(57)【要約】【課題】電磁波シールド性能測定装置を使わずにＭＲＩ装置のシールドルームのＲＦシールド特性を測定する。【解決手段】シールドルームＳＲ内に設置されたＭＲＩ装置１００のＲＦコイル１ＴからＲＦパルスを送信し、シールドルームＳＲ内に設置された第１の受信アンテナ２１でＲＦパルスを受信しＭＲＩ装置１００の受信系で第１の受信信号を取得すると共にシールドルームＳＲ外に設置された第２の受信アンテナ２２でＲＦパルスを受信しＭＲＩ装置１００の受信系で第２の受信信号を取得する。そして、第１の受信信号と第２の受信信号とを比較する。【効果】既に設置されているＭＲＩ装置の機能を利用してＭＲＩ装置のシールドルームのＲＦシールド特性を測定できるため、電磁波シールド特性測定装置の管理，搬入，設置，撤去，搬出の煩雑な作業をなくすことが出来る。【選択図】  図１
2004187890.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
シールドルーム内に設置されたＭＲＩ装置のＲＦコイルからＲＦパルスを送信し、シールドルーム内に設置した第１の受信アンテナで前記ＲＦパルスを受信して第１の受信信号を取得すると共にシールドルーム外に設置した第２の受信アンテナで前記ＲＦパルスを受信して第２の受信信号を取得し、前記第１の受信信号と前記第２の受信信号とを基に前記シールドルームのＲＦシールド特性を測定することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法。
【請求項２】
請求項１に記載のＲＦシールド特性測定方法において、一つの受信アンテナをシールドルーム内とシールドルーム外とに移動し、シールドルーム内では前記第１の受信アンテナとし、シールドルーム外では前記第２の受信アンテナとすることを特徴とするＲＦシールド特性測定方法。
【請求項３】
請求項１に記載のＲＦシールド特性測定方法において、前記第１の受信アンテナと前記第２の受信アンテナとが別体であることを特徴とするＲＦシールド特性測定方法。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載のＲＦシールド特性測定方法において、前記第１の受信アンテナと前記第２の受信アンテナとが、サーフェイスコイルであることを特徴とするＲＦシールド特性測定方法。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載のＲＦシールド特性測定方法において、前記第１の受信アンテナおよび前記第２の受信アンテナをＭＲＩ装置の受信系に接続し、ＭＲＩ装置の受信系を利用して前記第１の受信信号と前記第２の受信信号とを取得することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法。
【請求項６】
請求項５に記載のＲＦシールド特性測定方法において、ＲＦパルスの送信とＭＲ信号の収集のタイミングを同時にすること及び勾配磁場を印加しないこと以外はＭＲ画像を撮影するのと同じ処理によって前記ＭＲＩ装置で前記第１の受信信号を収集し第１のＭＲ画像を再構成し、同様に前記第２の受信信号を収集し第２のＭＲ画像を再構成し、前記第１のＭＲ画像と前記第２のＭＲ画像とを基に前記シールドルームのＲＦシールド特性を測定することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法。
【請求項７】
請求項６に記載のＲＦシールド特性測定方法において、前記第１のＭＲ画像中に第１の関心領域を設定し、前記第２のＭＲ画像中に第２の関心領域を設定し、前記第１の関心領域中の平均画素値と前記第２の関心領域中の平均画素値とを比較して前記シールドルームのＲＦシールド特性を測定することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法。
【請求項８】
