(57)【要約】【課題】波形があらわす形そのものの特徴に基づいて波形の品質を評価することが可能な波形品質評価システムを得る。【解決手段】オシロスコープ２と波形品質評価装置３を備え、この波形品質評価装置３に記憶手段３２およびＣＰＵ３６を設ける。記憶手段３２は、波形評価値算出基準を格納するとともに、波形の評価値に対応する調整パラメータを格納する。そして、オシロスコープ２は、ＤＵＴ１で設定された調整パラメータに基づく波形を入力してこの波形をサンプリングする。また、ＣＰＵ３６は、サンプリングされた波形の特徴量を算出するとともに、波形評価値算出基準を参照して特徴量に基づく評価値を算出し、算出後における評価値に対応する調整パラメータをＤＵＴ１へ出力する。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
波形の特徴量に基づいて前記波形の評価値を算出するための基準である波形評価値算出基準を格納するとともに、前記評価値に対応する調整パラメータを格納する記憶手段と、
被測定物で設定された調整パラメータに基づく波形を入力し、この波形をサンプリングするサンプリング手段と、
サンプリング後における波形があらわす形に基づいて前記波形の特徴量を算出するとともに、前記波形評価値算出基準を参照して算出後における特徴量に基づいて前記波形の評価値を算出し、前記記憶手段を参照して算出後における評価値に対応する調整パラメータを探索し、探索後における調整パラメータを前記被測定物へ出力する処理手段と
を備えたことを特徴とする波形品質評価システム。
【請求項２】
前記処理手段は、
前記調整パラメータを探索するに際し、前記算出後における評価値が許容値か否かを判断し、前記算出後における評価値が前記許容値でない場合は、
前記算出後における評価値に対応する調整パラメータを探索する処理、
探索後における調整パラメータを前記被測定物へ出力する処理、
前記サンプリング手段は、前記処理手段が出力した調整パラメータに基づく波形を前記被測定物から再入力し、再入力後における波形をサンプリングする処理、
前記処理手段は、前記サンプリング後における波形があらわす形に基づいて前記波形の特徴量を再算出するとともに、前記波形評価値算出基準を参照して算出後における特徴量に基づいて前記評価値を再算出する処理
をそれぞれ繰り返し実行することを特徴とする請求項１記載の波形品質評価システム。
【請求項３】
前記処理手段は、前記波形の特徴量を算出するに際し、前記サンプリング後における波形を濃度ヒストグラムに変換し、前記濃度ヒストグラムを用いて平滑化処理を行う
ことを特徴とする請求項１又は２記載の波形品質評価システム。
【請求項４】
前記処理手段は、前記波形の特徴量を算出するに際し、前記サンプリング後における波形について２値化処理を行う
ことを特徴とする請求項１又は２記載の波形品質評価システム。
【請求項５】
被測定物で設定された調整パラメータに基づく波形を入力してこの波形をサンプリングするサンプリングステップと、
前記サンプリングされた波形があらわす形に基づいて前記波形の特徴量を算出する特徴量算出ステップと、
前記波形の特徴量に基づいて前記波形の評価値を算出するための基準である波形評価値算出基準を参照して、算出された特徴量に基づいて前記評価値を算出する評価値算出ステップと、
前記算出された評価値に対応する調整パラメータを記憶手段から探索する探索ステップと、
探索された調整パラメータを前記被測定物へ出力する調整パラメータ出力ステップと
を含むことを特徴とする波形品質評価方法。
【請求項６】
前記評価値算出ステップで算出された評価値が許容値か否かを判断する判断ステップをさらに含み、
前記判断ステップで前記評価値が前記許容値でないと判断された場合は、前記探索ステップ、前記調整パラメータ出力ステップ、前記サンプリングステップ、前記特徴量算出ステップ、および前記評価値算出ステップをそれぞれ繰り返し実行する
ことを特徴とする請求項５記載の波形品質評価方法。
【請求項７】
前記特徴量算出ステップは、前記サンプリングステップでサンプリングされた波形を濃度ヒストグラムに変換し、前記濃度ヒストグラムを用いて平滑化処理を行うステップを含む
ことを特徴とする請求項５又は６記載の波形品質評価方法。
【請求項８】
前記特徴量算出ステップは、前記サンプリングステップでサンプリングされた波形について２値化処理を行うステップを含む
