(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
射出する光の波長が掃引される波長掃引光源を含む光源部と、
前記射出された光を被検眼の眼底へ照射する照射光と参照光とに分割し、前記眼底からの前記照射光の反射光と前記参照光とによる干渉光を発生させる干渉部と、
前記干渉光を検出する検出部と、
前記検出された干渉光のアナログ信号を分割して得た少なくとも二つのアナログ信号であって、前記光源部に含まれる同一の波長掃引光源から射出された光に基づく少なくとも二つのアナログ信号をアナログデジタル変換する少なくとも二つの変換部と、
前記アナログデジタル変換して得た少なくとも二つのデータセット各々のインデックスの関連付けを行う関連付け手段と、
前記関連付けられたインデックスを用いて前記少なくとも二つのデータセットを統合して等波数間隔のデータセットを生成する生成手段と、
前記生成された等波数間隔のデータセットを用いて前記眼底の画像を生成する画像生成手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記関連付け手段は、前記少なくとも二つのデータセット各々の位相情報を取得し、前記取得された位相情報を用いて前記少なくとも二つのデータセット各々のインデックスの関連付けを行うことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記関連付け手段は、前記少なくとも二つのデータセット各々をヒルベルト変換し、前記ヒルベルト変換された少なくとも二つのデータセット各々から位相情報を取得することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記関連付け手段は、前記眼底の画像を撮像する処理の前の事前処理において用いられ、
前記事前処理において検出する補正用の干渉光より得られる前記アナログ信号の周波数は、前記データセットを検出する際の検出周波数よりも低いことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記生成手段は、前記統合して得たデータセットをリスケーリングすることにより前記等波数間隔のデータセットを生成することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
射出する光の波長が掃引される波長掃引光源を含む光源部と、
前記射出された光を被検眼の眼底へ照射する照射光と参照光とに分割し、前記眼底からの前記照射光の反射光と前記参照光とによる干渉光を発生させる干渉部と、
前記干渉光を検出する検出部と、
前記検出された干渉光のアナログ信号を分割して得た少なくとも二つのアナログ信号をアナログデジタル変換する少なくとも二つの変換部と、
前記アナログデジタル変換して得た少なくとも二つのデータセットの位相情報を用いて前記少なくとも二つのデータセットを統合して等波数間隔のデータセットを生成する生成手段と、
前記生成された等波数間隔のデータセットを用いて前記眼底の画像を生成する画像生成手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項７】
前記少なくとも二つのデータセット各々の位相情報を用いて前記少なくとも二つのデータセットの関連付けを行う関連付け手段を更に備え、
前記生成手段は、前記関連付けられた少なくとも二つのデータセットを用いて前記等波数間隔のデータセットを生成することを特徴とする請求項６に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記少なくとも二つのアナログ信号の間に位相差を発生させる位相差発生手段を更に備え、
前記位相差は、前記少なくとも二つのデータセット各々の位相情報に相違を与えることを特徴とする請求項６又は７に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記統合して得たデータセットをリスケーリングすることにより前記等波数間隔のデータセットに変換するリスケーリング手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１０】
前記少なくとも二つのデータセットの内の少なくとも一つのデータセットを検出する際に前記少なくとも一つを等波数間隔のデータセットとするためのクロック信号を発生するｋクロック発生部を更に備え、
前記少なくとも二つのデータセットの内の他のデータセットは等時間間隔のデータセットであることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１１】
前記少なくとも二つの変換部の少なくとも一つの変換部に送る前記アナログ信号を等波数間隔でアナログデジタル変換するためのクロック信号を発生するｋクロック発生部を更に備え、
前記少なくとも二つの変換部の他の少なくとも一つの変換部は等時間間隔でアナログデジタル変換を行うアナログデジタル変換部であることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１２】
前記少なくとも二つの変換部は等時間間隔でアナログデジタル変換を行うことを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１３】
前記波長掃引光源から射出される光の波長が掃引される速度であるＡ−ｓｃａｎレートは、３００ｋＨｚ以上であることを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１４】
前記変換部のサンプリングする周波数は、１．０ＧＨｚ以上であることを特徴とする請求項１乃至１３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１５】
射出する光の波長が掃引される波長掃引光源を含む光源部と、前記射出された光を被検眼の眼底へ照射する照射光と参照光とに分割し、前記眼底からの前記照射光の反射光と前記参照光とによる干渉光を発生させる干渉部と、前記干渉光を検出する検出部と、前記検出された干渉光のアナログ信号を分割して得た少なくとも二つのアナログ信号であって、前記光源部に含まれる同一の波長掃引光源から射出された光に基づく少なくとも二つのアナログ信号をアナログデジタル変換する少なくとも二つの変換部と、を備える撮像装置と通信可能に接続された情報処理装置であって、
