(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を照射する放射線発生装置と、
撮像対象を透過した前記放射線を検出する複数の検出器素子及び散乱された前記放射線を遮蔽するコリメータを有する第１検出器ユニットと、２次元に配列され、前記撮像対象を透過した前記放射線を検出する複数の放射線検出器素子を有する第２検出器ユニットを有する放射線検出器と、
前記撮像対象を透過した前記放射線を、前記第１検出器ユニット及び前記第２検出器ユニットのいずれか一方で検出するように、前記撮像対象を移動、又は前記第１検出器ユニット及び第２検出器ユニットを移動する駆動装置を備え、
前記第１検出器ユニット及び前記第２検出器ユニットから出力される検出データを用いて、前記放射線の散乱量を考慮した前記撮像対象の透過画像を作成する演算装置を備えることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の放射線撮像装置において、
第１検出器ユニットの検出器素子は、１次元に配置された複数の検出器素子で構成されるライン配列の検出器素子であることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の放射線撮像装置において、
前記撮像対象の投影面の下端から上端まで撮像するように、前記第１検出器ユニットを移動させる検出器駆動装置を備え、
前記演算装置は、
前記第１検出器ユニットを移動して得た第１透視画像データと前記第２検出器ユニットから得た第２透視画像データの差分から前記散乱量を求めることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項４】
請求項１又は２に記載の放射線撮像装置において、
前記放射線発生装置と前記放射線検出器の間に配置され、前記撮像対象を載せるテーブルと、
前記撮像対象の投影面の下端から上端まで撮像するように、前記テーブルを高さ方向に移動させるテーブル駆動装置を備え、
前記演算装置は、
前記テーブルを移動して得た前記第１検出器ユニットからの第１透視画像データと前記第２検出器ユニットから得た第２透視画像データの差分から前記放射線の散乱量を求めることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項に記載の放射線撮像装置において、
前記演算装置は、
前記撮像対象が時間的に変化しない固定領域を撮像する第１撮像モードと、時間的に変化する変化領域を撮像する第２撮像モードをもち、
前記第１撮像モードにおいて、前記第１検出器ユニット及び前記第２検出器ユニットから出力される検出データを用いて前記放射線の散乱量を求め、
前記第２撮像モードにおいて、前記変化領域を含む前記撮像対象を所定の時間間隔で前記第２検出器ユニットを用いて撮像し、前記放射線の散乱量を考慮した複数の透視画像を作成することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか１項に記載の放射線撮像装置において、
第１検出器ユニット及び第２検出器ユニットは、半導体検出器またはシンチレータ型検出器であることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項７】
放射線を照射する放射線発生装置と、
撮像対象を透過した前記放射線を検出する複数の検出器素子及び散乱された前記放射線を遮蔽するコリメータを有する第１検出器ユニットと、２次元に配列され、前記撮像対象を透過した前記放射線を検出する複数の放射線検出器素子を有する第２検出器ユニットを有する放射線検出器と、
前記撮像対象を透過した前記放射線を、前記第１検出器ユニット及び前記第２検出器ユニットのいずれか一方で検出するように、前記撮像対象を移動、又は前記第１検出器ユニット及び第２検出器ユニットを移動する駆動装置と、
