(57)【要約】【課題】電極チップが的確に研磨されたか否かを、簡便な構成で、正確に判別できる電極チップの研磨確認装置を提供すること。【解決手段】研磨確認装置Ｍは、検査治具２５と、一対の電極チップ１１・１２の研磨完了状態か否かを判断する制御装置と、を備える。検査治具は、凹部２６・２７と貫通孔２５ａとを備える。凹部２６・２７は、研磨完了状態のチップ１１・１２の先端形状に対応して、配設される。貫通孔２５ａは、研磨完了状態のチップ１１・１２の凹部内への収納時に、チップ先端面１１ｂ・１２ｂ相互を接触可能とし、かつ、研磨未完了状態のチップの凹部内への収納時に、先端面１１ｂ・１２ｂ相互を離した非接触とするように、設けられる。制御装置は、チップの検査治具の凹部内への収納時に、先端面１１ｂ・１２ｂ相互の接触を検知して、研磨完了と判断し、先端面相互の非接触を検知して、研磨未完了と判断する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
溶接ガンに保持されたスポット溶接用の一対の電極チップが、研磨後、所定形状に研磨されたか否かを確認する電極チップの研磨確認装置であって、
検査治具と、電極チップの研磨完了状態か否かを判断する制御装置と、を備えて構成され、
前記検査治具が、
研磨完了状態の一対の電極チップの先端形状に対応した凹部、を表裏に備えるとともに、
表裏の前記凹部間を貫通して、研磨完了状態の一対の電極チップの前記凹部内への収納時に、電極チップの先端面相互を接触可能とし、かつ、研磨未完了状態の一対の電極チップの前記凹部内への収納時に、電極チップの先端面相互を離した非接触とする貫通孔、を備えて
前記制御装置が、一対の電極チップの前記検査治具の凹部内へ収納させた際、一対の電極チップの先端面相互の接触時に、研磨完了と判断し、一対の電極チップの先端面相互の非接触時に、研磨未完了と判断することを特徴とする電極チップの研磨確認装置。
【請求項２】
前記検査治具が、絶縁材料から形成され、
前記制御装置が、一対の電極チップの先端面相互の接触・非接触の判断を、前記検査治具の凹部内へ収納した一対の電極チップに電流を流し、通電時に接触を検知して研磨完了と判断し、無通電時に非接触を検知して研磨未完了と判断することを特徴とする請求項１に記載の電極チップの研磨確認装置。
【請求項３】
前記溶接ガンが、一対の電極チップの相対的な配置位置を検知可能なサーボガンから構成され、
前記制御装置が、
研磨後、前記サーボガンを作動させて、一対の電極チップの先端面相互を当接させた際の電極チップ相互の相対的な配置位置を基準位置として、把握し、
また、前記サーボガンを作動させて、一対の電極チップの前記検査治具の凹部内へ収納させた際、一対の電極チップ相互の配置位置を治具配置位置として、把握し、
前記基準位置と前記治具配置位置とが一致した際、接触を検知して研磨完了と判断し、前記基準位置と前記治具配置位置とが不一致の際、非接触を検知して研磨未完了と判断することを特徴とする請求項１に記載の電極チップの研磨確認装置。
【請求項４】
前記検査治具が、緩衝作用を有する支持材で支持されていることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の電極チップの研磨確認装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、溶接ガンに支持されたスポット溶接用の一対の電極チップの研磨後、所定形状に研磨されたか否かを確認する電極チップの研磨確認装置に関する。
【０００２】
【従来の技術とその課題】
従来、溶接ガンに支持されたスポット溶接用の一対の電極チップでは、スポット溶接を行なえば、先端面が磨耗することが避けられず、磨耗量の多い状態で溶接作業を行えば、溶接不良を招くことから、所定回数のスポット溶接後、チップドレッサを使用して、先端面相互を研磨して、溶接作業を行っていた。
【０００３】
