(57)【要約】【課題】　複数の書込みモードのいずれか１つにより読取り及び／又は書込みを行うためにマルチモード装置を較正する方法及びシステムを提供すること。【解決手段】　複数の書込みモードのいずれか１つにより情報媒体上へ書き込まれたデータを読み取るにあたって、所与の較正サイクルの間、前記複数の書込みモードのいずれか１つに対応するパラメータを計測するための構成を設定可能な較正回路に対して、前記書込みモードに対応する計測を行うべく該較正回路の構成を設定し、かつ、１又は複数の読取りパラメータを同時に計測するべく前記構成を設定された較正回路を用いて前記読取りデータに対して複数の計測を実行するステップと、選択された計測値に基づいて前記マルチモード装置の前記書込みモードを最適化するステップとを含む。【選択図】　なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
　複数の書込みモードのいずれか１つにより読取り及び／又は書込みを行うためにマルチモード装置を較正する方法であって、
　前記マルチモード装置の書込みモードを前記複数の書込みモードのうち１の書込みモードへセットするステップと、
　前記１の書込みモードで前記マルチモード装置により情報媒体上にデータを書き込むステップと、
　読取りデータを得るために、前記情報媒体へ書き込まれた前記データを該情報媒体から読み取るステップと、
　所与の較正サイクルの間、前記複数の書込みモードのいずれか１つに対応するパラメータを計測するための構成を設定可能な較正回路に対して、前記書込みモードに対応する計測を行うべく該較正回路の構成を設定し、かつ、１又は複数の読取りパラメータを同時に計測するべく前記構成を設定された較正回路を用いて前記読取りデータに対して複数の計測を実行するステップと、
　選択された計測値に基づいて前記マルチモード装置の前記書込みモードを最適化するステップとを含む
　マルチモード装置を較正する方法。
【請求項２】
　前記計測された読取りパラメータを検定ウィンドウと比較し、該検定ウィンドウの範囲内にある計測値のみを前記選択された計測値とするステップを含む請求項１に記載の方法。
【請求項３】
　マーク空白パラメータが計測される請求項１に記載の方法。
【請求項４】
　ピーク・ツー・ピーク・パラメータが計測される請求項１に記載の方法。
【請求項５】
　ＰＬＬ位相エラー・パラメータが計測される請求項１に記載の方法。
【請求項６】
　トラッキングしきい値パラメータが計測される請求項１に記載の方法。
【請求項７】
　前記複数の書込みモードが、パルス幅変調及びパルス位置変調のうち少なくとも１つを用いてデータを書き込むことを含む請求項１に記載の方法。
【請求項８】
　複数の書込みモードの１つにより書き込むときにマルチモード装置を較正するシステムにおいて、
　前記マルチモード装置の書込みモードを前記複数の書込みモードのうち１の書込みモードへセットする手段と、
　前記１の書込みモードで前記マルチモード装置により情報媒体上にデータを書き込む手段と、
　読取りデータを得るために、前記情報媒体へ書き込まれた前記データを該情報媒体から読み取る手段と、
　所与の較正サイクルの間、前記複数の書込みモードのいずれか１つに対応するパラメータを計測するための構成を設定可能な較正回路に対して、前記書込みモードに対応する計測を行うべく該較正回路の構成を設定し、かつ、１又は複数の読取りパラメータを同時に計測するべく前記構成を設定された較正回路を用いて前記読取りデータに対して複数の計測を実行する手段と、
　選択された計測値に基づいて前記マルチモード装置の前記書込みモードを最適化する手段とを有する
　マルチモード装置を較正するシステム。
【請求項９】
　前記計測された読取りパラメータを検定ウィンドウと比較し、該検定ウィンドウの範囲内にある計測値のみを前記選択された計測値とするステップを含む請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
　マーク空白パラメータが計測される請求項８に記載のシステム。
【請求項１１】
　ピーク・ツー・ピーク・パラメータが計測される請求項８に記載のシステム。
【請求項１２】
　ＰＬＬ位相エラー・パラメータが計測される請求項８に記載のシステム。
【請求項１３】
　トラッキングしきい値パラメータが計測される請求項８に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は、一般的には情報記憶システムにおける較正装置に関し、特に、複数のモード（マルチモード）で書込みを行う情報記憶システムにおける較正装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
　光ディスク駆動装置は、様々な仕様の中でとりわけその信号対雑音比(ＳＮＲ)を最大とするために較正することが必要である。通常、較正システムは、ＳＮＲを最大とするために、所与の読取りヘッド及び光ディスク媒体をレーザー書込みパワー及び方式について最適レベルへと設定する。この最適レベルすなわち動作点は、異なる光ディスク駆動装置及び光媒体を用いる場合に変わることがあるので、光ディスクの書込み条件は、装置と媒体の各組合せについて最適化しなければならない。
【０００３】
　多くの光ディスク駆動装置は、マルチモードでデータを書き込むことができる。さらに、異なる型式の情報媒体を光ディスク駆動装置へロードすることができる。このため、最終的な装置と媒体の組み合わせは未知であるので、製造ライン上で較正を固定することができない。例えば、マルチモード装置は、パルス位置変調(ＰＰＭ)記録又はパルス幅変調(ＰＷＭ)記録のいずれかを用いて光ディスクへ書き込むことができ、そして、これらの書込みモードのいずれか１つが、いずれかの形式の光ディスク媒体、例えば、位相変化(ＰＣ)、磁気光学(ＭＯ)及び書込み１回読取り多数（ＷＯＲＭ)等の再書込み可能（書換可能）な媒体形式を含む光ディスク媒体と共に用いられる。したがって、光ディスク駆動装置を最適書込み動作レベル及び方式へと設定するために、各光ディスク駆動装置に対して較正装置が組み込まれている。この較正装置は、その構成(configuration)が設定されたならば、光ディスク駆動装置の性能を決定するべくその光ディスク駆動装置の読取り信号に対する計測を行う。そして、これらの計測は、書込みパワー及び方式を調整するために、また、光ディスク駆動装置の最適な性能を実現するために制御用マイクロプロセッサにより処理される。この較正は、新しいディスクが装置へ挿入されたるか又は新しい書込みモードが選択される毎にハードウェアにより実行することができる。別の手法として、誤り回復手順(Error Rcovery Procedure:ＥＲＰ)の部分として較正を行うこともできる。装置と媒体の組合せは多数ありかつ書込みモードも多数あるので、通常、各動作モード及び各光ディスク駆動装置の組合せに対して較正パラメータを計測しなければならない。
【０００４】
　様々な動作モードのいずれについても較正をサポートするために、１つの光ディスク駆動装置が、読取りデータの別々のパラメータを各々計測する多数の較正装置を必要とする。各較正装置は、最初にディスクへ書き込まれた試験パターンすなわちデータを読み取って特定のパラメータの平均値を計測するサイクルを用いて動作する。所与の較正モードが複数のパラメータの計測を必要とする場合は、較正計測を完了するためにこれらの較正サイクルの数だけ必要とされる。
【０００５】
