(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験装置からの差動信号を形成する第１及び第２入力信号を試験測定装置に接続するプローブであって、
上記第１入力信号を受けるように構成された第１入力端と、
上記第２入力信号を受けるように構成された第２入力端と、
上記第１入力端に接続され、上記第１入力信号を遅延させて、上記第１入力信号及び上記第２入力信号の間のスキューを除去するように構成された電気的可変遅延器と、
上記第２入力信号及び上記電気的可変遅延器からの上記第１入力信号を受けるように構成された増幅器と、
コモン・モード信号の大きさ又は周波数領域分析に基づいて上記スキューの量を求め、上記スキューの量に基づいて、上記スキューを除去するように上記電気的可変遅延器の遅延を調整するプロセッサと
を備えるプローブ。
【請求項２】
差動信号を形成する第１及び第２入力信号の間のスキューを補正する方法であって、
上記第１入力信号を受ける処理と、
上記第２入力信号を受ける処理と、
コモン・モード信号の大きさ又は周波数領域分析に基づいて、上記第１入力信号及び上記第２入力信号の間のスキューの量を求める処理と、
上記第１入力信号及び上記第２入力信号の間のスキューの量に基づいて、少なくとも１つの電気的可変遅延器の遅延を調整して、上記第１入力信号及び上記第２入力信号の間の上記スキューを除去する処理と
を備えるスキュー補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、少なくとも１つのプローブ入力経路における遅延を自動的に調整可能なプローブと、差動信号におけるスキュー及びモード変換を最小にするために電気的に調整可能な遅延器を自動的に調整する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
単一の試験測定機器チャンネルを用い、被試験装置（ＤＵＴ）から、高速シリアル・データ・バス上の如き名目上の差動信号を取り込むために、一般的に差動入力プローブを用いる。米国テクトロニクスによるトライモード（TriMode：商標）プローブにより、プローブをその接続ポイントから移動することなく、差動と、シングル・エンドと、コモン・モードとの測定の間で切り替えることができる（非特許文献２を参照のこと）。例えば、トライモード・プローブは、コモン・モード信号を取り込む、又は、差動対信号の何れかの側をシングル・エンド信号として取り込む追加の能力を有する。
【０００３】
理想的な差動信号は、２つの分離した導線上で送られる２つの相補的信号を含んでいる。ＤＵＴから試験測定機器への導線の２つ側の間における、及び／又は試験測定機器自体の内部における任意のスキュー又は遅延により、差動信号のモード変換が生じる。モード変換は、差動信号の一部がコモン・モード信号として現れたときであり、逆も又同様である。スキューによるモード変換は、高周波数にて次第に悪くなる。例えば、２５ＧＨｚでの単なる１ピコ秒（ｐｓ）のスキューは、差動信号として現れるコモン・モード電圧の１５％以上になる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−０３８７８６号公報
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】「位相器」の写真１「可変遅延線」、［online］、株式会社ＮＦ回路設計ブロック、［２０１５年７月２８日検索］、インターネット、（http://www.nfcorp.co.jp/techinfo/dictionary/032.html）
【非特許文献２】「トライモード・プローブ・ファミリ」、［online］、テクトロニクス、［２０１５年７月２８日検索］、インターネット、（http://jp.tek.com/datasheet/differential-probe-low-voltage/p7500-series）
【非特許文献３】「トライモード・プローブ・アーキテクチャ」、文献番号51Z-20874-0、［online］、テクトロニクス、［２０１５年７月２９日検索］、インターネット、（http://jp.tek.com/document/1126460）
【非特許文献４】「導体電導とコモン・モード」、［online］、株式会社村田製作所、［２０１５年７月２９日検索］、インターネット、（http://www.murata.com/ja-jp/products/emc/emifil/knowhow/basic/chapter05-p1）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
スキューに関するモード変換によるエラーを最小化する１つのアプローチは、プローブ入力の一方又は両方にて、例えば、トロンボーン形式の可変遅延器を機械的に設けることであり、機械的可変遅延器を機械的に調整して遅延を一致させることである（非特許文献１を参照のこと）。いくつかの場合、この調整をプローブの製造にて行って、プローブ・ケーブルにおける不一致を補償する。しかし、これは、ＤＵＴからプローブへのユーザの導線におけるスキューに役立たない。あるいは、この調整は、ユーザがアクセス可能でもよいが、ユーザにとって調整は依然として不便である。
