(57)【要約】【課題】正確且つ迅速に校正係数を測定することができるランディング測定装置及びランディング測定方法を提供することを目的とするものである。【解決手段】プローブ１とＣＰＵ４とモニタ５とを備え、ＣＰＵ４は、第１ウォブリング部４１と、第２ウォブリング部４２と、発光量曲線算出部４３と、校正係数算出部４４と、ミスランディング量算出部４５とを有する。第１ウォブリング部４１は、緑色蛍光体Ｇを中心として左右交互に偏向しながら、緑色蛍光体Ｇを跨る一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒが含まれる範囲迄、電子ビームｅを走査させる第１電流Ｉ１を出力する。校正係数算出部４４は、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒに対応した第１発光量曲線Ｓ１の発光量極大点Ｐ１，Ｐ２を特定し、これらに対応した電流値ｉ１，ｉ２を抽出して、絶対値│ｉ１−ｉ２│を求める。一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒの距離をこの絶対値で除算し、校正係数を求める。【選択図】　　　　図１
2004128902.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力された偏向信号の大きさに応じてカラーＣＲＴの電子ビームを磁気力で偏向させる電子ビーム偏向手段と、
上記電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出する発光量検出手段と、
上記発光量検出手段で検出した発光量と上記偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する発光量曲線算出手段と、
上記電子ビームが所定色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら少なくとも当該所定色の蛍光体を跨る一対の同色蛍光体が含まれる範囲迄走査するように、上記電子ビーム偏向手段を制御するための第１の上記偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力する第１のウォブリング制御手段と、
上記第１の偏向信号を上記電子ビーム偏向手段に入力することにより上記発光量曲線算出手段で算出された上記第１の発光量曲線に基づいて、上記一対の同色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で上記一対の同色蛍光体間の距離を除算することにより、校正係数を算出する校正係数算出手段と、
上記電子ビームが初期位置を中心にして左右交互に偏向しながら少なくとも一の蛍光体が含まれる範囲迄走査するように、上記電子ビーム偏向手段を制御するための第２の上記偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力する第２のウォブリング制御手段と、
上記第２の偏向信号を上記電子ビーム偏向手段に入力することにより上記発光量曲線算出手段で算出された上記第２の発光量曲線に基づいて、上記一の蛍光体の中心に対応した一の発光量極大点を抽出し、この一の発光量極大点に対応した第２の偏向信号の大きさに、上記校正係数算出手段で算出された校正係数を乗算することにより、電子ビームのミスランディング量を算出するミスランディング量算出手段と
を具備することを特徴とするランディング測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載のランディング測定装置において、
上記第１のウォブリング制御手段は、上記電子ビームが緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の少なくともいずれかの対が含まれる範囲迄走査するように、上記電子ビーム偏向手段を制御するための上記第１の偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力するものであり、
上記校正係数算出手段は、上記第１の偏向信号を上記電子ビーム偏向手段に入力することにより上記発光量曲線算出手段で算出された上記第１の発光量曲線に基づいて、上記一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で上記一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである、
ことを特徴とするランディング測定装置。
【請求項３】
請求項１に記載のランディング測定装置において、
上記第１のウォブリング制御手段は、上記電子ビームが緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体及び一対の青色蛍光体の双方の対が含まれる範囲迄走査するように、上記電子ビーム偏向手段を制御するための上記第１の偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力するものであり、
上記校正係数算出手段は、上記第１の偏向信号を上記電子ビーム偏向手段に入力することにより上記発光量曲線算出手段で算出された上記第１の発光量曲線に基づいて、上記一対の赤色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求めると共に、上記一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求めて、これらの差の平均値を算出し、この平均値の絶対値で上記一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである、
ことを特徴とするランディング測定装置。
【請求項４】
カラーＣＲＴの電子ビームの偏向量を制御する第１の偏向信号の大きさを変化させることにより、電子ビームを、所定色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向させながら、少なくとも当該所定色の蛍光体を跨る一対の同色蛍光体が含まれる範囲迄走査させる第１のウォブリング制御過程と、
上記第１のウォブリング制御過程において電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出する第１の発光量検出過程と、
上記第１の発光量検出過程で検出した発光量と上記第１の偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する第１の発光量曲線算出過程と、
上記第１の発光量曲線算出過程で算出された上記発光量曲線に基づいて、上記一対の同色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の上記第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で上記一対の同色蛍光体間の距離を除算することにより、校正係数を算出する校正係数算出過程と、
