(57)【要約】【課題】検査入力端子からの腐食の進行が抑止される表示パネル形成板及び表示パネルを提供する。【解決手段】各々、ゲートバスライン１及びソースバスライン２とそれらに接続された検査用配線とを有する複数の表示パネルが一列に配列して一体となった表示パネル形成板２０であって、上記各表示パネルの検査用配線は、該表示パネルとそれに隣接した隣接表示パネルとの間の分断予定部を横切ると共に、その末端には検査入力端子２１が設けられており、該分断予定部が該表示パネルのフレキシブルプリント配線板取付部２２を構成している。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
各々、表示用配線と該表示用配線に接続された検査用配線とを有する複数の表示パネルが一列に配列して一体となった表示パネル形成板であって、
上記各表示パネルの検査用配線は、該表示パネルとそれに隣接した隣接表示パネルとの間の分断予定部を横切ると共に、その末端には検査入力端子が設けられており、該分断予定部が該表示パネルのフレキシブルプリント配線板取付部を構成していることを特徴とする表示パネル形成板。
【請求項２】
請求項１に記載された表示パネル形成板において、
上記表示パネルのフレキシブルプリント配線板取付部に該表示パネルの検査用配線に接続されたパネル内検査入力端子が設けられていることを特徴とする表示パネル形成板。
【請求項３】
請求項１に記載された表示パネル形成板において、
上記複数の表示パネルの配列方向に沿って延びるように設けられ、該複数の液晶パネルのそれぞれの検査用配線が接続された共通検査用配線を備えていることを特徴とする表示パネル形成板。
【請求項４】
請求項１に記載された表示パネル形成板において、
上記検査入力端子がアルミニウム、及び／又は、モリブデンで形成されていることを特徴とする表示パネル形成板。
【請求項５】
請求項１に記載された表示パネル形成板において、
上記表示パネルが液晶表示パネルであることを特徴とする表示パネル形成板。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれかに記載された表示パネル形成板が分断予定部に沿って分断されてなることを特徴とする表示パネル。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、表示パネル形成板及び表示パネルに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、表示媒体として注目されている液晶表示装置は、薄型で低消費電力であるという特徴を生かして、パーソナルコンピュータ等のＯＡ機器、液晶モニターを搭載したカメラ一体型ＶＴＲ、さらには携帯電話やＰＤＡ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ａｓｓｉｓｔａｎｔ）の携帯情報機器等に広く用いられている。
【０００３】
ところで、液晶表示装置には、複数の画素電極がマトリクス状に配列されたアクティブマトリクス基板と、共通電極が設けられた対向基板と、両基板間に挟持された液晶層とを備えたものがある。かかる液晶表示装置は、画素電極に所定の電荷を書き込むことにより、画素電極と共通電極との間の液晶層からなる液晶容量に所定の電圧を印加し、その電圧に応じて液晶層の光学的変調が起こることを利用して、画像表示を行うものである。
【０００４】
このような液晶表示装置では、ドライバＩＣチップ等の実装部品を取り付ける前段階（液晶パネルが完成した時点）において点灯検査が施される。
【０００５】
特許文献１には、その一般的な検査方法が開示されている。その液晶パネルの検査方法について、図面を用いて以下に説明する。
【０００６】
図１０は、液晶パネルを示す。
【０００７】
この液晶パネルは、アクティブマトリクス基板４０及び対向基板と、それらの両基板間に挟持された液晶層とを備えている。
【０００８】
このアクティブマトリクス基板４０には、その中央部に表示領域１９が構成されている。また、その表示領域１９には、相互に並行に延びる複数のゲートバスライン１と、それらのゲートバスライン１と直交する方向に相互に並行に延びる複数のソースバスライン２とが配設されている。
【０００９】
この表示領域１９の外側の領域、つまり、非表示領域のうち、液晶パネルの左辺部分には、ソースバスライン２に沿って相互に並行に延びるように、奇数番目のゲートバスライン１が接続された検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａと、偶数番目のゲートバスライン１が接続された検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂとが設けられている。また、液晶パネルの左下部分には、検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａの末端の検査入力端子ＧＯ及び検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂの末端の検査入力端子ＧＥがそれぞれ設けられている。また、液晶パネルの上辺部分には、ゲートバスライン１に沿って相互に並行に延びるように、赤色表示に係わるソースバスライン２が接続された検査用ソース信号入力線（赤）２ａと、緑色表示に係わるソースバスライン２が接続された検査用ソース信号入力線（緑）２ｂと、青色表示に係わるソースバスライン２が接続された検査用ソース信号入力線（青）２ｃとが設けられている。また、液晶パネルの左上部分には、検査用ソース信号入力線（赤）２ａの末端の検査入力端子Ｒ、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂの末端の検査入力端子Ｇ及び検査用ソース信号入力線（青）２ｃの末端の検査入力端子Ｂがそれぞれ設けられている。また、液晶パネルの右辺部分には、ゲートドライバＩＣチップを実装するゲートドライバＩＣチップ搭載部１６が配置されていると共に、下辺部分には、ソースドライバＩＣチップを実装するソースドライバＩＣチップ搭載部１７が設けられている。さらに、表示領域１９を囲むように対向基板の共通電極１１ｂに接続された検査用共通電極配線９が設けられている。また、液晶パネルの右下部分には、検査用共通電極配線９の末端の検査入力端子Ｃが設けられている。
【００１０】
この液晶パネルの検査に際しては、まず、共通電極１１ｂに接続された検査入力端子Ｃに一定の共通電極検査信号を入力しながら、ゲートバスライン１に接続された検査入力端子ＧＯ又は検査入力端子ＧＥに所定のゲート検査信号を入力してゲートバスライン１に接続されたＴＦＴ１０をオン状態にする。そして、ソースバスライン２に接続された検査入力端子Ｒ、検査入力端子Ｇ及び検査入力端子Ｂのうちいずれかに所定のソース検査信号を入力してドレイン電極を介して特定の画素電極１１ａに所定の電荷を書き込む。このとき、画素電極１１ａと共通電極１１ｂとの間で構成される液晶容量には所定の電圧が印加され、その画素電極１１ａで構成された画素が点灯（表示）状態になる。このように、検査入力端子ＧＯ及び検査入力端子ＧＥにゲート検査信号、検査入力端子Ｒ、検査入力端子Ｇ及び検査入力端子Ｂにソース検査信号を選択的に入力して適宜画素を点灯させることによって液晶パネルの点灯検査が行われる。
【００１１】
そして、このような検査を行った後に、この液晶パネルをダイシングやレーザ切断等の手段によって分断し、検査用配線及びその検査入力端子が設けられた左辺部分及び上辺部分を切り離す。
【００１２】
ところが、この方法によると、分断にかかる工程が必要であるという問題の他に、分断によって生じる配線パターンの破片やガラス屑等によって新たな不良が発生する恐れがあるという問題がある。そこで、特許文献２には、切断にかかる工程数の増加を回避する手段の一例として、検査信号を供給する配線を電気的に完全に導通しておくのではなく、その部分にＴＦＴ等のスイッチング素子を配置しておき、検査時に必要に応じてこのスイッチング素子を導通させる信号を供給する方法が開示されている。その液晶パネルの検査方法について、図面を用いて以下に説明する。
