(57)【要約】【課題】放射線画像撮像装置で連続透視によるＸ線画像の撮像を行う場合に、Ｘ線平面検出器の画素の一部に直接Ｘ線によるハレーションのような過剰なＸ線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しいＸ線画像を取得し、観察者が撮影画像を容易に判読できるようにする。【解決手段】Ｘ線平面検出器の画素アレイからの信号電荷の読み出しに先立って、信号電荷の空読みをすることにより漏洩信号情報を取得し、この漏洩信号情報に基づいてＸ線画像データの補正を行う。【選択図】  図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体にＸ線を照射するＸ線源と、
前記Ｘ線源から照射されたＸ線を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素アレイと、該画素アレイの各行ごとに当該行に含まれる検出素子の信号電荷をＸ線照射中に読出し線を介して読出し、画像データとして出力する読出し部とを有するＸ線平面検出器であって、前記読出し部は連続透視画像を構成する各フレームの画像データの補正に先立って前記画素アレイの信号電荷を空読みすることにより検出素子から信号読み出し線に漏洩する漏洩信号情報を少なくとも１行分出力するＸ線平面検出器と、
前記読出し部から出力される漏洩信号情報に基づいて前記Ｘ線平面検出器の１行分の補正データを記憶する補正データ記憶手段と、
前記読出し部から出力される画素アレイの各行の画像データから前記補正データ記憶手段に記憶された補正データを減算することにより画像データの補正を行う画像データ補正手段と、
前記画像データ補正手段により補正された画像データに基づいて連続透視画像を表示する画像表示手段と、
を備えることを特徴とする放射線画像撮像装置。
【請求項２】
被検体にＸ線を照射するＸ線源と、
前記Ｘ線源から照射されたＸ線を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素アレイであって該画素アレイの一部の画素行に対しＸ線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素アレイと、前記画素アレイの各行ごとに当該行に含まれる検出素子の信号電荷をＸ線照射中に読出し線を介して読出し、画像データとして出力する読出し部とを有するＸ線平面検出器であって、前記読出し部は連続透視画像を構成する各フレームの画像データの補正に先立って前記画素アレイのうちＸ線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素行の信号電荷を読出して漏洩信号情報を少なくとも１行分出力するＸ線平面検出器と、
前記読出し部から出力される漏洩信号情報に基づいて前記Ｘ線平面検出器の１行分の補正データを記憶する補正データ記憶手段と、
前記読出し部から出力される画素アレイの各行の画像データから前記補正データ記憶手段に記憶された補正データを減算することにより画像データの補正を行う画像データ補正手段と、
前記画像データ補正手段により補正された画像データに基づいて連続透視画像を表示する画像表示手段と、
を備えることを特徴とする放射線画像撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は放射線画像撮像装置に係り、特に連続透視時の画像データに対して漏洩信号情報に基づく補正を行う放射線画像撮像装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
放射線画像撮像装置は、被検体にＸ線を照射し、透過Ｘ線を平面検出器で検出することで被検体のＸ線画像データを得ている。このＸ線平面検出器は、Ｘ線画像信号を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素アレイと、各画素列ごとに設けられた信号読み出し線と、各検出素子ごとに設けられ、各検出素子からの信号読出し線を介した信号読出しを閉開するスイッチング手段とを有し、該スイッチング手段を制御して画素アレイの行ごとに該行に含まれる検出素子の信号電荷を読み出すようになっている（例えば、非特許文献１参照）。
【０００３】
このようなＸ線平面検出器は、パルス透視のような、Ｘ線照射と信号読み出しが時間的に重ならないＸ線画像の撮像に用いられてきた。
【０００４】
【非特許文献１】
飯沼  武、館野之男  編著「Ｘ線イメージング」
２００１年６月１５日  コロナ社発行