前記放射線検出器から出力される検出データに基づいて、前記撮像対象の透視画像を作成する演算装置を備えた放射線撮像装置による放射線撮像方法であって、
前記第１検出器ユニット及び前記第２検出器ユニットから出力される検出データを用いて前記放射線の散乱量を求めるステップと、
前記放射線の散乱量を考慮した前記撮像対象の透過画像を作成するステップを備えることを特徴とする放射線撮像方法。
【請求項８】
請求項７に記載の放射線撮像方法において、
第１検出器ユニットの検出器素子は、１次元に配置された複数の検出器素子で構成されるライン配列検出器素子であることを特徴とする放射線撮像方法。
【請求項９】
請求項７又は８に記載の放射線撮像方法において、
前記撮像対象の投影面の下端から上端まで撮像するように、前記第１検出器ユニットを移動させるステップと、
前記第１検出器ユニットを移動して得た第１透視画像データと前記第２検出器ユニットから得た第２透視画像データの差分から前記散乱量を求めるステップを備えることを特徴とする放射線撮像方法。
【請求項１０】
請求項７又は８に記載の放射線撮像方法において、
前記放射線発生装置と前記放射線検出器の間に配置された前記撮像対象を、前記撮像対象の投影面の下端から上端まで撮像するように移動するステップと、
前記撮像対象を移動している間に前記第１検出器ユニットから得た第１透視画像データと、前記第２検出器ユニットから得た第２透視画像データの差分から前記放射線の散乱量を求めるステップを備えることを特徴とする放射線撮像方法。
【請求項１１】
請求項７乃至１０のいずれか１項に記載の放射線撮像方法において、
前記撮像対象が時間的に変化しない固定領域を撮像する第１撮像モードと、時間的に変化する変化領域を撮像する第２撮像モードをもち、
前記第１撮像モードにおいて、前記第１検出器ユニット及び前記第２検出器ユニットから出力される検出データを用いて前記放射線の散乱量を求めるステップと、
前記第２撮像モードにおいて、前記変化領域を含む前記撮像対象を所定の時間間隔で前記第２検出器ユニットを用いて撮像し、前記放射線の散乱量を考慮した透視画像を作成するステップを備えることを特徴とする放射線撮像方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複雑形状の量産鋳物部品の鋳造プロセス過程における溶湯注入状況等を非破壊で連続的に撮像する放射線撮像装置及び放射線撮像方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
各種工業製品の金属加工の中で、鋳造法は最も古くポピュラーな方法であり，金属を一度溶解し，この金属溶湯を鋳型に注いで凝固させ成形させる加工法である。鍛造，プレス加工などと比較し，この加工方法の最大の特徴は，鋳型が構成できれば，複雑な３次元形状が一度に短時間で成形できる点にある。ただし，鋳型への金属溶湯の注入時にガスが巻き込まれたり，部分的に十分に金属溶湯が流れ込まない箇所が発生したりする事により鋳物の内外に欠陥が発生する。これらは鋳造欠陥と総称され，様々な手法により鋳造プロセスでこれらの欠陥が発生しない方法の確立が研究開発されてきたが，量産鋳造工程において完全に鋳造欠陥の発生を抑えるまでには至っていない。そのため、これらの鋳造欠陥を防止するには、鋳型内部に金属溶湯を注入するプロセスで各時刻における金属溶湯の注入状態を計測し、ガス巻き込みによる気泡発生や、金属溶湯の流れ込みが不十分な領域を特定する必要がある。また、鋳型内部の金属溶湯注入プロセスが動的に計測できれば、鋳造シミュレーションで用いられている各種モデルの検証・高精度化が可能となり、シミュレーション精度を現状より高める事ができる。それにより鋳型形状の最適化、鋳造プロセス条件の最適化により前述の鋳造欠陥の無い高品質な鋳造品を製作する事が可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開2010-125465
