(57)【要約】【課題】高速記録を行う場合やマージンの小さいディスクを使用する場合にも、常に最適な記録条件で情報の記録を行うことが可能な情報記録再生装置及び情報記録方法を提供する。【解決手段】情報記録装置は、例えばＤＶＤ−ＲＷなどの記録媒体にレーザ光を照射し、ディスク上に記録マークを形成することにより情報の記録を行う。制御手段は、実際の記録に先だって、所定のテスト記録データを記録媒体上に記録するテスト記録を行う。テスト記録においては、記録データに基づいて記録パルス信号を生成し、これにより光源を駆動してデータを記録する。このテスト記録においては記録パルス信号中のクーリングパルスのレベルを変更しつつ記録が行われる。そして、テスト記録データを再生して再生信号を生成し、再生信号の波形を評価し、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを最適クーリングレベルとして設定する。これにより、実際に記録の対象となる記録媒体の特性に応じて決定された最適クーリングレベルに従ってその後の実際の記録を行うことができるようになる。【選択図】　　　図３
2004055115.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体にレーザ光を照射して、記録データに応じた記録マークを形成する情報記録装置において、
前記レーザ光を出射する光源と、
前記記録データに基づいて記録パルス信号を生成し、前記光源を駆動することにより、前記記録媒体上にレーザパルスを照射する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、
クーリングパルスのレベルであるクーリングレベルを変更しつつ所定のテスト記録データを記録するテスト記録手段と、
前記テスト記録データを再生して再生信号を生成する再生手段と、
前記再生信号の波形に基づいて、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを決定し、最適クーリングレベルとして設定する設定手段と、を備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項２】
前記記録媒体に対して予め用意されている記録条件情報を取得する取得手段をさらに備え、
前記テスト記録手段は、前記記録条件情報に含まれるクーリングパルス幅よりも広いクーリングパルス幅を有する前記記録パルス信号を用いて、前記テスト記録データを記録することを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項３】
前記テスト記録手段は、前記テスト記録データとして、短マーク／短スペースの記録データ区間と長マーク／長スペースの記録データ区間を交互に記録することを特徴とする請求項１又は２に記載の情報記録装置。
【請求項４】
前記設定手段は、
前記再生信号の波形からβ値を算出するβ値算出手段と、
β値とアシンメトリー値との相関関係を記憶している記憶手段と、
算出されたβ値と前記相関関係とに基づいて、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを前記最適クーリングレベルに決定する手段と、を備えることを特徴とする請求項３に記載の情報記録装置。
【請求項５】
前記β値算出手段は、前記短マーク／短スペースの記録データの再生信号波形の中央レベルと、前記長マーク／長スペースの記録データの再生信号波形の中央レベルとに基づいて前記β値を算出することを特徴とする請求項４に記載の情報記録装置。
【請求項６】
前記短マーク／短スペースの記録データは最短マーク／最短スペースの記録データであり、前記長マーク／長スペースの記録データは信号レベルが最大振幅に達し、かつ、ひずみが生じないマーク／スペース長の記録データ区間であることを特徴とする請求項３乃至５のいずれか一項に記載の情報記録装置。
【請求項７】
前記テスト記録手段は、前記テスト記録データとして、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマーク／スペースを含む記録データを記録し、
前記設定手段は、
前記再生信号の波形からアシンメトリー値を算出する手段と、
算出されたアシンメトリー値が目標アシンメトリー値と一致するクーリングレベルを前記最適クーリングレベルに決定する手段と、を備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の情報記録装置。
【請求項８】
前記テスト記録手段は、前記クーリングレベルを低い値から高い値へと変更することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一項に記載の情報記録装置。
【請求項９】
前記テスト記録手段は、前記テスト記録データのうち最初の第１の所定量の期間については、前記クーリングレベルを変化させずにテスト記録を行うことを特徴とする請求項１乃至８のいずれか一項に記載の情報記録装置。
【請求項１０】
前記クーリングレベルを変化させずに記録されたテスト記録データの最初の部分のデータのうち、前記第１の所定量以下の第２の所定量の期間は、前記最適クーリングレベルの決定には用いないことを特徴とする請求項９に記載の情報記録装置。
【請求項１１】
前記記録媒体はＤＶＤ−ＲＷであり、前記テスト記録手段は、前記ＤＶＤ−ＲＷのＰＣＡ内において、ＰＣＡとＰＭＡの境界位置から内周側へ向かって順に前記テスト記録データを記録することを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の情報記録装置。
【請求項１２】
記録媒体にレーザ光を照射して、記録データに応じた記録マークを形成する情報記録方法において、
クーリングパルスのレベルであるクーリングレベルを変更しつつ所定のテスト記録データを記録するテスト記録工程と、
前記テスト記録データを再生して再生信号を生成する再生工程と、
前記再生信号の波形に基づいて、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを決定し、最適クーリングレベルとして設定する設定工程と、
記録データに基づいて、前記最適クーリングレベルに設定された前記クーリングパルスを含む記録パルス信号を生成し、光源を駆動することにより、前記記録媒体上に情報を記録する情報記録工程と、を有することを特徴とする情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光線などを利用して光ディスクに情報を記録する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷ（ＤＶＤ−ＲｅＲｅｃｏｒｄａｂｌｅ）などの書き込み又は書き換え可能な光ディスクは、ディスクの記録面上にレーザ光を照射して情報を記録する。光ディスクの記録面上のレーザ光が照射された部分は、温度が上昇するために光ディスクを構成する光記録媒体に変化が生じ、これにより記録マークが記録面上に形成される。
【０００３】
よって、記録すべき情報に応じた時間幅を有する記録パルスでレーザ光を変調して記録すべき信号に応じた長さのレーザパルスを生成し、これを光ディスクに照射することにより、記録すべき情報に応じた長さの記録マークを光ディスク上に形成することができる。
【０００４】
