(57)【要約】【課題】高精度な副走査方向の送り動作を必要とせずに高精度で画像を読み取ることが可能な放射線画像読み取り装置を実現する。【解決手段】主走査方向に走査する励起光によって、放射線画像変換パネルに蓄積記録されている放射線画像情報を輝尽発光せしめる励起手段１４０と、放射線画像変換パネルを副走査方向に移動せしめる副走査手段１２０と、輝尽発光を光電変換して放射線画像信号の元となる画素データを生成する光電変換手段１５０と、副走査速度を測定する測定手段１３０と、画素データを一時的に保存する記憶手段１６０と、必要とされるよりも細かく副走査を実行するように前記副走査手段を制御すると共に、前記測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、前記記憶手段から選択的に画素データを取得して放射線画像信号を生成する制御手段１０１と、を備える。【選択図】      図１
2004177792.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る放射線画像読み取り装置であって、
被写体を透過した放射線源からの放射線を輝尽性蛍光体に吸収させて放射線画像情報を蓄積記録する放射線画像変換パネルと、
主走査方向に走査する励起光によって、放射線画像変換パネルに蓄積記録されている放射線画像情報を輝尽発光せしめる励起手段と、
前記放射線画像変換パネルを前記主走査方向とは略直交する副走査方向に移動せしめる副走査手段と、
前記輝尽発光を光電変換して放射線画像情報に応じた放射線画像信号の元となる画素データを生成する光電変換手段と、
前記副走査手段による副走査速度を測定する測定手段と、
前記光電変換手段で生成された画素データを一時的に保存する記憶手段と、
必要とされる副走査よりも細かく副走査を実行するように前記副走査手段を制御すると共に、前記測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、前記記憶手段から選択的に画素データを取得して放射線画像信号を生成する制御手段と、
を備えたことを特徴とする放射線画像読み取り装置。
【請求項２】
前記記憶手段は、副走査速度の変動によって生じる副走査方向の走査ムラを解消するために必要とされる容量を有する、
ことを特徴とする請求項１記載の放射線画像読み取り装置。
【請求項３】
放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る放射線画像読み取り装置であって、
被写体を透過した放射線源からの放射線を輝尽性蛍光体に吸収させて放射線画像情報を蓄積記録する放射線画像変換パネルと、
副走査方向に複数隣接しつつ主走査方向に走査する励起光によって、放射線画像変換パネルに蓄積記録されている放射線画像情報を輝尽発光せしめる励起手段と、
前記放射線画像変換パネルを前記主走査方向とは略直交する副走査方向に移動せしめる副走査手段と、
前記励起手段からの複数隣接する励起光に応じて発生する複数の前記輝尽発光をそれぞれ光電変換して放射線画像情報に応じた放射線画像信号を生成する複数の受光部からなる光電変換手段と、
前記副走査手段による副走査速度を測定する測定手段と、
前記測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、前記光電変換手段の前記複数の受光部のいずれかから選択的に画素データを取得して放射線画像信号を生成する制御手段と、
を備えたことを特徴とする放射線画像読み取り装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、前記光電変換手段の前記複数の受光部のいずれか複数の画素データを選択し、さらに、該選択した複数の画素データを副走査速度の変動に応じた所定の割合で重み付け加算し、放射線画像信号を生成する、
ことを特徴とする請求項３記載の放射線画像読み取り装置。
【請求項５】
前記励起手段の複数隣接する励起光と前記光電変換手段の複数の受光部とは、副走査速度の変動によって生じる副走査方向の走査ムラに応じた範囲をカバーするように設けられている、
ことを特徴とする請求項３または請求項４のいずれかに記載の放射線画像読み取り装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は放射線画像情報を読み取る放射線画像読み取り装置に関し、更に詳しくは、副走査方向の走査速度変動に応じて生じる可能性のある走査ムラを解消することが可能な状態で放射線画像情報を読み取る放射線画像読み取り装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線源から出射されたＸ線を被写体に照射し、さらに被写体を透過したＸ線を放射線画像変換パネルに入射させることで、被写体の画像の潜像が放射線画像変換パネルに形成される。
