(57)【要約】【課題】磁気テープの巻き姿を、一定の巻き姿に保つことができる磁気テープの巻き姿改善処理方法を提供する。【解決手段】テープワインダによって、磁気テープをテープリールに所定量巻き取った後（Ｓ１）、テープリールに巻き取られた磁気テープの巻き姿の検査を目視によって行い（Ｓ２）、その検査結果が「合格」であった場合のみ、その磁気テープの支持体に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して磁気テープをテープリールに巻き取られた時の巻き姿、すなわち正しい巻き姿に巻き癖をつける（Ｓ３）。【選択図】      図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気テープをテープリールのハブに巻き取った後に、前記テープリールに巻き取られた前記磁気テープの巻き姿の検査を行い、検査結果が不合格であった場合は、前記磁気テープを前記テープリールに巻き直した後、再度、前記磁気テープの巻き取り姿の検査を行うことを特徴とする磁気テープの巻き姿改善処理方法。
【請求項２】
前記磁気テープの巻き直しは、最初の巻き取り速度に対して低い巻き取り速度で行われることを特徴とする請求項１に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法。
【請求項３】
前記磁気テープの巻き直しは、減圧下で行われることを特徴とする請求項１に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法。
【請求項４】
前記検査結果が合格であった場合は、前記磁気テープをその磁気テープの支持体に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して、前記磁気テープに巻き癖をつけることを特徴とする請求項１に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気テープの巻き姿改善処理方法に関し、さらに詳しくは、テープリールに巻き取られた磁気テープの巻き姿の乱れ（巻き乱れ）を改善することができる磁気テープの巻き姿改善処理方法に関する。
【従来の技術】
従来、様々な分野に使用される記録メディア（記録媒体）として、記録媒体である磁気テープが巻装された単一のリールを収納して構成される磁気テープカートリッジがある（例えば、特許文献１参照）。
【０００２】
【特許文献１】
特開平１１−２６５５６０号公報（第２図）
【０００３】
このような磁気テープは、一般に、図６及び図７に示すようなテープリール１０に巻装されて保持されている。図６は、テープリール１０の一例を示す斜視図であり、図７は、図６におけるＡ−Ａ線断面図である。
【０００４】
図６及び図７に示すように、テープリール１０は、円筒状のハブ１１と、ハブ１１の下端１１ａ，上端１１ｂに互いに平行に対向するように固着された一対の円板状の上フランジ１２，下フランジ１３とを備えて構成されており、ハブ１１の外周１１ｃに磁気テープＭＴを巻き付けるようになっている。上フランジ１２と下フランジ１３は、磁気テープＭＴの巻き取り時又は送り出し時に、上フランジ１２の内面１２ａと下フランジ１３の内面１３ａとで磁気テープＭＴのテープ幅方向における位置の変動を規制し、磁気テープＭＴの走行を安定させる役割を果たす。
【０００５】
なお、上フランジ１２と下フランジ１３との間隔は、磁気テープＭＴの巻き取り時又は送り出し時に、磁気テープＭＴの一方のテープエッジＥ１又は他方のテープエッジＥ２が上フランジ１２の内面１２ａ又は下フランジ１３の内面１３ａと当接して損傷するのを防ぐために、磁気テープＭＴの幅よりも若干広く設定されている。図７に示す例では、磁気テープＭＴは、テープエッジＥ２が下フランジ１３の内面１３ａに接触した状態でハブ１１に巻き取られているため、クリアランスが磁気テープＭＴのテープエッジＥ１と上フランジ１２の内面１２ａとの間に設けられている。
【０００６】
ところで、図７に示すように、磁気テープＭＴのテープエッジＥ１と上フランジ１２の内面１２ａとの間にクリアランスを設けると、磁気テープＭＴの一部がテープエッジＥ１からクリアランス内に飛び出してしまい、テープエッジＥ１が凹凸になるいわゆる「巻き乱れ」が生じる場合がある（図８参照）。
【０００７】
