(57)【要約】【課題】表示パネルと回路基板との電気的な接続状態を簡便に確認でき、かつ、不具合モードおよび表示パネルと回路基板の接続端子に位置ズレが発生したときの位置ズレの向きを検出することができる表示装置を提供する。【解決手段】表示パネル１０の接続端子部にダミー電極１７ａ〜１７ｃを設け、回路基板１３の接続端子部にダミー電極１９ａ〜１９ｃを設ける。表示パネルの第１電極２と回路  基板１３の電極１６とが接続されているとき、これらのダミー電極１７、１９の互いに対応する電極同士が電気的に接続するように、ダミー電極１７、１９を配置する。さらに、表示パネル１０側のダミー電極１７は両端の電極１７ａ、１７ｃ間は導通し、中央の電極１７ｂは他の電極と非導通状態となるパターンとする。また、回路基板１３側のダミー電極１９ａ〜１９ｃはそれぞれが電気的に独立したパターンとする。【選択図】        図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示パネル（１０）と該表示パネルを駆動するための集積回路が搭載された回路基板（１３）とを有し、前記表示パネルの接続端子部（１０ａ）に設けられた複数の第１接続端子（２）と前記回路基板の接続端子部（１３ａ）に設けられた複数の第２接続端子（１６）の互いに対応する端子同士が接続手段（１１、２０）を介して電気的に接続されてなる表示装置において、
第１接続端子と第２接続端子の接続状態を検査するために、前記表示パネルの接続端子部に３個以上の第１のダミー電極（１７ａ、１７ｂ、１７ｃ）が設けられ、前記回路基板の接続端子部における前記第１のダミー電極に対応する位置に第２のダミー電極（１９ａ、１９ｂ、１９ｃ）が設けられ、互いに対応する前記第１のダミー電極と前記第２のダミー電極同士が電気的に接続されており、
前記第１のダミー電極および前記第２のダミー電極のうち一方は、いずれかの端から奇数番目の電極同士が導通状態であって、偶数番目の電極が前記奇数番目の電極と非導通状態であるパターンを有するものであり、他方は、それぞれの電極が電気的に独立したパターンを有するものであることを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記第１および第２のダミー電極はそれぞれ３個の電極より構成されていることを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記接続手段としてフレキシブルプリント配線板（２０）を用い、
前記フレキシブルプリント配線板と前記回路基板との間の接続状態を検査するために、前記フレキシブルプリント配線板の接続端子部に３個以上の第３のダミー電極（２２ａ、２２ｂ、２２ｃ）が設けられ、前記回路基板の接続端子部における前記第３のダミー電極に対応する位置に第４のダミー電極（２３ａ、２３ｂ、２３ｃ）が設けられ、互いに対応する前記第３のダミー電極と前記第４のダミー電極同士が電気的に接続されており、
前記第３のダミー電極および第４のダミー電極のうち一方は、いずれかの端から奇数番目の電極同士が導通状態であって、偶数番目の電極が前記奇数番目の電極と非導通状態であるパターンを有するものであり、他方は、それぞれの電極が電気的に独立したパターンを有するものであることを特徴とする請求項１または２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記第３および第４のダミー電極はそれぞれ３個の電極より構成されていることを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記電気的に独立したパターンを有するダミー電極には、検査パッド（Ａ、Ｂ、Ｃ）が設けられていることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１つに記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）表示装置、液晶表示装置、プラズマ表示装置等の表示装置に関するものであり、特に表示パネルと回路基板の接続構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ＥＬ表示装置、液晶表示装置、プラズマ表示装置等の表示装置は、表示パネルとこれを駆動するための集積回路が搭載された回路基板とが電気的に接続された構成となっている。
【０００３】
この表示パネルと回路基板との電気的な接続は、例えば、表示パネルに設けられた外部接続用端子と、回路基板に設けられた電極端子とを対向させ、異方性導電接着剤やゴムコネクタ等の接続手段を用いて接続することで行われる。
【０００４】
表示パネルと回路基板との接続工程では、上述のように表示基板と回路基板とを接続した後、外部接続用端子と電極端子とが良好に接続されているかどうか検査している。
【０００５】
そして、この検査を容易に行う方法としては、表示パネルと回路基板とに検査用のダミー電極を設け、これらのダミー電極同士の導通、非導通を調べることで、表示パネルと回路基板との接続状態を判断する方法がある。（例えば、特許文献１、２参照）。
【０００６】
