(57)【要約】【課題】マグネトロンの継鉄の温度上昇特性を考慮して、出力を低減し、温度上昇による故障を防止する。【解決手段】マグネトロン２の出力を制御する制御手段４と、前記マグネトロン２の温度を検出する温度検知手段５とを備え、前記制御手段４は、前記温度検知手段５の温度をもとにし、前記マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が下がるとき、前記温度検出手段５の温度が、最低温度から所定の温度以上、上昇した位置を基点とし、前記温度検知手段５の温度が基点の温度から所定の温度以上上昇すると前記マグネトロン２の出力を低減させることで、マグネトロン２の温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロン２の異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し、最後まで調理を行うことができる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
加熱室と、前記加熱室に収容する被加熱物に高周波を放射し加熱するマグネトロンと、前記マグネトロンを冷却する冷却ファンと、前記マグネトロンの出力を制御する制御手段と、前記マグネトロンの温度を検出する温度検知手段とを備え、前記制御手段は、前記温度検知手段の温度をもとにし、前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がるとき、前記温度検出手段の温度が、最低温度から所定の温度以上、上昇した位置を基点とし、前記温度検知手段の温度が基点の温度から所定の温度以上上昇すると前記マグネトロンの出力を低減させる高周波加熱調理器。
【請求項２】
加熱室と、前記加熱室に収容する被加熱物に高周波を放射し加熱するマグネトロンと、前記マグネトロンを冷却する冷却ファンと、前記マグネトロンの出力を制御する制御手段と、前記マグネトロンの温度を検出する温度検知手段とを備え、前記制御手段は、前記温度検知手段の温度をもとにし、前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がるとき、前記温度検出手段の温度が、最低温度から所定の温度以上、上昇した位置を基点とし、基点からの前記温度検知手段の温度上昇の傾きを検知して前記マグネトロンの出力を低減させる請求項１に記載の高周波加熱調理器。
【請求項３】
加熱室と、前記加熱室に収容する被加熱物に高周波を放射し加熱するマグネトロンと、前記マグネトロンを冷却する冷却ファンと、前記マグネトロンの出力を制御する制御手段と、前記マグネトロンの温度を検出する温度検知手段とを備え、前記制御手段は、前記温度検知手段の温度をもとにし、前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がるとき、前記温度検出手段の温度が、最低温度から所定の温度以上、上昇した位置を基点とし、基点から所定の時間を経過したときの前記温度検知手段の温度が所定の温度を超えると前記マグネトロンの出力を低減させる請求項１または２に記載の高周波加熱調理器。
【請求項４】
制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下の温度の場合は、温度検知手段の温度が、基点の温度から所定の温度以上上昇すると、あるいは、基点からの温度検知手段の温度上昇の傾きを検知する、あるいは、基点から所定の時間を経過したときの温度検知手段の温度が所定の温度を超えたのを検知すると、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜３のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器。
【請求項５】
制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下の温度の場合は、温度検知手段の温度が、基点の温度から所定の温度以上上昇すると、あるいは、基点から所定の時間を経過したときの温度検知手段の温度が所定の温度を超えたのを検知すると、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜４のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器。
【請求項６】
制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ２より高い温度の場合は、温度検知手段の温度が、基点の温度から所定の温度以上上昇すると、あるいは、温度検知手段の温度が所定の温度を超えたのを検知すると、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜５のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器。
【請求項７】
制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下の温度の場合は、所定の時間ｔ１以内に、温度検出手段の温度が、基点での温度からＬ３℃上昇したのを検知して、あるいは、所定の時間ｔ１以降、所定の時間ｔ２以内に、温度検出手段の温度が基点での温度からＬ５℃上昇したのを検知して、あるいは、所定の時間ｔ２以降に、温度検出手段の温度がＳ２℃以上になったのを検知して、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜６のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器。
【請求項８】
制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下の温度の場合は、所定の時間ｔ３以内に、温度検出手段の温度が、基点での温度からＬ４℃上昇したのを検知して、あるいは、所定の時間ｔ３以降に、温度検出手段の温度がＳ２℃以上になったのを検知して、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜７のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器。
【請求項９】
制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ２より高い温度の場合は、所定の時間ｔ４以内に、温度検出手段の温度が、基点での温度からＬ６℃上昇したのを検知して、あるいは、温度検出手段の温度がＳ２℃以上になったのを検知して、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜８のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高周波加熱調理器のマグネトロンの温度上昇による故障を防止する技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の高周波加熱調理器は、マグンネトロンによる加熱状態の時に冷却ファンが故障して停止してしまった場合、マグネトロンが温度上昇し、損傷してしまうのを防止するため、マグネトロンの継鉄に取り付け板を固着し、取り付け板からの熱伝導で、サーミスタへ熱を伝えることにより、マグネトロンの温度を検知し、調理開始時の温度と、所定の時間経過したときの温度との温度差から検知温度以上かどうかの判断をして、あるいは、所定の時間経過したかどうかを判断して、加熱動作を停止するように制御している。
【０００３】
また、加熱室内の食品から発生する水蒸気を検知する絶対湿度センサーにおいて、冷却ファンが故障して停止してしまった場合、調理物が加熱されているにも関わらず、加熱室から絶対湿度センサーの方へ流れる冷却ファンからの風がないため、水蒸気が検知されないことを判断して、加熱を停止するように制御している（例えば、特公平１１−２５１０５６号公報参照）。