一方、最近では１つの記録マークを１つのレーザパルスで形成するのではなく、複数の短いパルスを含むパルス列により記録マークを形成する手法が利用されている。このような手法はライトストラテジーとも呼ばれ、単一の記録パルスを照射する方法に比べて、光ディスクの記録面上における熱蓄積が減少するので、記録マークが形成される記録面上の温度分布を均一化することができる。その結果、記録マークが涙滴形状となることを防止して好ましい形状の記録マークを形成することができる。
【０００５】
上記の記録パルス列は、例えばＤＶＤ−Ｒの場合、所定のリード（読取）パワーレベルとライト（書き込み）パワーレベルとの間で振幅が変動する複数のパルスにより構成されている。即ち、記録データに従って、記録マークを形成しない光ディスクの記録面上の領域（以下、「スペース期間」とも呼ぶ。）ではリードパワーでレーザ光が記録面上に照射され、記録マークを形成すべき光ディスクの記録面上の領域（以下、「マーク期間」とも呼ぶ。）では、リードパワーとライトパワーの間で振幅が変化する記録パルス列に応じたパワーでレーザ光が記録面上に照射され、それにより記録マークが記録面上に形成される。また、ＤＶＤ−ＲＷの場合、記録パルス列は、リードパワーレベル、過去に記録された記録マークを消去するためのイレース（消去）パワーレベル、ライトパワーレベル、及び、クーリングパワーレベル（通常はリードパワーレベルに等しい）という４つのパワーレベル間で振幅が変化する波形を有する。
【０００６】
上記のようなディスクは、様々なメーカーにより製造されており、メーカー毎、さらには製品毎にディスク自体の有する特性は異なっている。このため、各ディスクに対して記録を行う際に最適な記録パワーやライトストラテジーはディスク毎に異なっている。通常、ディスク毎の特性を考慮して、最適と考えられる記録パワーやライトストラテジーの情報（以下、「記録条件情報」と呼ぶ。）が予め用意されている。１つの方法では、そのような記録条件情報は、ＬＰＰ（ＬａｎｄＰｒｅ−Ｐｉｔ）情報に含めてディスク上に記録されている。また、他の方法では、記録条件情報が、ディスクを再生する記録装置のマイクロコンピュータ内に記憶されている。この場合、ディスクには製造者ＩＤが記録されており、記録装置のマイクロコンピュータ内には、製造者ＩＤと対応つけて、そのディスクの記録条件情報が記録されている。よって、ディスクに情報を記録する際には、記録装置はＬＰＰ情報中に含まれる記録条件情報を読み取り、それに従って記録を行うか、又は、ディスクに記録されている製造者ＩＤに対応する記録条件情報を記録装置のマイクロコンピュータから取得して、それに従って記録を行う。こうして、ディスクの製造者などが推奨する記録条件で情報の記録を行うことができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
上述のような記録条件の決定方法によれば、ディスクの特性におけるマージン（許容範囲）が十分に広いので概ね適正な情報記録が可能となるものの、記録時のレーザパワーの調整誤差やパルス出射などの記録装置固有のばらつき、ディスク個々の特性のばらつきなどに起因して、実際に記録された信号の品質には多少のばらつきが生じている。よって今後記録速度の高速化が進むと、通常記録速度では十分に広かったディスクのマージンが相対的に狭くなるため、適正な記録が行えなくなる可能性もある。また、ＤＶＤ−ＲＷの普及に伴い、様々な製造者により製造された様々な特性のディスクが市場に出回るようになると、中にはマージンの狭いディスクが存在することも考えられ、そのようなディスクでは適正な情報記録が保証できなくなることも十分考えられる。
【０００８】
本発明は、以上の点に鑑みてなされたものであり、高速記録を行う場合やマージンの小さいディスクを使用する場合にも、常に最適な記録条件で情報の記録を行うことが可能な情報記録装置及び情報記録方法を提供することを課題とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明の１つの観点では、記録媒体にレーザ光を照射して、記録データに応じた記録マークを形成する情報記録装置は、前記レーザ光を出射する光源と、前記記録データに基づいて記録パルス信号を生成し、前記光源を駆動することにより、前記記録媒体上にレーザパルスを照射する制御手段と、を備え、前記制御手段は、クーリングパルスのレベルであるクーリングレベルを変更しつつ所定のテスト記録データを記録するテスト記録手段と、前記テスト記録データを再生して再生信号を生成する再生手段と、前記再生信号の波形に基づいて、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを決定し、最適クーリングレベルとして設定する設定手段と、を備える。
【００１０】
上記の情報記録装置は、例えばＤＶＤ−ＲＷなどの記録媒体にレーザ光を照射し、ディスク上に記録マークを形成することにより情報の記録を行う。制御手段は、実際の記録に先だって、所定のテスト記録データを記録媒体上に記録するテスト記録を行う。テスト記録においては、記録データに基づいて記録パルス信号を生成し、これにより光源を駆動してデータを記録する。このテスト記録においては記録パルス信号中のクーリングパルスのレベルを変更しつつ記録が行われる。そして、テスト記録データを再生して再生信号を生成し、再生信号の波形を評価し、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを最適クーリングレベルとして設定する。これにより、実際に記録の対象となる記録媒体の特性に応じて決定された最適クーリングレベルに従ってその後の実際の記録を行うことができるようになる。
【００１１】
上記の情報記録装置の一態様は、前記記録媒体に対して予め用意されている記録条件情報を取得する取得手段をさらに備え、前記テスト記録手段は、前記記録条件情報に含まれるクーリングパルス幅よりも広いクーリングパルス幅を有する記録パルス信号を用いて前記テスト記録データを記録する。この態様によれば、使用する記録媒体に対して予め用意されている記録条件情報が、例えばディスク上から、又は、ディスク上に記録されている製造者ＩＤなどに基づいて取得される。そして、取得した記録条件情報に含まれるクーリングパルス幅よりも広いクーリングパルス幅の記録パルス信号で、テスト記録を行う。テスト記録では、クーリングパルスレベルを変更しつつ記録を行うので、最終的に得られる最適クーリングレベルが、取得した記録条件情報に含まれるクーリングレベルに対して大小いずれの方向にずれていたとしても、確実に最適クーリングレベルを決定することが可能となる。
【００１２】
上記の情報記録装置のさらに他の一態様では、前記テスト記録手段は、前記テスト記録データとして、短マーク／短スペースの記録データ区間と長マーク／長スペースの記録データ区間を交互に記録することができる。これにより、クーリングレベルを変化させた場合に各マーク長のデータに与える影響を評価することが可能となる。
【００１３】
上記の情報記録装置のさらに他の一態様では、前記設定手段は、前記再生信号の波形からβ値を算出するβ値算出手段と、β値とアシンメトリー値との相関関係を記憶している記憶手段と、算出されたβ値と前記相関関係とに基づいて、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを前記最適クーリングレベルに決定する手段と、を備えることができる。この態様では、テスト記録データを再生して得られる再生信号の波形からβ値を算出し、β値とアシンメトリー値との相関関係から、目標アシンメトリー値を与えるクーリングレベルを決定することができる。よって、全マーク／スペース長の記録データを記録してテスト記録を行わなくても、目標アシンメトリー値を与える最適クーリングレベルを決定することが可能となる。
