(57)【要約】【課題】本発明は、電子カメラやスキャナ等の光学機器の解像度評価方法に関し、光学機器の機械的振動による影響を受けにくい解像度評価方法を提供することを目的とする。【解決手段】原稿に描かれた模様のエッジを選択するステップと、模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求めるステップと、この複数ラインのライン毎に、エッジ座標を求めるステップと、複数ラインのうち少なくとも１つのラインにおけるエッジ座標でのエッジの傾きを求めるステップと、複数ラインのライン毎に、ライン状に計測された輝度の分布から所定間隔毎に計測データを選択し、相隣接する計測データの差分を求め、離散した差分データを得るステップと、この離散した差分データをフーリエ変換し複数の変調伝達関数を求めるステップと、この複数の変調伝達関数に基づき解像度を評価するステップとを有することを特徴とする。【選択図】　　　図１
2004134861.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿に描かれた模様のエッジを選択するステップと、
前記模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求めるステップと、
この複数ラインのライン毎に、エッジ座標を求めるステップと、
前記複数ラインのうち少なくとも１つのラインにおける前記エッジ座標でのエッジの傾きを求めるステップと、
前記複数ラインのライン毎に、前記ライン状に計測された輝度の分布から所定間隔毎に計測データを選択し、相隣接する前記計測データの差分を求め、離散した差分データを得るステップと、
この離散した差分データをフーリエ変換し複数の変調伝達関数を求めるステップと、
この複数の変調伝達関数に基づき解像度を評価するステップと、
を有することを特徴とする解像度評価方法。
【請求項２】
原稿に描かれた模様のエッジを選択するステップと、
前記模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求めるステップと、
この複数ラインのライン毎に、エッジ座標を求めるステップと、
前記複数ラインのうち少なくとも１つのラインにおける前記エッジ座標でのエッジの傾きを求めるステップと、
前記複数ラインのライン毎に、前記ライン状に計測された輝度の分布から所定間隔毎に計測データを選択し、相隣接する前記計測データの差分を求め、離散した差分データを得るステップと、
前記複数ラインのライン毎に、前記離散した差分データに近似曲線をフィッティングさせるステップと、
この複数の近似曲線をフーリエ変換し変調伝達関数を求めるステップと、
この複数の変調伝達関数に基づき解像度を評価するステップと、
を有することを特徴とする解像度評価方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の解像度評価方法において、前記エッジ座標を算出するために、前記被写体のエッジ近傍における低輝度部分の平均値と高輝度部分の平均値とを求め、この低輝度部分の平均値と高輝度部分の平均値とからエッジ閾値を求め、前記計測データを前記ラインの一方から検査して前記輝度がエッジ閾値を跨る位置を検出することを特徴とする解像度評価方法。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の解像度評価方法において、
前記解像度の評価を、前記複数の変調伝達関数の平均値に基づいて行うことを特徴とする解像度評価方法。
【請求項５】
請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の解像度評価方法において、
前記解像度の評価を、評価する周波数毎の前記複数の変調伝達関数の最大値に基づいて行うことを特徴とする解像度評価方法。
【請求項６】
請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の解像度評価方法において、
前記解像度の評価を、評価する周波数毎の前記複数の変調伝達関数の最小値に基づいて行うことを特徴とする解像度評価方法。
【請求項７】
原稿に描かれた模様のエッジを選択する手順と、
前記模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求める手順と、
この複数ラインのライン毎に、エッジ座標を求める手順と、
前記複数ラインのうち少なくとも１つのラインにおける前記エッジ座標でのエッジの傾きを求める手順と、
