(57)【要約】【課題】塵等の影響を受けることなく、簡易な構成で、迅速且つ確実に欠陥光電変換素子を検出することのできる画像読取装置を提供する。【解決手段】各感光部３７ａ、３７ｂから得られ規格化された画素信号Ａ′ｉ（ｐ）、Ｂ′ｉ（ｐ）の差分平均値Ｃａｖｅ（ｐ）を算出し、差分平均値Ｃａｖｅ（ｐ）を閾値±ＴＨと大小比較し、その比較結果に基づいて欠陥光電変換素子であるか否かを判定する。補正回路５４は、欠陥光電変換素子と判定された光電変換素子の画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）を隣接する正常な画素信号を用いて補正する。【選択図】図３
2004227493.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
主方向に複数の光電変換素子が配列されたラインセンサを前記主方向と直交する副方向に複数列配置した画像読取ユニットを、画像の記録された画像記録媒体に対して前記副方向に相対的に移動させ、前記画像を２次元的に読み取る画像読取装置において、
前記主方向の同一位置に配置された前記各副方向の前記各光電変換素子により得た各画素信号同士を比較演算する比較演算部と、
前記比較演算の結果に応じて欠陥光電変換素子を判定する欠陥光電変換素子判定部と、
を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
請求項１記載の装置において、
前記比較演算部は、前記各画素信号の差分値を前記副方向に平均した差分平均値を求め、前記差分平均値と所定の閾値とを比較演算することを特徴とする画像読取装置。
【請求項３】
請求項１または２記載の装置において、
前記欠陥光電変換素子と判定された欠陥光電変換素子数を計数し、前記欠陥光電変換素子数が所定の閾値を超えたとき警告信号を出力する警告信号発生部を備えることを特徴とする画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、主方向に複数の光電変換素子が配列されたラインセンサを前記主方向と直交する副方向に複数列配置した画像読取ユニットを、画像の記録された画像記録媒体に対して前記副方向に相対的に移動させ、前記画像を２次元的に読み取る画像読取装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えば、シート状の画像記録媒体に記録された画像を、複数の光電変換素子がライン状に配列されたＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）等のラインセンサを用いて主方向に読み取るとともに、前記ラインセンサを主方向と直交する副方向に移動させることにより、画像を２次元的に読み取る画像読取装置が知られている。
【０００３】
ところで、ラインセンサを構成する光電変換素子に欠陥があると、例えば、読み取った２次元画像の副方向に筋状のむらが出現して画質が低下する問題が生じる。なお、「欠陥」とは、光電変換素子から全く画素信号を得ることができないか、画素信号を得ることができたとしても、本来得られる信号レベルに達していないことをいう。
【０００４】
そこで、例えば、特許文献１に係る従来技術では、放射線を一様に照射した画像記録媒体である蓄積性蛍光体シートをラインセンサにより読み取り、あるいは、基準光源からライン状の一様の光をラインセンサに照射し、得られた各光電変換素子の画素信号を各光電変換素子に隣接する光電変換素子の画素信号と比較し、その差が所定の閾値を超えた場合、当該光電変換素子を欠陥光電変換素子として検出している。そして、検出された欠陥光電変換素子の画素信号を周囲の正常な光電変換素子の画素信号で置き換えることにより、画質の低下を回避するようにしている。
【０００５】
【特許文献１】
特開２００２−７２３７７号公報（段落［００４６］、［００４８］〜［００５０］）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記のようにして欠陥光電変換素子の検出を行う場合、例えば、画像記録媒体上や基準光源上に塵が付着していると、その塵を光電変換素子の欠陥として誤認してしまうおそれがある。この場合、当該光電変換素子が正常であるにも係わらず、欠陥光電変換素子として検出し、正しい画素信号を周囲の画素信号によって置き換えてしまうことになり、それによる画質の劣化を惹起することになる。
【０００７】