請求項５に記載のＲＦシールド特性測定方法において、ＲＦパルスの送信とＭＲ信号の収集のタイミングを同時にすること及び勾配磁場を印加しないこと以外はスペクトロスコピーを測定するのと同じ処理によって前記ＭＲＩ装置で前記第１の受信信号を収集し第１のスペクトルを取得し、同様に前記第２の受信信号を収集し第２のスペクトルを取得し、前記第１のスペクトルの強さと前記第２のスペクトルの強さとを比較して前記シールドルームのＲＦシールド特性を測定することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法。
【請求項９】
請求項１から請求項８のいずれかに記載のＲＦシールド特性測定方法において、前記シールドルームの前面，背面，右側面，左側面および上面の５カ所で測定を行うことを特徴とするＲＦシールド特性測定方法。
【請求項１０】
ＲＦパルスを送信するための送信系と、勾配磁場を印加するための勾配磁場系と、ＭＲ信号を受信するための受信系と、前記送信系と勾配磁場系と受信系とを制御してＭＲ画像を生成するためのデータを収集するスキャン系と、収集したデータを演算処理してＭＲ画像を生成するデータ処理系とを具備してなるＭＲＩ装置であって、シールドルーム内に設置される第１の受信アンテナと、シールドルーム外に設置される第２の受信アンテナと、シールドルーム内に設置された前記送信系のＲＦコイルからＲＦパルスを送信し前記第１の受信アンテナおよび前記受信系でＲＦパルスを受信して第１の受信信号を取得すると共に前記第２の受信アンテナおよび前記受信系でＲＦパルスを受信して第２の受信信号を取得する受信信号取得手段とを具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載のＭＲＩ装置において、前記受信信号取得手段は、ＲＦパルスの送信とＭＲ信号の収集のタイミングを同時にすること及び勾配磁場を印加しないこと以外はＭＲ画像を撮影するのと同じ処理によって前記第１の受信信号および前記第２の受信信号を収集することを特徴とするＭＲＩ装置。
【請求項１２】
請求項１０に記載のＭＲＩ装置において、前記受信信号取得手段は、ＲＦパルスの送信とＭＲ信号の収集のタイミングを同時にすること及び勾配磁場を印加しないこと以外はスペクトロスコピーを測定するのと同じ処理によって前記第１の受信信号および前記第２の受信信号を収集することを特徴とするＭＲＩ装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＲＦ（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）シールド特性測定方法およびＭＲＩ（Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ  Ｉｍａｇｉｎｇ）装置に関し、さらに詳しくは、電磁波シールド性能測定装置を特に必要とせずにＭＲＩ装置のシールドルームのＲＦシールド特性を測定できる方法および該方法を好適に実施しうるＭＲＩ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、病院に設置されたＭＲＩ装置のシールドルームのＲＦシールド特性を定期的または不定期的に点検する場合、ＭＲＩ装置が設置された病院へ電磁波シールド特性測定装置を持ち込んで測定している。
電磁波シールド特性測定装置は、送信機と，送信アンテナと，受信アンテナと，受信機と，スペクトラムアナライザとを具備して構成されている（例えば、特許文献１，２参照。）。
【０００３】
一方、ＭＲＩ装置は、ＲＦパルスを送信するための送信系と、勾配磁場を印加するための勾配磁場系と、ＭＲ信号を受信するための受信系と、前記送信系と勾配磁場系と受信系とを制御してデータを収集するスキャン系と、収集したデータを演算処理してＭＲ画像やスペクトラムを生成するデータ処理系とを備えている（例えば、非特許文献１参照。）。
【０００４】
【特許文献１】
特開平６−３３１６７２号公報（図１）
【特許文献２】
特開２００１−１６５９８２号公報（図２）
【非特許文献１】
本磁気共鳴医学会編「ＮＭＲ医学  基礎と臨床」丸善株式会社（第７６頁の図４・２、第１２３頁〜第１５８頁、第２１１頁〜第２６３頁。）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
