(57)【要約】【課題】パラメータの設定値を容易に設定することが出来るイオントラップ質量分析装置を提供する。【解決手段】イオントラップ質量分析装置において、表示部は、少なくともリング電極に印加する主ＲＦ電圧とエンドキャップに印加する補助ＲＦ電圧を時間軸に沿ってグラフ化して表示し設定するためのパラメータ設定画面と、ａｚ＝−８ｅＵ／ｍｒ０２Ω２とｑｚ＝−４ｅＶ／ｍｒ０２Ω２  の２軸で表されるマチューの安定領域を表示する安定領域表示画面が表示され、制御部は、前記パラメータ設定画面の質量分析を行う期間における前記主ＲＦ電圧及び補助ＲＦ電圧の設定値から共鳴イオンを算出し、前記安定領域表示画面に当該算出された共鳴イオンが表される線分を重畳表示する。【効果】パラメータ設定が原理的に最適な設定になっているかを容易に確認しながら設定することが出来る。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
リング電極と一対のエンドキャップ電極を有し、当該電極に高周波電圧を印加することでイオンをトラップするトラップ空間を形成するイオントラップ部と、当該イオントラップ部から排出されたイオンを検出する検出部と、前記イオントラップへの印加電圧の制御を行う制御部と、前記検出部によって得られる検出結果および前記イオントラップ部への印加電圧の設定値を表示する表示部を有するイオントラップ質量分析装置において、
前記表示部は、少なくとも前記リング電極に印加する主ＲＦ電圧と前記エンドキャップに印加する補助ＲＦ電圧を時間軸に沿ってグラフ化して表示し設定するためのパラメータ設定画面と、ａｚ＝−８ｅＵ／ｍｒ０２Ω２とｑｚ＝−４ｅＶ／ｍｒ０２Ω２（当該数式において、Ｕ＝ＤＣ電圧，Ｖ＝ＲＦ電圧，ｍ＝質量，ｅ＝電荷，Ω＝ＲＦ周波数，ｒ０  ＝イオントラップ空間の回転半径とする。）の２軸で表されるマチューの安定領域を表示する安定領域表示画面が表示され、
前記制御部は、前記パラメータ設定画面の質量分析を行う期間における前記主ＲＦ電圧及び補助ＲＦ電圧の設定値から共鳴イオンを算出し、前記安定領域表示画面に当該算出された共鳴イオンが表される線分を重畳表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記パラメータ設定画面は、イオントラップ空間へイオンを導入する期間、必要なイオンのみをトラップし、不要なイオンを排除する期間、トラップされているイオンを開裂させるＭＳ／ＭＳを行う期間、質量分析を行う期間に区分され、それぞれの期間ごとに主ＲＦ電圧及び補助ＲＦ電圧の電圧値の設定及び変更が行われることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
【請求項３】
請求項１において、
前記主ＲＦ電圧の質量分析を行う期間のグラフ上の任意の箇所が指定されると、当該指定箇所に対応する共鳴イオンを算出し、前記安定領域表示画面の前記線分上に、当該算出された共鳴イオンと対応するポイントを表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
【請求項４】
請求項１において
前記安定領域表示画面の前記線分の片端はａｚ軸とｑｚ軸の交点に接続され、当該線分位置は前記交点を固定点として変更可能であり、当該線分位置が変更されると、前記制御部は変更後の線分の位置に応じて前記パラメータ設定画面の質量分析を行う期間における前記主ＲＦ電圧或いは補助ＲＦ電圧の設定値を変更することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
【請求項５】
請求項４において、
前記安定領域表示画面は、前期線分位置変更後に再計算する際に、前記主ＲＦ電圧或いは補助ＲＦ電圧のいずれを変更するのかを指定する指定領域を表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
【請求項６】
請求項１において、
