(57)【要約】【課題】特定の機能のみを選択して検査することができるとともに、検査コストを削減することができる電子機器および機能実行方法を提供すること。【解決手段】複数の機能を有し、複数の機能を実行する複数の機能実行手段１５２ａ、１５２ｂ、１５２ｃ、１５２ｄおよび１５２ｅと、電圧が印加される印加部１３０と、印加部１３０に印加された電圧値を検出する電圧値検出手段１４２と、複数の電圧範囲と実行されるべき機能との対応関係を記憶する対応機能記憶手段１５０と、電圧値検出手段１４２によって検出された電圧値と対応機能記憶手段１５０に記憶された電圧範囲とを比較する機能決定比較手段１４９と、機能決定比較手段１４９の結果に応じて実行されるべき機能を決定する機能決定手段１５１とを備える構成を有する。【選択図】  図１
2004164000.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の機能を有し、前記複数の機能を実行する複数の機能実行手段と、電圧が印加される印加部と、前記印加部に印加された電圧の値を検出する電圧値検出手段と、複数の電圧範囲と実行されるべき前記機能との対応関係を記憶する対応機能記憶手段と、前記電圧値検出手段によって検出された電圧値と前記対応機能記憶手段に記憶された前記電圧範囲とを比較する機能決定比較手段と、前記機能決定比較手段の結果に応じて実行されるべき前記機能を決定する機能決定手段とを備えることを特徴とする電子機器。
【請求項２】
発光する発光手段と、第１の電圧値を記憶する電圧値記憶手段とを備え、前記印加部は前記発光手段の発光量を決定するための電圧が印加されるようになっており、前記印加部に印加された電圧値と前記第１の電圧値とを比較するモード切替比較手段と、前記モード切替比較手段による比較結果に基づいてモードを切り替えるか否かを判定し、前記印加部に印加された電圧値に応じた発光量で前記発光手段を発光させる第１のモードから前記印加部に印加された電圧値に応じて実行されるべき前記機能を選択する第２のモードに切り替えるモード切替手段を備えることを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項３】
前記印加部に電圧が印加されるた時間を計時する計時手段と、第１の時間を記憶する時間記憶手段とを備え、前記モード切替比較手段は、前記印加部に印加された電圧値と前記第１の電圧値とを比較し、かつ前記計時手段が計時した時間と前記第１の時間とを比較し、前記モード切替手段は、前記モード切替比較手段による比較結果に基づいてモードを切り替えるか否かを判定し、前記第１のモードから前記第２のモードに切り替えるようになっていることを特徴とする請求項２に記載の電子機器。
【請求項４】
前記印加部に印加された電圧を減衰させる減衰手段を備えることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の電子機器。
【請求項５】
実行されるべき前記機能を選択するための電圧が印加される端子に印加された電圧値と、複数の電圧範囲と実行されるべき前記機能との対応関係を記憶する記憶手段に記憶された前記電圧範囲とを比較し、前記検出手段によって検出された電圧値がいずれの前記電圧範囲に含まれるかを判定する電圧範囲判定ステップと、前記電圧範囲判定ステップで前記検出手段によって検出される電圧の値が含まれると判定された前記電圧範囲と対応関係にある前記機能を実行する機能実行ステップとを含むことを特徴とする機能実行方法。
【請求項６】
第１のモードと第２のモードとを備え、前記第２のモードは、前記検出手段によって検出される電圧の値に応じて実行されるべき機能を選択するモードとし、前記第１のモード時に、前記検出手段によって検出された電圧と第１の電圧値とを比較し、モード切り替えを行うか否かを判定する第１のモード切替判定ステップと、前記モード切替判定ステップでモード切り替えを行うと判定した場合、前記第１のモードから前記第２のモードに切り替える第１のモード切替ステップとを含むことを特徴とする請求項５に記載の機能実行方法。
【請求項７】