　以上から明らかなように、多数の較正の各々をサポートするために１つのディスク駆動装置へ多くの較正装置を含めることは、多数の回路を追加し、大量の電力を消費し、そして光ディスク又は他の形式の装置のコストを増大させることとなる。さらに、多数のパラメータの計測を必要とする較正は、通常、多数の較正サイクルを必要とすることになる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
　本発明の目的は、較正ハードウェアを実質的に増大させることなく、かつ、マルチモード装置の全ての較正モードに必要な様々な計測を実行できるマルチモード装置における較正装置を提供することにある。さらに、本発明の別の目的は、このような較正装置において、少なくとも幾つかの較正モードについては単一の較正サイクルで全ての較正計測を実行することを実現することにある。このような装置は、実質的にマルチモード装置のコストを低減させ、その較正速度を向上させるものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
　本発明における較正装置は、マルチモード光ディスク駆動装置を較正するためにマルチプル較正モードで動作する。この較正装置は、その構成を設定可能なイベント処理と、複数の異なった構成を有し各構成が別々の較正計測に対応するような計測回路とを含む。各計測は、読取りデータの複数の可能なパラメータのうち選択された１又は複数であって、計測されたパラメータが、特定の書込みモード及び読取り設定で動作する光ディスク駆動装置の較正用の情報を与えることとなる。合計回路は、イベント処理及び計測回路により計測された各パラメータの選択された計測を合計し、そして各パラメータについて合計された計測の数をカウントする。本発明の上記及び更なる目的、特徴、及び利点は、以下の説明により明らかとされるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
　本発明の好適な実施例は、４つの較正モードのためにその構成を設定できる較正装置を提供する。各モードは、マルチモード光ディスク駆動装置の読取り信号の１又は複数のパラメータを単一の較正サイクルで計測する。４つの較正モードは、マークと空白の長さを計測するマーク空白モードと、読取り信号のピーク間振幅を計測するピーク・ツー・ピーク・モードと、位相エラー・ジッタとＳＮＲを計測するフェーズ・ロック・ループ(ＰＬＬ)位相エラーモードと、少なくとも２つの異なるデータ・パターンについてトラッキングしきい値を計測するトラッキングしきい値モードとからなる。さらに、この回路は、読取りオペレーションにおける利得及び／又はＳＮＲを試験して適宜変更することができる。全てのモードは、制御用マイクロプロセッサにより選択されるべく同時に使用可能であり、特定の駆動動作モード及び光ディスク媒体についての最適な読取り又は書込みパラメータへ光ディスク駆動装置を較正することができる。好適な実施例では、光ディスク駆動装置は、ＰＰＭ又はＰＷＭのいずれかを用いる書込みプロセスのために較正され、そしてＰＣ、ＭＯ及びＷＯＲＭを含む任意形式の光ディスクのために較正される。さらに、そのディスク媒体が書き込まれたか否かを決定するために媒体走査(Medium Scan)機能を実行するべく使用可能な計測のいずれか１つを選択することができる。このことは、特に、ディスクに書き込む際に装置が最初に使用可能な未書込みセクタを決定しなければならないＷＯＲＭ形式の媒体に有用である。
【０００９】
　図１は、本発明の好適な実施例による光ディスク駆動装置システムの概略図である。本発明は、光ディスク駆動装置についての実施例に関して説明されるが、当業者であれば本発明がテープ装置システム、磁気光システム、又は他の形式の情報記憶及び検索システム並びに情報媒体において実施することができ、本発明の範囲はそのような実施にまで及ぶことは自明であろう。システム１０は、光ディスク１２に記憶された光学式データを有する。光ディスク１２は、通常、同心状又は螺旋状のデータ・トラックを有するディスクである。ディスク１２は、主軸モータ１４へ装着される。光ヘッド２０はディスク１２の下方に位置しており、粗動トラック・アクチュエータ２２によりディスク１２に対して径方向へ動かされる。
【００１０】
　固定光素子(ＦＯＥ)システム１５０は、レーザ４０、レンズ４４、円偏光子４６、ビーム・スプリッタ４８、レンズ５０、検出器５２、ビーム・スプリッタ９０、波長板９８、ビーム・スプリッタ１００、レンズ１０６、１１２、１２０、並びに検出器１０８、１１４及び１２２を有する。レーザ４０は、例えばレーザ・ダイオードであり、偏光した光線４２を発生する。光線４２は、レンズ４４により平行化され、円偏光子４６(プリズム)により円偏光させられる。光線４２は、ビーム・スプリッタ４８へ通り、その一部はレンズ５０へ反射され、レンズ５０は、パワー・モニタ光検出器５２に対して光の焦点合わせをする。光検出器５２は、パワー・モニタ信号を与えるためにレーザ制御部５４へ接続される。この信号は、レーザ４０のパワーを適宜調整するために用いられる。
【００１１】
　光線４２の残りの部分は、ビーム・スプリッタ４８を通り、精密トラック・アクチュエータ７２へ装着されたミラー６０へ達する。精密追随アクチュエータは、ロータ２１及びロータ装着部２４を具備する。精密トラック・アクチュエータ７２は、ミラー６０を僅かな距離だけ回転させ、ミラー６０は、ディスク１２の適切なトラック位置上に光線４２を維持するために、光線４２をディスク１２表面上の径方向に動かす。ミラー６０は、レンズ・ホルダ６４に装着された対物レンズ６２の方へ光線を反射させる。対物レンズ６２は、ディスク１２上の適切なトラック位置上に光線４２の焦点を合わせるために焦点アクチュエータ６６によりディスク１２に対して平行に維持される。光線８０は、ディスク１２から反射され、レンズ６２を通過し、そしてミラー６０へと反射される。それから、光線８０の一部は、ビーム・スプリッタ４８によりビーム・スプリッタ９０へと反射される。ビーム・スプリッタ９０は、光線８０をデータ光線９４とサーボ光線９６へ分ける。
【００１２】
　サーボ光線９６は、レンズ１２０により、既知の技術であるスポット・サイズ計測検知器等のセグメント化光検出器１２２上へ焦点を合わせられる。焦点サーボ１２８は、検出器１２２及びモータ６６へ接続されモータ６６を制御することにより、適切な焦点を維持するために適宜レンズ６２の位置を調整する。トラック・アンド・シーク・サーボ１３０は、検出器１２２並びにアクチュエータ２２及び７２へ接続される。サーボ１３０によりアクチュエータ２２は、ヘッド２０の位置を適宜調整してディスク１２上の所望のトラックを探すことでき、そしてアクチュエータ７２は、ミラー６０を適宜回転することにより、一旦適切なトラックへ到達したならば適切なトラッキング位置を維持することができる。主軸モータ制御部１３２は、モータ１４へ接続される。ディスク駆動装置制御部１４０は、サーボ１２８及び１３０、主軸モータ１４、並びにレーザ制御部５４のために全体の制御を行う。
【００１３】
　データ光線９４は、半波長板９８を通過して偏光ビーム・スプリッタ１００へ到達する。偏光ビーム・スプリッタ１００は、データ光線９４を２つの直交偏光成分へと分ける。第１の偏光成分光線１０４は、レンズ１０６によりデータ光検出器１０８に対して焦点を合わせられる。第２の偏光成分光線１１０は、レンズ１１２によりデータ光検出器１１４に対して焦点を合わせられる。データ回路１１６は、検出器１０８及び１１４へ接続される。ＭＯ媒体については、この回路１１６が、検出器１０８及び１１４において検出された光の量の差に応答してデータ信号を発生する。これは、ディスク１２上に記録されたデータを表しており、既知の任意の方法を利用してアナログ入力信号をデジタル波形表現へ変換する。データ回路１１６のデジタル波形表現出力は、読取り検出チャネル２００の入力データ・ストリームを形成する。
