(57)【要約】【目的】他の部品２６等により外部から隠された状態で被検査体に実装された部品２１，２２ついても欠品の検出する。【構成】欠品検査の対象である被検査体２に被検査部品２１，２２等が実装されている。被検査部品２１，２２等には，被検査部品を識別する識別符号が記憶されており，識別符号が欠品検査装置１０に送信される。欠品検査装置１０において，被検査部品２１，２２等から送信された識別符号が受信される。受信された識別符号にもとづいて，被検査体２に実装すべき被検査部品２１，２２等の欠品が検出される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
実装すべき被検査部品を識別する識別符号を記憶する記憶回路，および
上記識別符号を欠品検査装置に送信する送信回路，
を備えた被検査部品。
【請求項２】
上記欠品検査装置から送信された検査信号を受信する受信回路，および
上記受信回路によって検査信号が受信されたことに応じて，上記記憶回路に記憶されている上記識別符号を上記欠品検査装置に送信するように上記送信回路を制御する送信制御回路をさらに備えている，請求項１に記載の被検査部品。
【請求項３】
上記検査信号が，検査対象となる被検査部品ごとに異なるものであって，
上記送信制御回路は，上記受信回路によって受信された上記検査信号が対応する検査信号であるときに上記記憶回路に記憶されている識別符号を上記欠品検査装置に送信させるものである，請求項２に記載の被検査部品。
【請求項４】
請求項１に記載の被検査部品が一または複数個実装されている被検査体。
【請求項５】
被検査体に実装すべき被検査部品から送信され，かつ被検査部品に固有の識別符号を受信する受信回路，および
上記受信回路によって受信された識別符号にもとづいて，上記被検査体に実装すべき被検査部品の欠品を検出する検出回路，
を備えた欠品検査装置。
【請求項６】
上記被検査部品ごとに異なる検査信号を送信する検査信号送信回路をさらに備え，
上記受信回路は，上記検査信号送信回路から送信された検査信号に対応する上記識別符号を受信するものであり，
上記検出回路は，上記受信回路により受信された識別符号にもとづいて，上記被検査体に実装すべき被検査部品の種類および名称の少なくとも一方を検出するものである，請求項５に記載の欠品検査装置。
【請求項７】
被検査体に実装すべき被検査部品から送信され，かつ被検査部品に固有の識別符号を受信し，
上記受信した識別符号にもとづいて，上記被検査体に実装すべき被検査部品の欠品を検出する，
欠品検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この発明は，被検査部品，この被検査部品を実装すべき被検査体および被検査体に実装すべき被検査部品の欠品を検出する欠品検査装置，並びにこれらを用いた欠品検査方法に関する。
【０００２】
【従来技術】
従来は，被検査基板に実装すべき部品の位置に検査ピンが配置された検査板を，被検査基板の部品が実装された面に当接して，検査ピンが押し込まれることで被検査板上に実装された部品の有無を検出している（例えば，特許文献１参照。）。また，被検査基板の部品が実装される位置に発光物を塗布し，光の検出の有無に基づいて欠品部品を検出しているものもある（例えば，特許文献２参照。）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平８−２３２００号公報
【特許文献２】
実開平５−９０９７６号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
被検査体に実装される部品が，他の部品等により覆い被されて外部から隠れた状態となることがある。このような他の部品等により外部から隠された状態で実装された部品についての欠品の検出は，上記の欠品検査装置等または欠品検査方法ではできない。
【０００５】
この発明は，他の部品等により隠されている場合でも欠品を見つけることができるようにすることを目的とする。
【０００６】
【発明の開示】
