(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する記憶部と、
前記測定履歴情報に基づいて、測定指示を受けた前記測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する算出部と、
前記測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた前記測定項目の前記測定空白期間が前記所定期間以上か否か判断する判断部と、
前記判断部により、測定指示を受けた前記測定項目の前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する表示部と、
を有する自動分析装置。
【請求項２】
前記記憶部は、測定履歴情報として、測定項目ごとの前記前回測定時としての最新測定時刻を記憶し、
前記算出部は、前記最新測定時刻と前記測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、前記測定空白期間を算出する
ことを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項３】
前記表示部は、前記精度管理試料の投入を推奨する情報を前記精度管理推奨情報として表示することを特徴とする請求項１又は２に記載の自動分析装置。
【請求項４】
前記判断部は、前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断したとき、さらに、前記精度管理試料の投入が行われたか否かを判断し、
前記表示部は、前記判断部により、前記精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき、前記測定項目の測定結果に係る第１の警告情報を表示する
ことを特徴とする請求項３に記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記判断部は、前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断したとき、さらに、前記精度管理試料の測定が行われたか否かを判断し、
前記表示部は、前記判断部により、前記精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき、前記測定項目の測定結果に係る第２の警告情報を表示する
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の自動分析装置。
【請求項６】
前記判断部は、前記精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、前記精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断し、前記測定結果が正常であると判断したとき、被検試料の測定結果を有効であると判断することを特徴とする請求項５に記載の自動分析装置。
【請求項７】
前記判断部は、前記精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、前記精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断し、
前記算出部は、前記判断部により、前記測定結果が正常でないと判断されたとき、測定指示を受けた前記測定項目の検量線の補正処理を行い、前記補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する
ことを特徴とする請求項５に記載の自動分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
臨床検査は、被検者の状態を客観的に評価するために行われる。この臨床検査には臨床検査装置が主に用いられる。臨床検査装置の一例として、自動分析装置が挙げられる。
【０００３】
自動分析装置は、反応管に血液や尿等の被検試料と試薬とを分注してこれらを混合して反応させた後、反応によって生じる色調や濁りの変化を測定（検査）する。それにより、被検試料中の被測定物質（測定項目）の濃度や活性を測定する。
【０００４】
自動分析装置は、被測定物質の濃度や活性が既知である校正用試料（キャリブレーション試料）と当該試薬とによって求められている検量線に基づいて、被検試料中の被測定物質（測定項目）の濃度や活性を測定する。
【０００５】
測定項目の中には、例えば、ＬＣＡＴ（Lecitin-cholesterol acyltransferase、レシチン-コレステロールアシルトランスフェラーゼ）、乳酸等をそれぞれ測定する項目のように、前回測定時からの期間が長く空いたものがある。この測定の前に、被測定物質の濃度や活性が既知である精度管理試料（コントロール試料）を測定し、検量線と照合することによって精度管理を行う（精度管理測定）。そして、十分な精度が得られると判断された場合に、被検試料の測定が行われる。なお、校正用試料及び精度管理試料は、被測定物質の濃度や活性が既知であることは共通しているが、その使用目的が異なる。従って、通常、校正用試料及び精度管理試料は、自動分析装置において互いに区別して管理される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特許第４６１９８９２号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従来、この精度管理測定の間、被検試料の測定が一時停止され、精度管理測定に問題がなければ被検試料の測定が開始される場合があった。この場合、被検試料が自動分析装置内に長時間放置されていた。精度管理測定の結果に問題があると判断された場合、被検試料が再測定されずに排出される場合があった。また、前回測定時からの期間が短い測定項目について精度管理測定を行い、精度管理試料を多く消費してしまう場合があった。
【０００８】
本発明が解決しようとする課題は、前回測定時からの期間が長く空いた測定項目について、簡便に精度管理を行うことができる自動分析装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
実施形態の自動分析装置は、記憶部と、算出部と、判断部と、表示部とを有する。記憶部は、測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する。算出部は、測定履歴情報に基づいて、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する。判断部は、測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。表示部は、判断部により、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図。