第１のモードと第２のモードとを備え、前記第２のモードは、前記検出手段によって検出される電圧値に応じて実行されるべき機能を選択するモードとし、前記第１のモード時に、前記検出手段によって検出された電圧値と第１の電圧値とを比較し、かつ前記端子に電圧が印加された時間と第１の時間とを比較することでモード切り替えを行うか否かを判定する第１のモード切替判定ステップと、前記第１のモード切替判定ステップでモード切り替えを行うと判定した場合、前記第１のモードから前記第２のモードに切り替える第１のモード切替ステップとを含むことを特徴とする請求項５に記載の機能実行方法。
【請求項８】
前記第２のモード時に、前記検出手段によって検出された電圧の値と第２の電圧値とを比較し、モード切り替えを行うか否かを判定する第２のモード切替判定ステップと、前記第２のモード切替判定ステップでモード切替を行うと判定した場合、前記第２のモードから前記第１のモードに切り替える第２のモード切替ステップとを含むことを特徴とする請求項６または請求項７に記載の機能実行方法。
【請求項９】
前記第２のモード時に、前記検出手段によって検出された電圧の値と第２の電圧値とを比較し、かつ前記端子に電圧が印加される時間と第２の時間とを比較することでモード切り替えを行うか否かを判定する第２のモード切替判定ステップと、前記第２のモード切替判定ステップでモード切り替えを行うと判定した場合、前記第２のモードから前記第１のモードに切り替える第２のモード切替ステップとを含むことを特徴とする請求項６または請求項７に記載の機能実行方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子機器および機能実行方法に関し、さらに詳しくは、外部装置からの指示により機能を実行する電子機器および機能が正常に実行されるか検査を行う検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
後述の従来の電子機器、検査用外部装置および検査方法以前は、外部装置からの指示により機能を実行する電子機器は、各機能の検査を行う際に、機能および検査内容が大きく相違しないにもかかわらず、設計上の仕様の違い等により検査用の外部装置である検査用外部装置として共通の装置を利用することができず、それぞれの電子機器専用の検査用外部装置を準備しなくてはならなかった。
また、それぞれの検査用外部装置の操作仕様も異なるため、検査を手動で行う場合、作業者にそれぞれの検査用外部装置ごとの検査方法を指示しなくてはならなかった。
そのため、検査の準備に時間を多く要し、さらにそれぞれ異なる検査用外部装置を検査される電子機器ごとに準備するために検査コストがかかっていた。
【０００３】
このような外部装置からの指示により機能を実行する電子機器の検査において、検査方法を統一し、さらに共通で利用できる簡単な検査用外部装置を用いることで検査の準備の時間および検査コストを削減することができる電子機器、検査用外部装置および検査方法が従来から提供されていた。（例えば、特許文献１）。
【０００４】
上述の従来の検査用外部装置は、電子機器が備える機能の検査を行う検査モードに設定するためのモード信号を発生させるモード信号発生手段と、機能の検査を開始させる開始信号を発生させる開始スイッチと、モード信号を電子機器に送信する第１の送信端子と、開始信号を電子機器に送信する第２の送信端子とを備える構成を有していた。
また、上述された従来の電子機器は、検査用外部装置からのモード信号を受信する第１の受信端子と開始信号を受信する第２の受信端子と、予め設定された順番に従って複数の機能の検査を行う複数の検査手段と、検査用外部装置からモード信号が入力されることで検査モードに切り替える検査モード切替手段と、検査用外部装置から開始信号が入力されると現在検査されている機能の次に位置する機能の検査を開始する検査機能開始手段とを備える構成を有していた。
【０００５】
このような従来の電子機器および検査用外部装置の検査時の動作および検査方法について説明する。
【０００６】
まず、検査用外部装置のモード信号発生手段によってモード信号が第１の送信端子を介して電子機器に送信される。
次に、電子機器において、モード信号が第１の受信端子を介して検査モード切替手段に入力されることで検査モード切替手段によって検査モードに設定される。
続いて、検査モードに設定されることにより、検査機能開始手段によって予め設定された検査される順番における先頭に位置する検査手段による検査が開始される。
