(57)【要約】【課題】検知部を部分放電発生部に安全な状態でできるだけ接近させ、絶縁物内で発生する部分放電を高感度に検出する。【解決手段】電圧が印加される導体を絶縁する絶縁物に設置された光ファイバー（２）と、この光ファイバー内を伝送する光の入力部（１）と、絶縁物内で発生する磁場変動による磁気光学効果に応動する磁場変動応動部（３）と、光ファイバーからの出力光を受光する出力部（４）と、入力部からの入力光と出力部からの出力光との差異から絶縁物の絶縁劣化を診断する劣化判定部（５）と、を備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電圧が印加される導体を絶縁する絶縁物に設置された光ファイバーと、この光ファイバー内を伝送する光の入力部と、前記絶縁物内で発生する磁場変動による磁気光学効果に応動する磁場変動応動部と、前記光ファイバーからの出力光を受光する出力部と、前記入力部からの入力光と前記出力部からの出力光との差異から前記絶縁物の絶縁劣化を診断する劣化判定部と、を備えたことを特徴とする電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項２】
前記光ファイバー及び磁場変動応動部は複数に分割して設置することを特徴とする請求項１記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項３】
前記光ファイバー及び磁場変動応動部は、前記絶縁物の表面を覆うことを特徴とする請求項１または請求項２記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項４】
前記光ファイバー及び磁場変動応動部は、前記絶縁物の内部に設置されていることを特徴とする請求項１記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項５】
前記光ファイバー及び磁場変動応動部は、前記絶縁物の厚み方向に複数に分割して配置されていることを特徴とする請求項２記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項６】
前記光ファイバー及び磁場変動応動部は、前記絶縁物の内部に、前記絶縁物の軸心と平行な方向に沿って配置されていることを特徴とする請求項４記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項７】
前記光ファイバー及び磁場変動応動部は、前記絶縁物の内部に、同芯的に複数の光路を分割した状態で配置されていることを特徴とする請求項４記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項８】
前記磁場変動応動部は、ファラデー効果ガラスからなっていることを特徴とする請求項１ないし７のいずれか１項に記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項９】
前記磁場変動応動部は、磁性フォトニック結晶からなっていることを特徴とする請求項１ないし７のいずれか１項に記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項１０】
前記劣化判定部は、前記入力部からの入力光と前記出力部からの出力光のファラデー回転角及び入出力ゲインを判定パラメータとして絶縁物の絶縁劣化を診断することを特徴とする請求項１ないし９のいずれか１項に記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項１１】
前記劣化判定部は、部分放電電荷量とファラデー回転角の相関曲線もしくは部分放電電荷量と入出力ゲインの相関曲線を表す特性データを蓄積したデータベースを備えていることを特徴とする請求項１ないし１０のいずれか１項に記載の電気機器の絶縁劣化診断装置。
【請求項１２】
絶縁物の表面に、磁化した磁性体シートを貼り付け、絶縁異常により発生する磁場による前記磁性体シートの磁化分布変動に基づいて前記絶縁物の絶縁劣化を検出することを特徴とする電気機器の絶縁劣化診断方法。
【請求項１３】
絶縁物の内部に感光材料を配置し、部分放電に伴う発光による前記感光材料の感光に基づいて前記絶縁物の絶縁劣化を検出することを特徴とする電気機器の絶縁劣化診断方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、絶縁物の絶縁劣化を定量的に評価し診断することができる電気機器の絶縁劣化診断方法及び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
