(57)【要約】【課題】必要な非破壊検査データを抽出して短時間に非破壊検査データを分析センターに送信する。【解決手段】被検査物を非破壊検査する非破壊検査現場には、非破壊検査データ抽出装置１２が備えられ、被検査物を非破壊検査して得られた非破壊検査データから非破壊検査データの特徴部分を抽出するための閾値が抽出パラメータとして設定されている。非破壊検査データ抽出装置は、抽出パラメータに応じて非破壊検査データからその特徴部分を抽出する抽出処理を行って、抽出非破壊検査データをネットワーク１３を介して分析センター１４に送信する。分析センターでは、抽出非破壊検査データを分析評価して、この分析した結果に応じて、抽出パラメータを変更するための変更指示を、ネットワークを介して非破壊検査データ抽出装置に与える。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物を非破壊検査して得られた非破壊検査データを、ネットワークを介して前記非破壊検査データを分析評価する分析センターに転送する際に用いられ、
前記非破壊検査データから、該非破壊検査データの特徴部分を抽出するための閾値が抽出パラメータとして設定されており、
該抽出パラメータに応じて、前記非破壊検査データからその特徴部分を抽出して抽出非破壊検査データを得る抽出手段と、
該抽出非破壊検査データを前記分析センターに前記ネットワークを介して転送する転送手段とを有することを特徴とする非破壊検査データ抽出装置。
【請求項２】
前記非破壊検査データについて再度の非破壊検査を行うか否かを判定するための再非破壊検査チェックパラメータが設定されており、
該再非破壊検査チェックパラメータに基づいて、前記非破壊検査データをチェックして再度の非破壊検査が必要であると判定するとその旨を指示する再検査チェック手段を有することを特徴とする請求項１に記載の非破壊検査データ抽出装置。
【請求項３】
前記非破壊検査データについて再度の非破壊検査を行うか否かを判定するための再非破壊検査チェックパラメータが設定されており、
該再非破壊検査チェックパラメータに基づいて前記非破壊検査データをチェックして再度の非破壊検査が必要であると判定するとその旨を指示する再検査チェック手段を有し、
前記再検査チェック手段は再度の非破壊検査が必要でないと判断すると前記抽出手段を起動するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の非破壊検査データ抽出装置。
【請求項４】
被検査物を非破壊検査する非破壊検査現場に備えられ、前記被検査物を前記非破壊検査して得られた非破壊検査データから該非破壊検査データの特徴部分を抽出するための閾値が抽出パラメータとして設定されて、前記抽出パラメータに応じて前記非破壊検査データからその特徴部分を抽出する抽出処理を行って、該抽出非破壊検査データをネットワークに送出する非破壊検査データ抽出装置と、
前記ネットワークを介して前記抽出非破壊検査データを受け、該抽出非破壊検査データを分析評価する分析センターとを有することを特徴とする非破壊検査データ収集システム。
【請求項５】
前記非破壊検査データ抽出装置は、前記非破壊検査データについて再度の非破壊検査を行うか否かを判定するための再非破壊検査チェックパラメータに応じて前記非破壊検査データをチェックして再度の非破壊検査が必要であると判定するとその旨を指示するようにしたことを特徴とする請求項４に記載の非破壊検査データ収集システム。
【請求項６】
前記非破壊検査データ抽出装置は、前記非破壊検査データについて再度の非破壊検査を行うか否かを判定するための再非破壊検査チェックパラメータに応じて前記非破壊検査データをチェックして再度の非破壊検査が必要であると判定するとその旨を指示し、再度の非破壊検査が必要でないと判断すると、前記抽出処理を行うようにしたことを特徴とする請求項４に記載の非破壊検査データ収集システム。
【請求項７】
前記分析センターでは前記抽出非破壊検査データを分析した結果に応じて前記抽出パラメータを変更するための変更指示を前記非破壊検査データ抽出装置に前記ネットワークを介して与えるようにしたことを特徴とする請求項４に記載の非破壊検査データ収集システム。
