(57)【要約】【課題】トラッキングエラー信号を得るために必要となる回路の規模を縮小する。【解決手段】領域Ａ〜Ｄの出力を加算したＲＦ信号２３１のレベルが、ＲＦ信号２３１の振幅の中心レベルを横切るゼロクロス時刻の近傍の期間をサンプリング期間として示すサンプリングパルスを生成するサンプリングパルス生成部２５と、領域Ａ，Ｃの出力の加算結果と領域Ｂ，Ｄの出力の加算結果との差異を示す差異信号２４１を、サンプリングパルスに従ってサンプルホールドするサンプルホールド部２６とを備えている。【選択図】  図１
2004178741.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクからの反射光の強度を、トラック方向軸とこのトラック方向軸に直交する軸とによって４つの領域に分割された受光素子を用いて検出するとともに、受光素子の出力に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成装置において、
前記４つの領域からの出力を加算した信号であるＲＦ信号のレベルがＲＦ信号の振幅の中心レベルを上昇方向または下降方向の一方の方向において横切る時刻であるゼロクロス時刻の近傍の期間であって且つゼロクロス時刻から始まる期間をサンプリング期間として示すサンプリングパルスを生成するサンプリングパルス生成部と、
前記４つの領域のうちの一方の対角同志の領域の出力の加算結果と他方の対角同志の領域の出力の加算結果との差異を示す差異信号をサンプリングパルスに従ってサンプルホールドするとともに、サンプルホールドして得られた信号をトラッキングエラー信号として出力するサンプルホールド部とを備え、
光ディスクのトラックの線速度の変化に対応して前記サンプリング期間の長さを変化させていることを特徴とするトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項２】
光ディスクからの反射光の強度を、トラック方向軸とこのトラック方向軸に直交する軸とによって４つの領域に分割された受光素子を用いて検出するとともに、受光素子の出力に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成装置において、
前記４つの領域からの出力を加算した信号であるＲＦ信号のレベルがＲＦ信号の振幅の中心レベルを上昇方向または下降方向の一方の方向において横切る時刻であるゼロクロス時刻の近傍の期間をサンプリング期間として示すサンプリングパルスを生成するサンプリングパルス生成部と、
前記４つの領域のうちの一方の対角同志の領域の出力の加算結果と他方の対角同志の領域の出力の加算結果との差異を示す差異信号をサンプリングパルスに従ってサンプルホールドするとともに、サンプルホールドして得られた信号をトラッキングエラー信号として出力するサンプルホールド部とを備えたことを特徴とするトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項３】
光ディスクからの反射光の強度を、トラック方向軸を挟んで対称に位置する一対の受光領域を少なくとも有する受光素子を用いて検出するとともに、受光素子の出力に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成装置において、
受光素子の出力に基づいて生成されたＲＦ信号のレベルがＲＦ信号の振幅の中心レベルを上昇方向または下降方向の一方の方向において横切る時刻であるゼロクロス時刻の近傍の期間をサンプリング期間として示すサンプリングパルスを生成するサンプリングパルス生成部と、
前記一対の受光領域の出力の差異を示す差異信号をサンプリングパルスに従ってサンプルホールドするとともに、サンプルホールドして得られた信号をトラッキングエラー信号として出力するサンプルホールド部とを備えたことを特徴とするトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項４】
サンプリングパルスにより示されるサンプリング期間をゼロクロス時刻から始まる期間としたことを特徴とする請求項２または請求項３記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項５】
