(57)【要約】【課題】共振周波数を一箇所に特定できない保護ガラス（防塵ガラス）を効率よく駆動するような防塵機能付き光学装置を提案すること。【解決手段】防塵機能付き光学装置（例えばカメラ）は、被写体の光学像を結像する撮像光学系（撮影レンズ１）と、当該光学像を電気信号に変換する光電変換素子（ＣＣＤユニット２２）と、このＣＣＤユニット２２と上記撮影レンズ１との間に配される光学素子（防塵ガラス３０）と、この防塵ガラス３０をある周波数で振動させる加振手段（例えば圧電素子３１、防塵ガラス駆動回路４０）とを備え、圧電素子３１が上記防塵ガラス３０を振動させるための周波数を、防塵ガラス駆動回路４０を介して順次変更するように制御する。【選択図】　　図１
2004048665.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体の光学像を結像する撮像光学系と、
上記光学像を電気信号に変換する光電変換素子と、
上記光電変換素子と上記撮像光学系との間に配される光学素子と、
上記光学素子を設定した周波数で振動させる加振手段と、
を具備して成り、
上記加振手段は、上記光学素子を振動させるための周波数を順次変更するように制御されることを特徴とする防塵機能付き光学装置。
【請求項２】
上記加振手段は、上記光学素子の共振周波数を含む範囲で上記振動の周波数を変更することを特徴とする、請求項１に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項３】
上記加振手段は、温度に応じて上記振動の周波数範囲を補正することを特徴とする、請求項１に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項４】
被写体の光学像を結像する撮像光学系と、
上記光学像を電気信号に変換する光電変換素子と、
上記光電変換素子と上記撮像光学系との間に配される光学素子と、
上記光学素子を振動させる圧電素子と、
上記圧電素子のための駆動回路と、
基本クロックを分周して、上記駆動回路に駆動信号を供給する分周回路と、
上記分周回路の分周データをテーブルデータとして記憶するメモリと、
上記メモリから特定範囲の上記分周データを順次読み出し、上記分周データによって上記分周回路の分周比を設定することによって、上記光学素子の振動周波数を順次変化させる制御回路と、
を具備することを特徴とする防塵機能付き光学装置。
【請求項５】
上記防塵機能付き光学装置はさらに温度測定回路を含み、
上記制御回路は、上記温度測定回路の測定結果に応じて上記分周データの読み出し範囲を変更するように制御されることを特徴とする、請求項４に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項６】
被写体の光学像を結像する撮像光学系と、
上記光学像を電気信号に変換する光電変換手段と、
上記光電変換素子と上記撮像光学系との間に配される光学素子と、
上記光学素子を振動させるための圧電素子と、
上記圧電素子を駆動する駆動手段と、
基本クロックを分周して、上記駆動手段に対して上記圧電素子を駆動するための駆動信号を出力する分周手段と、
上記分周手段の分周データを複数個記憶する記憶手段と、
上記記憶手段に記憶された上記分周データの中から複数の分周データを読み出して、上記分周手段の分周比を順次設定することで、上記光学素子を複数種類の周波数で振動させる制御手段と、
を具備していることを特徴とする防塵機能付き光学装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像素子を有する光学装置に係わり、特にカメラシステムなどの内部に付着した塵を除去可能な防塵機能付き光学装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光学装置の防塵機能に関する技術の一例としては、撮像素子を保護する保護ガラス（防塵ガラス）を振動させることで、そのガラスに付着した塵を払い落とすという技術が提案されている。具体的に例えば、特願平２０００−４０１２９１号に教示されたものがあり、これには、ガラス板を振動させる手段として圧電素子が用いられている。この圧電素子は印加される電圧に反応して伸縮して、取り付けられたガラス板を所定の１つの周期で加振するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、圧電素子そのものの変異量は僅かである。一般的に、確実に塵を払い落とす為には、ガラス板の振動の振幅が可能な限り大きいことが望ましい。ただし、ガラス板の振動の振幅を大きくするには、そのガラス板自体がもつ固有の共振周波数で加振することが必要である。こうしないと圧電素子のそのものの変異量でガラス板が振動するだけになり、それでは効率よく塵を払い落とせない。
【０００４】
通常、共振周波数は、ガラス板の形状、材質、支持方法、および振動モード（振動形態）によって異なる。また、保護ガラスとして量産すれば、加工精度のバラツキによって共振周波数もばらつくことになる。ただし、個々の保護ガラスの共振周波数を測定して圧電素子へ電圧を印加する発振器の周波数を運用時に適宜調整すれば、そのバラツキは相殺でき得る。
【０００５】
しかし上述のような相殺方法を適用したとしても、経時変化、温度変化によってその保護ガラスの共振周波数がドリフトすれば、そのバラツキに対応できなくなる。つまり、発振器の周波数を確実に調整しても、確実にその保護ガラスの共振周波数で駆動できる訳ではない。
【０００６】
よって、保護ガラスとして用いるガラス板の共振周波数に影響する要素（ガラス板の形状や材質の弾性係数等）のバラツキを、保護ガラス製作工程時またはカメラ運用時に調整しなくとも、簡単かつ効率的に塵の除去を可能とする方式が求められる。
【０００７】
そこで本発明の目的は、共振周波数を一箇所に特定できない保護ガラスを、効率よく駆動するような方式を有する防塵機能付き光学装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決し目的を達成するため本発明では次のような手段を講じている。即ち第１の態様によれば、被写体の光学像を結像する撮像光学系と、その光学像を電気信号に変換する光電変換素子と、この光電変換素子と上記撮像光学系との間に配される光学素子と、この光学素子を設定した周波数で振動させる加振手段と、を有し、この加振手段は、上記光学素子を振動させるための周波数を順次変更するように制御される防塵機能付き光学装置を提案する。
【０００９】