電子ビームの偏向量を制御する第２の偏向信号の大きさを変化させることにより、上記電子ビーム偏向過程が上記電子ビームを、初期位置を中心にして左右交互に偏向させながら、少なくとも一の蛍光体が含まれる範囲迄走査させる第２のウォブリング制御過程と、
上記第２のウォブリング制御過程において電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出する第２の発光量検出過程と、
上記第２の発光量検出過程で検出した発光量と上記第２の偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する第２の発光量曲線算出過程と、
上記第２の発光量曲線算出過程で算出された発光量曲線に基づいて、上記一の蛍光体の中心に対応した一の発光量極大点を抽出し、この一の発光量極大点に対応した第２の偏向信号の大きさに、上記校正係数算出過程で算出された校正係数を乗算することにより、電子ビームのミスランディング量を算出するミスランディング量算出過程と
を具備することを特徴とするランディング測定方法。
【請求項５】
請求項４に記載のランディング測定方法において、
上記第１のウォブリング制御過程は、電子ビームを、緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向させながら、当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の少なくともいずれかの対が含まれる範囲迄走査させるものであり、
上記校正係数算出過程は、上記第１の発光量曲線算出過程で算出された上記発光量曲線に基づいて、上記一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で上記一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである、
ことを特徴とするランディング測定方法。
【請求項６】
請求項４に記載のランディング測定方法において、
上記第１のウォブリング制御過程は、電子ビームを、緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向させながら、当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体及び一対の青色蛍光体の双方の対が含まれる範囲迄走査させるものであり、
上記校正係数算出過程は、上記第１の発光量曲線算出過程で算出された上記発光量曲線に基づいて、上記一対の赤色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求めると共に、上記一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求めて、これらの差の平均値を算出し、この平均値の絶対値で上記一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである、
ことを特徴とするランディング測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、テレビジョン受像機等に用いられるカラーＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ　Ｒａｙ　Ｔｕｂｅ）のランディング検査や調査に用いられるランディング測定装置及びランディング測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種のランディング測定装置は、カラーＣＲＴの電子ビームの発光量を検出するプローブと、検出した発光量に基づいて電子ビームの偏向量を演算表示する装置とを備えている（例えば特許文献１参照）。
図８は、この従来のランディング測定装置の概略を示すブロック図である。
図８において、符号１００がプローブであり、符号１１０が電子ビームｅの偏向量を演算する演算装置である。
プローブ１００は、光電変換器１０１に電磁コイル１０２を組み付けた構造になっている。これにより、カラーＣＲＴ２００の電子ビームｅがドット状の蛍光体Ｒ，Ｇ，Ｂのいずれかに当たると、その発光が光電変換器１０１に受光され、受光量に対応した大きさの電流が光電変換器１０１から演算装置１１０に出力される。
ところで、電子ビームｅは、断面円形のスポット状のビームである。従って、電子ビームｅの中心と蛍光体の中心とが一致している状態（以下「ランディング状態」という）では、その蛍光体からの発光量は最大となる。そして、電子ビームｅと蛍光体との中心がずれ、電子ビームｅが蛍光体の一部しか当たらない状態や蛍光体に全く当たらない状態（以下これらの状態を「ミスランディング状態」という）では、その蛍光体からの発光量が少なくなる。
したがって、製造時にミスランディング状態にあるカラーＣＲＴ２００において、電子ビームｅがランディング状態からどの程度ずれているかを測定するには、電磁コイル１０２に流す電流値を変化させて、光電変換器１０１の出力値を観測する。そして、光電変換器１０１の出力値が最大になったときの電磁コイル１０２に流した電流値から電子ビームｅのずれ量（以下「偏向量」という）を演算することができる。この演算は演算装置１１０において行われる。このように、電子ビームｅの偏向量を測定することをランディング測定という。
【０００３】
ランディング測定を行う際には、対象ＣＲＴの電子ビームｅが、電磁コイル１０２に流す単位当たりの電流によってどのくらいの距離だけ曲がるかを示す数値（以下、「校正係数」という）を予め測定しておかなければならない。かかる測定を「校正」という。
図９は、従来のランディング測定装置による校正方法を説明するための相関図であり、横軸は電流値を示し、縦軸は、蛍光体の発光量を示す。
電子ビームｅを蛍光体Ｇの中心に当てた状態から、電磁コイル１０２の電流値を１ステップ（例えば１ｍＡ）づつ交互に増減することで、電子ビームｅを図８の上下方向にウォブリングする。そして、各ステップ毎の発光量を光電変換器１０１で検出すると、電流値Ｉと発光量Ｓとの相関曲線は、図９に示すように、正弦曲線状になる筈である。
また、蛍光体Ｒ，Ｇ，Ｂのピッチを一定値（例えば１６２μｍ）とみなすと、発光量Ｓの極小値Ｐ１，Ｐ２間の距離は蛍光体Ｒ，Ｇ，Ｂのピッチと同値である筈である。
従来のランディング測定装置による校正は、上記想定に基づいて行われている。
すなわち、プローブ１００によって電子ビームｅのウォブリングを発光量Ｓの極小値Ｐ１，Ｐ２が生じる迄行い、極小値Ｐ１，Ｐ２に対応する電流値Ｉが「ａ」，「−ａ」であれば、演算装置１１０においてｄ÷（２ａ）の演算を行い、その演算値を校正係数Δｅであるとみなしていた。