（第８６頁〜第８９頁、第３．５７図、第３．６０図、第３．６１図）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のＸ線平面検出器で、連続透視のようなＸ線照射と信号読み出しが時間的に重なるＸ線画像の撮像を行う場合、画素アレイに直接Ｘ線による過剰なＸ線が入射すると、その入射領域の検出素子に信号容量を超える過剰な信号電荷が蓄積され、画素アレイの各行の検出素子からの信号読み出し時に該過剰な信号電荷が信号読み出し線に漏洩し、上記領域を通る信号読出し線を介して読み出される画素列に属する検出素子の信号に該漏洩電荷分が重畳される。
【０００６】
これにより、例えば画素アレイ中に、Ｘ線絞りの影のようにＸ線が当たらない部分があると、漏洩電荷が重畳した列の部分とそうでない部分とで見かけの信号量が異なり、列方向に連続してアーチファクト（偽像）が生じる。
【０００７】
このようなアーチファクトが生じると正しいＸ線画像が得られず、観察者が撮影画像を判読することが困難になる。
【０００８】
本発明は、上記事情を鑑みてなされたものであり、連続透視によるＸ線画像の撮像を行う場合に、Ｘ線平面検出器の画素の一部に直接Ｘ線による過剰なＸ線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しいＸ線画像を取得し、観察者が撮影画像を容易に判読できる放射線画像撮像装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１に記載された本発明の放射線画像撮像装置は、被検体にＸ線を照射するＸ線源と、前記Ｘ線源から照射されたＸ線を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素アレイと、該画素アレイの各行ごとに当該行に含まれる検出素子の信号電荷をＸ線照射中に読出し線を介して読出し、画像データとして出力する読出し部とを有するＸ線平面検出器であって、前記読出し部は連続透視画像を構成する各フレームの画像データの補正に先立って前記画素アレイの信号電荷を空読みすることにより検出素子から信号読み出し線に漏洩する漏洩信号情報を少なくとも１行分出力するＸ線平面検出器と、前記読出し部から出力される漏洩信号情報に基づいて前記Ｘ線平面検出器の１行分の補正データを記憶する補正データ記憶手段と、前記読出し部から出力される画素アレイの各行の画像データから前記補正データ記憶手段に記憶された補正データを減算することにより画像データの補正を行う画像データ補正手段と、前記画像データ補正手段により補正された画像データに基づいて連続透視画像を表示する画像表示手段とを備えることを特徴としている。
【００１０】
請求項１に記載の発明では、Ｘ線源から照射されたＸ線がＸ線平面検出器に入射すると、Ｘ線平面検出器の画素アレイの各検出素子によってＸ線が信号電荷に変換される。その後、連続透視画像を構成する各フレームの画像データを補正するのに先立って、読出し部が画素アレイの信号電荷を空読みし、少なくとも１行分の漏洩信号情報を出力する。この漏洩信号情報に基づく１行分の補正データを補正データ記憶手段が記憶する。
【００１１】
なお信号電荷の空読みは少なくとも１行について行えばよいが、複数行分の信号電荷を空読みし、当該複数行分の漏洩信号情報に基づいて補正データを算出し、記憶するようにしてもよい。
【００１２】
補正データが記憶されると、読出し部が画素アレイの各行毎に当該行に含まれる検出素子の信号電荷（補正前の画像データ）を読出し、画像データとして出力する。この画像データに対し、画像データ補正手段が画素アレイの各行に対応する画像データから補正データを減算して画像データの補正を行い、画像表示手段が上記画像データに基づく画像を連続透視画像の１フレームとして表示する。
【００１３】
このように、Ｘ線平面検出器の画素アレイから漏洩信号情報を取得し、この漏洩信号情報を基にＸ線画像データの補正を行うので、画素アレイの一部に直接Ｘ線による過剰なＸ線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しい画像データを得ることができ、またアーチファクトの解消された正しい画像を表示するので、観察者は撮影画像を容易に判読できる。
【００１４】
