(57)【要約】【課題】昇圧コンデンサの経年劣化の診断および昇圧コイルのインダクタンス低下の診断が可能な制御装置を提供する。【解決手段】制御装置１００は、昇圧処理Ｐ２と、カウント処理Ｐ３と、診断処理Ｐ４，Ｐ７，Ｐ１４を実行する。昇圧処理Ｐ２は、昇圧回路のスイッチング素子をオンにしてバッテリから昇圧回路の昇圧コイルへ電流を流した後にスイッチング素子をオフにして昇圧コイルから昇圧コンデンサへ電流を流すスイッチング動作を繰り返して昇圧コンデンサに昇圧電圧を蓄える処理である。カウント処理Ｐ３は、昇圧電圧が所定電圧に到達した時点から所定時間が経過するまでの診断期間におけるスイッチング動作の回数であるスイッチング回数を算出する処理である。診断処理Ｐ４，Ｐ７，Ｐ１４は、カウント値に基づいて昇圧コンデンサの経年劣化と昇圧コイルのインダクタンス低下とを診断する処理である。【選択図】図３
2022001756.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
燃料噴射弁のソレノイドに対するバッテリからの電源電圧の供給と昇圧コンデンサからの昇圧電圧の供給とを切り換える駆動回路と、前記バッテリおよび前記昇圧コンデンサに接続された複数の昇圧回路と、を制御する制御装置であって、
前記昇圧回路のスイッチング素子をオンにして前記バッテリから前記昇圧回路の昇圧コイルへ電流を流した後に前記スイッチング素子をオフにして前記昇圧コイルから前記昇圧コンデンサへ電流を流すスイッチング動作を繰り返して前記昇圧コンデンサに昇圧電圧を蓄える昇圧処理と、
前記昇圧電圧が所定電圧に到達した時点から所定時間が経過するまでの診断期間における前記スイッチング動作の回数であるスイッチング回数を算出するカウント処理と、
前記スイッチング回数に基づいて前記昇圧コンデンサの経年劣化と前記昇圧コイルのインダクタンス低下とを診断する診断処理とを実行する制御装置。
【請求項２】
前記診断処理において、すべての前記昇圧回路の前記スイッチング回数の和が第１のしきい値以上であり、前記昇圧処理の繰り返し数が第２のしきい値以上である場合に、前記昇圧コンデンサの前記経年劣化を診断する、請求項１に記載の制御装置。
【請求項３】
前記診断処理において、すべての前記昇圧回路の前記スイッチング回数の和が第１のしきい値未満であり、少なくとも一つの前記昇圧回路の前記スイッチング回数が第３のしきい値以上である場合に、前記昇圧コイルの前記インダクタンス低下を診断する、請求項１に記載の制御装置。
【請求項４】
前記昇圧コンデンサの前記経年劣化を診断した場合に、前記経年劣化を外部に通知する、請求項１に記載の制御装置。
【請求項５】
前記駆動回路を制御する駆動制御部と、複数の前記昇圧回路を制御する複数の昇圧制御部とを有し、
個々の前記昇圧制御部は、前記昇圧コンデンサに蓄えられた電圧を検出する電圧検出部と、前記スイッチング素子に昇圧制御信号を出力する昇圧信号生成部と、前記昇圧制御信号に基づいて前記スイッチング回数を算出する昇圧信号カウント部と、該昇圧信号カウント部へ前記診断期間を規定する診断タイミング信号を出力する診断信号生成部と、前記スイッチング回数に基づいて前記昇圧コンデンサの前記経年劣化と前記昇圧コイルの前記インダクタンス低下とを判定する劣化判定部とを有する、請求項１に記載の制御装置。
【請求項６】
前記駆動制御部は、前記制御装置の電源投入時に前記昇圧制御部へリセット信号を出力し、
前記昇圧制御部は、前記リセット信号の入力後に、前記電圧検出部によって前記電圧を検出する、請求項５に記載の制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、たとえば内燃機関の燃料噴射弁の駆動を制御するための制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、車載バッテリから昇圧した高電圧を利用して電磁式燃料噴射弁の駆動制御を行なう燃料噴射弁駆動制御装置に関する発明が知られている（下記特許文献１）。特許文献１に記載された内燃機関の燃料噴射弁駆動制御装置は、昇圧回路を備える（同文献、要約、請求項１、第００１５段落等）。昇圧回路は、昇圧コイルと、その昇圧コイルにバッテリ電源電圧からのスイッチング電流を供給するスイッチング素子と、そのスイッチング素子のスイッチング動作により発生する昇圧電圧を蓄電する昇圧コンデンサとを有している。
【０００３】
上記燃料噴射弁駆動制御装置は、昇圧コンデンサに蓄電された昇圧電圧とバッテリ電源電圧とを切り換えながら燃料噴射弁を駆動する。この燃料噴射弁駆動制御装置は、前記昇圧コンデンサに蓄電された前記昇圧電圧が所定電圧に到達した時点から所定時間が経過するまでの間、上記スイッチング素子のスイッチング動作回数をカウントし、そのカウント値に基づいて上記昇圧コンデンサの劣化診断を行う。
【０００４】
このような構成により、上記燃料噴射弁駆動制御装置は、昇圧動作を停止することなく、早期に昇圧コンデンサの劣化診断を確実かつ誤りなく行うことが可能となる（同文献、第００１６段落等）。
【０００５】
より具体的には、昇圧回路の異常時、すなわち、昇圧コンデンサの劣化による比較的大きい皮膜修復電流が流れた場合には、昇圧電圧に皮膜修復電流に応じた電圧降下が発生する。その結果、スイッチング素子は、何度もスイッチングを繰り返すこととなる。そのため、上記燃料噴射弁駆動制御装置は、スイッチング素子のスイッチング動作回数をカウントし、そのカウント値が予め定めたクライテリア値を超えると、昇圧コンデンサが劣化していると判定する（同文献、第００２７段落等）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１１−２４７１９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記従来の燃料噴射弁駆動制御装置によれば、昇圧コンデンサとして用いられる電解コンデンサに流れる皮膜修復電流により、電解コンデンサの化成皮膜の劣化を診断することができる。しかし、昇圧コンデンサの劣化は、電解コンデンサの化成皮膜の劣化だけでなく、電解コンデンサの電解液が減少して容量が低下するなど、電解コンデンサの経年劣化に起因する場合がある。
