(57)【要約】【課題】オペレータの経験に依存せずに、検査対象の被検査物に最適なＸ線画像処理フィルタを自動設定する。【解決手段】Ｘ線画像処理フィルタ自動設定方法は、異物が混入されていない良品ＶにＸ線を曝射するＸ線曝射工程と、Ｘ線の曝射に伴って良品Ｖを透過してくるＸ線の透過量に対応するＸ線強度データＳを出力するＸ線強度データ出力工程と、良品Ｖの前記Ｘ線強度データＳに異物を強調するための複数種類のＸ線画像処理フィルタＦにより画像処理をしてＸ線画像処理フィルタＦ毎にＸ線画像データＩｖを生成するＸ線画像データ生成工程と、生成されたＸ線画像データＩｖに基づいて最適なＸ線画像処理フィルタＦａを抽出するフィルタ抽出工程と、を備える。【選択図】　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
異物が混入されていない良品（Ｖ）にＸ線を曝射するＸ線曝射工程と、
前記Ｘ線の曝射に伴って前記良品を透過してくるＸ線の透過量に対応するＸ線強度データ（Ｓ）を出力するＸ線強度データ出力工程と、
前記良品の前記Ｘ線強度データに対して、前記異物を強調するための複数種類のＸ線画像処理フィルタ（Ｆ）により画像処理をして、前記Ｘ線画像処理フィルタ毎にＸ線画像データ（Ｉｖ）を生成するＸ線画像データ生成工程と、
該生成されたＸ線画像データに基づいて最適なＸ線画像処理フィルタ（Ｆａ）を抽出するフィルタ抽出工程と、
を備えることを特徴とするＸ線画像処理フィルタ自動設定方法。
【請求項２】
前記フィルタ抽出工程は、生成された複数のＸ線画像データ中その最大画素値が最小となるＸ線画像データを生成したＸ線画像処理フィルタを、前記最適なＸ線画像処理フィルタとして抽出することを特徴とする請求項１記載のＸ線画像処理フィルタ自動設定方法。
【請求項３】
被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射する第２のＸ線曝射工程と、
前記Ｘ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量に対応するＸ線強度データを出力する第２のＸ線強度データ出力工程と、
請求項１又は２記載のいずれかの方法により設定されたＸ線画像処理フィルタ（Ｆａ）により画像処理を施して、検査用Ｘ線画像データ（Ｉｗ）を生成する検査用Ｘ線画像データ生成工程と、
前記検査用Ｘ線画像データに基づいて異物の有無を判定する異物判定工程と、を備えることを特徴とするＸ線異物検出方法。
【請求項４】
被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射するＸ線発生器（６）と、
曝射されたＸ線を検出して、前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量に対応するＸ線強度データを出力するＸ線検出器（７）と、
請求項１又は２記載のいずれかの方法により設定されたＸ線画像処理フィルタ（Ｆａ）により画像処理を施して、検査用Ｘ線画像データ（Ｉｗ）を生成する検査用Ｘ線画像データ生成手段と、
を備えることを特徴とするＸ線異物検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物に対し、Ｘ線を曝射したときのＸ線の透過量から被検査物中の異物を検出するためのＸ線画像処理フィルタ自動設定方法，Ｘ線異物検出方法及びＸ線異物検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線異物検出装置は、搬送ライン上を順次搬送されてくる各品種の被検査物（生肉、魚、加工食品、医薬など）にＸ線を曝射し、この曝射したＸ線の透過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入しているか否かを検出する装置である。
【０００３】
