(57)【要約】【課題】記録レーザパワーをクロスイレーズ抑制の限界値と書き込みエラー抑制の限界値の中間近傍に追従させる新たなテストライトの手法を提供する。【解決手段】１回前のテストライト時において、ＥＬ１とＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２を下回っている場合には、テストライト幅Ａ（Ｌ）を１回前のテストライト時のものよりΔａだけ増大させる。逆に、ＥＬ１とＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２を上回っている場合には、Ａ（Ｌ）を１回前のテストライト時のものよりΔａだけ減少させる。また、ＥＬ１とＥＬ２の何れか一方のみが閾値Ｌ１、Ｌ２を上回っている場合には、Ａ（Ｌ）を１回前のテストライト時のものと同じとする。かかるＡ（Ｌ）を記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）に加減算した２つのレーザパワーでテストライトを行い、その結果に応じて、記録レーザパワーを調整する。【選択図】　図８
2004110862.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録時にテストライトを行うと共にその再生の適否に基づいて記録レーザパワーを調整する記録レーザパワー調整方法において、
テストライト時に設定されている記録レーザパワーを所定の値だけ高めたレーザパワーにて前記テストライトを行う第１のステップと、
テストライト時に設定されている記録レーザパワーを所定の値だけ低めたレーザパワーにて前記テストライトを行う第２のステップとを備え、
前記レーザパワーを高めるための所定の値と、前記レーザパワーを低めるための所定の値を、先に行われたテストライトの結果に応じて設定する、
ことを特徴とする記録レーザパワー調整方法。
【請求項２】
請求項１において、
１回前のテストライト時に実行された前記第１のステップに対する再生と、１回前のテストライト時に実行された前記第２のステップに対する再生の両方が、共に適正である場合には、前記２つの所定の値を共に増大させる、
ことを特徴とする記録レーザパワー調整方法。
【請求項３】
請求項１または２において、
１回前のテストライト時に実行された前記第１のステップに対する再生と、１回前のテストライト時に実行された前記第２のステップに対する再生の両方が、共に不適である場合には、前記２つの所定の値を共に減少させる、
ことを特徴とする記録レーザパワー調整方法。
【請求項４】
請求項３において、
前記所定の値は、あらかじめ決められた限界値よりも小さい値には減少されないことを特徴とする記録レーザパワーの調整方法。
【請求項５】
請求項１から４の何れかにおいて、
１回前のテストライト時に実行された前記第１のステップに対する再生と、１回前のテストライト時に実行された前記第２のステップに対する再生の何れか一方のみが不適である場合には、前記２つの所定の値を、１回前のテストライト時における値とする、
ことを特徴とする記録レーザパワー調整方法。
【請求項６】
請求項２から５の何れかにおいて、
当該テストライト時における前記第１のステップに対する再生と、当該テストライト時における前記第２のステップに対する再生の両方が、共に適正である場合には、記録レーザパワーをそのまま維持し、
当該テストライト時における前記第１のステップに対する再生と、当該テストライト時における前記第２のステップに対する再生の両方が、共に不適である場合には、不適の程度が大きい方のステップにて設定されたレーザパワーから離れる方向に記録レーザパワーをシフトさせ、
当該テストライト時における前記第１のステップに対する再生と、当該のテストライト時における前記第２のステップに対する再生の何れか一方のみが不適である場合には、当該不適となったステップにて設定されたレーザパワーから離れる方向に、記録レーザパワーをシフトさせる、
ことを特徴とする記録レーザパワー調整方法。
【請求項７】
請求項６において、
前記第１のステップに対する再生と前記第２のステップに対する再生の両方が共に不適である場における記録レーザパワーのシフト処理は、
テストライト時に設定されている記録レーザパワーにてテストライトを行うステップを含み、
当該ステップに対する再生エラーレート、前記第１のステップに対する再生エラーレートおよび前記第２のステップに対する再生エラーレートの３つのエラーレートを用いて記録レーザパワーとエラーレートの関係を規定する２次近似曲線を求め、当該２次近似曲線にてエラーレートが極小値となる記録レーザパワーを新たな記録レーザパワーとして設定する、