【請求項８】
前記分析センターでは前記抽出非破壊検査データを分析した結果に応じて再度の非破壊検査を行うべきである再検査指示を前記非破壊検査データ抽出装置に前記ネットワークを介して送出するようにしたことを特徴とする請求項４〜７のいずれかに記載の非破壊検査データ収集システム。
【請求項９】
前記非破壊検査データ抽出装置は非破壊検査現場毎に備えられ、複数の非破壊検査データ抽出装置が前記ネットワークを介して前記分析センターに接続されていることを特徴とする請求項４〜８のいずれかに記載の非破壊検査データ収集システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被検査物を非破壊検査して得られた非破壊検査データから必要なデータを検査現場で抽出する非破壊検査データ抽出装置及びこの装置を用いた収集システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、プラント設備（従来、例えば、原子力発電プラント）においては、プラント設備の性能を維持するため、定期的に点検等を行っており、この定期的点検等においては、非破壊検査が用いられている。この非破壊検査には、例えば、超音波探傷検査、渦電流探傷検査、浸透探傷検査、放射線探傷検査、及び磁粉探傷検査等がある。
【０００３】
ところで、プラント設備を検査する際には、その検査対象物（被検査物）は極めて多数に上り、例えば、発電プラント等において伝熱管の数だけでも膨大な数に上る。従って、プラント設備を非破壊検査した結果得られる非破壊検査データも膨大な数に上り、このような非破壊検査データを、ネットワークを介して分析センター等に送信する際には、極めて時間を要することになる。
【０００４】
つまり、検査現場では、非破壊検査データ及び各種検査条件（検査パラメータ）の管理、データ記録装置の操作、被検査物の図面の参照等を行いつつ、多数の検査を実行することになり、一方、分析センターでは、受け取った検査データ（非破壊検査データ）を分析して各種の判断を行うことになるが、この分析結果に応じて再検査が行われることもある。
【０００５】
このように、プラント設備等の非破壊検査に当たっては、多量の非破壊検査データを得て、これら非破壊検査データを分析しているものの、現状では極めて検査効率が悪い。
【０００６】
このため、従来、遠隔地に存在する検査現場で発生した検査情報を、通信回線を介してリアルタイムで、分析センターで受信し、分析センターでは、検査情報を分析して、分析の結果に応じて検査現場での検査を支援するための検査支援情報を、通信回線を介して検査現場にリアルタイムで送信するようにしている（特許文献１参照）。
【０００７】
さらに、従来、既知の故障を有する機械からネットワークを介して、非破壊検査等で得られた波形データを収集して、履歴波形データを、機械を修復するための対応する処置とともに得て、これら履歴波形データ及び修復対応処置を用いて故障分類規則を展開することが行われている。そして、この故障分類規則を診断用知識データベースに記憶して、このデータベースを用いて、未知の故障を有する機械からの波形データを、ネットワークを介して得て、故障診断を行う（特許文献２）。
【０００８】
【特許文献１】
特開２００２−５６９９公報（段落（００２３）〜（００４４）、第１図）
【０００９】
【特許文献２】
特開２００２−１３１１２３公報（４ページ、第１図）
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、特許文献１においては、検査現場で発生した検査情報（非破壊検査データ）をリアルタイムで通信回線を介して分析センターに送信しているものの、プラント設備等においては、非破壊検査データは膨大であり、このような膨大なデータを全て逐一分析センターに送るとなると、送信に長時間を要してしまい、結果的に検査効率が悪くなってしまうという課題がある。
【００１１】
さらに、特許文献１では、分析センターは検査現場から送信される非破壊検査データを受けて、非破壊検査データを分析しているだけであって、分析センター側から送信すべき非破壊検査データを指定できず、この点においても、非破壊検査データの送信に長時間を要してしまい、迅速に分析が行えないという課題がある。
