(57)【要約】【課題】機械式光軸合わせを用いた効率的なパノラマ画像ブロックの製造方法を提供する。【解決手段】上位遮光面１と下位透光面４とを順に球面創成研削し、上位遮光面１と下位透光面４とをベルクランプホルダ７ａ，７ｂで挟持してベルクランプ心出し後、外径面５と上面周縁６を形成する。次に、外径面５と上面周縁６とをクランプ８で支持し、下位透光面４にダイヤルインジケータ９を当ててインジケータ心出し後、下位遮光面３を球面創成研削する。次に、下位遮光面３と外径面５とをクランプ８で支持し、上面周縁６にダイヤルインジケータ９を当ててインジケータ心出し後、上位透光面２を球面創成研削する。【選択図】　　　図１
2004009260.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
上面中央の上位遮光面と、上面周縁の上位透光面と、下面周縁の下位遮光面と、下面中央の下位透光面とを備えた透明素材よりなる回転体であって、
前記下位遮光面を、上位透光面からの入射光を上位遮光面に集める反射鏡とし、
前記上位遮光面を、下位遮光面からの反射光を下位透光面に集める反射鏡としたパノラマ画像ブロックの製造方法において、
レンズ素材を研削する工程が、
前記上位遮光面と下位透光面のどちらか一方を球面創成研削した後、他方を球面創成研削する工程と、
前記上位遮光面と下位透光面との光軸を設定した後、上位遮光面と下位透光面の光軸と平行に外周を研削してパノラマ画像ブロックの外径に当たる外径面を形成すると共に、この外径面と垂直に上面周縁を研削する工程と、
前記外径面と下位透光面とを基準面として下位遮光面を球面創成研削する工程と、
前記外径面と、上位遮光面または上面周縁とを基準面として上位透光面を球面創成研削する工程と、
を有することを特徴とするパノラマ画像ブロックの製造方法。
【請求項２】
上面中央の上位遮光面と、上面周縁の上位透光面と、下面周縁の下位遮光面と、下面中央の下位透光面とを備えた透明素材よりなる回転体であって、
前記下位遮光面を、上位透光面からの入射光を上位遮光面に集める反射鏡とし、
前記上位遮光面を、下位遮光面からの反射光を下位透光面に集める反射鏡としたパノラマ画像ブロックの製造方法において、
レンズ素材を研削する工程が、
前記上位遮光面と下位遮光面のどちらか一方を球面創成研削した後、他方を球面創成研削する工程と、
前記上位遮光面と下位遮光面との光軸を設定した後、上位遮光面と下位遮光面の光軸と平行に外周を研削してパノラマ画像ブロックの外径に当たる外径面を形成すると共に、この外径面と垂直に上面周縁を研削する工程と、
前記外径面と、上位遮光面または上面周縁とを基準面として上位透光面を球面創成研削する工程と、
前記外径面と下位遮光面とを基準面として下位透光面を球面創成研削する工程と、
を有することを特徴とするパノラマ画像ブロックの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像部周辺の三次元空間像を広角に取り込み、環状画像として結像させるパノラマ画像ブロックの製造方法の技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
図５は、パノラマ画像ブロックの構造を示す図である。
このパノラマ画像ブロックは、上位遮光面０１と、上位透光面０２と、下位遮光面０３と、下位透光面０４とを備えた透明素材よりなる回転体である。
【０００３】
前記上位遮光面０１は、中央が最深部となるように丸みを帯びた状態で陥没し、全面に亘って鏡面処理コートが施されている。この上位遮光面０１は、前記上位透光面０２からの入射光を上位遮光面０１に集める反射鏡とされている。
【０００４】
前記下位遮光面０３は、ちょうどお椀の側面のように丸みを帯びた状態で一様に膨出し、全面に亘って鏡面処理コートが施されている。この下位遮光面０３は、下位遮光面０３からの反射光を下位透光面０４へ集める反射鏡とされている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
一般的に、光学素子の形状やその姿勢に歪みがあると光学性能を阻害するが、反射面（ミラー）は透光面（レンズ）に比して２倍から４倍もの悪影響を与えてしまう。
【０００６】