前記表示部は、前記検出部によって検出されたマススペクトルを表示する測定表示画面を表示し、当該測定表示画面は前記パラメータ設定画面と同一時間上に表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
【請求項７】
請求項６において、
前記パラメータ設定画面の主ＲＦ電圧を設定するグラフ上に、前記質量分析を行う期間内の共鳴イオンを前記安定領域表示画面に反映させる範囲を指定する質量数指定バーを有し、
前記測定表示画面は、マススペクトル上に前記質量数指定バーの指定範囲を示す質量数確認バーを表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
【請求項８】
請求項１において、
前記制御部は、前記パラメータ設定画面で設定される各パラメータの設定値についての閾値を記憶し、パラメータ設定時に、前記パラメータ設定画面で設定された設定値が前記閾値内かを計算し、その結果を前記表示部に表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、質量分析装置に関する。特に、イオントラップ技術を用いる質量分析装置の制御，分析パラメータ設定に関する。
【０００２】
【従来の技術】
イオントラップ質量分析装置は、１９５０年代にＤｒ．  Ｐａｕｌにより発明され、その後、多くの研究者やメーカーにより、イオントラップ質量分析装置に関して様々な改良が成されてきた。例えば，マススペクトルの取得の基本的手法は、下記特許文献１に示されている。更に下記特許文献２や特許文献３には、補助交流電圧（Ｓｕｐｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  ＡＣ  ｖｏｌｔａｇｅ）を印加してイオンを共鳴的に放出して検出する方法が開発された。また、イオントラップ空間に圧力１ｍＴｏｒｒ（１０−３Ｔｏｒｒ）程度のＨｅガスを導入することで、分解能や感度が大幅に改善されることも示された。
【０００３】
現在使用されているイオントラップ質量分析装置には、ＭＳ／ＭＳ測定やＭＳｎ測定など様々な測定を行うことができ、それに応じて、イオントラップ内に蓄積する質量範囲の指定，特定質量数範囲以外の質量数のイオンをイオントラップ電極外へ排出するアイソレーションの指定，積算時間や回数，ＭＳ／ＭＳ時のＣＩＤ（Ｃｏｌｌｉｓｉｏｎ−ｉｎｄｕｃｅｄ  ｄｉｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ：衝突誘起解離）電圧など、非常に多くの測定用のパラメータを設定する必要がある。
【０００４】
イオントラップ質量分析装置において、最も基本的なものは、下記特許文献２のＦｉｇ．２や特許文献３の図２にも示されている安定化包絡線（いわゆるＭａｔｈｉｅｕ安定曲線である。）であり、ａｚ＝−（８ｅＵ）／（ｍｒ０２ω２），ｑｚ＝（４ｅＶ）／（ｍｒ０２ω２）の２式で表される。この線内が安定領域とされ、イオントラップ電極の大きさ、及び印加される電圧によってこれらのパラメータが決まり、イオンがイオントラップ空間内にトラップされるか否かが決まる。
【０００５】
【特許文献１】
米国特許第４，５４０，８８４号
【特許文献２】
米国特許第４，７３６，１０１号
【特許文献３】
特開平６−７６７９０号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
現在の装置においては、これら数々のパラメータの設定方法は、予め装置に標準で用意されているパラメータを使用するか、またはこの標準で用意されたパラメータの数値を使用者が変更することで行われる。
【０００７】
使用者がパラメータを設定する場合、装置に付属のデータ処理装置のモニタ及び入力装置（キーボード，ポインティングデバイスなど）を用いて、パラメータの数値を直接入力することで設定変更が行われることが通常である。しかしながら、数値を入力するのみでは、そのパラメータが原理的に最適な設定になっているかどうかの確認を使用者が認識するのは困難である。
