(57)【要約】【課題】欠陥画素の出力値の補正値をより少ないハードウェア資源を用いてより少ない計算量で算出することができるようにする【解決手段】光を検出する画素が二次元的に配列されたエリアセンサの欠陥画素の値を補正する欠陥画素補正システムであって、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記画素毎に設定する補間係数設定手段と、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に、各画素毎に設定された前記補間係数を乗じたものを加算して、前記欠陥画素の値を補正する補正手段とを備える。また、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素を参照画素とし、前記補間係数設定手段は、前記参照画素の中に他の欠陥画素が存在する場合、前記参照画素の数を所定数だけ減らし、前記参照画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記参照画素毎に設定する【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を検出する画素が二次元的に配列されたエリアセンサの欠陥画素の値を補正する欠陥画素補正システムであって、
前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記画素毎に設定する補間係数設定手段と、
前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に、各画素毎に設定された前記補間係数を乗じたものを加算して、前記欠陥画素の値を補正する補正手段と
を備えることを特徴とする欠陥画素補正システム。
【請求項２】
前記補間係数設定手段によって設定される前記画素毎の補間係数を、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の前記画素のパターン毎に予め記憶する補間係数記憶手段をさらに備え、
前記補間係数設定手段は、前記補間係数記憶手段から、各画素のパターンに対応する各画素の前記補間係数を読み出し、各画素毎に補間係数を設定する
ことを特徴とする請求項１に記載の欠陥画素補正システム。
【請求項３】
前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素を参照画素とし、補間係数設定手段は、前記参照画素の中に他の欠陥画素が存在する場合、前記参照画素の数を所定数だけ減らし、前記参照画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記参照画素毎に設定する
ことを特徴とする請求項１または２に記載の欠陥画素補正システム。
【請求項４】
光を検出する画素が二次元的に配列されたエリアセンサの欠陥画素の値を補正する欠陥画素補正方法であって、
前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記画素毎に設定する補間係数設定ステップと、
前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に、各画素毎に設定された前記補間係数を乗じたものを加算して、前記欠陥画素の値を補正する補正ステップと
を備えることを特徴とする欠陥画素補正方法。
【請求項５】
光を検出する画素が二次元的に配列されたエリアセンサの欠陥画素の値を補正する欠陥画素補正システムを制御する欠陥画素補正プログラムであって、
前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記画素毎に設定する補間係数設定ステップと、
前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に、各画素毎に設定された前記補間係数を乗じたものを加算して、前記欠陥画素の値を補正する補正ステップと
を前記欠陥画素補正システムに実行させることを特徴とする欠陥画素補正プログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、欠陥画素補正システムおよび欠陥画素補正方法、並びに欠陥画素補正プログラムに関し、特に、エリアセンサの欠陥画素の出力値を同一ライン上の他の画素の値に基づいて補正する欠陥画素補正システムおよび欠陥画素補正方法、並びに欠陥画素補正プログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
