(57)【要約】【課題】製造コストを下げるとともに、検査の信頼性を高めた液晶表示装置を提供する。【解決手段】液晶表示装置Ａにおいて、セグメント側電極１５を延在して引き込み配線１７を形成し、さらに端子部１６を形成し、そして、端子部１６は、表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部１６ａと、表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部１６ｂとが交互になるように形成し、これら複数の第一の端子部１６ａを電気的に導通させる通電線１８を配設している。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に複数の一方電極をストライプ状に配列形成し、これら一方電極上に配向膜を被覆してなる一方部材と、基板上に複数の他方電極をストライプ状に配列形成し、これら他方電極上に配向膜を被覆してなる他方部材とを、液晶層を介して対向配設して表示領域となし、さらに前記一方部材の基板の表示領域の周囲に、複数の一方電極を延在して端子部を形成してなるスーパーツイストネマチック型の液晶表示装置において、前記端子部が表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部と、前記端子部が表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部とが交互になるように、一方電極を形成するとともに、複数の第一の端子部を電気的に導通させる通電線を配設したことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項２】
前記一方電極がセグメント側電極であり、他方電極がコモン側電極であることを特徴とする請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項３】
前記第二の端子部の幅を一方電極の幅に比べて大きくしたことを特徴とする請求項１または請求項２記載の液晶表示装置。
【請求項４】
前記通電線を除去したことを特徴とする請求項１、請求項２または請求項３記載の液晶表示装置。
【請求項５】
請求項１、２、３の液晶表示装置に設けた前記第一の端子部を接触させるプローブと、前記第二の端子部を接触させるプローブとを備えたショート測定用プローブ部材。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スーパーツイストネマチック（ＳＴＮ）型の液晶表示装置に関し、とくに配線した電極の良否判定を検査するために有効な液晶表示装置に関するものである。また、かかる本発明の液晶表示装置の検査に用いるショート測定用プローブ部材に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ＳＴＮ型の液晶表示装置は、コモン（共通電極）側の電極を基板上に形成し、セグメント（信号電極）側の電極を基板上に形成し、それぞれの電極上に配向膜を被覆し、これら基板を、液晶層を介して貼り合わせた構造である。
【０００３】
図４と図５は従来のＳＴＮ型の液晶表示装置におけるセグメント側の電極パターンを示し、図４はかかるセグメント側の電極パターンの平面図であり、図５はその要部拡大図である。
【０００４】
以下、このような電極パターンに対する検査方法を述べる。
１は基板上に基板上にストライプ状に配列形成した複数のセグメント側電極であり、これらセグメント側電極は表示領域に配置されている。各電極のピッチは６０〜１００μｍ程度である。
【０００５】
また、これらセグメント側電極１の先には、その基板の表示領域の周囲に、複数のセグメント側電極１を延在して引き込み配線２を形成し、ＴＡＢやＣＯＦとの接続部３となる。これら引き込み配線２のピッチは６０〜７０μｍ程度である。
【０００６】
そして、今後、表示領域の電極がさらに細密化され、これに伴って引き込み配線２もファインピッチ化になる傾向にある。
【０００７】
上記構成のＳＴＮ型の液晶表示装置に対するセグメント側電極１の電極間ショート（短絡）の有無を調べる検査については、プローブ方式もしくはなぞり方式と呼ばれる手法でもっておこなわれる。
【０００８】
プローブ方式によれば、セグメント側電極１のショートをおこなうに当たり、ショート測定用プローブ部材４を用いて、複数のセグメント側電極１または接続部３に対し、それぞれプローブ５を接触させ、そして、電圧を印加し、ショートの有無を、一度の検査でもって確認している。
【０００９】
