(57)【要約】【課題】レーザ光源の出射パワーが変化しても、正確に光ディスク上のゴミやディフェクトを検出する欠陥検出装置を提供すること。【解決手段】光ディスク１０１上の欠陥を反射光より検出する欠陥検出部１０２と、レーザ光源１００の出射パワーを最適な値に調整するパワー調整部１０４とを備え、欠陥検出部１０２はパワー調整部１０４の調整結果に応じて決定されるしきい値と反射光に応じた値とを比較することにより、光ディスク１０１上の欠陥をレーザパワーが変化しても検出できる。【選択図】　図１
2004109026.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源で発生した光ビームによって情報信号を情報媒体に記録再生を行う際に、前記情報媒体に記録または再生不能な欠陥を検出する装置であって、
前記レーザ光源の出射パワーを最適な値に調整するパワー調整手段と、
前記パワー調整手段で調整した前記レーザ光源の出射パワーに応じて決定されるしきい値と、前記光ビームが前記情報媒体の情報層で反射した反射光に応じた値とを比較し、前記情報層上に存在する欠陥を検出する欠陥検出手段とを備えることを特徴とする欠陥検出装置。
【請求項２】
欠陥検出手段は、所定のレーザパワーの範囲から選択した出射パワーに応じてしきい値を決定することを特徴とする請求項１記載の欠陥検出装置。
【請求項３】
欠陥検出手段は、パワー調整手段で調整した出射パワーの平均値に応じてしきい値を決定することを特徴とする請求項１または２何れかに記載の欠陥検出装置。
【請求項４】
パワー調整手段で調整する出射パワーは複数のパワーレベルで構成され、欠陥検出手段は前記複数のパワーレベルを所定比率で加算した値に応じてしきい値を決定することを特徴とする請求項１または２何れかに記載の欠陥検出装置。
【請求項５】
パワー調整手段で調整する出射パワーは複数のパワーレベルで構成され、欠陥検出手段は前記複数のパワーレベルの内最大のパワーレベルに応じてしきい値を決定することを特徴とする請求項１または２何れかに記載の欠陥検出装置。
【請求項６】
パワー調整手段で調整する出射パワーは複数のパワーレベルで構成され、欠陥検出手段は前記複数のパワーレベルの内消去用に利用される消去パワーレベルに応じてしきい値を決定することを特徴とする請求項１または２何れかに記載の欠陥検出装置。
【請求項７】
レーザ光源で発生した光ビームによって情報信号を情報媒体に記録再生を行う際に、前記情報媒体に記録または再生不能な欠陥を検出する装置であって、
前記レーザ光源の出射パワーを最適な値に調整するパワー調整手段と、
前記パワー調整手段で調整した前記レーザ光源の出射パワーに応じて決定される増幅率により、前記光ビームが前記情報媒体の情報層で反射した反射光に応じた信号を増幅して増幅反射光量信号を生成し、前記増幅反射光量信号に応じた値と所定のしきい値とを比較する欠陥検出手段とを備えることを特徴とする欠陥検出装置。
【請求項８】
欠陥検出手段は、所定のレーザパワー範囲から選択した出射パワーに応じて増幅率を決定することを特徴とする請求項７記載の欠陥検出装置。
【請求項９】
欠陥検出手段は、パワー調整手段で調整した出射パワーの平均値に応じて増幅率を決定することを特徴とする請求項７または８何れかに記載の欠陥検出装置。
【請求項１０】
パワー調整手段で調整する出射パワーは複数のパワーレベルで構成され、欠陥検出手段は前記複数のパワーレベルを所定比率で加算した値に応じて増幅率を決定することを特徴とする請求項７または８何れかに記載の欠陥検出装置。
【請求項１１】
パワー調整手段で調整する出射パワーは複数のパワーレベルで構成され、欠陥検出手段は前記複数のパワーレベルの内最大のパワーレベルに応じて増幅率を決定することを特徴とする請求項７または８何れかに記載の欠陥検出装置。
【請求項１２】
パワー調整手段で調整する出射パワーは複数のパワーレベルで構成され、欠陥検出手段は前記複数のパワーレベルの内消去用に利用される消去パワーレベルに応じて増幅率を決定することを特徴とする請求項７または８何れかに記載の欠陥検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体レーザ等のレーザ光を用いて情報媒体に情報信号の記録や再生を行う記録再生装置に適用される欠陥検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、情報媒体（以下、光ディスクと称する）にレーザ光を用いて情報を記録する際に、光ディスクからの反射光を用いて光ディスク上の光スポットと所望のトラックとの位置ずれを検出し、その検出信号に応じて対物レンズを駆動することにより、光スポットが所望のトラック上を走査するようにトラッキング制御が行われる。
【０００３】
しかし、光ディスク上にゴミの付着や情報層にディフェクト（以下、欠陥と総称する）が存在すると、光ディスクから正確な反射光が得られず、正確なトラッキング制御が困難となる。トラッキング制御に不具合が発生すると、記録すべき領域外にレーザ光が照射されるという不都合が生じる場合がある。
【０００４】
これを避けるため、従来、反射光の変化から光ディスクの欠陥を検出する方法が用いられている。これは、光ディスク上に欠陥が存在すると、反射光量が低下する現象を利用する方法である。すなわち、光ディスクからの反射光の大きさを所定のしきい値と比較することにより、光ディスク上の欠陥を検出する。
【０００５】
しかし、光ディスクに情報を記録する場合、レーザ光源の最適な出射パワーが光ディスクの温度等に依存するため、レーザ光源の出射パワーは適時最適な値に調整する必要がある。一方、レーザ光源の出射パワーが変化すると、光ディスクからの反射光の大きさも変化する。このため、光ディスクからの反射光の大きさを所定のしきい値と比較し、光ディスク上の欠陥を検出するという従来の構成では、光ディスク上の欠陥を正確に検出することができないことがわかった。
【０００６】