エリアセンサは、光を電気信号に変換する素子（画素）の集合体であるが、エリアセンサを構成する画素の中には、正常な値を出力しない（期待される値から大きくはずれた値を出力する）ものがある。これらの画素は欠陥画素と呼ばれる。
欠陥画素の値を補正する方法としては、周囲の正常な画素（参照画素）の出力値から欠陥画素の出力値として予測される値により置き換えられる方法がある。具体的には、参照画素が欠陥画素であった場合、その画素を用いない、或いは他の画素で代用する処理を行うもの（例えば、特許文献１参照）や、欠陥画素の上下左右斜めの画素のうち、その出力値の変化量が少ない組み合わせを選択して欠陥画素の出力値を算出することにより、自動的に欠陥画素の参照が省かれるもの（例えば、特許文献２参照）がある。
【０００３】
【特許文献１】
特開２０００−２４４８２３号公報（図１）
【特許文献２】
特開２００１−３０７０７９号公報（図１）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特許文献１に記載の発明は、単純に欠陥画素を省くと、エッジ部分などで不自然さが際立った補正がなされる可能性があるという問題があった。また、他の画素で代用する場合でも、隣接画素に対して離れた位置にある画素を用いることになるため、目的とする欠陥画素への情報の反映が少なくなる可能性があるという問題があった。
また、特許文献２に記載の発明は、自動的に、より適切な画素が参照画素として選択されるものの、必ず複数のラインメモリが必要になるという問題があった。
【０００５】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、欠陥画素の出力値をより少ないハードウェア資源を用いてより少ない計算量で算出することができるようにするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の欠陥画素補正システムは、光を検出する画素が二次元的に配列されたエリアセンサの欠陥画素の値を補正する欠陥画素補正システムであって、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記画素毎に設定する補間係数設定手段と、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に、各画素毎に設定された前記補間係数を乗じたものを加算して、前記欠陥画素の値を補正する補正手段とを備えることを特徴とするものである。従って、同一ライン上の画素のみを用い、ラインメモリを用いることなく欠陥画素の値を算出することができる。
【０００７】
請求項２に記載の欠陥画素補正システムは、その補間係数設定手段によって設定される前記画素毎の補間係数を、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の前記画素のパターン毎に予め記憶する補間係数記憶手段をさらに備え、前記補間係数設定手段は、前記補間係数記憶手段から、各画素のパターンに対応する各画素の前記補間係数を読み出し、各画素毎に補間係数を設定することができる。従って、欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素のパターンに応じて、迅速に補間係数を設定することができる。
【０００８】
請求項３に記載の欠陥画素補正方法は、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素を参照画素とし、補間係数設定手段は、前記参照画素の中に他の欠陥画素が存在する場合、前記参照画素の数を所定数だけ減らし、前記参照画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記参照画素毎に設定することができる。従って、参照画素に欠陥画素が含まれる場合でも、欠陥画素を補正することができる。
【０００９】
請求項４に記載の欠陥画素補正方法は、光を検出する画素が二次元的に配列されたエリアセンサの欠陥画素の値を補正する欠陥画素補正方法であって、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記画素毎に設定する補間係数設定ステップと、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に、各画素毎に設定された前記補間係数を乗じたものを加算して、前記欠陥画素の値を補正する補正ステップとを備えることを特徴とするものである。従って、同一ライン上の画素のみを用い、ラインメモリを用いることなく欠陥画素の値を算出することができる。