【００１３】
図１１は、ＴＦＴをスイッチング素子とした液晶パネルを示す。なお、図１０に示すものと実質的に同じ機能を有する構成要素を共通の符号で示し、その説明は省略する。
【００１４】
この液晶パネルでは、検査用配線として、図１０の構成の他に、検査用制御信号線５が表示領域の外側にゲートバスライン１及びソースバスライン２に沿って設けられている。そして、液晶パネルの左下部分には、検査用制御信号線５の末端の検査入力端子ＳＷが設けられている。さらに、複数のゲートバスライン１及びソースバスライン２のそれぞれの末端には、検査用ＴＦＴ３が設けられている。
【００１５】
ゲートバスライン１に設けられた検査用ＴＦＴ３は、ゲート電極が検査用制御信号線５に、ソース電極がゲートバスライン１に、ドレイン電極が検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ又は検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂにそれぞれ接続されている。
【００１６】
ソースバスライン２に設けられた検査用ＴＦＴ３は、ゲート電極が検査用制御信号線５に、ソース電極がソースバスライン２に、ドレイン電極が検査用ソース信号入力線（赤）２ａ、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ及び検査用ソース信号入力線（青）２ｃのうちいずれかにそれぞれ接続されている。
【００１７】
この液晶パネルの検査に際しては、共通電極１１ｂに接続された検査入力端子Ｃと、検査用制御信号線５に接続された検査入力端子ＳＷと、ゲートバスライン１に接続された検査入力端子ＧＯ及び検査入力端子ＧＥと、ソースバスライン２に接続された検査入力端子Ｒ、検査入力端子Ｇ及び検査入力端子Ｂとに検査信号を選択的に入力することにより、適宜画素を点灯させる。
【００１８】
具体的な検査方法について、図６、７及び８に例示したタイミングチャートに基づいて説明する。
【００１９】
液晶パネルの点灯検査は以下の検査パターンＩ、ＩＩ及びＩＩＩにより行われる。
【００２０】
（ａ）検査パターンＩ
まず、図６のように、検査用制御信号線５（ＳＷ）に直流で＋２５Ｖの電位の制御検査信号を入力して検査用ＴＦＴ３をオン状態にする。これにより、検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ（ＧＯ）及び検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂ（ＧＥ）が各ゲートバスライン１と、検査用ソース信号入力線（赤）２ａ（Ｒ）、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ（Ｇ）及び検査用ソース信号入力線（青）２ｃ（Ｂ）が各ソースバスライン２と導通状態になる。そして、検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ（ＧＯ）及び検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂ（ＧＥ）にバイアス電圧−１０Ｖ、周期１６．７ｍｓｅｃ、パルス幅５０μｓｅｃの＋１５Ｖのパルス電圧のゲート検査信号を入力して表示領域１９内の全てのＴＦＴ１０をオン状態にする。さらに、検査用ソース信号入力線（赤）２ａ（Ｒ）、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ（Ｇ）及び検査用ソース信号入力線（青）２ｃ（Ｂ）に１６．７ｍｓｅｃごとに極性が反転する±２Ｖの電位のソース検査信号を入力して各ＴＦＴ１０のソース電極及びドレイン電極を介して画素電極１１ａに±２Ｖに対応した電荷を書き込む。同時に、検査用共通電極配線９（Ｃ）に直流で−１Ｖの電位の共通電極検査信号を入力する。これにより、画素電極１１ａと共通電極１１ｂとの間で構成される液晶容量に電圧が印加され、その画素電極１１ａで構成する画素が点灯（表示）状態になり、液晶パネルの画面全体は中間調表示が表示される。この場合、ドレイン電極と画素電極との間で配線が断線した不良箇所を有する画素では、その画素電極に所定の電荷が書き込むことができず、その画素は非点灯（輝点）状態になる。逆に、ゲートバスラインとドレイン電極との間でリークが発生している不良箇所を有する画素では、画素電極にゲートバスラインからの電荷が常に書き込まれ、その画素は点灯（黒点）状態となる。これにより、配線の断線及びゲートバスラインとドレイン電極との間でのリークを検出することができる。
【００２１】
（ｂ）検査パターンＩＩ
まず、図７のように、検査用制御信号線５（ＳＷ）に直流で＋２５Ｖの電位の制御検査信号を入力して検査用ＴＦＴ３をオン状態にする。そして、検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂ（ＧＥ）にバイアス電圧−１０Ｖ、周期３３．４ｍｓｅｃ、パルス幅５０μｓｅｃの＋１５Ｖのパルス電圧のゲート検査信号ａを入力して、検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ（ＧＯ）に、ゲート検査信号ａと同様な信号であってゲート検査信号ａと１６．７ｍｓｅｃずれたゲート検査信号ｂを入力する。このとき、奇数番目のゲートバスライン１に接続されたＴＦＴ１０と、偶数番目のゲートバスライン１に接続されたＴＦＴ１０とが１６．７ｍｓｅｃの周期で交互にオン状態になる。さらに、検査用ソース信号入力線（赤）２ａ、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ及び検査用ソース信号入力線（青）２ｃに１６．７ｍｓｅｃごとに極性が反転する±２Ｖの電位のソース検査信号を入力して各ＴＦＴ１０のソース電極及びドレイン電極を介して画素電極１１ａに±２Ｖに対応した電荷を書き込む。それと同時に、検査用共通電極配線９（Ｃ）に直流で−１Ｖの電位の共通電極検査信号を入力する。これにより、液晶容量に所定の電圧が印加され、１６．７ｍｓｅｃの周期でゲートバスライン１の奇数番目に対応する画素とゲートバスライン１の偶数番目に対応する画素とが交互に点灯することになるので、隣接するゲートバスライン１間のリークを検出することができる。
【００２２】
（ｃ）検査パターンＩＩＩ
まず、図８のように、検査用制御信号線５（ＳＷ）に直流で＋２５Ｖの電位の制御検査信号を入力して検査用ＴＦＴ３をオン状態にする。そして、検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ（ＧＯ）及び検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂ（ＧＥ）にバイアス電圧−１０Ｖ、周期１６．７ｍｓｅｃ、パルス幅５０μｓｅｃの＋１５Ｖのパルス電圧のゲート検査信号を入力して表示領域１９内の全てのＴＦＴ１０をオン状態にする。同時に、検査用共通電極配線９（Ｃ）に直流で−１Ｖの電位の共通電極検査信号を入力する。さらに、例えば、検査用ソース信号入力線（赤）２ａ（Ｒ）に１６．７ｍｓｅｃごとに極性が反転する±１Ｖの電位のソース検査信号ａを入力して、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ（Ｇ）及び検査用ソース信号入力線（青）２ｃ（Ｂ）に１６．７ｍｓｅｃごとに極性が反転する±５Ｖの電位のソース検査信号ｂを入力する。これにより、もし、赤色表示のソースバスライン２と隣接する他のソースバスライン２との間にリークがあれば、そのリークしているソースバスライン２が異なる赤色の表示になる。これらの検査信号の入力により、赤色表示のソースバスライン２と隣接する他のソースバスライン２間のリークが検出できる。さらに、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ（Ｇ）及び検査用ソース信号入力線（青）２ｃ（Ｂ）についても、上述の検査用ソース信号入力線（赤）２ａ（Ｒ）と同様な手順で検査すれば、隣接するソースバスライン２間のリークを検出することができる。
【００２３】
