(57)【要約】【課題】着脱耐久性に優れ、軽微な着脱力で簡単に操作することができ、しかも確実に接続することができる同軸コネクタを提供する。【解決手段】第１の基板１０に第１の中心導体１１および第１の外部導体１４が設けられたプラグ１が保持されており、第２の基板２０に第２の中心導体２１および第２の外部導体２４が設けられたレセプタクル２が保持され、圧接手段３により第１の基板１０および第２の基板２０を一定の間隔で圧接する構造で、第１および第２の中心導体１１、２１が、内部にスプリングを有し、先端部の突出長を可変し得るコンタクトプローブ１２を介して接続されると共に、第１の外部導体１４が先端部の突出長を可変し得る可動円筒体（スリーブ１４２）を有し、圧接手段３により第１および第２の基板１０、２０を押し付けるだけで、中心導体１１、２１同士および外部導体１４、２４同士が電気的に接続される。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の基板に保持され、第１の中心導体およびその周囲に第１の誘電体を介して設けられる第１の外部導体からなるプラグと、第２の基板に保持され、第２の中心導体およびその周囲に第２の誘電体を介して設けられる第２の外部導体からなるレセプタクルと、前記第１の基板および第２の基板を一定の間隔で圧接して前記プラグおよびレセプタクルの中心導体同士および外部導体同士を電気的に接続させる圧接手段とを有し、前記第１および第２の中心導体が、内部にスプリングを有し、先端部の突出長を可変し得るコンタクトプローブを介して接続されると共に、前記第１および第２の外部導体の少なくとも一方が先端部の突出長を可変し得る可動円筒体を有する構造である同軸コネクタ。
【請求項２】
前記プラグおよびレセプタクルの少なくとも一方は、該プラグまたはレセプタクルを保持する基板と完全には固定されないで、該プラグまたはレセプタクルが基板面に対して平行方向に移動し得るフロート状態で前記基板に保持される構造である請求項１記載の同軸コネクタ。
【請求項３】
前記プラグおよびレセプタクルの少なくとも一方は、該プラグまたはレセプタクルを保持する基板と完全には固定されないで、該プラグまたはレセプタクルが基板面に対して垂直方向に可変し得る垂直方向可変手段が設けられてなる請求項１または２記載の同軸コネクタ。
【請求項４】
前記プラグおよびレセプタクルの少なくとも一方に設けられる先端部の突出長を可変し得る前記コンタクトプローブおよび前記可動円筒体は、前記プラグおよびレセプタクルが圧接されない状態で、該プラグとレセプタクルとの接合面に対する前記可動円筒体の突出長が前記コンタクトプローブの接合面に対する突出長より長く突出するように形成されてなる請求項１、２または３記載の同軸コネクタ。
【請求項５】
前記プラグおよびレセプタクルの中心導体同士および外部導体同士の接続部の少なくとも一方に導電性ゴムシートが設けられてなる請求項１ないし４のいずれか１項記載の同軸コネクタ。
【請求項６】
前記プラグが前記第１の基板に複数個設けられ、該複数個のプラグのそれぞれに対応するように前記レセプタクルが前記第２の基板に複数個設けられると共に、前記プラグおよびレセプタクルの一方側に被検査物が接続され、他方側に検査装置が接続され、前記プラグおよびレセプタクルの複数組の中心導体同士および外部導体同士の接続が、前記圧接手段により同時に行われ得る構造である請求項１〜５のいずれか１項記載の同軸コネクタ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、同軸のプラグとレセプタクルとを圧接するだけで簡単に接続することができる同軸コネクタに関する。さらに詳しくは、たとえばＩＣなどの製品を検査する場合に検査装置に接続される端子を有する基板と検査されるＩＣなどの被検査物のリードと接続される基板との間を同軸構造で接続する場合などに適した同軸コネクタに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、同軸コネクタ部の接続を簡便にするために、コネクタ部のねじ込みやバヨネットによる結合を排除し、コネクタ同士を押し付けるだけで接続が完了する、いわゆるプッシュオンコネクタと呼ばれるものが用いられている（たとえば非特許文献１参照）。
