(57)【要約】【課題】電気特性の試験を迅速かつ精度良く行うことができる電流駆動型表示パネル用の表示駆動回路を提供する。【解決手段】有機ＥＬパネル１の各データ線ＳＧｉを駆動する端子１７ｉと試験用の電流端子２４との間を個別に接続するスイッチ２２ｉを設け、試験対象の定電流部１１ｉに電流を流し、電流端子２４に流れる電流と端子１７ｉの電圧を測定する。また、有機ＥＬパネル１の各走査線ＣＭｊを駆動する端子１８ｊと試験用の電流端子２５との間を個別に接続するスイッチ２３ｉを設け、この電流端子２５から試験用の電流を流し、端子１８ｊの電圧を測定する。これにより、電流供給用のプローブの接続を変更する必要がなくなり、測定時のばらつきを無くすことができる。また、端子１７ｉ，１８ｊを電圧測定用の端子として使用することができるので、短時間で精度の良い測定結果が得られる。【選択図】      図１
2004177514.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電流駆動でマトリクス表示を行う表示パネルの複数のデータ線に対応して設けられて該データ線を駆動するための一定電流を出力する複数の定電流部と、前記表示パネルのデータ線を接続するための複数の第１の端子と前記複数の定電流部との間を表示データに従ってオン・オフ制御する複数の第１のスイッチと、前記表示パネルの走査線を接続するための複数の第２の端子を順次選択して該第２の端子に流れる電流をオン・オフ制御する複数の第２のスイッチとを備えた表示駆動回路において、
前記複数の第１または第２の端子を、試験信号に応じて試験用の電流端子に接続する複数の第３のスイッチを設けたことを特徴とする表示駆動回路。
【請求項２】
電流駆動でマトリクス表示を行う表示パネルの複数のデータ線に対応して設けられて該データ線を駆動するための一定電流を出力する複数の定電流部と、前記表示パネルのデータ線を接続するための複数の第１の端子と前記複数の定電流部との間を表示データに従ってオン・オフ制御する複数の第１のスイッチと、前記表示パネルの走査線を接続するための複数の第２の端子を順次選択して該第２の端子に流れる電流をオン・オフ制御する複数の第２のスイッチとを備えた表示駆動回路において、
前記複数の第１の端子を、試験信号に応じて試験用の第１の電流端子に接続する複数の第３のスイッチと、
前記複数の第２の端子を、前記試験信号に応じて試験用の第２の電流端子に接続する複数の第４のスイッチとを、
を設けたことを特徴とする表示駆動回路。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、有機ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）等の電流駆動型表示パネル用の表示駆動回路、特にその試験機能に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
【０００３】
【特許文献１】
特開平１１−９５７２３号公報
【０００４】
図２は、従来の表示駆動回路とその試験構成図である。この表示駆動回路１０は、有機ＥＬパネル１を駆動してドット・マトリクス表示を行うものである。有機ＥＬパネル１は、図２中に示すように、交差して設けられた複数のデータ線ＳＧｉ（但し、ｉ＝１〜ｍ）と走査線ＣＭｊ（但し、ｊ＝１〜ｎ）の各交差箇所に有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  を配置し、この有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  の陽極と陰極を、それぞれデータ線ＳＧｉと走査線ＣＭｊに接続したものである。
【０００５】
一方、駆動表示駆動回路１０は、定電流部１１ｉ、スイッチ部１２，１３、及び駆動制御部１４を有している。
【０００６】
