(57)【要約】【課題】回折格子の表面と光軸とのなす角を所定の値にすることにより、回折格子で生成されたサブビームのディスク反射光が半導体レーザのチップ端面の鏡面部で不要な反射を引き起こさないようにしたピックアップ装置及びこのピックアップ装置を用いたディスク装置を提供する。【解決手段】半導体レーザの内部に設けられ、情報記録媒体に向けて光ビームを放射するチップ端面２０２と、チップ端面２０２から放射された光ビームをメインビームと２つのサブビームとに分割する回折格子８と、回折格子８で分割された各光ビームを情報記録媒体の所定の記録面上に集光させるための対物レンズ１１とを備え、対物レンズ１１によって集光された各光ビームが情報記録媒体で反射した後に、チップ端面２０２に照射されないよう回折格子８を所定量傾けることを特徴とする。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体レーザの内部に設けられ、情報記録媒体に向けて光ビームを放射するレーザチップ端面と、
前記レーザチップ端面から放射された前記光ビームをメインビームと２つのサブビームとに分割する回折格子と、
前記回折格子で分割された各光ビームを前記情報記録媒体の所定の記録面上に集光させるための集光手段とを備え、
前記集光手段によって集光された前記各光ビームが前記情報記録媒体で反射した後に、前記レーザチップ端面に照射されないよう前記回折格子を所定量傾けることを特徴とするピックアップ装置。
【請求項２】
前記回折格子は、この回折格子の表面の法線が前記レーザチップ端面から照射された前記光ビームの光軸と非平行であることを特徴とする請求項１記載のピックアップ装置。
【請求項３】
前記回折格子は、前記光ビームの光軸に対して１度乃至４度傾斜されていることを特徴とする請求項１記載のピックアップ装置。
【請求項４】
半導体レーザの内部に設けられ、情報記録媒体に向けて光ビームを放射するレーザチップ端面と、
前記レーザチップ端面から放射された前記光ビームをメインビームと２つのサブビームとに分割する回折格子と、
前記回折格子で分割された各光ビームを前記情報記録媒体の所定の記録面上に集光させるための集光手段とを備え、
前記集光手段によって集光された前記各光ビームが前記情報記録媒体で反射した後に、前記レーザチップ端面に照射されないよう前記回折格子を所定量傾ける調整手段を具備したことを特徴とするピックアップ装置。
【請求項５】
前記調整手段は、前記回折格子の表面の法線が前記レーザチップ端面から照射された前記光ビームの光軸と非平行になるよう調整することを特徴とする請求項４記載のピックアップ装置。
【請求項６】
半導体レーザの内部に設けられ、情報記録媒体に向けて光ビームを放射するレーザチップ端面と、
前記レーザチップ端面から放射された前記光ビームをメインビームと２つのサブビームとに分割する回折格子と、
前記回折格子で分割された各光ビームを前記情報記録媒体の所定の記録面上に集光させるための集光手段と、
前記集光手段によって集光された前記各光ビームの光強度を検出する検出手段と、
この検出手段によって検出された反射光に基づいて、前記集光手段をトラッキング方向及びフォーカシング方向に制御する信号を出力する出力手段とを備え、前記集光手段によって集光された前記各光ビームが前記情報記録媒体で反射した後に、前記レーザチップ端面に照射されないよう前記回折格子を所定量傾けることを特徴とするディスク装置。
【請求項７】
前記回折格子は、この回折格子の表面の法線が前記レーザチップ端面から照射された前記光ビームの光軸と非平行であることを特徴とする請求項６記載のディスク装置。
【請求項８】
前記回折格子は、前記光ビームの光軸に対して１度乃至４度傾斜されていることを特徴とする請求項６記載のディスク装置。
【請求項９】
半導体レーザの内部に設けられ、情報記録媒体に向けて光ビームを放射するレーザチップ端面と、
前記レーザチップ端面から放射された前記光ビームをメインビームと２つのサブビームとに分割する回折格子と、
前記回折格子で分割された各光ビームを前記情報記録媒体の所定の記録面上に集光させるための集光手段と、
前記集光手段によって集光された前記各光ビームの光強度を検出する検出手段と、
この検出手段によって検出された反射光に基づいて、前記集光手段をトラッキング方向及びフォーカシング方向に制御する信号を出力する出力手段とを備え、前記集光手段によって集光された前記各光ビームが前記情報記録媒体で反射した後に、前記レーザチップ端面に照射されないよう前記回折格子を所定量傾ける調整手段を具備したことを特徴とするディスク装置。
