(57)【要約】【課題】本発明は、ビームスポットの移動により発生するトラッキングエラー信号の位相遅れを改善してデトラックの発生を少なくすることで、記録品質を向上させることができる光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法を提供することを課題とする。【解決手段】メインビーム０次回折光とメインビーム±１次回折光とからそれぞれ位相がずれたメインプッシュプル信号ＭＰＰａ、ＭＰＰｂ、ＭＰＰｃを求め、サブビーム０次回折光とサブビーム±１次回折光とからそれぞれ位相がずれたサブプッシュプル信号ＳＰＰａ、ＳＰＰｂ、ＳＰＰｃを求め、メインプッシュプル信号ＭＰＰａ、ＭＰＰｂ、ＭＰＰｃからサブプッシュプル信号ＳＰＰａ、ＳＰＰｂ、ＳＰＰｃをそれぞれ減算することにより、トラッキングエラー信号ＴＥ３６、ＴＥ３７、ＴＥ３８を求めて加算することによりトラッキングエラー信号ＴＥ１７が得られる。【選択図】　　　　図３
2004039083.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に照射したメインビームの反射光と、前記メインビームの照射位置に対し±１／２トラックずらして前記記録媒体に照射した２本のサブビームの反射光とに基づいて作成されたトラッキングエラー信号によってトラッキング制御を行う光ピックアップ装置であって、
前記メインビームの反射光をメインビーム０次光とメインビーム±１次光とに３分割すると共に、前記２本のサブビームの反射光をサブビーム０次光とサブビーム±１次光とにそれぞれ３分割する分光手段と、
該分光手段によって分光された前記メインビーム０次光が照射されるメインビーム０次光用受光手段と、
前記分光手段によって分光された前記サブビーム０次光が照射される一対のサブビーム０次光用受光手段と、
前記分光手段によって分光された前記メインビーム＋１次光が照射されるメインビーム＋１次光用受光手段と、
前記分光手段によって分光された前記サブビーム＋１次光が照射される一対のサブビーム＋１次光用受光手段と、
前記分光手段によって分光された前記メインビーム−１次光が照射されるメインビーム−１次光用受光手段と、
前記分光手段によって分光された前記サブビーム−１次光が照射される一対のサブビーム−１次光用受光手段と、
前記メインビーム０次光用受光手段、前記サブビーム０次光用受光手段、前記メインビーム＋１次光用受光手段、前記サブビーム＋１次光用受光手段、前記メインビーム−１次光用受光手段および前記サブビーム−１次光用受光手段からの出力信号に基づいて前記トラッキングエラー信号を作成するトラッキングエラー信号作成手段とを具備し、
前記メインビーム０次光用受光手段と前記サブビーム０次光用受光手段とからの出力信号により作成される０次光差動プッシュプル信号とＲＦ信号との間に位相差がない時に、前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段とからの出力信号により作成される＋１次光差動プッシュプル信号が前記０次光差動プッシュプル信号に対して０度を越え９０度以下の位相ずれを発生するように構成されていると共に、前記メインビーム−１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とからの出力信号により作成される−１次光差動プッシュプル信号が前記０次光差動プッシュプル信号に対して前記＋１次光差動プッシュプル信号と同量逆方向の位相ずれを発生するように構成されていることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記トラッキングエラー信号作成手段は、前記０次光差動プッシュプル信号と前記＋１次光差動プッシュプル信号と前記−１次光差動プッシュプル信号とを和算して前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記メインビーム０次光用受光手段と前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記メインビーム−１次光用受光手段とは、それぞれ前記記録媒体のトラッキング方向と当該トラッキング方向と直交する方向とに４分割されたエレメントからなり、
前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とは、それぞれ前記記録媒体のトラッキング方向と直交する方向に２分割されたエレメントからなることを特徴とする請求項１又は２記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記メインビーム０次光用受光手段と前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記メインビーム−１次光用受光手段とからの出力信号を和算してメインプッシュプル信号を作成するメインプッシュプル信号作成手段と、
前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とからの出力信号を和算してサブプッシュプル信号を作成するサブプッシュプル信号作成手段とを具備し、
前記トラッキングエラー信号作成手段は、前記メインプッシュプル信号から前記サブプッシュプル信号を減算して前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とが一体化されていることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】
記録媒体に照射したメインビームの反射光と、前記メインビームの照射位置に対し±１／２トラックずらして前記記録媒体に照射した２本のサブビームの反射光とに基づいて作成されたトラッキングエラー信号によってトラッキング制御を行う光ピックアップ装置におけるトラッキング制御方法であって、
前記メインビームの反射光をメインビーム０次光とメインビーム±１次光とに３分割すると共に、前記２本のサブビームの反射光をサブビーム０次光とサブビーム±１次光とにそれぞれ３分割し、
前記メインビーム０次光をメインビーム０次光用受光手段に照射し、
前記サブビーム０次光を一対のサブビーム０次光用受光手段にそれぞれ照射し、
前記メインビーム０次光用受光手段と前記サブビーム０次光用受光手段とからの出力信号により作成される０次光差動プッシュプル信号とＲＦ信号との間に位相差がない時、前記０次光差動プッシュプル信号に対して０度を越え９０度以下の位相ずれを発生する＋１次光差動プッシュプル信号を作成することができる出力信号が得られる位置に配置されたメインビーム＋１次光用受光手段と一対のサブビーム＋１次光用受光手段とに前記メインビーム＋１次光と前記サブビーム＋１次光とをそれぞれ照射し、
