(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像データに基づき画像を形成する画像形成装置であって、
感光体と、
前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、
前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、
画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する特定手段と、
前記補正対象画素に対する前記露光手段による露光量を、前記画像データが示す露光量から補正する補正手段と、
前記補正対象画素とする画素を前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で示す複数の第１情報を保持する保持手段と、
前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、
を備えており、
前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を選択し、選択した前記第１情報に基づき、前記補正対象画素を特定し、
前記補正手段は、前記補正対象画素と、前記画像データで形成される画像のエッジとの距離に応じて、当該補正対象画素の露光量を、当該補正対象画素の少なくとも一部の領域を露光しないことで補正することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記第１情報が示す、前記補正対象画素とする画素の前記画像データで形成される画像のエッジからの距離は、エッジの画素を含む、又は前記第１情報が示す、前記補正対象画素とする画素の前記画像データで形成される画像のエッジからの距離は、エッジの画素を含まないことを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記補正手段は、前記エッジとの距離に応じた補正量を示す第２情報に基づき、前記補正対象画素の露光量を補正することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記補正手段は、前記補正対象画素をＮ個の副画素に分割し、前記Ｎ個の副画素のうち１つ以上の副画素を露光しないことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記特定手段は、前記画像データで形成される画像の複数のエッジそれぞれからの距離により、前記補正対象画素を特定することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記補正手段は、前記複数のエッジそれぞれからの距離のうち、最も近い距離に基づき前記補正対象画素の露光量を補正することを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記特定手段は、前記画像データで形成される画像の、前記感光体の回転方向の後端のエッジからの距離により、前記補正対象画素を特定することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記特定手段は、前記画像データで形成される画像の幅が所定値より小さいと、当該幅の方向については前記補正対象画素であるか否かの特定を行わないことを特徴とする請求項１から７のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記補正手段は、画像データで形成される画像の幅が所定値より小さいと、当該幅の中に含まれる画素の露光量の補正を行わないことを特徴とする請求項１から７のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記エッジは、画像が形成される画素と画像が形成されない画素との境界であることを特徴とする請求項１から９のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１１】
前記補正手段は、複数の補正対象画素の補正後の露光量が同じになる場合、前記複数の補正対象画素の少なくとも１つの補正対象画素の露光パターンを、前記複数の補正対象画素の残りの補正対象画素の露光パターンとは異ならせることを特徴とする請求項１から１０のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１２】
画素の露光パターンとは、１つの画素を構成する副画素を露光する露光強度のパターンであることを特徴とする請求項１１に記載の画像形成装置。
【請求項１３】
前記複数の補正対象画素は、連続する画素であることを特徴とする請求項１１に記載の画像形成装置。
【請求項１４】
感光体と、前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、を有する画像形成装置に、前記画像を形成するための画像データを供給する画像処理装置であって、
画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する特定手段と、
前記補正対象画素の画素値を、前記画像データが示す画素値から補正することで、補正後の画像データを生成する補正手段と、
前記補正対象画素とする画素を前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で示す複数の第１情報を保持する保持手段と、
前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、
前記補正後の画像データを前記画像形成装置に出力する出力手段と、
を備えており、
前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を選択し、選択した前記第１情報に基づき、前記補正対象画素を特定し、
前記補正手段は、前記補正対象画素と、前記画像データで形成される画像のエッジとの距離に応じて、当該補正対象画素の画素値を補正し、
前記露光手段による補正対象画素の露光においては、当該補正対象画素の少なくとも一部の領域が露光されないことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１５】
画像データに基づき画像を形成する画像形成装置であって、
感光体と、
前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、
前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、
画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する特定手段と、
前記補正対象画素に対する前記露光手段による露光量を、前記画像データが示す露光量から補正する補正手段と、
前記補正対象画素とする画素を前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で示す複数の第１情報を保持する保持手段と、
