(57)【要約】【課題】ゲート絶縁膜の上に形成されるポリメタル構造を有するゲート電極をドライエッチングにより形成する際に、ゲート絶縁膜に突き抜け等の損傷が発生しないようにする。【解決手段】半導体基板１００の上にゲート絶縁膜１０１を介して堆積されているポリシリコン膜１０２の第１の所定領域にＶ族不純物を固溶度以下に注入してｎ型ポリシリコン膜１０５を形成すると共に、ポリシリコン膜１０２の第２の所定領域にＩＩＩ　族不純物を注入してｐ型ポリシリコン膜１０８を形成する。ｎ型ポリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８の上に窒化タングステン膜１０９及びタングステン膜１１０を堆積した後、タングステン膜１１０及び窒化タングステン膜１０９をパターニングし、その後、ｎ型ポリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８の表面上に存在する残渣及び自然酸化膜をエッチングにより除去する。次に、ｎ型ポリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８をパターニングする。【選択図】　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体基板上にゲート絶縁膜を形成する工程と、
前記ゲート絶縁膜上にシリコン膜を堆積する工程と、
前記シリコン膜上に高融点金属膜を堆積する工程と、
前記高融点金属膜上に酸化シリコン膜又は窒化シリコン膜により形成されるハードマスクを形成する工程と、
前記ハードマスクをマスクとして前記高融点金属膜をドライエッチングする工程と、
前記シリコン膜の表面に存在する残渣又は自然酸化膜をドライエッチングにより除去する工程と、
前記ハードマスクをマスクとして前記シリコン膜をドライエッチングする工程とを備え、
前記残渣又は前記自然酸化膜を除去する工程は、前記シリコン膜に対する過剰エッチングを抑制しながら行なわれることを特徴とする半導体装置の製造方法。
【請求項２】
前記残渣又は前記自然酸化膜を除去する工程で用いるエッチングガスは、塩素を含むガスと、ＨＢｒガス、Ｎ２　ガス又はＯ２　ガスとの混合ガスであることを特徴とする請求項１に記載の半導体装置の製造方法。
【請求項３】
前記残渣又は前記自然酸化膜を除去する工程で用いるエッチングガスは、塩素を含むガスとフロロカーボンガスとの混合ガスであることを特徴とする請求項１に記載の半導体装置の製造方法。
【請求項４】
前記残渣又は前記自然酸化膜を除去する工程で用いるエッチングガスは、塩素を含むガスと希ガスとの混合ガスであることを特徴とする請求項１に記載の半導体装置の製造方法。
【請求項５】
前記希ガスは、Ｈｅガス、Ｎｅガス、Ａｒガス、Ｘｅガス又はＫｒガスであることを特徴とする請求項４に記載の半導体装置の製造方法。
【請求項６】
前記残渣又は前記自然酸化膜を除去する工程は、前記半導体基板を冷却する工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の半導体装置の製造方法。
【請求項７】
前記半導体基板を冷却する温度は、０℃〜２０℃の範囲内であることを特徴とする請求項６に記載の半導体装置の製造方法。
【請求項８】
前記シリコン膜はアモルファスシリコン膜であり、
前記高融点金属膜を堆積する工程、前記ハードマスクを形成する工程及び前記残渣又は前記自然酸化膜を除去する工程は、いずれも、５５０℃よりも低い温度で行なわれることを特徴とする請求項１に記載の半導体装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、シリコン膜とバリア膜と高融点金属膜との積層体からなるポリメタルゲート電極を有する半導体装置の製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、半導体デバイスの性能向上には目覚ましいものがあり、半導体デバイスにおいては、一層の高速化及び低消費電力化が要求されている。例えば、ゲート幅が０．１５μｍ以下である微細な半導体デバイスでは、トランジスタの一層の高性能化のために、ゲート電極としては、従来のｎ＋　型の同極ゲートから、Ｐチャンネルトランジスタにはｐ＋　型電極を用い且つＮチャンネルトランジスタにはｎ＋　型電極を用いる異極ゲートへの移行が進んでいる。
【０００３】
また、デバイスのさらなる高速化及び低消費電力化のために、ゲート電極の低抵抗化がより必要となってきている。
【０００４】
さらに、ゲート電極とコンタクト領域との重ね合わせマージンを確保するため、Ｓｅｌｆ　　Ａｌｉｇｎｅｄ　　Ｃｏｎｔａｃｔ（ＳＡＣ）プロセスが用いられるようになってきている。
【０００５】
そこで、これらのデバイスの要求を満足するゲート電極構造としてポリメタル電極が有望視されている。ポリメタル電極は、ゲート電極構造の一種であって、通常のポリシリコン膜のみからなるゲート電極とは異なり、下層のポリシリコン膜と、該ポリシリコン膜の上にポリシリコン膜と金属膜との相互拡散を防止するバリアメタルを介して堆積された上層のタングステン膜等の金属膜との積層構造を有している。
【０００６】
ポリメタル電極は、ポリシリコンのみからなるゲート電極に比べて低抵抗化を実現できるため、デバイスの高速化及び低消費電力化を実現できると共に、ＳＡＣプロセスとの整合性がとれるため、高集積化にも適している。
【０００７】
以下、ポリメタル電極構造を有する半導体装置の製造方法について、図１１（ａ）　〜（ｄ）　及び図１２（ａ）　〜（ｃ）　を参照しながら説明する。
【０００８】
まず、図１１（ａ）　に示すように、例えば熱酸化法により、シリコン基板等よりなる半導体基板１０の上に、例えば３ｎｍの厚さを持つシリコン酸化膜よりなるゲート絶縁膜１１を形成した後、例えばＣＶＤ法により、ゲート絶縁膜１１の上に例えば１００ｎｍの厚さを持つポリシリコン膜１２を堆積する。
【０００９】
次に、図１１（ｂ）　に示すように、ポリシリコン膜１２上の第１の所定領域に第１のレジストパターン１３を形成した後、イオン注入法により、ポリシリコン膜１２に対して、燐（Ｐ）等のＶ族の不純物１４を例えば１×１０１６／ｃｍ２　のドーズ量で注入して、ｎ型ポリシリコン膜１５を形成する。
【００１０】
次に、図１１（ｃ）　に示すように、第１のレジストパターン１３をアッシング及び洗浄により除去した後、ポリシリコン膜１２上の第２の所定領域に第２のレジストパターン１６を形成し、その後、イオン注入法により、ポリシリコン膜１２に対して、ホウ素（Ｂ）等のＩＩＩ　族の不純物１７を例えば１×１０１５／ｃｍ２　のドーズ量で注入して、ｐ型ポリシリコン膜１８を形成する。
【００１１】
次に、図１１（ｄ）　に示すように、スパッタ法又はＣＶＤ法により、ｎ型ポリシリコン膜１５及びｐ型ポリシリコン膜１８の上に、例えば１０ｎｍの厚さを持つ窒化タングステン膜１９、例えば１００ｎｍの厚さを持つタングステン膜２０、及び例えば１５０ｎｍの厚さを持つ窒化シリコン膜２１を順次堆積する。
【００１２】
次に、図１２（ａ）　に示すように、窒化シリコン膜２１の上に化学増幅型レジスト膜を形成した後、該化学増幅型レジスト膜に対してＫｒＦエキシマレーザ光を露光光とするリソグラフィを行なって、第３のレジストパターン２２を形成する。
【００１３】
次に、第１のエッチング装置を用いて、図１２（ｂ）　に示すように、窒化シリコン膜２１に対して第３のレジストパターン２２をマスクにエッチングを行なって、パターン化された窒化シリコン膜２１Ａを形成した後、第３のレジストパターン２２をアッシング及び洗浄により除去する。
【００１４】
次に、第２のエッチング装置を用いて、図１２（ｃ）　に示すように、タングステン膜２０、窒化タングステン膜１９、ｎ型ポリシリシリコン膜１５及びｐ型ポリシリコン膜１８に対して、パターン化された窒化シリコン膜２１Ａをマスクとして異方性エッチングを行なって、パターン化されたタングステン膜２０Ａ、パターン化された窒化タングステン膜１９、パターン化されたｎ型ポリシリコン膜１５Ａ及びパターン化されたｐ型ポリシリコン膜１８Ａを形成する。
【００１５】
このようにすると、パターン化された、窒化シリコン膜２１Ａ、タングステン膜２０Ａ、窒化タングステン膜１９及びｎ型ポリシリコン膜１５Ａよりなるｎ型のポリメタルゲート電極２３が形成されると共に、パターン化された、窒化シリコン膜２１Ａ、タングステン膜２０Ａ、窒化タングステン膜１９及びｐ型ポリシリコン膜１８Ａよりなるｐ型のポリメタルゲート電極２４が形成される。これらのポリメタルゲート電極の構造において、パターン化された窒化タングステン膜１９Ａはパターン化されたタングステン膜２０Ａと、パターン化されたｎ型ポリシリコン膜１５Ａ又はｐ型ポリシリコン膜１８Ａとの相互拡散を防止するバリア膜として機能し、パターン化された窒化シリコン膜２１ＡはＳＡＣプロセスにおけるストッパー膜として機能する。
【００１６】