第２の態様によれば、被写体の光学像を結像する撮像光学系と、その光学像を電気信号に変換する光電変換素子と、この光電変換素子と撮像光学系との間に配される光学素子と、この光学素子を振動させる圧電素子と、この圧電素子のための駆動回路と、基本クロックを分周して上記駆動回路に駆動信号を供給する分周回路と、この分周回路の分周データをテーブルデータとして記憶するメモリと、このメモリから特定範囲の分周データを順次読み出しその分周データによって上記分周回路の分周比を設定することで上記光学素子の振動周波数を順次変化させる制御回路と、を有して成る防塵機能付き光学装置を提案する。
【００１０】
また第３の態様によれば、被写体の光学像を結像する撮像光学系と、その光学像を電気信号に変換する光電変換手段と、この光電変換素子と上記撮像光学系との間に配される光学素子と、この光学素子を振動させるための圧電素子と、この圧電素子を駆動する駆動手段と、基本クロックを分周して、上記駆動手段に対して上記圧電素子を駆動するための駆動信号を出力する分周手段と、この分周手段の分周データを複数個記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶された上記分周データの中から複数の分周データを読み出して上記分周手段の分周比を順次設定することで上記光学素子を複数種類の周波数で振動させる制御手段と、を有して成る防塵機能付き光学装置を提案する。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の防塵機能付き光学装置として撮像素子を有するカメラシステムを一例に挙げた複数の実施形態に基づき詳しく説明する。
【００１２】
（第１実施形態）
図１には、本発明に係わる第１実施形態のカメラシステムの構成をブロック構成図で示す。
【００１３】
このカメラシステムは、交換レンズとしてのレンズユニット１０と、カメラ本体としてのボディユニット１００から主に構成されており、ボディユニット１００の前面に対して、所望のレンズユニット１０が着脱自在に設定されている。
【００１４】
レンズユニット１０の制御はレンズ制御用マイクロコンピュータ（以下”Ｌｕｃｏｍ”と称する）５が行う。ボディユニット１００の制御はボディ制御用マイクロコンピュータ（以下”Ｂｕｃｏｍ”と称する）５０が行う。尚、これらＬｕｃｏｍ５とＢｕｃｏｍ５０とは、合体時において通信コネクタ６を介して通信可能に電気的接続がなされる。そしてカメラシステムとしてＬｕｃｏｍ５がＢｕｃｏｍ５０に従属的に協働しながら稼動するようになっている。
【００１５】
レンズユニット１０内には撮影レンズ１と絞り３が設けられている。撮影レンズ１はレンズ駆動機構２内に在る図示しないＤＣモータによって駆動される。絞り３は絞り駆動機構４内に在る図示しないステッピングモータによって駆動される。Ｌｕｃｏｍ５はＢｕｃｏｍ５０の指令に従ってこれら各モータを制御する。
【００１６】
ボディユニット１００内には次の構成部材が図示のように配設されている。例えば、光学系としての一眼レフ方式の構成部材（クイックリターンミラー１１、ペンタプリズム１２、接眼レンズ１３、サブミラー１４）と、光軸上のフォーカルプレーン式のシャッタ１５と、上記サブミラー１４からの反射光束を受けて自動測距する為のＡＦセンサユニット１６が設けられている。
【００１７】
また、上記ＡＦセンサユニット１６を駆動制御するＡＦセンサ駆動回路１７と、上記クイックリターンミラー１１を駆動制御するミラー駆動機構１８と、上記シャッタ１５の先幕と後幕を駆動するばねをチャージするシャッタチャージ機構１９と、それら先幕と後幕の動きを制御するシャッタ制御回路２０と、上記ペンタプリズム１２からの光束に基づき測光処理する測光回路２１が設けられている。
【００１８】
光軸上には、上記光学系を通過した被写体像を光電変換するためのＣＣＤユニット２２が光電変換素子として設けられ、更にこのＣＣＤユニット２２と撮影レンズ１との間に配された光学素子としての防塵ガラス３０が設けられており、この防塵ガラス３０を所定の周波数で振動させる加振手段として例えば圧電素子３１がその防塵ガラス３０の周縁部に取り付けられている。そしてこの圧電素子３１が防塵ガラス駆動回路４０によって防塵ガラス３０を振動させて、そのガラス表面に付着していた塵を除去できるように構成されている。よって、このカメラシステムはいわゆる「防塵機能付きカメラ」に属する基本構造をもつ電子カメラである。
【００１９】
なお、ＣＣＤユニット２２の周辺の温度を測定するために、防塵ガラス３０の近傍には、温度測定回路３３が設けられている。
【００２０】
このカメラシステムにはまた、ＣＣＤユニット２２に接続したＣＣＤインターフェイス回路２３、液晶モニタ２４、記憶領域として設けられたＳＤＲＡＭ２５、ＦｌａｓｈＲＯＭ２６および記録メディア２７などを利用して画像処理する画像処理コントローラ２８とが設けられ、電子撮像機能と共に電子記録表示機能を提供できるように構成されている。
【００２１】
その他の記憶領域としては、カメラ制御に必要な所定の制御パラメータを記憶する例えばＥＥＰＲＯＭから成る不揮発性メモリ２９が、Ｂｕｃｏｍ５０からアクセス可能に設けられている。
【００２２】
また、Ｂｕｃｏｍ５０には、当該カメラの動作状態を表示出力によってユーザへ告知するための動作表示用ＬＣＤ５１と、カメラ操作ＳＷ５２とが設けられている。上記カメラ操作ＳＷ５２は、例えばレリーズＳＷ、モード変更ＳＷおよびパワーＳＷなどの、当該カメラを操作するために必要な操作釦を含むスイッチ群である。
【００２３】
さらに、電源としての電池５４と、この電源の電圧を、当該カメラシステムを構成する各回路ユニットが必要とする電圧に変換して供給する電源回路５３が設けられている。
【００２４】
上述した如くに構成されたカメラシステムでは、各部が次のように稼動する。画像処理コントローラ２８は、Ｂｕｃｏｍ５０の指令に従ってＣＣＤインターフェイス回路２３を制御してＣＣＤユニット２２から画像データを取り込む。この画像データは画像処理コントローラ２８でビデオ信号に変換され、液晶モニタ２４にて出力表示される。ユーザはこの液晶モニタ２４の表示画像から、撮影した画像イメージを確認できる。
【００２５】
ＳＤＲＡＭ２５は画像データの一時的保管用メモリであり、画像データが変換される際のワークエリアなどに使用される。またこの画像データはＪＰＥＧデータに変換された後には記録メディア２７に保管されるように設定されている。
【００２６】
ＣＣＤユニット２２は、透明な防塵ガラス３０によって保護されている。この防塵ガラス３０の周縁部にはそのガラス面を加振するための圧電素子３１が配置されており、この圧電素子３１は、後で詳しく説明するように防塵ガラス駆動回路４０によって駆動される。
【００２７】
ＣＣＤユニット２２および圧電素子３１は、防塵ガラス３０を一面とし且つ破線で示すような枠体によって囲まれたケース内に一体的に収納されることが、防塵のためにはより好ましい。
【００２８】