【０００８】
また、昇圧コイルは、温度が上昇すると、インダクタンスが低下してスイッチング素子がオフに切り替わる直前に蓄えられるエネルギーが減少する。その結果、スイッチング素子がオフに切り替わったときに昇圧コンデンサに流れる電流が減少し、一回のスイッチングで昇圧コイルから昇圧コンデンサに移行できるエネルギーが減少する。すると、昇圧電圧を安定に保つためのスイッチング素子のスイッチング動作回数が増加し、昇圧コイルのインダクタンスがさらに低下する。
【０００９】
本開示は、昇圧コンデンサの経年劣化の診断および昇圧コイルのインダクタンス低下の診断が可能な制御装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本開示の一態様は、燃料噴射弁のソレノイドに対するバッテリからの電源電圧の供給と昇圧コンデンサからの昇圧電圧の供給とを切り換える駆動回路と、前記バッテリおよび前記昇圧コンデンサに接続された複数の昇圧回路と、を制御する制御装置であって、前記昇圧回路のスイッチング素子をオンにして前記バッテリから前記昇圧回路の昇圧コイルへ電流を流した後に前記スイッチング素子をオフにして前記昇圧コイルから前記昇圧コンデンサへ電流を流すスイッチング動作を繰り返して前記昇圧コンデンサに昇圧電圧を蓄える昇圧処理と、前記昇圧電圧が所定電圧に到達した時点から所定時間が経過するまでの診断期間における前記スイッチング動作の回数であるスイッチング回数を算出するカウント処理と、前記スイッチング回数に基づいて前記昇圧コンデンサの経年劣化と前記昇圧コイルのインダクタンス低下とを診断する診断処理とを実行する制御装置である。
【発明の効果】
【００１１】
本開示の上記一態様によれば、昇圧コンデンサの経年劣化の診断および昇圧コイルのインダクタンス低下の診断が可能な制御装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本開示に係る制御装置の一実施形態を示すブロック図。
【図２】燃料噴射弁に供給される電流Ｉと駆動回路の動作を示すタイムチャート。
【図３】図１に示す制御装置の処理の流れの一例を示すフロー図。
【図４】昇圧コンデンサの昇圧電圧と制御装置の信号の時間波形を示すグラフ。
【図５】昇圧コンデンサの昇圧電圧と制御装置の信号の時間波形を示すグラフ。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図面を参照して本開示に係る制御装置の一実施形態を説明する。
【００１４】
図１は、本開示に係る制御装置の一実施形態を示すブロック図である。本実施形態の制御装置１００は、たとえば、エンジンコントロールユニット（ＥＣＵ）を構成するマイクロコントローラである。
【００１５】
図示を省略するが、制御装置１００は、たとえば、ＣＰＵなどの処理装置、ＲＯＭやＲＡＭなどの記憶装置、入出力部、およびタイマーなどを備えている。図１に示す制御装置１００の各機能ブロックは、たとえば、記憶装置に記憶されたプログラムを処理装置によって実行することによって実現される制御装置１００の機能を表している。
【００１６】
制御装置１００は、たとえば、一つの駆動回路１０と、複数の昇圧回路２０とに接続されている。なお、図１に示す例では、制御装置１００の外部に一つの駆動回路１０と二つの昇圧回路２０と一つの昇圧コンデンサ３０とが設けられているが、この構成には限定されず、たとえば三つ以上の昇圧回路２０を設けてもよい。また、制御装置１００は、たとえば、駆動回路１０と複数の昇圧回路２０と昇圧コンデンサ３０とを含む構成であってもよい。
【００１７】
駆動回路１０は、燃料噴射弁を駆動させて内燃機関であるエンジンの燃焼室に燃料を噴射させるための回路である。駆動回路１０は、たとえば、ハイサイドドライバ（ＨＳＤ１１，１３）と、逆流防止ダイオード１２，１４と、フライホイールダイオード１５と、ローサイドドライバ（ＬＳＤ１６）と、駆動電流検出抵抗１７と、を有し、燃料噴射弁のソレノイド４０に接続されている。駆動回路１０は、昇圧コンデンサ３０およびバッテリ５０に接続されている。より具体的には、駆動回路１０は、たとえば、ＨＳＤ１１を介して、配線により昇圧コンデンサ３０に接続され、ＨＳＤ１３を介して、配線により車両に搭載されたバッテリ５０に接続されている。
【００１８】
各々の昇圧回路２０は、たとえば、昇圧コイル２１と、スイッチング素子２２と、電流検出抵抗２３と、昇圧ダイオード２４と、を有している。複数の昇圧回路２０は、たとえば、昇圧コンデンサ３０に対して並列に接続されている。昇圧コンデンサ３０は、たとえば、電解コンデンサである。各々の昇圧回路２０は、たとえば、昇圧ダイオード２４を介して昇圧コンデンサ３０に接続され、昇圧コイル２１を介してバッテリ５０に接続されている。
【００１９】
昇圧回路２０は、スイッチング素子２２がオンになると、バッテリ５０から電源グランドへ電流が流れ、昇圧コイル２１に電流が流れる。その後、スイッチング素子２２がオフになると、昇圧コイル２１を流れる電流は急変できないため、昇圧ダイオード２４を介して昇圧コイル２１から昇圧コンデンサ３０へ電流が流れる。昇圧回路２０は、このようなスイッチング素子２２のスイッチング動作を繰り返すことで、昇圧コンデンサ３０に高電圧の昇圧電圧Ｖｓを蓄積させることができる。
【００２０】
制御装置１００は、たとえば、駆動制御部１１０と、複数の昇圧制御部１２０と、劣化通知部１３０と、を有している。これらの各部は、前述のように、制御装置１００の処理装置によって記憶装置に記憶されたプログラムを実行することによって実現される、制御装置１００の機能ブロックである。駆動制御部１１０は、たとえば、駆動回路１０のＨＳＤ１１，１３およびＬＳＤ１６にそれぞれ配線を介して接続され、ＨＳＤ１１，１３およびＬＳＤ１６を制御する。
【００２１】
