(57)【要約】【課題】打刻をすることなく、可視的に磨耗量を明確に検出できる磁気ヘッドを提供することを課題とする。【解決手段】磁気記録媒体が摺動する摺動面に、摺動方向に沿って溝１２が形成されている磁気ヘッド１であって、溝１２は、底面１２ｃに向かうにつれて幅が狭くなるように構成する。このような磁気ヘッド１によれば、磁気記録媒体が摺動して、摺動面が磨耗するにしたがい、摺動方向に沿って形成されている溝１２の上部が削れる。このとき、溝１２は底面１２ｃに向かうにつれ幅が狭くなっているので、相対的に、摺動面の面積が変化する。その面積の変化を視認することで、可視的に磨耗量を検出できる。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気記録媒体が摺動する摺動面に、摺動方向に沿って溝が形成されている磁気ヘッドであって、
前記溝は、底に向かうにつれて幅が狭くなっていることを特徴とする磁気ヘッド。
【請求項２】
前記溝は、前記摺動面に露出した記録または再生素子の両側に形成されていることを特徴とする請求項１に記載の磁気ヘッド。
【請求項３】
前記溝は、記録または再生素子から離れた方の側壁のみが磁気テープが押圧される方向に対し傾斜していることを特徴とする請求項２に記載の磁気ヘッド。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気ヘッドに関し、詳しくは、磁気ヘッドの磨耗量が測定できるように、磁気ヘッドが摺動する摺動面に溝が形成されている磁気ヘッドに関する。
【０００２】
【従来の技術】
磁気ヘッドは、ヘリカルスキャン方式の磁気記録再生装置に搭載されて、磁気記録媒体に対して情報信号の記録・再生を行うものであり、一般に、高透磁率である磁性材料によって形成された磁気コアに対してコイルが巻回されることによって構成されている。このような磁気ヘッドは、磁気コアとコイルの電磁誘導を利用して磁気記録媒体に対する記録再生を行うことから、電磁誘導型（インダクティブ型）磁気ヘッドと称される。たとえば、ＭＩＧ（Ｍｅｔａｌ  Ｉｎ  Ｇａｐ）ヘッドや積層型ヘッド等が多く使用されている。
ところで、磁気記録媒体を走行させた場合、その摺動によって磁気ヘッド摺動面は磨耗され、磁気ヘッドのデプスは小さくなる。磨耗した磁気ヘッドでは、磁気テープの性質（たとえばスティフネス：ｓｔｉｆｆｎｅｓｓ／曲がらなくて硬いこと等）によっては、磁気テープのいわゆるヘッド当たりが低下し、その結果電磁変換特性が低下する。
そのため、このような磁気ヘッドの磨耗の特性を知るべく、磁気ヘッドの磨耗量（ヘッドデプス量）を検出する手段について、従来より模索されていた。
【０００３】
図４（ａ），（ｂ）は、従来の検出手段の一例であり、（ａ）は磁気ヘッドの斜視図、（ｂ）は、磁気ヘッドの平面図である。
たとえば、図４（ａ）に示すように、磁気ヘッド１００の摺動面１０１に四角錐の打刻痕Ｓを打ち、磁気テープの摺動によって磨耗した磨耗量をこの打刻痕Ｓの形状により検出する手段があった。これによれば、摺動面１０１が磨耗すると、打刻痕Ｓの開口部の大きさが小さくなる。すなわち、図４（ｂ）に示すように、磨耗前の摺動面１０１に形成された打刻痕Ｓの開口部Ｓ１０と、磨耗後の開口部Ｓ１１の大きさの違いにより可視的に磨耗量を判断していた。
【０００４】
また、図５は、従来の検出手段の他の一例であり、（ａ）は磁気ヘッドの斜視図、（ｂ）は磁気ヘッドの磨耗検出の説明図である。
