(57)【要約】【課題】コストアップを招くことなく、光ビームの位置ずれを確実に防止し、走査位置の位置合わせを高精度に行って良好な画像記録を行う。【解決手段】光学系３５内にて光学系３５を構成するシリンドリカルミラー３３の走査光路上流側に、光ビームの走査平面に対して垂直方向の高さを検出するセンサユニット３７をハウジング１１の取付部４３に脱着自在に取り付ける。センサユニット３７の検出結果に基づいて、シリンドリカルレンズ２１を上下移動させることによって光ビームの高さ位置を調整する。【選択図】　　　図１
2004126012.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出射される光ビームを光走査手段により走査駆動する光走査装置であって、
前記光走査手段の光学系内の走査光路内に、前記光ビームの走査平面に対して垂直方向の高さを検出する高さ検出手段を脱着自在に取り付ける取付部と、
前記光走査手段のいずれかの部位に前記光ビームを走査平面に対して垂直方向に位置調整するビーム位置調整手段とを具備したことを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
前記高さ検出手段が、走査された光ビームの受光位置を検出する光アレイセンサであることを特徴とする請求項１記載の光走査装置。
【請求項３】
前記高さ検出手段が、前記光走査手段を収容するハウジングに穿設された位置決め穴に、前記高さ検出手段の下部に形成した係合部を挿入することで固定されることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の光走査装置。
【請求項４】
前記高さ検出手段が、前記光走査手段を収容するハウジングに設けられたボスに、前記高さ検出手段の下部に形成した孔部を嵌合させることで固定されることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の光走査装置。
【請求項５】
光源から出射される光ビームを光走査手段により走査駆動する光走査装置であって、
前記光走査手段の光学系内の走査光路内に、走査された光ビームを投影する投影面と該投影面に形成した光ビームの位置合わせ用のマーカとからなるビーム高さ確認手段と、
前記光走査手段のいずれかの部位に前記光ビームを走査平面に対して垂直方向に位置調整するビーム位置調整手段とを備えたことを特徴とする光走査装置。
【請求項６】
前記ビーム位置調整手段が、曲率面の稜線方向を前記走査平面に対して略平行に設置したシリンドリカルレンズを、前記走査平面に対して略垂直方向に移動させることでビーム位置を調整することを特徴とする請求項１〜請求項５のいずれか１項記載の光走査装置。
【請求項７】
請求項１〜請求項６のいずれか１項記載の光走査装置を光源装置として搭載し、入力される画像信号に基づいて前記光源装置からの出力光を変調しつつ、光源装置に対して相対移動される記録媒体に照射することを特徴とする画像記録装置。
【請求項８】
光源から出射される光ビームを光走査手段により走査駆動する光走査装置のビーム位置調整方法であって、
前記光走査手段の光学系内の走査光路内で、前記光ビームの走査平面に対して垂直方向の高さを検出し、
この検出結果に基づいて、前記光ビームを走査平面に対して垂直方向に位置調整することを特徴とする光走査装置のビーム位置調整方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複写機やレーザプリンタ等の画像記録装置に搭載される光走査装置及びそれを備えた画像記録装置、並びに光走査装置のビーム位置調整方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、複写機やレーザプリンタ等の画像記録装置には、半導体レーザ等の光源から出射された光ビームを回転多面鏡であるポリゴンミラー等の偏向器で偏向反射させ、記録媒体の記録面上に走査させて画像記録を行う光走査装置が搭載されている。
この種の光走査装置としては、例えば特許文献１に示されているものがある。その概略的な構成を図１２に示した。図１２に示すように、光走査装置は、ポリゴンミラー１で偏向反射させた光ビームを、球面レンズ、シリンドリカルレンズ、シリンドリカルミラー等の光学部品からなる光学系２を介して記録媒体３に照射するように構成されている。このような光走査装置においては、画像記録を行う際に光学系２の各光学部品自体の精度や位置決め精度によって記録媒体３への走査位置にずれが生じてしまい、画像記録に障害が生じる恐れがあった。
