(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品に電磁波を照射する照射部と、  前記物品を透過した電磁波を検出する検出部と、  前記検出部から出力された信号に基づいて電磁波による前記物品の透過画像を生成し、前記透過画像に基づいて前記物品の検査を行う検査部と、を備え、  前記検査部は、前記透過画像のうち前記物品に対応する領域について、所定方向における幅の中点を求め、複数の前記中点の位置に基づいて、前記物品に欠けが有るか否かを判定する、検査装置。
【請求項２】
前記検査部は、前記物品の形状に向きがある場合には、前記透過画像のうち前記物品に対応する前記領域について、前記所定方向に対して前記向きが一定となるように角度補正を実施する、請求項１記載の検査装置。
【請求項３】
前記透過画像のうち前記物品に対応する前記領域は、円形状又は楕円形状である、請求項１記載の検査装置。
【請求項４】
前記検査部は、前記透過画像のうち前記物品に対応する前記領域について、前記所定方向における幅の前記中点として第１方向における幅の第１中点を求めると共に、前記第１方向に交差する第２方向における幅の第２中点を求め、複数の前記第１中点の位置及び複数の前記第２中点の位置に基づいて、前記物品に欠けが有るか否かを判定する、請求項１〜３のいずれか一項記載の検査装置。
【請求項５】
前記検査部は、前記透過画像のうち前記物品に対応する前記領域について、前記領域が内接する矩形を求める矩形フィットを実施し、前記矩形の長手方向に直交する方向を前記所定方向とする、請求項１〜４のいずれか一項記載の検査装置。
【請求項６】
前記電磁波はＸ線である、請求項１〜５のいずれか一項記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、電磁波を利用して物品の検査を行う検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】  物品を透過した電磁波（Ｘ線、近赤外線、その他の電磁波）を検出することで電磁波による物品の透過画像を生成し、当該透過画像のうち物品に対応する領域の面積を求め、当該面積に基づいて物品に欠けが有るか否かを判定する検査装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−６５９７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】  上述したような検査装置では、例えば物品の一部が緩やかに欠けているような場合に、物品に欠けが有ると判定することが困難であった。【０００５】  そこで、本発明は、物品に欠けが有るか否かを精度良く判定することができる検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】  本発明の検査装置は、物品に電磁波を照射する照射部と、物品を透過した電磁波を検出する検出部と、検出部から出力された信号に基づいて電磁波による物品の透過画像を生成し、透過画像に基づいて物品の検査を行う検査部と、を備え、検査部は、透過画像のうち物品に対応する領域について、所定方向における幅の中点を求め、複数の中点の位置に基づいて、物品に欠けが有るか否かを判定する。【０００７】  この検査装置では、透過画像のうち物品に対応する領域について求めた複数の中点の位置に基づいて、物品に欠けが有るか否かを判定する。これは、例えば物品の一部が緩やかに欠けているような場合であっても、当該複数の中点の位置が比較的大きく変化するとの知見に基づくものである。よって、この検査装置によれば、物品に欠けが有るか否かを精度良く判定することができる。【０００８】  本発明の検査装置では、検査部は、物品の形状に向きがある場合には、透過画像のうち物品に対応する領域について、所定方向に対して向きが一定となるように角度補正を実施してもよい。これによれば、物品の形状に向きがある場合であっても、上述した複数の中点の位置に基づいて、物品に欠けが有るか否かを精度良く判定することができる。【０００９】  本発明の検査装置では、透過画像のうち物品に対応する領域は、円形状又は楕円形状であってもよい。これによれば、角度補正等を行わなくても、上述した複数の中点の位置に基づいて、物品に欠けが有るか否かを精度良く判定することができる。【００１０】  本発明の検査装置では、検査部は、透過画像のうち物品に対応する領域について、所定方向における幅の中点として第１方向における幅の第１中点を求めると共に、第１方向に交差する第２方向における幅の第２中点を求め、複数の第１中点の位置及び複数の第２中点の位置に基づいて、物品に欠けが有るか否かを判定してもよい。