【請求項１０】
前記調整手段は、前記回折格子の表面の法線が前記レーザチップ端面から照射された前記光ビームの光軸と非平行になるよう調整することを特徴とする請求項９記載のディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ）、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ）−Ｒ（Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）／ＲＷ（ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）−ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）−ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等の光ディスクに対して、情報を記録又は再生するためのピックアップ装置及びこのようなピックアップ装置を用いたディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、記録媒体の分野においては、オーディオやデジタルデータを記録した従来のＣＤの直径（１２ｃｍ）と同じ大きさでありながら、高密度記録が可能なＤＶＤが開発されている。このＤＶＤは、その記録密度が高いために、ＣＤのデータを読み取る光の波長（例えば７８０ｎｍ）よりも短い波長（例えば６５０ｎｍ）のレーザ光が必要とされる。
【０００３】
ディスク装置としては、ＣＤ、ＤＶＤのいずれのディスクシステムも記録再生可能なものが望まれている。これにより、所定の波長のレーザ光をそれぞれ放射する発光素子（レーザ素子）を用いたピックアップ装置として、ＣＤ用の第１の光源（波長７８０ｎｍ）と、ＤＶＤ用の第２の光源（波長６５０ｎｍ）とを有するものが開発されている。
【０００４】
ところで、上記のピックアップ装置のように、光源を用いてレーザ光を照射して情報の記録または再生を行う場合、光源からのレーザ光が回折格子を介してディスクの情報記録面に照射された後、この情報記録面からの反射光が再び光源に戻ってしまうことがあった（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
【特許文献１】
特開昭６１−１５０３９１号公報（第４頁、第２図、第３図）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
このように、光源から照射されたレーザ光がディスクの情報記録面に反射され、この反射光が光源に戻ってしまうと、ノイズが発生し易くなり、再生信号のＳ／Ｎが劣化するという不具合が発生する問題があった。
【０００７】
本発明はこのような課題を解決するためのもので、回折格子の表面と光軸とのなす角を所定の値にすることにより、回折格子で生成されたサブビームのディスク反射光が半導体レーザのチップ端面の鏡面部で不要な反射を引き起こすことのない、良好なトラッキングエラー信号特性を得ることができるピックアップ装置及びこのピックアップ装置を用いたディスク装置を実現することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この発明は、上記の目的を達成するために、半導体レーザの内部に設けられ、情報記録媒体に向けて光ビームを放射するレーザチップ端面と、前記レーザチップ端面から放射された前記光ビームをメインビームと２つのサブビームとに分割する回折格子と、前記回折格子で分割された各光ビームを前記情報記録媒体の所定の記録面上に集光させるための集光手段とを備え、前記集光手段によって集光された前記各光ビームが前記情報記録媒体で反射した後に、前記レーザチップ端面に照射されないよう前記回折格子を所定量傾けることを特徴とする。
【０００９】
上記の構成により、ディスクからの戻り光が半導体レーザのチップ端面に照射されないため、良好なトラッキング信号を得ることができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を実施する場合の形態について図面に基づき説明する。
図１は、この実施の形態で説明するピックアップ装置の構成を示す平面図であり、再生専用光ディスクから情報を再生するためのピックアップ装置を例にとり説明する。