前記メインビーム０次光用受光手段と前記サブビーム０次光用受光手段とからの出力信号により作成される０次光差動プッシュプル信号とＲＦ信号との間に位相差がない時、前記０次光差動プッシュプル信号に対して前記＋１次光差動プッシュプル信号と同量逆方向の位相ずれを発生する−１次光差動プッシュプル信号を作成することができる出力信号が得られる位置に配置されたメインビーム−１次光用受光手段と一対のサブビーム−１次光用受光手段とに前記メインビーム−１次光と前記サブビーム−１次光とをそれぞれ照射し、
前記メインビーム０次光用受光手段、前記サブビーム０次光用受光手段、前記メインビーム＋１次光用受光手段、前記サブビーム＋１次光用受光手段、前記メインビーム−１次光用受光手段および前記サブビーム−１次光用受光手段からの出力信号に基づいて前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とするトラッキング制御方法。
【請求項７】
前記０次光差動プッシュプル信号と前記＋１次光差動プッシュプル信号と前記−１次光差動プッシュプル信号とを和算して前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とする請求項６記載のトラッキング制御方法。
【請求項８】
前記メインビーム０次光用受光手段と前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記メインビーム−１次光用受光手段とは、それぞれ前記記録媒体のトラッキング方向と当該トラッキング方向と直交する方向とに４分割されたエレメントからなり、
前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とは、それぞれ前記記録媒体のトラッキング方向と直交する方向に２分割されたエレメントからなることを特徴とする請求項６又は７記載のトラッキング制御方法。
【請求項９】
前記メインビーム０次光用受光手段と前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記メインビーム−１次光用受光手段とからの出力信号を和算してメインプッシュプル信号を作成し、
前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とからの出力信号を和算してサブプッシュプル信号を作成し、
前記メインプッシュプル信号から前記サブプッシュプル信号を減算して前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とする請求項６乃至８のいずれかに記載のトラッキング制御方法。
【請求項１０】
一体化された前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とにより、前記サブビーム０次光とサブビーム＋１次光とサブビーム−１次光とを受光することを特徴とする請求項６乃至９のいずれかに記載のトラッキング制御方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法に関し、特に光磁気ディスク装置等の記録式光ディスク装置に用いられる光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光磁気ディスク装置等の記録式光ディスク装置に用いられる光ピックアップ装置において、対物レンズのトラッキング方向制御方法として差動プッシュプル方式が用いられている。
【０００３】
差動プッシュプル方式は、対物レンズ出射光を３分割し、２本のサブビームをメインビームから１／２トラックずらして配置し、メインビームのプッシュプル信号からサブビームのプッシュプル信号を減算してトラッキング信号とすることで、通常のプッシュプル方式において、対物レンズがディスク上の情報トラックに追従してトラッキング方向に変位した時に受光素子上に収束するディスクからの反射光のスポットが移動することにより発生してしまうトラッキング信号のオフセットを、キャンセルすることができる。
【０００４】
図９は、従来の光ピックアップ装置の構成を示す図であり、図１０は、ディスク上に照射されるメインビームとサブビームとの配置を示す図であり、図１１は、図９に示す受光素子の構成を示す図であり、図１２は、図９に示す受光素子による反射光の受光によって作成されるＲＦ信号、メインプッシュプル信号、サブプッシュプル信号およびトラッキングエラー信号を示す波形図であり、図１３は、対物レンズがトラッキング方向に変位した時の図９に示す受光素子における反射光スポットの位置を示す図であり、図１４は、対物レンズがトラッキング方向に変位した時に図９に示す受光素子による反射光の受光によって作成されるＲＦ信号、メインプッシュプル信号、サブプッシュプル信号およびトラッキングエラー信号を示す波形図である。
【０００５】
半導体レーザ１００から出力された光ビームは、図９に示すように、コリメータレンズ１０１によって平行光とされ、回折格子１０２によってディスク情報の読み込み並びに書き込みを行うメインビームとトラッキング制御に用いられる２本のサブビームとからなる３本の光ビームに分割され、ビームスプリッタ１０３の反射面１０３ａで反射され、対物レンズ１０４で集光されてディスク１０５上に照射される。
【０００６】
メインビームと２本のサブビームとは、図１０を参照すると、メインビームのメインビームスポット１がディスク１０５の情報トラック２上に配置された時、２本のサブビームのサブビームスポット３ａ、３ｂ　がメインビームスポット１に対し±１／２トラックずらして配置される。
【０００７】
ディスク１０５からの反射光は、対物レンズ１０４によって集光され、ビームスプリッタ１０３の反射面１０３ｂで反射され、受光レンズ１０６で集光され受光素子１０７上に照射される。メインビームと２本のサブビームとは、図１１を参照すると、メインビームが受光素子１０７のエレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８上に反射光スポット４として照射され、２本のサブビームが受光素子１０７のエレメントＥ１０、Ｆ１１上とエレメントＧ１２、Ｈ１３上とに反射光スポット９ａ、９ｂとしてそれぞれ照射される。
【０００８】
