(57)【要約】      （修正有）【課題】情報処理装置を構成するハードウェア装置を複数のグループに類別し、情報処理装置の負荷に応じて、グループ毎に動作状態の検査を行うことができる情報処理装置、記憶デバイス制御装置、及び情報処理装置の制御方法を提供する。【解決手段】複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する情報処理装置であって、情報処理装置が備える各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信する手段と、情報処理装置の処理負荷を検出する手段と、情報により類別されるグループのうち、検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属するハードウェア装置に対して、動作状態の検査を実施する手段とを備える。【選択図】      図４
2004164430.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する情報処理装置であって、
前記情報処理装置が備える前記各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信する手段と、
前記情報処理装置の処理負荷を検出する手段と、
前記情報により類別される前記グループのうち、前記検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属する前記ハードウェア装置に対して、前記動作状態の検査を実施する手段と
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する情報処理装置であって、
前記情報処理装置が備える前記各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信する手段と、
前記情報処理装置の処理負荷を検出する手段と、
前記各グループに属する前記ハードウェア装置に対して実施する前記動作状態の検査の内容を、前記検出した処理負荷に応じて切り替える手段と
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項３】
情報処理装置からのデータ入出力要求を受信するチャネル制御手段と、
記憶デバイスに対してデータを読み書きするディスク制御手段と、
前記情報処理装置と前記記憶デバイスとの間で授受されるデータを一時的に記憶するためのキャッシュメモリと、
前記チャネル制御手段及び前記ディスク制御手段の両方からアクセス可能な共有メモリと
を備え、
前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段は、前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段が備える複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する記憶デバイス制御装置であって、
前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段が有する前記各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信する手段と、
前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段の処理負荷を検出する手段と、
前記情報により類別される前記グループのうち、前記検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属する前記ハードウェア装置に対して、前記動作状態の検査を実施する手段と
を備えることを特徴とする記憶デバイス制御装置。
【請求項４】
情報処理装置からのデータ入出力要求を受信するチャネル制御手段と、
記憶デバイスに対してデータを読み書きするディスク制御手段と、
前記情報処理装置と前記記憶デバイスとの間で授受されるデータを一時的に記憶するためのキャッシュメモリと、
前記チャネル制御手段及び前記ディスク制御手段の両方からアクセス可能な共有メモリと
を備え、
前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段は、前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段が備える複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する記憶デバイス制御装置であって、
