(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、装着された光ディスクの種類を迅速に判別する。【解決手段】光ディスク装置のＲＦ処理部１６はピックアップ１４からのＲＦ信号に基づき、ＲＦ信号のエンベロープであるフォーカス信号（ＦＯＫ信号）を生成してＤＳＰ１８に供給する。ＤＳＰ１８では、ＦＯＫ信号のレベルをしきい値と比較して比較結果をコントローラ２２に供給する。コントローラ２２は、比較結果に基づきフォーカス外れの有無を判定する。コントローラ２２は、しきい値を順次変化させることでＦＯＫ信号のレベルを定量評価し、光ディスク１０の反射率の大小に基づき光ディスク１０の種類を判別する。【選択図】        図１
2004206765.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクからの反射光を受光し反射光量に応じた反射信号を出力するピックアップと、
前記反射信号の強度をしきい値と比較することでフォーカス外れを検出する手段と、
を有する光ディスク装置であって、
前記しきい値を順次変化させることで前記フォーカス外れを検出するとともに前記光ディスクの種類を判別する判別手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の装置において、
前記判別手段は、前記しきい値を少なくとも２段階に変化させることで、少なくとも前記光ディスクを高反射率ディスク、中反射率ディスク、低反射率ディスクのいずれかに判別することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１記載の装置において、
前記判別手段は、前記しきい値を少なくとも２段階に変化させることで、少なくとも前記光ディスクを標準スタンパディスク、低反射率スタンパディスク、非スタンパディスクのいずれかに判別することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１記載の装置において、
前記判別手段は、前記しきい値を少なくとも２段階に変化させることで、少なくとも前記光ディスクを標準ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒ、低反射率ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷのいずれかに判別することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１記載の装置において、さらに、
前記判別手段での判別結果に応じて、前記反射信号のゲインを調整するゲイン調整手段
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項５記載の装置において、
前記ピックアップは前記反射信号のゲインを調整する第１増幅手段を有し、
さらに、
前記ピックアップからの反射信号のゲインを調整する第２増幅手段と、
を有し、前記調整手段は、前記判別結果に応じて前記第１増幅手段と第２増幅手段の少なくともいずれかのゲインを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項１記載の装置において、
前記判別手段での判別結果に応じて、前記光ディスクの回転速度を調整する速度調整手段
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
光ディスクからの反射光を受光し反射光量に応じた反射信号を出力するピックアップと、
前記ピックアップからの反射信号を増幅し、前記反射信号のエンベロープ信号をフォーカス信号として出力するＲＦ処理回路と、
前記ＲＦ処理回路からのフォーカス信号と複数のしきい値とを順次比較することでフォーカス外れの有無を検出するとともに、前記光ディスクを少なくともＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒ、低反射率ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷのいずれかに判別し、判別結果に応じて前記ピックアップ、ＲＦ処理回路、フォーカスサーボ回路の各ゲインを調整するコントローラと、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項８記載の装置において、
前記コントローラは、前記ゲインの調整に加え、さらに前記判別結果に応じて前記光ディスクの回転速度を調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