他方のなぞり方式においては、セグメント側電極１に隣接するパターンに対し、それぞれプローブを順次、接触させるとともに、電圧を印加して、ショートが発生しているか、否かを検査する手法である。
【００１０】
かかる検査手法に関して、さらに下記のような先行技術がある（特許文献１参照）。
【００１１】
すべての端子を奇数ごと、偶数ごとに１本おきに短絡させ、この両端でもってテスターで当てることで、ショートの有無を判別するという技術である。
【００１２】
しかしながら、ショートが発生している箇所がわからないという課題があった。
【００１３】
また、他の特許文献２によれば、一定のまとまりでもって短絡させ、配線ピッチを広げて、プローブを密なものにしなくてはならないという点が記載されているにしても、ショートの発生箇所を確定するには、パネルを完成させた後に検査することから、不具合があった場合には、パネル完成後に、修復しなければならないという課題があった。
【００１４】
【特許文献１】
特開平８−５０２９５号公報
【特許文献２】
特開平９−１８５０７２号公報
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】
上述したとおり、なぞり方式では、検査が高速におこなわれ、多面取りになると、その有利な特徴がもっとも発揮されるのであるが、接続部３を十分な長さに設定することができない場合には、表示部１の端を物理的になぞることになり、これに起因して微妙なキズが生じ、異物が発生し、これによって精度の高い表示をおこなう液晶表示装置においては、その課題が顕著である。
【００１６】
他方、プローブ方式によれば、表示領域外のＴＡＢやＣＯＦの接続部でもって検査を有利におこなうことができるが、その反面、プローブカードを用いることで高価な検査になり、ランニングコストが高くなり、その分、製造コストが大きくなるという課題があった。
【００１７】
また、近年の液晶表示装置によれば、そのセグメント側電極に接続した接続部３のパターンピッチが、よりいっそうファイン化し、これにともなってプローブ５のピッチも高精細化になるが、このように高精細化すると、わずかなプローブピッチの造りこみ誤差、装置自体が有する固有な誤差が原因して、誤判定がひきおこされ、たとえばショートがないにもかかわらず、ショート有りと判定されることがあった。
【００１８】
したがって、本発明の目的は製造コストを下げるとともに、検査の信頼性を高めた液晶表示装置を提供することにある。
【００１９】
本発明の他の目的は、高精細化した液晶パネルに好適な液晶表示装置を提供することにある。
【００２０】
本発明のさらに他の目的は、かかる本発明の液晶表示装置の検査に用いるショート測定用プローブを提供することにある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
本発明の液晶表示装置は、基板上に複数の一方電極をストライプ状に配列形成し、これら一方電極上に配向膜を被覆してなる一方部材と、基板上に複数の他方電極をストライプ状に配列形成し、これら他方電極上に配向膜を被覆してなる他方部材とを、液晶層を介して対向配設して表示領域となし、さらに前記一方部材の基板の表示領域の周囲に、複数の一方電極を延在して端子部を形成してなるスーパーツイストネマチック型の液晶表示装置であり、そして、前記端子部が表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部と、前記端子部が表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部とが交互になるように、一方電極を形成するとともに、複数の第一の端子部を電気的に導通させる通電線を配設したことを特徴とする。
【００２２】
また、本発明の液晶表示装置は、一方電極がセグメント側電極であり、他方電極がコモン側電極であることを特徴とする。
【００２３】
本発明の他の液晶表示装置は、第二の端子部の幅を一方電極の幅に比べて大きくしたことを特徴とする。
【００２４】
本発明のさらに他の液晶表示装置は、前記通電線を除去したことを特徴とする。
【００２５】
また、本発明のショート測定用プローブ部材は、かかる本発明の液晶表示装置に設けた第一の端子部を接触させるプローブと、第二の端子部を接触させるプローブとを備えたことを特徴とする。
【作用】
本発明の液晶表示装置によれば、上記構成のように、表示領域の周囲に、複数の一方電極、たとえばセグメント側電極を延在して端子部を形成した構成において、この端子部が表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部と、表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部とが交互になるように、セグメント側電極を形成するとともに、複数の第一の端子部を電気的に導通させる通電線を配設したことで、この導通線と、第二の端子部とをショート測定用プローブ部材を用いて、通電テストをおこない、これによってショートの有無を判定する。
