(57)【要約】【課題】可視光像歪み解消用の歪み補正コイルのコイル電流に対する電流制御の応答速度を歪み誘発磁気の変化速度に適合したものにする。【解決手段】この発明のイメージインテンシファイア装置は、電流制御回路１３による電流制御によって、可視光像歪み解消用の歪み補正コイル１０が常に地磁気と的確に対応する歪み補正磁気を発生するので、地磁気が十分に打ち消され、入射Ｘ線像が歪みのない可視光像となって出現する。また、時定数切換回路１４によって、地磁気ＩＢ変化の遅速に合わせて歪み補正コイル１０に流すコイル電流に対する電流制御の応答速度を切り換えることができるので、歪み補正コイル１０に流すコイル電流に対する電流制御を地磁気の変化速度に適合した応答速度とすることができる。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
（Ａ）入射Ｘ線像に応じた光電子像を出力する入力面基板と、前記光電子像を縮小結像させる電子レンズ系と、前記電子レンズ系で縮小結像された光電子像を可視光像に変換出力する出力蛍光面とを収納したイメージ管容器と、（Ｂ）前記光電子像を歪ませて可視光像の歪みを引き起こす歪み誘発磁気に感応して磁気検出信号を歪み誘発磁気の検出強度に比例する信号強度で出力する磁気センサーと、（Ｃ）前記入力面基板の外周空間に巻回されて歪み誘発磁気を打ち消す歪み補正磁気を発生する歪み補正コイルと、（Ｄ）歪み補正コイルに電流を供給する電源と、（Ｅ）磁気センサーから出力される磁気検出信号に基づいて歪み誘発磁気の強度変化に対応したコイル電流が歪み補正コイルに流れるように電流制御をおこなう電流制御手段と、（Ｆ）前記電流制御手段による電流制御の応答速度を変化させる応答速度可変手段とを備えていることを特徴とするイメージインテンシファイア装置。
【請求項２】
請求項１に記載のイメージインテンシファイア装置において、（Ｆ）応答速度可変手段では、速度が互いに異なる複数の応答速度が選択可能に設定されていて、応答速度の選択変更により電流制御の応答速度が変化させられるように構成されているイメージインテンシファイア装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、入射Ｘ線像が光電子像を経て可視光像に変換されて出力されるとともに光電子像を歪ませて可視光像の歪みを引き起こす歪み誘発磁気を歪み補正コイルにより発生させる歪み誘発磁気で打ち消すように構成されたイメージインテンシファイア装置に係り、特に可視光像歪み解消用の歪み補正コイルに流すコイル電流に対する電流制御が歪み誘発磁気の変化速度に適合した応答速度でおこなわれるようにするための技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
この種のイメージインテンシファイア装置（以下、適宜「Ｉ・Ｉ装置」と略記）は、図７および図８に示すように、入射Ｘ線像に応じた光電子像を出力する為のＣｓＩ等の蛍光面と光電陰極とからなる入力面基板１と、入力面基板１の光電陰極から放出される光電子像を縮小結像させる為のフォーカス電極３Ａと陽極３Ｂとからなる電子レンズ系２と、電子レンズ系２のレンズ作用で縮小結像された光電子像を可視光像に変換出力する出力蛍光面４とがイメージ管容器５に収容されて構成されている。
【０００３】
