(57)【要約】【課題】表面の不活性化と共に効率的にイオン化部及びイオントラップ電極に熱を伝え、分析精度の向上が可能なイオントラップ質量分析計を実現する。【解決手段】ＥＩイオン源１と、熱電子集束レンズ２と、エンドキャップ電極３と、リング電極４と、エンドキャップ電極５と、集束レンズ６との母材を銅又は銅の合金とし、少なくとも内表面をクロム又はモリブデンにより表面形成する。表面の不活性化と効率的なイオン化部及びイオントラップ電極への熱伝達ができ、分析精度の向上が可能となる。さらに、ＥＩイオン源１、熱電子集束レンズ２、エンドキャップ３、リング電極４、エンドキャップ５、集束レンズ６は、各々独立のヒータ９、１０、１１、１２、１３、１４により、最適温度に加熱制御されるため、分析精度のより一層の向上が可能となる。【選択図】　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
イオン化部と、イオントラップ電極と、試料イオンビーム集束レンズ電極とを備えるイオントラップ質量分析計において、
上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の母材は銅であり、その表面はクロムにより形成されることを特徴とするイオントラップ質量分析計。
【請求項２】
請求項１記載のイオントラップ質量分析計において、上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の表面は、メッキ又はコーティングされたクロムにより形成されることを特徴とするイオントラップ質量分析計。
【請求項３】
請求項１記載のイオントラップ質量分析計において、上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の表面は板状のクロムにより形成されることを特徴とするイオントラップ質量分析計。
【請求項４】
イオン化部と、イオントラップ電極と、試料イオンビーム集束レンズ電極とを備えるイオントラップ質量分析計において、
上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の母材は、銅と、銀、鉄、タングステンのうちの選択した金属との合金であり、その表面はクロムにより形成されることを特徴とするイオントラップ質量分析計。
【請求項５】
イオン化部と、イオントラップ電極と、試料イオンビーム集束レンズ電極とを備えるイオントラップ質量分析計において、
上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の母材は銅であり、その表面はクロムとモリブデンとの合金により形成されることを特徴とするイオントラップ質量分析計。
【請求項６】
請求項１から５のいずれか一項記載のイオントラップ質量分析計において、イオン化部及びイオントラップ電極の温度を、互いに独立して制御する加熱機構を備えることを特徴とするイオントラップ質量分析計。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、イオントラップ質量分析計に係わり、特に、イオントラップ質量分析計に用いられる材質、表面処理に関する。
【０００２】
【従来の技術】
イオントラップ質量分析計は、ガスクロマトグラフ／質量分析計、液体クロマトグラフ／質量分析計のイオン検出手段として用いられ、測定対象物質は有機化合物が主体である。
【０００３】
上記質量分析計のうち、ガスクロマトグラフ／質量分析計は、ガスクロマトグラフ部分を通過しうる、通常分子量が１０００以下の揮発しやすい成分の分析に用いられ、医薬、化学材料、環境汚染物質などの定性、定量分析に好適である。
【０００４】
一方、液体クロマトグラフ／質量分析計は、熱により変性しやすく、気化させて分析することが難しい試料の分析に好適である。特に、高分子物質、生体関連の物質の定性、定量分析に適する。
【０００５】
イオントラップ質量分析計は一般に、下記の（１）〜（５）の装置等から構成される。
