(57)【要約】【課題】回路基板に実装する調整用抵抗等の抵抗値を自動的に求める。【解決手段】回路基板１２０の調整用抵抗が実装されるべき一対のパッドそれぞれにプローブピン１３０−１、５を接触させる。抵抗器回路モジュール４０の初期値を設定し、プローブピン１３０−１０、１１を介して電圧測定回路２５０にて測定された回路基板１２０の所定のパッド間の電圧データは、論理演算処理装置５に入力される。論理演算処理回路５は読み込んだ電圧デ−タが目標とする所定電圧値の範囲内に達しているか否かを判定し、所定電圧値に達していない場合は、読み込んだ電圧データ等を基に調整すべき抵抗値を算出し、その抵抗値に抵抗モジュール回路設定するように、制御回路２０、アナログスイッチ回路３０を制御する。調整後の状態で電圧測定回路２５０で出力端子５０１の電圧を再び測定し、測定結果が所定の範囲内に入るまで上述の動作を繰り返す。【選択図】　　　図２
2004028767.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プローブピンと、このプローブピンのソケットが固定されこのプローブピンに電気的に接続された回路が設けられた装置側回路基板と、前記プローブピンおよび前記装置側回路基板を一体として上下動させる駆動手段と、前記プローブピンに対応して測定対象の回路基板のパッドが位置するように前記回路基板を位置させるテーブルとを含み、前記プローブピンおよび前記装置側回路基板を一体として下降させて前記プローブピンを前記パッドに接触させることを特徴とする回路基板測定装置。
【請求項２】
回路基板に設けられた有効値を調整する必要のある調整用部品を実装するための調整部品用パッドに前記調整用部品を実装していない状態で接触する調整値用プローブピンと、この調整値用プローブピンに電気的に接続された有効値が可変な代用部品部と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピンと、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路の測定結果および前記代用部品部の有効値から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用部品の有効値を求める制御手段とを含むことを特徴とする回路基板調整用測定装置。
【請求項３】
回路基板に設けられた有効値を調整する必要のある調整用部品を実装するための調整部品用パッドに前記調整用部品を実装していない状態で接触する調整値用プローブピンと、この調整値用プローブピンに電気的に接続された有効値が可変な代用部品部と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピンと、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路の測定結果および前記代用部品部の有効値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用部品の有効値に前記代用部品部を設定する制御手段とを含むことを特徴とする回路基板調整用測定装置。
【請求項４】
回路基板に設けられた抵抗値を調整する必要のある調整用抵抗を実装するための調整抵抗用パッドに前記調整用抵抗を実装していない状態で接触する調整値用プローブピンと、この調整値用プローブピンに電気的に接続された抵抗値が可変な代用抵抗部と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピンと、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路の測定結果および前記代用抵抗部の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記代用抵抗部を設定する制御手段とを含むことを特徴とする回路基板調整用測定装置。
【請求項５】
回路基板に設けられた抵抗値を調整する必要のある調整用抵抗を実装するための第１および２の調整抵抗用パッドそれぞれに前記調整用抵抗を実装していない状態で接触する第１および２の調整値用プローブピンと、複数の抵抗が直列に接続され先端が前記第１の調整値用プローブピンに接続された直列抵抗部と、前記複数の抵抗の間のそれぞれおよび前記直列抵抗部の末端にそれぞれの一端が接続されそれぞれの他端が共通に前記第２の調整値用プローブピンに接続された複数のスイッチと、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピンと、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路の測定結果および前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の抵抗値がなるように前記複数のスイッチを切り替える制御手段とを含むことを特徴とする回路基板調整用測定装置。
【請求項６】
回路基板に設けられた抵抗値を調整する必要のある調整用抵抗を実装するための第１および２の調整抵抗用パッドそれぞれに前記調整用抵抗を実装していない状態で接触する第１および２の調整値用プローブピンと、それぞれの一端が共通に前記第１の調整値用プローブピンに接続された複数の抵抗と、前記複数の抵抗の他端のそれぞれにそれぞれの一端が接続されそれぞれの他端が共通に前記第２の調整値用プローブピンに接続された複数のスイッチと、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピンと、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路の測定結果および前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の抵抗値がなるように前記複数のスイッチを切り代える制御手段とを含むことを特徴とする回路基板調整用測定装置。
【請求項７】
回路基板に設けられた容量値を調整する必要のある調整用コンデンサを実装するための調整部品用パッドに前記調整用コンデンサを実装していない状態で接触する調整値用プローブピンと、この調整値用プローブピンに電気的に接続された容量値が可変な代用コンデンサ部と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピンと、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路の測定結果および前記代用コンデンサ部の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記代用コンデンサ部を設定する制御手段とを含むことを特徴とする回路基板調整用測定装置。
【請求項８】
回路基板に設けられた容量値を調整する必要のある調整用コンデンサを実装するための第１および２の調整コンデンサ用パッドそれぞれに前記調整用コンデンサを実装していない状態で接触する第１および２の調整値用プローブピンと、それぞれの一端が共通に前記第１の調整値用プローブピンに接続された複数のコンデンサと、前記複数のコンデンサの他端のそれぞれにそれぞれの一端が接続されそれぞれの他端が共通に前記第２の調整値用プローブピンに接続された複数のスイッチと、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピンと、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路の測定結果および前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の容量値がなるように前記複数のスイッチを切り代える制御手段とを含むことを特徴とする回路基板調整用測定装置。