このようなＩ・Ｉ装置は地磁気（歪み誘発磁気）がローレンツ力で光電子像を歪ませて可視光像の歪みを引き起こす。地磁気は、例えば、図９（ａ）に示すように、＋の形の入射Ｘ線像ＸＡが、図９（ｂ）に示すように、正しく＋の形の可視光像Ｘａに変換されずに、縦・横が共にＳ字状にゆがんだ歪みのある可視光像ＸＢに変換されてしまう。そこで、地磁気による可視光像の歪みを回避する為に、イメージ管容器５の周囲を強磁性体（例えば、パーマロイ等）の金属６で磁気シールドしている。しかし、Ｘ線の入射面である入力面基板１の前面まで強磁性体の金属で磁気シールドしてしまうと、その金属で入射Ｘ線が吸収され、入射Ｘ線像のＸ線強度が低下する。そのため、入力面基板１の前面には強磁性体の金属による磁気シールドを施すことができず、Ｘ線の入射面には、アルミニウムやチタン，ガラス等の窓７を設けざるを得ない。その結果、磁気シールドだけで地磁気による可視光像の歪みを十分に解消できない。
【０００４】
それで、図８に示すように、可視光像の歪み誘発磁気を打ち消す歪み補正磁気を発生する補正コイル１０を設け、補正コイル１０に歪み誘発磁気の強さに応じたコイル電流を電源（図示省略）から供給して歪み誘発磁気を打ち消すことが行われている。ただ、Ｉ・Ｉ装置がＸ線透視撮影装置（図示省略）のＣアームに配備されているような場合、Ｃアームの回転に伴ってＩ・Ｉ装置も回転すると同時に、Ｉ・Ｉ装置の回転位置に応じて光電子像に作用する地磁気の強さ・向きが変化する。そこで、本願出願人に係る例えば、特許文献１に記載のＩ・Ｉ装置の場合、磁気センサー（図示省略）で地磁気の強さ・向きを検出すると共に、磁気センサーで検出され地磁気の強さ・向きに対応したコイル電流が歪み補正コイル１０に流れるように電流制御をおこなう。これにより、地磁気を十分に打ち消せるので、光電子像に作用する地磁気の強さ・向きが変化する場合でも、地磁気による可視光像の歪みを解消することができる。
【０００５】
【特許文献１】
特開平７−６５７５６号公報（第３−４頁、図１−図４）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のＩ・Ｉ装置の場合、或る時には歪み補正コイルにより発生させる歪み補正磁気の過不足あるいはコイル電流に対する電流制御のオーバーシュートで可視光像の歪みが十分解消できなかったり、また別の時にはＩ・Ｉ装置の出力にしたがってＩ・Ｉ装置の後段で作成表示するＸ線画像が乱れたりするという問題が出てきた。そこで、この発明の発明者は、この問題の原因を解明すべく様々な方向から検討した。
【０００７】
その結果、発明者は、歪み補正コイルのコイル電流に対する電流制御の応答速度が歪み誘発磁気の変化速度に合っていないことを見い出した。すなわち、コイル電流に対する電流制御の応答速度が遅いと、歪み誘発磁気の時間変化が速い場合に電流制御が追随できなくなることが原因となって、歪み補正磁気の過不足あるいは電流制御のオーバーシュートが起こるという知見が得られた。また、コイル電流に対する電流制御の応答速度が逆に早過ぎると、周囲の外乱磁気（例えば電気メスの使用に伴って発生するノイズ磁気）にまで電流制御が応答してしまうことが原因となって、Ｘ線画像の乱れが起こるという知見も得られた。これらの知見に基づいて、発明者は、さらに鋭意検討を続け、この発明を完成することができた。
【０００８】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、可視光像の歪み解消用の歪み補正コイルに流すコイル電流に対する電流制御を歪み誘発磁気の変化速度に適合した応答速度でおこなうことができるＩ・Ｉ装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載のイメージインテンシファイア装置は、（Ａ）入射Ｘ線像に応じた光電子像を出力する入力面基板と、前記光電子像を縮小結像させる電子レンズ系と、前記電子レンズ系で縮小結像された光電子像を可視光像に変換出力する出力蛍光面とを収納したイメージ管容器と、（Ｂ）前記光電子像を歪ませて可視光像の歪みを引き起こす歪み誘発磁気に