【００１４】
１つの好適な例では、β値算出手段は、前記短マーク／短スペースの記録データの再生信号波形の中央レベルと、前記長マーク／長スペースの記録データの再生信号波形の中央レベルとに基づいて前記β値を算出するようにしてもよい。また、前記短マーク／短スペースの記録データを最短マーク／最短スペースの記録データとし、前記長マーク／長スペースの記録データを、信号レベルが最大振幅に達し、かつ、ひずみが生じないマーク／スペース長の記録データとしてもよい。
【００１５】
また、上記の情報記録装置のさらに他の一態様では、前記テスト記録手段は、前記テスト記録データとして、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマーク／スペースを含む記録データを記録し、前記設定手段は、前記再生信号の波形からアシンメトリー値を算出する手段と、算出されたアシンメトリー値が目標アシンメトリー値と一致するクーリングレベルを前記最適クーリングレベルに決定する手段と、を備えることができる。この態様では３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔの全マーク／スペース長のデータをテスト記録し、これを再生してアシンメトリー値を計算して、目標アシンメトリー値を与えるクーリングレベルを決定するので、最適クーリングレベルを正確に得ることが可能となる。
【００１６】
上記の情報記録装置のさらに他の一態様では、前記テスト記録手段は、前記クーリングレベルを低い値から高い値へと変更することとしてもよい。このように、低いクーリングレベルからテスト記録を始めれば、アシンメトリーが深い状態からテスト記録が開始されるので、テスト記録したデータの読み取りを容易に開始することができる。
【００１７】
上記の情報記録装置のさらに他の一態様では、前記テスト記録手段は、前記テスト記録データのうち最初の第１の所定量の期間については、前記クーリングレベルを変化させずにテスト記録を行うこととしてもよい。また、前記クーリングレベルを変化させずに記録されたテスト記録データの最初の部分のデータのうち、前記第１の所定量以下の第２の所定量の期間は、前記最適クーリングレベルの決定には用いないようにすることができる。これにより、テスト記録データの最初の部分の再生時に生じうる過渡応答の影響を受けずに、テスト記録データを評価することが可能となる。
【００１８】
好ましくは、前記記録媒体はＤＶＤ−ＲＷであり、前記テスト記録手段は、前記ＤＶＤ−ＲＷのＰＣＡ内において、ＰＣＡとＰＭＡの境界位置から内周側へ向かって順に前記テスト記録データを記録する。これにより、ＰＣＡを有効に利用してテスト記録を行うことができる。
【００１９】
本発明の他の観点では、記録媒体にレーザ光を照射して、記録データに応じた記録マークを形成する情報記録方法において、クーリングパルスのレベルであるクーリングレベルを変更しつつ所定のテスト記録データを記録するテスト記録工程と、前記テスト記録データを再生して再生信号を生成する再生工程と、前記再生信号の波形に基づいて、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを決定し、最適クーリングレベルとして設定する設定工程と、前記最適クーリングレベルに設定された前記クーリングパルスを含む記録データに基づいて光源を駆動することにより、前記記録媒体上に情報を記録する情報記録工程と、を有する。
【００２０】
上記の情報記録方法によれば、例えばＤＶＤ−ＲＷなどの記録媒体にレーザ光を照射し、ディスク上に記録マークを形成することにより情報の記録を行う。実際の記録に先だって、所定のテスト記録データを記録媒体上に記録するテスト記録が行われる。テスト記録においては、記録データに基づいて記録パルス信号を生成し、これにより光源を駆動してデータを記録する。このテスト記録においては記録パルス信号中のクーリングパルスのレベルを変更しつつ記録が行われる。そして、テスト記録データを再生して再生信号を生成し、再生信号の波形を評価し、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルを最適クーリングレベルとして設定する。これにより、実際に記録の対象となる記録媒体の特性に応じて決定された最適クーリングレベルに従ってその後の実際の記録を行うことができるようになる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
本発明では、ＤＶＤ−ＲＷに対して情報の記録を行う際、実際の記録に先立ってテスト記録を行い最適な記録条件を決定する。その際、記録パルス信号中のクーリングパルスのレベルを変化させてテスト記録を行うことにより、記録信号の再生波形のアシンメトリーが最適な値となるようなクーリングパルスのレベルを求めて記録条件を決定する。
【００２２】
以下、図面を参照して本発明の好適な実施の形態について説明する。
【００２３】
［情報記録再生装置の構成］
まず、本発明を適用した情報記録再生装置の構成について説明する。図１に、本発明の実施形態にかかる情報記録再生装置の全体構成を概略的に示す。情報記録再生装置１は、光ディスクＤに情報を記録し、また、光ディスクＤから情報を再生する。光ディスクＤは例えば複数回にわたって消去及び記録が可能なＤＶＤ−ＲＷとすることができる。
【００２４】
情報記録再生装置１は、光ディスクＤに対して記録ビーム及び再生ビームを照射する光ピックアップ２と、光ディスクＤの回転を制御するスピンドルモータ３と、光ディスクＤへの情報の記録を制御する記録制御部１０と、光ディスクに既に記録されている情報の再生を制御する再生制御部２０と、スピンドルモータ３の回転を制御するスピンドルサーボ、並びに光ピックアップ２の光ディスクＤに対する相対的位置制御であるフォーカスサーボ及びトラッキングサーボを含む各種サーボ制御を行うためのサーボ制御部３０と、を備える。
【００２５】
記録制御部１０は、記録データを受け取り、後述の処理により光ピックアップ２内部のレーザダイオードを駆動するための駆動信号ＳＤを生成して、これを光ピックアップ２へ供給する。
【００２６】
再生制御部２０は、光ピックアップ２から出力される読取ＲＦ信号Ｓｒｆを受け取り、これに対して所定の復調処理、復号化処理などを施して再生信号を生成して出力する。
【００２７】
サーボ制御部３０は、光ピックアップ２からの読取ＲＦ信号Ｓｒｆを受け取り、これに基づいてトラッキングエラー信号及びフォーカス信号などのサーボ信号Ｓ１を光ピックアップ２へ供給するとともに、スピンドルサーボ信号Ｓ２をスピンドルモータ３へ供給する。これにより、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボなどの各種サーボ処理が実行される。
【００２８】
なお、本発明は主として記録制御部１０における記録に関するものであり、再生制御及びサーボ制御については既知の種々の方法が適用できるので、それらについての詳細な説明は行わない。
【００２９】
また、図１は本発明の１つの実施形態として情報記録再生装置を例示しているが、本発明は記録専用の情報記録装置に適用することも可能である。
【００３０】