従来、ＭＲＩ装置のシールドルームのＲＦシールド特性を定期的または不定期的に点検する際、電磁波シールド特性測定装置を病院に持ち込んで測定しているが、広域に渡って点在する多数の病院に対処するためには、電磁波シールド特性測定装置を多数用意しておく必要があり、高コストとなる問題点があった。また、電磁波シールド特性測定装置の管理，搬入，設置，撤去，搬出の作業が煩雑である問題点があった。
そこで、本発明の目的は、電磁波シールド性能測定装置を特に必要とせずにＭＲＩ装置のシールドルームのＲＦシールド特性を測定できる方法および該方法を好適に実施しうるＭＲＩ装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
第１の観点では、本発明は、シールドルーム内に設置されたＭＲＩ装置のＲＦコイルからＲＦパルスを送信し、シールドルーム内に設置した第１の受信アンテナで前記ＲＦパルスを受信して第１の受信信号を取得すると共にシールドルーム外に設置した第２の受信アンテナで前記ＲＦパルスを受信して第２の受信信号を取得し、前記第１の受信信号と前記第２の受信信号とを基に前記シールドルームのＲＦシールド特性を測定することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法を提供する。
上記第１の観点によるＲＦシールド特性測定方法では、ＭＲＩ装置の送信系を利用してＲＦパルスを送信するので、受信アンテナと，受信機と，スペクトラムアナライザとがあれば、シールドルームのＲＦシールド特性を測定でき、従来のような電磁波シールド性能測定装置を必要としない。さらに、ＭＲＩ装置の受信系を利用してＲＦパルスを受信すれば、ＭＲＩ装置だけでシールドルームのＲＦシールド特性を測定することが出来る。
【０００７】
第２の観点では、本発明は、上記構成のＲＦシールド特性測定方法において、一つの受信アンテナをシールドルーム内とシールドルーム外とに移動し、シールドルーム内では前記第１の受信アンテナとし、シールドルーム外では前記第２の受信アンテナとすることを特徴とするＲＦシールド特性測定方法を提供する。
上記第２の観点によるＲＦシールド特性測定方法では、一つの受信アンテナで済み、構成を簡単化できる。
【０００８】
第３の観点では、本発明は、上記構成のＲＦシールド特性測定方法において、前記第１の受信アンテナと前記第２の受信アンテナとが別体であることを特徴とするＲＦシールド特性測定方法を提供する。
上記第３の観点によるＲＦシールド特性測定方法では、第１の受信アンテナと第２の受信アンテナとをそれぞれシールドルームの内外に設置できるため、受信アンテナを移動する手間が要らなくなる。
【０００９】
第４の観点では、本発明は、上記構成のＲＦシールド特性測定方法において、前記第１の受信アンテナと前記第２の受信アンテナとが、サーフェイスコイルであることを特徴とするＲＦシールド特性測定方法を提供する。
上記第４の観点によるＲＦシールド特性測定方法では、ＭＲＩ装置の備品の一つであるサーフェイスコイルを受信アンテナとして利用するため、構成を簡単化できる。
【００１０】
第５の観点では、本発明は、上記構成のＲＦシールド特性測定方法において、前記第１の受信アンテナおよび前記第２の受信アンテナをＭＲＩ装置の受信系に接続し、ＭＲＩ装置の受信系を利用して前記第１の受信信号と前記第２の受信信号とを取得することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法を提供する。
上記第５の観点によるＲＦシールド特性測定方法では、ＭＲＩ装置の送信系を利用してＲＦパルスを送信すると共に、ＭＲＩ装置の受信系を利用してＲＦパルスを受信するため、ＭＲＩ装置だけでシールドルームのＲＦシールド特性を測定することが出来る。
【００１１】
第６の観点では、本発明は、上記構成のＲＦシールド特性測定方法において、ＲＦパルスの送信とＭＲ信号の収集のタイミングを同時にすること及び勾配磁場を印加しないこと以外はＭＲ画像を撮影するのと同じ処理によって前記ＭＲＩ装置で前記第１の受信信号を収集し第１のＭＲ画像を再構成し、同様に前記第２の受信信号を収集し第２のＭＲ画像を再構成し、前記第１のＭＲ画像と前記第２のＭＲ画像とを基に前記シールドルームのＲＦシールド特性を測定することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法を提供する。