感応して磁気検出信号を歪み誘発磁気の検出強度に比例する信号強度で出力する磁気センサーと、（Ｃ）前記入力面基板の外周空間に巻回されて歪み誘発磁気を打ち消す歪み補正磁気を発生する歪み補正コイルと、（Ｄ）歪み補正コイルに電流を供給する電源と、（Ｅ）磁気センサーから出力される磁気検出信号に基づいて歪み誘発磁気の強度変化に対応したコイル電流が歪み補正コイルに流れるように電流制御をおこなう電流制御手段と、（Ｆ）前記電流制御手段による電流制御の応答速度を変化させる応答速度可変手段とを備えていることを特徴とするものである。
【００１０】
（作用・効果）請求項１に記載の発明の場合、イメージ管容器では、入力面基板への入射Ｘ線像の投影に伴って生じた光電子像が電子レンズ系で縮小結像されてから出力蛍光面に可視光像として変換出力される。一方、イメージ管容器に加わる可視光像の歪みの原因である歪み誘発磁気は、磁気センサーにより歪み誘発磁気の検出強度に比例する信号強度の磁気検出信号に変換されて出力される。
他方、可視光像の歪み解消用の歪み補正コイルに電源から供給されるコイル電流は、電流制御手段により磁気センサーから出力される磁気検出信号に基づき歪み誘発磁気の強度変化に対応したコイル電流が歪み補正コイルに流れるように電流制御される。その結果、歪み補正コイルにより発生させられる歪み補正磁気は常に歪み誘発磁気に対応するものになるので、可視光像の歪み原因である歪み補正磁気が十分打ち消され、入射Ｘ線像は常にイメージ管容器の出力蛍光面に歪みのない正しい形の可視光像となって出現する。
【００１１】
そして、請求項１に記載の発明では、歪み誘発磁気の変化速度が遅い場合は、応答速度可変手段によって可視光像歪み解消用の歪み補正コイルに流すコイル電流に対する電流制御の応答速度（時定数）を予め遅く設定しておく。逆に歪み誘発磁気の変化速度が速い場合は、応答速度可変手段によって可視光像歪み解消用の歪み補正コイルに流すコイル電流に対する電流制御の応答速度を予め速く設定しておく。したがって、歪み補正コイルのコイル電流に対する電流制御の応答速度が歪み誘発磁気の変化の遅速に合ったものとなり、電流制御の応答速度が誘発磁気の変化速度に合っていないことに起因する不都合は解消される。
つまり、請求項１に記載の発明によれば、応答速度可変手段により、歪み誘発磁気変化の遅速に合わせて歪み補正コイルに流すコイル電流に対する電流制御の応答速度を変化させられるので、可視光像の歪み解消用の歪み補正コイルに流すコイル電流に対する電流制御の応答速度を歪み誘発磁気の変化速度に適合させることができる。
【００１２】
また、請求項２の発明は、請求項１に記載のイメージインテンシファイア装置において、（Ｆ）応答速度可変手段では、速度が互いに異なる複数の応答速度が選択可能に設定されていて、応答速度の選択変更により電流制御の応答速度が変化させられるように構成されているものである。
【００１３】
（作用・効果）請求項２に記載の発明によれば、歪み誘発磁気の変化速度が遅い場合は、応答速度可変手段に設定されている応答速度のうち速度が遅い方の応答速度を選択し、逆に歪み誘発磁気の変化速度が早い場合は、応答速度可変手段に設定されている応答速度のうち速度が早い方の応答速度を選択する。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、この発明のイメージインテンシファイア装置の一実施例を説明する。図１は実施例に係るＩ・Ｉ装置の構成を示すブロック図、図２は実施例のＩ・Ｉ装置の構成をイメージ管容器は破断状態で部分的に示すブロック図、図３は実施例のＩ・Ｉ装置を配備したＸ線透視撮影装置用のＣアームを示す斜視図である。
【００１５】