【請求項９】
回路基板に設けられた抵抗値を調整する必要のある調整用抵抗を実装するための調整抵抗用パッドに前記調整用抵抗を実装していない状態で接触する調整抵抗値用プローブピンと、この調整抵抗値用プローブピンに電気的に接続された抵抗値が可変な代用抵抗部と、前記回路基板の第１の測定用パッドに接触する第１の測定用プローブピンと、この第１の測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する第１の測定回路と、前記回路基板に設けられた容量値を調整する必要のある調整用コンデンサを実装するための調整コンデンサ用パッドに前記調整用コンデンサを接続していない状態で接触する調整容量値用プローブピンと、この調整容量値用プローブピンに電気的に接続された容量値が可変な代用コンデンサ部と、前記回路基板の第２の測定用パッドに接触する第２の測定用プローブピンと、この第２の測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する第２の測定回路と、前記第１の測定回路の測定結果および前記代用抵抗部の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための抵抗値に前記代用抵抗部を設定し、前記第２の測定回路の測定結果および前記代用コンデンサ部の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記代用コンデンサ部を設定する制御手段とを含むことを特徴とする回路基板調整用測定装置。
【請求項１０】
前記代用抵抗部、前記代用コンデンサ部、前記第１の測定部および前記第２の測定部を供えた装置側回路基板に前記調整抵抗値用プローブピン、前記調整容量値用プローブピン、前記第１の測定用プローブピンおよび前記第２の測定用プローブピンのソケットが一体に固定されていることを特徴とする請求項９に記載の回路基板調整用測定装置。
【請求項１１】
前記測定回路または前記第１の測定回路は、電圧測定回路である請求項２〜６または９のいずれかに記載の回路基板調整用測定装置。
【請求項１２】
前記測定回路または前記第２の測定回路は、過渡応答特性測定回路である請求項２、３、７、８または９のいずれかに記載の回路基板調整用測定装置。
【請求項１３】
対象とする回路基板に実装すべき調整が必要な調整用部品を代用する有効値が可変な代用部品部と、この代用部品部に接続された調整値用プローブピンと、電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路に接続された測定用プローブピンと、前記代用部品部の有効値および前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用部品の有効値を求める制御部とを備えた回路基板調整用測定装置を用い、
前記回路基板の前記調整用部品を実装すべき調整部品用パッドに前記調整用部品を実装しない状態で前記調整値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記測定用プローブピンを接触させて前記測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記測定回路の測定結果および前記代用部品部の有効値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用部品の有効値に前記代用部品を設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用部品の設定を繰り返すことを特徴とする回路基板調整方法。
【請求項１４】
対象とする回路基板に実装すべき調整が必要な調整用抵抗を代用する抵抗値が可変な代用抵抗部と、この代用抵抗部に接続された調整値用プローブピンと、電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路に接続された測定用プローブピンと、前記代用抵抗部の有効値および前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値を求める制御部とを備えた回路基板調整用測定装置を用い、
前記回路基板の前記調整用抵抗を実装すべき調整抵抗用パッドに前記調整用抵抗を実装しない状態で前記調整値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記測定用プローブピンを接触させて前記測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記測定回路の測定結果および前記代用抵抗部の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記代用抵抗を設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用抵抗の設定を繰り返すことを特徴とする回路基板調整方法。
【請求項１５】
対象とする回路基板に実装すべき調整が必要な調整用コンデンサを代用する容量値が可変な代用コンデンサ部と、この代用コンデンサ部に接続された調整値用プローブピンと、電気的特性を測定する測定回路と、この測定回路に接続された測定用プローブピンと、前記代用コンデンサ部の容量値および前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値を求める制御部とを備えた回路基板調整用測定装置を用い、
前記回路基板の前記調整用コンデンサを実装すべき調整コンデンサ用パッドに前記調整用コンデンサを実装しない状態で前記調整値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記測定用プローブピンを接触させて前記測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記測定回路の測定結果および前記代用コンデンサ部の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記代用コンデンサを設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用コンデンサの設定を繰り返すことを特徴とする回路基板調整方法。
【請求項１６】
対象とする回路基板に実装すべき調整が必要な調整用抵抗を代用する抵抗値が可変な代用抵抗部と、この代用抵抗部に接続された調整抵抗値用プローブピンと、電気的特性を測定する第１の測定回路と、この第１の測定回路に接続された第１の測定用プローブピンと、前記回路基板に実装すべき調整が必要な調整用コンデンサを代用する容量値が可変な代用コンデンサ部と、この代用コンデンサ部に接続された調整容量値用プローブピンと、電気的特性を測定する第２の測定回路と、この第２の測定回路に接続された第２の測定用プローブピンと、前記代用抵抗部の有効値および第１の前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値を求め、前記代用コンデンサ部の容量値および第２の前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値を求める制御部とを備えた回路基板調整用測定装置を用い、
