(57)【要約】【課題】本発明では、磁気ヘッドの汚れを定量的に把握することができるヘッド表面検査装置を提供することを課題とする。【解決手段】ヘッド表面検査装置Ｍは、回転シリンダＳ１２の周期に同期して光を回転シリンダＳ１２の周面に設けられる記録ヘッドＷ１に照射するストロボ装置１と、このストロボ装置１が照射した記録ヘッドＷ１の表面を撮像するカメラ２とを備えている。【選択図】        図１
2004158106.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転シリンダの周面に設けられる磁気ヘッドの汚れを検出するヘッド表面検査装置であって、
前記回転シリンダの磁気テープが走行する側とは反対側に設けられ、前記回転シリンダの回転周期に同期した光を前記磁気ヘッドに照射するストロボ装置と、
このストロボ装置が照射した前記磁気ヘッドの表面を撮像する撮像装置とを備えたことを特徴とするヘッド表面検査装置。
【請求項２】
前記撮像装置で撮像した画像を２値化し、汚れの面積を算出する画像処理装置を備えたことを特徴とする請求項１に記載のヘッド表面検査装置。
【請求項３】
磁気テープに予め記録された磁気テープの長手方向の位置を示す位置情報を読み取る固定ヘッドと、
前記画像処理装置で算出された汚れの面積を示すデータを、前記固定ヘッドで読み取った前記位置情報に関連させて出力する演算装置とを備えたことを特徴とする請求項２に記載のヘッド表面検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回転する磁気ヘッドの汚れを検出するヘッド表面検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ヘリカルスキャン方式の磁気テープドライブでは、長期間の使用により回転シリンダに装着される磁気ヘッドの表面が汚れると、その出力が低下するという問題がある。従来、この磁気ヘッドの汚れに対する対策として、例えば回転シリンダに設けられる再生ヘッドに対向して固定ヘッドを設け、この固定ヘッドに出力する試験信号と、この固定ヘッドから出力された試験信号を再生ヘッドで読み取った後の再生信号とを比較し、この試験信号と再生信号との差の有無により汚れの有無の判断を行う方法があった（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００１−２２２８０６号公報（第２図）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年においては、磁気ヘッドの汚れがこの磁気ヘッドに接触して走行する磁気テープの種類に左右されるのではないかと考えられている。そのため、磁気ヘッドの汚れに対する新たな対策として、磁気ヘッドに汚れを付け難い磁気テープを製造することが求められている。そして、このような磁気テープを開発するためには、磁気テープの種類と汚れとの関係を明確にする必要があるため、従来のように汚れの有無だけを検出するだけではなく、種々の磁気テープに対する磁気ヘッドの汚れの違いをそれぞれ定量的に知る必要があった。すなわち、磁気ヘッドの汚れがいつ発生し、どのように変化していったのかを知ることができる高性能なヘッド表面検査装置が必要とされていた。
【０００５】
そこで、本発明の課題は、磁気ヘッドの汚れを定量的に把握することができるヘッド表面検査装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決した本発明のうちの請求項１に記載の発明は、回転シリンダの周面に設けられる磁気ヘッドの汚れを検出するヘッド表面検査装置であって、前記回転シリンダの磁気テープが走行する側とは反対側に設けられ、前記回転シリンダの回転周期に同期した光を前記磁気ヘッドに照射するストロボ装置と、このストロボ装置が照射した前記磁気ヘッドの表面を撮像する撮像装置とを備えたことを特徴とする。
【０００７】
