(57)【要約】【課題】突発現象の測定データの格納及び保持【解決手段】測定対象から測定情報を検出するセンサー部と、該測定情報の異なるサンプルレートを少なくとも２種類設定するサンプルレート設定部と、該測定情報の該サンプルレートでのサンプルデータを各々格納するメモリ領域と、該測定情報に対して所定の条件を設定し、該条件が一致したときにトリガを出すトリガ設定部と、該トリガ設定部のトリガに基づいて該サンプルデータの該記憶領域への格納を停止するまでの時間を設定する記録時間設定部と、該記録時間設定部に設定された該時間の経過時後に該格納を停止する制御部とを備える。【選択図】図１
2004317230.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象から測定情報を検出するセンサー部と、
該測定情報の異なるサンプルレートを少なくとも２種類設定するサンプルレート設定部と、
該測定情報の該サンプルレートでのサンプルデータを各々格納するメモリ領域と、
該測定情報に対して所定の条件を設定し、該条件が一致したときにトリガを出すトリガ設定部と、
該トリガ設定部のトリガに基づいて該サンプルデータの該記憶領域への格納を停止するまでの時間を設定する記録時間設定部と、
該記録時間設定部に設定された該時間の経過時後に該格納を停止する制御部と、
を備えたことを特徴とするデータ格納装置。
【請求項２】
前記記録領域がリングバッファメモリである請求項１に記載のデータ格納装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はデータ格納装置に関し、特に、同一データを高速及び低速サンプリング周期でサンプリングして二つのリングバッファメモリを使用して格納範囲を指定して同時に格納できるデータ格納装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、測定データを所定のサンプルレートでサンプリングする測定部と、前記測定部でサンプリングされる測定データを順次格納するリング状バッファメモリと、測定データの変化状態を監視して所定のトリガ条件が成立した時点でトリガ信号を出力するトリガ検知回路と、前記バッファメモリに格納されている測定データが前記トリガ検知回路から出力されるトリガ信号に基づいて順次格納される第１のデータメモリと、前記測定部でサンプリングされる測定データが一定の間隔で間引かれて順次格納される第２データメモリとを備える測定データ収集装置が知られている。
【０００３】
【特許文献１】
特開平６―３３２６２１号公報（図１）
しかし、従来の装置は、高速サンプルデータはトリガ条件が成立した後に第１データメモリに格納される。このため、トリガ条件成立前の高速サンプル測定データが格納できない不都合がある。また、低速サンプルデータは順次格納され、長時間の測定格納を可能としている。しかし、トリガ条件と無関係に格納され、格納時間も一定であり、トリガ条件成立前後のデータも順次更新されて消失する不都合がある。
【０００４】
この様に従来の装置は、突発現象の前後の状態を正確に格納できず、突発現象の正確な分析のできない不都合がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上述の不都合を解決するもので、突発現象の高速サンプル測定データおよび低速サンプル測定データを、突発現象発生点の前後の所望の格納範囲を指定して格納・保持でき、突発現象を正確に格納および分析できるデータ格納装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記の目的を達成するため、格納用リングバッファメモリに予め二つの領域を設定し測定対象から高速サンプリング周期で測定データを取り入れて所定の処理を行うＣＰＵと、このＣＰＵからの出力測定データに基づいて測定データを順次格納するリングバッファメモリＩと、前記測定データを一定の間隔で間引いて順次格納するリングバッファメモリＩＩと、突発現象を検知してトリガを発生するトリガ設定部と、このトリガ発生後の該測定データのリングバッファメモリＩ及びＩＩへの格納時間をそれぞれ設定する格納時間設定とを備えることを特徴とする。
【０００７】
