(57)【要約】      （修正有）【課題】迅速な発光特性の測定が可能な発光素子の検査装置を提供する。【解決手段】本発光素子の検査装置において、受光器７は、搬送台２３の上方に配置され、内部空間を有し、発光素子Ｌから内部空間に放射される光を受光する。また、受光器７には、下方を向く挿入口７ａが形成されている。昇降筒６３は、受光器７の挿入口７ａに挿入され、上下方向に進退可能である。昇降筒６３の底部６３４には、開口６３ａが形成されている。昇降筒６３が下降したとき、開口６３ａの縁が発光素子Ｌの非放射部に接触すると共に、開口６３ａの内に発光素子Ｌの光放射部（レンズ）が位置する。【選択図】図４Ａ
0003173730.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
上面に光放射部と非放射部とを有する発光素子が載せられる搬送台と、
前記搬送台の上方に配置され、内部空間を有し、前記発光素子から前記内部空間に放射される光を受光する受光器であって、下方を向く挿入口が形成された受光器と、
前記受光器の前記挿入口に挿入され、上下方向に進退可能な有底の昇降筒であって、底部に開口が形成され、前記昇降筒が下降したとき、前記開口の縁が前記発光素子の前記非放射部に接触すると共に、前記開口の内に前記発光素子の前記光放射部が位置する昇降筒と、
前記搬送台に載せられた前記発光素子の端子と接触して、前記発光素子に通電するプローブと、
を備えることを特徴とする発光素子の検査装置。
【請求項２】
前記昇降筒の内周面は、前記発光素子から放射される光を反射する反射面である、
請求項１に記載の発光素子の検査装置。
【請求項３】
前記発光素子の前記光放射部は、凸状のレンズであり、前記昇降筒が下降したとき、前記開口に挿入される、
請求項１に記載の発光素子の検査装置。
【請求項４】
前記昇降筒の前記開口の側壁は、上方に向けて広がるテーパー形状である、
請求項３に記載の発光素子の検査装置。
【請求項５】
前記搬送台には、前記プローブが挿入される貫通穴が形成され、
前記プローブは、上下方向に進退可能とされ、上昇したとき、前記貫通穴に挿入され、前記発光素子の下面に設けられた前記端子と接触する、
請求項１に記載の発光素子の検査装置。
【請求項６】
前記昇降筒が前記発光素子の上面に接触した後に、前記プローブが前記発光素子の下面に接触する、
請求項５に記載の発光素子の検査装置。
【請求項７】
前記プローブが前記発光素子の下面から離れた後に、前記昇降筒が前記発光素子の上面から離れる、
請求項５に記載の発光素子の検査装置。
【請求項８】
前記昇降筒を上下方向に進退させるカムと、前記プローブを上下方向に進退させるカムと、が同じ軸に設けられる、
請求項５に記載の発光素子の検査装置。
【請求項９】
前記搬送台を上下方向に進退させる機構を有しない、
請求項１に記載の発光素子の検査装置。
【請求項１０】
前記昇降筒の内部空間を、前記受光器の内部空間に連続する第１の空間と、前記開口に連続する第２の空間と、に分ける透光部材をさらに備える、
請求項１に記載の発光素子の検査装置。
【請求項１１】
前記昇降筒には、前記第２の空間に繋がる貫通穴が形成され、
前記貫通穴を通じて前記第２の空間に気体を注入する注入器をさらに備える、
請求項１０に記載の発光素子の検査装置。
【請求項１２】
上面に光放射部と非放射部とを有する発光素子が載せられる搬送台と、
前記搬送台の上方に配置され、内部空間を有し、前記発光素子から前記内部空間に放射される光を受光する受光器であって、下方を向く挿入口が形成された受光器と、
前記受光器の前記挿入口に挿入され、上下方向に進退可能な有底の昇降筒であって、底部に開口が形成され、前記昇降筒が下降したとき、前記開口の縁が前記発光素子の前記非放射部に接触すると共に、前記開口の内に前記発光素子の前記光放射部が位置する昇降筒と、