【０００３】
この種のコネクタをパネルに取り付けて使用する例が図１１に示されている。図１１において、プラグ１とレセプタクル２は、それぞれパネル（基板）１０、２０に取り付けられている。４１、４２はそれぞれプラグ１およびレセプタクル２に接続された同軸ケーブルである。プラグ１側の外部導体１４はレセプタクル２側の外部導体２４と、プラグ１側の中心導体１１はレセプタクル２側の中心導体２１と、それぞれ嵌合されて電気的に同軸結合されている。プラグ１側の外部導体１４およびレセプタクル２側の中心導体２１は、それぞれ円筒状の部品で、通常は軸方向に２カ所以上のすり割が設けられ、外部導体１４は径方向に広げられ、中心導体２１は、径方向に縮めておくことにより、嵌合状態で相手部品に弾接し、確実に導通することができる。なお、図１１において、１３および２３は、それぞれ誘電体を示す。
【０００４】
【非特許文献１】
ＪＩＳ  Ｃ  ５４１５  ＳＭＢコネクタ
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
前述のように、従来のこの種のコネクタは、すり割を入れた円筒状の部品のバネ性により接合しているため、着脱のためプラグを抜き差しする際に、弾接部に摩耗が発生し、抜き差しの耐久性に乏しいという問題がある。また、複数個の同軸ケーブルを同時に接続するために、コネクタがパネルや基板に複数個設けられ、同時に接続させる場合、プラグ側とレセプタクル側とで複数組の接続部の位置が全て一致していなかったり、コネクタ同士がわずかに斜め方向から接合されたりすると、弾接部に異常な力が加わり、弾接部の部品を傷める原因とななり、耐久性が非常に劣るという問題がある。
【０００６】
さらに、上述のプラグとレセプタクルとを嵌め合せにより接続したり開放する（着脱する）際には、荷重（抜き差し荷重）をかける必要があり、接続部が複数個になると、大きな荷重が必要となり、とくに複数個の接続部の全てにおいてプラグ側とレセプタクル側との位置が一致していないと、装置やパネル、基板の着脱に多大な力が必要であるという問題がある。
【０００７】
本発明は、このような問題を解決するためになされたもので、着脱耐久性に優れ、軽微な着脱力で簡単に操作することができる同軸コネクタを提供することを目的とする。
【０００８】
本発明の他の目的は、接合するプラグとレセプタクルとで、その相互位置に誤差が生じている場合でもその位置の誤差を吸収でき、無理な外力を加えることなく、しかも確実に接続することができる構造の同軸コネクタを提供することにある。
【０００９】
さらに本発明の他の目的は、接続されるプラグとレセプタクルとの組が複数組あり、それらを同時に接続する場合に、基板に反りなどがあっても、各接続部を確実に接続することができる構造の同軸コネクタを提供することにある。
【００１０】
さらに、本発明の他の目的は、電源をオフしないで着脱を行っても、ノイズなどの侵入により被検査物を破壊しないような構造の同軸コネクタを提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明による同軸コネクタは、第１の基板に保持され、第１の中心導体およびその周囲に第１の誘電体を介して設けられる第１の外部導体からなるプラグと、第２の基板に保持され、第２の中心導体およびその周囲に第２の誘電体を介して設けられる第２の外部導体からなるレセプタクルと、前記第１の基板および第２の基板を一定の間隔で圧接して前記プラグおよびレセプタクルの中心導体同士および外部導体同士を電気的に接続させる圧接手段とを有し、前記第１および第２の中心導体が、内部にスプリングを有し、先端部の突出長を可変し得るコンタクトプローブを介して接続されると共に、前記第１および第２の外部導体の少なくとも一方が先端部の突出長を可変し得る可動円筒体を有する構造である。