前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、
を備えており、
前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を選択し、選択した前記第１情報に基づき、前記補正対象画素を特定し、
前記補正手段は、複数の補正対象画素の補正後の露光量が同じになる場合、前記複数の補正対象画素の少なくとも１つの補正対象画素の露光パターンを、前記複数の補正対象画素の残りの補正対象画素の露光パターンとは異ならせることを特徴とする画像形成装置。
【請求項１６】
画素の露光パターンとは、１つの画素を構成する副画素を露光する露光強度のパターンであることを特徴とする請求項１５に記載の画像形成装置。
【請求項１７】
前記補正手段は、前記複数の補正対象画素の内、補正後の露光量が同じになる画素の数が所定数以上の場合に、少なくとも１つの補正対象画素の露光パターンを、残りの補正対象画素の露光パターンとは異ならせることを特徴とする請求項１５又は１６に記載の画像形成装置。
【請求項１８】
前記状態情報は、環境情報を含む、又は前記画像形成装置の使用による劣化の度合いを示す使用状態情報を含むことを特徴とする請求項１５から１７のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１９】
前記補正手段は、前記補正対象画素の補正量を示す第２情報に基づき、当該補正対象画素の露光量を補正することを特徴とする請求項１５から１８のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項２０】
前記複数の補正対象画素は、連続する画素であることを特徴とする請求項１５から１９のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項２１】
画像データに基づき画像を形成する画像形成装置であって、
感光体と、
前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、
前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、
画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する特定手段と、
前記補正対象画素に対する前記露光手段による露光量を、前記画像データが示す露光量から補正する補正手段と、
前記補正対象画素とする画素を前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で示す複数の第１情報を保持する保持手段と、
前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、
を備えており、
前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を選択し、選択した前記第１情報に基づき、前記補正対象画素を特定し、
前記補正手段は、前記補正対象画素の補正後の露光量での露光パターンに周期性が生じない様に、各補正対象画素の露光パターンを決定することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２２】
前記露光パターンとは、露光強度のパターンであることを特徴とする請求項２１に記載の画像形成装置。
【請求項２３】
前記補正手段が露光パターンに周期性が生じるかを判定する期間は、１枚の記録材に対応する画像データの期間より短いことを特徴とする請求項２１又は２２に記載の画像形成装置。
【請求項２４】
前記補正手段が露光パターンに周期性が生じるかを判定する期間は、１枚の記録材に対応する画像データの期間より長いことを特徴とする請求項２１又は２２に記載の画像形成装置。
【請求項２５】
前記補正手段は、前記補正対象画素の補正後の露光量での露光パターンに周期性が生じる場合、周期性が生じない様に、各補正対象画素の露光パターンを決定し、
周期性が生じない様に決定した前記補正対象画素の露光の補正量と、周期性が生じる場合における前記補正対象画素の露光の補正量は同じであることを特徴とする請求項２１から２４のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項２６】
感光体と、前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、を有する画像形成装置に、前記画像を形成するための画像データを供給する画像処理装置であって、
画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する特定手段と、
前記補正対象画素の画素値を、前記画像データが示す画素値から補正することで、補正後の画像データを生成する補正手段と、
前記補正対象画素とする画素を前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で示す複数の第１情報を保持する保持手段と、
前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、
前記補正後の画像データを前記画像形成装置に出力する出力手段と、
を備えており、
前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を選択し、選択した前記第１情報に基づき、前記補正対象画素を特定し、
前記補正手段は、複数の補正対象画素の補正後の前記露光手段による露光量が同じになる場合、前記複数の補正対象画素の少なくとも１つの補正対象画素の露光パターンを、前記複数の補正対象画素の残りの補正対象画素の露光パターンとは異ならせることを特徴とする画像処理装置。 
【請求項２７】
感光体と、前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、を有する画像形成装置に、前記画像を形成するための画像データを供給する画像処理装置であって、
画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する特定手段と、
前記補正対象画素の画素値を、前記画像データが示す画素値から補正することで、補正後の画像データを生成する補正手段と、
前記補正対象画素とする画素を前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で示す複数の第１情報を保持する保持手段と、
前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、
前記補正後の画像データを前記画像形成装置に出力する出力手段と、
を備えており、
前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を選択し、選択した前記第１情報に基づき、前記補正対象画素を特定し、
前記補正手段は、前記補正対象画素の補正後の画素値に基づく前記露光手段での露光量の露光パターンに周期性が生じない様に、各補正対象画素の露光パターンを決定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２８】