光ディスクからの反射光を受光し反射光量に応じた反射信号を出力するピックアップと、
前記反射信号に基づき、前記反射信号のエンベロープ信号をフォーカス信号として出力する手段と、
前記フォーカス信号が第１しきい値以上である場合にフォーカス外れが生じていないと判定するとともに前記光ディスクは標準のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒと判別し、前記フォーカス信号が前記第１しきい値よりも小さい第２しきい値以上である場合にフォーカス外れが生じていないと判定するとともに前記光ディスクは低反射率ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒと判別し、前記フォーカス信号が前記第２しきい値より小さい場合には前記光ディスクはＣＤ−ＲＷと判別する手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置、特に光ディスクの種類の判別に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ＣＤ−ＲＯＭやＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ等の複数種類の光ディスクが存在する。光ディスクの反射率は規格で定められており、ＣＤ−ＲＯＭやＣＤ−Ｒにおいては反射率７０％以上、ＣＤ−ＲＷにおいては反射率３０％以下と定められている。任意の光ディスクが装着される光ディスク装置においては、装着される光ディスクの種類を判別し、装着された光ディスクの種類に応じたゲイン調整や回転速度調整を行ってデータの記録／再生を行う必要がある。
【０００３】
通常、光ディスクの反射光量を検出し、当該反射光量の大小に応じて光ディスクの種類を判別する。例えば、フォーカスが合焦状態において光ディスクからの反射光量をしきい値と比較し、しきい値以上であればＣＤ−ＲＯＭと判別し、しきい値以下であればＣＤ−ＲＷと判別する等である。
【０００４】
図９には、判別機能を備えた従来の光ディスク装置の構成が示されている。スピンドルモータ２００により光ディスク２０２を回転駆動し、光ディスク２０２に対向配置したピックアップ２０４で反射光を受光してＲＦ信号２０６として出力する。ＲＦ信号２０６は復調器に出力されてデータが復調されるとともに、比較器２０８にも供給される。比較器２０８の他方には基準電圧Ｖｒｅｆが供給され、比較結果が判別信号２１０として判別器２１２に出力される。判別器２１２は、フォーカスが合焦状態にある場合に、判別信号２１０をチェックし、光ディスク２０２がＲ−ＬＤあるいはＬＤのいずれであるかを判定する。
【０００５】
【特許文献１】
特開平６−２６７１８１号公報（図１）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光ディスクは複数のメーカから供給され、規格内の反射率を有しない光ディスクも市場に流通しているのが現状である。例えば、ＣＤ−ＲＯＭにおいても、反射率が７０％以上の標準（規格内）ＣＤ−ＲＯＭが存在する一方、反射率が６０％程度しかないＣＤ−ＲＯＭも存在する。従来においては、単に反射率の大小により光ディスクを判別しているため、反射率が６０％のＣＤ−ＲＯＭであってもＣＤ−ＲＷであると誤って判別してしまう問題があった。ＣＤ−ＲＯＭを誤ってＣＤ−ＲＷと判別した場合、再生系のＲＦアンプゲインやサーボゲインはＣＤ−ＲＷ用に設定されるため、ＣＤ−ＲＯＭのデータを読み出す際にサーボ信号が飽和して正常に動作しない事態を招く。また、ＣＤ−ＲＷと誤って判別した場合、回転速度が低く制御されることもあり、本来のＣＤ−ＲＯＭの回転速度でデータの再生ができない問題もある。
【０００７】
さらに、上記従来技術においては、フォーカスが合焦状態にあることを確認した上で光ディスクの種類を判別しており、フォーカスが合焦状態にあることを検出する処理及び光ディスクを判別する処理が必要となる。
【０００８】
