(57)【要約】【課題】蓄積中断の頻度をより低くした測光装置を提供することにある。【解決手段】測光素子を含み、被写界を測光する測光回路と、測光に悪影響を与える動作がなされるにあたって測光禁止信号を出力する信号出力装置と、測光回路による測光中に測光禁止信号が出力されると、その回の測光時間が所定時間を超えるときには測光を中断し、所定時間以下であれば測光を中断せずに続行する測光制御装置とを具備する。上記所定時間は、測光に悪影響を与える動作を行うための制御開始から実際に測光に悪影響を与える状態となるまでの応答時間に基づいて設定される。【選択図】        図８
2004361701.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測光素子を含み、被写界を測光する測光回路と、
測光に悪影響を与える動作がなされるにあたって測光禁止信号を出力する信号出力装置と、
前記測光回路による測光中に前記測光禁止信号が出力されると、その回の測光時間が所定時間を超えるときには測光を中断し、該所定時間以下であれば測光を中断せずに続行する測光制御装置とを具備することを特徴とする測光装置。
【請求項２】
前記所定時間は、前記測光に悪影響を与える動作を行うための制御開始から実際に測光に悪影響を与える状態となるまでの応答時間に基づいて設定された時間であることを特徴とする請求項１に記載の測光装置。
【請求項３】
撮影光路中にアップ／ダウン可能に設けられ、アップ位置では前記測光素子への光束を遮断するミラーと、ミラーアップ開始信号の発生に伴ってミラーアップを行うミラーアップ装置とを更に備え、
前記所定時間は、前記ミラーアップ開始信号の発生から実際にミラーによって前記測光素子への光束が遮断されるまでの機械的応答時間に基づいて設定された時間であることを特徴とする請求項２に記載の測光装置。
【請求項４】
前記測光時間が前記所定時間を超えるときには、その回の測光開始に伴って時間計測を開始し、測光が中断された場合には、その中断までの経過時間に基づいて次回の測光時間を求める一方、前記測光時間が前記所定時間以下の場合には前記時間計測を行わないことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の測光装置。
【請求項５】
測光に悪影響を与える動作は、第１の動作と、前記応答時間が第１の動作よりも短い第２の動作とを少なくとも含み、
前記第１の動作は、前記測光禁止信号の出力と略同時に開始され、前記第２の動作は、前記測光禁止信号の出力から前記第１の動作における前記応答時間に応じたディレイ時間が経過した後に開始されることを特徴とする請求項１に記載の測光装置。
【請求項６】
測光素子を含み、被写界を測光する測光回路と、
測光に悪影響を与える動作がなされるにあたって測光禁止信号を出力する信号出力装置と、
前記測光回路による測光中に前記測光禁止信号が出力されると、その回の測光の開始時期および／または測光時間に基づいて測光を中断するか否かを判定する判定装置と、
該判定装置の判定結果に従って前記測光を中断または続行する測光制御装置とを具備することを特徴とする測光装置。
【請求項７】
測光素子を含み、被写界を測光する測光回路と、
測光に悪影響を与える動作を行うための指示信号を出力する信号出力装置と、
前記測光回路による測光中に前記指示信号が出力されると、その回の測光時間が所定時間を超えるときには測光終了後に前記動作を開始し、該所定時間以下であれば、測光終了を待たずに前記動作を開始する動作制御装置とを具備することを特徴とする測光装置。
【請求項８】
測光素子を含み、被写界を測光する測光回路と、
測光に悪影響を与える動作を行うための指示信号を出力する信号出力装置と、
前記測光回路による測光中に前記指示信号が出力されると、その回の測光の開始時期および／または測光時間に基づいて前記動作の開始タイミングを決定するタイミング決定装置と、
該タイミング決定装置にて決定されたのタイミングで前記動作を開始する動作制御装置とを具備することを特徴とする測光装置。
【請求項９】
前記測光素子は電荷蓄積型の素子であり、前記測光時間は、１回の測光における該測光素子の蓄積時間であることを特徴とする請求項１〜８のいずれかに記載の測光装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、カメラなどに用いられる測光装置、特に測光に悪影響を与える動作に対処したものに関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＣＤのような電荷蓄積型の測光素子を用いて測光を行うカメラの測光装置がある。かかる蓄積型の測光素子を用いた場合、測光には蓄積動作が必要になるため、蓄積中は測光素子に光束を導き続けなければならない。しかし、一眼レフカメラのようにレリーズ時にミラーアップを行うものでは、蓄積中にミラーアップが行われると、測光素子への光束が遮断されるため蓄積の継続が不可能となる。この場合は蓄積を中断せざるを得ないが、蓄積を中断すると当初予定していた測光データが得られなくなってしまう。特に連続撮影（連写）時のように、ミラーがダウンした後に直ぐにまたアップするような場合、再測光が再び中断されることもあり、連続撮影中に完全な測光が一度も行えず適正露出が得られないこともあり得る。
【０００３】
そこで、ミラーアップにより蓄積が中断した場合は、次回の蓄積時間を短く、かつゲインを大きくすることで、次回の測光の成功率を高めた測光装置が知られている（例えば、特許文献１）。
【０００４】
【特許文献１】
特開平９−２５７５７４号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
蓄積を中断した場合、その回の測光データの信頼性は低く、基本的にはそのデータは使用できないため、極力蓄積を中断しないことが望ましい。特許文献１の測光装置では、測光の成功率を高めてはいるものの、蓄積時間の長短に拘わらずミラーアップの際には必ず蓄積を中断させているため、蓄積中断の頻度は高い。
【０００６】