前記複数ラインのライン毎に、前記ライン状に計測された輝度の分布から所定間隔毎に計測データを選択し、相隣接する前記計測データの差分を求め、離散した差分データを得る手順と、
この離散した差分データをフーリエ変換し複数の変調伝達関数を求める手順と、
この複数の変調伝達関数に基づき解像度を評価する手順と、
をコンピュータに実行させるための解像度評価プログラム。
【請求項８】
原稿に描かれた模様のエッジを選択する手順と、
前記模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求める手順と、
この複数ラインのライン毎に、エッジ座標を求める手順と、
前記複数ラインのうち少なくとも１つのラインにおける前記エッジ座標でのエッジの傾きを求めるステップと、
前記複数ラインのライン毎に、前記ライン状に計測された輝度の分布から所定間隔毎に計測データを選択し、相隣接する前記計測データの差分を求め、離散した差分データを得る手順と、
前記複数ラインのライン毎に、前記離散した差分データに近似曲線をフィッティングさせる手順と、
この複数の近似曲線をフーリエ変換し変調伝達関数を求める手順と、
この複数の変調伝達関数に基づき解像度を評価する手順と、
をコンピュータに実行させるための解像度評価プログラム。
【請求項９】
請求項７または請求項８に記載の解像度評価プログラムにおいて、
前記エッジ座標を算出するために、前記被写体のエッジ近傍における低輝度部分の平均値と高輝度部分の平均値とを求め、この低輝度部分の平均値と高輝度部分の平均値とからエッジ閾値を求め、前記計測データを前記ラインの一方から検査して前記輝度がエッジ閾値を跨る位置を検出する処理をコンピュータに実行させるための解像度評価プログラム。
【請求項１０】
請求項７ないし請求項９のいずれか１項に記載の解像度評価プログラムにおいて、
前記解像度の評価を、前記複数の変調伝達関数の平均値に基づいて行う処理をコンピュータに実行させるための解像度評価プログラム。
【請求項１１】
請求項７ないし請求項９のいずれか１項に記載の解像度評価プログラムにおいて、
前記解像度の評価を、評価する周波数毎の前記複数の変調伝達関数の最大値に基づいて行う処理をコンピュータに実行させるための解像度評価プログラム。
【請求項１２】
請求項７ないし請求項９のいずれか１項に記載の解像度評価プログラムにおいて、
前記解像度の評価を、評価する周波数毎の前記複数の変調伝達関数の最小値に基づいて行う処理をコンピュータに実行させるための解像度評価プログラム。
【請求項１３】
請求項７ないし請求項１２のいずれか１項に記載の解像度評価プログラムを実行可能である
ことを特徴とする光学機器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子カメラやスキャナ等の光学機器の解像度評価方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、電子カメラやスキャナ等の光学機器の第１の解像度評価方法として、低輝度部分と高輝度部分とが相互に配置された縞状の原稿を撮影する方法が知られている（例えば、特許文献１参照。）。より具体的には、縞の幅を相互に違える複数の原稿を撮影し、このデータを解析することにより解像度評価が行われている。この解像度は、縞の幅が狭くなればなる程、低輝度部分と高輝度部分との区別がつきにくくなるため解像度が落ちることになる。
【０００３】
第２の解像度評価方法としては、低輝度部分と高輝度部分との境界部分（以下、エッジという）を有する原稿を予め用意し、この原稿を撮影する方法が知られている（例えば、非特許文献１参照。）。
【特許文献１】
特開１９９９−３１３１８６号公報
【非特許文献１】
”Ｐｈｏｔｏｇｒａｐｈｙ−Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ　ｓｔｉｌｌ　ｐｉｃｔｕｒｅ　ｃａｍｅｒａｓ−ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ　ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ”，　Ｄｒａｆｔ　Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ　Ｓｔａｎｄａｒｄｓ，　米国，　Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ　Ｏｒｇａｎｉｚａｔｉｏｎ　ｆｏｒ　Ｓｔａｎｄａｒｉｚａｔｉｏｎ，　１９９７．１１．１８，　ＩＳＯ／ＴＣ４２Ｎ　４２３１