【００１２】
また、特許文献１では、再検査を行う際においても、一旦分析センターで非破壊検査データの適否を判定した後、再検査を行うか否かを決定しており、前述のように膨大な非破壊検査データを受信した後、再検査を行うか否かを決定するとなると、再検査を行うか否かを判定するまでに長時間を要してしまうという課題がある。
【００１３】
一方、特許文献２においても、未知の故障を有する機械からの波形データをネットワークを介して受け、診断用知識データベースを用いて故障診断を行っているものの、プラント設備等においては、非破壊検査データである波形データは膨大な量であり、このような膨大な波形データを全て逐一送信するとなると、送信に長時間を有してしまい、速やかに故障診断ができないという課題がある。
【００１４】
本発明の目的は、必要な非破壊検査データを抽出して短時間に非破壊検査データを分析センターに送ることのできる非破壊検査データ抽出装置を提供することにある。
【００１５】
本発明の他の目的は、分析センターにおいて多量の非破壊検査データから必要な非破壊検査データを容易に指定して非破壊検査データの抽出送信を制御することのできる非破壊検査データ収集システムを提供することにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、被検査物を非破壊検査して得られた非破壊検査データをネットワークを介して、前記非破壊検査データを分析評価する分析センターに転送する際に用いられ、前記非破壊検査データから該非破壊検査データの特徴部分を抽出するための閾値が抽出パラメータとして設定されており、該抽出パラメータに応じて前記非破壊検査データからその特徴部分を抽出して抽出非破壊検査データを得る抽出手段と、該抽出非破壊検査データを前記分析センターに前記ネットワークを介して転送する転送手段とを有することを特徴とする非破壊検査データ抽出装置が得られる。
【００１７】
このようにして、抽出パラメータに応じて非破壊検査データからその特徴部分を抽出し、抽出非破壊検査データを得て、この抽出非破壊検査データを分析センターにネットワークを介して転送するようにすれば、実質的に非破壊検査データを短時間に分析センターに送ることができることになる。
【００１８】
さらに、本発明では、前記非破壊検査データについて再度の非破壊検査を行うか否かを判定するための再非破壊検査チェックパラメータが設定されており、該再非破壊検査チェックパラメータに基づいて前記非破壊検査データをチェックして再度の非破壊検査が必要であると判定するとその旨を指示する再検査チェック手段を有している。そして、前記再検査チェック手段は再度の非破壊検査が必要でないと判断すると前記抽出手段を起動する。このようにすれば、再度の非破壊検査を行うまでの時間を短くすることができ、時間のロスを低減することができることになる。
【００１９】
また、本発明によれば、被検査物を非破壊検査する非破壊検査現場に備えられ、前記被検査物を前記非破壊検査して得られた非破壊検査データから該非破壊検査データの特徴部分を抽出するための閾値が抽出パラメータとして設定されて前記抽出パラメータに応じて前記非破壊検査データからその特徴部分を抽出する抽出処理を行って該抽出非破壊検査データをネットワークに送出する非破壊検査データ抽出装置と、前記ネットワークを介して前記抽出非破壊検査データを受け該抽出非破壊検査データを分析評価する分析センターとを有することを特徴とする非破壊検査データ収集システムが得られる。
【００２０】
このようにして、非破壊検査データ抽出装置を、被検査物を非破壊検査する非破壊検査現場に備えて、抽出パラメータに応じて非破壊検査データからその特徴部分を抽出する抽出処理を行って、抽出非破壊検査データをネットワークに送出し、分析センターがネットワークを介して抽出非破壊検査データを受け、抽出非破壊検査データを分析評価するようにすれば、実質的に短時間で探傷データを分析センターに転送することができ、その結果、迅速に分析を行うことができる。
【００２１】