図２は、燃料噴射弁に供給される電流Ｉと駆動回路１０の動作を示すタイムチャートの一例である。駆動制御部１１０は、たとえば、燃料噴射弁のソレノイド４０に対する通電の初期において、図１に示す駆動回路１０のＨＳＤ１１とＬＳＤ１６とをオンにする。これにより、昇圧電圧Ｖｓが蓄えられた昇圧コンデンサ３０から燃料噴射弁のソレノイド４０へ、図２に示すような比較的に大きなピーク電流Ｉａが供給され、燃料噴射弁を素早く開弁させることができる。
【００２２】
その後、駆動制御部１１０は、図２に示すように、たとえば、ＬＳＤ１６をオンにした状態でＨＳＤ１１をオフにするとともに、ＨＳＤ１３のオンとオフを、第１の周期で繰り返し切り換えた後、さらに第２の周期で繰り返し切り換える。これにより、バッテリ５０から燃料噴射弁のソレノイド４０へ第１ホールド電流Ｉｂと、第２ホールド電流Ｉｃとを供給して、燃料噴射弁の開弁状態を維持することができる。
【００２３】
これらＨＳＤ１１，１３およびＬＳＤ１６に流れる電流は、ＬＳＤ１６に接続された駆動電流検出抵抗１７により電圧に変換され、駆動制御部１１０にフィードバックされる。駆動制御部１１０は、フィードバックされた電流の情報に基づいて駆動回路１０の電流制御を行う。その後、駆動制御部１１０は、ＨＳＤ１１，１３およびＬＳＤ１６をすべてオフにすることで、燃料噴射弁のソレノイド４０への電流Ｉの供給を遮断して、燃料噴射弁を閉弁状態にすることができる。
【００２４】
昇圧制御部１２０は、たとえば、昇圧信号生成部１２１と、電流検出部１２２と、電圧検出部１２３と、診断信号生成部１２４と、昇圧信号カウント部１２５と、劣化判定部１２６とを有している。
【００２５】
以下、図３から図５を参照して、本実施形態の制御装置１００の動作の一例を説明する。図３は、図１に示す制御装置１００の処理の流れの一例を示すフロー図である。図４および図５は、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓと、制御装置１００が生成する各種の信号の時間波形の一例を示すグラフである。なお、図４は、昇圧コンデンサ３０の正常時のグラフであり、図５は、昇圧コンデンサ３０の異常時のグラフである。
【００２６】
制御装置１００は、たとえば、電源が投入されると、図３に示す処理フローを開始する。制御装置１００は、図３に示す処理フローの開始直後に、駆動制御部１１０から昇圧制御部１２０へリセット信号Ｃｒを送信するリセット処理Ｐ１を実行する。駆動制御部１１０から出力されたリセット信号Ｃｒは、たとえば、昇圧制御部１２０の診断信号生成部１２４と劣化判定部１２６へ入力される。
【００２７】
このリセット処理Ｐ１において、リセット信号Ｃｒが入力された劣化判定部１２６は、昇圧コンデンサ３０の劣化を判定するための昇圧処理Ｐ２の繰り返し数Ｒを、ゼロにリセットする。また、劣化判定部１２６は、図４に示すように、劣化診断フラグＦをＬＯＷからＨＩＧＨに切り換えて駆動制御部１１０へ送信する。駆動制御部１１０は、劣化判定部１２６から入力される劣化診断フラグＦがＨＩＧＨになっている間は、昇圧コンデンサ３０に蓄えられた昇圧電圧Ｖｓを利用した燃料噴射弁の駆動を禁止する。
【００２８】
次に、制御装置１００は、昇圧処理Ｐ２を実行する。この処理Ｐ２において、すべての昇圧制御部１２０の昇圧信号生成部１２１は、それぞれの昇圧制御部１２０の制御対象である昇圧回路２０のスイッチング素子２２へ向けて昇圧制御信号Ｃａの送信を開始する。この処理Ｐ２において、昇圧信号生成部１２１は、図４に示すように、昇圧制御信号ＣａをＬＯＷからＨＩＧＨへ間欠的に繰り返し切り換える。この昇圧制御信号Ｃａを受信したスイッチング素子２２は、スイッチング素子２２をオフからオンへ間欠的に繰り返し切り替える。
【００２９】
昇圧処理Ｐ２において、制御装置１００は、たとえば、一の昇圧制御部１２０の昇圧信号生成部１２１からその制御対象である一の昇圧回路２０へ、順次、ＬＯＷからＨＩＧＨ、ＨＩＧＨからＬＯＷとなる昇圧制御信号Ｃａの一波形を出力する。これにより、すべての昇圧回路２０におけるスイッチング素子２２のスイッチング回数を均等にすることができる。
【００３０】
昇圧処理Ｐ２において、スイッチング素子２２がオンとオフを切り替えるスイッチング動作を繰り返すことで、バッテリ５０からの電流が、昇圧コイル２１、スイッチング素子２２、および電流検出抵抗２３を通してグランドへ間欠的に繰り返し流れる。これにより、昇圧コイル２１にエネルギーが蓄えられる。昇圧コイル２１を流れる電流は、電流検出抵抗２３によって電圧に変換され、電流検出部１２２によって検出される。
【００３１】
電流検出部１２２によって検出された昇圧コイル２１を流れる電流が所定の電流値を超えると、昇圧信号生成部１２１は、図４に示すように、昇圧制御信号ＣａのＬＯＷからＨＩＧＨへの間欠的な切り替えを停止して、昇圧制御信号ＣａをＬＯＷに維持する。これにより、スイッチング素子２２がオフになり、昇圧コイル２１に流れるバッテリ５０からの電流が遮断され、昇圧コイル２１に蓄えられたエネルギーによって高電圧が発生する。
【００３２】
昇圧コイル２１の電圧が、昇圧ダイオード２４の順方向電圧と、昇圧コンデンサ３０に蓄えられた昇圧電圧Ｖｓとの和よりも高くなると、昇圧コイル２１に蓄えられたエネルギーが昇圧ダイオード２４を通して充電電流として昇圧コンデンサ３０へ移動する。この充電電流は、昇圧コイル２１を流れる電流がスイッチング素子２２によって遮断される直前に、昇圧コイル２１を流れていた電流から流れ始め、昇圧コイル２１から昇圧コンデンサ３０へのエネルギーの移動に伴って急速に減少する。
【００３３】
このように、昇圧処理Ｐ２において、制御装置１００は、昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング動作を繰り返して、昇圧コンデンサ３０に昇圧電圧Ｖｓを蓄える。ここで、スイッチング動作とは、昇圧回路２０のスイッチング素子２２をオンにしてバッテリ５０から昇圧回路２０の昇圧コイル２１へ電流を流した後に、スイッチング素子２２をオフにして昇圧コイル２１から昇圧コンデンサ３０へ電流を流す動作である。
