップの偏心検査やギャップ周辺を形成する各部の寸法検査は従来目視により行われているが、検査精度が個人差によりばらついたり、検査漏れによる不合格品の流出を招きやすい問題がある。そこで、偏心等の検査を自動で行うために、ＣＣＤカメラによりスパークプラグの発火部の画像を撮影し、その画像に基づいて偏心量を検出する技術が、例えば特開平８−１５３５６６号公報に開示されている。また、貴金属チップを電極に固着したスパークプラグの偏心検査を、モデル画像を用いたパターンマッチングにより行う方法が、特開平１１−１２１１４３号公報に開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、スパークプラグの接地電極及び中心電極はいずれも金属製であり、検査対象部の画像撮影を行う際に、撮影角度によっては、一方が他方の背景となったり、あるいは別の金属部材（例えば主体金具）と像が重なり合ったりすることがある。その結果、偏心測定や寸法測定の基準として用いる電極の輪郭線が、背景をなす金属光沢領域に埋没して検出が困難になり、十分な測定精度が確保できなかったり、外乱光の影響により測定ミスを生じたりしやすい問題があった。
【０００５】
本発明の課題は、電極などの金属光沢を有する構成部品の輪郭線を、背景をなす部分が同じ金属光沢を有している場合であっても、正確に画像抽出でき、ひいては電極偏心等の検出及び矯正等を正確に行うことができるスパークプラグの製造方法及び装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段及び作用・効果】
上記の課題を解決するために、本発明のスパークプラグの製造方法は、
中心電極と、基端側が主体金具の端面に接合されるとともに先端側が中心電極と対向するように配置され、中心電極との間に火花放電ギャップを形成する接地電極とを備えたスパークプラグを製造するために、
互いに切り替え可能な第一の照明及び第二の照明であって、第二の照明よりも接地電極の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するようにスパークプラグワークを照らす第一の照明と、該第一の照明にて照射したときよりも、中心電極の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するようにスパークプラグワークを照らす第二の照明とを用い、
スパークプラグワークを第一の照明により照射しながら撮影する第一の撮影工程と、
スパークプラグワークを第二の照明により照射しながら撮影する第二の撮影工程と、
第一の撮影工程により得られた第一の画像と、第二の撮影工程により得られた第二の画像とに基づいて、接地電極と中心電極との位置情報を取得する位置情報取得工程と、
を有することを特徴とする。
【０００７】
また、本発明のスパークプラグの製造装置は、
中心電極と、基端側が主体金具の端面に接合されるとともに先端側が中心電極と対向するように配置され、中心電極との間に火花放電ギャップを形成する接地電極とを備えたスパークプラグを製造するために、
切換可能な第一の照明及び第二の照明であって、第二の照明よりも接地電極の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するようにスパークプラグワークを照らす第一の照明と、該第一の照明にて照射したときよりも、中心電極の撮影対象部位の輪郭が明瞭化するようにスパークプラグワークを照らす第二の照明と、
スパークプラグワークを第一の照明又は第二の照明により照射しながら撮影するカメラと、
第一の照明を用いて撮影された第一の画像と、第二の照明を用いて撮影された第二の画像とに基づいて、接地電極と中心電極との位置情報を解析・取得する解析装置と、
を有することを特徴とする。
【０００８】
火花放電ギャップ近傍の接地電極及び中心電極の画像を、単一の照明により照らして画像撮影しようとすると、要求される撮影アングルによっては、双方の電極の輪郭線を同時に明確化できる都合のよい照明方式を見出せないことが多い。この場合、一方の電極の輪郭線を明確化しようとすると、他方の電極の輪郭線が金属背景領域に埋没する等の要因により不明確となってしまう。そこで、本発明の方法及び装置においては、接地電極の輪郭線を明確化するのに好都合な第一の照明と、中心電極の輪郭線を明確化するのに好都合な第二の照明とを用い、照明切り替えにより、接地電極の輪郭線が明確化した第一の画像と、中心電極の輪郭線が明確化した第二の画像とを、別個に撮影・取得するようにした。つまり、各画像では、着目していない側の電極輪郭線に拘泥することなく、着目している電極の輪郭線を明確化するための照明条件を見出せばよいので、どのような撮影アングルが要求される場合でも、接地電極及び中心電極の双方の輪郭線を容易に明確化することができる。その結果、接地電極と中心電極との位置情報を確実に取得でき、接地電極に施す調整量の決定も高精度に行うことができる。すなわち、電極輪郭線を、背景をなす部分が同じ金属光沢を有している場合であっても、電極偏心やギャップ間隔等の検出を正確に行うことができる。
【０００９】
上記のように取得した位置情報は、スパークプラグの製造上、以下のように活用できる。
▲１▼上記位置情報に基づいて接地電極に施す調整曲げ加工の量（以下、調整量という）を決定し（加工量決定工程）、その決定された調整量により接地電極に調整曲げ加工を施す（調整曲げ加工工程）。
▲２▼上記位置情報を検査情報としてスパークプラグワークの検査を行い（検査工程）、その検査結果に基づいてスパークプラグワークの選別を行う（選別工程）。
【００１０】
２つの画像に表れる接地電極及び中心電極の位置関係を把握するために、画像のスケールと座標系とを最終的に合わせ込む必要がある。この場合、接地電極と中心電極とを、互いに異なる２台のカメラを用いて撮影することもできるが、２台のカメラのアングルを完全に一致させることは一般には困難であり、得られた画像の角度あるいはスケール補正が必要となるので面倒である。そこで、第一の画像と第二の画像とを、位置固定の同一のカメラにより同一の視野にて、第一の照明と第二照明とを切り替えつつ撮影すれば、撮影時のカメラアングルと倍率とを、２つの画像で簡単かつ高精度に一致させることができ、両電極の位置関係の把握を極めて容易に行うことができる。
【００１１】
通常のスパークプラグの製造工程においては、接地電極と中心電極とは、偏心量や火花放電ギャップ間隔など、電極毎に定められる基準位置間の隔たりが調整対象パラメータとして設定され、これを公差の範囲内に収めることが、調整加工工程の目的となる。従って、本発明においても、２つの電極の位置情報は、第一の画像において接地電極側に定められる接地電極側基準位置と、第二の画像において中心電極側に定められる中心電極側基準位置との、特定方向における隔たりを表すものとすることができる。この場合、該隔たりの基準値からの逸脱を縮小するように前記調整曲げ加工を行うことができる。また、該隔たりの基準値からの逸脱の有無に基づいて前記検査を行うことができる。
