(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び前記第１層部と重ねられ且つ前記第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートを用いた、測定対象物の変形量測定方法であって、
前記測定対象物に配置された前記シートから、変形後の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを取得し、
前記変形後の画像データに基づいて前記測定対象物の変形量を求める、
ステップを有することを特徴とする変形量測定方法であって、
前記第１層部は前記測定対象物の変形に追従する変形追従部を含み、
前記第２層部は前記測定対象物の変形に追従しない非変形追従部を含み、
前記シートは、前記変形追従部と前記非変形追従部とを接続する変形緩衝部を更に含み、
前記測定対象物の変形量を求めるステップは、前記変形後の画像データに基づいて、前記変形追従部の変形量を求めるステップを有し、
前記変形量測定方法は、基準データを、変形前の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データに基づいて取得するステップを更に有し、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、
前記変形前の画像から前記変形前のモアレの第１ピッチ、及び前記変形前のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第１傾斜角を取得し、
前記変形後の画像から前記変形後のモアレの第２ピッチ、又は前記変形後のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第２傾斜角の少なくとも一方を取得し、
前記第１ピッチ及び前記第１傾斜角と、前記第２ピッチ又は前記第２傾斜角の少なくとも一方と、を使用して、前記第１パターンのピッチの変化量を演算し、
前記第１パターンのピッチの変化量から、前記変形追従部の変形量を求める、
ステップを含み、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、更に、
前記第２ピッチ及び前記第２傾斜角の双方を取得し、
前記第２ピッチに基づいて演算された前記第１パターンのピッチの第１変化量と、前記第２傾斜角に基づいて演算された前記第１パターンのピッチの第２変化量とを比較し、
前記第１変化量と前記第２変化量との差が所定の第１演算しきい値以上であるときに、演算されたピッチの変化量が間違いを含む可能性があることを示すアラームを出力する、
ステップを含む、
変形量測定方法。
【請求項２】
第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び前記第１層部と重ねられ且つ前記第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートを用いた、測定対象物の変形量測定方法であって、
前記測定対象物に配置された前記シートから、変形後の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを取得し、
前記変形後の画像データに基づいて前記測定対象物の変形量を求める、
ステップを有することを特徴とする変形量測定方法であって、
前記第１層部は前記測定対象物の変形に追従する変形追従部を含み、
前記第２層部は前記測定対象物の変形に追従しない非変形追従部を含み、
前記シートは、前記変形追従部と前記非変形追従部とを接続する変形緩衝部を更に含み、
前記測定対象物の変形量を求めるステップは、前記変形後の画像データに基づいて、前記変形追従部の変形量を求めるステップを有し、
前記変形量測定方法は、基準データを、変形前の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データに基づいて取得するステップを更に有し、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、
前記変形前の画像から前記変形前のモアレの第１ピッチ、及び前記変形前のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第１傾斜角を取得し、
前記変形後の画像から前記変形後のモアレの第２ピッチ、又は前記変形後のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第２傾斜角の少なくとも一方を取得し、
前記第１ピッチ及び前記第１傾斜角と、前記第２ピッチ又は前記第２傾斜角の少なくとも一方と、を使用して、前記第１パターンのピッチの変化量を演算し、
前記第１パターンのピッチの変化量から、前記変形追従部の変形量を求める、
ステップを含み、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、前記第１パターンに含まれる線画のピッチが変形追従部の変形前後で変化するピッチ変化領域と、前記第１パターンに含まれる線画のピッチが変形追従部の変形前後で変化しないピッチ不変領域とを区分するステップを有し、
前記変形追従部の変形量は、前記変形後の画像の前記ピッチ変化領域に発生する変形後のモアレから求められ、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、更に、
前記ピッチ不変領域における変形前のモアレ及び変形後のモアレの移動量を演算し、
前記移動量を使用して、前記第１パターンのピッチの変化量を推定し、
前記ピッチ変化領域に発生する前記変形前のモアレ及び前記変形後のモアレから演算される前記第１パターンのピッチの変化量と、前記推定された変化量との差が所定の第２演算しきい値以上であるときに、演算されたピッチの変化量が間違いを含む可能性があることを示すアラームを出力する、
ステップを含む、
変形量測定方法。
【請求項３】
前記第１ピッチ及び前記第１傾斜角を取得するステップは、
前記変形前の画像の空間周波数を示す第１空間周波数情報を取得し、
前記第１空間周波数情報から、前記第１ピッチ及び前記第１傾斜角を演算するステップを含み、
前記第２ピッチ又は前記第２傾斜角の少なくとも一方を取得するステップは、
前記変形後の画像の空間周波数を示す第２空間周波数情報を取得し、
前記第２空間周波数情報から、前記第２ピッチ又は前記第２傾斜角の少なくとも一方を演算するステップを含む、
請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、
前記第１方向と前記第２方向との間のオフセット角度を取得するステップを更に含み、
前記第１パターンのピッチの変化量は、前記オフセット角度を更に使用して演算される、
請求項１又は２に記載の方法。
【請求項５】
前記オフセット角度を取得するステップは、前記第１ピッチを使用して、前記オフセット角度を演算するステップを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び前記第１層部と重ねられ且つ前記第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートを用いた、測定対象物の変形量測定プログラムであって、
前記測定対象物に配置された前記シートから、変形後の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを取得し、
前記変形後の画像データに基づいて前記測定対象物の変形量を求める、
ステップをコンピュータに実現させることを特徴とし、
前記第１層部は前記測定対象物の変形に追従する変形追従部を含み、
前記第２層部は前記測定対象物の変形に追従しない非変形追従部を含み、
前記シートは、前記変形追従部と前記非変形追従部とを接続する変形緩衝部を更に含み、
前記測定対象物の変形量を求めるステップは、前記変形後の画像データに基づいて、前記変形追従部の変形量を求めるステップを有し、
前記変形量測定プログラムは、基準データを、変形前の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データに基づいて取得するステップ、を更に前記コンピュータに実現させ、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、
前記変形前の画像から前記変形前のモアレの第１ピッチ、及び前記変形前のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第１傾斜角を取得し、
前記変形後の画像から前記変形後のモアレの第２ピッチ、又は前記変形後のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第２傾斜角の少なくとも一方を取得し、
前記第１ピッチ及び前記第１傾斜角と、前記第２ピッチ又は前記第２傾斜角の少なくとも一方と、を使用して、前記第１パターンのピッチの変化量を演算し、
前記第１パターンのピッチの変化量から、前記変形追従部の変形量を求める、
ステップを含み、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、更に、
前記第２ピッチ及び前記第２傾斜角の双方を取得し、
前記第２ピッチに基づいて演算された前記第１パターンのピッチの第１変化量と、前記第２傾斜角に基づいて演算された前記第１パターンのピッチの第２変化量とを比較し、
前記第１変化量と前記第２変化量との差が所定の第１演算しきい値以上であるときに、演算されたピッチの変化量が間違いを含む可能性があることを示すアラームを出力する、
ステップを含む、
変形量測定プログラム。
【請求項７】
第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び前記第１層部と重ねられ且つ前記第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートを用いた、測定対象物の変形量測定プログラムであって、
前記測定対象物に配置された前記シートから、変形後の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを取得し、
前記変形後の画像データに基づいて前記測定対象物の変形量を求める、
ステップをコンピュータに実現させることを特徴とし、
前記第１層部は前記測定対象物の変形に追従する変形追従部を含み、
前記第２層部は前記測定対象物の変形に追従しない非変形追従部を含み、
前記シートは、前記変形追従部と前記非変形追従部とを接続する変形緩衝部を更に含み、
前記測定対象物の変形量を求めるステップは、前記変形後の画像データに基づいて、前記変形追従部の変形量を求めるステップを有し、
前記変形量測定プログラムは、基準データを、変形前の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データに基づいて取得するステップ、を更に前記コンピュータに実現させ、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、
前記変形前の画像から前記変形前のモアレの第１ピッチ、及び前記変形前のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第１傾斜角を取得し、
前記変形後の画像から前記変形後のモアレの第２ピッチ、又は前記変形後のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第２傾斜角の少なくとも一方を取得し、
前記第１ピッチ及び前記第１傾斜角と、前記第２ピッチ又は前記第２傾斜角の少なくとも一方と、を使用して、前記第１パターンのピッチの変化量を演算し、
前記第１パターンのピッチの変化量から、前記変形追従部の変形量を求める、
ステップを含み、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、前記第１パターンに含まれる線画のピッチが変形追従部の変形前後で変化するピッチ変化領域と、前記第１パターンに含まれる線画のピッチが変形追従部の変形前後で変化しないピッチ不変領域とを区分するステップを有し、
前記変形追従部の変形量は、前記変形後の画像の前記ピッチ変化領域に発生する変形後のモアレから求められ、
前記変形追従部の変形量を求めるステップは、更に、
前記ピッチ不変領域における変形前のモアレ及び変形後のモアレの移動量を演算し、
前記移動量を使用して、前記第１パターンのピッチの変化量を推定し、
前記ピッチ変化領域に発生する前記変形前のモアレ及び前記変形後のモアレから演算される前記第１パターンのピッチの変化量と、前記推定された変化量との差が所定の第２演算しきい値以上であるときに、演算されたピッチの変化量が間違いを含む可能性があることを示すアラームを出力する、
ステップを含む、
変形量測定プログラム。
【請求項８】
測定対象物に配置され、第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び前記第１層部と重ねられ且つ前記第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートから、変形後の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを受信するサーバ受信部と、
前記変形後の画像データに基づいて前記測定対象物の変形量を求めるサーバ処理部と、
前記測定対象物の変形量を端末装置に送信するサーバ送信部と、
を有することを特徴とするサーバ装置であって、
前記第１層部は前記測定対象物の変形に追従する変形追従部を含み、
前記第２層部は前記測定対象物の変形に追従しない非変形追従部を含み、
前記シートは、前記変形追従部と前記非変形追従部とを接続する変形緩衝部を更に含み、
前記サーバ処理部は、前記変形後の画像データに基づいて、前記変形追従部の変形量を求め、
前記サーバ装置は、前記変形前の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データと、シート識別情報とを関連付けて記憶するサーバ記憶部を更に有し、
前記サーバ処理部は、前記変形後の画像データのシート識別情報を決定し、決定したシート識別情報に関連付けられ変形前の画像データを前記サーバ記憶部から取得するシート識別情報参照部を有し、
前記サーバ処理部は、更に、基準データを、変形前の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データに基づいて取得し、
前記サーバ処理部は、更に、
前記変形前の画像から前記変形前のモアレの第１ピッチ、及び前記変形前のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第１傾斜角を取得し、
前記変形後の画像から前記変形後のモアレの第２ピッチ、又は前記変形後のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第２傾斜角の少なくとも一方を取得し、
前記第１ピッチ及び前記第１傾斜角と、前記第２ピッチ又は前記第２傾斜角の少なくとも一方と、を使用して、前記第１パターンのピッチの変化量を演算し、
前記第１パターンのピッチの変化量から、前記変形追従部の変形量を求め、
前記サーバ処理部は、更に、
前記第２ピッチ及び前記第２傾斜角の双方を取得し、
前記第２ピッチに基づいて演算された前記第１パターンのピッチの第１変化量と、前記第２傾斜角に基づいて演算された前記第１パターンのピッチの第２変化量とを比較し、
前記第１変化量と前記第２変化量との差が所定の第１演算しきい値以上であるときに、演算されたピッチの変化量が間違いを含む可能性があることを示すアラームを出力する、
サーバ装置。
【請求項９】
測定対象物に配置され、第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び前記第１層部と重ねられ且つ前記第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートから、変形後の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを受信するサーバ受信部と、
前記変形後の画像データに基づいて前記測定対象物の変形量を求めるサーバ処理部と、
前記測定対象物の変形量を端末装置に送信するサーバ送信部と、
を有することを特徴とするサーバ装置であって、
前記第１層部は前記測定対象物の変形に追従する変形追従部を含み、
前記第２層部は前記測定対象物の変形に追従しない非変形追従部を含み、
前記シートは、前記変形追従部と前記非変形追従部とを接続する変形緩衝部を更に含み、
前記サーバ処理部は、前記変形後の画像データに基づいて、前記変形追従部の変形量を求め、
前記サーバ装置は、前記変形前の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データと、シート識別情報とを関連付けて記憶するサーバ記憶部を更に有し、
前記サーバ処理部は、前記変形後の画像データのシート識別情報を決定し、決定したシート識別情報に関連付けられ変形前の画像データを前記サーバ記憶部から取得するシート識別情報参照部を有し、
前記サーバ処理部は、更に、基準データを、変形前の前記第１パターンと前記第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データに基づいて取得し、
前記サーバ処理部は、更に、
前記変形前の画像から前記変形前のモアレの第１ピッチ、及び前記変形前のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第１傾斜角を取得し、
前記変形後の画像から前記変形後のモアレの第２ピッチ、又は前記変形後のモアレの延伸方向の前記第２方向に対する第２傾斜角の少なくとも一方を取得し、
前記第１ピッチ及び前記第１傾斜角と、前記第２ピッチ又は前記第２傾斜角の少なくとも一方と、を使用して、前記第１パターンのピッチの変化量を演算し、
前記第１パターンのピッチの変化量から、前記変形追従部の変形量を求め、
前記サーバ処理部は、更に、前記第１パターンに含まれる線画のピッチが変形追従部の変形前後で変化するピッチ変化領域と、前記第１パターンに含まれる線画のピッチが変形追従部の変形前後で変化しないピッチ不変領域とを区分し、
前記変形追従部の変形量は、前記変形後の画像の前記ピッチ変化領域に発生する変形後のモアレから求められ、
前記サーバ処理部は、更に、
前記ピッチ不変領域における変形前のモアレ及び変形後のモアレの移動量を演算し、
前記移動量を使用して、前記第１パターンのピッチの変化量を推定し、
前記ピッチ変化領域に発生する前記変形前のモアレ及び前記変形後のモアレから演算される前記第１パターンのピッチの変化量と、前記推定された変化量との差が所定の第２演算しきい値以上であるときに、演算されたピッチの変化量が間違いを含む可能性があることを示すアラームを出力する、