本発明は、測定対象から測定情報を検出するセンサー部と、該測定情報の異なるサンプルレートを少なくとも２種類設定するサンプルレート設定部と、該測定情報の該サンプルレートでのサンプルデータを各々格納するメモリ領域と、該測定情報に対して所定の条件を設定し、該条件が一致したときにトリガを出すトリガ設定部と、該トリガ設定部のトリガに基づいて該サンプルデータの該記憶領域への格納を停止するまでの時間を設定する記録時間設定部と、該記録時間設定部に設定された該時間の経過時後に該格納を停止する制御部とを特徴とする。
また、前記記録領域がリングバッファメモリであることを特徴とする。
【０００８】
【作用】
測定データの変化状態を監視し、所定のトリガ検知条件が成立される時点から予め設定した各々の設定時間だけ、高速サンプル測定データ及び該高速サンプル測定データを一定間隔で間引いた低速サンプル測定データとを各々格納して測定データの格納が停止される。このように同一メモリの中で、二つのリングバッファメモリを同時に使用して、トリガ信号の発生時点前後付近で二つ異なる測定サンプル測定データを同時に格納格する。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図１は本発明の実施の形態の要部ブロック図である。
図１において、１は、測定データ（測定情報）を発生するセンサ部を示す。
また、図１中２は、該測定データをサンプリングするための高速サンプルレート（以下、サンプルレートＩと言う）を設定するサンプルレートＩ設定部を示し、３は、該測定データに対して該サンプルレートＩにくらべて１／１０、１／１００等の低速サンプルレート（以下、サンプルレートＩＩと言う）設定するサンプルレートＩＩ設定部を示す。
また、図１中４は、測定データの突発現象等を検出するためトリガを発生するトリガ設定値を設定したトリガ設定部を示し、５は、該トリガ発生時から測定データを該サンプルレートＩ、ＩＩで格納するための各々の記録時間を設定する記録時間設定部を示す。
また、図１中６は、メモリを示し、２つの領域即ち、高速サンプルデータ用のリングバッファメモリＩおよび低速サンプルデータ用のリングバッファメモリＩＩが設けられている。
【００１０】
また、図１中７は制御部を示し、この制御部７には該メモリ６がバス８を介して接続されている。
更に、制御部７には該センサ部１、サンプルレートＩ設定部２、サンプルレートＩＩ設定部３、トリガ設定部４及び格納時間設定部５が各々接続され、測定対象からの測定データをサンプルレートＩ、ＩＩとでサンプリングして処理したサンプルＩデータ、サンプルＩＩデータをバス８を介してリングバッファメモリＩ、リングバッファメモリＩＩにそれぞれ格納する。また、トリガ設定部４は、測定データがトリガ設定値を超えれば、トリガを発生し、制御部７は所定の記録時間が満了するとサンプルデータＩ、ＩＩの格納を停止する。
【００１１】
図２および図３は、図１の構成において高速及び低速サンプルレートで測定データを処理してメモリ６に格納した、高速サンプル測定データ（Ｉ）および低速サンプル測定データ（ＩＩ）の説明図を示す。
図２は測定データが急激に変化し、図３は測定データが緩やかに変化する場合をそれぞれ示す。
【００１２】
図４は、本実施の形態の動作示すフローチャート。
この様な構成で、本実施の形態の特徴ある動作を説明する。
まず、図１、図２および図３を参照して、メモリ６に格納された測定データを説明する。
【００１３】
ここで、メモリ６の全体格納容量を５１２Ｋワード（４Ｍビッド）とすると、リングバッファメモリＩの容量として５１Ｋワード程度、リングバッファメモリＩＩの容量として４６０Ｋワードとする。
また、メモリ６に格納するデータには、一つの測定データに対して日付・時間に６バイト、測定データに２バイト、カウンタに３バイトが必要であり、合わせると１１バイトが必要とする。すなわち、リングバッファメモリＩの測定データ格納数は、５１０００／１１≒４６００個で、サンプルレート１ＫＨｚで４．６秒間にわたる測定データを格納できる。
【００１４】
一方、リングバッファメモリＩＩの測定データ格納数は、４６００００／１１≒４１０００（４１Ｋ）個で、サンプルレートの間引きを１／１０にするとサンプルレート１００Ｈｚで４１０秒間（高速サンプリングの９０倍の時間）にわたる測定データを格納でき、サンプルレートの間引きを１／１００にするとサンプルレート１０Ｈｚで４１００秒間（高速サンプリングの９００倍の時間）にわたる測定データを格納できる。
【００１５】
リングバッファメモリＩとリングバッファメモリＩＩは、各々上述のデータ格納数のデータを格納しており、それぞれの領域が満杯になった時点で新しい測定データが１個格納される毎に最も古い測定データが１個更新され、常に一定個の測定データが格納される。これは、本発明の特徴の一つである。