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】“型内減少の可視化‐鋳造”、大仲逸雄、精密工学会誌、Vol.73, No.2, 2007(p171-174)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来、鋳型内部の金属溶湯流入状態は、非特許文献1に記載されているように、透明な樹脂製モデル鋳型の内部に、金属溶湯を模擬した流体を流入させ観察・計測されてきた。これらの体系では、実際の鋳型内部の金属溶湯注入状態を、ある程度は模擬できるが、金属溶湯の流動特性、詳細な鋳型形状、鋳型の表面状態などは模擬が難しい。そのため、複雑形状の量産鋳物部品の鋳造プロセス過程における金属溶湯注入状況を、実際の鋳型に実際の金属溶湯が注入される状態を、非破壊で連続的に撮像する方法および装置が必要とされている。
【０００６】
非特許文献１には、Ｘ線管と検出器（イメージインテンシファイア）を挟み中間に鋳型模型を設置し、高温の金属溶湯を単純形状のモデル鋳型に注入し一定時刻間隔でＸ線透過像を撮像する装置が紹介されている。この装置では、Ｘ線管の最大管電圧210kV、電流10mAであり鋳鋼材での透過能力は2mm程度に限定される。そのため、実製品用の鋳型（砂型、金型）内の金属溶湯の注入状態を透過撮像することは困難である。
【０００７】
特許文献１には、金属溶湯が充填されるキャビテイ、Ｘ線源、Ｘ線検出手段（イメージインテンシファイア）、解析用鋳型からなる鋳造解析装置が提案されている。同装置では、金属溶湯が鋳型内に完全に充填された後の金属凝固プロセスを透過像から計測する。そのため、鋳型内部への溶湯の注入状況の撮像は対応できない。また、基礎的な凝固プロセスの分析評価であるため、対象試験体は、実製品の鋳型ではなく厚みの薄いキャビテイを持つ解析用鋳型を用いており、実製品サイズの鋳型への適用は難しい。
【０００８】
実製品サイズの鋳型に対して金属溶湯が注入される状態を非破壊で動的にＸ線透過像により可視化するためには、厚い金属材料を透過する高エネルギーＸ線源が必要となる。その場合、透過後の減衰したＸ線を検出する検出器にも高エネルギーＸ線に対して感度の高い検出器が必要となる。一方、高エネルギーＸ線により、実製品サイズの鋳型（砂型、金型）を透過撮像する場合、鋳型領域をＸ線が透過する際に多くの散乱線が発生する。この散乱線は、透過像における画像ノイズとなり、一般的なイメージインテンシファイア等の検出器を用いて鋳型内部の金属溶湯の注入状時の透過像を撮像すると画像が非常に不鮮明になる。一方、この散乱線を低下させるためにＸ線源のエネルギーを低下させると実製品サイズの鋳型（砂型、金型）の厚みに対してＸ線透過能力が不足しＸ線透過画像が得られなくなる。このようなＸ線の金属透過時に発生する散乱線は、金属溶湯領域でも発生するが、鋳型領域の体積に比較しその量は相対的に小さいため、鋳型領域で発生する散乱線が最も画像に与える影響が大きい。
【０００９】
本発明の目的は、上記のような事情を背景になされたものであり、鋳造品の品質向上、不良品発生比率の低減を図るため、実製品サイズの鋳型に対して金属溶湯が注入される状態を非破壊で動的にＸ線透過像により可視化する場合に、鋳型領域から発生する散乱線による画像ノイズを低減し、高品質な動的撮像撮像が可能な放射線撮像装置及び放射線撮像方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、放射線を照射する放射線発生装置と、撮像対象を透過した放射線を検出する複数の検出器素子及び散乱された放射線を遮蔽するコリメータを有する第１検出器ユニットと、２次元に配列され、撮像対象を透過した放射線を検出する複数の放射線検出器素子を有する第２検出器ユニットを有する放射線検出器と、撮像対象を透過した