(57)【要約】【課題】コンピュータトモグラフの検出器チャネルに対する補正係数または補正パラメータを簡単に決定する方法を提供する。【解決手段】滑らかな断面プロフィルを有するファントムが、多数の投影を含む走査の際にほぼすべての検出器チャネル３により複数の異なる減弱値が検出されるようにコンピュータトモグラフに挿入され、少なくとも１つの走査がファントムのサイノグラムを得るために実行され、ファントムにより予め定められた理想プロフィルからの偏差を求めるため、走査の各投影に対するサイノグラムから得られた減弱プロフィルが高域通過フィルタリングを受け、各検出器チャネル３に対してモデル関数が検出器チャネル３に対して求められた偏差に検出された減弱値に関係して適合され、それから補正係数または補正パラメータが得られる。【選択図】　図１
2004000629.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータトモグラフの検出器チャネルに対する補正係数または補正パラメータを決定するための方法において、
−滑らかな断面プロフィルを有するファントム（１１）が、多数の投影を含む走査の際にほぼすべての検出器チャネル（３）により複数の異なる減弱値が検出されるようにコンピュータトモグラフに挿入され、
−少なくとも１つの走査がファントム（１１）のサイノグラムを得るために実行され、
−ファントム（１１）により予め定められた理想プロフィルからの偏差を求めるため、走査の各投影に対するサイノグラムから得られた減弱プロフィルが高域通過フィルタリングを受け、
−各検出器チャネル（３）に対して、モデル関数が検出された減弱値に関係して検出器チャネル（３）に対して得られた偏差に適合され、それから補正係数または補正パラメータが得られる
ことを特徴とするコンピュータトモグラフの検出器チャネルに対する補正係数又は補正パラメータの決定方法。
【請求項２】
円筒状のファントム（１１）が挿入され、そのファントムが偏心してコンピュータトモグラフ内に位置決めされることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
１５ｃｍ〜３０ｃｍの間の直径を有する円筒状のファントム（１１）が挿入されることを特徴とする請求項２記載の方法。
【請求項４】
高域通過フィルタリングが、理想プロフィルを得るためのそれぞれサイノグラムから得られた減弱プロフィルの平滑化と、サイノグラムから得られた減弱プロフィルからの理想プロフィルの差し引きとにより行われることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１つに記載の方法。
【請求項５】
高域通過フィルタリングが、理想プロフィルを得るためのそれぞれサイノグラムから得られた減弱プロフィルの曲線フィットと、サイノグラムから得られた減弱プロフィルからの理想プロフィルの差し引きとにより行われることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１つに記載の方法。
【請求項６】
高域通過フィルタリングが、理想プロフィルを得るための理論的に計算された減弱プロフィルを有するそれぞれサイノグラムから得られた減弱プロフィルの曲線フィットと、サイノグラムから得られた減弱プロフィルからの理想プロフィルの差し引きとにより行われることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１つに記載の方法。
【請求項７】
高域通過フィルタリングが、理想プロフィルを得るための適切な関数を有するそれぞれサイノグラムから得られた減弱プロフィルの畳み込みにより行われることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１つに記載の方法。
【請求項８】
モデル関数の適合が投影にわたっての誤差和の最小化により行われることを特徴とする請求項１ないし７のいずれか１つに記載の方法。
【請求項９】
モデル関数ｆｘ（ｘｋ）を有するチャネル補正パラメータを決定するため、誤差和
【数１】
2004000629.tif 000008
ＣＯＮＴＲＯＬ　ＭＳＣＡＬ．Ｃａｌｅｎｄａｒ．７　￥ｓ　が最小化されることを特徴とする請求項８記載の方法。
【請求項１０】
モデル関数
【数２】
2004000629.tif 000009
を有するチャネル補正パラメータを決定するため誤差和
【数３】
2004000629.tif 000010
