(57)【要約】      （修正有）【課題】再使用可能な部品を選別する方法を提供する。【解決手段】第１期間Ｗ１使用した全数ｕの部品の動作性能Ｐｏｎ１，Ｖ１のうち、予め定める選別性能Ｐｏｎ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｌａｓ以上である部品を選別して、再使用する。選別性能Ｐｏｎ２Ｌａｓを設定するために、第１期間Ｗ１の使用後の部品に、第２期間Ｗ２の促進劣化試験を行い、この動作性能Ｐｏｎ２，Ｖ２を測定する。部品の性能に関する近似した分布関数を見つけ、たとえば正規分布を決定する。この分布関数の式に基づき、複数ｋ種類の各性能Ｐｏｎ２Ｌａｒ毎に、動作性能Ｐｏｎ２がＰｏｎ２Ｌａｒ≦Ｐｏｎ２である累積確率ｑｏｎ２Ｌａｓを演算する。この累積確率ｑｏｎ２Ｌａｓのうち、第１累積確率ｑｏｎ０Ｌａ未満であって、その第１累積確率ｑｏｎ１Ｌに最も近似した値ｑｏｎ２Ｌａｓに対応する設定性能Ｐｏｎ２Ｌａｓを、選別性能として設定する。【選択図】      図２
2004156966.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
使用の経年変化によって動作の予め定める特性が変化する性能Ｘが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する部品であって、未使用の複数の部品を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
第１期間Ｗ１使用後の部品の性能である第１使用期間後性能Ｘ１を測定し、
前記部品のうち、測定された前記第１使用期間後性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内でＲ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１期間Ｗ１の次に続く第２期間Ｗ２、使用するために選別する部品の選別方法であって、
第１使用期間後性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第１累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第１下限累積確率ｑ１Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第１上限累積確率ｑ１Ｈとし、
第２期間Ｗ２使用後の部品の性能である第２使用期間後性能Ｘ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記第２下限累積確率ｑ２Ｌが前記第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しい値となるように、かつ前記第２上限累積確率ｑ２Ｈが前記第１上限累積確率ｑ１Ｈとそれぞれほぼ等しい値となるように、再使用部品が選ばれることを特徴とする再使用可能な部品の選別方法。
【請求項２】
第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１使用期間後性能Ｘ１１ｉおよび部品を第２期間Ｗ２再使用した場合の性能に相当する第２性能Ｘ２１ｉを用いて演算して、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする請求項１記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項３】
前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の性能を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
その特定した分布関数を用いて第１期間Ｗ１の使用後の部品の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）を算出し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）および複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
前記の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａｒと前記の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａｒとを、任意に組合わせて複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｋの自然数）とし、
複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各部品の性能Ｘ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない部品の性能データを除いた性能Ｘ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
前記第１期間Ｗ１の使用後の部品の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）に最も近似した前記下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるような前記仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする請求項２記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項４】
使用の経年変化によって動作の予め定める特定Ｘが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する部品であって、未使用の複数の部品を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
前記部品の第１使用期間後性能Ｘ１を測定し、
前記部品のうち、測定された前記第１性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内で第１規格範囲Ｒ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１の期間Ｗ１の次に続く第２の期間Ｗ２、使用するために選別する部品の選別方法であって、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
第２期間Ｗ２使用後の部品の第２使用期間後性能Ｘ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａと前記記載の第２下限累積確率ｑ２Ｌとを比較し、前記許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａと前記記載の第２上限累積確率ｑ２Ｈとを、比較し、
前記第２下限および上限累積確率ｑ２Ｌ，ｑ２Ｈが前記許容下限および上限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下となるように（ｑ２Ｌ≦ｑ０Ｌａ，ｑ２Ｈ≦ｑ０Ｈａ）再使用されるべき部品が選ばれることを特徴とする再使用可能な部品の選別方法。
【請求項５】
第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１使用期間後性能Ｘ１１ｉ、および部品を第１期間Ｗ１使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の性能に相当する第２使用期間後性能Ｘ２１ｉを用いて演算し、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする請求項４記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項６】
前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の性能を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）および複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
前記の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）と前記の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）とを、任意に組合わせて複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｋの自然数）とし、
複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各部品の第１期間使用後性能Ｘ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない部品の性能データを除いた性能Ｘ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
許容下限および上限の各規格外出現累積確率（ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ）以下である前記下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるように（ｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａ，ｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａ）、前記仮定の第２の規格範囲Ｒ２（ｒ３）を前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする請求項５記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項７】
使用の経年変化によって動作の予め定める特性が変化する性能Ｘが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する部品であって、未使用の複数の部品を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
第１期間Ｗ１使用後の部品の性能である第１使用期間後性能Ｘ１を測定し、
前記部品のうち、測定された前記第１使用期間後性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内でＲ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１期間Ｗ１の次に続く第２期間Ｗ２、使用するために選別する部品の選別方法であって、
前記第１規格範囲Ｒ１は、上限および下限のいずれか一方を有する範囲であり、
第１使用期間後性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第１累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第１下限累積確率ｑ１Ｌとし、または前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第１上限累積確率ｑ１Ｈとし、
第２期間Ｗ２使用後の部品の性能である第２使用期間後性能Ｘ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、または前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記第２下限累積確率ｑ２Ｌが前記第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しい値となるように、または前記第２上限累積確率ｑ２Ｈが前記第１上限累積確率ｑ１Ｈとそれぞれほぼ等しい値となるように、再使用部品が選ばれることを特徴とする再使用可能な部品の選別方法。
【請求項８】
第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１使用期間後性能Ｘ１１ｉおよび部品を第２期間Ｗ２再使用した場合の性能に相当する第２性能Ｘ２１ｉを用いて演算して、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする請求項７記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項９】
前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の性能を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
その特定した分布関数を用いて第１期間Ｗ１の使用後の部品の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）を算出し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）または複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
複数ｍまたはｎ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｍまたはｎの自然数）とし、
複数ｍまたはｎ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各部品の性能Ｘ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない部品の性能データを除いた性能Ｘ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限または上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
前記第１期間Ｗ１の使用後の部品の第１の下限または上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）に最も近似した前記下限または上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるような前記仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする請求項８記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項１０】
使用の経年変化によって動作の予め定める特定が、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する部品であって、未使用の複数の部品を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
前記部品の第１使用期間後性能Ｘ１を測定し、
前記部品のうち、測定された前記第１性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内で第１規格範囲Ｒ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１の期間Ｗ１の次に続く第２の期間Ｗ２、使用するために選別する部品の選別方法であって、
前記第１規格範囲Ｒ１は、上限および下限のいずれか一方を有する範囲であり、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａまたは許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
第２期間Ｗ２使用後の部品の第２使用期間後性能Ｘ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａと前記記載の第２下限累積確率ｑ２Ｌとを比較し、または前記許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａと前記記載の第２上限累積確率ｑ２Ｈとを、比較し、