【図２】実施形態に係る自動分析装置の分析モジュールの概略を表す模式図。
【図３】実施形態に係るラックセットレイアウトの概略を示す模式図。
【図４Ａ】実施形態に係る自動分析装置の動作を示すフローチャート。
【図４Ｂ】実施形態に係る自動分析装置の動作を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、実施形態に係る自動分析装置について図面を参照して説明する。
【００１２】
図１は、実施形態に係る自動分析装置１の機能構成を示すブロック図である。自動分析装置１は、分析モジュール２と、記憶回路３と、処理回路４と、ディスプレイ５と、入力回路６とを有する。
【００１３】
図２は、実施形態に係る自動分析装置１の分析モジュール２の概略を表す模式図である。分析モジュール２は、第１試薬ボトル２１ａ、第２試薬ボトル２１ｂ、第１試薬ラック２２ａ、第２試薬ラック２２ｂ、第１試薬庫２３ａ、第２試薬庫２３ｂ、反応管２４、反応ディスク２５、試料容器２６、ラック２７、第１分注アーム２８ａ、第２分注アーム２８ｂ、サンプリングアーム２９、攪拌ユニット３０、測光ユニット３１、及び洗浄ユニット３２を有する。
【００１４】
第１試薬ボトル２１ａには、試料と反応する第１試薬が収容される。第２試薬ボトル２１ｂには、第１試薬と異なる種類の試薬である第２試薬が収容される。第１試薬ラック２２ａは、複数の第１試薬ボトル２１ａを収容した状態で第１試薬庫２３ａに設置される。第２試薬ラック２２ｂは複数の第２試薬ボトル２１ｂを収容した状態で第２試薬庫２３ｂに設置される。
【００１５】
反応管２４は、試料と第１試薬及び第２試薬とを反応させる際に使用する容器である。反応ディスク２５には、複数の反応管２４が円状に配置される。
【００１６】
試料容器２６は、試料が収められる容器である。１つの試料容器２６には、該試料として、血液や尿等の被検試料、被測定物質の濃度や活性が既知である校正用試料又は精度管理試料が収められる。ラック２７には、複数の試料容器２６が配置される。ラック２７は、たとえば、一般的な搬送機構であるレールＲの上流側（図２の場合、レールＲの右側）に投入され、そして、下流側（図２の場合、レールＲの左側）へ搬送される。試料容器２６の一つ一つは、個別にバーコード等の識別符号が付帯され、個別に管理可能である。
【００１７】
第１試薬は、第１分注アーム２８ａによって、試料が分注されている反応管２４内へ第１試薬ボトル２１ａ内から分注される。第２試薬は、第２分注アーム２８ｂによって、試料及び第１試薬が分注されている反応管２４内へ第２試薬ボトル２１ｂ内から分注される。
【００１８】
試料と第１試薬とが分注された反応管２４、並びに、試料と第１試薬及び第２試薬とが分注された反応管２４は、反応ディスク２５の回動により、攪拌ユニット３０の位置まで移動される。攪拌ユニット３０は、反応管２４内の試料と第１試薬とを攪拌し、また、反応管２４内の試料と第１試薬及び第２試薬とを攪拌して、試料と第１試薬及び第２試薬とを混合させるユニットである。
【００１９】
攪拌された試料と第１試薬及び第２試薬とを含む反応管２４は、反応ディスク２５の回動により、測光ユニット３１の位置まで移動される。測光ユニット３１は、反応管２４に対して光を照射し、試料と第１試薬及び第２試薬との混合液の吸光度変化等を測定する。
【００２０】
洗浄ユニット３２は、測定が完了した反応管２４内の混合液が廃棄された後、反応管２４内の洗浄を行う。以上で分析モジュール２の概要説明を終了する。
【００２１】
図１に示す自動分析装置１では、構成要素、算出部・判断部にて行なわれる各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路３へ記録されている。処理回路４は、プログラムをメモリから読み出し実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路４は、図１の処理回路４内に示された各機能を有することとなる。
【００２２】
なお、ここでは、単一の処理回路４にて算出部・判断部にて行なわれる処理機能が実現されるものとして説明するが、複数の分離したプロセッサを組み合わせ、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。
【００２３】
本明細書における「プロセッサ」という文言は、例えば、専用又は汎用のＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）  ａｒｉｔｈｍｅｔｉｃ  ｃｉｒｃｕｉｔ（ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）、或いは、特定用途向け集積回路（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Ｓｉｍｐｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｄｅｖｉｃｅ：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Ｃｏｍｐｌｅｘ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｄｅｖｉｃｅ：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは、メモリに保存された、又はプロセッサの回路内に直接組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。プログラムを記憶するメモリは、プロセッサごとに個別に設けられるものであっても構わないし、或いは図１における記憶回路３が各プロセッサの機能に対応するプログラムを記憶するものであっても構わない。記憶回路３の構成には、例えば、一般的なＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）やＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｃ  Ｄｒｉｖｅ）等の記憶装置が適用される。
【００２４】
なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。
【００２５】
特許請求の範囲における記憶部の一例は、本実施形態における記憶回路３に対応する。特許請求の範囲における算出部の一例は、本実施形態における算出機能４１に対応する。特許請求の範囲における判断部の一例は、判断機能４２に対応する。
【００２６】
入力回路６は、トラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等に一般的に用いられる回路である。入力回路６は、処理回路４に通信可能に接続されている。入力回路６は、操作者から受け取った入力操作を電気信号へ変換し処理回路４へ出力する。