前記回路基板の前記調整用抵抗を実装すべき調整抵抗用パッドに前記調整用抵抗を実装しない状態で前記調整抵抗値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記第１の測定用プローブピンを接触させて前記第１の測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記第１の測定回路の測定結果および前記代用抵抗部の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記代用抵抗を設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記第１の測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用抵抗の設定を繰り返し、前記回路基板の前記調整用コンデンサを実装すべき調整コンデンサ用パッドに前記調整用コンデンサを実装しない状態で前記調整値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記第２の測定用プローブピンを接触させて前記第２の測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記第２の測定回路の測定結果および前記代用コンデンサ部の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記代用コンデンサを設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記第２の測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用コンデンサの設定を繰り返すことを特徴とする回路基板調整方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路基板調整用測定装置および回路基板調整方法に関し、特に実装される種々の電子部品や配線のばらつきの影響を除去するために調整用の抵抗およびコンデンサを実装する必要のある回路基板の電気的特性を測定する装置および回路基板の調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
海底ケーブルの中継器を構成する回路基板には、集積回路、半導体装置等の部品を配線で接続した回路が形成され、これらの部品および配線には、ばらつきが生じるのが避けられないので、回路基板の回路網に調整用抵抗等の接続個所を設けておき、この調整用抵抗等の抵抗値等を回路基板のばらつきに合わせたものとなるようにして回路基板に実装するようにしている。
【０００３】
従来、このような回路基板のばらつきに合わせた調整用抵抗の抵抗値を求める回路基板調整方法は、回路基板の調整用抵抗が実装されるパッド間にプローブピンを用いて可変抵抗を接続し、回路基板の電圧を出力するパッド間に電圧測定回路のプローブピンを接触させ、このプローブピン間の電圧を測定しながら可変抵抗の抵抗値を変化させ、この測定電圧が目標の範囲内になった時の可変抵抗の抵抗値と同一の抵抗値の調整用抵抗を回路基板に実装するようにしていた。
【０００４】
図４は、回路基板の調整用抵抗に設定すべき抵抗値を求めるために回路基板の特性を測定するのに、従来用いていた回路基板測定装置の断面図であり、特開平１−１３１４７３に開示されたものである。
【０００５】
図４において、測定装置４のテーブル１２は上下動可能であり、図示しない手段により上向きに付勢され通常は所定の高さに上昇している。テーブル１２上に調整対象とする回路基板１０を位置決めして載置する。回路基板１０のスルーホールには電子部品９のリードが貫通されて半田付けされている。
【０００６】
測定装置４の電子部品９のリードの下側の位置にプローブピン１６のソケット１４が取り付けられていてる。プローブピン１６は、ソケット１４の軸方向に移動し、図示しないばねにより所定の高さまで上向きに付勢されているもので、配線１１、インターフェース１３および図示していない外部ケーブルを介して測定装置の図示していない回路部、例えば可変抵抗器および電圧測定回路に接続されている。
【０００７】
測定装置４のテーブル１２の下部の空洞１８内の空気を吸入口２から真空引きし、気圧の力でテーブル１２をストッパ６に当たるまで下降させ、電子部品９のリードをプローブピン１６に接触させることにより、測定装置４の回路部と回路基板１０とを電気的に接続し、回路基板１０の電気的特性を測定する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
図４に示した従来の回路基板測定装置では、次のような問題があった。
【０００９】
測定対象の回路基板１０が内部の配線１１、インタフェース１３および外部のケーブルを介して測定装置４の回路部に接続されて測定される。そこで、配線１１、インタフェース１３およびケーブルの長さに応じてこれらの抵抗またはインピーダンスが高くなることから、回路基板１０の電気的特性の正確な測定が困難となり、回路基板１０の微調整には適用できない欠点があった。
【００１０】
また、海底ケーブルの中継器においては、ケ−スの内底に、光部品、他の電気部品と共に被測定の調整すべき回路基板が混在して実装された複雑な実装構造であり、対象物の中継器全体が重量であること、回路基板の測定装置のプローブピンの接触部位がケース内の奥まったところにあることから、従来の吸引方法を用いた測定装置では、中継機中に実装したまま回路基板の測定することは困難であるという欠点があった。
【００１１】
さらに従来は、回路基板に接続した可変抵抗器を人手で操作し、回路基板に接続した測定装置の表示を人が見て調整用抵抗の最適な抵抗値を判断していたため多くの工数を要していたという欠点もあった。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明の回路基板測定装置は、プローブピン（図１の１３０）と、このプローブピンのソケット（図１の１３１）が固定されこのプローブピンに電気的に接続された回路（図１の３０、４０、４２）が設けられた装置側回路基板（図１の１００）と、前記プローブピンおよび前記装置側回路基板を一体として上下動させる駆動手段と、前記プローブピンに対応して測定対象の回路基板（図１の１２０）のパッドが位置するように前記回路基板を位置させるテーブルとを含み、前記プローブピンおよび前記装置側回路基板を一体として下降させて前記プローブピンを前記パッドに接触させることを特徴とする。
【００１３】
本発明の回路基板調整用測定装置は、回路基板（図１の１２０）に設けられた有効値を調整する必要のある調整用部品を実装するための調整部品用パッドに前記調整用部品を実装していない状態で接触する調整値用プローブピン（図２の１３０−１、１３０−３、１３０−５、１３０−７）と、この調整値用プローブピンに電気的に接続された有効値が可変な代用部品部（図２の４０、４２）と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピン（図２の１３０−１０〜１３０−１３）と、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路（図２の２５０、２６０）と、この測定回路の測定結果および前記代用部品部の有効値から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用部品の有効値を求める制御手段（図２の５、２０）とを含むことを特徴とする。
【００１４】