前記搬送台に載せられた前記発光素子の端子と接触して、前記発光素子に通電するプローブと、
前記受光器からの検出信号に基づいて、前記発光素子の発光特性を測定する特性測定部と、
前記発光素子の発光特性に基づいて、複数の収容位置の中から前記発光素子の収容位置を決定する位置決定部と、
前記搬送台に載せられた前記発光素子を前記決定された収容位置まで移動させる分類動作部と、
を備えることを特徴とする発光素子の検査装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、発光素子の検査装置に関し、特には、発光素子から放射される光を検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、発光素子などの電子部品の特性を測定し、その結果に応じて電子部品を分類する装置が知られている（特許文献１を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−１９２５７６号公報
【特許文献２】実登３１６１９４３号公報
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、特許文献２に記載された電子部品の検査装置は、間欠回転盤の外縁部に配列した部品搬送部の載置台を上昇させることで、載置台に載せられた発光素子を受光器が接地された測定位置まで運んでいる。また、この検査装置は、載置台の下方に位置するプローブを載置台と一緒に上昇させることで、プローブを載置台に形成された挿入穴に挿入し、発光素子の端子と接触させている。このように載置台とプローブの両方を上昇させる場合、載置台の下方に位置するプローブの移動距離を比較的長く設定する必要があるため、載置台とプローブが上昇してから下降するまでの一連の動作に時間が掛かってしまう。また、各々の部品搬送部に載置台を上昇させるための機構を設ける必要があるため、装置構成が複雑になってしまう。
【０００５】
本考案は、上記実情に鑑みて為されたものであり、迅速な発光特性の測定が可能な発光素子の検査装置を提供することを主な目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、本考案の発光素子の検査装置は、搬送台と、受光器と、有底の昇降筒と、プローブと、を備える。前記搬送台は、上面に光放射部と非放射部とを有する発光素子が載せられる。前記受光器は、前記搬送台の上方に配置され、内部空間を有し、前記発光素子から前記内部空間に放射される光を受光する。また、前記受光器には、下方を向く挿入口が形成されている。前記昇降筒は、前記受光器の前記挿入口に挿入され、上下方向に進退可能である。前記昇降筒の底部には、開口が形成されている。前記昇降筒が下降したとき、前記開口の縁が前記発光素子の前記非放射部に接触すると共に、前記開口の内に前記発光素子の前記光放射部が位置する。前記プローブは、前記搬送台に載せられた前記発光素子の端子と接触して、前記発光素子に通電する。
【０００７】
本考案によると、受光器に挿入された昇降筒が上下に移動するため、従来技術と比較して、迅速な発光特性の測定が可能である。
【０００８】
本考案の一態様において、前記昇降筒の内周面は、前記発光素子から放射される光を反射する反射面である。これによると、発光素子から放射され、昇降筒を通って、受光器の内部空間に至る光の損失を抑制することが可能である。
【０００９】
本考案の一態様において、前記発光素子の前記光放射部は、凸状のレンズであり、前記昇降筒が下降したとき、前記開口に挿入される。これによると、開口に挿入されたレンズから放射される光が、受光器の内部空間へ導かれる。
【００１０】
この態様では、前記昇降筒の前記開口の側壁は、上方に向けて広がるテーパー形状であってもよい。これによると、開口に挿入されたレンズから放射される光をより多く、受光器の内部空間へ導くことが可能である。
【００１１】