【００１０】
請求項５に記載の欠陥画素補正プログラムは、光を検出する画素が二次元的に配列されたエリアセンサの欠陥画素の値を補正する欠陥画素補正システムを制御するものであって、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に対して、重み付けをするための補間係数を、前記画素毎に設定する補間係数設定ステップと、前記欠陥画素を含むライン上の他の１または複数の画素の値に、各画素毎に設定された前記補間係数を乗じたものを加算して、前記欠陥画素の値を補正する補正ステップとを前記欠陥画素補正システムに実行させることを特徴とするものである。従って、同一ライン上の画素のみを用い、ラインメモリを用いることなく欠陥画素の値を算出することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の欠陥画素補正システムを応用した一実施の形態の構成例を示すブロック図である。同図に示すように、本実施の形態は、光を集光し、後述するエリアセンサ１０２上に被写体の画像を結像させるレンズ１０１と、レンズ１０１により集光され、結像した被写体の画像に対応する信号を出力するエリアセンサ１０２と、エリアセンサ１０２を制御するセンサ制御部１０３と、エリアセンサ１０２からの出力信号に基づいて、欠陥画素の出力値の補正を行う欠陥補正部（補間係数設定手段、補正手段、係数係数記憶手段）１０４と、欠陥補正部１０４からの出力信号に基づいて、色補間等の各種処理を実行する画像処理部１０５とから構成されている。
【００１２】
図２は、エリアセンサ１０２を構成する素子（画素）の一部分の配列を示している。エリアセンサ１０２は、赤（Ｒ）の光を検出し、光の強度に対応する大きさの電気信号に変換して出力する素子（以下では適宜、画素と記載し、素子の出力値を画素の値と記載する）と、緑（Ｇ）の光を検出し、光の強度に対応する大きさの電気信号に変換して出力する素子と、青（Ｂ）の光を検出し、光の強度に対応する大きさの電気信号に変換して出力する素子とからなり、各素子は、例えば、図２に示すように格子状に配列されている。図２において、Ｒ１１，Ｒ１３、・・・は、赤の光を検出する画素であり、「Ｒ」は赤を示し、「１１」、「１３」はエリアセンサ１０２上での位置を示している。Ｇ１２，Ｇ１４、・・・は、緑の光を検出する画素であり、「Ｇ」は緑を示し、「１２」、「１４」はエリアセンサ１０２上での位置を示している。Ｂ２２，Ｂ２４、・・・は、青の光を検出する画素であり、「Ｂ」は青を示し、「２２」、「２４」はエリアセンサ１０２上での位置を示している。また、計算式においてＲ１１等を用いたときは、Ｒ１１等に対応する画素の値を表すものとする。
【００１３】
本実施の形態では、欠陥補正部１０４は、欠陥画素を含むライン上にある他の１または複数の近傍の画素の値を利用して、欠陥画素の値を補正する。以下では、欠陥画素の補正に用いる他の画素を参照画素と記載する。欠陥画素の補正に用いる参照画素が、欠陥画素の左に位置する直近の１画素である場合、補間係数の値は１．０となる。例えば、図２において、画素（Ｒ３７）が欠陥画素であるとすると、欠陥画素（Ｒ３７）の値を同一ライン上の左に位置する直近の参照画素（Ｒ３５）の値に基づいて、次式（１）に従って補正する。
【００１４】
Ｒ３７  ←  Ｒ３５×１．０    ・・・式（１）
【００１５】
また、欠陥画素の補正に用いる参照画素が、欠陥画素の左に位置する直近の１画素（Ｒ３５）と右に位置する直近の１画素（Ｒ３９）である場合、補間係数の値は、左に位置する参照画素に対しては０．５が設定され、右に位置する画素に対しては０．５が設定される。そして、次式（２）に従って、欠陥画素の補正が行われる。
【００１６】
Ｒ３７  ←  Ｒ３５×０．５  ＋  Ｒ３９×０．５  ・・・式（２）
【００１７】
また、欠陥画素の補正に用いる参照画素が、欠陥画素の左に位置する直近の２画素（Ｒ３３，Ｒ３５）と右に位置する直近の１画素（Ｒ３９）である場合、補間係数の値は、最も左に位置する参照画素（Ｒ３３）に対しては−０．３３３・・・（＝１／３）が設定され、次の左に位置する参照画素（Ｒ３５）に対しては１．０が設定される。また、右に位置する参照画素（Ｒ３９）に対しては０．３３３・・・（＝１／３）が設定される。そして、次式（３）に従って、欠陥画素の補正が行われる。
