(57)【要約】【課題】本発明は、ディスク固有の偏心量、面振れ量、デトラック量に応じてディスクの回転速度を制御し、記録品位を維持することを目的とする。【解決手段】本発明の光磁気記録装置は、光磁気ディスク５０を回転駆動する回転駆動手段としてのスピンドルモータ１１と、光磁気ディスク５０にデータを記録するデータ書き込み手段としての光ピックアップ１２と、これら各手段を制御する制御手段としてのＤＳＰマイコン２１とを備える。このＤＳＰマイコン２１は、さらに、光磁気ディスク５０が高線速で回転駆動されている場合におけるデトラック量を計測するデトラック量計測手段、面振れ量を計測する面振れ量計測手段、偏心量を計測する偏心量計測手段として機能し、制御手段は、上記のデトラック量、面振れ量、偏心量の何れかが所定の閾値を超えた場合に、スピンドルモータ１１の回転駆動を制御し、光磁気ディスク５０の線速度を高線速から低線速に切り替える。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクへのデータの記録を行う光記録装置であって、
前記光ディスクを回転駆動する回転駆動手段と、
前記光ディスクへのデータの記録に際して光線を発生するデータ書き込み手段と、
前記光ディスクが高線速で回転駆動された際のデトラック量を計測するデトラック量計測手段と、
前記デトラック量計測手段により計測された前記デトラック量が所定の閾値を超えた場合に、前記回転駆動手段による前記光ディスクの回転速度を低線速とする制御手段と
を備えたことを特徴とする光記録装置。
【請求項２】
前記デトラック量計測手段は、
前記データ書き込み手段より出力されるトラッキングエラー信号からトラバースレベルおよび前記デトラック量を計測し、
前記制御手段は、
計測された前記トラバースレベルと前記デトラック量とに基づいて前記所定の閾値を決定することを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項３】
前記光ディスクが高線速で回転された際の面振れ量を計測する面振れ量計測手段をさらに備え、
前記制御手段は、
前記面振れ量計測手段により計測された前記面振れ量が所定の閾値を超えた場合に、前記回転駆動手段による前記光ディスクの前記回転速度を低線速とすることを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項４】
前記面振れ量計測手段は、
前記光ディスク上における前記光線のフォーカスサーボを行うフォーカスドライブ電圧と、前記回転駆動手段の回転に応じて出力される回転数検出信号との相関関係から、前記光ディスクの回転周期毎の面振れ量を計測することを特徴とする請求項３に記載の光記録装置。
【請求項５】
前記光ディスクが高線速で回転駆動された際の偏心量を計測する偏心量計測手段をさらに備え、
前記制御手段は、
前記偏心量計測手段により計測された前記偏心量が所定の閾値を超えた場合に、前記回転駆動手段による前記光ディスクの前記回転速度を低線速とすることを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項６】
前記偏心量計測手段は、
前記データ書き込み手段の視野振りに応じて当該データ書き込み手段を駆動させるＷｐｐ（Ｗｏｂｂｌｅ　ＰｕｓｈＰｕｌｌ）電圧またはトラッキングドライブ電圧と、前記回転駆動手段の回転に応じて出力される回転数検出信号との相関関係から、当該光ディスクの回転周期毎の偏心量を計測することを特徴とする請求項５に記載の光記録装置。
【請求項７】
前記制御手段は、
前記回転駆動手段による前記光ディスクの回転速度を低線速とした後には、当該光ディスクが交換されるまで、または装置の電源の再起動が行われるまで低線速での制御を維持することを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項８】
光ディスクへのデータの書き込みが可能な光記録装置の制御方法であって、
トラッキングサーボ制御を行わない状態で前記光ディスクにおいて発生するトラッキングエラー信号からトラバースレベルを算出するステップと、
前記トラッキングサーボ制御を行った状態で前記光ディスクへの高線速でのデータの書き込みの際に発生するトラッキングエラー信号からデトラック量を算出するステップと、
算出された前記トラバースレベルと前記デトラック量とに基づいて前記光ディスクの線速度を低線速に切り替えるステップと
を含むことを特徴とする光記録装置の制御方法。
【請求項９】
光ディスクへのデータの書き込みが可能な光記録装置の制御方法であって、
前記光ディスクに照射される光ビームの焦点位置に応じて高線速での当該光ディスクへのデータの書き込みの際に出力されるフォーカスドライブ電圧を計測するステップと、
前記光ディスクの回転に応じて出力される回転数検出信号から当該光ディスクの回転周期を計測するステップと、
計測された前記光ディスクの回転周期と前記フォーカスドライブ電圧とから当該光ディスクの回転周期毎の面振れ量を算出するステップと、
算出された前記面振れ量に応じて前記光ディスクの線速度を低線速に切り替えるステップと
を含むことを特徴とする光記録装置の制御方法。
【請求項１０】
光ディスクへのデータの書き込みが可能な光記録装置の制御方法であって、
前記光ディスクに照射される光ビームの視野振りに応じて高線速でのデータの書き込みの際に出力されるＷｐｐ（Ｗｏｂｂｌｅ　ＰｕｓｈＰｕｌｌ）電圧またはトラッキングドライブ電圧を計測するステップと、
前記光ディスクの回転に応じて出力される回転数検出信号から当該光ディスクの回転周期を計測するステップと、
計測された前記光ディスクの回転周期と前記Ｗｐｐ電圧または前記トラッキングドライブ電圧とから当該光ディスクの回転周期毎の偏心量を算出するステップと、
算出された前記偏心量に応じて前記光ディスクの線速度を低線速に切り替えるステップと
を含むことを特徴とする光記録装置の制御方法。
【請求項１１】
光記録再生装置における再生および記録の検査を行う光記録再生装置の検査方法であって、
偏心または面振れを発生する特性を有する調整用ディスクを用いて、データ再生における機器特性を調整するステップと、
前記調整用ディスクに対する高線速でのデータ記録における前記機器特性を調整するステップと、
前記調整用ディスクに対する低線速でのデータ記録における前記機器特性を調整するステップと、
調整されたデータ再生における前記機器特性、高線速でのデータ記録における当該機器特性、および低線速でのデータ記録における当該機器特性とを装置内のメモリに記録する処置と
を含むことを特徴とする光記録再生装置の検査方法。
【請求項１２】
高線速での光ディスクへのデータの書き込みが可能な光記録装置を制御するプログラムであって、
前記光記録装置に装着された光ディスクについて、サーボ制御の実行時および非実行時における回転に伴って発生するトラッキングエラー信号を計測する処理と、
前記光ディスクの回転に応じて焦点方向の制御を行うために出力されるフォーカスドライブ電圧を計測する処理と、
前記光ディスクの回転に応じて半径方向の制御を行うために出力されるＷｐｐ（Ｗｏｂｂｌｅ　ＰｕｓｈＰｕｌｌ）電圧またはトラッキングドライブ電圧を計測する処理と、
前記トラッキングエラー信号、前記フォーカスドライブ電圧、および前記Ｗｐｐ電圧または前記トラッキングドライブ電圧の何れかの値がサーボ機能により追従可能な範囲を超えた場合に、前記光ディスクの線速度を低線速に切り替える処理と
を前記光記録装置に実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＭＤ（ミニディスク）などの光ディスクの記録再生装置等に係り、より詳しくは、偏心量の計測機能を備えた光ディスク記録再生装置等に関する。
【０００２】
【従来の技術】