すなわち、Ｘ線発生器から被検査物に曝射されたＸ線は、被検査物やその中に混入されている異物により減衰される。この減衰の割合は、被検査物（異物含む）等の成分（原子番号と密度）と厚みによって変わり、「原子番号×密度」が高いほど、また厚みが厚い程減衰量が多くなる。
【０００４】
例えば金属や石等の異物は、食品よりも「原子番号×密度」が高いため、これらの異物が混入した場所の下方にあるＸ線検出器で検出されるＸ線強度（又は透過率）が小さくなる。この得られたＸ線強度を利用し、更に画像処理フィルタを用いて異物を強調する画像処理を施すことで、被検査物の影響の低減を行い、被検査物中に埋もれた異物の信号を抽出する。そして、所定の閾値により異物有りか否かの判定をすることで、被検査物内に混入されている異物が検出される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このＸ線画像処理フィルタについては、種々のフィルタがあるが、検査対象となる被検査物によっては、上述した原子番号や密度、厚みが異なるため、適用するＸ線画像処理フィルタによっては、被検査物の影響が良好に低減されない場合があり、異物が混入されていない被検査物から異物信号が抽出される場合がある。
【０００６】
また、異物についても同様に、原子番号や密度、厚みが異なるため、画像処理後の異物信号のレベルと被検査物のレベルとが相対的な差が小さい場合、異物信号が被検査物の信号内に埋もれてしまう場合があり、このような被検査物から異物を高感度で検出できるＸ線画像処理フィルタを適用させる必要がある。
【０００７】
したがって、どのＸ線画像処理フィルタが最適であるかは、オペレータの経験等に依存しており、各被検査物毎に最適なＸ線画像処理フィルタを適用しているか否かが判断できず、高感度の異物検出ができない場合があった。
【０００８】
本発明は、上述した従来技術の問題点を解消するため、オペレータの経験に依存せずに、検査対象の被検査物に最適なＸ線画像処理フィルタを自動設定することを目的とする。またこれにより、初心者でも高感度な異物検出を実現可能にすることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載のＸ線画像処理フィルタ自動設定方法は、異物が混入されていない良品ＶにＸ線を曝射するＸ線曝射工程と、前記Ｘ線の曝射に伴って前記良品Ｖを透過してくるＸ線の透過量に対応するＸ線強度データＳを出力するＸ線強度データ出力工程と、前記良品Ｖの前記Ｘ線強度データＳに対して前記異物を強調するための複数種類のＸ線画像処理フィルタＦにより画像処理をして前記Ｘ線画像処理フィルタＦ毎にＸ線画像データＩｖを生成するＸ線画像データ生成工程と、該生成されたＸ線画像データＩｖに基づいて最適なＸ線画像処理フィルタＦを抽出するフィルタ抽出工程と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
請求項１によれば、オペレータの経験に依存せずに、検査対象となる良品Ｖと同種の被検査物Ｗに最適なＸ線画像処理フィルタＦを自動設定することが可能となる。
【００１１】
請求項２記載のＸ線画像処理フィルタ自動設定方法は、請求項１記載のＸ線画像処理フィルタ自動設定方法において、前記フィルタ抽出工程は、生成された複数のＸ線画像データＩｖ中その最大画素値が最小となるＸ線画像データＩｖａを生成したＸ線画像処理フィルタＦａを、前記最適なＸ線画像処理フィルタＦとして抽出することを特徴とする。
【００１２】
請求項２によれば、良品ＶにおけるＸ線画像データＩｖ中その最大画素値が最小となるＸ線画像データＩｖａを生成したＸ線画像処理フィルタＦａを、最適なＸ線画像処理フィルタＦとして抽出することにより、異物が混入された被検査物ＷのＸ線画像Ｉｗａにおいて、異物のＸ線画像データＩｆと、異物を除く被検査物ＷのＸ線画像データＩｇと、を区別し易くなり、高感度なＸ線画像処理フィルタＦａを自動設定することが可能となる。