ことを特徴とする請求項５又は６記載の波形品質評価方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、波形の品質を評価する波形品質評価システム及び波形品質評価方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の波形識別装置においては、波形識別すべきデジタル信号をサンプリングし、このサンプリングデータにおける振幅レベルの標準偏差を特定の時間および振幅レベルに区切って計算し、この計算結果から上記アイパターン開口度を評価する（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平６−２３７２３１号公報（第４頁、図１）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
従来の波形識別装置は、標準偏差を基にアイパターン開口度を評価していたが、この評価は、標準偏差により求められるデジタル信号のビットエラーレートがアイパターン開口度に対応することを利用するものであった。このため、被測定物の最適な調整パラメータを探索する場合において、調整パラメータに基づくデジタル信号である波形があらわす形そのものの特徴からその波形の品質を評価することができないという不都合があった。一般に、被測定物の調整パラメータを探索する場合、被測定物からの出力波形が調整パラメータに応じて変化するので、上述した標準偏差を用いてアイパターン開口度を評価するという方法よりも、波形識別すべきデジタル信号があらわす形そのものの特徴から波形の評価を行うことが望ましかった。
【０００５】
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的は、被測定物の調整パラメータを探索する場合において、被測定物からの出力波形があらわす形そのものの特徴に基づいて波形の品質を評価することができる波形品質評価システム及び波形品質評価方法を得るものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る波形品質評価システムは、サンプリング手段、記憶装置、および処理手段を備えるものである。サンプリング手段は、被測定物で設定された調整パラメータに基づく波形を入力し、この波形をサンプリングする。また、記憶手段は、波形の特徴量に基づいて波形の評価値を算出するための基準である波形評価値算出基準を格納するとともに、評価値に対応する調整パラメータを格納する。また、処理手段は、サンプリング後における波形があらわす形に基づいて波形の特徴量を算出するとともに、波形評価値算出基準を参照して算出後における特徴量に基づいて波形の評価値を算出し、算出後における評価値に対応する調整パラメータを格納する記憶手段から探索し、探索後における調整パラメータを被測定物へ出力する。
【０００７】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
この発明の実施の形態１に係るについて図面を参照しながら説明する。図１は、この発明の実施の形態１に係る波形品質評価システムの全体構成を示す図である。なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
【０００８】
図１において、ＤＵＴ（被測定物）１は、所定の調整パラメータに基づく波形を出力するものであり、例えば、光送信器が用いられる。この調整パラメータは、ＤＵＴ１の出力波形を変更するためのものであり、例えば、電圧値用パラメータ、電流値用パラメータなどがある。オシロスコープ（サンプリング手段）２は、ＤＵＴ１で設定された調整パラメータに基づく波形（デジタル信号）を入力し、この波形をサンプリングする。また、波形品質評価装置３は、ＤＵＴ１から出力された波形の品質を評価するものであり、例えば、パソコンが用いられる。パルスパターンジェネレータ４は、ＤＵＴ１にデータパターンを供給し、オシロスコープ２が波形をサンプリングする際に用いるクロック信号を生成するものである。
【０００９】
オシロスコープ２は、Ｏ／Ｅコンバータ（光／電気コンバータ）２１、サンプリング回路２２、フィルタ回路２３、およびメモリ２４を有する。
【００１０】
