(57)【要約】【課題】記録条件を最適化することにより、光ディスクの個体差及び環境条件の変化によらず安定した記録が可能な光ディスクの多値記録方法を提供する。【解決手段】記録条件Ｗの読み出し（Ｓ１）、記録条件変更範囲の算出（Ｓ２）、変更間隔の算出（Ｓ３）、カウンタのクリア（Ｓ４）、記録条件Ｗ（ｉ）で記録（Ｓ５）、再生（Ｓ６）、サンプリング（Ｓ７）、Σδ２算出（Ｓ８）、カウンタインクリメント（Ｓ９）、Σδ２最小値算出（Ｓ１０）、記録条件設定（Ｓ１１）。【選択図】      図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
多値データを光ディスクに記録する際の最適記録パワーを求める情報記録方法であって、
前記光ディスクにフォーマット情報として記録されている記録条件を読み出し、該記録条件を変更する範囲及び変更水準を設定し、前記設定された範囲及び変更水準に基づいて、前記光ディスクの試し書き領域に記録パワーと消去パワーとの比を変化させて試し書きを行い、それぞれの再生結果から前記記録パワーと消去パワーとの比の最適値を決定することを特徴とする情報記録方法。
【請求項２】
多値データを光ディスクに記録する際の最適記録パワーを求める情報記録方法であって、
前記光ディスクにフォーマット情報として記録されている記録条件を読み出し、該記録条件を変更する範囲及び変更水準を設定し、前記設定された範囲及び変更水準に基づいて、前記光ディスクの試し書き領域に冷却パルス幅を一律に一定量だけ変化させて試し書きを行い、それぞれの再生結果から前記冷却パルス幅の最適値を決定することを特徴とする情報記録方法。
【請求項３】
多値データを光ディスクに記録する際の最適記録パワーを求める情報記録方法であって、
前記光ディスクにフォーマット情報として記録されている記録条件を読み出し、該記録条件を変更する範囲及び変更水準を設定し、前記設定された範囲及び変更水準に基づいて、前記光ディスクの試し書き領域に記録パルス幅を一律に一定量だけ変化させて試し書きを行い、それぞれの再生結果から前記記録パルス幅の最適値を決定することを特徴とする情報記録方法。
【請求項４】
前記最適値は、前記試し書き領域に記録されたデータをサンプリングした多値データｍ（ｍ＝１、２、・・・７）の再生信号レベルをＶｍ、前記多値データｍの目標信号レベルをＶ（ｍ）としたとき、Σ［Ｖｍ−Ｖ（ｍ）］２の値が最小となるように決定されることを特徴とする請求項１又は２又は３に記載の情報記録方法。
【請求項５】
多値データを光ディスクに記録する情報記録方法であって、前記光ディスクの記録線速度の変化に応じて記録クロック周期を変化させて、記録線密度が一定になるように多値データを記録する際に、前記光ディスクの試し書き領域に複数の記録線速度で記録パワーと消去パワーとの比を変化させて試し書きを行い、それぞれの再生結果から前記記録線速度に応じた記録パワーと消去パワーとの比の最適値を決定することを特徴とする光ディスク情報記録方法。
【請求項６】
多値データを光ディスクに記録する情報記録方法であって、前記光ディスクの記録線速度の変化に応じて記録クロック周期を変化させて、記録線密度が一定になるように多値データを記録する際に、前記記録線速度に応じて冷却パルス幅を変化させることにより、前記多値データと前記多値データの再生信号レベルとの関係を線形にすることを特徴とする光ディスク情報記録方法。
【請求項７】
多値データを光ディスクに記録する情報記録方法であって、前記光ディスクの記録線速度の変化に応じて記録クロック周期を変化させて、記録線密度が一定になるように多値データを記録する際に、前記記録線速度に応じて記録パルス幅を変化させることにより、前記多値データと前記多値データの再生信号レベルとの関係を線形にすることを特徴とする光ディスク情報記録方法。
【請求項８】