昨今、光学ピックアップからレーザ光を照射し、光ディスクに対して情報を記録再生する光ディスク記録再生装置が広く提供されている。その中で、例えば録音再生用のＭＤ（ミニディスク）などの光磁気記録媒体（光ディスク）は、データの読み書きにレーザ光と磁場を利用して書き換え可能に構成した記憶媒体であり、データの記録／更新が自由にできることに加え、記憶容量が大きく、大量のデータを記録することができることから、コンピュータの外部記憶媒体として、また、音楽用のディスクシステムとして、近年、広く利用されている。
【０００３】
データの書き込みや読み出しに際し、ＭＤ等の光磁気記録媒体は、光ディスク記録再生装置に設けられたハブ部材等を介してスピンドルモータの回転軸に取り付けられる。このような、着脱式の光磁気記録媒体へのデータの書き込みおよびこの光磁気記録媒体からのデータの読み出しを行う装置において、偏心量、面振れ量、デトラック量が大きくなると、所定の位置へアクセスすることができなくなったり、記録磁界パターンの品位が落ちたり（磁界反転部の明瞭性が損なわれたり）して、記録再生に悪影響を及ぼすこととなる。そこで、従来技術として、ディスクに面振れが生じている場合であっても、フォーカスサーボを行うことのできる技術が存在している（例えば、特許文献１参照）。また、ディスクの再生に先立って、ディスクを最高速度で回転させて偏心量および面振れ量を測定し、偏心量および面振れ量が所定量を超えている場合に、ディスクの回転制御を行うことによりデータを読み取る技術が開示されている（例えば、特許文献２参照）。
【０００４】
【特許文献１】
特開平１１−２６５５４３号公報（第４頁、図１）
【特許文献２】
特開平１０−８３６１５号公報（第８−１０頁、図２）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、近年、ＭＤなどの光ディスクへの記録再生が可能な記録再生装置では、パーソナルコンピュータなどからのデータ転送が可能となり、これにより、光ディスクに対して高速でデータを書き込むことが要求されつつある。従来の書き込み速度での書き込みでは、偏心量、面振れ量、デトラック量の影響によるディスク振れの周波数は、上記従来のサーボ機構で補正可能な帯域内（サーボ帯域）で収まっていた。しかしながら、２倍速以上での書き込みを行う際には、光ディスクを高速で回転させるため、この光ディスクの偏心量、面振れ量、デトラック量が同じであっても、これらの影響によるディスク振れの周波数がサーボ帯域を超え、トラッキングサーボやフォーカスサーボによって追従できなくなってしまう。このように、光ディスクを高速で回転させて高速での書き込みが行われる場合における、偏心量、面振れ量、デトラック量の影響に応じた適切な回転速度の制御を行うことのできる技術は提示されていない。
【０００６】
なお、上記の特許文献１に記載された技術では、面振れによる再生への影響を考慮してディスクを低速回転させているが、偏心量やデトラック量による影響については何ら開示されていない。また、上記の特許文献２に記載された技術では、ディスクの再生に先立って、偏心量および面振れ量に基づいたディスクの回転制御が行われているが、当該技術においてもデトラック量による影響については何ら開示されていない。つまり、特許文献１および２では、ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクにて再生を行う場合の制御について開示されているが、光ディスクへの記録を行う場合における偏心量、面振れ量、デトラック量の影響によるディスク振れについては考慮されていない。
【０００７】
本発明は、以上のような技術的課題を解決するためになされたものであって、その目的とするところは、ディスク固有の偏心量、面振れ量、デトラック量に応じて当該ディスクの回転速度を制御し、記録品位を維持することにある。
また、他の目的は、ディスクの回転速度を制御することにより、ディスク振れの周波数を抑制し、低消費電力での記録を行うことにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
かかる目的のもと、本発明は、以下のような機能を備えた光記録装置を提供する。すなわち、光ディスクへのデータの記録を行う光記録装置は、回転駆動手段と、データ書き込み手段と、デトラック量計測手段と、制御手段とを備える。この光記録装置において、回転駆動手段は、光ディスクを回転駆動し、データ書き込み手段は、この光ディスクへのデータの記録に際して光線を発生し、この光線により所定のデータを光ディスクの記録領域に記録する。そして、デトラック量計測手段は、この光ディスクが高線速で回転された際のデトラック量を計測し、制御手段は、このデトラック量計測手段により計測されたデトラック量が所定の閾値を超えた場合に、回転駆動手段による光ディスクの回転速度を低線速とする制御を行う。上記の光ディスクには、光学手段と磁気手段とによりデータを書き込む（記録する）ことのできる光磁気ディスクを含み、また、光記録装置には、この光磁気ディスクにデータを記録することのできる光磁気記録装置を含むものとする。
ここで、このデトラック量計測手段は、データ書き込み手段により出力されるトラッキングエラー信号に基づいて、トラッキングサーボを行わなかった場合におけるトラバースレベル、およびトラッキング制御を行った場合におけるデトラック量を計測する。そして、制御手段は、計測されたトラバースレベルとデトラック量とに基づいて所定の閾値を決定する。この所定の閾値としては、トラッキングサーボによる追従が不可能となるデトラック量の値とすることができ、また、デトラック量のトラバースレベルに対するパーセンテージと予め設定されたパーセンテージを超えた場合とを比較することも可能である。
また、この光記録装置において、この制御手段は、回転駆動手段による光ディスクの回転速度を低線速とした後には、この光ディスクが交換されるまで、または装置の電源の再起動が行われるまで低線速での制御を維持する。
【０００９】
またここで、この光記録装置は、面振れ量計測手段をさらに備えた構成とすることができる。この面振れ量計測手段は、この光ディスクが高線速で回転された際の面振れ量を計測し、制御手段は、この面振れ量計測手段により計測された面振れ量が所定の閾値を超えた場合に、回転駆動手段による光ディスクの回転速度を低線速とする。このような構成において、面振れ量計測手段は、光ディスク上における光線のフォーカスサーボを行うフォーカスドライブ電圧と、回転駆動手段の回転に応じて出力される回転数検出信号との相関関係から、この光ディスクの回転周期毎の面振れ量を計測する。
【００１０】
さらにここで、この光記録装置は、偏心量計測手段をさらに備えた構成とすることができる。この偏心量計測手段は、この光ディスクが高線速で回転駆動された際の偏心量を計測し、制御手段は、この偏心量計測手段により計測された偏心量が所定の閾値を超えた場合に、回転駆動手段による光ディスクの回転速度を低線速とする。このような構成において、偏心量計測手段は、データ書き込み手段の視野振りに応じてこのデータ書き込み手段を駆動させるＷｐｐ（Ｗｏｂｂｌｅ　ＰｕｓｈＰｕｌｌ）電圧またはトラッキングドライブ電圧と、回転駆動手段の回転に応じて出力される回転数検出信号との相関関係から、この光ディスクの回転周期毎の偏心量を計測する。
【００１１】
また、上記の目的を達成する本発明は、以下のような光記録装置の制御方法を提供することができる。本発明にて提供される、光記録装置において記録を行う際の制御方法、すなわち、光記録装置の通常動作時における制御方法としては、少なくとも以下の３つの態様が挙げられる。
光ディスクへのデータの書き込みが可能な光記録装置の制御方法として、まず、１つめの態様は、トラッキングサーボ制御を行わない状態でこの光ディスクにおいて発生するトラッキングエラー信号からトラバースレベルを算出するステップと、トラッキングサーボ制御を行った状態で光ディスクへの高線速でのデータの書き込みの際に発生するトラッキングエラー信号からデトラック量を算出するステップと、算出されたトラバースレベルとデトラック量とに基づいて光ディスクの線速度を低線速に切り替えるステップとを含む。