サーバ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、変形量測定方法、プログラム、サーバ装置、およびシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、建造物等の測定対象物の歪み、損傷等を検出するための方法が種々提案されている。例えば建造物等の構造物のコンクリート壁の変形は、構造物に深刻な損傷をもたらす。このような変形の進行を監視する方法としては、歪みゲージ又はルーラーによる測定がしられている。しかし、これらの方法は、歪みゲージ又はルーラーを用いるという測定方法に起因して、測定者による測定値のばらつき（すなわち測定誤差）を有する可能性があり、変形の正確な検出という要求を十分満たすものではない。加えて、測定は測定対象物の付近で行う必要がある。よって、測定対象物に近づく必要がなく、且つ正確で簡便な変形測定を可能にする方法に対する要求がある。
【０００３】
また、２つの周期的パターンを重ね合わせたときの干渉により生じるモアレを利用したセキュリティ文書、及び歪み測定装置が知られる。
【０００４】
特許文献１には、周期的な第１パターン及び第２パターンを有し且つ少なくとも部分的に透明な第１基板及び第２基板を有するセキュリティ文書が記載される。特許文献１に記載されるセキュリティ文書では、第１基板及び第２基板を曲げることによって第１パターン及び第２パターンにより発生するモアレが観察される。
【０００５】
特許文献２には、底部層は、第一の間隔で平行に配置された第１パターンを含む底部層と、第２の間隔で平行に配置された第２パターンを含む上部層とを有する歪み測定装置が記載される。特許文献２に記載される歪み測定装置では、第１パターンと第２パターンを互いに重ねることで発生するモアレパターンの空間位相の試料の歪みによる変化を遠隔カメラで撮像することで試料の歪みが測定される。
【０００６】
特許文献３には、半導体チップの表面にモアレ干渉検出用パターンを形成し、パターンを用いたモアレ干渉法により、応力の発生に伴うチップの変形を検出して、フリップチップ実装された半導体チップに生じる応力の分布を検出する方法が記載される。
【０００７】
特許文献４には、複数の素子が形成される基板に処理を実行したときの歪を計測する方法が記載される。特許文献４に記載される歪み測定方法では、複数の素子が形成される基板に処理が実行される前に、一定の周期を有する周期パターンを形成する共に、一定の周期を有する周期パターンが形成された参照基板を準備する。次いで、特許文献４に記載される歪み測定方法では、処理を実行された基板を参照基板に重ねて、周期パターンの重なりにより生じる縞を観測する。そして、特許文献４に記載される歪み測定方法では、観測段階における観測結果から基板の歪が計測される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】国際公開第２０１３／１４３００８号
【特許文献２】国際公開第２０１１／０３４９１０号
【特許文献３】特開平１１−３０４６０２号公報
【特許文献４】特開２００９−２９４００１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、測定対象物の変形量を定量的且つ簡便に検査することを可能にする変形量測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の方法は、第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び第１層部と重ねられ且つ第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートを用いた、測定対象物の変形量測定方法であって、測定対象物に配置されたシートから、変形後の第１パターンと第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを取得し、変形後の画像データに基づいて測定対象物の変形量を求める、ステップを有する。
【００１１】
上記の方法では、第１層部は測定対象物の変形に追従する変形追従部を含み、第２層部は測定対象物の変形に追従しない非変形追従部を含み、シートは、変形追従部と非変形追従部とを接続する変形緩衝部を更に含み、測定対象物の変形量を求めるステップは、変形後の画像データに基づいて、変形追従部の変形量を求めるステップを有することが好ましい。
【００１２】
上記の方法では、基準データを、変形前の第１パターンと第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データに基づいて取得するステップを更に有することが好ましい。
【００１３】
上記の方法では、変形追従部の変形量を求めるステップは、変形前の画像から変形前のモアレの第１ピッチ、及び変形前のモアレの延伸方向の第２方向に対する第１傾斜角を取得し、変形後の画像から変形後のモアレの第２ピッチ、又は変形後のモアレの延伸方向の第２方向に対する第２傾斜角の少なくとも一方を取得し、第１ピッチ及び第１傾斜角と、第２ピッチ又は第２傾斜角の少なくとも一方とを使用して、第１パターンのピッチの変化量を演算し、第１パターンのピッチの変化量から、変形追従部の変形量を求める、ステップを含むことが好ましい。
【００１４】
上記の方法では、第１ピッチ及び第１傾斜角を取得するステップは、変形前の画像の空間周波数を示す第１空間周波数情報を取得し、第１空間周波数情報から、第１ピッチ及び第１傾斜角を演算するステップを含み、第２ピッチ又は第２傾斜角の少なくとも一方を取得するステップは、変形後の画像の空間周波数を示す第２空間周波数情報を取得し、第２空間周波数情報から、第２ピッチ又は第２傾斜角の少なくとも一方を演算するステップを含むことが好ましい。
【００１５】
上記の方法では、変形追従部の変形量を求めるステップは、第１方向と第２方向との間のオフセット角度を取得するステップを更に含み、第１パターンのピッチの変化量は、オフセット角度を更に使用して演算されることが好ましい。
【００１６】
上記の方法では、オフセット角度を取得するステップは、第１ピッチを使用して、オフセット角度を演算するステップを含むことが好ましい。
【００１７】
上記の方法では、変形追従部の変形量を求めるステップは、第２ピッチ及び第２傾斜角の双方を取得し、第２ピッチに基づいて演算された第１パターンのピッチの第１変化量と、第２傾斜角に基づいて演算された第１パターンのピッチの第２変化量とを比較し、第１変化量と第２変化量との差が所定の第１演算しきい値以上であるときに、演算されたピッチの変化量が間違いを含む可能性があることを示すアラームを出力する、ステップを含むことが好ましい。
【００１８】
上記の方法では、変形追従部の変形量を求めるステップは、第１パターンに含まれる線画のピッチが変形追従部の変形前後で変化するピッチ変化領域と、第１パターンに含まれる線画のピッチが変形追従部の変形前後で変化しないピッチ不変領域とを区分するステップを有し、変形追従部の変形量は、変形後の画像のピッチ変化領域に発生する変形後のモアレから求めることが好ましい。
【００１９】
上記の方法では、変形追従部の変形量を求めるステップは、ピッチ不変領域における変形前のモアレ及び変形後のモアレの移動量を演算し、移動量を使用して、第１パターンのピッチの変化量を推定し、ピッチ変化領域に発生する変形前のモアレ及び変形後のモアレから演算される第１パターンのピッチの変化量と、推定された変化量との差が所定の第２演算しきい値以上であるときに、演算されたピッチの変化量が間違いを含む可能性があることを示すアラームを出力する、ステップを更に含むことが好ましい。
【００２０】
上記の方法では、変形追従部の変形量が所定の変形量しきい値以上であるときに、変形追従部の変形量が基準値を超えたことを示す変形量アラームを出力するステップをさらに含むことが好ましい。
【００２１】
本発明のプログラムは、第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び第１層部と重ねられ且つ第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートを用いた、測定対象物の変形量測定プログラムであって、測定対象物に配置されたシートから、変形後の第１パターンと第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを取得し、変形後の画像データに基づいて測定対象物の変形量を求める、ステップをコンピュータに実現させる。
【００２２】
本発明のサーバ装置は、測定対象物に配置され、第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び第１層部と重ねられ且つ第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートから、変形後の第１パターンと第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを受信するサーバ受信部と、変形後の画像データに基づいて測定対象物の変形量を求めるサーバ処理部と、測定対象物の変形量を端末装置に送信するサーバ送信部と、を有する。
【００２３】
上記のサーバ装置は、変形前の第１パターンと第２パターンが重ねられたことにより発生する変形前のモアレを含む変形前の画像に対応する変形前の画像データと、シート識別情報とを関連付けて記憶するサーバ記憶部を更に有し、サーバ処理部は、変形後の画像データのシート識別情報を決定し、決定したシート識別情報に関連付けられ変形前の画像データをサーバ記憶部から取得するシート識別情報参照部を有することが好ましい。
【００２４】
本発明のシステムは、互いに通信可能な端末装置及びサーバ装置を含むシステムであって、端末装置は、測定対象物に配置され、第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンを有する第１層部、及び第１層部と重ねられ且つ第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部を含むシートから、変形後の第１パターンと第２パターンが重ねられたことにより発生する変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データを取得する画像データ取得部と、変形後の画像データをサーバ装置に送信し、変形追従部の変形量をサーバ装置から受信する端末通信部と、受信された測定対象物の変形量を表示する表示部と、を有し、サーバ装置は、変形後の画像データを記憶する記憶部と、変形後の画像データに基づいて測定対象物の変形量を求めるサーバ処理部と、端末装置から変形後の画像データを受信し、測定対象物の変形量を端末装置に送信するサーバ通信部と、を有する。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、測定対象物の変形量を定量的且つ簡便に検査することを可能にする変形量測定方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の一態様に係るシートの例を示す第１の図である。
【図２】本発明の一態様に係るシートの例を示す第２の図である。
【図３】本発明の一態様に係るシートの例を示す第３の図である。
【図４】本発明における非変形追従部の変形量の測定方法を説明する図である。
【図５】（Ａ）は変形追従部の平面図であり、（Ｂ）は非変形追従部の平面図であり、（Ｃ）は変形追従部に非変形追従部を重ね合わせたシートの平面図であり、（Ｄ）は（Ｃ）の部分拡大図である。
【図６】（Ａ）は変形追従部が変形する前のシートの部分拡大平面図であり、（Ｂ）は変形追従部が変形した後のシートの部分拡大平面図である。
【図７】（Ａ）は変形試験が実施された実施形態に係るシートの平面図であり、（Ｂ）は（Ａ）のシートのピッチ変化領域の変形に伴うモアレの形態の変化を示す図である。
【図８】第１実施形態に係る変形量測定装置の正面図である。
【図９】図８に示す変形量測定装置のブロック図である。
【図１０】図９に示す変形量測定装置による撮像処理のフローチャートである。
【図１１】初期画面の一例を示す図である。
【図１２】（Ａ）は変形前画像表示画面の一例を示す図であり、（Ｂ）は変形後画像表示画面の一例を示す図である。
【図１３】設定画面の一例を示す図である。
【図１４】（Ａ）は図９に示す変形量測定装置による変形量測定処理のフローチャートであり、（Ｂ）は（Ａ）のＳ１０５の処理のより詳細なフローチャートである。
【図１５】（Ａ）は、撮像部が撮像した画像の一例を示す図であり、（Ｂ）は（Ａ）に示す画像を処理した第１処理画像であり、（Ｃ）は（Ｂ）に示す第１処理画像を更に処理した第２処理画像であり、（Ｄ）は（Ｃ）に示す第２処理画像から抽出される空間周波数情報を示す図である。
【図１６】図１４（Ｂ）に示すＳ２０５の処理を説明するための第１の図である。
【図１７】（Ａ）は図１４（Ｂ）に示すＳ２０５の処理を説明するための第２の図であり、（Ｂ）は図１４（Ｂ）に示すＳ２０５の処理を説明するための第３の図である。
【図１８】変形量出力画面の一例を示す図である。
【図１９】変形量アラーム出力画面の一例を示す図である。
【図２０】第２実施形態に係る変形量測定装置のブロック図である。
【図２１】（Ａ）は図２０に示す変形量測定装置による変形量測定処理のフローチャートであり、（Ｂ）は（Ａ）のＳ３０５の処理のより詳細なフローチャートである。
【図２２】図２１（Ｂ）に示すＳ４０５の処理を説明するための図である。
【図２３】第３実施形態に係る変形量測定装置のブロック図である。
【図２４】（Ａ）は図２３に示す変形量測定装置による変形量測定処理のフローチャートであり、（Ｂ）は（Ａ）のＳ５０５の処理のより詳細なフローチャートである。
【図２５】図２４（Ｂ）に示すＳ６０３の処理を説明するための図である。
【図２６】第４実施形態に係る変形量測定装置のブロック図である。
【図２７】図２６に示す変形量測定装置による変形量測定処理のフローチャートである。
【図２８】図２６に示すＳ７０５の処理のより詳細なフローチャートである。
【図２９】誤演算アラーム出力画面の一例を示す図である。
【図３０】第５実施形態に係る変形量測定装置のブロック図である。
【図３１】図３０に示す変形量測定装置による変形量測定処理のフローチャートである。
【図３２】図３１に示すＳ９０８の処理のより詳細なフローチャートである。
【図３３】図３０に示すピッチ変化量推定部の推定処理を説明するための第１の図であり、（Ａ）はシートの第１変化状態を示す図であり、（Ｂ）はシートの第２変化状態を示す図であり、（Ｃ）はシートの第３変化状態を示す図であり、（Ｄ）はシートの第４変化状態を示す図である。
【図３４】図３０に示すピッチ変化量推定部の推定処理を説明するための第２の図である。
【図３５】第１パターン及び第２パターンの変形例を示す図であり、（Ａ）は格子状の第１パターンを示し、（Ｂ）は唐松模様の第１パターンを示し、（Ｃ）は（Ａ）に示す第１パターンと第２パターンとが重ねられた状態を示す図であり、（Ｄ）は（Ｂ）に示す第１パターンと第２パターンとが重ねられた状態を示す図であり、（Ｅ）は（Ｃ）の第１パターンが２０％伸長した状態の部分拡大図であり、（Ｆ）は（Ｄ）の第１パターンが２０％伸長した状態の部分拡大図である。
【図３６】（Ａ）は唐松模様の第１パターン及び第２パターンを有するシートの空間周波数情報の一例を示す図であり、（Ｂ）はパラボラフィッティングの概要を示す図である。
【図３７】第２ピッチのＹ方向成分の演算処理を説明するための図である。
【図３８】（Ａ）は変形例に係るシートの第１状態を示す図であり、（Ｂ）は（Ａ）に示すシートの第２状態を示す図である。
【図３９】図９に示す記憶部に記憶される履歴テーブルの一例を示す図であり、画像の関連する情報テーブルの一例であり、（Ｂ）はシート型番に関する情報テーブルの一例である。
【図４０】履歴表示画面の一例を示す図である。
【図４１】実施形態に係る変形量測定システムの概略構成の一例を示す図である。
【図４２】図４１に示すサーバの概略構成の一例を示す図である。
【図４３】図４１に示す端末装置の概略構成の一例を示す図である。
【図４４】図４１に示す変形量測定システムによる変形前画像データ取得処理の動作シーケンスの一例を示す図である。
【図４５】（ａ）は画像関連テーブルの一例の第１状態を示す図であり、（ｂ）は（ａ）に示す画像関連テーブルの第２状態を示す図であり、（ｃ）はシート型番テーブルの一例を示す図である。
【図４６】図４１に示す変形量測定システムによる変形量測定処理の動作シーケンスの一例を示す図である。
【図４７】図４６に示すＳ１２１５の処理のより詳細なフローチャートであり、図４５に示すＳ１２１７の処理のより詳細なフローチャートである。
【図４８】（ａ）は図４５（ａ）に示す画像関連テーブルの第３状態を示す図であり、（ｂ）は図４５（ａ）に示す画像関連テーブルの第４状態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態について説明する。ただし、本発明は図面又は以下に記載される実施形態には限定されないことを理解されたい。
【００２８】
図１〜３は、本発明の一態様に係るシートの例を示す図であり、シート１０１が測定対象物１０２に固定されている状態を示している。図１〜３を参照し、シート１０１は、変形追従部１１１、非変形追従部１１２、及びこれらの間に存在する変形緩衝部１１３を有する。典型的な態様において、シートは、図１〜３に示すように、変形追従部及び非変形追従部がシートの第１及び第２の主面をそれぞれ含む。
【００２９】
本開示で、変形追従部とは、シートを測定対象物に固定した状態で該測定対象物に変形量が生じた際に、該測定対象物の変形に追従して変形する能力を有する部位である。
本開示で、非変形追従部とは、上記変形追従部に変形が生じた際に該変形に実質的に追従せず、従って実質的に変形が生じない部位である。
本開示で、変形緩衝部とは、上記非変形追従部が上記変形追従部の変形によって実質的に変形しないために十分な変形緩衝能力を有する部位である。
【００３０】
シートは、単層又は複数層で構成されていることができる。シートは、変形追従部、非変形追従部、及び変形緩衝部として機能する部位を有していればよい。従って、例示の態様においては、シートが単層であり、該単層が適切な厚み及び物性を有していることによって、変形追従部、非変形追従部、及び変形緩衝部が構成される。また、別の例示の態様においては、シートが、材質、厚み等が互いに異なる複数層で構成され、各層が変形追従部、非変形追従部又は変形緩衝部としてそれぞれ機能することができる。また、更に別の例示の態様においては、シートが、変形追従部及び変形緩衝部として機能する層と、非変形追従部として機能する層との２層で構成されることができ、又は、変形追従部として機能する層と、変形緩衝部及び非変形追従部として機能する層との２層で構成されることができる。以上のように、シートの層構成は、変形追従部、非変形追従部、及び変形緩衝部として機能する部位を有することを条件として任意に設計可能である。例えば、図１は、シートが単層である場合の例を示しており、図２及び３は、シートが３層（例えば後述の伸長性層、非伸長性層及び粘弾性層）である場合の例を示している。
【００３１】