ところで、ｎ型又はｐ型のポリメタルゲート電極２３、２４を形成するための異方性エッチングは、従来、特開２０００−２５２２５９号公報に示されるように、タングステン膜２０と窒化タングステン膜２１とを同一条件でエッチングした後、条件を切り替えて、窒化タングステン膜２１の残渣及びｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５、１８の表面に存在する自然酸化膜（膜厚は数ｎｍである）をエッチングし、その後、再び条件を切り替えて、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５、１８に対するメインエッチングを行ない、最後に、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５、１８に対するオーバーエッチングを行なうというように、マルチステップによってエッチングを行なっている。また、タングステン膜２０及び窒化タングステン膜２１に対するエッチングは、Ｆ系ガス、Ｏ２　ガス及びＮ２　ガスと、Ｃｌ２　ガス及びＨＢｒガスのいずれか一方のガスとの混合ガスを用い、窒化タングステン膜２１の残渣及び自然酸化膜のエッチングにはＣｌ２　ガスを用い、、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５、１８に対するエッチングには、Ｃｌ２　ガスとＨＢｒガスとＯ２　ガスとの混合ガスが用いられている。また、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５、１８に対するメインエッチングにおいては、一般的にプラズマ発光分光測定法を用いるエッチングの終点判定技術が採用されている。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前述のようにして、ｎ型又はｐ型のポリメタルゲート電極２３、２４を形成するための異方性エッチングを行なうと、ｎ型ポリシリコン膜１５の下に形成されているゲート絶縁膜１１において、局所的に突き抜け現象が起きるという問題に直面した。
【００１８】
そこで、本件発明者は、ゲート絶縁膜１１に突き抜けが起きる原因について検討した結果、次の２つの原因によるものと判断した。
【００１９】
まず、第１の原因について、図１３（ａ）　〜（ｃ）　を参照しながら説明する。
【００２０】
図１３（ａ）　は、タングステン膜２０及び窒化タングステン膜２１に対して、パターン化された窒化シリコン膜２１Ａをマスクとして、Ｆ系ガス、Ｏ２　ガス及びＮ２　ガスと、Ｃｌ２　ガス及びＨＢｒガスのいずれか一方のガスとの混合ガスを用いるエッチングを行なった直後の断面構造を示している。
【００２１】
前述のように、ｎ型ポリシリコン膜１５には、燐（Ｐ）等のＶ族の不純物１４が１×１０１６／ｃｍ２　のドーズ量で注入されている。一般的にポリシリコン膜１２中にドーピングできる不純物の量（固溶度）は不純物の濃度と熱処理温度とによって決まる。
【００２２】
ｎ型ポリメタルゲート電極２３においては、ｎ型ポリシリコン膜１５の膜厚は１００ｎｍであり、燐（Ｐ）の注入量は１×１０１６／ｃｍ２　であるから、ｎ型ポリシリコン膜１５中のＰ濃度は約１×１０２１個／ｃｍ３　になっている。また、窒化シリコン膜２１の堆積にはＣＶＤ法を使用されており、窒化シリコン膜２１の堆積時には７５０℃程度の熱が加わっている。
【００２３】
従って、ｎ型ポリシリコン膜１５中のＰ濃度は、７５０℃附近の温度領域におけるＰの固溶度（約１×１０２０個／ｃｍ３　）より大きくなる。そしてポリシリコン膜１２中に溶け込むことができなかった過剰の燐（Ｐ）２５はｎ型ポリシリコン膜１５の粒界部分に析出する。
【００２４】
図１３（ｂ）　は、Ｃｌ２　ガスを用いた条件でｎ型ポリシリコン膜１５上に存在する窒化タングステン膜の残渣、フロロカーボン堆積膜及び自然酸化膜を除去した直後の断面図である。本工程では、窒化タングステン膜の残渣、フロロカーボン堆積膜及び自然酸化膜のほかにｎ型ポリシリコン膜１５もエッチングされる。ハロゲンガスによるｎ型ポリシリコン膜１５のエッチングにおいては、ｎ型ポリシリコン膜１５のエッチングレートは、ｎ型ポリシリコン膜１５中の不純物濃度に依存し、Ｖ族の不純物濃度が大きいほどｎ型ポリシリコン膜１５のエッチングレートが速くなることが一般的に知られている。
【００２５】
図１３（ａ）　に示すｎ型ポリシリコン膜１５においては、Ｐが析出しているポリシリコン粒界部のＰ濃度が大きくなっているので、Ｃｌ２　ガスを用いて窒化タングステン膜の残渣、フロロカーボン堆積膜及び自然酸化膜の除去を行なうと、ｎ型ポリシリコン膜１５の粒界部分のエッチレートが他の部分のエッチングレートに比べて速くなるので、図１３（ｂ）　に示すように、ポリシリコン膜粒界部分に溝２６が形成される。
【００２６】
溝２６がｎ型ポリシリコン膜１５の下のゲート絶縁膜１１に到達してしまうと、図１３（ｃ）　に示すように、ゲート絶縁膜１１に突き抜け２７が発生する。また、溝２６がゲート絶縁膜１１に到達しなかったとしても、続いて行なわれるｎ型ポリシリコン膜１５に対するメインエッチング及びオーバーエッチングにおいて、ゲート絶縁膜１１が過剰にエッチングされるので、突き抜け２７が発生してしまう。
【００２７】
次に、第２の原因について、図１４（ａ）　〜（ｃ）　を参照しながら説明する。
【００２８】
図１４（ａ）　は、タングステン膜２０及び窒化タングステン膜２１に対して、パターン化された窒化シリコン膜２１Ａをマスクとして、Ｆ系ガス、Ｏ２　ガス及びＮ２　ガスと、Ｃｌ２　ガス及びＨＢｒガスのいずれか一方のガスとの混合ガスを用いるエッチングを行なった直後の断面構造を示している。尚、ここでは、不純物が導入されたポリシリコン膜としては、ｎ型ポリシリコン膜１５及びｐ型ポリシリコン膜１８のいずれも該当するが、バリア膜としてはパターン化された窒化チタン膜２８Ａが用いられている。
【００２９】
図１４（ａ）　に示すように、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）の上には、窒化チタン膜の残渣２９、タングステン膜及び窒化チタン膜のドライエッチング中に生成されて堆積したフロロカーボン堆積膜３０、及び自然酸化膜（図示は省略している）が存在している。
【００３０】
窒化チタン膜の残渣２９の主成分は窒化チタン膜のチタンとプラズマ中に存在するＦ及びＯとが反応してできたチタンフッ化物（ＴｉＦｘ）及びチタン酸化物（ＴｉＯｘ）である。
【００３１】
図１４（ｂ）　は、Ｃｌ２　ガスを用いた条件で、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）の上に存在する窒化チタン膜の残渣２９、フロロカーボン堆積膜３０及び自然酸化膜を除去した直後の断面図である。この工程では、窒化チタン膜の残渣２９、フロロカーボン堆積膜３０及び自然酸化膜のほかにｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）もエッチングされる。この工程において考慮しなければならない事は２点ある。
【００３２】
考慮すべき第１点目は、「窒化チタン膜の残渣２９、フロロカーボン堆積膜３０及び自然酸化膜を完全に除去する」ということである。本工程で窒化チタン膜の残渣２９、フロロカーボン堆積膜３０及び自然酸化膜の除去が完全に行なわれないと、次に行なわれるｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）に対するメインエッチング及びオーバーエッチングでは窒化チタン膜の残渣２９、フロロカーボン堆積膜３０及び自然酸化膜の除去ができないため、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）に対するエッチング後に残渣が発生してゲート配線のショート不良が発生してしまう。
【００３３】
考慮すべき第２点目は、「窒化チタン膜直下のｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）をエッチングし過ぎない」ということである。窒化チタン膜直下のｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）のエッチング量が多い場合、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）の残膜が薄くなるため、続いて行なわれるｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）に対するメインエッチングで安定した終点判定が行なえなくなるので、図１４（ｃ）　に示すように、ゲート絶縁膜１１の突き抜けが発生してしまう。
【００３４】
ここで、Ｃｌ２　ガスによる窒化チタン膜の残渣２９の除去について考えてみる。窒化チタン膜の残渣２９の主成分は結合エネルギーが大きく且つ沸点が非常に高いチタンフッ化物及びチタン酸化物であるため、Ｃｌ２　ガスによるエッチングでは、
ＴｉＦｘ＋Ｃｌ→ＴｉＣｌ↑＋Ｆｘ↑及びＴｉＯｘ＋Ｃｌ→ＴｉＣｌ↑＋Ｏｘ↑という反応が起こり難いので、チタンフッ化物及びチタン酸化物のエッチングレートを速くすることができない。
【００３５】
一方、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）のエッチングでは、Ｓｉ＋Ｃｌ→ＳｉＣｌ↑という反応が容易に起こるので、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）のエッチングレートが速くなってしまう。
【００３６】
このため、チタンフッ化物及びチタン酸化物よりなる窒化チタン膜の残渣２９と、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）との選択比が非常に小さくなってしまう。
【００３７】
従って、本工程で窒化チタン膜の残渣２９、フロロカーボン堆積膜３０及び自然酸化膜を完全に除去する場合、窒化チタン膜の残渣２９を完全に除去するために長時間のエッチングが必要となり、窒化チタン膜の残渣２９が無い部分のｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）が過剰にエッチングされてしまうので、図１４（ｂ）　に示すように、ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）の残膜が薄くなってしまう。
【００３８】
ｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）の残膜が薄いと、続いて行なわれるｎ型又はｐ型のポリシリコン膜１５（１８）に対するメインエッチングで安定した終点判定が行なえなくなるので、図１４（ｃ）　に示すように、ゲート絶縁膜１１に突き抜け３１が発生してしまう。
