(57)【要約】【課題】磁気テープの巻き姿を、一定の巻き姿に保つことができる磁気テープの巻き姿改善処理方法を提供する。【解決手段】磁気テープＭＴをテープリール１０のハブ１１に巻き取った後に、磁気テープＭＴを支持体に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理することにより、磁気テープＭＴの巻き姿をテープリール１０のハブ１１に巻き取られた時の巻き姿、すなわち正しい巻き姿に癖をつけることができる。【選択図】      図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気テープをテープリールのハブに所定量巻き取った後に、磁気テープをその磁気テープの支持体に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して前記磁気テープに巻き癖をつけることを特徴とする磁気テープの巻き姿改善処理方法。
【請求項２】
前記ガラス転位温度直下の温度が、ガラス転位温度よりも５〜１０℃程度低い温度に設定されることを特徴とする請求項１に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気テープの巻き姿改善処理方法に関し、さらに詳しくは、テープリールに巻き取られた磁気テープの巻き姿の乱れ（巻き乱れ）を改善することができる磁気テープの巻き姿改善処理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、様々な分野に使用される記録メディア（記録媒体）として、記録媒体である磁気テープが巻装された単一のリールを収納して構成される磁気テープカートリッジがある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１１−２６５５６０号公報（第２図）
【０００４】
このような磁気テープは、一般に、図８及び図９に示すようなテープリール１０に巻装されて保持されている。図８は、テープリール１０の一例を示す斜視図であり、図９は、図８におけるＡ−Ａ線断面図である。
【０００５】
図８及び図９に示すように、テープリール１０は、円筒状のハブ１１と、ハブ１１の下端１１ａ，上端１１ｂに互いに平行に対向するように固着された一対の円板状の上フランジ１２，下フランジ１３とを備えて構成されており、ハブ１１の外周１１ｃに磁気テープＭＴを巻き付けるようになっている。上フランジ１２と上フランジ１３は、磁気テープＭＴの巻き取り時又は送り出し時に、上フランジ１２の内面１２ａと下フランジ１３の内面１３ａとで磁気テープＭＴのテープ幅方向における位置の変動を規制し、磁気テープＭＴの走行を安定させる役割を果たす。
【０００６】
なお、上フランジ１２と下フランジ１３との間隔は、磁気テープＭＴの巻き取り時又は送り出し時に、磁気テープＭＴの一方のテープエッジＥ１又は他方のテープエッジＥ２が上フランジ１２の内面１２ａ又は下フランジ１３の内面１３ａと当接して損傷するのを防ぐために、磁気テープＭＴの幅よりも若干広く設定されている。図９に示す例では、磁気テープＭＴは、テープエッジＥ２が下フランジ１３の内面１３ａに接触した状態でハブ１１に巻き取られているため、クリアランスが磁気テープＭＴのテープエッジＥ１と上フランジ１２の内面１２ａとの間に設けられている。
【０００７】
ところで、図９に示すように、磁気テープＭＴのテープエッジＥ１と上フランジ１２の内面１２ａとの間にクリアランスを設けると、磁気テープＭＴの一部がテープエッジＥ１からクリアランス内に飛び出してしまい、テープエッジＥ１が凹凸になるいわゆる「巻き乱れ」が生じる場合がある（図１０参照）。
【０００８】
巻き乱れが生じる原因としては様々な要因が考えられるが、テープリール１０のハブ１１に磁気テープＭＴを巻き取った際に磁気テープＭＴ間に紛れ込んだ空気によって磁気テープＭＴがテープ幅方向に滑ることが、その要因の一つとして考えられている。特に、図８に示すテープリール１０を構成部品に含む磁気テープカートリッジの製造工程において、生産能率を高めるために、磁気テープＭＴの巻き取りを例えば１０〜２０ｍ／ｓの高速の巻き取り速度で行った場合は、巻き乱れが顕著に生じることが経験上知られている。
【０００９】
