(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
照射光を照射する投光光学系と、測定対象物で反射された反射照射光を分光して受光する受光光学系と、前記測定対象物迄の距離を測定する距離計と、異なる距離で白色基準板を測定した際の波長毎の受光強度を基に作成された複数の基準分光曲線を格納する記憶部と、制御演算部とを具備し、該制御演算部は、分光された前記反射照射光の波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成し、該測定分光曲線と、測定距離に対応した前記基準分光曲線との受光強度の差分から演算された受光蓄積時間を補正情報として前記測定分光曲線を補正し、分光反射率曲線を作成し、該分光反射率曲線の波形形状に基づき、前記測定対象物の塩害と中性化に関係する情報を測定するコンクリート測定装置。
【請求項２】
照射光を照射する投光光学系と、測定対象物で反射された反射照射光を分光して受光する受光光学系と、前記測定対象物迄の距離を測定する距離計と、異なる距離で白色基準板を測定した際の波長毎の受光強度を基に作成された複数の基準分光曲線と、塩分濃度とｐＨが既知である試験片から作成された分光反射率曲線である複数の劣化分光反射率曲線とを格納する記憶部と、制御演算部とを具備し、該制御演算部は、分光された前記反射照射光の波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成し、該測定分光曲線を測定距離に対応した前記基準分光曲線に基づき補正して前記分光反射率曲線を作成し、前記複数の劣化分光反射率曲線の中から前記分光反射率曲線と波形形状が合致又は近似する劣化分光反射率曲線を選択し、選択された該劣化分光反射率曲線を基に前記測定対象物の塩害と中性化に関係する情報を測定するコンクリート測定装置。
【請求項３】
前記制御演算部は、前記分光反射率曲線に基づきＰＬＳ回帰分析法により前記測定対象物の塩害と中性化に関係する情報を測定する請求項１に記載のコンクリート測定装置。
【請求項４】
照射光を測定対象物に向けて照射し、該測定対象物からの反射照射光を分光して受光した受光結果により前記測定対象物の塩害及び中性化に関する情報を測定するコンクリート測定方法であって、光源からの距離が異なる複数の位置で白色基準板をそれぞれ測定した際の波長毎の受光強度を基に複数の基準分光曲線を作成し、塩分濃度とｐＨが既知である複数の試験片を測定して取得した分光反射率曲線である複数の劣化分光反射率曲線を作成し、前記受光結果の波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成し、前記光源から前記測定対象物迄の距離を測定し、測定された距離に基づいて前記基準分光曲線を選択し、選択された該基準分光曲線と前記測定分光曲線から求めた補正情報に基づき前記測定分光曲線を補正して前記分光反射率曲線を作成し、前記複数の劣化分光反射率曲線の中から前記分光反射率曲線に対応する劣化分光反射率曲線を選択し、選択された該劣化分光反射率曲線を基に前記測定対象物の塩害及び中性化に関する情報を測定するコンクリート測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、非接触且つ非破壊でコンクリートの塩害や中性化に関する情報を取得する分光曲線取得装置及びコンクリート測定装置及び分光曲線取得方法及びコンクリート測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
橋梁やトンネル等のインフラ構造物には、大量のコンクリートが用いられている。コンクリートは海水の飛来や凍結防止剤散布による塩害、大気中の二酸化炭素による中性化等により経年劣化する。従って、構造物の維持管理の為、定期的にコンクリート中の塩分濃度や中性化の進行を計測し、コンクリートの健全性を診断することが近年求められている。
【０００３】