ことを特徴とする記録レーザパワー調整方法。
【請求項８】
上記請求項１から７の何れかに記載の記録レーザパワー調整方法を実行する手段を有することを特徴とする光磁気記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録レーザパワー調整方法および当該調整方法を採用した光磁気記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＭＤ（Ｍｉｎｉ−Ｄｉｓｃ）やＡＳＭＯ（Ａｄｖａｎｃｅｄ−Ｓｔｏｒａｇｅ−Ｍａｇｎｅｔｉｃ−Ｏｐｔｉｃａｌ）等の光磁気ディスクに情報を記録する場合、ディスクの特性やドライブ周囲の温度変化により、記録レーザパワーの最適値が刻々と変化する。情報の記録は、記録層の温度をキュリー点にまで高めて行うことから、通常、ディスク温度が上昇すると記録レーザパワーの最適値は低くなる。
【０００３】
記録レーザパワーが高すぎると、記録対象トラックに隣接するトラックにまで熱が及び、当該隣接トラックに記録された情報を消去するとの現象が生じる（クロスイレーズ）。逆に、記録レーザパワーが低すぎると、記録対象トラックに情報を良好に保持させることができなくなる（書き込みエラー）。記録の際には、常に最適値となるように、記録レーザパワーを調整する必要がある。
【０００４】
記録レーザパワーを調整するために、光磁気ディスク記録再生装置では、記録動作中にテストライトを行って記録レーザパワーの適否を検証する、いわゆるテストライトモードが準備されている。かかるテストライトモードは、たとえば、装置温度が一定（たとえば２〜３℃）だけ変化したタイミングで実行される。
【０００５】
このテストライトは、たとえば、テストライト直前のレーザパワーＰｗに一定のふり幅ΔＡを加減した２つのレーザパワー（Ｐｗ＋ΔＡ、Ｐｗ―ΔＡ）で情報を記録し、その再生情報の状態に応じてレーザパワーを調整する。たとえば、Ｐｗ＋ΔＡにて記録した際にクロスイレーズが所定の閾値以上生じていた場合、レーザパワーＰｗを１ステップだけ低める。他方、Ｐｗ―ΔＡにて記録した際に書き込みエラーが所定の閾値以上生じていた場合、レーザパワーＰｗを１ステップだけ高める。何れの記録においても、クロスイレーズおよび書き込みエラーが閾値を下回る場合には、レーザパワーＰｗをそのまま維持する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記テストライトにおいては、ふり幅ΔＡが一定値に固定されているため、記録レーザパワーＰｗを、クロスイレーズ抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ１）と書き込みエラー抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ２）の中間近傍に追従させるのが困難であった。
【０００７】
上記の場合、クロスイレーズおよび書き込みエラーが閾値を下回る限り、レーザパワーＰｗはそのまま維持されるため、ふり幅ΔＡが小さいと、記録レーザパワーＰｗは、次第に限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ１）に近づいて行く。逆に、ふり幅ΔＡが大きいと、クロスイレーズおよび書き込みエラーが共に閾値を上回る頻度が高くなり、また、クロスイレーズおよび書き込みエラーが共に閾値を上回る場合には、レーザパワーＰｗが何れの限界値に偏っているか判別できず、よって、パワー調整を適正に行うことができない。
【０００８】
このように、上記従来のテストライトモードでは、記録レーザパワーＰｗをクロスイレーズ抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ１）と書き込みエラー抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ２）の中間近傍に追従させることができず、よって、その時々に最適のレーザパワーにて記録を行い得ないものであった。
【０００９】
そこで、本発明は、記録レーザパワーをクロスイレーズ抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ１）と書き込みエラー抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ２）の中間近傍に追従させる新たなテストライトの手法を提供することにより、従来に比べ、記録動作の信頼性をより高め得るようにするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、先に行われたテストライトの結果に応じて、現テストライト時のふり幅ΔＡを適宜設定するものである。