ディスク１０５上のメインビームスポット１がディスク１０５の情報トラック２を横切ることによって受光素子１０７のエレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８からそれぞれ出力される信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを用いて（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）　の演算をすることにより、ＲＦ信号１４が得られ、（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）の演算をすることによりメインプッシュプル信号ＭＰＰ１５が得られる。また、ディスク上のサブビームスポット３ａ、３ｂがディスク１０５の情報トラック２を横切ることによってエレメントＥ１０、Ｆ１１、Ｇ１２、Ｈ１３からそれぞれ出力される信号Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈを用いて（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）の演算をすることによりメインプッシュプル信号ＭＰＰ１５と逆位相のサブプッシュプル信号ＳＰＰ１６が得られ、メインプッシュプル信号ＭＰＰ１５からサブプッシュプル信号ＳＰＰ１６を減算することでトラッキングエラー信号ＴＥ１７が得られる。
【０００９】
このようにして得られるトラッキングエラー信号ＴＥ１７では、対物レンズ１０４がディスク１０５上の情報トラック２に追従してトラッキング方向に変位した時、図１３に示すように、受光素子１０７上に収束するディスク１０５からの反射光スポット４、９ａ、９ｂが受光素子１０７のエレメントＡ５、Ｂ６、Ｇ１２、Ｈ１３の方向に移動して、図１４に示すように、メインプッシュプル信号ＭＰＰ１５にオフセット１５ａが発生するが、同量発生するサブプッシュプル信号ＳＰＰ１６のオフセット１６ａによりキャンセルすることができ、オフセットの発生しないトラッキングエラー信号ＴＥ１７が得られる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の差動プッシュプル方式では、対物レンズ１０４がディスク１０５の情報トラック２に追従してトラッキング方向に変位した時に、図１４に示すように、トラッキングエラー信号ＴＥ１７が０になる点１７ａと、ＲＦ信号１４が振幅最大となる点１４ａとに位相差１８が発生し、トラッキングエラー信号ＴＥ１７により制御されるディスク１０５上のメインビームスポット１はＲＦ信号１４が振幅最大となる点１４ａには制御されず、振幅最大となる点１４ａから位相差１８だけずれた点１４ｂに制御されることになり、すなわち、ディスク１０５上のメインビームスポット１はディスク１０５の情報トラック２に対してトラッキング方向にオフセットした位置に制御されてしまうデトラックになってしまう。
【００１１】
さらに、対物レンズ１０４がディスク１０５の情報トラック２に追従してトラッキング方向に大きく変位し、反射光スポット４、９ａ、９ｂが大きく移動し、受光素子１０７のエレメントＡ５、Ｂ６、Ｅ１０、Ｇ１２にのみ照射される状態になると、トラッキングエラー信号ＴＥ１７が０になる点１７ａと、ＲＦ信号１４が最大となる点１４ａの位相差１８は−９０度となる（位相差１８は±９０度以上にはなり得ない）。
【００１２】
また、光学式ピックアップ組み立て時の受光素子調整精度により、メインビームの反射光スポット４が受光素子のエレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８の中心からずれた位置に配置された場合は、対物レンズ１０４がトラッキング方向に変位しなくても、トラッキングエラー信号ＴＥ１７が０になる点１７ａと、ＲＦ信号１４が最大となる点１４ａの位相差１８が発生し、デトラックになってしまう。
【００１３】
以上のように、従来の差動プッシュプル方式では、対物レンズ１０４の変位により、デトラックが発生し、主に記録品質の劣化が発生するという問題点があると共に、光学式ピックアップ組み立て時の受光素子調整精度にってもデトラックが発生するため、光学式ピックアップ機構の受光素子調整において、反射光スポットが受光素子１０７の中心近傍に配置されるように高い精度で調整しなければならず、組み立てコストが高くなるという問題点があった。
【００１４】
本発明は斯かる問題点を鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、対物レンズの変位、又は、受光素子位置調整精度誤差に伴うビームスポットの移動により発生するトラッキングエラー信号の位相遅れを改善してデトラックの発生を少なくすることで、記録品質を向上させることができると共に、受光素子位置調整精度を緩和して組み立てコストが低減することができる光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法を提供する点にある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題を解決すべく、以下に掲げる構成とした。
請求項１記載の発明の要旨は、記録媒体に照射したメインビームの反射光と、前記メインビームの照射位置に対し±１／２トラックずらして前記記録媒体に照射した２本のサブビームの反射光とに基づいて作成されたトラッキングエラー信号によってトラッキング制御を行う光ピックアップ装置であって、前記メインビームの反射光をメインビーム０次光とメインビーム±１次光とに３分割すると共に、前記２本のサブビームの反射光をサブビーム０次光とサブビーム±１次光とにそれぞれ３分割する分光手段と、該分光手段によって分光された前記メインビーム０次光が照射されるメインビーム０次光用受光手段と、前記分光手段によって分光された前記サブビーム０次光が照射される一対のサブビーム０次光用受光手段と、前記分光手段によって分光された前記メインビーム＋１次光が照射されるメインビーム＋１次光用受光手段と、前記分光手段によって分光された前記サブビーム＋１次光が照射される一対のサブビーム＋１次光用受光手段と、前記分光手段によって分光された前記メインビーム−１次光が照射されるメインビーム−１次光用受光手段と、前記分光手段によって分光された前記サブビーム−１次光が照射される一対のサブビーム−１次光用受光手段と、前記メインビーム０次光用受光手段、前記サブビーム０次光用受光手段、前記メインビーム＋１次光用受光手段、前記サブビーム＋１次光用受光手段、前記メインビーム−１次光用受光手段および前記サブビーム−１次光用受光手段からの出力信号に