(57)【要約】【課題】すばやく簡単に光ファイバコネクタのセットを行なうことができ、測定精度や信頼性の高い光ファイバコネクタの測定を行なうのに好適な光ファイバコネクタ検査測定治具を提供する。【解決手段】基準ブロック４の上面に、光ファイバコネクタ１００の周面下部側をセットするための基準溝１４が形成される。この基準溝１４の溝上面付近まで押えバー部材１９が下降し該基準溝１４と交差する姿勢をとったときに、押えバー部材１９が該基準溝１４上の光ファイバコネクタ１００の周面上部側に当接して光ファイバコネクタ１００が固定されるものとする。【選択図】  図２
2004325175.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバコネクタの周面下部側をセットするための基準溝が上面に形成されてなる基準ブロックと、
上記基準溝の一側に設けた回転基準ピン周りに回転し、その回転により上記基準溝の溝上面付近まで下降し上記基準溝上の光ファイバコネクタに当接する押えバー部材と、
上記基準溝の他側に設けた回転基準ピン周りに回転可能な操作レバーと、
上記操作レバーと上記押えバー部材とを連結し、上記操作レバーの回転動作に連動して上記押えバー部材を回転動作させるリンクと、
上記押えバー部材が上記基準溝上の光ファイバコネクタに当接した場所で、この押えバー部材と上記操作レバーをロックするロック手段とを備えてなること
を特徴とする光ファイバコネクタ検査測定治具。
【請求項２】
上記基準溝はＶ溝であることを特徴とする請求項１に記載の光ファイバコネクタ検査測定治具。
【請求項３】
上記押えバー部材は、その回転により、上記Ｖ溝の溝上面付近まで下降し該Ｖ溝と略直角に交差する姿勢と、その下降位置から上記Ｖ溝の溝上方に逃げて上記基準ブロックの斜め上方に傾いて配置される姿勢とをとりうる構造であること
を特徴とする請求項１に記載の光ファイバコネクタ検査測定治具。
【請求項４】
上記ロック手段は、
上記押えバー部材が上記Ｖ溝上の光ファイバコネクタに最接近した付近で上記リンクの勾配が逆転し、この勾配逆転ポイント通過時に上記リンクの撓み量が最大になり、この最大の撓み量を生じさせる力が操作レバーに作用しない限り、リンクの動きが拘束されて、そのリンクに連結されている操作レバーと押えバー部材がロックされる構造であること
を特徴とする請求項１に記載の光ファイバコネクタ検査測定治具。
【請求項５】
請求項１に記載の光ファイバコネクタ検査測定治具は、
これを構成する上記基準ブロックが台座ブロックの上面に着脱自在に取り付けられ、その台座ブロックがベースブロックの上面に旋回移動可能に搭載され、さらに、該ベースブロックが検査装置のＸＹテーブル上に着脱自在に固定されてなること
を特徴とする光ファイバコネクタ検査測定治具。
【請求項６】
上記基準ブロックには、その上面に、上記Ｖ溝上にセットされた光ファイバコネクタの先端面を当接させるための当接ブロックが取り付けられていること
を特徴とする請求項１に記載の光ファイバコネクタ検査測定治具。
【請求項７】
上記当接ブロックには、上記Ｖ溝上にセットされた光ファイバコネクタの先端面と対向しうる位置に、貫通孔形状の検査光導入窓が開設されていること
を特徴とする請求項６に記載の光ファイバコネクタ検査測定治具。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ファイバコネクタの測定に用いられる治具に関し、特に、すばやく簡単に光ファイバコネクタのセットを行なうことができ、測定精度や信頼性の高い光ファイバコネクタの測定を行なうのに好適な光ファイバコネクタ検査測定治具に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図７に示したように、光ファイバコネクタ１００は、フェルール１００‐１の中心にコア芯として光ファイバ１００‐２が挿入された構造となっている。この光ファイバコネクタ１００の光学的性能を検査する際は、直径９μｍという光ファイバ１００‐２のコア芯と測定装置側から照射される検査光の光軸とを同軸に位置合わせしなければならないため、光ファイバコネクタ１００の非常に高い位置決め精度が要求される。