巻き乱れが生じる原因としては様々な要因が考えられるが、テープリール１０のハブ１１に磁気テープＭＴを巻き取った際に磁気テープＭＴ間に紛れ込んだ空気によって磁気テープＭＴがテープ幅方向に滑ることが、その要因の一つとして考えられている。特に、図６に示すテープリール１０を構成部品に含む磁気テープカートリッジの製造工程において、生産能率を高めるために、磁気テープＭＴの巻き取りを例えば１０〜２０ｍ／ｓの高速の巻き取り速度で行った場合は、巻き乱れが顕著に生じることが経験上知られている。
【０００８】
また、巻き乱れが生じる他の要因としては、（１）磁気テープＭＴがテープ長さ方向に湾曲している、（２）磁気テープＭＴにかかっているテンションがテープ幅方向において片寄っている、（３）磁気テープＭＴの厚みがテープ幅方向において片寄っている、（４）巻き乱れがある状態で保存されていたため、磁気テープＭＴの巻き姿がゆがんでいる、等が考えられる。そして、これらの要因が磁気テープＭＴのテープ長さ方向において変化することにより、巻き乱れがより発生しやすくなる。
【０００９】
磁気テープＭＴの巻き乱れが生じると、磁気テープＭＴの巻き取り時又は送り出し時に、磁気テープＭＴのテープ幅方向における位置が変動するため、磁気テープＭＴの走行が不安定になり、磁気テープＭＴの記録再生特性を良好に保つことができなくなる。
【００１０】
また、磁気テープＭＴの巻き取り時又は送り出し時に、磁気テープＭＴのテープエッジＥ１又はテープエッジＥ２が、上フランジ１２の内面１２ａ又は下フランジ１３の内面１３ａと当接して損傷する虞がある。
【００１１】
さらに、前記磁気テープカートリッジの各製造工程間でのテープリール１０の搬送時や製品の輸送時に、振動や落下等によってテープリール１０に衝撃が加わった場合、磁気テープＭＴのテープエッジＥ１又はテープエッジＥ２が、テープリール１０の上フランジ１２又は下フランジ１３と衝突して損傷する虞がある。
【００１２】
また、磁気テープＭＴの巻き乱れが生じた状態でそのテープリールを長期間保存すると、磁気テープＭＴにそのときの巻き姿で巻き癖がついてしまう。そのため、磁気テープＭＴの走行が不安定になり、磁気テープＭＴの記録再生特性を良好に保つことができなくなる。
【００１３】
そのため、従来は、図９（ａ）に示すように、テープリール１０のハブ１１に磁気テープＭＴを巻き取る際に、回転ローラ２１，２２，２３によって支持されたゴム等の弾性材料から成形されたエンドレスベルト２０を、回転させながら磁気テープＭＴの表面に押し当てて、磁気テープＭＴ間に紛れ込んだ空気を追い出すことによって、磁気テープＭＴの巻き乱れを軽減させる方法が知られている。また、図９（ｂ）に示すように、エンドレスベルト２０の代わりに、ゴム等の弾性材料から成形されたタッチロール３０を用いる方法も知られている。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図９（ａ），（ｂ）に示した方法によって、磁気テープＭＴの巻き姿を改善したとしても、その磁気テープＭＴを繰り返し使用する内に、巻き乱れが生じることがあった。すなわち、磁気テープＭＴの巻き姿を、一定の巻き姿に保つことができないという問題があった。
【００１５】
そこで、本発明は、磁気テープの巻き姿を、一定の巻き姿に保つことができる磁気テープの巻き姿改善処理方法を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法は、磁気テープをテープリールのハブに巻き取った後に、前記テープリールに巻き取られた前記磁気テープの巻き姿の検査を行い、検査結果が不合格であった場合は、前記磁気テープを前記テープリールに巻き直した後、再度、前記磁気テープの巻き取り姿の検査を行うことを特徴とする。
【００１７】
このように、磁気テープをテープリールに巻き取った後に、テープリールに巻き取られた磁気テープの巻き姿の検査を行うことにより、巻き姿が正しい磁気テープを選別することができる。そして、検査結果が不合格であった場合でも、磁気テープをテープリールに巻き直した後で、再度、磁気テープの巻き取り姿の検査を行うことにより、巻き姿が正しい磁気テープを選別することができる。したがって、従来よりも、巻き姿が正しい磁気テープを数多く選別することができるので、歩留を向上させることができる。そして、このような磁気テープがユーザの手元に渡るまでには磁気テープに正しい巻き姿がつく。そのため、ユーザがこのような磁気テープを使用する際に、磁気テープを安定して走行させることができ、磁気テープの記録再生特性を良好に保つことができる。
