(57)【要約】【課題】周期的に配列形成されている蛍光体が発光した状態の周期性発光パターンの発光ムラを容易且つ確実に検査できるようにする。【解決手段】ＲＧＢの各色をそれぞれ発光する蛍光体が周期的に配列形成されている検査対象物について、該蛍光体を発光させたときの周期性発光パターンに生じている発光ムラを検査する際、前記周期性発光パターンを撮像して検査画像を入力し、入力された検査画像において、高輝度領域の長手方向に直交する方向の輝度分布から、各高輝度領域毎に最大輝度値を抽出し、抽出された各最大輝度値を画素を単位に配列して最大値画像を作成し、作成された最大値画像に基づいて前記周期性発光パターンの発光ムラを検査する。【選択図】      図２
2004177292.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＲＧＢの各色をそれぞれ発光する蛍光体が周期的に配列形成されている検査対象物について、該蛍光体を発光させたときの周期性発光パターンに生じている発光ムラを検査する周期性発光パターンのムラ検査方法であって、
前記周期性発光パターンを撮像して検査画像を入力し、
入力された検査画像において、高輝度領域の長手方向に直交する方向の輝度分布から、各高輝度領域毎に最大輝度値を抽出し、
抽出された各最大輝度値を画素を単位に配列して最大値画像を作成し、
作成された最大値画像に基づいて前記周期性発光パターンの発光ムラを検査することを特徴とする周期性発光パターンのムラ検査方法。
【請求項２】
前記最大輝度値の抽出を、全画素列に対して実行することを特徴とする請求項１に記載の周期性発光パターンのムラ検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、周期性発光パターンのムラ検査方法、特にプラズマディスプレイパネルに周期的に配列形成されている蛍光体を発光させたときの周期性発光パターンに生じている発光ムラを検査する際に適用して好適な、周期性発光パターンのムラ検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図３（Ａ）は、いわゆるプラズマディスプレイパネル（以下、ＰＤＰとも言う）の背面板１０のイメージを示す概略平面図であり、同図（Ｂ）は破線位置の断面を拡大したイメージを示す概略断面図である。このＰＤＰ背面板１０には、その断面形状から分かるように一方向に平行に延びる多数の隔壁を構成するリブ１２が形成されていると共に、隣接するリブ１２間にそれぞれＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の各色を発光する蛍光体１４が繰り返し配列され、各色が周期的に発光するように形成されている。
【０００３】
上記ＰＤＰは、ＲＧＢをそれぞれ発光する蛍光体の付着の良否によって発色精度が左右されることから、該蛍光体の発光ムラを検査することが重要である。このような蛍光体を発光させた際の周期性発光パターンに生じている発光ムラは、例えば、図示は省略するが、３台のモノクロライセンサカメラと蛍光体を発光させるためのライン状ＵＶ光源を使用し、該光源からＵＶ光を検査対象物であるＰＤＰに照射して蛍光体を発光させた状態で、これらカメラによりＲＧＢ毎にそれぞれ撮像して３枚の検査画像を取得（入力）し、次いでこれら検査画像から周期性発光パターンを構成する高輝度領域を抽出し、ＲＧＢ毎のムラ可視化画像を作成し、しかる後、そのムラ可視化画像をモニタに表示して目視により検査を行なうか、あるいは特開２００１−２８０５９号公報に開示されているようなムラ検査処理を通用することにより自動的に検査することが考えられる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述した検査画像から、周期性発光パターンに対応する高輝度領域を抽出してムラ可視化画像を作成する場合、図４に検査画像をパターンに対応する高輝度領域の長手方向を横にして示すように、該検査画像における各高輝度領域を破線に沿った画素列毎に上から横切るようにスキャニングし、輝度値が閾値以上の画素をその配列順序に従って間隔を詰めることにより、蛍光体の配列間隔に対応する高輝度領域間の隙間を除去することが考えられる。なお、その際に使用する閾値は、高輝度領域と背景部が分離できればよく、予め適切な値を実験で求めておくことができる。
【０００５】
しかしながら、上記のように検査画像をスキャニングして得られる１つの輝度プロファイル（輝度分布）を、画素を単位とする座標を横軸として図５に示すように、高輝度領域の輝度分布が山形状になっているため、輝度値が閾値（＝１８０）以上の画素を抽出すると図６に示すようになり、これら画素の輝度値を画素を単位に間隔を詰めた状態に配列し直すと、輝度のプロファイルは、図７に拡大して示すように、ムラの有無に関係なく、輝度分布がばらついてしまう。そのため、このような高輝度領域の抽出方法では、コントラストの強いムラであれば可視化は可能であるが、コントラストの弱いムラは上記図７に示すようにベースが平坦にならないため、可視化が難しいという問題がある。
【０００６】