【００１３】
請求項３記載のＸ線異物検出方法は、被検査物ＷにＸ線を曝射する第２のＸ線曝射工程と、前記Ｘ線の曝射に伴って前記被検査物Ｗを透過してくるＸ線の透過量に対応するＸ線強度データＳを出力する第２のＸ線強度データ出力工程と、請求項１又は２記載のいずれかの方法により設定されたＸ線画像処理フィルタＦａにより画像処理を施して検査用Ｘ線画像データＩｗを生成する検査用Ｘ線画像データ生成工程と、前記検査用Ｘ線画像データＩに基づいて異物の有無を判定する異物判定工程と、を備えることを特徴とする。
【００１４】
請求項３によれば、自動設定された最適なＸ線画像処理フィルタＦａを用いて被検査物Ｗの画像処理及び異物判定を実行することにより、高感度のＸ線異物検出を実現することが可能となる。
【００１５】
請求項４記載のＸ線異物検出装置は、異物が混入されていない良品Ｖ又は被検査物ＷにＸ線を曝射するＸ線発生器６と、曝射されたＸ線を検出して前記良品Ｖ又は被検査物Ｗを透過してくるＸ線の透過量に対応するＸ線強度データＳを出力するＸ線検出器７と、請求項１又は２記載のいずれかの方法により設定されたＸ線画像処理フィルタＦａにより画像処理を施して検査用Ｘ線画像データＩｗを生成する検査用Ｘ線画像データ生成手段と、を備えることを特徴とする。
【００１６】
請求項４によれば、自動設定された最適なＸ線画像処理フィルタＦａを用いて被検査物Ｗの画像処理及び異物判定を実行することにより、高感度のＸ線異物検出を実現することが可能となる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
［Ｘ線異物検出装置のハードウェア構成］
図１はＸ線異物検出装置１の概略ブロック構成図である。Ｘ線異物検出装置１は、搬送ラインの一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物Ｗ中（表面も含む）に混入される金属、ガラス、石、骨などの異物の有無を検出するものである。
【００１８】
このＸ線異物検出装置１のハードウェア構成について説明する。Ｘ線異物検出装置１は、搬送部２，Ｘ線発生器６，Ｘ線検出器７，処理部１０，操作入力部２１，表示部２４で略構成される。
【００１９】
搬送部２は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各種の被検査物Ｗを搬送するもので、例えば装置１本体に対して水平に配置されたベルトコンベアで構成される。ベルトコンベア２には、４つのプーリ３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄに無端状の搬送ベルト４が巻回されている。搬送部２は、プーリ３ａに接続された駆動モータＭの駆動により予め設定された所定の搬送速度で被検査物Ｗを搬送させる。
【００２０】
図１に示すように、Ｘ線異物検出装置１は、搬送部２の上方に所定高さ離れて設けられるＸ線発生器６と、搬送部２内にＸ線発生器６と対向して設けられるＸ線検出器７を備えて構成される。
【００２１】
Ｘ線発生器６は、金属製の箱体内部に設けられる円筒状のＸ線管を絶縁油により浸漬した構成であり、Ｘ線管の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてＸ線を生成している。Ｘ線管は、その長手方向が被検査物Ｗの搬送方向と直交する幅方向に設けられている。Ｘ線管により生成されたＸ線は、下方のＸ線検出器７に向けて、箱体底面に長手方向に沿って形成された不図示のスリットにより、略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
【００２２】