図２に、光ピックアップ２及び記録制御部１０の内部構成を示す。図２に示すように、光ピックアップ２は、光ディスクＤに対して情報を記録するための記録ビーム及び光ディスクＤから情報を再生するための再生ビームを生成するレーザダイオード（ＬＤ）１１と、レーザダイオード１１から出射されたレーザ光を受光して、レーザ光に対応するレーザパワーレベル信号Ｓ１０を出力するフロントモニタダイオード（ＦＭＤ）１６とを備える。
【００３１】
なお、光ピックアップ２は、この他に再生ビームの光ディスクＤによる反射ビームを受光して読取ＲＦ信号Ｓｒｆを生成するための光検出器や、記録ビーム及び再生ビーム並びに反射ビームを適切な方向に案内する光学系などの既知の構成要素を備えるが、それらの図示及び詳細な説明は省略する。
【００３２】
一方、記録制御部１０は、レーザダイオード（ＬＤ）ドライバ１２と、ＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ　Ｐｏｗｅｒ　Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路１３と、サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路１４と、コントローラ１５と、バッファ１７とを備える。
【００３３】
ＬＤドライバ１２は、記録データに応じた電流をレーザダイオード（ＬＤ）１１に供給して、光ディスクＤへ情報の記録を行う。図２に示すように、ＬＤドライバ１２は、電圧／電流（Ｖ／Ｉ）変換器１２１と、インターフェース（Ｉ／Ｆ）１２２と、Ｄ／Ａコンバータ１２３及び１２４と、ドライバ１２５及び１２６と、スイッチＳＷ１及びＳＷ２とを備える。
【００３４】
サンプルホールド回路１４は、サンプルホールド信号Ｓ５により規定されるタイミングでレーザパワーレベル信号Ｓ１０のレベルをサンプルし、ホールドする。
【００３５】
ＡＰＣ回路１３は、サンプルホールド回路１４の出力信号Ｓ１１に基づき、ＬＤドライバ１２のパワー制御を行う。具体的には、レーザ光のイレースパワーレベルＰｅ又はリードパワーレベルＰｒが一定となるようにＬＤドライバ１２の制御を行う。
【００３６】
コントローラ１５は、主として記録動作とＡＰＣ制御とを行う。図２に示すように、コントローラ１５は、スイッチング制御部１５１と、記録レベル制御部１５４と、ＡＰＣ制御部１５５とを備える。
【００３７】
スイッチング制御部１５１は、ライトパルス生成部１５２と切換信号生成部１５３とを備え、コントローラ１５へ入力される記録データに基づいて、ＬＤドライバ１２内のスイッチＳＷ１及びＳＷ２のスイッチング信号Ｓ１及びＳ２を生成する。
【００３８】
記録レベル制御部１５４は、リードパワーレベル、ライトパワーレベル、イレースパワーレベルなどを決定するための記録レベル信号Ｓ３を生成し、ＬＤドライバ１２のＩ／Ｆ１２２へ供給する。
【００３９】
ＡＰＣ制御部１５５は、ＡＰＣループによるサーボ制御の目標値であるＡＰＣ目標値Ｓ４を生成してＡＰＣ回路１３へ供給するとともに、サンプルホールド回路１４によるサンプル及びホールドのタイミングを示すサンプルホールド信号Ｓ５をサンプルホールド回路１４へ供給する。
【００４０】
なお、上記の構成例では、サンプルホールド回路１４を利用してＡＰＣループを構成しているが、サンプルホールド回路１４に代えてボトムホールド回路を使用し、フロントモニタダイオード１６から出力されるレーザパワーレベル信号Ｓ１０のボトム値を利用してＡＰＣサーボを実行することも可能である。
【００４１】
［記録パルス波形］
次に、本発明の情報記録再生装置で使用する記録パルス波形について説明する。図３（ａ）に、いわゆるマルチパルスタイプのライトストラテジーを適用した記録パルス波形の例を示す。
【００４２】
図３（ａ）に示すように、記録データは、マーク期間（記録マークを形成する期間）とスペース期間（記録マークを形成しない部分）により構成される。図３（ａ）は７Ｔのマーク期間を例示している。本発明の実施形態のマルチパルスタイプの記録パルス波形は、マーク期間内にトップパルスとマーク期間の長さに応じた数の個別パルスとを含む。例えば長さ３Ｔのマークに対応する記録パルス波形のマーク期間はトップパルスと１つの個別パルスを有し、４Ｔの長さのマーク期間はトップパルスと２つの個別パルスを有し、５Ｔの長さのマーク期間はトップパルスと３つの個別パルスを含む。図３（ａ）に示す７Ｔのマーク期間は、１つのトップパルス６０と、５つの個別パルス６１を有する。なお、以下の説明ではトップパルス６０及び複数の個別パルス６１により構成される部分を総称してマルチパルス期間６２とも呼ぶことがある。
【００４３】
記録パルス波形のパワーレベルは、レーザ出力をオフとした場合のレーザオフレベルＰｏ（レーザ出力パワー＝０）と、記録データを読み取るためのリードパワーレベルＰｒと、記録データを消去するためのイレースパワーレベルＰｅと、データを記録するためのライトパワーレベルＰｗのいずれかとなる。図３（ａ）に示すように、マーク期間においては、マルチパルス期間６２を構成する各パルス６０及び６１は、リードパワーレベルＰｒとライトパワーレベルＰｗとの間で変化する。また、マーク期間終了後には、クーリングパルス６３が設けられる。クーリングパルス６３は、マーク期間中のレーザ照射により温度上昇したディスクを冷却するための期間であり、クーリングパルス６３のレーザパワーレベル（以下「クーリングレベル」と呼ぶ。）Ｐｃｌは一般的にはリードパワーレベルＰｒと等しい。なお、スペース期間において、クーリングパルス６３の期間以外は記録パルス波形は後述のＡＰＣ制御によりイレースパワーレベルＰｅに維持される。
【００４４】
［記録／再生時の動作］
次に、図２に示す記録制御部１０が光ピックアップ２を利用して行う記録制御について説明する。記録制御部１０は、大別して記録／再生制御とＡＰＣ制御とを実行する。
（１）記録／再生制御
まず、記録／再生制御について説明する。記録動作では、コントローラ１５内の記録レベル制御部１５４は、電流Ｉ２〜Ｉ４を生成するための記録レベルデータＳ３をＬＤドライバ１２へ供給する。電流Ｉ２〜Ｉ４は、図３（ａ）に示す記録パルス波形のイレースパワーレベルＰｅ、ライトパワーレベルＰｗ、及びクーリングレベルＰｃｌを作り出すために使用される。
【００４５】
図４に、レーザダイオード１１に供給される駆動電流Ｉとレーザ出力パワーとの関係を示す。レーザダイオード１１に駆動電流Ｉ１を供給することによりリードパワーＰｒが得られ、駆動電流（Ｉ１＋Ｉ２）を供給することによりイレースパワーＰｅが得られ、駆動電流（Ｉ１＋Ｉ３）を供給することによりライトパワーＰｗが得られる。また、レーザダイオード１１に駆動電流（Ｉ１＋Ｉ４）を供給することによりクーリングレベルＰｃｌが得られる。
【００４６】
記録レベル信号Ｓ３のうち、電流Ｉ２に対応するデータはＬＤドライバ１２内のＩ／Ｆ１２２を通じて、Ｄ／Ａコンバータ１２３へ供給される。Ｄ／Ａコンバータ１２３は対応するアナログ信号を生成し、それによりドライバ１２５を駆動して電流Ｉ２を生成してスイッチＳＷ１へ供給する。一方、記録レベル信号Ｓ３のうち、電流Ｉ３に対応するデータはＬＤドライバ１２内のＩ／Ｆ１２２を通じて、Ｄ／Ａコンバータ１２４へ供給される。Ｄ／Ａコンバータ１２４は、対応するアナログ信号を生成し、それによりドライバ１２６を駆動して電流Ｉ３を生成してスイッチＳＷ２へ供給する。さらに、記録レベル信号Ｓ３のうち、電流Ｉ４に対応するデータはＬＤドライバ１２内のＩ／Ｆ１２２を通じて、Ｄ／Ａコンバータ１２７へ供給される。Ｄ／Ａコンバータ１２７は、対応するアナログ信号を生成し、それによりドライバ１２８を駆動して電流Ｉ３を生成してスイッチＳＷ３へ供給する。
