(57)【要約】【課題】障害処理票等を基に当該障害の発生原因となる条件を備え、システムで汎用的なテストデータを作成して蓄積し、障害の再発を未然に防止することができるテストデータ管理システムを提供する。【解決手段】本発明のテストデータ管理システムは、入力装置１と、出力装置４と、記憶装置２と、データ処理装置３とを備え、記憶装置２は、テストデータを記憶するテストデータ蓄積データベースと、プログラムを記憶するプログラム管理部とを有し、データ処理装置３は、入力装置によって入力された障害発生原因となる条件の内容を取得し設定する条件設定部と、条件設定部で設定された障害発生原因となる条件に基づいてテストデータを作成し、テストデータ蓄積データベースに記憶させるデータ生成部と、テストデータ蓄積データベースに記憶されたテストデータを用いて、プログラム管理部に記憶されたプログラムによりテストを実施するテスト実施部とを有する。【選択図】  図１
2004220356.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力装置と、出力装置と、記憶装置と、データ処理装置とを備えたテストデータ管理システムであって、
前記記憶装置は、テストデータを記憶するテストデータ蓄積データベースと、プログラムを記憶するプログラム管理部とを有し、
前記データ処理装置は、前記入力装置によって入力された障害発生原因となる条件の内容を取得し設定する条件設定部と、前記条件設定部で設定された障害発生原因となる条件に基づいてテストデータを作成し、前記テストデータ蓄積データベースに記憶させるデータ生成部と、前記テストデータ蓄積データベースに記憶されたテストデータを用いて、前記プログラム管理部に記憶されたプログラムによりテストを実施するテスト実施部とを有する、
ことを特徴とするテストデータ管理システム。
【請求項２】
前記記憶装置は、前記テスト実施部により実施したテスト結果を記憶するテスト結果蓄積データベースを有し、
前記データ処理装置は、前記テスト実施部によりテストを実施したプログラムについて、前記テスト結果蓄積データベースから取得した今回のテスト結果と従前のテスト結果とを比較し、比較内容を前記出力装置に出力させる結果比較部を有する、
ことを特徴とする請求項１に記載のテストデータ管理システム。
【請求項３】
前記記憶装置は、障害発生原因となる条件の内容を記憶するテスト用台帳部を有し、
前記データ処理装置の条件設定部は、前記テスト用台帳部によって記憶されている障害発生原因となる条件の内容を取得し設定する、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載のテストデータ管理システム。
【請求項４】
前記データ処理装置は、前記テスト実施部によるテストでデータ内容によるエラーがあるか否かを調べ、データエラーに関する内容を前記出力装置に出力させるデータエラー出力部を有することを特徴とする請求項１に記載のテストデータ管理システム。
【請求項５】
入力装置と、出力装置と、記憶装置と、データ処理装置とを備えたテストデータ管理システムを用いたテストデータ管理方法であって、
前記データ処理装置により、前記入力装置によって入力された障害発生原因となる条件の内容を取得し設定するステップと、
前記設定された障害発生原因となる条件の内容に基づいてテストデータを作成するステップと、
前記作成したテストデータを前記記憶装置に記憶させるステップと、
前記記憶装置に記憶されたテストデータを用いて、前記記憶装置に記憶されたプログラムによりテストを実施するステップと、
を有することを特徴とするテストデータ管理方法。
【請求項６】
前記実施したテスト結果を前記記憶装置に記憶させるステップと、
前記テストを実施したプログラムについて、今回のテスト結果と従前のテスト結果とを比較し、比較内容を前記出力装置に出力させるステップと、
を有することを特徴とする請求項５に記載のテストデータ管理方法。
【請求項７】
前記テストを実施したプログラムについて、データ内容によるエラーがあるか否かを調べ、データエラーに関する内容を前記出力装置に出力させるステップを有することを特徴とする請求項５に記載のテストデータ管理方法。
【請求項８】
入力装置と、出力装置と、記憶装置と一緒にテストデータ管理システムに用いられるデータ処理装置であって、