【０００８】
さらに、イオンをイオントラップ電極から質量分散させて出射させる際に、イオントラップ電極への印加電圧をスキャンするが、このスキャン時の条件を変更しようとした時に、現在の装置では、使用者が自らの意図するような条件で自由にスキャン条件を組む事が容易に出来なかった。この場合、使用者は、スキャン条件のプログラムそのものを変更しなければならなかった。そのため、新たに所望のスキャン条件のプログラムを多大な労力を掛けて作成しなければならなかった。
【０００９】
さらに、新たなスキャン条件のプログラムを組んでも、装置上の電源電圧の制約，メモリの制約などがあり、また、これらの制約を満たしても、測定対象のイオンを安定な状態で効率良く溜め込みイオントラップから出射するための条件、すなわち原理的に最適な条件の検討（即ち、Ｍａｔｈｉｅｕ  の安定曲線等に適合した条件なのか）も容易ではなかった。
【００１０】
上記従来技術では、パラメータ設定に対する原理的な最適値の確認手段、パラメータ設定に対するスキャンプログラムの生成機能がなく、使用者が自由にスキャン方式、パラメータを変更することへの配慮がされておらず、スキャン方式の変更などによる分析の妨げとなる問題があった。
【００１１】
本発明の目的は、分析に使用する適切なパラメータの設定値を容易に設定することが出来るイオントラップ質量分析装置を提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するための本発明の特徴は、リング電極と一対のエンドキャップ電極を有し、当該電極に高周波電圧を印加することでイオンをトラップするトラップ空間を形成するイオントラップ部と、当該イオントラップ部から排出されたイオンを検出する検出部と、前記イオントラップへの印加電圧の制御を行う制御部と、前記検出部によって得られる検出結果および前記イオントラップ部への印加電圧の設定値を表示する表示部を有するイオントラップ質量分析装置において、前記表示部は、少なくとも前記リング電極に印加する主ＲＦ電圧と前記エンドキャップに印加する補助ＲＦ電圧を時間軸に沿ってグラフ化して表示し設定するためのパラメータ設定画面と、ａｚ＝−８ｅＵ／ｍｒ０２Ω２とｑｚ＝−４ｅＶ／ｍｒ０２Ω２（当該数式において、Ｕ＝ＤＣ電圧，Ｖ＝ＲＦ電圧，ｍ＝質量，ｅ＝電荷，Ω＝ＲＦ周波数，ｒ０  ＝イオントラップ空間の回転半径とする。）の２軸で表されるマチューの安定領域を表示する安定領域表示画面が表示され、前記制御部は、前記パラメータ設定画面の質量分析を行う期間における前記主ＲＦ電圧及び補助ＲＦ電圧の設定値から共鳴イオンを算出し、前記安定領域表示画面に当該算出された共鳴イオンが表される線分を重畳表示することである。
【００１３】
上記構成により、パラメータ設定が原理的に最適な設定になっているかを容易に確認しながら設定することが出来る。
【００１４】
【発明の実施の形態】
本発明の実施例を図１，図３を用いて説明する。
【００１５】
図３は本発明が適用されるイオントラップ質量分析装置の概略構成図である。イオントラップは、対向して配置された２つのエンドキャップ電極３１１１と３１１２と、このエンドキャップ電極間に配置されたリング電極３０１から構成される。これらの電極へ電圧を印加することにより、電極に囲まれた空間にイオンを蓄積することの出来るイオントラップ空間が形成される。リング電極３０１には、ＲＦ電圧１１１がＲＦジェネレータ及びアンプ３０３から印加される。同様に、エンドキャップ電極３１１１と３１１２には、補助ＲＦジェネレータ及びアンプ３１３からＡＵＸ（補助電界）電圧１２１が印加される。ＲＦジェネレータ及びアンプ３０３及び補助ＲＦジェネレータ及びアンプ３１３の制御は、制御部３３０によって成される。イオントラップへの印加電圧の制御により、イオンの蓄積，排出の制御が行われる。
【００１６】