前記第２下限または上限累積確率ｑ２Ｌ，ｑ２Ｈが前記許容下限または上限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下となるように（ｑ２Ｌ≦ｑ０Ｌａまたはｑ２Ｈ≦ｑ０Ｈａ）再使用されるべき部品が選ばれることを特徴とする再使用可能な部品の選別方法。
【請求項１１】
第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１使用期間後性能Ｘ１１ｉ、および部品を第１期間Ｗ１使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の性能に相当する第２使用期間後性能Ｘ２１ｉを用いて演算し、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする請求項１０記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項１２】
前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の性能を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａまたは許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）または複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
複数ｍまたはｎ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｍまたはｎの自然数）とし、
複数ｍまたはｎ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各部品の第１期間使用後性能Ｘ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない部品の性能データを除いた性能Ｘ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限または上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
許容下限または上限の各規格外出現累積確率（ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ）以下である前記下限または上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるように（ｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａまたはｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａ）、前記仮定の第２の規格範囲Ｒ２（ｒ３）を前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする請求項１１記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項１３】
部品を第１期間Ｗ１の使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の性能に相当する前記性能Ｘ２１ｉは、
第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第２期間Ｗ２未満の期間で第２期間Ｗ２の使用による特性の劣化と等価またはそれ以上の劣化をさせる促進劣化試験を、それぞれ行い、促進劣化試験後の各部品について測定した性能Ｘ２２ｉ、または
第１期間Ｗ１の使用後の部品についてさらに第２期間Ｗ２使用し、第２期間Ｗ２使用後の部品について測定した性能Ｘ２３ｉであることを特徴とする請求項２、請求項３、請求項５、請求項６、請求項８、請求項９、請求項１１または請求項１２のいずれか記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項１４】
前記促進劣化試験は、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、
促進劣化試験後の各部品について性能Ｘ２２ｉの測定を行い、
それらの全データを用いて演算を行い、前記第２の規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする請求項１３記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項１５】
促進劣化試験後に測定した全データの性能Ｘ２２ｉを用いて演算を行う場合に、
各試験項目の重要度に応じて、各試験項目のデータに重み付けをした上で、前記の演算を行うことを特徴とする請求項１４記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項１６】
前記促進劣化試験は、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、
促進劣化試験後の各部品について性能Ｘ２２ｉの測定を行い、
各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎にデータの演算を行い、各試験項目毎に第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）を演算し、こうして演算した各試験項目毎の第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の下限値の最大値を、前記第２の規格範囲Ｒ２の下限値とし、演算した各試験項目毎の第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の上限値の最小値を、前記第２の規格範囲Ｒ２の上限値として設定することを特徴とする請求項１３記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項１７】
前記促進劣化試験において、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の各試験に供する検体である部品の個数を各試験項目の重要度に応じて各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に増加または減少させることを特徴とする請求項１４から請求項１６のいずれか記載の再使用可能な部品の選別方法。
【請求項１８】
前記再使用可能な部品の選別方法により選別された部品は、
ガスメータに内蔵された部品であり、
前記請求項１〜１７による方法のいずれかの方法で選別された部品を使用したガスメータ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、長期間にわたって使用された部品のうち、さらに次の長期間にわたって再使用することができる部品を、選別するための再使用可能な部品の選別方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
都市ガスの流量を計測するガスメータには、圧力スイッチ、遮断弁および感震器などが内蔵されており、資源の有効利用、コスト削減の観点から、再使用することが望まれる。たとえば圧力スイッチは、ガスメータの下流側の都市ガスなどのガスの圧力が、大量のガス漏洩によって、大きく低下したとき、スイッチング状態がオンとなり、これによってガスメータに備えられている遮断弁を遮断するために用いられる。圧力スイッチがオンになるガスの圧力を、オン圧と言うことにする。オン圧が予め定める下限値よりも低すぎると、さらに大量のガス漏洩して、大きな事故を発生するおそれがある。したがって圧力スイッチのオン圧の下限値は、予め定める設計規格の範囲内に確実に存在しなければならない。
【０００３】
先行技術では、たとえば１０年の検定満期後のガスメータ、およびその期間の途中で取換えられたガスメータを回収し、これらのガスメータに搭載されている計量部の膜、機構部品などを、資源の有効利用、コスト削減の観点から、再使用しているが、前述のオン圧の下限値が設計規格の範囲内に確実に存在していなければならないことが厳格に要求される圧力スイッチは、取外されて廃棄され、新たな圧力スイッチと交換されて、ガスメータが再使用される。ガスメータの回収後、圧力スイッチの廃棄される理由は、圧力スイッチが再使用可能かどうかの選別方法が従来では、明確ではなく、再使用された圧力スイッチの故障率が増加することが危惧されるからである。
【０００４】
またガスメータに備えられる遮断弁は、各種センサによって、ガスメータの下流側の都市ガスなどのガスの供給状態に何らかの異常が認められた場合、制御手段により遮断するために用いられる。遮断弁の開弁状態から閉止状態に変化する動作電圧が、たとえば予め定める上限値よりも高すぎると、制御手段からの制御信号によって正常に動作できず、開いたままになり、ガスが漏洩して、大きな事故を発生するおそれがある。また、動作電圧が予め定める下限値よりも低すぎると、衝撃によって誤遮断が発生するおそれがあり、利便性を損なうおそれがある。したがって遮断弁の動作電圧の上限値と下限値とは、予め定める設計規格の範囲内に確実に存在しなければならない。
【０００５】
前述の動作電圧が設計規格の範囲内に確実に存在していなければならないことが厳格に要求される遮断弁は、取外されて全て廃棄され、新たな遮断弁と交換されて、ガスメータが再使用される。ガスメータの回収後、遮断弁の廃棄される理由は、前述の圧力スイッチと同様に、遮断弁が再使用可能かどうかの選別方法が従来では、明確ではなく、再使用された遮断弁の故障率が増加することが危惧されるからである。
【０００６】
ガスメータに備えられる感震器は、半導体素子を含んで構成され、地震の振動による異常状態の発生時、制御手段によって遮断弁を閉止状態にさせるために用いられる。このような感震器もまた、資源の有効利用、コスト削減の観点から、長期間にわたって再使用されることが望まれる。
【０００７】
他の先行技術は、都市ガスガバナの２次圧を２分間隔で検出し、１週間前などの過去に検出した値と比較して差を求め、その差が、判定基準値以上となる頻度が、統計学上の正常の範囲を出たら、異常と判断する構成を開示する（特許文献１）。この先行技術は、１個体の機器である都市ガスガバナの異常性判断に統計処理を用い、この統計処理を行うデータベースは、１個体の性能の検出回数を増やすことで、確保している。したがってこの先行技術は、たとえば使用環境がほぼ同じである多数の部品の全体にわたる再使用性の選別基準を決定する技術を、全く開示していない。
【０００８】
【特許文献１】
特開平５−１９６５３２
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、一旦使用された後に回収された圧力スイッチ、遮断弁、感震器およびその他の部品の選別を行って、次に続く期間、正常な動作を行って再使用することができる部品を選別するための再使用可能な部品の選別方法を提供することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、使用の経年変化によって動作の予め定める特性が変化する性能Ｘが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する部品であって、未使用の複数の部品を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
第１期間Ｗ１使用後の部品の性能である第１使用期間後性能Ｘ１を測定し、
前記部品のうち、測定された前記第１使用期間後性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内でＲ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１期間Ｗ１の次に続く第２期間Ｗ２、使用するために選別する部品の選別方法であって、
第１使用期間後性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第１累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第１下限累積確率ｑ１Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第１上限累積確率ｑ１Ｈとし、
第２期間Ｗ２使用後の部品の性能である第２使用期間後性能Ｘ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記第２下限累積確率ｑ２Ｌが前記第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しい値となるように、かつ前記第２上限累積確率ｑ２Ｈが前記第１上限累積確率ｑ１Ｈとそれぞれほぼ等しい値となるように、再使用部品が選ばれることを特徴とする再使用可能な部品の選別方法である。
【００１１】
また本発明は、第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１使用期間後性能Ｘ１１ｉおよび部品を第２期間Ｗ２再使用した場合の性能に相当する第２性能Ｘ２１ｉを用いて演算して、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする。
【００１２】
また本発明は、前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の性能を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
その特定した分布関数を用いて第１期間Ｗ１の使用後の部品の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）を算出し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）および複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
前記の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａｒと前記の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａｒとを、任意に組合わせて複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｋの自然数）とし、
複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各部品の性能Ｘ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない部品の性能データを除いた性能Ｘ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
前記第１期間Ｗ１の使用後の部品の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）に最も近似した前記下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるような前記仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする。
【００１３】
部品というのは、電気的、機械的または化学的構成を有し、性能は、部品の経年変化によって動作の希望する特性が変化する物理的または化学的な性能であって、物理的な値、すなわち物理量は、たとえば圧力、電圧、振動の振幅、音量などの機械的、電気的な値であってもよく、化学的な値は、濃度、温度、ｐＨなどであってもよく、さらにこの性能というのは、そのほかの種類の値を含む。動作の希望する特性というのは、たとえば都市ガスの流量を計測する膜式ガスメータに内蔵された圧力スイッチが、ガスメータの下流側で大量のガス漏洩が生じ、これによってガスの圧力Ｐが低下し、圧力スイッチのオフからオンにスイッチング状態が変化する特性であり、または遮断弁が開いている状態から閉止状態に変化するために遮断弁に与えるべき励磁電圧であり、さらに感震器に与えられる振動によって導出する静電容量の振幅などであってもよい。本発明における参照符Ｘは、前述の性能を表し、後述の実施の形態では、圧力Ｐまたは電圧Ｖに読み換えることができる。
【００１４】
