(57)【要約】【課題】検出感度の低下を防止することが可能な蛍光検出装置を提供する。【解決手段】励起光源が、蛍光標識された試料を励起させる励起光を放射する。励起光源から放射された励起光が、光ファイバの入射端から入射する。出射端から出射した励起光が蛍光標識された試料に入射する。光ファイバから出射した励起光が照射されることによって試料から発生する蛍光を、受光光学系が検出する。【選択図】  図１
2004271215.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
蛍光標識された試料を励起させる励起光を放射する励起光源と、
前記励起光源から放射された励起光が入射端から入射し、出射端から出射した励起光が蛍光標識された試料に入射するように配置された第１の光ファイバと、
前記第１の光ファイバから出射した励起光が照射されることによって前記試料から発生する蛍光を検出する受光光学系と
を有する蛍光検出装置。
【請求項２】
前記第１の光ファイバの出射端が、集光効果を有するように凸状に加工されている請求項１に記載の蛍光検出装置。
【請求項３】
さらに、前記第１の光ファイバの出射端に、出射した励起光の広がり角を小さくする広がり角調整部材が配置されている請求項１に記載の蛍光検出装置。
【請求項４】
前記第１の光ファイバの出射端近傍のファイバ素線の外周面が金属でコーティングされている請求項１〜３のいずれかに記載の蛍光検出装置。
【請求項５】
前記励起光源が連続発光する光源であり、
さらに、前記励起光源と前記第１の光ファイバとの間の励起光の経路内に配置され、該励起光源から出射した励起光を周期的に遮断し、連続光をパルス化する光チョッパを有する請求項１〜４のいずれかに記載の蛍光検出装置。
【請求項６】
前記受光光学系が、前記試料から放射された蛍光が入射する対物レンズを有し、
前記第１の光ファイバの出射端から出射する励起光の進行方向と、前記対物レンズの光軸とのなす角度が、前記対物レンズの開口角の１／２以上である請求項１〜５のいずれかに記載の蛍光検出装置。
【請求項７】
前記受光光学系は、前記試料から放射された蛍光が入射する第２の光ファイバまたは蛍光を反射する内周面を持つ筒状のライトガイドを含む請求項１〜５のいずれかに記載の蛍光検出装置。
【請求項８】
蛍光標識された試料を励起させる励起光を連続発光させる励起光源と、
前記励起光源から放射された励起光を、蛍光標識された試料に入射させる入射光学系と、
前記励起光源と前記試料との間の励起光の経路内に配置され、前記励起光源から出射された励起光を周期的に遮断し、パルス化する光チョッパと、
励起光が照射されることによって前記試料から発生する蛍光を検出する受光光学系と
を有する蛍光検出装置。
【請求項９】
さらに、前記励起光とは異なる波長の補助光を連続発光する補助光源と、
前記励起光源から出射した励起光と前記補助光源から出射した補助光とを合波し、前記光チョッパに入射させる合波器と
を有する請求項８に記載の蛍光検出装置。
【請求項１０】
前記補助光は、前記試料から発生する蛍光の波長の光を含む請求項９に記載の蛍光検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、蛍光検出装置に関し、特に蛍光標識された試料に励起光を照射し、試料から発生される蛍光を検出する蛍光検出装置に関する。この蛍光検出装置は、蛍光標識された微小試料、例えばＤＮＡマイクロアレイチップ等からの微弱な蛍光を検出するのに適している。
【０００２】
【従来の技術】
図１０に、特許文献１に開示された蛍光検出装置の概略図を示す。励起光源１０１が励起光をパルス的に出射する。励起光は、励起波長選択フィルタ１０２を通過し、ハーフミラー１０３で反射され、レンズ１０４により試料１０５に集光される。試料１０５から放射された蛍光が、レンズ１０４、ハーフミラー１０３、蛍光波長選択フィルタ１０６を通過して受光装置１０７に入射する。試料１０５は、ＤＮＡチップ基板上に保持されている。
【０００３】
ＤＮＡ分析に用いられる蛍光標識剤は、波長３００ｎｍ近傍に吸収スペクトルの極大値が存在し、波長６００ｎｍ近傍の蛍光を発する。励起光が遮断された後、試料１０５から発生した蛍光が検出される。ところが、蛍光は、試料１０５のみからではなく、ＤＮＡチップ基板からも発生する場合がある。試料１０５に、比較的蛍光時間の長い蛍光剤が添加されている。このため、ＤＮＡチップ基板からの蛍光が減衰した後も、試料１０５は蛍光を発生し続ける。
