(57)【要約】【課題】光学的手法により試験用具を検知する場合において、誤検知を抑制する。【解決手段】目的領域に試験用具７が存在するか否かを検知するための機構４であって、目的領域に向けて光を出射するための光出射部４０と、試験用具７からの反射光を受光するための受光部４１と、を備えた検知機構４において、受光部４１は、光出射部４１から出射された光のうち、試験用具７において正反射した光を選択的に受光するように構成した。検知機構４は、光出射部４０から目的領域に向かう光、および目的領域から受光部４１に向かう光のうちの少なくとも一方の光の進行路を規定するための導光手段４２を備えているのが好ましい。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
目的領域に試験用具が存在するか否かを検知するための検知機構であって、上記目的領域に向けて光を出射するための光出射部と、上記試験用具からの反射光を受光するための受光部と、を備えた検知機構において、
上記受光部は、上記光出射部から出射された光のうち、上記試験用具において正反射した光を選択的に受光するように構成されていることを特徴とする、試験用具の検知機構。
【請求項２】
上記光出射部から上記目的領域に向かう光、および上記目的領域から上記受光部に向かう光のうちの少なくとも一方の光の進行路を規定するための導光手段をさらに備えている、請求項１に記載の試験用具の検知機構。
【請求項３】
上記導光手段は、上記光出射部から出射された光を、上記導光手段の内部に導入するための第１入射面と、上記光出射部から上記導光手段の内部に導入された光を、上記試験用具に向けて出射するための第１出射面と、上記試験用具からの反射光を、上記導光手段の内部に導入させるための第２入射面と、上記試験用具において反射してから上記導光手段の内部に導入された光を、上記受光部に向けて出射するための第２出射面と、を有しており、かつ、
上記第１入射面、上記第１出射面、上記第２入射面、および上記第２出射面のうちの少なくとも１つの面は、当該面を透過する光を屈折させるように構成されている、請求項２に記載の試験用具の検知機構。
【請求項４】
上記導光手段は、プリズムまたはレンズとして構成されている、請求項２または３に記載の試験用具の検知機構。
【請求項５】
上記光出射部は、発光ダイオードを有している、請求項１ないし４のいずれかに記載の試験用具の検知機構。
【請求項６】
上記光出射部および上記受光部は、上記光出射部の出射中心軸と上記受光部の受光中心軸とが、互いに平行または略平行となるように配置されている、請求項１ないし５のいずれかに記載の試験用具の検知機構。
【請求項７】
目的領域に試験用具が存在するか否かを検知するための検知機構であって、上記目的領域に向けて光を出射するための光出射部と、上記試験用具からの反射光を受光するための受光部と、を備えた検知機構において、
上記光出射部から上記目的領域に向かう光、および上記目的領域から上記受光部に向かう光のうちの少なくとも一方の光を、屈折させるように構成されていることを特徴とする、試験用具の検知機構。
【請求項８】
上記光出射部から上記目的領域に向かう光、および上記目的領域から上記受光部に向かう光のうちの少なくとも一方の光の進行路を規定するための導光手段が設けられており、
上記導光手段は、上記光出射部から出射された光を、上記導光手段の内部に導入するための第１入射面と、上記光出射部から上記導光手段の内部に導入された光を、上記試験用具に向けて出射するための第１出射面と、上記試験用具からの反射光を、上記導光手段の内部に導入させるための第２入射面と、上記試験用具において反射してから上記導光手段の内部に導入された光を、上記受光部に向けて出射するための第２出射面と、を有しており、かつ、
上記第１入射面、上記第１出射面、上記第２入射面、および上記第２出射面のうちの少なくとも１つの面は、当該面を透過する光を屈折させるように構成されている、請求項７に記載の試験用具の検知機構。
【請求項９】
上記導光手段は、プリズムまたはレンズとして構成されている、請求項８に記載の試験用具の検知機構。
【請求項１０】
試験用具を利用して試料の分析を行うように構成され、かつ目的領域に試験用具が存在するか否かを検知するための検知機構を備えた分析装置であって、
上記検知機構は、請求項１ないし９のいずれかに記載したものであることを特徴とする、分析装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試験用具の検知機構、およびこの検知機構を備えた分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