この方法では、表示パネルの外部接続用端子と回路基板の電極端子とが良好に接続しているときでは、表示パネルおよび回路基板のダミー電極同士が接続するようにダミー電極を配置し、また、外部接続用端子と電極端子とが非導通状態、もしくは外部接続用端子と電極端子との接続が不十分となるときでは、各ダミー電極同士が非接続となるようにダミー電極を配置する。
【０００７】
そして、表示パネルのダミー電極と回路基板のダミー電極との間の導通、非導通状態を検査することで、外部接続用端子と電極端子の位置ズレの有無およびその程度を容易に判断することができる。
【０００８】
【特許文献１】
特開平７−１４６４８２号公報
【０００９】
【特許文献２】
特開平９−９０３９８号公報
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した方法は、表示パネルの外部接続用端子と回路基板の電極端子との位置ズレの発生の有無および位置ズレの程度を認識できるように、両基板に各ダミー電極を配置していたことから、これら両端子の位置ズレによる非導通状態もしくは接続が不十分な状態であるような不具合しか検出することができず、隣同士の端子間の短絡という不具合まで認識することができなかった。
【００１１】
また、表示パネルの接続端子の位置と回路基板の電極端子の位置とにずれが発生した場合、どちらの方向に位置ズレが生じたかまで検出することができなかった。このため、位置ズレが発生しても、接続の不具合を無くすように、製造工程に迅速にフィードバックして、設備や治具の設定、調整をすることができなかった。
【００１２】
本発明は上記点に鑑みて、表示パネルと回路基板との電気的な接続状態を簡便に確認でき、かつ、その電気的な接続における各種の不具合モードおよび表示パネルと回路基板の接続端子に位置ズレが発生したとき、その位置ズレの向きを検出することができる表示装置を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明では、第１接続端子と第２接続端子の接続状態を検査するために、表示パネルの接続端子部に３個以上の第１のダミー電極（１７ａ、１７ｂ、１７ｃ）が設けられ、回路基板の接続端子部における第１のダミー電極に対向する位置に第２のダミー電極（１９ａ、１９ｂ、１９ｃ）が設けられ、第１、第２のダミー電極のそれぞれ対応する電極同士が電気的に接続されている。
【００１４】
そして、第１のダミー電極および第２のダミー電極のうち一方は、いずれかの端から奇数番目の電極同士が導通状態であって、偶数番目の電極が奇数番目の電極と非導通状態であるパターンを有するものであり、他方は、それぞれの電極が電気的に独立したパターンを有するものであることを特徴としている。
【００１５】
このように第１、第２のダミー電極は、第１接続端子と第２接続端子とが接続されているとき、対応する電極同士も接続されるように配置されている。したがって、これら第１、第２のダミー電極間の接続状態を調べることで、第１接続端子と第２接続端子との接続状態を検査することができる。
【００１６】
具体的には、第１接続端子と第２接続端子とを接続した後、第１、第２のダミー電極のうち、それぞれが電気的に独立したパターンを有する方のダミー電極間の抵抗値を測定する。
【００１７】
表示パネルの第１接続端子と回路基板の第２接続端子とに位置ズレが発生することなく、良好に第１接続端子と第２接続端子とが接続されているときでは、奇数番目のダミー電極同士間は導通状態のパターン形状であるため、それらの電極同士間の抵抗値は、ダミー電極自体が有する抵抗の値となる。また、奇数番目と偶数番目のダミー電極間は非導通状態のパターン形状であるため、それらのダミー電極同士の抵抗値は例えば１ＭΩ以上の大きな値となる。
【００１８】
一方、第１接続端子と第２接続端子との接続において、各モードの不具合が発生したとき、すなわち、各接続端子間が短絡したり、第１接続端子と第２接続端子とが非接続状態等の不具合が発生したときでは、各ダミー電極間の抵抗値の組み合わせは良好に接続されているときと異なる。
【００１９】
さらに、第１接続端子と第２接続端子の位置ズレが発生したときでは、その位置ズレの方向によっても、各ダミー電極間の抵抗値の組み合わせも、良好に接続されているときと異なる。
【００２０】
このことから、各ダミー電極間の抵抗値の組み合わせパターンにより、表示パネルの第１接続端子と回路基板の接続端子との接続において、不具合が発生したときではその不具合モード、また、位置ズレが発生したときではその方向とを簡便に検出することができる。
【００２１】
なお、各ダミー電極の電極幅やピッチは、許容される電極ずれの程度に応じて、任意に決定することができる。例えば、各ダミー電極のピッチを第１、第２接続端子よりも狭くすることで、第１接続端子と第２接続端子との接続の適否をより敏感に検出することができる。
【００２２】
このようにして、本発明によれば、表示パネルと回路基板との電気的な接続状態を簡便に確認でき、かつ、その電気的な接続における各種の不具合モードおよび表示パネルと回路基板の接続端子に位置ズレが発生したとき、その位置ズレの向きを検出することができる。
【００２３】
また、請求項２に示すように、第１および第２のダミー電極をそれぞれ３個の電極より構成することができる。これにより、ダミー電極を設置するための領域を最小にすることができる。