図１および図２に示す実施例のＩ・Ｉ装置は、図３に示すように、例えばＸ線透視撮影装置用の天井走行式Ｃアームの一端側に配備されていて、Ｃアームの他端側に配備されているＸ線管Ｂと対向した状態となっており、Ｃアームの背面中央に設けられた回転軸を回転中心としてＣアームが回転するのに伴って、Ｉ・Ｉ装置Ａが矢印ＲＡで示す向きに回転したり、Ｃアームの円弧沿いにＣアームが所定範囲をスライドするの伴って、Ｉ・Ｉ装置Ａが矢印ＲＢで示す向きに移動するように構成されている。
【００１６】
実施例のＩ・Ｉ装置では、図７に示すように、入射Ｘ線像に応じた光電子像を出力する為のＣｓＩ等の蛍光面と光電陰極とからなる入力面基板１と、入力面基板１の光電陰極から放出される光電子像を縮小結像させる為のフォーカス電極３Ａと陽極３Ｂとからなる電子レンズ系２と、電子レンズ系２のレンズ作用で縮小結像された光電子像を可視光像に変換出力する出力蛍光面４とがイメージ管容器５に収容されて入射Ｘ線像検出機構が構成されている。なお、図７中、符号８はフォーカス電源を示し、符号９は陽極電源を示す。さらに、イメージ管容器５の周囲は、Ｘ線の入射面のところを除いて強磁性体の金属６による磁気シールドが施されており、磁気シールドが施されていないＸ線の入射面には、アルミニウムやチタン，ガラス等の窓７が設けられている。
【００１７】
また、実施例のＩ・Ｉ装置の場合、図１および図２に示すように、入力面基板１の光電陰極から放出される光電子像を歪ませて可視光像の歪みを引き起こす地磁気（歪み誘発磁気）に感応して磁気検出信号を歪み誘発磁気の検出強度に比例する信号強度で出力する磁気センサー１１と、入力面基板１の外周空間に巻回されて歪み誘発磁気を打ち消す歪み補正磁気を発生する歪み補正コイル１０と、歪み補正コイル１０に電流を供給する電源１２と、磁気センサー１１から出力される磁気検出信号に基づいて地磁気の強度変化に対応したコイル電流が歪み補正コイル１０に流れるように電流制御をおこなう電流制御回路１３とで磁気歪み補正機構が構成されている。
【００１８】
歪み補正コイル１０は、入力面基板１を挟む縦平面間で形成される入力面基板領域ＮＲ内またはその近傍の任意の位置に配置されている。入力面基板領域ＮＲは、入力面基板１に対して縦平面を仮想的に設けた時、入力面基板１を挟む２枚の縦平面間で形成される領域であり、例えば、図２では、入力面基板１の中心ＮＯに接する縦平面ＴＰ１と、入力面基板１の外周端ＮＧに接する縦平面ＴＰ２との間の領域である。なお、実施例の歪み補正コイル１０は縦平面ＴＰ２の内側に配置されている。また、実施例の歪み補正コイル１０は複数回巻回された構成であるが、一回巻のコイルで構成してもよい。
【００１９】
磁気センサー１１は、磁気の大きさや方向を検出する為のものであり、具体的には、例えばフラックスゲートセンサやホール素子を用いたセンサー等で構成され、検出磁気の大きさや方向に応じた電気信号を電流制御回路１３へ出力する構成となっている。この磁気センサー１１は入力面基板１と上述のように配置された歪み補正コイル１０との間の間隙領域ＫＲ内またはその近辺で、かつ、上述の入力面基板領域ＮＲ内またはその近辺、即ち二つの領域ＫＲ，ＮＲが重なるドーナツ状の領域ＷＲ内またはその近辺の任意の位置に配置される。この実施例では磁気センサー１１が入力面基板１の外周端ＮＧの近辺に配置されている。
【００２０】
また、磁気センサー１１は、図４に示すように、対面する位置にもう１個の磁気センサー１１を配置し、二つの磁気センサー１１の磁気検出信号が平均されるように構成してもよい。勿論、さらに磁気センサー１１を３個以上の任意の数だけ設置するようにしてもよい。
電源１２は後述するように電流制御回路１３の電流制御にしたがって歪み補正コイル１０に電流を供給する。