試料中の特定成分を分析する方法としては、光学的手法を利用したものがある。その一例として、試験用具において生じさせた呈色反応を利用するものがある。このような分析は、試験用具における呈色の程度を目視により確認することもあるが、特定成分の濃度を定量する場合には、分析装置が利用されている。分析装置としては、たとえば分析装置に対して試験用具を供給することにより自動的に特定成分の定量が行われるものがある。この場合、分析装置に対して試験用具が供給されたことを分析装置に対して認識させる必要がある。試験用具の認識は、使用者が分析装置の操作スイッチを操作することによって行われることもあるが、通常は、分析装置において自動的に行われる。
【０００３】
分析装置における試験用具の認識（検知）は、光学的センサを用いて行うのが一般的である。その一例として、たとえば図１１に示したように試験用具９からの散乱光を利用したものがある。図示した例では、光源部９０から出射された光を、試験用具９を載置すべき目的部位に向けて出射し、目的部位から進行してくる散乱光が受光部９１において受光されたときに、目的部位に試験用具９が載置されたことが検知される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した検知手法では、目的部位に試験用具９が載置された場合に限らず、目的部位の上方を使用者の手が横切ったり、目的部位の上方に試験用具９が位置する場合であっても、受光部９１において反射光が受光されることがある。この場合、分析装置においては、試験用具９が目的部位に載置されたと誤検知し、分析装置が分析を行うための動作を開始してしまうことがある。
【０００５】
本発明は、このような事情のもとに考えだされたものであって、光学的手法により試験用具を検知する場合において、誤検知を抑制することを課題としている。
【０００６】
【発明の開示】
本発明では、上記した課題を解決するために、次の技術的手段を講じている。
【０００７】
すなわち、本発明の第１の側面により提供される試験用具の検知機構は、目的領域に試験用具が存在するか否かを検知するための検知機構であって、上記目的領域に向けて光を出射するための光出射部と、上記試験用具からの反射光を受光するための受光部と、を備えた検知機構において、上記受光部は、上記光出射部から出射された光のうち、上記試験用具において正反射した光を選択的に受光するように構成されていることを特徴としている。
【０００８】
好ましい実施の形態においては、上記光出射部から上記目的領域に向かう光、および上記目的領域から上記受光部に向かう光のうちの少なくとも一方の光の進行路を規定するための導光手段をさらに備えている。
【０００９】
導光手段は、たとえば光出射部から出射された光を、導光手段の内部に導入するための第１入射面と、光出射部から導光手段の内部に導入された光を、試験用具に向けて出射するための第１出射面と、試験用具からの反射光を、導光手段の内部に導入させるための第２入射面と、試験用具において反射してから導光手段の内部に導入された光を、受光部に向けて出射するための第２出射面と、を有している。この場合、第１入射面、第１出射面、第２入射面、および第２出射面のうちの少なくとも１つの面は、当該面を透過する光を屈折させるように構成するのが好ましい。導光手段は、プリズムまたはレンズ（たとえばシリンドリカルレンズまたはフルネルレンズ）として構成するのが好ましい。
【００１０】
光出射部は、発光ダイオードを備えたものとして構成するのが好ましい。一般に、発光ダイオードから出射された光は広がりつつ進行するため、試験用具に対する光照射量を大きく確保するためには、発光ダイオードからの光を平行光としてから導光手段の第１入射面に入射させるようにするのが好ましい。発光ダイオードからの光を平行化してから入射させるためには、たとえば発光ダイオードと第１入射面との間にレンズなどを配置すればよい。
【００１１】
光出射部および受光部は、光出射部の出射中心軸と受光部の受光中心軸とが、互い平行または略平行となるように配置するのが好ましい。ここで、「出射中心軸」とは、光出射部から出射される光の光量分布において、最も出射光量の大きな方向に沿った軸をいう。「受光中心軸」とは、受光部において受光される光の光量分布において、最も受光量の大きな部分の法線に沿った軸をいう。