（１）液体クロマトグラフやガスクロマトグラフなどのイオントラップ質量分析計に試料を導入するための装置。
【０００６】
（２）試料をイオン化するための機構としてのイオン化部。なお、ガスクロマトグラフ／質量分析計のイオン化法にはＥＩ（電子イオン化）及びＣＩ（化学イオン化）が実用化されている。
また、液体クロマトグラフ／質量分析計には、ＥＳＩ（エレクトロスプレイ）、ＡＰＣＩ（大気圧化学イオン化）などのイオン化法が実用化されている。
【０００７】
（３）質量／電荷の比で試料イオンを分離するイオントラップ部。
【０００８】
（４）試料イオンの強度を測定する二次電子増倍管などの検出器。
【０００９】
（５）試料のマススペクトル、クロマトグラムなどを作るデータ処理部。
【００１０】
次に、イオントラップ質量分析計の動作を説明する。
【００１１】
まず、ガスクロマトグラフ／質量分析計について説明する。
ガスクロマトグラフ／質量分析計においては、質量分析計内部の１００Ｐａ以下の真空度に保たれた質量分析計内の真空チャンバ中に置かれたイオン化部に、ガスクロマトグラフから気体状となった試料がフューズドシリカなどの細管（内径０．１〜０．５３ｍｍ）を通して導入される。
【００１２】
イオン化法がＥＩ法の場合は、試料分子に熱電子が照射されることにより試料分子は電子を放出し、一価またはそれ以上の価数の陽イオンとなる。同時に試料分子は構造に応じて開裂イオンを生じる。
【００１３】
また、イオン化法がＣＩ法の場合は、試料に試薬ガスイオンとしてのメタン、イソブタンの陽イオンを反応させ、主に試料分子にプロトンＨ＋が付いた分子イオンを生成させる。
【００１４】
このようにして生成した試料由来のイオンは、イオントラップ部に導かれる。このイオン化部が上述のようにイオントラップ部の外側に置かれる方式とイオントラップ部内部にある２つの方式がある。
【００１５】
イオントラップ部は、イオン化部側と試料イオン出射側との二様双曲面（エンドキャップ電極）２個と、それらに挟まれた一様双曲面（リング電極）１個とから構成される。
【００１６】
リング電極に約１ＭＨｚの周波数の高周波電圧を印加し、エンドキャプ電極に対して直流電圧を印加する。この結果、これらの３個の電極に囲まれた空間に３次元の電界が形成される。試料イオンは互いに対向するエンドキャップ電極の軸方向と、それに垂直な、リング電極の径方向に加速、減速され、捕捉される。
【００１７】
このようにして、試料イオンをイオントラップ部に一定時間捕捉した後、リング電極に印加する高周波電圧の振幅を増大させることにより試料イオン運動を不安定化させ、質量／電荷比ごとにエンドキャップ電極からイオントラップ部の外部に取り出す。
以上のようにして、試料イオンの質量分離を行う。
【００１８】
イオントラップ部から取り出されたイオンは検出部である二次電子増倍管に達し、質量／電荷比ごとに信号強度が測定される。データ処理部では、二次電子増倍管により測定された信号強度に基づいて、これらのマススペクトルデータを記録し、定性・定量分析を行う。
【００１９】
次に、液体クロマトグラフ／質量分析計では、液体クロマトグラフから溶出した試料は溶離液とともに液体クロマトグラフ／質量分析計のインターフェース部分であるイオン化部に導入される。
【００２０】
イオン化法がＥＳＩ法の場合は、試料溶液は高電圧を印加されたキャピラリーに通され、対向する質量分析計の細孔に噴霧される。試料を含んだ溶液は帯電し、試料溶液がμｍ以下に微細化される過程で試料はイオン化される。この試料イオンは質量分析計内部の差動排気系を経て、イオントラップ部に導かれる。
【００２１】
また、イオン化法がＡＰＣＩ法の場合は、針電極に数ｋＶの高電圧を印加することによりコロナ放電を起こさせ、コロナ放電により試料溶液をイオン化し、試料溶液からのプロトン移行反応などの化学反応により試料分子をイオン化する。試料イオンは、質量分析計内部の差動排気系を経て、イオントラップ部に導かれる。
【００２２】
このように、液体クロマトグラフ／質量分析計ではイオン化部は質量分析計の真空チャンバの外側に置かれる。質量分離からデータ処理されるまでの過程はガスクロマトグラフ／質量分析計と同様である。