サンプリングパルスにより示されるサンプリング期間をゼロクロス時刻を跨がった期間としたことを特徴とする請求項２または請求項３記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、トラック方向軸とこのトラック方向軸に直交する軸とによって４つの領域に分割された受光素子、あるいは、トラック方向軸を挟んで対称に位置する一対の受光領域を少なくとも有する受光素子の出力に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクの再生を行うピックアップをトラックに追従させる制御には、トラッキングエラー信号が用いられており、図６は、このトラッキングエラー信号を生成する装置の１つを示している。すなわち、加算器２１は、４分割された受光素子１１の対角に位置する領域Ａ，Ｃの出力を加算する。そして、増幅器８１は加算器２１の出力を増幅し、イコライザ８２は、周波数の高い不要信号成分を除去するとともに、帯域内の高域信号成分を増強する。比較器８３は、イコライザ８２の出力８２１を２値化する。加算器２２は、受光素子１１の対角する位置する領域Ｂ，Ｄの出力を加算する。そして、増幅器８４は加算器２２の出力を増幅し、イコライザ８５は、周波数の高い不要信号成分を除去するとともに、帯域内の高域信号成分を増強する。比較器８６は、イコライザ８５の出力８５１を２値化する。そして、位相比較器８７は、比較器８３の出力８３１の位相と、比較器８６の出力８６１の位相との差異を検出し、出力する。また、減算器９０は、ローパスフィルタ８８，８９を介して導かれた位相比較器８７の出力８７１，８７２のレベルの差異を算出し、算出結果をトラッキングエラー信号９０１として、図示されないサーボ回路に送出する。
【０００３】
上記した従来技術の動作説明に先立ち、トラッキングエラーと受光素子が受光する反射光の強度との関係について、図５を参照しつつ説明する。
【０００４】
ピット６１に対し、光スポットが６２ａ〜６２ｃと移動する場合（図面において左側にずれた場合）、受光素子１１における反射光の強度は７２ａ〜７２ｃに示す変化となる（斜線部分は反射光の強度が弱い部分を示している）。また、ピット６１に対し、光スポットが６３ａ〜６３ｃと移動する場合（光スポットがオントラックとなる場合）、受光素子１１における反射光の強度は７３ａ〜７３ｃに示す変化となる。また、ピット６１に対し、光スポットが６４ａ〜６４ｃと移動する場合（図面において右側にずれた場合）、受光素子１１における反射光の強度は７４ａ〜７４ｃに示す変化となる。
【０００５】
すなわち、光スポットが６２ａ〜６２ｃと移動する場合、領域Ａ，Ｃに導かれる反射光の強度の低下のタイミングが、領域Ｂ，Ｄに導かれる反射光の強度の低下のタイミングより速くなる。このため、加算器２１より送出され、比較器８３に入力される信号８２１を図５の８２１ｄでもって示すとすると、加算器２２より送出され、比較器８６に入力される信号８５１は、８５１ｄでもって示される波形となる。つまり、比較器８３に入力される信号８２１の方が、比較器８６に入力される信号８５１より、位相がｔ１だけ進んだ信号となる。
【０００６】
また、光スポットが６３ａ〜６３ｃとなる場合、領域Ａ，Ｃに導かれる反射光の強度の低下と、領域Ｂ，Ｄに導かれる反射光の強度の低下とは、タイミングが同じとなる。このため、加算器２１より送出され、比較器８３に入力される信号８２１を、８２１ｅでもって示すとすると、加算器２２より送出され、比較器８６に入力される信号８５１は、８５１ｅでもって示される波形となる。つまり、比較器８３に入力される信号８２１と、比較器８６に入力される信号８５１とは、同じ位相関係となる。
【０００７】
また、光スポットが６４ａ〜６４ｃとなる場合、領域Ａ，Ｃに導かれる反射光の強度の低下のタイミングが、領域Ｂ，Ｄに導かれる反射光の強度の低下のタイミングより遅くなる。このため、加算器２１より送出され、比較器８３に入力される信号８２１を、８２１ｆでもって示すとすると、加算器２２より送出され、比較器８６に入力される信号８５１は、８５１ｆでもって示される波形となる。つまり、比較器８３に入力される信号８２１の方が、比較器８６に入力される信号８５１より、位相がｔ２だけ遅れた信号となる。これらのことは、トラッキングエラーの方向および大きさが、信号８２１と信号８５１との位相差として示されることを意味している。
【０００８】
図７において左側に示した波形は、光スポットが６２ａ〜６２ｃとなる場合の主要信号の波形を示している。すなわち、比較器８３に入力される信号８２１ｄは、比較器８６に入力される信号８５１ｄより位相が進んでいる。これらの信号８２１ｄ，８５１ｄは比較器８３，８６において２値化される。２値化された信号８３１ｄ，８６１ｄは、位相比較器８７において位相比較される。信号８３１ｄの位相が信号８６１ｄの位相より進んだ状態にある場合、位相比較器８７の出力８７１には、信号８３１ｄ，８６１ｄの排他論理和８７１ｄが出力され、位相比較器８７の出力８７２にはＬレベルが送出される（８７２ｄにより示す）。その結果、減算器９０の出力であるトラッキングエラー信号９０１のレベルは、９０１ｄに示すレベルとなる。つまり、ピット６１に対し、光スポットの位置が６２ａ〜６２ｃとなっていることを示すレベルＬｄとなる。
【０００９】
