(57)【要約】【課題】接触が確実で、電子回路ユニットの載置や取り出しの容易な電子回路ユニットの測定装置を提供する。【解決手段】本体部２、及びこの本体部２の対向する側面に沿って設けられた複数個の第１，第２の端子部３，４を有する電子回路ユニット１と、上面に導電パターン６が設けられた評価基板７と、第１，第２の端子部３，４と導電パターン６とを接続可能な第１，第２のピンプローブ９，１１とを備え、第１，第２のピンプローブ９，１１は、評価基板７の表面に対して傾斜した状態で配置されると共に電子回路ユニット１が評価基板７上に載置され、第１のピンプローブ９によって第１の端子部３と導電パターン６とを接続する共に、第２のピンプローブ１１によって第２の端子部４と導電パターン６とを接続したため、第１，第２のピンプローブ９，１１は、導電パターン６、及び第１，第２の端子部３，４への接触が良好となる。【選択図】　　　　図１
2004117013.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
本体部、及びこの本体部の対向する側面に沿って設けられた複数個の第１，第２の端子部を有する電子回路ユニットと、上面に導電パターンが設けられた評価基板と、前記第１，第２の端子部と前記導電パターンとを接続可能な第１，第２のピンプローブとを備え、前記第１，第２のピンプローブは、前記評価基板の表面に対して傾斜した状態で配置されると共に、前記電子回路ユニットが前記評価基板上に載置され、前記第１のピンプローブの先端部によって前記第１の端子部と前記導電パターンとを接続する共に、前記第２のピンプローブの先端部によって前記第２の端子部と前記導電パターンとを接続したことを特徴とする電子回路ユニットの測定装置。
【請求項２】
前記第１のピンプローブが非可動状態で配設されると共に、前記第２のピンプローブが斜め方向に可動可能となしたことを特徴とする請求項１記載の電子回路ユニットの測定装置。
【請求項３】
前記第２のピンプローブを移動可能に保持する保持部材を有すると共に、前記第２のピンプローブが付勢部材によって付勢されたことを特徴とする請求項１、又は２記載の電子回路ユニットの測定装置。
【請求項４】
前記ピンプローブは、前記先端部に設けた導電部と、この導電部に結合した絶縁材からなる棒状部とで構成されたことを特徴とする請求項１から３の何れかに記載の電子回路ユニットの測定装置。
【請求項５】
前記ピンプローブの前記先端部には、丸みを持たせた接触部を設けたことを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の電子回路ユニットの測定装置。
【請求項６】
前記ピンプローブの前記先端部には、前記ピンプローブの外周部がエッジ状をなした接触部を設けたことを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の電子回路ユニットの測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は送受信ユニット等に使用して好適な電子回路ユニットの測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の電子回路ユニットの測定装置の構成を図５に基づいて説明すると、電子回路ユニット５１は、電気回路を収納した本体部５２と、この電気回路に接続された状態で、本体部５２の側面から直角方向に突出した複数個のＬ字状の端子部５３とで構成されている。
【０００３】
また、測定装置５４は、上面に導電パターン５５が設けられたプリント基板からなる評価基板５６と、この評価基板５６に対して上下動可能な複数個のピンプローブ５７と、ここでは図示しないが導電パターン５５とピンプローブ５７に接続された測定機器（図示せず）とで構成されている。
【０００４】
そして、この測定装置５４の測定方法は、先ず、端子部５３を導電パターン５５に合わせた状態で、電子回路ユニット５１が評価基板５６上に載置される。
次に、ピンプローブ５７を下方に移動して、ピンプローブ５７によって端子部５３を導電パターン５５に押し付ける。
【０００５】
この状態で、電子回路ユニット５１に種々の信号を入力し、測定機器（図示せず）によって、電気的な測定を行った後、ピンプローブ５７を上方に移動して、測定が完了した電子回路ユニット５１を取り出すようになっている。（例えば、特許文献１参照）
【０００６】
【特許文献１】