画像データに基づき画像を形成する画像形成装置であって、
感光体と、
前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、
前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、
画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する特定手段と、
前記補正対象画素に対する前記露光手段による露光量を、前記画像データが示す露光量から補正する補正手段と、
前記補正対象画素とする画素を前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で示す複数の第１情報を保持する保持手段と、
前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、
を備えており、
前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を選択し、選択した前記第１情報に基づき、前記補正対象画素を特定し、
前記補正手段は、前記画像データで形成される前記補正対象画素を含む画像の主走査方向の幅、又は副走査方向の幅に応じて、当該補正対象画素の露光量を補正するか否かを判断することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２９】
感光体と、前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、を有する画像形成装置に、前記画像を形成するための画像データを供給する画像処理装置であって、
画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する特定手段と、
前記補正対象画素の画素値を、前記画像データが示す画素値から補正することで、補正後の画像データを生成する補正手段と、
前記補正対象画素とする画素を前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で示す複数の第１情報を保持する保持手段と、
前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、
前記補正後の画像データを前記画像形成装置に出力する出力手段と、
を備えており、
前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を選択し、選択した前記第１情報に基づき、前記補正対象画素を特定し、
前記補正手段は、前記画像データで形成される前記補正対象画素を含む画像の主走査方向の幅、又は副走査方向の幅に応じて、当該補正対象画素の露光量を補正するか否かを判断することを特徴とする画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、現像剤の消費量を低減できる画像形成装置及び画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置においては、現像剤であるトナーの消費量の削減が要求される。特許文献１は、ある程度の面積を有する画像については露光強度を低下させて形成することで、トナーの消費量を削減する構成を開示している。また、画像形成装置においては、感光体に形成される静電潜像の、感光体の回転方向後端に付着するトナーの量が増加する掃き寄せと呼ばれる現象が生じ得る。引用文献２は、掃き寄せによる影響を抑える構成を開示している。具体的には、画素のデータ値と、当該画素より副走査方向に所定量だけ下流側に位置する画素のデータ値により補正領域を決定する。そして、補正領域の画素より副走査方向に所定量だけ上流側に位置する画素をさらに補正領域とし、補正領域の画素に対する露光量を調整することで掃き寄せによる影響を抑える構成を開示している。掃き寄せの影響を抑えることでトナーの消費量が低減される。
【０００３】
また、特許文献３は、掃き寄せによる画像の品質劣化を抑えるため、パルス幅変調により露光時間を短くする構成を開示している。さらに、特許文献４は、エッジ効果による画像の品質劣化を抑えるため、露光量を調整する構成を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−２９９２３９号公報
【特許文献２】特開２００７−２７２１５３号公報
【特許文献３】特開２００３−３４５０７６号公報
【特許文献４】特開２０００−３４３７４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記文献の構成では、露光量の調整によりドット再現性が低下したり、細い線状の画像の画質が低下したりする可能性がある。
【０００６】
近年、画像形成装置に対しては、画像の低下を抑制しつつ、かつ、現像剤の消費量を削減することについての要求がますます高くなってきている。また、画像形成装置に対しては、不要な輻射ノイズ（輻射する電磁波）を抑えることも求められている。
【０００７】
本発明は、画質の低下を抑制しつつ、現像剤の消費量を低減する画像形成装置及び画像処理装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一側面によると、画像データに基づき画像を形成する画像形成装置は、感光体と、前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する特定手段と、前記補正対象画素に対する前記露光手段による露光量を、前記画像データが示す露光量から補正する補正手段と、前記補正対象画素とする画素を前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で示す複数の第１情報を保持する保持手段と、前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、を備えており、前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を選択し、選択した前記第１情報に基づき、前記補正対象画素を特定し、前記補正手段は、前記補正対象画素と、前記画像データで形成される画像のエッジとの距離に応じて、当該補正対象画素の露光量を、当該補正対象画素の少なくとも一部の領域を露光しないことで補正することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によると、画質の低下を抑制しつつ、現像剤の消費量を低減すことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】一実施形態による画像形成装置の構成図。
【図２】一実施形態による現像方式の説明図。
【図３】エッジ効果の発生原理の説明図。
【図４】エッジ効果及び掃き寄せが生じた画像を示す図。
【図５】掃き寄せの発生原理の説明図。
【図６】一実施形態による露光量の制御構成を示す図。
【図７】一実施形態による露光量の制御方法の説明図。
【図８】一実施形態による露光量を制御するためのＣＰＵの機能ブロック図。