前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段が有する前記各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信する手段と、
前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段の処理負荷を検出する手段と、
前記各グループに属する前記ハードウェア装置に対して実施する前記動作状態の検査の内容を、前記検出した処理負荷に応じて切り替える手段と
を備えることを特徴とする記憶デバイス制御装置。
【請求項５】
複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する情報処理装置の制御方法であって、
前記情報処理装置が備える前記各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信するステップと、
前記情報処理装置の処理負荷を検出するステップと、
前記情報により類別される前記グループのうち、前記検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属する前記ハードウェア装置に対して、前記動作状態の検査を実施するステップと
を備えることを特徴とする情報処理装置の制御方法。
【請求項６】
複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する情報処理装置の制御方法であって、
前記情報処理装置が備える前記各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信するステップと、
前記情報処理装置の処理負荷を検出するステップと、
前記各グループに属する前記ハードウェア装置に対して実施する前記動作状態の検査の内容を、前記検出した処理負荷に応じて切り替えるステップと
を備えることを特徴とする情報処理装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、情報処理装置、記憶デバイス制御装置、及び情報処理装置の制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
情報処理装置は故障が発生しても故障部位の特定が困難であることが多い。また故障が発見できないまま装置を使用し続けると、重大なトラブルに至る可能性もある。そのため故障の早期発見が重要であり、従来から多くの情報処理装置には自己が備えるハードウェア装置の動作状態の確認を行う検査プログラムが組み込まれている。
【０００３】
しかし、検査プログラムを常時実行すると本来行うべき業務プログラムの実行性能の低下をもたらす場合がある。それを回避するため、情報処理装置の負荷が所定値以下の時にのみ検査プログラムの実行を行うようにした技術が公開されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
【特許文献１】
特開平６−１２２７６号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、情報処理装置を構成するハードウェア装置には故障検査や動作確認の必要性の高いものと低いものとがある。すなわち装置の稼働率に応じて故障検出ロジックの動作頻度が影響される装置においては、普段ほとんど動作することがなく稼働率の低い装置は故障の顕現性が低いので積極的に故障検査や動作確認を行う必要がある。一方、稼働率の高い装置は故障の顕現性が高いので動作確認の必要性は相対的に低い。
【０００６】
そこで本発明は、情報処理装置を構成するハードウェア装置を複数のグループに類別し、情報処理装置の負荷に応じて、グループ毎に動作状態の検査を行うことができる情報処理装置、記憶デバイス制御装置、及び情報処理装置の制御方法を提供することを主たる目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する情報処理装置であって、前記情報処理装置が備える前記各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信する手段と、前記情報処理装置の処理負荷を検出する手段と、前記情報により類別される前記グループのうち、前記検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属する前記ハードウェア装置に対して、前記動作状態の検査を実施する手段とを備える。
その他、本願が開示する課題、及びその解決方法は、発明の実施の形態の欄、実施例の欄、及び図面により明らかにされる。
【０００８】
【発明の実施の形態】
＝＝＝開示の概要＝＝＝
本明細書の記載により少なくとも次のことが明らかにされる。