また、図７において右側に示した波形は、光スポットが６４ａ〜６４ｃとなる場合の主要信号の波形を示している。すなわち、比較器８３に入力される信号８２１ｆは、比較器８６に入力される信号８５１ｆより位相が遅れている。これらの信号８２１ｆ，８５１ｆは比較器８３，８６において２値化される。２値化された信号８３１ｆ，８６１ｆは、位相比較器８７において位相比較される。信号８３１ｆの位相が信号８６１ｆの位相より遅れている場合、位相比較器８７の出力８７１にはＬレベルが送出され（８７１ｆにより示す）、位相比較器８７の出力８７２には、信号８３１ｆ，８６１ｆの排他論理和８７２ｆが出力される。その結果、減算器９０の出力であるトラッキングエラー信号９０１のレベルは、９０１ｆに示すレベルとなる。つまり、ピット６１に対し、光スポットの位置が６４ａ〜６４ｃとなっていることを示すレベルＬｆとなる（第１の従来技術とする）。
【００１０】
また、トラッキングエラー信号を生成する従来技術として、本願出願人により、以下に示す構成が既に提案されている（第２の従来技術とする）。すなわち、この技術においては、４分割された受光素子の領域のうち、トラック方向軸を挟んで対となる領域のそれぞれから送出される出力の位相差を検出することでもって、トラッキングエラー信号を生成している。このため、トラッキングエラー信号を生成する信号処理回路のダイナミックレンジ内で信号が処理される。つまり、信号がクリップすることなく、トラッキングエラー信号が生成されることになる（特許文献１参照）。
【００１１】
また、ピックアップの自動調整装置として提案された技術がある（第３の従来技術とする）。この技術においては、ＲＦ信号のレベルが設定されたレベルを超えるときには、サンプリングパルスを発生するパルス発生器を備えている。また、サンプリングパルスに従って、フォーカスエラー信号をサンプリングするサンプリング回路を備えている。そして、サンプリング回路の出力を積分して得られた信号でもって、対物レンズを軸方向に移動させている。このため、フォーカスが最良となるときに、ＲＦ信号のレベルが最大となるように、対物レンズの位置がプリセットされることになる（例えば、特許文献２参照）。
【００１２】
また、トラッキングを安定させるための従来技術が提案されている（第４の従来技術とする）。すなわち、この技術においては、ＲＦ信号が０レベルを横切って上昇するときと下降するときとの双方においてサンプリングパルスを生成している。また、生成したサンプリングパルスでもってトラッキングエラー信号をサンプリングしている。そして、ＲＦ信号が０レベルを横切って上昇するときに生成したサンプリングパルスによってサンプリングしたトラッキングエラー信号のレベルと、ＲＦ信号が０レベルを横切って下降するときに生成したサンプリングパルスによってサンプリングしたトラッキングエラー信号のレベルとを加算している。その結果、トラッキングエラー信号のレベルを高いものとすることができるとともに、直流成分の影響が除去されるので、サーボの不安定さが解消されることになる（例えば、特許文献３参照）。
【００１３】
【特許文献１】
特開２００２−２５１７５５号公報
【特許文献２】
特開昭６０−１８２５２１号公報
【特許文献３】
特開昭５８−１５５５３３号公報
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、第１の従来技術を用いる場合には、以下に示す問題を生じていた。すなわち、加算器２１，２２は、ＲＦ信号の生成やフォーカスエラー信号の生成に必要となるので、これらの素子を無視し、且つ、増幅器８１，８４とイコライザ８２，８５とを無視するときであっても、トラッキングエラー信号を生成するためには、加算器２１の出力を２値化するための比較器８３、加算器２２の出力を２値化するための比較器８６、位相比較器８７、２つのローパスフィルタ８８，８９、および、減算器９０の６つのブロックを必要とする。すなわち、トラッキングエラー信号を生成するための回路が、規模が大きいものとなっていた。
【００１５】
また、第２の従来技術を用いる場合でも、２つの比較増幅器、加算増幅器、差動増幅器、および、位相比較検波器の５つのブロックを必要としている（さらには、位相比較器の出力から不要信号成分を除去するローパスフィルタが必要になる）。すなわち、トラッキングエラー信号を生成するための回路が、規模の大きいものとなっていた。
【００１６】
また、第３の従来技術は、ＲＦ信号のレベルが予め設定されたレベルを超えるときにサンプリングパルスを生成するとともに、生成したサンプリングパルスでもってフォーカスエラー信号をサンプリングするようになっている。つまり、フォーカスエラー信号をサンプリングして得られた信号は、ＲＦ信号のレベルを大きくするために必要なフォーカスエラー信号のレベルを示すことになる。つまり、フォーカスエラー信号をサンプリングして得られた信号からは、トラッキングのエラー量を示す信号を得ることができない。このため、第１の従来技術における問題を解消しようとする観点から見る場合、第３の従来技術は適用することが困難となっていた。
