(57)【要約】【課題】定量的かつ効率的に、コネクタ内でのイオンマイグレーションを評価したり、コネクタの耐水性を試験する方法を提供する。【解決手段】コネクタに含まれる２端子間を浸水させて（Ｓ１）、２端子間に所定電圧を印加し（Ｓ２）、次に、この所定電圧の印加時点において２端子間に流れるリーク電流である第１リーク電流を測定し（Ｓ３）、そして、この第１リーク電流を利用してイオンマイグレーションを評価したり、コネクタの耐水性を試験するようにしている。【選択図】      図９
2004219328.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
浸水時における、コネクタに含まれる本来絶縁されるべき２端子間のリーク電流にともなうイオンマイグレーションを評価する方法であって、
前記２端子間を浸水させて、前記２端子間に所定電圧を印加する電圧印加工程と、
前記所定電圧の印加時点において前記２端子間に流れるリーク電流である第１リーク電流を測定する第１リーク電流測定工程と、
前記第１リーク電流測定工程にて測定された第１リーク電流を利用して、前記イオンマイグレーションを評価する、
ことを特徴とするコネクタのイオンマイグレーション評価方法。
【請求項２】
請求項１記載のイオンマイグレーション評価方法において、前記第１リーク電流から、浸水時における前記２端子の端子面積及び端子間距離により決定される抵抗値である溶液抵抗を取得する溶液抵抗取得工程を更に含み、
予め求められている前記溶液抵抗とイオンマイグレーションとの関係を参照して、前記溶液抵抗取得工程にて取得された溶液抵抗に対応するイオンマイグレーションを特定することにより、前記イオンマイグレーションを評価する、
ことを特徴とするコネクタのイオンマイグレーション評価方法。
【請求項３】
コネクタの耐浸水性を試験する方法であって、
前記コネクタに含まれる本来絶縁されるべき２端子間を浸水させて、前記２端子間に所定電圧を印加する電圧印加工程と、
前記所定電圧の印加時点において前記２端子間に流れるリーク電流である第１リーク電流を測定する第１リーク電流測定工程と、
前記第１リーク電流測定工程にて測定された第１リーク電流を利用して前記コネクタの良否を判定する、
ことを特徴とするコネクタの試験方法。
【請求項４】
請求項３記載の試験方法において、
前記第１リーク電流から、浸水時における前記２端子の端子面積及び端子間距離により決定される抵抗値である溶液抵抗を取得する溶液抵抗取得工程を更に含み、
前記溶液抵抗取得工程にて取得された溶液抵抗と予め定められたコネクタの良否を判定するための境界値とを比較し、この比較結果に基づいて前記コネクタの良否を判定する、
ことを特徴とするコネクタの試験方法。
【請求項５】
請求項４記載の試験方法において、
前記境界値は、
前記２端子間にイオンマイグレーションが進行していき、前記２端子間が短絡すると想定される前記溶液抵抗の値に基づく、
ことを特徴とするコネクタの試験方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、自動車等に用いられるコネクタ内に水が浸入したときの、コネクタのイオンマイグレーション評価方法及び試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、自動車業界においては、小型化及び高電圧化に対応したコネクタの開発が求められている。これにともないコネクタに含まれる端子間ピッチの狭小化が必要となる。このようなコネクタは、図１０（Ａ）に示すような分離状態から矢印方向にオスハウジング１とメスハウジング２が嵌合されて防水処理が施されたうえで、オス端子１１ａ、１１ｂが、メス端子２１ａ、２１ｂが結合される。ところが、オスハウジング１とメスハウジング２とが正規状態に嵌合されても、図１０（Ｂ）に示すように、オスハウジング１とメスハウジング２との間にわずかな隙間ｈが発生する場合があり、ここに水６が浸入すると滞留することも考えられる。そうすると、例えば、オスコネクタ１１ａ、１１ｂ間にリーク電流が流れ、いわゆるイオンマイグレーションが発生することが考えられる。
【０００３】
