(57)【要約】【課題】大型ディスプレイにおいて、発光ダイオード（ＬＥＤ）の不良検出を電気的に行う。【解決手段】画像表示面に対し所定の配列で配置された複数の発光ダイオードＤ１〜Ｄｋと、不良検出モードを示す信号（Ｍｏｄｅ）の入力に応じて、複数の発光ダイオードＤ１〜Ｄｋに順方向電圧（Ｖｆ）以下のオフ領域で一定電流Ｉ１〜Ｉｋを流し、当該一定電流を流した時に現出する発光ダイオードの端子間電圧Ｖ１〜Ｖｋを検出する電圧検出部（２〜５）と、電圧検出部の検出結果Ｏｕｔ１〜Ｏｕｔｋに基づいて複数の発光ダイオードＤ１〜Ｄｋの中から不良を電気的に検出する不良検出部７と、を有する。これらの構成を有する駆動回路装置（ドライバＩＣ）がシリアル接続され、その最終段から不良検出結果を示す電気信号が出力される。【選択図】  図９
2004309614.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像表示面に対し所定の配列で配置された複数の発光ダイオードと、
不良検出モードを示す信号の入力に応じて、前記複数の発光ダイオードに順方向電圧以下のオフ領域で一定電流を流し、当該一定電流を流した時に現出する発光ダイオードの端子間電圧を検出する電圧検出部と、
前記電圧検出部の検出結果に基づいて前記複数の発光ダイオードの中から不良を電気的に検出する不良検出部と、
を有する画像表示装置。
【請求項２】
一方向に直列接続され、それぞれが所定数の前記発光ダイオードを駆動する複数の駆動回路に、各々前記電圧検出部を具備し、
前記不良検出部は、前記駆動回路の水平方向の並びごとに、前記発光ダイオードの前記端子間電圧を示すデータを複数の駆動回路間でシリアルに転送させ、駆動回路間を転送されるごとに端子間電圧の情報が付加され最終段の駆動回路から出力されるデータに基づいて、前記不良を前記水平方向の並びごとに検出する
請求項１に記載の画像表示装置。
【請求項３】
前記電圧検出部は、
前記発光ダイオードに直列接続されている電流源と、
前記電流源に前記一定電流が流れることにより前記端子間電圧に比例して変化する発光ダイオードの一方端子の電圧を、入力される基準電圧と比較する比較器と、を有し、
前記不良検出部は、前記駆動回路の水平方向の並びに対する前記不良の検出を、前記基準電圧をステップ状に変化させながら複数回繰り返す
請求項２に記載の画像表示装置。
【請求項４】
前記不良検出部は、
前記所定数の発光ダイオードに対応した前記比較器の出力の論理演算を実行し、当該論理演算の結果を前記不良の可能性がある特異点の有無を示す２値データとして出力する論理演算部と、
前記論理演算部から出力された前記２値データを、前段の不良検出部から入力されるデータに付加し、次段の不良検出部に送る転送レジスタと、
を有する請求項３に記載の画像表示装置。
【請求項５】
前記不良検出部は、前記基準電圧を所定ステップで順次変化させながら前記複数回の不良の検出を行うことにより前記端子間電圧の分布を測定し、端子間電圧の前記分布において、その低電圧側端から離れた位置に端子間電圧が存在する発光ダイオードを、ショート不良またはショートとなる可能性が高い不良と判定する
請求項３に記載の画像表示装置。
【請求項６】
前記不良検出部は、前記基準電圧を所定ステップで順次変化させながら前記複数回の不良の検出を行うことにより前記端子間電圧の分布を測定し、端子間電圧の前記分布において、その高電圧側端から離れた位置に前記端子間電圧が存在する発光ダイオードを、オープン不良またはオープンとなる可能性が高い不良と判定する
請求項３に記載の画像表示装置。
【請求項７】
画像表示面に対し所定の配列で配置された複数の発光ダイオードと、
不良検出モードを示す信号の入力に応じて、前記複数の発光ダイオードに一定電流を流し、当該一定電流を流した時に現出する発光ダイオードの端子間電圧を検出する電圧検出部と、
前記電圧検出部の検出結果に基づいて前記端子間電圧の分布から離れた孤立点を求めることにより、前記複数の発光ダイオードの中から不良を電気的に検出する不良検出部と、
を有する画像表示装置。
【請求項８】
所定数の発光ダイオードを駆動する駆動回路装置であって、
不良検出モードを示す信号の入力に応じて、前記所定数の発光ダイオードに順方向電圧以下のオフ領域で一定電流を流し、当該一定電流を流した時に現出する発光ダイオードの端子間電圧の違いにより前記複数の発光ダイオードの中から不良を電気的に検出するための端子間電圧データを出力する電圧検出部を有する
駆動回路装置。
【請求項９】
前記電圧検出部は、
前記発光ダイオードに直列接続された電流源と、
前記電流源に前記一定電流が流れることにより前記端子間電圧に比例して変化する発光ダイオードの一方端子の電圧を、入力される基準電圧と比較する所定数の比較器と、
を有する請求項８に記載の駆動回路装置。
【請求項１０】
前記所定数の比較器の出力の論理演算を実行し、当該論理演算の結果を前記不良の可能性がある特異点の有無を示す２値データとして出力する論理演算部と、
前記論理演算部から出力された前記２値データを入力されるデータに付加し、出力する転送レジスタと、
をさらに有する請求項９に記載の駆動回路装置。
【請求項１１】
複数の発光ダイオードから不良を検出する不良検出方法であって、
前記複数の発光ダイオードに順方向電圧以下のオフ領域で一定電流を流し、当該一定電流を流した時に現出する発光ダイオードの端子間電圧に比例して変化する一方端子の電圧を発光ダイオードごとに基準電圧と比較する第１のステップと、
前記基準電圧を変化させながら前記第１のステップを複数回繰り返す第２のステップと、
前記複数回の比較の結果に基づいて、前記複数の発光ダイオードの中から不良を電気的に特定する第３のステップと、
を含む発光ダイオードの不良検出方法。
【請求項１２】
前記第１および第２のステップでは、前記基準電圧を所定ステップで順次変化させながら前記複数回の比較を行うことにより前記端子間電圧の分布を出力し、
前記第３のステップでは、端子間電圧の前記分布において、その低電圧側端から離れた位置に端子間電圧が存在する発光ダイオードを、ショート不良またはショートとなる可能性が高い不良と判定する