【０００３】
光ファイバコネクタの位置決めを行なう手段として、従来は、測定装置側の光軸を基準にしてあらかじめ位置合わせされた孔を設け、この孔に光ファイバコネクタを挿入するものとしている（例えば、特許文献１の図２中の符号３１を参照）。
【０００４】
図７は、上記の如くあらかじめ位置合わせされた孔に光ファイバコネクタを挿入して位置決めするという、従来型の光ファイバコネクタ検査測定治具の一例を示したものである。
【０００５】
同図の光ファイバコネクタ検査測定治具１は、光ファイバコネクタ１００を挿入するための孔５０と、図示しない操作レバーの上下動に連動してその孔５０の奥部に出没するロッド５１とを具備し、その孔５０に挿入された光ファイバコネクタ１００を当該ロッド５１の先端で押えて固定するものである。
【０００６】
しかしながら、上記のような従来構造の光ファイバコネクタ検査測定治具１によると、図７のように孔５０の深さに比し長さの短い光ファイバコネクタ１００を検査測定する際に問題が生じる。
【０００７】
（１）短い光ファイバコネクタ１００は、光ファイバコネクタ検査測定治具１の孔５０の奥まで容易に差し込むことができない。このため、短い光ファイバコネクタ１００については、これを長い割りスリーブ５２に差し込み長い状態にして孔５０の奥まで挿入し、その後、割りスリーブ５２を外して光ファイバコネクタ１００の検査測定を行なうものとしているので、割りスリーブ５２への光ファイバコネクタ１００の挿入作業や、割りスリーブ５２の取り外し作業等、検査測定までの準備作業が多く、大変な手間と時間を要するという問題点がある。
【０００８】
（２）光ファイバコネクタ１００を孔５０に挿入した後は外部から光ファイバコネクタ１００の挿入セット位置が見えないため、光ファイバコネクタ１００の位置ずれ等のセットミスが起こりやすく、測定ミスが多発し、測定精度や信頼性の高い光ファイバコネクタの測定を行なうことができない。
【０００９】
【特許文献１】
特開平１０‐２３９５７６号公報
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上記問題点を解決するためになされたもので、その目的とするところは、すばやく簡単に光ファイバコネクタのセットを行なうことができ、測定精度や信頼性の高い光ファイバコネクタの測定を行なうのに好適な光ファイバコネクタ検査測定治具を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、光ファイバコネクタの周面下部側をセットするための基準溝が上面に形成されてなる基準ブロックと、上記基準溝の一側に設けた回転基準ピン周りに回転し、その回転により上記基準溝の溝上面付近まで下降し上記基準溝上の光ファイバコネクタに当接する押えバー部材と、上記基準溝の他側に設けた回転基準ピン周りに回転可能な操作レバーと、上記操作レバーと上記押えバー部材とを連結し、上記操作レバーの回転動作に連動して上記押えバー部材を回転動作させるリンクと、上記押えバー部材が上記基準溝上の光ファイバコネクタに当接した場所で、この押えバー部材と上記操作レバーをロックするロック手段とを備えてなることを特徴とするものである。
【００１２】
本発明では、基準溝の溝上面付近まで押えバー部材が下降し該基準溝と交差する姿勢をとったときに、その押えバー部材が該基準溝上の光ファイバコネクタの周面上部側に当接し、この当接により基準溝上の光ファイバコネクタが固定される。
【００１３】
上記基準溝についてはＶ溝を採用することができる。
【００１４】
上記押えバー部材については、その回転により、上記Ｖ溝の溝上面付近まで下降し該Ｖ溝と略直角に交差する姿勢と、その下降位置から上記Ｖ溝の溝上方に逃げて上記基準ブロックの斜め上方に傾いて配置される姿勢とをとりうる構造であるものとしてよい。
【００１５】