上述のように、端子間ピッチの狭小化及び車両用電源の高電圧化が進むと、浸水時（コネクタ内に水が浸入したとき）において、上記水６を起因としてイオンマイグレーションが進行して端子間が短絡状態に近くなり、これにともないリーク電流もより増加して、コネクタの基本機能である電気信号、電力の伝達が損なわれる可能性が高くなる。このような背景から、事前にイオンマイグレーションやコネクタの試験評価を厳密に行う必要性があるが、従来の試験評価方法としては、コネクタに含まれる絶縁されるべき端子間を浸水させ、端子間に所定電圧を所定時間だけ印加し、この間の最大電流値を測定することにより、リーク電流を検査する程度であった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
このように、イオンマイグレーションやコネクタの試験評価を厳密に行う必要性が強く求められているにもかかわらず、従来、定量的にコネクタ内でのイオンマイグレーションを評価したり、コネクタの耐水性を試験したりする方法は確立されていなかった。また、近年の開発サイクルの短期化にともない、より効率的な評価方法及び試験方法も待望されている。
【０００５】
よって本発明は、上述した現状に鑑み、定量的かつ効率的に、コネクタ内でのイオンマイグレーションを評価したり、コネクタの耐水性を試験する方法を提供して、よりよいコネクタの開発に貢献することを課題としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するためになされた請求項１記載のコネクタのイオンマイグレーション評価方法は、浸水時における、コネクタに含まれる本来絶縁されるべき２端子間のリーク電流にともなうイオンマイグレーションを評価する方法であって、前記２端子間を浸水させて、前記２端子間に所定電圧を印加する電圧印加工程と、前記所定電圧の印加時点において前記２端子間に流れるリーク電流である第１リーク電流を測定する第１リーク電流測定工程と、前記第１リーク電流測定工程にて測定された第１リーク電流を利用して、前記イオンマイグレーションを評価する、ことを特徴とする。
【０００７】
請求項１記載の発明によれば、コネクタに含まれる２端子間を浸水させて、２端子間に所定電圧を印加し、次に、この所定電圧の印加時点において２端子間に流れるリーク電流である第１リーク電流を測定し、そして、この第１リーク電流を利用してイオンマイグレーションを評価するようにしている。この第１リーク電流に着目すると、電圧印加と同時に、リーク電流の経時変化パターン、すなわち、イオンマイグレーションの経時変化パターンが予測できるので、短時間での効率的な評価が可能になる。また、第１リーク電流に対応した経時変化パターンにより、定量的にコネクタ内でのイオンマイグレーションを評価することが可能になる。
【０００８】
上記課題を解決するためになされた請求項２記載のコネクタのイオンマイグレーション評価方法は、請求項１記載のイオンマイグレーション評価方法において、前記第１リーク電流から、浸水時における前記２端子の端子面積及び端子間距離により決定される抵抗値である溶液抵抗を取得する溶液抵抗取得工程を更に含み、予め求められている前記溶液抵抗とイオンマイグレーションとの関係を参照して、前記溶液抵抗取得工程にて取得された溶液抵抗に対応するイオンマイグレーションを特定することにより、前記イオンマイグレーションを評価する、ことを特徴とする。
【０００９】
請求項２記載の発明によれば、請求項１の発明に加えて、第１リーク電流から、浸水時における２端子の端子面積及び端子間距離により決定される抵抗値である溶液抵抗を取得し、例えば図６に示すような、予め求められている溶液抵抗とイオンマイグレーションとの関係を参照して、この取得された溶液抵抗に対応するイオンマイグレーションを特定することにより、イオンマイグレーションを評価するようにしている。したがって、明確にイオンマイグレーションの経時変化パターンが特定できる。
【００１０】
上記課題を解決するためになされた請求項３記載のコネクタの試験方法は、図１の基本構成図に示すように、コネクタの耐浸水性を試験する方法であって、前記コネクタに含まれる本来絶縁されるべき２端子間を浸水させて、前記２端子間に所定電圧を印加する電圧印加工程と、前記所定電圧の印加時点において前記２端子間に流れるリーク電流である第１リーク電流を測定する第１リーク電流測定工程と、前記第１リーク電流測定工程にて測定された第１リーク電流を利用して前記コネクタの良否を判定する、ことを特徴とする。