この課題に対して、レーザ光を光学系を介して光ディスク上に構成された情報トラックに照射し、この情報トラックからの反射光を光検出器に受光して記録トラックの欠陥を検査するようにし、情報トラックからの平均反射光を検出する手段と平均反射光に応じて情報トラックの欠陥を検出する手段を制御する検出制御手段を設け光ディスク上の欠陥を検出する技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。この技術を用いれば、反射光の平均値をしきい値として反射光の変化を検出しているため、反射光の大きさが変化した場合でも、反射光の大きさにかかわらず光ディスク上の欠陥を検出することができる。
【０００７】
【特許文献１】
特開昭６０−１０７７４９号公報（第３頁右下欄第１５行〜第４頁右上欄第１行、第３図）
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上記のような構成では、平均反射光により光ディスク上の欠陥を検出しているため、例えば再生状態から記録状態への移行直後に光ディスクに欠陥が存在する場合には当該欠陥の検出が困難であり、トラッキング制御に悪影響を与え、記録すべき領域以外に光ビームが照射されるという、再生時から記録時に切り替わる場合等、レーザ光源の出射パワーの急激な変化に対応できず、光ディスク上の欠陥の検出に不都合が生じる場合があった。
【０００９】
本発明は上記の問題点に鑑み、レーザ光源の出射パワーが変化しても、正確に光ディスク上の欠陥を検出可能な装置を提供するものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記問題点を解決するために本発明の欠陥検出装置は、レーザ光源で発生した光ビームによって情報信号を情報媒体に記録再生を行う際に、前記情報媒体に記録または再生不能な欠陥を検出する装置であって、前記レーザ光源の出射パワーを最適な値に調整するパワー調整手段と、前記パワー調整手段で調整した前記レーザ光源の出射パワーに応じて決定されるしきい値と、前記光ビームが前記情報媒体の情報層で反射した反射光に応じた値とを比較し、前記情報層上に存在する欠陥を検出する欠陥検出手段とを備える構成としたものである。
【００１１】
このように構成することにより、レーザ光源の出射パワーが変化しても、正確に情報媒体の情報層上のゴミやディフェクト等の欠陥を検出できる。
【００１２】
また、上記問題点を解決するために本発明の欠陥検出手段は、所定のレーザパワー範囲から選択した出射パワーに応じてしきい値を決定する、パワー調整手段で調整した出射パワーの平均値に応じてしきい値を決定する、出射パワーが選択決定される複数のパワーレベルを所定比率で加算した値に応じてしきい値を決定する、出射パワーが選択決定される複数のパワーレベルの内最大のパワーレベルに応じてしきい値を決定する、出射パワーが選択決定される複数のパワーレベルの内消去用に利用される消去パワーレベルに応じてしきい値を決定するの何れかの構成を採用すると、欠陥検出手段の構成を簡略化できるため好ましい。
【００１３】
さらに、上記問題点を解決するために本発明の欠陥検出装置は、レーザ光源で発生した光ビームによって情報信号を情報媒体に記録再生を行う際に、前記情報媒体に記録または再生不能な欠陥を検出する装置であって、前記レーザ光源の出射パワーを最適な値に調整するパワー調整手段と、前記パワー調整手段で調整した前記レーザ光源の出射パワーに応じて決定される増幅率を、前記光ビームが前記情報媒体の情報層で反射した反射光に応じた信号を増幅して増幅反射光量信号を生成し、前記増幅反射光量信号に応じた値と所定のしきい値とを比較する欠陥検出手段とを備える構成としたものである。
【００１４】
このように構成することにより、レーザ光源の出射パワーが変化しても、正確に情報媒体の情報層上のゴミやディフェクト等の欠陥を検出できる。
【００１５】
また、上記問題点を解決するために本発明の欠陥検出手段は、所定のレーザパワー範囲から選択した出射パワーに応じて増幅率を決定する、パワー調整手段で調整した出射パワーの平均値に応じて増幅率を決定する、出射パワーが選択決定される複数のパワーレベルを所定比率で加算した値に応じて増幅率を決定する、出射パワーが選択決定される複数のパワーレベルの内最大のパワーレベルに応じて増幅率を決定する、出射パワーが選択決定される複数のパワーレベルの内消去用に利用される消去パワーレベルに応じて増幅率を決定するの何れかの構成を採用すると、欠陥検出手段の構成を簡略化できるため好ましい。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態について、相変化型光ディスクを例に挙げ、図面を参照しながら詳述する。なお、以下述べる実施の形態では相変化型ディスクを例に挙げているため、レーザパワーが複数のレベルを有するものとして取り扱うが、単一のレーザパワーであっても、またはアナログ的なレーザパワーであっても本発明の技術思想は同様に活かされる。
【００１７】
（実施の形態１）
図１は、実施の形態１の本発明の欠陥検出装置の一実施例の構成図である。図１において、レーザ光源１００から光ディスク１０１の情報層に照射した光ビームは当該情報層で反射され、反射光を光検出器１０２で検出する。トラッキング誤差検出部１０６では、複数に分割された光検出素子を備える光検出器１０２からの検出信号を用いて、光ディスク１０１上の光ビームと情報層が形成されているトラックとの位置ずれに応じたトラッキング誤差信号ＴＥを出力する。
【００１８】
ホールド部１０９では、トラッキング誤差検出部１０６のトラッキング誤差信号ＴＥと後述のホールド信号ＢＤＯ１とを入力して、ホールド信号ＢＤＯ１に応じてトラッキング誤差信号ＴＥのホールド処理を行った後、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥを出力する。具体的には、ホールド信号ＢＤＯ１が”Ｌ”（ここで”Ｌ”は、電圧の低位レベルを表す）の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとして、トラッキング誤差信号ＴＥを出力し、ホールド信号ＢＤＯ１が”Ｈ”（ここで”Ｈ”は、電圧の高位レベルを表す）の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとして、零信号を出力する。制御処理部１１０では、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥを入力し、位相進み補償処理を行った後、トラッキング駆動信号ＴＲＤとして出力する。トラッキング駆動部１１１では、トラッキング駆動信号ＴＲＤに応じた電力をトラッキングアクチュエータ１１２に供給し、トラッキングアクチュエータ１１２内の対物レンズを駆動することにより、トラッキング制御を行う。
