(57)【要約】【課題】絶縁層に生じたピンホールの有無を比較的簡単に検査できる有機ＥＬパネルを提供する。【解決手段】有機ＥＬパネル２１は、ストライプ状に形成された複数の第一電極２４ｂと絶縁層２５と有機層２６と第二電極２７ｂとを有する積層体２３を基板２２に形成したものである。絶縁層２５に生じたピンホールの有無を検査するための、第一電極２４ｂを横断する帯形状の検査用電極２７ｃを設ける。検出用電極２７ｃと第二電極２７ｂは同じ材料からなるものである。検査用電極２７ｃと電気的に導通された検査用端子２４ｃを設ける。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ストライプ状に形成された複数の第一電極と絶縁層と有機層と第二電極とを有する積層体を基板に形成したドットマトリクス型の有機ＥＬパネルであって、
前記絶縁層に生じたピンホールの有無を検査するための、前記第一電極を横断する帯形状の検査用電極を設けたことを特徴とする有機ＥＬパネル。
【請求項２】
前記検出用電極と前記第二電極は同じ材料からなることを特徴とする請求項１に記載の有機ＥＬパネル。
【請求項３】
前記検査用電極と電気的に導通された検査用端子を設けたことを特徴とする請求項１に記載の有機ＥＬパネル。
【請求項４】
前記検査用端子と前記第一電極は同じ材料からなることを特徴とする請求項３に記載の有機ＥＬパネル。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、第一電極と第二電極の間に少なくとも発光層を有する有機層を挟持した積層体を基板に形成した有機ＥＬパネルに関するものであり、特にマトリクス状に配置された発光部を有する有機ＥＬパネルに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、有機ＥＬパネルが種々提案されており、例えば特許文献１に開示されている。有機ＥＬパネル１は、ガラス基板２上に積層体３を形成したものであり、この積層体３は、透明電極４，絶縁層５，有機層６，背面電極７を有する（図６参照）。有機層６は正孔注入層，正孔輸送層，発光層及び電子輸送層からなるものであり、透明電極４と背面電極７に挟持されている。積層体３は封止ガラス８に覆われており、この封止ガラス８はガラス基板２に接着剤９により接着されている。
【０００３】
透明電極４は、陰極端子部４ａ及び陽極部４ｂを有している。背面電極７は、陰極端子部４ａに一部重なるように形成されており、陰極端子部４ａと電気的に導通している。有機ＥＬパネル１は、陽極部４ｂと陰極端子部４ａに電源を接続することにより発光部Ｐが光輝する。
【０００４】
【特許文献１】
特開２００１−２６７０６６号公報
【０００５】
図７乃至図１０は、発光部をマトリクス状に配置したドットマトリクス型の有機ＥＬパネル１１を示すものである。有機ＥＬパネル１１は、ガラス基板１２上に積層体１３を形成したものである。積層体１３は、透明電極１４，絶縁層１５，リブ部１８，有機層１６，背面電極１７を順次積層形成したものである。
【０００６】
透明電極１４は、陰極端子部１４ａと、ストライプ状に形成された陽極部１４ｂとを有している。絶縁層１５には、発光部に対応する矩形の開口１５ａが形成されている。リブ部１８は、絶縁層１５上に陽極部１４ｂと直交する方向の平行線状に形成されている。
【０００７】
背面電極１７は、有機層１６よりも広い領域に蒸着等の手段によって形成され、リブ部１８によって周辺部１７ａとストライプ状の陰極部１７ｂとに分断されている（図１０参照）。周辺部１７ａは、陰極としての働きはなく、有機ＥＬパネル１１の発光に寄与しない。有機ＥＬパネル１１は、マトリクス状に配置された各発光部を夫々オン／オフすることにより所望の文字や図形を表示することができる。なお、図面が煩雑になることを防止するため、図７においては周辺部１７ａを図示しない。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図９に示すように、非常に稀ではあるが、絶縁層１５に小径の孔（以下、ピンホール１５ｂと記す）が生じることがあり、このピンホール１５ｂに背面電極１７の材料（例えばアルミニウム）が入り込み、陽極部１４ｂが周辺部１７ａと短絡する虞があった。つまり、絶縁層１５にピンホール１５ｂが生じていた場合は、陽極部１４ｂ及び陰極部１７ｂに駆動電圧を印加したときに、陽極部１４ｂから供給された電荷がピンホール１５ｂを通って一時的に周辺部１７ｂに流れ込むために、発光輝度の低下や応答遅れが発生する。また、複数のピンホール１５ｂが生じていた場合は、発光輝度の低下や応答遅れだけでなく、背面電極１７の周辺部１７ａを介して、陽極部１４ｂと並設された陽極部１４ｂとが短絡する。
【０００９】
従って、陽極部１４ｂと周辺部１７ｂが短絡していないかどうか検査する必要があるが、各発光部を点灯させることによって有機ＥＬパネル１１を検査する方法では、発光輝度の低下や応答遅れがピンホール１５ｂに起因するのか、他の原因に基づくものなのか判断することができなかった。
本発明は、この問題に鑑みなされたものであり、絶縁層に生じたピンホールの有無を比較的簡単に検査できる有機ＥＬパネルを提供するものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前記課題を解決するため、請求項１に記載したように、ストライプ状に形成された複数の第一電極２４ｂと絶縁層２５と有機層２６と第二電極２７ｂとを有する積層体２３を基板２２に形成したドットマトリクス型の有機ＥＬパネル２１であって、前記絶縁層２５に生じたピンホール２５ｂの有無を検査するための、前記第一電極２４ｂを横断する帯形状の検査用電極２７ｃを設けたものである。