【００１１】
具体的には、１回前のテストライト時において、クロスイレーズおよび書き込みエラーが共に閾値を下回っている場合には、ふり幅ΔＡを増大させる。逆に、１回前のテストライト時において、クロスイレーズおよび書き込みエラーが共に閾値を上回っている場合には、ふり幅ΔＡを減少させる。また、１回前のテストライト時において、クロスイレーズおよび書き込みエラーの何れか一方のみが閾値を上回っている場合には、ふり幅ΔＡを前回と同じとする。
【００１２】
このように、ふり幅ΔＡを適宜変更することにより、記録レーザパワーＰｗをクロスイレーズ抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ１）と書き込みエラー抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ２）の中間近傍に、適正に追従させることができるようになる。
【００１３】
各請求項に係る発明の特徴は以下のとおりである。
【００１４】
請求項１の発明は、記録時にテストライトを行うと共に、その再生の適否に基づいて記録レーザパワーを調整する記録レーザパワー調整方法において、テストライト時に設定されている記録レーザパワーを所定の値だけ高めたレーザパワーにて前記テストライトを行う第１のステップと、テストライト時に設定されている記録レーザパワーを所定の値だけ低めたレーザパワーにて前記テストライトを行う第２のステップとを備え、前記レーザパワーを高めるための所定の値と、前記レーザパワーを低めるための所定の値を、先に行われたテストライトの結果に応じて設定することを特徴とする。
【００１５】
請求項２の発明は、請求項１に記載の記録レーザパワー調整方法において、１回前のテストライト時に実行された前記第１のステップに対する再生と、１回前のテストライト時に実行された前記第２のステップに対する再生の両方が、共に適正である場合には、前記２つの所定の値を共に増大させることを特徴とする。
【００１６】
請求項３の発明は、請求項１または２に記載の記録レーザパワー調整方法において、１回前のテストライト時に実行された前記第１のステップに対する再生と、１回前のテストライト時に実行された前記第２のステップに対する再生の両方が、共に不適である場合には、前記２つの所定の値を共に減少させることを特徴とする。
【００１７】
請求項４の発明は、請求項３に記載の記録レーザパワー調整方法において、前記所定の値は、あらかじめ決められた限界値よりも小さい値には減少されないことを特徴とする。
【００１８】
請求項５の発明は、請求項１から４に記載の記録レーザパワー調整方法の何れかにおいて、１回前のテストライト時に実行された前記第１のステップに対する再生と、１回前のテストライト時に実行された前記第２のステップに対する再生の何れか一方のみが不適である場合には、前記２つの所定の値を、１回前のテストライト時における値とすることを特徴とする。
【００１９】
請求項６の発明は、請求項２から５の何れかに記載の記録レーザパワー調整方法において、
当該テストライト時における前記第１のステップに対する再生と、当該テストライト時における前記第２のステップに対する再生の両方が、共に適正である場合には、記録レーザパワーをそのまま維持し、
当該テストライト時における前記第１のステップに対する再生と、当該テストライト時における前記第２のステップに対する再生の両方が、共に不適である場合には、不適の程度が大きい方のステップにて設定されたレーザパワーから離れる方向に記録レーザパワーをシフトさせ、
当該テストライト時における前記第１のステップに対する再生と、当該のテストライト時における前記第２のステップに対する再生の何れか一方のみが不適である場合には、当該不適となったステップにて設定されたレーザパワーから離れる方向に、記録レーザパワーをシフトさせる、
ことを特徴とする。
【００２０】
請求項７の発明は、請求項６に記載の記録レーザパワー調整方法において、前記第１のステップに対する再生と前記第２のステップに対する再生の両方が共に不適である場における記録レーザパワーのシフト処理は、テストライト時に設定されている記録レーザパワーにてテストライトを行うステップを含み、当該ステップに対する再生エラーレート、前記第１のステップに対する再生エラーレートおよび前記第２のステップに対する再生エラーレートの３つのエラーレートを用いて記録レーザパワーとエラーレートの関係を規定する２次近似曲線を求め、当該２次近似曲線にてエラーレートが極小値となる記録レーザパワーを新たな記録レーザパワーとして設定することを特徴とする。