【００１２】
この場合、第一の画像と第二の画像とを、画像視野内の座標原点が共通となるように設定することができる。前記したように、同一のカメラによりアングル及び倍率を変えずに、照明のみ切り替えて２つの画像の撮影を行えば、両画像の座標原点を一致させることは極めて容易である。この場合、第一の画像における接地電極側基準位置の絶対座標と、第二の画像における中心電極側基準位置の絶対座標とに基づいて、両基準位置間の隔たりを容易に算出・決定することができる。
【００１３】
また、上記のような絶対座標を用いる方法のほかに、第一の画像と第二の画像との画像視野内に、共通のマーカ画像が現れるように撮影を行い、第一の画像における接地電極側基準位置及び第二の画像における中心電極側基準位置の隔たりを、マーカ画像に対する相対的な位置関係に基づいて算出することも可能である。この方法によると、２つの画像の絶対座標を合わせ込む処理が不要となり、マーカ画像との相対関係を各画像にて把握するだけで、接地電極側基準位置と中心電極側基準位置との隔たりを容易に算出することができる。また、接地電極及び中心電極のマーカ画像に対する相対的な位置関係さえ保持されれば、仮にカメラ視野の機械的要因（例えば振動など）によるドリフトや、画像処理上の要因による原点ずれなどが発生した場合においても、その影響を容易に排除することができる。
【００１４】
本発明の効果が特に顕著に発揮されるのは、以下のような場合である。まず、スパークプラグワークとして、接地電極の先端側が中心電極側に曲げ返されるとともに、該接地電極の先端部側周面が中心電極の先端面に対向して火花放電ギャップが形成されたものを採用する（いわゆる、平行電極型スパークプラグが製造対象となる場合である）。このようなスパークプラグワークの、接地電極と中心電極との偏心量を測定したい場合は、カメラから見て中心電極が前方側、接地電極の基端部が後方側となるように、当該中心電極と接地電極基端部とが互いに重なって見える方向を正面方向として、該スパークプラグの火花放電ギャップ及びその周辺部分を正面方向から撮影する必要がある。このようなカメラアングルでは、中心電極の火花放電ギャップに臨む部位の画像は、接地電極の画像の前方に重なって現れるので、中心電極画像の背景部分が金属製の接地電極の画像となり、通常の方法では中心電極の輪郭線が金属光沢の背景中に埋没して、その正確な画像抽出が困難となる。そこで、本発明を適用すれば、接地電極及び中心電極が上記のような位置関係にある場合でも、両電極の輪郭線を確実に抽出・把握でき、偏心量を正確に測定することができる。
【００１５】
このようなケースに本発明を適用するには、第一の画像及び第二の画像を、いずれも上記正面方向からスパークプラグワークを撮影したものとして取得する。そして、接地電極側基準位置は、火花放電ギャップに臨む接地電極外形線の幅方向中心位置（接地電極中心位置）に設定し、中心電極側基準位置は中心電極の先端面中心位置（中心電極中心位置）に設定する。前記の隔たりは、接地電極中心位置と中心電極中心位置との偏心量δを表すものとされる。前記調整曲げ加工は、接地電極に対し該偏心量δが縮小されるように行うことができる。また、前記検査は、該偏心量δが基準値（あるいは基準範囲）から逸脱していないかどうかに基づいて行うことができる。
【００１６】
また、照明の形態としては、以下のようなものを採用することができる。まず、第一の照明は、接地電極の先端面を正面方向から照らすものとすることができる。上記正面方向からのカメラアングルでは、正面方向から光を当てると、平坦な接地電極の先端面により光がカメラ側に一様に反射されて、他のスパークプラグ部分よりも明るく浮き立って撮影される。つまり、第一の画像上にて接地電極の先端面の輪郭線を明瞭に表すことができる。接地電極の先端面画像には、電極幅方向の輪郭線が現れるので、これを用いて偏心量δの測定基準として用いる接地電極中心位置を容易に決定することができる。
【００１７】
他方、第二の照明は、接地電極の、中心電極の背後にある側面部位を照射することにより、第二の画像において中心電極先端部をシルエット化させるものを用いることができる。上記第一の照明による正面方向からの光は、中心電極とともに、その背景をなす接地電極の側面部位も照らすので、中心電極の輪郭線を明瞭化する効果は有していない。そこで、その第一の照明とは別に用意された第二の照明により、中心電極の背後にある側面部位を照射すれば、その反射光は、前にある中心電極先端部に遮られる。その結果、第二の画像上において、中心電極先端部の輪郭線をシルエットの形で明瞭化することができる。また、中心電極先端面の輪郭線を用いれば、偏心量δの測定基準として用いる中心電極中心位置を容易に決定することができる。
【００１８】
次に、スパークプラグワークは、スパークプラグの生産のために、測定用のホルダに対して次々と着脱が繰り返される。ホルダへのスパークプラグワークの装着姿勢は常に一定であることが望ましいが、スパークプラグへの中心電極の組み付け精度や、主体金具へのバリや異物の付着によって、必ずしも一定の姿勢とはならず、軸線が傾いて装着される場合がある。他方、カメラ位置は固定であるから、スパークプラグワークの軸線が傾いていると、画像上においても該軸線は当然に傾いて現れる。しかし、こうしたことを考慮せずに軸線の方向を一定と考え、画像視野上にて軸線の向きを固定的に定めると、軸線が傾いて装着されたワークの場合は、視野上の設定軸線方向と実際の軸線方向とが一致しなくなる。その結果、例えば、接地電極及び中心電極の中心位置を通って軸線と平行な直線間の距離として偏心量δを算出する場合、その算出結果にも誤差が生ずることとなる。そこで、第一の画像及び第二の画像の視野内におけるスパークプラグワークの軸線の傾きに応じて、接地電極中心位置と中心電極中心位置との偏心量δの規定方向を定めるようにすれば、ホルダにワークが傾いて装着された場合も、偏心量δを正確に算出することができるようになる。
【００１９】
軸線の位置及び方向は、第一の画像又は第二の画像を用いて決定することもできるが、これらの画像は、接地電極あるいは中心電極のそれぞれの輪郭線を正確に決定するために用いられるものであり、倍率が大きすぎて、必ずしもスパークプラグワーク全体の軸線決定には適さないこともありえる。そこで、第一の画像及び第二の画像のいずれよりも視野が大きいスパークプラグワークの第三の画像を撮影し、該第三の画像を用いてスパークプラグワークの軸線を決定すれば、軸線の決定精度が上がり、偏心量δの算出精度はさらに向上する。軸線の向きは、例えば、第一〜第三の各画像視野内に共通に定められた基準方向（例えば鉛直方向）からの傾き角度により算出・決定することができる。