次に、検査用外部装置の開始スイッチが押されることにより開始信号が第２の送信端子を介して電子機器に送信される。
続いて、電子機器において、開始信号が第２の受信端子を介して検査機能開始手段に入力されることで、現在検査されている機能の次に位置する機能の検査が開始される。
【０００７】
つまり、上述の電子機器における検査方法は、検査用外部装置からモード切替のための信号を受信することで検査モードに切り替え、検査される順番の先頭の機能の検査を開始し、以後、予め設定された検査される順番において現在検査されている機能の次に位置する機能の検査を開始させる信号を検査用外部装置から受信することで、予め設定された検査される順番において現在検査されている機能の次に位置する機能の検査を開始するものである。
【０００８】
【特許文献１】
特開平０７−３０２２０９号公報（第２−３頁、図１）
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述の従来の電子機器、検査用外部装置および検査方法では、各機能の検査は予め設定された順番に従って行われ、上述の従来の電子機器、検査用外部装置および検査方法以前においては実現されていた特定の機能のみを選択して検査するということができなかった。
さらに、上述の従来の電子機器、検査用外部装置および検査方法以前においては、特定の機能のみを選択して検査するためにそれぞれの電子機器ごとに専用の検査用外部装置を準備しなければならなかったため、検査コストがかかっていた。
【００１０】
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、特定の機能のみを選択して検査することができ、かつ検査コストを削減することができる電子機器および検査方法を提供するものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明の電子機器は、複数の機能を有し、前記複数の機能を実行する複数の機能実行手段と、電圧が印加される印加部と、前記印加部に印加された電圧の値を検出する電圧値検出手段と、複数の電圧範囲と実行されるべき前記機能との対応関係を記憶する対応機能記憶手段と、前記電圧値検出手段によって検出された電圧値と前記対応機能記憶手段に記憶された前記電圧範囲とを比較する機能決定比較手段と、前記機能決定比較手段の結果に応じて実行されるべき前記機能を決定する機能決定手段とを備える構成を有している。
【００１２】
この構成により、印加された電圧の値に応じて実行される機能を選択することができ、さらに検査用外部装置として簡単な可変電圧供給装置を用いることができるため、特定の機能のみを選択して検査することができ、かつ検査用外部装置の製造コストを削減することで検査コストを削減することができる。
【００１３】
本発明の電子機器は、発光する発光手段と、第１の電圧値を記憶する電圧値記憶手段とを備え、前記印加部は前記発光手段の発光量を決定するための電圧が印加されるようになっており、前記印加部に印加された電圧値と前記第１の電圧値とを比較するモード切替比較手段と、前記モード切替比較手段による比較結果に基づいてモードを切り替えるか否かを判定し、前記印加部に印加された電圧値に応じた発光量で前記発光手段を発光させる第１のモードから前記印加部に印加された電圧値に応じて実行されるべき前記機能を選択する第２のモードに切り替えるモード切替手段を備える構成を有している。
【００１４】
この構成により、既存の発光手段用の電圧印加部を利用するので、検査専用の信号受信端子を備える必要がないため、電子機器を小さくすることができ、電子機器の製造コストを削減することができる。
【００１５】
本発明の電子機器は、前記印加部に電圧が印加されるた時間を計時する計時手段と、第１の時間を記憶する時間記憶手段とを備え、前記モード切替比較手段は、前記印加部に印加された電圧値と前記第１の電圧値とを比較し、かつ前記計時手段が計時した時間と前記第１の時間とを比較し、前記モード切替手段は、前記モード切替比較手段による比較結果に基づいてモードを切り替えるか否かを判定し、前記第１のモードから前記第２のモードに切り替えるようになっている構成を有している。
【００１６】
この構成により、一度、モードを切り替える条件を満たさないと印加された電圧の値に応じて実行される機能を選択するモードに切り替わらないので、誤って機能を実行させる電圧値が印加されても機能は実行されないため、動作を安定させることができる。