イオントラップ空間に外部から導入されるか、又はイオントラップ空間内部で生成されたイオンは、イオントラップ空間で蓄積された後、各電極への印加電圧の制御により、イオントラップ空間から排出される。排出されたイオンは、エンドキャップ電極３１１２に空けられた出射口より出射し、検出器３２１で検出される。検出信号はプリ・アンプ３２２で増幅され、制御部３３０に取り込まれ、データ処理が行われ、モニタ画面３３１に検出結果として表示される。
【００１７】
図１は、本装置で質量分析を行う場合のモニタ画面３３１に表示されるスキャン設定画面の例である。パラメータ設定画面１０１と測定信号表示画面１０２から構成されている。尚、以降に説明するモニタ画面３３１における表示画面の制御や、オペレータからの指示入力に基づくパラメータの再計算などの演算は、全て制御部３３０によって行われる。
【００１８】
パラメータ設定画面１０１は、ＭＳｎの分析を行う場合の設定例を示しており、リング電極３０１に印加されるＲＦ電圧１１１及びＤＣ電圧１１２と、エンドキャップ電極３１１１，３１１２に印加されるＡＵＸ（補助電界）電圧１２１及びＤＣ電圧１２２が設定される。それぞれ、横軸が時間、縦軸が電圧値で示される。このパラメータ設定画面１０１では、時間軸上で早い時間帯（左側）から順に、イオンのインジェクション期間（イオントラップ空間へイオンを導入する期間）１１４，アイソレーション期間（必要なイオンのみをトラップし、不要なイオンを排除する期間）１１５，アクティベーション期間（トラップされているイオンを開裂させるＭＳ／ＭＳを行う期間）１１６，マス・アナリシス期間（質量分析を行う期間）１１７に分けられ、それぞれの期間において、図に示すようにリング及ぶエンドキャップ電極に印加する電圧が設定されている。この表示でそれぞれ太い実線で示している電圧値が任意に設定出来るパラメータとなる。具体的には、マウス等のポインティングデバイスによってマウスカーソル（図示せず）を変更したい箇所の実線へ移動させドラッグし、任意の箇所へ移動後ドロップすることで設定値を変更することが出来る。
【００１９】
また、ＲＦ電圧１１１及びＤＣ電圧１１２とＡＵＸ（補助電界）電圧１２１及びＤＣ電圧１２２は同一画面で同一時間軸上に配置する。これによって設定の誤りを防止し、時間タイミングも容易に正確に設定可能となる。
【００２０】
さらに、この画面内には、信号取り込みボタン２０１と安定領域表示ボタン２０２を配置している。例えば、ＲＦ電圧１１１のアイソレーション期間１１５の電圧設定値を破線１１５１のように変更する場合、使用者がポインティングデバイスを用いてドラッグ＆ドロップによって設定線を変更した後、信号取り込みボタン２０１を押すと、変更後の電圧値が予め格納されている装置の許容電圧と比較される。変更後の電圧が装置の許容電圧内であれば、変更された後の設定線を分析プログラムとして登録し、分析を実行する。変更後の電圧が装置の許容電圧を越えている場合には、設定パラメータに対するエラー・メッセージ１０３で示すように「アイソレーション電圧が高すぎます。××Ｖ以下の電圧に設定して下さい。」と表示する。また、条件によっては、「ＲＦ電圧が高過ぎます。」や「ＡＵＸ電圧が高過ぎます。」や「ＲＦ電圧とＡＵＸ電圧との正負の整合が取れていません。」等の表示を行う。
【００２１】
パラメータ設定画面１０１で設定された条件に沿って分析が行われ、イオンの検出が行われると、ｍ／ｚ（質量対電荷比）が取得された順に測定信号表示画面１０２に表示される。測定信号表示画面１０２は、縦軸が信号強度、横軸が時間である。図１では、スペクトル１３４１，１３４２，１３４３が取得された場合の例を示している。パラメータ設定画面１０１と測定信号表示画面１０２の時間軸は同一となるように表示されている。
【００２２】