【００２４】
請求項３に記載の発明では、接続手段としてフレキシブルプリント配線板（２０）を用い、フレキシブルプリント配線板と回路基板との間の接続状態を検査するために、フレキシブルプリント配線板の接続端子部に３以上の第３のダミー電極（２２ａ、２２ｂ、２２ｃ）が設けられ、回路基板の接続端子部における第３のダミー電極に対応する位置に第４のダミー電極（２３ａ、２３ｂ、２３ｃ）が設けられ、さらに、第３および第４のダミー電極は互いに対応する電極同士が電気的に接続されている。
【００２５】
そして、第３のダミー電極および第４のダミー電極のうち一方は、いずれかの端から奇数番目の電極同士が導通状態であって、偶数番目の電極が奇数番目の電極と非導通状態であるパターンを有するものであり、他方は、それぞれの電極が電気的に独立したパターンを有するものであることを特徴としている。
【００２６】
このように、接続手段として、フレキシブルプリント配線板を用いた場合では、表示パネルの第１接続端子とフレキシブルプリント配線板の接続端子とを接続し、また、回路基板の第２接続端子とフレキシブルプリント配線板の接続端子とを接続することで、第１接続端子と第２接続端子とを電気的に接続する。
【００２７】
このため、接続の不具合が発生する箇所としては、表示パネルとフレキシブルプリント配線板の間の接続、フレキシブルプリント配線板と回路基板の間の接続の２つが考えられる。
【００２８】
そこで、本発明では、表示パネルと回路基板との接続状態を検査するための第１、第２のダミー電極に加えて、フレキシブルプリント配線板と回路基板との間の接続状態を検査するために、回路基板とフレキシブルプリント配線板にそれぞれ、第１、第２のダミー電極と同様のパターンを有する第３、第４のダミー電極を設けた構造としている。
【００２９】
本発明では、このように表示パネルと回路基板の間の接続状態に加え、フレキシブルプリント配線板と回路基板との間の接続状態も検査できることから、表示パネルとフレキシブルプリント配線板の間の接続、フレキシブルプリント配線板と回路基板の間の接続のどちらにおいて、不具合が生じたかどうかを認識することができる。
【００３０】
なお、第３のダミー電極および第４のダミー電極の電極幅やピッチも、第１、第２のダミー電極と同様に、許容される電極ずれの程度に応じて、任意に決定することができる。
【００３１】
また、請求項４に示すように、第３および第４のダミー電極もそれぞれ３個の電極により構成することができる。これにより、第３および第４のダミー電極を設ける領域を最小とすることができる。
【００３２】
請求項５に示すように、電気的に独立したパターンを有するダミー電極に、検査パッド（Ａ、Ｂ、Ｃ）を設けることもできる。これにより、この検査パッドに検査用プローブ等をあてることで、ダミー電極間の抵抗を容易に測定できる。
【００３３】
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。
【００３４】
【発明の実施の形態】
（第１実施形態）
本発明の第１実施形態における表示装置の外観斜視図を図１に示し、表示装置を分解したときの様子を図２に示す。本実施形態では、ＥＬ表示装置を例として説明する。
【００３５】
本実施形態におけるＥＬ表示装置は、図２に示すように、図中の上側から下側に向かって順に、カバー９、ＥＬパネル１０、ゴムコネクタ１１、スペーサ１２、および回路基板１３を有して構成されている。そして、これらが重ね合わされ、ＥＬパネル１０がカバー９、回路基板１３により狭持され、カバー９に設けられている突起部９ａを回路基板１３に設けられている穴１３ａにはめ込むことで、これらが固定されている。
【００３６】
図３に図２中のＥＬパネル１０におけるＤ−Ｄ線断面図を示す。なお、図３中の上方が回路基板１３側となっている。ＥＬパネル１０は、図３に示すように、ガラス基板１の上に順次第１電極２、第１絶縁膜３、発光層（ＥＬ発光層）４、第２絶縁膜５、および第２電極６が真空蒸着、またはスパッタリング法により形成されている。さらに、耐圧保護のために、接着剤７を介して、ガラス基板１に対してカバーガラス８を張り合わされている。
【００３７】
発光層４は例えば、ＺｎＳ、ＺｎＳｅ等の半導体材料にて構成されており、発光中心としては、Ｍｎ、Ｔｂ、Ｓｍ等を用いることができる。なお、発光中心にＭｎを用いた場合では黄橙色、Ｔｂを用いた場合では緑色、Ｓｍを用いた場合では、赤色の発光を生じる。また、第１絶縁膜３および第２絶縁膜５はＴｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、ＳｉＯ２、Ｓｉ３Ｎ４等の誘電体により構成されている。
【００３８】
第１電極２と第２電極６は、ＩＴＯにより構成されたもので透明である。そして、図示しないが、第１電極２は横のストライプ状に、第２電極６は縦のストライプ状となっており、第１電極２と第２電極６とが互いに直交している。
【００３９】
この第１電極２と第２電極６とが直交した部分が、電極２、６間に挟まれている第１絶縁膜３、第２絶縁膜５および発光層４とともに画素を構成しており、第１電極２、第２電極６間に電圧を印加することで、この画素が発光可能となっている。
【００４０】