上記ロック手段については、上記押えバー部材が上記Ｖ溝上の光ファイバコネクタに最接近した付近で上記リンクの勾配が逆転し、この勾配逆転ポイント通過時に上記リンクの撓み量が最大になり、この最大の撓み量を生じさせる力が操作レバーに作用しない限り、リンクの動きが拘束されて、そのリンクに連結されている操作レバーと押えバー部材がロックされる構造であるものとしてよい。
【００１６】
上記本発明に係る光ファイバコネクタ検査測定治具は、これを構成する上記基準ブロックが台座ブロックの上面に着脱自在に取り付けられ、その台座ブロックがベースブロックの上面に旋回移動可能に搭載され、さらに、該ベースブロックが検査装置のＸＹテーブル上に着脱自在に固定されてなる構造を採用することもできる。
【００１７】
上記のように基準ブロックを着脱自在に取り付けてなる構造によると、基準溝の幅等が異なる複数の基準ブロックをあらかじめ用意しておき、必要に応じて適宜基準ブロックを交換するだけで、あらゆる仕様の光ファイバコネクタに対応することができるという利点を有する。
【００１８】
上記基準ブロックには、その上面に、上記Ｖ溝上にセットされた光ファイバコネクタの先端面を当接させるための当接ブロックが取り付けられるように構成してもよい。
【００１９】
上記当接ブロックには、上記Ｖ溝上にセットされた光ファイバコネクタの先端面と対向しうる位置に、貫通孔形状の検査光導入窓が開設されるように構成してもよい。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態である光ファイバコネクタ検査測定治具を図面に基づき詳細に説明する。
【００２１】
図１は本発明の実施形態である光ファイバコネクタ検査測定治具の平面図、図２は図１のＡ‐Ａ線断面図、図３は図１のＣ‐Ｃ線断面図、図４は図１の光ファイバコネクタ検査測定治具が開状態であるときの説明図であり、図５は図１の光ファイバコネクタ検査測定治具において、そのリンクが最大に撓んだ状態となったときの説明図、図６は図１の光ファイバコネクタ検査測定治具が閉状態（ロック状態）であるときの説明図である。
【００２２】
図１の光ファイバコネクタ検査測定治具１は、図７に示す光ファイバコネクタ１００の各種光学的性能を検査測定する際に用いられる治具であって、ベースブロック２の上面に台座ブロック３が搭載され、この台座ブロック３の上面にネジで基準ブロック４が着脱自在に取り付けられる構造となっている。
【００２３】
ベースブロック２は、図３に示すＸＹ軸方向（縦横方向）へ移動可能なＸＹテーブル５の上面に設置される。尚、このＸＹテーブル５は光ファイバコネクタの検査測定装置（図示省略）が具備するテーブルである。
【００２４】
ベースブロック２とＸＹテーブル５とは、ベースブロック２表裏面を貫通するネジ孔６とこれに挿通されるネジ（図示省略）とにより、一体にネジ止め固定される。また、この固定状態において、ベースブロック２は、その前端部２ａ下面に設けた突起７の内側がＸＹテーブル５の前端部５ａに引っ掛かるように係合している。
【００２５】
上記台座ブロック３は、ベースブロック２の上面で旋回軸８を中心に一定の角度範囲内で旋回移動できる構造となっている。
【００２６】
すなわち、本実施形態では、ベースブロック２の前端部２ａ側に軸孔９が形成され、台座ブロック３の前端部３ａ下面側に上記旋回軸８が植設され、この旋回軸８が上記軸孔９にベアリング１０を介して回転可能に装着されている。
【００２７】
図１に示すように、台座ブロック３の側面横方向にはマイクロメータ１１が設けられている。このマイクロメータ１１は、ベースブロック２の上面に一体に形成されたマイクロメータ支持ホルダ部１２を介しベースブロック２側に一体に固定されている。
【００２８】
また、上記マイクロメータ１１は、その回転ヘッド部１１‐１を回すことにより先端からロッド１１‐２が出入りするように構成されるとともに、その出入りするロッド１１‐２の先端部が台座ブロック３の一側面に当接するように構成されている。
【００２９】
台座ブロック３は、その一側面が引っ張りバネ１３を介して、ベースブロック２のマイクロメータ支持ホルダ部１２側に連結されている。
【００３０】
