(57)【要約】【課題】光ピックアップのレンズの汚れやレーザダイオードの劣化を正確に検出できる光ディスクドライブを提供する。【解決手段】出荷時において、レーザダイオード２１を発光パワーＰｏで発光させたときの対物レンズ２２の透過光のパワーＱｏと、レーザダイオード２１の電流Ｉｏとをそれぞれ初期値として記憶しておく。出荷後にテストを行う場合は、レーザダイオード２１を出荷時と同じ発光パワーＰｏで発光させ、このときの対物レンズ２２の透過光のパワーＱｔと、レーザダイオード２１の電流Ｉｔとを測定する。測定値Ｑｔと初期値Ｑｏとを比較して、両者の差が一定値を超える場合は対物レンズが汚れていると判定する。また、測定値Ｉｔと初期値Ｉｏとを比較して、両者の差が一定値を超える場合はレーザダイオードが劣化したと判定する。【選択図】　　図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザダイオードから発射された光を対物レンズを通して光ディスク上に集光する光ピックアップを備えた光ディスクドライブにおいて、
出荷時に、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させたときの対物レンズの透過光のパワーＱｏおよびレーザダイオードの電流Ｉｏをそれぞれ初期値として記憶した記憶手段と、
出荷後のテスト時に、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させたときの対物レンズの透過光のパワーＱｔを測定する第１の測定手段と、
出荷後のテスト時に、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させたときのレーザダイオードの電流Ｉｔを測定する第２の測定手段と、
前記第１の測定手段が測定した測定値Ｑｔと前記記憶手段に記憶されている初期値Ｑｏとを比較して、両者の差が一定値を超える場合は対物レンズが汚れていると判定し、前記第２の測定手段が測定した測定値Ｉｔと前記記憶手段に記憶されている初期値Ｉｏとを比較して、両者の差が一定値を超える場合はレーザダイオードが劣化していると判定する判定手段と、
前記判定手段で判定された結果を報知する報知手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスクドライブ。
【請求項２】
レーザダイオードから発射された光を対物レンズを通して光ディスク上に集光する光ピックアップを備えた光ディスクドライブにおいて、
出荷時に、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させたときの対物レンズの透過光のパワーＱｏを初期値として記憶した記憶手段と、
出荷後のテスト時に、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させたときの対物レンズの透過光のパワーＱｔを測定する第１の測定手段と、
前記第１の測定手段が測定した測定値Ｑｔと前記記憶手段に記憶されている初期値Ｑｏとを比較して、両者の差が一定値を超える場合は対物レンズが汚れていると判定する判定手段と、
前記判定手段で判定された結果を報知する報知手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスクドライブ。
【請求項３】
レーザダイオードから発射された光を対物レンズを通して光ディスク上に集光する光ピックアップを備えた光ディスクドライブにおいて、
出荷時に、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させたときのレーザダイオードの電流Ｉｏを初期値として記憶した記憶手段と、
出荷後のテスト時に、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させたときのレーザダイオードの電流Ｉｔを測定する第２の測定手段と、
前記第２の測定手段が測定した測定値Ｉｔと前記記憶手段に記憶されている初期値Ｉｏとを比較して、両者の差が一定値を超える場合はレーザダイオードが劣化していると判定する判定手段と、
前記判定手段で判定された結果を報知する報知手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスクドライブ。
【請求項４】
請求項１または請求項２に記載の光ディスクドライブにおいて、第１の測定手段は、対物レンズと対向して設けられた光パワー検出器であることを特徴とする光ディスクドライブ。
【請求項５】
