(57)【要約】【課題】タンパー動作検出の仕組みが第三者に知れてしまっても、タンパー動作検出の回避策をできるだけ難しくし得るタンパー動作検出装置を提供することである。【解決手段】第一の光学センサ（１１）及び前記第二の光学センサ（１２）それぞれからの信号出力に基づいた検出信号を出力する検出処理手段を有し、機器（１００）のカバー（１０１）が所定の正規状態にあるか否かに応じて光源ユニット（１０）から発する光路が前記第一の光学センサ（１１）に到達する状態及び到達しない状態のいずれかになるように、光学系（１０、１４）及び前記第一の光学センサ（１１）が配置され、前記第二の光学センサ（１２）が、前記カバー（１０１）が開けられたときに外光が入射するように配置された構成となる。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
機器内に設置された、光源ユニットを少なくとも含む光学系と、光入射の有無に応じた信号出力を行う第一の光学センサ及び第二の光学センサとを有すると共に、
前記第一の光学センサ及び前記第二の光学センサそれぞれからの信号出力に基づいた検出信号を出力する検出処理手段を有し、
前記機器のカバーが所定の正規状態にあるか否かに応じて前記光源ユニットから発する光路が前記第一の光学センサに到達する状態及び到達しない状態のいずれかになるように、前記光学系及び前記第一の光学センサが配置され、
前記第二の光学センサが、前記カバーが開けられたときに外光が入射するように配置されたことを特徴とするタンパー動作検出装置。
【請求項２】
前記カバーが前記所定の正規状態にあるときに前記光源ユニットからの光が前記第一の光学センサに到達し、前記カバーが前記所定の状態にないときに前記光源ユニットからの光が前記第一の光学センサに到達しないように、前記光学系及び前記第一の光学センサが配置されたことを特徴とする請求項１または２記載のタンパー動作検出装置。
【請求項３】
前記光学系は、前記カバーが前記所定の正規状態にあるときに前記光源ユニットから発せられる光を前記第一の光学センサに導く一または複数の光学素子を有することを特徴とする請求項２記載のタンパー動作検出装置。
【請求項４】
前記一または複数の光学素子の少なくとも１つは、機器のカバー内面に設けられたことを特徴とする請求項３記載のタンパー動作検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、機器のケースが開けられたこと（タンパー動作）を検出して検出信号を出力するタンパー動作検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ＩＤ情報、暗号化キー、課金情報等の重要な情報をメモリに記憶させた機器では、メモリ内の重要な情報の不正な改ざん（タンパー）等を防止するために、機器のカバーが不正に開けられたときにそのメモリ内の情報を消去等することがなされている。そして、機器のカバーが不正に開けられたこと（タンパー動作）を検出するタンパー動作検出装置として、従来次のようなものが提案されている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
この従来のタンパー動作検出装置は、機器のドアが開けられたことを検出するメカニカルスイッチＳＷと、機器内部に設置された光センサＳＲとを備え、機器のドアが不正に開けられた場合には、メカニカルスイッチＳＷの動作に基づいた信号が出力され、機器のカバーが破損されることによりそのカバーが開けられた場合には、外光を受けた光センサＳＲから信号が出力されようになっている。このようなタンパー動作検出装置では、前記メカニカルスイッチＳＷの動作に基づいた信号及び光センサＳＲからの信号のいずれかが出力されたときに機器に対するタンパー動作がなされたとして、検出信号が出力される。そして、この検出信号に基づいて機器に備えられたメモリの情報の消去等（耐タンパー処理）がなされる。
【０００４】
【特許文献１】