請求項２に記載された発明は、被検体にＸ線を照射するＸ線源と、前記Ｘ線源から照射されたＸ線を信号電荷に変換する検出素子を二次元状に配列した画素アレイであって該画素アレイの一部の画素行に対しＸ線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素アレイと、前記画素アレイの各行ごとに当該行に含まれる検出素子の信号電荷をＸ線照射中に読出し線を介して読出し、画像データとして出力する読出し部とを有するＸ線平面検出器であって、前記読出し部は連続透視画像を構成する各フレームの画像データの補正に先立って前記画素アレイのうちＸ線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素行の信号電荷を読出して漏洩信号情報を少なくとも１行分出力するＸ線平面検出器と、前記読出し部から出力される漏洩信号情報に基づいて前記Ｘ線平面検出器の１行分の補正データを記憶する補正データ記憶手段と、前記読出し部から出力される画素アレイの各行の画像データから前記補正データ記憶手段に記憶された補正データを減算することにより画像データの補正を行う画像データ補正手段と、前記画像データ補正手段により補正された画像データに基づいて連続透視画像を表示する画像表示手段とを備えることを特徴としている。
【００１５】
請求項２に記載された発明では、Ｘ線源から照射されたＸ線がＸ線平面検出器に入射すると、Ｘ線平面検出器の画素アレイの各検出素子によってＸ線が信号電荷に変換される。その後、連続透視画像の各フレームを構成する画像データの信号を読み出す際に、読出し部が、画素アレイのうちＸ線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素行（マスク行）の信号電荷を読出し、少なくとも１行分の漏洩信号情報を出力する。この漏洩信号情報に基づく補正データを、補正データ算出手段が記憶する。
【００１６】
なおマスク行からの信号電荷の読出しは少なくとも１行について行えばよいが、複数行分の信号電荷を読出し、当該複数行分の漏洩信号情報に基づいて補正データを算出し、記憶するようにしてもよい。
【００１７】
また、読出し部は画素アレイの他の画素行からも信号電荷（補正前の画像データ）を読出し、画像データとして出力する。この画像データに対し、画像データ補正手段が画素アレイの各画素行に対応する画像データから補正データを減算して画像データの補正を行い、画像表示手段が上記画像データに基づく画像を連続透視画像を構成する１フレームとして表示する。
【００１８】
このように、Ｘ線平面検出器の画素アレイのうち、Ｘ線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施された画素行（マスク行）の信号電荷を読み出すことにより漏洩信号情報を取得し、この漏洩信号情報を基にＸ線画像データの補正を行うので、画素アレイの一部に直接Ｘ線による過剰なＸ線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しい画像データを得ることができ、またアーチファクトの解消された正しい画像を表示するので、観察者は撮影画像を容易に判読できる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に従って本発明に係る放射線画像撮像装置の第一の実施の形態について詳説する。
【００２０】
図１は、第一の実施の形態が適用された放射線画像撮像装置１０の全体構成を示すブロック図である。
【００２１】
放射線画像撮像装置１０は、Ｘ線制御回路１２を備えている。このＸ線制御回路１２の制御によりＸ線源１６からＸ線が照射され、被検体１４を透過したＸ線がＸ線平面検出器１８によって検出されて、画像データ取得制御部２０の制御によりＸ線画像データとしてＸ線画像メモリ２２に記憶される。
【００２２】
上記Ｘ線画像メモリ２２に記憶されたＸ線画像データは、漏洩信号補正部２８によって漏洩信号補正が施されて補正後画像データメモリ３０に記憶され、表示制御部３２を介して表示モニタ３４に画像として表示される。
【００２３】
なお、Ｘ線源１６およびＸ線平面検出器１８は、放射線画像撮像装置１０の使用状態に応じ、被検体１４に対して相対的に移動できるようにしてもよい。
【００２４】
操作部３６は放射線画像撮像装置１０の操作を行うもので、図示しないボタンやスイッチを含み、Ｘ線の照射／非照射、列補正データ算出時の漏洩信号情報取得数、画像データの表示等が設定可能に構成されている。
【００２５】
画像データ取得制御部２０は、Ｘ線平面検出器１８から出力される画像データを取得し、画像データをＸ線画像メモリ２２に記憶させる。また、画像データ取得制御部２０は、画像データの補正に先立って、Ｘ線平面検出器１８から漏洩信号情報を取得し、漏洩信号情報メモリ２４に記憶させる（後述）。