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した第１の解像度評価方法では、複数の原稿を一度に撮影するか、複数回撮影しなければならなかった。複数の原稿を一度に撮影する場合は、１つの画像内で部分的な解像度の比較が困難であり、複数回撮像する場合は原稿の配置を幾度も変更しなけらばならず手間がかかるという問題があった。
【０００５】
かかる問題は、第２の解像度評価方法では発生せず、第１の解像度評価方法よりも第２の解像度評価方法の方が一般的である。しかしながら、この第２の解像度評価方法では、光学機器の機械的振動により測定データが不正確になるという問題があった。
本発明は、かかる従来の問題を解決するためになされたもので、光学機器の機械的振動による影響を受けにくい解像度評価方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の解像度評価方法は、原稿に描かれた模様のエッジを選択するステップと、前記模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求めるステップと、この複数ラインのライン毎に、エッジ座標を求めるステップと、前記複数ラインのうち少なくとも１つのラインにおける前記エッジ座標でのエッジの傾きを求めるステップと、前記複数ラインのライン毎に、前記ライン状に計測された輝度の分布から所定間隔毎に計測データを選択し、相隣接する前記計測データの差分を求め、離散した差分データを得るステップと、この離散した差分データをフーリエ変換し複数の変調伝達関数を求めるステップと、この複数の変調伝達関数に基づき解像度を評価するステップとを有することを特徴とする。
【０００７】
請求項２に記載の解像度評価方法は、原稿に描かれた模様のエッジを選択するステップと、前記模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求めるステップと、この複数ラインのライン毎に、エッジ座標を求めるステップと、前記複数ラインのうち少なくとも１つのラインにおける前記エッジ座標でのエッジの傾きを求めるステップと、前記複数ラインのライン毎に、前記ライン状に計測された輝度の分布から所定間隔毎に計測データを選択し、相隣接する前記計測データの差分を求め、離散した差分データを得るステップと、前記複数ラインのライン毎に、前記離散した差分データに近似曲線をフィッティングさせるステップと、この複数の近似曲線をフーリエ変換し変調伝達関数を求めるステップと、この複数の変調伝達関数に基づき解像度を評価するステップとを有することを特徴とする。
【０００８】
請求項３に記載の解像度評価方法は、請求項１または請求項２に記載の解像度評価方法において、前記エッジ座標を算出するために、前記被写体のエッジ近傍における低輝度部分の平均値と高輝度部分の平均値とを求め、この低輝度部分の平均値と高輝度部分の平均値とからエッジ閾値を求め、前記計測データを前記ラインの一方から検査して前記輝度がエッジ閾値を跨る位置を検出することを特徴とする。
【０００９】
請求項４に記載の解像度評価方法は、請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の解像度評価方法において、前記解像度の評価を、前記複数の変調伝達関数の平均値に基づいて行うことを特徴とする。
請求項５に記載の解像度評価方法は、請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の解像度評価方法において、前記解像度の評価を、評価する周波数毎の前記複数の変調伝達関数の最大値に基づいて行うことを特徴とする。
【００１０】
請求項６に記載の解像度評価方法は、請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の解像度評価方法において、前記解像度の評価を、評価する周波数毎の前記複数の変調伝達関数の最小値に基づいて行うことを特徴とする。
請求項７に記載の解像度評価プログラムは、原稿に描かれた模様のエッジを選択する手順と、前記模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求める手順と、この複数ラインのライン毎に、エッジ座標を求める手順と、前記複数ラインのうち少なくとも１つのラインにおける前記エッジ座標でのエッジの傾きを求める手順と、前記複数ラインのライン毎に、前記ライン状に計測された輝度の分布から所定間隔毎に計測データを選択し、相隣接する前記計測データの差分を求め、離散した差分データを得る手順と、この離散した差分データをフーリエ変換し複数の変調伝達関数を求める手順と、この複数の変調伝達関数に基づき解像度を評価する手順とをコンピュータに実行させる。