放射線を、第１検出器ユニット及び第２検出器ユニットのいずれか一方で検出するように、撮像対象を移動、又は第１検出器ユニット及び第２検出器ユニットを移動する駆動装置を備え、第１検出器ユニット及び第２検出器ユニットから出力される検出データを用いて、放射線の散乱量を考慮した撮像対象の透過画像を作成する演算装置を備える放射線撮像装置によって、上記目的を達成することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、実製品サイズの鋳型に対して非破壊で、画像ノイズの小さい高精細な透過画像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の実施例１による放射線撮像方法の手順を示す図である。
【図２】本発明の実施例１による放射線撮像装置の概略図である。
【図３】撮像対象の鋳型サンプル形状を示す図である。
【図４】撮像対象の鋳型サンプルを本発明の実施例１による放射線撮像装置で撮像する場合の鋳型部分のみの撮像時の配置を示した図である。
【図５】撮像対象の鋳型サンプルの鋳型部分のみを本発明の実施例１による放射線撮像装置で撮像した場合の透過像シミュレーション結果を示す図である。
【図６】撮像対象の鋳型サンプルを本発明の実施例１による放射線撮像装置で鋳型部分に金属溶湯を注入している状態を撮像する場合の配置を示した図である。
【図７】撮像対象の鋳型サンプルを本発明の実施例１による放射線撮像装置で鋳型部分に金属溶湯を注入している状態を撮像する場合のシミュレーション結果を示した図である。
【図８】本発明の実施例２による放射線撮像装置の概略図である。
【図９】本発明の実施例３による放射線撮像方法の手順を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の実施例を、図面を用いて説明する。
【実施例１】
【００１４】
図１は、本実施例の動的透過像を撮像するための放射線撮像方法のフローであり、図２は本実施例の放射線撮像装置２０の構成を示し、図３は撮像対象の鋳型のサンプル例を示し、図４は図３の鋳型サンプルを本実施例の放射線撮像方法で撮像する時の状態を示す図である。
【００１５】
図２に示すように、放射線撮像装置２０は、放射線発生装置１、第１検出器ユニット２、第２検出器ユニット５、第１検出器ユニット２及び第２検出器ユニット５を固定して支持する支持装置７、演算装置８、記憶及び表示装置９、第１検出器ユニット２及び第２検出器ユニット５を横方向に移動させて所定の位置に設置させる検出器駆動装置１９を備える。本実施例の放射線撮像装置２０は、動的な透過像を撮像可能な放射線撮像装置である。
【００１６】
放射線発生装置１は、例えばＸ線、γ線、中性子線等の放射線を発生させる放射線源を有する。本実施例では、Ｘ線を発生させるＸ線源を備える放射線発生装置を例に説明する。Ｘ線源には、電圧６００ｋＶ以下ではＸ線管、１ＭＶ以上では線形加速器（ＬＩＮＡＣ）を用いることができる。
【００１７】
第１検出器ユニット２は、一次元方向に所定の間隔で設置した複数の検出器素子３（ライン検出器素子）、各検出器素子３の前方に備えられるコリメータ４、検出器素子３及びコリメータ４を高さ方向に移動させる第１検出器ユニット駆動装置１７を備える。検出器素子３として、半導体検素子またはシンチレータ型検出器素子を用いることができる。コリメータ４は、放射線発生装置１と検出器素子３の間であって、検出器素子３に接するように配置される。コリメータ４は、散乱された放射線を遮蔽し、撮像対象を透過した放射線を検出器素子３に入射させる。ライン検出器素子３及びコリメータ４の替わりに、前方コリメータを装備したイメージインテンシファイアを用いてもよい。第１検出器ユニット駆動装置１７がライン検出器素子３及びコリメータ４を一体で高さ方向に移動させることで、第１検出器ユニット２を高さ方向に上下動する構造である。
