(57)【要約】【課題】中継基板を構成するガラス基板の積層枚数の増加を伴うことなく、端子用導電パターンのブロック数の増加、あるいは／および前記パターンの１ブロック当たりの配線本数の増加に充分に対応することができること。【解決手段】複数個のプローブブロック１を液晶パネル３の端子用導電パターン４に当接させて検査を行う液晶パネル用検査装置において、プローブブロック１の各々に設けられる各フレキシブル基板５毎に、奇数および偶数対応フレキシブル基板５ａおよび５ｂを、中継基板６内の奇数および偶数対応アドレス部６ａおよび６ｂの設置位置に応じて相互に振り分けて、その各接続端部５Ａ、５Ｂをそれぞれ奇数および偶数対応アドレス部６ａおよび６ｂに漸近させて接続する。これによりフレキシブル基板５の各接続端部５Ａ、５Ｂと奇数および偶数対応アドレス部６ａおよび６ｂとの接続配線１５を極力短く設定することができると共に接続配線１５の交差状態の出現を避けて簡素化を図ることができる。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
供試液晶パネル用アレイガラスの端子用導電パターンに当接する複数のプローブを備えたプローブブロックが、前記端子用導電パターンのブロック数に対応させて複数個設けられており、前記複数個のプローブブロックの各々には、前記端子用導電パターンの奇数番目および偶数番目の配線にそれぞれ当接するプローブと一端側を電気的に接続する奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板からなるフレキシブル基板が設けられており、前記フレキシブル基板の他端側が、前記プローブブロック毎に、前記奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板の各他端側をアドレス変換機能を備えた中継基板内の奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部にそれぞれ接続させることによって前記中継基板に接続しており、前記端子用導電パターンからの信号を前記プローブ、フレキシブル基板、および中継基板を介してテスター本体で読み取ることによって前記端子用導電パターンのショート状態、オープン状態、ＴＦＴの特性、および画素の特性の検査を行う液晶パネル用検査装置において、
前記フレキシブル基板は、前記プローブブロック毎に、前記奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板を、前記奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部の設置位置に応じて相互に振り分けると共に、その各接続端部をそれぞれ前記奇数および偶数対応アドレス部に漸近させて接続することによって前記中継基板に接続していることを特徴とする液晶パネル用検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶パネル用アレイガラスにプリントされた端子用導電パターンのショート状態、オープン状態、ＴＦＴの特性、および画素の特性の検査を行う液晶パネル用検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の液晶パネル用検査装置は、図３および図４に示すように、プローブブロック１のプローブ２を液晶パネル用アレイガラス３の端子用導電パターン４に当接させると共に、端子用導電パターン４からの信号をプローブ２、プローブ２に一端側を接続するフレキシブル基板５、およびフレキシブル基板５の他端側に接続する中継基板６を介してテスター本体７で読み取ることによって端子用導電パターン４のショート状態、オープン状態、ＴＦＴの特性、および画素の特性の検査を行うように大略構成されている。
【０００３】
このときプローブブロック１は、供試液晶パネル用アレイガラス３の端子用導電パターン４に当接する複数のプローブ２を備えており、端子用導電パターン４のブロック数に対応させて複数個設けられる（図４参照）。複数個のプローブブロック１の各々には、端子用導電パターン４の奇数番目および偶数番目の配線にそれぞれ当接するプローブ２と一端側を電気的に接続する奇数対応フレキシブル基板５ａおよび偶数対応フレキシブル基板５ｂからなるフレキシブル基板５が設けられている。
【０００４】