【００１７】
本発明の電子機器は、前記印加部に印加された電圧を減衰させる減衰手段を備える構成を有している。
【００１８】
この構成により、一般に入手しやすい可変電圧供給装置および電圧供給装置が印加できる電圧の高さに耐えられない電子機器の構成要素に対しても電圧を減衰することで外部から電圧を印加することができるので、一般に入手しやすい簡単な可変電圧供給装置および電圧供給装置を検査用外部装置として用いることができるため、検査用外部装置の製造コストの削減をすることができ、さらに電子機器の構成要素を保護することができるため、動作を安定させることができる。
【００１９】
本発明の機能実行方法は、実行されるべき前記機能を選択するための電圧が印加される端子に印加された電圧値と、複数の電圧範囲と実行されるべき前記機能との対応関係を記憶する記憶手段に記憶された前記電圧範囲とを比較し、前記検出手段によって検出された電圧値がいずれの前記電圧範囲に含まれるかを判定する電圧範囲判定ステップと、前記電圧範囲判定ステップで前記検出手段によって検出される電圧の値が含まれると判定された前記電圧範囲と対応関係にある前記機能を実行する機能実行ステップとを含む構成を有している。
【００２０】
この構成により、印加された電圧の値によって実行される機能を選択することができ、さらに検査用外部装置として簡単な可変電圧供給装置を用いることができるため、特定の機能のみを選択して検査することができ、かつ検査用外部装置の製造コストの削減をすることで検査コストを削減することができる。
【００２１】
本発明の機能実行方法は、第１のモードと第２のモードとを備え、前記第２のモードは、前記検出手段によって検出される電圧の値に応じて実行されるべき機能を選択するモードとし、前記第１のモード時に、前記検出手段によって検出された電圧と第１の電圧値とを比較し、モード切り替えを行うか否かを判定する第１のモード切替判定ステップと、前記モード切替判定ステップでモード切り替えを行うと判定した場合、前記第１のモードから前記第２のモードに切り替える第１のモード切替ステップとを含む構成を有している。
【００２２】
この構成により、一度、モードを切り替える条件を満たさないと印加された電圧の値に応じて実行される機能を選択しないようになっているので、誤って機能を実行させる電圧値が印加されても機能は実行されないため、動作を安定させることができる。
【００２３】
本発明の機能実行方法は、第１のモードと第２のモードとを備え、前記第２のモードは、前記検出手段によって検出される電圧値に応じて実行されるべき機能を選択するモードとし、前記第１のモード時に、前記検出手段によって検出された電圧値と第１の電圧値とを比較し、かつ前記端子に電圧が印加された時間と第１の時間とを比較することでモード切り替えを行うか否かを判定する第１のモード切替判定ステップと、前記第１のモード切替判定ステップでモード切り替えを行うと判定した場合、前記第１のモードから前記第２のモードに切り替える第１のモード切替ステップとを含む構成を有している。
【００２４】
この構成により、一度、モードを切り替える条件を満たさないと印加された電圧の値に応じて実行される機能を選択しないようになっているので、誤って機能を実行させる電圧値が印加されても機能は実行されないため、動作を安定させることができる。
【００２５】
本発明の機能実行方法は、前記第２のモード時に、前記検出手段によって検出された電圧の値と第２の電圧値とを比較し、モード切り替えを行うか否かを判定する第２のモード切替判定ステップと、前記第２のモード切替判定ステップでモード切替を行うと判定した場合、前記第２のモードから前記第１のモードに切り替える第２のモード切替ステップとを含む構成を有している。
【００２６】
この構成により、印加された電圧値に応じて実行される機能を選択する第２のモード時に、モードを切り替える条件を満たさないと、第２のモードから第１のモードに切り替わらないため、動作を安定させることができる。
【００２７】