このため、像担持体である感光ドラム等の被走査側における一端側に光ビームを検出するセンサ４を設け、このセンサ４からの光ビーム位置検出結果に基づいて、光ビームの走査位置を調整することが行われている。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００１−１７４７３３号公報（第３−６頁、図１）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記光走査装置では、被走査側における一端側に設けたセンサ４で位置を測定しながら、光学系２内の光学部品の位置を微調整することで走査位置を調整していたが、このように被走査側のセンサ４からの検出信号に基づいて走査位置を調整する場合、被走査側で最終的に走査位置が適正に調整されたとしても、光学系２内では、依然として光ビームの経路にずれが生じている場合がある。つまり、光ビームの一部が光学部品から外れて照射され、良好な画像記録が行われなくなる恐れがあった。
特に、製品のコストダウンを図るため、公差の緩い安価な光学部品を用いる場合には、特に上記の問題が生じやすかった。従って、良好な画像記録を行うためには、高価である高精度な光学部品を用いることが必須となり、その結果、装置のコストアップを招いてしまうという問題があった。
【０００５】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、コストアップを招くことなく、光ビームの位置ずれを確実に防止し、走査位置の位置合わせを高精度に行って良好な画像記録を行うことが可能な光走査装置及びそれを備えた画像記録装置、並びに光走査装置のビーム位置調整方法を提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１記載の光走査装置は、光源から出射される光ビームを光走査手段により走査駆動する光走査装置であって、前記光走査手段の光学系内の走査光路内に、前記光ビームの走査平面に対して垂直方向の高さを検出する高さ検出手段を脱着自在に取り付ける取付部と、前記光走査手段のいずれかの部位に前記光ビームを走査平面に対して垂直方向に位置調整するビーム位置調整手段とを具備したことを特徴とする。
【０００７】
この光走査装置では、高さ検出手段によって走査平面に対する光ビームの高さ位置を検出し、その検出結果に基づいて、ビーム位置調整手段によって光ビームの高さ位置を極めて容易に調整することができる。従って、高価な高精度光学部品を用いることなく、光ビームの位置ずれを確実に防止し、走査位置の位置合わせを高精度に行うことができる。また、高さ検出手段は光ビームの高さ調整後に取り外すことで、他の高さ調整用に繰り返し使用することができ、経済的である。
【０００８】
請求項２記載の光走査装置は、前記高さ検出手段が、走査された光ビームの受光位置を検出する光アレイセンサであることを特徴とする。
【０００９】
この光走査装置では、光アレイセンサを高さ検出手段として用いたので、正確且つ確実に光ビームの高さ検出を行うことができる。
【００１０】
請求項３記載の光走査装置は、前記高さ検出手段が、前記光走査手段を収容するハウジングに穿設された位置決め穴に、前記高さ検出手段の下部に形成した係合部を挿入することで固定されることを特徴とする。
【００１１】
この光走査装置では、ハウジングに穿設した位置決め穴に高さ検出手段の係合部を挿入することにより、容易に且つ正確に高さ検出手段をハウジングの取付部の所定位置に装着することができる。
【００１２】
請求項４記載の光走査装置は、前記高さ検出手段が、前記光走査手段を収容するハウジングに設けられたボスに、前記高さ検出手段の下部に形成した孔部を嵌合させることで固定されることを特徴とする。
【００１３】
この光走査装置では、ハウジングに形成したボスを高さ検出手段の孔部へ嵌合させることにより、容易に且つ正確に高さ検出手段をハウジングの取付部の所定位置に装着することができる。
【００１４】
請求項５記載の光走査装置は、光源から出射される光ビームを光走査手段により走査駆動する光走査装置であって、前記光走査手段の光学系内の走査光路内に、走査された光ビームを投影する投影面と該投影面に形成した光ビームの位置合わせ用のマーカとからなるビーム高さ確認手段と、前記光走査手段のいずれかの部位に前記光ビームを走査平面に対して垂直方向に位置調整するビーム位置調整手段とを備えたことを特徴とする。
【００１５】
この光走査装置では、高さ確認手段の投影面に設けられたマーカに対し、投影面に照射された光ビームの高さのずれを目視により確認し、そのずれ量に基づいて、ビーム位置調整手段によって光ビームの高さ位置を調整することで、ビームの高さを極めて容易に調整することができる。従って、高価な高精度光学部品を用いることなく、光ビームの位置ずれを確実に防止し、走査位置の位置合わせを高精度に行うことができる。