【図９】一実施形態による画像を示す図。
【図１０】一実施形態による画像の画素値を示す図。
【図１１】一実施形態による画像の補正対象画素を示す図。
【図１２】一実施形態によるエッジ効果に対する補正の説明図。
【図１３】一実施形態による露光量調整パラメータを示す図。
【図１４】一実施形態による画素の露光方法を示す図。
【図１５】一実施形態による補正処理のフローチャート。
【図１６】一実施形態による画像の補正対象画素を示す図。
【図１７】一実施形態による画像の補正対象画素を示す図。
【図１８】一実施形態による露光量調整パラメータを示す図。
【図１９】一実施形態による画像形成装置の構成図。
【図２０】一実施形態による露光量の制御方法の説明図。
【図２１】一実施形態による露光量を制御するためのＣＰＵの機能ブロック図。
【図２２】一実施形態によるパラメータを示す図。
【図２３】一実施形態による画像、該画像の画素値及び該画像の補正対象画素を示す図。
【図２４】一実施形態による画素の露光方法を示す図。
【図２５】一実施形態による補正処理のフローチャート。
【図２６】一実施形態による画像の補正対象画素を示す図。
【図２７】一実施形態による露光量を制御するためのＣＰＵの機能ブロック図。
【図２８】一実施形態による画素の露光方法を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の例示的な実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の実施形態は例示であり、本発明を実施形態の内容に限定するものではない。また、以下の各図においては、実施形態の説明に必要ではない構成要素については図から省略する。
【００１２】
＜第一実施形態＞
図１は、本実施形態による画像形成装置１０１の構成図である。像担持体である感光体１は、画像形成時、図中の矢印の方向に回転駆動される。帯電部２は、感光体１の表面を一様な電位に帯電させる。露光部７は、帯電した感光体１の表面を、画像データに基づく光で露光して感光体１に静電潜像を形成する。なお、露光部７は、画像演算部９が出力する駆動信号７１により駆動される。画像演算部９の露光制御部１９は、電圧Ｖａによって露光部７による露光強度が目標値となるように調整する。
【００１３】
現像部３は、現像剤であるトナーを貯蔵する容器１３と、現像ローラ１４とを備えている。トナーは、非磁性一成分トナーであっても、二成分トナーであっても、磁性トナーであっても良い。規制ブレード１５は、現像ローラ１４に供給されるトナーの層厚を所定値に規制するために設けられる。規制ブレード１５は、トナーに電荷を付与するように構成することもできる。現像ローラ１４により、トナーは現像領域１６へと搬送される。なお、現像領域１６とは、現像ローラ１４と感光体１とが近接または接触する領域であり、かつ、静電潜像へのトナーの付着が実行される領域である。現像部３により、感光体１に形成された静電潜像にトナーが付着され、トナー像として可視化される。転写部４は、感光体１に形成されたトナー像を記録材Ｐに転写する。定着部６は、記録材Ｐに熱及び圧力を加え、記録材Ｐに転写されたトナー像を記録材Ｐに定着させる。
【００１４】
画像演算部９のＣＰＵ１０は、画像形成装置１０１の全体を統括的に制御する制御部である。なお、以下で説明する制御の総てをＣＰＵ１０で実行する構成のみならず、その一部をＡＳＩＣ１８が実行する構成とすることができる。また、以下で説明する制御の総てをＡＳＩＣ１８が実行する構成であっても良い。メモリ１１は、画像データを記憶すると共にＬＵＴ１１２を保持する保持部である。ＬＵＴ１１２は、ルックアップテーブルであり、後述する補正幅パラメータ及び露光量調整パラメータを含んでいる。画像演算部９は、ホストコンピュータ８から送信される画像データを受信し、ＬＵＴ１１２が保持する補正幅パラメータ及び露光量調整パラメータに基づきエッジ効果や掃き寄せの影響を抑え、トナー消費量が削減されるように画像データの補正を行う。
【００１５】
続いて、現像部３での現像方式について図２を用いて説明する。図２（Ａ）は、ジャンピング現像方式での構成を示している。ジャンピング現像方式においては、現像ローラ１４と感光体１を接触させず、所定距離のギャップ１７を設ける。そして、現像ローラ１４が出力する現像バイアスとして、直流バイアスを重畳した交流バイアスを使用する。図２（Ｂ）は、接触現像方式での構成を示している。接触方式においては、現像ローラ１４と感光体１を接触させる。そして、現像ローラ１４が出力する現像バイアスとして、直流バイアスを使用する。なお、接触現像方式では、例えば、感光体１と現像ローラ１４の回転方向を図２（Ｂ）に示す様に互いに逆向き、つまり、現像領域１６においては、それぞれの表面が同じ方向に移動する様に構成することができる。
【００１６】
続いて、静電潜像に付着するトナーの量が、エッジ部分において増加するエッジ効果及び掃き寄せの発生原理についてそれぞれ説明する。エッジ効果とは、感光体１に形成された静電潜像、つまり、露光領域と、それ以外の非露光領域との境界に電界が集中することで、静電潜像の各エッジにトナーが過剰に付着する現象である。例えば、形成する画像が一様な濃度であるものとする。図３に示す様に、露光領域３００の周囲にある非露光領域３０１、３０２からの電気力線が露光領域３００のエッジに回り込み、エッジにおける電界強度が、露光領域３００のその他の領域よりも強くなる。したがって、露光領域３００のエッジには、その他の領域より多くのトナーが付着してしまう。
【００１７】
図４（Ａ）は、エッジ効果が生じたトナー像４００を示している。図４（Ａ）の矢印Ａは、トナー像の搬送方向、つまり、感光体１の回転方向である。なお、トナー像４００の元となった画像データは、総ての画素の値が同じ、つまり、トナー像４００は一様な濃度の画像としている。エッジ効果が生じた場合、トナー像４００の総てのエッジ領域４０２ａにトナーが集中して付着する。その結果、エッジ領域４０２ａの濃度は、非エッジ領域４０１ａの濃度より高くなる。なお、エッジ効果は、感光体１と現像ローラ１４との間にギャップがあるジャンピング現像方式で主に発生する。
【００１８】
一方、掃き寄せとは、トナー像の感光体１の回転方向後端にトナーが集中する現象である。接触現像方式では、感光体１のトナーの厚さを所定値とするため、現像ローラ１４の周速を感光体１の周速よりも速くしている。図５（Ａ）〜図５（Ｃ）に示す様に、現像領域１６では、現像ローラ１４によって搬送されてきたトナーにより静電潜像が現像される。なお、図５においては、トナーを円により示している。現像ローラ１４は、感光体１より速い速度で回転しているため、両者の表面上の位置関係は常にずれ続けている。図５（Ａ）に示す様に、静電潜像６００の後端が現像領域１６に侵入した時点では、現像ローラ１４上のトナーは、回転方向において、現像領域１６の開始位置よりも後側に位置する。しかし、現像ローラ１４の回転速度は感光体１の回転速度より速いため、図５（Ｂ）に示す様に、静電潜像６００の後端が現像領域１６を抜けるまでに、現像ローラ１４のトナーは静電潜像６００の後端を追い越す。そして、図５（Ｃ）に示す様に、現像ローラ１４のこのトナーが静電潜像６００の後端に供給されるため、静電潜像の後端に付着するトナーの量が多くなる。これが、掃き寄せの発生メカニズムである。