請求項１１に記載の発光ダイオードの不良検出方法。
【請求項１３】
前記第１および第２のステップでは、前記基準電圧を所定ステップで順次変化させながら前記複数回の比較を行うことにより前記端子間電圧の分布を出力し、
前記第３のステップでは、端子間電圧の前記分布において、その高電圧側端から離れた位置に端子間電圧が存在する発光ダイオードを、オープン不良またはオープンとなる可能性が高い不良と判定する
請求項１１に記載の発光ダイオードの不良検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の発光ダイオードから不良を検出する機能を備えた画像表示装置、および、ドライバＩＣ等の駆動回路装置、並びに、発光ダイオードの不良検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
屋内外の各種イベント行事あるいは屋内外の球技場などのスポーツ施設では、スポーツ実況，ＴＶ中継または広告宣伝の表示を行うために、表示素子としてＬＥＤを使用した映像および情報の画像表示装置（以下、ＬＥＤディスプレイという）が使用されている。ＬＥＤディスプレイでは、表示セルがｍ行ｎ列の単位画素で構成されている。ディスプレイの色表示は、単一色表示やカラー表示などがある。カラー表示の場合は、赤（Ｒ），緑（Ｇ），青（Ｂ）の３つのＬＥＤから単位画素が構成される。
【０００３】
ところで、上記した種々の用途に用いられるＬＥＤディスプレイは、一般的に非常に大型で、設置場所も高所になる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ＬＥＤをディスプレイ基板へ実装し動作させる出荷テスト時や、ディスプレイを使用場所に設置し運用している途中に、ほこりや温度，湿度変化などによりＬＥＤの電気的接続がショートやオープンに近い状態になる場合がある。この場合、不良状態にあるＬＥＤは、その輝度が良品の輝度より高すぎる或いは低すぎる、さらに全く点灯しないなどの諸症状を示し、これによりディスプレイの画像品位の低下をもたらす。ディスプレイには数多くのＬＥＤが配置されているが、その輝度により不良のＬＥＤを特定することは可能である。しかし、上記した用途に用いる大型のＬＥＤディスプレイの場合、そのＬＥＤ数量の多さから、出荷テスト時に輝度の違いにより不良のＬＥＤを特定する事は非常に難しい。また、一旦使用場所に設置された後に不良のＬＥＤを交換する場合、例えば直接太陽光が当たった状態でＬＥＤの輝度の良否を判断しなければならず、そのような使用環境下での良否判定が難しい場合がある。さらに、設置場所が高所である場合、不良のＬＥＤの交換に多大の労力およびメンテナンスコストがかかってしまう。
以上の理由により、不良のＬＥＤ、あるいは不良となる可能性が高いＬＥＤを、出荷前あるいは使用場所に設置後に、予め電気的に検出する方法が強く望まれていた。
【０００５】
本発明の第１の目的は、発光ダイオード（ＬＥＤ）の不良検出を電気的に行うことができる構成を有している画像表示装置、およびドライバＩＣ等の駆動回路装置を提供することにある。
本発明の第２の目的は、不良検出を電気的に行うことができる発光ダイオードの不良検出方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る第１の画像表示装置は、上記第１の目的を達成するためのものであり、画像表示面に対し所定の配列で配置された複数の発光ダイオードと、不良検出モードを示す信号の入力に応じて、前記複数の発光ダイオードに順方向電圧以下のオフ領域で一定電流を流し、当該一定電流を流した時に現出する発光ダイオードの端子間電圧を検出する電圧検出部と、前記電圧検出部の検出結果に基づいて前記複数の発光ダイオードの中から不良を電気的に検出する不良検出部と、を有する。
【０００７】
本発明に係る第２の画像表示装置は、上記第１の目的を達成するためのものであり、画像表示面に対し所定の配列で配置された複数の発光ダイオードと、不良検出モードを示す信号の入力に応じて、前記複数の発光ダイオードに一定電流を流し、当該一定電流を流した時に現出する発光ダイオードの端子間電圧を検出する電圧検出部と、前記電圧検出部の検出結果に基づいて前記端子間電圧の分布から離れた孤立点を求めることにより、前記複数の発光ダイオードの中から不良を電気的に検出する不良検出部と、を有する。
【０００８】
本発明に係る駆動回路装置は、上記第１の目的を達成するためのものであり、所定数の発光ダイオードを駆動する駆動回路装置であって、不良検出モードを示す信号の入力に応じて、前記所定数の発光ダイオードに順方向電圧以下のオフ領域で一定電流を流し、当該一定電流を流した時に現出する発光ダイオードの端子間電圧の違いにより前記複数の発光ダイオードの中から不良を電気的に検出するための端子間電圧データを出力する電圧検出部を有する。
【０００９】
本発明に係る発光ダイオードの不良検出方法は、上記第２の目的を達成するためのものであり、複数の発光ダイオードから不良を検出する不良検出方法であって、前記複数の発光ダイオードに順方向電圧以下のオフ領域で一定電流を流し、当該一定電流を流した時に現出する発光ダイオードの端子間電圧に比例して変化する一方端子の電圧を発光ダイオードごとに基準電圧と比較する第１のステップと、前記基準電圧を変化させながら前記第１のステップを複数回繰り返す第２のステップと、前記複数回の比較の結果に基づいて、前記複数の発光ダイオードの中から不良を電気的に特定する第３のステップと、を含む。
【００１０】
本発明に係る第１の画像表示装置および不良検出方法によれば、不良検出モードを示す信号が入力されると、電圧検出部が、画像表示面に対し所定の配列で配置された複数の発光ダイオードに順方向以下のオフ領域で一定電流を流す。これにより発光ダイオードの端子間に、ダイオード特性に応じた端子間電圧が現出する。端子間電圧の検出は、例えば、端子間電圧に比例した発光ダイオードの一方端子の電圧を基準電圧と比較することにより行う（第１のステップ参照）。電圧検出部は、例えば、基準電圧を低い方又は高い方から変化させながら、上記端子間電圧と基準電圧との大小関係の測定（電圧比較）を繰り返す（第２のステップ参照）。