【０００４】
【特許文献１】
特開平１０−２４１５６８号公報（第３頁の１９行目−第５頁の３６行目迄、図１、図４及び図８）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記した従来のランディング測定装置では、次のような問題がある。従来のランディング測定装置による校正では、蛍光体Ｒ，Ｇ，Ｂのピッチを一定値であるとみなしている。すなわち、蛍光体Ｒ−Ｇ間の距離ｄ１と蛍光体Ｇ−Ｂ間の距離ｄ２と蛍光体Ｂ−Ｒ間の距離ｄ３とが全て等しく「ｄ」であるとみなして、校正係数Δｅを求めている。
しかしながら、実際には、これらの距離ｄ１〜ｄ３の大きさは異なっており、ＣＲＴ画面の場所によってまちまちである。特に、ＣＲＴ画面のコーナー部分においては、距離ｄ１，〜，ｄ３の差は大きい。このため、距離ｄ１，〜，ｄ３が全てピッチｄに等しいと想定して校正係数Δｅを演算すると、実際の正確な校正係数を得ることができない。
さらに、蛍光体間の距離ｄ１，〜，ｄ３は、同種類のＣＲＴの間でも異なっており、従来のランディング測定装置による校正方法では、ＣＲＴ毎に校正をしなければならない。
蛍光体間の距離ｄ１，〜，ｄ３が予想値よりも大きい個所では、蛍光体Ｇを中心として電子ビームｅをウォブリングしても、電子ビームｅの偏向量が不足して、極小値Ｐ１，Ｐ２を測ることができず、校正自体が不可能であった。
【０００６】
この発明は上述した課題を解決するためになされたもので、正確且つ迅速に校正係数を測定することができるランディング測定装置及びランディング測定方法を提供することを目的とするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項１の発明は、入力された偏向信号の大きさに応じてカラーＣＲＴの電子ビームを磁気力で偏向させる電子ビーム偏向手段と、電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出する発光量検出手段と、発光量検出手段で検出した発光量と偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する発光量曲線算出手段と、電子ビームが所定色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら少なくとも当該所定色の蛍光体を跨る一対の同色蛍光体が含まれる範囲迄走査するように、電子ビーム偏向手段を制御するための第１の偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力する第１のウォブリング制御手段と、第１の偏向信号を電子ビーム偏向手段に入力することにより発光量曲線算出手段で算出された第１の発光量曲線に基づいて、一対の同色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の同色蛍光体間の距離を除算することにより、校正係数を算出する校正係数算出手段と、電子ビームが初期位置を中心にして左右交互に偏向しながら少なくとも一の蛍光体が含まれる範囲迄走査するように、電子ビーム偏向手段を制御するための第２の偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力する第２のウォブリング制御手段と、第２の偏向信号を電子ビーム偏向手段に入力することにより発光量曲線算出手段で算出された第２の発光量曲線に基づいて、一の蛍光体の中心に対応した一の発光量極大点を抽出し、この一の発光量極大点に対応した第２の偏向信号の大きさに、校正係数算出手段で算出された校正係数を乗算することにより、電子ビームのミスランディング量を算出するミスランディング量算出手段とを具備する構成とした。
かかる構成により、校正係数を測定する際には、第１のウォブリング制御手段によって、第１の偏向信号を電子ビーム偏向手段に入力する。すると、電子ビーム偏向手段によって、電子ビームが所定色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら少なくとも当該所定色の蛍光体を跨る一対の同色蛍光体が含まれる範囲迄走査する。そして、発光量検出手段が、電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出し、発光量曲線算出手段が、発光量検出手段で検出した発光量と偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する。すると、校正係数算出手段が、発光量曲線算出手段で算出された第１の発光量曲線に基づいて、一対の同色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の同色蛍光体間の距離を除算することにより、校正係数を算出する。また、ミスランディング量を測定する際には、第２のウォブリング制御手段によって、第２の偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力する。すると、電子ビーム偏向手段によって、電子ビームが初期位置を中心にして左右交互に偏向しながら少なくとも一の蛍光体が含まれる範囲迄走査する。そして、発光量検出手段が、電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出し、発光量曲線算出手段が、発光量検出手段で検出した発光量と偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する。すると、ミスランディング量算出手段が、発光量曲線算出手段で算出された第２の発光量曲線に基づいて、一の蛍光体の中心に対応した一の発光量極大点を抽出し、この一の発光量極大点に対応した第２の偏向信号の大きさに、校正係数算出手段で算出された校正係数を乗算することにより、電子ビームのミスランディング量を算出する。
【０００８】
また、請求項２の発明は、請求項１に記載のランディング測定装置において、第１のウォブリング制御手段は、電子ビームが緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の少なくともいずれかの対が含まれる範囲迄走査するように、電子ビーム偏向手段を制御するための第１の偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力するものであり、校正係数算出手段は、第１の偏向信号を電子ビーム偏向手段に入力することにより発光量曲線算出手段で算出された第１の発光量曲線に基づいて、一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである構成とした。
【０００９】