【００２０】
第一及び第二の画像と、これらよりも低倍率の第三の画像とを撮影する場合、ズームレンズを用いた光学系を用い、第一及び第二の画像の撮影時と、第三の画像の撮影時とで光学系の焦点距離（つまり、倍率）を変化させて、１台のカメラによる撮影を行うこともできる。しかし、この方法の場合、撮影を繰り返して行う際に、視野や倍率の調整が面倒であり、その再現性にも問題がある。そこで、各々倍率を固定した２台のカメラを用い、第一の倍率による第一のカメラで第一及び第二の画像を撮影し、他方、それよりも低倍率の第二のカメラにより第三の画像を撮影すれば、視野や倍率をその都度設定・調整しなおす面倒からは解放される。しかし、撮影アングルが第一及び第二のカメラで相違していると、スパークプラグワークの軸線の、第一のカメラにおける向きと、第二のカメラにおける向きとが、カメラアングルの影響を受けてずれてしまう可能性がある。
【００２１】
この問題を解決するためには、次のようにすればよい。すなわち、スパークプラグワークに対する共通の対物光学系を設け、該対物光学系に導かれた画像ビームをビームスプリッタにより２つの画像ビームに分離する。そして、その第一の画像ビームを、第一の倍率にて像拡大する第一の結像光学系を介して第一のカメラに導くことにより第一の画像及び第二の画像を撮影する。他方、第二の画像ビームを、第一の倍率よりも小さい第二の倍率にて像拡大する第二の結像光学系を介して第二のカメラに導くことにより第三の画像を撮影する。このようにすると、対物光学系が第一のカメラと第二のカメラとの間で共通化されるので、カメラアングルが２つのカメラの間で同一となり、スパークプラグワークの軸線の決定精度を向上させることができる。
【００２２】
なお、第一のカメラと第二のカメラとは、それぞれ第一の結像光学系及び第二の結像光学系に対し、光軸周りのカメラの回転に自由度を生ずるから、軸線もこの回転によって、視野上にて傾きを生ずる可能性がある。そこで、光軸周りの各カメラ角度位置を調整して、２つのカメラの視野上での基準方向を合わせ込んでおくことが必要である。具体的には、スパークプラグワークに対する第一のカメラの撮影視野と、第二のカメラの撮影視野とは、位置固定の基準被写体を予め撮影し、当該基準被写体上に定められた被写体側基準方向を、各視野上に定められた基準方向に一致させることにより、視野間の方向合わせを行うようにする。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。
図１は、本発明のスパークプラグの製造方法を実施するための製造装置の、撮影系の一例を示す模式図である。スパークプラグワーク（以下、単にワークともいう）５０は、中心電極５３と、基端側が主体金具５１の端面５１ａに接合されるとともに先端側が中心電極５３と対向するように配置され、中心電極５３との間に火花放電ギャップｇを形成する接地電極５４とを備えたものである。具体的には、ワーク５０は、接地電極５４の先端側が中心電極５３側に曲げ返されるとともに、該接地電極５４の先端部側周面が中心電極５３の先端面に対向して火花放電ギャップｇが形成されたものである。本実施形態においては、中心電極５３の先端部が、Ｎｉ合金からなる電極本体の先端に溶接された貴金属チップ５３ａ（以下、先端部５３ａと呼ぶこともある）とされている。
【００２４】
撮影系２２は、切換可能な第一の照明１９及び第二の照明２４を有する。第一の照明１９は、第二の照明２４よりも接地電極５４の撮影対象部位（後述する先端面５４ａ）の輪郭が明瞭化するようにワーク５０を照らすものである。また、第二の照明２４は、第一の照明１９にて照射したときよりも、中心電極５３の撮影対象部位（後述の先端部５３ａである）の輪郭が明瞭化するようにワーク５０を照らすものである。ワーク５０は、上記第一の照明１９により照射されながら第一のカメラ３により第一の撮影がなされ、第一の画像が取得される。また、第二の照明２４により照射されながら第一のカメラ３により第二の撮影がなされ、第二の画像が取得される。なお、第一の撮影と第二の撮影とは、順序が逆転してもかまわない。また、第二のカメラ４は、後述する通り、ワーク５０の軸線決定のための第三の画像を撮影するためのものである。
【００２５】
第一の撮影工程により得られた第一の画像と、第二の撮影工程により得られた第二の画像とに基づいて、接地電極と中心電極との位置情報が解析・取得される。この位置情報の解析・取得は、解析装置あるいは制御装置として機能する図２のコンピュータ１０が行う。
【００２６】
図１に戻り、本実施形態においては、ワーク５０の接地電極５４と中心電極５３との偏心量が測定される。カメラ３から見て中心電極５３が前方側、接地電極５４の基端部が後方側となるように、当該中心電極５３と接地電極５４の基端部とが互いに重なって見える方向を正面方向として、カメラ３は、ワーク５０の火花放電ギャップｇ及びその周辺部分を、上記正面方向から撮影する。図３に示すように、該アングルでは、中心電極５３の火花放電ギャップｇに臨む部位の画像が、接地電極５４の画像の前方に重なって現れる。
【００２７】
図１に戻り、第一の照明１９は、接地電極５４の先端面５４ａを正面方向から照らすものである。本実施形態において第一の照明１９は、面発光型ＬＥＤあるいは多数のＬＥＤを平面的に配列したＬＥＤ照明とされ、画像ビームＢの通る位置に貫通部（あるいは透光部）１９ａが設けられている。図１６は、該第一の照明１９による第一の画像の撮影例を模式的に示すものであり、接地電極５４の平坦な先端面５４ａにより光がカメラ３側に一様に反射され、他のスパークプラグ部分よりも明るく浮き立って撮影される。つまり、接地電極５４の先端面５４ａの輪郭線を明瞭に識別することができる。
【００２８】
次に、第二の照明２４は、図５に示すように、接地電極５４の、中心電極５３の背後にある側面部位５４ｂを照射するものであり、本実施形態においては、接地電極５４と中心電極５３との隙間に、斜め前方側から光を照射する光ファイバー照明が用いられている。図１９は、該第二の照明２４による第二の画像の撮影例を模式的に示すものであり、中心電極５３の先端部５３ａがシルエットとなり、その輪郭線が明るい背景とのコントラストにより明瞭化している。
【００２９】
図１に戻り、カメラ４は、ワーク５０の軸線Ｏを決定するために、上記第一の画像及び第二の画像のいずれよりも視野が大きい第三の画像を撮影するためのものである。図３に示すように、第一のカメラ３は、火花放電ギャップｇの近傍が拡大されるように撮影視野ＶＡ２が定められている。また、第二のカメラ４は、端面５１ａを含む主体金具５１の画像が取得できるように撮影視野ＶＡ１が定められている。
