(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送経路において搬送される光学フィルムの位相差の測定方法であって、
前記搬送経路のＴＤ方向に離隔して設けられた複数の位相差測定器により、ＴＤ方向に離隔する複数の測定箇所のそれぞれにおいて、前記測定箇所を通過する前記光学フィルムの面上の複数の測定点の位相差を計測する工程であって、２以上の前記測定点のそれぞれにおいて、前記位相差測定器のうちの２以上により、複数の非垂直な極角方向から位相差を計測する、計測工程（ｉ）、及び
前記計測工程（ｉ）において計測された複数の位相差の値に基づいて、前記測定点のそれぞれにおいて、面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を計算する計算工程（ｉｉ）
を含み、
前記ＴＤ方向は、搬送される光学フィルムのフィルム面に平行な方向であって、且つ、搬送される光学フィルムの流れ方向に垂直な方向であり、
前記計測工程（ｉ）において、
前記複数の位相差測定器が、中央部測定用の位相差測定器（Ｃ）、一方の端部測定用の位相差測定器（Ｌ）及び他方の端部測定用の位相差測定器（Ｒ）を含み、
前記測定箇所が、中央部の測定箇所（Ｃ）、前記位相差測定器（Ｌ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｌ）及び前記位相差測定器（Ｒ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｒ）を含み、
前記測定箇所（Ｃ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｃ）、および前記位相差測定器（Ｃ）以外の一以上の位相差測定器により行い、
前記測定箇所（Ｌ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｌ）、および前記位相差測定器（Ｌ）以外の一以上の位相差測定器により行い、
前記測定箇所（Ｒ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｒ）、および前記位相差測定器（Ｒ）以外の一以上の位相差測定器により行う測定方法。
【請求項２】
光学フィルムの製造方法であって、
光学フィルムを連続的に形成する工程（Ｉ）、
工程（Ｉ）において形成された光学フィルムを搬送経路において搬送し、搬送される前記光学フィルムの面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を測定する工程（ＩＩ）、及び
工程（ＩＩ）において測定された前記面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方の値に基づいて、工程（Ｉ）における形成の条件を調節し、前記面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を所定の値に調整するフィードバック工程（ＩＩＩ）
を含み、
前記工程（ＩＩ）は、
前記搬送経路のＴＤ方向に離隔して設けられた複数の位相差測定器により、ＴＤ方向に離隔する複数の測定箇所のそれぞれにおいて、前記測定箇所を通過する前記光学フィルムの面上の複数の測定点の位相差を計測する工程であって、２以上の前記測定点のそれぞれにおいて、前記位相差測定器のうちの２以上により、複数の非垂直な極角方向から位相差を計測する、計測工程（ｉ）、及び
前記計測工程（ｉ）において計測された複数の位相差の値に基づいて、前記測定点のそれぞれにおいて、面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を計算する計算工程（ｉｉ）
を含み、
前記ＴＤ方向は、搬送される光学フィルムのフィルム面に平行な方向であって、且つ、搬送される光学フィルムの流れ方向に垂直な方向であり、
前記計測工程（ｉ）において、
前記複数の位相差測定器が、中央部測定用の位相差測定器（Ｃ）、一方の端部測定用の位相差測定器（Ｌ）及び他方の端部測定用の位相差測定器（Ｒ）を含み、
前記測定箇所が、中央部の測定箇所（Ｃ）、前記位相差測定器（Ｌ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｌ）及び前記位相差測定器（Ｒ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｒ）を含み、
前記測定箇所（Ｃ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｃ）、および前記位相差測定器（Ｃ）以外の一以上の位相差測定器により行い、
前記測定箇所（Ｌ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｌ）、および前記位相差測定器（Ｌ）以外の一以上の位相差測定器により行い、
前記測定箇所（Ｒ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｒ）、および前記位相差測定器（Ｒ）以外の一以上の位相差測定器により行う製造方法。
【請求項３】
光学フィルムの位相差の測定装置であって、
光学フィルムを搬送経路において搬送する搬送器、
前記搬送経路のＴＤ方向に離隔して設けられ、ＴＤ方向に離隔する複数の測定箇所のそれぞれにおいて、前記測定箇所を通過する前記光学フィルムの面上の複数の測定点の位相差を計測する複数の位相差測定器であって、２以上の前記測定点のそれぞれにおいて、前記位相差測定器のうちの２以上により、複数の非垂直な極角方向から位相差を計測する、位相差測定器（ｉ）、及び
前記位相差測定器（ｉ）において計測された複数の位相差の値に基づいて、前記測定点のそれぞれにおいて、面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を計算する計算器（ｉｉ）
を含み、
前記ＴＤ方向は、搬送される光学フィルムのフィルム面に平行な方向であって、且つ、搬送される光学フィルムの流れ方向に垂直な方向であり、
前記複数の位相差測定器（ｉ）が、中央部測定用の位相差測定器（Ｃ）、一方の端部測定用の位相差測定器（Ｌ）及び他方の端部測定用の位相差測定器（Ｒ）を含み、
前記測定箇所が、中央部の測定箇所（Ｃ）、前記位相差測定器（Ｌ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｌ）及び前記位相差測定器（Ｒ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｒ）を含み、
前記位相差測定器（Ｃ）、および前記位相差測定器（Ｃ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｃ）における位相差の計測を行うよう設けられ、
前記位相差測定器（Ｌ）、および前記位相差測定器（Ｌ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｌ）における位相差の計測を行うよう設けられ、
