(57)【要約】　　　（修正有）【課題】絶対位置の誤りがあっても信頼性が確保できる方法の提供。【解決手段】絶対位置を測定する本方法の場合、絶対位置の測定に必要なコード語（ＣＷ）に加えて、さらなるビットが検査されることによって、１つのコード（Ｃ）が冗長に走査される。走査によって得られた全てのビットが、信頼性を検査するために検査され、１つの誤り識別子（Ｆ）が、信頼できないと認識された１つのビットに割り当てられる。１つの誤り識別子（Ｆ）を有するこれらのビットは、デコーディング時に考慮されない。【選択図】　　図１
2004117360.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
以下の方法ステップを有する絶対位置を測定する方法：
−コードパターンの各々のコードパターンから１つの絶対位置を一義的に定義し、多数のコード素子（Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３）から構成された多数のコードパターンから１つのコードパターンを走査し、追加のコード素子を走査し、
−このコードパターンを走査することによって、多数のビットを有する１つのコード語（ＣＷ）を生成し、
−これらの追加のコード素子を走査することによって追加のビットを生成し、
−信頼性を検査するためにこのコード語（ＣＷ）のビット及びこれらの追加のビットを検査し、これらのビットのうちの１つのビットがプリセットされた基準を下回った場合、１つのエラーメッセージ（Ｆ）がこのビットに割当てられ、
−多数のビット列をプリセットし、この場合、１つの絶対位置が、これらのビット列の各々に割当てられていて、
−このコード語（ＣＷ）のビットをこれらの設けられている多数のビット列と比較し、これらの追加のビットをこれらの設けられているビット列から成る対応するビットと比較し、全てのビットが一致した場合、この対応する絶対位置をこのコード語（ＣＷ）に割当て、この場合、誤り識別子（Ｆ）を有するビットが、一致を検査するこの比較時に考慮されない。
【請求項２】
追加のコード素子は、多数のコードパターンから成るもう１つのコードパターンの少なくとも１つの部分である請求項１に記載の方法。
【請求項３】
多数のアナログ信号（Ｓ）が、コードパターンを走査することによって生成され、これらの走査信号（Ｓ）のうちの少なくとも１つの走査信号が、１つのビットを生成するために使用される請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
信頼性を検査するために１つのビットを検査する場合、このビットを生成するために使用された走査信号の信号振幅が、１つの目標振幅と比較される請求項３に記載の方法。
【請求項５】
２つの走査信号（Ｓ１Ａ，Ｓ１Ｂ）が、１つのビットを生成するために使用され、このビットの信頼性を検査する場合、これらの両走査信号（Ｓ１Ａ，Ｓ１Ｂ）の差が、１つの目標の差（Ｖ）と比較される請求項３に記載の方法。
【請求項６】
多数のビット列のプリセット及びこれらのビット列の各々の１つの絶対位置の割当ては、記憶された割当て表によって実行される請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項７】
多数のビット列のプリセット及びこれらのビット列の各々の１つの絶対位置の割当ては、生成規則にしたがって実行される請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法を実行するエンコーダ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は、請求項１に記載の絶対位置を測定する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
　アブソリュートエンコーダが、多くの分野で互いに移動する２つの物体を測定するために益々使用されている。アブソリュートエンコーダは、インクリメンタル測定系に比べて正しい位置情報が供給エネルギーの遮断後でも各相対位置で即座に出力され得るという利点を奏する。
【０００３】
　この場合、絶対位置は、互いに平行に延在する多数のトラックに沿って、例えばグレイコードとして配列されているコードによって実現される。
【０００４】