ここでは、前記非破壊検査データ抽出装置は、前記非破壊検査データについて再度の非破壊検査を行うか否かを判定するための再非破壊検査チェックパラメータに応じて前記非破壊検査データをチェックして再度の非破壊検査が必要であると判定するとその旨を指示する。そして、前記非破壊検査データ抽出装置は、再度の非破壊検査が必要でないと判断すると、前記抽出処理を行う。このようにすれば、再度の非破壊検査を行うまでの時間を短くすることができ、時間のロスを低減することができることになる。
【００２２】
例えば、前記分析センターでは前記抽出非破壊検査データを分析した結果に応じて前記抽出パラメータを変更するための変更指示を前記非破壊検査データ抽出装置に前記ネットワークを介して与えており、前記抽出非破壊検査データを分析した結果に応じて再度の非破壊検査を行うべきである再検査指示を前記非破壊検査データ抽出装置に送出するようにしてもよい。
【００２３】
この結果、分析の結果に応じて抽出精度を適宜変更することができ、結果的に精度よく探傷データの分析が行える。つまり、分析センターにおいて、多量の非破壊検査データから必要な非破壊検査データを容易に指定して非破壊検査データの抽出を制御することができることになる。また、分析センター側でも再度の非破壊検査を行うか否かを決定することができる。
【００２４】
なお、前記非破壊検査データ抽出装置は非破壊検査現場毎に備えられ、複数の非破壊検査データ抽出装置が前記ネットワークを介して前記分析センターに接続されている。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。但し、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは特に特定的な記載がない限り、この発明の範囲をそれのみに限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。
【００２６】
図１を参照して、図示の非破壊検査データ収集システムは、非破壊検査装置（以下単に検査装置と呼ぶ）１１及び非破壊検査データ抽出装置（以下単に抽出装置と呼ぶ）１２を備えており、ネットワーク１３を介して、例えば、分析センター１４に接続されている。そして、分析センター１４では、後述するように、抽出装置１２からネットワーク１３を介して非破壊検査データを収集して分析する。
【００２７】
なお、図示の例では、検査装置１１及び抽出装置１２がそれぞれ一台ずつ示されているが、検査装置１１はプラント設備等を検査する際には、各プラント設備において複数台用いられ、抽出装置１２は各プラント設備に対して少なくとも一台配置される。つまり、抽出装置１２はプラント設備毎に少なくとも一台配置され、検査装置は各プラント設備の検査の際複数台用いられることになる。
【００２８】
図示の例では、ネットワークとして、例えば、ＷＡＮ（Ｗｉｄｅ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）又はインターネットが用いられる。検査装置１１は、例えば、プラント設備等の各構成要素の非破壊検査を行う装置であり、以下非破壊検査を行う構成要素を被検査物と呼ぶことにする。前述のように、被破壊検査には、例えば、超音波探傷検査、渦電流探傷検査、浸透探傷検査、放射線探傷検査、及び磁粉探傷検査等があるが、ここでは、渦電流探傷検査（Ｅｄｄｙ  Ｃｕｒｒｅｎｔ  Ｔｅｓｔ：ＥＣＴ）を例にあげて説明することにする（なお、他の非破壊検査についても同様に適用できる）。
【００２９】
検査装置１１を用いて、被検査物がＥＣＴによって検査され非破壊検査データ（探傷データ）が得られる。被検査物の探傷を行う際には、例えば、プローブ等を被検査対象物に送入しつつ、波形データを探傷データとして得る。このようなＥＣＴにおいては、検査員は予め定められた検査マニュアル等に基づいて探傷を行うことになる。
【００３０】
ＥＣＴに当たっては、例えば、まず不具合箇所（例えば、傷）の位置及び状態等が既知のテストピースを用いて探傷データである波形データ（この波形データをテスト探傷データと呼ぶ）を採取する。その後、後述するように、テスト探傷データの確認を行った後、被検査物に対してＥＣＴを実行して探傷データである波形データ（この波形データを被検査物探傷データと呼ぶ）を得る。