また、波形品質評価装置３は、通信ポート３１、記憶装置（記憶手段）３２、キーボード３３、マウス３４、ディスプレイ３５、およびＣＰＵ（処理手段）３６を有する。そして、記憶装置３２は、波形評価値算出基準を格納するとともに、波形の評価値に対応する調整パラメータを格納する。ここで、「波形評価値算出基準」とは、波形の特徴量に基づいて当該波形の評価値を算出するための基準であり、例えば、関数などが用いられる。「波形の特徴量」とは、波形の形そのものを用いて得られる定量値であり、例えば、判定マスクと波形との距離などが該当する。また、「評価値」とは、ＤＵＴ１からの出力波形の品質を評価するための指標値であり、例えば、「０」とか「１」といった数値が用いられる。この評価値は、その善し悪しを判断するための客観的な判断材料となる。なお、記憶装置３２は、例えば、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤ等である。
【００１１】
つぎに、この実施の形態１に係る波形品質評価システムの動作について説明する。図２は、この実施の形態１に係る波形品質評価システムの動作を示すフローチャートである。
【００１２】
ＤＵＴ１は、ある調整パラメータが設定されており、この調整パラメータに基づく波形を自動でオシロスコープ２へ出力する。
【００１３】
ステップ１００において、オシロスコープ２のサンプリング回路２２は、ＤＵＴ１から出力された波形をＯ／Ｅコンバータ２１を介して入力する。このＯ／Ｅコンバータ２１は、光信号を電気信号に変換するものである。また、このサンプリング回路２２は、パルスパターンジェネレータ４で生成されたクロック信号を入力する。
【００１４】
次に、ステップ１０１において、サンプリング回路２２は、Ｏ／Ｅコンバータ２１で電気信号に変換された波形、およびパルスパターンジェネレータ４で生成されたクロック信号に基づいて、上記電気変換された波形についてサンプリングを行う。このサンプリングは、例えば、Ｏ／Ｅコンバータ２１で電気信号に変換された複数の異なる波形についての瞬時電圧成分を周期的に取り出す処理である。そして、フィルタ回路２３は、サンプリング後における波形（サンプリングデータという。）をフィルタ処理し、フィルタ処理された波形をメモリ２４に蓄積する。
【００１５】
次に、ステップ１０２において、波形品質評価装置３のＣＰＵ３６は、オシロスコープ２から、メモリ２４に蓄積された波形を通信ポート３１を介して順次入力し、この波形についての電圧軸方向（ｙ軸方向）および時間軸方向（ｘ軸方向）の領域分布（後述のクロスポイント、電圧のレベル）を算出する。この算出例を図３に示す。
【００１６】
図３は、図１に示した波形品質評価装置がＤＵＴからの出力波形についての電圧軸方向および時間軸方向の領域分布を算出した例を示す図である。図３では、ある電圧軸および時間軸についての対象領域６において、複数の異なる出力波形が連続して存在し、これらは相互に異なる電圧値を有している。ＣＰＵ３６は、時間軸方向において波形がクロスするポイント（以下「クロスポイント」という。）Ｔｃｒｓ０、Ｔｃｒｓ１と、電圧軸方向における電圧の０レベル（Ｖｌｖ０）および１レベル（Ｖｌｖ１）とを算出する。
【００１７】
次に、ステップ１０３において、ＣＰＵ３６は、上記波形を正規化する。このＣＰＵ３６は、上記波形を正規化するに際し、例えば、次の式（１）および（２）を用いて、時間軸成分および電圧軸成分のそれぞれについて波形を正規化する。
【００１８】
時間軸成分Ｘ’＝｛（Ｘ−Ｔｃｒｓ０）÷（Ｔｃｒｓ１−Ｔｃｒｓ０）｝  ・・・（１）
電圧軸成分Ｙ’＝｛（Ｙ−Ｖｌｖ０）÷（Ｖｌｖ１−Ｖｌｖ０）｝  ・・・（２）
但し、（Ｘ，Ｙ）はサンプリングデータ、（Ｘ’，Ｙ’）は正規化されたデータである。
【００１９】
次に、ステップ１０４において、ＣＰＵ３６は、対象領域６を所定の領域に分割し、分割された分割領域についての濃度ヒストグラムを作成する。この作成例を図４に示す。
【００２０】
図４は、図１に示した波形品質評価装置が作成した濃度ヒストグラムの例を示す図である。図４（Ａ）では、図３に示した対象領域６のうち分割領域３１１が示され、図４（Ｂ）では、分割領域３１１についての濃度ヒストグラム３１１ａが作成されている。
【００２１】