【０００７】
スキュー関連のモード変換によるエラーを最小化する他のアプローチは、試験測定機器の２チャンネルを用いて、差動対信号の各側を別々に取り込むことである。デジタル信号処理を用いて、第１チャンネル波形のタイミングを調整して、第２チャンネル波形のタイミングに合わせる。次に、これら２つの波形を減算して、差動信号を見つける。この方法は、用いる演算機能に応じて、コモン・モード又はいずれかのシングル・エンド信号が利用可能な場合に、トライモード機能を提供する。しかし、この方法は、１チャンネルの代わりに２チャンネルを用いる必要があるので、かなりコストがかかる。
【０００８】
必要なことは、導線の違いによる差動信号の２つの側の間のスキューを除去して、差動信号におけるモード変換を除去又は最小化するように、プローブでの遅延を調整できる能力である。本発明の実施例は、従来技術におけるこれの制限及び他の制限に対処することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明のある実施例は、プローブを含んでおり、このプローブは、第１入力信号を受けるように構成された第１入力端と、第２入力信号を受けるように構成された第２入力端と、第１入力端に接続された第１ケーブルと、第２入力端に接続された第２ケーブルと、第１ケーブルに接続され、第１入力信号を遅延させて第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューを除去するように構成された電気的に調整可能な遅延器と、第２入力信号及び電気的に調整可能な遅延器からの第１入力信号を受けるように構成された増幅器とを含んでいる。
【００１０】
本発明のある他の実施例は、第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューを補正する方法を含んでおり、この方法は、第１入力信号を受けることと、第２入力信号を受けることと、第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューの量を求めることと、第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューを除去するように少なくとも１つの電気的に調整可能な可変遅延器の遅延を調整することとを含んでいる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、本発明のいくつかの実施例による電気的に調整可能な遅延器を有するプローブを示す。
【図２】図２は、本発明のいくつかの実施例による電気的に調整可能な遅延器を有する他のプローブを示す。
【図３】図３は、本発明のいくつかの実施例による電気的に調整可能な遅延器を有する他のプローブを示す。
【図４】図４は、本発明のいくつかの実施例による電気的に調整可能な遅延器を有する他のプローブを示す。
【図５】図５は、本発明のいくつかの実施例による図１〜４のプローブの１つを用いた試験測定システムを示す。
【図６】図６は、本発明のいくつかの実施例による図１〜４のプローブの１つを用いた他の試験測定システムを示す。
【図７】図７は、種々の差動信号及びコモン・モード信号の一例を示す。
【図８】図８は、種々の差動信号及びコモン・モード信号の他の例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
図において、開示するシステム及び方法の類似素子又は対応素子は、同じ参照番号で示す。これら図は、必然的な縮尺調整を行っていない。
【００１３】
本発明は、電気的に調整可能な遅延器を伴うプローブに関する。好ましくは、このプローブは、各入力経路内にて電気的に調整可能な遅延器を有する。しかし、後述にて詳細に開示する如く、いくつかの実施例は、電気的に調整可能な遅延器を１つの入力経路内に含むと共に、他の入力経路内は、固定遅延器を有する。このプローブは、試験測定機器の単一チャンネルを用いる、図１に示すようなトライモード・プローブ１００でもよい。
【００１４】
いくつかの実施例において、トライモード・プローブ１００は、３つの入力端１０２、１０４及び１０６を含む。第１入力端１０２は、被試験装置から第１信号を受け、第２入力端１０４は、被試験装置から第２信号を受け、第３入力端は、接地に接続されている。トライモード・プローブ１００は、バッファ１０８及び１１０と、ケーブル１１２及び１１４と、調整可能な可変遅延器１１６及び１１８と、トライモード増幅器１２０とを更に含んでいる。調整可能な可変遅延器１１６及び１１８は、トライモード増幅器１２０から分離していてもよいし、トライモード増幅器１２０と同じ集積チップ上で集積されてもよい。
【００１５】