【０００４】
図９は、前記公報に記載された従来の高周波加熱調理器を示すものである。図９において、２はマグネトロン、３は冷却ファン、６はサーミスタ、７は取り付け板、８は絶対湿度センサーである。
【０００５】
【特許文献１】
特公平１１−２５１０５６号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、マグネトロンの出力を開始した時点での状態により、マグネトロンの継鉄の温度上昇の仕方は異なるので、例えば、冷却ファンが故障していなくても、マグネトロンの温度が２５０℃ぐらいの高温の状態で、出力を開始した場合、マグネトロンの継鉄の温度はあまり変化せず、温度が上がり始めるまでに時間がかかる。よって、所定時間が経過せず、温度差が見られない間は加熱動作を停止させる制御が働かない。その間にもマグネトロンのアノード温度は上がり続け、マグネトロンが故障に至る可能性がある。あるいは、例えば、１４００Ｗぐらいの高出力で、軽負荷の調理をして、マグネトロンの継鉄の温度に急激な温度変化があった場合、調理が終了する前に、加熱動作を停止する制御が働いてしまう可能性がある。
【０００７】
また、調理物をラップでくるんでいた場合、正常に冷却ファンは動作しているにも関わらず、湿度センサーに蒸気が届かず、調理が終了する前に、加熱動作を停止する制御が働いてしまう可能性がある。
【０００８】
このように、前記従来の構成では、正常に制御が働かず、マグネトロンが故障に至ってしまったり、調理が終了する前に加熱が停止してしまう可能性があるという課題を有していた。
【０００９】
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、温度検知手段により検出した温度をもとに、マグネトロンの出力を開始した時点での状態に合わせ、適切に制御を行い、どのような調理のされ方、すなわち様々な使用の形態に対し、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することで異常停止のリスクを低減し、最後まで調理を行うことができる高周波加熱調理器を実現することを目的とするものである。また、加熱室内に調理物がないような状態（いわゆる空焼きの状態）で機器を動かされたとしても、出力低減処理をする事で、マグネトロンの温度上昇による故障を防止することができる高周波加熱調理器を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
前記従来の課題を解決するために、本発明の高周波加熱調理器は、加熱室と、前記加熱室に収容する被加熱物に高周波を放射し加熱するマグネトロンと、前記マグネトロンを冷却する冷却ファンと、前記マグネトロンの出力を制御する制御手段と、前記マグネトロンの温度を検出する温度検知手段とを備え、前記制御手段は、前記温度検知手段の温度をもとに前記マグネトロンの出力を低減させる高周波加熱調理器としたものである。そして、温度検知手段でマグネトロンの温度を検出し、制御手段は、前記温度検知手段の温度をもとに前記マグネトロンの出力を低減させることで、マグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することで異常停止のリスクを低減し、最後まで調理を行うことができる高周波加熱調理器を実現できる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
請求項１に記載の発明は、加熱室と、前記加熱室に収容する被加熱物に高周波を放射し加熱するマグネトロンと、前記マグネトロンを冷却する冷却ファンと、前記マグネトロンの出力を制御する制御手段と、前記マグネトロンの温度を検出する温度検知手段とを備え、前記制御手段は、前記温度検知手段の温度をもとにし、前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がるとき、温度検出手段の温度が、最低温度から所定の温度以上、上昇した位置を基点とし、温度検知手段の温度が基点の温度から所定の温度以上上昇すると前記マグネトロンの出力を低減させる高周波加熱調理器とすることにより、温度検知手段で直接マグネトロンの温度を検出でき、制御手段は、この温度検知手段の温度をもとにし、前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がるときでも、（たとえば温度検出手段は、前記マグネトロンの継鉄などの温度を検出しており、継鉄は冷却ファンによって冷却されている。したがって前記マグネトロンの出力を開始したとしても、継鉄の温度は必ずしも前記マグネトロンのアノード温度と同期してすぐに温度が上昇していくわけではなく、しばらく温度が下がり続けたあと、再び温度が上がり始めるという現象もある）前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が上がるときと同様に的確に基点を定めることができ、また、基点からの温度上昇の仕方が急激であったり、緩やかであったり、いかなる温度上昇の仕方をしても、前記マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることでマグネトロンを過剰に停止することなく、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することが可能となりマグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロンの故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し、最後まで調理を行うことができる。
【００１２】
請求項２に記載の発明は、加熱室と、前記加熱室に収容する被加熱物に高周波を放射し加熱するマグネトロンと、前記マグネトロンを冷却する冷却ファンと、前記マグネトロンの出力を制御する制御手段と、前記マグネトロンの温度を検出する温度検知手段とを備え、前記制御手段は、前記温度検知手段の温度をもとにし、前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がるとき、温度検出手段の温度が、最低温度から所定の温度以上、上昇した位置を基点とし、基点からの温度検知手段の温度上昇の傾きを検知して前記マグネトロンの出力を低減させる請求項１に記載の高周波加熱調理器とすることにより、温度検知手段で直接マグネトロンの温度を検出でき、制御手段は、この温度検知手段の温度をもとにし、前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がるときでも、（たとえば温度検出手段は、前記マグネトロンの継鉄などの温度を検出しており、継鉄は冷却ファンによって冷却されている。したがって前記マグネトロンの出力を開始したとしても、継鉄の温度は必ずしも前記マグネトロンのアノード温度と同期してすぐに温度が上昇していくわけではなく、しばらく温度が下がり続けたあと、再び温度が上がり始めるという現象もある）前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が上がるときと同様に的確に基点を定めることができ、また、基点からの温度上昇の傾きが、マグネトロンが故障に陥るほど急激でない場合は、前記マグネトロンの出力を過剰に低減させることはなく、また、逆に温度上昇の傾きが急激な場合は、前記マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることでマグネトロンを過剰に停止することなく、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することが可能となりマグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロンの故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し最後まで調理を行うことができる。