基づいて前記トラッキングエラー信号を作成するトラッキングエラー信号作成手段とを具備し、前記メインビーム０次光用受光手段と前記サブビーム０次光用受光手段とからの出力信号により作成される０次光差動プッシュプル信号とＲＦ信号との間に位相差がない時に、前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段とからの出力信号により作成される＋１次光差動プッシュプル信号が前記０次光差動プッシュプル信号に対して０度を越え９０度以下の位相ずれを発生するように構成されていると共に、前記メインビーム−１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とからの出力信号により作成される−１次光差動プッシュプル信号が前記０次光差動プッシュプル信号に対して前記＋１次光差動プッシュプル信号と同量逆方向の位相ずれを発生するように構成されていることを特徴とする光ピックアップ装置に存する。
また請求項２記載の発明の要旨は、前記トラッキングエラー信号作成手段は、前記０次光差動プッシュプル信号と前記＋１次光差動プッシュプル信号と前記−１次光差動プッシュプル信号とを和算して前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置に存する。
また請求項３記載の発明の要旨は、前記メインビーム０次光用受光手段と前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記メインビーム−１次光用受光手段とは、それぞれ前記記録媒体のトラッキング方向と当該トラッキング方向と直交する方向とに４分割されたエレメントからなり、前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とは、それぞれ前記記録媒体のトラッキング方向と直交する方向に２分割されたエレメントからなることを特徴とする請求項１又は２記載の光ピックアップ装置に存する。
また請求項４記載の発明の要旨は、前記メインビーム０次光用受光手段と前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記メインビーム−１次光用受光手段とからの出力信号を和算してメインプッシュプル信号を作成するメインプッシュプル信号作成手段と、前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とからの出力信号を和算してサブプッシュプル信号を作成するサブプッシュプル信号作成手段とを具備し、前記トラッキングエラー信号作成手段は、前記メインプッシュプル信号から前記サブプッシュプル信号を減算して前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光ピックアップ装置に存する。
また請求項５記載の発明の要旨は、前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とが一体化されていることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光ピックアップ装置に存する。
また請求項６記載の発明の要旨は、記録媒体に照射したメインビームの反射光と、前記メインビームの照射位置に対し±１／２トラックずらして前記記録媒体に照射した２本のサブビームの反射光とに基づいて作成されたトラッキングエラー信号によってトラッキング制御を行う光ピックアップ装置におけるトラッキング制御方法であって、前記メインビームの反射光をメインビーム０次光とメインビーム±１次光とに３分割すると共に、前記２本のサブビームの反射光をサブビーム０次光とサブビーム±１次光とにそれぞれ３分割し、前記メインビーム０次光をメインビーム０次光用受光手段に照射し、前記サブビーム０次光を一対のサブビーム０次光用受光手段にそれぞれ照射し、前記メインビーム０次光用受光手段と前記サブビーム０次光用受光手段とからの出力信号により作成される０次光差動プッシュプル信号とＲＦ信号との間に位相差がない時、前記０次光差動プッシュプル信号に対して０度を越え９０度以下の位相ずれを発生する＋１次光差動プッシュプル信号を作成することができる出力信号が得られる位置に配置されたメインビーム＋１次光用受光手段と一対のサブビーム＋１次光用受光手段とに前記メインビーム＋１次光と前記サブビーム＋１次光とをそれぞれ照射し、前記メインビーム０次光用受光手段と前記サブビーム０次光用受光手段とからの出力信号により作成される０次光差動プッシュプル信号とＲＦ信号との間に位相差がない時、前記０次光差動プッシュプル信号に対して前記＋１次光差動プッシュプル信号と同量逆方向の位相ずれを発生する−１次光差動プッシュプル信号を作成することができる出力信号が得られる位置に配置されたメインビーム−１次光用受光手段と一対のサブビーム−１次光用受光手段とに前記メインビーム−１次光と前記サブビーム−１次光とをそれぞれ照射し、前記メインビーム０次光用受光手段、前記サブビーム０次光用受光手段、前記メインビーム＋１次光用受光手段、前記サブビーム＋１次光用受光手段、前記メインビーム−１次光用受光手段および前記サブビーム−１次光用受光手段からの出力信号に基づいて前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とするトラッキング制御方法に存する。
また請求項７記載の発明の要旨は、前記０次光差動プッシュプル信号と前記＋１次光差動プッシュプル信号と前記−１次光差動プッシュプル信号とを和算して前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とする請求項６記載のトラッキング制御方法に存する。
また請求項８記載の発明の要旨は、前記メインビーム０次光用受光手段と前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記メインビーム−１次光用受光手段とは、それぞれ前記記録媒体のトラッキング方向と当該トラッキング方向と直交する方向とに４分割されたエレメントからなり、前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とは、それぞれ前記記録媒体のトラッキング方向と直交する方向に２分割されたエレメントからなることを特徴とする請求項６又は７記載のトラッキング制御方法に存する。