また、特許文献２には、複数の液晶パネルが同一の方向に列状に配設された短冊基板に対して、短冊基板ごとに液晶パネル検査を行う方法も開示されている。
【００２４】
図１２は、母基板５０及び短冊基板２０を経て液晶パネル１００が製造される一般的な製造工程を示す。図１３は、短冊基板２０内の各液晶パネル１００の構成を示す。
【００２５】
この短冊基板２０の検査方法について以下に説明する。
【００２６】
この短冊基板２０は、母基板５０がその横分断線６ａに沿って分断された短冊状の基板である。この短冊基板２０では、各液晶パネルのゲートバスライン１の延びる方向が配列方向となるように複数の液晶パネル１００が縦分断線６ｂを介して配列している。そして、短冊基板２０の各液晶パネル１００の下辺部分には各液晶パネル１００の検査入力端子７（検査入力端子ＧＥ、ＧＯ及びＳＷ）及び８（検査入力端子Ｒ、Ｇ、Ｂ及びＣ）が配設されている。なお、母基板５０の上辺及び下辺部分、短冊基板２０の左辺及び右辺部分の各基板の端部領域は、液晶パネル１００が配設されずに捨基板となっている。
【００２７】
この短冊基板２０の検査に際しては、短冊基板２０を検査装置に設置して、各液晶パネル１００の検査入力端子７及び８のそれぞれに検査用プローブを当てた後に、上述の検査パターンＩ、ＩＩ及びＩＩＩのように、検査入力端子Ｃ、検査入力端子ＳＷ、検査入力端子ＧＯ、検査入力端子ＧＥ、検査入力端子Ｒ、検査入力端子Ｇ及び検査入力端子Ｂに検査信号を選択的に入力することにより、適宜画素を点灯させる。これにより、液晶パネル１００の検査効率を向上させることができる。特に、車載用及び携帯電話用の液晶パネルのような中小型の液晶パネル１００の検査効率の向上に有効な手段である。
【００２８】
しかしながら、通常、基板内の配線及び検査配線には、アルミニウム等の腐食（酸化）しやすい金属を使用している場合が多い。この場合、外気に接している検査入力端子７（検査入力端子ＧＥ、ＧＯ及びＳＷ）及び検査入力端子８（検査入力端子Ｒ、Ｇ、Ｂ及びＣ）の各端子が腐食し、その腐食が端子から液晶パネル１００の表示領域１９内に進行し、液晶パネル１００の画像表示に支障を来してしまう恐れがある。この検査入力端子７及び８の各端子からの腐食防止のために、検査入力端子７及び８の表面に樹脂を塗布することが考えられるが、製造工程中に端子の腐食防止ための樹脂塗布工程を追加することは、製造コストが高くなり非現実的である。
【００２９】
ところで、図１４（ａ）及び（ｂ）に示すように、液晶駆動用ドライバＩＣチップを直接、液晶パネル１００上に実装するＣＯＧ（Ｃｈｉｐ  Ｏｎ  Ｇｌａｓｓ）方式の液晶パネル１００では、液晶パネル１００の表示領域１９内に電源を入力するＦＰＣ端子１４の表面にＦＰＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）１５を貼り付け、ＦＰＣ端子１４の端面１４ａに樹脂１８を塗布する樹脂塗布工程は不可欠である。
【００３０】
そこで、この製造工程中に不可欠な樹脂塗布工程を利用して、図１５に示すように検査入力端子７及び８をＦＰＣ１５が貼り付けられるＦＰＣ領域２２内に配設することにより検査入力端子７及び８の腐食を防止することが考えられる。
【００３１】
これによると、液晶パネル１００の検査及び分断後において、ＦＰＣ端子１４を始め、検査入力端子７及び８の表面はＦＰＣ１５のフィルム基板で覆われ、大気と接しないため、ＦＰＣ端子１４、検査入力端子７及び８が腐食することがない。しかしながら、この腐食防止対策は、被腐食部位を被覆することによって始めて腐食防止効果が発生するものである。
【００３２】
【特許文献１】
特開平７−５４８１号公報
【特許文献２】
特開平１１−３３８３７６号公報
【００３３】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、検査入力端子からの腐食の進行が抑止される表示パネル形成板及び表示パネルを提供することである。
【００３４】
【課題を解決するための手段】
本発明の表示パネル形成板は、各々、表示用配線と該表示用配線に接続された検査用配線とを有する複数の表示パネルが一列に配列して一体となった表示パネル形成板であって、上記各表示パネルの検査用配線が、該表示パネルとそれに隣接した隣接表示パネルとの間の分断予定部を横切ると共に、その末端には検査入力端子が設けられており、該分断予定部が該表示パネルのフレキシブルプリント配線板取付部を構成していることを特徴とする。
【００３５】
上記の構成によれば、各表示パネルの検査用配線が分断予定部を横切るように設けられているので、表示パネル形成板が分断予定部で各表示パネルに分断されると、検査用配線が検査入力端子側と表示パネル側とに分離され、検査入力端子から表示パネル内への腐食の進行が防止されることになる。さらに、分断予定部がフレキシブルプリント配線板取付部を構成することとなり、検査用配線の分断によって生じる端面がフレキシブルプリント配線板取付部の端面と一致するため、フレキシブルプリント配線板の周りを被覆する樹脂層によって、検査用配線の分断端面が同時に被覆されるので腐食を防止することができる。
【００３６】
本発明の表示パネル形成板は、上記表示パネルのフレキシブルプリント配線板取付部に該表示パネルの検査用配線に接続されたパネル内検査入力端子が設けられていてもよい。
【００３７】
上記の構成によれば、フレキシブルプリント配線板取付部に表示パネル内に検査信号を入力するパネル内検査入力端子が設けられることになる。そのため、分断した後の表示パネルの状態であっても、それぞれの表示パネルについて、パネル内検査入力端子を介して再検査することができる。これにより、パネル内検査入力端子と検査入力端子との間の不具合が原因で不良となっていた表示パネルを、再検査で合格となれば良品とすることができるため、表示パネルの良品率を向上させることができる。
【００３８】
本発明の表示パネル形成板は、上記複数の表示パネルの配列方向に沿って延びるように設けられ、該複数の液晶パネルのそれぞれの検査用配線が接続された共通検査用配線を備えていてもよい。
【００３９】
上記の構成によれば、表示パネル形成板を構成する表示パネルの各検査用配線が共通検査用配線に接続することになる。これにより、その共通検査用配線に検査入力信号を入力すれば、共通検査用配線に接続している全ての表示パネルの検査を一度にまとめて行うことができ、検査効率を向上させることができる。
【００４０】
本発明の表示パネル形成板は、上記検査入力端子がアルミニウム、及び／又は、モリブデンで形成されていてもよい。
【００４１】
上記の構成によれば、検査入力端子がアルミニウム及び／又はモリブデンの腐食しやすい材質で形成されているため、より効果的に検査入力端子からの腐食の進行を抑止することができる。
【００４２】
本発明の表示パネルは、液晶表示パネルであってもよい。
【００４３】
上記の構成によれば、表示パネルとして液晶表示パネルが用いられた場合には、低消費電力で高精細な表示が行われる。
【００４４】
本発明の表示パネルは、本発明の表示パネル形成板が分断予定部に沿って分断されてなることを特徴とする。
【００４５】
上記の構成によれば、分断される表示パネル形成板は、その構成要素である表示パネルの検査入力端子からの腐食の表示パネル内への進行が抑止されているので、その表示パネル形成板が分断された表示パネルは腐食が抑止されることになる。
【００４６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る表示パネル形成板及び表示パネルの実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。以下の実施形態では、表示パネルとして、ＴＦＴをスイッチング素子に用いた場合の液晶表示パネルを例にして説明する。但し、本発明の表示パネルは、これに限らず、ＴＦＴ以外のスイッチング素子を用いたアクティブ駆動型の液晶表示パネルに適用できる。また、アクティブ駆動型の液晶表示パネルだけでなく、パッシブ（マルチプレックス）駆動型の液晶表示パネルにも適用できる。さらに、本発明の表示パネルは、液晶表示パネル以外の例えば、有機エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）表示パネル、無機ＥＬ表示パネル等の他の表示パネルにも適用することができる。
