(57)【要約】【課題】汎用性に優れ、外乱に強い光回路及びその評価装置を提供すること。【解決手段】基板１１上に、入力用光導波路１２と、光カプラ１３と、光干渉回路１４と、光カプラ１５と、出力用光導波路１６と、参照用光導波路１７とが設けられている。入力用光導波路１２から光干渉回路１４を経て出力用光導波路１６へ至る経路のうち最長の経路における光路長をＬｍａｘとし、入力用光導波路１２から光干渉回路１４を経て出力用光導波路１６へ至る経路のうち最短の経路における光路長をＬｍｉｎとし、入力用光導波路１２から参照用光導波路１７を経て出力用光導波路１６へ至る経路の光路長をＬｒｅｆとすると、（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）＜（Ｌｍｉｎ−Ｌｒｅｆ）の関係に設定されている。【選択図】　　　　図１
2004126398.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に、入力用光導波路と、出力用光導波路と、前記入力用光導波路と前記出力用光導波路の間に光路長の異なる複数の経路を内包する光干渉回路とを備え、前記入力用光導波路のうち少なくとも１本の入力用光導波路が光分岐手段を備えているとともに、前記出力用光導波路のうち少なくとも１本の出力用光導波路が光合流手段を備え、前記光分岐手段の出力と前記光合流手段の入力が参照用光導波路で光学的に結合され、前記入力用光導波路から光干渉回路を経て前記出力用光導波路に至る複数の経路のうち、最大の光路長を有する経路の光路長をＬｍａｘとし、最小の光路長を有する経路の光路長をＬｍｉｎとし、前記入力用光導波路から前記参照用光導波路を経て前記出力用光導波路に至る経路の光路長をＬｒｅｆとするとき、（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）＜（Ｌｍｉｎ−Ｌｒｅｆ）、あるいは、（Ｌｒｅｆ−Ｌｍａｘ）＞（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）と設定されていることを特徴とする光回路。
【請求項２】
前記光干渉回路がアレイ導波路格子光フィルタで、前記光分岐手段が、前記アレイ導波路格子光フィルタの複数の入力用光導波路のうち端にある入力用光導波路に備えられ、前記光合流手段が、該アレイ導波路格子光フィルタの複数の出力用光導波路のうち端にある出力用光導波路に備えられていることを特徴とする請求項１に記載の光回路。
【請求項３】
広帯域光源と、該広帯域光源からの光を二分する光分岐手段と、該光分岐手段で二分された光を合流する光合流手段と、前記光分岐手段と前記光合流手段の間に設けられた一方の光に可変の遅延時間差を与える可変遅延手段と、前記光合流手段で合流された光を請求項１又は２に記載の光回路に導く光入力手段と、前記光回路からの出力を取り出す光出力手段と、該光出力手段に得られた光を検出する光検出器とを備えることを特徴とする光回路評価装置。
【請求項４】
広帯域光源と、該広帯域光源からの光を請求項１又は２に記載の光回路に導く光入力手段と、前記光回路からの出力を取り出す光出力手段と、該光出力手段に得られた光を分光する分光器を備えることを特徴とする光回路評価装置。
【請求項５】
可変波長光源と、前記広帯域光源からの光を請求項１又は２に記載の光回路に導く光入力手段と、前記光回路からの出力を取り出す光出力手段と、該光出力手段に得られた光を検出する光検出器を備えることを特徴とする光回路評価装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光回路及びその評価装置に関し、より詳細には、光回路の回路パラメータを測定するための光回路及びその評価装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
超大容量波長多重光通信の進展に伴い、これを支えるアレイ導波路格子光フィルタをはじめとする光回路には、さらなる大規模化や低クロストーク化、低波長分散化、低偏波モード分散化が求められている。通常、このような光回路は、入力と出力との間に複数の光路長の異なる経路を内包する光干渉回路によって実現され、特性向上のためには、各経路での光の振幅・位相パラメータを詳細に評価して、作製プロセスにフィードバックし、あるいは、光照射などの手段によって回路パラメータを調整することが必要不可欠である。
【０００３】
従来、このような光回路の特性を評価する手法としては、フーリエ変換分光法を用いた手法が知られている（例えば、非特許文献１参照）。
【０００４】