前記位相差測定器（Ｒ）、および前記位相差測定器（Ｒ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｒ）における位相差の計測を行うよう設けられた測定装置。
【請求項４】
光学フィルムの製造装置であって、
光学フィルムを連続的に形成する形成装置（Ｉ）、
形成器（Ｉ）により形成された光学フィルムを搬送経路において搬送し、搬送される前記光学フィルムの面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を測定する測定装置（ＩＩ）、及び
測定装置（ＩＩ）により測定された前記面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方の値に基づいて、形成装置（Ｉ）による形成の条件を調節し、前記面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を所定の値に調整するフィードバック装置（ＩＩＩ）
を含み、
前記測定装置（ＩＩ）が、
光学フィルムを搬送経路において搬送する搬送器、
前記搬送経路のＴＤ方向に離隔して設けられ、ＴＤ方向に離隔する複数の測定箇所のそれぞれにおいて、前記測定箇所を通過する前記光学フィルムの面上の複数の測定点の位相差を計測する複数の位相差測定器であって、２以上の前記測定点のそれぞれにおいて、前記位相差測定器のうちの２以上により、複数の非垂直な極角方向から位相差を計測する、位相差測定器（ｉ）、及び
前記位相差測定器（ｉ）において計測された複数の位相差の値に基づいて、前記測定点のそれぞれにおいて、面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を計算する計算器（ｉｉ）
を含み、
前記ＴＤ方向は、搬送される光学フィルムのフィルム面に平行な方向であって、且つ、搬送される光学フィルムの流れ方向に垂直な方向であり、
前記複数の位相差測定器（ｉ）が、中央部測定用の位相差測定器（Ｃ）、一方の端部測定用の位相差測定器（Ｌ）及び他方の端部測定用の位相差測定器（Ｒ）を含み、
前記測定箇所が、中央部の測定箇所（Ｃ）、前記位相差測定器（Ｌ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｌ）及び前記位相差測定器（Ｒ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｒ）を含み、
前記位相差測定器（Ｃ）、および前記位相差測定器（Ｃ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｃ）における位相差の計測を行うよう設けられ、
前記位相差測定器（Ｌ）、および前記位相差測定器（Ｌ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｌ）における位相差の計測を行うよう設けられ、
前記位相差測定器（Ｒ）、および前記位相差測定器（Ｒ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｒ）における位相差の計測を行うよう設けられた製造装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学フィルムの位相差の測定方法、光学フィルムの製造方法、光学フィルム位相差の測定装置、及び光学フィルムの製造装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光学フィルムの製造に際しては、その位相差を、フィルムの面の広い領域において精密に制御することが求められる。光学フィルムの製造に際してはまた、その製造効率の向上のため、製造ラインにおいて高速且つ連続的な製造を行うことが求められる。したがって、高速且つ連続的に搬送される光学フィルムの面の広い領域の位相差を、製造ラインにおいて正確且つ迅速に測定し、それにより測定の結果をフィルム形成の工程にフィードバックしたり、位相差が規格外である部分を最終製品から除去したりする手段が求められる。
【０００３】
位相差の制御においては、面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈが精密に制御されることが求められる場合が多い。Ｒｅ及びＲｔｈを測定する装置としては、フィルム面上のある１点において測定を行う位相差測定器（例えば特許文献１）がこれまで広く用いられている。搬送される光学フィルムについてこれらを測定する場合、そのような位相差測定器を、ＴＤ方向に搖動させ、それにより位相差測定器を、搬送されるフィルムに対して波状の軌道を描くよう移動させ、ＴＤ方向及びＭＤ方向に広がりを有する測定範囲における測定を行うことが、これまで広く行われている。
【０００４】
また、近年、フィルム面の複数の位置において同時に、面内位相差Ｒｅを測定する位相差測定器も提案されている（特許文献２）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平８−２０１２７７号公報
【特許文献２】特開２００７−２６３５９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
位相差測定器を製造ラインにおいて搖動させる場合、位相差測定器を移動させる移動装置からの異物の落下、並びに移動装置の駆動部分とフィルムとの接触による不良の発生及び製造の障害等の不所望な現象が発生しうる。また、搬送されるフィルムに対して波状の軌道を描く測定においては、フィルム全面のうち測定されない箇所が広く存在し、それにより規格外の位相差を有する箇所が看過されることがある。このような測定されない箇所は、フィルムを高速に搬送した場合特に増加する。
【０００７】
一方、特許文献２に記載の位相差測定器を用いた測定を行った場合、Ｒｅと同時にＲｔｈを測定することができない。また、フィルム面の位相差測定器から遠い箇所においては、斜め方向からの測定を行うことになるため、フィルム面の位相差測定器から近い測定箇所と、位相差測定器から遠い測定箇所とで、位相差の測定の基準となる極角が異なってしまうという問題点がある。
【０００８】
本発明の目的は、光学フィルムの製造における製品の品質及び製造の円滑性を妨げず、且つフィルム面の広い領域の多数の測定点において、面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを精密に測定しうる、光学フィルムの位相差の測定方法及び光学フィルム位相差の測定装置を提供することにある。
本発明のさらなる目的は、面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈが精密に制御された高品質の光学フィルムを、円滑に製造しうる、光学フィルムの製造方法及び光学フィルムの製造装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明らは前記課題を解決するべく検討した結果、フィルム面の複数の位置において同時に、面内位相差Ｒｅを測定する位相差測定器を２以上組み合わせて用い、それらから得られる情報を元に、Ｒｅ及びＲｔｈを同時に多数の点において測定しうることを見出し、本発明を完成した。