本発明の目的は、装着された光ディスクの種類を正確に判別することであり、また、判別結果に基づいて光ディスクの種類に応じた適切な制御パラメータを用いてデータの記録／再生を行うことのできる光ディスク装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、光ディスクからの反射光を受光し反射光量に応じた反射信号を出力するピックアップと、前記反射信号の強度をしきい値と比較することでフォーカス外れを検出する手段とを有する光ディスク装置であって、前記しきい値を順次変化させることで前記フォーカス外れを検出するとともに前記光ディスクの種類を判別する判別手段とを有する。光ディスクからの反射光量は、フォーカス外れの度合い及び光ディスクの反射率に応じて変化する。フォーカス外れが生じておらず、ある程度の合焦状態にあれば、反射信号強度は一定値以上の出力となり、その値は光ディスクの反射率に応じて決定される。フォーカス外れが生じているか否かは、反射信号強度をしきい値を比較することで検出することが可能であるが、このしきい値を順次変化させることで反射信号強度を定量評価でき、光ディスクの反射率、すなわち光ディスクの判別が可能となる。本発明では、フォーカスが合焦状態にあることを確認した上で光ディスクの種類を判別するのではなく、フォーカス外れか否かを判定するためのしきい値自体を変化させて光ディスクの種類を判別するものであって、合焦状態判別と光ディスク種類判別とを同時に実施すると云うことができる。
【００１０】
本発明の１つの実施形態では、判別手段はしきい値を少なくとも２段階に変化させることで少なくとも光ディスクを高反射率ディスク、中反射率ディスク、低反射率ディスクのいずれかに判別する。高反射率ディスクは例えば標準（規格内）ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒであり、低反射率ディスクは例えばＣＤ−ＲＷであり、中反射率ディスクはその中間の反射率を有する規格外のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒ（規格内ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒから見れば相対的に低反射率のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒ）である。
【００１１】
本発明の他の実施形態では、光ディスクの判別結果に応じてゲインや回転速度を調整する。一般的に、反射率の高いディスクの場合にはゲインの微調整や高回転速度で駆動し、反射率の低いディスクの場合にはゲインの大幅な増大や低回転速度での駆動に切り替える。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１３】
図１には、本実施形態の構成ブロック図が示されている。光ディスク１０は、スピンドル１２により光ディスク１０の種類に応じた回転速度で回転駆動される。例えば、光ディスク１０がＣＤ−ＲＯＭの場合には２４倍速（×２４）で駆動され、ＣＤ−ＲＷの場合には１０倍速（×１０）で駆動される。光ピックアップ（ＰＵ）１４は光ディスク１０に対向配置され、光ディスク１０の表面にレーザ光を照射するレーザダイオード（ＬＤ）及びフォトディテクタを含んで構成される。光ピックアップ１４のフォトディテクタは、反射光量に応じた検出信号をＲＦ処理部１６に出力する。
【００１４】
ＲＦ処理部１６はＲＦアンプを備え、ＲＦ再生信号を増幅して出力する。また、ＲＦ処理部１６は、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成してＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）１８に供給する。トラッキングエラー信号は例えば差動プッシュプル法により生成され、具体的にはメインビームのプッシュプル信号とサブビームのプッシュプル信号との差分により生成される。フォーカスエラー信号は例えば非点収差法により生成される。また、ＲＦ処理部１６は、フォーカスはずれを検出するためのＦＯＫ信号を生成してＤＳＰ１８に供給する。ＦＯＫ信号は、ＲＦ信号のエンベロープから生成される。
【００１５】
ＤＳＰ１８は、メインビームの反射光を受光するフォトディテクタからの和信号を増幅して得られる再生ＲＦ信号をデコーダ２０に出力する。デコーダ２０では、イコライザや二値化器を備え、再生ＲＦ信号の所定周波数、具体的には３Ｔ信号の振幅をブーストして二値化し、二値化信号を復調してコントローラ２２に出力する。復調は、図示しないＰＬＬ回路で同期クロック信号を生成して信号を抽出することにより実行される。コントローラ２２はデコーダ２０からの復調データをパーソナルコンピュータ等の上位装置に出力する。また、ＤＳＰ１８は、フォーカスエラー信号をフォーカス制御部（ドライバ）２４に供給する。フォーカス制御部２４は、フォーカスエラー信号に基づきピックアップ１４の対物レンズを駆動して合焦状態を維持する。トラッキング制御についても同様であり、ＤＳＰ１８はトラッキングエラー信号をトラッキング制御部（ドライバ）２６に供給し、ピックアップ１４をトラック幅方向に駆動してオントラック状態に維持する。さらに、ＤＳＰ１８は、ＲＦ処理部１６からのＦＯＫ信号のレベルを判定し、その結果をコントローラ２２に供給する。ＤＳＰ１８におけるＦＯＫ信号のレベル判定は、ＦＯＫ信号のレベルと所定のしきい値とを大小比較することで行われ、所定のしきい値はコントローラ２２からの指令により順次変更される。