上記第６の観点によるＲＦシールド特性測定方法では、ＲＦパルスの強さに応じた画素値を持つ直線がＭＲ画像上に現れるため、例えば第１のＭＲ画像上に現れた直線の平均画素値と第２のＭＲ画像上に現れた直線の平均画素値を比較することでＲＦシールド特性を測定できる。
【００１２】
第７の観点では、本発明は、上記構成のＲＦシールド特性測定方法において、前記第１のＭＲ画像中に第１の関心領域を設定し、前記第２のＭＲ画像中に第２の関心領域を設定し、前記第１の関心領域中の平均画素値と前記第２の関心領域中の平均画素値とを比較して前記シールドルームのＲＦシールド特性を測定することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法を提供する。
上記第７の観点によるＲＦシールド特性測定方法では、ＲＦパルスの強さに応じた画素値を持つ直線がＭＲ画像上に現れるため、例えば第１のＭＲ画像上に現れた直線の一部を含むように関心領域を設定すると共に第２のＭＲ画像上に現れた直線の一部を含むように関心領域を設定することで、ＲＦシールド特性を測定できる。
【００１３】
第８の観点では、本発明は、上記構成のＲＦシールド特性測定方法において、ＲＦパルスの送信とＭＲ信号の収集のタイミングを同時にすること及び勾配磁場を印加しないこと以外はスペクトロスコピーを測定するのと同じ処理によって前記ＭＲＩ装置で前記第１の受信信号を収集し第１のスペクトルを取得し、同様に前記第２の受信信号を収集し第２のスペクトルを取得し、前記第１のスペクトルの強さと前記第２のスペクトルの強さとを比較して前記シールドルームのＲＦシールド特性を測定することを特徴とするＲＦシールド特性測定方法を提供する。
上記第８の観点によるＲＦシールド特性測定方法では、ＲＦパルスの強さに応じた高さを持つピークがスペクトラム上に現れるため、第１のスペクトラム上に現れたピークの高さと第２のスペクトラム上に現れたピークの高さを比較することでＲＦシールド特性を測定できる。
【００１４】
第９の観点では、本発明は、上記構成のＲＦシールド特性測定方法において、前記シールドルームの前面，背面，右側面，左側面および上面の５カ所で測定を行うことを特徴とするＲＦシールド特性測定方法を提供する。
上記第９の観点によるＲＦシールド特性測定方法では、シールドルームの３次元的なＲＦシールド特性を測定できる。
【００１５】
第１０の観点では、本発明は、ＲＦパルスを送信するための送信系と、勾配磁場を印加するための勾配磁場系と、ＭＲ信号を受信するための受信系と、前記送信系と勾配磁場系と受信系とを制御してＭＲ画像を生成するためのデータを収集するスキャン系と、収集したデータを演算処理してＭＲ画像を生成するデータ処理系とを具備してなるＭＲＩ装置であって、シールドルーム内に設置される第１の受信アンテナと、シールドルーム外に設置される第２の受信アンテナと、シールドルーム内に設置された前記送信系のＲＦコイルからＲＦパルスを送信し前記第１の受信アンテナおよび前記受信系でＲＦパルスを受信して第１の受信信号を取得すると共に前記第２の受信アンテナおよび前記受信系でＲＦパルスを受信して第２の受信信号を取得する受信信号取得手段とを具備したことを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。
上記第１０の観点によるＭＲＩ装置では、前記第５の観点によるＲＦシールド特性測定方法を好適に実施できる。
【００１６】
第１１の観点では、本発明は、上記構成のＭＲＩ装置において、前記受信信号取得手段は、ＲＦパルスの送信とＭＲ信号の収集のタイミングを同時にすること及び勾配磁場を印加しないこと以外はＭＲ画像を撮影するのと同じ処理によって前記第１の受信信号および前記第２の受信信号を収集することを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。
上記第１１の観点によるＭＲＩ装置では、前記第６の観点によるＲＦシールド特性測定方法を好適に実施できる。
【００１７】