【００３１】
このようにして得られたテスト探傷データ及び被検査物探傷データ（以下総称して探傷データという）は抽出装置１２に与えられる。検査装置１１から抽出装置１２に探傷データを転送する際には、例えば、検査装置１１では一旦フレキシブルディスク（図示せず）等に探傷データを格納した後、このフレキシブルディスクを抽出装置１２に挿入するようにしてもよいし、検査装置１１と抽出装置１２とをＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ：図示せず））で接続して、検査装置１１から抽出装置１２にＬＡＮを介して探傷データを転送するようにしてもよい。
【００３２】
なお、当然のことながら、探傷データには被検査物に関する情報（被検査物名、探傷データ（波形データ）と被検査物との位置関係（つまり、プローブの位置と波形データとの関係）が含まれている。
【００３３】
図１に示すように、抽出装置１２には、自動校正処理部１２ａ、再探傷検査（再ＥＣＴ）チェック部１２ｂ、探傷データ自動抽出部１２ｃ、記憶部１２ｄ、及び通信制御部１２ｅが備えられており、抽出装置１２には、予め分析センター１４から探傷データチェックパラメータが送信され、記憶部１２ｄに格納されている。この探傷データチェックパラメータには、再探傷チェックパラメータ及び探傷データ抽出パラメータがあり、再探傷チェックパラメータ及び探傷データ抽出パラメータとして、ＥＣＴの場合には、例えば、波形データ振幅の上限値及び下限値（以下振幅上限値及び振幅下限値という）及び波形データ位相角の上限値及び下限値（以下位相角上限値及び位相角下限値という）が用いられる。
【００３４】
なお、ＥＣＴセンサ（プローブ）がマルチコイルの場合には、コイル間の振幅の差（上限値及び下限値）、コイル間の位相角の差（上限値及び下限値）も再探傷チェックパラメータ及び探傷データ抽出パラメータとして用いられ、探傷周波数が複数の場合には、各探傷周波数間における振幅の差（上限値及び下限値）及び位相角の差（上限値及び下限値）も再探傷チェックパラメータ及び探傷データ抽出パラメータとして用いられる。
【００３５】
さらに、再探傷チェックパラメータとして、例えば、被検査物に付随する構造物の数（例えば、被検査物を支持する支持構造物の数）等が用いられる。そして、このような探傷チェックパラメータを用いることによって、後述するように、被検査物探傷データを、現場でチェックすることができる。
【００３６】
図２も参照して、まず、分析センター１４から自動校正コマンドが抽出装置１２に与えられると（ステップＳ１）、予め記憶部１２ｄに格納された、テストピースで得られるべき探傷データ（以下校正用探傷データと呼ぶ。この校正用探傷データは再探傷チェックパラメータの一つである）に基づいて自動校正処理を行う（ステップＳ２）。その後、再探傷検査チェック部１２ｂでは、テスト探傷データと校正用探傷データとを比較して、テスト探傷データと校正用探傷データとの偏差が予め規定された閾値（偏差閾値）を越えているか否かを確認する（ステップＳ３）。
【００３７】
テスト探傷データと校正用探傷データとの偏差が偏差閾値を越えていると、再探傷検査チェック部１２ｂでは、テスト探傷データ不良であるとして、テストピースの再探傷指示をモニター（図示せず）上に表示する（ステップＳ４）。これよって、検査員は、検査装置１１の不具合をチェックした後、再びテストピースからテスト探傷データを採取する（ステップＳ５）。
【００３８】
一方、テスト探傷データと校正用探傷データと偏差が偏差閾値以下であると、検査員は検査装置１１を用いて、被検査物の探傷を行い、被検査物探傷データを得る（ステップＳ６）。この被検査物探傷データは検査装置１１から抽出装置１２に与えられる。そして、再探傷検査チェック部１２ｂでは、再探傷チェックパラメータに応じて被検査物探傷データについて再探傷を行うか否かのチェックを行う（ステップＳ７）。そして、再探傷の必要があると、再探傷検査チェック部１２ｂでは、被検査物の再探傷指示をモニター上に表示する（ステップＳ８）。
