(57)【要約】【課題】計測実績を考慮して計測器のメンテナンスを行うことにより信頼性の高いデータを収集することを可能にした計測器管理装置、計測器管理システム及び製造支援システムを提供することを目的とする。【解決手段】計測器１８にそれぞれ付されたバーコードを読み取るバーコード号読取手段１７と、計測器１８からの計測データを、バーコード号読取手段１７からのバーコード（計測器番号）、部品の測定個所及び製造装置のデータと関連付けて記憶し、所定期間の計測データに基づいてデータ管理範囲を設定し、計測時に計測データがデータ管理範囲内にない場合にはメンテナンスの作業を促す処理をする処理手段１１とを備えたものである。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
計測器に付された計測器番号を読み取る計測器番号読取手段と、
計測器からの計測データを、少なくとも計測器番号読取手段からの計測器番号及び測定部位と関連付けて記憶し、所定期間の計測データに基づいてデータ管理範囲を設定し、計測データが前記データ管理範囲内にない場合にはメンテナンスの作業を促す処理をする演算手段と
を備えたことを特徴とする計測器管理装置。
【請求項２】
前記演算手段は、該当する計測器の所定期間の計測データに基づいて平均値及び標準偏差を求めて、それらのデータに基づいてデータ管理範囲を設定することを特徴とする請求項１記載の計測器管理装置。
【請求項３】
前記演算手段は、所定期間内で、且つ、製造工程の製造要因の変更後又は計測器のメンテナンス後の同一計測器による同一部品で、且つ同一測定部位の計測データに基づいて計測データの平均値及び標準偏差を求めることを特徴とする請求項２記載の計測器管理装置。
【請求項４】
前記演算手段は、計測データが前記データ管理範囲内にない場合には、その時の計測器の計測回数に基づいてメンテナンス計測回数を設定することを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の計測器管理装置。
【請求項５】
前記演算手段は、計測データが前記データ管理範囲内にない場合であって、既にメンテナンス計測回数を設定されている場合に、当該計測器の計測回数がメンテナンス計測回数の所定割合よりも大であるときには、当該計測器の計測回数をメンテナンス計測回数として設定することを特徴とする請求項４記載の計測器管理装置。
【請求項６】
前記演算手段は、計測器の計測回数を計数し、その計測回数が前記メンテナンス計測回数に達したときに、メンテナンスを促す処理をすることを特徴とする請求項４又は５記載の計測器管理装置。
【請求項７】
前記演算手段は、計測器のメンテナンス後に、当該計測器の計測回数をリセットすることを特徴とする請求項６記載の計測器管理装置。
【請求項８】
前記演算手段の処理に基づいてメンテナンスを促す表示をする表示手段を備えたことを特徴とする請求項１〜７の何れかに記載の計測器管理装置。
【請求項９】
データベースと、１又は複数のデータ採取装置とを備え、
前記データベースは、計測データを、計測器番号、部品の測定部位、測定日時及び製造装置のデータと関係付けて格納し、
前記データ収集装置は、計測器に付された計測器番号を読み取る計測器番号読取手段と、前記データベースに格納された前記計測器番号の所定期間の計測データに基づいてデータ管理範囲を設定し、計測時に計測データがデータ管理範囲内にない場合にはメンテナンスの作業を促す処理をする演算手段と
を備えたことを特徴とする計測器管理システム。
【請求項１０】
前記データ収集装置の演算手段は、前記データベースのデータから該当する計測器番号の所定期間の計測データを読み出して平均値及び標準偏差を求めて、それらのデータに基づいてデータ管理範囲を設定することを特徴とする請求項９記載の計測器管理システム。
【請求項１１】
前記データ収集装置の演算手段は、前記データベースのデータから該当する計測器番号の所定期間内で、且つ、製造工程の製造要因の変更後又は計測器メンテナンス後の同一計測器による同一部品で且つ同一測定部位の計測データを読み出し、そのデータに基づいて計測データの平均値及び標準偏差を求めることを特徴とする請求項１０記載の計測器管理システム。
【請求項１２】
前記データ収集装置の演算手段は、計測データが前記データ管理範囲内にない場合には、その時の計測器の計測回数に基づいてメンテナンス計測回数を設定して前記データベースに格納させることを特徴とする請求項１０又は１１記載の計測器管理システム。
【請求項１３】
前記データ収集装置の演算手段は、計測データが前記データ管理範囲内にない場合であって、既にメンテナンス計測回数を設定されている場合には、当該計測器の計測回数がメンテナンス計測回数の所定割合よりも大であるときには、当該計測器の計測回数をメンテナンス計測回数として設定することを特徴とする請求項１２記載の計測器管理システム。
【請求項１４】
前記データ収集装置の演算手段は、計測器の計測回数を計数し、その計測回数が前記メンテナンス計測回数に達したときに、保守作業を促す処理をすることを特徴とする請求項１３記載の計測器管理システム。
【請求項１５】
前記データ収集装置の演算手段は、計測器のメンテナンス後に、当該計測器の計測回数をリセットすることを特徴とする請求項１４記載の計測器管理装置。
【請求項１６】
前記データ収集装置は、前記演算手段の処理に基づいてメンテナンスを促す表示をする表示手段を備えたことを特徴とする請求項９〜１５の何れかに記載の計測器管理システム。
【請求項１７】
請求項９〜１６の何れか計測器管理システムを組み込んだことを特徴とする製造支援システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、計測器管理装置、計測器管理システム及びそれを含む製造支援システムに関し、特に計測器の管理支援に関する。
【０００２】
【従来の技術】
製造工程において、安定した生産を実現するためには、製造された製品や部品を計測して、寸法や精度が規格内にあるかどうかを監視する必要がある。このとき、計測器が正常に動作しておらず、収集した寸法データの信頼性が低い場合には、データ解析を行っても、製造工程の状態を正確に把握していることにはならず、製造工程を安定させることが難しい。従って、製造工程を安定させるためには、常に計測器が正常に動作していることを保証し、信頼性の高いデータを収集する必要がある。
【０００３】
ところで、従来の製造支援システムとして後述の特許文献１及び２に記載されているシステムがある。このシステムでは、計測者に計測のための情報を与える事により、計測者はその指示に従って簡単な動作で計測可能となっている。また、操作画面上での操作性を高める事により計測者の操作を容易にさせている。
【０００４】
【特許文献１】
特許第２７４４０８１号公報
【０００５】
【特許文献２】
特開平７−３１８３８０号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
製品や部品などの寸法データを、計測器を用いて収集し、管理する製造支援システムにおいては、計測器が正常に動作し、精度が確保されていることが管理をしていく上で重要である。従来は計測器の使用頻度や使用状況に関係なく、一定期間毎にメンテナンスを行うことにより計測器の計測精度を維持し、正常に動作させることを保証している。しかし、計測器の操作ミスによる計測器の故障や、使用負荷集中による精度の悪化が発生した場合には、一定期間毎のメンテナンスでは対応しきれないという問題点があった。また、計測器の測定方法ミスにより精度が確保できていない場合もあるがこのような問題点に対しても対応することができなかった。従来のシステム（特許文献１，２）においては、計測者への負担が軽減し、また操作性が容易になっていても、上記の問題点について依然として解決されていないという問題点があった。