【００１４】
　ＭＯ媒体の読取りオペレーション中、ディスク駆動装置制御部１４０によりレーザ制御部５４は、レーザ４０を駆動して低パワー偏光光線４２を発生することができる。このパワーは、ディスク１２をそのキュリー温度以上に加熱するほど十分なものではない。反射光における位相変化は、検出器１０８及び１１４により検出されてデータ回路１１６へ渡される。データ回路１１６は、記録されたデータを表すデジタル化データ信号を出力する。書込みオペレーション中、ディスク駆動装置制御部１４０によりレーザ制御部５４は、レーザ４０を駆動して高パワー偏光光線４２を与えることができ、この高パワー偏光光線は、ディスク１２上にマーク(ＭＯ)やピット(切除ＷＯＲＭ)を形成するに十分なパワーである。レーザ４０は、ディスク上に記録されるべきデータに応じてパルス駆動され、その結果、ディスクの表面上にマークや空孔が形成される。
【００１５】
　好適な実施例では、光ディスク駆動装置１０が、多数の書込みエンコード(コード化)方式の任意の１つにより光ディスクへデータを書き込むことができるマルチモード装置である。通常、データ記憶媒体及びデータ密度の関数として所望の書込み方法及びレーザのパワーのレベルが選択され、ディスク駆動装置制御部１４０により制御される。一般的に、光ディスク上に記憶されるデータは、パルス位置変調(ＰＰＭ)又はパルス幅変調(ＰＷＭ)のいずれかを用いてエンコードされる。ＰＰＭデータ記録は、周知の記録方法であり、データ波形中のピークの存在が、バイナリ数「１」又はバイナリ数「０」の選択された１つとして解釈される。一般的に、入力データ波形に含まれるピークは、データ波形の導関数が値「０」を有しかつデータ波形の振幅が所定のしきい値を超える時間間隔の間に検出される。ＰＰＭデータ記録は、単速度(１×)および倍速度(２×)の光ディスクの双方を含む前世代の光記録媒体に広く用いられていた。ＰＷＭデータ記録は、ビット・セル時間間隔の間の信号変移の存在がバイナリ数「１」又はバイナリ数「０」のうち選択された一方を示し、そしてビット・セル時間間隔の間に信号変移がないことが２つの可能なバイナリ状態のうちのもう一方を示すデータ記録方法である。ビット・セル時間間隔内の信号変移の存在及び非存在の双方がデータ情報を搬送するので、ＰＷＭ(及びＰＰＭ)データ記録では、ビット・セル時間間隔を正確に規定するために検出クロックを与えることを必要とする。元のデータを正確に再生するためには、光媒体上にＰＷＭコード化データが元々書き込まれたときに用いられたビット・セル時間間隔と、この検出クロック信号とが同期していなければならない。ＰＷＭデータ記録は、４倍速度(４×)の光ディスク及びデジタル・ビデオ・ディスク(ＤＶＤ)ＲＯＭ並びにＤＶＤＲＡＭを含む現世代の光記録媒体において用いられている。
【００１６】
　図２は、本発明の好適な実施例における読取り検出チャネル２００の構成図である。読取り検出チャネル２００は、複数のエンコード方法のいずれか１つを用いて光ディスク上に記憶されたデータを再生することができる完全デジタル・モジュラー回路を用いて実現されることが好ましい。図示の構成の読取り検出チャネル２００は、ＰＷＭ信号及びＰＰＭ信号をデコード(復号化)する２相適応しきい値チャネルである。これは、入力信号の最適検出レベル近傍の基準しきい値レベルを維持するために、２つのフェーズ・ロック・ループ(ＰＬＬ)からの位相帰還を利用する。
【００１７】
　図示の通り、読取り検出チャネル２００は、イコライザ(等化器)２３０、トラッキングしきい値回路２３４、検出器２５０、２つのフェーズ・ロック・ループ(ＰＬＬ)２７０及び２８０、並びにデスキュー(併合)回路２９０を含む。読取り検出チャネル２００の入力データ・ストリームを形成するデータ回路１１６(図１)のデジタル波形出力は、イコライザ２３０により受信される。イコライザ２３０は、例えば、有限インパルス応答(ＦＩＲ)デジタル・フィルタを用いて入力データ・ストリームをフィルタ処理する。フィルタ処理されたデジタル波形表現は、その後、イコライザ出力(ＥＱＯＵＴ)信号２３２としてトラッキングしきい値回路２３４へ渡される。
【００１８】
　トラッキングしきい値回路２３４は、入力データ・ストリーム中のデータ変移を検出するために検出器２５０により用いられるしきい値(ＴＨＲ)信号２３６を発生する。ＴＨＲ信号２３６は、実質的にＥＱＯＵＴ信号２３２の正のピークと負のピークの中間点近傍である最適検出レベルを評価したものである。トラッキングしきい値回路２３４により発生されるＴＨＲ信号を用いることにより、検出器２５０は、入力データ・ストリームの変移を識別でき、それによりディスク上にコード化されたデータ・ビットを検出できる。別の手法として、トラッキングしきい値回路２３４が、ＥＱＯＵＴ信号２３２としきい値エラー(ＴＨＥＲＲ)信号２７６及び２８６に基づいて入力データ・ストリームのしきい値中央ラインを見積もることができる。これらのＴＨＥＲＲ信号は、ＥＱＯＵＴ信号２３２と、データ出力信号２７２及び２８４との間の位相差をそれぞれ特定する。
【００１９】
　検出器２５０は、検出器入力２４４において受信された信号中の変移すなわちゼロクロス点の位置を評価するためにＴＨＲ信号２３６を利用する。所与のサンプル時点におけるＰＷＭデータの検出を例にとると、検出器入力２４４におけるデータ・サンプルがＴＨＲ信号２３６の値より大きい値を有しておりかつその前のデータ・サンプルがＴＨＲ信号２３６の値より小さい値を有していた場合、又は逆に、検出器入力２４４におけるデータ・サンプルがＴＨＲ信号２３６の値よりも小さい値を有しておりかつその前のデータ・サンプルがＴＨＲ信号２３６の値よりも大きい値を有していた場合、検出器２５０は、２つのＰＬＬ２７０及び２８０へ与えるパルス到達時(ＰＡＴ)信号２５２及び２５４により、サンプリング・クロックのサンプル・セル内に変移があったという評価を発生してゼロクロス点が生じたことを示す。さらに、検出器２５０は、正方向変移(ＰＴＲ)信号２５６及び２５８、又は、負方向変移(ＮＴＲ)信号２６０及び２６２をそれぞれ出力することにより、その変移がパルスの上昇エッジであるか又は下降エッジであるかを示す検定子をＰＬＬ２７０及び２８０に対して発生する。
【００２０】
　自明であるが、データ・トラックからのビット・ストリームの再生には、そのビット・ストリームを書き込むために用いられたクロックの再生が必要である。このサンプリング・クロックは、クロックのサンプル・セル内の中央において信号変移を発生させるためには、トラックのビット・セル位置及び物理的変化特性の提示速度に対して周波数的に一致していなければならない。しかしながら、多くの要因のために、媒体へ書き込まれるビットはその理想的位置からずれてしまう。その結果、読取り変換器により発生される読取り信号に周波数シフト若しくは位相シフトが生じる。読取りチャネルのＰＬＬは、読取りチャネル内の光変移検出器から受信された自己クロック信号波形ピークのフローに応答して同期データ・クロック波形を再発生し、そして実際のビット・セルに追随しようとするサンプル・セルへ分けられる。
【００２１】