また、通常、温度はガラス製の物材の弾性係数に影響し、その固有振動数を変化させる要因の１つであるため、運用時にその温度を計測してその固有振動数の変化を考慮しなければならない。稼動中に温度上昇が激しいＣＣＤユニット２２の前面を保護するため設けられた防塵ガラス３０の温度変化を測定してその時の固有振動数を予想するほうがよい。
【００２９】
したがってこの例の場合、温度測定回路３３に接続されたセンサ（不図示）が、ＣＣＤユニット２２の周辺温度を測定するため設けられている。尚、そのセンサの温度測定ポイントは、防塵ガラス３０の振動面の極近傍に設定されるのが好ましい。
【００３０】
ミラー駆動機構１８は、クイックリターンミラー１１をＵＰ位置とＤＯＷＮ位置へ駆動するための機構であり、このクイックリターンミラー１１がＤＯＷＮ位置にある時、撮影レンズ１からの光束はＡＦセンサユニット１６側とペンタプリズム１２側へと分割されて導かれる。
【００３１】
ＡＦセンサユニット１６内のＡＦセンサからの出力は、ＡＦセンサ駆動回路１７を介してＢｕｃｏｍ５０へ送信されて周知の測距処理が行われる。
【００３２】
また、ペンタプリズム１２に隣接する接眼レンズ１３からはユーザが被写体を目視できる一方、このペンタプリズム１２を通過した光束の一部は測光回路２１内のホトセンサ（不図示）へ導かれ、ここで検知された光量に基づき周知の測光処理が行われる。
【００３３】
次に、図２に示す防塵ガラス駆動回路４０の回路図と、図３のタイムチャートに基づいて、この第１実施形態における防塵機能付きカメラの防塵ガラス３０の駆動およびその動作と制御について説明する。
【００３４】
ここに例示した防塵ガラス駆動回路４０は、図２に示すような回路構成を有し、その各部において、図３のタイムチャートで表わす波形の信号（Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ４）が生成され、それらの信号に基づいて次のように制御される。すなわち、防塵ガラス駆動回路４０は図２に例示の如く、Ｎ進カウンタ４１、１／２分周回路４２、インバータ４３、複数のＭＯＳトランジスタ（Ｑ００，Ｑ０１，Ｑ０２）４４ａ，４４ｂ，４４ｃ、トランス４５および抵抗（Ｒ００）４６から構成されている。
【００３５】
上記トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ（Ｑ０１）４４ｂおよびトランジスタ（Ｑ０２）４４ｃのＯＮ／ＯＦＦ切替え動作によって、そのトランス４５の２次側に所定周期の信号（Ｓｉｇ４）が発生するように構成されており、この所定周期の信号に基づき圧電素子３１を駆動させ、防塵ガラス３０を共振させるようになっている（詳細後述）。
【００３６】
Ｂｕｃｏｍ５０は、制御ポートとして設けられた２つのＩＯポートＰ＿ＰｗＣｏｎｔ及びＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔと、このＢｕｃｏｍ５０内部に存在するクロックジェネレータ５５を介して防塵ガラス駆動回路４０を次のように制御する。クロックジェネレータ５５は、圧電素子３１へ印加する信号周波数より充分に早い周波数でパルス信号（基本クロック信号）をＮ進カウンタ４１へ出力する。この出力信号が図３中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ１である。そしてこの基本クロック信号はＮ進カウンタ４１へ入力される。
【００３７】
Ｎ進カウンタ４１は、当該パルス信号をカウントし所定の値”Ｎ”に達する毎にカウント終了パルス信号を出力する。即ち、基本クロック信号を１／Ｎに分周することになる。この出力信号が図３中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ２である。
【００３８】
この分周されたパルス信号はＨｉｇｈとＬｏｗのデューティ比が１：１ではない。そこで、１／２分周回路４２を通してデューティ比を１：１へ変換する。
【００３９】
なお、この変換されたパルス信号は図３中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ３に対応する。
【００４０】
この変換されたパルス信号のＨｉｇｈ状態において、この信号が入力されたＭＯＳトランジスタ（Ｑ０１）４４ｂがＯＮする。一方、トランジスタ（Ｑ０２）４４ｃへはインバータ４３を経由してこのパルス信号が印加される。したがって、パルス信号のＬｏｗ状態において、この信号が入力されたトランジスタ（Ｑ０２）４４ｃがＯＮする。トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ（Ｑ０１）４４ｂとトランジスタ（Ｑ０２）４４ｃが交互にＯＮすると、２次側には図３中の信号Ｓｉｇ４の如き周期の信号が発生する。
【００４１】
トランス４５の巻き線比は、電源回路５３のユニットの出力電圧と圧電素子３１の駆動に必要な電圧から決定される。尚、抵抗（Ｒ００）４６はトランス４５に過大な電流が流れることを制限するために設けられている。
【００４２】
圧電素子３１を駆動するに際しては、トランジスタ（Ｑ００）４４ａがＯＮ状態にあり、電源回路５３ユニットからトランス４５のセンタータップに電圧が印加されていなければならない。図中トランジスタ（Ｑ００）４４ａのＯＮ／ＯＦＦ制御はＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを介して行われる。Ｎ進カウンタ４１の設定値”Ｎ”はＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔから設定できる。よって、Ｂｕｃｏｍ５０は、設定値”Ｎ”を適宜に制御することで、圧電素子３１の駆動周波数を任意に変更可能である。
【００４３】
このとき、次式によって周波数は算出可能である。
【００４４】
ｆｄｒｖ　＝　ｆｐｌｓ／２Ｎ　　．．．（１式）
ここで、Ｎ：カウンタへの設定値、
ｆｐｌｓ：クロックジェネレータの出力パルスの周波数、
ｆｄｒｖ：圧電素子へ印加される信号の周波数、
尚、この式に基づいた演算は、Ｂｕｃｏｍ５０のＣＰＵ（制御手段）で行われる。
【００４５】
さらに、上述のカメラボディ制御用マイクロコンピュータ（Ｂｕｃｏｍ）５０が行う制御について具体的に説明する。
図４にＢｕｃｏｍ５０で稼動する制御プログラムのメインルーチンを例示する。まずカメラの電源ＳＷ（不図示）がＯＮされると、Ｂｕｃｏｍ５０は稼動を開始し、＃０００では、カメラシステムを起動するための処理が実行される。電源回路５３を制御してこのカメラシステムを構成する各回路ユニットへ電力を供給する。また各回路の初期設定を行う。
【００４６】
＃００１では、温度測定回路３３より現在の温度データを取り込む。この温度データは続く＃００２の動作ルーチンにおいて必要な情報である。
【００４７】