トライモード増幅器１２０は、第１入力端Ａ、第２入力端Ｂ及び第３入力端（接地入力）を有する。上述の如く、米国テクトロニクスによるトライモード・プローブは、プローブと被試験装置（ＤＵＴ）上の試験点との間の接続を変更することなく、差動測定、シングル・エンド測定及びコモン・モード測定の間で切り替えることができる。トライモード・プローブは、以下の如く、４つの入力モードを有する。すなわち、（１）Ａ−Ｂ（差動測定）、（２）Ａ−接地（正シングル・エンド測定）、（３）Ｂ−接地（負シングル・エンド測定）及び（４）（Ａ＋Ｂ）／２−接地（コモン・モード測定）である。次に、式「（Ａ＋Ｂ）／２−接地」によって、コモン・モード信号を求める。
【００１６】
しかし、本発明は、図１に示す実施例に限定されない。例えば、図２に示すように、調整可能な可変遅延器１１６及び１１８を、ケーブル１１２及び１１４の前に配置してもよいし、バッファ１０８及び１１０と共に集積化してもよい。図３に示すように、他の実施例において、プローブが５０オーム入力用途の場合、バッファ１０８及び１１０を除去できる。
【００１７】
図１〜３を参照してトライモード・プローブを説明したが、図４に示して更に詳細に説明するように、差動プローブを本発明と共に用いてもよい。差動プローブ４００は、図１〜３に示した３入力端ではなく、わずか２つの入力端１０２及び１０４を含んでいる。また、差動プローブ４００は、トライモード増幅器１２０ではなく差動増幅器４０２を含んでいる。
【００１８】
多くの異なる形式の広帯域直流結合の電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８を用いることができる。これら電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８は、性能条件及びコストの要因に基づいて選択できる。例えば、バッファ１０８及び１１０と、又はトライモード増幅器１２０／差動増幅器４０２と集積できるかに応じて、電気的に調整可能な可変遅延器を選択してもよい。
【００１９】
利用できる電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８の例は、バラクタ同調集中素子遅延線、ＭＥＭＳ切替遅延セグメント、又は切替アクティブ遅延要素である。電気的な可変遅延器の他の例は、２０１５年６月２２日出願された米国特許出願第１４／７４５７１１号に記載されている。しかし、電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８は、これらの形式の遅延器に限定されない。任意の広帯域直流結合の電気的に調整可能な可変遅延器を用いることができる。
【００２０】
より詳細に後述する如く、第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューを求めて、次に、電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８を用いて補正できる。しかし、図１〜４に示す２つの調整可能な可変遅延器１１６及び１１８を用いるのではなく、一方の入力経路が電気的に調整可能な可変遅延器を有し、他方の入力経路が固定遅延器を有してもよい。かかる実施例において、電気的に調整可能な可変遅延器は、スキューを除去するように調整される。
【００２１】
使用に当たって、図５に示すように、プローブ５００を被測定装置５０２に取り付ける。プローブ５００は、上述の任意のプローブでよい。プローブ５００は、試験測定機器５０４にも接続される。試験測定機器５０４は、より詳細の後述するように、プロセッサ５０６及びユーザ・インタフェース５０８を含んでいる。また、より詳細に後述するように、試験測定機器５０４は、トリガ回路５１０を含んでもよい。
【００２２】
プローブ５００は、被試験装置５０２からの差動信号を受ける。次に、いくつかの実施例において、信号を試験測定機器５０４のプロセッサ５０６に送る。プロセッサ５０６は、被試験装置５０２からの差動信号におけるスキュー量を求め、差動信号の２つの側の間のスキューの量を決定する。スキューを決定すると、プロセッサ５０６は、電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８にインストラクションを送り、差動信号の各側の遅延量を調整して、スキューの量を除去又は軽減する。
【００２３】
プロセッサ５０６は、好ましくはデジタル・プロセッサであり、受けた信号、又はこれに関係するパラメータをプロセッサに送る前にデジタル化しておく。しかし、プロセッサ５０６は、アナログ・プロセッサとして実現してもよい。このアナログ・プロセッサは、更に詳細に後述するように、受けたアナログ信号の関係パラメータをモニタし、電気的に調整可能な可変遅延器を制御するように設計されている。
【００２４】