【００１２】
また、光ディスクへのデータの書き込みが可能な光記録装置の制御方法として、２つめの態様は、光ディスクに照射される光ビームの焦点位置に応じて高線速でのこの光ディスクへのデータの書き込みの際に出力されるフォーカスドライブ電圧を計測するステップと、光ディスクの回転に応じて出力される回転数検出信号からこの光ディスクの回転周期を計測するステップと、計測された光ディスクの回転周期とフォーカスドライブ電圧とからこの光ディスクの回転周期毎の面振れ量を算出するステップと、算出された面振れ量に応じて光ディスクの線速度を低線速に切り替えるステップとを含む。
【００１３】
さらに、光ディスクへのデータの書き込みが可能な光記録装置の制御方法として、３つめの態様は、光ディスクに照射される光ビームの視野振りに応じて高線速でのデータの書き込みの際に出力されるＷｐｐ電圧またはトラッキングドライブ電圧を計測するステップと、光ディスクの回転に応じて出力される回転数検出信号からこの光ディスクの回転周期を計測するステップと、計測された光ディスクの回転周期とＷｐｐ電圧またはトラッキングドライブ電圧とからこの光ディスクの回転周期毎の偏心量を算出するステップと、算出された偏心量に応じて光ディスクの線速度を低線速に切り替えるステップとを含む。
【００１４】
またさらに、上記の目的を達成する本発明は、以下のような光記録再生装置の検査方法を提供することができる。本発明にて提供される、光記録再生装置の出荷調整時において、再生および記録の検査を行う光記録再生装置の検査方法は、偏心または面振れを発生する特性を有する調整用ディスクを用いて、データ再生における機器特性を調整するステップと、この調整用ディスクに対する高線速でのデータ記録における機器特性を調整するステップと、この調整用ディスクに対する低線速でのデータ記録における機器特性を調整するステップと、調整されたデータ再生における機器特性、高線速でのデータ記録における機器特性、および低線速でのデータ記録における機器特性とを装置内のメモリに記録する処置とを含む。
【００１５】
これらの処理により、高線速でのデータの記録が可能な光記録（再生）装置を用いて、ユーザが光ディスクにデータを記録させる通常動作時において、この光記録装置に装着された光ディスクに対して高線速での書き込みが可能な場合には高線速での書き込みを行い、高線速での書き込みが不可能な場合には低線速に切り替えて書き込みを行うことができる。これにより、データの記録品位が損なわれるのを抑制することができる。
【００１６】
また本発明は、上述した光記録装置の通常動作時における制御方法、または出荷調整時における光記録再生装置の検査方法の各ステップによる処理を、これらの装置を制御するファームウェアプログラムとして実現することができる。このようなファームウェアプログラムが、光記録装置に設けられた書き替え可能なメモリに記録されていれば、このファームウェアプログラムを書き替えることも可能であり、バージョンアップ等を容易に行うことができる。
【００１７】
ここで、上記の目的を達成する本発明は、高線速での光ディスクへのデータの書き込みが可能な光記録装置を制御する、以下のようなプログラムを提供することができる。すなわち、このプログラムは、光記録装置に装着された光ディスクについて、サーボ制御の実行時および非実行時における回転に伴って発生するトラッキングエラー信号を計測する処理と、この光ディスクの回転に応じて焦点方向の制御（フォーカスサーボ）を行うために出力されるフォーカスドライブ電圧を計測する処理と、この光ディスクの回転に応じて半径方向の制御を行うために出力されるＷｐｐ電圧またはトラッキングドライブ電圧を計測する処理と、トラッキングエラー信号、フォーカスドライブ電圧、およびＷｐｐ電圧またはトラッキングドライブ電圧の何れかの値がサーボ機能により追従可能な範囲を超えた場合に、この光ディスクの線速度を低線速に切り替える処理とを光記録装置に実行させ、この光記録装置を制御する。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施の形態について詳細に説明する。図１は、本実施の形態における光磁気記録装置の構成を示した説明図である。本実施の形態における光磁気記録装置は、ＭＤ等の光磁気記録媒体である光磁気ディスク５０を装着してデータの読み出し／書き込みを可能としており、大きく、機構部１０と制御部２０とを備えている。機構部１０は、この光磁気ディスク５０を回転させるスピンドルモータ１１、光磁気ディスク５０に対してレーザ光を照射して読み出し／書き込みを行なう光ピックアップ１２、光ピックアップ１２の位置を内周から外周まで移動させるためのスレッドモータ１３、磁界を形成して”０”、”１”信号を形成する磁界ヘッド１４、データの読み出し時と書き込み時で磁界ヘッド１４を移動させる可動機構１５を備えている。
【００１９】
また制御部２０は、システム全体を制御するシステムコントローラを備えると共に、デジタル信号処理を行なうデジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）の機能が集約されたＤＳＰマイコン２１、ユーザの操作の入力とユーザへの表示（ＬＣＤ表示等）を行なうフロントパネルブロック２２、エラー訂正に関する情報や読み出し／書き込みに関するデータの格納等を行なうＤＲＡＭ２４、各種機構部の駆動を行なうドライバ２５、光磁気ディスク５０より読み込まれたデータをエラー信号に変換するＲＦアンプ２６を備えている。また、ＤＳＰマイコン２１から得られたデジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器２７、このＤ／Ａ変換器２７からのアナログ信号を増幅する増幅器（ＡＭＰ）２８、ＡＭＰ２８で増幅された信号を音声として出力するスピーカ２９を備えている。さらに、マイク等の録音ソース３０と、この録音ソース３０からのアナログ信号をデジタル信号に変換してＤＳＰマイコン２１に出力するＡ／Ｄ変換器３１とを備えている。
【００２０】
図１の光磁気記録装置で、光磁気ディスク５０へのデータの書き込み時（記録時）には、フロントパネルブロック２２からのユーザ指示に基づき、録音ソース３０から入力されたアナログオーディオ信号が、Ａ／Ｄ変換器３１に供給されてデジタル信号に変換されてＤＳＰマイコン２１に入力される。この入力されたデジタル信号は、このＤＳＰマイコン２１において、例えばＡＴＲＡＣ（ａｄａｐｔｉｖｅｔｒａｎｓｆｏｒｍ　ａｃｏｕｓｔｉｃ　ｃｏｄｉｎｇ）処理（ＡＴＲＡＣは登録商標）により約１／５のデータ量にデータ圧縮される。このデータ圧縮されたデータは、ＤＲＡＭ２４に一旦、蓄えられると共に、エラー検出訂正用のエンコード処理が行われ、ＥＦＭ（８−１４変調）処理が行われる。そして、ドライバ２５を経由して磁界ヘッド１４に供給される。このとき、磁界ヘッド１４を移動させる可動機構１５は、この磁界ヘッド１４を光磁気ディスク５０に近接させるように動作する。一方、光磁気ディスク５０の磁界ヘッド１４側の面に対向して反対面に配置された光ピックアップ１２は、スレッドモータ１３によって記録位置が特定される。また、光磁気ディスク５０はスピンドルモータ１１により回転させられ、その回転は、ドライバ２５によって光磁気ディスク５０の線速度が一定となるように制御される。そして、光ピックアップ１２によるレーザ光の照射と、磁界ヘッド１４による変調磁界とによって、ドライバ２５からのデータが光磁気ディスク５０に記録される。
【００２１】
一方、再生時には、フロントパネルブロック２２からのユーザ指示に基づき、可動機構１５によって磁界ヘッド１４を光磁気ディスク５０から離間させ、磁界ヘッド１４の磁界を取り除き、光ピックアップ１２から弱いレーザ光を照射して反射光の偏光方向を検出して再生信号を抽出する。この再生信号は、ＲＦアンプ２６からＤＳＰマイコン２１に供給される。そして、この再生信号がＥＦＭ復調されると共に、エラー訂正が行われ、もとのデータ圧縮された状態のデータが取り出される。その後、このデータ圧縮されたデータがもとのデジタルオーディオデータに伸長され、Ｄ／Ａ変換器２７によってアナログ変換された後にＡＭＰ２８で増幅され、スピーカ２９によって音声出力される。