変形追従部は第１方向に延伸する複数の直線を含む第１パターンを有し、非変形追従部は第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の直線を含む第２パターンを有する。本開示のシートは、第１パターンと第２パターンとが生成するモアレ縞が検出可能であるように構成されている。より具体的には、第１パターンは第２パターンを介して視認可能である。ここで第１パターンが第２パターンを介して視認可能であるとは、シートの第１パターン側及び第２パターン側のうち第２パターン側から第１及び第２パターンを観測したときに、第１パターンが第２パターンと共に視覚化できることを意味する。視覚化の手段は任意に選択でき、例えば各種カメラを用いた可視光下でのパターン撮影を例示できる。第１パターンが第２パターンを介して視認可能であるような構成によれば、第１パターンと第２パターンとの干渉によって生成するモアレ縞もまた視認可能であり、該モアレ縞に基づいた測定対象物の３次元の変形の評価が可能である。
【００３２】
従って、本開示のシートによれば、測定対象物の変形を、３次元にて、定量的且つ簡便に評価することが可能である。本開示で、測定対象物の変形を３次元にて評価可能であるとは、測定対象物の全方位の変形の評価が可能であること、すなわち、互いに直交するＸ、Ｙ及びＺの方向の各々、並びにこれらの任意の２つ以上の組合せの方向の何れの変形の評価も可能であることを意図する。また、定量的な評価が可能であるとは、測定対象物の変形量を検出でき、且つ例えば測定者によるばらつき等の測定誤差が生じにくいことを意図する。また、簡便な評価が可能であるとは、例えば、測定対象物に近接する必要がなく遠方からの評価が可能であること等を意図する。
【００３３】
第１パターンが第２パターンを介して視認可能であるための好ましい態様において、本開示のシートの、第１パターンから第２パターンを介してシート表面に至るまでの部位は、典型的には明澄な材料で構成されている。本開示で、「明澄な材料」とは、３００〜８３０ｎｍ波長光における全光線透過率が３０％以上であること、より好ましくは８０％以上であることを意味する。上記全光線透過率は、ヘイズメーター（例えば、ＮＤＨ２０００ヘイズメーター（日本電色工業（株）製  東京都文京区））にて測定される値である。
【００３４】
本開示のシートの重要な特徴の１つは、変形追従部の変形によって第１パターンが歪むこと、及び非変形追従部が有する第２パターンは、上記第１パターンの歪みの影響を実質的に受けないこと、すなわち実質的に歪まないことである。シートは、測定対象物に固定されたときに該測定対象物の変形を第１のパターイメージの歪みによって３次元で検出できる。すなわち、図１及び２に示すような測定対象物の面内方向の変形（図１及び２の（Ａ）は変形前、図１及び２の（Ｂ）は変形後をそれぞれ示す）、図３に示すような測定対象物の厚み方向の変形（図３（Ａ）は変形前、図３（Ｂ）は変形後をそれぞれ示す）、又はこれらの組合せの変形が、第１パターンの歪みを生じさせる。そしてこの第１パターンの歪みと、歪んでいない第２パターンとによって生じるモアレ縞を検出及び解析することにより、該測定対象物に生じた変形を３次元において定量的に評価できる。また測定対象物において変形が生じた位置も特定できる。
【００３５】
本開示のシートを用いて測定対象物の変形を評価する際には、シートのモアレ縞を検出する。モアレ縞の検出機器は、必ずしもシート近傍まで接近する必要はないため、本開示のシートは簡便な評価という点で有利である。加えて、本開示のシートは、安価であり、且つ電源等を必要としないため設置が簡便であるという点でも有利である。
【００３６】
第１パターン及び第２パターンとしては、モアレ縞により変形を評価するのに用いられる従来公知の任意のパターンを採用できる。パターンの詳細、例えばパターン形状の種類、ピッチ等は、目的の変形量等に応じて適宜選択できる。パターン形状としては、グリッド、千鳥模様、ドット、複数の平行な直線等を例示できる。例示の態様において、第１及び第２パターンが、それぞれ幅約０．２ｍｍ〜約０．４ｍｍであり且つピッチ約０．４ｍｍ〜約０．８ｍｍ程度を有するグリッドであることができる。例えば、本開示のシートの好適な用途である建造物の壁面等の変形評価においては、例えば０．１〜２．０ｍｍ程度の変形の検出が所望される場合が多い。このような用途に適したパターンの形状及びピッチの例としては、例えば、一辺が１００ｍｍ程度のサイズのシートにおいて、ピッチ約０．３ｍｍ〜約１．０ｍｍ程度が挙げられる。
【００３７】
好ましい態様において、変形追従部の変形量１００％に対する非変形追従部の変形量の割合は、約３０％以下、約２０％以下、約１０％以下、又は約０％であることができる。上記割合は、後述する変形の測定方法において、シートの少なくとも一部が破断するまでの何れかの任意の時点で満足されればよい。しかし好ましい態様においては、変形追従部の変形量が０ｍｍである状態から該変形量を増大させたときに、例えばシートの少なくとも一部が破断するまでの全時点で、上記割合が満足される。
【００３８】
また、好ましい態様において、変形追従部を１０ｍｍ変形させたときに、非変形追従部が示す変形量は、約３ｍｍ以下、又は約２．０ｍｍ以下、又は約１．０ｍｍ以下、又は約０ｍｍであることができる。
【００３９】
但し上記の変形は、各々、以下の方法又はこれと同等であることが当業者に理解される方法で測定される。
【００４０】
図４は、本発明における非変形追従部の変形量の測定方法を説明する図であり、図４（Ａ）は上面図であり、図４（Ｂ）は側面図である。図４を参照し、所定サイズ（例えば長さ１００ｍｍ×幅２５ｍｍ）の本開示のシート１０１、及び、シートを固定可能な矩形の板１０３（例えば、ステンレス板等の金属板）２枚を準備する。シート１０１が長さ方向Ｌにおいて２枚の板１０３に跨るようにシートの変形追従部１１１側表面を板１０３表面に固定する。固定は接着等により行う。２枚の板１０３の各々を把持具（図示せず）で把持し、２枚の板１０３を互いに引き離す方向に（すなわち図４（Ａ）中の矢印Ａの方向に）、５ｍｍ／秒で板間距離が所定距離（例えば１０ｍｍ）になるまで、引張試験機（例えばＳＨＩＭＡＤＺＵ  ＡＵＴＯＧＲＡＰＨ  ＡＧＳ−Ｘ  株式会社島津製作所製  京都府京都市）で引っ張る（図４（Ｂ）に示すように）。このとき例えば変形追従部が破断した場合にも引っ張り操作は継続する。このときのシートの非変形追従部１１２側表面の長さＬ１を計測（長さが最大となる箇所にて計測）し、試験前の非変形追従部１１２の長さ（例えば上記の１００ｍｍ）を差し引いて、非変形追従部１１２の変形量とする。非変形追従部の変形量が変形追従部の変形量の約３０％以下であること、又は、変形追従部を１０ｍｍ変形させたときの非変形追従部の変形量が約３ｍｍ以下であることは、何れも、第１パターンと第２パターンとが生成するモアレ縞に基づいた変形量の評価の精度が良好であることを示す。
【００４１】
例示の態様において、シートが単層である場合、該単層の材質としては、ポリアクリレート等を例示できる。該単層が薄すぎる場合には、変形追従部の変形によって非変形追従部も変形する場合があり、一方厚すぎる場合には、第１パターンと第２パターンとが観測角によってずれる場合があり、従ってモアレ縞の視認性が低下する場合がある。このような観点から、該単層の厚みは、好ましくは、約１００μｍ〜約１．５ｍｍ、又は約５００μｍ〜約１．０ｍｍである。また、該単層の物性としては、粘性、弾性、又は粘弾性を有することが望ましい。なお本開示でシートが単層であるとは、測定対象物の変形の検出に実質的に寄与しない層（例えば接着層等）の存在を排除しないことを意図する。
【００４２】
好ましい態様において、変形追従部は、第１パターンを有する伸長性層を含む。好ましい態様において、非変形追従部は、第２パターンを有する非伸長性層を含む。好ましい態様において、変形緩衝部は、粘弾性層を含む。好ましい態様において、シートは、伸長性層、非伸長性層及び粘弾性層からなる。但しこの場合測定対象物の変形の検出に実質的に寄与しない層（例えば接着層等）の存在を排除しない。
【００４３】
典型的な態様において、伸長性層と粘弾性層とは、伸長性層自体の粘着性によって、若しくは粘着性層自体の粘着性によって、若しくは別途の接着層によって、又はこれらの２つ以上の組合せによって、互いに接着されている。また典型的な態様において、粘弾性層と非伸長性層とは、粘着性層自体の粘着性によって、若しくは非伸長性層自体の粘着性によって、若しくは別途の接着層によって、又はこれらの組合せによって、互いに接着されている。
【００４４】
＜伸長性層＞
伸長性層は、変形追従部として機能するのに十分な伸長性を有する任意の材料で構成されていることができる。特定の態様において、パターンの視認可能性の観点から伸長性層は明澄である。好ましい態様において、伸長性層は、ポリオレフィン、オレフィンコポリマー、ビニルコポリマー、（メタ）アクリルポリマー、（メタ）アクリルコポリマー及びポリウレタンからなる群から選択される少なくとも１種のポリマーを含む。なお本開示で、「（メタ）アクリル」とは、アクリル又はメタクリルを意味する。
【００４５】
好ましい態様において、伸長性層は、（Ａ）カルボキシ基含有（メタ）アクリルコポリマーと、（Ｂ）アミノ基含有（メタ）アクリルコポリマーとを（Ａ）：（Ｂ）質量比約１０：９０〜約９０：１０で含む。この場合、伸長性層は優れた耐候性、及び被着体への追従性を有することができる。
【００４６】
好ましい態様において、（Ａ）カルボキシ基含有（メタ）アクリルコポリマーは、主成分であるモノエチレン性不飽和モノマーと、カルボキシル基を含有する不飽和モノマーとを含む組成物を共重合させて得たものであることができる。
【００４７】
好ましい態様において、（Ｂ）アミノ基含有（メタ）アクリルコポリマーは、主成分であるモノエチレン性不飽和モノマーと、アミノ基を含有する不飽和モノマーとを含む組成物を共重合させて得たものであることができる。
【００４８】
（Ａ）カルボキシ基含有（メタ）アクリルコポリマー及び（Ｂ）アミノ基含有（メタ）アクリルコポリマーのそれぞれにおいて、上記共重合は、ラジカル重合により行なうことが好ましい。この場合、溶液重合、懸濁重合、乳化重合、塊状重合等の公知の重合方法を用いることができる。開始剤としては過酸化ベンゾイル、ラウロイルパーオキサイド、ビス（４−ターシャリーブチルシクロヘキシル）パーオキシジカーボネートのような有機過酸化物や、２，２’−アゾビスイソブチロニトリル、２，２’−アゾビス−２−メチルブチロニトリル、４，４’−アゾビスー４−シアノバレリアン酸、２，２’−アゾビス（２−メチルプロピオン酸）ジメチル、アゾビス２，４−ジメチルバレロ二トリル（AVN）等のアゾ系重合開始剤が用いられる。この開始剤の使用量としては、モノマー混合物１００質量部あたり、約０.０５質量部〜約５質量部とするのがよい。
【００４９】
伸長性層において、（Ａ）カルボキシル基含有（メタ）アクリルコポリマー及び（Ｂ）アミノ基含有（メタ）アクリルコポリマーの一方のＴｇを０℃以上とし、且つ他方のＴｇを０℃以下とすることが好ましい。高いＴｇを有する（メタ）アクリルコポリマーは伸張性層に高い引張強さを与える一方、低いＴｇを有する(メタ)アクリルコポリマーは伸張性層の伸び特性を良好にするからである。
【００５０】
好ましい態様において、（Ａ）カルボキシ基含有（メタ）アクリルコポリマー及び（Ｂ）アミノ基含有（メタ）アクリルコポリマーの重量平均分子量は、それぞれ、約１０，０００以上、又は約５０，０００以上、又は約１００，０００以上であり、また約１０，０００，０００以下、又は約１，０００，０００以下である。
【００５１】
好ましい態様において、上記モノエチレン性不飽和モノマーとしては、一般式ＣＨ2＝ＣＲ1ＣＯＯＲ2（式中、Ｒ1は水素又はメチル基であり、Ｒ2は直鎖又は分岐状のアルキル基、フェニル基、アルコキシアルキル基、又はフェノキシアルキル基である）で表されるモノマー、スチレン、α−メチルスチレン、ビニルトルエン等の芳香族ビニルモノマー、酢酸ビニル等のビニルエステル類が挙げられる。このようなモノマーとしては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ｎ−ブチル(メタ)アクリレート、イソアミル（メタ）アクリレート、ｎ−ヘキシル（メタ）アクリレート、２−エチルヘキシル（メタ）アクリレート、イソオクチル（メタ）アクリレート、イソノニル（メタ）アクリレート、デシル（メタ）アクリレート、ドデシル（メタ）アクリレート、フェノキシエチル（メタ）アクリレート等のフェノキシアルキル(メタ)アクリレート、メトキシプロピル（メタ）アクリレートや２−メトキシブチル（メタ）アクリレート等のアルコキシアルキル（メタ）アクリレート等が挙げられる。モノエチレン性不飽和モノマーは、所望のガラス転移温度、引張強さ、及び伸び特性を得るために、その目的に応じて１種又は２種以上を使用できる。
【００５２】
例えば、メチルメタクリレート（ＭＭＡ）、ｎ−ブチルメタクリレート（ＢＭＡ）等、単体で重合した場合のホモポリマーが０℃以上のＴｇを有するような（メタ）アクリル系モノマーを主成分として共重合させることにより、容易にＴｇが０℃以上の（メタ）アクリルコポリマーを得ることができる。
【００５３】
また、エチルアクリレート（ＥＡ）、ｎ−ブチルアクリレート（ＢＡ）、２−エチルヘキシルアクリレート（２ＥＨＡ）等、単体で重合した場合のホモポリマーが０℃以下のＴｇを有するような成分を主成分として共重合させることにより、容易にＴｇが０℃以下の（メタ）アクリルコポリマーを得ることができる。
【００５４】
ここで、（Ａ）カルボキシル基含有(メタ)アクリルコポリマー、及び（Ｂ）アミノ基含有(メタ)アクリルコポリマーのガラス転移温度（Ｔｇ）は、各ポリマーがｎ種類のモノマーから共重合されているとして、ＦＯＸの式（下式）より求められる。
１／Ｔｇ＝Ｘ1／（Ｔｇ1＋２７３．１５）＋Ｘ2／（Ｔｇ2＋２７３．１５）＋・・・
＋Ｘn／（Ｔｇn＋２７３．１５）
（Ｔｇ1：成分１のホモポリマーのガラス転移点
Ｔｇ2：成分２のホモポリマーのガラス転移点
Ｘ1:重合の際に添加した成分１のモノマーの重量分率
Ｘ2：重合の際に添加した成分２のモノマーの重量分率
Ｘ1＋Ｘ2+・・・＋Ｘn＝１）
【００５５】
上記モノエチレン性不飽和モノマーと共重合してカルボキシル基含有(メタ)アクリルコポリマーを構成する、カルボキシル基を含有した不飽和モノマーとしては、アクリル酸、メタクリル酸、マレイン酸、イタコン酸、ω−カルボキシポリカプロラクトンモノアクリレート、フタル酸モノヒドロキシエチル（メタ）アクリレート、β−カルボキシエチルアクリレート、２−（メタ）アクリロイルオキシエチルコハク酸、２−（メタ）アクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸等が挙げられる。
【００５６】
カルボキシル基含有（メタ）アクリルコポリマーは、モノエチレン性不飽和モノマーを主成分として（具体的には約８０質量部〜約９５．５質量部の範囲で）、且つカルボキシル基を含有する不飽和モノマーを約０．５質量部〜約２０質量部の範囲で共重合して得るのが好ましい。
【００５７】
上記モノエチレン性不飽和モノマーと共重合してアミノ基含有（メタ）アクリルコポリマーを構成する、アミノ基を含有する不飽和モノマーとしては、Ｎ，Ｎ−ジメチルアミノエチルアクリレート（ＤＭＡＥＡ）、Ｎ，Ｎ−ジメチルアミノエチルメタクリレート（ＤＭＡＥＭＡ）等のジアルキルアミノアルキル（メタ）アクリレート、Ｎ，Ｎ−ジメチルアミノプロピルアクリルアミド（ＤＭＡＰＡＡ）、Ｎ，Ｎ−ジメチルアミノプロピルメタクリルアミド等のジアルキルアミノアルキル（メタ）アクリルアミド、及びビニルイミダゾール等の含窒素複素環を有するビニルモノマーに代表される３級アミノ基を有するモノマー等が挙げられる。
【００５８】
アミノ基含有(メタ)アクリル系ポリマーは、モノエチレン性不飽和モノマーを主成分として（具体的には約８０質量部〜約９５．５質量部の範囲で）、且つアミノ基を含有する不飽和モノマーを約０．５質量部〜約２０質量部の範囲で共重合して得るのが好ましい。
【００５９】
上記のようにカルボキシル基含有(メタ)アクリルコポリマーと、アミノ基含有(メタ)アクリルコポリマーとをそれぞれ別々に重合した後、通常のフィルム成形方法により、伸長性層を形成できる。例えば、これらのポリマーの溶液を混合し、ライナーの剥離面上に塗布し、乾燥・固化させることにより伸長性層を形成することができる。塗布装置としては、通常のコータ、例えば、バーコータ、ナイフコータ、ロールコータ、ダイコータ等を用いることができる。固化操作は、揮発性溶媒を含む塗料の場合の乾燥操作や、溶融した樹脂成分を冷却する操作と同様である。また、伸長性層は、溶融押出成形法によっても形成することができる。
【００６０】
伸長性層の形成において、カルボキシル基含有(メタ)アクリルコポリマーと、アミノ基含有(メタ)アクリルコポリマーとの配合比を変化することにより、所望の引張強さ及び伸び特性を有する伸長性層を得ることができる。具体的には、カルボキシル基含有(メタ)アクリルコポリマーとアミノ基含有(メタ)アクリルコポリマーのうち、Ｔｇが相対的に高いポリマー：Ｔｇが相対的に低いポリマーの配合比を、約１０：９０〜約９０：１０、又は約２０：８０〜約９０：１０、又は約３０：７０〜約９０：１０とすることができる。好ましい態様においては、Ｔｇが相対的に高いコポリマーの量を、Ｔｇが相対的に低いコポリマーの量よりも多くする。
【００６１】
好ましい態様において、伸長性層は、上記（Ａ）カルボキシ基含有（メタ）アクリルコポリマー及び上記（Ｂ）アミノ基含有（メタ）アクリルコポリマーに加え、（Ｃ）カルボキシル基と反応する官能基を有する架橋剤を更に含む。この架橋剤は、（Ａ）カルボキシ基含有（メタ）アクリルコポリマーと（Ｂ）アミノ基含有（メタ）アクリルコポリマーとの架橋に寄与する。このような架橋により網目構造が形成され、伸長性層の低温における伸び特性が更に向上する。有利には、架橋剤は、カルボキシル基と反応することのできる官能基を有し、具体的にはビスアミド系架橋剤（例えば、３Ｍ製ＲＤ１０５４）、アジリジン系架橋剤（例えば、日本触媒製ケミタイトＰＺ３３、アビシア製ＮｅｏＣｒｙｌＣＸ−１００）、カルボジイミド系架橋剤（例えば、日清紡製カルボジライトＶ−０３，Ｖ−０５，Ｖ−０７）、エポキシ系架橋剤（例えば綜研化学製Ｅ−ＡＸ，Ｅ−５ＸＭ，Ｅ５Ｃ）等を使用できる。架橋剤の使用量は、（Ａ）カルボキシル基含有（メタ）アクリルコポリマー１００質量部に対して約０．１〜約５質量部である。
【００６２】
伸長性層は、所望に応じて更に各種の添加剤を１種以上含んでもよい。添加剤としては、酸化防止剤、紫外線吸収剤、光安定剤、可塑剤、滑材、帯電防止剤、難燃剤、充填剤等を例示できる。
【００６３】
好ましい態様において、伸長性層は、例えば数ｍｍ程度の変形に対して破断しないような強度を有している。この観点において、伸長性層は、引張強度約１００ＭＰａ以下を有することが好ましい。またこの観点において、伸長性層の厚みは、例えば、約１０μｍ〜約１５０μｍ、又は約３０μｍ〜約１００μｍであってよい。
【００６４】