上述したように、パノラマ画像ブロックは、上位遮光面０１、下位遮光面０３という２つの反射面を備えているので、所定の光学性能を確保するためには、４面の光軸合わせを適正に行う必要がある。
【０００７】
しかしながら、ガラスを研磨して作製するパノラマ画像ブロックにあっては、４つの面の光軸合わせに手間を要することから、効率的な製造方法が未だ確立されておらず、量産が困難であった。
【０００８】
本発明は、上記問題に着目してなされたもので、その目的とするところは、ベルクランプ心出し方法またはインジケータ心出し方法といった機械式心出し方法を用いて各面の光軸合わせを行うことができ、効率的に製造することができるパノラマ画像ブロックの製造方法を提供しようとするものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明では、上面中央の上位遮光面と、上面周縁の上位透光面と、下面周縁の下位遮光面と、下面中央の下位透光面とを備えた透明素材よりなる回転体であって、前記下位遮光面を、上位透光面からの入射光を上位遮光面に集める反射鏡とし、前記上位遮光面を、下位遮光面からの反射光を下位透光面に集める反射鏡としたパノラマ画像ブロックの製造方法において、レンズ素材を研削する工程が、前記上位遮光面と下位透光面のどちらか一方を球面創成研削した後、他方を球面創成研削する工程と、前記上位遮光面と下位透光面との光軸を設定した後、上位遮光面と下位透光面の光軸と平行に外周を研削してパノラマ画像ブロックの外径に当たる外径面を形成すると共に、この外径面と垂直に上面周縁を研削する工程と、前記外径面と下位透光面とを基準面として下位遮光面を球面創成研削する工程と、前記外径面と、上位遮光面または上面周縁とを基準面として上位透光面を球面創成研削する工程と、を有することを特徴とする。
【００１０】
請求項２に記載のパノラマ画像ブロックの製造方法では、上面中央の上位遮光面と、上面周縁の上位透光面と、下面周縁の下位遮光面と、下面中央の下位透光面とを備えた透明素材よりなる回転体であって、前記下位遮光面を、上位透光面からの入射光を上位遮光面に集める反射鏡とし、前記上位遮光面を、下位遮光面からの反射光を下位透光面に集める反射鏡としたパノラマ画像ブロックの製造方法において、レンズ素材を研削する工程が、前記上位遮光面と下位遮光面のどちらか一方を球面創成研削した後、他方を球面創成研削する工程と、前記上位遮光面と下位遮光面との光軸を設定した後、上位遮光面と下位遮光面の光軸と平行に外周を研削してパノラマ画像ブロックの外径に当たる外径面を形成すると共に、この外径面と垂直に上面周縁を研削する工程と、前記外径面と、上位遮光面または上面周縁とを基準面として上位透光面を球面創成研削する工程と、前記外径面と下位遮光面とを基準面として下位透光面を球面創成研削する工程と、を有することを特徴とする。
【００１１】
【発明の作用および効果】
請求項１記載の発明では、初めに創成した上位遮光面と下位透光面の光軸を設定した後、この光軸と平行にレンズ素材の外周を研削してパノラマ画像ブロックの外径にあたる外径面を形成することにより、パノラマ画像ブロックの機軸（＝中心軸であり、レンズの外径面に対する幾何学的中心線である。）を上位遮光面と下位透光面の光軸とほとんど誤差なく一致させることができる。続いて、外径面と垂直に上面周縁を研削することにより、上位遮光面と下位透光面の光軸に対して垂直な上面周縁が形成できる。
【００１２】
次に、外径面と下位透光面とを基準面として下位遮光面を球面創成研削することにより、下位遮光面の光軸を機軸に対して正確に形成することができる。すなわち、下位遮光面の光軸を上位遮光面と下位透光面の光軸に対して正確に形成することができる。
【００１３】
次に、外径面と、上位遮光面または上面周縁とを基準面として上位透光面を球面創成研削することにより、上位透光面の光軸を機軸に対して正確に形成することができる。すなわち、上位遮光面の光軸を上位遮光面と下位透光面の光軸に対して正確に形成することができる。
【００１４】
よって、４面（上位遮光面、下位透光面、下位遮光面および上位透光面）の光軸ずれが小さなパノラマ画像ブロックが得られる。
【００１５】