前記アナログデジタル変換して得た少なくとも二つのデータセット各々のインデックスの関連付けを行う関連付け手段と、
前記関連付けられたインデックスを用いて前記少なくとも二つのデータセットを統合して等波数間隔のデータセットを生成する生成手段と、
前記生成された等波数間隔のデータセットを用いて前記眼底の画像を生成する画像生成手段と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項１６】
射出する光の波長が掃引される波長掃引光源を含む光源部と、前記射出された光を被検眼の眼底へ照射する照射光と参照光とに分割し、前記眼底からの前記照射光の反射光と前記参照光とによる干渉光を発生させる干渉部と、前記干渉光を検出する検出部と、前記検出された干渉光のアナログ信号を分割して得た少なくとも二つのアナログ信号をアナログデジタル変換する少なくとも二つの変換部と、を備える撮像装置と通信可能に接続された情報処理装置であって、
前記アナログデジタル変換して得た少なくとも二つのデータセットの位相情報を用いて前記少なくとも二つのデータセットを統合して等波数間隔のデータセットを生成する生成手段と、
前記生成された等波数間隔のデータセットを用いて前記眼底の画像を生成する画像生成手段と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項１７】
前記少なくとも二つのデータセット各々の位相情報を用いて前記少なくとも二つのデータセットの関連付けを行う関連付け手段を更に備え、
前記生成手段は、前記関連付けられた少なくとも二つのデータセットを用いて前記等波数間隔のデータセットを生成することを特徴とする請求項１６に記載の情報処理装置。
【請求項１８】
射出する光の波長が掃引される波長掃引光源を含む光源部と、前記射出された光を被検眼の眼底へ照射する照射光と参照光とに分割し、前記眼底からの前記照射光の反射光と前記参照光とによる干渉光を発生させる干渉部と、前記干渉光を検出する検出部と、前記検出された干渉光のアナログ信号を分割して得た少なくとも二つのアナログ信号であって、前記光源部に含まれる同一の波長掃引光源から射出された光に基づく少なくとも二つのアナログ信号をアナログデジタル変換する少なくとも二つの変換部と、を備える撮像装置の作動方法であって、
前記アナログデジタル変換して得た少なくとも二つのデータセット各々のインデックスの関連付けを行う工程と、
前記関連付けられたインデックスを用いて前記少なくとも二つのデータセットを統合して等波数間隔のデータセットを生成する工程と、
前記生成された等波数間隔のデータセットを用いて前記眼底の画像を生成する工程と、
を含むことを特徴とする撮像装置の作動方法。
【請求項１９】
射出する光の波長が掃引される波長掃引光源を含む光源部と、前記射出された光を被検眼の眼底へ照射する照射光と参照光とに分割し、前記眼底からの前記照射光の反射光と前記参照光とによる干渉光を発生させる干渉部と、前記干渉光を検出する検出部と、前記検出された干渉光のアナログ信号を分割して得た少なくとも二つのアナログ信号をアナログデジタル変換する少なくとも二つの変換部と、を備える撮像装置の作動方法であって、
前記アナログデジタル変換して得た少なくとも二つのデータセットの位相情報を用いて前記少なくとも二つのデータセットを統合して等波数間隔のデータセットを生成する工程と、
前記生成された等波数間隔のデータセットを用いて前記眼底の画像を生成する工程と、
を含むことを特徴とする撮像装置の作動方法。
【請求項２０】
請求項１８又は１９に記載の撮像装置の作動方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光干渉断層像を撮像する撮像装置、該撮像装置の作動方法、該撮像装置と接続される情報処理装置、及び該情報処理装置の作動方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光干渉断層撮像法（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ、以下ＯＣＴという）を用いる撮像装置（以下、ＯＣＴ装置という）が開発されている（特許文献１）。ＯＣＴ装置では、物体へ光を照射し、その際に該照射光の波長を変化させ、該照射光が物体の異なる深さから戻ることで得られる反射光と、該照射光に対応する参照光とを干渉させている。そして、該干渉光の強度の時間波形（以下、干渉スペクトルと略す）に含まれる周波数成分を分析することによって物体の断層に関する情報、具体的には断層像を得ている。このようなＯＣＴ装置は、例えば眼底検査に用いられる。
【０００３】
眼の疾患は、完治困難な疾患が多いため、眼底の病変部を早期に発見し、病変部が眼底の広範囲にまで進行することを遅らせる治療を早期に開始することが重要である。特に、病変部が黄班にまで進行すると、視覚に甚大な影響を与えるため、病変部が黄班から十分離れた位置にあっても、その病変部を発見したいという要求がある。この要求に答えるため、眼底検査に用いられるＯＣＴ装置の広画角化が期待されている。
【０００４】
このような期待に応える技術として、特許文献１では、眼底の断層像の観察領域を広範囲とするために複数の断層像をつなぎ合わせて広範囲の断層像を構成することが開示されている。また、特許文献１には、波長可変光源を用いたＯＣＴ装置（Ｓｗｅｐｔ  Ｓｏｕｒｃｅ  ＯＣＴ装置、以下ＳＳ−ＯＣＴ装置という）について開示されており、その波長可変光源として、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタが例示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１２−１１５５７８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、特許文献１の方法では、取得した複数の断層像を連続的につなぎ合わせるための画像処理に時間や手間がかかる。そのため、１回の撮像で広範囲にわたる断層情報を取得することが好ましい。この場合、眼球は略球体であるため、眼底の中央部と周辺部では、照射光の光路長が大きく異なってしまう。従って、従来の構成のＯＣＴ装置では、断層に関する情報を広範囲にわたって精度よく得ることができない場合がある。