【００２１】
電流制御回路１３は増幅回路１３Ａと電流ドライブ回路１３Ｂとで構成される。実施例の場合、電流制御回路１３は歪み補正磁気が地磁気を完全に打ち消して磁気センサー１１の検出磁気が正確にゼロとなるようにクローズドループ型のフィードバック式ダイナミック電流制御をおこなうよう構成されている。この場合、上述のように、磁気センサー１１は歪み補正コイル１０による歪み補正磁気が有効に作用する領域に配置されていなければならない。磁気センサー１１からの磁気検出信号は増幅回路１３Ａで適当なレベルに増幅されてから電流ドライブ回路１３Ｂに送り込まれると共に、電流ドライブ回路１３Ｂは地磁気の入力面基板１に垂直な向きの成分と向きが反対でちょうど同一の大きさの歪み補正磁気を歪み補正コイル１０が発生するように電源１２から供給されるコイル電流を調整する。
【００２２】
さらに、実施例のＩ・Ｉ装置には、電流制御回路１３による電流制御の時定数（応答速度）を変化させる時定数切換回路（応答速度可変手段）１４が、電流制御回路１３の増幅回路１３Ａの帰還回路を兼ねるかたちで付設配備されている。時定数切換回路１４の時定数は電流制御回路１３による電流制御の応答速度に対応している。時定数切換回路１４は、図１に示すように、２個の固定抵抗器１４Ａ，１４Ｂおよび１個の固定コンデンサ１４Ｃおよび切換スイッチ１４Ｄからなり、いわゆるＲＣ回路の積分機能を応用した時定数回路であって、長い時定数τ１と短い時定数τ２が切換スイッチ１４Ｄで選択可能に設定されていて、切換スイッチ１４Ｄの切り換えによる選択時定数の変更によって電流制御の時定数が変化する構成となっている。
【００２３】
切換スイッチ１４Ｄが実線で示すように固定抵抗器１４Ａの側に接続されている時は、時定数τ１＝（固定抵抗器１４Ａの抵抗値Ｒ１×固定コンデンサ１４Ｃの容量値Ｃ１）であり、切換スイッチ１４Ｄが破線で示すように固定抵抗器１４Ｂの側に接続されている時は、時定数τ２＝（固定抵抗器１４Ｂの抵抗値Ｒ２×固定コンデンサ１４Ｃの容量値Ｃ１）である。ここでは時定数τ１＞時定数τ２であるので抵抗値Ｒ１＞抵抗値Ｒ２である。Ｉ・Ｉ装置がＸ線透視撮影装置用のＣアームに配備されている場合、例えばＩ・Ｉ装置が低速度（１分前後／１回転）で動く時の時定数τ１としては１秒程度，高速度（６秒前後／１回転）で動く時の時定数τ２としては０．１秒程度が挙げられる。
時定数τ１，τ２の選択変更を実行する切換スイッチ１４Ｄの操作は、例えば、Ｘ線透視撮影装置の操作卓（図示省略）からの遠隔操作で行われる。
【００２４】
時定数切換回路１４では、固定抵抗器の抵抗値を切り換えて時定数を変化させているが、固定コンデンサの容量値を切り換えて時定数を変化させるように構成してもよく、固定抵抗器の抵抗値と固定コンデンサの容量値の両方を切り換えるようにしてもよい。また時定数切換回路１４の場合、時定数の変化は時定数τ１，τ２の２段だけであったが、時定数の変化を３段以上の任意の段数とすることも容易に可能である。さらには、可変抵抗器や可変コンデンサを用い、抵抗値や容量値を連続的に変化させて時定数を連続的に変化させる構成としてもよい。
【００２５】
続いて、上述した実施例のＩ・Ｉ装置において磁気歪み補正がおこなわれる時の装置動作を具体的に説明する。磁気歪み補正を行わなければ、図５に示すように、入力面基板１から入り込んでくる地磁気（の入力面基板１に対して垂直な成分）ＩＢによって可視光像の歪みが起こる。磁気歪み補正は、図６に示すように、地磁気ＩＢと大きさは同一で向きが反対の歪み補正磁気ｉｂを歪み補正コイル１０が常時発生するように補正コイル１０にコイル電流ｉを流し、歪み補正磁気ｉｂで地磁気ＩＢをキャンセルするかたちで打ち消すことにより、可視光像に歪みが起こるのを防止するものである。
