(57)【要約】【課題】走行中の印刷シートであっても、かぶり欠点を検出できる印刷欠点の検出装置および検出方法を提供する。【解決手段】走行中の印刷シート３の印刷面を検出画像データとして順次検出し、この検出画像データをデータ処理して印刷欠点を検出する検出装置において、かぶり欠点検出部１０が設けられており、このかぶり欠点検出部１０が、前記検出画像データのうち一の検出画像データがマスタ画像データとして格納されるマスタ画像用メモリ１２と、検出画像データが検出される毎に、この検出画像データと前記マスタ画像用メモリ１２中のマスタ画像データとの間の差分を算出するとともに、この差分を累積値として累積する差分累積部２２と、この差分累積部２２で算出された累積値に基づく特徴量が所定値を超えた場合に、かぶり欠点ありと判定するかぶり欠点判定部２３とから構成されている。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
走行中の印刷シートの印刷面を検出画像データとして順次検出し、該検出画像データをデータ処理して印刷欠点を検出する検出装置において、
かぶり欠点検出部が設けられており、
該かぶり欠点検出部が、
前記検出画像データのうち一の検出画像データがマスタ画像データとして格納されるマスタ画像用メモリと、
前記検出画像データが検出される毎に、該検出画像データと前記マスタ画像用メモリ中のマスタ画像データとの間の差分を算出するとともに、該差分を差分累積値として累積する差分累積部と、
該差分累積部で算出された差分累積値に基づく特徴量が所定の境界値を超えた場合に、かぶり欠点ありと判定するかぶり欠点判定部とからなる
ことを特徴とする印刷欠点の検出装置。
【請求項２】
前記かぶり欠点判定部における特徴量が、
対象面積に対して、差分累積値が所定の差分累積境界値を超えた分の割合であることを特徴とする請求項１記載の印刷欠点の検出装置。
【請求項３】
走行中の印刷シートの印刷面を検出画像データとして順次検出し、
前記検出画像データのうち一の検出画像データがマスタ画像データとして格納し、
前記検出画像データが検出される毎に、該検出画像データと前記マスタ画像用メモリ中のマスタ画像データとの間の差分を算出するとともに、該差分を差分累積値として累積し、
前記差分累積値に基づく特徴量が所定の境界値を超えた場合に、かぶり欠点ありと判定する
ことを特徴とする印刷欠点の検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、印刷欠点の検出装置および検出方法に関する。
印刷シートにグラビア印刷する場合に、版胴に余分なインキが残ってしまったまま、このインキが印刷シートに印刷されてしまうことがある。印刷シートに印刷された余分なインキが、濃いものや局所的なものであれば、印刷欠点として認識できる。しかし、非常にごく少量のインキが印刷シートの印刷面におけるほぼ全面にわたって印刷された場合には、コントラストが低くインキ付着の有無が認識困難であり、かかる印刷欠点をかぶり欠点という。図７に示すように、かぶり欠点は、（Ａ）一枚ものの印刷シートでは人間が認識できないが、（Ｂ）印刷シートを巻取ってロール状にしたり、（Ｃ）複数枚の印刷シートを積層して重合すると、色の重ね合わせによりインキの付着を認識できるので、印刷欠点として製品ロスとなるのである。本発明は、かぶり欠点を検出できる印刷欠点の検出装置および検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の印刷欠点検出技術は、走行中の印刷シートの印刷面を検出した検出画像をマスタ画像とを比較して両画像間の差分を取り、この差分が所定値を超えたら印刷欠点ありと判定することにより、印刷欠点を検出するものである。このため、印刷シートに印刷された余分なインキが、目で見て認識できるくらい濃いものや局所的なもの、例えば異物や虫、ストリーク、インキ飛び、汚れ等の印刷欠点であれば、その有無を検出することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかるに、かぶり欠点は、非常にごく少量のインキが印刷面のほぼ全面にわたって印刷されることによる印刷欠点である。このため、走行中の印刷シートの印刷面を検出した検出画像とマスタ画像との間の差分を所定値と比較するという判定アルゴリズムでは、かぶり欠点なのか検出誤差なのか正しい判定ができず、かぶり欠点のみを検出できない。印刷シートを巻取ってロール状にしたり、印刷シートを積層して初めてかぶり欠点が判明するのが現状であり、これでは製品ロスが非常に大きいという問題がある。
【０００４】
本発明はかかる事情に鑑み、走行中の印刷シートであっても、かぶり欠点を検出できる印刷欠点の検出装置および検出方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