これによれば、例えば、第１方向に沿って物品の一部が緩やかに欠けているような場合及び第２方向に沿って物品の一部が緩やかに欠けているような場合のいずれの場合であっても、物品に生じている欠けの検出が可能であるため、物品に欠けが有るか否かをより精度良く判定することができる。【００１１】  本発明の検査装置では、検査部は、透過画像のうち物品に対応する領域について、領域が内接する矩形を求める矩形フィットを実施し、矩形の長手方向に直交する方向を所定方向としてもよい。これによれば、物品に欠けが有るか否かをより精度良く判定することができる。これは、矩形の長手方向に直交する方向における幅の中点では、例えば物品の一部が緩やかに欠けているような場合であっても、当該中点の位置が比較的大きく変化するとの知見に基づくものである。【００１２】  本発明の検査装置では、電磁波はＸ線であってもよい。これによれば、物品が包装されている場合であっても、包材や、包材に施された印刷に影響されることなく、物品の欠けを検査することができる。
【発明の効果】
【００１３】  本発明によれば、物品に欠けが有るか否かを精度良く判定することができる検査装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の一実施形態の検査装置であるＸ線検査装置の構成図である。
【図２】図１のＸ線検査装置の制御部のブロック図である。
【図３】図２の制御部の検査部による検査手順を示すフローチャートである。
【図４】（ａ）は欠けが無い楕円形状の物品に対応する領域を示す図であり、（ｂ）は欠けが有る楕円形状の物品に対応する領域を示す図である。
【図５】（ａ）は欠けが無い楕円形状の物品に対応する領域を示す図であり、（ｂ）は欠けが有る楕円形状の物品に対応する領域を示す図である。
【図６】（ａ）は欠けが無い矩形状の物品に対応する領域を示す図であり、（ｂ）は欠けが有る矩形状の物品に対応する領域を示す図である。
【図７】（ａ）は欠けが無い矩形状の物品に対応する領域を示す図であり、（ｂ）は欠けが有る矩形状の物品に対応する領域を示す図である。
【図８】欠けが無い矩形状の物品に対応する領域を示す図である。
【図９】（ａ）は搬送方向に沿った欠けが有る楕円形状の物品に対応する領域を示す図であり、（ｂ）は搬送方向に垂直な方向に沿った欠けが有る楕円形状の物品に対応する領域を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
［Ｘ線検査装置の構成］
【００１６】  図１に示されるように、Ｘ線検査装置（検査装置）１は、装置本体２と、支持脚３と、シールドボックス４と、搬送コンベア５と、Ｘ線照射部（照射部）６と、Ｘ線検出部（検出部）７と、表示操作部８と、制御部１０と、を備えている。Ｘ線検査装置１は、物品Ｇを搬送しつつ物品ＧのＸ線透過画像（電磁波による物品の透過画像）を取得し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ｇの検査（例えば、収納数検査、異物混入検査、欠品検査、割れ欠け検査等）を行う。
【００１７】
なお、検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１によってＸ線検査装置１に搬入され、検査後の物品Ｇは、搬出コンベア５２によってＸ線検査装置１から搬出される。Ｘ線検査装置１によって不良品と判定された物品Ｇは、搬出コンベア５２の下流に配置された振分装置（図示省略）よって生産ライン外に振り分けられ、Ｘ線検査装置１によって良品と判定された物品Ｇは、当該振分装置をそのまま通過する。
【００１８】
装置本体２は、制御部１０等を収容している。支持脚３は、装置本体２を支持している。シールドボックス４は、装置本体２に設けられており、Ｘ線の漏洩を防止する。シールドボックス４には、搬入口４ａ及び搬出口４ｂが形成されている。検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１から搬入口４ａを介してシールドボックス４内に搬入され、検査後の物品Ｇは、シールドボックス４内から搬出口４ｂを介して搬出コンベア５２に搬出される。搬入口４ａ及び搬出口４ｂのそれぞれには、Ｘ線の漏洩を防止するＸ線遮蔽カーテン（図示省略）が設けられている。
【００１９】