【０００７】
本発明は上述した課題に対するものであって、１回の走査の撮像範囲を大きくしても断層に関する情報を精度よく取得する撮像装置、該撮像装置の作動方法、該撮像装置と接続される情報処理装置、及び該情報処理装置の作動方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
以上の課題を解決するために、本発明に係る撮像装置の一つは、
射出する光の波長が掃引される波長掃引光源を含む光源部と、
前記射出された光を被検眼の眼底へ照射する照射光と参照光とに分割し、前記眼底からの前記照射光の反射光と前記参照光とによる干渉光を発生させる干渉部と、
前記干渉光を検出する検出部と、
前記検出された干渉光のアナログ信号を分割して得た少なくとも二つのアナログ信号であって、前記光源部に含まれる同一の波長掃引光源から射出された光に基づく少なくとも二つのアナログ信号をアナログデジタル変換する少なくとも二つの変換部と、
前記アナログデジタル変換して得た少なくとも二つのデータセット各々のインデックスの関連付けを行う関連付け手段と、
前記関連付けられたインデックスを用いて前記少なくとも二つのデータセットを統合して等波数間隔のデータセットを生成する生成手段と、
前記生成された等波数間隔のデータセットを用いて前記眼底の画像を生成する画像生成手段と、
を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、１回の走査の撮像範囲を大きくしても断層に関する情報を精度よく取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の第一の実施形態に係るＯＣＴ装置の概略構成を示す模式図である。
【図２】ＯＣＴ装置の走査部が行う照射光の走査方法の例を各々示す模式図である。
【図３】眼球の模式図である。
【図４】広画角化の課題を説明するための図である。
【図５】本発明の第一の実施形態に係るデータ取得から画像生成までの全体フローを説明するための図である。
【図６】図５に示すフローにおける事前処理である各Ａ／Ｄ変換器のインデックス関連付け処理を説明するためのフロー図である。
【図７】測定対象を測定してから断層画像を取得するまでの処理を説明するためのフロー図である。
【図８】本発明の第二の実施形態に係るＯＣＴ装置の概略構成を示す模式図である。
【図９】本発明の第二の実施形態に係るデータ取得から画像生成までの全体フローを説明するための図である。
【図１０】本発明の第二の実施形態における等波数変換処理を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。以下の説明では本発明として撮像装置の態様を例示しているが、当該撮像装置を作動させる方法の例示としても把握可能である。なお、以下の実施の形態は特許請求の範囲に関わる本発明を限定するものではなく、また、本実施の形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。例えば、本実施形態に係るＯＣＴ装置は、マッハツエンダー干渉計で構成されているが、本発明はこれに限らず、マイケルソン干渉計で構成されても良い。また、本実施形態に係るＯＣＴ装置は、参照光路長を変更するように構成されているが、本発明はこれに限らず、参照光と測定光との光路長差を変更するように構成されれば良い。例えば、参照光路長を固定して、測定光路長を変更するように構成しても良い。
【００１２】
［第一の実施形態］
図１は、本発明の第一の実施形態における光干渉断層撮像法を用いた撮像装置（ＯＣＴ装置）の構成例の概略を示す模式図である。該ＯＣＴ装置は、光源部１０、干渉部２０、検出部３０、情報取得部４０、測定アーム５０及び参照アーム６０を有する。光源部１０から射出される光は、その周波数が掃引される。干渉部２０では、後述する反射光と参照光とより干渉光を生成する。検出部３０では、この干渉光を検出する。情報取得部４０は、検出された干渉光に基づいて、被検眼１００の眼底の情報を取得する。
【００１３】
干渉部２０及び測定アーム５０について説明する。干渉部２０は、カプラ２１及びカプラ２２を有している。光源部１０、カプラ２１及び測定アーム５０は光ファイバーにより接続される。測定アーム５０は、カプラ２１側より順に配置されたコリメータレンズ５２、Ｘ軸スキャナー５３、Ｙ軸スキャナー５４、及びフォーカスレンズ５５を有する。
【００１４】
まず、カプラ２１は、光源部１０から射出された光を眼底へ照射する照射光と参照光とに分岐する。照射光は、測定アーム５０を経由して被検眼１００に照射される。より具体的には、測定アーム５０に入射した照射光は、コリメータレンズ５２から空間光として射出される。その後、照射光は、Ｘ軸スキャナー５３、Ｙ軸スキャナー５４、及びフォーカスレンズ５５を介して被検体１００の眼底に照射される。なお、Ｘ軸スキャナー５３及びＹ軸スキャナー５４は眼底を照射光で走査する機能を有する走査部である。該走査部によって、照射光の眼底への照射位置が変えられる。そして、眼底からの後方散乱光（反射光）は、再びフォーカスレンズ５５、Ｙ軸スキャナー５４、Ｘ軸スキャナー５３、及びコリメータレンズ５２を経由して測定アーム５０から射出される。射出された反射光は、カプラ２１を経由してカプラ２２に入射する。
【００１５】
参照アーム６０について説明する。参照アーム６０は光ファイバーを介してカプラ２１と接続される。参照アーム６０は、該カプラ２１側より順に配置されたコリメータレンズ６２、分散補償ガラス６３、光路調整光学系６４、分散調整プリズムペア６５及びコリメータレンズ６６を有する。
【００１６】
