(57)【要約】【課題】磁気記録媒体の走行状態を擬似的に再現し、ピンホール検査装置がピンホールを確実に検出しているか否かを確認するピンホール検査装置の校正装置を提供する。【解決手段】ピンホール検査装置３の磁気テープＭＴが配置されている箇所に、ゲージ盤６Ａを配置し、ゲージ盤６Ａを磁気テープＭＴの送り速度に対応する角速度で回転させることで、擬似的にゲージ盤６Ａで磁気テープＭＴの走行状態を再現して、ピンホール検査装置３の校正を行う。【選択図】　図３
2004117107.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
連続的に搬送されるテープ状の被検査体に検査光を照射してその透過光量によりピンホールを検出するピンホール検査装置の校正装置であって、
ピンホールを有するゲージ盤と、前記ゲージ盤を回転させる回転駆動手段とを備え、前記ゲージ盤は、前記被検査体が搬送される位置と同じ位置に配置されたことを特徴とするピンホール検査装置の校正装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ピンホール検査装置が被検査体の欠陥ピンホールを確実に検出しているか否かを確認するピンホール検査装置の校正装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、磁気記録媒体の製造工程において、ゴミ等の異物が混入した磁性液が支持体（ベーステープ）に塗布された場合や、支持体自体の欠陥によって局所的に磁性液が塗布されなかった場合に、磁性層の欠陥によるピンホールが発生することが知られている。
ピンホールが発生した箇所では、データの記録／再生を行うことができないため、従来から、ピンホール検査装置により、ピンホールを検出して、不良品を排除していた。
【０００３】
このような磁気記録媒体のピンホール（欠陥）を検出するピンホール検査装置としては様々なものが知られているが、例えば、磁気テープの一方の面から光を照射し、磁性層を透過した透過光、すなわち、磁性層のピンホールから漏れてきた透過光を他方の面で信号として捕らえるＣＣＤカメラ等の撮像装置を備えたものなどがある。このピンホール検査装置は、製造ライン中に設置され、磁気記録媒体を連続的に搬送しながらピンホールを検出する所謂インライン型である（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
【特許文献１】
特開２００１−６６２６１号公報（第４頁、第１図）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のピンホール検査装置では、予め欠陥となる規格のピンホールを形成した基準盤をピンホール検査装置の所定位置にセットして、ＣＣＤカメラ等の出力電圧をチェックして性能確認（調整）をしているため、ピンホールが停止した状態での性能確認しかできず、磁気記録媒体の走行時にピンホール検査装置の検出能力がどの程度出ているのか不明であった。
【０００６】
そこで本発明は、磁気記録媒体の走行状態を擬似的に再現し、ピンホール検査装置がピンホールを確実に検出しているか否かを確認するピンホール検査装置の校正装置を提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記した課題を解決するため、本発明のピンホール検査装置の校正装置は、連続的に搬送されるテープ状の被検査体に検査光を照射してその透過光量によりピンホールを検出するピンホール検査装置用の校正装置であって、ピンホールを有するゲージ盤と、前記ゲージ盤を回転させる回転駆動手段とを備え、前記ゲージ盤は、前記被検査体が搬送される位置と同じ位置に配置されたことを特徴とする。
【０００８】
本発明のピンホール検査装置の校正装置によれば、連続的に搬送されるテープ状の被検査体の代わりに、基準ピンホールを有するゲージ盤をピンホール検査装置に配置して回転させる。そのため、基準ゲージが擬似的に被検査体の搬送状態を再現し、ピンホール検査装置を校正（調整）することができる。
【０００９】
また、前記したピンホール検査装置の構成装置を、複数のピンホール検査装置で使用する場合には、前記ゲージ盤を移動する移動機構と、前記移動機構の制御装置とを備え、前記制御装置は、前記ゲージ盤を、各ピンホール検査装置における前記被検査体が搬送される位置に順次移動させるよう制御させるとよい。