そして、フレキシブル基板５の他端側は、プローブブロック１毎に、奇数対応フレキシブル基板５ａおよび偶数対応フレキシブル基板５ｂの各他端側をアドレス変換機能を備えた中継基板６内の奇数対応アドレス部６ａおよび偶数対応アドレス部６ｂにそれぞれ接続させることによって中継基板６に接続している。
【０００５】
テスター本体７は、複数のプローブピンＰが設けられており（例えば、１２００〜２０００本）、このプローブピンＰが中継基板６に設けられた同数のランドＬに当接して、中継基板６との電気的接続が図られている。なお、図３中、符号２１は、プローブブロック１を支持する支持枠である。
【０００６】
液晶パネルを構成するＴＦＴアレイ基板３の特性検査の場合には、パネル点灯駆動用ＬＳＩとしてのＴＡＢおよびＰＣＢ（実装プリント基板）を結合する前工程で、液晶パネル用アレイガラス３の画素信号端子用導電パターン４の一本ずつに電圧を印加して特性検査を行っている。
【０００７】
この検査は、画素信号端子用導電パターン数と同数のプローブ２を用いるため、複数のプローブ２を有するプローブブロック１を、液晶パネル用アレイガラス３の端子用導電パターン４が設けられた辺に沿って複数個並べてセットする。そして検査では、奇数番目画素端子と偶数番目画素端子とに分けて画素検査信号を送るようにしている。
【０００８】
このようなプローブブロックとして、図５に示すプローブブロック１が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００９】
このプローブブロック１は、液晶パネル用アレイガラス３の画素に配設された複数の端子用導電パターン４の１本ずつに接触させるための複数のプローブ２を板状の絶縁体を積層した本体２０により支持することにより大略構成されている。
【００１０】
このときプローブ２は、図５に示すように、端子用導電パターン４の奇数番目と偶数番目とにそれぞれ対応する２ラインＬ１、Ｌ２に分けられ（図６参照）、さらに各ラインＬ１、Ｌ２毎に千鳥状に配設されている。その上、プローブ２は、上側に突出する複数の導電性針状体の奇数番目の導電性針状体１１ａを、偶数番目の導電性針状体１１ｂよりも上側に突出するように長くしており、両者間で突出方向に段違いになっている。プローブ２は、上側の導電性針状体１１ａ、１１ｂの各々と下側の導電性針状体１０とを導電性コイルばね１４を介して連結することにより構成されている。検査の際は、導電性針状体１０の各々が、液晶パネル３の画素に配設された複数の端子用導電パターン４の１本ずつに接触することになる。
【００１１】
そして、長い方である奇数番目の導電性針状体１１ａが、上側絶縁板１２の下面に貼着されたフレキシブル基板５ａの奇数番目用信号伝送用導電パターン８に接触し、短い方である偶数番目の導電性針状体１１ｂが、下側絶縁板１３の下面に貼着されたフレキシブル基板５ｂの偶数番目用信号伝送用導電パターン９に接触するように、下側絶縁板１３の上に上側絶縁板１２が重ね合わされる。
【００１２】
このようにして構成されたプローブブロック１を使用して液晶パネル用検査装置を構成するには、プローブ２を端子用導電パターン４と同数になるように設けるべく、例えばＴＡＢと略同一幅の大きさ（１ブロック）に小ユニット化されたプローブブロック１を、支持枠２５（図３参照）に並列に必要数並べてセットし、かつ各プローブブロック１に連結されたフレキシブル基板５ａおよび５ｂを、奇数番目と偶数番目とに振り分けるべく中継基板６の奇数および偶数対応アドレス部６ａおよび６ｂにそれぞれ接続すると共に、この中継基板６を介してテスター本体７に接続することにより全体構成される。
【００１３】
【特許文献１】
特開平８−２２２２９９号公報（第３頁、第４頁、図１）
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
このように構成された従来の液晶パネル用検査装置においては、プローブ２を、端子用導電パターン４の奇数番目と偶数番目とにそれぞれ対応する２ラインＬ１、Ｌ２に分け、さらに各ラインＬ１、Ｌ２毎に千鳥状に配設したので、端子用導電パターン４の狭ピッチ化に充分対応することができるが、フレキシブル基板５と中継基板６との接続における奇数と偶数の振り分けが、図４に示すように、中継基板６を構成するプリント基板上の配線１５により行うものであるから、配線１５同士の交差状態が出現する端子用導電パターン４のブロック数の増加、あるいは／および前記パターン４の１ブロック当たりの配線本数の増加に充分に対応することができない、という課題を有している。
【００１５】