この複数回の比較の結果に基づいて、不良検出部が不良、あるいは、不良となる蓋然性が高い異常品（本発明では、この異常品を含めて「不良」という）を検出する。本発明では、ダイオードの順方向電圧、即ちＶｆ以下のオフ領域で端子間電圧を検出するため、その検出感度が高く、例えば、端子間電圧のデータから不良の可能性が高い特異点のデータが容易に検出される。
【００１１】
また、特に本発明の第２の画像表示装置によれば、良品の発光ダイオード端子間電圧分布において、その分布端から離れた孤立点が存在する場合、この孤立点を不良の発光ダイオード、或いは、経時変化により不良となる可能性が高い発光ダイオードと判断する。例えば、分布下端よりさらに電圧が低い位置に孤立点がある場合、この孤立点をショート不良或いはショート不良の蓋然性が高い不良と判断する。逆に、分布上端よりさらに電圧が高い位置に孤立点がある場合、この孤立点をオープン不良或いはオープン不良の蓋然性が高い不良と判断する。不良検出部は、例えばこのような方法により、前記複数の発光ダイオードの中から不良を電気的に特定する。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、カラー表示可能なＬＥＤディスプレイを例として図面を参照しながら説明する。
【００１３】
［第１の実施の形態］
図１は、ＬＥＤ端子間の電流−電圧特性を示すグラフである。
ＬＥＤディスプレイ使用時にＬＥＤに流す電流は、約１ｍＡ〜８０ｍＡである（図１に示す（ａ）の部分）。この動作領域は、電流変化に対して電圧変化が小さい。これに対し、順方向電圧Ｖｆ以下のオフ領域（図１に示す（ｂ）の部分）は、電流変化に対して電圧変化が大きい。このため、このオフ領域で、ある一定の電流をＬＥＤに流すことにより、検出感度を高めることができる。本実施の形態では、オフ領域においてＬＥＤの端子間電圧を検出し、検出した端子間電圧の違いより、電気的接続がショートやオープンに近い不良状態、あるいは、将来的にショートやオープンとなる蓋然性が高い準不良状態のＬＥＤを特定する。
電流変化に対して電圧変化は、オフ領域のうち電流が約１００μＡ以下の領域で更に大きく、このため本実施の形態では、この電流が約１００μＡ以下の領域で端子間電圧を検出することが、さらに望ましい。なお、オフ領域の定義では、図１に示すように横軸のみ対数メモリであるグラフ上で（ａ）の通常使用領域からの外挿線が電圧軸と交わる点で順方向電圧値Ｖｆを求めている。但し、本発明では、この方法に限定されるものではなく、ダイオードの順方向電圧値Ｖｆの種々ある定義を用いることができる。
【００１４】
図２および図３は、本実施の形態で使用可能な、端子間電圧を検出する電圧検出回路を示す図である。
図２に示す電圧検出回路１Ａは、ＬＥＤのコモン接続側をアノード側としたアノードコモン接続型の電圧検出回路である。電圧検出回路１Ａは、ＬＥＤである発光ダイオードＤのアノードと接地電圧との間に接続された電源２と、発光ダイオードＤのカソードと接地電圧との間に接続された定電流源３と、コンパレータ４とを有する。コンパレータ４の「＋」入力端子に発光ダイオードＤのカソード（電圧：Ｖｋ）が接続されている。また、コンパレータ４の「−」入力端子とダイオードＤのアノードとの間に、電圧値が変化可能な基準電圧Ｖｒｅｆの供給手段５が図示した向きで接続されている。基準電圧Ｖｒｅｆの供給手段５は電圧検出回路１Ａに内蔵されたものであってもよいし、また、基準電圧Ｖｒｅｆを外部から供給する手段であってもよい。なお、発光ダイオードＤのアノードとカソード間に、通常の画像表示モードにおいて、表示すべき画像の映像信号に応じて発光ダイオードに所定の電流を流すドライバ（ＤＲＶ）６が接続されている。
【００１５】
ドライバ６、並びに、上述した定電流源３および基準電圧供給手段５は、モード切替信号Ｍｏｄｅにより制御される。モード切替信号Ｍｏｄｅが「画像表示モード」を示す場合、定電流源３および基準電圧供給手段５は起動を停止され、ドライバ６のみ起動される。このため、映像信号に応じた輝度で発光ダイオードＤが発光する。
【００１６】
これに対し、モード切替信号Ｍｏｄｅが「不良検出モード」を示すときは、逆に、ドライバ６の起動が停止され、定電流源３および基準電圧供給手段５が起動される。このため、電源２の電圧Ｖａによりバイアスされた発光ダイオードＤに一定電流Ｉが流れる。この一定電流Ｉは、望ましくは約１００μＡ以下の微小電流であり、このため検出感度が高い微小電流領域での端子間電圧Ｖｄの検出が可能となる。本例における検出方法は、一定の微小電流Ｉを流しているときの発光ダイオードＤの一方端子の電圧、ここではカソード電圧Ｖｋと、電圧Ｖａと基準電圧Ｖｒｅｆとの差（Ｖａ−Ｖｒｅｆ）とをコンパレータ４により比較する。カソード電圧Ｖｋは（Ｖａ−Ｖｄ）であることから、電圧Ｖａは相殺され、結局、コンパレータ出力ＯｕｔはＡ（Ｖｒｅｆ−Ｖｄ）となる。ここで、Ａはコンパレータの増幅度である。コンパレータ出力Ｏｕｔは、発光ダイオードＤの端子間電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒｅｆより小さいときはハイレベル「Ｈ」の電位をとり、端子間電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒｅｆ以上のときはローレベル「Ｌ」の電位をとる。
【００１７】
図３に示す電圧検出回路１Ｂは、ＬＥＤのコモン接続側をカソード側としたカソードコモン接続型の電圧検出回路である。ＬＥＤである発光ダイオードＤのカソードは接地されている。電圧検出回路１Ｂは、発光ダイオードＤのアノードと接地電圧との間に直列接続された定電流源３および電源２と、コンパレータ４とを有する。コンパレータ４の「＋」入力端子と接地電圧との間に、電圧値が変化可能な基準電圧Ｖｒｅｆの供給手段５が接続されている。また、コンパレータ４の「−」入力端子に、発光ダイオードＤの一方端子、ここではアノード（電圧：Ｖｄ）が接続されている。基準電圧Ｖｒｅｆの供給手段５は電圧検出回路１Ｂに内蔵されたものであってもよいし、また、基準電圧Ｖｒｅｆを外部から供給する手段であってもよい。なお、発光ダイオードＤのアノードとカソード間に、通常の画像表示モードにおいて、表示すべき画像の映像信号に応じて発光ダイオードに所定の電流を流すドライバ（ＤＲＶ）６が接続されている。
