(57)【要約】【課題】製品影響を多角的に判断でき、最適な検出リミット値を容易に設定する。【解決手段】Ｘ線異物検出装置は、被検査物にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って被検査物を透過してくるＸ線の透過量に基づいて被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器５の表示画面５ａに表示する。この検査結果の表示にあたって、被検査物へのＸ線曝射時のＸ線の透過量に応じたＸ線曝射時の被検査物の検査結果および２次元平面波形画像に加え、Ｘ線曝射時の被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、Ｘ線曝射時の被検査物の３次元鳥瞰波形画像を表示器５の表示画面５ａに対して選択的に表示する。【選択図】　　　　　　　　図３
2004028686.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量に基づいて前記被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器（５）に表示するＸ線異物検出装置（１）において、
前記被検査物へのＸ線曝射時のＸ線の透過量に応じたＸ線透過データを記憶する記憶手段（１６）と、該記憶手段に記憶されたＸ線透過データに基づいて前記被検査物中の異物の混入の有無を判別するデータ処理判別手段（１７）と、前記記憶手段に記憶されたＸ線透過データおよび前記データ処理判別手段の判別結果に基づいてＸ線曝射時の前記被検査物の検査結果、２次元平面画像、前記被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像の各種画像データを作成する画像データ作成手段（１８）と、該画像データ作成手段が作成した画像データに基づいて前記被検査物の検査結果、２次元平面画像、前記被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像を前記表示器の表示画面に対して選択的に表示制御する表示制御手段（１９）を含む処理手段（１４）を備えたことを特徴とするＸ線異物検出装置。
【請求項２】
前記表示制御手段（１９）は、前記被検査物（Ｗ）の検査結果、２次元平面画像、断面波形画像および３次元鳥瞰波形画像のうちの少なくとも２つの画像を前記表示器（５）に同時に表示することを特徴とする請求項１記載のＸ線異物検出装置。
【請求項３】
前記表示制御手段（１９）は、前記被検査物（Ｗ）の断面波形画像又は３次元鳥瞰波形画像を前記表示器（５）に表示するときに、その断面波形画像又は３次元鳥瞰波形画像の表示領域内に検出リミット値を同時に表示することを特徴とする請求項１又は２記載のＸ線異物検出装置。
【請求項４】
前記表示制御手段（１９）は、前記被検査物（Ｗ）の断面波形画像を前記表示器（５）に表示するときに、その波形データ内の数値情報を前記断面波形画像の表示領域内に同時に表示することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のＸ線異物検出装置。
【請求項５】
前記表示制御手段（１９）は、前記被検査物（Ｗ）の２次元平面画像又は３次元鳥瞰波形画像を前記表示器（５）に表示するとき、前記被検査物に混入される異物部分を色分け表示することを特徴とする請求項１又は２記載のＸ線異物検出装置。
【請求項６】
被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量に基づいて前記被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器（５）に表示するＸ線異物検出装置（１）の画像表示方法において、
前記被検査物へのＸ線曝射時のＸ線の透過量に応じたＸ線曝射時の前記被検査物の検査結果および２次元平面画像に加え、Ｘ線曝射時の前記被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、Ｘ線曝射時の前記被検査物の３次元鳥瞰波形画像を前記表示器の表示画面に対して選択的に表示することを特徴とするＸ線異物検出装置の画像表示方法。
【請求項７】
前記被検査物（Ｗ）の検査結果、２次元平面画像、断面波形画像および３次元鳥瞰波形画像のうちの少なくとも２つの画像を前記表示器（５）に同時に表示することを特徴とする請求項６記載のＸ線異物検出装置の画像表示方法。
