(57)【要約】【課題】２次欠陥セクタに関する情報量を少なくし、光記録媒体に対するデータの読み書き速度を高速にすることが可能な光情報処理装置を提供する。【解決手段】光記録媒体６に対する物理的フォーマット処理、これに伴う欠陥セクタの検査、およびこの検査により検出された１次欠陥情報の上記光記録媒体に対する書き込みの制御を行なう制御部３を有している、光情報処理装置Ｘであって、制御部３は、光記録媒体６として、既に物理的フォーマット処理を終えていることにより１次欠陥情報が書き込まれているものに対して物理的フォーマット処理を行なうときには、その１次欠陥情報を光記録媒体６に残す制御を行なうように構成されている。【選択図】  図１
2004220700.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体に対する物理的フォーマット処理、これに伴う欠陥セクタの検査、およびこの検査により検出された１次欠陥情報の上記光記録媒体に対する書き込みの制御を行なう制御部を有している、光情報処理装置であって、
上記制御部は、上記光記録媒体として、既に物理的フォーマット処理を終えていることにより１次欠陥情報が書き込まれているものに対して物理的フォーマット処理を行なうときには、その１次欠陥情報を上記光記録媒体に残す制御を行なうように構成されていることを特徴とする、光情報処理装置。
【請求項２】
上記制御部は、上記光記録媒体に物理的フォーマット処理を行なう前に、上記光記録媒体から１次欠陥情報を読み出してメモリに記憶しておくとともに、上記物理的フォーマット処理およびこれに伴う欠陥セクタの検査が終了した後には、この欠陥セクタの検査により新たに検出された１次欠陥情報と上記メモリに記憶されていた１次欠陥情報とを上記光記録媒体に書き込む制御を行なうように構成されている、請求項１に記載の光情報処理装置。
【請求項３】
上記制御部は、上記光記録媒体に対して欠陥セクタの検査を行なっているときには、１次欠陥情報が検出される都度、この情報をメモリに記憶していき、かつ、
上記欠陥セクタの検査および上記物理的フォーマット処理が途中で中止したときには、その後再開される物理的フォーマット処理において上記メモリに記憶されていた１次欠陥情報を上記光記録媒体に書き込む制御を行なうように構成されている、請求項１または２に記載の光情報処理装置。
【請求項４】
上記制御部は、上記光記録媒体に対して欠陥セクタの検査を行なっているときには、１次欠陥情報が検出される都度、この情報をメモリに記憶していき、かつ、
上記欠陥セクタの検査および上記物理的フォーマット処理が途中で中止したときには、上記光記録媒体のデータ書き込み可能な領域に、上記メモリに記憶されていた１次欠陥情報を書き込む制御を行なうように構成されている、請求項１または２に記載の光情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本願発明は、光磁気ディスク装置などの光情報処理装置、さらに詳しくは、物理的フォーマット処理機能を備えた光情報処理装置に関する。
【０００２】
ここで、「物理的フォーマット」とは、論理的フォーマットを行なう前に記録媒体に対して行なう処理であり、記録媒体にどのようにデータを並べるかを決定する処理である。なお、論理的フォーマットとは、物理的フォーマットを終えている記録媒体に対し、光情報処理装置の機種やＯＳに対応するように光記録媒体上で「目次」にあたる情報を書き込む場所を決め、さらには情報を書き込む１つひとつの単位に「番地」を割り振る処理である。
【０００３】
【従来の技術】