従来、コンクリートの経年劣化の測定では、測定対象の構造物から直接試験片を切出し、該試験片に対して各種試験を行うことで塩分濃度や中性化の進行等を測定し、測定対象のコンクリートの劣化度合いを診断する破壊検査を行っていた。然し乍ら、破壊検査の場合、構造物に損傷を与える為、繰返し測定を行うのは困難であった。
【０００４】
又、非破壊でコンクリートの診断を行う方法として、コンクリートに近赤外光を照射し、コンクリートからの反射光を分光計測することでコンクリートの劣化度合いを診断する非破壊検査がある。
【０００５】
然し乍ら、コンクリートを非接触で遠隔測定する場合、コンクリート迄の距離に応じて受光する分光の波形形状が大きく変わってしまう。この為、従来の遠隔測定では塩害や中性化を正確に測定することができないという問題があった。
【０００６】
尚、引用文献１には、コンクリート面に近赤外線を照射した際の反射光を分光分析し、９００〜１７００ｎｍの波長域から水酸化カルシウムの濃度を検出し、１７００〜２５００ｎｍの波長域からＰＬＳ回帰分析法を用いたケモメトリックス手法を用いて塩化物イオンの濃度を検出し、水酸化カルシウムの濃度と塩化物イオンの濃度から中性化と塩害による劣化を診断するコンクリートの診断方法が開示されているが、コンクリート面との距離や、距離により分光の波形形状が変化することについては何ら開示されていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００８−１４７７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、コンクリートを遠隔測定する場合でも、正確な塩害や中性化に関係する情報を取得する為の分光曲線を取得可能とする分光曲線取得装置及びコンクリート測定装置及び分光曲線取得方法及びコンクリート測定方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、照射光を照射する投光光学系と、測定対象物で反射された反射照射光を分光して受光する受光光学系と、前記測定対象物迄の距離を測定する距離計と、異なる距離で白色基準板を測定した際の波長毎の受光強度を基に作成された複数の基準分光曲線を格納する記憶部と、制御演算部とを具備し、該制御演算部は、測定距離に対応した前記基準分光曲線に基づき、分光された前記反射照射光の波長毎の受光強度を求め、該受光強度を基に作成された測定分光曲線を補正し、分光反射率曲線を作成する分光曲線取得装置に係るものである。
【００１０】
又本発明は、照射光を照射する投光光学系と、測定対象物で反射された反射照射光を分光して受光する受光光学系と、前記測定対象物迄の距離を測定する距離計と、異なる距離で白色基準板を測定した際の波長毎の受光強度を基に作成された複数の基準分光曲線を格納する記憶部と、制御演算部とを具備し、該制御演算部は、分光された前記反射照射光の波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成し、該測定分光曲線を測定距離に対応した前記基準分光曲線に基づき補正して分光反射率曲線を作成し、該分光反射率曲線の波形形状に基づき、前記測定対象物の塩害と中性化に関係する情報を測定するコンクリート測定装置に係るものである。
【００１１】
又本発明は、前記制御演算部は、前記測定分光曲線と、測定距離に対応した前記基準分光曲線との受光強度の差分から演算された受光蓄積時間を補正情報として前記測定分光曲線を補正し、前記分光反射率曲線を作成するコンクリート測定装置に係るものである。
【００１２】
又本発明は、前記記憶部に塩分濃度とｐＨが既知である試験片から作成された分光反射率曲線である複数の劣化分光反射率曲線が更に格納され、前記制御演算部は、前記複数の劣化分光反射率曲線の中から前記分光反射率曲線と波形形状が合致又は近似する劣化分光反射率曲線を選択し、選択された該劣化分光反射率曲線を基に前記測定対象物の塩害と中性化に関係する情報を測定するコンクリート測定装置に係るものである。