　測定方向に沿って相前後して配置された複数のコード素子を有するただ１本のコードトラック内の位置情報の配列が特に場所を節約する。この場合、これらのコード素子は、擬似乱数分布で相前後して配置されている。その結果、所定の数の相前後するコード素子がそれぞれ、絶対位置をコード語として一義的に定義するコードパターン又はビットパターンを構成する。走査装置が１コード素子だけシフトした場合、新しいコードパターンが既に形成される。そして、連続した異なるコード語が、検出すべき絶対測定範囲の全体にわたって任意に使用可能になる。このようなシーケンシャルコードは、チェインコード又は擬似ランダムコードと呼ばれる。
【０００５】
　エンコーダの場合、誤りが、例えばスケールの部分的な汚れによってコード語を構成するビット列内に発生する。これらの誤りは、絶対位置の誤りのある測定を引き起こす。
【０００６】
　このような誤りを認識する方法が既に提唱されている。この目的のために、ヨーロッパ特許発明第 0 789 226号明細書中には、少なくとも３つの完全に異なるコードパターンを走査装置のスケールによって同時に走査すること、これからコード語を生成することが提唱される。コード語の実際の距離が、目標の距離と比較される。これによって、正しいと認識された瞬間の絶対位置を測定するための１つのコード語が、同時に検出されたコード語から使用され、誤りありと認識されたコード語が、別の処理によって排除される。
エンコーダの信頼性又は動作確実性が、この方法によって向上する。ビット列の１ビットだけに誤りがあるときに、コード語が誤りありとして既に除去される点が欠点である。エンコーダの高い信頼性と動作確実性を得るためには、多数のコード語を同時に走査する必要がある。
【０００７】
　ドイツ連邦共和国特許発明第195 06 019号明細書中には、誤りを認識する方法が記されている。この場合、位置が変化したときに、新しいコード語が、先行する測定ステップ又は後続する測定ステップに一致することを基礎にする。新しいコード語が隣のコード語に一致するときにだけ、１つの絶対位置がこの新しいコード語に割り当てられる。誤りを特定する誤りルーチンも周知である。この場合、新しいコード語のビットが、連続して反転され、一致するまで隣のコード語の対応するビットと比較される。このルーチンは、新しいコード語が隣のコード語に一致することが確認されるまで実行される。一致するまで反転されなければならないこれらのビットが、誤りありと認識される。誤りを伴って作動する検出素子が認識され得る。
【０００８】
　誤り検査が、この方法によって１回だけ可能である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
　本発明の課題は、絶対位置の誤りを許容するにもかかわらず信頼性の高い測定が保証される方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
　この課題は、本発明により、請求項１に記載の特徴によって解決される。
【００１１】
　この方法を実施するエンコーダが、請求項８中に記載されている。
【００１２】
　本発明によって得られる利点は、誤りのある全てのコード語を除去する必要がない点にある。１つのコード語内の個々の誤りのあるビットが、この方法によって許容される。１つの正しい絶対位置が比較的小さいコード範囲を走査することによって検出され得る確率が非常に大きい。それ故に本発明によれば、エンコーダの動作信頼性及び機能性が向上する。
【００１３】
　本発明の好適な構成は、従属請求項中に記載されている。
【００１４】
　本発明を図面に基づいて詳しく説明する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
　図１中には、エンコーダが概略的に示されている。このエンコーダは、光学的な走査原理にしたがって作動する。この光学的な走査原理の場合、１つのコードＣが透過光法で走査される。走査装置ＡＥが、コードＣを走査するために使用される。この走査装置ＡＥは、測定方向ｘに沿ってコードＣに対して相対的に移動可能に配置されている。
【００１６】
