(57)【要約】【課題】光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失をも正確に測定可能な光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置を提供すること。【解決手段】光ファイバの一方の端部に光源を、他方の端部に光伝送損失測定器を連結し、光ファイバを挾持して側圧荷重を加えて光伝送損失の変動を測定する光ファイバの側圧試験方法であって、周期的に変化する構造体１６Ａ，１７Ａを有する２枚の側圧板１６，１７の該構造体１６Ａ，１７Ａにて、その位相をずらした状態で側圧荷重を加える光ファイバの側圧試験方法。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバの一方の端部に光源を、他方の端部に光伝送損失測定器を連結し、光ファイバを挾持して側圧荷重を加えて光伝送損失の変動を測定する光ファイバの側圧試験方法であって、周期的に変化する構造体を有する２枚の側圧板の該構造体にて、その位相をずらした状態で側圧荷重を加える光ファイバの側圧試験方法。
【請求項２】
光ファイバの一方の端部に光源を、他方の端部に光伝送損失測定器を連結し、この光ファイバを挾持した側圧板で側圧荷重を加えて光伝送損失の変動を測定する光ファイバの側圧試験装置であって、両側圧板の光ファイバに面する側には周期的に変化する構造体がそれぞれ形成され、この周期的に変化する構造体の位相がずれるように両側圧板が相対的に移動可能な光ファイバの側圧試験装置。
【請求項３】
前記周期的に変化する構造体は側圧板に線体を並列に複数配列したものである請求項２記載の光ファイバの側圧試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この発明は、光ファイバの一方の端部に光源を、他方の端部に光伝送損失測定器を連結し、光ファイバに側圧荷重を加えて光伝送損失の変動を測定する光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、光ファイバに側圧や曲げが加えられた場合に、増加する光伝送損失を測定する光ファイバの側圧試験方法及びそのための装置が開発されている。図４，５は特許文献１に記載の従来の光ファイバの側圧試験装置の概略図である。
【０００３】
図４は、光ファイバ１の一端部にＬＥＤ光源３、他端部に光伝送損失測定器（以下単にパワーメータという）４を連結し、この光ファイバ１を伸張したところに上から側圧板５により垂直荷重Ｆを付加して、側圧による光伝送損失を計測するものである。
【０００４】
一方、図５は円周面を有する胴部７と、この胴部７の円周面上に複数固定した円柱体８とから成るドラム９に光ファイバ１０を巻回し、光ファイバ１０の一端部にＬＥＤ光源３を、他端部にパワーメータ４を連結し、光ファイバ１０に張力を与えることにより側圧と曲げが円柱体８により与えられ、ＬＥＤ光源３から発せられる光の光伝送損失増加量をパワーメータ４により計測するものである。
【０００５】
【特許文献１】
特開平９−５４０１５号公報（第２−３頁、図３，９）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の光ファイバの側圧試験方法及びそのための装置は、光ファイバに対して容易に曲げや側圧を加えることができ、これらと光伝送損失との相関関係を求めることができ便利であるが、特に、光ファイバテープ心線をプラスチックスぺーサに収納した光ファイバケーブルにおいては、光ファイバテープ心線がスロット溝内で蛇行し、光ファイバテープ心線が上下に周期的に波打つ現象が生じてしまう。
【０００７】
このようにして光ファイバが波打って曲げられると、光の電磁界分布の中心は曲げの外側にずれ、曲げの方向が変わる時にはその電磁界分布間の結合が生じるため、一様曲げと比較し、大きな光伝送損失が生じることが判明しており、このような光ファイバの周期的に波打つ現象、すなわち光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失を加味した光ファイバの側圧試験方法はこれまで提案されていなかった。
【０００８】
本発明はこのような事情に鑑みて成されたもので、その目的とするところは、光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失をも正確に測定可能な光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の光ファイバの側圧試験方法は、光ファイバの一方の端部に光源を、他方の端部に光伝送損失測定器を連結し、光ファイバを挾持して側圧荷重を加えて光伝送損失の変動を測定する光ファイバの側圧試験方法であって、周期的に変化する構造体を有する２枚の側圧板の該構造体にて、その位相をずらした状態で側圧荷重を加えて試験を行うことにある。
このようにすることにより、光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失を正確に測定することができる。
【００１０】
本発明の光ファイバの側圧試験装置は、光ファイバの一方の端部に光源を、他方の端部に光伝送損失測定器を連結し、光ファイバに対し上下に挾持した側圧板で側圧荷重を加えて光伝送損失の変動を測定する光ファイバの側圧試験装置であって、両側圧板の光ファイバに面する側には周期的に変化する構造体がそれぞれ形成され、周期的に変化する構造体の位相がずれるように両側圧板が相対的に移動可能である。
このようにすることにより、光ファイバを挾んで周期的に変化する構造体を有する２つの側圧板を移動させるだけで、容易に光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失を計測することができる。なお、上記側圧板を光ファイバに対して左右に設け、この左右の側圧板により光ファイバを挾持してもよい。
【００１１】
本発明の光ファイバの側圧試験装置は、前記周期的に変化する構造体は側圧板に線体を並列に複数配列したものである。
このようにすることにより、周期的に変化する構造体を容易に構成できる。