【００３９】
要するに、ゲート絶縁膜に突き抜けが起きる原因は、（１）　シリコン膜中に存在するＶ族の不純物の濃度が固溶度を超えるため、窒化タングステン膜又は窒化チタン膜等からなるバリア膜の残渣とシリコン膜の表面に存在する自然酸化膜とを除去する工程において、シリコン膜の粒界部分に対して過剰エッチングが行なわれてしまうこと、及び、（２）　バリア膜が窒化チタン膜である場合、窒化チタン膜の残渣又はシリコン膜の表面に存在する自然酸化膜を除去する工程において、シリコン膜に対して過剰エッチングが行なわれてしまうことである。
【００４０】
前記に鑑み、本発明は、ゲート絶縁膜の上に形成されるポリメタル構造を有するゲート電極をドライエッチングにより形成する際に、ゲート絶縁膜に突き抜け等の損傷が発生しないようにすることを目的とする。
【００４１】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するため、本発明は、残渣又は自然酸化膜をドライエッチングにより除去する際に、シリコン膜に対して過剰なエッチングが行なわれないようにして、ゲート絶縁膜に突き抜け等の損傷が発生しないようにするものである。
【００４２】
具体的は、本発明に係る半導体装置の製造方法は、半導体基板上にゲート絶縁膜を形成する工程と、ゲート絶縁膜上にシリコン膜を堆積する工程と、シリコン膜上に高融点金属膜を堆積する工程と、高融点金属膜上に酸化シリコン膜又は窒化シリコン膜により形成されるハードマスクを形成する工程と、ハードマスクをマスクとして高融点金属膜をドライエッチングする工程と、シリコン膜の表面に存在する残渣又は自然酸化膜をドライエッチングにより除去する工程と、ハードマスクをマスクとしてシリコン膜をドライエッチングする工程とを備え、残渣又は自然酸化膜を除去する工程は、シリコン膜に対する過剰エッチングを抑制しながら行なわれる。
【００４３】
本発明に係る半導体装置の製造方法によると、残渣又は自然酸化膜をドライエッチングにより除去する工程は、シリコン膜に対する過剰エッチングを抑制しながら行なわれるため、残渣又は自然酸化膜を除去した後におけるシリコン膜の厚さは余り低減していないので、シリコン膜に対するエッチング工程において、ゲート絶縁膜に突き抜けが発生し難い。
【００４４】
本発明に係る半導体装置の製造方法において、残渣又は自然酸化膜を除去する工程で用いるエッチングガスは、塩素を含むガスと、ＨＢｒガス、Ｎ２　ガス又はＯ２　ガスとの混合ガスであることが好ましい。
【００４５】
このようにすると、シリコン膜中に存在するＶ族不純物の濃度がシリコン膜の固溶度以上であって、Ｖ族不純物がシリコン膜粒界部分に過剰に析出している場合においても、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止することができる。以下、その理由について、図１０（ａ）　〜（ｃ）　を参照しながら説明する。
【００４６】
図１０（ａ）　は、図１１（ａ）　〜（ｄ）　及び図１２（ａ）　〜（ｃ）　に示す従来の半導体装置の製造方法において、ｎ型ポリシリコン膜１５の上に堆積されたタングステン膜２０及び窒化タングステン膜２１に対して、パターン化された窒化シリコン膜２１Ａをマスクとして、Ｆ系ガス、Ｏ２　ガス及びＮ２　ガスと、Ｃｌ２　ガス及びＨＢｒガスのいずれか一方のガスとの混合ガスを用いるエッチングを行なった直後の断面構造を示している。
【００４７】
ここで、ｎ型ポリシリコン膜１５中に存在する燐の濃度はポリシリコン膜の固溶度以上であり、燐がシリコン膜粒界部分に析出している。窒化タングステン膜の残渣及びｎ型ポリシリコン膜１５の表面に存在する自然酸化膜を除去する工程においては、ｎ型ポリシリコン膜１５に対するエッチング中に、式（１）　から式（３）　の反応を経て、ｎ型ポリシリコン膜１５の表面部に、ＳｉＢｒｘ、ＳｉＮｘ又はＳｉＯｘよりなり揮発性の低い多結晶化層３２が生じる。
・Ｓｉ＋ＨＢｒ＋Ｃｌ→ＳｉＢｒｘ＋ＳｉＣｌｙ＋Ｈ…………（１）
・Ｓｉ＋Ｎ２＋Ｃｌ→ＳｉＮｘ＋ＳｉＣｌｙ……………………（２）
・Ｓｉ＋Ｏ２＋Ｃｌ→ＳｉＯｘ＋ＳｉＣｌｙ……………………（３）
シリコン膜に対するＣｌ系の単ガスによるエッチングでは、シリコン膜粒界部分に析出した燐の影響でシリコン膜粒界部分のエッチングレートが速くなり、シリコン粒界部分に溝が形成される。
【００４８】
しかしながら、塩素を含むガスに、ＨＢｒガス、Ｎ２　ガス又はＯ２　ガスを添加すると、図１０（ｂ）　に示すように、シリコン膜に対するエッチング中に揮発性の低い多結晶化層３２が生成され、この多結晶化層３２がシリコン膜粒界部分に形成された溝部分を被覆するので、溝の増大が抑制される。
【００４９】
このように、多結晶化層３２が溝の増大を抑制するので、図１０（ｃ）　に示すように、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷が防止される。
【００５０】
本発明に係る半導体装置の製造方法において、残渣又は自然酸化膜を除去する工程で用いるエッチングガスは、塩素を含むガスとフロロカーボンガスとの混合ガスであることが好ましい。
【００５１】
このようにすると、シリコン膜中に存在するＶ族不純物の濃度がシリコン膜の固溶度以上であって、Ｖ族不純物がシリコン膜粒界部分に過剰に析出している場合においても、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜突抜け等の損傷を防止することができる。以下、その理由について説明する。シリコン膜に対するエッチング工程では、フロロカーボンガスの分解反応によって堆積性の大きいフロロカーボン膜が生成される。このフロロカーボン膜がシリコン膜粒界部分に形成された溝部分を被覆するので、溝の増大が抑制される。このように、フロロカーボン膜が溝の増大を抑制するので、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷が防止される。
【００５２】
本発明に係る半導体装置の製造方法において、残渣又は自然酸化膜を除去する工程で用いるエッチングガスは、塩素を含むガスと希ガスとの混合ガスであることが好ましい。
【００５３】
このようにすると、シリコン膜中に存在するＶ族不純物の濃度がシリコン膜の固溶度以上であって、Ｖ族不純物がシリコン膜粒界部分に過剰析出している場合においても、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜突抜け等の損傷を防止することができる。以下、その理由について説明する。シリコン膜に対して塩素を含むガスを用いるエッチングを行なうと、プラズマ中で発生する塩素ラジカルとシリコン膜との化学的な反応が支配的にエッチングが進行する。また、塩素ラジカルとシリコン膜との化学的反応が支配的なエッチングでは、シリコン膜中のＶ族不純物の濃度が大きい（ｎ型の傾向が大きい）ほど、シリコン膜のエッチングレートが速くなる。この現象がバリア膜の残渣及びシリコン膜表面に存在する自然酸化膜を除去する工程においてシリコン膜粒界部分に溝を形成する。
【００５４】
これに対して、シリコン膜に対して塩素を含むガスと希ガスとの混合ガスを用いるエッチングを行なうと、希ガスの希釈効果でプラズマ中に発生する塩素ラジカルの量が減少するため、希ガスイオンのスパッタ作用という物理的作用が支配的にエッチングが進行する。希ガスイオンのスパッタ作用という物理的作用が支配的なエッチングでは、シリコン膜のエッチングレートはシリコン膜中のＶ族不純物の濃度に依存しない。従って、バリア膜の残渣及び自然酸化膜を除去する工程において、塩素を含むガスと希ガスとの混合ガスを用いると、シリコン膜粒界部分に溝が形成されなくなるので、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止することができる。
【００５５】
エッチングガスに希ガスが含まれる場合、希ガスとしては、Ｈｅガス、Ｎｅガス、Ａｒガス、Ｘｅガス又はＫｒガスを用いることができる。
【００５６】
本発明に係る半導体装置の製造方法において、残渣又は自然酸化膜を除去する工程は、半導体基板を冷却する工程を含むことが好ましい。
【００５７】
このようにすると、シリコン膜中に存在するＶ族不純物の濃度がシリコン膜の固溶度以上であって、Ｖ族不純物がシリコン膜粒界部分に過剰析出している場合においても、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止することができる。以下、その理由について説明する。半導体基板を冷却すると、シリコン膜のエッチング中に生成される反応生成物のシリコン膜表面への堆積性が増大するため、反応生成物のシリコン膜粒界部分に形成された溝部分への被覆性が大きくなるので、溝の増大が抑制される。この反応生成物よりなる膜が溝の増大を抑制するので、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止することができる。
【００５８】
この場合、半導体基板を冷却する温度は、０℃〜２０℃の範囲内であることが好ましい。
【００５９】
このようにすると、反応生成物よりなる膜が溝の増大を確実に抑制するので、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を確実に防止することができる。
【００６０】
本発明に係る半導体装置の製造方法において、シリコン膜はアモルファスシリコン膜であり、高融点金属膜を堆積する工程、ハードマスクを形成する工程及び残渣又は自然酸化膜を除去する工程は、いずれも、５５０℃よりも低い温度で行なわれることが好ましい。
【００６１】
