(57)【要約】【課題】３管球ＣＴにおいて、より時間分解能の優れた画像の作成および、アーチファクトの少ない画像を作成する。【解決手段】高分解能データを生成するにあたり、被検体テーブルの移動速度および、３台のＸ線管の管電流、といった計測に関する計測パラメータを入力する（ステップ１）。そして、入力された計測パラメータを基に、各Ｘ線管が同一軌跡を計測するように、らせん走査撮影を行う（ステップ２）。また、得られた投影データに対し、対向位置の投影データを実データで代用することによって、より時間分解能の優れた、重み付けらせん補正処理を行い、補正投影データを生成し、さらに、らせん補正用重みを得た投影データを、対応する位相（ビュー）へ加算処理することで、アーチファクトの少ない補正投影データを得る（ステップ３）。そして、得られた補正投影データをフィルタ補正逆投影によって処理し、高分解能画像を作成する（ステップ４）。【選択図】　　　　図３
2004000357.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を含む透過性を有する放射線を照射可能な放射線源および、前記放射線を検出するために、対向位置に配置されたマルチスライス型検出器のセットを複数、配置し、前記マルチスライス型検出器による、対向位置の投影データを実データで代用することを特徴とする多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
請求項１に記載の多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置において、重み付けらせん補正再構成する時に、同じスライス位置における、異なる位相の単位データの組み合わせにより、再構成データを作成することを特徴とする多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被検体の断層像画像を取得する多管球マルチスライスＸ線ＣＴ（ＣｏｍｐｕｔｅｄＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図１５に従来のＸ線ＣＴ装置の構成図を示す。Ｘ線ＣＴ装置は、システム全体を統括制御するホストコンピュータ１１、Ｘ線管、検出器および、回転盤を搭載した回転走査機構を有するスキャナ１２および、Ｘ線管の電源である高電圧発生装置１５を有する。また、被検体１６の位置決め時および、らせん走査時に被検体１６を搬送するための、被検体テーブル１３、前処理、再構成処理をはじめとした各種画像処理を実施する画像処理装置１４および、被検体１６の断層像を表示する表示装置１７を有する。また、従来のＸ線ＣＴ装置における、Ｘ線管と検出器の組合わせは、１〜３対を有している。
【０００３】
この図１５に示した、従来のＸ線ＣＴ装置による、１対のＸ線管とマルチスライス型検出器（１管球ＣＴ）では、１８０°補間再構成を用いることで、スキャン時間の１／２の時間分解能を実現している。
【０００４】
そして、３対のＸ線管とマルチスライス型検出器とを有するＸ線ＣＴ装置（３管球ＣＴ）で、重み付けらせん補正再構成をする場合、３つの、らせん投影データから、１管球ＣＴで行われてきたように、補間（重み付け処理）を実行し、１つの投影データにして、再構成を行う。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、これまでの３管球ＣＴに関して、スキャン時間の１／２の時間分解能を実現しているが、心臓などの動きのある被検体１６を撮影する場合には能力が不足している。
【０００６】
また、３管球ＣＴで重み付けらせん補正再構成をする場合、３つの管球間の投影データの不連続性により強いアーチファクトが発生する。
【０００７】
そこで、より時間分解能の優れた多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置を、提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を実現するために、本発明においては、特許請求の範囲に記載するように構成している。すなわち、本発明は、請求項１に記載のように、
光を含む透過性を有する放射線を照射可能な放射線源および、前記放射線を検出するために、対向位置に配置されたマルチスライス型検出器のセットを複数、配置し、前記マルチスライス型検出器による、対向位置の投影データを実データで代用することを特徴とするマルチスライスＸ線ＣＴ装置することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を構成する。
【０００９】
また、本発明は、請求項２に記載のように、