前記入力装置によって入力された障害発生原因となる条件の内容を取得し設定する条件設定部と、前記条件設定部で設定された障害発生原因となる条件に基づいてテストデータを作成し、前記記憶装置に記憶させるデータ生成部と、前記記憶装置に記憶されたテストデータを用いて、前記記憶装置に記憶されたプログラムによりテストを実施するテスト実施部とを有する、
ことを特徴とするデータ処理装置。
【請求項９】
前記テストを実施したプログラムについて、今回のテスト結果と従前のテスト結果とを比較し、比較内容を前記出力装置に出力させる結果比較部を有することを特徴とする請求項８に記載のデータ処理装置。
【請求項１０】
前記テストを実施したプログラムについて、データ内容によるエラーがあるか否かを調べ、データエラーに関する内容を前記出力装置に出力させるデータエラー出力部を有することを特徴とする請求項８に記載のデータ処理装置。
【請求項１１】
入力装置と、出力装置と、記憶装置と一緒にテストデータ管理システムに用いられるデータ処理装置を制御するデータ処理プログラムであって、
前記入力装置によって入力された障害発生原因となる条件の内容を取得し設定する処理と、
前記設定された障害発生原因となる条件の内容に基づいてテストデータを作成する処理と、
前記作成したテストデータを前記記憶装置に記憶させる処理と、
前記記憶装置に記憶されたテストデータを用いて、前記記憶装置に記憶されたプログラムによりテストを実施する処理と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするデータ処理プログラム。
【請求項１２】
前記実施したテスト結果を前記記憶装置に記憶させる処理と、
前記テストを実施したプログラムについて、今回のテスト結果と従前のテスト結果とを比較し、比較内容を前記出力装置に出力させる処理とをコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１１に記載のデータ処理プログラム。
【請求項１３】
前記テストを実施したプログラムについて、データ内容によるエラーがあるか否かを調べ、データエラーに関する内容を前記出力装置に出力させる処理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１１に記載のデータ処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、テストデータ管理システム、テストデータ管理方法、データ処理装置及びデータ処理プログラムに関し、特に、障害処理票等を基に当該障害の発生原因となる条件を備えたテストデータを作成して蓄積し、障害の再発を未然に防止することができるテストデータ管理システム、テストデータ管理方法、データ処理装置及びデータ処理プログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、プログラム等にバグによる障害が発生した場合、個々のプログラマーはプログラムを修正した後にテストデータによるテストを行って修正個所の確認を行っていた（以下、この技術を従来例１という）。
【０００３】
また、前回の入力テストデータ、実行結果及び検証結果を履歴管理ファイルに格納しておき、再度テストを行うときには、この履歴管理ファイルに格納されている入力テストデータを使用し、自動的に今回の実行結果と前回の実行結果とを比較し、また、前回の実行結果に対する検証結果をチェックし、入力テストデータ、実行結果及び検証結果をリストに表示する検証装置が特許文献１（下記参照）に提案されている。この検証装置によれば、同じ入力テストデータを用いた再テストを行う場合に、入力テストデータを入力し直す手間が省け、また、前回の実行結果と比較する場合にも紙面などに残された実行結果と見比べる手間が省け、さらに人間作業による入力ミス及び比較ミスがなくなり、利用者の操作を容易にできる、としている（以下、この技術を従来例２という）。
【０００４】
【特許文献１】
特開平４−１７２５３８号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
従来例１では、障害発生時における対応が個々の障害単位で完結し、後に同一プログラムに改修が入る場合に、障害対応部分のデグレードや、プログラムのバージョン管理の誤りによる障害の再発を引き起こしても、当該改修を行ったプログラマーのみでは障害に気づかないという課題がある。
従来例２では、システムで汎用的なテストデータを作成できず、プログラムのバージョン管理の誤り等による障害の発生を防止することができないという課題がある。