本考案の一態様において、前記搬送台には、前記プローブが挿入される貫通穴が形成され、前記プローブは、上下方向に進退可能とされ、上昇したとき、前記貫通穴に挿入され、前記発光素子の下面に設けられた前記端子と接触する。これによると、発光素子の下面に設けられた端子に、貫通孔を通じてプローブを接触させることが可能である。
【００１２】
この態様では、前記昇降筒が前記発光素子の上面に接触した後に、前記プローブが前記発光素子の下面に接触してもよい。これによると、プローブが発光素子の下面に接触する際に、発光素子の浮き上がりを抑制することが可能である。
【００１３】
この態様では、前記プローブが前記発光素子の下面から離れた後に、前記昇降筒が前記発光素子の上面から離れてもよい。これによると、プローブが発光素子の下面から離れる際に、発光素子の浮き上がりを抑制することが可能である。
【００１４】
この態様では、前記昇降筒を上下方向に進退させるカムと、前記プローブを上下方向に進退させるカムと、が同じ軸に設けられてもよい。これによると、昇降筒とプローブとを所望のタイミングで進退させることが容易である。
【００１５】
本考案の一態様において、前記搬送台を上下方向に進退させる機構を有しない。これによると、装置構成を簡易にすることが可能である。
【００１６】
本考案の一態様において、前記昇降筒の内部空間を、前記受光器の内部空間に連続する第１の空間と、前記開口に連続する第２の空間と、に分ける透光部材をさらに備える。これによると、発光素子から放射される光が、透光部材を透過して、受光器の内部空間へ導かれる。
【００１７】
この態様では、前記昇降筒には、前記第２の空間に繋がる貫通穴が形成され、前記貫通穴を通じて前記第２の空間に気体を注入する注入器をさらに備える。これによると、昇降筒から発光素子を離れやすくすることが可能である。
【００１８】
本考案の発光素子の検査装置は、搬送台と、受光器と、有底の昇降筒と、プローブと、特性測定部と、位置決定部と、分類動作部と、を備える。前記搬送台は、上面に光放射部と非放射部とを有する発光素子が載せられる。前記受光器は、前記搬送台の上方に配置され、内部空間を有し、前記発光素子から前記内部空間に放射される光を受光する。また、前記受光器には、下方を向く挿入口が形成されている。前記昇降筒は、前記受光器の前記挿入口に挿入され、上下方向に進退可能である。前記昇降筒の底部には、開口が形成されている。前記昇降筒が下降したとき、前記開口の縁が前記発光素子の前記非放射部に接触すると共に、前記開口の内に前記発光素子の前記光放射部が位置する。前記プローブは、前記搬送台に載せられた前記発光素子の端子と接触して、前記発光素子に通電する。前記特性測定部は、前記受光器からの検出信号に基づいて、前記発光素子の発光特性を測定する。前記位置決定部は、前記発光素子の発光特性に基づいて、複数の収容位置の中から前記発光素子の収容位置を決定する。前記分類動作部は、前記搬送台に載せられた前記発光素子を前記決定された収容位置まで移動させる。
【００１９】
本考案によると、受光器に挿入された昇降筒が上下に移動するため、従来技術と比較して、迅速な発光特性の測定が可能である。そして、このようにして測定された発光特性に基づく収容位置に発光素子が移動される。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】発光素子の検査装置の構成例を表す平面図である。
【図２Ａ】発光素子の正面図である。
【図２Ｂ】発光素子の平面図である。
【図２Ｃ】発光素子の裏面図である。
【図３】発光特性測定ユニットの構成例を表す側面図である。
【図４Ａ】昇降筒下降前の要部を表す断面図である。
【図４Ｂ】昇降筒下降後の要部を表す断面図である。
【図５】カムのプロファイル例を表す図である。
【図６】発光素子の検査装置の構成例を表すブロック図である。
【図７】テーブルの内容例を表す図である。