すなわち、本発明は以下の通りである。
【００１０】
〔１〕  搬送経路において搬送される光学フィルムの位相差の測定方法であって、
前記搬送経路のＴＤ方向に離隔して設けられた複数の位相差測定器により、ＴＤ方向に離隔する複数の測定箇所のそれぞれにおいて、前記測定箇所を通過する前記光学フィルムの面上の複数の測定点の位相差を計測する工程であって、２以上の前記測定点のそれぞれにおいて、前記位相差測定器のうちの２以上により、複数の極角方向から位相差を計測する、計測工程（ｉ）、及び
前記計測工程（ｉ）において計測された複数の位相差の値に基づいて、前記測定点のそれぞれにおいて、面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を計算する計算工程（ｉｉ）
を含む、測定方法。
〔２〕  前記計測工程（ｉ）において、
前記複数の位相差測定器が、中央部測定用の位相差測定器（Ｃ）、一方の端部測定用の位相差測定器（Ｌ）及び他方の端部測定用の位相差測定器（Ｒ）を含み、
前記測定箇所が、中央部の測定箇所（Ｃ）、前記位相差測定器（Ｌ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｌ）及び前記位相差測定器（Ｒ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｒ）を含み、
前記測定箇所（Ｃ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｃ）、および前記位相差測定器（Ｃ）以外の一以上の位相差測定器により行い、
前記測定箇所（Ｌ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｌ）、および前記位相差測定器（Ｌ）以外の一以上の位相差測定器により行い、
前記測定箇所（Ｒ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｒ）、および前記位相差測定器（Ｒ）以外の一以上の位相差測定器により行う
〔１〕に記載の測定方法。
〔３〕  光学フィルムの製造方法であって、
光学フィルムを連続的に形成する工程（Ｉ）、
工程（Ｉ）において形成された光学フィルムを搬送経路において搬送し、搬送される前記光学フィルムの面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を測定する工程（ＩＩ）、及び
工程（ＩＩ）において測定された前記面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方の値に基づいて、工程（Ｉ）における形成の条件を調節し、前記面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を所定の値に調整するフィードバック工程（ＩＩＩ）
を含み、
前記工程（ＩＩ）は、
前記搬送経路のＴＤ方向に離隔して設けられた複数の位相差測定器により、ＴＤ方向に離隔する複数の測定箇所のそれぞれにおいて、前記測定箇所を通過する前記光学フィルムの面上の複数の測定点の位相差を計測する工程であって、２以上の前記測定点のそれぞれにおいて、前記位相差測定器のうちの２以上により、複数の極角方向から位相差を計測する、計測工程（ｉ）、及び
前記計測工程（ｉ）において計測された複数の位相差の値に基づいて、前記測定点のそれぞれにおいて、面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を計算する計算工程（ｉｉ）
を含む、製造方法。
〔４〕  前記計測工程（ｉ）において、
前記複数の位相差測定器が、中央部測定用の位相差測定器（Ｃ）、一方の端部測定用の位相差測定器（Ｌ）及び他方の端部測定用の位相差測定器（Ｒ）を含み、
前記測定箇所が、中央部の測定箇所（Ｃ）、前記位相差測定器（Ｌ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｌ）及び前記位相差測定器（Ｒ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｒ）を含み、
前記測定箇所（Ｃ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｃ）、および前記位相差測定器（Ｃ）以外の一以上の位相差測定器により行い、
前記測定箇所（Ｌ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｌ）、および前記位相差測定器（Ｌ）以外の一以上の位相差測定器により行い、
前記測定箇所（Ｒ）における位相差の計測を、前記位相差測定器（Ｒ）、および前記位相差測定器（Ｒ）以外の一以上の位相差測定器により行う
〔３〕に記載の製造方法。
〔５〕  光学フィルムの位相差の測定装置であって、
光学フィルムを搬送経路において搬送する搬送器、
前記搬送経路のＴＤ方向に離隔して設けられ、ＴＤ方向に離隔する複数の測定箇所のそれぞれにおいて、前記測定箇所を通過する前記光学フィルムの面上の複数の測定点の位相差を計測する複数の位相差測定器であって、２以上の前記測定点のそれぞれにおいて、前記位相差測定器のうちの２以上により、複数の極角方向から位相差を計測する、位相差測定器（ｉ）、及び
前記位相差測定器（ｉ）において計測された複数の位相差の値に基づいて、前記測定点のそれぞれにおいて、面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を計算する計算器（ｉｉ）
を含む、測定装置。
〔６〕  前記複数の位相差測定器（ｉ）が、中央部測定用の位相差測定器（Ｃ）、一方の端部測定用の位相差測定器（Ｌ）及び他方の端部測定用の位相差測定器（Ｒ）を含み、
前記測定箇所が、中央部の測定箇所（Ｃ）、前記位相差測定器（Ｌ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｌ）及び前記位相差測定器（Ｒ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｒ）を含み、
前記位相差測定器（Ｃ）、および前記位相差測定器（Ｃ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｃ）における位相差の計測を行うよう設けられ、
前記位相差測定器（Ｌ）、および前記位相差測定器（Ｌ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｌ）における位相差の計測を行うよう設けられ、
前記位相差測定器（Ｒ）、および前記位相差測定器（Ｒ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｒ）における位相差の計測を行うよう設けられた
〔５〕に記載の測定装置。
〔７〕  光学フィルムの製造装置であって、
光学フィルムを連続的に形成する形成装置（Ｉ）、
形成器（Ｉ）により形成された光学フィルムを搬送経路において搬送し、搬送される前記光学フィルムの面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を測定する測定装置（ＩＩ）、及び