【００１２】
【実施例】
図１は本発明の光ファイバの側圧試験装置の概略図、図２は図１の側面図、図３は図２の部分拡大図であって、（ａ）は周期的に変化する上下の構造体が同位相である状態を示し、（ｂ）は上下の構造体の位相をπ（半周期）ずらした状態を示したものであって、以下、本発明の側圧試験装置につき図１ないし図３に基づいて説明する。
【００１３】
図１において、１２は光ファイバ（通常の光ファイバ心線、光ファイバテープ心線を含む）であり、この光ファイバ１２は中間部１２Ａを介して折り返され、一端がＬＥＤ光源１４に、他端が光伝送損失測定器であるパワーメータ１５に連結され、折り返し中間部１２Ａと光源１４間の光ファイバ１２ａと折り返し中間部１２Ａとパワーメータ１５間の光ファイバ１２ｂの双方には、両ファイバに側圧荷重を付与できる下方側圧基板１６と上方側圧板１７から成る２つの側圧板が配置されている。
【００１４】
図２に示すように、光ファイバ１２の下部には上方側圧板１７より若干大きい面積の固定の下方側圧基板（また「下方側圧板」ともいう）１６が敷かれ、２本の光ファイバ１２ａ，１２ｂの上に載せた上方側圧板１７より垂直力Ｆを加えて光伝送損失を測定する。そして上下の側圧板１６，１７の光ファイバ１２ａ，１２ｂに面する側はそれぞれ周期的に変化する構造体１６Ａ，１７Ａが形成されている。
【００１５】
この構造体１６Ａ，１７Ａは、図３に示すように、線体２０を並列に複数試験幅にわたり配列したもので、線体としては例えば０．７ｍｍφの鋼線を試験幅に相当する長さ（約１００本程度）にわたり張り付けたもので、図３（ａ）は上下側圧板の線体２０の中心位置が一致して位相が同位相である状態を示したもので、この状態では光ファイバに側圧だけが加えられたるだけで周期的な曲がりを与えることはできない。
【００１６】
図３（ｂ）は上下側圧板の線体２０の中心位置がπ（半周期）だけ位相がずれるように上方側圧板１７を下方側圧基板１６に対して線体２０の半径分だけ相対的に移動させたもので、この状態であれば光ファイバに側圧を加えることで周期的な曲がりを与えることができる。
【００１７】
このような周期的に変化する構造体１６Ａ，１７Ａを有する２つの側圧板を用いて、図１に示す配置状態で側圧板に荷重をかけて光伝送損失変動量を計測したところ、表１と同図表１−１及び表２と同図表２−１に示す実験結果が得られた。
【表１】
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【図表１−１】
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【表２】
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【図表２−１】
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【００１８】
なお、側圧計測試験に用いた光ファイバは、光ファイバ裸線直径が０．１２５ｍｍ、一次被覆後のファイバ素線直径が０．１９０ｍｍ、二次被覆後のファイバ直径が０．２５０ｍｍのもので、側圧板の周期的に変化する構造体は０．７ｍｍφの鋼線を１００本張り付けたもの（巾７０ｍｍ）で、光源の波長は１．３μｍ、１．５５μｍ、１．６５μｍの３種類で実験した。
【００１９】
表１と同図表１−１は位相をπ（半周期）だけずらした〔図３（ｂ）参照〕場合の側圧試験の計測結果であり、側圧荷重の増加に従って、光ファイバの曲率半径が小さくなるため、光伝導損失が増大していることがわかる。
【００２０】
一方、表２と同図表２−１は側圧板の位相が同位相である〔図３（ａ）参照〕場合の側圧試験の計測結果であり、光ファイバに周期的な曲がりが発生せず、側圧荷重が増加しても光伝送損失変動量が小さいことがわかる。以上の結果から、２つの側圧板の位相を半周期ずらした状態で荷重を加える光ファイバの試験方法を採用することで、光ファイバの周期的なマクロベント損失を調査することができる。
【００２１】
【発明の効果】
本発明によれば、次のような効果が得られる。
【００２２】
（ａ）請求項１の発明によれば、光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失を正確に測定することができる。
【００２３】
（ｂ）請求項２の発明によれば、光ファイバを挾んで周期的に変化する構造体を有する２つの側圧板を移動させるだけで、容易に光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失を計測することができる。
【００２４】
（ｃ）請求項３の発明によれば、周期的に変化する構造体を容易に構成できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ファイバの側圧試験装置の概略図である。
【図２】図１の側面図である。
【図３】図２の部分拡大図であであって、（ａ）は周期的に変化する上下の構造体が同位相である状態を示し、（ｂ）は上下の構造体の位相をπ（半周期）ずらした状態を示したものである。
【図４】従来の光ファイバの側圧試験装置の概略図である。
【図５】従来のドラムを用いた光ファイバの側圧試験装置の概略図である。
【符号の説明】
１２（１２ａ，１２ｂ）・・・光ファイバ（光ファイバ心線、光ファイバテープ心線を含む）
１２Ａ・・・中間部
１４・・・光源
１５・・・光伝送損失測定器（パワーメータ）
１６・・・下方側圧基板（また「下方側圧板」ともいう）
１６Ａ・・・周期的に変化する構造体
１７・・・上方側圧板
１７Ａ・・・周期的に変化する構造体
２０・・・線体
Ｆ・・・垂直力
【図１】
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【図２】
2004271431.tif 000008
【図３】
2004271431.tif 000009
【図４】
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【図５】
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