参照光は光ファイバーを通じて参照アーム６０に至り、参照アーム６０を経由してカプラ２２に入射する。より具体的には、参照アーム６０に入射した参照光は、偏光コントローラ６１で偏光状態を整えられた後、コリメータ６２から空間光として射出される。その後、参照光は分散補償ガラス６３を経て光路長調整光学系６４に至る。光路調整光学系６４は、図中矢印方向に移動することにより参照光の光路長を調整する。光路調整光学系６４を経た参照光は分散調整プリズムペア６５を通り、コリメータレンズ６６を介して光ファイバーに入射される。該光ファイバーはカプラ２２に接続されており、参照アーム６０から射出された参照光はカプラ２２に入射する。
【００１７】
カプラ２２で測定アーム５０を経由した被検体１００の反射光と参照アーム６０を通った光とが合波され干渉光が生成される。そして、その干渉光を検出部３０で検出する。検出部３０は、差動検出器３１、位相差発生部３３、及びアナログデジタル変換部であるＡ／Ｄ変換器３２ａ及びＡ／Ｄ変換器３２ｂを有している。
【００１８】
検出部３０では、カプラ２２で干渉光を発生させた後すぐに分波された干渉光の各々を差動検出器３１で検出する。そして、差動検出器３１で為される光電変換により電気信号に変換されたアナログ信号である干渉信号を再度分岐させ、Ａ／Ｄ変換器３２ａ及びＡ／Ｄ変換器３２ｂで各々デジタル信号に変換している。Ａ／Ｄ変換器３２ａ及び３２ｂによるサンプリングは、内部クロックを用いて等時間間隔に行われる。内部クロックは、Ａ／Ｄ変換器３２ａ及び３２ｂの各々に備えられている。
【００１９】
差動検出器３１とＡ／Ｄ変換器３２ｂとの間には、Ａ／Ｄ変換器３２ａ及び３２ｂの各々が取得する干渉信号に対して位相差を与えるための位相差発生部３３が配置されている。該位相差発生部３３は同軸ケーブルであり、これが配置されることによってＡ／Ｄ変換器３２ａとＡ／Ｄ変換器３２ｂとは異なる時刻でアナログ信号である干渉信号のアナログデジタル変換を行うこととなる。各々の変換器より得られたデジタル信号は、情報取得部４０に送られる。情報取得部４０においてこれらデジタル信号に対してフーリエ変換などの周波数分析が行われることで、眼底の情報が得られる。得られた眼底の情報は、表示部７０によって断層像として表示される。
【００２０】
なお、以上は、被検眼１００のある１点における断層に関する情報の取得のプロセスであり、このように被検眼１００の奥行き方向の断層に関する情報を取得することをＡ−ｓｃａｎと呼ぶ。また、Ａ−ｓｃａｎと直交する方向で被検眼１００の断層に関する情報、即ち被検眼１００の奥行き方向の２次元画像を取得することをＢ−ｓｃａｎと呼ぶ。更に、Ａ−ｓｃａｎ及びＢ−ｓｃａｎのいずれの走査方向とも直交する方向で情報を取得することをＣ−ｓｃａｎと呼ぶ。換言すれば、３次元断層像を取得する際に眼底面内に２次元ラスター走査する場合、高速な走査方向がＢ−ｓｃａｎであり、更にＢ−ｓｃａｎをその直交方向に並べて走査する低速な走査方向をＣ−ｓｃａｎとなる。Ａ−ｓｃａｎ及びＢ−ｓｃａｎを行うことで２次元の断層像が得られ、Ａ−ｓｃａｎ、Ｂ−ｓｃａｎ及びＣ−ｓｃａｎを行うことで、３次元の断層像を得ることができる。Ｂ−ｓｃａｎ及びＣ−ｓｃａｎは、上述したＸ軸スキャナー５３及びＹ軸スキャナー５４に照射光の照射位置を走査することより行われる。
【００２１】
なお、Ｘ軸スキャナー５３及びＹ軸スキャナー５４は、それぞれ回転軸が互いに直交するよう配置された偏向ミラーで構成されている。Ｘ軸スキャナー５３はＸ軸方向の走査を行い、Ｙ軸スキャナー５４はＹ軸方向の走査を行う。ここでＸ軸方向及びＹ軸方向の各方向は、被検眼１００の眼球の眼軸方向に対して垂直な方向で、互いに垂直な方向である。また、Ｂ−ｓｃａｎ及びＣ−ｓｃａｎのようなライン走査方向と、Ｘ軸方向又はＹ軸方向とは、一致していなくてもよい。このため、Ｂ−ｓｃａｎ及びＣ−ｓｃａｎのライン走査方向は、撮像したい２次元の断層像あるいは３次元の断層像に応じて、適宜決めることができる。
【００２２】
また、本実施形態では、Ｘ軸スキャナー５３とＹ軸スキャナー５４とをともに駆動させ、偏向ミラーの角度を変えることでさまざまな照射光の走査が可能である。例えば、図２（ａ）及び（ｂ）に示すようなラスター走査でもよいし、図２（ｃ）に示すような眼球の一点（例えば黄班）を複数回通過する方法でもよい。また、図２（ｄ）に示すような眼球の一点（例えば黄班）を中心としてらせん状に照射光の走査を行ってもよい。
【００２３】
ところで、眼底検査においては、黄班と視神経乳頭とを同一の、つまりは一回の走査で撮像したいという要望がある。これを実現するために求められるＯＣＴ装置の照射光で走査する範囲（走査角度）について、図３を用いて説明する。図３は、眼球を球体として仮定したときの模式図である。眼球の瞳孔中心の反対側には黄班がある。また、黄班から少し離れた位置に視神経乳頭がある。この黄班と視神経乳頭は、眼底において特に重要な部位である。
【００２４】
標準的な成人の眼底では、黄班と視神経乳頭を包含する距離Ｄは約５．７５ｍｍである。照射光は被検眼１００の瞳孔より内部に照射され、眼球の瞳孔中心を中心に旋回されて眼底を走査する。黄班を中心として視神経乳頭を包含する範囲を同じ走査で一度に撮像する場合、個人差も勘案すると、黄班と視神経乳頭を結ぶ最短の曲線の長さ（撮像範囲）Ｌが１４ｍｍ程度必要である。
【００２５】
ここで、この撮像範囲に対応する瞳孔中心を中心に旋回される照射光（測定光）の振れ角をαとする。成人の眼球の直径の平均は２４ｍｍ程度なので、撮像範囲Ｌを１４ｍｍ以上にするためには、振れ角αは３３．４度以上必要になる。この角度は、眼球内の平均屈折率が１．３８であることを利用して、空気中の、瞳孔中心に入射する照射光の振れ角βで表すと、ａｒｃｓｉｎ（１．３８×ｓｉｎ（３３．４度／２））×２≒４７度となる。
【００２６】
つまり、黄班を中心に配置させた状態で、黄班と視神経乳頭とを同時に撮像するために眼底を照射光で線状に走査する場合には、眼底を走査する角度範囲が空気中で換算して４７度以上であればよい。なお、以下では、眼底を照射光で線状に走査する場合における眼底を走査する角度範囲を空気中で換算した範囲を画角とする。つまり、振れ角βを画角とする。
【００２７】
次に、上記の振れ角βで走査する場合に生じる課題について、図４を用いて説明する。図４は、図３と同様に眼球を球体として仮定したときの模式図である。図４の破線は、照射光の走査軌跡を表している。図４で示すように、瞳孔中心から眼球の外壁つまり眼底までの物理的な距離は、黄班ではａ＋ｂであり、黄班から離れた位置にある部分（角度θ／２の部分）ではａである。ａ及びｂは眼軸長の長さＴと眼球内の振れ角θを用いると、各々以下の式で表される。