が最小化されることを特徴とする請求項８記載の方法。
【請求項１１】
モデル関数
【数４】
2004000629.tif 000011
を有するスペーシング係数を決定するため誤差和
【数５】
2004000629.tif 000012
が最小化されることを特徴とする請求項８記載の方法。
【請求項１２】
モデル関数
【数６】
2004000629.tif 000013
を有するスペーシング係数及びチャネル補正パラメータを決定するため誤差和
【数７】
2004000629.tif 000014
が最小化されることを特徴とする請求項８記載の方法。
【請求項１３】
スペーシング係数および（または）チャネル補正係数の決定と同時に空気較正表の補正のための係数ｄｋの決定が行われることを特徴とする請求項８ないし１２のいずれか１つに記載の方法。
【請求項１４】
水ファントムが挿入されることを特徴とする請求項８ないし１３のいずれか１つに記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はコンピュータトモグラフの検出器チャネルに対する補正係数または補正パラメータ、特にチャネル補正係数および（または）スペーシング係数、をファントムによる測定により決定するための方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
コンピュータトモグラフはなかんずくＸ線管と、個々の検出器チャネルを表す行状またはマトリックス状に配置されているＸ線検出器と、患者寝台とを含んでいる。Ｘ線管およびＸ線検出器は、測定中に患者寝台または患者寝台に対して平行に延びている検査軸線の周りを回転するガントリーに配置されている。これに代えてＸ線検出器は患者寝台の周りの固定した検出器リング上に配置されていてもよく、その場合Ｘ線管はガントリーと共に運動する。
【０００３】
患者寝台は一般にガントリーに対して相対的に検査軸線に沿って移動可能である。Ｘ線管は、層平面内を検査軸線に対して垂直にファン状に広がる放射束を発生する。層厚みの方向のこの放射束の境界は、Ｘ線管のターゲット材料上の焦点の大きさまたは直径と、Ｘ線束の放射路中に配置されている１つまたは複数の絞りとにより設定される。Ｘ線束は層平面内の検査の際に対象物の層または患者寝台上に寝かされている患者の身体層を貫き、Ｘ線管と向かい合っているＸ線検出器に当たる。Ｘ線放射束が患者の身体層を貫く角度および場合によってはガントリーに対して相対的な患者寝台の位置はコンピュータトモグラフによる撮像中に連続的に変化する。
【０００４】
患者を貫通後にＸ線検出器に当たるＸ線放射束のＸ線放射の強さは、患者によるＸ線放射の減弱に関係している。その際にＸ線検出器の各々は受けたＸ線放射の強さに関係して、Ｘ線管から相応するＸ線検出器または検出器チャネルへのＸ線放射に対する身体のグローバルな透過性の測定に対応する電圧信号を発生する。それから減弱値が計算される減弱データに相当し、また患者に対して相対的なＸ線放射源の特別な位置に対して得られたＸ線検出器の電圧信号のセットは投影と呼ばれる。患者の周りのガントリーの１回転の間にガントリーの種々の位置で得られた投影のセットはスキャンと呼ばれる。コンピュータトモグラフは、患者の身体の二次元の断層像または三次元の像に相当する像を再構成するため、患者の身体に対して相対的なＸ線放射源の種々の位置において多くの投影を取得する。取得された減弱データまたはそれから導き出された減弱値から断層像を再構成するための従来の方法は、フィルタ補正逆投影として知られている。
【０００５】
再構成は、各検出器チャネルｋおよびガントリーの各投影角度または各投影ｐに対して正しい減弱値が計算され得ることに基づいている。しかし実際には検出器は決して完全ではない。それらはそれどころか他の誤差とならんで、チャネルからチャネルへ相違し得る個別のスペクトル的な非直線性を有する。このことは、個々の検出器要素または検出器チャネルの信号から計算される減弱値
【数８】
2004000629.tif 000003
が透過照射される材料の厚みｄの関数であることに通じ、この関数はさらに各検出器チャネルｋに関係する。Ｉｋ（ｄ）は材料または身体の透過照射の後に検出器チャネルｋにより測定されたＸ線放射の残留信号、またＩ０ｋは相応する減弱されない信号である。Ｘ線検出器により測定された関係ｘｋ（ｄ）は材料の貫通の際に行われる放射硬化に基づいて確かにいずれにせよ非直線的であるが、この非直線性はデータ評価の際にすべてのチャネルに対して共通に相応の放射硬化補正において考慮することができる。残留する誤差は別個の補正において捕捉されなければならない。特に上記のスペクトル的な非直線性のこのような補正は、コンピュータトモグラフにより撮像された像におけるリングの形態の像アーチファクトを避けるために必要である。