【００２２】
図２は、図１に示したＤＳＰマイコン２１の構成を詳述するためのブロック図である。本実施の形態が適用されるＤＳＰマイコン２１は、ＣＰＵおよび内部メモリを用いて、例えばファームウェアにより演算処理を行い、各ブロックとの通信、指令を行なうシステムコントローラ６１、光ピックアップ１２から入力される各種信号の振り分けを行うＲＦアンプ２６と、ＲＦアンプ２６から入力されるＡＤＩＰ（Ａｄｄｒｅｓｓ　ｉｎ　Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）信号を復号化してシステムコントローラ６１に出力するＡＤＩＰデコーダ回路６２と、ＲＦアンプ２６から入力されるトラッキングエラー信号をＡ／Ｄ変換すると共にＡ／Ｄ変換されたトラッキングエラー信号をシステムコントローラ６１およびサーボフィルタ６６に出力するトラッキングエラー信号Ａ／Ｄコンバータ６３と、ＲＦアンプ２６から入力されるフォーカスエラー信号をＡ／Ｄ変換すると共にＡ／Ｄ変換されたフォーカスエラー信号をサーボフィルタ６６に出力するフォーカスエラー信号Ａ／Ｄコンバータ６４と、ＲＦアンプ２６から入力されるＷｐｐ（Ｗｏｂｂｌｅ　ＰｕｓｈＰｕｌｌ）信号をＡ／Ｄ変換すると共にＡ／Ｄ変換されたＷｐｐ信号をシステムコントローラ６１に出力するＷｐｐ信号Ａ／Ｄコンバータ６５とを備える。上記のサーボフィルタ６６は、トラッキングエラー信号Ａ／Ｄコンバータ６３とフォーカスエラー信号Ａ／Ｄコンバータ６４とから入力された各信号に基づいてサーボエラー信号を位相補償し、ドライブ信号として増幅させてシステムコントローラ６１に出力する。また、本実施の形態におけるＤＳＰマイコン２１は、スピンドルモータ１１へのディレイ信号を出力するモータディレイ回路６７と、スレッドモータ１３へのディレイ信号を出力するモータディレイ回路６８とをさらに備える。またさらに、このＤＳＰマイコン２１は、フロントパネルブロック２２への各種表示を制御する表示コントローラ６９を備える。
【００２３】
光ピックアップ１２にて読み出された信号は、ＲＦアンプ２６に入力され、ＲＦアンプ２６では、この再生信号をもとに、ＡＤＩＰ信号、およびオーディオデータとしてのＲＦ（ＥＦＭ）信号（図示せず）が生成され、ＤＳＰマイコン２１に供給される。このＡＤＩＰ信号からは、基準クロック（例えば１倍速なら、２２．５Ｈｚ）が抽出され、その反転時間を計測することによって、再生時の線速度が読み出される。そして、ＡＤＩＰデコーダ回路６２によって、アドレスデータおよびセクタデータとして読み出される。このセクタデータは、アドレス、記録内容に関する各種パラメータ、および圧縮されたオーディオデータである。
【００２４】
また、本実施の形態における光磁気記録装置は、ＤＳＰマイコン２１とドライバ２５によりサーボ制御機能（後に詳述する）を実現している。このサーボ制御機能にて実現されるフォーカスサーボによって、光磁気ディスク５０が回転することにより面振れが発生した場合に光ピックアップ１２より出力されるフォーカスエラー信号に応じて、光ピックアップ１２から光磁気ディスク５０に対して照射されるレーザ光の焦点を正確に合わせている。さらに、このサーボ制御機能にて実現されるトラッキングサーボによって、光磁気ディスク５０のトラックの横切りが発生した場合に光ピックアップ１２より出力されるトラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号とする）に応じて、光ピックアップ１２を光磁気ディスク５０のトラックに追従させている。またさらに、この光磁気記録装置の光ピックアップ１２には、後述するＰＤＩＣ（Ｐｈｏｔｏ　Ｄｅｔｅｃｔｏｒ　ＩＣ）回路が設けられており、このＰＤＩＣ回路によって上記のＷｐｐ信号が取得される。
【００２５】
さらに、本実施の形態の光磁気記録装置は、上記のサーボ制御機能によって最適なサーボ特性を実現させており、その出力はＰＷＭ変調（パルス幅変調）されてドライバ２５に供給される。また、モータディレイ回路６７，６８は、スピンドルモータ１１、スレッドモータ１３を駆動するために、回転検出信号（Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ　Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ、以下、ＦＧ信号とする）に対して一定の遅延を持たせて出力している。
【００２６】
図２に示すドライバ２５は、光ピックアップ１２を駆動させるサーボ駆動回路７１、モータディレイ回路６７からの出力を得てスピンドルモータ１１を駆動させる駆動回路７２、モータディレイ回路６８からの出力を得てスレッドモータ１３を駆動させる駆動回路７３、スピンドルモータ１１の回転を検出する回転検出コンパレータ７４、回転検出コンパレータ７４の出力からスピンドルモータ１１の回転数を読み出してＦＧ信号としてシステムコントローラ６１に出力するモータ回転数検出回路７５、スレッドモータ１３の回転を検出する回転検出コンパレータ７６、および、回転検出コンパレータ７６の出力からスレッドモータ１３の回転数を読み出してシステムコントローラ６１に出力するモータ回転数検出回路７７を備えている。駆動回路７２、７３は、モータディレイ回路６７，６８の出力をゲートとし、電源より電流を流してスピンドルモータ１１およびスレッドモータ１３を駆動するＨブリッジドライバ回路であり、モータディレイ回路６７，６８によってこれらの駆動回路７２，７３を制御することによりＣＬＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ　Ｌｉｎｅａｒ　Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）サーボが実現される。また、モータ回転数検出回路７５、７７では、スピンドルモータ１１（スレッドモータ１３）の相切り替え間隔（３相モータであれば、Ｕ、Ｖ、Ｗの駆動電流の向きを切り替えるまでの時間）を計測することにより、回転数を読み出している。
【００２７】
このような構成によって、スピンドルモータ１１（スレッドモータ１３）の逆起電圧がドライバ２５によってコンパレートされ、その出力（ＦＧ信号）から、ＤＳＰマイコン２１のシステムコントローラ６１では、スピンドルモータ１１（スレッドモータ１３）の相切り替えエッジの間隔が測定される。そして、得られたエッジ間隔から、スピンドルモータ１１（スレッドモータ１３）の回転周期がシステムコントローラ６１にて計算される。このように、本実施の形態が適用される光磁気記録装置では、再生線速度およびスピンドルモータ１１の回転数が読み出され、同時にデコードされたアドレスを読み出すことで、後述する手順の計測が実行される。
【００２８】
図３は、上述した各信号を検出するためのＰＤＩＣ回路８０について説明するためのブロック図である。図３に示すＰＤＩＣ回路８０は、光ピックアップ１２内に設けられ、この光ピックアップ１２から出力されるレーザ光を検知すると共に検知された光をＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの各信号として出力するフォトディテクタ（４分割ダイオード）８１と、このフォトディテクタ８１から出力された信号のうち所定帯域（例えば、１倍速の場合には２２．０５ｋＨｚ）だけの信号を通過させるバンドパスフィルタ８２，８３と、バンドパスフィルタ８２，８３を通過した信号の最大値および最小値を取得するピークホールド８４，８５と、このピークホールド８４，８５で取得された値の差分を取得する減算器８６とを備える。
【００２９】