＃００２では、サブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。このサブルーチン中で防塵ガラス３０を振動させることにより塵払いの動作が実行される。電源起動時にこの動作を実行することで、このカメラを撮影に使用しない期間に、意図せずにガラスに付着した塵を除去できる。サブルーチンの詳細動作は後述する。
【００４８】
＃００３は、周期的に実行されるステップであり、Ｌｕｃｏｍ５と通信動作を行うことでレンズユニット１０の状態を検出するための動作ステップである。＃００４にて、レンズユニット１０がボディユニット５０に装着されたことを検出すると、＃００７へ移行する。一方、レンズユニット１０がボディユニット５０から外されたことを検出したときは、＃００５から＃００６へ移行する。そして制御フラグのＦ＿Ｌｅｎｓをリセットする。そして＃０１０に移行する。
【００４９】
＃００７では、制御フラグのＦ＿Ｌｅｎｓをセットする。この制御フラグは、カメラのボディユニット５０にレンズユニット１０が装着されている期間は”１”を示し、レンズユニット１０が外されている期間は”０”を示す。
【００５０】
＃００８にて、温度測定の動作が行われ、その直後の＃００９にて、防塵ガラス３０の塵を除去するためのサブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。そして＃０１０に移行する。
【００５１】
通常、カメラ本体にレンズユニット１０が装着されていない期間において、レンズや防塵ガラス３０等に塵が付着する可能性が高い。したがってレンズユニット１０の装着を検出したタイミングで塵を払う動作を実行することが望ましい。よって、周期的に＃００８と＃００９の動作を実行することも考えられるが、これでは、塵が付着していない状態で防塵ガラス３０を振動させることが多くなり、無駄な電力を消費する可能性が高いので、ここでは、レンズ装着操作の有無で実行することにしている。
【００５２】
＃０１０では、カメラ操作ＳＷ５２の状態を検出する。そして、カメラ操作ＳＷ５２の１つであるモード変更ＳＷ（不図示）の状態変化が＃１１０で検出されると、＃０１２へ移行する。
【００５３】
＃０１２では、そのＳＷの操作に連動してカメラの動作モードが変更され、＃０１３では、その動作モードに応じた情報が動作表示用ＬＣＤ５１へ表示出力される。そして上記＃００３へ再び移行する。
【００５４】
＃０１４では、カメラ操作ＳＷの１つである１ｓｔ．レリーズＳＷ（不図示）が操作されたか否かを判定する。もし、１ｓｔ．レリーズＳＷがＯＮしているならば＃０１５へ移行し、ＯＦＦならば上記＃００３へ再び移行する。
【００５５】
＃０１５では、測光回路２１から被写体の輝度情報を入手する。そしてこの情報からＣＣＤユニット２２の露光時間（Ｔｖ値）と撮影レンズ１の絞り設定値（Ａｖ値）を算出する。
【００５６】
＃０１６では、ＡＦセンサ駆動回路１７を経由してＡＦセンサユニット１６の検知データを入手する。このデータに基づきピントのズレ量を算出する。
【００５７】
ここで＃０１７にて、Ｆ＿Ｌｅｎｓの状態を判定する。”０”ならばレンズユニット１０が存在しないことを意味するので、＃０１８以降の撮影動作は実行できない。そこでこの場合は上記＃００３へ再び移行する。
【００５８】
＃０１８では、Ｌｕｃｏｍ５に対してピントのズレ量を送信して、このズレ量に基づく撮影レンズ１の駆動を指令する。
【００５９】
＃０１９では、カメラ操作ＳＷ５２の１つである２ｎｄ．レリーズＳＷ（不図示）が操作されたか否かを判定する。この２ｎｄ．レリーズＳＷがＯＮしているときは＃０２０へ移行して所定の撮影動作を行うが、ＯＦＦのときは上記＃００３へ再び移行する。
【００６０】
＃０２０からは、まずＬｕｃｏｍ５へＡｖ値を送信し、絞り３の駆動を指令し、＃０２１にてクイックリターンミラー１１をＵＰ位置へ移動する。＃０２２にてシャッタ１５の先幕走行を開始させ、＃０２３にて画像処理コントローラ２８に対して撮像動作の実行を指令する。Ｔｖ値で示される時間、ＣＣＤユニット２２への露光が終了すると、＃０２４において、シャッタ１５の後幕走行を開始させ、＃０２５にてクイックリターンミラー１１をＤｏｗｎ位置へ駆動する。
【００６１】
またこれと並行してシャッタ１５のチャージ動作を行う。そして＃０２６では、Ｌｕｃｏｍ５に対して絞り３を開放位置へ復帰させるように指令し、＃０２７では、画像処理コントローラ２８に対して、撮影した画像データを記録メディア２７へ記録するように指令する。その画像データの記録が終了すると、再び上記＃００３へ移行する。
【００６２】
防塵ガラス３０の支持構造と振動形態について説明しておく。
【００６３】
本発明に係わるカメラシステムにおいては、防塵ガラス３０の形状を仮に円盤とする。またその防塵ガラス３０のガラス板の円周に沿って加振用の圧電素子３１を配置すると、このガラス板は円周で支持されることになる。このとき、当該ガラス板は複数の振動モード（振動形態）で加振する。本発明ではこの振動モードの中から２つのモードを選択して使い分けることとする。図６（ａ），（ｂ）および図７（ａ），（ｂ）に選択した振動モードにおけるガラス板の振動の状態を示す。
【００６４】
この第１実施形態に係わる防塵ガラス３０は、図６（ａ），（ｂ）にそれぞれ図示したような振動形態を示す。すなわち、加振手段として働く圧電素子によって振動を加えると、そのガラス板の周囲には振動しない「節」が発生するが、概ねガラス全面が同じ位相にて、太矢印で示された如く図６（ａ）と図６（ｂ）の状態を交互に繰り返して振動する。このような振動形態を以下「振動モード１」と称する。
【００６５】
同様に、この第１実施形態の防塵ガラス３０は、加える振動の周波数によっては、図７（ａ），（ｂ）にそれぞれ図示したような形態でも振動することができる。すなわち、図７（ａ），（ｂ）に例示した防塵ガラス３０の振動形態は、ガラス板の内側と外側が１８０度ずれた位相で振動するものである。詳しくは、図示する振動形態ではガラス板の周囲と内部に節がそれぞれ発生するモードであり、図示の如く、内側の節に囲まれた領域の振動と内部の節の外側領域（ドーナツ状の領域）の振動は位相が１８０度ずれている。以下これを「振動モード２」と称する。
【００６６】
次に図５に示すサブルーチン「塵除去動作」においては、これら振動モード１と振動モード２の２つのモードで防塵ガラス３０が共振されるように圧電素子３１を駆動するように設定されている。一般的に、塵の特性（例えば重さ、形状、素材など）によって、塵を除去しやすい周波数や振幅が異なる。そこで、確実に塵を除くためにはこれら２つの振動モードでそのガラス板を共振させるとよい。勿論、更に複数の振動モードで共振させてもよい。但し、除去動作にかかる時間もまたその分余計にかかることがあるので、除去効果の程度と所要時間とを充分鑑みて適当な数に設定するべきである。
【００６７】