【００２１】
請求項８の発明は、上記請求項１から７の何れかに記載の記録レーザパワー調整方法を実行する手段を有することを特徴とする光磁気記録再生装置である。
【００２２】
本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。
【００２３】
ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。
【００２４】
【発明の実施の形態】
図１にＡＳＭＯ規格に従う光磁気ディスクの構成を概念的に示す。
【００２５】
ディスク１には、その表面に溝（グルーブ）が内周から外周にかけてスパイラル状に形成されている。データは、グルーブと、グルーブ間に挟まれたランドの両方に記録される。グルーブとランドには、その壁面が径方向に蛇行したウォブルが、一定間隔で形成されている。かかるウォブルには、蛇行の形状によってアドレスが保持されている。
【００２６】
ディスク１には、同図に示す如く、ユーザデータを記録するためのデータエリアとして１２個のバンド（Ｂａｎｄ）が径方向にフォーマットされている。また、最外周部と最内周部には、ディスク管理等のための情報を保持するリードイン領域（Ｌｅａｄ　ｉｎ）とリードアウト領域（Ｌｅａｄ　ｏｕｔ）が配されている。１周のグルーブとそれに隣接する１周のランドを対として１トラックとしたとき、各バンドは、外周から内周にかけてｋ本のトラックを有する。このうち、１〜ｎ番目（ｎ＜ｋ）のトラックはユーザデータの記録用に用いられる。また、ｎ＋１〜ｋ番目のトラックは、テストライト用に用いられる。
【００２７】
データは、各バンドのユーザデータ記録用トラックに外周から順番に記録される。そのバンド中の全てのユーザデータ記録用トラックが使い尽くされると、次のバンドのユーザデータ記録用トラックに記録が行われる。各バンドには、それぞれ異なる角速度にてデータの記録が行われる。よって、一のバンドから次のバンドにジャンプする際には、ディスクの角速度がジャンプ後のバンドに適するものに変更される。
【００２８】
図２に、上記ディスクに対しデータを記録再生する光磁気記録再生装置の構成例を示す。
【００２９】
ディスク１のグルーブまたはランド上には、ピックアップ４からのレーザビームが収束される。かかる収束位置の反対側には磁気ヘッド２が配されている。ディスク１を回転駆動するスピンドルモータ１１はサーボ回路１２によってバンド毎に角速度一定となるように制御される。また、ピックアップ４からの収束ビームは、サーボ機構１０によってグルーブまたはランドを追従するように、フォーカス方向およびトラッキング方向に変位制御される。
【００３０】
記録モードにおいて、記録データはＥＣＣエンコーダ８によってエンコード処理および誤り訂正符号化処理を施された後、変調回路７によって記録信号に変調される。しかる後、駆動信号生成回路６は、かかる変調信号に基づいて駆動信号３を生成し、これを磁気ヘッド駆動回路３に供給する。他方、半導体レーザ駆動回路５に対し、記録レーザパワーの設定を行い、これにより、ピックアップ４の半導体レーザ４１から記録レーザパワーのレーザビームが出射される。しかして、ディスク１に対するデータの記録がなされる。
【００３１】
かかる記録モードにおいて、ディスク１からの反射ビームは、上記４分割センサーを含む光検出器４２によって受光され、その出力信号が再生信号増幅回路１３に供給される。かかる再生信号増幅回路１３は、再生ＲＦ信号を波形整形回路１４に供給すると共に、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号をサーボ回路１２に供給する。また、トラッキングエラー信号をアドレス生成回路１７に出力し、アドレスデータの生成に供する。
【００３２】
再生モードにおいては、レーザ駆動回路５が再生レーザパワーに設定され、これにより、半導体レーザ４１から再生レーザパワーのレーザビームが出射される。しかして、ディスク１から反射されたレーザビームは、上記と同様、光検出器４２により受光され、各センサー出力が再生信号増幅回路１３に供給される。そして、上記と同様、各種エラー信号がサーボ回路１２およびアドレス生成回路１７に供給されると共に、再生ＲＦ信号が波形成形回路１４に供給される。かかる波形成形回路１４は再生信号を波形成形し、しかる後、復号回路１５によって再生データへと復調されてＥＣＣデコーダ１６に供給される。
【００３３】