【００１９】
すなわち、光検出器１０２、トラッキング誤差検出部１０６、ホールド部１０９、制御処理部１１０、トラッキング駆動部１１１、及びトラッキングアクチュエータ１１２でトラッキング制御部が構成され、光ディスク１０１上の光ビームが所望のトラックを走査するようにトラッキング制御が行われる。
【００２０】
図１の再生信号検出部（以下、ＲＦ信号検出部と称す）１０３では、光検出器１０２の複数個の光検出素子からの検出信号を入力し、光ディスク１０１上に記録された情報に対応した再生信号ＲＦを出力する。パワー調整部１０４では、ＲＦ信号検出部１０３の再生信号ＲＦを入力し、再生信号ＲＦが最適になるように半導体レーザ等のレーザ光源１００の出射パワー指令ＬＤを出力する。具体的には、あらかじめ定められたレーザ光源１００の出射パワー指令ＬＤで光ディスク１０１に記録が行われた信号を再生し、再生信号ＲＦが最適になる記録時のレーザ光源１００の出射パワー指令ＬＤを求める（最適とは記録データの再現性であるが、簡単のために、ここでは再生信号ＲＦのジッタが最小になることを最適とする）。
【００２１】
図２にレーザ光源の出射パワー指令ＬＤの一例を示す。図２において、横軸は時間を表し、図の上側に光ディスク１０１上の記録マークの様子を示し、図の下側に記録マークに応じたレーザ光源１００の出射パワー指令ＬＤの出力パターンを表す。図２では、レーザ光源１００の出射パワー指令ＬＤは、Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の４つの出射パワーレベルで構成されている。ここで、出射パワーレベルＰ１は、レーザ光源の出射パワーの最大値であり、出射パワーレベルＰ２は、マーク消去用の出射パワーレベルである。また、出射パワーレベルＰ３とＰ４とは、記録マークの形状が所望の形状になるようにパワーレベルが決定される。一般に、出射パワー指令ＬＤの値が最適値に対して小さい場合、光ディスク１０１上にマークが形成できないという不具合となり、出射パワー指令ＬＤの値が最適値に対して大きい場合、隣接トラックの情報に悪影響を与えるという不具合となる。さらに、この最適値は光ディスク１０１の温度にも依存して変化する。
【００２２】
図１のパワー調整部１０４では、出射パワー指令ＬＤの平均値を４つの出射パワーの重みつき加算で求め、平均出射パワーＬＤＰとして出力している。すなわち平均出射パワーＬＤＰは、ＬＤＰ＝Ｋ１×Ｐ１＋Ｋ２×Ｐ２＋Ｋ３×Ｐ３＋Ｋ４×Ｐ４として求める。ここで係数Ｋ１，Ｋ２，Ｋ３，Ｋ４は正の実数であり、出射パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の出射時間割合に応じた値となっている。なお、入力データにランダム性は少ない場合でも、光ディスク１０１に記録する記録データはＥＣＣ処理等でランダムに近い状態となるため、少なくとも記録データはランダム信号と做せ、平均出射パワーを求めることに妥当性がある。また、パワー調整部１０４は、パワー調整手段を構成し、図１のレーザ駆動部１０５では、出射パワー指令ＬＤの値に応じてレーザ光源１００を駆動する。
【００２３】
図１のＡＳ信号検出部１０７では、光検出器１０２で検出した複数個の検出信号の和（すなわち、全反射信号）を入力して、光ディスク１０１からの反射光の大きさに比例した大きさのＡＳ信号を出力する。ＢＤＯ検出部１０８では、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号と、パワー調整部１０４の平均出射パワーＬＤＰの値に係数ＫＣ１を乗算して得られる比較値ＬＤＣ１とを比較し、ＡＳ信号が比較値ＬＤＣ１より大きい場合は、ホールド信号ＢＤＯ１として”Ｌ”の信号を出力し、ＡＳ信号が比較値ＬＤＣ１より大きくない場合は、ホールド信号ＢＤＯ１として”Ｈ”の信号を出力する。ここでＡＳ信号と比較値ＬＤＣ１とが等しい場合は、ホールド信号ＢＤＯ１は”Ｌ”でも”Ｈ”でも適宜選択できるが、一般的には”Ｈ”を選択する。また、係数ＫＣ１は、光ディスク１０１上に欠陥のない場合に、ＢＤＯ検出部１０８のホールド信号ＢＤＯ１が、”Ｌ”になるように決定している。また、ＢＤＯ検出部１０８のホールド信号ＢＤＯ１は、トラッキング制御部のホールド部１０９に入力する。なお、ＢＤＯ検出部１０８は欠陥検出手段を構成し、比較値ＬＤＣ１はしきい値を示している。
【００２４】
以上、光検出器１０２、トラッキング誤差検出部１０６、ホールド部１０９、制御処理部１１０、トラッキング駆動部１１１、及びトラッキングアクチュエータ１１２でトラッキング制御部が構成され、さらに、ＲＦ信号検出部１０３、パワー調整部１０４（パワー調整手段）、レーザ駆動部１０５、ＡＳ信号検出部１０７、及びＢＤＯ検出部１０８（欠陥検出手段）を含んで記録再生装置が構成されている。
【００２５】
このように構成することにより、レーザ光源１００の出射パワーが変化しても正確に光ディスク１０１上の欠陥の検出が可能となる。以下このことについて詳しく説明する。
【００２６】
図３は、レーザ光源１００の出射パワーが変化した時のＡＳ信号、比較値ＬＤＣ１、及びホールド信号ＢＤＯ１の波形を示す。横軸は時間を表す。図３では、レーザパワーとして出射パワーの平均値に相当する信号を示し、レーザパワーはタイミングＴでレベルＡからレベルＢに変化している。レーザ光源の出射パワーが変化すると、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号は光ディスク１０１からの反射光の大きさに応じて変化するため、レーザパワーの変化に応じてＡＳ信号も変化する。
【００２７】