【００１６】
コントローラ２２は、デコーダ２０からの復調データをパーソナルコンピュータ等の上位装置に出力する。また、データ記録時には、上位装置からのデータを入力し、図示しないエンコーダに供給してエンコードし、ピックアップ１４内のレーザダイオードを駆動する。また、コントローラ２２は、ＤＳＰ１８からのＦＯＫ信号のレベル判定結果を入力し、フォーカス外れが生じていないか否かを判定すると同時に光ディスク１０の種類を判別してサーボゲインやＲＦアンプゲイン等を調整し、さらにスピンドルモータ１２を制御して回転速度を調整する。コントローラ２２は、ＤＳＰ１８からのＦＯＫ信号のレベル判定結果に基づいてフォーカス外れの有無、及び光ディスク１０の判別を実行するが、基本的な処理アルゴリズムは以下のようである。すなわち、まず第１しきい電圧をレジスタ１８ｊに設定してＤＳＰ１８内のコンパレータ１８ｉにてＦＯＫ信号のレベルを比較させる。そして、フォーカス外れの有無の判定及び光ディスクの判別を実行して終了する。一方、レベル判定結果が否定的であれば第１しきい電圧よりも低い第２しきい電圧をレジスタ１８ｊに設定してコンパレータ１８ｉにてＦＯＫ信号のレベルを再比較させる。このように順次しきい電圧を第１しきい電圧→第２しきい電圧→第３しきい電圧と低下させることでフォーカス外れの有無と光ディスク１０の判別処理を実行する。本実施形態において、コントローラ２２は光ディスク１０として、少なくとも標準（規格内）ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒ、低反射率ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷを互いに識別する。
【００１７】
なお、図１において、ＲＦ処理部１６が物理的にＲＦ信号処理回路とエラー信号検出回路とに分かれていてもよい。ＲＦ信号処理回路は、フォトディテクタの和信号を増幅して再生ＲＦ信号としてＤＳＰ１８、さらにデコーダ２０に出力するとともに、ＦＯＫ信号を生成してＤＳＰ１８に出力する。エラー信号検出回路は、フォトディテクタの差信号からフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を生成してＤＳＰ１８に出力する。ＲＦ信号処理回路は、ＦＯＫ信号の他に、ＲＦの有無を検出するためのＲＦＯＫ信号を生成して出力してもよい。ＲＦＯＫ信号は、ＲＦ信号をハイパスフィルタに供給して高周波成分のみを通過させ、その後ピーク検波することで生成できる。
【００１８】
図２及び図３には、ＤＳＰ１８の機能ブロック図が示されている。ＤＳＰ１８には、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号を処理するエラー処理系、及びＦＯＫ信号を処理するフォーカス処理系が存在する。図２はエラー処理系の機能ブロック図であり、図３はＦＯＫ信号処理系の機能ブロック図である。
【００１９】
図２において、ＲＦ処理部１６からのエラー信号（トラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号）はＡ／Ｄ１８ａにてデジタル信号に変換され、乗算器１８ｂで乗算された後、ゲイン補償部１８ｃ及び位相補償部１８ｄに供給される。ゲイン補償部１８ｃでゲイン補償された信号及び位相補償部１８ｄで位相補償された信号は加算器１８ｅで加算された後、乗算器１８ｆで再び増幅された後、Ｄ／Ａ１８ｇにてアナログ信号に戻されてフォーカス制御部２４あるいはトラッキング制御部２６に供給される。ＤＳＰ１８内のゲインは、例えば乗算器１８ｆでの乗算係数を変化させることで可変にでき、具体的にはレジスタ１８ｈの値を変化させることで可変にできる。レジスタ１８ｈのセット値はコントローラ２２からの制御信号により決定される。
【００２０】
一方、図３はＦＯＫ信号処理系の機能ブロック図であり、ＲＦ処理部１６からのＦＯＫ信号はコンパレータ１８ｉの非反転入力端子（＋）に供給される。一方、コンパレータ１８ｉの反転入力端子（−）にはしきい電圧Ｖｔｈが供給される。しきい電圧Ｖｔｈの値はレジスタ１８ｊの値をセットすることにより決定され、レジスタ１８ｊの値はコントローラ２２からの制御信号により設定される。具体的には、コントローラ２２は第１のしきい値、第１のしきい値よりも小さい第２のしきい値、第２のしきい値よりも小さい第３のしきい値と順次小さくなるようにしきい電圧Ｖｔｈの値を設定する。