【００２７】
記憶回路３は、測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する。例えば、記憶回路３は、測定履歴情報として、測定項目ごとの前回測定時としての最新測定時刻を記憶する。記憶回路３は、操作者により入力される測定指示に係る測定項目を表す電気信号を受けたときの時刻を測定項目ごとに記憶する。このとき、記憶回路３には一般的な計時機能が適用されればよく、時刻の計時方式は何ら限定されるものではない。また、時刻の記憶に関し、記憶回路３は、当該測定項目の最新時刻を測定履歴情報として記憶すればよい。従って、記憶回路３における記憶方式は、上書き記憶でもストック記憶でもどちらでもよい。
【００２８】
処理回路４は、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する（算出機能４１）。このとき、処理回路４は、最新測定時刻と測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、測定空白期間を算出する。処理回路４は、操作者により入力される測定指示に係る測定項目の最新測定時刻を記憶回路３から読み出す。処理回路４は、一般的な計時機能によって、測定指示時刻を特定する。処理回路４は、読み出した最新測定時刻と測定指示時刻との間の期間を測定空白期間として算出する。
【００２９】
処理回路４は、測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する（判断機能４２）。この所定期間は、例えば、操作者による入力操作によって測定項目ごとに予め入力され、記憶回路３に記憶される。処理回路４は、測定指示を受けた測定項目に対応する所定期間と算出された測定空白期間とを比較する。それにより、処理回路４は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されることは、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであると判断されることに相当する。処理回路４は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。
【００３０】
ディスプレイ５は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）や有機ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）ディスプレイ等の一般的な表示装置によって構成される。ディスプレイ５は、特許請求の範囲における表示部の一例に相当する。
【００３１】
ディスプレイ５は、処理回路４により、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。このとき、ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、精度管理推奨情報を表示する。精度管理推奨情報は、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであり、精度管理測定が必要な測定項目であることを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、精度管理推奨情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、精度管理推奨情報によって、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであり、精度管理測定が必要な測定項目であること把握する。それにより、操作者は、入力回路６を操作して、精度管理測定を行うための操作入力を行うことができる。
【００３２】
なお、ディスプレイ５は、精度管理試料の投入を推奨する情報を精度管理推奨情報として表示してもよい。例えば、ディスプレイ５は、精度管理測定を行うための操作入力を受け、精度管理測定のためのラックセットレイアウトを示す情報を表示する。図３は、ラックセットレイアウトの概略を示す模式図である。枠線２７１は、ラック２７を模式的に示す。位置Ａ〜位置Ｅは、ラック２７において試料容器２６が設置される位置を示す。図３では、位置Ａ及び位置Ｂに精度管理試料を設置し、かつ、位置Ｃ、位置Ｄ、及び位置Ｅに被検試料を設置してラックを投入することを推奨する情報が表示されている例を示している。それにより、操作者は、この情報に基づいて、精度管理試料の設置位置を把握しながら精度管理試料を投入することができる。
【００３３】
また、処理回路４は、測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、さらに、精度管理試料の投入が行われたか否かを判断してもよい。例えば、処理回路４は、試料容器２６ごとに付帯されたバーコード等の識別符号を読み取る。処理回路４は、読み取った識別符号に基づいて、精度管理試料が収められた試料容器２６が投入されたか否かを判断する。処理回路４は、精度管理試料の投入が行われていないと判断したとき、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。
【００３４】
ディスプレイ５は、処理回路４により、精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき、当該測定項目の測定結果に係る第１の警告情報を表示する。このとき、ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、第１の警告情報を表示する。第１の警告情報は、精度管理試料の投入が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、第１の警告情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、第１の警告情報によって、精度管理試料の投入が行われていないことを把握することができる。
【００３５】
また、処理回路４は、測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、さらに精度管理試料の測定が行われたか否かを判断してもよい。例えば、処理回路４は、試料容器２６ごとに付帯された識別符号を読み取る。処理回路４は、読み取った識別符号に基づいて精度管理試料が収められた試料容器２６を特定し、該試料容器２６からサンプリングアーム２９によって分注された試料の測定結果（すなわち、精度管理測定の結果）を取得できたとき、精度管理試料の測定が行われたと判断する。処理回路４は、精度管理測定の結果を取得できないとき、精度管理試料の測定が行われていないと判断する。処理回路４は、精度管理試料の測定が行われていないと判断したとき、この判断を示す制御信号を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。