【００１１】
請求項３記載の発明によれば、コネクタに含まれる２端子間を浸水させて、２端子間に所定電圧を印加し、次に、この所定電圧の印加時点において２端子間に流れるリーク電流である第１リーク電流を測定し、そして、この第１リーク電流を利用してこのコネクタの良否を判定するようにしている。この第１リーク電流に着目すると、電圧印加と同時に、リーク電流の経時変化パターン、例えば、経時的に２端子間が短絡状態に至るか否か等が予測できる。
【００１２】
上記課題を解決するためになされた請求項４記載のコネクタの試験方法は、図１の基本構成図に示すように、請求項３記載の試験方法において、前記第１リーク電流から、浸水時における前記２端子の端子面積及び端子間距離により決定される抵抗値である溶液抵抗を取得する溶液抵抗取得工程を更に含み、前記溶液抵抗取得工程にて取得された溶液抵抗と予め定められたコネクタの良否を判定するための境界値とを比較し、この比較結果に基づいて前記コネクタの良否を判定する、ことを特徴とする。
【００１３】
請求項４記載の発明によれば、請求項３の発明に加えて、第１リーク電流から、浸水時における２端子の端子面積及び端子間距離により決定される抵抗値である溶液抵抗を取得し、この取得された溶液抵抗と予め定められたコネクタの良否を判定するための境界値とを比較し、この比較結果に基づいてコネクタの良否を判定するようにしているので、正確にコネクタの良否を判定することが可能になる。また、溶液抵抗を指標とすることにより、溶液抵抗から端子間距離及び端子面積を逆算することも可能になる。
【００１４】
上記課題を解決するためになされた請求項５記載のコネクタの試験方法は、図１の基本構成図に示すように、請求項４記載の試験方法において、前記境界値は、前記２端子間にイオンマイグレーションが進行していき、前記２端子間が短絡すると想定される前記溶液抵抗の値に基づく、ことを特徴とする。
【００１５】
請求項５記載の発明によれば、境界値は、上記２端子間にイオンマイグレーションが進行していき、２端子間が短絡すると想定される溶液抵抗の値に基づくようにしているので、現実に即したコネクタの耐浸水試験が可能になる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
まず、図１〜図８を用いて本発明の実施形態にて利用される電気特性及び理論について説明し、更に、図９を用いて本発明の実施形態について説明する。まず、現行コネクタにおける、浸水時におけるリーク電流特性を考察するために、以下のような実験を行いデータを取得した。図１は、現行コネクタを用いた試験方法を例示する図である。図２（Ａ）及び図２（Ｂ）はそれぞれ、図１のコネクタ内に５ｗｔ％ＮａＣｌ水溶液を注入し、隣接端子間に１４Ｖ及び４２Ｖを印加したときのリーク電流の経時変化を示すグラフである。
【００１７】
この実験では、コネクタ内に塩水が浸入するという最悪状態を想定し、図１に示すように、現行コネクタのオスハウジング１とメスハウジング２とを正規状態に嵌合し、メスハウジング２が上側になるように設置し、５ｗｔ％ＮａＣｌ水溶液を注入した。なお、この場合の内部状態は、上記図１０（Ｂ）と同様となる。その後、隣接端子（例えば、図１０のオス端子１１ａ、１１ｂ）間にバッテリ電源３により所定電圧を印加し、端子間電圧及び端子間リーク電流をそれぞれ、電圧計４及び電流計５により測定した。印加電圧は１４Ｖ〜４２Ｖとした。
【００１８】
図２（Ａ）に示すように、印加電圧１４Ｖにおいては、電圧印加直後よりリーク電流は減少傾向を示し、最終的にゼロになった。また、試験後の端子の外観については、陽極に緑青が確認されたが、陰極に変化はみられなかった。一方、図２（Ｂ）に示すように、印加電圧４２Ｖにおいては、リーク電流は、時間経過にしたがい上昇し、所定時間経過後に最大電流Ｉｍａｘを有することがわかる。また、試験後の端子の外観については、陽極において端子材料である銅が激しく溶出し、陰極に黒色の腐食生成物の析出がみられた。