【００４７】
（実施形態１）
以下に、本発明の実施形態１に係る液晶表示パネル形成板及び液晶表示パネルについて、図１、図２、図９（ａ）及び図１２を用いて説明を行う。図１は、本発明の実施形態１に係る液晶表示パネル形成板２０を示し、図９（ａ）は、一般的な液晶表示パネル１００のアクティブマトリクス基板４０の画素領域を示す。さらに、図２は、図９（ａ）中のＡ−Ｂ線に沿った断面模式図でＴＦＴ１０の断面を示し、図１２は、液晶表示パネル形成母板（母基板）５０及び液晶表示パネル形成板（短冊基板）２０を経て液晶表示パネル１００が製造される一般的な製造工程を示す。
【００４８】
この液晶表示パネル形成板（以下、「短冊基板」と称する）２０は、図１２に示すように液晶表示パネル形成母板（以下、「母基板」と称する）５０が分断予定部である横分断線６ａに沿って分断された短冊状の基板であり、分断予定部である縦分断線６ｂを介して複数の液晶表示パネル１００が列状に配設されたものである。なお、母基板５０の上辺及び下辺部分、短冊基板２０の左辺及び右辺部分の各基板の端部領域は、液晶表示パネル１００が配設せずに捨基板となっている。
【００４９】
この短冊基板２０の各液晶表示パネル１００は、マトリクス状に配列された複数の画素電極１１ａを有するアクティブマトリクス基板部４０と共通電極１１ｂを有する対向基板部とを備え、両基板部間に表示媒体である液晶層を挟持したものである。なお、短冊基板２０の各液晶表示パネル１００のアクティブマトリクス基板部４０は、一体の基板であり共通のアクティブマトリクス基板４０を構成し、また、その対向基板部は、一体の基板であり共通の対向基板を構成している。
【００５０】
このアクティブマトリクス基板部４０には、その中央部に表示領域１９が構成されている。その表示領域１９には、表示用配線として、縦分断線６ｂに沿って相互に並行に延びる複数のゲートバスライン１及びそれらのゲートバスライン１と交差して且つ横分断線６ａ及び６ａ’に沿って相互に並行に延びる複数のソースバスライン２が、スイッチング素子として、ゲートバスライン１とソースバスライン２との各交差部分に設けられたＴＦＴ１０と、が配設されている。
【００５１】
ゲートバスライン１は、窒化チタン膜３１ａ／アルミニウム膜３１ｂ／チタン膜３１ｃ等の積層膜で構成されたものである。また、各ゲートバスライン１の間には相互に延びるように補助容量電極１２も配設されている。さらに、ゲートバスライン１及び補助容量電極１２の上を覆うように、窒化シリコン等からなるゲート絶縁膜３２が設けられている。
【００５２】
ソースバスライン２は、アルミニウム膜３５ａ／チタン膜３５ｂ等の積層膜で構成され、ゲート絶縁膜３２上に配設されている。
【００５３】
ＴＦＴ１０は、ゲートバスライン１から側方に突出した突出部からなるゲート電極３１と、半導体膜３３と、その半導体膜３３上にソースバスライン２から側方に突出した突出部からなるソース電極３５と、同じく半導体膜３３上でソース電極３５と対峙するように設けられたドレイン電極３４と、で構成されている。さらに、ＴＦＴ１０を覆うように窒化シリコン等からなる第１層間絶縁膜３６と、その第１層間絶縁膜３６を覆うように樹脂からなる第２層間絶縁膜３７とが設けられいる。
【００５４】
半導体膜３３は、ゲート電極３１上にゲート絶縁膜３２を介して設けられ、ゲート電極３１側から真性アモルファスシリコン層３３ａと、リンがドープされたｎ＋アモルファスシリコン３３ｂとで構成されている。
【００５５】
画素電極１１ａは、ＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｔｉｎ  Ｏｘｉｄｅ）等から構成され、コンタクトホール３９を介してＴＦＴ１０のドレイン電極３４に接続されている。
【００５６】
また、アクティブマトリクス基板部４０の外側部の非表示領域には、検査用配線として、検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ及び検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂから構成される検査用ゲート信号入力線が液晶表示パネル１００の上辺部分にソースバスライン２に沿って相互に並行に延び、後述するフレキシブルプリント配線板取付部２２を横切り、隣接する液晶表示パネル１００のその表示領域１９に達する前の位置で液晶表示パネル１００の下側方向に屈曲してゲートバスライン１に沿って相互に並行に延びるように設けられている。また、検査用ソース信号入力線（赤）２ａ、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ及び検査用ソース信号入力線（青）２ｃから構成される検査用ソース信号入力線が液晶表示パネル１００の右辺側にゲートバスライン１に沿って相互に並行に延び、表示領域１９を越えた辺りで隣接する液晶表示パネル１００の方向に屈曲し、後述するフレキシブルプリント配線板取付部２２を横切り、隣接する液晶表示パネル１００のその表示領域１９に達する前の位置で液晶表示パネル１００の下側方向に再度屈曲し、ゲートバスライン１に沿って相互に並行に延びるように設けられている。さらに、ゲートバスライン検査用制御信号線５ａ及びソースバスライン検査用制御信号線５ｂから構成される検査用制御信号線５が液晶表示パネル１００の上辺部分にソースバスライン２に沿って相互に並行に延び、その表示領域１９を越えた辺りで隣接する液晶表示パネル１００の方向に屈曲し、後述するフレキシブルプリント配線板取付部２２を横切り、隣接する液晶表示パネル１００のその表示領域１９に達する前の位置で液晶表示パネル１００の下側方向に再度屈曲し、ゲートバスライン１に沿って相互に並行に延びるように設けられている。また、検査用共通電極配線９が液晶表示パネル１００の下辺部分にソースバスライン２に沿って相互に並行に延び、後述するフレキシブルプリント配線板取付部２２を横切り、隣接する液晶表示パネル１００のその表示領域１９に達する前の位置で液晶表示パネル１００の下側方向に再度屈曲し、ゲートバスライン１に沿って相互に並行に延びるように設けられている。さらに、検査用スイッチング素子として、検査用ＴＦＴ３が液晶表示パネル１００の上辺部分の複数のゲートバスライン１の各末端及び液晶表示パネル１００の右辺部分の複数のソースバスライン２の各末端にそれぞれ設けられている。
【００５７】
検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａは、ソースバスライン２と同一層に同一材料から形成され、奇数番目の全てのゲートバスライン１とコンタクトホール（不図示）を介して接続されており、隣接する液晶表示パネル１００の後述するゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６の左側部分には、その末端となる検査入力端子ＧＯが設けられている。
【００５８】
検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂは、ソースバスライン２と同一層に同一材料から形成され、偶数番目の全てのゲートバスライン１とコンタクトホール（不図示）を介して接続されており、隣接する液晶表示パネル１００の後述するゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６の左側部分には、その末端となる検査入力端子ＧＥが設けられている。
【００５９】
ここで、ゲートバスライン１に接続される検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ及び検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂは、隣接するゲートバスライン１間のリークを点灯検査によって検出するために、例えば、図１６（ａ）に示すような接続構造になり、検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａはゲートバスライン１を跨ぐように設けられている。しかし、例えば、図１６（ｂ）に示すように１つの画素領域内の全てのゲートバスライン１に接続された検査用ゲート信号入力線１ｔが配設された短冊基板２０（例えば、図１７）では、隣接するゲートバスライン１間のリークを点灯検査によって検出することができなくなる。