特開平１１−１７５４０５号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、前記従来のタンパー動作検出装置では、メカニカルスイッチＳＷはドア開放を検出するためのものであり、光センサＳＲはカバー（筺体）の破損による開放を検出するためのものであることから、それらのタンパー動作検出の仕組みが第三者に知れてしまうと、ドア開放検出及びカバー開放検出のそれぞれについて相互に関係なく回避策を講じるという不正行為が可能となってしまう。例えば、光センサＳＲによるカバー開放検出に対する回避策が講じられてしまうと、メカニカルスイッチＳＷが正常に機能していても、カバーを開けて内部のメモリの情報の改ざん等が可能になってしまう。また逆に、メカニカルスイッチＳＷによるドア開放検出に対する回避策が講じられてしまうと、光センサＳＲが正常に機能していてもドアを開けて内部のメモリの情報の改ざん等が可能になってしまう。
【０００６】
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、タンパー動作検出の仕組みが第三者に知れてしまっても、タンパー動作検出の回避をし難くし得るタンパー動作検出装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明に係るタンパー動作検出装置は、機器内に設置された、光源ユニットを少なくとも含む光学系と、光入射の有無に応じた信号出力を行う第一の光学センサ及び第二の光学センサとを有すると共に、前記第一の光学センサ及び前記第二の光学センサそれぞれからの信号出力に基づいた検出信号を出力する検出処理手段を有し、前記機器のカバーが所定の正規状態にあるか否かに応じて前記光源ユニットから発する光路が前記第一の光学センサに到達する状態及び到達しない状態のいずれかになるように、前記光学系及び前記第一の光学センサが配置され、前記第二の光学センサが、前記カバーが開けられたときに外光が入射するように配置された構成となる。
【０００８】
このような構成により、機器のカバーが所定の正規状態にあるか否かに応じて光源ユニットから発する光路が第一の光学センサに到達する状態及び到達しない状態のいずれかになることから、機器のカバーが前記所定の正規状態にあるか否かに応じて前記第一の光学センサからの信号出力が変わる。従って、前記第一の光学センサからの信号出力に基づいた検出処理手段からの検出信号が、機器のカバーが所定の正規状態にあるか否かを表し得る。
【０００９】
更に、機器のカバーが開けられて外光が第二の光学センサに入射すると、第二の光学センサから光入射に応じた信号出力がなされる。この場合における第二の光学センサからの信号出力に基づいた前記検出処理手段からの検出信号が、機器のカバーが開けられたことを表し得る。
【００１０】
前記カバーが開けられることにより前記機器のカバーが前記所定の正規状態でなくなると、前記第一の光学センサからの信号出力及び前記第二の光学センサからの信号に基づいた前記検出処理手段からの検出信号が、機器のカバーが前記所定の正規状態にない、即ち、前記カバーが開けられたことを表し得る。
【００１１】
機器のカバーを不正に開けようとする場合、前記機器のカバーが所定の正規状態となることに対応した前記光源ユニットから発する光路が第一の光学ユニットに到達する状態または到達しない状態を維持しつつ第二の光学ユニットに外光が入射しないようにしなければ、前記検出処理手段からは、前記カバーが前記所定の正規状態にないこと及び、または前記カバーが開けられたことを表し得る検出信号が出力されることとなる。
【００１２】
前記カバーは、機器の内部を遮蔽するものであれば特に限定されず、蓋、ドアなどの部分的なものであっても、機器全体を覆うものであってもよい。
【００１３】
また、本発明に係るタンパー動作検出装置は、前記カバーが前記所定の正規状態にあるときに前記光源ユニットからの光が前記第一の光学センサに到達し、前記カバーが前記所定の状態にないときに前記光源ユニットからの光が前記第一の光学センサに到達しないように、前記光学系及び前記第一の光学センサが配置された構成とすることができる。
【００１４】