定電流部１１ｉは、各データ線ＳＧｉに対応して設けられ、有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  を均一な輝度で発光させるための一定電流を出力するものである。各定電流部１１ｉの入力側は電源電圧ＶＳが与えられる電源端子１５に共通接続され、出力側はスイッチ部１２のスイッチ１２ｉの電極ａに接続されている。各スイッチ１２ｉの電極ｂは、接地電圧ＧＮＤが与えられる接地端子１６に共通接続され、電極ｃは端子１７ｉに接続されている。この端子１７ｉには、有機ＥＬパネル１の対応するデータ線ＳＧｉが接続されるようになっている。
【０００７】
スイッチ部１３は、有機ＥＬパネル１の各走査線ＣＭｊに対応する複数のスイッチ１３ｊで構成されている。各スイッチ１３ｊの電極ａ，ｂは、それぞれ接地端子１６と電源端子１５に共通接続され、電極ｃは端子１８ｊに接続されている。この端子１８ｊには、有機ＥＬパネル１の対応する走査線ＣＭｊが接続されるようになっている。
【０００８】
駆動制御部１４は、データ端子１９から与えられる表示用のデータＤＴに応じて、スイッチ部１２の各スイッチ１２ｉと、スイッチ部１３の各スイッチ１３ｊの切り替え制御を行うものである。
【０００９】
このような表示駆動回路１０では、データ端子１９に与えられるデータＤＴに応じて、駆動制御部１４によってスイッチ部１３のスイッチ１３ｊが一定の周期で１個ずつ順番に選択され、電極ａ側に切り替えられる。これにより、選択されたスイッチ１３ｊに対応する有機ＥＬパネル１の走査線ＣＭｊのみが接地電圧ＧＮＤとなり、その他の選択されていない走査線ＣＭは、すべて電源電圧ＶＳとなる。
【００１０】
更に、駆動制御部１４の制御に従って、スイッチ部１２の各スイッチ１２ｉが、選択された走査線ＣＭｊの表示内容に応じて切り替えられる。即ち、有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  を発光させる時には、スイッチ１２ｉが電極ａ側に切り替えられ、消灯させる時には、スイッチ１２ｉが電極ｂ側に切り替えられる。
【００１１】
このように、スイッチ１３部によって走査線ＣＭｊを一定の周期で順次選択し、選択した走査線ＣＭｊに対応する各有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  の発光をスイッチ部１２によって制御する。これにより、有機ＥＬパネル１にドット・マトリクス形式の表示が行われる。
【００１２】
有機ＥＬパネル１と表示駆動回路１０は、それぞれ別工程で製造されて単体検査が行われる。表示駆動回路１０は、半導体ウエハの状態で電気的特性を含む機能試験が行われ、合格したものがチップとして切り出されてパッケージに組み立てられ、有機ＥＬパネル１に接続される。特に、表示駆動回路１０の各定電流部１１ｉから出力される表示用の駆動電流の均一性は、表示品質に大きな影響を与えるので、正確な試験が必要である。
【００１３】
このような表示駆動回路１０の試験は、図２に示すような試験装置３０を使用して行われる。
【００１４】
試験装置３０は、表示駆動回路１０の駆動制御部１４に対してスイッチ部１２，１３の切り替え設定を行うためのデータＤＴを与える切替設定部３１を有している。また、試験装置３０は、表示駆動回路１０に対する表示用の電源電圧ＶＰ（例えば、７Ｖ）を供給する定電圧源３２、及び有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  の発光時の電圧降下に相当する電圧（例えば、４Ｖ）を出力する定電圧源３３とこれに直列接続された電流計３４を有している。更に、試験装置３０は、有機ＥＬパネル１の走査線ＣＭｊに流れる電流の最大値に相当する電流（例えば、数十ｍＡ）をスイッチ部１３に与える定電流源３５、及びこのスイッチ部１３における電圧降下を測定する電圧計３６を備えている。試験装置３０と表示駆動回路１０の間は、プローブ付きの測定ケーブルを介して接続するようになっている。
【００１５】
このような構成で、電流計３４を表示駆動回路１０の端子１７ｉに順次接続し、対応する定電流部１１ｉに流れる電流を測定する。更に、定電流源３５と電圧計３６を、表示駆動回路１０の端子１８ｊに順次接続し、対応するスイッチ１３ｊを含む経路の電圧降下を測定する。そして、各電流及び電圧降下の値が規格を満たしているか否かを判定する。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の表示駆動回路では、次のような課題があった。