【００１０】
このようなピンホール検査装置の校正装置によれば、基準ゲージが移動機構を備えていることから、複数のピンホール検査装置の被検査体が搬送される位置に順次移動することができる。そのため、複数の検査装置に順番に移動して、一台の校正装置で複数の検査装置を校正することができる。
【００１１】
本発明のピンホール検査装置の校正装置は、前記回転駆動手段の回転速度を可変とすることを特徴とする。
【００１２】
本発明のピンホール検査装置の校正装置によれば、回転駆動手段の回転速度を変えることができる。そのため、被検査体の搬送速度に応じてゲージ盤の回転速度を変えてピンホール検査装置の校正を行うことができる。
【００１３】
また、前記回転速度は、ゲージ盤が有するピンホールの速度が前記被検査体の送り速度に対応するような角速度とするのが望ましい。
【００１４】
このように回転速度を調整すると、ゲージ盤の回転速度を被検査体の送り速度に対応させることによって、ゲージ盤で被検査体の搬送状態を再現することができる。そのため、被検査体の走行状態を擬似的にゲージ盤で再現してピンホール検査装置の校正を行うことができる。
【００１５】
さらに、前記ゲージ盤には、大きさの異なる複数のピンホールを設けるのが望ましい。
【００１６】
このようにすれば、複数の大きさのピンホールについて、どれだけの出力で検出できるかを校正時に検査できるので、一度の校正動作で、ピンホール検査装置の能力を正確にチェックすることができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るピンホール検査装置の校正装置の一実施形態を、適宜図面を参照して詳細に説明する。なお、本実施の形態では、被検査体として磁気テープを用い、ピンホール検査装置を磁気テープを細く裁断するスリッタに適用した場合を想定している。
【００１８】
図１は、一実施形態のスリッタの構成を示す斜視図である。
図１に示すように、本発明の一実施形態に用いるスリッタＣは、ベーステープ（支持体）上に磁性層が形成され、ロール状に磁気記録媒体が捲回された原反１から送り出された磁気記録媒体を特定の幅に裁断するスリッタ２と、このスリッタ２で裁断された磁気テープＭＴの表面のピンホールを検査するピンホール検査装置３と、磁気テープＭＴを捲回するハブ４と、磁気テープＭＴをガイドするガイドローラＳ等で構成されている。
【００１９】
図２（ａ）は、図１に示したピンホール検査装置の要部拡大図であり、図２（ｂ）は、ピンホール検査装置で検出されるピンホールの大きさに対する出力電圧を示すグラフである。
【００２０】
ピンホール検査装置３は、図２（ａ）に示すように、磁気テープＭＴに光を照射する光照射手段３Ａと、磁気テープＭＴを透過してくる透過光Ｆを撮像する撮像装置３Ｂと、撮像装置３Ｂから検出された透過光Ｆを増幅するアンプ５と、増幅された透過光Ｆを出力電圧に変換すると共に、この出力電圧と基準電圧とを比較し判定する判定回路Ｈとを備えている。なお、基準電圧は、予め測定した不良となるピンホール径の出力電圧を用いる。また、撮像装置３Ｂは、特に限定されるものではなく、例えば、ＣＣＤカメラ等を用いることができる。
【００２１】
次に、ピンホール検査装置３のピンホール検出方法を示す。
まず、磁気テープＭＴの走行中に、光照射手段３Ａから磁気テープＭＴに光を照射して、撮像装置３Ｂで透過光Ｆを撮像する。そして、この透過光Ｆを、アンプ５において増幅し、出力電圧に変換した後、判定回路Ｈで基準電圧との比較を行う。これにより、磁気テープＭＴ上のピンホールを検出できる。
【００２２】
例えば、図２（ｂ）に示すように、ピンホール径の０．５ｍｍから０．８ｍｍの間に基準電圧を設定しておくと、撮像装置３Ｂで検出されるピンホールの径が０．５ｍｍのときは基準電圧より出力電圧が低いので、欠陥となるピンホールではないと判定される。また、ピンホールの径が０．８ｍｍだと、基準電圧よりも出力電圧が大きくなるため、欠陥となるピンホールがあると判断される。このように判定することによって、磁気テープＭＴを連続的に搬送しながら、所定の大きさ以上のピンホールを検出することができる。
【００２３】
次に、このピンホール検査装置３の校正を行う校正装置６について図を用いて詳細に説明する。図３（ａ）は、校正装置の構成を示す側面図であり、図３（ｂ）は、ゲージ盤を示す平面図であり、図３（ｃ）は、スリッタに校正装置を配置した状態を示す側面図である。また、図４（ａ）から図４（ｃ）は、ゲージ盤の回転状態を示す平面図である。