【００２３】
ところで、イオントラップ質量分析計のイオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の材質には、一般的に最も普及している素材の一つであるステンレス鋼が用いられている。これらイオン化部等はヒータにより室温〜３００℃の範囲の温度に制御されるのが普通である。
【００２４】
ステンレス鋼は熱伝導度が１９Ｗ／ｍ・Ｋ（３００Ｋにおいて）であり、材料として用いることができる金属の中でも、熱伝導度は高くない部類に属する。
【００２５】
蒸気圧の高い試料あるいは熱分解を起こしにくい試料の測定には、試料が通過あるいは接触する部分の材質の熱伝導度を特に考慮せずとも分析に大きな障害はない。
【００２６】
しかし、蒸気圧が低い試料あるいは熱分解性が高い試料の場合は、電極内側の表面に試料が吸着した後に脱着し、装置の劣化あるいは分解を招くことがある。
【００２７】
電極内側の表面に試料が吸着した場合、データ測定の結果は、クロマトグラムのピークのテーリング、感度低下、再現性の悪化、マススペクトルの変化として現れ、分析の障害となる。
【００２８】
このため、試料が通過あるいは接触する部分は、ヒータにより効率よく加熱され、コールドスポット、ホットスポットの生じにくい材質により構成されることが望ましく、熱伝導度の高い材料の選択が有効である。また、表面は不活性化され、電極は効率よく加熱されることも併せて重要である。
【００２９】
このため、イオントラップ質量分析計において、測定試料が、通過及び接触するイオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極に吸着し、あるいは熱分解により劣化するのを防ぐために、その表面処理、材質の改良に関して種々の提案がされている。
【００３０】
例えば、特許文献１には、イオン化室内での分析物の吸着、分解を防ぎ、望ましくないイオン−表面の反応を低減するために、化学イオン化室の少なくとも内側表面に被着、メッキ、コーティングによりモリブデンを設けることが開示されている。
【００３１】
また、特許文献２には、イオントラップまたはイオン化チャンバの内側面をその表面と接触する試料の吸着、劣化、分解を最小にするように表面の不活性のために、けい素などの不活性な無機の非金属絶縁材または半導体材料でコーティングを施すことが開示されている。
【００３２】
また、特許文献３には、イオントラップ、イオン化チャンバと接触した試料の劣化または分解を防ぐためにクロムまたは酸化クロムの表面を用いることが開示されている。
【００３３】
また、特許文献４には、イオントラップ質量分析計の電極の腐食を防止するため、モリブデンの電極表面に銅合金をメッキ、またはコーティング処理することが開示されている。
【００３４】
これらの試みは、試料が接触する表面を不活性化することにより、熱分解性の試料及び蒸気圧の低い試料の分析において試料の吸着、分解を改善する上で効果のあるものである。
【００３５】
【特許文献１】
特開平１１−１９５３９９号公報
【特許文献２】
特開平９−２２９９０３号公報
【特許文献３】
米国特許第５０５５６７８号明細書
【特許文献４】
米国特許第６０３７５８７号明細書
【００３６】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、試料の吸着及び熱分解をさらに低減し、分析精度を向上することが望まれている。
【００３７】
しかしながら、上記従来の技術にあっては、試料の吸着及び熱分解に対してこれ以上の低減が困難であり、分析精度の向上が望めなかった。
【００３８】
本発明の目的は、表面の不活性化とともに効率的にイオン化部及びイオントラップ電極に熱を伝えることができ、分析精度の向上が可能なイオントラップ質量分析計を実現することである。
【００３９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は次のように構成される。