請求項１に記載の多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置において、重み付けらせん補正再構成する時に、同じスライス位置における異なる位相の単位データの組み合わせにより再構成データを作成することを特徴とするマルチスライスＸ線ＣＴ装置することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を構成する。
【００１０】
【発明の実施の形態】
図１は、本実施の形態の多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置のスキャナ部を示す図である。図１に示すように、スキャナ部１２に設置した回転盤４９に、３対のＸ線管２１Ａ〜２１Ｃとマルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃを１２０゜の回転位相差を持って搭載する。
【００１１】
そして、３対のセットは、Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃとマルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃ間の距離および、Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃと回転中心間の距離などの、撮影幾何学系（ジオメトリ）の相対位置関係を保持したまま、同時に回転させる。
【００１２】
また、被検体テーブル１３に被検体１６を寝かせた状態で、Ｘ線管２１Ａ〜２１ＣからＸ線を照射する。このＸ線は、マルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃによって検出されるが、この時、回転盤４９を被検体１６の周囲に回転させることにより、Ｘ線を照射する角度を変えながら、マルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃを用いて、被検体１６のＸ線透過データを検出する。
【００１３】
図２は、図１に示した、スキャナ部を有する多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置のシステムブロックを示す図である。図２に示すように、多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置のシステムは、ホストコンピュータ１１、スキャナ１２、被検体テーブル１３および、画像処理装置１４を有する。
【００１４】
そして、ホストコンピュータ１１に含まれるデータ入力部４１によって、オペレータが撮影条件を選択し、中央制御部４２は、撮影条件に従い、オフセット制御部６３、計測制御部５１、被検体テーブル制御部６１、画像再構成部６４に指示を出す。計測制御部５１は中央制御部４２から送られてきたＸ線条件を、高電圧発生器５２に指示し、Ｘ線管２１Ａ〜２１ＣによるＸ線の曝射タイミングや計測回路５３の計測開始指示、コリメータ制御部５４、回転制御部５５への指示を行う。
【００１５】
また、図２に示すように、Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃ、マルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃおよび、計測回路５３Ａ〜５３Ｃは、３対（Ａ〜Ｃ）で構成し、計測回路５３Ａ〜５３Ｃの出力を、データ送信部７０に送信する。そして、データ送信部７０からの送信データは、データ受信部７４に送信して、前処理部７６および、画像再構成部６４によって、被検体１６の断層像を求める。そして、得られた断層像は、中央制御部４２で処理し、画像表示部４３に表示して、診断に使用する。また、処理結果はメモリ４４に記録する。
【００１６】
一方、Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃの管電圧は、管電圧モニタ５６により計測し、計測結果を、高電圧発生器５２にフィードバックして、Ｘ線管２１Ａ〜２１ＣによるＸ線の線量を制御する。また、各駆動部は各制御部によって制御され、コリメータ駆動部５７はコリメータ制御部５４により制御され、回転駆動部５８は回転制御部５５、被検体テーブル駆動部５９は被検体テーブル制御部６１によってそれぞれ制御される。
【００１７】
図３は、多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置の処理フローを示す図である。図３に示すように、ここでは、同一軌跡により計測を行い、これを基に高分解能画像を生成する方法を説明する。そして、図３に示すように、計測パラメータの設定（ステップ１）、らせん走査撮影（ステップ２）、重み付けらせん補正処理（ステップ３）および、フィルタ補正逆投影処理（ステップ４）の手順で、被検体１６の断層像を作成する。
【００１８】