【０００７】
本発明は、このような問題点を解決するためになされたものであり、計測実績を考慮して計測器のメンテナンスを行うことにより信頼性の高いデータを収集することを可能にした計測器管理装置、計測器管理システム及び製造支援システムを提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る計測器管理装置は、計測器にそれぞれ付された計測器番号を読み取る計測器番号読取手段と、計測器からの計測データを、少なくとも計測器番号読取手段からの計測器番号及び測定部位と関連付けて記憶し、所定期間の計測データに基づいてデータ管理範囲を設定し、計測時に計測データが前記データ管理範囲内にない場合にはメンテナンスの作業を促す処理をする演算手段とを備えたものである。このように構成したことにより、計測器からの計測データが、計測器番号読取手段からの計測器番号及び測定部位と関連付けられて管理される。そして、その内の所定期間の計測データに基づいてデータ管理範囲を設定して、計測時に計測データがデータ管理範囲内にない場合にはメンテナンスの作業を促す。即ち、各計測器毎の計測データを分析することにより計測器の精度が確保されているか又は正常に動作しているかどうかを判断する。また、その判断に際しては、例えば部品を製造する型の摩耗や変形、装置の状態などにより徐々に平均値の値が変わっていくため、所定期間例えば現在の時点から３日位内のデータだけを処理することにより、その影響を小さくすることにより精度良く判断できるようにする。このように計測実績を考慮して計測器のメンテナンスを行うことにより信頼性の高いデータを収集することが可能になっている。なお、本発明の計測データとは部品等の寸法や重量だけでなく、所謂環境データも含まれる。
【０００９】
また、本発明に係る計測器管理装置において、演算手段は、該当する計測器の所定期間の計測データに基づいて平均値及び標準偏差を求めて、それらのデータに基づいてデータ管理範囲を設定する。このように構成したことにより、該当する計測器の計測データの平均値と標準偏差を求め、それらのデータに基づいてデータ管理範囲を設定するようにしたので、計測データが正常な範囲にあるかどうかを適切に判断することができる。
【００１０】
また、本発明に係る計測器管理装置において、演算手段は、所定期間内で、且つ、製造工程の製造要因の変更後又は計測器のメンテナンス後の同一計測器による同一部品で且つ同一測定部位の計測データに基づいて計測データの平均値及び標準偏差を求める。このように構成したことにより、製造工程の製造要因の変更前又は計測器のメンテナンスの前の状態の影響を受けない計測データを用いてデータ管理範囲を設定するようにしたので、計測データが正常な範囲にあるかどうかを適切に判断することができる。
【００１１】
また、本発明に係る計測器管理装置において、演算手段は、計測時に計測データがデータ管理範囲内にない場合にはその時の計測器の計測回数に基づいてメンテナンス計測回数を設定する。このようにして各計測器の計測実績（精度）に基づいてメンテナンス計測回数を設定するようにしたので、メンテナンスをするタイミングが適切なものとなっている。
【００１２】
また、本発明に係る計測器管理装置において、演算手段は、計測時に計測データがデータ管理範囲内にない場合であって、既にメンテナンス計測回数を設定されている場合に、当該計測器の計測回数がメンテナンス計測回数の所定割合よりも大であるときには、当該計測器の計測回数をメンテナンス計測回数として設定する。各計測器の計測実績（精度）に基づいてメンテナンス計測回数を設定するが、その際に既にメンテナンス計測回数が設定されている場合には、それよりも少ない計測回数でメンテナンスを行わなければならなかったということになるので、メンテナンス計測回数を今回のもの（計測器の計測回数）に入れ替える。しかし、操作ミスによる計測器の不調の場合も考えられるため、現在入力されているメンテナンス計測回数とかけ離れて小さい場合にはメンテナンス計測回数をそのまま書き換えない。この判断は例えば現在設定されているメンテナンス計測回数の例えば９０％を閾値と設定して判断する。
【００１３】
また、本発明に係る計測器管理装置において、演算手段は、計測器の計測回数を計数し、その計測回数がメンテナンス計測回数に達したときに、メンテナンスを促す処理をする。このようにして各計測器の計測実績（精度）に基づいてメンテナンス計測回数を設定して、計測器の計測回数計がメンテナンス計測回数に達したときに、メンテナンスをするようにしたので、計測器を常に適切な状態に維持することが可能になっている。
【００１４】
また、本発明に係る計測器管理装置において、演算手段は、計測器のメンテナンス後に、その計測器の計測回数をリセットする。
【００１５】
また、本発明に係る計測器管理装置は、演算手段の処理に基づいてメンテナンスを促す表示をする表示手段を備えたものであり、計測者は表示手段の表示に従って該当する計測器のメンテナンスをすることになる。
【００１６】
また、本発明に係る計測器管理システムは、データベースと、１又は複数のデータ採取装置とを備え、データベースは、計測データを、少なくとも計測器番号、部品の測定部位、測定日時及び製造装置のデータと関係付けて格納し、データ収集装置は、計測器にそれぞれ付された計測器番号を読み取る計測器番号読取手段と、データベースに格納された計測器番号の所定期間の計測データに基づいてデータ管理範囲を設定し、計測データがデータ管理範囲内にない場合にはメンテナンスの作業を促す処理をする演算手段とを備えたものである。このように構成したことによりデータベースにより計測器及びその計測データを管理するようにしたので、複数のデータ収集装置に対応することが可能になっている。
【００１７】
また、本発明に係る計測器管理システムにおいて、データ収集装置の演算手段は、データベースのデータから該当する計測器番号の所定期間の計測データの平均値及び標準偏差を求めて、それらのデータに基づいてデータ管理範囲を設定する。
【００１８】
また、本発明に係る計測器管理システムにおいて、データ収集装置の演算手段は、データベースのデータから該当する計測器番号の所定期間の計測データの平均値及び標準偏差を求めて、それらのデータに基づいてデータ管理範囲を設定する。
【００１９】
また、本発明に係る計測器管理システムにおいて、データ収集装置の演算手段は、データベースのデータから該当する計測器番号の所定期間内で、且つ、製造工程の製造要因の変更後又は計測器メンテナンス後の同一計測器による同一部品で且つ同一測定部位の計測データを読み出し、そのデータに基づいて計測データの平均値及び標準偏差を求める。
【００２０】
また、本発明に係る計測器管理システムにおいて、データ収集装置の演算手段は、計測データがデータ管理範囲内にない場合には、その時の計測器の計測回数に基づいてメンテナンス計測回数を設定してデータベースに格納させる。
【００２１】
また、本発明に係る計測器管理システムにおいて、データ収集装置の演算手段は、計測データがデータ管理範囲内にない場合であって、既にメンテナンス計測回数を設定されている場合に、その計測器の計測回数がメンテナンス計測回数の所定割合よりも大であるときには、その計測器の計測回数をメンテナンス計測回数として設定する。