【００１８】
第２検出器ユニット５は、２次元平面に配列された複数の検出器素子６（２次元配列検出器素子）を備える。２次元配列検出器素子としては、例えば正方格子状に２次元平面に配列された複数の検出器素子６である。
【００１９】
演算装置８は、撮像対象が時間的に変化しない固定領域（例えば、鋳型領域）を撮像する第１撮像モードと、時間的に変化する変化領域（例えば、鋳型に金属溶湯を注入することで時間的に変化する領域）を含む撮像対象を撮像する第２撮像モードをもつ。演算装置８は、第１撮影モードにおいて、第１検出器ユニット２及び第２検出器ユニット５から出力される検出データを用いて放射線の散乱量を求め、第２撮像モードにおいて、変化領域を含む撮像対象を所定の時間間隔で第２検出器ユニットを用いて撮像し、放射線の散乱量を考慮した透視画像を作成する。所定の時間間隔とは、予め定められて記憶装置に記憶された時間間隔を用いても良いし、操作者が設定する時間間隔の情報を用いてもよい。
【００２０】
検出器駆動装置１９は、第１検出器ユニット２及び第２検出器ユニット５を横方向に移動させて所定の位置に設置する。
【００２１】
本実施例の放射線撮像装置２０を用いて、動的な透過像を撮像する放射線撮像方法について説明する。まず、ステップＳ１００において、検出器駆動装置１０は、撮像対象である鋳型１０に対して放射線はセ氏装置（Ｘ線管）１と相対する位置に第１検出器ユニット２を移動させて設定する。
【００２２】
ステップＳ１０１で、鋳型１０の鋳物形状枠１２に金属溶湯を注入する前に、鋳型領域１０のみの透過像を第１検出器ユニット２で撮像する。この時の状態を図２（ａ）に示す。まず、放射線発生装置１からＸ線を発生させ、撮像対象である鋳型１０に照射する。鋳型１０の投影面の最下部から最上部の高さまで撮像するように、第１検出器ユニット駆動装置１７はライン検出器素子３及びコリメータ４を移動する。ライン検出器素子３は、鋳型１０を透過したＸ線を所定の間隔で検出し、Ｘ線透過量データを演算装置８に出力する。演算装置８は、所定の間隔で撮影されたＸ線透過量データを取得すると、計測された各位置におけるＸ線透過量データをデジタルデータに変換して透過像データを作成し、記憶及び表示装置９に出力する。記憶及び表示装置９は、受け取った透過像データを第１検出器ユニット２から取得した鋳型領域の透過像データＡとして保管する。
【００２３】
次に、ステップＳ１０２において、検出器駆動装置１９は、鋳型１０に対してＸ線管１と相対する位置に第２検出器ユニット５を移動して設定する。図２（ｂ）に、設定した状態を示した。第２検出器ユニット５は、第１検出器ユニット２に備えられたコリメータ４を設けていないが、検出器素子６の個数が多いため、鋳型の投影面の全てを２次元素子配列検出器素子で受光できるため、ライン検出器３のように高さ方向に検出器素子を移動させる必要はない。
【００２４】
ステップＳ１０３で、第２検出器ユニット５を用いて鋳型１０領域のみの透過像を撮像し、第２検出器ユニット５による鋳型領域のみの透過像データＢを取得する。透過像シミュレータを用いて求めた、第１検出器ユニット２による鋳型領域の透過像データＡを図５(a)に示し、第２検出器ユニット５による鋳型領域の透過像データＢを図５(b)に示す。第１検出器ユニット２による鋳型領域の透過像１３では、図５(a)に示すように、ライン検出器素子３の前方に設けられたコリメータ４により鋳型領域１０から散乱された放射線（散乱線）をカットするため、画像ノイズの少ない鮮明な透過画像１３が得ることができる。第２検出器ユニット５による鋳型領域の透過像１４では、図５(b)に示すように、鋳型領域１０からの散乱線が各検出器素子６に入射するため、画像ノイズが多い透過画像１４となる。ただし、第１検出器ユニット２による鋳型領域の透過像１３の撮像では、コリメータ付きのライン検出器３を高さ方向に移動するため、透過像撮像時間を必要とする。一方、第２検出器ユニット５による鋳型領域の透過像１４の撮像では、撮像対象の鋳型１０の投影面全領域に検出器素子６が配列されているため、透過像は短い時間で得られる。