【００１８】
ドライバ６、並びに、上述した定電流源３および基準電圧供給手段５は、モード切替信号Ｍｏｄｅにより制御される。モード切替信号Ｍｏｄｅが「画像表示モード」を示す場合、定電流源３および基準電圧供給手段５は起動を停止され、ドライバ６のみ起動される。このため、映像信号に応じた輝度で発光ダイオードＤが発光する。
【００１９】
これに対し、モード切替信号Ｍｏｄｅが「不良検出モード」を示すときは、逆に、ドライバ６の起動が停止され、定電流源３および基準電圧供給手段５が起動される。このため、電源２の電圧Ｖａによりバイアスされた発光ダイオードＤに一定電流Ｉが流れる。この一定電流Ｉは、望ましくは約１００μＡ以下の微小電流であり、このため検出感度が高い微小電流領域での端子間電圧Ｖｄの検出が可能となる。本例における検出方法は、一定の微小電流Ｉを流しているときの発光ダイオードＤの一方端子の電圧、ここではアノード電圧（＝Ｖｄ）と、基準電圧Ｖｒｅｆとをコンパレータ４により比較し、コンパレータ出力ＯｕｔはＡ（Ｖｒｅｆ−Ｖｄ）となる。ここで、Ａはコンパレータの増幅度である。コンパレータ出力Ｏｕｔは、発光ダイオードＤの端子間電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒｅｆより小さいときは「Ｈ」をとり、端子間電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒｅｆ以上のときは「Ｌ」をとる。
【００２０】
特に図示しないが、ＬＥＤディスプレイの画像表示面に発光ダイオードＤが多数配置され、その駆動回路装置としてのドライバＩＣが設けられている。上述した構成の電圧検出回路１Ａまたは１Ｂは、このドライバＩＣ内に形成されている。但し、１つのドライバＩＣで駆動するＬＥＤ数は任意であり、それに応じて、電圧検出回路１Ａまたは１Ｂの実施の態様も種々存在する。図２および図３は、１つの発光ダイオードＤごとに電圧検出回路１Ａまたは１Ｂを設けた場合を示すが、複数の発光ダイオードＤごとに電圧検出回路を設けることもできる。その場合、複数の発光ダイオードから不良検出を行う発光ダイオードを選択する選択回路がさらに必要となる。
【００２１】
ドライバＩＣは、図４に示すように、さらに、電圧検出回路の検出結果（コンパレータ出力Ｏｕｔ）を基に不良のダイオードを特定する不良検出回路１０を有する。図４において、複数の電圧検出回路１−１，１−２，…，１−ｎは、図２または図３に示す回路１Ａまたは１Ｂの何れかから構成されている。不良検出回路１０は、複数の電圧検出回路１−１，１−２，…，１−ｎの出力Ｏｕｔ１，Ｏｕｔ２，…，ＯｕｔＮを入力し、これらの値に基づいて端子間電圧Ｖｄの分布を調べる。分布を調べるために不良検出回路１０は、電圧検出回路１−１，１−２，…，１−ｎに供給する基準電圧Ｖｒｅｆを、例えば電圧値が低い方から始めて高い方に所定ステップずつ変化させながら、その都度、電圧検出回路の出力Ｏｕｔ１，Ｏｕｔ２，…，ＯｕｔＮを入力し、この操作を必要な回数繰り返す。その結果、端子間分布Ｖｄの分布において、分布端から離れた端子間電圧が存在するときは、その孤立した端子間電圧の発光ダイオードを不良、または、不良の蓋然性が高い不良として特定する。より詳細には、分布下端よりさらに電圧が低い孤立した端子間電圧がある場合、その端子間電圧の発光ダイオードをショート不良、または、ショート不良の蓋然性が高い不良として特定する。あるいは、分布上端よりさらに電圧が高い孤立した端子間電圧がある場合、その端子間電圧の発光ダイオードをオープン不良、または、オープン不良の蓋然性が高い不良として特定する。これらの不良検出結果は、信号Ｓ１０として不良検出回路１０から出力される。この信号Ｓ１０により、ＬＥＤディスプレイ中のどの発光ダイオード（ＬＥＤ）が不良であるかが電気的に分かるため、不良のＬＥＤを交換することが容易となる。
【００２２】
［第２の実施の形態］
第２の実施の形態では、デイジーチェーンモード（ｄａｉｓｙ  ｃｈａｉｎ  ｍｏｄｅ）のトークン（ｔｏｋｅｎ）渡し形式により発光データを転送するＬＥＤディスプレイに、第１の実施の形態に示す不良検出方法を適用した場合を説明する。
【００２３】
図５は、画像表示面のＬＥＤ配列を模式的に示す図である。また、図６は、ＬＥＤのドライバＩＣおよびコントローラの接続関係を示すブロック図である。
図５に示す画像表示面２０に、赤（Ｒ），緑（Ｇ），青（Ｂ）の３つのＬＥＤから構成されている単位画素２１ｉ＿ｋ（ｉ＝１，２，…，ｍ、ｋ＝１，２，…，ｎ）がｍ行ｎ列配置されている。ここで赤色のＬＥＤをＤＲｉ＿ｋ、緑色のＬＥＤをＤＧｉ＿ｋ、青色のＬＥＤをＤＢｉ＿ｋと表記している。
【００２４】
これらのＬＥＤを駆動するドライバＩＣは、本発明の“駆動回路装置”の実施の形態を構成するものであり、所定数の単位画素群内でＬＥＤの色ごとに設けられている。図６に示す例では、１行の前半のｋ個の単位画素群と後半の（ｎ−ｋ）個の単位画素群のそれぞれで、ＲＧＢの色ごとにドライバＩＣが設けられている。ここで、例えば、ｊ（ｊ＝１〜ｍ）番目の行の前半の単位画素群において、赤色ＬＥＤを駆動するドライバＩＣをＤＲＩＣｊＲ１、緑色ＬＥＤを駆動するドライバＩＣをＤＲＩＣｊＧ１、青色ＬＥＤを駆動するドライバＩＣをＤＲＩＣｊＢ１と表記している。また、ｊ番目の行の後半の単位画素群において、赤色ＬＥＤを駆動するドライバＩＣをＤＲＩＣｊＲ２、緑色ＬＥＤを駆動するドライバＩＣをＤＲＩＣｊＧ２、青色ＬＥＤを駆動するドライバＩＣをＤＲＩＣｊＢ２と表記している。
このようなドライバＩＣの割り当ては、ＬＥＤの種類によって、その順方向電圧Ｖｆや流す電流が異なる為である。ドライバＩＣに並列に接続されたＬＥＤのバイアス用の電源は、ＲＧＢの色ごとにＶＲ，ＶＧ，ＶＢといった異なる値の電圧を印加可能である。これらの電圧値は、第１の実施の形態で述べた電源電圧Ｖａに相当する。
【００２５】