【００１７】
第１の課題は、端子１７ｉ，１８ｊにプローブを順次接触させて電流を流し、その電流値や電圧降下を測定するため、流れる電流が安定して正確な値が得られるまでの測定時間が長くなることである。
【００１８】
第２の課題は、プローブの接触圧力や接触面積等のばらつきにより、測定結果にばらつきが生じることである。特に、表示品質を保証するため、測定結果のばらつきの許容範囲は厳しく制限されている。このため、実際には規格を満たしていても、測定誤差のために不良品と認定されてしまうおそれがあった。
【００１９】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明は、電流駆動でマトリクス表示を行う表示パネルの複数のデータ線を駆動するための一定電流を出力する複数の定電流部と、前記表示パネルのデータ線を接続するための複数の第１の端子と前記複数の定電流部との間を表示データに従ってオン・オフ制御する複数の第１のスイッチと、前記表示パネルの走査線を接続するための複数の第２の端子を順次選択してこれらの第２の端子に流れる電流をオン・オフ制御する複数の第２のスイッチとを備えた表示駆動回路において、前記複数の第１または第２の端子を、試験信号に応じて試験用の電流端子に接続する複数の第３のスイッチを設けている。
【００２０】
本発明によれば、以上のように表示駆動回路を構成したので、次のような作用が行われる。
【００２１】
試験信号によって第３のスイッチを制御して、任意の第１または第２の端子を試験用の電流端子に接続し、定電流部の電流をこの電流端子に導いたり、この電流端子から走査線の電流に対応する電流を与える。このような状態で第１または第２の端子の電圧を測定する。これにより、電流が安定するまでの時間が短縮されると共に、電圧測定用のプローブの接触状態による測定結果のばらつきが低減される。
【００２２】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の実施形態を示す表示駆動回路とその試験構成図であり、図２中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
【００２３】
この表示駆動回路１０Ａは、有機ＥＬパネル１を駆動してドットマトリクス表示を行うものである。有機ＥＬパネル１は、平行に配置された複数のデータ線ＳＧｉ（但し、ｉ＝１〜ｍ）と、これらのデータ線ＳＧｉに交差して配置された複数の走査線ＣＭｊ（但し、ｊ＝１〜ｎ）を有している。データ線ＳＧｉと走査線ＣＭｊの各交差箇所には有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  が配置され、この有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  の陽極がデータ線ＳＧｉに、陰極が走査線ＣＭｊに、それぞれ接続されている。また、各データ線ＳＧｉと各走査線ＣＭｊの一端には、それぞれ表示駆動回路１０Ａに接続するための端子ＴＳｉ，ＴＣｊが設けられている。
【００２４】
一方、表示駆動回路１０Ａは、図２と同様の定電流部１１ｉ、スイッチ部１２，１３、及び駆動制御部１４に加えて、試験制御部２１とスイッチ部２２，２３が追加されている。
【００２５】
定電流部１１ｉは、各データ線ＳＧｉに対応して設けられ、有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  を一定の輝度で発光させるための数十〜数百μＡの一定電流を供給するものである。各定電流部１１ｉの入力側は、電源電圧ＶＳが与えられる電源端子１５に共通接続され、出力側はスイッチ部１２のスイッチ１２ｉの電極ａに接続されている。各スイッチ１２ｉの電極ｂは、接地電圧ＧＮＤが与えられる接地端子１６に共通接続され、電極ｃは、それぞれ端子１７ｉに接続されている。端子１７ｉには、有機ＥＬパネル１の端子ＴＳｉを介して、対応するデータ線ＳＧｉが接続されるようになっている。