【００１３】
又本発明は、前記制御演算部は、前記分光反射率曲線に基づきＰＬＳ回帰分析法により前記測定対象物の塩害と中性化に関係する情報を測定するコンクリート測定装置に係るものである。
【００１４】
又本発明は、光源からの距離が異なる複数の位置で白色基準板をそれぞれ測定した際の波長毎の受光強度を基に複数の基準分光曲線を作成し、照射光を測定対象物に向けて照射し、該測定対象物からの反射照射光を分光して受光した際の波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成し、前記光源から前記測定対象物迄の距離を測定し、測定された距離に基づいて対応する前記基準分光曲線を選択し、選択された該基準分光曲線と前記測定分光曲線とから求めた補正情報に基づき前記測定分光曲線を補正し、分光反射率曲線を作成する分光曲線取得方法に係るものである。
【００１５】
又本発明は、照射光を測定対象物に向けて照射し、該測定対象物からの反射照射光を分光して受光した受光結果により前記測定対象物の塩害及び中性化に関する情報を測定するコンクリート測定方法であって、光源からの距離が異なる複数の位置で白色基準板をそれぞれ測定した際の波長毎の受光強度を基に複数の基準分光曲線を作成し、前記受光結果の波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成し、前記光源から前記測定対象物迄の距離を測定し、測定された距離に基づいて前記基準分光曲線を選択し、選択された該基準分光曲線と前記測定分光曲線から求めた補正情報に基づき前記測定分光曲線を補正して分光反射率曲線を作成し、該分光反射率曲線の波形形状に基づき前記測定対象物の塩害及び中性化に関する情報を測定するコンクリート測定方法に係るものである。
【００１６】
更に又本発明は、塩分濃度とｐＨが既知である複数の試験片を測定して取得した分光反射率曲線である複数の劣化分光反射率曲線を作成し、該複数の劣化分光反射率曲線の中から前記分光反射率曲線に対応する劣化分光反射率曲線を選択し、選択された該劣化分光反射率曲線を基に前記測定対象物の塩害と中性化に関係する情報を測定するコンクリート測定方法に係るものである。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、照射光を照射する投光光学系と、測定対象物で反射された反射照射光を分光して受光する受光光学系と、前記測定対象物迄の距離を測定する距離計と、異なる距離で白色基準板を測定した際の波長毎の受光強度を基に作成された複数の基準分光曲線を格納する記憶部と、制御演算部とを具備し、該制御演算部は、測定距離に対応した前記基準分光曲線に基づき、分光された前記反射照射光の波長毎の受光強度を求め、該受光強度を基に作成された測定分光曲線を補正し、分光反射率曲線を作成するので、測定距離に拘わらず、塩害と中性化に関する情報の測定に必要な分光反射率曲線を取得することができる。
【００１８】
又本発明によれば、照射光を照射する投光光学系と、測定対象物で反射された反射照射光を分光して受光する受光光学系と、前記測定対象物迄の距離を測定する距離計と、異なる距離で白色基準板を測定した際の波長毎の受光強度を基に作成された複数の基準分光曲線を格納する記憶部と、制御演算部とを具備し、該制御演算部は、分光された前記反射照射光の波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成し、該測定分光曲線を測定距離に対応した前記基準分光曲線に基づき補正して分光反射率曲線を作成し、該分光反射率曲線の波形形状に基づき、前記測定対象物の塩害と中性化に関係する情報を測定するので、前記測定対象物との距離の変化により、前記測定分光曲線の波形形状が大きく変化する場合であっても正確な測定結果を得ることができ、安定した遠隔測定が可能となる。
【００１９】