【０００３】
そして、放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を、ポリゴンミラーやガルバノミラーによって主走査方向に走査される励起光を照射し、これと並行して、放射線画像変換パネル（あるいは励起光照射手段および光電変換手段）を副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を放射線画像情報として読み取ることができる。このようにして、被写体に応じた潜像を放射線画像情報として読み取る放射線画像読み取り装置が存在している。
【０００４】
この場合、主走査は、ポリゴンミラーやガルバノミラーの回転により行われるため、速度変動が生じることはあまりない。それに対し、副走査は、回転するボールネジ（雄ねじ棒と雌ねじ体）などによる移動機構によってなされるため、微妙な速度変動が生じることがある。このような速度変動を防止するために高精度な部品（モータ、駆動機構など）を用いると、装置が高価なものになるという問題がある。
【０００５】
また、以上のような放射線画像情報の読み取りで生じる副走査方向の速度ムラについては、以下の特許文献１にも記載されている。
【０００６】
【特許文献１】
特開２００１−２０３８５９号公報（第１頁、図３）
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
上述した特許文献１記載のものは、一般的なスキャナなどに用いられるものであって、光電変換手段としてラインセンサを用いるものである。したがって、励起光をフォトマルチプライヤなどで読み取る形式の放射線画像読み取り装置に適用することはできなかった。
【０００８】
本発明は以上の問題点に鑑みてなされたものであって、高精度な副走査方向の送り動作を必要とせずに高精度で画像を読み取ることが可能な放射線画像読み取り装置を実現することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
すなわち、上述した課題を解決する本発明は、以下に述べるものである。
【００１０】
（１）請求項１記載の発明は、放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る放射線画像読み取り装置であって、被写体を透過した放射線源からの放射線を輝尽性蛍光体に吸収させて放射線画像情報を蓄積記録する放射線画像変換パネルと、主走査方向に走査する励起光によって、放射線画像変換パネルに蓄積記録されている放射線画像情報を輝尽発光せしめる励起手段と、前記放射線画像変換パネルを前記主走査方向とは略直交する副走査方向に移動せしめる副走査手段と、前記輝尽発光を光電変換して放射線画像情報に応じた放射線画像信号の元となる画素データを生成する光電変換手段と、前記副走査手段による副走査速度を測定する測定手段と、前記光電変換手段で生成された画素データを一時的に保存する記憶手段と、必要とされる副走査よりも細かく副走査を実行するように前記副走査手段を制御すると共に、前記測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、前記記憶手段から選択的に画素データを取得して放射線画像信号を生成する制御手段と、を備えたことを特徴とする放射線画像読み取り装置である。
【００１１】
この発明では、放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る際に、必要とされる副走査よりも細かく副走査を実行するように副走査手段を制御すると共に、測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、記憶手段から選択的に画素データを取得する。
【００１２】
この場合において、副走査に微妙な速度変動が生じたとしても、必要以上に細かく副走査して得た画素データの中から、主走査方向に１画素ずつ、副走査速度変動の影響をキャンセルした状態となる画素データを記憶手段から選択取得することで、副走査速度の変動が生じていないのと等しい状態の放射線画像信号を得ることができる。
【００１３】
この結果、高精度な副走査方向の送り動作を必要とせずに高精度で画像を読み取ることが可能な放射線画像読み取り装置を実現できる。このため、高精度な部品（モータ、駆動機構など）を用いる必要もなくなる。
【００１４】
（２）請求項２記載の発明は、前記記憶手段は、副走査速度の変動によって生じる副走査方向の走査ムラを解消するために必要とされる容量を有する、ことを特徴とする請求項１記載の放射線画像読み取り装置である。
【００１５】