【００３４】
さらに、昇圧処理Ｐ２において、昇圧信号生成部１２１は、電圧検出部１２３によって検出された昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓが所定電圧に到達したか否かを判定する。昇圧信号生成部１２１は、昇圧電圧Ｖｓが所定電圧に到達していないことを判定すると、所定の充電期間または所定のスイッチング周波数で昇圧制御信号ＣａをＬＯＷからＨＩＧＨに切り換え、スイッチング素子２２をオンにして昇圧コイル２１に通電させる。制御装置１００は、たとえば、電圧検出部１２３によって、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓが所定電圧に到達したことが判定されると、カウント処理Ｐ３を実行する。
【００３５】
カウント処理Ｐ３において、診断信号生成部１２４は、図４に示す診断タイミング信号ＣｔをＬＯＷからＨＩＧＨに切り換えて昇圧信号カウント部１２５へ出力し、ＨＩＧＨの診断タイミング信号Ｃｔを出力した時点からの経過時間を計測する。また、昇圧信号カウント部１２５は、診断タイミング信号ＣｔがＨＩＧＨの間、スイッチング素子２２のスイッチング動作の回数であるスイッチング回数Ｎｓを算出する。昇圧信号カウント部１２５は、たとえば、昇圧信号生成部１２１からスイッチング素子２２へ出力されたＨＩＧＨの昇圧制御信号Ｃａの数を積算し、その積算値をスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓとする。
【００３６】
診断信号生成部１２４は、経過時間が所定時間に達した時点で、図４に示す診断タイミング信号ＣｔをＨＩＧＨからＬＯＷへ切り換える。昇圧信号カウント部１２５は、診断信号生成部１２４から入力される診断タイミング信号ＣｔがＬＯＷになると、昇圧信号生成部１２１からスイッチング素子２２への昇圧制御信号Ｃａのカウントを停止する。このように、カウント処理Ｐ３において、制御装置１００は、昇圧電圧Ｖｓが所定電圧に到達した時点から所定時間が経過するまでの診断期間におけるスイッチング素子２２のスイッチング動作の回数であるスイッチング回数Ｎｓを算出する。
【００３７】
次に、制御装置１００は、昇圧コンデンサ３０の診断処理Ｐ４を実行する。この処理Ｐ４において、劣化判定部１２６は、カウント処理Ｐ３でカウントしたＨＩＧＨの昇圧制御信号Ｃａの数、すなわちスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓが、所定のしきい値以上であるか否かを判定する。ここで、本実施形態の制御装置１００は、たとえば、すべての昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎが、第１のしきい値Ｓｔ以上であるか否かを判定する。
【００３８】
昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓは、昇圧コンデンサ３０が化成皮膜の劣化も経年劣化もしていない正常な状態であれば、昇圧コンデンサ３０から昇圧制御部１２０への漏れ電流によって多少の電圧降下が生じるとしても、大きな電圧降下を生じることはない。そのため、各々のスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓは、所定の回数を超えず、すべてのスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎが第１のしきい値Ｓｔ以上になることはない。
【００３９】
一方、昇圧コンデンサ３０の化成皮膜が劣化した昇圧コンデンサ３０の異常時には、昇圧コンデンサ３０に比較的に大きい皮膜修復電流が流れ、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓに比較的に大きな電圧降下が生じる。その結果、図５に示すように、昇圧制御信号Ｃａが通常よりも多くＬＯＷからＨＩＧＨに切り換えられ、スイッチング素子２２は、通常よりも多くの回数のスイッチングを繰り返すことになる。そのため、各々のスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓは、所定のしきい値を超え、すべてのスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎは、第１のしきい値Ｓｔ以上になる。
【００４０】
また、たとえば、昇圧コンデンサ３０の経年劣化による容量低下などの昇圧コンデンサ３０の異常時にも、図５に示すように、昇圧制御信号Ｃａが通常よりも多くＬＯＷからＨＩＧＨに切り換えられる。その結果、スイッチング素子２２は、通常よりも多くの回数のスイッチングを繰り返すことになる。そのため、各々のスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓは、所定のしきい値を超え、すべてのスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎは、第１のしきい値Ｓｔ以上になる。
【００４１】
したがって、診断処理Ｐ４において、制御装置１００は、スイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓに基づいて、昇圧コンデンサ３０の異常を判定する。より具体的には、診断処理Ｐ４において、劣化判定部１２６は、たとえば、スイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓが所定のしきい値以上の場合に、昇圧コンデンサ３０の異常（ＹＥＳ）を判定する。また、診断処理Ｐ４において、制御装置１００は、すべての昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎが第１のしきい値Ｓｔ以上である場合に、昇圧コンデンサ３０の異常（ＹＥＳ）を判定してもよい。