【００６０】
検査用ソース信号入力線（赤）２ａは、ゲートバスライン１と同一層に同一材料から形成され、赤色表示に係わるソースバスライン２とコンタクトホール（不図示）を介して接続されており、隣接する液晶表示パネル１００の後述するゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６の左側部分には、その末端となる検査入力端子Ｒが設けられている。
【００６１】
検査用ソース信号入力線（緑）２ｂは、ゲートバスライン１と同一層に同一材料から形成され、緑色表示に係わるソースバスライン２とコンタクトホール（不図示）を介して接続されており、隣接する液晶表示パネル１００の後述するゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６の左側部分には、その末端となる検査入力端子Ｇが設けられている。
【００６２】
検査用ソース信号入力線（青）２ｃは、ゲートバスライン１と同一層に同一材料から形成されており、青色表示に係わるソースバスライン２とコンタクトホール（不図示）を介して接続されており、隣接する液晶表示パネル１００の後述するゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６の左側部分には、その末端となる検査入力端子Ｂが設けられている。
【００６３】
ゲートバスライン検査用制御信号線５ａは、ソースバスライン２と同一層に同一材料から形成され、ソースバスライン検査用制御信号線５ｂは、ゲートバスライン１と同一層に同一材料から形成され、隣接する液晶表示パネル１００の後述するゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６の左側部分には、その末端となる検査入力端子ＳＷが設けられている。なお、ゲートバスライン検査用制御信号線５ａとソースバスライン検査用制御信号線５ｂとはその交差部分でコンタクトホール（不図示）を介して接続されている。
【００６４】
検査用共通電極配線９は、ソースバスライン２と同一層に同一材料から形成され、共通電極１１ｂに接続されており、隣接する液晶表示パネル１００の後述するゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６の左側部分には、その末端となる検査入力端子Ｃが設けられている。
【００６５】
検査用ＴＦＴ３は、アクティブマトリクス基板部４０の表示領域１９内の表示用のＴＦＴ１０と同一層に同一材料から形成されている。
【００６６】
ゲートバスライン１に設けられた検査用ＴＦＴ３は、ゲート電極３１がゲートバスライン検査用制御信号線５ａにコンタクトホール（不図示）を介して接続され、ソース電極３５がゲートバスライン１にコンタクトホール（不図示）を介して接続され、ドレイン電極３４が検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ又は検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂにそれぞれ接続されている。
【００６７】
ソースバスライン２に設けられた検査用ＴＦＴ３は、ゲート電極３１がソースバスライン検査用制御信号線５ｂに接続され、ソース電極３５がソースバスライン２に接続され、ドレイン電極３４が検査用ソース信号入力線（赤）２ａ、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ、検査用ソース信号入力線（青）２ｃのうちのいずれかにコンタクトホール（不図示）を介してそれぞれ接続されている。
【００６８】
検査入力端子２１は、本実施形態では、検査入力端子ＧＯ、検査入力端子ＧＥ、検査入力端子Ｒ、検査入力端子Ｇ、検査入力端子Ｂ、検査入力端子ＳＷ及び検査入力端子Ｃの総称として用いている。検査入力端子２１の各入力端子は、ゲートバスライン１を構成する窒化チタン膜３１ａ／アルミニウム膜３１ｂ／チタン膜３１ｃの上に、ソースバスライン２を構成するチタン膜３５ｂ及び画素電極１１ａを構成するＩＴＯ膜を成膜した積層膜から形成され、短冊基板２０の検査装置に使用される検査プローバーに対応して配設されており、その端子の大きさは０．８ｍｍ角程度である。上述のように、検査入力端子２１は隣接する液晶表示パネル１００の非表示領域内に設けられているので、液晶表示パネル１００の検査後の分断によって、検査入力端子２１とその検査入力端子から検査信号が入力された液晶表示パネル１００とが分離されるため、検査入力端子２１から液晶表示パネル１００内への腐食の進行が抑止されることになる。さらに、検査入力端子２１の各入力端子がアルミニウム及び／又はモリブデンの腐食しやすい材質で形成されている場合、より効果的に検査入力端子２１からの腐食の進行を抑止することができる。
【００６９】
同様に、アクティブマトリクス基板部４０の外側部の非表示領域には、実装部品を取り付ける領域として、ゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６が液晶表示パネル１００の下辺部分に、ソースドライバＩＣチップ搭載領域１７が液晶表示パネル１００の右辺部分の表示領域１９側に、フレキシブルプリント配線板取付部２２が液晶表示パネル１００の右辺部分の縦分断線６ｂ側にそれぞれ設けられている。また、静電気対策用の配線として、短絡配線２３が短冊基板２０の下辺部分で検査入力端子２１及びゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６より外側の領域に液晶表示パネル１００の配列方向に沿って相互に並行に延びるように設けられている。
【００７０】
ゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６及びソースドライバＩＣチップ搭載領域１７は、それぞれゲートドライバＩＣチップ及びソースドライバＩＣチップが実装される領域である。ゲートドライバＩＣチップにはゲートバスライン１が、ソースドライバＩＣチップにはソースバスライン２がそれぞれ接続されることになる。
【００７１】
フレキシブルプリント配線板取付部２２は、その右辺の周端が分断予定部である縦分断線６ｂに一致しており、液晶表示パネル１００内に電源を入力する端子（以下、「ＦＰＣ端子」と称する）１４が配設されている。なお、ＦＰＣ端子１４は、ゲートバスライン１を構成する窒化チタン膜３１ａ／アルミニウム膜３１ｂ／チタン膜３１ｃの上に、ソースバスライン２を構成するチタン膜３５ｂ及び画素電極１１ａを構成するＩＴＯ膜を成膜した積層膜から形成されている。
【００７２】
また、フレキシブルプリント配線板取付部２２にはＦＰＣ端子１４の他に、上述の検査用ゲート信号入力線（１ａ、１ｂ）、検査用ソース信号入力線（２ａ、２ｂ、２ｃ）、検査用制御信号線５及び検査用共通電極配線９の各検査用配線がフレキシブルプリント配線板取付部２２を横切るように配設されている。そのため、液晶表示パネル１００の検査後の分断によって、検査入力端子とその液晶表示パネル１００とが分離されると共に、各検査用配線の分断端面が露出されることになる。しかし、この検査用配線の分断端面とＦＰＣ端子１４の端面とが一致するので、図１４（ｂ）に示すように、検査用配線の分断端面がＦＰＣ端子１４の端面の樹脂１８の塗布によって同時に被覆される。これにより、検査用配線の分断端面の腐食も抑止されることになる。
【００７３】
短絡配線２３は、ゲートバスライン１と同一層に同一材料から形成され、母基板５０の状態で存在する横分断線６ａを介して隣接する短冊基板２０（液晶表示パネル１００）の各アクティブマトリクス基板部４０上の複数のゲートバスライン１の全てに接続されている。
【００７４】