高電圧を印加する電気機器（以下、高電圧機器という）の部分放電を検出する主な従来手法として、ＣＴ（変流器）センサを用いた接地線での漏れ電流検出法、アンテナ法による放電電磁波計測法、光ファイバーを用いた部分放電光の検出法などがあり、現在も研究が進められている。また、部分放電に伴って発生する気中の超音波を集音器で集音し計測する装置も市販されている。その他、部分放電による筐体振動をＡＥセンサや振動センサで検出する手法もある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
近年は、経年使用の高電圧機器が多くなり、状態監視に基づく最適保全計画（予測保全）のニーズが増大しつつある。前述した部分放電検出方法は、その検出原理や対象とする機器の定格・サイズなどが異なるため一概に比較できない面もあるが、現状の絶縁診断分野の興味は、放電検出の感度を向上させることと、診断精度向上のためのノイズ分離または識別、及び、フィールドで診断を行う際の実用性向上にある。
【０００４】
【特許文献１】
特開平１１−３２６４２９号公報（第５頁、図１）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、従来手法におけるＣＴ法では、現地にＣＴセンサを取付ける接地線がなければ、部分放電による漏れ電流等を計測することができない。また、盤全体からの漏れ電流を計測するので、盤内の機器のどこで部分放電が発生しているのかを特定することが困難である。電磁波計測法は高速サンプリングを必要とし、計測系の負担が大きい。光ファイバー法は受動的に部分放電による発光を検出する程度のものであり、光ファイバーの取付位置によって、部分放電光を検出できたりできなかったりといった不確実性の問題点がある。気中超音波集音装置の場合は、部分放電に伴い気中超音波を発生しないモードでは、部分放電を検出することができない。検出可能なケースでは、集音したデータをＦＦＴ（高速フーリエ変換）処理して、そのスペクトル強度で絶縁劣化の程度をレベル判定する方法であって、実際に機器から発生している放電電荷量を評価するものではない。また、ＡＥセンサを取付けて筐体振動から絶縁異常を診断する方法では、部分放電を超音波領域の機械振動として検出するが、機種や材質等によって、放電の周波数帯や強さが異なるので、一つのＡＥセンサだけでは、広範囲の周波数帯域の機種の部分放電検出に対応するのが難しい。また、部分放電と同一周波数帯に鉄心の励磁振動などが重なるケースでは、ＳＮ比（信号対ノイズの比）が低下して部分放電（Ｓ）信号とノイズ（Ｎ）の識別が難しい。モールド絶縁物内のボイド放電をＡＥセンサで検出する場合には、コイルのモールド絶縁物表面などに検知部を近接させて部分放電に伴うＡＥを検出する必要があり、診断時に感電する危険性さえ存在する。
【０００６】
本発明はこのような実情を考慮してなされたもので、検知部を部分放電発生部に安全な状態でできるだけ接近させ、絶縁物内で発生する部分放電の検出感度を向上させることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明は、電圧が印加される導体を絶縁する絶縁物に設置された光ファイバーと、この光ファイバー内を伝送する光の入力部と、絶縁物内で発生する磁場変動による磁気光学効果に応動する磁場変動応動部と、光ファイバーからの出力光を受光する出力部と、入力部からの入力光と出力部からの出力光との差異から絶縁物の絶縁劣化を診断する劣化判定部と、を備えたことを特徴とする電気機器の絶縁劣化診断装置を提供するものである。この絶縁劣化診断装置によれば、計測系と計測対象とが電気的に絶縁された状態で部分放電信号を検出できるため、従来より安全な診断が実現できる。また、放電部位と検出部を近接させられるため、従来絶縁物内で検出が困難であった信号レベルの放電も検出しやすくなり部分放電の検出感度を向上させることができる。
【０００８】
また、本発明は、絶縁物の表面に、磁化した磁性体シートを貼り付け、絶縁異常により発生する磁場による磁性体シートの磁化分布変動に基づいて絶縁物の絶縁劣化を検出することを特徴とする電気機器の絶縁劣化診断方法に関するものである。この絶縁劣化診断方法によれば、部分放電に伴う磁場変動が引き起こす磁性体シートの磁化変化を定期点検時にチェックすることにより部分放電発生状況のオフライン観測を実現することができる。