本発明の目的は、蓄積中断の頻度をより低くした測光装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明に係る測光装置は、測光素子を含み、被写界を測光する測光回路と、測光に悪影響を与える動作がなされるにあたって測光禁止信号を出力する信号出力装置と、測光回路による測光中に測光禁止信号が出力されると、その回の測光時間が所定時間を超えるときには測光を中断し、所定時間以下であれば測光を中断せずに続行する測光制御装置とを具備する。
請求項２の発明は、上記所定時間を、測光に悪影響を与える動作を行うための制御開始から実際に測光に悪影響を与える状態となるまでの応答時間に基づいて設定したものである。
請求項３の発明は、撮影光路中にアップ／ダウン可能に設けられ、アップ位置では測光素子への光束を遮断するミラーと、撮影開始信号の発生に伴ってミラーアップを行うミラーアップ装置とを更に備え、上記所定時間を、ミラーアップ開始信号の発生から実際にミラーによって測光素子への光束が遮断されるまでの機械的応答時間に基づいて設定したものである。
請求項４の発明は、測光時間が所定時間を超えるときには、その回の測光開始に伴って時間計測を開始し、測光が中断された場合には、その中断までの経過時間に基づいて次回の測光時間を求める一方、測光時間が所定時間以下の場合には時間計測を行わないようにしたものである。
請求項５の発明は、測光に悪影響を与える動作が、第１の動作と、応答時間が第１の動作よりも短い第２の動作とを少なくとも含み、第１の動作を測光禁止信号の出力と略同時に開始し、第２の動作は、測光禁止信号の出力から第１の動作における応答時間に応じたディレイ時間が経過した後に開始するようにしたものである。
請求項６の発明に係る測光装置は、測光素子を含み、被写界を測光する測光回路と、測光に悪影響を与える動作がなされるにあたって測光禁止信号を出力する信号出力装置と、測光回路による測光中に測光禁止信号が出力されると、その回の測光の開始時期および／または測光時間に基づいて測光を中断するか否かを判定する判定装置と、判定装置の判定結果に従って測光を中断または続行する測光制御装置とを具備する。
請求項７の発明に係る測光装置は、測光素子を含み、被写界を測光する測光回路と、測光に悪影響を与える動作を行うための指示信号を出力する信号出力装置と、測光回路による測光中に指示信号が出力されると、その回の測光時間が所定時間を超えるときには測光終了後に上記動作を開始し、所定時間以下であれば、測光終了を待たずに上記動作を開始する動作制御装置とを具備する。
請求項８の発明に係る測光装置は、測光素子を含み、被写界を測光する測光回路と、測光に悪影響を与える動作を行うための指示信号を出力する信号出力装置と、測光回路による測光中に指示信号が出力されると、その回の測光の開始時期および／または測光時間に基づいて上記動作の開始タイミングを決定するタイミング決定装置と、タイミング決定装置にて決定されたのタイミングで上記動作を開始する動作制御装置とを具備する。
請求項９の発明は、測光素子として電荷蓄積型の素子を用いたものである。
【０００８】
【発明の実施の形態】
−第１の実施形態−
図１〜図１３により本発明を一眼レフデジタルスチルカメラに適用した場合の第１の実施形態を説明する。
図１は本実施形態におけるデジタルスチルカメラの光学系を説明する図である。撮影レンズ１を透過した被写体光束は、クイックリターンミラー２で上方に反射され、拡散スクリーン３，コンデンサレンズ４，ペンタプリズム５を介して接眼レンズ６にて観察される。また拡散スクリーン３によって拡散された光束の一部は、コンデンサレンズ４，ペンタプリズム５，測光用プリズム７及び測光用レンズ８を介して測光素子９に導かれる。測光素子９の詳細は後述するが、測光素子９の測光出力に基づいて最適露出を与えるための露出値が演算される。
【０００９】
不図示のレリーズボタンが全押し操作（レリーズ操作）されると、ミラー２が跳ね上げられて撮影光路から退避し、上記演算された露出値に基づいて絞り３０およびシャッタ３１が駆動される。シャッタ３１の開放により被写体光束が撮像素子３２に導かれ、画像データが生成される。その後、シャッタ３１が閉じるとともに、絞り３０およびミラー２が初期状態に戻る。
【００１０】
図２（ａ）は測光素子９を被写界に照らし合わせて示した図である。測光素子９は、例えばＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）などの電荷蓄積型の素子から成り、上下に１２、左右に２０の合計２４０の有効画素を有する。つまり測光素子９は、撮影画面のほぼ全体を２４０の領域に分割して測光する分割測光素子である。各画素は、図２（ｂ）に示すようにＲ（赤），Ｇ（緑），Ｂ（青）の３色の測光セルを持ち、それぞれの色に分解して測光可能となっている。
【００１１】
図３はカメラの測光系の制御ブロック図であり、上記測光素子９は測光回路１０に組み込まれているものとする。測光回路１０は、蓄積制御部１５からの信号に応答して測光素子９による蓄積動作の開始／終了を行う。また測光回路１０はアンプを内蔵し、測光素子９の各画素出力を増幅してＡ／Ｄ変換部１１に送る。アンプのゲインは、高出力を得られるゲインＨと、低出力であるがノイズの小さいゲインＬに切換可能とされる。
【００１２】
Ａ／Ｄ変換部１１は、入力された各増幅信号をデジタル測光データに変換し、有効性判定部１２に送る。有効性判定部１２は、入力された測光データが適正数値の範囲内に収まっているか否かを判定し、収まっている場合にはその測光データを有効データとみなし、露出演算部１７に送る。露出演算部１７は、測光データに基づいて露出値を演算する。一方、測光データが適正範囲に収まっていない場合には、その測光データは無効と判断し、基本的には測光をやり直す。
【００１３】
蓄積時間算出部１３は、Ａ／Ｄ変換部１１の測光データを用いて次回測光時の蓄積時間を算出し、ゲイン決定部１４は、蓄積時間算出部１３の出力に基づいて、次回測光時の測光回路１０のゲイン（アンプゲイン）を決定する。蓄積制御部１５はタイマを有し、蓄積時間設定部１３で求められた蓄積時間を管理し、測光回路１０を制御する。測光禁止信号発生部１６は、レリーズ操作に伴い、ミラーアップに先だって測光禁止信号を発生し、またミラーダウン完了後に測光禁止信号を解除する。露出制御部１８は、レリーズ操作を検知すると、ミラー２を跳ね上げ、露出演算部１７の出力に基づいた適正露出値に基づいて、絞り３０及びシャッタ３１を適正値に制御する。