図３において、レーザパワーが低いレベルＡにおけるタイミングＴ１、及びレーザパワーが高いレベルＢにおけるタイミングＴ２で、光ディスク１０１上に欠陥が存在した時の様子を示す。まず、タイミングＴ１で光ディスク１０１上に欠陥が存在すると、光ディスク１０１からの反射光の量が低下するため、反射光の大きさに応じて変化するＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号も信号値が低下する。ＡＳ信号の値がＢＤＯ検出部１０８の比較値ＬＤＣ１より低下すると、ホールド信号ＢＤＯ１が出力される。ここで、レーザ光源の出射パワーが変化する前の光ディスク１０１上の欠陥検出精度については従来と同様である。
【００２８】
つぎに、タイミングＴ２で光ディスク１０１上に欠陥が存在した時の動作について説明する。タイミングＴ以降では、レーザパワーはレベルＡからレベルＢに変化している。このため、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号もレーザパワーの変化に応じて値が変化している。このとき、光ディスク１０１上に欠陥が存在すると、光ディスク１０１からの反射光の量が低下するため、反射光の大きさに応じて変化するＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号も信号値が低下する。しかしＢＤＯ検出部１０８の比較値ＬＤＣ１は、レーザ光源の出射パワーに比例した値としているため、図３に示すようにタイミングＴで出射パワーに応じて変化している。これにより、ＢＤＯ検出部１０８において、ＡＳ信号の値と比較値ＬＤＣ１と比較することにより、ホールド信号ＢＤＯ１の生成が可能となる。仮に、ＢＤＯ検出部１０８の比較値ＬＤＣ１をレーザ光源の出射パワーの大きさ応じて変化させない（図３の比較値ＬＤＣ１の破線部Ｅに相当）構成の場合には、光ディスク１０１上の欠陥検出精度は非常に低下する。
【００２９】
以上、本実施の形態の欠陥検出装置は、レーザ光源の出射パワーが変化する場合でも、精度良く光ディスク１０１上に欠陥を検出することができる。
【００３０】
さらに、本実施の形態では、ＢＤＯ検出部１０８のホールド信号ＢＤＯ１により、トラッキング制御部のホールド部１０９でサーボトラッキング信号ＳＴＥを零ホールドしている。これにより、本実施の形態の欠陥検出装置は、レーザ光源の出射パワーに変化があり、光ディスク１０１上に欠陥が存在る場合でも、安定なトラッキング制御が実現できる。
【００３１】
なお、本実施の形態では、ＢＤＯ検出部の比較値ＬＤＣ１を平均出射パワーＬＤＰに係数ＫＣ１を乗算したものとしたが、比較値ＬＤＣ１を平均出射パワーＬＤＰの値に応じてテーブル値を参照して得るようにしても良く、こられ改良も、本発明に含まれる。
【００３２】
また、本実施の形態では、パワー調整部の平均出射パワーの算出において、係数Ｋ１，Ｋ２，Ｋ３，Ｋ４を出射パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の出射時間割合に応じた値としたが、平均出射パワーに応じた量が算出できる係数であれば、他の係数で良く、こられ改良も、本発明に含まれる。
【００３３】
（実施の形態２）
図４は、本発明の欠陥検出装置の他の実施例の構成図である。図４において、光検出器１０２、トラッキング誤差検出部１０６、制御処理部１１０、トラッキング駆動部１１１、トラッキングアクチュエータ１１２、ＲＦ信号検出部１０３、レーザ駆動部１０５、及びＡＳ信号検出部１０７は、それぞれ実施の形態１と同じであり説明を省略する。
【００３４】
図４に示す本実施の形態の欠陥検出装置のホールド部４０９では、トラッキング誤差検出部１０６のトラッキング誤差信号ＴＥと、後述のホールド信号ＢＤＯ２とを入力し、ホールド信号ＢＤＯ２に応じてトラッキング誤差信号ＴＥのホールド処理を行った後、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥを出力する。具体的には、ホールド信号ＢＤＯ２が”Ｌ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとしてトラッキング誤差信号ＴＥを出力し、ホールド信号ＢＤＯ２が”Ｈ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとして零信号を出力する。
【００３５】
本実施の形態の欠陥検出装置のパワー調整部４０４では、実施の形態１と同様に、ＲＦ信号検出部１０３の再生信号ＲＦを入力し、再生信号ＲＦが最適になるようにレーザ光源の出射パワー指令ＬＤを出力する。
【００３６】
さらに、図４のパワー調整部４０４、出射パワー指令ＬＤの４つの出射パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の内、最大のパワーレベルである出射パワーレベルＰ１を出力する。ここで、パワー調整部４０４は、パワー調整手段を構成している。
【００３７】
ＢＤＯ検出部４０８では、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号と、パワー調整部４０４の出射パワーレベルＰ１の値に係数ＫＣ２を乗算して得られる比較値ＬＤＣ２とを比較し、ＡＳ信号が比較値ＬＤＣ２より大きい場合は、ホールド信号ＢＤＯ２として”Ｌ”の信号を出力し、ＡＳ信号が比較値ＬＤＣ２より大きくない場合は、ホールド信号ＢＤＯ２として”Ｈ”の信号を出力する。ここでＡＳ信号と比較値ＬＤＣ２とが等しい場合は、ホールド信号ＢＤＯ２は”Ｌ”でも”Ｈ”でも適宜選択できるが、一般的には”Ｈ”を選択する。また、係数ＫＣ２は、光ディスク１０１上に欠陥等のない場合に、ＢＤＯ検出部４０８のホールド信号ＢＤＯ２が”Ｌ”になるように決定している。また、ＢＤＯ検出部４０８のホールド信号ＢＤＯ２は、トラッキング制御部のホールド部４０９に入力されている。ここで、ＢＤＯ検出部４０８は、欠陥検出手段を構成している。
【００３８】
このように構成することにより、本実施の形態でも実施の形態１と同様に、レーザ光源の出射パワーが変化しても正確に光ディスク１０１上の欠陥検出が可能となる。
【００３９】
また、実施の形態１と同様、レーザ光源の出射パワーに変化があり、光ディスク１０１上に欠陥が存在る場合でも、安定なトラッキング制御が実現できる。
【００４０】