請求項１に記載の発明によれば、回転シリンダの回転周期に同期した光を磁気ヘッドに照射することにより、その回転を止めることなく磁気ヘッドの表面が撮像可能となる。そして、この撮像可能となった磁気ヘッドの表面を撮像装置で撮像し、その画像を例えばモニタ等の表示装置で表示することにより、磁気ヘッドの汚れがいつ発生し、どのように変化していったのかを観察することができる。
【０００８】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明の構成において、前記撮像装置で撮像した画像を２値化し、汚れの面積を算出する画像処理装置を備えたことを特徴とする。
【０００９】
請求項２に記載の発明によれば、請求項１に記載の発明による作用に加え、撮像装置で撮像した画像が画像処理装置により２値化され、汚れの面積が算出される。そのため、経時変化する磁気ヘッドの汚れを数値として定量的に把握することができる。
【００１０】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の発明の構成において、磁気テープに予め記録された磁気テープの長手方向の位置を示す位置情報を読み取る固定ヘッドと、前記画像処理装置で算出された汚れの面積を示すデータを、前記固定ヘッドで読み取った前記位置情報に関連させて出力する演算装置とを備えたことを特徴とする。
【００１１】
請求項３に記載の発明によれば、請求項２に記載の発明による作用に加え、画像処理装置で算出された汚れの面積を示すデータと、固定ヘッドで読み取られた磁気テープの位置情報とが演算装置に出力される。そして、この演算装置が、汚れの面積を示すデータを磁気テープの位置情報に関連させて例えばモニタ等の表示装置に出力する。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明に係るヘッド表面検査装置の詳細について説明する。参照する図面において、図１は本発明のヘッド表面検査装置を示す構成図であり、図２は図１の記録ヘッドの磁気テープとの摺動面を示す平面図である。
【００１３】
図１に示すように、ヘッド表面検査装置Ｍは、ストロボ装置１、カメラ（撮像装置）２、固定ヘッド３、画像処理装置４、演算装置５及びモニタ（表示装置）６を主に備えている。そして、このヘッド表面検査装置Ｍを構成する装置のうちストロボ装置１、カメラ２及び固定ヘッド３が、ヘリカルスキャン方式の磁気テープドライブＤ内のシリンダＳ１近傍に組み込まれている。
【００１４】
ここで、この磁気テープドライブＤのシリンダＳ１は、その下半分を形成する固定シリンダＳ１１と、この固定シリンダＳ１１に対して回転する回転シリンダＳ１２とで主に構成されている。そして、この回転シリンダＳ１２の周面の固定シリンダＳ１１側には、それぞれ対極位置に配設される一対の記録ヘッド（磁気ヘッド）Ｗ１，Ｗ２と一対の再生ヘッド（磁気ヘッド）Ｒ１，Ｒ２とが設けられている。また、このシリンダＳ１の周面の一部に沿って走行する磁気テープＭＴのテープ幅方向の端部には、この磁気テープＭＴの長手方向における位置を示す位置情報Ｐが記録されている。
【００１５】
ストロボ装置１は、シリンダＳ１の磁気テープＭＴが巻回される側（走行する側）とは反対側（以下、「裏側」ともいう。）に設けられている。そして、このストロボ装置１は、回転シリンダＳ１２の回転周期に同期した光を、記録ヘッドＷ１，Ｗ２や再生ヘッドＲ１，Ｒ２のうちの何れか１つに照射することで、その照射したヘッドの表面（磁気テープＭＴとの摺動面）を１回転毎に撮像可能な状態にしている。また、このストロボ装置１は、その照射開始のタイミングが適宜変更されることで、その照射対象となる記録ヘッドＷ１，Ｗ２や再生ヘッドＲ１，Ｒ２を選択的に撮像可能な状態にしている。なお、以下の説明では、代表して記録ヘッドＷ１を照射する場合について説明する。
【００１６】
カメラ２は、ストロボ装置１で照らし出された記録ヘッドＷ１の表面の一部を撮像している。具体的には、このカメラ２は常に回転シリンダＳ１２の裏側の所定位置を常時撮像しており、ストロボ装置１で照射されたときの映像を画像として取り込んでいる。そして、このカメラ２は、その撮像した画像を画像処理装置４に出力すべく、画像処理装置４に接続されている。
【００１７】