【００１１】
図１において、光ビームを出射する光源となる半導体レーザ６と、この半導体レーザ６と光ディスク５との間に、互いにその光軸が一致した状態で配設されるコリメータレンズ７、回折格子８および対物レンズ１１があり、コリメータレンズ７と回折格子８との間には無偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）９が設けられている。コリメータレンズ７とＢＳ９との間には光路を９０度曲げるための立ち上げミラー１０が配設されている。さらに、このピックアップ装置１０１は、光ディスク５からの反射光を受光するフォトディテクタ１４を備えている。フォトディテクタ１４は、図２に示すように、３分割された光ビームの中心に位置するメインビームを受光するメインビーム用ディテクタ２６Ａと、メインビームの両側に位置する２つのサブビームをそれぞれ受光するための第一のサブビーム用ディテクタ２６Ｂおよび第二のサブビーム用ディテクタ２６Ｃとを備えている。第一および第二のサブビーム用ディテクタ２６Ｂおよび２６Ｃは、メインビーム用ディテクタ２６Ａを挟んで、このメインビーム用ディテクタ２６Ａの両側に位置して配設されている。
【００１２】
このメインビーム用ディテクタ２６Ａは、中央で互いに直交する２つの分割線Ｌ１およびＬ２によって４つの感受領域４１Ａから４１Ｄに均等に４分割されている。分割線Ｌ１およびＬ２の線幅は５乃至１０μｍであり、ここに入射した光はフォトディテクタ１４によって電気信号に変換されることはないので、メインビーム用ディテクタ２６Ａ中の４つの感受領域４１Ａ乃至４１Ｄは互いに独立して受光した光を電気信号に変換する。
【００１３】
半導体レーザ６から出射された光ビームは回折格子８に入射し、メインビーム２７Ａ、第一のサブビーム２７Ｂおよび第二のサブビーム２７Ｃとに３分割されて透過する。この回折格子８は、半導体レーザ６より放射された光ビームの光軸と平行にはなっておらず、わずかな角度、より具体的には１度乃至４度程度の角度をなしている。
【００１４】
回折格子８で３分割された各光ビームは、ビームスプリッタ９で反射されるとともに、その光路が９０度変換される。このビームスプリッタ９は無偏光タイプであり、入射した光ビームの約半分を反射させ、残りの約半分を反射させる。
【００１５】
さらに、ビームスプリッタ９で反射された光ビームは、立ち上げミラー１０よって反射され光路が９０度変換される。立ち上げミラー１０によって反射された光ビームは、コリメータレンズ７に入射し、ここで各ビームは発散光から平行光に変換されて透過する。コリメータレンズ７を透過した光ビームは、対物レンズ１１に入射し、ここで収束され、光ディスク５の所定の情報記録面に焦点を結ぶ。対物レンズ１１に入射する光ビームは３つの光ビームより成っているため、情報記録面には３つの集光スポットが形成される。
【００１６】
光ディスク５で反射された３つの光ビームは、再び対物レンズ１１に達する。対物レンズ１１を透過した各光ビームは、コリメータレンズ７に達し、ここで平行光束から再び収束光に変換され、立ち上げミラー１０、ビームスプリッタ９へと達する。ビームスプリッタ９へ入射した３つの光ビームは、その約半量が透過し、フォトディテクタ１４へと至り、一方残りの約半量は反射して半導体レーザ６側へ進む。
【００１７】
半導体レーザ６側に進んだ反射光は、回折格子８がわずかな角度を有しているため、反射光が半導体レーザ６内の後述するレーザチップの端面に当たらないようになっている。
【００１８】
また、フォトディテクタ１４に達した各光ビームは、集光スポットとして、フォトディテクタ１４中のメインビーム用ディテクタ２６Ａ、第一のサブビーム用ディテクタ２６Ｂおよび第二のサブビーム用ディテクタ２６Ｃを照射する。ここで、ビームスプリッタ９は、その法線が光軸と平行ではなくある角度（ここでは、例えば４５度）をなしているので、収束状態にある光ビームが透過する際には、いわゆる非点収差が発生する。
【００１９】
メインビーム用ディテクタ２６Ａは、４つの感受領域４１Ａから４１Ｄに均等に４分割されているので、これらの各領域に照射されたメインビームの光量により、対物レンズ１１をフォーカシング制御する。４つの感受領域４１Ａから４１Ｄで得られる光電変換出力をそれぞれＩ１、Ｉ２、Ｉ３およびＩ４とすると、光ディスク５の情報記録面における焦点ずれの量を示す、いわゆるフォーカスエラー信号ＦＥＳは以下の数式１で得られる。