【０００４】
ＤＮＡチップ基板からの蛍光が十分減衰した後に、蛍光の検出手順を開始することにより、ＤＮＡチップ基板からのバックグラウンドの蛍光の影響を受けず、試料１０５からの蛍光のみを検出することができる。励起波長選択フィルタ１０２及び蛍光波長選択フィルタ１０６が配置されているため、励起光源１０１から出射された光が受光装置１０７に入射することを防止することができる。
【０００５】
図１１に、特許文献２や特許文献３に開示された蛍光検出装置の概略図を示す。励起光源１１１から出射された励起光がレンズ１１２で集光されて試料１１３に入射する。試料１１３から発生した蛍光が、対物レンズ１１４、蛍光選択フィルタ１１５を通過して受光装置１１６に入射する。
【０００６】
蛍光を検出するための対物レンズ１１４の光軸に対して斜めの方向から励起光を照射することにより、励起光が対物レンズ１１４に入射することを防止している。
【０００７】
【特許文献１】
特開２００２−１８１７０８号公報
【０００８】
【特許文献２】
特開平６−１４８０７６号公報
【０００９】
【特許文献３】
特開平７−１７４７０１号公報
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
図１０に記載された蛍光検出装置の励起光源１０１として、例えばＮｄ：ＹＡＧレーザ等のパルスレーザ発振器やキセノンフラッシュランプ等が用いられる。これらの光源は、光パルスを発生した後も微弱な発光が持続する。この微弱な光の中には、検出すべき蛍光と同じ波長の光も含まれる。励起光源１０１と試料１０５との間に励起波長選択フィルタ１０２が配置されているが、蛍光と同一の波長の光を完全に遮断することは困難である。蛍光と同じ波長の光が試料１０５に照射されると、バックグラウンドの光強度が大きくなり、Ｓ／Ｎ比が低下してしまう。
【００１１】
また、試料１０５からの蛍光は、時間の経過とともに減衰する。さらに、ハーフミラー１０３と蛍光波長選択フィルタ１０６とで蛍光がさらに減衰する。このため、蛍光の検出感度が低下してしまう。
【００１２】
図１１に示した装置において、検出感度を高めるために、対物レンズ１１４の開口数（ＮＡ）を大きくすることが好ましい。ところが開口数を大きくするためには、対物レンズ１１４と試料１１３との間隔を狭くする必要がある。両者の間隔を狭くすると、対物レンズ１１４に遮られること無く、斜め方向から試料１１３に励起光を照射することが困難になる。また、光軸の調整も困難である。
【００１３】
本発明の目的は、検出感度の低下を防止することが可能な蛍光検出装置を提供することである。
本発明の他の目的は、励起光を斜めから入射させる場合でも、光軸調整の容易な蛍光検出装置を提供することである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明の一観点によると、蛍光標識された試料を励起させる励起光を放射する励起光源と、前記励起光源から放射された励起光が入射端から入射し、出射端から出射した励起光が蛍光標識された試料に入射するように配置された第１の光ファイバと、前記第１の光ファイバから出射した励起光が照射されることによって前記試料から発生する蛍光を検出する受光光学系とを有する蛍光検出装置が提供される。
【００１５】
光ファイバを用いて励起光を試料に入射させるため、微小な試料にも、複雑な光軸調整を行うことなく、比較的容易に励起光を入射させることができる。
本発明の他の観点によると、蛍光標識された試料を励起させる励起光を連続発光させる励起光源と、前記励起光源から放射された励起光を、蛍光標識された試料に入射させる入射光学系と、前記励起光源と前記試料との間の励起光の経路内に配置され、前記励起光源から出射された励起光を周期的に遮断し、パルス化する光チョッパと、励起光が照射されることによって前記試料から発生する蛍光を検出する受光光学系とを有する蛍光検出装置が提供される。
【００１６】
光チョッパを用いて励起光をパルス化するため、励起光が遮断されている期間の励起光の強度をほぼ０にすることができる。励起光が遮断されている期間に蛍光を検出する場合には、高いＳ／Ｎ比を確保することができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