【００３９】
例えば、前述の振幅上限値及び振幅下限値と位相角上限値及び位相角下限値とを再探傷チェックパラメータとして用いて、被検査物探傷データに信号成分（信号波形）が存在するか否かを判定する。この結果、信号成分が欠落していれば、例えば、コイルに断線があると判定して、その結果をモニター上に表示する。
【００４０】
さらに、振幅上限値及び振幅下限値を再探傷チェックパラメータとして用いて、被検査物探傷データに連続的に振幅下限値未満の高周波信号が存在する際には、ノイズが存在する旨の再探傷指示をモニター上に表示する。また、前述のように、被検査物毎に存在すべき指示構造物の数は予め分かっているから、支持する支持構造物の数に応じた信号波形（例えば、ピーク等）が被検査物探傷データに存在しないと、検査不良で有る旨の再探傷指示をモニター上に表示する。加えて、被検査物探傷データにおいて信号波形が予め定められた間隔以上に間延びしている際には、プローブ速度不良の再探傷指示をモニター上に表示する。
【００４１】
このようにして、再探傷検査チェック部１２ｂでは、再探傷チェックパラメータに基づいてＥＣＴで得られた被検査物探傷データについて再探傷検査が必要か否かを判定することになる。
【００４２】
上述のようにして再探傷チェックを行った後、再探傷検査チェック部１２ｂでは、通信制御部１２ｅを介して再探傷検査が必要ある被検査物を示す再探傷判定結果リストを、通信制御部１２ｅを介して分析センター１４に送る（ステップＳ９）。分析センター１４では、再探傷検査を行うか否かを確認して（ステップＳ１０）、必要であれば再探傷検査を抽出装置１２に対して指示する（ステップＳ１１）。これによって、検査装置１１に不具合があるか否かを確認した後、再探傷検査を行って、被検査物探傷データを得ることになる。つまり、ステップ６に戻ることになる。
【００４３】
なお、上述のように、再探傷判定結果リストを分析センター１４に送付することなく、現地でモニター上に表示された再探傷指示に従って再探傷検査を行うようにしてもよい。
【００４４】
上述のようにして、再探傷チェックの結果、再探傷検査を行う必要がないと判定されると、次に、探傷データ自動抽出部１２ｃでは、被検査物探傷データから必要な部分（重要部分：特徴部分）のみを抽出して抽出探傷データを出力する（ステップＳ１２）。
【００４５】
この際、探傷データ自動抽出部１２ｃでは、前述の探傷データ抽出パラメータを用いて被検査物探傷データから抽出探傷データを抽出する。例えば、振幅上限値及び振幅下限値を探傷データ抽出パラメータとして用いて、振幅上限値及び振幅下限値で規定される閾値によって定められた範囲に振幅レベルが存在する信号波形のみを抽出する。そして、当該抽出された信号波形とプローブの位置（位置情報）とを対応付けることになる。
【００４６】
また、位相角上限値及び位相角下限値を探傷データ抽出パラメータとして用いて、位相角上限値及び位相角下限値で規定される閾値によって定められた範囲に位相角が存在する信号波形のみを抽出する。
【００４７】
このようにして、被検査物探傷データから必要な部分のみを抽出して抽出探傷データを得た後、探傷データ自動抽出部１２ｃでは、通信制御部１２ｅを介して抽出探傷データを分析センター１４に送ることになる（ステップＳ１３）。
【００４８】
上述のようにして、被検査物探傷データから探傷データチェックパラメータに基づいて必要な部分のみを抽出して、分析センター１４に送るようにしたから、プラント設備のように被検査物の数が膨大な設備を探傷検査する際においても、必要なデータのみが分析センターに送られることになって、短時間に探傷データを分析センターに送ることができることになる。
【００４９】
なお、分析センター１４には、当然のことながら、通信制御部１４ａ、入出力装置１４ｂを備えるコンピュータシステム１４ｃが備えられており、前述のようにして抽出装置１２で抽出された抽出探傷データは、プラント設備名及び被検査物名を特定して探傷データデータベース１４ｄに格納される。
【００５０】