ガスメータに設置可能な部品としては、前述の圧力スイッチ（動作圧力）、遮断弁（性能としての動作電圧）、感震器（動作ガル値）のほかに、超音波センサ（インピーダンス、もしくは発信受信感度）、圧力センサ（圧力誤差）がある。これらのガスメータの部品ではなく、その他の部品で性能の上限だけ（もしくは下限のみ）の部品、すなわち上限、下限だけのものは、警報器のスピーカ（音量下限を設定）、液晶の表示（モノクロ液晶の輝度もしくはコントラストの下限を設定）、フィルタ類（フィルタ通過後の残存物質の濃度の上限を設定）などがある。
【００１５】
本発明は、たとえば都市ガスなどの流量を測定するガスメータの圧力スイッチ、遮断弁および感震器などに関連して実施されるだけでなく、そのほかの多くの部品に関連して広範囲に実施することができる。本発明では基本的には、定期的に交換されている部品が本発明の実施の対象となる。たとえば（ａ）ガスメータ内に使用される前述の圧力スイッチ、遮断弁、感震器などのほか、さらに液晶モニタ表示器が挙げられ、さらに（ｂ）超音波ガスメータ内に使用されるガスの流量を測定する超音波センサ、（ｃ）ガス漏れ警報器内に使用されるスピーカ、ガスセンサ、（ｄ）電気メータ内に使用されるコイル、回転板、カウンタ、（ｅ）流体用制御バルブなどに関連して本発明が実施される。さらに、たとえば（ｆ）電気製品等リサイクル法によって回収され、再利用の可能性の高い部品、安全装置などに関連して本発明が広範囲に実施される。さらに（ｇ）自動車などの車載用部品であって、再利用の可能性の高い部品、安全装置なども、本発明の実施の対象になる。
【００１６】
本発明に従えば、流体、たとえば都市ガスなどのガスの流量を計測するガスメータに、圧力スイッチが内蔵され、ガスメータの下流側で大量のガス漏洩が生じ、これによってガスの圧力Ｐが低下し、典型的には、たとえば第１設計規格値ＰｏｎＴ未満になったとき、圧力スイッチのスイッチング状態が変化し、たとえばオンとなり、これによって遮断弁が閉じる。これによって下流側のガスの漏洩が継続することが防がれ、事故の発生を防ぐことができる。
【００１７】
遮断弁４４の一例を、述べる。遮断弁は、コイルが非励磁で、永久磁石片の磁力によって弁体をばねのばね力に抗して弁座から離間し、こうして開弁状態に保たれる。電池などの電源によるコイルの励磁によって、永久磁石片による弁体の磁気吸着状態を解除し、ばねのばね力によって弁体を弁座に着座させて閉止状態とする。再使用可能な遮断弁の選別を行うために、第１の期間Ｗ１の使用後の遮断弁が開弁状態から閉止状態に変化するために必要な動作電圧を、次の第２の期間Ｗ２の使用のために設定する。
【００１８】
本発明に従えば、流体、たとえば都市ガスなどのガスの流量を計測するガスメータに、遮断弁が内蔵され、圧力スイッチ、感震器などのセンサによって監視されているガス供給状態が異常になることによって、電子回路である制御手段からの制御信号が遮断弁に与えられ、この制御信号の電圧が、典型的には、たとえば設計規格値ＶＴである動作電圧未満になったとき、遮断弁が開いている状態から閉じる。これによって下流側のガスの供給が継続することが防がれ、安全を確保することができる。
【００１９】
未使用の各部品が動作する下限値は、第１規格範囲Ｐｏｎ０Ｌａ〜Ｐｏｎ０Ｈａ，Ｖ０Ｌａ〜Ｖ０Ｈａ内に存在することが望まれ、第１規格性能下限値Ｐｏｎ０Ｌａ，Ｖ０Ｌａ未満の初期累積確率はｑｏｎ０Ｌ，ｑ０Ｌである。すなわち未使用の部品が、第１規格範囲Ｒ１，Ｒ２；Ｒ１１の第１規格性能下限値Ｐｏｎ０Ｌａ，Ｖ０Ｌａに関して、規格外に存在する初期累積確率は、ｑｏｎ０Ｌ，ｑ０Ｌであって、たとえば後述のようにｑｏｎ０Ｌ＝０．００１％、ｑ０Ｌａ＝１０−１４である。この初期累積確率ｑｏｎ０Ｌ，ｑ０Ｌは、予め定める基準累積確率ｑｏｎ０Ｌａ，ｑ０Ｌａ（後述のようにたとえばｑｏｎ０Ｌａ＝１．０％、ｑ０Ｌａ＝１０−１０）未満である。このような第１規格性能下限値Ｐｏｎ０Ｌａ，Ｖ０Ｌａは、たとえば圧力スイッチの場合、ガス消費機器の種火が立消えして生ガスが噴出する圧力を超える値に選ばれ、安全性が確保される。第１規格圧力下限値Ｐｏｎ０Ｌａ，Ｖ０Ｌａは、たとえば２０ｍｍＨ２Ｏであってもよい。遮断弁の第１規格範囲Ｒ１１である規格電圧下限値の電圧Ｖ０Ｌａは、たとえば０．５Ｖであり、規格電圧上限値の電圧Ｖ０Ｈａは、たとえば１．２Ｖである。
【００２０】
たとえば１０年などの予め定める第１の期間Ｗ１、部品が使用され、この検定満期後の部品を回収して、本発明に従って選別を行う。この選別の結果得られた部品を、次の１０年などの第２の期間Ｗ２たとえばＷ１＝Ｗ２またはＷ１＜Ｗ２、再使用する。
【００２１】
このような第２の期間Ｗ２、再使用された部品は、第１期間Ｗ１の検定満期後の部品と同様に、性能の下限値が、第１規格性能下限値Ｐｏｎ０Ｌａ，Ｖ０Ｌａ以上の第１規格範囲Ｒ１，Ｒ２；Ｒ１１の規格内に存在することが望まれる。そのためには、第１期間Ｗ１の使用後に第１規格範囲の規格外になる部品の第１累積確率をｑｏｎ１Ｌ，ｑ１Ｌとし、第１期間Ｗ１の使用後の選別された部品をさらに次の第２期間Ｗ２、使用した後の第１規格範囲の規格外になる第２累積確率をｑｏｎ２Ｌａｒ，ｑ２Ｌａ（ｒ１）とするとき、第１および第２累積確率ｑｏｎ１Ｌ，ｑｏｎ２Ｌ；ｑ１Ｌ，ｑ２Ｌは、ほぼ等しい値であり、かつ基準累積確率ｑｏｎ０Ｌａ，ｑ０Ｌａ未満であるように、選別を行う。こうして第１および第２期間Ｗ１，Ｗ２のいずれにもわたって、使用される部品は、全期間（＝Ｗ１＋Ｗ２）内で正常な動作を行う。
【００２２】
このようにして、一旦使用されて回収された部品を、従来のように廃棄するのではなく、本発明では、選別した部品を、再使用し、これによって資源の有効利用、コスト削減が図られ、好ましい。
【００２３】
部品の第１設計規格値ＰｏｎＴ，ＰｏｆｆＴ；ＶＴは、第１規格範囲Ｒ１，Ｒ２；Ｒ１１内にそれぞれ存在する。
【００２４】
第１期間Ｗ１の使用による検定満期後に回収された部品の第１または第２動作性能Ｐｏｎ１，Ｐｏｆｆ１；Ｖ１を測定し、この動作性能Ｐｏｎ１，Ｐｏｆｆ１；Ｖ１が、第１規格範囲Ｒ１，Ｒ２；Ｒ１１内であって、さらに狭い第２規格範囲Ｒ３，Ｒ４；Ｒ１２内に存在する部品だけを、次の第２期間Ｗ２において再使用するために選別する。
【００２５】
この選別にあたっては、第１期間Ｗ１の使用後の全ての部品が第１規格範囲外になる第１累積確率ｑｏｎ１Ｌ，ｑ１Ｌと、第１期間Ｗ１の使用後に選別された部品が、さらに次の第２の期間Ｗ２使用されることによって第１規格範囲Ｒ１，Ｒ２；Ｒ１１外になる第２累積確率ｑｏｎ３Ｌ，ｑ３Ｌとがほぼ等しい値となるように（すなわちｑｏｎ０１Ｌ≒ｑｏｎ２Ｌ、ｑ１Ｌ≒ｑ３Ｌとなるように）、前述の第３または第４規格範囲Ｒ３，Ｒ４が選ばれる。
【００２６】
このような第２規格範囲Ｒ３，Ｒ４；Ｒ１１を設定するにあたっては、第１期間Ｗ１の使用後の全ての各部品の第１動作性能Ｐｏｎ１，Ｐｏｆｆ１；Ｖ１と、この第１期間Ｗ１の使用後における全ての部品に、第２期間に関する促進劣化試験を施した後における第１動作性能Ｐｏｎ２，Ｐｏｆｆ２；Ｖ２とを演算して、設定することができる。
【００２７】
たとえば部品が、ガス圧力の第１設計規格値ＰｏｎＴ未満でオンのスイッチング状態に変化するように設計された構成を有する場合、第１期間Ｗ１の使用後、Ｐｏｎ０Ｌ＜ＰｏｎＬａ≦Ｐｏｎ１であるＰｏｎ１を有する部品のみを選別して再使用する。部品の第１動作圧力Ｐｏｎ１だけでなく、その他、第２動作圧力Ｐｏｆｆ１Ｌの１または複数の組合わせに関連して本発明は実施されてもよい。部品は、圧力の低下時、上述のようにたとえばオフのスイッチング状態に変化する構成を有してもよく、さらにまたそのほかの動作を行う構成であってもよい。
【００２８】
遮断弁が、動作電圧の設計規格値ＶＴ未満で閉止状態に変化するように設計された構成を有する場合、第１期間Ｗ１の使用後、第２規格範囲Ｒ２内のＶ０Ｌａ＜Ｖ２Ｌａｓ≦Ｖ１であるＶ１を有する遮断弁のみを選別して再使用する。
【００２９】
こうして検定満期後の回収された部品の全てについて、第１動作性能Ｐｏｎ１，Ｐｏｆｆ１；Ｖ１を測定し、これらの測定結果Ｐｏｎ１，Ｐｏｆｆ１，Ｖ１が、第２規格範囲Ｒ３，Ｒ４；Ｒ１２内に存在する部品だけを、次の第２期間Ｗ２の再使用のために選別する。
【００３０】
本発明に従えば、第１期間Ｗ１の使用後に回収された検定満期後の部品を選別する選別性能を設定するには、後述されるように、第１期間Ｗ１の使用後の部品の動作状態が変化する第１動作性能Ｐｏｎ１を測定するとともに、その回収した全数Ｎの部品に、第２期間Ｗ２のための促進劣化試験を行い、この促進劣化試験後の全ての各部品の第１動作性能Ｐｏｎ２，Ｖ２を測定し、統計的処理による演算が行われる。
【００３１】
この統計的処理では、第１期間Ｗ１の使用後の部品の全てについて、前述のように第１動作性能Ｐｏｎ１，Ｖ１をそれぞれ測定し、またこの使用後の部品の全てについて促進劣化試験をそれぞれ行い、この促進劣化試験後の全ての部品の第１動作性能Ｐｏｎ２，Ｖ２を測定する。その促進劣化試験後の部品の第１動作性能Ｐｏｎ２，Ｖ２が、複数ｋ種類の各選別圧力設定用下限値ＰｏｎＬａｒ，ＶＬａｒ（ただしｒは１〜ｋの自然数）を有する各第２規格範囲Ｒ３，Ｒ４；Ｒ１２に関して、その選別性能設定用下限値Ｐｏｎ２Ｌａｒ，Ｖ２Ｌａｒ未満になる累積確率ｑｏｎ２Ｌａｒ，ｑ２Ｌａ（ｒ１）を計算する。すなわち促進劣化試験後の第１動作性能Ｐｏｎ２，Ｖ２が、各種類ｒ毎の選別性能設定用下限値Ｐｏｎ２Ｌａｒ，Ｖ２Ｌａｒ未満である第３規格範囲の規格外にある個数ｗを求めて、累積確率ｑ２ｒ（＝ｗ／ｕ）を計算する。
【００３２】
ここでｕは、前述のように第１期間Ｗ１の使用後の部品の全数であり、たとえば後述の実施の形態ではｕ＝６５０個である。ｗ≦ｕである。選別性能設定用下限値Ｐｏｎ２Ｌａｒ，Ｖ２Ｌａｒは、たとえば後述の実施の形態では、圧力スイッチに関して、各圧力２１，２２，２３，２４および２５ｍｍＨ２Ｏであり（ｋ＝５の場合）、さらに第１規格性能下限値Ｐｏｎ０Ｌと等しい圧力２０ｍｍＨ２Ｏも含まれていてもよい。たとえば圧力低下によってオンとなる圧力スイッチが使用される場合、第１期間Ｗ１の使用後の全数ｕ（たとえば前述のように６５０）の圧力スイッチに、促進劣化試験をそれぞれ施し、その促進劣化試験後の全ての各圧力スイッチの第１動作圧力Ｐｏｎ２を測定する。
【００３３】
遮断弁に関して選別電圧設定用下限値Ｖ２Ｌａｒは、たとえば後述の実施の形態では、各電圧０．６，０．７，０．８Ｖであり（ｋ＝３の場合）、さらに第１規格電圧下限値Ｖ０Ｌａと等しい電圧０．５Ｖも含まれていてもよい。
【００３４】
複数ｋ種類の各選別性能設定用下限値Ｐｏｎ２Ｌａｒ，Ｖ２Ｌａｒ毎に、Ｐｏｎ２≦Ｐｏｎ２Ｌａｒ，Ｖ２≦Ｖ２Ｌａｒである部品の個数ｗを求めて、累積確率ｑｏｎ２Ｌａｒ（＝ｗ／ｕ）を演算する。
【００３５】
こうして計算された複数ｋの第２累積確率ｑｏｎ２Ｌａｒ，ｑ２Ｌａ（ｒ１）のうち、第１累積確率ｑｏｎ１Ｌ，ｑ１Ｌ未満であって、その第１累積確率ｑｏｎ１Ｌ，ｑ１Ｌに最も近似した値ｑｏｎ２Ｌａｓ，ｑ２Ｌａｓ（ｓは、１〜ｋのうちの１つの自然数）を、選別性能として設定する。
【００３６】
第２期間Ｗ２は、前述の第１期間Ｗ１以上（Ｗ１≦Ｗ２）に選ばれてもよく、第１期間Ｗ１は、たとえば１０年であってもよく、第２期間Ｗ２は、たとえば１０年であってもよい。第２期間Ｗ２は、第１期間Ｗ１以上であってもよい。上述の構成において、Ｗ２＜Ｗ１であってもよい。
【００３７】
また本発明は、使用の経年変化によって動作の予め定める特定Ｘが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する部品であって、未使用の複数の部品を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
前記部品の第１使用期間後性能Ｘ１を測定し、
前記部品のうち、測定された前記第１性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内で第１規格範囲Ｒ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１の期間Ｗ１の次に続く第２の期間Ｗ２、使用するために選別する部品の選別方法であって、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
第２期間Ｗ２使用後の部品の第２使用期間後性能Ｘ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａと前記記載の第２下限累積確率ｑ２Ｌとを比較し、前記許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａと前記記載の第２上限累積確率ｑ２Ｈとを、比較し、
前記第２下限および上限累積確率ｑ２Ｌ，ｑ２Ｈが前記許容下限および上限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下となるように（ｑ２Ｌ≦ｑ０Ｌａ，ｑ２Ｈ≦ｑ０Ｈａ）再使用されるべき部品が選ばれることを特徴とする再使用可能な部品の選別方法である。
【００３８】
また本発明は、第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１使用期間後性能Ｘ１１ｉ、および部品を第１期間Ｗ１使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の性能に相当する第２使用期間後性能Ｘ２１ｉを用いて演算し、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする。
【００３９】
また本発明は、前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の性能を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）および複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
前記の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）と前記の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）とを、任意に組合わせて複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｋの自然数）とし、
複数ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各部品の第１期間使用後性能Ｘ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない部品の性能データを除いた性能Ｘ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
許容下限および上限の各規格外出現累積確率（ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ）以下である前記下限および上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるように（ｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａ，ｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａ）、前記仮定の第２の規格範囲Ｒ２（ｒ３）を前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする。
【００４０】
本発明は、前述の発明に類似するが、特に本発明では、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２が第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる第２下限累積確率ｑ２Ｌが、前記許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ以下となるように（ｑ２Ｌ≦ｑ０Ｌａ）、かつ第２動作電圧Ｖ２が第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる第２上限累積確率ｑ２Ｈが、許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａ以下となるように（ｑ２Ｈ≦ｑ０Ｈａ）、第２規格範囲Ｒ２を設定して、再使用可能な遮断弁を選別する。