【０００９】
また、本発明は、絶縁物の内部に感光材料を配置し、部分放電に伴う発光による感光材料の感光に基づいて絶縁物の絶縁劣化を検出することを特徴とする電気機器の絶縁劣化診断方法に関するものである。この絶縁劣化診断方法によれば、絶縁物内の部分放電に伴う発光を感光材料上に痕跡として残すことができ、経年使用期間中の部分放電の有無や回数などを定期点検時などのオフライン時に容易かつ的確に確認することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明のポイントは、モールド材の中で発生する部分放電を磁場もしくは光として検出するものである。予め対象機器にセンサ手段を取付けておくことにより、所望の時期にオンラインもしくはオフラインで部分放電を安全に検出する。また、部分放電電荷量を定量的に推定したり放電部位を同定したりするための方法も提供するものである。
【００１１】
以下、上記の考え方に基づく本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００１２】
＜第１の実施の形態＞
図１において、入力部１はレーザーなどの光源を用いて直線偏光を光ファイバー２に入力する。入力された直線偏光は光ファイバー２内を伝播し、光ファイバー２に含まれるファラデー効果ガラス３ａ，３ｂ，３ｃを介して透過する。ファラデー効果ガラス３ａ，３ｂ，３ｃは磁場変動応動部３を構成する。ファラデー効果ガラス３ａ，３ｂ，３ｃを透過する際、ファラデー効果ガラス３ａ，３ｂ，３ｃに外部から磁場が印加されると、直線偏光は図２に示すように偏光面が回転されることになる。このときの偏光角（ファラデー回転角θ）は、ファラデー効果ガラスの厚さｔと磁場の大きさＨに比例する。すなわち、
ファラデー回転角θ＝Ｖ×ｔ×Ｈ
である。ここで、Ｖはベルデ定数と呼ばれるものであって、物質固有の比例係数である。
【００１３】
したがって、ファラデー効果ガラス３ａ，３ｂ，３ｃの材質として所望のものを選択し、ベルデ定数Ｖとファラデー効果ガラス３の寸法を把握しておくことにより、磁場の大きさＨとファラデー回転角θの相関を推定することができる。そこで、この光ファイバー２とファラデー効果ガラス３ａ，３ｂ，３ｃをモールド絶縁物内もしくはモールド絶縁物表面に取付けることにより、部分放電に付随して発生する磁場変動をファラデー効果として検出することができる。
【００１４】
光ファイバー２の出力端に配置された出力部４は検光子を含み、ファラデー効果ガラス３ａ，３ｂ，３ｃ内で偏光された光を光ファイバー２から取込み、検光子によってファラデー回転角θを検出し、それを劣化判定部５に出力する。劣化判定部５は、診断用のデータベース６を参照して部分放電電荷量ＰＤ（ｐＣ）をファラデー回転角θまたは入出力ゲインから算出する。それに対応して、データベース６は、図３（ａ）に示すように、実験的に求められた、関数ｆで表されるファラデー回転角θと部分放電電荷量（ｐＣ）との相関曲線、または、図３（ｂ）に示すように、関数ｇで表される入出力ゲインと部分放電電荷量ＰＤ（ｐＣ）との相関曲線の内容を蓄積している。ここで関数ｇは、部分放電に伴う導波路内での光伝送ロスについて、部分放電電荷量と入出力光のゲインの関係を関数ｇとして導出したものである。
【００１５】
第１の実施の形態の絶縁劣化診断装置では、このような構成とすることにより、高電圧を印加する電気機器（以下、高電圧機器という）の高圧受電部をモールドする絶縁物内で発生するボイド放電等の部分放電を光回路で検出することができるため、計測系と高電圧部の絶縁を保ったまま測定・診断をすることができる。したがって、計測作業時に高圧課電部に接触して感電するなどの危険性を低く抑えられるほか、オンラインでの計測／診断を実現することができる。
【００１６】
以上述べたように、この実施の形態によれば、高電圧が印加されるモールド部位に設置する光ファイバー２と、光ファイバー２内を伝送する光の入力部１と、モールド内で発生する磁場変動に応動して磁気光学効果を発揮する磁場変動応動部３と、光ファイバー２からの出力を受光する出力部４と、入出力の差異から診断を行う劣化判定部５と、劣化判定のためのデータベース６とを備えることにより、計測系と計測対象とが電気的に絶縁された状態で部分放電信号を検出することができる。そのため、従来より安全な診断を実現することができる。また、放電部位と検出部を近接させられるため、従来、モールド絶縁物内で検出が困難であった信号レベルの放電も検出しやすくなり、部分放電の検出感度を向上させることができる。
