(57)【要約】【課題】ディスク形状の学習を事前に行うことなく、また、ディスク形状によらず短時間でチルトを補正する方法、及びそのプログラム、並びにその方法によってチルト補正を行う光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ピックアップを所定距離以上移動させた場合には、制御器は、制御対象が停止した時点でのチルトエラー信号を取得し、チルトエラー信号に基づいて制御信号を出力する。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録再生のためのレーザ光を光ディスク上に集光する対物レンズを備えた光ピックアップと、
該光ピックアップを前記光ディスクの半径方向に移動させる駆動手段と、
前記光ピックアップ上に搭載され、該光ピックアップと前記光ディスクとの相対的な傾き量を検出するチルト検出手段と、
少なくとも前記対物レンズの傾きを調節して、前記光ディスクとの相対的な傾き量を補正するチルト補正手段と、
前記光ピックアップを前記光ディスクの半径方向の基準位置に移動させたときの前記チルト検出手段の出力を基準チルト信号とし、前記チルト検出手段の出力と前記基準チルト信号との差に応じて前記対物レンズと前記光ディスクとの相対的な傾き量を補正するように前記チルト補正手段を制御するチルト制御手段とを備えた光ディスク装置におけるチルト補正方法であって、
前記光ピックアップを所定距離以上移動させた場合には、前記チルト制御手段は、前記光ピックアップが停止した時点での前記チルト検出手段の出力を取得し、該出力に基づいて前記チルト制御手段を動作させることを特徴とするチルト補正方法。
【請求項２】
前記光ピックアップを移動させる前の前記チルト検出手段の出力と移動させた前記光ピックアップが停止した時点での前記チルト検出手段の出力との差が所定値よりも大きい場合にのみ前記チルト補正手段を動作させることを特徴とする請求項１記載のチルト補正方法。
【請求項３】
前記チルト補正手段に蓄積されるポテンシャルエネルギーが前記対物レンズと前記光ディスクとの相対的な傾きの補正量に応じて変化する場合、
前記チルト制御手段は、移動させた前記光ピックアップが停止した時点での前記チルト補正手段のポテンシャルエネルギーと、前記対物レンズと前記光ディスクとの傾きが目標値である場合の前記チルト補正手段のポテンシャルエネルギーとの差に基づいて、前記チルト補正手段に対する制御を変更することを特徴とする請求項１又は２記載のチルト補正方法。
【請求項４】
前記チルト補正手段がチルトモータを用いて、前記対物レンズと前記光ディスクとの相対的な傾き量を補正する場合、
前記チルト制御手段は、前記チルトモータに印加する駆動電圧、及び前記チルトモータの駆動時間の少なくともいずれかを、移動させた前記光ピックアップが停止した時点での前記チルト補正手段のポテンシャルエネルギーと、前記対物レンズと前記光ディスクとの傾きが目標値である場合の前記チルト補正手段のポテンシャルエネルギーとの差に基づいて制御することを特徴とする請求項３記載のチルト補正方法。
【請求項５】
光ディスク装置を制御する実質的なコンピュータに、請求項１から４のいずれか１項記載のチルト補正方法を実行させることを特徴とするチルト補正プログラム。
【請求項６】
記録再生のためのレーザ光を光ディスク上に集光する対物レンズを備えた光ピックアップと、
該光ピックアップを前記光ディスクの半径方向に移動させる駆動手段と、
前記光ピックアップ上に搭載され、該光ピックアップと前記光ディスクとの相対的な傾き量を検出するチルト検出手段と、
少なくとも前記対物レンズの傾きを調節して、前記光ディスクとの相対的な傾き量を補正するチルト補正手段と、
前記光ピックアップを前記光ディスクの半径方向の基準位置に移動させたときの前記チルト検出手段の出力を基準チルト信号とし、前記チルト検出手段の出力と前記基準チルト信号との差に応じて前記対物レンズと前記光ディスクとの相対的な傾き量を補正するように前記チルト補正手段を制御するチルト制御手段とを備えた光ディスク装置であって、