図１に、第１の実施例による蛍光検出装置の概略図を示す。励起光源１が波長４５０ｎｍ以下の紫外領域の光を含む連続波である励起光を出射する。励起光源１として、例えばキセノンランプを使用することができる。励起光源１から出射した励起光がバンドパス光フィルタ２を通過して光チョッパ３に入射する。バンドパス光フィルタ２は、例えば波長３００〜４００ｎｍの光を透過させ、その他の波長域の光を減衰させる。
【００１８】
光チョッパ３は、スリットを設けた金属板を高速で回転させることにより、励起光を周期的に遮断する。光チョッパ３により、連続波である励起光がパルス化され、パルス化励起光が得られる。
【００１９】
パルス化励起光が光ファイバ４の入射端に入射する。光ファイバ４の出射端からパルス化励起光が出射し、ステージ５に保持されたＤＮＡチップ基板６上の蛍光標識された試料７に入射する。試料７に添加されている蛍光剤は、ユーロビウム（Ｅｕ）またはテルビウム（Ｔｂ）等が配合されたものであり、励起光を遮断した後１ｍｓ〜数ｍｓの間、４５０ｎｍよりも長い波長の蛍光を発する。
【００２０】
試料７から放射された蛍光は、対物レンズ１０を通過して光検出器１１に入射する。光検出器１１として、ＣＣＤカメラ等の画像検出装置を用いてもよいし、ＰＩＮフォトダイオード、アバランシェフォトダイオード、光電子増倍管等の検出器を用いてもよい。光検出器１１は、光チョッパ３に同期し、予め指定されている期間にのみ蛍光を検出する。光検出器１１の検出可能波長は、例えば４５０ｎｍよりも長く波長９００ｎｍ以下である。
【００２１】
図２に、試料７の近傍を拡大した概略図を示す。光ファイバ４の出射端から出射した励起光の進行方向と対物レンズ１０の光軸（中心軸）とのなす角をθとし、対物レンズ１０の開口数ＮＡ（ＮＡ＝ｓｉｎ（φ／２））から決まる開口角をφとする。ここで、開口角φは、対物レンズ１０の光軸と試料７との交点が、対物レンズ１０の入射ひとみの直径にはる角度を意味する。対物レンズ１０の光軸は、ＤＮＡチップ基板６の表面に対して垂直である。
【００２２】
第１の実施例においては、角度θが、角度φ／２よりも大きくなるように、光ファイバ４が配置されている。このため、光ファイバ４の出射端から出射され、ＤＮＡチップ基板６の表面で反射した励起光は、対物レンズ１０に入射しない。このため、図１に示した対物レンズ１０から光検出器１１までの蛍光の経路内に、励起光の波長の光を遮断するための光学フィルタを配置する必要がない。光学フィルタによる蛍光の減衰が生じないため、検出感度の低下を防止することができる。
【００２３】
また、図１に示した励起光源１から出射する光には、蛍光と同じ波長の成分も含まれる。蛍光と同じ波長の光はバンドパス光フィルタ２で減衰されるが、一部は、バンドパス光フィルタ２を通過して試料７まで達する。試料７まで達した蛍光と同じ波長の光の殆どがＤＮＡチップ基板６の表面で反射して対物レンズ１０に入射しない。このため、励起光が照射されている期間にも、試料７から発生した蛍光を、比較的高いＳ／Ｎ比で検出することが可能である。
【００２４】
光ファイバ４の直径は、３００μｍ〜１ｍｍ程度である。このため、対物レンズ１０と試料７との間隔を狭めても、光ファイバ４の出射端を試料７に近づけることができる。このため、精度よく高強度の励起光を試料７に入射させることができる。対物レンズ１０を試料７に近づけることができるため、対物レンズ１０の開口数を大きくして検出感度を高めることができる。
【００２５】
図３を参照して、蛍光の検出方法について説明する。図３は、励起光と蛍光との光強度の時間変動を示す。時刻ｔ０から時刻ｔ４までの期間に、励起光ＬＰが試料７に入射する。図１に示したように光チョッパ３で励起光を周期的に遮断しているため、時刻ｔ４の後、次に励起光が入射する時刻ｔ６までの期間、励起光の強度はほぼ完全に０になる。励起光ＬＰが入射した直後から蛍光ＬＦが発生する。励起光ＬＰが遮断されると、蛍光ＬＦの強度は徐々に低下する。
【００２６】
励起光ＬＰが照射されている期間、蛍光ＬＦの光強度が大きい。蛍光の光強度の大きな期間ｔ１〜ｔ２に、図１に示した光検出器１１で蛍光を検出することにより、検出感度を高めることができる。上述のように、励起光が対物レンズ１０に入射しないため、励起光を照射している期間に蛍光を検出する場合にも、励起光の影響を低減させ、高Ｓ／Ｎ比を実現することができる。