ところで、液晶表示パネル１００を構成するアクティブマトリクス基板４０は、ガラス基板３０上に種々の薄膜を形成しエッチングによりその薄膜をパターニングするという工程を繰り返して作製される。このアクティブマトリクス基板４０を始め液晶パネルの作製工程では、基板材質がガラス等の絶縁体であるため、基板のハンドリング及び機械動作による空気との摩擦、ラビング処理での基板表面の擦り等、絶縁体同士の摩擦によって静電気が発生する。この静電気により積層薄膜で形成されたＴＦＴ１０等の機能性部位が破壊されやすい。そこで、検査用配線を利用してアクティブマトリクス基板４０上の導電性膜の中で最下層の膜で形成されるゲートバスライン１の全てを短絡しておき、基板が帯電しても検査用配線を介して静電気を外部へ逃がし、配線間に電位差が生じないようにする手段が通常よく用いられる。
【００７５】
しかしながら、本発明の実施形態に係る母基板５０では、検査用配線とゲートバスライン１とが検査用ＴＦＴ３を介して接続されているので、検査用配線とは別個に静電気対策用の短絡配線２３が設けられている。
【００７６】
なお、補助容量電極１２は、ゲートバスライン１と同一層に同一材料から形成され、ＴＦＴ１０のドレイン電極３４に接続され補助容量を構成している。通常、電荷を保持する画素容量が液晶容量のみでは、画像の動作が不十分であったり、寄生容量の影響を受けることが多いため、補助容量を配置することにより表示データを保持し、画像の動作をより完全にしている。
【００７７】
対向基板部は、表示領域１９のほぼ全面に設けられたＩＴＯ等からなる共通電極１１ｂと、カラーフィルタ層とを有する。
【００７８】
液晶層は、電気光学特性を有するネマチック液晶材料で構成されている。
【００７９】
この液晶表示パネル１００は、各画素電極１１ａごとに１つの画素が構成されており、各画素において、ゲートバスライン１からゲート信号が送られてＴＦＴ１０がオン状態になったときに、ソースバスライン２から所定のソース信号が送られて画素電極１１ａに電荷が書き込まれ、画素電極１１ａと共通電極１１ｂとの間で構成される液晶容量に印加される電圧を制御し、それによって液晶層の液晶分子の配向状態を変化させて光の透過率を調整することで画像表示するように構成されている。
【００８０】
次に、本発明の実施形態１に係る短冊基板２０の製造方法について説明する。
【００８１】
まず、その前段階である母基板５０の製造方法について説明する。なお、以下の製造方法は代表例であり、これに限定されるものではない。
【００８２】
＜アクティブマトリクス基板母基板作製工程＞
図２に示すＴＦＴ１０周辺の断面模式図に基づいて、アクティブマトリクス基板母基板の作製工程について説明する。
【００８３】
まず、無アルカリガラスからなるガラス基板３０上に、スパッタリング法を用いて、チタン膜３１ｃ、アルミニウム膜（厚さ２０００Å程度）３１ｂ及び窒化チタン膜３１ａを順に成膜し、厚さ３０００Å程度の積層膜とした後、フォトリソグラフィ技術（Ｐｈｏｔｏ  Ｅｎｇｒａｖｉｎｇ  Ｐｒｏｃｅｓｓ、以下、「ＰＥＰ技術」と称する）によりパターン形成して、表示領域１９内に、ゲートバスライン１、ゲート電極３１及び補助容量電極１２を、非表示領域に検査用ソース信号入力線（赤）２ａ、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ、検査用ソース信号入力線（青）２ｃ、ソースバスライン検査用制御信号線５ｂ及び短絡配線２３を形成する。
【００８４】
次いで、ゲートバスライン１、ゲート電極３１、補助容量電極１２、検査用ソース信号入力線（赤）２ａ、検査用ソース信号入力線（緑）２ｂ、検査用ソース信号入力線（青）２ｃ、ソースバスライン検査用制御信号線５ｂ及び短絡配線２３上に、プラズマＣＶＤ（Ｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｖａｐｏｒ  Ｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ）法により、窒化シリコン膜からなるゲート絶縁膜（厚さ４０００Å程度）３２を成膜する。
【００８５】
次いで、ゲート絶縁膜３２上にプラズマＣＶＤ法により、真性アモルファスシリコン層（厚さ１５００Å程度）３３ａと、リンがドープされたｎ＋アモルファスシリコン層（厚さ４００Å程度）３３ｂとを連続して成膜し、その後、ＰＥＰ技術により島状のパターンに形成して、真性アモルファスシリコン層３３ａとｎ＋アモルファスシリコン層（厚さ４００Å程度）３３ｂとからなる半導体膜３３を形成する。
【００８６】
次いで、半導体膜３３が形成されたゲート絶縁膜３２上にスパッタリング法により、チタン膜３４ｂ、３５ｂ及びアルミニウム膜（厚さ１０００Å程度）３４ａ、３５ａを連続して成膜し、厚さ１５００Å程度の積層膜とした後、ＰＥＰ技術によりパターン形成して、表示領域１９内にソースバスライン２２、ソース電極３５及びドレイン電極３４を、非表示領域に検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ、検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂ、ゲートバスライン検査用制御信号線５ａ、検査用共通電極配線９及び検査入力端子２１を形成する。
【００８７】
次いで、島状に形成されているｎ＋アモルファスシリコン層３３ｂをドライエッチャーでエッチングし、ＴＦＴのチャネル部を形成する。
【００８８】
次いで、ソースバスライン２２、ソース電極３５、ドレイン電極３４、検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ、検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂ、ゲートバスライン検査用制御信号線５ａ及び検査用共通電極配線９の上に、プラズマＣＶＤ法により、窒化シリコン膜からなる第１層間絶縁膜（厚さ２０００Å程度）３６を形成する。
【００８９】
次いで、第１層間絶縁膜３６上に、印刷法により感光性アクリル樹脂（厚さ４μｍ程度）を塗布する。その後、ＰＥＰ技術によりパターン形成して、第２層間絶縁膜３７を形成する。
【００９０】
次いで、第２層間絶縁膜３７上に、スパッタリング法により、ＩＴＯ膜（厚さ１０００Å程度）を成膜した後、ＰＥＰ技術によりパターン形成して、画素電極１１ａを形成する。
【００９１】
次いで、画素電極１１ａを覆うように基板全面に、印刷法により、ポリイミド系樹脂を塗布する。その後、ラビング法により、その表面に配向処理を施し配向膜を形成する。
【００９２】
なお、検査用ＴＦＴ３については、表示領域１９内のＴＦＴ１０と同時に形成される。
【００９３】
以上のようにして、アクティブマトリクス基板母基板が製造される。
【００９４】
＜対向基板母基板作製工程＞
まず、無アルカリガラスからなるガラス基板３０上に、顔料分散法等を用いて、カラーフィルタ層（厚さ３μｍ程度）を形成する。
【００９５】
次いで、カラーフィルタ層の上に、印刷法により、アクリル樹脂等を塗布し、オーバーコート膜（厚さ２μｍ程度）を形成する。
【００９６】
次いで、オーバーコート膜上に、スパッタリング法により、ＩＴＯ膜（厚さ１０００Å程度）を成膜した後、ＰＥＰ技術によりパターン形成して、共通電極１１ｂを形成する。
【００９７】
次いで、共通電極１１ｂを覆うように基板全面に、印刷法により、ポリイミド系樹脂を塗布し、ラビング法により、その表面に配向処理を施し配向膜を形成する。
【００９８】
以上のようにして、対向基板母基板が製造される。
【００９９】
＜母基板作製工程＞
まず、アクティブマトリクス基板母基板上の各液晶表示パネル部１００の表示領域１９の外周部に、印刷法により、熱硬化性エポキシ樹脂等からなるシール材料を液晶注入口の部分を欠いた枠状パターンに塗布する。
【０１００】
次いで、対向基板母基板に液晶層の厚さに相当する直径を持ちポリスチレン系等のポリマーからなる球状のプラスチックビーズを散布する。
【０１０１】
次いで、アクティブマトリクス基板母基板と、対向基板母基板とを各構成要素が組み合うように精度よく貼り合わせる。
【０１０２】