前記光ピックアップを所定距離以上移動させた場合には、前記チルト制御手段は、前記光ピックアップが停止した時点での前記チルト検出手段の出力を取得し、該出力に基づいて前記チルト制御手段を動作させることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
前記チルト制御手段は、前記光ピックアップを移動させる前の前記チルト検出手段の出力と移動させた前記光ピックアップが停止した時点での前記チルト検出手段の出力との差が所定値よりも大きい場合にのみ前記チルト補正手段を動作させることを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記チルト補正手段に蓄積されるポテンシャルエネルギーが前記対物レンズと前記光ディスクとの相対的な傾きの補正量に応じて変化する場合、
前記チルト制御手段は、移動させた前記光ピックアップが停止した時点での前記チルト補正手段のポテンシャルエネルギーと、前記対物レンズと前記光ディスクとの傾きが目標値である場合の前記チルト補正手段のポテンシャルエネルギーとの差に基づいて、前記チルト補正手段に対する制御を変更することを特徴とする請求項７又は８記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記チルト補正手段がチルトモータを用いて、前記対物レンズと前記光ディスクとの相対的な傾き量を補正する場合、
前記チルト制御手段は、前記チルトモータに印加する駆動電圧、及び前記チルトモータの駆動時間の少なくともいずれかを、移動させた前記光ピックアップが停止した時点での前記チルト補正手段のポテンシャルエネルギーと、前記対物レンズと前記光ディスクとの傾きが目標値である場合の前記チルト補正手段のポテンシャルエネルギーとの差に基づいて制御することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置におけるチルト補正方法に関し、特に、チルト補正の待ち時間を従来よりも短縮できるチルト補正方法、チルト補正プログラム及びこの方法によってチルト補正を行う光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図６に、従来の光ディスク装置の構成を示す。従来の光ディスク装置は、
ＣＰＵ１、変調復調部２、記録補償部３、ＲＦ信号処理部４、ＰＵ５、サーボ６及びディスクモータ７を有する。
【０００３】
変調復調部２は、利用目的に応じてオーディオ回路や画像圧縮／伸張回路、又は、コンピュータ端末と接続するためのインタフェースに接続される。記録補勝負３は、記録信号に応じてレーザ変調を行う。ＲＦ信号処理部４は、読取信号の波形を整形する回路を備えている。サーボ６は、読取信号から誤差成分を検出し、光ピックアップ（ＰＵ）５やディスクモータ７にフィードバックして、フォーカスサーボやトラッキングサーボ及びスピンドルモータの回転制御を行う。
さらにこのサーボ系に加えて、情報記録媒体（光ディスク）の記録面とＰＵ５の光学系との傾きを除去するチルトサーボ機構を備えることもある。
【０００４】
情報の再生動作は、ＰＵ５によって光ディスク上に記録された情報信号を読み出し、その信号をＲＦ信号処理部４に入力する。ＲＦ信号処理回路では、入力信号の波形整形などを行い、その後信号を変調復調部２の復調回路に入力する。
変調復調部２において信号を復調したのち、不図示のコンピュータ端末などへ出力される。
【０００５】
情報の記録動作は、不図示のコンピュータ端末などから信号が入力されると、変調復調部２の信号変調回路によって光ディスク上に記録可能な信号に変調される。変調復調部２は、この信号を記録補償部３に入力し、記録補償部３は入力された信号に対してレーザ変調を施し、信号に応じたレーザ駆動電流をＰＵ５に供給する。一般に、情報記録時にＰＵ５に供給される電流は、情報再生時よりも大きい。ＰＵ５は、入力信号に応じて半導体レーザ素子を発光させ、光ディスクの記録面にレーザを照射することにより、情報記録を行う。