【００４２】
また、診断処理Ｐ４において、劣化判定部１２６は、たとえば、スイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓが所定のしきい値未満の場合に、昇圧コンデンサ３０が異常ではないこと（ＮＯ）、すなわち昇圧コンデンサ３０が正常であることを判定する。また、処理Ｐ４において、制御装置１００は、たとえば、すべての昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎが第１のしきい値Ｓｔ未満である場合に、昇圧コンデンサ３０の正常を判定してもよい。
【００４３】
診断処理Ｐ４において、昇圧コンデンサ３０の異常（ＹＥＳ）が判定されると、各々の昇圧制御部１２０の劣化判定部１２６は、図５に示す劣化診断フラグＦをＬＯＷからＨＩＧＨに切り換える。この劣化診断フラグＦは、劣化判定部１２６から駆動制御部１１０へ出力される。駆動制御部１１０は、次に、昇圧停止処理Ｐ５を実行する。
【００４４】
昇圧停止処理Ｐ５において、すべての昇圧制御部１２０の昇圧信号生成部１２１は、昇圧制御信号ＣａをＬＯＷに維持して、すべての昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング動作を一時的に停止する。これにより、昇圧回路２０の全体の余分な発熱が抑制される。次に、制御装置１００は、昇圧処理Ｐ２の繰り返し数Ｒを、Ｒ＝Ｒ＋１にインクリメントする処理Ｐ６を実行する。
【００４５】
昇圧コンデンサ３０の劣化が、化成皮膜の劣化に起因する場合、昇圧処理Ｐ２を繰り返すことで、昇圧コンデンサ３０に皮膜修復電流が流れ、化成皮膜が自己修復される。その結果、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓの電圧降下が解消され、昇圧処理Ｐ２でスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓが減少し、昇圧処理Ｐ２の繰り返し数Ｒが所定のしきい値Ｒｔに達することなく、診断処理Ｐ４で昇圧コンデンサ３０が正常（ＮＯ）と判定される。
【００４６】
一方、昇圧コンデンサ３０の劣化が、たとえば経年劣化など、化成皮膜の劣化以外の劣化である場合、昇圧処理Ｐ２を繰り返しても、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓの電圧降下は回復しない。その結果、昇圧処理Ｐ２でスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓが減少せず、診断処理Ｐ４で昇圧コンデンサ３０が異常（ＹＥＳ）と判定され、昇圧処理Ｐ２の繰り返し数Ｒが増加していく。したがって、昇圧コンデンサ３０の化成皮膜の劣化を判定するための昇圧処理Ｐ２の繰り返し数Ｒの上限数を、予め第２のしきい値Ｒｔとして設定して記憶装置に記憶しておく。
【００４７】
制御装置１００は、処理Ｐ６において、昇圧コンデンサ３０の化成皮膜の劣化を判定するための昇圧処理Ｐ２の繰り返し数Ｒを、Ｒ＝Ｒ＋１にインクリメントした後、繰り返し数Ｒがしきい値Ｒｔ以上か否かを判定する診断処理Ｐ７を実行する。この診断処理Ｐ７において、制御装置１００は、繰り返し数Ｒがしきい値Ｒｔ以上ではない（ＮＯ）、すなわち繰り返し数Ｒがしきい値Ｒｔ未満と判定すると、昇圧処理Ｐ２から診断処理Ｐ４までを繰り返す。ここで、制御装置１００は、たとえば、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓがバッテリ５０の電圧まで低下してから、次の昇圧処理Ｐ２を開始する。
【００４８】
昇圧コンデンサ３０の異常が経年劣化による容量低下などの化成皮膜の劣化以外に起因する場合、昇圧処理Ｐ２を繰り返しても昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓの電圧降下は回復しない。その結果、カウント処理Ｐ３において、スイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓが、所定のしきい値以上になり、すべての昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎが、第１のしきい値Ｓｔ以上になる。
【００４９】
そのため、昇圧コンデンサ３０の異常が経年劣化による容量低下など、化成皮膜の劣化以外に起因する場合、診断処理Ｐ４において繰り返し異常（ＹＥＳ）が判定され、昇圧処理Ｐ２の繰り返し数Ｒが増加してしきい値Ｒｔに達する。すると、劣化判定部１２６は、診断処理Ｐ７において、繰り返し数Ｒがしきい値Ｒｔ以上である（ＹＥＳ）と判定し、昇圧コンデンサ３０の異常を経年劣化と診断する処理Ｐ８を実行する。その後、制御装置１００は、たとえば、劣化通知部１３０により、昇圧コンデンサ３０の異常が経年劣化であることを、車載モニタや車載スピーカなどの外部の装置へ通知する処理Ｐ９を実行し、図３に示す処理フローを終了する。
【００５０】
一方、診断処理Ｐ４において、昇圧コンデンサ３０が異常ではないこと（ＮＯ）、すなわち昇圧コンデンサ３０が正常であることが判定されると、制御装置１００は、昇圧停止処理Ｐ１０を実行する。昇圧停止処理Ｐ１０では、前述の昇圧停止処理Ｐ５と同様に、すべての昇圧制御部１２０の昇圧信号生成部１２１が昇圧制御信号ＣａをＬＯＷに維持し、すべての昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング動作を一時的に停止する。
【００５１】
次に、制御装置１００は、たとえば、昇圧コンデンサ３０に並列に接続した複数の昇圧回路２０のスイッチング素子２２を個々に診断する処理Ｐ１１〜Ｐ１９を実行する。制御装置１００は、まず、昇圧回路２０を個別に診断するための準備処理Ｐ１１を実行する。
【００５２】