【００１７】
また、第４の従来技術は、ＲＦ信号のレベルが０レベルを横切るとき、トラッキングエラー信号のレベルをサンプリングする構成となっている。このことは、トラッキングエラー信号を生成する回路を別途に設ける必要があることを意味している。従って、第１の従来技術における問題を解消しようとする観点から見る場合、すなわち、トラッキングエラー信号を生成する回路の規模が大きくなることを防止しようとする観点から見る場合、第４の従来技術は適用することが困難となっていた。
【００１８】
本発明は上記課題を解決するため創案されたものであって、その目的は、トラッキングエラー信号を得るために必要となる回路の規模を縮小することのでき、且つ、トラッキングエラー信号の精度を高めることのでき、さらに、光ディスクのトラックの線速度が変化するときにも、トラッキングエラー信号の精度の低下を防止することのできるトラッキングエラー信号生成装置を提供することにある。
【００１９】
また本発明の目的は、ＲＦ信号のレベルがＲＦ信号の振幅の中心レベルを横切る時刻の近傍において、４分割された受光素子の一方の対角同志の領域の出力の加算値と他方の対角同志の加算値との差異信号をサンプルホールドした信号をトラッキングエラー信号として出力することにより、トラッキングエラー信号を得るために必要となる回路の規模を縮小することのできるトラッキングエラー信号生成装置を提供することにある。
【００２０】
また本発明の目的は、トラック方向軸を挟んで対称に位置する一対の受光領域の出力の差異信号を、ＲＦ信号のレベルがＲＦ信号の振幅の中心レベルを横切る時刻の近傍においてサンプルホールドした信号をトラッキングエラー信号として出力することにより、トラッキングエラー信号を得るために必要となる回路の規模を縮小することのできるトラッキングエラー信号生成装置を提供することにある。
【００２１】
また上記目的に加え、サンプリング期間の開始時刻を、ＲＦ信号のレベルがＲＦ信号の振幅の中心レベルを横切る時刻として、サンプリング期間の開始タイミングのジッタを微少値に抑制することにより、トラッキングエラー信号の精度を高めることのできるトラッキングエラー信号生成装置を提供することにある。
【００２２】
また上記目的に加え、サンプリング期間を、ＲＦ信号のレベルがＲＦ信号の振幅の中心レベルを横切る時刻を跨がる期間として、サンプルホールドした信号のＳ／Ｎ比を高めることにより、トラッキングエラー信号の精度を高めることのできるトラッキングエラー信号生成装置を提供することにある。
【００２３】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため本発明に係るトラッキングエラー信号生成装置は、光ディスクからの反射光の強度を、トラック方向軸とこのトラック方向軸に直交する軸とによって４つの領域に分割された受光素子を用いて検出するとともに、受光素子の出力に基づいてトラッキングエラー信号を生成する構成に適用している。そして、前記４つの領域からの出力を加算した信号であるＲＦ信号のレベルがＲＦ信号の振幅の中心レベルを上昇方向または下降方向の一方の方向において横切る時刻であるゼロクロス時刻の近傍の期間であって且つゼロクロス時刻から始まる期間をサンプリング期間として示すサンプリングパルスを生成するサンプリングパルス生成部と、前記４つの領域のうちの一方の対角同志の領域の出力の加算結果と他方の対角同志の領域の出力の加算結果との差異を示す差異信号を、サンプリングパルスに従ってサンプルホールドするとともに、サンプルホールドして得られた信号をトラッキングエラー信号として出力するサンプルホールド部とを備えおり、且つ、光ディスクのトラックの線速度の変化に対応して前記サンプリング期間の長さを変化させている。
【００２４】
すなわち、差異信号は、ＲＦ信号が中心レベルを横切る時刻におけるレベルでもって、トラッキングのずれの方向とずれ量とを示す。従って、サンプリング期間においてサンプリングし、ホールドした信号は、トラッキングのずれの方向とずれ量とを示す信号となる。つまり、サンプリングパルス生成部とサンプルホールド部という、簡単化された２つの回路でもってトラッキングエラー信号を得ることができる。且つ、ゼロクロス時刻は、ＲＦ信号の振幅の変化の影響を受けない。このため、サンプリング期間はジッタの少ない期間となるので、サンプリング期間にサンプルホールドして得られた信号は、ジッタの悪影響を受けない信号となる。また、サンプリング期間を、ＲＦ信号や差異信号の周期に対応して、最適な長さとすることができる。
【００２５】