図５のフローチャートおよび図８〜図１１に基づき、特徴的な「塵除去動作」について説明する。
【００６８】
＃１００では、ＥＥＰＲＯＭ２９から３つの制御パラメータ（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ，ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ，ＯＳＣｔｉｍｅ）を読み出す。
【００６９】
これらの３つの制御パラメータは、図８にメモリマップで示されたＥＥＰＲＯＭ２９内部に記憶された「振動モード１対応温度補正テーブル」から読み出せる。
【００７０】
図９（ａ）は、この振動モード１対応温度補正テーブルの詳細を示している。
【００７１】
この温度補正テーブルから対応する制御パラメータを読み出すためには温度情報（ｔ）が必要である。温度情報（ｔ）は当サブルーチンの実行前に、温度測定回路３３の温度センサ（不図示）によって検出され取得されている（参照：図４の＃００１又は＃００８）。
【００７２】
温度情報（ｔ）が仮に２０℃の場合、このときの制御パラメータを図９の振動モード１対応温度テーブル中の（＊０）から読み取ると、読出し開始位置（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ）は”３”、読出し終了位置（ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ）は”９”、そして、時間間隔（ＯｓｃＴｉｍｅ）は”１００”がそれぞれ対応して得られる。そして、ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔの値とＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔの値によって、ＥＥＰＲＯＭ２９の振動モード１対応周波数補正テーブルの領域を定義する。また、この領域から読み出された時間間隔（この場合は１００ｍｓｅｃ．）でＮ進カウンタ４１へ順次設定される。
【００７３】
図１０（ａ），（ｂ）はこれら振動モードに対応する周波数補正テーブルを示し、図１０（ａ）は振動モード１対応周波数補正テーブル、図１０（ｂ）は振動モード２対応周波数補正テーブルである。
【００７４】
振動モード１対応周波数補正テーブルはクロックジェネレータが周波数４０（ＭＨｚ）のパルス信号を出力するものとして算出されている。
【００７５】
既に説明した（１式）を適用すれば駆動周波数は算出できる。上述した温度補正テーブルから読み取った値に基づき、振動モード１対応周波数補正テーブルの＊１〜＊２の領域の７つのプリセット値がＮ進カウンタ４１へ順次設定される。このときの駆動周波数ｆ１，ｆ２，・・・，ｆ７と、ガラス板の振動の振幅との関係をグラフとしてプロットすると、図１１中の＊３のような曲線となる。
【００７６】
この図１１には、駆動周波数ｆｎとガラス板の振動の振幅との関係を特性グラフ曲線で表わしており、プロットされた＊３のグラフ曲線を中心として、共振周波数の補正範囲（ｆｃ′＜ｆｃ＜ｆｃ″）が示されている。
【００７７】
上記＊３のグラフ曲線においては、ｆｃが共振周波数である。そしてこのｆｃはたまたまｆ４に等しい。例えば＊４の如き特性をもつガラス板の場合はｆｃ′が共振周波数であって、ｆｃ′はｆ２と等しい。例えば、＊５の如き特性のガラス板の場合はｆｃ″が共振周波数であって、ｆｃ″はｆ６と等しい。
【００７８】
よって、共振周波数がΔｆｃの範囲でバラツクことを考慮して、当該周波数補正テーブルの読出し開始位置（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ）と読出し終了位置（ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ）を設定すれば、必ず共振周波数でガラス板を加振する状況を実現することができる。
【００７９】
また温度によっても、Δｆｃが変動しても、図８に示す振動モード１対応温度補正テーブルを適正に設定することで、必ず共振周波数で駆動できることが明らかである。
【００８０】
ここで図５のフローチャートの説明に戻る。ＯＳＣｔｉｍｅの値を大きくすれば、共振状態における加振時間を任意に設定できる。但し、無効な加振動作（共振周波数以外での駆動）の時間も大きくなるので注意が必要である。
【００８１】
そこで、＃１０１では、ＥＥＰＲＯＭ２９の読み出し開始アドレスとしてＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔを設定する。ＡｄｄｒｅｓｓＭ１は振動モード１対応周波数補正テーブルの先頭アドレスを示している。したがって、ＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔは図１０（ａ）中の＊１に対応していることになる。
【００８２】
＃１０２では、圧電素子３１を駆動するための準備動作が行われる。ＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを制御してトランジスタＱ００をＯＮ状態にする。更に、クロックジェネレータ５５からパルス信号の出力を開始する。この状態でＮ進カウンタ４１にテーブルから取り出したデータを設定すれば、所望の周波数で圧電素子３１を駆動できる。
【００８３】
＃１０３においては、設定されたアドレスからプリセット値（Ｎ）を読み出す。そして、ＩＯポートのＤ＿ＮＣｎｔからＮ進カウンタ４１に読み出したプリセット値を設定する。
【００８４】
＃１０４では、タイマカウンタへＯＳＣｔｉｍｅを設定しタイマのカウント動作を開始する。
【００８５】
そして、＃１０５にて、タイマカウンタの動作が終了するまで待機する。＃１０６では、ＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスが”ＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ”に等しいか否かが判定される。もし等しい場合は図１０（ａ）の＊２までテーブルデータを読み出したことを意味する。即ち、予定した複数の周波数での加振動作が終了したことになる。よってこの場合は、＃１０８にて駆動動作を停止する処理が行われる。トランジスタＱ００をＯＦＦし、クロックジェネレータの動作を止める。
【００８６】
上記＃１０６から＃１０７へ移行したときは、ＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスをインリメント（＋１）する。次の周波数で圧電素子３１を駆動するため、上記＃１０３へ再び移行する。
【００８７】
振動モード１に対応する駆動動作が終了すると、振動モード２に対応する駆動動作のために＃２００から＃２０８の動作が実行される。
