(57)【要約】【課題】フィルタ特性の測定ダイナミックレンジを広げることができるとともに、フィルタ特性の測定に要する測定所要時間の短縮を図ることができるフィルタ特性測定装置及びフィルタ特性測定方法並びにフィルタ特性測定プログラムを提供する。【解決手段】ＳＧ・１がＤＵＴ・２に信号を出力し、スペクトラムアナライザ３がＤＵＴ・２の出力信号を測定し、ＰＣ・４がＤＵＴ・２の通過域、過渡域、阻止域を測定して、第２のデータテーブルに書き込む。次にＰＣ・４はＤＵＴ・２の特性測定条件及び測定時間を予め規定する第１のデータテーブルを読み出して、第２のデータテーブルの測定値に基づいて、ＤＵＴ・２の減衰量の精密測定条件を選択する。次にＰＣ・４はこの精密測定条件に基づいてＳＧ・１を制御し、ＤＵＴ・２の精密測定を行う。そして、第１，第２のデータテーブルに基づいて、ＤＵＴ・２の減衰量の演算後、出力する。【選択図】  図１
2004163150.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象であるフィルタに信号を出力する信号発生手段と、前記フィルタから出力される出力信号を測定するスペクトラムアナライザと、所定のノイズレベルに応じて、前記フィルタの特性測定条件及び測定時間を予め規定する第１のデータテーブルを記憶する第１の記憶手段と、
前記フィルタの通過域、過渡域、阻止域を測定し、該測定結果を第２の記憶手段に記憶された第２のデータテーブルに書き込む測定手段と、
前記第１のデータテーブルを読み出して、前記第２のデータテーブルに書き込まれた測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の精密測定条件を選択する減衰量精密測定条件選定手段と、
該精密測定条件に基づいて前記信号発生手段を制御し、前記フィルタの減衰量の精密測定を行う減衰量精密測定手段と、
前記第１のデータテーブルの測定条件と前記第２のデータテーブルの測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の演算を行う減衰量演算手段と、
前記フィルタの減衰量の演算結果を出力する出力手段と
を具備することを特徴とするフィルタ特性測定装置。
【請求項２】
前記測定手段は、前記通過域の測定において、前記信号発生手段の出力信号に対する前記フィルタから出力される出力信号の減衰量が所定の閾値以下であれば、当該信号の測定周波数は通過域内であると判定し、所定の周波数分だけ前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数を上げる、あるいは下げる処理を繰り返し、該測定周波数において、前記減衰量が前記閾値以上であれば、該測定周波数を通過域下限または通過域上限と判定することでフィルタの通過域を測定し、該測定結果を前記第２のデータテーブルに書き込む
ことを特徴とする請求項１に記載のフィルタ特性測定装置。
【請求項３】
前記測定手段は、前記過渡域の測定において、前記第２のデータテーブルより前記通過域下限周波数または前記通過域上限周波数を読み出して、該周波数を前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数の初期値と設定し、前記信号発生手段の出力信号を所定の出力レベル分だけ変化させた場合、前記減衰量が変化すれば、当該信号の測定周波数は過渡域内であると判定し、所定の周波数分だけ前記測定周波数を上げる、あるいは下げる処理を繰り返し、該測定周波数において、前記減衰量が変化しなければ、該測定周波数を過渡域下限または過渡域上限と判定することでフィルタの過渡域を測定し、該測定結果を前記第２のデータテーブルに書き込む
ことを特徴とする請求項２に記載のフィルタ特性測定装置。
【請求項４】
前記測定手段は、前記阻止域の測定において、前記第２のデータテーブルより前記過渡域下限周波数または前記過渡域上限周波数を読み出して、該周波数を前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数の初期値と設定し、前記信号発生手段の出力信号を所定の出力レベル分だけ変化させた場合、前記減衰量が変化すれば、当該信号の測定周波数は阻止域内であると判定することでフィルタの阻止域を測定し、該測定結果を前記第２のデータテーブルに書き込む
ことを特徴とする請求項３に記載のフィルタ特性測定装置。
【請求項５】
前記精密測定条件は、分解能帯域幅または帯域幅またはスイープ時間を含む
ことを特徴とする請求項１または請求項３に記載のフィルタ特性測定装置。
【請求項６】
前記精密測定条件は、ノイズレベルが低くなるにつれて、帯域幅を狭く設定する
ことを特徴とする請求項１または請求項３に記載のフィルタ特性測定装置。
【請求項７】
信号発生手段が、測定対象であるフィルタに信号を出力する過程と、
スペクトラムアナライザが、前記フィルタから出力される出力信号を測定する過程と、
前記フィルタの通過域、過渡域、阻止域を測定し、該測定結果を第２の記憶手段に記憶された第２のデータテーブルに書き込む過程と、
所定のノイズレベルに応じて、前記フィルタの特性測定条件及び測定時間を予め規定しており、第１の記憶手段に記憶された第１のデータテーブルを読み出して、前記第２のデータテーブルに書き込まれた測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の精密測定条件を選択する過程と、
該減衰量精密測定条件に基づいて前記信号発生手段を制御し、前記フィルタの減衰量の測定を行う過程と、
前記第１のデータテーブルの測定条件と前記第２のデータテーブルの測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の演算を行う過程と、
前記フィルタの減衰量の演算結果を出力する過程と
からなることを特徴とするフィルタ特性測定方法。
【請求項８】
信号発生手段が、測定対象であるフィルタに信号を出力する処理と、
スペクトラムアナライザが、前記フィルタから出力される出力信号を測定する処理と、
前記フィルタの通過域、過渡域、阻止域を測定し、該測定結果を第２の記憶手段に記憶された第２のデータテーブルに書き込む処理と、
所定のノイズレベルに応じて、前記フィルタの特性測定条件及び測定時間を予め規定しており、第１の記憶手段に記憶された第１のデータテーブルを読み出して、前記第２のデータテーブルに書き込まれた測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の精密測定条件を選択する処理と、
該減衰量精密測定条件に基づいて前記信号発生手段を制御し、前記フィルタの減衰量の測定を行う処理と、
前記第１のデータテーブルの測定条件と前記第２のデータテーブルの測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の演算を行う処理と、
