(57)【要約】【課題】光ディスク上に欠陥や傷などが存在して正しく周期情報が得られない場合でも欠陥や傷上を通過するまでに得られた正しい周期情報を用いることにより安定に周期制御によるシーク動作を行うことができる光ディスク装置及びコンピュータ・ソフトウエアを提供する。【解決手段】ディスク１の記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップ３と、光学ピックアップ３をディスク１上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段とを具備し、光学的にディスク１の再生又は記録再生を行う光ディスク装置において、シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段１５と、移動検出手段１５で検出した光学ピックアップ３の移動に要した時間を計測する周期計測手段１６と、周期計測手段１６で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出手段１５からの検出信号を遮断する遮断手段とを備える。【選択図】        図１
2004178634.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段とを具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置において、
シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段と、該移動検出手段で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測手段と、該周期計測手段で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出手段からの検出信号を遮断する遮断手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置において、
上記移動検出手段は、一のトラックから次のトラックへの光スポットの横切りを検出して検出信号を発生することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段とを具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置において、
シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段と、該移動検出手段で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測手段と、該周期計測手段で計測した移動に要した時間の値を用いて１以上の検出信号を発生する擬似移動検出手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段とを具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置において、
シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段と、該移動検出手段で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測手段と、該周期計測手段で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出手段からの検出信号を遮断する遮断手段と、前記周期計測手段で計測した移動に要した時間の値を用いて１以上の検出信号を発生する擬似移動検出手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段を具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置において、
シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段と、該移動検出手段で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測手段と、該周期計測手段で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出手段からの検出信号を遮断する遮断手段と、前記周期計測手段で計測した移動に要した時間の値を用いて１以上の検出信号を発生する擬似移動検出手段と、該擬似移動検出手段が検出信号を発生した回数を計測する擬似検出数計測手段と、遮断手段を強制的に遮断解除する強制解除手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段とを具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置に使用されるコンピュータ・ソフトウエアであって、
シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出機能と、該移動検出機能で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測機能と、該周期計測機能で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出機能からの検出信号を遮断する遮断機能とをコンピュータに実現させるプログラムからなるコンピュータ・ソフトウエア。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ディスクより光学的に信号を再生または記録再生する光ディスク装置に係り、特に、トラックアクセス（シーク）時のアクチュエータ部分の加減速制御を行う光ディスク装置及びコンピュータ・ソフトウエアに関する。
【０００２】
【従来の技術】
半径方向に同心円上またはスパイラル状の記録トラックを持ち、かつ各トラックがあらかじめ定められた複数の記録単位であるセクタに分割されている光ディスクから情報を再生したり、光ディスクに情報を記録する装置がある。この種のディスク装置においては記録トラックの真上に光スポットがくるように制御されているが、離れたトラック上での情報の書き込みおよび読み込みを瞬時に行うためにはトラックを横切って希望するトラックへ移動（シーク動作）する必要がある。この時、トラックを横切っていく光スポットを速度制御によって制御すると安定にシーク動作をさせることができる。
【０００３】
このような装置として、特許文献１や特許文献２記載の技術がある。特許文献１記載の技術では光ビームが１トラックピッチ内を移動する間に光ビームがトラックを横切る周期を複数回計測することができる。そのため、制御時間のムダ時間が減り、光ビームの移動速度が遅くなっても、目標トラックへのトラッキングサーボの引き込み直前の速度制御を安定して行うことができる。また、特許文献２記載の技術ではトラッキング誤差信号から直接求められる周期情報でシーク時の速度制御を行なうので、かかる速度を求めるための大規模な除算器が不要となり、回路規模を小さくすることができる。
【０００４】
【特許文献１】
特開平１０−１５４３３５号公報（第１図）
【特許文献２】
特開平１１−１６１９７０号公報（第１図）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来技術においては、光ビームをディスクに照射して反射してくる光量レベルによって得られるトラッキング誤差信号を用いて光ビームがトラックをよぎる周期を求めている。光ディスク上に欠陥や傷などが存在する場合は光ビームをディスクに照射して反射してくる光量レベルが通常とは異なり正しいトラッキング誤差信号が得られない。このため上記従来技術のようなトラックをよぎる周期計測によるシーク動作をおこなった場合、欠陥や傷などを光ビームが通過する際に周期情報が正しく得られずに誤動作してしまう点について考慮されていなかった。
【０００６】
本発明は、上記の課題を解決するもので、光ディスク上に欠陥や傷などが存在して正しく周期情報が得られない場合でも欠陥や傷上を通過するまでに得られた正しい周期情報を用いることにより安定に周期制御によるシーク動作を行うことができる光ディスク装置及びコンピュータ・ソフトウエアを提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段とを具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置において、シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段と、該移動検出手段で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測手段と、該周期計測手段で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出手段からの検出信号を遮断する遮断手段とを備える光ディスク装置である。
【０００８】
また、本発明は、上記移動検出手段は、一のトラックから次のトラックへの光スポットの横切りを検出して検出信号を発生する光ディスク装置である。
【０００９】
そして、本発明は、ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段とを具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置において、シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段と、該移動検出手段で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測手段と、該周期計測手段で計測した移動に要した時間の値を用いて１以上の検出信号を発生する擬似移動検出手段とを備える光ディスク装置である。