この準備処理Ｐ１１において、昇圧信号カウント部１２５は、すべての昇圧回路２０のスイッチング回数Ｎｓを、ゼロにリセットする。また、昇圧信号カウント部１２５は、たとえば、昇圧コンデンサ３０に並列に接続されたｎ個（ｎは自然数）の昇圧回路２０に対して、１番からｎ番までの回路番号Ｎを付与する。また、昇圧信号カウント部１２５は、たとえば、回路番号Ｎが１番の昇圧回路２０から診断を開始するために、診断対象の昇圧回路２０の回路番号Ｎを１に設定する。
【００５３】
次に、制御装置１００は、たとえば、診断対象の昇圧回路２０を個別に昇圧させる処理Ｐ１２を実行する。この処理Ｐ１２において、診断対象の昇圧回路２０に接続された昇圧制御部１２０は、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓがバッテリ５０の電源電圧Ｖｂ程度まで低下したら、昇圧信号生成部１２１によって診断対象の昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング動作を開始する。
【００５４】
次に、制御装置１００は、たとえば、前述のカウント処理Ｐ３と同様に、電圧検出部１２３によって、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓが所定電圧に到達したことが判定されると、個別カウント処理Ｐ１３を実行する。この個別カウント処理Ｐ１３において、昇圧信号カウント部１２５は、たとえば、昇圧信号生成部１２１から診断対象の昇圧回路２０のスイッチング素子２２へ出力されたＨＩＧＨの昇圧制御信号Ｃａの数をスイッチング回数Ｎｓとしてカウントする。
【００５５】
次に、制御装置１００は、診断対象の昇圧回路２０の昇圧コイル２１の診断処理Ｐ１４を実行する。この診断処理Ｐ１４において、劣化判定部１２６は、たとえば、前の個別カウント処理Ｐ１３でカウントした診断対象の昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング回数Ｎｓが、第３のしきい値Ｎｔ以上であるか否かを判定する。
【００５６】
この診断処理Ｐ１４において、劣化判定部１２６は、スイッチング回数Ｎｓがしきい値Ｎｔ以上ではない（ＮＯ）、すなわちスイッチング回数Ｎｓがしきい値Ｎｔ未満と判定すると、診断対象の昇圧回路２０における昇圧コイル２１のインダクタンスＬの低下なし（異常なし）と診断する処理Ｐ１５を実行する。一方、劣化判定部１２６は、スイッチング回数Ｎｓがしきい値Ｎｔ以上である（ＹＥＳ）と判定すると、診断対象の昇圧回路２０における昇圧コイル２１のインダクタンスＬの低下あり（異常あり）と診断する処理Ｐ１６を実行する。
【００５７】
次に、制御装置１００は、昇圧信号生成部１２１による診断対象の昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング動作を一時的に停止して、診断対象の昇圧回路２０による個別の昇圧を停止する処理Ｐ１７を実行する。次に、制御装置１００は、昇圧コンデンサ３０に並列に接続されたｎ個の昇圧回路２０のすべてを診断したか否かを判定する処理Ｐ１８を実行する。
【００５８】
この処理Ｐ１８において、制御装置１００は、診断対象の昇圧回路２０の回路番号Ｎが、最後の番号であるｎ番であるか否かを判定する。この処理Ｐ１８において、制御装置１００は、診断対象の昇圧回路２０の回路番号Ｎがｎ番ではない（ＮＯ）と判定すると、診断対象の昇圧回路２０の回路番号ＮをＮ＋１にインクリメントする処理Ｐ１９を実行し、個別昇圧処理Ｐ１２へ戻る。また、処理Ｐ１８において、制御装置１００は、診断対象の昇圧回路２０の回路番号Ｎがｎ番である（ＹＥＳ）と判定すると、昇圧コンデンサ３０に蓄えられた昇圧電圧Ｖｓを利用した燃料噴射弁の駆動を許可する処理Ｐ２０を実行し、図３に示す処理フローを終了する。
【００５９】
制御装置１００は、たとえば、昇圧コイル２１のインダクタンス低下を診断した昇圧回路２０が存在する場合、その昇圧回路２０を制御する昇圧制御部１２０において、昇圧信号生成部１２１から出力する昇圧制御信号Ｃａを変更する。具体的には、制御装置１００は、たとえば、昇圧コイル２１のインダクタンスが低下した昇圧回路２０を制御する昇圧制御部１２０において、昇圧信号生成部１２１から出力する昇圧制御信号Ｃａを、ＨＩＧＨになる時間が短縮されるように変更する。これにより、インダクタンスが低下した昇圧コイル２１に流れる電流が減少し、昇圧コイル２１の温度が低下してインダクタンスの低下を解消することができる。
【００６０】
以下、本実施形態の制御装置１００の作用を、従来の燃料噴射弁駆動制御装置と対比しつつ説明する。
【００６１】
本実施形態の制御装置１００は、たとえば、ガソリンや軽油等を燃料とする自動車などの車両に搭載される内燃機関の燃料噴射弁駆動制御装置であり、車両に搭載されたバッテリ５０の電圧を昇圧した高電圧を利用して電磁式の燃料噴射弁の駆動制御を行う。
【００６２】
このような内燃機関の燃料噴射弁駆動制御装置では、昇圧回路２０や昇圧コンデンサ３０に不具合が生じて昇圧コンデンサ３０に必要な昇圧電圧Ｖｓが蓄えられなくなると、図２に示すようなピーク電流Ｉａを燃料噴射弁のソレノイド４０に供給することが困難になる。その結果、燃料噴射弁を素早く開弁させることが困難になり、開弁応答性の低下、制御精度の低下、燃費の悪化を招くおそれがある。
【００６３】
昇圧コンデンサ３０には、通常、昇圧電圧を安定に保つために、比較的安価かつ大容量である電解コンデンサが広く使用されている。電解コンデンサは、無負荷で長時間放置すると、漏れ電流が増加する傾向にある。これは、電解コンデンサの無負荷状態における化成皮膜の劣化により、使用開始直後に化成皮膜の修復電流が流れるためである。
【００６４】
たとえば、バッテリを外した状態や燃料噴射弁駆動装置を取り外した状態で長期間放置した後に電源を投入した場合、電解コンデンサの化成皮膜の修復電流によって昇圧電圧が降下するため、昇圧回路のスイッチング素子のスイッチング回数が増加する。その結果、スイッチング素子、昇圧コイル、電流検出抵抗など、昇圧回路の部品の発熱が増大し、昇圧コンデンサの劣化が昇圧回路の部品全体の劣化を招くおそれがある。