【００１４】
ここで、上述したＡ／Ｄ変換部１１、有効性判定部１２、蓄積時間算出部１３、ゲイン決定部１４、蓄積制御部１５、測光禁止信号発生部１６、及び露出演算部１７は、全て１チップマイクロコンピュータ（以下マイコンと略す）２１によって実現されている。
【００１５】
以上のように構成されたカメラにおいて、不図示のレリーズボタンが半押し操作されると、測光素子９の蓄積動作と、蓄積によって得られた測光データに基づく露出値演算とが繰り返し行われる。蓄積のたびに次回の蓄積における蓄積時間と上記アンプのゲインとが求められ、次回蓄積にあたってそれらの値が用いられる。蓄積時間は、基本的に被写界が明るいほど短くて済む。
【００１６】
上記半押し操作に引き続いて全押し操作（レリーズ操作）がなされると、ミラー２がアップされるため、測光素子９に光が導かれなくなり、測光不能となる。すなわちミラーアップ動作は、測光に悪影響を与える動作といえる。そこで測光禁止信号発生部１６は、レリーズ操作に伴って測光禁止信号を発生する。この測光禁止信号によって蓄積が中断された場合、蓄積制御部１５は、その回の実際の蓄積時間に基づいて次回の蓄積時間を設定する。またゲイン決定部１４は、蓄積が中断されたと判断すると、その後の１回目の測光時のみゲイン切換のパラメータの変更を行う。具体的な蓄積時間およびゲインの決め方は後で詳述するが、これらの変更により次回の測光の成功率（中断せずに済む可能性）を高めることができる。
【００１７】
加えて本実施形態では、蓄積の中断頻度を更に低減するために、ミラーアップの応答時間を考慮して制御を行っている。
すなわち、ミラーアップは機械的に行われるものであるから、レリーズ操作（ミラーアップさせるための制御開始）から実際にミラーがアップし始めるまでには機械的な応答時間（以下、Ｔｄｅｌａｙ：数ｍｓ）が存在する。そのＴｄｅｌａｙの間に蓄積が完了すれば、その回の測光は問題なく行われたということになるから、敢えて蓄積を中断する必要はない。そこで本実施形態では、上記Ｔｄｅｌａｙの間に蓄積が完了するか否かを、前回の蓄積時に算出された今回の蓄積時間の長短によって判断し、それに応じて蓄積を中断するか否かを決めるようにした。
【００１８】
まず蓄積時間が所定時間を超えるときの制御を図４に示す。時点ｔ１で蓄積を開始すると同時に経過時間Ｔｉｎｔの計測を開始する。時点ｔ２でレリーズ操作がなされると、メインミラー２をアップする制御が開始され、また測光禁止信号（蓄積中断要請）が発生する。蓄積時間が長い場合には、ミラー２がアップし始めるまでに蓄積動作が終了しないため、測光禁止信号に応じて蓄積を中断するとともに、その中断までの経過時間Ｔｉｎｔを後で用いる蓄積時間ｉｎｔとする。Ｔｄｅｌａｙ経過後の時点ｔ３でミラーアップが開始され、測光素子９は光束から遮断される。時点ｔ４で撮影が終了してミラーダウンが行われ、その後の時点ｔ５で測光禁止が解除され、蓄積が再開される。ここでいう蓄積再開とは、中断した蓄積の続きを行うのではなく、新たに蓄積をし直すことを意味する。
【００１９】
一方、図５は蓄積時間が所定時間以下のときの制御を示している。時点ｔ１１で蓄積を開始するが、経過時間Ｔｉｎｔの計測は行わない。このケースでは蓄積を中断しないため、Ｔｉｎｔを求める必要がないからである。時点ｔ１２でレリーズ操作がなされると、上述と同様にミラーアップ制御が開始され、また測光禁止信号が発生する。しかし、蓄積時間が短く、Ｔｄｅｌａｙの間に蓄積が完了するため、蓄積は中断せず続行する。時点Ｔ１３で蓄積が正常終了し、その後の時点ｔ１４でミラーアップが開始され、測光素子９は光束から遮断される。時点ｔ１５で撮影が終了し、ミラーダウンが行われ、時点ｔ１６で測光禁止が解除され、測光が再開される。
【００２０】
ここで、蓄積を中断するか否かを決める蓄積時間の閾値（上記所定時間）は、Ｔｄｅｌａｙに応じて設定すればよいが、Ｔｄｅｌａｙはミラー駆動機構の構造等によって異なるから、カメラの機種ごとに設定してもよい。また、測光素子９が遮光されるまでに蓄積が完了する場合にのみ蓄積が続行されるよう上記閾値を設定したが、必ずしもそうでなくてもよい。すなわち、ごく僅かな時間であれば遮光後に蓄積が継続されても測光結果の信頼性はさほど悪化しない、という考え方を採用すれば、その点を考慮して上記閾値を多少長めに設定してもよい。逆に測光信号の信頼性を最優先するならば、安全を見込んで上記閾値を短めに設定してもよい。
【００２１】
以上のように本実施形態では、ミラーアップの機械的な応答時間を考慮して、蓄積時間が短い場合には測光禁止信号の発生にも拘わらず蓄積を中断しないようにしたので、蓄積中断の頻度を低減することが可能となる。特に被写界が比較的明るいときには、蓄積時間が短いため連続撮影のようにミラーがダウンした後に直ぐアップするような場合でも蓄積を殆ど中断せずに済み、正確な測光結果が得られる。
【００２２】
また、短い蓄積時間のときに蓄積を中断しないことは以下の点からも好都合である。
上述したように、蓄積を中断した場合には実際に蓄積を行った時間Ｔｉｎｔを次回の測光パラメータ決定用のデータとして用いている。しかし、蓄積時間が短いときはその時間計測が甚だ困難であり、蓄積時間が短いだけにその計測誤差は測光結果に大きく影響してしまう。また蓄積の中断は、蓄積を駆動するために入力されるクロックのタイミングに合わせて行う必要がある場合が多いが、このタイミングを計るのも困難である。本実施形態では、蓄積時間が短い場合には蓄積を中断しないので、かかる不都合は起こり得ない。
【００２３】
図６〜図１３は上述した本実施形態の特徴を含むカメラ制御手順を示すフローチャートである。
図６はメインのフローチャートを示し、不図示のレリーズボタンが半押し操作されて電源が投入されると、マイコン２１により本プログラムが起動される。まず、ステップＳ１０１において、蓄積途中中断フラグであるＩ＿ＣＵＴを０に初期化する。次にステップＳ１０２において、測光間隔であるか否かを測光開始要求フラグにより判断し、測光間隔に達していない場合にはステップＳ１１０に進み、達している場合にはステップＳ１０３に進む。
【００２４】