図２に示すように、ＥＬパネル１０の３個縁部には接続端子部１０ａが設けられている。図２中の左右側の接続端子部１０ａには、図３に示すように、第１電極２が延設されており、この延設された部分２ａが外部接続用端子として機能する。
【００４１】
また、図２中の手前側の接続端子部１０ａには、図示しないが、同様に、第２電極６が延設されている。なお、本実施形態では、接続端子部１０ａをＥＬパネル１０の３縁部に設けているが、接続端子部はいくつ設けても良く、また、どの位置に設けても良い。
【００４２】
回路基板１３は、図示しないが、駆動ドライバＩＣと走査ドライバＩＣとを備えている。そして、ＥＬパネル１０の接続端子部１０ａに対向する領域に、第１電極２および第２電極６と駆動ドライバＩＣおよび走査ドライバＩＣとを接続するための接続端子部１３ａを備えている。接続端子部１３ａには、ここでは図示しないが、駆動ドライバＩＣおよび走査ドライバＩＣと電気的に接続され、例えば銅に金メッキが施された電極１６が設けられている（図５参照）。
【００４３】
駆動ドライバＩＣは第２電極６と電気的に接続され、走査ドライバＩＣは第１電極２と電気的に接続される。なお、本実施形態では、走査ドライバＩＣは、第１電極２の両端部に接続され、第１電極２に対して左右両側から走査信号を送信することができるようになっている。
【００４４】
ゴムコネクタ１１は、図２に示すように、ＥＬパネル１０と回路基板１３との間に配置されており、スペーサ１２に形成されている角穴形状のホルダー１２ａに挿入される。ゴムコネクタ１１はＥＬパネル１０の接続端子部１０ａと対向する位置に配置されている。
【００４５】
そして、ゴムコネクタ１１はスペーサ１２と一緒に、ＥＬパネル１０と回路基板１３とに狭持される。これにより、ゴムコネクタ１１がＥＬパネル１０と回路基板１３との間にて圧縮され、ＥＬパネル１０および回路基板１３のそれぞれに対応する電極が、ゴムコネクタ１１を介して電気的に接続される。なお、このゴムコネクタ１１が特許請求の範囲に記載の接続手段に相当する。
【００４６】
ここで、図４にゴムコネクタ１１の外観斜視図を示す。具体的には、ゴムコネクタ１１は図４に示すように、例えば角柱状のシリコンゴム１４に金属電極１５が複数取り付けられた構成となっている。金属電極１５は例えば真鍮からなり、線径は約３０μｍである。また、金属電極１５のピッチ１５ａは５０μｍとなっている。
【００４７】
図５に図１のＥ−Ｅ線断面図を示す。図５はＥＬパネル１０と回路基板１３の接続状態を示している。図５に示すように、ゴムコネクタ１１がＥＬパネル１０と回路基板１３との間にて、圧縮されることで、ＥＬパネル１０の第１電極２と、回路基板１３の電極１６とが金属電極１５を介して電気的に接続される。このとき、ゴムコネクタ１１の圧縮率を１０〜４０％とすることで、良好に接続することができる。
【００４８】
なお、ここでは、図１中の左側に位置する接続端子部１０ａ、１３ａでの接続の状態について説明したが、他の接続端子部１０ａ、１３ａにおいても同様に第１電極２の他の一端もしくは第２電極６と、回路基板１３の電極１６とがそれぞれゴムコネクタ１１を介して電気的に接続されている。
【００４９】
なお、本実施形態のように、金属電極１５のピッチ１５ａが非常に狭いゴムコネクタ１１を用いる場合では、図５に示すように、ＥＬパネル１０の第１電極２のピッチ２ａおよび回路基板１３の電極１６のピッチ１６ａを金属電極１５のピッチ１５ａよりも大きくする。これにより、対応するＥＬパネル１０の第１電極２と回路基板１３の電極１６とを電気的に接続することができる。
【００５０】
このように、本実施形態では、ＥＬパネル１０をカバー９および回路基板１３等により狭持し、ＥＬパネル１０と回路基板１３との間にゴムコネクタ１１を挟むことで、ＥＬパネル１０と回路基板１３とを電気的に接続するようにしている。
【００５１】
ＥＬパネル１０とゴムコネクタ１１とを直接固定していないことから、ＥＬパネル１０とゴムコネクタ１１との着脱が容易である。このため、本実施形態のＥＬ表示装置は、ＥＬパネル１０に不具合が生じた場合、ＥＬパネル１０のみを交換することができ、リペア性が優れている。
【００５２】
また、このように構成されたＥＬ表示装置は、駆動ドライバＩＣから第２電極６に駆動信号を送信する。また、走査ドライバＩＣ第１電極２に走査信号を送信する。これにより、第１電極２と第２電極６との交差部分である発光画素を選択して発光させることで、ＥＬパネル１０に文字、図形等が表示される。
【００５３】
本実施形態におけるＥＬ表示装置には、さらに、ＥＬパネル１０および回路基板１３における３個の接続端子部１０ａ、１３ａにおいて、図５に示すように、接続端子部１０ａ、１３ａの端部に、ＥＬパネル１０の第１電極２もしくは第２電極６と、これらの電極２、６に対応する回路基板１３の電極１６との電気的な接続が確保されているかを確認するためのダミー電極１７、１９が設けられている。
【００５４】
図６に図５におけるＦ矢視図を示す。図６は、ＥＬパネル１０および回路基板１３の接続端子部において、ダミー電極が形成されている領域をＥＬパネル１０側から見たときの様子を示している。また、図６では図中の手前側に位置するＥＬパネル１０を破線で示しており、説明のためにゴムコネクタ１１を省略している。
【００５５】