【００３０】
図１に示すように、第一のカメラ３と第二のカメラ４とは、レンズユニット２に取り付けられている。該レンズユニット２内には、ワーク５０に対する共通の対物光学系１５が設けられ、その対物光学系１５に導かれた画像ビームＢが、ビームスプリッタ１６（ハーフプリズム（ハーフミラーでもよい）により構成されている）により２つの画像ビームＢ１，Ｂ２に分離される。第一の画像ビームＢ１は、ミラー１６ａにて方向転換された後、第一の結像光学系１７にて第一の倍率にて拡大され、第一のカメラ３により撮影される（第一の画像又は第二の画像）。他方、第二の画像ビームＢ２は、第二の結像光学系１８により第一の倍率よりも小さい第二の倍率にて像拡大された後、第二のカメラ４にて撮影される（第三の画像）。対物光学系１５が第一のカメラ３と第二のカメラ４との間で共用化されるため、両カメラ３，４は、倍率が異なるのみで、ワーク５０への撮影アングルは同一となる。
【００３１】
また、カメラ３，４による撮影方向においてワーク５０の背後には、背景ユニット２０が配置されている。図４に示すように、該背景ユニット２０は、接地電極５４の背景を形成する暗色部２０ｂと、中心電極５３及びその背後の接地電極部分の背景を形成するとともに、前記暗色部２０ｂよりも外観明度の高い明色部２０ａとを有する。暗色部２０ｂは、つや消しの黒色板等として構成され、正面からの第一の照明１９（図１）により接地電極５４の撮影を行う際に、その背景部分の明度を小さくして、明るく撮影される接地電極５４とのコントラストを強め、先端面５４ａの輪郭線をより明瞭化させる役割を果たす。また、明色部２０ａは、つや消しの白色板等により構成され、第二の照明２４（図５）によりシルエット化される中心電極５３の先端部５３ａの背景明度を大きくして、暗く撮影される中心電極５３とのコントラストを強め、その輪郭線をより明瞭化させる役割を果たす。なお、本実施形態では、暗色部２０ｂと明色部２０ａとの境界は、接地電極５４の先端面５４ａの、火花放電ギャップｇに面する外形線に対して位置合わせされている。
【００３２】
図２は、本発明のスパークプラグの製造装置の全体構成の一例を示すブロック図である。該製造装置１は、前記した解析装置と装置全体の制御部として機能するコンピュータ１０を有する。コンピュータ１０は、ＣＰＵ１０２、該ＣＰＵ１０２のワークエリアを与え、かつ、制御処理及び解析処理にて使用する種々のデータのメモリ１９８〜２２７として機能するＲＡＭ１０４、コンピュータの基本システムプログラムを格納したＲＯＭ１０３、及び入出力インターフェース１０１などを有する。製造装置１の制御機能を実現する制御ソフトウェア２３０は、ハードディスクドライブ等で構成された記憶装置１０５にインストールされている。また、該記憶装置１０５には、画像上における接地電極あるいは中心電極の輪郭線抽出・確定処理などの画像処理を行う画像処理ソフトウェア２３１、その抽出された輪郭線のデータに基づき、接地電極と中心電極との偏心量を解析する偏心解析ソフトウェア２３２もインストールされている。また、後述する調整量μと変位量λとの実績値データ２３３が記憶されている。さらに、入出力インターフェース１０１には、キーボードやマウスなどで構成された入力部１０６（種々の設定入力に使用される）と、モニタ１０７とが接続されている。
【００３３】
また、コンピュータ１０の入出力インターフェース１０１には、前記した第一のカメラ３及び第二のカメラ４（いずれもデジタルカメラにて構成されている）、第一の照明１９及び第二の照明２４（点灯制御ユニットの図示は省略している）が接続されている。また、ホルダに対するワークの着脱を行うワークロード／アンロード機構１４、固定金具駆動機構１３、チャック駆動機構１２、加工装置５及び加工検知部１１も入出力インターフェース１０１に接続されている。
【００３４】
図６に示すように、ホルダ３１は、ワーク５０を火花放電ギャップｇ側が上となるように挿通するためのワーク装着孔３１ａを有し、その開口周縁部にて、主体金具５１の六角部５７を支持する。ワーク５０の主体金具５１には、取付ねじ部５６の基端側にフランジ状の突出部５５が設けられている。固定金具３０，３０は、合わせ面３０ｓ，３０ｓにおいて型合わせされる２部材からなり、固定金具駆動機構１３により軸線Ｏに向けて水平に接近・離間し、かつ型合わせ状態にて、突出部５５の上面に向け軸線Ｏ方向に接近・離間するように駆動される。なお、合わせ面３０ｓ，３０ｓには、取付ねじ部５６との干渉を避けるための半円状の切欠３０ａが形成されている。また、金具３０，３０の下面には、切欠３０ａ，３０ａに沿うガイド３０ｂ，３０ｂが突出形成されている。固定金具３０，３０は、接地電極５４に曲げ加工を施す際の、ワーク固定用に用いられるものであり、切欠３０ａの下面周縁にて突出部５５の上面に当接し、ホルダ３１に向けてこれを軸線Ｏ方向に押し付けることにより、ワーク５０をホルダ３１の上面に密着させる。また、ガイド３０ｂ，３０ｂの内周面にて突出部５５の外周面と当接し、軸線Ｏに関する半径方向へのワーク５０の移動やがたつきを規制する。
【００３５】
次に、図７に示すように、加工装置５は、接地電極５４に調整用の曲げ加工を施すためのものであり、加工工具３２を有する。加工工具３２は、下面側に接地電極５４を受け入れる加工溝３２ｇが形成され、その加工溝３２ｇの幅方向の両内側面が、それぞれ接地電極５４の幅方向における第一方向及び第二方向への曲げ作用面３２ａ１，３２ａ２とされている。加工工具３２は、例えばこれと一体に設けられた雌ねじ部３３に螺合するねじ軸３４を、加工駆動モータ８により正逆いずれかの向きに駆動され、曲げ作用面３２ａ１，３２ａ２にて接地電極５４と当接することにより、これに曲げ加工力を加える。
【００３６】
加工駆動モータ８の回転角度位置は、パルスジェネレータ（ＰＧ）６により検出される。図２に示すように、加工駆動モータ８のサーボ駆動ユニット９がコンピュータ１０の入出力インターフェース１０１に接続されており、ＰＧ６からの角度位置は、サーボ駆動ユニット９とともに、入出力インターフェース１０１を介してコンピュータ１０にも入力される。
【００３７】
また、図２において加工検知部１１は、加工工具３２と接地電極５４との接触を検知するものである。例えば、図７に示すように、金属製のホルダ３１と加工工具３２との間に検知電源電圧Ｖｃｃを印加しておき、加工検知部１１は、接地電極５４及び主体金具５１を介した加工工具３２とホルダ３１との間の短絡電流を検出するものとして構成することができる。
【００３８】
