(57)【要約】      （修正有）【課題】第１の期間Ｗ１、使用したガスメータの遮断弁４４のうち、次の第２の期間Ｗ２、再使用しても、動作電圧Ｖが規格電圧範囲内になる累積確率を、予め定める基準累積確率未満に小さく抑えるための選別。【解決手段】遮断弁４４は、圧力スイッチ２１によって異常状態が検出されると、制御手段４５からの制御電圧が与えられて閉止状態となる。第１期間Ｗ１使用した全数Ｎの遮断弁の動作電圧Ｖ１のうち、予め定める選別電圧Ｖ２Ｌａｓ以上またはＶ２Ｈａｓ未満である遮断弁を選別して、再使用する。選別電圧を設定するために、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁に、第２期間Ｗ２の促進劣化試験を行い、この動作電圧Ｖ２を測定する。複数種類の各選択電圧毎に、動作電圧Ｖ２が、所定電圧範囲である累積確率を演算する。この累積確率のうち、第１累積確率未満であって、その第１累積確率に最も近似した値に対応する設定電圧を、選別電圧として設定する。【選択図】      図２
2004156965.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
使用の経年変化によって動作電圧Ｖが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する遮断弁であって、未使用の複数の遮断弁を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
前記遮断弁の第１動作電圧Ｖ１を測定し、
前記遮断弁のうち、測定された前記第１動作電圧Ｖ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内で第１規格範囲Ｒ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１期間Ｗ１の次に続く第２期間Ｗ２、使用するために選別する遮断弁の選別方法であって、
第１期間Ｗ１使用後の遮断弁の第１動作電圧Ｖ１が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第１累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第１下限累積確率ｑ１Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第１上限累積確率ｑ１Ｈとし、
第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記第２下限累積確率ｑ２Ｌが前記第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しい値となるように、かつ前記第２上限累積確率ｑ２Ｈが前記第１上限累積確率ｑ１Ｈとほぼ等しい値となるように、再使用されるべき遮断弁が選ばれることを特徴とする再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項２】
第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁から複数個選択された各遮断弁について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１動作電圧Ｖ１１ｉおよび遮断弁を第２期間Ｗ２再使用した場合の動作電圧に相当する第２動作電圧Ｖ２１ｉを用いて演算して、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする請求項１記載の再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項３】
前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の動作電圧を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
その特定した分布関数を用いて第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）を算出し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）および複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
前記の仮定した下限選別基準Ｖ２Ｌａｒと前記の仮定した上限選別基準Ｖ２Ｈａｒとを、任意に組合わせて複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｋの自然数）とし、
複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各遮断弁の第１動作電圧Ｖ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない遮断弁の動作電圧データを除いた動作電圧Ｖ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
前記第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）に最も近似した前記下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるような前記仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする請求項２記載の再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項４】
使用の経年変化によって動作電圧Ｖが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する遮断弁であって、未使用の複数の遮断弁を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
前記遮断弁の第１動作電圧Ｖ１を測定し、
前記遮断弁のうち、測定された前記第１動作電圧Ｖ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内で第１規格範囲Ｒ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１の期間Ｗ１の次に続く第２の期間Ｗ２、使用するために選別する遮断弁の選別方法であって、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａと前記記載の第２下限累積確率ｑ２Ｌとを比較し、前記許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａと前記記載の第２上限累積確率ｑ２Ｈとを、比較し、
前記第２下限および上限累積確率ｑ２Ｌ，ｑ２Ｈが前記許容下限および上限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下となるように（ｑ２Ｌ≦ｑ０Ｌａ，ｑ２Ｈ≦ｑ０Ｈａ）再使用されるべき遮断弁が選ばれることを特徴とする再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項５】
第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁から複数個選択された各遮断弁について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１動作電圧Ｖ１１ｉ、および遮断弁を第１期間Ｗ１使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の動作電圧に相当する第２動作電圧Ｖ２１ｉを用いて演算し、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする請求項４記載の再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項６】
前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の動作電圧を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）および複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
前記の仮定した下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）と前記の仮定した上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）とを、任意に組合わせて複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｋの自然数）とし、
複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各遮断弁の第１動作電圧Ｖ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない遮断弁の動作電圧データを除いた動作電圧Ｖ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
許容下限および上限の各規格外出現累積確率（ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ）以下である前記下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるように（ｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａ，ｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａ）、前記仮定の第２の規格範囲Ｒ２（ｒ３）を前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする請求項５記載の再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項７】
遮断弁を第１期間Ｗ１の使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の動作電圧に相当する前記動作電圧Ｖ２１ｉは、
第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁から複数個選択された各遮断弁について、第２期間Ｗ２未満の期間で第２期間Ｗ２の使用による特性の劣化と等価またはそれ以上の劣化をさせる促進劣化試験を、それぞれ行い、促進劣化試験後の各遮断弁について測定した動作電圧Ｖ２２ｉ、または
