(57)【要約】【課題】レーザ駆動回路の製作工程を中断して評価試験を必要とすることのないＩＣチップ及びその試験方法を提供する。【解決手段】フィルタ回路２，３に接続された第１の電極パッド８，９と、フィルタ回路２，３に所定電位を供給するための第２の電極パッド１０，１１とが、ＩＣチップ４のパッド設置面５にそれぞれ設けられている。これらの第１、第２の電極パッドを接続しない状態で、レーザ駆動回路から試験用出力信号を取り出して電気特性の試験を行い、第１、第２の電極パッドを接続した状態で、レーザ駆動回路から試験用出力信号を取り出して光特性の試験を行う。【選択図】        図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ駆動回路を搭載したＩＣチップにおいて、
当該レーザ駆動回路は、出力段に光波形整形用のフィルタ回路を備えており、
前記フィルタ回路に接続された第１の電極パッドと、フィルタ回路に所定電位を供給するための第２の電極パッドとがＩＣチップのパッド設置面にそれぞれ設けられ、これらの第１、第２の電極パッドが、パッド設置面の上から接続ワイヤーで相互に接続されていることを特徴とするＩＣチップ。
【請求項２】
レーザ駆動回路を搭載したＩＣチップにおける、レーザ駆動回路を試験する方法であって、
当該レーザ駆動回路は、出力段に光波形整形用のフィルタ回路を備えており、
前記フィルタ回路に接続された第１の電極パッドと、フィルタ回路に所定電位を供給するための第２の電極パッドとをＩＣチップのパッド設置面にそれぞれ設け、
これらの第１、第２の電極パッドを接続しない状態で、レーザ駆動回路から出力信号を取り出して電気特性の試験を行い、
第１、第２の電極パッドを接続した状態で、レーザ駆動回路から出力信号を取り出してレーザに接続して光特性の試験を行うことを特徴とするＩＣチップの試験方法。
【請求項３】
レーザ駆動回路を搭載したＩＣチップにおいて、
当該レーザ駆動回路は、出力段に光波形整形用のフィルタ回路を備えており、
前記フィルタ回路に接続された第１の電極パッドと、フィルタ回路に所定電位を供給するための第２の電極パッドとがＩＣチップの電極パッド設置面にそれぞれ設けられ、
ＩＣチップの第１のリードピンに前記第１の電極パッドが接続され、ＩＣチップの第２のリードピンに前記第２の電極パッドが接続され、第１及び第２のリードピンがＩＣチップの外部に露出されていることを特徴とするＩＣチップ。
【請求項４】
レーザ駆動回路を搭載したＩＣチップにおける、レーザ駆動回路を試験する方法であって、
当該レーザ駆動回路は、出力段に光波形整形用のフィルタ回路を備えており、
前記フィルタ回路に接続された第１の電極パッドと、フィルタ回路に所定電位を供給するための第２の電極パッドとをＩＣチップのパッド設置面にそれぞれ設け、
ＩＣチップの外部に露出される第１のリードピンに前記第１の電極パッドを接続し、ＩＣチップの外部に露出される第２のリードピンに前記第２の電極パッドを接続し、
これらの第１、第２のリードピンを接続しない状態で、レーザ駆動回路から出力信号を取り出して電気特性の試験を行い、
第１、第２のリードピンを接続した状態で、レーザ駆動回路から出力信号を取り出してレーザに接続して光特性の試験を行うことを特徴とするＩＣチップの試験方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ駆動回路を搭載したレーザ駆動用ＩＣチップ（以下「ＩＣチップ」という）及びその試験方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
レーザ駆動回路の出力段には、通常、光波形整形用のフィルタ回路が設けられている。このフィルタ回路は、レーザ駆動回路の出力トランジスタのコレクタと所定の電位線（電源線、接地電位線など）との間に、並列に接続されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００７９２０５１号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ＩＣチップの製造段階では、レーザ駆動回路の駆動性能を評価試験する必要がある。
この評価試験には２つの方法があって、１つはレーザを接続せず、レーザの代わりに負荷抵抗を接続して、測定器でＩＣチップの出力電流（又は出力電圧）波形を観測する方法である。他の１つは、ＩＣチップの出力端子にレーザダイオードを接続して、光測定器で、レーザダイオードの出力光の光波形を観測する方法である。
【０００５】
実際には、コストやＩＣチップの実装の手間・時間を考慮して、まず、電気波形を評価して、その後、光波形の評価を行う。