【００１１】
請求項８に記載の解像度評価プログラムは、原稿に描かれた模様のエッジを選択する手順と、前記模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求める手順と、この複数ラインのライン毎に、エッジ座標を求める手順と、前記複数ラインのうち少なくとも１つのラインにおける前記エッジ座標でのエッジの傾きを求めるステップと、前記複数ラインのライン毎に、前記ライン状に計測された輝度の分布から所定間隔毎に計測データを選択し、相隣接する前記計測データの差分を求め、離散した差分データを得る手順と、前記複数ラインのライン毎に、前記離散した差分データに近似曲線をフィッティングさせる手順と、この複数の近似曲線をフーリエ変換し変調伝達関数を求める手順と、この複数の変調伝達関数に基づき解像度を評価する手順とをコンピュータに実行させる。
【００１２】
請求項９に記載の解像度評価プログラムは、請求項７または請求項８に記載の解像度評価プログラムにおいて、前記エッジ座標を算出するために、前記被写体のエッジ近傍における低輝度部分の平均値と高輝度部分の平均値とを求め、この低輝度部分の平均値と高輝度部分の平均値とからエッジ閾値を求め、前記計測データを前記ラインの一方から検査して前記輝度がエッジ閾値を跨る位置を検出する処理をコンピュータに実行させる。
【００１３】
請求項１０に記載の解像度評価プログラムは、請求項７ないし請求項９のいずれか１項に記載の解像度評価プログラムにおいて、前記解像度の評価を、前記複数の変調伝達関数の平均値に基づいて行う処理をコンピュータに実行させる。
請求項１１に記載の解像度評価プログラムは、請求項７ないし請求項９のいずれか１項に記載の解像度評価プログラムにおいて、前記解像度の評価を、評価する周波数毎の前記複数の変調伝達関数の最大値に基づいて行う処理をコンピュータに実行させる。
【００１４】
請求項１２に記載の解像度評価プログラムは、請求項７ないし請求項９のいずれか１項に記載の解像度評価プログラムにおいて、前記解像度の評価を、評価する周波数毎の前記複数の変調伝達関数の最小値に基づいて行う処理をコンピュータに実行させる。
請求項１３に記載の光学機器は、請求項７ないし請求項１２のいずれか１項に記載の解像度評価プログラムを実行可能であることを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図面を用いて詳細に説明する。
図１は、本発明の解像度評価方法の一実施形態の流れを示している。図２は、図１の解像度評価のためのデータ採取方法を示している。
図２に示すように、データ採取をするために、暗幕１の前に模様が描かれた計測用の原稿３が配置されている。また、原稿３の斜め前方には、２つのランプ５が配置されている。さらに、原稿３の正面には、光学機器である電子カメラ７が配置されている。そして、ランプ５の電子カメラ７側には、ランプ５からの光が直接電子カメラ７に行かないように遮光板９が設けられている。
【００１６】
本発明の解像度評価方法は、図１に示すように、先ず、ステップＳ１において、撮影準備をしてから、電子カメラ７により一様な高輝度部分と低輝度部分とからなる原稿３の撮影を行う。ここで、原稿３は、エッジが含まれているものであれば良い。
次いで、ステップＳ２において、撮影した画像から、エッジを含むように、図３の点線で示すようなエリアを指定する。この指定は、例えば電子カメラ７にノート型電子計算機を接続し、専用ソフトウェア上で行う。
【００１７】
次いで、ステップＳ３において、高輝度部分の計測を行い平均値を算出する。
平均値を算出するとは、グレースケールで例えば８ビット（２５６階調）分、輝度を分割した場合の輝度の平均値を算出する。
次いで、ステップＳ４において、低輝度部分の計測を行い、高輝度部分と同様に平均値を算出する。
【００１８】
次いで、ステップＳ５において、低輝度部分の平均値と高輝度部分の平均値とから高輝度部分と低輝度部分との境界であると仮定されるエッジ閾値を求める。
具体的には、高輝度部分の平均値と低輝度部分の平均値との平均をさらに求めることで算出する。
