(57)【要約】      （修正有）【課題】複数のＬＥＤ放射体を備えた基板の透明なカバーの汚染を検出するための装置を提供する。【解決手段】複数のＬＥＤ放射体３を備えた基板２の透明なカバー４の汚染度を検出するための装置であって、ＬＥＤ放射体３が、個々にまたはグループ単位で冷却装置５によって冷却されるようになっており、装置が、温度を検出するための電子装置を有している。複数のＬＥＤ放射体３の温度が、装置によって直接的にまたは間接的に検出されるようになっており、前記温度相互の比較から、前記透明なカバー４の汚染を推測するようになっている。【選択図】図１
0003206797.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
複数のＬＥＤ放射体（３）を備えた基板（２）の透明なカバー（４）の汚染度を検出するための装置であって、前記ＬＥＤ放射体（３）が、個々にまたはグループ単位で冷却装置（５）によって冷却されるようになっており、前記装置が、温度を検出するための電子装置を有している、汚染度を検出するための装置において、
前記複数のＬＥＤ放射体（３）の温度が、前記電子装置によって直接的にまたは間接的に検出されるようになっており、該電子装置が、前記温度相互の比較から、前記透明なカバー（４）の汚染を推測するようになっていることを特徴とする、汚染度を検出するための装置。
【請求項２】
前記電子装置が、前記ＬＥＤ放射体（３）に割り当てられた前記冷却装置（５）の温度を検出するようになっている、請求項１記載の装置。
【請求項３】
前記ＬＥＤ放射体（３）が、互いに独立してオン・オフに切換可能である、請求項１または２記載の装置。
【請求項４】
全ての前記冷却装置（５）の前記温度から、平均値が算出されるようになっており、該平均値に基づき、前記冷却装置（５）によって超過されてはならない温度閾値が求められるようになっている、請求項１から３までのいずれか１項記載の装置。
【請求項５】
１つのＬＥＤ放射体（３）は、該ＬＥＤ放射体（３）に対応した前記冷却装置（５）の前記温度が、規定された温度閾値に達すると、自動的にオフに切り換えられるようになっている、請求項１から４までのいずれか１項記載の装置。
【請求項６】
前記ＬＥＤ放射体（３）を備えた前記基板（２）に、光学式の出力機器（６）が割り当てられており、前記ＬＥＤ放射体（３）の平均温度が、規定された閾値に達すると、前記光学式の出力機器（６）に、前記透明なカバー（４）の汚染に関する警告指示が表示されるようになっている、請求項１から５までのいずれか１項記載の装置。
【請求項７】
ＬＥＤ−ＵＶ乾燥装置と、該ＬＥＤ−ＵＶ乾燥装置内の汚染を監視するための、請求項１から６までのいずれか１項記載の装置と、を備えたインクジェット印刷機。
【請求項８】
ＬＥＤ−ＵＶ乾燥装置と、該ＬＥＤ−ＵＶ乾燥装置内の汚染を監視するための、請求項１から６までのいずれか１項記載の装置と、を備えたオフセット印刷機。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
ＬＥＤ−ＵＶ乾燥器は、ＵＶ着色剤またはＵＶ塗料を完全硬化させる際に使用される。特に任意の材料から成るシートおよび三次元の構成部材にインクジェット印刷機またはオフセット印刷機を用いて印刷を行う場合、使用される。
【背景技術】
【０００２】
独国特許出願公開第１０２００９００７８７３号明細書には、印刷機に用いられる、ＵＶ光により乾燥する着色剤を完全硬化させるための上述のようなＬＥＤ乾燥器が記載されている。このＬＥＤ乾燥器では、ＬＥＤが、被印刷物の搬送方向に対して横方向に複数の列を成して支持体に配置されている。
【０００３】
国際公開第２０１１／０３１５２９号から、ＬＥＤを汚染に対して防護するための装置が明らかである。この装置では、ＬＥＤが、ＵＶ放射線の出射領域に透明なカバーを備えたハウジング内に格納されている。
【０００４】
独国特許出願公開第１０２０１３０１９８１４号明細書によって、上述のようなＬＥＤモジュールの透明なカバーの汚染度を検知することができる装置が公知である。この装置では、カバーの一箇所またはそれ以上の箇所において、付加的なセンサによって温度測定が実施される。その後、検知された値から、カバーの汚染度を導き出すことができる。汚染が過度に高い場合には、ＬＥＤ−ＵＶ乾燥器がオフに切り換えられる。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００５】
上述のような放射体において実際に起こる問題は、透明なカバーの汚染物がＵＶ光を反射させる点にある。このことは、ガラス板の内部に温度差を招き、ひいては、応力を招く。温度差が過度に大きいと、カバーは破損してしまう。ガラス板の汚染が激しければ激しいほど、放射線はますます反射させられる。