【００２２】
また、本発明に係る計測器管理システムにおいて、データ収集装置の演算手段は、計測器の計測回数を計数し、その計測回数がメンテナンス計測回数に達したときに、メンテナンスを促す処理をする。
【００２３】
また、本発明に係る計測器管理システムにおいて、データ収集装置の演算手段は、計測器のメンテナンス後に、その計測器の計測回数をリセットする。
【００２４】
また、本発明に係る計測器管理システムにおいて、データ収集装置は、演算手段の処理に基づいてメンテナンスを促す表示をする表示手段を備えたものである。
【００２５】
また、本発明に係る製造支援システムは、上記の計測器管理システムを組み込んだものである。上記の計測器管理システムを組み込んだことにより、計測器を正常な状態で使用できるようになっており、製造部品等の計測が適切に行われるので、その結果として高精度な製品を安定して製造することが可能になっている。
【００２６】
【発明の実施の形態】
実施形態１．
図１は本発明の実施形態１に係る計測器管理システムの構成を示すブロック図であり、ここでは生産システムにおいて用いられる例について説明する。この計測器管理システムは、複数の検査データ収集装置１、データベース装置（以下、ＤＢ装置という）２及び管理装置３がネットワーク４を介して相互に接続されている。
【００２７】
検査データ収集装置１は、処理手段（演算手段）１１、入力手段１２、記憶手段１３、表示手段１４、印刷手段１５、データ送受信手段１６及びバーコード読取装置１７から構成されており、必要に応じて１又は複数の計測器１８が接続される。処理手段１１は各種の演算等の処理を行うものであり、計測器１８からの計測データを取り込んでデータ送受信手段１６を介してＤＢ装置２に送信させたり、表示データを表示手段１４に送信したり、或いは処理されたデータに基づいて作成した帳票データを印刷手段１５に送信したりする。入力手段１２は、例えばマウスのようなポインティングデバイス、キーボード等に代表されるような手段である。オペレータ（例えば、作業依頼者、計測者等）により入力されるデータを入力信号に変換して処理手段１１に送信する。
【００２８】
記憶手段１３は、処理手段１１が目的の処理を行うために、データを一時的又は長期間記憶しておくための手段である。ここでは、いわゆる一次記憶手段及び二次記憶手段を含んで記憶手段１３とする。表示手段１４は、例えばＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ  Ｒａｙ  Ｔｕｂｅ）、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）に代表される手段である。表示手段１４は、処理手段１１から送信される表示信号に基づいて表示する。印刷手段１５は紙媒体への印刷を行うためのプリンタである。データ送受信手段１６は、例えばネットワークインターフェイスカードに代表されるような、ネットワーク４を介して他の装置とデータとなる信号をやりとりするための手段である。処理手段１１が送信処理した信号をネットワーク４に送信できるように変換し、またその逆の変換も行う。本実施形態１では、主としてＤＢ装置２に各種データを蓄積させたり、ＤＢ装置２に蓄積されている各種データを処理手段１１が読み込んで利用する際のインターフェイスとなる。バーコード読取装置１７は計測器１８に貼付されているバーコード（計測器の番号）を読み取って処理手段１１に送信する。
【００２９】
計測器１８は、計測量（物理量）に基づいた計測信号を処理手段１１に送信する。ここで、計測器１８は、例えば、デジタルノギス、３次元測定機、工具顕微鏡等、計測対象物の寸法、重量を計測するものだけでなく、温度等、例えば周辺環境（加工条件、加工環境）等、計測対象物以外の物理量を計測するものの双方を含むものとする。また、カメラ等、画像データを信号として送信する機器も計測器１８に含むものとする。ここで計測器１８が送信する計測データは、アナログ信号、デジタル信号等、その信号の種類は問わない。ただ、図１では特に図示しないが、場合によっては、計測器１８と処理手段１１との間に、インターフェイスとなる手段（具体的には、ＲＳ−２３２Ｃのようなシリアルインターフェース、セントロニクス仕様のようなパラレルインターフェース、エンコーダ出力のパルス信号等を受信し、データに変換するようなポート。）を設け、各々が処理できるような形式の信号に変換を行うこともある。また、計測器１８は複数台同時接続されている場合もある。また、ここで使用される計測器１８には予め個々の計測器を判別できるように、ユニークな番号をつけておくものとし（例えばバーコード）、その管理番号をキーにして、計測器の名称や計測範囲、精度など、計測器固有のデータをＤＢ装置２に入力しておく。
【００３０】
ＤＢ装置２は、ＤＢデータ処理手段２１、ＤＢデータ蓄積手段２２及びデータ送受信手段２３から構成されている。ＤＢデータ処理手段２１は、いわゆるデータベース管理システムである。ＤＢデータ処理手段２１はデータ蓄積処理部２１Ａ及びデータ送信処理部２１Ｂから構成されている。データ蓄積処理部２１Ａは、ネットワーク４を介して検査データ収集装置１から送信された信号に含まれる各種データを、ＤＢデータ蓄積手段２２に蓄積（記憶）させるための処理を行う。データ送信処理部２１Ｂは、ネットワーク４を介して検査データ収集装置１から送信される要求に基づいたデータをＤＢデータ蓄積手段２２から探し出し、そのデータを要求した検査データ収集装置１に送るための処理を行う。ここで、ＤＢデータ蓄積手段２２に蓄積されたデータの数が多くなってくると、データ送信処理部２１ＢがＤＢデータ蓄積手段２２からデータを探しだすのに時間を費やすこととなり効率が悪くなる。そこで、データ蓄積処理部２１Ａは、例えば、時間が経過して滅多に参照することがない計測データと計測するたびに用いられる時間的に新しい計測データとを区別し、管理しながら蓄積するようにする。このようにすると、計測時に参照するための計測データを探す場合には、計測データを効率よく探し出すことができる。
【００３１】
ＤＢデータ蓄積手段２２は、ＤＢデータ処理手段２１の制御に基づいて、データ蓄積処理部２１Ａにより処理された各種データを蓄積する。本実施形態では、ＤＢデータ蓄積手段２２には、計測器データ、コードデータ、測定指示データ、測定データ、ユーザーデータ、装置管理データ等が少なくとも蓄積されているものとする。計測器データとは、各計測器１８について、種類、特徴等の事項をデータ化したものである（表１参照）。コードデータとは、事象、物等に付されたコード番号との対応をデータ化したものである。測定指示データとは、計測者が行う作業について、その計測対象、その計測対象を計測するために用いる計測器１８、計測位置、手順等の指示をデータ化したものである。計測データとは、計測対象を計測した計測値（数値以外の良否判断等も含む）を、計測器１８、計測時刻、その他の周辺環境のデータと関連付けたものである（表２参照）。ユーザーデータとは、各計測器１８について計測する権限を有しているか否か、各種データを登録したり、参照したりする権限を有しているか否かをデータ化し、ＩＤのデータと関連づけたものである。装置管理データとは、装置番号、名称及びメンテナンス日時（４Ｍ変動）からなるものである（表３参照）。データ送受信手段２３は、データ送受信手段１６と同様に、ネットワーク４を介して他の装置とデータを含む信号のやりとりをする。