この発明では、（１）において、記憶手段から選択的に画素データを取得する場合、副走査速度の変動によって生じる副走査方向の走査ムラを解消するために必要とされる容量を有するように記憶手段を構成しておく。
【００１６】
これにより、必要以上に細かく副走査することで記憶手段に一時的に保存しておいた放射線画像信号について、副走査速度変動の影響をキャンセルするように選択取得する場合にも、必要かつ十分な放射線画像信号を記憶手段に保存しておくことが可能になる。また、放射線画像信号を選択取得した後には、記憶手段の記憶内容を消去することで、記憶手段の容量を無駄なく使用することもできる。
【００１７】
（３）請求項３記載の発明は、放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る放射線画像読み取り装置であって、被写体を透過した放射線源からの放射線を輝尽性蛍光体に吸収させて放射線画像情報を蓄積記録する放射線画像変換パネルと、副走査方向に複数隣接しつつ主走査方向に走査する励起光によって、放射線画像変換パネルに蓄積記録されている放射線画像情報を輝尽発光せしめる励起手段と、前記放射線画像変換パネルを前記主走査方向とは略直交する副走査方向に移動せしめる副走査手段と、前記励起手段からの複数隣接する励起光に応じて発生する複数の前記輝尽発光をそれぞれ光電変換して放射線画像情報に応じた放射線画像信号を生成する複数の受光部からなる光電変換手段と、前記副走査手段による副走査速度を測定する測定手段と、前記測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、前記光電変換手段の前記複数の受光部のいずれかから選択的に画素データを取得して放射線画像信号を生成する制御手段と、を備えたことを特徴とする放射線画像読み取り装置である。
【００１８】
この発明では、放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る際に、励起手段からの複数隣接する励起光に応じて発生する複数の輝尽発光をそれぞれ光電変換しておき、測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、光電変換手段の複数の受光部のいずれかから選択的に画素データを取得する。
【００１９】
この場合において、副走査に微妙な速度変動が生じたとしても、主走査方向に１画素ずつ、副走査速度変動の影響をキャンセルした状態となる画素データを、前記複数の受光部のいずれかから選択取得することで、副走査速度の変動が生じていないのと等しい状態の放射線画像信号を得ることができる。
【００２０】
この結果、高精度な副走査方向の送り動作を必要とせずに高精度で画像を読み取ることが可能な放射線画像読み取り装置を実現できる。このため、高精度な部品（モータ、駆動機構など）を用いる必要もなくなる。
【００２１】
（４）請求項４記載の発明は、前記制御手段は、前記測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、前記光電変換手段の前記複数の受光部のいずれか複数の画素データを選択し、さらに、該選択した複数の画素データを副走査速度の変動に応じた所定の割合で重み付け加算し、放射線画像信号を生成する、ことを特徴とする請求項３記載の放射線画像読み取り装置である。
【００２２】
この発明では、（３）において、副走査速度の変動に応じて、光電変換手段の複数の受光部のいずれか複数の画素データを選択し、さらに、該選択した複数の画素データを副走査速度の変動に応じた所定の割合で重み付け加算して、放射線画像信号を生成している。このようにすることで、副走査速度の変動を高精度にキャンセルすることが可能になる。
【００２３】
（５）請求項５記載の発明は、  前記励起手段の複数隣接する励起光と前記光電変換手段の複数の受光部とは、副走査速度の変動によって生じる副走査方向の走査ムラに応じた範囲をカバーするように設けられている、ことを特徴とする請求項３または請求項４のいずれかに記載の放射線画像読み取り装置である。
【００２４】
この発明では、（３）または（４）において、副走査速度の変動によって生じる副走査方向の走査ムラに応じた範囲をカバーするように、励起手段の複数隣接する励起光と光電変換手段の複数の受光部とを、構成しておく。
【００２５】
これにより、副走査速度変動の影響をキャンセルするように選択取得する場合にも、複数の受光部により、必要かつ十分な放射線画像信号を一度に並行して得ることが可能になる。また、放射線画像信号を記憶する必要もないため、記憶手段などを設ける必要もない。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本発明は、以下に示す実施の形態に記載された具体例などの内容や数値に限定されるものではない。