又本発明によれば、光源からの距離が異なる複数の位置で白色基準板をそれぞれ測定した際の波長毎の受光強度を基に複数の基準分光曲線を作成し、照射光を測定対象物に向けて照射し、該測定対象物からの反射照射光を分光して受光した際の波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成し、前記光源から前記測定対象物迄の距離を測定し、測定された距離に基づいて対応する前記基準分光曲線を選択し、選択された該基準分光曲線と前記測定分光曲線とから求めた補正情報に基づき前記測定分光曲線を補正し、分光反射率曲線を作成するので、測定距離に拘わらず、塩害と中性化に関する情報の測定に必要な分光反射率曲線を取得することができる。
【００２０】
更に又本発明によれば、照射光を測定対象物に向けて照射し、該測定対象物からの反射照射光を分光して受光した受光結果により前記測定対象物の塩害及び中性化に関する情報を測定するコンクリート測定方法であって、光源からの距離が異なる複数の位置で白色基準板をそれぞれ測定した際の波長毎の受光強度を基に複数の基準分光曲線を作成し、前記受光結果の波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成し、前記光源から前記測定対象物迄の距離を測定し、測定された距離に基づいて前記基準分光曲線を選択し、選択された該基準分光曲線と前記測定分光曲線から求めた補正情報に基づき前記測定分光曲線を補正して分光反射率曲線を作成し、該分光反射率曲線の波形形状に基づき前記測定対象物の塩害及び中性化に関する情報を測定するので、前記測定対象物との距離の変化により、前記測定分光曲線の波形形状が大きく変化する場合であっても正確な測定結果を得ることができ、安定した測定が可能となるという優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の実施例に係る測定装置を示す斜視図である。
【図２】本発明の実施例に係る測定装置の投光光学系、受光光学系及び分光器を示す構成図である。
【図３】本発明の実施例に係る測定装置の制御系を示すブロック図である。
【図４】（Ａ）は基準分光曲線を示すグラフであり、（Ｂ）は測定分光曲線を示すグラフである。
【図５】塩分濃度が異なる複数の分光反射率曲線を示すグラフである。
【図６】（Ａ）は１次微分した前記分光反射率曲線を示すグラフであり、（Ｂ）は２次微分した前記分光反射率曲線を示すグラフである。
【図７】ｐＨが異なる複数の分光反射率曲線を２次微分したグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を説明する。
【００２３】
先ず、図１、図２に於いて、本発明の実施例に係る測定装置１について説明する。
【００２４】
該測定装置１は三脚２上に設置されている。前記測定装置１には分光計３が内蔵され、前記測定装置１の上面には距離計４が設けられている。尚、該距離計４は、前記測定装置１に内蔵されていてもよい。
【００２５】
前記分光計３は、近赤外光を含む照射光を投光光軸５上に照射する投光光学系６を有すると共に、測定対象物７、例えば橋梁の脚部等のコンクリート構造物からの反射照射光を受光する受光光学系８を有している。
【００２６】
前記投光光学系６は前記投光光軸５を有し、該投光光軸５上に光源９、リレーレンズ１１、ミラー１２、対物レンズ１３が設けられている。前記光源９からの照射光が前記リレーレンズ１１、前記対物レンズ１３を介して前記測定対象物７に照射される様になっている。
【００２７】
前記受光光学系８は、前記投光光軸５上に設けられた前記ミラー１２を有している。更に、前記受光光学系８は、前記ミラー１２で分岐された受光光軸１４上に設けられた結像レンズ１５と、該結像レンズ１５の結像側に設けられた受光部１６とを有する。前記ミラー１２は、前記測定対象物７で反射された反射照射光の少なくとも一部を前記受光光軸１４上へと反射させる様になっている。
【００２８】