この間、ＣＰＵ１によって常にサーボ制御がなされている。
【０００６】
図７に、ＰＵ５の構成を示す。半導体レーザ５１から発散光として照射された光ビーム（直線偏光）は、コリメータレンズ５２によって平行光にされ、偏光ビームスプリッタ５３に入射する。ビームスプリッタ５３は、光の偏向方向の違いに応じて、張り合わせ面で光を透過又は反射する。入射光は平行光であり、ビームスプリッタ５３の入射面に対して平行方向に振動するため、ビームスプリッタ５３を透過する。透過した光ビームは、立上ミラー５４で進行方向を変えた後、１／４波長板５５に入射する。１／４波長板５５において、光ビームは直線偏光から円偏光に変換される。
【０００７】
その後、光ビームは、対物レンズ５６に入射する。対物レンズ５６に入射した光は、情報記録媒体（以下、メディアともいう）５７の記録面上に集光される。記録面で反射された光は、再び対物レンズ５６及び１／４波長板に入射する。この時光ビームは、円偏光から直線偏光へ再度変換されるが、最初に１／４波長板５５に入射光と比べて位相が９０°ずれ、垂直振動する光となる。この光は、ビームスプリッタ５３によって入射方向と垂直な方向に反射される。
【０００８】
ビームスプリッタ５３によって反射された光ビームは、集光レンズ５８によって集光された後、受光素子５９に入射される。受光素子５９は、受光した光の光量に応じて電気信号を出力することによって、光信号を電気信号に変換する。このようにして、メディア５７に記録されている情報が読み出される。
【０００９】
また、サーボ６は、受光素子５９を分割して、その分割された各々の受光素子が受光する光量に応じて、トラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号を生成する。そして、これらの信号に基づいてトラッキングコイル６０やフォーカシングコイル６１に電流を供給し、トラッキングサーボやフォーカシングサーボを行っている。
【００１０】
近年、このような光ディスク装置において、高記録密度化が図られており、そのために光学系の収差を増加させる要因である情報記録媒体と光学系との傾き（以下、チルトともいう）を補償する機構を備えた装置が増加している。
【００１１】
図８に、チルト補償償構の一例を示す。このチルト補償機構では、ＰＵ１５上にチルトセンサ１７が搭載されており、チルト量に対応した出力が得られる。この信号を不図示のチルト補償回路に取り込み、チルト補償回路が適切な出力をチルト補償機構に与える構成である。
【００１２】
情報の記録／再生をディスクの内周方向から順に行っている場合には、記録再生装置と情報記録媒体とに起因するチルト量は非常に緩やかなに変化する。また、いわゆる面ぶれディスクなどの原因によって制御系が発振することを防ぐために狭帯域のフィルタが挿入されている。
【００１３】
しかしながら、記録／再生中に他の位置にシーク動作を行った場合には、チルト量が急激に変化することになる。このような場合には、チルトの整定までに要する時間が長くなってしまうという問題がある。
【００１４】
図９を用いて、従来の制御器を用いてチルト補正を行っている際に、いわゆる粗シーク動作を行った場合を説明する。（ａ）は、フィードバックのみで形成された制御系の構成を示す。また（ｂ）は、粗シーク動作時のサーボ信号を示す。ディスクに反りなどがある場合、粗シーク動作など光ピックアップが一定距離の移動を行うとチルトが急激に変化する。従来のチルト補償器はディスクの面ぶれに追従することによる発振を防止するために、狭帯域フィルタが設けられており、上記のような急激な変化には追従しない。そのため、粗シーク動作の直後に記録／再生動作を行うと、光学系の収差が原因で正常な記録／再生を行えない場合がある。
【００１５】
よって、図９（ａ）に示すような制御系においては、このような不具合を解消するために、一定時間のチルト静定待ちを設けたり、チルトエラー信号を監視してチルトが一定値以下になるまで待機したりするなどの手法が用いられてきた。
【００１６】