搬送コンベア５は、シールドボックス４内に配置されており、搬入口４ａから搬出口４ｂまで搬送方向Ａに沿って物品Ｇを搬送する。搬送コンベア５は、例えば、搬入口４ａと搬出口４ｂとの間に掛け渡されたベルトコンベアである。
【００２０】  Ｘ線照射部６は、シールドボックス４内に配置されており、搬送コンベア５によって搬送される物品ＧにＸ線（電磁波）を照射する。Ｘ線照射部６は、例えば、Ｘ線を出射するＸ線管と、Ｘ線管から出射されたＸ線を搬送方向Ａに垂直な面内において扇状に広げるコリメータと、を有している。
【００２１】
Ｘ線検出部７は、シールドボックス４内に配置されており、物品Ｇ及び搬送コンベア５を透過したＸ線を検出する。Ｘ線検出部７は、例えば、ラインセンサとして構成されている。具体的には、Ｘ線検出部７は、搬送方向Ａに垂直な水平方向に沿って一次元に配列された複数のフォトダイオードと、各フォトダイオードに対してＸ線入射側に配置されたシンチレータと、を有している。この場合、Ｘ線検出部７では、シンチレータに入射したＸ線が光に変換され、各フォトダイオードに入射した光が電気信号に変換される。
【００２２】
表示操作部８は、装置本体２に設けられており、各種情報の表示及び各種条件の入力受付等を行う。表示操作部８は、例えば、液晶ディスプレイであり、タッチパネルとしての操作画面を表示する。この場合、オペレータは、表示操作部８を介して各種条件を入力することができる。
【００２３】
制御部１０は、装置本体２内に配置されており、Ｘ線検査装置１の各部の動作を制御する。制御部１０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）等で構成されている。制御部１０には、Ｘ線検出部７から出力されてＡ／Ｄ変換された信号が入力される。制御部１０は、当該信号に基づいて物品ＧのＸ線透過画像を生成し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ｇの検査を行う検査部として機能する。
［検査部の構成］
【００２４】
図２に示されるように、制御部１０は、検査部１１として、領域抽出部１２と、矩形フィット部１３と、角度補正部１４と、中点抽出部１５と、欠け判定部１６と、を有している。制御部１０において、検査部１１、領域抽出部１２、矩形フィット部１３、角度補正部１４、中点抽出部１５及び欠け判定部１６は、ソフトウェアとしてとして構成される。ただし、これらの各部がハードウェアとして構成されてもよい。
【００２５】
領域抽出部１２は、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域を抽出する。矩形フィット部１３は、物品Ｇの形状に向きがあると設定されている場合に、領域抽出部１２によって抽出された領域が内接する矩形を求める矩形フィットを実施する。角度補正部１４は、矩形フィット部１３によって矩形フィットが実施された領域について、矩形の長手方向が搬送方向Ａに平行となるように角度補正を実施する。
【００２６】
中点抽出部１５は、領域抽出部１２によって抽出された領域（物品Ｇの形状に向きがあると設定されている場合には、角度補正部１４によって角度補正が実施された領域）について、搬送方向Ａに垂直な方向における中点を複数抽出する。欠け判定部１６は、中点抽出部１５によって抽出された複数の中点の位置に基づいて、物品Ｇに欠けが有るか否かを判定する。
【００２７】
なお、物品Ｇ（又はＸ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域）について向きがある形状とは、物品Ｇ（又はＸ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域）の所定位置に所定形状の凸部又は凹部が形成されている形状をいい、例えば、三角形状、矩形状等の多角形状（角が面取りされているものを含む）である。一方、物品Ｇ（又はＸ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域）について向きがない形状とは、円形状及び楕円形状である。
【００２８】
また、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域について、所定方向における幅の中点とは、所定方向に平行な直線と当該領域の外縁との２交点を結ぶ線分の中点である。中点抽出部１５は、例えば図４に示されるように、方向Ｂ（搬送方向Ａに垂直な方向）に平行な直線と領域Ｒ（Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域）の外縁との２交点を結ぶ線分の中点Ｐを複数抽出する。中点抽出部１５は、領域Ｒの全体に渡って、方向Ｂに平行な直線を複数設定し、中点Ｐを複数抽出する。このとき、複数の中点Ｐは、連続的に（すなわち、隣り合う画素として）抽出されてもよいし、断続的に（すなわち、複数おきの画素として）抽出されてもよい。