【００４７】
コントローラ１５内のスイッチング制御部１５１は、記録データに基づいてスイッチング信号Ｓ１、Ｓ２及びＳ６を生成する。具体的には、ライトパルス生成部１５２が図３（ａ）に示す記録データに基づいて、複数のパルス列から構成されるライトパルス信号を生成し、これをスイッチング信号Ｓ２としてＬＤドライバ１２へ供給する。また、切換信号生成部１５３は、記録データに基づいて、記録データ中のマルチパルス期間６２中にレベルがオフとなるデータを生成し、これをスイッチング信号Ｓ１としてＬＤドライバ１２へ供給する。さらに、クーリング期間生成部１５７は、記録データに基づいてクーリング期間を示すデータを生成し、これをスイッチング信号Ｓ６としてスイッチＳＷ３に供給する。
【００４８】
ＬＤドライバ１２内では、電流Ｉ１がＶ／Ｉ変換器１２１からレーザダイオード１１へ供給されている。図３（ａ）に示すように、電流Ｉ１は記録パルス信号のリードパワーレベルＰｒを規定している。
【００４９】
図３（ａ）を参照すると、マーク期間中のマルチパルス期間６２においては、マルチパルス期間６２においてレベルがオフとなるスイッチング信号Ｓ１によりスイッチＳＷ１が制御される。よって、マーク期間中のマルチパルス期間６２以前はレーザパワーレベルがイレースパワーレベルＰｅに維持される。また、マルチパルス期間６２では、スイッチＳＷ１はオフとなり、電流Ｉ２はレーザダイオード１１に供給されなくなる。また、マーク期間中は、ライトパルス信号と同様のスイッチング信号Ｓ２によりスイッチＳＷ２が制御されるので、ライトパルス信号に従ってスイッチＳＷ２が切り換えられて電流Ｉ３が周期的にレーザダイオード１１に供給される。その結果、図３（ａ）に示すように、マルチパルス期間６２においては、リードパワーレベルＰｒ（電流Ｉ１のみに対応する）と、ライトパワーレベルＰｗ（電流Ｉ１＋Ｉ３に対応する）の間でレベルが周期的に変化する記録パルス波形が得られる。
【００５０】
一方、スペース期間ではライトパルス生成部１５２はライトパルスを生成しないため、スイッチＳＷ２は常にオフとなり、電流Ｉ３はレーザダイオード１１に供給されない。切換信号生成部１５３から出力されるスイッチング信号Ｓ１によりスイッチＳＷ１が切り換えられ、スペース期間ではスイッチＳＷ１は常にオンとなり、電流Ｉ２がレーザダイオード１１に供給される。よって、スペース期間では、図３（ａ）に示すように、記録パルス信号はイレースパワーレベルＰｅ（電流Ｉ１＋Ｉ２に対応する）に維持される。
【００５１】
また、クーリングパルス６３の期間は、ライトパルス生成部１５２からのスイッチング信号Ｓ２及び切換信号生成部１５３からのスイッチング信号Ｓ１によりスイッチＳＷ１及びＳＷ２はいずれもオフとされ、クーリング期間生成部１５７が生成するスイッチング信号Ｓ６によりスイッチＳＷ３がオンとされる。これにより、電流Ｉ４がレーザダイオード１１に供給され、記録パルス信号はクーリングレベルＰｃｌとされる。
【００５２】
一方、再生時は、常に電流Ｉ１のみがレーザダイオード１１に供給され、記録パルス信号はリードパワーレベルＰｒを維持する。これにより、記録データの再生が行われる。
【００５３】
（ＩＩ）ＡＰＣ制御
次に、ＡＰＣ制御について説明する。サンプルホールド回路を利用したＡＰＣ制御は、再生時、及び記録時のスペース期間においてＡＰＣ制御のための信号生成が実行され、記録時のマーク期間には実行されない。ＡＰＣ制御は、レーザダイオード１１、フロントモニタダイオード１６、バッファ１７、サンプルホールド回路１４、ＡＰＣ回路１３及びＶ／Ｉ変換器１２１により構成されるＡＰＣループにより実行される。
【００５４】
ＤＶＤ−ＲＷの場合、イレースパワーレベルの期間など、ＡＰＣ制御が実行される期間では、レーザダイオード１１により出力されるレーザ光のレベルがイレースパワーレベルＰｅに維持されるように、ＬＤドライバ１２からレーザダイオード１１に供給されるバイアス電流Ｉ１のレベルを調整する。より詳細には、記録データ（８−１６変調されており、３Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔの長さのマーク期間及びスペース期間を有する）のスペース期間のうち、長いスペース期間（例えば５Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔのスペース期間）中において、イレースパワーレベルＰｅが一定となるようにＬＤドライバ１２からのバイアス電流Ｉ１を調整する。
【００５５】
具体的には以下のように動作する。コントローラ１５は、上述のように記録データに対応する記録パルス信号を生成し、当該記録パルス信号に従ってＬＤドライバ１２を駆動してレーザダイオード１１からレーザ光を出射させる。
【００５６】
フロントモニタダイオード１６は、光ピックアップ２内のレーザダイオード１１の近傍に配置され、レーザダイオード１１から出射したレーザ光を受光してそのレベルを示すレーザパワーレベル信号Ｓ１０を生成し、バッファ１７を介してサンプルホールド回路１４に供給する。
【００５７】
サンプルホールド回路１４は、コントローラ１５のＡＰＣ制御部１５５から供給されるサンプルホールド信号Ｓ５により与えられるタイミングで、フロントモニタダイオード１６から供給されるレーザパワーレベル信号Ｓ１０をサンプルし、そのレベルを所定期間ホールドする。コントローラ１５から出力されるサンプルホールド信号Ｓ５は、ＡＰＣ制御のための信号生成を実行する期間を示すパルスであり、具体的には、記録データ中の比較的長いスペース期間（５Ｔ〜１１Ｔ）中の所定期間（ＡＰＣを実行する期間であり、以下「ＡＰＣ期間」とも呼ぶ。）を示すパルス信号である。よってサンプルホールド回路１４は、記録パルス信号のスペース期間中のＡＰＣ期間においてレーザパワーレベル信号Ｓ１０のレベルをホールドしてＡＰＣ回路１３へ供給する。
【００５８】
ＡＰＣ回路１３には、コントローラ１５内のＡＰＣ制御部１５５からＡＰＣ目標値Ｓ４が供給されている。ＡＰＣ目標値Ｓ４は、ＡＰＣにより維持すべきレーザ光のレベルを示す値であり、記録中は、この例ではイレースパワーレベルＰｅに対応する値である。ＡＰＣ回路１３は、ＡＰＣ期間におけるレーザパワーレベル信号Ｓ１０のレベルが、ＡＰＣ目標値Ｓ４により示される一定レベルとなるように、ＬＤドライバ１２内のＶ／Ｉ変換器１２１へ制御信号Ｓ１２を供給する。Ｖ／Ｉ変換器１２１は、入力された制御信号Ｓ１２により示される電圧を電流に変換し、バイアス電流Ｉ１を出力する。このとき、レーザダイオード１１には、スイッチＳＷ１を介して電流Ｉ２も供給されている。よって、レーザダイオード１１はスペース期間において、Ｉ１＋Ｉ２で駆動され、そのときの出力がイレースパワーレベルＰｅとなるようにＡＰＣループが形成される。温度その他の要因でレーザダイオード１１が出力するレーザ光の出力レベルが変動すると、その変動分を吸収するようにＡＰＣループが動作してバイアス電流Ｉ１を変化させる。その結果、イレースパワーレベルの期間において記録パルス波形はＡＰＣにより常にイレースパワーレベルＰｅに維持されることになる。このときＩ２はＰｅ−Ｐｒに相当する固定値であり、Ｉ１のみがレーザダイオード１１に与えられたときの出射レベルは概ねＰｒとなる。
【００５９】