図６に示すように、ＥＬパネル１０側のダミー電極１７は、第１電極２と平行な３ラインの電極１７ａ、１７ｂ、１７ｃより構成されている。ダミー電極１７ａ〜１７ｃは、左右両端のダミー電極１７ａ、１７ｃ間が導通状態となり、中央のダミー電極１７ｂはその左右両隣のダミー電極１７ａ、１７ｃと非導通状態となるパターンを有している。
【００５６】
つまり、ＥＬパネル１０側のダミー電極１７ａ〜１７ｃは、その配列の端から奇数番目（１、３番目）の電極１７ａ、１７ｃ同士が導通状態であって、偶数番目（２番目）の電極１７ｂが奇数番目の電極１７ａ、１７ｃと非導通状態となっている。
【００５７】
一方、回路基板１３側のダミー電極１９も、回路基板１３の電極１６と平行な３ラインの電極１９ａ、１９ｂ、１９ｃより構成されており、これらのダミー電極１９ａ〜１９ｃはそれぞれが電気的に独立したパターンを有している。そして、ダミー電極１９ａ〜１９ｃはそれぞれ対応するＥＬパネル１０側のダミー電極１７ａ〜１７ｃと対向するように配置されており、さらに、回路基板１３に設けられたテストパッドＡ〜Ｃとそれぞれ電気的に接続されている。
【００５８】
これらのＥＬパネル１０側のダミー電極１７ａ〜１７ｃと回路基板１３側のダミー電極１９ａ〜１９ｃは、ＥＬパネル１０と回路基板１３とが重ね合わされ、ＥＬパネル１０の第１電極２と、これに対応する回路基板１３の電極１６とが良好に接続されているとき、お互いに対応する電極同士が接続されるように配置されている。
【００５９】
本実施形態では、これらのダミー電極１７ａ〜１７ｃ、１９ａ〜１９ｃ同士の接続状態を検査することで、ＥＬパネル１０と回路基板１３との電気的な接続状態を判断することができる。
【００６０】
次に、このように接続されたＥＬパネル１０と回路基板１３との接続状態を確認するための検査方法を説明する。
【００６１】
ＥＬパネル１０の第１電極２もしくは第２電極６と、回路基板１３の電極１６とが電気的に接続された後、テストパッドＡ〜Ｃのうち、２つのテストパッドに検査プローブを当て各ダミー電極間の抵抗値を測定する。この各ダミー電極間の抵抗値の組み合わせパターンにより、以下に説明するように、接続に不具合が発生しているかどうか、さらに、不具合が発生しているならば、その不具合のモード、位置ズレの方向を判別することができる。
【００６２】
図７に各ダミー電極間の抵抗値の組み合わせパターンと接続状態のＯＫ、ＮＧ判定を示す。また、図８〜図１１に位置ズレが発生したときの状態を示す。なお、図８〜１１では、説明の便宜上、ダミー電極１７の幅やピッチ等を図６のものと若干変更している。また、本実施形態では、導通状態のパターンであるダミー電極１７ａ、１７ｃ間の配線抵抗は約３０Ωである。
【００６３】
図６に示すように、ＥＬパネル１０と回路基板１３との間に位置ズレが発生することなく、良好に第１電極２もしくは第２電極６と、電極１６とが接続されているときでは、図７のモード１に示すように、Ａ−Ｂ間およびＢ−Ｃ間は非導通状態（＞１ＭΩ）であり、Ａ−Ｃ間では導通状態（約３０Ω）である。したがって、各ダミー電極間の抵抗値の組み合わせがモード１であれば、接続が良好であると判断できる。
【００６４】
図８、９は、図６に示す接続状態からＥＬパネル１０が右側にずれたときの状態を示している。図８は左端のダミー電極１７ａ、１９ａ同士、右端のダミー電極１７ｃ、１９ｃ同士が接続しており、さらにＥＬパネル１０の中央のダミー電極１７ｂが回路基板１３の中央および右側のダミー電極１９ｂ、１９ｃ間を接続している状態を示している。このときでは、図７のモード２に示すように、Ａ−Ｂ間およびＡ−Ｃ間は導通状態（３０Ω）、Ｂ−Ｃ間は導通状態（＜１０Ω）となる。
【００６５】
また、図９は、図８の状態からＥＬパネル１０がさらに右側にずれ、ＥＬパネル１０の右側のダミー電極１７ｃと回路基板１３のダミー電極１９ｃとが非接続となったときの状態を示している。このときでは、図７のモード６に示すように、Ａ−Ｂ間およびＡ−Ｃ間は非導通状態（＞１ＭΩ）となり、Ｂ−Ｃ間は導通状態（＜１０Ω）となる。
【００６６】
したがって、各ダミー電極間の抵抗値の組み合わせパターンがモード２および６のときは、接続に不具合が生じており、その理由は、図６に示す接続状態から、ＥＬパネル１０が回路基板１３に向かって、右方向にずれているからであると判断できる。また、モード２と６との違いから、ずれの程度も認識することができる。
【００６７】
図１０、１１は図６に示す状態からＥＬパネル１０が左側にずれたときの状態を示している。図１０は左端のダミー電極１７ａ、１９ａ同士、右端のダミー電極１７ｃ、１９ｃ同士が接続しており、ＥＬパネル１０の中央のダミー電極１７ｂが回路基板１３の中央と左側のダミー電極１９ａ、１９ｂ間を接続している状態を示している。このときでは、図７のモード３に示すように、Ａ−Ｂ間は導通状態（＜１０Ω）となり、Ｂ−Ｃ間およびＡ−Ｃ間は導通状態（３０Ω）となる。
【００６８】
また、図１１は図１０の状態からＥＬパネル１０がさらに左側にずれ、ＥＬパネル１０の左側のダミー電極１７ａと回路基板１３のダミー電極１９ａとが非接続となったときの状態を示している。このときでは、図７のモード７に示すように、Ａ−Ｂ間は導通状態（＜１０Ω）となり、Ｂ−Ｃ間およびＡ−Ｃ間は非導通状態（＞１ＭΩ）となる。