【００２１】
コンパレータ１８ｉは、ＦＯＫ信号としきい電圧Ｖｔｈとを大小比較し、ＦＯＫ信号がしきい電圧Ｖｔｈ以上であればＨｉとなり、ＦＯＫ信号がしきい電圧Ｖｔｈより小さければＬｏｗとなる２値信号を出力する。ＦＯＫ信号は、上述したように反射信号のエンベロープ信号であり、反射光量の大きさを表す信号である。フォーカスがある程度合焦状態にあればＦＯＫ信号のレベルもある値以上のものとなり、しきい電圧Ｖｔｈ以上となってＨｉ信号として出力される。したがって、ＦＯＫ信号はフォーカスがある程度合焦状態にあるか否か、すなわちフォーカス外れが生じていないか否かを判定するために用いられる。一方、本実施形態においては、装着される光ディスク１０の反射率にバラツキが存在する場合、反射率に応じてＦＯＫ信号のレベルも変動するため、フォーカスが合焦状態にあるか否かを判定するためのしきい電圧Ｖｔｈ自体を順次変化させることで光ディスク１０の反射率の大小を評価する。すなわち、フォーカスが合焦状態にあることを確認した上で反射光量のレベルを判定するのではなく、フォーカスが合焦状態にあるか否かを判定するためのしきい値そのものを変化させることで反射光量のレベルを判定する。したがって、本実施形態では、フォーカスが合焦状態にあるか否かを確認すると同時に光ディスク１０の種類を判別することが可能である。
【００２２】
図４には、ＲＦ処理部１６内におけるＦＯＫ信号生成部の回路図が示されている。ピックアップ１４からの反射信号はアンプ１６ａで増幅された後、ピーク検波回路１６ｂに供給される。ピーク検波回路１６ｂは反射信号のピークを検出してトランジスタ１６ｃのベースに供給する。トランジスタ１６ｃのコレクタは電源に接続され、エミッタは定電流源に接続される。エミッタからの出力がＦＯＫ信号として出力される。
【００２３】
図５には、図４における信号１００、すなわちアンプ１６ａで増幅された反射信号が示されている。反射信号のＤＣオフセットは光ディスク装置によって異なり、例えば１．３Ｖ等である。反射信号のＤＣオフセットに重畳されるように出力される。このＤＣオフセットは、ＦＯＫ信号を２値化する際のしきい電圧Ｖｔｈの下限を規定する。
【００２４】
図６には、トランジスタ１６ｃのエミッタから出力されるＦＯＫ信号が示されている。ＦＯＫ信号はＤＳＰ１８内のコンパレータ１８ｉでしきい電圧Ｖｔｈと大小比較され、２値信号に変換される。しきい電圧ＶｔｈはＦＯＫ信号のレベル、すなわち光ディスク１０の反射率のレベルを評価するしきい値であり、Ｖｔｈ＞ＤＣオフセットを満たす範囲内で複数段に変化する。例えば、Ｖｔｈの値として１．９５Ｖ及び１．７５Ｖを設定してＦＯＫ信号と大小比較する。ＦＯＫ信号≧１．９５Ｖであればコンパレータ１８ｉからＨｉ信号が出力されコントローラ２２に供給されるから、コントローラ２２はフォーカス外れが生じていないと判定できるとともに、光ディスク１０の反射率が高く、標準（規格内）のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒと判別できる。一方、ＦＯＫ信号が１．９５Ｖよりも小さい場合には、コンパレータ１８ｉからＬｏｗ信号が出力されコントローラ２２に供給されるから、コントローラ２２は光ディスク１０は標準のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒではないと判別できる。この場合、コントローラ２２はさらに光ディスク１０を判別すべく、しきい電圧Ｖｔｈの値を１．９５Ｖから１．７５Ｖに変化させる。ＦＯＫ信号≧１．７５Ｖであればコンパレータ１８ｉからＨｉ信号が出力されコントローラ２２に供給されるから、コントローラ２２はフォーカス外れが生じていないと判定できるとともに、標準ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒよりも反射率は低いもののＣＤ−ＲＷほどの低い反射率ではないと判別し、すなわち低反射率のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒと判別できる。このように、ＦＯＫ信号を二値化するしきい電圧Ｖｔｈを少なくとも２段階に変化させることで、低反射率ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒを判別することができる。なお、フォーカス外れが生じている場合、しきい電圧Ｖｔｈを変化させてもＨｉ信号は出力されず、Ｌｏｗ信号のままとなる。
【００２５】