図５（ａ）に示すように、この検出手段は、磁気ヘッド２００の隣に、磨耗可視ヘッド２０１を並べて固定させ、この磨耗可視ヘッド２０１の磨耗を検出することにより、同時に磁気ヘッド２００の磨耗を検出するというものであった。具体的には、図５（ｂ）に示すように、磨耗可視ヘッド２０１は、磁気ヘッド２００の磨耗限度量である摺動面中央２０２からのデプスｄ１０より浅いデプスｄ１１の付近に樹脂２０３を充填して構成されている。これによれば、磁気ヘッド２００および磨耗可視ヘッド２０１が磁気テープの摺動により磨耗すると、デプスｄ１１まで磨耗した時点で、磨耗可視ヘッド２０１の樹脂２０３が露出するので、磨耗限度量であるデプスｄ１０まで磨耗する前に磨耗の程度が高いことを可視的に検出できていた（たとえば、特許文献１参照）。
【０００５】
【特許文献１】
特開平０６−０６０３２２号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、後者の手段では、磨耗限度量に到達する前に磨耗の程度が高いことを検出できるものの、樹脂２０３が露出するまでは、どの程度磨耗したのか可視的に見当がつけにくいという問題点があった。
また、前者の手段では、既製の磁気ヘッド１００の摺動面１０１に直接打刻痕Ｓを打つために、打刻痕Ｓからひび割れを起こしたり、また、実際に割れてしまうなどの問題点があった。
そこで、本発明は、前記問題点を解決するためになされたものであり、打刻をすることなく、可視的に磨耗量を明確に検出できる磁気ヘッドを提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の磁気ヘッドは、磁気記録媒体が摺動する摺動面に、摺動方向に沿って溝が形成されている磁気ヘッドであって、前記溝は、底に向かうにつれて幅が狭くなっていることを特徴とする。
【０００８】
請求項１に記載の磁気ヘッドによれば、磁気記録媒体が摺動して、摺動面が磨耗するにしたがい、摺動方向に沿って形成されている溝の上部が削れる。このとき、溝は底に向かうにつれ幅が狭くなっているので、相対的に、摺動面の面積が変化する。そのため、その面積の変化を視認することで、可視的に磨耗量を検出できる。また、この溝は単純な形状であるため、種々の加工機械で加工することができ、従来のような打刻が不要となることから、ひび割れ等の問題が解消される。
【０００９】
請求項２に記載の磁気ヘッドは、請求項１に記載の磁気ヘッドにおいて、前記溝は、前記摺動面に露出した記録または再生素子の両側に形成されていることを特徴とする。
請求項２に記載の磁気ヘッドによれば、磁気記録媒体が摺動して、摺動面が磨耗するにしたがい、摺動方向に沿って形成されている溝の上部が削れる。このため、可視的に磨耗量を検出できる。このとき、記録または再生素子の両側において磨耗の程度を検出できるため、磁気テープの幅方向における磁気ヘッドの磨耗の分布を知ることができる。
【００１０】
請求項３に記載の磁気ヘッドは、請求項２に記載の磁気ヘッドにおいて、前記溝は、記録または再生素子から離れた方の側壁のみが磁気テープが押圧される方向に対し傾斜していることを特徴とする。
請求項３に記載の磁気ヘッドによれば、摺動面に形成される溝において、記録または再生素子から離れた側壁のみが傾斜している。言い換えれば、記録または再生素子に近い方の側壁は傾斜していないため、磨耗の程度が進んで、溝の幅が狭くなっても、記録または再生素子のトラック幅を一定にすることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る磁気ヘッドの一実施の形態について、適宜図面を参照して詳細に説明する。
参照する図面において、図１は、本実施の形態に係る磁気ヘッドの斜視図である。図２（ａ）は、本実施の形態に係る磁気ヘッドの平面図であり、（ｂ）は、本実施の形態に係る磁気ヘッドの要部拡大側面図である。