【００２６】
スイッチ部１３は、有機ＥＬパネル１の各走査線ＣＭｊに対応する複数のスイッチ１３ｊで構成されている。各スイッチ１３ｊの電極ａ，ｂは、それぞれ接地端子１６と電源端子１５に共通接続され、電極ｃは、端子１８ｊに接続されている。端子１８ｊには、有機ＥＬパネル１の端子ＴＣｊを介して、対応する走査線ＣＭｊが接続されるようになっている。
【００２７】
駆動制御部１４は、データ端子１９から与えられる表示用のデータに応じて、スイッチ部１２の各スイッチ１２ｉと、スイッチ部１３の各スイッチ１３ｊの切り替え制御を行うものである。
【００２８】
試験制御部２１は、試験端子２０から与えられる試験信号ＴＳＴに従って、スイッチ部２２，２３の制御を行うものである。スイッチ部２２は、試験制御部２１からの制御に従って、各端子１７ｉと試験用の電流端子２４との間を個別にオン・オフするスイッチ２２ｉで構成されている。また、スイッチ部２３は、試験制御部２１からの制御に従って、各端子１８ｊと試験用の電流端子２５との間を個別にオン・オフするスイッチ２３ｊで構成されている。
【００２９】
次に、このような表示駆動回路１０Ａの半導体ウエハの状態における電気的特性試験について説明する。
【００３０】
この試験で使用する試験装置３０Ａは、図１に示すように、切替設定部３１、定電圧源３２，３３、電流計３４、定電流源３５、電圧計３６，３８，抵抗３９及び試験設定部３７を備えている。
【００３１】
切替設定部３１は、表示駆動回路１０Ａの駆動制御部１４に対してスイッチ部１２，１３の切り替え設定を行うためのデータＤＴを与えるものである。定電圧源３２は、表示駆動回路１０Ａに対する表示用の電源電圧ＶＰ（例えば、７Ｖ）を供給するものである。定電圧源３３は、有機ＥＬ素子ＰＥｉ，ｊ  の発光時の電圧降下に相当する電圧（例えば、４Ｖ）を出力するもので、この定電圧源３３に直列に電流計３４と抵抗３９が接続され、表示駆動回路１０Ａの定電流部１１ｉの電流を測定できるようになっている。また、電圧計３８は、測定対象の定電流部１１ｉに対応する端子１７ｉの電圧を測定するものである。
【００３２】
定電流源３５は、有機ＥＬパネル１の走査線ＣＭｊに流れる電流の最大値に相当する電流（例えば、数十ｍＡ）をスイッチ部１３に与えるものであり、電圧計３６は、このスイッチ部１３における電圧降下を測定するものである。
【００３３】
更に、試験設定部３７は、表示駆動回路１０Ａの試験制御部２１に対して、スイッチ部２２，２３の切り替え設定を行うための試験信号ＴＳＴを与えるものである。
【００３４】
試験装置３０Ａと表示駆動回路１０Ａの間は、プローブ付きの測定ケーブルで接続される。即ち、試験装置３０Ａの接地電圧ＧＮＤと定電圧源３２は、それぞれ表示駆動回路１０Ａの接地端子１６と電源端子１５に接続される。試験装置３０Ａの切替設定部３１と試験設定部３７は、表示駆動回路１０Ａのデータ端子１９と試験端子２０にそれぞれ接続される。
【００３５】
試験装置３０Ａの電流計３４は、表示駆動回路１０Ａの電流端子２４に接続され、電圧計３８が、測定対象の定電流部１１ｉに対応する端子１７ｉに接続される。更に、試験装置３０Ａの定電流源３５は、表示駆動回路１０Ａの電流端子２５に接続され、電圧計３６は測定対象のスイッチ部１３の端子１８ｊに接続される。
【００３６】
このような試験構成により、各定電流部１１ｉに流れる電流の測定と、各スイッチ１３ｊを含む経路の電圧降下の測定が、次のように行われる。
【００３７】
各定電流部１１ｉに流れる電流の測定では、駆動制御部１４によってスイッチ部１２の各スイッチ１２ｉがすべて電極ａ側に切り替えられ、試験制御部２１によってスイッチ部２２の各スイッチ２２ｉが順次１個ずつ順番にオンにされる。これにより、オン状態のスイッチ２２ｉを介して定電流部１１ｉから抵抗３９に電流が流れるので、対応する端子１７ｉに測定用のプローブを順次接続し、電圧計３８でその電圧を測定して電流の値に換算する。
【００３８】