図１１は、従来の光回路評価装置の構成図で、この光回路評価装置は、広帯域光源１０１と、この広帯域光源１０１からの光の偏波を調整する偏波コントローラ１０２と、光を二分する光カプラ１０３とが備えられている。
【０００５】
光カプラ１０３の一方の出力ポートには、偏波コントローラ１０４と、光を空間に取り出すレンズ１０５と、プリズム１０６と、機械的に可動なコーナーリフレクター１０７と、光を光ファイバへと導くレンズ１０８とが備えられており、光カプラ１０３の他方のポートには、被測定デバイス１０９（ここではアレイ導波路格子（ＡＷＧ））が備えられている。コーナーリフレクター１０７からの光と、被測定デバイス１０９からの光は光カプラ１１０で合波され、その干渉成分が受光器１１１で観察される。
【０００６】
このような構成により、コーナーリフレクター１０７を通った光と、被測定デバイス１０９を通った光は、お互いの光路長の差が、広帯域光源１１１のコヒーレンス長よりも短いときにしか干渉できない。したがって、広帯域光源１１１のコヒーレンス長を十分短くすれば、被測定デバイス１０９の各経路の情報を単独に抜き出すことが可能となり、各経路の位相回転に関する情報を得ることができる。ここで、どの経路の情報を抜き出すかは、コーナーリフレクター１０７の位置によって調整できる。
【０００７】
【非特許文献１】
Ｋ．Ｔａｋａｄａ，　Ｈ．Ｙａｍａｄａ　ａｎｄ　Ｙ．Ｉｎｏｕｅ，“Ｏｐｔｉｃａｌ　ｌｏｗ　ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ　ｍｅｔｈｏｄ　ｆｏｒ　ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｚｉｎｇ　ｓｉｌｉｃａ−ｂａｓｅｄ　ａｒｒａｙｅｄ−ｗａｖｅｇｕｉｄｅ　ｇｒａｔｉｎｇ　ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｅｒｓ，”ＩＥＥＥ／ＯＳＡ　Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，　ｖｏｌ，　１４，　ｐｐ．　１６７７−１６８９，１９９６
【０００８】
【非特許文献２】
Ｋ．Ｔａｋａｄａ　ａｎｄ　Ｋ．　Ｏｋａｍｏｔｏ．“Ｐｒｅｑｕｅｎｃｙ−ｄｏｍａｉｎ　ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ　ｏｆ　ｐｈａｓｅ　ｅｒｒｏｒ　ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ　ｉｎ　ｎａｒｒｏｗ−ｃｈａｎｎｅｌ　ａｒｒａｙｅｄ−ｗａｖｅｇｕｉｄｅ　ｇｒａｔｉｏｎ，”ＩＥＥ　Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ　Ｌｅｔｔｅｒｓ，　ｖｏｌ．　３６，　ｎｏ，　２，　ｐｐ．　１６０−１６１，　２０００
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述したような従来の光回路評価装置では、以下のような問題があった。
【００１０】
第１に、従来の光回路評価装置では、被測定デバイスを通る光経路と機械的可動鏡を通る光経路との光路長を一致させる必要があり、このため被測定デバイスの大きさに応じて、光学系を構成する必要があった。このため、従来の光回路評価装置を工場などで使用することには限界があった。
【００１１】
第２に、従来の光回路評価装置では、被測定デバイスを通る光経路と機械的可動鏡を通る光経路とで光ファイバを用いており、このため環境温度の僅かな変化などによる光ファイバ長の変化が、測定精度を劣化させるという問題があった。
【００１２】
第３に、従来の光回路評価装置では、機械的可動部分が存在するために、装置が振動などに弱いという問題があった。このために、機械的可動部分がない構成も提案されているが（例えば、非特許文献２参照）、外乱に弱いという問題があった。
【００１３】
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、汎用性に優れ、外乱に強い光回路及びその評価装置を提供することにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明は、このような目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、基板上に、入力用光導波路と、出力用光導波路と、前記入力用光導波路と前記出力用光導波路の間に光路長の異なる複数の経路を内包する光干渉回路とを備え、前記入力用光導波路のうち少なくとも１本の入力用光導波路が光分岐手段を備えているとともに、前記出力用光導波路のうち少なくとも１本の