測定装置（ＩＩ）により測定された前記面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方の値に基づいて、形成装置（Ｉ）による形成の条件を調節し、前記面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を所定の値に調整するフィードバック装置（ＩＩＩ）
を含み、
前記測定装置（ＩＩ）が、
光学フィルムを搬送経路において搬送する搬送器、
前記搬送経路のＴＤ方向に離隔して設けられ、ＴＤ方向に離隔する複数の測定箇所のそれぞれにおいて、前記測定箇所を通過する前記光学フィルムの面上の複数の測定点の位相差を計測する複数の位相差測定器であって、２以上の前記測定点のそれぞれにおいて、前記位相差測定器のうちの２以上により、複数の極角方向から位相差を計測する、位相差測定器（ｉ）、及び
前記位相差測定器（ｉ）において計測された複数の位相差の値に基づいて、前記測定点のそれぞれにおいて、面内位相差Ｒｅ、厚さ方向位相差Ｒｔｈ、又はこれらの両方を計算する計算器（ｉｉ）
を含む、製造装置。
〔８〕  前記複数の位相差測定器（ｉ）が、中央部測定用の位相差測定器（Ｃ）、一方の端部測定用の位相差測定器（Ｌ）及び他方の端部測定用の位相差測定器（Ｒ）を含み、
前記測定箇所が、中央部の測定箇所（Ｃ）、前記位相差測定器（Ｌ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｌ）及び前記位相差測定器（Ｒ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｒ）を含み、
前記位相差測定器（Ｃ）、および前記位相差測定器（Ｃ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｃ）における位相差の計測を行うよう設けられ、
前記位相差測定器（Ｌ）、および前記位相差測定器（Ｌ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｌ）における位相差の計測を行うよう設けられ、
前記位相差測定器（Ｒ）、および前記位相差測定器（Ｒ）以外の一以上の位相差測定器が、前記測定箇所（Ｒ）における位相差の計測を行うよう設けられた
〔７〕に記載の製造装置。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の測定方法及び測定装置によれば、光学フィルムの製造における製品の品質及び製造の円滑性を妨げず、且つフィルム面の広い領域の多数の測定点において、面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを精密に測定しうる。
本発明の製造方法及び製造装置によれば、面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈが精密に制御された高品質の光学フィルムを、円滑に製造しうる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】図１は、本発明の測定装置を含む、本発明の製造装置の一例を模式的に示す斜視図である。
【図２】図２は、図１に示した測定装置２００における、位相差測定器と、測定箇所における光学フィルム上の測定点との関係を説明する断面図である。
【図３】図３は、図２に示した測定点Ｐ１における位相差の測定値及び測定角度から、測定点Ｐ１における面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求める計算を概念的に示すグラフである。
【図４】図４は、本発明の第二実施形態の測定装置における、位相差測定器と、測定箇所における光学フィルム上の測定点との関係を説明する断面図である。
【図５】図５は、本発明の第三実施形態の測定装置における、位相差測定器と、測定箇所における光学フィルム上の測定点との関係を説明する断面図である。
【図６】図６は、図５に示した測定点Ｐ３における位相差の測定値及び測定角度から、測定点Ｐ３における面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求める計算を概念的に示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、実施形態及び例示物を示して本発明について詳細に説明する。ただし、本発明は以下に示す実施形態及び例示物に限定されるものではなく、本発明の特許請求の範囲及びその均等の範囲を逸脱しない範囲において任意に変更して実施しうる。
【００１４】
以下の説明において、「長尺」のフィルムとは、フィルムの幅に対して、５倍程度以上の長さを有するものをいい、好ましくは１０倍若しくはそれ以上の長さを有し、具体的にはロール状に巻回されて保管又は運搬される程度の長さを有するものをいう。
【００１５】
以下の説明において、要素の方向が「平行」及び「垂直」とは、別に断らない限り、本発明の効果を損ねない範囲内、例えば±５°の範囲内での誤差を含んでいてもよい。
【００１６】
以下の説明において、ＭＤ方向（ｍａｃｈｉｎｅ  ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ）は、製造ラインにおいて搬送されるフィルムの流れ方向であり、通常は搬送される長尺のフィルムの長尺方向に相当する方向を表す。また、長尺のフィルムにおいて長尺方向は、通常、そのフィルムの縦方向に一致する。さらに、以下の説明において「上流」又は「下流」という場合、別に断らない限り、ＭＤ方向における上流及び下流のことを指す。
また、ＴＤ方向（ｔｒａｖｅｒｓｅ  ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ）は、搬送されるフィルム面に平行な方向であって、且つＭＤ方向に垂直な方向であり、通常は搬送される長尺のフィルムの幅方向に相当する方向を表す。また、長尺フィルムにおいて幅方向は、通常、そのフィルムの横方向に一致する。さらに、本願においては、ＭＤ方向及びＴＤ方向の両方に対し水平な方向を、ＴＨ方向と称する場合がある。
【００１７】
以下の具体例における説明では、単に説明の便宜上、搬送されるフィルムのＴＤ方向の端部の左側及び右側は、それぞれ、水平に搬送されるフィルムをＭＤ方向上流側から観察した場合における左側及び右側であるものと規定する。本願の図面の一部においては、ＭＤ方向、ＴＤ方向及びＴＨ方向を、それぞれの符号を付した座標軸により示し、さらに左向きのＴＤ方向及び右向きのＴＤ方向をそれぞれＴＤ（Ｌ）及びＴＤ（Ｒ）の符号を付した座標軸で示す。
【００１８】
［第一実施形態］
図１は、本発明の測定装置を含む、本発明の製造装置の一例を模式的に示す斜視図である。以下において、この例を第一実施形態として、本発明の測定装置及び製造装置並びに本発明の測定方法及び製造方法を説明する。
【００１９】