本発明の回路基板調整用測定装置は、回路基板（図１の１２０）に設けられた有効値を調整する必要のある調整用部品を実装するための調整部品用パッドに前記調整用部品を実装していない状態で接触する調整値用プローブピン（図２の１３０−１、１３０−３、１３０−５、１３０−７）と、この調整値用プローブピンに電気的に接続された有効値が可変な代用部品部（図２の４０、４２）と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピン（図２の１３０−１０〜１３０−１３）と、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路（図２の４０、４２）と、この測定回路の測定結果および前記代用部品部の有効値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用部品の有効値に前記代用部品部を設定する制御手段（図２の５、２０）とを含むことを特徴とする。
【００１５】
本発明の回路基板調整用測定装置は、回路基板（図１の１２０）に設けられた抵抗値を調整する必要のある調整用抵抗を実装するための調整抵抗用パッドに前記調整用抵抗を実装していない状態で接触する調整値用プローブピン（図２の１３０−１、１３０−５）と、この調整値用プローブピンに電気的に接続された抵抗値が可変な代用抵抗部（図２の４０）と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピン（図２の１３０−１０、１３０−１１）と、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路（図２の２５０）と、この測定回路の測定結果および前記代用抵抗部の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記代用抵抗部を設定する制御手段（図２の５、２０）とを含むことを特徴とする。
【００１６】
本発明の回路基板調整用測定装置は、回路基板（図１の１２０）に設けられた抵抗値を調整する必要のある調整用抵抗を実装するための第１および２の調整抵抗用パッドそれぞれに前記調整用抵抗を実装していない状態で接触する第１および２の調整値用プローブピン（図２の１３０−１、１３０−５）と、複数の抵抗（図３のＲ１〜Ｒｎ）が直列に接続され先端が前記第１の調整値用プローブピンに接続された直列抵抗部と、前記複数の抵抗の間のそれぞれおよび前記直列抵抗部の末端にそれぞれの一端が接続されそれぞれの他端が共通に前記第２の調整値用プローブピンに接続された複数のスイッチ（図３の３０−１〜３０−ｎ）と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピン（図２の１３０−１０、１３０−１１）と、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路（図２の２５０）と、この測定回路の測定結果および前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の抵抗値がなるように前記複数のスイッチを切り替える制御手段（図２の５、２０）とを含むことを特徴とする。
【００１７】
本発明の回路基板調整用測定装置は、回路基板（図１の１２０）に設けられた抵抗値を調整する必要のある調整用抵抗を実装するための第１および２の調整抵抗用パッドそれぞれに前記調整用抵抗を実装していない状態で接触する第１および２の調整値用プローブピン（図２の１３０−１、１３０−５）と、それぞれの一端が共通に前記第１の調整値用プローブピンに接続された複数の抵抗と、前記複数の抵抗の他端のそれぞれにそれぞれの一端が接続されそれぞれの他端が共通に前記第２の調整値用プローブピンに接続された複数のスイッチと、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピン（図２の１３０−１０，１３０−１１）と、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路（図２の２５０）と、この測定回路の測定結果および前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の抵抗値がなるように前記複数のスイッチを切り代える制御手段（図２の５、２０）とを含むことを特徴とする。
【００１８】
本発明の回路基板調整用測定装置は、回路基板（図１の１２０）に設けられた容量値を調整する必要のある調整用コンデンサを実装するための調整部品用パッドに前記調整用コンデンサを実装していない状態で接触する調整値用プローブピン（図２の１３０−３、１３０−７）と、この調整値用プローブピンに電気的に接続された容量値が可変な代用コンデンサ部（図２の４２）と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピン（図２の１３０−１２、１３０−１３）と、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路（図２の２６０）と、この測定回路の測定結果および前記代用コンデンサ部の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記代用コンデンサ部を設定する制御手段（図２の５、２０）とを含むことを特徴とする。
【００１９】
本発明の回路基板調整用測定装置は、回路基板（図１の１２０）に設けられた容量値を調整する必要のある調整用コンデンサを実装するための第１および２の調整コンデンサ用パッドそれぞれに前記調整用コンデンサを実装していない状態で接触する第１および２の調整値用プローブピン（図２の１３０−３、１３０−７）と、それぞれの一端が共通に前記第１の調整値用プローブピンに接続された複数のコンデンサ（図３のＣ１〜Ｃｎ）と、前記複数のコンデンサの他端のそれぞれにそれぞれの一端が接続されそれぞれの他端が共通に前記第２の調整値用プローブピンに接続された複数のスイッチ（図３の３２−１〜３２−ｎ）と、前記回路基板の測定用パッドに接触する測定用プローブピン（図２の１３０−２、１３０−ｎ）と、この測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する測定回路（図２の２６０）と、この測定回路の測定結果および前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記第１および第２の調整値用プローブピンの間の容量値がなるように前記複数のスイッチを切り代える制御手段（図２の５、２０）とを含むことを特徴とする。
【００２０】
本発明の回路基板調整用測定装置は、回路基板（図１の１２０）に設けられた抵抗値を調整する必要のある調整用抵抗を実装するための調整抵抗用パッドに前記調整用抵抗を実装していない状態で接触する調整抵抗値用プローブピン（図２の１３０−１、１３０−５）と、この調整抵抗値用プローブピンに電気的に接続された抵抗値が可変な代用抵抗部（図２の４０）と、前記回路基板の第１の測定用パッドに接触する第１の測定用プローブピン（図２の１３０−１０、１３０−１１）と、この第１の測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する第１の測定回路（図２の２５０）と、前記回路基板に設けられた容量値を調整する必要のある調整用コンデンサを実装するための調整コンデンサ用パッドに前記調整用コンデンサを接続していない状態で接触する調整容量値用プローブピン（図２の１３０−３、１３０−７）と、この調整容量値用プローブピンに電気的に接続された容量値が可変な代用コンデンサ部（図２の４２）と、前記回路基板の第２の測定用パッドに接触する第２の測定用プローブピン（図２の１３０−１２、１３０−１３）と、この第２の測定用プローブピンに電気的に接続され前記回路基板の電気的特性を測定する第２の測定回路（図２の２６０）と、前記第１の測定回路の測定結果および前記代用抵抗部の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための抵抗値に前記代用抵抗部を設定し、前記第２の測定回路の測定結果および前記代用コンデンサ部の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記代用コンデンサ部を設定する制御手段（図２の５、２０）とを含むことを特徴とする。