出力用光導波路が光合流手段を備え、前記光分岐手段の出力と前記光合流手段の入力が参照用光導波路で光学的に結合され、前記入力用光導波路から光干渉回路を経て前記出力用光導波路に至る複数の経路のうち、最大の光路長を有する経路の光路長をＬｍａｘとし、最小の光路長を有する経路の光路長をＬｍｉｎとし、前記入力用光導波路から前記参照用光導波路を経て前記出力用光導波路に至る経路の光路長をＬｒｅｆとするとき、（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）＜（Ｌｍｉｎ−Ｌｒｅｆ）、あるいは、（Ｌｒｅｆ−Ｌｍａｘ）＞（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）と設定されていることを特徴とする。
【００１５】
このような構成により、汎用性に優れた外乱に強い光回路評価装置を利用できる光回路を提供することができる。
【００１６】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記光干渉回路がアレイ導波路格子光フィルタで、前記光分岐手段が、前記アレイ導波路格子光フィルタの複数の入力用光導波路のうち端にある入力用光導波路に備えられ、前記光合流手段が、該アレイ導波路格子光フィルタの複数の出力用光導波路のうち端にある出力用光導波路に備えられていることを特徴とする。
【００１７】
また、請求項３に記載の発明は、広帯域光源と、該広帯域光源からの光を二分する光分岐手段と、該光分岐手段で二分された光を合流する光合流手段と、前記光分岐手段と前記光合流手段の間に設けられた一方の光に可変の遅延時間差を与える可変遅延手段と、前記光合流手段で合流された光を請求項１又は２に記載の光回路に導く光入力手段と、前記光回路からの出力を取り出す光出力手段と、該光出力手段に得られた光を検出する光検出器とを備えることを特徴とする。
【００１８】
このような構成により、汎用性に優れた外乱に強い光回路評価装置を提供することができる。
【００１９】
また、請求項４に記載の発明は、広帯域光源と、該広帯域光源からの光を請求項１又は２に記載の光回路に導く光入力手段と、前記光回路からの出力を取り出す光出力手段と、該光出力手段に得られた光を分光する分光器を備えることを特徴とする。
【００２０】
これらの構成により、汎用性に優れ外乱に強く、また、機械的可動部分も不要な光回路評価装置を提供することができる。
【００２１】
また、請求項５に記載の発明は、可変波長光源と、前記広帯域光源からの光を請求項１又は２に記載の光回路に導く光入力手段と、前記光回路からの出力を取り出す光出力手段と、該光出力手段に得られた光を検出する光検出器を備えることを特徴とする。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
［第１実施形態］
図１は、本発明の第１実施形態の光回路を説明するための構成図である。
光回路１０は、基板１１上に、入力用光導波路１２と、光カプラ１３と、光干渉回路１４と、光カプラ１５と、出力用光導波路１６と、参照用光導波路１７とが設けられている。
【００２３】
入力用光導波路１２から光干渉回路１４を経て出力用光導波路１６へ至る経路のうち最長の経路における光路長をＬｍａｘとし、入力用光導波路１２から光干渉回路１４を経て出力用光導波路１６へ至る経路のうち最短の経路における光路長をＬｍｉｎとし、入力用光導波路１２から参照用光導波路１７を経て出力用光導波路１６へ至る経路の光路長をＬｒｅｆとすると、（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）＜（Ｌｍｉｎ−Ｌｒｅｆ）の関係に設定されている。光干渉回路１４としては、光フィルタや光信号処理回路など、光の干渉を利用した回路であればどのような回路でも用いることができる。
【００２４】
［第２実施形態］
図２は、本発明の第２実施形態に係る光回路評価装置を説明するための構成図で、図１に示した光回路の評価装置を示す構成図である。
広帯域光源２１と、偏波コントローラ２２と、レンズ２３ａと、ハーフミラー２４と、機械的に可動なコーナーリフレクター２５と、ハーフミラー２６と、レンズ２３ｂと、被測定対象１０へ光を入力するための光ファイバ２７と、被測定対象１０と、被測定対象１０から光を取り出すための光ファイバ２８と、受光器２９が設けられている。
【００２５】
ここで、被測定対象１０は、図１に示した第１実施形態に係る光回路となっている。なお、図２に示した光回路評価装置では、広帯域光源２１の直後に偏波コントローラ２２を設置するとしたが、これは、この構成が被測定対象へ入力する光の偏波を簡単に調整できる光回路評価装置を提供できるからである。しかしながら、本発明はこの実施形態に限定されるものではなく、偏波コントローラ２２はなくても構わない。