高分解能データを生成するにあたり、被検体テーブル１３の移動速度および、各Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃの管電流、更には各Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃとマルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃのセットの、ジオメトリ（Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃ−マルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃ間距離、Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃ−回転中心間距離）といった計測に関する計測パラメータを、データ入力部４１からホストコンピュータ１１に入力する（ステップ１）。
【００１９】
さらに、入力する計測パラメータとしては、被検体１６の関心領域に応じて周回軸方向、ならびにＸ線管２１Ａ〜２１Ｃの回転方向に、Ｘ線の照射視野を制限する条件を設定する（ステップ１）。
【００２０】
この図３に示す、多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置の処理フローのステップ２〜４は、撮影範囲の大きさに対応して、各処理時間は増加する。そこで、計測パラメータの設定で規定する、被検体１６の関心領域の設定は、検査時間を短縮することになり、被検体１６の負担を軽減することができる。
【００２１】
入力された計測パラメータを基に、各Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃが同一軌跡を計測するように、スキャナに搭載された各Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃおよび、マルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃのセットにより、らせん走査撮影を行う（ステップ２）。
【００２２】
次に、撮影により得られた複数の投影データに対し、重み付けらせん補正処理を行い、補正投影データを生成する（ステップ３）。そして、得られた補正投影データをフィルタ補正逆投影によって処理し、高分解能画像を作成する（ステップ４）。
【００２３】
ここで、ファンビームとパラレルビームを説明する。図４は、ファンビームとパラレルビームの関係を示す図である。図４に示すように、多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置では、Ｘ線管２０のターゲット（微小な焦点）から円錐状、又は角錐状にＸ線は照射されるため、Ｘ線管２０の周回軸方向から観察するとＸ線ビームは図４（ａ）のようなファン状（扇状）のビームとみなすことができる。この周回軸方向から見てファン状のＸ線ビームは、周回しながら３６０゜にわたり撮影される。このとき、周回軸方向から見て同一ベクトル方向に照射されるＸ線ビーム（Ｓ１〜Ｓ２）を集めると、図４（ｂ）に示すように仮想的にパラレルビームを作成することができる。この処理を一般的には「並べ替え処理（ｒｅｂｉｎｎｉｎｇ）」とよぶ。
【００２４】
画像再構成は一般には３６０゜位相分の投影データで行われるが、向かい合う投影データ（対向データ）との冗長性を利用して１８０゜位相分の投影データで再構成する手法がある。これをハーフ再構成とよぶ。パラレルビームでは、各位相の投影データが、回転軸を中心とした、対向位相にあるパラレルビームと一致することから、ちょうど１８０゜位相分のパラレルビームの投影データすべてにおいて、１周期分の投影データとして再構成可能である。これに対し、ファンビームでは、図４（ａ）に示すように、Ｓ１からＳ２までの位相（１８０゜＋ファン角）のＸ線ビームが必要であり、この位相データ内（ファンビーム投影データ群）には、周回軸方向からみて冗長なＸ線ビームデータを含む。
【００２５】
そこで、図５に、ファンビームおよび、パラレルビームの投影データの位置を示す。図５に示すように、ファンビームおよび、パラレルビームは、サイノグラム（投影データを横軸がチャンネル方向、縦軸が位相方向で表した図）においては、図５に示すような投影データ位置に表される。
【００２６】
そして、図６に、ファンビームおよび、パラレルビームの投影データの範囲を示す。図６（ａ）に示すように、ファンビームのハーフスキャンでは、図６（ａ）に示すような投影データ範囲を使用する。また、パラレルビームを用いたハーフスキャンでは、図６（ｂ）のような投影データ範囲を使用する。
【００２７】
このため、このファンビームデータ群のうち冗長度が一定となるようにＸ線ビームを選択するか、重み付け処理等により正規化を行う必要がある。