しかし、チップドレッサを使用して、電極チップの先端を研磨した後であっても、チップの先端面が、適正な形状でなく、適正面積を確保していない研磨未完了状態であれば、先端面の面積が広過ぎることとなって、スポット溶接時、所定の電流密度を得られず、溶接不良を招いてしまう。そのため、研磨後には、電極チップが、所定形状に研磨されたか否か重要であった。
【０００４】
そして、従来では、電極チップの研磨後に、適正な先端形状を確保しているか否かを確認することが、専ら、作業者の目視により行なわれており、作業効率が悪かった。
【０００５】
そしてまた、電極チップの先端が、溶接不良を招かない所定形状に確実に研磨されるように、安全を見越して、チップドレッサの研磨時間を３〜５割多めに確保して電極チップを研磨する場合もあり、この場合には、電極チップの消耗が激しくなってしまう。
【０００６】
なお、チップドレッサによる研磨後に、機械的に、研磨完了か否かを検知する装置として、適正な研磨完了状態であれば、先端面が鏡面となるように研磨されることに着目して、光センサを当ててその受光量から判別するものがあったが、この種の装置が、多数の火花の飛ぶようなスポット溶接の現場に設置されることから、誤認識が多く、研磨の適否を正確に判別できなかった。
【０００７】
本発明は、上記の課題を解決するものであり、電極チップが的確に研磨されたか否かを、簡便な構成で、正確に判別できる電極チップの研磨確認装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る研磨確認装置は、溶接ガンに保持されたスポット溶接用の一対の電極チップが、研磨後、所定形状に研磨されたか否かを確認する電極チップの研磨確認装置であって、
検査治具と、電極チップの研磨完了状態か否かを判断する制御装置と、を備えて構成され、
検査治具が、
研磨完了状態の一対の電極チップの先端形状に対応した凹部、を表裏に備えるとともに、
表裏の凹部間を貫通して、研磨完了状態の一対の電極チップの凹部内への収納時に、電極チップの先端面相互を接触可能とし、かつ、研磨未完了状態の一対の電極チップの凹部内への収納時に、電極チップの先端面相互を離した非接触とする貫通孔、を備えて
制御装置が、一対の電極チップの検査治具の凹部内へ収納させた際、一対の電極チップの先端面相互の接触時に、研磨完了と判断し、一対の電極チップの先端面相互の非接触時に、研磨未完了と判断することを特徴とする。
【０００９】
本発明に係る研磨確認装置では、研磨後、溶接ガンを利用して、一対の電極チップを検知治具の凹部内へ収納させる。すると、一対の電極チップが、研磨完了状態であれば、先端面相互が接触し、研磨未完了状態であれば、先端面相互を離した非接触となることから、制御装置が、接触を検知した場合に、電極チップは研磨完了であると判断し、非接触を検知した場合に、電極チップは研磨未完了であると判断する。
【００１０】
すなわち、本発明の研磨確認装置では、所定の貫通孔を設けて表裏に所定の凹部を形成した検査治具に対し、研磨後の一対の電極チップを、検査治具の所定の凹部内に収納させることによって、研磨完了状態であれば、先端面相互が接触し、研磨未完了状態であれば、先端面相互が離れた非接触となり、制御装置が、それらの接触・非接触を検知するだけで、簡単かつ正確に、電極チップの研磨完了・未完了を判断することができる。
【００１１】
したがって、本発明に係る研磨確認装置では、電極チップが的確に研磨されたか否かを、簡便な構成で、正確に判別することができる。
【００１２】
そして、制御装置による接触・非接触の検知としては、例えば、検査治具を絶縁材料から形成して、制御装置は、検査治具の凹部内へ収納した一対の電極チップに、電流を流して検知してもよい。すなわち、この場合、制御装置は、通電時に接触を検知して研磨完了と判断し、無通電時に非接触を検知して研磨未完了と判断することとなる。ちなみに、検査治具は、絶縁材料から形成されているため、電極チップ相互が接触していなければ、電気が流れず、通電状態とならない。