　コードＣは、測定方向ｘに沿って相前後して配置された連続する同一長さのコー素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３から構成される。各コード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３は、同様に測定方向ｘに沿って直に隣接して相前後して配置された同一長さの２つの部分領域Ａ，Ｂから構成される。これらの部分領域Ａ，Ｂは、互いに補完的に構成されている。この場合、補完とは、これらの部分領域Ａ，Ｂが逆の特性を呈する。すなわち、光学式の走査原理の場合は透過性と非透過性である。つまり、照射式の走査の場合は反射性又は非反射性である。このようなコードは、マンチェスターコードと呼ばれる。
【００１７】
　シーケンシャルコードＣは、走査装置ＡＥによって走査される。この走査装置ＡＥは、光源Ｌを有する。この光源Ｌの光が、コリメーターレンズＫを介して相前後する多数のコード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３を照射する。この光は、コードＣによって位置に依存して変調される。その結果、位置に依存する光分布が、コードＣの後方で発生する。この光分布は、走査装置ＡＥの検出ユニットＤによって検出される。
【００１８】
　検出ユニットＤは、測定方向Ｘに沿って配置された連続する複数の検出素子Ｄ１〜Ｄ１１を有するラインセンサである。少なくとも１つの検出素子Ｄ１〜Ｄ１１が、各相対位置でコード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３の各部分領域Ａ，Ｂに一義的に割当てられている。その結果、コードＣに対する検出ユニットＤの各相対位置で、１つの走査信号Ｓ１Ａ，Ｓ３Ｂが、各部分領域Ａ，Ｂから得られる。これらの走査信号Ｓ１Ａ〜Ｓ３Ａは、評価ユニットＡＷに入力される。この評価ユニットＡＷは、コード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３の両部分領域Ｃ１Ａ，Ｃ１Ｂ；Ｃ２Ａ，Ｃ２Ｂ；Ｃ３Ａ，Ｃ３Ｂの両走査信号Ｓ１Ａ，Ｓ１Ｂ；Ｓ２Ａ，Ｓ２Ｂ；Ｓ３Ａ，Ｓ３Ｂをそれぞれ互いに比較し、この比較によって各コード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３に対して１つのデジタル語つまり１つのビットＢ１，Ｂ２，Ｂ３を生成する。マンチェスターコードＣの場合、デジタル語Ｂ１は、部分領域Ｃ１Ａ，Ｃ１Ｂに依存する。連続する多数のデジタル語Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３は、絶対位置を定義する１つのコード語ＣＷを生成する。検出ユニットＤがコードＣに対して１つのコード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３の幅つまり長さだけシフトした場合、１つの新しいコード語ＣＷが生成される。多数の異なるコード語ＣＷが、測定すべき絶対測定範囲にわたって生成される。
【００１９】
　図１は、走査装置ＡＥに対するコードＣの瞬間位置を示す。これらの検出素子Ｄ１〜Ｄ１１は、コードＣの１つの部分領域Ｃ１Ａ〜Ｃ３Ｂの半分の幅の間隔で相前後して配置されている。これによって、少なくとも１つの検出素子Ｄ１〜Ｄ１１が、各位置で１つの部分領域Ｃ１Ａ，Ｃ３Ｂに一義的に割当てられていて、２つの部分領域Ｃ１Ａ〜Ｃ３Ｂ間の遷移部分を走査しないことが保証される。この示された位置では、部分領域Ｃ１Ａが検出素子Ｄ１によって走査され、部分領域Ｃ１Ｂが検出素子Ｄ３によって走査される。これらの検出素子Ｄ１，Ｄ３は、光分布を検出し、光度に応じてその光度に比例するアナログ走査信号Ｓ１Ａ，Ｓ１Ｂを生成する。これらの両部分領域Ｃ１Ａ，Ｃ１Ｂは互いに補完的に構成されているので、走査信号Ｓ１Ａ，Ｓ１Ｂの強度も互いに逆である。すなわち、信号レベルが、互いに大きく離れている。
【００２０】
　コード素子Ｃ１の両走査信号Ｓ１Ａ，Ｓ１Ｂのうちのどちらの走査信号が大きいかが検査されるという方法で、この信号差が、二進情報Ｂ１を生成するためだけに利用される。この検査は、除算又は減算によって実行される。この例では、減算が使用される。これに対して図１では、トリガー構成要素Ｔ１が比較装置として使用される。このトリガー構成要素Ｔ１は、Ｓ１ＡがＳ１Ｂよりも小さいときにＢ１＝０を生成し、Ｓ１ＡがＳ１Ｂよりも大きいときにＢ１＝１を生成する。同様に、二進情報Ｂ２，Ｂ３が、コード素子Ｃ２，Ｃ３を走査してコード素子Ｃ２，Ｃ３それぞれの部分領域Ｃ２Ａ，Ｃ２Ｂ；Ｃ３Ａ，Ｃ３Ｂのアナログ信号Ｓ２Ａ，Ｓ２Ｂ；Ｓ３Ａ，Ｓ３Ｂを比較することによってトリガー構成要素Ｔ２，Ｔ３を通じて得られる。