前記光ディスクの試し書き領域における試し書きの結果から、記録パワーと消去パワーとの比、若しくは記録パルス幅及び冷却パルス幅の変化量の何れかの記録条件ｙと記録線速度ｖとの関係式ｙ＝ａｖ＋ｂを求め、前記記録線速度ｖに応じて前記記録条件ｙを前記関数式に従って変化させて記録することを特徴とする請求項６又は７に記載の光ディスク情報記録方法。
【請求項９】
前記光ディスクの試し書き領域における試し書きの結果から、記録パワーと消去パワーとの比、若しくは記録パルス幅及び冷却パルス幅の変化量の何れかの記録条件ｙと記録線速度ｖとの関係式ｙ＝ａｖ２＋ｂｖ＋ｃを求め、前記記録線速度ｖに応じて、前記記録条件ｙを前記関数式に従って変化させて記録することを特徴とする請求項６又は７に記載の光ディスク情報記録方法。
【請求項１０】
前記光ディスクは、記録材料にＡｇ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅを用いた相変化型光ディスクであることを特徴とする請求項１乃至９の何れか一項に記載の情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクの情報記録方法に関し、さらに詳しくは、多値データを光ディスクに記録する際の最適記録パワーを求める方法及び記録線速度に応じた記録方法の求め方に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図９は、情報記録方法に適用する多値記録方式について説明する図である。多値記録は、多値データに対応して再生信号レベルが変化するように、一定の長さをもつ記録セル毎に多値データを記録する方式である。多値データの再生は、所定の周波数で再生信号をサンプリング（例えば記録セルの中心位置）し、サンプリングした信号レベルから多値データを判別する。例えば、図９に示すように記録セルが３０〜３４の長さをもって記録されているとすると、各記録セルの中心でサンプリングすると、時間ｔ１では電圧Ｖ１，時間ｔ２では電圧Ｖ２といった具合に、セルの面積（長さ）により再生レベルが異なる。しかし、記録条件が最適化されている場合は、多値データに対応して再生信号レベルがリニアに変化するが、記録条件が最適化されずに記録パワーの過不足によって線形性が悪化する（詳細は後述する）。その結果、例えば、記録パワー不足の場合では、多値データを判定するための閾値の間隔が狭くなるため再生マージンが低下するという問題が起こる。
また、高速記録を行うために、ディスク回転数を一定にして記録信号の基準クロック周期をディスク半径位置に応じて変化させることにより、ＣＬＶフォーマットを高速で記録する方法が書換え型のＤＶＤ等で使われている。この方法を多値記録に適用すると、図８に示すように、記録線速度を２．５ｍ／ｓの場合の特性３５と５．０ｍ／ｓの場合の特性３６に応じて基準クロックを変化させて記録するだけでは、記録線速度に対して光ディスクの記録感度が線形でなくなるため、短いマーク（多値データ１〜３）が大きく形成される傾向になる。このように記録線速度によって、多値データに対応する信号レベルの関係が変化することになり、記録線速度毎に多値判定レベルや波形等化係数を学習する必要が生じる。したがって、再生時には線速度に対応した多値判定レベル、波形等化係数を読込んで再生することになり、再生に時間がかかるという問題がある。
また、特開２００２−５００４６公報には、線速度が速い場合や記録周波数が高い場合に、記録信号波形の短パルス化において、記録パワー不足やレーザ出力波形の歪みが生じるなど、環境要因も含めて記録の最適条件との誤差を解消する技術について開示されている。それによると、記録したデータの再生信号情報をフィードバックし、振幅・ＤＣレベル制御手段は、最短記録情報再生波形の振幅の最大値と最小値が第１のしきい値と第３のしきい値に等しくなるように再生信号の振幅を制御し、かつ、第２のしきい値に最短記録情報再生波形の中央値が等しくなるように再生信号のＤＣレベルの制御を制御する。記録状態検出回路は、エンベロープ検出回路により得られたエンベロープの最大値と最小値と、第１乃至第３のしきい値とに基づいて、光ディスクの記録信号の記録状態を検出する。ＬＰＣ手段は、記録状態検出結果に基づき、記録時のレーザ照射の記録パルス波形を補正するとしている。