さらに、本実施の形態では、ＢＤＯ検出部４０８の動作により、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号と、パワー調整部４０４の出射パワーレベルＰ１の値に係数ＫＣ２を乗算して得られる比較値ＬＤＣ２とを比較し、ホールド信号ＢＤＯ２を生成している。これにより、パワー調整手段の構成が実施の形態１の構成より簡単となる。すなわち、レーザ光源の出射パワー指令ＬＤは、出射パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の複数個の出射パワーレベルより構成されるが、その大きさは、出射パワーの最大値である出射パワーレベルＰ１によりほぼ決定される。これにより、実施の形態１の構成にある平均出射パワーＬＤＰを求める動作が不要となり、パワー調整手段の簡素化が可能となる。
【００４１】
（実施の形態３）
図５は、本発明の欠陥検出装置の別の実施の形態を示す構成図である。図５において、光検出器１０２、トラッキング誤差検出部１０６、制御処理部１１０、トラッキング駆動部１１１、トラッキングアクチュエータ１１２、ＲＦ信号検出部１０３、レーザ駆動部１０５、及びＡＳ信号検出部１０７は実施の形態１と同じであり説明を省略する。
【００４２】
本実施の形態のホールド部５０９では、トラッキング誤差検出部１０６のトラッキング誤差信号ＴＥと、後述のホールド信号ＢＤＯ３とを入力し、ホールド信号ＢＤＯ３に応じてトラッキング誤差信号ＴＥのホールド処理を行った後、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥを出力する。具体的には、ホールド信号ＢＤＯ３が”Ｌ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとしてトラッキング誤差信号ＴＥを出力し、ホールド信号ＢＤＯ３が”Ｈ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとして零信号を出力する。
【００４３】
本実施の形態のパワー調整部５０４では、実施の形態１と同様に、ＲＦ信号検出部１０３の再生信号ＲＦを入力し、再生信号ＲＦが最適になるようにレーザ光源の出射パワー指令ＬＤを出力する。
【００４４】
さらに、図５のパワー調整部５０４、出射パワー指令ＬＤの４つの出射パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の内、消去用のパワーレベルである出射パワーレベルＰ２を出力する。ここで、パワー調整部５０４は、パワー調整手段を構成している。
【００４５】
ＢＤＯ検出部５０８では、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号と、パワー調整部５０４の出射パワーＰ２の値に係数ＫＣ３を乗算して得られる比較値ＬＤＣ３とを比較し、ＡＳ信号が比較値ＬＤＣ３より大きい場合は、ホールド信号ＢＤＯ３として”Ｌ”の信号を出力し、ＡＳ信号が比較値ＬＤＣ３より大きくない場合は、ホールド信号ＢＤＯ３として”Ｈ”の信号を出力する。ここでＡＳ信号と比較値ＬＤＣ３とが等しい場合は、ホールド信号ＢＤＯ３は”Ｌ”でも”Ｈ”でも適宜選択できるが、一般的には”Ｈ”を選択する。また、係数ＫＣ３は、光ディスク１０１上に欠陥等のない場合に、ＢＤＯ検出部５０８のホールド信号ＢＤＯ３が、”Ｌ”になるように決定している。また、ＢＤＯ検出部５０８のホールド信号ＢＤＯ３は、トラッキング制御部のホールド部５０９に入力されている。ここで、ＢＤＯ検出部４０８は、欠陥検出手段を構成している。
【００４６】
このように構成することにより、レーザ光源の出射パワーが変化しても正確に光ディスク１０１上の欠陥検出が可能となることは、実施の形態１と同様である。
【００４７】
また、実施の形態１と同様、レーザ光源の出射パワーに変化があり、光ディスク１０１上に欠陥が存在る場合でも、安定なトラッキング制御が実現できる。
【００４８】
さらに実施の形態３では、ＢＤＯ検出部５０８の動作により、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号とパワー調整部５０４の出射パワーレベルＰ２の値に係数ＫＣ３を乗算して得られる比較値ＬＤＣ３とを比較し、ホールド信号ＢＤＯ３を生成している。これにより、構成の簡素が可能となる。
【００４９】
すなわち、レーザ光源の出射パワー指令ＬＤは、出射パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の複数個の出射パワーレベルより構成されるが、信号消去用のパワーレベルである出射パワーレベルＰ２は、他のパワーレベルに比べて比較的長く出力されるパワーレベルである。このため、出射パワーレベルＰ２に応じて欠陥を検出することも可能となる。このように、出射パワーレベルＰ２を利用することにより、実施の形態１の構成にある平均出射パワーＬＤＰを求める動作が不要となり、システムの簡素化が図れる。
【００５０】
（実施の形態４）
図６は、本発明の欠陥検出装置の他の実施の形態の要部構成を示すブロック図であり、光検出器１０２、トラッキング誤差検出部１０６、制御処理部１１０、トラッキング駆動部１１１、トラッキングアクチュエータ１１２、ＲＦ信号検出部１０３、レーザ駆動部１０５、及びＡＳ信号検出部１０７は実施の形態１と同じであり説明を省略する。図６で異なる点は、ホールド部６０９、パワー調整部６０４及びＢＤＯ検出部６０８である。
【００５１】
本実施の形態のホールド部６０９では、トラッキング誤差検出部１０６のトラッキング誤差信号ＴＥと後述のホールド信号ＢＤＯ４とを入力し、ホールド信号ＢＤＯ４に応じてトラッキング誤差信号ＴＥのホールド処理を行った後、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥを出力する。具体的には、ホールド信号ＢＤＯ４が”Ｌ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとしてトラッキング誤差信号ＴＥを出力し、ホールド信号ＢＤＯ４が”Ｈ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとして零信号を出力する。
【００５２】