【００２７】
〈第一の実施の形態例の放射線画像読み取り装置〉
図１は本願発明の第一の実施の形態例である放射線画像読み取り装置１００の機能ブロックを説明するブロック図である。また、図２は本実施の形態例の放射線画像読み取り装置１００の主要部分の機械的構成を示す斜視図である。
【００２８】
この図１の放射線画像読み取り装置１００は、放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る放射線画像読み取り装置である。
【００２９】
この放射線画像読み取り装置１００において、１０１は放射線画像読み取り装置１００全体を統括的に制御する制御手段、１１０は被写体を透過した放射線源からの放射線を輝尽性蛍光体に吸収させて放射線画像情報を蓄積記録する放射線画像変換パネルである。
【００３０】
また、１２０は放射線画像変換パネル１１０を前記主走査方向とは略直交する副走査方向に移動せしめる副走査手段であり、図２に示すように、モータ１２１により回転駆動される雄ネジ棒１２２と、この雄ネジ棒１２１により駆動される雌ネジ体１２３とから構成されている。なお、この図２は副走査を行うための機構の一例を示しており、この形式の機構に限定されるものではない。
【００３１】
１３０はモータ１２１の回転数あるいは図示されないエンコーダなど既知の手段によって放射線画像変換パネル１１０の副走査速度を検出する測定手段である。なお、この測定手段１３０からの副走査速度は制御手段１０１に送られる。
【００３２】
１４０は主走査方向に走査する励起光によって、放射線画像変換パネル１１０に蓄積記録されている放射線画像情報を輝尽発光せしめる励起手段である。この励起手段１４０は、図２に示すように、レーザ光を発生するレーザダイオード（ＬＤ）１４１と、レーザ光を走査するポリゴンミラーやガルバノミラーなどの主走査手段１４２と、主走査手段１４２で走査されたレーザ光を放射線画像変換パネル１１０に導くミラー１４３などから構成されている。なお、ｆθレンズなどの公知の光学要素は省略した状態で示している。
【００３３】
１５０はフォトマルチプライヤなどで構成され、放射線画像変換パネル１１０からの輝尽発光を光電変換して放射線画像情報に応じた放射線画像信号の元となる画素データを生成する光電変換手段である。なお、放射線画像変換パネル１１０と光電変換手段１５０との間には、主走査方向に生じる励起光を集光するための光ファイバなどの集光体１５１が配置されている。
【００３４】
１６０は必要とされる副走査よりも細かく副走査を実行した場合に、光電変換手段１５０で生成された光電変換結果（画素データ）について、一定の副走査期間のものを一時的に保存する記憶手段である。
【００３５】
１７０は画像抽出手段であり、必要とされる副走査よりも細かく副走査を実行して記憶手段１６０に保存された画素データについて、副走査速度の変動に応じて選択的に画素データを取得することで、副走査速度変動の影響のない状態の放射線画像信号を生成する画像抽出手段である。
【００３６】
なお、制御手段１０１は、必要とされる副走査よりも細かく副走査を実行するように副走査手段１２０を制御すると共に、測定手段１３０によって測定された副走査速度の変動に応じて、記憶手段１６０から選択的に画素データを取得するように画像抽出手段１７０に命じる制御を実行する。
【００３７】
以下、図３以降を用いて、本発明の実施の形態例である放射線画像読み取り装置の動作を説明する。
【００３８】
なお、この実施の形態例では、放射線画像が記録された放射線画像変換パネル１１０の記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネル１１０を副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る形式の放射線画像読み取り装置を具体例として説明する。
【００３９】
励起手段１４０による励起光の走査は放射線画像変換パネル１１０上で、図３▲１▼のような方向であるとする。この場合の、副走査手段１２０による放射線画像変換パネル１１０の副走査は、上記主走査とは直交する方向の図３▲２▼の方向になる。このような主走査と副走査とを並行して行うことで、図３▲３▼のような励起光の照射が、放射線画像変換パネル１１０上になされる。このような励起光の主走査を繰り返すことで、励起光に応じて放射線画像変換パネルから発生する輝尽発光を読み取ることができる（図３（ａ））。
【００４０】
ところが、実際には、副走査手段１２０を構成する雄ねじ棒１２２と雌ねじ体１２３とによる副走査では、機械的な接触による機構部分の動作ムラによって、図３（ｂ）▲５▼に示すように、副走査速度に変動が生じている。この図３（ｂ）▲５▼において、ｔは時刻、ｖは副走査速度である。
【００４１】