【考案を実施するための形態】
【００２１】
本考案の発光素子の検査装置の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
【００２２】
図１は、発光素子の検査装置１の構成例を表す平面図である。発光素子の検査装置１は、図１中の矢印Ｒの方向に間欠回転する間欠回転盤２を備えている。また、発光素子の検査装置１は、間欠回転盤２の周囲に、部品供給機３と、部品移載機３４と、位置調整機３６と、発光特性測定ユニット１２と、副間欠回転盤４と、部品移載機３９と、分類動作ユニット９と、を備えている。
【００２３】
間欠回転盤２は、回動可能に配置された円板部２１と、円板部２１の外縁部に所定の角度間隔で配列する複数の部品搬送部２２と、を備えている。間欠回転盤２は、部品搬送部２２の配列角度単位で間欠回転する。各々の部品搬送部２２の先端には、発光素子Ｌが載せられる搬送台２３が設けられている。
【００２４】
部品供給機３は、間欠回転盤２に向けて延びる整列搬送部３２を備えている。整列搬送部３２は、発光素子Ｌを一列に整列させながら間欠回転盤２に向けて搬送する。整列搬送部３２の先端に至った発光素子Ｌは、部品移載機３４により部品搬送部２２の搬送台２３に載せ替えられる。
【００２５】
位置調整機３６は、部品搬送部２２の搬送台２３に載せられている発光素子Ｌを、先端が谷状の２つのアームで挟み込むことで、発光素子Ｌの位置を調整する。
【００２６】
発光特性測定ユニット１２は、積分球からなる受光器７を備えており、部品搬送部２２に載せられている発光素子Ｌの輝度などの発光特性を測定する。発光特性測定ユニット１２については、後に詳しく述べる。
【００２７】
副間欠回転盤４は、回動可能に配置された円板部４１と、円板部４１の外縁部に配列する複数の部品搬送部４２と、を備えている。部品搬送部２２に載せられた発光素子Ｌは、部品移載機３９によって部品搬送部４２に載せ替えられる。各々の部品搬送部４２には、複数の発光素子Ｌ（本例では２つ）が載せられる。
【００２８】
分類動作ユニット９は、発光素子Ｌを保持可能なヘッド部９１と、ヘッド部９１の位置を調整するアーム部９３と、を備えている。部品搬送部４２に載せられた複数の発光素子Ｌは、ヘッド部９１により、２次元的に配列する複数の容器Ｂの上方まで搬送され、その中から決定される１つの容器Ｂにそれぞれ収容される。
【００２９】
図２Ａ〜図２Ｃは、発光素子Ｌの正面図、平面図及び裏面図である。発光素子Ｌは、矩形板状の基板部Ｌｓと、基板部Ｌｓの上面から凸状に突出した半球状のレンズＬｐと、基板部Ｌｓの下面に設けられた一対の端子Ｌｔと、を備えている。基板部Ｌｓは、主にセラミック等の絶縁材料からなり、その内部に、半導体からなる発光部を備えている。この発光部は、端子Ｌｔと電気的に接続されている。
【００３０】
レンズＬｐは、シリコーン等の透明な樹脂材料からなり、発光部から発せられる光はレンズＬｐを透過して外部へ放射される。すなわち、発光素子Ｌの上面のうち、レンズＬｐは光を放射する光放射部であり、レンズＬｐの周囲に位置する絶縁材料からなる部分Ｌｎは光を放射しない非放射部である。
【００３１】
なお、この態様に限られず、例えば、発光素子Ｌは平らな上面を有し、この平らな上面に円ないし楕円状の光放射部とその周囲に位置する非放射部とが設けられてもよい。
【００３２】
図３は、発光特性測定ユニット１２の構成例を表す側面図である。発光特性測定ユニット１２は、プローブ昇降ユニット５と、ステージ昇降ユニット６と、受光器７と、カム駆動ユニット８と、を備えている。
【００３３】
プローブ昇降ユニット５は、発光素子Ｌが載せられた搬送台２３の下方に位置する、上下方向に延びる複数のプローブ５５を備えており、発光特性の測定時に、プローブ５５を上昇させ、搬送台２３に載せられた発光素子Ｌにプローブ５５を接触させ、その後、プローブ５５を下降させる。
【００３４】