前記フィルタの減衰量の演算結果を出力する処理と
をコンピュータに実行させるためのフィルタ特性測定プログラム。
【請求項９】
前記フィルタの通過域の測定は、
前記信号発生手段の出力信号に対する前記フィルタから出力される出力信号の減衰量が所定の閾値以下であれば、当該信号の測定周波数は通過域内であると判定する処理と、
所定の周波数分だけ前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数を上げる、あるいは下げる処理と、
該測定周波数において、前記減衰量が前記閾値以上であれば、該測定周波数を通過域下限または通過域上限と判定する処理と
をコンピュータが実行することによって行われる
ことを特徴とする請求項８に記載のフィルタ特性測定プログラム。
【請求項１０】
前記フィルタの過渡域の測定は、
前記第２のデータテーブルより前記通過域下限周波数または前記通過域上限周波数を読み出して、該周波数を前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数の初期値と設定する処理と、
前記信号発生手段の出力信号を所定の出力レベル分だけ変化させた場合、前記減衰量が変化すれば、当該信号の測定周波数は過渡域内であると判定する処理と、
所定の周波数分だけ前記測定周波数を上げる、あるいは下げる処理と、該測定周波数において、前記減衰量が変化しなければ、該測定周波数を過渡域下限または過渡域上限と判定する処理と
をコンピュータが実行することによって行われる
ことを特徴とする請求項９に記載のフィルタ特性測定プログラム。
【請求項１１】
前記フィルタの阻止域の測定は、
前記第２のデータテーブルより前記過渡域下限周波数または前記過渡域上限周波数を読み出して、該周波数を前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数の初期値と設定する処理と、
前記信号発生手段の出力信号を所定の出力レベル分だけ変化させた場合、前記減衰量が変化すれば、当該信号の測定周波数は阻止域内であると判定する処理と
をコンピュータが実行することによって行われる
ことを特徴とする請求項１０に記載のフィルタ特性測定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、フィルタの減衰量を測定するためのフィルタ特性測定装置及びフィルタ特性測定方法並びにフィルタ特性測定プログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、フィルタ特性を測定する測定装置として、図１１に示すネットワークアナライザ１００と、ＤＵＴ（＝Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔｉｎｇ：フィルタ）・１０１からなる測定系、あるいは、図１２に示す信号発生器（ＳＧ：Ｓｉｇｎａｌ  Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ）１１０と、ＤＵＴ・１１１、スペクトラムアナライザ１１２とからなる測定系が存在する。これらの測定系を用いて図１３に示すような、通過域、過渡域、阻止域等のフィルタ特性の測定を行う場合、ネットワークアナライザ１００やＳＧ１１０、スペクトラムアナライザ１１２の出力レベル、帯域幅、平均化回数等の測定パラメータセットを切り替えながら、測定結果に応じてパラメータを適当な値に変更するといった作業が繰り返し行われる。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１１−７２５１６号公報
【特許文献２】
特開平１１−１９４１４４号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来の方法においては、出力レベル、帯域幅、平均化回数等の測定パラメータセットが、個々のフィルタに応じて適切に制御されないため、ダイナミックレンジ（信号が全く歪まないレベルからノイズレベルまでの正確に測定できる範囲）が約１００ｄＢ程度に制限され、減衰量の大きいフィルタの特性を測定することができないといった問題点がある。また、この測定パラメータセットの個々のフィルタに応じた測定時間に関する最適化処理は、測定者の経験や勘によるところが多く、この最適化処理が不適切である場合、フィルタ特性の測定に要する測定所要時間が長くかかってしまうといった問題点がある。
【０００５】
本発明は、このような事情を考慮してなされたものであり、その目的は、フィルタ特性の測定ダイナミックレンジを広げることができるとともに、フィルタ特性の測定に要する測定所要時間の短縮を図ることができるフィルタ特性測定装置及びフィルタ特性測定方法並びにフィルタ特性測定プログラムを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この発明は上記の課題を解決すべくなされたもので、本発明は、測定対象であるフィルタに信号を出力する信号発生手段と、前記フィルタから出力される出力信号を測定するスペクトラムアナライザと、所定のノイズレベルに応じて、前記フィルタの特性測定条件及び測定時間を予め規定する第１のデータテーブルを記憶する第１の記憶手段と、前記フィルタの通過域、過渡域、阻止域を測定し、該測定結果を第２の記憶手段に記憶された第２のデータテーブルに書き込む測定手段と、前記第１のデータテーブルを読み出して、前記第２のデータテーブルに書き込まれた測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の精密測定条件を選択する減衰量精密測定条件選定手段と、該精密測定条件に基づいて前記信号発生手段を制御し、前記フィルタの減衰量の精密測定を行う減衰量精密測定手段と、前記第１のデータテーブルの測定条件と前記第２のデータテーブルの測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の演算を行う減衰量演算手段と、前記フィルタの減衰量の演算結果を出力する出力手段とを具備することを特徴とする。
【０００７】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタ特性の測定ダイナミックレンジを広げることができるとともに、フィルタ特性の測定に要する測定所要時間の短縮を図ることができる効果が得られる。
【０００８】
また、本発明は、前記測定手段は、前記通過域の測定において、前記信号発生手段の出力信号に対する前記フィルタから出力される出力信号の減衰量が所定の閾値以下であれば、当該信号の測定周波数は通過域内であると判定し、所定の周波数分だけ前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数を上げる、あるいは下げる処理を繰り返し、該測定周波数において、前記減衰量が前記閾値以上であれば、該測定周波数を通過域下限または通過域上限と判定することでフィルタの通過域を測定し、該測定結果を前記第２のデータテーブルに書き込むことを特徴とする。