【００２６】
地磁気は静的磁場であって変化がないものとして扱っても差し支えないはずであるが、Ｉ・Ｉ装置の回転・移動に伴って入力面基板１と地磁気との角度が変わるのに連れて地磁気ＩＢが変化するので、地磁気ＩＢを変化がないものとして扱うことはできない。実施例のＩ・Ｉ装置の場合、磁気センサー１１によりＩ・Ｉ装置の回転・移動に伴って変化する地磁気ＩＢが検出強度に比例する信号強度の磁気検出信号に変換されて電流制御回路１３へ出力される。なお、磁気センサー１１では、地磁気ＩＢの向きの違いは磁気検出信号の正負の極性の違いとなって検出される。
【００２７】
同時に、磁気センサー１１からの磁気検出信号を受けている電流制御回路１３は磁気センサー１１から出力される磁気検出信号をゼロとするコイル電流が歪み補正コイル１０に流れるように地磁気ＩＢの強度変化に対応した電流制御を実行する。つまり電源１２から歪み補正コイル１０へ供給される電流をＩ・Ｉ装置の回転・移動に伴って変化する地磁気ＩＢに追随して変化させて地磁気ＩＢと大きさは同一で向きが反対の歪み補正磁気ｉｂを常時発生させて、常に地磁気ＩＢを打ち消すのである。実施例の場合、磁気センサー１１が歪み補正コイル１０による歪み補正磁気が有効に作用する領域に配置されているのでフィードバック式ダイナミック制御で磁気センサー１１から出力される磁気検出信号をゼロとする、つまり地磁気ＩＢを完全に打ち消すことが可能となる。
【００２８】
そして、実施例のＩ・Ｉ装置を稼働させる場合は、装置稼働の前に、Ｉ・Ｉ装置の回転・移動速度に応じて、時定数切換回路１４の切換スイッチ１４Ｄによって長い時定数τ１と短い時定数τ２のどちらかを予め選択しておく。Ｉ・Ｉ装置の回転・移動速度が遅い時は長い時定数τ１を選択してセットし、Ｉ・Ｉ装置の回転・移動速度が速い時は短い時定数τ２を選択してセットする。その結果、電流制御回路１３による電流制御の時定数は地磁気ＩＢの変化の速度に適合したものとなる。
【００２９】
したがって、電流制御回路１３による電流制御の時定数が遅くてＩ・Ｉ装置の回転・移動に伴う地磁気ＩＢの変化に追随できず、歪み補正磁気の過不足あるいはコイル電流の電流制御のオーバーシュートで可視光像の歪みが十分解消できない事態は確実に回避される。また、電流制御回路１３による電流制御の時定数が速過ぎて周囲の外乱磁気（例えば電気メスの使用に伴って発生するノイズ磁気）に電流制御が過剰応答し、作成表示するＸ線画像が乱れる事態も確実に回避される。
【００３０】
以上に述べたように、実施例のＩ・Ｉ装置の場合、電流制御回路１３による電流制御によって、可視光像歪み解消用の歪み補正コイル１０が常に地磁気ＩＢと的確に対応する歪み補正磁気ｉｂを発生するので、地磁気ＩＢが完全に打ち消され、入射Ｘ線像が常に歪みのない正しい形の可視光像となって出力蛍光面４に出現すると共に、時定数切換回路１４により、地磁気ＩＢ変化の遅速に合わせて歪み補正コイル１０に流すコイル電流に対する電流制御の時定数を切り換えることができるので、可視光像の歪み解消用の歪み補正コイル１０に流すコイル電流に対する電流制御を地磁気ＩＢの変化速度に適合した時定数とすることができる。
【００３１】
この発明は、上記の実施例に限られるものではなく、以下のように変形実施することも可能である。
（１）実施例のＩ・Ｉ装置では、時定数切換回路１４が増幅回路１３Ａの入力と出力の間に帰還回路を兼ねるように付設されていたが、時定数切換回路１４が増幅回路１３Ａの入力側だけ或いは出力側だけに付設される構成でもよいし、時定数切換回路１４が電流ドライブ回路１３Ｂの出力側に付設される構成であってもよい。
【００３２】