以上にようにして、母基板５０が製造される。なお、母基板５０を構成する液晶表示パネル１００となる液晶表示パネル部のアクティブマトリクス基板部４０の全てのゲートバスライン１は横分断線６ａに沿って延びている短絡配線２３に接続されているため、基板上に帯電した静電気が短絡配線２３を介して外部に逃がされることになる。これにより、液晶表示パネル部内のＴＦＴ１０等の機能性部位は静電気によって破壊されることがなくなる。
【０１０３】
次に、本発明の実施形態１に係る短冊基板２０の製造方法について説明する。
【０１０４】
まず、母基板５０を分断装置に設置し、横分断線６ａに沿って分断する。このとき、静電気対策用に接続されていた短絡配線２３とゲートバスライン１とは切り離され、短絡配線２３がゲートバスライン１を介して液晶表示パネル１００内に作用しない状態になる。
【０１０５】
次いで、母基板５０の対向基板側のみを横分断線６ａ’に沿って分断し、検査入力端子２１が配設される領域及びゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６を形成する。
【０１０６】
次いで、減圧法によりアクティブマトリクス基板部４０と対向基板部との間に液晶注入口から液晶材料を注入する。その後、液晶注入口をＵＶ硬化樹脂を塗布し、ＵＶ照射によりＵＶ硬化樹脂を硬化させ、液晶注入口を封止する。
【０１０７】
以上のようにして、本発明の短冊基板２０が製造される。
【０１０８】
次に、本発明の実施形態１に係る短冊基板２０の検査方法について説明する。
【０１０９】
短冊基板２０を検査装置に設置し、短冊基板２０の各液晶表示パネル１００に隣接する液晶表示パネル１００の検査入力端子２１に検査装置の検査プローバーを接触させ、その検査プローバーから検査入力端子２１を介して各液晶表示パネル１００へ検査信号を供給して検査する。検査信号の入力方法については、従来技術の記載の検査方法（検査パターンＩ、ＩＩ及びＩＩＩ）に準じて行われる。
【０１１０】
具体的には、図６に示す検査パターンＩを用いて、検査入力端子ＳＷを介して制御検査信号を入力し、検査用ＴＦＴ３をオン状態にする。検査入力端子Ｃを介して共通電極検査信号を入力しながら、検査入力端子ＧＯ及び検査入力端子ＧＥを介してゲート検査信号を入力し表示用のＴＦＴ１０をオン状態にする。さらに検査入力端子Ｒ、検査入力端子Ｇ及び検査入力端子Ｂを介してソース検査信号を入力する。これにより、例えば、図９（ｂ）に示すように、液晶表示パネルの画素中に、不良箇所５１のようなドレイン電極３４と画素電極１１ａとの間で配線が断線していれば、画素電極１１ａに所定の電荷を書き込むことができず、その画素は非点灯（輝点）になる。また、不良箇所５２のようにゲートバスライン１と画素電極１１ａとの間でリークが発生していれば、画素電極１１ａにゲートバスライン１からの電荷が常に書き込まれ、その画素は点灯（黒点）となる。これにより、ゲートバスライン１及びソースバスライン２の断線、リーク等による画素の表示不良を検出することができる。
【０１１１】
さらに、図７に示す検査パターンＩＩを用いて、検査入力端子ＳＷを介して制御検査信号を入力し、検査用ＴＦＴ３をオン状態にする。検査入力端子Ｃを介して共通電極検査信号を入力しながら、検査入力端子ＧＯを介してゲート検査信号ａを、検査入力端子ＧＥを介してゲート検査信号ｂを入力し、奇数番目のゲートバスライン１に接続された表示用のＴＦＴ１０と偶数番目のゲートバスライン１に接続された表示用ＴＦＴ１０を交互にオン状態にする。さらに検査入力端子Ｒ、検査入力端子Ｇ及び検査入力端子Ｂを介してソース検査信号を入力する。これにより、隣接するゲートバスライン１間のリークを検出することができる。
【０１１２】
同様に、図８に示す検査パターンＩＩを用いて、検査入力端子ＳＷを介して制御検査信号を入力し、検査用ＴＦＴ３をオン状態にする。検査入力端子Ｃを介して共通電極検査信号を入力しながら、検査入力端子ＧＯ及び検査入力端子ＧＥを介してゲート検査信号を入力し、全ての表示用ＴＦＴ１０をオン状態にする。さらに、例えば、赤色表示のソースバスライン２に入力する検査入力端子Ｒを介してソース検査信号ａを入力し、緑色表示のソースバスライン２に入力する検査入力端子Ｇ及び青色表示のソースバスライン２に入力する検査入力端子Ｂを介してソース検査信号ｂを入力する。このとき、もし、赤色表示のソースバスライン２と隣接する他のソースバスライン２との間にリークがあれば、そのリークしているソースバスライン２が異なる赤色の表示になる。また、緑色の表示及び青色の表示についても上述の赤色表示の手順と同様に行えば、隣接するソースバスライン２間のリークを検出することができる。
【０１１３】
次に、本発明の実施形態１に係る液晶表示パネル１００の製造方法について説明する。
【０１１４】
まず、短冊基板２０を分断装置に設置し、縦分断線６ｂに沿って分断する。
【０１１５】
次いで、短冊基板２０の対向基板側のみを横分断線６ｂ’に沿って分断し、フレキシブルプリント配線板取付部２２及びソースドライバＩＣチップ搭載領域１７を形成する。
【０１１６】
次いで、フレキシブルプリント配線板取付部２２上のＦＰＣ端子１４の表面にＦＰＣ１５を貼り付け、そのＦＰＣ端子１４の端面１４ａにＵＶ硬化樹脂を塗布する。さらに、短絡配線２３の分断端面の腐食を防止するために、短冊基板２０の上辺に対応する液晶表示パネル１００の端面にＵＶ硬化樹脂を塗布する。その後、ＵＶ照射によりＵＶ硬化樹脂を硬化させ、樹脂層１８を形成する。
【０１１７】
以上のようにして、本発明の液晶表示パネル１００が製造される。
【０１１８】
以上のようにすれば、液晶表示パネル１００の検査後の分断予定部である縦分断線６ｂに沿った分断によって、検査入力端子２１とその検査入力端子２１から検査信号が入力された液晶表示パネル１００とが分離されるため、検査入力端子２１から液晶表示パネル１００内への腐食の進行が抑止される。さらに、検査用ゲート信号入力線（１ａ、１ｂ）、検査用ソース信号入力線（２ａ、２ｂ、２ｃ）、検査用制御信号線５及び検査用共通電極配線９の各検査用配線は、フレキシブルプリント配線板取付部２２内にＦＰＣ端子１４と一緒に配設されているため、縦分断線６ｂに沿った分断により生じた各検査用配線の端面も、ＦＰＣ端子１４の端面１４ａの樹脂層１８により被覆されるため、各検査用配線の分断により生じた端面の腐食も抑止される。
【０１１９】
（実施形態２）
以下に、本発明の実施形態２に係る液晶表示パネル形成板及び液晶表示パネルについて図３を用いて説明を行う。なお、図３は本発明の実施形態２に係る液晶表示パネル形成板（短冊基板）２０を模式的に示し、実施形態１での図１に対応している。
【０１２０】
この短冊基板２０の各液晶表示パネル１００では、フレキシブルプリント配線板取付部２２にそのフレキシブルプリント配線板取付部２２を横切っている検査用ゲート信号入力線（１ａ、１ｂ）、検査用ソース信号入力線（２ａ、２ｂ、２ｃ）、検査用制御信号線５及び検査用共通電極配線９の各々に対応してパネル内検査入力端子２４が設けられている。なお、このパネル内検査入力端子２４は検査装置に使用される検査プローバーに対応して配設させるのが好ましい。そのため、液晶表示パネル１００の検査を行い縦分断線６ｂに沿った分断した後も、個々の液晶表示パネル１００についてパネル内検査入力端子２４を介して再検査を行うことができる。これにより、パネル内検査入力端子２４と隣接する液晶表示パネル１００上の検査入力端子２１との間のパネル外検査配線部２５の不具合が原因で不良となっていた液晶表示パネル１００を再検査により合格となれば良品とすることができ、液晶表示パネル１００の良品率を向上させることができる。さらに、パネル内検査入力端子２４の表面には、液晶表示パネル１００の検査後、ＦＰＣ１５が貼り付けられるので、パネル内検査入力端子２４からの腐食も抑止される。その他の構成については実施形態１と同様であり、同一の符号で示し、詳細な説明は省略する。
【０１２１】
（実施形態３）
以下に、本発明の実施形態３に係る液晶表示パネル形成板及び液晶表示パネルについて図４を用いて説明を行う。なお、図４は本発明の実施形態３に係る液晶表示パネル形成板（短冊基板）２０を模式的に示し、実施形態１での図１及び実施形態２での図３に対応している。