上記課題を解決するための手段に記載の態様により、情報処理装置の処理性能に与える影響を抑えつつ、各グループに属するハードウェア装置の特性に応じて適切に動作状態の検査を行うことが可能となる。各ハードウェア装置は、稼働率が低い場合は故障の顕現性が低いので積極的に動作状態の検査を行うことにより故障の早期発見を可能にする必要がある一方、稼働率が高い場合は故障の顕現性が高いので動作状態の検査の必要性は相対的に低い。そのような各ハードウェア装置の特性に応じてグループ分けを行いグループ毎に動作状態の検査の実施条件を設定することにより、適切に動作状態の検査を行うことができる。
【０００９】
また上記態様において、前記情報により類別される前記グループのうち、前記検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属する前記ハードウェア装置に対して、前記動作状態の検査を実施する手段は、前記各グループに属する前記ハードウェア装置に対して実施する前記動作状態の検査の内容を、前記検出した処理負荷に応じて切り替える手段とすることもできる。
【００１０】
このような態様により、情報処理装置の処理負荷に応じて情報処理装置の処理能力を最大限有効に活用しつつ、ハードウェア装置に対する動作状態の検査を行うことができる。その結果、情報処理装置の処理性能へ影響を与えずに、各ハードウェア装置に対する動作状態の検査を有効に行うことができる。
【００１１】
また本実施の形態の一態様は、情報処理装置からのデータ入出力要求を受信するチャネル制御手段と、記憶デバイスに対してデータを読み書きするディスク制御手段と、前記情報処理装置と前記記憶デバイスとの間で授受されるデータを一時的に記憶するためのキャッシュメモリと、前記チャネル制御手段及び前記ディスク制御手段の両方からアクセス可能な共有メモリとを備え、前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段は、前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段が備える複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する記憶デバイス制御装置であって、前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段が有する前記各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信する手段と、前記チャネル制御手段又は前記ディスク制御手段の処理負荷を検出する手段と、前記情報により類別される前記グループのうち、前記検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属する前記ハードウェア装置に対して、前記動作状態の検査を実施する手段とを備えることを特徴とする記憶デバイス制御装置に関する。
【００１２】
上記態様において、前記情報により類別される前記グループのうち、前記検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属する前記ハードウェア装置に対して、前記動作状態の検査を実施する手段は、前記各グループに属する前記ハードウェア装置に対して実施する前記動作状態の検査の内容を、前記検出した処理負荷に応じて切り替える手段とすることもできる。
【００１３】
また本実施の形態の一態様は、複数のハードウェア装置に対して動作状態を検査する機能を有する情報処理装置の制御方法であって、前記情報処理装置が備える前記各ハードウェア装置を複数のグループに類別するための情報を受信するステップと、前記情報処理装置の処理負荷を検出するステップと、前記情報により類別される前記グループのうち、前記検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属する前記ハードウェア装置に対して、前記動作状態の検査を実施するステップとを備えることを特徴とする情報処理装置の制御方法に関する。
【００１４】
上記態様において、前記情報により類別される前記グループのうち、前記検出した処理負荷が閾値よりも小さいグループに属する前記ハードウェア装置に対して、前記動作状態の検査を実施するステップは、前記各グループに属する前記ハードウェア装置に対して実施する前記動作状態の検査の内容を、前記検出した処理負荷に応じて切り替えるステップとすることもできる。
【００１５】
＝＝＝全体構成例＝＝＝
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。