【０００９】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタの通過域上限値、下限値の概算値を判定することができる効果が得られる。
【００１０】
また、本発明は、前記測定手段は、前記過渡域の測定において、前記第２のデータテーブルより前記通過域下限周波数または前記通過域上限周波数を読み出して、該周波数を前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数の初期値と設定し、前記信号発生手段の出力信号を所定の出力レベル分だけ変化させた場合、前記減衰量が変化すれば、当該信号の測定周波数は過渡域内であると判定し、所定の周波数分だけ前記測定周波数を上げる、あるいは下げる処理を繰り返し、該測定周波数において、前記減衰量が変化しなければ、該測定周波数を過渡域下限または過渡域上限と判定することでフィルタの過渡域を測定し、該測定結果を前記第２のデータテーブルに書き込むことを特徴とする。
【００１１】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタの過渡域上限値、下限値の概算値を判定することができる効果が得られる。
【００１２】
また、本発明は、前記測定手段は、前記阻止域の測定において、前記第２のデータテーブルより前記過渡域下限周波数または前記過渡域上限周波数を読み出して、該周波数を前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数の初期値と設定し、前記信号発生手段の出力信号を所定の出力レベル分だけ変化させた場合、前記減衰量が変化すれば、当該信号の測定周波数は阻止域内であると判定することでフィルタの阻止域を測定し、該測定結果を前記第２のデータテーブルに書き込むことを特徴とする。
【００１３】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタの阻止域上限値、下限値の概算値を判定することができる効果が得られる。
【００１４】
また、本発明は、前記精密測定条件は、分解能帯域幅または帯域幅またはスイープ時間を含むことを特徴とする。
【００１５】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、パラメータの設定により、精密な測定を行うことができる効果が得られる。
【００１６】
また、本発明は、前記精密測定条件は、ノイズレベルが低くなるにつれて、帯域幅を狭く設定することを特徴とする。
【００１７】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、パラメータの設定により、より精密な測定を行うことができる効果が得られる。
【００１８】
また、本発明は、信号発生手段が、測定対象であるフィルタに信号を出力する過程と、スペクトラムアナライザが、前記フィルタから出力される出力信号を測定する過程と、前記フィルタの通過域、過渡域、阻止域を測定し、該測定結果を第２の記憶手段に記憶された第２のデータテーブルに書き込む過程と、所定のノイズレベルに応じて、前記フィルタの特性測定条件及び測定時間を予め規定しており、第１の記憶手段に記憶された第１のデータテーブルを読み出して、前記第２のデータテーブルに書き込まれた測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の精密測定条件を選択する過程と、該減衰量精密測定条件に基づいて前記信号発生手段を制御し、前記フィルタの減衰量の測定を行う過程と、前記第１のデータテーブルの測定条件と前記第２のデータテーブルの測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の演算を行う過程と、前記フィルタの減衰量の演算結果を出力する過程とからなることを特徴とする。
【００１９】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタ特性の測定ダイナミックレンジを広げることができるとともに、フィルタ特性の測定に要する測定所要時間の短縮を図ることができる効果が得られる。
【００２０】
また、本発明は、信号発生手段が、測定対象であるフィルタに信号を出力する処理と、スペクトラムアナライザが、前記フィルタから出力される出力信号を測定する処理と、前記フィルタの通過域、過渡域、阻止域を測定し、該測定結果を第２の記憶手段に記憶された第２のデータテーブルに書き込む処理と、所定のノイズレベルに応じて、前記フィルタの特性測定条件及び測定時間を予め規定しており、第１の記憶手段に記憶された第１のデータテーブルを読み出して、前記第２のデータテーブルに書き込まれた測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の精密測定条件を選択する処理と、該減衰量精密測定条件に基づいて前記信号発生手段を制御し、前記フィルタの減衰量の測定を行う処理と、前記第１のデータテーブルの測定条件と前記第２のデータテーブルの測定値に基づいて、前記フィルタの減衰量の演算を行う処理と、前記フィルタの減衰量の演算結果を出力する処理とをコンピュータに実行させるためのフィルタ特性測定プログラムである。
【００２１】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタ特性の測定ダイナミックレンジを広げることができるとともに、フィルタ特性の測定に要する測定所要時間の短縮を図ることができる効果が得られる。
【００２２】
また、本発明は、前記フィルタの通過域の測定は、前記信号発生手段の出力信号に対する前記フィルタから出力される出力信号の減衰量が所定の閾値以下であれば、当該信号の測定周波数は通過域内であると判定する処理と、所定の周波数分だけ前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数を上げる、あるいは下げる処理と、該測定周波数において、前記減衰量が前記閾値以上であれば、該測定周波数を通過域下限または通過域上限と判定する処理とをコンピュータが実行することによって行われることを特徴とする。
【００２３】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタの通過域上限値、下限値の概算値を判定することができる効果が得られる。
【００２４】