この電気波形の評価と光波形の評価とでは、ＩＣチップから見た負荷の抵抗値が異なる。電気波形の評価では測定器の入力抵抗が負荷抵抗となり、光波形の評価ではレーザダイオードの入力抵抗が負荷抵抗となるが、これらの負荷抵抗は、互いに値が異なるのが通常である（通常測定器の入力抵抗の方が高い）。
【０００６】
このため、電気波形の評価結果が、光波形の評価結果と異なることがある。特に、前述のようにＩＣチップの出力段に光波形整形用のフィルタ回路が設けられているので、抵抗値の違いがフィルタ特性に大きく影響を与える。そのために電気波形の評価結果と光波形の評価結果との相違は大きく現れ、評価を誤ることがある。
以上のことを考慮すれば、電気波形の評価ではフィルタ回路を接続しない状態で評価し、光波形の評価では、製品形態そのままのフィルタ回路を接続した状態で評価をすることが好ましい。
【０００７】
ところが、ＩＣチップ内で、フィルタ回路未形成の状態で電気波形の評価を行って、フィルタ回路を形成済みの状態で光波形の評価を行うとすると、レーザ駆動回路の製造工程を一度中断して評価試験をする必要があり、ＩＣチップの製造期間の長期化、それに伴う製造コストの増加という問題が生じる。
そこで、本発明は、ＩＣチップにおいて、レーザ駆動回路の製作工程中での評価試験を必要とすることなく、レーザ駆動回路製作後、電気波形及び光波形の評価を行うことのできるＩＣチップ及びその試験方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明のＩＣチップによれば、ＩＣチップに、フィルタ回路に接続された第１の電極パッドと、フィルタ回路に所定電位を供給するための第２の電極パッドとが、ＩＣチップのパッド設置面にそれぞれ設けられ、これらの第１、第２の電極パッドが、パッド設置面の上から接続ワイヤーで相互に接続されている（請求項１）。
【０００９】
本発明のＩＣチップの試験方法によれば、フィルタ回路に接続された第１の電極パッドと、フィルタ回路に所定電位を供給するための第２の電極パッドとをＩＣチップのパッド設置面にそれぞれ設け、これらの第１、第２の電極パッドを接続しない状態で、レーザ駆動回路から試験用出力信号を取り出して電気特性の試験を行い、第１、第２の電極パッドを接続した状態で、レーザ駆動回路から試験用出力信号を取り出して光特性の試験を行う（請求項２）。
【００１０】
これらの発明によれば、レーザ駆動回路製作後、第１、第２の電極パッドをパッド設置面の上から接続ワイヤーで相互に接続する前に電気波形の評価試験を行えば、フィルタ回路を外した状態で電気波形の評価ができる。そして、第１、第２の電極パッドをパッド設置面の上から接続ワイヤーで相互に接続した後、フィルタ回路を含めた状態で光波形の評価ができる。そして第１、第２の電極パッドを接続ワイヤーで相互に接続したまま、製品化できる。
【００１１】
また、本発明のＩＣチップによれば、フィルタ回路に接続された第１の電極パッドと、フィルタ回路に所定電位を供給するための第２の電極パッドとがＩＣチップの電極パッド設置面にそれぞれ設けられ、ＩＣチップの第１のリードピンに前記第１の電極パッドが接続され、ＩＣチップの第２のリードピンに前記第２の電極パッドが接続され、第１及び第２のリードピンがＩＣチップの外部に露出されている（請求項３）。
【００１２】
また、本発明のＩＣチップの試験方法によれば、フィルタ回路に接続された第１の電極パッドと、フィルタ回路に所定電位を供給するための第２の電極パッドとをＩＣチップのパッド設置面にそれぞれ設け、ＩＣチップの外部に露出される第１のリードピンに前記第１の電極パッドを接続し、ＩＣチップの外部に露出される第２のリードピンに前記第２の電極パッドを接続し、これらの第１、第２のリードピンを接続しない状態で、第１のリードピンから試験用出力信号を取り出して電気特性の試験を行い、第１、第２のリードピン接続した状態で、第１のリードピンから試験用出力信号を取り出して光特性の試験を行う（請求項４）。
【００１３】
これらの発明によれば、レーザ駆動回路製作後、第１及び第２のリードピンを外部から短絡しない状態で電気波形の評価試験を行えば、フィルタ回路を外した状態で電気波形の評価ができる。そして、第１及び第２のリードピンを外部から短絡した状態で、フィルタ回路を含めた状態で光波形の評価ができる。
つまり、通常は１本のリードピンを取り出しているところを、２本のリードピンを取り出して、それらを開放するか短絡するかの条件で、電気波形の評価試験及び光波形の評価試験を行う。なお、このＩＣチップの実使用状態では、これらの２本のリードピンを、基板配線により短絡して使用する必要がある。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