ａ＝Ｔ×ｃｏｓ（θ／２）  ・・・式１
ａ＋ｂ＝Ｔ  ・・・式２
【００２８】
このように、瞳孔中心から黄班までの距離と瞳孔中心から黄班から離れた位置までの距離とは、距離ｂだけ異なる。このｂは角度θが大きくなればなるほど、大きくなる。従って、広画角の眼底検査用のＯＣＴ装置では、瞳孔中心から黄班までの光路長と瞳孔中心から黄班から離れた周辺の位置までの距離とが大きく異なってしまう。成人の眼軸長Ｔは個人差が大きく、９５％の人が含まれる眼軸長Ｔの範囲は２１ｍｍ以上２８ｍｍ以下である。ここでは、眼軸長Ｔの値として、その範囲の最大値である２８ｍｍを用い、眼球内の振れ角θが３３．４度の場合、式１、２からｂは約１．２ｍｍとなる。
【００２９】
また、眼底検査用のＯＣＴ装置で観察する眼底組織は、眼底の表面近傍の網膜とその奥にある脈絡膜である。網膜は最厚部分で０．５０ｍｍ、脈絡膜は０．３０ｍｍ程度であるので、眼底検査用のＯＣＴ装置は少なくとも０．８０ｍｍの深さまで撮像する必要がある。つまり、眼底の表面と脈絡膜との間では、０．８０ｍｍの距離の差が生じる。
【００３０】
よって、黄班と視神経乳頭とを同一の走査で撮像し、かつ視神経乳頭の表面近傍と黄班
の奥にある脈絡膜との情報を得るためには、次のような条件のデータサンプリングが求められる。すなわち、２×（ｂ＋０．８０）≒４．０ｍｍの距離差が生じても、折り返しのない断層像を得ることが求められる。この距離差は、空気中の光路差で考えると、４．０ｍｍ×１．３８≒５．５ｍｍに対応する。つまり、画角４７度以上としても、精度よく断層情報を得ることができるＯＣＴ装置を実現するためには、空気中で５．５ｍｍの光路長差があるときにも折り返しのない断層像を得るような高速なデータサンプリングを等波数間隔で行うことが求められる。
【００３１】
広画角に眼底を撮像する場合、画角が広くなるので断層像の撮像点数も多くする必要がある。この撮像点数を多くするためには、Ａ−ｓｃａｎを高速に行う必要がある。Ａ−ｓｃａｎレートｆａとＡ／Ｄ変換器のサンプリングレートｆｓの関係は、１Ａ−ｓｃａｎあたりのサンプリングデータ数Ｎａ、光源の１Ａ−ｓｃａｎにおける波長掃引時間の割合ｄ、光源中心波長λｃ、光源掃引波長帯域Δλ、断層像の撮像深さ範囲Δｚを用いると、下記式で表される。
【数１】
0006765786.tif 000002
【００３２】
例えば、掃引周波数１００ｋＨｚ、波長掃引時間率５０％、中心波長１０６０ｎｍ、掃引波長帯域１１０ｎｍ、の波長掃引光源を用いて、撮像深さ５．５ｍｍの断層像を実現するためには、波長掃引の歪量±２０％の場合、サンプリングの周波数は約５００ＭＨｚと導出される。このため、Ａ／Ｄ変換器は、約５００ＭＨｚ以上の周波数でＡ／Ｄ変換（サンプリング）可能であることが求められる。また、さらに眼底撮像の広画角化とＡ−ｓｃａｎの高速化のためには、Ａ−ｓｃａｎレートの増加に比例して、サンプリングレートを高速化しなければならない。そして、高速サンプリングができる高価なＡ／Ｄ変換器を使う必要が生じる。また、単純に複数のＡ／Ｄ変換器を用いてもサンプリングデータが等波数間隔とはならず、良好な断層像を得ることが難しい。本実施形態はこのことを勘案し、複数のＡ／Ｄ変換器を用いて干渉信号のデータサンプリングを行い、各Ａ／Ｄ変換器のサンプリングデータを等波数間隔のデータとして統合して、周波数解析を行う事によって良好な眼底の断層像を得ている。
ここで、上述した中心波長、波長幅、撮像深さ等と略同じ値で、波長掃引光源のＡ−ｓｃａｎレートが約３００ｋＨｚ以上の場合、サンプリングの周波数は約１．０ＧＨｚ以上と導出される。このとき、Ａ／Ｄ変換器がＡ／Ｄ変換（サンプリング）可能な周波数との差分が顕著になり、本実施形態の適用がより好ましい状況となる。すなわち、本実施形態は、光源部が射出する光の周波数の掃引する速度である波長掃引光源のＡ−ｓｃａｎレートが約３００ｋＨｚ以上の場合に適用されることが好ましい。また、換言すると、本実施形態は、Ａ／Ｄ変換器がサンプリングする必要のある周波数が約１．０ＧＨｚ以上である場合に適用されることが好ましい。
【００３３】
以下、本発明の第一の実施形態において実行される処理内容について説明する。図５は、被検眼の断層像を生成するまで処理の全体フローを示している。本実施形態では、断層画像の生成において、事前処理である処理２１０と本測定処理である処理２２０とを有している。
【００３４】
より詳細には、処理２１０には、補正用干渉光の検出の処理２１１、データ関連付けの処理２１２、そしてリスケーリングマップを作成する処理２１３が含まれる。まず、処理２１１において、情報取得部４０が、検出部３０から送られた補正用干渉光のデジタル信号を受け取る。補正用干渉光には、例えばミラーを用いて得られる干渉光が用いられる。次に、処理２１２において、Ａ／Ｄ変換器３２ａ及び３２ｂが取得した各々のデジタル信号のデータ配列を統合するために、情報取得部４０が各データ配列のインデックスを関連付ける処理を行う。処理２１２については、図６を用いて後述する。
【００３５】
最後に、処理２１３において、情報取得部４０が、デジタル信号を等波数間隔のデータセットに変換するために用いるリスケーリングマップを作成する。なお、このリスケーリングマップの作成等の事前処理２１０はＯＣＴ装置の起動時に行う、或いは例えば一定期間経過後に行われるＯＣＴ装置のメンテナンス時に行うこととし、通常は不図示の記憶部に記憶しておけば良い。本測定時には、当該リスケーリングマップを適宜読み出してこれを用いれば良い。
【００３６】
本測定である処理２２０では、被検眼１００の断層像の生成を行う。まず、処理２２１において、検出部３０が被検眼１００を撮像対象とした干渉信号を検出する。次に、処理２２２において、情報取得部４０が、データ配列の統合、等波数間隔データ配列への変換、そしてフーリエ変換などの周波数分析を用いて被検眼１００の断層像を生成する。
【００３７】