【００２８】
図７は、円軌道スキャンと、らせん軌道スキャンを示す図である。図７（ａ）に示すように、フィルタ補正逆投影法は円軌道で撮影された、すなわち、再構成画像上を周回するＸ線管から、照射されたＸ線より得られる投影データに対して行うべきものであり、図７（ｂ）のように、らせん軌道スキャンにより得られた投影データに対して適用すると、大きな歪みを生ずる。このため、図７（ｂ）のように、らせん軌道で撮影された場合には、らせん軌跡を円軌跡に補間し円軌跡として、再構成を行う。
【００２９】
次に、図８に、らせん軌跡を円軌跡に補間して再構成を行う場合の、計測軌跡図を示す。図８において、実線が実際に計測された実データ軌跡であり、破線が実データ軌跡の１８０゜対向に位置する対向データの軌跡である。また、図８に示すように、らせん軌跡を円軌跡に補間して再構成を行う場合において、対向データを実データで代用した重み関数を用いることで、より短いビュー範囲（１列当り）でも再構成位置における位相（ビュー）の連続性を保つことができる。また、対向データは実データから仮想的に作成してもよい。
【００３０】
そして、図８（ａ）は、らせん軌跡を円軌跡に補間する条件を満足する、列数が１のマルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃ（ピッチ６）によって計測された投影データの軌跡を示す図である。また、図８（ａ）では、対向データを含めて連続した３６０゜分（１８０゜分）の補間データを作成できる。
【００３１】
さらに、図８（ｂ）は列数が３のマルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃ（ピッチ１８）によって計測された場合の、投影データの軌跡を示す図である。
【００３２】
ここで、図８の場合に、使用するアルゴリズムは、重み付けらせん補正再構成である（ステップ３）。従って、本実施の形態の特徴は、対向位置において、計測データと補間データが一致しないことによって、より少ない計測データの使用で画像を作成できるところにある。
【００３３】
すなわち、対向位置の投影データを実データで代用することによって対向位置に投影データが存在しなくても再構成が可能となる（ビューのサイズを通常の半分で再構成できる）条件で撮影を行う。これは、再構成スライス位置における、あるマルチスライス型検出器および、ある列の対向位置に投影データが存在しない条件で撮影を行う方が、より時間分解能は向上するということである。
【００３４】
そして、時間分解能を向上する条件は、らせんピッチＰと、使用する１台のマルチスライス型検出器当りの列数Ｌの関係が、次の条件を満たす場合である。
（１）１台のマルチスライス型検出器当りで、検出器列数Ｌ＝２以上の場合
らせんピッチＰ＝２×Ｌ×Ｋ　　　　　（１）
（２）１台のマルチスライス型検出器当りで、検出器列数Ｌ＝１の場合
らせんピッチＰ＝Ｋ（２×Ｑ＋１）≦Ｌ×Ｋ　　（２）
または　　Ｐ＝２×Ｌ×Ｋ
ここに
Ｌ（１台のマルチスライス型検出器当り列数）＝１、２、３、・・・・・
Ｋ（マルチスライス型検出器数）＝１、３、５、・・・・・
Ｑ（正の整数）＝０、１、２、・・・・・
上記条件は最も理想的な場合であり、これに近似させた値を用いてもよい。
【００３５】
図９は図８（ｂ）の場合の、らせん補正用重みを示す図である。図９に示すように、らせん補正用重みを得た投影データ（サイノグラム）に加重し、重み付け投影データを得、各マルチスライス型検出器の各列の投影データを対応する位相へ加算処理することで、補正された１つの補正投影データを得る。この補正投影データをフィルタ補正により逆投影し、再構成画像を得る（ステップ４）。
【００３６】
図１０は、各重みの形状を示した図である。図１０（ａ）に示すように、図９では、ステップ応答的に変化する重み係数を使用しているが、図１０（ｂ）のように重み係数を、適用するビュー方向の幅を広げた重み係数を使用してもよい。図１０（ｂ）では、急激な投影データの移り変わりが低減されることから、図１０（ａ）に比べて不連続性によるアーチファクトが低減する。
【００３７】
図１１は、１対のＸ線管とマルチスライス型検出器を使用した時の単位データと、３対のＸ線管とマルチスライス型検出器（均等角度配置）を使用した時の単位データを示す。図１１の縦軸は周回軸方向の距離、横軸はビュー（角度）を示している。図１１に示すように、画像を作成する場合において、再構成に必要な最も少ないデータ量（ビュー数）を考える。以下、このデータ量を単位データと呼ぶ。
【００３８】