また、本発明は、前記フィルタの過渡域の測定は、前記第２のデータテーブルより前記通過域下限周波数または前記通過域上限周波数を読み出して、該周波数を前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数の初期値と設定する処理と、前記信号発生手段の出力信号を所定の出力レベル分だけ変化させた場合、前記減衰量が変化すれば、当該信号の測定周波数は過渡域内であると判定する処理と、所定の周波数分だけ前記測定周波数を上げる、あるいは下げる処理と、該測定周波数において、前記減衰量が変化しなければ、該測定周波数を過渡域下限または過渡域上限と判定する処理とをコンピュータが実行することによって行われることを特徴とする。
【００２５】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタの過渡域上限値、下限値の概算値を判定することができる効果が得られる。
【００２６】
また、本発明は、前記フィルタの阻止域の測定は、前記第２のデータテーブルより前記過渡域下限周波数または前記過渡域上限周波数を読み出して、該周波数を前記信号発生手段が出力する信号の測定周波数の初期値と設定する処理と、前記信号発生手段の出力信号を所定の出力レベル分だけ変化させた場合、前記減衰量が変化すれば、当該信号の測定周波数は阻止域内であると判定する処理とをコンピュータが実行することによって行われることを特徴とする。
【００２７】
従って、本発明のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタの阻止域上限値、下限値の概算値を判定することができる効果が得られる。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のフィルタ特性測定装置の一実施形態について、図面を参照して説明する。図１は、本実施形態のフィルタ特性測定装置の構成を示す構成図である。本実施形態のフィルタ特性測定装置は、ＳＧ（標準信号源）・１と、スペクトラムアナライザ３と、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）・４とからなり、フィルタ特性の測定対象であるＤＵＴ（フィルタ）・２をＳＧ・１とスペクトラムアナライザ３との間に設置して測定が行われる。
【００２９】
ＳＧ・１は、ＰＣ・４からの制御信号を受けて、出力する信号の周波数、出力レベル、出力タイミングを設定し、測定対象であるＤＵＴ・２に出力する信号発生手段である。
ＤＵＴ・２はフィルタ特性の測定対象物であり、フィルタの通過域、過渡域、阻止域が未知、あるいは正確に測定されていないフィルタである。
スペクトラムアナライザ３は、ＰＣ・４からの制御信号を受けて、測定周波数、リファレンスレベル、測定帯域幅、ＲＢＷ、ＶＢＷ、ＲＦアッテネータ、平均化回数等の測定条件を設定し、ＤＵＴ・２から出力される出力信号を測定する測定手段である。
ＰＣ・４は、図２に示すように、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）・５、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）・６、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）・７、入出力インターフェイス８を有するコンピュータである。
【００３０】
ＣＰＵ・５は、ＲＯＭ・７に記憶されたプログラムを読み出して、フィルタ特性測定に関する一連の処理を実行する中央演算処理装置である。
ＲＡＭ・６は、ＣＰＵ・５が一次的に処理データを記憶させるための半導体メモリであって、例えば、スペクトラムアナライザ・３で測定されるＤＵＴ・２の通過域、過渡域、阻止域が書き込まれたデータテーブルＴ２（後述する）を一時的に記憶する。
ＲＯＭ・７は、上述のＣＰＵ・５の動作プログラムの他に，スペクトラムアナライザ・３で測定されるノイズレベルに応じて、スペクトラムアナライザ・３のＤＵＴ・２のフィルタ特性測定条件と測定時間を予め規定するデータテーブルＴ１を記憶している半導体メモリである。データテーブルＴ１の構成は以下の通りである。
【００３１】
【表１】
2004163150.tif 000003
【００３２】
このように、データテーブルＴ１は、ノイズレベル（−１２０ｄＢｍ〜１４５ｄＢｍ）に応じた、ＡＴＴ、帯域幅、ＲＢＷ、ＶＢＷ、スイープタイム、平均化回数等の測定パラメータを規定している。
入出力インターフェイス８は、ＳＧ・１やスペクトラムアナライザ３とのデータの入出力を制御するインターフェイスである。
【００３３】
以下、本実施形態のフィルタ特性測定装置の動作について、図面を参照して説明する。図３は、本実施形態のフィルタ特性測定装置におけるフィルタ特性測定に関する処理の流れを示すフローチャートである。
本実施形態のフィルタ特性測定装置において、測定者がＳＧ・１とスペクトラムアナライザ３との間にＤＵＴ・２をセットした後、フィルタ特性測定装置がＤＵＴ・２のフィルタ特性の測定を開始する。まずフィルタ特性測定装置は、通過域測定ブロックにおいて、ＤＵＴ・２の通過域を測定する（図４のステップＳ１）。
【００３４】
図４は、通過域測定ブロック（ステップＳ１）におけるＤＵＴ・２の通過域測定に関する処理の流れを示すフローチャートである（ただし、測定周波数を１００ＭＨｚから１００００ＭＨｚとした場合の例である）。
ＰＣ・４は、まずＳＧ・１に対して、ＳＧ・１が測定対象であるＤＵＴ・２に出力する信号の初期値周波数、初期値信号レベルの値を設定する制御信号を出力する。ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を初期値周波数（１００ＭＨｚ）に、また出力レベルを初期値信号レベル（０ｄＢｍ）に設定する（ステップＳ２０）。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する（ステップＳ２１）。
ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量を算出する。
【００３５】
ＤＵＴ・２の出力レベル、すなわち、スペクトラムアナライザ３の測定値が、ＤＵＴ・２の入力レベル、すなわち、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルに対して、３ｄＢより減衰している場合（ステップＳ２２でＹｅｓ）、ＰＣ・４はＳＧ・１に対して出力する制御信号が規定する測定周波数を１ＭＨｚだけ上げる（ステップＳ２３）。このとき、設定周波数は１０１ＭＨｚとなり、測定周波数の上限値である１００００ＭＨｚ以下である（ステップＳ２４でＹｅｓ）ことから、ＰＣ・４は、ステップＳ２１の前段に戻り、ＳＧ・１に対して、出力する信号の周波数の値を再設定する制御信号を出力する。
【００３６】
ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を１０１ＭＨｚに設定し、また出力レベルを０ｄＢｍに保持する。そして、ＰＣ・４及びＳＧ・１並びにスペクトラムアナライザ３は、ステップＳ２２において減衰量が３ｄＢ以内となるまでステップＳ２１〜Ｓ２４を繰り返す。