【００１６】
請求項６記載の光走査装置は、前記ビーム位置調整手段が、曲率面の稜線方向を前記走査平面に対して略平行に設置したシリンドリカルレンズを、前記走査平面に対して略垂直方向に移動させることでビーム位置を調整することを特徴とする。
【００１７】
この光走査装置では、シリンドリカルレンズを、その曲率面の稜線方向を走査平面に対して略平行に設置し、このシリンドリカルレンズを、走査平面に対して略垂直方向に移動させることで、シリンドリカルレンズを透過する光ビームの光路を走査平面の垂直方向に変化させることができる。これによりビーム高さを調整することが可能となる。
【００１８】
請求項７記載の画像記録装置は、請求項１〜請求項６のいずれか１項記載の光走査装置を光源装置として搭載し、入力される画像信号に基づいて前記光源装置からの出力光を変調しつつ、光源装置に対して相対移動される記録媒体に照射することを特徴とする。
【００１９】
この画像記録装置では、極めて容易に光ビームの高さ位置の調整を行える光走査装置を備えているので、コストアップを招くことなく、高品質な画像記録を行うことができる。
【００２０】
請求項８記載の光走査装置のビーム位置調整方法は、光源から出射される光ビームを光走査手段により走査駆動する光走査装置のビーム位置調整方法であって、前記光走査手段の光学系内の走査光路内で、前記光ビームの走査平面に対して垂直方向の高さを検出し、この検出結果に基づいて、前記光ビームを走査平面に対して垂直方向に位置調整することを特徴とする。
【００２１】
この光走査装置のビーム位置調整方法では、光学系内の走査光路内で、光ビームの走査平面に対する垂直方向の高さを検出し、光ビームの高さ位置を垂直方向に調整するので、高価な高精度光学部品を用いることなく光ビームの位置ずれを確実に防止できる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る光走査装置及びそれを備えた画像記録装置、並びに光走査装置のビーム位置調整方法の好適な実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
図１は本発明に係る光走査装置の内部構造を示す斜視図である。
図示のように、光走査装置１００は、記録媒体に画像を記録する複写機やレーザプリンタ、熱現像記録装置等の画像記録装置の光源装置として搭載されるものである。この光走査装置１００は、合成樹脂によって一体成形された光学箱であるハウジング１１を有している。
【００２３】
まず、ハウジング１１内に収納された光学系全体の構造について説明する。
ハウジング１１には、レーザダイオードを有する光源部（光源）１３が設置されており、この光源部１３から照射された光ビームともいう）は、ビームスプリッタ１５に照射され、その一部が反射されて残りが透過するようになっている。
【００２４】
ビームスプリッタ１５で反射して取り出された一部の光ビームは、集光レンズ１７によって集光された後、フォトダイオード１９へ照射される。この光をフォトダイオード１９が受光して出力する出力電圧がＡＰＣ回路によって基準電圧と比較され、フォトダイオード１９の出力電圧が基準電圧と一定の関係となるように光源部１３のレーザダイオードへの電流値が調整され、レーザダイオードからのビームの光強度が常時一定になるように制御される。
【００２５】
一方、ビームスプリッタ１５を通過した光ビームは、シリンドリカルレンズ２１を通過してビーム形状を整形し、プリズム２３を通過して、高速回転駆動される回転多面鏡であるポリゴンミラー（光走査手段）２５に照射されて主走査方向に連続的に走査される。そして、ポリゴンミラー２５によって偏向された光ビームは、ｆθレンズ２７、２９及びシリンドリカルレンズ３１を透過し、シリンドリカルミラー３３で下方に反射され、その後、後述する記録媒体Ｐ上で結像して走査される。
つまり、ｆθレンズ２７、２９、シリンドリカルレンズ３１及びシリンドリカルミラー３３等の光学部品は、光ビームを走査する光学系３５を構成する。
【００２６】
図２に示すように、ハウジング１１には、光学系内の走査光路内におけるシリンドリカルミラー３３の走査光路上流側で、光ビームの走査方向両端位置に、高さ検出手段としてのセンサユニット３７が着脱自在に設置されている。