一方、欠陥光電変換素子の検出を行うためには、画像記録媒体に対して一様画像を記録し、あるいは、基準光源を準備しなければならない。一様画像の記録には、その分の処理時間が必要となるため、当該画像読取装置のメンテナンスを行う場合等を除き現実的ではない。また、欠陥光電変換素子の検出のために別途基準光源を準備することは、コストアップを招来する。
【０００８】
本発明は、前記の不具合を解消するためになされたものであり、塵等の影響を受けることなく、簡易な構成で、迅速且つ確実に欠陥光電変換素子を検出することのできる画像読取装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するために、本発明は、主方向に複数の光電変換素子が配列されたラインセンサを前記主方向と直交する副方向に複数列配置した画像読取ユニットを、画像の記録された画像記録媒体に対して前記副方向に相対的に移動させ、前記画像を２次元的に読み取る画像読取装置において、
前記主方向の同一位置に配置された前記副方向の前記各光電変換素子により得た各画素信号同士を比較演算する比較演算部と、
前記比較演算の結果に応じて欠陥光電変換素子を判定する欠陥光電変換素子判定部と、
を備えることを特徴とする。
【００１０】
この場合、比較演算の結果、副方向の各画素信号のレベルが異なるとき、当該光電変換素子のいずれかに欠陥光電変換素子が含まれていると判定することが可能である。
【００１１】
また、比較演算部は、副方向に配列された各画素信号の差分値を副方向に平均して差分平均値を求め、この差分平均値を所定の閾値と比較演算することにより、画像記録媒体や光源の一部に付着した塵による画素信号の変動の影響を除去し、欠陥光電変換素子であるか否かを確実に判定することができる。
【００１２】
なお、欠陥光電変換素子判定部によって欠陥であると判定された欠陥光電変換素子の数を計数し、その欠陥光電変換素子数が所定の閾値を超えたとき、警告信号を出力することにより、欠陥の発生による画質の劣化を事前に認識することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の画像読取装置が適用される放射線画像情報記録読取装置１０の概略構成図を示す。
【００１４】
放射線画像情報記録読取装置１０は、人体等の被写体１８の放射線画像を蓄積性蛍光体シートＩＰ（画像記録媒体）に一旦記録する放射線画像記録部１２と、前記蓄積性蛍光体シートＩＰの主方向（図１の面と直交する方向）にライン状の励起光Ｌを照射することで、放射線の強度に応じて発光する輝尽発光光Ｒを光電的に読み取る画像読取ユニット１４と、消去光源１５から出力される消去光Ｑを蓄積性蛍光体シートＩＰに照射し、残存している放射線エネルギを放出させる消去ユニット１６とを備える。
【００１５】
放射線画像記録部１２は、放射線Ｓを発生させる放射線源２０と、被写体１８を所定位置に保持する放射線透過性の撮影台２２とを備える。撮影台２２の後方には、フォトタイマ２３と、散乱線除去用のグリッド２４とが配置されており、前記グリッド２４のさらに後方には、蓄積性蛍光体シートＩＰが保持される。なお、蓄積性蛍光体シートＩＰは、図示しない移動機構により、２点鎖線で示す撮影位置と、実線で示す読取位置との間で矢印方向に移動可能に構成される。
【００１６】
画像読取ユニット１４および消去ユニット１６は、一体的に構成された状態でベルト２６に装着される。ベルト２６は、上部に配設された従動プーリ２８と、下部に配設された駆動プーリ３０との間に張架されており、下部の駆動プーリ３０には、駆動プーリ３０を回転させる駆動モータ３２が連結される。従って、画像読取ユニット１４および消去ユニット１６は、ベルト２６を介して矢印Ｙ方向（副方向）に移動可能に構成される。
【００１７】
画像読取ユニット１４は、励起光Ｌを出力する光源部３４と、蓄積性蛍光体シートＩＰに励起光Ｌをライン状に結像させる結像光学系３５と、励起光Ｌによって蓄積性蛍光体シートＩＰから得られた輝尽発光光Ｒを読み取るラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５と、ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５に輝尽発光光Ｒを集光させる集光光学系３６（１）〜３６（５）とを備える。
【００１８】
