(57)【要約】【課題】プリンティングシステムの製造中にランダムに採用されたＲＯＳとピクセルボードとの「ミックスアンドマッチ」を可能にする非線形性補正システムアーキテクチャを提供する。【解決手段】プリンタにおける走査非線形性補正のためのシステムアーキテクチャは、任意のピクセルボードが取り付けられたテストステーションからの非線形性プロファイルがメモリにあらかじめ記憶された任意のラスタ出力スキャナを使用する。ピクセルボードは補正テーブルレジスタを含み、ピクセルボードは、ラスタ出力スキャナの走査非線形性プロファイルを利用して、補正テーブルレジスタを計算し、画素の位置合わせずれを補正する。【選択図】図７
2004163936.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリンタにおける走査非線形性補正のためのシステムアーキテクチャであって、
走査非線形性プロファイルがメモリに記憶されたラスタ出力スキャナと、
補正テーブルレジスタを含む画素基板と、
を含み、
前記画素基板は、前記ラスタ出力スキャナの走査非線形性プロファイルを利用して、前記補正テーブルレジスタを計算し、画素の位置合わせずれを補正する、
システムアーキテクチャ。
【請求項２】
プリンタにおける走査非線形性補正のためのシステムアーキテクチャであって、
１つ以上のラスタ出力スキャナに対して非線形性プロファイルを走査し、該非線形性プロファイルメモリに記憶する手段を含み、
１つ以上のラスタ出力スキャナの非線形性プロファイルを利用し、補正テーブルレジスタを計算して画素基板における画素の位置合わせずれを補正する、
システムアーキテクチャ。
【請求項３】
プリンタにおける走査非線形性補正のためのシステムアーキテクチャであって、
それぞれがメモリに記憶された走査非線形性プロファイルを有する１つ以上のラスタ出力スキャナと、
それぞれが補正テーブルレジスタを含む１つ以上の画素基板と、
を含み、
前記１つ以上の画素基板は、１つ以上のラスタ出力スキャナの前記走査非線形性プロファイルを利用して、補正テーブルレジスタを計算し、画素の位置合わせずれを補正する、
システムアーキテクチャ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はラスタ出力走査（ＲＯＳ）システムにおける走査線非線形性（scan line non linearity）のためのシステムアーキテクチャに関し、より詳細には、プリンティングシステムの製造中の、走査非線形性の補正及びＲＯＳ装置とピクセルボード（画素基板）とのランダムな「ミックスアンドマッチ（多様な組み合わせ）（mix and match）」を可能にするシステムアーキテクチャに関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザを利用して情報を再生するプリンティングシステムが当業界で周知である。プリンタは、通常、ラスタ出力スキャナ（ＲＯＳ）を使用して、感光性媒体、例えば感光体（photoreceptor）の帯電部分を露光し、静電潜像を感光性媒体に記録する。
【０００３】
カラー電子写真ＲＯＳプリンタにおいては、複数のＲＯＳ装置が使用できる。各ＲＯＳは、共通の感光体ベルト上に個別のカラーイメージに対する走査線を形成する。各カラーイメージは他のＲＯＳ装置からの他のカラーイメージに対して重複するように位置合わせした状態で現像され、合成カラーイメージを形成する。この合成カラーイメージが出力シートに転写される。複数のＲＯＳ装置の各走査線を位置合わせするには、各イメージが０．１ミリメートルの円内または±０．０５ミリメートルの許容差の範囲で位置合わせされることが要求される。
【０００４】
図1に示される一般的な従来技術のラスタ出力走査システム１０は、光ビーム１４を生成する光源１２と、光ビーム１４を感光性媒体２０におけるスポット１８に向ける走査手段１６とを含む。走査手段１６はまた、スポット１８を、感光性媒体２０における特定の長さの走査線２２に沿って移動させるべく機能する。このため、図示される走査システム１０の走査手段１６は、複数の光反射切子面２４（ここでは８つの切子面が示されている）を有する回転可能なポリゴンミラー及び図１において回転軸２６を中心に矢印２８の方向に回転するポリゴン１６によって示される他の既知の機械的部品を含む。
【０００５】