１００ＭＨｚから１００００ＭＨｚまでの間で、減衰量が３ｄＢ以内となる周波数が存在しなかった場合、ステップＳ２３で設定周波数が１００００ＭＨｚを上回り、ステップＳ２４でＮｏと判定した時点でＰＣ・４は測定を終了させる。一方、１００ＭＨｚから１００００ＭＨｚまでの間で、減衰量が３ｄＢ以内となる周波数が存在し、例えば図５に示すように１９２１ＭＨｚで減衰量が３ｄＢ以内と測定された場合（ステップＳ２２でＮｏ）、ＰＣ・４は、この測定周波数（１９２１ＭＨｚ）を通過域下限値と判定する。
【００３７】
次にＰＣ・４は、通過域下限値の判定が完了したことを受けて、ＳＧ・１に対して、出力する信号の周波数の値を再設定する制御信号を出力する。ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を現在の設定値より１ＭＨｚだけ上の値（１９２２ＭＨｚ）に設定し、出力レベルを０ｄＢｍに保持する（ステップＳ２５）。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する。
ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量を算出する。
【００３８】
このとき、減衰量が３ｄＢを下回ると、（ステップＳ２６でＮｏ）、ＰＣ・４は、ステップＳ２５に戻り、ＳＧ・１に対して、出力する信号の周波数の値を再設定する制御信号を出力する。そして、ＳＧ・１及びスペクトラムアナライザ３並びにＰＣ・４は、ステップＳ２５において減衰量が３ｄＢ以上となるまでステップＳ２５〜Ｓ２６を繰り返す。
そして、例えば図５に示すように１９４０ＭＨｚで減衰量が３ｄＢ以上と測定された場合（ステップＳ２６でＹｅｓ）、ＰＣ・４は、この測定周波数を通過域上限値と判定する。
そして、ＰＣ・４は以上の測定結果（測定周波数、減衰度、測定条件、測定時間等）及び判定結果をデータテーブルＴ２に書き込む（図５のステップＳ２）。図６は、以上の測定結果及び判定結果を示すフィルタ特性の概略図である。
【００３９】
次にフィルタ特性測定装置は、過渡域測定ブロックにおいて、ＤＵＴ・２の過渡域を測定する（ステップＳ３）。
【００４０】
図７は、過渡域測定ブロック（ステップＳ３）におけるＤＵＴ・２の過渡域測定に関する処理の流れを示すフローチャートである。
まずフィルタ特性測定装置は、図５に示す下側の過渡域における過渡域下限値を測定する。すなわち、ＰＣ・４は、データテーブルＴ２より通過域下限周波数（１９２１ＭＨｚ）を読み出して、ＳＧ・１が出力する信号の周波数とする。そして、ＰＣ・４はＳＧ・１に対して、上述の制御信号を出力する。ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を１９２１ＭＨｚに、また出力レベルを初期値信号レベル（０ｄＢｍ）に設定する（ステップＳ３０）。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する（ステップＳ３１）。
ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量Ｇ１を算出する。
【００４１】
次にＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の周波数を１９２１ＭＨｚに保持し、出力レベルを初期値信号レベル（０ｄＢｍ）より１０ｄＢだけ下げた値とする。そして、ＰＣ・４は上述の制御信号を出力し、ＳＧ・１は出力する信号の周波数を１９２１ＭＨｚに保持し、初期値信号レベル（０ｄＢｍ）より１０ｄＢだけ下げた値に設定する。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する。
ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量Ｇ２を算出する。
【００４２】
このとき、減衰量Ｇ１＝減衰量Ｇ２であれば（ステップＳ３２でＮｏ）、ＰＣ・４は、データテーブルＴ１よりノイズレベルを下げる条件（たとえば、ノイズレベルが一番高い（−１２０ｄＢｍ）条件）を選択し、該当するスペクトラムアナライザ３の設定値として、ＡＴＴ（０ｄＢ）、帯域幅（１００００００Ｈｚ）、ＲＢＷ（１ｋＨｚ）、ＶＢＷ（１ｋＨｚ）、スイープタイム（２５．０ｓｅｃ）、平均化回数（１０回）を読み出す。そして、ＰＣ・４はこれらの読み出した値に基づいて、スペクトラムアナライザ３に対して、フィルタ特性の測定条件及び測定時間の値を再設定する制御信号を出力する。スペクトラムアナライザ３は、この制御信号を受けて、ＡＴＴ、帯域幅、ＲＢＷ、ＶＢＷ、スイープタイム、平均化回数それぞれを制御信号により指定された条件の値に再設定する（ステップＳ３３）。
【００４３】
スペクトラムアナライザ３における、フィルタ特性の測定条件及び測定時間の値の再設定後、スペクトラムアナライザ３で測定されるノイズレベルが下がった場合（ステップＳ３４でＹｅｓ）、再度ステップＳ３２に戻って、ＳＧ・１及びスペクトラムアナライザ３並びにＰＣ・４は、ステップＳ３４においてノイズレベルが下がらなくなるまでステップＳ３２〜Ｓ３４を繰り返す。
ステップＳ３４でノイズレベルが下がらなくなった場合（ステップＳ３４でＮｏ）、これをフィルタ特性測定装置のノイズレベルと判定する。
【００４４】
一方、ステップＳ３２において、減衰量Ｇ１≠減衰量Ｇ２となった場合（ステップＳ３２でＹｅｓ）、現在の測定周波数における減衰量が、測定周波数が１ＭＨｚだけ大きい場合の減衰量と比較して３ｄＢ以上変化している場合（ステップＳ３５でＹｅｓ）、ＰＣ・４は、ＳＧ・１に対して出力する制御信号が規定する測定周波数を１ＭＨｚだけ下げる（ステップＳ３６）。このとき、設定周波数は１９２０ＭＨｚとなり、ＰＣ・４は、ステップＳ３２に戻り、ＳＧ・１に対して、出力する信号の周波数の値を再設定する制御信号を出力する。
【００４５】
ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を１９２０ＭＨｚに設定し、また出力レベルを前回の値に保持する。そして、ＰＣ・４及びＳＧ・１並びにスペクトラムアナライザ３は、ステップＳ３５において、現在の測定周波数における減衰量が、測定周波数が１ＭＨｚ大きい場合の減衰量と比較した場合の減衰量の変化が３ｄＢより小さくなるまでステップＳ３６、Ｓ３２、Ｓ３５を繰り返す。
【００４６】
そして、ステップＳ３５において、現在の測定周波数における減衰量と測定周波数が１ＭＨｚ大きい場合の減衰量とを比較した場合に、減衰量の変化が３ｄＢより小さくなった時点の測定周波数を過渡域下限値と判定する。例えば、図５に示すように１９１８ＭＨｚにおける減衰量と１９１９ＭＨｚにおける減衰量と比較した場合に、減衰量の変化が３ｄＢより小さくなるため、この測定周波数（１９１８ＭＨｚ）を過渡域下限値と判定する。
【００４７】