【００１９】
以上により、印加電圧４２Ｖにおいては、１４Ｖに対しイオンマイグレーションが異なり、リーク電流は、印加電圧１４Ｖと比べて、急激に大きくなることが確認された。また、最大電流で比較すると、印加電圧４２Ｖでは１４Ｖと比べて１０倍以上と、これも大きく異なることがわかった。すなわち、印加電圧の違いによる影響を定量的に捉えるためには、最大電流に着目しても、印加電圧４２Ｖでは１４Ｖとでは、波形が大きく異なるので、困難であることがわかる。
【００２０】
一方、電圧印加時点Ｔ０の電流に着目すると、印加電圧４２Ｖでは１４Ｖとでは、図中、Ｉ０（４２）、Ｉ０（１４）で示すように、値は異なるが同等の電流波形であることがわかる。このような電圧印加時点Ｔ０において、浸水時に、本来絶縁されるべき２端子間に流れるリーク電流を第１リーク電流とよぶ。このような第１リーク電流を利用すると、定量的に各条件下におけるイオンマイグレーションの評価やコネクタの試験が可能になることが以下の説明で明らかになる。
【００２１】
上記現行コネクタを用いた実験に、汎用性をもたせるために、図３に示すようなテストピースを用いて、上記現行コネクタと同等の試験を行った。図３は、テストピースを用いた試験方法を例示する図である。図４は、テストピースを用いた実験において想定した溶液抵抗モデルである。
【００２２】
図３において、電圧及び端子間距離の影響等も考察可能なように、端子材料（銅合金）を縦３０ｍｍ×横１０ｍｍに加工し、これをテストピース端子１１ａ′、１１ｂ′とした。各テストピース端子１１ａ′、１１ｂ′において、シリコンテープで端子表面を絶縁処理して絶縁処理部１１ａ１′、１１ａ２′を形成することにより、実験条件によって露出する端子面積を制御した。その後、実験条件にあわせて端子間距離を決定し、テストピース端子１１ａ′、１１ｂ′を実験セル７に固定した。端子１１ａ′、１１ｂ′間にバッテリ電源３により所定電圧を印加し、端子間電圧及び端子間リーク電流をそれぞれ、電圧計４及び電流計５により測定した。印加電圧は１４Ｖ〜４２Ｖとした。電解溶液６′には、５ｗｔ％ＮａＣｌ水溶液を使用した。
【００２３】
また、図４の溶液抵抗モデルにも示すように、テストピースを用いた実験において、第１リーク電流に対して以下のような式（１）が成立するものと想定する。
Ｒｃ＝Ｌ／κ０Ｓ…（１）
ここで、Ｒｃは端子間の溶液抵抗を示し、Ｌは端子間距離、κ０は溶液の電気伝導度、そして、Ｓは露出した端子面積（単に、端子面積ともよぶ）を示す。
【００２４】
上記式（１）は、溶液抵抗Ｒｃが、端子間距離Ｌ及び端子面積Ｓの変化にともない変化することを示している。この式（１）にしたがうと、端子間距離Ｌ及び端子面積Ｓを制御することにより、溶液抵抗Ｒｃを制御することが可能になる。
【００２５】
このように想定したモデル及び式を念頭において、溶液抵抗を変化させたときのリーク電流の挙動を調べた。図５は、印加電圧４２Ｖにおける、溶液抵抗と第１リーク電流との関係を示すグラフである。図中、横軸の溶液抵抗は、上記式（１）に基づいて計算された溶液抵抗である。図５に示すように、溶液抵抗の増大に対して第１リーク電流は反比例して減少することがわかる。換言すれば、溶液抵抗と第１リーク電流との積は印加電圧４２Ｖに対応する一定値となり、オームの法則にしたがっていることがわかる。このことから、上記式（１）は妥当であることがわかる。
【００２６】
図５に示すように第１リーク電流は溶液抵抗に依存するため、式（１）を参照すると第１リーク電流は端子間距離Ｌ及び端子面積Ｓで決定されることがわかる。これにより、第１リーク電流を測定し上記式（１）を参照すると、端子間の形状を把握することが可能になる、すなわち、第１リーク電流を測定することにより、よりよいコネクタの設計に役立てることができる。
【００２７】
また、図５において第１境界値ＴＨ１及び第２境界値ＴＨ２で示す溶液抵抗を境にして、リーク電流の経時変化パターンに大きな変化があることもわかった。図６（Ａ）は図５に示す溶液抵抗の第２境界値ＴＨ２に対応するリーク電流の経時変化を示し、図６（Ｂ）は図５に示す溶液抵抗の第１境界値ＴＨ１に対応するリーク電流の経時変化を示すグラフである。なお、第２境界値ＴＨ２は４００Ωを若干上回る程度の溶液抵抗であり、第１境界値ＴＨ１は３００Ωを若干下回る程度の溶液抵抗である。