なお、他の機構を用いた場合であっても、高精度な機構を用いない限り、同様な速度の変動が生じる。
【００４２】
実際にはこのような副走査を行うことで、図３（ｂ）▲６▼実線のような励起光の照射が、放射線画像変換パネル１１０上になされる。なお、図３（ｂ）▲６▼破線は、副走査速度の変動が生じていない場合における、理想的な励起光の走査である。
【００４３】
そこで、この実施の形態例では、放射線画像が記録された放射線画像変換パネル１１０の記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネル１１０を副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネル１１０からの輝尽発光を読み取る際に、制御手段１０１が、通常必要とされる副走査よりも細かく副走査を実行するように副走査手段１２０を制御する。具体的には、細かく副走査を実行する割合に応じて、モータ１２１の回転数を低下させる。
【００４４】
そして、細かく副走査を実行して光電変換手段１５０で得た画素データを記憶手段１６０に格納しておく。たとえば、図４破線のような走査を従来行っていた放射線画像読み取り装置の場合に、制御手段１０１の制御により、必要とされる副走査よりも細かく副走査を実行することで、図４実線のような走査を行わせる。
【００４５】
また、この際に、測定手段１３０によって副走査速度を測定しておく。なお、図４実線の走査を行う間の副走査速度のプロファイルを制御手段１０１のレジスタあるいは記憶手段等（図示せず）に保持しておく。
【００４６】
そして、制御手段１０１の制御に応じて画像抽出手段１７０が、細かく副走査して得た画素データの中から、主走査方向に１画素ずつ、副走査速度を参照しつつ、副走査速度変動の影響をキャンセルした状態となる画素データを記憶手段１６０から選択取得する。このようにすることで、副走査速度の変動が生じていないのと等しい状態の放射線画像信号を得ることができる。
【００４７】
この結果、高精度な副走査方向の送り動作を必要とせずに高精度で画像を読み取ることが可能な放射線画像読み取り装置を実現できる。このため、高精度な部品（モータ、駆動機構など）を用いる必要もなくなる。
【００４８】
なお、副走査を細かく実行する度合いは、必要とされる精度に応じて決定すればよい。たとえば、副走査方向の画素ピッチを５０μｍ  とした場合であって、副走査速度の変動により生じる読み取り位置誤差が±２０μｍ  である場合には、本来読み取る位置に対して副走査方向に±２０μｍ  分の容量の記憶手段１６０を用意すれば足りる。
【００４９】
また、記憶手段１６０に保存した画素データについては、画像抽出手段１７０による選択取得が終了した時点で破棄することが可能である。
【００５０】
〈第二の実施の形態例の放射線画像読み取り装置〉
図５は本願発明の第二の実施の形態例である放射線画像読み取り装置１００の機能ブロックを説明するブロック図である。この図５の放射線画像読み取り装置１００は、放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る放射線画像読み取り装置である。
【００５１】
この放射線画像読み取り装置１００において、１０１は放射線画像読み取り装置１００全体を統括的に制御する制御手段、１１０は被写体を透過した放射線源からの放射線を輝尽性蛍光体に吸収させて放射線画像情報を蓄積記録する放射線画像変換パネルである。
【００５２】
また、１２０は放射線画像変換パネル１１０を前記主走査方向とは略直交する副走査方向に移動せしめる副走査手段であり、図２に示すように、モータ１２１により回転駆動される雄ネジ棒１２２と、この雄ネジ棒１２１により駆動される雌ネジ体１２３とから構成されている。
【００５３】
１３０はモータ１２１の回転数あるいは図示されないエンコーダなど既知の手段によって放射線画像変換パネル１１０の副走査速度を検出する測定手段である。なお、この測定手段１３０からの副走査速度は制御手段１０１に送られる。
【００５４】
１４０’は主走査方向に走査する励起光によって、放射線画像変換パネル１１０に蓄積記録されている放射線画像情報を輝尽発光せしめる励起手段である。
【００５５】
なお、この第二の実施の形態例における励起手段１４０’は、副走査方向に複数隣接しつつ主走査方向に走査する励起光によって、放射線画像変換パネルに蓄積記録されている放射線画像情報を輝尽発光せしめることを特徴としている。
【００５６】
この励起手段１４０’は、図２に示したものとほぼ同一であるが、レーザダイオード（ＬＤ）１４１からは、副走査方向に隣接した複数のレーザ光が同時に照射されているものとする。
【００５７】
１５０’はフォトマルチプライヤなどで構成され、放射線画像変換パネル１１０からの輝尽発光を光電変換して放射線画像情報に応じた放射線画像信号の元となる画素データを生成する光電変換手段である。