【００１６】
更に、突発現象などにより、測定データがトリガ設定部４のトリガ設定値を超えればトリガ条件が成立し、記録時間制御部５に予め設定された記録時間後にメモリ６への測定データの格納が各々停止される。この記録時間の設定値により、突発現象付近の測定データの記録したい範囲を自由に設定できる。
【００１７】
例えば、リングバッファメモリＩにトリガ条件成立前後比５：５の測定データを格納するには、記録時間設定部５に２．３秒を設定する。即ち、リングバッファメモリＩの測定データ格納数は４６００個であるので、トリガ条件成立前の古い２３００個の測定データをトリガ条件成立後の新しい測定データに更新すれば、トリガ前の２３００個の測定データとトリガ後の２３００個の測定データとがリングバッファメモリＩに格納保持される。２３００個の測定データは、サンプルレートが１ＫＨｚであるので、２．３秒の設定値となる。
トリガ条件成立前の測定データを重視してトリガ前のデータを多く格納保持するには、設定時間値は２．３秒より小さく設定し、逆にトリガ後を多く格納保持するには設定時間は２．３秒より大きく設定する。
リングバッファメモリＩＩにサンプルレート１００Ｈｚで測定データを格納する場合には、記録時間設定部５に２０５秒を設定すれば、トリガ条件成立前後比が５：５のデータが、２０５秒より小さく設定すればトリガ前の多いデータが、２０５秒より大きく設定すればトリガ後が多いデータが格納保持される。
これは本発明の特徴の一つである。
【００１８】
図２及び図３は、リングバッファメモリＩにサンプルレート１ＫＨｚのデータを、リングバッファメモリＩＩにサンプルレート１００Ｈｚのデータを格納し、記録時間設定部５の設定時間をそれぞれ、リングバッファメモリＩに対しては２．３秒、リングバッファメモリＩＩに対しては２０５秒に設定した例である。
図中、ｔ２はリングバッファメモリＩに格納された最も古い測定データの時間、ｔ３はトリガ条件成立時の時間、ｔ４はリングバッファメモリＩの設定記録時間終了時、ｔ１はリングバッファメモリＩＩに格納された最も古い測定データの時間、ｔ５はリングバッファメモリＩＩの設定記録時間終了時をそれぞれ示す。
また、Ｔ１はサンプルＩデータのトリガ条件成立前の格納測定データ、Ｔ２はサンプルＩのトリガ条件成立後の格納測定データ、Ｔ３はリングバッファメモリＩの総格納測定データ、Ｔ４はサンプルＩＩデータのトリガ条件成立前の格納測定データ、Ｔ５はサンプルＩＩデータのトリガ条件成立後の格納測定データ、Ｔ６はリングバッファメモリＩＩの総格納測定データ、Ｔ７はＴ３同じくリングバッファメモリＩの総格納測定データ、をそれぞれ示す。
ｔ１〜ｔ３及びｔ３〜ｔ４は各々２．３秒、ｔ１〜ｔ３及びｔ３〜ｔ５は各々２０５秒を示す。
【００１９】
図２に示すように、突発現象はトリガ条件成立前後の高速サンプル測定データにより正確に分析できるものであり、従来装置のようにトリガ条件成立後の測定データのみ格納される場合は異常信号を正確な解析ができない。更に、突発現象の前後の低速サンプルデータの存在により、突発現象を長時間の測定データで正確に分析できる。また、図３に示すような、緩やかに変化する突発現象測定データでは、図３のように突発現象発生の前後の高速サンプル測定データにより突発現象が把握でき、従来測定のようにトリガ条件成立後の測定データのみが格納される場合は突発現象全体が把握できない。
この様に、突発現象の測定データを所望の範囲でメモリに高速および低速サンプルレートで格納・保持点は本発明の特徴の一つである。
【００２０】
図４は、このような一連の動作の流れを示すフローチャートである。
ステップＳ１０（以下、単にＳ１０と言う）において、サンプルレート設定部２、３でサンプルレートＩ、ＩＩが初期設定され、トリガ設定部４でトリガ条件が初期設定され、記録時間設定部５で各々の記録時間が初期設定される。初期設定終了後、制御部２がセンサ部１から測定データを受信する（Ｓ１１）。サンプルレートＩ設定部２のサンプルレートＩで測定データをサンプリング処理して高速サンプル測定データを発生し（Ｓ１２）、この高速サンプル測定データとトリガ設定値とを比較する（Ｓ１３）。トリガ条件不成立と判別される場合（Ｓ１３Ｎｏ）には、Ｓ１４とＳ１８へ同時移動し、高速サンプル測定データをリングバッファメモリＩに格納し（Ｓ１４）、その後Ｓ１２にジャンプしてＳ１２からの動作を繰り返して実行する。