【００２１】
上述の回路基板調整用測定装置は、前記代用抵抗部、前記代用コンデンサ部、前記第１の測定部および前記第２の測定部を供えた装置側回路基板（図１の１００）に前記調整抵抗値用プローブピン、前記調整容量値用プローブピン、前記第１の測定用プローブピンおよび前記第２の測定用プローブピンのソケット（図１の１３１）が一体に固定されているようにすることもできる。また、上述の回路基板調整用測定装置は、前記測定回路または前記第１の測定回路は、電圧測定回路であるようにも、前記測定回路または前記第２の測定回路は、過渡応答特性測定回路であるようにすることもできる。
【００２２】
本発明の回路基板調整用測定方法は、対象とする回路基板（図１の１２０）に実装すべき調整が必要な調整用部品を代用する有効値が可変な代用部品部（図２の４０、４２）と、この代用部品部に接続された調整値用プローブピン（図２の１３０−１、１３０−３、１３０−５、１３０−７）と、電気的特性を測定する測定回路（図２の２５０、２６０）と、この測定回路に接続された測定用プローブピン（図２の１０〜１３）と、前記代用部品部の有効値および前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用部品の有効値を求める制御部（図２の５、２０）とを備えた回路基板調整用測定装置を用い、
前記回路基板の前記調整用部品を実装すべき調整部品用パッドに前記調整用部品を実装しない状態で前記調整値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記測定用プローブピンを接触させて前記測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記測定回路の測定結果および前記代用部品部の有効値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用部品の有効値に前記代用部品を設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用部品の設定を繰り返すことを特徴とする。
【００２３】
本発明の回路基板調整方法は、対象とする回路基板（図１の１２０）に実装すべき調整が必要な調整用抵抗を代用する抵抗値が可変な代用抵抗部（図２の４０）と、この代用抵抗部に接続された調整値用プローブピン（図２の１３０−１、１３０−５）と、電気的特性を測定する測定回路（図２の２５０）と、この測定回路に接続された測定用プローブピン（図２の１３０−１０、１３０−１１）と、前記代用抵抗部の有効値および前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値を求める制御部（図２の５、２０）とを備えた回路基板調整用測定装置を用い、
前記回路基板の前記調整用抵抗を実装すべき調整抵抗用パッドに前記調整用抵抗を実装しない状態で前記調整値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記測定用プローブピンを接触させて前記測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記測定回路の測定結果および前記代用抵抗部の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記代用抵抗を設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用抵抗の設定を繰り返すことを特徴とする。
【００２４】
本発明の回路基板調整方法は、対象とする回路基板（図１の１２０）に実装すべき調整が必要な調整用コンデンサを代用する容量値が可変な代用コンデンサ部（図２の４２）と、この代用コンデンサ部に接続された調整値用プローブピン（図２の１３０−３、１３０−７）と、電気的特性を測定する測定回路（図２の２６０）と、この測定回路に接続された測定用プローブピン（図２の１３０−１２、１３０−１３）と、前記代用コンデンサ部の容量値および前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値を求める制御部（図２の５、２０）とを備えた回路基板調整用測定装置を用い、
前記回路基板の前記調整用コンデンサを実装すべき調整コンデンサ用パッドに前記調整用コンデンサを実装しない状態で前記調整値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記測定用プローブピンを接触させて前記測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記測定回路の測定結果および前記代用コンデンサ部の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記代用コンデンサを設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用コンデンサの設定を繰り返すことを特徴とする。
【００２５】
本発明の回路基板調整方法は、対象とする回路基板（図１の１２０）に実装すべき調整が必要な調整用抵抗を代用する抵抗値が可変な代用抵抗部（図２の４０）と、この代用抵抗部に接続された調整抵抗値用プローブピン（図２の１３０−１、１３０−５）と、電気的特性を測定する第１の測定回路（図２の２５０）と、この第１の測定回路に接続された第１の測定用プローブピン（図２の１３０−１０、１３０−１１）と、前記回路基板に実装すべき調整が必要な調整用コンデンサを代用する容量値が可変な代用コンデンサ部（図２の４２）と、この代用コンデンサ部に接続された調整容量値用プローブピン（図２の１３０−３、１３０−７）と、電気的特性を測定する第２の測定回路（図２の２６０）と、この第２の測定回路に接続された第２の測定用プローブピン（図２の１３０−１２、１３０−１３）と、前記代用抵抗部の有効値および第１の前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値を求め、前記代用コンデンサ部の容量値および第２の前記測定回路の測定結果から前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値を求める制御部（図２の５、２０）とを備えた回路基板調整用測定装置を用い、