【００１０】
更に、本発明は、ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段とを具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置において、シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段と、該移動検出手段で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測手段と、該周期計測手段で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出手段からの検出信号を遮断する遮断手段と、前記周期計測手段で計測した移動に要した時間の値を用いて１以上の検出信号を発生する擬似移動検出手段とを備える光ディスク装置である。
【００１１】
また、本発明は、ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段を具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置において、シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段と、該移動検出手段で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測手段と、該周期計測手段で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出手段からの検出信号を遮断する遮断手段と、前記周期計測手段で計測した移動に要した時間の値を用いて１以上の検出信号を発生する擬似移動検出手段と、該擬似移動検出手段が検出信号を発生した回数を計測する擬似検出数計測手段と、遮断手段を強制的に遮断解除する強制解除手段とを備える光ディスク装置である。
【００１２】
そして、本発明は、ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段とを具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置に使用されるコンピュータ・ソフトウエアであって、シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出機能と、該移動検出機能で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測機能と、該周期計測機能で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出機能からの検出信号を遮断する遮断機能とをコンピュータに実現させるプログラムからなるコンピュータ・ソフトウエアである。
【００１３】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を説明する。
本発明の光ディスク装置の実施例について、図１〜図７を用いて説明する。図１は、実施例の光ディスク装置のブロック説明図である。図２は、実施例の光ディスク装置のトラック間周期が短くなる場合の説明図である。図３は、実施例の光ディスク装置のトラック間周期が短くなるのを回避する場合の説明図である。図４は、実施例の光ディスク装置のトラック間周期が長くなる場合の説明図である。図５は、実施例の光ディスク装置のトラック間周期が長くなるのを回避する場合の説明図である。図６は、実施例の光ディスク装置のトラック間周期が正常に得られない場合の説明図である。図７は、実施例の光ディスク装置のトラック間周期が正常に得られる場合の説明図である。
【００１４】
実施例１を説明する。本実施例は、ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、該光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段を具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置であって、シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出手段と、移動検出手段で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測手段と、周期計測手段で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出手段からの検出信号を遮断する遮断手段と、周期計測手段で計測した移動に要した時間の値を用いて１以上の検出信号を発生する擬似移動検出手段と、擬似移動検出手段が検出信号を発生した回数を計測する擬似検出数計測手段と、遮断手段を強制的に遮断解除する強制解除手段とを備える光ディスク装置である。