【００１２】
この構造にすることにより、同軸の中心導体および外部導体の両者共に、軸方向に可動する金属を介在させて圧接するだけで接続する構造であるため、従来のようにすり割を設けて嵌め込んだり、ネジで嵌合させる必要がなく、着脱が非常に簡単であると共に、摩耗による接合部の損傷もなく、接続部の耐久性が向上し、信頼性の高い同軸コネクタを得ることができる。
【００１３】
前記プラグおよびレセプタクルの少なくとも一方は、該プラグまたはレセプタクルを保持する基板と完全には固定されないで、該プラグまたはレセプタクルが基板面に対して平行方向に移動し得るフロート状態で前記基板に保持される構造であることにより、基板に複数個のプラグやレセプタクルが形成されており、それらの相互位置が完全に一致していなくても、相互に位置合せされて接合することができるため好ましい。
【００１４】
前記プラグおよびレセプタクルの少なくとも一方は、該プラグまたはレセプタクルを保持する基板と完全には固定されないで、該プラグまたはレセプタクルが基板面に対して垂直方向に可変し得る垂直方向可変手段が設けられていることにより、複数組の接合部が設けられ、基板を圧接する圧接手段から離れた接合部で、基板に反りなどがあっても、全ての接続部を確実に接合することができるため好ましい。
【００１５】
前記プラグおよびレセプタクルの少なくとも一方に設けられる先端部の突出長を可変し得る前記コンタクトプローブおよび前記可動円筒体は、前記プラグおよびレセプタクルが圧接されない状態で、該プラグとレセプタクルとの接合面に対する前記可動円筒体の突出長が前記コンタクトプローブの接合面に対する突出長より長く突出するように形成されていることにより、両基板を圧接して接続部を接続する際に、必ず外部導体、すなわちアース側が先に接続され、ついで中心導体の信号線が接続されることになるため、電源をオフにし忘れて着脱を行っても、同軸コネクタに接続されているＩＣなどの製品をノイズなどにより破損する虞れがないため好ましい。
【００１６】
前記プラグおよびレセプタクルの中心導体同士および外部導体同士の接続部の少なくとも一方に導電性ゴムシートが設けられることにより、導電性ゴムシートの弾力性により、接続部の接触面積が大きくなり、確実な接触をすることができる。すなわち、接触する部分の可動円筒体などの面積が大きくてもミクロ的に見れば表面には凸凹があり、いくら押し付けても一番高いところが３点で当ると他の部分は接触しないが、ゴムシートがあればその弾力性により多くの部分で接触する。ここで導電性ゴムシートとは、細い金属細線が数十μｍ程度の間隔でゴムシート内に埋め込まれたもので、シートの上下には金属細線によって電気的に接続されるが、横方向に関しては金属細線間のゴムにより絶縁されるものを意味する。
【００１７】
前記プラグが前記第１の基板に複数個設けられ、該複数個のプラグのそれぞれに対応するように前記レセプタクルが前記第２の基板に複数個設けられると共に、前記プラグおよびレセプタクルの一方側に被検査物が接続され、他方側に検査装置が接続され、前記プラグおよびレセプタクルの複数組の中心導体同士および外部導体同士の接続が、前記圧接手段により同時に行われ得る構造にすることにより、たとえばＩＣなどの被検査物の複数のリードを同時に検査装置に接続し、それぞれのリードに現れる性能や特性を同時に検査することができ、短時間で詳しい検査をすることができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
つぎに、図面を参照しながら本発明の同軸コネクタについて説明をする。本発明による同軸コネクタは、図１および図２にその一実施形態の接続前および接続後の状態をそれぞれ示す、一部断面の側面説明図が示されるように、第１の基板１０に、第１の中心導体１１およびその周囲に第１の誘電体１３を介して第１の外部導体１４が設けられたプラグ１が保持されており、第２の基板２０に、第２の中心導体２１およびその周囲に第２の誘電体２３を介して第２の外部導体２４が設けられたレセプタクル２が保持され、圧接手段３により第１の基板１０および第２の基板２０を一定の間隔で圧接してプラグ１およびレセプタクル２の中心導体同士および外部導体同士をそれぞれ電気的に接続させる構造になっている。