【０００６】
この際にこれらのチャネル個別のスペクトル的な誤差を、各検出器チャネルｋに対して個別の
【数９】
2004000629.tif 000004
の形の多項式により近似することは知られている。その際に多項式の次数Ｎは一般に２よりも大きくない。各検出器要素または検出器チャネルにより測定されたデータは減弱値ｘｋを得るため、上に示された公知の仕方で対数化される。この減弱値は最後に、減弱値によりフィルタ補正逆投影が行われる前に、各チャネルに対して個々に定められた補正値Δｘｋｃｃｒにより補正される。
【０００７】
この形式の補正の際の主な技術的な問題は、以下でチャネル補正係数とも呼ばれる多項式係数ａｋ，ｎの決定にある。現在、コンピュータトモグラフによりこれらの多項式係数を決定するため、ガントリーの回転なしで種々の厚みの角柱ファントムにおける測定が実行される。これらの測定から検出器チャネルあたり複数の相異なる減弱値が生じ、これらの減弱値からそれぞれ挿入されたファントムの既知の減弱の際に正しい値からの偏差、及びそれによって補正係数を決定することができる。しかしこれらの角柱ファントムを挿入して行う測定は煩雑である。さらに角柱ファントムは比較的場所をとり、各コンピュータトモグラフィ設備と共に引き渡され、使用場所に保管されなければならない。さらに、測定が回転しないシステムにおいて実行されなければならず、その結果補正係数の決定の際の設備状態が実際の測定の際の使用状態に一致しない。特にシステムの定常的な状態での温度条件は回転している状態での温度条件から著しくずれ得る。
【０００８】
検出器要素によりコンピュータトモグラフに生じる別の形式の誤差は、幾何学的に等距離でない検出器構造により生じるいわゆるスペーシング誤差である。これらのスペーシング誤差は第１近似では下記の式により近似され得る。
【数１０】
2004000629.tif 000005
【０００９】
測定から導出される減弱値ｘｋにこの補正を使用するためには、さらにスペーシング係数ｃｋを決定する必要がある。これらは従来、偏心してコンピュータトモグラフの検査空間内に配置される僅か４０ｍｍの比較的小さい直径を有するプレキシガラスから成る円筒状のファントムのスキャンにより求められる。こうして得られたサイノグラムにより最初にコンピュータトモグラフ内のファントムの位置が決定される。続いてこの位置が各検出器チャネルに対して得られたデータと比較され、各極大の間隔から補正係数が導き出される。しかしファントムの位置決めもデータ評価も比較的費用がかかる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
この従来の技術から出発して本発明の課題は、コンピュータトモグラフの検出器チャネルに対する補正係数、特にチャネル補正係数および（または）スペーシング係数、を決定するための方法であって、この決定を簡単に可能にする方法を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
この課題を解決するため本発明によれば、滑らかな断面プロフィルを有するファントムが、多数の投影を含む走査の際にほぼすべての検出器チャネルにより複数の異なる減弱値が検出されるように、コンピュータトモグラフに挿入され、少なくとも１つの走査がファントムのサイノグラムを得るために実行され、ファントムにより予め定められた理想プロフィルからの偏差を求めるため、走査の各投影に対するサイノグラムから得られた減弱プロフィルが高域通過フィルタリングを受け、各検出器チャネルに対して、モデル関数が検出器チャネルに対して得られた偏差に検出された減弱値に関係して適合され、それから補正係数または補正パラメータが得られる。
【００１２】
本方法の有利な構成は請求項２以下に記載され、また以下の説明及び実施例から明らかになる。
【００１３】