また、請求項３の発明は、請求項１に記載のランディング測定装置において、第１のウォブリング制御手段は、電子ビームが緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体及び一対の青色蛍光体の双方の対が含まれる範囲迄走査するように、電子ビーム偏向手段を制御するための第１の偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力するものであり、校正係数算出手段は、第１の偏向信号を電子ビーム偏向手段に入力することにより発光量曲線算出手段で算出された第１の発光量曲線に基づいて、一対の赤色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求めると共に、一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求めて、これらの差の平均値を算出し、この平均値の絶対値で一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである構成とした。
【００１０】
ところで、上記ランディング測定装置の動作時に達成する過程も、新規な方法の発明として成立する。そこで、請求項４の発明は、カラーＣＲＴの電子ビームの偏向量を制御する第１の偏向信号の大きさを変化させることにより、電子ビームを、所定色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向させながら、少なくとも当該所定色の蛍光体を跨る一対の同色蛍光体が含まれる範囲迄走査させる第１のウォブリング制御過程と、第１のウォブリング制御過程において電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出する第１の発光量検出過程と、第１の発光量検出過程で検出した発光量と第１の偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する第１の発光量曲線算出過程と、第１の発光量曲線算出過程で算出された発光量曲線に基づいて、一対の同色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の同色蛍光体間の距離を除算することにより、校正係数を算出する校正係数算出過程と、電子ビームの偏向量を制御する第２の偏向信号の大きさを変化させることにより、電子ビーム偏向過程が電子ビームを、初期位置を中心にして左右交互に偏向させながら、少なくとも一の蛍光体が含まれる範囲迄走査させる第２のウォブリング制御過程と、第２のウォブリング制御過程において電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出する第２の発光量検出過程と、第２の発光量検出過程で検出した発光量と第２の偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する第２の発光量曲線算出過程と、第２の発光量曲線算出過程で算出された発光量曲線に基づいて、一の蛍光体の中心に対応した一の発光量極大点を抽出し、この一の発光量極大点に対応した第２の偏向信号の大きさに、校正係数算出過程で算出された校正係数を乗算することにより、電子ビームのミスランディング量を算出するミスランディング量算出過程とを具備する構成とした。
【００１１】
また、請求項５の発明は、請求項４に記載のランディング測定方法において、第１のウォブリング制御過程は、電子ビームを、緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向させながら、当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の少なくともいずれかの対が含まれる範囲迄走査させるものであり、校正係数算出過程は、第１の発光量曲線算出過程で算出された発光量曲線に基づいて、一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである構成としてある。
【００１２】
また、請求項６の発明は、請求項４に記載のランディング測定方法において、第１のウォブリング制御過程は、電子ビームを、緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向させながら、当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体及び一対の青色蛍光体の双方の対が含まれる範囲迄走査させるものであり、校正係数算出過程は、第１の発光量曲線算出過程で算出された発光量曲線に基づいて、一対の赤色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求めると共に、一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求めて、これらの差の平均値を算出し、この平均値の絶対値で一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである構成とした。
【００１３】
なお、入力された偏向信号の大きさに応じてカラーＣＲＴの電子ビームを磁気力で偏向させる電子ビーム偏向手段と、電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出する発光量検出手段と、発光量検出手段で検出した発光量と偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する発光量曲線算出手段と、電子ビームが所定色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら少なくとも当該所定色の蛍光体を跨る一対の同色蛍光体が含まれる範囲迄走査するように、電子ビーム偏向手段を制御するための偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力するウォブリング制御手段と、発光量曲線算出手段で算出された発光量曲線に基づいて、一対の同色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の同色蛍光体間の距離を除算することにより、校正係数を算出する校正係数算出手段とを具備する校正係数測定装置も、上記課題を解決する発明として開示することができる。
【００１４】
そして、かかる校正係数測定装置において、上記ウォブリング制御手段は、電子ビームが緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の少なくともいずれかの対が含まれる範囲迄走査するように、電子ビーム偏向手段を制御するための偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力するものであり、校正係数算出手段は、発光量曲線算出手段で算出された発光量曲線に基づいて、一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである構成とすることができる。