【００１３】
請求項３に記載の発明は、加熱室と、前記加熱室に収容する被加熱物に高周波を放射し加熱するマグネトロンと、前記マグネトロンを冷却する冷却ファンと、前記マグネトロンの出力を制御する制御手段と、前記マグネトロンの温度を検出する温度検知手段とを備え、前記制御手段は、前記温度検知手段の温度をもとにし、前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がるとき、温度検出手段の温度が、最低温度から所定の温度以上、上昇した位置を基点とし、基点から所定の時間を経過したときの温度検知手段の温度が所定の温度を超えると前記マグネトロンの出力を低減させる請求項１または２に記載の高周波加熱調理器とすることにより、温度検知手段で直接マグネトロンの温度を検出でき、制御手段は、この温度検知手段の温度をもとにし、前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がるときでも、（たとえば温度検出手段は、前記マグネトロンの継鉄などの温度を検出しており、継鉄は冷却ファンによって冷却されている。したがって前記マグネトロンの出力を開始したとしても、継鉄の温度は必ずしも前記マグネトロンのアノード温度と同期してすぐに温度が上昇していくわけではなく、しばらく温度が下がり続けたあと、再び温度が上がり始めるという現象もある）前記マグネトロンの出力を開始したときからの温度が上がるときと同様に的確に基点を定めることができ、また、基点からの経過時間が、所定の時間以内のさほど長くない使用時間の場合は、前記マグネトロンの出力を過剰に低減させることはなく、また、所定の時間を越えるほど長時間使用しており、徐々に温度が上昇してきて非常に高い温度になり、マグネトロンが故障に陥る危険性が高くなってきている場合は、所定時間以降、所定の温度を越えると、前記マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることでマグネトロンを過剰に停止することなく、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することが可能となりマグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロンの故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し最後まで調理を行うことができる。
【００１４】
請求項４に記載の発明は、制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下の温度の場合は、温度検知手段の温度が、基点の温度から所定の温度以上上昇すると、あるいは、基点からの温度検知手段の温度上昇の傾きを検知する、あるいは、基点から所定の時間を経過したときの温度検知手段の温度が所定の温度を超えたのを検知すると、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜３のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器とすることにより、温度検知手段で直接マグネトロンの温度を検出でき、制御手段は、基点の温度が所定の温度Ｌ１以下の時、基点での状態が低温状態であることから、マグネトロンの低温状態からの温度特性に合わせた検知条件を組み合わせることにより、前記マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることでマグネトロンを過剰に停止することなく、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することが可能となりマグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロンの故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し最後まで調理を行うことができる。
【００１５】
請求項５に記載の発明は、制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下の温度の場合は、温度検知手段の温度が、基点の温度から所定の温度以上上昇すると、あるいは、基点から所定の時間を経過したときの温度検知手段の温度が所定の温度を超えたのを検知すると、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜４のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器とすることにより、温度検知手段で直接マグネトロンの温度を検出でき、制御手段は、基点の温度が所定の温度Ｌ１高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下の時、基点での状態が中温状態であることから、マグネトロンの中温状態からの温度特性に合わせた検知条件を組み合わせることにより、前記マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることでマグネトロンを過剰に停止することなく、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することが可能となりマグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロンの故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し最後まで調理を行うことができる。
【００１６】
請求項６に記載の発明は、制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ２より高い温度の場合は、温度検知手段の温度が、基点の温度から所定の温度以上上昇すると、あるいは、温度検知手段の温度が所定の温度を超えたのを検知すると、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜５のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器とすることにより、温度検知手段で直接マグネトロンの温度を検出でき、制御手段は、基点の温度が所定の温度Ｌ２より高い温度の時、基点での状態が高温状態であることから、マグネトロンの高温状態からの温度特性に合わせた検知条件を組み合わせることにより、前記マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることでマグネトロンを過剰に停止することなく、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することが可能となりマグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロンの故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し最後まで調理を行うことができる。
【００１７】