尚、パラメータ設定画面１０１と測定信号表示画面１０２は同一画面上ではなく、それぞれ独立したウィンドウに表示するようにしても良いし、パラメータ変更毎に測定データを保存し並列に表示しても良い。また、測定データを信号強度軸，時間軸のそれぞれもしくは、両方を拡大，縮小し表示する機能を有しても良い。また、測定データ毎に同時に測定パラメータを保存する機能を有していても良い。また、設定パラメータ毎にパラメータ設定画面１０１に名前を付けて保存する機能を有しても良い。これにより、標準プロトコールとして呼び出し、これの一部を変更する事で容易に所望のパラメータに使用可能となる。
【００２３】
パラメータ設定画面１０１の安定領域表示ボタン２０２を押した場合について説明する。
【００２４】
まず、イオンの安定領域について説明する。
【００２５】
マチュー（Ｍａｔｈｉｅｕ）の方程式からイオンの挙動は、次のようになる。
【００２６】
ｄ２ｕ／ｄξ２＋（ａｕ＋２ｑｕｃｏｓ２ξ）ｕ＝０
ｕ＝ｘ，ｙ，ｚ
ξ＝Ωｔ／２
ｘ２＋ｙ２＝ｒ０２
ａｚ＝−２ａｘ＝−２ａｙ＝−１６ｅＵ／ｍ（ｒ０２＋２ｚ０２）Ω２
ｑｚ＝−２ｑｘ＝−２ｑｙ＝−８ｅＶ／ｍ（ｒ０２＋２ｚ０２）Ω２
ｚ０＝ｒ０／√２（ピュアなクアドラポールの時）
ａｚ＝−２ａｘ＝−２ａｙ＝−８ｅＵ／ｍｒ０２Ω２                    …（１）
ｑｚ＝−２ｑｘ＝−２ｑｙ＝−４ｅＶ／ｍｒ０２Ω２                    …（２）
ここで、Ｕ＝ＤＣ電圧，Ｖ＝ＲＦ電圧，ｍ＝質量（ｍａｓｓ），ｅ＝電荷（ｃｈａｒｇｅ），Ω＝ＲＦ周波数，ｒ０＝イオントラップ空間の回転半径（ｒａｄｉａｌ  ｒａｄｉｕｓ），
ｚｏ＝イオントラップ空間の軸半径（ａｘｉａｌ  ｒａｄｉｕｓ）である。
【００２７】
以上により、測定対象のイオンは式１，２に従い、あるａ値とｑ値を持つ。これらａ、ｑ値からイオンがトラップ内に安定に捕捉されるか、不安定になるかは簡単に求められる。もし、ａ値ｑ値が共にマチューの安定領域内に位置するなら、イオンは安定に捕捉される。もしａ値かｑ値のどちらか、または両方とも安定領域の外に位置した場合、イオンは不安定となり，電極に衝突するかトラップ外に放出されたりしてイオンは消滅する。
【００２８】
図４を用いて説明する。図４は、安定領域表示ボタン２０２を押した後に表示される安定領域表示画面４００であり、マチューの安定領域が表示される。横軸は、（２）式で示すｑｚ軸、縦軸は（１）式で示すａｚ軸である。安定領域４１０は、前述のｒの安定領域、ｚの安定領域に囲まれた範囲であり、βｒ＝０のライン４１１，βｚ＝１のライン４１２，βｒ＝１のライン４１３，βｚ＝０のライン４１４に囲まれた範囲である。
【００２９】
ここで、図１のマス・アナリシス期間１１７では、ＲＦ電圧１１１とＡＵＸ（補助電界）電圧１２１との関係で、イオンが出射される共鳴点が変化していく。そこで、安定領域表示画面４００が表示される際には、マス・アナリシス期間１１７におけるＲＦ電圧設定値１１７１，ＤＣ電圧設定値１２８，ＡＵＸ電圧設定値１２７及びＤＣ電圧設定値１２９から質量掃引における共鳴出射ポイントが自動的に計算され、図４の安定領域内にＵ／Ｖ＝ｙ（一定値）４３０の直線として自動的に表示する。
【００３０】
また、ＲＦ電圧設定値１１７１上に、オペレータがマウス等のポインティングデバイスを用いて任意のポイントを指定すると、指定したポイントで共鳴出射されるイオンと同じイオンの位置が連動して安定領域表示画面４００上にも表示される。例えばＲＦ電圧設定値１１７１上でポイント１１９１，ポイント１１９２，ポイント１１９３が指定されると、各ポイントでは、それぞれｍ／ｚ＝ｘ１，ｍ／ｚ＝ｘ２，ｍ／ｚ＝ｘ３（ｘ１＜ｘ２＜ｘ３）のイオンが共鳴するものとする。安定領域表示画面４００上では、Ｕ／Ｖ＝０の場合には、ｘ１，ｘ２，ｘ３の各イオンに対応するポイント４２０，ポイント４２１，ポイント４２２が共鳴出射ポイントとして表示される。このような表示を行うことにより、マス・アナリシス期間１１７のどの部分までが安定領域４１０内であり、どこまでのイオンが安定にトラップされるのかを容易に知ることが出来る。
【００３１】