次に、ステップ１０５において、ＣＰＵ３６は、分割領域３１１についての濃度ヒストグラム３１１ａを平滑化する。このＣＰＵ３６は、上記濃度ヒストグラム３１１ａを平滑化するに際し、例えば、次式（３）を用いて平滑化する。
【００２２】
ｇ（ｉ，ｊ）＝［｛Ａ１×ｆ（ｉ−１，ｊ−１）｝＋｛Ａ２×ｆ（ｉ，ｊ−１）｝＋｛Ａ３×ｆ（ｉ＋１，ｊ−１）｝＋｛Ａ４×ｆ（ｉ−１，ｊ）｝＋｛Ａ５×ｆ（ｉ，ｊ）｝＋｛Ａ６×ｆ（ｉ＋１，ｊ）＋｛Ａ７×ｆ（ｉ−１，ｊ＋１）｝＋｛Ａ８×ｆ（ｉ，ｊ＋１）｝＋｛Ａ９×ｆ（ｉ＋１，ｊ＋１）］÷ΣＡｉ  ・・・（３）
但し、ｆ（ｉ，ｊ）は濃度ヒストグラムの注目点における値、ｇ（ｉ，ｊ）は平滑化された値である。Ａｉは各点における重みであり、ＡｉはＡ１からＡ９までの値である。
【００２３】
上記式（３）で用いられる値ｆ（ｉ，ｊ）を含む値を図５に示す。図５は、図１に示した波形品質評価装置が平滑化処理に用いた値の例を示す図である。図５では、注目点における値ｆ（ｉ，ｊ）を中心として、８つの近傍点における値ｆ（ｉ−１，ｊ−１）、ｆ（ｉ，ｊ−１）、ｆ（ｉ＋１，ｊ−１）、ｆ（ｉ−１，ｊ）、ｆ（ｉ＋１，ｊ）、ｆ（ｉ−１，ｊ＋１）、ｆ（ｉ，ｊ＋１）、ｆ（ｉ＋１，ｊ＋１）が示されている。
【００２４】
また、上記式（３）で用いられる重みＡｉを図６に示す。図６は、図１に示した波形品質評価装置が平滑化処理に用いた重みの例を示す図である。図６（Ａ）では、Ａ１からＡ９までにおける点が示され、図６（Ｂ）、（Ｃ）、（Ｄ）では、それぞれの重みの値の代表例が示されている。例えば、図６（Ｂ）の場合、Ａ１からＡ９の重みはすべて「１」である。
【００２５】
ＣＰＵ３６が平滑化した例を図７に示す。図７は、図１で示した波形品質評価装置が実行した平滑化後における波形の例を示す図である。図７は、波形３１１ａを平滑化した波形３１１ｂが示されている。波形３１１ａは、０から２３までの階調に濃度分割され、波形３１１ｂは、０から１５までの階調に平滑化されている。
【００２６】
ステップ１０５において、ＣＰＵ３６は、濃度ヒストグラム３１１ａを平滑化するに際し、上述した平滑化処理を繰り返し実行する。この平滑化後における波形を図８（Ａ）に示す。図８（Ａ）は、図１に示した波形品質評価装置が繰り返し実行した平滑化後における波形の例を示す図である。図８（Ａ）には、０から１３までの階調に平滑化された波形（平滑化処理が４回連続して行われた波形）３１１ｃが示されている。このようにすると、波形に含まれるノイズ成分を除去することが可能となり、波形があらわす形そのものを特定し易くなり、波形の特徴を強調する効果を得ることができる。なお、判定マスク３１３は、後述のとおり、波形の特徴量の算出に用いられるものである。
【００２７】
次に、ステップ１０６において、ＣＰＵ３６は、平滑化後における波形を２値化する。この波形を図８（Ｂ）に示す。図８（Ｂ）は、波形品質評価装置が実行した２値化後における波形の例を示す図である。図８（Ｂ）には、２値化された波形３１１ｄが示されている。
【００２８】
次に、ステップ１０７において、ＣＰＵ３６は、２値化後における波形があらわす形に基づいて当該波形の特徴量を算出するとともに、記憶装置３２に格納された波形評価値算出基準を参照して、算出後における特徴量に基づいて波形の評価値を算出する。具体的には、このＣＰＵ３６は、波形の特徴量を算出するに際し、判定マスク３１３と波形３１１ｄとの間の距離を算出する。この算出例を図９に示す。
【００２９】
図９は、図１に示した波形品質評価装置が判定マスクを用いて算出した特徴量の例を示す図である。図９では、判定マスク３１３と波形３１１ｄとの間の距離ａ１からａ４まで、ｂおよびｃが、上記特徴量としてそれぞれ算出されている。これらの距離ａ１からａ４まで、ｂおよびｃを算出することにより、ＤＵＴ１からの出力波形の変化を定量的に分析することができる。
【００３０】
また、このＣＰＵ３６は、ステップ１０７において、上記波形評価値算出基準を参照して上記評価値を算出するに際し、例えば、上述した距離ａ１からａ４まで、ｂおよびｃに基づいて上記評価値を算出する。
【００３１】
次に、ステップ１０８において、ＣＰＵ３６は、算出後における評価値が許容値か否かを判断する。この許容値は、上記評価値で示される波形の品質についての許容レベルを定めたもので、特定の値、一定範囲の値を含むものである。この許容値は、記憶装置３２に格納されている。
【００３２】