第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁についてさらに第２期間Ｗ２使用し、第２期間Ｗ２使用後の遮断弁について測定した動作電圧Ｖ２３ｉであることを特徴とする請求項２、請求項３、請求項５または請求項６のいずれか記載の再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項８】
前記促進劣化試験は、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、
促進劣化試験後の各遮断弁について動作電圧Ｖ２２ｉの測定を行い、
それらの全データを用いて演算を行い、前記第２の規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする請求項７記載の再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項９】
促進劣化試験後に測定した全データの動作電圧Ｖ２２ｉを用いて行う場合に、
各試験項目の重要度に応じて、各試験項目のデータに重み付けをした上で、前記の演算を行うことを特徴とする請求項８記載の再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項１０】
前記促進劣化試験は、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、
促進劣化試験後の各遮断弁について動作電圧Ｖ２２ｉの測定を行い、
各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎にデータの演算を行い、各試験項目毎に第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）を演算し、こうして演算した各試験項目毎の第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の下限値の最大値を、前記第２の規格範囲Ｒ２の下限値とし、演算した各試験項目毎の第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の上限値の最小値を、前記第２の規格範囲Ｒ２の上限値として設定することを特徴とする請求項７記載の再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項１１】
前記促進劣化試験において、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の各試験に供する検体である遮断弁の個数を各試験項目の重要度に応じて各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に増加または減少させることを特徴とする請求項８から請求項１０のいずれか記載の再使用可能な遮断弁の選別方法。
【請求項１２】
前記再使用可能な遮断弁の選別方法により選別された遮断弁は、
ガスメータに内蔵された遮断弁であり、
前記請求項１〜１１による方法のいずれかの方法で選別された遮断弁を使用したガスメータ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、たとえば、長期間にわたって使用されるガスメータに備えられている遮断弁のうち、さらに次の長期間にわたって再使用することができる遮断弁を、選別するための再使用可能な遮断弁の選別方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ガスメータに備えられる遮断弁は、各種センサによって、ガスメータの下流側の都市ガスなどのガスの供給状態に何らかの異常が認められた場合、制御手段により遮断するために用いられる。遮断弁の開弁状態から閉止状態に変化する動作電圧が、たとえば予め定める上限値よりも高すぎると、制御手段からの制御信号によって正常に動作できず、開いたままになり、ガスが漏洩して、大きな事故を発生するおそれがある。また、動作電圧が予め定める下限値よりも低すぎると、衝撃によって誤遮断が発生するおそれがあり、利便性を損なうおそれがある。したがって遮断弁の動作電圧の上限値と下限値とは、予め定める設計規格の範囲内に確実に存在しなければならない。
【０００３】
先行技術では、たとえば１０年の検定満期後のガスメータ、およびその期間の途中で取換えられたガスメータを回収し、これらのガスメータに搭載されている計量部の膜、機構部品などを、資源の有効利用、コスト削減の観点から、再使用しているが、前述の動作電圧が設計規格の範囲内に確実に存在していなければならないことが厳格に要求される遮断弁は、取外されて全て廃棄され、新たな遮断弁と交換されて、ガスメータが再使用される。ガスメータの回収後、遮断弁の廃棄される理由は、遮断弁が再使用可能かどうかの選別方法が従来では、明確ではなく、再使用された遮断弁の故障率が増加することが危惧されるからである。
【０００４】
他の先行技術は、都市ガスガバナの２次圧を２分間隔で検出し、１週間前などの過去に検出した値と比較して差を求め、その差が、判定基準値以上となる頻度が、統計学上の正常の範囲を出たら、異常と判断する構成を開示する（特許文献１）。この先行技術は、１個体の機器である都市ガスガバナの異常性判断に統計処理を用い、この統計処理を行うデータベースは、１個体の性能の検出回数を増やすことで、確保している。したがってこの先行技術は、たとえば使用環境がほぼ同じである多数の部品の全体にわたる再使用性の選別基準を決定する技術を、全く開示していない。
【０００５】
【特許文献１】
特開平５−１９６５３２
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、一旦使用された後に回収された遮断弁の選別を行って、次に続く期間、正常な動作を行って再使用することができる遮断弁を選別するための再使用可能な遮断弁の選別方法を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、使用の経年変化によって動作電圧Ｖが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する遮断弁であって、未使用の複数の遮断弁を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
前記遮断弁の第１動作電圧Ｖ１を測定し、
前記遮断弁のうち、測定された前記第１動作電圧Ｖ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内で第１規格範囲Ｒ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１期間Ｗ１の次に続く第２期間Ｗ２、使用するために選別する遮断弁の選別方法であって、
第１期間Ｗ１使用後の遮断弁の第１動作電圧Ｖ１が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第１累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第１下限累積確率ｑ１Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第１上限累積確率ｑ１Ｈとし、
第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記第２下限累積確率ｑ２Ｌが前記第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しい値となるように、かつ前記第２上限累積確率ｑ２Ｈが前記第１上限累積確率ｑ１Ｈとほぼ等しい値となるように、再使用されるべき遮断弁が選ばれることを特徴とする再使用可能な遮断弁の選別方法である。
【０００８】
また本発明は、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁から複数個選択された各遮断弁について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１動作電圧Ｖ１１ｉおよび遮断弁を第２期間Ｗ２再使用した場合の動作電圧に相当する第２動作電圧Ｖ２１ｉを用いて演算して、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする。
【０００９】
また本発明は、前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の動作電圧を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
その特定した分布関数を用いて第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）を算出し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）および複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
前記の仮定した下限選別基準Ｖ２Ｌａｒと前記の仮定した上限選別基準Ｖ２Ｈａｒとを、任意に組合わせて複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｋの自然数）とし、
複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各遮断弁の第１動作電圧Ｖ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない遮断弁の動作電圧データを除いた動作電圧Ｖ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
前記第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）に最も近似した前記下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるような前記仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする。
【００１０】
遮断弁４４の一例を、述べる。遮断弁は、コイルが非励磁で、永久磁石片の磁力によって弁体をばねのばね力に抗して弁座から離間し、こうして開弁状態に保たれる。電池などの電源によるコイルの励磁によって、永久磁石片による弁体の磁気吸着状態を解除し、ばねのばね力によって弁体を弁座に着座させて閉止状態とする。再使用可能な遮断弁の選別を行うために、第１の期間Ｗ１の使用後の遮断弁が開弁状態から閉止状態に変化するために必要な動作電圧を、次の第２の期間Ｗ２の使用のために設定する。