Ｘ線検出器７は、被検査物Ｗや良品Ｖに対して曝射されたＸ線を検出する。このＸ線検出器７には、例えば、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上に設けられたシンチレータと、を備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。このフォトダイオードは、例えば、１ラインで構成されライン方向（Ｙ方向）に０．４ｍｍピッチで６４０個配置されて構成される。
【００２３】
このＸ線検出器７では、被検査物Ｗや良品Ｖに対してＸ線発生器６からＸ線が曝射されたときに、そのＸ線をシンチレータで受けて光に変換する。さらにシンチレータで変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオードによって受光される。そして、各フォトダイオードは、受光した光を電気信号に変換し、Ｘ線検出データとして出力する。Ｘ線強度データＳは、図示しないＡ／Ｄ変換部でＡ／Ｄ変換された後、データメモリ１１に格納される。
【００２４】
処理部１０は、Ｘ線強度データＳが格納されるデータメモリ１１，各種プログラム１３〜１５が格納される記録媒体１２としてのプログラム格納部，フィルタ格納部１６，Ｘ線発生器６を駆動させるＸ線発生器駆動回路１７，Ｘ線検出器７を駆動させるＸ線検出器駆動回路１８，モータＭを駆動させるモータ駆動回路１９，コンピュータ２０としてのＣＰＵ及びこれらを接続するバス９で略構成される。
【００２５】
データメモリ１１はＲＡＭ等のリード／ライト可能な半導体メモリであり、そのデータメモリ１１には、１ライン（Ｙ方向）あたり上記６４０個のＸ線強度データＳが、少なくとも搬送される被検査物Ｗの搬送方向Ｘの長さに対応した所定ライン数（例えば４８０ライン）格納される。
【００２６】
プログラム格納部１２は，例えばＨＤで構成され、内部には、自動設定プログラム１３，Ｘ線異物検出プログラム１４，モード実行プログラム１５が格納されている。
【００２７】
フィルタ格納部１６は、例えばＨＤで構成され、被検査物ＷのＸ線透過画像ｉから異物画像を抽出するための複数種類のＸ線画像処理フィルタＦ（又は異物抽出アルゴリズム）（本例では３種類のフィルタＦａ〜Ｆｃ）が格納されている。Ｘ線画像処理フィルタＦは、異物を強調するフィルタであり、例えば、Ｓｏｂｅｌフィルタ，Ｐｒｅｗｉｔｔフィルタ等の各種の特徴抽出フィルタやラプラシアンフィルタ等から選ばれたフィルタである。なお、これらのフィルタを改良したフィルタであってもよい。また、このＸ線画像処理フィルタＦのカーネルサイズは３×３，５×５，７×７，９×９，１１×１１等、必要に応じて種々のサイズが適用される。
【００２８】
Ｘ線発生器駆動回路１７は、ＣＰＵ２０からの指令によりＸ線検出器７に対し所定の電力を印加することで、Ｘ線発生器６から線を曝射させる。
【００２９】
Ｘ線検出器駆動回路１８は、ＣＰＵ２０からの指令によりＸ線発生器６をＯＮにして、Ｘ線発生器６から曝射されたＸ線を入力させる。
【００３０】
モータ駆動回路１９は、ＣＰＵ２０からの指令によりからの指令によりモータＭに対し所定電力を供給してモータＭを駆動させる。
【００３１】
ＣＰＵ２０は、装置１全体を統轄制御するプロセッサであり、各駆動回路１７〜１９への駆動指令，データメモリ１１からのＸ線強度データＳの読み出し，各種プログラムの実行，その他データの転送，種々の演算，データの一時的な格納等を行う。
【００３２】
操作入力部２１は、バス９に接続される。操作入力部２１には、自動設定モードと異物検出モードとが選択可能な押しボタンスイッチ２２，２３が設けられており、各モードのスイッチ２２，２３を押下することで、そのモードを実行することができる。すなわち、この操作入力部２１と、ＣＰＵ２０と、モード実行プログラム１５と、でモード実行手段を構成する。
【００３３】
表示部２４は、例えば液晶ディスプレイ等で構成され、画像処理したＸ線画像や、異物判定結果、例えば「ＯＫ」，「ＮＧ」の文字が表示される。
