(57)【要約】【課題】試し書き領域のテスト領域に記録されたことを示すために記録されるカウント領域にデータを記録する。【解決手段】シンクフレームに記録レーザパワーを変化させてバイナリデータを記録し、光ディスクに定められたβ値をスライスレベルとして再生されたバイナリデータをスライスして、「０」又は「１」のデータを得る。【選択図】  図１
2004206778.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試し書きを行なうテスト領域と前記テスト領域で所定のセクタ数の書き込みを行なった際に記録済みの目印が書き込まれるカウント領域とを有する試し書き領域を備える光ディスクのカウント領域にバイナリデータを記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置において、前記バイナリデータは記録レーザパワーの強弱によって記録された「０」、又は「１」を示すデータであることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１記載の光ディスク装置において、前記光ディスクのテスト領域に所定のセクタ数記録した場合、前記カウント領域の予め定められたセクタ数のシンクフレームに記録レーザパワーの強弱によるバイナリデータを記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスク装置において、前記テスト領域において１６セクタ分の試し書きが行なわれた場合、前記カウント領域の４セクタ分のシンクフレームに前記バイナリデータを記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１乃至４の何れかに記載の光ディスク装置において、前記カウント領域から再生された再生バイナリデータを前記光ディスクのβ値をスライスレベルとして「０」又は「１」を判別して、記録されたデータを再生することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項１乃至５の何れかに記載の光ディスク装置において、前記テスト領域で試し書きを行うことによって求められた情報を前記カウント領域に記録することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置に係り、特に、光ディスクの試し書き領域の内、使用済み領域を示すために設けられたカウント領域を利用してドライブ情報を書き込むことができる情報書き込み技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ＣＰＵの制御によって、光ディスクのディスクＩＤを読出し、メモリのテーブル内に、読み出したディスクＩＤと同じ値のディスクＩＤがあるか否かを検出し、テーブル内にこのディスクＩＤが記載されている場合には、ＣＰＵが光ピックアップ及びスレッド機構を制御することによってレーザダイオードを移動させ、このディスクＩＤに対応する記録パラメータに基づいてレーザダイオードから最適レーザ駆動パワーを出射してデータに記録を行うデータ記録装置が公知である（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平８−３２９４６９号公報（図１、第４頁〜第６頁）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
光ディスクのＩＤはメーカを識別するだけのものがある。また、メーカが同じでも、素材の異なる光ディスクが多く出回っている。従って、同じＩＤの光ディスクであっても、記録パラメータを変えなければ最適レーザパワーが得られないことがあるため、各光ディスクにドライブ情報を書き込む方がよい。
所が、光ディスクでも、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ等では光ディスクに自由に情報を記録できる領域が用意されていないため、ドライブ情報を記憶できない場合がある。
【０００５】
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を解決し、試し書き領域における使用済み領域を示すために設けられたカウント領域にドライブ情報を書き込む技術を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的を達成するために、第１の発明では、光ディスク装置は、試し書きを行なうテスト領域と前記テスト領域で所定のセクタ数の書き込みを行なった際に記録済みの目印が書き込まれるカウント領域とを有する試し書き領域を備える光ディスクのカウント領域にバイナリデータを記録する。前記バイナリデータは記録レーザパワーの強弱によって記録された「０」、又は「１」を示すデータである。
前記光ディスクのテスト領域に所定のセクタ数記録した場合、前記カウント領域の予め定められたセクタ数のシンクフレームに記録レーザパワーの強弱によるバイナリデータを記録する。例えば、前記テスト領域において１６セクタ分の試し書きが行なわれた場合、前記カウント領域の４セクタ分のシンクフレームに前記バイナリデータを記録する。