【００１３】
なお、上記のような構成では、一対の電極チップに電流を流す制御装置として、スポット溶接時に電流を流す溶接機自体の制御装置（所謂タイマー）を利用すれば、一層、研磨確認装置を簡便に構成できる。ちなみに、この場合には、チップドレッサの他、溶接機に、絶縁材料からなる検査治具を配設するだけで、溶接・研磨・研磨確認の三工程からなるスポット溶接作業を円滑に行なうことが可能となる。
【００１４】
勿論、上記のような構成では、検査治具の凹部内に収納させた一対の電極チップに、電流を流せば、研磨の適否を判別でき、多数の火花の飛び散るようなスポット溶接の現場に配置されても、通電・無通電を判別するだけであって、誤認識することなく、正確に研磨の適否を判別することが可能となる。
【００１５】
また、制御装置による接触・非接触の検知としては、溶接ガンを、一対の電極チップの相対的な配置位置を検知可能なサーボガンから構成し、制御装置が、研磨後、サーボガンを作動させて、一対の電極チップの先端面相互を当接させた際の電極チップ相互の相対的な配置位置を基準位置として、把握し、また、サーボガンを作動させて、一対の電極チップの検査治具の凹部内へ収納させた際、一対の電極チップ相互の配置位置を治具配置位置として、把握して、基準位置と治具配置位置とを比較して検知してもよい。すなわち、この場合、制御装置は、基準位置と治具配置位置とが一致した際、接触を検知して研磨完了と判断し、基準位置と治具配置位置とが不一致の際、非接触を検知して研磨未完了と判断することとなる。
【００１６】
上記のような構成でも、一対の電極チップを、検査治具を介在させた状態で、相互に接近させる他、検査治具を介在させない状態で、相互に接近させて、チップ相互の配置位置を比較するだけで、研磨の適否を判別でき、多数の火花の飛び散るようなスポット溶接の現場に配置されても、誤認識することなく、正確に研磨の適否を判別することが可能となる。
【００１７】
また、上記のような構成では、制御装置として、サーボガンを制御する制御装置を利用することができることから、この場合でも、チップドレッサの他、溶接機に、検査治具を配設するだけで、溶接・研磨・研磨確認の三工程からなるスポット溶接作業を円滑に行なうことが可能となる。
【００１８】
そして、検査治具は、緩衝作用を有する支持材で支持することが望ましい。このように構成する場合には、溶接ガンに保持された状態で、一対の電極チップが検査治具の所定の凹部内に挿入された際、一対の電極チップと検査治具の凹部とが、位置ずれを生じていても、支持材の緩衝作用で、検査治具が移動し、電極チップの先端面相互を円滑に貫通孔に導くことができて、一層、誤認識することなく、正確に研磨の適否を判別することが可能となる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明すると、実施形態の研磨確認装置Ｍは、図１に示すように、順次送られてくるワークＷ１・Ｗ２…をスポット溶接する多関節の溶接ロボット１の近傍に配置されて、磨耗した電極チップの研磨後における研磨の適否を確認するように、配設されている。
【００２０】
溶接ロボット１のアーム２の先端には、図１・２に示すように、溶接ガンとしてのサーボガン５が取り付けられて、サ−ボガン５は、一対の電極チップ１１・１２を相互に対向するシャンク７・８に嵌め込んでいる。このサ−ボガン５は、汎用のものであり、一対の電極チップ１１・１２を保持したシャンク７・８相互を、溶接時等に、サーボモータ６によって、シャンク７・８の対向方向に沿って移動可能としている。なお、チップ１１・１２の移動は、サーボモータ６のみならず、アーム２を移動させるサーボモータ（図符号省略）も作動させて、各シャンク７・８を移動させることとなる。また、サーボガン５は、サーボモータ６や図示しないサーボモータに、エンコーダが内蔵されており、シャンク７・８や電極チップ１１・１２の配置位置を検知できて、チップ１１・１２の位置制御や加圧力制御等を行なうことができる。