図９（ｂ）は、チルトが一定値以下になるまで待機する場合を示している。
粗シーク直後は記録／再生性能が劣化するスレッシュレベルを超えているか否かをチルトエラー信号に基づいて検出している。もし、チルトがスレッシュレベルを超えていれば、チルト補正終了スレッシュを下回るまで記録／再生を行わずに待機する。
また、図９（ａ）の補償器は、チルト補正開始スレッシュを超えてから終了するまで非常にゲインの低い積分要素を中心に構成されている。このような補償器では、定常偏差が最終的には無くなるため、待ち時間を設けることで最終的な目標値に近づくものの、静摩擦が存在するような制御対象の場合は、駆動力が静摩擦力を上回るまでに時間を要し、待ち時間が増大してしまう場合がある。
【００１７】
上記のような原因により、フィードバックのみで構成された従来の制御系においては、シーク動作時にチルト補正のスレッシュ（閾値）を超えた場合には、狭帯域フィルタを介して非常にゆっくりチルトを補正することとなる。このため、図９（ｂ）に示すようにチルト補正待ち時間が増大してしまう場合がある。
【００１８】
このような問題に対して、従来は、ディスク形状をマウントなどの初期的な動作時に取得しておき、それを近似した関数を用いてフィードフォワード的に制御する手法が提案されている。
【００１９】
この手法を適用する場合は、事前にディスク上のいくつかの点でチルトを測定して、近似関数や補正用のテーブルを予め用意しておく。例えば、図１０に示すように、予め３点でチルトデータを測定して二次の近似関数を求める。
しかし、図１０からも明らかなように、近似関数に基づいて求めたチルト量の値は、必ずしも真のチルト量に近い値とは限らない。このため、近似関数に基づいて求めたチルト量が真値と大きく異なる場合は、この手法を適用すると、逆にチルトを悪化させてしまうこともある。
なお、事前にチルトデータを測定しておく点の数が３以上であっても、近似関数に基づいて求めたチルト量が真値と大きく異なることがある。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】
このように、従来のチルト補正方法においては、ディスクの形状を学習するためにマウント時間を長くする必要があるという問題や、ディスク形状の変化が急峻な箇所が存在する場合など関数で適切に近似できない場合は、逆に制御誤差が大きくなってしまうという問題があった。
【００２１】
本発明はかかる問題に鑑みてなされたものであり、ディスク形状の学習を事前に行うことなく、また、ディスク形状によらず短時間でチルトを補正する方法、及びそのプログラム、並びにその方法によってチルト補正を行う光ディスク装置を提供することを目的とする。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、第１の態様として、記録再生のためのレーザ光を光ディスク上に集光する対物レンズを備えた光ピックアップと、該光ピックアップを光ディスクの半径方向に移動させる駆動手段と、光ピックアップ上に搭載され、該光ピックアップと光ディスクとの相対的な傾き量を検出するチルト検出手段と、少なくとも対物レンズの傾きを調節して、光ディスクとの相対的な傾き量を補正するチルト補正手段と、光ピックアップを光ディスクの半径方向の基準位置に移動させたときのチルト検出手段の出力を基準チルト信号とし、チルト検出手段の出力と基準チルト信号との差に応じて対物レンズと光ディスクとの相対的な傾き量を補正するようにチルト補正手段を制御するチルト制御手段とを備えた光ディスク装置におけるチルト補正方法であって、光ピックアップを所定距離以上移動させた場合には、チルト制御手段は、光ピックアップが停止した時点でのチルト検出手段の出力を取得し、該出力に基づいてチルト制御手段を動作させることを特徴とするチルト補正方法を提供するものである。
【００２３】
上記本発明の第１の態様において、光ピックアップを移動させる前のチルト検出手段の出力と移動させた光ピックアップが停止した時点でのチルト検出手段の出力との差が所定値よりも大きい場合にのみチルト補正手段を動作させることが好ましい。