ステップＳ１０３では、後のステップＳ１０６によって求められた蓄積時間及びゲインに基づいて測光素子９の蓄積を行い被写界の測光を行う。なお、電源立ち上げ後の初回測光では、ステップＳ１０６を一度も通過していないため蓄積時間及びゲインが不定の状態であるが、電源立ち上げ時に初期値として、例えば蓄積時間＝１ｍｓ、ゲイン＝Ｌを設定する。蓄積が終了すると、ステップＳ１０３において測光出力のＡ／Ｄ変換を行い、測光データを数値化する。
【００２５】
ステップＳ１０６では、ステップＳ１０３で得られた測光データを基に次回測光時の蓄積時間とゲインを算出する。ステップＳ１０７ではステップＳ１０３で得られた測光データが適正数値の範囲内であるかを判定し、測光データの有効無効判定を行う。ステップＳ１０６，Ｓ１０７の詳細は後述する。ステップＳ１０７の結果をステップＳ１０８で判定し、無効と判定された場合にはステップＳ１０２に戻って測光をやり直す。有効であった場合にはステップＳ１０９へ進み、図２（ａ）に示した２４０領域の測光データを基に、公知の手法により適正露出値の演算を行う。
【００２６】
次のステップＳ１１０では、不図示のレリーズボタンがレリーズ操作されたか否かを判定し、レリーズ操作された場合には、ステップＳ１１１において、上記演算された適正露出値に基づいて露出制御を行ってステップＳ１１２に進む。レリーズ操作されていない場合には直接ステップＳ１１２へ進む。ステップＳ１１２では、半押しタイマにより半押し解除後所定時間経過したかどうかを判定し、半押し継続中または所定時間内であった場合にはステップＳ１０１へ戻って処理を繰り返し、タイマー切れであった場合にはプログラムを終了する。
【００２７】
図７は測光間隔ごとに発生するタイマ割込みが発生したときにマイコン２１の割込み処理によって実行される割り込み処理を示したフローチャートである。図６のメインルーチン実行時においても、この処理が優先的に実行される。ここではステップＳ２０１において測光開始要求フラグをセットしてメインルーチンに復帰する。なお、測光間隔用のタイマは蓄積開始時に設定され、測光開始要求フラグは電源投入時の初期値としてセットされているため、初回は測光間隔を待たずに測光が開始されるようになっている。
【００２８】
図８は測光禁止信号が発生したときにマイコン２１の割り込み処理によって実行される割り込み処理を示したフローチャートである。図６のメインルーチン実行時においても、測光禁止信号の発生時に同期して本フローチャートが優先的に処理される。
【００２９】
まず、ステップＳ３０１において、測光禁止信号の次回の変化の時に測光許可割込みに入るように割込み先を測光許可にセットする。次にステップＳ３０２において、測光禁止信号の結果を受け付けたことを示す測光禁止フラグをセットし、ステップＳ３０３において測光間隔計測するタイマを停止する。ここで測光間隔計測を停止させるのは測光禁止信号の発生により測光間隔が保てなくなること、更には測光禁止信号が解除された時に直ぐに測光が開始できるようするためである。
【００３０】
ステップＳ３０４において、測光素子９が蓄積中であるかを判定する。蓄積中でなければそのまま処理を終了し、メインルーチンへと復帰する。蓄積中であった場合には、ステップＳ３０５において蓄積時間が「長」であるか「短」であるか、正確には蓄積時間が上述した所定時間を超えるか否かを判断し、「短」であればそのまま処理を終了しメインルーチンへと復帰する。つまり、蓄積時間が「短」の場合には、蓄積中であってもそのまま蓄積を中断せずに続行し、通常に終了まで測光を継続させる。
【００３１】
一方、蓄積時間が「長」であった場合には、ステップＳ３０６で蓄積を停止するとともに、ステップＳ３０７において、蓄積制御部１５に含まれる蓄積時間計測タイマを停止し、ステップＳ３０８で蓄積時間計測タイマのタイマ値Ｔｉｎｔを読み取る。ステップＳ３０９では、読み取ったタイマ値Ｔｉｎｔを実際の計算上で扱う実時間に変換し、ステップＳ３１０でその実時間を蓄積時間ｉｎｔに代入する。その後、ステップＳ３１１において、蓄積途中中断フラグをセットし（Ｉ＿ＣＵＴに１を代入し）メインルーチンに復帰する。
【００３２】
図９は測光禁止中に測光禁止信号が解除されたときに実行される割り込み処理を示している。具体的には、撮影終了後にメインミラー２がダウンし、測光が再開可能となった時に実行される。なお、本割込みは図６のメインルーチン実行時においても優先的に処理される。
【００３３】
まず、ステップＳ４０１において、測光禁止信号の次回の変化の時に測光禁止割込みに入るように割込み先を測光禁止にセットする。次にステップＳ４０２において、測光禁止信号の解除を受け付けたことを示す測光禁止フラグをクリアする。更に測光禁止の解除と共に、すぐに蓄積が開始できるようにステップＳ４０３において測光開始要求フラグをセットし、ステップＳ４０４において測光間隔計測を再開させるためタイマを開始させる。
【００３４】
図１０は測光データの有効性を判定するサブルーチンフローチャートである。図６のステップＳ１０７が実行されることにより本サブルーチンが呼び出されて実行される。まず、ステップＳ５０１において、Ｖｏｍａｘ，Ｖｏｍｉｎを求める。Ｖｏｍａｘは、２４０領域の測光データの内の、信号成分が最大である領域の測光データであり、同様にＶｏｍｉｎは信号成分が最小である領域の測光データである。次に、ステップＳ５０２において、以下に示す数式１が成立するかどうかを判定する。
【数１】Ｖｏｍａｘ＜Ｖｏｖ
ここで、Ｖｏｖは測光素子９の飽和出力電圧値であり、ゲインＨ、ゲインＬ毎にカメラ内の不図示の不揮発性メモリに記憶されており、測光を行ったゲインに応じてそれらの中から適切な値が代入される。
【００３５】
数式１が成立した場合には、全ての測光データが飽和出力以下であるので、ステップＳ５０３へ進みオーバーフローフラグＯＶに０を代入する。数式１が成立しなかった場合には、少なくとも１領域はオーバーフローしているのでステップＳ５０４へ進みオーバーフローフラグＯＶに１を代入する。
【００３６】
次に、ステップＳ５０５において以下に示す数式２が成立するかどうかを判定する。
【数２】Ｖｏｍｉｎ≧Ｖｕｎ