まず、本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置を含むコンピュータシステムの全体構成を示すブロック図を図１に示す。
【００１６】
ホストコンピュータ（ＨＯＳＴ）１００はネットワーク３００を介して記憶デバイス制御装置（ＤＫＣ）２００に接続されている。記憶デバイス制御装置２００はホストコンピュータ１００からのデータ入出力要求を受け、記憶デバイス２７０に記憶されているデータにアクセスする。
【００１７】
ホストコンピュータ１００はＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）やメモリを備えた情報処理装置の一形態である。例えば銀行の自動預金預け払いシステムや航空機の座席予約システム等の中枢コンピュータとして利用される。
【００１８】
ネットワーク３００は、複数のホストコンピュータ１００が記憶デバイス２７０や記憶デバイス制御装置２００を共用するために利用される。ホストコンピュータ１００と記憶デバイス制御装置２００との接続は、図１に示すようにＳＡＮ（Ｓｔｏｒａｇｅ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）やＮＡＳ（Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ａｔｔａｃｈｅｄ  Ｓｔｏｒａｇｅ）等のネットワーク３００を介して行うこともできるし、ネットワーク３００を介さずに直接に接続するようにすることもできる。
【００１９】
記憶デバイス制御装置２００は、チャネル制御部（チャネル制御手段、ＣＨＡ）２１０、ディスク制御部（ディスク制御手段、ＤＫＡ）２５０、共有メモリ（ＳＭ）２３０、キャッシュメモリ（ＣＡＣＨＥ）２４０、及びサービスプロセッサ（ＳＶＰ）２６０を備える。
【００２０】
チャネル制御部２１０はホストコンピュータ１００との通信インタフェースを備え、ホストコンピュータ１００からのデータ入出力コマンドを受信する。ホストコンピュータ１００から受信したデータ入出力コマンドは、共有メモリ２３０に書き込まれる。ディスク制御部２５０は、チャネル制御部２１０により共有メモリ２３０に書き込まれたデータ入出力コマンドを読み出して、当該コマンドに従って記憶デバイス２７０にアクセスする。
【００２１】
キャッシュメモリ２４０は、チャネル制御部２１０とディスク制御部２５０との間で授受されるデータを一時的に格納するための記憶メモリである。すなわち、例えばチャネル制御部２１０がホストコンピュータ１００から受信したデータ入出力コマンドが書き込みコマンドであった場合には、チャネル制御部２１０は当該コマンドを共有メモリ２３０に書き込むと共に、ホストコンピュータ１００から受信した書き込みデータをキャッシュメモリ２４０に書き込む。そうすると、ディスク制御部２５０は共有メモリ２３０に書き込まれた当該書き込みコマンドに従って、キャッシュメモリ２４０から書き込みデータを読み出して記憶デバイス２７０に書き込む。
【００２２】
サービスプロセッサ２６０は記憶デバイス制御装置２００や記憶デバイス２７０を保守・管理するための情報処理装置の一形態である。例えばチャネル制御部２１０において実行される各種制御プログラムや制御パラメータの変更は、サービスプロセッサ２６０からの指示により行われる。サービスプロセッサ２６０は記憶デバイス制御装置２００に内蔵されている形態とすることもできるし、別体とすることもできる。またサービスプロセッサ２６０は、記憶デバイス制御装置２００及び記憶デバイス２７０の保守・管理を専用に行う情報処理装置とすることもできるし、汎用の情報処理装置に保守・管理機能を持たせたものとすることもできる。
【００２３】
記憶デバイス２７０は、ホストコンピュータ１００に提供するための記憶資源を備えている。記憶資源としては、例えばハードディスク装置やフレキシブルディスク装置、半導体記憶装置等様々なものを採用することができる。またディスク制御部２５０と記憶デバイス２７０との間は図１のように直接に接続される形態とすることもできるし、ネットワークを介して接続するようにすることもできる。さらに記憶デバイス２７０は記憶デバイス制御装置２００と一体型とすることもできる。
【００２４】
＝＝＝チャネル制御部＝＝＝
次に、本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置２００におけるチャネル制御部２１０を示すブロック図を図２に示す。
チャネル制御部２１０は、プロセッサ２１１、メモリ２１２、ＨＷ−Ａ〜ＨＷ−Ｇ（２１３〜２１９）、ＨＯＳＴバス２２０、ＳＭバス２２１、及びＣＡＣＨＥバス２２２を備えている。
【００２５】