【００２４】
上記本発明の第１の態様のいずれのチルト補正方法においても、チルト補正手段に蓄積されるポテンシャルエネルギーが対物レンズと光ディスクとの相対的な傾きの補正量に応じて変化する場合、チルト制御手段は、移動させた光ピックアップが停止した時点でのチルト補正手段のポテンシャルエネルギーと、対物レンズと光ディスクとの傾きが目標値である場合のチルト補正手段のポテンシャルエネルギーとの差に基づいて、チルト補正手段に対する制御を変更することが好ましい。
これに加え、チルト補正手段がチルトモータを用いて、対物レンズと光ディスクとの相対的な傾き量を補正する場合、チルト制御手段は、チルトモータに印加する駆動電圧、及びチルトモータの駆動時間の少なくともいずれかを、移動させた光ピックアップが停止した時点でのチルト補正手段のポテンシャルエネルギーと、対物レンズと光ディスクとの傾きが目標値である場合のチルト補正手段のポテンシャルエネルギーとの差に基づいて制御することがさらに好ましい。
【００２５】
また、上記目的を達成するため、本発明は、第２の態様として、光ディスク装置を制御する実質的なコンピュータに、第１の態様のいずれかのチルト補正方法を実行させることを特徴とするチルト補正プログラムを提供するものである。
【００２６】
また、上記目的を達成するため、本発明は、第３の態様として、記録再生のためのレーザ光を光ディスク上に集光する対物レンズを備えた光ピックアップと、該光ピックアップを光ディスクの半径方向に移動させる駆動手段と、光ピックアップ上に搭載され、該光ピックアップと光ディスクとの相対的な傾き量を検出するチルト検出手段と、少なくとも対物レンズの傾きを調節して、光ディスクとの相対的な傾き量を補正するチルト補正手段と、光ピックアップを光ディスクの半径方向の基準位置に移動させたときのチルト検出手段の出力を基準チルト信号とし、チルト検出手段の出力と基準チルト信号との差に応じて対物レンズと光ディスクとの相対的な傾き量を補正するようにチルト補正手段を制御するチルト制御手段とを備えた光ディスク装置であって、光ピックアップを所定距離以上移動させた場合には、チルト制御手段は、光ピックアップが停止した時点でのチルト検出手段の出力を取得し、該出力に基づいてチルト制御手段を動作させることを特徴とする光ディスク装置を提供するものである。
【００２７】
以上の構成において、チルト制御手段は、光ピックアップを移動させる前のチルト検出手段の出力と移動させた光ピックアップが停止した時点でのチルト検出手段の出力との差が所定値よりも大きい場合にのみチルト補正手段を動作させることが好ましい。
【００２８】
上記本発明の第３の態様のいずれの構成においても、チルト補正手段に蓄積されるポテンシャルエネルギーが対物レンズと光ディスクとの相対的な傾きの補正量に応じて変化する場合、チルト制御手段は、移動させた光ピックアップが停止した時点でのチルト補正手段のポテンシャルエネルギーと、対物レンズと光ディスクとの傾きが目標値である場合のチルト補正手段のポテンシャルエネルギーとの差に基づいて、チルト補正手段に対する制御を変更することが好ましい。
【００２９】
チルト補正手段がチルトモータを用いて、対物レンズと光ディスクとの相対的な傾き量を補正する場合、チルト制御手段は、チルトモータに印加する駆動電圧、及びチルトモータの駆動時間の少なくともいずれかを、移動させた光ピックアップが停止した時点でのチルト補正手段のポテンシャルエネルギーと、対物レンズと光ディスクとの傾きが目標値である場合のチルト補正手段のポテンシャルエネルギーとの差に基づいて制御することが好ましい。
【００３０】
【発明の実施の形態】
〔第１の実施形態〕
本発明を好適に実施した第１の実施形態について説明する。
図１（ａ）に、本実施形態にかかるチルト補正方法を実行する光ディスク装置の制御系の構成を示す。この制御系は、制御器１０１、シーク動作スイッチ１０２、シーク動作用制御器１０３、制御対象１０４、加算器１０５及び減算器１０７で構成される。
【００３１】
また、この制御系の動作タイミングを図１（ｂ）に示す。