【特許文献１】特開２００２−５００４６公報
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
特許文献１は、２値記録における最適記録条件の設定方法であり、２値化するためのスライスレベルが変化するとジッタが悪化するため、アシンメトリが所望の値の範囲になるように記録条件を設定することによって記録条件を最適化していた。しかし、多値記録方式においては、時間（マーク長あるいはスペース長）の偏差ではなく、電圧方向（マークによる信号レベル）の偏差を抑える必要がある。したがって、従来技術のようにアシンメトリを目安にした最適記録条件の設定方法は使えない。
本発明は、かかる課題に鑑み、記録条件を最適化することにより、光ディスクの個体差及び環境条件の変化によらず安定した記録が可能な光ディスクの多値記録方法を提供することを目的とする。
また、他の目的は、記録条件を最適化することにより、記録密度が一定の多値データをＣＡＶ方式により記録する場合、光ディスク全面に略等しい再生信号レベルが得られる光ディスクの多値記録方法を提供することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本発明はかかる課題を解決するために、請求項１は、多値データを光ディスクに記録する際の最適記録パワーを求める情報記録方法であって、前記光ディスクにフォーマット情報として記録されている記録条件を読み出し、該記録条件を変更する範囲及び変更水準を設定し、前記設定された範囲及び変更水準に基づいて、前記光ディスクの試し書き領域に記録パワーと消去パワーとの比を変化させて試し書きを行い、それぞれの再生結果から前記記録パワーと消去パワーとの比の最適値を決定することを特徴とする。
光ディスクには、記録条件がフォーマット情報として記録されている。しかし、そのフォーマット情報で一義的に最適記録パワーが決定されるとは限らない。そこで本発明では、予め記録されているフォーマット情報から、新たに変更する範囲と、水準を設定し、それに基づいて光ディスクに設けられている試し書き領域に、記録パワーと消去パワーの比を変化して記録し、それぞれの再生信号から計算により比率の最適値を決定するものである。
かかる発明によれば、試し書きによって最適な記録パワーと消去パワーの比を求めてから記録を行うので、光ディスク、記録装置の個体差、環境条件の変化等の影響を受けることなく、安定した記録を行うことができる。
請求項２は、多値データを光ディスクに記録する際の最適記録パワーを求める情報記録方法であって、前記光ディスクにフォーマット情報として記録されている記録条件を読み出し、該記録条件を変更する範囲及び変更水準を設定し、前記設定された範囲及び変更水準に基づいて、前記光ディスクの試し書き領域に冷却パルス幅を一律に一定量だけ変化させて試し書きを行い、それぞれの再生結果から前記冷却パルス幅の最適値を決定することを特徴とする。
請求項１では、試し書き領域に記録パワーと消去パワーの比を変化して記録したが、冷却パルス幅を一律に一定量だけ変化させて試し書きを行っても、多値データとそれに対応した再生信号レベルとの線形性を補正することができる。
かかる発明によれば、冷却パルス幅を一律に一定量だけ変化させるので、容易な制御により光ディスク、記録装置の個体差、環境条件の変化等の影響を受けることなく、安定した記録を行うことができる。
【０００５】
請求項３は、多値データを光ディスクに記録する際の最適記録パワーを求める情報記録方法であって、前記光ディスクにフォーマット情報として記録されている記録条件を読み出し、該記録条件を変更する範囲及び変更水準を設定し、前記設定された範囲及び変更水準に基づいて、前記光ディスクの試し書き領域に記録パルス幅を一律に一定量だけ変化させて試し書きを行い、それぞれの再生結果から前記記録パルス幅の最適値を決定することを特徴とする。