請求項１または請求項２に記載の光ディスクドライブにおいて、第１の測定手段は、対物レンズと対向して設けられたミラーと、このミラーで反射した光のパワーを検出する光パワー検出器とからなることを特徴とする光ディスクドライブ。
【請求項６】
請求項１または請求項２に記載の光ディスクドライブにおいて、第１の測定手段は、対物レンズとの対向面にミラーが形成されたテスト用ディスクと、このテスト用ディスクのミラーで反射した光のパワーを検出する光パワー検出器とからなることを特徴とする光ディスクドライブ。
【請求項７】
請求項１ないし請求項６のいずれかに記載の光ディスクドライブであって、通常動作時にレーザダイオードの発光パワーを測定するモニタ用の第３の測定手段を有し、この第３の測定手段の測定結果をフィードバックすることによりレーザダイオードの電流を制御するものにおいて、
テスト時に、前記第３の測定手段を利用してレーザダイオードの発光パワーをＰｏに設定することを特徴とする光ディスクドライブ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤなどを取り扱う光ディスクドライブに関し、特に光ピックアップの経時変化を的確に報知できるようにした光ディスクドライブに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクドライブは、情報記録再生装置としてＣＤプレーヤやＤＶＤプレーヤのようなＡＶ機器のほか、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）等にも広く利用されている。このような光ディスクドライブには、レーザダイオードから発射された光を対物レンズを通して光ディスク上に集光する光ピックアップが備わっているが、経時変化によって光ピックアップから投射される光のパワーが減少すると、光ディスクに対する情報の読取りや書込みに不良が発生しやすくなる。経時変化による光パワーの減少要因として典型的なものは、ディスク上に光を集光する対物レンズの汚れである。対物レンズの汚れは、ゴミや埃などがレンズの表面に付着することにより生じる。そこで、このようなレンズの汚れを何らかの手段により検出してユーザーに報知し、レンズのクリーニングを促す必要がある。特開平３−１９２５７８号公報、特開平８−２４９８３５号公報、特開平１１−３５３６８２号公報には、レンズの汚れを検出してユーザーに知らせるようにした光ディスクドライブが開示されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
特開平３−１９２５７８号公報に記載された光ディスクドライブでは、リード命令回数に対するエラー訂正回数の比率を求め、この比率が一定以上の値になったときに塵埃によるエラーと判定してクリーニング指示信号を出力するようにしているが、これによると、光ディスクに付着した塵埃なのか、レンズに付着した塵埃なのかを区別することができないという欠点がある。
【０００４】
また、特開平８−２４９８３５号公報に記載された光ディスクドライブでは、光変調オーバーライトが可能なディスクへの記録後にベリファイを行い、その結果に基づいてクリーニングの必要性をユーザーに警告するようにしているが、これによると、光ディスクへの書込みが前提となるため、ＣＤ−ＲＯＭのような読出し専用の光ディスクに対しては適用できないという問題がある。
【０００５】
一方、特開平１１−３５３６８２号公報に記載された光ディスクドライブでは、レーザビームの出力やフォーカスを検出するレーザ出力センサを設け、光ディスクにアクセスエラーが発生した場合に、光ピックアップをレーザ出力センサの位置まで移動させ、光ピックアップからレーザ出力センサにレーザビームを照射して、その結果検出されたレーザビームの出力等が規定許容範囲外であれば、光学ヘッドの汚れによる障害と判定して警告表示を行うようにしている。これによると、ディスクの種類にかかわらず、レンズの汚れをディスクの汚れと区別して検出することができる。しかしながら、光ヘッドから照射されるレーザビームの出力の減少は、レンズの汚れが唯一の要因とは限らず、レーザダイオード自身が劣化することによっても起こり得るが、上記公報では、レンズが汚れていなくてレーザダイオードが劣化している場合でも、レンズの汚れとして検出してしまう欠点がある。
【０００６】