なお、しきい電圧Ｖｔｈは２段階ではなく、それ以上の段数で変化させることも可能である。
【００２６】
図７及び図８には、本実施形態の処理フローチャートが示されている。まず、ピックアップ１４内のレーザダイオード（ＬＤ）をオンし（Ｓ１０１）、光ディスク１０に再生パワーのレーザ光を照射する。次に、ＤＳＰ１８内のレジスタ１８ｊの値をセットし、ＦＯＫ信号のレベルを評価するためのしきい電圧Ｖｔｈを初期値の１．９５Ｖに設定する（Ｓ１０２）。この状態で、ピックアップ１４からの反射信号をＲＦ処理部１６に供給し、ＲＦ処理部１６からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号、ＦＯＫ信号、及び再生ＲＦ信号をＤＳＰ１８に出力する。ＤＳＰ１８では、ＦＯＫ信号をＶｔｈ＝１．９５Ｖと大小比較し、その結果をコントローラ２２に供給する。コントローラ２２では、ＤＳＰ１８からの二値信号がＨｉである、すなわちＦＯＫ信号がＶｔｈ＝１．９５Ｖ以上であるか否かを判定する。ＦＯＫ信号がＶｔｈ＝１．９５Ｖ以上である場合には、フォーカスがＯＫ、すなわちフォーカス外れではないと判定できるとともに（Ｓ１０３）、光ディスク１０の反射率は７０％を超えると判別でき（Ｓ１０４）、光ディスク１０の種類は標準（規格内）ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒであると判別する（Ｓ１０５）。ＦＯＫ信号をしきい電圧Ｖｔｈと比較するのみで、フォーカス外れでないことと光ディスク１０の判別を同時に実行できることに注意すべきである。コントローラ２２は、光ディスク１０の種類を判別した後、その種類に応じてゲイン調整及び回転速度調整を行う。光ディスク１０が規格内のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒである場合、コントローラ２２はＤＳＰ１８内のサーボゲインを調整するのみで再生信号を処理し、また、スピンドルモータ１２に制御信号を出力してその回転速度を２４倍速に設定する（Ｓ１０６）。
【００２７】
一方、Ｓ１０３にてＮＯ、すなわちＦＯＫ信号のレベルがＶｔｈ＝１．９５Ｖより小さいと判定された場合、コントローラ２２はＤＳＰ１８のレジスタ１８ｊを再びセットしてしきい電圧Ｖｔｈを１．９５Ｖから１．７５Ｖに低下させる（Ｓ１０７）。しきい電圧Ｖｔｈを１．７５Ｖに設定した後、再びコントローラ２２はＤＳＰ１８からの二値信号がＨｉであるか否か、すなわちＦＯＫ信号のレベルがＶｔｈ＝１．７５Ｖ以上であるか否かを判定する。ＦＯＫ信号がＶｔｈ＝１．７５以上である場合には、フォーカス外れは生じていないものと判定できるとともに（Ｓ１０８）、光ディスクの反射率は５０％を超えるものと判別し（Ｓ１０９）、光ディスク１０は中反射率のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒであると判別する（Ｓ１１０）。光ディスク１０の種類が中反射率のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒと判別された場合、コントローラ２２は次に光ディスク１０の種類に応じたゲイン調整あるいは回転速度調整を行う。この場合、コントローラ２２はＤＳＰ１８内のゲインに加え、さらにピックアップ１４のゲインを調整してゲイン量を増大させる（Ｓ１１１）。ゲイン調整した後、コントローラ２２はスピンドルモータ１２に制御信号を供給し、再生速度を２４倍速に設定してデータを再生する（Ｓ１１２）。Ｓ１１１にてゲイン調整しているため、中反射率ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒにおいても標準ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒと同様に２４倍速で再生することができる。
【００２８】
一方、Ｓ１０８にてＮＯ、すなわちＦＯＫ信号のレベルがＶｔｈ＝１．７５Ｖより小さい場合には、図８の処理に移行する。
【００２９】