第１２の観点では、本発明は、上記構成のＭＲＩ装置において、前記受信信号取得手段は、ＲＦパルスの送信とＭＲ信号の収集のタイミングを同時にすること及び勾配磁場を印加しないこと以外はスペクトロスコピーを測定するのと同じ処理によって前記第１の受信信号および前記第２の受信信号を収集することを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。
上記第１２の観点によるＭＲＩ装置では、前記第８の観点によるＲＦシールド特性測定方法を好適に実施できる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【００１９】
−第１の実施形態−
図１は、第１の実施形態にかかるＭＲＩ装置を示すブロック図である。
このＭＲＩ装置１００は、シールドルームＳＲ内に、マグネットアセンブリ１として、被検体に静磁場を印加するための静磁場コイル１Ｃと、被検体に勾配磁場を印加するための勾配コイル１Ｇと、被検体にＲＦパルスを印加するための送信コイル１Ｔと、被検体からのＭＲ信号を受信するための受信コイル１Ｒとを具備している。
なお、勾配コイル１Ｇは、Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸の各勾配コイルを備えており、これらの組み合わせによりスライス軸，位相エンコード軸，リード軸が決まる。
【００２０】
また、このＭＲＩ装置１００は、シールドルームＳＲ外に、静磁場電源２と、勾配コイル駆動回路３と、ＲＦ電力増幅器４と、前置増幅器５と、計算機６と、シーケンス記憶回路７と、ゲート変調回路８と、ＲＦ発振回路９と、位相検波器１０と、入力切替回路１１と、Ａ／Ｄ変換器１２と、表示装置１３と、操作卓１４とを具備している。
【００２１】
上記構成のうち、静磁場電源２および静磁場コイル１Ｃ（超電導磁石）の代わりに、永久磁石を用いてもよい。
【００２２】
さらに、このＭＲＩ装置１００は、アンテナ切替回路２０と、シールドルームＳＲ内の壁際に設置される第１の受信アンテナ２１と、シールドルームＳＲ外の壁際に設置される第２の受信アンテナ２２とを具備している。
第１の受信アンテナ２１と第２の受信アンテナ２２は、例えば、受信コイル１Ｒとして使用されるサーフェイスコイルである。あるいは、同軸ケーブルの外部導体および内部導体をその端部で短絡したものである（これは、受信アンテナ２１，２２として専用に使用される）。
【００２３】
なお、一つの受信アンテナをシールドルームＳＲ内とシールドルームＳＲ外とに移動し、シールドルームＳＲ内では第１の受信アンテナ２１として使用し、シールドルームＳＲ外では第２の受信アンテナ２２として使用するようにしてもよい。この場合は、アンテナ切替回路２０を省略できる。
【００２４】
ＭＲＩ装置１００を診断に使用する時は、アンテナ切替回路２０と第１の受信アンテナ２１と第２の受信アンテナ２２とを使用せず、受信コイル１Ｒを使用する。
他方、シールドルームＳＲのＲＦシールド特性を定期的または不定期的に点検する時は、受信コイル１Ｒは使用せず、アンテナ切替回路２０と第１の受信アンテナ２１と第２の受信アンテナ２２とを使用する。
【００２５】
図２は、患者診断用のＭＲ画像を撮影する時にＭＲＩ装置１００で実行するＭＲ画像生成用パルスシーケンスの一例である。
このＭＲ画像生成用パルスシーケンスＰｇを実施する時、入力切替回路１１は、図１の実線の位置とする。また、受信コイル１Ｒを前置増幅器５に接続する。また、受信コイル１Ｒ内に被検体を入れる。
さて、ＭＲ画像生成用パルスシーケンスＰｇでは、まず、９０゜パルスとスライス選択勾配ｓｓとを印加し、次に位相エンコード勾配ｐｅを印加し、次に１８０゜パルスとスライス選択勾配ｓｓとを印加し、次にリード勾配ｒｄを印加しながら受信コイル１Ｒで受信したＭＲ信号をサンプリングして例えば２５６個のデータを収集する。これを位相エンコード勾配ｐｅの大きさを例えば２５６段階に変えて繰り返す。
そして、リード軸方向に２５６個×位相エンコード軸方向に２５６段階のデータを得ると、それを２次元フーリエ変換して、ＭＲ画像を生成する。
【００２６】