好ましい態様において、伸長性層は、第１及び第２の主面を有し、該第１の主面上に第１パターンを有する。第１パターンは例えば印刷層である。例えば、前述したようなポリマーから形成した伸長性フィルムの表面に所望のパターンを直接印刷する方法、支持体上に形成した所望のパターンを有する印刷層を該伸長性フィルム上に転写する方法、等によって、印刷層を有する伸長性層を形成できる。印刷は、インクジェット、グラビア、凸版、フレキソ、スクリーン、静電複写、昇華放熱転写等で行うことができる。例示の態様においては、上記第１の主面が粘弾性層と対向するように伸長性層と粘弾性層とが互いに固定されている。この場合、第１パターンが粘弾性層によって保護され、損傷しにくい点で有利である。別の例示の態様においては、上記第２の主面が粘弾性層と対向してもよい。この場合、第１パターンがコート層等により保護されてもよい。
【００６５】
＜非伸長性層＞
非伸長性層は、非変形追従部として機能するのに十分な非伸長性を有する任意の材料で構成されていることができる。パターンの視認可能性の観点から非伸長性層は典型的には明澄である。
【００６６】
好ましい態様において、非伸長性層は、ポリエステル、ポリオレフィン及びポリビニルからなる群から選択される少なくとも１種のポリマーを含む。非伸長性層は、典型的には硬質フィルムであることができる。硬質フィルムは市販で入手可能なものであってもよく、市販品としては例えばポリエステル、ポリオレフィン、ポリビニル、ポリスチレン、ポリアクリレート、ポリメタクリレート、ポリイミド、ポリウレタン、ポリイミド、ポリアミド、ポリスルホン、ポリエーテル、ポリアセタール、ポリフェニレン、ポリエポキシ樹脂、フェノール樹脂、ナイロン及びポリカーボネート等が挙げられる。
【００６７】
典型的な態様において、非伸長性層は、使用時に環境中に露出する場合がある。従って非伸長性層は優れた耐候性を有していることが好ましい。この観点から好ましい非伸長性層としては、ポリエステルが挙げられる。
【００６８】
典型的な態様において、非伸長性層は、伸長性層に変形が生じたときに実質的に変形しないために十分な強度を有している。この観点において、非伸長性層は、引張強度約５０ＭＰａ以上を有することが好ましい。またこの観点において、非伸長性層の厚みは、例えば、約１０μｍ〜約１５０μｍ、又は約５０μｍ〜約１００μｍであってよい。
【００６９】
好ましい態様において、非伸長性層は、第１及び第２の主面を有し、該第１の主面上に第２パターンを有する。第２パターンは例えば印刷層である。例えば、非伸長性フィルムの表面に所望のパターンを直接印刷する方法、支持体上に形成した所望のパターンを有する印刷層を非伸長性フィルム上に転写する方法、等によって、印刷層を有する非伸長性層を形成できる。印刷は、インクジェット、グラビア、凸版、フレキソ、スクリーン、静電複写、昇華放熱転写等で行うことができる。例示の態様においては、上記第１の主面が粘弾性層と対向するように非伸長性層と粘弾性層とが互いに固定されている。この場合、第２パターンが粘弾性層によって保護され、損傷しにくい点で有利である。別の例示の態様においては、上記第２の主面が粘弾性層と対向してもよい。この場合、第２パターンがコート層等により保護されてもよい。
【００７０】
＜粘弾性層＞
粘弾性層は、変形追従部の変形を弾性変形作用により減衰させる能力を有し、非変形追従部が変形追従部の変形によって実質的に変形しないために十分な変形緩衝能力を有する任意の粘弾性材料で構成されていることができる。パターンの視認可能性の観点から粘弾性層は典型的には明澄である。
【００７１】
好ましい態様において、粘弾性層は、ポリオレフィン及びオレフィンコポリマー（以下、纏めてオレフィン（コ）ポリマーともいう。）、ビニルコポリマー（例えば塩化ビニルポリマー等）、（メタ）アクリルポリマー及び（メタ）アクリルコポリマー（以下、纏めて（メタ）アクリル（コ）ポリマーともいう。）（例えば、ポリ（メタ）アクリレート、アクリル酸及びアクリルアミドの共重合体等）、ポリウレタン（例えばポリエーテルウレタン、ポリエステルウレタン等）、並びにシリコーンポリマー（例えばメチルビニルシリコーン等）からなる群から選択される少なくとも１種のポリマーを含む。また、粘弾性層はゴム層であってもよく、ゴムとしてはブタン系ゴム、ブチル系ゴム等が挙げられる。
【００７２】
（メタ）アクリル（コ）ポリマーの原料モノマーとしては、例えば、炭素数が１４から２２の直鎖又は分岐のアルキル基を有する（メタ）アクリルモノマー（以下、Ｃ１４−２２（メタ）アクリルモノマーともいう。）、例えばイソステアリル（メタ）アクリレート、セチル（メタ）アクリレート、ｎ−ステアリル（メタ）アクリレート、ｎ−ベヘニル（メタ）アクリレート、イソミリスチル（メタ）アクリレート、イソパルミチル（メタ）アクリレート等が挙げられる。
【００７３】
原料モノマーは、不飽和モノカルボン酸（例えば、アクリル酸、メタクリル酸等）、不飽和ジカルボン酸（例えば、マレイン酸、イタコン酸等）、ω−カルボキシポリカプロラクトンモノアクリレート、フタル酸モノヒドロキシエチル（メタ）アクリレート、β−カルボキシエチルアクリレート、２−（メタ）アクリロイルオキシエチルコハク酸、又は２−（メタ）アクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸等のカルボキシル基含有モノマーを含んでもよい。
【００７４】
例えば、原料モノマーが、Ｃ１４−２２（メタ）アクリルモノマーとカルボキシル基含有モノマーとを含む場合、配合は、Ｃ１４−２２モノマー約９２質量％〜約９５質量％に対し、カルボキシル基含有モノマーは約５質量％〜約８質量％であることができる。カルボキシル基含有モノマーの量が約５質量％以上である場合、粘弾性層のせん断貯蔵弾性率Ｇ’が大きく、凝集力が良好である点で有利である。また、損失正接ｔａｎδが大きく変形緩衝性能において有利である。一方、カルボキシル基含有モノマーの量が約８質量％以下である場合、変形緩衝性能の温度依存性が小さい点で有利である。
【００７５】
オレフィン（コ）ポリマーとしては、飽和ポリオレフィン、すなわち、実質的に炭素間二重結合及び三重結合を持たないポリオレフィンが挙げられる。例えば、飽和ポリオレフィンに含まれる炭素間結合のうち、９０％以上が単結合であることが好ましい。飽和ポリオレフィンの例としては、ポリエチレン、ポリブテン、ポリプロピレン、ポリイソブチレン、ポリα−オレフィン、エチレン・プロピレン共重合体、エチレン・α−オレフィン共重合体、プロピレン・α−オレフィン共重合体、水添ポリブタジエン等が挙げられる。これらは単独で用いても、２種以上で組み合わせて用いてもよい。
【００７６】
飽和ポリオレフィンには非結晶性のポリマーを用いることもできる。非結晶性のポリマーとは、結晶化度が極めて低いか、結晶化状態になり得ないポリマーを意図する。非結晶性のポリマーでは、ガラス転移温度は測定されるが、融点は測定されない。非結晶性のポリマーを用いた場合、粘弾性層の０℃〜４０℃でのせん断貯蔵弾性率Ｇ’を、例えば１．５×１０4〜５．０×１０6パスカル（Ｐａ）に調整して、良好な変形緩衝性能を得ると共に粘弾性層と他の層とを良好に接着することができる。
【００７７】
飽和ポリオレフィンブロックと、芳香族ビニルモノマーブロックとを含むブロック共重合体（以下、ブロック共重合体）もまた使用でき、これは、実質的に炭素間二重結合及び三重結合を持たないポリオレフィンからなるブロックと、芳香族ビニルモノマーからなるブロックとを含む。飽和ポリオレフィンブロックに含まれる炭素間結合のうち、９０％以上が単結合であることが好ましい。芳香族ビニルモノマーとしては、スチレン、ｐ−メチルスチレン、α−メチルスチレン、インデン等が挙げられる。これらは単独で用いても、２種以上で組み合わせて用いてもよい。ブロック共重合体としては、たとえば、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロック共重合体、スチレン−エチレン−プロピレンブロック共重合体、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロック共重合体等が挙げられる。
【００７８】
飽和ポリオレフィンブロックは非結晶性のものを用いることもできる。非結晶性のものを用いた場合、粘弾性層の０〜４０℃でのせん断貯蔵弾性率Ｇ’を、例えば約１．５×１０4〜約５．０×１０6パスカル（Ｐａ）に調整して、良好な変形緩衝性能を得ると共に粘弾性層と他の部材とを良好に接着することができる。
【００７９】
飽和ポリオレフィン、及び／又はブロック共重合体の配合比は、（メタ）アクリル（コ）モノマー１００質量部に対して、約２質量部〜約４０質量部とすることができる。約２質量部以上である場合温度依存性の小さい粘弾性層が得られ、約４０質量部以下である場合耐候性が良好であり、長期の使用の信頼性、及び他の部材の接着性において有利である。
【００８０】
（メタ）アクリル（コ）ポリマーの重量平均分子量は、約１０，０００〜約２，０００，０００の範囲とすることができる。上記範囲は、弾性率が高く、長期使用の信頼性において有利である粘弾性層を得る点で有利である。
【００８１】
粘弾性層は、上記のようなポリマーに加え、粘着付与樹脂、例えばロジン系樹脂、変性ロジン系樹脂（水素添加ロジン系樹脂、不均化ロジン樹脂、重合ロジン系樹脂等）、テルペン樹脂、テルペンフェノール樹脂、芳香族変性テルペン樹脂、Ｃ5系及びＣ9系の石油樹脂、クマロン樹脂等を含んでもよい。また、増粘剤、チキソトロープ剤、増量剤、充填剤等の通常用いられる添加剤を含んでもよい。
【００８２】
粘弾性層に使用できる粘弾性材料の例のより詳細な例は、例えば特開２００９−２４９４８５号公報、特開２００６−２８２２４号公報等に記載されている。
【００８３】
粘弾性層が薄すぎる場合には、伸長性層の変形によって非伸長性層も変形する場合があり、一方厚すぎる場合には、第１パターンと第２パターンとが観測角によってずれる場合があり、従ってモアレ縞の視認性が低下する場合がある。好ましい態様において、粘弾性層の厚みは、約１００μｍ〜約１．５ｍｍ、又は約５００μｍ〜約１．０ｍｍである。
【００８４】
＜追加の層＞
シートは、伸長性層、非伸長性層、及び粘弾性層に加えて、追加の層、例えば前述の接着層等を更に有してもよい。接着層は、典型的には、粘着性ポリマーを含有する感圧接着剤層であり、例えば単層フィルム状の感圧接着フィルム、２つの感圧接着層を有する両面接着シート等が挙げられる。
【００８５】
接着層は、例えば、粘着性ポリマーを含有する接着剤の塗膜から形成できる。好ましい接着剤は、粘着性ポリマーと粘着性ポリマーとを架橋する架橋剤とを含有する。本開示で、粘着性ポリマーとは、常温（約２５℃）で粘着性を示すポリマーである。粘着性ポリマーとしては、アクリル系ポリマー、ポリウレタン、ポリオレフィン、ポリエステル等が挙げられる。
【００８６】
＜シートの特性＞
好ましい態様において、シートを引張試験に供したときに、伸長性層は、引張強度０．５ＭＰａ以上１００ＭＰａ以下及び伸び３％以上２００％以下を示す。好ましい態様において、シートを引張試験に供したときに、非伸長性層は、引張強度５０ＭＰａ以上３５０ＭＰａ以下及び伸び１％以上２００％以下を示す。好ましい態様において、シートを引張試験に供したときに、粘弾性層は、引張強度０．０１ＭＰａ以上１００ＭＰａ以下及び伸び１０％以上３０００％以下を示す。
【００８７】
引張強度及び伸びは、ＪＩＳＫ６２５１（２０１０年度版・ＩＳＯ３７）に規定される方法に準拠し、以下の条件で測定される。
・測定サンプル形状：ＪＩＳＫ６２５１に記載される「ダンベル状３号形」
・引張速度：３００ｍｍ／ｍｉｎ
・測定温度：２３±１℃
引張強度Ｔ（単位：ＭＰａ）は、測定サンプルの各層の破断に至るまでの最大引張力Ｆ(単位：Ｎ)と、測定サンプルの各層の断面積Ａ(単位：ｍｍ2)とを測定し、以下の式から求める。
Ｔ＝Ｆ／Ａ
伸びＥ（単位：％）は、測定サンプルにおける各層の破断時の標線間距離Ｌ１(単位：ｍｍ)と、標線間距離Ｌ０（２５ｍｍ）とを測定し、以下の式から求める。
Ｅ＝（Ｌ１−Ｌ０）／Ｌ０×１００
【００８８】
本開示のシートを上記引張試験に供した際には、通常、各層が順次破断し、例示の態様では非伸長性層、粘弾性層及び伸長性層の順に破断する。従って上記方法にて各層の引張強度及び伸びとして測定される値には他の層による寄与が含まれることになるが、本開示ではそのような測定値をシートにおける各層の引張強度及び伸びとして規定する。
【００８９】
好ましい態様において、シートの伸長性層のみをシート面内方向に引っ張ったときに、伸長性層の破断が非伸長性層の破断よりも先に生じる。このことは、図４を参照して上記した変形量の測定方法において、伸長性層の破断が非伸長性層の破断よりも先に生じることによって確認できる。
【００９０】
また、好ましい態様において、伸長性層の上記破断時において、非伸長性層の伸びは、伸長性層の伸びに対して０〜３５％である。この比は、図４を参照して上記した変形量の測定方法において、伸長性層の破断時における、伸長性層の伸びと非伸長性層の伸びとの比として評価できる。このような比は、モアレ縞による測定対象物の変形量の精度良い評価に寄与する。
【００９１】
好ましい態様において、シートの変形追従部側表面は測定対象物に対して接着性を有する。この接着性は、変形追従部（例えば伸長性層）自体の粘着性、又は別途の接着層によって与えられることができる。接着層の好適な態様は前述のとおりである。シートの変形追従部側表面の接着特性としては、ＪＩＳＫ５６００（ＩＳＯ  ２４０９）に準拠した、モルタル板に対する接着力として、剪断方向で約１．０Ｎ／ｃｍ2以上であることが挙げられる。このような接着特性は、例えば測定対象物がコンクリート、金属等である場合にシートを測定対象物に良好に固定できる点で有利である。
【００９２】
好ましい態様において、本開示のシートは、第１及び第２パターンを除く実質的に全ての部位が明澄な材料で構成されている。
【００９３】
＜第１パターン及び第２パターンの態様＞
図５（Ａ）は変形追従部１１１の平面図であり、図５（Ｂ）は非変形追従部１１２の平面図であり、図５（Ｃ）は変形追従部１１１に非変形追従部１１２を重ね合わせたシート１０１の平面図であり、図５（Ｄ）は図５（Ｃ）の部分拡大図である。
【００９４】
変形追従部１１１の第１の主面には、第１方向に延伸する複数の直線を含む第１パターン１２１が形成され、非変形追従部１１２の第１の主面には、第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の直線を含む第２パターン１２２が形成される。すなわち、第１パターン１２１及び第２パターン１２２は、第１パターン１２１に含まれる直線が延伸する第１方向と、第２パターン１２２に含まれる直線が延伸する第２方向との間の角度が一定のオフセット角度offset_θになるように形成される。
【００９５】
図６（Ａ）は変形追従部１１１が変形する前のシート１０１の部分拡大平面図であり、図６（Ｂ）は変形追従部１１１が変形した後のシート１０１の部分拡大平面図である。
【００９６】
変形追従部１１１が変形する前の第１パターン１２１及び第２パターン１２２のそれぞれに含まれる直線のピッチは、pitchである。変形追従部１１１が変形した後、第１パターン１２１に含まれる直線のピッチは、pitch+Δpitch_stに変化する。変形追従部１１１が変形した後においても、非変形追従部１１２は変形しないので、第１パターン１２１に含まれる直線のピッチは、pitchで維持される。
【００９７】
変形追従部１１１が変形する前のモアレのピッチは第１ピッチmoire_pitch1であり、変形追従部１１１が変形する前のモアレの第１方向に直交する第３方向と、モアレの延伸方向との間の傾斜角は、第１傾斜角moire_θ1である。変形追従部１１１が変形した後のモアレのピッチは第２ピッチmoire_pitch2であり、変形追従部１１１が変形した後のモアレの第３方向と、モアレの延伸方向との間の傾斜角は、第２傾斜角moire_θ２である。
【００９８】
＜実施形態に係るシートの変形試験＞
図７（Ａ）は変形試験が実施された実施形態に係るシートの平面図であり、図７（Ｂ）は図７（Ａ）のシートのピッチ変化領域の変形に伴うモアレの形態の変化を示す図である。図７（Ｂ）の左図はシートのピッチ変化領域を伸長させた第１変化状態を示す図であり、図７（Ｂ）の右図はシートの第１変化状態よりもシートのピッチ変化領域を更に伸長させた第２変化状態を示す図である。
【００９９】
変形試験では、シート１０１は、固定されることによりシートの形状が変形しない第１ピッチ不変領域１３１を矢印Ａで示す方向に移動させると共に、固定されることによりシートの形状が変形しない第２ピッチ不変領域１３２を矢印Ｂで示す方向に移動させた。第１ピッチ不変領域１３１及び第２ピッチ不変領域１３２のそれぞれを矢印Ａ及びＢの方向に移動させることにより、第１ピッチ不変領域１３１及び第２ピッチ不変領域１３２の間に位置するピッチ変化領域１３３を伸長させる。
【０１００】
第１ピッチ不変領域１３１に発生するモアレは、ピッチ変化領域１３３の伸長に伴って、図７（Ａ）において矢印Ｃで示すように、ピッチを一定に維持しながら右側に移動する。一方、第２ピッチ不変領域１３２に発生するモアレは、ピッチ変化領域１３３の伸長に伴って、図７（Ａ）において矢印Ｄで示すように、ピッチを一定に維持しながら左側に移動する。すなわち、図７（Ｂ）のモアレＭｂ−１〜Ｍｂ−３は、ピッチ変化領域１３３の伸長に伴って、第１ピッチ不変領域１３１ではピッチを一定に維持しながら右側に移動し、第２ピッチ不変領域１３２ではピッチを一定に維持しながら左側に移動する。第１ピッチ不変領域１３１及び第２ピッチ不変領域１３２のモアレの移動量は、ピッチ変化領域１３３の変形量と相関関係を有するので、第１ピッチ不変領域１３１及び第２ピッチ不変領域１３２のモアレの移動量からピッチ変化領域１３３の変形量が推定可能である。
【０１０１】
ピッチ変化領域１３３に発生するモアレは、ピッチ変化領域１３３の伸長に伴って、ピッチが徐々に狭くなると共に、図７（Ａ）において矢印Ｅで示すように、時計方向に回転する。すなわち、ピッチ変化領域１３３では、図７（Ｂ）のモアレＭｂ−１〜Ｍｂ−３は、ピッチ変化領域１３３の伸長に伴って、ピッチが狭くなると共に時計回りに回転する。ピッチ変化領域１３３のモアレのピッチの変化量は、ピッチ変化領域１３３の変形量と相関関係を有するので、ピッチ変化領域１３３のモアレのピッチの変化量からピッチ変化領域１３３の変形量が演算可能である。また、ピッチ変化領域１３３のモアレの傾斜角の変化量は、ピッチ変化領域１３３の変形量と相関関係を有するので、ピッチ変化領域１３３のモアレの傾斜角の変化量からピッチ変化領域１３３の変形量が演算可能である。
【０１０２】
＜第１実施形態に係る変形量測定装置の構成及び機能＞
図８は第１実施形態に係る変形量測定装置の正面図であり、図９は第１実施形態に係る変形量測定装置のブロック図である。
【０１０３】
変形量測定装置１は、例えば多機能携帯電話（いわゆる「スマートフォン」）であり、無線通信ネットワークへの接続、近距離無線通信、所定のアプリケーションプログラムの実行等を可能とする。そのために、変形量測定装置１は、端末通信部１１と、近距離通信部１２と、操作部１３と、タッチパネル１４と、端末記憶部１５と、撮像部１６と、測位システム部１７と、端末処理部２０とを有する。なお、変形量測定装置１は、通信機能を有する通信装置であればよく、例えば携帯端末（Personal Digital Assistant, PDA）、携帯ゲーム機、携帯音楽プレーヤ、タブレットＰＣ等の端末装置でもよい。
【０１０４】