【００１７】
＜第２の実施の形態＞
図４は本発明の第２の実施の形態を示すものである。図４は、第１の実施の形態による絶縁劣化診断装置を部分放電検出のために高電圧機器に適用する場合の実施の形態を示すものである。まず、被検出部の磁場変動を検出するための光ファイバー２と磁場変動応動部３を、図４に示すように、高電圧導体部１０により高電圧が印加されるモールド絶縁物１１の外周面上に軸方向に多層に巻きつけることによりモールド絶縁物１１内の部分放電を検出する。磁場変動応動部３では、モールド絶縁物１１で絶縁されている高電圧導体部１０から発生する磁場によりバックグランド（背景）ノイズとしての偏光角振動が起きるが、モールド絶縁物１１内で部分放電が発生すると、バックグラウンドノイズに重畳する形で磁場変動が発生し、これに起因する偏光ぶれが検出される。光ファイバー２のモールド絶縁物１１表面での巻き密度を高めれば高めるほど、モールド絶縁物１１を覆う磁場変動応動部３の面積が大きくなり、部分放電の検出確率を大きくすることができる。また、本発明の絶縁劣化診断装置、特に高電圧機器に装着する部分の構造が非常に単純であることから、光ファイバー２と磁場変動応動部３をモールド絶縁物１１上に巻きつけることによって製品コストはさほど上げることがない。したがって、製品の設置現場におけるオンラインの絶縁診断を実現したい場合には、予めモールド絶縁物１１に光ファイバー２と磁場変動応動部３を巻きつけておくことにより、診断希望時に、入力部１、出力部４、劣化判定部５、及び診断用データベース６を接続して定量的な絶縁評価をすることができる。
【００１８】
この実施の形態によれば、光ファイバー及び磁場変動応動部は、高電圧が印加されるモールド絶縁物に巻きつけるようにしたので、モールド絶縁物の表面全体を光ファイバーで覆うことにより、覆っているモールド絶縁物内で発生する部分放電を累積する形で出力を検出することができ、部分放電の有無を感度よく検知することができる。
【００１９】
＜第３の実施の形態＞
図５は本発明の第３の実施の形態を示すものである。図５に示すように、高電圧導体部１０により高電圧が印加されるモールド絶縁物１１の外周面上に、光ファイバー２及び磁場変動応動部３を含む測定ユニット２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄを軸方向に多層（図では４層）に巻きつけ、各測定ユニットに入力部１及び出力部４を備えて測定ユニット２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄを完結させる。各測定ユニットの出力部４の出力を劣化判定部５に導くことにより、各測定ユニットに対応する部位毎に部分放電を検出することができ、部分放電の発生部位を、より狭い範囲に絞り込むことができる。
【００２０】
この実施の形態によれば、部分放電の発生部位または発生領域を半径方向及び軸方向に容易に特定することができる。
【００２１】
＜第４の実施の形態＞
図６は本発明の第４の実施の形態を示すものである。図６に示す実施の形態では、同図（ａ）に示すように、鉄心２０上に低電圧巻線２１を配置し、それと同心配置された第１の光ファイバー２２、及び高電圧巻線２３をモールド絶縁物２４によってモールドし、さらにモールド絶縁物２４の上に第２の光ファイバー２５を巻きつけている。光ファイバー２２，２５はそれぞれ複数の（図では４個の）ファラデー効果ガラスを含んでいる。さらに、同図（ｂ）に示すように、光ファイバー２２，２５はそれぞれ鉄心２０の軸方向にも複数個（図では１４個）に分割配置されている。この実施の形態においては、第１の光ファイバー２２及び第２の光ファイバー２５にそれぞれ入力部１ａ，１ｂ及び出力部４ａ，４ｂを備え、出力部４ａ，４ｂの出力光を別々に測定処理する。
【００２２】
この実施の形態によっても、第３の実施の形態（図５）と同様に、部分放電の発生部位または発生領域をモールド絶縁物の厚み方向（半径方向）及び鉄心の軸方向に容易に特定することができる。
【００２３】
＜第５の実施の形態＞