ここで前述した処理２１２に関して、図６を用いて詳細に説明する。この処理では、Ａ／Ｄ変換器３２ａ及び３２ｂがサンプリングした干渉信号について、各データ配列のインデックスｉ及びｊを関連付けるための関連付けテーブルｉ’（ｊ）を作成する。まず、情報取得部４０が、処理３１１において、Ａ／Ｄ変換器３２ａ及びＡ／Ｄ変換器３２ｂ各々がサンプリングしたデジタル信号データ配列Ｉｐｒｅ１（ｉ）及びＩｐｒｅ２（ｊ）を取得する。
【００３８】
次に、処理３１２において、干渉信号のデータ配列Ｉｐｒｅ１（ｉ）及びＩｐｒｅ２（ｊ）から各データの位相情報Φｐｒｅ１（ｉ）及びΦｐｒｅ２（ｊ）を抽出する。具体的には、ヒルベルト変換を用いて位相抽出してから位相接続を行うことで、Φｐｒｅ１（ｉ）及びΦｐｒｅ２（ｊ）を単調増加する単一の位相データ配列として得る。
【００３９】
このとき、正確な位相接続をするために、連続する２つのサンプリングデータΦ（ｉ）及びΦ（ｉ＋１）の位相差が２π未満であることが望ましい。そのためには、検出部３０のサンプリング周波数ｆｓが干渉信号の周波数ｆよりも高い必要がある。即ち、事前処理において検出部３９が検出する補正用干渉信号の周波数は、検出部３０が実際に検出する際の検出周波数よりも低く設定されなければならない。
【００４０】
なお、ここで干渉信号の周波数ｆとは、Ａ／Ｄ変換器３２ａ及び３２ｂがそれぞれ検出する干渉スペクトルの時間変化のことである。そのため、測定アーム５０と参照アーム６０との光路長差ΔＺが以下の式を満たす位置に被検眼１００の代わりにミラーを配置して所望の周波数の干渉信号を生成する。
【数２】
0006765786.tif 000003
【００４１】
そして、処理３１３において抽出した位相データ配列Φｐｒｅ１（ｉ）を用いてフィッティング関数Φｐｒｅ’１（ｉ）を作成する。最後に、処理３１４において、Ａ／Ｄ変換器３２ｂのｊ番目のサンプリングデータの位相Φｐｒｅ２（ｊ）がΦｐｒｅ２（ｊ）＝Φｐｒｅ’１（ｉ’）となるフィッティング関数上のデータ番号ｉ’を算出する。そして、算出結果を、インデックスｉとインデックスｊとの関連付けテーブルｉ’（ｊ）として情報取得部４０に記憶する。以上で、Ａ／Ｄ変換器３２ａ及び３２ｂがサンプリングしたデータ配列のインデックスの関連付けテーブルの作成を終了する。
【００４２】
次に、図５に示す処理２１３について説明する。処理２１３では、リスケーリングマップの作成を行う。リスケーリングマップとは、等波数間隔のデータ配列Ｉｐｒｅ１（ｉ”）となるようなデータ配列ｉ”（ｋ）であり。Ａ／Ｄ変換器３２ａが取得した干渉信号のデータ配列Ｉｐｒｅ１（ｉ）をもとにｉ”（ｋ）を算出する。まず、処理３１２において取得したＡ／Ｄ変換器３２ａのデジタル信号の位相情報Φｐｒｅ１（ｉ）を読み出す。次に、下記式で表されるｉ”（ｋ）をリスケーリングマップとして取得する。
【数３】
0006765786.tif 000004
【００４３】
ただし、ΔΦは干渉信号を等波数間隔でリサンプリングする際の連続するデータ間の位相差、Φｍａｘは位相データ配列の最大値、ｋ＝０〜Ｎ３−１であり、Ｎ３はリサンプリングするデータ点数である。以上でリスケーリングマップの取得が終了する。
【００４４】
以上が事前処理２１０の内容になる。次に、実際に断層像を生成する本測定処理である処理２２０の詳細について説明する。
【００４５】
図７は、処理２２０における断層画像の生成処理である処理２２２の内容を示している。まず、処理５１０において、情報取得部４０が、処理２２１で検出部３０が各々のＡ／Ｄ変換器を通じて検出したデジタル干渉信号Ｉ１（ｉ）及びＩ２（ｊ）を取得する。ただし、ｉ＝０〜Ｎ１−１、ｊ＝０〜Ｎ２−１である。このとき、測定アーム５０の射出先には実際に断層像を撮像する被検眼１００が配置されている。次に、処理５１１において、Ａ／Ｄ変換器３２ｂが取得したデジタル信号Ｉ２（ｊ）のデータ番号の振り直しを行う。処理２１２において作成したインデックスの関連付けテーブルｉ’（ｊ）を用いて、Ｉ’２（ｉ’（ｊ））＝Ｉ２（ｊ）となるデータ配列を作成する。
【００４６】
次に、処理５１２において、Ａ／Ｄ変換器３２ａが取得した干渉信号データＩ１（ｉ）とデータ番号を振り直したＡ／Ｄ変換器３２ｂの取得データＩ’２（ｉ’（ｊ））とを統合したデータ配列Ｉ（ｔ）を作成する。
【００４７】
そして、処理５１３において、ＦＰＮ（Ｆｉｘｅｄ  ｐａｔｅｒｎ  ｎｏｉｓｅ）除去を行う。ＦＰＮ除去では、例えば、被検眼１００からの戻り光がない状態で取得したスペクトルデータを、干渉信号Ｉ（ｔ）から減算してＩ’（ｔ）を得る（ｔ＝０、Ｎ１＋Ｎ２−１）。該スペクトルデータは、具体的には、フォーカスレンズ５５と被検眼１００との間に障害物を配置するなどして、被検眼１００への測定光の射出を遮った状態で得る。
【００４８】
ＦＰＮ除去後、処理５１４において、リスケーリング処理を行い、等波数間隔のデータ配列Ｉ’（ｋ）を取得する。より具体的には、まず、処理５１３で求めたＦＰＮ除去後のデジタル信号Ｉ’（ｔ）におけるｉ”（ｋ）番目の数値を、既知の数値から１Ｄもしくはスプライン補間等を用いて算出する。リスケーリング処理の補間精度を向上のために、補間計算の前に、干渉信号データＩ（ｔ）に対して、ＦＦＴ、ゼロパディング、そして逆ＦＦＴを順に行うことも可能である。
【００４９】
最後に、処理５１５として、Ｉ’（ｋ）にＦＦＴをかけて断層像を取得する。処理５１５の前後に、数学的な補償処理や画像補正が行われてもよい。以上の処理を経ることにより、二つのＡ／Ｄ変換器を用いて被検眼１００より得た二つのデータ配列を合成して、単一のデータ配列Ｉ（ｔ）を得ることができる。これにより、単一のＡ／Ｄ変換器を用いた場合に比べて多くの撮像点数を有したＡ−ｓｃａｎを行うことが可能となる。
【００５０】
即ち、以上の実施形態によれば、複数のＡ／Ｄ変換器を用いることでより高速サンプリングが可能となる。また、干渉信号の位相情報を用いて、各Ａ／Ｄ変換器のサンプリングデータのインデックス関連付けとリスケーリング処理を行うことによって等波数間隔のデータセットを生成することが可能となる。結果、高いＡ−ｓｃａｎレートで良好な断層像を得ることができ、１回の走査の撮像範囲を大きくしても断層に関する情報を精度よく取得することが可能となる。
【００５１】