また、巻き乱れが生じる他の要因としては、（１）磁気テープＭＴがテープ長さ方向に湾曲している、（２）磁気テープＭＴにかかっているテンションがテープ幅方向において片寄っている、（３）磁気テープＭＴの厚みがテープ幅方向において片寄っている、（４）巻き乱れがある状態で保存されていたため、磁気テープＭＴの巻き姿がゆがんでいる、等が考えられる。そして、これらの要因が磁気テープＭＴのテープ長さ方向において変化することにより、巻き乱れがより発生しやすくなる。
【００１０】
磁気テープＭＴの巻き乱れが生じると、磁気テープＭＴの巻き取り時又は送り出し時に、磁気テープＭＴのテープ幅方向における位置が変動するため、磁気テープＭＴの走行が不安定になり、磁気テープＭＴの記録再生特性を良好に保つことができなくなる。
【００１１】
また、磁気テープＭＴの巻き取り時又は送り出し時に、磁気テープＭＴのテープエッジＥ１又はテープエッジＥ２が、上フランジ１２の内面１２ａ又は下フランジ１３の内面１３ａと当接して損傷する虞がある。
【００１２】
さらに、前記磁気テープカートリッジの各製造工程間でのテープリール１０の搬送時や製品の輸送時に、振動や落下等によってテープリール１０に衝撃が加わった場合、磁気テープＭＴのテープエッジＥ１又はテープエッジＥ２が、テープリール１０の上フランジ１２又は下フランジ１３と衝突して損傷する虞がある。
【００１３】
また、磁気テープＭＴの巻き乱れが生じた状態でそのテープリールを長期間保存すると、磁気テープＭＴにそのときの巻き姿で巻き癖がついてしまう。そのため、磁気テープＭＴの走行が不安定になり、磁気テープＭＴの記録再生特性を良好に保つことができなくなる。
【００１４】
そのため、従来は、図１１（ａ）に示すように、テープリール１０のハブ１１に磁気テープＭＴを巻き取る際に、回転ローラ２１，２２，２３によって支持されたゴム等の弾性材料から成形されたエンドレスベルト２０を、回転させながら磁気テープＭＴの表面に押し当てて、磁気テープＭＴ間に紛れ込んだ空気を追い出すことによって、磁気テープＭＴの巻き乱れを軽減させる方法が知られている。また、図１１（ｂ）に示すように、エンドレスベルト２０の代わりに、ゴム等の弾性材料から成形されたタッチロール３０を用いる方法も知られている。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図１１（ａ），（ｂ）に示した方法によって、磁気テープＭＴの巻き姿を改善したとしても、その磁気テープＭＴを繰り返し使用する内に、巻き乱れが生じることがあった。すなわち、磁気テープＭＴの巻き姿を、一定の巻き姿に保つことができないという問題があった。
【００１６】
そこで、本発明は、磁気テープの巻き姿を、一定の巻き姿に保つことができる磁気テープの巻き姿改善処理方法を提供することを目的とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法は、磁気テープをテープリールのハブに所定量巻き取った後に、磁気テープをその磁気テープの支持体に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して前記磁気テープに巻き癖をつけることを特徴とする。
【００１８】
このように、磁気テープをテープリールのハブに所定量巻き取った後に、磁気テープをその磁気テープの支持体に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して磁気テープをテープリールに巻き取られた時の巻き姿に巻き癖をつけることにより、磁気テープの巻き姿を常に正しい巻き姿に保つことができる。その結果、このテープリールを含んで構成される磁気テープカートリッジの使用時に、テープリールに巻き取られた磁気テープの巻き乱れを軽減させることができる。
【００１９】
なお、前記ガラス転位温度直下の温度が、ガラス転位温度よりも５〜１０℃程度低い温度に設定されることが望ましい。
【００２０】
このように、磁気テープをその磁気テープの支持体に用いられている材料のガラス転位温度よりも５〜１０℃程度低い温度で所定時間熱処理することにより、巻き癖をより効果的につけることができる。特に、磁気テープの支持体にポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）やポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）を用いた場合は、磁気テープをガラス転位温度直下の温度で熱処理することにより、巻き癖をより効果的につけることができる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態について、適宜図面を参照して詳細に説明する。なお、本実施の形態では、パンケーキから供給される磁気テープＭＴを、磁気テープカートリッジの構成部品であるテープリールに所定量巻き取る場合を想定している。
