(57)【要約】【課題】ダイヘッドの吐出スリットの長手方向及び奥行き方向の任意の個所の隙間寸法を測定する。【解決手段】ダイヘッド１の吐出スリット２に硬化型のペースト６をはさみ込むなどして満たし、そのペーストを硬化させ、その後、硬化したペースト６Ａを取り出し、そのペースト６Ａの所望の個所の厚みを計測することで、吐出スリットの長手方向、奥行き方向の任意の個所の隙間寸法を高精度で測定する。【選択図】　図１
2004117222.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
隙間寸法を測定すべき隙間に硬化型のペーストを満たし、そのペーストを硬化させ、その後、硬化したペーストを取り出し、そのペーストの厚みを計測することで、前記隙間内の調べたい個所の隙間寸法を測定することを特徴とする隙間寸法測定方法。
【請求項２】
ダイヘッドの吐出スリットに硬化型のペーストを満たし、そのペーストを硬化させ、その後、硬化したペーストを取り出し、そのペーストの厚みを計測することで、前記吐出スリット内の調べたい個所の隙間寸法を測定することを特徴とする隙間寸法測定方法。
【請求項３】
前記硬化型のペーストが、２液以上の液混合により硬化が進行するタイプのものであることを特徴とする請求項１又は２記載の隙間寸法測定方法。
【請求項４】
硬化したペーストの厚みの計測を、そのペーストを切断し、厚み断面を顕微鏡で計測することにより行うことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載の隙間寸法測定方法。
【請求項５】
前記硬化型のペーストが、硬化型の導電性ペーストであり、硬化したペーストの厚みの計測を、該ペーストの厚さ方向での電気抵抗を測定することにより行うことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載の隙間寸法測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ウェブや板材等に塗布液を帯状に塗布するためのダイヘッドの吐出スリットのような、微小な隙間の寸法を高精度で測定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ウェブや板材に対する塗工の手段として、図２に示すように、幅の狭い吐出スリット２と、それに塗工液を供給するための供給通路３を備えたダイヘッド１が使用されている。このダイヘッド１を用いた塗工においては、吐出スリット２の幅方向の寸法（隙間寸法という）ｄが塗布厚の重要な因子となるため、その隙間寸法ｄを測定することが必要である。そこで、従来は、ステンレス板等で作られた隙間ゲージ４を吐出スリット２に挿入することにより、隙間寸法ｄを測定していた。また、吐出スリット２先端の吐出口を上から顕微鏡カメラで撮影し、得た拡大画像を処理することで隙間寸法ｄを計測する方法も知られていた。更に、静電容量式センサからなる測定子を吐出スリット内の所望位置に、吐出スリット内面に非接触の状態で挿入し、その部分の隙間寸法を測定する非接触式隙間測定器も知られていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、隙間ゲージを用いる方法では、狭い吐出スリット内に隙間ゲージを挿入しなければならないため、吐出スリット先端部分に傷がつきやすいという問題があった。また、隙間ゲージでは、その隙間ゲージを挿入した領域の最も狭い部分の隙間寸法しか測定できず、吐出スリットの奥行き方向の隙間寸法のばらつきを測定することはできないという問題もあった。一方、顕微鏡を用いる方法では、非接触での測定であるため、吐出スリットを傷つけるということはないが、吐出口の隙間寸法を測定できるのみであって、奥行き方向での隙間寸法は全く測定できないという問題があった。更に、非接触式隙間測定器では、吐出スリットの奥行き方向の所望位置の隙間寸法を測定することができるが、測定子を非接触な形態で挿入させる必要があることから、吐出スリット２の隙間寸法ｄが或る程度以上に大きくなければならず（現在のところ、隙間寸法ｄが２３０μｍ以上必要）、このため、隙間寸法ｄが２３０μｍ以下となるような狭い吐出スリットには使用できないという問題があった。近年、塗布膜厚を薄くする要望があり、そのため、隙間寸法ｄが５０μｍ以下というような狭い吐出スリット２を使用する場合があるが、このような狭い吐出スリットには、非接触式隙間測定器を使用できない。
【０００４】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、隙間寸法ｄが５０μｍ以下というような狭い吐出スリットなどの隙間に対しても、長手方向及び奥行き方向の所望の個所の隙間寸法を高精度で測定することを可能とした隙間寸法測定方法を提供することを課題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するためになされた本発明は、隙間寸法を測定すべき隙間に硬化型のペーストを流し込むとか、挟みこむことなどによって満たし、そのペーストを硬化させ、その後、硬化したペーストを取り出し、そのペーストの所望の個所の厚みを計測することで、前記隙間内の調べたい個所の寸法を測定するという構成としたものである。そして、この構成により、幅のきわめて狭いスリットなどの隙間に対しても、長手方向、奥行き方向の任意の個所の隙間寸法を高精度で測定することができる。
【０００６】
【発明の実施の形態】