次いで、ステップＳ６において、図３に点線で示した解像度算出の対象となるエリア内から図４に示すようなエッジ近傍におけるライン状の輝度データ（以下、ラインデータという）を抜き出し、メモリーに記録する。この実施形態では、３０本のラインＬ１〜Ｌ３０のラインデータを記録することにする。
【００１９】
次いで、ステップＳ７において、ラインデータをラインの一方から所定間隔毎に検索して輝度がエッジ閾値を跨る位置を検出する。そして、輝度がエッジ閾値を跨る前後の位置の座標とその座標での輝度とから線形補間により、エッジ座標を求める。
次いで、ステップＳ８において、３０本のラインＬ１〜Ｌ３０の全てについてエッジ座標を求めたか否かが判断される。求め終わっていない場合には、ステップＳ７に戻る。一方、求め終わった場合には、ステップＳ９に進む。
【００２０】
次いで、ステップＳ９において、周期の算出を行う。周期とは、ラインＬ１のエッジ座標をＥ１とした場合に、エッジ座標が（Ｅ１＋１）となるまでのライン数を指し、このようにして求めたライン数は傾きに相当する。なお、エッジが全く傾いていなければこのような算出はできないことになるが、実際にエッジが全く傾いていないということは考えられないため、常に周期の算出が行われ、算出結果を得ることができる。なお、以下では、周期として求めたライン数が２５である例を示す。
【００２１】
次いで、ステップＳ１０において、図５に示すようなラインデータから所定間隔毎にデータを選択し、相隣接する計測データの差分を求め、離散した差分データを算出する。なお、図５のグラフの縦軸は、２５５段階に階調を分けたときの階調値を示し、横軸は、ラインデータのライン上での位置を示している。
【００２２】
次いで、ステップＳ１１において、ステップＳ１０において求めた離散した差分データに対し、最小二乗法（ＬＳＭ：　Ｌｅａｓｔ　Ｓｑｕａｒｅｓ　Ｍｅｔｈｏｄ）により図６に示すような近似曲線をフィッティングさせる。この図６のグラフの縦軸は、隣接画素との階調差を示し、横軸はラインデータのライン上での位置を示している。
次いで、ステップＳ１２において、ステップＳ９で算出した傾きにあわせたライン数分の近似曲線を測定範囲として採用する。
【００２３】
次いで、ステップＳ１３において、最小二乗法により求めた近似曲線をフーリエ変換する。このフーリエ変換は、離散フーリエ変換（ＤＦＴ：　Ｄｉｓｃｒｅｔｅ　Ｆｏｕｒｉｅｒ　Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ、以下ＤＦＴという）により行う。
次いで、ステップＳ１４において、ステップＳ１３で求めた算出結果をメモリーに記録する。
【００２４】
次いで、ステップＳ１５において、フーリエ変換したライン数が所定数（ステップＳ９で求めた周期）の２５本になったか否かが判断される。２５本に満たなければ、ステップＳ１０に戻り、次のラインで同様の処理を行う。一方、ライン数が２５本に達した場合には、ステップＳ１６に進む。
ステップＳ１６では、ステップＳ９で求めたエッジの傾きに関するデータやステップＳ１３で行ったフーリエ変換結果に基づき、フーリエ変換後の２５本のラインの平均値を求める。そして、求めた２５本のラインの平均値のライン形状より解像度を推定し、解像度評価を行う。図８に平均値を求める際の例を示す。なお、図８のグラフの縦軸は、ＤＦＴ後の応答を示し、横軸は、周波数を示している。また、グラフ中、点線で示されるデータは、説明を簡単にするために、２５本のラインのうち、ラインＬ１〜Ｌ４を示しており、実線は、これらの平均値を示している。
【００２５】
なお、上述したような解像度評価を行うためのプログラムは、記録媒体に記録され、電子カメラ７内に備えられている。
この実施形態の解像度評価方法では、原稿３に描かれた模様のエッジ近傍における輝度の分布を３０ライン求め、このライン毎にフーリエ変換を行い、変調伝達関数（ＭＴＦ：　Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ　Ｔｒａｎｓｆｅｒ　Ｆｕｎｃｔｉｏｎ　以下、ＭＴＦという）を求め、最後にライン毎のＭＴＦの平均値を算出するようにしたので、より狭い範囲で、より多数のラインをフーリエ変換すれば正確度や精密度を高くすることができる。ひいては、電子カメラ７の機械的振動による影響を受けにくくすることができる。
【００２６】