【００２７】
また、励起光ＬＰが遮断された後、蛍光ＬＦが発光している期間ｔ４〜ｔ５に、蛍光を検出してもよい。この期間の蛍光の強度は、励起光が照射されている期間の蛍光の強度よりも小さい。このため、蛍光の検出感度は、上述の方法に比べて低い。ところが、励起光ＬＰが遮断されている期間に蛍光を検出するため、励起光の影響をほぼ完全に排除することができる。このため、Ｓ／Ｎ比を高めることができる。
【００２８】
図４（Ａ）〜（Ｃ）に、光ファイバ４の出射端の構成例を示す。図４（Ａ）に示すように、出射端が凸状にされ集光機能が持たされている。一般に、蛍光標識された試料は数十ナノリットル以下であり、ＤＮＡチップ基板上に固定される試料の寸法は数百μｍ以下である。光ファイバ４の先端に集光機能を持たせることにより、微小な試料に励起光を効率的に入射させることができる。
【００２９】
図４（Ｂ）に示すように、出射端に、出射光の広がり角を小さくする広がり角調整部材４Ａ、例えば非球面レンズやロッドレンズ等を取り付けてもよい。
図４（Ｃ）に示すように、出射端近傍のファイバ素線の外周面を金属でコーティングし、金属膜４Ｂで覆ってもよい。外周面を金属膜４Ｂで覆うことにより、ファイバ側面からの光漏れを防止することができる。
【００３０】
図５に、第１の実施例の変形例による蛍光検出装置の試料７近傍の概略図を示す。図２に示した第１の実施例の対物レンズ１０の代わりに、ライトガイド１０Ａが配置されている。ライトガイド１０Ａは、蛍光を反射する内周面を持つ筒状の光学部品である。ライトガイド１０Ａの入射端が試料７の近傍に配置されている。光ファイバ４とライトガイド１０Ａとは、光ファイバ４から出射し、ＤＮＡチップ基板６の表面で反射した励起光がライトガイド１０Ａに入射しないように配置されている。
【００３１】
ＤＮＡマイクロアレイチップの計測においては、１つのスポットからの全光量に比例した蛍光を検出することが重要である。試料が発する蛍光を画像として認識する必要はない。従って、蛍光の検出光学系に、必ずしも対物レンズを配置する必要はない。この場合、図１に示した光検出装置１１として、ＣＣＤカメラ等の画像検出装置ではなく、ＰＩＮフォトダイオード、アバランシェフォトダイオード、光電子増倍管等を使用することができる。
【００３２】
なお、ライトガイド１０Ａの代わりに、光ファイバを配置してもよい。この光ファイバの入射端を、図４（Ａ）に示したように凸状に加工してもよいし、図４（Ｂ）に示したように、出射端に広がり角調整部材を取り付けてもよい。また、図４（Ｃ）に示したように、出射端近傍のファイバ素線の外周面を金属膜で覆ってもよい。
【００３３】
図６に、第２の実施例による蛍光検出装置の概略図を示す。第２の実施例による蛍光検出装置は、図１に示した第１の実施例による蛍光検出装置に補助光源２１及びダイクロイックミラー２２を追加した構成を有する。
【００３４】
バンドパスフィルタ２と光チョッパ３との間の励起光の経路内にダイクロイックミラー２２が配置されている。ダイクロイックミラー２２は、励起光の波長域の光を透過させる。補助光源２１が、試料７が発する蛍光と同じ波長の光を含む補助光を出射する。補助光はダイクロイックミラー２２で反射され、励起光と同じ経路を伝搬する。励起光と補助光とは、光チョッパ３でパルス化され、光ファイバ４を経由して試料７に入射する。
【００３５】
励起光が試料７に入射することにより、試料７に含まれている蛍光物質が励起される。蛍光と同じ波長の補助光が発光の契機となり、より強い蛍光を発生させることが可能になる。なお、補助光が光検出器１１で検出されるのを防止するために、励起光及び補助光が遮断された後の期間に、蛍光の検出を行うことが好ましい。
【００３６】
図７に、第３の実施例による蛍光検出装置の概略斜視図を示す。図５に示した光ファイバ４及びライトガイド１０Ａの組が複数組配置されている。ライトガイド１０Ａの各々に対して光検出器１１が配置されている。図１に示した光チョッパ３でパルス化された励起光が、ビームスプリッタ３１で複数の光線束に分岐され、各光線束が各光ファイバ４の各々に入射する。
【００３７】