光源１２、例えばレーザダイオードは、単一波長の変調されたコヒーレント光ビームを発光する。光ビーム１４は、イメージ出力光源制御回路３０から光源１２に送られたビデオ信号に含まれるイメージ情報データストリームに応じて変調される。
【０００６】
変調された光ビーム１４はコリメータレンズ３２によって視準され、さらにクロススキャン円筒レンズ３４によって集束されて、回転ポリゴンミラー１６の反射切子面２４にラインを形成する。
【０００７】
ポリゴンミラー１６は、当業者に知られた従来のモータ（図示せず）によって、その回転軸を中心に回転する。
【０００８】
切子面２４から反射したビーム１４は、ｆΘ（エフシータ）走査レンズ３６及びアナモフィックウォブル補正レンズ３８を通過する。
【０００９】
エフシータレンズ３６は、マイナス平球面レンズ（plano-spherical lens）４０と、プラス平球面レンズ４２と、クロススキャン円筒レンズ４４とで構成される。エフシータ走査レンズのこの構成は、十分な負の歪み（distortion）を有し、線形の走査線を生成する。光ビームは、一定の角速度で回転ミラーから偏向され、エフシータレンズにより光学的に修正されててほぼ一定の線形速度で表面を走査する。
【００１０】
エフシータ走査レンズ３６は、走査面の光ビーム１４を、感光性媒体２０の走査線２２に集束させる。
【００１１】
エフシータ走査レンズ３６を通過後、光ビーム１４はウォブル補正アナモフィックレンズ素子３８を通過する。ウォブル補正光学素子は、レンズでもミラーでもよく、「動き補償光学系」と呼ばれることもある。光学素子３８の目的は、ポリゴンミラー／モータアセンブリの不正確さによって生成された、走査線に沿ったウォブルを補正することである。
【００１２】
ウォブル補正レンズ３８は、クロススキャン面の光ビームを感光性媒体２０の走査線２２に集束させる。
【００１３】
ポリゴン１６が回転すると、光ビーム１４は切子面２４によって反射され、エフシータレンズ及びウォブル補正レンズを通過し、感光性媒体の表面を横切って、周知の方法で、走査線２２の第１端部（走査始点またはＳＯＳ）から中心（スポット１８の位置で示されている）を通過して走査線２２の第２端部（走査終点またはＥＯＳ）まで走査する。光ビームは、感光性部材２０上の静電潜像を露光する。ポリゴン１６が回転すると、露光ビーム１４は回路３０によって変調され、感光性媒体２０上の個々の画素、またはスポット１８の列を露光する個々の発光を生成する。
【００１４】
理想的には、ＲＯＳは感光性媒体２０上に均等な間隔で並んだ同一画素の列を露光できるべきである。ところが、ＲＯＳの光学システム固有の幾何学形状のため、かつ製造誤差によって走査光学系に欠陥が生じる可能性があるため、均等な間隔を有する同一画素を得ることは難しい。
【００１５】
「走査非線形性（scan non-linearity）」とは、均等な画素配置に対する画素配置のばらつきのことを言い、これは主として、走査周期中にスポットが走査線に沿って移動する際に発生するスポット速度の変化に起因する。走査線形性は、スポットが走査線全体を横切って走査方向にいかに均等な間隔で書き込まれているかを示す尺度である。走査線形性を空間的に定めるためには、走査線上に基準点をまず特定しなければならない。１つの定義は、ＳＯＳから第１のアクティブまでの遅延が正確に調整され（正確なマージン調整）、アクティブ走査線の最終画素も同様に正確に調整されている（正確な倍率調整）場合に、走査線の理想化された２端部の誤差がゼロであると想定することである。アクティブ走査とは、ビデオストリームによって変調された走査線の部分として定義される。アクティブ走査の始点及びアクティブ走査の終点を基準点と定義すると、一般的な走査線形性曲線は、アクティブ走査の一端部において位置誤差ゼロで開始し、アクティブ走査の他端部において位置誤差ゼロで終了する。アクティブ走査の両端部点間において、非線形性曲線は多数の形状を有することができる。理想的には、完璧な画素配置の場合、非線形性対走査距離の曲線が走査線全体においてゼロになる。１つのレンズデザインに対する光学モデリングから、理想的な形状は図４に示されるような形状である。ところが、実際には、この形状は、突起部（ローブ）を（上部または下部に）１つだけ有するゼロ非線形線の場合もあれば、正弦波に似た外観を歪めた非対称ローブを有する場合もあり、ＲＯＳの非線形性のゼロ交差の数は装置ごとに変化し得る。