このようにすると、シリコン膜中に存在するＶ族不純物の濃度がシリコン膜の固溶度以上であっても、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止することができる。その理由は、Ｖ族不純物の注入工程からポリメタル構造体のエッチングまでに加わる熱の温度が５５０℃よりも低いため、アモルファスシリコン膜が多結晶化しないので、シリコン膜の粒界形成を低減できるためである。
【００６２】
【発明の実施の形態】
（第１の実施形態）
以下、本発明の第１の実施形態に係る半導体装置の製造方法について、図１（ａ）　〜（ｄ）　及び図２（ａ）　〜（ｃ）　を参照しながら説明する。第１の実施形態は、ポリメタル構造体におけるシリコン膜の粒界部分に、注入された不純物を析出させないようにするものである。
【００６３】
まず、図１（ａ）　に示すように、例えば熱酸化法により、シリコン等よりなる半導体基板１００の上に例えば３ｎｍの厚さを持つシリコン酸化膜よりなるゲート絶縁膜１０１を形成した後、例えばＣＶＤ法により、ゲート絶縁膜１０１の上に例えば１００ｎｍの厚さを持つポリシリコン膜１０２を堆積する。
【００６４】
次に、図１（ｂ）　に示すように、ポリシリコン膜１０２上の第１の所定領域に第１のレジストパターン１０３を形成した後、イオン注入法により、ポリシリコン膜１０２に対して燐（Ｐ）等のＶ族の不純物１０４を例えば５×１０１４／ｃｍ２　のドーズ量で注入して、ｎ型ポリシリコン膜１０５を形成する。
【００６５】
次に、図１（ｃ）　に示すように、第１のレジストパターン１０３をアッシング及び洗浄により除去した後、ポリシリコン膜１０２上の第２の所定領域に第２のレジストパターン１０６を形成し、その後、イオン注入法により、ポリシリコン膜１０２に対して、ホウ素（Ｂ）等のＩＩＩ　族の不純物１０７を例えば１×１０１５／ｃｍ２　のドーズ量で注入して、ｐ型ポリシリコン膜１０８を形成する。
【００６６】
次に、図１（ｄ）　に示すように、スパッタ法又はＣＶＤ法により、ｎ型ポリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８の上に、例えば１０ｎｍの厚さを持つ窒化タングステン膜１０９、例えば１００ｎｍの厚さを持つタングステン膜１１０及び例えば１５０ｎｍの厚さを持つ窒化シリコン膜１１１を順次堆積する。
【００６７】
次に、図２（ａ）　に示すように、窒化シリコン膜１１１の上に化学増幅型レジスト膜を形成した後、該化学増幅型レジスト膜に対してＫｒＦエキシマレーザ光を露光光とするリソグラフィを行なって、第３のレジストパターン１１２を形成する。
【００６８】
次に、図３に示す誘導結合型プラズマエッチング装置を用いて、図２（ｂ）　に示すように、窒化シリコン膜１１１に対して第３のレジストパターン１１２をマスクにエッチングを行なって、ハードマスクとなるパターン化された窒化シリコン膜１１１Ａを形成した後、第３のレジストパターン１１２をアッシング及び洗浄により除去する。尚、ハードマスクとしては、パターン化された窒化シリコン膜１１１Ａに代えて、パターン化された酸化シリコン膜を用いてもよい。
【００６９】
次に、図３に示す同じ誘導結合型プラズマエッチング装置を用いて、図２（ｃ）　に示すように、タングステン膜１１０、窒化タングステン膜１０９、ｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８に対して、パターン化された窒化シリコン膜１１１Ａをマスクとして異方性エッチングを行なって、パターン化されたタングステン膜１１０Ａ、パターン化された窒化タングステン膜１０９Ａ、パターン化されたｎ型ポリシリコン膜１０５Ａ及びパターン化されたｐ型ポリシリコン膜１０８Ａを形成する。
【００７０】
このようにすると、パターン化された、タングステン膜１１０Ａ、窒化タングステン膜１０９Ａ及びｎ型ポリシリコン膜１０５Ａよりなるｎ型のポリメタルゲート電極１１３が形成されると共に、パターン化された、タングステン膜１１０Ａ、窒化タングステン膜１０９Ａ及びｐ型ポリシリコン膜１０８Ａよりなるｐ型のポリメタルゲート電極１１４が形成される。
【００７１】
ここで、窒化シリコン膜１１１に対するエッチング、並びにタングステン膜１１０、窒化タングステン膜１０９、ｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８に対するエッチングに用いられる誘導結合型プラズマエッチング装置について、図３を参照しながら説明する。
【００７２】
図３に示すように、接地されていると共に内壁がセラミック、アルミナ又は石英等の絶縁物で覆われたチャンバー１の上には、第１の高周波電源２から第１の高周波電力が印加される誘導コイル（上部電極）３が設けられており、該誘導コイル３に第１の高周波電力が印加されると、チャンバー１の内部において誘導結合プラズマが発生する。
【００７３】
チャンバー１の底部には、第２の高周波電源４から第２の高周波電力が印加される試料台（下部電極）５が設けられており、第２の高周波電力により試料台５に向かうイオンのエネルギーが制御される。尚、図示は省略しているが、試料台５の内部には、冷媒等によって試料台５の温度を−３０℃〜＋３０℃程度の範囲で制御する温度制御装置が設けられている。
【００７４】
チャンバー１には、エッチングガスがマスフローコントローラ（図示は省略している）を介して導入口（図示は省略している）から導かれると共に、チャンバー１の圧力はターボポンプ（図示は省略している）により０．１Ｐａ〜１０Ｐａ程度の範囲に制御される。
【００７５】
以下、第１の実施形態においてポリメタルゲート電極を形成する際のエッチング条件について説明する。
【００７６】
（１）　タングステン膜１１０及び窒化タングステン膜１０９に対するエッチング条件
・圧力：１Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：３０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・ＣＦ４　ガスの流量：１００ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｏ２　ガス流量：２０ｍｌ／ｍｉｎ
・ＨＢｒガス流量：５ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｎ２　ガス流量：２ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
尚、エッチング時間は、ＷＦｘの発光波長を計測することによる自動終点判定で決定する。
【００７７】
（２）　窒化タングステン膜１０９の残渣及びｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８の表面に形成されている自然酸化膜の除去条件
・圧力：０．４Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：６０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：１００ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：１０秒
【００７８】
（３）　ｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８に対するメインエッチング条件
・圧力：０．４Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：２０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：５０ｍｌ／ｍｉｎ
・ＨＢｒガス流量：５０ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｏ２　ガス流量：２ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
尚、エッチング時間は、ＳｉＢｒｘの発光波長を計測することによる自動終点判定で決定する。
【００７９】
（４）　ｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８に対するオーバーエッチング条件
・圧力：３Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：５０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・ＨＢｒガス流量：１００ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｏ２　ガス流量：１０ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：５０秒
【００８０】
第１の実施形態においては、ｎ型ポリシリシリコン膜１０５中に存在する燐１０４の濃度が５×１０１９個／ｃｍ３　であり、ｎ型ポリシリシリコン膜１０５に溶け込むことができる限界値（固溶度）の１×１０２０個／ｃｍ３　よりも小さいので、ｎ型ポリシリシリコン膜１０５の粒界部分に燐は析出していない。従って、窒化タングステン膜１０９の残渣並びにｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８の表面の自然酸化膜を除去するエッチング工程において、ｎ型ポリシリシリコン膜１０５の粒界部分に溝が形成されないため、ｎ型ポリシリシリコン膜１０５の粒界部分を起点とするゲート絶縁膜１０１の突き抜けを発生させることなく、ポリメタルゲート電極を形成することができる。
【００８１】
（第２の実施形態）