一方、再生時は、レーザ光の出力レベルをリードパワーレベルＰｒに維持するようにＡＰＣ制御がなされる。よって、ＡＰＣ回路１３へ供給されるＡＰＣ目標値Ｓ４はリードパワーレベルＰｒに対応する値とされ、電流Ｉ１に基づいてレーザダイオード１１が出力したレベルがリードパワーレベルＰｒと一致するようにＡＰＣループが動作する。
【００６０】
［記録条件決定処理］
次に、本発明の特徴部分である記録条件決定処理について説明する。本発明の情報記録再生装置では、ディスクＤへの情報記録に先立ち、テスト記録を行って最適な記録条件を決定する。
【００６１】
まず、テスト記録を実行するディスクＤ上の領域について説明する。図５にディスクＤの記録フォーマットを概略的に示す。ディスクＤは、Ｒ−Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎエリアと、リードインエリアと、記録エリアと、リードアウトエリアを備える。Ｒ−Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎエリアは、そのディスクＤへの記録のために必要な各種データを記録するための領域であり、ＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ　Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ　Ａｒｅａ）とＲＭＡ（Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ　Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ　Ａｒｅａ）とを含む。
【００６２】
本発明によるテスト記録はこのＰＣＡにおいて行われる。具体的には、ＰＣＡとＲＭＡの境界部を開始位置とし、そこからアドレス上はＰＣＡ内を戻るように（即ちディスク内周方向へ）順にテスト記録を行う。図５の例では、テスト記録は、エリアＥ１、Ｅ２、．．という順に行われる。このようにテスト記録を行う理由は以下の通りである。ディスクには基本的にＰＣＡエリア内にもＬＰＰにアドレス情報が記録されているが、ディスクによってはそのアドレス情報を取得できない場合も多い。一方、ＰＣＡとＲＭＡの境界のアドレスはどのようなディスクでも取得することができる。情報記録再生装置のコントローラ１５は、ディスクのＰＣＡ内のテスト記録開始位置を一時的に記憶してテスト記録を行い、その開始位置から再生を行って後述の最適記録条件を決定する。よって、特にＰＣＡの最後尾からテスト記録を開始しなくても、コントローラ１５はテスト記録を行った位置を記憶しているので、テスト記録したデータを再生するという点では支障は無いのであるが、ＰＣＡは限られているので、毎回任意の位置からテスト記録を行うと、ＰＣＡを無駄に消費することになりかねない。そこで、ＰＣＡとＲＭＡの境界部からディスク内周方向へ順にテスト記録を行うのである。テスト記録を行った領域を再生するとＲＦ信号が得られるが、テスト記録を行っていない領域からはＲＦ信号は得られない。よって、最初のテスト記録はＰＣＡとＲＭＡの境界部から行い、その後はＰＣＡとＲＭＡの境界部からディスク内周方向へ再生を行って、ＲＦ信号が検出されなくなった位置から次のテスト記録を行えば、ＰＣＡを順序よく、無駄なく使用することができる。
【００６３】
次に、テスト記録の詳細について説明する。本発明では、記録パルス信号のクーリングレベルを変化させてテスト記録を行うことにより、最適なクーリングレベルを決定する。図３（ｂ）にクーリングレベルを変化させる例を示す。図３（ａ）に示すように、一般的にはＤＶＤ−ＲＷの記録パルス信号においてクーリングレベルＰｃｌはリードパワーレベルＰｒに等しい。本発明では、図３（ｂ）に示すように、クーリングレベルＰｃｌをリードパワーレベルＰｒとイレースパワーレベルＰｅとの間の所定範囲内で変化させてテスト記録を行い、予め決定された目標アシンメトリーが得られるクーリングレベルＰｃｌを決定する。なお、「アシンメトリー」とは、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔの全ての記録マーク／スペースを記録した場合の再生信号における短マーク／短スペースと長マーク／長スペースのセンターレベルのずれ度合いを示すパラメータである。
【００６４】
図６はテスト記録の方法を模式的に示した図であり、ＰＣＡ内の１セクタ分の領域を使用して１回のテスト記録が行われる。１セクタは２６フレームであり、この中に長マーク／長スペースと短マーク／短スペースのデータ区間を繰り返し記録する。図６に示す例では、長マーク／長スペースとして１１Ｔマーク／１１Ｔスペースを使用し、短マーク／短スペースとして３Ｔマーク／３Ｔスペースを使用している。即ち、ＰＣＡ内の１セクタ分の領域に、１１Ｔマーク／１１Ｔスペースのデータ区間と、３Ｔマーク／３Ｔスペースのデータ区間を交互に記録する。その際、図３（ｂ）に示したように、記録する１１Ｔマーク及び３Ｔマークの記録データのクーリングレベルを変化させる。図６における符号５０はテスト記録された１１Ｔマーク／１１Ｔスペースのデータ区間の再生波形を模式的に示しており、１１Ｔマーク／１１Ｔスペースに対応する再生波形の繰り返しが含まれている。また、符号５２はテスト記録された３Ｔマーク／３Ｔスペースのデータ区間の再生波形を模式的に示しており、３Ｔマーク／３Ｔスペースに対応する再生波形の繰り返しが含まれている。テスト記録は、図に示すように、低いクーリングレベルから順に行われる。ここで、テスト記録データ区間の組み合わせのうち最初の３周期は、クーリングレベルを最小レベルＬ１としてテスト記録を行う。そして、テスト記録データの４周期目からは、クーリングレベルを１段階ずつ増加してテスト記録を行う。つまり、クーリングレベルは、Ｌ１から順にＬ１１までの１１段階にわたって増加される。
【００６５】
なお、図６において、最初の３周期においてクーリングレベルをＬ１に固定している理由は、再生信号中の過渡応答の影響を除去する目的で最初の２周期のテスト記録データは評価に使用しないからである。テスト記録は前述のようにＰＣＡ内で行われるが、テスト記録を開始する直前の位置にどのようなデータが記録されているか（データが未記録の場合もある）は未知であり、例えばデータが未記録であるような場合は、テスト記録部分の前後を再生すると、再生信号は無信号状態から急にテスト記録データの再生信号に変化することになり、再生信号上に過渡応答が発生する。よって、最初の２周期分のデータは、テスト記録時に記録は行うが、テスト記録データの再生時には評価を行わず、３周期目の記録データから評価を行う。このため、３周期目のテスト記録データをクーリングレベルＬ１とし、それから順に１３周期目までクーリングレベルを上昇させている。
【００６６】
図６における再生波形５０及び５２の縦方向位置は信号レベルを示している。よって、３Ｔマーク／３Ｔスペースの記録データは、テスト記録の際のクーリングレベルの増加に伴ってアシンメトリーが低下することがわかる。
【００６７】
このようにして、ＰＣＡの１セクタ分の領域に、クーリングレベルを徐々に増加させながら１１Ｔマーク／１１Ｔスペースの繰り返しと、３Ｔマーク／３Ｔスペースの繰り返しとを交互に１フレームずつテスト記録する。テスト記録が完了すると、テスト記録したデータを読み取り、評価して最適なクーリングレベルを決定することになる。
【００６８】