【００１１】
また、本発明は、請求項２に記載したように、前記検出用電極２７ｃと前記第二電極２７ｂは同じ材料からなるものである。
【００１２】
また、本発明は、請求項３に記載したように、前記検査用電極２７ｃと電気的に導通された検査用端子２４ｃを設けたものである。
【００１３】
また、本発明は、請求項４に記載したように、前記検査用端子２４ｃと前記第一電極２４ｂは同じ材料からなるものである。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を添付の図面に基いて説明する。なお、図面が煩雑になることを防止するため、図１において周辺部２７ａは図示しない。
【００１５】
有機ＥＬパネル２１は、ガラス基板２２上に積層体２３を形成したものである。積層体２３は、透明電極２４，絶縁層２５，有機層２６，背面電極２７，リブ部２８を有している。
【００１６】
透明電極２４は、酸化インジウム（Ｉｎ２Ｏ３）と酸化スズ（ＳｎＯ２）の混合物であるＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｔｉｎ  Ｏｘｉｄｅ）からなるものであり、スパッタリング或いは蒸着等の手段によって形成されている。透明電極２４は、背面電極２７の陰極部２７ｂに導通される陰極端子部２４ａと、所定間隔をあけて配置された縦方向のストライプ状の陽極部２４ｂ（第一電極）と、後述する検査用電極に導通される検査用端子２４ｃとを有している。絶縁層２５は、ポリイミド系の絶縁材料からなるものであり、フォトリソグラフィー法等の手段によって形成されている。絶縁層２５は、有機層２６よりも広い領域に形成されており、マトリクス状に配置された発光部に対応する矩形の開口２５ａを有している。
【００１７】
有機層２６は、正孔注入層２６ａ，正孔輸送層２６ｂ，発光層２６ｃ及び電子輸送層２６ｄからなるものである（図５参照）。なお、有機層２６は、少なくとも発光層２６ｃがあれば良いが、本実施形態のように正孔注入層２６ａ，正孔輸送層２６ｂ及び電子輸送層２６ｄを設けることにより、発光輝度を向上させることができる。背面電極２７は、アルミニウム（Ａｌ）からなるものであり、周辺部２７ａと、陰極部２７ｂ（第二電極）と、検査用電極２７ｃとを有している。陰極部２７ｂは、透明電極２４の陽極部２４ｂに直交する方向、即ち横方法のストライプ状になっている。検査用電極２７ｃは、陰極部２７ｂに平行であって、各陽極部２４ｂを横断する帯形状になっている。
【００１８】
リブ部２８ａは、フェノール系の絶縁材料からなるものであり、フォトリソグラフィー法等の手段によって形成されている。リブ部２８は、絶縁層２５上に形成されており、逆テーパ形状になっている。リブ部２８は、陽極部２４ｂと直交する方向に平行線状に設けられており、有機層２６及び背面電極２７をストライプ状に分断する。
【００１９】
上述した有機ＥＬパネルにおいては、検査装置の陰極ターミナル（または陽極ターミナル）を検査用端子２４ｃに接続し、陽極ターミナル（または陰極ターミナル）を各陽極２４ｂに接続することによって、絶縁層２５にピンホール２５ｂが存在するか否かを簡単に検査することができるだけでなく、ピンホール２５ｂが存在する個所も特定することができる。つまり、検査装置の各ターミナルを陽極２４ｂ及び検査用端子２４ｃに接続したとき、ピンホール２５ｂが存在しなければ導通が生じなく、ピンホール２５ｂが存在する個所では、検査用電極２７ｃと陽極２４ｂがピンホール２５ｂによって電気的に導通する。
【００２０】
なお、検査装置の陽極ターミナルを、各陽極２４ｂの左側または右側から順次一個ずつ接続して検査しても良いことは言うまでもない。また、検査用電極２７ｃは、クロム（Ｃｒ）等の導電性材料からなるものであっても良いが、本実施形態のように陰極部２７ｂと同じ材料からなるものであれば、陰極部２７ｂと同時に形成することが可能である。
【００２１】
【発明の効果】
本発明は、ストライプ状に形成された複数の第一電極と絶縁層と有機層と第二電極とを有する積層体を基板に形成したドットマトリクス型の有機ＥＬパネルであって、前記絶縁層に生じたピンホールの有無を検査するための、前記第一電極を横断する帯形状の検査用電極を設けたものであり、絶縁層のピンホールの有無を比較的簡単に検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態を示す正面図。
【図２】同上実施形態を示す断面図。
【図３】同上実施形態を示す要部断面図。
【図４】同上実施形態を示す断面図。
【図５】同上実施形態を示す有機層の拡大断面図。
【図６】従来例を示す断面図。
【図７】他の従来例を示す正面図。
【図８】同上従来例を示す断面図。
【図９】同上従来例を示す断面図。
【図１０】同上従来例を示す断面図。
【符号の説明】
２１    有機ＥＬパネル
２２    ガラス基板（基板）
２３    積層体
２４ｂ  陽極部（第一電極）
２４ｃ  検査用端子
２５    絶縁層
２６    有機層
２７ｂ  陰極部（第二電極）
２７ｃ  検査用電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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