以下、本発明の第２の実施形態に係る半導体装置の製造方法について説明する。第２の実施形態は、ポリメタル構造におけるポリシリコン膜の粒界部分にＶ族不純物が析出している場合において、バリア膜の残渣及びポリシリコン膜表面の自然酸化膜を除去するためのエッチングガスに塩素が含まれていることに特徴を有し、タングステン膜１１０及び窒化タングステン膜１０９に対するエッチング条件、並びにｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８に対するメインエッチング条件及びオーバーエッチング条件については第１の実施形態と同様である。従って、以下においては、残渣及び自然酸化膜を除去するための３つの条件についてのみ説明する。
【００８２】
（１）　第１の条件：エッチングガスがＣｌ２　ガスとＨＢｒガスとの混合ガスである場合
・圧力：０．４Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：６０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：５０ｍｌ／ｍｉｎ
・ＨＢｒガス流量：５０ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：１０秒
【００８３】
第１の条件では、ＨＢｒガスの全エッチングガスに対する体積割合が１０％以上である。このため、エッチング中に生成されるＳｉＢｒｘのエッチング保護作用により、ｎ型ポリシリコン膜１０５の粒界部分の溝形成を低減できるので、ゲート絶縁膜１０１に突き抜け等の損傷が発生しない。
【００８４】
しかしながら、ＨＢｒガスの流量の体積割合が７０％以上になると、エッチング中に生成される揮発性の低いＷＢｒｘの生成が過剰になってしまい、窒化タングステン膜の残渣を十分除去できなくなるので、ポリメタル電極形成後にエッチング残渣の不良が発生する恐れがある。
【００８５】
従って、エッチング残渣を発生させることなく、ゲート絶縁膜１０１の突き抜け等の損傷を防止するためには、ＨＢｒガスの全エッチングガスに対する体積割合は１０〜７０％であることが好ましい。
【００８６】
（２）　第２の条件：エッチングガスがＣｌ２　とＮ２　との混合ガスである場合
・圧力：０．４Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：６０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：９０ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｎ２　ガス流量：１０ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：１０秒
【００８７】
第２のエッチング条件では、Ｎ２　ガスの全エッチングガスに対する体積割合が５％以上である。このため、エッチング中に生成されるＳｉＮｘのエッチング保護作用により、ｎ型ポリシリコン膜１０５の粒界部分の溝形成を低減できるので、ゲート絶縁膜１０１に突き抜け等の損傷が発生しない。
【００８８】
しかしながら、Ｎ２　ガスの体積割合が４０％以上を超えると、エッチング中に生成されるＷＮｘ又はＳｉＮｘ等が過剰になるので、多量のパーティクルが発生してする恐れがある。
【００８９】
従って、パーティクルを発生させることなく、ゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止するためには、Ｎ２　ガスの全エッチングガスに対する体積割合は５〜４０％であることが好ましい。
【００９０】
（３）　第３の条件：エッチングガスがＣｌ２　とＯ２　との混合ガスである場合
・圧力：０．４Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：６０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：９５ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｏ２　ガス流量：５ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：１０秒
【００９１】
第３の条件では、Ｏ２　ガスの全エッチングガスに対する体積割合が２％以上である。このため、エッチング中に生成されるＳｉＯｘのエッチング保護作用により、ｎ型ポリシリコン膜１０５の粒界部分の溝形成を低減できるので、ゲート絶縁膜１０１に突き抜け等の損傷が発生しない。
【００９２】
しかしながら、Ｏ２　ガスの体積割合が１０％以上になると、酸化膜のエッチングレートが急激に低下していまうため、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜１０５、１０８の表面の自然酸化膜の除去が十分にできなくなるので、ポリメタル電極形成後にエッチング残渣の不良が発生する恐れがある。
【００９３】
従って、エッチング残渣を発生させることなく、ゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止するためには、Ｏ２　ガスの全エッチングガスに対する体積割合は２〜２０％であることが好ましい。
【００９４】
また、第２の実施形態においては、塩素を含むガスとして、Ｃｌ２　ガスを用いたが、これに代えて、ＢＣｌ３　又はＨＣｌ等のガスを用いても同様の効果が得られることは言うまでもない。
【００９５】
（第３の実施形態）
以下、本発明の第３の実施形態に係る半導体装置の製造方法について説明する。第３の実施形態は、ポリメタル構造におけるポリシリコン膜の粒界部分にＶ族不純物が析出している場合において、バリア膜の残渣及びポリシリコン膜表面の自然酸化膜を除去するためのエッチングガスが、塩素を含むガスとフロロカーボンガスとの混合ガスであることに特徴を有し、タングステン膜１１０及び窒化タングステン膜１０９に対するエッチング条件、並びにｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８に対するメインエッチング条件及びオーバーエッチング条件については第１の実施形態と同様である。従って、以下においては、残渣及び自然酸化膜を除去するための条件についてのみ説明する。ここでは、塩素を含むガスとしてＣｌ２　ガスを用い、フロロカーボンガスとしてＣＦ４　ガスを用いる。
【００９６】
（１）　残渣及び自然酸化膜の除去条件
・圧力：０．４Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：６０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：９５ｍｌ／ｍｉｎ
・ＣＦ４　ガス流量：５ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：１０秒
【００９７】
このエッチング条件では、ＣＦ４　ガスの全エッチングガスに対する体積割合が３％以上である。このため、エッチングガスが分解することによって生成されるフロロカーボン堆積膜のエッチング保護作用により、ｎ型ポリシリコン膜１０５の粒界部分の溝形成を低減できるので、ゲート絶縁膜１０１に突き抜け等の損傷が発生しない。
【００９８】
しかしながら、ＣＦ４　ガスの体積割合が２０％以上になると、ＣＦ４　ガスが分解して生成されるＣＦ系のポリマー膜の堆積が過剰になってしまい、窒化タングステン膜の残渣及びポリシリシリコン膜表面の自然酸化膜の除去が十分にできなくなるので、ポリメタル電極形成後にエッチング残渣の不良が発生する恐れがある。
【００９９】
従って、エッチング残渣を発生させることなく、ゲート絶縁膜１０１の突き抜け等の損傷を防止するためには、ＣＦ４　ガスの全エッチングガスに対する体積割合は３〜２０％であることが好ましい。
【０１００】
尚、第３の実施形態においては、塩素を含むガスとして、Ｃｌ２　ガスを用いたが、これに代えて、ＢＣｌ３　ガス又はＨＣｌガスを用いても同様の効果が得られる。
【０１０１】
また、第３の実施形態においては、フロロカーボンガスとしてＣＦ４　ガスを用いたが、これに代えて、ＣＨＦ３　ガス、Ｃ４Ｆ８ガス、Ｃ２Ｆ６ガス又はＣＨ２Ｆ２ガスを用いても同様の効果が得られる。
【０１０２】
（第４の実施形態）
以下、本発明の第４の実施形態に係る半導体装置の製造方法について説明する。第４の実施形態は、ポリメタル構造におけるポリシリコン膜の粒界部分にＶ族不純物が析出している場合において、バリア膜の残渣及びポリシリコン膜表面の自然酸化膜を除去するためのエッチングガスが、塩素を含むガスと希ガスとの混合ガスであることに特徴を有し、タングステン膜１１０及び窒化タングステン膜１０９に対するエッチング条件、並びにｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８に対するメインエッチング条件及びオーバーエッチング条件については第１の実施形態と同様である。従って、以下においては、残渣及び自然酸化膜を除去するための条件についてのみ説明する。尚、ここでは、塩素を含むガスとしてＣｌ２　ガスを用い、希ガスとしてＡｒガスを用いる。
【０１０３】
（１）　残渣及び自然酸化膜の除去条件
・圧力：０．４Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：６０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：２０ｍｌ／ｍｉｎ
・Ａｒガス流量：８０ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：１５秒
【０１０４】
図４は、Ｃｌ２　ガスとＡｒガスとの混合ガスの総流量が１００ｍｌ／ｍｉｎで一定の場合において、Ａｒガスの体積割合及びポリシリコン膜への不純物の注入量を変化させたときにポリシリコン膜のエッチングレートがどのように変化するかを表すグラフである。図４の横軸はポリシリコン膜への不純物注入量を示し、縦軸はポリシリコン膜のエッチングレートを示している。また、パラメータとしてＡｒガスの体積割合を示している。