（１）イオン化部と、イオントラップ電極と、試料イオンビーム集束レンズ電極とを備えるイオントラップ質量分析計において、上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の母材は銅であり、その表面はクロムにより形成される。
【００４０】
（２）好ましくは、上記（１）において、上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の表面は、メッキ又はコーティングされたクロムにより形成される。
【００４１】
（３）また、好ましくは、上記（１）において、上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の表面は板状のクロムにより形成される。
【００４２】
（４）イオン化部と、イオントラップ電極と、試料イオンビーム集束レンズ電極とを備えるイオントラップ質量分析計において、上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の母材は、銅と、銀、鉄、タングステンのうちの選択した金属との合金であり、その表面はクロムにより形成される。
【００４３】
（５）イオン化部と、イオントラップ電極と、試料イオンビーム集束レンズ電極とを備えるイオントラップ質量分析計において、上記イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の母材は銅であり、その表面はクロムとモリブデンとの合金により形成される。
【００４４】
（６）好ましくは、上記（１）から（５）において、イオン化部及びイオントラップ電極の温度を、互いに独立して制御する加熱機構を備える。
【００４５】
イオントラップ質量分析計において、イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の母材として銅又は銅と銀との合金を使用する。その表面にクロム又はモリブデンをメッキ等により薄膜加工することにより、測定試料の吸着、劣化、分解が低減され、データの測定精度が改善されることを本願発明者等は見出した。
【００４６】
さらに、イオン化部とイオントラップ電極を各々個別に加熱することにより、データの測定精度がさらに改善されることを見出した。
【００４７】
銅は熱伝導率が３８１Ｗ／ｍ・Ｋ（３００Ｋにおいて）であり、入手可能な金属材料の中では最も高い熱伝導率を持つ金属類に属する。
【００４８】
イオン化部、イオントラップ電極及び試料イオンビーム集束レンズ電極の母材に銅を用いることにより、各部の加熱効率が著しく向上し、コールドスポット、ホットスポットが減少する。
【００４９】
また、材料としての物理的性質においては、従来技術におけるステンレス鋼、モリブデン等と比較して劣るものではない。また、有機化合物に対して不活性な金属である１００％クロムまたはクロムを含む合金またはモリブデンを、銅の表面にメッキあるいはコーティングにより表面処理を行うか、または１ｍｍ以上の厚さの板にして接着することにより、表面の不活性度が増大し、試料の吸着を減少させることができる。
【００５０】
表面の不活性度は表面の均一性が高いほど良く、表面粗さを抑えた平滑な表面である必要がある。このような表面の均一性はメッキあるいは蒸着で十分実現できる。
【００５１】
また、メッキあるいはコーティングされた表面のクロムまたはクロム合金またはモリブデンの厚さは０．１μｍ以上あれば良く、これらと同様の表面の均一性を持つ１ｍｍ以上の厚さのクロムまたはクロム合金またはモリブデンの板で母材を被覆しても良い。
【００５２】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を添付図面を参照して説明する。
【００５３】
図１は、本発明の第１の実施形態であるイオントラップ質量分析計の概略構成図であり、ガスクロマトグラフ／イオントラップ質量分析計に適用した場合の例である。
【００５４】