【００１５】
実施例１の装置について、図１のブロック図によって具体的に説明する。図１において、光ディスク装置は、クランパ２ａ、ターンテーブル２ｂ、ピックアップ３、リードスクリュウ４、スレッドモータ５、スピンドルモータ６、対物レンズ７、スレッド８及び回路部等からなる。回路部は、信号処理回路９、トラッキング駆動回路１０、目標周期値１１、比較演算器１２、切替スイッチ１３、シーク指令回路１４、エッジ検出回路１５、周期計測カウンタ１６、周期計測値１７、係数演算器Ａ１８ａ、係数演算器Ｂ１８ｂ、マスク用カウンタ１９、マスク強制解除判定回路２０、擬似エッジ生成カウンタ２１、ＡＮＤ回路２２、ＮＡＮＤ回路２３、目標トラック数２４、トラック数計測カウンタ２５、比較器Ａ２６、比較器Ｂ２７、マスク動作許可カウント数２８を有する。そして、光ディスク装置は、光ディスク１の再生又は記録再生を行う。
【００１６】
実施例の光ディスク装置の動作概要について、以下説明する。ターンテーブル２ａ上にセットされたディスク１はクランパ２ｂで、ターンテーブル２ａに固定される。スピンドルモータ６が回転することでディスク１は回転する。スレッド２５はスレッドモータ５が回転することでリードスクリュウ４が回転しこれによってピックアップ３は光ディスク１の内周もしくは外周へ移動する。
【００１７】
レーザー（図示せず）から発する光束はハーフプリズム（図示せず）を通過して対物レンズ７で焦点を絞られて、ディスク１上にビームスポットを結ぶ。ディスク１からのレーザー反射光は、再び対物レンズ７を通って、ハ−フプリズムで反射され、光検出器（図示せず）にスポットを結ぶ。該光検出器から得られる信号を信号処理回路９に供給し、該信号処理回路９においてディスク１に対して垂直方向のフォーカスを制御するためのフォーカス誤差信号（以下「フォーカスエラー信号」と呼ぶ）や、水平方向のトラッキングを制御するためのトラッキング誤差信号（以下「トラッキングエラー信号」と呼ぶ）を生成する。通常は該フォーカスエラー信号と該トラッキングエラー信号によりディスク１に対して垂直方向のフォーカス制御と、水平方向のトラッキング制御を行って該ビームスポットが情報の記録されているトラック上をトレースするようにしてデータを読み出す。
【００１８】
ここで、データを読み出している定常動作から現在位置しているトラックから離れた目標とするトラックへ高速で移動するシーク動作を行う場合を説明する。まずは、該ビームスポットが情報の記録されているトラック上をトレースして通常にデータを読み出している定常動作状態では該信号処理回路９で生成されるトラッキング誤差信号を切替スイッチ１３に供給する。シーク指令回路１４ではデータを読み出すような定常動作状態では該切替スイッチ１３の入力をｂ側に、シーク動作をする状態では該切替スイッチ１３の入力をａ側に切り替える信号を切替スイッチ１３に供給する。該シーク指令回路１４は状態を定常動作状態にするのかシーク動作状態にするかを判断する回路で例えばマイクロコンピュータようなもので実現することができる。該切替スイッチ１３ではシーク指令回路１４から供給される信号によりスイッチをｂ側にする。該切替スイッチ１３からの出力をトラッキング駆動回路１０に供給する。該トラッキング駆動回路１０では対物レンズを駆動させる駆動信号をピックアップ３に供給する。該ピックアップ３に供給された駆動信号により対物レンズ７はディスクに水平方向にトラック上をトレースすることができる。次に現在位置しているトラックから離れた目標とするトラックへ移動するシーク動作状態では、シーク動作状態に移行する段階で目標周期値１１に光ビームがトラックを横切っていく時のトラック間を移動する周期つまり時間と目標トラック数２４に現在いるトラックからシーク動作で移動するトラック数およびエッジ情報をマスクする為のマスク信号の生成を許可するためのマスク動作許可カウント数２８の値をあらかじめ設定しておく。該信号処理回路９で生成したトラッキングゼロクロス信号（Ｔｒａｃｋｉｎｇ  Ｚｅｒｏ  Ｃｒｏｓｓ  以下ＴＺＣ信号と呼ぶ）をエッジ検出回路１５に供給する。ここでＴＺＣ信号はたとえば該信号処理回路９で生成するトラッキングエラー信号を二値化した信号でトラックを光ビームが横切る毎に立ち上がりもしくは立下りがあるような極性をもった信号である。該エッジ検出回路１５に供給されたＴＺＣ信号はこのＴＺＣ信号の立ち上がりもしくは立下りのエッジを検出して該エッジ情報をＡＮＤ回路２２に供給する。該ＡＮＤ回路２２では他の後述する条件により出力値をマスクするが、条件が成立した場合は該エッジ情報を周期計測カウンタ１６と周期計測値１７とマスクカウンタ１９および擬似エッジ生成カウンタ２１に供給する。