【００８８】
振動モード２でガラス板を加振するために必要な制御パラメータＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ，ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ，ＯＳＣｔｉｍｅは、図９（ｂ）に示されＥＥＰＲＯＭ２９中の振動モード２対応温度補正テーブルから読み出せばよい。そしてプリセット値（Ｎ）は、ＥＥＰＲＯＭ２９の振動モード２対応周波数補正テーブルから読み出せばよい。同様に、振動モード２対応周波数補正テーブルの詳細は図１０（ｂ）に示されている。
【００８９】
続く＃２００〜＃２０８の動作は、基本的に前述した＃１００から＃１０８の動作と同じである。異なるところは、制御に必要なテーブルを読み出すＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスが異なる点のみである。よってその説明は省略する。
【００９０】
このように、二種類の振動モードによる防塵ガラス３０への加振動作が終了すると、メインルーチンへリターンする。
【００９１】
なお、カメラシステムの設計段階では、ガラス板の共振周波数のバラツキを予測することは非常に困難である。したがって、このカメラシステムが完成した
後に、圧電素子３１の駆動周波数を決定する制御パラメータを設定できるようにすべきである。そこで必要なパラメータは、上述した如く本発明ではすべてＥＥＰＲＯＭ２９に選択可能に格納されている。
【００９２】
このように、第１実施形態の防塵機能付き光学装置（例えばカメラ）によれば、被写体像を光電変換するためのＣＣＤユニット２２と、このＣＣＤと撮影レンズ１との間に配される光学素子（防塵ガラス３０）と、この防塵ガラス３０を所定の周波数で振動させる加振手段（例えば圧電素子３１）とを有し、好ましくはこのＣＣＤユニット２２をケース状の枠体内に収めて一体に設けた状態に構成している。そして、圧電素子３１が防塵ガラス駆動回路４０によって防塵ガラス３０を振動させる際には、その振動の周波数を順次変更するように適宜制御している。これによって、防塵ガラス３０の表面は、与えられた複数種類の周波数に基づき同一位相ないし１８０度ずれた位相で振動を繰り返し、その結果、ガラス表面に付着していた塵が除去される。
【００９３】
このように実施したことで、保護ガラスとしての防塵ガラス３０の共振周波数に影響する例えばガラス形状や弾性係数のバラツキなどを調整しなくとも、測定された周囲の温度を考慮する程度で、効率的な塵の除去が可能なカメラを提供することができる。
【００９４】
また、保護ガラスの如きその共振周波数を特定できないガラス部材のバラツキに起因する固有共振周波数に対する調整に要する手間やコストも不要となる。
【００９５】
（第２実施形態）
次に、本発明の第２実施形態について説明する。前述した第１実施形態は次のように実施してもよい。すなわち、図１２に例示の回路図にはこの第２実施形態としての加振手段（防塵ガラス駆動回路４０’　）の構成を示している。重複する説明は避けて特徴的な部分について説明する。
【００９６】
前述の第１実施形態がＮ進カウンタ４１の分周率を制御することで、駆動周波数を変化させる方式にて実施したのに対して、この第２実施形態では、まず図１２のような回路の防塵ガラス駆動回路４０’　を構成実施している。そしてここでは、Ｄ／Ａコンバータ４７とＶＣＯ（電圧制御発振器）４８とを用い、駆動周波数を変化させる方式にて実施している。
【００９７】
図１２の如く防塵ガラス駆動回路４０’　は、Ｂｕｃｏｍ５０の出力ポートのＤ＿ＤＡに接続するＤ／Ａコンバータ４７と、このコンバータ４７に接続するＶＣＯ（電圧制御発振器）４８と、このＶＣＯ４８に接続するアンプ４９と、このアンプ４９に接続するトランジスタ４４およびトランス４５から構成されている。上記トランジスタ４４のベースは、Ｂｕｃｏｍ５０の出力ポートのＰ＿ＰＷＣｏｎｔに接続され、電源回路５３からは必要な電力が供給されている。そして、上記トランス４５には圧電素子３１が接続され、所定の振動にてガラス板を加振できるように構成されている。
【００９８】
このような回路構成において、出力ポートＤ＿ＤＡから与えられた信号に基づきＤ／Ａコンバータ４７でアナログ信号に変換して、この変換された信号に基づきＶＣＯ（電圧制御発振器）４８によって所定の周期の信号を発振させる。アンプ４９でこれを増幅した後、この増幅信号をトランス４５の１次側に供給して得られた２次側の電圧で圧電素子３１を駆動周波数ｆｃ（ｆｎ）で振動させる。尚、この駆動周波数ｆｃは、Ｄ／Ａコンバータ４７の設定値を適宜に変化させることによって、図１１に示すｆｃ′からｆｃ″の範囲で変化させられるので、前述の第１実施形態と同様な制御が可能となる。よって、効率的な塵の除去が可能なカメラを提供することができる。
【００９９】
（第３実施形態）
次に、本発明の第３実施形態について説明する。まず図２に示した防塵ガラス駆動回路４０を用いて塵除去動作を行う際に発生する問題点について述べる。すでに説明したように防塵ガラスに付着した塵を確実に払うためには防塵ガラスを共振周波数で駆動することが望ましい。そして共振周波数は防塵ガラスの特性のばらつきによっておのおのの防塵ガラスに固有の値になる。したがって代表的な共振周波数を１つ定めて防塵ガラスを駆動すると防塵ガラスのなかには共振状態で振動しないものが生ずる。
【０１００】
そこで防塵ガラスを加振する際に複数の周波数の駆動周波数を順次加える。この動作によっていずれかの周波数が防塵ガラスの共振周波数と一致することになる。
【０１０１】
ところで図２の防塵ガラス駆動回路４０を用いて周波数を変更しながら駆動信号を作成する時に問題が発生する。以下、この問題について説明する。
【０１０２】
図１３は周波数ｆ１から周波数ｆ２への遷移状態を示したものである。Ｔ１は周波数ｆ１の一つのサイクルをあらわし、Ｔ２は周波数ｆ２の一つのサイクルを表している。Ｎ進カウンタ４１へのデータ設定は任意のタイミングで設定できる。したがって何らの配慮も無く周波数をｆ１からｆ２へ遷移させると、ｆ１の最後のサイクルＴ１＊　はｆ２の最初のサイクルＴ２＊　に干渉してしまう。この結果＊で示すような歪んだ駆動信号が防塵ガラス３０へ印加される。ｆ１，ｆ２が可聴帯域の周波数で無いとしても、このような歪んだ駆動信号で防塵ガラス３０を駆動すると可聴帯域の異音が発生する。塵除去動作に伴い異音が発生するとユーザに不快感を与える虞がある。
【０１０３】
そこで第３実施形態ではこのような問題をなくすため、２つの周波数ｆ１、ｆ２の干渉が発生することがない防塵ガラスの駆動方法について図１４の回路図と図１５のタイムチャートと図１６のフローチャートを用いて説明する。
【０１０４】