周知のとおり、光磁気ディスクを工場から出荷する前には、物理的フォーマット処理が行なわれている。この物理的フォーマット処理を行なうときには、欠陥セクタの検査も併せて行なわれており、この検査により検出された欠陥は、「１次欠陥情報」として、光磁気ディスクに確保されたＰＤＬ（Ｐｒｉｍａｒｙ  Ｄｅｆｅｃｔ  Ｌｉｓｔ）領域に書き込まれる。従来の光情報処理装置としては、光磁気ディスクに対する論理的フォーマット処理を行なう機能を備え、かつこの論理的フォーマット処理を行なうときに、光磁気ディスクの検査を行なうようにされているものがある（たとえば、特許文献１参照。）。上記の論理的フォーマット処理に伴う検査により検出された欠陥は、「２次欠陥情報」として、光磁気ディスクのＳＤＬ（Ｓｅｃｏｎｄｌｙ  Ｄｅｆｅｃｔ  Ｌｉｓｔ）  領域に書き込まれる。
【０００４】
光磁気ディスクに対する物理的フォーマットは、一般的には、１回のみ行なえば十分であるが、光磁気ディスク装置により欠陥が検出されることにより、２回目の物理的フォーマットを行なわねばならない場合がある。
【０００５】
従来においては、論理的フォーマット処理機能に加えて、物理的フォーマット処理機能を有する光磁気ディスク装置があるが、この従来の光磁気ディスク装置において、２回目の物理的フォーマット処理を行なうときには、１回目の物理的フォーマット処理時に光磁気ディスクのＰＤＬ領域に既に書き込まれた１次欠陥情報を参照することなく、１回目の物理的フォーマット処理および欠陥セクタの検査の場合と全く同様な処理がなされている。このため、２回目の物理的フォーマット処理を終えた段階においては、光磁気ディスクのＰＤＬ領域には、１回目の処理によって検出された１次欠陥情報は書き込まれておらず、これに代えて、２回目の処理により検出された１次欠陥情報のみが書き込まれることとなっていた。
【０００６】
【特許文献１】
特開平５−１１４２４７号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
同一の光磁気ディスクに対して２回目の物理的フォーマット処理を行なう場合には、１回目の処理時とは異なる装置が用いられる場合が多いことや、その他の種々の要因により、１回目の処理時には欠陥であると判断されていたセクタが、２回目の処理時には欠陥でないと判断される場合がある。この場合、上記従来技術においては、光磁気ディスクのＰＤＬ領域に上記セクタのアドレスは書き込まれないこととなる。
【０００８】
ところが、上記のようなセクタは、１回目の物理的フォーマット処理時に欠陥であると判断されたセクタであるため、本来的には、不良セクタである可能性が高い。このセクタは、その後の論理的フォーマット時やその他のデータの書き込み時などにおいて、２次欠陥のセクタであると判断されてしまい、光磁気ディスクのＳＤＬ領域に登録される虞れが大きい。このため、上記従来技術においては、ＳＤＬ領域に登録される不良セクタの数が多くなる傾向が強い。その一方、ＳＤＬ領域は、ＰＤＬ領域とは異なり、光磁気ディスク装置において光磁気ディスクへのデータの読み書きがなされるときには、その都度アクセスされる領域である。したがって、従来においては、ＳＤＬ領域に登録されるデータ量が多くなることに起因して、その分だけデータの読み書き速度が遅くなる場合があった。また、ＳＤＬ領域に登録されるセクタ数が多くなると、その分だけその欠陥セクタの代替となる交代割り当ての数も多くなるため、データの読み書き速度が一層低下することとなる。
【０００９】
本願発明は、このような事情のもので考え出されたものであって、２次欠陥セクタに関する情報量を少なくし、光記録媒体に対するデータの読み書き速度を高速にすることが可能な光情報処理装置を提供することをその課題としている。
【００１０】
【発明の開示】
上記の課題を解決するため、本願発明では、次の技術的手段を講じている。
【００１１】
本願発明によって提供される光情報処理装置は、光記録媒体に対する物理的フォーマット処理、これに伴う欠陥セクタの検査、およびこの検査により検出された１次欠陥情報の上記光記録媒体に対する書き込みの制御を行なう制御部を有している、光情報処理装置であって、上記制御部は、上記光記録媒体として、既に物理的フォーマット処理を終えていることにより１次欠陥情報が書き込まれているものに対して物理的フォーマット処理を行なうときには、その１次欠陥情報を上記光記録媒体に残す制御を行なうように構成されていることを特徴としている。