【００２５】
次に、ステップＳ１０４において、第２検出器ユニット５による鋳型領域の透過像データＢと第１検出器ユニット２による鋳型領域の透過像データＡの差分量を計算する。ここで得られた各検収素子位置の差分量データが、鋳型領域１０から発生する散乱線成分量となる。
【００２６】
さらにその次のステップでは、ステップＳ１０５として、金属溶湯の注入を開始する。図３に示した鋳型サンプルでは、鋳型１０内部の金属溶湯の注入領域１２の最上面部分１１から金属溶湯が注入される。図６には、金属溶湯が注入されている状態での撮像状況を示した。
【００２７】
金属溶湯の注入開始後は、ステップＳ１０６として、第２検出器ユニット５が鋳型に金属溶湯が注入されるプロセスの各時刻ｔの透過像を撮像する。金属溶湯の注入速度および鋳型内部１２に金属溶湯が流入し鋳型内部を流入する速度は速いため、コリメータ付きライン検出器３の移動では瞬時の一断面撮像は難しく、第２検出器ユニット５による瞬時の透過像撮像が必要となる。
【００２８】
図１のステップＳ１０６、ステップＳ１０７を、金属溶湯が鋳型の内部型領域１２に全て充填されるまで一定時間間隔で瞬時の透過像撮像を繰り返す。
【００２９】
次に、ステップＳ１０７で、鋳型の内部型領域１２に全て充填されると、次のステップＳ１０８で演算装置８は、散乱線成分量を差し引く計算を開始する。ステップＳ１０９では、第２検出器ユニット５を用いて得られた時刻ｔにおける鋳型に溶湯が注入された状態の透過像撮像データＣから、ステップＳ１０１〜ステップＳ１０４で求めた各検出器素子位置の差分量データ１０３を差し引く。この差し引く計算を、全ての計算時刻の撮像透過像データに対してステップＳ１０９、ステップＳ１１０を繰り返すことで、演算装置８は各時刻の透過像データＥを得る。
【００３０】
図７(a)〜（d）は、透過像シミュレーションを用いて、ステップＳ１０５〜ステップＳ１１０のプロセスを実施し、得られた各時刻の透過像データＥの一部を示す。各時刻で、鋳型１０領域からの散乱線成分が画像から除かれるため、金属溶湯が鋳型内部領域１２に徐々に注入されていく状況が透過像として明瞭に得られることが分かる。
【００３１】
本実施例によれば、実製品サイズの鋳型（砂型、金型）を透過撮像する場合、鋳型領域をＸ線が透過する際に多く発生する散乱線の量を、金属溶湯注入前にコリメータ４が設置された第１検出器ユニット２を用いて得た透過撮像および二次元素子配列の第２検出器ユニット５を用いて得た透過撮像から算出し、金属溶湯注入時には所定の時刻毎に第２検出器ユニット５で透過像撮像し、各時刻の透過像撮像画像から前述の鋳型領域からの散乱線量を差しくことにより、画像ノイズの小さい高精細な動的透過像を得ることができる。すなわち、鋳型内部の金属溶湯注入状態の動的透過像を生成して可視化が可能となる。
【００３２】
また、本実施例によれば、コリメータ４とライン検出器素子３を有する第１検出ユニット２と、２次元配列の検出器素子を有する第２検出器ユニット５が、Ｘ線発生装置１や撮像対象の鋳型に対して透過像が撮像可能な位置に、それぞれ単独で相互に設置可能な構成をもつ。このような構成により、各プロセスにおける各透過像を取得することができ、鋳型領域を放射線が透過する際に発生する散乱線の量を精度よく求められるようになる。
【００３３】
本実施例によれば、得られる鋳型内部の金属溶湯注入状態の動的透過像を分析することにより、鋳造欠陥の発生が防止可能な鋳型形状や鋳物鋳型プロセス条件の設定が可能となり、鋳造品の鋳造欠陥発生防止、品質向上を図ることができるようになる。
【実施例２】
【００３４】
本発明の第２の実施例を、図１及び図８を用いて説明する。
【００３５】