また、本実施の形態のパワー調整部６０４は、実施の形態１のパワー調整部１０４と同じ構成である。すなわち、実施の形態１と同様に、ＲＦ信号検出部１０３の再生信号ＲＦを入力し、再生信号ＲＦが最適になるようにレーザ光源の出射パワー指令ＬＤを出力し、出射パワー指令ＬＤの平均値を４つの出射パワーの重みつき加算で求め、平均出射パワーＬＤＰとして出力する。平均出射パワーＬＤＰは、ＬＤＰ＝Ｋ１×Ｐ１＋Ｋ２×Ｐ２＋Ｋ３×Ｐ３＋Ｋ４×Ｐ４として求められ、Ｋ１，Ｋ２，Ｋ３，Ｋ４は正の実数であり、出射パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の出射時間割合に応じた値となっている。
【００５３】
図６のＢＤＯ検出部６０８は、増幅器６０８ａと比較器６０８ｂとで構成されている。増幅器６０８ａには、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号と、ＡＳ信号及びパワー調整部６０４の平均出射パワーＬＤＰとが入力され、ＡＳ信号は平均出射パワーＬＤＰにより制御される増幅率（本実施の形態では、平均出射パワーＬＤＰが大きくなれば、増幅値は小さくなるように制御される）で増幅され、ＡＳＭ信号（ＡＳＭ４）として出力される。すなわち、ＡＳＭ４は増幅反射光量信号に対応する。
【００５４】
ＢＤＯ検出部６０８の比較器６０８ｂには、ＡＳＭ４が入力され、ＡＳＭ４は所定のしきい値Ｒと比較され、ＡＳＭ４が所定のしきい値Ｒより大きい場合は、ホールド信号ＢＤＯ４に”Ｌ”の信号を出力し、ＡＳＭ４が所定のしきい値Ｒより大きくない場合は、ホールド信号ＢＤＯ４に”Ｈ”の信号を出力する。ここでＡＳＭ信号と所定のしきい値Ｒとが等しい場合は、ホールド信号ＢＤＯ４は”Ｌ”でも”Ｈ”でも適宜選択できるが、一般的には”Ｈ”を選択する。また、所定のしきい値Ｒは、光ディスク１０１上に欠陥等のない場合に、ＢＤＯ検出部６０８のホールド信号ＢＤＯ４が”Ｌ”になるように決定している。また、ＢＤＯ検出部６０８のホールド信号ＢＤＯ４は、トラッキング制御部のホールド部６０９に入力されている。ここで、ＢＤＯ検出部６０８は、欠陥検出手段を構成している。
【００５５】
このように構成することにより、レーザ光源の出射パワーが変化しても正確に光ディスク１０１上の欠陥検出が可能となる。以下このことについて、図７を参照して詳しく説明する。
【００５６】
図７は、レーザ光源の出射パワーが変化した時のＡＳ信号とＡＳＭ信号と所定のしきい値Ｒとホールド信号ＢＤＯ４との波形を示す。横軸は時間を表す。図７では、レーザパワーとして出射パワーの平均値に相当する信号を示し、レーザパワーはタイミングＴでレベルＡからレベルＢに変化している。レーザ光源の出射パワーが変化すると、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号は光ディスク１０１からの反射光の大きさに応じて変化するため、レーザパワーの変化に応じてＡＳ信号も変化する。
【００５７】
しかし、ＢＤＯ検出部６０８の増幅器６０８ａのＡＳＭ信号のＡＳＭ４は、パワー調整部６０４の平均出射パワーＬＤＰに応じた増幅率でＡＳ信号を増幅した信号であるため、タイミングＴでのレベルの変化はほとんど生じない。つまり、タイミングＴでのレーザパワーの変化は、平均出射パワーＬＤＰの変化とほぼ等価である。また、ＢＤＯ検出部６０８の増幅器６０８ａでは、平均出射パワーＬＤＰが大きくなると増幅率が小さくなるように構成しているため、レーザパワーの増加により増加したＡＳ信号レベルは減少し、増幅器６０８ａの出力信号であるＡＳＭ信号は、レーザパワーの増加の影響をほとんど受けない。これにより、タイミングＴでのＡＳＭ信号のレベルの変化はほとんどなくなる。
【００５８】
図７において、タイミングＴ２において、光ディスク１０１上に欠陥が存在した時の動作について説明する。タイミングＴ以降では、レーザパワーはレベルＡからレベルＢに変化している。このため、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号もレーザパワーの変化に応じて値が変化している。しかし、増幅器６０８ａの動作によりＡＳＭ信号はほとんど変化しない。このため、ＢＤＯ検出部６０８の比較器６０８ｂにより、ＡＳＭ信号を所定のしきい値Ｒと比較するだけで精度良く光ディスク１０１上の欠陥を検出することができる。
【００５９】
このように構成することにより、本実施の形態におけるレーザ光源の出射パワーが変化しても正確に光ディスク１０１上の欠陥検出が可能となることは、実施の形態１と同様である。また、実施の形態１と同様、レーザ光源の出射パワーに変化があり、光ディスク１０１上に欠陥が存在る場合でも、安定なトラッキング制御が実現できる。
【００６０】
さらに、本実施の形態では、ＢＤＯ検出部６０８の増幅器６０８ａの動作により、ＡＳ信号からレーザパワー変化によるレベル変動を取り除いたＡＳＭ信号を作成し、比較器６０８ｂによりＡＳＭ信号と所定のしきい値Ｒと比較することにより、ホールド信号ＢＤＯ４を検出している。このように構成することにより、レーザパワーが大きいときの比較器６０８ｂの入力信号の飽和やレーザパワーが小さいときの比較器６０８ｂの入力信号の雑音余裕度の低下が防止でき、信頼性の高いオールド信号ＢＤＯ４が検出できる。
【００６１】
なお、本実施の形態では、ＢＤＯ検出部の増幅器の増幅率を平均出射パワーＬＤＰが大きくなれば、増幅値は小さくなるように構成したが、増幅率はこの動作に限定されるものではなく、平均出射パワーＬＤＰに応じて増幅率が離散的に変化しても良く、こられ改良も、本発明に含まれる。
【００６２】
（実施の形態５）
図８に、本発明の欠陥検出装置の別の実施の形態の要部構成図を示す。図８において、光検出器１０２、トラッキング誤差検出部１０６、制御処理部１１０、トラッキング駆動部１１１、トラッキングアクチュエータ１１２、ＲＦ信号検出部１０３、レーザ駆動部１０５、及びＡＳ信号検出部１０７は実施の形態１と同じであり説明を省略する。図８で異なる点は、ホールド部８０９、パワー調整部８０４、及びＢＤＯ検出部８０８であり、以下説明する。
【００６３】