前記受光部１６は、受光ファイバ１７、分光板１８、受光素子１９を有している。前記受光ファイバ１７の一端面は受光面であり、該受光面は前記結像レンズ１５の焦点位置に配置されている。又、前記受光ファイバ１７の射出端には集光器１７ａが設けられ、射出端からの反射照射光は該集光器１７ａにより平行光束とされ、前記分光板１８に入射される。更に、該分光板１８で反射された分光は前記受光素子１９によって受光される。該受光素子１９からの受光信号は後述する制御演算部２４に出力される。尚、前記分光板１８と前記受光素子１９とで分光器２１が構成される。
【００２９】
前記光源９は、例えば近赤外光を含む照射光を発光するハロゲンランプであり、フィラメント２２に通電することで、例えば劣化の状態が現れる９００ｎｍ〜２５００ｎｍ程度の波長帯域の近赤外光を含む照射光を発光する。
【００３０】
又、前記距離計４は、前記投光光軸５と平行な測距光軸２３上に測距光を射出し、前記測定対象物７で反射された反射測距光を受光することで、該測定対象物７迄の距離を測定できる様になっている。尚、前記測距光軸２３と前記投光光軸５との間の距離は既知となっている。
【００３１】
次に、図３に於いて、前記測定装置１の制御系について説明する。
【００３２】
該測定装置１は、前記測定対象物７迄の距離を測定する前記距離計４と、前記測定対象物７に照射光を照射する前記分光計３の前記投光光学系６と、前記測定対象物７からの反射照射光を受光する前記分光計３の前記受光光学系８と、ＣＰＵ等の前記制御演算部２４と、記憶部２５と、表示部２６と、操作部２７とを有している。
【００３３】
前記記憶部２５は、例えばＨＤＤ、半導体メモリ等であり、前記距離計４に前記測定対象物７迄の距離を測定させる為の測距プログラム、前記測定対象物７からの反射照射光を基に分光データを取得する分光計測プログラム、分光データの各波長毎の受光強度を基に測定分光曲線を作成する分光曲線作成プログラム、作成された測定分光曲線を測定された距離に対応する基準分光曲線（後述）を基に補正する補正プログラム、測定分光曲線と基準分光曲線を基に反射率を演算し分光反射率曲線を作成する分光反射率曲線作成プログラム、測定された距離に対応する複数の劣化分光反射率曲線（後述）と分光反射率曲線とを比較し、分光反射率曲線と波形形状が合致又は近似する劣化分光反射率曲線を選択する分光反射率曲線選択プログラム、選択された劣化分光反射率曲線に基づき前記測定対象物７の状態を測定する測定プログラム等のプログラムが格納されている。
【００３４】
又、前記記憶部２５には、作成された分光反射率曲線を基に、例えばＰＬＳ回帰分析により塩分濃度やｐＨを演算し、劣化を判定する劣化判定プログラム等のプログラムが格納されている。
【００３５】
又、前記記憶部２５には、作成された測定分光曲線、分光反射率曲線等が格納されると共に、予め作成された基準分光曲線や劣化分光反射率曲線等のデータが格納されている。
【００３６】
前記表示部２６は、例えば前記測定装置１に設けられたモニタであり、前記測定対象物７の測定結果等が表示される。尚、前記表示部２６は、前記測定装置１に接続された外部モニタであってもよい。
【００３７】
前記操作部２７は、例えば前記測定装置１に接続されたキーボードであり、測定の際の各種設定等が行える様になっている。尚、前記表示部２６をタッチパネルとし、該表示部２６と前記操作部２７とを兼用としてもよい。
【００３８】
前記基準分光曲線は、前記測定装置１に正対させた白色基準板７ａを前記測定対象物７として測定した際の各波長毎の受光強度から作成された分光曲線となっている。前記測定装置１と前記白色基準板７ａとの距離を変更し、各距離毎に該白色基準板７ａを測定することで、各距離に対応した複数の基準分光曲線が取得される様になっている。
【００３９】
又、前記劣化分光反射率曲線は、塩分濃度やｐＨが既知であるコンクリート、例えば試験片を前記測定対象物７として測定した際の分光反射率曲線となっている。塩分濃度、ｐＨが異なる複数の試験片を、それぞれについて前記測定装置１との距離を変更して測定することで、距離と塩分濃度とｐＨとが関連付けられた複数の劣化分光反射率曲線が取得される。尚、塩分濃度やｐＨの測定は、分光データを用いた測定や試験片の破壊検査による測定等、種々の手段が用いられる。
