(57)【要約】      （修正有）【課題】各々のイベントの位置、反射損失および光ファイバ線路全体尾損入損失、そして総反射損失の測定を兼ねた測定装置を堤供する。【解決手段】二つの経路の信号処理により光ファイバ線路上における多種類の参考情報を観測する光ファイバ線路の挿入損失および各々のイベントの反射損失を検出可能な測定装置であって、第１の経路を選択した場合、周波数変調連続波（ＦＭＣＷ）変調後の測定信号を光ファイバ線路に出力し、さら反射信号に基づいて光ファイバ線路上における各々のイベントの発生位置およびイベントの反射損失を分析し、反対に第２の経路を選択した場合には、一般的な検出光のみを光ファイバ線路に出力して、その反射信号に基づいて線路全体における挿入損失および総反射損失を検知することができる。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
制御信号に基づいて、連続した周期性を持つ周波数変調信号を生成する必要性を決定する周波数変調連続信号発生器と、
前記周波数変調連続信号発生器に接続されており、一般的な検出光を出力するか、または前記周波数変調連続信号と結合した周波数変調信号検出光を出力するレーザ出射器と、
第１の接続ポートが前記レーザ出射器に接続されて前記一般的な検出光または周波数変調信号検出光を受光し、第２の接続ポートが前記一般的な検出光または周波数変調信号検出光を対外的に光ファイバ線路に出力するとともに反射信号を受信する光サーキュレータと、
前記光サーキュレータの第３の接続ポートに接続されて、一般的な検出光の反射信号または周波数変調信号検出光の反射信号を電気信号に変換して、第１の経路または第２の経路への接続を切換える光検出器と、
前記第１の経路上に配置されて光検出器に接続されることで、前記周波数変調連続信号発生器が出力した周波数変調信号および光検出器が出力した周波数変調信号検出光の反射信号を受光するとともに、周波数混合処理を行ってビート周波数を生成する合波器と、
前記第１の経路上に配置され前記合波器に接続されて、前記ビート周波数に増幅処理を行う第１のアンプと、
前記第２の経路上に配置され前記光検出器に接続されて、一般的な検出光の反射信号により変換された電気信号を受信するとともに増幅処理を行う第２のアンプと、
前記第１のアンプまたは第２のアンプへの接続を切換え、第１のアンプまたは第２のアンプで増幅処理後のアナログ信号をディジタル信号に変換するA／Dコンバータと、
前記Ａ／Ｄコンバータに接続されて前記ディジタル信号を受信するものであって、第１の経路で得られたディジタル信号に基づいて前記光ファイバ線路内の各々のイベントの位置および反射損失を分析可能であって、第２の経路で得られたディジタル信号に基づいて前記光ファイバ線路内の挿入損失および総反射損失を分析可能である信号処理分析手段と、を備えている、ことを特徴とする光ファイバ線路の挿入損失および各々のイベントの反射損失を検出可能な測定装置。
【請求項２】
前記信号処理分析手段が前記制御信号を出力することで、前記周波数変調連続信号発生器を制御し、
前記第１の経路を選択した場合、周波数変調連続信号発生器は前記周波数変調信号を出力し、前記第２の経路を選択した場合、周波数変調連続信号発生器は前記周波数変調信号を出力しない、ことを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ線路の挿入損失および各々のイベントの反射損失を検出可能な測定装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は光ファイバ測定装置であって、特に線路の挿入損失（ｉｎｓｅｒｔｉｏｎ ｌｏｓｓ）、総反射損失（ｔｏｔａｌ ｒｅｔｕｒｎ ｌｏｓｓ）と各々のイベントの位置および反射量の測定とを兼ねた測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、光ファイバ搬送路におけるイベントを検出するに採用する技術に応用されるものとして、いわゆる周波数変調連続波（ＦＭＣＷ）技術を利用して達成されることが可能である。図４を参照されたい。周波数変調連続波原理を利用して構成された測定装置は主にレーザ出射器８０と、周波数変調連続信号発生器８１と、光サーキュレータ８２と、光検出器８３と、合波器８４と、アンプ８５と、Ａ／Ｄコンバータ８６と、信号処理分析手段８７とを備えている。
【０００３】
前記レーザ出射器８０は検出光を出射可能であって、前記周波数変調連続信号発生器８１は連続した周期性を持つ変調信号を生成可能であって、前記周波数変調信号と検出光とを調和させた後、光サーキュレータ８２を経由して、対外的に光ファイバ線路１００に出力する。周波数変調連続信号が光ファイバ線路１００内で前進するときに、もし連続していない面にぶつかると、周波数変調連続信号は光ファイバ経路内で反射する。
【０００４】
前記光検出器８３は反射した周波数変調連続信号を受光するとともに、これを電気信号に変換することができる。前記合波器８４は周波数変調連続信号発生器８１が生成した元の周波数変調連続信号Ａと光ファイバ線路１００内で反射した周波数変調連続信号Ｂとを混合するものである。その混合した波形については図５を参照されたい。元の周波数変調連続信号Ａと周波数変調連続信号Ｂとの間にはビート周波数が発生する。