次にフィルタ特性測定装置は、図５に示す上側の過渡域における過渡域上限値を測定する。すなわち、ＰＣ・４は、データテーブルＴ２より通過域上限周波数（１９４０ＭＨｚ）を読み出して、ＳＧ・１が出力する信号の周波数とする。そして、ＰＣ・４はＳＧ・１に対して、上述の制御信号を出力する。ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を１９４０ＭＨｚに、また出力レベルを初期値信号レベル（０ｄＢｍ）に設定する（ステップＳ３７）。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する（ステップＳ３８）。
ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量Ｇ３を算出する。
【００４８】
次にＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の周波数を１９４０ＭＨｚに保持し、出力レベルを初期値信号レベル（０ｄＢｍ）より１０ｄＢだけ下げた値とする。そして、ＰＣ・４は上述の制御信号を出力し、ＳＧ・１は出力する信号の周波数を１９４０ＭＨｚに保持し、初期値信号レベル（０ｄＢｍ）より１０ｄＢだけ下げた値に設定する。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する。
ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量Ｇ４を算出する。
【００４９】
このとき、減衰量Ｇ３＝減衰量Ｇ４であれば（ステップＳ３９でＮｏ）、ＰＣ・４は、データテーブルＴ１よりノイズレベルを下げる条件（たとえば、ノイズレベルが一番高い（−１２０ｄＢｍ）条件）を選択し、該当するスペクトラムアナライザ３の設定値として、ＡＴＴ（０ｄＢ）、帯域幅（１００００００Ｈｚ）、ＲＢＷ（１ｋＨｚ）、ＶＢＷ（１ｋＨｚ）、スイープタイム（２５．０ｓｅｃ）、平均化回数（１０回）を読み出す。そして、ＰＣ・４はこれらの読み出した値に基づいて、スペクトラムアナライザ３に対して、フィルタ特性の測定条件及び測定時間の値を再設定する制御信号を出力する。スペクトラムアナライザ３は、この制御信号を受けて、ＡＴＴ、帯域幅、ＲＢＷ、ＶＢＷ、スイープタイム、平均化回数それぞれを制御信号により指定された条件の値に再設定する（ステップＳ４０）。
【００５０】
スペクトラムアナライザ３における、フィルタ特性の測定条件及び測定時間の値の再設定後、スペクトラムアナライザ３で測定されるノイズレベルが下がった場合（ステップＳ４１でＹｅｓ）、再度ステップＳ３９に戻って、ＳＧ・１及びスペクトラムアナライザ３並びにＰＣ・４は、ステップＳ４１においてノイズレベルが下がらなくなるまで、ステップＳ４０においてノイズレベルを下げる条件をノイズレベル：−１２５ｄＢｍ、−１３０ｄＢｍ、−１３５ｄＢｍ、−１４０ｄＢｍ、−１４５ｄＢｍへと順に変更しながら、ステップＳ３９〜Ｓ４１を繰り返す。そして、ステップＳ４１でノイズレベルが下がらなくなった場合（ステップＳ４１でＮｏ）、これをフィルタ特性測定装置のノイズレベルと判定する。
【００５１】
一方、ステップＳ３９において、減衰量Ｇ３≠減衰量Ｇ４となった場合（ステップＳ３９でＹｅｓ）、現在の測定周波数における減衰量が、測定周波数が１ＭＨｚだけ小さい場合の減衰量と比較して３ｄＢ以上変化している場合（ステップＳ４２でＹｅｓ）、ＰＣ・４は、ＳＧ・１に対して出力する制御信号が規定する測定周波数を１ＭＨｚだけ上げる（ステップＳ４３）。このとき、設定周波数は１９４１ＭＨｚとなり、ＰＣ・４は、ステップＳ３９の前段に戻り、ＳＧ・１に対して、出力する信号の周波数の値を再設定する制御信号を出力する。
【００５２】
ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を１９４１ＭＨｚに設定し、また出力レベルを前回の値に保持する。そして、ＰＣ・４及びＳＧ・１並びにスペクトラムアナライザ３は、ステップＳ４２において、現在の測定周波数における減衰量が、測定周波数が１ＭＨｚ小さい場合の減衰量と比較した場合の減衰量の変化が３ｄＢより小さくなるまでステップＳ４３、Ｓ３９、Ｓ４２を繰り返す。
【００５３】
そして、ステップＳ４２において、現在の測定周波数における減衰量と測定周波数が１ＭＨｚだけ小さい場合の減衰量とを比較した場合に、減衰量の変化が３ｄＢより小さくなった時点の測定周波数を過渡域上限値と判定する。例えば、図５に示すように１９４１ＭＨｚにおける減衰量と１９４２ＭＨｚにおける減衰量と比較した場合に、減衰量の変化が３ｄＢより小さくなるため、この測定周波数（１９４２ＭＨｚ）を過渡域下限値と判定する。
そして、ＰＣ・４は以上の測定結果（測定周波数、減衰度、測定条件、測定時間等）及び判定結果をデータテーブルＴ２に書き込む（図３のステップＳ４）。
【００５４】
次にフィルタ特性測定装置は、阻止域測定ブロックにおいて、ＤＵＴ・２の阻止域を測定する（ステップＳ５）。
図８は、阻止域測定ブロック（ステップＳ５）におけるＤＵＴ・２の阻止域測定に関する処理の流れを示すフローチャートである。
まずフィルタ特性測定装置は、図５に示す下側の阻止域を測定する。すなわち、ＰＣ・４は、データテーブルＴ２より下側の過渡域における過渡域下限周波数（１９１８ＭＨｚ）を読み出して、ＳＧ・１が出力する信号の周波数とし、初期値信号レベル（１０ｄＢｍ）とする。
【００５５】
なお、通過域測定ブロック、過渡域測定ブロックにおいては、スペクトラムアナライザ３に入力される電力が過大にならないように、初期値信号レベルを０ｄＢｍとしたが、阻止域測定ブロックにおいては、入力される電力はある程度減衰させられることが予想できるため、本実施形態においては、よりフィルタ特性の測定に要する時間を短縮するため、予め信号レベルを１０ｄＢｍとする。
【００５６】
次にＰＣ・４はＳＧ・１に対して、上述の制御信号を出力する。ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を１９１８ＭＨｚに、また出力レベルを初期値信号レベル（１０ｄＢｍ）に設定する（ステップＳ５０）。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する（ステップＳ５１）。
ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量Ｇ５を算出する。
【００５７】
次にＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の周波数を１９１８ＭＨｚに保持し、出力レベルを初期値信号レベル（１０ｄＢｍ）より３ｄＢだけ下げた値とする。そして、ＰＣ・４は上述の制御信号を出力し、ＳＧ・１は出力する信号の周波数を１９１８ＭＨｚに保持し、初期値信号レベル（１０ｄＢｍ）より３ｄＢだけ下げた値に設定する。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する。
ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量Ｇ６を算出する。
【００５８】
このとき、減衰量Ｇ５＝減衰量Ｇ６であれば（ステップＳ５２でＮｏ）、ＰＣ・４は、データテーブルＴ１よりノイズレベルを下げる条件（たとえば、ノイズレベルが一番高い（−１２０ｄＢｍ）条件）を選択し、該当するスペクトラムアナライザ３の設定値として、ＡＴＴ（０ｄＢ）、帯域幅（１００００００Ｈｚ）、ＲＢＷ（１ｋＨｚ）、ＶＢＷ（１ｋＨｚ）、スイープタイム（２５．０ｓｅｃ）、平均化回数（１０回）を読み出す。そして、ＰＣ・４はこれらの読み出した値に基づいて、スペクトラムアナライザ３に対して、フィルタ特性の測定条件及び測定時間の値を再設定する制御信号を出力する。スペクトラムアナライザ３は、この制御信号を受けて、ＡＴＴ、帯域幅、ＲＢＷ、ＶＢＷ、スイープタイム、平均化回数それぞれを制御信号により指定された条件の値に再設定する（ステップＳ５３）。
【００５９】
スペクトラムアナライザ３における、フィルタ特性の測定条件及び測定時間の値の再設定後、スペクトラムアナライザ３で測定されるノイズレベルが下がった場合（ステップＳ５４でＹｅｓ）、再度ステップＳ５２に戻って、ＳＧ・１及びスペクトラムアナライザ３並びにＰＣ・４は、ステップＳ５４においてノイズレベルが下がらなくなるまでステップＳ５２〜Ｓ５４を繰り返す。
ステップＳ５４でノイズレベルが下がらなくなった場合（ステップＳ５４でＮｏ）、これをフィルタ特性測定装置のノイズレベルと判定する。
【００６０】
一方、ステップＳ５２において、減衰量Ｇ５≠減衰量Ｇ６となった場合（ステップＳ５２でＹｅｓ）、測定周波数が１００ＭＨｚ以上であれば（ステップＳ５５でＹｅｓ）、ＰＣ・４は、ＳＧ・１に対して出力する制御信号が規定する測定周波数を１ＭＨｚだけ下げる（ステップＳ５６）。このとき、設定周波数は１９１７ＭＨｚとなり、ＰＣ・４は、ステップＳ５２の前段に戻り、ＳＧ・１に対して、出力する信号の周波数の値を再設定する制御信号を出力する。
【００６１】
ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を１９１７ＭＨｚに設定し、また出力レベルを前回の値に保持する。そして、ＰＣ・４及びＳＧ・１並びにスペクトラムアナライザ３は、ステップＳ５５において測定周波数が１００ＭＨｚより小さくなるまでステップＳ５６、Ｓ５２、Ｓ５５を繰り返す。
そして、ステップＳ５５において、測定周波数が１００ＭＨｚより小さくなった時点で下限阻止域の測定が完了する。
【００６２】
次にフィルタ特性測定装置は、図５に示す上側の阻止域を測定する。すなわち、ＰＣ・４は、データテーブルＴ２より過渡域上限周波数（１９４２ＭＨｚ）を読み出して、ＳＧ・１が出力する信号の周波数とする。そして、ＰＣ・４はＳＧ・１に対して、上述の制御信号を出力する。ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を１９４２ＭＨｚに、また出力レベルを初期値信号レベル（１０ｄＢｍ）に設定する（ステップＳ５７）。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する（ステップＳ５８）。ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量Ｇ７を算出する。
【００６３】
次にＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の周波数を１９４２ＭＨｚに保持し、出力レベルを初期値信号レベル（１０ｄＢｍ）より３ｄＢだけ下げた値とする。そして、ＰＣ・４は上述の制御信号を出力し、ＳＧ・１は出力する信号の周波数を１９４２ＭＨｚに保持し、初期値信号レベル（１０ｄＢｍ）より３ｄＢだけ下げた値に設定する。そして、ＳＧ・１はこれらの設定値に基づいて信号を発生させ、ＤＵＴ・２に出力する。
ＤＵＴ・２を通過した信号は、スペクトラムアナライザ３に入力される。スペクトラムアナライザ３は、入力された信号の信号レベルを測定し、ＰＣ・４に出力する。ＰＣ・４は、ＳＧ・１が出力する信号の出力レベルと、スペクトラムアナライザ３より受けた信号レベルとに基づいて、減衰量Ｇ８を算出する。
【００６４】
このとき、減衰量Ｇ７＝減衰量Ｇ８であれば（ステップＳ５９でＮｏ）、ＰＣ・４は、データテーブルＴ１よりノイズレベルを下げる条件（たとえば、ノイズレベルが一番高い（−１２１０ｄＢｍ）条件）を選択し、該当するスペクトラムアナライザ３の設定値として、ＡＴＴ（０ｄＢ）、帯域幅（１００００００Ｈｚ）、ＲＢＷ（１ｋＨｚ）、ＶＢＷ（１ｋＨｚ）、スイープタイム（２５．０ｓｅｃ）、平均化回数（１０回）を読み出す。そして、ＰＣ・４はこれらの読み出した値に基づいて、スペクトラムアナライザ３に対して、フィルタ特性の測定条件及び測定時間の値を再設定する制御信号を出力する。スペクトラムアナライザ３は、この制御信号を受けて、ＡＴＴ、帯域幅、ＲＢＷ、ＶＢＷ、スイープタイム、平均化回数それぞれを制御信号により指定された条件の値に再設定する（ステップＳ６０）。
【００６５】
スペクトラムアナライザ３における、フィルタ特性の測定条件及び測定時間の値の再設定後、スペクトラムアナライザ３で測定されるノイズレベルが下がった場合（ステップＳ６１でＹｅｓ）、再度ステップＳ５９に戻って、ＳＧ・１及びスペクトラムアナライザ３並びにＰＣ・４は、ステップＳ６１においてノイズレベルが下がらなくなるまでステップＳ５９〜Ｓ６１を繰り返す。
ステップＳ６１でノイズレベルが下がらなくなった場合（ステップＳ６１でＮｏ）、これをフィルタ特性測定装置のノイズレベルと判定する。
【００６６】
一方、ステップＳ５９において、減衰量Ｇ７≠減衰量Ｇ８となった場合（ステップＳ５９でＹｅｓ）、測定周波数が１００００ＭＨｚ以下であれば（ステップＳ６２でＹｅｓ）、ＰＣ・４は、ＳＧ・１に対して出力する制御信号が規定する測定周波数を１ＭＨｚだけ上げる（ステップＳ６３）。このとき、設定周波数は１９４３ＭＨｚとなり、ＰＣ・４は、ステップＳ５９の前段に戻り、ＳＧ・１に対して、出力する信号の周波数の値を再設定する制御信号を出力する。
【００６７】
ＳＧ・１は、この制御信号を受けて、出力する信号の周波数を１９４３ＭＨｚに設定し、また出力レベルを前回の値に保持する。そして、ＰＣ・４及びＳＧ・１並びにスペクトラムアナライザ３は、ステップＳ６２において、測定周波数が１００００ＭＨｚより大きくまでステップＳ６３、Ｓ５９、Ｓ６２を繰り返す。そして、ステップＳ６２において、測定周波数が１００００ＭＨｚより大きくなった時点で下限阻止域の測定が完了する。