特開平８−３０４５０１号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
従来の電子回路ユニットの測定装置は、電子回路ユニット５１を評価基板５６上に載置した後、ピンプローブ５７によって端子部５３を導電パターン５５に押し付けるため、導電パターン５５上に埃等が付着しやすく、これによって、端子部５３と導電パターン５５間の接触が不安定になるという問題がある。
また、ピンプローブ５７が上下方向に移動する構成となっているため、ピンプローブ５７が邪魔になって、評価基板５６に対する電子回路ユニット５１の載置、取り出しが面倒になるという問題がある。
【０００８】
そこで、本発明は接触が確実で、電子回路ユニットの載置や取り出しの容易な電子回路ユニットの測定装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するための第１の解決手段として、本体部、及びこの本体部の対向する側面に沿って設けられた複数個の第１，第２の端子部を有する電子回路ユニットと、上面に導電パターンが設けられた評価基板と、前記第１，第２の端子部と前記導電パターンとを接続可能な第１，第２のピンプローブとを備え、前記第１，第２のピンプローブは、前記評価基板の表面に対して傾斜した状態で配置されると共に、前記電子回路ユニットが前記評価基板上に載置され、前記第１のピンプローブの先端部によって前記第１の端子部と前記導電パターンとを接続する共に、前記第２のピンプローブの先端部によって前記第２の端子部と前記導電パターンとを接続した構成とした。
【００１０】
また、第２の解決手段として、前記第１のピンプローブが非可動状態で配設されると共に、前記第２のピンプローブが斜め方向に可動可能となした構成とした。
また、第３の解決手段として、前記第２のピンプローブを移動可能に保持する保持部材を有すると共に、前記第２のピンプローブが付勢部材によって付勢された構成とした。
【００１１】
また、第４の解決手段として、前記ピンプローブは、前記先端部に設けた導電部と、この導電部に結合した絶縁材からなる棒状部とで構成された。
また、第５の解決手段として、前記ピンプローブの前記先端部には、丸みを持たせた接触部を設けた構成とした。
また、第６の解決手段として、前記ピンプローブの前記先端部には、前記ピンプローブの外周部がエッジ状をなした接触部を設けた構成とした。
【００１２】
【発明の実施の形態】
本発明の電子回路ユニットの測定装置の図面を説明すると、図１は本発明の電子回路ユニットの測定装置の第１実施例に係り、その概要を示す一部断面側面図、図２は本発明の電子回路ユニットの測定装置の第１実施例に係り、その要部平面図、図３は本発明の電子回路ユニットの測定装置の第１実施例に係り、その要部拡大側面図、図４は本発明の電子回路ユニットの測定装置の第２実施例に係り、その要部拡大側面図である。
【００１３】
次に、本発明の電子回路ユニットの測定装置の第１実施例の構成を図１〜図３に基づいて説明すると、電子回路ユニット１は、電気回路を収納した本体部２と、この電気回路に接続された状態で、本体部２の対向する側面２ａに沿って設けられた複数個の第１，第２の端子部３、４とで構成されている。
【００１４】
そして、第１，第２の端子部３，４は、半田メッキが施された金属板や、側面２ａに直に設けられた導電体で構成されると共に、第１の端子部３は、一方の側面２ａに沿って配置され、また、第２の端子部４は、他方の側面２ａに沿って配置されている。
【００１５】
また、測定装置５は、上面に導電パターン６が設けられたプリント基板からなる評価基板７と、取付部材８に保持された複数個の第１のピンプローブ９と、保持部材１０に移動可能に保持された複数個の第２のピンプローブ１１と、保持部材９を可動するためのエアシリンダ１２と、ここでは図示しないが導電パターン６に接続された測定機器（図示せず）等とで構成されている。
【００１６】
そして、第１のピンプローブ９は、先端部に接触部９ａを有する導電部９ｃと、この導電部９ｃに結合した絶縁材からなる棒状部９ｄとで構成されている。
また、この第１のピンプローブ９は、取付部材８に固定（非可動状態）されると共に、第１のピンプローブ９は、評価基板７の上面（表面）に対して傾斜（斜め）した状態で配置され、この第１のピンプローブ９の先端部には、丸みを持った接触部９ａが設けられており、この接触部９ａは、導電パターン６に接触した状態となっている。
【００１７】