【００５８】
なお、この第二の実施の形態例では、励起手段１４０’からの複数隣接する励起光に応じて発生する複数の輝尽発光をそれぞれ光電変換して放射線画像情報に応じた放射線画像信号を生成する複数の受光部（光電変換素子）から構成されているものとする。
【００５９】
なお、放射線画像変換パネル１１０と光電変換手段１５０’との間には、主走査方向に生じる励起光を集光するための光ファイバなどの集光体１５１が配置されており、この集光体１５１は、上述した複数隣接する励起光に応じて発生する複数の輝尽発光をそれぞれ受光部に導くことが可能に構成されているものとする。
【００６０】
１７０’は画像抽出手段であり、測定手段１３０によって測定された副走査速度の変動に応じて、光電変換手段１５０’の複数の受光部のいずれかから選択的に画素データを取得することで、副走査速度変動の影響のない状態の放射線画像信号を生成する。
【００６１】
なお、制御手段１０１は、測定手段１３０によって測定された副走査速度の変動に応じて、光電変換手段１５０’の複数の受光部のいずれかから選択的に画素データを取得することで、副走査速度変動の影響のない状態の放射線画像信号を生成する制御を行う。
【００６２】
以下、図６以降を用いて、本発明の実施の形態例である放射線画像読み取り装置の動作を説明する。
【００６３】
なお、この実施の形態例では、放射線画像が記録された放射線画像変換パネル１１０の記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネル１１０を副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る形式の放射線画像読み取り装置を具体例として説明する。
【００６４】
この画像読み取り装置１００において、副走査手段１２０を構成する雄ねじ棒１２２と雌ねじ体１２３（図２参照）などによる副走査では、機械的な接触による機構部分の動作ムラによって、副走査速度に変動が生じている。
【００６５】
なお、他の機構を用いた場合であっても、高精度な機構を用いない限り、同様な速度の変動が生じる。
【００６６】
したがって、実際には、図６（ａ）実線のような励起光の照射が、放射線画像変換パネル１１０上になされる。なお、図６（ａ）破線は、副走査速度の変動が生じていない場合における、理想的な励起光の走査である。
【００６７】
そこで、この第二の実施の形態例では、放射線画像が記録された放射線画像変換パネル１１０の記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネル１１０を副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネル１１０からの輝尽発光を読み取る際に、励起手段１４０’からの複数隣接する励起光に応じて複数の輝尽発光を発生させる。
【００６８】
そして、放射線画像変換パネル１１０にて発生する複数の輝尽発光を、光電変換手段１５０’によりそれぞれ光電変換しておき、測定手段１３０によって測定された副走査速度の変動に応じて、画像抽出手段１７０’にて光電変換手段１５０’の複数の受光部のいずれかから選択的に画素データを取得するようにする。
【００６９】
この場合において、副走査に微妙な速度変動が生じたとしても、主走査方向に１画素ずつ、副走査速度変動の影響をキャンセルした状態となる画素データを、前記複数の受光部のいずれかから選択取得することで、副走査速度の変動が生じていないのと等しい状態の放射線画像信号を得ることができる。
【００７０】
すなわち、図６（ｂ）の実線のように、複数の励起光が副走査速度の変動によって走査位置が偏移したとしても、副走査速度の変動を考慮した状態で、図６（ｂ）破線の位置に最も近い画素データの選択を行うことで、副走査速度の変動が生じていない状態の画素データから放射線画像信号を生成することができる。
【００７１】
なお、副走査速度の変動（速度ムラ）と、複数の光電変換素子からの画素データの選択との関係を模式的に示すと、図７のようになる。この図７では、横軸は主走査位置、波形を示す曲線の縦軸は副走査速度、グラフのマス目の縦軸は光電変換素子の位置を示している。
【００７２】
このような関係にある場合、副走査速度が遅くなる方向に変動した場合には、副走査方向進行側の光電変換素子からの画素データを選択し、副走査速度が速くなる方向に変動した場合には、副走査方向後側の光電変換素子からの画素データを選択すればよい。すなわち、このような副走査速度の変動に応じた光電変換素子の選択を、主走査位置に１画素ずつ実行すればよい。
【００７３】