【００２６】
また、図２に示した光回路評価装置では、光を分岐・合流するための素子としてハーフミラー２４および２６を用いるとしたが、これは単一のプリズムを用いても、その他の素子を用いても勿論構わない。同様に、図２に示した光回路評価装置では、コーナーリフレクター２５を用いて機械的可動鏡を実現するとしたが、これは他の素子を用いても勿論構わない。
【００２７】
次に、図１に示した光回路及び図２に示した光回路評価装置の動作原理について説明する。
いま、広帯域光源２１の干渉能力を光路長差ｚの関数として表すコヒーレンス関数をγ０（ｚ）とする。このとき、ハーフミラー２６直後の光電界のコヒーレンス関数γ１（ｚ）は次式で与えられる。
【００２８】
【数１】
2004126398.tif 000003
【００２９】
ここでｘはコーナーリフレクター２５で与えた光路長差である。すなわち、広帯域光源２１のスペクトル幅が十分広く、コヒーレンス関数γ０（ｚ）がｚ＝０の近傍でのみ１となるとすれば、二つの光の光路長差が０あるいは±ｘであるときのみ、二つの光は干渉する。図３にコヒーレンス関数γ１（ｚ）の形状を示した。
【００３０】
一方、光回路１０の距離に関するインパルス応答ｈ（ｚ）は次式で与えられる。
【００３１】
【数２】
2004126398.tif 000004
【００３２】
ここで、Ｌｒｅｆは参照用光導波路１７の光路長であり、Ｎは光干渉回路１４が内包する経路の数、ａｎ、φｎ、Ｌｎは夫々、光干渉回路１４のｎ番目の経路における振幅係数、位相係数、光路長である。ここでＬ０のうち最大のものをＬｍａｘ、最小のものをＬｍｉｎとするとき、Ｌｒｅｆは前述のように、
【００３３】
【数３】
2004126398.tif 000005
【００３４】
を満たすように設定されている。図４にインパルス応答ｈ（ｚ）の概要を示した。
【００３５】
さて、光回路１０からの出力では複数の経路を通った光同士が干渉することになるが、式（１）のように干渉できる光は光路長差が０ないしは±ｘのものだけとなるので、ｘを
【００３６】
【数４】
2004126398.tif 000006
【００３７】
の範囲でスキャンすれば、干渉できる光は、参照用光導波路１７を通った光と、光干渉回路１４のいずれかの経路を通った光だけとなる。したがって、ｘを
【００３８】
【数５】
2004126398.tif 000007
【００３９】
となるように選べば、参照用光導波路１７を通った光と、光干渉回路１４のｎ番目の経路を通った光の干渉だけが観測されることになり、干渉成分の振幅と位相から、ｎ番目の経路における振幅と位相の係数が得られる。
【００４０】
以上説明したように、本発明の光回路及び光回路評価装置を用いれば、光回路中の光干渉回路の複数の経路に関する位相と振幅の情報を得ることができる。図２に示した本発明の第２実施形態に係る光回路評価装置では、光回路の大きさにより光学系を再構成する必要が無く汎用性に優れ、また、干渉計の中に光ファイバがないため、外乱に強い特徴がある。
【００４１】
［第１実施形態の変形例］
図１に示した第１実施形態では、光路長差を（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）＜（Ｌｍｉｎ−Ｌｒｅｆ）とするとしたが、これは（Ｌｒｅｆ−Ｌｍａｘ）＞（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）としても良い。
図５は、本発明の第１実施形態の変形例を示す構成図である。
【００４２】
この実施形態においては、光導波路を（Ｌｒｅｆ−Ｌｍａｘ）＞（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）に設定している。
【００４３】
このときの、光回路１０の距離に関するインパルス応答を図６に示す。図６より分るように、このときには、コーナーリフレクター２５で与える光路長差ｘを
【００４４】
【数６】
2004126398.tif 000008
【００４５】
と設定することで、光干渉回路１４のｎ番目の経路に関する振幅と位相の情報を得ることができる。
【００４６】
［第３実施形態］
図７は、本発明の第３実施形態の光回路を説明するための構成図である。
基板１１上に入力用光導波路１２ａ〜１２ｘと、光カプラ１３と、光干渉回路に相当するアレイ導波路格子フィルタ１４と、光カプラ１５と、出力用光導波路１６ａ〜１６ｘと、参照用光導波路１７とが設けられている。
【００４７】