【００２１】
そして、溶接ロボット１の移動区域内には、研磨確認装置Ｍの他に、電極チップ１１・１２の交換時に使用済みの電極チップ１１・１２を各シャンク７・８から取り外す図示しないチップ抜き装置、新たな電極チップ１１・１２を各シャンク７・８に取り付ける図示しないチップ供給装置、及び、交換前における磨耗時に電極チップ１１・１２を研磨するチップドレッサ１８、が配設されている。
【００２２】
さらに、溶接ロボット１の移動区域の近傍には、図１に示すように、制御装置３が配設されており、この制御装置３は、電極チップ１１・１２へ流す電流を調整したり、電流を流すサイクル等を調整する溶接制御を行うもので（所謂タイマーを利用したものであり）、検査装置２３とともに、研磨確認装置Ｍを構成している。
【００２３】
なお、溶接ロボット１、サ−ボガン５、チップドレッサ１８、図示しないチップ抜き装置等の作動も所定の制御装置によって制御されており、これらの制御も併せて、制御装置３が行なうように構成してもよい。
【００２４】
そして、実施形態の場合、制御装置３は、チップ１１・１２に電流を流して通電しない場合に、制御装置３の近傍に配置されたパトライト４を点灯させるとともに図示しないブザーを鳴らすように、構成されている。
【００２５】
なお、チップドレッサ１８は、図１〜３に示すように、ハウジング１９内に、サーボモータ２１の作動により回転するカッタ２０を収納させて、溶接作業中におけるチップ１１・１２の交換前の状態での、磨耗した各チップ１１・１２の先端１１ａ・１２ａを研磨できるように、設定されている。ドレッサ１８の使用時には、各チップ１１・１２を、シャンク７・８の各先端に取り付けた状態で、ドレッサ１８の上下からカッタ２０の上下面に押し付けて、サーボモータ２１の作動によるカッタ２０の回転により、研磨することとなる。
【００２６】
実施形態の場合、電極チップ１１・１２は、図４に示すように、直径Ｄ０を１６ｍｍとして、カッタ２０の回転による研磨によって適正に研磨された際には、先端１１ａ・１２ａの形状として、先端面１１ｂ・１２ｂに直径Ｄ１を６ｍｍとする円形の平坦面が形成され、かつ、先端面１１ｂ・１２ｂからチップ外周面にかけての肩部に、半径Ｒを８ｍｍとする弧面１１ｃ・１２ｃが形成されるように、設定されている。ちなみに、磨耗時のチップ１１・１２は、弧面１１ｃ・１２ｃがチップ１１・１２の軸方向に沿う長さを短くさせて、先端面１１ｂ・１２ｂが広がるようになる（図５参照）。そして、回転するカッタ２０により研磨されれば、磨耗した各チップ１１・１２は、先端１１ａ・１２ａに、図４のＡに示すような肩部（弧面）１１ｃ・１２ｃと先端面１１ｂ・１２ｂとが形成されることとなる。
【００２７】
また、図１・２に示すように、ドレッサ１８のハウジング１９は、検査装置２３のハウジング２４と一体化されて、上下方向に配設固定された支持板１４に、ばね１７等を介在させて、上下移動可能に支持されている。支持板１４には、上下に所定距離離隔されて、支持ブラケット１５・１５が、二列並設され、上下一対の支持ブラケット１５・１５には、相互を連結するように支持ロッド１６が上下方向に配設され、各支持ロッド１６に二つずつの圧縮コイルばね１７・１７が外装されて、さらに、上下二つのばね１７・１７間にハウジング１９のブラケット１９ａが配設されている。そのため、ドレッサ１８は、検査装置２３とともに、ばね１７・１７に支持されて、復元可能に上下に移動するように、配設されている。
【００２８】
検査装置２３は、図４に示すように、絶縁材料のセラミック等から形成される検査治具２５と、検査治具２５をハウジング２４内で支持する支持材２９と、を備えて構成されている。
【００２９】