【００４１】
第２規格範囲Ｒ２は、実際の使用による第１および第２動作電圧Ｖ１１ｉ，Ｖ２１ｉを用いて演算して設定される。
【００４２】
本発明に従えば、前述の発明における特定した分布関数を用いて第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁の第１下限累積確率ｑ１Ｌおよび第１上限累積確率ｑ１Ｈを算出する代りに、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａおよび許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、ｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａ、およびｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａが成立するように、第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）を設定するようにしてもよい。
【００４３】
また本発明は、使用の経年変化によって動作の予め定める特性が変化する性能Ｘが、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する部品であって、未使用の複数の部品を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
第１期間Ｗ１使用後の部品の性能である第１使用期間後性能Ｘ１を測定し、
前記部品のうち、測定された前記第１使用期間後性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内でＲ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１期間Ｗ１の次に続く第２期間Ｗ２、使用するために選別する部品の選別方法であって、
前記第１規格範囲Ｒ１は、上限および下限のいずれか一方を有する範囲であり、
第１使用期間後性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第１累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第１下限累積確率ｑ１Ｌとし、または前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第１上限累積確率ｑ１Ｈとし、
第２期間Ｗ２使用後の部品の性能である第２使用期間後性能Ｘ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、または前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記第２下限累積確率ｑ２Ｌが前記第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しい値となるように、または前記第２上限累積確率ｑ２Ｈが前記第１上限累積確率ｑ１Ｈとそれぞれほぼ等しい値となるように、再使用部品が選ばれることを特徴とする再使用可能な部品の選別方法である。
【００４４】
また本発明は、第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１使用期間後性能Ｘ１１ｉおよび部品を第２期間Ｗ２再使用した場合の性能に相当する第２性能Ｘ２１ｉを用いて演算して、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする。
【００４５】
また本発明は、前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の性能を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
その特定した分布関数を用いて第１期間Ｗ１の使用後の部品の第１の下限および上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）を算出し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）または複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
複数ｍまたはｎ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｍまたはｎの自然数）とし、
複数ｍまたはｎ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各部品の性能Ｘ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない部品の性能データを除いた性能Ｘ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限または上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
前記第１期間Ｗ１の使用後の部品の第１の下限または上限の累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）に最も近似した前記下限または上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるような前記仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする。
【００４６】
また本発明は、使用の経年変化によって動作の予め定める特定が、予め定める第１規格範囲Ｒ１から規格外になる累積確率を有する部品であって、未使用の複数の部品を、
予め定める第１の期間Ｗ１、使用した後に、
前記部品の第１使用期間後性能Ｘ１を測定し、
前記部品のうち、測定された前記第１性能Ｘ１が、前記第１規格範囲Ｒ１と同じ範囲内、または第１規格範囲Ｒ１内で第１規格範囲Ｒ１よりも狭い第２規格範囲Ｒ２内にあるものを、第１の期間Ｗ１の次に続く第２の期間Ｗ２、使用するために選別する部品の選別方法であって、
前記第１規格範囲Ｒ１は、上限および下限のいずれか一方を有する範囲であり、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａまたは許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
第２期間Ｗ２使用後の部品の第２使用期間後性能Ｘ２が、前記第１規格範囲Ｒ１から規格外になる第２累積確率のうち、前記第１規格範囲Ｒ１の下限値以下になる累積確率を第２下限累積確率ｑ２Ｌとし、前記第１規格範囲Ｒ１の上限値以上になる累積確率を第２上限累積確率ｑ２Ｈとするとき、
前記許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａと前記記載の第２下限累積確率ｑ２Ｌとを比較し、または前記許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａと前記記載の第２上限累積確率ｑ２Ｈとを、比較し、
前記第２下限または上限累積確率ｑ２Ｌ，ｑ２Ｈが前記許容下限または上限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下となるように（ｑ２Ｌ≦ｑ０Ｌａまたはｑ２Ｈ≦ｑ０Ｈａ）再使用されるべき部品が選ばれることを特徴とする再使用可能な部品の選別方法である。
【００４７】
また本発明は、第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第１期間Ｗ１使用後に測定した第１使用期間後性能Ｘ１１ｉ、および部品を第１期間Ｗ１使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の性能に相当する第２使用期間後性能Ｘ２１ｉを用いて演算し、
第２規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする。
【００４８】
また本発明は、前記演算は、
第１期間Ｗ１使用後の性能を統計処理し、データのばらつきを近似できる最適な分布関数を特定し、
許容規格外出現累積確率のうち、許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａまたは許容上限規格外出現累積確率ｑ０Ｈａを予め設定し、
前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）を決定するために、複数ｍ種類の仮定した下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）（ｒ１は１〜ｍの自然数）または複数ｎ種類の仮定した上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）（ｒ２は１〜ｎの自然数）を設定し、
複数ｍまたはｎ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（ｒ３は１〜ｍまたはｎの自然数）とし、
複数ｍまたはｎ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の一部または全部について、それぞれ、各部品の第１期間使用後性能Ｘ１１ｉが、前記の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の中に入っていない部品の性能データを除いた性能Ｘ２１ｉのデータ群を母集団として、前記分布関数を用いて下限または上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））を算出し、
許容下限または上限の各規格外出現累積確率（ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ）以下である前記下限または上限の各設定規格外累積確率（ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２））となるように（ｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａまたはｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａ）、前記仮定の第２の規格範囲Ｒ２（ｒ３）を前記第２の規格範囲Ｒ２（Ｘ２Ｌａｓ〜Ｘ２Ｈａｓ）とすることを特徴とする。
【００４９】
本発明に従えば、部品の性能に関する第１規格範囲Ｒ１は、その下限値または上限値によって規定されてもよく、この第１規格範囲Ｒ１に対応して、第２規格範囲Ｒ２もまた、その下限値または上限値によって規定される。第２規格範囲Ｒ２を設定するにあたり、仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）は、下限選別基準Ｘ２Ｌａ（ｒ１）によって、または上限選別基準Ｘ２Ｈａ（ｒ２）によって規定され、統計処理などの演算が行われる。
【００５０】
また本発明は、部品を第１期間Ｗ１の使用後にさらに第２期間Ｗ２使用した場合の性能に相当する前記性能Ｘ２１ｉは、
第１期間Ｗ１の使用後の部品から複数個選択された各部品について、第２期間Ｗ２未満の期間で第２期間Ｗ２の使用による特性の劣化と等価またはそれ以上の劣化をさせる促進劣化試験を、それぞれ行い、促進劣化試験後の各部品について測定した性能Ｘ２２ｉ、または
第１期間Ｗ１の使用後の部品についてさらに第２期間Ｗ２使用し、第２期間Ｗ２使用後の部品について測定した性能Ｘ２３ｉであることを特徴とする。
【００５１】
本発明に従えば、第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２１ｉというのは、第１期間Ｗ１使用後、促進劣化試験を行って得た各遮断弁の動作電圧Ｖ２２ｉであってもよく、または第１および第２期間Ｗ１，Ｗ２にわたって連続して使用した遮断弁の動作電圧Ｖ２３ｉであってもよい。
【００５２】
また本発明は、前記促進劣化試験は、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、
促進劣化試験後の各部品について性能Ｘ２２ｉの測定を行い、
それらの全データを用いて演算を行い、前記第２の規格範囲Ｒ２を設定することを特徴とする。
【００５３】
また本発明は、促進劣化試験後に測定した全データの性能Ｘ２２ｉを用いて演算を行う場合に、
各試験項目の重要度に応じて、各試験項目のデータに重み付けをした上で、前記の演算を行うことを特徴とする。
【００５４】
本発明に従えば、促進劣化試験は、複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、こうして各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に得られた動作電圧Ｖ２２ｉをそのまま用いてもよいが、これらの各試験項目の重要度に応じて、重み付けをして第２の規格範囲Ｒ２を設定するようにしてもよい。重み付けというのは、重要度が大きい試験項目についてのデータの個数を、１を超える予め定める係数を掛算するなどして、増加し、重要度が低い試験項目のデータの個数をそのまま、または１未満の予め定める係数を掛算するなどして減少することである。
【００５５】
また本発明は、前記促進劣化試験は、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に行い、
促進劣化試験後の各部品について性能Ｘ２２ｉの測定を行い、
各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎にデータの演算を行い、各試験項目毎に第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）を演算し、こうして演算した各試験項目毎の第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の下限値の最大値を、前記第２の規格範囲Ｒ２の下限値とし、演算した各試験項目毎の第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の上限値の最小値を、前記第２の規格範囲Ｒ２の上限値として設定することを特徴とする。
【００５６】
本発明に従えば、複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の第２規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の下限値および上限値をそれぞれ求め、これらの複数ｄの下限値のうちの最大値を第２規格範囲Ｒ２の下限値として設定し、また複数ｄの上限値のうちの最小値を第２規格範囲Ｒ２の上限値として設定する。こうして第１期間Ｗ１使用後の遮断弁の第１動作電圧Ｖ１が第２規格範囲Ｒ２内に存在する遮断弁を用いることによって、第２期間Ｗ２使用後の遮断弁の第２動作電圧Ｖ２に関する第２下限累積確率ｑ２Ｌが第１下限累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しいかそれ未満となることが確実になり、また第２上限累積確率ｑ２Ｈが第１上限累積確率ｑ１Ｈとほぼ等しいかまたはそれ未満になることが確実になる。
【００５７】
また本発明は、前記促進劣化試験において、
複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の各試験に供する検体である部品の個数を各試験項目の重要度に応じて各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に増加または減少させることを特徴とする。
【００５８】
本発明に従えば、促進劣化試験の複数ｄ種類の各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の重要度が高いとき、検体である第１期間Ｗ１使用後の遮断弁の個数を増加し、重要度が低い試験項目の検体の個数を減少し、これによって適切な第２規格範囲Ｒ２を設定することが可能になる。
【００５９】
また本発明は、前記再使用可能な部品の選別方法により選別された部品は、