【０００６】
本考案の課題は、透明なカバー自体の温度を測定するための付加的なセンサを使用することなしに、カバーの汚染度を検知する装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この課題は、請求項１の特徴を有する装置によって解決される。有利な態様は、従属請求項から明らかである。
【０００８】
複数のＬＥＤ放射体を備えた基板の透明なカバーの汚染度を検出するための本考案に係る装置は、放射体が個々にまたはグループ単位で冷却されることを特定している。この場合、個々のまたはグループ単位で配置された冷却装置の温度またはＬＥＤ放射体の温度が、直接的にまたは間接的に検出され、温度相互の比較から、汚染が推測される。間接的な検出は、たとえば冷却装置に設けられた温度センサを介して行われる。直接的な検出は、たとえばＬＥＤ放射体に設けられた温度センサを介して行われる。
【０００９】
本考案の第１の有利な改良態様は、ＬＥＤ放射体が、互いに独立してオン・オフに切換可能であることを特定している。
【００１０】
本考案に係る装置の別の態様は、全ての冷却装置またはＬＥＤ放射体の温度から、平均値が算出されることを特定している。その後、この平均値に基づき、いずれの冷却装置またはＬＥＤ放射体によっても超過されてはならない温度閾値が求められる。この閾値は、複数のＬＥＤ放射体の平均温度と、ただ１つのＬＥＤ放射体の平均温度と、の間の、透明なカバーを破損してしまう恐れがある臨界的な温度差を下回るように選択されている。
【００１１】
さらに、本考案の意味では、前述の温度閾値の超過されると、この温度閾値に達した対応する冷却装置を有するＬＥＤ放射体が自動的にオフに切り換えられる。
【００１２】
本考案の次の有利な発展態様は、ＬＥＤ放射体を備えた基板に、光学式の出力機器が割り当てられていることを特定している。付加的には、ＬＥＤ放射体の平均温度に対する温度閾値が規定される。この温度閾値は、透明なカバー全体の臨界的な汚染度に相当している。閾値が達成されると、透明なカバーが清浄化されなければならないかまたは交換されなければならないことが、光学式の出力機器に表示される。
【００１３】
前述した装置および本考案による更なる発展態様は、以下の実施の形態ならびに図面から知ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】印刷機の一部を示す図である。複数のＬＥＤ放射体と、汚染物を有する透明なカバーとを備えた基板の下面を認めることができる。
【考案を実施するための形態】
【００１５】
印刷機１内の基板２は、複数のＬＥＤ放射体３を有している。これらのＬＥＤ放射体３には、それぞれ冷却装置５が割り当てられている。ＵＶ放射線の出射領域には、透明なカバー４が位置している。冷却装置５の温度が持続的に検出される。このことは、印刷機１の制御装置と光学式の出力機器６とに接続された電子装置８を介して行われる。測定結果から、平均値が求められる。この平均値に基づき、平均温度と、透明なカバー４を破損するために、ただ１つの冷却ユニットにより達成しなければならない温度（ただ１つの冷却ユニットの場合、その温度になると、透明なカバー４が破損してしまう温度）と、の間の温度差よりも少ない閾値が持続的に求められる。そのほかに、平均温度に対する閾値が規定されている。この閾値が達成されている場合、このことは、透明なカバー４が激しく汚染されていて、清潔にされなければならないかまたは交換されなければならないことを意味している。最初、透明なカバー４は清潔である。全ての冷却装置５の温度は等しい高さとなっている。印刷プロセスの途中、透明なカバー４に汚染物７が堆積させられる。この汚染物７は、ＬＥＤ放射体３から放出されたＵＶ放射線を反射させる。これによって、個々のＬＥＤ放射体３が加熱される。このことは、放射体３に割り当てられた冷却装置５の温度上昇をも招く。この冷却装置５の平均温度が上昇する。特に多くの汚染物７が１つのＬＥＤ放射体３の下方に集められている。このＬＥＤ放射体３に向かって、特に多くの放射線が反射させられる。このＬＥＤ放射体３の冷却装置５の温度が、平均温度に対して最大限に許容可能な差を表す閾値に達する。引き続き、このＬＥＤ放射体３が自動的にオフに切り換えられる。光学式の出力機器６が、いつ温度の許容可能な閾値が超過されるのかをオペレータに表示する。
【符号の説明】
【００１６】
１  印刷機
２  基板
３  ＬＥＤ放射体
４  透明なカバー
５  冷却装置
６  光学式の出力機器
７  汚染物
８  電子装置
【図１】
0003206797.tif 000003