また本発明に係るトラッキングエラー信号生成装置は、光ディスクからの反射光の強度を、トラック方向軸とこのトラック方向軸に直交する軸とによって４つの領域に分割された受光素子を用いて検出するとともに、受光素子の出力に基づいてトラッキングエラー信号を生成する構成に適用している。そして、前記４つの領域からの出力を加算した信号であるＲＦ信号のレベルが、ＲＦ信号の振幅の中心レベルを上昇方向または下降方向の一方の方向において横切る時刻であるゼロクロス時刻の近傍の期間をサンプリング期間として示すサンプリングパルスを生成するサンプリングパルス生成部と、前記４つの領域のうちの一方の対角同志の領域の出力の加算結果と他方の対角同志の領域の出力の加算結果との差異を示す差異信号を、サンプリングパルスに従ってサンプルホールドするとともに、サンプルホールドして得られた信号をトラッキングエラー信号として出力するサンプルホールド部とを備えている。
【００２６】
すなわち、差異信号は、ＲＦ信号が中心レベルを横切る時刻におけるレベルでもって、トラッキングのずれの方向とずれ量とを示す。従って、サンプリング期間においてサンプリングし、ホールドした信号は、トラッキングのずれの方向とずれ量とを示す信号となる。つまり、サンプリングパルス生成部とサンプルホールド部という、簡単化された２つの回路でもってトラッキングエラー信号を得ることができる。
【００２７】
また本発明に係るトラッキングエラー信号生成装置は、光ディスクからの反射光の強度を、トラック方向軸を挟んで対称に位置する一対の受光領域を少なくとも有する受光素子を用いて検出するとともに、受光素子の出力に基づいてトラッキングエラー信号を生成する構成に適用している。そして、前記４つの領域からの出力を加算した信号であるＲＦ信号のレベルが、ＲＦ信号の振幅の中心レベルを上昇方向または下降方向の一方の方向において横切る時刻であるゼロクロス時刻の近傍の期間をサンプリング期間として示すサンプリングパルスを生成するサンプリングパルス生成部と、前記４つの領域のうち、トラック方向軸を挟んで対称に位置する一対の領域の出力の差異を示す差異信号を、サンプリングパルスに従ってサンプルホールドするとともに、サンプルホールドして得られた信号をトラッキングエラー信号として出力するサンプルホールド部とを備えた構成となっている。
【００２８】
すなわち、差異信号は、ＲＦ信号が中心レベルを横切る時刻におけるレベルでもって、トラッキングのずれの方向とずれ量とを示す。従って、サンプリング期間においてサンプリングし、ホールドした信号は、トラッキングのずれの方向とずれ量とを示す信号となる。つまり、サンプリングパルス生成部とサンプルホールド部という、簡単化された２つの回路でもってトラッキングエラー信号を得ることができる。
【００２９】
また上記構成に加え、サンプリングパルスにより示されるサンプリング期間をゼロクロス時刻から始まる期間としている。すなわち、ゼロクロス時刻には、ＲＦ信号の振幅が変化するときにも、ジッタが生じない。従って、ピットの長さが変化することから、ＲＦ信号の振幅に変化が生じるときもに、サンプリング期間の開始タイミングにはジッタが発生しない。
【００３０】
また上記構成に加え、サンプリングパルスにより示されるサンプリング期間を、ゼロクロス時刻を跨がった期間としている。すなわち、ゼロクロス時刻を跨がった期間は、差異信号の振幅が大きい期間となる。従って、ゼロクロス時刻を跨がった期間にサンプルホールドして得られた信号は、Ｓ／Ｎ比が最も良好な信号となる。
【００３１】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施例の形態を、図面を参照しつつ説明する。
図１は、本発明に係るトラッキングエラー信号生成装置の第１の実施形態の電気的構成を示すブロック線図であり、ＤＶＤやＣＤ等の光ディスクを再生するＤＶＤ再生装置のトラッキングエラー信号生成装置を示している。なお、図６に示す従来技術の構成と同一となる部分には、図６における符号と同一符号を付与している。
【００３２】
受光素子１１は、光ディスク（図示を省略）からの反射光の強度を検出する素子であり、トラック方向軸１２と、このトラック方向軸１２に直交する軸１３とによって４つの領域Ａ〜Ｄに分割されている。加算器２１は、４つに分割された領域Ａ〜Ｄのうち、一方の対角同志に位置する領域Ａ，Ｃの各出力を加算する。また、加算器２２は、他方の対角同志に位置する領域Ｂ，Ｄの各出力を加算する。
【００３３】
加算器２３は、加算器２１の出力と加算器２２の出力とを加算し、加算結果を、ＲＦ信号２３１として、サンプリングパルス生成部２５に出力する（ＲＦ信号２３１は図示されない信号処理回路にも送出される）。減算器２４は、加算器２１の出力から加算器２２の出力を減算し、減算結果を、フォーカスエラー信号２４１として、サンプルホールド部２６に出力する（フォーカスエラー信号２４１は、図示されないサーボ回路にも送出される）。