入力用光導波路１２から光干渉回路１４を経て出力用光導波路１６へ至る経路のうち最長の経路における光路長をＬｍａｘとし、入力用光導波路１２から光干渉回路１４を経て出力用光導波路１６へ至る経路のうち最短の経路における光路長をＬｍｉｎとし、入力用光導波路１２から参照用光導波路１７を経て出力用光導波路１６へ至る経路の光路長をＬｒｅｆとすると、（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）＜（Ｌｍｉｎ−Ｌｒｅｆ）と設定されている。
【００４８】
このように、光回路１０の入力用光導波路は複数であっても良く、また、出力用光導波路も複数あっても良い。
【００４９】
［第３実施形態の変形例］
図７に示した第３実施形態に係る光回路では、光導波路を（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）＜（Ｌｍｉｎ−Ｌｒｅｆ）としたが、図５に示した第１実施形態の変形例に係る光回路でも説明したように、光導波路を（Ｌｒｅｆ−Ｌｍａｘ）＜（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）であっても良い。
【００５０】
図８は、本発明の第３実施形態の変形例に係る光回路を説明するための構成図で、この実施形態においては、光導波路を（Ｌｒｅｆ−Ｌｍａｘ）＜（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）と設定されている。図７に示した第３実施形態に係る光回路では、アレイ導波路格子光フィルタの複数の入力用光導波路１２ａ〜１２ｘのうち、最端の入力用光導波路１２ｘに光カプラ１３を設けるとした。また同様に、複数の出力用光導波路１６ａ〜１６ｘのうち、最端の出力用光導波路１６ｘに光カプラ１５を設けるとした。
【００５１】
これに対して、図８に示した実施形態では、入力用光導波路１２ａが光カプラ１３を備えており、出力用光導波路１６ａが光カプラ１５を備えているとしたが、このような構成でも、勿論構わない。
【００５２】
［第４実施形態］
図９は、本発明の第４実施形態に係る光回路評価装置を説明するための構成図である。
広帯域光源２１と、偏波コントローラ２２と、被測定対象１０へ光を入力するための光ファイバ２７と、被測定対象１０と、被測定対象１０から光を取り出すための光ファイバ２８と、分光器３０が設けられている。
【００５３】
なお、図９に示した光回路評価装置では、広帯域光源２１の直後に偏波コントローラ２２を設置するとしたが、これは、この構成が被測定対象へ入力する光の偏波を簡単に調整できる光回路評価装置を提供できるからである。しかしながら、本発明はこの実施形態に限定されるものではなく、偏波コントローラ２２はなくても構わない。
【００５４】
また、本実施形態では、被測定対象１０が図１に示した第１実施形態に係る光回路であるとした。しかしながら、もちろん、被測定対象は図５に示した本発明の第１実施形態の変形であっても、図７に示した第３実施形態でも、あるいは、図８に示した第３実施形態の変形例でも構わない。
【００５５】
次に、図９に示した光回路評価装置の動作原理について説明する。
いま、光角周波数がωである光電界を考えると、被測定対象１０から出射する光電界は次式で与えられる。
【００５６】
【数７】
2004126398.tif 000009
【００５７】
したがって、分光器で検出される光強度と光角周波数の関数Ｉ（ω）は、
【００５８】
【数８】
2004126398.tif 000010
・・・（８）
【００５９】
となる。これをフーリエ変換すれば、
【００６０】
【数９】
2004126398.tif 000011
・・・（９）
【００６１】
が得られる。前述のように、（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）＜（Ｌｍｉｎ−Ｌｒｅｆ）と設定しているので、式中の第３項あるいは第４項だけを抽出することが可能であり、これによりｎ番目の経路の振幅と位相の情報が得られる。
【００６２】
すなわち、分光器３０で得られた光強度をフーリエ変換することで、光干渉回路１４の各経路での振幅・位相パラメータを得ることができる。この方法は、汎用性に優れ、外乱に強く、さらに機械的可動部を全く必要としない特徴がある。
【００６３】
［第４実施形態の変形例］
図１０は、本発明の第４実施形態の変形例に係る光回路評価装置を説明するための構成図である。可変波長光源３１と、偏波コントローラ２２と、被測定対象１０へ光を入力するための光ファイバ２７と、被測定対象１０と、被測定対象１０から光を取り出すための光ファイバ２８と、受光器２９が設けられている。