【００１５】
また、上記校正係数測定装置において、ウォブリング制御手段は、電子ビームが緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体及び一対の青色蛍光体の双方の対が含まれる範囲迄走査するように、電子ビーム偏向手段を制御するための偏向信号を、電子ビーム偏向手段に入力するものであり、校正係数算出手段は、発光量曲線算出手段で算出された発光量曲線に基づいて、一対の赤色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の偏向信号の大きさの差を求めると共に、一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の偏向信号の大きさの差を求めて、これらの差の平均値を算出し、この平均値の絶対値で一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである構成とすることもできる。
【００１６】
さらに、上記課題を解決する方法の発明として、カラーＣＲＴの電子ビームの偏向量を制御する偏向信号の大きさを変化させることにより、電子ビームを、所定色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向させながら、少なくとも当該所定色の蛍光体を跨る一対の同色蛍光体が含まれる範囲迄走査させるウォブリング制御過程と、ウォブリング制御過程において電子ビームが照射された蛍光体の発光量を検出する発光量検出過程と、発光量検出過程で検出した発光量と偏向信号の大きさとの関係を示す発光量曲線を算出する発光量曲線算出過程と、発光量曲線算出過程で算出された発光量曲線に基づいて、一対の同色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の同色蛍光体間の距離を除算することにより、校正係数を算出する校正係数算出過程とを具備する校正係数測定方法を開示する。
【００１７】
また、かかる校正係数測定方法において、ウォブリング制御過程は、電子ビームを、緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向させながら、当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の少なくともいずれかの対が含まれる範囲迄走査させるものであり、校正係数算出過程は、発光量曲線算出過程で算出された発光量曲線に基づいて、一対の赤色蛍光体又は一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである構成とすることができる。
【００１８】
また、上記校正係数測定方法において、ウォブリング制御過程は、電子ビームを、緑色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向させながら、当該緑色の蛍光体を跨る一対の赤色蛍光体及び一対の青色蛍光体の双方の対が含まれる範囲迄走査させるものであり、校正係数算出過程は、発光量曲線算出過程で算出された発光量曲線に基づいて、一対の赤色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の偏向信号の大きさの差を求めると共に、一対の青色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の偏向信号の大きさの差を求めて、これらの差の平均値を算出し、この平均値の絶対値で一対の赤色蛍光体間又は一対の青色蛍光体体間の距離を除算することにより、校正係数を算出するものである構成とすることもできる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
（第１の実施形態）
図１は、この発明の第１の実施形態に係るランディング測定装置を示すブロック図である。
図１に示すように、この実施形態のランディング測定装置は、プローブ１とピークホールド回路２とアナログ／ディジタル変換回路３とＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）４とモニタ５とを具備している。
【００２０】
プローブ１は、電子ビーム偏向手段としての電磁コイル１０と発光量検出手段としての光電変換器１１とで構成された周知の機器である。
具体的には、電磁コイル１０は偏向信号としての電流Ｉの大きさや方向を変化させることで、電磁コイル１０の磁界Ｈの密度や方向を変化させ、磁界Ｈの磁気力によってカラーＣＲＴ２００の電子ビームｅの偏向量と偏向方向とを制御する。
一方、光電変換器１１は、電子ビームｅが照射された蛍光体の発光を受光し、その受光量をアナログの電流又は電圧を信号Ａに変換してピークホールド回路２に出力する。
【００２１】
ピークホールド回路２は、光電変換器１１からのアナログ信号Ａの最大値を抽出して保持する回路である。即ち、ピークホールド回路２は蛍光体の発光量の最大値を示す信号Ａを電気的に保持するものであり、その出力側はアナログ／ディジタル変換回路３に接続されている。
【００２２】
アナログ／ディジタル変換回路３は、ピークホールド回路２に保持されている信号Ａを取り出してディジタル信号Ｄ１に変換する回路である。また、アナログ／ディジタル変換回路３は、変換直後に、ピークホールド回路２内の信号Ａを消去する機能を有している。
【００２３】
ＣＰＵ４は、アナログ／ディジタル変換回路３からのディジタル信号Ｄの処理やプローブ１及びアナログ／ディジタル変換回路３の制御を行う中央処理手段であり、機能ブロックとして、第１のウォブリング制御手段としての第１ウォブリング部４１と、第２のウォブリング制御手段としての第２ウォブリング部４２と、発光量曲線算出手段としての発光量曲線算出部４３と、校正係数算出手段としての校正係数算出部４４と、ミスランディング量算出手段としてのミスランディング量算出部４５と、一定周期のクロックを出力するタイマ部４６とを有している。
【００２４】
第１ウォブリング部４１は、カラーＣＲＴ２００の電子ビームｅが一の緑色蛍光体Ｇを中心として左右交互に偏向しながら緑色蛍光体Ｇを跨る一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒ又は一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂの少なくともいずれかの対が含まれる範囲迄走査するように、磁界Ｈを制御する第１の偏向信号としての第１電流Ｉ１をディジタル／アナログ変換回路６を介してプローブ１の電磁コイル１０に出力する部分である。
ここで、第１電流Ｉ１について具体的に説明する。