【０１２２】
この短冊基板２０の各液晶表示パネル１００では、実施形態１のように各液晶表示パネル１００の検査用配線の末端に検査入力端子２１が設けられている代わりに、その検査用配線が短冊基板２０の下辺部分でゲートドライバＩＣチップ搭載領域１６と短絡配線２３との間の領域に短絡配線２３に沿って相互に並行に延びる複数の共通検査用配線２７に個々に接続されている。さらに、短冊基板２０の左下部分の液晶表示パネル１００に属しない領域、つまり、捨基板部分に共通検査用配線２７の末端の共通検査入力端子２６が設けられている。これにより、短冊基板２０での液晶表示パネル１００の検査の際には、共通検査入力端子２６に検査信号を入力すれば、それに接続している全ての液晶表示パネル１００の検査を一斉にまとめて行うことができ、液晶表示パネル１００の検査効率を向上させることができる。また、共通検査入力端子２６が短冊基板２０の内の捨基板部分に設けられているので、液晶表示パネル１００の検査後の縦分断線６ｂに沿った分断によって、共通検査入力端子２６とその共通検査入力端子２６から検査信号が入力された液晶表示パネル１００とが分離されるため、共通検査入力端子２６から液晶表示パネル１００内への腐食の進行が抑止される。
【０１２３】
（実施形態４）
以下に、本発明の実施形態４に係る液晶表示パネル形成板及び液晶表示パネルについて図５を用いて説明を行う。なお、図５は本発明の実施形態４に係る液晶表示パネル形成板（短冊基板）２０を模式的に示し、実施形態１での図１、実施形態２での図３及び実施形態３での図４に対応している。
【０１２４】
この短冊基板２０の各液晶表示パネル１００では、実施形態３の構成に加えて、フレキシブルプリント配線板取付部２２にそのフレキシブルプリント配線板取付部２２を横切っている検査用ゲート信号入力線（１ａ、１ｂ）、検査用ソース信号入力線（２ａ、２ｂ、２ｃ）、検査用制御信号線５及び検査用共通電極配線９のそれぞれに対応してパネル内検査入力端子２４が設けられている。そのため、短冊基板２０での液晶表示パネル１００の検査の際には、共通検査入力端子２６に検査信号を入力し、それに接続されている全ての液晶表示パネル１００の検査を一斉に行い、縦分断線６ｂ及び６ｂ’に沿った分断後に不良と判定された液晶表示パネル１００についてのみ、パネル内検査入力端子２４を介して再検査を行うことができる。これにより、液晶表示パネル１００の検査効率及び良品率を同時に向上することができる。
【０１２５】
なお、本発明は本実施形態に限定されるものではなく、他の構成のものであってもよい。
【０１２６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、検査入力端子が隣接する表示パネルに設けられ、表示パネルの検査後の分断によって、検査入力端子とその検査入力端子から検査信号が入力された表示パネルとが分離されるので、検査入力端子からの腐食の進行が抑止される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態１に係る液晶表示素子用短冊基板２０を模式的に示す平面模式図である。
【図２】ＴＦＴ１０の周辺を模式的に示す断面模式図であり、図９（ａ）のＡ−Ｂ断面に対応する。
【図３】本発明の実施形態２に係る短冊基板２０を模式的に示す平面模式図である。
【図４】本発明の実施形態３に係る短冊基板２０を模式的に示す平面模式図である。
【図５】本発明の実施形態４に係る短冊基板２０を模式的に示す平面模式図である。
【図６】短冊基板２０の液晶表示パネル１００を検査するための検査信号（検査パターンＩ）のタイミングチャートを示す模式図である。
【図７】短冊基板２０の液晶表示パネル１００を検査するための検査信号（検査パターンＩＩ）のタイミングチャートを示す模式図である。
【図８】短冊基板２０の液晶表示パネル１００を検査するための検査信号（検査パターンＩＩＩ）のタイミングチャートを示す模式図である。
【図９】（ａ）は液晶表示パネル１００のアクティブマトリクス基板４０の画素領域を模式的に示す平面模式図であり、（ｂ）は不良箇所５１及び５２を有する画素領域の平面模式図である。
【図１０】従来の検査用ＴＦＴ３を搭載しない液晶表示パネルを模式的に示す平面模式図である。
【図１１】従来の検査用ＴＦＴ３を搭載する液晶表示パネルを模式的に示す平面模式図である。
【図１２】母基板５０、短冊基板２０及び液晶表示パネル１００の関係を模式的に示す平面模式図である。
【図１３】従来の検査用ＴＦＴ３を搭載する液晶表示パネル１００による短冊基板２０を模式的に示す平面模式図である。
【図１４】（ａ）は液晶表示パネル１００及びそのＦＰＣ領域２２を示す平面模式図である。（ｂ）はＦＰＣ領域２２の拡大平面模式図及びその断面図である。
【図１５】液晶表示パネル１００の検査入力端子７及び８をその液晶表示パネル１００のＦＰＣ領域２２内に設けた場合の短冊基板２０を模式的に示す平面模式図である。
【図１６】（ａ）は、ゲートバスライン１と検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ及び検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂとの位置関係を模式的に示す平面模式図である。（ｂ）は、ゲートバスライン１と統合した検査用ゲート信号入力線１ｔとの位置関係を模式的に示す平面模式図である。
【図１７】検査用ゲート信号入力線（奇数）１ａ及び検査用ゲート信号入力線（偶数）１ｂの代わりに統合した検査用ゲート信号入力線１ｔを設けた場合の短冊基板２０を模式的に示す平面模式図である。
【符号の説明】
１      ゲートバスライン
１’    隣接する短冊基板のゲートバスライン
１ａ    検査用ゲート信号入力線（奇数）
１ｂ    検査用ゲート信号入力線（偶数）
１ｔ    検査用ゲート信号入力線（統合）
２      ソースバスライン
２ａ    検査用ソース信号入力線（赤）
２ｂ    検査用ソース信号入力線（緑）
２ｃ    検査用ソース信号入力線（青）
３      検査用ＴＦＴ
５      検査用制御信号線
５ａ    ゲートバスライン検査用制御信号線
５ｂ    ソースバスライン検査用制御信号線
６      分断線
６ａ    横分断線
６ａ’  横分断線（対向基板）
６ｂ    縦分断線
６ｂ’  縦分断線（対向基板）
７      検査入力端子（検査入力端子ＧＥ、ＧＯ及びＳＷ）
８      検査入力端子（検査入力端子Ｒ、Ｇ、Ｂ及びＣ）
９      検査用共通電極配線
１０    ＴＦＴ（表示用）
１１ａ  画素電極
１１ｂ  共通電極
１２    補助容量電極
１４    ＦＰＣ端子
１４ａ  ＦＰＣ端子の端面
１５    ＦＰＣ
１６    ゲートドライバＩＣチップ搭載領域
１７    ソースドライバＩＣチップ搭載領域
１８    樹脂層（樹脂）
１９    表示領域
２０    短冊基板（表示パネル形成板）
２１    検査入力端子
２２    フレキシブルプリント配線板取付部
２３    短絡配線
２４    パネル内検査入力端子
２５    パネル外検査配線部
２６    共通検査入力端子
２７    共通検査用配線
３０    ガラス基板
３１    ゲート電極
３１ａ  窒化チタン膜
３１ｂ  アルミニウム膜
３１ｃ  チタン膜
３２    層間絶縁膜
３３    半導体膜
３３ａ  真性アモルファスシリコン層
３３ｂ  ｎ＋アモルファスシリコン層
３４    ドレイン電極
３５    ソース電極
３４ａ，３５ａ  アルミニウム膜
３４ｂ，３５ｂ  チタン膜
３６    第１層間絶縁膜
３７    第２層間絶縁膜
３９    コンタクトホール
４０    アクティブマトリクス基板
５０    母基板
５１    不良箇所
５２        不良箇所
１００  液晶表示パネル（表示パネル）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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