【００１９】
本発明は、この第１および第２の中心導体１１、２１が、内部にスプリングを有し、先端部の突出長を可変し得るコンタクトプローブ１２を介して接続されると共に、第１および第２の外部導体１４、２４の少なくとも一方が先端部の突出長を可変し得る可動円筒体（スリーブ１４２）を有し、圧接手段３により第１および第２の基板１０、２０を押し付けるだけで、中心導体１１、２１同士および外部導体１４、２４同士がそれぞれ電気的に接続されることに特徴がある。
【００２０】
図１および２に示される例は、第１および第２の中心導体１１、２１の接続に介在されるコンタクトプローブ１２、および外部導体の可動円筒体（スプリング１５で付勢される円筒状のスリーブ１４２）の両方が、プラグ１側に設けられる例で示されている。
【００２１】
プラグ１は、たとえば図１に示されるように、同軸ケーブル４１の中心導体および外部導体（第１基板１０上に設けられるストリップラインおよび接地導体でもよい）と、それぞれ電気的に接続された第１中心導体１１および第１外部導体１４が第１誘電体１３を介して設けられ、その第１外部導体１４のハウジング１４３に形成されたネジにナット１７を締め付けることにより、第１基板１０に保持されている。第１基板１０は、たとえば２ｍｍ程度の厚さのステンレスなどからなる金属板が用いられるが、ストリップラインなどと直接接続される場合には、ガラスエポキシなどの誘電体基板の一部に、プラグ１が取り付けられる部分を金属板で構成したり、両者を貼り合せたりする複合板を用いることもできる。第１中心導体１１の外径と第１外部導体１４の内径は、所定のインピーダンスの同軸構造を形成するようにそれぞれ設定されている。
【００２２】
第１中心導体１１の先端側にはコンタクトプローブ１２が第１中心導体１１と電気的に接続して設けられ、そのコンタクトプローブ１２の周囲にも第１誘電体１３および第１外部導体１４が設けられており、第１中心導体の一部として第１外部導体１４と共に同軸構造が構成されている。第１中心導体１１は、たとえばベリリウム銅などからなる棒材により形成され、たとえばポリテトラフルオロエチレンなどの誘電体のチューブからなる第１誘電体１３を介して、その外周に、たとえばリン青銅などの金属からなる第１外部導体１４が設けられている。
【００２３】
コンタクトプローブ１２は、たとえば図３にその一例の概略断面説明図が示されるように、両端部が細くされた金属パイプ１２３内にスプリング１２４を介してプランジャ１２１、１２２が両端部に突出するように保持される構造になっており、プランジャ１２１、１２２は、その台座部分１２１ａ、１２２ａが金属パイプ１２３の開口部より大きく形成されており、外に抜け出ることはなく、スプリング１２４のバネにより外方に突出し、その先端が押されることによりスプリング１２４が縮んで引っ込む構成になっている。なお、図３に示されるように、台座部分１２１ａ、１２２ａのスプリング１２４と接触する部分が斜めに切断されていることにより、プランジャ１２１、１２２が斜めに押し出され、金属パイプ１２３の開口部と接触して両方のプランジャ１２１、１２２が金属パイプ１２３を介して電気的に接続される。
【００２４】
このコンタクトプローブ１２が、図１に示されるように、ポリカーボネート（ＰＣ）などからなるストッパリング１６により、金属パイプ１２３の一端部が固定され、他端側（図の下側）のプランジャ１２２が付勢されて中心導体１１と確実に電気的接続されている。そして、コンタクトプローブ１２の一端側のプランジャ１２１（図１の上部プランジャ）は自由状態で、スプリング１２４により外側に押し出されて突出している。
【００２５】