図１に示す製造装置１０は、形成装置１００、測定装置２００、巻き取り装置３００、およびフィードバック装置（不図示）を含む。形成装置１００、測定装置２００及び巻き取り装置３００は、製造装置１０の製造ラインにおいて、上流から下流にこの順に配置される。
【００２０】
この例において形成装置１００は、溶融押出成形により長尺のフィルムを連続的に形成する装置であり、ダイ１０１及びキャストロール１０２を含む。ダイ１０１から連続的に吐出された溶融樹脂１１は、キャストロール１０２において冷却され、これにより光学フィルム１２が連続的に形成される。形成された光学フィルム１２は、水平な搬送経路において搬送され、測定装置２００に供給される。
【００２１】
本発明において、光学フィルムの形成工程を行う形成装置は、第一実施形態において例示する溶融押出成形装置に限られず、他の方式による装置であってもよく、それにより他の方式の形成工程を行ってもよい。形成工程はまた、フィルムの延伸、加熱、冷却等の工程を含んでもよく、形成装置はそのような工程を行うための構成要素を含みうる。
【００２２】
測定装置２００は、光学フィルムを搬送経路において搬送する搬送器（不図示）、複数の位相差測定器、光源２８０及び計算器２９０を含む。
搬送器は、搬送ローラーを備える搬送器、フィルムを把持して搬送する把持具を備える搬送器等の任意の形態としうる。この例においては、測定装置２００内において、光学フィルム１２は水平に、矢印Ａ１で示される方向に搬送される。
【００２３】
この例においては、位相差測定器としては、位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒの２つが設けられている。位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒは、搬送される光学フィルム１２の上側に、光学フィルム１２と離隔して、且つ互いに離隔して設けられる。この例においては、位相差測定器２０１Ｌ及び２０１ＲはＴＤ方向に整列し、位相差測定器２０１Ｌは光学フィルム１２の左側の端部に設けられ、位相差測定器２０１Ｒは光学フィルム１２の右側の端部に設けられる。
【００２４】
位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒとしては、ある範囲の領域において、光学フィルムの複数の箇所において位相差を同時に測定しうる装置を適宜選択して用いうる。具体的には、透過偏光の方向が領域ごとに異なるようなパターンを有する偏光子と、その各領域を通過した光の強度を独立に受光することのできる受光素子とを備える位相差測定器を用いうる。より具体的には、例えば特許文献２に記載される測定装置を用いうる。さらに具体的には、かかる偏光子としてフォトニック結晶偏光子を備え、受光素子として、ラインスキャンカメラの受光素子又は二次元カメラの受光素子を利用したものを用いうる。
【００２５】
位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒは、通常、光学フィルム１２を光学的に観察するものであり、具体的には、光学フィルム１２を透過する光を観察するものとしうる。この例においては、測定装置２００は、光学フィルムの、位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒとは反対側の位置に、測定箇所Ｚ１及びＺ５を照らす光源２８０を備える。光源２８０を設け、かかる光源２８０から出光し光学フィルム１２を透過する光を位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒで受光し測定を行うよう、これらを配置することにより、かかる観察の精度を高めることができる。光源としては、測定に必要な波長の光を安定して出光することができ、且つ、測定箇所を含む領域において均一な出光を行うことができる、冷陰極管、光ファイバー照明、平面発光光源等の既知の光源を用いうる。
【００２６】
位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒのそれぞれは、ＴＤ方向に離隔する複数の測定箇所Ｚ１及びＺ５のそれぞれにおいて、測定箇所Ｚ１及びＺ５を通過する前記光学フィルム１２の面上の複数の測定点Ｐ１及びＰ５の位相差を計測するよう設けられる。即ち、位相差測定器２０１Ｌは、固定された状態で測定箇所Ｚ１及びＺ５の両方において光学フィルム１２の位相差を同時に計測し、位相差測定器２０１Ｒも、固定された状態で測定箇所Ｚ１及びＺ５の両方において光学フィルム１２の位相差を同時に計測するよう設けられる。
【００２７】
図２は、図１に示した測定装置２００における、位相差測定器と、測定箇所における光学フィルム上の測定点との関係を説明する断面図である。図２においては、測定装置２００における位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒと、測定箇所Ｚ１及びＺ５における光学フィルム１２上の測定点Ｐ１及びＰ５とが示される。図２において、光学フィルム１２は、ＴＤ方向及びＴＨ方向に平行な面で切断した断面として示される。この例においては、位相差測定器２０１Ｌが測定点Ｐ１及びＰ２を観察する方向は、光学フィルム１２の垂線Ｌｙに対し、ＴＤ（Ｌ）方向に傾いており、位相差測定器２０１Ｒが測定点Ｐ１及びＰ２を観察する方向は、光学フィルム１２の垂線Ｌｙに対し、ＴＤ（Ｒ）方向に傾いている。
【００２８】
上で説明した位相差測定器を用いた光学フィルムの測定において、光学フィルムの面に対して垂直な方向から測定を行った場合は、光学フィルムの面内位相差Ｒｅを通常測定しうる。しかしながら、光学フィルムの面に対して非垂直な方向から測定を行った場合、当該方向から観察された、斜め方向の位相差が測定される。しかしながら、ある一の測定点について、そのような斜め方向の位相差の測定を、異なる２以上の方向から行うと、測定角度及び測定された２以上の位相差の値を元に面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを、計算により求めうる。したがって、それぞれの測定点における位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒによる測定値を、位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒから出力して計算器２９０に入力し、加えて計算機２９０にそれぞれの測定角度の情報を入力し、計算器２９０において当該計算を行うことにより、それぞれの測定点における面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求めうる。
【００２９】
例えば図２に示す例の測定点Ｐ１においては、位相差測定器２０１Ｌにより、垂線Ｌｙに対して角度θ１Ｌ傾いた方向からの位相差が測定され、且つ、位相差測定器２０１Ｒにより、垂線Ｌｙに対して角度θ１Ｒ傾いた方向からの位相差が測定される。角度θ１Ｌ、角度θ１Ｒ及びそれぞれの位相差の値から、測定点Ｐ１における面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを、計算により求めうる。