【００１１】
本発明に従えば、流体、たとえば都市ガスなどのガスの流量を計測するガスメータに、遮断弁が内蔵され、圧力スイッチ、感震器などのセンサによって監視されているガス供給状態が異常になることによって、電子回路である制御手段からの制御信号が遮断弁に与えられ、この制御信号の電圧が、典型的には、たとえば設計規格値ＶＴである動作電圧未満になったとき、遮断弁が開いている状態から閉じる。これによって下流側のガスの供給が継続することが防がれ、安全を確保することができる。未使用の各遮断弁が閉じる動作電圧は、第１規格範囲Ｒ１である規格電圧下限値の電圧Ｖ０Ｌａ（たとえば０．５Ｖ）〜規格電圧上限値の電圧Ｖ０Ｈａ（たとえば１．２Ｖ）内に存在することが望まれる。未使用の遮断弁は、製造工場における製造直後の遮断弁の動作電圧が、予め定める規格範囲にあるかどうかの規格検査を行い、この規格検査に合格した遮断弁を、未使用の遮断弁と言うことにする。さらに後述の説明において第１期間Ｗ１の使用後および促進劣化試験後の遮断弁は、規格範囲から大きく外れた動作電圧を有する遮断弁を、予め除外して、統計処理を施すものとする。
【００１２】
第１規格範囲Ｒ１の規格電圧下限値Ｖ０Ｌａ未満の初期累積確率はｑ０Ｌである。すなわち未使用の遮断弁が、第１規格範囲Ｒ１の規格電圧下限値Ｖ０Ｌａに関して、規格外に存在する初期累積確率は、ｑ０Ｌであって、たとえば後述のようにｑ０Ｌ＝１０−１４である。この初期累積確率ｑ０Ｌは、予め定める基準累積確率ｑ０Ｌａ（後述のようにたとえばｑ０Ｌａ＝１０−１０）未満である。このような規格電圧下限値Ｖ０Ｌａは、たとえば第１および第２の期間Ｗ１，Ｗ２などの長期間にわたって使用されることによって経年変化して低下する値に選ばれ、安全性が確保される。
【００１３】
規格電圧上限値Ｖ０Ｈａを超える初期累積確率は、ｑ０Ｈである。この初期累積確率ｑ０Ｈは、予め定める基準累積確率ｑ０Ｈａ未満である。後述の説明では、主として第１規格電圧下限値Ｖ０Ｌａに関連して行われるが、第１規格電圧上限値Ｖ０Ｈａに関しても同様である。
【００１４】
たとえば１０年などの予め定める第１の期間Ｗ１、ガスメータ、したがって遮断弁が使用され、この検定満期後のガスメータを回収して、そのガスメータに搭載されている遮断弁を取外し、本発明に従って選別を行う。この選別の結果得られた遮断弁を、次の１０年などの第２の期間Ｗ２（たとえばＷ１＝Ｗ２でもよいが、Ｗ１＜Ｗ２またはＷ１＞Ｗ２でもよい）、再使用する。
【００１５】
このような第２の期間Ｗ２、再使用された遮断弁は、第１期間Ｗ１の検定満期後（略称、検満後）の遮断弁と同様に、動作電圧Ｖ３の下限値が、第１規格電圧下限値Ｖ０Ｌａ以上の第１規格範囲Ｒ１の規格内に存在することが望まれる。そのためには、第１期間Ｗ１の使用後に第１規格範囲Ｒ１の規格外になる遮断弁の第１下限累積確率をｑ１Ｌとし、第１期間Ｗ１の使用後の選別された遮断弁をさらに次の第２期間Ｗ２、使用した後の第１規格範囲Ｒ１の規格外になる第２下限累積確率をｑ２Ｌとするとき、第１および第２下限累積確率ｑ１Ｌ，ｑ２Ｌは、ほぼ等しい値であるように、選別を行う。
【００１６】
また同様にして、第１期間Ｗ１使用後の遮断弁の第１動作電圧Ｖ１が、第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第１上限累積確率ｑ１Ｈとし、この第１期間Ｗ１使用された遮断弁を、さらに第２期間Ｗ２使用した後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２が、第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、第２上限累積確率ｑ２Ｈが第１上限累積確率ｑ１Ｈとほぼ等しい値となるように、選別を行う。こうして第２下限累積確率ｑ２Ｌが第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しい値となるように、かつ第２上限累積確率ｑ２Ｈが第１上限累積確率ｑ１Ｈとほぼ等しい値となるように、再使用されるべき遮断弁が、第１期間Ｗ１使用後の遮断弁のうちから、選別される。こうして第１および第２期間Ｗ１，Ｗ２のいずれにもわたって使用される遮断弁は、全期間（＝Ｗ１＋Ｗ２）内で正常な動作を行う。
【００１７】
このようにして、一旦使用されて回収された遮断弁を、従来のように全て廃棄するのではなく、本発明では、選別した遮断弁を、再使用し、これによって資源の有効利用、コスト削減が図られ、好ましい。
【００１８】
第１期間Ｗ１の使用による検定満期後に回収された遮断弁の第１動作電圧Ｖ１を測定し、この動作電圧Ｖ１が、第１規格範囲Ｒ１内であって、さらに狭い第２規格範囲Ｒ２内に存在する遮断弁だけを、次の第２期間Ｗ２において再使用するために選別する。第２規格範囲Ｒ２は、第１規格範囲Ｒ１と同一であってもよい。
【００１９】
この選別にあたっては、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁の第１動作電圧Ｖ１を統計処理し、動作電圧と、各動作電圧に対応する遮断弁の個数または累積個数との関係を表す最適な分布関数を特定する。こうして特定された分布関数を用いて、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁の比較的小さい値である第１下限累積確率ｑ１Ｌおよび第１上限累積確率ｑ１Ｈを正確に算出することができる。
【００２０】
第２の規格範囲Ｒ２を設定するために、仮定した下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）を複数ｍ種類設定し、また仮定した上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）を複数ｎ種類設定する。ｍ，ｎは自然数であって、等しくてもよいが、異なった値であってもよい。こうして設定した下限および上限の各選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１），Ｖ２Ｈａ（ｒ２）を組合せることによって、複数ｋ（＝ｍ×ｎ）種類の仮定の第２規格範囲を、仮に設定することができる。
【００２１】
こうして設定された仮定の第２規格範囲の複数ｋ種類の全部について、または複数ｋ未満の種類について、各仮定の第２規格範囲における前記分布関数を用いて下限および上限の各設定規格外累積確率を算出する。この仮定の第２規格範囲は、第１期間Ｗ１使用後の各遮断弁の第１動作電圧Ｖ１１ｉのうち、前記仮定の第２規格範囲の中に入っていない遮断弁の動作電圧データを除き、その仮定の第２規格範囲の中に入っている動作電圧Ｖ２１ｉのデータ群を母集団として算出される。前記分布関数の算出式から、下限設定規格外累積確率ｑ２Ｌａ（ｒ１）および上限設定規格外累積確率ｑ２Ｈａ（ｒ２）が算出されるので、正確な値ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）を求めることができる。
【００２２】
こうして得られた各仮定の第２規格範囲毎の下限および上限の各設定規格外累積確率のうち、下限設定規格外累積確率ｑ２Ｌａ（ｒ１）が第１下限累積確率ｑ１Ｌに最も近似し、かつ上限設定規格外累積確率ｑ２Ｈａ（ｒ２）が第１上限累積確率ｑ１Ｈに最も近似した前記仮定の第２規格範囲を、前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓ）とする。
【００２３】
また本発明は、使用の経年変化によって動作電圧Ｖが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する遮断弁であって、未使用の複数の遮断弁を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
前記遮断弁の第１動作電圧Ｖ１を測定し、
前記遮断弁のうち、測定された前記第１動作電圧Ｖ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内で第１規格範囲Ｒ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１の期間Ｗ１の次に続く第２の期間Ｗ２、使用するために選別する遮断弁の選別方法であって、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａと前記記載の第２下限累積確率ｑ２Ｌとを比較し、前記許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａと前記記載の第２上限累積確率ｑ２Ｈとを、比較し、
前記第２下限および上限累積確率ｑ２Ｌ，ｑ２Ｈが前記許容下限および上限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下となるように（ｑ２Ｌ≦ｑ０Ｌａ，ｑ２Ｈ≦ｑ０Ｈａ）再使用されるべき遮断弁が選ばれることを特徴とする再使用可能な遮断弁の選別方法である。
【００２４】
また本発明は、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁から複数個選択された各遮断弁について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１動作電圧Ｖ１１ｉ、および遮断弁を第１期間Ｗ１使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の動作電圧に相当する第２動作電圧Ｖ２１ｉを用いて演算し、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする。
【００２５】
また本発明は、前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の動作電圧を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）および複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
前記の仮定した下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）と前記の仮定した上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）とを、任意に組合わせて複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｋの自然数）とし、