ここで、Ｖｕｎは、測光素子９を含めた測光回路１０のアンダーフロー電圧値であり、測光データがこのＶｕｎ以下であるときは測光による信号成分よりもノイズ成分の方が大きくデータに信頼性がないことを示している。Ｖｕｎは、ゲインＨ、ゲインＬ毎にカメラ内の不図示の不揮発性メモリに記憶されており、測光を行ったゲインに応じてそれらの中から適切な値が代入される。
【００３７】
数式２が成立した場合には、全ての測光データがアンダーフロー電圧値以上であるので、ステップＳ５０６へ進みアンダーフローフラグＵＮに０を代入する。数式２が成立しなかった場合には、少なくとも１領域はアンダーフローしているのでステップＳ５０７へ進みアンダーフローフラグＵＮに１を代入する。
【００３８】
次に、ステップＳ５０８において、以下に示す数式３が成立するかどうかを判定する。
【数３】Ｖｏｍａｘ≧Ｖｏｋ
ここで、Ｖｏｋは測光データの有効性を示す値である。数式３のようにＶｏｍａｘがＶｏｋ以上であるときは、被写界内に輝度差があった場合でも適正露出演算に影響を及ぼす程度の暗部の領域の測光出力が測光データとして十分なＳ／Ｎ比を得ることができる。従ってこの場合にはデータが有効であると言える。Ｖｏｋは、ゲインＨ、ゲインＬ毎にカメラ内の不図示の不揮発性メモリに記憶されており、測光を行ったゲインに応じてそれらの中から適切な値が代入される。
【００３９】
数式３が成立した場合には、測光データが有効であるので、ステップＳ５０９へ進み有効性フラグＯＫに１を代入する。数式３が成立しなかった場合には、全ての測光データがＶｏｋより小さいので有効でないと判定し、ステップＳ５１０へ進み有効性フラグＯＫに０を代入する。
【００４０】
ステップＳ５１１では、ＯＶ＝０かつＵＮ＝０、つまり測光データがオーバーフローもアンダーフローもしていないかを判定し、そうであれば全ての測光データが測光可能範囲内に収まっているのでこの測光結果を最終的に有効と見なし、ステップＳ５１６で最終有効フラグＭＯＫに１を代入する。ステップＳ５１１が否定の場合にはステップＳ５１２へ進み、ＯＶ＝０かつＯＫ＝１であるかを判定する。ステップＳ３１２が肯定の場合は、アンダーフローはしているがオーバーフローはしておらず、かつＶｏｍａｘ≧Ｖｏｋを満足しているので、測光データが適正露出演算に使用可能であることを示している。従ってこの場合にもステップＳ３１６へ進みＭＯＫ＝１とし、そうでない場合にはステップＳ５１３へ進む。
【００４１】
ステップ５１３では、ＯＶ＝０かつｉｎｔ＿ｍａｘであるか、つまりオーバーフローはしておらず、かつ蓄積時間が最大値であったかどうかを判別する。これが肯定だった場合は、Ｖｏｍａｘ≧Ｖｏｋは満足していないが、蓄積時間が最大であったのでこれ以上測光出力レベルを上げられなかったことを示している。従ってこの場合には可能な限りの出力レベル調整が行われており、これ以上の改善は望めないことからステップＳ５１６においてＭＯＫ＝１を代入する。
【００４２】
ステップＳ５１３が否定の場合には、ステップＳ５１４においてＯＶ＝１かつｉｎｔ＿ｍｉｎであるか、つまりオーバーフローしており、かつ蓄積時間が最小値であったかどうかを判別する。これが肯定だった場合は、Ｖｏｍａｘ＜Ｖｏｖは満足していないが、蓄積時間が最小であったのでこれ以上測光出力レベルを下げられなかったことを示している。従ってこの場合には可能な限りの出力レベル調整が行われており、これ以上の改善は望めないことからステップＳ５１６においてＭＯＫ＝１を代入する。ステップＳ５１４も否定だった場合には、出力レベル調整が不十分だったと見なしてステップＳ５１５においてＭＯＫ＝０として処理を終了する。
【００４３】
図１１は次回の蓄積時間ｉｎｔ及びアンプゲインを求めるサブルーチンフローチャートである。
図６のステップＳ１０６が実行されることにより本サブルーチンが呼び出されて実行される。本サブルーチンが呼び出される前には、電源立ち上げ後少なくとも１回は測光が行われているので、直前の測光データがマイコン２１内の不図示のメモリに残っている。
【００４４】
ステップＳ６０１では、上述の図１０のステップＳ５０１の手法と同様にしてＶｏｍａｘを求める。または、ステップＳ５０１で求めたＶｏｍａｘをメモリに格納しておき、そのまま用いても良い。ステップＳ６０２では、上述のステップＳ５０２と同様に、Ｖｏｍａｘ＜Ｖｏｖであるか、つまり測光データがオーバーフローしていないかどうかを判定する。または、ステップＳ５０２での判定結果であるフラグＯＶをメモリに格納しておき、それをそのまま用いても良い。測光データがオーバーフローしていなかった場合にはステップＳ６０３へ進み通常処理ルーチンにより次回蓄積時間ｉｎｔを算出する。測光データがオーバーフローしていた場合にはステップＳ６０４へ進み、オーバーフロー処理ルーチンによって次回蓄積時間ｉｎｔを算出する。通常処理ルーチンおよびオーバーフロー処理ルーチンの詳細は後述する。
【００４５】
次に、ステップＳ６０５によってＩ＿ＣＵＴ＝１か否か、すなわち測光蓄積中に測光禁止割り込みが入ったか否かを判定する。蓄積途中中断がなかった場合（Ｉ＿ＣＵＴ＝０）、即ち測光禁止割り込みがなかった場合にはステップＳ６０６へ進み、以下に示す数式４、５の如くパラメータを設定する。
【数４】ｉｎｔ＿Ｌ＿ｍａｘ＝ｉｎｔｘ０
【数５】ｉｎｔ＿Ｈ＿ｍｉｎ＝ｉｎｔｎ０
ここで、ｉｎｔ＿Ｌ＿ｍａｘ，ｉｎｔ＿Ｈ＿ｍｉｎは、測光回路１０のゲインを切り換えるためのパラメータである。後述するように、ステップＳ６０３またはＳ６０４で求められた次回蓄積時間の長さを上記２つの値と比較することによって、次回測光における測光回路１０のゲインを高ゲイン（Ｈ）、または低ゲイン（Ｌ）に切換える。
【００４６】
一方、蓄積途中中断があった場合（Ｉ＿ＣＵＴ＝１）、即ち測光禁止割り込みが入った場合にはステップＳ６０７へ進み、以下に示す数式６、７の如くパラメータを設定する。
【数６】ｉｎｔ＿Ｌ＿ｍａｘ＝ｉｎｔｘ１
【数７】ｉｎｔ＿Ｈ＿ｍｉｎ＝ｉｎｔｎ１
ここで、ｉｎｔ＿Ｌ＿ｍａｘ，ｉｎｔ＿Ｈ＿ｍｉｎは、上述の如く測光回路１０のゲインのＨ／Ｌを切り換えるためのパラメータである。なお、ここでの判定であったように、蓄積途中中断があった場合には本来とは異なる処理を行わなければならないが、蓄積時間が「短」の場合には蓄積を中断しないため通常と同様の処理で扱える。
【００４７】