次に、図１及び図３を参照して、上述のようにして分析センター１４に送られた抽出探傷データは、分析員がコンピュータシステム１４ｃを用いて分析することになる（ステップＰ１）。そして、分析の結果、例えば、抽出のレベルを変更してもう一度分析を行ったほうがよいと判断すると（ステップＰ２）、入出力装置１４ｂから探傷データ抽出パラメータ設定変更を行う（ステップＰ３）。
【００５１】
この探傷データ抽出パラメータ設定変更に応じてコンピュータシステム１４ｃは通信制御部１４ａを介して、該当する抽出探傷データに対応する抽出装置１２に対して、変更後の探傷データ抽出パラメータを示す探傷データ抽出パラメータ設定変更指令を送出する（ステップＰ４）。
【００５２】
探傷データ抽出パラメータ設定変更指令を受けた抽出装置１２では、変更後探傷データ抽出パラメータを記憶部１２ｄに格納して、探傷データ抽出パラメータを更新する（ステップＰ５）。その後、探傷データ自動抽出部１２ｃでは、変更後探傷データ抽出パラメータに基づいて該当する被検査物探傷データ（記憶部１２ｄに格納されている）について再び抽出処理を行い、再度抽出探傷データを得る（ステップＰ６）。そして、この抽出探傷データは再度分析センター１４に送られることになる（ステップＰ７）。
【００５３】
このようにして、探傷データ抽出パラメータを変更して得られた抽出探傷データは、前述のようにして、再度分析されることになる（つまり、ステップＰ１）が実行されることになる。
【００５４】
このようにして、分析センター１４において、探傷データ抽出パラメータの設定・変更を行うようにしたから、検査現場においては、検査手法のみを心得ていれば十分であり、検査現場において、被検査物探傷データのうちどの部分が重要であるか否かを判断することなく、抽出精度を変更することができる。
【００５５】
なお、図示はしないが、ステップＰ１による分析の結果、再探傷検査を行った方がよいと判断すると、分析員は入出力装置１４ｂから再探傷検査指示を行う。これによって、コンピュータシステム１４ｃは、通信制御部１４ａを介して、該当する抽出探傷データに対応する抽出装置１２に対して、再探傷指示を送出する。そして、抽出装置１２ではモニター上に該当する被検査物について再探傷検査を行う旨の指示を表示する。この指示に応じて検査員は検査装置１１を用いて再探傷を実行する。
【００５６】
次に、図１及び図４を参照して、前述のようにして、分析センター１４に抽出探傷データが送られた結果、データ転送時間が長いと判断すると（ステップＴ１、例えば、コンピュータシステム１４ｃに予め転送時間の上限値（転送閾値）を設定しておいてもよいし、分析員等が、転送時間が長いと判断して、入出力装置１４ｂから所望の転送時間（転送閾値）を設定するようにしてもよい）、コンピュータシステム１４ｃでは、前述の転送閾値を、転送時間変更指令として該当する抽出装置１２に送る（ステップＴ２）。転送時間変更指令を受けると、探傷データ自動抽出部１２ｃでは、転送時間変更指令で示される転送閾値（時間）に応じて抽出すべきデータ量を算出データ量として算出する（ステップＴ３）。
【００５７】
探傷データ自動抽出部１２ｃは、被検査物探傷データから抽出するデータ量を算出データ量以下とするにはどのような抽出レベルを設定すればよいかを求める（ステップＴ４）。そして、この抽出レベルに応じて、探傷データ自動抽出部１２ｃは、探傷データ抽出パラメータを変更する（ステップＴ５）。以後、この変更後の探傷データ抽出パラメータが用いられることになる。
【００５８】
このようにして、上述の例では、検査現場で探傷データの分析を行う必要がなく、この結果、分析員の人数が少なくて済み、分析員のレベル均質化及び人数確保を容易に行うことができる。さらに、分析センターで探傷データの分析を行えばよいから、多数の検査現場で同時に探傷検査を行うことができることになる。
【００５９】
さらに、上述の例では、検査現場において、抽出装置１２が再探傷チェックパラメータに応じて再探傷を行うか否かを判定しているから、再探傷を行うまでの時間を短くすることができ、時間のロスを低減することができることになる。
【００６０】