図１において、イオン化部はＥＩイオン源１と、集束レンズ２とを備える。そして、ＥＩイオン源１は、質量分析計内部の１００Ｐａ以下の真空度に保たれた真空チャンバー中に配置される。また、集束レンズ２は、イオン源１から放出された熱電子を集束させるためのものである。
【００５５】
ガスクロマトグラフにより気体状となった試料は、フューズドシリカなどからなるカラム８を通してイオントラップ部に導入される。そして、導入された試料分子に、集束レンズ２から熱電子が照射されることにより試料分子は電子を放出し、一価またはそれ以上の価数の陽イオンとなる。
【００５６】
イオントラップ部は、イオン化部側のエンドキャップ電極３と、試料イオン出射側のエンドキャップ電極５と、エンドキャップ電極３、５に挟まれたリング電極４とを備える。
【００５７】
試料イオンは、イオントラップ部から放出された後、集束レンズ電極６を通過して、２次電子増倍管などの検出部７に到達する。そして、この検出部７でイオンが検出される。
【００５８】
また、ＥＩイオン源１と、熱電子集束レンズ２と、エンドキャップ電極３と、リング電極４と、エンドキャップ電極５と、集束レンズ６とは、母材が銅で作られている。ただし、この母材は１００％の銅に代えて、銀、鉄、タングステンの金属群から選択した金属と銅との合金でも良い。好ましくは、銅と銀との合金がよい。
【００５９】
そして、ＥＩイオン源１、熱電子集束レンズ２、集束レンズ６の表面の少なくとも内側並びにエンドキャップ電極３、リング電極４、エンドキャップ電極５の少なくともイオントラップ部側の表面はクロム（又はモリブデン）により表面形成する。
【００６０】
濃い線１５はクロムによる表面処理を表し、クロムメッキ、クロムコーティングまたは表面の均一性を持たせたクロムの薄板を接着することで行われる。また、ＥＩイオン源１、熱電子集束レンズ２、エンドキャップ３、リング電極４、エンドキャップ５、集束レンズ６は、各々独立のヒータ９、１０、１１、１２、１３、１４により加熱される。
【００６１】
これらのヒータ９〜１４は、プレート型ヒータ、または棒状ヒータであり、ＥＩイオン源１等の各部に印加する電圧がリークしないように、例えばアルミナセラミックを絶縁材として縁面距離を保って設置される。
【００６２】
特に、イオントラップ部を加熱するヒータ１１、１２、１３は、試料に応じた最適温度に制御するため、それぞれ独立に制御を行う。
【００６３】
これらのヒータ９〜１４により、ＥＩイオン源１、熱電子集束レンズ２、エンドキャップ３、リング電極４、エンドキャップ５、集束レンズ６は試料の種類に応じて１５０〜２５０℃の範囲で制御される。
【００６４】
イオン化部、イオン化部側のエンドキャプ電極３、リング電極４、検出部側のエンドキャップ電極５、試料イオンビーム集束レンズ２は、各々数ｍｍの間隔で設置されている。
【００６５】
これらの温度を試料の吸着、劣化、分解を最小限に抑えるように最適に設定するために、各々個別のヒータとそれらの温度制御部（図示せず）により加熱する。
【００６６】
また、ガスクロマトグラフ／質量分析計においてはイオン化部側のエンドキャプ電極、リング電極、検出部側のエンドキャップ電極の温度制御が装置の特性を決める上で特に重要であり、近接するイオン源、検出部からの発熱または吸熱による温度勾配を抑えるため独立に温度制御する。
【００６７】
上記ヒータは直流電圧を印加して加熱され、ヒータの温度制御は各部に各々熱電対が設置され、熱電対により検出された温度が最適値となるようにヒータに印加する直流電圧を制御する。
【００６８】
以上のように、本発明の第１の実施形態によれば、ＥＩイオン源１と、熱電子集束レンズ２と、エンドキャップ電極３と、リング電極４と、エンドキャップ電極５と、集束レンズ６との母材を銅又は銅の合金とするとともに、少なくとも内表面をクロム又はモリブデン又はクロムとモリブデンの合金により表面形成したので、表面の不活性化とともに効率的にイオン化部及びイオントラップ電極に熱を伝えることができ、分析精度の向上が可能なイオントラップ質量分析計を実現することができる。
【００６９】