【請求項８】
前記被検査物（Ｗ）の断面波形画像又は３次元鳥瞰波形画像を前記表示器（５）に表示するときに、その断面波形画像又は３次元鳥瞰波形画像の表示領域内に検出リミット値を同時に表示することを特徴とする請求項６又は７記載のＸ線異物検出装置の画像表示方法。
【請求項９】
前記被検査物（Ｗ）の断面波形画像を前記表示器（５）に表示するときに、その波形データ内の数値情報を前記断面波形画像の表示領域内に同時に表示することを特徴とする請求項６〜８のいずれかに記載のＸ線異物検出装置の画像表示方法。
【請求項１０】
前記被検査物（Ｗ）の２次元平面画像又は３次元鳥瞰波形画像を前記表示器（５）に表示するとき、前記被検査物に混入される異物部分を色分け表示することを特徴とする請求項６又は７記載のＸ線異物検出装置の画像表示方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物に対し、Ｘ線を曝射したときのＸ線の透過量から被検査物中の異物を検出するＸ線異物検出装置及び該装置の画像表示方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物中（表面も含む）の異物（金属、骨、ガラス、石、合成樹脂材等）を検出するためにＸ線異物検出装置が用いられている。このＸ線異物検出装置では、搬送ライン上を順次搬送されてくる各品種の被検査物にＸ線を曝射し、この曝射したＸ線の透過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入しているか否かを検出している。
【０００３】
図７はこの種のＸ線異物検出装置の概略を示す斜視図である。図７に示すように、コンベア５０上を被検査物Ｗが搬送されて行く途中位置にＸ線発生器５１と、Ｘ線検出器５２が対向配置される。Ｘ線発生器５１は、コンベア５０上を搬送される被検査物Ｗに対してＸ線を放射状に曝射している。Ｘ線検出器５２は、Ｘ線発生器５２から曝射されて被検査物Ｗを透過したＸ線の透過量に応じた電気信号（Ｘ線透過データ）を出力している。そして、不図示の処理手段は、Ｘ線検出器５２からの電気信号（Ｘ線の透過量）を検出しようとする異物情報がより強調されて抽出できるように所定のフィルタ処理を施し、このフィルタ処理が施されたＸ線透過データと予め設定された検出リミット値（異物混入の有無を検出するための基準値）とを比較し、その比較結果に基づいて被検査物Ｗの異物混入の有無を判断している。
【０００４】
そして、被検査物の異物混入の有無が判別されると、その判別結果に基づいて例えば被検査物の異物混入の有無を示す全体画像や異物混入の有無、総検査数、良品数、不良品数などが表示器の表示画面に表示される。
【０００５】
ここで、被検査物の全体画像は、Ｘ線透過データのレベルの度合い（強度）に応じた透過画像として表示される。これにより、ユーザは、被検査物を平面視したときの外形の状態と、被検査物のＸ線の透過具合を確認することができる。また、被検査物中に異物がある場合、被検査物の透過画像は、異物部分が他の正常な部分と異なるように、表示濃度の濃淡によるコントラスト差を持たせた２次元画像として表示される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のＸ線異物検出装置では、被検査物全体の透過画像が表示濃度の濃淡によるコントラスト差を持たせた２次元画像として表示され、異物判定を行うための検出リミット値との関係が表示されないので、検出リミット値をどの値に設定すべきかをユーザの経験に頼らざるを得ず、設定に個人差が生じ、被検査物に応じた最適な検出リミット値に設定するのが困難であった。また、その被検査物の品種や異物の種類に適した検出リミット値に設定されていない場合には、本来検出されるべき異物を見逃すおそれがあった。
【０００７】
そこで、本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、コントラスト差の２次元画像の他だけでなく、被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像や３次元鳥瞰波形画像を選択的に表示することにより、被検査物の品種や異物の種類による製品影響を多角的に判断し、より最適な検出リミット値を容易に設定することができるＸ線異物検出装置及び該装置の画像表示方法を提供することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、被検査物ＷにＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量に基づいて前記被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器５に表示するＸ線異物検出装置１において、