【００２０】
（数式１）ＦＥＳ＝（Ｉ１＋Ｉ３）−（Ｉ２＋Ｉ４）
このピックアップ装置は、いわゆる非点収差法によりフォーカシングエラーを検出して、フォーカス制御を行うように構成されている。すなわち、平行平板状のビームスプリッタ９を、光ディスク５から反射した収束光状態のメインビームが透過すると、原理的に非点収差が発生する。この効果を利用して、上記（数式１）の電気信号の演算処理により、フォーカシングエラー信号を得るものである。なお、詳細は文献「コンパクトディスク読本」（中島平太郎、小川博司著：オーム社）などに記載されている通りである。
【００２１】
一方、フォトディテクタ１４の第一のサブビーム用ディテクタ２６Ｂおよび第二のサブビーム用ディテクタ２６Ｃには、それぞれ第一のサイドビーム２７Ｂおよび第二のサイド２７Ｃが入射する。第一のサブビーム用ディテクタ２６Ｂおよび第二のサブビーム用ディテクタ２６Ｃによって得えられる光電変換出力をそれぞれＩ５およびＩ６とすると、光ディスク５の情報記録面における記録トラックに対するメインビームのトラックずれであるトラッキングエラー信号ＴＥＳは以下の数式２で得られる。
【００２２】
（数式２）ＴＥＳ＝Ｉ５−Ｉ６
このピックアップ装置は、いわゆる３ビーム法によりトラッキングエラーの検出を行ってトラッキング制御を実現し、また非点収差法によりフォーカシングエラーを検出して、フォーカス制御を行うように構成されている。トラッキングエラー信号生成は周知の通りであり、その詳細は文献「コンパクトディスク読本」（中島平太郎、小川博司著：オーム社）などに記載されているので、ここでは説明を省略する。
【００２３】
さて、以上のような構成のピックアップ装置にあっては、各光学素子の大きさ、位置関係などから、光ディスク５からの反射光のうち、半導体レーザ６へ戻る光が後述する不都合をもたらすことがあり、以下に詳しく説明していく。
【００２４】
図３は半導体レーザを示した構成図であり、図４は半導体レーザに搭載されたＬＤチップの拡大図である。また、図５はディスクから反射された反射光が回折格子を介して半導体レーザに進んだ状態を示すもので、（ａ）は回折格子の表面が光ビームの光軸と垂直になっており、（ｂ）は回折格子表面が光ビームの光軸に対して垂直な状態からわずかな角度をなしている場合を示している。
【００２５】
図３に示す半導体レーザ６において、フランジ２１０は熱伝導性材料で作られており放熱のためのものであり、またリード線２１１を抑えるためのものである。基準面２１２はＬＤチップ（レーザチップ）２０１などを取り付ける際の基準位置を示すものである。ウインドウガラス２１３はＬＤチップ２０１などを保護するものである。ＰＤチップ２１４はＬＤチップ２０１から光ディスクに向けて照射された光ビームに対向して照射される光ビームの光強度を検出するもので、検出された光強度はＡＰＣ処理（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  ｐｏｗｅｒ  ｃｏｎｔｒｏｌ）に施される。
【００２６】
図４に示すＬＤチップ２０１は、絶縁性サブマウント２１５の上に配置され、このＬＤチップ２０１の光ビームの照射位置に端面２０２を有しており、光ビームはこの端面２０２より放射される。この端面２０２は、鏡面となっており、これはＬＤチップ２０１の基板に相当する結晶のへき開の性質を利用して作られている。また、端面２０２は鏡面であるために、何らかの理由でここに入射した光は、この端面２０２で反射をすることになる。
【００２７】
さて、光ディスク５から反射し、半導体レーザ６側へ戻る光は、半導体レーザ６へ達する前に、回折格子８を透過する。往路光路において、半導体レーザ６より放射された光ビームは前記したようにこの回折格子８で３分割されるが、復路光路においては、これら３つの光ビームが回折格子８で１つに重なり合った後に、回折格子８を透過することにより、再び３つの光ビームに分かれる。これら３つの光ビームは、半導体レーザ６内の異なる部位へ戻る。回折格子８は、±１次回折光の回折角と、０次光に対する±１次回折光の光量比をどのように設定するかがその設計上のポイントとなる。
【００２８】
この際、図５（ａ）のように、回折角と、回折格子８と半導体レーザ６の間隔などの関係から、第一のサブビーム２７Ｂかつまたは第二のサブビーム２７ＣがＬＤチップ２０１の端面２０２に達することがある。このような状況の場合、第一のサブビーム２７Ｂかつまたは第二のサブビーム２７Ｃは鏡面である端面２０２で反射され、再び光ディスク５へと至る。このサブビームをここではチップ端面反射ビームと呼ぶことにする。