本発明の機能実行方法は、前記第２のモード時に、前記検出手段によって検出された電圧の値と第２の電圧値とを比較し、かつ前記端子に電圧が印加される時間と第２の時間とを比較することでモード切り替えを行うか否かを判定する第２のモード切替判定ステップと、前記第２のモード切替判定ステップでモード切り替えを行うと判定した場合、前記第２のモードから前記第１のモードに切り替える第２のモード切替ステップとを含む構成を有している。
【００２８】
この構成により、印加された電圧値に応じて実行される機能を選択する第２のモード時に、モードを切り替える条件を満たさないと、第２のモードから第１のモードに切り替わらないため、動作を安定させることができる。
【００２９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
【００３０】
図１は、本発明の一実施の形態の電子機器である光ディスク装置１１０と、検査用外部装置である可変電圧供給装置１２０と、光ディスク装置１１０の音響情報再生の性能を測定する音響性能測定装置１６０とからなる光ディスク装置検査システム１００のブロック構成を表す図である。
【００３１】
光ディスク装置１１０は、後述の発光手段１３３が発光する発光量を決定するための電圧が印加されるようになっている印加部１３０と、印加部１３０に印加される電圧の値を減衰し、値を減衰された電圧を後述のＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）１４０に印加するようになっている減衰手段１３１と、光ディスクを収納し、光ディスクに記憶された音響情報を読み取り、読み取った音響情報を音響信号として音響性能測定装置１６０に送信するようになっている光ディスクデッキ１３２と、光ディスクデッキ１３２の電飾として第３の電圧値以下の電圧が印加されると、印加される電圧の値に応じた発光量で発光するようになっている発光手段１３３と、光ディスクデッキ１３２に収納された光ディスクに対して再生、トラックダウン、トラックアップ、早送りおよび巻き戻し等を実行する複数の機能を有するようになっているＣＰＵ１４０とを備える。
【００３２】
ＣＰＵ１４０は、印加部１３０に印加され、減衰手段１３１によって値を減衰された電圧の値をデジタル信号に変換するＡＤ（Ａｎａｌｏｇ  Ｄｉｇｉｔａｌ）変換手段１４１と、ＡＤ変換手段１４１によってデジタル信号に変換された電圧の値を検出するようになっている電圧値検出手段１４２と、後述のモード切替比較手段１４５による比較結果に基づいて、電圧値検出手段１４２によって検出された電圧の値、すなわち検出電圧値に応じて実行される機能を選択することで各機能を検査する検査モードと、印加部１３０に印加された電圧の値に応じて発光手段１３３の発光する発光量を決定する発光モードとを切り替えるか判定し、検査モードと発光モードとを切り替えるようになっているモード切替手段１４３と、第１の電圧値および第１の電圧値よりも小なる第２の電圧値を記憶するようになっている電圧値記憶手段１４４と、発光モードにおいては検出電圧値と電圧値記憶手段１４４に記憶される第１の電圧値とを比較し、かつ後述の計時手段１４７によって計時された時間と後述の時間記憶手段１４６によって記憶された第１の時間とを比較し、また検査モードにおいては検出電圧値と電圧値記憶手段１４４に記憶された第１の電圧値および第２の電圧値とを比較し、計時手段１４７によって計時された時間と時間記憶手段１４６によって記憶された第２の時間とを比較し、比較結果をモード切替手段１４３に出力するようになっているモード切替比較手段１４５と、第１の時間および第２の時間を記憶するようになっている時間記憶手段１４６と、印加部１３０に電圧が印加された時間を計時するようになっている計時手段１４７と、発光モード時にデジタル信号である検出電圧値をアナログの電圧波形に変換して発光手段１３３に印加するようになっているＤＡ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ａｎａｌｏｇ）変換手段１４８と、検査モード時に検出電圧値と後述の対応機能記憶手段１５０によって記憶された複数の電圧範囲とを比較するようになっている機能決定比較手段１４９と、複数の電圧範囲と検査のために実行されるべき機能との対応関係を記憶するようになっている対応機能記憶手段１５０と、検査モード時に機能決定比較手段１４９による比較結果として検出電圧値が含まれるとされた対応機能記憶手段１５０によって記憶された電圧範囲と対応関係にある機能の実