【００４０】
次に、前記測定装置１を用いたコンクリート製の前記測定対象物７の測定について説明する。
【００４１】
先ず、前記分光計３により、前記測定対象物７が分光計測される。前記光源９より前記投光光軸５上へと照射された照射光は、前記リレーレンズ１１、前記対物レンズ１３を透して前記測定対象物７へと照射される。
【００４２】
該測定対象物７で反射された反射照射光の一部は、前記対物レンズ１３を透過した後、前記ミラー１２で前記受光光軸１４上へと反射され、前記結像レンズ１５で集光されて前記受光ファイバ１７の受光面に入射する。
【００４３】
反射照射光は、前記受光ファイバ１７から放出される際に前記集光器１７ａによって平行光束とされ、前記分光板１８へと入射する。該分光板１８は、反射照射光を所定の波長を有する複数の分光へと分割して反射し、前記受光素子１９へ受光させる。
【００４４】
又、前記分光計３の計測と並行して、前記距離計４が前記測距光軸２３上へと測距光を射出し、前記測定対象物７からの反射測距光が前記距離計４へと受光される。
【００４５】
前記制御演算部２４は、反射測距光の受光情報に基づき測定対象物７迄の距離を演算し、又前記受光素子１９に受光された受光情報を基に分光データを取得する。前記制御演算部２４は、分光データを基に各波長毎の受光強度から測定分光曲線２９（図４（Ｂ）参照）を作成する。
【００４６】
又、前記制御演算部２４は、前記測定対象物７迄の距離に基づき、測定距離に対応する基準分光曲線２８（図４（Ａ）参照）（測定距離に対応した基準分光曲線の変化の情報）を選択する。該基準分光曲線２８を基に前記測定分光曲線２９を補正、標準化し、分光反射率曲線３１（図５参照）（基準の測定距離で測定したと仮定した場合に得られる前記測定分光曲線２９）を作成する。
【００４７】
前記制御演算部２４は、前記分光反射率曲線３１の波形形状を基にＰＬＳ回帰分析法等により前記測定対象物７の塩害及び中性化に関する情報、即ち該測定対象物７の塩分濃度やｐＨを測定する。
【００４８】
或は、前記制御演算部２４は、複数の劣化分光反射率曲線の中から前記分光反射率曲線３１と波形形状が合致又は近似する劣化分光反射率曲線を選択し、選択された劣化分光反射率曲線に基づき前記測定対象物７の塩害及び中性化に関する情報、即ち該測定対象物７の塩分濃度やｐＨを測定する。尚、近似する劣化分光反射率曲線が複数ある場合は、複数の劣化分光反射率曲線を平均化した副劣化分光反射率曲線を演算し、該副劣化分光反射率曲線に基づき、塩分濃度やｐＨを測定する。
【００４９】
該測定対象物７の測定結果（診断結果）は、前記表示部２６に表示される。尚、前記分光反射率曲線３１を劣化分光反射率曲線と比較するかどうかは、測定の目的に応じて適宜設定される。
【００５０】
以下、前記測定対象物７の測定の詳細について説明する。
【００５１】
図４（Ａ）は、前記測定装置１と前記白色基準板７ａとの距離を２ｍ、３ｍ、４ｍとした場合に取得された、基準分光曲線２８ａ，２８ｂ，２８ｃを示している。又、図４（Ｂ）は、前記測定装置１と測定対象物７（コンクリート）との距離を２ｍ、３ｍ、４ｍとした場合に取得された、測定分光曲線２９ａ，２９ｂ，２９ｃを示している。尚、図４（Ａ）、図４（Ｂ）では、縦軸を反射照射光の受光強度のカウント数、横軸を波長（ｎｍ）としている。又、以下の説明では、前記基準分光曲線２８ａ，２８ｂ，２８ｃを総称して前記基準分光曲線２８、前記測定分光曲線２９ａ，２９ｂ，２９ｃを総称して前記測定分光曲線２９としている。
【００５２】
図４（Ａ）、図４（Ｂ）に示される様に、前記測定装置１と前記測定対象物７との距離が離れる程、前記測定装置１への受光強度が低下し、前記基準分光曲線２８、前記測定分光曲線２９の波形形状が変化している。又、前記測定装置１と前記測定対象物７との距離が同じであれば、受光強度に差はあっても、例えば前記基準分光曲線２８ａと前記測定分光曲線２９ａの様に、前記基準分光曲線２８と前記測定分光曲線２９の形状自体は似通ったものとなっている。