【００２１】
　第１デジタル語が、互いに構成された補完的な部分領域Ａ，Ｂの第１順序に割当てられる。第２デジタル語が、互いに構成された補完的な部分領域Ａ，Ｂの第２順序に割当てられる。この例では、値０が、順序opak→transparent に割当てられる。値１が、順序transparent →opakに割当てられる。
【００２２】
　各コード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３の両部分領域Ａ，Ｂが互いに補完的であるので、走査信号ＳのＳＮ比が非常に大きい。両部分領域Ａ，Ｂの走査信号Ｓが、光源Ｌの光度の変化に均質に作用する。
【００２３】
　１つのコード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３の２つの部分領域Ａ，Ｂのそれぞれが補完的に構成されているために、エンコーダの正常な動作時に、アナログ走査信号Ｓがそれぞれこの部分領域あＡ，Ｂを走査することによって生成される。これらのアナログ走査信号Ｓの差が、プリセットされた値を超える。良好な誤り検査が、この差の値を考慮することによって可能である。この差の値がプリセットされた値だけ下回ったときは、二進情報Ｂ１が信頼できず、それ故に誤り信号Ｆがこの二進情報Ｂ１に対して生成されることを、この誤り検査は基礎にする。
【００２４】
　誤り信号Ｆを生成する原理は、図２中ではコード素子Ｃ１に基づいて示されている。コード素子Ｃ１のアナログ走査信号Ｓ１Ａ，Ｓ１Ｂが、誤り検査装置Ｐに入力される。この誤り検査装置Ｐは、減算（Ｓ１Ａ，Ｓ１Ｂ）によってＳ１ＡとＳ１Ｂとを比較し、その差の値がプリセットされた比較値Ｖを超えているか又は超えていないかを検査する。差の値（Ｓ１Ａ−Ｓ１Ｂ）がプリセットされた比較値Ｖを超えていないときは、誤り信号Ｆが出力される。図３中には、信号状況が示されている。この誤り検査は、コード語ＣＷの全てのビットＢ１，Ｂ２，Ｂ３を生成する走査信号に対して実行される。
【００２５】
　生成されたビットＢ１，Ｂ２，Ｂ３の信頼性が、アナログ走査信号Ｓのこの誤り検査によって検査される。プリセットされた基準−この例ではビットＢ１，Ｂ２，Ｂ３を生成するために使用される２つのアナログ走査信号Ｓの信号振幅−を下回った場合、誤り識別子Ｆが、信頼できないとみなされたこのビットに割当てられる。
【００２６】
　各コード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３の測定方向Ｘに沿って直に隣接して相前後する両部分領域Ａ，Ｂの配置には、検出素子Ｄ１〜Ｄ１１が僅かな間隔で測定方向Ｘに沿って相前後して配置できると同時に、エンコーダがコードＣに対する検出ユニットの回転に対して、すなわちモアレ変動に対して鈍感であるという利点がある。さらに、コード素子Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３の両部分領域Ａ，Ｂが均質に影響を受けることが基礎とされ得るので、妨害感受性が汚れに対して僅かである。
【００２７】
　誤り検査は、それぞれ２つの部分領域Ａ，Ｂのデジタル走査信号に基づいても実行され得る。コード素子の部分領域Ａ，Ｂのデジタル走査信号が互いに逆（０→１又は１→０）でないと認識されるときに、誤り信号が出力される。
【００２８】
　絶対位置（デコーディング）を走査されたコード語ＣＷから算定するため、多数の方法が公知である。これらの全ての方法は、それぞれＮビットを有する多数のビット列が設けられ、１つの絶対位置がこれらの各ビット列に一義的に割当てられている点で一致する。この場合、これらの設けられている多数のビット列は、コードＣの走査によって正常な動作時に生成可能な多数のコード語ＣＷに一致する。したがって、１つの走査されたコード語ＣＷのＮ個のビットをこれらの設けられている多数のビット列のそれぞれＮ個のビットと比較することによって、１つの絶対位置が、各コード語ＣＷに一義的に割当てられ得る。
【００２９】