つまり、熱分解性及び吸着性が高い除草剤などの農薬の吸着、分解、劣化が低減でき、クロマトグラムピークのテーリング、感度低下、再現性の悪化、マススペクトルの変化を生じずに分析することが可能である。
【００７０】
さらに、本発明の第１の実施形態によれば、ＥＩイオン源１、熱電子集束レンズ２、エンドキャップ３、リング電極４、エンドキャップ５、集束レンズ６は、各々独立のヒータ９、１０、１１、１２、１３、１４等（加熱機構）により、最適温度に加熱制御されるため、分析精度のより一層の向上が可能である。
【００７１】
図２は、本発明の第２の実施形態であるイオントラップ質量分析計の概略構成図であり、液体クロマトグラフ／イオントラップ質量分析計に適用した場合の例である。
【００７２】
図２において、イオン化部は大気圧下に置かれたＥＳＩイオン源１６と、生成した試料イオンを１００Ｐａ以下の真空度のチャンバに導くための細孔形成部１７と、試料イオンを集束させイオントラップ部に導くために集束レンズ１８とを備える。
【００７３】
イオントラップ部は、イオン化部側のエンドキャップ電極１９と、試料イオン出射側のエンドキャップ電極２１と、エンドキャップ電極１９、２１に挟まれたリング電極２０とを備える。
【００７４】
試料イオンは、イオントラップ部から放出されたのち、集束レンズ電極２２を通過して、２次電子増倍管などの検出部２３に到達してイオン検出される。
【００７５】
上記構成において、細孔形成部１７、集束レンズ１８、エンドキャップ１９、リング電極２０、エンドキャップ２１、集束レンズ２２は母材が銅で作られている。ただし、第１の実施形態と同様に、この母材は１００％の銅に代えて、銀、鉄、タングステンの金属群から選択した金属との合金でも良く、好ましくは銅と銀との合金がよい。
【００７６】
また、上記細孔形成部１７、集束レンズ１８、エンドキャップ１９、リング電極２０、エンドキャップ２１、集束レンズ２２の表面の少なくとも内側はクロムにより形成する。
【００７７】
濃い線３０はクロムによる表面処理を表し、クロムメッキ、クロムコーティングまたは表面の均一性を持たせたクロムの薄板を接着することで行われる。また、細孔１７、集束レンズ１８、エンドキャップ１９、リング電極２０、エンドキャップ２１、集束レンズ２２は、各々独立のヒータ２４、２５、２６、２７、２８、２９により加熱される。
【００７８】
これらのヒータ２４〜２９は、プレート型ヒータ、または棒状ヒータであり、各部に印加する電圧がリークしないように、例えばアルミナセラミックを絶縁材として縁面距離を保って設置される。
【００７９】
特に、細孔１７、イオントラップ部を加熱するヒータ１１、１２、１３は試料に応じた最適温度に制御するため、それぞれ独立に制御を行う。
【００８０】
これらのヒータ２４〜２９により、細孔１７、集束レンズ１８、エンドキャップ１９、リング電極２０、エンドキャップ２１、集束レンズ２２は試料の種類に応じて１００〜２００℃の範囲で制御される。
【００８１】
本発明の第２の実施形態によれば、第１の実施形態と同様な効果を得ることができる。
【００８２】
また、本発明の実施形態によれば、熱不安定なペプチド、タンパクなどの生体関連物質の測定で発明の第２の実施形態によれば、試料のイオン化部等への吸着、分解、劣化が低減でき、クロマトグラムピークのテーリング、感度低下、再現性の悪化、マススペクトルの変化を生じずに分析することが可能である。
【００８３】
なお、上述した第１及び第２の実施形態において、ＥＩイオン源１、熱電子集束レンズ２、集束レンズ６の表面の少なくとも内側並びにエンドキャップ電極３、リング電極４、エンドキャップ電極５の少なくともイオントラップ部側の表面、上記細孔形成部１７、集束レンズ１８、エンドキャップ１９、リング電極２０、エンドキャップ２１、集束レンズ２２の表面の少なくとも内側は、クロムに代えてモリブデン、またはクロムとモリブデンとの合金により表面処理されていてもよい。また、活性度が低い金属であれば、表面処理金属としてモリブデン以外のものも適用可能である。
【００８４】