前記回路基板の前記調整用抵抗を実装すべき調整抵抗用パッドに前記調整用抵抗を実装しない状態で前記調整抵抗値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記第１の測定用プローブピンを接触させて前記第１の測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記第１の測定回路の測定結果および前記代用抵抗部の抵抗値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用抵抗の抵抗値に前記代用抵抗を設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記第１の測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用抵抗の設定を繰り返し、前記回路基板の前記調整用コンデンサを実装すべき調整コンデンサ用パッドに前記調整用コンデンサを実装しない状態で前記調整値用プローブピンを接触させ、前記回路基板に設けられた測定用パッドに前記第２の測定用プローブピンを接触させて前記第２の測定回路により前記回路基板の電気特性を測定した結果が目標範囲内になければ、前記制御部が前記第２の測定回路の測定結果および前記代用コンデンサ部の容量値から求めた前記回路基板の目標とする電気的特性を得るための前記調整用コンデンサの容量値に前記代用コンデンサを設定し、測定結果が目標範囲内に入るまで前記第２の測定回路による前記回路基板の電気的特性の測定と、前記制御部による前記代用コンデンサの設定を繰り返すことを特徴とする。
【００２６】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００２７】
図１は、本発明の実施の形態の回路基板調整用測定装置の主要部の断面図であり、図２は図１中の装置側回路基板１００上の電気回路を示すブロック図である。
【００２８】
図１に示すように、調整のために測定する対象となる回路基板１２０は、海底ケーブルの中継器のケース１１１の内底に取り付けられている。また、回路基板１２０およびケース１１１には、ＬＤモジュール１２６、ファイバー１２７、抵抗器１２９などの部品も取り付けられている。
【００２９】
回路基板調整用測定装置の絶縁体１１０の上面に装置側回路基板１００が取り付けられ、複数のプローブピン１３０のソケット１３１は絶縁体１１０に設けられた貫通穴に嵌着されるとともに上端が装置側回路基板１００に半田付けされている。
【００３０】
絶縁体１１０は、図示していない昇降機構により昇降し、ケース１１１は、絶縁体１１０の下側に設けられたテーブル（図示略）上に位置決めされて載置され、絶縁体１１０を下降させることにより、各プローブピン１３０を回路基板１２０上の複数のパッド１２１のそれぞれに接触させ導通させる。（プローブピン１３０はそれぞれ対応するパッド１２１の位置に合わせて配置されている。）なお、回路基板１２０は、いずれかのプローブピン１３０または図示していない配線により、回路基板調整用測定装置側の接地配線および所定の電源に接続されている。
【００３１】
各プローブピン１３０は、装置側回路基板１００に搭載されたアナログスイッチ回路３０、３２、抵抗器回路モジュール４０、コンデンサ回路モジュール４２、電圧測定回路２５０または過渡応答特性測定回路２６０と配線パターンを介して電気的に接続されている。プロ−ブピン１３０を装着するソケット１３１は、装置側回路基板１００に取り付けられ一体化構造となっている。これより、調整のための測定対象の回路基板１００と装置側回路基板１２０上のアナログスイッチ回路３０、３２、抵抗器回路モジュール４０、コンデンサ回路モジュール４２、電圧測定回路２５０または過渡応答特性測定回路２６０との電気的接続距離を短くしている。
【００３２】
装置側回路基板１００には、所定のプログラムが入力された論理演算処理装置５と、論理演算処理装置５の出力信号により制御信号を出力する制御回路２０と、複数のスイッチ機能を有するデバイスにより構成されたアナログスイッチ回路３０および３２と、抵抗器回路モジュール４０と、コンデンサ回路モジュール４２と、電圧を測定する電圧測定回路２５０と、過度応答特性を測定する過度応答特性測定回路２６０とが設けられている。
【００３３】
抵抗器回路モジュール４０は、複数の同一抵抗値の抵抗器が直列に接続され、この直列素子群の末端および抵抗器間の各接続箇所がアナログスイッチ回路３０の切り替え端子に接続されたものである。コンデンサ回路モジュール４２は、コンデンサ容量が異なる複数のコンデンサの一端が共通に接続され、それぞれのコンデンサの他端にはアナログスイッチ回路３２の切り替え端子が接続されたものである。
【００３４】
回路基板１２０は、ＳＭＤ部品（表面実装部品）が実装されて構成されており、例えば、集積回路１２２、チップトランジスタ１２３、チップコンデンサ１２４、チップ抵抗１２５等を多数実装し構成されている。集積回路１２２、チップトランジスタ１２３、チップコンデンサ１２４、チップ抵抗１２５等には、特性上ばらつきがあり、回路基板１２０の特性を測定して調整する必要がある。
【００３５】
回路基板１２０には、回路特性・性能を測定するためにプローブピン１３０を接触させるための測定用パッド１２１と、電気的特性・性能を最適に調整し、その最適の状態を保持するための調整された有効値からなる固定部品としての調整用チップ抵抗・チップコンデンサ等を実装するための複数のパッド１２１とが設けられている。さらに、試験用パッド１２１も設けられている。
【００３６】
次に、図２に従って装置側回路基板１００の詳細な構成について説明する。
【００３７】
入出力端子１５は、外部との信号の授受のために論理演算処理装置５の入出力端子３に接続されている。論理演算処理装置５の入出力端子７は、制御回路２０の入力端子２０１に接続されている。
【００３８】
制御回路２０は、アナログスイッチ回路３０、３２の開閉切り替え信号を出力する回路である。アナログスイッチ回路３０、３２は、ＣＭＯＳ素子による多チャンネルのスイッチ回路で構成され、回路機能はメーク接点である。制御回路２０の出力端子２０２、２０４は、複数のデコ−ド信号が出力され、アナログスイッチ回路３０、３２にそれぞれ接続されており、アナログスイッチ回路３０、３２の各スイッチの開閉を切り替える。
アナログスイッチ回路３０および３２内の各スイッチの一端がそれぞれが独立した複数の端子の集合からなるスイッチ端子３０２、３２２に接続されている。アナログスイッチ回路３０、３２内の各スイッチの他端は、共通にＣＯＭ端子３０３、３２３に接続されている。
【００３９】
制御回路２０の出力端子２０２および２０４から出力された複数のデコ−ド信号の状態に応じて、アナログスイッチ回路３０および３２の各スイッチは、開閉が切り替えられる。
【００４０】
アナログスイッチ回路３０の複数のスイッチ端子３０２は、抵抗器回路モジュ−ル４０の複数の入力端子４０１に接続されている。制御回路２０の出力端子２０２、２０４から出力される複数のデコ−ド信号にもとずき、アナログスイッチ回路３０のスイッチの開閉が制御され、これに接続されている抵抗器回路モジュ−ル４０の抵抗器の接続状態が切り替えられる。
【００４１】
抵抗器回路モジュ−ル４０は、複数の厚膜抵抗素子からなる抵抗器が直列に接続されており、抵抗器間にリード線が接続され外部端子に引き出されている。本実施例では複数の入力端子となるＣＴＬ（制御）端子４０１に接続されている。抵抗器群の直列接続の先端のリード線も外部端子のＨｉ（高）端子４０２に接続され、また、直列接続の末端のリ−ド線も外部端子のＬｏ（低）端子４０３に接続されている。
【００４２】
アナログスイッチ回路３０を構成している複数のスイッチの出力端子３０２は、抵抗器回路モジュ−ル４０の複数のＣＴＬ端子４０１に接続されている。アナログスイッチ回路３０内の個々のスイッチの開閉により、抵抗器回路モジュ−ル４０の抵抗器の接続状態が切り替えられる。
【００４３】
同様に、制御回路２０の出力端子２０４から出力される複数のデコ−ド信号は、アナログスイッチ回路３２に接続されている。制御回路２０のデコ−ド出力信号に対応してアナログスイッチ回路３２の各スイッチの開閉が切り替えられる。
【００４４】