【００３４】
［モードの選択及び実行］
次に、モードの選択及び実行処理について、図２のフローチャートを用いて説明する。まず、オペレータは、Ｘ線画像処理フィルタＦの自動設定モード又はＸ線異物検出モードのいずれかのスイッチを押下することで選択入力する（Ｓ１）。ＣＰＵ２０は、プログラム格納部１２からモード実行プログラム１５を読み出して、選択されたモードを判別する（Ｓ２）。自動設定モードが選択された場合は（Ｓ２−自動設定）、自動設定処理を開始する（Ｓ３）。一方、Ｘ線異物検出モードが選択された場合は（Ｓ２−異物検出）、Ｘ線異物検出処理を開始する（Ｓ４）。
【００３５】
［Ｘ線画像処理フィルタＦの自動設定方法］
次に、Ｘ線画像処理フィルタＦの自動設定方法について、図３のフローチャートを用いて説明する。まず異物が混入されていないことが分かっている被検査物Ｗ、例えば箱入りの良品Ｖをサンプルとして搬送部２に載置する。
【００３６】
そして、オペレータが操作入力部２１の自動設定モードのボタンを押下すると（Ｓ１）、プログラム格納部１２内のモード実行プログラム１５により、自動設定プログラム１３が読み出されて自動設定処理が実行され（Ｓ２−自動設定，Ｓ３）、ＣＰＵ２０から各駆動回路へ駆動指令が出力される。これにより、モータＭが回転駆動して搬送部２が良品Ｖの搬送を開始する（Ｓ１０）。そして、Ｘ線発生器６からＸ線が曝射される（Ｓ１１）。
【００３７】
Ｘ線は、略３角形状のスクリーン状に曝射される。このＸ線スクリーンを良品Ｖが通過することで、良品Ｖに曝射される。Ｘ線検出器７では、良品Ｖを透過した透過Ｘ線がシンチレータに入力される。そして、Ｘ線検出器７にて電気信号に変換され、Ｘ線強度データＳとしてデータメモリ１１へ出力され、格納される（Ｓ１２）。
【００３８】
データメモリ１１に格納されたＸ線強度データＳは、図４に示すように、前処理として、例えば２５６階調の輝度情報に変換される（Ｓ１３）。図４（ａ）は、例えば、Ｘ線検出器７の各ライン毎にスキャンされた良品ＶのＸ線強度データ（の平均値）Ｓを示した図、同図（ｂ）は、同図（ａ）のＸ線強度データＳを前処理した前処理画像データ（の平均値）ｉを示した図である。すなわち、図４（ａ）では、Ｘ線が良品Ｖの箱の端縁部分を透過したＸ線強度Ｓｅが良品Ｖ（箱の中身）ＳｇのＸ線強度が減衰されているので、図４（ｂ）では、良品Ｖ（箱の中身）の前処理画像データｉｇに対し、良品Ｖの箱の端縁部分の画像データｉｅが急峻となっている。
【００３９】
次に、この前処理画像データｉをフィルタ処理する（Ｓ１４）。このフィルタ処理は異物の画像データを抽出する処理であるが、処理するＸ線画像処理フィルタＦによっては、箱の端縁部分の前処理画像データが異物の前処理画像データとともにより急峻となったり、異物のＸ線画像データのみを急峻にして、箱の端縁部分の画像データを平滑にする。したがって、このフィルタ処理では、良品Ｖの前処理画像データｉを、総てのＸ線画像処理フィルタＦによってフィルタ処理する。
【００４０】
まずフィルタ格納部１６からＸ線画像処理フィルタＦａを読み出して、前処理画像データｉをフィルタリングしてＸ線画像データＩｖａを生成する。図５（ａ）はそのフィルタ処理後のＸ線画像データＩｖａを示す図である。同様に、フィルタ格納部１６からＸ線画像処理フィルタＦｂを読み出して、前処理画像データｉをフィルタリングしてＸ線画像データＩｖｂを生成する。図５（ｂ）はそのフィルタ処理後のＸ線画像データＩｖｂを示す図である。更に、フィルタ格納部１６からＸ線画像処理フィルタＦｃを読み出して、前処理画像データｉをフィルタリングしてＸ線画像データＩｖｃを生成する。図５（ｃ）はそのフィルタ処理後のＸ線画像データＩｖｃを示す図である。なお、各図において、Ｉｇは良品（箱の中身）、Ｉｅは箱の端縁を表すＸ線画像データである。
【００４１】
