(57)【要約】【課題】本考案は、時間がかからず、コストも抑えることができるＲＦＩＣ（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ，高周波集積回路）交差式分類テストの構造を提供する。【解決手段】本考案は、分類テスト装置である。分類テスト装置は、少なくとも一つのテストモジュールと、複数の分類モジュールとからなる。テストモジュールは、各チップモジュールをテストし、テストモジュールは、各チップモジュールをテストした後に分類指令ユニットを生成する。分類モジュールは、分類指令ユニットを受信し、分類モジュールは、分類指令ユニットに沿って、チップモジュールに対して分類を行う。分類モジュールは、第一分類モジュールと第二分類モジュールとからなる。第一分類モジュール及び第二分類モジュールは、テストモジュールにデータリンクされる。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも一つのチップモジュールをテストして分類するための分類テスト装置であるＲＦＩＣ交差式分類テストの構造であって、
前記分類テスト装置は、少なくとも一つのテストモジュールと、複数の分類モジュールとからなり、
前記テストモジュールはチップモジュールをテストし、前記分類モジュールは、第一分類モジュールと第二分類モジュールとからなり、前記第一分類モジュールと前記第二分類モジュールは、前記テストモジュールにデータリンクされ、前記第一分類モジュールと前記第二分類モジュールは、各前記チップモジュールをそれぞれ分類し、
それにより、前記テストモジュールが、前記第一分類モジュール内のチップモジュールに対してテストを行った時、それと同時に、前記第二分類モジュールは、前記テストモジュールでテストされたチップモジュールに対して分類を行うことを特徴とする、ＲＦＩＣ交差式分類テストの構造。
【請求項２】
前記テストモジュールは、各前記チップモジュールをテストした後、分類指令ユニットを生成すること特徴とする、請求項１に記載のＲＦＩＣ交差式分類テストの構造。
【請求項３】
前記分類モジュールは、前記分類指令ユニットを受信し、しかも、前記分類モジュールは、前記分類指令ユニットに沿って、前記チップモジュールに対して分類を行うこと特徴とする、請求項２に記載のＲＦＩＣ交差式分類テストの構造。
【請求項４】
前記チップモジュールは、ＲＦＩＣチップであること特徴とする、請求項１に記載のＲＦＩＣ交差式分類テストの構造。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案はＩＣテスト・分類装置に関し、特に時間がかからず、コストも抑えることができるＲＦＩＣ交差式分類テストの構造に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、市場における、従来型のＩＣテスト・分類装置は、大きく二種類に分けられる。一つは、それぞれ個別に作業が行われるＲＦＩＣテスト装置及びＩＣ自動分類機であり、もう一つは、高価格の統合デバイスである。しかしながら、ＲＦＩＣテスト装置のテスト時間と性能は、既に、高価格の統合デバイスの単一のテストユニットのパフォーマンスに近づいている。
【０００３】
しかし、従来の統合デバイスは、同時に分類を行う時に、それ自体のテスト機能は使われず、最高の効率を得ることができない。しかも、ＲＦＩＣテスト装置のテスト時間は、だんだん短くなってきており、ＩＣ自動分類機がかかる時間に近づいてきている。従って、テストの単位時間の生産とコストのボトルネックは、次第に、テスト側から、ＩＣ分類の時間とコストに変わってきている。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００４】
そこで、本考案は、従来のＩＣテストと分類装置に存在した、統合デバイスのハードのコストが高く、個々に独立した装置は時間がかかるという問題を解決し、時間がかからず、コストも抑えることができるＲＦＩＣ交差式分類テストの構造を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上述の目的を達成するために、本考案によるＲＦＩＣ交差式分類テストの構造は、少なくとも一つのＲＦＩＣチップモジュールを分類してテストするための分類テスト装置である。分類テスト装置は、少なくとも一つのテストモジュールと、複数の分類モジュールとからなる。テストモジュールは、各チップモジュールをテストし、テストモジュールは、各チップモジュールをテストした後に分類指令ユニットを生成する。分類モジュールは、分類指令ユニットを受信し、分類モジュールは、分類指令ユニットに沿って、チップモジュールに対して分類を行う。分類モジュールは、第一分類モジュールと第二分類モジュールとからなる。第一分類モジュール及び第二分類モジュールは、テストモジュールにデータリンクされる。第一分類モジュール及び第二分類モジュールは、それぞれ、各チップモジュールを分類する。それにより、テストモジュールが第一分類モジュール内のチップモジュールに対してテストを行ったとき、それと同時に、第二分類モジュールは、モジュールテストにテストされたチップモジュールに対して分類を行う。したがって、分類モジュールがチップモジュールを分類する隙間の時間に、テストモジュールは、テストもうひとつの分類モジュール内のチップモジュールに対してテストを行うため、限られたリソースを利用してテストと分類できる量を増やすことができ、しいては、素早い作業とコストの削減を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本考案の実施例１を示した斜視図である。