前記カウント領域に記録されたバイナリデータを再生する場合には、前記カウント領域から再生された再生バイナリデータを前記光ディスクのβ値をスライスレベルとして「０」又は「１」を判別して、記録されたデータを再生する。
このカウント領域に記録するデータとしては、前記テスト領域で試し書きを行うことによって求められた情報を記録する。
【０００７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、実施例を用い、図を参照して説明する。
図１は本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図である。図において、光ディスク１０１には光ピックアップ１０２からレーザビームが照射される。また、光ディスク１０１から反射された反射光は光ピックアップ１０２のフォトディテクタで検出され、Ｉ−Ｖアンプ１０４でフォトディテクタからの出力を電圧に変換される。なお、本実施例で、光ピックアップ１０２には、半導体レーザ、対物レンズ等の光学系、フォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ、フォトディテクタ、及びレンズポジションセンサ等で構成される。
Ｉ−Ｖアンプ１０４の出力はアナログ信号処理回路１０８に入力され、ここでＩ−Ｖアンプ１０４の出力は演算され、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ウォブリング信号を生成し、フォーカシング及びトラッキング処理部に入力され、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に基づいて、フォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ制御を行う。アナログ信号処理回路１０８から得られたＲＦ信号はイコライザ１１３でＲＦ信号の波形等化が行われ、二値化回路１１７で二値化され、ＰＬＬ回路１１６に入力される。ＰＬＬ回路１１６で二値化信号からチャネルクロックが生成され、デコーダに入力される。デコーダ１１８ではＰＬＬ回路１１６で作成したチャネルクロックで二値化信号をデコードして、データを復調する。従って、デコーダ１１８の出力端子には再生データが得られる。
【０００８】
１０９は試し書き領域（ＰＣＡ：Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）に試し書きした際に、光ディスク１０１から得られた反射光を処理する反射光処理部であり、反射光処理部１０９の出力はＭＰＵ１１９に入力され、ＭＰＵ１１９の出力によってレーザドライバ１０５に設定するパラメータを微調整する。従って、反射光処理部１０９の出力を用いて、ランニングＯＰＣ（ＯＰＣ：Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）を行うことができる。１１２アシンメトリ処理部であり、アナログ信号処理回路１０８から出力されたＲＦ信号から記録レーザパワー毎のベータ（β）を作成する。従って、このデータをＭＰＵ１１９に入力することによって、β値を基に最適パワーレベルを決定することができる。なお、ＭＰＵ１１９では、各回路へのクロックや制御信号の供給や割り込み信号の処理、ファームウェアの制御等を行う。１１４はウォブル処理部であり。アナログ信号処理回路１０８で生成されたウォブリング信号からウォブル周期を作成する。このデータはＭＰＵ１１９及びスピンドル制御回路１１１に入力される。ウォブル周期はクロックの生成やスピンドル制御に使用される。また、セクタ内のシンクフレームタイミングもウォブル周期で作成することができる。
【０００９】
記録データはエンコーダ１１５で８／１６変調され、記録パルス発生器１１０に入力される。記録パルス発生器１１０では、エンコーダ１１５から入力された変調データからＮＲＺＩを生成して、レーザ制御ドライバ１０５に出力される。レーザ制御ドライバ１０５では、入力されたＮＲＺＩ信号を発光波形に変換し、半導体レーザ（図示せず）のレーザパワーレベル、発光パルス幅の制御を行う。スピンドル制御回路１１１は、ウォブル処理部１１４から入力されたウォブル信号及びＭＰＵ１１９の固定周期発生器から入力された信号によってドライバ駆動のための周波数を生成する。スピンドル制御ドライバ１０６は、ＣＡＶ制御時にはスピンドル制御回路１１１から入力された倍速に応じた一定周波数を電圧に変換してスピンドルモータ１０３を駆動する。また、ＣＬＶ制御時には、スピンドル制御回路１１１から入力されるウォブル信号周期に基づいて生成された可変周波数を電圧変換してスピンドルモータ１０３に供給する。
本実施例では、後述するように、光ディスクの試し書き領域の内、使用済み領域を示すために設けられたカウント領域にＯＰＣやランニングＯＰＣによって得られた情報を書き込むことができる。