請求項１の印刷欠点の検出装置は、走行中の印刷シートの印刷面を検出画像データとして順次検出し、該検出画像データをデータ処理して印刷欠点を検出する検出装置において、かぶり欠点検出部が設けられており、該かぶり欠点検出部が、前記検出画像データのうち一の検出画像データがマスタ画像データとして格納されるマスタ画像用メモリと、前記検出画像データが検出される毎に、該検出画像データと前記マスタ画像用メモリ中のマスタ画像データとの間の差分を算出するとともに、該差分を差分累積値として累積する差分累積部と、該差分累積部で算出された差分累積値に基づく特徴量が所定の境界値を超えた場合に、かぶり欠点ありと判定するかぶり欠点判定部とからなることを特徴とする。
請求項２の印刷欠点の検出装置は、請求項１記載の発明において、前記かぶり欠点判定部における特徴量が、対象面積に対して、差分累積値が所定の差分累積境界値を超えた分の割合であることを特徴とする。
請求項３の印刷欠点の検出方法は、走行中の印刷シートの印刷面を検出画像データとして順次検出し、前記検出画像データのうち一の検出画像データがマスタ画像データとして格納し、前記検出画像データが検出される毎に、該検出画像データと前記マスタ画像用メモリ中のマスタ画像データとの間の差分を算出するとともに、該差分を差分累積値として累積し、前記差分累積値に基づく特徴量が所定の境界値を超えた場合に、かぶり欠点ありと判定することを特徴とする。
【０００６】
請求項１の発明によれば、検出画像データが検出される毎に、差分累積部によって検出画像データとマスタ画像データとの間の差分が累積値として累積される。累積値に基づく特徴量が所定値を超えた場合には、かぶり欠点判定部によってかぶり欠点ありと判定される。このため、非常にごく少量のインキが印刷シートの印刷面のほぼ全面にわたっていて、差分が非常に少なくても、検出毎に差分が累積されることによってかぶり欠点を検出することができる。
請求項２の発明によれば、特徴量を、対象面積に対して、差分累積値が所定の差分累積境界値を超えた分の割合にすることにより、対象領域におけるかぶり欠点を検出でき、印刷シートにおいてかぶり欠点が発生している場所の見当をつけやすくなるから、かぶり欠点の検出精度を高くすることができる。
請求項３の発明によれば、検出画像データが検出される毎に、検出画像データとマスタ画像データとの間の差分が累積値として累積され、累積値に基づく特徴量が所定値を超えた場合には、かぶり欠点ありと判定される。このため、非常にごく少量のインキが印刷シートの印刷面のほぼ全面にわたっていて、差分が非常に少なくても、検出毎に差分が累積されることによってかぶり欠点を検出することができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】
つぎに、本発明の実施形態を図面に基づき説明する。
図６は本実施形態の印刷欠点の検出装置１の概略側面図である。同図において、符号２は原反ロールである。この原反ロール２は、フィルムや紙等の印刷シート３を巻取ったロールである。原反ロール２から繰り出された印刷シート３は、印刷機５で所望の印刷柄が印刷されて、製品ロール４として巻取られる。
印刷シート３が製品ロール４として巻取られる前に、本実施形態の印刷欠点の検出装置１が配設されており、製品ロール４となる前に、印刷シート３におけるかぶり欠点の有無が検出されるようになっている。
【０００８】
さて、本実施形態の印刷欠点の検出装置１を説明する。
図１は本実施形態の印刷欠点の検出装置１のブロック図である。同図に示すように、本実施形態の印刷欠点の検出装置１は、公知の印刷欠点検出部３０の他に、かぶり欠点検出部１０を備えている。
図２に示すように、前者の印刷欠点検出部３０によって、印刷シート３に印刷された印刷面をＣＣＤ等により印刷柄に合わせて検出画像データとして順次検出して、目で見て認識できるくらい濃いものや局所的なもの、例えば異物や虫、ストリーク、インキ飛び、汚れ等の印刷欠点を検出することができる。
【０００９】
さて、本実施形態の印刷欠点の検出装置１において特に重要なかぶり欠点検出部１０を説明する。
図３は本実施形態の印刷欠点の検出装置１によるかぶり欠点検出フローチャートである。図１および図３に示すように、かぶり欠点検出部１０は、データメモリとして、検出画像用メモリ１１、マスタ画像用メモリ１２、差分累積用メモリ１３、差分累積境界値用メモリ１４、対象面積用メモリ１５および面積比率境界値用メモリ１６を備えている。
【００１０】
検出画像用メモリ１１は、検出画像データが格納されるメモリである。
マスタ画像用メモリ１２は、マスタ画像データが格納されるメモリである。
差分累積用メモリ１３は、画像検出毎に、検出画像データとマスタ画像データの差分が累積された差分累積Ｓが格納されるメモリである。差分累積Ｓには初期値０が入力される。
差分累積境界値用メモリ１４は、ユーザにより入力される差分累積境界値Ｓ０が格納されるメモリである。
対象面積用メモリ１５は、ユーザにより入力される対象面積値Ａが格納されるメモリである。対象面積とは、印刷シート３においてＣＣＤで検出される領域の面積である。
面積比率境界値用メモリ１６は、ユーザにより入力される面積比率境界値Ｍ０が格納されるメモリである。
パラメータＫには、ユーザにより任意の初期値Ｃ０が入力される。
【００１１】
また、かぶり欠点検出部１０は、データ処理部として、画像検出部２１、差分累積部２２およびかぶり欠点判定部２３を備えている。