なお、図６に示す例では、説明の便宜上、行を前半と後半に分けて駆動することとしたが、通常は、もっと細かな単位で行を分けて駆動される。但し、画素数が比較的少ない場合等にあっては、１行全てのＬＥＤをＲＧＢごとに駆動してもよい。また、単色表示の場合、或いは、他のデータ転送方式の場合、それぞれ所定数の行と列からなるＬＥＤ群を一括して或いはＲＧＢごとに駆動することも可能である。さらに、上記何れの場合においても、ＬＥＤを駆動する電流を複数設定できる機能を有するドライバＩＣを用いれば、１つのドライバＩＣで異なる色のＬＥＤを駆動することも可能である。
【００２６】
コントローラ３０が、各行の初段および最終段のドライバＩＣ、即ち、１行目のドライバＩＣ（ＤＲＩＣ１Ｒ１とＤＲＩＣ１Ｂ２）、…、ｊ行目のドライバＩＣ（ＤＲＩＣｊＲ１とＤＲＩＣｊＢ２）、…、ｍ行目のドライバＩＣ（ＤＲＩＣｍＲ１とＤＲＩＣｍＢ２）に接続されている。コントローラ３０は、各行の初段のドライバＩＣに、その後段に接続された全部のドライバＩＣに関するデータを、そのＬＥＤおよび駆動回路の接続順番に合わせて順次シリアル転送する。
【００２７】
コントローラ３０が送信するデータは、各ＬＥＤの輝度などの発光パラメータのデータおよび各種制御データである。
ＬＥＤの発光パラメータのデータは、例えば、ＬＥＤに電流を“流す”又は“流さない”を指定する“１”又は“０”のデータを含む。ＬＥＤを駆動する電流をデータにて設定できる機能を有するドライバＩＣの場合は、その電流値のデータも、この発光パラメータのデータに含まれる。
制御データは、モード設定データを含む。モード設定データとは、通常動作時にＬＥＤを１回発光または連続発光させる通常動作モードと、不良検出モードなどの他のモードとを切替えるデータを言い、第１の実施の形態で述べたモード切替信号Ｍｏｄｅ（図２および図３参照）のデータを含む。また、制御データは、ＬＥＤの端子間電圧Ｖｄの検出回路１Ａまたは１Ｂ内のコンパレータ４（図２および図３参照）に入力する基準電圧Ｖｒｅｆとして、アナログ−ディジタル変換器（ＤＡＣ）の出力Ｖｄａｃのデータを含む。さらに、制御データは、ＬＥＤの端子間電圧Ｖｄの検出データ、イネーブル信号ＥＮおよびクロック信号ＣＬＫを含む。なお、図２または図３に示す一定電流Ｉを変更可能にした場合、この電流Ｉを順方向電圧Ｖｆ以下のオフ領域内で変更することができる。この場合、その電流変更の情報が制御データに含まれる。
これらの制御データおよびＬＥＤの輝度データは、各行内をシリアル転送されてＬＥＤディスプレイの発光又は不良検出に等に供せられた後、最終段のドライバＩＣからコントローラ３０に戻される構成となっている。但し、クロック信号ＣＬＫについては行内のドライバＩＣにパラレルに供給する構成でもよい。
【００２８】
図７は、クロック信号をパラレル供給する構成において、任意の１行のドライバＩＣの並びとコントローラとの接続関係を一般化して示す回路ブロック図である。また、図８は、この図７に示すドライバＩＣ内の回路構成を詳細に示す回路図である。なお、これらの一般化した図７および図８では、ドライバＩＣを、初段から順次［Ａ］，［Ｂ］，［Ｃ］，…，［Ｘ］と表記している。また、図８では、ドライバＩＣ［Ａ］の構成のみ示すが、他のドライバＩＣも同様に構成されている。
【００２９】
図８に示すように、各ドライバＩＣは、接続されるＬＥＤの個数ｋに応じた数のフリップフロップ４１−１，４１−２，４１−３，…，４１−（ｋ−１），４１−ｋを直列接続させてなるシフトレジスタを有する。フリップフロップ４１−１，４１−２，４１−３，…，４１−（ｋ−１）の各データ出力端子（Ｑ）のそれぞれが、次段のフリップフロップのデータ入力端子（Ｄ）に接続されている。これらの接続中点、および、最終段のフリップフロップ４１−ｋのデータ出力端子（Ｑ）が、ＬＥＤの接続端子４３−１，４３−２，…，４３−（ｋ−１），４３−ｋに順次接続されている。これらｋ個のフリップフロップのクロック入力は、２入力のアンドゲート４４の出力に接続されている。アンドゲート４４の一方入力がクロック信号ＣＬＫＩの供給端子４５に接続され、その他方入力がイネーブル信号ＥＮＩの入力端子４６に接続されている。イネーブル信号ＥＮＩの供給端子４６と出力端子４７との間に所定時間イネーブル信号のハイレベル「Ｈ」を維持するために、例えばクロックパルスを計数するカウンタ（ＣＯＮＴ）４８が接続されている。また、データ信号ＳＤＩの入力端子４２と出力端子４９との間に、ＬＥＤの端子間の電圧検出回路（Ｖｄ．ＤＥＴ）１が接続されている。電圧検出回路１は、前記したＬＥＤの接続端子４３−１，４３−２，…，４３−（ｋ−１），４３−ｋ、および、バイアス用電源電圧Ｖａ（ＶＲ，ＶＧまたはＶＢ）の供給端子５０に接続されている。また、電圧検出回路１に、コントローラ３０内のＤＡＣにより生成された基準電圧Ｖｄａｃ、および、モード切替信号Ｍｏｄｅが供給されている。なお、基準電圧Ｖｄａｃおよびモード切替信号Ｍｏｄｅの供給線は、図６および図７においては省略している。
ところで、図８においては、基準電圧Ｖｄａｃおよびモード切替信号ＭｏｄｅをドライバＩＣ外部から供給しているが、これらをドライバＩＣ内部で生成することもできる。この場合、各ドライバＩＣは、たとえば、基準電圧Ｖｄａｃを生成するＤＡＣ、および、モード切替信号Ｍｏｄｅを出力するモード切替信号判別回路等を具備している。
【００３０】
電圧検出回路１は、モード切替信号Ｍｏｄｅが「通常動作モード」を示す場合に、入力端子４２から入力された入力データ信号ＳＤＩを、初段のフリップフロップ４１−１のデータ入力端子（Ｄ）に入力する。ｋ個のフリップフロップは、アンドゲート４４によりシフト動作が規制されており、入力イネーブル信号ＥＮＩがハイレベル「Ｈ」の期間のみクロック信号が供給されてデータシフトの動作をする。したがって、この期間にフリップフロップ４１−１，４１−２，４１−３，…，４１−（ｋ−１），４１−ｋに入力した映像信号ＳＤＩに応じた発光パラメータとして、例えば輝度データが順送りされ、その結果、ｋ個のＬＥＤが発光パラメータに応じて発光する。