第１外部導体１４は、図１に示される例では、金属材料からなる円筒状のポスト１４１、スリーブ１４２およびハウジング１４３からなっており、それぞれが電気的に接続されるように滑合している。スリーブ１４２は、スプリング１５により付勢され、その一端部がハウジング１４３の端面（図１、４の上端面Ｔ）から、たとえば０．６ｍｍ程度突出するように設けられている（図４のＡ参照）。このスリーブ１４２の突出長Ａは、図１では、コンタクトプローブ１２のハウジング端面Ｔに対する突出長Ｂ（図４参照）とほぼ同じ程度に示されているが、図４に拡大断面説明図が示されるように、スリーブ１４２の突出長Ａの方がコンタクトプローブ１２の突出長ＢよりＣ（たとえば０．４ｍｍ程度）だけ長い方が、後述するレセプタクル２との接合の際に、常に接地側である第１外部導体１４が第１中心導体１１、１２の接続より先に接続されるため好ましい。
【００２６】
すなわち、電源スイッチを入れたままプラグ１とレセプタクル２との着脱を行い、中心導体が先に接続されるとノイズなどが信号線（中心導体）に入りやすく、接続される被検査物などを破損する虞れが高いためである。
【００２７】
スリーブ１４２とハウジング１４３との間には、図４に示されるように、リテイナ１４４により保持されたボールベアリング１４５が介在されており、スリーブ１４２が上下に移動しながら、ハウジング１４３と確実に電気的に接続される構造になっていることが、接続を確実にする点から好ましい。
【００２８】
一方、レセプタクル２は、たとえば図１に示されるように、同軸ケーブル４２の中心導体および外部導体（ストリップラインおよび接地導体でもよい）と、それぞれ電気的に接続された第２中心導体２１および第２外部導体２４が第２誘電体２３を介して設けられている。この第２外部導体２４とベース２５とが第２基板２０を挟み込んでネジ２６により固定されることにより、レセプタクル２が第２基板２０により保持される構造になっている。第２基板２０は、第１基板１０と同様に形成され、また、第２中心導体２１の外径と第２外部導体２４の内径との関係は、前述のプラグ１の場合と同様に、一定のインピーダンスで同軸構造を構成するように形成されている。
【００２９】
図１に示される例では、この第２外部導体２４とベース２５とで固定された部分が、第２基板２０に完全に固定されないで、第２基板２０の面と平行方向に移動できるフローティング構造になっている。すなわち、図５にレセプタクル２と第２基板２０との関係の拡大断面説明図が示されるように、第２外部導体２４の基板２０側には段差２４ｂが設けられており、その段差の高さＥが第２基板２０の厚さＤより若干高く形成され、この段差部分に第２基板２０を挟んで、上面からベース２５をネジ２６により固定することにより、隙間を有して第２基板２０の貫通孔内にレセプタクル２が保持される構造になっている。しかも、外部導体２４の段差部分の外径Ｆ（図６参照）と第２基板２０の貫通孔の内径Ｇとは、図５のＶＩ−ＶＩ断面図が図６に示されるように、第２基板２０の貫通孔の内径Ｇが第２外部導体２４の段差部２４ｂの外径より大きく形成されている。そのため、このギャップ分レセプタクル２は平面移動をすることができ、中心導体１１、２１同士の中心軸を一致させて接続することができる。
【００３０】
段差２４ｂの高さＥは、第２基板２０の厚さＤが２ｍｍ程度の厚さに対して、たとえば０．１ｍｍ程度大きく形成され、第２基板２０の貫通孔の内径Ｇは、たとえば１０ｍｍ程度で、外部導体２４の段差部の外径Ｆより直径で２ｍｍ程度大きく形成される。その結果、１ｍｍ程度は水平方向に移動させることができる。
【００３１】
また、第２外部導体２４の接合面Ｓ（図５参照）側には、円錐状の斜面２４ａが設けられており、プラグ１のハウジング１４３先端部側に設けられるテーパ形状と滑合し得る構造に形成されている。その結果、プラグ１とレセプタクル２との位置関係に若干の位置ずれがあっても、前述のレセプタクル２のフローティング構造と相俟って、自己整合により位置合せされて接続することができる。この自己整合は、後述するように、第１および第２の基板１０、２０にプラグ１およびレセプタクル２がそれぞれ複数個づつ設けられ、それらを同時に接合する場合にとくに都合がよい。