ガスメータに内蔵された部品であり、
前述の方法のいずれかの方法で選別された部品を使用したガスメータである。
【００６０】
本発明に従えば、再使用される遮断弁は、ガスメータに内蔵された遮断弁であって、製造直後の未使用の遮断弁を内蔵したガスメータが、第１期間Ｗ１使用された後、そのガスメータから遮断弁が取出されて第２動作電圧Ｖ２が測定され、こうして測定された第２動作電圧Ｖ２が、第２規格範囲Ｒ２内にある遮断弁だけを、第２期間Ｗ２、再使用する。
【００６１】
【発明の実施の形態】
図１は、圧力スイッチ２１（後述の図２参照）の特性を示すグラフである。ライン２２は、ガスの圧力Ｐの下降時、スイッチング状態がオフからオンに変化するオン圧と呼ぶことができる動作圧力Ｐの確率の分布を示す。ライン２３は、ガスの圧力Ｐの上昇時、スイッチング状態がオンからオフに変化するオフ圧と呼ぶことができる動作圧力Ｐの確率の分布を示す。圧力スイッチ２１の製造後の未使用の圧力スイッチ２１は動作圧力は、前述のライン２２で示され、このような未使用の圧力スイッチ２１が、圧力下降時、オンのスイッチング状態になる動作圧力Ｐｏｎが、第１規格範囲Ｒ１から規格外になる確率は、ごく小さい。この圧力スイッチ２１の圧力上昇時、オフのスイッチング状態になる動作圧力Ｐｏｆｆが、第２規格範囲Ｒ２から規格外になる確率は、ごく小さい。これらの確率は、圧力スイッチ２１の使用による劣化によって、規格外になる確率が大きくなるように変化する。第１および第２規格範囲Ｒ１，Ｒ２は相互にずれており、第１規格範囲Ｒ１は、第２規格範囲Ｒ２よりも低い圧力の範囲である。
【００６２】
図２は圧力スイッチ２１のオン圧の特性を示すライン２２，２４を拡大して示すグラフであり、図３は圧力スイッチ２１のオフ圧の特性を示すライン２３，２５を拡大して示すグラフである。図２に示されるように、圧力スイッチ２１では、下流側における大量のガス漏洩によってガスの圧力が大きく低下したとき、スイッチング状態がオンになることを確実にして安全を図るために特に、圧力スイッチ２１の動作圧力Ｐｏｎが、オン圧下限値である規格範囲Ｒ１の規格外になることを防ぎ、設計規格の範囲Ｒ１内に確実に存在しなければならない。未使用の圧力スイッチ２１を、予め定める第１の期間Ｗ１、使用することによって、その動作圧力Ｐｏｎの確率は、ライン２４で示されるようになり、このとき規格範囲Ｒ１の規格外になる確率が、未使用の圧力スイッチ２１のライン２２に比べて高くなる。この第１期間Ｗ１の使用後における検定満期後の回収された圧力スイッチ２１は、規格範囲Ｒ１の規格外では、実用上許容される予め定める累積確率ｑｏｎ０１Ｌａ未満である累積確率ｑｏｎ１Ｌとなる。このような第１期間Ｗ１の使用後の全数ｕの圧力スイッチ２１を、そのまま、さらに次の後続する第２期間Ｗ２、再使用した場合、その第２期間Ｗ２後に回収された圧力スイッチ２１の確率は、ライン２６で示されるとおりとなり、規格範囲Ｒ１の規格外となる累積確率ｑｏｎ２Ｌは、第１累積確率ｑｏｎ１Ｌを超える値になってしまう。
【００６３】
そこで本発明に従えば、第１期間Ｗ１の使用後の検定満期後の回収した圧力スイッチ２１のうち、その動作圧力Ｐｏｎ１を測定し、この測定された動作圧力Ｐｏｎ１を、第３規格範囲Ｒ３の予め定める選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓと比較して検満回収した圧力スイッチ２１を選別する。こうして回収された合計ｕ個の圧力スイッチ２１のうち、選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓと比較することによって選別されたｒ個（ｒ≦ｕ）の圧力スイッチを、次の第２期間Ｗ２、使用したときに、規格範囲Ｒ１の規格外になる累積確率ｑｏｎ３Ｌを、第１累積確率ｑｏｎ１Ｌとほぼ等しいかまたは未満とすることができる。
【００６４】
選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓを、規格範囲Ｒ１において、規格圧力Ｐｏｎ０Ｌａを超える充分に高い圧力に設定すれば、第１期間Ｗ１の使用後の圧力スイッチ２１のうち、廃棄される数が増加し、その結果、省資源の観点から好ましくなく、またコスト削減が劣る。そこで本発明では、この選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓを、規格圧力Ｐｏｎ０Ｌａ以上であって、規格圧力Ｐｏｎ０Ｌａに近似し、しかも第１期間Ｗ１の使用後の全数ｕの圧力スイッチ２１のうち、規格範囲Ｒ１の規格外になる第１累積確率ｑｏｎ１Ｌに近似した値に、統計処理によって設定する。
【００６５】
第１期間Ｗ１の使用後の全数ｕの圧力スイッチ２１に、促進劣化試験をそれぞれ行った後における動作圧力Ｐｏｎの確率は、図１のライン２６と同様である。この促進劣化試験は、第２期間Ｗ２の使用による圧力スイッチ２１の特性の劣化と等価な劣化を、第２期間Ｗ２未満の期間で促進して行う試験である。第１および第２期間Ｗ１，Ｗ２は、たとえば１０年であってもよい。促進劣化試験は、たとえば１日〜１週間で達成することができる。
【００６６】
規格範囲Ｒ３は、第１期間Ｗ１の使用後の圧力スイッチを、選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓによって選別し、その後、促進劣化試験を行って得られた動作圧力Ｐの確率を示す。この規格範囲Ｒ３は、選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓを適切に選ぶことによって、その累積確率ｑｏｎ１Ｌａｓが、ライン２４で示される第１期間Ｗ１の使用後の全数ｕの圧力スイッチ２１の規格範囲Ｒ１に関する累積確率ｑｏｎ１Ｌに近似した値となり、しかも規格範囲Ｒ１内にあり、第１累積確率ｑｏｎ１Ｌに近似した値となる特定を示す。
【００６７】
図３に示される圧力スイッチ２１のオフ圧Ｐｏｆｆに関して、第２規格範囲Ｒ２内に存在する第４規格範囲Ｒ４は、前述の図２の第３規格範囲Ｒ３と同様に設定され、上限値および下限値について、参照符Ｌ，Ｈを用いて、前述の説明と同様に示す。図１〜図３において、理解の便宜のために、累積確率ｑを示す。
【００６８】
図４は、圧力スイッチ２１の縦断面図である。都市ガスなどのガスの圧力が参照符３１で示されるように作用するとき、ハウジング３２に固定されたダイヤフラム３３が、図４の上方に弾発的に変位する。ダイヤフラム３３は、たとえばステンレス鋼などの材料から成ってもよい。ダイヤフラム３３には、合成樹脂などの材料から成るプランジャ３４の基端部が固定される。プランジャ３４の遊端部は、弾発性を有する可動接点３５を、上昇させ、これによって可動接点３５は、正常なガス圧力の得られている状態では、ハウジング３２に固定されている固定接点３６から離間している。これらの可動接点３５と固定接点３６には、ハウジング３２に取付けられる端子３７，３８が接続される。ダイヤフラム３３およびプランジャ３４の変位は、ガスの圧力に対応する。ガスの圧力が低下すると、ダイヤフラム３３およびプランジャ３４が図４の下方に変位する。
【００６９】
大量のガス漏洩が発生し、ガスの圧力が大きく低下すると、ダイヤフラム３３およびプランジャ３４が下降して動作圧力Ｐになると、可動接点３５は、固定接点３６に導通してオンのスイッチング状態となる。
【００７０】
圧力スイッチ２１の長期間の使用によって、ダイヤフラム３３が腐食し、またプランジャ３４が変形し、さらにこのプランジャ３４が上下に変位される案内孔３９との摩擦力が変化し、さらに可動接点３５が変形することがある。このような圧力スイッチ２１の使用によって、動作圧力Ｐが変化し、規格範囲Ｒ１の規格外になる。
【００７１】
図５は圧力スイッチ２１を備えるガスメータ４１の一部を切欠いて示す断面図であり、図６は図４に示されるガスメータ４１の構成を簡略化して示すブロック図である。メータ本体４２は、入口４３からのガスの流量を計測し、出口４６に導く。メータ本体４２と出口４６との間の管路の途中には、遮断弁４４が設けられ、さらにその下流側に圧力スイッチ２１が設けられる。圧力スイッチ２１の前述の可動接点３５と固定接点３６とがオフである状態では、制御回路４５は遮断弁４４を開弁状態に保つ。大量のガス漏洩が生じて出口４６側のガスの圧力が低下した動作圧力Ｐでは、圧力スイッチ２１がオンとなり、制御回路４５は、遮断弁４４を閉弁状態とし、さらに大量のガス漏洩が継続することを防いで安全を確保する。ガスメータ４１には、その電源となる電池６７が内蔵される。
【００７２】
図７は、未使用の圧力スイッチ２１のスイッチング状態がオンになる動作圧力Ｐの累積確率を示すグラフである。未使用の圧力スイッチ２１では、規格圧力Ｐｏｎ０Ｌａ未満の規格外に存在する累積確率はｑｏｎ０Ｌであって、予め定める第１累積確率ｑｏｎ１Ｌ未満である。たとえばｑｏｎ０Ｌ＝０．００１％、ｑｏｎ１Ｌ＝１．０％であってもよい。このような圧力スイッチ２１の動作圧力Ｐｏｎの測定値の累積確率は、本件発明者の実験によれば、正規分布、対数正規分布、ガンベル分布、ワイブル分布など各種統計分布のうち、対数正規分布が最も近似できる分布関数であることが確認された。
【００７３】
図８は、第１期間Ｗ１使用後の圧力スイッチ２１の動作圧力Ｐｏｎの累積確率を示すグラフである。この第１期間Ｗ１使用後の検定満期回収された圧力スイッチ２１の累積確率は、図８のライン２４で示される。このような第１期間Ｗ１、圧力スイッチ２１が使用されることによって、その第１期間Ｗ１の使用後に動作圧力Ｐｏｎが規格圧力Ｐｏｎ０Ｌａ未満である規格外になる圧力スイッチ２１の累積確率は、ｑｏｎ１Ｌである。この累積確率ｑｏｎ１Ｌは、前述の累積確率ｑｏｎ０Ｌａ未満である。
【００７４】
図９は、圧力スイッチ２１のオン圧下限値Ｐｏｎ０Ｌａである動作圧力Ｐｏｎの規格外の累積確率ｑｏｎ１Ｌを示すグラフである。本発明の実施の一形態では、累積確率ｑｏｎ１Ｌを計算するために、１００個の未使用ガスメータ４１の未使用圧力スイッチ２１を用いた。第１期間Ｗ１の使用後のガスメータから取外して回収された圧力スイッチ２１の全数ｕは、たとえば６５０個である。
【００７５】
図１０は、第１期間Ｗ１の使用後に回収された圧力スイッチ２１を選別して、次に続く第２期間Ｗ２、再使用するために選別する方法を示す図である。ステップａ１において第１期間Ｗ１の使用後の全数ｕの圧力スイッチ２１の性能評価試験を実施し、そのオン圧下限の動作圧力Ｐｏｎ１（ｋ）を演算して表１のようにメモリにストアしておく。ここでｕ＝６５０であり、ｋは１〜６５０の値である。
【００７６】
【表１】
2004156966.tif 000003
【００７７】
ステップａ２では、動作圧力Ｐｏｎ１（ｋ）が、規格範囲Ｒ１内で、もっと規格内の範囲Ｒ３に存在する圧力スイッチ２１を、第２期間Ｗ２において再使用するために、選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓを基準として、選別する。こうして選別された圧力スイッチ２１を、ガスメータに組込んで、再使用する。すなわち本発明の実施の形態では、ガスの圧力の低下時、オンになる圧力スイッチ２１において、動作圧力Ｐｏｎ１（ｋ）が、Ｐｏｎ２Ｌａｓ≦Ｐｏｎ１（ｊ）≦Ｐｏｎ２Ｈａｓである圧力スイッチ２１を選別する。こうして選別された圧力スイッチ２１が、第２期間Ｗ２、使用された後の動作圧力Ｐｏｎ３が、範囲Ｒ１の規格外になる累積確率ｑｏｎ３Ｌは、累積確率ｑｏｎ０Ｌａ未満であり、累積確率ｑｏｎ１Ｌに近い値であってもよい。上述の説明は主として、オン圧Ｐｏｎに関して説明を行ったけれども、オフ圧Ｐｏｆｆに関しても同様である。
【００７８】
図１１は、図１０のさらに具体的な工程を示すフローチャートである。ステップｃ２における第１期間Ｗ１の使用後の圧力スイッチ２１のオン圧Ｐｏｎ１とオフ圧Ｐｏｆｆ１とを、ステップｃ３において測定する。この測定したオン圧Ｐｏｎ１に関して、上述の範囲の圧力スイッチ２１を選別し、またオフ圧Ｐｏｆｆ１に関して、Ｐｏｆｆ２Ｌａｓ≦Ｐｏｆｆ１≦Ｐｏｆｆ２Ｈａｓである圧力スイッチ２１を選別する。このようなオン圧Ｐｏｎ１および／またはＰｏｆｆ１に関する選別を行った圧力スイッチ２１を、次の第２期間Ｗ２、使用する。
【００７９】
図１２は、選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓを設定するための方法を説明するための図である。ステップｂ２における第１期間Ｗ１の使用後の全数ｕの圧力スイッチ２１について、ステップｂ３で性能評価試験を実施し、動作圧力Ｐｏｎ１（ｊ）を得る。この動作圧力Ｐｏｎ１（ｊ）は、図１１のステップｃ３において得た値である。
【００８０】
このステップｂ３では、前述のステップｂ２での使用後の性能評価試験のデータのばらつきを近似できる最適な分布関数を求め、さらに次のステップｂ３では、ステップｂ２で求めた分布関数から、回収品、すなわち第１期間Ｗ１の使用後のガスメータ４１の圧力スイッチ２１の設計規格値Ｒ１外の累積確率ｑｏｎ１を算出する。
【００８１】
ステップｂ４では、この回収品である第１期間Ｗ１の使用後の圧力スイッチ２１に対して、再使用期間である第２期間Ｗ２に相当する促進劣化試験を実施する。この促進劣化試験の試験項目は、複数ｄであり、たとえば表２に示されるように合計１３項目あり（ｄ＝１３）、各項目毎に回収品の圧力スイッチ２１を５０個ずつ、分けて割当てて、試験を実行する。各試験項目Ａ１〜Ａｄは、第２期間Ｗ２の使用に相当する劣化を達成する。
【００８２】
【表２】
2004156966.tif 000004
【００８３】
【表３】
2004156966.tif 000005
【００８４】
この促進劣化試験後に、ステップｂ５では、全数ｕの圧力スイッチ２１に、前述と同様な性能評価試験を実施し、動作圧力Ｐｏｎ２を得る。この動作圧力Ｐｏｎ２のばらつきのデータから設計規格値外の累積確率を演算して算出する。
【００８５】
ステップｂ６では、全ての各試験項目Ａ１〜Ａｄにわたる促進劣化試験後の全数ｕの各圧力スイッチのオン圧Ｐｏｎ２を用いて、複数ｋ（後述のようにたとえばｋ＝５）種類の予め定める各設定圧力Ｐｏｎ２Ｌａｒ（ｒは１〜ｋの各自然数）に関して、
Ｐｏｎ２Ｌａｒ≦Ｐｏｎ２（ｋ）                        …（１）
である第１期間Ｗ１の使用後の回収された圧力スイッチ２１のデータを抽出する。式１が成立する圧力スイッチ２１の個数は、合計ｗ個であるものとする。Ｐｏｎ２Ｌａｒは、たとえば圧力２１，２２，２３，２４および２５ｍｍＨ２Ｏであってもよく（すなわちｋ＝５）、さらに２０ｍｍＨ２Ｏを含んでもよい。
【００８６】
【表４】
2004156966.tif 000006
【００８７】
こうして複数ｋ種類の各設定圧力Ｐｏｎ２Ｌａｒの規格外にある圧力スイッチ２１、すなわち式１を満たさない圧力スイッチ２１を、抽出し、複数ｋの各種類の各設定圧力Ｐｏｎ２Ｌａｒ毎に関して、複数ｄ（たとえば前述のように１３）の各試験項目毎に促進劣化試験を行った圧力スイッチ２１の個数ｗｇ（ｇは１〜ｄの自然数、ｄはたとえば前述のように１３）の和ｗを求める。本件発明者の実験によれば、たとえば或る１つのｒに関して、ｗ＝ｗ１＋ｗ２＋…ｗｄ＝６０９個である。
【００８８】
設定圧力Ｐｏｎ２Ｌａｒの各種類ｋ毎に、ステップｂ６では、累積確率ｑｏｎ２Ｌａｒを演算して求める。
ｑｏｎ２Ｌａｒ＝ｗ／ｕ                                …（２）
【００８９】
図１２のステップｂ７では、表４から、第１期間Ｗ１の使用後の回収された圧力スイッチ２１の累積確率ｑｏｎ１Ｌと、促進劣化試験後の式２で得られる各種類ｋ毎の設計規格値外の累積確率ｑｏｎ２Ｌａｒのうち、第１累積確率ｑｏｎ１Ｌ未満であって、その第１累積確率ｑｏｎ１Ｌに最も近似した値ｑｏｎ２Ｌａｓに対応する設定圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓを選び、前記選別圧力として設定する。ｓは１〜ｋのうちの１つの自然数である。
【００９０】