具体的には、プローブ昇降ユニット５は、台座に固定される固定部５１と、固定部５１に対して上下方向に昇降可能な昇降部５２と、昇降部５２の上端部に設けられた、プローブ５５を保持する保持部５３と、昇降部５２の下端部に設けられたカムフォロワ５４と、固定部５１と昇降部５２の間に架け渡された引張りバネ５６と、を備えている。これらのうち、保持部５３はプラスチック等の絶縁材料で構成されており、それ以外はステンレス等の金属で構成されている。
【００３５】
固定部５１には、上下方向に延びるレール部５１２が設けられている。また、固定部５１には、カム駆動ユニット８の軸部８３が挿入されている。また、固定部５１には、引張りバネ５６の一端が掛けられるバネ支持部５１４が設けられている。昇降部５２には、固定部５１のレール部５１２に嵌められるランナー部５２３が設けられている。また、昇降部５２には、引張りバネ５６の他端が掛けられるバネ支持部５２５が設けられている。
【００３６】
カムフォロワ５４は、下方に位置するカム８５と接触し、カム８５から受ける力を昇降部５２に伝える。引張りバネ５６は、昇降部５２を下方へ引っ張っている。昇降部５２は、カムフォロワ５４を介してカム８５から力を受けると、引張りバネ５６の引っ張り力に抗して上方へスライドする。
【００３７】
ステージ昇降ユニット６は、発光素子Ｌが載せられた搬送台２３の上方に位置する、有底の昇降筒６３を備えており、発光特性の測定時に、昇降筒６３を下降させ、搬送台２３に載せられた発光素子Ｌに昇降筒６３を接触させ、その後、昇降筒６３を上昇させる。
【００３８】
具体的には、ステージ昇降ユニット６は、台座に固定される固定部６１と、固定部６１に対して上下方向に昇降可能な昇降部６２と、昇降部６２の上端部に設けられた昇降筒６３と、昇降部６２の下端部に設けられたカムフォロワ６４と、固定部６１と昇降部６２の間に架け渡された引張りバネ６６と、を備えている。これらは、ステンレス等の金属で構成されている。
【００３９】
固定部６１には、上下方向に延びるレール部６１２が設けられている。また、固定部６１には、カム駆動ユニット８の軸部８３が挿入されている。また、固定部６１には、引張りバネ６６の一端が掛けられるバネ支持部６１４が設けられている。昇降部６２には、固定部６１のレール部６１２に嵌められるランナー部６２３が設けられている。また、昇降部６２には、引張りバネ６６の他端が掛けられるバネ支持部６２６が設けられている。
【００４０】
カムフォロワ６４は、下方に位置するカム８６と接触し、カム８６から受ける力を昇降部６２に伝える。引張りバネ６６は、昇降部６２を下方へ引っ張っている。昇降部６２は、カムフォロワ６４を介してカム８６から力を受けると、引張りバネ６６の引っ張り力に抗して上方へスライドする。
【００４１】
昇降筒６３の上方には、積分球からなる受光器７が配置されている。受光器７は、内部空間を有し、発光素子Ｌから内部空間に放射される光を受光する。受光器７の下端には、下方を向いた挿入口７ａが形成されており、この挿入口７ａに昇降筒６３が挿入されている。昇降筒６３については、後に詳しく述べる。
【００４２】
カム駆動ユニット８は、モータ８１と、モータ８１から延出する軸部８３と、を備えている。軸部８３の中途には、プローブ昇降ユニット５のカムフォロワ５４の下方に位置するカム８５と、ステージ昇降ユニット６のカムフォロワ６４の下方に位置するカム８６と、が取り付けられている。カム８５及び８６は、プローブ昇降ユニット５及びステージ昇降ユニット６をそれぞれ駆動する。
【００４３】
図４Ａ及び図４Ｂは、発光特性測定ユニット１２の要部を表す断面図である。発光特性の測定時において、昇降筒６３は下降して搬送台２３に載せられた発光素子Ｌと接触し、その後上昇する。これに対し、プローブ５５は上昇して搬送台２３に載せられた発光素子Ｌに接触し、その後下降する。図４Ａは、昇降筒６３が下降する前かつプローブ５５が上昇する前の状態を表しており、図４Ｂは、昇降筒６３が下降した後かつプローブ５５が上昇した後の状態を表している。