【００１２】
このような構成によれば、たとえば２回目の物理的フォーマット処理を行なった後においても、１回目の物理的フォーマット処理時に検出されていた１次欠陥情報が光記録媒体に残ることとなる。したがって、上記従来技術とは異なり、本来的には欠陥の可能性が高いセクタが１次欠陥の無いセクタとされて、その後に２次欠陥のセクタとして判断されることが回避される。このため、本願発明によれば、光記録媒体に登録される２次欠陥情報量を少なくし、光記録媒体に対するデータの読み書き速度を高速にすることができる。
【００１３】
本願発明の好ましい実施形態においては、上記制御部は、上記光記録媒体に物理的フォーマット処理を行なう前に、上記光記録媒体から１次欠陥情報を読み出してメモリに記憶しておくとともに、上記物理的フォーマット処理およびこれに伴う欠陥セクタの検査が終了した後には、この欠陥セクタの検査により新たに検出された１次欠陥情報と上記メモリに記憶されていた１次欠陥情報とを上記光記録媒体に書き込む制御を行なうように構成されている。このような構成によれば、物理的フォーマット処理を終えた段階において、それ以前になされていた物理的フォーマット処理時に得られていた１次欠陥情報を光記録媒体に残す処理が適切に実行される。
【００１４】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記制御部は、上記光記録媒体に対して欠陥セクタの検査を行なっているときには、１次欠陥情報が検出される都度、この情報をメモリに記憶していき、かつ上記欠陥セクタの検査および上記物理的フォーマット処理が途中で中止したときには、その後再開される物理的フォーマット処理において上記メモリに記憶されていた１次欠陥情報を上記光記録媒体に書き込む制御を行なうように構成されている。このような構成によれば、物理的フォーマット処理が、リセット操作や装置の異常発生などに起因して途中で中止された場合であっても、その中止するまでに検出されていた１次欠陥情報を光記録媒体に登録するために、中止するまでの処理結果が有効に利用されることとなり、合理的である。
【００１５】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記制御部は、上記光記録媒体に対して欠陥セクタの検査を行なっているときには、１次欠陥情報が検出される都度、この情報をメモリに記憶していき、かつ上記欠陥セクタの検査および上記物理的フォーマット処理が途中で中止したときには、上記光記録媒体のデータ書き込み可能な領域に、上記メモリに記憶されていた１次欠陥情報を書き込む制御を行なうように構成されている。このような構成においても、前述した構成の場合と同様に、物理的フォーマット処理を中止するまでに得られていた１次欠陥情報が有効に利用されることとなり、合理的である。
【００１６】
本願発明のその他の特徴および利点については、以下に行う発明の実施の形態の説明から、より明らかになるであろう。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本願発明の好ましい実施の形態について、図面を参照しつつ具体的に説明する。
【００１８】
図１は、本願発明に係る光情報処理装置の構成の一例を示すブロック図である。本実施形態は、本願発明を光磁気ディスク装置に適用したものである。本実施形態の光磁気ディスク装置Ｘは、制御部３と、書き込み読み出し回路部４と、ヘッド５と、インタフェイス部２と、を備えており、光磁気ディスク６に対して物理的フォーマット処理を行なうことができるように構成されている。
【００１９】