該周期計測カウンタ１６では該ＡＮＤ回路２２から供給される該エッジ情報でカウントをゼロスタートし該エッジ情報から次に入力される該エッジ情報までの周期を計測する。ここで現在の周期エッジ情報から次に入力される周期エッジ情報めでの周期とは該エッジ情報がトラックを光ビームが横切る際に生成されるエッジ情報であるので現在のトラックと隣接トラック間を光ビームが移動する時間のことである。該周期計測カウンタ１６で計測する周期値は周期計測値１７に逐次入力されるが該エッジ情報がＡＮＤ回路２２から入力されるまでは値を更新しない。このため該周期計測値１７の値は現在のエッジ情報から前回に入力されたエッジ情報までの周期値を記憶する。該周期計測値１７で記憶した値は比較演算器１２に供給する。あらかじめ設定されている該目標周期値１１の値を比較演算器１２に供給する。該比較演算器１２では該周期計測値１７から供給された値と該目標周期値１１から供給された値とを比較し差分値を演算して出力値を切替スイッチ１３に供給する。シーク指令回路１４では前述したように、シーク動作をする状態では該切替スイッチ１３の入力をａ側に切り替える信号を切替スイッチ１３に供給する。該切替スイッチ１３ではシーク指令回路１４から供給される信号によりスイッチをａ側にすることで比較演算器１３からの出力値をトラッキング駆動回路１０に供給できる。該トラッキング駆動回路１０では対物レンズを駆動させる駆動信号をピックアップ３に供給する。該ピックアップ３に供給された駆動信号により対物レンズ７はディスクに水平方向に目標周期値１１に設定された光ビームがトラック間を横切る周期になるように移動する。シーク動作中に該目標周期値１１の値を書き換えればそれに応じて対物レンズが移動するトラック間を横切る周期が変わることは言うまでもない。
【００１９】
他方、該ＡＮＤ回路２２からの該エッジ情報をトラック数計数カウンタ２５に供給する。該トラック数計数カウンタ２５では該エッジ情報が入力される数を計数する。このとき該エッジ情報は光ビームがトラックを横切る毎に生成されるので該トラック数計数カウンタ２５では移動トラック数を計数することとなる。該トラック数計数カウンタ２５で計数した値を比較器Ａ２６と比較器Ｂ２７に供給する。また、あらかじめ設定されている該目標トラック数２４の値を比較器Ａ２６に供給する。該比較器Ａ２６では該トラック数計数カウンタ２５から供給された値と該目標トラック数２４から供給された値とを比較し一致するまでは“ＬＯＷ”、一致すると“ＨＩＧＨ”信号をシーク指令回路１４に供給する。該シーク指令回路１４では該比較器Ａ２６からの出力が“ＨＩＧＨ”になるのを検出するとシーク動作で目標とするトラック位置まで到達したと判断してシーク動作状態から定常動作状態へとする信号を切替スイッチ１３に供給する。該切替スイッチ１３は該シーク指令回路１４から供給された信号により入力をａ側からｂ側に切り替えて定常動作状態にする。以上のように動作することで定常動作状態からシーク動作状態へ移行し目標とするトラック数移動したら定常動作状態へ移行することができる。また現在のエッジ情報から前回入力されたエッジ情報までの周期値を記憶した周期計測値１７の値は係数演算器Ａ１８ａと係数演算器Ｂ１８ｂに供給される。該係数演算器Ａ１８ａでは供給された周期計測値に一定値を乗算する。本実施例の場合、該係数演算器Ａ１８ａでの一定値は１以下の正の小数である。該係数演算器Ａ１８ａで乗算した値をマスクカウンタ１９に供給する。該マスクカウンタ１９では該ＡＮＤ回路２２から供給される該エッジ情報が入力されるとカウンタをゼロスタートさせ該係数演算器Ａ１８ａから供給された値になるまで時間をカウントする。該マスクカウンタ１９のカウンタが動作している間は“ＨＩＧＨ”信号を、動作していない時は“ＬＯＷ”信号を出力しＮＡＮＤ回路２３とマスク強制解除判定回路２０に供給する。該マスク強制解除判定回路２０ではマスクカウンタ１９から供給される信号と該エッジ検出回路１５から供給されるエッジ情報とからマスクカウンタ１９から供給される信号が“ＨＩＧＨ”の時（つまりマスクカウンタ１９が動作している時）に該エッジ検出回路１５から供給されるエッジ情報が複数回あると“ＬＯＷ”信号をマスクカウンタ１９から供給される信号が“ＬＯＷ”の時（つまりマスクカウンタ１９が動作していない時）に該エッジ検出回路１５から供給されるエッジ情報が複数回あると“ＨＩＧＨ”信号をＮＡＮＤ回路２３に供給する。
【００２０】
また、あらかじめ設定されているマスク動作許可カウント数２８の値を比較器Ｂ２７に供給する。該比較器Ｂ２７では該トラック数計数カウンタ２５から供給された値と該マスク動作許可カウント数２８から供給された値とを比較し一致するまでは“ＬＯＷ”、一致すると“ＨＩＧＨ”信号をＮＡＮＤ回路２３に供給する。本実施例では光ビームがトラック間を横切る周期値が必要であるが、トラック間の周期を計測するには少なくとも光ビームがトラック間を２本以上通過しないと周期値が得られない。そのため、該マスク動作許可カウント数２８は２以上の数である。