【００２６】
このような構成による検査においては、テスターのスキャニングチャンネルが半分になり、これによって測定時間を短縮でき、ほぼ半分の所要時間になる。
【００２７】
また、本発明の液晶表示装置によれば、第二の端子部の幅をセグメント側電極の幅に比べて大きくしたことで、すなわち拡大したプローブパッドを形成することで、各パッドに対しプローブを確実に接触させることができ、これによって高精細化したセグメント側電極であっても、そのような接触における誤判定が小さくなり、信頼性を著しく高めることができ、ショート判定の精度を顕著に高めることができる。
【００２８】
さらに本発明のショート測定用プローブ部材については、かかる本発明の液晶表示装置に設けた第一の端子部を接触させるプローブと、第二の端子部を接触させるプローブとを備えたことで、プローブの全本数が少なくなり、これによって、そのプローブによる接触頻度が少なくなり、その点でも、ショート判定の精度を顕著に高めることができる。
【００２９】
以上のとおり、本発明の液晶表示装置ならびにショート測定用プローブ部材によって、ショート検査の信頼性を高めるとともに、その所要時間を短縮し、その分、製造コストを低減することができる。
【００３０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図により詳述する。
図１は本発明の液晶表示装置の一例であって、ＳＴＮ（スーパーツイストネマッチック）型の単純マトリックスタイプの液晶表示装置である。図２は一方電極、たとえばセグメント側電極と、それを延在して端子部とをなす配線パターンの平面図であり、図３はその要部拡大図である。
【００３１】
この液晶表示装置Ａによれば、前記一方部材と他方部材との組み合わせ構造であって、２枚のガラス基板６、７の間に液晶層が封入されて、表示領域が配された液晶表示パネルとなる。
【００３２】
これらは、シール部でもって貼り合わせた構造であり、シール部にて囲まれる領域内に液晶層が封入されている。シール部はエポキシ系の熱硬化型樹脂からなる。また、ガラス基板６、７の間には樹脂球状体からなるスペーサが多く分散され、これによって両基板６、７間のギャップを一定にして、その内部に液晶が封入されている。
【００３３】
そして、この液晶表示パネルの一方部材であるガラス基板７において、そのガラス基板７上に前記一方電極である多数平行に配列したＩＴＯからなるストライプ状透明電極群（セグメント側電極）を順次形成し、さらにストライプ状透明電極群上に一定方向にラビングしたポリイミド樹脂からなる配向膜を形成している。
【００３４】
また、他方部材であるガラス基板６においても、そのガラス基板６上に前記他方電極である多数平行に配列したＩＴＯからなるストライプ状透明電極群（コモン側電極）を順次形成し、さらにストライプ状透明電極群上に一定方向にラビングしたポリイミド樹脂からなる配向膜を形成している。
【００３５】
本例の液晶表示装置Ａは、透過型の装置構成でもって、以下、詳述すると、ガラス基板６の他方部材については、下記のとおりである。
【００３６】
ガラス基板６の上に、たとえばカラーフィルターとして着色層を形成し、さらに着色層を覆うようにアクリル系樹脂からなるオーバーコート層を被覆し、そして、オーバーコート層の上に多数平行にストライプ状配列したＩＴＯから成る透明電極（他方電極）、および一定方向にラビングしたポリイミド樹脂から成る配向膜を順次積層する。なお、透明電極と配向膜との間に樹脂やＳｉＯ２等から成る絶縁膜を介在させてもよい。
【００３７】
着色層であるカラーフィルターは顔料分散方式、すなわちあらかじめ顔料（赤、緑、青）により調合された感光性レジストを基板上に塗布し、フォトリソグラフィにより形成してもよい。この顔料分散方式によれば、そのフォトリソグラフィにおいて同時に形成することができる。
【００３８】
なお、着色層であるカラーフィルターを形成するに当り、上記のような顔料分散方式に代えて、染色法を用いてもよい。
【００３９】
つぎに一方部材においては、ガラス基板７の上には多数平行に配列したＩＴＯからなるストライプ状透明電極群（一方電極）を形成し、さらにストライプ状透明電極群上に一定方向にラビングしたポリイミド樹脂からなる配向膜を形成している。
【００４０】