コンピュータトモグラフの検出器チャネルに対する補正係数、特にチャネル補正係数および（または）スペーシング係数、を決定するための本発明による方法においては、滑らかな断面プロフィルを有するファントムが、全走査、即ちガントリーの完全な回転を伴う測定において、ほぼすべての検出器チャネルにより複数の相異なる減弱値が検出されるように、コンピュータトモグラフの検査空間に挿入される。ファントムの挿入の後に、少なくとも１つの走査がファントムのサイノグラムを得るために実行される。ファントムの形により予め定められた理想プロフィルからの偏差を求めるため、走査の各投影に対するサイノグラムから得られた減弱プロフィルが高域通過フィルタリングを受ける。続いて各検出器チャネルに対して別々にモデル関数が各検出器チャネルに対して求められた偏差に検出された減弱値に関係して適合され、それから補正係数または補正パラメータが得られる。
【００１４】
本発明ではこうして単一のファントムのみが挿入される。この際に、スキャンの相異なる投影によりファントムの適切な配置の際に各検出器チャネルが１つの減弱値だけでなく、ファントムの既知の幾何学的な形態の際に補正係数を導き出すために使用され得る多数の減弱値を測定することが利用される。滑らかな断面プロフィルを有するファントム、すなわちエッジまたは跳躍的な表面構造のないファントム、の挿入により、続いての高域通過フィルタリングにより、ファントムの形態から予め定められる理想プロフィルからのチャネル特有の偏差が得られる。なぜならばこの偏差はチャネルからチャネルへ強く変化するからである。
【００１５】
サイノグラムにおいて得られるデータは本方法においてチャネル補正係数または補正パラメータを決定するため、かつ（または）スペーシング係数を決定するために使用することができる。また空気較正表に対する補正、すなわち定数Δｘｋａｉｒ＝ｄｋ、がこれらの偏差から決定され得る。空気較正表は検出器チャネルの相異なる増幅を考慮に入れる。
【００１６】
チャネル補正係数または補正パラメータおよびスペーシング係数の共通の決定の際に相異なるファントムはもはや必要でない。それどころか単一の測定、すなわち滑らかな断面プロフィルを有する手持ちのファントムにより、単一のスキャン、で充分である。こうして場所をとる種々の角柱ファントムの挿入はもはや必要でない。較正測定は回転するシステムにおいて行われ、その結果実際の測定の条件が存在する。さらにスペーシング係数の決定ももはやファントムの臨界的な位置決めならびにデータの費用のかかる評価を必要としない。
【００１７】
好ましくは本方法において、たとえば１５ｃｍ〜３０ｃｍの間の直径を有する円筒状のファントムが使用され、このファントムが偏心して検出チャネルにより検出し得る検査空間内に配置される。この偏心配置により、検出器チャネルの全部または少なくとも大部分は１回転の間に各相異なる減弱値を観測または測定する。チャネルに関係して各投影により得られた、減弱プロフィルを表す信号または減弱値への高域通過フィルタリングの応用により、ノイズ、スペーシング誤差およびチャネル個別のスペクトル的な非直線性に基づいて生ずる、ファントムの実際の滑らかなプロフィル（本発明では理想プロフィルと呼ばれる）からの偏差がフィルタ除去される。
【００１８】
高域通過フィルタリングはもちろん、このフィルタリング（一般に検出器チャネルを介して強く変動する減弱値の変動振幅を得るための数学的演算として理解される）により理想プロフィルからのチャネル特有の偏差が得られるかぎり、さまざまな仕方で行われ得る。高域通過フィルタリングの１つの例は、得られた測定または減弱プロフィルからの平滑化されたプロフィルの差し引きである。平滑化されたプロフィルは適切なフィルタコアを有する測定プロフィルの畳み込みにより、例えば１つまたは場合によっては複数の長方形フィルタ、ガウスフィルタ、サビッツキー−ゴーレイ（Ｓａｖｉｔｓｋｙ−Ｇｏｌａｙ）フィルタなどの応用により得られる。さらに、平滑化されたプロフィルは多項式近似または測定プロフィルによるフィットにより実現され得る。別の可能性は、理論的に計算された滑らかな減弱プロフィルを測定されたプロフィルにフィットにより適合させることにある。それぞれ平滑化されたプロフィルを測定プロフィルから差し引くことにより、求めるべき偏差が得られ、これらの偏差が次いで爾後の処理を受ける。高域通過フィルタリングの別の可能性は、ＣＴ像データの再構成の際に使用される畳み込みコアと類似の特別な高域通過フィルタによる各測定プロフィルのデータの畳み込みにある。場合によってはこの場合に続けて平滑化されたプロフィルのもう１つの差し引きが行われなければならない。
【００１９】