【００３２】
管理装置３は、検査データ収集装置１と同様な構成からなるものであるが、例えば管理室に設置され、各種の管理データを入力したり、製造の進捗状況を把握するために用いられるのである。検査データ収集装置１、ＤＢ装置２及び管理装置３を相互に接続しているネットワーク４は、電気、電波、光等の信号をデータの伝送媒体とする通信回線（無線も含む）である。以上の説明により、図１の計測支援システムの構成の概要が明らかになったところで、以下、本実施形態の特徴部分を中心に説明する。
【００３３】
次の表１はＤＢデータ蓄積手段２２の計測器データの詳細を示した表であり、ＩＤ番号、計測器番号、計測器名称、略称、測定範囲、メンテナンス日時、計測回数及びメンテナンス回数の各項目からなる。このように、計測器のデータの他に、前回行ったメンテナンス日時と、メンテナンスを終了してからの計測回数、メンテナンス間の計測回数が記録できるようにしてある。なお、計測回数（計測器で計測を行った回数）の値は、計測器のメンテナンスや修理を行ったときに０にリセットされ、計測を行う毎にその値がインクリメントされていく。
【００３４】
【表１】
2004227483.tif 000003
【００３５】
また、次の表２はＤＢデータ蓄積手段２２の計測データの詳細を示した表であり、ＩＤ番号、計測データ、部品番号、キャビティ番号、計測器番号、測定日時及び装置番号の各項目からなる。なお、キャビティ番号とは製造の際に用いられる型に関連した番号で、一つの型で幾つかの同一部品を、同時に成型するが、その部品を識別するための番号であり、装置番号とは部品を製造する際に用いられた装置を特定するための番号である。この計測データには、計測器を使って製品や部品の寸法を計測したときに、計測器番号も併せても記録される。
【００３６】
【表２】
2004227483.tif 000004
【００３７】
次に、図１の計測器管理システムの動作を説明する。図２〜図４は計測器管理システムの動作を示したフローチャートである。
（Ｓ１１）先ず、計測者（又は管理者）は所謂４Ｍ変動があったかどうかをチェックする。ここで、４Ｍ変動とは、人（マン）、製造機械（マシン）、材料（マテリアル）及び製造方法（メソッド）の何れかが変化することを意味しており、計測者（又は管理者）が製造要因（条件）が変化したかどうかを判断する。
【００３８】
（Ｓ１２）計測者（又は管理者）は所謂４Ｍ変動があったという判断をした場合には、入力手段１２を操作して４Ｍ変動の日時を入力し、そのデータにＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２に格納させる。この４Ｍ変動の日時は、製造装置を管理しているＤＢデータ蓄積手段２２の装置管理データの領域に記録される。表３は装置管理データの内容を示した表であり、ＩＤ番号、装置番号、名称及びメンテナンス日（４Ｍ変動）の各項目からなる。
【００３９】
【表３】
2004227483.tif 000005
【００４０】
（Ｓ１３）計測者は計測器を選択する。この計測器の選択に際しては、ＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２から測定指示データを取り込んで、例えば測定対象となる部品、その測定箇所及び測定箇所に対応した計測器を表示手段１４に表示させて、計測者に計測器の選択を促す。計測者が計測器を選択して処理手段１１に接続すると、次の処（Ｓ１４）に移行することになる。
【００４１】
（Ｓ１４）処理手段１１は、その選択された計測器が定期メンテナンスの時期であるかどうかを判断する。この計測器が定期メンテナンスの時期であるかどうかは、例えばＤＢデータ蓄積手段２２の計測器データベースからデータを取り込んで判断する。なお、計測者が計測器を選択した後に、バーコード読取装置１７により計測器１８に付されているバーコードを読み取ることにより、選択された計測器１８が特定される。
（Ｓ１５）処理手段１１は、その選択された計測器が定期メンテナンスの時期であると判断した場合には、その計測器についてメンテナンスをすることを促す。例えば表示手段１４にメンテナンスを促す表示をする。計測者はその表示手段１４の表示に従ってその計測器のメンテナンスをする。
【００４２】
（Ｓ１６）計測者は、その計測器のメンテナンスを終了すると、入力手段１２を操作することにより、メンテナンスの日時を入力する。処理手段１１はそのデータをＤＢ装置２に送信し、ＤＢデータ蓄積手段２２の計測器データを更新する。
（Ｓ１７）ＤＢ装置２のデータ蓄積処理部２１Ａは、上記の処理（Ｓ１６）が終了すると、ＤＢデータ蓄積手段２２の計測器データの計測回数（ｎ１）を０にリセットする。
【００４３】
（Ｓ１８）処理手段１１は、上記の処理（Ｓ１４）で定期メンテナンスの時期ではないという判断をした場合又は上記の処理（Ｓ１７）が終了した後に、ＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２の計測器データの計測回数（ｎ１）を取得する。
（Ｓ１９）計測者は計測対象となっている部品を準備する。
（Ｓ２０）計測者は部品の計測部位を選択する。
（Ｓ２１）計測者は部品の計測部位を選択した計測器により計測する。処理手段１１は、そのときの計測データｄを取り込んで、ＤＢ装置２に送信してそのＤＢデータ蓄積手段２２の計測器データベースに格納させる。なお、この計測の際には、バーコード読取装置１７により既に読み取られた、バーコードデータにより特定した計測器データとともに、計測データをＤＢ装置２に送信して、ＤＢデータ蓄積手段２２計測器データの該当する領域に格納させる。
【００４４】
（Ｓ２２）また、処理手段１１は、そのときの計測器の計測回数をインクリメントする。なお、この段階では、計測器の計測回数を記憶手段１３に記憶させるに止め、ＤＢ装置２のＤＢデータ蓄積手段２２には送信しない。
（Ｓ２３）計測者が計測作業を行うと、処理手段１１は、一定の期間内で４Ｍ変動後又は計測器メンテナンスの後の同一計測器による同一部品、同一部位のデータを取得する。計測器のメンテナンスや４Ｍ変動が入った時には、それ以前の状態とデータが変わってくる可能性があるため、計測器データベースからこれらの時間を取得し、計測器のメンテナンスや４Ｍ変動の後からのデータを取得して後述のように平均値と標準偏差を求めるためのデータを取得している。次の表４は計測器番号等をキーに、計測前１日分の同一測定場所のデータをピックアップしたものをリストした表である。このときの条件は次のとおりである。
計測器番号    ：Ｋ−１
測定日        ：９月３日
装置番号      ：Ｍ−１
部品番号      ：１
キャビティ番号：１
【００４５】
【表４】
2004227483.tif 000006
【００４６】
（Ｓ２４）処理手段１１は、同一部品、同一部位のデータの個数（ｎ２）を表４のデータから取得する。
（Ｓ２５）処理手段１１は、その個数（ｎ２）と基準のデータ数ＣＣｎｔとを対比して、ｎ２がＣＣｎｔよりも大きいかどうかを判断する。なお、ＣＣｎｔは、計測データの検証につかうものであり、統計データ（平均値と標準偏差）を計算するのに充分なデータ数である。なお、設定した期間分のデータで、統計データを計算するのに十分なデータ数が揃わない場合（ｎ２≦ＣＣｎｔ）には、計測データが正常かどうかの判断を行わずデータ収集のみ行うことになる。
【００４７】