この光磁気ディスク装置Ｘは、インタフェイス部２を介してホストコンピュータ１に接続されており、このホストコンピュータ１から物理的フォーマット命令やその他のコマンドを受けるようになっている。
【００２０】
制御部３は、１次欠陥セクタリストテーブル３２（以下、「ＰＤＬテーブル３１」という。）および欠陥テーブル３３を有するメモリ３１を備えており、光磁気ディスク６に対して物理的フォーマット処理の制御を行なうように構成されている。この制御部３は、物理的フォーマット処理に伴い、光磁気ディスク６に対して後述するデータの消去処理、書き込み処理、および照合処理などを行なうことにより欠陥セクタが存在するか否かの検査の制御を行なうとともに、この検査によって検出された欠陥セクタのアドレスなどの１次欠陥情報を光磁気ディスク６に書き込む制御を行なうように構成されている。
【００２１】
また、制御部３は、上記した欠陥セクタの検査により検出された１次欠陥情報をメモリ３１に記憶させる処理を行なうように構成されている。より具体的に説明すると、欠陥テーブル３３には、物理的フォーマット処理中に欠陥セクタが検出される都度、その１次欠陥情報が書き込まれるようになっている。ＰＤＬテーブル３２には、物理的フォーマット処理終了後において、欠陥テーブル３３に書き込まれた１次欠陥情報が書き込まれるようになっている。制御部３は、光磁気ディスク６に１次欠陥情報が書き込まれている場合には、物理的フォーマット処理を行なう前に光磁気ディスク６からその１次欠陥情報を読み出して欠陥テーブル３３に書き込ませる処理も行なうようになっている。
【００２２】
ヘッド５は、図示されていないレーザ光源から進行してくるレーザ光を集束させて光磁気ディスク６の記録層上にレーザスポットを形成するためのものであり、レーザ光を集束させるための対物レンズと磁界形成用のコイルとを有している。このヘッド５は、シーク動作およびトラッキング動作が可能に少なくとも光磁気ディスク６の半径方向に移動可能である。書き込み読み出し回路部４は、ヘッド５を利用して光磁気ディスク６へのデータの書き込みや読み出しを行なうのに必要なレーザ光の発信や光検出などを行なうための部分であり、制御部３との間において光磁気ディスク６への書き込み情報や読み出し情報の送受が行なわれるようになっている。
【００２３】
光磁気ディスク６は、図２に示されているように、複数のトラック０〜Ｎを有している。これらのトラック０〜Ｎのそれぞれは、複数のセクタ０〜Ｍから構成されている。複数のトラック０〜Ｎは、たとえば最内周トラック０を含む３つのトラック０，１，２および最外周Ｎを含む３つのトラックＮ−２，Ｎ−１，Ｎとからなる欠陥セクタ管理領域６１と、これら欠陥セクタ管理領域６１の間にあるトラック３〜Ｎ−３からなるデータ記録領域６２とに分けられている。
【００２４】
欠陥セクタ管理領域６１には、それぞれたとえば光磁気ディスク６を定義する情報が書き込まれるＤＤＳ領域、物理的フォーマット時に検出された１次欠陥情報が書き込まれるＰＤＬ領域、およびデータ書き込み時などに検出された２次欠陥情報が書き込まれるＳＤＬ領域が２つずつ設けられている。上記各ＤＤＳ領域、各ＰＤＬ領域、および各ＳＤＬ領域には、それぞれ同一の情報が書き込まれるようになっている。これにより、たとえば１つのＰＤＬ領域から情報を読み出すことができなくなっても、他のＰＤＬ領域から情報を読み出すことができる。
【００２５】
データ記録領域６２は、一対のメインゾーン６３とスペアゾーン６４とを複数有している。たとえばメインゾーン６３の１つのセクタが物理的フォーマット処理時に欠陥セクタとして検出されて、その１次欠陥情報がＰＤＬ領域に保存されると、データの書き込み時などには、このセクタはスキップされ、隣のセクタにデータが書き込まれる。このようにメインゾーン６３においてデータが書き込まれるセクタがずれた分だけ、スペアゾーン６４のセクタが利用されることとなる。