なお、以上に述べた処理２１２は、情報取得部４０内に包含される、少なくとも二つのデータセット各々のインデックスの関連付けを行うデータ関連付け手段により実行される。このインデックスの関連付けに際しては、該データ関連付け手段によってデータセット各々の位相情報を取得し、この位相情報に基づいて該インデックスの関連付けが行われる。なお、本実施形態において、この位相情報はデータセット各々をヒルベルト変換し、この変換後のデータセットより求めている。処理２２２、より詳細には処理５１２は、情報取得部４０内に包含される、関連付けられたインデックスに基づいて、或いは取得された位相情報に基づいて少なくとも二つのデータセットを統合する統合手段により実行される。処理５１４におけるリスケーリング処理は、情報取得部４０内に包含される、統合されたデータセットを等波数間隔のデータセットに変換するリスケーリング手段により実行される。更に、処理２２２における画像の生成は、情報取得部４０内に包含される、統合されたデータセットに基づいて被検眼の断層像を生成する画像生成手段により実行される。
【００５２】
［第二の実施形態］
図８は、本発明の第二の実施形態における光干渉断層撮像法を用いた撮像装置（ＯＣＴ装置）の構成例の概略を示す模式図である。なお、第一の実施形態と同一の構成要素については、例えば光源部７１０、干渉部７２０、検出部７３０、情報取得部７４０、測定アーム７５０、及び参照アーム７６０のように同一の名称を用いることによりここでの詳細に説明を省略する。
【００５３】
本第二の実施形態は、第一の実施形態に対して、ｋクロック発生部７８０を備える点において異なっている。該ｋクロック発生部７８０を配することによって、Ａ／Ｄ変換器７３２ａが等波数間隔でのサンプリングを行うこととなる。本実施形態では、Ａ／Ｄ変換器７３２ａが等波数間隔サンプリングを行うため、サンプリングデータにおいて線形に位相が増加するデータセットとなる。そのため、後述する位相情報を用いたフィッティング処理において、高次のフィッティングをする必要がなく、リスケーリングマップを作成する必要がなくなることから、計算負荷を低減することができる。
【００５４】
本実施形態に係るＯＣＴ装置は、光源部７１０、干渉部７２０、検出部７３０、情報取得部７４０、測定アーム７５０及び参照アーム７６０を有する。射出される光周波数が掃引される光源部７１０と、干渉光を生成する干渉部７２０と、干渉光を検出する検出部７３０と、干渉光に基づいて、被検体１００の眼底の情報を取得する情報取得部７４０と、を有している。さらに、ＯＣＴ装置は、測定アーム７５０と参照アーム７６０を有している。
【００５５】
カプラ７２２で測定アーム７５０を経由した被検体１００の反射光と参照アーム７６０を通った光とが合成された干渉光が生成される。そして、その干渉光を検出部７３０で検出する。検出部７３０は、差動検出器７３１とアナログデジタル変換部であるＡ／Ｄ変換器７３２ａ及びＡ／Ｄ変換器７３２ｂを有している。検出部７３０では、カプラ７２２で干渉光を発生させた後すぐに分波された干渉光の各々を差動検出器７３１で検出する。そして、差動検出器７３１で電気信号に変換された干渉信号を再度分岐させ、Ａ／Ｄ変換器７３２ａ及びＡ／Ｄ変換器７３２ｂで各々デジタル信号に変換している。
【００５６】
図８のＯＣＴ装置において、Ａ／Ｄ変換器７３２ａの干渉信号のサンプリングタイミングは、光源部７１０の外に設けられるｋクロック発生部７８０が発信するｋクロック信号に基づいて等光周波数（等波数）間隔に行われる。一方、Ａ／Ｄ変換器７３２ｂのサンプリングタイミングは、Ａ／Ｄ変換器に備えられた内部クロックによって等時間間隔で行われる。光源部７１０から射出された光の一部をｋクロック発生部７８０に分岐するために、カプラ７９０が設けられている。なお、ｋクロック発生部７８０、及びカプラ７９０は光源部７１０に組み込まれていてもよい。
【００５７】
Ａ／Ｄ変換器各々によりサンプリングされたデジタル信号は、情報取得部７４０に送られる。情報取得部７４０においてこれらデジタル信号に対してフーリエ変換などの周波数分析が行われることで、眼底の情報が得られる。得られた眼底の情報は、表示部７７０によって断層像として表示される。
【００５８】
以下、本発明の第二の実施形態において実行される処理内容について説明する。図９は、被検眼の断層像を生成までの処理の全体フローを示している。本実施形態では、断層画像の生成において、事前処理である処理８１０と本測定処理である処理８２０とを有している。
【００５９】
より詳細には、処理８１０には、補正用干渉光の検出の処理８１１、及び各Ａ／Ｄ変換器がサンプリングしたデータ配列のインデックスを関連付ける処理８１２が含まれる。まず、処理８１１において、検出部７３０が処理８１２で用いる補正用干渉信号を検出する。該補正用干渉信号を得るための補正用干渉光には、例えばミラーを用いて得られる干渉光が用いられる。次に、処理８１２において、Ａ／Ｄ変換器７３２ａ及び７３２ｂ各々がサンプリングした離散的な干渉信号のデータ配列を統合するために、情報取得部７４０が各々のデータ配列のインデックスを関連付ける処理を行う。
【００６０】
画像生成処理である本測定処理８２０は、干渉信号の検出の処理８２１と断層像の生成のための処理８２２とを有する。該処理８２０では、被検眼１００を撮像対象として干渉信号の取得からＯＣＴ画像の生成までを行う。まず、処理８２１において、検出部７３０が被検眼１００を撮像対象とした場合の干渉信号を検出する。次に、処理８２２において、情報取得部７４０が、事前処理により得たインデックスの関連付けの結果を用いたデータ配列の統合、等波数間隔データ配列への変換、そしてフーリエ変換などの周波数分析を用いて被検眼１００のＯＣＴ画像を生成する。
【００６１】
なお、前述した処理８１２は、第一の実施例形態における処理２１２と同様であり、図６で示される。この処理では、Ａ／Ｄ変換器７３２ａ及び７３２ｂがサンプリングした干渉信号について、各データ配列のインデックスｉ及びｊを関連付けるための関連付けテーブルｉ’（ｊ）を作成する。まず、情報取得部７４０が、処理８１１において、Ａ／Ｄ変換器７３２ａがサンプリングした離散的な干渉信号データ配列Ｉｐｒｅ１（ｉ）を取得する。一方、処理３１１において、Ａ／Ｄ変換器７３２ｂは、ｋクロック信号に対応するＡ／Ｄ変換器７３２ａとは異なる時刻にサンプリングした干渉信号のデータ配列Ｉｐｒｅ２（ｊ）を取得する。
【００６２】