また請求項９記載の発明の要旨は、前記メインビーム０次光用受光手段と前記メインビーム＋１次光用受光手段と前記メインビーム−１次光用受光手段とからの出力信号を和算してメインプッシュプル信号を作成し、前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とからの出力信号を和算してサブプッシュプル信号を作成し、前記メインプッシュプル信号から前記サブプッシュプル信号を減算して前記トラッキングエラー信号を作成することを特徴とする請求項６乃至８のいずれかに記載のトラッキング制御方法に存する。
また請求項１０記載の発明の要旨は、一体化された前記サブビーム０次光用受光手段と前記サブビーム＋１次光用受光手段と前記サブビーム−１次光用受光手段とにより、前記サブビーム０次光とサブビーム＋１次光とサブビーム−１次光とを受光することを特徴とする請求項６乃至９のいずれかに記載のトラッキング制御方法に存する。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００１７】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明に係る光ピックアップ装置の第１の実施の形態の構成を示す図であり、図２は、図１に示す分光素子によって反射光が分光される様子を示す図であり、図３は、図１に示す受光素子の構成を示す図である。
【００１８】
第１の実施の形態は、図１を参照すると、光ビームを出力するレーザーダイオード等の半導体レーザ１００と、半導体レーザ１００から出力された光ビームを平行光にするコリメータレンズ１０１と、半導体レーザ１００から出力された光ビームをディスク情報の読み込み並びに書き込みを行うメインビームとトラッキング制御に用いられる２本のサブビームとからなる３本の光ビームに分光する回折格子１０２と、光ビームを反射および透過させるビームスプリッタ１０３と、光ビームを集光してディスク１０５に照射する対物レンズ１０４と、ディスク１０５からの３本の反射光を９本に分光する回折格子等の分光素子１０８と、反射光を集光する受光レンズ１０６と、９本の反射光が照射される受光素子１０９と、受光素子１０９から出力される信号からトラッキングエラー信号を演算する演算部１１０とからなる。
【００１９】
半導体レーザ１００から出力された光ビームは、図１に示すように、コリメータレンズ１０１によって平行光とされ、回折格子１０２によってディスク情報の読み込み並びに書き込みを行うメインビーム（０次回折光）とトラッキング制御に用いられる２本のサブビーム（±１次回折光）とからなる３本の光ビームにトラッキング方向と略平行に分光され、ビームスプリッタ１０３の反射面１０３ａで反射され、対物レンズ１０４で集光されてディスク１０５上に照射される。
【００２０】
メインビームと２本のサブビームとは、図１０を参照すると、トラッキング方向に分光されており、メインビームのメインビームスポット１がディスク１０５の情報トラック２上に配置された時、２本のサブビームのサブビームスポット３ａ、３ｂ　がメインビームスポット１に対し±１／２トラックずらして配置される。
【００２１】
ディスク１０５からのメインビームと２本のサブビームとからなる反射光は、対物レンズ１０４によって集光され、ビームスプリッタ１０３の反射面１０３ｂで反射され、図２に示すように、分光素子１０８によってメインビームがメインビーム０次回折光とメインビーム±１次回折光との３本にトラッキング方向と略垂直に分光されると共に、２本のサブビームがサブビーム０次回折光とサブビーム±１次回折光とのそれぞれ３本にトラッキング方向と略垂直に分光され、分光素子１０８によって分光された計９本の反射光は、受光レンズ１０６で集光されて受光素子１０９上にそれぞれ照射される。
【００２２】
受光素子１０９は、図３を参照すると、分光素子１０８によって分光された３本のメインビームがそれぞれ照射される３個の受光部と、分光素子１０８によって分光された６本のサブビームがそれぞれ照射される６個の受光部とからなり、メインビーム用の３個の受光部は、エレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８と、エレメントＩ２０、Ｊ２１、Ｋ２２、Ｌ２３と、エレメントＭ２４、Ｎ２５、Ｏ２６、Ｐ２７とにそれぞれ４分割され、サブビーム用の６個の受光部はメインビーム用の３個の受光部の上下に３個ずつ配置され、エレメントＥ１０、Ｆ１１と、エレメントＧ１２、Ｈ１３と、エレメントＱ２８、Ｒ２９と、エレメントＵ３０、Ｖ３１と、エレメントＳ３２、Ｔ３３と、エレメントＷ３４、Ｘ３５とにそれぞれ上下に２分割されている。
【００２３】
エレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８には、メインビーム０次回折光が反射光スポット４ａとして照射され、エレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８の上下にそれぞれ配置されているエレメントＥ１０、Ｆ１１とエレメントＧ１２、Ｈ１３とには、サブビーム０次回折光が反射光スポット９ａａ、９ｂａとしてそれぞれ照射される。エレメントＡ５とエレメントＢ６とは、サブビーム０次回折光の反射光スポット９ａａ、９ｂａを結んだ線と略直行する向き（トラッキング方向と直行する向き）に並べられ、エレメントＣ７とエレメントＤ８とは、エレメントＢ６とエレメントＡ５とにそれぞれ対向する位置（図３においてエレメントＢ６とエレメントＡ５との下方位置）に配置され、エレメントＡ５、Ｄ８とエレメントＢ６、Ｃ７との分割線は、トラッキング方向と平行になり、エレメントＡ５、Ｂ６とエレメントＣ７、Ｄ８との分割線は、トラッキング方向と垂直になっている。
【００２４】
エレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８の左右に配置されたエレメントＩ２０、Ｊ２１、Ｋ２２、Ｌ２３とエレメントＭ２４、Ｎ２５、Ｏ２６、Ｐ２７とには、メインビーム±１次回折光が反射光スポット４ｂ、４ｃとしてそれぞれ照射され、エレメントＩ２０、Ｊ２１、Ｋ２２、Ｌ２３の上下にそれぞれ配置されているエレメントＱ２８、Ｒ２９とエレメントＳ３２、Ｔ３３とには、サブビーム＋１次回折光が反射光スポット９ａｂ、９ｂｂとしてそれぞれ照射され、エレメントＭ２４、Ｎ２５、Ｏ２６、Ｐ２７の上下にそれぞれ配置されているエレメントＵ３０、Ｖ３１とエレメントＷ３４、Ｘ３５とには、サブビーム−１次回折光が反射光スポット９ａｃ、９ｂｃとしてそれぞれ照射される。
【００２５】