この結果、高精度な副走査方向の送り動作を必要とせずに高精度で画像を読み取ることが可能な放射線画像読み取り装置を実現できる。このため、高精度な部品（モータ、駆動機構など）を用いる必要もなくなる。
【００７４】
なお、励起手段１４０’の複数隣接する励起光と、光電変換手段１５０’の複数の受光部とは、副走査速度の変動によって生じる副走査方向の走査ムラに応じた範囲をカバーするように設ければよい。
【００７５】
これにより、副走査速度変動の影響をキャンセルするように選択取得する場合にも、複数の受光部により、必要かつ十分な放射線画像信号を一度に並行して得ることが可能になる。また、この第二の実施の形態例では、放射線画像信号を記憶する必要もないため、記憶手段などを設ける必要もない。
【００７６】
また、制御手段１０１の制御により画像抽出手段１７０’は、副走査速度の変動に応じて、複数の光電変換素子のいずれか複数の画素データを選択し、さらに、該選択した複数の画素データを副走査速度の変動に応じた所定の割合で重み付け加算し、放射線画像信号を生成する、ことが可能である。このようにすることで、励起光や光電変換素子の個数に制限されず、さらに高精度な副走査速度の変動キャンセルが可能になる。
【００７７】
【発明の効果】
以上実施の形態例により説明したように、以下のような効果が得られる。
【００７８】
（１）請求項１記載の発明では、放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る際に、必要とされる副走査よりも細かく副走査を実行するように副走査手段を制御すると共に、測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、記憶手段から選択的に画素データを取得する。この場合において、副走査に微妙な速度変動が生じたとしても、必要以上に細かく副走査して得た画素データの中から、主走査方向に１画素ずつ、副走査速度変動の影響をキャンセルした状態となる画素データを記憶手段から選択取得することで、副走査速度の変動が生じていないのと等しい状態の放射線画像信号を得ることができる。この結果、高精度な副走査方向の送り動作を必要とせずに高精度で画像を読み取ることが可能な放射線画像読み取り装置を実現できる。このため、高精度な部品（モータ、駆動機構など）を用いる必要もなくなる。
【００７９】
（２）請求項３記載の発明では、放射線画像が記録された放射線画像変換パネルの記録面を励起光によって主走査方向に走査しつつ、放射線画像変換パネルを副走査方向に走査することで、放射線画像変換パネルからの輝尽発光を読み取る際に、励起手段からの複数隣接する励起光に応じて発生する複数の輝尽発光をそれぞれ光電変換しておき、測定手段によって測定された副走査速度の変動に応じて、光電変換手段の複数の受光部のいずれかから選択的に画素データを取得する。この場合において、副走査に微妙な速度変動が生じたとしても、主走査方向に１画素ずつ、副走査速度変動の影響をキャンセルした状態となる画素データを、前記複数の受光部のいずれかから選択取得することで、副走査速度の変動が生じていないのと等しい状態の放射線画像信号を得ることができる。この結果、高精度な副走査方向の送り動作を必要とせずに高精度で画像を読み取ることが可能な放射線画像読み取り装置を実現できる。このため、高精度な部品（モータ、駆動機構など）を用いる必要もなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第一の実施の形態の放射線画像読み取り装置の電気的構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第一の実施の形態例である放射線画像読み取り装置の主要部分の機械的構成を示す斜視図である。
【図３】本発明の第一の実施の形態における副走査速度の変動の様子を示す説明図である。
【図４】本発明の第一の実施の形態における副走査速度の変動の様子とその解決のための様子を示す説明図である。
【図５】本発明の第二の実施の形態の放射線画像読み取り装置の電気的構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の第二の実施の形態における副走査速度の変動の様子を示す説明図である。
【図７】本発明の第二の実施の形態における副走査速度の変動の様子を示す説明図である。
【符号の説明】
１００  放射線画像読み取り装置
１０１  制御手段
１１０  放射線画像変換パネル
１２０  副走査手段
１３０  測定手段
１４０  励起手段
１５０  光電変換手段
１６０  記憶手段
１７０  画像抽出手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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