【００１９】
図４（Ｂ）は、掃き寄せが生じたトナー像４１０を示している。図４（Ｂ）の矢印Ａは、トナー像の搬送方向、つまり、感光体１の回転方向である。なお、トナー像４１０の元となった画像データは、総ての画素の値が同じ、つまり、トナー像４１０は一様な濃度の画像としている。掃き寄せが生じた場合、トナー像４１０の後端領域４０２ｂにトナーが集中して付着する。その結果、後端領域４０２ｂの濃度は、それ以外の領域４０１ｂの濃度より高くなる。
【００２０】
図６は、露光部７の制御構成である。露光制御部１９は、８ビットのＤＡコンバータ（ＤＡＣ）２０２１と、レギュレータ（ＲＥＧ）２０２２と、を含むＩＣ２００３を備えている。ＩＣ２００３は、ＣＰＵ１０により設定された強度調整信号７３を基にレギュレータ２０２２が出力する電圧ＶｒｅｆＨを調整する。電圧ＶｒｅｆＨはＤＡコンバータ２０２１の基準電圧となる。ＩＣ２００３がＤＡコンバータ２０２１の入力データ２０２０を設定することで、ＤＡコンバータ２０２１は電圧Ｖａを露光部７に出力する。露光部７のＶＩ変換回路２３０６は電圧Ｖａを電流値Ｉｄに変換してドライバＩＣ２００９に出力する。ドライバＩＣ２００９は、電流値Ｉｄにより露光部７の露光強度を制御する。つまり、露光制御部１９は電圧Ｖａにより、露光部７の露光強度を制御することができる。また、ドライバＩＣ２００９は、画像演算部９が出力する駆動信号７１に応じて、ドライバＩＣ２００９のスイッチ（ＳＷ）を切り替える。ＳＷは、電流ＩＬを、露光部７のレーザダイオード（ＬＤ）に流すか、ダミー抵抗Ｒ１に流すかを切換えることで、ＬＤの発光のＯＮ／ＯＦＦ制御を行う。
【００２１】
続いて、画素の露光量の制御方法について説明する。図７（Ａ）は、１画素の総ての領域を所定の目標強度に対して１００％の強度で露光した状態を示している。また、図７（Ｂ）及び図７（Ｃ）は、図７（Ａ）の画素の略半分の濃度の画素を示している。図７（Ｂ）の画素は、１画素の総ての領域を目標強度に対して５０％の強度で露光して形成したものである。なお、露光強度は、図６を用いて説明した様に、露光制御部１９が露光部７に出力する電圧Ｖａで制御される。図７（Ｃ）は、１画素をＮ個（Ｎは２以上の自然数）の副画素に分割し、目標強度に対して１００％の強度で、副画素を１つおきに露光して形成したものである。これは、図６の制御構成において、露光強度が目標強度となる様に電圧Ｖａを設定し、駆動信号７１によりＳＷをＯＮ／ＯＦＦすることで実現される。この場合、駆動信号７１は、ＰＷＭ（パルス幅変調）信号となる。
【００２２】
図８は、エッジ効果を抑制するためのＣＰＵ１０の機能ブロックを示している。なお、本実施形態では、ＣＰＵ１０がエッジ効果の抑制処理を行うものとするが、既に説明した様に、ＡＳＩＣ１８と共に行う構成でも、ＡＳＩＣ１８のみで行う構成であっても良い。パラメータ設定部９０２は、ＬＵＴ１１２の補正幅パラメータを画像解析部９０１に通知・設定する。また、パラメータ設定部９０２は、ＬＵＴ１１２の露光量調整パラメータを露光量調整部９０３に通知・設定する。また、ホストコンピュータ８から送信された画像データ９０４は、図１に示すメモリ１１に格納される。画像解析部９０１は、補正幅パラメータに基づき、画像データ９０４により形成される画像の画素から、エッジ効果が生じ得る画素を特定し、特定した画素を露光量調整部９０３に通知する。つまり、画像解析部９０１は、補正対象画素の特定部として機能する。露光量調整部９０３は、画像解析部９０１が特定した画素の画素値を、露光量調整パラメータに基づき補正して、補正後の画像データを生成する。つまり、露光量調整部９０３は、露光量の補正部として機能する。露光部７は、この補正後の画像データにより制御される。なお、補正幅パラメータは、エッジ効果が生じ得る画素の範囲を、エッジからの距離、本例では、エッジからの画素数で示す情報である。たとえば、補正幅パラメータが"５"であれば、エッジ側の５つの画素にエッジ効果が生じると判定される。この補正幅パラメータは発生しているエッジ効果を補正するために必要な幅になっており、エッジ効果の発生幅と同じ若しくは、発生幅近辺のいかなる値でも良い。なお、本実施形態では、ある方向の幅の画素数が補正幅パラメータの値よりも小さいと、当該方向については補正対象画素の特定は行わない。また、補正幅パラメータや、露光量調整パラメータは、予め、実験やシミュレーションにより求めておく。画素の露光量を調整する方法には、図７（Ｂ）及び図７（Ｃ）にて説明した様に、露光強度を調整する方法と、露光強度は変化させず、ＰＷＭ信号により露光する副画素数を変化させる方法がある。なお、露光強度を変化させた上で、ＰＷＭ信号により露光する副画素数を変化させても良い。
【００２３】
続いて、画像解析部９０１での処理を説明する。なお、補正幅パラメータは"５"であるものとする。図９（Ａ）は、画像データ９０４で形成される画像を示している。画像は、トナーが使用される３つの画像領域１８０１、１８０２、１８０３を有している。図１０（Ａ）及び（Ｂ）は、画像領域１８０１及び１８０２の画素値を示している。なお、図１０（Ｃ）は、画像領域１８０３の、トナー像の搬送方向（図中の矢印Ａ）と直交する方向の中央部分を抜出したものである。なお、画素値"２５５"は黒色である。図１１（Ａ）〜（Ｃ）は、それぞれ、画像解析部９０１によって、エッジ効果が生じる画素、つまり、露光量の補正対象画素として特定された画素を示している。なお、図１１（Ａ）〜（Ｃ）の値"０"は、補正対象ではない画素を示し、"０"以外の値の画素は、補正対象画素を示している。また、補正対象画素の値は、エッジからの距離を示している。本実施形態では、エッジからの距離に応じて露光量の補正量を変化させる。
【００２４】
なお、図１０（Ｂ）及び図１１（Ｂ）に示す様に、画像領域１８０２の、感光体１の回転方向（副走査方向）の幅は３画素であり、補正幅パラメータより小さい。この場合、画像領域１８０２については、回転方向のエッジから回転方向に沿った画素については補正対象であるか否かの判定は行わない。但し、画像領域１８０２の感光体１の回転方向と直交する方向（主走査方向）の幅は１６画素であるため、この直交する方向については補正対象であるか否かの判定を行う。したがって、画像領域１８０２については、図１１（Ｂ）に示す様に、回転方向と直交する方向の各エッジから５画素が補正対象画素となる。また、図１０（Ａ）及び図１１（Ａ）等に示す様に、補正幅パラメータ以内のエッジが複数存在する画素については、一番近いエッジからの距離に基づき補正を行う。また、ここでは感光体１の回転方向と直交する方向については補正対象と説明したが、回転方向の幅が補正幅パラメータより小さい場合、回転方向と直交する方向についても補正対象外としても良い。また、回転方向の画素数と回転方向と直交する方向の画素数が図１０（Ｂ）と逆の関係の場合も同様である。
【００２５】