【００３２】
前述の例では、レセプタクル２が基板面と平行に移動可能なフローティング構造になっていたが、さらに、基板面と垂直方向にフローティングな構造にすることもできる。その構造例が図７に示されている。すなわち、第２外部導体２４の段差部２４ｂの外径が第２基板２０の貫通孔より小さく形成されることにより間隙部が形成されているのは、前述と同様であるが、この例では、段差部２４ｂの高さＨが前述のＥよりも１ｍｍ程度大きく、第２基板２０との間隔Ｊが１．１ｍｍ程度になるように形成されると共に、ベース２５が第２外部導体２４の外径よりも大きく形成され、スプリング２７と第２基板２０に固定されるネジ２８とからなる垂直方向可変手段２９が設けられ、スプリング２７によりベース２５に固定された第２外部導体２４が垂直方向に移動できる構造になっている。
【００３３】
すなわち、第２外部導体２４の接合面Ｓがプラグ１側のコンタクトプローブ１２およびスリーブ１４２により押し上げられれば、上方に移動するが、たとえば基板の反りなどにより間隔が広い場合で、コンタクトプローブ１２やスリーブ１４２の突出長で充分にプラグ１とレセプタクル２との接続が得られないような場合、垂直方向移動手段２９により予めレセプタクル２を下方に押し下げておくことにより、通常の基板間隔の場合にはレセプタクル２を上方に押し上げて充分な接続が得られ、基板間隔が広くなった場合でも、レセプタクル２の押し上げ量が少なくなるがプラグ１とレセプタクル２との接続を充分に得ることができる。
【００３４】
図８はプラグ１とレセプタクル２との接触を向上させる他の実施形態を示す図である。すなわち図８（ａ）は図１と同様のプラグ１とレセプタクル２とを分離した状態の断面説明図で、（ｂ）が接続した状態の接続部の拡大断面図で、レセプタクル２側の第２外部導体２４のプラグ１との接合面Ｓに導電性（異方導電性）ゴムシート５が設けられている。導電性ゴムシート５は、たとえば２０〜３０μｍ程度の太さの金属細線が数十μｍ間隔でゴムシートの厚さ方向に埋め込まれたもので、ゴムシートの上面と下面との間は金属細線を介して電気的に接続されるが、隣接する金属細線間には絶縁性のゴムが介在しているため電気的に絶縁されており、ゴムシートの上下への伝導はするが、横方向には絶縁を維持する異方導電性シートになっている。
【００３５】
このゴムシート５が０．１〜０．３ｍｍ程度の厚さにして第２外部導体２４の接続面Ｓに設けられている。この導電性シート５の金属細線は細く、また、絶縁体はゴム製であるため、弾力性があり、プラグ１とレセプタクル２とを圧接すると、図８（ｂ）に示されるように、導電性ゴムシート５が撓みながら（第１外部導体１４がめり込んで）、導電性ゴムシート５の金属細線を介してプラグ１側のポスト１４１、スリーブ１４２およびハウジング１４３がレセプタクル２の第２外部導体２４の接続面Ｓと接続される。その結果、第１外部導体１４と第２外部導体２４とが広い面積で接続される。
【００３６】
すなわち、金属体からなる第１外部導体１４と第２外部導体２４とを直接接触させると、固い金属同士の接触では、一番尖った部分が３点で接触すると他の部分はいくら押し付けても接触せず、マクロ的に見れば広い面積で接触しているように見えても、ミクロ的に見れば接触面積が小さく充分な電流容量を得ることができない。しかし、導電性ゴムシート５を介在させると、たくさんの金属細線で接触し、接触面積を稼ぐことができ、抵抗損の小さい接続をすることができる。
【００３７】
図８に示される例は、レセプタクル２の第２外部導体２４部分のみに導電性ゴムシート５が介在されているが、導電性ゴムシート５は横方向には絶縁性が得られるため、中心導体２１上も覆うように全面に導電性ゴムシート５を介在させれば、中心導体においても導電性ゴムシート５を介して接続することができる。この場合、コンタクトピン１２のプランジャ１２１（図３参照）先端部を尖らせないで、平面状（または台形状）にしておくことが好ましい。そうすれば、０．５ｍｍ程度の太さの中心導体でも、数十本の金属細線を介して接続することができ、大幅に接触面積を大きくすることができる。また、図８に示される例では、レセプタクル２側に導電性ゴムシート５を介在させたが、中心導体同士および／または外部導体同士の接続部分に設けられれば、プラグ１側に設けておいてもよい。