加えて、上述の例では、検査現場において、抽出装置１２が、探傷データ抽出パラメータに応じて探傷データ（被検査物探傷データ）のうち重要な部分（特徴部分）を抽出して、分析センターに転送しているから、実質的に短時間で探傷データを分析センターに転送することができ、迅速に分析を行うことができる。
【００６１】
また、探傷データ抽出パラメータ等は分析センターで設定・変更できるから、分析の結果に応じて抽出精度を適宜変更することができ、結果的に精度よく探傷データの分析が行えることになる。
【００６２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、抽出パラメータに応じて非破壊検査データからその特徴部分を抽出して、抽出非破壊検査データを得て、この抽出非破壊検査データを分析センターにネットワークを介して転送するようにしたから、実質的に非破壊検査データを短時間に分析センターに送ることができるという効果がある。
【００６３】
本発明では、再非破壊検査チェックパラメータに基づいて非破壊検査データをチェックして、再度の非破壊検査が必要であると判定するとその旨を指示するようにしたから、再度の非破壊検査を行うまでの時間を短くすることができ、時間のロスを低減することができるという効果がある。
【００６４】
本発明では、非破壊検査データ抽出装置を、被検査物を非破壊検査する非破壊検査現場に備えて、抽出パラメータに応じて非破壊検査データからその特徴部分を抽出する抽出処理を行って、抽出非破壊検査データをネットワークに送出し、分析センターがネットワークを介して抽出非破壊検査データを受け、抽出非破壊検査データを分析評価するようにしたから、実質的に短時間で探傷データを分析センターに転送することができ、その結果、迅速に分析を行うことができるという効果がある。
【００６５】
本発明では、非破壊検査データ抽出装置は、再非破壊検査チェックパラメータに応じて非破壊検査データをチェックして再度の非破壊検査が必要であると判定するとその旨を指示するようにしたから、再度の非破壊検査を行うまでの時間を短くすることができ、時間のロスを低減することができるという効果がある。
【００６６】
本発明では、分析センターで、抽出非破壊検査データを分析した結果に応じて、抽出パラメータを変更するための変更指示を非破壊検査データ抽出装置に与えるようにしたから、分析の結果に応じて抽出精度を適宜変更することができ、結果的に精度よく探傷データの分析が行えるという効果がある。つまり、分析センターにおいて、多量の非破壊検査データから必要な非破壊検査データを容易に指定して非破壊検査データの抽出を制御することができるという効果がある。
【００６７】
本発明では、分析センターで、抽出非破壊検査データを分析した結果に応じて再度の非破壊検査を行うべきである再検査指示を非破壊検査データ抽出装置に送出するようにしたから、分析センター側で再度の非破壊検査を行うか否かを決定することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による非破壊検査データ収集システムの一例を示すブロック図である。
【図２】図１に示す非破壊検査データ抽出装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図３】図１に示す分析センターの動作を説明するためのフローチャートである。
【図４】図１に示す非破壊検査データ収集システムにおいて転送時間の変更制御を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１１  非破壊検査装置
１２  非破壊検査データ抽出装置
１２ａ  自動校正処理部
１２ｂ  再探傷検査チェック部
１２ｃ  探傷データ自動抽出部
１２ｄ  記憶部
１２ｅ  通信制御部
１３  ネットワーク
１４  分析センター
【図１】
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【図２】
2004163288.tif 000004
【図３】
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【図４】
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