画像検出部２１は、走行中の印刷シート３の印刷面をＣＣＤにより検出画像データとして撮像し、この検出画像データを検出画像用メモリ１１に格納する処理部である。
【００１２】
図３の点線枠内に示すように、差分累積部２２は以下の処理を実行するものである。
（１）まず、パラメータｋが初期値Ｃ０と同じかどうかを判定する。
（２Ｙ）ｋ＝Ｃ０と判定した場合は、差分累積用メモリ１３の差分累積Ｓを０クリアするとともに、検出画像をマスタ画像用メモリ１２に格納する。
（２Ｎ）ｋ＝Ｃ０でないと判定した場合には、検出画像とマスタ画像用メモリ１２のマスタ画像との間の差分ΔＳを算出する。
（３）差分累積値Ｓに、差分ΔＳを累積する。
上記（１）〜（３）より、マスタ画像用メモリ１２に格納されているマスタ画像データと検出画像用メモリ１１に格納されている検出画像データとの間の差分を算出し、この差分を累積して差分累積用メモリ１３に格納することができる。
【００１３】
かぶり欠点判定部２３は、差分累積用メモリ１３に格納されている差分累積値Ｓに基づく特徴量が、所定の境界値を超えた場合に、かぶり欠点ありと判定する処理部である。
特徴量は、差分累積値Ｓ、差分累積境界値Ｓ０および対象面積値Ａにより（Ｓ−Ｓ０）／Ａで表わされる量である。この特徴量は、対象面積値Ａに対して、差分累積値Ｓが差分累積境界値Ｓ０を超えた分の割合である。この特徴量が面積比率境界値Ｍ０を超えた場合には、かぶり欠点ありと判定されるのである。
特徴量を、対象面積に対して、差分累積値が所定の差分累積境界値を超えた分の割合にすることにより、対象領域におけるかぶり欠点を検出でき、印刷シートにおいてかぶり欠点が発生している場所の見当をつけやすくなるから、かぶり欠点の検出精度を高くすることができる。
なお、図５に示すように差分累積値Ｓに基づく特徴量は、差分累積値Ｓであってもよく、この場合、境界値は差分累積境界値Ｓ０にすればよく、制御を簡単にすることができる。
【００１４】
つぎに、本実施形態の印刷欠点の検出装置１による作用効果を説明する。
図３は本実施形態の印刷欠点の検出装置１によるかぶり欠点検出フローチャートである。同図に示すように、本実施形態の印刷欠点の検出装置１によれば、検出画像データが検出される毎に、差分累積部２２によって検出画像データとマスタ画像データとの間の差分が累積値として累積される。図４に示すように、累積値に基づく特徴量が境界値Ｓｏを超えた場合には、かぶり欠点判定部２３によってかぶり欠点ありと判定される。
このため、非常にごく少量のインキが印刷シート３の印刷面のほぼ全面にわたっていて、差分が非常に少なくても、検出毎に差分が累積されることによってかぶり欠点を検出することができる。
【００１５】
【発明の効果】
請求項１の発明によれば、検出画像データが検出される毎に、差分累積部によって検出画像データとマスタ画像データとの間の差分が累積値として累積される。累積値に基づく特徴量が所定値を超えた場合には、かぶり欠点判定部によってかぶり欠点ありと判定される。このため、非常にごく少量のインキが印刷シートの印刷面のほぼ全面にわたっていて、差分が非常に少なくても、検出毎に差分が累積されることによってかぶり欠点を検出することができる。
請求項２の発明によれば、特徴量を、対象面積に対して、差分累積値が所定の差分累積境界値を超えた分の割合にすることにより、対象領域におけるかぶり欠点を検出でき、印刷シートにおいてかぶり欠点が発生している場所の見当をつけやすくなるから、かぶり欠点の検出精度を高くすることができる。
請求項３の発明によれば、検出画像データが検出される毎に、検出画像データとマスタ画像データとの間の差分が累積値として累積され、累積値に基づく特徴量が所定値を超えた場合には、かぶり欠点ありと判定される。このため、非常にごく少量のインキが印刷シートの印刷面のほぼ全面にわたっていて、差分が非常に少なくても、検出毎に差分が累積されることによってかぶり欠点を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態の印刷欠点の検出装置１のブロック図である。
【図２】印刷シート３における印刷周期の説明図である。
【図３】本実施形態の印刷欠点の検出装置１によるかぶり欠点検出フローチャートである。
【図４】検出回数Ｎによる差分累積の変化を示すグラフである。
【図５】他の実施形態の印刷欠点の検出装置１Ｂのフローチャートである。
【図６】印刷欠点の検出装置の配置説明図である。
【図７】かぶり欠点の説明図である。
【符号の説明】
１　　　印刷欠点の検出装置
３　　　印刷シート
１０　　かぶり欠点累積部
１１　　検出画像用メモリ
１２　　マスタ画像用メモリ
１３　　差分累積用メモリ
１４　　差分累積境界値用メモリ
１５　　対象面積用メモリ
１６　　面積比率境界値用メモリ
２１　　画像検出部
２２　　差分累積部
２３　　かぶり欠点判定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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