なお、上位遮光面と下位透光面の光軸と外径面との心出し（レンズの光軸を心取軸の機械的中心線に一致させる作業）には、ベルクランプ心出し方法を用いることができる。一方、下位遮光面と上位透光面を球面創成研削する際の光軸合わせはインジケータ心出し方法を用いることができる。これらは機械的心出し方法であり、容易かつ迅速に行うことができるので、製造の効率化が図れ、大量生産が可能となる。
【００１６】
請求項２記載の発明では、まず初めに上位遮光面と下位遮光面とを創成し、これら２面の光軸を設定した後に、外径面と他の２面を創成するので、上位遮光面と下位遮光面の光軸とパノラマ画像ブロックの機軸とのずれをより小さくすることができる。よって、請求項１に記載のパノラマ画像ブロックの製造方法と比較して、光学性能に大きな影響を与える２つの反射面の加工精度がより高い、高品質のパノラマ画像ブロックが得られる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明のパノラマ画像ブロックの製造方法を実現する実施の形態を、請求項１に記載の発明に第１実施例と、請求項２に対応する第２実施例とに基づいて説明する。
【００１８】
（第１実施例）
図１は、パノラマ画像ブロックの製造方法を示す工程図である。
まず、（イ）に示すように、ガラス等の透明素材で形成された円筒状のワークＷの外周を、球面研削盤（ｃｕｒｖｅ　ｇｅｎｅｒａｔｏｒ：以下ＣＧ機と略記する。）のホルダ８に固定し、図外のダイヤモンド電着砥石を用いて球面創成研削し、下位透光面４を創成する。続いて、（ロ）に示すようにワークＷを持ち替え、上位遮光面１を創成する。なお、上位遮光面１を創成後、下位透光面４を創成しても構わない。
【００１９】
続いて、図外の研磨機を用い、創成した上位遮光面１と下位透光面４とにスムージング加工とみがき加工を施す。手順は下記の通りである。
▲１▼メタルボンドダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲２▼レジンギントダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲３▼ウレタンパッドを用いたみがき加工
【００２０】
次に、（ハ）に示すように、上位遮光面１と下位透光面４とをベルクランプホルダ７ａ，７ｂで挟持し、上位遮光面１と下位透光面４の光軸を設定した後、この光軸と平行にワークＷの外周を研削してパノラマ画像ブロックの外径にあたる外径面５を形成し、上位遮光面１と下位透光面４の光軸とパノラマ画像ブロックの機軸とを一致させる。続いて、外径面５と垂直に上面周縁６を研削し、上位遮光面１と下位透光面４の光軸と垂直な上面周縁６を形成する。
【００２１】
次に、（ニ）に示すように、形成したワークＷの外径面５と上面周縁６とをＣＧ機のクランプ８で支持し、下位透光面４にダイヤルインジケータ９に当ててワークＷを回転させ、ダイヤルインジケータ９の振れが０．０１以下となるように心出しした後、ダイヤモンド電着砥石を用いて下面周縁を球面創成研削し、下位遮光面３を創成する。
【００２２】
続いて、（ホ）に示すように、創成した下位遮光面３と外径面５とをＣＧ機のクランプ８で支持し、上面周縁６または上位遮光面１にダイヤルインジケータ９を当ててワークＷを回転させ、ダイヤルインジケータ９の振れが０．０１以下となるように心出しした後、ダイヤモンド電着砥石を用いて上面周縁を球面創成研削し、上位透光面２を創成する。
【００２３】
最後に、創成した下位遮光面５と上位透光面２とにスムージング加工とみがき加工を施す。手順は下記の通りである。
▲１▼目の粗いメタルボンドダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲２▼目の細かい通常のメタルボンドダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲３▼レジンギントダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲４▼ウレタンパッドを用いたみがき加工
【００２４】
上述のみがき工程完了後、図５に示したパノラマ画像ブロックが得られる。
【００２５】
次に、作用を説明する。
