(57)【要約】      （修正有）【課題】微小な電子部品でも実装状態で計測でき、しかも４端子で正しい抵抗値を簡単に測定可能な４端子測定用テストクリップを提供する。【解決手段】一端側に操作部３を設け、他端側に２本の探針２ａ、２ｂを有する測定部４を設けた１対のレバー１の中間部を、互いに反対側に開閉作動するように軸着し、常時測定部４が閉じるようにバネ付勢し、測定部４には、上記２本の探針２ａ、２ｂの基部側を固定する固定部と、２本の探針２ａ、２ｂの動きを案内する案内溝とを有し、操作部３をバネ付勢に抗して閉じることで測定部４を開いた後、バネ付勢により測定部４が閉じたときに、各レバー１の２個の弾性を有する探針２ａ、２ｂの先端７を被測定電子部品２０の電極２１に接触可能とするとともに、探針２ａ、２ｂが弾性限界を越えて曲がるのを規制する規制手段を設けた。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
それぞれ一側に把持可能な操作部を設け、他側に測定用の２本の探針を備えた測定部を設けた１対のレバーの中間部を、操作部側と測定部側が互いに反対側に開閉作動するように軸着し、常時上記測定部が閉じるようにバネ付勢し、上記測定部には、上記２本の探針の基部側を固定する固定部と、上記２本の探針の動きを案内する案内溝とを有し、上記探針は案内溝の先端から突出し、上記操作部をバネ付勢に抗して閉じることで上記測定部４を開いた後、レバー１の力を緩めて上記バネ付勢により上記測定部が閉じたときに、上記各レバーの各２本の探針の先端を被測定電子部品の電極に接触可能とするとともに、上記各探針がその弾性限界を越えて曲がるのを規制する規制手段を設けたことを特徴とする４端子測定用テストクリップ。
【請求項２】
上記規制手段は、上記探針が上記案内溝内で曲がったときに、上記案内溝の溝底に当接するようにした第１の規制手段と、上記両側のレバーの測定部の互いに向き合う対向部のうち、一方の対向部に突出形成したストッパ部が、他方の対向部に当接して両側の測定部の閉じ度合いを規制する第２の規制手段とから構成されたことを特徴とする、請求項１に記載の４端子測定用テストクリップ。
【請求項３】
上記ストッパ部に小円板を偏心軸を中心に回動可能に半固定状態で取り付けておき、小円板を他方の対向部に当接可能としたことを特徴とする、請求項２に記載の４端子測定用テストクリップ。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は４端子電気信号抽出装置、詳しくは電子回路基板上に実装された微小な電子部品の抵抗を測定する４端子測定用テストクリップに関する。
に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、電子回路基板上に装着される小さな電子部品（チップ）の抵抗のように、小さな抵抗を計測するときには、いわゆるケルビン接続法と呼ばれる４端子法を用いるのが好ましい。その理由は、２端子測定の場合は、測定リードそのものの導体抵抗が、被測定抵抗に加算され誤差の原因となるからである。４端子測定は、定電流を供給する電流源端子と電圧降下を検出する電圧検出端子から構成され、被測定抵抗に接続された電圧検出端子側のリード線には電圧計の入力インピーダンスが高いため、ほとんど電流が流れないので、測定リードの抵抗や接触抵抗の影響を受けずに正確に測定することができるからである。特許文献１はその４端子抵抗測定装置の一例である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平７−１２８３６９号公報
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、この数年、電子技術が飛躍的に進歩し、例えば携帯電話の回路基板上の電子部品は小さいもので０．３〜１ｍｍ程度の大きさとなり、このような微小な電子部品の抵抗はとうてい実装状態で測定することはできなかった。そのため、実装前に電子部品毎に測定するのであるが、その測定器は複雑で大掛かりであり、高価であった。しかも、電子部品の抵抗値は実装前と実装後では変わる可能性があるので、実装状態で計測するのが望ましい。
【０００５】