【０１０５】
図４より、Ａｒガスの体積割合が増大するのに従って、ポリシリコン膜のエッチングレートがｎ型不純物の注入量に依存しなくなることが分かる。これはＡｒガスの体積割合が増加することによって、塩素ラジカルの量が減少し、ｎ型不純物の濃度に大きく依存する化学的な反応が抑制されたためである。
【０１０６】
このような実験結果に基づき、前記の除去条件で窒化タングステン膜１０９の残渣並びにｎ型及びｐ型のポリシリコン膜１０５，１０８の表面の自然酸化膜の除去を行なったところ、Ａｒガスの体積割合が２０％以上になると、ｎ型ポリシリコン膜１０５の粒界部分の溝形成を低減できるので、ゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷が発生しなかった。
【０１０７】
尚、第４の実施形態においては、塩素を含むガスとしては、Ｃｌ２　ガスを用いたが、これに代えて、ＢＣｌ３　ガス又はＨＣｌガスを用いても同様の効果が得られる。
【０１０８】
また、第４の実施形態においては、希ガスとしては、Ａｒガスを用いたが、これに代えて、Ｈｅガス、Ｎｅガス、Ｘｅガス又はＫｒガスを用いても同様の効果が得られる。
【０１０９】
（第５の実施形態）
以下、本発明の第５の実施形態に係る半導体装置の製造方法について説明する。第５の実施形態は、ポリメタル構造におけるポリシリコン膜の粒界部分にＶ族不純物が析出している場合において、半導体基板を冷却しながら、バリア膜の残渣及びポリシリコン膜表面の自然酸化膜を除去することに特徴を有し、タングステン膜１１０及び窒化タングステン膜１０９に対するエッチング条件、並びにｎ型ポリシリシリコン膜１０５及びｐ型ポリシリコン膜１０８に対するメインエッチング条件及びオーバーエッチング条件については第１の実施形態と同様である。従って、以下においては、残渣及び自然酸化膜を除去するための除去条件についてのみ説明する。
【０１１０】
（１）　残渣及び自然酸化膜の除去条件
・圧力：０．４Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：６０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：１００ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：５℃
・エッチング時間：１５秒
【０１１１】
この条件のように、試料台の温度を低温化することにより、エッチング中に生成されるＳｉＣｌｘのような反応生成物の堆積性が増大し、該反応生成物がｎ型ポリシリコン膜１０５の粒界部分に形成される溝部分を被覆するので、ｎ型ポリシリコン膜１０５の粒界部分の溝形成の増大を抑制することができる。
【０１１２】
試料台の温度を２０℃以下にすると、ｎ型ポリシリコン膜１０５の粒界部分の溝形成を低減できるので、ゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷が発生しない。
【０１１３】
しかしながら、試料台の温度を０℃以下にした場合、エッチング形状が順テーパー形状になり、仕上がり寸法の制御性が悪化する恐れがある。
【０１１４】
従って、仕上がり寸法の制御性を確保した状態で、ゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止するためには、試料台の温度は０〜２０℃の範囲内であることが好ましい。
【０１１５】
（第６の実施形態）
以下、本発明の第６の実施形態に係る半導体装置の製造方法について、図５（ａ）　〜（ｄ）　及び図６（ａ）　〜（ｃ）　を参照しながら説明する。第６の実施形態は、ポリメタル構造におけるアモルファスシリコン膜へのＶ族不純物の注入量が該シリコン膜の固溶度以上である場合に、Ｖ族不純物の注入工程からポリメタル構造体のドライエッチングまでの間に加わる熱の温度を規定するものである。
【０１１６】
まず、図５（ａ）　に示すように、例えば熱酸化法により、シリコン等よりなる半導体基板２００の上に例えば３ｎｍの厚さを持つシリコン酸化膜よりなるゲート絶縁膜２０１を形成した後、例えばＣＶＤ法により、ゲート絶縁膜２０１の上に例えば１００ｎｍの厚さを持つアモルファスシリコン膜２０２を堆積する。
【０１１７】
次に、図５（ｂ）　に示すように、アモルファスシリコン膜２０２上の第１の所定領域に第１のレジストパターン２０３を形成した後、イオン注入法により、アモルファスシリコン膜２０２に対して、燐（Ｐ）等のＶ族の不純物２０４を例えば５×１０１６／ｃｍ２　のドーズ量で注入して、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５を形成する。このようにすると、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５におけるＶ族不純物のドーピング量は、限界値（固溶度）である１×１０２０個／ｃｍ３　よりも大きくなっている。
【０１１８】
次に、図５（ｃ）　に示すように、第１のレジストパターン２０３をアッシング及び洗浄により除去した後、アモルファスシリコン膜２０２上の第２の所定領域に第２のレジストパターン２０６を形成し、その後、イオン注入法により、アモルファスシリコン膜２０２に対して、ホウ素（Ｂ）等のＩＩＩ　族の不純物２０７を例えば３×１０１５／ｃｍ２　のドーズ量で注入して、ｐ型アモルファスシリコン膜２０８を形成する。
【０１１９】
次に、図５（ｄ）　に示すように、スパッタ法により、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５及びｐ型アモルファスシリコン膜２０８の上に、例えば１０ｎｍの厚さを持つ窒化タングステン膜２０９、例えば１００ｎｍの厚さを持つタングステン膜２１０を堆積した後、プラズマＣＶＤ法により、タングステン膜２１０の上に例えば１５０ｎｍの厚さを持つ窒化シリコン膜２１１を堆積する。ところで、窒化タングステン膜２０９及びタングステン膜２１０はスパッタ法により堆積されると共に、窒化シリコン膜２１１はプラズマＣＶＤ法により堆積されるため、これらの膜を堆積する際に半導体基板２００に加わる熱の温度は、ｎ型及びｐ型のアモルファスシリコン膜２０５，２０８が結晶化する温度である５５０℃よりも低い。
【０１２０】
次に、図６（ａ）に示すように、窒化シリコン膜２１１の上に化学増幅型レジスト膜を形成した後、該化学増幅型レジスト膜に対してＫｒＦエキシマレーザ光を露光光とするリソグラフィを行なって、第３のレジストパターン２１２を形成する。
【０１２１】
次に、図３に示す誘導結合型プラズマエッチング装置を用いて、図６（ｂ）　に示すように、窒化シリコン膜２１１に対して第３のレジストパターン２１２をマスクにエッチングを行なって、ハードマスクとなるパターン化された窒化シリコン膜２１１Ａを形成した後、第３のレジストパターン２１２をアッシング及び洗浄により除去する。尚、ハードマスクとしては、パターン化された窒化シリコン膜２１１Ａに代えて、パターン化された酸化シリコン膜を用いてもよい。
【０１２２】
次に、図３に示す同じ誘導結合型プラズマエッチング装置を用いて、図６（ｃ）　に示すように、タングステン膜２１０、窒化タングステン膜２０９、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５及びｐ型アモルファスシリコン膜２０８に対して、パターン化された窒化シリコン膜２１１Ａを用いて異方性エッチングを行なって、パターン化されたタングステン膜２１０Ａ、パターン化された窒化タングステン膜２０９Ａ、パターン化されたｎ型アモルファスシリコン膜２０５Ａ及びパターン化されたｐ型アモルファスシリコン膜２０８Ａを形成する。
【０１２３】
第６の実施形態によると、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５、ｐ型アモルファスシリコン膜２０８を形成する工程、窒化タングステン膜２０９を堆積する工程、タングステン膜２１０を堆積する工程、ハードマスクとなるパターン化された窒化シリコン膜２１１Ａを形成する工程、パターン化された、タングステン膜２１０Ａ、窒化タングステン膜２０９Ａ、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５Ａ及びｐ型アモルファスシリコン膜２０８Ａを形成する工程は、いずれも、５５０℃よりも低い温度で行なわれるため、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５Ａは多結晶化しないので、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５Ａにおける粒界の成長が抑制され、これによって、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５Ａにおいて燐（Ｐ）の析出が抑制される。このため、バリア膜となる窒化タングステン膜２０９の残渣及びｎ型及びｐ型のアモルファスシリコン膜２０５、２０８表面の自然酸化膜を除去する工程において、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５の特定部位に溝が形成されないので、ｎ型アモルファスシリコン膜２０５の特定部位を起点とするゲート絶縁膜２０１の突き抜けを発生させることなく、ポリメタルゲート電極を形成することができる。
【０１２４】
（第７の実施形態）
以下、本発明の第７の実施形態に係る半導体装置の製造方法について、図７（ａ）　〜（ｄ）　及び図８（ａ）　〜（ｃ）　を参照しながら説明する。第７の実施形態は、バリア膜として窒化チタン膜を用いる場合において、窒化チタン膜のエッチング工程とポリシリコン膜の表面に存在する自然酸化膜の除去工程とを同一条件で且つ連続して行なうものである。