本発明は、この問題点を解決するべくなされたもので、周期的に配列形成されている蛍光体を発光させたときに得られる周期性発光パターンに生じている発光ムラを容易且つ確実に検査することができる周期性発光パターンのムラ検査方法を提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、ＲＧＢの各色をそれぞれ発光する蛍光体が周期的に配列形成されている検査対象物について、該蛍光体を発光させたときの周期性発光パターンに生じている発光ムラを検査する周期性発光パターンのムラ検査方法であって、前記周期性発光パターンを撮像して検査画像を入力し、入力された検査画像において、高輝度領域の長手方向に直交する方向の輝度分布から、各高輝度領域毎に最大輝度値を抽出し、抽出された各最大輝度値を画素を単位に配列して最大値画像を作成し、作成された最大値画像に基づいて前記周期性発光パターンの発光ムラを検査することにより、前記課題を解決したものである。
【０００８】
即ち、本発明においては、蛍光体が発光した状態に対応する検査画像上の高輝度領域における輝度値の最大値を抽出し、最大輝度値のみを規則的に配列して最大値画像を作成するようにしたので、輝度のばらつきを正確に反映させることが可能となり、作成された最大値画像から周期性発光パターンのムラを容易且つ確実に検出することが可能となる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【００１０】
本実施形態においては、ＲＧＢの各色をそれぞれ発光する蛍光体が所定の周期で配列形成されている、前記図３に示したようなＰＤＰ背面板（検査対象物）について、該蛍光体を発光させたときの周期性発光パターンに生じている発光ムラを以下のように検査する。
【００１１】
まず、前記ＰＤＰ背面板に対して、ＵＶ光源（図示せず）からＵＶ光を照射して蛍光体を発光させ、発光状態下で得られる周期性発光パターンを、カメラ（図示せず）によりＲＧＢ毎にそれぞれ撮像して前記図４に相当する検査画像を入力する。
【００１２】
次いで、入力された検査画像において、高輝度領域の長手方向に直交する方向の、前記図５に相当する画素を単位とする輝度分布（プロファイル）から、図１に１つの画素列について示すように各高輝度領域毎に存在する最大輝度値を抽出する。この最大輝度の抽出は、上記長手方向に配列されている全画素列について実行する。
【００１３】
このように画素列毎に抽出された各最大輝度値は、画素を単位とする横方向の座標値で与えられる高輝度領域間の間隔で隔てられているため、輝度値０の画素を除き、図中左方向に画素位置を詰めて配列し直すことにより、図２に画素を単位に配列したイメージを拡大して示すような輝度のプロファイルを持つ最大値画像を作成し、作成された最大値画像に基づいて前記周期性発光パターンの発光ムラを検査する。
【００１４】
実際のムラ検査は、以上のように作成された最大値画像を画面に表示して目視で行なっても、あるいは前述した公報に開示されているような空間フィルタ（図示せず）を最大値画像に適用して自動的に行なうようにしてもよい。
【００１５】
以上詳述した本実施形態によれば、検査画像から周期性発光パターンに対応する高輝度領域を抽出する処理として、高輝度領域の最大輝度値を代表値として選択した最大値画像を作成することにより、ベースが平坦な画像が得られ、コントラストの弱いムラでも可視化が容易になることから、該ムラを確実に検出できるようになる。
【００１６】
以上、本発明について具体的に説明したが、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【００１７】
例えば、最大輝度値の配列は、１画素を単位とする場合に限らず、複数画素を単位としてもよい。
【００１８】
又、最大輝度値の抽出は、必ずしも全画素列について行なう必要はなく、１画素列以上の間隔をおいて行なうようにしてもよい。この場合は、検査（画像処理）時間の短縮を図ることができる。
【００１９】
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、周期的に配列形成されている蛍光体の発光状態である周期性発光パターンに生じている発光ムラを容易且つ確実に検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】検査画像から高輝度領域毎の最大輝度値を抽出したプロファイルを示す線図
【図２】上記最大輝度値を用いて作成した最大値画像の輝度のプロファイルを示す線図
【図３】プラズマディスプレイパネルの背面板のイメージを示す平面図と断面図
【図４】周期性発光パターンを撮像した検査画像のイメージを示す説明図
【図５】上記検査画像における１画素列の輝度のプロファイルを示す線図
【図６】上記輝度のプロファイルから抽出した閾値以上の輝度値のプロファイルを示す線図
【図７】上記閾値以上の輝度値を画素単位に配列し直したプロファイルを示す線図
【符号の説明】
１０…ＰＤＰ背面板
１２…リブ
１４…蛍光体
【図１】
2004177292.tif 000003
【図２】
2004177292.tif 000004
【図３】
2004177292.tif 000005
【図４】
2004177292.tif 000006
【図５】
2004177292.tif 000007
【図６】
2004177292.tif 000008
【図７】
2004177292.tif 000009