　読取り検出チャネル２００の２つのＰＡＴ構成においては、ＰＬＬ２７０が正方向変移を処理するよう指定され、ＰＬＬ２８０が負方向変移を処理するよう指定されている。データ出力信号２７２及び２８４は、クロック出力信号２７４及び２８２とそれぞれ関連する。クロック出力信号２７４及び２８２は、データ出力信号２７２及び２８４中のビット・セル毎にデータ有効信号を与える。ＰＬＬ２７０及び２８０の出力は、さらに、しきい値エラー(ＴＨＥＲＲ)信号２７６及び２８６を含む。これらのＴＨＥＲＲ信号は位相エラー信号を有しており、正しい中央ラインのしきい値へロックするためにトラッキングしきい値回路２３４により用いられる。デスキュー論理２９０は、データ出力信号２７２及び２８４と、クロック出力信号２７４及び２８２とを併合することにより、出力データ・ストリーム(ＦＭＤＡＴＡＸ)２９２及びデータ有効信号(ＦＭＤＶＸ)信号２９４を得る。出力データ・ストリーム２９２及びデータ有効信号２９４は、周知の信号フォーマット器(図示せず)へ送られる。そこで、光ディスク１２内に記憶された元のデータを再生するために、出力データ・ストリーム２９２からセクタ情報、バースト・フィールド、及び同期文字等の非データ情報が取り除かれる。
【００２２】
　図３は、本発明の好適な実施例による較正論理及びその回路の概略構成図である。較正論理アーキテクチャ３００は、論理的に、イベント処理及び検定論理部３０２と、較正制御部３３４と、合計論理部３０４とへ分けられる。イベント処理及び検定論理部３０２は、読取り検出チャネル２００から入力データ(イベント及び検定子を含む)を受信する。特定の読取り及び／又は書込みモードで動作する光ディスクの較正に必要な選択された計測値を得るために、データがイベント処理回路３０６及び長さ計測回路３０８により処理される。各計測値は、検定回路３１０、３１２において、長さ計測回路３０８により発生された計測値と、設定された入力最小レベル及び最大レベルとを比較し、その計測値が最小レベルと最大レベルとの間にある場合は検定信号を発生することにより検定される。較正制御部３３４又はディスク駆動装置制御部１４０は、計測値の最小レベル(ＭＩＮ１、ＭＩＮ２)及び最大レベル(ＭＡＸ１、ＭＡＸ２)をセットする。これらのレベルは、特定の較正モードで光ディスク駆動装置を較正する際に用いられる特定の計測値を有効な計測値として検定することになる。検定回路３１０及び３１２について別々の設定をすることにより、同じパラメータ又は２つの異なるパラメータの２つの別々の計測値を同時に検定することができる。
【００２３】
　検定された計測値は、選択されたパラメータについての平均値計算を可能とするために、合計論理部３０４により合計される。イベント処理回路３０６又は長さ計測回路３０８からの計測値は、それぞれＡＮＤゲート３１４、３１６にて検定回路３１０、３１２の出力と論理的にＡＮＤ処理される。検定回路３１０又は３１２のいずれかにより検定されている場合、計測値がそれぞれ合計レジスタ３１８又は３２０に記憶される。その後は、選択された検定値が修飾されると、それらの計測値が、加算器３２２、３２４により合計レジスタ３１８、３２０に記憶されているそれまでの計測値の合計値と加算される。合計レジスタ３１８、３２０に記憶された計測値の合計値は、それぞれ較正合計信号ＣＡＬＳＵＭ２及びＣＡＬＳＵＭ１として出力される。さらに、各計測値が検定回路３１０、３１２により検定されると、発生されたバイナリ検定信号が加算器３２６及び３２８へそれぞれ入力される。好適な実施例では、有効な計測を示す検定信号がバイナリ数「１」である。よって、加算器３２６、３２８は、合計レジスタ３１８、３２０に記憶された合計として蓄積されている検定された計測値に応じて、それぞれカウント・レジスタ３３０、３３２に記憶された較正カウントに検定信号「１」を加算する。全カウント数を示す出力較正カウント信号ＣＡＬＣＮＴ２及びＣＡＬＣＮＴ１は、それぞれカウント・レジスタ３３０及び３３２から出力される。こうして、ＣＡＬＣＮＴ１及びＣＡＬＣＮＴ２は、それぞれ合計された計測値ＣＡＬＳＵＭ１及びＣＡＬＳＵＭ２を生成するために処理された計測値の数を示す。合計論理部３０４は、２組の加算器とカウンタを設けているので、所与の較正モードにおける検定された計測値の対を、較正論理アーキテクチャ３００により同時に処理することができる。例えば、マークと空白の長さ又は平均ＩＤ振幅及びデータ振幅を計測することができ、その後、合計論理部により同時に合計することができる。
【００２４】
　ここで明らかなように、合計論理部３０４は、１又は２のパラメータについて検定された計測の合計を蓄積するために、そして、合計(すなわち有効な計測が発生した回数のカウント)を形成する検定された計測の数をカウントするために用いられる。各パラメータについてのこれら２つの記憶された値は、その後、較正制御部３３４又はディスク駆動装置制御部１４０により計測値の平均値を決定するために用いることができる。
【００２５】
　図４は、本発明の好適な実施例による、ＰＷＭにおける較正のためのマーク／空白計測を実行するイベント処理及び検定回路３０２の概略的構成図である。マーク／空白計測値は、ＰＷＭにおいてコード化された光ディスク上のデータ・トラックの平均マーク長さ及び平均空白長さを計測した値である。一般的に、これらのデータ・トラックは、読み取られかつ計測されるために較正サイクルの開始時において光ディスクに書き込まれる試験トラックである。マーク／空白計測のために構成されたとき、長さ計測回路３０８により処理される入力イベントは、光検出器から受信される信号変移の信号変移到達時である。この信号は、読取り検出チャネル２００により検出パルス到達時(ＤＥＴＰＡＴ(０：５))信号として発生され、そして、その変移が負方向変移であったか正方向変移であったかを示す検出器負方向変移(ＤＥＴＮＴＲ)ビット又は検出器正方向変移(ＤＥＴＰＴＲ)ビットのいずれかと共に入力イベントとして受信される。従って、ＤＥＴＮＴＲがアクティブであるとき、ＤＥＴＰＡＴデータは、データ・ストリームのビット・セル内に負方向変移の位置を含む。そして同様に、ＤＥＴＰＴＲがアクティブであるとき、ＤＥＴＰＡＴデータは、データ・ストリームの特定ビット・セル内の正方向変移を示す。図４の好適なシステムにおいては、マーク幅の計測は常に正方向変移(ＤＥＴＰＴＲ)で始まり、そして負方向変移(ＤＥＴＮＴＲ)で終わる。同様に、空白計測は常に負方向変移(ＤＥＴＮＴＲ)で始まり、そして正方向変移(ＤＥＴＰＴＲ)で終わる。
【００２６】
　図５には、ＰＷＭを用いて光ディスクへ書き込まれた読取りデータの結果である、第１のマーク(ＭＡＲＫ０)、第１の空白(ＳＰＡＣＥ０)、及び第２のマーク(ＭＡＲＫ１)を有する読取りデータ・チャネル出力の一例を示す。ＭＡＲＫ０は、第２のサンプル・セル(ＳＣ２)の間に検出される正方向変移で始まる。この正方向変移のパルス到達時(ＰＡＴ)は、このサンプル・セルの開始後、正方向変移信号がしきい値レベルへ達した時点として計測される。図５に示すように、ＭＡＲＫ０のＰＡＴは、ＰＡＴ０と示される。ＰＡＴが、サンプル・セルの時間間隔に等しい時間単位で計測される場合、パルス到達からサンプル・セルの終わりまでの時間は、１−ＰＡＴとして計算することができる。このことから、光ディスクの回転速度が与えられた場合、マークの長さ及び空白の長さを、読取り信号がそれぞれしきい値レベル以上及び以下に留まる時間に基づいて計算することができる。図５の例で示されるように、ＭＡＲＫ０の長さ＝(１−ＰＡＴ０)＋４＋ＰＡＴ１である(単位ＳＣＬ)。ここで、ＳＣＬ(サンプル・セル長さ)は、読取りレーザがサンプル・セル期間中に光ディスク・トラックに沿って移動する距離に等しい。(１−ＰＡＴ０)は、ＳＣ２中に信号がしきい値以上になっている時間に相当する。ＰＡＴ１は、ＳＣ７中に信号がしきい値以上に留まっている時間に相当する。そして「４」は、ＳＣ３〜ＳＣ６に相当する。同様に、ＳＰＡＣＥ０の長さ＝(１−ＰＡＴ１)＋３＋ＰＡＴ２(単位ＳＣＬ)であり、ＭＡＲＫ１の長さ＝(１−ＰＡＴ２)＋１＋ＰＡＴ３(単位ＳＣＬ)である。
【００２７】