【００３６】
ディスプレイ５は、処理回路４により、精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき、当該測定項目の測定結果に係る第２の警告情報を表示する。このとき、ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、第２の警告情報を表示する。第２の警告情報は、精度管理試料の測定が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、第２の警告情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、第２の警告情報によって、精度管理試料の測定が行われていないことを把握することができる。
【００３７】
また、処理回路４は、精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断する。例えば、処理回路４は、精度管理試料の測定結果（検量線との照合で得られた濃度や活性）と、当該精度管理試料の既知の値（既知の濃度や活性）とを照合し、これらの誤差が許容範囲内であるか否かを判断する。この許容範囲は、例えば操作者によって測定項目ごとに予め設定される。処理回路４は、この誤差が許容範囲内であるとき、精度管理試料の測定結果が正常であると判断する。そして、処理回路４は、測定結果が正常であると判断したとき、被検試料の測定結果を有効であると判断する。有効であるという判断がなされることは、実施形態の自動分析装置１において、被検試料中の被測定物質の濃度や活性が正常に測定されたと判断されることに相当する。処理回路４は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯する。
【００３８】
処理回路４は、この誤差が許容範囲内でないとき、精度管理試料の測定結果が正常でないと判断する。処理回路４は、測定結果が正常でないと判断したとき、当該測定項目の検量線の補正処理を行う。この補正処理の例としてはブランク補正が挙げられる。ブランク補正の処理内容には一般的な処理内容が適用されてよい。次に、処理回路４は、補正処理後の検量線について精度管理測定を行う。このとき、処理回路４は、補正処理後の検量線との照合で得られた測定結果と、当該精度管理試料の既知の値とを照合し、これらの誤差が許容範囲内であるか否かを判断する。処理回路４は、この誤差が許容範囲内であるとき、補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常であると判断する。そして、処理回路４は、補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する。例えば、処理回路４は、被検試料の測定結果を補正処理後の検量線と照合して、被検試料中の被測定物質の濃度や活性を測定する。
【００３９】
処理回路４は、補正処理後の検量線との照合で得られた測定結果と、当該精度管理試料の既知の値とを照合し、これらの誤差が許容範囲内でないとき、被検試料の測定結果を無効とする。例えば、処理回路４は、被検試料の測定結果に無効を表す付帯情報を付帯する。また、処理回路４は、被検試料の測定結果が無効であることを示す制御信号をディスプレイ５へ出力する。ディスプレイ５は、測定結果が無効であることを示す情報を表示する。操作者は、被検試料の測定結果が無効であることを把握することができる。
【００４０】
この場合、処理回路４は、分析モジュール２を制御して、キャリブレーション試料を用いた測定を行い、検量線を再作成する。検量線の再作成処理については、一般的な処理内容が適用されてよい。なお、このとき、図３の例と同様に、ディスプレイ５は、キャリブレーション試料の設置位置に係るラックレイアウトを表示してもよい。そして、自動分析装置１は、再作成した検量線に基づいて被検試料を再測定する。
【００４１】
図４Ａ及び図４Ｂは、実施形態の自動分析装置１の動作を示すフローチャートである。
【００４２】
ステップＳ１０１：操作者は、入力回路６を介して測定項目を示す測定指示を処理回路４へ入力する。処理回路４は、この測定指示を受け付ける。
【００４３】
ステップＳ１０２：処理回路４は、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの期間である測定空白期間を算出する。このとき、処理回路４は、最新測定時刻と測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、測定空白期間を算出する。
【００４４】
ステップＳ１０３：処理回路４は、測定指示を受けた測定項目に対応する所定期間と算出された測定空白期間とを比較する。それにより、処理回路４は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上でないと判断されたとき（ステップＳ１０３；Ｎｏ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０４へ進む。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき（ステップＳ１０３；Ｙｅｓ）、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。また、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０５へ進む。
【００４５】
ステップＳ１０４：分析モジュール２は、被検試料中の被測定物質（測定項目）の濃度や活性を測定する。なお、処理回路４は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯してもよい。
【００４６】
ステップＳ１０５：ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。
【００４７】
ステップＳ１０６：操作者が精度管理測定を行う旨の操作入力を行ったとき（ステップＳ１０６；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０７へ進む。操作者が精度管理測定を行わない旨の操作入力を行ったとき（ステップＳ１０６；Ｎｏ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０４へ進む。
【００４８】