【００２６】
漏洩信号情報メモリ２４には列補正データ算出部２６が接続されており、この列補正データ算出部２６は、漏洩信号情報メモリ２４に記憶されている漏洩信号情報から列補正データを算出し、記憶する（後述）。
【００２７】
列補正データ算出部２６には漏洩信号補正部２８が接続されており、漏洩信号補正部２８は、列補正データ算出部２６に記憶されている列補正データをＸ線画像メモリ２２に記憶されているＸ線画像データから減ずることにより、漏洩信号補正を行う。この補正により、漏洩信号補正の施された画像データが得られる。
【００２８】
表示制御部３２は、操作部３６の設定により、Ｘ線画像メモリ２２に記憶されている漏洩信号補正前のＸ線画像データ、漏洩信号情報メモリ２４に記憶されている漏洩信号、および補正後画像データメモリ３０に記憶されている漏洩信号補正後の画像データに基づく画像を表示モニタ３４に表示できるように構成されている。
【００２９】
なお、放射線画像撮像装置１０は、上記の他、図示しないＣＰＵを含み、該ＣＰＵにより放射線画像撮像装置１０の処理制御を行うようになっている。
【００３０】
図２に、Ｘ線平面検出器１８の要部構成を示す。Ｘ線平面検出器１８には、Ｘ線が照射されると光を発する蛍光体層４２が設けられおり、蛍光体層４２の下には、基盤４０の上に、蛍光体層４２が発した光に対応する電荷（信号電荷）を蓄積する検出素子を二次元アレイ状に配列した画素アレイ４４が設けられている。
【００３１】
画素アレイ４４の各検出素子は、拡大図に示すように、フォトダイオード５４とＦＥＴスイッチ５６とから構成されている。また、各検出素子は行ごとに備えられているスイッチ制御線４６と列ごとに備えられている信号読出し線４８とに接続されており、各行のスイッチ制御線４６は読出し行選別回路５０に、各列の信号読出し線４８は読み出し回路５２に接続されている。
【００３２】
画素アレイ４４から各検出素子の信号電荷のデータを読出すには、読出し行選別回路５０により読出しの対象となる画素行のスイッチのみをＯＮとし、それ以外のスイッチをＯＦＦとした状態で、読出し回路５２により、読み出し対象行に含まれる各列の画素の信号電荷を読み出す。
【００３３】
読出し行選別回路５０が全ての画素行のスイッチをＯＦＦにした状態で読出し回路５２がＭ行目のデータを読取ると（データの空読み）、漏洩信号情報が得られる。
【００３４】
図３は、漏洩電荷重畳の影響を示す概念図である。図３（ａ）に示すように、画素アレイ４４中のある領域に直接Ｘ線により過剰なＸ線が入射した場合、その領域を通過する全ての列が該Ｘ線の影響を受け、図３（ｂ）に示すように過剰な信号電荷が発生し漏洩電荷として各列の信号電荷に重畳される。
【００３５】
したがって、このような漏洩信号情報（漏洩電荷）を読出された信号電荷から減じることにより、画像データに対する漏洩信号補正を行うことができる。
【００３６】
次に、上記実施の形態の作用を図４に基づいて説明する。図４は放射線画像撮像装置１０で行われる処理のタイムチャートであり、各項目の処理が実行されるタイミングを示している。
【００３７】
まず、信号電荷（補正前の画像データ）の取得に先立ち、画素アレイ４４の全てのスイッチ制御線４６が閉（ＯＦＦ）の状態で、１行目から４行目の信号電荷を空読みする。これにより４行分の漏洩信号情報を取得し、漏洩信号情報メモリ２４に記憶させる。
【００３８】
次に、１行目のスイッチ制御線４６を開（ＯＮ）にして１行目の信号電荷を取得し、Ｘ線画像メモリ２２に記憶させる。その後、１行目のスイッチ制御線４６を閉（ＯＦＦ）にして２行目のスイッチ制御線４６を開（ＯＮ）にし、２行目の信号電荷を取得し記憶する。以下、同様に最終行（本実施の形態ではＫ行とする）まで、信号電荷の取得および記憶を繰り返す。
【００３９】
上記信号電荷（補正前の画像データ）の取得と並行して、列補正データの算出および記憶を行う。列補正データは、列補正データ算出部２６が、漏洩信号情報メモリ２４に記憶されている４行分の漏洩信号情報を平均化することにより得られる。得られた列補正データは、列補正データ算出部２６が記憶する。
【００４０】
なお、本実施の形態では４行分の漏洩信号情報を平均化することにより列補正データを得ているが、列補正データは少なくとも１行以上の漏洩信号情報から算出すればよい。
【００４１】
補正前画像データが取得されてＸ線画像メモリ２２に記憶され、列補正データが算出されて列補正データ算出部２６に記憶されると、漏洩信号補正部２８が、補正前画像データの各行のデータから列補正データを減ずることにより漏洩信号の補正を行う。この処理は、図４に示すように、画素アレイ４４の各行に対して行われる。