【００２８】
図６（Ａ）に示すように、溶液抵抗が大きい場合（約４２０Ω以上）においては、電圧印加直後より、リーク電流値は減少傾向を示し、最終的にはゼロになった。この結果は、上記図２（Ａ）に示した印加電圧１４Ｖにおけるコネクタ実験と同等の傾向となった。一方、図６（Ｂ）に示すように、溶液抵抗が小さい場合（約２８０Ω以下）においては、電圧印加直後より、リーク電流値は上昇し、最大電流Ｉ′ｍａｘを有することがわかる。また、実験後の外観については、陰極において黒色の腐食生成物の析出がみられた。この結果は、上記図２（Ｂ）に示した印加電圧４２Ｖにおけるコネクタ実験と同等の傾向となった。なお、図６においても、電圧印加時点において図２と同様の第１リーク電流Ｉ′０（４００）、Ｉ′０（２００）が流れていることがわかる。
【００２９】
なお、上記境界値ＴＨ１、ＴＨ２は条件によって値が異なるもの、各条件において上述のような大きな変化が発生する境界値が存在することが確かめられている。
【００３０】
このようなテストピース及び現行コネクタを用いた実験を合わせて考察すると、図６（Ｂ）に示すように溶液抵抗が小さい場合及び図２（Ｂ）に示すように印加電圧が大きい場合においては、陰極より生成した腐食生成物により端子間においてパスが形成され、その結果、リーク電流が上昇したものと考えられる。すなわち、腐食生成物により、所定時間経過後には、端子間が短絡状態に近くなり、大きなリーク電流が流れたものと考えることができる。したがって、第１リーク電流を測定し、各条件下で予め求められている上記境界値を利用して、定量的にコネクタ内でのイオンマイグレーションを評価したり、コネクタを試験したりすることが可能になる。また、電圧印加と同時に、リーク電流の経時変化パターンが予測できるので、短時間での効率的な評価及び試験が可能になる。
【００３１】
更に、印加電圧と第１リーク電流との関係についても考察する。図７は、テストピースを用いた実験結果であり、各溶液抵抗における、印加電圧と第１リーク電流との関係を示すグラフである。なお、図７に示す実験結果は、上記図２で説明した条件と同等の条件下にて取得されたものである。図７に示すように、各印加電圧において、印加電圧と第１リーク電流とは比例関係となっている。詳しくは、溶液抵抗Ｒｃを６３．５Ωから１２７Ωへと２倍にすると、溶液抵抗の傾きも２倍となっていることがわかる。第１リーク電流は、溶液抵抗のみならず、印加電圧にも依存することがわかる。すなわち、オームの法則が成立していることがわかる。このことからも、上記式（１）は妥当であることがわかる。
【００３２】
また、現行コネクタについても同様の実験を行った。図８は、現行コネクタを用いた実験結果であり、各溶液抵抗における、印加電圧と第１リーク電流との関係を示すグラフである。なお、図８に示す実験結果は、上記図１で説明した条件と同等の条件下にて取得されたものである。図８に示すように、各印加電圧において、印加電圧と第１リーク電流とは比例関係となっている。すなわち、現行コネクタにおいても、オームの法則が成立していることがわかる。
【００３３】
以上のように、図１〜図８を用いて説明してきた理論及び電気特性を利用して、コネクタ内でのイオンマイグレーションを評価したり、コネクタを試験したりすることが可能になる。以下に、図９を用いて、上記理論及び電気特性を利用した本発明の実施形態について説明する。
【００３４】
図９は、本発明の一実施形態に係る手順を示すフローチャートである。この手順においては、図１で示したような構成の試験方法が適用される。また、図５に示すような、所定印加電圧における、被試験コネクタに対応する、溶液抵抗と第１リーク電流との関係が予め求められている。更に、図５に示すような、境界値ＴＨ１、ＴＨ２も予め求められている。
【００３５】