【００１６】
走査非線形は通常、システムの幾何学形状または走査手段の速度変化によって発生する。集束した露光ビームが感光性媒体２０上の走査線を横切って移動する速度をスポット速度と呼ぶ。
【００１７】
ＲＯＳシステムの幾何学形状によって生じる固有の走査非線形性を補正するための何らかの手段を設けないと、光ビームが感光性媒体を横切って走査する際のスポット速度がばらついてしまう。ある種のラスタ出力スキャナのビデオ出力は、可変周波数画素クロック（走査クロックと呼ばれることもある）を用いてこのような非線形性を電子的に補償する。画素クロックはパルストレイン（すなわち、画素クロック信号）を生成し、このパルストレインを用いて、光源から発生した光ビームを、走査線に沿った各画素位置においてオンオフする。クロック周波数、したがってパルストレインにおける個々のパルスのタイミングを変えることにより、走査線に沿った画素の配置を制御できる。一方、画素クロック信号の周波数が一定であれば、ＲＯＳの走査非線形性のために、結果的な画素は、均等な画素配置に対して進んだり遅れたりする。反対に、画素クロックの制御された変化が走査を通じて適切に調整されていれば、均等な間隔で配置された理想的な画素から最小限のずれで画素を配置することができる。これにより、画素がさらに均等に配置され、よって、画素位置歪み（すなわち、走査非線形性によって生じる不均一な画素配置）が少なくとも部分的に補償される。
【００１８】
画素クロック制御回路３０は、走査線２２に沿って画素を生成するために光ビーム１４の変調を同期させる電子制御システムとして機能する。ビデオ及び画素クロックを含む制御システムを、例えば、既知の部品や設計技術を用いて構成し、走査線に沿った複数の望ましい画素位置のそれぞれにおいて（例えば、３００ｄｐｉの解像度の場合、各画素位置の中心部分は１／３００インチの間隔で均等に配置され、６００ｄｐｉの解像度の場合には１／６００インチの間隔で均等に配置されているなど）光ビームを活性化させるための制御信号を生成することができる。
【００１９】
好ましくは、制御システムは、制御信号が各画素位置に対して画素間隔を定め、かつ制御信号によって定められた画素間隔がスポット速度に応じて変化するように構成され、上述のように走査非線形性を補正する。また、制御システムは、適当な既知の手段によって、例えば、走査開始（ＳＯＳ）制御信号または既知の手段により生成された他の同期信号に応答することによって、制御信号をスポット位置に同期させ、各走査線における画素配列の始点を揃えることができる。この画素の配列は、アクティブ走査の走査線のエッジマージンを設定するために規定されたクロックカウントだけ遅らされる。また、平均クロック周波数を調整し、走査倍率を変えることができる。平均クロック周波数が高くなると、走査倍率は減少し、逆に平均クロック周波数が減少すると、走査倍率が増す。マージン及び倍率の設定は、図７のブロック１１８に示されるように、感光体上のマークによって検知される。
【００２０】
図２には、ラスタ出力走査システムによって均等な間隔１０４に配置された一連の画素１０２で構成される理想的な走査線１００を示している。走査線１００上のこれらの画素１０２は、完全な走査非線形性の理想的ケースでは、各クロック周期において均一の格子１０６上に配置されている。
【００２１】
図３は、走査非線形性による、図２の均等画素配置からのずれを示している。走査線２００は、図４のグラフに概略的に示される走査線に沿った均等な画素配置２０６から距離２０４だけずれた一連の画素２０２から構成されている。
【００２２】
【特許文献１】米国特許出願第６，１７８，０３１号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
多数のＲＯＳ装置を備えたカラープリンティングシステムの場合、高速走査方向における画素の正確な位置合わせが要求される。ここで、画素クロック周波数が一定の場合、各ＲＯＳからの画素を均一の格子に沿って配置するのが理想である。しかしながら、実際には、走査非線形性と呼ばれる、均一格子からのずれ（departure）があり、この非線形性プロファイルは装置ごとに異なる。
【００２４】