　図４を参照すると、マーク計測を実行するとき、このプロセスはＤＥＴＰＴＲ信号の到達により開始される。この信号は、ＤＥＴＰＡＴ(０：５)がサンプル・セル内に正方向変移の位置を含むことを示す。現在のサンプル・セルの変移到達時から後端までの間隔は、減算器４０２により「１」から入力検出パルス到達時を引き算することで計算される(すなわち「１−ｘ」)。そして、その結果はレジスタ４０４へ記憶される(ＲＥＧ２(０：６))。負方向変移信号(ＤＥＴＮＴＲ)及び正方向変移信号(ＤＥＴＰＴＲ)は、双方ともＯＲゲート４０６でＯＲ処理されると共に、個々にレジスタ４０８及び４１０へそれぞれ入力される。正方向であれ負方向であれ、検出された変移はレジスタ４１２にラッチされる。さらに、ＯＲゲート４０６の出力はマルチプレクサ４１４を制御し、マルチプレクサ４１４は、読取りチャネル・データ出力上に変移が検出されないとき「＋１」を出力し、そして、変移の検出が発生したときＤＥＴＰＡＴを出力する。マルチプレクサ４１４からの出力は、加算器４１８においてマルチプレクサ４１６からの出力と合計される。この合計された値は、合計レジスタ４２０(ＲＥＧ１(０：９))に記憶され、合計信号ＳＵＭＩＮ(０：９)を出力する。
【００２８】
　ここで明らかなように、マークは、減算器４０２において１から正方向変移時のＰＡＴを引き算することにより計測される。これは、そのサンプル・セルの変移到達時から後端までの間隔である。そして第１のサンプル・セル期間中にこの長さをレジスタ４０４に記憶する。正方向変移は、レジスタ４１２に記憶される。次のサンプル・セル（ＳＣ３）において、レジスタ４１２はビットを出力し、このビットは、レジスタ４０４からの出力として計算される期間を選択するためにマルチプレクサ４１６をセットする。この期間は、加算器４１８においてマルチプレクサ４１４からの出力に加算され、そして合計値がレジスタ４２０に記憶される。この合計計算は、ＤＥＴＰＴＲを受信した１サイクル後に実行されるので、ＯＲゲート４０６の出力は「０」であり、マルチプレクサ４１４は「１」を出力するようセットされる。ＯＲゲート４０６により変移が検出されない更なるサンプル・セルの各々については、加算器４１８が、マルチプレクサ４１６とマルチプレクサ４１４からの出力「１」とを合計してレジスタ４２０の出力とすることにより、レジスタ４２０に記憶された合計値を増加させる。最後に、ＤＥＴＮＴＲで示される負方向変移が到達したとき、パルス到達時がマルチプレクサ４１４の出力としてセットされることにより、マルチプレクサ４１４からのＤＥＴＰＡＴ出力が、マルチプレクサ４１６から出力されレジスタ４２０に記憶された合計値と加算器４１８において合計される。最終的な合計結果はマークの長さを示しており、レジスタ４２０に記憶されかつＳＵＭＩＮ(０：９)として出力される。
【００２９】
　各サンプル・セルの間、長さ計測回路３０８の出力が間隔検定回路３１０、３１２へ入力されることにより、計測されたマーク長さが合計論理３０４により合計されるべき有効な計測値であるか否かを判断する。変移イベントＤＥＴＮＴＲ及びＤＥＴＰＴＲを受信した後、これらは、それぞれレジスタ４０８及び４１０へ入力される。レジスタ４０８は、負の変移が受信されかつ最終的なマーク長さの合計がレジスタ４２０に記憶されたとき、その１サンプル・セル・サイクル後に正の信号出力をＡＮＤゲート４３０に対して発生する。図４に示すように、ＳＵＭＩＮは比較器４２２〜４２８に入力される。入力値ＳＵＭＩＮが設定された最小値(ＭＩＮ１)より大きい場合、比較器４２２はＡＮＤゲート４３０へ正の信号を出力し、そしてＳＵＭＩＮが設定された最大値(ＭＡＸ１)よりも小さい場合、比較器４２４はＡＮＤゲート４３０へ正の信号を出力する。ＯＶＥＲＦＬＯＷ信号によるオーバーフロー条件が示されないと仮定して、レジスタ４２０に合計されたマーク長さ計測値がＭＩＮ１及びＭＡＸ１によりセットされる検定ウィンドウ内に含まれる場合（すなわちＭＩＮ１＜マーク計測値＜ＭＡＸ１）、負の変移信号を受信した１サイクル後にＡＮＤゲート４３０は検定信号(ＱＵＡＬ１ＩＮ)を出力する。有効な検定信号ＱＵＡＬ１ＩＮにより、マーク計測値ＳＵＭＩＮは、検定されたマーク計測値として第１の合計レジスタの組３２０、３３２で合計されカウントされる。
【００３０】
　空白計測は、検出された負方向変移信号(ＤＥＴＮＴＲ)の到達で開始される。そのサンプル・セルの変移到達時から後端までの間隔は、その変移が受信されたサンプル・セルの間に減算器４２０により計算され、レジスタ４０４に記憶される。負方向変移ビットもまた、ＯＲゲート４０６でＯＲ処理されてマルチプレクサ４１６を制御するためにレジスタ４１２へ記憶される。（このビットはマルチプレクサ４１４もセットすることによりマーク長さ計測の最終的合計値のためにＤＥＴＰＡＴを出力する。これは同時に発生し、そして次のサンプルセルで終了する。）次に到達するサンプル・セルについては、ＯＲゲート４０６から変移が出力されないのでマルチプレクサ４１４は値「１」を出力し、そしてさらに、その前のサイクル中にレジスタ４１２に記憶されたバイナリ数「１」がマルチプレクサ４１６の出力をレジスタ４０４の間隔値へとセットする。これらのマルチプレクサ出力は、加算器４１８により合計される。更なるサンプル・セルの各々については、正方向変移が検出されるまでレジスタ４２０に記憶された合計値に「１」が加算される。ＯＲゲート４０６から出力される正方向変移ビットの到達により、マルチプレクサ４１４の出力がＤＥＴＰＡＴにセットされる。これは、加算器４１８においてマルチプレクサ４１６を通ったレジスタ４２０の出力(ＳＵＭＩＮ)に合計される。この結果、レジスタ４２０に記憶される最終的な空白計測値が得られる。
【００３１】
　この得られた空白長さは、比較器４２６及び４２８において予め設定された最小値及び最大値とそれぞれ比較される。空白計測値が最小値(ＭＩＮ２)よりも大きくかつ最大値(ＭＡＸ２)よりも小さい場合、比較器４２６及び４２８は正の信号を出力する。レジスタ４１０が正方向変移ビット(ＤＥＴＰＴＲ)を記憶した後、次のサンプル・セルにおいて、全空白長さ計測値がレジスタ４２０から出力されたとき、レジスタ４２０の合計値の検定化がＡＮＤゲート４３２で実行される。ＯＶＥＲＦＬＯＷ信号によるオーバフローが示されないと仮定すると、ＡＮＤゲート４３２が、この空白計測値が有効でありかつその合計値が検定されていることを示す検定信号(ＱＵＡＬ２ＩＮ)を出力することにより、合計値は合計論理部の第２の合計レジスタの組３１８、３３０で合計されかつカウントされる。
【００３２】
　マーク／空白計測のためのイベント処理及び検定回路は、マークと空白の双方の合計を同時に実行できるので、また、全ての有効なマーク長さの合計と全ての有効な空白長さの合計の双方が別々のレジスタで合計されかつ別々の検定ウィンドウが各計測値の組に適用されるので、マーク／空白長さについての計測及び検定は、共有ハードウェアを用いて平行に実行され、しかも光ディスクの較正領域において単一の読取りパスで実行できる。これにより、双方の計測を２つではなく１つの較正サイクルで実行することができる。従って本発明は、実質的に、光ディスク駆動装置を較正するための重複する較正回路を省くと共に、マーク／空白長さ計測を実行するために必要な時間も減少させる。
【００３３】
　図６は、光ディスク駆動装置のＳＮＲ計算を可能とする位相エラー・ジッタ計測を実行するためのイベント処理及び検定回路を示す概略構成図である。ＳＮＲ計算は、通常、読取りチャネルを較正する際及び全ての書込み方式において必要となる。長さ計測回路３０８及び検定回路３１０、３１２は、空白／マーク計測においては、特定形式の信号又はトーンの位相エラー・ジッタについて有効計測が得られるときを（ＱＵＡＬ１ＩＮ、ＱＵＡＬ２ＩＮにより）示すために構成される。クロック位相エラー信号は同時に発生しないので、正方向変移におけるクロック位相エラー(ＣＬＫＰＨ０(０：５))及び負方向変移におけるクロック位相エラー(ＣＬＫＰＨ１(０：５))は、双方ともイベントとしてイベント処理回路３０６内のＯＲゲート４３４へ入力される。当業者には自明であろうが、これらの位相エラー計測は、検出された変移における位相差を示す。