プロセッサ２１１はチャネル制御部２１０全体の制御を司る。またプロセッサ２１１はチャネル制御部２１０が備えるＨＷ−Ａ〜ＨＷ−Ｇ（２１３〜２１９）等のハードウェア装置に対する動作状態の検査を行う機能を有する。ここで検査とは各ハードウェア装置が正常に動作するか否かを確認することのみならず、検査結果の報告やハードウェア装置の動作が正常でない場合の原因分析（診断）、さらにはフェールセーフ処置を行うこと等も含む。また検査は定期的に実施するようにすることもできるし不定期的に実施するようにすることもできる。さらに検査はプロセッサ２１１が自動で行うようにすることもできるし、操作員等の操作により行うようにすることもできる。
【００２６】
メモリ２１２は、プロセッサ２１１が実行する各種制御プログラムや各種パラメータ等を記憶する。プロセッサ２１１が実行する検査のためのプログラムや検査のためのパラメータは、メモリ２１２に記憶されるようにすることもできるし、例えばサービスプロセッサ２６０が備えるメモリに記憶されるようにすることもできる。
【００２７】
ＨＯＳＴバス２２０はホストコンピュータ１００と通信を行うためのインタフェースを備える。ＨＷ−Ａ２１３は、ＨＯＳＴバス２２０を介してホストコンピュータ１００との間で行われる通信を制御するためのハードウェア装置である。ＨＷ−Ｃ２１５はＨＷ−Ａ２１３の動作状態を検査するためのハードウェア装置である。
【００２８】
ＳＭバス２２１は、共有メモリ２３０との間でデータの授受を行うためのインタフェースを備える。ＨＷ−Ｆ２１８はＳＭバス２２１を介して共有メモリ２３０との間で行われるデータ授受を制御するためのハードウェア装置である。ＨＷ−Ｇ２１９はＨＷ−Ｆ２１８の動作状態を検査するためのハードウェア装置である。
【００２９】
ＣＡＣＨＥバス２２２は、キャッシュメモリ２４０との間でデータ授受を行うためのインタフェースを備える。ＨＷ−Ｂ２１４は、ＣＡＣＨＥバス２２２を介してキャッシュメモリ２４０との間で行われるデータ授受を制御するためのハードウェア装置である。ＨＷ−Ｄ２１６はホストコンピュータ１００から特殊コマンドを受信した場合に必要な特殊処理を行うためのハードウェア装置である。ＨＷ−Ｅ２１７は、ＨＷ−Ｂ２１４の動作状態の検査を行うためのハードウェア装置である。
【００３０】
図３は、上記ＨＷ−Ａ２１３〜ＨＷ−Ｇ２１９がそれぞれプロセッサ２１１により制御されることを表した図である。
【００３１】
＝＝＝ハードウェア装置の動作状態の検査＝＝＝
これらのハードウェア装置は、どれが故障してもホストコンピュータ１００から要求を受けたデータ入出力処理の遂行に支障をきたすものである。そのためこれらのハードウェア装置に対しては極力頻繁に動作状態の検査を行うようにし、故障の早期発見を行うことが本来望ましい。しかしながら、かかる検査を頻繁に行うとプロセッサ２１１が本来行うべきホストコンピュータ１００とのデータ入出力処理に支障をきたす虞がある。
【００３２】
またこれらのハードウェア装置、すなわちＨＷ−Ａ２１３乃至ＨＷ−Ｇ２１９はそれぞれ所定の役割があり稼働率もそれぞれ異なる。例えばＨＷ−Ａ２１３やＨＷ−Ｂ２１４、ＨＷ−Ｆ２１８は、記憶デバイス制御装置２００がホストコンピュータ１００からデータ入出力要求を受信する毎に動作する部分であるため、稼働率は極めて高い。一方、ＨＷ−Ｃ２１５やＨＷ−Ｅ２１７、ＨＷ−Ｇ２１９は動作状態を検査するためのハードウェア装置であるため、稼働率は低い。またＨＷ−Ｄ２１６は、記憶デバイス制御装置２００がホストコンピュータ１００から特殊なデータ入出力要求を受信した時にのみ動作する部分であるため、稼働率は中程度である。
【００３３】
稼働率の低い部分のハードウェア装置は故障の顕現性が低いので、積極的に検査を行うことにより故障の早期発見を可能にする必要がある。一方、稼働率の高い部分のハードウェア装置は故障の顕現性が高いので、検査の必要性は相対的に低い。
【００３４】
そうすると、プロセッサ２１１の負担軽減のためにも、これらのハードウェア装置に対する故障検査や動作確認は一律に行われる必要はなく、それぞれの必要性の度合いに応じて適宜検査の実施条件を設定することが望ましいと言える。そのため、本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置２００においては、チャネル制御部２１０を構成する上記ハードウェア装置２１３乃至２１９を複数のグループに類別し、各グループに対してそれぞれ異なる条件で故障検査や動作確認を行うようにしている。
【００３５】
本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置２００のチャネル制御部２１０を構成する各ハードウェア装置２１３〜２１９をそれぞれどのようにグループ分けし、各グループに対してどのような条件で故障検査や動作確認を行うかを図４に示す。