【００４４】
昇降筒６３は、円筒状の筒部６３２と、筒部６３２の底を塞ぐ底部６３４と、を備えており、受光器７の下端に形成された挿入口７ａに挿入されている。昇降筒６３は、上方に向けて開放されており、その内部空間が、受光器７の内部空間と連続している。昇降筒６３の筒部６３２の外周面と、受光器７の挿入口７ａの縁との間には、僅かに隙間が空いている。昇降筒６３の筒部６３２の長さは、昇降筒６３が下降しても受光器７の挿入口７ａから抜けない程度の大きさとされている。
【００４５】
昇降筒６３の底部６３４の中央部には、上下方向に貫通する開口６３ａが形成されている。具体的には、昇降筒６３の底部６３４の下面に窪みが形成されており、その窪みの中央部に開口６３ａが形成されている。また、開口６３ａの側壁は、上方に向けて広がるテーパー形状である。昇降筒６３の筒部６３２の内周面６３ｂは、硫酸バリウム（ＢａＳＯ４）等の反射材料が塗布された面であり、発光素子Ｌから放射される光を受光器７の内部空間へ反射する。
【００４６】
昇降筒６３の内部空間の底には、下面の中央部に窪みが形成された円板状の透光部材６７が配置されている。透光部材６７は、ガラス等の透明材料で構成されており、発光素子Ｌからの光を透過させることが可能である。透光部材６７は、昇降筒６３の内部空間を、受光器７の内部空間に連続する第１の空間６７ａと、開口６３ａに連続する第２の空間６７ｂと、に分けている。第２の空間６７ｂは、透光部材６７と底部６３４との間にできる空間であり、第１の空間６７ａと比べて十分に小さい。
【００４７】
また、昇降筒６３の底部６３４には、第２の空間６７ｂに繋がる貫通穴６３ｃが形成されている。貫通穴６３ｃは、底部６３４の内部を外縁から中央に向けて延びており、開口６３ａの付近で上方に開放されている。貫通穴６３ｃには、不図示の管を介して後述する注入器１６が接続されており、注入器１６の動作により第２の空間６７ｂに気体が注入される。
【００４８】
図４Ｂに示されるように、昇降筒６３が下降して可動範囲の最下端に位置したとき、昇降筒６３の底部６３４は、搬送台２３に載せられた発光素子Ｌの上面と接触する。すなわち、搬送台２３に載せられた発光素子Ｌは、昇降筒６３の底部６３４と、搬送台２３とによって挟み込まれる。具体的には、昇降筒６３の底部６３４に形成された開口６３ａは、発光素子Ｌのうち、レンズＬｐが挿入可能で、基板部Ｌｓが挿入不能な形状及び大きさを有している（図２を参照）。このため、昇降筒６３が下降すると、レンズ（光放射部）Ｌｐが開口６３ａに挿入されると共に、開口６３ａの縁が、レンズＬｐの周囲の絶縁材料からなる部分（非放射部）Ｌｎに接触する。
【００４９】
また、図４Ｂに示されるように、プローブ５５が上昇して可動範囲の最上端に位置したとき、プローブ５５は、搬送台２３の貫通穴２３ａを通って、搬送台２３に載せられた発光素子Ｌの下面と接触する。具体的には、発光素子Ｌの下面には端子Ｌｔが設けられており（図２を参照）、プローブ５５は、搬送台２３の貫通穴２３ａを通って、発光素子Ｌの端子Ｌｔと接触し、通電する。発光素子Ｌは、プローブ５５により通電されると、レンズＬｐから外部へ光を放射する。開口６３ａに挿入されたレンズＬｐから放射される光は、透光部材６７を透過し、昇降筒６３を通って、受光器７の内部空間に至る。
【００５０】
さらに、図４に示される状態の後、昇降筒６３が上昇し、プローブ５５が下降する際には、昇降筒６３の底部６３４と透光部材６７との間に形成された第２の空間６７ｂに、後述する注入器１６によって貫通穴６３ｃを介して気体が注入される。注入された気体は、第２の空間６７ｂから開口６３ａを通って外部へ排出され、これにより、発光素子Ｌは、昇降筒６３の底部６３４から離され、搬送台２３に載せられたままとなる。なお、気体の注入は、昇降筒６３が上昇を開始する前から開始してもよいし、昇降筒６３が上昇を開始した後に開始してもよい。