また、図３に示すように、センサユニット３７は、光を検知する縦長の光アレイセンサ３８を有しており、下端には、下方へ延在するピン状の係合部３９が形成されている。一方、ハウジング１１には、位置決め穴４１を有する取付部４３が形成されており、この取付部４３の位置決め穴４１にセンサユニット３７の係合部３９を嵌合させることにより、センサユニット３７がハウジング１１の取付部４３に固定される。
【００２７】
次に、シリンドリカルレンズ２１の支持構造の一例を説明する。
図４にシリンドリカルレンズの支持構造を説明する斜視図を示した。
シリンドリカルレンズ２１は、ホルダ５１に保持されている。ホルダ５１は脚部５３を有し、これら脚部５３同士の間に保持凹部５５を形成している。そして、シリンドリカルレンズ２１は、保持凹部５５に嵌め込むことにより、ホルダ５１に保持される。
【００２８】
このシリンドリカルレンズ２１を保持するホルダ５１は、ベース板５７の上部に設置されており、ベース板５７は、ハウジング１１の底部に形成した摺動溝５９内に設置してある。そして、光源部１３からの光ビームの進行方向に沿って位置調整が可能とされている。
なお、ベース板５７には、その移動方向に沿って一対の長孔６１が形成してあり、この長孔６１にねじを挿通し、ハウジング１１の底面に設けられた図示しないインサートナットにねじ込むことにより、ベース板５７を任意の位置でハウジング１１に固定している。
【００２９】
また、ホルダ５１の脚部５３の一方には貫通孔６３が形成されており、この貫通孔６３にはベース板５７に立設されたピン６５が挿通されている。そして、ホルダ５１の脚部５３の他方には、雌ねじ６７が形成されており、この雌ねじ６７には、ボルト６９が上方からねじ込まれている。ボルト６９の下方先端部は、ベース板５７に形成された孔部５７ａに挿通され、ベース板５７の裏面側から取り付けられた図示しない抜け止めリングによってベース板５７からの抜け止めが防止されている。
【００３０】
これにより、ホルダ５１に保持されたシリンドリカルレンズ２１は、ボルト６９を回動させることにより、そのねじ込み量に応じて上下方向、即ち、走査平面に対して略垂直方向に移動し、高さ位置の調整が可能とされている。そして、この上下に移動自在とされたシリンドリカルレンズ２１がビーム位置調整手段とされている。なお、シリンドリカルレンズ２１は、その曲率面の稜線方向が、光学系３５の光走査面に対して略平行に設置されている。
【００３１】
ここで、シリンドリカルレンズ２１の上下動による光ビームの高さ調整の原理について図５を用いて簡単に説明する。
シリンドリカルレンズ２１が図中Ａの位置（点線）に配置されている状態で、走査光路前方の光学部品Ｒ１が、精度の高くない或いは組み付け精度が高くない光学部品であるのために光軸が上下方向に傾いているとする。このため光ビームはＰａｓｓ−Ａのように光軸からずれて照射され、走査光路前方の光学部品Ｒ２においては、光ビームが光軸からずれて照射されたり、一部もしくは全てが光学部品Ｒ２から外れて照射されるようになる。
【００３２】
このような場合、シリンドリカルレンズ２１を、その曲率面の稜線方向に直交する方向に沿って、図中Ｂの位置に移動させる。すると、シリンドリカルレンズ２１に照射される光ビームは、シリンドリカルレンズ２１を通過した後に屈折による光路が変化され、この光路が変化したまま走査光路前方の光学部品Ｒ１に照射される。そして、このように光学部品Ｒ１へ光軸を傾けて照射された光ビームは、Ｐａｓｓ−Ｂで示すように光軸が傾いて設置された光学部品Ｒ１によって屈折され、光学部品Ｒ２およびこれ以降の光軸と平行になるように変更される。換言すると、光学部品Ｒ１からの透過光が光学部品Ｒ２の光軸に対して平行となるようにシリンドリカルレンズ２１で光路を変更させる。これにより、光学部品Ｒ２の光軸と、光ビームの光軸とを平行にでき、その結果、光学系３５内における光ビームの高さを適正に合わせることができる。なお、図示例では光路変更後の光軸が当初の光軸からずれを生じているが、このずれ量は実際には僅かであり、各光軸を平行にできれば無視できる程度である。
【００３３】
次に、上記構造の光走査装置１００におけるビーム位置の調整の仕方を説明する。
（１）まず、光走査装置１００のハウジング１１に設けられた取付部４３の位置決め穴４１に、センサユニット３７の係合部３９を差し込んで嵌合させる。このようにすると、このセンサユニット３７が取付部４３の所定の位置に位置決めされた状態で設置される。
【００３４】
（２）センサユニット３７を取付部４３に設置したら、光走査装置１００を作動させ、光源部１３から光ビームを出射させる。すると、センサユニット３７に出射された光ビームが照射され、センサユニット３７の光アレイセンサ３８によって光ビームの高さが検出される。そして、センサユニット３７が接続された図示しない表示部に、光ビームの高さが表示される。