入力イネーブル信号ＥＮＩがハイレベル「Ｈ」の期間は、カウンタ４８が所定数のクロックパルス数をカウントすることにより監視されている。カウンタ４８は、例えば、そのイネーブル「Ｈ」期間の終了間際に上記所定数のクロックパルスを検出すると、直ぐに、カウンタ出力をローレベル「Ｌ」から「Ｈ」に立ち上げる。このレベル変化（出力イネーブル信号ＥＮＯ（Ａ））が、新たな入力イネーブル信号ＥＮＩ（Ｂ）として次段のドライブＩＣ［Ｂ］に入力される。このため、ほぼ遅延なくイネーブル「Ｈ」期間が順送りされ、この期間内にドライブＩＣ［Ｂ］に接続されたＬＥＤが発光する。
【００３１】
これら一連の動作は、次のドライブＩＣ［Ｃ］、および、図７において省略した中間のドライブＩＣ（［Ｄ］，［Ｅ］，…）、並びに、最終段のドライバＩＣ［Ｘ］で順次繰り返された後、最終段から出力イネーブル信号ＥＮＯ（Ｘ）がコントローラ３０に戻され、さらに、次の行の初段のドライバＩＣへと引き継がれてゆく。
この１行のデータ転送動作をｍ回繰り返すことによって全てのドライバＩＣに対しデータ転送が終了すると、その時点で、１画面の表示が完了する。このデータ転送形式では、ドライバＩＣの優先情報（トークン）であるイネーブル信号の「Ｈ」データ、および、映像データが環状に回っており、各ドライバＩＣは、トークンを受け取っているイネーブル「Ｈ」期間の間だけ画像表示を行う。このため、配線の引き回しが少なく簡易な構成によって、映像信号のスキャンを行うことができる。
【００３２】
一方、モード切替信号Ｍｏｄｅが「不良検出モード」を示すことを電圧検出回路１が検知した場合、電圧検出回路１によってＬＥＤの端子間電圧Ｖｄの検出動作が行われる。この端子間電圧の検出動作も、トークンを受け取っている期間、即ちイネーブル信号ＥＮの「Ｈ」期間で実行される。このため、上記画像表示の場合と同様に、トークンが全てのドライバＩＣを一巡する間に、全てのＬＥＤに対し端子間電圧Ｖｄの検出が行われる。なお、この不良検出モードでは、モード切替信号Ｍｏｄｅの制御により、例えば図２または図３に示すドライバ６の起動が停止されるため、画像表示は実行されない。
【００３３】
図９は、電圧検出回路１の構成を示す回路ブロック図である。また、図１０は、電圧検出回路１内の論理演算部の詳細を示す回路ブロック図である。
図９に示す電圧検出回路１では、図２に示すアノードコモン接続のダイオードＤ、電源２、定電流源３、コンパレータ４、および基準電圧の供給手段（本例ではＤＡＣ）５を基本単位として、これがｋ個の並列接続されている。なお、図９においては、電圧検出回路１内にＤＡＣ５が設けられているように描かれているが、これは模式的に示すものであり、図８に示すように外部から基準電圧Ｖｄａｃが供給される場合も含む。
【００３４】
バイアス電圧Ｖａを供給する電源２とＬＥＤの接続端子４３−１〜４３−ｋとの間に、それぞれ発光ダイオード（ＬＥＤ）Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３，…，Ｄｋが接続されている。ＬＥＤの接続端子４３−１〜４３−ｋは、それぞれコンパレータ４−１，４−２，４−３，…，４−ｋの一方入力に接続されている。また、ＬＥＤの接続端子４３−１〜４３−ｋと接地電圧との間に、それぞれ定電流源３−１，３−２，３−３，…，３−ｋが接続されている。コンパレータ４−１，４−２，４−３，…，４−ｋの他方入力は、電圧（Ｖａ−Ｖｄａｃ）が入力されるようにＤＡＣ５を介して電源２と接続されている。
【００３５】
コンパレータ４−１，４−２，４−３，…，４−ｋの各出力Ｏｕｔ１，Ｏｕｔ２，Ｏｕｔ３，…，Ｏｕｔｋに出力回路７が接続されている。出力回路７は、論理演算部８と転送レジスタ部（ＴＲ）９とを有する。論理演算部８と転送レジスタ部（ＴＲ）９は、電圧検出回路１に入力される入力クロック信号ＣＬＫＩにより駆動される。
論理演算部８は、このコンパレータ出力に基づいてＬＥＤの端子間電圧の特異点を調べ、その結果を、不良の可能性が高いＬＥＤを検出するための基礎データとして転送レジスタ部９に出力する。ここで、「特異点」とは、端子間電圧のメインの分布端から離れ孤立点となる端子間電圧をいう。
【００３６】
論理演算部８は、図１０に示すように、ｋ入力のオアゲート回路８Ａと、ｋ入力のナンドゲート回路８Ｂとから構成されている。
オアゲート回路８Ａの各入力は、コンパレータ出力Ｏｕｔ１，Ｏｕｔ２，Ｏｕｔ３，…，Ｏｕｔｋがそれぞれ入力可能に、各コンパレータと接続されている。オアゲート回路８Ａから、信号Ｓ８Ａが転送レジスタ部９に出力される。信号Ｓ８Ａは、ダイオードの端子間電圧Ｖｄ（ｄ＝１〜ｋ）が基準電圧Ｖｄａｃより小さくコンパレータ出力が「Ｈ」となるものが、ｋ個のコンパレータ出力のうち１つでもある場合に「Ｈ」を出力し、全ての端子間電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｄａｃ以上の場合に「Ｌ」を出力する。この信号Ｓ８Ａは、分布下端で特異点となる可能性がある端子間電圧の有無を検出し、これはショート不良検出の基礎データとなるものであることから、以下、この信号Ｓ８Ａを「ショート不良の基礎データ信号」という。
同様に、ナンドゲート回路８Ｂの各入力は、コンパレータ出力Ｏｕｔ１，Ｏｕｔ２，Ｏｕｔ３，…，Ｏｕｔｋがそれぞれ入力可能に、各コンパレータと接続されている。ナンドゲート回路８Ｂから、信号Ｓ８Ｂが転送レジスタ部９に出力される。信号Ｓ８Ｂは、ダイオードの端子間電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｄａｃ以上でコンパレータ出力が「Ｌ」となるものが、ｋ個のコンパレータ出力のうち１つでもある場合に「Ｈ」を出力し、全ての端子間電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｄａｃより小さい場合に「Ｌ」を出力する。この信号Ｓ８Ｂは、分布上端で特異点となる可能性がある端子間電圧の有無を検出し、これはオープン不良検出の基礎データとなるものであることから、以下、この信号Ｓ８Ｂを「オープン不良の基礎データ信号」という。
【００３７】