ＥＣＣデコーダ１６は、再生データに対してエラー訂正処理を行い、訂正後の再生データを出力する。また、この際、エラー訂正処理によってエラーが検出されたラインの総数（ＰＩを用いた誤り訂正処理における１ＥＣＣブロック中のエラーライン数：後述）を制御回路１００に供給する。
【００３４】
図３に、かかる誤り訂正処理の概要を示す。１ラインは、所定ビット数の主データと誤り訂正データ（ＰＩ）とから構成されている。かかるラインが（Ｌ１＋Ｌ２）個集まって、１ＥＣＣブロックを構成する。なお、Ｌ２本のラインは、全て誤り訂正データ（ＰＯ）から構成されている。通常の誤り訂正は、各ラインについてＰＩを用いて誤り訂正を行い（Ａ方向の誤り訂正）、しかる後、各ラインの所定ビット数位置のデータを縦方向（Ｂ方向）に集めてＰＯを用いて誤り訂正を行う。Ａ方向の誤り訂正で訂正し切れなかった誤りビットは、Ｂ方向の誤り訂正にて訂正され得る。かかるＡ方向の誤り訂正とＢ方向の誤り訂正を複数回繰り返すことにより、当該ＥＣＣブロックの誤り訂正処理が終了する。
【００３５】
なお、上記ＥＣＣエンコーダ８は、記録データを演算処理し、これに図３のＰＩとＰＯを付加して順次ＥＣＣブロックを構成・出力する。また、ＥＣＣデコーダ１６は、１ＥＣＣブロック分の再生データを集めて、これに上記の誤り訂正処理を施す。そして、訂正後の再生データを出力するとともに、Ａ方向の誤り訂正処理（１回目）にて誤りを検出したラインの総数を制御回路１００に供給する。
【００３６】
図４に、テストライトモード時の処理フローの概略を示す。
【００３７】
上記記録モードにおいて、制御回路１００は、温度センサ１４からの温度データ（ドライブ内温度）と、１回前のテストモード時におけるドライブ内温度とを比較する。そして、現在のドライブ内温度が１回前のテストモード時に比べＴ（たとえば２〜３℃）だけ変化したと判別すると（Ｓ１０）、ピックアップ４を、当該記録時のバンド内のテストトラックにアクセスせしめ（Ｓ２０）、テストライトモード（テストライトおよび記録レーザパワー調整）を実行する（Ｓ３０）。
【００３８】
かかるテストライトモードは、ランド記録時のレーザパワーを調整するための動作と、グルーブ記録時のレーザパワーを調整するための動作に区分される。図５は、ランド記録時のレーザパワーを調整するための動作フローであり、図６は、グルーブ記録時のレーザパワーを調整するための動作フローである。両動作フローは、各ステップにおける記録・再生の対象が、ランド・グルーブ間で入れ替わっているのみである。各ステップにおける処理内容は、記録・再生の対象が相違している点を除き、同一である。
【００３９】
まず、図５を参照して、ランドに対するテストライトモードの動作について説明する。なお、以下の説明においては、特に断らない限り、Ｐｗ（Ｌ）およびＰｗ（Ｇ）は、それぞれ、当該テストライトモードに移行する直前の記録モードにて用いられたランド記録時およびグルーブ記録時の記録レーザのパワーを意味するものとする。
【００４０】
ランドに対するテストライトモードが開始されると、まず、１回前に実行されたランドに対するテストライトモード時のテストライト幅Ａ（Ｌ）がメモリ１８から読み出される。また、１回前に実行されたランドに対するテストライトモード時のエラーライン数ＥＬ１、ＥＬ２がそれぞれ閾値Ｌ１、Ｌ２以上であったかを示すフラグ情報がメモリ１８から読み出される（Ｓ１０１）。そして、読み出されたＡ（Ｌ）とフラグ情報に応じて、今回のテストライト時のテストライト幅Ａ（Ｌ）が設定される（Ｓ１０２）。
【００４１】
なお、メモリ１８には、図７（ａ）に示す如く、１回前に実行されたテストライトモード時のテストライト幅Ａ（Ｌ）とフラグ情報が履歴として記憶されている。ここで、フラグ情報の○はＥＬ１、ＥＬ２が閾値Ｌ１、Ｌ２未満であったことを示し、×はＥＬ１、ＥＬ２が閾値Ｌ１、Ｌ２以上であったことを示す。
【００４２】
上記テストライト幅Ａ（Ｌ）の設定は、図８（ａ）の規則に従って実行される。すなわち、１回前のテストライトモード時におけるＥＬ１、ＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２未満である場合には、今回のテストライト幅Ａ（Ｌ）を前回のテストライト幅よりもΔａだけ大きく設定する。また、１回前のテストライトモード時におけるＥＬ１、ＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２以上である場合には、今回のテストライト幅Ａ（Ｌ）を前回のテストライト幅よりもΔａだけ小さく設定する。さらに、１回前のテストライトモード時におけるＥＬ１、ＥＬ２のうち何れか一方のみが閾値Ｌ１、Ｌ２以上である場合には、今回のテストライト幅Ａ（Ｌ）を前回のテストライト幅と同じに設定する。ただし、図８（ａ）の▲２▼において、Δａだけ減じたテストライト幅があらかじめ決められた限界値ＬｉｍＡ（Ｌ）よりも小さくなる場合には、今回のテストライト幅Ａ（Ｌ）は、前回のテストライト幅と同じに設定される。