前記被検査物へのＸ線曝射時のＸ線の透過量に応じたＸ線透過データを記憶する記憶手段１６と、該記憶手段に記憶されたＸ線透過データに基づいて前記被検査物中の異物の混入の有無を判別するデータ処理判別手段１７と、前記記憶手段に記憶されたＸ線透過データおよび前記データ処理判別手段の判別結果に基づいてＸ線曝射時の前記被検査物の検査結果、２次元平面画像、前記被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像の各種画像データを作成する画像データ作成手段１８と、該画像データ作成手段が作成した画像データに基づいて前記被検査物の検査結果、２次元平面画像、前記被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像を前記表示器の表示画面に対して選択的に表示制御する表示制御手段１９を含む処理手段１４を備えたことを特徴とする。
【０００９】
請求項２の発明は、請求項１のＸ線異物検出装置において、
前記表示制御手段１９は、前記被検査物Ｗの検査結果、２次元平面画像、断面波形画像および３次元鳥瞰波形画像のうちの少なくとも２つの画像を前記表示器５に同時に表示することを特徴とする。
【００１０】
請求項３の発明は、請求項１又は２のＸ線異物検出装置において、
前記表示制御手段１９は、前記被検査物Ｗの断面波形画像又は３次元鳥瞰波形画像を前記表示器５に表示するときに、その断面波形画像又は３次元鳥瞰波形画像の表示領域内に検出リミット値を同時に表示することを特徴とする。
【００１１】
請求項４の発明は、請求項１〜３のいずれかのＸ線異物検出装置において、
前記表示制御手段１９は、前記被検査物Ｗの断面波形画像を前記表示器５に表示するときに、その波形データ内の数値情報を前記断面波形画像の表示領域内に同時に表示することを特徴とする。
【００１２】
請求項５の発明は、請求項１又は２のＸ線異物検出装置において、
前記表示制御手段１９は、前記被検査物Ｗの２次元平面画像又は３次元鳥瞰波形画像を前記表示器５に表示するとき、前記被検査物に混入される異物部分を色分け表示することを特徴とする。
【００１３】
請求項６の発明に係るＸ線異物検出装置の画像表示方法は、被検査物ＷにＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量に基づいて前記被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器５に表示するＸ線異物検出装置１の画像表示方法において、
前記被検査物へのＸ線曝射時のＸ線の透過量に応じたＸ線曝射時の前記被検査物の検査結果および２次元平面画像に加え、Ｘ線曝射時の前記被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、Ｘ線曝射時の前記被検査物の３次元鳥瞰波形画像を前記表示器の表示画面に対して選択的に表示することを特徴とする。
【００１４】
請求項７の発明は、請求項６のＸ線異物検出装置の画像表示方法において、
前記被検査物Ｗの検査結果、２次元平面画像、断面波形画像および３次元鳥瞰波形画像のうちの少なくとも２つの画像を前記表示器５に同時に表示することを特徴とする。
【００１５】
請求項８の発明は、請求項６又は７のＸ線異物検出装置の画像表示方法において、
前記被検査物Ｗの断面波形画像又は３次元鳥瞰波形画像を前記表示器５に表示するときに、その断面波形画像又は３次元鳥瞰波形画像の表示領域内に検出リミット値を同時に表示することを特徴とする。
【００１６】
請求項９の発明は、請求項６〜８のいずれかのＸ線異物検出装置の画像表示方法において、
前記被検査物Ｗの断面波形画像を前記表示器５に表示するときに、その波形データ内の数値情報を前記断面波形画像の表示領域内に同時に表示することを特徴とする。
【００１７】
請求項１０の発明は、請求項６又は７のＸ線異物検出装置の画像表示方法において、
前記被検査物Ｗの２次元平面画像又は３次元鳥瞰波形画像を前記表示器５に表示するとき、前記被検査物に混入される異物部分を色分け表示することを特徴とする。
【００１８】