【００５３】
ここで、受光強度が低下し、波形形状が変化すると、例えば同じ塩分濃度の前記測定対象物７であっても測定結果が変化する。従って、距離が異なっても同様の受光強度が得られる様、受光蓄積時間を変化させる必要がある。即ち、受光蓄積時間を補正情報として設定し、設定された補正情報に基づき前記測定分光曲線２９を補正する。
【００５４】
補正情報を設定する際には、先ず前記測定分光曲線２９と対応する前記基準分光曲線２８を選択する。即ち、前記測定分光曲線２９と同じ距離で前記白色基準板７ａを測定し取得された前記基準分光曲線２８を選択し、選択された該基準分光曲線２８と前記測定分光曲線２９との差分を演算する。
【００５５】
演算した差分を基に、該測定分光曲線２９を補正して前記基準分光曲線２８と同等の受光強度とする為の補正情報、即ち反射照射光を受光する受光蓄積時間を演算する。
【００５６】
又、前記白色基準板７ａに照射光を照射した際に、反射照射光の受光強度が最大となるので、前記白色基準板７ａを測定した際の受光強度と演算した差分とを比較することで、各波長毎の前記白色基準板７ａに対するコンクリートの反射率を演算することができる。各波長毎の反射率と補正情報に基づき補正し標準化することで、前記測定分光曲線２９から分光反射率曲線３１が作成される。
【００５７】
図５は、縦軸を反射率、横軸を波長（ｎｍ）とした場合の、塩分濃度が既知である４つの試験片の分光反射率曲線３１ａ〜３１ｄを示している。尚、前記分光反射率曲線３１ａは１立方メートル当たりの塩化物イオンの量が０ｋｇの試験片の分光反射率曲線を示し、前記分光反射率曲線３１ｂは１立方メートル当たりの塩化物イオンの量が５ｋｇの試験片の分光反射率曲線を示し、前記分光反射率曲線３１ｃは１立方メートル当たりの塩化物イオンの量が１０ｋｇの試験片の分光反射率曲線を示し、前記分光反射率曲線３１ｄは１立方メートル当たりの塩化物イオンの量が２０ｋｇの試験片の分光反射率曲線を示している。
【００５８】
又、図６（Ａ）は、前記分光反射率曲線３１ａ〜３１ｄを１次微分した分光反射率曲線３１ａ′〜３１ｄ′を示し、図６（Ｂ）は前記分光反射率曲線３１ａ〜３１ｄを２次微分した分光反射率曲線３１ａ′′〜３１ｄ′′を示している。
【００５９】
前記分光反射率曲線３１ａ〜３１ｄを２次微分した前記分光反射率曲線３１ａ′′〜３１ｄ′′では、２２６０ｎｍ付近の波長帯域に於いて、塩分濃度が高い程反射率が増加し、波形形状に顕著な差異が出ているのが分る。
【００６０】
従って、前記測定対象物７の塩分濃度の測定は、分光反射率曲線３１を作成し、２２６０ｎｍ付近の波長帯域、例えば２２６６ｎｍに於ける反射率を求めることで測定することができる。
【００６１】
又、図７は中性化が進行していない試験片Ａと試験片Ｂの分光反射率曲線３１ｅ，３１ｆ（図示せず）を２次微分した分光反射率曲線３１ｅ′′，３１ｆ′′（実線）と、試験片Ａと試験片Ｂを高濃度二酸化炭素環境下に安置する等により、中性化を進行させた場合の分光反射率曲線３１ｇ，３１ｈ（図示せず）を２次微分した分光反射率曲線３１ｇ′′，３１ｈ′′（破線）を示している。
【００６２】
図７に示される様に、前記分光反射率曲線３１ｅ′′，３１ｆ′′と前記分光反射率曲線３１ｇ′′，３１ｈ′′とを比較すると、１４１０ｎｍ付近の波長帯域に於いて、中性化が進行することで反射率が低下しているのが分る。
【００６３】
従って、前記測定対象物７の中性化の有無は、分光反射率曲線３１を作成し、１４１０ｎｍ付近の波長帯域に於ける反射率を求めることで測定することができる。
【００６４】
尚、中性化が進行した場合、１４１０ｎｍ付近の波長帯域だけでなく、塩分濃度の変化により変化する波長帯域も変化することが分っている。即ち、中性化が進行していた場合には、２２６０ｎｍ付近の波長帯域の反射率だけでは、正確な塩分濃度を測定することはできない。