まず、本発明の一実施形態として、コネクタの耐浸水性の試験方法について説明する。すなわち、図９のステップＳ１において、図１に示すように正規状態に嵌合された、評価又は試験すべきコネクタの所望の２端子に、所定の電圧、例えば、４２Ｖが印加される。次に、ステップＳ２において、上記第１リーク電流が測定される。次に、ステップＳ３において、予め求められている、図５に示すような溶液抵抗と第１リーク電流との関係を参照して、上記ステップＳ２にて測定された第１リーク電流に対応する溶液抵抗Ｒｃが取得される。なお、ステップＳ１は請求項１、３中の電圧印加工程に対応し、ステップＳ２は請求項１、３中の第１リーク電流測定工程に対応し、ステップＳ３は請求項２、４中の溶液抵抗取得工程に対応する。
【００３６】
そして、ステップＳ４において、この溶液抵抗Ｒｃが、上記境界値ＴＨ１、ＴＨ２と比較される。溶液抵抗Ｒｃが第１境界値ＴＨ１よりも小さい場合には被試験コネクタはＮＧ（不良）と判定され（ステップＳ５）、第２境界値ＴＨ２よりも大きい場合には被試験コネクタはＯＫ（良）と判定され（ステップＳ７）、溶液抵抗Ｒｃが第１境界値ＴＨ１と第２境界値ＴＨ２との間の場合にはＮＧ／ＯＫ（不良の可能性あり）と判定される（ステップＳ６）。
【００３７】
詳しくは、ステップＳ５に対応する、溶液抵抗Ｒｃが第１境界値ＴＨ１よりも小さい場合には、図６（Ｂ）に示すように、リーク電流は経時的に最大リーク電流Ｉ′ｍａｘまで上昇することになる。すなわち、このコネクタは、経時的に２端子が短絡状態になるものと判定できる。したがって、このコネクタをＮＧと判定できる。一方、ステップＳ７に対応する、溶液抵抗Ｒｃが第２境界値ＴＨ２よりも大きい場合には、図６（Ａ）に示すように、リーク電流は経時的にゼロになることになる。したがって、このコネクタはＯＫと判定できる。
【００３８】
良否判定により正確性を期すため、ステップＳ６に対応する、溶液抵抗Ｒｃが第１境界値ＴＨ１と第２境界値ＴＨ２との間の場合を設定しているが、簡易判定するのであれば、例えば、第１境界値ＴＨ１又は第２境界値ＴＨ２の一方を用いて判定するようにしてもよい。
【００３９】
なお、第１リーク電流と溶液抵抗とはオームの法則の関係があるので、上記ステップＳ２において測定した第１リーク電流を直接利用して、コネクタの良否を判定するようにしてもよい。この場合には、所定印加電圧における、上記溶液抵抗Ｒｃの第１境界値ＴＨ１及び第２境界値ＴＨ２に対応するような電流境界値を予め設定しておき、測定された第１リーク電流をこの電流境界値と比較することによりコネクタの良否を判定する（請求項３に対応）。
【００４０】
また、上記コネクタの耐浸水性の試験方法と類似の方法で、コネクタ内のイオンマイグレーションの評価を行うことも可能である。この場合にも、同様に、上記ステップＳ２又はステップＳ３において測定及び取得された第１リーク電流又は溶液抵抗がイオンマイグレーションの評価に用いられる。すなわち、図５及び図６に示すような関係を予め求めておき、上記第１リーク電流又は溶液抵抗に対応するリーク電流の波形（図６のような）を特定する。図６に示すリーク電流の経時変化は、イオンマイグレーションの経時変化とみなすこともできるので、上記のようにリーク電流の波形を特定することにより、イオンマイグレーションを定量的に評価することが可能になる（請求項１、２に対応）。
【００４１】
なお、上記２端子以外の端子についても、所望の端子を組み合わせて、上述と同様の評価及び試験を行うことができる。また、印加電圧を他の値に変更して、この印加電圧に対応する図５及び図６に示すような関係を予め求めておき、上述と同様の評価及び試験を行うことができる。上記処理手順は、図１に示すような装置を用いて測定した結果を、マイクロコンピュータを用いて処理することにより、より効率的に行うことができる。
【００４２】
このように、本発明の実施形態によれば、定量的かつ効率的に、コネクタ内でのイオンマイグレーションを評価したり、コネクタの耐水性を試験することが可能になり、よりよいコネクタの開発に大きく貢献することができる。
【００４３】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１記載の発明によれば、コネクタに含まれる２端子間を浸水させて、２端子間に所定電圧を印加し、次に、この所定電圧の印加時点において２端子間に流れるリーク電流である第１リーク電流を測定し、そして、この第１リーク電流を利用してイオンマイグレーションを評価するようにしている。この第１リーク電流に着目すると、電圧印加と同時に、リーク電流の経時変化パターン、すなわち、イオンマイグレーションの経時変化パターンが予測できるので、短時間での効率的な評価が可能になる。また、第１リーク電流に対応した経時変化パターンにより、定量的にコネクタ内でのイオンマイグレーションを評価することが可能になる。このようなイオンマイグレーション評価方法は、効率的なコネクタの耐水性判定やより的確なコネクタの設計に役立てることができる。