表４から、累積確率ｑｏｎ２Ｌａｓのうち、第１累積確率ｑｏｎ１Ｌ未満であって、その第１累積確率ｑｏｎ１Ｌに最も近似した値ｑｏｎ２Ｌａｓは、０．９％であって、そのときの設定圧力はＰｏｎ２Ｌａｓ＝２３ｍｍＨ２Ｏであることが判る。この設定圧力２３ｍｍＨ２Ｏを、選別圧力として設定する。上述の説明では、主としてオン圧Ｐｏｎ１，Ｐｏｎ２に関して説明を行ったけれども、その上限値Ｐｏｎ２Ｈａｒの累積確率ｑｏｎ２Ｈａｒをステップｂ６において求め、さらに同様にしてオフ圧Ｐｏｆｆ２に関して、Ｐｏｆｆ２Ｌａｒの累積確率ｑｏｆｆ２Ｈａｒ、および／またはＰｏｆｆ２Ｈａｒの累積確率ｑｏｆｆ２Ｈａｒを計算し、次のステップｂ７では、前述と同様にして累積確率ｑｏｎ１Ｈ，ｑｏｆｆ１Ｌ，ｑｏｆｆ１Ｈに最も近似した累積確率ｑｏｎ２Ｈａｓ，ｑｏｆｆ２Ｌａｓ，ｑｏｆｆ２Ｈａｓを見つける。その後、ステップｂ８で、ステップｂ７で見つけた累積確率に対応する選別圧力Ｐｏｎ２Ｈａｓ，Ｐｏｆｆ２Ｌａｓ，Ｐｏｆｆ２Ｈａｓを選別圧力として設定する。
【００９１】
図１３は、本発明の実施の他の形態における圧力スイッチ２１のオン圧Ｐｏｎに関する前述の図２に対応した特性を示すグラフである。この実施の形態は、前述の図１〜図１２の実施の形態に類似し、対応する部分には同一の参照符を用いる。
【００９２】
図１４は、図１３に示される実施の形態における前述の図１２の工程に代わる工程を示すフローチャートである。この実施の形態では、第２期間Ｗ２は、第１期間Ｗ１未満（Ｗ１＞Ｗ２）に選ばれ、たとえば第１期間Ｗ１は１０年であり、第２期間Ｗ２は５年である。未使用の複数の圧力スイッチを、ステップｆ２で、第２期間Ｗ２と等しい使用期間Ｗ３、使用した後、ステップｆ３で第１動作圧力Ｐｏｎ４を測定し、ステップｆ４で、その使用期間Ｗ３の使用後に範囲Ｒ１の規格圧力Ｐｏｎ０Ｌａの規格外になる圧力スイッチ２１の累積確率ｑｏｎ４Ｌを計算する。すなわち、Ｐｏｎ４（ｊ）≦Ｐｏｎ０Ｌａである個数ｗ１を求めて、累積確率ｑｏｎ４Ｌ（＝ｗ１／ｕ）を演算する。
【００９３】
【表５】
2004156966.tif 000007
【００９４】
ステップｆ５では、さらに期間Ｗ１３（＝Ｗ１−Ｗ３）、圧力スイッチ２１を使用する。その結果、合計第１期間Ｗ１にわたる使用後の全数ｕの各圧力スイッチ２１に、オン圧Ｐｏｎ１の測定を、ステップｆ６で行う。次に、第２期間Ｗ２の使用による特性の劣化と等価な劣化を、第２期間Ｗ２未満、たとえば１日〜１週間で促進して行う促進劣化試験をステップｆ７でそれぞれ行う。この促進劣化試験は、前述の表２に示される促進劣化試験に類似する。ステップｆ８では、促進劣化試験後の各圧力スイッチ２１の第２動作圧力Ｐｏｎ２をそれぞれ測定する。
【００９５】
促進劣化試験後の各圧力スイッチ２１の第２動作圧力Ｐｏｎ２が、複数ｋ種類の予め定める各設定圧力Ｐｏｎ２Ｌａｒの規格内にあるスイッチ２１のうち、動作圧力Ｐｏｎ２が規格圧力Ｐｏｎ０Ｌａの規格外になる累積確率ｑｏｎ２Ｌａｒ（＝ｗ２／ｕ）をステップｆ９で演算する。ここでｗ２は、Ｐｏｎ２≦Ｐｏｎ０Ｌａである圧力スイッチ２１の個数である。
【００９６】
ステップｆ１０では、こうして計算された複数ｋの累積確率ｑｏｎ２Ｌａｒのうち、第１累積確率ｑｏｎ０Ｌａ未満であって、累積確率ｑｏｎ４Ｌに最も近似した値ｑｏｎ２Ｌａｓに対応する設定圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓを、ステップｆ１１で選別圧力として設定する。こうして選別圧力Ｐ２ｏｎ２Ｌａｓを予め設定しておき、第１期間Ｗ１の使用後の圧力スイッチ２１の中から、その動作圧力Ｐｏｎが選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓ以上である圧力スイッチ２１だけを選別して、次の後続する第２期間Ｗ２において再使用する。これによって選別された圧力スイッチが、第２期間Ｗ２、さらに再使用された後、その第２期間Ｗ２使用後の圧力スイッチ２１の動作圧力Ｐｏｎ３は、規格範囲Ｒ１内に存在し、累積確率ｑｏｎ０Ｌａ未満であって、累積確率ｑｏｎ１Ｌに近似した値となる。上述の説明は、主としてオン圧Ｐｏｎ１，Ｐｏｎ２の下限値に関連して説明したけれども、上限値に関しても同様に実施することができ、さらにオフ圧Ｐｏｆｆ１，Ｐｏｆｆ２に関しても前述の規格範囲Ｒ２に関連して述べたのと同様に、本発明が実施されることができる。図１４では、これらのオン圧Ｐｏｎ２Ｈａｒとその累積確率ｑｏｎ２Ｈａｒならびにオフ圧下限値Ｐｏｆｆ２Ｌａｒと上限値Ｐｏｆｆ２Ｈａｒの各累積確率ｑｏｎ２Ｈａｒ，ｑｏｆｆ２Ｌａｒ，ｑｏｆｆ２Ｈａｒに関連してもまた同様に、本発明を実施することができ、これによって設定圧力Ｐｏｎ２Ｈａｓ，Ｐｏｆｆ２Ｌａｓ，Ｐｏｆｆ２Ｈａｓを選別圧力として設定することができる。
【００９７】
本発明の実施の形態では、図１２のステップｂ５以降の各ステップは、複数ｄ（たとえばこの実施の形態では表２のように１３）種類の促進劣化の各試験項目毎に、実行されてもよい。図１２のステップｂ５で表２の複数ｄ（たとえばこの実施の形態ではｄ＝１３）種類の各試験項目毎の促進劣化試験後に、圧力スイッチ２１の動作圧力、すなわちオン圧Ｐｏｎ２を測定し、各試験項目毎のたとえば前述のように５０個ずつの圧力スイッチ２１の累積確率ｑｏｎ２Ｌｅ（ｅは１〜ｄの自然数）を演算する。次に複数ｄの各累積確率ｑｏｎ２Ｌｅの平均累積確率ｑｍＬを演算する。
【００９８】
この平均累積確率ｑｍＬを前述の第２累積確率として、ｑｏｎ２Ｌの代りに用いる。平均累積確率ｑｍＬが、第１累積確率ｑｏｎ１Ｌとほぼ等しい範囲に、またはｑｍがｑｏｎ１Ｌ未満となる範囲に、第３規格範囲Ｒ３を選ぶ。この平均累積確率ｑｍＬは、実施の他の形態では、ｑｏｆｆ１Ｌ，ｑｏｇｇ２Ｌに関連して実施されてもよく、さらに本発明の実施の他の形態では、前述の平均累積確率ｑｍＨが、第１および第２累積確率ｑｏｎ１Ｈ，ｑｏｆｆ１Ｈ；ｑｏｎ２Ｈ，ｑｏｆｆ２Ｈに関連して前述と同様に第３または第４規格範囲Ｒ３，Ｒ４が選ばれてもよい。
【００９９】
図１５は、ガスメータ４１（前述の図５、図６参照）に備えられる遮断弁４４を本発明の実施の他の形態によって再使用するための評価方法を簡単に説明するための図である。遮断弁４４の開弁状態から閉止状態に変化する動作電圧Ｖは、各遮断弁４４毎に異なり、また使用の経年変化によって変化する。図１５（１）〜図１５（３）は、本発明の前提となる技術を説明するための遮断弁４４の動作電圧Ｖの確率の分布を示す。遮断弁４４の製造後、未使用である遮断弁４４の、動作電圧Ｖの確率分布は、図１５（１）のライン１２２で示される。このような未使用の遮断弁４４の動作電圧Ｖ０が、予め定める第１規格範囲Ｒ１１から規格外になる確率ｑ０Ｌ，ｑ０Ｈは、ごく小さく、たとえば１０−１４以下である。
【０１００】
遮断弁４４の使用による劣化によって、第１規格範囲Ｒ１１から規格外になる確率は、大きくなるように変化する。
【０１０１】
遮断弁４４が図１５（１）に示される動作電圧Ｖの確率分布のライン１２２を有する特性を有する場合、第１期間Ｗ１、たとえば１０年、使用された後、その動作電圧の確率分布は、図１５（２）に示されるように第１規格範囲Ｒ１１から規格外になる確率が、図１５（１）の未使用の遮断弁４４の確率に比べて、大きく変化する。
【０１０２】
第１期間Ｗ１使用された遮断弁４４の全数ｕが、さらにその後の第２期間Ｗ２、たとえばさらに１０年使用され、こうして未使用の遮断弁４４が、第１および第２期間（＝Ｗ１＋Ｗ２）、たとえば合計２０年、使用されると、図１５（３）に示されるように、その動作電圧の確率の分布は、ライン１２８で示されるように、第１規格範囲Ｒ１１から規格外に逸脱して第１規格範囲Ｒ１１の規格外になる確率がもっと高まる。
【０１０３】
図１５（４）〜図１５（６）は、本発明の実施の一形態を説明するための遮断弁４４の動作電圧Ｖの確率の分布を示す。本発明は、図１５（１）〜図１５（３）に示される技術の上述の問題を解決する。図１５（４）に示される前述の図１５（１）と同様な確率分布のライン１２２の特性を有する未使用の遮断弁４４を、第１期間Ｗ１使用する。この使用によって、図１５（２）と同様な図１５（５）に示される第１動作電圧Ｖ１の確率の分布のライン１２４を有する遮断弁４４のうち、予め定める第２の規格範囲Ｒ１２内の動作電圧Ｖ１を有する遮断弁４４だけを選び出して、その後の第２期間Ｗ２、再使用する。こうして第１期間Ｗ１使用後の遮断弁４４のうち、第２規格範囲Ｒ１２の規格内の遮断弁４４だけを選別して、第２期間Ｗ２、再利用する。こうして、第２期間Ｗ２使用後における遮断弁４４の第２動作電圧Ｖ３の確率の分布は、図１５（６）に示されるライン１２６のとおりであって、第１規格範囲Ｒ１１の規格外になる確率を図１５（５）のライン１２４とほぼ同程度に低減することが可能になる。ここで第２動作電圧Ｖ２のうち、第１期間Ｗ１の使用後、さらに第２期間Ｗ２使用した動作電圧に相当する分布関数などから得られる動作電圧をＶ２１で示し、第１期間Ｗ１使用した遮断弁を第２期間Ｗ２と等価な促進劣化試験後に測定した動作電圧をＶ２２で示し、第１期間Ｗ１使用後の遮断弁をさらに第２期間Ｗ２使用し、その測定した動作電圧をＶ２３で示し、これらの各動作電圧Ｖ２１，Ｖ２２，Ｖ２３を総括的に動作電圧Ｖ２で示すことがある。
【０１０４】
図１６は、遮断弁４４の使用による動作電圧の確率の分布の特性を表すライン１２２〜１２８を拡大して示す図である。遮断弁４４が開弁状態から閉止状態に変化することを確実にして、安全を図るために特に、遮断弁４４の動作電圧Ｖが、第１規格範囲Ｒ１１の規格外になることを防ぎ、設計規格の範囲Ｒ１１内に確実に存在しなければならない。ライン１２２で特性が示される未使用の遮断弁４４を、予め定める第１の期間Ｗ１、使用することによって、その動作電圧Ｖ１の確率は、ライン１２４で示されるようになり、このとき第１規格範囲Ｒ１１の規格外になる確率が、未使用の遮断弁４４のライン１２２に比べて高くなる。この第１期間Ｗ１の使用後における検定満期後の回収（略称、検満回収）された遮断弁４４は、第１規格範囲Ｒ１１の規格外では、実用上許容される予め定める累積確率ｑ０Ｌａ未満である累積確率ｑ１Ｌとなる。図１５および図１６の確率分布のグラフ中には、累積確率ｑを、理解の便宜のために、記入してある。このような第１期間Ｗ１の使用後の全数Ｎの遮断弁４４を、そのまま、さらに次の後続する第２期間Ｗ２、再使用した場合、その第２期間Ｗ２後に回収された遮断弁４４の確率は、図１５（３）のライン１２８で示されるとおりとなり、規格範囲Ｒ１１の規格外となる累積確率ｑ３Ｌは、第１累積確率ｑ１Ｌを超える値になってしまう。
【０１０５】
そこで本発明に従えば、第１期間Ｗ１の使用後の検定満期後の回収した遮断
弁１４４の動作電圧Ｖ１を測定し、この測定された動作電圧Ｖ１を、第２規格範囲Ｒ１２の予め定める選別電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓと比較して、検満回収した遮断弁４４を選別する。こうして検満回収された合計Ｎ個の遮断弁４４のうち、動作電圧Ｖ１を選別電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓと比較することによって、第２規格範囲Ｒ１２内に存在する選別されたｗ個（ｗ≦Ｎ）の遮断弁４４を、次の第２期間Ｗ２、使用したときに、第１規格範囲Ｒ１１の規格外になる第２累積確率ｑ３Ｌを、第１累積確率ｑ１Ｌとほぼ等しいかまたは未満とすることができる。こうして検満回収した第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁４４の動作電圧Ｖ１を、第２規格範囲Ｒ１２によって選別した後、さらに第２期間Ｗ２、使用することによって得られる確率の分布は、前述の図１５（６）のライン１２６であって、このライン１２６は図１６にも同様に示される。
【０１０６】
下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓを、第１規格範囲Ｒ１において、許容下限の第１規格電圧Ｖ０Ｌａを超える充分に高い電圧に設定すれば、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁４４のうち、廃棄される数が増加し、その結果、省資源の観点から好ましくなく、またコスト削減が劣る。そこで本発明では、この選別電圧Ｖ２Ｌａｓを、規格電圧Ｖ０Ｌａ以上であって、規格電圧Ｖ０Ｌａに近似し、しかも第２期間Ｗ２の使用後の全数ｗの遮断弁４４の第２累積確率ｑ３Ｌが、検満回収後の遮断弁４４が第１規格範囲Ｒ１１の規格外になる第１累積確率ｑ１Ｌに、近似した値になるように、統計処理によって、設定する。本発明の実施の他の形態では第２下限累積確率ｑ２Ｌが許容下限規格外出現累積確率ｑ０Ｌａ以下になるように設定してもよい。
【０１０７】
第１期間Ｗ１の使用後の全数Ｎの遮断弁４４に、促進劣化試験をそれぞれ行った後における動作電圧Ｖ２の確率は、図１６のライン１２６と同様である。この促進劣化試験は、第２期間Ｗ２の使用による遮断弁４４の特性の劣化と等価な劣化を、第２期間Ｗ２未満の期間で促進して行う試験である。第１および第２期間Ｗ１，Ｗ２は、たとえば１０年であってもよい。促進劣化試験は、たとえば１日〜１週間で達成することができる。
【０１０８】
第２規格範囲Ｒ１２は、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁４４を、その動作電圧Ｖ１に関して選別電圧Ｖ２Ｌａｓによって選別し、その選別した遮断弁４４を第２期間Ｗ２使用した後に得られる動作電圧Ｖ３の確率ｑ３Ｌが、前述の第１累積確率ｑ１Ｌに近似した値となる動作電圧Ｖ１の範囲である。すなわちこの第２規格範囲Ｒ１２の選別電圧Ｖ２Ｌａｓを適切に選ぶことによって、その累積確率ｑ２Ｌａｓが、ライン１２４で示される第１期間Ｗ１の使用後の全数Ｎの遮断弁４４の第１規格範囲Ｒ１１に関する第１累積確率ｑ１Ｌに近似した値となり、しかも第１規格範囲Ｒ１１内にある値となる。
【０１０９】
図１７は遮断弁４４の閉止状態を示す断面図であり、図１８は遮断弁４４の開弁状態を示す断面図である。遮断弁４４は、ガスメータ４１の入口４３と出口４６との間の流路４６の途中に介在される。この流路４６の途中には、弁孔５６を囲む弁座５７が形成される。弁座５７に図１７に示されるように着座して閉止状態を達成する弁体５８には、ばね５９によって弁座５７に向けてばね力が与えられる。弁体５８に固定された強磁性材料、たとえば電磁ステンレス鋼などから成るプランジャ６１は、ヨーク６２のコイル６３を挿通する。ヨーク６２には、永久磁石片６４が固定され、この永久磁石片６４のプランジャ６１側に強磁性材料から成るコアピース６５が配置される。
【０１１０】
ガスメータ４１の使用の平常時、図４に示されるようにプランジャ６１の遊端部は、ばね５９のばね力に抗してコアピース６５に永久磁石片６４の磁気吸引力によって吸着している。このとき弁体５８は弁座５７から離間し、開弁状態に保たれ、入口４３からの都市ガスは流路４６に流れて供給される。ガスメータ４１の下流側の圧力スイッチ２１の検出によるガス漏れ発生時および感震器８１の検出による地震発生時などの危険な異常状態が発生したとき、コイル６３に、制御信号の駆動電圧が与えられる。これによってコイル６３の磁力は、プランジャ６１の遊端部とコアピース６５との磁気吸引力を低下させ、弁体５８は、ばね５９のばね力によって、図１７に示されるように弁座５７に着座し、閉止状態となる。
【０１１１】
このような図１７および図１８に示される構成を有する遮断弁４４には、前述の第１および第２の各期間Ｗ１，Ｗ２である比較的長期間にわたる使用によっても、機能劣化要因となる部品が、ほとんどない。弁体５８が弾発性を有するゴムなどの材料から成る構成であっても、そのゴムの劣化の兆候は、本件発明者の実験によれば、みられない。したがって遮断弁４４を、長期間にわたって使用する可能性が高く、第１の期間Ｗ１の使用後、さらに次の第２の期間Ｗ２、再使用することによって資源の有効利用、コスト削減が図られることになる。
【０１１２】
前述の図４、図５はおよび図６に示される圧力スイッチ２１は、正常なガス圧力の得られており、可動接点と固定接点とがオフである状態では、制御回路４５は遮断弁４４を、消磁したままであって、開弁状態に保つ。大量のガス漏洩が生じて出口４６側のガスの圧力が低下すると、ダイヤフラムは可動接点を固定接点に導通してオンのスイッチング状態とする。制御回路４５には、圧力スイッチ２１のオンのスイッチング状態を表す信号が与えられる。これによって制御回路４５は、遮断弁４４のコイル６３に駆動電圧を有する制御信号を与えて遮断弁４４を開弁状態から閉止状態とし、したがってさらに大量のガス漏洩が継続することが防がれ安全が確保される。
【０１１３】