図２に戻り、コンピュータ１０からサーボ駆動ユニット９には、接地電極５４への曲げ調整方向に応じた正方向又は逆方向への駆動指令が出される。そして、加工駆動モータ８の回転が開始すると、ＰＧ６からのパルスがコンピュータ１０に入力される。接地電極５４は最初は加工工具３２と非当接状態にあり、加工検知部１１は接触非検知の信号をコンピュータ１０に入力している。そして、所定量加工駆動モータ８が回転すると、接地電極５４と加工工具３２とが接触状態となり、加工検知部１１による接触検知信号がコンピュータ１０に入力される。接地電極５４へは、加工工具３２と接触後に、後述の偏心量測定結果から算出された調整量μに相当する加工変位を付与する必要がある。そこでコンピュータ１０は、上記接触検知信号を受信したタイミングにて、調整量μに対応する角度量だけ加工駆動モータ８を回転駆動する指令をサーボ駆動ユニット９に与える。そして、該角度量の回転が完了すれば、加工駆動モータ８を逆転駆動して工具３２による加工付勢状態を解除し、曲げ加工を終了する。なお、コンピュータ１０からサーボ駆動ユニット９へ加工終了を指令する制御形態としては種々の形態がありえる。例えば、加工終了角度位置（あるいはパルス数）をサーボ駆動ユニット９に指令しておき、サーボ駆動ユニット９が、ＰＧ６からのパルスカウントと加工終了の角度位置の認識とを自発的に行うように構成することができる。他方、ＰＧ６からのパルスカウントをコンピュータ１０側にて行い、加工終了の角度位置が到来した時点で、コンピュータ１０からサーボ駆動ユニット９に対し、加工駆動モータ８の停止及び逆転指令を出すように構成することもできる。
【００３９】
以下、上記装置を用いた本発明のスパークプラグの製造方法の実施形態について、詳細に説明する。まず、図１の第一のカメラ３と第二のカメラ４との光軸周りのカメラ角度位置を調整して、２つのカメラの視野上での基準方向を合わせ込む操作を行う。ワークの代わりに、図８に示すような棒状の治具２７（基準被写体）を、ホルダ３１を固定する図示しないベースに垂直に取り付け、各カメラ３，４の焦点を該治具２７に合わせる。そして、カメラ３，４のファインダ（撮影視野ＶＡ２，ＶＡ１）に形成された基準線Ｂが、治具２７の垂直な外形線（被写体側基準方向Ａ０（図１１）を表す）Ａと平行になるように、各カメラ３，４を光軸周りに回転させて調整を行う。なお、第一のカメラと第二のカメラについて、カメラ視野上での基準方向を合わせ込んでおくことは、必ずしも不可欠な要件ではない。例えば解析装置側にて認識されている基準座標系において、各カメラの光軸（撮影方向）の３次元的な位置関係を把握することができれば、少なくとも一方のカメラの画像に対し、基準方向を合わせ込むための座標変換を行なうことにより、撮影後において、両画像データの基準方向を合わせ込むことが可能である。
【００４０】
次に、図６に示すホルダ３１をベースに装着し、周知のロボットアーム機構等で構成されたワークロード／アンロード機構１４（図２）を用いて、ワーク５０をホルダ３１に装着する。以下の処理の流れを図１０に示している。また、図１１及び図１２は、主要工程を抜き出して示す工程説明図である。図１０のＳ１及びＳ２において、ホルダ３１に装着されたワーク５０は、図１に示すように、接地電極５４の先端面５４ａがカメラ３，４の方向、すなわち正面方向を向くように整列させられる。具体的には、図１２の（Ｓ１）及び（Ｓ２）に示すように、１対のチャック３５，３５をワーク５０の上方から接地電極５４に向けて下降させ、該接地電極５４を幅方向両側からチャック把持する。このチャック３５，３５の把持面が前記正面方向に一致するように定めてあり、ワーク５０は、接地電極５４のチャック把持に伴い回転して正面方向に整列する。
【００４１】
図１０に戻り、ワーク５０の整列が終了したら、Ｓ３において図１の第一の照明１９を点灯させる。Ｓ４において、コンピュータ１０（図２）により、第二のカメラ４により第三の画像の取り込みを行う。そして、Ｓ５（図１１及び図１２も参照）において、その第三の画像を用いてワーク５０の軸線Ｏの基準方向Ａ０からの傾き角度θ１を測定する。Ｓ６では、第一のカメラ３に切り替え、第一の照明１９の点灯を継続したまま、第一の画像の取り込みを行う。Ｓ７（図１１及び図１２も参照）においては、その第一の画像に基づいて、接地電極５４の先端面５４ａの幅方向中心位置、すなわち接地電極中心位置Ｅ１を求める。
【００４２】
次に、Ｓ８に進み、照明を第二の照明２４（図１）に切り替える。Ｓ９では、第一のカメラ３により第二の画像の取り込みを行う。Ｓ１０（図１１及び図１２も参照）において、その第二の画像に基づいて、中心電極５３の先端面の中心位置、すなわち中心電極中心位置Ｅ２を求める。そして、Ｓ１１において、接地電極中心位置Ｅ１、中心電極中心位置Ｅ２及び軸線の傾き角度θ１とを用いて両電極の偏心量δを算出する。
【００４３】
接地電極中心位置Ｅ１及び中心電極中心位置Ｅ２は、異なる２つの画像、つまり、第一の画像及び第二の画像により決定されるものであるが、同じ第一のカメラ３により撮影されるものであり、視野は完全に共通している（第二の視野ＶＡ２）。従って、接地電極中心位置Ｅ１及び中心電極中心位置Ｅ２は、第二の視野ＶＡ２上に定められた共通のＸ−Ｙ座標系上での絶対座標にて、相互の位置関係を把握でき、偏心量δの算出も問題なく行うことができる。しかし、第一の画像及び第二の画像に、共通の被写体からなるマーカ画像を組み入れておき、そのマーカ画像上の基準位置に対する相対座標表示より、接地電極中心位置Ｅ１及び中心電極中心位置Ｅ２の相互の位置関係把握を行うことができる。
【００４４】
以下、各処理の詳細について説明する。画像取り込みと画像解析は、コンピュータ１０が画像処理ソフトウェア２３１の実行により行い、偏心量δ及び調整量μの算出は、同じく偏心解析ソフトウェア２３２により行われる。なお、各視野において、ワーク５０の軸線に対する基準方向Ａ０の向き（つまり、鉛直方向）をＹ軸方向と定め、これと直交する方向（つまり、水平方向）をＸ軸方向と定める。また、画像はいずれも画素に濃淡階調が設定されたグレースケール画像である。
【００４５】
図１３及び図１５は、Ｓ３〜Ｓ５の処理の詳細を示すものである。図１３の工程１に示すように、第二のカメラ４により、倍率の小さい視野ＶＡ１による画像が第三の画像としてメモリ２００に取り込まれる。これを用いて、まず、視野内にワーク５０が存在するかどうかのチェックを行う。このチェックは種々の方法により実行できるが、本実施形態では以下のような方法を採用している。すなわち、第三の画像上において、主体金具５１を横切るように、Ｙ軸方向幅が一定の帯状のワーク有無判定領域６０をＸ方向に設定する（図１４（ａ））。そして、Ｙ軸方向に画素濃度を平均しながら（平均値をｇｉとする）、ワーク有無判定領域６０のＸ方向濃度分布を求める（図１４（ｂ））。なお、本明細書では、画素の輝度が低いほど（つまり、黒に近づくほど）、画素濃度は低くなるものとして取り扱う。