【００１８】
Ｒ３７  ←  Ｒ３３×（−０．３３３）＋Ｒ３５×１．０＋Ｒ３９×０．３３３    ・・・式（３）
【００１９】
また、欠陥画素の補正に用いる参照画素が、欠陥画素の左に位置する直近の２画素（Ｒ３３，Ｒ３５）と右に位置する直近の２画素（Ｒ３９，Ｒ３ｂ）である場合、補間係数の値は、最も左に位置する参照画素（Ｒ３３）に対しては−０．１６６・・・（＝１／６）が設定され、次の左に位置する参照画素（Ｒ３５）に対しては０．６６６・・・（＝１／１．５）が設定される。また、右に位置する参照画素（Ｒ３９）に対しては０．６６６・・・（＝１／１．５）が設定され、最も右に位置する参照画素（Ｒ３ｂ）に対しては−０．１６６・・・（＝−１／６）が設定される。そして、次式（４）に従って、欠陥画素の補正が行われる。
【００２０】
Ｒ３７  ←  Ｒ３３×（−０．１６６）＋Ｒ３５×０．６６６＋Ｒ３９×０．６６６＋Ｒ３ｂ×（−０．１６６）    ・・・式（４）
【００２１】
また、欠陥画素の補正に用いる参照画素が、欠陥画素の左に位置する直近の３画素（Ｒ３１，Ｒ３３，Ｒ３５）と右に位置する直近の１画素（Ｒ３９）である場合、補間係数の値は、最も左に位置する参照画素（Ｒ３１）に対しては０．２５が設定され、次の左に位置する参照画素（Ｒ３３）に対しては−１．０が設定され、さらに次の左に位置する参照画素（Ｒ３５）に対しては１．５が設定される。また、右に位置する参照画素（Ｒ３９）に対しては０．２５が設定される。そして、次式（５）に従って、欠陥画素の補正が行われる。
【００２２】
Ｒ３７  ←  Ｒ３１×０．２５＋Ｒ３３×（−１．０）＋Ｒ３５×１．５＋Ｒ３９×０．２５    ・・・式（５）
【００２３】
また、欠陥画素の補正に用いる参照画素が、欠陥画素の左に位置する直近の３画素（Ｒ３１，Ｒ３３，Ｒ３５）と右に位置する直近の２画素（Ｒ３９，Ｒ３ｂ）である場合、補間係数の値は、最も左に位置する参照画素（Ｒ３１）に対しては０．１が設定され、次の左に位置する参照画素（Ｒ３３）に対しては−０．５が設定され、さらに次の左に位置する参照画素（Ｒ３５）に対しては１．０が設定される。また、右に位置する参照画素（Ｒ３９）に対しては０．５が設定され、次の右に位置する参照画素（Ｒ３ｂ）に対しては−０．１が設定される。そして、次式（６）に従って、欠陥画素の補正が行われる。
【００２４】
Ｒ３７  ←  Ｒ３１×０．１＋Ｒ３３×（−０．５）＋Ｒ３５×１．０＋Ｒ３９×０．５＋Ｒ３ｂ×（−０．１）    ・・・式（６）
【００２５】
また、欠陥画素の補正に用いる参照画素が、欠陥画素の左に位置する直近の３画素（Ｒ３１，Ｒ３３，Ｒ３５）と右に位置する直近の３画素（Ｒ３９，Ｒ３ｂ，Ｒ３ｄ）である場合、補間係数の値は、最も左に位置する参照画素（Ｒ３１）に対しては０．０５が設定され、次の左に位置する参照画素（Ｒ３３）に対しては−０．３が設定され、さらに次の左に位置する参照画素（Ｒ３５）に対しては０．７５が設定される。また、右に位置する参照画素（Ｒ３９）に対しては０．７５が設定され、次の右に位置する参照画素（Ｒ３ｂ）に対しては−０．３が設定され、さらに次の右に位置する参照画素（Ｒ３ｄ）に対しては０．０５が設定される。そして、次式（７）に従って、欠陥画素の補正が行われる。
【００２６】
Ｒ３７  ←  Ｒ３１×０．０５＋Ｒ３３×（−０．３）＋Ｒ３５×０．７５＋Ｒ３９×０．７５＋Ｒ３ｂ×（−０．３）＋Ｒ３ｄ×０．０５  ・・・式（７）
【００２７】
表１は、参照画素のパターン毎に設定される補間係数を示している。これらの補間係数は、ラグランジュの補間公式を用いて算出されたものである。ただし、補間係数の全てが必ずしもハードウェアに適した値になるとは限らない。そこで、補間係数を若干操作して、ハードウェアで処理し易い値に変更することができる。
【００２８】
【表１】
2004235980.tif 000003
【００２９】
表２は、ハードウェアが処理し易い値に変更された補間係数を示している。
【００３０】
【表２】
2004235980.tif 000004
【００３１】
左右それぞれ２画素ずつ参照画素として用いる場合、最も左に位置する参照画素（Ｒ３３）に対して設定される補間係数は、−０．１６６・・・から−０．１２５に変更され、次の左に位置する参照画素（Ｒ３５）に対して設定される補間係数は、０．６６６から０．６２５に変更され、右に位置する参照画素（Ｒ３９）に対して設定される補間係数は０．６６６・・・から０．６２５に変更され、最も右に位置する参照画素（Ｒ３ｂ）に対して設定される補間係数は−０．１６６から−０．１２５に変更される。