また、Ｕ／Ｖ＝ｙ（一定値）４３０の場合には、共鳴出射ポイントは、図示で示すようにそれぞれポイント４２０１，ポイント４２１１，ポイント４２２１となりポイント４２０１，ポイント４２１１は安定領域内であるがポイント４２２１は安定領域外である事が分かり、ｍ／ｚ＝ｘ１，ｍ／ｚ＝ｘ２はトラップされるがｍ／ｚ＝ｘ３はトラップされないことが分かる。そこで、ｘ１，ｘ２，ｘ３の全てのイオンをトラップしたい場合、Ｕ／Ｖ＝ｙ（一定値）４３０のｙの直線を使用者がマウスカーソルを用いたドラッグ＆ドロップにより、値を変えて、すなわちＵ／Ｖの直線の傾きを任意に変えて、ポイント４２０１，ポイント４２１１，ポイント４２２１が全て安定領域内に入るようにすれば良い。
【００３２】
直線ｙの片端は、ａｚ＝ｑｚ＝０のポイントに固定であるため、直線ｙは、ａｚ＝ｑｚ＝０  のポイントを中心軸にして回転させるように変更することが出来る。このように、直線ｙの位置を変更することにより、トラップすべきイオンを容易に設定することが出来る。
【００３３】
一方、図４の安定領域表示画面４００内で設定したＵ／Ｖ＝ｙに連動して、図１で示すマス・アナリシス期間１１７内のＲＦ電圧設定値１１７１，ＤＣ電圧設定値１２８，ＡＵＸ電圧設定値１２７及びＤＣ電圧設定値１２９の電圧はそれぞれ自動的に変更される。例えば、ＲＦ電圧設定値１１７１の電圧印加パターンが固定の場合は、ＡＵＸ電圧設定値１２７の電圧印加パターンを自動的に変更する。ＡＵＸ電圧設定値１２７の電圧印加パターンが固定の場合は、ＲＦ電圧設定値１１７１及びＤＣ電圧設定値１２８の電圧印加パターンを自動的に変更する。また、安定領域表示画面４００内のＵ／Ｖ＝ｙ（一定値）４３０がＵ／Ｖ＝０で設定された場合には、ＤＣ電圧設定値１２８及び１２９は、電圧値０に設定される。安定領域表示画面４００には、基準電圧選択ボックス４５０が設けられており、ＲＦ電圧かＡＵＸ電圧の何れかのチェックボックスをチェックすることで固定する電圧を選択する。「再計算」のボックスを押下することで、上記のＲＦ電圧設定値１１７１あるいはＡＵＸ電圧設定値１２７の変更を行う。
【００３４】
また、マス・アナリシス期間１１７のＲＦ電圧設定値１１７１の隣には、質量数をある範囲で指定する質量数指定バー１１９４が設けられており、このバーの範囲をポインティングデバイスによってオペレータが操作，指定することで、図４の安定領域表示画面４００で表示すべき共鳴出射ポイントを点ではなく、所定の範囲として指定することが出来る。安定領域表示画面４００においては、共鳴出射領域４２３が質量数指定バー１１９４で指定された領域に対応するものである。
【００３５】
また、測定信号表示画面１０２には、パラメータ設定画面１０１の質量数指定バー１１９４の指定範囲に連動して表示される質量数確認バー１１９５が設けられる。質量数指定バー１１９４の質量範囲が変更されると、この範囲に応じて、質量数確認バー１１９５も範囲（横方向の長さ）が変更されるように表示される。この質量数確認バー１１９５を表示することにより、検出の結果得られたマススペクトルの内、どのスペクトルが質量数指定バー１１９４で指定した範囲であるのかを容易に確認することが出来、また質量数（ｍ／ｚ）と時間軸との対応も分かり、便利である。
【００３６】
以上のように、パラメータ設定画面１０１と安定領域表示画面４００を用いることで、トラップ可能なイオンを確認しながらパラメータを設定することができ、効率良く最適なパラメータを設定して分析することが可能となる。
【００３７】
また、本発明の第２の実施例を図２を用いて説明する。本例では、パラメータ設定画面１０１において、変更したＲＦ電圧設定値１１７１を設定した例であり、直線ではなく曲線となっている。当然不連続に変化させる折れ線であっても、任意の時間関数であれば設定可能である。よって、図４の安定領域表示画面４００に示すように、自動的に計算してＵ／Ｖ＝ｙ（ｔ）４３１のような曲線を表示する。前述と同様にＵ／Ｖ＝ｙ（ｔ）４３１の形状をマウス等のポインティングデバイスによってドラッグなどして変更することで、自動的に計算してパラメータ設定画面１０１のＲＦ電圧設定値１１７１，ＤＣ電圧設定値１２８，ＡＵＸ電圧設定値１２７、及びＤＣ電圧設定値１２９の電圧設定値を変更することができる。