【００１２】
本発明の第２の側面においては、目的領域に試験用具が存在するか否かを検知するための検知機構であって、上記目的領域に向けて光を出射するための光出射部と、上記試験用具からの反射光を受光するための受光部と、を備えた検知機構において、上記光出射部から上記目的領域に向かう光、および上記目的領域から上記受光部に向かう光のうちの少なくとも一方の光を、屈折させるように構成されていることを特徴とする、試験用具の検知機構が提供される。
【００１３】
好ましい実施の形態においては、上記光出射部から上記目的領域に向かう光、および上記目的領域から上記受光部に向かう光のうちの少なくとも一方の光の進行路を規定するための導光手段が設けられている。この導光手段は、たとえば光出射部から出射された光を、導光手段の内部に導入するための第１入射面と、光出射部から導光手段の内部に導入された光を、試験用具に向けて出射するための第１出射面と、試験用具からの反射光を、導光手段の内部に導入させるための第２入射面と、試験用具において反射してから導光手段の内部に導入された光を、受光部に向けて出射するための第２出射面と、を有している。この場合、第１入射面、第１出射面、第２入射面、および第２出射面のうちの少なくとも１つの面は、当該面を透過する光を屈折させるように構成するのが好ましい。導光手段は、プリズムまたはレンズ（たとえばシリンドリカルレンズまたはフルネルレンズ）として構成するのが好ましい。
【００１４】
本発明の第３の側面においては、試験用具を利用して試料の分析を行うように構成され、かつ目的領域に試験用具が存在するか否かを検知するための検知機構を備えた分析装置であって、上記検知機構として、上述した本発明の第１または第２の側面に係る検知機構を用いたことを特徴とする、分析装置が提供される。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施の形態について、図１ないし図９を参照して具体的に説明する。
【００１６】
図１および図２に示したように、分析装置１は、筐体２の内部に、ステージ３、検知機構４、搬送機構５および測光機構６が設けられた構成とされている。図１に良く表れているように、筐体２には、複数の操作ボタン２０や表示器２１の他、ステージ３に試験用具７を載置するための導入部２２が設けられている。この導入部２２は、筐体２の内部に連通し、かつステージ３の一部を臨む切欠として形成されている。図２に良く表れているように、試験用具７としては、短冊状の基材７０の表面に、基材７０の長手方向に並ぶようにして複数の試薬パッド７１が使用される。試薬パッド７１は、試料中の特定成分と反応して発色する試薬を含んでいる。
【００１７】
ステージ３は、後述する搬送機構５のスライドブロック５０の移動をガイドするためのガイド部３０と、ステージ３に載置された試験用具７の裏面を露出させるための凹部３１と、を有している。凹部３１には、後述する検知機構４のプリズム４２が埋設されている。ステージ３には、載置エリア３２および測光エリア３３が設定されている。載置エリア３２は、導入部２２（図１参照）を介して筐体２の内部に導入された試験用具７を載置させるための領域である。測光エリア３３は、測光機構６により試薬パッド７１に供給された試料中の特定成分を測光するためのエリアである。
【００１８】
検知機構４は、載置エリア３２に試験用具７が載置されたか否かを検知するためのものであり、図３に示したように光出射部４０、受光部４１、および導光手段としてのプリズム４２を有している。
【００１９】
光出射部４０は、ステージ３の上方に向けて光を出射するためのものであり、載置エリア３２に試験用具７が載置されている場合には、試験用具７の裏面に光を照射することができる。この光出射部４０は、出射中心軸Ｌ１がステージ３の厚み方向（図３の上下方向）を向くようにプリズム４２に固定されている。受光部４１は、ステージ３の上方から進行してくる光を受光するためのものであり、受光中心軸Ｌ２が光出射部４０の出射中心軸Ｌ１と平行または略平行となるようにしてプリズム４２に固定されている。光出射部４０は、たとえば発光ダイオードにより構成されており、受光部４１は、たとえばフォトダイオードにより構成されている。光出射部４０および受光部４１は、必ずしもプリズム４２に対して固定する必要はなく、プリズム４２と分離した形態として検知機構４を構成してもよい。
【００２０】