ステップＳ６０８では、現在の測光回路１０のゲイン設定がＬ、つまり低ゲイン側で、かつステップＳ６０３またはステップＳ６０４で求められた次回蓄積時間ｉｎｔがｉｎｔ＿Ｌ＿ｍａｘより大であるかを判定する。ステップＳ６０８が肯定の場合、つまりゲインＬでかつ蓄積時間が長い場合にはステップＳ６０９へ進み、次回蓄積時間ｉｎｔを数式８に示す如くＶＬで割り、ゲインをＨに切り換える。
【数８】ｉｎｔ＝ｉｎｔ／ＶＬ
ここで、ＶＬは測光回路１０のゲイン定数で、ゲインＨの出力がゲインＬの出力の何倍のゲインであるかを示すものである。
【００４８】
ステップＳ６０８が否定の場合には、ステップＳ６１０において、現在の測光回路１０のゲイン設定がＨ、つまり高ゲイン側で、かつステップＳ６０３またはステップＳ６０４で求められた次回蓄積時間ｉｎｔがｉｎｔ＿Ｈ＿ｍｉｎより小であるかを判定する。ステップＳ６１０が肯定の場合、つまりゲインＨでかつ蓄積時間が短い場合にはステップＳ６１１へ進み、次回蓄積時間ｉｎｔを数式９に示すＶＬ倍し、ゲインをＬに切り換える。
【数９】ｉｎｔ＝ｉｎｔ×ＶＬ
ここで、ＶＬは数式８同様測光回路１０のゲイン定数である。
【００４９】
このように、ゲインＬかつｉｎｔ大の時にはゲインをＨへ切り換えｉｎｔを小さくすることにより蓄積時間の短縮を図り、逆にゲインＨかつｉｎｔ小の時にはゲインをＬへ切り換えてｉｎｔを大きくすることにより、よりＳ／Ｎ比の良いゲインＬを使用する様にしている。また、ゲインＨ／Ｌの切り換えに際してヒステリシスを設けることにより測光ばらつきや輝度が切り換え点付近で微妙に変化した場合についても安定した制御が行われるようになっている。
【００５０】
更に、Ｉ＿ＣＵＴ＝１、つまり測光蓄積中に測光禁止割り込みが入った場合には、それら切り換え点を蓄積時間の短い方にシフトさせることにより、次回蓄積時間に要する時間を通常状態より短くするようにしている。これは、測光禁止割り込みが入った場合はカメラのレリーズ状態、つまりレリーズ操作されることにより露光状態に入ったことを示しているので、測光禁止が解除になった後に速やかに次回測光が行える様にするためである。特に１回目の露光が終わりミラーがダウンして測光禁止が解除されても、その後すぐに２回目の露光が始まり再び測光禁止に入る場合がある。このような状態に備えるために、測光禁止信号解除後の１回目の測光では、測光にかかる時間を通常よりも短くするようにしているのである。測光禁止信号解除後２回目からの測光では、１回目の測光が終了して最新の測光データが既に得られているので、再びＳ／Ｎ比の良い通常状態に戻る様にしている。
【００５１】
次に、ステップＳ６１２では、数式１０の判定を行う。
【数１０】ｉｎｔ＜ｉｎｔ＿ｍｉｎ
ここで、ｉｎｔ＿ｍｉｎは測光回路１０の最小蓄積時間である。つまり、演算によって求めた次回ｉｎｔが最小値より小さいか否かを判定し、そうであればステップＳ６１３において次回ｉｎｔをｉｎｔ＿ｍｉｎとする。また、ステップＳ６１２が否定の場合には、ステップＳ６１４において数式１１の判定を行う。
【数１１】ｉｎｔ＞ｉｎｔ＿ｍａｘ
ここで、ｉｎｔ＿ｍａｘは測光回路１０の最大蓄積時間である。つまり、演算によって求めた次回ｉｎｔが最大値より大きいか否かを判定し、そうであればステップＳ６１５において次回ｉｎｔをｉｎｔ＿ｍａｘにクリップする。
【００５２】
以上の処理において、各パラメータの典型的な値を以下に示す。
【数１２】ｉｎｔ＿ｍｉｎ＝１０μｓ
【数１３】ｉｎｔ＿ｍａｘ＝１００ｍｓ
【数１４】ｉｎｔｘ０＝８０ｍｓ
【数１５】ｉｎｔｎ０＝１０ｍｓ
【数１６】ｉｎｔｘ１＝４０ｍｓ
【数１７】ｉｎｔｎ１＝  ５ｍｓ
【数１８】ＶＬ＝４
【００５３】
図１２は通常処理における次回蓄積時間の算出方法を示す。図１１のステップＳ６０３が実行されることにより本サブルーチンが呼び出されて実行される。まず、ステップＳ７０１で測光回路１０のゲインがＨであるかどうかを判定する。ゲインＬであった場合には、ステップＳ７０２でＶｏｍａｘがＶｎＬより小であるかを判定する。ここで、ＶｎＬは、ゲインＬの場合の測光出力のノイズレベルであり、ＶｏｍａｘがＶｎＬより小ということは、全ての測光出力がノイズレベル以下であったことを示している。この場合にはステップＳ７０５に進む。
【００５４】
ステップＳ７０５では、以下の数式２０によって計算する。
【数１９】ｉｎｔ＝ｉｎｔ’・ＶｏｖＬ／ＶｎＬ
ここで、ＶｏｖＬは、ゲインＬでの飽和出力電圧であり、その標準的な値は上述したように約３．４Ｖ、ＶｎＬの標準的な値は約４０ｍＶである。
【００５５】
一方、ステップ７０２が否定された場合には、つまりＶｏｍａｘがノイズレベルより大であった場合には、ステップ７０４で次回蓄積時間ｉｎｔを以下に示す数式１９によって計算する。
【数２０】ｉｎｔ＝ｉｎｔ’・Ｖａｇｃ／Ｖｏｍａｘ
ここで、Ｖａｇｃは次回測光における測光データのＶｏｍａｘの目標レベルを示すものであり、測光回路１０の飽和出力電圧よりやや低い値に設定してある。標準的な値は、飽和出力電圧＝３．４Ｖ、Ｖａｇｃ＝３．０Ｖである。また、ｉｎｔ’は前回の蓄積時間である。
【００５６】
ステップＳ７０１においてゲインＨと判定された場合には、ステップＳ７０３でＶｏｍａｘがＶｎＨより小であるかを判定する。ＶｎＨは、ゲインＨの場合の測光出力のノイズレベルであり、ＶｎＬ同様ＶｏｍａｘがＶｎＨより小ということは全ての測光出力がノイズレベル以下であったことを示している。この場合はステップＳ７０６に進む。
【００５７】
ステップＳ７０６では、以下の数式２１によって計算する。
【数２１】ｉｎｔ＝ｉｎｔ’・ＶｏｖＨ／ＶｎＨ
ここで、ＶｏｖＨは、ゲインＨでの飽和出力電圧であり、その標準的な値は上述したように約３．４Ｖ、ＶｎＨの標準的な値は約１６０ｍＶである。なお、ステップ７０３が否定された場合にはステップＳ７０４へ進む。
【００５８】
図１３は前回の測光出力のＶｏｍａｘがオーバーフローした場合での次回蓄積時間ｉｎｔを求めるためのサブルーチン・フローチャートである。図１１のステップＳ６０４が実行されることにより本サブルーチンが呼び出されて実行される。まず、ステップＳ８０１において、２４０個の測光領域の内、オーバーフローしている領域、即ちゲインＬ時はＶｏｖＬ以上、ゲインＨ時はＶｏｖＨ以上の出力が何領域あるかをカウントし変数ｏｖｆに代入する。
【００５９】