このプロファイルを補償するために画素クロック周波数の変化が利用される。ルックアップテーブルを使用して、所定のアルゴリズムにより、画素クロック周波数の変化を制御する。さらに、クロック周波数の変化とテーブル値との伝達関数もピクセルボードごとに異なる。本発明は、プリンティングシステムの製造中にランダムに採用されたＲＯＳとピクセルボードとの「ミックスアンドマッチ」を可能にする非線形性補正システムアーキテクチャを提供する。
【課題を解決するための手段】
【００２５】
プリンタにおける走査非線形性補正のためのシステムアーキテクチャは、走査非線形性プロファイルが、任意のピクセルボードを取り付けたテストステーションからあらかじめメモリに記憶されている任意のラスタ出力スキャナを使用する。ピクセルボードは、補正テーブルレジスタを含み、ここで、ピクセルボードはラスタ出力スキャナの走査非線形性プロファイルを利用して補正テーブルレジスタの値を計算し、画素の位置合わせずれを補正する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
図６には、図５に示されるような走査距離に対する非線形性特性５０を有するＲＯＳ５６の特性を測定するためのＲＯＳ線形性測定システム５４で構成されるＲＯＳテストステーションが示される。図６に概略的に示されるように、ＲＯＳ線形性測定システム５４は、精密線形位置決めステージ６８に取り付けられたＣＣＤカメラ６２を利用する。ビデオ信号は、各１２８画素からの１つが出力走査線６６を横切るスポットのアレイを形成するように生成される。ＲＯＳ５６及び測定システム５４は、一度に１つのスポットのみがカメラ６２によって見られるように構成されている。カメラ６２によって見られるスポットの相対位置は、カメラ位置Ｘｃａｍと、カメラ６２におけるスポット重心Ｘｂａｒとを測定することにより決定される。走査線６６に沿ったスポット位置Ｘは、式（１）において次のように定義されている。
【００２７】
Ｘ  ＝  Ｘｃａｍ  ＋  Ｘｂａｒ      式（１）
【００２８】
その後、カメラ６２は、距離ｄｅｌＸだけ増分的に走査線６６に沿って移動する。
【００２９】
ｄｅｌＸ  ＝  ｖｓｃａｎ*Ｔ１２８    式（２）
【００３０】
ここで、ｖｓｃａｎはＲＯＳ５６の平均走査ビーム速度であり、Ｔ１２８は１２８画素間の増分的な時間である。
【００３１】
よって、ｉ番目の測定位置における走査非線形性Ｙｉ５８は、以下のように定められる。
【００３２】
Ｙｉ  ＝  Ｘｉ  −  Ｘ０  −  ｉ*（Ｘｎ  −  Ｘ０）／ｎ    式（３）
【００３３】
ここで、Ｘｉは走査線に沿ったｉ番目のサンプル（ｉ＝０，１，２．．．，ｎ）の位置である。
【００３４】
ｖｓｃａｎ  ＝  （Ｘｎ  −  Ｘ０）／（Ｔｎ  −  Ｔ０）      式（４）
【００３５】
次に、データ（Ｘｉ，Ｙｉ）に多項式が適合され、テスト測定システム５４内部のコンピュータ６０によって微分係数（derivative coefficients）が計算される。多項式微分係数６０が多項式係数から計算され、これらの微分係数は通信ライン（図示せず）を介して、テスト測定システムからＲＯＳ制御ＰＷＢＡの不揮発性メモリ（ＮＶＭ）６４に転送される。このように、ＲＯＳ５６に特有の非線形性プロファイル情報が、後にプリンタ（図示せず）に取り込むために、走査終了（ＥＯＳ）検出器７０、走査開始（ＳＯＳ）検出器７２及びレーザダイオードドライバ７４を有するＲＯＳ５６内部に保存される。
【００３６】
図７を参照すると、ピクセルサーキットボード（画素回路基板）７６が、取り付け時に不揮発性メモリ６４に線形性微分多項式係数を有するＲＯＳ５６に接続されている。ピクセルサーキットボード７６は、周波数自動較正回路７８を備えた可変周波数クロックと内蔵コンピュータとを含む。ＲＯＳ５６及びピクセルボード７６がプリンタ（図示せず）に取り付けられた際、このＲＯＳ５６の非線形性及びクロック周波数の較正７８はそれぞれ特有である。ピクセルボード７６は、クロック周波数を自動較正し、ＲＯＳ５６から非線形性係数８０を通信ラインを介して取り込む。非線形性補正アルゴリズム及びクロック周波数の自動較正曲線を用いて、ルックアップテーブル８４が計算され８２、ＲＯＳスポットが感光体を横切って直線状に走査される際にクロック周波数が調整される。クロックを加速することで、画素位置はビーム走査方向に対して遅れ、逆に、クロック周波数を減少することで、画素の配置は走査方向に対して進む。再び図５を参照すると、ＲＯＳ５６及びピクセルボード７６を用いて実証された線形性の補正５２が示されている。したがって、ＲＯＳ５６測定コンピュータにおいてまず実施された非線形性補正アルゴリズムがピクセルボード７６のコンピュータに移転され、ここで、任意のピクセルボード７６と任意のＲＯＳ５６を用いて補正が行われる。