光源部３４は、ライン状の励起光Ｌを形成するべく、例えば、複数のレーザダイオードを主方向に配列して構成される。各ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５は、例えば、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）により構成され、図２に示すように、主方向（矢印Ｘ方向）に延在する２本の感光部３７ａ、３７ｂを有し、また、各感光部３７ａ、３７ｂは、多数の光電変換素子３９（図３参照）を主方向に配列して構成される。なお、ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５を２本の感光部３７ａ、３７ｂによって構成することにより、例えば、図３のハッチングで示すように、上下左右に隣接する４つの光電変換素子３９によって得られた画素信号を加算して、ノイズの影響のない画像信号を得ることができる。
【００１９】
画像読取ユニット１４の上部には、ラインセンサＣＣＤ１、ＣＣＤ３およびＣＣＤ５と、集光光学系３６（１）、３６（３）および３６（５）との組が主方向に所定間隔離間して配設される。また、画像読取ユニット１４の下部には、ラインセンサＣＣＤ２およびＣＣＤ４と、集光光学系３６（２）および３６（４）との組が主方向に所定間隔離間して配設される。
【００２０】
図２に示すように、ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５は、主方向（矢印Ｘ方向）に沿って千鳥状に配列される。ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５は、蓄積性蛍光体シートＩＰの領域ａ１〜ａ５から得られる輝尽発光光Ｒを受光する。この場合、隣接する各領域ａ１〜ａ５は、端部同士が重畳するように設定されており、これらの重畳する領域において輝尽発光光Ｒが各ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５によって重複して読み取られる。
【００２１】
図３は、各ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５を構成する感光部３７ａ、３７ｂの光電変換素子３９によって光電変換された画素信号を処理する信号処理回路４０のブロック図である。
【００２２】
信号処理回路４０は、感光部３７ａを構成する各光電変換素子３９からのアナログの画素信号をデジタルの画素信号Ａｉ（ｐ）に変換するＡ／Ｄ変換器４２ａと、感光部３７ｂを構成する各光電変換素子３９からのアナログの画素信号をデジタルの画素信号Ｂｉ（ｐ）に変換するＡ／Ｄ変換器４２ｂとを有する。
【００２３】
ここで、Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）は、ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５によって読み取られる蓄積性蛍光体シートＩＰの副方向のライン番号ｉ（図４参照）と、各感光部３７ａ、３７ｂを構成する光電変換素子３９の素子番号ｐとで特定される放射線画像情報の画素信号を表す。
【００２４】
信号処理回路４０は、また、画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）を規格化する規格化回路４４ａ、４４ｂと、規格化された画素信号Ａ′ｉ（ｐ）、Ｂ′ｉ（ｐ）の差分値Ｃｉ（ｐ）を算出する差分値算出回路４６と、差分値Ｃｉ（ｐ）の副方向に対する平均値である差分平均値Ｃａｖｅ（ｐ）を算出する差分平均値算出回路４８と、差分平均値Ｃａｖｅ（ｐ）を所定の閾値±ＴＨ（ＴＨ＞０）と大小比較する比較回路５０（比較演算部）と、比較回路５０による比較結果に応じて、当該光電変換素子３９に欠陥があるか否かを判定する判定回路５２（欠陥光電変換素子判定部）とを有する。
【００２５】
判定回路５２による判定結果は、補正回路５４に供給される。この場合、補正回路５４は、Ａ／Ｄ変換器４２ａ、４２ｂから出力される画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）のうち、欠陥光電変換素子と判定された光電変換素子３９の画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）の補正を行う。
【００２６】
信号処理回路４０は、さらに、判定回路５２により欠陥光電変換素子と判定された欠陥光電変換素子数αを計数する欠陥計数回路５６と、計数された欠陥光電変換素子数αを所定の閾値ＴＨ２（ＴＨ２＞０）と大小比較する比較回路５８（警告信号発生部）と、比較回路５８による比較結果に基づき、必要に応じて警告処理を行う警告処理部６０とを有する。
【００２７】