【００２１】
該ＮＡＮＤ回路２３では該マスクカウンタ１９から供給される信号と該マスク解除判定回路２０から供給される信号と該比較器Ｂ２７から供給される信号との論理積を演算しその結果を反転してＡＮＤ回路２２に供給する。該ＮＡＮＤ回路２３で生成する信号は該エッジ検出回路１５から出力されるエッジ情報をマスクするかどうかの信号としてＡＮＤ回路２２で用いられる。
【００２２】
さらに、該係数演算器Ｂ１８ｂでは供給された周期計測値に一定値を乗算する。本実施例の場合該係数演算器Ｂ１８ｂでの一定値は１以上の数である。該係数演算器Ｂ１８ｂで乗算した値を擬似エッジ生成カウンタ２１に供給する。該擬似エッジ生成カウンタ２１では該ＡＮＤ回路２２から供給される該エッジ情報が入力されるとカウンタをゼロスタートさせ該係数演算器Ｂ１８ｂから供給された値になるまで時間をカウントする。該擬似エッジ生成カウンタが該係数演算器Ｂ１８ｂから供給された値になるまで時間をカウントしたら擬似エッジ情報をＡＮＤ回路２２に供給する。該擬似エッジ生成カウンタ２１で生成する擬似エッジ情報は該エッジ検出回路１５から出力されるエッジ情報の代用としてＡＮＤ回路２２で用いられる。以上のように回路を構成すると光ビームがトラックを横切るときに傷や欠陥を通過してもトラック間の周期計測やトラック計数値を誤ることなく安定したシーク動作を行える。
【００２３】
ここで、シーク動作状態で光ビームがトラックを横切る時に、光ディスク上に欠陥や傷があった場合について説明する。トラッキング誤差信号は光ビームを光ディスクに照射して光ディスクから反射してくる光量をいくつかに分割した光検出器で検出して生成するが光ディスク上に欠陥や傷があると反射してくる光量にアンバランスが生じる。このためトラッキング誤差信号は本来の信号レベルとは異なった信号レベルとなる。例えば図２はＴＺＣ信号の周期が実際よりも短く検出される場合を示した図である。欠陥や傷がない部分を光ビームがトラックを横切る場合、トラッキング誤差信号はトラック間で山と谷があるような信号となるが欠陥や傷があるとトラッキング誤差信号はトラック間で山と谷が複数回あるように生成されることがある。このようなトラッキング誤差信号からＴＺＣ信号を生成するとトラック間で複数回トラックを横切るような信号となる。図２においてシーク動作で光ビームがトラック間を横切る目標周期値１１の値を“Ａ”とした場合、対物レンズ７は光ビームが欠陥や傷のないトラック上を横切っていく際の計測周期値を“Ａ”となるように制御されるが、欠陥や傷があると計測周期値は“Ｂ”や“Ｃ”となる。ここで周期値“Ｂ”や“Ｃ”は“Ａ”よりも必ず小さくなる。この場合、目標とする周期値“Ａ”の値よりも小さいと計測されるため、これまで“Ａ”という目標周期値で対物レンズ７の駆動を制御していたにもかかわらず、光ビームが移動している周期が速くなったと判断して減速させようと対物レンズ７の駆動制御を行ってしまう。減速させる方向に制御を行うため実際に光ビームがトラック間を移動する時の計測周期値“Ｄ”は目標とする周期値“Ａ”より大きくなってしまう。今度は目標とする周期値“Ａ”の値より大きいと計測されるため、光ビームが移動している周期が遅くなったと判断して加速方向に対物レンズ７の駆動制御を行ってしまう。また、トラック数計数カウンタも傷や欠陥の部分で余分にカウントしてしまう。このように光ビームがトラックを横切っていく時に傷や欠陥があると安定に対物レンズ７の駆動を行うことが困難になる。図２に示すようなＴＺＣ信号の周期が傷や欠陥等により実際よりも短く検出される場合、図１の実施例ではマスクカウンタ１９を用いることによりＴＺＣ信号の周期が乱れないようにできる。図３は図２と同じようにＴＺＣ信号の周期が実際よりも短く検出される場合でマスクカウンタ１９から生成されるマスク信号によって、ＴＺＣ信号の周期が傷や欠陥等により実際よりも短く検出される場合でも正しく周期値やトラックカウントが行える様子を示した。図３においてトラッキング誤差信号を二値化した信号がＴＺＣ信号である。ＴＺＣ信号自体は傷や欠陥部分を光ビームが横切る時には間違った信号を示す。ところがＴＺＣ信号の立ち上がりもしくは立下り（図３では立ち上がり）をエッジ情報とし、このエッジ情報があるごとにマスクカウンタ１９からのマスク信号を“ＬＯＷ”とする。マスク信号の“ＨＩＧＨ”となるのは周期計測値１７の値“Ａ”に係数演算器１８ａで一定の値を乗じた期間を経過した後である。図３の場合、係数演算器１８ａでの一定値は０．７５としたが通常の場合１以下の少数であればいくらでも良い。このマスク期間“ＬＯＷ”の間はエッジ検出回路１５からのエッジ情報はＡＮＤ回路２２からは出力されない。つまりは周期計測カウンタ１６もトラック数計数カウンタ２５もＴＺＣ信号の周期が傷や欠陥等により実際よりも短く検出されることが回避される。図３では傷や欠陥等によりトラッキング誤差信号が乱れ、これによりＴＺＣ信号も乱れている。しかしマスク信号が“ＬＯＷ”となる期間にＴＺＣ信号のエッジ情報が生じてもエッジ情報としては破棄されるので光ビームがトラック間を横切るときの周期値やトラックカウント数が正しく得られる。