【００３４】
　ブロック４３６において、ＯＲゲート４３４で受信された位相エラーの絶対値が導出され、得られた絶対値がレジスタ４３８に記憶される。次のクロック・サイクルにおいて、レジスタ４３８の内容がブロック４４０へ入力され、ブロック４４０は位相エラー値を二乗(Ｘ2)してその結果をＳＵＭＩＮ(０：９)として出力する。比較器４２２〜４２８に配置される予め設定可能な値により、長さ計測について２つの異なる範囲が可能であるので、（選択によるマーク又は空白における）２つの異なる長さに関連するジッタが、それら２つの異なる長さについて二乗された位相エラーを合計論理部へ加算することにより計測される。負方向変移により示される第１の長さについての検定された計測の数が、ＣＡＬＣＮＴ１に記憶され合計される。そして、正方向変移により示される第２の長さについての検定された計測の数がＣＡＬＣＮＴ２に記憶され合計される。二乗された位相エラーの合計は、負方向変移についてはＣＡＬＳＵＭ２に記憶され、正方向変移についてはＣＡＬＳＵＭ１に記憶される。これらの値から、正方向変移及び負方向変移の双方についての位相エラーの変動を次のように計算することができる（但し、平均位相エラーを「０」と仮定する）。
【００３５】
【数１】
2004127507.tif 000002
【００３６】
　ここで、ｎは、負方向変移についてのＣＡＬＣＮＴ１のカウント数であり、また、正方向変移についてのＣＡＬＣＮＴ２のカウント数である。そして、
【００３７】
【数２】
2004127507.tif 000003
【００３８】
の要素は、負方向変移についてはＣＡＬＳＵＭ１に記憶されており、また正方向変移についてはＣＡＬＳＵＭ２に記憶されている。このことから、較正制御部３３４又はディスク駆動装置制御部１４０を用いる較正装置は、光ディスク駆動装置の現在の書込みモードにおけるＳＮＲを次の式により評価することができる。
【００３９】
【数３】
2004127507.tif 000004
【００４０】
　図７は、本発明の好適な実施例による、ピーク・ツー・ピーク振幅計測のためのイベント処理及び検定回路を示す概略的構成図である。このモードの較正は、基本的にＰＰＭチャネルについて設計されており、ＩＤフィールド及びデータ・フィールドにおいて平均ピーク・ツー・ピーク振幅評価が必要とされる。振幅計測は、ＲｅａｄＧａｔｅ２(ＲＧ２)がアクティブのときデータ・フィールド内に集められ、そしてＲＧ２が非アクティブのときＩＤフィールド内に集められる、すなわちＩＤフィールドに帰する。明らかなように、単一のピーク・ツー・ピーク振幅計測は、デジタル読取り検出チャネル２００のトラッキングしきい値論理部により実行され、そしてピーク・ツー・ピーク振幅計測が行われたことを示すビット(ＴＨＲＰＫＦＦ)と共にイベント(ＴＨＲＰＫＰＫ(０：８))として送られる。２つのピーク計測の間の間隔が、比較器４２２〜４２８に予め設定された長さ検定ウィンドウ（サンプル・セル単位とされている）の範囲内である場合、ピーク・ツー・ピーク振幅値は有効とみなされ、合計論理部３０４へ加算されて平均ピーク・ツー・ピーク計算に用いられる。
【００４１】
　ＩＤフィールド処理の間、ピーク・ツー・ピーク値は第１の合計レジスタの組
で加算され、そして、データ・フィールド処理の間、その結果は第２の合計レジスタの組で加算される。レジスタ５０４及び５０６に記憶されたＴＨＲＰＫＦＦ信号は、レジスタ５０２に記憶された値ＴＨＲＰＫＰＫが新しいピーク・ツー・ピーク振幅計測値を表していることを示す。次のクロック・サイクルで、このビットはレジスタ５０４へ出力され、ＡＮＤゲート５０８の入力で反転される。これにより、「１」のみが加算器５１０により合計されてレジスタ５１２に記憶される。続くクロック・サイクルでは、レジスタ５０４の出力が「０」であり、ＡＮＤゲート５０８はレジスタ５１２からの入力を加算器５１０へ出力する。レジスタ５１２に記憶される合計は、加算器５１０で１だけ増分され、そして再びレジスタ５１２に記憶される。この値は、レジスタ５０４の入力におけるビットで示される次のピーク・ツー・ピーク振幅計測値が到着するまで増分され続ける。次のサイクルでは、レジスタ５０４がＴＨＲＰＫＦＦビットを出力しかつＡＮＤゲート５０８をディスエーブルとするとき、レジスタ５１２に記憶されている計測されたピーク間の間隔が比較器４２２〜４２８で比較され、そしてその結果がＡＮＤゲート４３０、４３２へ出力される。レジスタ５０６からの同時の出力は、ＲＧ２信号の関数として、ＡＮＤゲート４３０、４３２の一方又はもう一方の出力をイネーブルとする（ＯＶＥＲＦＬＯＷ条件はないと仮定する）。ピーク間の間隔が、比較器４２２〜４２８により規定される（そしてサンプル・セル単位とされている）長さ検定ウィンドウの範囲内にあると判断された場合、検定信号ＱＵＡＬ１ＩＮ又はＱＵＡＬ２ＩＮが合計論理部３０４へ出力される。これにより、計測されたピーク・ツー・ピーク振幅が、ＩＤフィールド及びデータ・フィールドの双方について同時に加算される。
【００４２】
　図８に示す読取りデータ波形の例を参照すると、イベント処理及び検定回路３０２により実行されるピーク・ツー・ピーク振幅計測がよく理解できる。しきい値ピーク・ツー・ピーク振幅(ＴＨＲＰＫＰＫ)は、読取り信号中の各連続するピークについて計測される。各ＴＨＲＰＫＦＦ信号間の間隔が計測され、そして間隔の最小(ＭＩＮ)ウィンドウ及び最大(ＭＡＸ)ウィンドウに対して比較される。ピーク・ツー・ピーク間隔がウィンドウの範囲内であれば、しきい値ピーク・ツー・ピーク計測値が合計論理部で加算されることにより、較正装置による平均ピーク・ツー・ピーク振幅計測を実行できる。
【００４３】
　図９は、本発明の好適な実施例による、トラッキングしきい値計測のために構成されたイベント処理及び検定回路を示す概略構成図である。しきい値較正は、２つの異なるパターン、例えば２Ｔトーン及び８Ｔトーンについてのトラッキングしきい値の平均値を決定するために実行される。２Ｔトーンは、２個のサンプル・セルと同じ長さをもつ光ディスクに書き込まれる短波長データ・パターンである。８Ｔトーンは、８個のサンプル・セルだけ離れたデータ変移をもつデータ・パターンにより生じる長波長データ信号である。この回路は、図７に示したピーク・ツー・ピーク振幅計測と同じハードウェアを用い、同一の方法で動作する。しかしながら、比較器４２２〜４２８に記憶された検定ウィンドウは、２つのテスト・パターンの各々についてのもの（すなわち、２Ｔと８Ｔの各々について１つのウィンドウ）とされる。さらに、入力イベントは、トラッキングしきい値計測(ＴＨＲＣＴＲ(０：７))及びトラッキングしきい値計測有効ビット(ＴＨＲＣＴＲＦＦ)である。後者は、レジスタ５０２において計測が有効であるとき、トラッキングしきい値回路２３４から双方が受信されたことを示す。
【００４４】