【００３６】
図４に示すように、各ハードウェア装置ＨＷ−Ａ２１３〜ＨＷ−Ｇ２１９は、それぞれの稼働率に応じて”稼働率小”、”稼働率中”、”稼働率大”の３つのグループに類別される。そして、記憶デバイス制御装置２００の負荷に応じて動作状態の検査の範囲が変わるようになっている。なお図４に記載されている”診断範囲”は、必ずしも”診断”の範囲に限られるものではなく、ハードウェア装置を”検査”する範囲とすることもできる。以下の図面においても同様である。
【００３７】
すなわち記憶デバイス制御装置２００のデータ転送負荷がＸ１％以下の場合は、全てのハードウェア装置に対して動作状態の検査を実施する。また記憶デバイス制御装置２００のデータ転送負荷がＸ１％からＸ２％までの場合は、”稼働率小”、”稼働率中”にグループ分けされたハードウェア装置に対して動作状態の検査を実施する。そして記憶デバイス制御装置２００のデータ転送負荷がＸ２％以上の場合は、”稼働率小”にグループ分けされたハードウェア装置に対してのみ動作状態の検査を実施する。
【００３８】
このようにすることにより、記憶デバイス制御装置２００が高負荷の場合には、ホストコンピュータ１００との間のデータ入出力処理に影響を与えずに故障顕現性の低いハードウェア装置に対して動作状態の検査を行い、故障の早期発見を行うことができる。逆に記憶デバイス制御装置２００が低負荷の場合にはプロセッサ２１１の処理能力を有効に活用し、全てのハードウェア装置に対して動作確認を行うことができる。
【００３９】
各ハードウェア装置ＨＷ−Ａ２１３〜ＨＷ−Ｇ２１９の各グループへの割り当てや負荷閾値Ｘ１、Ｘ２の設定は、サービスプロセッサ２６０を用いて行う。詳細は後述する。
【００４０】
次に、本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置２００における各ハードウェア装置２１３〜２１９に対する動作状態の検査の流れを示すフローチャートを図５に示す。
まずプロセッサ２１１は、自身が所属するチャネル制御部２１０の処理負荷Ｌを求める（Ｓ１０００）。ここで処理負荷とは、プロセッサ２１１がホストコンピュータ１００との間のデータ入出力処理にどれだけの時間を割り当てているかを示す量である。具体的には、プロセッサ２１１がホストコンピュータ１００との間のデータ入出力処理に費やした時間が所定時間内にどれだけあったかを示す割合である。
【００４１】
続いてプロセッサ２１１は、処理負荷Ｌを閾値”Ｘ１”及び”Ｘ２”と比較する（Ｓ１００１）。処理負荷Ｌが閾値Ｘ２よりも大きい場合はＳ１００４に進み、”稼働率小”に分類されたハードウェア装置に対してのみ動作状態の検査を実施する。処理負荷Ｌが閾値Ｘ１よりも大きいがＸ２よりも小さい場合はＳ１００３に進み、”稼働率小”及び”稼働率中”に分類されたハードウェア装置に対して動作状態の検査を実施する（Ｓ１００３〜Ｓ１００４）。処理負荷Ｌが閾値Ｘ１よりも小さい場合はＳ１００２に進み、”稼働率小”、”稼働率中”及び  ”稼働率大”に分類されたハードウェア装置、すなわち全ハードウェア装置に対して動作状態の検査を実施する（Ｓ１００２〜Ｓ１００４）。
【００４２】
図６は、記憶デバイス制御装置２００の負荷Ｌに応じて、”稼働率小”、”稼働率中”、”稼働率大”の３つのグループのうち、どのグループに対して動作状態の検査が行われるかを示した図である。グループＩは”稼働率大”のグループである。グループＩＩは”稼働率中”のグループである。グループＩＩＩは”稼働率小”のグループである。
【００４３】
なお本実施例においてはグループ数が３つの場合を示しているが、３つには限られない。また本実施例においてはグループＩＩＩに属するハードウェア装置に対しては常に動作状態の検査が行われるようにしているが、新たな閾値Ｘ３を設け、負荷がＸ３を超えているときには検査を行わないようにすることもできる。さらに本実施例においては検査の行われないグループは存在しないが、検査の行われないグループを設けることもできる。
【００４４】
次に、本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置２００におけるチャネル制御部２１０の各検査部位（ハードウェア装置）を検査対象グループに類別する様子を示す図を図７に示す。図７においては、検査部位として”Ａ”〜”Ｇ”が記載されているが、これらはそれぞれ図２や図３に示した”ＨＷ−Ａ”〜”ＨＷ−Ｇ”に対応している。以下同様である。
【００４５】