プリズム４２は、出射領域４３および受光領域４４を有しているとともに、全体が透明に形成されている。これらの領域４３，４４は、スリット４５により区画されている。このスリット４５は、光出射部４０からの光が受光部４１において直接受光されるのを抑制するためのものである。
【００２１】
出射領域４３は、光出射部４０を嵌め込み固定するための凹部４６を有している。この凹部４６の底面は、光出射部４０からの光を出射領域４３の内部に導入するための入射面４６Ａを構成している。この入射面４６Ａは、出射中心軸Ｌ１に対して直交している。出射領域４３はさらに、出射領域４３の内部の光をステージ３の上方に向けて出射するための出射面４３Ａを有している。出射面４３Ａは、出射中心軸Ｌ１（受光中心軸Ｌ２）に対して傾斜した平面とされており、出射面４３Ａを透過する光が屈折するようになされている。
【００２２】
一方、受光領域４４は、試験用具７からの反射光を受光領域４４の内部に導入するための入射面４４Ａを有している。この入射面４４Ａは、受光中心軸Ｌ２（出射中心軸Ｌ１）に対して、出射面４３Ａとは反対に傾斜した平面とされており、入射面４４Ａを透過する光が屈折するようになされている。より具体的には、入射面４４Ａは、出射面４３Ａからステージ３の上方に向けて出射した光のうち、ステージ３の載置エリア３２に載置された状態の試験用具７からの正反射光を、受光領域４４の内部において受光中心軸Ｌ２に沿って進行させるように構成されている。受光領域４４はさらに、受光部４１を嵌め込み固定するための凹部４７を有している。この凹部４７の底面は、受光領域４４の内部の光を受光部４１に向けて出射するための出射面４７Ａを構成している。この出射面４７Ａは、受光中心軸Ｌ２に対して直交している。
【００２３】
検知機構４では、光出射部４０から出射された光は、入射面４６Ａを介して出射領域４３に導入された後、出射面４３Ａを介して出射領域４３からステージ３の上方に向けて出射される。ステージ３の載置エリア３２に試験用具７がない場合には、出射領域４３から出射した光は受光部４１においては受光されない。これに対して、載置エリア３２に試験用具７が載置されている場合には、出射領域４３から出射した光が試験用具７の裏面に照射され、そのときの反射光が入射領域４４の入射面４４Ａに入射される。この入射面４４Ａに入射した光のうち、試験用具７の裏面において正反射した光が選択的に入射領域４４に導入される。入射領域４４に導入された光は、出射面４７Ａから出射され、受光部４１において受光される。
【００２４】
このように、検知機構４では、試験用具７が載置エリア３２に載置されたときの正反射光が積極的にプリズム４２の受光領域４４に導入され、受光部４１において受光されるように構成されている。したがって、試験用具７が載置エリア３２に載置されていない状態、たとえば図３に仮想線で示したように載置エリア３２の上方に試験用具７が位置するときの正反射光は、プリズム４２には導入されない。そのため、載置エリア３２に試験用具７が載置されていない状態であるにも拘わらず、試験用具７が載置されていると誤検知してしまうといった事態の発生を抑制することができる。
【００２５】
発光ダイオードは、レーザダイオードに比べて指向性の低いものであるため、検知機構４の光出射部４０として発光ダイオードを採用すれば、図４に示したように、光出射部４０からの光が広がりながら出射領域４３から出射される。したがって、発光ダイオードを採用すれば、比較的に広い範囲に対して光を照射することが可能となるため、試験用具７が載置されたか否かを検知することができる範囲を大きくすることができる。その結果、使用者が手操作に試験用具７を載置する場合には、厳格に位置決めした状態で試験用具７を載置せずとも、試験用具７が載置されたことを検知できるため、試験用具７を載置する際の使用者の負担が軽減される。
【００２６】
検知機構４においては、光出射部４０および受光部４１が、出射中心軸Ｌ１と受光中心軸Ｌ２が互いに平行となるように配置されている。これにより、出射中心軸と受光中心軸とを互いに非平行となるように光出射および受光部を配置した構成に比べて、光出射部４０と受光部４１との距離を小さく設定できる。その結果、検知機構４の小型化、ひいては分析装置１の小型化を達成することが可能となる。
【００２７】