請求項２とは逆に、記録パルス幅を一律に一定量だけ変化させて試し書きを行っても、多値データとそれに対応した再生信号レベルとの線形性を補正することができる。
かかる発明によれば、記録パルス幅を一律に一定量だけ変化させるので、容易な制御により光ディスク、記録装置の個体差、環境条件の変化等の影響を受けることなく、安定した記録を行うことができる。
請求項４は、前記最適値は、前記試し書き領域に記録されたデータをサンプリングした多値データｍ（ｍ＝１、２、・・・７）の再生信号レベルをＶｍ、前記多値データｍの目標信号レベルをＶ（ｍ）としたとき、Σ［Ｖｍ−Ｖ（ｍ）］２の値が最小となるように決定されることを特徴とする。
Σ［Ｖｍ−Ｖ（ｍ）］２の値は、多値データに対してどれだけ再生信号レベルが線形になっているかを示す指標である。従って、この値が最小となるように記録パワーと消去パワーの比、或いは記録パルス幅及び消去パルス幅を決定すれば、ランダムパターンを記録したときの多値判定誤り率を減少することができる。かかる発明によれば、記録と消去のパワー及びパルス幅を、Σ［Ｖｍ−Ｖ（ｍ）］２の値が最小になるように決定するので、ランダムパターンを記録したときの多値判定誤り率を減少することができる。
請求項５は、多値データを光ディスクに記録する情報記録方法であって、前記光ディスクの記録線速度の変化に応じて記録クロック周期を変化させて、記録線密度が一定になるように多値データを記録する際に、前記光ディスクの試し書き領域に複数の記録線速度で記録パワーと消去パワーとの比を変化させて試し書きを行い、それぞれの再生結果から前記記録線速度に応じた記録パワーと消去パワーとの比の最適値を決定することを特徴とする。
基準クロックを変化させて記録するだけでは、記録線速度に対して光ディスクの記録感度が線形でなくなるため、短いマークが大きく形成される傾向になる。このように記録線速度によって、多値データに対応する信号レベルの関係が変化することになる。そこで本発明では、記録線密度が一定になるように多値データを記録する際に、異なる記録線速度で記録パワーと消去パワーとの比を変化させて試し書きを行い、その再生信号に基づいて最適な比を決定する。
かかる発明によれば、それぞれの線速度において等しい再生信号レベルが得られる最適な記録パワーと消去パワーとの比を求めてから記録するので、線速度毎に多値判定しきい値、波形等化係数等を設定することなく多値データを判定することができる。
【０００６】
請求項６は、多値データを光ディスクに記録する情報記録方法であって、前記光ディスクの記録線速度の変化に応じて記録クロック周期を変化させて、記録線密度が一定になるように多値データを記録する際に、前記記録線速度に応じて冷却パルス幅を変化させることにより、前記多値データと前記多値データの再生信号レベルとの関係を線形にすることを特徴とする。
請求項５では記録パワーと消去パワーとの比を変化させて試し書きを行ったが、本発明では、記録線速度に応じて冷却パルス幅を変化させる方法である。
かかる発明によれば、請求項５と同様な作用効果を奏する。
請求項７は、多値データを光ディスクに記録する情報記録方法であって、前記光ディスクの記録線速度の変化に応じて記録クロック周期を変化させて、記録線密度が一定になるように多値データを記録する際に、前記記録線速度に応じて記録パルス幅を変化させることにより、前記多値データと前記多値データの再生信号レベルとの関係を線形にすることを特徴とする。
請求項５では記録パワーと消去パワーとの比を変化させて試し書きを行ったが、本発明では、記録線速度に応じて記録パルス幅を変化させる方法である。
かかる発明によれば、請求項５と同様な作用効果を奏する。
請求項８は、前記光ディスクの試し書き領域における試し書きの結果から、記録パワーと消去パワーとの比、若しくは記録パルス幅及び冷却パルス幅の変化量の何れかの記録条件ｙと記録線速度ｖとの関係式ｙ＝ａｖ＋ｂを求め、前記記録線速度ｖに応じて前記記録条件ｙを前記関数式に従って変化させて記録することを特徴とする。