ステップＳ１０７：処理回路４は、精度管理試料の投入が行われたか否かを判断する。精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき（ステップＳ１０７；Ｎｏ）、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。また、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０８へ進む。精度管理試料の投入が行われたと判断されたとき（ステップＳ１０７；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０９へ進む。
【００４９】
ステップＳ１０８：ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、第１の警告情報を表示する。第１の警告情報は、精度管理試料の投入が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。
【００５０】
ステップＳ１０９：処理回路４は、精度管理試料の測定が行われたか否かを判断する。精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき（ステップＳ１０９；Ｎｏ）、この判断を示す制御信号を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。また、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１０へ進む。精度管理試料の測定が行われたと判断されたとき（ステップＳ１０９；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１１へ進む。
【００５１】
ステップＳ１１０：ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、第２の警告情報を表示する。第２の警告情報は、精度管理試料の測定が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。
【００５２】
ステップＳ１１１：処理回路４は、精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断する。精度管理試料の測定結果が正常であると判断されたとき（ステップＳ１１１；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１２へ進む。精度管理試料の測定結果が正常でないと判断されたとき（ステップＳ１１１；Ｎｏ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１３へ進む。
【００５３】
ステップＳ１１２：処理回路４は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯する。なお、ステップＳ１０７からステップＳ１１２までの処理の間、分析モジュール２は、被検試料中の被測定物質（測定項目）の濃度や活性を測定している。この測定によって得られた値は、その有効・無効の判断が保留された状態（有効であることを示す付帯情報も無効あることを示す付帯情報も付帯されていない状態）で記憶回路３に記憶されている。
【００５４】
ステップＳ１１３：処理回路４は、当該測定項目の検量線の補正処理を行う。この補正処理の例としてはブランク補正が挙げられる。
【００５５】
ステップＳ１１４：処理回路４は、補正処理後の検量線について精度管理測定を行う。
【００５６】
ステップＳ１１５：処理回路４は、補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常か否かを判断する。補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常であると判断されたとき（ステップＳ１１５；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１６へ進む。補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常でないと判断されたとき（ステップＳ１１５；Ｎｏ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１７へ進む。
【００５７】
ステップＳ１１６：処理回路４は、補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する。
【００５８】
ステップＳ１１７：被検試料の測定結果を無効とする。例えば、処理回路４は、被検試料の測定結果に無効を表す付帯情報を付帯する。
【００５９】
ステップＳ１１８：処理回路４は、分析モジュール２を制御して、キャリブレーション試料を用いた測定を行い、検量線を再作成する。
【００６０】
以上述べた実施形態の自動分析装置１によれば、前回測定時からの期間が長く空いた測定項目について、簡便に精度管理を行うことができる。また、精度管理試料の測定結果が正常であることを判断した後で、既に測定された被検試料の測定結果を有効とするので、被検試料が測定されずに長時間放置されるケースや排出されるケースを低減することができる。また、精度管理測定のためのラックセットレイアウトを示す情報を表示することによって、被検試料専用のラック２７と精度管理試料専用のラック２７とを使い分ける手間を省くことができる。また、前回測定時からの期間が短い測定項目について精度管理測定を行い、精度管理試料を多く消費することの防止を図ることができる。
【００６１】
本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図していない。この実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００６２】
１      自動分析装置
２      分析モジュール
３      記憶回路
４      処理回路
５      ディスプレイ
６      入力回路
２１ａ  第１試薬ボトル
２１ｂ  第２試薬ボトル
２２ａ  第１試薬ラック
２２ｂ  第２試薬ラック
２３ａ  第１試薬庫
２３ｂ  第２試薬庫
２４    反応管
２５    反応ディスク
２６    試料容器
２７    ラック
２８ａ  第１分注アーム
２８ｂ  第２分注アーム
２９    サンプリングアーム
３０    攪拌ユニット
３１    測光ユニット
３２    洗浄ユニット
４１    算出機能
４２    判断機能
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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