なお、本実施の形態で、磁気ヘッドとして、ヘリカルスキャンドライブである８ｍｍＶＴＲ（Ｖｉｄｅｏ  Ｔａｐｅ  Ｒｅｃｏｒｄｅｒ）のインダクティブヘッドとして使用されている場合を想定し、磁気記録媒体として磁気テープを適用した場合について説明する。
【００１２】
図１、図２（ａ）および（ｂ）に示すように、磁気ヘッド１は、その平面視（図中のＸ方向から見た矢視）において、摺動面１１が略長方形となるような略直方体の形状で形成されている。そして、この摺動面１１は、その長手側の側面形状（摺動方向断面の形状）が半径Ｒの略円弧状の凸曲面に形成されるとともに、短手側の側面形状（直交方向の形状）が前記半径Ｒよりも小さい半径ｒの略円弧状の凸曲面に形成されている。また、この摺動面１１の中心（各凸曲面の頂点）には、磁気テープ（図示せず）に信号を記録する記録素子Ｇが形成されている。
【００１３】
磁気ヘッド１は、その長手方向が磁気テープの摺動方向になるように配設される。そして、溝１２は、摺動面１１の記録素子Ｇの両側に長手方向に沿って、すなわち、磁気テープの摺動方向に沿って形成されている。
図２（ａ），（ｂ）に示すように、溝１２は、摺動面１１の端辺１１ａから少し離れた位置から連続するように形成される外側側壁１２ａと、外側側壁１２ａと対面する内側側壁１２ｂと、側壁１２ａ，１２ｂ間で両者と連続する底面１２ｃとから形成される。
【００１４】
外側側壁１２ａは、摺動面１１から底面１２ｃに向かうにつれ、記録素子Ｇに寄る方に傾斜している。磁気テープが押圧される方向Ｙ（図２（ｂ）参照）に対する外側側壁１２ａの角度（傾斜角度）θは、約１０°以上である。ちなみに、この傾斜角度が大きくなればなるほど、磨耗に応じた摺動面１１の面積（溝１２より外側の部分の面積）の変化を視認しやすく、磨耗量を測定しやすくなる。
また、外側側壁１２ａと摺動面１１の端辺１１ａ間の磨耗前の幅Ｗ１は、視認しやすいように、１０μｍ以上とする。
【００１５】
内側側壁１２ｂ，１２ｂは、それぞれ磁気ヘッド１の磁気テープが押圧される方向に沿って、言い換えれば、摺動面１１から底面１２ｃに略鉛直に向かうように形成されている。そのため、摺動面１１が磨耗しても、記録素子Ｇ（２つの溝１２，１２で挟まれる部分）の幅Ｗ２は一定である。
【００１６】
底面１２ｃは、たとえば、摺動面１１の中央部Ｃの頂点からのデプスｄ１が１０μｍ以上、磨耗限界許容深さを超えないくらいの深さにあるように形成される。このように深さを設定すると、磨耗が進んだとき、およその磨耗の程度を知ることができる。なお、外側側壁１２ａ、内側側壁１２ｂおよび底面１２ｃは、たとえば、この外周断面を有する研石等で加工できる。
【００１７】
次に、以上のように構成された磁気ヘッド１で情報を記録するために、磁気テープを走行させた状態について説明する。
まず、摺動面１１上を磁気テープが走行し摺動することにより、摺動面１１は磨耗する。この磨耗が進み、つまり、溝１２の各側壁１２ａ，１２ｂの上部が削れると、外側側壁１２ａが記録素子Ｇ寄りに傾斜していることから、端辺１１ａと外側側壁１２ａ間の幅Ｗ１は次第に広くなる。
たとえば、図３に示すように、磁気テープの摺動によって、摺動面１１が仮想線Ｐの位置まで磨耗したとすると、磨耗前の幅Ｗ１は、磨耗後はＷ１’まで広くなる。これを平面視で捉えると（図１中のＸ方向から見た矢視）、摺動面１１の面積が大きくなることがわかる。
【００１８】
以上によれば、本実施の形態において、次のような効果を得ることができる。摺動面１１の磨耗が進むと、幅Ｗ１が広くなり、摺動面１１の面積が広くなることが可視的に明瞭である。そのため、その面積の変化を視認することで、可視的に磨耗量を検出できる。また、面積を測って磨耗量を算出できるので、定量的に把握できる。さらに、溝１２は摺動方向に沿って形成されているので、摺動方向について連続的に磨耗の分布を見ることができる。