（Ｓ２６）処理手段１１は、個数ｎ２がＣＣｎｔよりも大きいと判断した場合には、表４のデータから同一部品、同一部位の計測データについての平均値（ａｖｒ）及び標準偏差（σ）を求める。上記の表４の例では、平均値（ａｖｒ）＝２４．３３、標準偏差（σ）＝０．３１になる。計測器のメンテナンスや４Ｍ変動が入った時には、それ以前の状態とデータが変わってくる可能性があるため、計測器データベースからこれらの時間を取得して、計測器のメンテナンスや、４Ｍ変動の後からのデータを使ってデータを取得して平均値と標準偏差を求めている。
【００４８】
（Ｓ２７）処理手段１１は、計測データｄと上記の統計データとを対比する。
例えばｄ＞ａｖｒ＋ｋσ  又は  ｄ＜ａｖｒ−ｋσ
の条件を満たしているかどうかを判断する。なお、上記の式において、ｋは計測器に合わせた任意の数（例えば２〜３）である。上記の条件が満たされることは、計測データｄに問題があることを意味している。ここで、ｋ＝３とすると、
正常値は、２３．４≦ｄ≦２５．２６
異常値は、２３．４＜ｄ、又は  ｄ＞２５．２６
となる。
【００４９】
上記のように、上記の平均値と標準偏差から管理される範囲（ａ±ｋσ）から計測データｄが外れた場合に何らかの異常が発生したと判断されることになる。この異常は、計測器自体、計測方法、製造工程内の装置、金型のどこかで異常が発生していると考えることができる。
【００５０】
（Ｓ２８）処理手段１１は、計測データｄが上記の範囲から外れているという判断をした場合には、計測者に対して計測器のチェックを促す。計測者が計測器をチェックして問題（異常）がないかどうかを判断し、入力手段１２を操作してその判断に応じた信号を処理手段１１に入力する。
（Ｓ２９）処理手段１１は、計測器に問題がないという判断があった場合には、計測器以外のところに問題がある可能性があるものとして、例えば測定者が測定場所を間違えたか、測定方法を間違えたか、又は製造工程内に問題が発生したと考えられるので、表示手段１２に対して工程、装置、工程環境等のチェックを促す表示をさせる。計測者は、まず、製造工程内に問題が発生したかどうかを調べる。それには金型や装置のチェックを行う。金型や装置に異常があった場合には、修理やメンテナンスを行う。また、金型や装置に異常が無かった場合には、測定個所か測定方法を間違えている可能性があるため、計測者に確認させる。
【００５１】
（Ｓ３０）処理手段１１は、計測器に問題があったという判断があった場合には、表示手段１２に対して、計測器が正常に使用されていたかどうかのチェックを促す表示をさせる。計測者は、この表示手段１２の表示に従って、計測器が正常に使用されたかどうかをチェックする。計測者は、計測器が正常に使用されたかどうかを判断し、入力手段１２を操作してその判断に応じた信号を処理手段１１に入力する。
【００５２】
（Ｓ３１）処理手段１１は、計測器が正常に使用されていたという判断があった場合には、ＭＣｎｔ＝０であるかどうかを判断する。このＭＣｎｔはこのシステムを動作させた結果として把握する、計測器のメンテナンスを行わなければならない計測回数である。このＭＣｎｔは計測器データで管理されているメンテナンス回数で、ＭＣｎｔの初期値は０（ブランク）に設定される。
（Ｓ３２）処理手段１１は、ＭＣｎｔ＝０ではないという判断をした場合には、
ｎ１＞ＭＣｎｔ×α
の条件が満足しているかどうかを判断する。このαはＭＣｎｔを更新するかどうかを決定するための係数（０．８〜０．９）である。
【００５３】
（Ｓ３３）処理手段１１は、上記の処理（Ｓ３１）及び（Ｓ３２）において条件が満たされたとき（ＭＣｎｔ＝０、又はｎ１＞ＭＣｎｔ×α）には、ＭＣｎｔ＝ｎ１として、ＭＣｎｔの値を更新する。このように、計測器を調査した結果、正常に使用していてメンテナンスを行わなければならない状況であって、ＭＣｎｔ＝０又はｎ１＞ＭＣｎｔ×αの場合には、計測器の計測回数（ｎ１）を現在記録されているメンテナンス回数ＭＣｎｔに置き換える。このことは次のような意味がある。本実施形態１においては、各計測器の計測実績（精度）に基づいてメンテナンス計測回数を設定するが、その際に既にメンテナンス計測回数が設定されている場合には、それよりも少ない計測回数でメンテナンスを行わなければならなかったということになるので、メンテナンス計測回数を今回のもの（計測回数）に入れ替える。しかし、操作ミスによる計測器の不調の場合も考えられるため、現在入力されているメンテナンス計測回数とかけ離れて小さい場合にはメンテナンス計測回数をそのまま書き換えないようにしている。この判断は本実施形態１では現在設定されているメンテナンス計測回数の例えば８０〜９０％を閾値と設定して判断している。
【００５４】
（Ｓ３４）処理手段１１は、上記の処理（Ｓ２５）及び（Ｓ２７）において条件が満たされなかったとき、及び上記の処理（Ｓ２９）によるチェックの後、次に、
ｎ１≧ＭＣｎｔ        ＭＣｎｔ＞０
という条件を満たしているかどうかについて判断する。
（Ｓ３５）処理手段１１は、上記の処理（Ｓ３４）の条件を満たしていない場合には、計測回数ｎ１をＤＢデータ蓄積手段２２の計測器データの計測回数領域に格納してその値を更新する。
【００５５】
（Ｓ３６）処理手段１１は、処理（Ｓ２８）で計測器に問題があったと判断された場合の一連の処理の後、又は、上記の処理（Ｓ３４）で計測回数がＭＣｎｔに達していてメンテナンスの必要があると判断された後に、計測器のメンテナンスの必要があることを表示手段１４に表示させて、計測者に対してメンテナンスを促す。計測者は、表示手段１４の表示に従ってその計測器のメンテナンスをすることになる。
【００５６】
（Ｓ３７）計測者は、その計測器のメンテナンスを終了すると、入力手段１２を操作することにより、メンテナンスの日時を入力する。処理手段１１はそのデータをＤＢ装置２に送信し、ＤＢデータ蓄積手段２２の計測器データを更新する。
（Ｓ３８）ＤＢ装置２のデータ蓄積処理部２１Ａは、ＤＢデータ蓄積手段２２の計測器データの計測回数をリセットする。
【００５７】
以上のように本実施形態１においては、一定の期間毎に定期的にメンテナンスを行っているが、その他に、計測データに基づいてメンテナンスが必要であるかどうかを判断している。例えば、或る計測器による計測データがその同一部品及び同一部の過去の計測データを統計処理して、その統計データに基づいたデータ管理範囲（ａｖｒ−ｋσ≦ｄ≦ａｖｒ＋ｋσ）と計測データとを対比してデータ管理範囲から外れている場合にはメンテンスが必要であると判断し、また、このようなメンテナンスを必要とした計測器の計測回数に基づいてメンテナンス計測回数ＭＣｎｔを更新するようにしている。メンテナンス計測回数ＭＣｎｔはデータの計測実績に基づいたものであり、このメンテナンス計測回数ＭＣｎｔを基準としてメンテナンスを行うので、適正なメンテナンスが可能になっており、常に計測器を正常の状態で使用できるので、計測データの信頼性が高いものとなっている。また、操作ミスによる計測器の不調の場合も考えられるため、現在入力されているメンテナンス計測回数とかけ離れて小さい場合にはメンテナンス計測回数をそのまま書き換えないようにしている。
【００５８】
また、例えば或る計測器による計測データがその同一部品及び同一部の過去の計測データを統計処理する際には、メンテナンス又は４Ｍ変動があった後の計測データを用いるようにしたので、メンテナンス又は４Ｍ変動の前の計測データの影響を受けずに済むので、統計データも高精度なものになっている。
【００５９】
実施形態２．