【００４３】
しかして、テストライト幅Ａ（Ｌ）の設定がなされると、次に、テストトラックのグルーブに、記録レーザパワーＰｗ（Ｇ）にてテストデータが記録される（Ｓ１０３）。そして、当該グルーブに隣接するランドに対し、レーザパワーＰｗ（Ｌ）＋Ａ（Ｌ）にてテストデータが記録される（Ｓ１０４）。しかる後、先に記録したグルーブが再生レーザパワーにて再生され、そのエラーライン数ＥＬ１がＥＣＣエンコーダ１６から制御回路１００に転送される（Ｓ１０５）。
【００４４】
なお、かかるエラーライン数ＥＬ１は、レーザパワーＰｗ（Ｌ）＋Ａ（Ｌ）にてランドにデータを記録した際に隣接グルーブに生じるクロスイレーズの度合いを示すものとなる。
【００４５】
しかして、ＥＬ１の測定が終了すると、次のテストトラックのランドに対して、レーザパワーＰｗ（Ｌ）−Ａ（Ｌ）にてテストデータが記録される（Ｓ１０６）。そして、このランドが再生レーザパワーにて再生され、そのエラーライン数ＥＬ２がＥＣＣエンコーダ１６から制御回路１００に転送される（Ｓ１０７）。
【００４６】
なお、かかるエラーライン数ＥＬ２は、レーザパワーＰｗ（Ｌ）−Ａ（Ｌ）にてランドにデータを記録した際の書き込みエラーの度合いを示すものとなる。
【００４７】
以上のようにしてエラーライン数ＥＬ１、ＥＬ２が測定されると、次に、これらＥＬ１、ＥＬ２に基づいて記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）の調整が行われる（Ｓ１０８）。そして、これらＥＬ１、ＥＬ２のフラグ情報（ＥＬ１、ＥＬ２が閾値Ｌ１、Ｌ２未満であったかを示す情報）と上記Ｓ１０４にて設定されたＡ（Ｌ）が、履歴情報として、メモリ１０８に記憶される（Ｓ１０９）。
【００４８】
上記Ｓ１０８における記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）の調整は、図９（ａ）の規則に従って実行される。
【００４９】
すなわち、測定したＥＬ１、ＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２未満である場合には、記録レーザパワーをテストモード直前の記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）のまま維持する。また、測定したＥＬ１、ＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２以上である場合には、図１０のフローチャート（後述）に従って記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）を設定する。また、測定したＥＬ１、ＥＬ２のうちＥＬ２のみが閾値Ｌ２以上である場合には、記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）をΔＰだけ増加せしめる。さらに、測定したＥＬ１、ＥＬ２のうちＥＬ１のみが閾値Ｌ１以上である場合には、記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）をΔＰだけ減少せしめる。
【００５０】
上記において、閾値Ｌ１、Ｌ２は、たとえば、ＥＣＣデコーダ１６による誤り訂正能力に基づいて設定される。すなわち、閾値Ｌ１、Ｌ２は、ＥＣＣデコーダ１６による誤り訂正能力の限界値（エラーライン数）に設定される。かかる場合、Ｌ１＝Ｌ２＝Ｌｎ（Ｌｎ：誤り訂正能力の限界エラーライン数）となる。ただし、Ｌ１、Ｌ２をこれ以外の値とすることもできる。また、クロスイレーズと書き込みエラーの特性や発生原理を考慮して、Ｌ１とＬ２を相違する値に設定することもできる。
【００５１】
次に、上記図９（ａ）の▲２▼における処理、すなわち、測定したＥＬ１、ＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２以上である場合の記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）の調整処理について図１０を参照して説明する。
【００５２】