【発明の実施の形態】
図１は本発明によるＸ線異物検出装置の外観を示す斜視図、図２は同Ｘ線異物検出装置の電気的構成を示すブロック図、図３は同Ｘ線異物検出装置による運転開始当初の検査結果の表示例を示す図、図４（ａ）〜（ｃ）は同Ｘ線異物検出装置による各種画像データに基づく表示例を示す図、図５は同Ｘ線異物検出装置による検査時の画像データの処理手順を示すフローチャート、図６は同Ｘ線異物検出装置による３種類の画像データを同時に表示した状態を示す図である。
【００１９】
Ｘ線異物検出装置は、搬送ラインの一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物中（表面も含む）に混入される異物の有無を検出するものである。
【００２０】
そして、特に、本例のＸ線異物検出装置では、被検査物の製品影響（例えば同一品種でのバラツキ）を多角的に判断して異物判定用の検出リミット値が簡単に適切な値に設定できるように、従来のコントラスト差の２次元平面画像の他に、被検査物の搬送方向と略直交する方向の１ラインの断面波形画像、被検査物を斜め方向から見た立体的な３次元鳥瞰波形画像を選択的に表示する機能を有している。
【００２１】
図１に示すように、Ｘ線異物検出装置１は、搬送部２と異物検出部３とが装置本体４内部に設けられ、表示器５が装置本体４の前面上部に設けられている。
【００２２】
搬送部２は、被検査物Ｗとして、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種のいずれかの製品を搬送するもので、例えばトレイや包装フィルム、箱等の収容体に収容された同一品種の被検査物Ｗが所定間隔をおいて順次搬送される。
【００２３】
この搬送部２は、装置本体４に対して水平に配置されたベルトコンベアで構成される。搬送部２は、図２に示す駆動モータ６の駆動により予め設定された所定の搬送速度で搬入口７から搬入された被検査物Ｗを搬出口８側（図中搬送方向Ｘ）に向けて搬送させる。
【００２４】
異物検出部３は、搬送される被検査物Ｗを搬送路途中において異物を検出するもので、搬送部２の上方に所定高さ離れて設けられるＸ線発生器９と、搬送部２内にＸ線発生器９と対向して設けられるＸ線検出器１０を備えて構成される。
【００２５】
Ｘ線発生器９は、金属製の箱体１１内部に設けられる円筒状のＸ線管１２を不図示の絶縁油により浸漬した構成であり、Ｘ線管１２の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてＸ線を生成している。Ｘ線管１２は、その長手方向が被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交する方向（Ｙ方向）に設けられている。Ｘ線管１２により生成されたＸ線は、下方のＸ線検出器１０に向けて、長手方向に沿った不図示のスリットにより略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
【００２６】
Ｘ線検出器１０は、被検査物Ｗに対してＸ線が曝射されたときに、被検査物Ｗを透過してくるＸ線を検出し、この検出したＸ線の透過量に応じた電気信号を出力している。このＸ線検出器１０は、搬送部２上を搬送される被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交するＹ方向に沿って設けられる。このＸ線検出器１０には、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。
【００２７】
図２に示すように、搬送部２の搬入口７側には、被検査物Ｗの通過を検出するための位置検出手段１３が設けられている。この位置検出手段１３は、搬送部２としてのベルトコンベアの入口側に設けられる一対の投受光器からなるフォトセンサで構成される。この構成により、被検査物Ｗがフォトセンサの前を通過している間では位置検出手段１３からオン信号が処理手段１４に入力される。
【００２８】
このような構成によるＸ線検出器１０では、搬送部２の搬入口７から搬送される被検査物Ｗを位置検出手段１３が検出すると、搬送部２上を搬送される被検査物Ｗに対してＸ線発生器９からＸ線が曝射される。そして、この被検査物ＷへのＸ線の曝射に伴って被検査物Ｗを透過してくるＸ線をシンチレータで受けて光に変換する。このシンチレータで変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオードによって受光される。そして、各フォトダイオードは、受光した光を電気信号に変換して出力する。このＸ線検出器１０は、受けたＸ線の強さに対応したレベルを有した電気信号を処理手段１４に出力する。