次に、処理３１２において干渉信号のデータ配列Ｉｐｒｅ１（ｉ）及びＩｐｒｅ２（ｊ）から各データの位相情報Φｐｒｅ１（ｉ）及びΦｐｒｅ２（ｊ）を抽出する。具体的には、ヒルベルト変換を用いて位相抽出してから位相接続を行うことで、Φｐｒｅ１（ｉ）及びΦｐｒｅ２（ｊ）を単調増加する単一の位相データ配列として得る。
【００６３】
そして、処理３１３において抽出した位相データ配列Φｐｒｅ１（ｉ）を用いてフィッティング関数Φ’ｐｒｅ１（ｉ）を作成する。このとき、Ａ／Ｄ変換器７３２ａはｋクロック発生部７８０から発せられたｋクロック信号を用いて等波数間隔で行われるため、フィッティング関数Φ’ｐｒｅ１（ｉ）は略線形になる。
【００６４】
最後に、処理３１４において、Ａ／Ｄ変換器７３２ｂのｊ番目のサンプリングデータの位相Φｐｒｅ２（ｊ）がΦｐｒｅ２（ｊ）＝Φ’ｐｒｅ１（ｉ’）となるフィッティング関数上のデータ番号ｉ’を算出する。そして、算出結果を、インデックスｉとインデックスｊとの関連付けテーブルｉ’（ｊ）として、情報取得部７４０に記憶する。以上で、Ａ／Ｄ変換器７３２ａ及び７３２ｂがサンプリングした干渉信号に関するデータ配列のインデックス関連付けテーブルの作成を終了する。
【００６５】
本測定のための処理８２０は、第一の実施形態における処理２２０と同様であり、断層像の生成のための処理８２２の詳細は図７で示される。詳細については第一の実施形態の場合と同様であるため、ここでの説明は省略する。
【００６６】
なお、図１０は、第二の実施形態における処理５１４の内容を説明するための概念図である。図１０（ａ）は処理５１２において統合された干渉信号Ｉ（ｔ）（ｔ＝０、Ｎ１＋Ｎ２−１）、図１０（ｂ）は処理５１４のリスケーリング処理後の干渉信号Ｉ’（ｋ）を示している。横軸は第１のＡ／Ｄ変換器７３２ａのデータ番号、縦軸は干渉信号強度、黒丸は第１のＡ／Ｄ変換器７３２ａのサンプリング点、白丸は第２のＡ／Ｄ変換器７３２ｂのサンプリング点、波線は説明のために簡素化した単一周期の干渉信号を表す余弦波である。
【００６７】
実際の処理においては、まず、リスケーリング処理後のデータ数Ｎ３を決める。一例として、図１０（ｂ）では、データ数Ｎ３＝２×Ｎ１であり、サンプリング間隔はΔｔ＝０．５である。次に、図１０（ｂ）中の白丸の数値を算出する。より具体的には、（ａ）中の白丸および黒丸の既存点から１Ｄもしくはスプライン補間等を用いて算出する。リスケーリング処理の補間精度を向上のために、補間計算の前に、干渉信号データＩ（ｔ）に対して、ＦＦＴ、ゼロパディング、そして逆ＦＦＴを順に行うことも可能である。
【００６８】
以上の処理を行うことによって、リスケーリングマップを作成することなく、別々のＡ／Ｄ変換器より得たデータ配列を統合することが可能となる。これにより、高速サンプリングが可能となり、高いＡ−ｓｃａｎレートで良好な断層像を得ることができ、１回の走査の撮像範囲を大きくしても断層に関する情報を精度よく取得することが可能となる。
【００６９】
なお、以上の実施形態では、Ａ／Ｄ変換器（アナログデジタル変換器）は二つ用いることとしているが、これ以上であっても良い。また、Ａ／Ｄ変換器の数を増やした場合、各々の位相をずらすように複数の位相差発生手段を配することが好ましい。検出部に含まれる位相差発生手段は、データセットの各々に対して位相差を与え、該位相差はデータセット各々におけるインデックスの相違を与える。或いは第二の実施形態の場合、少なくとも二つのＡ／Ｄ変換器の内の少なくとも一つのＡ／Ｄ変換器より得られるデータセットを等波数間隔とするようにｋクロック発生部を配すると良い。またこの場合、少なくとも二つのＡ／Ｄ変換器の内の他のＡ／Ｄ変換器は等時間間隔のデータセットを供給することが好ましい。
【００７０】
（その他の実施例）
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更を行って実施することができる。例えば、上記実施形態では、本発明の適用対象として撮像装置及び該撮像装置を作動させる方法を例示している。しかし、光学系、干渉部、Ａ／Ｄ変換器等からなる撮像装置と通信可能に接続されて、データセットの生成や統合を行って画像生成を為す情報処理装置或いはその作動方法の態様とすることも可能である。更に、上記実施形態では、被検査物が被検眼眼底の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被測定物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される検査装置を対象とした撮像装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
【００７１】
また、本発明は、上述した実施形態の機能（例えば、上記の各部の処理を各工程に対応させたフローチャートにより示される処理）を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、システム或いは装置に供給することによっても実現できる。この場合、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ）が、コンピュータが読み取り可能に記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することにより、上述した実施形態の機能を実現する。
【符号の説明】
【００７２】
１０、７１０：光源部
２０、７２０：干渉部
３０、７３０：検出部
４０、７４０：情報取得部
５０、７５０：測定アーム
６０、７６０：参照アーム
７８０：ｋクロック発生部
【図１】
0006765786.tif 000005
【図２】
0006765786.tif 000006
【図３】
0006765786.tif 000007
【図４】
0006765786.tif 000008
【図５】
0006765786.tif 000009
【図６】
0006765786.tif 000010
【図７】
0006765786.tif 000011
【図８】
0006765786.tif 000012
【図９】
0006765786.tif 000013
【図１０】
0006765786.tif 000014