【００２４】
また、図４はＴＺＣ信号の周期が実際よりも長く検出される場合を示した図である。欠陥や傷があるとトラッキング誤差信号はトラック間で山や谷がでないように生成されることがある。実線が得られるトラッキング誤差信号で点線は本来得られるであろうトラッキング誤差信号である。このようなトラッキング誤差信号からＴＺＣ信号を生成するとトラック間が長くなるような信号となる。
【００２５】
図４においてシーク動作で光ビームがトラック間を横切る目標周期値１１の値を“Ａ”とした場合、対物レンズ７は光ビームが欠陥や傷のないトラック上を横切っていく際の計測周期値を“Ａ”となるように制御されるが、欠陥や傷があると計測周期値は“Ｆ”となる。ここで周期値“Ｆ”は“Ａ”よりも必ず大きくなる。この場合、目標とする周期値“Ａ”の値よりも大きいと計測されるため、これまで“Ａ”という目標周期値で対物レンズ７の駆動を制御していたにもかかわらず、光ビームが移動している周期が遅くなったと判断して加速させようと対物レンズ７の駆動制御を行ってしまう。加速させる方向に制御を行うため実際に光ビームがトラック間を移動する時の計測周期値“Ｇ”は目標とする周期値“Ａ”より小さくなってしまう。今度は目標とする周期値“Ａ”の値より小さいと計測されるため、光ビームが移動している周期が速くなったと判断して減速方向に対物レンズ７の駆動制御を行ってしまう。また、トラック数計数カウンタも傷や欠陥の部分でカウントがされなくなる。このように光ビームがトラックを横切っていく時に傷や欠陥があると安定に対物レンズ７の駆動を行うことが困難になる。図４に示すようなＴＺＣ信号の周期が傷や欠陥等により実際よりも長く検出される場合、図１の実施例では擬似エッジ生成カウンタ２１を用いることによりＴＺＣ信号の周期が乱れないようにできる。図５は図４と同じようにＴＺＣ信号の周期が実際よりも長く検出される場合で擬似エッジ生成カウンタ２１から生成される擬似エッジ信号によって、ＴＺＣ信号の周期が傷や欠陥等により実際よりも長く検出される場合でも正しく周期値やトラックカウントが行える様子を示した。上述したように対物レンズ７は光ビームが欠陥や傷のないトラック上を横切っていく際の計測周期値を“Ａ”となるように制御されている。つまりは目標のトラックまでシーク動作で到達するまでは周期計測値１７の値は“Ａ”になるであろうと推定する。そのためシーク動作中であればたとえＴＺＣ信号の立ち上がりもしくは立下りのエッジが無くとも極めて周期値が“Ａ”に近い範囲で擬似のエッジを出して周期値“Ａ”を得るようにする。係数演算器１８ｂで一定の値を乗じた期間を経過した後擬似エッジを生成する。図５の場合、係数演算器１８ｂでの一定値は１．２としたが通常の場合１以上で２以下であればいくらでも良い。あくまで周期値“Ａ”の代用となるためのものなので周期値“Ａ”と大きくかけ離れていると代用の意味が無くなる。図５で傷や欠陥でＴＺＣの立ち上がりもしくは立下りが得られなくなりエッジ生成回路１５からエッジ情報が得られなくなっても擬似エッジ生成カウンタ２１により周期値“Ａ”にきわめて近い周期値“Ｈ”で擬似エッジを生成することでＡＮＤ回路２２からエッジ情報が出力される。このとき周期値“Ａ”とは異なるが、擬似エッジの次に得られるエッジとの周期値が“Ｉ”とすると周期値“Ｈ”＋“Ｉ”＝“２Ａ”となるので周期値が大きく乱れるわけではない。つまり周期計測カウンタ１６もトラック数計数カウンタ２５もＴＺＣ信号の周期が傷や欠陥等により実際よりも長く検出されることが回避され光ビームがトラック間を横切るときの周期値やトラックカウント数が正しく得られる。
【００２６】
また、図６は本実施例におけるマスクカウンタ１９と擬似エッジ生成カウンタ２１が動作した場合に計測される周期値が実際の周期値の２倍になる場合を示す。これはマスクカウンタ１９を最初に動作させるために計測する周期値が傷や欠陥などにより実際の周期値が長くなるような場合である。実際の周期値より長くなるためこの周期値をもとにマスクカウンタ１９を動作させるので実際のエッジ情報などがＡＮＤ回路２２でマスクされ正しい周期計測やトラックカウントができない。図６の場合は傷や欠陥などにより実際の周期値が２倍になったためマスク信号も２倍の周期値“Ｊ”となるため実際の周期のエッジ情報はマスク信号によりマスクされる。この状態が継続すると実際のＴＺＣ信号の２倍の周期値“Ｊ”で安定に動作してしまう。このような場合、図１の実施例ではマスク強制解除判定回路２０を用いることにより実際の周期値とは違う周期値で安定してしまうのを強制的に解除することができる。図７は図６と同じようにマスクカウンタ１９と擬似エッジ生成カウンタ２１が動作した場合に計測される周期値が実際の周期値の２倍になる場合である。