本考案は上記問題点を解消し、微小な電子部品でも実装状態で計測することができ、しかも４端子で正しい抵抗値を簡単に測定可能な４端子測定用テストクリップを提供することをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、請求項１に係る考案は、それぞれ一側に把持可能な操作部を設け、他側に測定用の２本の探針を備えた測定部を設けた１対のレバーの中間部を、操作部側と測定部側が互いに反対側に開閉作動するように軸着し、常時上記測定部が閉じるようにバネ付勢し、上記測定部には、上記２本の探針の基部側を固定する固定部と、上記２本の探針の動きを案内する案内溝とを有し、上記探針は案内溝の先端から突出し、上記操作部をバネ付勢に抗して閉じることで上記測定部４を開いた後、レバー１の力を緩めて上記バネ付勢により上記測定部が閉じたときに、上記各レバーの各２本の探針の先端を被測定電子部品の電極に接触可能とするとともに、上記各探針がその弾性限界を越えて曲がるのを規制する規制手段を設けたことを特徴とする。
【０００７】
請求項２に係る考案は、請求項１において、上記規制手段が、上記探針が上記案内溝内で曲がったときに、上記案内溝の溝底に当接するようにした第１の規制手段と、上記両側のレバーの測定部の互いに向き合う対向部のうち、一方の対向部に突出形成したストッパ部が、他方の対向部に当接して両側の測定部の閉じ度合いを規制する第２の規制手段とから構成されたことを特徴とする。
【０００８】
請求項３に係る発明は、請求項２において、上記ストッパ部に小円板を偏心軸を中心に回動可能に半固定状態で取り付けておき、小円板を他方の対向部に当接可能としたことを特徴とする。
【考案の効果】
【０００９】
請求項１に係る考案によれば、微小な被測定電子部品の電極に接触させるための探針は非常に細いため、小さな力を加えただけでも曲がりやすく、容易にその弾性限界を越えやすい。しかし、探針が弾性限界を越えて曲がるのを規制する規制手段が設けられているので、探針を確実に保護することができる。探針の保護を確保することができるから、極めて細い探針を使うことができ、微小な電子部品でも実装状態で計測でき、微小な被測定電子部品の電極に接触させて４端子で正しい抵抗値を簡単に測定することができる。
【００１０】
請求項２に係る考案によれば、探針は第１の規制手段と第２の規制手段により二重に保護されるので、探針を確実に保護して微小な被測定電子部品の電極に接触させて４端子で正しい抵抗値を簡単に測定することができる。
【００１１】
請求項３に係る考案によれば、小円板の回転角度を変えて被測定電子部品の実寸に合わせて調整することができるから、１個のテストクリップで大きさの異なる被測定電子部品の抵抗を測定することができ、被測定電子部品の大きさ毎にストッパ部の大きさが異なるテストクリップを備える必要がない。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】（ａ）（ｂ）（ｃ）は、それぞれ本考案に係る４端子測定用テストクリップの使用時の平面図、正面図及び側面図
【図２】上記テストクリップの表層部を削除して示した斜視図
【図３】上記テストクリップの使用態様を示す正面図
【図４】上記テストクリップの他の実施態様の表層部を削除して示した斜視図
【図５】上記テストクリップの正面図
【考案を実施するための形態】
【００１３】
図１は４端子測定用テストクリップの平面図、正面図及び側面図で、図２はその要部の斜視図である。テストクリップは、１対の電気絶縁性を有する合成樹脂製レバー１、１と各レバー１に２本ずつ取り付けられた探針２ａ、２ｂとから主に構成されている。
【００１４】
各レバー１の上側は把持可能な操作部３、３で、下側にはそれぞれ測定用の２本の探針２ａ、２ｂを有する測定部４、４が設けられている。そして、１対のレバー１、１の中間部は、操作部３、３側と測定部４側が互いに反対側に開閉作動するように軸着され、常時測定部４、４が閉じられる方向にバネ付勢されている。
【００１５】