【００１８】
また、請求項２に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法は、請求項１に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法において、前記磁気テープの巻き直しは、最初の巻き取り速度に対して低い巻き取り速度で行われることを特徴とする。
【００１９】
このように、磁気テープの巻き直しを最初の巻き取り速度に対して低い巻き取り速度で行うと、磁気テープ間に空気が紛れ込みにくくなるので、磁気テープの巻き直しを通常の巻き取り速度で行う場合に比べて、より正しい巻き姿で磁気テープを巻き直すことができる。
【００２０】
また、請求項３に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法は、請求項１に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法において、前記磁気テープの巻き直しは、減圧下で行われることを特徴とする。
【００２１】
このように、磁気テープの巻き直しを減圧下で行うようにすれば、磁気テープＭＴ間に空気が紛れ込むのを防ぐことができるため、磁気テープをさらに正しい巻き姿で巻き直すことができる。具体的には、磁気テープＭＴの巻き取りは、−８５ｋＰａ以下、望ましくは−９５ｋＰａ以下、さらに望ましくは−１００〜−１０１ｋＰａの減圧下で行うようにする。
【００２２】
また、請求項４に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法は、請求項１に記載の磁気テープの巻き姿改善処理方法において、前記検査結果が合格であった場合は、前記磁気テープをその磁気テープの支持体に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して、前記磁気テープに巻き癖をつけることを特徴とする。
【００２３】
このように、検査結果が合格であった場合に、磁気テープをその磁気テープの支持体に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して磁気テープをテープリールに巻き取られた時の巻き姿に巻き癖をつけることにより、磁気テープの巻き姿を常に正しい巻き姿に保つことができる。したがって、このテープリールを含んで構成される磁気テープカートリッジの使用時に、テープリールに巻き取られた磁気テープの巻き乱れを軽減させることができる。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態について、適宜図面を参照して詳細に説明する。なお、本実施の形態では、パンケーキから供給される磁気テープＭＴを、磁気テープカートリッジの構成部品であるテープリールに磁気テープを所定量巻き取る場合を想定している。
【００２５】
初めに、本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法が適用される磁気テープカートリッジの製造工程について図１及び図２を参照して説明する。図１は、磁気テープカートリッジ１の概略の構成を示す斜視図である。また、図２は、テープワインダ２を概念的に示した正面図である。
【００２６】
通常、磁気テープカートリッジ１の製造工程において、磁気テープＭＴの原反から供給される磁気テープＭＴを、図１に示すような磁気テープカートリッジ１の構成部品であるテープリール１０に所定量巻き取るときは、次のようにして行われる。
【００２７】
まず、調液工程、塗布工程、表面処理工程を経て製造された幅広の磁気テープの原反を、その製品（磁気テープカートリッジ１）の規格で定められたテープ幅に裁断して巻き取り、いわゆる「パンケーキ」を製造する。
【００２８】
そして、図２に示すようなテープワインダ２と呼ばれる専用の磁気テープ巻き取り装置を用いて、パンケーキ３から送り出される磁気テープＭＴをテープリール１０に所定量巻き取り、切断する。
【００２９】
次に、本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法が適用される磁気テープについて図３を参照して説明する。図３は、磁気テープＭＴの一部分を拡大して示す断面図である。
【００３０】