図１１（ａ）に示すように、１台のマルチスライス型検出器での単位データは、パラレルビームの場合は、１８０°位相（ビュー）分の投影データとなる。３台のマルチスライス型検出器では、各マルチスライス型検出器が１２０°ずつ位相（ビュー）を異にするために、図１１（ｂ）に示すように、離散的な６０°ずつの投影データとなる。これは不連続な投影データであるが、３台のマルチスライス型検出器のうち、２台のマルチスライス型検出器分の投影データを、Ｘ線のビーム経路に沿って、対向に位置する、Ｘ線ビームの投影データに並べ替えた場合に、１台のマルチスライス型検出器と同様に、連続した１８０°の投影データとなるために、再構成可能となる。
【００３９】
図１２は、角度１２０゜間隔で３台のマルチスライス型検出器を配置した、多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置による投影データの軌跡を示す図である。図１２に示すように、投影データの両端１／３ずつに隣接する投影データと、冗長性を持たせて計測した計測図である。そして、マルチスライス型検出器毎にスキャン軌跡が異なるために、マルチスライス型検出器間に、データの切換り位置Ｅがあるために、投影データの不連続性を生ずる。この投影データの不連続性により、再構成された画像からは強いアーチファクトが発生する。
【００４０】
重み付けらせん補正再構成する上で、この同じスライス位置における、異なる位相（ビュー）の単位データの組み合わせにより、再構成データを作成する。従って、スライス厚を厚くすることなく、異なる位相（ビュー）のアーチファクトを有する、複数の画像を加算平均することと同様に、アーチファクトを低減することができ、より高画質な画像を得ることが可能である。
【００４１】
図１３、図１４は多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置における、良好な画像を得るための重み関数の１例を示す。図１３の縦軸は周回軸方向の距離、横軸はビュー（角度）を示している。そして、図１３は、図１２に示す計測により得られた、３つの位相（第１位相〜第３位相）の単位データに対する重み付け（正規化）を示す図である。なお、図１３に示すように、冗長性を有する部分に対し係数を乗算し正規化を行っている。当然、この重み付けは再構成スライス位置（第２位相）に近いほど高い重み係数をもつほうがよい。
【００４２】
図１４は、補正における各管球の投影データが占める重みの比率を示す図である。図１４の縦軸は、重み付けにより得られた補正データにおける、各マルチスライス型検出器データが占める重みの比率、横軸はビュー（角度）を示している。また、図１４に示すように、図１２で不連続を生じている位置では重みの比率は０．５と小さくし、再構成スライス位置では１．０と相対的に高い値を持たせることにより、不連続性は低減され、良好な画像が作成される。このように、３台のマルチスライス型検出器を配置した、多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置による、投影データの不連続性を解消するために、図１４に示すようにビュー（又は検出器列）に対して重み付けを行うことで、より高画質な画像を得ることができる。
【００４３】
本実施の形態における理想的な条件として、各マルチスライス型検出器間の投影データの切換り位置Ｅが、対向するマルチスライス型検出器の投影データの切換り位置Ｅと一致しないようにする。このようにすると、対向位置の投影データによっても、マルチスライス型検出器間の不連続性は補正され、より良好な画像を得ることが可能となる。具体的には、１２０゜間隔で３台のマルチスライス型検出器を配置した多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置では式（３）に示す条件のように検出器列数Ｌをマルチスライス型検出器数Ｋの倍数Ｑとし、式（４）に示す条件のように、らせんピッチＰを検出器列数Ｌの２倍とすると、最も効率よく不連続性を改善することができる。
【００４４】
Ｌ＝Ｋ×Ｑ　　　　（３）
Ｐ＝２×Ｌ　　　　（４）
ここに
Ｑ（係数）＝０、１、２、・・・・・
なお、実施の形態では、Ｘ線管の数を、３本で説明したが、Ｘ線管の本数が異なる多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置の場合でも、同様の効果が得られる。
【００４５】
本実施の形態に関する以上の記述から、本実施の形態の目的が達成されたことは明らかである。本実施の形態を詳細にわたって記述すると共に図示したが、これらは説明および例示のみを意図したものであって、これらに限定されるものではない。
【００４６】
また、本実施の形態では、Ｘ線を用いた断層撮影装置を用いているが、これに限定されず、ガンマ線や光を用いた、透過性を有する照射可能な放射線源による断層撮影装置にも適用可能である。
【００４７】
そして、多管球により得られた複数の投影データより、１管球型と同様な１つの投影データを作成し、画像再構成することが可能である。