初めに上位遮光面１と下位透光面４とを創成し、これらの面をベルクランプホルダ７ａ，７ｂで挟持し、上位遮光面１と下位透光面４の光軸を設定した後、ワークＷの外径面５を形成するので、上位遮光面１と下位透光面４の光軸とパノラマ画像ブロックの機軸とを機械的に正確に一致させることができる。また、外径面５を基準として上面周縁６を研削するので、上位遮光面１と下位透光面４の光軸に対して垂直な上面周縁６を設定できる。
【００２６】
ワークＷの外径面５と上面周縁６をクランプし、下位透光面４にダイヤルインジケータ９を当てて機軸のずれを修正してから下位遮光面３を創成するので、下位遮光面３の光軸をパノラマ画像ブロックの機軸に対して正確に形成することができる。
【００２７】
ワークＷの下位遮光面３と外径面５とをクランプし、上面周縁６または上位遮光面１にダイヤルインジケータ９を当てて機軸のずれを修正してから上位透光面２を創成するので、上位透光面２の光軸をパノラマ画像ブロックの機軸に対して正確に形成することができる。
【００２８】
次に、効果を説明する。
（１）　創成した上位遮光面１と下位透光面４とに基づいてパノラマ画像ブロックの機軸を設定し、その機軸に基づいて下位遮光面３と上位透光面２とを創成するので、４面の光軸ずれが小さなパノラマ画像ブロックが得られる。
【００２９】
（２）ベルクランプ心出しとインジケータ心出しという機械的心出し方法を用いて各面の光軸合わせを行うので、心出し作業を容易かつ迅速に行うことができる。
【００３０】
（第２実施例）
次に、第２実施例のパノラマ画像ブロックの製造方法を説明する。
図２は、パノラマ画像ブロックの製造方法を示す工程図である。
まず、（イ）に示すように、ガラス等の透明素材で形成された円筒状のワークＷの外周を、球面研削盤（ｃｕｒｖｅ　ｇｅｎｅｒａｔｏｒ：以下ＣＧ機と略記する。）のホルダ８に固定し、図外のダイヤモンド電着砥石を用いて球面創成研削し、上位遮光面１を創成する。続いて、（ロ）に示すようにワークＷを持ち替え、下位遮光面３を創成する。なお、下位遮光面３を創成後、上位遮光面１を創成しても構わない。
【００３１】
続いて、図外の研磨機を用い、創成した上位遮光面１と下位遮光面３とにスムージング加工とみがき加工を施す。手順は下記の通りである。
▲１▼メタルボンドダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲２▼レジンギントダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲３▼ウレタンパッドを用いたみがき加工
【００３２】
次に、（ハ）に示すように、上位遮光面１と下位遮光面３とをベルクランプホルダ７ａ，７ｂで挟持し、上位遮光面１と下位遮光面３の光軸を設定した後、この光軸とパノラマ画像ブロックの機軸とを一致させる。続いて、外径面５と垂直に上面周縁６を研削し、上位遮光面１と下位遮光面３の光軸と垂直な上面周縁６を形成する。
【００３３】
次に、（ニ）に示すように、形成したワークＷの外径面５と下位遮光面３をＣＧ機のクランプ８で支持し、上面周縁６または上位遮光面１にダイヤルインジケータ９を当ててワークＷを回転させ、ダイヤルインジケータ９の振れが０．０１以下となるように心出しした後、ダイヤモンド電着砥石を用いて上面周縁を球面創成研削し、上位透光面２を創成する。
【００３４】
続いて、（ホ）に示すように、創成した上位透光面２と外径面５とをＣＧ機のクランプ８で支持し、下位遮光面３にダイヤルインジケータ９を当ててワークＷを回転させ、ダイヤルインジケータ９の振れが０．０１以下となるように心出しした後、ダイヤモンド電着砥石を用いて下面中央を球面創成研削し、下位透光面４を創成する。
【００３５】
最後に、図３または図４に示す研磨機を用い、創成した上位透光面２と下位透光面４とにスムージング加工とみがき加工を施す。手順は下記の通りである。
▲１▼目の粗いメタルボンドダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲２▼目の細かい通常のメタルボンドダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲３▼レジンギントダイヤモンドペレットを用いたスムージング加工
▲４▼ウレタンパッドを用いたみがき加工
【００３６】