固定ヘッド３は、シリンダＳ１よりも磁気テープＭＴの走行方向における下流側に配設され、この磁気テープＭＴのテープ幅方向の端部に記録された位置情報Ｐを読み取っている。そして、この固定ヘッド３は、読み取った位置情報Ｐを演算装置５に出力すべく、演算装置５に接続されている。
【００１８】
画像処理装置４は、カメラ２で撮像した画像のうち所定の範囲を汚れた部分（黒）と汚れていない部分（白）とに分けて２値化し、その範囲内の汚れの面積を算出している。具体的には、図２に示すように、検査範囲ＴＲは、撮像画像のうちヘッドの鏡面部分の一部をトリミングすることで設定されている。また、この検査範囲ＴＲは、回転する記録ヘッドＷ１が最初に磁気テープＭＴと当接する側（静止させたヘッドから見て磁気テープＭＴが入ってくる側）に設定されている。そして、この検査範囲ＴＲ内において汚れた部分と鏡面部分とを黒い部分と白い部分とに分けて２値化し、この汚れを表わす黒い部分の画素数をカウントすることで面積が算出されている。なお、この画像処理装置４は、算出した汚れの面積を示すデータを演算装置５に出力すべく、演算装置５に接続されている。ここで、本実施形態ではこの画像処理装置４として、浜松フォトニクス社製のＷＩＤＴＨ  ＡＮＡＬＹＺＥＲ  Ｃ３１７１を用いている。ただし、本発明はこれに限定されず、どのような画像処理装置を用いてもよい。
【００１９】
演算装置５は、画像処理装置４で算出された汚れの面積を示すデータを、固定ヘッド３で読み取った位置情報Ｐに対応（関連）するデータとして出力するものである。具体的には、この演算装置５は、カメラ２で撮像された記録ヘッドＷ１の汚れが、磁気テープＭＴのどの位置に記録ヘッドＷ１が摺動しているときに付いたのかを知るための装置である。そのため、例えばこの演算装置５は、カメラ２で撮像したときに固定ヘッド３で読み取った位置情報Ｐや、回転シリンダＳ１２の回転速度やシリンダ径及び磁気テープＭＴの走行速度等に基づいて、所定の汚れが付いた記録ヘッドＷ１が撮像位置に半回転してくる前に磁気テープＭＴと摺動していた位置を算出し、この位置に対応した前記所定の汚れの面積を示すデータを出力している。そして、この演算装置５は、位置情報Ｐに対応するデータをモニタ６に出力して表示すべく、モニタ６に接続されている。
【００２０】
次に、このヘッド表面検査装置Ｍを用いた記録ヘッドＷ１の表面検査方法について説明する。
磁気テープドライブＤを駆動させると、磁気テープＭＴが所定の速度で走行すると共に、回転シリンダＳ１２も比較的高速度となる所定の速度で回転する。このとき、ストロボ装置１が裏側に回転してくる記録ヘッドＷ１への光の照射を開始し、以後回転シリンダＳ１２の回転周期に同期した光を照射することで記録ヘッドＷ１が１回転する毎にその表面が照らし出される。そして、このストロボ装置１で照射された記録ヘッドＷ１の表面がカメラ２で撮像される。また、磁気テープＭＴの走行開始と略同時に、固定ヘッド３による読み取りも開始し、以後この固定ヘッド３により常時磁気テープＭＴの位置情報Ｐが読み取られる。
【００２１】
カメラ２で撮像された画像は、画像処理装置４で２値化されて汚れの面積として算出され、そのデータが演算装置５に出力される。そして、この演算装置５によって、画像処理装置４からのデータが、常時入力されてくる固定ヘッド３からの位置情報Ｐや回転シリンダＳ１２の回転速度等に基づいて、撮像された汚れが磁気テープＭＴのどの位置に記録ヘッドＷ１が摺動しているときに付いたのかを示すデータとして算出され、モニタ６に表示される。
【００２２】
以上によれば、本実施形態において、次のような効果を得ることができる。
回転シリンダＳ１２の回転周期に同期した光を記録ヘッドＷ１に照射することで継続的に記録ヘッドＷ１の表面を観察することができるので、この記録ヘッドＷ１の汚れの発生時期や経時変化等を定量的に把握することができる。
画像処理装置４によって経時変化する記録ヘッドＷ１の汚れを数値として算出するので、その汚れをより定量的に把握することができる。
演算装置５により汚れの面積を示すデータが磁気テープＭＴの位置情報Ｐに対応して出力されるので、磁気テープＭＴのどの位置に記録ヘッドＷ１が摺動しているときに汚れが付いたのかを知ることができる。
【００２３】