請求項７に記載の発明は、制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下の温度の場合は、所定の時間ｔ１以内に、温度検出手段の温度が、基点での温度からＬ３℃上昇したのを検知して、あるいは、所定の時間ｔ１以降、所定の時間ｔ２以内に、温度検出手段の温度が基点での温度からＬ５℃上昇したのを検知して、あるいは、所定の時間ｔ２以降に、温度検出手段の温度がＳ２℃以上になったのを検知して、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜６のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器とすることにより、温度検知手段で直接マグネトロンの温度を検出でき、制御手段は、基点の温度が所定の温度Ｌ１以下の時、基点での状態が低温状態であることから、マグネトロンの低温状態からの温度特性と使用の形態に合わせて、検知条件を組み合わせることによって、より使用形態に合わせて、前記マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることでマグネトロンを過剰に停止することなく、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することが可能となりマグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロンの故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し最後まで調理を行うことができる。
【００１８】
請求項８に記載の発明は、制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下の温度の場合は、所定の時間ｔ３以内に、温度検出手段の温度が、基点での温度からＬ４℃上昇したのを検知して、あるいは、所定の時間ｔ３以降に、温度検出手段の温度がＳ２℃以上になったのを検知して、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜７のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器とすることにより、温度検知手段で直接マグネトロンの温度を検出でき、制御手段は、基点の温度が所定の温度Ｌ１より高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下の時、基点での状態が中温状態であることから、マグネトロンの中温状態からの温度特性と使用の形態に合わせて、検知条件を組み合わせることによって、より使用形態に合わせて、前記マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることでマグネトロンを過剰に停止することなく、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することが可能となりマグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロンの故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し最後まで調理を行うことができる。
【００１９】
請求項９に記載の発明は、制御手段は、基点をもとに、基点での温度が所定の温度Ｌ２より高い温度の場合は、所定の時間ｔ４以内に、温度検出手段の温度が、基点での温度からＬ６℃上昇したのを検知して、あるいは、温度検出手段の温度がＳ２℃以上になったのを検知して、マグネトロンの出力を低減させる請求項１〜８のいずれか１項に記載の高周波加熱調理器とすることにより、温度検知手段で直接マグネトロンの温度を検出でき、制御手段は、基点の温度が所定の温度Ｌ２より高い時、基点での状態が高温状態であることから、マグネトロンの高温状態からの温度特性と使用の形態に合わせて、検知条件を組み合わせることによって、より使用形態に合わせて、前記マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることでマグネトロンを過剰に停止することなく、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することが可能となりマグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロンの故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し最後まで調理を行うことができる。
【００２０】
【実施例】
以下本発明の実施例について、図面を参照しながら説明する。
【００２１】
（実施例１）
図１は本発明の実施例における加熱調理器のブロック図である。図１において、加熱調理器は、加熱室１と加熱室１に収容する被加熱物に高周波を放射し加熱するマグネトロン２と、マグネトロン２を冷却する冷却ファン３と、マグネトロン２の出力を制御する制御手段４と、マグネトロン２の温度を検出する温度検知手段５から構成されており、温度検知手段５は、マグネトロン２の表面温度、たとえばマグネトロン２の継鉄の温度を検出するサーミスタなどが使われている。マグネトロン２の出力が開始されると、それに伴って、マグネトロン２の継鉄の温度が変化する。そして、マグネトロン２の継鉄に取り付けられたサーミスタの温度変化を検出し、その検出された温度をもとに、制御手段４がマグネトロン２の出力を制御する。以上のような構成にすることにより、取り付け板などのその他部品を使用することもなく（コストも抑えられる）、マグネトロン２のアノード温度の温度変化により近いマグネトロン２の継鉄の温度変化を検出でき（本来はマグネトロン２の発熱部分であるアノードの温度を直接検出したいのだが、実使用上それは無理なため）、その検出した温度をもとに、マグネトロン２の出力を制御することで、マグネトロン２の温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、マグネトロン２の故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し、調理性能を維持しつつ最後まで調理を行うことができる。
【００２２】
以下に、本実施例の制御について説明する。
【００２３】
図２は、本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャートである。図２では、制御手段４はステップ１にて、すでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している場合はステップ６へ移行する。基点が確定していない場合は、ステップ２へ移行し、検出温度が最低温度より低い温度かどうかを比較し、検出温度が最低温度よりも低い場合は、ステップ３へ移行し、最低温度を検出温度に更新する。その後ＥＮＤへ移行し、再度ステップ１を経てステップ２へ進み、検出温度が最低温度より低い温度かどうか比較するという処理を繰り返す。これはマグネトロンの出力を開始したときからの温度が上がる場合にも、また、マグネトロンの出力を開始したときからの温度が下がる場合にも対応できる。たとえばサーミスタは、マグネトロンの継鉄などに取り付けられており、継鉄は冷却ファンによって冷却されている。したがってマグネトロンの出力を開始したとしても、継鉄の温度は必ずしもマグネトロンのアノード温度と同期してすぐに温度が上昇していくわけではなく、しばらく温度が下がり続けたあと、再び温度が上がり始めるという場合もある。よって、このような構成にすることにより、マグネトロンの出力を開始したときからの温度が上がるときと同様に温度が下がるときも的確に基点を定めることができる。ステップ２にて、検出温度が最低温度よりも高い場合は、ステップ４へ移行し、検出温度と最低温度とを比較し、検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達していない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ１、ステップ２を経てステップ４へ進み、新たな検出温度と最低温度とを比較するという処理を繰り返す。