図１４は、本発明の第３実施形態に係る防塵ガラス駆動回路２４０の構成を示している。駆動信号発生ＩＣ２００が出力する駆動信号ＳｉｇＦは図３の駆動信号Ｓｉｇ１と同じである。トランジスタＱ００，Ｑ０１，Ｑ０２、インバータ２１４、トランス２１３、抵抗Ｒ００の機能はそれぞれ、図２のトランジスタＱ００，Ｑ０１，Ｑ０２、インバータ４３、トランス４５、抵抗Ｒ００の機能と同等である。
【０１０５】
図１５は、駆動信号発生ＩＣ２００の動作を示すタイムチャートである。駆動信号発生ＩＣ２００とＢｕｃｏｍ５０とは、ＩＯポートのＰ＿ＣｎｔＣｏｎｔ、データバスのＤ＿ＮＣｎｔにより接続されている。Ｂｕｃｏｍ５０はＰ＿ＣｎｔＣｏｎｔを用いてシーケンス制御回路２０２の動作を制御する。Ｂｕｃｏｍ５０はＤ＿ＮＣｎｔから周波数設定レジスタ２０１に対してＳｉｇＦの周波数を決定するパラメータを設定できる。
【０１０６】
図１６はＢｕｃｏｍ５０が駆動信号発生ＩＣ２００を制御する際の動作フローを示す図である。
【０１０７】
ステップＳ３００では不揮発性メモリ２９（図１）から周波数設定データＮｆ１，Ｎｆ２，…，Ｎｆ７を読み出す。第３実施形態では７つの周波数で防塵ガラス３０を駆動することを想定する。周波数設定データＮｆ１，Ｎｆ２，…，Ｎｆ７は所定の時間間隔で周波数設定レジスタ２０１へ格納される。ステップＳ３０１では最初のデータを周波数設定レジスタ２０１へＤ＿ＮＣｎｔを介して設定する。図１５のタイムチャートの＊１が対応する信号である。ステップＳ３０２ではＰ＿ＰｗＣｏｎｔとＰ＿ＣｎｔＣｏｎｔをＨｉレベルに設定する。Ｐ＿ＰｗＣｏｎｔがＨｉレベルになることで、駆動電力が電源回路５３より供給される。
【０１０８】
シーケンス制御回路２０２はＰ＿ＣｎｔＣｏｎｔのＬｏｗレベルからＨｉレベルへの遷移を検出すると、Ｓｉｇ＿ＬｃｈＡを介してラッチ信号（＊２）をレジスタＡ２０４へ出力する。レジスタＡ２０４はこのラッチ信号を受けて周波数設定レジスタ２０１のデータ（Ｎｆ１）を取り込む。現在のデータは、シーケンス制御回路２０２が新たなラッチ信号を出力するまで保持される。
【０１０９】
レジスタＡ２０４のデータは２つの回路ブロックへ出力される。すなわち、一方では、レジスタＡ２０４のデータは×２回路２０６で２倍された後、カウンタＡ２０８へ出力される。また、他方では、レジスタＡ２０４のデータはコンパレータＡ２０９にそのまま出力される。
【０１１０】
シーケンス制御回路２０２はラッチ信号の出力と同時に、Ｓｉｇ＿ＣｎｔＥｎＡを介してカウント許可信号（＊３）をカウンタＡ２０８へ出力する。カウンタＡ２０８は、Ｓｉｇ＿ＣｎｔＥｎＡのＨｉレベルを検出したとき、システムクロック発生回路２０３から出力されるクロック信号のカウントＵＰ動作を開始する。カウンタＡ２０８はレジスタＡ２０４に設定された値の２倍までカウントＵＰ動作を行い、Ｓｉｇ＿ＣｙＡをキャリー信号（＊４）として出力する。そして再度ゼロからカウントＵＰ動作を開始する。レジスタＡ２０４に設定されている値はＮｆ１であるので、カウンタＡ２０８はゼロから２×Ｎｆ１までのカウントＵＰ動作を実行する。カウントＵＰ動作はＳｉｇ＿ＣｎｔＥｎＡがＬｏｗレベルになるまで繰り返される。
【０１１１】
コンパレータＡ２０９は周波数設定データＮｆ１を基準値としてカウンタＡ２０８の出力を比較する。コンパレータＡ２０９は“Ｎｆ１＞カウンタＡ２０８の出力”の条件下ではコンパレータＡ２０９の出力Ｓｉｇ＿ＦａにＨｉ信号を出力し、“Ｎｆ１≦カウンタＡ２０８の出力”の条件下ではＬｏｗ信号を出力する。したがって５０％デューティーの駆動信号がＳｉｇ＿Ｆａに出力されることになる。Ｓｉｇ＿Ｆａに出力される駆動信号の周波数ｆ１は次式によって求められる。
【０１１２】
ｆｘ＝ｆｃｌｋ／２・Ｎｘ　　　　　　…（２式）
ここで、Ｎｘ：周波数設定レジスタ２０１へ設定される値
ｆｃｌｋ：システムクロック発生回路２０３から出力されるクロックパルスの周波数
ｆｘ：駆動信号の周波数
次にステップＳ３０３においてＢｕｃｏｍ５０は所定時間待機する。この待機時間の間、防塵ガラス３０は周波数ｆ１で加振される。次のステップＳ３０４では、予定したすべての周波数による加振動作を実行したか否かを判定する。すべての周波数による駆動が終了しているときは、ステップＳ３０５へ移行してＰ＿ＰｗＣｏｎｔとＰ＿ＣｎｔＣｏｎｔをＬｏｗレベルに設定してメインルーチンへ戻る。
【０１１３】
また、ステップＳ３０４ですべての周波数による駆動が終了していない場合にはステップＳ３０６へ移行する。ステップＳ３０６では次の周波数設定データＮｆ２を周波数設定レジスタ２０１へ書き込む。タイムチャート上の＊５がこの動作に対応する。次にステップＳ３０７においてＰ＿ＣｎｔＣｏｎｔを介してＬｏｗレベルのパルス信号（＊６）を出力する。シーケンス制御回路２０２はこのパルスのＨｉからＬｏｗレベルへの遷移を検出したときカウンタＡ２０８の動作を停止しなければならない。しかしこのとき＊７のカウント動作の途中である。
【０１１４】
そこでシーケンス制御回路２０２は、カウンタＡ２０８がキャリー信号（＊８）を出力するまでＳｉｇ＿ＣｎｔＥｎＡをＨｉレベルに維持する。シーケンス制御回路２０２はキャリー信号（＊８）に同期してＳｉｇ＿ＣｎｔＥｎＡの状態を変化させる。シーケンス制御回路２０２は、＊６パルスのＬｏｗからＨｉレベルへの信号を検出したとき、Ｓｉｇ＿ＬｃｈＢを介して＊９のラッチ信号をレジスタＢ２０５へ出力する。このラッチ信号に応答して周波数設定レジスタ２０１からのデータ（Ｎｆ２）がレジスタＢ２０５へ入力される。
【０１１５】
シーケンス制御回路２０２は、＊８のキャリー信号に応じてＳｉｇ＿ＣｎｔＥｎＡをＬｏｗレベルに設定するとともに、Ｓｉｇ＿ＣｎｔＥｎＢをＨｉレベルに設定する。
【０１１６】
一方、カウンタＢ２１０は、Ｓｉｇ＿ＣｎｔＥｎＢのＨｉレベルを検出したときにレジスタＢ２０５に設定された値に基づきカウントＵＰ動作を開始する。カウンタＢ２１０はカウンタＡ２０８と同じ動作を行う。
【０１１７】
コンパレータＢ２１１の働きもコンパレータＡ２０９と同じである。コンパレータＢ２１１がＳｉｇ＿Ｆｂを介して出力する駆動信号の周波数ｆ２も（２式）で求めることができる。
【０１１８】
シーケンス制御回路２０２は、カウンタＢ２１０のカウントＵＰ中にＰ＿ＣｎｔＣｏｎｔがＬｏｗレベルになったことを検出しても、Ｓｉｇ＿ＣｎｔＣｏｎｔをＬｏｗレベルへ変化させない。シーケンス制御回路２０２はカウンタＡ２０８の制御と同様にＳｉｇ＿ＣｙＢ上のカウンタＢ２１０のキャリー信号に同期してＳｉｇ＿ＣｎｔＥｎＢの信号レベルを変化させる。
【０１１９】
コンパレータＡ２０９およびコンパレータＢ２１１の出力はＯＲゲート２１２によって１つに合成されＳｉｇＦとなる。
【０１２０】
Ｂｕｃｏｍ５０は周波数ｆ２での加振動作が終了すると、周波数設定データＮｆ３を周波数設定レジスタ２０１へ入力後、Ｐ＿ＣｎｔＣｏｎｔを介してＬｏｗレベルのパルスをシーケンス制御回路２０２に出力する。するとシーケンス制御回路２０２は、カウンタＢ２１０からカウンタＡ２０８へと制御すべきカウンタを切り替える。