図２は、蛍光体間の距離と第１電流Ｉ１の波形と第１発光量曲線Ｓ１との関係を示す概略図である。
図２に示すように、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒ間の距離をｄ１，一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂ間の距離をｄ２，緑色蛍光体Ｇ−Ｇ間の距離をｄ３とすると、ｄ１＝ｄ２＝ｄ３であり、これらの距離ｄ１，〜，ｄ３がカラーＣＲＴ２００の種類毎に一定値であることが知られている。
第１電流Ｉ１は、単位電流値Ｉｓ（例えば、３６インチカラーＣＲＴ２００で、２０ｍＡ）から始まる。そして、この単位電流値Ｉｓの符号ｐを交互に換えながら単位電流値Ｉｓを漸時整数倍ｎ（＝１，２，…，ｍ）して、最大電流値Ｉｍ（例えば２０００ｍＡ）迄増加させる。最大電流値Ｉｍは、緑色蛍光体Ｇを跨ぐ一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒのうち、緑色蛍光体Ｇに遠い赤色蛍光体Ｒ（図２の右側の赤色蛍光体Ｒ）の中心を電子ビームｅが若干超える位置迄偏向する大きさに設定されている。
さらに、この第１電流Ｉ１は、最大電流値Ｉｍから逆に減少して、電流値＝０に至るように設定されている。
これにより、第１電流Ｉ１の制御によって、電子ビームｅが左右に偏向しながら赤色蛍光体Ｒを若干超えた大きさ位置まで走査し、この走査範囲Ｌ内にある蛍光体に照射する。そして、電子ビームｅが赤色蛍光体Ｒから左右に偏向しながら緑色蛍光体Ｇの位置に至ることとなり、この間の磁界Ｈの変化によって、カラーＣＲＴ２００の画面や電磁コイル１０の残存磁界を消磁するようになっている。
図３は第１電流Ｉ１の波形生成を示すフローチャート図である。
図３において、ステップＳ１〜Ｓ４のＮＯ，Ｓ５，及びステップＳ６，Ｓ７のループがウォブリング用波形を生成する部分を示し、ステップＳ２〜Ｓ４のＹＥＳ及びステップＳ８，Ｓ９，Ｓ６のループが消磁用波形を生成する部分を示している。
【００２５】
図１に示す第２ウォブリング部４２は、電子ビームｅの初期位置を中心にして左右交互に偏向しながら一の緑色蛍光体Ｇが含まれる範囲迄走査するように、磁界Ｈを制御する第２の偏向信号としての第２電流Ｉ２をディジタル／アナログ変換回路６を介してプローブ１の電磁コイル１０に出力する部分である。
ここで、第２電流Ｉ２について具体的に説明する。
図４は、電子ビームｅと緑色蛍光体Ｇと第２電流Ｉ２と第２発光量曲線Ｓ２との関係を示す概略図である。
第２電流Ｉ２も第１電流Ｉ１と同様に、単位電流値Ｉｓから始め単位電流値Ｉｓの符号ｐを交互に換えながら単位電流値Ｉｓを漸時整数倍ｎして、最大電流値Ｉｍ′迄増加させ、以後、逆に減少させて電流値＝０に至るようになっている。この第２電流Ｉ２によるウォブリング動作時においては、電子ビームｅが一の緑色蛍光体Ｇに照射されれば目的が達成されるため、最大電流値Ｉｍ′は最大電流値Ｉｍに比べて極めて小さく設定されている。
【００２６】
また、図１に示す発光量曲線算出部４３は、アナログ／ディジタル変換回路３からのディジタル信号Ｄが示す発光量Ｓと第１ウォブリング部４１からの第１電流Ｉ１又は第２ウォブリング部４２からの第２電流Ｉ２との関係を示す発光量曲線を算出する部分である。
発光量曲線算出部４３には、第１電流Ｉ１又は第２電流Ｉ２の各ステップ時の電流値とディジタル信号Ｄが示す発光量Ｓとが入力される。これらのデータは、図示しないメモリに所定時間格納され、所定時間経過後に読み出される。読み出されたこれらのデータは、図２の第１発光量曲線Ｓ１又は図４の第２発光量曲線Ｓ２の近傍に示すように、プロットされる。
発光量曲線算出部４３は、このプロットに基づいて近似曲線を算出し、この近似曲線を発光量曲線として特定する。
具体的には、第１ウォブリング部４１の第１電流Ｉ１に基づく近似曲線である第１発光量曲線Ｓ１と第２ウォブリング部４２の第２電流Ｉ２に基づく近似曲線である第２発光量曲線Ｓ２とを算出して、校正係数算出部４４，ミスランディング量算出部４５にそれぞれ出力する。
【００２７】
校正係数算出部４４は、入力された第１発光量曲線Ｓ１に基づいて、校正係数Δｅを算出する部分である。
図５は、校正係数算出部４４の動作フローチャート図である。
図５のステップＳ１に示すように、校正係数算出部４４は、まず発光量曲線算出部４３からの第１発光量曲線Ｓ１を入力し、ステップＳ２に示すように、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒの中心に対応した一対の発光量極大点Ｐ１，Ｐ２を特定する。そして、ステップＳ３に示すように、これら発光量極大点Ｐ１，Ｐ２に対応した電流値ｉ１，ｉ２を抽出し、電流値ｉ１，ｉ２の差の絶対値│ｉ１−ｉ２│を求める。しかる後、ステップＳ５に示すように、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒ間の距離ｄ１を絶対値│ｉ１−ｉ２│で除算することで、校正係数Δｅを算出する。即ち、校正係数算出部４４は、下記（１）式を演算することで、単位電流値当たりの電子ビームｅの偏向量を示す校正係数Δｅを算出する機能を有している。
Δｅ＝ｄ１÷│ｉ１−ｉ２│　　…（１）
【００２８】
図１に示すミスランディング量算出部４５は、入力された第２発光量曲線Ｓ２に基づいて、電子ビームｅのミスランディング量ΔＥを算出する部分である。
具体的には、図４に示すように、一の緑色蛍光体Ｇの中心に対応した一の発光量極大点Ｐ３を特定する。そして、発光量極大点Ｐ３に対応した電流値ｉ３を抽出し、この電流値ｉ３に、校正係数算出部４４で算出された校正係数Δｅを乗算することで、ミスランディング量ΔＥを算出する。即ち、ミスランディング量算出部４５は、下記（２）式を演算することで、電子ビームｅがどの位の距離だけミスランディングしているかを示すミスランディング量ΔＥを算出する機能を有している。
ΔＥ＝ｉ３×Δｅ　　　…（２）
【００２９】
図１に示すタイマ部４６は、アナログ／ディジタル変換回路３の動作タイミングを決定するタイミングクロックＣＬＫ１と第１及び第２ウォブリング部４１，４２の第１電流Ｉ１，Ｉ２の印加タイミングを決定するタイミングクロックＣＬＫ２とを生成して、アナログ／ディジタル変換回路３，第１及び第２ウォブリング部４１，４２に出力するため部分である。
タイミングクロックＣＬＫ１，ＣＬＫ２について具体的に説明する。
図６はタイミングクロックＣＬＫ１，ＣＬＫ２を示すタイムチャート図である。
図１に示すカラーＣＲＴ２００において、一の緑色蛍光体Ｇに当たる電子ビームｅは、静止しているのではなく、カラーＣＲＴ２００の水平周波数と垂直周波数に対応してカラーＣＲＴ２００の画面上を操作している。したがって、電子ビームｅは、当該一の緑色蛍光体Ｇに周期的に当たり、信号Ａがその周期でピークホールド回路２に保持されることとなる。