コンデンサ回路モジュ−ル４２は、コンデンサ容量が異なる複数のコンデンサを並列に配列し、それぞれのコンデンサの一方の端子が共通に接続され、出力端子となるＣＭＭ（共通）端子４２２に接続されている。複数のコンデンサの他方の端子は、入力端子４２１に接続されている。
【００４５】
アナログスイッチ回路３２の複数のスイッチ出力端子３２２は、コンデンサ回路モジュ−ル４２のコンデンサごとに設けられた入力端子４２１に接続され、コンデンサ回路モジュ−ル４２内のコンデンサの接続状態が切り替えられる。
【００４６】
抵抗器回路モジュ−ル４０の出力端子４０２にプロ−ブピン１３０−５が接続されている。同様に、コンデンサ回路モジュ−ル４２のＣＭＭ端子４２２にプロ−ブピン１３０−７が接続されている。
【００４７】
プロ−ブピン１３０−１０、１３０−１１は、電圧測定回路２５０の入力端子２５１、２５２にそれぞれ接続されている。同様に、プロ−ブピン１３０−１２、１３０−１３は、過度応答特性測定回路２６０の入力端子２６１、２６２にそれぞれ接続されている。
【００４８】
電圧測定回路２５０、過渡応答特性測定回路２６０それぞれの出力端子２５３、２６３は、論理演算処理装置５の入出力端子７に接続されている。
【００４９】
図３に、図１の絶縁体１１０を下降させてプローブピン１３０を回路基板１２０のパッド１２１（図３中の端子５０１、５０２）に接続した状態のアナログスイッチ回路３０、３２、抵抗器回路モジュール４０およびコンデンサ回路モジュール４２の詳しい回路図を示す。
【００５０】
抵抗器回路モジュール４０のＨｉ端子４０２に接続されたプローブピン１３０−５は、回路基板１２０上の回路網５００の出力端子５０１をなすパッド１２１に接続している。アナログスイッチ回路３０のＣＯＭ（共通）端子３０３に接続されたプローブピン１３０−１は、回路基板１２０の回路網５００の基準電位、例えば接地電位に接続されている。
【００５１】
抵抗器回路モジュール４０には、抵抗値（Ｒ）が同一の抵抗器Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、……Ｒｎが直列に接続されている。アナログスイッチ回路３０に設けられたＣＭＯＳからなるスイッチ３０−１、３０−２、３０−３……３０−ｎそれぞれの一方の端子３０２−１、３０２−２、３０２−３……３０２−ｎが抵抗器Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３……Ｒｎの相互間の接続個所におよび抵抗器Ｒｎの外側の端子に接続された端子４０１−１、４０１−２、４０１−３……４０１−ｎに接続され、スイッチ３０−１〜３０−ｎの他方の端子は共通に端子３０３に接続されている。スイッチ３０−１〜３０−ｎは、それぞれの制御端子３０１−１〜３０１−ｎが制御回路２０の出力端子２０２に接続され、制御回路２０からの信号で開閉が制御される。
【００５２】
例えば、スイッチ３０−１〜３０−ｎの内のスイッチ３０−３のみが閉回路となっていると、出力端子５０１から出力される電流（Ｉ）は、３つの抵抗器Ｒ１、Ｒ２およびＲ３を通して端子３０３へ供給される。この時に出力端子５０１には、Ｉ＊３＊Ｒ（３は電流が流れる抵抗器の数、＊は乗算を示す）の電圧が生じる。次に、スイッチ３０−４を閉じてスイッチ３０−３を開回路とするとＩ＊４＊Ｒの電圧が出力端子５０１に生じる。このようにスイッチ３０−１〜３０−ｎの開閉の切り替えることにより、抵抗器回路モジュール４０に所定の範囲内で任意の抵抗値を設定できる。
【００５３】
コンデンサ回路モジュール４２では、容量が異なる複数のコンデンサＣ１、Ｃ２、Ｃ３……Ｃｎそれぞれの一端が共通に出力端子４２２に接続され、出力端子４２２は、プローブピン１３０−７を介して回路基板１２０の回路網５００の入力端子５０２に接続されている。
【００５４】
アナログスイッチ回路３２に設けられたＣＭＯＳからなるスイッチ３２−１、３２−２、３２−３……３２−ｎそれぞれの一方の端子が共通に接続された端子３２３は、プローブピン１３０−３を介して回路基板１２０の回路網５００の基準電位に接続されている。
【００５５】
コンデンサＣ１、Ｃ２、Ｃ３……Ｃｎの他方の端子４２１−１、４２１−２、４２１−３……４２１−ｎがスイッチ３２−１〜３２−ｎそれぞれの他方の端子３２２−１、３２２−２、３２２−３……３２２−ｎに接続されている。
【００５６】
スイッチ３２−１〜３２−ｎは、それぞれの制御端子３２１−１〜３２１−ｎが制御回路２０の出力端子２０４に接続され、制御回路２０からの信号で開閉が制御される。
【００５７】
例えば、コンデンサ回路モジュール４２に設定すべき容量としてコンデンサＣ３の容量を選択するときは、アナログスイッチ回路３２のスイッチ３２−１〜３２−ｎの内のスイッチ３２−３のみを閉じる。次に、コンデンサＣ４の容量を選択するときは、スイッチ３２−４を閉じてスイッチ３２−３を開くようにする。また、スイッチ３２−１〜３２−ｎの内の複数のものを選択して閉じることにより、コンデンサＣ１〜Ｃｎの内から選択された複数のものの並列接続による合成容量がコンデンサ回路モジュール４２に設定され、回路基板１２０の回路網５００の入力端子５０２に接続されることになる。このようにスイッチ３２−１〜３２−ｎの開閉を切り替えることにより、コンデンサ回路モジュール４２に所定の範囲内で任意の容量値を設定できる。
【００５８】
次に、本発明の実施の形態の回路基板調整用測定装置の動作について図１〜図３を参照して説明する。
【００５９】
プローブピン１３０−１０および１３０−１１は、回路基板１２０に設けられた電圧モニタ用のパッド１２１で、出力電圧が抵抗値と比例関係にあるパッド１２１に接続されている。そのパッド１２１の出力電圧信号は、電圧測定回路２５０の入力端子２５１および２５２に印加されて測定され、測定結果の電圧データが出力端子２５３に出力され、論理演算処理装置３に入出力端子７を介して入力される。
【００６０】
同様に、プローブピン１３０−１２および１３０−１３は、回路基板１２０に設けられた過度応答特性をモニタするパッド１２１で、対数関数の出力電圧が出力されるパッド１２１に接続されている。そのパッド１２１の出力信号は、過度応答特性測定回路２６０の入力端子２６１および２６２に印加されている。
【００６１】
電圧測定回路２５０および過度応答特性測定回路２６０にて測定された出力データは、論理演算処理装置５に読み込まれ、予め入力された所定のプログラムにより論理演算される。論理演算処理装置５は、回路基板１２０に接続されたプローブピン１３０−１０、１３０−１１、１３０−１２、１３０−１３の出力値が所定の規格値に収まっているかを演算処理して判断し、収まっていなければ抵抗器回路モジュール４０の抵抗値またはコンデンサ回路モジュール４２の容量値を所定の値のものに切り替える制御信号を制御回路２０に出力する。制御回路２０は、論理演算処理装置５の制御・指令によりアナログスイッチ回路３０および３２の切り替え信号を出力する。
【００６２】
次に、本実施の形態による回路基板１２０の回路網５００の調整用抵抗の抵抗値を求める方法を説明する。
【００６３】
回路基板１２０の調整用抵抗が実装されるべき一対のパッド１２１（本実施の形態では一方は接地され、他方は出力端子５０１に導通）それぞれにプローブピン１３０−１および１３０−５を接触させる。標準特性の集積回路や半導体装置を実装したと仮定した回路基板１２０の回路網５００から算出される調整用抵抗の抵抗値を抵抗器回路モジュール４０の初期値として設定しておく。
【００６４】