【００２９】
図２において、処理手段１４は、ＣＰＵやメモリなどで構成され、位置検出手段１３が被検査物Ｗを検出したときのオン信号をタイミング信号とする所定時間後に、Ｘ線検出器１０からの電気信号を取り込んで信号処理している。
【００３０】
図２に示すように、処理手段１４は、設定入力手段１５、記憶手段（データメモリ）１６、データ処理判別手段１７、画像データ作成手段１８、表示制御手段１９を備えて構成される。
【００３１】
設定入力手段１５は、被検査物Ｗの異物検査や表示に関する各種設定や指示を与えるためのユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成される。図３の例では、表示器５はタッチパネルとして形成され、その中に設定入力手段１５として、スタートキー１５ａ、ストップキー１５ｂ、表示モードキー１５ｃが設けられている。その他、画面を切り替えることにより上記のキーやスイッチが表示される。
【００３２】
スタートキー１５ａは、装置運転の開始を指示するときに操作される。ストップキー１５ｂは、装置運転の停止を指示するときに操作される。表示モードキー１５ｃは、表示モードの選択画面を表示器５に表示させるときに操作される。
【００３３】
この表示モードキー１５ｃの操作により表示モードの選択画面が表示されるので、この選択画面上の複数の表示モードの中からいずれか一つの表示モードを選択することができる。この表示モードの選択により表示器５に表示される表示内容は、例えば図３や図４（ａ）に示すような被検査物Ｗの異物混入の有無を示す２次元平面画像や異物混入の有無、総検査数、良品数、不良品数などの検査結果、図４（ｂ），（ｃ）に示すような被検査物Ｗの搬送方向と略直交する方向の１ラインの断面波形画像、被検査物Ｗの全体を斜め上方から見た立体的な３次元鳥瞰波形画像などであり、所定の表示領域内に表示される。なお、図４（ｂ）には２種類の断面波形画像を示しており、各断面波形画像において被検査物Ｗの断面位置と検出リミット値が異なるものである。
【００３４】
さらに説明すると、具体的な表示モードとしては、表示モード１…２次元平面画像（異物混入の有無、総検査数、良品数、不良品数などの検査結果も含む）、表示モード２…断面波形画像、表示モード３…３次元鳥瞰波形画像、表示モード４…２次元平面画像＋断面波形画像、表示モード５…２次元平面画像＋３次元鳥瞰波形画像、表示モード６…断面波形画像＋３次元鳥瞰波形画像、表示モード７…２次元平面画像＋断面波形画像＋３次元鳥瞰波形画像である。
【００３５】
また、設定入力手段１５は、不図示のキーやスイッチの操作により、被検査物Ｗ中の異物の混入の有無を判定するための基準となる検出リミット値を設定している。この検出リミット値は、被検査物Ｗの品種や検出対象となる異物の種類などに応じて異なる複数の値が設定可能となっている。
【００３６】
さらに、設定入力手段１５は、表示器５の表示画面５ａに検査結果を表示する際に、異物を示すデータ部分の色の設定や表示器５の表示画面５ｂに表示される現在の被検査物Ｗの製品影響（例えば同一品種によるバラツキ）を示すデータの種類（例えば被検査物Ｗの波形データ内の最大値、平均値など）を設定している。
【００３７】
なお、図４（ｃ）に示す３次元鳥瞰波形画像を表示器５に表示する場合は、表示画面５ｂに検出リミット値が表示される。
【００３８】
また、設定入力手段１５は、１ラインの断面波形画像や３次元鳥瞰波形画像を表示器５の表示画面５ａに表示した際、部分的に表示する箇所を指定する設定を行っている。例えば図４（ｂ）に示すような被検査物Ｗの１ラインの断面波形画像が表示器５の表示画面５ａに表示された場合、どの部分の断面波形画像を拡大表示させるかを指示する指示箇所を表示画面５ａの波形上で設定している。また、図４（ｃ）に示すような被検査物Ｗの３次元鳥瞰波形画像が表示器５の表示画面５ａに表示された場合には、どの部分の３次元鳥瞰波形画像を拡大表示させるかを指示する指示箇所を表示画面５ａの波形上で設定している。
【００３９】