被検査部品は，実装すべき被検査部品を識別する識別符号を記憶する記憶回路，および上記識別符号を欠品検査装置に送信する送信回路を備えている。この識別符号は被検査部品ごとに異なるものであり，同一の被検査部品には同一の識別符号が与えられる。また，同一の被検査部品であっても被検査体に実装される位置が異なるものにおいては，異なる識別符号を付して記憶させてもよい。
【０００７】
被検査部品から送信される識別符号に基づいて欠品を検査できる。
【０００８】
一または複数個の被検査部品が実装されることにより，被検査部品の欠品を検査すべき被検査体となる。
【０００９】
この発明による欠品検査装置は，被検査体に実装すべき被検査部品から送信され，かつ被検査部品に固有の識別符号を受信する受信回路，および上記受信回路によって受信された識別符号にもとづいて，上記被検査体に実装すべき被検査部品の欠品を検出する検出回路を備えている。
【００１０】
この発明は上記欠品検査装置に適した制御方法も提供している。すなわち，この発明による欠品検査方法は，被検査体に実装すべき被検査部品から送信され，かつ被検査部品に固有の識別符号（信号，データ）を受信し，上記受信した識別符号にもとづいて，上記被検査体に実装すべき被検査部品の欠品を検出するものである。
【００１１】
この発明によると被検査体に実装すべき被検査部品から，被検査部品に固有の識別符号が送信され，欠品検査装置において受信される。受信した識別符号にもとづいて被検査部品の欠品が検出される。
【００１２】
被検査体に実装すべき被検査部品が欠品しているかどうかを検査することができる。被検査部品から送信される識別符号にもとづいて欠品検査を行っているので，他の部品等により外部から隠された状態で被検査体に実装されている被検査部品であっても欠品を検出できる。
【００１３】
好ましくは，欠品検査装置は，上記被検査部品ごとに異なる検査信号を送信する検査信号送信回路をさらに備える。この場合，上記受信回路は，上記検査信号送信回路から送信された検査信号に対応する上記識別符号を受信するものとなろう。また，上記検出回路は，上記受信回路により受信された識別符号にもとづいて，上記被検査体に実装すべき被検査部品の種類および名称の少なくとも一方を検出するものとなろう。
【００１４】
このような欠品検査装置を用いる場合には，被検査体に実装すべき被検査部品は，上記欠品検査装置から送信された検査信号を受信する受信回路，および上記受信回路によって検査信号が受信されたことに応じて，上記記憶回路に記憶されている上記識別符号を上記欠品検査装置に送信するように上記送信回路を制御する送信制御回路をさらに備えるのもとなろう。
【００１５】
これにより欠品検査装置から送信された検査信号が，被検査体に実装されている全ての被検査部品において受信される。被検査体に実装されたそれぞれの被検査部品（一のみ実装されている場合には，その被検査部品）は，検査信号を受信すると識別符号を欠品検査装置に送信する。これにより，被検査部品は，欠品検査装置から検査信号を受信したときに識別符号を欠品検査装置に送信すればよい。
【００１６】
さらに好ましくは，上記検査信号が，検査対象となる被検査部品ごとに異なるものであって，被検査体に実装すべき被検査部品の上記送信制御回路は，上記受信回路によって受信された上記検査信号が対応する検査信号であるときに上記記憶回路に記憶されている識別符号を上記欠品検査装置に送信させるものである。
【００１７】
【実施例の説明】
図１は，被検査体上に実装すべき部品の欠品を検査するための欠品検査システムの電気的構成を示している。
【００１８】
欠品検査装置１０は，無線タグ・リーダ１１および無線タグ・リーダ１１と互いに通信可能な欠品検査管理サーバ１２を備えている。
【００１９】
欠品検査管理サーバ１２の全体は，制御装置１３によって統括される。制御装置１３には送受信装置１４，検査ＩＤメモリ１５，欠品ＩＤメモリ１６，表示装置１７，およびタイマ１８が接続されている。送受信装置１４は，無線タグ・リーダ１１と通信するものである。検査ＩＤメモリ１５は，被検査体２に実装すべき被検査部品の検査タグＩＤ（後述する）を予め全て記憶しているものである。欠品ＩＤメモリ１６には，後述する欠品検査処理により得られた検査タグＩＤが記憶される。表示装置１７は，欠品した部品の検査タグＩＤを表示するものである。タイマ１８は，所定時間を計測するものである。無線タグ・リーダ１１は，被検査体２に実装された被検査部品に装着された無線タグに記憶されている後述する自己タグＩＤを読み取るものである。