【００２２】
初めに、本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法が適用される磁気テープカートリッジの製造工程について図１及び図２を参照して説明する。図１は、磁気テープカートリッジ１の概略の構成を示す斜視図である。また、図２は、テープワインダ２を概念的に示した正面図である。
【００２３】
通常、磁気テープカートリッジ１の製造工程において、磁気テープＭＴの原反から供給される磁気テープＭＴを、図１に示すような磁気テープカートリッジ１の構成部品であるテープリール１０に所定量巻き取るときは、次のようにして行われる。
【００２４】
まず、調液工程、塗布工程、表面処理工程を経て製造された幅広の磁気テープの原反を、その製品（磁気テープカートリッジ１）の規格で定められたテープ幅に裁断して巻き取り、いわゆる「パンケーキ」を製造する。
【００２５】
そして、図２に示すようなテープワインダ２と呼ばれる専用の磁気テープ巻き取り装置を用いて、パンケーキ３から送り出される磁気テープＭＴをテープリール１０に所定量巻き取り、切断する。
【００２６】
次に、本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法が適用される磁気テープについて図３を参照して説明する。図３は、磁気テープＭＴの一部分を拡大して示す断面図である。
【００２７】
図３に示すように、磁気テープＭＴは、非磁性の支持体（ベースフィルム）４上に磁性層５が形成されている。磁性層５は、磁性粉末、結合剤及び有機溶剤を磁性粉末が均一に分散するまで混合させて調製した磁性塗料を、非磁性の支持体４上に塗布することにより形成される。あるいは、磁性層５は、金属、合金等の強磁性材を、真空蒸着やスパッタリングなどの手段で支持体４上に被着することにより形成される。なお、磁性塗料には、分散剤，滑剤，帯電防止剤，可塑剤，安定剤，防錆剤等の添加剤が加えられている。
【００２８】
磁性粉末としては、例えば、α−Ｆｅ2Ｏ3、Ｆｅ3Ｏ4、コバルト被着α−Ｆｅ2Ｏ3等の強磁性酸化鉄系粒子、強磁性二酸化クロム系粒子、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ等の金属やこれらを含んだ合金からなる強磁性金属系粒子、六角板状の六方晶フェライト微粒子等を用いることができる。
【００２９】
また、結合剤としては、ウレタン、塩化ビニル、酢酸ビニル、ビニルアルコール、塩化ビニリデン、アクリル酸エステル、スチレン、ブタジエン、アクリロニトリル等の重合体、あるいはこれらの２種以上を組み合わせた共重合体や、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂等を用いることができる。
【００３０】
また、有機溶剤としては、エーテル類、エステル類、ケトン類、芳香族炭化水素、脂肪族炭化水素、塩素化炭化水素等を用いることができる。
【００３１】
そして、支持体４の材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）やポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）等のポリエステル類、ポリプロピレン等のポリオレフィン類、ニトロセルロース等のセルロース誘導体、ポリアミド、ポリイミド、ポリ塩化ビニル、ポリカーボネート、アラミド等の高分子類を用いることができる。
【００３２】
支持体４には、加工性や機械特性に優れ、コストも低いポリエステル類を用いることが望ましい。また、強度、剛性及び耐熱性がポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）よりも高いポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）を用いることがさらに望ましい。また、より耐熱性を必要とする場合は、アラミドを用いることが望ましい。
【００３３】