また、転送レジスタ部９に信号（Ｃｈ  Ｓｅｌ  Ｏｕｔ）が入力される。この信号（Ｃｈ  Ｓｅｌ  Ｏｕｔ）は、図９に示すように、各コンパレータ出力に接続されたｋ個のスイッチＳＷ１〜ＳＷｋを入力クロック信号に同期して順次走査（スイッチング）したときに、何番目のパルスにコンパレータ出力の論理が反転しているかを示す信号である。この信号（Ｃｈ  Ｓｅｌ  Ｏｕｔ）により、ショート不良基礎データ信号Ｓ８Ａまたはオープン不良基礎データ信号Ｓ８Ｂが示す特異点が、どのダイオードに対応しているかの情報が転送レジスタ部９に付与される。
【００３８】
転送レジスタ部９は、この信号（Ｃｈ  Ｓｅｌ  Ｏｕｔ）と、上記した２つの基礎データ信号Ｓ８ＡおよびＳ８Ｂとを入力し、これらの信号の情報を端子４２から入力される入力データ信号ＳＤＩに付加し、端子４９を介して次のドライバＩＣへと送る。このとき転送レジスタ部９は、図８においてカウンタ（ＣＯＮＴ）４８の出力が「Ｈ」となるタイミングに同期し、例えば、そのタイミングよりクロック数パルス遅れたタイミングで出力データ信号ＳＤＯを排出する。
以上の電圧比較と基礎データの収集（以下、不良検査という）は、前述した、いわゆるトークン渡しのデータ転送形式によって、順次、直列接続されたドライバＩＣ間で連続的に実行される。
【００３９】
図１１は、出力回路の他の構成を示す回路ブロック図である。
図１１に示す出力回路７は、その論理演算部８と転送レジスタ部９との接続関係が図１０の場合と異なる。つまり、論理演算部８に入力され、論理演算に用いられるコンパレータ出力Ｏｕｔ１，Ｏｕｔ２，Ｏｕｔ３，…，Ｏｕｔｋがそのまま転送レジスタ部９にも入力されるようになっている。このため、図１０に示す信号（Ｃｈ  Ｓｅｌ  Ｏｕｔ）は不要であり、その生成のためのスイッチＳＷ１〜ＳＷｋ（図９）も不要である。転送レジスタ部９は、コンパレータ出力Ｏｕｔ１，Ｏｕｔ２，Ｏｕｔ３，…，Ｏｕｔｋにより、不良検出の基礎データとＬＥＤとの対応を示す情報を得ることができる。
他の構成およびトークン渡しのデータ転送方法は、図１０の場合と同じである。
【００４０】
先に説明したように、図６に示すコントローラ３０は、電圧の比較基準となる基準電圧Ｖｄａｃを制御する機能を有している。コントローラ３０は、まず、通常、ＬＥＤの端子間電圧分布にかからないと考えられる、十分に低いあるいは十分に高い基準電圧Ｖｄａｃを用いて、初段のドライバＩＣに不良検査の開始を指示する。これにより不良検査が環状に循環するように実行される。その結果、最終段のドライバＩＣから、全てのＬＥＤに対し初期の基準電圧Ｖｄａｃを用いた不良検査のデータが蓄積された信号がコントローラ３０に戻される。これを受けて、コントローラ３０は、基準電圧Ｖｄａｃを所定ステップ幅だけ大きくあるいは小さくして、再度、不良検査の循環動作を実行させる。
以上の動作を、基準電圧の変化を所定数のステップ分行っても結果が変わらなくなるまで何度も繰り返すことにより、端子間電圧の分布が測定できる。
【００４１】
本実施の形態で不良の検出に関し、コントローラ３０が不良検出を行う場合と、不良検出の機能を持たせた転送レジスタ部９が行う場合とがある。前者の場合、コントローラ３０が本発明における“不良検出部”の実施の形態を構成し、後者の場合、電圧検出回路１内の出力回路７が本発明における“不良検出部”の実施の形態を構成する。
【００４２】
コントローラ３０が不良検出を行う場合、不良検査のデータが最終段のドライバＩＣから入力されるたびに、そのデータを内部の記憶部に蓄積する。コントローラ３０は、通常、マイクロコンピュータと内部メモリを有するため、適宜、必要な分布データが揃った段階で割り込み処理として、或いは、最終的に不良検査が終了した時点での処理として、端子間電圧の分布から孤立点を調べる。
例えば基準電圧を小さい方から次第に大きくする場合、最初にショート不良の孤立点が現れる。ある基準電圧を用いた電圧比較でコンパレータ４から「Ｈ」が出力された場合、その前後の基準電圧（例えば、１または数ステップ分異なる基準電圧）での検査で、このコンパレータ出力が共に「Ｌ」となっていると、当該コンパレータに対応したＬＥＤはショート不良またはショート不良となる蓋然性が高い不良と判断する。同じようにして、分布上端でオープン不良またはオープン不良の蓋然性が高い不良が検出できる。なお、基準電圧を大きい方から次第に小さくする場合、最初にオープン不良が検出でき、その後、ショート不良が検出できる。
不良の検出結果は、コントローラ３０から外部に電気信号として出力される。
【００４３】
一方、不良検出を転送レジスタ部９が行う場合、転送レジスタ部自身に、孤立点の判断に必要なだけ検査データを蓄積するためのメモリ容量が必要となる。つまり、例えば±２ステップで孤立点を調べる場合を例とすると、合計で５ステップ分の検査データの履歴を蓄積するメモリ容量が必要となる。
ある基準電圧を用いた電圧比較でコンパレータ４から「Ｈ」が出力され、且つ、その前後の±２ステップ分の基準電圧での検査データビットが全て「Ｌ」となっていると、そのことを調べる不図示の論理ゲート回路の出力が例えば「Ｈ」となり、ショート不良の検出フラグが立つように転送レジスタ部９が構成されている。また、ある基準電圧を用いた電圧比較でコンパレータ４から「Ｌ」が出力され、且つ、その前後の±２ステップ分の基準電圧での検査データビットが全て「Ｈ」となっていると、そのことを調べる不図示の他の論理ゲート回路の出力が例えば「Ｈ」となり、オープン不良の検出フラグが立つように転送レジスタ部９が構成されている。これらショートまたはオープン不良のフラグ情報と、その不良のＬＥＤを特定する情報とが、転送レジスタ部９内で入力データ信号ＳＤＩに付加され、出力される。このため、不良が検出された行の不良検出結果の情報がコントローラ３０を通過するたびに、コントローラ３０から外部に電気信号として排出される。
【００４４】