また、第２のピンプローブ１１は、先端部に接触部１１ａを有する導電部１１ｃと、この導電部１１ｃに結合した絶縁材からなる棒状部１１ｄとで構成されている。
更に、第２のピンプローブ１１は、保持部材１０に対して可動可能に取り付けられると共に、第２のピンプローブ１１は、評価基板７の上面（表面）に対して傾斜（斜め）した状態で配置され、この第２のピンプローブ１１の先端部には、丸みを持った接触部１１ａが設けられている。
そして、第２のピンプローブ１１は、通常時、評価基板７から斜め上方に位置した状態となっている。
【００１８】
このように、第１，第２のピンプローブ９，１１が斜め状態に配置されることによって、評価基板７上の電子回路ユニット１を載置するための空間部は、第１，第２のピンプローブ９，１１で邪魔されることなく開放状態となっている。
【００１９】
また、保持部材１０の空洞部１０ａ内には、コイルバネ等からなる複数個の付勢部材１３が収納され、この付勢部材１３によって、それぞれの第２のピンプローブ１１が評価基板７方向に付勢されている。
【００２０】
更に、保持部材１０は、エアシリンダ１２によって、斜め方向に上下動可能となっており、保持部材１０がエアシリンダ１２によって押し出された場合は、保持部材１０が評価基板７側の方向に移動し、また、保持部材１０がエアシリンダ１２によって吸引された場合は、保持部材１０が評価基板７側から離れる方向に移動するようになっている。
【００２１】
次に、この測定装置５の測定方法を説明すると、先ず、電子回路ユニット１の本体部２を評価基板７上に載置すると共に、本体部２を第１のピンプローブ９側に押圧する。
すると、第１のピンプローブ９の接触部９ａは、第１の端子部３に接触して、導電パターン６と第１の端子部３とを接続した状態となる。
【００２２】
次に、エアシリンダ１２を駆動して、保持部材１０を押し出すと、第２のピンプローブ１１は、図１の矢印Ａ１方向（斜め方向）に移動して、先ず、接触部１１ａが導電パターン６と第２の端子部４に接触した状態となると共に、第２のピンプローブ１１によって、本体部２を第１のピンプローブ９側に押し付ける。
【００２３】
これによって、第１，第２のピンプローブ９，１１は、導電パターン６と第１，第２の端子部３，４との間の接触圧が大きくなって、接触が良好になると共に、第２のピンプローブ１１が斜め方向に移動しながら導電パターン６と第２の端子部４とに接触するため、接触部１１と導電パターン６，及び第２の端子部４との間に摺動動作が生じて、第２のピンプローブ１１と導電パターン６、及び第２の端子部４との間は、一層、接触状態が良好となる。
【００２４】
また、第２のピンプローブ１１によって本体部２が押圧された際、本体部２は僅かに移動するが、この時、第１のピンプローブ９の接触部９ａと第１の端子部３との間に摺動動作が生じて、第１のピンプローブ９の接触部９ａと第１の端子部３との間は、一層、接触状態が良好となる。
【００２５】
また、第２のピンプローブ１１による本体部２の移動が終わると、第２のピンプローブ１１の移動が停止した状態になる。
そして、この状態で保持部材１０が移動するため、保持部材１０に保持された付勢部材１３が第２のピンプローブ１１によって圧縮されるようになり、このため、付勢部材１３によって第２のピンプローブ１１が付勢（弾圧）されて、第２のピンプローブ１１が導電パターン６と第２の端子部４に弾圧される。
【００２６】
この状態で、電子回路ユニット１に種々の信号を入力し、測定機器（図示せず）によって、電気的な測定を行った後、エアシリンダ１２を駆動して、保持部材１０を吸引すると、第２のピンプローブ１１は、図１の矢印Ａ２方向に移動して、導電パターン６と第２の端子部４から離されて、元の位置に復帰させた状態にし、しかる後に、測定が完了した電子回路ユニット１を取り出すようになっている。
このようにして、電子回路ユニット１の測定が行われるようになっている。
【００２７】
また、図４は、本発明の電子回路ユニットの測定装置の第２実施例を示し、この第２実施例は、第１，第２のピンプローブ９，１１の先端には、第１，第２のピンプローブ９，１１の外周部がエッジ状をなした接触部９ｂ、１１ｂを設けたものである。
【００２８】
そして、この接触部９ｂ、１１ｂは、第１，第２のピンプローブ９，１１の先端部が切り落とされることによって形成されている。
なお、その他の構成は、前記第１実施例と同様であるので、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
【００２９】