記憶手段１６には、各被検査物Ｗ毎のＸ線透過データが格納される。このＸ線透過データは、Ｘ線検出器１０からの電気信号を不図示のＡ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換したデータを位置検出手段１３の検出タイミングで取り込むことにより得られる。さらに説明すると、この記憶手段１６には、各被検査物Ｗの検査が行われる毎に、Ｘ線検出器１０の１ライン（Ｙ方向）あたり例えば６４０個のＸ線透過データが、少なくとも搬送される被検査物Ｗの搬送方向の長さ（前端から後端までの検出期間に相当）に対応した所定ライン数（４８０ライン）が格納される。
【００４０】
データ処理判別手段１７は、記憶手段１６に格納された各被検査物ＷのＸ線透過データに対し、検出しようとする異物情報がより強調されて抽出できるように例えば微分フィルタ（Ｒｏｂｅｒｔｓフィルタ、Ｐｒｅｗｉｔｔフィルタ、Ｓｏｂｅｌフィルタ）やラプラシアンフィルタなどの特徴抽出フィルタにより所定のフィルタ処理を施し、このフィルタ処理の施されたＸ線透過データと、設定入力手段１５により予め設定された検出リミット値と比較し、その比較結果に基づいて被検査物Ｗの異物混入の有無を判別している。そして、フィルタ処理されたＸ線透過データが検出リミット値を超えたときに、その被検査物Ｗに異物が混入していると判断している。
【００４１】
画像データ作成手段１８は、記憶手段１６に格納された各被検査物ＷのＸ線透過データ、データ処理判別手段１７からのフィルタ処理の施されたＸ線透過データおよび判別結果に基づいて被検査物Ｗの２次元平面画像、１ラインの断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像による各種画像データを作成している。
【００４２】
表示制御手段１９は、データ処理判別手段１７の判別結果および画像データ作成手段１８で作成された画像データに基づき、設定入力手段１５の表示モードキー１５ｃにより選択された表示モードの表示内容が表示器５の表示画面５ａに表示されるように表示器５の表示を制御している。なお、表示モードの選択がなされていない電源投入後のデフォルトの運転初期状態では、図３や図４（ａ）に示すような被検査物Ｗの異物混入の有無を示す２次元平面画像や異物混入の有無、総検査数、良品数、不良品数などの検査結果（表示モード１）が表示されるように表示器５の表示が制御される。
【００４３】
次に、上記のように構成されるＸ線異物検出装置の動作について図５のフローチャートを参照しながら説明する。
【００４４】
まず、ユーザが設定入力手段１５を操作し、被検査物Ｗの異物検査や表示に関する各種設定や指示を設定する。また、この設定の段階で、ユーザが要望に応じて表示モードキー１５ｃの操作により表示モードの選択画面を表示し、複数の表示モード（表示モード１〜７）の中からいずれか一つの表示モードを選択して設定しておくことができる。そして、設定操作が終了し、設定入力手段１５のスタートキー１５ａが押されて運転が開始されると、搬送部２により順次搬送されてくる被検査物ＷにＸ線が曝射される（ＳＴ１）。
【００４５】
Ｘ線が曝射されて被検査物Ｗを透過してくるＸ線は、Ｘ線検出器１０により検出された後、不図示のＡ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換され、Ｘ線透過データとして出力される。このＸ線透過データは、位置検出手段１３からの検出信号をタイミング信号として順次記憶手段１６に蓄積される（ＳＴ２）。
【００４６】
次に、データ処理判別手段１７は、記憶手段１６に格納された被検査物ＷのＸ線透過データに対し、検出しようとする異物情報がより強調されて抽出できるように所定のフィルタ処理を施して信号処理し（ＳＴ３）、このフィルタ処理されたデータと、設定入力手段１５により予め設定された検出リミット値と比較して被検査物Ｗ中の異物混入の有無を判別する（ＳＴ４）。そして、フィルタ処理されたデータが検出リミット値を超えたとき、その被検査物Ｗに異物が混入していると判断する。
【００４７】
ここで、表示モードキー１５ｃの操作により選択された表示モードに基づき、２次元平面画像を表示するか否かが判別される（ＳＴ５）。選択された表示モードが２次元平面画像を表示するものと判断されると（ＳＴ５−Ｙｅｓ）、画像データ作成手段１８が予め設定入力手段１５で設定された被検査物Ｗの２次元平面波形画面の画像データを作成する（ＳＴ６）。
【００４８】
次に、表示モードキー１５ｃの操作により選択された表示モードに基づき、断面波形画像を表示するか否かが判別される（ＳＴ７）。選択された表示モードが断面波形画像を表示するものと判断されると（ＳＴ７−Ｙｅｓ）、画像データ作成手段１８が記憶手段１６に格納された被検査物Ｗの各ライン毎のＸ線透過データに基づいて被検査物Ｗの１ラインの断面波形画像の画像データを作成する（ＳＴ８）。