行を決定するようになっている機能決定手段１５１と、光ディスクによって記憶された音響情報を音響信号として音響性能測定手段１６０に送信することで音響情報を再生するようになっている光ディスク再生手段１５２ａと、光ディスクデッキ１３２によって収納された光ディスクの現在選択されているトラックを逆方向に切り替えるようになっているトラックダウン手段１５２ｂと、光ディスクデッキ１３２によって収納された光ディスクの現在選択されているトラックを順方向に切り替えるようになっているトラックアップ手段１５２ｃと、光ディスクデッキ１３２によって収納された光ディスクの現在選択されているトラックを早送りするようになっている早送り手段１５２ｄと、光ディスクデッキ１３２によって収納された光ディスクの現在選択されているトラックを巻き戻すようになっている巻き戻し手段１５２ｅとを備える。
ここで、光ディスク再生手段１５２ａ、トラックダウン手段１５２ｂ、トラックアップ手段１５２ｃ、早送り手段１５２ｄおよび巻き戻し手段１５２ｅは、本発明の複数の機能を実行する機能実行手段である。
なお、発光モードとは本発明の第１のモードであり、検査モードとは本発明の第２のモードのことである。
また、第１の時間および第２の時間はそれぞれ任意の値であり、同値でも異なる値であってよい。
【００３３】
可変電圧供給装置１２０は、電圧の値を切り替えて光ディスク装置１１０に電圧を印加できるようになっている。音響性能測定装置１６０は、光ディスク装置１１０から受信された音響信号を測定して、光ディスク装置１１０が正常に音響情報を再生できるかを検査するようになっている。
【００３４】
以下、本実施の形態の電子機器である光ディスク装置１１０を検査するための光ディスク装置検査システム１００の動作について説明する。
【００３５】
図３は、光ディスク装置検査システム１００の動作における光ディスク装置１１０の動作を示すフローチャートである。
【００３６】
図３における第１の電圧範囲から第５の電圧範囲は対応機能記憶手段１５０によって記憶される複数の電圧範囲の例である。
ここで、各電圧範囲の大小関係は、
第１の電圧範囲＞第２の電圧範囲＞第３の電圧範囲＞第４の電圧範囲＞第５の電圧範囲
であり、複数の電圧範囲にまたがって含まれる電圧値はないものとする。
また、第１の電圧値、第２の電圧値、発光手段１３３を発光させる電圧の上限値である第３の電圧値および各電圧範囲の大小関係は、
第１の電圧値＞第２の電圧値＞第１の電圧範囲＞第２の電圧範囲＞第３の電圧範囲＞第４の電圧範囲＞第５の電圧範囲＞第３の電圧値
となる。
【００３７】
まず、モードを発光モードとし、可変電圧供給装置１２０によって光ディスク装置１１０の印加部１３０に電圧が印加される。
次に、光ディスク装置１１０の印加部１３０に印加された電圧の値は、ＣＰＵ１４０が許容できる電圧範囲内の値にまで減衰手段１３１によって一定の減衰率で減衰される。
続いて、減衰手段１３１によって値を減衰された電圧はＣＰＵ１４０のＡＤ変換手段１４１に印加され、印加された電圧の値はＡＤ変換手段１４１によってデジタル信号に変換される。
さらに、ＡＤ変換手段１４１によってデジタル信号に変換された電圧の値は電圧値検出手段１４２によって検出され、検出された電圧の値は検出電圧値としてモード切替比較手段１４５に出力される（Ｓ２０１）。
【００３８】
ステップＳ２０１終了後、検出電圧値と第１の電圧値とがモード切替比較手段１４５によって比較され、比較の結果、検出電圧値が第１の電圧値以上であった場合は、計時手段１４７に計時を開始させ、計時手段１４７が計時を開始した後、検出電圧値が第１の電圧値よりも小となった場合は計時手段１４７に計時を終了させ、計時手段１４７によって計時された時間と第１の時間とが比較手段１４５によって比較され、比較の結果、検出電圧値が第１の電圧値以上である時間が第１の時間以上であったかモード切替手段１４３によって判定される（Ｓ２０２）。
【００３９】
ステップＳ２０２において、検出電圧値が第１の電圧値未満である、若しくは計時手段１４７によって計時された時間が第１の時間未満であると判定された場合、発光モードが維持され、検出電圧値はＤＡ変換手段１４８に出力され、検出電圧値が第３の電圧値以下であればデジタル信号である検出電圧値は検出電圧値の振幅を有するアナログの電圧波形に変換され、変換された電圧波形は発光手段１３３に印加され、発光手段１３３は、印加された電圧波形の振幅の値に応じた発光量で発光する（Ｓ２０３）。