図５は上記の実施形態１の計測器管理システムを組み込んだ製造支援システムの構成を表すブロック図である。この製造システムにおいては、設計データ収集装置１０１、環境データ収集装置１０２、計測器データ収集装置１０３、設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５、検査データ蓄積装置１０６、データ評価装置１０７、製造状況集計装置１０８、データ表示装置１０９、データ出力装置１１０及び外部転送装置１１１を備えている。図１のシステムとの関係では、図１の検査データ収集装置１は設計データ収集装置１０１、環境データ収集装置１０２及び計測器データ収集装置１０３に相当し、ＤＢ装置２は設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５及び検査データ蓄積装置１０６に相当する。また、管理装置３は、データ評価装置１０７、製造状況集計装置１０８、データ表示装置１０９、データ出力装置１１０及び外部転送装置１１１に相当する。なお、設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５及び検査データ蓄積装置１０６は、説明の便宜上別体のものとしているが、１個のデータ蓄積装置（データベース）により実現してもよい。
【００６０】
設計データ収集装置１０１は、設計者が、製品やそれを構成する部品等の設計を行って作成した、図面やＣＡＤデータ等の設計図、及び設計に関する様々なデータ（以下、設計データという）を、管理者又は設計者が入力手段によって入力した信号に基づいて、設計データ蓄積装置１０４のデータベースへ登録することができる設計信号の形に変換し（ここではこのような処理を作成処理という）送信処理を行うための装置である。特に数を限定するものではないが、本実施形態では、設計データ収集装置１０１は各設計工程分、システム内に複数設けられているものとする。設計データには、製造条件等を規定した製造指示データや、製造後の製品や部品の検査工程において、寸法を管理しなければならない箇所の規格値、公差、計測する計測器、及び計測方法指示等の検査指示をデータ化した検査マスターデータ（測定指示データ）も含まれるものとする。環境データ収集装置１０２は、各製造工程における温度や湿度などの環境データや、製造装置の製造条件収集に用いられる装置である。設計データ収集装置１０１と同様に、システム内に複数設けられている。環境データ収集装置１０２には、温度センサ等の計測器や製造装置のデータ出力インターフェース等が接続され、計測器から送信された環境データを含む信号や、製造装置から送信された設定データ及び製造条件データ等を収集して処理する。そして、これらの製造環境条件を環境データとして環境信号に含めて環境データ蓄積装置１０５に送信する。
計測器データ収集装置１０３は、製品や部品等の寸法データや外観等の良否データの収集に用いられる装置である。計測器データ収集装置１０３には、デジタルノギスや工具顕微鏡等の１又は複数の計測器が接続され、製品や部品等を計測した結果として計測器から送信される寸法データ等や、検査者が入力手段を用いて入力した外観良否データ等を処理して、計測データとして検査信号に含めて検査データ蓄積装置１０６に送信する。
【００６１】
設計データ蓄積装置１０４は、１又は複数の設計データ収集装置１０１から送信された設計信号に含まれる各設計工程の設計データを処理し、蓄積する。また、蓄積された設計データから要求されたデータを信号としてネットワーク４を介して要求先の装置に送信する。ここで、設計データ蓄積装置１０４は特にデータ変換手段１０４ａを備えている。データ変換手段１０４ａは、ＣＡＤ（ＣｏｍｐｕｔｅｒＡｉｄｅｄ  Ｄｅｓｉｇｎ  ）装置で作成された設計データ（又はその一部）から、寸法を管理しなければならない箇所の規格値及び公差、検査項目等のデータを抽出又は変換して、検査データを収集する際の検査指示である検査マスターデータの一部又は全部を作成するものである。通常、このデータ変換手段１０４ａはデータベース管理システムの制御処理手段で動作するプログラム（ソフトウェア）で構成されている。ここで、様々な種類のＣＡＤ装置（又はソフトウェア）で作成される複数のデータ形式に対応できるように、プログラムを構成しておくことにより、幅広くデータを抽出することができる。
【００６２】
環境データ蓄積装置１０５は、設計データ蓄積装置１０４と同様の構成を採り、１又は複数の環境データ収集装置１０２から送信された環境信号に含まれる各製造工程の環境データを処理し、蓄積する。また、蓄積された環境データから要求されたデータを信号としてネットワーク４を介して要求先の装置に送信する。検査データ蓄積装置１０６も設計データ蓄積装置１０４及び環境データ蓄積装置１０５と同様に、１又は複数の計測器データ収集装置１０３から送信された検査信号に含まれる各検査工程の検査データを処理し、蓄積する。また、蓄積された検査データから要求されたデータを信号としてネットワーク４を介して要求先の装置に送信する。
【００６３】
データ評価装置１０７は、最終的な製品に不良が見つかった場合に、検査データ及び環境データに基づいて、各部品について検査時又は製造時の状態について解析を行い、どの工程に原因があったのかを追跡し、評価するための装置である。データ評価装置１０７は、製品に至るまでの工程全体のトータルの評価も行えるし、各工程別の評価も行える。製造状況集計装置１０８は、検査データ蓄積装置１０６に蓄積された検査データ及び環境データ蓄積装置１０５に蓄積された環境データに基づいて、製品の製造状況を集計、判断する装置である。
【００６４】
データ表示装置１０９は、データ評価装置１０７又は製造状況集計装置１０８が処理し、判断した結果を表示するための装置である。データ出力装置１１０は、データ評価装置１０７及び製造状況集計装置１０８が処理し、判断した結果をプリンタ、データファイルとして出力する装置である。ここで、データ表示装置１０９、データ出力装置１１０は、システムに複数設けられている場合もある。外部転送装置１１１は、データ評価装置１０７及び製造状況集計装置１０８が処理し、判断した結果をデータとして含めた信号を外部のネットワーク４を介して転送するための装置である。
【００６５】
本実施形態２では、設計データ収集装置１０１、環境データ収集装置１０２、計測器データ収集装置１０３の作成処理によって得られた設計データ、環境データ及び検査データをそれぞれ設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５、検査データ蓄積装置１０６に蓄積して共有できるようにし、各工程で他の工程で作成処理されたデータを共有する。そして、それらを全て参照できるようにする。この場合、各データを関連させることが容易になり、解析が行いやすくなる。したがって、フィードバックやフィードフォワードも容易に可能となる。また、各部品と製品との関連性（どの部品により製造されたか等の履歴）を容易に把握することができ、不良発生時の原因追及が行いやすくなる。しかも、紙媒体から作業者の転記に依らないので、データが蓄積されるまでには時間を要せず、最新のデータが蓄積される。したがって、処理時間が短く、転記ミスや作為的なデータ修正を防ぐことができる。また、最新のデータを参照すれば、どの部品がどの工程にあるかをすばやく把握できる。
【００６６】