以上、本発明は、前記実施形態に限定されることなく、様々な形態で実施される。
本実施形態では、固定ヘッド３を磁気テープＭＴの位置情報Ｐを読み取る読取ヘッドとしたが、本発明はこれに限定されず、固定ヘッドを磁気テープＭＴのテープ幅方向の端部に位置情報を書き込む書込ヘッドとしてもよい。この場合であっても、例えば画像処理装置から出力される信号が汚れの発生を示す信号であるときに、固定ヘッドで磁気テープの何も記録されていない端部に信号を書き込むことで、その汚れが磁気テープのどの位置で発生したのかを知ることができる。本実施形態では、演算装置５から出力されるデータをモニタ６で表示するようにしたが、本発明はこれに限定されず、例えばプリンタ等であってもよい。
【００２４】
また、撮像装置の１コマ中に行うストロボ装置の発光の回数は適宜に変更可能である。例えば、コマの切り換わる時間が、回転シリンダが１回転する時間と同一である高速度カメラを使えば、１コマ毎に１回転毎のヘッドの汚れが記録される。また、１コマ中に発光を複数回行って、その発光回数分撮像されたヘッドの汚れをまとめて１コマ中に記録させることでも、その汚れを定量的に把握することができる。さらに、複数のコマが進む間に１回だけ発光させることで、これらのコマのうち１つのコマに汚れを記録するようにしてもよい。
【００２５】
また、ストロボ装置の発光タイミングは、適宜に変更可能であるが、複数のヘッドがそれぞれ撮像装置の１コマ毎に撮像可能となるように制御されるのが望ましい。具体的に、本実施形態を例にして説明すると、記録ヘッドＷ１を１コマ分撮像した後にストロボ装置１の発光タイミングを変えることで記録ヘッドＷ２が撮像可能となり、この記録ヘッドＷ２が前回記録ヘッドＷ１を撮像した次のコマに撮像される。以降は、同様にして再生ヘッドＲ１，Ｒ２が順次１コマ毎に撮像されていく。このようにストロボ装置１の発光タイミングを制御することにより、１つの磁気テープＭＴを１回走行させるだけで４つの磁気ヘッドＷ１，Ｗ２，Ｒ１，Ｒ２の汚れを一度に撮像することができる。そのため、４つの磁気ヘッドＷ１，Ｗ２，Ｒ１，Ｒ２をそれぞれ１つずつ検査するために４つの同一種類の磁気テープＭＴを用意する検査に比べ、磁気テープＭＴの材質や寸法における誤差による影響を受けることがなく、正確な汚れの変化を観察することができる。また、その検査時間を短縮することもできる。
【００２６】
【発明の効果】
請求項１に記載の発明によれば、回転シリンダの回転周期に同期した光を磁気ヘッドに照射することで継続的に磁気ヘッドの表面を観察することができるので、この磁気ヘッドの汚れの発生時期や経時変化等を定量的に把握することができる。
【００２７】
請求項２に記載の発明によれば、請求項１に記載の発明による効果に加え、経時変化する磁気ヘッドの汚れを数値として定量的に把握することができる。
【００２８】
請求項３に記載の発明によれば、請求項２に記載の発明による効果に加え、演算装置により汚れの面積を示すデータが磁気テープの位置情報に関連されて出力されるので、例えば汚れの発生時期を磁気テープの位置情報より特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のヘッド表面検査装置を示す構成図である。
【図２】図１の記録ヘッドの磁気テープとの摺動面を示す平面図である。
【符号の説明】
Ｍ              ヘッド表面検査装置
１              ストロボ装置
２              カメラ（撮像装置）
３              固定ヘッド
４              画像処理装置
５              演算装置
６              モニタ（表示装置）
Ｓ１            シリンダ
Ｓ１１          固定シリンダ
Ｓ１２          回転シリンダ
Ｗ１，Ｗ２      記録ヘッド（磁気ヘッド）
Ｒ１，Ｒ２      再生ヘッド（磁気ヘッド）
ＭＴ            磁気テープ
Ｐ              位置情報
【図１】
2004158106.tif 000003
【図２】
2004158106.tif 000004