次に、ステップＳ８０２において、ｏｖｆがｐｘ／１６より少ないかどうかを判定する。ここで、ｐｘは測光領域数であり、この場合ｐｘ＝２４０である。ステップＳ８０２が肯定の場合にはステップＳ８０３へ進み、ｉｎｔをｉｎｔ’／２、つまり前回の値の１／２にする。ステップＳ８０２が否定の場合にはステップＳ８０４においてｏｖｆがｐｘ／８より少ないかどうかを判定し、そうであればステップＳ８０５においてｉｎｔをｉｎｔ’／４、つまり前回の値の１／４に設定する。
【００６０】
ステップＳ８０４が否定の場合には更にステップＳ８０６においてｏｖｆがｐｘ／４より少ないかどうかを判定し、そうであればステップＳ８０７においてｉｎｔをｉｎｔ’／８、つまり前回の値の１／８に設定する。ステップＳ８０６も否定であった場合にはステップＳ８０８においてｉｎｔ＝ｉｎｔ’／１６、つまり前回の値の１／１６として処理を終了する。
【００６１】
−第２の実施形態−
図１４〜図１９により本発明の第２の実施形態を説明する。なお、先の実施形態と共通の構成要素には同一の符号を付し、相違点を中心に説明する。
本実施形態では、撮影画面内の５箇所にフォーカスエリアが設定され、図１４はその５箇所のフォーカスエリアＡＲを測光素子９に重ね合わせて示した図である。撮影者は、選択操作部材であるフォーカスエリアセレクタ６１（図１６）を用いて、５個のフォーカスエリアＡＲからいずれかを選択することができる。カメラは、フォーカスエリアセレクタ６１が操作されると、選択されたエリアをスーパーインポーズにより表示するとともに、撮影時には、選択されたエリアの焦点検出結果に基づいて撮影レンズのフォーカス光学系を駆動し、合焦動作を行う。
【００６２】
図１５において、５１はスーパーインポーズ用のＬＥＤであり、ＬＥＤ５１の照射光束は、スーパーインポーズ用のプリズム５２を通って拡散スクリーン３のフォーカスエリア対応位置に到達し、その反射光がペンタプリズム５を介して接眼レンズ６にて観察される。これにより、被写体像に重ね合わせてフォーカスエリアが明るく表示される。図１６の情報管理部６２は、フォーカスエリアセレクタ６１によって選択エリアが切換えられると、その選択されたフォーカスエリアＡＲがスーパーインポーズ表示されるようＬＥＤ５１を点灯制御する。また情報管理部６２は、後述するように測光禁止に関わる処理を行う。
【００６３】
ところで、スーパーインポーズ表示におけるＬＥＤ光は測光素子９にも入射するから、スーパーインポーズ表示の最中に測光素子９の蓄積を行うと正確な測光結果が得られない。つまり、スーパーインポーズ表示は測光に悪影響を与える動作であり、これを行うにあたっては測光禁止信号を発生させる必要がある。このように本実施形態では、上述したミラーアップを含めて測光に悪影響を与える動作が２つ存在することになる。
【００６４】
ここで、情報管理部６２がスーパーインポーズの指示を出してから実際に表示がなされるまでには電気的な応答時間Ｔｄｅｌａｙが存在するため、先の実施形態と同様に蓄積時間によっては蓄積を中断しなくてもよい。しかし、スーパーインポーズにおける電気的応答時間Ｔｄｅｌａｙは、ミラーアップにおける機械的応答時間と比べれば格段に短く、このように応答時間の異なる２つの動作に対して、蓄積中断の有無や蓄積時間の計測の有無を同一のアルゴリズムで判断することは通常はできない。よって２つのアルゴリズムを用意し、ミラーアップかスーパーインポーズかによっていずれかの処理を選択しなければならず、制御が複雑化する。
【００６５】
その解決策として本実施形態では、測光禁止信号の発生からスーパーインポーズ表示が達成されるまでの時間を上述したミラーアップ時の機械的応答時間と同等にするために、敢えてスーパーインポーズ表示の指示を所定時間Ｔｓｔｄｅｌａｙだけ遅らせるようにした。その詳細を以下に説明する。
【００６６】
まず蓄積時間が所定時間を超えるときの制御を図１７に示す。この所定時間は、ミラーアップのときの閾値と同時間である。時点ｔ２１で蓄積を開始すると同時に経過時間Ｔｉｎｔの計測を開始する。時点ｔ２２でフォーカスエリアセレクタ６１の操作により選択エリアが変更されると、スーパーインポーズ表示の必要性が生ずるので、測光禁止信号（蓄積中断要請）が発生する。ただし、この時点ではスーパーインポーズの指示はまだ出さない。蓄積時間が長いため測光禁止信号に応じて蓄積を中断するとともに、この時の蓄積経過時間Ｔｉｎｔを後で用いる蓄積時間ｉｎｔとする。そして、測光禁止信号からＴｓｔｄｅｌａｙ経過後の時点ｔ２３でスーパーインポーズ表示の指示（ＬＥＤ５１の点灯指示）を出す。その指示によってスーパーインポーズ表示動作が開始され、電気的な応答時間Ｔｄｅｌａｙが経過した時点ｔ２４でＬＥＤ５１が点灯し、スーパーインポーズ表示がなされる。Ｔｓｔｄｅｌａｙは、ＴｓｔｄｅｌａｙとＴｄｅｌａｙとの合計がミラーアップにおけるＴｄｅｌａｙ（図４，図５）と等しくなるように予め設定されている。その後、時点ｔ２５でスーパーインポーズ表示が終了し、測光禁止が解除され、測光が再開される。
【００６７】
一方、図１８は蓄積時間が所定時間以下のときの制御を示している。時点ｔ３１で蓄積を開始するが、経過時間Ｔｉｎｔの計測は行わない。時点ｔ３２でフォーカスエリアセレクタ６１の操作により選択エリアが変更されると、スーパーインポーズ表示の必要性が生ずるので、測光禁止信号が発生する。ただし、この時点ではスーパーインポーズの指示はまだ出さない。また蓄積時間が短いため、蓄積は中断せず続行する。時点Ｔ３３で蓄積が正常終了し、測光禁止信号からＴｓｔｄｅｌａｙ経過後の時点ｔ３４でスーパーインポーズ表示の指示（ＬＥＤ５１の点灯指示）を出す。その指示によってスーパーインポーズ表示動作が開始され、電気的な応答時間Ｔｄｅｌａｙが経過した時点ｔ３５でＬＥＤ５１が点灯し、スーパーインポーズ表示がなされる。その後の時点ｔ３６で測光禁止が解除され、測光が再開される。
なお、ミラーアップ時の制御は図４，図５と全く同様である。
【００６８】
このように本実施形態では、測光に悪影響を与える動作が２つ存在する場合において、応答時間Ｔｄｅｌａｙが長い方の動作（ミラーアップ）に応じたディレイ時間Ｔｓｔｄｅｌａｙだけ、短い方の動作（スーパーインポーズ表示）のタイミングを遅らせるようにしたので、２つの動作に対して同様のアルゴリズムを適用でき、制御の複雑化を防止できる。このことは、以下に説明する図１９のフローチャートを追加するだけで、他の制御は先の実施形態のフローチャートをそのまま適用できることからも明らかである。