従って、本実施形態では、例えばマイクロメータ１１の回転ヘッド部１１‐１を右回りに回転させると、その回転量に応じて同マクロメータ１１のロッド１１‐２が突出し、このロッド１１‐２により台座ブロック３の一側面が横方向から押圧される。これにより、台座ブロック３は図２の旋回軸８を中心に図１上左回りに旋回移動する。このとき、引っ張りバネ１３は引き伸ばされる。
【００３１】
この状態で、マイクロメータ１１のヘッド部１１‐１を左回りに逆回転させると、それまで突出していたロッド１１‐２が引っ込む。そうすると、上記のように引き伸ばされていた引っ張りバネ１３が元の状態に戻ろうする。この元の状態に戻ろうとする引っ張りバネ１３の弾性復帰力により、台座ブロック３はマイクロメータ支持ホルダ部１２側に引き寄せられて、図２の旋回軸８を中心に図１上右回りに旋回移動する。
【００３２】
基準ブロック４の上面には基準溝としてＶ溝１４が設けられている。このＶ溝１４は基準ブロック４の前端部４ａ側から後端部４ｂの方向に向かって穿設されている。また、このＶ溝１４には測定の対象となる光ファイバコネクタ１００が該Ｖ溝１４に沿って横置きの姿勢でセットされる（図２参照）。
【００３３】
このとき、Ｖ溝１４にセットされた光ファイバコネクタ１００は、その周面下部側がＶ溝１４の両Ｖ字斜面に当接し、これにより、光ファイバコネクタ１００の径方向セット位置が位置決めされる。尚、このセットされた光ファイバコネクタ１００の周面上部側はＶ溝１４の溝上方に露出する。
【００３４】
Ｖ溝１４の深さは、どのような深さでもよいというものでなく、Ｖ溝１４にセットした光ファイバコネクタ１００の周面上部側が基準ブロック４の上面より上に露出できる程度の深さであるものとする。
【００３５】
基準ブロック４の上面には当接ブロック１５が取り付けられている。当接ブロック１５は、Ｖ溝１４にセットされた光ファイバコネクタ１００の先端面を当接させるために、そのＶ溝１４の前端部側すなわち基準ブロック４の前端部４ａ側に配置されている。このような当接ブロック１５と光ファイバコネクタ１００先端面との当接により、光ファイバコネクタ１００はＶ溝１４内でその軸方向セット位置が位置決めされる。
【００３６】
当接ブロック１５には貫通孔形状の検査光導入窓１６が設けられている。この検査光導入窓１６は、Ｖ溝１４の延長線上でかつＶ溝１４にセットされた光ファイバコネクタ１００の先端面と対向しうる位置に開設されている。光ファイバコネクタ１００の光学的特性を測定する際は、当接ブロック１５の前面１５ａ側からこの検査光導入窓１６内に試験光が照射される。
【００３７】
図２に示したように、Ｖ溝１４の両側にはこのＶ溝１４と略平行に回転基準ピン１７‐１、１７‐２が一つずつ設けられている。
【００３８】
Ｖ溝１４の図２上左側に位置する一方の回転基準ピン１７‐１は、台座ブロック３側に一体に設けたピン支承部１８‐１を介して基準ブロック４の上面より高い位置に配置されている。
【００３９】
Ｖ溝１４の図２上右側に位置する他方の回転基準ピン１７‐２は、台座ブロック３側に一体に設けた別のピン支承部１８‐２を介して上記一方の回転基準ピン１７‐１およびＶ溝１４より低い位置に配置されている。
【００４０】
一方の回転基準ピン１７‐１には押えバー部材１９が取り付けられている。この押えバー部材１９は、当接ブロック１５に隣接して配置されるとともに、一方の基準ピン１７‐１回りに回転可能に設けられている。
【００４１】
また、この押えバー部材１９は、その回転により、Ｖ溝１４の溝上面付近まで下降し該Ｖ溝１４と略直角に交差する姿勢（図５、図６参照）と、その下降位置からＶ溝１４の溝上方に逃げて基準ブロック４の斜め上方に傾いて配置される姿勢（以下、スタンバイ姿勢という。図７参照）とをとりうる。
【００４２】
図２に示したように、他方の回転基準ピン１７‐２には操作レバー２０が取り付けられている。この操作レバー２０はその回転基準ピン１７‐２回りに回転可能に設けられている。
【００４３】
台座ブロック３にはＶ溝１４と略直角に交差する横穴２１が穿設され、この横穴２１に挿通されたリンク２２を介して上記押えバー部材１９と上記操作レバー２０とが連結されている。