［検査部による検査処理］
【００２９】
上述した検査部１１による検査手順について、図３のフローチャートを参照しつつ、より詳細に説明する。以下、［物品Ｇの形状に向きがないと設定されている場合］と［物品Ｇの形状に向きがあると設定されている場合］とに分けて説明する。
［物品Ｇの形状に向きがないと設定されている場合］
【００３０】
まず、領域抽出部１２が、物品ＧのＸ線透過画像を取得し（図３のＳ０１）、例えば当該Ｘ線透過画像を二値化することで、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域Ｒを抽出する（図３のＳ０２）。続いて、予め物品Ｇの形状に向きがないと設定されている場合（図３のＳ０３の「ＮＯ」の場合）には、中点抽出部１５が、図４及び図５に示されるように、領域抽出部１２によって抽出された領域Ｒについて、搬送方向Ａに垂直な方向（所定方向）Ｂにおける中点Ｐを複数抽出する（図３のＳ０４）。
【００３１】
図４及び図５は、物品Ｇの形状が楕円形状であって物品Ｇの形状に向きがないと設定されている場合における領域Ｒを示す図である。
【００３２】
図４の（ａ）に示されるように、楕円の長軸の方向が搬送方向Ａに平行であって物品Ｇに欠けが無い場合には、複数の中点Ｐから最小二乗法によって求めた直線Ｌ上に複数の中点Ｐが位置する。一方、図４の（ｂ）に示されるように、楕円の長軸の方向が搬送方向Ａに平行であって物品Ｇに欠けが有る場合には、複数の中点Ｐから最小二乗法によって求めた直線Ｌ上に複数の中点Ｐが位置せず、特に、欠けが有る部分の中点Ｐが直線Ｌから相対的に大きく離れる。
【００３３】
また、図５の（ａ）に示されるように、楕円の長軸の方向が搬送方向Ａに平行ではなく物品Ｇに欠けが無い場合には、複数の中点Ｐから最小二乗法によって求めた直線Ｌ上に全ての中点Ｐが位置しないものの、直線Ｌに沿って直線Ｌの近傍に全ての中点Ｐが位置する。一方、図５の（ｂ）に示されるように、楕円の長軸の方向が搬送方向Ａに平行ではなく物品Ｇに欠けが有る場合には、複数の中点Ｐから最小二乗法によって求めた直線Ｌ上に複数の中点Ｐが位置せず、特に、欠けが有る部分の中点Ｐが直線Ｌから相対的に大きく離れる。
【００３４】
以上により、物品Ｇの形状に向きがないと設定されている場合（すなわち、領域Ｒが円形状又は楕円形状である場合）には、例えば、直線Ｌに対して所定距離以上（すなわち、所定画素数以上）離れた中点Ｐが存在するときに、物品Ｇに欠けが有ると判定することができる。
【００３５】
図３のＳ０４に続いて、欠け判定部１６が、中点抽出部１５によって抽出された複数の中点Ｐの位置に基づいて、物品Ｇに欠けが有るか否かを判定する（図３のＳ０５）。具体的には上述したように、欠け判定部１６は、直線Ｌに対して所定距離以上離れた中点Ｐが存在しない場合には、物品Ｇに欠けが無いと判定し、直線Ｌに対して所定距離以上離れた中点Ｐが存在する場合には、物品Ｇに欠けが有ると判定する。
【００３６】
続いて、欠け判定部１６によって欠けが無いと判定された場合（図３のＳ０５の「ＮＯ」の場合）には、検査部１１が、例えば、Ｘ線検査装置１の下流に配置された振分装置に対して物品Ｇをそのまま通過させる欠け無し処理を実施する（図３のＳ０６）。一方、欠け判定部１６によって欠けが有ると判定された場合（図３のＳ０５の「ＹＥＳ」の場合）には、検査部１１が、例えば、Ｘ線検査装置１の下流に配置された振分装置に対して物品Ｇを生産ライン外に振り分けさせる欠け有り処理を実施する（図３のＳ０７）。
［物品Ｇの形状に向きがあると設定されている場合］
【００３７】  まず、領域抽出部１２が、物品ＧのＸ線透過画像を取得し（図３のＳ０１）、例えば当該Ｘ線透過画像を二値化することで、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域Ｒを抽出する（図３のＳ０２）。続いて、予め物品Ｇの形状に向きがあると設定されている場合（図３のＳ０３の「ＹＥＳ」の場合）には、矩形フィット部１３が、図６に示されるように、領域抽出部１２によって抽出された領域Ｒが内接する矩形Ｓを求める矩形フィットを実施する（図３のＳ０８）。続いて、角度補正部１４が、図７に示されるように、矩形フィット部１３によって矩形フィットが実施された領域Ｒについて、矩形Ｓの長手方向Ｃが搬送方向Ａに平行となるように角度補正を実施する（図３のＳ０９）。続いて、中点抽出部１５が、角度補正部１４によって角度補正が実施された領域Ｒについて、搬送方向Ａに垂直な方向（所定方向）Ｂにおける中点Ｐを複数抽出する（図３のＳ０４）。