図８の処理において、まずＤＳＰ１８内のレジスタ１８ｊの値をセットし、ＦＯＫ信号のレベルを評価するためのしきい電圧Ｖｔｈを１．７５Ｖから１．５５Ｖに設定する（Ｓ１１３）。この状態で、ピックアップ１４からの反射信号をＲＦ処理部１６に供給し、ＲＦ処理部１６からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号、ＦＯＫ信号、及び再生ＲＦ信号をＤＳＰ１８に出力する。ＤＳＰ１８では、ＦＯＫ信号をＶｔｈ＝１．５５Ｖと大小比較し、その結果をコントローラ２２に供給する。コントローラ２２では、ＤＳＰ１８からの二値信号がＨｉである、すなわちＦＯＫ信号がＶｔｈ＝１．５５Ｖ以上であるか否かを判定する。ＦＯＫ信号がＶｔｈ＝１．５５Ｖ以上である場合には、フォーカスがＯＫ、すなわちフォーカス外れではないと判定できるとともに（Ｓ１１４）、光ディスク１０の反射率は４０％を超えると判別でき（Ｓ１１５）、光ディスク１０の種類は低反射率ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒであると判別する（Ｓ１１６）。コントローラ２２は、光ディスク１０の種類を判別した後、その種類に応じてゲイン調整及び回転速度調整を行う。光ディスク１０が低反射率ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒである場合、コントローラ２２はＤＳＰ１８内のサーボゲイン、ＲＦアンプのゲインを調整することに加え、さらにピックアップ１４内のゲインも調整して再生信号を処理する（Ｓ１１７）。また、スピンドルモータ１２に制御信号を出力してその回転速度を２４倍速あるいは１０倍速に設定する（Ｓ１１８）。１０倍速とするのは、ゲイン調整だけでは再生できないことを考慮したものである。
【００３０】
Ｓ１１４にてＮＯ、すなわちＦＯＫ信号のレベルがＶｔｈ＝１．５５Ｖより小さいと判定された場合、コントローラ２２は光ディスク１０の種類は反射率が３０％以下のＣＤ−ＲＷであると判別し（Ｓ１１９）、ＤＳＰ１８のゲイン、ＲＦアンプゲイン、ピックアップ１４のゲインをＣＤ−ＲＷ用に設定するとともに（Ｓ１２０）、スピンドルモータ１２を制御して回転速度をＣＤ−ＲＷ用の１０倍速に調整する（Ｓ１２１）。なお、Ｓ１１９においてＣＤ−ＲＷであると判別する前に、コントローラ２２はＤＳＰ１８のレジスタ１８ｊを再びセットしてしきい電圧Ｖｔｈを１．５５Ｖから最低のしきい値（ＤＣオフセットよりも若干高いレベル）、例えば１．４０Ｖに低下させ、コンパレータ１８ｉからの二値信号がＨｉになることを確認した上で判別してもよい。この場合にコンパレータ１８ｉからの二値信号がＬｏｗのままである場合、フォーカスが外れている、あるいはディスクが存在しないと判別する。
【００３１】
表１には、光ディスク１０の種類に応じたゲイン調整及び回転速度（倍速）がまとめて示されている。
【００３２】
【表１】
2004206765.tif 000003
【００３３】
表１において、ゲイン調整の度合いはＤＳＰゲイン≦ピックアップゲイン≦ＲＦアンプゲインの順に大きくなる。ＤＳＰゲインで微調整を行い、ＤＳＰゲインで調整できない場合にさらにピックアップゲインと併せてゲイン調整を行い、ＤＳＰゲイン及びピックアップゲインで調整できない場合にさらにＲＦアンプゲインを調整することで、種々の反射率を有する光ディスク１０に対応する。低反射率ＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒにおける回転速度の（２４倍速／１０倍速）は、ゲイン調整で足りない場合に２４倍速から１０倍速に低下させることを示している。ユーザにとっては可能な限り高速でのデータ記録／再生が好ましく、低反射率のＣＤ−ＲＯＭあるいはＣＤ−Ｒであっても一律に回転速度を低下させるのではなくゲイン調整の全てを行った後に回転速度を低下させることで、ユーザの要求に応えることができる。
【００３４】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、光ディスクの種類を判別し、最適な記録／再生特性に設定できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施形態の構成ブロック図である。
【図２】図１におけるＤＳＰの機能ブロック図（エラー処理系）である。
【図３】図１におけるＤＳＰの機能ブロック図（ＦＯＫ信号系）である。
【図４】図１におけるＲＦ処理部の回路図である。
【図５】ＲＦ信号波形説明図である。
【図６】ＦＯＫ信号波形説明図である。
【図７】実施形態の全体処理フローチャート（その１）である。
【図８】実施形態の全体処理フローチャート（その２）である。
【図９】従来装置の構成図である。
【符号の説明】
１０  光ディスク、１２  スピンドルモータ、１４  ピックアップ、１６  ＲＦ処理部、１８  ＤＳＰ、２０  デコーダ、２２  コントローラ、２４  フォーカス制御部（ドライバ）、２６  トラッキング制御部（ドライバ）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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