記録パワーと消去パワーとの比を記録線速度Ｖに対して１次関数ａＶ＋ｂにしたがって変化させれば、線速度によらずほぼ等しい多値信号レベルが得られることが解っている。
かかる発明によれば、試し書きの結果を使って記録線速度と最適記録条件との関係式を求め、記録線速度に応じて関係式にしたがって記録条件を変化させて記録するので、ディスク全面にわたって均一にマークを形成できる。したがって、それぞれの記録線速度において、ほぼ等しい再生信号レベルを得ることができる。
【０００７】
請求項９は、前記光ディスクの試し書き領域における試し書きの結果から、記録パワーと消去パワーとの比、若しくは記録パルス幅及び冷却パルス幅の変化量の何れかの記録条件ｙと記録線速度ｖとの関係式ｙ＝ａｖ２＋ｂｖ＋ｃを求め、前記記録線速度ｖに応じて、前記記録条件ｙを前記関数式に従って変化させて記録することを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項８と同様の作用効果を奏する。
請求項１０は、前記光ディスクは、記録材料にＡｇ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅを用いた相変化型光ディスクであることを特徴とする。
相変化型光ディスクは、単純な記録パワー変化だけでなく、蓄熱を抑圧するために、ある長さのマークを記録するとき、そのマーク内で細かくパルス状にパワーを変化させて、希望のマークを記録するように制御される。つまり、熱変化により多値情報を記録する媒体である。その特性に最適な材料としてＡｇ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅがある。
かかる発明によれば、記録材料としてＡｇ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅを使用するので、多値記録に最適な光ディスクを形成することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図に示した実施形態を用いて詳細に説明する。但し、この実施形態に記載される構成要素、種類、組み合わせ、形状、その相対配置などは特定的な記載がない限り、この発明の範囲をそれのみに限定する主旨ではなく単なる説明例に過ぎない。
本発明の情報記録方法は、基本的には以下の２つの方法により行われる。
１）多値記録方式の光ディスクにおいて、記録条件（Ｐｅ／Ｐｗ比、ΔＴｏｎ、ΔＴｏｆｆのいずれか）を変化させて試し書きを行い、これらの再生結果から多値データと再生信号レベルとの線形性に着目して最適記録条件を決定するものである。これにより、多値判定誤り率を測定して最適記録条件を決定するのと比較して、簡便な方法で最適記録条件を決定できる。ここで、Ｐｅを消去パワー、Ｐｗを記録パワー、Ｔｏｎを記録パルス幅、Ｔｏｆｆを冷却パルス幅とする。
２）ＣＡＶ駆動で記録線密度一定の記録を行う際に、複数の記録線速度で試し書きを行い、前記１）の方法を用いて各線速度における最適記録条件を決定する。これらの結果から、記録線速度と最適記録条件との関係式を求め、記録線速度に応じて前記関係式にしたがって記録条件を変化させて記録することにより、光ディスク全面にわたってほぼ等しい再生信号レベルが得られるようにした。
以下、実施例に基づいて説明する。
【０００９】
（実施例１）
本実施例の光ディスクは、波長６５０ｎｍのレーザ光により記録が可能な相変化型の光ディスクである。基板は、直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネートからなり、基板表面上には、射出成形によりグルーブが形成されている。グルーブは、幅約０．３５μｍ、深さ約３０ｎｍ、トラックピッチ０．７４μｍで内周から外周まで連続したスパイラルとして形成されている。この基板上に、誘電体膜、Ａｇ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅからなる相変化記録膜、誘電体膜、反射膜を順次積層して相変化型光ディスクを作製した。