【００４６】
ワーク５０が存在すれば、第一の照明１９を用いた場合、主体金具５１の背景は、背景ユニット２０の明色部２０ａ（図４）により明るくなる。従って、ワークサンプリング位置（Ｘｍ：例えば、視野ＶＡ１のＸ方向中央位置）での画素濃度は、視野ＶＡ１のＸ方向両端近傍に定められた背景サンプリング位置（Ｘ１０１，Ｘ１０２）での画素濃度よりも低くなる。そこで、背景サンプリング位置での画素濃度（例えば、Ｘ１０１とＸ１０２との平均にて求める）と、ワークサンプリング位置Ｘｍでの画素濃度とを平均して得られる閾値ｔｈがある上限値を超えている場合はワークなしと判定し、以降の工程を行わないようにする。また、第一の照明１９と第二の照明２４との切り替え忘れなど、何らかの事情により第一の照明１９が正常に動作していない場合は、視野全体が暗くなり、閾値ｔｈは正常な場合よりも低くなる。そこで、閾値ｔｈがある下限値未満になっている場合もワークなしと同様の取り扱いとし、以降の工程を行わないようにする。
【００４７】
一方、ワークありと判定された場合は、工程２に進み、主体金具５１の端面サーチ処理を行う。まず、上記のＸ方向濃度分布において、ワーク左右端位置Ｘ１０３，Ｘ１０４を、Ｘ方向濃度分布において濃度変化率が最大となる位置として決定する。すなわち、図１４（ｃ）に示すように、濃度ｇｉの列方向隣接値同士の差分演算を行い、その差分が最大となる位置をワーク端位置とする。次に、このワーク左右端位置Ｘ１０３，Ｘ１０４からＸ方向に一定画素数だけ主体金具５１側に入り込んだ位置に、Ｙ方向の金具端面サーチ線６１，６２を設定する。これら金具端面サーチ線６１，６２のＹ方向濃度分布を、ワーク有無判定領域６０のＸ方向濃度分布と同様にして求め、図１４と同様の方法により、各金具端面サーチ線６１，６２の金具端面位置を決定する（サーチ線を用いた端点あるいはエッジ点の決定は、本明細書では基本的に上記と同様の手法にて行うので、以下においては説明を繰り返さない）。そして、図１５に示すように、これら２つの金具端面位置を結ぶ直線Ｌ１を、金具端面位置Ｙ１として決定し、メモリ２０１に記憶する。
【００４８】
そして、工程３に進み、この直線Ｌ１と直交する直線Ｌ０と、前記した基準方向Ａ０とのなす角度をワーク傾き角度θ１として算出し、メモリ２０５に記憶する。なお、上記実施の形態の場合、金具端面サーチ線を２本設定する場合について説明しているが、金具端面サーチ線は、３本以上設定することが可能である。この場合、それぞれの金具端面サーチ線に対応する３点以上の金具端面位置に対して、最小二乗回帰を行い、得られた直線を金具端面位置Ｙ１を表す直線Ｌ１として求めることができる。
【００４９】
図１６〜図１８は、接地電極中心位置Ｅ１の決定処理の詳細を示すものである。図１６及び図１７は、接地電極５４側に貴金属チップが接合されていないか、又は、接合されていても、接地電極５４の先端面５４ａに貴金属チップが露出していないタイプのワークについての実施形態である。まず、工程４において、第一の画像の視野ＶＡ２のほぼ中央において、適当な幅を有するＹ方向の帯状の接地電極上下端サーチ領域６６を設定し、幅方向の濃度平均を取る前述の方法を用いて、該接地電極上下端サーチ領域６６のＹ方向濃度分布から接地電極上下端位置Ｙ２，Ｙ３を決定し、メモリ２０７に記憶する。工程５では、上記上下端位置Ｙ２，Ｙ３間の距離に幅が一致するＸ方向の接地電極左右端サーチ領域６７を設定し、そのＸ方向濃度分布から接地電極の左右端位置Ｘ３，Ｘ４を見出して、メモリ２０８に格納する。
【００５０】
次に、図１７の工程６に進み、得られる左右端位置Ｘ３、Ｘ４により挟まれるとともに、接地電極左右端サーチ領域６７の上下１／３の領域を除いた中央１／３の領域を用いて重心Ｋを求め、メモリ２１０に記憶する。また、工程７に進み、このＫを通って、既に求めてある軸線傾き角度θ１だけ傾いた直線を中心線Ｌ２として決定し、メモリ２１１に記憶する。そして、この中心線Ｌ２上において、既に求めてある接地電極５４の下端位置（Ｙｍとする）に対応するＸ座標を求めてＸｍとし、（Ｘｍ，Ｙｍ）を接地電極中心位置Ｅ１としてメモリ２１３に記憶する。
【００５１】
次に、図１８は、接地電極５４の火花放電ギャップに面する位置に貴金属チップ５８が接合され、かつ、先端面５４ａに該貴金属チップ５８が露出しているタイプのワークについての実施形態である。図１８の工程７では、貴金属チップ５８の正確な位置を、いわゆるパターンマッチングの手法により決定する。具体的には、標準的なワークの貴金属チップ５８及びその周辺部分を同一撮影することにより、グレースケールによるモデル画像５８’を予め作成し、メモリ２１５に登録しておく。このモデル画像５８’を、第一の画像の視野ＶＡ２上で平行移動しながら、該第一の画像との適合位置が検索される。すなわち、モデル画像５８’と、これと重なり合う第一の画像上の領域との間で、対応する画素間の濃度差（あるいはその絶対値）を演算し、その総計（あるいは平均値）を算出する。そして、各位置毎に算出した上記総計の値が最小となる撮影画像部分を適合部分として選定する。なお、上記のパターンマッチングは、パターンマッチング用メモリ２１６を用いて行う。本実施形態では、第一の画像上の適合位置に位置決めされたモデル画像５８’の中心位置Ｅ１’を、そのまま接地電極中心位置Ｅ１として用いる。
【００５２】
図１９は、中心電極中心位置の決定処理を示すものである。この実施形態では、工程８において、中心電極５３の先端部（貴金属チップ）５３ａの存在が見込まれる領域に、Ｙ方向に一定幅を有する判定領域７１をＸ方向に設定し、Ｘ方向の各画素位置において、それぞれＹ方向濃度分布を求め、図１４（ｃ）の方法により求めた端点の平均を上端点位置Ｙ４として設定し、メモリ２１８に記憶する。
【００５３】
次に、図１９の工程９に進み、上記仮上端位置Ｙ４からＹ方向に所定距離（例えば０．１ｍｍ程度）だけ下がった位置に、Ｘ方向の中心電極左右端サーチ線７３を設定する。このサーチ線７３に沿ってＸ方向の画素濃度分布を求め、図１４（ｃ）に示すのと同様の手法により中心電極左右端Ｘ７，Ｘ８を決定して、メモリ２２０に記憶する。
【００５４】
そして、工程１０に進み、中心電極左右端のＸ座標平均値をＸ座標Ｘｍとし、上端点位置Ｙ４をＹ座標Ｙｍとして、中心電極中心位置Ｅ２を（Ｘｍ，Ｙｍ）として決定し、メモリ２２１に記憶する。
【００５５】
図２０に示すように、既に算出されている接地電極中心位置Ｅ１を通り、角度θ１だけ傾斜した接地電極中心線Ｌ２を基準として、中心電極中心点Ｅ２のＸ座標がＬ２よりも右側にあるか左側にあるかを判定し、偏心量δの符号を決定する。この符号は、接地電極５４の曲げ加工の向きを規定するものである。そして、接地電極中心線Ｌ２と中心電極中心位置Ｅ２との距離を偏心量δとして算出し、メモリ２２２に記憶する。