【００２４】
図３（ａ）に示すように、校正装置６は、ゲージ盤６Ａと、このゲージ盤６Ａを回転させるモータ６Ｂ（回動駆動手段）で構成されている。
【００２５】
ゲージ盤６Ａは、図３（ｂ）に示すように、円形プレートの円周方向に径が異なる複数の孔部７Ａ、孔部７Ｂ、孔部７Ｃが一対ずつ形成されている。これらの孔部７Ａ〜７Ｃは、ピンホールを擬似的に再現したものである。ここで、孔部７Ｂは、磁気テープＭＴ上で欠陥となるピンホールの規格限度であり、孔部７Ａ、孔部７Ｃは、孔部７Ｂとは異なる大きさの孔に形成されている。なお、ゲージ盤６Ａを構成する材料は特に限定するものではなく、回転時に変形などを生じないものであればどのようなものを用いてもよい。
【００２６】
モータ６Ｂは、ゲージ盤６Ａを回転させるものであり、磁気テープＭＴの原反１から磁気テープＭＴを裁断しハブ４に捲回する時の磁気テープＭＴの走行速度をゲージ盤６Ａの各孔部７Ａ〜７Ｃ上で再現するものである。なお、モータ６Ｂは、磁気テープＭＴの走行方向と同じ方向に各孔部７Ａ〜７Ｃを動かすようにゲージ盤６Ａを回転させる。また、モータ６Ｂは、磁気テープの走行速度に応じてゲージ盤６Ａの所望の回転速度に調整できるように構成されている。
【００２７】
このように構成された校正装置６によるピンホール検査装置３の校正方法について図を用いて詳細に説明する。
まず、ピンホール検査装置３に磁気テープＭＴが無い状態で、磁気テープＭＴが配置される位置に校正装置６を配置する（図３（ｃ）参照）。そして、校正装置６の各孔部７Ａ〜７Ｃが磁気テープＭＴが走行するのと同じ速度で移動するようにゲージ盤６Ａを回転させ、磁気テープＭＴの走行状態を擬似的にゲージ盤６Ａで再現する。次に、ピンホール検査装置３の光照射手段３Ａからゲージ盤６Ａに向けて光を照射し、このゲージ盤６Ａを透過した透過光Ｆを撮像装置３Ｂで撮像する。撮像された透過光Ｆの出力電圧を元に、基準電圧（ピンホールの規格限度）と比較を行いピンホール検査装置３の校正を行うことができる。
【００２８】
なお、校正装置６は、図４（ａ）から図４（ｃ）に示すように、ゲージ盤６Ａを磁気テープＭＴの走行状態と同じ方向に回転させ、ゲージ盤６Ａに形成した孔部７Ａ、孔部７Ｂ、孔部７Ｃをピンホール検査装置３の撮像装置３Ｂで検出できることを確認すると共に、検出精度の調整を行うことができる。
【００２９】
また、ピンホール検査装置３から検出された出力電圧を元に、光照射手段３Ａの照射方向や、撮像装置３Ｂの撮像方向を調整することができる。
【００３０】
これにより、本発明のピンホール検査装置３の校正装置６は、ピンホール検査装置３の磁気テープＭＴが配置されている箇所に、ゲージ盤６Ａを配置し、各孔部７Ａ〜７Ｃが磁気テープＭＴの走行速度と同じになるようにゲージ盤６Ａを回転させることで、擬似的にゲージ盤６Ａで磁気テープＭＴの走行状態を再現して、ピンホール検査装置３の校正を行うことができる。
【００３１】
また、校正装置６に移動機構を備える構成について図を用いて詳細に説明する。図５は、他の実施形態におけるゲージ盤およびスリッタの平面図である。図６（ａ）から図６（ｃ）は、ゲージ盤の回転状態を示す平面図である。図７は、磁気テープを移動させた状態を示す平面図である。
【００３２】
本実施形態では、図１に示すように、磁気テープＭＴが並列して走行するスリッタＣにおいて、それぞれの磁気テープ走行経路上に設けられたピンホール検査装置３を自動的に検査する場合について説明する。
図５に示すように撮像装置３Ｂは、棒状の支持部材８Ａに支持されて、並んだ磁気テープＭＴの幅方向に一直線上に配置されている。ボールネジ８Ｂは、支持部材８Ａに平行して配置されており、一端において、モータ９と接続されている。ゲージ盤６Ａを回転するモータ６Ｂは、ボールネジ９のナット機構を備えており（図示せず）、ボールネジ９と係合している。従って、モータ９を回転駆動することにより、ゲージ盤６Ａは、磁気テープＭＴの幅方向へ往復移動することが可能である。モータ９は、図示しない制御装置に接続されている。制御装置は、ゲージ盤６Ａが各磁気テープＭＴの走行経路に位置するところで一端止まりつつ、隣の磁気テープＭＴの位置へ順次移動していくように、モータ９を回転制御する。
【００３３】