端末通信部１１は、主に２．１ＧＨｚ帯を感受帯域とするアンテナを含む、通信インターフェース回路を有し、変形量測定装置１を通信ネットワークに接続する。端末通信部１１は、不図示の基地局により割り当てられるチャネルを介して、基地局との間でＣＤＭＡ（Code Division Multiple Access）方式等による無線信号回線を確立し、基地局との間で無線通信を行う。そして、端末通信部１１は、基地局から受信したデータを端末処理部２０に供給する。また、端末通信部１１は、端末処理部２０から供給されたデータを基地局に送信する。なお、端末通信部１１は、ＨＴＴＰ（Hypertext Transfer Protocol）のプロトコルに従って不図示のサーバとの間のデータ通信を行う。また、端末通信部１１は、主に２．４ＧＨｚ帯を感受帯域とするアンテナを含む通信インターフェース回路を有し、基地局を介さずにＷｉ−Ｆｉ（登録商標）等の無線ＬＡＮの基地局を介して無線通信を行う。
【０１０５】
近距離通信部１２は、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ  ＬＥ（Low Energy）（登録商標）等の通信方式に従った近距離無線通信を行うためのインターフェース回路を有し、他の端末装置等との間で近距離無線通信を行う。そして、近距離通信部１２は、他の端末装置等から受信したデータを端末処理部２０に供給する。また、近距離通信部１２は、端末処理部２０から供給されたデータを他の端末装置等に送信する。なお、近距離通信部１２は、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、ＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）、ＺｉｇＢｅｅ等の他の通信方式に従った近距離無線通信を行うためのインターフェース回路を有してもよい。
【０１０６】
操作部１３は、変形量測定装置１の操作が可能であればどのようなデバイスでもよく、例えば、キーパッド等である。ユーザは、このデバイスを用いて、文字、数字等を入力することができる。操作部１３は、ユーザの指示を受け付け、受け付けた指示に対応する信号を発生し、端末処理部２０に出力する。
【０１０７】
タッチパネル１４は、動画像、静止画像等の出力が可能であればどのようなデバイスでもよく、例えば、タッチパネル式の表示装置である。タッチパネル１４は、端末処理部２０から供給される動画像データに応じた動画像、静止画像データに応じた静止画像等を表示する。タッチパネル１４は、タップ、ドラッグ、フリック等の接触により、ユーザの指示を受け付け、受け付けた指示に対応する信号を発生し、端末処理部２０に出力する。
【０１０８】
端末記憶部１５は、例えば、半導体メモリを有する。端末記憶部１５は、端末処理部２０での処理に用いられるドライバプログラム、オペレーティングシステムプログラム、アプリケーションプログラム、データ等を記憶する。例えば、端末記憶部１５は、ドライバプログラムとして、端末通信部１１を制御する携帯電話通信デバイスドライバプログラム、無線ＬＡＮ通信デバイスドライバプログラムを記憶する。また、端末記憶部１５は、近距離通信部１２を制御する近距離無線通信デバイスドライバプログラム、操作部１３を制御する入力デバイスドライバプログラム、タッチパネル１４を制御する出力デバイスドライバプログラム等を記憶する。また、端末記憶部１５は、オペレーティングシステムプログラムとして、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ  ＬＥ（登録商標）規格の近距離無線通信方式を実行する接続制御プログラム、携帯電話及び無線ＬＡＮの接続制御プログラム等を記憶する。また、端末記憶部１５は、アプリケーションプログラムとして、ウェブページの取得及び表示を行うウェブブラウザプログラムを含む種々のプログラムを記憶する。コンピュータプログラムは、例えばフラッシュメモリを含む半導体メモリ等のコンピュータ読み取り可能な可搬型記録媒体から、公知のセットアッププログラム等を用いて端末記憶部１５にインストールされてもよい。
【０１０９】
また、端末記憶部１５は、データとして、撮像処理及び変形量測定処理で使用される情報及びデータ、並びに撮像処理及び変形量測定処理でもとめられたデータを記憶する。さらに、端末記憶部１５は、所定の処理に係る一時的なデータを一時的に記憶してもよい。
【０１１０】
撮像部１６は、アレイ状に配置された撮像素子と、撮像素子を駆動する素子駆動部とを有する。撮像素子は、電荷結合素子（ＣＣＤ）型センサ、又はアクティブピクセルセンサ（ＡＰＳ）型センサと、カラーフィルタとを有し、入射した光に応じた電荷を蓄積する。素子駆動部は、撮像素子のそれぞれで蓄積された電荷を電気信号に変換して端末処理部２０に出力する。
【０１１１】
測位システム部１７は、端末処理部２０からの指示に従って、変形量測定装置１が存在する位置を測定する。測位システム部１７は、主に１．５ＧＨｚ帯を感受帯域とするアンテナを含む、ＧＰＳ回路を有し、不図示のＧＰＳ衛星からＧＰＳ信号を受信する。測位システム部１７は、そのＧＰＳ信号をデコードし、時刻情報等を取得する。そして、測位システム部１７は、その時刻情報等に基づいてＧＰＳ衛星から測位システム部１７までの擬似距離を計算し、その擬似距離を代入して得られる連立方程式を解くことにより、変形量測定装置１が存在する位置（緯度、経度、高度等）を測定し、位置情報として出力する。
【０１１２】
端末処理部２０は、一又は複数個のプロセッサ及びその周辺回路を有する。端末処理部２０は、変形量測定装置１の全体的な動作を統括的に制御するものであり、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）である。端末処理部２０は、変形量測定装置１の各種処理が端末記憶部１５に記憶されているプログラム、操作部１３及びタッチパネル１４の操作等に応じて適切な手順で実行されるように、端末通信部１１、近距離通信部１２等の動作を制御する。端末処理部２０は、端末記憶部１５に記憶されているプログラム（ドライバプログラム、オペレーティングシステムプログラム、アプリケーションプログラム等）に基づいて処理を実行する。また、端末処理部２０は、複数のプログラム（アプリケーションプログラム等）を並列に実行することができる。
【０１１３】
端末処理部２０は、画像データ取得部２１と、ピッチ領域区分部２２と、ピッチ変化量演算部２３と、変形量演算部２４と、変形量比較部２５とを有する。端末処理部２０が有するこれらの各部は、端末処理部２０が有するプロセッサ上で実行されるプログラムによって実装される機能モジュールである。あるいは、端末処理部２０が有するこれらの各部は、独立した集積回路、マイクロプロセッサ、又はファームウェアとして変形量測定装置１に実装されてもよい。
【０１１４】
＜第１実施形態に係る変形量測定装置による撮像処理＞
図１０は変形量測定装置１による撮像処理のフローチャートである。
【０１１５】
タッチパネル１４を介して撮像処理が選択されると、画像データ取得部２１は、初期画面データをタッチパネル１４に出力する（Ｓ１１）。
【０１１６】
図１１は、初期画面データに対応する初期画面の一例を示す図である。
【０１１７】
初期画面１４１は、開始ボタン部１４１１を有する。開始ボタン部１４１１がタッチされると、画像データ取得部２１は、撮像動作を開始する。次いで、不図示のオペレータの操作部１３の押下操作に応じて、画像データ取得部２１は、撮像部１６を介して画像データを取得する（Ｓ１２）。画像データ取得部２１は、撮像部１６を介して画像データを取得するときに、撮像した画像に含まれるシートを識別するためにシート毎に付与されるシートＩＤを生成する。画像データ取得部２１は、撮像した画像に対応する画像データをシートＩＤに関連付けて、端末記憶部１５のテーブルに格納してもよい。また、画像データ取得部２１は、撮像部１６を介して画像データを取得するときに、シートＩＤを選択可能にタッチパネル１４に表示してもよい。次いで、画像データ取得部２１は、Ｓ１２で取得した画像データが変形前のシート１０１の画像データであるか、変形後のシート１０１の画像データであるかを判定する（Ｓ１３）。一例では、画像データ取得部２１は、撮像した画像が変形前後の何れかのシート１０１の画像であるかを不図示のオペレータが選択可能な画像をタッチパネル１４に表示する。そして、画像データ取得部２１は、不図示のオペレータの選択に応じて、取得した画像データが変形前後の何れの画像データであるかを判定する。
【０１１８】
初期画面１４１は、取得した画像データが変形前のシート１０１の画像データであると判定すると、変形前画像表示画面データをタッチパネル１４に出力する（Ｓ１４）。また、初期画面１４１は、取得した画像データが変形後のシート１０１の画像データであると判定すると、変形後画像表示画面データをタッチパネル１４に出力する（Ｓ１６）。
【０１１９】
図１２（Ａ）は変形前画像表示画面の一例を示す図であり、図１２（Ｂ）は変形後画像表示画面の一例を示す図である。
【０１２０】
変形前画像表示画面１４２は、撮像画像表示部１４２１と、撮像条件表示部１４２２と、アップロードボタン部１４２３と、キャンセルボタン部１４２４と、設定選択部１４２５を有する。撮像画像表示部１４２１は、撮像部１６を介して取得された画像データに対応する変形前のシート１０１の画像が表示される。撮像条件表示部１４２２は、撮像時間、撮像位置等の撮像部１６を介して取得された画像データの撮像条件が表示される。また、撮像条件表示部１４２２は、撮像した画像が変形前の画像、又は変形後の画像であるかを選択可能に表示する撮像画像選択部を表示する。変形前画像表示画面１４２では、撮像画像選択部は、不図示のオペレータによって変形前が選択される。アップロードボタン部１４２３がタッチされると、画像データ取得部２１は、取得された変形前の画像データを記憶部に記憶する（Ｓ１５）と共に、取得された変形前の画像データを不図示のサーバにアップロードする。キャンセルボタン部１４２４がタッチされると、変形量測定装置１は、画像を撮像可能な状態になる。設定選択部１４２５がタッチされると、画像データ取得部２１は、設定画面データをタッチパネル１４に出力する。
【０１２１】
変形後画像表示画面１４３は、撮像画像表示部１４３１と、撮像条件表示部１４３２と、アップロードボタン部１４３３と、キャンセルボタン部１４３４と、設定選択部１４３５を有する。撮像画像表示部１４３１は、撮像部１６を介して取得された画像データに対応する変形後のシート１０１の画像が表示される。撮像条件表示部１４３２は、撮像時間、撮像位置等の撮像部１６を介して取得された同一のシートＩＤに関連付けられた画像データの撮像条件が表示される。また、撮像条件表示部１４３２は、シートＩＤが選択可能に表示される。また、撮像条件表示部１４２２は、撮像した画像が変形前の画像、又は変形後の画像であるかを選択可能に表示する撮像画像選択部を表示する。変形後画像表示画面１４３では、撮像画像選択部は、不図示のオペレータによって変後前が選択される。アップロードボタン部１４３３がタッチされると、画像データ取得部２１は、取得された変形後の画像データを記憶部に記憶する（Ｓ１７）と共に、取得された変形後の画像データを不図示のサーバにアップロードする。キャンセルボタン部１４３４がタッチされると、変形量測定装置１は、画像を撮像可能な状態になる。設定選択部１４３５がタッチされると、画像データ取得部２１は、設定画面１４４をタッチパネル１４に表示するために、設定画面データをタッチパネル１４に出力する。
【０１２２】
図１３は、設定画面の一例を示す図である。
【０１２３】
設定画面１４４は、シート型選択部１４４１と、シート条件表示部１４４２と、位置情報選択部１４４３と、シートＩＤ選択部１４４４と、ＯＫボタン部１４４５と、キャンセルボタン部１４４６とを有する。シート型選択部１４４１は、シート１０１の型を選択可能に表示する。シート条件表示部１４４２は、選択可能に表示されるシート型番を表示する。また、シート条件表示部１４４２は、選択されたシート型番に応じてシートサイズ、パターンピッチ、パターン幅及びオフセット角を表示する。位置情報選択部１４４３は、位置情報を取得するか否かを選択可能に表示する。シートＩＤ選択部１４４４は、シートＩＤを自動で付すか否かを選択可能に表示する。ＯＫボタン部１４４５がタッチされると、画像データ取得部２１は、設定画面１４４に表示された設定を示す設定データを端末記憶部１５に記憶する。キャンセルボタン部１４４６がタッチされると、画像データ取得部２１は、設定画面１４４に代えて変形前画像表示画面１４２を再度表示するために、変形前画像表示画面データをタッチパネル１４に出力する。
【０１２４】
＜第１実施形態に係る変形量測定装置による変形量測定処理＞
図１４（Ａ）は変形量測定装置１による変形量測定処理のフローチャートであり、図１４（Ｂ）は図１４（Ａ）のＳ１０５の処理のより詳細なフローチャートである。
【０１２５】
まず、画像データ取得部２１は、不図示のオペレータが撮像部１６を介して撮像した測定対象物に接着された変形前のシート１０１の画像に対応する画像データを取得する（Ｓ１０１）。画像データ取得部２１は、端末記憶部１５に記憶された変形前のシート１０１の画像に対応する画像データを取得することができる。次いで、画像データ取得部２１は、不図示のオペレータが撮像部１６を使用して撮像した測定対象物に接着された変形後のシート１０１の画像に対応する画像データを取得する（Ｓ１０２）。画像データ取得部２１は、端末記憶部１５に記憶された変形後のシート１０１の画像に対応する画像データを取得することができる。次いで、画像データ取得部２１は、Ｓ１０１及びＳ１０２で取得した２つの画像データの何れかが、変化前後のシート１０１の画像に対応する画像データであるかを確定する（Ｓ１０３）。一例では、画像データ取得部２１は、２つの画像データが端末記憶部１５に記憶された日時に基づいて、２つの画像データの何れかが変化前のシート１０１の画像に対応し、２つの画像データの何れかが変化後のシート１０１の画像に対応するかを確定する。他の例では、画像データ取得部２１は、２つの画像データの何れかが、変化前後のシート１０１の画像に対応するかを選択可能な画像をタッチパネル１４に表示し、不図示のオペレータの選択操作に基づいて、２つの画像データの前後関係を確定する。
【０１２６】
次いで、ピッチ領域区分部２２は、Ｓ１０１で取得された変形前のシート１０１の画像データ及びＳ１０２で取得された変形後のシート１０１の画像データの相違点から、ピッチ変化領域とピッチ不変領域とを区分する（Ｓ１０４）。ピッチ変化領域は、シート１０１の変形追従部１１１の変形に応じて、第１パターン１２１に含まれる複数の直線のピッチが変形追従部１１１の変形前後で変化する領域である。一方、ピッチ不変領域は、シート１０１の変形追従部１１１が変形しないため、第１パターン１２１に含まれる複数の直線のピッチが変形追従部の変形前後で変化しない領域である。
【０１２７】
ピッチ領域区分部２２は、Ｓ１０１で取得された画像とＳ１０２で取得された画像のそれぞれの対応する領域に含まれる周波数成分を、所定の範囲毎に順次比較する。ピッチ領域区分部２２は、Ｓ１０１で取得された画像とＳ１０２で取得された画像のそれぞれの対応する領域に含まれる周波数成分の差が所定のしきい値以上である領域をピッチ変化領域と判定する。また、ピッチ領域区分部２２は、Ｓ１０１で取得された画像とＳ１０２で取得された画像のそれぞれの対応する領域に含まれる周波数成分の差が所定のしきい値未満である領域をピッチ不変領域と判定する。ピッチ領域区分部２２は、他の画像処理により、ピッチ変化領域とピッチ不変領域とを区分してもよい。
【０１２８】
次いで、ピッチ変化量演算部２３は、変形後のシート１０１のモアレのピッチからの第１パターン１２１のピッチの変化量を演算する（Ｓ１０５）。まず、ピッチ変化量演算部２３は、変形前のシート１０１の画像のピッチ変化領域の空間周波数情報を取得する（Ｓ２０１）。
【０１２９】
図１５（Ａ）は、撮像部１６が撮像した画像の一例を示す図である。図１５（Ｂ）は図１５（Ａ）に示す画像を処理した第１処理画像であり、図１５（Ｃ）は図１５（Ｂ）に示す第１処理画像を更に処理した第２処理画像であり、図１５（Ｄ）は図１５（Ｃ）に示す第２処理画像から抽出される空間周波数情報を示す図である。図１５（Ａ）に示す画像のＸ方向の画素数は５５７であり、Ｙ方向の画素数は１４２である。
【０１３０】
ピッチ変化量演算部２３は、図１５（Ａ）に示す撮像部１６が撮像した画像に対応する画像データを二次元フーリエ変換（2D Fast Fourier Transform、2D FFT）して、図１５（Ｂ）に示す第１処理画像に対応する画像データを取得する。次いで、ピッチ変化量演算部２３は、図１５（Ｂ）に示す第１処理画像に対応する画像データをバンドパスフィルタリング（Band-pass filter、BPF）処理して、図１５（Ｃ）に示す第２処理画像に対応する画像データを取得する。第１処理画像をバンドパスフィルタリング処理することにより、第１処理画像に含まれていた第１パターン１２１及び第２パターン１２２に含まれる直線に対応する周波数成分は、除去される。そして、ピッチ変化量演算部２３は、図１５（Ｃ）に示す第２処理画像に対応する画像データから図１５（Ｄ）に示す空間周波数情報を取得する。図１５（Ｄ）に示す空間周波数情報のエレメントのそれぞれと矢印Ａで示される原点との間のエレメント数のＸ方向成分及びＹ方向成分のそれぞれは、図１５（Ａ）に示す画像に含まれる空間周波数のＸ方向成分及びＹ方向成分に対応する。また、空間周波数情報のエレメントの内部の数値は、それぞれのエレメントの位置に対応する空間周波数におけるスペクトルの強さである。一例では、空間周波数情報は、Pythonにより記述されたプログラムによって第２処理画像から取得される。
【０１３１】
次いで、ピッチ変化量演算部２３は、変形前のシート１０１の画像のピッチ変化領域の空間周波数情報から、変形前のモアレのピッチである第１ピッチmoire_pitch1及び変形前のモアレのピッチである第１傾斜角moire_θ1を演算する（Ｓ２０２）。
【０１３２】
まず、ピッチ変化量演算部２３は、Ｓ２０１で取得した空間周波数情報に含まれるエレメントの内部の数値から、モアレの空間周波数のＸ方向成分及びＹ方向成分を決定する。ピッチ変化量演算部２３は、エレメントの内部の数値が一番大きいエレメントと原点との間のエレメント数のＸ方向成分及びＹ方向成分のエレメント数を、画像に含まれる空間周波数のＸ方向成分fx及びＹ方向成分fyとして決定する。図１５（Ｄ）に示す例では、原点からＸ方向に±６つ目であり且つＹ方向に±２つ目のエレメントの内部の数値が一番大きいので、画像に含まれる空間周波数のＸ方向成分fxは６であり且つ画像に含まれる空間周波数のＹ方向成分fyは２となる。
【０１３３】
次いで、ピッチ変化量演算部２３は、撮像部１６が撮像した画像のアスペクト比に応じて空間周波数のＹ方向成分fyを補正する。補正後の空間周波数のＹ方向成分fy´は、撮像部１６が撮像した画像のＸ方向の画素数Npx、撮像部１６が撮像した画像のＸ方向の画素数Npy、及び補正前の空間周波数のＹ方向成分fyから、
fy´  ＝  （Npx／Npy）×fy
と示される。図１５（Ａ）に示す画像のＸ方向の画素数は５５７であり、Ｙ方向の画素数は１４２であるので、図１５（Ａ）に示す画像の補正後の空間周波数のＹ方向成分fy´は、
fy´  ＝  （Npx／Npy）×fy