【００５１】
図５は、カム駆動ユニット８に含まれるカム８５及び８６のプロファイル例を表す図である。同図の横軸は、カム８５及び８６の回転角度を表し、０°及び３６０°は、搬送台２３が昇降筒６３の下方かつプローブ５５の上方の位置に達した時点に対応している。同図の縦軸は、カム８５及び８６の半径を表す。モータ８１は、搬送台２３が昇降筒６３の下方かつプローブ５５の上方の位置に達してから離れるまでの間に、軸部８３を一回転させる。
【００５２】
軸部８３の回転に伴ってカム８６が一回転するとき、昇降筒６３は下降して搬送台２３に載せられた発光素子Ｌと接触し、その後、元の位置まで上昇する。すなわち、カム８６は、回転角度０°〜１８０°の間に最高半径から最低半径に達し、その後、回転角度１８０°〜３６０°の間に最低半径から最高半径に達する。カム８６が最低半径にある間、昇降筒６３は可動範囲の最下点に達し、発光素子Ｌの上面に接触する。
【００５３】
軸部８３の回転に伴ってカム８５が一回転するとき、プローブ５５は上昇して搬送台２３に載せられた発光素子Ｌと接触し、その後、元の位置まで下降する。すなわち、カム８５は、回転角度０°〜１８０°の間に最低半径から最高半径に達し、その後、回転角度１８０°〜３６０°の間に最高半径から最低半径に達する。カム８５が最高半径にある間、プローブ５５は可動範囲の最上点に達し、発光素子Ｌの下面に接触する。
【００５４】
ここで、カム８６が最低半径に達するタイミングは、カム８５が最高半径に達するタイミングよりも早くなるよう設定されている。このため、昇降筒６３が発光素子Ｌの上面に接触し、昇降筒６３と搬送台２３とで発光素子Ｌを挟み込んだ後に、プローブ５５が発光素子Ｌの下面に接触する。
【００５５】
また、カム８６が最低半径から離れるタイミングは、カム８５が最高半径から離れるタイミングよりも遅くなるよう設定されている。このため、プローブ５５が発光素子Ｌの下面から離れた後に、昇降筒６３が発光素子Ｌの上面から離れ、昇降筒６３と搬送台２３とによる発光素子Ｌの挟み込みが解除される。
【００５６】
図６は、発光素子の検査装置１の構成例を表すブロック図である。発光素子の検査装置１では、装置全体の制御を司る主制御部１０と、テスターとしての特性測定部１７と、が相互に接続されている。主制御部１０には、発光特性測定ユニット１２に含まれるモータ８１及び注入器１６が接続されており、また分類動作ユニット９も接続されている。特性測定部１７には、積分球からなる受光器７が接続されている。また、特性測定部１７は、位置決定部１９を機能的に含んでいる。
【００５７】
他にも、主制御部１０は、発光素子の検査装置１に含まれる間欠回転盤２などを制御する。間欠回転盤２の間欠回転では、間欠回転盤２が所定の角度だけ回転する回転期間と、回転が停止する停止期間と、が交互に繰り返される。発光特性測定ユニット１２に含まれるモータ８１等は、間欠回転盤２の停止期間に動作するように制御される。
【００５８】
主制御部１０及び特性測定部１７は、ＣＰＵ（中央演算装置）及びその作業領域であるＲＡＭ等を含んだコンピュータ又はＰＬＣ（プログラマブルコントローラ）として構成されている。また、主制御部１０及び特性測定部１７は、ＣＰＵの動作に必要なプログラム及びデータを記憶する記憶装置を含んでいる。
【００５９】
特性測定部１７は、プローブ５５に接続されており、プローブ５５が発光素子Ｌの端子Ｌｔに接触するタイミングに合わせて、プローブ５５を介して発光素子Ｌに通電することで、発光素子Ｌから光を放射させる（図４Ｂを参照）。
【００６０】
また、特性測定部１７は、受光器７に接続されており、受光器７の検出信号を受け入れて、発光素子Ｌの輝度などの発光特性を測定する。ここで、受光器７が検出する光は、昇降筒６３の開口６３ａに挿入された発光素子ＬのレンズＬｐから放射され、透光部材６７を透過し、昇降筒６３を通って、受光器７の内部空間に至った光である（図４Ｂを参照）。