この初期状態での電圧測定回路２５０にて測定された回路網５００の出力端子５０１の電圧データは、論理演算処理装置５に入力される。論理演算処理回路５は読み込んだ電圧デ−タが目標とする所定電圧値の範囲内に達しているか否かを判定し、所定電圧値に達していない場合は、読み込んだ電圧データ等を基に調整すべき抵抗値すなわち抵抗モジュール回路４０の抵抗値を算出し、スイッチ３０−１〜３０−ｎの内のどれを閉じるかを決定し、制御回路２０に制御データを出力する。これに応じて制御回路２０は、アナログスイッチ回路３０のスイッチ３０−１〜３０−ｎを切り替え、抵抗器回路モジュール４０の抵抗値が調整すべき抵抗値に設定される。
【００６５】
調整後の状態で電圧測定回路２５０で出力端子５０１の電圧を測定し、所定電圧値の範囲に入っていない場合は、論理演算処理装置５は、再度調整すべき抵抗値を算出し、この抵抗値に抵抗回路モジュール４０を設定して出力端子５０１の電圧を測定する。これを出力端子５０１の電圧の測定結果が所定の範囲内に入るまで繰り返す。
【００６６】
本実施の形態では、プローブピン１３０−１０および１３０−１１をプローブピン１３０−１および１３０−５が接触しているパッド１２１それぞれと導通しているパッド１２１に接触させている。
【００６７】
なお、論理演算処理回路５による調整すべき抵抗値の算出は、例えば電圧測定回路２５０の測定した電圧と所定の目標値との差に定数を掛けた値をその測定時の抵抗器回路モジュール４０の抵抗値に加算して行うことができる。
【００６８】
次に、コンデンサ回路モジュ−ル４２のコンデンサを切り替え、回路基板１２０の過度応答特性を試験・調整する方法について説明する。
【００６９】
回路基板１２０の調整用コンデンサが実装されるべき一対のパッド１２１（一方は接地され、他方は入力端子５０２に導通）それぞれにプローブピン１３０−３および１３０−７を接触させる。標準特性の集積回路や半導体装置を実装したと仮定した回路基板１２０の回路網５００から算出される調整用コンデンサの抵抗値をコンデンサ回路モジュール４２の初期値として設定しておく。
【００７０】
この初期状態で回路基板１２０の回路網５００に備えた図示していない発信器を駆動したときにプローブピン１３０−１２および１３０−１３が接触するパッド１２１に生じる電圧波形の立ち上がり時間または立下り時間が過渡応答特性測定回路２６０で測定される。この立ち上がり時間または立下り時間の測定データは、論理演算処理装置５に入力される。論理演算処理回路５は読み込んだ測定デ−タが目標とする所定の値の範囲内に達しているか否かを判定し、所定の値に達していない場合は、読み込んだ測定データ等を基に調整すべき容量値すなわちコンデンサモジュール回路４２の容量値を算出し、スイッチ３２−１〜３２−ｎの内のどれを閉じるかを決定し、制御回路２０に制御データを出力する。これに応じて制御回路２０は、アナログスイッチ回路３２のスイッチ３２−１〜３２−ｎを切り替え、コンデンサ回路モジュール４２の容量値が調整すべき値に設定される。
【００７１】
調整後の状態で過渡応答特性測定回路２６０で入力端子５０２の電圧波形の立ち上がり時間または立下り時間を測定し、所定の値の範囲に入っていない場合は、論理演算処理装置５は、再度、調整すべき容量値を算出し、この容量値にコンデンサ回路モジュール４２を設定して入力端子５０２の電圧波形の立ち上がり時間または立下り時間を測定する。これを入力端子５０２の電圧波形の立ち上がり時間または立下り時間の測定結果が所定の範囲内に入るまで繰り返す。
【００７２】
以上のように測定結果を得た後に、回路基板１２０を回路基板調整用測定装置から外し、回路基板１２０の入力端子５０１の電圧および入力端子５０２の立ち上がり時間または立下り時間が所定の範囲内に入るものとして求めた抵抗値の調整用抵抗および容量値の調整用コンデンサを回路基板１２０に実装する。
【００７３】
なお、抵抗器回路モジュール４０としては、図３に示すような直列に接続した抵抗器Ｒ１〜Ｒｎとスイッチ３０−１〜３０−ｎとの回路だけではなく、図３に示すコンデンサ回路モジュール４２と同様に、相互に抵抗値の異なる複数の抵抗器の一端を共通に接続し、他端を個別に複数のスイッチそれぞれの一端に接続し、これら複数のスイッチの他端を共通に接続した回路を用い、これらのスイッチの切り替えにより複数の抵抗器の一端と複数のスイッチの他端との間の抵抗値を任意に替えることができるようにすることもできる。もっとも、複数の抵抗器を並列接続するようにスイッチを制御することによっても全体の抵抗値を変えることができるので、複数の抵抗器に抵抗値が同一のものがあってもよい。
【００７４】
また本発明は、調整用抵抗器や調整用コンデンサの抵抗値や容量値を決定する場合に限られず、回路基板に調整用のインダクタンス、遅延素子やフィルターを取り付ける場合に、それらの大きさを決定するのにも適用できる。
【００７５】
【発明の効果】
第一の効果は、プローブピンのソケットを装置側回路基板に一体に固定することにより、測定対象とする回路基板との装置側回路基板との接続距離が短くなるため、接続線のインピ−ダンスの影響を最小限にできることである。
【００７６】
第二の効果は、テーブルに測定対象の回路基板を位置させ、プローブピンを装置側回路基板に固定し、装置側回路基板およびプローブピン一体に測定対象の回路基板上に下降させることにより、複雑な機構部品内に取り付けられた回路基板の電気的特性も容易に測定できることである。
【００７７】
第三の効果は、回路基板の調整部品用パッドに実装すべき調整用抵抗等の調整用部品の替わりに抵抗器回路モジュール等の代用部品部を接続して、測定回路で回路基板の電気的特性を測定することにより、回路基板の目標とする電気的特性を得るための調整用部品の抵抗値等の有効値を自動的に容易に求めることができることである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の回路基板調整用測定装置の主要部の断面図である。
【図２】図１中の装置側回路基板１００の回路のブロック図である。
【図３】図２中のアナログスイッチ回路３０および３２ならびに抵抗器回路モジュール４０およびコンデンサ回路モジュール４２の詳細な回路図である。
【図４】従来の回路基板測定装置の断面図である。
【符号の説明】
２　　吸入口
３　　入出力端子
４　　測定装置
５　　論理演算処理装置
６　　ストッパ
７　　入出力端子
９　　電子部品
１０　　回路基板
１１　　配線
１２　　テーブル
１３　　インターフェース
１４　　ソケット
１５　　入出力端子
１６　　プローブピン
１８　　空洞
２０　　制御回路
３０　　アナログスイッチ回路
３０−１、３０−２、３０−３……３０−ｎ　　スイッチ
３２　　アナログスイッチ回路
３２−１、３２−２、３２−３……３０−ｎ　　スイッチ
４０　　抵抗器回路モジュール
４２　　コンデンサ回路モジュール
１００　　装置側回路基板
１１０　　絶縁体
１１１　　ケース
１２０　　回路基板
１２１　　パッド
１２２　　集積回路
１２３　　チップトランジスタ
１２４　　チップコンデンサ
１２６　　ＬＤモジュール
１２７　　ファイバー
１２９　　抵抗器
１３０　　プローブピン
１３１　　ソケット
２５０　　電圧測定回路
２６０　　過渡応答特性測定回路
５００　　回路網
５０１　　出力端子
５０２　　入力端子
Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３……Ｃｎ　　コンデンサ
Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３……Ｒｎ　　抵抗器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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