制御回路４５から導出される制御信号の電圧は、ガスメータ４１の電源となる電池６７の出力電圧に依存して変化する。電池６７の出力電圧、したがって制御信号の電圧が、電池６７の経年変化などに起因して低下しても、異常時、制御信号によって遮断弁４４が確実に閉止状態となるようにするために、遮断弁４４の動作電圧Ｖ１，Ｖ２が、第１規格範囲Ｒ１１の上限値Ｖ０Ｈａ未満でなければならない。こうして電池６７の出力電圧が低下しても遮断弁４４を制御信号によって確実に遮断することができるようになる。遮断弁４４の動作電圧Ｖ１，Ｖ２はまた、第１規格範囲Ｒ１１の下限値Ｖ０Ｌａを越えていなければならず、さもなければ、衝撃によって圧力スイッチ２１の出力にノイズが混入したとき遮断弁４４が誤動作して遮断することを防ぐことができなくなる。
【０１１４】
図１９は、未使用の遮断弁４４の開弁状態から閉止状態になる動作圧力Ｖ０の累積確率ｑ０を示すグラフである。図１９の横軸は動作電圧Ｖ０を示す。図７の縦軸は、正規分布の逆関数Ｆ（Ｖ）であり、動作電圧Ｖの関数の値である。未使用の遮断弁４４では、規格電圧Ｖ０Ｌａ未満の規格外に存在する累積確率はｑ０Ｌであって、第１累積確率ｑ１Ｌ未満である。未使用の遮断弁４４の累積確率ｑ０Ｌは、図２のライン２２で示される。たとえばｑ０Ｌ＝１０−１４、ｑ１Ｌ＝１０−１０であってもよい。
【０１１５】
このような遮断弁４４の動作電圧Ｖ０および第１期間Ｗ１後に検満回収された遮断弁４４の動作電圧Ｖ１の測定値の累積確率は、本件発明者の実験によれば、正規分布、対数正規分布、ガンベル分布、ワイブル分布など各種統計分布のうち、正規分布が最も近似できる分布関数であることが確認された。遮断弁４４の検満回収品自体の動作電圧Ｖ１の測定値にはばらつきがあり、また動作電圧Ｖ１の母集団から一定数のサンプルを取出しているので、限られたサンプル（今回の評価試料）から母集団（検満回収品全体）を推定するためには、選び出したサンプルは母集団の分布の一部しか表していないので、第１規格範囲Ｒ１１の範囲外の発生確率、すなわち規格外確率）で評価する必要がある。そこで測定値Ｖ１の分布関数を決定するために、遮断弁４４の動作電圧Ｖ１の測定値の累積確率を、最も近似することができる分布関数を探し、上述のように正規分布が最も適していることが判った。遮断弁４４の動作電圧Ｖ１である性能値の分布がどのような分布関数にあてはまるかを検討するにあたっては、実際の分布と前記各種統計分布との間で、誤差の２乗平均をそれぞれ求め、その２乗平均が最小である分布関数を見つけ、その結果、正規分布を確認した。
【０１１６】
図２０は、第１期間Ｗ１使用後に促進劣化試験を行った遮断弁４４の動作電圧Ｖ２の累積確率ｑ２を示すグラフである。図２０の横軸は動作電圧Ｖ２を示し、縦軸は前述と同様に正規分布の逆関数Ｆ（Ｖ）の値であって、電圧Ｖの関数の値を示す。この第１期間Ｗ１使用後の検満回収された遮断弁４４の累積確率ｑ１Ｌは、図１６のライン１２４で示される。このような第１期間Ｗ１、遮断弁４４が使用されることによって、その第１期間Ｗ１の使用後に動作電圧Ｖ１が規格電圧Ｖ０Ｌａ未満である規格外になる遮断弁４４の累積確率は、ｑ１Ｌである。この第１累積確率ｑ１Ｌは、前述の累積確率ｑ０Ｌａ未満である。図１６に示される促進劣化試験後の遮断弁４４の累積確率ｑ２もまた、正規分布で最も近似できる分布関数で表されることが確認された。
【０１１７】
図２１は、本発明の実施の一形態を説明するための動作電圧Ｖの確率の分布を示す図である。図２２は、図２１に示される本発明の実施の一形態における遮断弁４４の第１期間Ｗ１使用後の遮断弁４４を選択するための第２規格範囲Ｒ１２を設定するための作業手順を示す図である。図２１（１）は前述の図１５（４）に対応し、図２１（２）は前述の図１５（５）に対応する。第１期間Ｗ１である１０年使用された遮断弁４４の動作電圧Ｖ１の分布は、図２２のステップａ１１における新品に対応するライン１２２から、ステップａ１２によってライン１２４に変化する。本発明では、この第１期間Ｗ１使用された遮断弁４４を、図２１および図２２において加速試験と称している劣化促進試験をステップａ１３で施し、次の第２期間Ｗ２である１０年間の使用に相当する試験を行う。第１期間Ｗ１使用された遮断弁４４の全数Ｎについて、促進劣化試験を行い、その試験後の遮断弁４４の動作電圧Ｖ２の分布は、ステップａ１４による図１９（３）のライン１３０で示されるように、第１規格範囲Ｒ１１の規格外になる累積確率ｑ３Ｌが、さらに高まる。このようなライン１２９で示される促進劣化試験後の動作電圧Ｖ３の分布特性に基づき、本発明では、第１期間Ｗ１使用後の全ての遮断弁４４のうち、第２期間Ｗ２、さらに使用する再利用可能な第２規格範囲Ｒ１２の選別電圧Ｖ２Ｌａｓをステップａ５で設定する。
【０１１８】
図２３は、未使用の遮断弁４４を第１期間Ｗ１使用し、その後、促進劣化試験を行って性能評価を実施する手順を説明するための図である。性能というのは、この実施の形態では、遮断弁４４の開弁状態から閉止状態になる動作電圧Ｖを表す。検満回収品というのは、前述のように、第１期間Ｗ１使用されて回収された遮断弁４４を表す。製造会社で製造された遮断弁４４は、図２３のステップｂ１１において未使用の状態で動作電圧の性能確認を行い、その保管データの統計的処理によって分析する。その後、図２３のステップｂ１２では、第１期間Ｗ１使用した後の遮断弁４４の動作電圧Ｖ１を測定して性能評価試験の実施を行う。この遮断弁４４の個数Ｎは、たとえば６００個である。ステップｂ１３では、６００個の検満回収品である遮断弁４４を１２種類の各項目ｉ（ｉは１〜ｄの各自然数）毎の促進劣化試験に５０個ずつ割り当てて、各項目毎の促進劣化試験を行う。
【０１１９】
こうしてステップｂ１３で得られた促進劣化試験を施した遮断弁４４の動作電圧Ｖ２をステップｂ１４で測定して性能評価試験を実施し、統計的処理を行う。第１期間Ｗ１の使用後の全ての遮断弁４４について促進劣化試験を行った後の動作電圧Ｖ２の分布は、前述の図２１（３）のライン１２９で示されるとおりであり、このライン１２９は、前述の図１５（３）に示されるライン１２８に近似した特性を有する。
【０１２０】
図２４は、第１期間Ｗ１の使用後に回収された遮断弁４４の動作電圧Ｖ１を第２規格範囲Ｒ１２によって選別して、次に続く第２期間Ｗ２、再使用するために選別する方法を説明するための図である。ステップｃ１１からステップｃ１２に移り、第１期間Ｗ１の使用後の全数Ｎの遮断弁４４の性能評価試験を実施し、その開弁状態から閉止状態に変化する動作電圧Ｖ１（ｊ）を図２４のステップｃ１３で測定し、表６のように，メモリ１４９（後述の図３１参照）にストアしておく。全数Ｎは、たとえばこの実施の形態では６００個であり、ｊは１〜Ｎのうちの１つの自然数である。
【０１２１】
【表６】
2004156966.tif 000008
【０１２２】
ステップｃ１２では、動作電圧Ｖ１（ｊ）が、第１規格範囲Ｒ１１内で、もっと規格内の狭い第２規格範囲Ｒ１２に存在する遮断弁４４を、第２期間Ｗ２において再使用するために、下限選別電圧Ｖ２Ｌａｓを基準として、選別する。また同様にして第２規格範囲Ｒ２の上下選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓを基準として、第１期間Ｗ１の使用後の動作電圧Ｖ１（ｊ）を選別する。こうして選別された遮断弁４４を、ガスメータに組込んで、再使用する。すなわち本発明の実施の形態では、圧力スイッチ２１の検出による異常時、制御回路４５が遮断弁４４に制御信号を与えて遮断弁４４が開弁状態から閉止状態になる構成を有する遮断弁４４において、動作電圧Ｖ１（ｊ）が、
Ｖ２Ｌａｓ≦Ｖ１（ｊ）≦Ｖ２Ｈａｓ                      …（３）
である遮断弁４４を選別する。こうして選別された遮断弁４４が、第２期間Ｗ２、使用された後の動作電圧Ｖ３が第１規格範囲Ｒ１１の規格外になる累積確率ｑ３Ｌは、累積確率ｑ０Ｌａ未満であり、累積確率ｑ１Ｌに近い値であってもよく、ｑ０Ｌａとｑ１Ｌとの値のうち、大きい方の値以下であればよい。
【０１２３】
図２５は、選別電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを設定するための方法を説明するための図である。ステップｅ１からステップｅ２に移り、このステップｅ２における第１期間Ｗ１の使用後の全数Ｎの遮断弁４４について、ステップｅ３で性能評価試験を実施し、表６の動作電圧Ｖ１（ｊ）を得る。この動作電圧Ｖ１（ｊ）は、図２４のステップｃ１３において得た値である。この実施の形態では、統計処理を行うために、後述の表７に示されるように、促進劣化試験の複数ｄ（たとえば後述のように１２）の試験項目Ａ１〜Ａｄ毎にランダムに割当てた遮断弁４４の個数Ｎｉ毎に分けられる。たとえばこの実施の形態では、Ｎｉ＝５０台であり、ｉは１〜ｄのうちの１つの自然数であり、ｄは促進劣化試験の試験項目Ａ１〜Ａｄの総数ｄである。
【０１２４】
ステップｅ１４では、前述のステップｅ１３での性能評価試験のデータＶ１（ｊ）を近似できる最適な分布関数を求める。この最適な分布関数を求めるにあたっては、検満回収された遮断弁４４の全数Ｎの動作電圧Ｖ１の測定値の累積確率を、最も近似することができる分布関数を探す。本件発明者によれば前述のように正規分布が最も適していることが確認された。
【０１２５】
さらに次のステップｅ１５では、ステップｅ１３で求めた分布関数から、回収品、すなわち第１期間Ｗ１の使用後のガスメータ４１の遮断弁４４の設計規格値である第１規格範囲Ｒ１１の規格外の累積確率ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈを算出する。
【０１２６】
正規分布に従う特性を有する遮断弁４４の個々の性能値である動作電圧Ｖの母集団毎の確率密度関数ｆ（Ｖ，Ｍ，σ）は、式４で表される。ここでＶは、母集団を構成する各動作電圧Ｖを表し、Ｍは、その母集団の動作電圧の平均値であり、σは、その母集団を構成する動作電圧の標準偏差を表す。
【０１２７】
【数１】
2004156966.tif 000009
【０１２８】
この母集団の累積確率ｑ（Ｖ，Ｍ，σ）は、その母集団を構成する動作電圧Ｖの全数をＮとするとき、式５で表される。
【０１２９】
【数２】
2004156966.tif 000010
【０１３０】
この母集団のＶ以上となる累積確率は、１−ｑ（Ｖ，Ｍ，σ）である。
ステップｅ１６では、この検満回収品である第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁４４に対して、再使用期間である第２期間Ｗ２に相当する促進劣化試験を実施する。この促進劣化試験の試験項目Ａ１〜Ａｄは、複数ｄであり、たとえば表７に示されるように合計１２項目あり（ｄ＝１２）、各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎に回収品の遮断弁４４をＮ１〜Ｎｄ（この実施の形態では個数Ｎ１〜Ｎｄは全て等しく、たとえば前述のように５０個）ずつ、分けて割当てて、試験を実行する。各試験項目Ａ１〜Ａｄは、第２期間Ｗ２の使用に相当する劣化を達成する。
【０１３１】
【表７】
2004156966.tif 000011
【０１３２】
この促進劣化試験後に、ステップｅ７では、性能評価試験を実施し、第２規格範囲Ｒ２を決定し、こうしてステップｅ８では一連の動作を終了する。
【０１３３】
図２６は、図２５のステップｅ７の具体的な動作を説明するためのフローチャートである。ステップｇ１からステップｇ２に移り、このステップｇ２では、促進劣化試験の前後の全数Ｎの遮断弁４４に、前述と同様な性能評価試験を実施し、動作電圧Ｖ１，Ｖ２２を得る。
【０１３４】
ステップｇ３では、ステップｇ２でＶ１，Ｖ２２が得られたことにより、表１に示すように全数６００個の各遮断弁４４についてのそれぞれのＶ１（ｉ），Ｖ２２（ｉ）のデータをメモリ４９にストアできる（ここでｉ＝１〜６００）。
【０１３５】
ステップｇ４では、次に、複数ｍ種類の下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）（ただしｒ１＝１〜ｍ）および複数ｎ種類の上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）（ただしｒ２＝１〜ｎ）を、Ｖ０Ｌａ以上Ｖ０Ｈａ以下の範囲にある任意の値Ｖから選んで決定し、以下の作業を行う。
【０１３６】
ステップｇ５では、上記のＶ２Ｌａ（ｒ１），Ｖ２Ｈａ（ｒ２）を組合わせるとｋ種類（ｋ＝ｍ×ｎ）の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）が設定できる。ｒ３は１〜ｋの自然数である。
【０１３７】
ステップｇ６では、ｋ種類の仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）のうちの一部または全部について、以下の計算を行い、最適なＶ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを決定し、第２規格範囲Ｒ２を設定し、こうしてステップｇ７で一連の動作を終了する。
【０１３８】
図２７は、図２６のステップｇ６の具体的な動作を説明するためのフローチャートである。図２７では、まず一例として１つの仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）に対するｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）を求める方法を説明する。ステップｈ１からステップｈ２に移り、メモリ４９から、１つの下限選別基準Ｖ２Ｌａ（ｒ１）と、１つの上限選別基準Ｖ２Ｈａ（ｒ２）とを選び出して設定する。
【０１３９】
ステップｈ３では、メモリ４９でストアした全数６００個の遮断弁のＶ１（ｉ）のデータを、仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（Ｖ２Ｌａ（ｒ１）〜Ｖ２Ｈａ（ｒ２））と比較して、
Ｖ２Ｌａ（ｒ１）≦Ｖ１≦Ｖ２Ｈａ（ｒ２）                …（６）
になるようなデータ群を選んで、データ群の母集団を作成する。この式４が成立しない、それ以外の下限および上限の範囲からはずれる遮断弁４４に関するデータ（α個、ただしα≦Ｎ）は以下の統計処理から対象外とする。
【０１４０】
ステップｈ４では、式６に対応する遮断弁のＶ２（ｉ）の（Ｎ−α）個のデータを、前述の近似された最適な分布関数、たとえばこの実施の形態では正規分布関数で、後述の式９および式１０に従って統計処理し、
Ｖ２≦Ｖ０Ｌａ                                          …（７）
となる累積確率ｑ２Ｌａ（ｒ１），
Ｖ２≧Ｖ０Ｈａ                                          …（８）
となる累積確率ｑ２Ｈａ（ｒ２）を求める。
【０１４１】
ステップｈ５では、このｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）のデータを、ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈと比較して近似する値であれば、すなわちｑ２Ｌａ（ｒ１）がｑ１Ｌに近似し、かつ、ｑ２Ｈａ（ｒ２）がｑ１Ｈに近似する値であれば、仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（Ｖ２Ｌａｒ〜Ｖ２Ｈａｒ）を、Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓと決定することができる。ここで近似する値というのは、下限設定規格外累積確率ｑ２Ｌａ（ｒ１）が第１下限累積確率ｑ１Ｌに予め定める誤差未満で近似しており、かつ上限設定規格外累積確率ｑ２Ｈａ（ｒ２）が、第１上限累積確率ｑ１Ｈに予め定める誤差未満で近似していることをいう。
【０１４２】
図２７の一連のステップｈ２〜ｈ４の実行によって、前述の図２７のステップｈ２でランダムに選んだＶ２Ｌａ（ｒ１）とＶ２Ｈａ（ｒ２）との組合せから成る仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）の１回の計算によってｑ２Ｌａｒ，ｑ２Ｈａ（ｒ２）がｑ１Ｌ，ｑ１Ｈにそれぞれ近似することは、ほとんどないと言ってよい。したがってステップｈ７で、近似するｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）の組合せがみつかるまで、ステップｈ２〜ｈ７の繰返し計算の回数ｕが、ｋ（＝ｍ×ｎ）回に達するまで、ステップｈ９を経て、ステップｈ２〜ｈ７が繰返され、こうしてステップｈ２〜ｈ６を試行錯誤によって繰返す。