【００６１】
注入器１６は、貫通穴６３ｃに接続されており、主制御部１０からの指令に応じて気体を放出する。注入器１６は、例えば電磁弁からなる。具体的に、注入器１６は、昇降筒６３が上昇するタイミングに合わせて、昇降筒６３の第２の空間６７ｂに気体を注入することで、昇降筒６３から発光素子Ｌを引き離す（図４Ｂを参照）。
【００６２】
特性測定部１７に含まれる位置決定部１９は、測定された発光特性に基づいて、発光素子Ｌの収容位置を決定する。具体的には、始めに、位置決定部１９は、取得した発光特性に基づいて、予め定められた複数の階級の中の何れの階級に発光素子Ｌが該当するのかを判定する。階級の数は、例えば容器Ｂの数と同数であり、例えば１２８である。次いで、位置決定部１９は、記憶装置に保持されたテーブルを参照し、判定された階級に基づいて、複数の容器Ｂの中から発光素子Ｌを収容する容器Ｂを決定する。図７に示されるように、テーブルでは、発光特性の「階級」と、各容器Ｂの「容器位置」とが対応付けられている。
【００６３】
また、位置決定部１９は、分類動作ユニット９のヘッド部９１を位置決めする各容器Ｂの位置を２次元の直交座標もしくは極座標で管理しており、発光素子Ｌを収容する容器Ｂの位置を表す座標情報を主制御部１０に出力する。主制御部１０は、座標情報に基づいて分類動作ユニット９を駆動する。これにより、分類動作ユニット９は、発光素子Ｌを保持したヘッド部９１を指定された容器Ｂの上方に位置決めし、当該容器Ｂに発光素子Ｌを収容する。
【００６４】
以上、本考案の実施形態について説明したが、本考案は上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形実施が当業者にとって可能であるのはもちろんである。
【００６５】
上記実施形態では、発光素子Ｌから放射される光が透光部材６７を透過しており、多少の減衰が予想されるため、透光部材６７の吸収特性を予め求めて、これに基づき発光特性の測定結果を補正してもよい。
【符号の説明】
【００６６】
１  発光素子の検査装置、１０  主制御部、１２  発光特性測定ユニット、１６  注入器、１７  特性測定部、１９  位置決定部、２  間欠回転盤、２１  円板部、２２  部品搬送部、２３  搬送台、２３ａ  貫通穴、３  部品供給機、３２  整列搬送部、３４  部品移載機、３６  位置調整機、３９  部品移載機、４  副間欠回転盤、４１  円板部、４２  部品搬送部、５  プローブ昇降ユニット、５１  固定部、５１２  レール部、５１４  バネ支持部、５２  昇降部、５２３  ランナー部、５２５  バネ支持部、５３  保持部、５４  カムフォロワ、５５  プローブ、５６  引張りバネ、６  ステージ昇降ユニット、６１  固定部、６１２  レール部、６１４  バネ支持部、６２  昇降部、６２３  ランナー部、６２５  バネ支持部、６３  昇降筒、６３ａ  開口、６３ｂ  内周面、６３ｃ  貫通穴、６３２  筒部、６３４  底部、６４  カムフォロワ、６６  引張りバネ、６７  透光部材、６７ａ  第１の空間、６７ｂ  第２の空間、７  受光器、７ａ  挿入口、８  カム駆動ユニット、８１  モータ、８３  軸部、８５  カム、８６  カム、９  分類動作ユニット、９１  ヘッド、９３  アーム、Ｂ  容器、Ｌ  発光素子、Ｌｐ  光放射部（レンズ）、Ｌｎ  非放射部、Ｌｓ  基板部、Ｌｔ  端子。
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図２Ｃ】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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