第３の実施例では、同時に複数の試料からの蛍光を検出することができる。このため、計測時間の短縮化を図ることが可能になる。
上記第１〜第３の実施例では、連続波の励起光を発生する励起光源と光チョッパを用いて励起光をパルス化したが、図８に示すように、励起光源を半導体レーザや発光ダイオード等の半導体発光素子１Ａで構成してもよい。電源１Ｂが半導体発光素子１Ａに周期的に電圧を印加して、パルス励起光を発生させることができる。この場合、光検出器１１は、電源１Ｂが発生する周期的な電圧波形に同期する。
【００３８】
図９に、上記第１の実施例による蛍光検出装置のより具体的な構成例を示す。ステージ５が暗箱４０の中に配置されている。ステージ５は、Ｘステージ５Ａ、Ｙステージ５Ｂ、Ｚステージ５Ｃ、θステージ５Ｄ、及び保持台５Ｅから構成される。保持台５Ｅの上に、測定対象物、例えばＤＮＡチップ基板が真空吸着される。保持台５Ｅのやや上方に対物レンズ１０が配置されている。
【００３９】
Ｘステージ５ＡとＹステージ５Ｂが、保持台５Ｅを、対物レンズ１０の光軸に垂直なＸＹ面内の方向に移動させる。Ｚステージ５Ｃが、保持台５Ｅを、対物レンズ１０の光軸方向（Ｚ軸方向）に移動させる。θステージ５Ｄが、Ｚ軸を中心として保持台５Ｅを微小回転させる。
【００４０】
励起光源１から出射した励起光が、バンドパス光フィルタ２を通過して、光チョッパ３に入射する。光チョッパ３は、チョッパ制御装置３Ａにより制御される。光チョッパ３でパルス化された励起光が光ファイバ４の入射端に入射する。光ファイバ４は暗箱４０内に導入され、その出射端が保持台５Ｅ上の測定対象物の近傍に固定されている。
【００４１】
可視光源４１が可視光を出射する。可視光は、光ファイバ４２により暗箱４０内に導入され、保持台５Ｅ上の測定対象物を照明する。
対物レンズ１０は、暗箱４０の外側から内部に導入された鏡筒１２の先端に取り付けられている。鏡筒１２の外側の端部に、光検出器１１が取り付けられている。光検出器１１として、例えばＩＣＣＤカメラが用いられる。ＩＣＣＤカメラは、光を増幅するイメージインテンシファイアとＣＣＤカメラとを組み合わせたものである。光検出器１１で検出された結果が、光検出器制御装置４３に送られる。鏡筒１２内に、測定対象物をＩＣＣＤカメラの受光面上に結像させるための結像レンズが配置されている。
【００４２】
鏡筒１２の中間の位置に可動反射鏡１４及びＣＣＤカメラ１３が取り付けられている。蛍光観測時には、可動反射鏡１４が蛍光の光路脇に退避される。可動反射鏡１４を光路内に配置することにより、ＣＣＤカメラ１３で試料の画像を得ることができる。ＣＣＤカメラ１３で得られた画像信号が、ＣＣＤカメラ制御装置４４に送られる。ＣＣＤカメラ制御装置４４は表示装置を備えており、画像を表示する。
【００４３】
暗箱４０の外側に配置されたステージ制御装置４５が、ステージ５を制御する。主制御装置４６が、チョッパ制御装置３Ａ、光検出器制御装置４３、ＣＣＤカメラ制御装置４４、及びステージ制御装置４５を制御する。主制御装置４６は、例えばパーソナルコンピュータで構成される。
【００４４】
以上実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。
【００４５】
上記実施例から、以下の付記に示された発明が導出される。
（付記１）  蛍光標識された試料を励起させる励起光を放射する励起光源と、
前記励起光源から放射された励起光が入射端から入射し、出射端から出射した励起光が蛍光標識された試料に入射するように配置された第１の光ファイバと、
前記第１の光ファイバから出射した励起光が照射されることによって前記試料から発生する蛍光を検出する受光光学系と
を有する蛍光検出装置。
【００４６】
（付記２）  前記第１の光ファイバの出射端が、集光効果を有するように凸状に加工されている付記１に記載の蛍光検出装置。
（付記３）  さらに、前記第１の光ファイバの出射端に、出射した励起光の広がり角を小さくする広がり角調整部材が配置されている付記１に記載の蛍光検出装置。
【００４７】
（付記４）  前記第１の光ファイバの出射端近傍のファイバ素線の外周面が金属でコーティングされている付記１〜３のいずれかに記載の蛍光検出装置。
（付記５）  前記励起光源が連続発光する光源であり、