そして、総てのＸ線画像処理フィルタＦによるフィルタ処理が終了した場合（Ｓ１５−Ｙｅｓ）、この生成された３つのＸ線画像データＩｖａ〜Ｉｖｃを比較し、その輝度値の最大値が最も低いＸ線画像データＩｖを抽出する。すなわち、Ｘ線画像データＩｖａの最大輝度値Ｎａ（箱の端縁を表すＸ線画像データＩｅ）と、Ｘ線画像データＩｖｂの最大輝度値Ｎｂ（箱の端縁を表すＸ線画像データＩｅ）と、Ｘ線画像データＩｖｃの最大輝度値Ｎｃ（箱の端縁を表すＸ線画像データＩｅ）と、を比較する。この場合、最大輝度値が最も低いＸ線画像データＩｖａが抽出される。そして、この抽出されたＸ線画像データＩｖａを生成したＸ線画像処理フィルタＦａを、最適なＸ線画像処理フィルタＦとして抽出する（Ｓ１６）。
【００４２】
そして、異物検出閾値Ｔを設定する（Ｓ１７）。図５（ａ）に示すように、異物検出閾値Ｔは、最大輝度値が最も低いＸ線画像データＩｖａの最大輝度値Ｎａから、異物画像データＩｆのみを抽出できるよう所定の輝度値ｄを加算した値Ｔａに設定される。設定された最適なＸ線画像処理フィルタＦａ及び設定された異物検出閾値Ｔａは、データメモリ１１の所定の領域に格納される（Ｓ１８）。
【００４３】
これにより、Ｘ線画像処理フィルタＦの自動設定プログラム１３が、上述のＸ線画像処理フィルタＦの自動設定方法をＣＰＵ２０によって実現することが可能となる。
【００４４】
［Ｘ線異物検出方法］
次に、Ｘ線異物検出方法について、図６のフローチャートを用いて説明する。まず良品Ｖと同じ製品である未検査の被検査物Ｗを搬送部２に載置する。
【００４５】
そして、オペレータが操作入力部２１のＸ線異物検出モードのボタンを押下すると（Ｓ１）、プログラム格納部１２内のモード実行プログラム１５により、異物検出プログラム１４が読み出されてＸ線異物検出処理が実行され（Ｓ２−異物検出，Ｓ３）、ＣＰＵ２０から各駆動回路１７〜１９へ駆動指令が出力される。これにより、モータＭが回転駆動して搬送部２が被検査物Ｗの搬送を開始する（Ｓ２０）。そして、Ｘ線発生器６からＸ線曝射される（Ｓ２１）。
【００４６】
Ｘ線は、略３角形状のスクリーン状に曝射される。このＸ線スクリーンを被検査物Ｗが通過することで、被検査物Ｗに曝射される。Ｘ線検出器７では、被検査物Ｗを透過した透過Ｘ線がシンチレータに入力される。そして、Ｘ線検出器７にて電気信号に変換され、Ｘ線強度データＳとしてデータメモリ１１へ出力され、格納される（Ｓ２２）。
【００４７】
データメモリ１１に格納されたＸ線強度データＳは、自動設定モードと同様に、前処理として、例えば２５６階調の輝度情報に変換される（Ｓ２３）。そして、この前処理画像データｉに対し、データメモリ１１に格納されている最適なＸ線画像処理フィルタＦａ及び設定された異物検出閾値Ｔａを読み出してフィルタ処理を実行し、検査用Ｘ線画像データＩｗａを生成する（Ｓ２４）。図７は、フィルタ処理後の検査用Ｘ線画像データＩｗａを示す図である。そして、この検査用Ｘ線画像データＩｗａに基づいて異物判定を実行する（Ｓ２５）。図７によれば、異物のＸ線画像データＩｆが設定された異物検出閾値Ｔａよりも大きい輝度値となっているので、この被検査物Ｗは異物有りと判定され（Ｓ２６−Ｎｏ）、後段でＮＧ処理される（Ｓ２８）。一方、検査用Ｘ線画像データＩｗａに異物のＸ線画像データＩｆが無い場合は（Ｓ２６−Ｙｅｓ）、後段で良品処理される（Ｓ２７）。
【００４８】
これにより、Ｘ線異物検出プログラム１４が上述のＸ線異物検出方法をＣＰＵによって実現することが可能となる。
【００４９】