図６は作業工程、データの流れと各装置との関係を表す図である。次にシステムを構成する各装置の動作について、製品の製造工程と共に説明する。ここでは、例としてプリンタを製造する工程について説明する。図６において、Ｓ１はプラスチック成形部品製造工程である。プラスチック部品製造工程Ｓ１は、プラスチック部品設計工程Ｓ１−１、プラスチック部品型設計工程Ｓ１−２、プラスチック部品型製造工程Ｓ１−３、プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４、プラスチック部品成形工程Ｓ１−５及びプラスチック部品検査工程Ｓ１−６からなる。プラスチック部品設計工程Ｓ１−１は、筐体等のプラスチック成形部品を設計する工程である。前述した設計データ収集装置１０１はこの工程で用いられる。設計者が入力した設計に関する事項を設計データ収集装置１０１がデータ化し、設計データを設計信号に含めて設計データ蓄積装置１０４に送信する。このプラスチック部品設計工程Ｓ１−１において、プラスチック部品検査工程Ｓ１−６で行う検査項目（検査箇所等）、計測器等を設計者が決定し、検査作業指示データとして例えば設計データ蓄積装置１０４に蓄積させる。この際、設計データが、設計に用いたＣＡＤ装置の形式でデータ化されている場合には、データ変換手段１０４ａがデータを変換（場合によっては一部を抽出して変換）し、測定指示データ作成の支援を行う。
【００６７】
プラスチック部品型設計工程Ｓ１−２は、プラスチック成形部品用の金型を設計する工程である。設計データ収集装置１０１はこの工程でも用いられる。プラスチック部品設計工程Ｓ１−１で作成処理された設計データを利用して金型を設計し、さらにプラスチック成形部品の金型に関する設計データを設計信号に含めて設計データ蓄積装置１０４に送信する。その際、プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４で行う検査項目等を検査作業指示データとして例えば設計データ蓄積装置１０４に蓄積させる。その際には、データ変換手段１０４ａが測定指示データ作成の支援を行う。プラスチック部品型製造工程Ｓ１−３は、設計した金型に基づいてプラスチック成形部品用の金型を製造する工程である。プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４は、プラスチック成形部品用の金型の寸法等が規格内に収まっているかどうか等、寸法、外観等を検査する工程である。前述した計測器データ収集装置１０３はこの工程で用いられる。検査者（計測者）は、計測器を用いて、設計データ蓄積装置１０４に蓄積された測定指示データに基づいて、指示された検査項目で検査を行う（この詳細は上記の実施形態１に説明したとおりである）。計測器データ収集装置１０３は、検査により作成処理した検査データを含めた検査信号を検査データ蓄積装置１０６に送信し、蓄積させる。ここで、蓄積された検査データに基づいて、製造した型に問題があるかどうかを判断する。問題があれば、設計データ蓄積装置１０４及び環境データ蓄積装置１０５に蓄積された設計データ及び環境データに基づいて、設計者及び型製造技術者が協議して原因を判断し、型の変更又は条件の変更を決定する。そして、その決定に基づいて、再度プラスチック部品型設計工程Ｓ１−２又はプラスチック部品型製造工程Ｓ１−３の工程を経て、問題を解消した上で量産成形を行う。
【００６８】
プラスチック部品成形工程Ｓ１−５は、プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４で成形可能と判断された金型についてプラスチック成形部品を量産成形する工程である。前述した環境データ収集装置１０２はこの工程で用いられる。環境データ収集装置１０２は、作成処理した環境データを含めた環境信号を環境データ蓄積装置１０５に送信し、蓄積させる。プラスチック部品検査工程Ｓ１−６は、量産成形をした部品を検査する工程である。この検査によって得られるデータは検査データ蓄積装置１０６に蓄積される。量産成形したプラスチック成形部品が規格内に収まっているかどうか、プラスチック成形部品にバリ等が残っていないか等、寸法、外観等を検査する工程である。前述した計測器データ収集装置１０３はこの工程で用いられ、プラスチック部品型検査工程Ｓ１−４と同様に、計測器データ収集装置１０３は、検査により作成処理した検査データを含めた検査信号を検査データ蓄積装置１０６に送信し、蓄積させる。
【００６９】
プレス部品製造工程Ｓ２は、プレス部品設計工程Ｓ２−１、プレス部品型設計工程Ｓ２−２、プレス部品型製造工程Ｓ２−３、プレス部品型検査工程Ｓ２−４、プレス部品製造工程Ｓ２−５及びプレス部品検査工程Ｓ２−６からなる。プレス部品製造工程Ｓ２の各工程については、それぞれプラスチック成形部品製造工程Ｓ１との関係で対応する工程と同様の動作を行い、プラスチック部品がプレス部品に置き換わっただけであるので説明を省略する。
【００７０】
モータ部品製造工程Ｓ３は、モータ設計工程Ｓ３−１、モータ部品製造工程Ｓ３−２、モータ部品検査工程Ｓ３−３、モータ製造工程Ｓ３−４及びモータ検査工程Ｓ３−５からなる。モータ設計工程Ｓ３−１は、モータ及びそれに伴う各モータ部品を設計する工程である。設計データ収集装置１０１はこの工程で用いられる。設計者が入力した設計に関する事項を設計データ収集装置１がデータ化し、設計データを設計信号に含めて設計データ蓄積装置１０４に送信する。このモータ設計工程Ｓ３−１において、設計者がモータ部品検査工程Ｓ３−３及びモータ検査工程Ｓ３−５で行う検査項目（検査箇所等）等を決定する。モータ部品製造工程Ｓ３−２は、設計に基づいてモータ部品を製造する工程である。前述した環境データ収集装置１０２はこの工程で用いられる。外気温度（雰囲気温度）、装置条件等を環境データとして作成処理した環境データ収集装置１０２は、作成処理した環境データを含めた環境信号を環境データ蓄積装置１０５に送信する。
【００７１】
モータ部品検査工程Ｓ３−３は、製造したモータ部品を検査する工程である。この検査によって得られるデータは検査データ蓄積装置１０６に蓄積される。モータ部品が規格内に収まっているかどうか等、寸法、外観等を検査する工程である。計測器データ収集装置１０３はこの工程で用いられる。モータ製造工程Ｓ３−４は、モータ部品を組み立ててモータを製造する工程である。環境データ収集装置１０２はこの工程で用いられる。外気温度、製造条件等を環境データとして作成処理した環境データ収集装置１０２は、作成処理した環境データを含めた環境信号を環境データ蓄積装置１０５に送信する。モータ検査工程Ｓ３−５は、製造組立をしたモータを検査する工程である。モータ検査工程Ｓ３−５では、寸法、外観等を検査するだけでなく、例えば、回転スピードの検査、消費電力等の電気特性評価の検査等、製造されたモータが所定の動作を行うかどうかを検査する。
【００７２】
電気回路基板製造工程Ｓ４は、電気回路基板設計工程Ｓ４−１、電気回路基板製造工程Ｓ４−２及び電気回路基板検査工程Ｓ４−３からなる。電気回路基板設計工程Ｓ４−１は、制御回路等の電気回路基板を設計する工程である。設計データ収集装置１０１はこの工程で用いられる。設計者が入力した設計に関する事項を設計データ収集装置１０１がデータ化し、設計データを設計信号に含めて設計データ蓄積装置１０４に送信する。この電気回路基板設計工程Ｓ４−１において、設計者が電気回路基板検査工程Ｓ４−３で行う検査項目等を決定する。電気回路基板製造工程Ｓ４−２は、設計に基づいて電気回路基板を製造する工程である。環境データ収集装置１０２に入力された製造条件等のデータは環境データとして、環境信号に含めて環境データ蓄積装置１０５に送信され、蓄積される。電気回路基板検査工程Ｓ４−３は、製造した電気回路基板を検査する工程である。電気回路基板検査工程Ｓ４−３でも寸法、外観等の検査だけでなく、例えば、配線状況、電気接続等の動作確認の検査が行われる。