【００６９】
したがって、モード３および７のときにおいても接続に不具合が生じていると判断でき、その理由は、図６に示す接続状態から、ＥＬパネル１０が回路基板１３に向かって、左方向にずれているからであると判断できる。また、モード３と７との違いから、ずれの程度も認識することができる。
【００７０】
また、図示しないが、図７のモード４、５、８に示すパターン結果となったときも、以下の理由により、接続に不具合が生じていると判断できる。
【００７１】
図７のモード４、５では、Ａ−Ｂ間、Ｂ−Ｃ間およびＡ−Ｃ間が全て導通状態（＜１０Ω）または非導通状態（＞１ＭΩ）となっている。これらのモードとなるのは、例えば、ＥＬパネル１０と回路基板１３とを接続するとき、導電性もしくは絶縁性の異物を接続端子部において噛み込んでしまったためであると考えられる。
【００７２】
したがって、モード４のときでは、上記した理由等により、ＥＬパネル１０の第１電極２や、回路基板１３の電極１６の隣同士の電極間で導通状態となってしまった可能性があると判断できる。また、モード５のときでは、上記した理由等により、ＥＬパネル１０の第１電極２と回路基板１３の電極１６とが非導通状態となってしまった可能性があると判断できる。
【００７３】
同様に、図７のモード８では、Ａ−Ｂ間およびＢ−Ｃ間は導通状態（＜１０Ω）であり、Ａ−Ｃ間が非導通状態（＞１ＭΩ）となっている。これは、例えば、Ａ−Ｃ間が非導通状態となっていることから、ダミー電極が切断していることが考えられ、このことから、第１電極２および電極１６においても、切断が生じている可能性があると判断できる。
【００７４】
このようにして、各電極間の抵抗値を測定し、その抵抗値の組み合わせパターンより、ＥＬパネル１０と回路基板１３との接続に不具合が発生していれば、その不具合のモード、また、位置ズレが発生していればその方向を簡便に判断することができる。
【００７５】
検査結果において、複数の検査対象にて、モード２〜８のうち、同じモードが繰り返し生じる様であれば、ＥＬパネル１０の第１電極２、第２電極６や回路基板１３の電極１６の出来映えに偏りがあるか、組み付け工程の設備や治具に偏りがあると判断できる。したがって、製造工程に迅速にフィードバックし、この検査結果に基づいて、組み付け工程の設備や治具の修正または調整を行うことが可能となる。
【００７６】
なお、ダミー電極１７ａ〜１７ｃとこれに対応するダミー電極１９ａ〜１９ｃのピッチや電極幅は、許容される電極ずれに応じて任意に決定することが可能である。例えば、ＥＬパネル１０側のダミー電極１７ａ〜１７ｃのピッチを第１電極２のピッチ以下とし、回路基板１３側のダミー電極１９ａ〜１９ｃのピッチを回路基板１３の電極１６のピッチ以下とすることで、接続の不具合をより敏感に検出することが可能となる。
【００７７】
さらに、本実施形態では、各ダミー電極間の抵抗値を測定していることから、第１電極２もしくは第２電極６と電極１６との接続抵抗や、各電極間の絶縁抵抗を確認することもできる。したがって、単に接続の不具合を検出するのみでなく、第１電極２もしくは第２電極６と電極１６とが接続されているとき、その接続が品質上要求される規格を満たしているかどうかの判定も可能である。
【００７８】
具体的には、ＥＬディスプレイの場合、接続されるＥＬパネル１０の第１電極２もしくは第２電極６と、回路基板１３の電極との間の接続抵抗は５０Ω以下であり、それぞれの電極において、隣り同士の電極間の絶縁抵抗は１ＭΩ以上であることが要求される。
【００７９】
したがって、各ダミー電極間の抵抗値を測定し、その抵抗値のパターンが図７のモード１となっているとき、さらに、非導通状態であるべきＡ−Ｂ間およびＢ−Ｃ間が１ＭΩ以上で、かつ導通状態であるべきＡ−Ｃ間が５０Ω以下であるならば、実際に接続されているＥＬパネル１０の第１電極２もしくは第２電極６と、これらに対応する回路基板１３の電極１６との間においても抵抗値は５０Ω以下であり、隣り同士の電極間の抵抗値は１ＭΩ以上であると考えられる。このようにして、本実施形態によれば、品質上の要求を考慮に入れて接続が良好と判断できる。
（第２実施形態）
本発明の第２実施形態におけるＥＬ表示装置を図１２に示す。図１２（ａ）はＥＬ表示装置の外観図であり、図１２（ｂ）、（ｃ）はそれぞれ、図１２（ａ）中の領域３０、３１の拡大図である。本実施形態では第１実施形態の表示装置におけるゴムコネクタ１１の代わりにＦＰＣ（フレキシブルプリント配線板）２０を用いる場合を説明する。
【００８０】
ＥＬパネル１０の構造は第１実施形態での図３に示す構造と同様であるが、第１実施形態と異なって下縁部にのみ接続端子部１０ａが設けられている。この接続端子部１０ａに第１電極２および第２電極６が延設されている。
【００８１】
なお、本実施形態では、接続端子部１０ａはＥＬパネル１０の１つの縁部に１つのみ設けられていたが、１つの縁部に複数の接続端子部を設けることができる。また、ＥＬパネル１０の他の縁部にさらに接続端子部を設け、複数の縁部に接続端子部を設けることもできる。
【００８２】
回路基板１３は第１実施形態と同様に走査ドライバＩＣと駆動ドライバＩＣとを搭載しており、図１２（ａ）では上側に接続端子部１３ａが設けられている。この接続端子部１３ａには、図１２（ｃ）に示すように、走査ドライバＩＣおよび駆動ドライバＩＣと接続されている電極１６が設けられている。