ついで、ガラス基板６とガラス基板７とを、たとえば２００〜２６０°の角度でツイストされたカイラルネマチック液晶からなる液晶層を介して、双方のストライプ状透明電極群が交差（直交）するように、シール部材により貼り合わせる。また、ガラス基板６とガラス基板７の間には液晶層の厚みを一定にするためにスペーサを多数個配している。
【００４１】
さらにガラス基板６の外側にポリカーボネートからなる位相差板とヨウ素系の偏光板とを順次積み重ね、ガラス基板７の外側にポリカーボネートからなる位相差板とヨウ素系の偏光板を順次積み重ねている。これらの配設にあたっては、アクリル系の材料からなる粘着材を塗布することで貼り付ける。
【００４２】
そして、ガラス基板７側の偏光板に対し、図１に示すごとく、バックライト８を密着させて配設する。
【００４３】
同図に示すように、バックライト８はアクリル樹脂等の透明材料からなる矩形状の導光板９の端面にＬＥＤや冷陰極管などの光源部１０を配置し、半円筒状の光反射性のリフレクタ１１でもって、冷陰極管などを覆っている。導光板９の光出射面上に光散乱性の光拡散板１２とレンズシート１３とを順次積層し、他方の主面には光反射板１４を設けている。
【００４４】
光拡散板１２はＰＣやＰＥＴ等の白色シートを用いて、その一面に微細な凹凸（たとえばエンボス加工）が施され、導光板９の出射光を散乱させる。
【００４５】
このような構成のバックライト８の上に上記構成の液晶表示パネルを配設し、これらバックライト８および液晶表示パネルを筺体（図示せず）にて支持固定する。
【００４６】
そして、本発明の液晶表示装置Ａにおいては、このような装置構成を作製するに当たり、図２に示すごとく、ガラス基板７の表示領域の周囲に、すなわち、シール部材の外側に、ストライプ状透明電極群（セグメント側電極）１５を延在して引き込み配線１７を形成し、ＴＡＢやＣＯＦとの端子部１６を形成してなる。これら引き込み配線１７のピッチは、たとえば６０〜７０μｍ程度である。
【００４７】
上記端子部１６は、表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部１６ａと、表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部１６ｂとが交互になるように、一方電極（セグメント側電極１５）を形成し、これら複数の第一の端子部１６ａを電気的に導通させる通電線１８を配設している。
【００４８】
引き込み配線１７、端子部１６または通電線１８については、いずれもＩＴＯから成る透明導電材でもって単層にて形成したり、あるいは、このような透明導電層の上にクロム（Ｃｒ）金属層とアルミニウム（Ａｌ）金属層とを順次積層したものでもよい。
【００４９】
また、第一の端子部１６ａと第二の端子部１６ｂには、それぞれショート測定用プローブ部材のプローブ１９ａとプローブ１９ｂを当てるプローブパッド２０、２１を形成する。なお、本発明のショート測定用プローブ部材は、前述した図４に示すショート測定用プローブ部材４のごとく、すくなくとも同様なプローブを備えるように構成したものである。
【００５０】
プローブ１９ａは、第一の端子部１６ａに対応しており、複数の第一の端子部１６ａが通電線１８により同電位になっていることから、少なくとも１個のプローブパッド２０を設け、そして、このプローブパッド２０に対応して、少なくとも１本のプローブ１９ａを設ければよい。
【００５１】
一方、個々の第二の端子部１６ｂに対し、それぞれプローブパッド２１を形成しているが、これら各々のプローブパッド２１に対応して、それぞれのプローブ１９ｂを配する。
【００５２】
以上のとおり、本発明の液晶表示装置Ａによれば、上記構成のように表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部１６ａと、表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部１６ｂとが交互になるように、セグメント側電極１５を形成し、これら複数の第一の端子部１６ａを電気的に導通させる通電線１８を配設したことで、この導通線１８と、第二の端子部１６ｂとをショート測定用プローブ部材を用いて、通電テストをおこない、これによってセグメント側電極１５のショートの有無を判定する。
【００５３】
このような構成による検査においては、テスターのスキャニングチャンネルが半分になり、これによって測定時間を短縮でき、ほぼ半分の所要時間になった。
【００５４】