図３は、シールドルームＳＲのＲＦシールド特性を定期的または不定期的に点検する時にＭＲＩ装置１００で実行するＲＦシールド特性測定用パルスシーケンスの一例である。
このＭＲ画像生成用パルスシーケンスＰｇｍを実施する時、入力切替回路１１は、図１の破線の位置とする。また、受信コイル１Ｒ内には何も入れない。また、アンテナ切替回路２０を前置増幅器５に接続し、最初はアンテナ切替回路２０を図１の実線の位置とする。
さて、このＲＦシールド特性測定用パルスシーケンスＰｇｍは、図２のＭＲ画像生成用パルスシーケンスＰｇを基にしたものであり（図３の破線で示した部分が図２のパルスシーケンスＰｇから省かれている）、９０゜パルスを印加しながら第１の受信アンテナ２１で受信したＲＦパルスをサンプリングして例えば２５６個のデータを収集する。これを２５６回繰り返す。
そして、２５６個×２５６回のデータを得ると、それをリード軸方向に２５６個×位相エンコード軸方向に２５６段階のデータと見立てて２次元フーリエ変換し、第１のＭＲ画像を生成する。
【００２７】
次に、アンテナ切替回路２０を図１の破線の位置とする。
そして、９０゜パルスを印加しながら第２の受信アンテナ２２で受信したＲＦパルスをサンプリングして例えば２５６個のデータを収集する。これを２５６回繰り返す。
そして、２５６個×２５６回のデータを得ると、それをリード軸方向に２５６個×位相エンコード軸方向に２５６段階のデータと見立てて２次元フーリエ変換し、第２のＭＲ画像を生成する。
【００２８】
図４に、第１のＭＲ画像Ｇ１を例示する。
第１のＭＲ画像Ｇ１では、ＲＦパルスの周波数に対応したリード軸方向の位置に直線Ｌ１が描出される。この直線Ｌ１の画素値は、第１の受信アンテナ２１で受信したＲＦパルスの強さに応じた値になっている。
一方、ＭＲＩ装置１００は、ＭＲ画像上に操作者が関心領域を設定すると、その関心領域内の画素値の平均値や分散値を計算して表示する公知の機能を有している。この機能をＲＯＩ機能と呼ぶ。
そこで、このＲＯＩ機能を利用し、図４に示すように、第１のＭＲ画像Ｇ１上で直線Ｌ１の一部を含むように関心領域ＲＯＩを設定し、画素値の平均値Ａ１を求める。
【００２９】
図５に、第２のＭＲ画像Ｇ２を例示する。
図５に示すように、第２のＭＲ画像Ｇ２上で直線Ｌ２の一部を含むように関心領域ＲＯＩを設定し、画素値の平均値Ａ２を求める。
【００３０】
第１のＭＲ画像Ｇ１における画素値の平均値Ａ１と第２のＭＲ画像Ｇ２における画素値の平均値Ａ２とが求まれば、シールドルームＳＲのＲＦシールド特性の指標値Ｂを例えば次式により求めることが出来る。
Ｂ＝１０・ｌｏｇ｛Ａ２／Ａ１｝
【００３１】
−第２の実施形態−
図６は、スペクトロスコピーを行う時にＭＲＩ装置１００で実行するスペクトロスコピー用パルスシーケンスの一例である。
このスペクトロスコピー用パルスシーケンスＰｇを実施する時、入力切替回路１１は、図１の破線の位置とする。また、受信コイル１Ｒを前置増幅器５に接続する。また、受信コイル１Ｒ内に被検体を入れる。
さて、スペクトロスコピー用パルスシーケンスＰｓでは、まず、９０゜パルスを印加すると共にボクセル選択勾配ｂｓをＸ軸，Ｙ軸，Ｚ軸に印加し、次に１８０゜パルスを印加すると共にボクセル選択勾配ｂｓをＸ軸，Ｙ軸，Ｚ軸に印加し、次に受信コイル１Ｒで受信したＭＲ信号をサンプリングして例えば２５６個のデータを収集する。
そして、２５６個のデータをフーリエ変換してスペクトルを生成する。
【００３２】
図７は、シールドルームＳＲのＲＦシールド特性を定期的または不定期的に点検する時にＭＲＩ装置１００で実行するＲＦシールド特性測定用パルスシーケンスの一例である。
このＭＲ画像生成用パルスシーケンスＰｓｍを実施する時、入力切替回路１１は、図１の破線の位置とする。また、受信コイル１Ｒ内には何も入れない。また、アンテナ切替回路２０を前置増幅器５に接続し、最初はアンテナ切替回路２０を図１の実線の位置とする。
さて、このＲＦシールド特性測定用パルスシーケンスＰｓｍは、図６のスペクトロスコピー用パルスシーケンスＰｓを基にしたものであり（図７の破線で示した部分が図６のパルスシーケンスＰｓから省かれている）、９０゜パルスを印加しながら第１の受信アンテナ２１で受信したＲＦパルスをサンプリングして例えば２５６個のデータを収集する。