【０００６】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、障害処理票等を基に当該障害の発生原因となる条件を備え、システムで汎用的なテストデータを作成して蓄積し、障害の再発を未然に防止することができるテストデータ管理システム、テストデータ管理方法、データ処理装置及びデータ処理プログラムを提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明のテストデータ管理システムは、入力装置と、出力装置と、記憶装置と、データ処理装置とを備えたテストデータ管理システムであって、前記記憶装置は、テストデータを記憶するテストデータ蓄積データベースと、プログラムを記憶するプログラム管理部とを有し、前記データ処理装置は、前記入力装置によって入力された障害発生原因となる条件の内容を取得し設定する条件設定部と、前記条件設定部で設定された障害発生原因となる条件に基づいてテストデータを作成し、前記テストデータ蓄積データベースに記憶させるデータ生成部と、前記テストデータ蓄積データベースに記憶されたテストデータを用いて、前記プログラム管理部に記憶されたプログラムによりテストを実施するテスト実施部とを有することを特徴とするものである。
【０００８】
前記記憶装置は、前記テスト実施部により実施したテスト結果を記憶するテスト結果蓄積データベースを有し、前記データ処理装置は、前記テスト実施部によりテストを実施したプログラムについて、前記テスト結果蓄積データベースから取得した今回のテスト結果と従前のテスト結果とを比較し、比較内容を前記出力装置に出力させる結果比較部を有してもよい。
【０００９】
前記記憶装置は、障害発生原因となる条件の内容を記憶するテスト用台帳部を有し、前記データ処理装置の条件設定部は、前記テスト用台帳部によって記憶されている障害発生原因となる条件の内容を取得し設定してもよい。
【００１０】
前記データ処理装置は、前記テスト実施部によるテストでデータ内容によるエラーがあるか否かを調べ、データエラーに関する内容を前記出力装置に出力させるデータエラー出力部を有してもよい。
【００１１】
本発明のテストデータ管理方法は、入力装置と、出力装置と、記憶装置と、データ処理装置とを備えたテストデータ管理システムを用いたテストデータ管理方法であって、
前記データ処理装置により、前記入力装置によって入力された障害発生原因となる条件の内容を取得し設定するステップと、
前記設定された障害発生原因となる条件の内容に基づいてテストデータを作成するステップと、
前記作成したテストデータを前記記憶装置に記憶させるステップと、
前記記憶装置に記憶されたテストデータを用いて、前記記憶装置に記憶されたプログラムによりテストを実施するステップと、
を有することを特徴とするものである。
【００１２】
前記実施したテスト結果を前記記憶装置に記憶させるステップと、
前記テストを実施したプログラムについて、今回のテスト結果と従前のテスト結果とを比較し、比較内容を前記出力装置に出力させるステップと、
を有してもよい。
【００１３】
前記テストを実施したプログラムについて、データ内容によるエラーがあるか否かを調べ、データエラーに関する内容を前記出力装置に出力させるステップを有してもよい。
【００１４】
本発明のデータ処理装置は、入力装置と、出力装置と、記憶装置と一緒にテストデータ管理システムに用いられるデータ処理装置であって、前記入力装置によって入力された障害発生原因となる条件の内容を取得し設定する条件設定部と、前記条件設定部で設定された障害発生原因となる条件に基づいてテストデータを作成し、前記記憶装置に記憶させるデータ生成部と、前記記憶装置に記憶されたテストデータを用いて、前記記憶装置に記憶されたプログラムによりテストを実施するテスト実施部とを有することを特徴とするものである。
【００１５】
前記テストを実施したプログラムについて、今回のテスト結果と従前のテスト結果とを比較し、比較内容を前記出力装置に出力させる結果比較部を有してもよい。
【００１６】
前記テストを実施したプログラムについて、データ内容によるエラーがあるか否かを調べ、データエラーに関する内容を前記出力装置に出力させるデータエラー出力部を有してもよい。
【００１７】
本発明のデータ処理プログラムは、入力装置と、出力装置と、記憶装置と一緒にテストデータ管理システムに用いられるデータ処理装置を制御するデータ処理プログラムであって、
前記入力装置によって入力された障害発生原因となる条件の内容を取得し設定する処理と、