本実施形態による光ディスク装置の制御系においては、シーク動作の直後のみシーク動作スイッチがＯＮになり、シーク動作用制御器が動作する。これ以外の時は、図９において示したフィードバックのみによる制御の場合と同様の動作を行う。シーク動作用制御器は狭帯域フィルタを備えていないため、パルス状の信号を出力する。よって、シーク動作用制御器が作動すると即座に、チルト補正手段駆動信号（制御器の出力信号とシーク動作用制御器の出力信号との合成信号）の出力レベルがチルト補正手段駆動電圧を超え、シーク動作が開始される。よって、従来のチルト補正方法と比較した場合に、シークモータ駆動信号がディセーブルになってから極めて短い時間でチルトエラー信号がチルト補正終了スレッシュ以下となる。このため、従来のチルト補正方法と比較するとチルト待ち時間が大幅に短縮される。
【００３２】
このような構成とすることによって、光ディスクに面ぶれディスクが装着されたとしても、制御系が発振することなく、シーク時に発生する大きなチルトを短時間で補正することが可能となる。
例えば、上記のシーク動作の完了した直後に記録／再生動作を開始することにより、装置全体の記録／再生速度を向上させることができる。
【００３３】
このとき、チルトセンサの出力からチルト補正手段（チルトモータ１１やチルトギア１２など）の駆動信号に変換する関数は、設計値として与えてもよいし、光ディスク装置を製造する工程の中で、各装置の感度を予め取得して不図示のメモリに保存しておき、メモリに保存しておいた値から関数を生成するようにしてもよい。
【００３４】
具体的には、製造工程内で加えた電圧と、時間幅に対するチルトの変化量とを各装置ごとに不図示のメモリに格納しておき、その値に比例するように実動作時にほせいちを与える。
【００３５】
このように、本実施形態によれば、ディスクの形状を事前に学習する必要が無く、またディスク形状によらず短期間でチルト補正を行える。
【００３６】
〔第２の実施形態〕
本発明を好適に実施した第２の実施形態について説明する。
図２（ａ）に、本実施形態にかかるチルト補正方法を実行する光ディスク装置の制御系の構成を示す。
この制御系は、第１の実施形態での制御系の構成に加え、シーク動作スイッチ１０１とシーク動作用制御部１０３との間にウインドウコンパレータ１０６をさらに有する。
【００３７】
ウインドウコンパレータ１０６は、シーク開始時のチルト量とシーク終了時のチルト量とを比較し、その差が所定値以上であれば、シーク動作用制御部を駆動してチルト補正を行わせる。
【００３８】
この制御系の動作タイミングを図２（ｂ）に示す。
本実施形態による光ディスク装置の制御系においては、第１の実施形態と同様に、シーク動作の直後のみシーク動作スイッチがＯＮになり、ウインドウコンパレータ及びシーク動作用制御器が動作する。この場合は、第１の実施形態と同様に、従来のチルト補正方法と比較した場合に、シークモータ駆動信号がディセーブルになってから極めて短い時間でチルトエラー信号がチルト補正終了スレッシュ以下となる。このため、第１の実施形態と同様に、従来のチルト補正方法と比較するとチルト待ち時間が大幅に短縮される。
【００３９】
また、本実施形態においては、ウインドウコンパレータ１０６がシーク開始時のチルト量とシーク終了時のチルト量とを比較するため、シーク動作を行った場合でも、不必要であればチルト補正を行わない。
【００４０】
例えば、図３（ａ）に示すようなシーク動作を行う場合は、図３（ｂ）に示すように、シーク開始位置のチルト量とシーク終了位置のチルト量とがほぼ同一である。この場合は、仮にチルト補正を行ったとしても、チルト量に対応した出力は、補正の前後でほぼ同じとなる。本実施形態においては、このような場合にはチルト補正を行わないため、チルト補正の待ち時間を設けること無く記録／再生動作に移行できる。
【００４１】
このように、本実施形態によるチルト補正方法によれば、第１の実施形態と同様の効果に加え、シークが短距離であった場合や、シークの距離が長くともその前後でチルト量の変化が小さい場合などは、光ディスクに対する記録／再生速度を向上させることが可能となる。