本実施形態の放射線画像情報記録読取装置１０は、基本的には以上のように構成されるものであり、次に、その動作について説明する。
【００２８】
放射線画像情報の記録に先立ち、蓄積性蛍光体シートＩＰが図１に示す２点鎖線の位置に配置されるとともに、画像読取ユニット１４および消去ユニット１６が放射線画像情報記録読取装置１０の上端部側に配置される。
【００２９】
患者が放射線画像記録部１２に移動すると、医師等の操作によって撮影台２２を昇降させる等の記録位置合わせが行われる。次いで、患者である被写体１８が撮影台２２に配置された状態で、医師等によって放射線源２０が駆動される。この放射線源２０から出力された放射線Ｓは、被写体１８を透過して蓄積性蛍光体シートＩＰに到達することにより、前記蓄積性蛍光体シートＩＰに放射線画像情報が記録される。
【００３０】
被写体１８の放射線画像情報の記録が終了すると、蓄積性蛍光体シートＩＰは、２点鎖線で示す位置から実線で示す位置に移動する。次いで、駆動モータ３２が駆動され、ベルト２６を介して画像読取ユニット１４および消去ユニット１６が矢印Ｙ方向に下降し、放射線画像情報の読取作業が開始される。
【００３１】
そこで、光源部３４が駆動されることで出力された励起光Ｌは、結像光学系３５によって集光され、主方向に沿ったライン状の励起光Ｌとして蓄積性蛍光体シートＩＰに導かれる。励起光Ｌが照射された蓄積性蛍光体シートＩＰからは、放射線画像情報を含む輝尽発光光Ｒが出力される。
【００３２】
蓄積性蛍光体シートＩＰの各領域ａ１〜ａ５（図２参照）から出力された輝尽発光光Ｒは、集光光学系３６（１）〜３６（５）を介してラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５に導かれ、各光電変換素子３９により電気信号に変換される。一方、画像読取ユニット１４は、副方向（矢印Ｙ方向）に移動し、蓄積性蛍光体シートＩＰに記録された放射線画像情報が２次元的に読み取られる。
【００３３】
ここで、各ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５は、２本の感光部３７ａ、３７ｂを有しており、各感光部３７ａ、３７ｂを構成する光電変換素子３９により得られた電気信号は、Ａ／Ｄ変換器４２ａ、４２ｂによってデジタルの画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）に変換された後、後段の判定回路５２において欠陥光電変換素子の判定処理が行われる一方、補正回路５４に供給され、欠陥光電変換素子と判定された光電変換素子３９の画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）の補正が行われる。
【００３４】
そこで、先ず、放射線画像情報に係る画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）から欠陥光電変換素子を判定する処理について説明する。
【００３５】
この場合、Ａ／Ｄ変換器４２ａからの感光部３７ａに係る画素信号Ａｉ（ｐ）は、規格化回路４４ａに供給され、
【００３６】
【数１】
2004227493.tif 000003
（ｍ：感光部３７ａを構成する光電変換素子３９の素子総数）
として画素信号Ａ′ｉ（ｐ）に規格化される。同様に、Ａ／Ｄ変換器４２ｂからの感光部３７ｂに係る画素信号Ｂｉ（ｐ）は、規格化回路４４ａに供給され、
【００３７】
【数２】
2004227493.tif 000004
（ｍ：感光部３７ｂを構成する光電変換素子３９の素子総数）
として画素信号Ｂ′ｉ（ｐ）に規格化される。
【００３８】
このようにして感光部３７ａおよび３７ｂから得られる画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）を規格化することにより、感光部３７ａ、３７ｂの感度ばらつき、あるいは、各感光部３７ａ、３７ｂ毎に設けられるＡ／Ｄ変換器４２ａ、４２ｂ等の信号処理回路の特性のばらつきによる影響を排除することができる。
【００３９】
規格化された画素信号Ａ′ｉ（ｐ）、Ｂ′ｉ（ｐ）は、差分値算出回路４６に供給され、副方向に対応する各光電変換素子３９の画素信号Ａ′ｉ（ｐ）、Ｂ′ｉ（ｐ）の差分値Ｃｉ（ｐ）が、
Ｃｉ（ｐ）＝Ａ′ｉ（ｐ）−Ｂ′ｉ（ｐ）                        （３）
として求められる。
【００４０】