本実施例の放射線撮像装置２０Ａは、図８に示すように、放射線発生装置１、第１検出器ユニット２、第２検出器ユニット５、第１検出器ユニット２及び第２検出器ユニット５を横方向から挟んで固定して支持する支持装置２１、演算装置８、記憶及び表示装置９、撮像対象を載せるテーブル（例えば、ターンテーブル）１６、テーブル１６を高さ方向に上下動させるテーブル駆動装置１８を備える。本実施例の放射線撮像装置２０Ａの構造及び放射線撮像装置２０Ａを用いた動的透過像を撮像方法について、実施例１と相違する点を中心に、以下に説明する。
【００３６】
放射線撮像装置２０Ａは、第２検出器ユニット５の下部に第１検出器ユニット３を配置する構成を有する。テーブル駆動装置１８がテーブル１５を高さ方向に移動させることで、テーブル１５に載った撮像対象の鋳型１０を高さ方向に移動させる。実施例１では、第１検出器ユニット駆動装置１７が第１検出器ユニット２及び第２検出器ユニット５を高さ方向に移動させることで、第１検出器ユニット２又は第２検出器ユニット５が撮像対象に対して放射線発生装置１と相対する位置に配置されるように位置決めしたが、本実施例では、テーブル駆動装置１８がテーブル１５を高さ方向に移動させることで第１検出器ユニット２又は第２検出器ユニット５のいずれかの検出器ユニットが撮像対象に対して撮像装置１と相対する位置に配置されるように位置決めする構成である。
【００３７】
本実施例の放射線撮像装置２０Ａを用いて動的な透過像を撮像する放射線撮像方法について、実施例１の放射線撮像方法と異なる点を中に説明する。図１のステップＳ１０１を実施し、第１検出器ユニット２による鋳型領域の透過像データＡを得る。また、テーブル駆動装置１８が第２検出器ユニット５の位置までターンテーブル１５を移動させ、図１のステップＳ１０３を実施し、第２検出器ユニット５による鋳型領域の透過像データＢを得る。その後の処理ステップは、実施例１のステップＳ１０４以降と同様の処理を行う。
【００３８】
本実施例によれば、実施例１と同様の効果を得ることができる。
【実施例３】
【００３９】
本発明の第３の実施例を、図９を用いて説明する。図９は、本実施例による動的透過像の放射線撮像方法を示すフロー図である。
【００４０】
実施例１では、鋳型内部に金属溶湯が注入される場合を示したが、本実施例では、一般的な固定領域内部に状態変化が一部分で発生する場合の、動的透過像撮像にも活用する例を説明する。図９では、実施例１の図１に対して鋳型部分を固定領域、金属溶湯注入領域を固定領域内部に状態変化が発生する領域としている。このような体系として、例えば機械部品の内部の可動部分、配管や反応器内部の実温・実圧での流体流動状態が想定される。
【００４１】
本実施例によれば、実施例１と同様の効果を得ることができる。
【００４２】
また、本実施例によれば、従来外部からは可視化できなかった内部の変動状況を外部から非破壊で可視化可能となる。
【００４３】
さらに、本実施例によれば、一般的な機械部品において固定領域内部の可動部分の時刻毎の変化状態が、外部から非破壊で観察可能となり、内部稼働状態を外部から確認できるようになる。撮影対象が配管および反応器等の流動状態の場合は、実温・実圧での内部流動状態を外部から可視化可能となる。
【符号の説明】
【００４４】
１：放射線発生装置、
２：第１検出器ユニット
３：ライン検出器素子
４：コリメータ
５：第２検出器ユニット
６：２次元配列検出器素子
７：支持装置
８：演算装置
９：記憶および表示装置
１０：鋳型
１１：鋳型の金属溶湯流入面
１２：鋳型内部の金属溶湯流入領域
１５：金属溶湯流入部
１６：ターンテーブル
１７：第１検出器ユニット駆動装置
１８：テーブル駆動装置
１９：検出器駆動装置
２０、２０Ａ：放射線撮像装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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