図３に示すように、磁気テープＭＴは、非磁性の支持体（ベースフィルム）４上に磁性層５が形成されている。磁性層５は、磁性粉末、結合剤及び有機溶剤を磁性粉末が均一に分散するまで混合させて調製した磁性塗料を、非磁性の支持体４上に塗布することにより形成される。あるいは、磁性層５は、金属、合金等の強磁性材を、真空蒸着やスパッタリングなどの手段で支持体４上に被着することにより形成される。なお、磁性塗料には、分散剤，滑剤，帯電防止剤，可塑剤，安定剤，防錆剤等の添加剤が加えられている。
【００３１】
磁性粉末としては、例えば、α−Ｆｅ2Ｏ3、Ｆｅ3Ｏ4、コバルト被着α−Ｆｅ2Ｏ3等の強磁性酸化鉄系粒子、強磁性二酸化クロム系粒子、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ等の金属やこれらを含んだ合金からなる強磁性金属系粒子、六角板状の六方晶フェライト微粒子等を用いることができる。
【００３２】
また、結合剤としては、ウレタン、塩化ビニル、酢酸ビニル、ビニルアルコール、塩化ビニリデン、アクリル酸エステル、スチレン、ブタジエン、アクリロニトリル等の重合体、あるいはこれらの２種以上を組み合わせた共重合体や、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂等を用いることができる。
【００３３】
また、有機溶剤としては、エーテル類、エステル類、ケトン類、芳香族炭化水素、脂肪族炭化水素、塩素化炭化水素等を用いることができる。
【００３４】
そして、支持体４の材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）やポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）等のポリエステル類、ポリプロピレン等のポリオレフィン類、ニトロセルロース等のセルロース誘導体、ポリアミド、ポリイミド、ポリ塩化ビニル、ポリカーボネート、アラミド等の高分子類を用いることができる。
【００３５】
支持体４には、加工性や機械特性に優れ、コストも低いポリエステル類を用いることが望ましい。また、強度、剛性及び耐熱性がポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）よりも高いポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）を用いることがさらに望ましい。また、より耐熱性を必要とする場合は、アラミドを用いることが望ましい。
【００３６】
次に、本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法に用いられる磁気テープＭＴの熱処理方法について説明する。
【００３７】
この磁気テープＭＴの熱処理方法は、磁気テープＭＴに「巻き癖」をつけるためのものであり、磁気テープＭＴを巻き取ったテープリール１０を、図４に示すような環境試験装置６の中に置き、磁気テープＭＴの巻き姿を所定の環境温度下で一定時間熱処理することにより、磁気テープＭＴをテープリール１０に巻き取られた時の巻き姿に巻き癖をつける。なお、磁気テープＭＴが水を吸って伸びないように、環境試験装置６の中は低湿度の環境に保たれているものとする。
【００３８】
環境試験装置６の環境温度は、その磁気テープＭＴの支持体４に用いられる材料のガラス転位温度直下の温度に設定される。具体的には、支持体４に用いられる材料のガラス転位温度よりも０〜１０℃程度低い温度に設定される。例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）のガラス転位温度は６０〜７０℃程度であるので、支持体４の材料にガラス転位温度が６９℃であるポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）を用いた場合は、環境試験装置６の環境温度は、４０〜６９℃、好ましくは５０〜６５℃に設定される。４０〜６５℃に設定される。また、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）のガラス転位温度は１１０〜１２０℃程度であるので、支持体４の材料にガラス転位温度が１１３℃のポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）を用いた場合は、環境試験装置６の環境温度は、４０〜１１３℃に設定される。また、アラミドのガラス転位温度ははっきりと判別しづらいが、支持体４の材料にアラミドを用いた場合は、環境試験装置６の環境温度は、４０〜１２０℃に設定される。なお、環境試験装置６の環境温度を１００〜１２０℃に設定すると、処理速度を速め生産性を向上させることができるので好適である。