次に、本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法を前記した磁気テープカートリッジ１の製造工程に適用し、パンケーキ３から送り出される磁気テープＭＴを、図８及び図９に示すような磁気テープカートリッジ１の構成部品であるテープリール１０のハブ１１に所定量巻き取る場合について説明する。
【００３４】
まず、図２に示すように、パンケーキ３から送り出された磁気テープＭＴを、テープワインダ２によって、テープリール１０に所定量巻き取る。このとき、磁気テープＭＴがテープリール１０のハブ１１に図９に示すような正しい巻き姿で巻き取られるようにする。このために、磁気テープＭＴの巻き取りは２〜３ｍ／ｓの低速で行われる。また、磁気テープＭＴ間に空気が紛れ込むのを防ぐため、磁気テープＭＴの巻き取りは、−８５ｋＰａ以下、望ましくは−９５ｋＰａ以下、さらに望ましくは−１００〜−１０１ｋＰａの減圧下で行うと良い。
【００３５】
また、図２に示すように、パンケーキ３から送り出された磁気テープＭＴを、テープワインダ２によって、テープリール１０に所定量巻き取るときは、従来の技術の欄で説明した、エンドレスベルト２０を用いて磁気テープＭＴの巻き姿を改善する方法（図１１（ａ）参照）や、タッチロール３０を用いて磁気テープＭＴの巻き姿を改善する方法（図１１（ｂ）参照）を使用すると、磁気テープＭＴをテープリール１０のハブ１１に図９に示すような正しい巻き姿で巻き取ることができる。また、磁石により磁気テープを一方向に引き付けながら巻き取ると、さらに良好な巻き姿を得ることができる（特開平５−１０９２３３号公報参照）。
【００３６】
そして、磁気テープＭＴを図９に示すような正しい巻き姿で巻き取ったテープリール１０を、図４に示すような環境試験装置６の中に置き、磁気テープＭＴを所定の環境温度下で一定時間熱処理することにより、磁気テープＭＴの巻き姿をテープリール１０に巻き取られた時の巻き姿、すなわち図９に示すような正しい巻き姿に巻き癖をつける。なお、磁気テープＭＴが水を吸って伸びないように、環境試験装置６の中は低湿度の環境に保たれているものとする。
【００３７】
なお、本実施の形態では環境試験装置６を用いているが、磁気テープＭＴを所定の環境温度下で一定時間熱処理することができれば、温室やブース等を用いても構わない。その際、前記温室やブースを磁気テープカートリッジの製造工程上に配置すれば、磁気テープカートリッジの生産性を向上させることができる。
【００３８】
環境試験装置６の環境温度は、その磁気テープＭＴの支持体４に用いられる材料のガラス転位温度直下の温度に設定される。具体的には、支持体４に用いられる材料のガラス転位温度よりも０〜１０℃程度低い温度に設定される。例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）のガラス転位温度は６０〜７０℃程度であるので、支持体４の材料にガラス転位温度が６９℃であるポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）を用いた場合は、環境試験装置６の環境温度は、４０〜６９℃、好ましくは５０〜６５℃に設定される。また、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）のガラス転位温度は１１０〜１２０℃程度であるので、支持体４の材料にガラス転位温度が１１３℃のポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）を用いた場合は、環境試験装置６の環境温度は、４０〜１１３℃に設定される。また、アラミドのガラス転位温度ははっきりと判別しづらいが、支持体４の材料にアラミドを用いた場合は、環境試験装置６の環境温度は、４０〜１２０℃に設定される。なお、環境試験装置６の環境温度を１００〜１２０℃に設定すると、処理速度を速め生産性を向上させることができるので好適である。
【００３９】