【００４４】
操作レバー２０を上下方向に回転動作させると、これに連動して押えバー部材１９が同方向に回転動作するが、このような押えバー部材１９と操作レバー２０の連動した回転動作を機構的に実現する手段が上記リンク２２である。
【００４５】
リンク２２の具体的な構造として、本実施形態においては、押えバー部材１９と操作レバー２０のそれぞれの基部、すなわち回転基準ピン１７‐１、１７‐２付近に、同じ方向を向いて突出したピン２３‐１、２３‐２を１本ずつ植設するとともに、これら２つのピン２３‐１、２３‐２に対してリンク２２両端の係合リング２２‐１、２２‐２がそれぞれ回転可能に嵌め込まれるものとした。
【００４６】
操作レバー２０が図５のように約４５°程傾いて上がっている姿勢をとったときに、リンク２２は、操作レバー２０の方向に向かって比較的大きな下り勾配をもって傾斜する。
【００４７】
このとき、押えバー部材１９は、Ｖ溝１４の溝上方に逃げて基準ブロック４の斜め上方に傾いて配置される姿勢、すなわちスタンバイの姿勢をとる。これが開の状態である。
【００４８】
図５に示す操作レバー２０を図７のように下まで回転させて降ろすとき、リンク２２は、その途中で勾配が逆転し、操作レバー２０の方向に向かって比較的小さな上り勾配をもって傾斜する。
【００４９】
このとき、押えバー部材１９は、Ｖ溝１４の溝上面付近まで下降してＶ溝１４と交差するように配置される姿勢をとる。これが閉の状態である。
【００５０】
この閉状態において、Ｖ溝１４に測定対象の光ファイバコネクタ１００があらかじめセットされていれば、押えバー部材１９の下部当接面１９ａが光ファイバコネクタの上部外周面に当接する。
【００５１】
上記の如くリンク２２の勾配が逆転するタイミング、すなわちリンク２２が略水平の姿勢をとるタイミングは、図５のように、押えバー部材１９がＶ溝１４上の光ファイバコネクタ１００に最接近した付近である。
【００５２】
リンク２２は、バネ材等の可撓性部材からなり、かつ、その勾配の逆転ポイントに近づくにつれて撓み始める。このリンク２２の撓みは、リンク２２両端側のピン２３‐１、２３‐２どうしが相対的に近づくことによるものである。
【００５３】
そして、図５のように、リンク２２が勾配の逆転ポイントを通過する際に、リンク２２両端のピン２３‐１、２３‐２どうしが相対的に最も接近する。これにより、リンク２２の両端がピン２３‐１、２３‐２で押されて、リンク２２の撓み量は最大になる。
【００５４】
リンク２２の勾配逆転ポイント通過後は、リンク２２両端のピン２３‐１、２３‐２どうしが相対的に遠ざかる。これにより、リンク２２の撓み量は小さくなる。
【００５５】
上記の如くリンク２２を撓ませる力は、操作レバー２０からリンク２２一端の係合リング２２‐２とピン２３‐２を介してリンク２２側に加えられる。
【００５６】
図４に示す操作レバー２０を図６のように下まで回転させて降ろすときは、必ず１回は図５のようにリンク２２が勾配逆転ポイントを通過する。その際に最も大きな力を操作レバー２０に加える必要がある。勾配逆転ポイント通過時にリンク２２の撓み量が最大になるからである。
【００５７】
したがって、図４に示す操作レバー２０を図６のように下まで回転させて降ろすと、操作レバー２０がＶ溝１４上の光ファイバコネクタ１００に最接近した付近でリンク２２の勾配が逆転し、図５のようにリンク２２の撓み量が最大になるから、その最大の撓み量を生じさせる大きな力が操作レバー２０側に作用しない限り、リンク２２は勾配逆転ポイントを超えることができず、リンク２２の動きは拘束される。
【００５８】
よって、リンク２２に連結されている押えバー部材１９は、Ｖ溝１４上の光ファイバコネクタ１００に最接近し当接した場所で、容易に動くことなくロックされる。このとき、操作レバー２０もリンク２２に連結されているから同時にロックされる。
【００５９】
操作レバー２０に加える最大の力を大きく設定しすぎると、操作レバー２０の操作性が悪くなる。これとは逆に、その最大の力を小さく設定しすぎると、操作レバー２０や押えバー部材１９のロック性能が悪くなる。