複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各遮断弁の第１動作電圧Ｖ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない遮断弁の動作電圧データを除いた動作電圧Ｖ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
許容下限および上限の各規格外出現累積確率（ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ）以下である前記下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるように（ｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａ，ｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａ）、前記仮定の第２の規格範囲Ｒ２（ｒ３）を前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする。
【００２６】
本発明は、前述の発明に類似するが、特に本発明では、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２が第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる第２下限累積確率ｑ２Ｌが、前記許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ以下となるように（ｑ２Ｌ≦ｑ０Ｌａ）、かつ第２動作電圧Ｖ２が第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる第２上限累積確率ｑ２Ｈが、許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａ以下となるように（ｑ２Ｈ≦ｑ０Ｈａ）、第２規格範囲Ｒ２を設定して、再使用可能な遮断弁を選別する。
【００２７】
第２規格範囲Ｒ２は、実際の使用による第１および第２動作電圧Ｖ１１ｉ，Ｖ２１ｉを用いて演算して設定される。
【００２８】
本発明に従えば、前述の発明における特定した分布関数を用いて第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁の第１下限累積確率ｑ１Ｌおよび第１上限累積確率ｑ１Ｈを算出する代りに、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、ｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａ、およびｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａが成立するように、第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）を設定するようにしてもよい。
【００２９】
また本発明は、遮断弁を第１期間Ｗ１の使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の動作電圧に相当する前記動作電圧Ｖ２１ｉは、
第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁から複数個選択された各遮断弁について、第２期間Ｗ２未満の期間で第２期間Ｗ２の使用による特性の劣化と等価またはそれ以上の劣化をさせる促進劣化試験を、それぞれ行い、促進劣化試験後の各遮断弁について測定した動作電圧Ｖ２２ｉ、または
第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁についてさらに第２期間Ｗ２使用し、第２期間Ｗ２使用後の遮断弁について測定した動作電圧Ｖ２３ｉであることを特徴とする。
【００３０】
本発明に従えば、第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２１ｉというのは、第１期間Ｗ１使用後、促進劣化試験を行って得た各遮断弁の動作電圧Ｖ２２ｉであってもよく、または第１および第２期間Ｗ１，Ｗ２にわたって連続して使用した遮断弁の動作電圧Ｖ２３ｉであってもよい。
【００３１】
また本発明は、前記促進劣化試験は、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、
促進劣化試験後の各遮断弁について動作電圧Ｖ２２ｉの測定を行い、
それらの全データを用いて演算を行い、前記第２の規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする。
【００３２】
また本発明は、促進劣化試験後に測定した全データの電圧動作Ｖ２２ｉを用いて行う場合に、
各試験項目の重要度に応じて、各試験項目のデータに重み付けをした上で、前記の演算を行うことを特徴とする。
【００３３】
本発明に従えば、促進劣化試験は、複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、こうして各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に得られた動作電圧Ｖ２２ｉをそのまま用いてもよいが、これらの各試験項目の重要度に応じて、重み付けをして第２の規格範囲Ｒ２を設定するようにしてもよい。重み付けというのは、重要度が大きい試験項目についてのデータの個数を、１を超える予め定める係数を掛算するなどして、増加し、重要度が低い試験項目のデータの個数をそのまま、または１未満の予め定める係数を掛算するなどして減少することである。
【００３４】
また本発明は、前記促進劣化試験は、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、
促進劣化試験後の各遮断弁について動作電圧Ｖ２２ｉの測定を行い、
各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎にデータの演算を行い、各試験項目毎に第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）を演算し、こうして演算した各試験項目毎の第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の下限値の最大値を、前記第２の規格範囲Ｒ２の下限値とし、演算した各試験項目毎の第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の上限値の最小値を、前記第２の規格範囲Ｒ２の上限値として設定することを特徴とする。
【００３５】
本発明に従えば、複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の第２規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の下限値および上限値をそれぞれ求め、これらの複数ｄの下限値のうちの最大値を第２規格範囲Ｒ２の下限値として設定し、また複数ｄの上限値のうちの最小値を第２規格範囲Ｒ２の上限値として設定する。こうして第１期間Ｗ１使用後の遮断弁の第１動作電圧Ｖ１が第２規格範囲Ｒ２内に存在する遮断弁を用いることによって、第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２に関する第２下限累積確率ｑ２Ｌが第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しいかそれ未満となることが確実になり、また第２上限累積確率ｑ２Ｈが第１上限累積確率ｑ１Ｈとほぼ等しいかまたはそれ未満になることが確実になる。
【００３６】
また本発明は、前記促進劣化試験において、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の各試験に供する検体である遮断弁の個数を各試験項目の重要度に応じて各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に増加または減少させることを特徴とする。
【００３７】
本発明に従えば、促進劣化試験の複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の重要度が高いとき、検体である第１期間Ｗ１使用後の遮断弁の個数を増加し、重要度が低い試験項目の検体の個数を減少し、これによって適切な第２規格範囲Ｒ２を設定することが可能になる。
【００３８】
また本発明は、前記再使用可能な遮断弁の選別方法により選別された遮断弁は、
ガスメータに内蔵された遮断弁であり、
前記方法で選別された遮断弁を使用したガスメータである。
【００３９】
本発明に従えば、再使用される遮断弁は、ガスメータに内蔵された遮断弁であって、製造直後の未使用の遮断弁を内蔵したガスメータが、第１期間Ｗ１使用された後、そのガスメータから遮断弁が取出されて第２動作電圧Ｖ２が測定され、こうして測定された第２動作電圧Ｖ２が、第２規格範囲Ｒ２内にある遮断弁だけを、第２期間Ｗ２、再使用する。
【００４０】
【発明の実施の形態】
図１は、ガスメータ４１（後述の図５参照）に備えられる遮断弁４４を本発明の実施の一形態によって再使用するための評価方法を簡単に説明するための図である。遮断弁４４の開弁状態から閉止状態に変化する動作電圧Ｖは、各遮断弁４４毎に異なり、また使用の経年変化によって変化する。図１（１）〜図１（３）は、本発明の前提となる技術を説明するための遮断弁４４の動作電圧Ｖの確率の分布を示す。遮断弁４４の製造後、選別した後の未使用である遮断弁４４の、動作電圧Ｖの確率分布は、図１（１）のライン２２で示される。このような未使用の遮断弁４４の動作電圧Ｖ０が、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率ｑ０Ｌ，ｑ０Ｈは、図１（１）〜図１（３）における第１規格範囲Ｒ１から規格外になる面積であり、このことは図１（４）〜図１（６）でも同様であり、さらに図２でも同様である。累積確率ｑ０Ｌ，ｑ０Ｈは、ごく小さく、たとえば１０−１４以下である。
【００４１】
遮断弁４４の使用による劣化によって、第１規格範囲Ｒ１から規格外になる確率は、大きくなるように変化する。
【００４２】
遮断弁４４が図１（１）に示される動作電圧Ｖの確率分布のライン２２を有する特性を有する場合、第１期間Ｗ１、たとえば１０年、使用された後、その動作電圧の確率分布は、図１（２）に示されるように第１規格範囲Ｒ１から規格外になる確率が、図１（１）の未使用の遮断弁４４の確率に比べて、大きく変化する。