【００６４】
なお、図９に示した光回路評価装置では、広帯域光源３１の直後に偏波コントローラ２２を設置するとしたが、これは、この構成が被測定対象へ入力する光の偏波を簡単に調整できる光回路評価装置を提供できるからである。しかしながら、本発明はこの実施形態に限定されるものではなく、偏波コントローラ２２はなくても構わない。
【００６５】
また、本実施形態では、被測定対象１０が図１に示した第１実施形態に係る光回路であるとした。しかしながら、もちろん、被測定対象は図５に示した第１実施形態の変形であっても、図７に示した第３実施形態であっても、図８に示した第３実施形態の変形例であっても構わない。
【００６６】
図９に示した第４実施形態の光回路評価装置では、広帯域光源２１を用いて受光器３０で分光するとしたが、図１０に示した第４実施形態の変形例の光回路評価装置では、受光器側で分光する替わりに、光源に可変波長光源３１を用いて波長を変化させた。このようにしても、図９に示した第４実施形態と数学的には全く等化であり、汎用で、外乱に強く、機械的可動部分のない光回路評価装置を提供することができる。
【００６７】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、基板上に、入力用光導波路と、出力用光導波路と、入力用光導波路と出力用光導波路の間に光路長の異なる複数の経路を内包する光干渉回路とを備え、入力用光導波路のうち少なくとも１本の入力用光導波路が光分岐手段を備えているとともに、出力用光導波路のうち少なくとも１本の出力用光導波路が光合流手段を備え、光分岐手段の出力と光合流手段の入力が参照用光導波路で光学的に結合され、入力用光導波路から光干渉回路を経て出力用光導波路に至る複数の経路のうち、最大の光路長を有する経路の光路長をＬｍａｘとし、最小の光路長を有する経路の光路長をＬｍｉｎとし、入力用光導波路から参照用光導波路を経て出力用光導波路に至る経路の光路長をＬｒｅｆとするとき、（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）＜（Ｌｍｉｎ−Ｌｒｅｆ）、あるいは、（Ｌｒｅｆ−Ｌｍａｘ）＞（Ｌｍａｘ−Ｌｍｉｎ）と設定されているので、汎用性に優れた外乱に強い光回路を提供することができる。
【００６８】
また、広帯域光源と、広帯域光源からの光を二分する光分岐手段と、光分岐手段で二分された光を合流する光合流手段と、光分岐手段と光合流手段の間に設けられた一方の光に可変の遅延時間差を与える可変遅延手段と、光合流手段で合流された光を光回路に導く光入力手段と、光回路からの出力を取り出す光出力手段と、光出力手段に得られた光を検出する光検出器とを備えるので、汎用性に優れた外乱に強い光回路評価装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態の光回路を説明するための構成図である。
【図２】本発明の第２実施形態に係る光回路評価装置を説明するための構成図である。
【図３】第２実施形態に係る光回路評価装置のコヒーレンス関数を表す図である。
【図４】第１実施形態に係る光回路のインパルス応答を表す図である。
【図５】本発明の第１実施形態の変形例を示す構成図である。
【図６】第１実施形態の変形に係る光回路のインパルス応答を表す図である。
【図７】本発明の第３実施形態の光回路を説明するための構成図である。
【図８】本発明の第３実施形態の変形例に係る光回路を説明するための構成図である。
【図９】本発明の第４実施形態に係る光回路評価装置を説明するための構成図である。
【図１０】本発明の第４実施形態の変形例に係る光回路評価装置を説明するための構成図である。
【図１１】従来の光回路評価装置の構成図である。
【符号の説明】
１０　光回路
１１　基板
１２　入力用光導波路
１３　光カプラ（光分岐手段）
１４　光干渉回路
１５　光カプラ（光合流手段）
１６　出力用光導波路
１７　参照用光導波路
２１　広帯域光源
２２　偏波コントローラ
２３　レンズ
２４　ハーフミラー
２５　コーナーリフレクター
２６　ハーフミラー
２７　光ファイバ
２８　光ファイバ
２９　受光器
３０　分光器
３１　可変波長光源
１０１　広帯域光源
１０２　偏波コントローラ
１０３　光カプラ
１０４　偏波コントローラ
１０５　レンズ
１０６　プリズム
１０７　コーナーリフレクター
１０８　レンズ
１０９　被測定光回路
１１０　光カプラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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