【００６０】
従って、操作レバー２０に加える最大の力は、操作レバー２０の操作性と押えバー部材１９等のロック性能との関係から必要に応じて適宜決定されるものとする。
【００６１】
操作レバー２０に加える最大の力を設定変更する方法としては、例えば、リンク２２の材質や厚さを変える方法や、リンク２２一端のピン２３‐２から操作レバー２０の回転基準ピン１７‐２までの距離、若しくはリンク２２他端のピン２３‐１から押えバー部材１９の回転基準ピン１７‐１までの距離を調節する方法等が考えられるが、いずれの方法を採用してもよい。
【００６２】
次に、上記の如く構成された光ファイバコネクタ検査測定治具１の使用例について図１乃至図６を用いて説明する。
【００６３】
図１に示す光ファイバコネクタ検査測定治具１を使用して光ファイバコネクタ１００を測定する際は、以下の手順１〜３に従い図示しない測定装置側に光ファイバコネクタ１００がセットされる。
【００６４】
＜手順１＞
光ファイバコネクタ検査測定治具１のベースブロック２側を測定装置側のＸＹテーブル５上に固定する（図３参照）。この固定は、ベースブロック２のネジ孔６にネジを入れ、これをＸＹテーブル５側のネジ孔（図示省略）に締付け固定すればよい。
【００６５】
＜手順２＞
図４のように光ファイバコネクタ検査測定治具１が開の状態、すなわち操作レバー２０と押えバー部材１９が上に持ちあがっている状態において、Ｖ溝１４に光ファイバコネクタ１００をセットする。
【００６６】
このとき、光ファイバコネクタ１００の先端面は当接ブロック１５に当接させるものとする。これにより、Ｖ溝１４内での光ファイバコネクタ１００の軸方向セット位置が位置決めされる。
【００６７】
＜手順３＞
図４のように上に持ちあがっている操作レバー２０を図６のように下まで回転させて降ろす。そうすると、上に持ちあがってスタンバイ姿勢をとっていた押えバー部材１９（図４参照）がＶ溝１４の溝上面付近まで下降し、その押えバー部材１９の下部当接面１９ａがＶ溝１４上の光ファイバコネクタ１００の周面上部に当接する（図６参照）。
【００６８】
この状態で、操作レバー２０と押えバー部材１９は、いずれも容易に動くことなく同時にロックされた状態となる。これは、操作レバー２０を下まで回転させて降ろすと、図５のように操作レバー２０がＶ溝１４上の光ファイバコネクタ１００に最接近した付近で、その操作レバー２０と押えバー部材１９とを連結しているリンク２２の勾配が逆転し、その勾配逆転ポイントを超えるときに加えた大きな力が操作レバー２０に作用しない限り、リンク２２は勾配逆転ポイントを越えることができず、その動きが拘束されるためである。
【００６９】
上記の如く操作レバー２０と押えバー部材１９がロックされた状態で、測定装置側への光ファイバコネクタ１００のセットが完了し、光ファイバコネクタ１００の測定を行なうことが可能となる。
【００７０】
光ファイバコネクタ１００を測定する際は、その光ファイバコネクタ１００の先端面と対向している検査光導入窓１６から光ファイバコネクタ１００内に検査光が導入され、この検査光を使って光ファイバコネクタ１００の光学的特性の測定が行なわれる。
【００７１】
上記実施形態の光ファイバコネクタ検査測定治具１によると、その具体的な構造として、基準ブロック４の上面に、光ファイバコネクタ１００の周面下部側をセットするための基準溝１４を形成し、この基準溝１４の溝上面付近まで下降する押えバー部材１９でＶ溝１４上の光ファイバコネクタ１００を押えて固定する構造を採用したものである。
【００７２】