この類別は記憶デバイス制御装置２００を管理する保守員がサービスプロセッサ２６０を用いて設定する。すなわち各検査部位”Ａ”から”Ｇ”のそれぞれについてグループＩ乃至ＩＩＩのいずれかに属するかを保守員が設定する。記憶デバイス制御装置２００は上記設定を受け付けて、設定内容を各チャネル制御部２１０のメモリ２１２に記憶する。検査部位”Ａ”から”Ｇ”は、あらかじめ記憶デバイス制御装置２００の製造時に指定されている。本実施例においては、各検査部位は必ずグループＩ乃至ＩＩＩのいずれかに属するように設定されるが、いずれにも属さないという設定をできるようにすることもできる。その場合いずれのグループにも属さない検査部位に対しては検査が行われないことになる。
【００４６】
次に各検査部位で行われる検査の内容について図８に示す。本実施例においては４種類の検査項目が設けられているが、これらはあくまでも一例であり、様々な検査項目を設けることができる。
検査項目は検査部位に応じて適切なものが選択されて、実行される。それぞれの検査項目は、内容に応じてプロセッサ２１１に与える負担の軽いものや重いものがある。
各グループに対しどの検査項目を実施するかについては、保守員がサービスプロセッサ２６０を用いて設定することができる。設定の内容を図９に示す。図９において、検査項目毎にそれぞれが実施されるグループを指定することができるようになっている。記憶デバイス制御装置２００は上記設定を受け付けて、設定内容を各チャネル制御部２１０のメモリ２１２に記憶する。
【００４７】
以上、図６乃至図９において示した、グループ毎の検査タイミング、検査部位、検査内容を一覧にした図を図１０に示す。
グループＩは低負荷時すなわち負荷ＬがＸ１以下のときに検査が行われる。グループＩに属するハードウェア装置は”Ａ”、”Ｂ”、”Ｆ”である。”Ａ”、”Ｂ”、”Ｆ”は稼働率が高い部位であるため、低負荷時にのみ検査を行うようにしている。検査の内容は”３”である。
グループＩＩは低負荷時及び中負荷時すなわち負荷ＬがＸ２以下のときに検査が行われる。グループＩＩに属するハードウェア装置は”Ｄ”である。”Ｄ”は稼働率が中程度の部位であるため、低負荷時及び中負荷時に検査を行うようにしている。検査の内容は”２”である。
グループＩＩＩは常時検査が行われる。グループＩＩＩに属するハードウェア装置は”Ｃ”、”Ｅ”、”Ｇ”である。”Ｃ”、”Ｅ”、”Ｇ”は稼働率が低い部位であり故障の顕現性が低いため、常時検査を行うようにしている。検査の内容は”１”、”４”である。
【００４８】
図１１は、本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置２００におけるチャネル制御部２１０の動作状態の検査を行うための閾値を示す図である。
閾値”Ｘ１”及び”Ｘ２”は、保守員がサービスプロセッサ２６０を用いて設定することができる。記憶デバイス制御装置２００は上記設定を受け付けて、設定内容を各チャネル制御部２１０のメモリ２１２に記憶する。これらの閾値を高めに設定すると検査が頻繁に行われるようになり、低めに設定すると検査の頻度が下がる。すなわち本実施の形態にかかる記憶デバイス制御装置２００においては、信頼性に対するユーザの考え方に応じて、記憶デバイス制御装置２００の特性を、信頼性重視にするか性能重視にするかを自由に変えることができる。
【００４９】
図１２は、以上に説明した本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置２００のハードウェア装置に対する動作状態の検査をさらに柔軟に設定できるようにした場合の例である。
すなわち、各グループにおいて実施される検査内容を負荷Ｌに応じて動的に変化させることができるようにしたものである。
具体的には例えばグループＩＩＩは、負荷ＬがＸ２以上の場合には検査内容”１”及び”４”を実施し、負荷ＬがＸ１以上Ｘ２以下の場合には検査内容”２”を実施し、負荷ＬがＸ１以下の場合には検査内容”３”を実施するように設定されている。
【００５０】
このようにすることにより、負荷が小さい時のプロセッサ２１１の余剰能力を活用して、記憶デバイス制御装置２００が備えるハードウェア装置に対して動作状態の検査をさらに有効に行うことができる。
【００５１】
また図１３は、さらに柔軟に検査内容を設定できるようにした例である。
すなわち、例えばグループＩに対しては、負荷ＬがＸ１以上の場合であっても検査を実施することができるようになっている。その上、負荷に応じて適切な検査項目を選択可能になっている。もちろん図１２に示したように負荷ＬがＸ１以上の場合には検査を行わないように設定することもできる。グループＩＩ、ＩＩＩに対しても同様である。
【００５２】