ここで、例えば、図５に示すように、感光部３７ａの素子番号ｋの光電変換素子３９が欠陥光電変換素子であるとすると、通常、規格化された画素信号Ａ′ｉ（ｋ）は、規格化された画素信号Ｂ′ｉ（ｋ）よりも小さくなるため、差分値Ｃｉ（ｐ）が所定値以下であれば、感光部３７ａの素子番号ｋの光電変換素子３９が欠陥光電変換素子であると判定することができる。しかしながら、図４に示すように、蓄積性蛍光体シートＩＰ上のライン番号ｉの近傍であって素子番号ｋに対応する部位に塵６２が付着していると、その部位から輝尽発光光Ｒを得ることができないため、画素信号Ａ′ｉ（ｋ）、Ｂ′ｉ（ｋ）が共に小さくなり、差分値Ｃｉ（ｋ）から欠陥光電変換素子を判定することができない。また、欠陥光電変換素子であるか否かに係わらず、信号に対するノイズの影響により、画素信号Ａ′ｉ（ｋ）、Ｂ′ｉ（ｋ）が共に小さくなってしまうことも想定される。
【００４１】
そこで、差分値Ｃｉ（ｐ）を差分平均値算出回路４８に供給し、副方向に対する差分値Ｃｉ（ｐ）の平均値である差分平均値Ｃａｖｅ（ｐ）を、
【００４２】
【数３】
2004227493.tif 000005
（ｎ：副方向のライン総数）
として求める。この場合、塵６２の影響が希釈化され、また、信号に対するノイズの影響も平滑化されるため、これらの影響のない差分平均値Ｃａｖｅ（ｐ）を得ることができる。
【００４３】
次に、差分平均値Ｃａｖｅ（ｐ）は、比較回路５０に供給され、所定の閾値±ＴＨ（ＴＨ＞０）と大小が比較され、その比較結果が判定回路５２に供給される。この場合、判定回路５２は、（３）式の関係から、Ｃａｖｅ（ｓ）＞＋ＴＨであれば、感光部３７ｂの素子番号ｓの光電変換素子３９が欠陥光電変換素子であると判定し、Ｃａｖｅ（ｔ）＜−ＴＨであれば、感光部３７ａの素子番号ｔの光電変換素子３９が欠陥光電変換素子であると判定する（図６参照）。また、−ＴＨ≦Ｃａｖｅ（ｐ）≦＋ＴＨであれば、感光部３７ａ、３７ｂの素子番号ｐのいずれの光電変換素子３９も正常であると判定する。
【００４４】
判定回路５２による光電変換素子３９の欠陥判定結果は、補正回路５４に供給されるとともに、欠陥計数回路５６に供給される。欠陥計数回路５６は、判定回路５２によって欠陥と判定された欠陥光電変換素子数αを計数し、比較回路５８に供給する。比較回路５８は、欠陥光電変換素子数αを所定の閾値ＴＨ２（ＴＨ２＞０）と大小を比較し、その比較結果を警告処理部６０に出力する。警告処理部６０は、例えば、α＞ＴＨ２である場合、ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５に問題があるものと判定し、ユーザに対して警告音あるいは警告表示を発する。
【００４５】
一方、補正回路５４は、Ａ／Ｄ変換器４２ａ、４２ｂから供給された画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）のうち、判定回路５２によって欠陥光電変換素子と判定された光電変換素子３９の画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）を補正する。
【００４６】
例えば、感光部３７ａの素子番号ｋが欠陥光電変換素子と判定された場合、当該欠陥光電変換素子の主方向に隣接する正常な光電変換素子３９の画素信号Ａｉ（ｋ−１）およびＡｉ（ｋ＋１）の平均値を画素信号Ａｉ（ｋ）として補正することができる。なお、当該欠陥光電変換素子の主方向の両隣を含む近傍の３個所以上の正常な光電変換素子３９の画素信号を平均化して補正するようにしてもよい。また、感光部３７ａの画素信号Ａｉ（ｋ）を正常な感光部３７ｂの画素信号Ｂｉ（ｋ）で置き換えるようにしてもよい。さらに、当該欠陥光電変換素子の主方向および副方向の双方の正常な光電変換素子３９の画素信号の平均値を画素信号Ａｉ（ｋ）として補正してもよい。
【００４７】
以上のようにして補正された画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）は、ラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５の重畳する部分において繋ぎ処理が施されることにより、所望の放射線画像情報が得られる。
【００４８】
放射線画像情報の読取処理が完了すると、画像読取ユニット１４および消去ユニット１６が矢印Ｙ方向に上昇するとともに、消去ユニット１６が駆動され、消去光源１５から出力された消去光Ｑが蓄積性蛍光体シートＩＰに照射される。この結果、蓄積性蛍光体シートＩＰに残存する放射線エネルギが放出され、蓄積性蛍光体シートＩＰが次の撮影に使用可能な状態となる。
【００４９】