検査治具２５は、図４〜６に示すように、略円柱状として、表裏に、すなわち、実施形態の場合には、上下の両端面に、すり鉢状に凹む凹部２６・２７を配設させ、さらに、凹部２６・２７の中心間には、治具２５の軸方向に沿って凹部２６・２７間を貫通する貫通孔２５ａが、形成されている。凹部２６・２７は、貫通孔２５ａの周縁を、適正に研磨を完了させたチップ１１・１２の先端１１ａ・１２ａにおける弧面１１ｃ・１２ｃの外形形状に対応させた支持面２６ａ・２７ａとしている。なお、凹部２６・２７内の外周縁付近は、円錐状に凹むテーパ面２６ｂ・２７ｂとして、適正に研磨された電極チップ１１・１２の先端１１ａ・１２ａ付近の外周面から直線状に離れるような断面形状に、設定されている。これらのテーパ面２６ｂ・２７ｂは、電極チップ１１・１２が凹部２６・２７内に挿入された際、チップ１１・１２の先端１１ａ・１２ａを、相対的に、貫通孔２５ａの中心Ｏ２側に案内する案内面としての役目を果たす。
【００３０】
そして、検査治具２５の貫通孔２５ａは、研磨完了状態の一対の電極チップ１１・１２の凹部２６・２７内への収納時に、電極チップ１１・１２の先端面１１ｂ・１２ｂ相互を接触可能とし（図４参照）、かつ、研磨未完了状態の一対の電極チップ１１Ａ・１２Ａの凹部２６・２７内への収納時に、電極チップ１１Ａ・１２Ａの先端面１１ｂ・１２ｂ相互を離した非接触とするように（図５参照）、深さＬと内径ｄとが設定されている。すなわち、溶接不良を招くような研磨未完了状態に応じて、先端面１１ｂ・１２ｂ間に隙間が発生するように、貫通孔２５ａの深さＬと内径ｄとが、設定されている。
【００３１】
実施形態の場合、これらの凹部２６・２７と貫通孔２５ａとの設定は、適正に研磨を完了させた状態、すなわち、未使用の状態と同様な状態で、チップ１１・１２の先端面１１ｂ・１２ｂ相互を当接させるように接触させた状態で、貫通孔２５ａの外周縁付近、すなわち、凹部２６・２７の支持面２６ａ・２７ａが、先端面１１ｂ・１２ｂと干渉せずに、チップ１１・１２の弧面１１ｃ・１２ｃに当接して、弧面１１ｃ・１２ｃを支持できるように、設定されている。
【００３２】
そして、実施形態の場合、貫通孔２５ａの深さＬは３ｍｍ、内径ｄは１０ｍｍとしている。さらに、実施形態の貫通孔２５ａでは、研磨後の先端面１１ｂ・１２ｂの直径Ｄ１が、６．２５ｍｍとなった際、各チップ１１・１２の弧面１１ｃ・１２ｃを加圧して支持面２６ａ・２７ａに当てても、先端面１１ｂ・１２ｂの間に、０．１ｍｍの隙間が空くように、設定されている。
【００３３】
また、検査治具２５には、外周面に円板状に突設された鍔部２５ｂが形成されており、この鍔部２５ｂを利用して、検査治具２５が支持材２９に支持されている。
【００３４】
支持材２９は、略円筒状として、撓み可能な弾性変形するゴムから形成され、検査治具２５を支持して、ハウジング２４内に固定されている。この支持材２９は、拡径し易いように昇温させて、検査治具２５の鍔部２５ｂに被せるように嵌め、そして、ハウジング２４に固定することにより、検査治具２５を、ハウジング２４内で移動可能に保持している。
【００３５】
実施形態の研磨確認装置Ｍの作動時には、まず、チップドレッサ１８を利用して研磨した後、研磨した一対の電極チップ１１・１２を、サーボガン５を作動させて、検査治具２５の凹部２６・２７内に収納させ、さらに、相互に接近させる。
【００３６】
すると、一対の電極チップ１１・１２が、適正な研磨完了状態であれば、図４のＡ・Ｂに示すように、検査治具２５の貫通孔２５ａを経て、電極チップ１１・１２の先端面１１ｂ・１２ｂ相互を接触させることとなる。そしてその後、制御装置３が一対の電極チップ１１・１２に電流を流せば、通電することから、制御装置３は、検査治具２５に配置された一対の電極チップ１１・１２は研磨完了状態である、と判断する。
【００３７】