【００３８】
図６及び図７は、物品Ｇの形状が矩形状であって物品Ｇの形状に向きがあると設定されている場合における領域Ｒを示す図である。
【００３９】
図７の（ａ）に示されるように、矩形Ｓの長手方向Ｃが搬送方向Ａに平行であって物品Ｇに欠けが無い場合には、複数の中点Ｐから最小二乗法によって求めた直線Ｌ上に複数の中点Ｐが位置する。一方、図７の（ｂ）に示されるように、矩形Ｓの長手方向Ｃが搬送方向Ａに平行であって物品Ｇに欠けが有る場合には、複数の中点Ｐから最小二乗法によって求めた直線Ｌ上に複数の中点Ｐが位置せず、特に、欠けが有る部分の中点Ｐが直線Ｌから相対的に大きく離れる。
【００４０】
なお、物品Ｇに欠けが無い場合であっても、矩形Ｓの長手方向Ｃが搬送方向Ａに平行となるように角度補正を実施しないと、図８に示されるように、複数の中点Ｐから最小二乗法によって求めた直線Ｌ上に複数の中点Ｐが位置しない。
【００４１】
以上により、物品Ｇの形状に向きがあると設定されている場合には、例えば、矩形Ｓの長手方向Ｃが搬送方向Ａに平行となるように角度補正を実施し、その上で、直線Ｌに対して所定距離以上（すなわち、所定画素数以上）離れた中点Ｐが存在するときに、物品Ｇに欠けが有ると判定することができる。
【００４２】
図３のＳ０４に続いて、欠け判定部１６が、中点抽出部１５によって抽出された複数の中点Ｐの位置に基づいて、物品Ｇに欠けが有るか否かを判定する（図３のＳ０５）。具体的には上述したように、欠け判定部１６は、直線Ｌに対して所定距離以上離れた中点Ｐが存在しない場合には、物品Ｇに欠けが無いと判定し、直線Ｌに対して所定距離以上離れた中点Ｐが存在する場合には、物品Ｇに欠けが有ると判定する。
【００４３】
続いて、欠け判定部１６によって欠けが無いと判定された場合（図３のＳ０５の「ＮＯ」の場合）には、検査部１１が、例えば、Ｘ線検査装置１の下流に配置された振分装置に対して物品Ｇをそのまま通過させる欠け無し処理を実施する（図３のＳ０６）。一方、欠け判定部１６によって欠けが有ると判定された場合（図３のＳ０５の「ＹＥＳ」の場合）には、検査部１１が、例えば、Ｘ線検査装置１の下流に配置された振分装置に対して物品Ｇを生産ライン外に振り分けさせる欠け有り処理を実施する（図３のＳ０７）。
［作用及び効果］
【００４４】
以上説明したように、Ｘ線検査装置１では、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域Ｒについて求めた複数の中点Ｐの位置に基づいて、物品Ｇに欠けが有るか否かを判定する。これは、例えば物品Ｇの一部が緩やかに欠けているような場合であっても、当該複数の中点Ｐの位置が比較的大きく変化するとの知見に基づくものである。例えば、例えば物品Ｇの一部が緩やかに欠けているような場合、物品Ｇに対応する領域Ｒの面積、物品Ｇに対応する領域Ｒの外縁の周長等に比べ、中点Ｐの位置には大きな変化が現れる。よって、Ｘ線検査装置１によれば、物品Ｇに欠けが有るか否かを精度良く判定することができる。
【００４５】
また、Ｘ線検査装置１では、検査部１１が、物品Ｇの形状に向きがある場合に、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域Ｒについて、矩形Ｓの長手方向Ｃが搬送方向Ａに平行となるように角度補正を実施する。これにより、物品Ｇの形状に向きがある場合であっても、上述した複数の中点Ｐの位置に基づいて、物品Ｇに欠けが有るか否かを精度良く判定することができる。
【００４６】
また、Ｘ線検査装置１では、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域Ｒが円形状又は楕円形状である場合がある。この場合、角度補正等を行わなくても、上述した複数の中点Ｐの位置に基づいて、物品Ｇに欠けが有るか否かを精度良く判定することができる。
［変形例］
【００４７】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。
【００４８】