図６の（ａ）は、ピークホールド回路２への信号Ａの入力周期を示している。図６の（ｂ）に示すように、タイミングクロックＣＬＫ１は、上記信号Ａの入力周期と同周期であるが、ピークホールド回路２の入力タイミングよりも約１パルス分遅延している。これにより、ピークホールド回路２に保持された信号Ａをアナログ／ディジタル変換回路３で確実に変換することができる。
一方、タイミングクロックＣＬＫ２は、タイミングクロックＣＬＫ１よりもさらに約１パルス分遅延している。
【００３０】
モニタ５は、ＣＰＵ４の発光量曲線算出部４３で算出された第１及び第２発光量曲線Ｓ１，Ｓ２や、校正係数算出部４４及びミスランディング量算出部４５で算出された校正係数Δｅ及びミスランディング量ΔＥなどを表示するための機器である。
【００３１】
次に、この実施形態のランディング測定装置が示す動作について説明する。なお、このランディング測定装置は、その動作時において、請求項？のランディング測定方法を具体的に実行するものである。
まず、校正測定を行う場合には、カラーＣＲＴ２００の電子ビームｅを緑色蛍光体Ｇの中心に合わせて、画面をオールグリーンの状態にする。
この状態で、プローブ１をカラーＣＲＴ２００に対向させると、緑色蛍光体Ｇの最大発行量に対応した信号Ａが、図６の（ａ）に示すタイミングでピークホールド回路２に保持される。
図６の（ｂ）に示すように、タイミングクロックＣＬＫ１は、ピークホールド回路２の保持タイミングよりも遅延しているので、電子ビームｅのウォブリングを実行する前のｔ１時に、信号Ａがアナログ／ディジタル変換回路３によってディジタル信号Ｄに変換され、発光量曲線算出部４３によってプロットされる。このプロットが図２００の発光量極大点Ｐ０である。
【００３２】
この状態から第１のウォブリング制御過程を実行する。
まず、第１ウォブリング部４１をどうさせると、図６の（ｃ）に示すｔ２時のタイミングクロックＣＬＫ２のパルスタイミングで、図３のステップＳ１，Ｓ２（ｐ＝＋１，ｎ＝１）が実行され、大きさ「Ｉｓ」の第１電流Ｉ１がプローブ１に入力される。これにより、第１の発光量検出過程が実行され、プローブ１からの信号Ａが図６の信号Ａに示すｔ３時のタイミングでピークホールド回路２に保持された後、アナログ／ディジタル変換回路３により、図６の（ｂ）に示すｔ４時のタイミングでディジタル信号Ｄに変換される。この結果、ＣＰＵ４の発光量曲線算出部４３によって、このディジタル信号Ｄがプロットされる。このプロットが発光量点ｐ１である。
次に、図６の（ｃ）に示すｔ５時のタイミングクロックＣＬＫ２のパルスタイミングで、図３のステップＳ６，Ｓ２（ｐ＝−１，ｎ＝１）が実行され、大きさ「−Ｉｓ」の第１電流Ｉ１がプローブ１に入力される。この結果、発光量曲線算出部４３によって、図２の発光量点ｐ２のプロットが実行される。
以後、同様の動作の繰り返しにより、図６の（ｃ）に示すタイミングクロックＣＬＫ２のパルスタイミングで、大きさ「２Ｉｓ」，「−２Ｉｓ」，…，「Ｉｍ」の第１電流Ｉ１がプローブ１に順次入力され、発光量曲線算出部４３において、図２に示すようにプロット処理がなされる。
【００３３】
かかるプロット処理がなされると、発光量曲線算出部４３において、第１の発光量曲線算出過程が実行される。
すなわち、第１発光量曲線Ｓ１が上記プロットに基づいて算出され、この第１発光量曲線Ｓ１が発光量曲線算出部４３から校正係数算出部４４に入力される。
【００３４】
そして、第１発光量曲線Ｓ１が校正係数算出部４４に入力されると、校正係数算出過程が実行され、図５に示すステップＳ１〜Ｓ５の処理がなされる。
すなわち、図２に示す第１発光量曲線Ｓ１の発光量極大点Ｐのうち、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒの中心に対応すると予想される発光量極大点Ｐ１，Ｐ２が特定されると共に、発光量極大点Ｐ１，Ｐ２に対応した電流値ｉ１，ｉ２が抽出されて、前記（１）式が実行され、校正係数Δｅが求められる。
【００３５】
次に、カラーＣＲＴ２００のミスランディング量の測定を行う場合には、プローブ１を被検対象のカラーＣＲＴ２００の画面に対向させ、第２のウォブリング制御過程を実行する。
すなわち、第２ウォブリング部４２を作動させ、図４に示す第２電流Ｉ２をプローブ１に入力して、電子ビームｅを小幅に振ると、ピークホールド回路２とアナログ／ディジタル変換回路３を通じて第２の発光量検出過程が実行された後、発光量曲線算出部４３において、図４の第２発光量曲線Ｓ２の近傍に示されるプロット処理がなされる。
かかるプロット処理が終了すると、第２発光量曲線算出過程が実行される。
すなわち、上記プロットに基づいて、図４に示す第２発光量曲線Ｓ２が算出され、この第２発光量曲線Ｓ２が発光量曲線算出部４３からミスランディング量算出部４５に入力される。
【００３６】
第２発光量曲線Ｓ２がミスランディング量算出部４５に入力されると、ミスランディング量算出過程が実行される。
すなわち、緑色蛍光体Ｇの中心に対応すると予想される発光量極大点Ｐ３が第２発光量曲線Ｓ２から特定されると共に、発光量極大点Ｐ３に対応した電流値ｉ３が抽出されて、前記（２）式が実行され、当該被検カラーＣＲＴ２００のミスランディング量ΔＥが求められる。
【００３７】
このように、この実施形態のランディング測定装置によれば、同種類のカラーＣＲＴ２００で一定値である一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒ間の距離ｄ１を用いて、校正係数Δｅを算出する構成としたので、バラツキのない正確な校正係数Δｅを得ることができる。
このため、同種類のカラーＣＲＴ２００においては、一回の校正作業で済み、カラーＣＲＴ２００毎に校正作業をする必要がない。
【００３８】
（第２の実施形態）
最後に、この発明の第２実施形態に係るランディング測定装置について説明する。
この実施形態のランディング測定装置は、図１に示す第１ウォブリング部４１と校正係数算出部４４との機能が上記第１の実施形態と異なる。
すなわち、この実施形態の第１ウォブリング部４１は、緑色蛍光体Ｇを跨ぐ一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒ及び一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂの双方が含まれる範囲まで電子ビームｅを走査させるための第１電流Ｉ１をプローブ１に出力する機能を有している。
また、この実施形態の校正係数算出部４４は、発光量曲線算出部４３からの第１発光量曲線Ｓ１に基づいて、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒ，一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂの中心に対応して４つの発光量極大点を求め、そこから校正係数Δｅを算出する機能を有している。