一方、図５に示すように、一対の電極チップ１１Ａ・１２Ａが、研磨未完了状態であれば、弧面（肩部）１１ｃ・１２ｃの軸方向長さが短い状態となって、各チップ１１Ａ・１２Ａの先端面１１ｂ・１２ｂの面積が広くなる。そのため、凹部２６・２７内で電極チップ１１Ａ・１２Ａ相互を接近させて、弧面１１ｃ・１２ｃを支持面２６ａ・２７ａに当接支持させても、チップ１１Ａ・１２Ａの先端面１１ｂ・１２ｂ相互が離れて非接触となり、その後、制御装置３が一対の電極チップ１１Ａ・１２Ａに電流を流しても、通電せず、制御装置３は、検査治具２５に配置された一対の電極チップ１１Ａ・１２Ａは研磨未完了状態である、と判断する。なお、検査治具２５は、絶縁材料から形成されているため、電極チップ１１Ａ・１２Ａ相互が接触していなければ、電気が流れず、通電されない。実施形態の場合、先端面１１ｂ・１２ｂ相互が、０．１ｍｍ離れていても、通電されない。
【００３８】
そして、制御装置３が、検査治具２５に配置された一対の電極チップ１１・１２は研磨完了状態である、と判断すれば、溶接ロボット１やサーボガン５等が作動されて、研磨された電極チップ１１・１２を使用して、スポット溶接の溶接作業を行うこととなる。
【００３９】
一方、制御装置３が、検査治具２５に配置された一対の電極チップ１１Ａ・１２Ａは研磨未完了状態である、と判断すれば、制御装置３は、パトライト４を点灯させるとともにブザーを作動させる。これにより、作業者は、チップ１１Ａ・１２Ａの研磨不良を認識でき、チップ１１Ａ・１２Ａを目視して、再使用可能であれば、チップドレッサ１８による研磨工程に戻す。また、研磨しても再使用不能であれば、チップ抜き工程・チップ取付工程に移行させるように、操作する。
【００４０】
なお、制御装置３が、検査治具２５に配置された一対の電極チップ１１Ａ・１２Ａは研磨未完了状態である、と判断した際、１回程度、チップドレッサ１８による研磨工程に戻し、再度、研磨不良と判断した場合に、制御装置３が、パトライト４を点灯させて、ブザーを作動させるように設定してもよい。
【００４１】
以上のように、実施形態の研磨確認装置Ｍでは、所定の貫通孔２５ａを設けて表裏に所定の凹部２６・２７を形成した検査治具２５に対し、研磨後の一対の電極チップ１１・１１Ａ・１２・１２Ａを、検査治具２５の所定の凹部２６・２７内に収納させることによって、研磨完了状態であれば、先端面１１ｂ・１２ｂ相互が接触し、研磨未完了状態であれば、先端面１１ｂ・１２ｂ相互が離れた非接触となり、制御装置３が、それらの接触・非接触を検知するだけで、簡単かつ正確に、電極チップ１１・１２の研磨完了・未完了を判断することができる。
【００４２】
したがって、実施形態の研磨確認装置Ｍでは、電極チップ１１・１１Ａ・１２・１２Ａが的確に研磨されたか否かを、簡便な構成で、正確に判別することができる。
【００４３】
特に、実施形態の場合には、一対の電極チップ１１・１２に電流を流して、通電するか否かを判別する制御装置３の他、単に、絶縁材料から形成されて、貫通孔２５ａを設けて表裏に所定の凹部２６・２７を形成した検査治具２５を使用するだけよく、簡便な構成で製造できる。
【００４４】
さらに、実施形態の場合、一対の電極チップ１１・１２に電流を流す制御装置３として、スポット溶接時に電流を流す溶接機自体の所謂タイマーを利用しており、一層、研磨確認装置Ｍの構成を簡便にできる。ちなみに、この場合には、チップドレッサ１８の他、溶接機に、検査装置２３（検査治具２５）を配設するだけで、溶接・研磨・研磨確認の三工程からなるスポット溶接作業を円滑に行なうことが可能となる。
【００４５】
勿論、実施形態の研磨確認装置Ｍでは、検査治具２５の凹部２６・２７内に収納させた一対の電極チップ１１・１２に電流を流して、研磨の適否を判別するものであり、多数の火花（スパッタ）の飛び散るようなスポット溶接の現場に配置されても、通電・無通電を判別するだけであって、誤認識することなく、正確に研磨の適否を判別することが可能となる。
【００４６】
さらに、実施形態の場合、検査治具２５が、撓んで緩衝作用を奏する支持材２９で支持されて、検査装置２３のハウジング２４内に収納されている。