また、前記した配線１５同士の交差状態は、中継基板６を構成するプリント基板の層数を増加し、かつスルーホールを設ける等して、各層毎に配線１５を整理することにより解消することができるが、プリント基板の層数の増加は、製造の困難化、コスト高、および重量増を招く、という課題を有している。
【００１６】
因みに、従来の装置では、６〜８層の多層プリント基板により中継基板６を構成している。
【００１７】
そこで、本発明は、中継基板を構成する多層プリント基板の積層枚数の増加を伴うことなく、端子用導電パターンのブロック数の増加、あるいは／および前記パターンの１ブロック当たりの配線本数の増加に充分に対応することができる液晶パネル用検査装置を提供することを目的としている。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
前記した目的を達成するために、請求項１の発明は、供試液晶パネル用アレイガラスの端子用導電パターンに当接する複数のプローブを備えたプローブブロックが、前記端子用導電パターンのブロック数に対応させて複数個設けられており、前記複数個のプローブブロックの各々には、前記端子用導電パターンの奇数番目および偶数番目の配線にそれぞれ当接するプローブと一端側を電気的に接続する奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板からなるフレキシブル基板が設けられており、前記フレキシブル基板の他端側が、前記プローブブロック毎に、前記奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板の各他端側をアドレス変換機能を備えた中継基板内の奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部にそれぞれ接続させることによって前記中継基板に接続しており、前記端子用導電パターンからの信号を前記プローブ、フレキシブル基板、および中継基板を介してテスター本体で読み取ることによって前記端子用導電パターンのショート状態、オープン状態、ＴＦＴの特性、および画素の特性の検査を行う液晶パネル用検査装置において、
前記フレキシブル基板は、前記プローブブロック毎に、前記奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板を、前記奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部の設置位置に応じて相互に振り分けると共に、その各接続端部をそれぞれ前記奇数および偶数対応アドレス部に漸近させて接続することによって前記中継基板に接続していることを特徴とする。
【００１９】
このため、請求項１の発明では、フレキシブル基板は、各プローブブロック毎に、奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板を、中継基板内の奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部の設置位置に応じて相互に振り分けて、その各接続端部をそれぞれ奇数および偶数対応アドレス部に漸近させて接続するようにしたので、前記中継基板の層数を低減すると共に、奇数および偶数対応フレキシブル基板の各接続端部と前記奇数および偶数対応アドレス部との接続配線を極力短く設定することができる。
【００２０】
また、奇数（偶数）対応フレキシブル基板は、被接続プローブブロックと被接続奇数（偶数）対応アドレス部との間を接続するに足りる充分な長さを有しており、その中間部の折曲により前記振り分けを容易に行うことができ、これにより目的とする被接続奇数（偶数）対応アドレス部へ漸近することができる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を図面に基づき説明する。なお、図３〜図６に示すものと同一部材および同一機能を奏する部材は、同一符号を付してある。
【００２２】
本発明に係る液晶パネル用検査装置は、フレキシブル基板と中継基板との接続構造を異にするだけで、全体の接続系統は従来装置と同一に構成されている。
【００２３】
図１は、本発明の一実施形態としての、フレキシブル基板と中継基板との接続構造を示す。
【００２４】