前記設定された障害発生原因となる条件の内容に基づいてテストデータを作成する処理と、
前記作成したテストデータを前記記憶装置に記憶させる処理と、
前記記憶装置に記憶されたテストデータを用いて、前記記憶装置に記憶されたプログラムによりテストを実施する処理と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするものである。
【００１８】
前記実施したテスト結果を前記記憶装置に記憶させる処理と、
前記テストを実施したプログラムについて、今回のテスト結果と従前のテスト結果とを比較し、比較内容を前記出力装置に出力させる処理とをコンピュータに実行させるものでもよい。
【００１９】
前記テストを実施したプログラムについて、データ内容によるエラーがあるか否かを調べ、データエラーに関する内容を前記出力装置に出力させる処理をコンピュータに実行させるものでもよい。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図１は、本発明の第１の実施の形態に係るテストデータ管理システムの構成を示すブロック図である。
【００２１】
図１に示すように、本発明の第１の実施の形態に係るテストデータ管理システムは、キーボード、マウス、テンキー等の入力装置１と、データやプログラム等を記憶する記憶装置２と、プログラム制御により動作するデータ処理装置３と、ディスプレイ装置や印刷装置等の出力装置４とから構成されている。
【００２２】
記憶装置２は、障害発生原因となる条件の内容を記憶するテスト用台帳部５と、テストデータを記憶するテストデータ蓄積データベース６と、プログラムを記憶するプログラム管理部７と、テスト結果を記憶するテスト結果蓄積データベース８とを有する。
【００２３】
データ処理装置３は、入力装置１によって入力されて取得し、又はテスト用台帳部５から取得した障害発生原因となる条件の内容を設定する条件設定部９と、条件設定部９で設定された障害発生原因となる条件の内容に基づいてテストデータを作成し、テストデータ蓄積データベース６に記憶させるデータ生成部１０と、テストデータ蓄積データベース６に記憶されたテストデータを用いて、プログラム管理部７に記憶されたプログラムによりテストを実施するテスト実施部１１と、テスト実施部１１によりテストを実施したプログラムについて、テスト結果蓄積データベース８から取得した今回のテスト結果と従前のテスト結果とを比較し、比較内容を出力装置４に出力させる結果比較部１２とを有する。
【００２４】
記憶装置２のテスト用台帳部５は、当該システムの仕様に基づいた人・場所・機関等のテスト用台帳データ、及びコード内容等をあらかじめ記憶している。例えば、商品情報を管理するシステムであれば、商品コード、商品名、在庫数、保管場所といった、テストデータを作成するのに必要な情報が登録されている。
【００２５】
条件設定部９は、障害処理票等を基にテストデータ作成に必要な条件の指定を入力装置１から受け取る。条件の指定に際しては、必要に応じて、テスト用台帳部５の内容の一部を出力装置４に表示し、内容を選択することによりテスト用台帳部５からデータ項目を取得することも可能である。テスト用台帳部５に登録されている内容以外については任意の内容を入力装置１から受け取ることが可能である。
【００２６】
ここで、「障害処理票」とは、障害発生日・発見者・障害内容・発生状況（システム全体停止か、該当処理停止か、該当処理結果不正か、オペレーションミスか、業務データ破壊か、ハードウェア障害か、等）・混入行程（要求定義か、概要設計か、詳細設計か、製造か、テスト設計か、システム移行か、等）・発生原因（仕様ミスか、プログラムミスか、デグレードか、リリースミスか、オペレーションミスか、入力データ不正か、等）を発生障害単位に記述したものである。
【００２７】
また、「当該障害の発生原因となる条件」とは、上記障害処理票の発生原因に記述された条件である。例えば、障害内容「エラーデータの次に受け付けた正常なデータがエラーになる」に対しては、発生状況「該当処理結果不正」、混入行程「製造」、発生原因「プログラムミス：エラーフラグに使用するメモリ領域をクリアしていなかった」などが想定され、また、この場合の「当該障害の発生原因となる条件」はエラーデータと正常データを連続して受け付けることになる。
【００２８】