エレメントＩ２０とエレメントＪ２１とは、サブビーム＋１次回折光の反射光スポット９ａｂ、９ｂｂを結んだ線と略直行する向き（トラッキング方向と直行する向き）に並べられ、エレメントＫ２２とエレメントＬ２３とは、エレメントＩ２０とエレメントＪ２１とにそれぞれ対向する位置（図３において、エレメントＩ２０とエレメントＪ２１との下方位置）に配置されおり、エレメントＩ２０、Ｌ２３とエレメントＪ２１、Ｋ２２との分割線は、トラッキング方向と平行になり、エレメントＩ２０、Ｊ２１とエレメントＫ２２、Ｌ２３との分割線は、トラッキング方向と垂直になっている。また、エレメントＭ２４とエレメントＮ２５とは、サブビーム−１次回折光の反射光スポット９ａｃ、９ｂｃを結んだ線と略直行する向き（トラッキング方向と直行する向き）に並べられ、エレメントＯ２６とエレメントＰ２７とは、エレメントＮ２５とエレメントＭ２４とにそれぞれ対向する位置（図３において、エレメントＮ２５とエレメントＭ２４との下方位置）に配置されており、エレメントＭ２４、Ｐ２７とエレメントＮ２５、Ｏ２６との分割線は、トラッキング方向と平行になり、エレメントＭ２４、Ｐ２７とエレメントＮ２５、Ｏ２６との分割線は、トラッキング方向と垂直になっている。
【００２６】
各エレメントに照射される反射光スポットは、図３に示すように、メインビーム０次回折光の反射光スポット４ａの中心部がエレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８の中心、すなわちそれぞれのエレメントの分割線上にある時、サブビーム０次回折光の反射光スポット９ａａの中心部と反射光スポット９ｂａの中心部とがそれぞれエレメントＥ１０、Ｆ１１とエレメントＧ１２、Ｈ１３の分割線上になるように配置され、メインビーム＋１次回折光の反射光スポット４ｂは、全てエレメントＩ２０、Ｊ２１上になり０度を超え＋９０度以下の位相ずれを発生する位置にオフセットして配置され、メインビーム−１次回折光の反射光スポット４ｃは、全てエレメントＯ２６、Ｐ２７上になりメインビーム＋１次回折光と同量逆方向の位相ずれを発生する位置にオフセットして配置され、サブビーム＋１次回折光の反射光スポット９ａｂは、全てエレメントＱ２８上になり０度を超え＋９０度以下の位相ずれを発生する位置にオフセットして配置され、サブビーム＋１次回折光の反射光スポット９ｂｂは、全てエレメントＳ３２上になり０度を超え＋９０度以下の位相ずれを発生する位置にオフセットして配置され、サブビーム−１次回折光の反射光スポット９ａｃは、全てエレメントＶ３１上になりサブビーム＋１次回折光と同量逆方向の位相ずれを発生する位置にオフセットして配置され、サブビーム−１次回折光の反射光スポット９ｂｃは、全てエレメントＸ３５上になりサブビーム＋１次回折光と同量逆方向の位相ずれを発生する位置にオフセットして配置されている。
【００２７】
次に、第１の実施の形態のトラッキング制御動作について図４乃至図６を参照して詳細に説明する。
図４は、図１に示す受光素子による反射光の受光によって作成されるＲＦ信号、メインプッシュプル信号、サブプッシュプル信号およびトラッキングエラー信号を示す波形図であり、図５は、対物レンズがトラッキング方向に変位した時の図１に示す受光素子における反射光スポットの位置を示す図であり、図６は、対物レンズがトラッキング方向に変位した時に図１に示す受光素子による反射光の受光によって作成されるＲＦ信号、メインプッシュプル信号、サブプッシュプル信号およびトラッキングエラー信号を示す波形図である。
【００２８】
受光素子１０９の各エレメントから出力される信号を用いてＲＦ信号１４とトラッキングエラー信号ＴＥ１７とを演算部１１０によって求める。
【００２９】
図４に示すＲＦ信号１４は、ディスク１０５上のメインビームスポット１がディスク１０５の情報トラック２を横切ることによって受光素子１０９のエレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８からそれぞれ出力される信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを用いて（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）　の演算をすることにより得られる。
【００３０】
図４に示すトラッキングエラー信号ＴＥ１７を得るために、まず、メインビーム０次回折光とメインビーム±１次回折光とからそれぞれメインプッシュプル信号ＭＰＰａ、ＭＰＰｂ、ＭＰＰｃを求める。メインビーム０次回折光に基づくメインプッシュプル信号ＭＰＰａは、受光素子１０９のエレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８からそれぞれ出力される信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを用いて（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）の演算をすることにより得られ、メインビーム＋１次回折光に基づくメインプッシュプル信号ＭＰＰｂは、受光素子１０９のエレメントＩ２０、Ｊ２１、Ｋ２２、Ｌ２３からそれぞれ出力される信号Ｉ、Ｊ、Ｋ、Ｌを用いて（Ｉ＋Ｊ）−（Ｋ＋Ｌ）の演算をすることにより得られ、メインビーム−１次回折光に基づくメインプッシュプル信号ＭＰＰｃは、受光素子１０９のエレメントＭ２４、Ｎ２５、Ｏ２６、Ｐ２７からそれぞれ出力される信号Ｍ、Ｎ、Ｏ、Ｐを用いて（Ｍ＋Ｎ）−（Ｏ＋Ｐ）の演算をすることにより得られる。
【００３１】
次に、サブビーム０次回折光とサブビーム±１次回折光とからそれぞれサブプッシュプル信号ＳＰＰａ、ＳＰＰｂ、ＳＰＰｃを求める。サブビーム０次回折光に基づくサブプッシュプル信号ＳＰＰａは、受光素子１０９のエレメントＥ１０、Ｆ１１、Ｇ１２、Ｈ１３からそれぞれ出力される信号Ｅ、Ｇ、Ｆ、Ｈを用いて（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）の演算をすることにより得られ、サブビーム＋１次回折光に基づくサブプッシュプル信号ＳＰＰｂは、受光素子１０９のエレメントＱ２８、Ｒ２９、Ｓ３２、Ｔ３３からそれぞれ出力される信号Ｑ、Ｒ、Ｓ、Ｔを用いて（Ｑ＋Ｓ）−（Ｒ＋Ｔ）の演算をすることにより得られ、サブビーム−１次回折光に基づくサブプッシュプル信号ＳＰＰｃは、受光素子１０９のエレメントＵ３０、Ｖ３１、Ｗ３４、Ｘ３５からそれぞれ出力される信号Ｕ、Ｖ、Ｗ、Ｘを用いて（Ｕ＋Ｗ）−（Ｖ＋Ｘ）の演算をすることにより得られる。
【００３２】