検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達すると、ステップ５へ移行し、基点確定処理が行われる。ステップ５で、基点が確定した後は、ステップ６へ移行し、検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇したかどうかを判断する。検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇していない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ１ですでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している後なので、ステップ６へ移行し、再度検出温度が基点の温度から所定の温以上上昇したかどうかを判断するという処理を繰り返す。ステップ６にて、検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇した場合は、ステップ７へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。以上のような構成にすることにより、マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が下がるときでも、（たとえば温度検出手段は、マグネトロン２の継鉄などの温度を検出しており、継鉄は冷却ファン３によって冷却されている。したがってマグネトロン２の出力を開始したとしても、継鉄の温度は必ずしもマグネトロン２のアノード温度と同期してすぐに温度が上昇していくわけではなく、しばらく温度が下がり続けたあと、再び温度が上がり始めるという現象もある）マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が上がるときと同様に的確に基点を定めることができ、また、基点からの温度上昇の仕方が急激であったり、緩やかであったり、いかなる温度上昇の仕方をしても、マグネトロン２の出力を迅速かつ適切に低減させ、マグネトロン２の温度上昇による故障を防止できる。また、様々な使用の形態に対し、マグネトロン２の故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し、調理性能を維持しつつ最後まで調理を行うことができる。
【００２４】
図３は、本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャートである。図３では、制御手段４はステップ８にて、すでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している場合はステップ１３へ移行する。基点が確定していない場合は、ステップ９へ移行し、検出温度が最低温度より低い温度かどうかを比較し、検出温度が最低温度よりも低い場合は、ステップ１０へ移行し、最低温度を検出温度に更新する。その後ＥＮＤへ移行し、再度ステップ８を経てステップ９へ進み、検出温度が最低温度より低い温度かどうか比較するという処理を繰り返す。（図２での説明と同様に、このような構成にすることで、マグネトロンの出力を開始したときからの温度が上がるときも温度が下がるときも的確に基点を定めることができる。）ステップ９にて、検出温度が最低温度よりも高い場合は、ステップ１１へ移行し、検出温度と最低温度とを比較し、検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達していない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ８、ステップ９を経てステップ１１へ進み、新たな検出温度と最低温度とを比較するという処理を繰り返す。検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達すると、ステップ１２へ移行し、基点確定処理が行われる。ステップ１２で、基点が確定した後は、ステップ１３へ移行し、検出温度の基点からの温度上昇の傾きが、決められた温度上昇の傾きに達したかどうかを判断する。検出温度の基点からの温度上昇の傾きが、決められた温度上昇の傾きに達していない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ８ですでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している後なので、ステップ１３へ移行し、再度検出温度の基点からの温度上昇の傾きが、決められた温度上昇の傾きに達したかどうかを判断するという処理を繰り返す。ステップ１３にて、検出温度の基点からの温度上昇の傾きが、決められた温度上昇の傾きに達した場合は、ステップ１４へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。以上のような構成にすることにより、マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が下がるときでも、（たとえば温度検出手段は、マグネトロン２の継鉄などの温度を検出しており、継鉄は冷却ファン３によって冷却されている。したがってマグネトロン２の出力を開始したとしても、継鉄の温度は必ずしもマグネトロン２のアノード温度と同期してすぐに温度が上昇していくわけではなく、しばらく温度が下がり続けたあと、再び温度が上がり始めるという現象もある）マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が上がるときと同様に的確に基点を定めることができ、また、基点からの温度上昇の傾きが、マグネトロン２が故障に陥るほど急激でない場合は、マグネトロン２の出力を過剰に低減させることはなく、また、逆に温度上昇の傾きが急激な場合は、マグネトロン２の出力を迅速かつ適切に低減させ、マグネトロン２の温度上昇による故障を防止できる。また、様々な使用の形態に対し、マグネトロン２の故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し、調理性能を維持しつつ最後まで調理を行うことができる。
【００２５】
図４は、本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャートである。図４では、制御手段４はステップ１５にて、すでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している場合はステップ２０へ移行する。基点が確定していない場合は、ステップ１６へ移行し、検出温度が最低温度より低い温度かどうかを比較し、検出温度が最低温度よりも低い場合は、ステップ１７へ移行し、最低温度を検出温度に更新する。その後ＥＮＤへ移行し、再度ステップ１５を経てステップ１６へ進み、検出温度が最低温度より低い温度かどうか比較するという処理を繰り返す。（図２での説明と同様に、このような構成にすることで、マグネトロンの出力を開始したときからの温度が上がるときも温度が下がるときも的確に基点を定めることができる。）ステップ１６にて、検出温度が最低温度よりも高い場合は、ステップ１８へ移行し、検出温度と最低温度とを比較し、検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達していない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ１５、ステップ１６を経てステップ１８へ進み、新たな検出温度と最低温度とを比較するという処理を繰り返す。検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達すると、ステップ１９へ移行し、基点確定処理が行われる。