【０１４３】
前述のステップｈ７で仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）が、近似する値であれば、その仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、ステップｈ８で第２規格範囲Ｒ２として決定する。ステップｈ７で、近似する値である仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）が選ばれなかったとき、その誤差の最小値が得られる仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を、ステップｈ１０で第２規格範囲Ｒ２として決定する。
【０１４４】
ステップｈ４におけるｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）の求め方を述べると、（Ｎ−α）個のデータ群Ｖ２（ｉ）を母集団として平均値をＭ、標準偏差をσとしたとき、以下の式９，１０で表わすことができる。
【０１４５】
【数３】
2004156966.tif 000012
【０１４６】
本発明の実施の他の形態について述べる。図２８は、本発明の実施の他の形態の選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを設定するための方法を説明するための図である。この図２８に示される実施の形態は、前述の図１５〜図２７の実施の形態に類似し、対応する部分には同一の参照符を用いる。図２８のステップｈ２１〜ｈ２５は、前述の図１５のステップｈ１〜ｈ５と同様である。図１５〜図２７に関連して前述したこれまでの実施の形態では、第２の規格範囲Ｒ２を決めるのに第１規格外累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）を用いて演算を行った例を示したが、第１規格外累積確率（ｑ１Ｌ，ｑ１Ｈ）の代りに、ステップｈ２６では、許容される規格外出現累積確率（ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ）を設定して、第２の規格範囲Ｒ２を設定する。その場合は、ステップｈ２５において演算されたｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）のデータをステップｈ２７で、ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａとそれぞれ比較して、ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）がｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下（すなわちｑ２Ｌａ（ｒ１）≦ｑ０Ｌａ、かつｑ２Ｈａ（ｒ２）≦ｑ０Ｈａ）である仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）（Ｖ２Ｌａ（ｒ１）〜Ｖ２Ｈａ（ｒ２））をステップｈ２８で第２規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ〜Ｖ２Ｈａｓ）とする。再使用の遮断弁の利用効率を最も効率よくするには、ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ以下で最も近似するｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）に対応する仮定の第２規格範囲Ｒ２（ｒ３）を第２規格範囲Ｒ２に決定することになる。ステップｈ２９，ｈ３０は、前述の図１５のステップｈ９，ｈ１０と同様である。
【０１４７】
さらにこれまでの実施の形態では、第１期間Ｗ１使用した後、さらに第２期間Ｗ２、再使用した場合の動作電圧に相当する動作電圧Ｖ２１ｉとして、促進劣化試験により求めたデータＶ２２ｉを用いているが、実際に第２期間Ｗ２を再使用した遮断弁の第２使用期間Ｗ２使用後の動作電圧Ｖ２３ｉが統計データとして得ることができる場合はそのＶ２１ｉのデータに代えてＶ２３ｉのデータを用いて演算を行ってもよい。
【０１４８】
前述の実施の形態では、図２６のステップｇ５では、促進劣化試験後の遮断弁の動作電圧Ｖ２のデータを各試験項目に差を設けず全数を一括して演算に用いた例を示したが、以下のような本発明の実施のさらに他の形態を実施することができる。
【０１４９】
▲１▼促進劣化試験後に測定した全データの動作電圧Ｖ２２ｉを用いて演算を行う場合に、各試験項目の重要度に応じて各試験項目のデータの数に重み付けをして演算を行う。具体的な一例としては、表２に示すように最も重要度の低い項目を１とし、その重要度に応じて自然数倍の重みを付け、演算に際しては試験項目のデータの数に重みの数を掛算してデータの母集団を増やして演算することにすればよい。
【０１５０】
重みが小数点を有するようになる場合、たとえば重みが１．２または１．５などに設定する場合は、各試験項目の最小公倍数になるように、たとえば１つの試験項目の重みが前述のように１．２であり、他の試験項目の重みが１．５であるとき、自然数の比となるように、すなわちたとえば重みを４および５となるように、数学的に処理し、その数、たとえば前述の４および５の重みを各試験項目のデータの数に掛け合わせて母集団のデータ数を増やして演算することになる。
【０１５１】
▲２▼本発明の実施の他の形態では、複数ｄの各試験項目毎に、図２６および図２７を実行し、または図２６および図２８を実行して演算を行い、各試験項目毎に求められる第２の規格範囲Ｒ２（Ａｉ）の下限値の最大値を第２の規格範囲の下限値とし、上限値の最小値を第２の規格範囲の上限値として採用する。この実施の形態を、図２９を参照して説明する。試験項目Ａ１の前記演算によって下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ１と上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓ１とが設定され、試験項目Ａ２の前記演算によって下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ２と上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓ２が設定され、さらに試験項目Ａ３の前記演算によって下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ３および上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓ３が設定されたものと想定する。ここでＶ２Ｌａｓ３＜Ｖ２Ｌａｓ１＜Ｖ２Ｌａｓ２であるとき、これらの下限選別基準電圧のうち、最大値Ｖ２Ｌａｓ２を第２の規格範囲Ｒ２の下限値として採用する。またＶ２Ｈａｓ１＜Ｖ２Ｈａｓ３＜Ｖ２Ｈａｓ２であるとき、その最小値Ｖ２Ｈａｓ１を、第２の規格範囲Ｒ２の上限値として採用する。
【０１５２】
▲３▼本発明の実施の他の形態では、各試験項目Ａ１〜Ａｄ毎の各試験項目の重要度に応じて、検体である遮断弁の個数を増加または減少させてデータを取得して演算を行う。すなわち、最低レベル重要度１の輸送振動などの試験項目では５０個の検体の促進劣化試験を実施するとすれば、重要度３の温度サイクル試験は１５０個、重要度４のヒートショック試験は２００個、重要度５の熱加速耐久試験は２５０個をそれぞれ用いて試験することになる。
【０１５３】
本件発明者の実験結果を述べる。表８は、遮断弁の動作電圧の第１規格範囲Ｒ１が０．５〜１．２Ｖであるとき、規格外になる累積確率を示す。
【０１５４】
【表８】
2004156966.tif 000013
【０１５５】
表８において、遮断弁の未使用の新品における規格外になる累積確率は、下限、上限とも１×１０−８以下であるが、それを１０年間使用した第１期間Ｗ１後の規格外累積確率は、下限値ｑ１Ｌが１×１０−５であり、上限値ｑ１Ｈが１×１０−８以下となり、下限において規格外になる累積確率が増加している。すなわち不良品が出る確率が大きい。
【０１５６】
第１期間Ｗ１の使用後のものを、さらに促進劣化試験をした表８中のデータをみると、第１規格範囲の下限値ｑ２Ｌは、１×１０−２であり、上限値ｑ２Ｈは、５×１０−７であり、さらに規格外になる確率が大きくなっている。このことから、第１期間Ｗ１使用後の遮断弁をすべて再利用した場合は、第２期間Ｗ２中に不具合品が出現する確率がさらに大きくなってしまうことが判る。したがって第１期間Ｗ１使用後の全ての遮断弁を再利用することはできない。そこで前述のように本発明では、仮の下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａ（ｒ１）および仮の上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａ（ｒ２）を設定して、その範囲Ｒ２（ｒ３）内にある遮断弁のデータについて累積確率ｑ２Ｌａ（ｒ１），ｑ２Ｈａ（ｒ２）を求める。こうして得られた本件発明者の実験結果を表９に示す。
【０１５７】
表９から、表８の第１累積確率ｑ１Ｌ＝１×１０−５以下およびｑ１Ｈ＝１×１０−８以下に最も近似した値は、仮定の第２の規格範囲Ｒ２（ｒ３）の（Ｖ２Ｌａ（ｒ１），Ｖ２Ｈａ（ｒ２））＝（０．７，１．２）の場合であることが判る。したがってこの仮定の第２の規格範囲を第２の規格範囲Ｒ２（Ｖ２Ｌａｓ＝０．７，Ｖ２Ｈａｓ＝１．２）と決めることができる。
【０１５８】
【表９】
2004156966.tif 000014
【０１５９】
図３０は、図１〜図２９に関連して述べた前述の実施の各形態の方法を実現するための装置５１のブロック図である。入力手段５２によって、動作電圧Ｖ１，Ｖ２と遮断弁４４の計数した個数などを入力する。マイクロコンピュータなどによって実現される処理回路５３は、メモリ４９に接続され、入力手段５２によって入力されたデータをストアするとともに、このメモリ４９は、演算のために用いられる。処理回路５３は、入力手段５２の出力に応答し、前述の図１０〜図１２、図１４、図２２〜図２９などの演算を行い、その演算結果を表示手段５４に表示し、またプリンタ５５によって記録紙に印字する。
【０１６０】
【発明の効果】
本発明によれば、たとえばガスメータなどにおいて用いられる圧力スイッチ、遮断弁、感震器またはその他の部品を、第１期間Ｗ１使用した後、次の第２期間Ｗ２において再使用することができ、この第２期間Ｗ２の使用後においても、第１規格範囲Ｒ１，Ｒ２；Ｒ１１の規格外になる累積確率を、予め定める第１累積確率ｑｏｎ０Ｌａ，ｑｏｆｆ０Ｌａ；ｑ０Ｌａ，ｑ０Ｈａ未満に低く抑えることができるようになる。こうして部品を再使用することによって、資源の有効利用、コスト削減を図ることができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】部品である圧力スイッチ２１の特性を示すグラフである。
【図２】圧力スイッチ２１のオン圧の特性を示すライン２２，２４を拡大して示すグラフである。
【図３】圧力スイッチ２１のオフ圧の特性を示すライン２３，２５を拡大して示すグラフである。
【図４】圧力スイッチ２１の縦断面図である。
【図５】圧力スイッチ２１を備えるガスメータ４１の一部を切欠いて示す断面図である。
【図６】図４に示されるガスメータ４１の構成を簡略化して示すブロック図である。
【図７】未使用の圧力スイッチ２１のスイッチング状態がオンになる動作性能Ｐの累積確率を示すグラフである。
【図８】第１期間Ｗ１使用後の圧力スイッチ２１の動作性能Ｐｏｎの累積確率を示すグラフである。
【図９】圧力スイッチ２１のオン圧下限値Ｐｏｎ０Ｌａである動作性能Ｐｏｎの規格外の累積確率ｑｏｎ１Ｌを示すグラフである。
【図１０】第１期間Ｗ１の使用後に回収された圧力スイッチ２１を選別して、次に続く第２期間Ｗ２、再使用するために選別する方法を示す図である。
【図１１】図１０のさらに具体的な工程を示すフローチャートである。
【図１２】選別圧力Ｐｏｎ２Ｌａｓを設定するための方法を説明するための図である。
【図１３】本発明の実施の他の形態における圧力スイッチ２１のオン圧Ｐｏｎに関する前述の図２に対応した特性を示すグラフである。
【図１４】図１３に示される実施の形態における前述の図１２の工程に代わる工程を示すフローチャートである。
【図１５】ガスメータ４１に備えられる遮断弁４４を本発明の実施の他形態によって再使用するための評価方法を説明するための図である。
【図１６】遮断弁４４の使用による動作電圧の確率の分布の特性を表すライン２２〜２８を拡大して示す図である。
【図１７】遮断弁４４の閉止状態を示す断面図である。
【図１８】遮断弁４４の開弁状態を示す断面図である。
【図１９】未使用の遮断弁４４の開弁状態から閉止状態になる動作圧力の累積確率ｑ０を示すグラフである。
【図２０】第１期間Ｗ１使用後に促進劣化試験を行った遮断弁４４の動作電圧Ｖ２の累積確率ｑ２を示すグラフである。
【図２１】本発明の実施の他の形態を説明するための図である。
【図２２】図２１に示される本発明の実施の他の形態における遮断弁４４の第１期間Ｗ１使用後の遮断弁を選択するための第２規格範囲Ｒ２を設定するための作業手順を示す図である。
【図２３】未使用の遮断弁４４を第１期間Ｗ１使用し、その後、促進劣化試験を行って性能評価を実施する手順を説明するための図である。
【図２４】第１期間Ｗ１の使用後に回収された遮断弁４４を第２規格範囲Ｒ２によって選別して、次に続く第２期間Ｗ２、再使用するために選別する方法を説明するための図である。
【図２５】選別電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを設定するための方法を説明するための図である。
【図２６】図２５のステップｅ７の具体的な動作を説明するためのフローチャートである。
【図２７】図２６のステップｇ６の具体的な動作を説明するためのフローチャートである。
【図２８】本発明の実施の他の形態の選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓ，Ｖ２Ｈａｓを設定するための方法を説明するための図である。
【図２９】本発明の実施のさらに他の形態の下限選別基準電圧Ｖ２Ｌａｓおよび上限選別基準電圧Ｖ２Ｈａｓを設定する動作を説明するための図である。
【図３０】図１〜図２９に関連して述べた前述の実施の各形態の方法を実現するための装置５１のブロック図である。
【符号の説明】
２１  遮断弁
４１  ガスメータ
４４  遮断弁
４５  制御回路
６７  電池
【図１】
2004156966.tif 000015
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2004156966.tif 000022
【図９】
2004156966.tif 000023
【図１０】
2004156966.tif 000024
【図１１】
2004156966.tif 000025
【図１２】
2004156966.tif 000026
【図１３】
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【図１４】
2004156966.tif 000028
【図１５】
2004156966.tif 000029
【図１６】
2004156966.tif 000030
【図１７】
2004156966.tif 000031
【図１８】
2004156966.tif 000032
【図１９】
2004156966.tif 000033
【図２０】
2004156966.tif 000034
【図２１】
2004156966.tif 000035
【図２２】
2004156966.tif 000036
【図２３】
2004156966.tif 000037
【図２４】
2004156966.tif 000038
【図２５】
2004156966.tif 000039
【図２６】
2004156966.tif 000040
【図２７】
2004156966.tif 000041
【図２８】
2004156966.tif 000042
【図２９】
2004156966.tif 000043
【図３０】
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