　ビット列を提供するための可能性は、ＲＯＭの形態の割当て表を有する記憶器を準備することである。この記憶器内には、割当てである位置に対するビット列が記憶されている。絶対位置を１つの走査されたコード語ＣＷに割当てるため、すなわちデコーディングのため、コード語ＣＷが割当て表に対するアドレスを生成する。その結果、このアドレスに割当てられた位置が出力部に出力される（図４参照）。コード語ＣＷを標準化するため、このディコーディングが必要である。従来のデコーディングは、二進コード化への変換である。この例では、ＣＷ＝１１１→位置１＝０００；ＣＷ＝１１０→位置２＝００１；ＣＷ＝１０１→位置３＝０１０等である。
【００３０】
　ビット列を提供するためのもう１つの可能性は、所定の生成規則にしたがう生成である。この場合、生成ステップが、絶対位置を一義的に規定する。この場合、多数のビット列が、１つのビット列から出発して計算によって又は論理素子　（多くの場合、ＮＯＲゲート）によって生成される。さらに生成規則及び回路は、例えば文献：Digital displacement transducer using pseude-random binary sequences and a microprocessor, by B.E. Jones und K. Zia in Trans Inst MC Vol 3, No 1, Jan-Mar 1981, Seiten 13 bis 20中に明瞭に記されている。
【００３１】
　本発明によれば、１つのコード語ＣＷを生成する１つのコードパターンに加えて、その他のコード素子、すなわちもう１つのパターン、特にもう１つのコードパターンの少なくとも１つの部分が走査される。追加のビットが、このその他のパターン、特にもう１つのコードパターンの少なくとも１つの部分を走査することによって生成される。例えば上述したアナログ走査信号Ｓの振幅の上述した検査が実行されることによって、コードパターンのビット及び追加のビットが信頼性に対して検査される。コード語ＣＷのＮ個のビットに加えて、これらの追加のビットも、設けられている多数のビット列に対応するビットと比較される。この比較の場合、信頼できないと認識されたビットが考慮されない。Ｎ個のビット及び冗長な追加のビットが設けられている多数のビット列の全てと比較される場合、相前後するビット列に記憶された絶対位置が、比較コード語ＣＷに割当てられる。この位置は一義的である。多数の一致が比較時に発見された場合、非常に多数のビットが信頼できず、さらなる誤りルーチンが必要であるか、又は、エラーメッセージが出力される。何故なら、一義的な絶対位置が、この位置で算定できないからである。
【００３２】
　もう１つの誤りルーチンは、例えば実際の位置と最後の位置との間の変化がプリセットされた値だけに達しうることから出発する点にある。多数の一致が比較時に発見された場合、多数の位置のうちのその位置が有効と解釈される。この位置とその最後の位置との距離が、プリセットされた値を超えないか、又は、この位置が、その最後の特定の位置に最も近い位置に存在する。
【００３３】
　最後の特定の位置の隣接領域に対する比較が考慮されることも可能である。
【００３４】
　本発明を図４，５ａ〜５ｆを用いて具体的な例でさらに詳しく説明する。
【００３５】
　図４中では、最大で８個の異なるコード語と同時に、８個の異なる位置も、３桁の語によって一義的に識別可能である。最初の行では、シリアルで１トラックだけのサイクリックな擬似ランダムコード（ＰＲＣ）のビット列が適用されている。全ての可能性が適用されているので、この並びは、最大長シーケンスとも呼ばれる。
【００３６】
　図４中のこの最初の行の下には、８個の異なる位置の各々に対して走査されたコード語が示されている。これらのコード語はそれぞれ、最初の３つのビットによって構成される。この例では、その次のコード語がそれぞれ冗長な情報として走査される。これらの追加のビットはイタリック体で示されている。この最大長シーケンスは、好ましくは角度の測定に使用される。この場合、この最大長シーケンスは非公開で使用される。
【００３７】
　比較ルーチンを図５ａ〜５ｆに基づいて２．位置の例に対して説明する。この場合、信頼できないと認識されたビットは、Ｆでマークされている。これらのビットは、比較結果として１つの一致を常に示す。比較時のビットの１つの一致は、
図５ａ〜５ｅ中ではＸでマークされている。
【００３８】
　図５ａ中では、誤りのあるビットが走査中に含まれないことが示されている。その結果、８個の比較位置の１回の比較だけで全てのビットが一致する。したがってこの位置は、一義的に算定可能可能であり、有効と評価される。