図７は本発明の第５の実施の形態を示すものである。これまでの実施の形態では、光ファイバー及びファラデー効果ガラス（磁場変動応動部）が周方向に走るように配置されていた。しかし、図７に示す実施の形態では、光ファイバー３１，３２とファラデー効果ガラス３３（磁場変動応動部）を、高電圧導体部３４を、介して高電圧が印加される円筒状のモールド絶縁物３５の軸心方向に走るように、周方向に複数箇所に分布してモールド絶縁物３５の内部に挿入しており、しかも多数本の光ファイバー３１，３２を互いに直列接続することにより、一塊をなすモールド絶縁物３５の内部全域を網羅する形で部分放電の有無を観測できるようにしている。直列接続の光ファイバー３１，３２の一端は入力部１に接続され、他端は出力部４に接続される。モールド絶縁物３５の中心貫通穴を高電圧機器の鉄心３０が貫挿している。
【００２４】
複数の光ファイバーを直列接続した場合、接続されている磁場変動応動部（ファラデー効果ガラス）のどれかが磁場変動を検出すれば異常を検知することができるので、検出感度が向上する。
【００２５】
一方、図８に示すように、光ファイバー３１，３２及び磁場変動応動部（ファラデー効果ガラス）を高電圧が印加されるモールド絶縁物３５内に同芯的に複数の光路に分割した状態で配置挿入することにより、一つの光路あたりの磁場変動応動部が少なくなり、検出回路１本あたりの部分放電検出感度は低下するが、１本１本の分割光路毎に磁場変動検出の有無を確認することができるので、どの光路で磁場変動が検出されたかの判定、すなわちモールド絶縁物３５内の部分放電発生部位の同定をより精細にすることができる。磁場変動応動部は、ファラデー効果ガラスのほかに磁性フォトニック結晶から構成することができ、部分放電に伴う磁場変動をファラデー回転角や入力光と出力光の比（ゲインもしくはロス）として定量的に評価することができる。
【００２６】
＜第６の実施の形態＞
図９は、本発明の第６の実施の形態の原理を説明する図である。同図（ａ）に示すように、ある方向に一様に磁化した磁性体シート４０をモールド絶縁物４１の外周面上に貼り付けることにより絶縁劣化を検出する。モールド絶縁物４１の軸芯部には高電圧導体部４２が貫通しているものとする。一様に磁化した磁性体シート４０を製品納入時もしくは定期点検などのオフライン時に、高電圧導体部４２を貫挿させたモールド絶縁物３１の外周面上に巻きつけておく。
【００２７】
この初期状態における磁性体シート４０の磁化方向は、同図（ｂ）に示すように、高電圧導体部４２が周囲に形成する磁場に逆らわない方向とし、高電圧導体部４２が形成する磁場中の長時間暴露により磁性体シート４０の磁化が自然に乱れないように注意する。
【００２８】
その状態でモールド絶縁物３１がボイドや経年劣化により内部で部分放電を発生し始めると、同図（ｃ）に示すように、モールド絶縁物３１の表面の磁場が変動して磁性体シート３０の磁化方向が初期状態から変化する。そこで、定期点検時に磁性体シート３０をモールド絶縁物３１から外して磁性体シート３０の磁化の変化状態を観察・計測することにより、部分放電の有無を検知する。観察及び計測は、磁区の方向を顕微鏡で調査したり、磁気ヘッドを用いた磁化読取装置で磁化分布の変化をチェックしたりすることによって実施することができる。
【００２９】
磁化状態が変化した部位の面積や磁化変化のビット数を定量的に評価し、部分放電電荷量との関係を実験的に求めてデータベース化することにより、部分放電の大きさを推定することも可能である。また、モールド絶縁物３１を解体しやすい形状に設計しておけば、モールド絶縁物３１の内部に磁性体シート３０を挿入しておくことにより、部分放電痕の検出感度を高めることができる。さらに、磁性体シート３０の挿入密度を高めるほど、部分放電検出と部分放電発生位置の同定を容易にすることができる。
【００３０】
＜第７の実施の形態＞
図１０は、本発明の第７の実施の形態の原理を説明する図である。同図（ａ）に示すように、高電圧導体部４０を取囲むモールド絶縁物４１の内部に、取外し可能な感光材料、例えば感光シート４２を埋込み、部分放電に伴う発光を感光シート４２に写真の原理で記録する。
【００３１】
モールド絶縁物４１内で発生する部分放電の発光はモールド絶縁物４１の表面からは放出しにくいため、仮にモールド絶縁物４１の外部に光センサーなどを配置しても、部分放電光を検出するのは一般に難しい。また、仮に部分放電光が外部に放射するとしても、その放射方向を予測することは非常に難しい。そのため、モールド絶縁物４１の外部に光センサーなどを配置する方式には、多数の光センサーと非常に大きな配置面積を必要とするという不便さがある。
【００３２】