【００２６】
次に、光磁気ディスク装置Ｘによって実行される物理的フォーマット処理時の動作手順の一例について、図３に示したフローチャートを参照しつつ説明する。
【００２７】
まず、制御部３は、インタフェイス部２を介してホストコンピュータ１から物理的フォーマット命令を受けると（Ｓ０）、この物理的フォーマット命令が光磁気ディスク６のＰＤＬ領域に書き込まれている１次欠陥情報の登録命令を伴うものであるか否かの判断を行なう（Ｓ１）。１次欠陥情報登録命令を伴うものであると判断した場合には（Ｓ１：ＹＥＳ）、制御部３は光磁気ディスク６のＰＤＬ領域を参照し、ＰＤＬ領域に１次欠陥情報が記録されているときには、その１次欠陥情報を制御部３の欠陥テーブル３２に保存し（Ｓ１ａ）、その後に物理的フォーマット処理を行なう。
【００２８】
物理的フォーマット処理に伴って、制御部３は欠陥セクタの検査を行なう。この検査に際しては、まず、データ記録領域６２の各セクタに対するデータの消去処理を行ない（Ｓ２）、その処理が適正か否かの検査を行なう（Ｓ３）。消去処理が適正になされないセクタが発生した場合には（Ｓ３：ＹＥＳ）、制御部３はそのセクタを欠陥セクタとみなし、そのアドレスを１次欠陥情報として欠陥テーブル３２に書き込む（Ｓ３ａ）。
【００２９】
次に、制御部３は、各セクタに対して検査用データの書き込み処理を行ない（Ｓ４）、その処理が適正か否かの検査を行なう（Ｓ５）。書き込み処理が適正になされないセクタが発生した場合には（Ｓ５：ＹＥＳ）、制御部３はそのセクタを欠陥セクタとみなし、その１次欠陥情報を欠陥テーブル３２に書き込む（Ｓ５ａ）。また、制御部３は、各セクタに対して書き込まれたデータが上記検査用データと一致するか否かの確認をする照合処理を行なう（Ｓ６）。それらのデータが一致していないなどのセクタを検出した場合には（Ｓ７：ＹＥＳ）、そのセクタを欠陥セクタとみなし、その１次欠陥情報を欠陥テーブル３２に書き込む（Ｓ７ａ）。
【００３０】
制御部３は、データ記録領域６２の各セクタに対して、上記したデータの消去処理，書き込み処理、および照合処理を行なったか否かの判断をし（Ｓ８）、すべてのセクタに対して上記各処理を行なったと判断した場合には（Ｓ８：ＹＥＳ）、欠陥セクタの検査を終了する。
【００３１】
次に、制御部３は、物理的欠陥テーブル３２に書き込まれた１次欠陥情報をＰＤＬテーブル３１に書き込む（Ｓ９）。これにより、ＰＤＬテーブル３１には、先に記憶されていた１次欠陥情報に加え、新たな１次欠陥情報が追加される。続いて、制御部３は、欠陥テーブル３２に書き込まれている全ての１次欠陥情報を光磁気ディスク６のＰＤＬ領域に書き込む（Ｓ１０）。
【００３２】
このような手順によれば、光磁気ディスク６に対してたとえば２回目の物理的フォーマット処理を行なう場合において、この２回目の処理の前に１回目の処理時に検出されていた１次欠陥情報を欠陥テーブル３３に書き込んでから２回目の処理を行なうことができるため、２回目の処理を行なった後においても１回目の処理時に検出されていた１次欠陥情報を光磁気ディスク６のＰＤＬ領域に残すことができる。したがって、１回目の処理では１次欠陥有りとされた欠陥の可能性の高いセクタが２回目の処理では２次欠陥無しとされ、その後のデータの書き込み時などにおいて２次欠陥有りと判断されることを回避することができる。これにより、光磁気ディスク６のＳＤＬ領域に書き込まれる２次欠陥情報量を少なくし、光磁気ディスク６に対するデータの読み書き速度の高速化を図ることが可能となる。
【００３３】
ステップＳ１において、制御部３が１次欠陥情報登録命令は追加されていないと判断した場合には（Ｓ１：ＮＯ）、光磁気ディスク６のＰＤＬ領域に保存された１次欠陥情報が欠陥テーブル３２に保存されることなく、その後上記従来技術と同様な物理的フォーマット処理がなされる。
【００３４】