【００４９】
次に、表示モードキー１５ｃの操作により選択された表示モードに基づき、３次元鳥瞰波形画像を表示するか否かが判別される（ＳＴ９）。選択された表示モードが３次元鳥瞰波形画像を表示するものと判断されると（ＳＴ９−Ｙｅｓ）、画像データ作成手段１８が被検査物Ｗの３次元鳥瞰波形画像の画像データを作成する（ＳＴ１０）。
【００５０】
なお、上述した図５のフローチャートでは、選択された表示モードに基づいて２次元平面画像、断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像の画像データを作成するものとして説明したが、これらの画像データは表示モードの選択の有無に係わらず、同時に作成しておいても良い。
【００５１】
そして、表示器５の表示画面５ａには、上記のようにした作成した画像データに基づいて２次元平面画像、断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像の組み合わせによる表示が所定の表示領域内になされる（ＳＴ１１）。
【００５２】
ここで、被検査物Ｗの異物混入の有無を示す２次元平面画像のみを表示器５に表示する場合には、図３や図４（ａ）に示すように、２次元平面画像の他に、異物混入の有無、総検査数、良品数、不良品数などの検査結果が同時に表示される。
【００５３】
図３および図４（ａ）における被検査物Ｗの２次元平面画像データは、Ｘ線透過データのレベルの度合い（強度）に応じて表示される。これにより、ユーザは、被検査物Ｗを平面視したときの外形の状態と、被検査物ＷのＸ線の透過具合を確認することができる。また、被検査物Ｗ中に異物がある場合は、図３の黒丸部分で示す異物部分Ｇの表示濃度が他の部分と異なり（濃く、又は周囲と異なる色）で表示され、異物の混入位置を特定できる。
【００５４】
なお、ユーザにより設定入力手段１５から色の設定がなされた場合には、上記異物部分Ｇが設定された色で表示される。また、異物の種類に応じて検出リミット値を設定し、この設定された検出リミット値毎に検出リミット値を超えるデータを異なる色で表示するように設定入力手段１５で設定がなされると、異物部分が検出リミット値毎に異なる色（例えば検出リミット値が２種類の場合は赤と青）で表示される。これにより、異物の混入位置だけでなく異物の種類も特定することができる。
【００５５】
また、図４（ｂ）に示すような被検査物Ｗの１ラインの断面波形画像を表示器５に表示する場合には、この被検査物Ｗの１ラインの断面波形画像とともに検出リミット値がライン５ｃで表示される。さらに、表示画面５ｂには、設定入力手段１５で設定された種類のデータ（数値情報）として、例えば波形データ内の最大値が表示される。
【００５６】
なお、上記被検査物Ｗの１ラインの断面波形画像の表示において、設定入力手段１５の操作により画像上の指定箇所が設定されると、その部分の断面波形画像が拡大表示される。
【００５７】
さらに、図４（ｃ）に示すような被検査物Ｗの３次元鳥瞰波形画像を表示器５に表示する場合、被検査物Ｗ中に異物があると、異物部分の表示濃度が他の部分と異なり（濃く、又は周囲と異なる色）で表示され、異物の混入位置を特定できる。
【００５８】
また、２次元平面画像のときと同様に、ユーザにより設定入力手段１５から色の設定がなされた場合には、上記異物部分が設定された色で表示される。さらに、異物の種類に応じて検出リミット値を設定し、検出リミット値毎に検出リミット値を超えるデータを異なる色で表示するように設定入力手段１５で設定がなされると、異物部分が検出リミット値毎に異なる色（例えば検出リミット値が２種類の場合は赤と青）で表示される。
【００５９】
上記のように、表示画面５ａの所定位置に表示された３次元鳥瞰波形画像は、設定入力手段１５の操作により上下左右に回転可能とされている。そして、３次元鳥瞰波形画像内の異物までの寸法が計測可能となっている。
【００６０】
なお、上記被検査物Ｗの３次元鳥瞰波形画像の表示において、設定入力手段１５の操作により画像上の指定箇所が設定されると、その部分の３次元鳥瞰波形画像が拡大表示される。
【００６１】