【０００５】
前記アンプ８５は上記混合した後の周波数変調連続信号を増幅して、Ａ／Ｄコンバータ８６が増幅処理後のアナログ信号をさらにディジタル信号に変換するするとともに、信号処理分析手段８７に送信する。信号処理分析手段８７内部では前記ディジタル信号につき高速フーリエ変換（ＦＦＴ）を実行することで、反射周波数が得られ、さらに反射周波数に基づいて反射点の位置を算出するので、前記光ファイバ線路１００上に存在する各々のイベントを検出することができる。図６に示す構造に応用したものを例として説明するが、異なるイベント位置Ｐ〜Ｓの間は光ファイバ線路で接続されており、上記した周波数変調連続波の検出方式で図７に示す波形が得られるものであって、波形図では異なるイベント位置Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｓが図示されている。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００６】
ところがイベント位置の波形図から前記光ファイバ線路１００の各々のイベントの正確な位置および反射損失を効果的に検出することはできるものの、光ファイバ線路１００の総反射損失と挿入損失を反映することはできない。
【０００７】
従来の測定装置では、イベントの位置および反射損失しか検出できなかったということに鑑み、本考案の主な目的は、各々のイベントの位置、反射損失および光ファイバ線路全体の挿入損失、そして総反射損失の測定を兼ねた測定装置を提供するところにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本考案では以下の構成となる。
【０００９】
制御信号に基づいて、連続した周期性を持つ周波数変調信号を生成する必要性を決定する周波数変調連続信号発生器と、
前記周波数変調連続信号発生器に接続されており、一般的な検出光を出力するか、または前記周波数変調連続信号と結合した周波数変調信号検出光を出力するレーザ出射器と、
第１の接続ポートが前記レーザ出射器に接続されて前記一般的な検出光または周波数変調信号検出光を受光し、第２の接続ポートが前記一般的な検出光または周波数変調信号検出光を対外的に光ファイバ線路に出力するとともに反射信号を受信する光サーキュレータと、
前記光サーキュレータの第３の接続ポートに接続されて、一般的な検出光の反射信号または周波数変調信号検出光の反射信号を電気信号に変換して、第１の経路または第２の経路への接続を切換える光検出器と、
前記第１の経路上に配置されて光検出器に接続されることで、前記周波数変調連続信号発生器が出力した周波数変調信号および光検出器が出力した周波数変調信号検出光の反射信号を受光するとともに、周波数混合処理を行ってビート周波数を生成する合波器と、
前記第１の経路上に配置され前記合波器に接続されて、前記ビート周波数に増幅処理を行う第１のアンプと、
前記第２の経路上に配置され前記光検出器に接続されて、一般的な検出光の反射信号により変換された電気信号を受信するとともに増幅処理を行う第２のアンプと、
前記第１のアンプまたは第２のアンプへの接続を切換え、第１のアンプまたは第２のアンプで増幅処理後のアナログ信号をディジタル信号に変換するA／Dコンバータと、
前記Ａ／Ｄコンバータに接続されて前記ディジタル信号を受信するものであって、第１の経路で得られたディジタル信号に基づいて前記光ファイバ線路内の各々のイベントの位置および反射損失を分析可能であって、第２の経路で得られたディジタル信号に基づいて前記光ファイバ線路内の挿入損失および総反射損失を分析可能である信号処理分析手段と、を備えている。
【考案の効果】
【００１０】
したがって、本考案は、第１の経路または第２の経路を簡単に切換えることで、形式の異なる検出光を光ファイバ線路に出力した後には、一台の装置で多種類の情報の観察測定を達成することができ、その他の装置を別途加設することなく、装置使用者の支出コストを節約するとともに、装置の機能的価値を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本考案の回路ブロック図。
【図２】本考案で第１の経路を用いた信号伝送の概略図。
【図３】本考案で第２の経路を用いた信号伝送の概略図。
【図４】従来の周波数変調連続波原理を利用した測定装置における回路ブロック図。
【図５】周波数変調連続波の波形概略図。
【図６】光ファイバ線路で異なるポイントを接続した接続概略図。
【図７】光ファイバにおけるイベントの分布および反射量の概略図。
【考案を実施するための形態】
【００１２】
図１を参照されたい。本考案はレーザ出射器１０と、周波数変調連続信号発生器１１と、光サーキュレータ１２と、光検出器１３と、合波器１４と、第１のアンプ１５と、Ａ／Ｄコンバータ１６と、第２のアンプ１７と、信号処理分析手段１８とを備えている。
【００１３】
前記周波数変調連続信号発生器１１は信号処理分析手段１８が出力した制御信号を受信して、連続した周期性を持つ周波数変調信号を生成する必要性を制御する。
【００１４】