図１は、ＩＣチップに設けられたレーザ駆動回路の中の、出力段増幅回路１の等価回路図である。
出力段増幅回路１は、出力トランジスタＱ１，Ｑ２を備えた差動増幅形式の増幅回路となっていて、フィルタ回路２，３を備えている。
【００１５】
図１において、出力トランジスタＱ１，Ｑ２の共通エミッタは定電流源を通してＧＮＤに接地されている。出力トランジスタＱ１，Ｑ２のうち、一方の出力トランジスタＱ１のコレクタと電源との間に出力端子６が設けられ、他方の出力トランジスタＱ２のコレクタと電源との間に出力端子７が設けられている。出力トランジスタＱ１，Ｑ２の各ベースは前段増幅回路（図示せず）に接続されている。
【００１６】
また、出力トランジスタＱ１，Ｑ２のコレクタには、それぞれ並列型フィルタ回路２，３の一端が接続されている。Ｒ１，Ｃ１はフィルタ回路２を構成する抵抗とコンデンサ、Ｒ２，Ｃ２はフィルタ回路３を構成するコンデンサを表す。フィルタ回路２の他端は、所定電位を供給するための端子８，９に接続される。「所定電位」とは、本実施形態では電源電位をいうが、電源電位以外であることもある。どのような電位に接続するかは、レーザ駆動回路の回路設計に応じて決まることである。
【００１７】
前記出力端子６，７及び端子８，９は、ＩＣチップのパッド設置面に設けられた各電極パッド６〜９に接続されている（端子と電極パッドを区別せず同一の番号を付す）。
―第１の実施形態―
図２は、前記レーザ駆動回路を搭載したＩＣチップ４の斜視図である。このＩＣチップ４は、レーザ駆動回路パターンが完成され、チップごとに切り出され、一部ワイヤー接続済み状態のものを示している。
【００１８】
ＩＣチップ４のパッド設置面５には、複数の電極パッドが設けられている。それらのうちに、前記出力端子６，７にそれぞれ接続された電極パッド６，７と、前記端子８，９にそれぞれ接続された電極パッド８，９とが含まれている。また、電極パッド８，９の近傍に、所定の電位を供給する電極パッド１０，１１が存在する。
電極パッド６はワイヤー３１を介してリードピン２１に接続され、電極パッド７はワイヤー３２を介してリードピン２２に接続されている。このリードピン２１又は２２が、評価試験用及び出力用リードピンとなる。フィルタ回路２，３につながった電極パッド８，９は、この段階ではリードピンに接続されていない。したがって、フィルタ回路２，３は、一端が電気的に開放された状態にある。
【００１９】
次に前記ＩＣチップ４の電気波形及び光波形の評価試験方法を説明する。
前記ＩＣチップ４に電源バイアスをかけた状態で（リードピン２２は電源に直接つなぐものとする）、リードピン２１に測定器（インピーダンス：例えば５０Ω）をつなぎ、試験用入力電気信号をＩＣチップの所定の入力端子に入れる。この状態では、フィルタ回路２，３が外された状態の出力トランジスタＱ１の出力波形を、測定器で観測することができる。
【００２０】
電気波形の観測後、図３に示すように、フィルタ回路２，３につながった電極パッド８，９を、所定の電位を供給する電極パッド１０，１１にワイヤー３４，３５でそれぞれロウ付けして接続する。そして、全体を樹脂１２でパッケージングして、製品を完成させる。
この状態で、光波形の評価試験を行う。ＩＣチップに電源バイアスをかけ、出力用リードピン２１にレーザダイオードを接続し、試験用入力電気信号を所定の入力端子に入れて、フォトダイオード、フォトマルチプライヤ等の光検出器で光信号を検出して、波形を観測する。
【００２１】
以上のようにして、本発明の実施形態では、レーザ駆動回路の回路パターンが完成済みで、一部ワイヤー接続されたＩＣチップに対して電気波形の評価試験を行う。そして、残部のワイヤーを接続し、パッケージングするだけで、光波形の評価試験を行うことができ、ＩＣチップを製品として完成させることができる。したがって、回路パターンの製作を中断して電気波形の評価試験後、回路パターンの製作を続けるという必要がなくなり、ＩＣチップの製造工程の複雑化を避けることができる。
【００２２】
―第２の実施形態―
図４は、レーザ駆動回路を搭載した他の実施形態に係るＩＣチップ４ａの斜視図である。このＩＣチップ４ａは、レーザ駆動回路パターンを完成し、チップごとに切り出し、ワイヤー接続し、樹脂１２でパッケージングして、製品を完成させた状態のものを示している。
ＩＣチップ４ａのパッド設置面５には、複数の電極パッド６〜１１が設けられている。これらの電極パッド６〜１１の機能は、図２を用いて説明したのと同じであるからここでの説明は省略する。
【００２３】