測定したＥＬ１、ＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２以上である場合には、当該テストライトモード以降直前の記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）にて、ランドにテストデータを記録する（Ｓ３０１）。そして、このランドが再生レーザパワーにて再生され、そのエラーライン数ＥＬ０がＥＣＣエンコーダ１６から制御回路１００に転送される（Ｓ３０２）。
【００５３】
しかして、ＥＬ０が測定されると、次に、図１１に示す如く、ＥＬ０、ＥＬ１、ＥＬ２の３つのエラーライン数を用いて、２次近似曲線がフィッティングされる（Ｓ３０３）。そして、当該２次近似曲線の極小点を算出し、当該極小点の記録レーザパワーを新たな記録レーザパワーとして設定する（Ｓ３０４）。
【００５４】
以上の如くして、ランド記録時の記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）を調整するための動作（図５）が終了すると、次に、グルーブ記録時の記録レーザパワーＰｗ（Ｇ）を調整するための動作（図６）が実行される。
【００５５】
かかるＰｗ（Ｇ）の調整処理は、図５の場合に比べ、記録・再生の対象がランド・グルーブ間で入れ替わっているのみであり、各ステップにおける処理内容自体は、上記図５の場合と同様である。したがって、各ステップにて参照される履歴情報やテストライト幅の設定規則、および記録レーザパワーの調整規則は、それぞれ図７（ｂ）、図８（ｂ）、図９（ｂ）に示すものとされる。また、図９（ｂ）の▲２▼における処理、すなわち、測定したＥＧ１、ＥＧ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２以上である場合の記録レーザパワーＰｗ（Ｇ）の調整処理は、図１２および図１３に示すものとされる。
【００５６】
各ステップの処理は、上記ランド記録時の記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）を調整するための処理と同様であるので、ここでは説明を省略する。
【００５７】
図１４に、上記テストライトモードを実際に実行した際の実測結果を示す。かかる実測結果は、上記テストライトモードのうち、ランド記録時の記録レーザパワーを調整する際の動作を実測したものである。同図において、横軸は時間、縦軸はレーザパワー（ｍｗ）である。
【００５８】
本計測は、通常の記録動作中に温度センサが温度変化を検知し、上記テストライトを自動で行った結果をまとめたものである。同図には、各テストライトモードの実行タイミングにおけるテストライト幅Ａ（Ｌ）とドライブ温度が、時間軸の直上に重ねて示されている。また、各計測タイミングにおいて示された３つのレーザパワー（○または×の点のレーザパワー）のうち、真中のレーザパワーは当該計測タイミングにおける記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）であり、上側のレーザパワーは当該計測タイミングにおける記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）をテストライト幅Ａ（Ｌ）だけ増加させたもの、また、下側のレーザパワーは当該計測タイミングにおける記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）をテストライト幅Ａ（Ｌ）だけ減少させたものである（以下、上側のレーザパワーを「クロスイレーズ検証用レーザパワー」といい、下側のレーザパワーを「書き込みエラー検証用レーザパワー」という）。
【００５９】
なお、同図のグラフ中、クロスイレーズ検証用レーザパワーの○は、当該レーザパワーにてテストデータを記録した際に測定される上記ＥＬ１が閾値Ｌ１未満であることを示し、また、クロスイレーズ検証用レーザパワーの×は、当該レーザパワーにてテストデータを記録した際に測定される上記ＥＬ１が閾値Ｌ１以上であることを示す。同様に、書き込みエラー検証用レーザパワーの○は、当該レーザパワーにてテストデータを記録した際に測定される上記ＥＬ２が閾値Ｌ２未満であることを示し、また、書き込みエラー検証用レーザパワーの×は、当該レーザパワーにてテストデータを記録した際に測定される上記ＥＬ２が閾値Ｌ２以上であることを示す。
【００６０】
なお、本計測においては、上記図６のフローチャートに加えて、レーザパワーＰｗ（Ｌ）にて適正にデータが記録できるかの検証も行った。すなわち、テストライトモードの実行タイミングにおいて、Ｐｗ（Ｌ）にてランドにテストデータを記録し、その再生データのエラーライン数がＬ２未満であるかをも検証している。同図のグラフ中、真中のレーザパワーについて付された○は、当該エラーライン数がＬ２未満であることを示すものである。