【００７３】
ヘッド部品製造工程Ｓ５は、ヘッド設計工程Ｓ５−１、ヘッド部品製造工程Ｓ５−２、ヘッド部品検査工程Ｓ５−３、ヘッド製造工程Ｓ５−４及びヘッド検査工程Ｓ５−５からなる。ヘッド製造工程Ｓ５の各工程については、それぞれモータ製造工程Ｓ３の対応する工程と同様の動作を行い、モータがヘッドに置き換わっただけであるので説明を省略する。なお、ヘッド検査工程Ｓ５−５では、ノズル孔、駆動素子の外観検査、ヘッドのインク吐出量、インクスピード等、ヘッドの動作（能力）を検査する。
【００７４】
製品組立構成Ｓ６は、各工程で製造された部品を組み立てて製品を製造する工程である。環境データ収集装置１０２により作成処理された組立製造条件等のデータは環境データとして、環境信号に含めて環境データ蓄積装置１０５に送信され、蓄積される。最終検査工程Ｓ７は、製造された製品全体についての検査（動作試験等も含む）を行う工程である。最終検査工程では主に動作試験が行われる。例えば初期不良があればそれを発生させるために一定時間動作させたり、例えば製品がプリンタであれば印刷したい画や文字が精度よく印刷されているか、紙送り機構が動作しているかどうか等、電気的、機械的な動作の確認を行ったりする。ここでも、計測器データ収集装置１０３を用いて検査データが収集され、検査信号が検査データ蓄積装置１０６に送信される。
【００７５】
これらの工程で蓄積された検査データ及び環境データについて、データ評価装置１０７及び製造状況集計装置１０８において処理を行う。最終検査工程Ｓ７において、検査データの解析に基づき、不良の製品が発見された場合、データ評価装置１０７は、環境データ蓄積装置１０５、検査データ蓄積装置１０６からその製品を構成する各部品について蓄積されている検査データ、環境データを探し出すための処理を行う。そして、探し出した検査データ、環境データに基づいたデータ表示をデータ表示装置１０９にさせたり、データ出力装置１１０から出力させたり、外部転送装置１１１に転送させたりする。また、製造状況集計装置１０８については、設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５又は検査データ蓄積装置１０６に蓄積されたデータのうち、最も新しく蓄積されたデータに基づけば、各部品等の単位でどの工程まで作業が進行しているかを把握することができる。
【００７６】
以上のように本実施形態２によれば、設計データ収集装置１０１、環境データ収集装置１０２及び計測器データ収集装置１０３の処理によって得られた設計データ、環境データ及び検査データをそれぞれ設計データ蓄積装置１０４、環境データ蓄積装置１０５及び検査データ蓄積装置１０６に蓄積して共有できるようにしたので、データ解析結果から工程にフィードバックをかけたり、工程間でフィードバックやフィードフォワードを行うことができ、一括した管理を行うことができる。また、各データを関連づけてデータの加工等を行うことができる。特に検査においては、各部品の相互関係も含めた複合的な検査を行える。これは、型から成形部品を作る部品において、型検査と成形部品検査を行う場合には特に有効である。このようなことは、システム上の各計測器データ収集装置１０３が、計測器の種類、データの形式等に関係なく信号のやりとりを行い、全ての検査結果をデータ化できることにより実現できるものである。また、製品を構成する部品については、寸法、外観等の形状、その部品が動作する場合は、その動作を検査することにより精度を高めることができる。
【００７７】
そして、各部品を検査し、それを製品のデータにすれば、製品の能力と各部品の精度との関係を明確にすることができ、製品の部品履歴を把握しやすくなる。製品のデータについては、製品としての機能を検査することによって、さらに製品の検査精度を高めることができる。また、環境データ収集装置１０２が処理した、製造時の周囲温度、製造条件、装置の設定条件等をデータ化した環境データを作成処理するようにしたので、製造環境と部品との関連性を明確にすることができる。また、例えば設計変更等により再度検査を行う場合に、以前に作成処理された測定指示データを用いる等、ある工程で作成処理したデータを別の工程で利用できるようにしたので、作業効率がよくなる。また、データ評価装置１０７により、製品不良を各部品の検査データや環境データを基にして追跡することができるので、原因を追及しやすくなり、早急に対策を行うことができる。また、データ評価装置１０７では、製造時の製造条件を表す環境データと設計工程において作成処理された製造条件の設計データとを比較できるので、原因追及を行いやすくすることができる。また、製造状況集計装置１０８が、最新のデータに基づいて、製品の製造作業がどこまで進行しているか状況を判断するようにしたので、製造状態を素速く、正確に判断することができる。また、データ出力装置１１０により帳票形式での印刷ができるようになったので、紙媒体での管理も行える。また、外部転送装置１１１を備えることにより、他の同種の装置、他のシステムとの間でも、場所に関係なく、データのやりとりを行うことができる。
【００７８】
更に、本実施形態２においては上記の実施形態１の計測器管理システムを組み込んでおり、計測器を常に正常動作させることができるので、計測データの収集に際して高精度な計測データが得られ、製造物についても高精度のものが安定し得られる。
【００７９】
実施形態３．
なお、上記の実施形態１においては、計測管理システムの例について説明したが、例えばデータベースを使用しないで、検査データ収集装置１の記憶手段１３をＤＢ装置２と同様な機能を持たせるようにしてもよい。また、計測器のメンテナンスを促すのに表示手段１４に表示させる例について説明したが、印刷手段１５又はスピーカ（図示せず）によって計測者に指示を与えるようにしてもよい。更に、本発明のデータ管理範囲としてａｖｒ−ｋσ≦ｄ≦ａｖｒ＋ｋσと設定する例について説明したが、本発明はこのような範囲に限定されるものではなくその目的に応じて適宜変形してもよいことはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態１に係る計測器管理システムの構成を示すブロック図。
【図２】図１のシステムの処理過程を示したフローチャート（その１）。
【図３】図１のシステムの処理過程を示したフローチャート（その２）。
【図４】図１のシステムの処理過程を示したフローチャート（その３）。
【図５】本発明の実施形態２に係る製造支援システムの構成を示すブロック図。
【図６】作業工程及びデータの流れと各装置との関係を表す図。
【符号の説明】
１  検査データ収集装置、２  ＤＢ装置、３  管理装置、１１  処理手段（演算手段）、１２  入力手段、１３  記憶手段、１４  表示手段、１５  印刷手段、１６  データ送受信手段、１７  バーコード読取装置、１８  計測器、２１  データ処理手段、２１Ａ  データ蓄積処理部、２１Ｂ  データ送信処理部、２２  データ蓄積手段、２３  データ送受信手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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