次に、ステップ１０９において、ＣＰＵ３６は、算出後における評価値が許容値でない場合は、算出後における評価値に対応する調整パラメータを記憶装置３２から探索（決定）し、この調整パラメータを通信ポート３１を介してＤＵＴ１へ出力する。
【００３３】
ＤＵＴ１は、波形品質評価装置３から、上記調整パラメータを調整用端子（不図示）を介して入力し、この調整パラメータを設定した後、設定後における調整パラメータに基づく波形をオシロスコープ２へ自動で再出力し、次のステップ１００に進む。
【００３４】
オシロスコープ２は、ステップ１００および１０１の処理を実行し、波形品質評価装置３は、ステップ１０２から１０７までの処理を実行する。
【００３５】
そして、ステップ１０８において、ＣＰＵ３６により、算出後における評価値が許容値か否かを判断し、算出後における評価値が許容値でない場合は、ステップ１００から１０７までの処理を繰り返す。すなわち、次の（１）および（２）の処理を順次繰り返す。（１）オシロスコープ２は、波形品質評価装置３のＣＰＵ３６が出力した調整パラメータに基づく波形をＤＵＴ１から再入力し、再入力後における波形をサンプリングする。（２）ＣＰＵ３６は、サンプリング後における波形があらわす形に基づいて当該波形の特徴量を算出するとともに、記憶装置３２の波形評価値算出基準を参照して算出後における特徴量に基づいて当該波形の評価値を算出し、算出後における評価値に対応する調整パラメータを探索して、探索後における調整パラメータをＤＵＴ１へ出力する。
【００３６】
そして、ステップ１０８において、ＣＰＵ３６により、算出後における評価値が許容値か否かを判断し、算出後における評価値が許容値である場合は、処理を終了する。
【００３７】
その後、使用者が、キーボード３３やマウス３４の入力手段を介して所定の操作を行うと、波形品質評価装置３のＣＰＵ３６は、ＤＵＴ１からの出力波形についての関連付けられた特徴量、評価値、および調整パラメータを記憶装置３２から読み出し、上記特徴量、評価値および調整パラメータを相互に関連付けてディスプレイ（表示手段）３５に出力する。これにより、使用者は、ＤＵＴ１からの出力波形についての品質評価を把握することが可能となる。
【００３８】
以上説明したように、オシロスコープ２が、ＤＵＴ１で設定された調整パラメータに基づく波形を入力してこの波形をサンプリングする。そして、波形品質評価装置３が、サンプリング後における波形があらわす形に基づいて波形の特徴量を算出し、この特徴量に基づいて算出した波形の評価値に対応する調整パラメータを探索し、探索後における調整パラメータをＤＵＴ１へ出力する。このため、ＤＵＴ１に設定する最適な調整パラメータを探索する際に、ＤＵＴ１の出力波形があらわす形そのものの特徴を指標的に表現した評価値に応じた調整パラメータを自動で探索することができる。また、このようにすることにより、波形があらわす全体的な形を評価対象とすることができる。この点、ある特定の範囲における波形を基に評価を行う従来の波形識別装置とは異なる。
【００３９】
しかも、この波形品質評価装置３は、調整パラメータを探索するに際し、算出後における波形の評価値が許容値か否かを判断し、上記評価値が許容値でない場合は、調整パラメータを探索して（読み出して）この調整パラメータをＤＵＴ１へ出力し、この出力された調整パラメータに基づく波形の評価値を再算出することを繰り返し実行する。このため、ＤＵＴ１の最適な出力波形を自動で探索することができる。
【００４０】
また、この波形品質評価装置３は、波形の特徴量を算出するに際し、サンプリングされた波形を濃度ヒストグラムに変換し、濃度ヒストグラムを用いて平滑化処理を行う。これにより、波形に含まれるノイズ成分を除去した信号を抽出することができるので、波形の特徴を最適な状態で評価することができる。さらに、波形品質評価装置３は、波形の特徴量を算出するに際し、前記サンプリングした波形を２値化処理する。これにより、波形の比較がし易くなり、調整パラメータの相違による波形の変化の度合いを評価し易くなる。
【００４１】