【００４３】
第１期間Ｗ１使用された遮断弁４４の全数ｕが、さらにその後の第２期間Ｗ２、たとえばさらに１０年使用され、こうして未使用の遮断弁４４が、第１および第２期間（＝Ｗ１＋Ｗ２）、たとえば合計２０年、使用されると、図１（３）に示されるように、その動作電圧の確率の分布は、ライン２８で示されるように、第１規格範囲Ｒ１から規格外に逸脱して第１規格範囲Ｒ１の規格外になる確率がもっと高まる。
【００４４】
図１（４）〜図１（６）は、本発明の実施の一形態を説明するための遮断弁４４の動作電圧Ｖの確率の分布を示す。本発明は、図１（１）〜図１（３）に示される技術の上述の問題を解決する。図１（４）に示される前述の図１（１）と同様な確率分布のライン２２の特性を有する未使用の遮断弁４４を、第１期間Ｗ１使用する。この使用によって、図１（２）と同様な図１（５）に示される第１動作電圧Ｖ１の確率の分布のライン２４を有する遮断弁４４のうち、予め定める第２の規格範囲Ｒ２内の動作電圧Ｖ１を有する遮断弁４４だけを選び出して、その後の第２期間Ｗ２、再使用する。こうして第１期間Ｗ１使用後の遮断弁４４のうち、第２規格範囲Ｒ２の規格内の遮断弁４４だけを選別して、第２期間Ｗ２、再利用する。こうして、第２期間Ｗ２使用後における遮断弁４４の第２動作電圧Ｖ２の確率の分布は、図１（６）に示されるライン２６のとおりであって、第１規格範囲Ｒ１の規格外になる確率を図１（５）のライン２４とほぼ同程度に低減することが可能になる。ここで第２動作電圧Ｖ２のうち、第１期間Ｗ１の使用後、さらに第２期間Ｗ２使用した動作電圧に相当する分布関数などから得られる動作電圧をＶ２１で示し、第１期間Ｗ１使用した遮断弁を第２期間Ｗ２と等価な促進劣化試験後に測定した動作電圧をＶ２２で示し、第１期間Ｗ１使用後の遮断弁をさらに第２期間Ｗ２使用し、その測定した動作電圧をＶ２３で示し、これらの各動作電圧Ｖ２１，Ｖ２２，Ｖ２３を総括的に動作電圧Ｖ２で示すことがある。
【００４５】
図２は、遮断弁４４の使用による動作電圧の確率の分布の特性を表すライン２２〜２８を拡大して示す図である。遮断弁４４が開弁状態から閉止状態に変化することを確実にして、安全を図るために特に、遮断弁４４の動作電圧Ｖが、第１規格範囲Ｒ１の規格外になることを防ぎ、設計規格の範囲Ｒ１内に確実に存在しなければならない。ライン２２で特性が示される未使用の遮断弁４４を、予め定める第１の期間Ｗ１、使用することによって、その動作電圧Ｖ１の確率は、ライン２４で示されるようになり、このとき第１規格範囲Ｒ１の規格外になる確率が、未使用の遮断弁４４のライン２２に比べて高くなる。この第１期間Ｗ１の使用後における検定満期後の回収（略称、検満回収）された遮断弁４４は、第１規格範囲Ｒ１の規格外では、実用上許容される予め定める許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ以下である累積確率ｑ１Ｌとなる。図１および図２の確率分布のグラフ中には、累積確率ｑを、理解の便宜のために、記入してある。このような第１期間Ｗ１の使用後の全数ｕの遮断弁４４を、そのまま、さらに次の後続する第２期間Ｗ２、再使用した場合、その第２期間Ｗ２後に回収された遮断弁４４の確率は、図１（３）のライン２８で示されるとおりとなり、規格範囲Ｒ１の規格外となる第２下限累積確率ｑ２Ｌは、第１下限累積確率ｑ１Ｌを超える値になってしまい、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａを超えることもある。
【００４６】
そこで本発明に従えば、第１期間Ｗ１の使用後の検定満期後の回収した遮断弁４４の第１動作電圧Ｖ１を測定し、この測定された第１動作電圧Ｖ１を、第２規格範囲Ｒ２の予め定める下限および上限の各選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓ、検満回収した遮断弁４４を選別する。こうして検満回収された合計Ｎ個の遮断弁４４のうち、第１動作電圧Ｖ１を選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓと比較することによって、第２規格範囲Ｒ２内に存在する選別されたｗ個（ｗ≦Ｎ）の遮断弁４４を、次の第２期間Ｗ２、使用したときに、第１規格範囲Ｒ１の規格外になる第２下限累積確率ｑ２Ｌを、第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しいかまたは未満とすることができる。また同様に第１規格範囲Ｒ１の規格外になる第２上限累積確率ｑ２Ｈを、第１上限累積確率ｑ１Ｈとほぼ等しいかまたは未満とすることができる。こうして検満回収した第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁４４の動作電圧Ｖ１を、第２規格範囲Ｒ２によって選別した後、さらに第２期間Ｗ２、使用することによって得られる確率の分布は、前述の図１（６）のライン２６であって、このライン２６は図２にも同様に示される。
【００４７】
下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓを、第１規格範囲Ｒ１において、許容下限の第１規格電圧Ｖ０Ｌａを超える充分に高い電圧に設定すれば、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁４４のうち、廃棄される数が増加し、その結果、省資源の観点から好ましくなく、またコスト削減が劣る。そこで本発明では、この選別電圧Ｖ２Ｌａｓを、規格電圧Ｖ０Ｌａ以上であって、規格電圧Ｖ０Ｌａに近似し、しかも第２期間Ｗ２の使用後の全数ｗの遮断弁４４の第２下限累積確率ｑ２Ｌが、検満回収後の遮断弁４４が第１規格範囲Ｒ１の規格外になる第１下限累積確率ｑ１Ｌに近似した値になるように、統計処理によって、設定する。本発明の実施の他の形態では第２下限累積確率ｑ２Ｌが許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ以下になるように設定してもよい。
【００４８】
第１期間Ｗ１の使用後の全数Ｎの遮断弁４４に、促進劣化試験をそれぞれ行った後における動作電圧Ｖ２の確率は、図２のライン２６と同様である。この促進劣化試験は、第２期間Ｗ２の使用による遮断弁４４の特性の劣化と等価な劣化を、第２期間Ｗ２未満の期間で促進して行う試験である。第１および第２期間Ｗ１，Ｗ２は、たとえば１０年であってもよい。促進劣化試験は、たとえば１日〜３カ月で達成することができる。
【００４９】
第２規格範囲Ｒ２は、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁４４を、その動作電圧Ｖ１に関して選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓによって選別し、その選別した遮断弁４４を第２期間ｗ２使用した後に得られる動作電圧Ｖ２の第２下限累積確率ｑ２Ｌが、前述の第１累積確率ｑ１Ｌに近似した値となる動作電圧Ｖ１の範囲である。すなわちこの第２規格範囲Ｒ２の選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓを適切に選ぶことによって、その累積確率ｑ２Ｌａｓが、ライン２４で示される第１期間Ｗ１の使用後の全数ｕの遮断弁４４の第１規格範囲Ｒ１に関する第１累積確率ｑ１Ｌに近似した値となる。
【００５０】
図３は遮断弁４４の閉止状態を示す断面図であり、図４は遮断弁４４の開弁状態を示す断面図である。遮断弁４４は、ガスメータ４１の入口４３と出口４６との間の流路４６の途中に介在される。この流路４６の途中には、弁孔５６を囲む弁座５７が形成される。弁座５７に図３に示されるように着座して閉止状態を達成する弁体５８には、ばね５９によって弁座５７に向けてばね力が与えられる。弁体５８に固定された強磁性材料、たとえば電磁ステンレス鋼などから成るプランジャ６１は、ヨーク６２のコイル６３を挿通する。ヨーク６２には、永久磁石片６４が固定され、この永久磁石片６４のプランジャ６１側に強磁性材料から成るコアピース６５が配置される。
【００５１】
ガスメータ４１の使用の平常時、図４に示されるようにプランジャ６１の遊端部は、ばね５９のばね力に抗してコアピース６５に永久磁石片６４の磁気吸引力によって吸着している。このとき弁体５８は弁座５７から離間し、開弁状態に保たれ、入口４３からの都市ガスは流路４６に流れて供給される。ガスメータ４１の下流側のガス漏れ発生時および地震発生時などの危険な異常状態が発生したとき、コイル６３に、制御信号の駆動電圧が与えられる。これによってコイル６３の磁力は、プランジャ６１の遊端部とコアピース６５との磁気吸引力を低下させ、弁体５８は、ばね５９のばね力によって、図３に示されるように弁座５７に着座し、閉止状態となる。
【００５２】
このような図３および図４に示される構成を有する遮断弁４４には、前述の第１および第２の各期間Ｗ１，Ｗ２である比較的長期間にわたる使用によっても、機能劣化要因となる部品が、ほとんどない。弁体５８が弾発性を有するゴムなどの材料から成る構成であっても、そのゴムの劣化の兆候は、本件発明者の実験によれば、みられない。したがって遮断弁４４を、長期間にわたって使用する可能性が高く、第１の期間Ｗ１の使用後、さらに次の第２の期間Ｗ２、再使用することによって資源の有効利用、コスト削減が図られることになる。
【００５３】
図５は遮断弁４４を備えるガスメータ４１の一部を切欠いて示す断面図であり、図６は図４に示されるガスメータ４１の構成を簡略化して示すブロック図である。メータ本体４２は、入口４３からのガスの流量を計測し、出口４６に導く。入口４３とメータ本体４２との間の流路４７の途中には、遮断弁４４が設けられ、さらにメータ本体４２の下流側に圧力スイッチ２１が設けられる。
【００５４】
圧力スイッチ２１は、正常なガス圧力の得られている状態では、ガスの圧力によって弾発的に変位するダイヤフラムが可動接点を固定接点から離間して、オフのスイッチング状態となっている。可動接点と固定接点とがオフである状態では、制御回路４５は遮断弁４４を、消磁したままであって、開弁状態に保つ。大量のガス漏洩が生じて出口４６側のガスの圧力が低下すると、ダイヤフラムは可動接点を固定接点に導通してオンのスイッチング状態とする。制御回路４５には、圧力スイッチ２１のオンのスイッチング状態を表す信号が与えられる。これによって制御回路４５は、遮断弁４４のコイル６３に駆動電圧を有する制御信号を与えて遮断弁４４を開弁状態から閉止状態とし、したがってさらに大量のガス漏洩が継続することが防がれ安全が確保される。
【００５５】