【００３７】
再び図７を参照すると、電圧制御発振器（ＶＣＯ）９８及びフェーズロックループ１２０を用いて、レーザダイオードドライバ７４に送られるビデオデータストリームを同期させるための正確なメインクロックＭｃｌｋが生成される。フェーズロックループ１２０においては、位相検出器９６が、ＥＯＳ検出器７０からの走査終了（ＥＯＳ）信号と、プログラム可能なカウンタ１１２からのカウント終了（ＥＯＣ）信号とを受信する。受信した信号の位相差に基づき、位相検出器９６はパルスを生成し、このパルスが電荷ポンプ（図示せず）によって電圧に変換され、電圧Ｖdとして、ローパスフィルタ９４及び加算回路９２を介して電圧制御発振器（ＶＣＯ）９８に送られる。ローパスフィルタ９４は、Ｖd電圧のノイズレベルを、加算回路９２に送る前に低減する。加算回路９２は、電圧Ｖdと電圧Ｖｃｏｒとを合計する。電圧ｖｃｏｒは、ＤＡＣ８６によって適当な電圧に変換されてフィルタ９０を介して送られた補正テーブルレジスタの値から求められた電圧である。補正テーブルレジスタの値は、プログラム可能なカウンタ１１２からの対応するレジスタアドレス値の「カウント」にもとづき選択される。カウントは、多数の画素に対し、ある整数だけインクリメントされる。Ｖdの電圧レベルがＶＣＯ９８の周波数を制御する。Ｖd電圧にもとづき、ＶＣＯ９８（クロック発生器）はライン同期生成器１１０からメインクロックＭｃｌｋを生成し、走査線バッファ１１４に送る。ライン同期生成器は、ＳＯＳ検出器７２からの入力に基づき同期されている。
【００３８】
Ｍｃｌｋは分割器に送られ、ここでＭｃｌｋがＭで分割されカウント終了（ＥＯＣ）が生成される。Ｍは走査線あたりの総画素数である。一例として、１インチあたり６００画素の１４．４インチの紙では、Ｍは８６４０である。走査線の終点を示すＥＯＣは位相検出器９６に送られる。
【００３９】
動作について説明すると、位相検出器９６は、ＥＯＣをＥＯＳと比較する。ＥＯＳは、ＲＯＳ５６内部で生成されている信号である。通常、ＲＯＳシステム内部には２つのセンサ７０及び７２が配置され、走査の開始ＳＯＳ及び走査の終了ＥＯＳを検出する。走査レーザ光ビームが画素配置の直前に走査線上の専用スポット上を通過すると、各センサは走査開始ＳＯＳを生成する。同様に、走査レーザ光ビームが画素配置の終了直後に走査線上の専用スポット上を通過すると、各センサは走査終了ＥＯＳを生成する。ＳＯＳ７２及びＥＯＳ７０は、各走査線に対して生成されている。走査レーザ光ビームの速度は一定なので、ＳＯＳとＥＯＳとあいだの時間は各走査線で同一である。
【００４０】
ＥＯＣはＥＯＳに一致しなればならない。両者が一致しない場合、ＥＯＣがＥＯＳより前であったか後であったかに応じてそれぞれメインクロックＭｃｌｋを減少または増加する必要があることを意味する。したがって、ＥＯＣがＥＯＳの前か後かにより、位相検出器９６は、正パルスまたは負パルスのいずれかをそれぞれ生成する。パルス幅は、ＥＯＳとＥＯＣとの時間差を示す。通常、ＥＯＳとＥＯＣのタイミングは一致しない。この結果、位相検出器９６は通常負または正パルスのいずれかを生成する。しかしながら、ＥＯＳとＥＯＣのタイミングが一致すれば、位相検出器９６はパルスを生成しない。
【００４１】
位相検出器９６からのパルスが存在しない場合、電荷ポンプ（図示せず）及び積分器（図示せず）がベース電圧を生成し、これを電圧ＶdとしてＶＣＯ９８に送る。位相検出器９６がパルスを生成すると、このパルスが負か正かに応じて、電荷ポンプは、積分器のベース電圧に対し、パルス幅に比例して電圧を減算または加算し、その結果を電圧ＶdとしてＶＣＯ９８に送る。最初は、ＥＯＳに比較するＥＯＣがないため、Ｖdはベース電圧に等しい。したがって、最初のＶdは、ＶＣＯ９８に、Ｍｃｌｋの周波数を基準周波数（例えば５４ＭＨｚ）に較正させる。その後、各走査線の終了において、ＥＯＣがＥＯＳからずれているか一致しているかに応じて、新しいまたは同一のＶdがそれぞれ積分器から送られる。
【００４２】