ここで、図３は上位透光面２用の研磨機の一例を示す側面図である。
図において、レンズホルダ１０は、上位透光面２に沿って形成され、表面にダイヤモンドペレットまたはウレタンパッドが取り付けられた皿部１０ａが形成されている。この皿部１０ａにワークＷを載置し、上方からレンズ押さえ１１でワークＷを押さえ付けた状態で、レンズホルダ１０を回転させることにより、皿部１０ａが上位透光面２を研磨する構造となっている。
【００３７】
図４は下位透光面４用の研磨機の一例を示す側面図である。
図において、レンズホルダ１２は、ワークＷの上面形状に沿って形成された皿部１２ａが形成されている。この皿部１２ａと、先端部１３ａが下位透光面４に沿って形成され、その表面にダイヤモンドペレットまたはウレタンパッドが取り付けられたレンズ押さえ１３とでワークＷを挟んだ状態で、レンズ押さえ１３を回転させることにより、レンズ押さえ１３が下位透光面４を研磨する構造となっている。この場合、ワークＷにジャイロの働きを持たせ、ワークＷが倒れないように力を働かせて研磨を行う。
【００３８】
上述のみがき工程完了後、第１実施例と同様に、図５に示したパノラマ画像ブロックが得られる。
【００３９】
次に、作用を説明する。
初めに最初に上位遮光面１と下位遮光面３とを創成し、これらの面をベルクランプホルダ７ａ，７ｂでクランプし、上位遮光面１と下位遮光面３の光軸を設定した後、ワークＷの外径面５を形成するので、上位遮光面１と下位遮光面３の光軸とパノラマ画像ブロックの機軸とを機械的に一致させることができる。また、外径面５を基準として上面周縁６を研削するので、上位遮光面１と下位遮光面３の光軸に対して垂直な上面周縁６を設定できる。
【００４０】
ワークＷの外径面５と上面周縁６をクランプし、上面周縁６または上位遮光面１にダイヤルインジケータ９を当てて機軸のずれを修正してから上位透光面２を創成するので、上位透光面２の光軸をパノラマ画像ブロックに対して正確に形成することができる。
【００４１】
ワークＷの上位透光面２と外径面５とをクランプし、下位遮光面３にダイヤルインジケータ９を当てて機軸のずれを修正してから下位透光面４を創成するので、下位透光面４の光軸をパノラマ画像ブロックの機軸に対して正確に形成することができる。
【００４２】
次に、効果を説明する。
第２実施例は、第１実施例の効果に加え、下記の効果が得られる。
（３）　まず初めに上位遮光面１と下位遮光面３とを創成し、これら２面の光軸を設定した後、外径面と他の２面を創成するので、上位遮光面１と下位遮光面３の光軸とパノラマ画像ブロックの機軸とのずれを第１実施例の製造方法よりもより小さくすることができる。よって、パノラマ画像ブロックの光学性能に大きな影響を与える反射面（上位遮光面１，下位遮光面３）の加工精度がより高まるので、光学性能に優れたパノラマ画像ブロックが得られる。
【００４３】
以上、本発明のパノラマ画像ブロックの製造方法を第１実施例と第２実施例とに基づき説明してきたが、具体的な構成については、これらの実施例に限るものではなく、特許請求の範囲の各請求項に係る発明の要旨を逸脱しない限り、設計の変更や追加等は許容される。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施例のパノラマ画像ブロックの製造方法を示す工程図である。
【図２】第２実施例のパノラマ画像ブロックの製造方法を示す工程図である。
【図３】上位透光面２用の研磨機の一例を示す側面図である。
【図４】下位透光面４用の研磨機の一例を示す側面図である。
【図５】パノラマ画像ブロックの構造を示す図である。
【符号の説明】
Ｗ　ワーク
１　上位遮光面
２　上位透光面
３　下位遮光面
４　下位透光面
５　外径面
６　上面周縁
７ａ，７ｂ　ベルクランプホルダ
８　クランプ
９　ダイヤルインジケータ
１０　レンズホルダ
１０ａ　皿部
１１　レンズ押さえ
１２　レンズホルダ
１２ａ　皿部
１３　レンズ押さえ
１３ａ　先端部
【図１】
2004009260.tif 000003
【図２】
2004009260.tif 000004
【図３】
2004009260.tif 000005
【図４】
2004009260.tif 000006
【図５】
2004009260.tif 000007