【００３４】
サンプリングパルス生成部２５は、ＲＦ信号２３１のレベルが、ＲＦ信号２３１の振幅の中心レベル（図２のＧにより示すレベル）を上昇方向に横切る時刻であるゼロクロス時刻の近傍の期間を示すサンプリングパルスを生成し、出力する。このため、比較器３１とパルス発生回路３２とを備えている。詳細には、比較器３１のプラス入力にはＲＦ信号２３１が導かれており、マイナス入力には基準電圧ｒｅｆが導かれている。パルス発生回路３２は、比較器３１の出力がＬレベルからＨレベルに立ち上がる毎にトリガされ、トリガされる毎に、出力２５１に１つのサンプリングパルスを送出する。
【００３５】
サンプルホールド部２６は、減算器２４の出力であるフォーカスエラー信号（請求項記載の差異信号）２４１を、サンプリングパルスにより示される期間においてサンプリングし、ホールドする。そして、サンプルホールドして得られた信号を、ローパスフィルタ２７に送出する。このため、一方の端子にフォーカスエラー信号２４１が導かれ、他方の端子にはホールドコンデンサＣが接続されたスイッチ回路３３を備えている。また、このスイッチ回路３３は、出力２５１にサンプリングパルスが現れる期間において接続が閉じられるようになっている。ローパスフィルタ２７は、ホールドコンデンサＣの端子間電圧、すなわち、サンプルホールド部２６の出力から、周波数の高い不要信号成分を除去して得られた信号を、トラッキングエラー信号２７１として、図示されないサーボ回路に送出する。
【００３６】
なお、パルス発生回路３２に与えられる信号２５２は、光ディスクのトラックの線速度の変化に対応して、パルス発生回路３２が生成するサンプリングパルスの幅を変更するための信号となっている（後に詳述する）。
【００３７】
図２の（Ａ）は、ピット６１に対し、光スポットが、６２ａ〜６２ｃと移動したときの主要信号の波形を示し、（Ｂ）は、ピット６１に対し、光スポットが、６４ａ〜６４ｃと移動したときの主要信号の波形を示している。
【００３８】
以下に、図２を参照しつつ、補助的な説明を行う。
比較器３１に与えられる基準電圧ｒｅｆは、ＲＦ信号２３１の中心レベル（ＲＦ信号２３１の振幅の中心となる電圧であり、Ｇにより示されている）と同じ電圧に設定されている。このため、比較器３１の出力は、ゼロクロス時刻Ｔ１ａ、Ｔ１ｂにおいて、ＬレベルからＨレベルに変化する。従って、ゼロクロス時刻Ｔ１ａ，Ｔ１ｂにおいて、サンプリングパルスＰａ，Ｐｂの出力が開始される。また、サンプリングパルスＰａ，Ｐｂの幅は、ＲＦ信号２３１における最も短い周期（最も短いピットを光スポットが通過するのに要する期間）の１／４〜１／２の範囲（ＲＦ信号２３１の最も短い周期の１／８〜１／４の範囲）に設定されている。
【００３９】
以下に、実施形態の動作を説明する。
既に説明したように、光スポットが、６２ａ〜６２ｃと移動したときには、領域Ａ，Ｃの加算結果を示す出力２１１ａの位相は、領域Ｂ，Ｄの加算結果を示す出力２２１ａの位相より進んだ関係となる。また、出力２１１ａと出力２２１ａとを加算したＲＦ信号２３１ａの位相は、出力２１１ａと出力２２１ａとの中間の位相となる。
【００４０】
また、フォーカスエラー信号２４１ａは、ＲＦ信号２３１ａと位相が９０度異なる。従って、出力２１１ａの位相が出力２２１ａの位相より進む場合、フォーカスエラー信号２４１ａにおいては、ゼロクロス時刻Ｔ１ａにおいて、基準レベルＳとの電圧差異が、電圧の高い側に最大となる。一方、サンプルホールド部２６は、サンプリングパルスＰａの示すタイミングにおいて、フォーカスエラー信号２４１ａをサンプリングする。このため、サンプルホールド部２６の出力２６１ａの電圧（出力２７１の電圧）は、光スポットが、ピット６１に対し、６２ａ〜６２ｃと移動したことを精度よく示す電圧となる。
【００４１】
上記した動作は、光スポットが、６４ａ〜６４ｃと移動したときにも、同様となる。すなわち、このときでは、領域Ａ，Ｃの加算結果を示す出力２１１ｂの位相は、領域Ｂ，Ｄの加算結果を示す出力２２１ｂの位相より遅れた関係となる。また、出力２１１ｂと出力２２１ｂとを加算したＲＦ信号２３１ｂの位相は、出力２１１ｂと出力２２１ｂとの中間の位相となる。
【００４２】
また、フォーカスエラー信号２４１ｂは、ＲＦ信号２３１ｂと位相が９０度異なる。従って、出力２１１ｂの位相が出力２２１ｂの位相より遅れる場合、フォーカスエラー信号２４１ｂにおいては、ゼロクロス時刻Ｔ１ｂにおいて、基準レベルＳとの電圧差異が、電圧の低い側に最大となる。このため、サンプリングパルスＰｂに基づいて、フォーカスエラー信号２４１ｂをサンプリングして得られた出力２６１ｂの電圧（出力２７１の電圧）は、光スポットが、ピット６１に対し、６４ａ〜６４ｃと移動したことを精度よく示す電圧となる。
【００４３】