本発明は、上記問題点を解決するものであって、その課題とするところは、光ピックアップのレンズの汚れを正確に検出できる光ディスクドライブを提供することにある。また、本発明の他の課題は、レーザダイオードの劣化を正確に検出できる光ディスクドライブを提供することにある。本発明のさらに他の課題は、レンズの汚れとレーザダイオードの劣化の双方を正確に検出できる光ディスクドライブを提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明では、出荷時において、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させたときの対物レンズの透過光のパワーＱｏを初期値として記憶しておく。また、出荷後にテストを行う場合は、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させ、このときの対物レンズの透過光のパワーＱｔを測定する。そして、測定値Ｑｔと初期値Ｑｏとを比較して、両者の差が一定値を超える場合は対物レンズが汚れていると判定し、その判定結果を報知する。
【０００８】
このように、テスト時において出荷時と同じ発光パワーＰｏでレーザダイオードを発光させ、そのときの透過光のパワーＱｔを出荷時の初期値Ｑｏと比較することにより、レーザダイオードの劣化の有無にかかわらず、対物レンズの汚れを正確に検出することができる。すなわち、レーザダイオードが劣化していても、レーザダイオードに流す電流を大きくすることで、レーザダイオードの発光パワーを出荷時と同じＰｏにすることができ、この条件下で透過光のパワーＱｔを測定した場合、レンズが汚れていれば測定値Ｑｔは初期値Ｑｏに比べて大きく減少するから、それらの差に基づいて対物レンズの汚れが正確に検出される。
【０００９】
また、本発明では、出荷時において、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させたときのレーザダイオードの電流Ｉｏを初期値として記憶しておく。また、出荷後にテストを行う場合は、レーザダイオードを発光パワーＰｏで発光させ、このときのレーザダイオードの電流Ｉｔを測定する。そして、測定値Ｉｔと初期値Ｉｏとを比較して、両者の差が一定値を超える場合はレーザダイオードが劣化していると判定し、その判定結果を報知する。
【００１０】
このように、テスト時において出荷時と同じ発光パワーＰｏでレーザダイオードを発光させ、そのときのレーザダイオードの電流Ｉｔを出荷時の初期値Ｉｏと比較することにより、レーザダイオードの劣化を正確に検出することができる。すなわち、レーザダイオードが劣化すると、発光パワーＰｏで発光させるためには、レーザダイオードに流す電流を出荷時よりも増加しなければならず、測定値Ｉｔは初期値Ｉｏに比べて大きく増加するから、それらの差に基づいてレーザダイオードの劣化が正確に検出される。
【００１１】
上述した対物レンズの汚れ検出と、レーザダイオードの劣化検出とは、それぞれ単独で採用してもよいし、併用してもよい。
【００１２】
本発明において、対物レンズの透過光のパワーＱｔを測定する手段は、たとえば対物レンズと対向して設けられた光パワー検出器で構成することができる。また、これに代えて、対物レンズと対向して設けられたミラーと、このミラーで反射した光のパワーを検出する光パワー検出器とから構成してもよい。あるいは、対物レンズとの対向面にミラーが形成されたテスト用ディスクと、このテスト用ディスクのミラーで反射した光のパワーを検出する光パワー検出器とから構成することも可能である。
【００１３】
また、通常動作時にレーザダイオードの発光パワーを測定するモニタ用フォトダイオード等の測定手段を備えていて、その測定結果をフィードバックすることによりレーザダイオードの電流を制御する光ディスクドライブにおいては、テスト時に上記測定手段を利用してレーザダイオードの発光パワーをＰｏに設定することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明に係る光ディスクドライブ１００の電気的構成を示したブロック図である。１は光ピックアップで、レーザダイオードから発射された光を対物レンズを通して光ディスク上に集光し、ディスクに情報を記録したりディスクの情報を読み取ったりする。２は光ピックアップ１と対向して設けられた光パワー検出器、３は光ディスクからの反射光を光ピックアップ４で受光して得られたＲＦ信号を増幅するＲＦアンプ、４はＲＦアンプ３で増幅された信号を処理する信号処理回路である。５はＲＦアンプ３の出力に基づいて光ピックアップ１のフォーカス制御やトラッキング制御を行うサーボ回路、６は各部の制御を行うマイクロプロセッサからなるコントローラ、７はＲＯＭおよびＲＡＭから構成されるメモリである。８は光ディスクドライブのフロントパネルに設けられた操作部、９は同じくフロントパネルに設けられた表示部、１０は光ディスクを回転させるディスクモータ、１１はディスクモータ１０を駆動するモータ駆動回路である。以上の構成において、光パワー検出器２は本発明における第１の測定手段に相当し、コントローラ６は本発明における第２の測定手段および判定手段に相当し、メモリ７は本発明における記憶手段に相当し、表示部９は本発明における報知手段に相当する。