そこで、本発明に従い、ハロゲン化銀などの感光剤を塗布した感光剤シート４２をモールド絶縁物４１内に埋め込み、高電圧導体部４０の周囲を網羅する形で広範囲に覆うことにより、部分放電光を検出することができる。製品出荷時に感光剤シート４２をモールド絶縁物４１内に埋め込んでおき、その後、定期点検時などの一定期間毎に感光剤シート４２の感光度合いをチェックすることにより、部分放電の発生履歴を検知することができる。モールド絶縁物４１の部位と感光剤シート４２の取付け位置の関係を予め設計条件として考慮し、モールド絶縁物４１を分解しやすい構造にしておくことにより、点検時の感光剤シート４２の取扱いを容易にすることができる。
【００３３】
定期点検時に感光剤シート４２上の部分放電光受光部４３（図１０（ｂ）参照）の面積を定量的に評価し、別途、部分放電電荷量と感光面積の関係を実験的に求めてデータベース化しておいてそれを参照することにより、部分放電の大きさを推定することができる。また、この方式では、部分放電痕の位置がそのまま部分放電発生位置と一対一に対応するため、部分放電発生部位を正確に同定することができる。
【００３４】
【発明の効果】
本発明の絶縁劣化診断装置によれば、計測系と計測対象とが電気的に絶縁された状態で部分放電信号を検出できるため、より安全な診断を実現することができる。また、放電部位と検出部を近接させられるため、モールド絶縁物内での信号レベルの放電をも容易に検出することができ、部分放電の検出感度を向上させることができる。
【００３５】
また、本発明の絶縁劣化診断方法によれば、部分放電発生状況のオフライン観測を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態の高電圧機器の絶縁劣化診断装置の概略的構成例を示すブロック図。
【図２】光ファイバーとファラデー効果ガラスによる磁場変動検出の原理を説明する説明図。
【図３】（ａ）及び（ｂ）は本発明の第１の実施の形態による高電圧機器の絶縁劣化診断装置におけるデータベースの異なる構成例を説明する図。
【図４】（ａ）は光ファイバーとファラデー効果ガラスからなる磁場変動応動部をモールド絶縁物の外周に巻きつけた場合の本発明の第１の実施の形態による高電圧機器の絶縁劣化診断装置の構成例を示す上面図、（ｂ）は同装置の側面図。
【図５】光ファイバーとファラデー効果ガラスからなる磁場変動応動部を複数に分割してモールド絶縁物の外周に巻きつけた場合の実施の形態を示す側面図。
【図６】（ａ）は光ファイバーとファラデー効果ガラスからなる磁場変動応動部をモールド絶縁物の外周に軸芯方向に多層に巻きつけるとともに半径方向にも分割して配置した実施の形態を示す上面図、（ｂ）は同装置の側面図。
【図７】（ａ）は光ファイバーとファラデー効果ガラスからなる磁場変動応動部を高電圧が印加されるモールド絶縁物内に軸芯方向に走らせて配置するとともに複数の光路を同芯状に分割した状態で挿入する実施の形態を示す上面図、（ｂ）は同装置の側面断面図。
【図８】（ａ）は光ファイバーとファラデー効果ガラスからなる磁場変動応動部を高電圧が印加されるモールド絶縁物の厚み方向に複数に分割しの光路を分割した状態で挿入する実施の形態を示す上面図、（ｂ）は同装置の側面断面図。
【図９】（ａ）は一様に磁化した磁性体シートをモールド絶縁物の表面に貼りつけることにより絶縁劣化を検出する原理を説明する説明図、（ｂ）は磁性体シートの初期状態における磁化方向を示す図、（ｃ）は磁性体シートの経年使用後の異常磁化状態を示す図である。
【図１０】（ａ）は本発明の第３の実施の形態の絶縁劣化診断方法において、モールド絶縁物の内部に取り外し可能な感光材料を埋め込み部分放電に伴う発光を検出する原理を説明する上面図、（ｂ）は展開図である。
【符号の説明】
１，１ａ，１ｂ  入力部
２，２２，２５，３１，３２  光ファイバー
３，３ａ，３ｂ，３ｃ，３３  ファラデー効果ガラス
４，４ａ，４ｂ  出力部
５  劣化判定部
６  データベース
１０，３４，４２  高電圧導体部
１１，２４，３５，４１  モールド絶縁物
２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄ  測定ユニット
２１  低電圧巻線
２３  高電圧巻線
３０  鉄心
４０  磁性体シート
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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