なお、判定回路５２による欠陥光電変換素子の判定処理と、判定結果に基づく補正回路５４での画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）の補正処理とは、所望の放射線画像情報が記録された蓄積性蛍光体シートＩＰの読取処理と同時に行うようにしてもよいが、所定のメンテナンス時に欠陥光電変換素子の判定処理を行い、次いで、その判定結果を用いて所望の放射線画像情報の補正処理を行うようにしてもよい。
【００５０】
上述した実施形態では、Ａ／Ｄ変換器４２ａ、４２ｂからの画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）を規格化した後、その差分値Ｃｉ（ｐ）を求めるようにしているが、画素信号Ａｉ（ｐ）、Ｂｉ（ｐ）の副方向に対するそれぞれの平均値Ａａｖｅ（ｐ）、Ｂａｖｅ（ｐ）を求めた後、各平均値Ａａｖｅ（ｐ）、Ｂａｖｅ（ｐ）を規格化し、規格化された各平均値Ａ′ａｖｅ（ｐ）、Ｂ′ａｖｅ（ｐ）の差分平均値Ｃａｖｅ（ｐ）＝Ａ′ａｖｅ（ｐ）−Ｂ′ａｖｅ（ｐ）を求め、この差分平均値Ｃａｖｅ（ｐ）を用いて、比較回路５０および判定回路５２において比較判定を行うこともできる。
【００５１】
なお、欠陥光電変換素子であるか否かの判定処理を行うため、放射線画像情報が一様に記録された蓄積性蛍光体シートＩＰを読み取り、得られた画素信号Ａ′ｉ（ｐ）、Ｂ′ｉ（ｐ）同士を比較判定するようにしてもよい。また、光源部３４とは別に補助光源を設け、この補助光源からの光をラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５に導いて判定処理を行うようにしてもよい。
【００５２】
さらに、上述した実施形態では、副方向に配列した２組の感光部３７ａ、３７ｂを有するラインセンサＣＣＤ１〜ＣＣＤ５において欠陥光電変換素子を検出する場合について説明したが、同様の構成により、副方向に３組以上の感光部を配列した場合に拡張して欠陥光電変換素子を検出することもできる。
【００５３】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、画像記録媒体側に塵等がある場合であっても、ラインセンサを構成する光電変換素子に欠陥があるか否かを確実に検出することができる。
【００５４】
また、任意の画像が記録された画像記録媒体を用いて、光電変換素子の欠陥の有無を検出することができる。従って、検出作業のための特別な準備が不要であり、簡易な構成で迅速に検出処理を遂行することができる。
【００５５】
さらに、欠陥があると判定された光電変換素子の数を計数し、所定数以上であるときに警告を行うように構成すれば、ラインセンサの不具合を事前に認識することができる。この結果、不適切な状態での画像の読取処理を回避することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態の放射線画像情報記録読取装置の構成図である。
【図２】図１に示す画像読取ユニットの説明図である。
【図３】図１に示す信号処理回路のブロック図である。
【図４】画像記録媒体に塵が付着した場合の説明図である。
【図５】図１に示す画像読取ユニットを構成するラインセンサにより読み取った各ライン毎の画素信号の説明図である。
【図６】画素信号を処理して得られる差分平均値に基づく欠陥光電変換素子の判定処理の説明図である。
【符号の説明】
１０…放射線画像情報記録読取装置  １２…放射線画像記録部
１４…画像読取ユニット            １６…消去ユニット
１８…被写体                      ２０…放射線源
３４…光源部                      ３７ａ、３７ｂ…感光部
３９…光電変換素子                ４０…信号処理回路
４４ａ、４４ｂ…規格化回路        ４６…差分値算出回路
４８…差分平均値算出回路          ５０、５８…比較回路
５２…判定回路                    ５４…補正回路
５６…欠陥計数回路                ６０…警告処理部
ＣＣＤ１〜ＣＣＤ５…ラインセンサ  ＩＰ…蓄積性蛍光体シート
【図１】
2004227493.tif 000006
【図２】
2004227493.tif 000007
【図３】
2004227493.tif 000008
【図４】
2004227493.tif 000009
【図５】
2004227493.tif 000010
【図６】
2004227493.tif 000011