このように、本例のＸ線異物検出装置及び画像表示方法によれば、被検査物ＷのＸ線透過データに基づく画像として、従来のコントラスト差による２次元平面画像のみではなく、被検査物Ｗの流れ方向と略直交する１ラインの断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像を選択的に表示するので、これらの画像を参考にして被検査物の品種や異物の種類に応じた最適な検出リミット値に設定することが可能となる。
【００６２】
また、図４（ｂ）に示すような表示を行った場合、現在の被検査物Ｗの影響値（例えばＸ線透過データの最大値、平均値など）を目視で確認することができる。例えば画像停止時には、停止画像内部での最大値が表示器５の表示画面５ｂに表示されるので、画面上に表示される検出リミット値を見比べて異物混入による異常か他の要因によるものかを確認でき、被検査物Ｗの品種や異物の種類に応じて適切な検出リミットを容易に設定することができる。
【００６３】
さらに、図４（ｃ）に示すような表示を行った場合には、被検査物Ｗの外形や異物がどの位置にあるかを立体的に把握でき、表示器５の表示画面５ａに表示される３次元鳥瞰波形を上下左右に回転させることができる。
【００６４】
また、上述した上記の３種類の画像表示に加え、２次元波形画像や３次元鳥瞰波形画像において異物を検出リミット値毎に色分け表示できるので、異物判定を行うための検出リミット値を設定する上で参考にすることができる。
【００６５】
そして、上述した３種類の画像表示、断面波形画像表示時の検出リミット値および波形データ内の最大値の表示、２次元波形画像や３次元鳥瞰波形画像表示時の異物の色分け表示により、被検査物の状態を総合的に判断して被検査物の品種や異物の種類に応じて最適な検出リミット値を設定することができる。これにより、本来検出されるべき異物の見落としを低減でき、より精密な異物検査を行うことができる。
【００６６】
ところで、本例のＸ線異物検出装置１では、２次元平面画像、断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像の組み合わせによる表示が可能となっている。従って、図６に示すように、２次元平面画像、断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像による３種類の画像を同時に表示器５に表示した場合には、１つの画面で被検査物の状態を多角的に認識することができ、３種類の画像を参考にしてより適切なリミット値に設定することができる。
【００６７】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、被検査物の品種や異物の種類に応じて異物混入の有無を判定するための検出リミット値を適切な値に容易に設定することができる。
【００６８】
また、被検査物の２次元平面画像、１ラインの断面波形画像、３次元鳥瞰波形画像の３種類の画像を表示画面上に同時に表示すれば、１つの画面で被検査物の状態を多角的に認識することができ、３種類の画像を参考にしてより適切なリミット値に設定することができる。
【００６９】
さらに、被検査物の断面波形画像を表示するときに、その表示画面内に検出リミット値や波形データ内の最大値を同時に表示したり、被検査物の２次元平面画像又は３次元鳥瞰波形画像を表示するときに、被検査物に混入される異物部分を色分け表示することにより、さらに被検査物の状態を多角的に認識することができ、被検査物の品種や異物の種類に応じた最適なリミット値に設定することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＸ線異物検出装置の外観を示す斜視図
【図２】本発明によるＸ線異物検出装置の電気的構成を示すブロック図
【図３】本発明によるＸ線異物検出装置による運転開始当初の検査結果の表示例を示す図
【図４】（ａ）〜（ｃ）　本発明によるＸ線異物検出装置による各種画像データに基づく表示例を示す図
【図５】本発明によるＸ線異物検出装置の処理手順を示すフローチャート
【図６】本発明によるＸ線異物検出装置において３種類の画像データを同時に表示した状態を示す図
【図７】従来のＸ線異物検出装置の概略構成を示す部分斜視図
【符号の説明】
１…Ｘ線異物検出装置、５…表示器、１４…処理手段、１６…記憶手段、１７…データ処理判別手段、１８…画像データ作成手段、１９…表示制御手段、Ｗ…被検査物、Ｇ…異物。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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