また、データの記録再生は、波長６５０ｎｍ、対物レンズのＮＡ０．６５の記録再生装置を用いた。線速度２．５ｍ／ｓ、記録クロック周期Ｔ＝１０ｎｓ、１セルの周方向の長さを０．４０μｍ（１６Ｔ）とし、各多値データのデータ長および記録パルス長は表１に示す条件で記録した。
【表１】
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図１は多値データ２の記録パルス波形の一例を示す図である。基準クロック４０に対して、表１の多値データ２はデータ長が４であるので、記録データパルス４１はＴ１〜Ｔ４の幅を持っている。記録データパルス４１に対応して、記録パルス波形４２を発生させる。記録パルス波形４２は、記録パルスの立上がりＴａ、記録パルスの多値下がりＴｂ、消去パルスの立上がりＴｃで定義している。表１のＴｏｎ、ＴｏｆｆはそれぞれＴｏｎ＝Ｔｂ−Ｔａ、Ｔｏｆｆ＝Ｔｃ−Ｔｂとして表せる。線速度２．５ｍ／ｓにおける代表的なパワー条件は、記録パワーＰｗ＝１５．０ｍＷ、消去パワーＰｅ＝６．９ｍＷ、バイアスパワーＰｂ＝０．１ｍＷである。
【００１０】
図２は、所定の条件下でＰｅ／Ｐｗ比を変化させてテストパタンを記録したときのΣδ２を表す図である。縦軸にΣδ２を表し、横軸にＰｅ／Ｐｗ比を表す。試し書きのテストパタンとして、多値データ０から７のそれぞれの単一信号を繰返したデータを使った。また、Σδ２は以下の（１）式で定義される量で、多値データに対してどれだけ再生信号レベルが線形になっているかを示す指標である。
Σδ２＝Σ｛Ｖｍ’−Ｖ（ｍ）｝２。（ｍ＝１、２、…、７）・・（１）
Ｖｍ’：サンプリングした多値データｍの再生信号レベル、
Ｖ（ｍ）＝ｍ＊（Ｖ７’−Ｖ０’）／７＋Ｖ０’
：多値データｍの目標信号レベル
ここで、Σδ２が最小となるＰｅ／Ｐｗで記録を行った場合、ランダムパターンを記録したときの多値判定誤り率は、１０−３以下であった。
【００１１】
図３は、本発明の試し書きによる記録条件決定方法のフローチャートである。まず、光ディスクにプリフォーマット情報として記録されている記録条件Ｗ（各パワー設定条件、各パルス幅設定条件）を読み出す（Ｓ１）。次に、記録条件変更範囲を算出する（Ｓ２）。例えば、ステップＳ１で読み出した消去パワーと記録パワーとの比が０．４６であったとすると、変化させる範囲（１±０．１）＊０．４６を０．４１−０．５１に算出する（ここでは、設定値の１０％を変化させた）。次に、ステップＳ２で算出した範囲で、例えば７水準設定して変更間隔を算出する（Ｓ３）。次に７水準の数をカウントするためにｉ＝０にする（Ｓ４）。そして記録条件Ｗ（０）で試し書きをし（Ｓ５）、その信号を再生する（Ｓ６）。さらに再生信号をサンプリングし（Ｓ７）、前記（１）式によりΣδ２を算出し、結果を記憶装置に記憶する（Ｓ８）。次にカウンタの値ｉ＝ｎ（この例ではｎ＝６）になったかを監視し、ＮＯであればカウンタをインクリメントしてステップＳ５に戻って、次の記録条件で試し書きを行うために繰り返す（Ｓ９）。次に、７条件の中で、Σδ２が最小となった記録条件を選び（Ｓ１０）、ステップＳ１０で選択した記録条件の値を最適条件として設定する（Ｓ１１）。
また、Ｐｅ／Ｐｗ比ではなく、記録パルス幅Ｔｏｎあるいは冷却パルス幅Ｔｏｆｆによっても、図４のパワー最適の状態４６に調整することができる。この図では、パワーが最適な状態４６のレベルと多値データの関係は直線的に変化するが、パワーが不足の状態４５やパワーが過多の状態４７の場合は、直線的に変化しない。従って、パルス幅によって調整する場合は、多値データ１から７のＴｏｎあるいはＴｏｆｆを一定量だけ一律に変化させて、Ｐｅ／Ｐｗと同様に、Σδ２が最小になる値に決定することもできる。また、光ディスクの特性としては、変調度（（Ｖ７’−Ｖ０’）／Ｖ０’）が小さいと再生マージンが小さくなるので、変調度５０％以上は必要であり、より好ましくは６０％以上が望ましい。このように、本番の記録を行う前に、試し書きすることによって、光ディスクと記録再生装置との個々の組合せにおいて記録条件の最適化を図ることができる。