【００５６】
以下、調整曲げ加工工程について説明する。
この調整曲げ加工は、前述の通り、図７の加工装置５を用いて行われる。接地電極５４に対し、上記偏心量δが解消される向きに調整量μの加工を行う。しかし、この調整量μを偏心量δと等しく定めたのでは、加工工具３２による付勢を解除すると接地電極５４がスプリングバックを起こし、偏心量δを解消することができない。そこで、このスプリングバックを見込んで偏心量δよりも大きな調整量μを与える必要が生ずる。換言すれば、調整量μからスプリングバック量ＳＢを減じた値が、調整曲げ加工の結果として接地電極５４に残留する変位量λとなって表れる。この変位量λが偏心量δと等しくなるように調整量μを設定するとき、偏心量δを解消することができる。以上を式にまとめると、以下のようになる。
μ＝λ＋ＳＢ　‥‥▲２▼
λ＝δ　‥‥▲３▼
▲２▼及び▲３▼より、
μ＝δ＋ＳＢ　‥‥▲４▼
【００５７】
金属は塑性変形量を大きくなると加工硬化を起こすため、調整量μが大きくなるほど、加工荷重付加時に生じている弾性変形量も高くなる。従って、接地電極５４のスプリングバック量ＳＢは、調整量μの値に応じて異なる値となる。これをＳＢ（μ）と表すと、▲４▼式は以下の通りとなる。
μ＝δ＋ＳＢ（μ）　‥‥▲５▼
もし、ＳＢ（μ）を合理的に予測することができれば、加工の際に与えるべき調整量μは、その予測されたＳＢ（μ）と、実測により求めた偏心量δとによって見出すことができる。しかし、偏心解消のために接地電極に加える曲げ加工は、単純な一軸引張り変形等では近似できないので、各種調整量μにおけるＳＢ（μ）の値を、材料の応力歪曲線等から予測することが一般には困難である。
【００５８】
本実施形態では、こうした事情に鑑み、次のような手法により調整量μの決定を行う。すなわち、複数のスパークプラグワークの接地電極に対し、種々の調整量μにて調整曲げ加工を行い、接地電極に生ずる変位量λを実測することにより、調整量μを変位量λの関数μ＝Ｆ（λ）（調整量関数）として求めておく。スプリングバック量をはじめから組み込んだ形で、調整量μを変位量λのみの調整量関数μ＝Ｆ（λ）として実験的に決定しておけば、該調整量関数μ＝Ｆ（λ）に基づいて、測定された偏心量δに対応する調整量μを見出すことができる。つまり、調整量関数μ＝Ｆ（λ）のλに、偏心量δを代入するだけで、調整量μを簡単に決定できるのである。
【００５９】
スパークプラグの実生産時においては、種々の偏心量δを生じているワークに対し、対応する調整量μにより調整曲げ加工がその都度行われる。そして、その調整曲げ加工後に、図１０〜図２０を用いて既に説明したのと全く同じ方法により、再び偏心量を測定してその値をδ’とすれば、実際に接地電極に加えられた変位量λは、調整曲げ加工前に測定した偏心量δを用いて、
λ＝δ−δ’　‥‥▲６▼
により求めることができる（ここでは、偏心量を表すパラメータは、正負の符号を含むものとし、その符号によって偏心の向きも同時に表すものとする）。
【００６０】
従って、上記のようなλの測定により、調整量μ及び変位量λのデータ（μ，λ）の組は、スパークプラグの生産時に新たに収集されるデータ（μ，λ）により更新することができるようになる。その更新された（μ，λ）のデータ組に基づいて調整量関数μ＝Ｆ（λ）を更新しつつ用いれば、関数μ＝Ｆ（λ）によるμの決定精度をより高めることができる。
【００６１】
この場合、現在の製造に係るスパークプラグワークへの調整量μを定める調整量関数μ＝Ｆ（λ）を、当該スパークプラグワークに先立つ全てのデータ組に基づいて求めることができる。ただし、ロットの相違や操業条件の不可抗力的な推移により、μ＝Ｆ（λ）の傾向が経時的に変化しうると考えられる場合は、直近の所定数個（Ｎとする）のスパークプラグワークの（μ，λ）を用いて調整量μを決定するほうが望ましい。
【００６２】
調整量関数μ＝Ｆ（λ）は、調整量μ及び変位量λのデータ（μ，λ）の組に最小二乗回帰を行うことにより、λの一次関数として求めることができる。この方法は、製造上採用可能性のある調整量μの範囲内において、λがμにほぼ比例して増加する傾向にあると考えられる場合に、非常に有効な手法である。ただし、曲げ前の接地電極５４の加工状態や材料組成により、該傾向は一定の範囲内でばらつくことが見込まれる。従って、最小二乗回帰による近似は、（μ，λ）のデータ点数をある程度増やして（例えば５個以上）行うことが望ましい。
【００６３】
スパークプラグの生産実績が進み、集められた（μ，λ）のデータ点数が増加すれば、上記のような最小二乗近似の精度は必然的に高められる。しかし、生産開始直後は、十分な数の（μ，λ）のデータを集めることはできない。従って、スパークプラグの生産に先立って、試験等により、所定数のスパークプラグワークについて予めデータ（μ，λ）の組を収集しておくことが必要である。しかし、試験等により収集できる（μ，λ）のデータ数は限られている。
【００６４】
そこで、次のような方法が採用可能である。最小二乗近似を行う上で十分なデータ数ｎに達するまでは、試験等によりｎ個のワークのデータ（μ，λ）の組を予め求めておき、そのデータ組を用いて初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を求める。例えば、図２２に示すように、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）は、ｎ個のワークのデータ（μ，λ）の組を用いて一義的に決定される、λのｎ次関数として求めることができる。そして、スパークプラグの生産開始後、ｎ番目（例えば１０番目）までのスパークプラグワークについては、該ｎ次関数を用いて調整量μを求める。このようにすると、データ数の少ない生産初期段階においても、調整量μの決定精度を比較的高く維持することができる。
【００６５】
他方、ｎ＋１番目以降のスパークプラグワークについては、該スパークプラグワークに先立つ全ての、もしくは直近の所定数個のスパークプラグワークの（μ，λ）のデータ組に対し、最小二乗回帰を行うことにより得られる、λの一次関数として調整量関数μ＝Ｆ（λ）を求め、当該調整量関数を用いて調整量μを求めるようにする。データ点数が十分に増加すれば、最小二乗回帰によるμの決定精度を向上させることができ、しかも多項式近似よりも演算がはるかに簡単である。
【００６６】