通常該マスク強制解除判定回路はマスクカウンタ１９からの信号をそのままマスク信号とするためにＮＡＮＤ回路２３に“ＨＩＧＨ”を供給しているが、該マスク強制解除判定回路２０はマスクカウンタ１９からのマスク信号が“ＬＯＷ”である期間にエッジ検出回路１５からのエッジ情報が複数回入力されたと判定すると強制的にマスク信号を解除するためにＮＡＮＤ回路２３に“ＬＯＷ”信号を供給してＮＡＮＤ回路２３の出力を強制的に“ＨＩＧＨ”にする。これによりＡＮＤ回路２２はエッジ検出回路１５からのエッジ情報を出力することができるようになる。その後マスク信号が“ＨＩＧＨ”の時に複数回エッジ情報が得られたらマスク強制解除判定回路２０の出力は“ＨＩＧＨ”となりマスクカウンタ１９からの信号をそのままマスク信号とするようにする。図７ではＴＺＣ信号の２倍の周期値“Ｊ”を計測したがマスク強制解除信号により再度計測を行い、実際のＴＺＣ信号の周期値“Ｋ”が計測されるようになる。
【００２７】
以上説明したように、本実施例によれば、あるトラックから目標とするトラックまでシーク動作をする時に、対物レンズ７の動作を周期制御するために計測するトラック間の周期値が光ディスク上に生じた傷や欠陥によって短くなったり長くなったりすることを回避して対物レンズ７のシーク時の制御を安定に行うことができる光ディスク装置を実現できる。
【００２８】
なお、上記実施例では、光ディスク装置を説明したが、ディスクの記録面にレーザ光線の焦点を合わせるための光学ピックアップと、光学ピックアップをディスク上の任意のトラックから離れたトラックの位置に移動させる駆動手段を具備し、光学的にディスクの再生又は記録再生を行う光ディスク装置に使用されるコンピュータ・ソフトウエアであって、シーク動作中にディスク上の一のトラックから次のトラックへの光学ピックアップの移動を検出して検出信号を発生する移動検出機能と、移動検出機能で検出した光学ピックアップの移動に要した時間を計測する周期計測機能と、周期計測機能で計測した移動に要した時間の値の１未満の小数倍の期間の移動検出機能からの検出信号を遮断する遮断機能と、周期計測機能で計測した移動に要した時間の値を用いて１以上の検出信号を発生する擬似移動検出機能と、擬似移動検出機能が検出信号を発生した回数を計測する擬似検出数計測機能と、遮断機能を強制的に遮断解除する強制解除機能とをコンピュータに実現させるプログラムからなるコンピュータ・ソフトウエアを使用することにより、従来の光ディスク装置を本発明の光ディスク装置とすることができる。
【００２９】
本発明の光ディスク装置は、以下のような効果を奏する。
（１）シーク時にトラッキング誤差信号から生成する信号から計測するトラック間の周期値を光ディスク上に生じた傷や欠陥によって短くなったり長くなったりすることを回避して対物レンズのシーク時の制御を安定に行うことができる。
【００３０】
【発明の効果】
本発明によれば、光ディスク上に欠陥や傷などが存在して正しく周期情報が得られない場合でも欠陥や傷上を通過するまでに得られた正しい周期情報を用いることにより安定に周期制御によるシーク動作を行うことができる光ディスク装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例の光ディスク装置のブロック説明図。
【図２】実施例の光ディスク装置のトラック間周期が短くなる場合の説明図。
【図３】実施例の光ディスク装置のトラック間周期が短くなるのを回避する場合の説明図。
【図４】実施例の光ディスク装置のトラック間周期が長くなる場合の説明図。
【図５】実施例の光ディスク装置のトラック間周期が長くなるのを回避する場合の説明図。
【図６】実施例の光ディスク装置のトラック間周期が正常に得られない場合の説明図。
【図７】実施例の光ディスク装置のトラック間周期が正常に得られる場合の説明図。
【符号の説明】
１  光ディスク
２ａ  クランパ
２ｂ  ターンテーブル
３  ピックアップ
４  リードスクリュウ
５  スレッドモータ
６  スピンドルモータ
７  対物レンズ
８  スレッド
９  信号処理回路
１０  トラッキング駆動回路
１１  目標周期値
１２  比較演算器
１３  切替スイッチ
１４  シーク指令回路
１５  エッジ検出回路
１６  周期計測カウンタ
１７  周期計測値
１８ａ  係数演算器Ａ
１８ｂ  係数演算器Ｂ
１９  マスク用カウンタ
２０  マスク強制解除判定回路
２１  擬似エッジ生成カウンタ
２２  ＡＮＤ回路
２３  ＮＡＮＤ回路
２４  目標トラック数
２５  トラック数計測カウンタ
２６  比較器Ａ
２７  比較器Ｂ
２８  マスク動作許可カウント数
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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