なお、このとき、底面１２ｃまでのデプスｄ１を磨耗限界許容量の深さとしておくと、磨耗の程度が進んで溝１２が完全に消滅した場合を、磨耗量が限界を超えた、と意味づけることができる。
【００１９】
また、溝１２は単純な形状であるため、研石等で容易に加工することができる。そのため、従来のような打刻が不要で、ひび割れや割れ等の問題を解消することができる。
さらに、溝１２は、記録素子Ｇの両側に形成されているため、その両側において磨耗の程度を検出でき、摺動面１１全体が均等に磨耗していない場合でも、少なくとも片側で、磨耗を検出できる。
なお、この溝１２は、磨耗量を検出すると同時に、トラック幅、すなわち記録素子Ｇの幅を規制する規制溝としても利用できる。
【００２０】
また、溝１２を形成する外側側壁１２ａの傾斜角度を、１０°以上、望ましくは２０°以上とすることで、面積の変化を明確に視認でき、磨耗量を検出できる。
【００２１】
以上、本発明は、前記実施の形態に限定されることなく、様々な形態で実施される。
本実施の形態では、摺動面１１の短手方向の両端部に溝１２を形成することとしたが、本発明はこれに限定されず、一方の端部のみに形成してもよい。
また、本実施の形態では、溝１２に底面１２ｃを形成したが、本発明はこれに限定されず、底面１２ｃを形成せず、側壁同士が溝の底部において連続するようにしてもよい。
さらに、溝１２の底面１２ｃまでのデプスｄ１、外側側壁１２ａの傾斜角度θおよび摺動面１１の端辺１１ａから外側側壁１２ａまでの幅Ｗ１等は、適宜変更可能であることはいうまでもない。
本実施の形態では、磁気ヘッド１として、インダクティブ型ヘッドを採用したが、本発明はこれに限定されず、たとえば磁気抵抗効果型ヘッド（ＭＲヘッド）に本発明を適用してもよい。
【００２２】
【発明の効果】
請求項１に記載の磁気ヘッドによれば、摺動面の面積の変化を視認することで、可視的に磨耗量を検出できる。また、この溝は単純な形状であるため、種々の加工機械で加工することができ、従来のような打刻が不要となることから、ひび割れ等の問題が解消される。
【００２３】
請求項２に記載の磁気ヘッドによれば、記録または再生素子の両側において磨耗の程度を検出できるため、記録または再生素子の両側で磨耗の仕方を調べることができる。
【００２４】
請求項３に記載の発明によれば、記録または再生素子に近い方の側壁は傾斜していないため、磨耗の程度が進んで、溝の幅が狭くなっても、記録または再生素子のトラック幅は維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施の形態に係る磁気ヘッドの斜視図である。
【図２】（ａ）は、本実施の形態に係る磁気ヘッドの平面図であり、（ｂ）は、本実施の形態に係る磁気ヘッドの要部拡大側面図である。
【図３】磨耗による幅の変化を説明する磁気ヘッドの要部拡大側面図である。
【図４】従来の検出手段の一例であり、（ａ）は磁気ヘッドの斜視図、（ｂ）は、磁気ヘッドの平面図である。
【図５】従来の検出手段の他の一例であり、（ａ）は磁気ヘッドの斜視図、（ｂ）は磁気ヘッドの磨耗検出の説明図である。
【符号の説明】
１      磁気ヘッド
１１    摺動面（摺動面）
１２    溝
１２ａ  外側側壁
１２ｂ  内側側壁
１３    側面
θ      傾斜角度
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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