データ生成部１０は、条件設定部９で取得した内容に基づいて、当該システムのデータ項目仕様に基づいたテストデータを作成し、テストデータ蓄積データベース６に登録する。テストデータ蓄積データベース６は、登録されたテストデータに対して、一意となる採番を行う。また、障害処理票等の管理番号を入力装置１から受け取ることを可能とし、受け取った場合はテストデータ蓄積データベース６に登録を行う。
【００２９】
テスト実施部１１は、テストデータ蓄積データベース６に登録されているテストデータを用いて、プログラム管理部７に格納されているプログラムによりテストを実施し、テスト結果をテスト結果蓄積データベース８に登録する。テストの実施に際しては、入力装置１からテストを実施するプログラムの指定及びテストデータの指定を受け取ることが可能である。
【００３０】
テスト結果蓄積データベース８は、登録されたテスト結果に対して、一意となる採番を行う。また、テストを実施したプログラムの名称を登録する。プログラム管理部７は障害を修正した後のプログラムを格納している。
【００３１】
結果比較部１２は、テストを行ったプログラムについて、今回のテスト結果と従前のテスト結果の比較内容を出力装置４に出力させる。比較する従前のテスト結果の指定を入力装置１から受け取ることが可能である。
【００３２】
次に、本発明の第１の実施の形態に係るテストデータ管理システムの動作を説明する。図２は、条件設定部９及びテスト用台帳部５の動作を説明するためのフローチャート、図３は、データ生成部１０及びテストデータ蓄積データベース６の動作を説明するためのフローチャート、図４は、テスト実施部１１、プログラム管理部７及びテスト結果蓄積データベース８の動作を説明するためのフローチャート、図５は、結果比較部１２の動作を説明するためのフローチャートである。
【００３３】
入力装置１から与えられた条件の指定は、条件設定部９に供給される。図２に示すように、指定の際には、条件の内容がテスト用台帳部５にて管理されているかどうかを調べる（ステップＡ１）。条件の内容がテスト用台帳部５にて管理されている場合は、テスト用台帳部５より必要な項目のデータを出力装置４に表示し（ステップＡ２）、データを選択して（ステップＡ３）、条件内容のデータを取得する（ステップＡ４）。
【００３４】
条件の内容のデータがテスト用台帳部５にて管理されていない場合は、入力装置１から直接入力される（ステップＡ５）。例えばテスト用台帳部５において保管場所Ａには商品Ｂ、Ｃの２種類しか登録していなかったが、テストを行うにあたって３種類目の商品Ｄが必要になる場合、入力装置１から条件の内容を直接入力する。
【００３５】
次いで、必要となる条件の設定が全て終了していることを調べ（ステップＡ６）、全て終了していない場合には、ステップＡ１に戻る。
【００３６】
必要となる条件の設定が全て終了している場合には、図３に示すようにデータ生成部１０によるデータの生成を行う（ステップＡ７）。
【００３７】
次いで、生成されたテストデータをテストデータ蓄積データベース６に登録する（ステップＡ８）。登録の際にはテストデータが一意となる自動採番を行う（ステップＡ９）。自動採番においては、システム日付より取得した登録年月日、障害処理票管理番号（ない場合は０で埋める）、連番（例えば３桁）等が用いられる。
【００３８】
また、登録に際して、障害処理票等の管理番号の入力があるかどうかを調べる（ステップＡ１０）。入力装置１から障害処理票等の管理番号の指定を受けた場合には、当該管理番号も登録する（ステップＡ１１）。ここで、「障害処理票等の管理番号」とは、例えば障害処理票毎に採番され、障害を特定する番号であり、年度と連番（例えば３桁）等が用いられる。また、障害処理票を元に作成されたテストデータの場合は、障害処理票番号により、テストデータを指定できる。
【００３９】
次いで、図４に示すように、テスト実施部１１によるテストを行う際には、入力装置１によりプログラム名の指定を受ける（ステップＡ１２）。また、テストデータの指定があるかどうかを調べる（ステップＡ１３）。テストデータの指定は、入力装置１から障害処理票等の管理番号の指定を受けることにより行う（ステップＡ１４）。管理番号の指定があった場合は、該当する管理番号のデータを、指定がない場合は、データ全件を、テストデータ蓄積データベース６より取得する（ステップＡ１５）。
【００４０】
次いで、指定されたプログラムをプログラム管理部７から取得し、テストを実施する（ステップＡ１６）。テストが終了したら、テスト結果をテスト結果蓄積データベース８に登録する（ステップＡ１７）。登録の際にはテスト結果が一意となる自動採番を行う（ステップＡ１８）。自動採番においては、システム日付より取得した登録年月日、テストデータ登録番号、連番（例えば３桁）等が用いられる。