そして、ＰＣ・４は以上の測定結果（測定周波数、減衰度、測定条件、測定時間等）及び判定結果をデータテーブルＴ２に書き込む（図４のステップＳ６）。図９は、以上の測定結果（測定周波数、減衰度、測定条件、測定時間等）及び判定結果を示すフィルタ特性の概略図である。
【００６８】
次にフィルタ特性測定装置は、通過域測定ブロック、過渡域測定ブロック及び阻止域測定ブロックで測定され、データテーブルＴ２に書き込まれた減衰度の値に基づいて、データテーブルＴ１より各減衰量での最適測定条件を選択する（ステップＳ７）。ここで、最適測定条件とは、測定周波数における減衰度の測定値と最も近いノイズレベルにおいて定められた、ＳＧ・１の出力信号の周波数、周波数間隔、出力レベル、スペクトラムアナライザ３の中心周波数、ＡＴＴ、帯域幅、ＲＢＷ、ＶＢＷ、リファレンスレベル、スイープタイム、平均化回数のセットからなる測定条件であり、ＰＣ・４が上述の１ＭＨｚ毎の測定周波数それぞれについて、最適測定条件を選択し、データテーブルＴ１より読み出す。ＰＣ・４は、読み出した最適測定条件に基づいて、スペクトラムアナライザ３に対して、測定周波数間隔を通過域、阻止域では数１００ＫＨｚ、過渡域では数１０ｋＨｚに設定すると共に、フィルタ特性の測定条件及び測定時間の値を再設定する制御信号を出力する。また、ＰＣ・４は、ＳＧ・１に対しても同様に、読み出した最適測定条件に基づいて、ＳＧ・１の出力信号の周波数、周波数間隔、出力レベルを設定する制御信号を出力する。
【００６９】
そして、ＰＣ・４及びＳＧ・１並びにスペクトラムアナライザ３は、設定された最適測定条件に基づいて、ＤＵＴ・２のフィルタ特性の測定を行う。測定終了後、ＰＣ・４は測定結果をデータテーブルＴ２に書き込む（ステップＳ１０）。ＰＣ・４は、測定終了後、ユーザの測定結果表示操作に応じて、データテーブルＴ２に書き込まれた測定データに必要な演算・補正等を行い、グラフ又は表等で測定結果を表示部等に出力する。
【００７０】
以上説明したように、本実施形態のフィルタ特性測定装置によれば、フィルタ特性の測定ダイナミックレンジを広げることができるとともに、フィルタ特性の測定に要する測定所要時間の短縮を図ることができる効果が得られる。
【００７１】
なお、本実施形態のフィルタ特性測定装置においては、ＤＵＴ・２を単独のフィルタとしたが、本発明で特性が測定可能なものは、単独のフィルタに限られず、ＬＮＡ（Ｌｏｗ  Ｎｏｉｓｅ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ：低雑音増幅器）とフィルタの融合システムや複数のフィルタの組み合わせ等であっても特性を図ることができる。また、本実施形態のフィルタ特性測定装置においては、ステップＳ２２、ステップＳ２６で減衰量が３ｄＢ以上であるか否かを判定の基準としたが、本発明はこれに限られるものではなく、測定所要時間をより短縮したい場合は、３ｄＢを１０ｄＢ等の別の閾値に変えてもよい。
また、本実施形態のフィルタ特性測定装置の測定感度をさらに向上させるために、図１０のように、ＬＮＡをＤＵＴ・２の後段であって、スペクトラムアナライザの前段に設けてもよい。この場合、ＤＵＴ・２の出力値を増幅した後、スペクトラムアナライザ３が増幅値の測定を行い、ＬＮＡの増幅率に応じて減衰量の換算を行うことで、ＤＵＴ・２のフィルタ特性を測定することができる。
【００７２】
なお、本実施形態においては、ＣＰＵ・５の動作プログラムは、ＰＣ・４のＲＯＭに記憶された場合を説明したが、本発明はこれに限られるものではなく、例えば、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、半導体メモリ等に記憶してもよい。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。
【００７３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、測定対象であるフィルタに信号を出力する信号発生手段と、フィルタから出力される出力信号を測定するスペクトラムアナライザと、所定のノイズレベルに応じて、フィルタの特性測定条件及び測定時間を予め規定する第１のデータテーブルを記憶する第１の記憶手段と、フィルタの通過域、過渡域、阻止域を測定し、測定結果を第２の記憶手段に記憶された第２のデータテーブルに書き込む測定手段と、第１のデータテーブルを読み出して、第２のデータテーブルに書き込まれた測定値に基づいて、フィルタの減衰量の精密測定条件を選択する減衰量精密測定条件選定手段と、精密測定条件に基づいて信号発生手段を制御し、フィルタの減衰量の精密測定を行う減衰量精密測定手段と、第１のデータテーブルの測定条件と第２のデータテーブルの測定値に基づいて、フィルタの減衰量の演算を行う減衰量演算手段と、フィルタの減衰量の演算結果を出力する出力手段とを具備するので、フィルタ特性の測定ダイナミックレンジを広げることができるとともに、フィルタ特性の測定に要する測定所要時間の短縮を図ることができる効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態のフィルタ特性測定装置の構成を示す構成図である。
【図２】ＰＣ・４の構成を示す構成図である。
【図３】本実施形態のフィルタ特性測定装置におけるフィルタ特性測定に関する処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】通過域測定ブロックにおけるＤＵＴ・２の通過域測定に関する処理の流れを示すフローチャートである。
【図５】ＤＵＴ・２のフィルタ特性を示すフィルタ特性図である。
【図６】通過域測定ブロック後のフィルタ特性の概略図である。
【図７】過渡域測定ブロックにおけるＤＵＴ・２の過渡域測定に関する処理の流れを示すフローチャートである。
【図８】阻止域測定ブロックにおけるＤＵＴ・２の阻止域測定に関する処理の流れを示すフローチャートである。
【図９】阻止域測定ブロック後のフィルタ特性の概略図である。
【図１０】本実施形態のフィルタ特性測定装置にＬＮＡをさらに設けた構成を示す構成図である。
【図１１】ネットワークアナライザ１００と、ＤＵＴ・１０１からなる測定系の構成を示す構成図である。
【図１２】信号発生器１１０と、ＤＵＴ・１１１、スペクトラムアナライザ１１２とからなる測定系の構成を示す構成図である。
【図１３】フィルタの通過域、過渡域、阻止域を示すフィルタ特性図である。
【符号の説明】
１…ＳＧ
２…ＤＵＴ
３…スペクトラムアナライザ
４…ＰＣ
５…ＣＰＵ
６…ＲＡＭ
７…ＲＯＭ
８…入出力インターフェイス
【図１】
2004163150.tif 000004
【図２】
2004163150.tif 000005
【図３】
2004163150.tif 000006
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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