例えば試験によりｎ個の（μ，λ）のデータ組を求める場合、μを少しずつ変えてλの測定を行い、その結果に対して前述の多項式近似を行うことができる。μをλの多項式で表そうとする場合、μが同じでλが異なる（μ，λ）の組が複数含まれていると、多項式近似は数学的に不能となる。従って、ｎ個の（μ，λ）の組は、μの値が全て異なるものでなければならない。しかし、ワークが異なれば、同じμに対してもλがばらつくことがあり、得るべき初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）としては、そのλのばらつきの平均的な傾向を反映したものであることが望ましい。そこで、試験用のスパークプラグワークを必要数用意し、予め定められた複数の調整量μを、それぞれ複数のスパークプラグワークに与えたときの各変位量λを求め、例えば調整量μ毎のλの平均値を用いて多項式近似を行う方法が有効である。
【００６７】
また、複数の調整量μのそれぞれにおいて、複数ワークの変位量λを測定する場合は、μ毎にλの値を平均化せず、図２３に示すように、それら（μ，λ）の組に対して最小二乗回帰を行い、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を一次関数として求めることもできる。μの値毎に複数個の変位量λを測定するから、ばらつきの影響が軽減され、データ点数が少ない生産開始直後の段階においても、最小二乗回帰による簡便な方法により、μを比較的高精度に決定することができる。この場合、最小二乗回帰により、変位量λの調整量μへの回帰直線λ＝ｆ（μ）を求め、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）をλ＝ｆ（μ）の逆関数として求めることが、関数決定のための試験において与える調整量を真値と仮定し、変位率を確率変数と考えて近似するため高精度になるので望ましい。
【００６８】
いずれにしても、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を用いる方法は、データ点数が少ない生産開始直後において、調整量μの決定をなるべく正確に行うための便法である。従って、データ数が十分に集まった後は、それらデータを用いて最小二乗回帰により調整量関数μ＝Ｆ（λ）を決定する処理に移行することが望ましい。ただし、μに対するλのばらつきが十分小さい場合は、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を恒常的に使用することも可能である。
【００６９】
図２１は、上記調整量μの決定に係る、コンピュータ１０による制御の流れの一例を示すものである（制御ソフトウェア２３０の実行によりなされる）。まず、Ｐ１においては、生産に先立って、ｎ個の試験用のワークを用いて、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を求める（メモリ２２５に記憶される）。Ｐ２では、ワーク番号ｋを１とし、Ｐ３において、既に説明した方法により偏心量δの計測を行う。Ｐ４ではワーク番号ｋがｎ個を超えたかどうかを判定し、超えていない場合はＰ５に進んで、初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）を用いて調整量μを算出する（メモリ２２３に記憶される）。
【００７０】
そして、Ｐ９に進み、算出された調整量μにより接地電極５４に対して調整加工を行う。Ｐ１０では、加工後のワークに対して偏心量の再計測を行い、その値をδ’とする。また、Ｐ１１では、変位量λをδ−δ’により求め、（μ，λ）の値をメモリ２２６に記憶する（Ｐ１２）。Ｐ１３で、終了の割り込みが入っていなければＰ１４に進み、ワーク番号ｋをインクリメントして次のワークに交換し、Ｐ３以降の処理を繰り返す。
【００７１】
そして、Ｐ４でワーク番号ｋがｎ個を超えた場合は、Ｐ６に進み、現在のｋに至る直近のｔ個の（μ，λ）の値を読み出す。そして、Ｐ７において、そのｔ個の（μ，λ）の値に対して最小二乗回帰直線μ＝ａλ＋ｂを求め、これを調整量関数として設定して、メモリ２２７に記憶する。Ｐ８では、該μ＝ａλ＋ｂのλに偏心量δを代入し、調整量μを算出する（メモリ２２３に記憶する）。
【００７２】
なお、調整加工の後に行う偏心量を再測定工程は、一種の検査工程として用いることもできる。すなわち、その偏心量の再測定結果を検査結果として、スパークプラグワークの選別を行うことが可能である。そして、再測定された偏心量が規定範囲外となっているものは、不良品として製品ロットから除外する。除外された不良品は、例えば調整曲げ加工を追加して、偏心量δが規定範囲内に収まるようにし、良品化することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のスパークプラグの製造装置の撮影系の構成例を示す模式図。
【図２】本発明のスパークプラグの製造装置の電気的構成の一例を示すブロック図。
【図３】第一のカメラと第二のカメラとの視野の関係を模式的に示す図。
【図４】背景ユニットの説明図。
【図５】第二の照明の説明図。
【図６】ワークを保持するホルダ及び固定金具の説明図。
【図７】加工装置の模式図。
【図８】基準被写体となる治具の例を示す正面図。
【図９】図８の治具の使用方法の説明図。
【図１０】図２の装置を用いたスパークプラグの製造方法の概略的な工程の流れを示すフローチャート。
【図１１】図１０の製造方法の要旨を示す説明図。
【図１２】図１０の製造方法の主要な工程を抜き出して説明する図。
【図１３】ワークの傾き角度の決定処理の詳細を示す工程説明図。
【図１４】図１３に続く工程説明図。
【図１５】図１４に続く工程説明図。
【図１６】接地電極中心位置の決定処理の詳細を示す工程説明図。
【図１７】図１６に続く工程説明図。
【図１８】接地電極中心位置の決定処理の別例を示す工程説明図。
【図１９】中心電極中心位置の決定処理の詳細を示す工程説明図。
【図２０】偏心量の決定方法を説明する図。
【図２１】調整曲げ加工工程の処理の流れの一例を示すフローチャート。
【図２２】初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）の決定方法の一例を概念的に示す図。
【図２３】初期近似用関数μ＝Ｆ’（λ）の決定方法の別例を概念的に示す図。
【符号の説明】
３　第一のカメラ
４　第二のカメラ。
１０　コンピュータ（解析装置）
Ｅ１　接地電極中心位置
Ｅ２　中心電極中心位置
１５　対物光学系
１６　ビームスプリッタ
１７　第一の結像光学系
１８　第二の結像光学系
１９　第一の照明
２４　第二の照明
ＶＡ２　第一のカメラの撮影視野
ＶＡ１　第二のカメラの撮影視野
２７　治具（基準被写体）
５０　スパークプラグワーク
５３　中心電極
ｇ　火花放電ギャップ
５４　接地電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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