次に、メインプッシュプル信号ＭＰＰａからサブプッシュプル信号ＳＰＰａを減算することにより、図４に示すトラッキングエラー信号ＴＥ３６を求め、メインプッシュプル信号ＭＰＰｂからサブプッシュプル信号ＳＰＰｂを減算することにより、図４に示すトラッキングエラー信号ＴＥ３７を求め、メインプッシュプル信号ＭＰＰｃからサブプッシュプル信号ＳＰＰｃを減算することにより、図４に示すトラッキングエラー信号ＴＥ３８を求める。
【００３３】
最後に、トラッキングエラー信号ＴＥａ３６と、トラッキングエラー信号ＴＥｂ３７と、トラッキングエラー信号ＴＥｃ３８とを加算することにより、図４に示すトラッキングエラー信号ＴＥ１７が得られる。トラッキングエラー信号ＴＥ１７を求める演算式をまとめると、
ＴＥ＝ＴＥａ＋ＴＥｂ＋ＴＥｃ＝（ＭＰＰａ−ＳＰＰａ）＋（ＭＰＰｂ−ＳＰＰｂ）＋（ＭＰＰｃ−ＳＰＰｃ）となる。
【００３４】
図３に示すように、メインビーム０次回折光の反射光スポット４ａの中心部がエレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８のそれぞれ分割線上にある時は、図４に示すように、トラッキングエラー信号ＴＥｂ３７とトラッキングエラー信号ＴＥｃ３８とは逆位相の信号となっているためキャンセルされ、トラッキングエラー信号ＴＥ１７は、トラッキングエラー信号ＴＥａ３６のみの信号となり、トラッキングエラー信号ＴＥ１７が０になる点１７ａと、ＲＦ信号１４が振幅最大となる点１４ａの位相差は０であり、デトラックは発生しない。
【００３５】
対物レンズ１０４のトラッキング方向への変位、又は、光学式ピックアップ組み立て時の受光素子調整精度誤差により、図５に示すように、メインビーム０次回折光の反射光スポット４ａの中心がエレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８の中心部からずれた位置に照射されると、図６に示すように、トラッキングエラー信号ＴＥ１７が０になる点１７ａと、ＲＦ信号１４が振幅最大となる点１４ａに位相差１８が発生し、デトラックとなる。しかし、例えば図５に示すように、エレメントＡ５、Ｂ６、Ｃ７、Ｄ８に照射されるメインビーム０次回折光の反射光スポット４ａの全てがエレメントＡ５、Ｂ６に照射される状態となった時、トラッキングエラー信号ＴＥａ３６およびトラッキングエラー信号ＴＥｂ３７のそれぞれの位相差１８ａ、１８ｂは、図６に示すように−９０度となるが、トラッキングエラー信号ＴＥｃ３８の位相差１８ｃは、０度以上＋９０度以下となって、トラッキングエラー信号ＴＥａ３６、トラッキングエラー信号ＴＥｂ３７によって発生した位相差１８ａ、１８ｂを補正することになり、トラッキングエラー信号ＴＥ１７の位相差１８も−９０度以下となることから、ディスク１０５上のメインビームのデトラックが少なくなる。
【００３６】
以上説明したように、第１の実施の形態によれば、エレメントＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄに収束されるメインビームの反射光スポットがエレメントＥ、Ｆ方向に移動し、（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）によって演算される出力信号に位相遅れが発生したとしても、エレメントＭ、Ｎ、Ｏ、Ｐに収束されるスポットによる（Ｍ＋Ｎ）−（Ｐ＋Ｏ）信号に発生する位相進みによってメインプッシュプル信号の位相遅れは補正されると共に、同様にサブプッシュプル信号の位相遅れも補正され、トラッキングエラー信号に発生する位相遅れが改善される。
【００３７】
さらに、第１の実施の形態によれば、エレメントＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄに収束されるメインビームの反射光スポットがエレメントＡ、Ｂにのみ照射され（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）によって演算される出力信号に−９０度の位相遅れが発生したとしても、エレメントＭ、Ｎ、Ｏ、Ｐに収束されるスポットによる（Ｍ＋Ｎ）−（Ｐ＋Ｏ）信号の位相は０度以上９０度以下であることから、メインプッシュプル信号の位相遅れは−９０度以下となりと共に、サブプッシュプル信号の位相遅れも−９０度以下になるため、トラッキングエラー信号に発生する位相遅れは−９０度以下となり、発生する位相遅れを改善することができる。
【００３８】
従って、第１の実施の形態によれば、対物レンズ１０４の変位、又は、受光素子位置調整精度誤差に伴うビームスポットの移動により発生するトラッキングエラー信号ＴＥ１７の位相遅れを改善してデトラックの発生を少なくすることで、記録品質を向上させることができると共に、受光素子位置調整精度を緩和して組み立てコストが低減することができるという効果を奏する。
【００３９】
（第２の実施の形態）
図７は、本発明に係る光ピックアップ装置の第２の実施の形態の受光素子の構成を示す図である。
【００４０】
第２の実施の形態は、受光素子１０９に各エレメントからの出力を加算結合する回路を設け、Ａ＋Ｉ＋Ｍを信号ＡＡ３９とし、Ｂ＋Ｊ＋Ｎを信号ＢＢ４０とし、Ｃ＋Ｋ＋Ｏを信号ＣＣ４１とし、Ｄ＋Ｌ＋Ｐを信号ＤＤ４２とし、Ｅ＋Ｑ＋Ｕを信号ＥＥ４３とし、Ｆ＋Ｒ＋Ｖを信号ＦＦ４４とし、Ｇ＋Ｓ＋Ｗを信号ＧＧ４５とし、Ｈ＋Ｔ＋Ｘを信号ＨＨ４６として受光部より出力し、
（（ＡＡ＋ＢＢ）−（ＣＣ＋ＤＤ））−（（ＥＥ＋ＧＧ）−（ＦＦ＋ＨＨ））
の演算によりトラッキングエラー信号ＴＥ１７を求める。
【００４１】
第２の実施の形態のトラッキングエラー信号ＴＥ１７を求める演算式は、第１の実施の形態のトラッキングエラー信号ＴＥ１７を求める演算式と等しいため、第１の実施の形態と同様の効果が得られる。
【００４２】
（第３の実施の形態）
図８は、本発明に係る光ピックアップ装置の第３の実施の形態の受光素子の構成を示す図である。
【００４３】
第３の実施の形態は、第１の実施の形態の受光素子１０９に替えて、サブビーム用エレメントを簡略化した受光素子２００を用いる。受光素子２００は、第１の実施の形態の受光素子１０９のサブビーム用エレメントにおけるエレメントＥ１０、Ｑ２８、Ｕ３０をエレメントＥ１０に、エレメントＦ１１、Ｒ２９、Ｖ３１をエレメントＦ１１に、エレメントＧ１２、Ｓ３２、Ｗ３４をエレメントＧ１２に、エレメントＨ１３、Ｔ３３、Ｗ３５をエレメントＨ１３にそれぞれ統合されてり、サブビーム用エレメントの構成が簡略化されている。なお、エレメントＥ１０からの出力が第２の実施の形態の信号ＥＥ４３に対応し、エレメントＦ１１からの出力が第２の実施の形態の信号ＦＦ４４に対応し、エレメントＧ１２からの出力が第２の実施の形態の信号ＧＧ４５に対応し、エレメントＨ１３からの出力が第２の実施の形態の信号ＦＦ４６に対応する。