【００３０】
ある一の測定点における複数の位相差の測定値及び測定角度から面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求める計算は、楕円の方程式を解くことにより行いうる。図３は、図２に示した測定点Ｐ１における位相差の測定値及び測定角度から、測定点Ｐ１における面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求める計算を概念的に示すグラフである。
【００３１】
図３に示す計算の例では、座標軸に、原点Ｐｏを始点とし、ｙ軸に対して角度θ１Ｒ傾いた線分３２（Ｒ）と、原点Ｐｏを始点とし、ｙ軸に対して角度θ１Ｌ傾いた線分３２（Ｌ）とを描く。線分３２（Ｒ）及び３２（Ｌ）の長さは、それぞれ、位相差測定器２０１Ｒ及び２０１Ｌによる位相差の測定値と、ある比例定数で比例する長さとする。線分３２（Ｒ）の終点Ｐ（Ｒ）と、線分３２（Ｌ）の終点Ｐ（Ｌ）とを通る楕円３１の方程式を求め、さらに当該楕円とｘ軸との交点Ｐｘ及び当該楕円とｙ軸との交点Ｐｙの座標を求める。測定点Ｐ１における面内位相差Ｒｅは、ＰｏとＰｘとの距離及び前記比例定数に基づいて求めることができ、測定点Ｐ１における厚み方向位相差Ｒｔｈは、ＰｏとＰｙとの距離及び前記比例定数に基づいて求めることができる。
【００３２】
このような計算を、測定点Ｐ１及び他の測定点において行うことにより、複数の測定点において、面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求めることができる。したがって、このような測定及び計算を、測定箇所Ｚ１及びＺ５において繰り返し行うことにより、搬送される光学フィルム１２のＴＤ方向に離隔し、且つＭＤ方向に離隔して整列する複数の測定点において、面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈの測定を行うことができる。
【００３３】
単位時間当たりの測定の回数を多くすることにより、ＭＤ方向の測定点の分布をより密にすることができ、より詳細な面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈの情報を得ることができる。ひいては、光学フィルム１２の搬送速度が高速であっても、詳細な面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈの分布を得ることができる。具体的には、測定の回数は、好ましくは３回／秒以上、より好ましくは１０回／秒以上としうる。測定の回数の上限は、位相差測定器及び計算器の性能等の要素により定まり、例えば１００回／秒以下としうる。
【００３４】
図１示す通り、第一実施形態では、測定装置２００を用いた測定方法を実施した後、光学フィルム１２は、巻き取り装置３００により巻き取られ、ロールとされる。計算器２９０による計算結果は、保存し、例えば得られたロール状の光学フィルム１２から製品を切り出す際に使用しうる。より具体的には例えば、所望の寸法の矩形の製品を切り出すにあたり、面内位相差Ｒｅ及び／又は厚さ方向位相差Ｒｔｈが規格外（即ち所望の値の範囲から外れた状態）である箇所を除外して、高品質の製品を得ることができる。本発明の測定方法を実施することにより、測定点の分布が密である詳細な面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈの情報を得ることができるため、規格外の箇所の看過を低減することができ、規格外箇所の除外をより適切に実行することができる。
【００３５】
または、計算器２９０による計算結果を、通信手段２９１により形成装置１００におけるフィードバック装置（不図示）に送信し、本発明の製造方法を実施することもできる。例えば、計算機２９０による計算結果を、形成装置１００における、位相差に影響を与えうるいずれかの構成要素の操作の調整にフィードバックし、それにより、より均質な光学フィルム１２の形成を行うことができる。例えば、ダイ１０１への樹脂の押出速度、ダイ１０１の開口の間隔、フィルムの延伸の倍率及びその他の延伸条件、並びに加熱及び冷却の温度及び温度分布等の操作の程度を調整し、それにより所望の面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを有する光学フィルム１２を連続的に製造することができる。
【００３６】
［第二実施形態］
上に述べた第一実施形態では、測定装置２００における測定箇所として測定箇所Ｚ１及びＺ５の２箇所のみを設定し、光学フィルム１２上にＭＤ方向に連続する測定点Ｐ１の列及びＰ５の列の２列のみにおいて測定を行ったが、本発明はこれに限られず、より好ましい態様として、３列以上の測定点において測定を行ってもよい。
【００３７】
第一実施形態における測定箇所を変更した実施形態を、第二実施形態として以下において説明する。図４は、本発明の第二実施形態の測定装置における、位相差測定器と、測定箇所における光学フィルム上の測定点との関係を説明する断面図である。図２と同様図４においても、光学フィルム１２は、ＴＤ方向及びＴＨ方向に平行な面で切断した断面として示される。
【００３８】
図４に示す第二実施形態は、測定箇所として、測定箇所Ｚ１及びＺ５に加えて、測定箇所Ｚ２〜Ｚ４が設定され、これらの箇所において位相差の測定を行う点において、第一実施形態と異なる。測定箇所Ｚ１〜Ｚ５が設定されることにより、測定箇所Ｚ１及びＺ５を通過する光学フィルム上の測定点Ｐ１及びＰ５に加えて、測定箇所Ｚ２〜Ｚ４を通過する光学フィルム上の測定点Ｐ２〜Ｐ４おいても位相差が測定され、その結果光学フィルム１２上で、ＭＤ方向に連続する測定点Ｐ１の列、ＭＤ方向に連続する測定点Ｐ２の列、ＭＤ方向に連続する測定点Ｐ３の列、ＭＤ方向に連続する測定点Ｐ４の列、及びＭＤ方向に連続する測定点Ｐ５の列の５列において測定が行われる。
【００３９】
測定点Ｐ１〜Ｐ５のそれぞれにおいて、位相差測定器２０１Ｌ及び位相差測定器２０１Ｒの両方により、斜め方向の位相差が測定される。それぞれの測定点における位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒによる測定値を、位相差測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒから出力して計算器に入力し、加えて計算機にそれぞれの測定角度の情報を入力し、計算器において計算を行うことにより、それぞれの測定点における面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求めうる。
【００４０】
このように、第一実施形態より多い測定箇所において測定を行うことにより、ＴＤ方向の測定点の分布をより密にすることができ、より詳細な面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈの情報を得ることができる。また、幅の広い光学フィルムの製造においても、詳細な面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈの情報を得ることができる。