　タイミング検定が短波長に適合される場合（すなわち、装置５０４〜５１２を用いてＴＨＲＣＴＲＦＦ信号間のサンプル・セル数をカウントしそして装置４２２、４２４、４３０において検定ウィンドウと比較することにより決定されたトラッキングしきい値計測間の間隔が２Ｔである場合）、レジスタ５０２に記憶された関連するトラッキングしきい値計測(ＴＨＲＣＴＲ(０：７))が、合計論理部３０４の合計レジスタの１つへ加算される。タイミング検定が長波長に適合される場合（すなわち、装置５０４〜５１２を用いてＴＨＲＣＴＲＦＦ信号間のサンプル・セル数をカウントしそして装置４２２、４２４、４３０において検定ウィンドウと比較することにより決定されたトラッキングしきい値計測間の間隔が８Ｔである場合）、レジスタ５０２に記憶された関連するトラッキングしきい値計測(ＴＨＲＣＴＲ(０：７))が、合計論理部３０４のもう一方の合計レジスタへ加算される。その後、較正装置は、合計論理部３０４における加算された合計及びカウントから短波長パターンの平均トラッキングしきい値及び長波長パターンの平均トラッキングしきい値を計算することによりしきい値較正を実行する。イベント処理及び検定論理部の動作は、実質的に、ピーク・ツー・ピーク振幅計測の場合と同じであるが、トラッキングしきい値計測値は合計論理部で合計される点が異なる。
【００４５】
　本発明の好適な実施例の別の態様においては、較正の結果から、通常、振幅較正計測の結果から、ディスク駆動装置に搭載されたディスクにデータが書き込まれているか否かを判断するために媒体走査機能を実行することができる。これは、ＷＯＲＭ形式の媒体において特に有用である。この形式の場合、新たなデータをディスクに書き込むために、使用可能な最初の未書込みセクタを装置が決定しなければならないからである。図１０に示される媒体走査回路は、現在読み取られているディスクのセクタが書込み済み又は未書込みのいずれかであるという割込みをプロセッサに対して選択的に発生するように予め設定されている。ＣＡＬＣＮＴ２レジスタで処理されるイベントの数（通常、振幅較正モード）は、較正制御部３３４によりセットされる固定しきい値(ＳＥＶＥＮＴＳ)に対して比較器６０２で比較される。カウント(ＣＡＬＣＮＴ２(０：３))の上位ビットが「０」に等しいと比較器６１４により決定され、かつ、カウント(ＣＡＬＣＮＴ２(４：１１))の下位ビットが固定しきい値より小さいと比較器６０２により決定された場合、読取りオペレーションの終わりにおけるカウンタの値は、固定しきい値より小さく、読み取られるセクタは未書込みである。この結果は、ＯＲゲート６０４（６１４の結果が反転される）及びＸＯＲゲート６０６へ出力される。
【００４６】
　較正制御部３３４からの入力ＩＮＴＳＷは、セクタが書込み済みでありかつＩＮＴＳＷが「１」であるか又はセクタが未書込みでありかつＩＮＴＳＷが「０」である場合に割込みが発生されるように、プロセッサ割込みの論理をセットする。ＸＯＲゲート６０６の出力は反転され、ＡＮＤゲート６０８へ入力される。ＲＧ２信号もまた反転され、前のサンプル・セルからレジスタ６１０に記憶されている前のＲＧ２信号と共に６０８へ入力される。この論理により、媒体走査計測が、ＩＤフィールドではなくデータ・フィールドの振幅計測から導出されることが明らかであろう。発生される媒体走査割込み(ＣＡＬＩＮＴ)は、プロセッサへ出力されるべくレジスタ６１２にラッチされる。
【００４７】
　本発明の較正装置は、マルチモード情報記憶及び検索システム（すなわち、光ディスク駆動装置等）の現在の読取り又は書込みのモードの必要に応じて実行されるプログラマブル振幅計測、しきい値計測、ジッタ計測、又はマーク／空白長さ計測を可能とする点で、極めてフレキシブルである。この較正回路は、マルチモード装置の現在の書込みモードに対する読取り特性の適切なパラメータ的計測を実行する。そして、技術的に周知の多くの方法のいずれについてもこの較正装置は、これらの計測に基づいてマルチモード装置を較正することにより、現在の動作モードにおいて信頼性あるデータの読取り及び書込みを行うために読取り及び／又は書込みプロセスを最適化することができる。さらに、本発明の較正装置は、光ディスク駆動装置／光媒体の組合せのＳＮＲを計測することを可能とし、それによりマルチモード装置からのデータの再生をさらに向上させられる。
【００４８】
　まとめると、本発明の較正装置は、複数の較正モード用のデータ計測を行う複数の計測構成とするために容易に設定することができるので、光ディスク駆動装置用に構成された任意の形式の読取りモード若しくは書込みモード又は装置／媒体の組合せに対して、特定の書込みモード及び装置／媒体組合せに関する適宜のパラメータを選択的に計測することにより較正することができる。この較正装置は、多くの回路を追加することなく、大量のパワーを消費することなく、また光ディスク駆動装置のコストを実質的に増大させることなく複数の較正を可能とするために、複数の較正装置を共通ハードウェアを共有する単一の装置に集約する。さらに、複数のパラメータの計測は、選択されたパラメータについての単一の較正サイクルで実行することができるので、マルチモード光ディスク駆動装置のコストを低減すると共に較正速度を向上させる。
【００４９】
　まとめとして、本発明の構成に関して以下の事項を開示する。
【００５０】
（１）複数の書込みモードから選択された１のモードにより情報媒体へデータを書き込みかつ複数の書込みモードのいずれかにより書き込まれたディスクから読取りデータを読み取るマルチモード・ディスク駆動装置における較正装置において、複数の異なる構成を有しかつ各構成が異なる計測に対応し、各計測において読取りデータから複数の可能なパラメータのうち選択された１又は複数のパラメータを計測することにより、計測されたパラメータが、前記読取りデータを書き込むために用いられた特定の書込みモードで動作する前記マルチモード・ディスク駆動装置の較正のための情報を与えるように前記構成を設定可能なイベント処理及び計測回路と、前記イベント処理及び計測回路により計測された各パラメータの選択された計測値を合計しかつ各パラメータについて合計された計測値の数をカウントする合計回路とを有するマルチモード・ディスク駆動装置における較正装置。
（２）前記イベント処理及び計測回路が、前記複数のパラメータのうち少なくとも２つのパラメータを同じ読取りデータから同時に計測する上記（１）に記載の較正装置。
（３）前記マルチモード装置が、前記複数の書込みモードのうちいずれか１つにより前記情報媒体上にデータ・パターンを書き込む書込み装置と、前記情報媒体から読取りデータを再生するためにテスト・パターンを読み取る読取り装置とを有し、　前記読取りデータが１又は複数のイベントを含み、該イベントからパラメータが計測される上記（１）に記載の較正装置。
（４）前記複数の書込みモードが、パルス幅変調及びパルス位置変調のうち少なくとも１つによりデータを書き込むことを含む上記（３）に記載の較正装置。
（５）前記イベント処理及び計測回路が、計測されたパラメータを検定ウィンドウに対して比較する検定回路を含み、前記合計回路が前記検定ウィンドウの範囲内にある計測値のみを選択して合計する上記（１）に記載の較正装置。
（６）前記検定回路が、第１の計測されたパラメータを第１の検定ウィンドウに対して比較し、かつ、第２の計測されたパラメータを第２の検定ウィンドウに対して比較する上記（５）に記載の較正装置。
（７）前記イベント処理及び計測回路が、マーク・パラメータ及び空白パラメータを計測する上記（１）に記載の較正装置。
（８）前記イベント処理及び計測回路が、ピーク・ツー・ピーク振幅パラメータを計測する上記（１）に記載の較正装置。
（９）前記イベント処理及び計測回路が、位相エラー・パラメータを計測する上記（１）に記載の較正装置。
（１０）前記イベント処理及び計測回路が、トラッキングしきい値パラメータを計測する上記（１）に記載の較正装置。