サイノグラムのデータへの高域通過フィルタの行ごとの応用により（その際に行ごととはサイノグラムのチャネル方向の応用と理解すべきである）、相異なる減弱に対する各理想値からのチャネル個別の偏差が得られる。減弱との偏差の関係がいま各チャネルに対してモデル関数の適合によりシミュレートされ得る。この関数から次いで所望のチャネル補正係数またはスペーシング係数が得られる。チャネル補正係数を決定するため、好ましくは、冒頭に既に示されたように、多項式が使用される。同じことがスペーシング係数の決定に対しても当てはまる。両係数が同時に決定されるべきであれば、モデル関数は加算的に両前記の多項式から成っている。適合自体は公知の方法、たとえば最小二乗フィットを介して誤差和の最小化により行われる。
【００２０】
さらに、スペーシング係数および（または）チャネル補正係数の決定と同時に、各モデル関数にチャネルに関係する定数ｄｋが空気較正のための決定すべきパラメータとして付加されることによって、空気較正が行われ得る。
【００２１】
本方法における簡単な進行の仕方により、この方法はたとえば水ファントムとして構成されていてよい単一のファントムにより実現され得る。
【００２２】
このファントムの断面形状として、好ましくは、その減弱プロフィルが数学的に記述可能な関数により表され得る幾何学的形状が選ばれる。このようにして高域通過フィルタリングが適合された予め定められた関数の差し引きにより非常に簡単かつ正確に実行され得る。
【００２３】
【発明の実施の態様】
次に本方法を以下に図面に示す実施例により説明する。
【００２４】
図１は測定データ取得の際の幾何学的な状況を示すためコンピュータトモグラフの一部分を概要図で示す。コンピュータトモグラフはＸ線管４の形態のＸ線源を有し、Ｘ線源は検出器要素３の行２を有する検出器バンクに向かう方向にファン状のＸ線放射束７を放射する。Ｘ線管４も検出器要素３も、連続的に患者１の周りを回転し得るガントリー９に配置されている。患者１はガントリー９のなかを延びている図１には示されていない寝台上に位置している。ガントリー９は図１に示されている直角座標系ｘ−ｙ−ｚのｘ−ｙ平面内を回転する。患者寝台は患者１のそれぞれ表示すべき層の層厚み方向５に相当するｚ軸線に沿って運動可能である。図１にはさらにＸ線放射束７により透過照射される層１０が示されている。この層から断層像が発生されなければならない。
【００２５】
図２は図１のコンピュータトモグラフの部分を示す他の概要図であり、患者の代わりに円筒状のファントム１１が回転軸線１２に対して偏心して挿入されており、こうしてガントリー９の１回転の際に、検出器行２の最も外側の検出器要素を例外として、ファントム１１の多数の相異なる減弱値が検出される。
【００２６】
図３はこのようなファントムのスキャンにより撮像されるサイノグラムの１つの例を示す。図面から非常によくわかるように、最も外側のチャネルを例外として、各検出器チャネルがスキャンの間にファントム１１による多数の減弱を測定する。図４には、加えて、検出器に誤差がない際にファントム１１により図３中に線によりサイノグラム中に示されている投影のなかで得られる理想プロフィルが示されている。この投影の際には、存在している滑らかなファントム１１の他の投影の際のように、減弱プロフィルは同じく滑らかな経過を有する。
【００２７】
しかしスペーシング誤差のようなチャネル個別の検出器誤差により、このようなファントムの減弱プロフィルの実際に測定される経過は、図３中の線に沿って実際に得られる測定プロフィルを示す図５により明らかなように、それとは異なった見え方で見える。平滑化された記入されている理想プロフィルからの偏差は図５中で明らかである。
【００２８】
サイノグラムを得た後に、サイノグラムの個々の行は適切な高域通過フィルタの応用により、偏差が得られるようにフィルタされる。偏差がこうしてサイノグラムからフィルタ除去される。いまの例ではフィルタリングは各測定されたプロフィル（測定プロフィル）から図５に示されている平滑化されたプロフィル（理想プロフィル）を差し引くことにより行われる。平滑化されたプロフィルは測定プロフィルへの適切な平滑化関数の応用により得られる。その他の可能性は既に先行の説明で説明された。測定プロフィルからの平滑化されたプロフィルの差し引きの後に、図５の下側部分から明らかなように、誤差経過または偏差経過が得られる。高域通過フィルタリングはこうして各々の測定値ｘｘｐに対して偏差Δｘｘｐを与える。ここでｋはチャネル番号、またｐはスキャンまたはサイノグラムの投影番号である。
【００２９】
以下ではチャネル補正、スペーシング補正ならびに空気較正表の補正に対する補正係数ａｋ，ｎ、ｃｋおよびｄｋが説明された仕方で得られた各々のチャネルｋに対する偏差から下記のように決定される。
誤差和
【数１１】
2004000629.tif 000006