＝  （５５７／１４２）×２
＝  ７．８
となる。
【０１３４】
次いで、ピッチ変化量演算部２３は、空間周波数のＸ方向成分fx及び補正後の空間周波数のＹ方向成分fy´から、変形前のモアレのピッチである第１ピッチmoire_pitch1及び変形前のモアレのピッチである第１傾斜角moire_θ1を演算する。第１ピッチmoire_pitch1及び第１傾斜角moire_θ1は、
moire_pitch1  ＝  √（fx2＋fy´2）
moire_θ1  ＝  arctan（fy´／fx）
と示される。図１５（Ａ）に示す画像の第１ピッチmoire_pitch1及び第１傾斜角moire_θ1は、
moire_pitch1  ＝  √（fx2＋fy´2）  ＝  √（６2＋７．８2）  ＝９．８
moire_θ1  ＝  arctan（fy´／fx）  ＝  arctan(７．８／６）  ＝  ５２．４°
となる。
【０１３５】
次いで、ピッチ変化量演算部２３は、変形後のシート１０１の画像のピッチ変化領域の空間周波数情報を取得する（Ｓ２０３）。次いで、ピッチ変化量演算部２３は、変形後のシート１０１の画像のピッチ変化領域の空間周波数情報から、変形後のモアレの傾斜角である第２傾斜角moire_θ2を演算する（Ｓ２０４）。Ｓ２０３の処理、及びＳ２０４の第２傾斜角moire_θ2を演算する処理のそれぞれは、Ｓ２０１の処理、及びＳ２０２の第１傾斜角moire_θ1を演算する処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１３６】
そして、ピッチ変化量演算部２３は、シート１０１のオフセット角度offset_θ、第１ピッチmoire_pitch1、第１傾斜角moire_θ1及び第２傾斜角moire_θ2から第１パターン１２１のピッチの変化量を演算する（Ｓ２０５）。
【０１３７】
図１６は、Ｓ２０５の処理を説明するための第１の図である。第１方向に延伸する複数の平行の実線で示される直線Ｐ１１の間隔は変形前の第１パターン１２１のピッチpitchを示し、第１方向に延伸する複数の平行の破線で示される直線Ｐ１２の間隔は変形後の第１パターン１２１のピッチpitch+Δpitch_stを示す。また、第２方向に延伸する複数の平行の実線で示される直線Ｐ２の間隔は第２パターン１２２のピッチpitchを示す。第２パターン１２２のピッチpitchは、第１パターン１２１のピッチpitchと同一である。また、複数の平行の一点鎖線で示される直線Ｍ１の間隔は変形前のモアレの第１ピッチmoire_pitch1を示し、複数の平行の二点鎖線で示される直線Ｍ２の間隔は変形後のモアレの第２ピッチmoire_pitch2を示す。第２ピッチmoire_pitch2のＸ方向成分はmoire_pitch_xで示され、第２ピッチmoire_pitch2のＹ方向成分はmoire_pitch_yで示される。シート１０１は、Ｘ方向、すなわち第１方向に直交する方向に変形する。したがって、モアレのピッチのＹ方向成分は、シート１０１の変形前後で変化せずに、moire_pitch_yで一定である。
【０１３８】
図１６においてαで示されるモアレの第２ピッチのＹ方向成分moire_pitch_yは、変形前のモアレの第１ピッチmoire_pitch1及びオフセット角度offset_θから、
【０１３９】
【数１】
0006741409.tif 000002
【０１４０】
で示される。
【０１４１】
図１７（Ａ）はＳ２０５の処理を説明するための第２の図であり、図１７（Ｂ）はＳ２０５の処理を説明するための第３の図である。図１７（Ａ）は図１６において矢印Ａで示される破線で囲まれた部分の部分拡大図であり、図１７（Ｂ）はＳ２０５の処理を説明するための第３の図である。offset_θはオフセット角度を示し、pitchは変形前の第１パターン１２１のピッチ、及び第２パターン１２２のピッチを示し、Δpitch_stは変形前後の第１パターン１２１のピッチの変化量を示し、moire_θ1は第１傾斜角を示す。また、傾斜ピッチpitch_sl及び差分傾斜ピッチΔpitch_slは演算に使用される変数である。傾斜ピッチpitch_slは第２パターン１２２のピッチpitch及び第１傾斜角moire_θ1により規定され、差分傾斜ピッチΔpitch_slは傾斜ピッチpitch_slと第２パターン１２２のピッチpitchとの差である。
【０１４２】
オフセット角度offset_θは、差分傾斜ピッチΔpitch_sl及び図１７（Ａ）においてｘで示される長さから、
【０１４３】
【数２】
0006741409.tif 000003
【０１４４】
で示される。また、第１傾斜角moire_θ1は、変形前の第１パターン１２１のピッチpitch及び図１７（Ａ）においてｘで示される長さから、
【０１４５】
【数３】
0006741409.tif 000004
【０１４６】
で示される。差分傾斜ピッチΔpitch_slは、この２つの式を展開することにより、
【０１４７】
【数４】
0006741409.tif 000005
【０１４８】
で示される。一方、傾斜ピッチpitch_slは、変形前の第１パターン１２１のピッチpitch及び差分傾斜ピッチΔpitch_slから、
【０１４９】
【数５】
0006741409.tif 000006
【０１５０】
で示される。また、変形前後の第１パターン１２１のピッチの変化量Δpitch_st、傾斜ピッチpitch_sl及び差分傾斜ピッチΔpitch_slは、
【０１５１】
【数６】
0006741409.tif 000007
【０１５２】
で示される。ここで、ｎは変形後のモアレの第２ピッチのＸ成分moire_pitch_xの半周期が傾斜ピッチpitch_slの何倍であるか示す倍数である。上記の式から、倍数ｎは、
【０１５３】
【数７】
0006741409.tif 000008
【０１５４】
で示される。一方、変形後のモアレの第２ピッチのＸ成分moire_pitch_x、傾斜ピッチpitch_sl及び倍数ｎは、
【０１５５】
【数８】
0006741409.tif 000009
【０１５６】
で示される。これらの関係から、変形後のモアレの第２ピッチのＸ成分moire_pitch_xは、
【０１５７】
【数９】
0006741409.tif 000010
【０１５８】
で示される。また、図１７（Ｂ）に示すように、変形後のモアレの第２ピッチのＸ成分moire_pitch_x、変形後のモアレの第２ピッチのＸ成分moire_pitch_y及び第２傾斜角moire_θ２は、
【数１０】
0006741409.tif 000011
【０１５９】
で示される。以上の式から、変形前後の第１パターン１２１のピッチの変化量Δpitch_stは、
【数１１】
0006741409.tif 000012
【０１６０】
で示される。ここで、
【数１２】
0006741409.tif 000013
【数１３】
0006741409.tif 000014
【０１６１】
である。ピッチ変化量演算部２３は、式（１）を使用して、変形前後の第１パターン１２１のピッチの変化量Δpitch_stを演算する。
【０１６２】
次いで、変形量演算部２４は、変形追従部１１１の変形量を演算する（Ｓ１０６）。変形量演算部２４は、変形前後の第１パターン１２１のピッチの変化量Δpitch_stに、ピッチ変化領域に含まれる第１パターン１２１の直線の本数を乗算することにより、変形追従部１１１の変形量を演算する。次いで、変形量演算部２４は、Ｓ１０５で演算された変形追従部１１１の変形量を出力する（Ｓ１０７）。
【０１６３】
図１８は、変形量演算部２４が変形追従部１１１の変形量を出力する変形量出力画面の一例を示す図である。
【０１６４】
変形量出力画面１４５は、撮像画像表示部１４５１と、変形量表示部１４５２と、ＯＫボタン部１４５３と、アップロードボタン部１４５４と、キャンセルボタン部１４５５とを有する。撮像画像表示部１４５１は、撮像部１６を介して取得された画像データに対応する変形後のシート１０１の画像が表示される。変形量表示部１４５２は、演算された変形追従部１１１の変形量をひび割れ成長幅として表示すると共に、測定誤差を表示する。一例では、変形量表示部１４５２の背景は、青色で表示されてもよい。ＯＫボタン部１４５３がタッチされると、演算した変形追従部１１１の変形量を端末記憶部１５に記憶する。アップロードボタン部１４５４がタッチされると、変形量演算部２４は、演算した変形追従部１１１の変形量を不図示のサーバにアップロードする。キャンセルボタン部１４４６がタッチされると、変形量測定装置１は、画像を撮像可能な状態になる。
【０１６５】
次いで、変形量比較部２５は、Ｓ１０６で演算された変形追従部１１１の変形量と、所定の変形量しきい値とを比較する（Ｓ１０８）。また、変形量比較部２５は、Ｓ１０６で演算された変形追従部１１１の変形量が所定の変形量しきい値以上のとき、Ｓ１０６で演算された変形追従部１１１の変形量が基準値を超えたことを示す変形量アラームを出力する（Ｓ１０９）。
【０１６６】
図１９は、変形量比較部２５が変形追従部１１１の変形量アラームを出力する変形量アラーム出力画面の一例を示す図である。
【０１６７】
変形量アラーム出力画面１４６は、撮像画像表示部１４６１と、変形量表示部１４６２と、ＯＫボタン部１４６３と、アップロードボタン部１４６４と、キャンセルボタン部１４６５とを有する。撮像画像表示部１４６１は、撮像部１６を介して取得された画像データに対応する変形後のシート１０１の画像が表示される。変形量表示部１４６２は、演算された変形追従部１１１の変形量をひび割れ成長幅として表示すると共に、ひび割れ成長幅が一例では０．３ｍｍである変形量しきい値を越えたことを表示する。一例では、変形量表示部１４６２の背景は、赤色で表示されてもよい。ＯＫボタン部１４５３がタッチされると、演算した変形追従部１１１の変形量が変形量しきい値を越えたことを端末記憶部１５に記憶する。アップロードボタン部１４５４がタッチされると、演算した変形追従部１１１の変形量が変形量しきい値を越えたことを端末記憶部１５に記憶する。キャンセルボタン部１４４６がタッチされると、変形量測定装置１は、画像を撮像可能な状態になる。
【０１６８】
＜第２実施形態に係る変形量測定装置の構成及び機能＞
図２０は、第２実施形態に係る変形量測定装置のブロック図である。
【０１６９】
変形量測定装置２は、ピッチ変化量演算部２３の代わりにピッチ変化量演算部３３を有する端末処理部３０を、端末処理部２０の代わりに有することが変形量測定装置１と相違する。ピッチ変化量演算部３３以外の変形量測定装置２の構成要素は、同一符号が付された変形量測定装置１の構成要素と同一の構成及び機能を有するので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１７０】
＜第２実施形態に係る変形量測定装置による変形量測定処理＞
図２１（Ａ）は変形量測定装置２による変形量測定処理のフローチャートであり、図２１（Ｂ）は図２１（Ａ）のＳ３０５の処理のより詳細なフローチャートである。
【０１７１】
図２１（Ａ）に示すＳ３０５以外のＳ３０１〜Ｓ３０４及びＳ３０６〜Ｓ３０９の処理は、図１４（Ａ）を参照して説明したＳ１０１〜Ｓ１０４及びＳ１０６〜Ｓ１０９の処理と同様の処理であるので、ここでは詳細な説明は省略する。図２１（Ｂ）に示すＳ４０１〜Ｓ４０３の処理は、図１４（Ｂ）を参照して説明したＳ２０１〜Ｓ２０３の処理と同様の処理であるので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１７２】
Ｓ４０４において、ピッチ変化量演算部３３は、Ｓ２０２の第１傾斜角moire_θ1を演算する処理と同様な処理を実行して、変形後のシート１０１の画像のピッチ変化領域の空間周波数情報から、変形後のモアレのピッチである第２ピッチmoire_pitch2を演算する。そして、ピッチ変化量演算部３３は、シート１０１のオフセット角度offset_θ、第１ピッチmoire_pitch1、第１傾斜角moire_θ1及び第２ピッチmoire_pitch2から第１パターン１２１のピッチの変化量を演算する（Ｓ４０５）。
【０１７３】
図２２は、Ｓ４０５の処理を説明するための図である。第１方向に延伸する複数の平行の実線で示される直線Ｐ１１の間隔は変形前の第１パターン１２１のピッチpitchを示し、第１方向に延伸する複数の平行の破線で示される直線Ｐ１２の間隔は変形後の第１パターン１２１のピッチpitch+Δpitch_stを示す。また、第２方向に延伸する複数の平行の実線で示される直線Ｐ２の間隔は第２パターン１２２のピッチpitchを示す。第２パターン１２２のピッチpitchは、第１パターン１２１のピッチpitchと同一である。また、第２モアレ方向に延伸する平行の破線で示される直線Ｍ２の間隔は変形後のモアレの第２ピッチmoire_pitch2を示す。シート１０１は、Ｘ方向、すなわち第１方向に直交する方向に変形する。したがって、モアレのピッチのＹ方向成分は、シート１０１の変形前後で変化せずに、moire_pitch_yで一定である。
【０１７４】
モアレの第２傾斜角moire_θ2、モアレの第２ピッチmoire_pitch2、第２ピッチのＹ方向成分moire_pitch_yは、
【０１７５】
【数１４】
0006741409.tif 000015
【０１７６】
で示される。これから、
【０１７７】
【数１５】
0006741409.tif 000016
【０１７８】
となる。この式を式（１）に代入すると、
【０１７９】
【数１６】
0006741409.tif 000017
【０１８０】
となる。ピッチ変化量演算部３３は、式（２）を使用して、変形前後の第１パターン１２１のピッチの変化量Δpitch_stを演算する。
【０１８１】
＜第３実施形態に係る変形量測定装置の構成及び機能＞
図２３は、第３実施形態に係る変形量測定装置のブロック図である。
【０１８２】
変形量測定装置３は、ピッチ変化量演算部２３の代わりにピッチ変化量演算部４３を有し、且つオフセット角度演算部４６を有する端末処理部４０を、端末処理部２０の代わりに有することが変形量測定装置１と相違する。ピッチ変化量演算部４３及びオフセット角度演算部４６以外の変形量測定装置２の構成要素は、同一符号が付された変形量測定装置１の構成要素と同一の構成及び機能を有するので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１８３】
＜第３実施形態に係る変形量測定装置による変形量測定処理＞
図２４（Ａ）は変形量測定装置２による変形量測定処理のフローチャートであり、図２４（Ｂ）は図２４（Ａ）のＳ５０５の処理のより詳細なフローチャートである。
【０１８４】
図２４（Ａ）に示すＳ５０５以外のＳ５０１〜Ｓ５０４及びＳ５０６〜Ｓ５０９の処理は、図１４（Ａ）を参照して説明したＳ１０１〜Ｓ１０４及びＳ１０６〜Ｓ１０９の処理と同様の処理であるので、ここでは詳細な説明は省略する。図２４（Ｂ）に示すＳ６０１〜Ｓ６０２及びＳ６０４の処理は、図１４（Ｂ）を参照して説明したＳ２０１〜Ｓ２０３の処理と同様の処理であるので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１８５】
Ｓ６０３において、変形量測定装置３は、変形前の第１パターン１２１のピッチpitch、変形前のモアレの第１ピッチmoire_pitch1から、第１パターン１２１が延伸する第１方向と第２パターン１２２が延伸する第２方向との間のオフセット角度を演算する。
【０１８６】
図２５は、Ｓ６０３の処理を説明するための図である。第１方向に延伸する複数の平行の実線で示される直線Ｐ１１の間隔は変形前の第１パターン１２１のピッチpitchを示し、第２方向に延伸する複数の平行の実線で示される直線Ｐ２の間隔は第２パターン１２２のピッチpitchを示す。第２パターン１２２のピッチpitchは、第１パターン１２１のピッチpitchと同一である。また、第１モアレ方向に延伸する平行の破線で示される直線Ｍ１の間隔は変形前のモアレの第１ピッチmoire_pitch1を示す。
【０１８７】
オフセット角度Offset_θは、モアレの第２傾斜角moire_θ2、第１パターン１２１のピッチpitch、及びモアレの第１ピッチmoire_pitch1又はモアレの初期角度 moire_angle_initialから、
【０１８８】
【数１７】
0006741409.tif 000018
【０１８９】
で示される。オフセット角度演算部４６は、式（３）又は（４）を使用して、オフセット角度Offset_θを演算する。
【０１９０】
Ｓ６０５において、ピッチ変化量演算部４３は、Ｓ２０２の第１傾斜角moire_θ1を演算する処理と同様な処理を実行して、変形後のシート１０１の画像のピッチ変化領域の空間周波数情報から、変形後のモアレのピッチである第２ピッチmoire_pitch2を演算する。そして、ピッチ変化量演算部３３は、Ｓ６０３で演算されたオフセット角度offset_θ、第１ピッチmoire_pitch1、第１傾斜角moire_θ1及び第２ピッチmoire_pitch2から第１パターン１２１のピッチの変化量を演算する（Ｓ６０６）。
【０１９１】
＜第４実施形態に係る変形量測定装置の構成及び機能＞
図２６は、第４実施形態に係る変形量測定装置のブロック図である。
【０１９２】
変形量測定装置４は、ピッチ変化量演算部４３の代わりにピッチ変化量演算部５３を有し、且つピッチ変化量比較部５７を有する端末処理部５０を、端末処理部４０の代わりに有することが変形量測定装置３と相違する。ピッチ変化量演算部５３及びピッチ変化量比較部５７以外の変形量測定装置４の構成要素は、同一符号が付された変形量測定装置３の構成要素と同一の構成及び機能を有するので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１９３】
＜第４実施形態に係る変形量測定装置による変形量測定処理＞
図２７は変形量測定装置４による変形量測定処理のフローチャートであり、図２８は図２６に示すＳ７０５の処理のより詳細なフローチャートである。
【０１９４】
図２７に示すＳ７０５、Ｓ７０６及びＳ７０８以外のＳ７０１〜Ｓ７０３、Ｓ７０６及びＳ７０９〜Ｓ７１１の処理は、図２４（Ａ）を参照して説明したＳ５０１〜Ｓ５０３及びＳ５０５〜Ｓ５０８の処理と同様の処理であるので、ここでは詳細な説明は省略する。図２８に示すＳ８０１〜Ｓ８０４の処理は、図２４（Ｂ）を参照して説明したＳ６０１〜Ｓ６０４の処理と同様の処理であるので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１９５】
Ｓ８０５において、ピッチ変化量演算部５３は、変形後のシート１０１の画像のピッチ変化領域の空間周波数情報から、変形後のモアレの傾斜角である第２傾斜角moire_θ2及び変形後のモアレのピッチである第２ピッチmoire_pitch2を演算する。第２傾斜角moire_θ2を演算する処理及び第２ピッチmoire_pitch2を演算する処理のそれぞれは、Ｓ２０４の処理、及びＳ４０４の処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１９６】