【００２９】
このチップ端面反射ビームは、光ディスク５で反射後、第一のサブビーム用ディテクタ２６Ｂかつまたは第二のサブビーム用ディテクタ２６Ｃへ入射する。チップ端面反射ビームは、始めに往路光路を通った第一、第二のサブビームとは位相関係が必ずしも同じではないので、結果として往路光路による第一、第二のサブビームによって得られる、光ディスク５に記録された情報による変調信号に、直流成分が重畳された形となる。この一例を図６（ａ）に示す。図６（ａ）は、戻り光がチップ端面で反射されたときのトラッキングエラー信号を示し、トラッキングエラー信号の振幅が大きく揺れているのが分かる。これは、トラッキングエラー信号ＴＥＳにも直流成分が重畳されてしまい、この結果、この信号を基にトラッキングサーボをかけることができなくなる。
【００３０】
また図５（ｂ）のように、回折格子８の法線は、半導体レーザ６より放射された光ビームの光軸と平行にはなっておらず、わずかな角度をなしている。これにより、復路光路をたどって半導体レーザ６側へ戻ってきた光ディスク反射光は回折格子８により３分割されても、サブビームはどちらも端面２０２へはかからなくなる。このため、図５（ａ）で見られたチップ端面反射ビームの発生がなくなり、図６（ｂ）のような良好なトラッキングエラー信号ＴＥＳを得ることができ、安定したトラッキング制御が可能となる。
【００３１】
なお、半導体レーザ６より放射された光ビームの光軸とのなす角は、１度乃至４度に限られるものではなく、回折格子８、半導体レーザ６をはじめとする各光学素子の光学的仕様、寸法・形状、光学素子間の配置関係などから適宜定めればよいことは言うまでもない。要点は、光ディスク反射光が半導体レーザ６内のＬＤチップ２０１の端面２０２へ当たらないようにすることである。概略では、１度乃至４度の範囲で設定し得る。また、回折格子８が配設されるところは、半導体レーザ６の直後に限られるものではなく、光学系設計によっては、コリメータレンズ７の手前、あるいは直後などでも構わない。
【００３２】
さらに、以上の説明では、光ディスク反射光のうち、回折格子８によって生成されるサブビームがチップ端面の上方へ逃げるような構成となっているが、チップ端面の左右側へ逃げるような構成をとることもできる。
【００３３】
次に、第２の実施形態について説明する。
第２の実施形態も第１の実施形態と同じく、回折格子８の法線は半導体レーザより放射された光ビームの光軸と平行にはなっておらず、わずかな角度をなしている。第２の実施形態では、さらに回折格子の傾きを可変する機構が設けられている。これについて、以下説明する。
【００３４】
図７は、本発明の第２の実施形態に係わり、回折格子の傾きを可変する可変機構を示す。
回折格子８は、金属製板バネ１１０上に接合されている。金属製板バネ１１０の中央部には開口部が設けられていて、回折格子８を透過する光ビームを遮ることはない。金属製板バネ１１０の一部にはくびれ部１１１があり、両端部には孔１１２、１１３が設けられている。回折格子８が接合された金属製板バネ１１０は、孔１１２とネジ１１４によって、回折格子ホルダー１１６に固定されている。
【００３５】
一方、もう１つの孔１１３と回折格子ホルダー１１６との間にはバネ１１７が配設されていて、ネジ１１５によって金属製板バネ１１０およびバネ１１７は回折格子ホルダー１１６と結合されている。このような構成をとることにより、金属製板バネ１１０は常にバネ１１７により押圧されているため、ネジ１１５の締め込み具合によって、金属製板バネ１１０のたわみ量を変えることができる。その結果、金属製板バネ１１０に接合された回折格子８の角度を調整することができる。
【００３６】
次に、具体的な調整方法について説明する。
図８は、その可変機構を光学ベースに取り付けて、回折格子の傾きを可変させる調整方法を示す。
図８に示すように、上記のように予め組み立てられた回折格子ホルダー１１６は、各光学素子を取り付けるための光学ベース１５内にまず設けられた穴部１１８に配置され、光学ベース１５内は光学ベース１５に固定された板バネ１１９によって、その一端面を押えられている。但し、完全に固定されているわけではなく、所定の圧力で押えられているため、後述の光学ベース１５を回転する調整においては回転が可能となっている。
【００３７】