図１２（Ａ）〜図１２（Ｋ）に、不良検出を転送レジスタ部９が行う場合において、不良検出データのシリアル転送を説明する信号のタイミングチャートを示す。ここで、コントローラ３０から初段のドライバＩＣ［Ａ］に入力される入力データ信号ＳＤＩ（Ａ）を図１２（Ａ）に、ドライバＩＣ［Ａ］から次のドライバＩＣ［Ｂ］に送られるデータ信号ＳＤＯ［Ａ］＝ＳＤＩ［Ｂ］を図１２（Ｄ）に、ドライバＩＣ［Ｂ］から次のドライバＩＣ［Ｃ］に送られるデータ信号ＳＤＯ［Ｂ］＝ＳＤＩ［Ｃ］を図１２（Ｆ）に、ドライバＩＣ［Ｘ−１］から次のドライバＩＣ［Ｘ］に送られるデータ信号ＳＤＯ［Ｘ−１］＝ＳＤＩ［Ｘ］を図１２（Ｈ）に、ドライバＩＣ［Ｘ］からコントローラ３０に送られるデータ信号ＳＤＯ［Ｘ］を図１２（Ｊ）に、それぞれ示す。また、トークン渡しにより転送されるイネーブル信号ＥＮのパルスを図１２（Ｃ），（Ｅ），（Ｇ），（Ｉ）および（Ｋ）に、クロック信号ＣＬＫＩを図１２（Ｂ）に、それぞれ示す。
【００４５】
初段のドライバＩＣ［Ａ］に入力データ信号ＳＤＩ（Ａ）が入力され、そのイネーブル信号ＥＮＩ（Ａ）に「Ｈ」が立ち上がると、図１２（Ｄ）に示すように、例えばクロック信号ＣＬＫＩの２パルス分遅れたタイミングで、ドライバＩＣ［Ａ］内の電圧検出回路１内でＬＥＤの端子間電圧検出と不良検出が実行される。この処理は、イネーブル信号ＥＮＩ（Ａ）の「Ｈ」期間内に終了し、転送レジスタ９の出力データ信号ＳＤＯ［Ａ］が確定する。イネーブル信号ＥＮＩ（Ａ）の「Ｈ」が立ち下がると、図１２（Ｅ）に示すように、これに連動して次のイネーブル信号ＥＮＩ（Ｂ）が立ち上がり、つぎの電圧および不良検出の処理がドライバＩＣ［Ｂ］内で実行される。
このような動作が繰り返され、図１２（Ｊ）において最終段のドライバＩＣ［ｘ］において電圧および不良検出の処理が完了すると、この時点で、ドライバＩＣ［ｘ］の出力データ信号ＳＤＯ（Ｘ）には、１行の全ての不良検出結果が揃った状態となる。この不良検出結果は、図１２（Ｋ）に示す次のイネーブル信号の立ち上がりをトリガとしてコントローラ３０に送られ、外部に電気信号として排出される。
この信号により、どのＬＥＤが不良であり、または、どのＬＥＤが不良となる危険性が高いかが分かるので、該当するＬＥＤを含む単位画素ユニットを交換することが容易にできる。
【００４６】
第１および第２の実施の形態によれば、以下の利点が得られる。
第１に、ＬＥＤのオフ領域で微少電流を流し、このときのＬＥＤの端子間電圧の違いによりＬＥＤの不良を電気的に検出することにより、従来のＬＥＤ輝度の違いにより不良ＬＥＤを特定する方法に比べて正確で、かつ、スピーディに不良のＬＥＤを特定することが可能になる。
第２にＬＥＤを単位画素ユニットの基板に実装した後や、ＬＥＤディスプレイを設置後の環境下で、特にＬＥＤ数量が非常に多い場合に、単位画素ユニットを駆動するドライバＩＣを多段接続し、そのドライバＩＣ間を伝送されるシリアルデータ信号にＬＥＤの不良検出結果を搬送させ、前段までの結果を後段へ伝送する。これにより、最終段出力結果のみから、接続された全てのドライバＩＣでＬＥＤの不良検出を行うことが可能になる。その結果、大規模ＬＥＤディスプレイを設置後のメンテナンスにかかる時間や労力が軽減出来る。また、大規模ＬＥＤディスプレイの出荷検査時に不良検出が容易となり、不良のＬＥＤディスプレイの検査および交換の手間も軽減される。
第３に、１つのドライバＩＣで多くのＬＥＤを駆動する場合でも、ＬＥＤの端子間電圧の検出結果の論理和および論理積を演算し、その結果を伝送することにより、より少ない情報で不良ＬＥＤに対応した単位画素ユニットを知ることが出来る。
第４に、ＬＥＤの端子間電圧の検出結果の論理演算結果とともに、ＬＥＤの各端子間電圧またはＬＥＤの識別情報を伝送する事により、不良ＬＥＤのあるドライバＩＣ内でどのＬＥＤが不良かを容易に知ることができる。
第５に、いわゆるトークン渡しのデータ転送方式のドライバＩＣ接続配線や構成を最大限に利用して不良検出が行えるため、不良検出のための追加の回路や配線を最小限にし、コスト増を抑制することができる。メンテナンスコストまで含めると、逆に、コスト低減が可能である。
【００４７】
【発明の効果】
本発明によれば、発光ダイオードの不良検出を電気的に行うことができる画像表示装置、駆動回路装置、および不良検出方法を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係り、ＬＥＤ端子間の電流・電圧特性を示すグラフである。
【図２】第１の実施の形態で使用可能な、端子間電圧を検出する電圧検出回路を示す回路図である。
【図３】第１の実施の形態で使用可能な、端子間電圧を検出する他の電圧検出回路を示す回路図である。
【図４】第１の実施の形態に係る駆動回路装置の簡略化された構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の第２の実施の形態に係るＬＥＤディスプレイにおいて、その画像表示面のＬＥＤ配列を模式的に示す図である。
【図６】第２の実施の形態に係るＬＥＤディスプレイにおいて、ドライバＩＣおよびコントローラの接続関係を示すブロック図である。
【図７】クロック信号をパラレル供給する構成において、任意の１行のドライバＩＣの並びとコントローラとの接続関係を一般化して示す回路ブロック図である。
【図８】図７に示すドライバＩＣ内の回路構成を詳細に示す回路図である。
【図９】電圧検出回路の構成を示す回路ブロック図である。
【図１０】電圧検出回路内の出力回路の第１の構成例を示す回路ブロック図である。
【図１１】電圧検出回路内の出力回路の第２の構成例を示す回路ブロック図である。
【図１２】（Ａ）〜（Ｋ）は、不良検出を転送レジスタ部が行う場合において、不良検出データのシリアル転送を説明する信号のタイミングチャートである。
【符号の説明】
１，１Ａ，１Ｂ…電圧検出回路、２…電源、３…定電流源、４…コンパレータ、５…基準電圧の供給手段、７…出力回路、８…論理演算回路、８Ａ…オアゲート回路、８Ｂ…ナンドゲート回路、９…転送レジスタ部、１０…不良検出回路、２０…画像表示面、２１ｉ＿ｋ…単位画素、３０…コントローラ、ＤＲＩＣ（又は［Ａ］〜［Ｘ］）…ドライバＩＣ、Ｄ…発光ダイオード、Ｖｄ…端子間電圧、Ｉ…一定電流、Ｍｏｄｅ…不良検出モードを示す信号、Ｖｒｅｆ（又はＶｄａｃ）…基準電圧、ＳＤＩ…入力データ信号、ＥＮＩ…入力イネーブル信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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