制御回路４５から導出される制御信号の電圧は、ガスメータ４１の電源となる電池６７の出力電圧に依存して変化する。電池６７の出力電圧、したがって制御信号の電圧が、電池６７の経年変化などに起因して低下しても、異常時、制御信号によって遮断弁４４が確実に閉止状態となるようにするために、遮断弁４４の動作電圧Ｖ１，Ｖ２が、第１規格範囲Ｒ１の上限値Ｖ０Ｈａ未満でなければならない。こうして電池６７の出力電圧が低下しても遮断弁４４を制御信号によって確実に遮断することができるようになる。遮断弁４４の動作電圧Ｖ１，Ｖ２はまた、第１規格範囲Ｒ１の許容下限の第１規格電圧である下限値Ｖ０Ｌａを越えていなければならず、さもなければ、下限値Ｖ０Ｌａ以下であれば、衝撃によって遮断弁４４が誤動作して遮断することを防ぐことができなくなる。
【００５６】
図７は、未使用の遮断弁４４の開弁状態から閉止状態になる動作圧力Ｖ０の累積確率ｑ０を示すグラフである。図７の横軸は動作電圧Ｖ０を示す。図７の縦軸は、正規分布の逆関数Ｆ（Ｖ）であり、動作電圧Ｖの関数の値である。未使用の遮断弁４４では、規格電圧Ｖ０Ｌａ未満の規格外に存在する累積確率はｑ０Ｌであって、第１累積確率ｑ１Ｌ未満である。未使用の遮断弁４４の累積確率ｑ０Ｌは、図２のライン２２で示される。たとえばｑ０Ｌ＝１０−１４、ｑ１Ｌ＝１０−１０であってもよい。
【００５７】
このような遮断弁４４の動作電圧Ｖ０および第１期間Ｗ１後に検満回収された遮断弁４４の動作電圧Ｖ１の測定値の累積確率は、本件発明者の実験によれば、正規分布、対数正規分布、ガンベル分布、ワイブル分布など各種統計分布のうち、正規分布が最も近似できる分布関数であることが確認された。遮断弁４４の検満回収品自体の動作電圧Ｖ１の測定値にはばらつきがあり、また動作電圧Ｖ１の母集団から一定数のサンプルを取出している。したがって、限られたサンプル（今回の評価試料）から母集団（検満回収品全体）を推定するためには、選び出したサンプルは母集団の分布の一部しか表していないので、第１規格範囲Ｒ１の範囲外の発生確率、すなわち規格外確率で評価する必要がある。そこで測定値Ｖ１の分布関数を決定するために、遮断弁４４の動作電圧Ｖ１の測定値の累積確率を最も近似することができる分布関数を、探し、上述のように正規分布が最も適していることが判った。遮断弁４４の動作電圧Ｖ１である性能値の分布が、どのような分布関数にあてはまるかを検討するにあたっては、実際の分布と前記各種統計分布との間で、誤差の２乗平均をそれぞれ求め、その２乗平均が最小である分布関数を見つけ、その結果、上述のように正規分布を確認した。
【００５８】
図８は、第１期間Ｗ１使用後に促進劣化試験を行った遮断弁４４の動作電圧Ｖ２の累積確率ｑ２を示すグラフである。図８の横軸は動作電圧Ｖ２を示し、縦軸は前述と同様に正規分布の逆関数Ｆ（Ｖ）の値であって、電圧Ｖの関数の値を示す。この第１期間Ｗ１使用後の検満回収された遮断弁４４の累積確率ｑ１Ｌは、図２のライン２４で示される。このような第１期間Ｗ１、遮断弁４４が使用されることによって、その第１期間Ｗ１の使用後に動作電圧Ｖ１が規格電圧Ｖ０Ｌａ未満である規格外になる遮断弁４４の累積確率は、ｑ１Ｌである。この第１累積確率ｑ１Ｌは、前述の累積確率ｑ０Ｌａ未満である。図２に示される促進劣化試験後の遮断弁４４の累積確率ｑ２もまた、正規分布で最も近似できる分布関数で表されることが確認された。
【００５９】
図９は、本発明の実施の一形態を説明するための動作電圧Ｖの確率の分布を示す図である。図１０は、図９に示される本発明の実施の一形態における遮断弁４４の第１期間Ｗ１使用後の遮断弁４４を選択するための第２規格範囲Ｒ２を設定するための作業手順を示す図である。図９（１）は前述の図１（４）に対応し、図９（２）は前述の図１（５）に対応する。第１期間Ｗ１である１０年使用された遮断弁４４の動作電圧Ｖ１の分布は、図１０のステップａ１における新品に対応するライン２２から、ステップａ２によってライン２４に変化する。本発明では、この第１期間Ｗ１使用された遮断弁４４を、図９および図１０において加速試験と称している促進劣化試験をステップａ３で施し、次の第２期間Ｗ２である１０年間の使用に相当する試験を行う。第１期間Ｗ１使用された遮断弁４４の全数ｕについて、促進劣化試験を行い、その試験後の遮断弁４４の動作電圧Ｖ３の分布は、ステップａ４による図９（３）のライン３０で示されるように、第１規格範囲Ｒ１の規格外になる累積確率ｑ３Ｌが、さらに高まる。このようなライン２９で示される促進劣化試験後の動作電圧Ｖ２３の分布特性に基づき、本発明では、第１期間Ｗ１使用後の全ての遮断弁４４のうち、第２期間Ｗ２、さらに使用する再利用可能な第２規格範囲Ｒ２の選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓをステップａ５で設定する。
【００６０】
図１１は、未使用の遮断弁４４を第１期間Ｗ１使用し、その後、促進劣化試験を行って性能評価を実施する手順を説明するための図である。性能というのは、遮断弁４４の開弁状態から閉止状態になる動作電圧Ｖを表す。検満回収品というのは、前述のように、第１期間Ｗ１使用されて回収された遮断弁４４を表す。製造会社で製造された遮断弁４４は、図１１のステップｂ１において未使用の状態で動作電圧の性能確認を行い、その保管データの統計的処理によって分析する。その後、図１１のステップｂ２では、第１期間Ｗ１使用した後の遮断弁４４の動作電圧Ｖ１を測定して性能評価試験の実施を行う。この遮断弁４４の個数ｕは、たとえば６００個である。ステップｂ３では、６００個の検満回収品である遮断弁４４をたとえば１２種類の各項目ｄ（たとえばｄ＝１２）毎の促進劣化試験に５０個ずつ割り当てて、各項目毎の促進劣化試験を行う。
【００６１】
こうしてステップｂ３で得られた促進劣化試験を施した遮断弁４４の動作電圧Ｖ３をステップｂ４で測定して性能評価試験を実施し、統計的処理を行う。第１期間Ｗ１の使用後の全ての遮断弁４４について促進劣化試験を行った後の動作電圧Ｖ３の分布は、前述の図９（３）のライン２９で示されるとおりであり、このライン３０は、前述の図１（３）に示されるライン２８に近似した特性を有する。
【００６２】
図１２は、第１期間Ｗ１の使用後に回収された遮断弁４４の動作電圧Ｖ１を第２規格範囲Ｒ２によって選別して、次に続く第２期間Ｗ２、再使用するために選別する方法を説明するための図である。ステップｃ１からステップｃ２に移り、第１期間Ｗ１の使用後の全数Ｎの遮断弁４４の性能評価試験を実施し、その開弁状態から閉止状態に変化する動作電圧Ｖ１（ｊ）を図１２のステップｃ３で測定し、表１のように、メモリ４９（後述の図１８参照）にストアしておく。全数Ｎは、たとえばこの実施の形態では６００個であり、ｊは１〜Ｎのうちの１つの自然数である。
【００６３】
【表１】
2004156965.tif 000003
【００６４】
ステップｃ２では、動作電圧Ｖ１（ｊ）が、第１規格範囲Ｒ１内で、さらに狭い範囲の規格内の第２規格範囲Ｒ２に存在する遮断弁４４を、第２期間Ｗ２において再使用するために、下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓを基準として、選別する。また同様にして第２規格範囲Ｒ２の上下選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓを基準として、第１期間Ｗ１の使用後の動作電圧Ｖ１（ｊ）を選別する。こうして選別された遮断弁４４を、ガスメータに組込んで、再使用する。すなわち本発明の実施の形態では、たとえば圧力スイッチ２１の検出による異常時、制御回路４５が遮断弁４４に制御信号を与えて遮断弁４４が開弁状態から閉止状態になる構成を有する遮断弁４４において、動作電圧Ｖ１（ｊ）が、
Ｖ２Ｌａｓ≦Ｖ１（ｊ）≦Ｖ２Ｈａｓ                      …（１）
である遮断弁４４を選別する。こうして選別された遮断弁４４が、第２期間Ｗ２、使用された後の動作電圧Ｖ２が第１規格範囲Ｒ１の規格外になる累積確率ｑ２Ｌは、累積確率ｑ０Ｌａ未満であり、累積確率ｑ１Ｌに近い値であってもよく、ｑ０Ｌａとｑ１Ｌとの値のうち、大きい方の値以下であればよい。
【００６５】
図１３は、選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを設定するための方法を説明するための図である。ステップｅ１からステップｅ２に移り、このステップｅ２における第１期間Ｗ１の使用後の全数Ｎの遮断弁４４について、ステップｅ３で性能評価試験を実施し、表１の動作電圧Ｖ１（ｊ）を得る。この動作電圧Ｖ１（ｊ）は、図１２のステップｃ３において得た値である。この実施の形態では、統計処理を行うために、後述の表２に示されるように、促進劣化試験の複数ｄ（たとえば１２）の試験項目Ａ１〜Ａｄ毎にランダムに割当てた遮断弁４４の個数Ｎｉ毎に分けられる。たとえばこの実施の形態では、Ｎｉ＝５０台であり、ｉは１〜ｄのうちの１つの自然数であり、ｄは促進劣化試験の試験項目Ａ１〜Ａｄの総数ｄである。
【００６６】
ステップｅ４では、前述のステップｅ３での性能評価試験のデータＶ１（ｊ）を近似できる最適な分布関数を求める。この最適な分布関数を求めるにあたっては、検満回収された遮断弁４４の全数Ｎの動作電圧Ｖ１の測定値の累積確率を、最も近似することができる分布関数を探す。本件発明者によれば前述のように正規分布が最も適していることが確認された。
【００６７】
さらに次のステップｅ５では、ステップｅ３で求めた分布関数から、回収品、すなわち第１期間Ｗ１の使用後のガスメータ４１の遮断弁４４の設計規格値である第１規格範囲Ｒ１の規格外の累積確率ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈを算出する。
【００６８】
正規分布に従う特性を有する遮断弁４４の個々の性能値である動作電圧Ｖの母集団毎の確率密度関数ｆ（Ｖ，Ｍ，σ）は、式２で表される。ここでＶは、母集団を構成する各動作電圧Ｖを表し、Ｍは、その母集団の動作電圧の平均値であり、σは、その母集団を構成する動作電圧の標準偏差を表す。
【００６９】
【数１】
2004156965.tif 000004
【００７０】
この母集団のＶ以下となる累積確率ｑ（Ｖ，Ｍ，σ）は、その母集団を構成する動作電圧Ｖの全数をＮとするとき、式３で表される。
【００７１】
【数２】
2004156965.tif 000005
【００７２】
この母集団のＶ以上となる累積確率は、１−ｑ（Ｖ，Ｍ，σ）である。
ステップｅ６では、この検満回収品である第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁４４に対して、再使用期間である第２期間Ｗ２に相当する促進劣化試験を実施する。この促進劣化試験の試験項目Ａ１〜Ａｄは、複数ｄ種類、存在し、たとえば表２に示されるように合計１２項目あり（ｄ＝１２）、各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に回収品の遮断弁４４をＮ１〜Ｎｄ（この実施の形態では個数Ｎ１〜Ｎｄはたとえば全て等しく、たとえば前述のようにＮｉ＝５０個）ずつ、分けて割当てて、試験を実行する。各試験項目Ａ１〜Ａｄは、第２期間Ｗ２の使用に相当する劣化を達成する。