また、本発明によれば、第二の端子部１６ｂの幅をセグメント側電極の幅に比べて大きくしたことで、すなわち拡大したプローブパッド２０、２１を形成したことで、各パッド２０、２１に対しプローブ１９ａ、１９ｂを確実に接触させることができ、これによって高精細化したセグメント側電極であっても、そのような接触における誤判定が小さくなり、信頼性を著しく高めることができ、ショート判定の精度を顕著に高めることができた。
【００５５】
さらに本発明のショート測定用プローブ部材については、かかる本発明の液晶表示装置Ａに設けた第一の端子部１６ａを接触させるプローブ１９ａと、第二の端子部１６ｂを接触させるプローブ１９ｂとを備えたことで、これらプローブの全本数を少なくなり、これによって、そのプローブによる接触頻度が少なくなり、その点でも、ショート判定の精度を顕著に高めることができた。
【００５６】
したがって、本発明の液晶表示装置Ａならびにショート測定用プローブ部材によって、ショート検査の信頼性を高めるとともに、その所要時間を短縮し、その分、製造コストを低減することができた。
【００５７】
また、本発明によれば、第二の端子部１６ｂの幅をセグメント側電極１５の幅に比べて大きくしたことで、すなわち、図３に示すごとく、プローブパッド２１を形成したことで、プローブ１９ｂの先端が当たる面積が広がり、これにより、各パッド２１に対しプローブ１９ｂを確実に接触させることができ、これによって高精細化したセグメント側電極１５であっても、そのような接触における誤判定が小さくなり、信頼性を著しく高めることができ、ショート判定の精度を顕著に高めることができた。
【００５８】
なお、このような作用効果は、プローブパッド２１だけではなく、プローブパッド２０についても同様に奏する。
【００５９】
以上のような液晶表示装置Ａについては、実際には、図３に示す切断線Ｐ−Ｐによって、通電線１８を除去して用いる。
【００６０】
また、本発明のショート測定用プローブ部材は、かかる本発明の液晶表示装置Ａに設けた第一の端子部１６ａを接触させるプローブ１９ａと、第二の端子部１６ｂを接触させるプローブ１９ｂとを備えたことで、プローブの全本数が少なくなり、これによって、そのプローブによる接触頻度が少なくなり、その点でも、ショート判定の精度を顕著に高めることができた。
【００６１】
なお、本発明は上記実施形態例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更や改良等はなんら差し支えない。
【００６２】
たとえば、本実施形態例によれば、液晶表示パネルとバックライトとの組合せによる透過型の装置構成にて説明したが、これに代えて、反射型の装置構成もしくは半透過型の装置構成でも同じ作用効果を奏する。
【００６３】
また、本実施形態例によれば、一方電極がセグメント側電極であり、他方電極がコモン側電極であるが、これに代えて、一方電極がコモン側電極であり、他方電極がセグメント側電極であってもよい。
【００６４】
【発明の効果】
以上のとおり、本発明の液晶表示装置によれば、表示領域の周囲に、複数の一方電極、たとえばセグメント側電極を延在して端子部を形成した構成において、この端子部が表示領域より長い間隔にて設けた第一の端子部と、表示領域より短い間隔にて設けた第二の端子部とが交互になるように、セグメント側電極を形成するとともに、複数の第一の端子部を電気的に導通させる通電線を配設したことで、ショート測定用プローブ部材を用いて、通電テストをおこなった場合に、テスターのスキャニングチャンネルが半分になり、これによって測定時間を短縮でき、ほぼ半分の所要時間になり、その結果、製造コストを下げるとともに、検査の信頼性を高めた高精細化の液晶表示装置が提供できた。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の液晶表示装置の概略断面図である。
【図２】本発明の液晶表示装置における配線パターンの平面図である。
【図３】本発明の液晶表示装置における配線パターンの要部拡大図である。
【図４】従来の液晶表示装置における配線パターンの平面図である。
【図５】従来の液晶表示装置における配線パターンの要部拡大図である。
【符号の説明】
Ａ・・・液晶表示装置
６、７・・・ガラス基板
８・・・バックライト
１５・・・セグメント側電極
１６・・・端子部
１６ａ・・・第一の端子部
１６ｂ・・・第二の端子部
１７・・・引き込み配線
１８・・・通電線
１９ａ、１９ｂ・・・プローブ
２０、２１・・・プローブパッド
【図１】
2004177870.tif 000003
【図２】
2004177870.tif 000004
【図３】
2004177870.tif 000005
【図４】
2004177870.tif 000006
【図５】
2004177870.tif 000007