このため、本治具１にあっては、これに光ファイバコネクタをセットする場合に、その治具１上方から基準ブロック４上面の基準溝１４に光ファイバコネクタ１００がセットされるから、長さの短い光ファイバコネクタでも従来の割りスリーブ（図７参照）を用いず容易にセットすることができる。よって、割りスリーブに光ファイバコネクタを挿入する作業や、その割りスリーブを外す作業等を省略することができ、光ファイバコネクタのセット作業をすばやく簡単に行なうことが可能となり、光ファイバコネクタの検査測定までの準備に要する時間の短縮と作業効率の向上を図れる。また、光ファイバコネクタのセット作業時やセット後の段階でも、Ｖ溝１４上にセットされた光ファイバコネクタ１００のセット位置を、基準ブロック４上面の上方向等から容易に確認することができるから、光ファイバコネクタのセット位置ずれ等のようなセットミスやそれを原因とする測定ミス等が少なくなり、測定精度や信頼性の高い光ファイバコネクタの測定を行なうことができる。
【００７３】
尚、上記実施形態では基準溝としてＶ溝１４を採用したが、Ｖ溝以外の形状の基準溝を採用してもよい。
【００７４】
【発明の効果】
本発明にあっては、光ファイバコネクタ検査測定治具の構造として、基準ブロックの上面に、光ファイバコネクタの周面下部側をセットするための基準溝を形成し、この基準溝の溝上面付近まで下降する押えバー部材で光ファイバコネクタを押えて固定する構造を採用したため、以下の効果が奏し得られる。
【００７５】
（１）治具に光ファイバコネクタをセットする際に、その治具上方から基準ブロック上面の基準溝に光ファイバコネクタがセットされるから、長さの短い光ファイバコネクタでも従来の割りスリーブを用いることなく容易にセットすることができる。よって、光ファイバコネクタのセット作業をすばやく簡単に行なうことが可能となり、光ファイバコネクタの検査測定までの準備に要する時間の短縮と作業効率の向上を図れる。
【００７６】
（２）光ファイバコネクタのセット作業時やセット後の段階でも、基準ブロック上面の上方向等からＶ溝上にセットされた光ファイバコネクタのセット位置を容易に確認することができるから、光ファイバコネクタのセット位置ずれ等のようなセットミスやそれを原因とする測定ミス等が少なくなり、測定精度や信頼性の高い光ファイバコネクタの測定を行なうのに好適である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態である光ファイバコネクタ検査測定治具の平面図。
【図２】図１のＡ‐Ａ線断面図。
【図３】図１のＣ‐Ｃ線断面図。
【図４】図１の光ファイバコネクタ検査測定治具が開状態であるときの説明図。
【図５】図１の光ファイバコネクタ検査測定治具において、そのリンクが最大に撓んだ状態となったときの説明図。
【図６】図１の光ファイバコネクタ検査測定治具が閉状態（ロック状態）であるときの説明図。
【図７】図７は従来の光ファイバコネクタ検査測定治具の要部の説明図であって、（ａ）は光ファイバコネクタのセット状態を示した説明図、（ｂ）は（ａ）のように長さの短い光ファイバコネクタをセットする際の説明図である。
【符号の説明】
１  光ファイバコネクタ検査測定治具
２  ベースブロック
２ａ  ベースブロックの前端部
３  台座ブロック
３ａ  台座ブロックの前端部
４  基準ブロック
４ａ  基準ブロックの前端部
４ｂ  基準ブロックの後端部
５  ＸＹテーブル
５ａ  ＸＹテーブルの前端部
６  ネジ孔
７  突起
８  旋回軸
９  軸孔
１０  ベアリング
１１  マイクロメータ
１１‐１  回転ヘッド部
１１‐２  ロッド
１２  マイクロメータ支持ホルダ部
１３  引っ張りバネ
１４  Ｖ溝（基準溝）
１５  当接ブロック
１６  検査光導入窓
１７‐１、１７‐２  回転基準ピン
１８‐１、１８‐２  ピン支承部
１９  押えバー部材
１９ａ  押えバー部材の下部当接面
２０  操作レバー
２１  横穴
２２  リンク
２２‐１、２２‐２  リンク両端の係合リング
２３‐１、２３‐２  ピン
５０  孔
５１  ロッド
５２  割りスリーブ
１００  光ファイバコネクタ
【図１】
2004325175.tif 000003
【図２】
2004325175.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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