また、各スイッチ１３ｊを含む経路の電圧降下の測定では、駆動制御部１４によってスイッチ部１３の各スイッチ１３ｊがすべて電極ａ側に切り替えられ、試験制御部２１によってスイッチ部２３の各スイッチ２３ｊが順次１個ずつ順番にオンにされる。これにより、定電流部３５からオン状態のスイッチ２３ｊを介してスイッチ部１３に電流が流れるので、対応する端子１８ｊに測定用のプローブを順次接続し、電圧計３６でその電圧を測定して抵抗の値に換算する。
【００３９】
これらの測定結果が所定の規格を満たしていれば、表示駆動回路１０Ａはチップとして切り出され、パッケージに組み立てられて有機ＥＬパネル１に接続される。このとき、スイッチ部２２，２３の各スイッチ２２ｉ，２３ｊは、すべてオフ状態に固定される。
【００４０】
なお、有機ＥＬパネル１に接続された状態での表示駆動回路１０Ａの動作は、図２中の表示駆動回路１０と同様である。
【００４１】
以上のように、本実施形態の表示駆動回路１０Ａは、各定電流部１１ｉに試験用の電流を流すための電流端子２４を設けると共に、各端子１７ｉとこの電流端子２４との間を個別にオン・オフ制御するためのスイッチ部２２を有している。これにより、各定電流部１１ｉに試験用の電流を流すためにプローブの接続変更を行う必要がなくなり、プローブの接触状態のばらつきによる測定結果の変動を無くすことができる。また、端子１７ｉを電圧測定用の端子として使用し、電流をほとんど流すことがないので、短時間で精度の高い測定が可能になるという利点がある。
【００４２】
更に、この表示駆動回路１０Ａは、各スイッチ１３ｊに試験用の電流を与えるための電流端子２５を設けると共に、各端子１８ｊとこの電流端子２５との間を個別にオン・オフ制御するためのスイッチ部２３を有している。これにより、各スイッチ１３ｊに試験用の電流を流すためにプローブの接続変更を行う必要がなくなり、プローブの接触状態のばらつきによる測定結果の変動を無くすことができる。また、端子１８ｉを電圧測定用の端子として使用し、電流をほとんど流すことがないので、短時間で精度の高い測定が可能になるという利点がある。
【００４３】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例えば、次のようなものがある。
【００４４】
（ａ）  表示駆動回路１０Ａは、有機ＥＬパネル１の駆動に限らず、電流駆動型のマトリクス表示パネルであれば、どのような表示パネルに対しても同様に適用することができる。
【００４５】
（ｂ）  測定装置３０Ａの構成や測定方法は一例であり、本発明の趣旨に沿ったものであれば、どのような測定装置や測定方法を用いても良い。
【００４６】
（ｃ）  表示駆動回路１０Ａは、有機ＥＬパネル１のデータ線ＳＧｉと走査線ＣＭｊに対応する２つのスイッチ部１２，１３を有しているが、いずれか一方のみでもそれに応じた効果が得られる。
【００４７】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、本発明によれば、表示パネルのデータ線や走査線を接続するための第１及び第２の端子とは別に、試験用の電流端子を設けると共に、この電流端子と第１または第２の端子を試験信号に応じて接続する第３のスイッチを設けている。これにより、電流端子に試験用の電流を流し、第１または第２の端子を電圧測定用の端子として使用することができるので、表示駆動回路の電気的特性を迅速かつ精度良く測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態を示す表示駆動回路とその試験構成図である。
【図２】従来の表示駆動回路とその試験構成図である。
【符号の説明】
１    有機ＥＬパネル
１０Ａ    表示駆動回路
１１ｉ    定電流部
１２，１３，２２，２３    スイッチ部
１４    駆動制御部
１５    電源端子
１６    接地端子
１７ｉ，１８ｊ    端子
１９    データ端子
２０    試験端子
２１    試験制御部
２４，２５    電流端子
３０Ａ    試験装置
【図１】
2004177514.tif 000003
【図２】
2004177514.tif 000004