このように、磁気テープＭＴを所定の環境温度下で一定時間熱処理することにより、磁気テープＭＴをテープリール１０に巻き取られた時の巻き姿、すなわち図９に示すような正しい巻き姿に巻き癖をつけることができる。特に、磁気テープＭＴの支持体４にポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）やポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）を用いた場合は、磁気テープＭＴをガラス転位温度直下の環境温度で熱処理することにより、巻き癖をより効果的につけることができる。これは、支持体４を構成する材料を、そのガラス転移温度以下の温度で熱処理することにより、極端な熱収縮を抑制しつつ、かつ非晶部分を緩和させて残留応力を低減させながら適度に巻き易い形状とするためである。
【００４０】
以上のように、磁気テープカートリッジ１の製造工程において、磁気テープＭＴをテープリール１０に所定量巻き取った後に、磁気テープＭＴを巻き取ったテープリール１０を図４に示すような環境試験装置６の中に置き、磁気テープＭＴを所定の環境温度下で一定時間熱処理することにより、磁気テープＭＴをテープリール１０に巻き取られた時の巻き姿、すなわち、図９に示すような正しい巻き姿に巻き癖をつけることができる。したがって、この磁気テープの巻き姿を常に正しい巻き姿に保つことができるので、このテープリール１０を含んで構成される磁気テープカートリッジ１の使用時に、磁気テープの巻き乱れを軽減させることができる。
【００４１】
なお、本実施の形態では、磁気テープカートリッジ１の製造工程において、パンケーキ３から供給される磁気テープＭＴを、テープリール１０に所定量巻き取る場合（図２参照）を例に説明したが、本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法は、幅広の磁気テープの原反を、その磁気テープカートリッジ１の規格で定められたテープ幅に裁断して巻き取ってパンケーキを製造する「スリット工程」に適用することもできる。このように、本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法をスリット工程に適用すると、一度に数十巻の磁気テープＭＴに巻き癖をつけることができるので、非常に効率的である。
【００４２】
また、図６（ａ）に示すように、磁気テープＭＴを熱処理する際は、磁気テープＭＴを、ハブ４１が上端４１ａから下端４１ｂにかけて所定の角度でハブ４１の内側に傾斜して形成されているリール４０に巻き取った状態で行ってもよい。このようなリール４０に巻き取った状態で磁気テープＭＴを熱処理すると、図７に示すように、磁気テープＭＴに、テープエッジＥ１，Ｅ２が一様な方向に湾曲する巻き癖をつけることができる。図７では、磁気テープＭＴには、テープエッジＥ２側の方向に湾曲する巻き癖がつけられている。
【００４３】
また、図６（ｂ）に示すように、磁気テープＭＴを熱処理する際は、磁気テープＭＴを、下フランジ５１が内径側から外径側にかけて徐々に傾斜して形成されているリール５０に、下フランジ５１側に寄せて巻き取った状態で行ってもよい。このようなリール５０に巻き取った状態で磁気テープＭＴを熱処理すると、図７に示すように、磁気テープＭＴに、テープエッジＥ１，Ｅ２が一様な方向に湾曲する巻き癖をつけることができる。
【００４４】
このように、磁気テープＭＴにテープエッジＥ１，Ｅ２が一様な方向（テープエッジＥ２側の方向）に湾曲する巻き癖をつけると、この磁気テープＭＴを図８及び図９に示すようなテープリール１０に巻き取る際は、磁気テープＭＴはテープエッジＥ２側のテンションが高い状態で巻き取られるので、磁気テープＭＴを下フランジ１３側に寄った状態で巻き取ることができる。すなわち、磁気テープの巻き乱れを軽減させることができる。
【００４５】
また、このように、テープエッジＥ１，Ｅ２が一様な方向（テープエッジＥ２側の方向）に湾曲する巻き癖がつけられた磁気テープＭＴを走行させた際は、磁気テープＭＴは常に一様な方向（テープエッジＥ２側の方向）に寄った状態で走行するので、例えばこの磁気テープＭＴを磁気ヘッド上に正確に摺動させることができる。
【００４６】
次に、支持体４の材料にポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）を用いた磁気テープＭＴを所定の環境温度下で一定時間熱処理した実験例について説明する。図５は、磁気テープを熱処理した実験結果を示すグラフである。
【００４７】
まず、図２に示すテープワインダ２を用いて、−９０ｋＰａの減圧下において、２ｍ／ｓの低速の巻き取り速度で、磁気テープＭＴをテープリール１０のハブ１１に図９に示すような正しい巻き姿で巻き取る。
【００４８】