【００３２】
また、欠陥画素の左の直近の３画素と、欠陥画素の右の直近の２画素を参照画素として用いる場合、最も左に位置する参照画素（Ｒ３３）に対して設定される補間係数は、０．１から０．１２５に変更され、最も右に位置する参照画素（Ｒ３ｂ）に対して設定される補間係数は−０．１から−０．１２５に変更される。これらの変更を行っても、欠陥画素補正によって算出される値の差はわずかである。なお、表２は表１の一部のパターンを抜き出したものである。
【００３３】
次に、参照画素のパターン毎に、補間結果の誤差を比較検証する。この比較検証は、本来は欠陥画素ではない画素を欠陥画素と仮定して行っているので、欠陥画素の正解の画素値（真値）が得られる。従って、上述した方法を用いて欠陥画素を補正した値と、欠陥画素の正解の画素値とを比較することにより、欠陥画素補正処理の誤差を算出することができる。
【００３４】
図３は、上記比較検証に用いた画像である。この画像の数画素が欠陥画素であるという情報を与え、その欠陥画素の値を上記方法で補正する。図中、１乃至１３は欠陥画素の位置を表している。欠陥画素は全てエッジに関わる部分にあるとする。
【００３５】
図４は、その誤差を欠陥画素毎にグラフに表したものである。横軸は欠陥画素の位置を表し、縦軸は誤差の大きさを表している。画素の階調は０乃至２５５としている。
【００３６】
図４のグラフにおいて、「左」は、欠陥画素の左に位置する直近の１画素を用いて補正を行った場合の結果を示している。「左１右１」は、欠陥画素の左に位置する直近の１画素と、右に位置する直近の１画素を用いて補正を行った場合の結果を示している。「左２右２」は、欠陥画素の左に位置する直近の２画素と、右に位置する直近の２画素を用いて補正を行った場合の結果を示している。「左３右２」は、欠陥画素の左に位置する直近の３画素と、右に位置する直近の２画素を用いて補正を行った場合の結果を示している。
【００３７】
図４のグラフから、より多くの画素を参照画素として使用する方が、欠陥画素の値を補正した値と、真値との間の誤差が少なくなる傾向がある。ただし、多くの参照画素を用いた補正の結果が、全てのケースについて真値に近いとは限らない。例えば、全体的に左右１画素ずつを用いた場合よりも、左３画素右２画素を用いた場合の方が、真値に近い値となる確率が高くなるという意味である。
【００３８】
また、欠陥画素の状態に応じて、欠陥画素補正のために参照する参照画素のパターンを変えるようにすることもできる。例えば、左右２画素→左右１画素→左１画素のように、欠陥画素の状態に応じて参照画素のパターンを変化させる。
【００３９】
周波数応答特性の位相ずれを考慮すると、左右共に同じ数の参照画素を用いる方がよい。そこで、基本的には左右２画素ずつを参照画素として用い、欠陥画素の補正を行う。しかし、参照画素の中に欠陥画素が存在する場合、その欠陥画素を参照画素から外し、参照画素を減らしていく。最終的には、３画素以上の連続した欠陥画素が存在しなければ、補正は可能になる。
【００４０】
次に、図５のフローチャートを参照して、参照画素の中に欠陥画素が存在する場合の処理手順について説明する。ここでは、補正すべき欠陥画素をＲ３７とする。まず最初に、ステップＳ１において、参照画素Ｒ３３、Ｒ３５、Ｒ３９、およびＲ３Ｂの中に欠陥画素が含まれるか否かが判定される。その結果、参照画素Ｒ３３、Ｒ３５、Ｒ３９、およびＲ３Ｂの中に欠陥画素が含まれないと判定された場合、ステップＳ２に進み、左右２画素ずつ（欠陥画素Ｒ３７の左側にあるＲ３３，Ｒ３５と、欠陥画素Ｒ３７の右側にあるＲ３９，Ｒ３Ｂ）を用いて欠陥画素Ｒ３７の値が補正される。
【００４１】
一方、ステップＳ１において、参照画素Ｒ３３、Ｒ３５、Ｒ３９、およびＲ３Ｂの中に欠陥画素が含まれると判定された場合、ステップＳ３に進み、参照画素Ｒ３５およびＲ３９の中に欠陥画素が含まれるか否かが判定される。その結果、参照画素Ｒ３５およびＲ３９の中に欠陥画素が含まれないと判定された場合、ステップＳ４に進む。ステップＳ４においては、左右１画素ずつ（欠陥画素Ｒ３７の左側の欠陥画素でない参照画素Ｒ３５と、欠陥画素Ｒ３７の右側の欠陥画素でない参照画素Ｒ３９）を用いて欠陥画素Ｒ３７の値が補正される。
【００４２】