【００４７】
そのため、サーボガン５に保持された状態で、図７のＡに示すように、一対の電極チップ１１Ｂ・１２Ｂが検査治具２５の凹部２６・２７内に挿入される際、電極チップ１１Ｂ・１２Ｂの軸心（中心）Ｏ１と検査治具２５の凹部２６・２７の軸心（中心）Ｏ２とが、位置ずれを生じていても、支持材２９の撓む緩衝作用により、図７のＢに示すように、検査治具２５が移動し、電極チップ１１Ｂ・１２Ｂの先端面１１ｂ・１２ｂ相互を円滑に貫通孔２５ａに導くことができる。その結果、実施形態の研磨確認装置Ｍでは、一層、誤認識することなく、正確に研磨の適否を判別することが可能となる。
【００４８】
特に、実施形態の場合には、凹部２６・２７内の外周縁付近が、直線状の案内面２６ｂ・２７ｂを形成しており、電極チップ１１Ｂ・１２Ｂの先端面１１ｂ・１２ｂ相互を、一層、円滑に貫通孔２５ａに導くことができる。
【００４９】
なお、実施形態では、支持材２９として、ゴムからなるものを例示したが、ばね等の弾性変形するものを使用したり、あるいは、貫通孔２５ａの軸直交方向へ移動可能に検査治具２５を支持できれば、弾性的に復帰させるような支持材でなくともよい。但し、ゴムやばねを利用した支持材であれば、検査治具を移動させた後、復帰させることができて、所定以上に検査治具をずらしてしまうことを防止することができる。
【００５０】
また、制御装置による接触・非接触の検知としては、電極チップ１１・１２に電流を流す他、チップ１１・１２を保持する溶接ガンが、サーボガン５であれば、サーボガン５が一対の電極チップ１１・１２の相対的な配置位置を検知可能な点に着目して、つぎの研磨確認装置Ｍ１のように検知してもよい。
【００５１】
すなわち、制御装置３が、研磨後、まず、サーボガン５を作動させて、図８のＡ・Ｂに示すように、一対の電極チップ１１・１２の先端面１１ｂ・１２ｂ相互を当接させた際の電極チップ１１・１２相互の相対的な配置位置を、先端面１１ｂ・１２ｂ相互の隙間がゼロであるとするように、基準位置Ｔ０として把握する。なお、図８には、制御装置３は図示していないが、この研磨確認装置Ｍ１では、図１に示すパトライト４を備えた制御装置３を具備している。但し、この場合の制御装置３は、溶接機のタイマーでなく、溶接ロボット１やサーボガン５の作動を制御するものを、利用している。
【００５２】
ついで、基準位置Ｔ０を把握した後、制御装置３は、サーボガン５を作動させて、図８のＣに示すように、一対の電極チップ１１・１２の検査治具２５の凹部２６・２７内へ収納させる。その際、制御装置３は、一対の電極チップ１１・１２相互の配置位置を、エンコーダから先端面１１ｂ・１２ｂ間の距離を算出する等して、治具配置位置Ｔ１として、把握する。
【００５３】
そして、制御装置３は、基準位置Ｔ０と治具配置位置Ｔ１とを比較して、接触・非接触を検知する。すなわち、図８のＡ・Ｂ・Ｃに示す場合には、制御装置３は、基準位置Ｔ０と治具配置位置Ｔ１とが一致することから、制御装置３は、接触を検知して、研磨完了と判断することとなる。
【００５４】
一方、図９のＡ・Ｂに示すように、研磨未完了の電極チップ１１Ａ・１２Ａの場合には、制御装置３は、研磨後の先端面１１ｂ・１２ｂ相互を当接させた際の電極チップ１１Ａ・１２Ａ相互の相対的な配置位置を、先端面１１ｂ・１２ｂ相互の隙間がゼロであるとするように、基準位置Ｔ０として把握し、その後に、図９のＣに示すように、検知治具２５の凹部２６・２７内にチップ１１Ａ・１２Ａを収納させた際におけるチップ１１Ａ・１２Ａ相互の治具配置位置Ｔ１を把握する。しかし、チップ１１Ａ・１２Ａでは、図９のＢ・Ｃに示すように、先端面１１ｂ・１２ｂ間に隙間が発生して、基準位置Ｔ０と治具配置位置Ｔ１とが不一致となることから、制御装置３は、非接触を検知して研磨未完了と判断する。
【００５５】