また、このように構成された校正装置６は、図６（ａ）から図６（ｃ）に示すように、各孔部７Ａ〜７Ｃが磁気テープＭＴの走行速度と同じになるような回転速度でゲージ盤６Ａを回転させ、擬似的に磁気テープＭＴの走行状態をゲージ盤６Ａで再現して、ピンホール検査装置３の校正をすることができる。
【００３４】
また、図７に示すように、磁気テープＭＴがスリッタＣに配置された状態でも、校正するピンホール検査装置３（３Ａ，３Ｂ）に配置されている磁気テープＭＴの位置を移動させる補助治具やガイドローラ等を用いて磁気テープＭＴを一時的に移動させることで、ピンホール検査装置３の校正を行うことができる。
【００３５】
また、一実施形態においてゲージ盤６Ａの形状を円形としたが本発明を限定するものではなく、孔部（７Ａから７Ｃ）を形成することができるものであればどのような形状でもよい。また、ゲージ盤６Ａの孔部の数は、特に本発明を限定するものではなく、少なくとも１つ以上設けることでピンホール検査装置３を調整することができる。
【００３６】
さらに、回転駆動手段は、実施形態のようにモータ６Ｂをゲージ盤６Ａに直接接続する場合だけでなく、駆動源を空気圧などの他のものにしてもよく、駆動源からゲージ盤６Ａまでをベルトやギヤ等で伝達しても構わない。
【００３７】
また、一実施形態において、磁気テープＭＴを用いて説明したが、本発明を限定するものではなく、写真フィルムその他の不透明なテープ類にも同様に用いることができる。なお、フィルムの場合、フィルムが感光しない波長の光を用いると良い。
【００３８】
【発明の効果】
以上より、本発明のピンホール検査装置の校正装置は、連続的に搬送されるテープ状の被検査体の代わりに、基準ピンホールを有するゲージ盤をピンホール検査装置に配置して回転させる。そのため、基準ゲージが擬似的に被検査体の搬送状態を再現し、ピンホール検査装置を校正（調整）することができる。
【００３９】
また、基準ゲージが移動機構を備えるようにすることで、複数のピンホール検査装置の被検査体が搬送される位置に順次移動することができる。そのため、複数の検査装置に順番に移動して、一台の校正装置で複数の検査装置を校正することができる。
【００４０】
また、回転駆動手段の回転速度を可変にすることで、被検査体の搬送速度に応じてゲージ盤の回転速度を変えてピンホール検査装置の校正を行うことができる。
【００４１】
また、ゲージ盤の回転速度を被検査体の送り速度に対応させることによって、ゲージ盤で被検査体の搬送状態を再現することができる。そのため、被検査体の走行状態を擬似的にゲージ盤で再現してピンホール検査装置の校正を行うことができる。
【００４２】
さらに、前記ゲージ盤には、大きさの異なる複数のピンホールを設けることで、複数の大きさのピンホールについて、どれだけの出力で検出できるかを校正時に検査できる。そのため、一度の校正動作で、ピンホール検査装置の能力を正確にチェックすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】一実施形態のスリッタを示す斜視図である。
【図２】（ａ）　図１に示したピンホール検査装置の要部拡大図である。
（ｂ）　ピンホール検査装置で検出されるピンホールの大きさに対する出力電圧を示すグラフである。
【図３】（ａ）　校正装置の構成を示す側面図である。
（ｂ）　ゲージ盤を示す平面図である。
（ｃ）　スリッタに校正装置を配置した状態を示した側面図である。
【図４】（ａ）〜（ｃ）は、ゲージ盤の回転状態を示した平面図である。
【図５】他の実施形態におけるゲージ盤およびスリッタの平面図である。
【図６】（ａ）〜（ｃ）は、ゲージ盤の回転状態を示した平面図である。
【図７】磁気テープを移動させた状態を示す平面図である。
【符号の説明】
１・・・原反
２・・・スリッタ
３・・・ピンホール検査装置
３Ａ・・・光照射手段
３Ｂ・・・撮像装置（ＣＣＤカメラ）
４・・・ハブ
５・・・アンプ
６・・・校正装置
６Ａ・・・ゲージ盤
６Ｂ・・・モータ（回転駆動手段）
７Ａ・・・孔部
７Ｂ・・・孔部
７Ｃ・・・孔部
８Ａ・・・支持部材
８Ｂ・・・支持部材
９・・・回動手段
Ｃ・・・スリッタ
Ｆ・・・透過光
Ｈ・・・判定回路
Ｓ・・・ガイドローラ
ＭＴ・・・磁気テープ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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