前記レーザ出射器１０は検出光を生成するものであり、前記周波数変調連続信号発生器１１は周波数変調信号を出力しており、前記検出光および周波数変調信号はコンディショナを介して変調信号検出光を生成する。反対に、もし周波数変調連続信号発生器１１が周波数変調信号を出力しなければ、レーザ出射器１０は一般的な検出光のみを出力する。
【００１５】
前記光サーキュレータ１２は、その第１の接続ポートが前記周波数変調連続信号発生器１１に接続されて前記検出光の伝搬経路内に配置されており、その第２の接続ポートは対外的に光ファイバ線路１００に接続されている。前記周波数変調信号検出光または一般的な検出光は光サーキュレータ１２を経由して対外的に光ファイバ線路１００に送出される。もし光ファイバ線路１００内に連続していない面がある場合、周波数変調信号検出光には反射したフィードバック光成分が生じて、そして光サーキュレータ１２を介して反射した光成分が光ファイバ線路に沿って光検出器１３中にフィードバックされて、後続の信号処理プログラムにより各々のイベントが生じた具体的な位置および反射損失が判断される。また、もし光検出器１３が一般的な検出光の反射した光成分を受光したとき、この反射した光成分に基づいて前記光ファイバ線路１００の全体的な挿入損失および反射損失を分析することができる。
【００１６】
前記光検出器１３は前記光サーキュレータ１２の第３の接続ポートに接続されており、前記光サーキュレータ１２により反射した光成分を受光するとともに、これら光成分を電気信号に変換する。このうち、本考案における光検出器１３は出力したい対象の装置を切換えることができるものであって、つまり第１の経路または第２の経路に切換えることができ、前記第１の経路は合波器１４、第１のアンプ１５およびＡ／Ｄコンバータ１６を経由するものであり、一方第２の経路は第２のアンプ１７およびＡ／Ｄコンバータ１６を経由するものである。
【００１７】
前記合波器１４は前記周波数変調連続信号発生器１１および光検出器１３に電気的に接続されており、反射した周波数変調信号と元の周波数変調信号とを混合処理してビート周波数を発生させる。
【００１８】
前記第１のアンプ１５は前記ビート周波数を受信して、混合後の信号強度を高めるために合波器１４の出力側に接続されている。
【００１９】
Ａ／Ｄコンバータ１６は第１のアンプ１５または第２のアンプ１７への接続への接続を切換え、増幅後のアナログ信号をディジタル信号に変換するとともに、信号処理分析手段１８に出力する。
【００２０】
もし光検出器１３が受光したものが一般的な検出光が光ファイバ線路１００上にて反射して戻ってきた信号である場合には、第２のアンプ１７に出力して信号増幅作業を行い、さらに第２のアンプ１７を介して信号処理分析手段１８に送出する。
【００２１】
前記信号処理分析手段１８はＡ／Ｄコンバータ１６が出力したディジタル信号を受信して、このディジタル信号に処理分析を行い、光ファイバ線路１００上における各々のイベントの位置、イベントの反射損失、挿入損失および総反射損失などの情報を判断する。
【００２２】
本考案を実際に応用するとき、異なる光信号を光ファイバ線路１００中に入力して、さらに反射して戻ってきた信号を第１の経路または第２の経路で受信して、分析演算を行う。図２を参照されたい。第１の経路を用いる場合、前記周波数変調連続信号発生器１１は周波数変調信号を出力し、レーザ出射器１０で生成した検出光と周波数変調信号とを一つの周波数変調信号検出光として結合して、光サーキュレータ１２を経由して周波数変調信号検出光を光ファイバ線路１００に入力するものであって、そして反射して戻ってきた信号は光検出器１３、合波器１４、第１のアンプ１５およびＡ／Ｄコンバータ１６を経由した後に信号処理分析手段１８に送出されて、これによって光ファイバ線路１００上における各々のイベントの位置およびイベントの反射損失を判断することになる。
【００２３】
また図３を参照されたい。第２の経路を用いる場合、前記周波数変調連続信号発生器１１は周波数変調信号を出力せずに、レーザ出射器１０により一般的な検出光のみを出射し、光サーキュレータ１２を経由して一般的な検出光は光ファイバ線路１００に入力されるものであって、そして反射して戻ってきた信号は光検出器１３、第２のアンプ１７およびＡ／Ｄコンバータ１６を経由した後に信号処理分析手段１８に送出されて、これによって光ファイバ線路１００の挿入損失および総反射損失を判断することになる。
【００２４】
上記をまとめるに、本考案では従来の周波数変調連続波原理で構成された測定装置にて適正な回路調整により、イベントの位置、イベントの反射損失、挿入損失および総反射損失などの多種類の情報の測定を達成することができる。
【符号の説明】
【００２５】
１０レーザ出射器
１１周波数変調連続信号発生器
１２光サーキュレータ
１３光検出器
１４合波器
１５第１のアンプ
１６Ａ／Ｄコンバータ
１７第２のアンプ
１８信号処理分析手段
１００光ファイバ線路
従来技術
８０レーザ出射器
８１周波数変調連続信号発生器
８２光サーキュレータ
８３光検出器
８４合波器
８５アンプ
８６Ａ／Ｄコンバータ
８７信号処理分析手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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