【００６９】
図１９は測光禁止信号発生に関わる処理手順を示している。測光禁止信号の出力が必要になると、情報管理部６２が本処理を呼び出し、まずステップＳ９０１で測光禁止信号を発生させる。ステップＳ９０２では測光禁止要因を判定し、ミラーアップであればそのまま何もせずにリターンする。リターン後、直ぐにミラーアップが開始される。一方、測光禁止要因がスーパーインポーズ表示であった場合にはステップＳ９０３に進み、測光禁止信号発生からスーパーインポーズの指示を出すまでのディレイ時間Ｔｓｔｄｅｌａｙを設定し、ステップＳ９０４でＴｓｔｄｅｌａｙの時間計測を開始する。その後、ステップＳ９０５でＴｓｔｄｅｌａｙが経過するまで待ち、経過するとリターンする。リターン後、スーパーインポーズの指示が出され、スーパーインポーズ動作が開始される。
【００７０】
以上では、蓄積時間のみを加味して蓄積を中断するか否かを判断するようにしたが、蓄積の開始時期を考慮して判断してもよい。蓄積時間が長くても、蓄積の開始時期が早ければ測光に悪影響を与える状態となるまで（例えばミラーがアップするまで）に蓄積が完了するケースがあり得るからである。したがって、蓄積時間と蓄積開始時期の双方を加味して蓄積を中断するか否かを決めるようにすれば、蓄積中断の頻度をより低減することが可能となる。
【００７１】
また以上の例は、レリーズ操作がなされたとき、撮影を優先して蓄積を中断する、いわゆる撮影優先の考え方を前提としている。これに対し、レリーズ操作がなされても、その回の蓄積が完了するまで撮影動作（ミラーアップ）に移行しない、いわゆる測光優先の考え方があり、この場合にも本発明を適用できる。この場合には、蓄積中にミラーアップの指示（例えばレリーズ操作）がなされると、その回の蓄積時間が長ければ蓄積終了後に上記ミラーアップを開始するが、蓄積時間が短ければ（例えば、ミラーアップまでに蓄積が終了すれば）、蓄積終了を待たずに上記動作を開始するようにすればよい。これによれば、蓄積時間が短い場合に撮影動作を早めることが可能となる。
【００７２】
なお、測光に悪影響を与える動作は、上述したミラーアップやスーパーインポーズ表示に限定されず、他の例として、例えば被写体が暗い場合の焦点検出を可能とするために照射されるＡＦ補助光などが挙げられる。これらの測光に悪影響を与える動作を１つまたは複数持つものに本発明を適用できる。また測光禁止信号は、電気信号であってもよいし、マイコン内部のフラグや、マイコン外部から入力される信号であってもよい。
【００７３】
さらに蓄積型の測光素子を用いるものについて説明したが、蓄積型でなくても各回の測光時間が状況に応じて変わり得る測光素子を持つものであれば本発明を適用可能である。またデジタルスチルカメラにて説明したが、銀塩フィルムを扱うスチルカメラやビデオカメラ、その他の測光装置にも本発明を同様に適用できる。
【００７４】
【発明の効果】
請求項１の発明によれば、測光に悪影響を与える動作がなされるにあたって測光禁止信号が出力されても、測光時間が所定時間以下であれば測光を中断せずに続行するようにしたので、測光時間が短く悪影響を受けない場合、あるいは影響が少ない場合に測光を中断せずに済み、正確な測光が可能となる。
請求項６の発明によれば、測光中に測光禁止信号が出力されると、その回の測光の開始時期および／または測光時間に基づいて測光を中断するか否かを判定し、その判定結果に従って測光を中断または続行するようにしたので、上述と同様の作用効果が得られる。
請求項７の発明によれば、測光中に測光に悪影響を与える動作の指示信号が出力されると、その回の測光時間が所定時間を超えるときには測光終了後に上記動作を開始し、所定時間以下であれば、測光終了を待たずに上記動作を開始するようにしたので、測光優先の考え方において、測光時間が短い場合に撮影動作を早めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施形態におけるカメラの光学構造を示す概略図。
【図２】測光素子の構成を示す図。
【図３】第１の実施形態におけるカメラの制御系のブロック図。
【図４】測光中にミラーアップが行われる際の制御を示すタイムチャートで、蓄積時間（測光時間）が長いときを示す。
【図５】図４と同様の図で、蓄積時間が短いときを示す。
【図６】カメラ動作を説明するメインのフローチャート。
【図７】測光間隔割り込み処理の手順を示すフローチャート。
【図８】測光禁止割り込み処理の手順を示すフローチャート。
【図９】測光許可割り込み処理の手順を示すフローチャート。
【図１０】有効性判定処理の手順を示すフローチャート。
【図１１】次回蓄積時間およびゲイン算出処理の手順を示すフローチャート。
【図１２】図１１中の通常処理の手順を示すフローチャート。
【図１３】図１１中のオーバーフロー処理の手順を示すフローチャート。
【図１４】測光素子にフォーカスエリアを重ね合わせて示す図。
【図１５】第２の実施形態におけるカメラの光学構造を示す概略図。
【図１６】第２の実施形態におけるカメラの制御系のブロック図。
【図１７】測光中にスーパーインポーズ表示が行われる際の制御を示すタイムチャートで、蓄積時間（測光時間）が長いときを示す。
【図１８】図１７と同様の図で、蓄積時間が短いときを示す。
【図１９】第２の実施形態における測光禁止信号発生処理の手順を示すフローチャート。
【符号の説明】
１  撮影レンズ
２  ミラー
３  拡散スクリーン
９  測光素子
１０  測光回路
１３  蓄積時間設定部
１４  ゲイン決定部
１５  蓄積制御部
１６  測光禁止信号発生部
１８  露出制御部
２１  マイコン
３１  シャッタ
５１  スーパーインポーズ用ＬＥＤ
５２  スーパーインポーズ用プリズム
６１  フォーカスエリアセレクタ
６２  情報管理部
ＡＲ  フォーカスエリア
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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