【００３９】
このように、磁気テープＭＴを所定の環境温度下で一定時間熱処理することにより、磁気テープＭＴをテープリール１０に巻き取られた時の巻き姿に巻き癖をつけることができる。特に、磁気テープＭＴの支持体４にポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）やポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）を用いた場合は、磁気テープＭＴをガラス転位温度直下の環境温度で熱処理することにより、巻き癖をより効果的につけることができる。これは、この温度域での熱処理が極端な熱収縮を抑制しつつ非晶部分を緩和させて残留応力を低減させながら適度に巻き易い形状とするためである。
【００４０】
次に、本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法を前記した磁気テープカートリッジ１の製造工程に適用した場合の処理の手順を、図５に示すフローチャートを参照して説明する。なお、ここでは、前記したように、図６に示すような磁気テープカートリッジ１の構成部品であるテープリール１０のハブ１１に、磁気テープＭＴを所定量巻き取る場合を想定している。
【００４１】
まず、ステップＳ１では、図２に示すように、パンケーキ３から送り出される磁気テープＭＴを、テープワインダ２によって、テープリール１０に所定量巻き取る。このとき、磁気テープＭＴは、１０〜２０ｍ／ｓの高速の巻き取り速度で巻き取られる。
【００４２】
次のステップＳ２では、テープリール１０に巻き取られた磁気テープＭＴの巻き姿の検査を目視によって行う。なお、磁気テープＭＴの巻き姿の検査は、目視以外にも、光センサー、超音波、Ｘ線等によって行うこともできる。磁気テープＭＴの巻き姿の検査は、磁気テープＭＴのテープエッジの凹凸を観察し、テープエッジから０．３ｍｍ以上の飛び出しがあった場合は「不合格」とし、他の場合は「合格」とする。そして、ステップＳ２での検査結果が「合格」であった場合は、ステップＳ３に進み、検査結果が「不合格」であった場合は、ステップＳ４に進む。
【００４３】
ステップＳ３では、磁気テープＭＴを、その磁気テープＭＴの支持体４に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して、磁気テープＭＴをテープリール１０に巻き取られた時の巻き姿に巻き癖をつける。そして、ステップＳ３で磁気テープＭＴに巻き癖をつけた後は、全ての処理を終了する。
【００４４】
ステップＳ４では、磁気テープＭＴがテープリール１０に図７に示すような正しい巻き姿で巻き取られるように、磁気テープＭＴを２〜３ｍ／ｓの低速の巻き取り速度でテープリール１０に巻き直す。このとき、磁気テープＭＴ間に空気が紛れ込むのを防ぐため、磁気テープＭＴの巻き取りは−８５〜−１００ｋＰａの減圧下で行うのが望ましい。
【００４５】
なお、磁気テープＭＴを、テープリール１０に巻き直すときは、従来の技術の欄で説明した、エンドレスベルト２０を用いて磁気テープＭＴの巻き姿を改善する方法（図９（ａ）参照）や、タッチロール３０を用いて磁気テープＭＴの巻き姿を改善する方法（図９（ｂ）参照）等を使用すると、磁気テープＭＴをテープリール１０のハブ１１に図７に示すような正しい巻き姿で巻き直すことができる。また、磁石により磁気テープを一方向に引き付けながら巻き取ると、さらに良好な巻き姿を得ることができる（特開平５−１０９２３３号公報参照）。
【００４６】
そして、次のステップＳ５では、再度、テープリール１０に巻き取られた磁気テープＭＴの巻き姿の検査を目視によって行う。このステップＳ５での検査は、ステップＳ２での検査と同じ方法で行われる。そして、ステップＳ５での検査結果が「合格」であった場合は、次のステップＳ６に進み、検査結果が「不合格」であった場合は、その磁気テープＭＴは不良品であると判断して全ての処理を終了する。
【００４７】
ステップＳ６では、ステップＳ３と同様に、磁気テープＭＴを、その磁気テープＭＴの支持体４に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して、磁気テープＭＴをテープリール１０に巻き取られた時の巻き姿に巻き癖をつける。そして、ステップＳ６で磁気テープＭＴに巻き癖をつけた後は、全ての処理を終了する。