次に、最適なクーリングレベルを決定する方法を説明する。最適なクーリングレベルは、予め決定されている目標アシンメトリー値が得られるときのクーリングレベルである。即ち、正しいデータ記録が保証できるアシンメトリー値を予め目標アシンメトリー値として決定しておき、それが得られるように記録パルス信号のクーリングレベルを決定するのである。
【００６９】
従って、テスト記録した記録データを再生してアシンメトリー値を計算し、目標アシンメトリー値が得られるときのクーリングレベルを最適なクーリングレベルとすればよいのであるが、前述のようにテスト記録は３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔの全てのデータを含む記録データを使用して行われてはおらず、３Ｔ及び１１Ｔのデータのみを便宜的に使用して行われているので、３Ｔ及び１１Ｔの記録データのみを使用したテスト記録データを再生しても、直接的にアシンメトリー値を得ることはできない。そこで、テスト記録に使用して３Ｔ及び１１Ｔの記録データからβ値を計算し、β値とアシンメトリー値の相関関係に基づいて、そのテスト記録条件におけるアシンメトリー値を評価する。
【００７０】
図７にβ値の算出方法を概略的に示す。図６に示すように１１Ｔマーク／１１Ｔスペースの記録データと３Ｔマーク／３Ｔスペースの記録データをＰＣＡ内に記録した後、その記録データを再生した際の再生波形を図７に示している。ここで、３Ｔマーク／３Ｔスペースの記録データを再生した再生信号波形５４について、そのセンターレベル（トップレベルとボトムレベルの中央）を例えば平均化演算により計算し、まず３Ｔセンターレベルを求める。次に、求められた３Ｔセンターレベルを基準レベルとして１１Ｔマーク／１１Ｔスペースの記録データの再生信号波形５６を評価し、トップレベルと基準レベルとのレベル差Ａ１と、ボトムレベルと基準レベルとのレベル差Ａ２をそれぞれ計算する。そして、β＝（Ａ１−Ａ２）／（Ａ１＋Ａ２）の式によりβ値を算出する。
【００７１】
上記の式から分かるように、β値は１１Ｔマーク／１１Ｔスペースの記録データと、３Ｔマーク／３Ｔスペースの記録データの再生信号におけるセンターレベル差を示す値であり、アシンメトリー値とは相関関係を有する。例えば、あるディスクにおいては、β値が０％〜１０％の間で変化すると、アシンメトリー値が０％〜５％の間で変化するという相関関係がある。このような相関関係自体は、記録に使用するディスク個々の特性に依存するものであるが、同一の製品であればほぼ同一の相関関係が成り立つ。この相関関係は、例えば製品毎に、β値とアシンメトリー値の対応表などの形態で予め設定し、情報記録再生装置内に記憶しておく。
【００７２】
これにより、テスト記録の評価時には、テスト記録データを再生して各クーリングレベルについてβ値を求め、それを予め用意された相関関係に当てはめることにより、そのクーリングレベルに対応するアシンメトリー値が得られる。そして、予め決定されている目標アシンメトリー値を実現するクーリングレベルを、最適なクーリングレベルと決定する。
【００７３】
なお、上記の例では、β値を算出する際に使用するレベル差Ａ１及びＡ２（図７参照）は、１１Ｔマーク／１１Ｔスペースのテスト記録データの再生信号波形５６から、ピークホールド及びボトムホールド回路によりピーク値及びボトム値を得て算出している。その代わりに、ピーク及びボトムをホールドするのではなく、再生信号波形５６が安定している数カ所のレベル値をサンプルホールドしてβ値を算出することもできる。また、再生信号波形５６を平均化し、平均化信号のレベルに基づいてβ値を算出することも可能である。
【００７４】
［記録条件決定処理］
次に、図８を参照して、上述のテスト記録を含む記録条件決定処理を説明する。記録条件決定処理は、本発明の情報記録再生装置を使用して、ディスクに情報記録を行う前に実行される処理であり、そのディスクについての最適な記録条件を決定するための処理である。この処理は、基本的には、記録制御部１０内の前述のコントローラ１５が、予め用意されたプログラムを実行することにより行う。
【００７５】
まず、コントローラ１５は、情報記録再生装置１にディスクがセットされているか否かを検出する（ステップＳ１）。ディスクがセットされていることが検出されると、次にコントローラ１５はそのディスクから、記録条件情報を取得する（ステップＳ２）。具体的には、そのディスクのＬＰＰに記録条件情報が含まれている場合には、コントローラ１５はその記録条件情報を読み取ればよい。また、別の方法として、コントローラ１５はそのディスクから製造者ＩＤを読み取り、予め情報記録再生装置１内に記憶されている各種ディスクの記録条件情報のうちその製造者ＩＤに対応するものを取得することもできる。記録条件情報は、そのディスクに情報を記録する際に適当なライトストラテジーの情報及びレーザパワーの情報などであり、例えばトップパルス、個別パルス及びクーリングパルスの各パルス幅、並びに、ライトパワーレベルＰｗ、リードパワーレベルＰｒ、イレースパワーレベルＰｅなどの各パワーレベルの情報を含む。
【００７６】
次に、コントローラ１５はテスト記録条件を設定する（ステップＳ３）。具体的には、ステップＳ２で取得した各パワーレベル及びパルス幅を設定する。ここで、クーリングパルスについては、コントローラ１５は、取得したクーリングパルスのパルス幅を広げる変更を行う。例えば、ステップＳ２でディスクから取得した記録条件情報にクーリングパルス幅が０．６Ｔと規定されていた場合、テスト記録で使用する記録データのクーリングパルス幅を例えば０．８Ｔに設定する。これは、目標アシンメトリーを与えるクーリングレベルを効率的かつ確実に発見するために行われる処理である。ディスク上に記録されている記録条件情報はディスク製造者などが提供する条件であり、基本的には各ディスクの最適記録条件と考えてよい。よって、仮にディスクから取得したクーリングレベルよりも多少低いクーリングレベルにおいて目標アシンメトリーが得られる状態であると仮定すると、ディスクから取得したクーリングレベルからクーリングレベルを増加させてテスト記録を行えば、目標アシンメトリーが得られるクーリングレベルから離れる方向にクーリングレベルを変化させてテスト記録を行うことになり、目標アシンメトリーを得られるクーリングレベルを見つけることができなくなる。よって、ディスクから取得したクーリングパルス幅よりも少しパルス幅を広くした状態で段階的にクーリングレベルを増加させつつテスト記録を行えば、目標アシンメトリーが得られるクーリングレベルよりも低いクーリングレベルからテスト記録を開始し、それより高いクーリングレベルまで順にテスト記録を行うことができる。そのようにしてテスト記録した記録データを再生して評価すれば、目標アシンメトリーが得られるクーリングレベルを決定できる可能性が高くなる。
【００７７】
こうして、クーリングパルス幅を広げるとともにテスト記録条件の設定が終わると、次に、コントローラ１５はテスト記録においてクーリングレベルを変更する範囲を決定する（ステップＳ４）。クーリングレベルを変更する範囲は、例えば図６に示す例ではクーリングレベルＬ１から１１段階に決定されている。
【００７８】
次にコントローラ１５は、そうして決定されたテスト記録条件及びクーリングレベル範囲において、前述のようにテスト記録を実行する（ステップＳ５）。テスト記録においては、図２に示す記録レベル制御部１５４がＬＤドライバ１２へ信号Ｓ３を供給して、ステップＳ４で決定されたクーリングレベル範囲内でレーザダイオード１１に供給される電流Ｉ４を段階的に増加させ、クーリングパルス６３期間中のクーリングレベルを変化させながら１１Ｔマーク／１１Ｔスペース及び３Ｔマーク／３Ｔスペースのテスト記録データを記録する。