また、エンドキャップ電極３と５（１９と２１）は、同一温度となるように制御することも可能であるが、個々の質量分析計の構造体の特性の相違から、エンドキャップ電極３と５（１９と２１）は熱放散特性も異なる場合が多く、別個独立に温度制御することが好ましい。
【００８５】
図３は、イオン化部の母材を銅として、その表面をクロムによりメッキし、エンドキャップ電極近辺を２本のヒータで加熱した場合のガスクロマトグラフ／質量分析計における農薬の測定結果を示すグラフである。図３において、縦軸は信号強度であり、横軸は保持時間（分）である。
【００８６】
また、図４は、イオン化部の母材をモリブデンとし、エンドキャップ電極近辺を２本のヒータで加熱した場合のガスクロマトグラフ／質量分析計における農薬の測定結果を示すグラフである。この図４も図３と同様に、縦軸は信号強度であり、横軸は保持時間（分）である。
【００８７】
図３と図４に示した測定結果を互いに比較すればわかるように、イオン化部の母材を銅として、その表面をクロムによりメッキした例（本願発明）は、母材をモリブデンとした例（従来技術）に比較して、Ｓ／Ｎ比が向上されている。
【００８８】
図５は、図３に示した例と同様に、イオン化部の母材を銅として、その表面をクロムによりメッキした場合であるが、エンドキャップ電極近辺を４本のヒータで加熱した場合のガスクロマトグラフ／質量分析計における農薬の測定結果を示すグラフである。
【００８９】
この図５に示した測定結果は、図４に示した結果に比較してＳ／Ｎ比が向上されているばかりか、図３に示した測定結果に比較しても、Ｓ／Ｎ比が向上されている。
【００９０】
したがって、イオン化部の母材を銅として、その表面をクロムによりメッキすることにより、Ｓ／Ｎ比を従来技術より向上することができ、加熱量を増加することにより、さらに、Ｓ／Ｎ比を向上することができることが理解できる。
【００９１】
【発明の効果】
本発明によれば、表面の不活性化とともに効率的にイオン化部及びイオントラップ電極に熱を伝えることができ、分析精度の向上が可能なイオントラップ質量分析計を実現することができる。
【００９２】
また、熱分解性あるいは蒸気圧の低い試料の質量分析計による測定において、試料の吸着、分解、劣化が低減できるため、クロマトグラムのピークのテーリング、感度低下、再現性の悪化、マススペクトルの変化を改善できる。
【００９３】
また、装置の洗浄頻度を少なくし、メンテナンスを容易にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態であるガスクロマトグラフ／イオントラップ質量分析計の概略構成図である。
【図２】本発明の第２の実施形態である液体クロマトグラフ／イオントラップ質量分析計の概略構成図である。
【図３】イオン化部の母材を銅として、その表面をクロムによりメッキし、２本のヒータで加熱した場合の農薬の測定結果を示すグラフである。
【図４】イオン化部の母材をモリブデンとし、２本のヒータで加熱した場合の農薬の測定結果を示すグラフである。
【図５】イオン化部の母材を銅として、その表面をクロムによりメッキし、４本のヒータで加熱した場合の農薬の測定結果を示すグラフである。
【符号の説明】
１　　　　　　　ＥＩイオン源
２、６　　　　　集束レンズ
３、５　　　　　エンドキャップ電極
４　　　　　　　リング電極
７　　　　　　　検出部
８　　　　　　　カラム
９〜１４　　　　ヒータ
１５　　　　　　クロムメッキ部分
１６　　　　　　ＥＳＩイオン源
１７　　　　　　細孔形成部
１８、２２　　　集束レンズ
１９、２１　　　エンドキャップ電極
２０　　　　　　リング電極
２３　　　　　　検出部
２４〜２９　　　ヒータ
３０　　　　　　クロムメッキ部分
【図１】
2004127838.tif 000003
【図２】
2004127838.tif 000004
【図３】
2004127838.tif 000005
【図４】
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【図５】
2004127838.tif 000007