【０１２５】
まず、図７（ａ）　に示すように、例えば熱酸化法により、シリコン等よりなる半導体基板３００の上に例えば３ｎｍの厚さを持つシリコン酸化膜よりなるゲート絶縁膜３０１を形成した後、例えばＣＶＤ法により、ゲート絶縁膜３０１の上に例えば１００ｎｍの厚さを持つポリシリコン膜３０２を堆積する。
【０１２６】
次に、図７（ｂ）　に示すように、ポリシリコン膜３０２上の第１の所定領域に第１のレジストパターン３０３を形成した後、イオン注入法により、ポリシリコン膜３０２に対して燐（Ｐ）等のＶ族の不純物３０４を例えば５×１０１４／ｃｍ２　のドーズ量で注入して、ｎ型ポリシリコン膜３０５を形成する。
【０１２７】
次に、図７（ｃ）　に示すように、第１のレジストパターン３０３をアッシング及び洗浄により除去した後、ポリシリコン膜３０２上の第２の所定領域に第２のレジストパターン３０６を形成し、その後、イオン注入法により、ポリシリコン膜３０２に対して、ホウ素（Ｂ）等のＩＩＩ　族の不純物３０７を例えば１×１０１５／ｃｍ２　のドーズ量で注入して、ｐ型ポリシリコン膜３０８を形成する。
【０１２８】
次に、図７（ｄ）　に示すように、スパッタ法又はＣＶＤ法により、ｎ型ポリシリコン膜３０５及びｐ型ポリシリコン膜３０８の上に、例えば１０ｎｍの厚さを持つ窒化チタン膜３０９、例えば１００ｎｍの厚さを持つタングステン膜３１０及び例えば１５０ｎｍの厚さを持つ窒化シリコン膜３１１を順次堆積する。
【０１２９】
次に、図８（ａ）　に示すように、窒化シリコン膜３１１の上に化学増幅型レジスト膜を形成した後、該化学増幅型レジスト膜に対してＫｒＦエキシマレーザ光を露光光とするリソグラフィを行なって、第３のレジストパターン３１２を形成する。
【０１３０】
次に、図３に示す誘導結合型プラズマエッチング装置を用いて、図８（ｂ）　に示すように、窒化シリコン膜３１１に対して第３のレジストパターン３１２をマスクにエッチングを行なって、ハードマスクとなるパターン化された窒化シリコン膜３１１Ａを形成した後、第３のレジストパターン３１２をアッシング及び洗浄により除去する。尚、ハードマスクとしては、パターン化された窒化シリコン膜３１１Ａに代えて、パターン化された酸化シリコン膜を用いてもよい。
【０１３１】
次に、図３に示す同じ誘導結合型プラズマエッチング装置を用いて、図８（ｃ）　に示すように、タングステン膜３１０、窒化チタン膜３０９、ｎ型ポリシリシリコン膜３０５及びｐ型ポリシリコン膜３０８に対して、パターン化された窒化シリコン膜３１１Ａをマスクとして異方性エッチングを行なって、パターン化されたタングステン膜３１０Ａ、パターン化された窒化チタン膜３０９Ａ、パターン化されたｎ型ポリシリコン膜３０５Ａ及びパターン化されたｐ型ポリシリコン膜３０８Ａを形成する。
【０１３２】
このようにすると、パターン化された、タングステン膜３１０Ａ、窒化チタン膜３０９Ａ及びｎ型ポリシリコン膜３０５Ａよりなるｎ型のポリメタルゲート電極３１３が形成されると共に、パターン化された、タングステン膜３１０Ａ、窒化チタン膜３０９Ａ及びｐ型ポリシリコン膜３０８Ａよりなるｐ型のポリメタルゲート電極３１４が形成される。
【０１３３】
以下、第７の実施形態においてポリメタルゲート電極を形成する際のエッチング条件について説明する。
【０１３４】
（１）　タングステン膜３１０に対するエッチング条件
・圧力：１Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：３０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・ＣＦ４　ガス流量：１００ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｏ２　ガス流量：２０ｍｌ／ｍｉｎ
・ＨＢｒガス流量：５ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｎ２　ガス流量：２ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
尚、エッチング時間は、ＷＦｘの発光波長を計測することによる自動終点判定で決定する。
【０１３５】
（２）　窒化チタン膜３０９のエッチング、並びにｎ型ポリシリコン膜３０５及びｐ型ポリシリコン膜３０８の表面に形成されている自然酸化膜の除去条件
・圧力：１Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：６０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：１００ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：１０秒
【０１３６】
（３）　ｎ型ポリシリシリコン膜３０５及びｐ型ポリシリコン膜３０８に対するメインエッチング条件
・圧力：０．４Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：２０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：５０ｍｌ／ｍｉｎ
・ＨＢｒガス流量：５０ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｏ２　ガス流量：２ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
尚、エッチング時間は、ＳｉＢｒｘの発光波長を計測することによる自動終点判定で決定する。
【０１３７】
（４）　ｎ型ポリシリシリコン膜３０５及びｐ型ポリシリコン膜３０８に対するオーバーエッチング条件
・圧力：３Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：５０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・ＨＢｒガス流量：１００ｍｌ／ｍｉｎ
・Ｏ２　ガス流量：１０ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：５０秒
【０１３８】
第７の実施形態においては、窒化チタン膜３０９のエッチングにはＣｌ２　ガスを使用しているので、エッチング中に生成される多結晶は揮発性が高いＴｉＣｌｘである。そのため、窒化チタン膜３０９のエッチング中にはＴｉＯｘ又はＴｉＦｘという結合エネルギーが大きく且つ沸点の高い残渣は発生しない。
【０１３９】
また、窒化チタン膜３０９のエッチング、並びにｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５，３０８の上の自然酸化膜の除去を行なう条件では、ゲート絶縁膜３０１のエッチングレートが約５０ｎｍ／ｍｉｎであるため、２〜３秒間程度のエッチングにより自然酸化膜を十分に除去できる。
【０１４０】
従って、ポリメタル構造体のバリア膜が窒化チタン膜３０９である場合には、Ｃｌ２　ガスを用いる条件で窒化チタン膜３０９のエッチングとの自然酸化膜の除去とを連続して行なうことにより、窒化チタン膜３０９のパターニング工程及び自然酸化膜の除去工程におけるｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５、３０８のエッチング量を低減することができるため、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５、３０８に対するメインエッチング工程において、安定した終点判定が行なえるので、ゲート絶縁膜３０１の突き抜け等の損傷を防止することができる。
【０１４１】
尚、第７の実施形態においては、塩素を含むガスとして、Ｃｌ２　ガスを用いたが、これに代えて、ＢＣｌ３　又はＨＣｌ等のガスを用いても同様の効果が得られる。
【０１４２】
（第８の実施形態）
以下、本発明の第８の実施形態に係る半導体装置の製造方法について説明する。第８の実施形態は、バリア膜として窒化チタン膜を用いる場合において、窒化チタン膜のエッチング工程とポリシリコン膜の表面に存在する自然酸化膜の除去工程で、塩素を含むガスと希ガスとの混合ガスを用いるものである。
【０１４３】
第７の実施形態では、窒化チタン膜３０９をパターニングする工程とポリシリコン膜上の自然酸化膜を除去する工程で用いるエッチングにＣｌ２　ガスを用いたが、このようにすると、以下の問題が発生する場合がある。すなわち、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５，３０８の膜厚が８０ｎｍ以下の場合、窒化チタン膜３０９をパターニングすると共に自然酸化膜を除去するためのエッチング工程で、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５，３０８が過剰にエッチングされてしまう結果、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５，３０８に対するメインエッチングでエッチングの終点を安定して判定できず、これにより、ゲート絶縁膜１０１の突き抜けが発生するおそれがある。
【０１４４】
そこで、第８の実施形態では、窒化チタン膜３０９のパターニング及び自然酸化膜の除去工程において、塩素を含むガスと希ガスとの混合ガスよりなるエッチングガスを用いることにより、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５，３０８が過剰にエッチングされないようにするものである。
【０１４５】