このようにすることにより、負荷の大小に応じてプロセッサ２１１の処理能力をきめ細かく有効に活用して、記憶デバイス制御装置２００が備えるハードウェア装置に対して適切に動作状態の検査を行うことができる。その結果、記憶デバイス制御装置２００が処理するホストコンピュータ１００との間のデータ入出力処理への影響を与えずに、記憶デバイス制御装置２００の検査を最大限有効に行うことができるようになる。
【００５３】
本実施の形態に係るハードウェア装置の動作状態の検査は、チャネル制御部２１０が備えるハードウェア装置に対して適用できるのみならず、ディスク制御部２５０が備えるハードウェア装置に対しても適用できる。さらに広く一般の情報処理装置が備えるハードウェア装置に対しても適用できる。
【００５４】
以上本実施の形態について説明したが、上記の実施の形態は本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明はその趣旨を逸脱することなく変更、改良され得ると共に、本発明にはその等価物も含まれる。
【００５５】
【発明の効果】
情報処理装置、記憶デバイス制御装置、及び情報処理装置の制御方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置を含むコンピュータシステムの全体構成を示すブロック図である。
【図２】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置におけるチャネル制御部を示すブロック図である。
【図３】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置におけるチャネル制御部を示すブロック図である。
【図４】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置の負荷と診断範囲との関係を示す図である。
【図５】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置における動作状態の診断の流れを示すフローチャートである。
【図６】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置の負荷に応じた診断対象グループ毎の診断実施有無を示す図である。
【図７】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置の各診断部位を診断対象グループに類別する様子を示す図である。
【図８】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置において実施される診断内容を示す図である。
【図９】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置の各診断内容を診断対象グループに類別する様子を示す図である。
【図１０】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置の診断対象グループ毎に診断タイミング、診断部位、診断内容を一覧にした図である。
【図１１】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置の動作状態の診断を行うための閾値を示す図である。
【図１２】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置の負荷に応じた診断対象グループ毎の診断内容を示す図である。
【図１３】本実施の形態に係る記憶デバイス制御装置の負荷に応じた診断対象グループ毎の診断内容を示す図である。
【符号の説明】
１００  ホストコンピュータ        ２００  記憶デバイス制御装置
２１０  チャネル制御部            ２１１  プロセッサ
２１２  メモリ                    ２１３  ＨＷ−Ａ
２１４  ＨＷ−Ｂ                  ２１５  ＨＷ−Ｃ
２１６  ＨＷ−Ｄ                  ２１７  ＨＷ−Ｅ
２１８  ＨＷ−Ｆ                  ２１９  ＨＷ−Ｇ
２２０  ＨＯＳＴバス              ２２１  ＳＭバス
２２２  ＣＡＣＨＥバス            ２３０  共有メモリ
２４０  キャッシュメモリ          ２５０  ディスク制御部
２６０  サービスプロセッサ        ２７０  記憶デバイス
３００  ネットワーク              ４００  診断範囲
４０１  低負荷時診断範囲          ４０２  中負荷時診断範囲
４０３  高負荷時診断範囲
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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