【００６５】
そのため、前記特許文献１に記載された従来の燃料噴射弁駆動装置は、前述のように、昇圧コンデンサに蓄電された昇圧電圧が所定電圧に到達した時点から所定時間が経過するまでの間、スイッチング素子のスイッチング動作回数をカウントし、そのカウント値に基づいて昇圧コンデンサの劣化診断を行う。この従来の燃料噴射弁駆動装置は、昇圧コンデンサの化成皮膜の劣化診断を的確に行うことができる。
【００６６】
しかし、昇圧コンデンサ３０を構成する電解コンデンサは、たとえば、電解液の減少による容量低下など、経年劣化する性質を有している。図５に示すように、経年劣化により容量が低下した昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓは、昇圧回路２０のスイッチング素子２２をオフすると、図４に示すような正常な昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓと比較して、早期に低下する。そのため、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓを安定に保つために、昇圧回路２０のスイッチング素子２２のスイッチング動作の回数、すなわち昇圧信号生成部１２１からスイッチング素子２２へ出力する昇圧制御信号Ｃａの周波数が増加する。
【００６７】
たとえば、電解コンデンサの電解液の減少などに起因する昇圧コンデンサ３０の経年劣化は、化成皮膜に修復電流を流しても修復することはできない。したがって、特許文献１に記載された従来の燃料噴射弁駆動制御装置では、昇圧コンデンサ３０が経年劣化した場合、昇圧回路のスイッチング素子のスイッチング動作の回数が、電解コンデンサの化成皮膜の自己修復を前提として定めたしきい値未満にならないという課題がある。
【００６８】
また、一般に、コイルは温度上昇によってインダクタンスが低下する。たとえば、昇圧回路２０の昇圧コイル２１のインダクタンスが低下すると、スイッチング素子２２がオフになる直前に昇圧コイル２１に蓄えられるエネルギーが小さくなる。すると、スイッチング素子２２がオフになったときに昇圧ダイオード２４を経由して昇圧コンデンサ３０に流れる電流が小さくなり、スイッチング素子２２のオンとオフの一回のスイッチング動作で昇圧コイル２１から昇圧コンデンサ３０へ移動するエネルギー減少する。
【００６９】
その結果、図５に示すように、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓを安定に保つためのスイッチング素子２２のスイッチング動作の回数、すなわち、昇圧信号生成部１２１からスイッチング素子２２へ出力する昇圧制御信号Ｃａの周波数が増加する。スイッチング素子２２のスイッチング動作の回数が大きくなると、昇圧コイル２１はさらに温度上昇し、昇圧コイル２１のインダクタンスがさらに低下する。以上のように、特許文献１に記載された燃料噴射弁駆動制御装置は、昇圧コンデンサの経年劣化の診断や、昇圧コイルのインダクタンス低下の診断に改善の余地がある。
【００７０】
これに対し、本実施形態の制御装置１００は、前述のように、駆動回路１０と複数の昇圧回路２０とを制御して、昇圧処理Ｐ２とカウント処理Ｐ３と診断処理Ｐ４，Ｐ７，Ｐ１４を実行する。駆動回路１０は、燃料噴射弁のソレノイド４０に対するバッテリ５０からの電源電圧Ｖｂの供給と昇圧コンデンサ３０からの昇圧電圧Ｖｓの供給とを切り換える。昇圧回路２０は、バッテリ５０および昇圧コンデンサ３０に接続されている。昇圧処理Ｐ２は、昇圧回路２０のスイッチング素子２２をオンにしてバッテリ５０から昇圧回路２０の昇圧コイル２１へ電流を流した後に、スイッチング素子２２をオフにして昇圧コイル２１から昇圧コンデンサ３０へ電流を流すスイッチング動作を繰り返して、昇圧コンデンサ３０に昇圧電圧Ｖｓを蓄える処理である。カウント処理Ｐ３は、昇圧電圧Ｖｓが所定電圧に到達した時点から所定時間が経過するまでの診断期間におけるスイッチング動作の回数であるスイッチング回数Ｎｓを算出する処理である。診断処理Ｐ４，Ｐ７，Ｐ１４は、カウント値に基づいて昇圧コンデンサ３０の経年劣化と昇圧コイル２１のインダクタンス低下とを診断する処理である。
【００７１】
この構成により、本実施形態の制御装置１００は、昇圧コンデンサ３０の経年劣化の診断および昇圧コイル２１のインダクタンス低下の診断が可能になる。これにより、昇圧コンデンサ３０が経年劣化した場合に、制御装置１００の診断結果に基づいて速やかに昇圧コンデンサ３０を交換することができる。したがって、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓの降下が防止され、燃料噴射弁の開弁応答性および制御精度の低下が防止され、燃費の悪化が防止される。また、昇圧コイル２１のスイッチング回数の増加が防止され、昇圧回路２０の発熱を防止して、昇圧回路２０の劣化を防止することができる。
【００７２】
また、昇圧回路２０の昇圧コイル２１のインダクタンスが低下した場合に、制御装置１００の診断結果に基づいて、昇圧コイル２１に流す電流を減少させて昇圧コイル２１の温度を低下させ、インダクタンスの低下を解消することができる。これにより、昇圧コイル２１のインダクタンスが低下した場合でも、速やかにインダクタンスの低下を解消することができ、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓを用いた燃料噴射弁のソレノイド４０の駆動が可能になる。したがって、燃料噴射弁の開弁応答性および制御精度の低下が防止され、燃費の悪化が防止される。また、昇圧コイル２１のスイッチング回数の増加が防止され、昇圧回路２０の発熱を防止して、昇圧回路２０の劣化を防止することができる。
【００７３】