【図２Ａ】本考案の実施例１の第一動作を示した説明図である。
【図２Ｂ】本考案の実施例１の第二動作を示した説明図である。
【図２Ｃ】本考案の実施例１の第三動作を示した説明図である。
【図３Ａ】本考案の実施例２の第一動作を示した説明図である。
【図３Ｂ】本考案の実施例２の第二動作を示した説明図である。
【図３Ｃ】本考案の実施例２の第三動作を示した説明図である。
【図３Ｄ】本考案の実施例２の第四動作を示した説明図である。
【考案を実施するための形態】
【０００７】
（実施例１）
図１を参照する。図１は、本考案の実施例１を示した斜視図である。図から分かるように、本考案によるＲＦＩＣ交差式分類テストの構造は、少なくとも一つのＲＦＩＣのチップモジュール３をテストして分類する分類テスト装置４である。前記分類テスト装置４は、テストモジュール１と、複数の分類モジュール２とからなり、テストモジュール１は、各前記チップモジュール３をテストし、テストモジュール１は、各前記チップモジュール３をテストした後、分類指令ユニット１１を生成する。そして、前記分類モジュール２は、分類指令ユニット１１を受信し、分類モジュール２は、分類指令ユニット１１に沿って、チップモジュール３に対して分類を行う。分類モジュール３は、第一分類モジュール２１と、第二分類モジュール２２とからなる。第一分類モジュール２１と第二分類モジュール２２は、テストモジュール１にデータリンクされる。なお、第一分類モジュール２１と第二分類モジュール２２は、各チップモジュール３をそれぞれ分類する。以上により、テストモジュール１が、第一分類モジュール２１内のチップモジュール３に対してテストを行った時、それと同時に、第二分類モジュール２２は、テストモジュール１にテストされたチップモジュール３に対して、分類を行う。
【０００８】
上述の構造、設計にもとづく本考案の使用作動状況に関し、以下に説明を行う。図２Ａ、図２Ｂ、図２Ｃを参照する。図２Ａ、図２Ｂ、図２Ｃは、本考案の実施例１の第一動作、第二動作、第三動作を示した説明図である。図から分かるように、設テストの速度が従来の統合デバイスＲＦＩＣと同じテストモジュール１を取り付けることにより、一回でのテストの数量は従来の統合デバイスに及ばないものの、そのコストは、従来の統合分類装置よりかなり低い。テストモジュール１が第一分類モジュール２１内のチップモジュール３に対してテストを行った時、それと同時に、第二分類モジュール２２は、テストモジュール１にテストされたチップモジュール３に対して分類を行う。以上により、テストモジュール１は、第一分類モジュール２１及び第二分類モジュール２２の間で絶えず切り替わりながらテストを行うことができる。そしてその後、第一分類モジュール２１及び第二分類モジュール２２は、分類指令ユニット１１に沿って分類を行う。それにより、本来必要だった待ち時間を節約して、テストするチップモジュール３の数量を増やすことができる。
【０００９】
（実施例２）
図３Ａ、図３Ｂ、図３Ｃ、図３Ｄを参照する。図３Ａ、図３Ｂ、図３Ｃ、図３Ｄは、本考案の実施例２の第一動作、第二動作、第三動作、第四動作を示した説明図である。図から分かるように、複数のテストモジュール１ａが、各チップモジュール３ａを交代でテストするため、テストの時間コストを効果的に節約できるだけでなく、ソフトウェアや分類ユニットを拡張せずに、低コストのＲＦＩＣのテストモジュール１ａを増やすだけで、更に高効率のテスト効果を達成することができ、それにより、テストするチップモジュール３ａの数量を増やし、全体のコストを下げることができる。
【００１０】
以上で述べた例は、いずれも本考案の好ましい実施例にすぎず、それにより、本考案の実用新案登録請求の範囲を限定するものではない。従って、本考案の明細書及び図の内容を若干変更した構造は、いずれも、同様の効果がある限り、本考案の実用新案登録請求の範囲であるものとする。
【００１１】
全ての図を参照する。本考案を使用すると、従来の技術と比較して、以下の利点が存在する。
１、ハードのコストは、従来のテスト・分類統合装置よりはるかに低い。
２、テストモジュール１は、第一分類モジュール２１及び第二分類モジュール２２の間で絶え間なく切り替わりながらテストを行うため、本来必要な待ち時間を節約することができ、チップモジュール３をテストする数量を増やすことができる。
３、複数のテストモジュール１ａが、交代でかわるがわる各前記チップモジュール３ａをテストするため、テストの時間コストを効果的に節約できるだけでなく、ソフトウェアや分類ユニットを拡張せずに、低コストのＲＦＩＣのテストモジュールを増やすだけで、更に高効率のテスト効果を達成することができ、それにより、テストするチップモジュールの数量を増やし、全体のコストを下げることができる。
【符号の説明】
【００１２】
１、１ａ    テストモジュール
１１        分類指令ユニット
２          分類モジュール
２１        第一分類モジュール
２２        第二分類モジュール
３、３ａ    チップモジュール
４          分類テスト装置
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図２Ｃ】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図３Ｃ】
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【図３Ｄ】
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