同じＶdが送られた場合、Ｍｃｌｋの周波数は変化しない。しかしながら、新しいＶdが送られると、ベース電圧からのＶdのずれにより、ＶＣＯがＭｃｌｋのドリフト周波数を基準周波数に再較正する。Ｍｃｌｋの周波数の再較正は、各走査線の終点においてのみ、かつＥＯＣのタイミングがＥＯＳのタイミングに一致しない場合にだけ行われる。較正または再較正の後、積分器はＶＣＯに一定の電圧Ｖdを供給するので、Ｍｃｌｋの周波数は次のＳＯＳまで一定のままである。
【００４３】
走査線の走査が開始し、ＳＯＳ信号が生成されると、各走査線の画素の非線形位置合わせずれを補正するためにメインクロックＭｃｌｋの周波数は変更されなければならない。メインクロックＭｃｌｋの周波数は、上述のように補正テーブルレジスタ８４に記憶されている、各走査線に対する所定の補正曲線にもとづき変更（変調）される。
【００４４】
再び図７を参照すると、Ｍｃｌｋは、ライン同期生成器１１０内の画素クロック生成器にも送られる。ライン同期生成器１１０は、ＳＯＳ検出器７２によって生成された同期信号を受信する。ライン同期生成器１１０は、ＭｃｌｋをＳＯＳ信号に同期させ、それを画素クロックＰｃｌｋとしてプログラム可能なカウンタ１１２に送る。したがって、Ｐｃｌｋは、ＳＯＳで開始するように同期されている以外、Ｍｃｌｋと同じ周波数を有するクロックである。カウンタ１１２は画素数をカウントし、各Ｐｃｌｋを受信することでカウントを増やす。カウンタ１１２からのカウントはルックアップテーブル８４に送られ、補正曲線のどのテーブル値を送る必要があるかを示す。走査線が走査されているあいだ、ルックアップテーブル８４はＤ／Ａ変換器８６を介して各補正曲線をＶＣＯ９８に送る。Ｄ／Ａ変換器８６はディジタル補正曲線をアナログ補正電圧に変換し、これがフィルタ９０によってフィルタリングされる。
【００４５】
フィルタ９０からのこの補正電圧Ｖcorがフィルタ９４からのＶdに加えられ、ＶＣＯ９８に送られる。補正電圧は、走査線に沿って必要に応じてメインクロックＭｃｌｋの周波数を変調する。この処理が、アクティブ走査線全体が補正されるまで継続する。走査の終了時に、ＥＯＣ生成リセット信号Ｒｓｔがカウンタ１１２をリセットする。よって、ルックアップテーブル８４は補正曲線の送信を停止し、Ｍｃｌｋの周波数変調を終了する。さらに、走査終了時には、上述のように、Ｍｃｌｋの周波数が基準周波数からずれている場合には再較正される。この再較正によって、各走査線が同一周波数（基準周波数）で開始することが保証される。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】従来技術のラスタ出力走査（ＲＯＳ）システムの概略側面図である。
【図２】走査線に沿った理想的な画素配置を示す側面図である。
【図３】走査線に沿った非線形の画素配置を示す側面図である。
【図４】図３の画素配置の走査非線形性を示す概略的なグラフである。
【図５】画素クロックの周波数変調に使用される測定された補正しない非線形性曲線及び本発明による補正後の残留した非線形性を示す図である。
【図６】本発明の２つの要素である、ＲＯＳインターフェースモジュールボードと、非線形性を特徴づける測定システムを示すブロック図である。
【図７】プリンタシステムにおいて走査非線形性を電子的に補正するために使用される、本発明のＲＯＳインターフェースモジュールボード及び本発明のピクセルボードのブロック図である。
【符号の説明】
【００４７】
１０  ラスタ出力走査システム、１２  光源、１４  光ビーム、１６  走査手段、１８  スポット、２０  感光性媒体、２２  走査線、２６  回転軸、３０  光源制御回路、３６  エフシータ走査レンズ、５４  ＲＯＳ線形性測定システム、５６  ＲＯＳ、６２  ＣＣＤカメラ、６６  出力走査線、７６  ピクセルサーキットボード（画素回路基板）、８４  ルックアップテーブル、９６  位相検出器、９８  電圧制御発振器、１１２  カウンタ。
【図１】
2004163936.tif 000003
【図２】
2004163936.tif 000004
【図３】
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【図４】
2004163936.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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