次いで、ピッチ変化量演算部５３は、オフセット角度offset_θ、第１ピッチmoire_pitch1、第１傾斜角moire_θ1及び第２傾斜角moire_θ2から第１パターン１２１のピッチの第１変化量を演算する（Ｓ８０６）。次いで、ピッチ変化量演算部５３は、オフセット角度offset_θ、第１ピッチmoire_pitch1、第１傾斜角moire_θ1及び第２ピッチmoire_pitch2から第１パターン１２１のピッチの第２変化量を演算する（Ｓ８０７）。Ｓ８０６及びＳ８０７の処理のそれぞれは、Ｓ２０５の処理、及びＳ４０５の処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０１９７】
次いで、ピッチ変化量比較部５７は、Ｓ８０６で演算された第１パターン１２１の第１変化量とＳ８０７で演算された第１パターン１２１の第２変化量との差と、所定の第１演算しきい値とを比較する（Ｓ７０６）。Ｓ８０６で演算された第１パターン１２１の第１変化量は、第２傾斜角moire_θ2を使用して演算されるのに対し、Ｓ８０７で演算された第１パターン１２１の第２変化量は、第２ピッチmoire_pitch2を使用して演算される。ピッチ変化量比較部５７は、演算方法が相違する第１変化量及び第２変化量の差が所定の第１演算しきい値以上であるか否かを判定することにより、第１パターン１２１のピッチの変化量の演算精度を判定する。
【０１９８】
ピッチ変化量比較部５７が第１ピッチの第１変化量及び第２変化量の差が所定の第１演算しきい値未満であると判定したとき、変形量演算部２４は、変形追従部１１１の変形量を演算する（Ｓ７０７）。一方、ピッチ変化量比較部５７は、第１ピッチの第１変化量及び第２変化量の差が所定の第１演算しきい値以上であると判定したとき、演算された第１ピッチの変化量が間違いを含む可能性があることを示す誤演算アラームを出力する（Ｓ７０８）。
【０１９９】
図２９は、ピッチ変化量比較部５７が誤演算アラームを出力する誤演算アラーム出力画面の一例を示す図である。
【０２００】
誤演算アラーム出力画面１４７は、撮像画像表示部１４７１と、再撮像指示表示部１４７２と、ＯＫボタン部１４７３と、アップロードボタン部１４７４と、キャンセルボタン部１４７５とを有する。撮像画像表示部１４７１は、撮像部１６を介して取得された画像データに対応する変形後のシート１０１の画像が表示される。再撮像指示表示部１４７２は、シート１０１を再度撮像することを示す指示を表示する。一例では、再撮像指示表示部１４７２の背景は、黄色で表示されてもよい。ＯＫボタン部１４５３がタッチされると、変形量測定装置１は、画像を撮像可能な状態になる。アップロードボタン部１４５４がタッチされると、再度の撮像が指示されたことを端末記憶部１５に記憶すると共に、再度の撮像が指示されたことを不図示のサーバにアップロードする。キャンセルボタン部１４４６がタッチされると、変形量測定装置１は、画像を撮像可能な状態になる。
【０２０１】
＜第５実施形態に係る変形量測定装置の構成及び機能＞
図３０は、第５実施形態に係る変形量測定装置のブロック図である。
【０２０２】
変形量測定装置５は、ピッチ変化量推定部６８及びピッチ変化量検証部６９を有する端末処理部６０を、端末処理部５０の代わりに有することが変形量測定装置４と相違する。ピッチ変化量推定部６８及びピッチ変化量検証部６９以外の変形量測定装置５の構成要素は、同一符号が付された変形量測定装置４の構成要素と同一の構成及び機能を有するので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０２０３】
＜第５実施形態に係る変形量測定装置による変形量測定処理＞
図３１は変形量測定装置２による変形量測定処理のフローチャートであり、図３２は図３１に示すＳ９０９の処理のより詳細なフローチャートである。
【０２０４】
図３１に示すＳ９０９及びＳ９１０以外のＳ９０１〜Ｓ９０８及びＳ９１１〜Ｓ９１３の処理は、図２７を参照して説明したＳ７０１〜Ｓ７１１の処理と同様の処理であるので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０２０５】
Ｓ９０９において、ピッチ変化量推定部６８は、第１パターン１２１のピッチの変化量を推定する。まず、ピッチ変化量推定部６８は、ピッチ不変領域における変形前後のモアレの移動量を演算する（Ｓ１００１）。次いで、ピッチ変化量推定部６８は、Ｓ１００１で推定されたモアレの移動量から第１パターン１２１のピッチの変化量を推定する（Ｓ１００２）。
【０２０６】
図３３は、ピッチ変化量推定部６８の推定処理を説明するための第１の図である。図３３（Ａ）はシート１０１の第１変化状態を示す図であり、図３３（Ｂ）は第１変化状態よりもピッチ変化領域が伸長した第２状態を示す図である。図３３（Ｃ）は第２変化状態よりもピッチ変化領域が更に伸長した第３状態を示す図であり、図３３（Ｄ）は第３変化状態よりもピッチ変化領域が更に伸長した第４状態を示す図である。
【０２０７】
シート１０１は、第１ピッチ不変領域１３１と、第２ピッチ不変領域１３２と、ピッチ変化領域１３３とを有する。また、シート１０１は、第１モアレＭｂ−１〜第３モアレＭｂ−３を有する。第１変化状態では、第１モアレＭｂ−１〜第３モアレＭｂ−３のそれぞれは、第１ピッチ不変領域１３１から第２ピッチ不変領域１３２に直線的に延伸する。第２変化状態では、第１モアレＭｂ−１〜第３モアレＭｂ−３は、第１ピッチ不変領域１３１において右方向に１ピッチ移動し、第２ピッチ不変領域１３２において左方向に１ピッチ移動する。第２変化状態では、第１モアレＭｂ−３は第２ピッチ不変領域１３２から外れ、第３モアレＭｂ−３は第１ピッチ不変領域１３１から外れる。第３変化状態では、第１モアレＭｂ−１〜第２モアレＭｂ−２は第１ピッチ不変領域１３１において右方向に１ピッチ移動し、第２モアレＭｂ−２〜第３モアレＭｂ−３は第２ピッチ不変領域１３２において左方向に１ピッチ移動する。第３変化状態では、第２モアレＭｂ−３は第１ピッチ不変領域１３２及び第２ピッチ不変領域１３２から外れる。第４変化状態では、第１モアレＭｂ−１〜は第１ピッチ不変領域１３１において右方向に１ピッチ移動し、第４モアレＭｂ−３は第２ピッチ不変領域１３２において左方向に１ピッチ移動する。第４変化状態では、第１モアレＭｂ−３は第１ピッチ不変領域１３１から外れ、第３モアレＭｂ−３は第２ピッチ不変領域１３２から外れる。
【０２０８】
第１ピッチ不変領域１３１及び第２ピッチ不変領域１３２に発生するモアレは、ピッチを一定に維持しながら反対方向に移動する。ピッチ変化量推定部６８は、第１ピッチ不変領域１３１及び第２ピッチ不変領域１３２に発生するモアレの移動量からピッチ変化領域１３３の伸長量、すなわち変形追従部１１１の変形量を推定する。
【０２０９】
図３４は、ピッチ変化量推定部６８の推定処理を説明するための第２の図である。図３４は、第１ピッチ不変領域１３１の部分拡大図である。第１方向に延伸する実線で示される直線Ｐ１１はピッチ変化領域１３３の伸長前の第１パターン１２１を示し、第１方向に延伸する破線で示される直線Ｐ１２はピッチ変化領域１３３の伸長後の第１パターン１２１を示す。第２方向に延伸する直線Ｐ２は第２パターン１２２を示す。モアレ方向に延伸する一点鎖線で示される直線Ｍ１１はピッチ変化領域１３３の伸長前のモアレを示し、モアレ方向に延伸する二点鎖線で示される直線Ｍ１２はピッチ変化領域１３３の伸長後のモアレを示す。
【０２１０】
矢印ａで示される第１パターン１２１の移動量ａと、矢印ｂで示されるモアレの移動量ｂとは、オフセット角度offset_θにより、
a  ＝  b×tan(offset_θ)        （５）
となる。ピッチ変化量推定部６８は、式（５）を使用して、ピッチ変化領域１３３の伸長量a、すなわち変形追従部１１１の変形量を推定する。
【０２１１】
次いで、ピッチ変化量検証部６９は、Ｓ９０７で演算された変形追従部１１１の変形量とＳ９０９で推定された変形追従部１１１の変形量との差と、所定の第２演算しきい値とを比較する（Ｓ９１０）。ピッチ変化量検証部６９は、変形量の演算値と推定値との差が所定の第２演算しきい値未満であると判定したとき、Ｓ９０７で演算された変形追従部１１１の変形量を出力する（Ｓ９１１）。一方、ピッチ変化量検証部６９は、変形量の演算値と推定値との差が所定の第２演算しきい値以上であると判定したとき、演算された変形追従部１１１の変形量が間違いを含む可能性があることを示す誤演算アラームを出力する（Ｓ７０８）。
【０２１２】
＜実施形態に係る変形量測定装置の作用効果＞
実施形態に係る変形量測定装置では、第１方向に延伸する複数の直線を含む第１パターンと、第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の直線を含む第２パターンとを重ねることにより発生するモアレから、第１パターンのピッチの変化量が求められる。実施形態に係る変形量測定装置は、第１パターン及び第２パターンを有するシートの変形後のモアレを含む変形後の画像に対応する変形後の画像データ基づいて測定対象物の変形量を求めることにより、測定対象物の変形量を定量的且つ簡便に検査できる。
【０２１３】
また、第１及び第２実施形態に係る変形量測定装置では、変形前のシートのモアレの第１傾斜角及び第１ピッチが演算されるので、シートの製造時に第１パターン及び第２パターンのピッチのばらつきが生じた場合でも、測定対象物の変形量を精度よく演算できる。
【０２１４】
また、第３実施形態に係る変形量測定装置では、変形前のシートのモアレから第１パターンが延伸する第１方向と第２パターンが延伸する第２方向との間のオフセット角度が演算される。第３実施形態に係る変形量測定装置は、第１方向と第２方向との間のオフセット角度が演算されるので、シートの製造時にオフセット角度のばらつきが生じた場合でも、測定対象物の変形量を精度よく演算できる。
【０２１５】
また、第４実施形態に係る変形量測定装置は、変形後のモアレの傾斜角から演算される第１パターン１２１のピッチの第１変化量と、変形後のモアレのピッチから演算される第１パターン１２１のピッチの第２変化量との差がしきい値以上であるか否かを判定する。第４実施形態に係る変形量測定装置は、第１変化量及び第２変化量との差がしきい値以上であるか否かを判定することにより、第１パターンのピッチの変化量の演算精度を判定することにより、第１パターンのピッチの変化量の演算精度を向上させることができる。
【０２１６】
また、第５実施形態に係る変形量測定装置は、ピッチ不変領域から推定される第１パターン１２１のピッチの変化量と、変形後のモアレのピッチから演算される第１パターン１２１のピッチの変化量との差がしきい値以上であるか否かを判定する。第５実施形態に係る変形量測定装置は、演算された変化量と推定された変化量との差がしきい値以上であるか否かを判定することにより、第１パターンのピッチの変化量の演算精度を更に向上させることができる。
【０２１７】
＜第１パターン及び第２パターンの変形例＞
シート１０１の第１パターン１２１及び第２パターン１２２のそれぞれは、平行な複数の直線を含む。しかしながら、実施形態に係るシートは、第１方向に延伸する複数の線画を含む第１パターンと、第１方向と異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有していればよい。例えば、第１パターン及び第２パターンのそれぞれは、格子状に配置された直線、唐松模様（チェッカパターン）、及び同一方向の延伸する複数の正弦波形等の線画を含むパターンであってもよい。
【０２１８】
図３５は、第１パターン及び第２パターンの変形例を示す図である。図３５（Ａ）は格子状の第１パターンを示し、図３５（Ｂ）は唐松模様の第１パターンを示す。図３５（Ｃ）は、図３５（Ａ）に示す第１パターンと、第１パターンと同様の形状を有し且つ第１パターンに対してオフセット角度を有するように配置された第２パターンとが重ねられた状態を示す図である。図３５（Ｄ）は、図３５（Ｂ）に示す第１パターンと、第１パターンと同様の形状を有し且つ第１パターンに対してオフセット角度を有するように配置された第２パターンとが重ねられた状態を示す図である。図３５（Ｅ）は図３５（Ｃ）の第１パターンが２０％伸長した状態の部分拡大図であり、図３５（Ｆ）は図３５（Ｄ）の第１パターンが２０％伸長した状態の部分拡大図である。
【０２１９】
格子状の第１パターン２０１及び第２パターン２０２、並びに唐松模様の第１パターン３０１及び第２パターン３０２の何れも、平行の直線を含む第１パターン１２１及び第２パターン１２２と同様に、変形前後でモアレの形態が変化する。
【０２２０】
＜変形量測定処理の変形例＞
説明された実施形態では、ピッチ変化量演算部２３は、エレメントの内部の数値が一番大きいエレメントと原点との間のエレメント数のＸ方向成分及びＹ方向成分のエレメント数を、画像に含まれる空間周波数のＸ方向成分fx及びＹ方向成分fyとして決定する。しかしながら、実施形態に係る変形量測定処理では、エレメントの内部の数値が一番大きいエレメントに近接するエレメントの内部の数値をパラボラフィッティングすることによって、画像に含まれる空間周波数のＸ方向成分fx及びＹ方向成分fyとして決定してもよい。
【０２２１】
図３６（Ａ）は唐松模様の第１パターン及び第２パターンを有するシートの空間周波数情報の一例を示す図であり、図３６（Ｂ）はパラボラフィッティングの概要を示す図である。
【０２２２】
図３６（Ａ）において、原点からＸ方向に±４つ目のエレメントであり且つＹ方向に±１つ目のエレメントの内部の数値の平均値が一番大きく「１１１４．７２８」である。原点からＸ方向に±３つ目のエレメントであり且つＹ方向に±１つ目のエレメントの内部の数値の平均値は「６９．８２６」であり、原点からＸ方向に±５つ目のエレメントであり且つＹ方向に±１つ目のエレメントの内部の平均値の数値は「６４．５２８」である。これらの数値を図３６（Ｂ）に示すパラボラフィッティングして、空間周波数のＸ方向成分fxは３．９４に補正される。
【０２２３】
また、説明された実施形態では、Ｓ２０５の処理において、第２ピッチのＹ方向成分moire_pitch_yは、変形前のモアレの第１ピッチmoire_pitch1及びオフセット角度offset_θから演算される。しかしながら、第２ピッチのＹ方向成分moire_pitch_yは、変形前のモアレの第１傾斜角moire_θ1及びオフセット角度offset_θから演算されてもよい。
【０２２４】
図３７は、第２ピッチのＹ方向成分moire_pitch_yの演算処理を説明するための図である。第１方向に延伸する複数の平行の実線で示される直線Ｐ１１の間隔は変形前の第１パターン１２１のピッチpitchを示し、第１方向に延伸する複数の平行の破線で示される直線Ｐ１２の間隔は変形後の第１パターン１２１のピッチpitch+Δpitch_stを示す。また、第２方向に延伸する複数の平行の実線で示される直線Ｐ２の間隔は第２パターン１２２のピッチpitchを示す。第２パターン１２２のピッチpitchは、第１パターン１２１のピッチpitchと同一である。また、複数の平行の一点鎖線で示される直線Ｍ１の間隔は変形前のモアレの第１ピッチmoire_pitch1を示し、複数の平行の二点鎖線で示される直線Ｍ２の間隔は変形後のモアレのピッチmoire_pitch2を示す。
【０２２５】
図３７においてβで示される長さ、オフセット角度offset_θ及び第１パターン１２１のピッチpitchの関係は、
【０２２６】
【数１８】
0006741409.tif 000019
【０２２７】
で示される。また、図３７においてγで示される長さ、変形前のモアレの第１傾斜角moire_θ1及び第１パターン１２１のピッチpitchの関係は、
【０２２８】
【数１９】
0006741409.tif 000020
【０２２９】
で示される。第２ピッチのＹ方向成分moire_pitch_yは、βで示される長さとγで示される長さの和なので、
【０２３０】
【数２０】
0006741409.tif 000021
【０２３１】
で示される。
【０２３２】
また、説明された実施形態では、変形追従部１１１、非変形追従部１１２及び変形緩衝部１１３を含むシート１０１を撮像して測定対象物の変形量を求めていたが、他のシートを使用して測定対象物の変形量を求めてもよい。
【０２３３】
図３８（Ａ）は変形例に係るシートの第１状態を示す断面図であり、図３８（Ｂ）は図３８（Ａ）に示すシートの第２状態を示す断面図である。
【０２３４】
シート４０１は、第１方向に延伸する複数の直線を含む第１パターンを有する第１層部４１１と、第１層部４１１と重ねられ且つ第１方向とは異なる第２方向に延伸する複数の線画を含む第２パターンを有する第２層部４１２とを含む。第１層部４１１及び第２層部４１２のそれぞれは、接着部４１４を介して測定対象物４０２に接着される。
【０２３５】
測定対象物４０２が一連の状態である第１状態から、第１層部４１１に接着された第１部分４２１と第２層部４１２に接着された第２部分４２２とに空隙４０３を介して分離される第２状態になると、第１パターンと第２パターンとの間の位置関係が変位する。実施形態に係る変形量測定装置は、ピッチ変化量推定部６８の推定処理と同様な方法により、空隙４０３の幅Ｗを求めることができる。
【０２３６】
また、変形量測定装置１は、変形量測定処理の履歴を端末記憶部１５に記憶してもよく、記憶した変形量測定処理の履歴を表示する変形量測定履歴画面をタッチパネル１４に表示してもよい。
【０２３７】
図３９は端末記憶部１５に記憶される履歴テーブルの一例を示す図であり、図４０は図３９に示す履歴テーブルをタッチパネル１４に表示したときの履歴表示画面の一例を示す図である。図３９（Ａ）は画像の関連する情報テーブルの一例であり、図３９（Ｂ）はシート型番に関する情報テーブルの一例である。図３９（Ａ）に示す情報テーブルは、シートＩＤと、写真ＩＤ撮影日時、撮影者、シート型番、撮像場所、場所の同異、変形追従部の変形量、及び変形量アラームの出力の有無とを関連づける。図３９（Ｂ）に示す情報テーブルは、シート型番と、変形追従部１１１のパターンの幅及びピッチ、非変形追従部１１２のパターンの幅及びピッチ、オフセット角度並びにシート１０１の寸法とを関連づける。
【０２３８】
変形量測定履歴画面１４７は、測定履歴表示部１４７１と、日付表示部１４７２と、変形量表示部１４７３と、ＯＫボタン部１４７４と、キャンセルボタン部１４７５とを有する。測定履歴表示部１４６１は、図３９（Ａ）に示すテーブル等により端末記憶部１５に記憶された変形量測定処理の履歴が表示される。日付表示部１４７２は、変形量を変形量表示部１４７３に表示するための日付が選択可能に表示される。変形量表示部１４７３は、変形量表示部１４７３で選択された日付の変形量をひび割れ成長幅として表示する。
【０２３９】
また、説明された実施形態では、変形前の画像データから変形前のモアレの第１傾斜角及び第１ピッチを演算するが、実施形態に係る変形量測定装置は、変形前のモアレの第１傾斜角及び第１ピッチをオフセット角度と共に基準データとして記憶部に記憶してもよい。また、説明された実施形態では、空間周波数領域情報をから変形前後のモアレの傾斜角及びピッチが演算される。しかしながら、実施形態に係る変形量測定装置は、モアレの濃淡の調整及び最細化処理等の他の画像処理により、変形前後のモアレの傾斜角及びピッチを演算してもよい。
【０２４０】