【００３５】
（３）表示された光ビームの高さが所定の高さからずれている場合は、光ビームの高さを所定の高さ位置に合わせるように調整する。つまり、光ビームの高さが所定の高さからずれている場合は、シリンドリカルレンズ２１のホルダ５１の脚部５３に形成した雌ねじ６７に螺合されているボルト６９を回動させる。これにより、シリンドリカルレンズ２１の高さが光ビームの走査平面から垂直に変更され、前述した原理に基づいて光ビームの高さが調整される。また、上記調整方法以外にも、例えば、図６に示すように、ベース板５７とホルダ５１との間に適宜の厚みを有するスペーサ６０を介装させることにより簡便に行ってもよい。なお、スペーサ６０は、種々の厚みのものを予め用意しておき、それらを選択的にあるいは組み合わせて用いることで、光ビームの高さを微調整することができる。
（４）光ビームの高さ位置を調整したら、光走査装置１００の作動を停止し、センサユニット３７を取付部４３から取り外す。
【００３６】
上記作業を行いビーム高さ位置が調整された光走査装置１００を備えた画像記録装置は、図７に示すように、光源部１３から照射された光ビームがビームスプリッタ１５に照射され、その一部が反射されて集光レンズ１７を介してフォトダイオード１９で受光される。一方、ビームスプリッタ１５を通過した光ビームは、シリンドリカルレンズ２１を通過してビーム整形され、高速回転駆動しているポリゴンミラー２５に照射される。そして、ポリゴンミラー２５によって偏向された光ビームは、ｆθレンズ２７、２９及びシリンドリカルレンズ３１を透過し、シリンドリカルミラー３３で下方に反射され、その後、記録媒体Ｐ上で結像して走査する。その光路内では、光ビームの照射位置が各光学部品から外れることなく、光ビームは適正な高さで導光されている。
【００３７】
このように、センサユニット３７によって走査平面に対する光ビームの高さ位置を検出し、その検出結果に基づいて、シリンドリカルレンズ２１を上下移動させることで、光ビームの高さ位置を極めて容易に且つ正確に調整することができる。従って、コストアップを招くことなく、光学系内におけるビーム走査位置の位置合わせが高精度に行え、光ビームの位置ずれを確実に防止できる。これにより、高価な高精度光学部品を用いなくとも、高精度な光走査を可能とする光走査装置１００を構成できる。
【００３８】
また、センサユニット３７は、光ビームの高さ調整後に取り外して、他の高さ調整に繰り返し使用することができるため、経済的であり、製造コストも低減できる。
そして、この光走査装置１００を備えた画像記録装置では、高精度に光ビームの高さ位置の調整を行った光走査装置を備えているので、安価な構成でありながら、高品質な画像記録が可能となる。
【００３９】
なお、上記の実施形態では、ハウジング１１の取付部４３に位置決め穴４１を形成し、この位置決め穴４１に係合部３９を挿入してセンサユニット３７を固定する構造としたが、取付部４３へのセンサユニット３７の取り付け構造としては、上記の例に限らない。例えば、図８に示すように、取付部４３に上方へ突出するボス７１を形成するとともに、センサユニット３７の下部に孔部７３を形成し、孔部７３にボス７１を嵌合させてセンサユニット３７を取付部４３に取り付ける構造としてもよい。
【００４０】
また、センサユニット３７は、光ビームの走査方向両端側にそれぞれ設ける以外にも、構成の簡素化のために片側だけに設けた構成であってもよい。また、両側に設けて各センサユニット３７からの信号から水平面からの傾斜成分までを検出して、光学系を適宜調整する構成とすることもできる。
【００４１】
次に、本発明の第２実施形態を説明する。
図９及び図１０に示すように、本実施形態では、センサユニット３７に代えて光ビームの高さを目視により確認するためのマーカ８１を備えている。このマーカ８１は、光学系内の走査光路内における、シリンドリカルミラー３３の走査光路後方のビームの走査方向両端側で、ハウジング１１の底部から立設された壁体部８３に設けられている。
【００４２】
ビーム高さ確認手段としての壁体部８３は、光走査装置２００から出射される光ビームの走査角度範囲を表す有効走査領域外で且つこの有効走査領域の近傍に形成されたもので、その表面は、光ビームが照射される投影面８３ａとされている。
そして、この壁体部８３の投影面８３ａに、光ビームの正規の高さ中心位置に、突条、溝、傷等の段差を形成、あるいは位置合わせ用の線が表示されたシールを貼着すること等により正規の高さ位置を示すマーカ８１が設けられている。
【００４３】