【００４２】
〔第３の実施形態〕
本発明を好適に実施した第３の実施形態について説明する。
情報記録媒体と記録／再生のための光学系との傾斜を補正するためには、例えば、図４及び図５に示すように、情報記録媒体が回転運動可能なように、支持する必要がある。例えば、軸と軸受とによっていずれかを枢支するような構造となる。このようなチルト補正手段を用いる装置においては、枢支軸周りに傾斜させる構造が不安定にならないように、弾性体を用いて付勢を与える場合がある。
【００４３】
弾性体は変位量の関数となるポテンシャルエネルギーが内部に蓄えられる。具体的には、同一の量のチルト補正を行う場合でも弾性体の変形量が大きくなる方向に変位させるときは、チルト補正手段はより多くの仕事をする必要があり、逆に弾性体の変位量が減少する方向に移動させるときには、弾性体が仕事をするため、チルト補正手段は少ない仕事で同一の変位を得られる。
【００４４】
一方で、このような仕事量の変化は、オープンループ制御の場合にはそのまま制御誤差として現れることとなる。
【００４５】
よって、本実施形態によるチルト補正方法では、弾性体が変形する方向に応じてチルト補正モータ１１やチルトギア１２などに与える電圧と時間幅とを変化させる。チルト補正によって弾性体の変形量が大きくなる場合には、電圧を高くするか補正時間を長く取る。逆に、チルト補正によって弾性体の変形量が小さくなる場合には、駆動電圧を小さくするか補正時間を短くする。
【００４６】
このように、本実施形態にかかるチルト補正方法によれば、オープンループ制御系におけるシーク後の補正量の精度を向上させられる。
【００４７】
なお、上記各実施形態は、本発明の好適な実施の一例であり、本発明はこれに限定されることはない。
例えば、本発明のチルト補正方法を実行する光ディスク装置を構成する各部材の形状は、図示した形状に限定されることなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。
このように、本発明は様々な変形が可能である。
【００４８】
【発明の効果】
以上の説明によって明らかなように、本発明によれば、ディスク形状の学習を事前に行うことなく、また、ディスク形状によらず短時間でチルトを補正する方法、及びそのプログラム、並びにその方法によってチルト補正を行う光ディスク装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を好適に実施した第１の実施形態による光ディスク装置の制御系の構成及び動作時の信号を示す図である。
【図２】本発明を好適に実施した第２の実施形態による光ディスク装置の制御系の構成及び動作時の信号を示す図である。
【図３】シーク動作の一例を示す図である。
【図４】静止されたターンテーブルに対して光学系を傾斜させるチルト補正機構の一例を示す図である。
【図５】静止された光学系に対してターンテーブルを傾斜させるチルト補正機構の一例を示す図である。
【図６】従来の光ディスク装置の構成を示す図である。
【図７】ピックアップモジュールの構成を示す図である。
【図８】チルト補償機構の一例を示す図である。
【図９】従来の光ディスク装置の制御系の構成及び動作時の信号を示す図である。
【図１０】ディスク形状を予め学習する場合の例を示す図である。
【符号の説明】
１　ＣＰＵ
２　変調復調部
３　記録補償部
４　ＲＦ信号処理部
５、１５　ＰＵ
６　サーボ
７　ディスクモータ
１１　チルトモータ
１２　チルトギア
１７　チルトセンサ
５１　半導体レーザ
５２　コリメータレンズ
５３　偏光ビームスプリッタ
５４　立上ミラー
５５　１／４波長板
５６　対物レンズ
５７　情報記録媒体（メディア）
５８　集光レンズ
５９　受光素子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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