（２）実施例では、Ｉ・Ｉ装置がＸ線透視撮影装置用の天井走行式Ｃアームに配備されていたが、この発明のＩ・Ｉ装置はＸ線透視撮影台に組み込まれるかたちで配備されるようであってもよい。
【００３３】
（３）実施例のＩ・Ｉ装置の電流制御回路１３による電流制御は、歪み補正コイル１０による歪み補正磁気が有効に作用する領域に磁気センサー１１を配置し、クローズドループ型の電流制御で地磁気ＩＢを完全に打ち消す構成であったが、地磁気ＩＢが完全には打ち消されないけれども、磁気センサー１１の磁気検出信号に比例したコイル電流を流すだけのオープンループ型の非ダイナミック電流制御、あるいは、磁気検出信号とコイル電流の量のルックアップテーブルを予め配備しておき、磁気検出信号に対応したコイル電流を流すだけのオープンループ型の非ダイナミック電流制御であってもよい。
特にＩ・Ｉ装置の回転・移動速度が速い時は、オープンループ型の電流制御が適することが多い。オープンループ型の非ダイナミック電流制御の場合、実施例のように、磁気センサー１１が歪み補正コイル１０による歪み補正磁気が有効に作用する領域に配置されている必要は必ずしもなく、Ｉ・Ｉ装置の周辺に配置すればよい。
【００３４】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、この発明のイメージインテンシファンア装置によれば、電流制御手段による電流制御により、可視光像歪み解消用の歪み補正コイルが常に歪み誘発磁気に対応する歪み補正磁気を発生するので、入射Ｘ線像が歪みのない正しい形の可視光像となって出現すると共に、応答速度可変手段により、歪み誘発磁気変化の遅速に合わせて歪み補正コイルに流すコイル電流に対する電流制御の応答速度を変化させることができるので、可視光像の歪み解消用の歪み補正コイルに流すコイル電流に対する電流制御を歪み誘発磁気の変化速度に適合した応答速度とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例のＩ・Ｉ装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施例のＩ・Ｉ装置の構成をイメージ管容器は破断状態で部分的に示すブロック図である。
【図３】実施例のＩ・Ｉ装置を配備したＸ線透視撮影装置用のＣアームを示す斜視図である。
【図４】実施例のＩ・Ｉ装置の磁気センサーの他の配置例を示す平面図である。
【図５】実施例のＩ・Ｉ装置の磁気歪み補正実行前の状態を示す模式図である。
【図６】実施例のＩ・Ｉ装置の磁気歪み補正実行中の状態を示す模式図である。
【図７】この発明で用いるＩ・Ｉ装置の典型例を示す断面図である。
【図８】この発明で用いるＩ・Ｉ装置の典型例を示す平面図である。
【図９】Ｉ・Ｉ装置における入射Ｘ線像および可視光像の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
１    …  入力面基板
２    …  電子レンズ系
４    …  出力蛍光面
５    …  イメージ管容器
１０  …  歪み補正コイル
１１  …  磁気センサー
１２  …  電源
１３  …  電流制御回路（電流制御手段）
１４  …  時定数切換回路（応答速度可変手段）
Ａ    …  Ｉ・Ｉ装置（イメージインテンシファイア装置）
ＩＢ  …  地磁気（歪み誘発磁気）
ｉｂ  …  歪み補正磁気
ｉ    …  コイル電流
ＸＡ  …入射Ｘ線像
Ｘａ  …可視光像
τ１  …時定数（応答速度）
τ２  …時定数（応答速度）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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