電極パッド６，７はワイヤー３１，３２を介してリードピン２１，２２に接続されている。このリードピン２１又は２２が、評価試験用及び出力用リードピンとなる。フィルタ回路２，３につながった電極パッド８，９は、ワイヤー３０，３３を介してリードピン２０，２４にそれぞれ接続されている。さらに、所定の電位を供給する電極パッド１０，１１は、ワイヤー３４，３５を介してリードピン２５，２６にそれぞれ接続されている。
【００２４】
リードピン２０と２５は電位的に独立しており、リードピン２４と２６も電位的に独立しているので、フィルタ回路２，３は、一端が電気的に開放された状態にある。
このＩＣチップ４ａの電気波形及び光波形の評価試験方法を、図５（ａ）（ｂ）を用いて説明する。
ＩＣチップ４ａに電源バイアスをかけた状態で、図５（ａ）に示すように、リードピン２１に測定器１３をつなぎ、入力電気信号を所定の入力端子に入れると、フィルタ回路２，３が外された状態の出力トランジスタＱ１の出力電気波形を、測定器１３で直接観測することができる。
【００２５】
電気波形の観測後、図５（ｂ）に示すように、リードピン２０，２５同士を接続してフィルタ回路２に所定の電位をかけて駆動状態にし、リードピン２４，２６同士を接続してフィルタ回路３に所定の電位をかけて駆動状態にする。
この状態で、光波形の評価試験を行う。ＩＣチップ４ａに電源バイアスをかけ、出力用リードピン２１にレーザダイオードＬＤを接続し、入力電気信号を所定の入力端子に入れて、フォトダイオードＰＤで光信号を検出して、測定器１３で波形を観測する。
【００２６】
このように、リードピン同士を接続しないでフィルタ回路を外した状態で、電気波形の評価試験を行い、リードピン同士を接続しフィルタ回路を入れた状態で、光波形の評価試験を行うことができる。
なお、リードピン２０，２５同士、リードピン２４，２６同士は、実使用時において短絡状態にしておく必要があるため、このＩＣチップ４ａを搭載する基板配線により短絡する必要がある。
【００２７】
以上で、本発明の実施の形態を説明したが、本発明の実施は、前記の形態に限定されるものではない。例えば、図５（ｂ）において、リードピン２０，２５を接続し、リードピン２４，２６を接続するのに、ワイヤーでそれぞれ短絡配線を行ったが、切替え接続を行うディップスイッチを設け、このディップスイッチの操作によってリードピン同士を開放したり短絡したりすることができる。ディップスイッチを使えば、電気波形の評価試験と光波形の評価試験とを交互に繰り返し行うことができる。その他、本発明の範囲内において、種々の変更を施すことができる。
【００２８】
【発明の効果】
以上のように請求項１又は請求項２に記載の本発明によれば、レーザ駆動回路製作後、第１、第２の電極パッドをパッド設置面の上から接続ワイヤーで相互に接続する前に電気波形の評価ができ、第１、第２の電極パッドをパッド設置面の上から接続ワイヤーで相互に接続した後、フィルタ回路を含めた状態で光波形の評価ができるので、回路パターンの製作を中断して電気波形の評価試験後、回路パターンの製作を続けてＩＣチップを完成させるという必要がなくなり、ＩＣチップの製造工程の複雑化を避けることができる。
【００２９】
請求項３又は請求項４に記載の本発明によれば、製品として完成後、第１及び第２のリードピンを外部から短絡しない状態で電気波形の評価ができ、第１及び第２のリードピンを外部から短絡した状態で、フィルタ回路を含めた状態で光波形の評価ができるので、回路パターンの製作を中断して電気波形の評価試験後、回路パターンの製作を続けてＩＣチップを完成させるという必要がなくなり、ＩＣチップの製造工程の複雑化を避けることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のＩＣチップに設けられたレーザ駆動回路の中の、出力段増幅回路の等価回路図である。
【図２】レーザ駆動回路を搭載した第１の実施形態に係るＩＣチップ４の斜視図である。
【図３】電極パッド８，９を電極パッド１０，１１にワイヤー３４，３５でそれぞれ接続して製品として完成させたＩＣチップの斜視図である。
【図４】レーザ駆動回路を搭載した第２の実施形態に係るＩＣチップ４ａの斜視図である。
【図５】ＩＣチップ４ａの電気波形及び光波形の評価試験方法を説明するための図である。
【符号の説明】
２，３フィルタ回路
４，４ａ  ＩＣチップ
５  パッド設置面
８，９  第１の電極パッド
１０，１１  第２の電極パッド
２０，    ２４  第１のリードピン
２５，２６  第２のリードピン
３４，３５  接続ワイヤー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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