【００２０】
被検査体２には，基板３上に，実装すべき部品であって欠品検査の対象となる５つの異なる被検査部品２１〜２４，２６と，３つの同一の被検査部品２５Ａ，２５Ｂ，２５Ｃと，実装すべき部品であって欠品検査の対象でない部品４とが実装されている。実装すべき部品であって欠品検査の対象となる部品２１〜２４，２５Ａ，２５Ｂ，２５Ｃおよび２６には，被検査部品ごとに異なる部品識別符号ＩＤ００１〜ＩＤ００４，ＩＤ００５，ＩＤ００６，ＩＤ００７およびＩＤ００８（これらを自己タグＩＤという）がそれぞれ付されている。３つの同一の被検査部品２５Ａ，２５Ｂおよび２５Ｃには，それぞれ異なるタグＩＤ，ＩＤ００５，ＩＤ００６およびＩＤ００７が付されているが同じ自己タグＩＤが付されるようにしてもよい。これらの部品識別符号は，被検査部品に装着された無線タグに記憶されている。
【００２１】
この実施例のおいては，自己タグＩＤが被検査体２から欠品検査装置１０に送信される。欠品検査装置１０によって，受信されていない自己タグＩＤに基づいて欠品している被検査部品が検出される。
【００２２】
図２は，被検査体の分解斜視図を示すものである。基板３には，欠品検査対象とならない部品４と欠品検査の対象となる被検査部品２１〜２４，２５Ａ，２５Ｂ，２５Ｃおよび２６とが実装されている。これらの被検査部品２１〜２４，２５Ａ，２５Ｂ，２５Ｃおよび２６には，上述のようにそれぞれを識別するための固有の部品識別符号（自己タグＩＤ）を記憶した無線タグ２１ａ〜２４ａ，２５ａ，２５ｂ，２５ｃおよび２６ａが装着されている。無線タグ２１ａ〜２４ａ，２５ａ，２５ｂ，２５ｃおよび２６ａは，電子回路および検査タグＩＤの受信および自己タグＩＤの送信を行うためのアンテナを有する（図示略）。電子回路は，自己タグＩＤを記憶するタグＩＤメモリおよび受信した検査タグＩＤとタグＩＤメモリに記憶された自己タグＩＤとが同一であるかどうかを判断し，同一である場合には，自己タグＩＤ（を示すデータ）を欠品検査装置に送信させる制御回路を内蔵している。
【００２３】
図３は，欠品検査装置１０の欠品検査管理サーバ１２の欠品検査処理手順を示すフローチャートである。図４は，欠品検査装置１０の無線タグ・リーダ１１の処理手順を示すフローチャートである。図５は，被検査体２の各々の被検査部品（無線タグ）の処理手順を示すフローチャートである。
【００２４】
欠品検査処理を行う場合には，欠品検査管理サーバ１２の制御装置１３では，欠品ＩＤメモリ１６に記憶された検査タグＩＤがリセットされる。検査ＩＤメモリ１５に記憶されている被検査部品の数（検査タグＩＤの数）が，検査タグＩＤの総数としてセットされる。検査ＩＤメモリ１５に記録されている被検査部品の自己タグＩＤ（例えばタグＩＤ００１〜ＩＤ００８）に対応する検査タグＩＤが検査ＩＤメモリ１５から読み出される。送信済みの検査タグＩＤの数ｎがリセットされる（図３ステップ３０）。送信済の検査タグＩＤの数ｎが検査タグＩＤの総数よりも小さいかどうかの判定が行われる（図３ステップ３１）。
【００２５】
送信済の検査タグＩＤの数ｎが検査タグＩＤの総数よりも小さい場合には（図３ステップ３１でＹＥＳ），（ｎ＋１）番目の検査タグＩＤが送受信装置１４によって，無線タグ・リーダ１１に送信される（図３ステップ３２）。また，タイマ１８によって計時が開始される。
【００２６】
欠品検査管理サーバ１２から送信された（ｎ＋１）番目の検査タグＩＤが無線タグ・リーダ１１において受信されると（図４ステップ４０でＹＥＳ），受信された（ｎ＋１）番目の検査タグＩＤは，無線タグ・リーダ１１から被検査体２のそれぞれの被検査部品２１〜２４，２５Ａ，２５Ｂ，２５Ｃおよび２６に送信される（図４ステップ４１）。
【００２７】