本発明の隙間寸法測定方法の測定対象は任意であるが、代表的なものとして、ダイヘッドの吐出スリットを挙げることができる。ダイヘッドに本発明を適用する場合、ダイヘッドの吐出スリットに硬化型のペーストを満たし、そのペーストを硬化させ、その後、硬化したペーストを取り出し、そのペーストの厚みを計測することで、前記吐出スリット内の調べたい個所の寸法を高精度で測定することができる。
【０００７】
以下、ダイヘッドに本発明を適用する場合を例にとって本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図１（ａ）は隙間寸法の測定対象であるダイヘッド１の長手方向の一部を示す概略斜視図である。ダイヘッド１は二つのダイヘッド要素１ａ、１ｂを備えており、両者を突き合わせ、複数のボルト（図示せず）によって一体に組み立てている。そして、二つのダイヘッド要素１ａ、１ｂの間に狭い幅（例えば、５０μｍ程度）の吐出スリット２とそれに塗工液を供給するための供給通路３が形成されている。この吐出スリット２の幅即ち隙間寸法ｄを測定するには、まず、図１（ｂ）に示すように、二つのダイヘッド要素１ａ、１ｂを分解し、一方のダイヘッド要素１ｂの吐出スリット２を形成する面上に、吐出スリット２を満たす量よりも過剰な量の、硬化型のペースト６を供給し、それを満遍なく広げた後、図１（ｃ）に示すようにダイヘッド１を組み立てる。これにより、ダイヘッド１の吐出スリット２内にペースト６がはさみ込まれ、吐出スリット２内が硬化型のペースト６で満たされる。その状態でペースト６が硬化するまで時間をおき、ペースト６を硬化させる。その後、図１（ｄ）に示すようにダイヘッド１を分解し、硬化したペースト６Ａを取り出す［図１（ｅ）参照］。この硬化したペースト６Ａの、吐出スリット２内を満たしていた領域は、その吐出スリット２に正確に対応した形状となっており、その任意の個所の厚みは、吐出スリット２の対応した個所の隙間寸法と等しくなっている。そこで、硬化したペースト６Ａの、吐出スリット内の調べたい個所に対応する部分の厚みをマイクロメータ又は段差測定機等で計測する。以上により、吐出スリット内の調べたい個所の隙間寸法を測定することができる。
【０００８】
上記した実施の形態において、ペースト６には、ダイヘッドに供給する時には、吐出スリット２内を満たすのに必要な適度な流動性を備え、経時により或いは加熱により硬化する性質のものを適宜使用でき、なかでも、２液以上の液混合により化学反応して硬化が進行するタイプのものが、常温で敏速に硬化させ得る利点が得られるので、好ましい。このタイプのペースト６としては。歯科用付加型シリコーン印象材、例えば、Ｂａｙｅｒ　Ｄｅｎｔａｌ社製のＰＲＯＶＩＬ　Ｆ（商品名）を挙げることができる。
【０００９】
なお、上記の実施の形態では、ダイヘッド１を分解し、一方のダイヘッド要素１Ａにペースト６を塗布した後、ダイヘッド１を組み立て、吐出スリット２内にペースト６を満たす方法を採っているが、使用するペースト６の粘度が低い場合には、ダイヘッド１を分解することなく、吐出スリット２内にペースト６を流し込む方法を採っても良い。
【００１０】
また、上記の実施の形態では、硬化したペースト６の厚みをマイクロメータ又は段差測定機等を用いた接触式で計測しているが、厚み計測はこれに限らず、他の方法を用いても良い。例えば、硬化したペーストの厚みの計測を、そのペーストを千切りにするなどして切断し、厚み断面を顕微鏡で計測することにより行うことができる。この方法を採用した場合には、接触式での厚みの測定法に比べると、測定時にペーストが変形するとか、ペーストの底が浮くなどによって生じる恐れのあったわずかな測定誤差をも無くすことが可能となり、より高精度での厚み計測が可能となるといった利点が得られる。
【００１１】
更に、ペースト６として、硬化型の導電性ペーストを用い、硬化したペーストの厚みの計測を、該ペーストの厚さ方向での電気抵抗を測定することにより行うことも可能である。この方法を用いると、一層正確な厚み測定が可能となる。すなわち、電気抵抗の測定による厚み計測では、上記した接触式での厚みの測定法に比べて、測定時にペーストが変形するとか、ペーストの底が浮くなどによって生じる恐れのあったわずかな測定誤差をも無くすことが可能となり、しかも、ペーストを千切りして厚み断面を顕微鏡で計測する方式に比べて、ペーストを千切りした際の刃による硬化ペースト変形によってもたらされる恐れのあったわずかな測定誤差をも無くすことが可能となり、一層正確な厚み測定が可能となるという利点が得られる。
【００１２】
【発明の効果】
以上のように、本発明方法は、ダイヘッドの吐出スリットのような狭い隙間の隙間寸法を測定するに際し、その隙間に硬化型のペーストを満たし、そのペーストを硬化させ、その後、硬化したペーストを取り出し、そのペーストの厚みを計測する構成としたことで、従来の非接触式隙間測定器の測定子を挿入できないような狭い隙間に対しても、長手方向、奥行き方向の任意の場所の隙間寸法を高精度で測定することができ、しかも、従来のように隙間ゲージを挿入する必要がないので、隙間ゲージで付きやすい傷の心配がなくなるといった効果を有している。
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）、（ｅ）は本発明の実施の形態による隙間寸法測定動作を説明するもので、ダイヘッドの長手方向の一部及び硬化したペーストの概略斜視図
【図２】ダイヘッドの長手方向の一部及び隙間ゲージの概略斜視図
【符号の説明】
１　ダイヘッド
２　吐出スリット
３　供給通路
４　隙間ゲージ
６　ペースト
６Ａ　硬化したペースト
【図１】
2004117222.tif 000003
【図２】
2004117222.tif 000004