【００１５】
図２は、光ピックアップ１の具体的構成を示したブロック図である。光ピックアップ１は、発光素子であるレーザダイオード２１と、レーザダイオード２１から発射された光を光ディスク２０上に集光する対物レンズ２２と、レーザダイオード２１の発光パワーを測定するモニタ用フォトダイオード２３と、レーザダイオード２１に電流を供給するレーザダイオード駆動用ＩＣ２４とを備えている。モニタ用フォトダイオード２３は、本発明における第３の測定手段に相当するもので、光ディスクドライブ１００の通常動作時において、レーザダイオード２１の発光パワーを測定し、その結果をコントローラ６へフィードバックして、レーザダイオード２１に流れる電流を最適値に制御するためのものである。２は前述した光パワー検出器であって、フォトダイオード等の光検出素子からなり、たとえば光ディスクドライブの天板２５に対物レンズ２２と対向して取り付けられている。Ｐはレーザダイオード２１の発光パワー、Ｑは対物レンズ２２を透過した透過光のパワー、Ｉはレーザダイオード２１に流れる電流である。
【００１６】
図３は、本発明において取扱うパラメータを示した図である。Ｐｏ、Ｑｏ、Ｉｏは、それぞれ上述した発光パワーＰ、レンズ透過光のパワーＱ、および電流Ｉの初期値であって、これらは出荷時にメモリ７のＲＯＭに記録される。また、Ｑｔ、Ｉｔはそれぞれレンズ透過光のパワーＱおよび電流Ｉのテスト時における測定値であって、これらはメモリ７のＲＡＭに記録される。
【００１７】
次に、以上の構成からなる光ディスクドライブ１００の動作につき説明する。図４は、工場での出荷時における初期値設定の手順を示したフローチャートである。最初に、光ディスク２０を装填しない状態で光ディスクドライブ１００を初期値設定モードにし（ステップＳ１）、レーザダイオード駆動用ＩＣ２４からレーザダイオード２１へ電流を供給し、レーザダイオード２１を発光させる（ステップＳ２）。このとき、モニタ用フォトダイオード２３によってレーザダイオード２１の発光パワーＰを測定し、発光パワーＰが所定値Ｐｏとなるように、コントローラ６でレーザダイオード駆動用ＩＣ２４の出力電流を制御する。レーザダイオード２１が発光パワーＰｏで発光すると、レーザダイオード２１からのレーザビームは対物レンズ２２を透過して光パワー検出器２へ入射し、光パワー検出器２において透過光パワーＱｏが測定される（ステップＳ３）。また、発光パワーＰｏで発光したときのレーザダイオード２１の電流Ｉｏをコントローラ６自身が測定する（ステップＳ４）。その後、レーザダイオード２１の発光パワーＰｏと、この条件下で測定した透過光パワーＱｏおよび電流Ｉｏとを、それぞれ出荷時の初期値としてメモリ７に記録し（ステップＳ５）、設定を終了する。
【００１８】
図５は、出荷後にユーザーにおいてテストを行う際の手順を示したフローチャートである。最初に、操作部８の操作により光ディスクドライブ１００をテストモードに設定する（ステップＳ１１）。テストモードが設定されると、コントローラ６は、以下のＳ１２〜Ｓ２１の手順に従って自動的にテストを実行する。まず、レーザダイオード駆動用ＩＣ２４からレーザダイオード２１へ電流を供給し、レーザダイオード２１を発光させる（ステップＳ１２）。このとき、モニタ用フォトダイオード２３によってレーザダイオード２１の発光パワーＰを測定し、発光パワーＰが所定値Ｐｏとなるように、コントローラ６でレーザダイオード駆動用ＩＣ２４の出力電流を制御する。レーザダイオード２１が発光パワーＰｏで発光すると、レーザダイオード２１からのレーザビームは対物レンズ２２を透過して光パワー検出器２へ入射し、光パワー検出器２において透過光パワーＱｔが測定される（ステップＳ１３）。また、発光パワーＰｏで発光したときのレーザダイオード２１の電流Ｉｔをコントローラ６自身が測定する（ステップＳ１４）。
【００１９】
次に、透過光パワーの測定値Ｑｔと、メモリ７に記憶されている初期値Ｑｏとを比較して、両者の差Ｑｏ−Ｑｔが所定の値αを超えているか否かを判定する（ステップＳ１５）。対物レンズ２２がそれほど汚れてなければ、測定値Ｑｔの初期値Ｑｏに対する減少量は小さく、Ｑｏ−Ｑｔはαを超えないので（ステップＳ１５：ＮＯ）、対物レンズ２２に異常はないと判定される（ステップＳ１６）。一方、対物レンズ２２がかなり汚れていると、測定値Ｑｔの初期値Ｑｏに対する減少量が大きくなり、Ｑｏ−Ｑｔがαを超えるので（ステップＳ１５：ＹＥＳ）、対物レンズ２２が汚れていると判定される（ステップＳ１７）。