搬送機構５は、図２および図５に示したように、試験用具７をステージ３の載置エリア３２から測光エリア３３に移動させるためのものである。この搬送機構５は、ステージ３の上面を図中に矢印Ｄ１，Ｄ２で示した方向に往復動可能なスライドブロック５０と、このスライドブロック５０を往復動させるためのガイドロッド５１と、を有している。スライドブロック５０は、ステージ３の上面を摺動する干渉部５０Ａと、ガイドロッド５１に対して相対動可能に連結された連結部５０Ｂを有している。連結部５０Ｂには、内面にねじ溝（図示略）が形成された貫通孔５０ｂが設けられている。ガイドロッド５１には、表面にねじ山（図示略）が形成されており、貫通孔５０ｂを介してスライドブロック５０に螺合されている。したがって、ガイドロッド５１を回転させることにより、このガイドロッド５１の回転方向に応じてスライドブロック５０を移動させることができる。ガイドロッド５１の回転は、たとえばガイドロッド５１を図外のモータなどの動力源に連結し、この動力源からの出力を利用して行われる。そして、スライドブロック５０を図中の矢印Ｄ１方向に移動させることにより、試験用具７を載置エリア３２から測光エリア３３に移動させることができる。
【００２８】
測光機構６は、図２、図６および図７に示したように、試験用具７の試薬パッド７１の呈色程度を光学的に測定するためのものである。この測光機構６は、ステージ３の表面に沿って図中に矢印Ｄ１，Ｄ２で示した方向に往復動可能なスライダ６０と、スライダ６０を往復動させるためのガイドロッド６１と、スライダ６０に保持された光センサ８と、を備えている。
【００２９】
スライダ６０は、内面にねじ溝（図示略）が形成された貫通孔６０ｂを有している。ガイドロッド６１には、表面にねじ山（図示略）が形成されており、貫通孔６０ｂを介してスライダ６０に螺合されている。したがって、ガイドロッド６１を回転させることにより、このガイドロッド６１の回転方向に応じて、スライダ６０、ひいては光センサ８を図中の矢印Ｄ３，Ｄ４方向に移動させることができる。ガイドロッド６１の回転は、たとえばガイドロッド６１を図外のモータなどの動力源に連結し、この動力源からの出力を利用して行われる。
【００３０】
光センサ８は、図７および図８に示したように光出射部８０、受光部８１、および導光手段としてのプリズム８２を有している。
【００３１】
光出射部８０は、ステージ３に向けて光を出射するためのものであり、出射中心軸Ｌ３がステージ３の厚み方向（図７の上下方向）を向くようにプリズム８２に固定されている。受光部８１は、ステージ３から進行してくる光を受光するためのものであり、受光中心軸Ｌ４が光出射部８０の出射中心軸Ｌ３と平行または略平行となるようにしてプリズム８２に固定されている。光出射部８０は、たとえば発光ダイオードにより構成されており、受光部８１は、たとえばフォトダイオードにより構成されている。
【００３２】
プリズム８２は、出射領域８３および受光領域８４を有しているとともに、全体が透明に形成されている。これらの領域８３，８４は、スリット８５により区画されている。このスリット８５は、光出射部８０からの光が受光部８１において直接受光されるのを抑制するためのものである。
【００３３】
出射領域８３は、光出射部８０を嵌め込み固定するための凹部８６を有している。この凹部８６の底面は、光出射部８０からの光を出射領域８３の内部に導入するための入射面８６Ａを構成している。この入射面８６Ａは、出射中心軸Ｌ３に対して直交している。出射領域８３はさらに、出射領域８３の内部の光を試験用具７に向けて出射するための出射面８３Ａを有している。出射面８３Ａは、出射中心軸Ｌ３（受光中心軸Ｌ４）に対して傾斜した平面とされており、出射面８３Ａを透過する光が屈折するようになされている。
【００３４】
一方、受光領域８４は、試験用具７からの光を受光領域８４の内部に導体するための入射面８４Ａを有している。この入射面８４Ａは、受光中心軸Ｌ４（出射中心軸Ｌ３）に対して直交している。より具体的には、入射面８４Ａは、出射面８３Ａから試験用具７に向けて出射した光のうち、受光中心軸Ｌ４に沿って進行してくる試験用具７からの散乱光を、屈折させることなく受光領域８４の内部において受光中心軸Ｌ４に沿って進行させるように構成されている。受光領域８４はさらに、受光部８１を嵌め込み固定するための凹部８７を有している。この凹部８７の底面は、受光領域８４の内部の光を受光部８１に向けて出射するための出射面８７Ａを構成している。この出射面８７Ａは、受光中心軸Ｌ４に対して直交している。
【００３５】
光センサ８は、ガイドロッド６１を回転させることにより、スライダ６０とともに図中の矢印Ｄ３，Ｄ４方向（試験用具７の長手方向）に移動させられる。したがって、測光機構６においては、光センサ８を試験用具７の長手方向に移動させつつ、光出射部８０によって光を出射することにより、複数の試薬パッド７１の全てに光を照射することができる。これに対して、受光部８１では、各試薬パッド７１からの散乱光を受光することができる。