第８の実施形態は、窒化チタン膜３０９のパターニング及び自然酸化膜の除去工程で用いられるエッチングガスが、塩素を含むガスと希ガスとの混合ガスであることに特徴を有し、タングステン膜３１０に対するエッチング条件、並びにｎ型ポリシリシリコン膜３０５及びｐ型ポリシリコン膜３０８に対するメインエッチング条件及びオーバーエッチング条件については第７の実施形態と同様である。従って、以下においては、窒化チタン膜３０９のパターニング及び自然酸化膜の除去工程での条件についてのみ説明する。
【０１４６】
（１）　窒化チタン膜３０９のパターニング及び自然酸化膜の除去工程
・圧力：１Ｐａ
・第１の高周波電力：４００Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・第２の高周波電力：６０Ｗ（１３．５６ＭＨｚ）
・Ｃｌ２　ガス流量：５０ｍｌ／ｍｉｎ
・Ａｒガス流量：５０ｍｌ／ｍｉｎ
・試料台の温度：２０℃
・エッチング時間：１５秒
【０１４７】
図９は、ポリシリコン膜及びシリコン酸化膜のエッチングレートのＡｒガスの体積割合の依存性を示しており、横軸はＡｒガスの体積割合を示し、縦軸はポリシリコン膜のエッチングレート及びシリコン酸化膜のエッチングレートを示している。尚、Ｃｌ２　ガス及びＡｒガスの総流量は１００ｍｌ／ｍｉｎであって一定である。
【０１４８】
図９より、Ａｒガスの流量割合が増加すると、ポリシリコン膜のエッチングレートが急激に低下する一方、シリコン酸化膜のエッチングレートは緩やかに低下していることが分かる。従って、エッチングガス中におけるＡｒガスの流量割合を増加させることにより、ゲート絶縁膜１０１とのエッチング選択比を増加させることなく、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５、３０８のエッチングレートを低下させることができる。このため、エッチングガスとしてＣｌ２　ガスとＡｒガスとの混合ガスを用いることにより、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５、３０８に対する過剰なエッチングを防止しながら、窒化チタン膜３０９のパターニングと自然酸化膜の除去とを行なうことができる。
【０１４９】
本件発明者が実際に前記の条件でエッチングを行なったところ、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５、３０８に対する過剰なエッチングを防止することができ、ｎ型及びｐ型のポリシリコン膜３０５、３０８のメインエッチングでの終点検出を安定して判定でき、これによって、ゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止することができた。
できた。
【０１５０】
尚、第８の実施形態においては、ポリシリコン膜３０２の厚さが８０ｎｍの場合であったが、ポリシリコン膜３０２の厚さが５０ｎｍの場合でも、Ａｒガスの体積割合を８０％にすれば、ポリシリコン膜のメインエッチング時にエッチングの終点検出を安定して判定でき、ゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止することができる。
【０１５１】
また、第８の実施形態においては、塩素を含むガスとして、Ｃｌ２　ガスを用いたが、これに代えて、ＢＣｌ３　ガス又はＨＣｌガス等を用いても同様の効果が得られる。
【０１５２】
また、第８の実施形態においては、希ガスとして、Ａｒガスを用いたが、これに代えて、Ｈｅガス、Ｎｅガス、Ｘｅガス又はＫｒガス等を用いても同様の効果が得られる。
【０１５３】
ところで、本発明の各実施形態においては、図３に示すＩＣＰ（Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅ　Ｃｏｕｐｌｅｄ　Ｐｌａｓｍａ）方式のドライエッチング装置を用いたが、これに代えて、例えばＲＩＥ（Ｒｅａｃｔｉｖｅ　Ｉｏｎ　Ｅｔｃｈｉｎｇ）方式、ＥＣＲ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｃｙｃｌｏｔｒｏｎ　Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ）方式等のプラズマ源を搭載するドライエッチング装置を用いても同様の効果が得られる。
【０１５４】
【発明の効果】
本発明に係る半導体装置の製造方法によると、残渣又は自然酸化膜をドライエッチングにより除去する工程は、シリコン膜に対する過剰エッチングを抑制しながら行なわれるため、残渣又は自然酸化膜を除去した後におけるシリコン膜の厚さは余り低減していないので、シリコン膜に対するエッチング工程において、ゲート絶縁膜の突き抜け等の損傷を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）　〜（ｄ）　は、第１の実施形態に係る半導体装置の製造方法の各工程を示す断面図である。
【図２】（ａ）　〜（ｃ）　は、第１の実施形態に係る半導体装置の製造方法の各工程を示す断面図である。
【図３】各実施形態に係る半導体装置の製造方法に用いるエッチング装置の概略断面図である。
【図４】第４の実施形態に係る半導体装置の製造方法で残渣及び自然酸化膜の除去に用いるエッチングガスにおけるＡｒガスの体積割合及びポリシリコン膜への不純物の注入量と、ポリシリコン膜のエッチングレートとの関係を示す図である。
【図５】（ａ）　〜（ｄ）　は、第６の実施形態に係る半導体装置の製造方法の各工程を示す断面図である。
【図６】（ａ）　〜（ｃ）　は、第６の実施形態に係る半導体装置の製造方法の各工程を示す断面図である。
【図７】（ａ）　〜（ｄ）　は、第７の実施形態に係る半導体装置の製造方法の各工程を示す断面図である。
【図８】（ａ）　〜（ｃ）　は、第６の実施形態に係る半導体装置の製造方法の各工程を示す断面図である。
【図９】第８の実施形態に係る半導体装置の製造方法で窒化チタン膜のパターニング及び自然酸化膜の除去工程で用いられるエッチングガスにおけるＡｒガスの体積割合と、ポリシリコン膜のエッチングレート及びシリコン酸化膜のエッチングレートとの関係を示す図である。
【図１０】（ａ）　〜（ｃ）　は、シリコン膜中に存在するＶ族不純物がシリコン膜粒界部分に過剰に析出している場合においても、シリコン膜粒界部分を起点として発生するゲート絶縁膜の突抜け等の損傷を防止できることを説明する断面図である。。以下、その理由について、図１０（ａ）　〜（ｃ）　を参照しながら説明する
【図１１】（ａ）　〜（ｄ）　は、従来の半導体装置の製造方法の各工程を示す断面図である。
【図１２】（ａ）　〜（ｃ）　は、従来の半導体装置の製造方法の各工程を示す断面図である。
【図１３】（ａ）　〜（ｃ）　は、従来の半導体装置の製造方法によるとゲート絶縁膜に突き抜けが発生する第１の原因を説明する断面図である。
【図１４】（ａ）　〜（ｃ）　は、従来の半導体装置の製造方法によるとゲート絶縁膜に突き抜けが発生する第２の原因を説明する断面図である。
【符号の説明】
１　チャンバー
２　第１の高周波電源
３　誘導コイル
４　第２の高周波電源
５　試料台
１００　半導体基板
１０１　ゲート絶縁膜
１０２　ポリシリコン膜
１０３　第１のレジストパターン
１０４　Ｖ族の不純物
１０５　ｎ型ポリシリコン膜
１０５Ａ　パターン化されたポリシリコン膜
１０６　第２のレジストパターン
１０７　ＩＩＩ　族の不純物
１０８　ｐ型ポリシリコン膜
１０８Ａ　パターン化されたポリシリコン膜
１０９　窒化タングステン膜
１０９Ａ　パターン化された窒化タングステン膜
１１０　タングステン膜
１１０Ａ　パターン化されたタングステン膜
１１１　窒化シリコン膜
１１１Ａ　パターン化された窒化シリコン膜
１１２　第３のレジストパターン
１１３　ｎ型ポリメタルゲート電極
１１４　ｐ型ポリメタルゲート電極
２００　半導体基板
２０１　ゲート絶縁膜
２０２　アモルファスシリコン膜
２０３　第１のレジストパターン
２０４　Ｖ族の不純物
２０５　ｎ型アモルファスシリコン膜
２０５Ａ　パターン化されたｎ型アモルファスシリコン膜
２０６　第２のレジストパターン
２０７　ＩＩＩ　族の不純物
２０８　ｐ型アモルファスシリコン膜
２０８Ａ　パターン化されたｐ型アモルファスシリコン膜
２０９　窒化タングステン膜
２０９Ａ　パターン化された窒化タングステン膜
２１０　タングステン膜
２１０Ａ　パターン化されたタングステン膜
２１１　窒化シリコン膜
２１１Ａ　パターン化された窒化シリコン膜
２１２　第３のレジストパターン
３００　半導体基板
３０１　ゲート絶縁膜
３０２　ポリシリコン膜
３０３　第１のレジストパターン
３０４　Ｖ族の不純物
３０５　ｎ型ポリシリコン膜
３０５Ａ　パターン化されたポリシリコン膜
３０６　第２のレジストパターン
３０７　ＩＩＩ　族の不純物
３０８　ｐ型ポリシリコン膜
３０８Ａ　パターン化されたポリシリコン膜
３０９　窒化チタン膜
３１０　タングステン膜
３１０Ａ　パターン化されたタングステン膜
３１１　窒化シリコン膜
３１１Ａ　パターン化された窒化シリコン膜
３１２　第３のレジストパターン
３１３　ｎ型のポリメタルゲート電極
３１４　ｐ型のポリメタルゲート電極
【図１】
2004031546.tif 000003
【図２】
2004031546.tif 000004
【図３】
2004031546.tif 000005
【図４】
2004031546.tif 000006
【図５】
2004031546.tif 000007
【図６】
2004031546.tif 000008
【図７】
2004031546.tif 000009
【図８】
2004031546.tif 000010
【図９】
2004031546.tif 000011
【図１０】
2004031546.tif 000012
【図１１】
2004031546.tif 000013
【図１２】
2004031546.tif 000014
【図１３】
2004031546.tif 000015
【図１４】
2004031546.tif 000016