【００４１】
なお、テスト結果登録の際には、テストを行ったプログラムの名称及び登録年月日と時間を登録する（ステップＡ１９）。
【００４２】
次いで、図５に示すように、結果比較部１２によるテスト結果の比較を行う際には、今回結果と比較する対象となる従前データの指定があるかどうかを調べる（ステップＡ２０）。テスト結果の指定は、該当プログラム毎に登録年月日と時間の一覧を表示し（ステップＡ２１）、入力装置１から指定を受けることにより行う（ステップＡ２２）。その際、複数のテスト結果の指定も可能である。
【００４３】
テスト結果の指定がある場合は、該当する条件のデータを、指定がない場合は、直前に行ったテスト結果を比較対象としてテスト結果蓄積データベース８より取得する（ステップＡ２３）。今回のテスト結果と従前のテスト結果を比較し（ステップＡ２４）、その比較内容を出力装置４に出力させる（ステップＡ２５）。
【００４４】
出力装置４による出力では、例えば、ＤＯＳ等のコマンドプロンプトに出力される。「結果が一致した場合」には、「Ｃ：￥＞テスト結果は一致しています。」等と表示され、「結果が不一致の場合」には、「Ｃ：￥＞テスト結果に相違点があります。前回結果：ＡＡＡ，ＢＢＢ，ＣＣＣ，ＤＤＤ、今回結果：ＡＡＡ，ＡＡＡ，ＢＢＢ，ＤＤＤ」等というように、相違点の前後を含む結果を出力する。
【００４５】
本発明の第１の実施の形態によれば、蓄積されるテストデータは、障害処理票によるものだけでなく、当該プログラム作成時のテストデータや、仕様変更実施時のテストデータも含まれる。当該プログラムの修正時にこれまで行った全てのテストのデータを用いてテストし、結果を従前とを比較して同じであることを確認することにより、最新のプログラムを修正しているかどうかが確認できる。その結果、プログラムのバージョン管理の誤りによるデグレードを防止できる。
【００４６】
また、今回改修部分以外での予期せぬデグレードを防止できるので、修正対象としなかった箇所で障害が発生することを防止できる。
【００４７】
また、予めシステムで必要とされるデータ要件を備えたテスト用台帳部５を用いることにより、システムで汎用的なテストデータを作成できる。
【００４８】
さらに、ステップＡ１０，１１で登録データの障害処理票番号を登録することにより、テストデータを障害種類ごとに分類でき、障害処理票の発生原因により類似障害を判断し、類似障害発生時にデータを選択してテストできる。
【００４９】
図６は、本発明の第２の実施の形態に係るテストデータ管理システムの構成を示すブロック図である。第２の実施の形態は、作成したテストデータに誤りがないことを確認するシステムであり、作成者は任意の条件でテストデータを作成するため、テスト用台帳部５が不要である。
【００５０】
また、作成したデータは、その妥当性を確認するのみであるため、テスト結果の蓄積が不要である。
【００５１】
図６を参照すると、第２の実施の形態では、データ処理装置３が、図１に示す第１の実施の形態におけるデータ処理装置３の構成に比べて、結果比較部１２がなく、データエラー出力部１３を有する点で異なる。また、記憶装置２が、図１に示す第１の実施の形態における記憶装置２の構成に比べて、テスト用台帳部５及びテスト結果蓄積データベース８を有さない点で異なる。
【００５２】
データエラー出力部１３は、条件設定部９で任意の条件により入力され、データ生成部１０で作成され、テストデータ蓄積データベース６に蓄積されたテストデータについて、テスト実施部１１でテストを実施した結果、データの内容にエラーがあった場合に当該エラーの内容を出力装置４に出力させる。
【００５３】
図７は、本発明の第２の実施の形態に係るテストデータ管理システムの動作を説明するためのフローチャートである。
【００５４】
入力装置１から入力された条件内容は、条件設定部９に供給される（ステップＢ１）。入力された内容に対して、データ生成部１０を行う（ステップＢ２）。
【００５５】
次いで、生成されたテストデータをテストデータ蓄積データベース６に登録する（ステップＢ３）。登録の際にはテストデータが一意となる自動採番を行う（ステップＢ４）。
【００５６】
テスト実施部１１によるテストを行う際には、入力装置１からプログラム名の指定を受ける（ステップＢ５）。テストデータ蓄積データベース６よりテストデータを取得する（ステップＢ６）。
【００５７】