続いて、磁気テープＭＴを巻き取ったテープリール１０を、図４に示すような環境試験装置６の中に置き、磁気テープＭＴを所定の環境温度下で一定時間熱処理する。ここで、処理期間（日数）は、０日（熱処理せず）、１日、２日、３日の４つの場合に設定した。なお、磁気テープＭＴを熱処理する際の環境温度は、４０℃と５０度の２つの場合に設定した。
【００４９】
次に、環境試験装置６で熱処理された磁気テープＭＴを、一般のドライブ装置によってテープリール１０から一度巻き出した後、再びテープリール１０に巻き直した。
【００５０】
そして、テープリール１０に巻き直された磁気テープＭＴの巻き姿を目視により評価する。磁気テープＭＴの巻き姿の評価は、磁気テープＭＴのテープエッジの凹凸を観察し、磁気テープＭＴの飛び出しが無かったものを「５」、０．０５ｍｍ以下の微小な飛び出しがあったものを「４」、ハブ１１側の１／３で０．２ｍｍ程度の飛び出しがあったものを「３」、０．３ｍｍ以上の飛び出しがあったものを「２」、０．３ｍｍ以上の飛び出しが３個所以上あったものを「１」とし、「３」以上の場合を合格とした。
【００５１】
図５のグラフに示すように、４０℃の環境温度で熱処理した磁気テープＭＴの評価は、処理日数が０日の場合は「１．８」、処理日数が１日の場合は「２．５」、処理日数が２日の場合は「３．２」、処理日数が３日の場合は「３．６」であった。このことから、磁気テープＭＴを４０℃の環境温度で熱処理した場合は、少なくとも２日以上、好ましくは３日以上の処理日数が必要であることがわかる。
【００５２】
また、図５のグラフに示すように、５０℃の環境温度で熱処理した磁気テープＭＴの評価は、処理日数が０日の場合は「１．８」、処理日数が１日の場合は「２．９」、処理日数が２日の場合は「３．８」、処理日数が３日の場合は「４．２」であった。このことから、磁気テープＭＴを５０℃の環境温度で熱処理した場合は、少なくとも１日以上、好ましくは２日以上の処理日数が必要であることがわかる。
【００５３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、磁気テープの巻き姿を、一定の巻き姿に保つことができる磁気テープの巻き姿改善処理方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】磁気テープカートリッジ１の概略の構成を示す斜視図である。
【図２】テープワインダ２を概念的に示した正面図である。
【図３】磁気テープＭＴの一部分を拡大して示す断面図である。
【図４】環境試験装置６を示す斜視図である。
【図５】磁気テープを熱処理した実験結果を示すグラフである。
【図６】（ａ）は磁気テープＭＴをハブ４１が傾斜して形成されているリール４０に巻き取った状態を示す断面図であり、（ｂ）は磁気テープＭＴを下フランジ５１が内径側から外径側にかけて徐々に傾斜して形成されているリール５０に下フランジ５１側に寄せて巻き取った状態を示す断面図である。
【図７】磁気テープＭＴにテープエッジＥ１，Ｅ２が一様な方向（テープエッジＥ２側の方向）に湾曲する巻き癖をつけた状態を示す断面図である。
【図８】テープリール１０の一例を示す斜視図である。
【図９】図８におけるＡ−Ａ線断面図である。
【図１０】図９に示すテープリール１０において巻き乱れが生じた状態を示す断面図である。
【図１１】従来の磁気テープの巻き姿改善処理方法を示す平面図であり、（ａ）はエンドレスベルト２０を用いた方法を示し、（ｂ）はタッチロール３０を用いた方法を示す。
【符号の説明】
１    磁気テープカートリッジ
２    テープワインダ
３    パンケーキ
ＭＴ  磁気テープ
４    支持体
５    磁性層
６    環境試験装置
１０  テープリール
１１  ハブ
１２  上フランジ
１３  下フランジ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2004164808.tif 000008
【図７】
2004164808.tif 000009
【図８】
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【図９】
2004164808.tif 000011
【図１０】
2004164808.tif 000012
【図１１】
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