このような構成により、機器のカバーが所定の正規状態にあるときは、第一の光学センサに光源ユニットからの光が入射され、前記カバーにより外光が遮断されて第二の光学センサには光が入射されない。このような状態では、検出処理手段は、光が入射する第一の光学センサからの信号出力と光が入射しない第二の光学センサからの信号出力に基づいた検出信号を生成する。
【００１５】
一方、機器のカバーが前記所定の正規状態にないときは、少なくとも第一の光学センサに光源ユニットからの光は入射されない。このような状態では、検出処理手段は、光が入射しない第一の光学センサからの信号出力と、第二の光学センサからの任意の信号出力に基づいた検出信号を生成する。
【００１６】
機器のカバーを不正に開けようとする場合、第一の光学ユニットに光が入射する状態を維持しつつ第二の光学ユニットに外光が入射しないようにしなければ、前記検出手段からは、前記カバーが前記所定の正規状態にないこと及び、または前記カバーが開けられたことを表し得る検出信号が出力されることとなる。
【００１７】
本発明に係るタンパー動作検出装置は、前記光学系が、前記カバーが前記所定の正規状態にあるときに前記光源ユニットから発せられる光を前記第一の光学センサに導く一または複数の光学素子を有する構成とすることができる。
【００１８】
このような構成により、光源ユニットから第一の光学センサに至る光路を長くとることができるようになることから、機器のカバーが僅かに前記所定の正規状態からずれただけで、光源ユニットからの光が第一の光学センサに到達しないようにすることができる。
【００１９】
また、本発明に係るタンパー動作検出装置は、前記光学素子の少なくとも１つが、機器のカバー内面に設けられた構成とすることができる。
【００２０】
このような構成により、機器のカバーの動きが直接的に光源ユニットから第一の光学センサに至る光路に影響することとなる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
【００２２】
本発明の実施の形態に係るタンパー動作検出装置が搭載された機器は、図１に示すように構成される。
【００２３】
図１において、回路部品（重要な情報を記憶したメモリを含む）を搭載した回路基板１１０が機器１００内部の支持台（図示略）に固定設置されている。その回路基板１１０上に例えばＬＥＤにて構成された光源ユニット１０、それぞれフォトトランジスタＰＴｒにて構成された第一の光学センサ１１及び第二の光学センサ１２が設けられている。機器１００は、例えば、前記支持台にネジ止め等により固定されるカバー１０１にて覆われている。
【００２４】
カバー１０１の内部上面の所定位置にはミラー１４が固定されている。光源ユニット１０、ミラー１４及び第一の光学センサ１１は、カバー１０１が正規の位置にセットされた状態（正規状態）で、光源ユニット１０から発せられた光がミラー１４を介して第一の光学センサ１１に到達するように配置されている。カバー１０１が移動されると、光源ユニット１０とミラー１４との相対的位置が変化し、光源ユニット１０からの光が第一の光学センサ１１に到達しなくなる。第二の光学ユニット１２は、カバー１０１が開けられたときに外光が入射するように配置されている。
【００２５】
本発明の実施の形態に係るタンパー動作検出装置は、図２に示すように構成される。
【００２６】
図２において、このタンパー動作検出装置は、前述したように回路基板１１０上に配置される光源ユニット１０、第一の光学センサ１１及び第二の光学センサ１２のほかに、タンパー検出処理部１５を有している。第一の光学センサ１１及び第二の光学センサ１２は光入射の有無に応じた信号出力を行い、タンパー検出処理部１５は、第一の光学センサ１１の信号出力及び第二の光学センサ１２の信号出力に基づいた検出信号を生成して出力する。タンパー検出処理部１５は、例えば、図３に示すように構成される。
【００２７】
図３において、タンパー検出処理部１５は、ビット判定回路１５０を有している。第一の光学センサ１１となるフォトトランジスタＰＴｒ１と抵抗器Ｒ１とが電源ラインＶｃｃと接地ラインとの間に直列接続され、第二の光学センサ１２となるフォトトランジスタＰＴｒ２と抵抗器Ｒ２とが電源ラインＶｃｃと接地ラインとの間に直列接続されている。フォトトランジスタＰＴｒ１と抵抗器Ｒ１との接続点からの出力が第一の光学センサ１１の出力としてビット判定回路１５０に入力し、フォトトランジスタＰＴｒ２と抵抗器Ｒ２との接続点からの出力が第二の光学センサ１２の出力としてビット判定回路１５０に入力している。