操作部３、３は片手で把持できる程度の大きさに設定されている。また、各測定部４には探針２ａ、２ｂが保持されている。探針２ａ、２ｂは端子を構成するもので、その基部は先端側の第１の屈曲部５において大きく屈曲し、さらに先端近傍の第２の屈曲部６において逆側に屈曲している。各先端７は先鋭に形成されている。なお、探針２ａ、２ｂは弾性を有し、その直径は同じで、０．５ｍｍ以下に設定されている。また、各レバー１に設けられた２本の探針２ａ、２ｂ間の間隔αは、この実施形態では０．３９７ｍｍに設定されている。なお、４端子法測定器などの測定電極からのリードワイヤ（図示せず）は各探針２ａ、２ｂに接続されている。
【００１６】
各測定部４には、各探針２ａ、２ｂを固定する保持溝（固定部）８とその下部で保持溝８に保持固定された探針２ａ、２ｂの動きを案内する案内溝９とが連続して設けられ、両溝８、９の溝幅は探針２ａ、２ｂの直径よりもわずかに広く形成されている。両溝８、９の間には半円形の凹部１０が形成されている。各探針２ａ、２ｂの一部２ｐはそれぞれ保持溝８の溝底に接着固定されている。余分な接着剤は凹部１０に流れ込んで止まるようになっている。このため、探針２ａ、２ｂの接着された部分より上方の部分は常にレバー１の作動に追従する。これに対し、各探針２ａ、２ｂのうち案内溝９の内部に配置された部分２ｑは、案内溝９内で動くことができる。なお、第２の屈曲部６は使用前は、図３に示されるように、案内溝９の溝底２２から離れた位置にある。
【００１７】
なお、上記各レバー１の保持溝８と案内溝９の両溝間の溝壁１１は薄板である。この薄板１１は上記両溝８、９内に配置された２本の探針２ａ、２ｂ間に設けられ、絶縁性を有するため、２本の探針２ａ、２ｂ間の絶縁は薄板１１によって確保されている。
【００１８】
また、各レバー１において、保持溝８と案内溝９の外側の溝壁１２の中央部には軸孔１３を有する突部１２ａが形成されている。レバー１の突部１４の軸孔１３には回動軸１４が挿通され、その両端には抜け止め１９が固定されている。また、回動軸１４にはねじりコイルバネ１５が巻き回され、その両端は各レバー１の保持溝８の上部に形成されたバネ受け１ａに係合している。このねじりコイルバネ１５により、レバー１、１は常時測定部４が閉じられる方向にバネ付勢されている。
【００１９】
上記構成によれば、レバー１、１の操作部３、３の開閉操作に応じて、測定部４、４も開閉作動し、探針２ａ、２ｂの先端７、７も接近離間する。そして、ねじりコイルバネ１５のバネ付勢により、操作部３は開き、探針２ａ、２ｂの先端７は常時接近するように付勢されている。
【００２０】
次に、上記構成のテストクリップの使用態様について説明する。被測定電子部品２０は０．３〜１ｍｍ程度の微小な大きさで、電子回路基板上に実装されているものとする。まず、実装された微小な被測定電子部品２０上にテストクリップをかざし、図３に示されるように、片手でレバー１、１をねじりコイルバネ１５によるバネ付勢に抗して閉じて測定部４、４を開き、探針間の間隔を開く。そして、レバー１、１の力を緩めて上記バネ付勢により上記測定部４、４を閉じたときに、上記各レバー１の２本の探針２ａ、２ｂの先端７、７を被測定電子部品２０の電極２１に接触させ、４端子法特性測定を行う。
【００２１】
各レバー１の各２本の探針２ａ、２ｂを被測定電子部品２０の電極２１に接触させるとき、図３に示されるように、まず被測定電子部品２０の一方の電極２１に接触させた後、反対側の電極２１に接触させるのが好ましい。
【００２２】
なお、電気絶縁性を有する薄板１１は、それぞれ隣り合う探針２ａ、２ｂの間にあり、柔軟性を有するため、隣り合う探針２ａ、２ｂがスプリング動作をしている間の相互のゆらぎを吸収し、両探針２ａ、２ｂ間の距離を常に最小に保つ働きをする。
【００２３】
ところで、操作部３から手指を離し、各レバー１の両側の測定部４が閉じて２本の探針２ａ、２ｂが被測定電子部品２０の電極２１に接触したとき、探針２ａ、２ｂにはねじりコイルバネ１５のバネ力が加わるから、案内溝９内の部分２ｑは強制的に曲げられる。バネ力が強すぎると、探針２ａ、２ｂが弾性限界を越えて曲がったままになってしまう可能性がある。この限界値は微小であるから、ねじりコイルバネ１５のバネ定数の調整によって対応することはできない。
【００２４】
そこで、探針２ａ、２ｂに曲げ応力が集中しやすい２つの部位、すなわち案内溝９の内部に配置された部分２ｑと第２の屈曲部６とが弾性限界を越えて曲がるのを規制する規制手段が設けられている。
【００２５】