図７は、この実施形態が示す校正係数算出過程を具体的に説明するための概略図である。
図７に示すように、第１ウォブリング部４１の第１電流Ｉ１による電子ビームｅの走査範囲Ｌは、緑色蛍光体Ｇの両側の一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒと一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂとを含む範囲である。したがって、かかる範囲の走査によって、５つの発光量極大点を有した第１発光量曲線Ｓ１が発光量曲線算出部４３から校正係数算出部４４に入力されることとなる。
このような第１発光量曲線Ｓ１が入力されると、校正係数算出部４４は、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒに対応した発光量極大点Ｐ１，Ｐ２の電流値ｉ１，ｉ２を抽出すると共に、一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂに対応した発光量極大点Ｐ１′，Ｐ２′の電流値ｉ１′，ｉ２′を抽出する。
そして、絶対値｜ｉ１−ｉ２｜と絶対値｜ｉ１′−ｉ２′｜とを算出した後、これらの絶対値の平均値Δｉを算出する。
しかる後、校正係数算出部４４は、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒの距離ｄ１（または一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂの距離ｄ２）を上記平均値Δｉで除算して、より高精度な校正係数Δｅを求めるようにしている。
その他の構成，作用効果は上記第１の実施形態と同様であるので、その記載は省略する。
【００３９】
なお、この発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨の範囲内において種々の変形や変更が可能である。
例えば、上記第１の実施形態では、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒのみを対象に走査したが、緑色蛍光体Ｇを跨ぐ一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂのみを対象にして走査しても良い。かかる場合には、ｄ２÷｜ｉ１′−ｉ２′｜の演算を行うことで、校正係数Δｅを求める。
また、校正係数を測定する際には、上記第１の実施形態で説明したように、電子ビームｅを緑色蛍光体Ｇの中心に合わせる必要がある。しかし、電子ビームｅが緑色蛍光体Ｇの中心から多少ずれるおそれがある場合には、電子ビームｅの走査範囲を一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒと一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂの双方を含む範囲に設定しておくことが好ましい。電子ビームｅが緑色蛍光体Ｇの中心がずれた場合においても、一対の赤色蛍光体Ｒ−Ｒ又は一対の青色蛍光体Ｂ−Ｂの少なくとも一方を走査することができるからである。
【００４０】
【発明の効果】
以上詳しく説明したように、この発明によれば、電子ビームが所定色の一の蛍光体を中心にして左右交互に偏向しながら少なくとも当該所定色の蛍光体を跨る一対の同色蛍光体が含まれる範囲迄走査して、一対の同色蛍光体の中心にそれぞれ対応した一対の発光量極大点を抽出し、これら一対の発光量極大点に対応した一対の第１の偏向信号の大きさの差を求め、この差の絶対値で一対の同色蛍光体間の距離を除算することにより、校正係数を算出する構成であるので、正確な校正係数を得ることができる。すなわち、隣り合う蛍光体間の距離が異なっていても、一対の同色蛍光体の距離は常に一定値であり、この一定の距離を基準にして校正係数を求めるので、ＣＲＴ画面のどの場所においても正確な校正係数を得ることができるという優れた効果がある。この結果、同種類のＣＲＴであれば、一台のＣＲＴの校正係数を求めることで、他のＣＲＴも同値の校正係数を有すると想定することができ、校正係数測定の迅速化を図ることができる。また、常に一定値である一対の同色蛍光体の距離を含むように電子ビームｅをウォブリングするので、電子ビームｅの偏向量が不足して、一対の発光量極大点を測ることができないという問題も生じない。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の第１の実施形態に係るランディング測定装置を示すブロック図である。
【図２】蛍光体間の距離と第１電流の波形と第１発光量曲線との関係を示す概略図である。
【図３】第１電流の波形生成を示すフローチャート図である。
【図４】電子ビームと緑色蛍光体と第２電流と第２発光量曲線との関係を示す概略図である。
【図５】校正係数算出部の動作フローチャート図である。
【図６】タイミングクロックを示すタイムチャート図である。
【図７】この実施形態が示す校正係数算出過程を具体的に説明するための概略図である。
【図８】従来のランディング測定装置の概略を示すブロック図である。
【図９】従来のランディング測定装置による校正方法を説明するための相関図であり、横軸は電流値を示し、縦軸は、蛍光体の発光量を示す。
【符号の説明】
１…プローブ、　２…ピークホールド回路、　３…アナログ／ディジタル変換回路、　４…ＣＰＵ、　５…モニタ、　１０…電磁コイル、　１１…光電変換器、　４１…第１ウォブリング部、　４２…第２ウォブリング部、　４３…発光量曲線算出部、　４４…校正係数算出部、　４５…ミスランディング量算出部、　４６…タイマ部、　２００…カラーＣＲＴ、　Ｂ−Ｂ…一対の青色蛍光体、　Δｅ…校正係数、　ミスランディング量ΔＥ、　ｅ…電子ビーム、　Ｇ…緑色蛍光体、　ｄ１，ｄ２，ｄ３…蛍光体間距離、　Ｌ…走査範囲、　ｉ１，ｉ２，ｉ３…電流値、　Ｉ１…第１電流、　Ｉ２…第２電流、　Ｉｓ…単位電流値、　Ｉｍ…最大電流値、　Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３…発光量極大点、　Ｒ−Ｒ…一対の赤色蛍光体、　Ｓ…発光量、　Ｓ１…第１発光量曲線、　Ｓ２…第２発光量曲線。
【図１】
2004128902.tif 000003
【図２】
2004128902.tif 000004
【図３】
2004128902.tif 000005
【図４】
2004128902.tif 000006
【図５】
2004128902.tif 000007
【図６】
2004128902.tif 000008
【図７】
2004128902.tif 000009
【図８】
2004128902.tif 000010
【図９】
2004128902.tif 000011