本実施の形態のホールド部８０９では、トラッキング誤差検出部１０６のトラッキング誤差信号ＴＥと、後述のホールド信号ＢＤＯ５とを入力し、ホールド信号ＢＤＯ５に応じて、トラッキング誤差信号ＴＥのホールド処理を行った後、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥを出力する。具体的には、ホールド信号ＢＤＯ５が”Ｌ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとしてトラッキング誤差信号ＴＥを出力し、ホールド信号ＢＤＯ５が”Ｈ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとして零信号を出力する。
【００６４】
また、本実施の形態のパワー調整部８０４では、実施の形態２と同様に、ＲＦ信号検出部１０３の再生信号ＲＦを入力し、再生信号ＲＦが最適になるようにレーザ光源の出射パワー指令ＬＤを出力する。さらに、パワー調整部８０４は、出射パワー指令ＬＤの４つの出射パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の内、最大のパワーレベルである出射パワーレベルＰ１を出力する。ここで、パワー調整部８０４は、パワー調整手段を構成している。
【００６５】
本実施の形態のＢＤＯ検出部８０８は、増幅器８０８ａと比較器８０８ｂとで構成されている。増幅器８０８ａには、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号と、パワー調整部８０４の出射パワーレベルＰ１とが入力され、ＡＳ信号は出射パワーレベルＰ１により制御される増幅率（本実施の形態では、出射パワーレベルＰ１が大きくなれば、増幅値は小さくなるように制御される）で増幅され、ＡＳＭ信号（ＡＳＭ５）として出力される。すなわち、ＡＳＭ５は増幅反射光量信号に対応する。
【００６６】
ＢＤＯ検出部８０８の比較器８０８ｂには、ＡＳＭ５が入力され、比較器８０８ｂでＡＳＭ５は所定のしきい値Ｒと比較され、ＡＳＭ５が所定のしきい値Ｒより大きい場合は、ホールド信号ＢＤＯ５として”Ｌ”の信号を出力し、ＡＳＭ５が所定のしきい値Ｒより大きくない場合は、ホールド信号ＢＤＯ５として”Ｈ”の信号を出力する。ここでＡＳＭ信号と所定のしきい値Ｒとが等しい場合は、ホールド信号ＢＤＯ５は”Ｌ”でも”Ｈ”でも適宜選択できるが、一般的には”Ｈ”を選択する。また、所定のしきい値Ｒは、光ディスク１０１上に欠陥等のない場合に、ＢＤＯ検出部８０８のホールド信号ＢＤＯ５が”Ｌ”になるように決定している。また、ＢＤＯ検出部８０８のホールド信号ＢＤＯ５は、トラッキング制御部のホールド部８０９に入力されている。ここで、ＢＤＯ検出部８０８は、欠陥検出手段を構成している。
【００６７】
このように構成することにより、本実施の形態においても、レーザ光源の出射パワーが変化しても正確に光ディスク１０１上の欠陥検出が可能となることは、実施の形態１と同様である。また、実施の形態１と同様、レーザ光源の出射パワーに変化があり、光ディスク１０１上に欠陥が存在る場合でも、安定なトラッキング制御が実現できる。
【００６８】
さらに、本実施の形態では、ＢＤＯ検出部４０８の動作により、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号とパワー調整部４０４の出射パワーレベルＰ１とを利用し、ＢＤＯ検出部６０８の増幅器６０８ａの動作により、ＡＳ信号からレーザパワー変化によるレベル変動を取り除いたＡＳＭ５を作成し、比較器６０８ｂによりＡＳＭ５と所定のしきい値Ｒとを比較することにより、ホールド信号ＢＤＯ４を検出している。このように構成することにより、レーザパワーが大きいときの比較器６０８ｂの入力信号の飽和やレーザパワーが小さいときの比較器６０８ｂの入力信号の雑音余裕度の低下が防止でき、信頼性の高いオールド信号ＢＤＯ４が検出でき、パワー調整手段の構成が実施の形態１の構成より簡単となると共に、パワー調整部の簡素化と、ＢＤＯ検出部の高精度化を両方満たす構成となる。
【００６９】
（実施の形態６）
図９は、本発明の欠陥検出装置の別の実施の形態を示す要部構成図で、光検出器１０２、トラッキング誤差検出部１０６、制御処理部１１０、トラッキング駆動部１１１、トラッキングアクチュエータ１１２、ＲＦ信号検出部１０３、レーザ駆動部１０５、及びＡＳ信号検出部１０７は実施の形態１と同じであり説明を省略する。本実施の形態で異なる点は、ホールド部９０９、パワー調整部９０４及びＢＤＯ検出部９０８であり、以下説明する。
【００７０】
本実施の形態のホールド部９０９では、トラッキング誤差検出部１０６のトラッキング誤差信号ＴＥと、後述のホールド信号ＢＤＯ６とを入力し、ホールド信号ＢＤＯ６に応じて、トラッキング誤差信号ＴＥのホールド処理を行った後、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥを出力する。具体的には、ホールド信号ＢＤＯ６が”Ｌ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとしてトラッキング誤差信号ＴＥを出力し、ホールド信号ＢＤＯ６が”Ｈ”の時、サーボトラッキング誤差信号ＳＴＥとして零信号を出力する。
【００７１】
また、本実施の形態のパワー調整部９０４では、実施の形態３と同様に、ＲＦ信号検出部１０３の再生信号ＲＦを入力し、再生信号ＲＦが最適になるようにレーザ光源の出射パワー指令ＬＤを出力する。
【００７２】
さらに、本実施の形態のパワー調整部９０４、出射パワー指令ＬＤの４つの出射パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の内、消去用のパワーレベルである出射パワーレベルＰ２を出力する。すなわち、パワー調整部９０４はパワー調整手段を構成している。
【００７３】
本実施の形態のＢＤＯ検出部９０８は、増幅器９０８ａと比較器９０８ｂとで構成されている。増幅器９０８ａには、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号とパワー調整部９０４の出射パワーレベルＰ２とが入力され、ＡＳ信号は出射パワーレベルＰ２により制御される増幅率（本実施の形態では、出射パワーレベルＰ２が大きくなれば、増幅値は小さくなるように制御される）で増幅され、ＡＳＭ信号（ＡＳＭ６）として出力される。すなわち、ＡＳＭ６は増幅反射光量信号に対応する。
【００７４】