そして、２５６個のデータをフーリエ変換し、第１のスペクトルを生成する。
【００３３】
次に、アンテナ切替回路２０を図１の破線の位置とする。
そして、９０゜パルスを印加しながら第２の受信アンテナ２２で受信したＲＦパルスをサンプリングして例えば２５６個のデータを収集する。
そして、２５６個のデータをフーリエ変換し、第２のスペクトルを生成する。
【００３４】
図８に、第１のスペクトルＳ１を例示する。
第１のスペクトルＳ１では、ＲＦパルスの周波数に対応した位置にピークが描出される。このピークの高さは、第１の受信アンテナ２１で受信したＲＦパルスの強さに応じた値になっている。
【００３５】
図９に、第２のスペクトルＳ２を例示する。
第２のスペクトルＳ２では、ＲＦパルスの周波数に対応した位置にピークが描出される。このピークの高さは、第２の受信アンテナ２２で受信したＲＦパルスの強さに応じた値になっている。
【００３６】
そこで、第１のスペクトルＳ１におけるピークの高さＨ１と第２のスペクトルＳ２におけるピークの高さＨ２とが求まれば、シールドルームＳＲのＲＦシールド特性の指標値Ｂを例えば次式により求めることが出来る。
Ｂ＝１０・ｌｏｇ｛Ｈ２／Ｈ１｝
【００３７】
−第３の実施形態−
ＭＲＩ装置１００は、ＭＲ画像の画素値を表示装置１３の輝度値に変換する変換特性を操作者が設定できる公知の機能を有している。この機能をウィンドウレベル設定機能と呼ぶ。
そこで、このウィンドウレベル設定機能を利用して、「ある画素値」だけで輝度値が高くなり、他の画素値では輝度値が０になるように設定し、「ある画素値」を小さな値から大きな値へと掃引する。そして、図４の第１のＭＲ画像Ｇ１で直線Ｌ１が最も良く光って見えた時の「ある画素値」を「第１の画素値」とし、次に図５の第２のＭＲ画像Ｇ２で直線Ｌ２が最も良く光って見えた時の「ある画素値」を「第２の画素値」とし、「第１の画素値」と「第２の画素値」とを比較すれば、シールドルームＳＲのＲＦシールド特性を求めることが出来る。
【００３８】
−他の実施形態−
（１）シールドルームＳＲの正面，右側面，左側面，背面，上面の各面に受信コイル２１，２２を移動してＲＦシールド特性の測定を測定すれば、シールドルームＳＲの３次元的なＲＦシールド特性を測定できる。
（２）高速撮影法のＭＲ画像生成用パルスシーケンスを基にしたＲＦシールド特性測定用パルスシーケンスを用いてもよい。
【００３９】
【発明の効果】
本発明のＲＦシールド特性測定方法およびＭＲＩ装置によれば、電磁波シールド性能測定装置を特に必要とせずに、既に設置されているＭＲＩ装置の機能を利用して、ＭＲＩ装置のシールドルームのＲＦシールド特性を測定できる。このため、広域に渡って点在する多数の病院に対処するために電磁波シールド特性測定装置を多数用意しておく必要がなくなり、コストを低減できる。また、電磁波シールド特性測定装置の管理，搬入，設置，撤去，搬出の煩雑な作業をなくすことが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施形態に係るＭＲＩ装置を示すブロック図である。
【図２】ＭＲ画像生成用パルスシーケンスの例示図である。
【図３】ＭＲ画像生成用パルスシーケンスを基にしたＲＦシールド特性測定用パルスシーケンスの例示図である。
【図４】第１のＭＲ画像の例示図である。
【図５】第２のＭＲ画像の例示図である。
【図６】スペクトロスコピー用パルスシーケンスの例示図である。
【図７】スペクトロスコピー用パルスシーケンスを基にしたＲＦシールド特性測定用パルスシーケンスの例示図である。
【図８】第１のスペクトラムの例示図である。
【図９】第２のスペクトラムの例示図である。
【符号の説明】
２０                受信アンテナ切替回路
２１                第１の受信アンテナ
２２                第２の受信アンテナ
１００              ＭＲＩ装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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