このように、第１，第２のピンプローブ９，１１にエッジ状をなした接触部９ｂ、１１ｂを設けることによって、この接触部９ｂ、１１ｂによる導電パターン６，第１，第２の端子部３，４の表面浄化（削られて新しい表面が表出）作用が良好となって、接触部９ｂ、１１ｂと導電パターン６，第１，第２の端子部３，４との間の接触が良くなる。
【００３０】
なお、この実施例では、第１のピンプローブ９が非可動状態のもので説明したが、第１のピンプローブ９を斜め方向に移動可能な状態にしたものでも良い。
また、第１，第２のピンプローブ９，１１は、全体が導電材からなる金属棒で形成しても良い。
【００３１】
【発明の効果】
本発明の電子回路ユニットの測定装置は、本体部、及びこの本体部の対向する側面に沿って設けられた複数個の第１，第２の端子部を有する電子回路ユニットと、上面に導電パターンが設けられた評価基板と、第１，第２の端子部と導電パターンとを接続可能な第１，第２のピンプローブとを備え、第１，第２のピンプローブは、評価基板の表面に対して傾斜した状態で配置されると共に、電子回路ユニットが評価基板上に載置され、第１のピンプローブの先端部によって第１の端子部と導電パターンとを接続する共に、第２のピンプローブの先端部によって第２の端子部と導電パターンとを接続した構成とした。
このような構成によって、第１，第２のピンプローブは、導電パターン、及び第１，第２の端子部への接触が良好で、確実となって、確実な測定ができる測定装置を提供できる。
また、第１，第２のピンプローブが斜め状態で配置されているため、評価基板上の電子回路ユニットを載置するための空間部は、第１，第２のピンプローブで邪魔されることなく開放状態となって、電子回路ユニットの載置、取り出しが容易で、作業性の良好なものが得られる。
【００３２】
また、第１のピンプローブが非可動状態で配設されると共に、第２のピンプローブが斜め方向に可動可能となしたため、第１のピンプローブで電子回路ユニットの初期時の位置決めができると共に、第２のピンプローブと導電パターン、及び第２の端子部との間に摺動動作が生じて、第２のピンプローブと導電パターン、及び第２の端子部との間は、一層、接触状態が良好にできる。
【００３３】
また、第２のピンプローブを移動可能に保持する保持部材を有すると共に、第２のピンプローブが付勢部材によって付勢されたため、第２のピンプローブと導電パターン、及び第２の端子部との間の接触を良好に維持できる。
【００３４】
また、ピンプローブは、先端部に設けた導電部と、この導電部に結合した絶縁材からなる棒状部とで構成されたため、特に、高周波の電子回路ユニットの測定において、棒状部が絶縁材であるため、余計な高周波成分の漏れや回り込みの発生が無く、精度の良い測定ができる。
【００３５】
また、ピンプローブの先端部には、丸みを持たせた接触部を設けたため、ピンプローブと導電パターン、及び第１，第２の端子部との間の接触の安定したものが得られる。
【００３６】
また、ピンプローブの先端部には、ピンプローブの外周部がエッジ状をなした接触部を設けたため、ピンプローブと導電パターン、及び第１，第２の端子部との間の接触の安定したものが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の電子回路ユニットの測定装置の第１実施例に係り、その概要を示す一部断面側面図。
【図２】本発明の電子回路ユニットの測定装置の第１実施例に係り、その要部平面図。
【図３】本発明の電子回路ユニットの測定装置の第１実施例に係り、その要部拡大側面図。
【図４】本発明の電子回路ユニットの測定装置の第２実施例に係り、その要部拡大側面図。
【図５】従来の電子回路ユニットの測定装置の概要を示す要部の斜視図。
【符号の説明】
１　電子回路ユニット
２　本体部
２ａ　側面
３　第１の端子部
４　第２の端子部
５　測定装置
６　導電パターン
７　評価基板
８　取付部材
９　第１のピンプローブ
９ａ　接触部
９ｂ　接触部
９ｃ　導電部
９ｄ　棒状部
１０　保持部材
１０ａ　空洞部
１１　第２のピンプローブ
１１ａ　接触部
１１ｂ　接触部
１１ｃ　導電部
１１ｄ　棒状部
１２　エアシリンダ
１３　付勢部材
【図１】
2004117013.tif 000003
【図２】
2004117013.tif 000004
【図３】
2004117013.tif 000005
【図４】
2004117013.tif 000006
【図５】
2004117013.tif 000007