そして、上記の光走査装置２００において、ビーム位置の調整を行う際は、壁体部８３の投影面８３ａに照射される光ビームと投影面８３ａのマーカ８１との高さずれを目視により確認する。その結果、光ビームの高さがマーカ８１からずれている場合には、シリンドリカルレンズ２１のホルダ５１のボルト６９を回動させて、或いは、ホルダ５１を載置するベース板５７と摺動溝５９との間に適宜の厚みを有するスペーサ６０を挿入することで光ビームの高さをマーカ８１の高さに一致させる。これにより、光ビームを正規の高さ位置に合わせることができる。
なお、マーカ８１は一本の線状のものに限らず、多重線や三角マーク等適宜の形状が用いられる。
【００４４】
このように、本実施形態によれば、壁体部８３の投影面８３ａに設けられたマーカ８１に対し、投影面８３ａに照射された光ビームの高さのずれを目視により確認して、そのずれ量に基づいて、シリンドリカルレンズ２１を上下移動させることにより、光ビームの高さ位置を極めて容易に調整することができる。従って、別途に高さ検出のための部材を取り付けることなく、また、簡単な構成で光ビームの位置ずれを高精度に調整でき、良好な画像記録を行うことができる。
これにより、高価な高精度光学部品を用いることなく、高精度に光走査が可能な光走査装置２００を構成できる。
【００４５】
なお、以上説明した各実施形態の光走査装置１００，２００に対し、図１１に示すように、取付部４３に取り付けられるセンサユニット３７の設置位置、或いはマーカ８１を有する壁体部８３の形成位置は、光学系３５内で光ビームの高さ位置を検出することができる位置であれば、上記の例に限定されることはない。例えば、図中破線で示すように、シリンドリカルレンズ３１の走査光路後方側や、その他の位置であってもよい。
【００４６】
また、上記の例では、シリンドリカルレンズ２１を光ビームの走査平面に対して略垂直方向に移動させることにより光ビームの高さを調整したが、他の光学部品を適宜傾斜或いは移動させることにより、光ビームの高さ調整を行う構成としてもよい。
【００４７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光走査装置及びそれを備えた画像記録装置、並びに光走査装置のビーム位置調整方法によれば、高さ検出手段によって走査平面に対する光ビームの高さ位置を検出し、その検出結果に基づいて、ビーム位置調整手段を調整することにより、光ビームの走査平面内における高さ位置を極めて容易に調整することができる。また、高さ確認手段の投影面に設けられたマーカに対し、投影面に照射された光ビームの高さずれを目視により確認して比較し、その結果に基づいてビーム位置調整手段を調整することにより、光ビームの走査平面内における高さ位置を極めて容易に調整することができる。
これにより、コストアップを招くことなく、光ビームの位置ずれを確実に防止し、走査位置の位置合わせを高精度に行って良好な画像記録を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光走査装置の内部構造を示す斜視図である。
【図２】取付部に取り付けられたセンサの取付構造を示す拡大斜視図である。
【図３】取付部へのセンサの取り付け構造を説明する断面図である。
【図４】ハウジングへのシリンドリカルレンズの取り付け構造を説明する拡大斜視図である。
【図５】光ビームの高さ調整の概念を説明する説明図である。
【図６】シリンドリカルレンズの位置調整を行う他の構成例を説明する構成図である。
【図７】光走査装置を備えた画像記録装置の斜視図である。
【図８】取り付け部へのセンサの他の取り付け構造を説明する断面図である。
【図９】他の実施形態であるマーカを有する壁体部を示す拡大斜視図である。
【図１０】他の実施形態のマーカを説明する一部拡大図である。
【図１１】センサあるいはマーカの設置個所の他の例を示す光走査装置の概略平面図である。
【図１２】光ビームのずれを検出する機能を備えた従来の光走査装置を説明する概略斜視図である。
【符号の説明】
１３　光源部（光源）
２１　シリンドリカルレンズ（ビーム位置調整手段）
２５　ポリゴンミラー（光走査手段）
３５　光学系
３７　センサ（高さ検出手段）
３８　光アレイセンサ
３９　係合部
４１　位置決め穴
４３　取付部
７１　ボス
７３　孔部
８１　マーカ
８３　壁体部（ビーム高さ確認手段）
８３ａ　投影面
１００，２００　光走査装置
Ｐ　記録媒体
【図１】
2004126012.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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