（１１）複数の書込みモードのいずれか１つにより読取り及び／又は書込みを行うためにディスク駆動装置を較正する方法であって、前記ディスク駆動装置の書込みモードを前記複数の書込みモードのうち１の書込みモードへセットするステップと、前記１の書込みモードで前記ディスク駆動装置により情報媒体上にデータを書き込むステップと、読取りデータを得るために、前記情報媒体へ書き込まれた前記データを該情報媒体から読み取るステップと、所与の較正サイクルの間、前記複数の書込みモードのいずれか１つに対応するパラメータを計測するための構成を設定可能な較正回路に対して、前記書込みモードに対応する計測を行うべく該較正回路の構成を設定し、かつ、１又は複数の読取りパラメータを同時に計測するべく前記構成を設定された較正回路を用いて前記読取りデータに対して複数の計測を実行するステップと、選択された計測値に基づいて前記ディスク駆動装置の前記書込みモードを最適化するステップとを含むディスク駆動装置を較正する方法。
（１２）前記計測された読取りパラメータを検定ウィンドウと比較し、該検定ウィンドウの範囲内にある計測値のみを前記選択された計測値とするステップを含む上記（１１）に記載の方法。
（１３）マーク空白パラメータが計測される上記（１１）に記載の方法。
（１４）ピーク・ツー・ピーク・パラメータが計測される上記（１１）に記載の方法。
（１５）ＰＬＬ位相エラー・パラメータが計測される上記（１１）に記載の方法。
（１６）トラッキングしきい値パラメータが計測される上記（１１）に記載の方法。
（１７）前記複数の書込みモードが、パルス幅変調及びパルス位置変調のうち少なくとも１つを用いてデータを書き込むことを含む上記（１１）に記載の方法。
（１８）複数の書込みモードの１つにより書き込むときにディスク駆動装置を較正するシステムにおいて、前記ディスク駆動装置の書込みモードを前記複数の書込みモードのうち１の書込みモードへセットする手段と、前記１の書込みモードで前記ディスク駆動装置により情報媒体上にデータを書き込む手段と、読取りデータを得るために、前記情報媒体へ書き込まれた前記データを該情報媒体から読み取る手段と、所与の較正サイクルの間、前記複数の書込みモードのいずれか１つに対応するパラメータを計測するための構成を設定可能な較正回路に対して、前記書込みモードに対応する計測を行うべく該較正回路の構成を設定し、かつ、１又は複数の読取りパラメータを同時に計測するべく前記構成を設定された較正回路を用いて前記読取りデータに対して複数の計測を実行する手段と、選択された計測値に基づいて前記ディスク駆動装置の前記書込みモードを最適化する手段とを有するディスク駆動装置を較正するシステム。
（１９）前記計測された読取りパラメータを検定ウィンドウと比較し、該検定ウィンドウの範囲内にある計測値のみを前記選択された計測値とするステップを含む上記（１８）に記載のシステム。
（２０）マーク空白パラメータが計測される上記（１８）に記載のシステム。
（２１）ピーク・ツー・ピーク・パラメータが計測される上記（１８）に記載のシステム。
（２２）ＰＬＬ位相エラー・パラメータが計測される上記（１８）に記載のシステム。
（２３）トラッキングしきい値パラメータが計測される上記（１８）に記載のシステム。
（２４）複数のモードで書き込みを行う光ディスク駆動装置において、
　光データ記憶媒体と、前記光データ記憶媒体上に複数の書込みモードの１つによりテスト・パターンを書き込む書込み装置と、前記光データ記憶媒体から複数のイベントを含む読取りデータを取り出すために前記テスト・パターンを読み取る読取り装置と、複数の異なる構成を有しかつ各構成が異なる計測に対応し、各計測において読取りデータから複数の可能なパラメータのうち選択された１又は複数のパラメータを計測することにより、計測されたパラメータが、前記読取りデータを書き込むために用いられた特定の書込みモードで動作する前記光ディスク駆動装置の較正のための情報を与えるように前記構成を設定可能なイベント処理及び計測回路と、前記イベント処理及び計測回路により計測された各パラメータの選択された計測値を合計しかつ各パラメータについて合計された計測値の数をカウントする合計回路とを有する光ディスク駆動装置。
（２５）前記イベント処理及び計測回路が検定回路を有し、該検定回路が前記計測されたパラメータと検定ウィンドウとを比較し、該検定ウィンドウの範囲内の計測値のみを前記合計回路により合計される計測値として選択する上記（２４）に記載の光ディスク駆動装置。
（２６）前記イベント処理及び計測回路がマーク空白パラメータを計測する上記（２４）に記載の光ディスク駆動装置。
（２７）前記イベント処理及び計測回路がピーク・ツー・ピーク・パラメータを計測する上記（２４）に記載の光ディスク駆動装置。
（２８）前記イベント処理及び計測回路がＰＬＬ位相エラー・パラメータを計測する上記（２４）に記載の光ディスク駆動装置。
（２９）前記イベント処理及び計測回路がトラッキングしきい値パラメータを計測する上記（２４）に記載の光ディスク駆動装置。
（３０）前記イベント処理及び計測回路が媒体走査機能を実行する上記（２４）に記載の光ディスク駆動装置。
（３１）前記イベント処理及び計測回路が位相エラー・ジッタを計測する上記（２４）に記載の光ディスク駆動装置。
（３２）前記複数の書込みモードが、パルス幅変調及びパルス位置変調のうち少なくとも１つを用いてデータを書き込むことを含む上記（２４）に記載の光ディスク駆動装置。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の好適な実施例の光ディスク駆動装置を示す構成図である。
【図２】本発明の好適な実施例の光ディスク駆動装置における読取り検出チャネルの構成図である。
【図３】本発明の好適な実施例による、構成回路及び論理部の構成図である。
【図４】本発明の好適な実施例による、マーク／空白計測を実行するべく構成されたイベント処理及び検定回路の概略的構成図である。
【図５】ＰＷＭを用いて光ディスクへ書き込まれた読取りデータチャネル出力のマーク長さ及び空白長さの例を示す図である。
【図６】本発明の好適な実施例による、位相エラー・ジッタ計測を実行するべく構成されたイベント処理及び検定回路の概略的構成図である。
【図７】本発明の好適な実施例による、ピーク・ツー・ピーク振幅計測を実行するべく構成されたイベント処理及び検定回路の概略的構成図である。
【図８】本発明の好適な実施例による、イベント処理及び検定回路により実行されるピーク・ツー・ピーク振幅計測の例を示す図である。
【図９】本発明の好適な実施例による、しきい値計測を実行するべく構成されたイベント処理及び検定回路の概略的構成図である。
【図１０】本発明の好適な実施例による、媒体走査の概略的構成図である。
【符号の説明】
【００５２】
　１０　システム
　１２　光ディスク
　１４　主軸モータ
　２２、７２　アクチュエータ
　４０　レーザ
　４２　光線
　４４、６２、１０６、１１２、１２０　レンズ
　４６　円偏光子
　４８、９０、１００　ビーム・スプリッタ
　５２、１０９、１１４、１２２　検出器
　５４　レーザ制御部
　６０　ミラー
　６６　モータ
　９６　サーボ光線
　９８　波長板
　１１６　データ回路
　１３０　トラック・アンド・シーク・サーボ
　１３２　主軸モータ制御部
　１４０　ディスク駆動装置制御部
　１５０　固定光素子(ＦＯＥ)システム
　２００　読取り検出チャネル
　２３４　トラッキングしきい値回路
　２５０　検出器
　２７６、２８０　ＰＬＬ
　２９０　デスキュー回路
　３００　較正回路及び論理部
　３０２　イベント処理及び検定部
　３０４　合計論理部
　３０６　イベント処理回路
　３０８　長さ計測回路
　３１０、３１２　検定回路
　３３４　較正制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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