次いで、指定されたプログラムをプログラム管理部７から取得し、テストを実施する（ステップＢ７）。
【００５８】
データエラー出力部１３は、テストを実施した場合にデータ内容によるエラーがあるかどうかを調べる（ステップＢ８）。エラーがない場合は、その旨のメッセージを表示する（ステップＢ９）。エラーがある場合は、エラーメッセージとエラー内容を出力装置４に出力する（ステップＢ１０）。「エラーメッセージ」としては、例えば「作成データに必須項目エラーがあります。」と表示され、「エラー内容」としては、例えばエラー箇所を特定するマーク等が付される。
【００５９】
本発明の第２の実施の形態によれば、データの作成者はエラーの有無やエラー内容を確認することにより、任意の条件を用いて正当なテストデータを作成することが可能となる。
【００６０】
図８は、本発明の第３の実施の形態を説明するためのブロック図である。図８に示すように、本発明の第３の実施の形態は、第１の実施の形態に係るデータ処理装置３を制御するデータ処理プログラム１４に関する。このデータ処理プログラム１４は、ＦＤ等の磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ等の光ディスク、半導体メモリ等の記録媒体に記録されていてもよく、通信ネットワークを介してダウンロードされるものでもよい。
【００６１】
図９は、本発明の第４の実施の形態を説明するためのブロック図である。図９に示すように、本発明の第４の実施の形態は、第２の実施の形態に係るデータ処理装置３を制御するデータ処理プログラム１５に関する。このデータ処理プログラム１５は、ＦＤ等の磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ等の光ディスク、半導体メモリ等の記録媒体に記録されていてもよく、通信ネットワークを介してダウンロードされるものでもよい。
【００６２】
本発明は、上記実施の形態に限定されることはなく、特許請求の範囲に記載された技術的事項の範囲内において、種々の変更が可能である。
【００６３】
【発明の効果】
本発明によれば、障害処理票等を基に当該障害の発生原因となる条件を備えたテストデータを作成して蓄積することにより、プログラムのバージョン管理の誤りによるデグレードを防止でき、修正対象としなかった箇所で障害が発生することを防止できる。
【００６４】
また、予めシステムで必要とされるテストデータ要件を備えたテスト用台帳部を用いることにより、システムで汎用的なテストデータを作成できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るテストデータ管理システムの構成を示すブロック図である。
【図２】条件設定部及びテスト用台帳部の動作を説明するためのフローチャートである。
【図３】データ生成部及びテストデータ蓄積データベースの動作を説明するためのフローチャートである。
【図４】テスト実施部、プログラム管理部及びテスト結果蓄積データベースの動作を説明するためのフローチャートである。
【図５】結果比較部の動作を説明するためのフローチャートである。
【図６】本発明の第２の実施の形態に係るテストデータ管理システムの構成を示すブロック図である。
【図７】本発明の第２の実施の形態に係るテストデータ管理システムの動作を説明するためのフローチャートである。
【図８】本発明の第３の実施の形態を説明するためのブロック図である。
【図９】本発明の第４の実施の形態を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
１：入力装置
２：記憶装置
３：データ処理装置
４：出力装置
５：テスト用台帳部
６：テストデータ蓄積データベース
７：プログラム管理部
８：テスト結果蓄積データベース
９：条件設定部
１０：データ生成部
１１：テスト実施部
１２：結果比較部
１３：データエラー出力部
１４：データ処理プログラム
１５：データ処理プログラム
【図１】
2004220356.tif 000003
【図２】
2004220356.tif 000004
【図３】
2004220356.tif 000005
【図４】
2004220356.tif 000006
【図５】
2004220356.tif 000007
【図６】
2004220356.tif 000008
【図７】
2004220356.tif 000009
【図８】
2004220356.tif 000010
【図９】
2004220356.tif 000011