フォトディテクタ８１からは、光ピックアップ１２が光磁気ディスク５０の外周側に振れたときに出力されるプラス電圧と、光ピックアップ１２が光磁気ディスク５０の内周側に振れたときに出力されるマイナス電圧とをＡ信号およびＤ信号として出力する。これらＡ信号およびＤ信号が、バンドパスフィルタ８２，８３およびピークホールド８４，８５を通過した後に減算器８６において演算処理される。このようなＰＤＩＣ回路８０によれば、光ピックアップ１２が中立位置からトラッキング方向（光磁気ディスク５０の半径方向）に振れた際の視野の振れ方に応じて出力される視野信号であるＷｐｐ信号を生成することができる。そして、このＰＤＩＣ回路８０にて生成されたＷｐｐ信号は、ＲＦアンプ２６を介して出力される。
【００３０】
また、フォトディテクタ８１により検知されたＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの各信号は、ＲＦアンプ２６へ出力される。ＲＦアンプ２６では、これらの各信号に基づいて
（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）
の演算を行う。そしてＲＦアンプ２６では、この演算結果の値から上記のＷｐｐ信号の値を減算してＴＥ信号が生成され、出力される。
【００３１】
図４は、ＲＦアンプ２６から出力されシステムコントローラ６１にて取得されるＴＥ信号の振幅の一例を示す図である。図４（ａ）では、光磁気記録装置に光磁気ディスク５０が挿入されてから、例えば４倍速の高線速度のサーボ設定（スピンドルモータ１１を高速で回転制御した場合）とし、かつフォーカスサーボをＯＮとした際の、トラッキングサーボがＯＮとなるまでの時間Ｔ１（トラッキングサーボＯＦＦ時、以下ＴＥｐｐ＿ｏｆｆ時）におけるＴＥ信号の振幅（以下、トラバースレベルとする）ＴＬ１、およびトラッキングサーボがＯＮとなってから所定時間Ｔ２（トラッキングサーボＯＮ時、以下ＴＥｐｐ＿ｏｎ時）におけるデトラックｐｐ（ｐｅａｋ　ｔｏ　ｐｅａｋ）ＰＰ１を示している。また、図４（ｂ）では、この光磁気記録装置に他の光磁気ディスク５０を挿入した場合における、上記と同様の条件下でのトラバースレベルＴＬ２、およびＴＥｐｐ＿ｏｎ時におけるデトラックｐｐＰＰ２を示している。
【００３２】
図４（ａ）に示したＴＥｐｐ＿ｏｎ時におけるデトラックｐｐＰＰ１と、図４（ｂ）に示したＴＥｐｐ＿ｏｆｆ時におけるデトラックｐｐＰＰ２とを対比すると、図４（ａ）に示したｐｐＰＰ１の方が図４（ｂ）に示したｐｐＰＰ２よりも小さい。すなわち、ＴＥ信号の振幅が小さいということは、デトラック量が小さいということである。本実施の形態では、このＴＥｐｐ＿ｏｎ時におけるデトラック量が、ＴＥｐｐ＿ｏｆｆ時におけるデトラック量の５０［％］程度になった場合に、光磁気ディスク５０に対する高線速での書き込みが不可能であるものとする。以下では、上記のようにデトラック量のパーセンテージ（比率）に基づいた判断を行うものとして説明するが、この比率に代えて、予め閾値を定めておき、ＴＥｐｐ＿ｏｎ時におけるデトラック量が、この閾値（例えば、±０．１［μｍ］）を超えた場合を判断基準としても構わない。
【００３３】
図５は、高線速度においてシステムコントローラ６１にて取得されるＴＥ信号の波形の一例を示す図である。ここでは、ＴＥｐｐ＿ｏｎ、かつＣＬＶサーボＯＮとした場合におけるＴＥ信号の波形を示す。図示するように、システムコントローラ６１にて取得されるＴＥ信号の波形は、複数のピークホールドＴＥｐｋと、複数のボトムホールドＴＥｂｍとを有する。
【００３４】
システムコントローラ６１は、このような波形として入力されたＴＥ信号のピークホールドＴＥｐｋにおいて、最初のピークホールドＴＥｐｋから所定の傾きａで減少する直線を生成する。そして、この直線とＴＥ信号の波形とが交わった際には、ＴＥ信号の値の方が大きくなるので、次のピークホールドＴＥｐｋに達するまでＴＥ信号に沿った値を取得する。また、システムコントローラ６１は、ＴＥ信号のボトムホールドＴＥｂｍにおいて、最初のボトムホールドＴＥｂｍから所定の傾きｂで増加する直線を生成し、この直線とＴＥ信号の波形とが交わった際に次のボトムホールドＴＥｂｍに達するまでＴＥ信号に沿った値を取得する。そうすることにより、ＴＥ信号内の突発的な値（ノイズ）を除外し、ＴＥ信号のピークをより正確に取得することができる。本実施の形態では、ＴＥｐｐ＿ｏｎ、かつＣＬＶサーボＯＮとした場合におけるＴＥｐｋおよびＴＥｂｍの平均値を算出するが、この平均値を算出するのに十分かつ演算し易いように、例えば２５６サンプルの値を取得するものとする。
【００３５】
そして、上述のようにして得られた、ある時間内におけるピークホールドＴＥｐｋおよびボトムホールドＴＥｂｍの２５６サンプル分の平均値を、ＴＥｐｋ＿ａおよびＴＥｂｍ＿ａとすると、その差分ＴＥｐｐ＿ｏｎは
ＴＥｐｐ＿ｏｎ　＝　ＴＥｐｋ＿ａ　−　ＴＥｂｍ＿ａ
と示すことができる。
また、ＴＥｐｐ＿ｏｎ時におけるＴＥｐｐ＿ｏｆｆ時に対するデトラック量のパーセンテージｄｅｔｒａｃ［％］は
ｄｅｔｒａｃ　＝　ＴＥｐｐ＿ｏｎ　／　ＴＥｐｐ＿ｏｆｆ　＊　１００
と示すことができる。
【００３６】
このようにして求められたデトラック量のパーセンテージｄｅｔｒａｃ［％］が所定値以上、例えば閾値として設定された５０［％］を超えた場合には、システムコントローラ６１は、現在挿入されている光磁気ディスク５０に対して高線速での記録はできないと判断する。そして、システムコントローラ６１は、光磁気ディスク５０への記録を中断し、ドライバ２５によるスピンドルモータ１１の駆動制御を低線速に切り替えて再び記録を開始する。また、ｄｅｔｒａｃ［％］が上記の閾値を超えない限り、高線速での記録を維持することができる。
上記のｄｅｔｒａｃ［％］は、ドライバ２５のサーボ駆動回路７１、駆動回路７２，７３等の性能によって異なり、高線速から低線速に切り替える際の閾値は、このドライバ２５のサーボ性能に応じて任意に設定することができる。
【００３７】
本実施の形態のシステムコントローラ６１は、上述のｄｅｔｒａｃ［％］が閾値以下であり、高線速にて記録を行うのに十分小さいと判断された場合（デトラックの影響が十分に小さい場合）であっても、面振れによる影響を考慮して、さらに以下のような制御を行う。
【００３８】
図６は、本実施の形態において計測されるフォーカスドライブ電圧とＦＧ信号との関係について説明する図である。上述のように、スピンドルモータ１１によって回動される光磁気ディスク５０の回転に面振れが発生すると、ＲＦアンプ２６からはフォーカスエラー信号が出力される。そしてドライバ２５は、このフォーカスエラー信号に応じて光ピックアップ１２から光磁気ディスク５０に対して照射されるレーザ光の焦点を制御する。その際、トラッキングサーボをＯＮとした状態において、ドライバ２５から光ピックアップ１２に対して出力されるフォーカスドライブ電圧は、図６に示すように変化する。また、スピンドルモータ１１が回転することにより発生し、ドライバ２５を介してシステムコントローラ６１にて取得されるＦＧ信号を所定回数（例えば、このスピンドルモータ１１の回転周期毎に８回）読み出す。すると、ドライバ２５から出力されるフォーカスドライブ電圧と、スピンドルモータ１１から出力されるＦＧ信号とは、図６に示すような関係となる。
【００３９】
図６に示したフォーカスドライブ電圧とＦＧ信号とから、システムコントローラ６１は、スピンドルモータ１１が１回転する間に（回転周期毎の）フォーカスドライブ電圧の最大値Ｆｄ＿ｍａｘおよび最小値Ｆｄ＿ｍｉｎを読み取ることができる。このフォーカスドライブ電圧の最大値Ｆｄ＿ｍａｘおよび最小値Ｆｄ＿ｍｉｎの差分Ｆｄ＿ｐｐは
Ｆｄ＿ｐｐ　＝　Ｆｄ＿ｍａｘ　−　Ｆｄ＿ｍｉｎ
と示すことができる。
【００４０】