【００８３】
図１２（ｂ）、（ｃ）に示すように、第１電極２（もしくは第２電極６）とそれに対応する回路基板１３の電極１６とがＦＰＣ２０の電極配線２１を介して電気的に接続されている。なお、図中では省略しているが、回路基板１３の電極１６とＦＰＣ２０の電極配線は、ＡＣＦ（異方性導電接着剤）を介して接続されている。
【００８４】
また、図１２（ｂ）に示すようにＥＬパネル１０の接続端子部１０ａと、図１２（ｃ）に示すように回路基板１３の接続端子部１３ａには、第１実施形態と同様に、それぞれＥＬパネル１０側のダミー電極１７ａ〜１７ｃと回路基板１３側のダミー電極１９ａ〜１９ｃが設けられている。
【００８５】
これらのダミー電極１７ａ〜１７ｃとダミー電極１９ａ〜１９ｃとはそれぞれ対応する電極同士がＦＰＣ２０の電極配線２１を介して電気的に接続されている。
【００８６】
本実施形態においても、第１実施形態と同様にダミー電極１７ａ〜１７ｃ、１９ａ〜１９ｃを設けていることから、第１実施形態と同様の方法により、ＥＬパネル１０と回路基板１３との電気的な接続状態の検査を行うことができる。
【００８７】
（第３実施形態）
本発明の第３実施形態におけるＥＬ表示装置を図１３に示す。図１３（ａ）はＥＬ表示装置の外観図であり、図１３（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）はそれぞれ、図１３（ａ）中の領域３０、３１、３２の拡大図である。
【００８８】
本実施形態は、図１２に示す第２実施形態のＥＬ表示装置において、図１３（ｄ）に示すように、ＦＰＣ２０にもＥＬパネル１０側のダミー電極１７ａ〜１７ｃと同様のパターンを有するダミー電極２２を設けたものである。図１３（ａ）〜（ｃ）は図１２（ａ）〜（ｃ）と同じであるため、以下では、図１３（ｄ）に示す領域の構造についてのみ説明する。
【００８９】
第２実施形態のように、接続手段として、ＦＰＣ２０を用いた場合、ＥＬパネル１０の第１電極２および第２電極６と、ＦＰＣ２０の電極配線２１とを対向させて接続し、また、回路基板１３の電極１６とＦＰＣ２０の電極配線２１とを対向させて接続する場合では、接続の不具合が発生する箇所としては、ＥＬパネル１０〜ＦＰＣ２０間、ＦＰＣ２０〜回路基板１３間の２カ所が考えられる。
【００９０】
しかし、第２実施形態のダミー電極のパターンおよび配置では、接続状態を検査し、接続に不具合が発生していると判別しても、その不具合箇所がパネル〜ＦＰＣ間であるか回路基板〜ＦＰＣ間であるかまで判別することができない。
【００９１】
そこで、本実施形態では、ＦＰＣ２０の回路基板１３側の接続端子部２０ａにもＥＬパネル１０側のダミー電極１７ａ〜１７ｃと同様のパターン形状を有するダミー電極２２ａ、２２ｂ、２２ｃを設けている。また、回路基板１３の接続端子部１３ａには、ＦＰＣ２０におけるダミー電極２２ａ〜２２ｃに対応するダミー電極２３ａ、２３ｂ、２３ｃと、ダミー電極２３ａ〜２３ｃのそれぞれに接続されているテストパッドＡ’、Ｂ’、Ｃ’とを設けている。
【００９２】
そして、接続状態を検査するときでは、テストパッドＡ〜Ｃに検査プローブをあて、Ａ−Ｂ間、Ｂ−Ｃ間、Ｃ−Ａ間の導通状態、非導通状態を検出する。これにより、第１実施形態と同様に、ＥＬパネル１０〜回路基板１３間における接続状態を確認する。
【００９３】
さらに、テストパッドＡ’、Ｂ’、Ｃ’においても、同様に、検査プローブをあて、Ａ’−Ｂ’間、Ｂ’−Ｃ’間、Ｃ’−Ａ’間の抵抗値を測定することで、各電極間の導通状態、非導通状態を検出する。これにより、第１実施形態と同様の判断方法により、ＦＰＣ２０〜回路基板１３間における接続状態を確認する。
【００９４】
そして、接続状態の検査結果において、ＥＬパネル１０〜回路基板１３間に接続の不具合が生じていると判断したとき、ＦＰＣ２０〜回路基板１３間の接続状態が良好であれば、ＥＬパネル１０〜ＦＰＣ２０間にて接続の不具合が生じていると判断できる。一方、ＦＰＣ２０〜回路基板１３間にも接続の不具合が生じていれば、少なくともＦＰＣ２０〜回路基板１３間での接続に不具合が生じていると判断できる。
【００９５】
本実施形態によれば、このようにＥＬパネル１０と回路基板１３の間の接続状態に加え、ＦＰＣ２０と回路基板１３との間の接続状態も検査できることから、ＥＬパネル１０とＦＰＣ２０の間の接続、ＦＰＣ２０と回路基板１３の間の接続のどちらにおいて、不具合が生じたかどうかも判断することができる。
【００９６】
（他の実施形態）
第１〜３実施形態では、ＥＬパネル１０側のダミー電極１７および回路基板１３側のダミー電極１９をそれぞれ、電極１７ａ〜１７ｃおよび電極１９ａ〜１９ｃの３ラインより構成していた。また、第３実施形態においても、ＦＰＣ２０〜回路基板１３間を検査するためのダミー電極２２ａ〜２２ｃおよび２３ａ〜２３ｃも３ラインより構成されていたが、３ラインに限らず、それよりも多い数のダミー電極を配置することもできる。
【００９７】