【００１０】
次に、図２を用いて、ランニングＯＰＣについて説明する。
図２は記録時の反射光及びレーザの波形を示す波形図であり、図２（ａ）は光ディスクにマークを記録した際の反射光を示し、図２（ｂ）はレーザの発光パルスを示す。図２（ｂ）に示すレーザパルス２０１で光ディスクにマークを記録した場合、２０２は正しくマークがかけている場合の反射光の特性線を示し、２０３は正しくマークが書けていない場合特性線を示す。光ディスクにしっかりとマークが形成された場合、時間ｔにおいて反射光の減衰を観察する。マークが正しく書かれた場合の時間ｔにおける反射光の大きさは、光ディスクへの書き込み速度に無関係に一定になる。よって、時間ｔにおける反射光が一定になるように、レーザパワーを制御することによって、最適パワーが得られる。即ち、ランニングＯＰＣとは、記録中に得られた反射光が所定の一定値になるようにレーザパワーを制御することをいい、ランニングＯＰＣを採用することによって、最適なレーザパワーによって記録を行うことができる。図１の実施例では、記録中に反射処理部１０９の出力が所定の値になるようにレーザ制御ドライバに設定するパラメータを微調整する。
【００１１】
最適パワーの値が得られる反射光を得るには、ＰＣＡにて試し書きを行い、これを再生して評価して最適パワーを見つける。また、このときの反射光の大きさを記憶しておく。ＯＰＣでは、この反射光になるように、レーザ制御ドライバ１０５に設定するパラメータを微調整する。このように、試し書きによって最適パワーになる反射光（以後、最適反射光という）を求め、この求めた最適反射光になるようにレーザ制御ドライバ１０５に設定するパラメータを微調整しながら記録を進行させるというランニングＯＰＣを行うことによって、略最適のレーザパワーによる記録を行うことが出来る。
なお、本発明において、最適レーザパワー、又は最適パワーとは、ＰＣＡにレーザパワーを変えて試し書きをし、再生されたデータを評価して、媒体で決まるβ値（アシンメトリ値）の誤差の範囲内に入るレーザパワーをいう。
【００１２】
以下、図３及び図４を用いて、ＤＶＤ＋Ｒ、ＣＤ−ＲのＰＣＡ、即ちＰＣＡのテスト領域及びカウント領域の構成について説明する。
図３は光ディスクのＤＶＤ＋Ｒの試し書き領域の構成を示す模式図であり、図３（ａ）は試し書き領域全体の模式図を示し、図３（ｂ）はカウント領域の拡大した模式図である。ＤＶＤ＋Ｒ、ＣＤ−Ｒでは、験し書き領域の使用済み領域を示す指標として、カウント領域が設けられている。試し書き領域（ＰＣＡ）はＯＰＣやランニングＯＰＣのための試し書きを行なうテスト領域３０１と、テスト領域３０１に所定のセクタ数の書き込みを行なった際に記録済みの目印の書き込みを行なうカウント領域３０２とから構成される。テスト領域３０１は使用領域３０１ａと未使用領域３０１ｂから構成されており、カウント領域３０２は使用領域３０２ａと未使用領域３０２ｂから構成されている。アドレスは図に向かって左から右に大きくなるように付けられている。また、テスト領域３０１の使用領域３０１における使用方向は、矢印３０３に示すように通常のデータが記録される方向と逆であるが、記録する時の方向は使用方向の矢印３０３とは逆の方向になる。
同様に、図３（ｂ）に示すように、カウント領域３０２の使用領域３０２ａにおける使用方向は矢印３０４に示すように、通常のデータが記録される方向と逆であるが、記録する時の方向は矢印３０５ａ〜３０５ｃで示すように、使用方向の矢印３０４とは逆の方向になる。
【００１３】
ＤＶＤ＋Ｒの場合、テスト領域３０１を１６セクタ使用したら、カウント領域を４セクタ分記録する。カウント領域３０２に既記憶領域を作ることによって、テスト領域を１６セクタ分使用したという目印としている。光ディスク装置は、光ディスクが挿入された時に、カウント領域３０２の未記録及び記録チェックを行い、テスト領域３０１の最初の未記録領域を見つけてＯＰＣを実施する。このカウンタ領域３０２に書き込まれるデータは特に規定されていないが、カウント領域３０２を再生する場合、未記録領域３０１ｂから記録領域３０１ａを再生することになるため、光ディスク装置はＰＬＬ回路を引き込むことができない。このため、データとして読み出すことが難しい。即ち、通常はデータのクロックを生成して再生することになるが、前が未記録の場合、クロック生成がでず、クロックの長さを判別できないため、記録領域３０２ａを読むことができない。カウンタ領域３０２の記録領域３０１ｂを読むためには、記録領域３０２ａを助走する必要がある。記録領域３０２ａが１６セクタあれば、同期を取り、ハードクロックを生成して読むことができるようになる。
そこで、本実施例では、シンクフレーム毎にレーザパワーを変化ながら記録を行い、レーザパワーの変化をバイナリデータとして書き込む。
【００１４】
図４はＤＶＤ−Ｒディスクの１セクタのシンクフレームを示す模式図である。図に示すように、ＤＶＤ−Ｒディスクでは、１セクタに２６個（２×１３行＝２６）のシンクフレームがある。従って、カウント領域３０２では４セクタを一度に記録するので、シンクフレームは４セクタでは、４×２６＝１０４個存在する。今、各シンクフレームバイナリデータの１ビットとみなすと、４セクタでは、１０４ビット、即ち１３バイトのデータを記憶することができる。