すなわち、この規制手段は、上記両側の各探針の一部２ｂが上記案内溝９内で曲がったときに、上記案内溝９の溝底２２に当接するようにした第１の規制手段と、両側のレバー１、１の各測定部４の互いに向き合う対向部１６、１７のうち、一方の対向部１６に突出形成したストッパ部１８が、他方の対向部１７に当接して両側の測定部４の閉じ度合いを規制する第２の規制手段とから構成されている。
【００２６】
なお、両側のレバー１、１の測定部４、４の互いに向き合う対向部１６、１７のうち、一方の対向部１６にはストッパ部１８が突出形成されている。レバー１の開閉操作に応じて、探針２ａ、２ｂの先端７はねじりコイルバネ１５によるバネ付勢で互いに接近したとき、ストッパ部１８が他方の対向部１７に当接して探針２ａ、２ｂの先端７同士がぶつからないように構成されている。
【００２７】
まず、両側のレバー１の探針２ａ、２ｂは、上記被測定電子部品２０の電極２１に接触させて手指を離したとき、探針２ａ、２ｂは固定部の端部を中心に曲がっていくが、弾性限界を越える前に第１の規制手段である案内溝９の溝底２２に当接するようにしている。その後、探針２ａ、２ｂは案内溝９の溝底２２と接触する第２の屈曲部６を中心にして曲がっていくが、弾性限界を越える前に第２の規制手段の一方を構成するストッパ部１８が、他方の第２の規制手段を構成する他方の対向部１７に当接するようになっている。この実施形態に係るテストクリップでは先端７、７間の間隔は約１ｍｍに設定されている。
【００２８】
上記構成によれば、探針２ａ、２ｂは直径が０．５ｍｍ以下で、極めて小さな力を加えただけでも曲がりやすく、容易にその弾性限界を越えやすい。しかし、探針２ａ、２ｂの保護は、ねじりコイルバネ１５のバネ定数でなく、溝底２２やストッパ部１８と対向部１７による物理的な第１の規制手段と第２の規制手段によって行われるので、探針２ａ、２ｂを確実に保護することができる。換言すれば、探針２ａ、２ｂの保護を確保することができるから、極めて細い探針２ａ、２ｂを使うことができ、微小な被測定電子部品２０の電極２１に接触させることができる。
【００２９】
ストッパ部１８は、第２の屈曲部６を保護するとともに、両レバー１、１の探針２ａ、２ｂの先端７、７間の距離を一定にすることができるので、被測定電子部品２０の電極２１間距離に合わせて形成すればよい。
【００３０】
これに関連し、ストッパ部１８を被測定電子部品２０の電極２１、２１間距離に合わせる構成として、図４及び図５に示されるように、ストッパ部１８に小円板２３を偏心軸２４を中心に回動可能に取り付けておき、小円板２３を他方の対向部に当接させるようにしてもよい。小円版はストッパ部１８に半固定させる。これによれば、小円板２３の回転角度を変えて被測定電子部品の実寸に合わせて調整することができ、特に第２の屈曲部に無理な構造的応力をかけずに最適な電気抵抗の測定が可能となるとともに、１個のテストクリップで大きさの異なる被測定電子部品の抵抗を測定することができ、被測定電子部品２０の大きさ毎にストッパ部１８の大きさが異なるテストクリップを備える必要がない。上記小円板２３では被測定電子部品２０の大きさに対応できないときは、より大きな小円板と交換すればよい。なお、小円板は必ずしも円形でなくてもよい。楕円形や長円形も含まれるものとする。
【００３１】
なお、探針２ａ、２ｂは保持溝８で固定するものに限定されない。例えば、固定穴（図示せず）に差し込んで固定してもよく、直接にレバー１に接着固定してもよい。
【００３２】
また、各レバー１の案内溝９を１個とし、この案内溝９に２本の探針２ａ、２ｂを並べて配置し、２本の探針２ａ、２ｂ間に電気絶縁性を有する薄板を配置するようにしてもよい。
【００３３】
さらに、規制手段は探針が弾性限界を越えて曲がるのを規制するものであれば、他の態様であってもよい。
【符号の説明】
【００３４】
２    探針
３    操作部
４    測定部
７    先端
９    案内溝
１６、１７  対向部
１８  ストッパ部
２０  被測定電子部品
２３  小円版
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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