種々の他の実施例において、図６に示す如く、プロセッサ５０６をプローブ５００内に配置して、スキューの量を求めてもよい。試験測定機器５０４又はプローブ５００は、実行可能なインストラクションを蓄積するメモリ（図示せず）を含んでもよい。この実行可能なインストラクションは、ここで述べた方法及び処理を実現し、他の点では、試験測定機器及び／又はプローブを制御する。さらに、他の実施例において、試験測定機器及びプローブ５００の両方におけるプロセッサ５０６を用いて、後述する方法を実行できる。
【００２５】
プロセッサ５０６により、差動信号の２つの側の間のスキュー量を求めることができる多数の方法がある。しかし、各方法において、確定したタイミング関係を有する基準信号を、差動信号との比較に対する標準として用いなければならない。遅延量を求めて差動信号のスキューをなくす方法は、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、又はこれらの任意の組合せによって実現できる。
【００２６】
かかる基準信号の１つは、図７に示す如く、被試験装置５０２からの、仮定では対称であるが単に名目上の差動信号である。差動信号７００は、ＶＨ及びＶＬを含んでいる。また、コモン・モード信号７０２は、ＶＣＭとして示される。
【００２７】
波形ＶＨ及びＶＬの両方が同時に捕捉できると、一方の信号のエッジに対応する他方の信号のエッジからの平均遅延を測定するのが容易であり、両方の極性のエッジを平均化できる。スキューを求めると、平均スキューがゼロになるまで、電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８を調整でき、その結果、スキューを除去する。例えば、図８において、差動信号７００のＶＬエッジをＶＨエッジからの遅延として直接的に測定でき、平均遅延測定値により、プローブのスキューなしに必要な遅延設定を直接的に決定する。
【００２８】
しかし、異なる時点で差動信号の各側を捕捉するように、即ち、先ず差動信号の一方の側を、次に差動信号の他の側を捕捉するようにプローブ５００がプログラムされているならば、別のトリガ源５１２を用いてもよい。差動信号の２つの捕捉した信号の間の共通タイミング基準として、別のトリガ源５１２を用いることができる。すなわち、トリガ源５１２の信号のタイミングに基づいて、差動信号の各側のタイミングを求めることができる。
【００２９】
他の実施例において、別のトリガ源を用いるのではなく、コモン・モード信号を観察することによって、スキューなしの量を求めることができる。例えば、等しくない立ち上がり時間及び立ち下がり時間により、被試験装置５０２がある顕著なコモン・モード信号自体を発生するかもしれないが、被試験装置５０２が対称ならば、図７に示すように、コモン・モード信号７０２は、差動信号のどちらの極性エッジでも同じである。スキューによるモード変換は、図８に示す如く、差動信号のエッジ極性に応じたコモン・モード信号を誘導する。仮定では対称である名目上の差動信号を観察することにより、プローブ５００を自動的にスキューなしにするために、コモン・モードを観察するようにプローブ５００をプログラムし、このコモン・モード信号の大きさを最小にするように、及び／又はあるエッジから次のエッジへの形が一致するようにスキューを調整する。一致させるコモン・モード形状の位置を識別する際に、高速シリアル信号のボー・レートの知識も有用である。
【００３０】
差動信号を周波数領域で分析して、スキューによるエラーを識別できる。例えば、図７及び８に示す如き名目上の差動高速シリアル信号におけるスキューが原因のコモン・モード信号の中身は、半分のボー・レートにて最高周波数となる。典型的なドライブ・エラー、例えば、等しくない立ち上がり時間及び立ち下がり時間が原因のコモン・モード信号の中身は、そのボー・レートにて最高となる。
【００３１】
スキューを除去するためにプロセッサ５０６が実行する上述の種々の方法は、仮定では対称である信号源の点から先の、いかなるスキューも除去する。よって、被試験装置５０２が受信機端部にてプローブ接続されれば、これは、ユーザ・チャンネル内のスキューを補償する。チャンネルによるスキューではなく、プローブ５００が原因となるスキューをユーザが除去したい場合、プローブ５００の位置に基準を設けなければならない。これは、差動対の２つの導線を短絡させ、プローブ５００の入力端１０２及び１０４並びに両方の導線で信号を同じにすることを確実にすることによって行える。この場合、差動信号を形成する２つの波形ＶＨ及びＶＬ間にスキューがなく、完全に対称であれば、差動信号を観察するようにプログラムされたプローブ５００では、信号が全く見えないはずである。しかし、もし短絡の状態にて信号が存在するならば、プロセッサは、電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８の各々に対して必要な遅延の量を決定し、短絡の状態にて観察した差動信号を最小化又は除去するための遅延量を設定することができる。
【００３２】