【００３８】
圧接手段３は、第１基板１０および第２基板２０を一定の間隔で押し付けるもので、図１および図２に示される例では、一端部が第１基板１０にネジ３１により固定され、他端部にすり割が形成されアンダーカット部３ａとされた接続ポスト３が用いられている。この接続ポスト３は、たとえば炭素工具鋼などからなる棒材が用いられる。このような接続ポスト３を用いることにより、アンダーカット部３ａを第２基板のスルーホールに指し込むだけで、アンダーカット部３ａが第２基板２０に嵌まり込み、図２に示されるように、両基板１０、２０を接続ポスト３のストロークの間隔で簡単に固定することができ、プラグ１とレセプタクル２とを接続することができる。なお、図２に示される例では、レセプタクル２の接合面Ｓとプラグ１のハウジング上端面Ｔとが接触するようにコンタクトプローブ１２およびスリーブ１４２が縮められているが、圧接手段３による基板間隔が広く設定され、コンタクトプローブ１２およびスリーブ１４２のみがレセプタクル２の接合面Ｓと接触する関係でもよい。
【００３９】
この圧接手段３は、接続するプラグ１とレセプタクル２とが１個づつの場合には、１個でもよいし、両側から２個で挟みつけることにより、より確実に接続することができる。また、図９に示されるように、１枚の基板１０、２０に複数個のプラグ１およびレセプタクル２がそれぞれ一列に設けられ、それらを同時に接続する場合にはプラグ１とレセプタクル２との組の全部の両端に圧接手段が設けられればよいし、平面的に複数個設けられる場合には、たとえば３個または４個を三角形状または四角形状に設ければよい。しかし、プラグ１およびレセプタクル２の組が多い場合で、圧接手段から離れた部分で基板間隔が広がる虞れがあるときは、適宜その中間部にも圧接手段を設けることが好ましい。なお、圧接手段としては、前述のアンダーカット部を有するポストに限らず、クランプなどにより締め付けるものでもよい。要は、プラグ１とレセプタクル２とをコンタクトプローブ１２およびスプリング１５の反発力より大きい力で押し続けられるものであればよい。
【００４０】
このような同軸コネクタを用いる一例が図１０に示されている。図１０は、たとえばＩＣなどの被測定物（ＤＵＴ；ｄｅｖｉｃｅ  ｕｎｄｅｒ  ｔｅｓｔ）５５の検査をする検査装置の例で、テスタ（試験装置）５１の各端子がマザーボード（第１基板）１０に設けられるプラグ１およびソケット５２に接続されている。そして、他方のフィクスチャーボード（第２基板）２０に設けられるソケット５４に被測定物（ＤＵＴ）５５の端子が接続され、高周波信号の載る端子は同軸線４２または図示しないストリップラインによりレセプタクル２に接続され、それ以外の電源端子、直流端子、グランド端子などは、ソケット５４を介して直接マザーボード１０のソケット５２とコンタクトプローブ５３を介して接続される構造になっている。フィクスチャーボード２０は被測定物５５の電極端子に応じ、マザーボード１０のプラグ１などの位置に合せて配線が形成され、被検査物５５に専用の基板になる。
【００４１】
このマザーボード１０とフィクスチャ−ボード２０とが前述の圧接手段３により圧接されることにより、複数組のプラグ１とレセプタクル２とが接続されると共に、高周波信号以外の端子はソケット５２、５４間で、コンタクトプローブ５３を介して接続され、テスタ５１により各端子の特性などを同時に検査することができる。
【００４２】
本発明の同軸コネクタによれば、中心導体および外部導体の両方共を突き当てによる接触のみで接続する構造であるため、ねじ込みなどによる複雑な取り付け作業を必要とすることなく、圧接手段により両基板を締め付けるだけで、しかも抜き差し荷重も必要ではなく、複数組のプラグとレセプタクルでも、簡単に同時に接続することができる。さらに、すり割を入れたパイプ状の一方に他方を押し込んで接続する構造ではなく、先端部の突き当てだけによる接続であるため、着脱による摩耗損傷を殆ど生じることがなく、耐久性が高く、信頼性を向上させることができる。