上記のような研磨確認装置Ｍ１でも、一対の電極チップ１１・１１Ａ・１２・１２Ａを、検査治具２５を介在させた状態で、相互に接近させる他、検査治具２５を介在させない状態で、相互に接近させて、チップ１１・１１Ａ・１２・１２Ａ相互の配置位置Ｔ０・Ｔ１を比較するだけで、研磨の適否を判別でき、多数の火花の飛び散るようなスポット溶接の現場に配置されても、誤認識することなく、正確に研磨の適否を判別することが可能となる。
【００５６】
また、この研磨確認装置Ｍ１でも、制御装置３として、サーボガン５を制御する制御装置を利用することができることから、この場合でも、チップドレッサ１８の他、溶接機に、検査装置２３（検査治具２５）を配設するだけで、溶接・研磨・研磨確認の三工程からなるスポット溶接作業を円滑に行なうことが可能となる。
【００５７】
なお、この研磨確認装置Ｍ１の検査治具２５は、チップ１１・１２間に電気を流さないことから、絶縁材料から形成しなくともよい。
【００５８】
また、この研磨確認装置Ｍ１では、先に、基準位置Ｔ０を測定して、その後に、治具基準位置Ｔ１を測定したが、先に、検査治具２５を使用して治具基準位置Ｔ１を測定し、その後に、検査治具２５を使用しないで、基準位置Ｔ０を測定し、制御装置３によって、その両者の位置Ｔ０・Ｔ１を比較してもよい。
【００５９】
さらに、この研磨確認装置Ｍ１でも、検査治具２５は、支持材２９に支持されており、チップ１１・１２の軸心と検査治具２５の凹部２６・２７の軸心とが、位置ずれを生じていても、支持材２９の撓む緩衝作用により、検査治具２５が移動し、電極チップ１１・１２の先端面１１ｂ・１２ｂ相互を円滑に貫通孔２５ａに導くことができる。
【００６０】
さらにまた、各実施形態の研磨確認装置Ｍ・Ｍ１では、使用する電極チップ１１・１２として、先端１１ａ・１２ａの形状を一般的な形状で例示したが、使用できる電極チップは、図例の形や寸法に限らず、種々の形状・寸法のものを使用することができ、そして、それらのチップの研磨確認を行なうことができる。
【００６１】
また、各実施形態の研磨確認装置Ｍ・Ｍ１では、電極チップ１１・１２を上下方向で研磨し、かつ、研磨状態の確認時、チップ１１・１２相互を上下方向で接近させるように構成したが、勿論、一対の電極チップ１１・１２の対向方向に対応させて、研磨用のカッタ２０や検査治具２５の軸方向を、上下方向以外の水平方向等に配置させても良い。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態の研磨確認装置を配置させた溶接現場を示す概略平面図である。
【図２】同実施形態の研磨確認装置における検査装置を示す概略側面図である。
【図３】同実施形態の研磨確認装置における検査装置の概略平面図である。
【図４】同実施形態の研磨確認装置の使用態様を順次示す拡大部分概略縦断面図であり、電極チップが適正な研磨完了時の状態を示す。
【図５】同実施形態の研磨確認装置の使用態様を示す拡大部分概略縦断面図であり、電極チップが研磨未完了時の状態を示す。
【図６】同実施形態に使用する検査治具の斜視図である。
【図７】同実施形態の研磨確認装置の使用態様を示す拡大部分概略縦断面図であり、電極チップと検査治具との軸心が若干ずれている際の挙動を示す。
【図８】他の実施形態の研磨確認装置の使用態様を順に示す拡大部分概略縦断面図であり、電極チップが適正な研磨完了時の状態を示す。
【図９】同実施形態の研磨確認装置の使用態様を順に示す拡大部分概略縦断面図であり、電極チップが研磨未完了時の状態を示す。
【符号の説明】
３…制御装置、
１１・１１Ａ・１１Ｂ・１２・１２Ａ・１２Ｂ…電極チップ、
１１ａ・１２ａ…先端、
１１ｂ・１２ｂ…先端面、
２３…検査装置、
２５…検査治具、
２５ａ…貫通孔、
２６・２７…凹部、
２９…支持材、
Ｍ・Ｍ１…研磨確認装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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