例えば、検査部１１は、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域Ｒについて、方向Ｂにおける幅の中点Ｐを求めなくても、所定方向における幅の中点Ｐを求めれば、複数の中点Ｐの位置に基づいて、物品Ｇに欠けが有るか否かを判定することができる。一例として、欠けが無い物品Ｇについて、所定方向における幅の中点Ｐを複数求めて各中点Ｐの位置を記憶しておけば、記憶した各中点Ｐの位置から、抽出した各中点Ｐの位置が所定距離以上（すなわち、所定画素数以上）離れたときに、物品Ｇに欠けが有ると判定することができる。また、上記実施形態では、直線Ｌに対して所定距離以上（すなわち、所定画素数以上）離れた中点Ｐが存在するときに、物品Ｇに欠けが有ると判定したが、次のように、物品Ｇに欠けが有る否かを判定してもよい。複数の中点Ｐを繋いだ線と、直線Ｌ又は正規品（欠けが無い物品Ｇ）についての線形とを比較し、その類似度に基づいて、物品Ｇに欠けが有る否かを判定してもよい。或いは、正規品（欠けが無い物品Ｇ）について複数の中点Ｐを繋いだ線が直線の場合には、複数の中点Ｐを繋いだ線の湾曲度合に基づいて、物品Ｇに欠けが有る否かを判定してもよい。
【００４９】
また、検査部１１は、矩形Ｓの長手方向Ｃが搬送方向Ａに平行となるように角度補正を実施しなくても、所定方向に対して向きが一定となるように角度補正を実施すれば、形状に向きがある物品Ｇについて、物品Ｇに欠けが有るか否かを判定することができる。一例として、欠けが無い物品Ｇについて、所定方向に対して向きが一定となるように角度補正を実施した場合における各中点Ｐの位置を記憶しておけば、記憶した各中点Ｐの位置から、抽出した各中点Ｐの位置が所定距離以上（すなわち、所定画素数以上）離れたときに、物品Ｇに欠けが有ると判定することができる。また、幅の中点Ｐを求めるための所定方向に垂直な方向に延在するラインに対して線対称となるように角度補正を実施してもよい。その場合、欠けが無い物品Ｇについては、抽出した複数の中点Ｐが当該ライン上に位置することになるため、物品Ｇに欠けが有るか否かの判定を容易化することができる。
【００５０】
また、検査部１１は、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域Ｒについて、所定方向における幅の中点Ｐとして、図９の（ａ）に示されるように、第１方向（ここでは、搬送方向Ａに垂直な方向Ｂ）における幅の第１中点Ｐ１を求めると共に、図９の（ｂ）に示されるように、第１方向に交差する第２方向（ここでは、搬送方向Ａ）における幅の第２中点Ｐ２を求めてもよい。そして、検査部１１は、複数の第１中点Ｐ１の位置及び複数の第２中点Ｐ２の位置に基づいて、物品Ｇに欠けが有るか否かを判定してもよい。
【００５１】
これによれば、例えば、第１方向（ここでは、搬送方向Ａに垂直な方向Ｂ）に沿って物品Ｇの一部が緩やかに欠けているような場合（図９の（ｂ）の場合）及び第２方向（ここでは、搬送方向Ａ）に沿って物品Ｇの一部が緩やかに欠けているような場合（図９の（ａ）の場合）のいずれの場合であっても、物品Ｇに生じている欠けの検出が可能であるため、物品Ｇに欠けが有るか否かをより精度良く判定することができる。なお、第１方向と第２方向とは、図９の（ａ）及び（ｂ）に示されるように必ずしも互いに直交している必要はなく、互いに交差していればよい。
【００５２】
また、検査部１１は、角度補正以外の目的で、矩形フィットを実施してもよい。一例として、検査部１１は、Ｘ線透過画像のうち物品Ｇに対応する領域Ｒについて、領域Ｒが内接する矩形Ｓを求める矩形フィットを実施し、矩形Ｓの長手方向Ｃに直交する方向を、幅の中点Ｐを求めるための所定方向としてもよい。これによれば、物品Ｇに欠けが有るか否かをより精度良く判定することができる。これは、矩形Ｓの長手方向Ｃに直交する方向における幅の中点Ｐでは、例えば物品Ｇの一部が緩やかに欠けているような場合であっても、当該中点Ｐの位置が比較的大きく変化するとの知見に基づくものである。
【００５３】  また、本発明は、物品を透過した電磁波（近赤外線、その他の電磁波）を検出することで電磁波による物品の透過画像を生成し、当該透過画像に基づいて物品の検査を行う、Ｘ線検査装置以外の検査装置に適用可能である。ただし、電磁波としてＸ線を利用する場合には、物品Ｇが包装されている場合であっても、包材や、包材に施された印刷に影響されることなく、物品Ｇの欠けを検査することができる。
【符号の説明】
【００５４】  １…Ｘ線検査装置（検査装置）、６…Ｘ線照射部（照射部）、７…Ｘ線検出部（検出部）、１１…検査部、Ｇ…物品。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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