【００６５】
本実施例では、予め塩分濃度とｐＨが既知である多数の試験片に対して測定が行われる。作成された試験片の前記分光反射率曲線３１が前記測定装置１との距離や塩分濃度、ｐＨと関連付けられた劣化分光反射率曲線として保存蓄積され、データベース化されて前記記憶部２５に格納されている。
【００６６】
前記測定対象物７の状態を測定する際には、該測定対象物７の前記分光反射率曲線３１を作成した後、蓄積された劣化分光反射率曲線の中から前記分光反射率曲線３１と合致又は近似する劣化分光反射率曲線を選択する。又、選択された劣化分光反射率曲線と関連付けられた塩分濃度とｐＨとが、前記測定対象物７の塩害と中性化に関係する情報、即ち塩分濃度とｐＨとして出力される。
【００６７】
前記分光反射率曲線３１と劣化分光反射率曲線とが合致又は近似しているかどうかの判断は、例えば２つの曲線全体の相関係数を求める、或は予め設定された波長範囲の相関係数を求める等により判断することができる。
【００６８】
又、求めた相関係数の値に基づき、前記測定対象物７の塩分濃度やｐＨを推定値として出力してもよい。
【００６９】
上述の様に、本実施例では、反射照射光の受光蓄積時間を補正情報として、該補正情報に基づき前記測定装置１と前記測定対象物７との距離に応じて、得られた前記測定分光曲線２９を補正している。
【００７０】
従って、前記測定装置１と前記測定対象物７との距離が変化し、前記測定分光曲線２９の波形形状が大きく変化する場合であっても、同等の前記分光反射率曲線３１を得ることができる。即ち、測定距離に拘わらず、塩分濃度、ｐＨの測定に必要な分光反射率曲線を取得することが可能となる。又、該分光反射率曲線３１を用いることで、距離に拘わらず正確な測定結果を得ることができ、安定した遠隔測定が可能となる。
【００７１】
又、前記白色基準板７ａを異なる距離で複数回測定し、複数の前記基準分光曲線２８を予め作成し、距離毎にデータベース化されて前記記憶部２５に格納されているので、前記測定対象物７の測定の度に前記白色基準板７ａの測定を行う必要がなく、作業性を向上させることができる。
【００７２】
又、本実施例では、前記分光反射率曲線３１の中の特定の波長帯域に着目するのではなく、該分光反射率曲線３１全体の波形形状に着目している。該分光反射率曲線３１の波形形状と合致又は近似する波形形状を有する劣化分光反射率曲線を、前記記憶部２５に格納された複数の劣化分光反射率曲線から選択し、選択された劣化分光反射率曲線を基に前記測定対象物７の塩分濃度やｐＨを測定している。
【００７３】
従って、塩害と中性劣化とが同時に発生し、特定の波長帯域の反射率だけでは正確な塩分濃度やｐＨが測定できない様な場合であっても、前記測定対象物７の塩分濃度やｐＨを測定することができる。
【００７４】
尚、前記分光反射率曲線３１だけでは、正確な塩分濃度やｐＨの測定はできないが、塩分濃度の大小や中性化の有無については特定の波長帯域の反射率により判断可能であるので、正確な測定値を必要としない場合、例えば単に補強箇所の順番のみを決める様な場合では、前記分光反射率曲線３１と劣化分光反射率曲線との比較は行わなくてもよい。
【符号の説明】
【００７５】
１              測定装置
３              分光計
４              距離計
６              投光光学系
７              測定対象物
８              受光光学系
９              光源
１６            受光部
２４            制御演算部
２５            記憶部
２８            基準分光曲線
２９            測定分光曲線
３１            分光反射率曲線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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