【０１２１】
これにより新たな周波数で防塵ガラス３０を駆動するごとに２つのカウンタＡ２０８，Ｂ２１０の動作が交互に切り替わる。この動作はＢｕｃｏｍ５０がＮｆ１からＮｆ７までのデータについて処理が終わるまで継続される。
【０１２２】
第３実施形態では、２つのカウンタＡ２０８、Ｂ２１０を交互にカウントＵＰさせて駆動信号を生成する際に、一方のカウンタ（動作中）の１周期のカウントＵＰ動作が終了するまでは他方のカウンタ（待機中）のカウントＵＰ動作を開始させないようにしている。したがって、それぞれのカウンタによって生成された駆動信号が干渉（図１３の＊部）することがなくなるので、可聴帯域の異音が発生してユーザに不快感を与えることはない。
【０１２３】
（変形例）
なお、電子撮像可能なカメラシステムを例にして保護ガラス（防塵ガラス３０）による実施形態について説明してきたが、埃や塵を嫌うその他の光学装置においても、本発明を同様に適用すれば、前述した第１〜第３実施形態と同等な効果が得られる。
【０１２４】
また、共振周波数を特定できないガラス以外の光学素子部材を適用することもでき、その場合にも、製品個々のバラツキに起因する固有共振周波数に対する調整は不要となり、前述同等な効果が期待できる。
【０１２５】
このほかにも、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形実施が可能である。
【０１２６】
以上、実施形態に基づき説明したが、本明細書中には次の発明が含まれる。
【０１２７】
（１）　被写体像を結像する撮影レンズと、当該被写体像を光電変換するＣＣＤと、このＣＣＤと上記撮影レンズとの間に在る防塵ガラスと、この防塵ガラスを設定された周波数で振動させる圧電素子と、を備えて成り、
上記圧電素子は、駆動直前に測定した周辺温度に基づき設定された複数の周波数にて、防塵ガラス駆動回路を介して上記防塵ガラスを、順次周波数変更させながら振動させることを特徴とする防塵機能付きカメラを提供できる。
【０１２８】
（２）　上記防塵ガラスの駆動周波数は、上記防塵ガラスが有する基本的な共振周波数（ｆｃ）を中心としてこの近傍の複数の周波数に順次切り替わるように設定されることを特徴とする（１）に記載の防塵機能付きカメラを提供できる。
【０１２９】
【発明の効果】
以上、本発明によれば、共振周波数を一箇所に特定できない保護ガラス（防塵ガラス）の個々のバラツキに起因する固有共振周波数に対する特別な調整を行う必要がなくなり、塵の除去のために効率よく駆動するような方式を有する防塵機能付き光学装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係わる実施形態のカメラの構成を示すブロック構成図。
【図２】第１実施形態としての加振手段（防塵ガラス駆動回路）の回路構成を示す回路図。
【図３】防塵ガラス駆動回路の動作を説明するため、図２中の各部における信号波形の表わすタイムチャート。
【図４】カメラボディ制御用マイコンのカメラシーケンスの手順を表わすフローチャート。
【図５】図４のフローチャート中のルーチン「塵除去動作」の詳細手順を表わすフローチャート。
【図６】図６（ａ），（ｂ）は本発明に係わる防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の周囲に節が発生して全面が同じ位相で振動する形態（振動モード１）の説明図。
【図７】図７（ａ），（ｂ）は本発明に係わる防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の内側と外側が逆位相で振動する形態（振動モード２）の説明図。
【図８】ＥＥＰＲＯＭに占める温度補正又は周波数補正に関するテーブル領域を示すメモリマップ。
【図９】図９（ａ），（ｂ）は、温度と、振動モードの周波数補正に関する制御パラメータを示し、（ａ）は、振動モード１対応温度補正テーブルの詳細を表わす一覧表、（ｂ）は、振動モード２対応温度補正テーブルの詳細を表わす一覧表。
【図１０】図１０（ａ），（ｂ）は振動モードに対応する補正値を示し、（ａ）は、振動モード１対応周波数補正テーブルの詳細表、（ｂ）は、振動モード２対応周波数補正テーブルの詳細表。
【図１１】駆動周波数とガラス板の振動の振幅との関係を表わす特性グラフ。
【図１２】第２実施形態としての加振手段（防塵ガラス駆動回路）の回路構成を示す回路図。
【図１３】周波数ｆ１から周波数ｆ２への遷移状態を示す図。
【図１４】本発明の第３実施形態に係る防塵ガラス駆動回路２４０の構成を示す回路図。
【図１５】本発明の第３実施形態を説明するためのタイムチャート。
【図１６】本発明の第３実施形態を説明するためのフローチャート。
【符号の説明】
１．．．撮影レンズ、　２．．．レンズ駆動機構、
３．．．絞り、　　　　４．．．絞り駆動機構、
５．．．レンズ制御用マイクロコンピュータ、
６．．．通信コネクタ、
１０．．．レンズユニット（交換レンズ）、
１１．．．クイックリターンミラー、
１２．．．ペンタプリズム、
１３．．．接眼レンズ、　１４．．．サブミラー、
１５．．．シャッタ（前幕、後幕）、
１６．．．ＡＦセンサ、　１７．．．ＡＦセンサ駆動回路、
１８．．．ミラー駆動機構、
１９．．．シャッタチャージ機構、
２０．．．シャッタ制御回路、
２１．．．測光回路、
２２．．．ＣＣＤユニット（光電変換素子）、
２３．．．ＣＣＤインターフェイス回路、
２４．．．液晶モニタ、　２５．．．ＳＤＲＡＭ、
２６．．．ＦｌａｓｈＲＯＭ、
２７．．．記録メディア、２８．．．画像処理コントローラ、
２９．．．不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、
３０．．．防塵ガラス（光学素子）、
３１．．．圧電素子（加振手段）、
３３．．．温度測定回路、
４０．．．防塵ガラス駆動回路（加振手段）、
４１．．．Ｎ進カウンタ、
４２．．．１／２分周回路（分周手段）、
４３．．．インバータ、　　４４．．．トランジスタ、
４４ａ．．．ＭＯＳトランジスタ、
４４ｂ，４４ｃ．．．トランジスタ、
４５．．．トランス、　　　４６．．．抵抗、
４７．．．Ｄ／Ａコンバータ、
４８．．．ＶＣＯ（電圧制御発振器）、
４９．．．アンプ、
５０．．．ボディ制御用マイクロコンピュータ、
５１．．．動作表示用ＬＣＤ、
５２．．．カメラ操作ＳＷ、
５３．．．電源回路、　　　５４．．．電池、
５５．．．クロックジェネレータ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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