【００３９】
　図５ｂ中には、走査されたビットのうちの１つのビットが誤り識別子Ｆでマークされている。このビットは比較時に考慮されないにもかかわらず、この位置は一義的に算定可能である。
【００４０】
　図５ｃ中には、走査によって得られた２つのビットが誤り識別子Ｆでマークされている。ここでも、１つの位置が一義的に算定可能である。
【００４１】
　図５中には、３つのビットが、信頼できないとしてマークされているのにもかかわらず、位置が一義的に算定可能である。
【００４２】
　図５ｅ中には、その他の地点以外の３つのビットが信頼できないとしてマークされている。この場合、２つの一致が比較時に発見される。その結果、位置が一義的に算定不可能である。
【００４３】
　図５ｆ中には、ビットが信頼できると認識されたこと、それにもかかわらず一致しないことが比較時に発見されたことが分かる。このことは、少なくとも１つの誤りのあるビットが走査中に含まれていることを意味する。しかしこの誤りのあるビットは、誤り検査装置Ｐによって確認されなかった。このことから、この誤り検査装置の不確実な動作が確認可能である。
【００４４】
　これらの冗長で比較のために使用されるビットは、好ましくはコード語ＣＷに直に隣接したビットである。しかし、このことは必要条件ではない。冗長に走査されたビットが、プリセットされた並びから成るビットと正確な位置で比較されることだけが重要である。　　　
【００４５】
　本発明は、特に好ましくはシーケンシャルでサイクリックなマンチェスターコードで使用可能ある。しかし本発明は、このコードに限定されるのではなくて、多重トラックのコード化にも使用可能である。この場合、各コード素子は、ただ１つの領域だけから構成してもよい。その結果、各ビットは、１つのアナログ走査信号だけから得られる。このとき、このビットの信頼性を検査するため、この走査信号は、公知の方法で目標振幅と比較される。
【００４６】
　本発明は、光学式の走査原理で特に有効に使用可能である。しかし本発明は、この走査原理に限定されるのではなくて、磁気式の走査原理、誘導式の走査原理及び容量式の走査原理でも使用可能である。
【００４７】
　本発明のエンコーダは、直線移動又は回転移動を測定するために使用され得る。この場合、測定すべき物体は、工作機械や座標測定機の台及びキャリッジ又は電動機の回転子や固定子でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】エンコーダを概略的に示す。
【図２】誤り検査の原理を示す。
【図３】図２の誤り検査に対する信号を示す。
【図４】冗長な走査部分を有する可能なコード語及び割当てられた絶対位置を示す。
【図５ａ】誤りありと走査されたビットなしの比較ルーチンを示す。
【図５ｂ】誤りありと認識された１つのビットを有する比較ルーチンを示す。
【図５ｃ】誤りありと認識された２つのビットを有する比較ルーチンを示す。
【図５ｄ】誤りありと認識された３つのビットの第１配置を有する比較ルーチンを示す。
【図５ｅ】誤りありと認識された３つのビットの第２配置を有する比較ルーチンを示す。
【図５ｆ】誤りはあるものの誤りありとして認識されなかったビットを有する比較ルーチンを示す。
【符号の説明】
【００４９】
ＡＥ　　走査装置
Ｌ　　　光源
Ｋ　　　コリメーターレンズ
Ｄ　　　検出ユニット
ＡＷ　　評価装置
Ｃ　　　コード
Ｃ１　　コード素子
Ｃ２　　コード素子
Ｃ３　　コード素子
Ｔ１　　トリガー構成要素
Ｔ２　　トリガー構成要素
Ｔ３　　トリガー構成要素
ＣＷ　　コード語
Ｆ　　　誤り識別子
Ｓ　　　アナログ走査信号
Ｓ１Ａ　走査信号
Ｓ１Ｂ　走査信号
Ｖ　　　目標差
【図１】
2004117360.tif 000003
【図２】
2004117360.tif 000004
【図３】
2004117360.tif 000005
【図４】
2004117360.tif 000006
【図５ａ】
2004117360.tif 000007
【図５ｂ】
2004117360.tif 000008
【図５ｃ】
2004117360.tif 000009
【図５ｄ】
2004117360.tif 000010
【図５ｅ】
2004117360.tif 000011
【図５ｆ】
2004117360.tif 000012