【００４８】
さらに、各Ｘ線管２１Ａ〜２１Ｃなどが同一軌跡で計測されているが、これに限定されず、異なる計測軌跡で計測してもよい。この場合には、対向位置にあるＸ線ビームを用いて、高分解能化することも可能である。また、各マルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃなどの、全体的なサイズは夫々に異なってもかまわない。マルチスライス型検出器３１Ａ〜３１Ｃの列数や、素子サイズにも制限されない。
【００４９】
【発明の効果】
本発明の実施によって得られる効果を各請求項ごとに説明する。
【００５０】
まず、請求項１の発明においては、マルチスライス型検出器による、対向位置の投影データを実データで代用することにより、時間分解能は向上する。
【００５１】
また、請求項２の発明においては、重み付けらせん補正再構成する時に、同じスライス位置における、異なる位相の単位データの組み合わせを適用して、再構成データを作成することにより、アーチファクト低減することができ、より高画質な画像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態である、多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置のスキャナ部を示す図である。
【図２】図１に示した、スキャナ部を有する多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置のシステムブロックを示す図である。
【図３】図１に示した、多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置の処理フローを示す図である。
【図４】ファンビームとパラレルビームを説明する図である。
【図５】ファンビーム、およびパラレルビームの投影データの位置を示す図である。
【図６】ファンビーム、およびパラレルビームの投影データの範囲を示す図である。
【図７】円軌道スキャンと、らせん軌道スキャンを示す図である。
【図８】本発明の実施の形態である、らせん軌跡を円軌跡に補間して再構成を行う場合の、計測軌跡図を示す図である。
【図９】図８に示した、計測軌跡の、らせん補正用重みを示す図である。
【図１０】図９に示した、らせん補正用重みの形状を示す図である。
【図１１】１管球ＣＴと３管球ＣＴの均等角度配置における単位データを示す図である。
【図１２】角度１２０゜間隔でマルチスライス型検出器を配置した多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置による投影データの軌跡を示す図である。
【図１３】本発明の実施の形態である、多管球マルチスライスＸ線ＣＴ装置における、良好な画像を得るための重み関数の１例を示す図である。
【図１４】本発明の実施の形態である、補正における各管球の投影データが占める重みの比率を示す図である。
【図１５】従来のＸ線ＣＴ装置の構成を示す図である。
【符号の説明】
１１…ホストコンピュータ
１２…スキャナ
１３…被検体テーブル
１４…画像処理装置
１５…高電圧発生装置
１６…被検体
１７…表示装置
２０…Ｘ線管
２１Ａ…Ｘ線管
２１Ｂ…Ｘ線管
２１Ｃ…Ｘ線管
３０…検出器
３１Ａ…マルチスライス型検出器
３１Ｂ…マルチスライス型検出器
３１Ｃ…マルチスライス型検出器
４１…データ入力部
４２…中央制御部
４３…画像表示部
４４…メモリ
４９…回転盤
５０…ガントリ
５１…計測制御部
５２…高電圧発生器
５３…計測回路
５３Ａ…計測回路
５３Ｂ…計測回路
５３Ｃ…計測回路
５４…コリメータ制御部
５５…回転制御部
５６…管電圧モニタ
５７…コリメータ駆動部
５８…回転駆動部
５９…被検体テーブル駆動部
６１…被検体テーブル制御部
６３…オフセット制御部
６４…画像再構成部
７０…データ送信部
７４…データ受信部
７６…前処理部
【図１】
2004000357.tif 000003
【図２】
2004000357.tif 000004
【図３】
2004000357.tif 000005
【図４】
2004000357.tif 000006
【図５】
2004000357.tif 000007
【図６】
2004000357.tif 000008
【図７】
2004000357.tif 000009
【図８】
2004000357.tif 000010
【図９】
2004000357.tif 000011
【図１０】
2004000357.tif 000012
【図１１】
2004000357.tif 000013
【図１２】
2004000357.tif 000014
【図１３】
2004000357.tif 000015
【図１４】
2004000357.tif 000016
【図１５】
2004000357.tif 000017