【００２０】
続いて、レーザダイオード２１の電流の測定値Ｉｔと、メモリ７に記憶されている初期値Ｉｏとを比較して、両者の差Ｉｔ−Ｉｏが所定の値βを超えているか否かを判定する（ステップＳ１８）。レーザダイオード２１がそれほど劣化してなければ、測定値Ｉｔの初期値Ｉｏに対する増加量は小さく、Ｉｔ−Ｉｏはβを超えないので（ステップＳ１８：ＮＯ）、レーザダイオード２１に異常はないと判定される（ステップＳ１９）。一方、レーザダイオード２１の劣化が進行すると、測定値Ｉｔの初期値Ｉｏに対する増加量が大きくなり、Ｉｔ−Ｉｏがβを超えるので（ステップＳ１８：ＹＥＳ）、レーザダイオード２１が劣化したと判定される（ステップＳ２０）。
【００２１】
このようにして、対物レンズ２２の汚れの有無とレーザダイオード２１の劣化の有無とをそれぞれ判定した後、それらの判定結果を報知する（ステップＳ２１）。この報知の形態としては、たとえば表示部９に対物レンズ２２の汚れを報知するＬＥＤランプと、レーザダイオード２１の劣化を報知するＬＥＤランプとを設けておき、汚れや劣化が検出された場合に各ランプを点滅させることが考えられる。また、表示部９に液晶ディスプレイが備わっている場合は、その画面にメッセージで報知を行ってもよい。また、ＰＣに搭載された光ディスクドライブであれば、ＰＣのモニタにメッセージで報知を行えばよい。
【００２２】
上述した実施形態によれば、テスト時において出荷時と同じ発光パワーＰｏでレーザダイオード２１を発光させ、そのときの透過光のパワーＱｔを出荷時の初期値Ｑｏと比較している。このため、対物レンズ２２が汚れていれば、測定値Ｑｔが初期値Ｑｏから大きく減少して両者の差が増大するので、レーザダイオード２１の劣化の有無にかかわらず、対物レンズ２２の汚れを正確に検出することができる。そして、その結果を報知することで、ユーザーは対物レンズ２２のクリーニングが必要なことを知ることができる。
【００２３】
また、上述した実施形態によれば、テスト時において出荷時と同じ発光パワーＰｏでレーザダイオード２１を発光させ、そのときのレーザダイオード２１の電流Ｉｔを出荷時の初期値Ｉｏと比較している。このため、レーザダイオード２１が劣化すると、発光パワーＰｏで発光させるための電流が出荷時よりも増えてＩｔとＩｏの差が増大するので、それらの差に基づいてレーザダイオード２１の劣化を正確に検出することができる。そして、その結果を報知することで、ユーザーは光ディスクドライブ１００の寿命を知ることができ、特に、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷのような追記型の光ディスクを取扱うドライブの場合は、追記時のレーザダイオード２１のパワー不足に起因するディスクのデータ破壊を未然に防止することができる。
【００２４】
図５においては、対物レンズ２２の汚れ検出と、レーザダイオード２１の劣化検出とを併用した例を示したが、これらが単独で行われるようにしてもよい。図６および図７はその場合の実施形態を示している。
【００２５】
図６は、対物レンズ２２の汚れをテストする場合の手順を示したフローチャートである。操作部８の操作により、光ディスクドライブ１００をレンズテストモードに設定すると（ステップＳ３１）、レーザダイオード駆動用ＩＣ２４からレーザダイオード２１へ電流が供給され、レーザダイオード２１が発光パワーＰｏで発光する（ステップＳ３２）。レーザダイオード２１からのレーザビームは対物レンズ２２を透過して光パワー検出器２へ入射し、光パワー検出器２において透過光パワーＱｔが測定される（ステップＳ３３）。
【００２６】
次に、透過光パワーの測定値Ｑｔと、メモリ７に記憶されている初期値Ｑｏとを比較して、両者の差Ｑｏ−Ｑｔが所定の値αを超えているか否かを判定する（ステップＳ３４）。対物レンズ２２がそれほど汚れてなければ、測定値Ｑｔの初期値Ｑｏに対する減少量は小さく、Ｑｏ−Ｑｔはαを超えないので（ステップＳ３４：ＮＯ）、対物レンズ２２に異常はないと判定される（ステップＳ３５）。一方、対物レンズ２２がかなり汚れていると、測定値Ｑｔの初期値Ｑｏに対する減少量が大きくなり、Ｑｏ−Ｑｔがαを超えるので（ステップＳ３４：ＹＥＳ）、対物レンズ２２が汚れていると判定される（ステップＳ３６）。その後、判定結果を表示部９のＬＥＤランプ等によって報知する（ステップＳ３７）。
【００２７】