このようにして求められたスピンドルモータ１１の回転周期毎のフォーカスドライブ電圧の最大値Ｆｄ＿ｍａｘおよび最小値Ｆｄ＿ｍｉｎの差分Ｆｄ＿ｐｐが所定の閾値以上、例えば０．２［Ｖ］を超えた場合には、光磁気ディスク５０の外周における面振れ量は、中立位置から約０．２［ｍｍ］となり、振れ幅は約０．４［ｍｍ］となる。このように振れ幅が大きいということは、デトラック量が大きいということであり、したがって、システムコントローラ６１は、現在挿入されている光磁気ディスク５０に対して高線速での記録はできないものと判断する。そして、光磁気ディスク５０への記録を中断し、ドライバ２５によるスピンドルモータ１１の駆動制御を低線速に切り替えて再び記録を開始する。また、この差分Ｆｄ＿ｐｐが上記の閾値を超えない限り、高線速での記録を維持することができる。
【００４１】
以上では、トラッキングエラーから得られるデトラック量、およびフォーカスエラーに応じて出力されるフォーカスドライブ電圧から得られる面振れ量に基づいて光磁気ディスク５０の線速度を切り替える場合について例示したが、これらに代えて光磁気ディスク５０の偏心量に基づいて線速度を切り替えることも可能である。偏心量を示すＷｐｐ信号は、以下に示すような波形にてＲＦアンプ２６から出力される。
【００４２】
図７は、ＲＦアンプ２６から出力されシステムコントローラ６１にて取得されるＷｐｐ信号の波形の一例を示す図である。図７（ａ）は、スピンドルモータ１１の回転周期毎に光磁気ディスク５０が回転している状態における偏心量Ｗ１が１５［μｍ］の場合に出力されるＷｐｐ信号の一例を、図７（ｂ）は偏心量Ｗ２が１００［μｍ］の場合に出力されるＷｐｐ信号の一例を示している。本実施の形態では、この偏心量が閾値として設定された５０［μｍ］を超えた場合に、システムコントローラ６１は、現在挿入されている光磁気ディスク５０に対して高線速での記録はできないと判断する。したがって、光磁気ディスク５０の偏心量が、図７（ａ）に示した範囲内であれば高線速での書き込みが可能であるが、この偏心量が、図７（ｂ）に示した状態となった場合には高線速での書き込みは不可能である。
【００４３】
ところで、スピンドルモータ１１が１回転する毎（回転周期毎）に検知されるＷｐｐ信号およびこのＷｐｐ信号に基づいて出力されるＷｐｐ電圧およびトラッキングドライブ電圧は共に、光磁気ディスク５０の外周側における最大駆動時の視野振り量とこの光磁気ディスク５０の内周側における最小駆動時の視野振り量との差分にて示される。この差分に対して所定の換算を行うことにより、偏心量［μｍ］を求めることができる。ここで、上記のＰＤＩＣ回路８０において偏心量を検知するＷｐｐ感度［μｍ／Ｖ］をＣ１、トラッキング感度［μｍ／Ｖ］をＣ２とすると、スピンドルモータ１１の回転周期毎の偏心量、すなわち光ピックアップ１２の視野振り量は、
Ｃ１　×　Ｗｐｐ電圧［Ｖ］
または
Ｃ２　×　トラッキングドライブ電圧［Ｖ］
とすることができる。
つまり、光ピックアップ１２の視野振りは、Ｗｐｐ信号に応じてドライバ２５からスレッドモータ１３に対して出力されるＷｐｐ電圧、またはトラッキングドライブ電圧によって制御される。そこで、本実施の形態では、これらＷｐｐ電圧とトラッキングドライブ電圧とから、偏心量が所定の閾値を超えるか否かを判断することができる。
つまり、光ピックアップ１２の視野振りは、スレッドモータ１３に対して出力されるＷｐｐ電圧、またはトラッキングドライブ電圧によって制御される。
【００４４】
図８は、本実施の形態において出力されるトラッキングドライブ電圧とＦＧ信号との関係について説明する図である。
上述のように、スピンドルモータ１１によって回動される光磁気ディスク５０の回転に偏心がある場合には、ＲＦアンプ２６からＷｐｐ信号が出力される。システムコントローラ６１は、このＷｐｐ信号に応じてトラッキングサーボをＯＮとし、ドライバ２５のサーボ制御によりスレッドモータ１３を駆動する。その際、ドライバ２５からスレッドモータ１３に対して出力されるトラッキングドライブ（以下、Ｔｄ）とする電圧は、図８に示すように変化する。また、Ｔｄ電圧と共にスピンドルモータ１１の回転に応じたＦＧ信号が、例えば回転周期毎に８回読み出される。すると、Ｔｄ電圧とＦＧ信号とは、図８に示すような関係となる。システムコントローラ６１は、スピンドルモータ１１の回転周期毎のＴｄ電圧の最大値Ｔｄ＿ｍａｘおよび最小値Ｔｄ＿ｍｉｎを読み取る。これらＴｄ＿ｍａｘとＴｄ＿ｍｉｎとの差分Ｔｄ＿ｐｐは
Ｔｄ＿ｐｐ　＝　Ｔｄ＿ｍａｘ　−　Ｔｄ＿ｍｉｎ
と示すことができる。
このようにして求められたＴｄ＿ｐｐが所定の閾値以上、例えば０．５［Ｖ］を超えた場合には、光磁気ディスク５０の偏心量は、約５０［μｍ］となる。そこで、システムコントローラ６１は、現在挿入されている光磁気ディスク５０に対して高線速での記録はできないものと判断して、この光磁気ディスク５０への記録を中断し、ドライバ２５によるスピンドルモータ１１の駆動制御を低線速に切り替えて再び記録を開始する。また、Ｔｄ＿ｐｐが上記の閾値を超えない限り、高線速での記録を維持することができる。
【００４５】
図９は、本実施の形態において出力されるＷｐｐ電圧とＦＧ信号との関係について説明する図である。
図８に示したＴｄ電圧とＦＧ電圧との関係と同様に、光磁気ディスク５０の偏心に応じて出力されるＷｐｐ電圧とＦＧ信号とは、図９に示すような関係となる。システムコントローラ６１は、スピンドルモータ１１の回転周期毎のＷｐｐ電圧の最大値Ｗｐｐ＿ｍａｘおよび最小値Ｗｐｐ＿ｍｉｎを読み取る。これらＷｐｐ＿ｍａｘとＷｐｐ＿ｍｉｎとの差分Ｗｐｐ＿ｐｐは
Ｗｐｐ＿ｐｐ　＝　Ｗｐｐ＿ｍａｘ　−　Ｗｐｐ＿ｍｉｎ
と示すことができる。
このようにして求められたＷｐｐ＿ｐｐが所定の閾値以上、例えば０．５［Ｖ］を超えた場合には、光磁気ディスク５０の偏心量は、約５０［μｍ］となる。そこで、システムコントローラ６１は、現在挿入されている光磁気ディスク５０に対して高線速での記録はできないものと判断して、この光磁気ディスク５０への記録を中断し、ドライバ２５によるスピンドルモータ１１の駆動制御を低線速に切り替えて再び記録を開始する。また、Ｗｐｐ＿ｐｐが上記の閾値を超えない限り、高線速での記録を維持することができる。
【００４６】
このように、本実施の形態では、フォーカスドライブ電圧より面振れ量を計測し、この面振れ量から高線速記録の可否を判断するのに代えて、Ｗｐｐ電圧またはトラッキングドライブ電圧より偏心量を計測し、この偏心量に基づいて高線速記録の可否を判断することができる。そしてシステムコントローラ６１は、デトラック量、面振れ量に基づいた線速度の切り替えを行う場合と同様に、計測された偏心量が閾値（例えば、４倍速において［５０μｍ］）を超えた場合に光磁気ディスク５０の線速度を低線速に切り替えることができる。
【００４７】
ここで、光磁気ディスク５０の回転速度が低線速に切り替わった場合は、その光磁気ディスク５０固有の特性により、高線速での記録は不可能であるものと考えられる。そこで本実施の形態では、システムコントローラ６１の制御により、この光磁気ディスク５０が交換されるまで、または光磁気記録装置の電源が再起動されるまで低線速での記録を行うこととする。
【００４８】
以下、フローチャートを用いて、本実施の形態に示す光磁気記録装置のファームウェアにより実現される処理の流れについて説明する。
図１０および図１１は、本実施の形態に示す光磁気記録装置の通常動作時における処理の流れを示すフローチャートである。ユーザによるフロントパネルブロック２２への操作により、光磁気記録装置の電源が投入され、この光磁気記録装置に光磁気ディスク５０が挿入されると（ステップ１００１）、ＤＳＰマイコン２１により内部メモリに保持されていた低線速での記録を行うためのフラグである低線速フラグがクリアされる（ステップ１００２）。ここで、ＤＳＰマイコン２１では、フロントパネルブロック２２への操作により光磁気ディスク５０へのデータの記録を開始する要求があるか否かの判断が行われ（ステップ１００３）、記録開始要求があるまで待機する。ステップ１００３において記録開始要求があると判断されると、ＤＳＰマイコン２１では、この記録要求が高線速での高速記録要求であるか否かの判断が行われる（ステップ１００４）。ステップ１００４において高速記録要求ではないと判断された場合には、ＤＳＰマイコン２１により低線速での低速記録を開始するように光磁気記録装置が制御される（図１１、ステップ１０２３）。そして、ＤＳＰマイコン２１では、フロントパネルブロック２２への操作により、光磁気ディスク５０への記録を停止する要求があるか否かの判断が行われ（ステップ１０２４）、記録停止要求が検出されるまで低線速での記録が維持される。