本発明に係る液晶パネル用検査装置の全体の接続系統は、図３に示すように、プローブブロック１のプローブ２を液晶パネル用アレイガラス３の端子用導電パターン４に当接させると共に、端子用導電パターン４からの信号をプローブ２、プローブ２に一端側を接続するフレキシブル基板５、およびフレキシブル基板５の他端側に接続する中継基板６を介してテスター本体７で読み取ることによって端子用導電パターン４のショート状態、オープン状態、ＴＦＴの特性、および画素の特性の検査を行うように構成されている。
【００２５】
このときプローブブロック１は、供試液晶パネル用アレイガラス３の端子用導電パターン４に当接する複数のプローブ２を備えており、端子用導電パターン４のブロック数（例えば、８ブロック）に対応させて複数個（８ブロックのときは８個）設けられる（図１参照）。複数個のプローブブロック１は、支持枠（図３中の支持枠２１参照）に取り付けられて検査装置内に組み込まれる。
【００２６】
複数個のプローブブロック１の各々には、端子用導電パターン４の奇数番目および偶数番目の配線にそれぞれ当接するプローブ２と一端側を電気的に接続する奇数対応フレキシブル基板５ａおよび偶数対応フレキシブル基板５ｂからなるフレキシブル基板５が設けられている。
【００２７】
そして、フレキシブル基板５の他端側は、プローブブロック１毎に、奇数対応フレキシブル基板５ａおよび偶数対応フレキシブル基板５ｂを、中継基板６内の奇数対応アドレス部６ａおよび偶数対応アドレス部６ｂの設置位置に応じて相互に振り分けると共に、その各接続端部５Ａ、５Ｂをそれぞれ奇数および偶数対応アドレス部６ａおよび６ｂに漸近させて接続することによって中継基板６に接続している。
【００２８】
このとき、フレキシブル基板５を構成する奇数および偶数対応フレキシブル基板５ａおよび５ｂは、被接続プローブブロック１と被接続奇数（偶数）対応アドレス部６ａ（６ｂ）との間を接続するに足りる充分な長さを有して構成される。前記フレキシブル基板の振り分けは、フレキシブル基板を交差させることにより可能となるが、本実施形態のように、その中間部の折曲部５ｃにより方向を転換することができ、この方向転換により前記した振り分けをさらに容易に行うことができる。なお、折曲部５ｃは、被接続プローブブロック１と被接続奇数（偶数）対応アドレス部６ａ（６ｂ）との位置関係で決められるもので、直線接続が可能の場合には不要であるが、他の場合には２個以上形成することにより振り分けを容易とする。
【００２９】
また、奇数および偶数対応フレキシブル基板５ａおよび５ｂの各接続端部５Ａ、５Ｂは、中継基板６上に配設された配線１５によりそれぞれ奇数および偶数対応アドレス部６ａおよび６ｂに接続している。
【００３０】
具体的には、図２に示すように、接続端部５Ａ、５Ｂがそれぞれ接続されるコネクタが中継基板６上に設けられている。図２では、説明を簡単にするため、２個のプローブブロック１にそれぞれ対応する４個のコネクタＣ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｃ４が設けられていると共に、中継基板６は１枚の両面プリント基板で構成されている。コネクタＣ１、Ｃ３は、各プローブブロック１の奇数対応フレキシブル基板５ａが接続する奇数対応コネクタであり、コネクタＣ２、Ｃ４は、各プローブブロック１の偶数対応フレキシブル基板５ｂが接続する偶数対応コネクタである。
【００３１】
なお、図２（ａ）中、実線は中継基板６の表面に配設された配線１５を示しており、破線は中継基板６の裏面に配設された配線１５を示しており、数字「１」〜「２４」はアドレスを示しており、図２（ｂ）中、中継基板６の厚み方向の実線は表、裏面にそれぞれ配設された配線１５同士を電気的に接続するスルーホールｈであり、図２（ａ）、（ｂ）中、符号Ｌは、中継基板６の裏面に形成される各配線１５のランドである。例えば、アドレス「１３」の表面側の配線１５は、スルーホールｈを介して裏面側の配線１５に接続しており、アドレス「７」の表面側の配線１５は、スルーホールｈを介して裏面側の配線１５に接続しており、両者は平面的には破線と実線が交差するように見えるが中継基板６の配線の面の違いにより実際の交差を避けることができる。
【００３２】
このように構成された中継基板６においては、２個のプローブブロック１の内、一方のプローブブロック１に設けられた奇数および偶数対応フレキシブル基板５ａおよび５ｂはそれぞれコネクタＣ１およびＣ２に接続されるようになっており、他方のプローブブロック１に設けられた奇数および偶数対応フレキシブル基板５ａおよび５ｂはそれぞれコネクタＣ３およびＣ４に接続されるようになっている。コネクタＣ１およびＣ３の配線１５は、奇数対応アドレス部６ａのランドＬに接続しており、コネクタＣ２およびＣ４の配線１５は、偶数対応アドレス部６ｂのランドＬに接続している。そしてこのランドＬがテスター本体７に備えられたプローブピン（図３中のプローブピンＰ参照）に当接することにより、中継基板６とテスター本体７とが電気的に接続している。