Ｓ１８は、低速サンプルデータとしての有効性を判別し、無効と判別した場合にはＳ１２へジャンプし、Ｓ１２からの動作を繰り返して実行する（Ｓ１３Ｎｏ、Ｓ１８Ｎｏ、Ｓ１２）。Ｓ１８で有効、即ち高速サンプル測定データが間引かれた低速サンプル測定データと判別される場合は（Ｓ１３Ｎｏ、Ｓ１８Ｙｅｓ）、リングバッファメモリＩＩに格納され（Ｓ１９）、その後はＳ１３でＮｏと判別したために、Ｓ２０はＮｏであり、Ｓ１２からの動作を繰り返して実行する。
【００２１】
突発現象が発生した場合には、Ｓ１３でトリガ条件成立と判別され（Ｓ１３Ｙｅｓ）、Ｓ１５でリングバッファメモリＩの上記記録時間（例えば、２．３秒）をカウントする（Ｓ１５）。リングバッファメモリＩの記録設定時間前であればＳ１４でリングバッファメモリＩに高速サンプル測定データが格納され、Ｓ１２からの動作を繰り返して実行する（Ｓ１６Ｎｏ、Ｓ１４、Ｓ１２）。リングバッファメモリＩの記録設定時間が経過すると（Ｓ１６Ｙｅｓ）、リングバッファメモリＩへの高速サンプル測定データの格納が停止する（Ｓ１７）。
【００２２】
Ｓ１３で、トリガ条件成立と判別されると（Ｓ１３Ｙｅｓ）と同時に処理はＳ１８へも進む。Ｓ１８は、低速サンプルデータとしての有効性を判別し、無効と判別した場合にはＳ１２へジャンプし、Ｓ１２からの動作を繰り返して実行する（Ｓ１３Ｙｅｓ、Ｓ１８Ｎｏ、Ｓ１２）。Ｓ１８で有効、即ち高速サンプル測定データが間引かれた低速サンプル測定データと判別される場合は（Ｓ１８Ｙｅｓ）、リングバッファメモリＩＩに格納され（Ｓ１９）、その後はＳ１３でＹｅｓと判別したために、Ｓ２０はＹｅｓであり、Ｓ２１でリングバッファメモリＩＩの上記記録時間（例えば、２０５秒）をカウントする（Ｓ２１）。リングバッファメモリＩＩの記録設定時間前であれば（Ｓ２２Ｎｏ）、処理はＳ１２へジャンプしてＳ１２からの動作を繰り返して実行する。リングバッファメモリＩＩの記録設定時間が経過すると（Ｓ２２Ｙｅｓ）、リングバッファメモリＩＩへの低速サンプル測定データの格納が停止し（Ｓ２３）、装置の測定動作も停止する（２４）。
【００２３】
上記実施の形態は、２つのサンプルレートによる２つのサンプル測定データをトリガ発生前後の所望範囲で格納する例を示した。しかし、本発明は、これに限定されるものでなく必要に応じて１つのサンプルレートによるサンプル測定データをトリガ発生前後の所望の範囲で格納してもよく、更に、必要に応じて３以上のサンプルレートによる３以上のサンプル測定データをトリガ発生前後の所望の範囲で格納してもよい。
【００２４】
【発明の効果】
以上の説明したように、本発明によれば、測定対象から測定情報を検出するセンサー部と、該測定情報の異なるサンプルレートを少なくとも２種類設定するサンプルレート設定部と、該測定情報の該サンプルレートでのサンプルデータを各々格納するメモリ領域と、該測定情報に対して所定の条件を設定し、該条件が一致したときにトリガを出すトリガ設定部と、該トリガ設定部のトリガに基づいて該サンプルデータの該記憶領域への格納を停止するまでの時間を設定する記録時間設定部と、該記録時間設定部に設定された該時間の経過時後に該格納を停止する制御部とを備えたことを特徴とする。
また、前記記録領域がリングバッファメモリであることを特徴とする。
したがって、１台の装置で一つのメモリを二つのリングバッファメモリに分割して、高速サンプリング周期でサンプリングされる測定データと低速サンプリングされる測定データを格納保持できる。
しかも、該測定データの格納及び保持を、所望の条件成立時付近で任意の範囲を設定して格納及び保持できる。
更に、従来の装置に加えて特別なハードウエアを付加する必要もなく装置が複雑とならず、製造効率も良い。
更に、従来装置に比較して、突発現象発生の前後の所望の範囲の測定データを格納及び保持できるので突発現象を正確に分析できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例の要部を示すブロック図
【図２】本発明の一実施の形態の測定データの格納例を示す図。
【図３】本発明の一実施の形態の測定データの他の格納例を示す図
【図４】本発明の一実施の形態の動作を示すフローチャート。
【符号の説明】
１  センサ部
２  サンプルレートＩ設定部
３  サンプルレートＩＩ設定部
４  トリガ設定部
５  記録時間設定部
６  メモリ
７  制御部
８  バス
【図１】
2004317230.tif 000003
【図２】
2004317230.tif 000004
【図３】
2004317230.tif 000005
【図４】
2004317230.tif 000006