なお、上述のように、Ｘ線異物検出装置１を、Ｘ線画像処理フィルタ自動設定プログラム１３，Ｘ線異物検出プログラム１４が記録されたコンピュータ２０に読み取り可能な記録媒体１２と、Ｘ線を曝射するＸ線発生器６と、曝射されたＸ線を検出してＸ線強度データＳを出力するＸ線検出器７と、Ｘ線画像処理フィルタ自動設定プログラム１３をコンピュータ２０に読み取らせる自動設定モードとＸ線異物検出プログラム１４をコンピュータ２０に読み取らせるＸ線異物検出モードとのいずれかを選択して実行するモード実行手段（１５，２０，２１）と、を備えることとすることにより、オペレータの経験に依存せずに、検査対象の被検査物Ｗに最適なＸ線画像処理フィルタＦａを自動設定することが可能となる。特に、良品ＶにおけるＸ線画像データＩｖ中その最大画素値が最小となるＸ線画像データＩｖａを生成したＸ線画像処理フィルタＦａを、最適なＸ線画像処理フィルタＦとして抽出することにより、異物が混入された被検査物ＷのＸ線画像データＩｗａにおいて、異物のＸ線画像データＩｆと、異物を除く被検査物ＷのＸ線画像データＩｇと、を区別し易くなり、高感度なＸ線画像処理フィルタＦａを自動設定することが可能となる。
【００５０】
また、自動設定された最適なＸ線画像処理フィルタＦａを用いて被検査物Ｗの画像処理及び異物判定を実行することにより、高感度のＸ線異物検出を実現することが可能となる。
【００５１】
更に、自動設定モードとＸ線異物検出モードとのいずれかを選択して実行することにより、一台の装置１で、Ｘ線画像処理フィルタＦの自動設定処理と、Ｘ線異物検出処理と、を実行することができ、Ｘ線発生器６やＸ線検出器７の共有化を図ることができる。
【００５２】
【発明の効果】
請求項１によれば、オペレータの経験に依存せずに、検査対象の被検査物に最適なＸ線画像処理フィルタを自動設定することが可能となる。
【００５３】
請求項２によれば、良品におけるＸ線画像データ中その最大画素値が最小となるＸ線画像データを生成したＸ線画像処理フィルタを、最適なＸ線画像処理フィルタとして抽出することにより、異物が混入された被検査物のＸ線画像において、異物のＸ線画像データと、異物を除く被検査物（良品）のＸ線画像データと、を区別し易くなり、高感度なＸ線画像処理フィルタを自動設定することが可能となる。
【００５４】
請求項３によれば、自動設定された最適なＸ線画像処理フィルタを用いて被検査物の画像処理及び異物判定を実行することにより、高感度のＸ線異物検出を実現することが可能となる。
【００５５】
請求項４によれば、自動設定された最適なＸ線画像処理フィルタを用いて被検査物の画像処理及び異物判定を実行することにより、高感度のＸ線異物検出を実現することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＸ線異物検出装置の概略構成図。
【図２】本発明によるＸ線異物検出装置のモード選択実行処理を示すフローチャート。
【図３】本発明によるＸ線画像処理フィルタ自動設定方法の処理手順を示すフローチャート。
【図４】（ａ）良品のＸ線強度データを示す図。
（ｂ）（ａ）の前処理画像データを示す図。
【図５】（ａ）本発明による良品の前処理画像データをＸ線画像処理フィルタＦａでフィルタ処理した図。
（ｂ）本発明による良品の前処理画像データをＸ線画像処理フィルタＦｂでフィルタ処理した図。
（ｃ）本発明による良品の前処理画像データをＸ線画像処理フィルタＦｃでフィルタ処理した図。
【図６】本発明によるＸ線異物検出方法の処理手順を示すフローチャート。
【図７】本発明により被検査物の前処理画像データをＸ線画像処理フィルタＦａでフィルタ処理した図。
【符号の説明】
１…Ｘ線異物検出装置
６…Ｘ線発生器
７…Ｘ線検出器
１３…自動設定プログラム
１４…異物検出プログラム
２０…コンピュータ（ＣＰＵ）
Ｆ（Ｆａ，Ｆｂ，Ｆｃ）…Ｘ線画像処理フィルタ
Ｉｖ（Ｉｖａ，Ｉｖｂ，Ｉｖｃ）…良品のＸ線画像データ
Ｉｗ（Ｉｗａ，Ｉｗｂ，Ｉｗｃ）…被検査物のＸ線画像データ
Ｓ…Ｘ線強度データ
Ｖ…良品
Ｗ…被検査物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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