【００３６】
上述した測光機構６（光センサ８）では、光出射部８０および受光部８１が、出射中心軸Ｌ３と受光中心軸Ｌ４が互いに平行となるように配置されている。そのため、図９に良く表れているように、出射中心軸Ｌ３′と受光中心軸Ｌ４とを互いに非平行となるように光出射部８０′および受光部８１を配置した構成に比べて、光センサ８では光出射部８０と受光部８１との距離を小さく設定できる。その結果、光センサ８を小型化、ひいては測光機構６や分析装置１の小型化に達成することができるようになる。
【００３７】
図示した光センサ８では、出射面８３Ａが出射中心軸Ｌ３（受光中心軸Ｌ４）に対して傾斜する一方で、入射面８４Ａが受光中心軸Ｌ４（出射中心軸Ｌ３）に対して直交していたが、出射面を出射中心軸Ｌ３（受光中心軸Ｌ４）に対して直交させる一方で、入射面８４Ａを受光中心軸Ｌ４（出射中心軸Ｌ３）に対して傾斜させてもよく、出射面および入射面の双方を、出射中心軸Ｌ３や受光中心軸Ｌ４に対して傾斜させてもよい。
【００３８】
本発明は、上述した実施の形態には限定されるものではない。たとえば、検知機構については、図１０（ａ）〜（ｅ）に示したような構成を採用することができる。
【００３９】
図１０（ａ）に示した検知機構４Ａは、導光手段がプリズム４２Ａとして構成されたものであるが、このプリズム４２Ａは、検知機構４（図３など参照）におけるプリズム４２の上下を反転させた構成とされている。図１０（ｂ）に示した検知機構４Ｂは、導光手段がシリンドリカルレンズ４２Ｂとして構成されたものである。図１０（ｃ）に示した検知機構４Ｃは、導光手段がフレネルレンズ４２Ｃとして構成されたものである。このフルネルレンズ４２Ｃは、複数の凸部４２Ｃａを有しており、これらの凸部４２Ｃａを覆うようにしてカバー４２Ｃｂが載置されている。図１０（ｄ）に示した検知機構４Ｄは、フルネルレンズ４２Ｄの上面にカバー４２Ｄｂが一体成形されたものである。図１０（ｃ）および（ｄ）に示した検知機構４Ｃ，４Ｄでは、導光手段の上面を平面化できるため、上面を屈曲面や湾曲面とする場合（図３、図１０（ａ）および（ｂ）参照）に比べて、中央部の高さ寸法を小さくすることができる。このため、検知機構４Ｃ，４Ｄでは、検知機構４Ｃ，４Ｄの寸法を小さくすることが可能となる。また、フルネルレンズ４２Ｃ，４２Ｄの上面をカバー４２Ｃｂ，４２Ｄｂにより覆えば、フルネルレンズ４２Ｃ，４２Ｄの上面における埃や汚れの付着を抑制でき、また埃や汚れはフルネルレンズ４２Ｃ，４２Ｄよりも凹凸の少ないカバー４２Ｃｂ，４２Ｄｂに付着するために、埃や汚れの除去が容易となる。図１０（ｅ）に示した検知機構４Ｅは、導光手段がシリンドリカルレンズとフルネルレンズとを組み合わせたレンズ４２Ｅとして構成されたものである。検知機構４Ｅにおいても、レンズ４２Ｅの上面をカバーにより覆ってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る分析装置の一例を示す全体斜視図である。
【図２】図１に示した分析装置の内部構成の要部を示す斜視図である。
【図３】図２のＩＩＩ−ＩＩＩ線に沿う断面図である。
【図４】図２のＩＶ−ＩＶ線に沿う断面図である。
【図５】図２のＶ−Ｖ線に沿う断面図である。
【図６】図２のＶＩ−ＶＩ線に沿う断面図である。
【図７】図２のＶＩＩ−ＶＩＩ線に沿う断面図である。
【図８】測光機構の要部を示す斜視図である。
【図９】測光機構の作用を説明するための断面図である。
【図１０】検知機構の他の例を示す断面図である。
【図１１】従来における試験用具の検知手法の一例を説明するための模式図である。
【符号の説明】
１  分析装置
４，４Ａ〜４Ｅ  検知機構
４０  光出射部
４１  受光部
４２，４２Ａ  プリズム（導光手段）
４２Ｂ  シリンドリカルレンズ（導光手段）
４２Ｃ，４２Ｄ  フルネルレンズ（導光手段）
４２Ｅ  レンズ（導光手段）
４３Ａ  第１出射面
４４Ａ  第２入射面
４６Ａ  第１入射面
４７Ａ  第２出射面
７  試験用具
Ｌ３  出射中心軸
Ｌ４  受光中心軸
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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