【００４１】
［第三実施形態］
上に述べた第一実施形態では、位相差測定器として光学フィルムの左側及び右側の端部に２の位相差測定器のみを設けたが、本発明はこれに限られず、より好ましい態様として、３以上の位相差測定器を設けてもよい。
【００４２】
より具体的に説明すると、光学フィルムの左側及び右側の端部に２の位相差測定器のみを設けた場合、両方の位相差測定器から遠い測定箇所においては、両方の位相差測定器の仰角（垂直方向を０°とした観察角度）が大きくなり、測定誤差が大きくなりうる。また、左側及び右側の端部の位相差測定器の両方から等しい距離の位置に、これらの位相差測定器による２の測定値のみでは面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求めることができない特異点がある。ここで、左側及び右側の端部の位相差測定器の間に、さらに追加の位相差測定器を設けることにより、測定誤差の低減を図ることができ、且つ、特異点において面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求めることを可能としうる。
【００４３】
第二実施形態における位相差測定器の数を変更した実施形態を、第三実施形態として以下において説明する。図５は、本発明の第三実施形態の測定装置における、位相差測定器と、測定箇所における光学フィルム上の測定点との関係を説明する断面図である。図４と同様図５においても、光学フィルム１２は、ＴＤ方向及びＴＨ方向に平行な面で切断した断面として示される。
【００４４】
図５に示す第三実施形態は、複数の位相差測定器として、左側の端部測定用の位相差測定器２０１Ｌ、及び右側の端部測定用の位相差測定器２０１Ｒに加えて、測定箇所Ｚ３の垂直上方に設けられた、中央部測定用の位相差測定器２０１Ｃを備える点において、第二実施形態と異なる。
【００４５】
この例において、位相差測定器２０１Ｃは、測定箇所Ｚ１〜Ｚ５において位相差を測定する。したがって、この例においては、測定箇所Ｚ１〜Ｚ５を通過する光学フィルム１２上の測定点Ｐ１〜Ｐ５のそれぞれにおいて、位相差測定器２０１Ｌ、２０１Ｃ及び２０１Ｒの３つの位相差測定器により、斜め方向又は垂直方向から観察した位相差が測定される。それぞれの測定点における３つの位相差測定器による測定値を、位相差測定器から出力して計算器に入力し、加えて計算機にそれぞれの測定角度の情報を入力し、計算器において計算を行うことにより、それぞれの測定点における面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求めうる。
【００４６】
ある一の測定点における複数の位相差の測定値及び測定角度から面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求める計算は、第一実施形態について説明した場合と同様に、楕円の方程式を解くことにより行いうる。但し、第三実施形態では、３つの座標に基づいて楕円の方程式を求めうるので、誤差の補正等を行うことができ、より正確な測定結果を得ることができる。また、２の測定値のみでは面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求めることができない特異点においても、測定結果を得ることができる。
【００４７】
かかる特異点における計算の例を、図６に示す。図６は、図５に示した測定点Ｐ３における位相差の測定値及び測定角度から、測定点Ｐ３における面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求める計算を概念的に示すグラフである。
【００４８】
図６に示す計算の例では、座標軸に、原点Ｐｏを始点とし、ｙ軸に対して角度θ１Ｒ傾いた線分６２（Ｒ）と、原点Ｐｏを始点とし、ｙ軸に対して角度θ１Ｌ傾いた線分６２（Ｌ）と、原点Ｐｏを始点とし、ｙ軸に平行な線分６２（Ｃ）とを描く。線分６２（Ｒ）、６２（Ｃ）及び６２（Ｌ）の長さは、それぞれ、位相差測定器２０１Ｒ、２０１Ｃ及び２０１Ｌによる位相差の測定値と、ある比例定数で比例する長さとする。
【００４９】
この例において測定点Ｐ３は、測定器２０１Ｌ及び２０１Ｒのいずれとも等しい距離にある特異点であり、従って、図６に示すグラフでは、線分６２（Ｒ）と線分６２（Ｌ）とは、ｙ軸を中心に線対称となる。このような場合において、線分６２（Ｒ）の終点Ｐ（Ｒ）と、線分６２（Ｌ）の終点Ｐ（Ｌ）のみとに基づいて、それらを通る楕円の方程式を求めると、楕円６１以外に加えて、例えば楕円６３のような他の楕円も求められ、したがって解が一つに定まらない。ここでさらに、線分６２（Ｃ）の終点Ｐ（Ｃ）の情報を加えると、楕円６１が定まり、これにより、測定点Ｐ３における面内位相差Ｒｅ及び厚み方向位相差Ｒｔｈを求めることができる。
【００５０】
［光学フィルム］
本発明の測定装置及び測定方法による測定対象の光学フィルム、及び本発明の製造装置及び製造方法により製造しうる光学フィルムは、特に限定されず、種々の用途に用いる光学フィルムとしうる。具体的には、何等かの形で制御された位相差を有することが求められるフィルムとしうる。
【００５１】
光学フィルムは、単層のフィルムであってもよく、複数の層を有する複層フィルムであってもよい。光学フィルムはまた、延伸フィルムであってもよく、延伸されていないフィルムであってもよい。
【００５２】
光学フィルムは、好ましくは８５％〜１００％、より好ましくは９０％〜１００％の全光線透過率を有する。光線透過率は、ＪＩＳ  Ｋ０１１５に準拠して、分光光度計（日本分光社製、紫外可視近赤外分光光度計「Ｖ−５７０」）を用いて測定しうる。
【００５３】
光学フィルムの厚さは、好ましくは１μｍ以上、より好ましくは５μｍ以上、さらに好ましくは１０μｍ以上であり、一方好ましくは３００μｍ以下、より好ましくは２００μｍ以下、さらに好ましくは１００μｍ以下である。
【００５４】
光学フィルムの面内位相差Ｒｅは、（ｎｘ−ｎｙ）×ｄで表される値である。また、厚さ方向位相差Ｒｔｈは、｛（（ｎｘ＋ｎｙ）／２）−ｎｚ｝×ｄで表される値である。ここで、ｎｘは、フィルムの厚み方向に垂直な方向（面内方向）であって最大の屈折率を与える方向の屈折率を表す。ｎｙは、フィルムの前記面内方向であってｎｘの方向に垂直な方向の屈折率を表す。ｎｚは、フィルムの厚み方向の屈折率を表す。ｄは、フィルムの厚みを表す。
【００５５】
本発明の測定方法により測定された位相差が有効に測定された値であるか否かは、既知の位相差測定装置（例えば、王子計測機器社製、「ＫＯＢＲＡ−２１ＡＤＨ」、フォトニックラティス社製、「ＷＰＡ−ｍｉｃｒｏ」）あるいはセナルモン法を用いて光学フィルムの位相差を別途測定することにより確認しうる。また、位相差の測定波長は、光学フィルムの用途に応じて任意の波長に設定しうるが、通常は５５０ｎｍとしうる。
【００５６】
［変形例］
本発明の測定装置及び製造装置並びに本発明の測定方法及び製造方法は、上に述べた第一〜第三実施形態によるものに限られず、例えばこれらの実施形態をさらに変形したものであってもよい。以下において、そのような変形の例を挙げて説明する。