【００４９】
ステップ１００４において高速記録要求があると判断されると、ＤＳＰマイコン２１では、低速記録フラグのＯＮ／ＯＦＦの判断が行われる（ステップ１００５）。ユーザによるフロントパネルブロック２２への操作により、低速記録フラグがＯＮとされた場合には、ＤＳＰマイコン２１では、このフラグ状態に基づいて低速記録が開始され、（ステップ１０２３）、低線速での記録が維持される（ステップ１０２４）。ステップ１００５において低速記録フラグがＯＦＦであると判断された場合にＤＳＰマイコン２１では、高線速での記録を行うための光ピックアップ１２に対する各種サーボ設定、スピンドルモータ１１およびスレッドモータ１３を駆動するドライバ２５に対する駆動設定が行われる（ステップ１００６）。
【００５０】
ステップ１００６において高速記録設定が行われるとＤＳＰマイコン２１では、フォーカスサーボをＯＮ、かつトラッキングサーボＯＦＦの状態とした場合にＲＦアンプ２６から出力されるＴＥ信号から、このＴＥ信号の振幅であるトラバースレベルＴＥｐｐ＿ｏｆｆが計測される（ステップ１００７）。さらにＤＳＰマイコン２１では、この高速記録設定において、トラッキングサーボＯＮ、かつＣＬＶサーボＯＮの設定が行われる（ステップ１００８）。そして、ＲＦアンプ２６によりＴＥ信号の波形のピークホールドＴＥｐｋとボトムホールドＴＥｂｍが取得され、これら取得された各値は、ＤＳＰマイコン２１に計測値として出力される（ステップ１００９）。
【００５１】
ステップ１００９におけるＴＥｐｋおよびＴＥｂｍの計測が所定回数、例えば２５６回行われ、ＴＥｐｋおよびＴＥｂｍが各々２５６サンプル取得されると、ＤＳＰマイコン２１では、これらのサンプルの平均値としてＴＥｐｋ＿ａおよびＴＥｂｍ＿ａが求められる。そして、これらＴＥｐｋ＿ａおよびＴＥｂｍ＿ａの値の差分であるトラックずれの振れ幅（デトラック量）がＴＥｐｐ＿ｏｎとして算出される（ステップ１０１０）。さらに、ＤＳＰマイコン２１により、ステップ１００７にて計測されたトラバースレベルＴＥｐｐ＿ｏｆｆと、ステップ１０１０にて算出されたＴＥｐｐ＿ｏｎとから、ＴＥｐｐ＿ｏｎ時におけるＴＥｐｐ＿ｏｆｆ時に対するデトラック量のパーセンテージであるｄｅｔｒａｃ［％］が算出される（ステップ１０１１）。ここでＤＳＰマイコン２１では、ステップ１０１１における算出結果が、所定の閾値以上（例えば、５０［％］以上）であるか否かの判断が行われる（ステップ１０１２）。
【００５２】
ステップ１０１２においてｄｅｔｒａｃ［％］が５０［％］以上であると判断された場合にＤＳＰマイコン２１により、ＣＬＶサーボによる線速度の制御が高線速から低線速に切り替えられ（図１１、ステップ１０２１）、内部メモリに保持された低線速記録フラグがＯＮの状態とされる（ステップ１０２２）。そして、このフラグ状態に基づいて低速記録が開始され（ステップ１０２３）、低線速での記録が維持される（ステップ１０２４）。
ステップ１０１２においてｄｅｔｒａｃ［％］が５０［％］未満であると判断された場合にＤＳＰマイコン２１では、高線速での高速記録を開始するように光磁気記録装置の制御が行われる（ステップ１０１３）。
【００５３】
さて、ステップ１０１３において高速記録が開始されると、ＤＳＰマイコン２１では、光磁気ディスク５０の面振れによるフォーカスエラー信号に応じて変化するフォーカスドライブ電圧Ｆｄ（ｎ）、および／または、光磁気ディスク５０の偏心による光ピックアップ１２の視野振れに応じて出力されるＷｐｐ信号であるＷｐｐ（ｎ）の計測が行われる（ステップ１０１４）。これらＦｄ（ｎ）および／またはＷｐｐ（ｎ）の計測は、スピンドルモータ１１が１回転する間に例えば８回計測され、それぞれＦｄ（１）〜Ｆｄ（８）、Ｗｐｐ（１）〜Ｗｐｐ（８）として順次計測される。ＤＳＰマイコン２１では、ステップ１０１４における計測が行われる度にスピンドルモータ１１が１回転したか否かの判断が行われ（ステップ１０１５）、上記の計測結果が得られるまで計測を繰り返し行う。また、この偏心については、Ｗｐｐ電圧に代えてＴｄ電圧を計測することも可能である。
【００５４】
ステップ１０１４およびステップ１０１５の処理が繰り返され、８回の計測が行われると、ＤＳＰマイコン２１では、Ｆｄ（ｎ）およびＷｐｐ（ｎ）の最大値および最小値が得られる。そこで、これらの最大値および最小値の差分であるＦｄ＿ｐｐおよびＷｐｐ＿ｐｐが算出される（ステップ１０１６）。そして、ＤＳＰマイコン２１では、ステップ１０１６において算出されたＦｄ＿ｐｐが、面振れ量が許容範囲を超える所定の閾値以上（例えば、０．２［Ｖ］以上）であるか否かの判断が行われる（ステップ１０１７）。ステップ１０１７において、Ｆｄ＿ｐｐが０．２［Ｖ］以上であると判断された場合には、ステップ１０２１〜ステップ１０２４の処理が行われ、低線速低速記録が開始、維持される。
【００５５】
また、ステップ１０１７においてＦｄ＿ｐｐが０．２［Ｖ］未満であると判断された場合にＤＳＰマイコン２１では、さらに、ステップ１０１６において算出されたＷｐｐ＿ｐｐが、偏心量が許容範囲を超える所定の閾値以上（例えば、０．５［Ｖ］以上）であるか否かの判断が行われる（ステップ１０１８）。ステップ１０１８において、Ｗｐｐ＿ｐｐが０．５［Ｖ］以上であると判断された場合には、ステップ１０２１〜ステップ１０２３の処理が行われる。また、ステップ１０１８において、Ｗｐｐ＿ｐｐが０．５［Ｖ］未満であると判断された場合にＤＳＰマイコン２１では、高速記録を継続するための制御が維持される（ステップ１０１９）。ステップ１０１９において高速記録が維持された後に、ＤＳＰマイコン２１では、フロントパネルブロック２２への操作により、光磁気ディスク５０への記録を停止する要求があるか否かの判断が行われる（ステップ１０２０）。ステップ１０２０において記録停止要求がないと判断されると、ＤＳＰマイコン２１は、ステップ１０１４〜ステップ１０２０の処理を繰り返して高速記録を維持する。ここで、Ｆｄ＿ｐｐまたはＷｐｐ＿ｐｐが閾値を超えた場合には、低速記録への切り替えが行われる。また、ステップ１０２０において記録停止要求があると判断されると、光磁気ディスク５０への記録を停止して処理が終了される。
【００５６】
また、上述のような機能を備えた光磁気記録装置では、この光磁気記録装置に実装されたファームウェアにより、以下のようにして出荷調整を行うことができる。
図１２は、本実施の形態における光磁気記録装置の出荷調整時における処理の流れを示すフローチャートである。この光磁気記録装置は、図１０および図１１で説明した通常動作ばかりでなくテストモードにて起動することができる。そこで、出荷前の検査において、検査員によるフロントパネルブロック２２への操作、または検査機器からの信号入力により、この光磁気記録装置は、テストモードにて起動される（ステップ１２０１）。そして、この光磁気記録装置には、出荷調整用または出荷後の検査用に特別に規格化された調整用光磁気ディスクが挿入されると（ステップ１２０２）、検査員の操作に伴いＤＳＰマイコン２１では、出荷調整のための処理が開始される（ステップ１２０３）。この調整用光磁気ディスクとしては、例えば、ディスクフォーマットのほぼセンター特性を有するものであって、デトラック量が確実に検知されることを確認するためのもの、面振れ量が確実に検知されることを確認するためのもの、偏心量が確実に検知されることを確認するためのもの等が挙げられる。
【００５７】