【００４４】
請求項２記載の発明によれば、請求項１の発明に加えて、第１リーク電流から、浸水時における２端子の端子面積及び端子間距離により決定される抵抗値である溶液抵抗を取得し、例えば図６に示すような、予め求められている溶液抵抗とイオンマイグレーションとの関係を参照して、この取得された溶液抵抗に対応するイオンマイグレーションを特定することにより、イオンマイグレーションを評価するようにしている。したがって、明確にイオンマイグレーションの経時変化パターンが容易に特定でき、より正確にコネクタ内でのイオンマイグレーションを評価することが可能になる。
【００４５】
請求項３記載の発明によれば、コネクタに含まれる２端子間を浸水させて、２端子間に所定電圧を印加し、次に、この所定電圧の印加時点において２端子間に流れるリーク電流である第１リーク電流を測定し、そして、この第１リーク電流を利用してこのコネクタの良否を判定するようにしている。この第１リーク電流に着目すると、電圧印加と同時に、リーク電流の経時変化パターン、例えば、経時的に２端子間が短絡状態に至るか否か等が予測できるので、短時間で定量的なコネクタの耐浸水試験が可能になる。
【００４６】
請求項４記載の発明によれば、請求項３の発明に加えて、第１リーク電流から、浸水時における２端子の端子面積及び端子間距離により決定される抵抗値である溶液抵抗を取得し、この取得された溶液抵抗と予め定められたコネクタの良否を判定するための境界値とを比較し、この比較結果に基づいてコネクタの良否を判定するようにしている。したがって、より正確にコネクタの良否を判定することが可能になる。また、溶液抵抗を指標とすることにより、溶液抵抗から端子間距離及び端子面積を逆算して、より的確なコネクタの設計をすることも可能になる。
【００４７】
請求項５記載の発明によれば、境界値は、上記２端子間にイオンマイグレーションが進行していき、２端子間が短絡すると想定される溶液抵抗の値に基づくようにしているので、より現実に即したコネクタの耐浸水試験が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】現行コネクタを用いた試験方法を例示する図である。
【図２】図２（Ａ）及び図２（Ｂ）はそれぞれ、図１のコネクタ内に５ｗｔ％ＮａＣｌ水溶液を注入し、隣接端子間に１４Ｖ及び４２Ｖを印加したときのリーク電流の経時変化を示すグラフである。
【図３】テストピースを用いた試験方法を例示する図である。
【図４】テストピースを用いた実験において想定した溶液抵抗モデルである。
【図５】印加電圧４２Ｖにおける、溶液抵抗と第１リーク電流との関係を示すグラフである。
【図６】図６（Ａ）は図５に示す溶液抵抗の第２境界値に対応するリーク電流の経時変化を示し、図６（Ｂ）は図５に示す溶液抵抗の第１境界値に対応するリーク電流の経時変化を示すグラフである。
【図７】テストピースを用いた実験結果であり、各溶液抵抗における、印加電圧と第１リーク電流との関係を示すグラフである。
【図８】現行コネクタを用いた実験結果であり、各溶液抵抗における、印加電圧と第１リーク電流との関係を示すグラフである。
【図９】本発明の一実施形態に係る手順を示すフローチャートである。
【図１０】図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）はそれぞれ、現行コネクタの分離状態及び嵌合状態を示す断面図である。
【符号の説明】
１  オスハウジング
２  メスハウジング
３  バッテリ電源
４  電圧計
５  電流計
６  水
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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