図７は、レーザダイオード２１の劣化をテストする場合の手順を示したフローチャートである。操作部８の操作により、光ディスクドライブ１００をレーザダイオードテストモードに設定すると（ステップＳ４１）、レーザダイオード駆動用ＩＣ２４からレーザダイオード２１へ電流が供給され、レーザダイオード２１が発光パワーＰｏで発光するとともに（ステップＳ４２）、このときのレーザダイオード２１の電流Ｉｔがコントローラ６で測定される（ステップＳ４３）。
【００２８】
次に、レーザダイオード２１の電流の測定値Ｉｔと、メモリ７に記憶されている初期値Ｉｏとを比較して、両者の差Ｉｔ−Ｉｏが所定の値βを超えているか否かを判定する（ステップＳ４４）。レーザダイオード２１がそれほど劣化してなければ、測定値Ｉｔの初期値Ｉｏに対する増加量は小さく、Ｉｔ−Ｉｏはβを超えないので（ステップＳ４４：ＮＯ）、レーザダイオード２１に異常はないと判定される（ステップＳ４５）。一方、レーザダイオード２１の劣化が進行すると、測定値Ｉｔの初期値Ｉｏに対する増加量が大きくなり、Ｉｔ−Ｉｏがβを超えるので（ステップＳ４４：ＹＥＳ）、レーザダイオード２１が劣化したと判定される（ステップＳ４６）。その後、判定結果を表示部９のＬＥＤランプ等によって報知する（ステップＳ４７）。
【００２９】
以上説明した実施形態においては、ユーザーが光ディスクドライブ１００をテストモードに設定することにより、対物レンズ２２の汚れやレーザダイオード２１の劣化のテストが行われるようにしたが、予め決められた一定期間ごとにテストが自動的に実行されるようにしてもよい。この場合は、たとえばコントローラ６の内部のクロック回路（図示省略）から出力されるクロック信号を計数し、計数値が一定値になった時点で前述のテスト動作が開始されるようにすればよい。
【００３０】
また、図２の実施形態においては、対物レンズ２２の透過光のパワーＱを測定するために、天板２５に光パワー検出器２を取り付けた例を示したが、これに代えて、図８に示したように、対物レンズ２２と対向するミラー３０を天板２５に取り付け、このミラー３０で反射したレンズ透過光のパワーを光パワー検出器（図８では省略）で検出するようにしてもよい。また、図９に示したように、対物レンズ２２との対向面にミラー４１が形成されたテスト用ディスク４０をドライブにセットし、このテスト用ディスク４０のミラー４１で反射したレンズ透過光のパワーを光パワー検出器（図９では省略）で検出するようにしてもよい。なお、このテスト用ディスク４０はドライブに同梱される。
【００３１】
また、図２、図８、図９の各実施形態においては、レーザダイオード２１の発光パワーを測定するモニタ用フォトダイオード２３が設けられているが、光ピックアップ１にこのようなモニタ用の専用部品が装備されていない場合は、ディスクからの反射光を受光してＲＦ信号を出力する受光回路（図示省略）の信号を利用することで、レーザダイオード２１の発光パワーを測定することができる。
【００３２】
【発明の効果】
本発明によれば、テスト時における測定値を出荷時に設定した初期値と比較することで、光ピックアップのレンズの汚れやレーザダイオードの劣化を正確に検出してユーザーに報知することが可能となり、これによってユーザー側では必要な措置をとることができるため、光ディスクドライブ使用時のトラブル発生を未然に防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光ディスクドライブの電気的構成を示したブロック図である。
【図２】光ピックアップの具体的構成を示したブロック図である。
【図３】本発明において取扱うパラメータを示した図である。
【図４】出荷時における初期値設定の手順を示したフローチャートである。
【図５】出荷後にテストを行う際の手順を示したフローチャートである。
【図６】他の実施形態によるテスト時のフローチャートである。
【図７】他の実施形態によるテスト時のフローチャートである。
【図８】レンズ透過光パワーを測定する他の手段を示す図である。
【図９】レンズ透過光パワーを測定する他の手段を示す図である。
【符号の説明】
１　　光ピックアップ
２　　光パワー検出器
６　　コントローラ
７　　メモリ
９　　表示部
２０　光ディスク
２１　レーザダイオード
２２　対物レンズ
２３　モニタ用フォトダイオード
３０　ミラー
４０　テスト用ディスク
４１　ミラー
１００　光ディスクドライブ
Ｐ　　レーザダイオードの発光パワー
Ｑ　　レンズ透過光のパワー
Ｉ　　レーザダイオードの電流
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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