ステップ１２０３において出荷調整処理が開始されると、再生専用の光磁気ディスクを用いた再生調整が行われる（ステップ１２０４）。この再生専用の光磁気ディスクの一例としては、例えば、データの記録を行うことができない再生専用のＭＤなどの光磁気ディスク等が挙げられる。次に、データの記録が可能な調整用光磁気ディスクを用いた再生調整が行われる（ステップ１２０５）。この再生調整としては、調整用光磁気ディスクにおける上記のデトラック、面振れ、偏心等への対処が可能となるような調整が行われる。また、高線速でＣＬＶサーボ制御された状態の調整用光磁気ディスクに対する記録調整が行われる（ステップ１２０６）。さらに、低線速でＣＬＶサーボされた状態の調整用光磁気ディスクに対する記録調整が行われる（ステップ１２０７）。ステップ１２０６およびステップ１２０７では、ステップ１２０５にて示したのと同様の条件下における記録調整が行われるものとする。
【００５８】
そして、ステップ１２０４〜ステップ１２０７における調整結果は、光磁気記録装置の基板上に設けられた不揮発性メモリに記録される（ステップ１２０８）。ステップ１２０８において調整結果が不揮発性メモリに記録されると、光磁気記録装置の出荷時における光磁気記録装置の調整が完了し、テストモードを終了させる（ステップ１２０９）。本実施の形態における機能を用いて、以上のような出荷調整を行うことにより、出荷後の通常動作時に必要に応じてこの調整結果を読み出すことにより、より正確な記録動作および再生動作の制御を行うことができる。
【００５９】
以上、本実施の形態にて示した光磁気記録装置は、光磁気ディスク５０を回転駆動する回転駆動手段としてのスピンドルモータ１１と、光磁気ディスク５０にレーザ光（光ビーム）を照射することにより当該光磁気ディスク５０に対してデータを記録（または光磁気ディスク５０のデータを再生する）データ書き込み手段（またはデータ読み込み手段）としての光ピックアップ１２（および磁気ヘッド１４）と、これら各手段を制御する制御手段としてのＤＳＰマイコン２１（システムコントローラ６１）とを備えている。また、この光磁気記録装置のＤＳＰマイコン２１は、さらに、光磁気ディスク５０が高線速で回転駆動されている場合における、トラバースレベルに対するデトラック量の比率からデトラック量のパーセンテージ（またはフォーカスサーボＯＮ時のデトラック量）を計測するデトラック量計測手段と、フォーカスドライブ電圧とＦＧ信号との相関関係から光磁気ディスク５０の面振れ量を計測する面振れ量計測手段と、Ｗｐｐ信号またはトラッキングドライブ電圧とＦＧ信号との相関関係から光磁気ディスク５０の偏心量を計測する偏心量計測手段として機能する。そして、制御手段は、上記のデトラック量計測手段、面振れ量計測手段、偏心量計測手段により検知された何れかの値が所定の閾値を超えた場合に、スピンドルモータ１１の回転駆動を制御することにより、光磁気ディスク５０の線速度を高線速から低線速に切り替える。
【００６０】
このように、本実施の形態によれば、トラッキングサーボＯＮ時のトラッキングサーボＯＦＦ時に対するデトラック量のパーセンテージ、記録時における光磁気ディスクの面振れ量に応じたフォーカスドライブ電圧の変化、または記録時における光磁気ディスクの偏心量に応じたＷｐｐ電圧またはトラッキングドライブ電圧の変化のいずれかに基づいて高線速での記録（書き込み）から低線速での記録への切り替え、すなわち線速度の変更を制御することができる。また、この線速度の切り替え制御は、再生時においても適用することができる。そうするにより、製品出荷後のユーザによる使用時において、光磁気ディスク（記録メディア）固有のデトラック量、面振れ量、偏心量等を考慮した線速度の制御が可能となる。そして、この線速度の切り替え制御により、個々のディスクに応じて音とびなどが発生するのを抑制し、製品による記録品位を維持することができる。
【００６１】
また、ＭＤなどの記録メディアでは、既に何らかのデータが記録されている記録メディアに新たなデータを上書きする場合には、ＴＯＣ情報を書き換える処理が行われる。このＴＯＣ情報の書き換えは、データの記録が終了した時点で行われるものである。本実施の形態では、データが記録されている記録メディアが高速記録可能か否かを、データ記録時に判定しているので、ＴＯＣを書き込む際に高速記録が原因となってこのＴＯＣ情報を壊し、データが消失するのをも防止することができる。
【００６２】
さらに、本実施の形態に示した線速度の切り替え制御を行うことにより、デトラック量、面振れ量、偏心量の影響による、ディスク振れの周波数を抑制することができるようになるため、光磁気ディスクへのデータ記録時における電力の消費を低減させることができる。
【００６３】
またさらに、本実施の形態では、これまで部品単位でしか行うことのできなかった製品出荷時の検査において、記録再生装置が組み上がった状態での製品検査を行うことができる。そして、この出荷時においては、上述したのと同様に、光磁気ディスクのデトラック量、面振れ量、偏心量に基づいた製品検査が可能である。このような製品出荷時の製品検査を行うことにより、記録再生装置の製品としての信頼性が向上する。また、この検査結果を保持することにより、出荷時においてこの記録再生装置が確実に動作していたことを保証することもができる。
【００６４】
ここで、本実施の形態では、高線速度を４倍速として例示し、高速書き込みが不可能な場合には、低線速度の２倍速にて低速書き込みを行う場合を例示したが、線速度の制御はこれに限られるものではない。例えば、８倍速、１２倍速等での書き込みが可能な光磁気記録装置であれば、線速度を段階的に低速度に変更して記録することももちろん可能である。
【００６５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ディスク固有の偏心量、面振れ量、デトラック量に応じて当該ディスクの回転速度を制御し、記録品位を維持することができる。
【００６６】
また、本発明によれば、ディスクの回転速度を制御することにより、ディスク振れの周波数を抑制し、低消費電力での記録を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施の形態における光磁気記録装置の構成を示した説明図である。
【図２】図１に示したＤＳＰマイコンの構成を詳述するためのブロック図である。
【図３】各信号を検出するためのＰＤＩＣ回路について説明するためのブロック図である。
【図４】ＲＦアンプから出力されシステムコントローラにて取得されるＴＥ信号の振幅の一例を示す図である。
【図５】高線速度においてシステムコントローラにて取得されるＴＥ信号の波形の一例を示す図である。
【図６】本実施の形態において計測されるフォーカスドライブ電圧とＦＧ信号との関係について説明する図である。
【図７】ＲＦアンプから出力されシステムコントローラにて取得されるＷｐｐ信号の波形の一例を示す図である。
【図８】本実施の形態において出力されるトラッキングドライブ電圧とＦＧ信号との関係について説明する図である。
【図９】本実施の形態において出力されるＷｐｐ電圧とＦＧ信号との関係について説明する図である。
【図１０】本実施の形態における光磁気記録装置の通常動作時における処理の流れを示すフローチャートである。
【図１１】本実施の形態における光磁気記録装置の通常動作時における処理の流れを示すフローチャートである。
【図１２】本実施の形態における光磁気記録装置の出荷調整時における処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１１…スピンドルモータ、１２…光ピックアップ、１３…スレッドモータ、２１…ＤＳＰマイコン、２５…ドライバ、２６…ＲＦアンプ、５０…光磁気ディスク、６１…システムコントローラ、６６…サーボフィルタ、６７…モータディレイ回路、６８…モータディレイ回路、７１…サーボ駆動回路、７４…回転検出コンパレータ、７５…モータ回転数検出回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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