【００３３】
実際には、中継基板６は、配線１５、及びスルーホールｈを適宜配設した複数枚の多層プリント基板を使用すると共に、最上面にコネクタＣ１、Ｃ２、…を設け、かつ最下面にランドＬを有するアドレス部６ａ、６ｂを設けて構成される。
【００３４】
このように構成された液晶パネル用検査装置においては、フレキシブル基板５（５ａ、５ｂ）同士を振り分けるものであるから、フレキシブル基板５（５ａ、５ｂ）同士の交差が生じるが、該交差に起因する不都合は生じないばかりか、その接続端部５Ａ、５Ｂと奇数および偶数対応アドレス部６ａ、６ｂとを漸近させてその接続配線１５を極力短く設定することができ、ひいては配線１５の簡素化を図ることができる。
【００３５】
このため中継基板６は、端子用導電パターン４のブロック数の増加、あるいは／および前記パターン４の１ブロック当たりの配線本数の増加に充分に対応することができる。
【００３６】
その上、中継基板６は、フレキシブル基板５同士を交差させるようにしたので、従来行われていた各層の配線１５の整理を簡素化することが可能となり、これにより極力少ない層数のプリント基板により構成することができる。
【００３７】
例えば、液晶パネル用アレイガラス３の端子用導電パターン４のブロック数が８ブロックの場合、従来の装置では６〜８枚のガラス基板の積層を要したのに対して、本装置では、２〜４枚のガラス基板の積層により中継基板６を構成することができる。
【００３８】
【発明の効果】
以上説明してきたように、請求項１の発明によれば、各プローブブロック毎に、奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板を、中継基板内の奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部の設置位置に応じて相互に振り分けることによって、奇数および偶数対応フレキシブル基板の各接続端部と奇数および偶数対応アドレス部との接続配線を極力短く設定することができると共に、前記接続配線の交差状態の出現を避けて簡素化を図ることができ、これにより中継基板を構成する多層プリント基板の積層枚数を減ずることができ、ひいては製造の容易化、装置の軽量化、およびコストダウンを図ることができる。
【００３９】
その上、中継基板を構成する多層プリント基板の積層枚数が少ない分、端子用導電パターンのブロック数の増加、あるいは／および前記パターンの１ブロック当たりの配線本数の増加にも充分に対応することができる、というメリットがある。
【００４０】
さらに、前記各フレキシブル基板を折り曲げて振り分けることにより、振り分けを容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の液晶パネル用検査装置における、複数のプローブブロックを介しての液晶パネル用アレイガラスと中継基板との電気的接続状態を説明する模式図である。
【図２】本発明の一実施形態としての中継基板を示しており、（ａ）はその平面図、（ｂ）はその側面図である。
【図３】液晶パネル用検査装置の全体の電気接続系統を説明するための概略説明図である。
【図４】従来の液晶パネル用検査装置における、複数のプローブブロックを介しての液晶パネル用アレイガラスと中継基板との電気的接続状態を説明する模式図である。
【図５】従来の液晶パネル用検査装置の要部断面図である。
【図６】従来の液晶パネル用検査装置の端子用導電パターンへのプローブの当接状態を説明するための説明図である。
【符号の説明】
１  プローブブロック
２  プローブ
３  供試液晶パネル
４  端子用導電パターン
５  フレキシブル基板
５ａ  奇数対応フレキシブル基板
５ｂ  偶数対応フレキシブル基板
５Ａ  接続端部（奇数対応フレキシブル基板の）
５Ｂ  接続端部（偶数対応フレキシブル基板の）
６  中継基板
６ａ  奇数対応アドレス部
６ｂ  偶数対応アドレス部
７  テスター本体
１５  接続配線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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