を最小化するａｋ，ｎ、ｃｋおよびｄｋを決定する。この際にチャネル補正およびスペーシング補正に対する冒頭にあげたモデル関数が使用される。空気較正表に対する補正は関数Δｘｋａｉｒ＝ｄｋに相当する。
【００３０】
この進行の仕方においては、ｘｋｐは相応する投影ｐの相応するチャネルｋの測定された値であってよい。しかし、この値の代わりに、高域通過フィルタが測定プロフィルの平滑化により実現された場合には、このチャネルにおける平滑化により生じた値であってもよい。ｘｋｐが実際の測定値であれば、誤差和の上記の式の導関数が差形成により、たとえば
【数１２】
2004000629.tif 000007
により、近似されなければならない。
【００３１】
等しい式が、ｘｋｐが高域通過フィルタリングにより生じている場合に、使用することができる。平滑化が測定曲線または測定プロフィルのフィットにより達成されたならば、導関数はフィットされた関数の解析的な差形成によっても求められ得る。
【００３２】
チャネル個別のスペクトル的な非直線性は多項式の形のモデル関数とならんで任意の他の関数関係Δｘｋｃｃｒ＝ｆａ（ｘｋ）によってもモデル化され得る。その際にａはモデルパラメータまたは補正パラメータのベクトルを表す。パラメータａは次いで上記のパラメータｃおよびｄと一緒にアナログの誤差和の最小化により決定される。
【００３３】
もちろん最適化はたとえばスペーシング係数に対してのみ、またはチャネル補正係数に対してのみ、補正係数のみのモデル関数のみの適合によっても行われ得る。検出器チャネルの相応の他の誤差はこの適合の前に既に前処理ステップで除去されるべきであろう。
【００３４】
図６は例としてチャネル補正係数を決定するための適合されたモデル関数を示す。この図には、図３のサイノグラムからチャネルにおいて高域通過フィルタリングにより得られた偏差Δｘが減弱に関係して示されている。これらの偏差のより高い減弱値において認識可能なより強い散乱は、Ｘ線検出器の強められた量子ノイズに帰着するものである。適合されたモデル関数は破線により示されている。求められた偏差Δｘへのこのモデル関数の適合から、このチャネルに対する係数ａｎが決定され得る。
【００３５】
スペクトル的な非直線性およびスペーシング誤差ならびに場合によっては空気較正表の誤差に対する補正係数の個々のまたは共通の決定とならんで、個々の係数は複数のステップで順次決定することもできる。こうしてたとえば最初にチャネル補正係数の決定が、その後にこれらの係数によるデータの補正が、その後にスペーシング係数の決定が、またこれらの係数によるデータの相応の補正の後に空気較正表の誤差の決定が行われる。
【００３６】
補正係数の決定は一般にコンピュータトモグラフの引渡しの前に、また規則的なサービス間隔で、または修理の後に行われる。コンピュータトモグラフの規定通りの使用の際に測定された減弱値は次いでそれぞれ自動的に求められた補正係数および付属のモデル関数または多項式により補正される。
【００３７】
もちろん本方法は複数の行検出器または面検出器にも応用することができる。その場合次いで各検出器行のチャネルを個々に評価する必要がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】患者の身体範囲の断層像を得るためのコンピュータトモグラフの一部分の概要図。
【図２】本方法を実行するためのファントムの位置決めを示すための簡単化された説明図。
【図３】図３に示す配置により測定されたサイノグラム。
【図４】図３に示されている線に沿う、サイノグラムから導き出された理想的な減弱プロフィルの線図。
【図５】図３中に示されている線に沿う、サイノグラムから得られた実際の測定プロフィル及び高域通過フィルタリングによりそれから得られたデータの線図。
【図６】個々の検出器チャネルに対する減弱とサイノグラムから得られた偏差との関係の例及びそれに適合されたモデル関数の経過を示す線図。
【符号の説明】
１　　患者
２　　検出器行
３　　検出器要素
４　　Ｘ線管
５　　層厚み方向
６　　絞り
７　　Ｘ線放射束
９　　ガントリー
１０　層
１１　ファントム
１２　回転軸線
【図１】
2004000629.tif 000015
【図２】
2004000629.tif 000016
【図３】
2004000629.tif 000017
【図４】
2004000629.tif 000018
【図５】
2004000629.tif 000019
【図６】
2004000629.tif 000020