【００７３】
【表２】
2004156965.tif 000006
【００７４】
この促進劣化試験後に、ステップｅ７では、性能評価試験を実施し、第２規格範囲Ｒ２を決定し、こうしてステップｅ８では一連の動作を終了する。
【００７５】
図１４は、図１３のステップｅ７の具体的な動作を説明するためのフローチャートである。ステップｇ１からステップｇ２に移り、このステップｇ２では、促進劣化試験の前後の全数Ｎの遮断弁４４に、前述と同様な性能評価試験を実施し、動作電圧Ｖ１，Ｖ２２を得る。
【００７６】
ステップｇ３では、ステップｇ２でＶ１，Ｖ２２が得られたことにより、表１に示すように全数６００個の各遮断弁４４についてのそれぞれのＶ１（ｉ），Ｖ２２（ｉ）のデータをメモリ４９にストアできる（ここでｉ＝１〜６００）。
【００７７】
ステップｇ４では、次に、複数ｍ種類の下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）（ただしｒ１＝１〜ｍ）および複数ｎ種類の上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）（ただしｒ２＝１〜ｎ）を、Ｖ０Ｌａ以上Ｖ０Ｈａ以下の範囲にある任意の値Ｖから選んで決定し、以下の作業を行う。
【００７８】
ステップｇ５では、上記のＶ２Ｌａ（ｒ１），Ｖ２Ｈａ（ｒ２）を組合わせるとｋ種類（ｋ＝ｍ×ｎ）の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）が設定できる。ｒ３は１〜ｋの自然数である。
【００７９】
ステップｇ６では、ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）のうちの一部または全部について、以下の計算を行い、最適なＶ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを決定し、第２規格範囲Ｒ２を設定し、こうしてステップｇ７で一連の動作を終了する。
【００８０】
図１５は、図１４のステップｇ６の具体的な動作を説明するためのフローチャートである。図１５では、まず一例として１つの仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）に対するｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）を求める方法を説明する。ステップｈ１からステップｈ２に移り、メモリ４９から、１つの下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）と、１つの上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）とを選び出して設定する。
【００８１】
ステップｈ３では、メモリ４９でストアした全数６００個の遮断弁のＶ１（ｉ）のデータを、仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（Ｖ２Ｌａ（ｒ１）〜Ｖ２Ｈａ（ｒ２））と比較して、
Ｖ２Ｌａ（ｒ１）≦Ｖ１≦Ｖ２Ｈａ（ｒ２）                …（４）
になるようなデータ群を選んで、データ群の母集団を作成する。この式４が成立しない、それ以外の下限および上限の範囲からはずれる遮断弁４４に関するデータ（α個、ただしα≦Ｎ）は以下の統計処理から対象外とする。
【００８２】
ステップｈ４では、式４に対応する遮断弁のＶ２（ｉ）の（Ｎ−α）個のデータを、前述の近似された最適な分布関数、たとえばこの実施の形態では正規分布関数で、後述の式７および式８に従って統計処理し、
Ｖ２≦Ｖ０Ｌａ                                          …（５）
となる累積確率ｑ２Ｌａ（ｒ１），
Ｖ２≧Ｖ０Ｈａ                                          …（６）
となる累積確率ｑ２Ｈａ（ｒ２）を求める。
【００８３】
ステップｈ５では、このｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）のデータを、ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈと比較して近似する値であれば、すなわちｑ２Ｌａ（ｒ１）がｑ１Ｌに近似し、かつ、ｑ２Ｈａ（ｒ２）がｑ１Ｈに近似する値であれば、仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（Ｖ２Ｌａ（ｒ１）〜Ｖ２Ｈａ（ｒ２））を、Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓと決定することができる。ここで近似する値というのは、下限設定規格外累積確率ｑ２Ｌａ（ｒ１）が第１下限累積確率ｑ１Ｌに予め定める誤差未満で近似しており、かつ上限設定規格外累積確率ｑ２Ｈａ（ｒ２）が、第１上限累積確率ｑ１Ｈに予め定める誤差未満で近似していることをいう。
【００８４】
図１５の一連のステップｈ２〜ｈ４の実行によって、前述の図１５のステップｈ２でランダムに選んだＶ２Ｌａ（ｒ１）とＶ２Ｈａ（ｒ２）との組合せから成る仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の１回の計算によってｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）がｑ１Ｌ，ｑ１Ｈにそれぞれ近似することは、ほとんどないと言ってよい。したがってステップｈ７で、近似するｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）の組合せがみつかるまで、ステップｈ２〜ｈ７の繰返し計算の回数ｕが、ｋ（＝ｍ×ｎ）回に達するまで、ステップｈ９を経て、ステップｈ２〜ｈ７が繰返され、こうしてステップｈ２〜ｈ６を試行錯誤によって繰返す。
【００８５】
前述のステップｈ７で仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）が、近似する値であれば、その仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、ステップｈ８で第２規格範囲Ｒ２として決定する。ステップｈ７で、近似する値である仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）が選ばれなかったとき、その誤差の最小値が得られる仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、ステップｈ１０で第２規格範囲Ｒ２として決定する。
【００８６】
ステップｈ４におけるｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）の求め方を述べると、（Ｎ−α）個のデータ群Ｖ２（ｉ）を母集団として平均値をＭ、標準偏差をσとしたとき、以下の式７，８で表わすことができる。
【００８７】
【数３】
2004156965.tif 000007
【００８８】
本発明の実施の他の形態について述べる。図１６は、本発明の実施の他の形態の選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを設定するための方法を説明するための図である。この図１６に示される実施の形態は、前述の図１〜図１５の実施の形態に類似し、対応する部分には同一の参照符を用いる。図１６のステップｈ２１〜ｈ２５は、前述の図１５のステップｈ１〜ｈ５と同様である。図１〜図１５に関連して前述したこれまでの実施の形態では、第２の規格範囲Ｒ２を決めるのに第１規格外累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）を用いて演算を行った例を示したが、第１規格外累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）の代りに、ステップｈ２６では、許容される規格外出現累積確率（ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ）を設定して、第２の規格範囲Ｒ２を設定する。その場合は、ステップｈ２５において演算されたｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）のデータをステップｈ２７で、ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａとそれぞれ比較して、ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）がｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下（すなわちｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａ、かつｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａ）である仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（Ｖ２Ｌａ（ｒ１）〜Ｖ２Ｈａ（ｒ２））をステップｈ２８で第２規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）とする。再使用の遮断弁の利用効率を最も効率よくするには、ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下で最も近似するｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）に対応する仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を第２規格範囲Ｒ２に決定することになる。ステップｈ２９，ｈ３０は、前述の図１５のステップｈ９，ｈ１０と同様である。
【００８９】
さらにこれまでの実施の形態では、第１期間Ｗ１使用した後、さらに第２期間Ｗ２、再使用した場合の動作電圧に相当する動作電圧Ｖ２１ｉとして、促進劣化試験により求めたデータＶ２２ｉを用いているが、実際に第２期間Ｗ２を再使用した遮断弁の第２使用期間Ｗ２使用後の動作電圧Ｖ２３ｉが統計データとして得ることができる場合はそのＶ２１ｉのデータに代えてＶ２３ｉのデータを用いて演算を行ってもよい。