さらに、、回折格子ホルダー１１６は回折格子ホルダー１１６の下部には溝部１２０があり、後述の光学ベース１５を回転する調整において、調整ピン１２１の先端部１２２を挿入できる構成となっている。
【００３８】
上記のような組付けをした後、所定の工程により、第一のサブビーム２７Ｂおよび第二のサブビーム２７Ｃが光ディスク５の情報記録ピット列にどのように照射しているかを観察する。次に、光学ベース１５の底部より図９に示す調整ピン１２１を挿入する。調整ピン１２１の先端部１２２は、回折格子ホルダー１１６の下部には溝部１２０に入り込む構成となっている。さらに、先端部１２２は調整ピン１２１の端面の中心からはずれたところにその中心がある。このため、調整ピン１２１が光学ベース１５に挿入された状態で、調整ピン１２１にある回転角で回転させると、調整ピン１２１の先端部１２２は回折格子ホルダー１１６の溝部１２０に当接し、回折格子ホルダー１１６を回転させる。この結果、調整ピン１２１のある回転位置で、第一のサブビーム２７Ｂおよび第二のサブビーム２７Ｃが光ディスク５の情報記録ピット列に所望の関係で配置することができるようになる。
【００３９】
より、具体的には、メインビーム２７Ａが照射するピット列に対して、第一のサブビーム２７Ｂはピットの中心からピット列間隔の４分の１だけ内周側または外周側にずれて配置され、一方、第二のサブビーム２７Ｃはピットの中心からピット列間隔の４分の１だけ外周側または内周側にずれて配置される。
【００４０】
このような調整が完了したならば、上記のピット横断信号を観測する工程へと進む。ネジ１１５を回転させると、金属製板バネ１１０を介して回折格子８が光軸に対してなす角が変化し、これによりチップ端面反射ビームの発生を防ぐことができ、この結果前述の不要なうねりの影響を受けない状態を実現することができる。
【００４１】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、実施段階では、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。
【００４２】
【発明の効果】
以上のように、回折格子の表面と光軸とのなす角を所定の値にすることにより、回折格子で生成されたサブビームのディスク反射光が半導体レーザのチップ端面の鏡面部で不要な反射を引き起こすことのない、良好なトラッキングエラー信号特性を有することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る第１の実施形態のピックアップ装置の構成図である。
【図２】フォトディテクタを示す図である。
【図３】半導体レーザを示した構成図である。
【図４】半導体レーザに搭載されたＬＤチップの拡大図である。
【図５】ディスクから反射された反射光が回折格子を介して半導体レーザに進んだ状態を示す図である。
【図６】（ａ）は戻り光がチップ端面で反射されたときのトラッキングエラー信号を示し、（ｂ）は戻り光がチップ端面で反射されないときのトラッキングエラー信号を示す図である。
【図７】本発明の第２の実施形態に係わり、回折格子の傾きを可変する可変機構を示す図である。
【図８】可変機構を光学ベースに取り付けて、回折格子の傾きを可変させる調整方法を示す図である。
【図９】調整ピンを示す構成図である。
【符号の説明】
５    光ディスク
６    半導体レーザ
７    コリメータレンズ
８    回折格子
９    ビームスプリッタ
１０    立ち上げミラー
１１    対物レンズ
１４    フォトディテクタ
１５    光学ベース
１０１    ピックアップ装置
１１０    板バネ
１１１    くびれ部
１１２、１１３    孔
１１４、１１５    ネジ
１１６    回折格子ホルダー
１１８    穴部
１２０    溝部
１２１    調整ピン
１２２    先端部
２０１    ＬＤチップ
２０２    端面
【図１】
2004178763.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2004178763.tif 000008
【図７】
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【図８】
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【図９】
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