続いて、露光量の補正について説明する。図１２（Ａ）は、エッジ効果が発生した画像領域１８０１のある断面のトナーの高さを示している。なお、エッジ効果が生じていない画素のトナーの高さを１として正規化している。図１２（Ａ）に示す様に、端部の画素のトナーの高さは１より小さくなっている。図１２（Ｂ）は、総ての画素のトナーの高さを１にする場合のトナーの高さの削減割合を示している。一方、図１２（Ｃ）は、端部の画素についてはトナーの高さの補正を行わない場合の削減割合を示している。図１２（Ｃ）においては、補正対象画素については、その露光量を同じか、減少させるかする。図１３（Ａ）は、図１２（Ｂ）及び（Ｃ）に対応する露光量調整パラメータを示している。図１３（Ａ）に示す様に、露光量調整パラメータは、トナーの高さを調整するための、露光量の補正量、つまり、画素値の補正量を示す情報である。なお、図１３（Ａ）の露光強度とは、図７（Ｂ）で説明した様に露光強度により露光量を調整する方法に対応し、ＰＷＭとは、図７（Ｃ）で説明した様にＰＷＭにより露光量を調整する方法に対応する。図１４（Ａ）は、ＰＷＭで露光量を調整する場合において、画素値が"２５５"である画素の露光する副画素を、エッジからの距離毎に示したものである。また、図１４（Ａ）では各距離の露光する副画素をオンオフとなるようにしたが、オフ期間を連続させてもよい。
【００２６】
図１２（Ｄ）は、エッジ効果が発生した画像領域１８０３のある断面のトナー高さを示している。なお、図１１（Ｃ）に示す様に、画像領域１８０３では、総ての画素においてエッジ効果が生じている。また、端部の画素のトナーの高さは１より小さくなっている。図１２（Ｅ）は、総ての画素のトナーの高さを１とする場合の高さの削減割合である。また、図１２（Ｆ）は、端部の画素のトナーの高さを補正しない場合における削減割合である。図１３（Ｂ）は、図１２（Ｅ）及び（Ｆ）に対応する露光量調整パラメータである。
【００２７】
露光量調整部９０３は、図１３（Ａ）及び（Ｂ）に示す露光量調整パラメータに従い、各補正対象画素について画素値（露光量）を補正する。そして、画像演算部９は、補正した画素値に基づいて露光部７を制御する。
【００２８】
図１５は、ＣＰＵ１０が実行する露光量補正処理のフローチャートである。ＣＰＵ１０は、Ｓ１０で、ＬＵＴ１１２が示す補正幅パラメータ及び露光量調整パラメータを取得する。ＣＰＵ１０は、Ｓ１１で、補正幅パラメータに基づき画像データにおける補正対象画素を特定する。ＣＰＵ１０は、Ｓ１２で、露光量調整パラメータに基づき補正対象画素の画素値を補正する。なお、本明細書において、補正するとは、結果として補正しない場合も含む。
【００２９】
続いて、掃き寄せによる影響を抑える方法について説明する。掃き寄せの抑制は、掃き寄せの生じる画素が、トナー像の後端から補正幅パラメータで示される数の画素となる以外は、エッジ効果と同様である。図１６（Ａ）〜（Ｃ）は、それぞれ、図９（Ａ）の画像領域１８０１、１８０２、１８０３の補正対象画素を示している。なお、本例においても補正幅パラメータを"５"としている。図１６（Ｂ）に示す様に、画像領域１８０２の感光体１の回転方向の画素数は補正幅パラメータより小さいため、画像領域１８０２の画素は、総て補正対象とはならない。また、感光体１の回転方向と直交する方向に対しての画素数がある所定幅より短い場合、回転方向の画素数が補正幅パラメータよりも長い場合であっても補正対象外としても良い。
【００３０】
以上、補正幅パラメータに基づきエッジ効果又は掃き寄せの影響が生じる画素を特定して補正対象画素とする。そして、補正対象画素については、エッジからの距離に応じて露光量を補正する。なお、露光量の補正とは、結果として補正しない場合も含む。この構成により、エッジ効果又は掃き寄せによりトナーが過剰に付着する画素の露光量を調整できる。また、不要に露光量を低下させないため、ドット再現性の低下や、細い線状の画像の画質の低下を抑えることができる。特に、画像の幅が補正幅パラメータより小さいと、当該幅方向については、補正対象画素の判定は行わない。この様に、画像の主走査方向や、副走査方向の幅に応じて露光量を補正するか否かの判断を行う。これにより、さらに、ドット再現性の低下や、細い線状の画像の画質の低下を抑えることができる。また、トナーが過剰に付着することを防止することで、トナーの消費量を抑えることができる。なお、本実施形態では、画像のある方向の幅が、補正幅パラメータが示す値より小さいと、その方向については補正対象画素であるか否かの判定を行わないものとしていた。しかしながら、補正幅パラメータとは別に、所定値を設定し、画像のある方向の幅が、当該所定値より小さいと、その方向については補正対象画素であるか否かの判定を行わない構成とすることもできる。
【００３１】
＜第二実施形態＞
第一実施形態においては、ある方向の幅が、補正幅パラメータより小さいと、当該方向においては補正対象画素の判定処理を行わなかった。本実施形態では、この様な場合であっても補正対象画素の判定を行う。以下では、本実施形態について、第一実施形態との相違点を中心に説明する。
【００３２】
図９（Ｂ）は、画像データ９０４で形成される画像を示している。画像は、トナーが使用される３つの画像領域１６０１、１６０２、１６０３を有している。なお、各画像領域の総ての画素の画素値を"２５５"とする。また、補正幅パラメータを"５"とする。図１７（Ａ）〜（Ｃ）は、それぞれ、画像解析部９０１によって、エッジ効果が生じ得る画素、つまり、露光量の補正対象画素として特定された画素を示している。なお、図１７（Ａ）〜（Ｃ）は、それぞれ、図９（Ｂ）の領域１６０１ａ、１６０１ｂ、１６０１ｃの部分を抜出したものである。領域１６０１ａは、感光体１の回転方向の幅が１画素であり、よって、エッジからの距離は総て１となる。領域１６０１ｂは、感光体１の回転方向の幅が３画素であり、よって、回転方向端部の画素のエッジからの距離は１であり、回転方向中央の画素のエッジからの距離は２となる。領域１６０１ｃでは、回転方向それぞれのエッジからの距離が設定される。
【００３３】
図１８に本実施形態による露光量調整パラメータを示す。第一実施形態とは異なり、本実施形態においては、エッジからの距離が所定値以下の画素については補正を行わない。本例では、この所定値を２としている。なお、本実施形態では、補正対象画素をエッジから５画素以内とした上で、露光量調整パラメータにおいて、エッジからの距離が１及び２については露光量の調整を行わないものとした。しかしながら、補正幅パラメータに"３"及び"５"を設定し、エッジからの距離が３画素以上、かつ、５画素以下の画素を補正対象画素とする構成であっても良い。この様な構成においては、補正対象画素は、露光量の調整を行う画素となる。また、ＰＷＭを使用する場合には、補正対象画素は、露光量を減少させる画素となる。図１４（Ｂ）は、ＰＷＭで露光量を調整する場合において、画素値が"２５５"である画素の露光する副画素を、エッジからの距離毎に示したものである。また、図１４（Ｂ）では各距離の露光する副画素をオンオフとなるようにしたが、オフ期間を連続させてもよい。
【００３４】
本実施形態では、図１８に示す様に、エッジからの距離が所定値以下の画素については補正対象外とする。この構成により、ドット再現性の低下や、細い線状の画像の画質の低下を抑えることができる。
【００３５】