【００７９】
そして、コントローラ１５は、テスト記録により記録した記録データを読み取って再生信号を取得し（ステップＳ６）、その結果を分析する。結果の分析は、コントローラ１５が再生信号に基づいて、各クーリングレベルに対して図７に示す手法でβ値を算出し、前述のβ値とアシンメトリー値との相関関係を利用して各クーリングレベルに対応するアシンメトリー値を算出する。そして、コントローラ１５は、予め決められた目標アシンメトリー値を与えるクーリングレベルがあるか否かを判定する（ステップＳ７）。目標アシンメトリー値を与えるクーリングレベルがあれば、コントローラ１５はそのクーリングレベルを最適なクーリングレベルに設定し、記録条件を確定させる（ステップＳ８）。こうして、そのディスクに対する最適な記録条件が得られる。
【００８０】
一方、ステップＳ７で、目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルがなかった場合、処理はステップＳ３に戻る。即ち、コントローラ１５は、再度クーリングパルス幅を変更し、ステップＳ３〜Ｓ７の処理を繰り返す。最初のテスト記録において目標アシンメトリーを与えるクーリングレベルが見つからなかったということは、そのテスト記録において設定されたクーリングレベルの範囲が適切でなかったということを意味する。よって、コントローラ１５は、ステップＳ３でクーリングパルス幅をさらに広くするか又は狭くし、又は、クーリングレベルをそれ以外の範囲に設定して再度テスト記録を行う。こうして、最終的にステップＳ７において目標アシンメトリー値が得られるクーリングレベルが得られるまで、ステップＳ３〜Ｓ７の処理は繰り返し行われることになる。また、所定回数繰り返しても目標アシンメトリーが得られない場合は、ステップＳ２で取得した記録条件情報に従い記録条件を確定する。
【００８１】
以上のように、本発明の情報記録再生装置においては、ディスクから得られる記録条件に基づいて、クーリングパルスのレベルを変更しつつテスト記録を行い、実際にテスト記録データの再生信号波形を分析することにより、最適なクーリングレベルを確定する。そして、実際の情報記録においては、そうして確定されたクーリングレベルを含む記録条件で記録を行う。従って、実際のディスクの特性のばらつきなどの影響を受けることなく、常に最適な条件で情報記録を行うことが可能となる。
【００８２】
［変形例］
上記の例では、テスト記録は所定の短マーク／短スペース及び長マーク／長スペースとして、３Ｔマーク／３Ｔスペースと１１Ｔマーク／１１Ｔスペースの組み合わせを使用したが、テスト記録で使用する記録データはこの組み合わせには限定されない。例えば、ディスクによっては、１１Ｔマークなどの長マークの再生信号が歪みを生じやすい傾向を有するものがある。そのようなディスクの場合には、長マーク／長スペースとして例えば１０Ｔマーク／１０Ｔスペースや９Ｔマーク／９Ｔスペースを使用してテスト記録を行うこともできる。その場合、それらのテスト記録データから算出されるβ値とアシンメトリー値との相関関係を用意しておき、それに基づいて目標アシンメトリーを与えるクーリングレベルを決定すればよい。
【００８３】
また、そのような特定のマーク長のデータのみを用いてテスト記録を行うのではなく、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔを含む実際の記録データをテスト記録して、その再生信号から直接的にアシンメトリー値を算出して評価することも可能である。この方法は、ディスクのＰＣＡの消費が多くなるものの、β値との相関関係を利用するのではなく、直接的にアシンメトリー値を算出することができるので、目標アシンメトリー値を与えるクーリングレベルを決定する際の精度は向上する。
【００８４】
上記の実施形態では、クーリングパワーレベルＰｃｌを、リードパワーレベルＰｒとイレースパワーレベルＰｅとの間の所定範囲で変化させテスト記録を行ったが、例えばリードパワーレベルＰｃｌ以下の値など、先述の範囲外で変化させても構わない。また、クーリングパワーレベルの幅を広げてテスト記録を行ったが、クーリングパワーレベルＰｃｌをリードパワーレベルＰｅ以下にする場合などは、クーリングパワーレベル幅を広げなくても構わない。これらの変形例は適宜組み合わせて構成しても構わない。
【００８５】
また、本発明のテスト記録ではクーリングレベルを変化させているが、クーリングレベルを変更することにより、記録波形の変調度を変えずにアシンメトリーを変えることができる。図９に、クーリングレベルを変化させた場合のアシンメトリー及び変調度の変化を示すグラフの一例を示す。図９から理解されるように、クーリングレベルを変化させると、アシンメトリーは変化するが、変調度はほぼ一定値を保っている。即ち、本発明によるテスト記録は、変調度を変化させることなく、アシンメトリーを変化させて最適なクーリングレベルを決定することが可能である。よって、本発明によるテスト記録は、例えば最適な変調度や記録パワーなどを決定するための他のテスト記録を行った後で実行することもでき、各種のテスト記録などと併用が可能である。
【００８６】
また、本実施の形態ではＤＶＤ−ＲＷで説明を行ったが、本発明はＤＶＤ＋ＲＷなど他のメディアに対しても適用可能である。
【００８７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、パワー調整誤差やパルス出射レベルなどの情報記録再生装置側の特性のばらつきや、ディスク個々の特性のばらつきなどがある場合、もしくはディスク自体のマージンが小さい場合でも、テスト記録により最適なクーリングレベルを決定するので、常に最適な記録条件で記録を行うことができる。また、最適なクーリングレベルを得るためのテスト記録は、ディスクに対応して決定されている記録条件に基づいて行われるので、概ね適正なパワーやライトストラテジーを基準としてクーリングレベルのみを変化させて行われることになり、記録特性への影響を最小限に抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用した情報記録再生装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す記録制御部の構成を示すブロック図である。
【図３】記録データ波形の例を示す波形図である。
【図４】レーザダイオードのレーザ出力特性を示すグラフである。
【図５】ディスクの記録フォーマットを示す図である。
【図６】テスト記録方法の一例を示す図である。
【図７】テスト記録データの再生信号波形からβ値を算出する方法を示す説明図である。
【図８】本発明の記録条件決定処理を示すフローチャートである。
【図９】クーリングレベルを変化させた場合のアシンメトリ−及び変調度の変化を示すグラフである。
【符号の説明】
１　情報記録再生装置
２　光ピックアップ
３　スピンドルモータ
１０　記録制御部
１２　ＬＤドライバ
１３　ＡＰＣ回路
１４　サンプルホールド回路
１５　コントローラ
１６　フロントモニタダイオード
２０　再生制御部
３０　サーボ制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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