ステップ１９で、基点が確定した後は、ステップ２０へ移行し、基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を越えているかどうかを判断する。基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を超えていない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ１５ですでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している後なので、ステップ２０へ移行し、再度基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を越えているかどうかを判断するという処理を繰り返す。ステップ２０にて、基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を超えている場合は、ステップ２１へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。以上のような構成にすることにより、マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が下がるときでも、（たとえば温度検出手段は、マグネトロン２の継鉄などの温度を検出しており、継鉄は冷却ファン３によって冷却されている。したがってマグネトロン２の出力を開始したとしても、継鉄の温度は必ずしもマグネトロン２のアノード温度と同期してすぐに温度が上昇していくわけではなく、しばらく温度が下がり続けたあと、再び温度が上がり始めるという現象もある）マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が上がるときと同様に的確に基点を定めることができ、また、基点からの経過時間が、所定の時間以内のさほど長くない使用時間の場合は、マグネトロン２の出力を過剰に低減させることはなく、また、所定の時間を越えるほど長時間使用しており、徐々に温度が上昇してきて非常に高い温度になり、マグネトロン２が故障に陥る危険性が高くなってきている場合は、所定時間以降、所定の温度を越えると、マグネトロン２の出力を迅速かつ適切に低減させ、マグネトロン２の温度上昇による故障を防止できる。また、様々な使用の形態に対し、マグネトロン２の故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し、調理性能を維持しつつ最後まで調理を行うことができる。
【００２６】
図５は、本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャートである。図５では、制御手段４はステップ２２にて、すでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している場合はステップ２７へ移行する。基点が確定していない場合は、ステップ２３へ移行し、検出温度が最低温度より低い温度かどうかを比較し、検出温度が最低温度よりも低い場合は、ステップ２４へ移行し、最低温度を検出温度に更新する。その後ＥＮＤへ移行し、再度ステップ２２を経てステップ２３へ進み、検出温度が最低温度より低い温度かどうか比較するという処理を繰り返す。（図２での説明と同様に、このような構成にすることで、マグネトロンの出力を開始したときからの温度が上がるときも温度が下がるときも的確に基点を定めることができる。）ステップ２３にて、検出温度が最低温度よりも高い場合は、ステップ２５へ移行し、検出温度と最低温度とを比較し、検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達していない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ２２、ステップ２３を経てステップ２５へ進み、新たな検出温度と最低温度とを比較するという処理を繰り返す。検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達すると、ステップ２６へ移行し、基点確定処理が行われる。ステップ２６で、基点が確定した後は、ステップ２７へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下かどうか判断する。基点での温度が所定の温度Ｌ１以下の場合は、マグネトロンの温度状態が低温帯の温度状態であるという判断になり、マグネトロンの低温状態からの温度特性に合わせて、ステップ２８へ移行し、検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇したかどうかを判断する。検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇した場合は、ステップ２９へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ２８にて、検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇していない場合は、ステップ３０へ移行し、検出温度の基点からの温度上昇の傾きが、決められた温度上昇の傾きに達したかどうかを判断する。検出温度の基点からの温度上昇の傾きが、決められた温度上昇の傾きに達した場合は、ステップ２９へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ３０にて、検出温度の基点からの温度上昇の傾きが、決められた温度上昇の傾きに達していない場合は、ステップ３１へ移行し、基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を越えているかどうかを判断する。基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を超えている場合は、ステップ２９へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ３１にて、基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を超えていない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ２２ですでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している後なので、ステップ２７へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下かどうか判断していくという処理の流れになる。ステップ２７にて、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高い場合は、ステップ３２へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下かどうかを判断する。ステップ３２にて、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下の場合は、マグネトロンの温度状態が中温帯の温度状態であるという判断になり、マグネトロンの中温状態からの温度特性に合わせて、ステップ３３へ移行し、検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇したかどうかを判断する。検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇した場合は、ステップ２９へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ３３にて、検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇していない場合は、ステップ３４へ移行し、基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を越えているかどうかを判断する。