なお、例えば、再生する光ディスクが、ＤＶＤ−ＲＯＭ等の場合では、トラックの線速度が変化する。すなわち、ＲＦ信号２３１やフォーカスエラー信号２４１の周期が変化する。従って、このようなときでは、パルス発生回路３２が生成するサンプリングパルスの幅が、出力２５２でもって変更されるようになっている。なお、このとき、サンプリングパルスの幅は、充分なサンプリング期間の確保を可能にし、且つ、トラッキングエラー信号の精度の低下の防止を可能にするため、最も短いピットを光スポットが通過するのに要する期間の１／４〜１／２の範囲を外れないように制御される。つまり、ＲＦ信号２３１の最も短い周期の１／８〜１／４の範囲を外れないように制御される。
【００４４】
以下に補足的な説明を行うと、サンプリングパルスＰａ，Ｐｂの出力の開始時刻がずれると、サンプリングの対称となる信号２４１ａ，２４１ｂが同一であるときにも、サンプルホールドされた信号２６１ａ，２６１ｂのレベルが変化する。従って、サンプリングパルスＰａ，Ｐｂの出力の開始時刻にジッタが生じると、サンプルホールドされた信号２６１ａ，２６１ｂのレベルにも、ジッタに起因するレベル乱れが生じることになる。
【００４５】
一方、上記において説明した第１の実施形態では、サンプリングパルスＰａ，Ｐｂは、ゼロクロス時刻Ｔ１ａ，Ｔ１ｂにおいて出力が開始されるようになっている。また、ゼロクロス時刻Ｔ１ａ，Ｔ１ｂは、ＲＦ信号２３１の振幅が変化するときにも、その影響を受けない。従って、サンプリングパルスＰａ，Ｐｂの出力の開始時刻のジッタは微少値に抑制される。このため、サンプリングパルスＰａ，Ｐｂに従ってサンプルホールドして得られたトラッキングエラー信号は、ジッタに起因するレベル乱れの無い、精度の高い信号となる。
【００４６】
以上で第１の実施形態の説明を終了し、以下に、必要に応じて図３を参照しつつ、第１の実施形態を変形した場合について説明する。なお、図３においては、図２に示す信号と同一となる信号には、図２と同一符号を付与している。
【００４７】
変形した実施形態と第１の実施形態との差異は、比較器３１に与えられる基準電圧ｒｅｆが、ＲＦ信号２３１の振幅の中心レベルＧから、中心レベルＧより少し低い電圧（図３のＫにより示す）に変更されている点にあり、その他の構成は同一となっている。
【００４８】
比較器３１に与えられる基準電圧ｒｅｆは、レベルＫとなっている。このため、比較器３１の出力は、ゼロクロス時刻Ｔ１ａ、Ｔ１ｂより速いタイミングＴ２ａ，Ｔ２ｂにおいて、ＬレベルからＨレベルに変化する。従って、時刻Ｔ２ａ，Ｔ２ｂにおいて、サンプリングパルスＰｃ，Ｐｄの出力が開始される。また、サンプリングパルスＰｃ，Ｐｄの幅は、ＲＦ信号２３１における最も短い周期（最も短いピットを光スポットが通過するのに要する期間）の１／４〜１／２の範囲（ＲＦ信号２３１の最も短い周期の１／８〜１／４の範囲）に設定されている。このため、サンプリングパルスＰｃ，Ｐｄは、ゼロクロス時刻Ｔ１ａ，Ｔ１ｂを跨がるパルスとなる。
【００４９】
その結果、サンプリング期間は、フォーカスエラー信号２４１ａ，２４１ｂのレベルが最も大きくなる期間に重なる。つまり、サンプルホールドの対象となる電圧のレベルが最も高くなる。このため、サンプルホールドして得られた信号であるトラッキングエラー信号２６１ｃ，２６１ｄ（出力２７１）は、Ｓ／Ｎ比が良好となるので、精度の良い信号となる。
【００５０】
以上で、第１の実施形態を変形した場合の説明を終了し、以下に、第２の実施形態について説明する。
図４は、第２の実施形態の電気的構成を示すブロック線図であり、図１に示す構成となる同一となるブロックには、図１における符号と同一符号を付与し、構成の説明を省略する。
【００５１】
減算器２９は、受光素子１１の４つの領域Ａ〜Ｄのうち、トラック方向軸１２を挟んで対称に位置する一対の受光領域（以下では、単に領域と称する）Ａ，Ｂの出力の差異を示す差異信号２９１を生成し、サンプルホールド部２６に出力する（受光領域Ｄ，Ｃの出力の差異を示す差異信号を生成する構成とすることもできる）。従って、サンプルホールド部２６に導かれる差異信号２９１は、第１の実施形態におけるフォーカスエラー信号２４１に準じる信号となる。すなわち、差異信号２９１は、ＲＦ信号２３１のゼロクロス時刻の近傍におけるレベルによって、トラッキングのずれの方向とずれ量とを示す信号となる。
【００５２】
従って、サンプリングパルス生成部２５から送出されるサンプリングパルスに従って、差異信号２９１をサンプルホールドして得られ、ローパスフィルタ２７によって不要な信号成分が除去された信号２７１は、基準電圧ｒｅｆを中心レベルＧとした場合には、第１の実施形態において得られたトラッキングエラー信号と等しくなり、基準電圧ｒｅｆをレベルＫとした場合には、第１の実施形態を変形した場合において得られたトラッキングエラー信号と等しくなる。つまり、ともに、精度のよいトラッキングエラー信号となる。