【００１５】
図５はシンクフレーム単位でレーザパワーを制御した場合のバイナリデータを示す模式図である。図において、横軸はシンクフレームを連続して取り出して並べた場合の各シンクフレームを示しており、縦軸はレーザビームのパワーレベルを示す。図において、「ｓｙｎｃ０」、「ｓｙｎｃ１」、「ｓｙｎｃ２」…「ｓｙｎｃＮ」はそれぞれ、ゼロ番目、１番目、２番目…Ｎ番目のシンクフレームを示す。バイナリデータで、ゼロは低いレーザパワーを示し、１は高いレーザパワーを示す。前述のように、４セクタでは１０４ビット、即ち１３バイトのデータを書き込むことができる。このような書き込みは、ＭＰＵ１１９によってレーザ制御ドライバ１０５を制御し、レーザ制御ドライバ１０５によって、半導体レーザを制御することにより行なうことができる。
【００１６】
このデータを予め定められたスライスレベルでスライスし、スライスレベルより大きい場合を「１」、小さい場合を「０」とすると、「１」又は「０」のバイナリデータを得ることができる。
図６はカウント領域に記録されたバイナリデータを再生する場合のスライスレベルを示す模式図である。図において、スライスレベル６０１は、光ディスクによって定まっているβ値を用いる。図１のアシンメトリ処理部１１２で得られるβ値は記録時のレーザパワーが大きいと高レベルになり、記録時のレーザパワーが小さいと低レベルになるので、アシンメトリ処理部１１２で得られたβ値を光ディスクによって定められているペータ値でスライスすると、「０」又は「１」のバイナリデータが得られる。よって、レーザパワーの差によって書き込んだデータが読み出せることになる。
【００１７】
カウント領域に書き込むデータとしては、例えば、ＯＰＣで求めた記録パワーや実行時の温度などが好適である。
図７はカウント領域に記録する記録例を示す模式図であり、１３バイトの格納例を示す。図においては、記録位置０１ｈ〜０３ｈ（ヘキサ）に間に装置コードを記録し、記録位置８０ｈで、最適パワーは１２８デシマル、即ち１２．８ｍＷであることを記録する。１９ｈにはＯＰＣを行なったときの温度を記録する。次の１０ｈ〜２０ｈに、書き込んだ最後のアドレスを記録する。８５ｈにはこのときのアドレスでの最適パワーが１３３デシマル、即ち、１３．３ｍＷであることを記録する。このように、ＯＰＣ時の情報と、ランニングＯＰＣの情報を記録すると、以下のことを行なうことができる。
（１）追記の場合で、これらが記憶された光ディスクが光ディスク装置に挿入され、書き込んだ最後のアドレス以降に記録命令が来た場合には、１３．３ｍＷのレーザパワーを設定することができる。
（２）次に光ディスクが挿入された場合で、温度が記録された情報と略同じ程度であれば、ＯＰＣをスキップすることができる。
（３）テスト領域でのレーザパワーと最後に書き込んだアドレスとそのときの温度、記録レーザパワーを記録しておけば、直線近似によって他の場所でのレーザパワーを推測可能である。
また、カウント領域に記録するデータとしては、ランニングＯＰＣの情報も有効である。
【００１８】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、試し書き領域のカウント領域に情報を記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図である。
【図２】記録時の反射光及びレーザの波形を示す波形図である。
【図３】光ディスクのＤＶＤ＋Ｒの試し書き領域の構成を示す模式図である。
【図４】ＤＶＤ−Ｒディスクの１セクタのシンクフレームを示す模式図である。
【図５】シンクフレーム単位でレーザパワーを制御した場合のバイナリデータを示す模式図である。
【図６】カウント領域に記録されたバイナリデータを再生する場合のスライスレベルを示す模式図である。
【図７】カウント領域に記録する記録例を示す模式図である。
【符号の説明】
１０１…光ディスク、１０２…光ピックアップ、１０３…スピンドルモータ、１０４…Ｉ−Ｖアンプ、１０５…レーザ制御ドライバ、１０６…スピンドルモータ制御ドライバ、１０７…フォーカシング及びトラッキング処理部、１０８…アナログ信号処理回路、１０９…反射光処理部、１１０…記録パルス発生器、１１１…スピンドル制御回路、１１２…アシンメトリ処理部、１１３…イコライザ、１１４…ウォブル処理部、１１５…エンコーダ、１１６…ＰＬＬ回路、１１７…二値化回路、１１８…デコーダ、１１９…ＭＰＵ。３０１…テスト領域、３０１ａ…記録領域、３０１ｂ…未記録領域、３０２…カウント領域、３０２ａ…記録領域、３０２ｂ…未記録領域、３０４…使用方向、３０５…記録方向。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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