【００６１】
本計測は、標準的なＡＳＭＯディスクおよびドライブ装置を用いて行った。ディスクの基本的仕様は以下のとおりである。
直径＝５０ｍｍ
厚さ＝０．６ｍｍ
トラックピッチ（グルーブ、ランド共）＝０．６μｍ
グルーブ深さ＝５０ｎｍ
ドライブに内蔵されたピックアップの基本的仕様は以下のとおりである。
レーザ波長＝６５０ｎｍ
対物レンズ開口数＝０．６
スポット径＝０．４７ｍｍ
当該ディスクをドライブに装着した後、ドライブを容器内で動作させ（バンド１のスタート位置から記録動作開始）、容器内に熱風を送り込んだ。そして、温度変化に応じて、自動で上記テストライトモードを強制的に実行し、上記計測を行った。
【００６２】
同図に示す如く、本実施の形態によるテストライトモードでは、ドライブ温度の上昇に伴って記録レーザパワーＰｗを順調に低下させることができることが分かる。よって、ドライブ温度が変化しても、記録レーザパワーを、クロスイレーズ抑制の限界パワーと書き込みエラー抑制の限界パワーの中間近傍に、常に位置づけることができる。
【００６３】
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は、かかる実施の形態に制限されるものではなく、他に種々の変更が可能であることは言うまでもない。
【００６４】
たとえば、上記実施の形態では、ランド記録用のレーザパワーの調整とグルーブ記録用のレーザパワーの調整を、それぞれ図５および図６のフローチャートに従って個別に行うようにしたが、ランド記録用のレーザパワーとグルーブ記録用のレーザパワーの相関関係が予め分かっている場合には、何れか一方のみについてテストライトモードを実行し、それによる記録レーザパワーの調整結果に応じて、他方の記録レーザパワーの調整を行うようにしてもよい。これにより、テストライトの実行時間を短縮することができる。
【００６５】
また、上記実施の形態では、Ｐｗ（Ｌ）＋Ａ（Ｌ）とＰｗ（Ｌ）−Ａ（Ｌ）の２つのレーザパワーを設定するに際し、同一のテストライト幅Ａ（Ｌ）を加算、減算するようにしたが、これに代えて、各レーザパワーに加減算するテストライト幅を相違せしめ、たとえば、Ｐｗ（Ｌ）＋Ａ（Ｌ）とＰｗ（Ｌ）−Ｂ（Ｌ）により２つのレーザパワーを設定するようにしても良い。かかる場合、Ａ（Ｌ）のふり幅を変更するΔａとＢ（Ｌ）のふり幅を変更するΔｂが互いに相違するよう設定しても良い。
【００６６】
さらに、Ａ（Ｌ）のふり幅を変更するΔａは、ＥＬ１、ＥＬ２とＬ１、Ｌ２との間のずれ量に応じてリニアに設定するようにしても良い。その他、図２の構成および図７の履歴情報の内容は、本発明を実現できる範囲において、適宜、変更可能である。
【００６７】
本発明に係る実施の形態は、本発明の技術思想の範囲内で、種々の変更が可能である。
【００６８】
【発明の効果】
以上、本発明によれば、記録レーザパワーをクロスイレーズ抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ１）と書き込みエラー抑制の限界値Ｐｗ（Ｌｉｍｉｔ２）の中間近傍に追従させることができ、よって、従来に比べ記録動作の信頼性をより高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施の形態に係る光磁気ディスクの構成を示す図
【図２】実施の形態に係る光記録再生装置の構成を示す図
【図３】実施の形態に係るエラー訂正処理動作を説明するための図
【図４】実施の形態に係るテストライトモードの開始フローを示す図
【図５】実施の形態に係るテストライトモード（ランド）の動作を示す図
【図６】実施の形態に係るテストライトモード（ク゛ルーフ゛）の動作を示す図
【図７】メモリに記憶されるテストライト履歴情報の内容を示す図
【図８】テストライト幅の設定規則の内容を示す図
【図９】記録レーザパワーの調整規則の内容を示す図
【図１０】ランド記録用レーザパワーの設定フローの一部を示す図
【図１１】図１０の設定フローを説明する図
【図１２】グルーブ記録用レーザパワーの設定フローの一部を示す図
【図１３】図１２の設定フローを説明する図
【図１４】テストライトモード（ランド）の動作を実測した実測結果
【符号の説明】
１　光磁気ディスク
３　磁気ヘッド
４　光ピックアップ
５　レーザ駆動回路
６　駆動信号生成回路
１４　温度センサ
１６　ＥＣＣデコーダ
１８　メモリ
１００　制御回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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