【００１２】
（実施例２）
次に、他の実施例として、前記と同様の光ディスクと記録再生装置を用いて、記録線速度を２．５ｍ／ｓ（記録クロック周期Ｔ＝１０ｎｓ）から５．０ｍ／ｓ（同Ｔ＝５ｎｓ）まで変化させてテストパタンを記録したとき、Σδ２が最小になるＰｅ／Ｐｗ比の値をプロットしたのが図５である。図５は縦軸にＰｅ／Ｐｗ比の値を表し、横軸は線速度（ｍ／ｓ）を表す。このとき、各多値データの記録パルス幅Ｔｏｎ（Ｔ）および冷却パルス幅Ｔｏｆｆ（Ｔ）はそれぞれ一定にして記録した。テストパタンは、多値データ０から７のそれぞれの単一信号を繰返したものである。図５から、Ｐｅ／Ｐｗ比を記録線速度Ｖに対して１次関数Ｐｅ／Ｐｗ＝ａＶ＋ｂにしたがって変化させれば（特性５１）、線速度によらずほぼ等しい多値信号レベルが得られることがわかる。また光ディスクの特性によっては、２次関数Ｐｅ／Ｐｗ＝ａＶ２＋ｂＶ＋ｃで変化させたほうが良い近似（標準偏差の２乗が小さい）が得られることがあるので（特性５０）、そのときは２次関数を使って求めればよい。いずれにしても、各多値データに対応する記録パルス長を個別に設定しなおすことなく、記録線速度に応じてＰｅ／Ｐｗ比を変更するだけで所望の再生信号が得られた。
消去パワーＰｅを一定にして記録パワーＰｗを変化させた場合、逆に記録パワーＰｗを一定にして消去パワーＰｅを変化させた場合もＰｅ／Ｐｗ比が等しければ、ほぼ同等の結果が得られた。どちらを選択するかは、光ディスクの特性、記録再生装置の特性で判断すれば良い。
【００１３】
図６は、記録線速度２．５ｍ／ｓ、５．０ｍ／ｓ、Ｐｅ／Ｐｗ≒０．４７、０．５１で記録したときの、多値データと再生信号レベルとの関係を示す図である。Ｐｅ／Ｐｗ比を最適化することによって、記録線速度によらずに、ほぼ等しい信号レベルが得られることがわかる。
また、１次関数のａ、ｂあるいは２次関数のａ、ｂ、ｃを求めるには、まず、テスト記録領域において試し書きを行い、複数の記録線速度に対してそれぞれＰｅ／Ｐｗ比の最適値を求める、つぎに、得られた結果から１次および２次の近似式を計算する。どちらの関係式を使うかは、１次および２次近似した結果における標準偏差の２乗が小さいほうを選択する。各記録線速度におけるＰｅ／Ｐｗ最適値の求め方は、（実施例１）と同様の手順で行った。
ここでは、Σδ２を使って最適値を決定したが、試し書きデータにランダムデータを用いて、再生結果から多値判定まで行い、その誤り率が最小になるＰｅ／Ｐｗ比を設定しても良い。この方法は時間がかかるが、より正確に最適値を決定することができる。これにより、記録線速度に応じてＰｅ／Ｐｗ比を変化させることによって概ね等しい再生信号レベルが得られるため、線速度毎に多値判定しきい値、波形等化係数等を設定することなく多値データを判定できる。
【００１４】
（実施例３）
本実施例では、Ｐｅ／Ｐｗ比は一定として、記録線速度に応じて記録パルス幅Ｔｏｎおよび冷却パルス幅Ｔｏｆｆを変化させることによって、多値データ０から７までの信号レベルが、多値データに対して線形になるように調整した。その結果を図７に示す。図７では、記録線速度５．０ｍ／ｓでの条件を基準にしている。図７から、ΔＴｏｎまたはΔＴｏｆｆを記録線速度Ｖに対して１次関数ΔＴｏｎ（またはΔＴｏｆｆ）＝ａＶ＋ｂにしたがって変化させれば、線速度によらずほぼ等しい多値信号レベルが得られることがわかる（特性５２）。光ディスクの特性によっては、２次関数ΔＴｏｎ（またはΔＴｏｆｆ）＝ａＶ２＋ｂＶ＋ｃで変化させたほうが良い近似（標準偏差の２乗が小さい）が得られることがあるので、そのときは２次関数を使って求めればよい（特性５３）。いずれにしても、各多値データに対応する記録パルス長を個別に設定しなおすことなく、記録線速度に応じてΔＴｏｎまたはΔＴｏｆｆを所定量だけ一律に変更するだけで所望の再生信号が得られた。尚、１次関数のａ、ｂあるいは２次関数のａ、ｂ、ｃの求め方は（実施例２）と同様にして求めればよい。このようにして、記録線速度に応じてΔＴｏｎ（またはΔＴｏｆｆ）を変化させることによって概ね等しい再生信号レベルが得られるため、線速度毎に多値判定しきい値、波形等化係数等を設定することなく多値データを判定できる。