【００４８】
以上のように、テープワインダ２によって、磁気テープＭＴをテープリール１０に所定量巻き取った後、テープリール１０に巻き取られた磁気テープＭＴの巻き姿の検査を行うことにより、巻き姿が正しい磁気テープＭＴを選別することができる。また、検査結果が「不合格」であった場合でも、磁気テープＭＴを最初の巻き取り速度に対して低い巻き取り速度でテープリール１０に巻き直した後に、再度、テープリール１０に巻き取られた磁気テープＭＴの巻き姿の検査を行うことにより、巻き姿が正しい磁気テープＭＴを選別することができる。
【００４９】
したがって、従来よりも、巻き姿が正しい磁気テープＭＴを数多く選別することができる。そして、このような磁気テープＭＴがユーザの手元に渡るまでには磁気テープＭＴに正しい巻き姿がつく。そのため、ユーザがこのような磁気テープＭＴを使用する際に、磁気テープＭＴを安定して走行させることができ、磁気テープＭＴの記録再生特性を良好に保つことができる。
【００５０】
そして、検査結果が「合格」であった場合は、その磁気テープＭＴの支持体４に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理することにより、磁気テープＭＴをテープリール１０に巻き取られた時の巻き姿に巻き癖をより強くつけることができる。したがって、磁気テープＭＴの巻き姿を、常に図７に示すような正しい巻き姿に保つことができるので、このテープリール１０を含んで構成される磁気テープカートリッジ１の使用時に、磁気テープＭＴの巻き乱れを軽減させることができる。
【００５１】
なお、本実施の形態では、ステップＳ３とステップＳ６において、その磁気テープＭＴの支持体４に用いられている材料のガラス転位温度直下の温度で所定時間熱処理して、磁気テープＭＴをテープリール１０に巻き取られた時の巻き姿に巻き癖をつけていたが、この熱処理は必ずしも行う必要はない。特に、磁気テープＭＴを高速で巻き取っても良好な巻き姿が得られる磁気テープＭＴに関しては、熱処理をする必要はあまりない。しかし、熱処理をすることにより、その良好な巻き姿に巻き癖をつけることができる。
【００５２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、磁気テープの磁性層やテープエッジが損傷することなく、テープリールに巻き取られた磁気テープの巻き姿の乱れ（巻き乱れ）を改善することができる磁気テープの巻き姿改善処理方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】磁気テープカートリッジ１の概略の構成を示す斜視図である。
【図２】テープワインダ２を概念的に示した正面図である。
【図３】磁気テープＭＴの一部分を拡大して示す断面図である。
【図４】環境試験装置６を示す斜視図である。
【図５】本発明の磁気テープの巻き姿改善処理方法を磁気テープカートリッジ１の製造工程に適用した場合の処理の手順を示すフローチャートである。
【図６】テープリール１０の一例を示す斜視図である。
【図７】図６におけるＡ−Ａ線断面図である。
【図８】図７に示すテープリール１０において巻き乱れが生じた状態を示す断面図である。
【図９】従来の磁気テープの巻き姿改善処理方法を示す平面図であり、（ａ）はエンドレスベルト２０を用いた方法を示し、（ｂ）はタッチロール３０を用いた方法を示す。
【符号の説明】
１    磁気テープカートリッジ
２    テープワインダ
３    パンケーキ
ＭＴ  磁気テープ
４    支持体
５    磁性層
６    環境試験装置
１０  テープリール
１１  ハブ
１２  上フランジ
１３  下フランジ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2004164807.tif 000007
【図６】
2004164807.tif 000008
【図７】
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【図８】
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【図９】
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