次に、光磁気ディスク装置Ｘが行なう他の動作手順例について、図４に示したフローチャートを参照しつつ説明する。図４において、図３と同一または類似の手順には図３と同一の符号を付している。
【００３５】
図示された動作手順では、この欠陥セクタの検査および物理的フォーマット処理が途中で中止される場合の対処の手順が、上述の実施形態とは相違している。図４のフローチャートは、ステップＳ５ａの後に欠陥セクタの検査および物理的フォーマット処理の中止原因がある場合を一例として示している。なお、欠陥セクタの検査および物理的フォーマット処理が途中で中止される場合としては、たとえばユーザによってリセットボタンが押された場合や、ＰＤＬ領域に書き込まれる欠陥セクタの数が予め設定された数値を超えた場合などがある。
【００３６】
制御部３は、ステップ１１において、欠陥セクタの検査および物理的フォーマット処理を途中で中止する場合には（Ｓ１１：ＹＥＳ）、それまでに欠陥テーブル３３に書き込まれていた１次欠陥情報をそのまま消去することなく、欠陥テーブル３３に記憶させておく（Ｓ１２）。そして、その後に物理的フォーマットの中止処理を実行する（Ｓ１３）。制御部３は、その後再開される物理的フォーマット処理において、上記１次欠陥情報を新たな１次欠陥情報と一緒にＰＤＬテーブル３２および光磁気ディスク６のＰＤＬ領域に書き込む（Ｓ９，Ｓ１１０）。
【００３７】
このような手順によれば、欠陥セクタの検査および物理的フォーマット処理が途中で中止された場合であっても、それまでの間に欠陥テーブル３３に書き込まれた１次欠陥情報が光磁気ディスク６のＰＤＬ領域に書き込まれることとなる。このため、中止されるまでの処理結果を無駄にすることなく、有効に利用することができ、合理的となる。
【００３８】
本願発明は、上述した実施形態の内容に限定されるものではない。本願発明に係る光情報処理装置の各部の具体的な構成は、種々に設計変更自在である。
【００３９】
たとえば、図４に示すフローチャートにおいては、欠陥セクタの検査および物理的フォーマット処理がステップＳ５ａの後に中止されているが、欠陥セクタの検査および物理的フォーマット処理のどの段階で中止されても、それまでの間に欠陥テーブルに書き込まれた１次欠陥情報を光磁気ディスクに書き込む構成とすることができる。
【００４０】
また、欠陥セクタの検査および物理的フォーマット処理が途中で中止されるときには、光磁気ディスク６のデータ書き込み可能な領域に、欠陥テーブルに書き込まれていた１次欠陥情報を書き込む制御を行なうようにしてもよい。このような構成であっても、中止されるまでの処理結果を有効に利用することができる。
【００４１】
制御部は、物理的フォーマット処理を行なう前に、光磁気ディスクから１次欠陥情報を読み出しているが、ＰＤＬテーブルに１次欠陥情報が書き込まれている場合には、このＰＤＬテーブルから１次欠陥情報を読み出す制御を行なってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本願発明に係る光情報処理装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図２】本願発明に係る光情報処理装置における光磁気ディスクの概念図である。
【図３】本願発明に係る光情報処理装置が行なう動作手順の流れの一例を示すフローチャートである。
【図４】本願発明に係る光情報処理装置が行なう他の動作手順の流れの一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
３  制御部
３１  メモリ
６  光磁気ディスク（光記録媒体）
Ｘ  光磁気ディスク装置（光情報処理装置）
【図１】
2004220700.tif 000003
【図２】
2004220700.tif 000004
【図３】
2004220700.tif 000005
【図４】
2004220700.tif 000006