基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を超えている場合は、ステップ２９へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ３４にて、基点から所定の時間を経過したときの検出温度が所定の温度を超えていない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ２２ですでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している後なので、ステップ２７へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下かどうか判断していくという処理の流れになる。ステップ３２にて、基点での温度が所定の温度Ｌ２より高い場合は、マグネトロンの温度状態が高温帯の温度状態であるという判断になり、マグネトロンの高温状態からの温度特性に合わせて、ステップ３５へ移行し、検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇したかどうかを判断する。検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇した場合は、ステップ２９へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ３５にて、検出温度が基点の温度から所定の温度以上上昇していない場合は、ステップ３６へ移行し、検出温度が所定の温度以上かどうかを判断する。検出温度が所定の温度以上の場合は、ステップ２９へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ３６にて、検出温度が所定の温度以上でない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ２２ですでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している後なので、ステップ２７へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下かどうか判断していくという処理の流れになる。以上のような構成にすることにより、マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が下がるときでも、（たとえば温度検出手段は、マグネトロン２の継鉄などの温度を検出しており、継鉄は冷却ファン３によって冷却されている。したがってマグネトロン２の出力を開始したとしても、継鉄の温度は必ずしもマグネトロン２のアノード温度と同期してすぐに温度が上昇していくわけではなく、しばらく温度が下がり続けたあと、再び温度が上がり始めるという現象もある）マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が上がるときと同様に的確に基点を定めることができ、また、基点での状態が低温の場合でも、中温の場合でも、高温の場合でも、各状態からの温度特性に合わせて、マグネトロン２の出力を迅速かつ適切に低減させ、マグネトロン２の温度上昇による故障を防止できる。また、様々な使用の形態に対し、マグネトロン２の故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し、調理性能を維持しつつ最後まで調理を行うことができる。
【００２７】
図６は、本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャートである。図６では、制御手段４はステップ３７にて、すでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している場合はステップ４２へ移行する。基点が確定していない場合は、ステップ３８へ移行し、検出温度が最低温度より低い温度かどうかを比較し、検出温度が最低温度よりも低い場合は、ステップ３９へ移行し、最低温度を検出温度に更新する。その後ＥＮＤへ移行し、再度ステップ３７を経てステップ３８へ進み、検出温度が最低温度より低い温度かどうか比較するという処理を繰り返す。（図２での説明と同様に、このような構成にすることで、マグネトロンの出力を開始したときからの温度が上がるときも温度が下がるときも的確に基点を定めることができる。）ステップ３８にて、検出温度が最低温度よりも高い場合は、ステップ４０へ移行し、検出温度と最低温度とを比較し、検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達していない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ３７、ステップ３８を経てステップ４０へ進み、新たな検出温度と最低温度とを比較するという処理を繰り返す。検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上に達すると、ステップ４１へ移行し、基点確定処理が行われる。ステップ４１で、基点が確定した後は、ステップ４２へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下かどうか判断する。基点での温度が所定の温度Ｌ１以下の場合は、マグネトロンの温度状態が低温帯の温度状態であるという判断になり、マグネトロンの低温状態からの温度特性と使用の形態に合わせて、ステップ４３へ移行し、検出温度が基点から所定の時間ｔ１以内に、基点での温度から所定の温度Ｌ３℃上昇したかどうかを判断する。検出温度が基点から所定の時間ｔ１以内に、基点での温度から所定の温度Ｌ３℃上昇した場合は、ステップ４４へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ４３にて、検出温度が基点から所定の時間ｔ１以内に、基点での温度から所定の温度Ｌ３℃上昇していない場合は、ステップ４５へ移行し、検出温度が基点から所定の時間ｔ１以降、所定の時間ｔ２以内に、基点での温度から所定の温度Ｌ５℃上昇したかどうかの判断をする。検出温度が基点から所定の時間ｔ１以降、所定の時間ｔ２以内に、基点での温度から所定の温度Ｌ５℃上昇した場合は、ステップ４４へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ４５にて、検出温度が基点から所定の時間ｔ１以降、所定の時間ｔ２以内に、基点での温度から所定の温度Ｌ５℃上昇していない場合は、ステップ４６へ移行し、検出温度が基点から所定の時間ｔ２以降に、所定の温度Ｓ２℃以上かどうかを判断する。検出温度が基点から所定の時間ｔ２以降に、所定の温度Ｓ２℃以上の場合は、ステップ４４へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ４６にて、検出温度が基点から所定の時間ｔ２以降に、所定の温度Ｓ２℃以上でない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ３７ですでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している後なので、ステップ４２へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下かどうか判断していくという処理の流れになる。ステップ４２にて、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高い場合は、ステップ４７へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下かどうかを判断する。