【００４４】
なお、本発明が上記各実施の形態に限定されず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施の形態は適宜変更され得ることは明らかである。また、上記構成部材の数、位置、形状等は上記実施の形態に限定されず、本発明を実施する上で好適な数、位置、形状等にすることができる。なお、各図において、同一構成要素には同一符号を付している。
【００４５】
【発明の効果】
本発明の光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法は、エレメントＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄに収束されるメインビームの反射光スポットがエレメントＥ、Ｆ方向に移動し、（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）によって演算される出力信号に位相遅れが発生したとしても、エレメントＭ、Ｎ、Ｏ、Ｐに収束されるスポットによる（Ｍ＋Ｎ）−（Ｐ＋Ｏ）信号に発生する位相進みによってメインプッシュプル信号の位相遅れは補正されると共に、同様にサブプッシュプル信号の位相遅れも補正され、トラッキングエラー信号に発生する位相遅れが改善される。
【００４６】
さらに、本発明の光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法は、エレメントＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄに収束されるメインビームの反射光スポットがエレメントＡ、Ｂにのみ照射され（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）によって演算される出力信号に−９０度の位相遅れが発生したとしても、エレメントＭ、Ｎ、Ｏ、Ｐに収束されるスポットによる（Ｍ＋Ｎ）−（Ｐ＋Ｏ）信号の位相は０度以上９０度以下であることから、メインプッシュプル信号の位相遅れは−９０度以下となりと共に、サブプッシュプル信号の位相遅れも−９０度以下になるため、トラッキングエラー信号に発生する位相遅れは−９０度以下となり、発生する位相遅れを改善することができる。
【００４７】
従って、本発明の光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法は、対物レンズの変位、又は、受光素子位置調整精度誤差に伴うビームスポットの移動により発生するトラッキングエラー信号ＴＥ１７の位相遅れを改善してデトラックの発生を少なくすることで、記録品質を向上させることができると共に、受光素子位置調整精度を緩和して組み立てコストが低減することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光ピックアップ装置の第１の実施の形態の構成を示す図である。
【図２】図１に示す分光素子によって反射光が分光される様子を示す図である。
【図３】図１に示す受光素子の構成を示す図である。
【図４】図１に示す受光素子による反射光の受光によって作成されるＲＦ信号、メインプッシュプル信号、サブプッシュプル信号およびトラッキングエラー信号を示す波形図である。
【図５】対物レンズがトラッキング方向に変位した時の図１に示す受光素子における反射光スポットの位置を示す図である。
【図６】対物レンズがトラッキング方向に変位した時に図１に示す受光素子による反射光の受光によって作成されるＲＦ信号、メインプッシュプル信号、サブプッシュプル信号およびトラッキングエラー信号を示す波形図である。
【図７】本発明に係る光ピックアップ装置の第２の実施の形態の受光素子の構成を示す図である。
【図８】本発明に係る光ピックアップ装置の第３の実施の形態の受光素子の構成を示す図である。
【図９】従来の光ピックアップ装置の構成を示す図である。
【図１０】ディスク上に照射されるメインビームとサブビームとの配置を示す図である。
【図１１】図９に示す受光素子の構成を示す図である。
【図１２】図９に示す受光素子による反射光の受光によって作成されるＲＦ信号、メインプッシュプル信号、サブプッシュプル信号およびトラッキングエラー信号を示す波形図である。
【図１３】対物レンズがトラッキング方向に変位した時の図９に示す受光素子における反射光スポットの位置を示す図である。
【図１４】対物レンズがトラッキング方向に変位した時に図９に示す受光素子による反射光の受光によって作成されるＲＦ信号、メインプッシュプル信号、サブプッシュプル信号およびトラッキングエラー信号を示す波形図である。
【符号の説明】
１　メインビームスポット
２　情報トラック
３ａ、３ｂ　サブビームスポット
４、４ａ、４ｂ、４ｃ　メインビームの反射光スポット
５〜８　受光素子のエレメント
９ａ、９ｂ、９ａａ、９ａｂ、９ａｃ、９ｂａ、９ｂｂ、９ｂｃ　サブビームの反射光スポット
１０〜１４　受光素子のエレメント
１４　ＲＦ信号
１４ａ　ＲＦ信号の振幅最大点
１４ｂ　ＲＦ信号の位相差によって制御される点
１５　メインプッシュプル信号
１６　サブプッシュプル信号
１７　トラッキングエラー信号
１８　トラッキングエラー信号の位相差
２０〜３５　受光素子のエレメント
３６〜３８　トラッキングエラー信号
１００　半導体レーザ
１０１　コリメータレンズ
１０２　回折格子
１０３　ビームスプリッタ
１０４　対物レンズ
１０５　ディスク
１０６　受光レンズ
１０７　受光素子
１０８　分光素子
１０９　受光素子
１１０　演算部
【図１】
2004039083.tif 000003
【図２】
2004039083.tif 000004
【図３】
2004039083.tif 000005
【図４】
2004039083.tif 000006
【図５】
2004039083.tif 000007
【図６】
2004039083.tif 000008
【図７】
2004039083.tif 000009
【図８】
2004039083.tif 000010
【図９】
2004039083.tif 000011
【図１０】
2004039083.tif 000012
【図１１】
2004039083.tif 000013
【図１２】
2004039083.tif 000014
【図１３】
2004039083.tif 000015
【図１４】
2004039083.tif 000016