例えば、ダミー電極を４ライン、５ラインにより構成とすることもでき、このとき、図１４（ａ）、（ｂ）に示すように、ＥＬパネル１０側のダミー電極１７を、いずれかの端（図１４では左端）から奇数番目におけるダミー電極１７ａ、１７ｃ（図１４（ｂ）では、さらに１７ｅ）同士が導通状態となり、偶数番目におけるダミー電極１７ｂ、１７ｄは奇数番目の電極１７ａ、１７ｃ（図１４（ｂ）では、さらに１７ｅ）と非導通状態となるパターンを有する形状とする。
【００９８】
また、回路基板１３には、ＥＬパネル１０側のダミー電極１７に対応し、それぞれが電気的に独立したパターンを有する回路基板１３側のダミー電極およびこれらに接続されたテストパッドを設ける。
【００９９】
このような構成とすることで、上記にて説明した方法により接続状態を確認することができる。なお、当然のことではあるが、ダミー電極の数が増えるにつれ、図７に示したモードの種類は増加するが、第１実施形態と同様に不具合のモード判別および位置ズレの方向を判断することができる。また、ダミー電極の数が増えるとダミー電極が占める領域が大きくなってしまう。したがって、ダミー電極を形成する領域を小さくしたいという観点では、ダミー電極は３ラインにより構成するのが好ましい。
【０１００】
また、第１〜第３実施形態では、ＥＬパネル１０側のダミー電極１７ａ〜１７ｃにおいて、両端の電極１７ａと電極１７ｃとが導通状態となるパターン形状とし、回路基板１３側のダミー電極１９ａ〜１９ｃにそれぞれ、テストパッドＡ〜Ｃを設けていたが、これとは反対に、回路基板１３側のダミー電極を両端の電極が導通状態となるパターン形状とし、ＥＬパネル１０側のダミー電極にテストパッドＡ〜Ｃを設けることもできる。
【０１０１】
同様に、第３実施形態におけるＦＰＣ２０〜回路基板１３間に設けられたダミー電極２２ａ〜２２ｃ、２３ａ〜２３ｃにおいても、ＦＰＣ２０側のダミー電極にテストパッドを設け、回路基板１３側のダミー電極を両端の電極が導通状態となるパターン形状とすることもできる。
【０１０２】
また、第１〜３実施形態では、ダミー電極１７ａ〜１７ｃ、１９ａ〜１９ｃ、２２ａ〜２２ｃ、２３ａ〜２３ｃを接続端子部の端部に設ける場合を説明したが、接続状態の検出用のダミー電極を、接続仕様の要求に応じて接続端子部の任意の場所に設けることもでき、さらに１つの接続端子部にてダミー電極を複数箇所設けることもできる。例えば、接続端子部の中央にダミー電極を設けることもできる。
【０１０３】
また、上記した各実施形態では、ＥＬ表示装置を例として説明してきたが、液晶表示装置、プラズマ表示装置等の他の表示装置においても、本発明を適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態におけるＥＬ表示装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１のＥＬ表示装置を分解したときの様子を示す図である。
【図３】図２におけるＥＬパネルのＤ−Ｄ線断面図である。
【図４】図１のＥＬ表示装置に用いられるゴムコネクタの外観を示す斜視図である。
【図５】図１のＥＬ表示装置におけるＥＬパネルと回路基板との接続状態を示す図であり、図１中のＥ−Ｅ線断面図である。
【図６】図１の表示装置におけるＥＬパネルと回路基板との接続部の拡大図であり、図５中のＦ矢視図である。
【図７】接続状態を検査したときの判定パターンを示す図表である。
【図８】図１のＥＬ表示装置において、図６に示す接続状態から、ＥＬパネルが回路基板１３に向かって右方向にずれたときの接続状態を示す図である。
【図９】図１のＥＬ表示装置において、図６に示す接続状態から、ＥＬパネルが回路基板１３に向かって右方向にずれたときの接続状態を示す図である。
【図１０】図１のＥＬ表示装置において、図６に示す接続状態から、ＥＬパネルが回路基板１３に向かって左方向にずれたときの接続状態を示す図である。
【図１１】図１のＥＬ表示装置において、図６に示す接続状態から、ＥＬパネルが回路基板１３に向かって左方向にずれたときの接続状態を示す図である。
【図１２】（ａ）は本発明の第２実施形態におけるＥＬ表示装置の外観を示す図であり、（ｂ）は（ａ）中の円で囲んだ領域３０での接続状態を示す拡大図であり、（ｃ）は（ａ）中の円で囲んだ領域３１での接続状態を示す拡大図である。
【図１３】（ａ）は本発明の第３実施形態におけるＥＬ表示装置の外観を示す図であり、（ｂ）は（ａ）中の円で囲んだ領域３０、（ｃ）は（ａ）中の円で囲んだ領域３１、（ｄ）は（ａ）中の円で囲んだ領域３２での接続状態を示す拡大図である。
【図１４】本発明の他の実施形態におけるＥＬパネル側に設けられたダミー電極のパターンを示す図である。
【符号の説明】
１…ガラス基板、２…第１電極、３…第１絶縁膜、４…発光層、
５…第２絶縁膜、６…第２電極、７…接着剤、８…カバーガラス、
９…カバー、１０…ＥＬパネル、１１…ゴムコネクタ、
１２…スペーサ、１３…回路基板、１４…シリコンゴム、
１５…金属電極、１６…回路基板の電極、
１７ａ〜１７ｅ…ＥＬパネル側ダミー電極、
１９ａ〜１９ｃ…回路基板側ダミー電極、２０…ＦＰＣ、
２１…ＦＰＣの電極配線、２２ａ〜２２ｃ…ＦＰＣ側ダミー電極、
２３ａ〜２３ｃ…回路基板側ダミー電極。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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