【００２８】
ビット判定回路１５０は、反転回路１５１とアンド回路１５２とを有している。フォトトランジスタＰＴｒ１（第一の光学センサ１１）の出力が反転回路１５１に接続され、フォトトランジスタＰＴｒ２（第二の光学センサ１２）の出力がアンド回路１５２に接続されている。また、反転回路１５１の出力がアンド回路１５２に接続されている。アンド回路１５２からのビット出力がビット判定回路１５０の出力、即ち、タンパー検出処理部１５の検出信号となっている。
【００２９】
前述したようなタンパー動作検出装置では、機器１００のカバー１０１が正規の位置に設置されている場合（正規状態）、光源ユニット１０からの光がミラー１４を介して第一の光学センサ１１に入力する。その結果、第一の光学センサ１１のフォトトランジスタＰＴｒ１がオン状態となる。また、外光がカバー１０１により遮断され、第二の光学センサ１２には光が入射しない。その結果、第二の光学センサ１２のフォトトランジスタＰＴｒ２はオフ状態となる。
【００３０】
この状態では、フォトトランジスタＰＴｒ１の出力がローレベル“Ｌ”、フォトトランジスタＰＴｒ２の出力がハイレベル“Ｈ”となることにより、ビット判定回路１５０の出力（アンド回路１５２の出力）がハイレベル“Ｈ”となる。これによりタンパー検出処理部１５は、ハイレベル“Ｈ”の検出信号を出力する。
【００３１】
一方、機器１００のカバー１０１を不正に開けようとしてカバー１０１が正規の位置から動かされると（正規状態でない）、光源ユニット１０とミラー１４との相対的位置が変わり、光源ユニット１０からの光が第一の光学センサ１１に到達しない。この状態では、第一の光学センサ１１のフォトトランジスタＰＴｒ１がオフ状態となってその出力がハイレベル“Ｈ”となる。すると、このハイレベル“Ｈ”の信号が反転回路１５１によってローレベル“Ｌ”となり、そのローレベル“Ｌ”の信号がアンド回路１５２に入力する。その結果、アンド回路１５２の出力、即ち、ビット判定回路１５０の出力がローレベル“Ｌ”となって、タンパー検出処理部１５はローレベル“Ｌ”の検出信号を出力する（タンパー動作検出）。
【００３２】
機器１００のカバー１０１が開けられて、光学ユニット１０からの光が第一の光学センサ１１に到達しない状態において、外光が第二の光学センサ１２に入射すると、第二の光学センサ１２のフォトトランジスタＰＴｒ２が更にオン状態となって、フォトトランジスタＰＴｒ１からのローレベル“Ｌ”の信号と共にこのフォトトランジスタＰＴｒ２からのローレベル“Ｌ”の信号がアンド回路１５２に入力する。この場合にも、アンド回路１５２の出力はローレベル“Ｌ”となり、タンパー動作検出処理部１５はローレベル“Ｌ”の検出信号を出力する（タンパー動作検出）。
【００３３】
前述したように動作するタンパー動作検出装置から出力される検出信号がローレベル“Ｌ”となる場合に、カバー１０１が正規の位置にないこととなる。機器１００では、タンパー動作検出装置から出力される検出信号がローレベルになると、タンパー動作（カバー１０１の正規状態からの移動）がなされたものとして、所定のメモリ内の情報を消去する等の耐タンパー処理がなされる。
【００３４】
このようなタンパー動作検出装置の仕組みを不正に知った第三者が、例えば、カバー１０１の傾きを調整することにより光源ユニット１０からの光がミラー１４を介して第一の光学センサ１１に到達する状態を維持しながらカバー１０１を徐々に開けようとしても、外光が第二の光学センサ１２（フォトトランジスタＰＴｒ２）に入射してしまうと、検出信号がローレベル”Ｌ“となってタンパー動作検出（検出信号：ローレベル”Ｌ“）がなされ、機器１００では耐タンパー処理がなされることとなる。
【００３５】
また、例えば、カバー１０１を僅かに開けて別の光源からの光をカバー１０１内に導いて第一の光学センサ１１にその光を照射しようとしても、カバー１０１内に導かれた光が第二の光学センサ１２に入射しないようにしなければならず、その作業が難しい。そのような光が第二の光学センサ１２（フォトトランジスタＰＴｒ２）に入射してしまうと、検出信号がローレベル“Ｌ”となってタンパー動作検出がなされ（検出信号：ローレベル“Ｌ”）、機器１００では耐タンパー処理がなされることとなる。