また、本実施形態の制御装置１００は、診断処理Ｐ４，Ｐ７において、すべての昇圧回路２０のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎが第１のしきい値Ｓｔ以上であり、昇圧処理Ｐ２の繰り返し数Ｒが第２のしきい値Ｒｔ以上である場合に、昇圧コンデンサ３０の経年劣化を診断する。
【００７４】
この構成により、制御装置１００は、昇圧コンデンサ３０の皮膜修復電流による自己修復が可能な場合は、昇圧処理Ｐ２を繰り返すことで昇圧コンデンサ３０を自己修復させることができる。また、診断処理Ｐ４において、すべての昇圧回路２０のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎが第１のしきい値Ｓｔ以上である場合に、昇圧コンデンサ３０の皮膜修復電流の影響が無くなるまでの間、昇圧電圧Ｖｓを用いた燃料噴射弁駆動を一時的に停止することができる。これにより、昇圧コンデンサ３０や、昇圧回路２０のスイッチング素子２２および電流検出抵抗２３などの部品の発熱による劣化を防止することができる。
【００７５】
また、本実施形態の制御装置１００は、診断処理Ｐ４，Ｐ１４において、すべての昇圧回路２０のスイッチング回数Ｎｓの和Ｓｎが第１のしきい値Ｓｔ未満であり、少なくとも一つの昇圧回路２０のスイッチング回数Ｎｓが第３のしきい値Ｎｔ以上である場合に、昇圧コイル２１のインダクタンス低下を診断する。
【００７６】
この構成により、制御装置１００は、昇圧コンデンサ３０の化成皮膜の劣化および経年劣化がない場合に、個々の昇圧回路２０の昇圧コイル２１のスイッチング回数Ｎｓに基づいて、昇圧コイル２１のインダクタンス低下を診断することができる。これにより、制御装置１００は、たとえば、インダクタンスが低下した昇圧コイル２１に流れる電流を減少させ、速やかにインダクタンスの低下を解消することができる。
【００７７】
また、本実施形態の制御装置１００は、昇圧コンデンサ３０の経年劣化を診断した場合に、昇圧コンデンサ３０の経年劣化を外部に通知する処理Ｐ９を実行する。
【００７８】
この構成により、昇圧コンデンサ３０が経年劣化した場合に、制御装置１００は、たとえば、車載モニタや車載スピーカなどの外部機器を介して、車両の運転者に昇圧コンデンサ３０の経年劣化を通知して、昇圧コンデンサ３０の交換を促すことができる。
【００７９】
また、本実施形態の制御装置１００は、駆動回路１０を制御する駆動制御部１１０と、複数の昇圧回路２０を制御する複数の昇圧制御部１２０とを有している。個々の昇圧制御部１２０は、電圧検出部１２３と、昇圧信号生成部１２１と、昇圧信号カウント部１２５と、診断信号生成部１２４と、劣化判定部１２６とを有する。電圧検出部１２３は、昇圧コンデンサ３０に蓄えられた昇圧電圧Ｖｓを検出する。昇圧信号生成部１２１は、スイッチング素子２２に昇圧制御信号Ｃａを出力する。昇圧信号カウント部１２５は、昇圧制御信号Ｃａに基づいてスイッチング回数Ｎｓを算出する。診断信号生成部１２４は、昇圧信号カウント部１２５へ診断期間を規定する診断タイミング信号Ｃｔを出力する。劣化判定部１２６は、スイッチング回数Ｎｓに基づいて昇圧コンデンサ３０の経年劣化と昇圧コイル２１のインダクタンス低下とを判定する。
【００８０】
この構成により、本実施形態の制御装置１００は、前述のように、昇圧コンデンサ３０の経年劣化の診断および昇圧コイル２１のインダクタンス低下の診断が可能になる。したがって、昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓの降下が防止され、燃料噴射弁の開弁応答性および制御精度の低下が防止され、燃費の悪化が防止される。また、昇圧コイル２１のスイッチング回数の増加が防止され、昇圧回路２０の発熱を防止して、昇圧回路２０の劣化を防止することができる。
【００８１】
また、本実施形態の制御装置１００において、駆動制御部１１０は、制御装置１００の電源投入時に昇圧制御部１２０へリセット信号Ｃｒを出力する。また、昇圧制御部１２０は、リセット信号Ｃｒの入力後に、電圧検出部１２３によって昇圧コンデンサ３０の昇圧電圧Ｖｓを検出する。
【００８２】
この構成により、本実施形態の制御装置１００は、電源が投入されると、毎回、その直後に、昇圧コンデンサ３０の経年劣化と昇圧コイル２１のインダクタンス低下の診断を行うことができる。これにより、制御装置１００は、電源投入直後のより早い時期に、昇圧コンデンサ３０の経年劣化と昇圧コイル２１のインダクタンス低下の診断を行うことができる。
【００８３】
以上、図面を用いて本開示に係る制御装置の実施形態を詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲における設計変更等があっても、それらは本開示に含まれるものである。
【符号の説明】
【００８４】
１０    駆動回路
２０    昇圧回路
２１    昇圧コイル
２２    スイッチング素子
３０    昇圧コンデンサ
４０    燃料噴射弁のソレノイド
５０    バッテリ
１００  制御装置
１１０  駆動制御部
１２０  昇圧制御部
１２１  昇圧信号生成部
１２３  電圧検出部
１２４  診断信号生成部
１２５  昇圧信号カウント部
１２６  劣化判定部
Ｃａ    昇圧制御信号
Ｃｒ    リセット信号
Ｃｔ    診断タイミング信号
Ｎｓ    スイッチング回数
Ｎｔ    第３のしきい値
Ｐ２    昇圧処理
Ｐ３    カウント処理
Ｐ４    診断処理
Ｐ７    診断処理
Ｐ１４  診断処理
Ｒ      昇圧処理の繰り返し数
Ｒｔ    第２のしきい値
Ｓｎ    すべての昇圧回路のスイッチング回数の和
Ｓｔ    第１のしきい値
Ｖｂ    電源電圧
Ｖｓ    昇圧電圧
【図１】
2022001756.tif 000003
【図２】
2022001756.tif 000004
【図３】
2022001756.tif 000005
【図４】
2022001756.tif 000006
【図５】
2022001756.tif 000007