【００５７】
第三実施形態においては、設定された測定箇所Ｚ１〜Ｚ５の５つ全てにおいて、３つの位相差測定器２０１Ｌ、２０１Ｃ及び２０１Ｒによる測定を行ったが、本発明はこのように全ての位相差測定器が全ての測定箇所の測定を行う態様に限られない。例えば３つの位相差測定器を用い、一部又は全部の測定箇所においてそれらのうち２つの位相差測定器のみによる測定を行ってもよい。
【００５８】
具体的には、ある測定箇所において、当該測定箇所に近い一の位相差測定器と、それ以外の一以上の位相差測定器とによる測定を行うことで、その測定箇所における２以上の測定結果を得ることができる。このより具体的な例としては、複数の位相差測定器が、中央部測定用の位相差測定器（Ｃ）、一方の端部測定用の位相差測定器（Ｌ）及び他方の端部測定用の位相差測定器（Ｒ）を含み、測定箇所が、中央部の測定箇所（Ｃ）、位相差測定器（Ｌ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｌ）及び位相差測定器（Ｒ）が位置する側の端部の測定箇所（Ｒ）を含み、測定箇所（Ｃ）における位相差の計測を、位相差測定器（Ｃ）、および位相差測定器（Ｃ）以外の一以上の位相差測定器により行い、測定箇所（Ｌ）における位相差の計測を、位相差測定器（Ｌ）、および位相差測定器（Ｌ）以外の一以上の位相差測定器により行い、測定箇所（Ｒ）における位相差の計測を、位相差測定器（Ｒ）、および位相差測定器（Ｒ）以外の一以上の位相差測定器により行う態様が挙げられる。このように、それぞれの測定箇所において、使用する位相差測定器を適宜選択することにより、比較的誤差が少ない測定箇所からの測定に基づいたデータに基づいた計算を行うことができ、その結果、より正確な面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈを求めることができる。
【００５９】
第三実施形態においては、中央部測定用の位相差測定器２０１Ｃは、左側の端部測定用の位相差測定器２０１Ｌ、及び右側の端部測定用の位相差測定器２０１Ｒの両方から等しい位置に設けたが、本発明なこれに限られず、中央部測定用の位相差測定器は、左側の端部測定用の位相差測定器及び右側の端部測定用の位相差測定器よりも中央部に近い任意の位置に設けうる。例えば、中央部測定用の位相差測定器が、左側の端部測定用の位相差測定器及び右側の端部測定用の位相差測定器のどちらか一方により近い位置に配置されていてもよい。
【００６０】
第一〜第三実施形態において、複数の位相差測定器は、ＴＤ方向に離隔して且つＴＤ方向に整列した態様で設けたが、本発明はこれに限られず、例えば一の位相差測定器が他の位相差測定器より上流又は下流に位置していてもよい。より具体的には例えば、光学フィルム１２の左側の端部の位相差測定器２０１Ｌが、右側の端部の位相差測定器２０１Ｒに比べて相対的に下流に位置していてもよい。この場合、搬送される光学フィルム上のある測定点が位相差測定器２０１Ｒによる測定箇所を通過し、その後位相差測定器２０１Ｌによる測定箇所を通過しうる。この場合、フィルムの搬送速度の情報に基づいて位相差測定器２０１Ｒ及び２０１Ｌによる測定の時間的なずれを、計算機２９０においてオフセットすることにより、ある測定点における、位相差測定器２０１Ｌによる測定結果及び位相差測定器２０１Ｒによる測定結果の情報を得ることができる。一の位相差測定器を他の位相差測定器より上流又は下流に位置させることにより、それぞれの位相差測定器による測定条件を自由に最適化することが可能となる。
【００６１】
第一〜第三実施形態においては、測定装置２００における位相差測定器は２つ又は３つであり、測定箇所は２箇所又は５か所であったが、本発明はこれに限られず、例えば一つの測定装置に４つ以上の位相差測定器を設けてもよく、また、測定箇所は３箇所、４箇所、６箇所以上等の任意の数としうる。例えば、解像度の高い位相差測定器を用い、ＴＤ方向に多数の測定箇所を設けることができる。多数の測定箇所を設け、測定箇所の間隔を短くすることにより、ＴＤ方向の測定点の分布をさらにより密にすることができ、より詳細な面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈの情報を得ることができる。測定箇所のＴＤ方向の間隔は、好ましくは１００ｍｍ以下、より好ましくは２５ｍｍ以下としうる。
また例えば、位相差測定器のＴＤ方向の数及び位置は、光学フィルムの幅に適合させて適宜調整しうる。位相差測定器を３つ以上設ける場合、その間隔は均等な間隔であってもよいが、不均等な間隔であってもよい。位相差測定器のＴＤ方向の間隔は、狭いほうが、より詳細な測定を正確に行うことができる。具体的には、位相差測定器のＴＤ方向の間隔は、好ましくは１０００ｍｍ以下、より好ましくは５００ｍｍ以下としうる。また、位相差測定器と光学フィルムとの間隔は、位相差測定器のＴＤ方向の間隔と同程度にすることが、正確な測定を効率的に行う観点から好ましく、従って、好ましくは１０００ｍｍ以下、より好ましくは５００ｍｍ以下としうる。
【００６２】
第一〜第三実施形態においては、位相差測定器は位相差のみを測定し、それに基づいて面内位相差Ｒｅ及び厚さ方向位相差Ｒｔｈのみを取得したが、本発明はこれに限られず、例えば、位相差測定器により、位相差に加えて、光学フィルムの光学軸の方位等の他の光学的な情報を併せて測定し、これを計算機において計算し、測定方向の仰角によるずれを補正し、情報として取得してもよい。
【００６３】
第一〜第三実施形態においては、長尺の光学フィルムを製造及び測定する形態を例示したが、本発明はこれに限られず、例えば、枚葉状のフィルムを連続して製造及び搬送する製造ラインにも適用しうる。
【００６４】
第一〜第三実施形態においては、計算工程は計算機２９０により行ったが、本発明の測定方法及び本発明の製造方法はこれに限られず、操作者が、位相差測定器から出力された情報に基づいて操作者が手動で計算を行ってもよい。また、第一〜第三実施形態においては、フィードバック工程は、計算機２９０による計算結果を通信手段２９１を介してフィードバック装置に送信することによりフィードバック工程を行ったが、本発明の製造方法はこれに限られず、計算機による計算結果又は操作者による手動の計算結果に基づき、操作者が手動でフィードバック工程を行ってもよい。
【符号の説明】
【００６５】
１０：製造装置
１００：形成装置
２００：測定装置
３００：巻き取り装置
１０１：ダイ
１０２：キャストロール
１１：溶融樹脂
１２：光学フィルム
２８０：光源
２９０：計算器
２０１Ｌ、２０１Ｃ、２０１Ｒ：位相差測定器
Ｚ１〜Ｚ５：測定装置における測定箇所
Ｐ１〜Ｐ５：光学フィルム上の測定点
Ｌｙ：垂線
Ｐｏ：原点
３２（Ｒ）：線分
３２（Ｌ）：線分
３１：楕円
Ｐｘ：楕円とｘ軸との交点
Ｐｙ：楕円とｙ軸との交点
６２（Ｒ）：線分
６２（Ｌ）：線分
６２（Ｃ）：線分
６１：楕円
６３：楕円
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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