なお、上記各実施形態について、画像形成装置１０１を用いて説明した。しかしながら、本発明は、画像形成装置に対して補正後の画像データを供給する画像処理装置としても実現できる。画像処理装置は、図１に示す画像演算部９を有し、上述した様に露光量を調整して補正後の画像データを生成する。そして、画像処理装置の画像演算部９は、生成した画像データを露光部７ではなく、画像形成装置に対して出力する出力部として機能する。そして、画像形成装置の露光部７は、補正後の画像データに基づき、補正された露光量で感光体１の露光を行う。
【００３６】
＜第三実施形態＞
続いて、第三実施形態について説明する。図１９は、本実施形態による画像形成装置１０１の構成図である。なお、図１に示す構成と同じ構成要素には同じ参照符号を付与してその説明は省略する。検出部１２は画像形成装置１０１の状態を示す状態情報を検出してＣＰＵ１０に通知する。状態情報は、例えば、環境情報又は使用状態情報や、それらの両方を含んでいる。環境情報とは、例えば、環境温度や環境湿度等、画像形成装置の環境を示す情報である。また、使用状態情報とは、画像形成枚数、画像形成装置１０１の累積稼働時間、感光体１の表面抵抗値等、画像形成装置１０１の使用による劣化度合いを示す情報である。
【００３７】
続いて、本実施形態における１画素の露光量の調整方法について説明する。まず、本実施形態では、露光強度を所定値で一定とし、１画素をＮ個の副画素に分割した上で、当該所定値で露光する副画素と、露光しない副画素の数を変更することで１画素の露光量を調整する。図２０は、いずれも、露光量が７５％である画素を示している。なお、露光量が１００％とは、１画素の総ての副画素を所定の露光強度で露光したときの露光量である。また、図２０（Ｄ）はＮ＝４であり、それ以外はＮ＝８である。なお、副画素を露光する場合、図６のＳＷはＯＮにされ、露光しない場合、図６のＳＷはＯＦＦにされる。つまり、本実施形態において、画像演算部９が露光部７に出力する駆動信号７１はＰＷＭ信号である。
【００３８】
図２１は、エッジ効果を抑制するためのＣＰＵ１０の機能ブロックを示している。なお、本実施形態では、ＣＰＵ１０がエッジ効果の抑制処理を行うものとするが、既に説明した様に、ＡＳＩＣ１８と共に行う構成でも、ＡＳＩＣ１８のみで行う構成であっても良い。
【００３９】
状態検知部６１０は、検出部１２が検出した状態情報を受け取り、パラメータ設定部６０２に出力する。パラメータ設定部６０２は、状態情報に基づき、ＬＵＴ１１２の補正幅パラメータの内、受け取った状態情報に対応する補正幅パラメータを画像解析部６０１に通知・設定する。また、パラメータ設定部６０２は、ＬＵＴ１１２の露光量調整パラメータの内、受け取った状態情報に対応する露光量調整パラメータを露光量調整部６０３に通知・設定する。また、ホストコンピュータ８から送信された画像データ６０４は、メモリ１１に格納される。画像解析部６０１は、補正幅パラメータに基づき画像データ６０４により形成される画像の画素から、エッジ効果が生じ得る画素を特定し、特定した画素を露光量調整部６０３に通知する。なお、ここでの画像とは、トナーが付着する領域を意味し、画像解析部６０１は、トナーが付着する領域のエッジから、その領域内においてエッジ効果が生じ得る画素を特定する。露光量調整部６０３は、画像解析部６０１が特定した画素の画素値を、露光量調整パラメータに基づき補正して、補正後の画像データにより露光部７を駆動する。なお、補正幅パラメータは、エッジ効果が生じ得る画素の範囲を、エッジの画素からの画素数で示すものである。たとえば、補正幅パラメータが"５"であれば、トナーが付着する領域のエッジ側の５つの画素にエッジ効果が生じると判定される。また、露光量調整パラメータは、補正対象画素の露光量の補正量を示すものである。例えば、本実施形態では、露光量の削減割合を示すものとするが、任意の他の値を使用することができる。
【００４０】
図２２（Ａ）〜（Ｃ）は、ＬＵＴ１１２の一例を示している。本例において、図２２（Ｂ）は、状態情報に含まれる温度及び湿度が共に基準範囲より高い場合に使用されるＬＵＴ１１２である。また、図２２（Ｃ）は、状態情報に含まれる温度及び湿度が共に基準範囲より低い場合に使用されるＬＵＴ１１２である。また、図２２（Ａ）は、それ以外の場合に使用されるＬＵＴ１１２である。なお、本実施形態においては、温度及び湿度の何れの組み合わせにおいても対応するＬＵＴ１１２が存在するものとしているが、補正が必要ではない温度及び湿度の組み合わせが有る場合には、それら組み合わせに対応するＬＵＴ１１２を設ける必要はない。
【００４１】
また、図２２（Ａ）〜（Ｃ）の条件１〜４は、画像形成装置１０１の使用状態を４段階で評価したものである。なお、本例においては、条件１から４の順に、画像形成装置１０１の劣化度合いが進んでいるものとする。例えば、使用状態情報として累積画像形成枚数を使用するものとする。そして、累積画像形成枚数が０枚〜１０００枚までであれば条件１を使用し、１００１枚〜２０００枚までであれば条件２を使用する。さらに、累積画像形成枚数が、２００１枚から３０００枚までであれば条件３を使用し、累積画像形成枚数が３００１枚以上であれば条件４を使用する。パラメータ設定部６０２は、例えば、検出部１２が通知する状態情報が、温度及び湿度共に基準範囲より高く、かつ、累積画像形成枚数が２５００枚であると、図２２（Ｂ）のＬＵＴ１１２の条件３を使用すると判定する。この場合、パラメータ設定部６０２は、補正幅パラメータとして３画素を画像解析部６０１に設定し、露光量調整パラメータとして３０％の削減を露光量調整部６０３に設定する。なお、図２２Ｂの条件４の"−"は、露光量の補正を行わないことを示している。
【００４２】
図２３（Ａ）は、画像データ６０４により形成される画像を示し、図２３（Ｂ）は、図２３Ａの画像を形成する画像データ６０４を示している。例えば、補正幅パラメータが"２"であるとすると、画像解析部６０１は、画像のエッジからの距離が２画素以内である画素を、補正対象画素とする。図２３（Ｃ）は、図２３（Ｂ）の画像データにおいて、補正幅パラメータが"２"である場合の補正対象画素を１で示し、補正対象ではない画素を０で示している。
【００４３】
露光量調整部６０３は、補正対象画素の画素値を、露光量調整パラメータにより補正し、これにより、露光量を調整する。図２４（Ａ）は、連続する４つの補正対象画素の総ての露光量が７５％である場合の露光状態の例を示している。図２４（Ａ）においては、図２０（Ａ）のパターンのみを用いている。図２４（Ａ）の様に露光すると、露光しない副画素が３画素及び５画素毎に生じる繰り返しパターンとなる。図２４（Ａ）に示す様な露光パターン、より詳しくは、複数の補正対象画素の露光パターンに周期性が生じると、不要輻射ノイズが生じる可能性が高くなる。つまり、露光量の調整により、同じ露光量の画素が連続すると不要輻射ノイズが生じ得る。よって、本実施形態では、図２４（Ｂ）に示す様に、露光パターンに周期性が生じない様にする。図２４（Ｂ）においては、図２０（Ａ）、２０（Ｂ）、２０（Ｃ）、２０（Ｄ）に示す露光パターンをそれぞれ使用している。なお、同じ露光量の補正対象画素の連続数が所定数より少なければ、不要輻射ノイズの影響が限定されるため、同じ露光量の補正対象画素の連続数が所定数以上の場合に少なくとも１つの画素の露光パターンを変更する構成であっても良い。なお、図２４（Ａ）及び２４（Ｂ）の説明は主走査方向についてのものであるが、副走査方向においても同様である。