ステップ４７にて、基点での温度が所定の温度Ｌ１より高く、かつ、所定の温度Ｌ２以下の場合は、マグネトロンの温度状態が中温帯の温度状態であるという判断になり、マグネトロンの中温状態からの温度特性と使用の形態に合わせて、ステップ４８へ移行し、検出温度が基点から所定の時間ｔ３以内に、基点での温度から所定の温度Ｌ４℃上昇したかどうかを判断する。検出温度が基点から所定の時間ｔ３以内に、基点での温度から所定の温度Ｌ４℃上昇した場合は、ステップ４４へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ４８にて、検出温度が基点から所定の時間ｔ３以内に、基点での温度から所定の温度Ｌ４℃上昇していない場合は、ステップ４９へ移行し、検出温度が基点から所定の時間ｔ３以降に、所定の温度Ｓ２℃以上かどうかを判断する。検出温度が基点から所定の時間ｔ３以降に、所定の温度Ｓ２℃以上の場合は、ステップ４４へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ４９にて、検出温度が基点から所定の時間ｔ３以降に、所定の温度Ｓ２℃以上でない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ３７ですでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している後なので、ステップ４２へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下かどうか判断していくという処理の流れになる。ステップ４７にて、基点での温度が所定の温度Ｌ２より高い場合は、マグネトロンの温度状態が高温帯の温度状態であるという判断になり、マグネトロンの高温状態からの温度特性と使用の形態に合わせて、ステップ５０へ移行し、検出温度が基点から所定の時間ｔ４以内に、所定の温度Ｌ６上昇したかどうかを判断する。検出温度が基点から所定の時間ｔ４以内に、所定の温度Ｌ６上昇した場合は、ステップ４４へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ５０にて、検出温度が基点から所定の時間ｔ４以内に、所定の温度Ｌ６上昇していない場合は、ステップ５１へ移行し、検出温度が所定の温度Ｓ２℃以上かどうかを判断する。検出温度が所定の温度Ｓ２℃以上の場合は、ステップ４４へ移行し、マグネトロン２の出力低減処理を行う。ステップ５１にて、検出温度が所定の温度Ｓ２℃以上でない場合は、ＥＮＤへ移行し、その後再度ステップ３７ですでに基点が確定しているかどうか判断し、基点が確定している後なので、ステップ４２へ移行し、基点での温度が所定の温度Ｌ１以下かどうか判断していくという処理の流れになる。以上のような構成にすることにより、マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が下がるときでも、（たとえば温度検出手段は、マグネトロン２の継鉄などの温度を検出しており、継鉄は冷却ファン３によって冷却されている。したがってマグネトロン２の出力を開始したとしても、継鉄の温度は必ずしもマグネトロン２のアノード温度と同期してすぐに温度が上昇していくわけではなく、しばらく温度が下がり続けたあと、再び温度が上がり始めるという現象もある）マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が上がるときと同様に的確に基点を定めることができ、また、基点での状態が低温の場合でも、中温の場合でも、高温の場合でも、各状態からの温度特性や使用の形態に合わせて、マグネトロン２の出力を迅速かつ適切に低減させ、マグネトロン２の温度上昇による故障を防止できる。また、様々な使用の形態に対し、マグネトロン２の故障や異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し、調理性能を維持しつつ最後まで調理を行うことができる。
【００２８】
これらのステップは実施例のため、判断基準も含めプラグラムが容易な方式にすればよい。場合によっては、判断が不要になる事もありうる。あるいは、判断順序が前後する場合もありうる。また、以上・以下などの判断の仕方や条件判断の順序や組み合わせは、使い方に合わせて自由に組み合わせればよい。また、時間判定や温度判定や傾き判定などの値は変更可能にしておくことで使い勝手が増すことは言うまでもない。また、使用実態によってはマグネトロン２の出力低減処理を、複数回行い、段階的に出力を低減させていってもよいし、出力低減を１回だけにとどめてもよい。さらに、制御手段４、温度検知手段５の一部あるいは全部の構成手段をマイクロコンピュータにて行うことができる。
【００２９】
図７は、基点確定までのマグネトロンの継鉄の温度変化と時間経過の関係を示す一例である。図７では、マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が下がるとき、温度が下がるのが底をつき、再び温度が上がり始めたとき、一番底の低い温度を最低温度として、その後検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上上昇した点を基点確定とし、基点からの経過時間をカウントし始めることを示している。
【００３０】
図８は、マグネトロンの出力開始からマグネトロンの出力低減のための検知をするまでの温度変化と時間経過の関係を示す一例である。図８では、マグネトロン２の出力を開始したときからの温度が下がる時とき、温度が下がるのが底をつき、再び温度が上がり始めたとき、一番底の低い温度を最低温度として、そして検出温度が最低温度から所定の温度Ａ℃以上上昇した点を基点とし、その後検出温度が所定の時間ｔ３以降に、所定の温度Ｓ２℃以上であると出力低減のための検知をすることを示している。
【００３１】
【発明の効果】
以上のように、請求項１〜９の発明によれば、温度検知手段でマグネトロンの温度を検出し、制御手段は、温度検知手段の温度をもとに、マグネトロンの継鉄の温度上昇特性も考慮し、マグネトロンの出力を迅速かつ適切に低減させることで、マグネトロンの温度上昇による故障を防止することができ、様々な使用の形態に対し、調理シーケンスの調理性能を維持しつつマグネトロンの異常発生を未然に防止することで調理の中断や停止のリスクを低減し、最後まで調理を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例における加熱調理器のブロック図
【図２】本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャート
【図３】本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャート
【図４】本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャート
【図５】本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャート
【図６】本発明の実施例における加熱調理器の出力制御例を示すフローチャート
【図７】基点確定までのマグネトロンの継鉄の温度変化と時間経過の関係を示す一特性図
【図８】マグネトロンの出力開始からマグネトロンの出力低減のための検知をするまでの温度変化と時間経過の関係を示す一特性図
【図９】公報に記載された従来の高周波加熱調理器のブロック図
【符号の説明】
１  加熱室
２  マグネトロン
３  冷却ファン
４  制御手段
５  温度検出手段
６  サーミスタ
７  取り付け板
８  絶対湿度センサー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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