【００４２】
上記処理が終了すると、漏洩信号補正後の画像データが得られ、各行ごとに順次補正後画像データメモリ３０に記憶される。補正後画像データメモリ３０に記憶された画像データは、表示制御部３２の制御により表示モニタ３４に画像として表示される。
【００４３】
なお、以上の記述は連続透視画像を構成する１フレームについての処理を説明したものであり、放射線画像撮像装置１０を用いて行われる連続透視では、以上の処理が繰り返し行われる。
【００４４】
以上説明したように、本実施の形態が適用された放射線画像撮像装置１０では、画像データの取得に先立って、Ｘ線平面検出器１８の全スイッチ制御線４６を閉（ＯＦＦ）にした状態で信号電荷の空読みをすることにより漏洩信号情報を取得し、この取得した漏洩信号情報を平均化して得られた列補正データをＸ線画像データの各行のデータから減ずることにより、漏洩信号電荷の補正を行う。
【００４５】
したがって、Ｘ線平面検出器１８の画素アレイの一部に直接Ｘ線による過剰なＸ線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しいＸ線画像を取得でき、また観察者が撮影画像を容易に判読できる。
【００４６】
次に、本発明に係る放射線画像撮像装置の第２の実施の形態について説明する。なお、第２の実施の形態が適用された放射線画像撮像装置１０’の全体構成は、第１の実施形態と同様（図１参照）であるので省略する。
【００４７】
図５（ａ）に、放射線画像撮像装置１０’のＸ線平面検出器１８’の要部構成を示す。
【００４８】
Ｘ線平面検出器１８’の基本的な構成は図２に示すＸ線平面検出器１８と同様であるが、Ｘ線平面検出器１８’は、画素アレイ４４のうち一部の画素行（本実施の形態では２行）に対しＸ線の照射による信号電荷の発生を防止する処理が施されている。この処理は、図５（ｂ）に示すように、蛍光体層４２の上記画素行に対応する部分を、Ｘ線を透過させない、鉛などのＸ線非透過材６０で覆うことにより行われる。
【００４９】
なお、Ｘ線の照射による信号電荷の発生防止処理は、上記の方法の他、図５（ｃ）に示すように、Ｘ線が蛍光体層４２に入射することにより発生する光が画素アレイ４４に入射しないよう、一部の画素行を光を透過させない光非透過材６２で覆い、残りの画素行を光を透過させる光透過材６４で覆うことにより行うようにしてもよい。ここで、光非透過材６２としては着色したプラスチックやガラス、金属などを用いることができ、光透過材６４としては透明なプラスチックやガラス等を用いることができる。
【００５０】
次に、上記実施の形態の作用を図６に基づいて説明する。図６は、図４と同様に、放射線画像撮像装置１０’で行われる処理のタイムチャートを示すものであり、各項目の処理が実行されるタイミングを示している。
【００５１】
まず、信号電荷（補正前の画像データ）の取得に先立ち、漏洩信号情報の取得を行う。本実施の形態では、画素アレイ４４の１行目および２行目がマスクされ、この２行から漏洩信号情報を取得する場合について説明する。
【００５２】
処理開始の時点では、画素アレイ４４の全てのスイッチ制御線４６を閉（ＯＦＦ）の状態とする。処理を開始すると、１行目のスイッチ制御線４６を開（ＯＮ）にして１行目の信号電荷を取得し、漏洩信号情報メモリ２４に記憶させる。その後、１行目のスイッチ制御線４６を閉（ＯＦＦ）にして２行目のスイッチ制御線４６を開（ＯＮ）にし、２行目の信号電荷を取得して１行目と同様に漏洩信号情報メモリ２４に記憶させる。
【００５３】
このようにして１行目および２行目から読取った信号電荷が漏洩信号情報となる。
【００５４】
漏洩信号情報の取得が終了すると、信号電荷（補正前の画像データ）の取得を行う。この処理は、３行目以降、最終行（本実施の形態ではＫ行とする）までのマスクされていない画素行に対してなされるものであり、その方法は、マスク行からの信号電荷の取得および記憶の方法と同じである。
【００５５】
上記信号電荷の取得と並行して、列補正データの算出および記憶を行う。列補正データは、列補正データ算出部２６が、漏洩信号情報メモリ２４に記憶されている２行分の漏洩信号情報を平均化することにより得られる。得られた列補正データは、列補正データ算出部２６が記憶する。
【００５６】
なお、本実施の形態では２行分の漏洩信号情報を平均化することにより列補正データを得ているが、列補正データは、画素アレイ４４のうちマスクされた画素行の数に応じて、少なくとも１行以上の漏洩信号情報から算出すればよい。
【００５７】