ＢＤＯ検出部９０８の比較器９０８ｂには、ＡＳＭ６が入力され、比較器９０８ｂでＡＳＭ６は所定のしきい値Ｒと比較され、ＡＳＭ６が所定のしきい値Ｒより大きい場合は、ホールド信号ＢＤＯ６として”Ｌ”の信号を出力し、ＡＳＭ６が所定のしきい値Ｒより大きくない場合は、ホールド信号ＢＤＯ６として”Ｈ”の信号を出力する。ここでＡＳＭ信号と所定のしきい値Ｒとが等しい場合は、ホールド信号ＢＤＯ６は”Ｌ”でも”Ｈ”でも適宜選択できるが、一般的には”Ｈ”を選択する。また、所定のしきい値Ｒは、光ディスク１０１上に欠陥等のない場合に、ＢＤＯ検出部９０８のホールド信号ＢＤＯ６が”Ｌ”になるように決定している。また、ＢＤＯ検出部９０８のホールド信号ＢＤＯ６は、トラッキング制御部のホールド部９０９に入力されている。ここで、ＢＤＯ検出部９０８は、欠陥検出手段を構成している。
【００７５】
このように構成することにより、本実施の形態でも、レーザ光源の出射パワーが変化しても正確に光ディスク１０１上の欠陥検出が可能となることは、実施の形態１と同様である。また、実施の形態１と同様、レーザ光源の出射パワーに変化があり、光ディスク１０１上に欠陥が存在る場合でも、安定なトラッキング制御が実現できる。
【００７６】
さらに本実施の形態では、ＢＤＯ検出部４０８の動作により、ＡＳ信号検出部１０７のＡＳ信号とパワー調整部９０４の出射パワーレベルＰ２とを利用し、ＢＤＯ検出部９０８の増幅器９０８ａの動作により、ＡＳ信号からレーザパワー変化によるレベル変動を取り除いたＡＳＭ信号を作成し、比較器９０８ｂによりＡＳＭ信号と所定のしきい値Ｒとを比較することにより、ホールド信号ＢＤＯ６を検出している。このように構成することにより、レーザパワーが大きいときの比較器９０８ｂの入力信号の飽和やレーザパワーが小さいときの比較器９０８ｂの入力信号の雑音余裕度の低下が防止でき、信頼性の高いオールド信号ＢＤＯ６が検出でき、パワー調整手段の構成が実施の形態１の構成より簡単となると共に、パワー調整部の簡素化と、ＢＤＯ検出部の高精度化を両方満たす構成となる。
【００７７】
なお、実施の形態１から実施の形態６では、ＢＤＯ検出部とパワー調整部を個別の機能部としたが、光検出器の出力信号をデジタル信号に変換して、ＢＤＯ検出部とパワー調整部と等価な処理をマイクロプロセッサ等の演算器で処理させることも可能であり、こられ改良も、本発明に含まれる。
【００７８】
また、実施の形態１から実施の形態６では、パワー調整部のレーザ光源の出射パワー指令の出力パワーは図２に示したパターンに限定されるものではなく、より多くのレベルを持つパターンやより少ないレベルを持つパターン、さらに、連続的に変化するパターンへの改良も容易であり、こられ改良も、本発明に含まれる。
【００７９】
さらに、実施の形態１から実施の形態６では、ＢＤＯ検出部により光ディスク上の欠陥を検出するようにしたが、ＢＤＯ検出部の検出対象はこれに限るものではない。実施の形態１から実施の形態６の光ディスク装置を用いれば、光ディスクの反射面を加工することにより反射率を変更して情報を記録した光ディスクから情報を再生することも可能であり、このような応用を行っても、本発明に含まれることは言うまでもない。
【００８０】
また、実施の形態１から実施の形態６を用いて、光ディスクの反射面を加工することにより反射率を変更して情報を記録した光ディスクから情報を再生する動作を行えば、欠陥検出の事前動作確認が可能となり、この事前動作確認の結果に応じて、パワー調整部やＢＤＯ検出部の諸係数・諸定数を決定すれば、光ディスク上の欠陥検出の信頼性が飛躍的に向上する。このような改良を行っても、本発明に含まれることは言うまでもない。
【００８１】
また、実施の形態１から実施の形態６では、トラッキング誤差検出部とホールド部と制御処理部とＲＦ信号検出部とパワー調整部とＡＳ信号検出部とＢＤＯ検出部を個別の構成としたが、これらと同等の機能をマイクロプロセッサやシーケンサなどで実現し、少なくとも２つ以上のブロックを１つの半導体回路に集積することも可能であり、このような変更を行っても、本発明に含まれることは言うまでもない。
【００８２】
【発明の効果】
以上のように本発明の光ディスク装置は、パワー調整部とＢＤＯ検出部の動作により、レーザ光源の出射パワーが変化しても、正確に光ディスク上の欠陥検出することが可能となる。特に、本発明の構成では、レーザのパワー指令に応じて欠陥検出動作を変更しているために、レーザパワーの急激な変化に対しても精度良く検出することができる。光ディスク上の欠陥検出結果を用いれば、フォーカスまたはトラッキング制御の制御動作を停止するなどの動作が可能となり、光ディスク装置の動作安定性が飛躍的に向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の構成図
【図２】同実施の形態におけるレーザ光源の出射パワー指令の一例を示す図
【図３】同実施の形態における動作を説明する図
【図４】本発明の他の実施の形態の構成図
【図５】本発明の別の実施の形態の構成図
【図６】本発明の他の実施の形態におけるパワー調整部とＢＤＯ検出部とホールド部の構成図
【図７】同実施の形態におけるパワー調整部とＢＤＯ検出部とホールド部の動作を説明する図
【図８】本発明の別の実施の形態におけるパワー調整部とＢＤＯ検出部とホールド部の構成図
【図９】本発明の他の実施の形態におけるパワー調整部とＢＤＯ検出部とホールド部の構成図
【符号の説明】
１００　レーザ光源
１０１　光ディスク
１０２　光検出器
１０３　ＲＦ信号検出部
１０４　パワー調整部
１０５　レーザ駆動部
１０６　トラッキング誤差検出部
１０７　ＡＳ信号検出部
１０８　ＢＤＯ検出部
１０９　ホールド部
１１０　制御処理部
１１１　駆動部
１１２　トラッキングアクチュエータ
【図１】
2004109026.tif 000003
【図２】
2004109026.tif 000004
【図３】
2004109026.tif 000005
【図４】
2004109026.tif 000006
【図５】
2004109026.tif 000007
【図６】
2004109026.tif 000008
【図７】
2004109026.tif 000009
【図８】
2004109026.tif 000010
【図９】
2004109026.tif 000011