【００９０】
前述の実施の形態では、図１４のステップｇ５では、促進劣化試験後の遮断弁の動作電圧Ｖ２のデータを各試験項目に差を設けず全数を一括して演算に用いた例を示したが、以下のような本発明の実施のさらに他の形態を実施することができる。
【００９１】
▲１▼促進劣化試験後に測定した全データの動作電圧Ｖ２２ｉを用いて演算を行う場合に、各試験項目の重要度に応じて各試験項目のデータの数に重み付けをして演算を行う。具体的な一例としては、表２に示すように最も重要度の低い項目を１とし、その重要度に応じて自然数倍の重みを付け、演算に際しては試験項目のデータの数に重みの数を掛算してデータの母集団を増やして演算することにすればよい。
【００９２】
重みが小数点を有するようになる場合、たとえば重みが１．２または１．５などに設定する場合は、各試験項目の最小公倍数になるように、たとえば１つの試験項目の重みが前述のように１．２であり、他の試験項目の重みが１．５であるとき、自然数の比となるように、すなわちたとえば重みを４および５となるように、数学的に処理し、その数、たとえば前述の４および５の重みを各試験項目のデータの数に掛け合わせて母集団のデータ数を増やして演算することになる。
【００９３】
▲２▼本発明の実施の他の形態では、複数ｄの各試験項目毎に、図１４および図１５を実行し、または図１４および図１６を実行して演算を行い、各試験項目毎に求められる第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の下限値の最大値を第２の規格範囲の下限値とし、上限値の最小値を第２の規格範囲の上限値として採用する。この実施の形態を、図１７を参照して説明する。試験項目Ａ１の前記演算によって下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ１と上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓ１とが設定され、試験項目Ａ２の前記演算によって下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ２と上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓ２が設定され、さらに試験項目Ａ３の前記演算によって下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ３および上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓ３が設定されたものと想定する。ここでＶ２Ｌａｓ３＜Ｖ２Ｌａｓ１＜Ｖ２Ｌａｓ２であるとき、これらの下限選別基準電圧のうち、最大値Ｖ２Ｌａｓ２を第２の規格範囲Ｒ２の下限値として採用する。またＶ２Ｈａｓ１＜Ｖ２Ｈａｓ３＜Ｖ２Ｈａｓ２であるとき、その最小値Ｖ２Ｈａｓ１を、第２の規格範囲Ｒ２の上限値として採用する。
【００９４】
▲３▼本発明の実施の他の形態では、各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の各試験項目の重要度に応じて、検体である遮断弁の個数を増加または減少させてデータを取得して演算を行う。すなわち、最低レベル重要度１の輸送振動などの試験項目では５０個の検体の促進劣化試験を実施するとすれば、重要度３の温度サイクル試験は１５０個、重要度４のヒートショック試験は２００個、重要度５の熱加速耐久試験は２５０個をそれぞれ用いて試験することになる。
【００９５】
本件発明者の実験結果を述べる。表３は、遮断弁の動作電圧の第１規格範囲Ｒ１が０．５〜１．２Ｖであるとき、規格外になる累積確率を示す。
【００９６】
【表３】
2004156965.tif 000008
【００９７】
表３において、遮断弁の未使用の新品における規格外になる累積確率は、下限、上限とも１×１０−８以下であるが、それを１０年間使用した第１期間Ｗ１後の規格外累積確率は、下限値ｑ１Ｌが１×１０−５であり、上限値ｑ１Ｈが１×１０−８以下となり、下限において規格外になる累積確率が増加している。すなわち不良品が出る確率が大きい。
【００９８】
第１期間Ｗ１の使用後のものを、さらに促進劣化試験をした表３中のデータをみると、第１規格範囲の下限値ｑ２Ｌは、１×１０−２であり、上限値ｑ２Ｈは、５×１０−７であり、さらに規格外になる確率が大きくなっている。このことから、第１期間Ｗ１使用後の遮断弁をすべて再利用した場合は、第２期間Ｗ２中に不具合品が出現する確率がさらに大きくなってしまうことが判る。したがって第１期間Ｗ１使用後の全ての遮断弁を再利用することはできない。そこで前述のように本発明では、仮の下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａ（ｒ１）および仮の上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａ（ｒ２）を設定して、その範囲Ｒ２（ｒ３）内にある遮断弁のデータについて累積確率ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）を求める。こうして得られた本件発明者の実験結果を表４に示す。
【００９９】
表４から、表３の第１累積確率ｑ１Ｌ＝１×１０−５以下およびｑ１Ｈ＝１×１０−８以下に最も近似した値は、仮定の第２の規格範囲Ｒ２（ｒ３）の（Ｖ２Ｌａ（ｒ１），Ｖ２Ｈａ（ｒ２））＝（０．７，１．２）の場合であることが判る。したがってこの仮定の第２の規格範囲を第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ＝０．７，Ｖ２Ｈａｓ＝１．２）と決めることができる。
【０１００】
【表４】
2004156965.tif 000009
【０１０１】
図１８は、図１〜図１７に関連して述べた前述の実施の各形態の方法を実現するための装置５１のブロック図である。入力手段５２によって、動作電圧Ｖ１，Ｖ２と遮断弁４４の計数した個数などを入力する。マイクロコンピュータなどによって実現される処理回路５３は、メモリ４９に接続され、入力手段５２によって入力されたデータをストアするとともに、このメモリ４９は、演算のために用いられる。処理回路５３は、入力手段５２の出力に応答し、前述の図１２〜図１７などの演算を行い、その演算結果を表示手段５４に表示し、またプリンタ５５によって記録紙に印字する。
【０１０２】
【発明の効果】
本発明によれば、ガスメータなどにおいて用いられる遮断弁を、第１期間Ｗ１使用した後、次の第２期間Ｗ２において再使用することができ、この第２期間Ｗ２の使用後においても、第１規格範囲Ｒ１の規格外になる累積確率を、予め定める第１累積確率ｑ０Ｌａ未満に低く抑えることができるようになる。こうして遮断弁を再使用することによって、資源の有効利用、コスト削減を図ることができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ガスメータ４１に備えられる遮断弁４４を本発明の実施の一形態によって再使用するための評価方法を説明するための図である。
【図２】遮断弁４４の使用による動作電圧の確率の分布の特性を表すライン２２〜２８を拡大して示す図である。
【図３】遮断弁４４の閉止状態を示す断面図である。
【図４】遮断弁４４の開弁状態を示す断面図である。
【図５】遮断弁４４を備えるガスメータ４１の一部を切欠いて示す断面図である。
【図６】図４に示されるガスメータ４１の構成を簡略化して示すブロック図である。
【図７】未使用の遮断弁４４の開弁状態から閉止状態になる動作圧力の累積確率ｑ０を示すグラフである。
【図８】第１期間Ｗ１使用後に促進劣化試験を行った遮断弁４４の動作電圧Ｖの累積確率ｑ２を示すグラフである。
【図９】本発明の実施の一形態を説明するための図である。
【図１０】図９に示される本発明の実施の一形態における遮断弁４４の第１期間Ｗ１使用後の遮断弁を選択するための第２規格範囲Ｒ２を設定するための作業手順を示す図である。
【図１１】未使用の遮断弁４４を第１期間Ｗ１使用し、その後、促進劣化試験を行って性能評価を実施する手順を説明するための図である。
【図１２】第１期間Ｗ１の使用後に回収された遮断弁４４を第２規格範囲Ｒ２によって選別して、次に続く第２期間Ｗ２、再使用するために選別する方法を説明するための図である。
【図１３】選別電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを設定するための方法を説明するための図である。
【図１４】図１３のステップｅ７の具体的な動作を説明するためのフローチャートである。
【図１５】図１４のステップｇ６の具体的な動作を説明するためのフローチャートである。
【図１６】本発明の実施の他の形態の選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを設定するための方法を説明するための図である。
【図１７】本発明の実施のさらに他の形態の下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓおよび上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓを設定する動作を説明するための図である。
【図１８】図１〜図１７に関連して述べた前述の実施の各形態の方法を実現するための装置５１のブロック図である。
【符号の説明】
２１  遮断弁
４１  ガスメータ
４４  遮断弁
４５  制御回路
６７  電池
【図１】
2004156965.tif 000010
【図２】
2004156965.tif 000011
【図３】
2004156965.tif 000012
【図４】
2004156965.tif 000013
【図５】
2004156965.tif 000014
【図６】
2004156965.tif 000015
【図７】
2004156965.tif 000016
【図８】
2004156965.tif 000017
【図９】
2004156965.tif 000018
【図１０】
2004156965.tif 000019
【図１１】
2004156965.tif 000020
【図１２】
2004156965.tif 000021
【図１３】
2004156965.tif 000022
【図１４】
2004156965.tif 000023
【図１５】
2004156965.tif 000024
【図１６】
2004156965.tif 000025
【図１７】
2004156965.tif 000026
【図１８】
2004156965.tif 000027