以下、Ｘ線画像データの補正および表示の処理は第一の実施の形態と同様であり、説明を省略する。
【００５８】
なお、以上の記述は連続透視画像を構成する１フレームについての処理を説明したものであり、放射線画像撮像装置１０’を用いて行われる連続透視では、以上の処理が繰り返し行われる。
【００５９】
以上説明したように、本実施の形態が適用された放射線画像撮像装置１０’では、画素アレイ４４のうちマスクされた行の信号電荷を読出すことにより漏洩信号情報を取得し、この取得した漏洩信号情報を平均化して得られた列補正データをＸ線画像データの各行のデータから減ずることにより、漏洩電荷の補正を行う。
【００６０】
したがって、第一の実施の形態の場合と同様に、Ｘ線平面検出器１８’の画素アレイの一部に直接Ｘ線による過剰なＸ線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しいＸ線画像を取得でき、また観察者が撮影画像を容易に判読できる。
【００６１】
なお、上述の第一および第二の実施の形態においては、Ｘ線平面検出器からの漏洩信号情報の取得を信号電荷（補正前の画像データ）の読出しに先立って行っているが、漏洩信号情報の取得は信号電荷の読出し後に行うようにしてもよい。
【００６２】
例えば、第一の実施の形態においては、Ｘ線平面検出器１８の１行目からＫ行目までの信号電荷を読み出しＸ線画像データとしてＸ線画像メモリ２２に記憶した後、全ての画素行のスイッチをＯＦＦにして１行目から４行目までのデータを読み取る（空読みする）ことにより漏洩信号情報を取得し、該漏洩信号情報に基づいて列補正データを算出してＸ線画像データを補正することができる。
【００６３】
また、第二の実施の形態においては、Ｘ線平面検出器１８’の（Ｋ−１）行目およびＫ行目をマスク行として該マスク行にＸ線照射による信号電荷の発生防止処理を施し、１行目から（Ｋ−２）行目までについて信号電荷を読み出しＸ線画像データとして記憶した後、（Ｋ−１）行目およびＫ行目のデータを取得して漏洩信号情報とし、該漏洩信号情報に基づいて列補正データを算出してＸ線画像データを補正することができる。
【００６４】
なお、第一および第二の実施の形態においては、表示モニタ３４に補正後の画像データに基づく画像が表示される場合について説明しているが、補正前の画像データに基づく画像や漏洩信号情報を表示し、補正後の画像データによる画像と比較できるようにしてもよい。
【００６５】
また、第一および第二の実施の形態においては、漏洩電荷の補正がなされた画像データの出力として、表示モニタ３４に画像として表示する場合について説明しているが、この他磁気ディスク等の記録装置を設けて連続透視画像を画像データとして記録し、くり返し画像表示できるようにしてもよい。
【００６６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、連続透視によるＸ線画像の撮像を行う場合に、Ｘ線平面検出器の画素アレイの一部に直接Ｘ線による過剰なＸ線が入射しても、それによって生じるアーチファクトを解消して正しい画像データを取得でき、観察者が撮影画像を容易に判読できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第一の実施形態に係る放射線画像撮像装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第一の実施の形態に係り、Ｘ線平面検出器の要部構成を示す図である。
【図３】本発明の第一の実施の形態に係り、漏洩電荷重畳の影響を示す概念図である。
【図４】本発明の第一の実施の形態に係り、放射線画像撮像装置での処理を示すタイムチャートである。
【図５】本発明の第二の実施の形態に係り、Ｘ線平面検出器の要部構成を示す図である。
【図６】本発明の第二の実施の形態に係り、放射線画像撮像装置での処理を示すタイムチャートである。
【符号の説明】
１０，１０’・・・放射線画像撮像装置、１８，１８’・・・Ｘ線平面検出器、２２・・・Ｘ線画像メモリ、２４・・・漏洩信号情報メモリ、３０・・・補正後画像データメモリ、３４・・・表示モニタ、４２・・・蛍光体層、４４・・・画素アレイ、４６・・・スイッチ制御線、４８・・・信号読出し線、６０・・・Ｘ線非透過材、６２・・・光非透過材、６４・・・光透過材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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