被検査体２の各々の被検査部品２１〜２４，２５Ａ，２５Ｂ，２５Ｃおよび２６の無線タグ２１ａ〜２４ａ，２５ａ，２５ｂ，２５ｃおよび２６ａにおいて，（ｎ＋１）番目の検査タグＩＤが受信される（図５ステップ５０でＹＥＳ）。被検査部品のそれぞれの無線タグ２１ａ〜２４ａ，２５ａ，２５ｂ，２５ｃおよび２６ａの電子回路に内蔵された制御回路において，この受信した（ｎ＋１）番目の検査タグＩＤと無線タグに記憶されている自己タグＩＤとが同一であるどうかの判定がされる（図５ステップ５１）。
【００２８】
同一であると判断された被検査部品の無線タグの電子回路に内蔵された制御回路によって，無線タグの電子回路に内蔵されたタグＩＤメモリに記憶されている自己タグＩＤ（（ｎ＋１）番目の検査タグＩＤと同一のもの）が無線タグ・リーダ１１に送信される（図５ステップ５２）。
【００２９】
無線タグ・リーダ１１によって，被検査部品から送信された自己タグＩＤが受信されると（図４ステップ４２でＹＥＳ），受信した自己タグＩＤが検査装置１０の欠品検査管理サーバ１２に送信される（図４ステップ４３）。
【００３０】
欠品検査管理サーバ１２の制御装置１３は，タイマ１８によって計測された時間が予め設定された時間内（例えば１秒程度）に，被検査部品２の無線タグからの（ｎ＋１）番目の検査タグＩＤに対応する自己タグＩＤが受信される（図３ステップ３３ＹＥＳ）と，送信済み検査タグＩＤの数ｎに１がインクレメントされる。（図３ステップ３５）。また，タイマ１８がリセットされる（図３ステップ３６）。受信がされない場合（図３ステップ３３ＮＯ）には，（ｎ＋１）番目の検査タグＩＤが欠品ＩＤメモリ１６に記憶される（図３ステップ３４）。
【００３１】
送信済の検査タグＩＤの数が検査タグＩＤの総数に等しくなるまで以上の処理が繰返される。送信済の検査タグＩＤの数ｎが検査タグＩＤの総数以上になった場合には（図３ステップ３１でＮＯ），欠品検査処理が終了する。制御装置３では，欠品ＩＤメモリ１６に検査タグＩＤが記憶されているかどうかが判定される（図３ステップ３７）。
【００３２】
検査タグＩＤが記憶されていると判断した場合（図３ステップ３７でＹＥＳ）には，制御装置１３は，記憶した検査タグＩＤを表示装置１７に表示させる（図３ステップ３８）。タグＩＤが記憶されていないと判断した場合（図３ステップ３７でＮＯ）には，欠品のない旨を表示装置１７に表示させる（図３ステップ３９）。
【００３３】
このように無線タグ２１ａ〜２４ａ，２５ａ，２５ｂ，２５ｃおよび２６ａを被検査部品２１〜２４，２５Ａ，２５Ｂ，２５Ｃおよび２６に装着することにより，欠品検査をすることができる。さらに，部品２６を部品２１および２２を覆い被せるように実装されている場合であっても，外部からは検出できない部品２１および２２について，欠品しているか否かの検査をすることができる。
【００３４】
検査ＩＤメモリ１５には，検査タグＩＤに対応させて部品名，種類等を記憶しておいてもよい。これにより，表示装置１７には，検査タグＩＤに基づいて欠品部品の部品名，種類等を表示させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】被検査体上に実装されるべき部品の欠品を検査するための欠品検査システムの構成を示している。
【図２】被検査体の分解斜視図を示している。
【図３】欠品検査装置の欠品検査管理サーバの欠品検査処理手順を示すフローチャートである。
【図４】欠品検査装置の無線タグ・リーダの処理手順を示すフローチャートである。
【図５】被検査体の各々の被検査部品の処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
２  被検査体
１０  欠品検査装置
１１  無線タグ・リーダ
１２  欠品検査管理サーバ
１３  制御装置
１４  送受信装置
１６  検査ＩＤメモリ
２１〜２４，２５Ａ，２５Ｂ，２５Ｃ，２６  被検査部品
２１ａ〜２４ａ，２５ａ，２５ｂ，２５ｃ，２６ａ  無線タグ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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