説明された実施形態では、変形量アラーム及び誤演算アラームは、変形量測定装置のタッチパネルに表示されるが、実施形態に係る変形量測定装置は、変形量アラーム及び誤演算アラームを不図示のスピーカから発せられる警報音としてもよい。
【０２４１】
また、説明された実施形態では、変形量測定処理は単一の変形量測定装置で実行されたが、実施形態に係る変形量測定処理は複数の装置が協働して実行してもよい。
【０２４２】
図４１は、実施形態に係る変形量測定システムの概略構成の一例を示す図である。
【０２４３】
変形量測定システム５０１では、不図示の交換機が、広域通信回線網である通信ネットワーク５０５を介して相互に接続される。交換機は、ある地域をカバーする無線通信ネットワークを通信ネットワーク５０５に接続する。無線通信ネットワークには、地域内をカバーする無線ゾーンを管理するように基地局５０４が配置される。基地局５０４は、基地局５０４が属する不図示の無線ネットワーク制御装置を介して交換機に接続される。そして、その地域内の端末装置５０３が、サーバ５０２等と通信を行う際に、端末装置５０３は、基地局５０４を介して交換機に接続され、さらに通信ネットワーク５０５に接続される。
【０２４４】
また、通信ネットワーク５０５は、イーサネット（登録商標）等の有線ＬＡＮにより、不図示のゲートウェイを介して、イントラネット５０６と接続される。イントラネット５０６には、サーバ５０２がさらに接続される。
【０２４５】
図４２は、サーバ５０２の概略構成の一例を示す図である。
【０２４６】
サーバ５０２は、種々の情報処理が可能な情報処理装置であり、サーバ通信部５１１と、サーバ記憶部５１２と、サーバ表示部５１３と、サーバ入力部５１４と、サーバ処理部５２０とを備える。
【０２４７】
サーバ通信部５１１は、イーサネット（登録商標）などの有線の通信インターフェース回路を有する。サーバ通信部５１１は、イントラネット５０６を介して端末装置５０３等と通信を行う。そして、サーバ通信部５１１は、端末装置５０３等から受信したデータをサーバ処理部５２０に供給する。また、サーバ通信部５１１は、サーバ処理部５２０から供給されたデータを端末装置５０３等に送信する。
【０２４８】
サーバ記憶部５１２は、例えば、半導体メモリ、磁気ディスク装置、及び光ディスク装置のうちの少なくとも一つを有する。サーバ記憶部５１２は、サーバ処理部５２０による処理に用いられるドライバプログラム、オペレーティングシステムプログラム、アプリケーションプログラム、データ等を記憶する。例えば、サーバ記憶部５１２は、ドライバプログラムとして、サーバ通信部５１１を制御する通信デバイスドライバプログラム等を記憶する。また、サーバ記憶部５１２は、オペレーティングシステムプログラムとして、ＴＣＰ／ＩＰ（Transmission Control Protocol / Internet Protocol）等の通信方式による接続制御プログラム等を記憶する。また、サーバ記憶部５１２は、アプリケーションプログラムとして、ソフトウェアキーボードを記憶すると共に、各種データの送受信を行うデータ処理プログラム等を記憶する。コンピュータプログラムは、例えばＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ等のコンピュータ読み取り可能な可搬型記録媒体から、公知のセットアッププログラム等を用いてサーバ記憶部５１２にインストールされてもよい。
【０２４９】
サーバ表示部５１３は、動画像、静止画像等の出力が可能であればどのようなデバイスでもよく、例えば、タッチパネル式の表示装置、液晶ディスプレイ、有機ＥＬ（Electro−Luminescence）ディスプレイ等である。サーバ表示部５１３は、サーバ処理部５２０から供給される動画像データに応じた動画像、静止画像データに応じた静止画像等を表示する。
【０２５０】
サーバ入力部５１４は、サーバ５０２への入力が可能であればどのようなデバイスでもよく、例えば、タッチパネル式の入力装置、キーパッド等である。ユーザは、このデバイスを用いて、文字及び数字等を入力することができる。サーバ入力部５１４は、ユーザの指示を受け付け、受け付けた指示に対応する信号を発生し、サーバ処理部５２０に出力する。
【０２５１】
サーバ処理部５２０は、一又は複数個のプロセッサ及びその周辺回路を有する。サーバ処理部５２０は、サーバ５０２の全体的な動作を統括的に制御するものであり、例えば、ＣＰＵである。サーバ処理部５２０は、サーバ５０２の各種処理がサーバ記憶部５１２に記憶されているプログラム等に応じて適切な手順で実行されるように、サーバ通信部５１１等の動作を制御する。サーバ処理部５２０は、サーバ記憶部５１２に記憶されているプログラム（ドライバプログラム、オペレーティングシステムプログラム、アプリケーションプログラム等）に基づいて処理を実行する。また、サーバ処理部５２０は、複数のプログラム（アプリケーションプログラム等）を並列に実行することができる。
【０２５２】
サーバ処理部５２０は、ピッチ領域区分部５２１と、ピッチ変化量演算部５２２と、変形量演算部５２３と、変形量比較部５２４と、オフセット角度演算部５２５と、ピッチ変化量比較部５２６とを有する。サーバ処理部５２０は、ピッチ変化量推定部５２７と、ピッチ変化量検証部５２８と、シート識別情報（シートＩＤ）生成部５２９と、シート識別情報（シートＩＤ）参照部５３０と、情報取得部５３１とを更に有する。イベント変換部２４０は、文字データ変換部２４１と、更新画像生成部２４２とを有する。サーバ処理部５２０が有するこれらの各部は、サーバ処理部５２０が有するプロセッサ上で実行されるプログラムによって実装される機能モジュールである。あるいは、サーバ処理部５２０が有するこれらの各部は、独立した集積回路、マイクロプロセッサ、又はファームウェアとしてサーバ５０２に実装されてもよい。
【０２５３】
図４３は、端末装置５０３の概略構成の一例を示す図である。
【０２５４】
端末装置５０３は、端末処理部６０の代わりに端末処理部７０を有することが変形量測定装置５と相違する。端末処理部７０は、画像データ取得部７１と、演算結果判定部７２と、誤演算アラーム出力部７３と、変形量出力部７４と、変形量アラーム出力部７５とを有する。端末処理部７０以外の端末装置５０３の構成要素は、同一符号が付された変形量測定装置５の構成要素と同一の構成及び機能を有するので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０２５５】
図４４は、変形量測定システム５０１による変形前画像データ取得処理の動作シーケンスの一例を示す図である。
【０２５６】
以下に説明する動作シーケンスは、各装置において予め各装置の記憶部に記憶されているプログラムに基づき主に各装置の制御部により各装置の各要素と協働して実行される。
【０２５７】
まず、画像データ取得部７１は、不図示のオペレータが撮像部１６を介して撮像した測定対象物に接着された変形前のシート１０１の画像に対応する画像データを取得する（Ｓ１１０１）。次いで、画像データ取得部７１は、取得した画像に対応する画像データをサーバ５０２に送信する（Ｓ１１０２）。次いで、情報取得部５３１は、受信した画像に対応する画像データをサーバ記憶部５１２に記憶する（Ｓ１１０３）。
【０２５８】
次いで、画像データ取得部７１は、取得した画像に対応する画像データを撮像した撮像日時、撮像場所及びシート型番等を含む撮影状況情報を取得する（Ｓ１１０４）。次いで、画像データ取得部７１は、取得した撮影状況情報をサーバ５０２に送信する（Ｓ１１０５）。次いで、情報取得部５３１は、受信した撮影状況情報をサーバ記憶部５１２の画像関連テーブル及びシート型番テーブルに記憶する（Ｓ１１０６）。
【０２５９】
次いで、画像データ取得部７１は、取得した画像が変形前の画像、又は変形後の画像の何れかであるかを判定する（Ｓ１１０７）。画像データ取得部７１は、不図示のオペレータが変形前画像表示画面１４２の撮像画像選択部において変形前を選択することに応じて、取得した画像データが示す画像は、変形前の画像であると判定する。次いで、画像データ取得部７１は、取得した画像が変形前の画像であることを示す変形前画像撮影情報をサーバ５０２に送信する（Ｓ１１０８）。次いで、シートＩＤ生成部５２９は、シートＩＤ（シート識別情報）を生成する（Ｓ１１０９）。そして、情報取得部５３１は、取得した画像データ、各種情報及びシートＩＤ生成部５２９が生成したシートＩＤをサーバ記憶部５１２の画像関連テーブルに記憶する（Ｓ１１１０）。
【０２６０】
図４５（ａ）は画像関連テーブルの一例の第１状態を示す図であり、図４５（ｂ）は図４５（ａ）に示す画像関連テーブルの第２状態を示す図であり、図４５（ｃ）はシート型番テーブルの一例を示す図である。
【０２６１】
図４５（ａ）に示す画像関連テーブルはＳ１１０６において情報取得部５３１が受信した撮影状況情報を書き込んだ状態を示し、図４５（ｂ）に示す画像関連テーブルはＳ１１１０において情報取得部５３１がシートＩＤを書き込んだ状態を示す。情報取得部５３１は、画像関連テーブルにシートＩＤを書き込むときに、画像データが第１回目の画像データであること、変形量追従部１１１の変形量がゼロであること、及び変形量アラームが出力されていなことを画像関連テーブルに書き込む。図４５（ｃ）に示すシート型番テーブルは、Ｓ１１０６において情報取得部５３１が受信した撮影状況情報を書き込んだ状態を示す。
【０２６２】
図４６は変形量測定システム５０１による変形量測定処理の動作シーケンスの一例を示す図であり、図４７（ａ）は図４６のＳ１２１５のより詳細なフローを示す図であり、図４７（ｂ）は図４６のＳ１２１７のより詳細なフローを示す図である。説明を簡単にするために、図４６において、端末装置５０３は、図４４に示す変形前画像データ取得処理を実行した端末装置と同一の端末装置として記載される。しかしながら、図４６に示す変形量測定処理を実行する端末装置は、図４４に示す変形前画像データ取得処理を実行した端末装置とは別の端末装置であってもよい。例えば、図４４に示す変形前画像データ取得処理はトンネルを保守管理するオペレータが所有する端末装置が実行し、図４６に示す変形量測定処理は一般公衆が所有する端末装置が実行してもよい。
【０２６３】
以下に説明する動作シーケンスは、各装置において予め各装置の記憶部に記憶されているプログラムに基づき主に各装置の制御部により各装置の各要素と協働して実行される。
【０２６４】
まず、画像データ取得部２１は、不図示のオペレータが撮像部１６を使用して撮像した測定対象物に接着された変形後のシート１０１の画像に対応する画像データを取得する（Ｓ１２０１）。以降、Ｓ１２０２〜Ｓ１２０６の処理は、図４４を参照して説明したＳ１１０２〜Ｓ１１０６の処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。
【０２６５】
次いで、画像データ取得部７１は、取得した画像が変形前の画像、又は変形後の画像の何れかであるかを判定する（Ｓ１２０７）。画像データ取得部７１は、不図示のオペレータが変形前画像表示画面１４２の撮像画像選択部において変形後を選択することに応じて、取得した画像データが示す画像は、変形後の画像であると判定する。次いで、画像データ取得部７１は、取得した画像が変形後の画像であることを示す変形後画像撮影情報をサーバ５０２に送信する（Ｓ１２０８）。
【０２６６】
次いで、シートＩＤ参照部５３０は、Ｓ１２０１で取得した変形後の画像に関連付けるシートＩＤを撮影状況情報から決定する（Ｓ１２０９）。シートＩＤ参照部５３０は、サーバ記憶部５１２の画像関連テーブルを参照して、測位システム部１７が測定した位置情報が一致する画像データに関連付けられたシートＩＤを、変形後の画像のシートＩＤとして決定する。次いで、シートＩＤ参照部５３０は、サーバ記憶部５１２の画像関連テーブルを参照して、Ｓ１２０１で取得した変形後の画像に対応する画像データが何番目の画像データであるかを計数し、Ｓ１２０１で取得した変形後の画像の撮影回数を決定する（Ｓ１２１０）。次いで、シートＩＤ参照部５３０は、取得した画像データ及び各種情報を、Ｓ１２０９で決定したシートＩＤに関連付けてサーバ記憶部５１２の画像関連テーブルに記憶する（Ｓ１２１１）。
【０２６７】
次いで、シートＩＤで関連付けられた変形前後の画像を示す画像データをサーバ記憶部５１２から取得する（Ｓ１２１２）。次いで、ピッチ領域区分部５２１は、Ｓ１２１２で取得された変形前後のシート１０１の画像データの相違点から、ピッチ変化領域とピッチ不変領域とを区分する（Ｓ１２１３）。ピッチ変化量演算部５２２は、変形後のシート１０１のモアレのピッチからのパターンのピッチの変化量を演算する（Ｓ１２１４）。Ｓ１２１４の処理は、Ｓ８０１〜Ｓ８０７の処理を含むＳ７０５の処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。次いでサーバ処理部５２０は、変形量演算処理を実行する（Ｓ１２１５）。
【０２６８】
Ｓ１２１５に示す変形量演算処理では、ピッチ変化量比較部５２６は、Ｓ１２１４で演算されたピッチ変化量と、第１変化量しきい値とを比較する（Ｓ１３０１）。ピッチ変化量比較部５２６は、Ｓ１２１４で演算されたピッチ変化量が第１変化量しきい値以上のとき、演算された変形追従部１１１の変形量が間違いを含む可能性があることを示す誤演算アラームを演算結果情報として端末装置５０３に送信する（Ｓ１３０２）。
【０２６９】
また、変形量演算部５２３は、Ｓ１２１４で演算されたピッチ変化量が第１変化量しきい値より小さいとき、変形追従部１１１の変形量を演算する（Ｓ１３０３）。
【０２７０】
次いで、ピッチ変化量推定部５２７は、第１パターンのピッチの変化量を推定する（Ｓ１３０４）。Ｓ１３０４の処理は、Ｓ１００１〜Ｓ１００２の処理を含むＳ９０９の処理と同様なので、ここでは詳細な説明は省略する。次いで、ピッチ変化量検証部５２８は、Ｓ１３０３で演算された変形追従部１１１の変形量とＳ１３０４で推定された変形追従部１１１の変形量との差と、所定の第２演算しきい値とを比較する（Ｓ１３０５）。ピッチ変化量検証部５２８は、変形量の演算値と推定値との差が所定の第２演算しきい値以上であると判定したとき、演算された変形追従部１１１の変形量が間違いを含む可能性があることを示す誤演算アラームを演算結果情報として端末装置５０３に送信する（Ｓ１３０２）。ピッチ変化量検証部５２８は、変形量の演算値と推定値との差が所定の第２演算しきい値以上であると判定したとき、Ｓ１１１０で演算した変形追従部１１１の変形量を演算結果情報として端末装置５０３に送信する（Ｓ１３０６）。
【０２７１】
次いで、変形量比較部５２４は、Ｓ１２１４で演算された変形追従部１１１の変形量と、所定の変形量しきい値とを比較する（Ｓ１３０７）。変形量比較部５２４は、Ｓ１２１４で演算された変形追従部１１１の変形量が所定の変形量しきい値以上のとき、変形追従部１１１の変形量が基準値を超えたことを示す変形量アラームを演算結果情報として端末装置５０３に送信する（Ｓ１３０８）。次いで、端末処理部７０は、サーバ５０２から受信した演算結果情報に応じて、誤演算アラーム、変形追従部１１１の変形量、又は変形追従部１１１の変形量及び変形量アラームを出力する（Ｓ１２１７）。
【０２７２】
Ｓ１２１５に示す変形量演算処理では、演算結果判定部７２は、サーバ５０２から受信した演算結果情報が誤演算アラームを含むか否かを判定する（Ｓ１４０１）。演算結果判定部７２がサーバ５０２から受信した演算結果情報が誤演算アラームを含むと判定したとき、誤演算アラーム出力部７３は、誤演算アラームを出力する（Ｓ１４０２）。演算結果判定部７２がサーバ５０２から受信した演算結果情報が誤演算アラームを含まないと判定したとき、変形量出力部７４は、変形追従部１１１の変形量を出力する（Ｓ１４０３）。次いで、演算結果判定部７２は、サーバ５０２から受信した演算結果情報が変形量アラームを含むか否かを判定する（Ｓ１４０４）。演算結果判定部７２がサーバ５０２から受信した演算結果情報が変形量アラームを含むと判定したとき、変形量アラーム出力部７５は、変形量アラームを出力する（Ｓ１４０５）。
【０２７３】
図４８（ａ）は図４５（ａ）に示す画像関連テーブルの第３状態を示す図であり、図４８（ｂ）は図４５（ａ）に示す画像関連テーブルの第４状態を示す図である。
【０２７４】
図４８（ａ）に示す画像関連テーブルは、Ｓ１２０６において情報取得部５３１が受信した撮影状況情報を書き込んだ状態を示す。図４８（ｂ）に示す画像関連テーブルは、Ｓ２１１１においてシートＩＤ参照部５３０がＳ１２０９で決定したシートＩＤに関連付けて記憶した画像関連テーブルに、Ｓ１２１５に示す変形量演算処理において演算結果が書き込まれた状態を示す。
【０２７５】
＜建造物変形評価用物品＞
本発明の別の態様は、上述した本開示のシートを含む建造物変形評価用物品を提供する。
【０２７６】
典型的な態様において、建造物変形評価用物品は、建造物変形評価用物品と測定対象物とを接着するための接着面を有する。該接着面は、本開示のシートの変形追従部側表面であってよい。又は、建造物変形評価用物品は、本開示のシートと接着剤との組合せとして提供されてもよい。この場合、シートの使用時に、該シートを該接着剤で測定対象物に接着することができる。又は、本開示のシートからなる建造物変形評価用物品を提供し、別途従来公知の接着剤を使用して測定対象物に建造物変形評価用物品を固定することもできる。以上のように、本開示の建造物変形評価用物品は測定対象物に固定可能な任意の形態で提供されうる。
【０２７７】
＜シート又は建造物変形評価用物品の使用＞
本開示のシートは、測定対象物において生じた変形の位置及び程度を３次元にて評価できるという特性を活用して、種々の測定対象物の変形量の評価に使用できる。本開示のシートは種々の材質及び形状の広範な測定対象物に適用できるが、特に想定される測定対象物としては、建造物のコンクリート面（例えばコンクリート壁）、金属面等が挙げられる。
【符号の説明】
【０２７８】
１〜６    変形量測定装置
１０１    シート
１１１    変形追従部（第１層部）
１１２    非変形追従部（第２層部）
１１３    変形緩衝部
１２１    第１パターン
１２２    第２パターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
0006741409.tif 000032
【図１２】
0006741409.tif 000033
【図１３】
0006741409.tif 000034
【図１４】
0006741409.tif 000035
【図１５】
0006741409.tif 000036
【図１６】
0006741409.tif 000037
【図１７】
0006741409.tif 000038
【図１８】
0006741409.tif 000039
【図１９】
0006741409.tif 000040
【図２０】
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【図２１】
0006741409.tif 000042
【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
0006741409.tif 000049
【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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