なお、検出電圧値が第３の電圧値よりも大なる場合は、ＤＡ変換手段１４８において無視される。
【００４０】
ステップＳ２０２において、検出電圧値が第１の電圧値以上であり、かつ計時手段１４７によって計時された時間が第１の時間以上であると判定された場合、モード切替手段１４３によって発光モードから検査モードに切り替えられる（Ｓ２０４）。
【００４１】
ステップＳ２０４終了後、再び可変電圧供給装置１２０によって光ディスク装置１１０の印加部１３０に電圧が印加される。
次に、光ディスク装置１１０の印加部１３０に印加された電圧の値は減衰手段１３１によってＣＰＵ１４０が許容できる電圧範囲内の値にまで一定の減衰率で減衰される。
続いて、減衰手段１３１によって値を減衰された電圧はＣＰＵ１４０のＡＤ変換手段１４１に印加され、印加された電圧の値はＡＤ変換手段１４１によってデジタル信号に変換される。
さらに、ＡＤ変換手段１４１によってデジタル信号に変換された電圧の値は電圧値検出手段１４２によって検出され、検出された電圧の値は検出電圧値として比較手段１４５に出力される（Ｓ２０５）。
【００４２】
ステップＳ２０５終了後、検出電圧値と第１の電圧値および第２の電圧値とがモード切替比較手段１４５によって比較され、比較の結果、検出電圧値が第２の電圧値以上第１の電圧値未満であった場合は、計時手段１４７に計時を開始させ、計時手段１４７が計時を開始した後、検出電圧値が第１の電圧値以上若しくは第２の電圧値未満となった場合は、計時手段１４７に計時を終了させ、計時手段１４７によって計時された時間と第２の時間とが比較手段１４５によって比較され、比較の結果、検出電圧値が第２の電圧値以上第１の電圧値未満である時間が第２の時間以上であったかモード切替手段１４３によって判定される（Ｓ２０６）。
【００４３】
ステップＳ２０６において、検出電圧値が第２の電圧値以上第１の電圧値未満であり、かつ計時手段１４７によって計時された時間が第２の時間以上であると判定された場合、モード切替手段１４３によって検査モードから発光モードに切り替えられ（Ｓ２０７）、ステップＳ２０３に移行される。
【００４４】
ステップＳ２０６において、検出電圧値が第１の電圧値以上または第２の電圧値未満、若しくは計時手段１４７によって計時された時間が第２の時間未満であると判定された場合、検査モードが維持され、検出電圧値と第１の電圧範囲とが機能決定比較手段１４９によって比較され、検出電圧値が第１の電圧範囲内であるか判定される（Ｓ２０８）。
【００４５】
ステップＳ２０８において、検出電圧値が第１の電圧範囲内であると判定された場合、機能決定手段１５１によって光ディスク再生手段１５２ａを実行するように決定され、光ディスク再生手段１５２ａによって光ディスクデッキ１３２に収納された光ディスクが記憶する音響情報を読み込むように光ディスクデッキ１３２に指示信号が出力され、光ディスクデッキ１３２によって読み込まれた音響情報は音響信号として音響性能測定装置１６０に送信されることで再生され（Ｓ２０９）、音響性能測定装置１６０によって正常に音響情報が再生されたかが測定されることで光ディスク再生機能が検査され、ステップＳ２０５に戻される。
【００４６】
ステップＳ２０８において、検出電圧値が第１の電圧範囲内でないと判定された場合、検出電圧値と第２の電圧範囲とが機能決定比較手段１４９によって比較され、検出電圧値が第２の電圧範囲内であるか判定される（Ｓ２１０）。
【００４７】
ステップＳ２１０において、検出電圧値が第２の電圧範囲内であると判定された場合、機能決定手段１５１によってトラックダウン手段１５２ｂを実行するように決定され、トラックダウン手段１５２ｂによって光ディスクデッキ１３２に収納された光ディスクの現在選択されているトラックを逆方向に切り替えることで（Ｓ２１１）、光ディスクのトラックを逆方向に正常に切り替えることができるか検査され、ステップＳ２０５に戻される。
【００４８】
ステップＳ２１０において、検出電圧値が第２の電圧範囲内でないと判定された場合、検出電圧値と第３の電圧範囲とが機能決定比較手段１４９によって比較され、検出電圧値が第３の電圧範囲内であるか判定される（Ｓ２１２）。
【００４９】