【００３８】
本発明の第３の実施例を図５を用いて説明する。
【００３９】
図５の例では、グラフの軸は、縦軸がＤＣ電圧（Ｕ）軸、横軸がＲＦ電圧（Ｖ）軸としている。
【００４０】
前述の式（１），（２）から
Ｕ＝ａｘｍｒ０２Ω２／８ｅ＝−ａｙｍｒ０２Ω２／８ｅ
Ｖ＝ｑｘｍｒ０２Ω２／４ｅ＝−ｑｙｍｒ０２Ω２／４ｅ
と表すことができ、Ｕ軸，Ｖ軸での質量数に対応したイオンの安定領域の表示を行ったものである。
【００４１】
この例では、パラメータ設定は前述と同様に図１のパラメータ設定画面１０１で行い、安定領域表示ボタン２０２を押すことで、図５の安定領域表示画面４００１が表示されるものとする。尚、図４の安定領域表示画面４００と併用しても良い。
【００４２】
図５の場合では、各質量数毎に安定領域の図形の大きさが相似的に異なる。例えば、ｘ１＜ｘ２＜ｘ３の場合、質量数ｍ／ｚ＝ｘ１の安定領域４１５，質量数ｍ／ｚ＝ｘ２の安定領域４１６，質量数ｍ／ｚ＝ｘ３の安定領域４１７となる。ここで、Ｕ／Ｖ＝０の場合、共鳴出射ポイントは、それぞれポイント４２０，４２１，４２２となる。また、Ｕ／Ｖ＝ｙ（一定値）４３０の直線の場合には、質量数ｍ／ｚ＝ｘ１，ｍ／ｚ＝ｘ２，ｍ／ｚ＝ｘ３の共鳴出射ポイントは、それぞれポイント４２０１，４２１１，４２２１となり、ポイント４２２１が安定領域外であるためトラップされないのが分かる。安定領域表示画面４００１のＵ／Ｖ直線４３０とパラメータ設定画面１０１のＡＵＸ電圧設定値１２７の電圧パターンないしＲＦ電圧設定値１１７１のパターンとの自動変更の関係は前述と同様である。
【００４３】
本例は、イオントラップ質量分析装置ではなく、オクタポールでのイオンの透過を検討し、同時にオクタポールにおけるイオンのトラップを検討する場合に便利である。
【００４４】
【発明の効果】
本発明によれば、新たなスキャンを行う場合に、ＲＦ電圧などのパラメータ設定が原理的に最適な設定になっているかを容易に確認しながら設定することが出来る。また、マチューの安定領域を用いて設定を変更した場合でも、パラメータにフィードバックさせ変更することができ、容易にパラメータの設定変更が可能である。
【００４５】
以上により、パラメータ設定作業における操作効率の大幅な短縮を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】パラメータ設定画面と信号表示画面の例を示す図である。
【図２】パラメータ設定画面と信号表示画面の別の例を示す図である。
【図３】本発明で用いる装置の概略構成図である。
【図４】イオン安定領域の表示画面例を示す図である。
【図５】イオン安定領域の別の表示画面例を示す図である。
【符号の説明】
１０１…パラメータ設定画面、１０２…測定信号表示画面、１０３…エラー・メッセージ、１１１…ＲＦ電圧、１１４…インジェクション期間、１１５…アイソレーション期間、１１６…アクティベーション期間、１１７…マス・アナリシス期間、１２１…ＡＵＸ（補助電界）電圧、１２６，１２７…ＡＵＸ電圧設定値、１３１…測定信号（マススペクトル）、２０１…信号取り込みボタン、２０２…安定領域表示ボタン、３０１…リング電極、３０３…ＲＦジェネレータ及びアンプ、３１３…補助ＲＦジェネレータ及びアンプ、３２１…検出器、３２２…プリ・アンプ、３３０…制御部、３３１…モニタ画面、４００，４００１…安定領域表示画面、１１７１…ＲＦ電圧設定値、１１９４…質量数指定バー、３１１１，３１１２…エンドキャップ電極。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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