さらに、この実施形態の解像度評価方法では、原稿３に描かれた模様のエッジ近傍における輝度の分布を３０ライン求め、またエッジ座標Ｅ１でのエッジの傾きを計算するので、撮影時の電子カメラ７の合焦精度や手ぶれの度合い等を含んだ電子カメラ７側の悪影響を定量的に把握することができる。そのため、撮影条件を変えて同一シーンを撮影した場合に、比較的焦点の合っている画像であるか、或いは比較的手ぶれの起こっていない画像であるかといったことを、解像度を確認することで的確に判断することができる。また、比較的解像度が低いディスプレイでは、少しでも良い解像度で観察することが観察者に望まれるので、この場合には特に効果的である。
【００２７】
この実施形態の解像度評価プログラムでは、原稿３に描かれた模様のエッジ近傍における輝度の分布を３０ライン求め、このライン毎にフーリエ変換を行い、ＭＴＦを求め、最後にライン毎のＭＴＦの平均値を算出するように構成したので、より狭い範囲で、より多数のラインをフーリエ変換させるように、このプログラムを実行させれば、正確度や精密度を高くすることができる。
【００２８】
なお、上述した実施形態では、フーリエ変換としてＤＦＴを用いた例について説明したが、高速フーリエ変換（ＦＦＴ：　　Ｆａｓｔ　Ｆｏｕｒｉｅｒ　Ｔｒａｎｓｆｏｒｍａｔｉｏｎ、以下ＦＦＴという）を用いても良い。
また、上述した実施形態では、解像度の評価を、複数のＭＴＦの平均値を算出して行った例について説明したが、評価する周波数毎に複数のＭＴＦの中から最大値を有するものを使用するようにしても良い。または、評価する周波数毎に複数のＭＴＦの中から最小値を有するものを使用するようにしても良い。要するに、複数のＭＴＦに対し、相互に連関する数学的処理を施し、的確なＭＴＦを算出することができるのならば如何なる数学的処理を施しても良い。
【００２９】
また、上述した実施形態では、光学機器として電子カメラ７を用いて説明したが、解像度評価を行うために原稿３を撮影することができる光学機器なら如何なるものでも良い。例えば、スキャナーや顕微鏡でも良い。
【００３０】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明の解像度評価方法では、原稿に描かれた模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求め、この複数ラインのライン毎にフーリエ変換し、ＭＴＦを求め、最後にライン毎のＭＴＦの平均値を算出するようにしたので、より狭い範囲で、より多数のラインをフーリエ変換すれば正確度や精密度を高くすることができる。ひいては、光学機器の機械的振動による影響を受けにくくすることができる。
【００３１】
また、本発明の解像度評価プログラムでは、原稿に描かれた模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求め、この複数のラインのライン毎にフーリエ変換を行い、ＭＴＦを求め、最後にライン毎のＭＴＦの平均値を算出するように構成したので、より狭い範囲で、より多数のラインをフーリエ変換させるようにこのプログラムを実行させれば、正確度や精密度を高くすることができる。
【００３２】
さらに、本発明の光学機器では、原稿に描かれた模様のエッジ近傍における輝度の分布を複数ライン求め、この複数のラインのライン毎にフーリエ変換を行い、ＭＴＦを求め、最後にライン毎のＭＴＦの平均値を算出するプログラムを実行可能であるので、より狭い範囲で、より多数のラインをフーリエ変換すれば、正確度や精密度を高くすることができる。ひいては、光学機器の機械的振動による影響を受けにくくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の解像度評価方法の一実施形態を示す流れ図である。
【図２】解像度評価の対象となる原稿を撮影するときの撮影方法を示す説明図である。
【図３】解像度評価の対象となる部分を示す説明図である。
【図４】解像度評価の対象となるエッジ部分のラインを示す説明図である。
【図５】ラインデータの階調変化を示す説明図である。
【図６】ラインデータの所定間隔毎の階調差に対しフィッティングをかけたとき説明図である。
【図７】フーリエ変換する範囲を示す説明図である。
【図８】フーリエ変換結果を示す説明図である。
【符号の説明】
３　原稿
７　電子カメラ
Ｅ１　エッジ座標
Ｌ１〜Ｌ３０　ライン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2004134861.tif 000008
【図７】
2004134861.tif 000009
【図８】
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