【００４４】
図２５は、本実施形態による露光量調整処理のフローチャートである。ＣＰＵ１０は、Ｓ２０で、検出部１２が検出した状態情報を受け取る。ＣＰＵ１０は、Ｓ２１で、状態情報に基づき、露光量の調整が必要であるか否かを判定する。露光量の調整が必要ではないと、Ｓ２７に進み、画像データに基づき画像を形成する。一方、露光量の調整が必要であると、ＣＰＵ１０は、Ｓ２２で、ＬＵＴ１１２に示される補正幅パラメータと露光量調整パラメータから使用するものを判定する。その後、ＣＰＵ１０は、Ｓ２３で、補正幅パラメータに基づき補正対象画素を判定し、Ｓ２４で、露光量調整パラメータに基づき補正対象画素の露光量を調整する。その後、ＣＰＵ１０は、Ｓ２５で、露光パターンを調整する必要があるか否かを判定する。これは、ＰＷＭ信号で露光する補正対象画素の露光パターンに周期性が生じるか否かにより判定される。また、補正対象画素について、補正後の露光量が同じとなる画素が連続しているか否かにより判定することもできる。調整する必要が無い場合、ＣＰＵ１０は、Ｓ２７で画像を形成する。一方、露光パターンの調整が必要な場合、Ｓ２６で補正対象画素の露光パターンを決定して、Ｓ２７で画像を形成する。例えば、補正対象画素について、補正後の露光量が同じとなる画素が連続していると、少なくとも１つの補正対象画素の露光パターンを他の補正対象画素の露光パターンとは異ならせることによりＣＰＵ１０は露光パターンを決定する。また、補正対象画素の露光量に拘らず、補正対象画素の補正後の露光量での露光パターンに周期性が生じない様にＣＰＵ１０は露光パターンを決定することができる。なお、周期性が生じない様に決定した露光パターンでの露光の補正量は、周期性が生じる様な露光パターンでの露光の補正量と同じである。つまり、露光パターンを変えても、トナーの削減量としては同じである。Ｓ２７で画像を形成後、ＣＰＵ１０は、Ｓ２８で印刷が終了したかを判定し、終了していなければＳ２０から処理を繰り返す。
【００４５】
なお、エッジ効果とは異なり、掃き寄せは、画像の感光体１の回転方向の後端側にのみ生じるので、掃寄せを補正する場合には、回転方向の後端のエッジからの距離により補正対象画素を判定することになる。図２６は、図２３（Ｂ）の画像データについて掃き寄せを補正する場合における補正対象画素を示している。なお、補正幅パラメータは２画素としている。
【００４６】
本実施形態によれば、画像データを構成する複数の画素のうち、エッジ効果又は掃き寄せが生じ得る画素の露光量を調整又は減少させる場合において、露光パターンが非周期的となる様に露光量を補正する。これにより、ノイズを抑制しながら現像剤のエッジ効果又は掃き寄せを低減させる。よって、トナーの過剰な消費を抑制する。また、露光パターンに周期性が生じない様に調整するため画質の劣化も抑制される。
【００４７】
なお、周期性が生じないように制御する期間、つまり、周期性を判定する期間をより長くすると、不要輻射ノイズを抑制する効果が大きくなる。しかしそのためには、１つの画素の各露光量における露光パターンの種類を増やし、また、使用した画素の露光パターンを記憶する期間を長くする必要がある。これは、必要なメモリ量の増加につながる。よって、不要輻射ノイズを抑制したい量を鑑みて、数画素程度の期間から数秒程度の期間で周期性を制御する構成とすることができる。
【００４８】
例えば、１例として、２つの露光パターンを交互に切り替える構成とすることができる。また、所定の期間内であれば不要輻射ノイズによる影響が限定されることから、この所定期間内であれば、同じ露光パターンを使用する構成とすることができる。例えば、この所定期間を１００ミリ秒とする。この場合、露光量調整部６０３は、１００ミリ秒間は、同じ露光量の画素が連続しても同じ露光パターンを使用する。そして、１００ミリ秒を超えると、次の１００ミリ秒は、先と同じ露光量の画素が連続しても、先の露光パターンとは異なる画素の露光パターンを使用する構成とすることができる。また、隣接する画素と同じ露光パターンを使用した回数をカウントするカウンタを設け、カウンタのカウント値が閾値に達しても同じ露光量の画素が連像していると、露光パターンを変更する構成とすることもできる。例えば、閾値を２といった小さな値とし、カウントする期間を１秒と長くすることで、不要輻射ノイズを抑えるという効果を大きくすることができる。さらに、周期性の判定期間は、１枚毎の記録材に対応する画像データの期間以下に限定されない。つまり、複数毎の記録材に対応する画像データに跨って周期性が生じているか否かを判定する構成とすることもできる。例えば、１分間に６０枚以上の印刷が可能な画像形成装置では、カウンタを用いる構成においてカウントする期間を１秒以上にすると、連続する２枚の記録材に跨った期間において周期性の判定が行われる。
【００４９】
＜第四実施形態＞
続いて、第四実施形態について第三実施形態との相違点を中心に説明する。第三実施形態では露光強度を所定強度とし、露光する副画素の割合を変化させることで１画素の露光量を調整していた。本実施形態では露光強度も変更する。図２７は、本実施形態によるＣＰＵ１０の機能ブロックである。本実施形態において露光量調整部６０３は、露光強度を信号７ａにより露光制御部１９に通知する。露光制御部１９は、信号７ａにより通知された露光強度となる様に露光部７に出力する電圧Ｖａを設定する。
【００５０】
図２８（Ａ）〜２８（Ｃ）は、いずれも７５％の露光量となる様に露光した画素を示している。なお、所定の露光強度を１００％とし、画素の全領域を１００％の強度で露光した場合を１００％の露光量としている。図２８（Ｄ）〜２８（Ｆ）は、それぞれ、図２８（Ａ）〜２８（Ｃ）の画素の露光方法を示している。図２８（Ｄ）に示す様に、図２８（Ａ）の画素は、総ての副画素を７５％の露光強度で露光したものである。また、図２８（Ｅ）に示す様に、図２８（Ｂ）の画素は、半分の副画素を５０％の露光強度で露光し、残り半分の副画素を１００％の露光強度で露光したものである。また、図２８（Ｆ）に示す様に、図２８（Ｃ）の画素も、図２８（Ｂ）の画素と同じく、半分の副画素を５０％の露光強度で露光し、残り半分の副画素を１００％の露光強度で露光したものである。しかしながら、図２８（Ｂ）と図２８（Ｃ）では、画素の露光パターン、つまり、露光する副画素を異ならせている。この様に、第三実施形態と同様に、同じ露光量とする画素の露光パターンは、露光強度を変化させる場合においても複数存在し、露光パターンに周期性が生じない様にして画質の劣化を抑えることができる。
【００５１】
［その他の実施形態］
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００５２】
１：感光体、７：露光部、３：現像部、９０１：画像解析部、９０３：露光量調整部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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