【００１５】
【発明の効果】
以上記載のごとく請求項１の発明によれば、試し書きによって最適な記録パワーと消去パワーの比を求めてから記録を行うので、光ディスク、記録装置の個体差、環境条件の変化等の影響を受けることなく、安定した記録を行うことができる。
また請求項２では、冷却パルス幅を一律に一定量だけ変化させるので、容易な制御により光ディスク、記録装置の個体差、環境条件の変化等の影響を受けることなく、安定した記録を行うことができる。
また請求項３では、記録パルス幅を一律に一定量だけ変化させるので、容易な制御により光ディスク、記録装置の個体差、環境条件の変化等の影響を受けることなく、安定した記録を行うことができる。
また請求項４では、記録と消去のパワー及びパルス幅を、Σ［Ｖｍ−Ｖ（ｍ）］２の値が最小になるように決定するので、ランダムパターンを記録したときの多値判定誤り率を減少することができる。
また請求項５では、それぞれの線速度において等しい再生信号レベルが得られる最適な記録パワーと消去パワーとの比を求めてから記録するので、線速度毎に多値判定しきい値、波形等化係数等を設定することなく多値データを判定することができる。
また請求項６では、請求項５と同様な作用効果を奏する。
また請求項７では、請求項５と同様な作用効果を奏する。
また請求項８では、試し書きの結果を使って記録線速度と最適記録条件との関係式を求め、記録線速度に応じて関係式にしたがって記録条件を変化させて記録するので、ディスク全面にわたって均一にマークを形成できる。したがって、それぞれの記録線速度において、ほぼ等しい再生信号レベルを得ることができる。
また請求項９では、請求項８と同様の作用効果を奏する。
また請求項１０では、記録材料としてＡｇ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅを使用するので、多値記録に最適な光ディスクを形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の多値データ２の記録パルス波形の一例を示す図である。
【図２】本発明の所定の条件下でＰｅ／Ｐｗ比を変化させてテストパタンを記録したときのΣδ２を表す図である。
【図３】本発明の試し書きによる記録条件決定方法のフローチャートである。
【図４】本発明のパワー状態による多値データレベルの違いを表す図である。
【図５】本発明のΣδ２が最小になるＰｅ／Ｐｗ比の値をプロットした図である。
【図６】本発明の記録線速度２．５ｍ／ｓ、５．０ｍ／ｓ、Ｐｅ／Ｐｗ≒０．４７、０．５１で記録したときの、多値データと再生信号レベルとの関係を示す図である。
【図７】本発明の記録線速度とΔＴとの関係を表す図である。
【図８】記録補正前の多値データとレベルの関係を表す図である。
【図９】情報記録方法に適用する多値記録方式について説明する図である。
【符号の説明】
Ｓ１  記録条件Ｗの読み出し、Ｓ２  記録条件変更範囲の算出、Ｓ３  変更間隔の算出、Ｓ４  カウンタのクリア、Ｓ５  記録条件Ｗｉで記録、Ｓ６  再生、Ｓ７  サンプリング、Ｓ８  Σδ２算出、Ｓ９  カウンタインクリメント、Ｓ１０  Σδ２最小値算出、Ｓ１１  記録条件設定
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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