また、ステップＳ３において、参照画素Ｒ３５およびＲ３９の中に欠陥画素が含まれると判定された場合、ステップＳ５に進む。ステップＳ５においては、参照画素Ｒ３５が欠陥画素であるか否かが判定される。その結果、参照画素Ｒ３５が欠陥画素ではないと判定された場合、ステップＳ６に進み、欠陥画素Ｒ３７の左側の１画素（参照画素Ｒ３５）を用いて欠陥画素Ｒ３７の値が補正される。
【００４３】
また、ステップＳ５において、参照画素Ｒ３５が欠陥画素であると判定された場合、ステップＳ７に進み、欠陥画素Ｒ３７の右側の１画素（参照画素Ｒ３９）を用いて欠陥画素Ｒ３７の値が補正される。
【００４４】
ただし、同一色の欠陥画素が３画素以上連続して存在しないことが保証されていることが前提となる。
【００４５】
以上説明したように、本実施の形態により、ラインメモリを用いることなく、欠陥画素を含むライン上の他の画素の値のみを用いて欠陥画素の値を補正することができる。また、欠陥画素の発生頻度や状態等に応じて参照画素のパターンを変えることができるので、より適切な方法で欠陥画素の値を補正することができる。
【００４６】
また、上記実施の形態においては、エリアセンサ１０２のフィルタがＲ，Ｇ，Ｂで構成されている例について示したが、Ｃｙ（シアン）、Ｙｅ（黄色）、Ｍｇ（マゼンタ）、Ｇｒ（緑）のような補色フィルタで構成されている場合にも同様に本発明を適応することが可能である。
【００４７】
なお、上記実施の形態の構成および動作は例であって、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することができることは言うまでもない。
【００４８】
次に、本発明の実施の形態によるコンピュータが実行するためのプログラムについて説明する。
図１における欠陥画素補正システムにおけるコンピュータシステムのＣＰＵが実行するためのプログラムは、本発明によるプログラムを構成する。
このプログラムを格納するための記録媒体としては、光磁気ディスク、光ディスク、半導体メモリ、磁気記録媒体等を用いることができ、これらをＲＯＭ、ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク、メモリカード等に構成して用いてよい。
【００４９】
また上記記録媒体は、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部のＲＡＭ等の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持するものも含まれる。
【００５０】
また上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから伝送媒体を介して、あるいは伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されるものであってもよい。上記伝送媒体とは、インターネット等のネットワーク（通信網）や電話回線等の通信回線（通信線）のように情報を伝送する機能を有する媒体をいうものとする。
【００５１】
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためであってもよい。さらに、前述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。
【００５２】
従って、このプログラムを図１のシステム又は装置とは異なるシステム又は装置において用い、そのシステム又は装置のコンピュータがこのプログラムを実行することによっても、上記実施の形態で説明した機能及び効果と同等の機能及び効果を得ることができ、本発明の目的を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【図２】画素の配列および欠陥画素の位置を示す図である。
【図３】比較検証に用いた画像上の欠陥画素の位置を示す図である。
【図４】比較検証結果を示すグラフである。
【図５】参照画素数を減少させる処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１０１  レンズ  １０２  エリアセンサ  １０３  センサ制御部  １０４  欠陥補正部  １０５  画像処理部
【図１】
2004235980.tif 000005
【図２】
2004235980.tif 000006
【図３】
2004235980.tif 000007
【図４】
2004235980.tif 000008
【図５】
2004235980.tif 000009