なお、この実施の形態１では、波形品質評価装置３は、波形の特徴量を算出するに際し、判定マスク３１３と波形３１１ｄとの間の距離を算出したが、これに限られない。波形品質評価装置３は、例えば、複数の異なる波形の差分を波形の特徴量として算出してもよい。この算出例を図１０および図１１に示す。図１０は、図１に示した波形品質評価装置が波形の特徴量を算出する際に用いた複数の波形の例を示した図であり、図１１は、図１に示した波形品質評価装置が図１０に示した波形を用いて算出した特徴量の例を示す図である。図１０（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）では、それぞれ、２値化後における波形３１１１、３１１２、３１１３が示され、図１１では、波形３１１２と波形３１１３との差分が求められている。これにより、各波形の変化量を求めることが可能となり、ＤＵＴ１の調整パラメータ、温度等の条件が変化した場合の過渡的な波形の変化を捉えることが可能となる。
【００４２】
また、波形品質評価装置３は、波形の特徴量を算出するに際し、所定のサンプリングデータ（サンプリング後における波形）数、濃度ヒストグラム３１１ａの分解数を用いて算出したが、これらに限られない。サンプリングデータ数や濃度ヒストグラム３１１ａの分解数が変化すると、波形の特徴量の精度も変化するので、その評価値の精度を変えることが可能となる。この関係を図１２に示す。図１２は、サンプリングデータ数及び濃度ヒストグラムの分解数と評価値の精度との関係を示した図である。図１２によると、例えば、サンプリングデータ数や、濃度ヒストグラムの分解数を変化させると（図１２中、「小」又は「大」の方向）、粗調整又は微調整に応じた調整パラメータの探索を行うことが可能となる。
【００４３】
さらに、オシロスコープ２と波形品質評価装置３とはそれぞれ別個独立した場合で説明したが、これらの機能を兼ね備える一体型の装置であってもよい。例えば、波形品質評価装置３の機能を備える一体型オシロスコープ２であってもよい。
【００４４】
【発明の効果】
この発明は以上説明したように、波形品質評価システムは、被測定物で設定された調整パラメータを探索する際に、調整パラメータに基づく波形があらわす形そのものの特徴を指標的に表現した評価値を基に波形の品質を評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態１に係る波形品質評価システムの全体構成を示す図である。
【図２】この発明の実施の形態１に係る波形品質評価システムの動作を示すフローチャートである。
【図３】図１に示したオシロスコープが入力した波形の例を示す図である。
【図４】図１に示した波形品質評価装置が作成した濃度ヒストグラムの例を示す図である。
【図５】図１に示した波形品質評価装置が平滑化処理に用いた注目点における値の例を示す図である。
【図６】図１に示した波形品質評価装置が平滑化処理に用いた重みの例を示す図である。
【図７】図１に示した波形品質評価装置が処理した平滑化後における波形の例を示す図である。
【図８】図１に示した波形品質評価装置が図７に示した波形を平滑化および２値化した波形の例を示す図である。
【図９】図１に示した波形品質評価装置が判定マスクを用いて算出した特徴量の例を示す図である。
【図１０】図１に示した波形品質評価装置が評価値を算出する際に用いた複数の波形の例を示す図である。
【図１１】図１に示した波形品質評価装置が図１０に示した波形を用いて算出した特徴量の例を示す図である。
【図１２】サンプリングデータ数と濃度ヒストグラム分解数との関係を示す図である。
【符号の説明】
１  ＤＵＴ（被測定物）、２  オシロスコープ、３  波形品質評価装置、４  パルスジェネレータ、２１  Ｏ／Ｅコンバータ、２２  サンプリング回路、２３フィルタ回路、２４  メモリ、３１  通信ポート、３２  記憶装置、３６  ＣＰＵ。
【図１】
2004357050.tif 000003
【図２】
2004357050.tif 000004
【図３】
2004357050.tif 000005
【図４】
2004357050.tif 000006
【図５】
2004357050.tif 000007
【図６】
2004357050.tif 000008
【図７】
2004357050.tif 000009
【図８】
2004357050.tif 000010
【図９】
2004357050.tif 000011
【図１０】
2004357050.tif 000012
【図１１】
2004357050.tif 000013
【図１２】
2004357050.tif 000014