ステップＳ２１２において、検出電圧値が第３の電圧範囲内であると判定された場合、機能決定手段１５１によってトラックアップ手段１５２ｃを実行するように決定され、トラックアップ手段１５２ｃによって光ディスクデッキ１３２に収納された光ディスクの現在選択されているトラックを順方向に切り替えることで（Ｓ２１３）、光ディスクのトラックを順方向に正常に切り替えることができるか検査され、ステップＳ２０５に戻される。
【００５０】
ステップＳ２１２において、検出電圧値が第３の電圧範囲内でないと判定された場合、検出電圧値と第４の電圧範囲とが機能決定比較手段１４９によって比較され、検出電圧値が第４の電圧範囲内であるか判定される（Ｓ２１４）。
【００５１】
ステップＳ２１４において、検出電圧値が第４の電圧範囲内であると判定された場合、機能決定手段１５１によって早送り手段１５２ｄを実行するように決定され、早送り手段１５２ｄによって光ディスクデッキ１３２に収納された光ディスクにおいて現在選択されているトラックが早送りされることで（Ｓ２１５）、光ディスクの現在選択されているトラックで正常に早送りすることができるか検査され、ステップＳ２０５に戻される。
【００５２】
ステップＳ２１４において、検出電圧値が第４の電圧範囲内でないと判定された場合、検出電圧値と第５の電圧範囲とが機能決定比較手段１４９によって比較され、検出電圧値が第５の電圧範囲内であるか判定される（Ｓ２１６）。
【００５３】
ステップＳ２１６において、検出電圧値が第５の電圧範囲内であると判定された場合、機能決定手段１５１によって巻き戻し手段１５２ｅを実行するように決定され、巻き戻し手段１５２ｅによって光ディスクデッキ１３２に収納された光ディスクにおいて現在選択されているトラックが巻き戻されることで（Ｓ２１７）、光ディスクの現在選択されているトラックで正常に巻き戻しすることができるか検査され、ステップＳ２０５に戻される。
【００５４】
ステップＳ２１６において、検出電圧値が第５の電圧範囲内でないと判定された場合、検出電圧値は対応機能記憶手段１５０によって記憶されるどの電圧範囲にも含まれないので、いずれの機能も実行することはなく、ステップＳ２０５に戻される。
【００５５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、特定の機能のみを選択して検査することができるとともに、検査コストを削減することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の電子機器である光ディスク装置および光ディスク装置検査システムのブロック図
【図２】本発明の一実施の形態の光ディスク装置におけるモード切替および検査のために実行する機能を選択する動作を示すフローチャート図
【符号の説明】
１００  光ディスク装置検査システム
１１０  光ディスク装置
１２０  可変電圧供給装置
１３０  光ディスク装置の印加部
１３１  光ディスク装置の減衰手段
１３２  光ディスク装置の光ディスクデッキ
１３３  光ディスク装置の発光手段
１４０  光ディスク装置のＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）
１４１  光ディスク装置のＡＤ（Ａｎａｌｏｇ  Ｄｉｇｉｔａｌ）変換手段
１４２  光ディスク装置の電圧値検出手段
１４３  光ディスク装置のモード切替手段
１４４  光ディスク装置の電圧値記憶手段
１４５  光ディスク装置のモード切替比較手段
１４６  光ディスク装置の時間記憶手段
１４７  光ディスク装置の計時手段
１４８  光ディスク装置のＤＡ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ａｎａｌｏｇ）変換手段
１４９  光ディスク装置の機能決定比較手段
１５０  光ディスク装置の対応機能記憶手段
１５１  光ディスク装置の機能決定手段
１５２ａ  光ディスク装置の光ディスク再生手段
１５２ｂ  光ディスク装置のトラックダウン手段
１５２ｃ  光ディスク装置のトラックアップ手段
１５３ｄ  光ディスク装置の早送り手段
１５４ｅ  光ディスク装置の巻き戻し手段
１６０  音響性能測定装置
【図１】
2004164000.tif 000003
【図２】
2004164000.tif 000004