【００５３】
なお、本発明は上記実施形態に限定されず、サンプリングパルスを生成するタイミングについては、ＲＦ信号２３１が振幅の中心レベルＧを上昇方向に横切る時刻の近傍とした場合について説明したが、ＲＦ信号２３１が中心レベルＧを下降方向に横切る時刻の近傍において生成する構成とすることができる。
【００５４】
また、トラック方向軸を挟んで対称に位置する受光領域の出力の差異信号をサンプルホールドする構成とする場合では、４分割された受光素子のみでなく、トラック方向軸を挟んで２分割された受光素子を用いた構成、等とすることができる。
【００５５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明では、ＲＦ信号がゼロクロスする時刻であるゼロクロス時刻から始まる期間をサンプリング期間として、受光素子の一方の対角同志の領域の加算結果と他方の対角同志の領域の加算結果との差異を示す差異信号をサンプルホールドするとともに、サンプルホールドした信号をトラッキングエラー信号として出力している。また、光ディスクのトラックの線速度の変化に対応してサンプリング期間の長さを変化させている。従って、サンプリング期間はジッタが微少に抑制された期間となり、サンプルホールドして得られた信号は、ジッタの悪影響を受けない信号となる。また、サンプリング期間を、ＲＦ信号や差異信号の周期に対応して、最適な長さとすることができる。このため、トラッキングエラー信号を得るために必要となる回路の規模を縮小することができ、且つ、トラッキングエラー信号の精度を高めることができ、さらに、光ディスクのトラックの線速度が変化するときにも、トラッキングエラー信号の精度の低下を防止することができる。
【００５６】
また本発明では、ＲＦ信号がゼロクロスする時刻の近傍の期間をサンプリング期間として、受光素子の一方の対角同志の領域の加算結果と他方の対角同志の領域の加算結果との差異を示す差異信号をサンプルホールドするとともに、サンプルホールドした信号をトラッキングエラー信号として出力している。つまり、簡単化された２つの回路によってトラッキングエラー信号が生成されるので、トラッキングエラー信号を得るために必要となる回路の規模を縮小することができる。
【００５７】
また本発明では、ＲＦ信号がゼロクロスする時刻の近傍の期間をサンプリング期間として、トラック方向軸を挟んで対称に位置する一対の受光領域の出力の差異を示す差異信号をサンプルホールドするとともに、サンプルホールドした信号をトラッキングエラー信号として出力している。つまり、簡単化された２つの回路によってトラッキングエラー信号が生成されるので、トラッキングエラー信号を得るために必要となる回路の規模を縮小することができる。
【００５８】
またさらに、サンプリングパルスにより示されるサンプリング期間を、ゼロクロス時刻から始まる期間としている。従って、サンプリング期間はジッタが微少値に抑制された期間となるので、サンプルホールドして得られた信号であるトラッキングエラー信号の精度を高めることができる。
【００５９】
またさらに、サンプリングパルスにより示されるサンプリング期間を、ゼロクロス時刻を跨がった期間としている。従って、サンプルホールドして得られた信号は、Ｓ／Ｎ比が最も良好な信号となるので、トラッキングエラー信号の精度を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るトラッキングエラー信号生成装置の第１の実施形態の電気的構成を示すブロック線図である。
【図２】第１の実施形態の主要信号の波形を示す説明図である。
【図３】第１の実施形態を変形した場合の主要信号の波形を示す説明図である。
【図４】トラッキングエラー信号生成装置の第２の実施形態の電気的構成を示すブロック線図である。
【図５】ピットに対する光スポットの位置関係と、受光素子が受光する反射光との関係を示す説明図である。
【図６】従来技術の電気的構成を示すブロック線図である。
【図７】従来技術の主要信号の波形を示す説明図である。
【符号の説明】
１１  受光素子
１２  トラック方向軸
１３  トラック方向軸に直交する軸
２５  サンプリングパルス生成部
２６  サンプルホールド部
６１  ピット
６２ａ〜６２ｃ，６３ａ〜６３ｃ，６４ａ〜６４ｃ  光スポット
２３１  ＲＦ信号
２４１  差異信号
２９１  差異信号
Ａ〜Ｄ  ４分割された領域
Ｇ  ＲＦ信号の振幅の中心レベル
Ｐａ，Ｐｂ，Ｐｃ，Ｐｄ  サンプリングパルス
Ｔ１ａ，Ｔ１ｂ  ゼロクロス時刻
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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