【００４３】
さらに、プラグまたはレセプタクルの少なくとも一方をフローティング構造にすることにより、プラグとレセプタクルの組が複数個あり、それぞれの中心線が各組で完全に一致していなくても、自己整合的に位置合せされて接続することができ、労力を必要とせず、また、接触部の損傷を生じることもなく、簡単に接続することができる。
【００４４】
前述の例では、プラグ１およびレセプタクルに接続される信号線が同軸ケーブル４１、４２の例であったが、これらは基板１０、２０上に形成されるストリップラインと基板裏面に設けられる接地導体とで線路が形成されたものでもよい。この場合、ストリップラインとプラグ１またはレセプタクル２の中心導体とが直接接続され、接地導体とプラグ１またはレセプタクル２の外部導体とが直接接続される。また、前述の例では、プラグ側にコンタクトプローブおよび可動円筒体としてのスリーブ１４２を設ける例であったが、これらはレセプタクル側に設けられてもよいし、プラグ側およびレセプタクル側の両方に設けられてもよいし、コンタクトプローブおよび可動円筒体がそれぞれプラグ側とレセプタクル側に別々に設けられてもよい。
【００４５】
また、フローティング構造も前述の例では、レセプタクル側に形成されていたが、プラグ側に形成されてもよいし、両方に設けられてもよい。さらに、前述の図１０に示される例では、レセプタクル側に被検査物が接続され、プラグ側にテスタが接続される例であったが、プラグとレセプタクルとが逆であってもよいことはいまでもない。
【００４６】
【発明の効果】
本発明によれば、中心導体および外部導体の接続部が摩擦構造を有しないため、接合部が摩耗し難く、耐久性に優れ、繰返し着脱を重ねることができるという効果がある。しかも、基板を圧接するだけで接合することができるため、プラグとレセプタクルとの組が複数組あっても、全てを同時に簡単に接合することができ、着脱作業を比較的低い操作力で非常に楽に行える。その結果、ＩＣなどの高機能の製品の特性検査などを種々の機能に関して簡単に検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による同軸コネクタの一実施形態のプラグとレセプタクルとを分離した状態で示す一部断面の説明図である。
【図２】図１に示される同軸コネクタのプラグとレセプタクルとを接合した状態で示す一部断面の説明図である。
【図３】図１に示されるコンタクトプローブの一例の断面説明図である。
【図４】図１に示されるプラグの主要部の拡大断面説明図である。
【図５】図１に示されるレセプタクルの主要部の拡大断面説明図である。
【図６】図５のＶＩ−ＶＩ断面説明図である。
【図７】レセプタクルを基板面に対して垂直方向にフロート状態にする垂直方向可変手段の例を示す図である。
【図８】本発明の他の実施形態を示す図で、第２外部導体の接合面に導電性ゴムシートを介在させた例を示す断面説明図である。
【図９】プラグとレセプタクルの組が複数組設けられた例を示す説明図である。
【図１０】本発明の同軸コネクタを用いた検査装置の一例の概要を示す図である。
【図１１】従来のプッシュオン形式の同軸コネクタの一例を示す説明図である。
【符号の説明】
１    プラグ
２    レセプタクル
３    圧接手段
１０    第１基板
１１    第１中心導体
１２    コンタクトプローブ
１４    第１外部導体
１４２  スリーブ
１４３  ハウジング
１５    スプリング
２０    第２基板
２１    第２中心導体
２４    第２外部導体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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