さらに、前記励起光源と前記第１の光ファイバとの間の励起光の経路内に配置され、該励起光源から出射した励起光を周期的に遮断し、連続光をパルス化する光チョッパを有する付記１〜４のいずれかに記載の蛍光検出装置。
【００４８】
（付記６）  前記励起光源が、半導体発光素子と、該半導体発光素子に周期的に電圧を印加して光パルスを発生させる電源とを含む付記１〜４のいずれかに記載の蛍光検出装置。
【００４９】
（付記７）  前記受光光学系は、前記励起光源からの励起光が試料に入射していない期間に、前記試料から発生した蛍光を検出する付記５または６に記載の蛍光検出装置。
【００５０】
（付記８）  前記受光光学系が、前記試料から放射された蛍光が入射する対物レンズを有し、
前記第１の光ファイバの出射端から出射する励起光の進行方向と、前記対物レンズの光軸とのなす角度が、前記対物レンズの開口角の１／２以上である付記１〜７のいずれかに記載の蛍光検出装置。
【００５１】
（付記９）  前記受光光学系は、前記試料から放射された蛍光が入射する第２の光ファイバまたは蛍光を反射する内周面を持つ筒状のライトガイドを含む付記１〜７のいずれかに記載の蛍光検出装置。
【００５２】
（付記１０）  蛍光標識された試料を励起させる励起光を連続発光させる励起光源と、
前記励起光源から放射された励起光を、蛍光標識された試料に入射させる入射光学系と、
前記励起光源と前記試料との間の励起光の経路内に配置され、前記励起光源から出射された励起光を周期的に遮断し、パルス化する光チョッパと、
励起光が照射されることによって前記試料から発生する蛍光を検出する受光光学系と
を有する蛍光検出装置。
【００５３】
（付記１１）  さらに、前記励起光とは異なる波長の補助光を連続発光する補助光源と、
前記励起光源から出射した励起光と前記補助光源から出射した補助光とを合波し、前記光チョッパに入射させる合波器と
を有する付記１０に記載の蛍光検出装置。
【００５４】
（付記１２）  前記補助光は、前記試料から発生する蛍光の波長の光を含む付記１１に記載の蛍光検出装置。
（付記１３）  前記励起光の波長が４５０ｎｍ以下であり、前記受光光学系は、波長４５０ｎｍよりも長く波長９００ｎｍ以下の光を検出する付記１〜１２のいずれかに記載の蛍光検出装置。
【００５５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、励起光を光ファイバで試料近傍まで導波することにより、光軸調整を容易に行うことができるとともに、蛍光検出用の対物レンズを試料に近づけることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施例による蛍光検出装置の概略図である。
【図２】第１の実施例による蛍光検出装置の試料近傍部分の概略図である。
【図３】第１の実施例による蛍光検出装置で蛍光検出する場合の励起光と蛍光との光強度の時間変動を示すグラフである。
【図４】第１の実施例による蛍光検出装置に用いられる光ファイバの出射端近傍の側面図及び断面図である。
【図５】第１の実施例の変形例による蛍光検出装置の試料近傍部分の概略図である。
【図６】第２の実施例による蛍光検出装置の概略図である。
【図７】第３の実施例による蛍光検出装置の主要部の斜視図である。
【図８】第１の実施例の変形例による蛍光検出装置の概略図である。
【図９】第１の実施例による蛍光検出装置の具体的構成例を示す概略図である。
【図１０】従来の蛍光検出装置の概略図である。
【図１１】従来の蛍光検出装置の概略図である。
【符号の説明】
１  励起光源
２  バンドパスフィルタ
３  光チョッパ
４  光ファイバ
５  ステージ
６  ＤＮＡチップ基板
７  試料
１０  対物レンズ
１０Ａ  ライトガイド
１１  光検出器
１２  鏡筒
１３  ＣＣＤカメラ
１４  可動反射鏡
２１  補助光源
２２  ダイクロイックミラー
３１  ビームスプリッタ
４０  暗箱
４１  可視光源
４２  光ファイバ
４３  光検出器制御装置
４４  ＣＣＤカメラ制御装置
４５  ステージ制御装置
４６  主制御装置
【図１】
2004271215.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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