【００３６】
このようにタンパー動作検出がなされないように機器１００のカバー１０１を開けるには、第一の光学センサ１１に光が入射する環境、及び第二の光学センサ１２に光が入射しない環境を同時に維持しながらカバー１０１を開けなければならない。このため、前述したようなタンパー動作検出動作を回避しつつ機器１００のカバー１０１を不正に開けることが難しいものとなる。
【００３７】
また、光源ユニット１０から第一の光学ユニット１１に至る光路を機器に応じて種々変更するようにすれば、ある機器における光源ユニット１０、第一の光学ユニット１１及び光学系（１４）の構成が不正に第三者に知られてしまっても、タンパー動作検出を回避しつつ他の機器のカバーを開けることは困難である。
【００３８】
なお、上記例では、光源ユニット１０からの光がミラー１４を介して第一の光学センサ１１に入射するような構造となっていたが、光源ユニット１０または第一の光学センサ１１をカバー１０１に設置して光源ユニット１０からの光が直接第一の光学センサ１１に入射するようにしてもよい。
【００３９】
また、光源ユニット１０から第一の光学センサ１１に至る光路上には光学素子としてミラー１４しか設置されていないが、複数の光学素子を設置するようにしてもよい。この場合、光源ユニット１０から第一の光学センサ１１に至る光路が長くなるので、カバー１０１の僅かな動きによっても光源ユニット１０からの光を第一の光学センサ１１に到達しなくなるようにすることができる。また、機器１００内に長い光路が設定されることから、不正にカバー１０１を開けようとした際にその長い光路を遮断する可能性が高くなり、タンパー動作検出がより確実にできるようになる。
【００４０】
更に、前記例では、正規の状態で光源ユニット１０からの光が第一の光学センサ１１に入射されるものであったが、光源ユニット１０から第一の光学センサ１１に至る光を遮断する遮光素子をケース１０１に一体的に設けるようにすることもできる。この場合、ケース１０１が正規の位置から動かされたときに、前記遮光素子も移動して光源ユニット１０からの光が第一の光学センサ１１に入射する。従って、タンパー検出処理部１５は、光が入射する第一の光学センサ１１からの信号出力に基づいてタンパー動作検出を表す検出信号を生成するように構成されることとなる。
【００４１】
前記光源ユニット１０、第一の光学センサ１１及び第二の光学センサ１２のいずれも、機器１００の回路基板１１０以外の部位に設置することが可能である。
【００４２】
【発明の効果】
以上、説明したように、本発明によれば、機器のカバーを不正に開けようとする場合、機器のカバーが所定の正規状態となることに対応した光源ユニットから発する光路が第一の光学ユニットに到達する状態または到達しない状態を維持しつつ第二の光学ユニットに外光が入射しないようにしなければ、検出処理手段からは、前記カバーが前記所定の正規状態にないこと及び、または前記カバーが開けられたことを表し得る検出信号が出力されることとなるので、タンパー動作検出の仕組みが不正者に知れてしまっても、タンパー動作検出の回避のし難いタンパー動作検出装置を提供することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態にかかるタンパー動作検出装置が搭載された機器を示す図
【図２】本発明の実施の形態にかかるタンパー動作検出装置の構成を示すブロック図
【図３】図２に示すタンパー動作検出装置におけるタンパー検出処理部の構成例を示す図
【符号の説明】
１０  光源ユニット
１１  第一の光学センサ
１２  第二の光学センサ
１４  ミラー
１５  タンパー検出処理部
１００  機器
１０１  カバー
１１０  回路基板
１５０  ビット判定回路
１５１  反転回路
１５２  アンド回路
【図１】
2004227144.tif 000003
【図２】
2004227144.tif 000004
【図３】
2004227144.tif 000005