プロセッサは、また、差動信号の立ち上がり時間及び立ち下がり時間に基づいて、電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８を遅延させる量を決定し、これら電気的な可変遅延器１１６及び１１８を調整して異なる立ち上がり時間及び立ち下がり時間の差異を最小にする。他の実施例において、プロセッサは、ボー・レートの半整数倍に近い周波数バンドにおけるエネルギーを最大にすることによって、電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８を遅延させる量を決定できる。
【００３３】
試験測定機器５０４は、ユーザ・インタフェース５０８を含んでもよい。ユーザ・インタフェース５０８により、プローブ５００が自動的に差動信号のスキュー量を求めて補正するか、又は、ユーザが所望の遅延の量を入力できるようにするかを、ユーザが選択できる。次に、ユーザ・インタフェース５０８でユーザが入力した遅延の量に基づいて、電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８を調整する。
【００３４】
上述の方法では、既に述べたように、電気的に調整可能な可変遅延器１１６及び１１８での調整を説明したが、遅延器の一方のみが電気的に調整可能な遅延器であり、他方が固定遅延器でもよい。電気的に調整可能な可変遅延器を調整する一方、固定遅延器を固定状態に維持する。すなわち、両方の遅延器に調整を行うのではなく、一方の遅延器のみを固定遅延器での入力経路に関連して調整する。
【００３５】
差動信号のスキューをなくすように遅延の量を求める上述の方法は、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア又はこれらの任意の組合せにて実現できる。
【００３６】
ここで用いた用語「プロセッサ」は、アナログ又はデジタルを問わず、メモリと連携したマイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ、専用ハードウェア制御器を含むことを意図している。本発明の１つ以上の概念は、１つ以上のコンピュータ（モニタ・モジュールを含む）又は他の装置によって実行される１つ以上のプログラム・モジュールの如く、コンピュータが利用可能なデータ及びコンピュータが実行可能なインストラクションによって実現できる。一般的に、プログラム・モジュールは、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含んでおり、これらは、コンピュータ又は他の装置内のプロセッサが実行した際に、特定のタスク又は実装された特定のアブストラクト・データ形式を実行する。コンピュータが実行可能なインストラクションは、ハードディスク、光ディスク、取り外し可能なストレージ媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどの如く、コンピュータが読出し可能な持続性のある媒体に蓄積できる。当業者に理解できる如く、プログラム・モジュールの機能は、種々の実施例で説明したように、組合せてもよいし、分散してもよい。さらに、この機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などの如きハードウェア又はファームウェアにおいて、全体的に又は部分的に実現できる。特定のデータ構造を用いて、本発明の１つ以上の概念をより効果的に実現できる。かかるデータ構造は、ここで述べたコンピュータ実行可能なインストラクション及びコンピュータ利用可能なデータの範囲内で考慮される。
【００３７】
本発明の好適な実施例において、本発明の原理を説明し図示したが、かかる原理を逸脱することなく本発明を配置及び細部において変更できることが明らかである。例えば、本発明の種々の概念は、以下のように記述できる。
【００３８】
すなわち、本発明の概念１は、プローブであり；第１入力信号を受けるように構成された第１入力端と；第２入力信号を受けるように構成された第２入力端と；第１入力端に接続され、第１入力信号を遅延させて、第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューを除去するように構成された電気的に調整可能な遅延器と；第２入力信号及び電気的に調整可能な遅延器からの第１入力信号を受けるように構成された増幅器とを備える。
【００３９】
本発明の概念２は、概念１のプローブであって；電気的に調整可能な遅延器は、第１電気的に調整可能な遅延器であって；このプローブは、第２入力端に接続された第２電気的に調整可能な遅延器を更に備えており、この第２電気的に調整可能な遅延器は、第１電気的に調整可能な遅延器と組み合わさって第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューを除去するように第２入力信号を遅延させるように構成されている。
【００４０】
本発明の概念３は、概念１のプローブであって；電気的に調整可能な遅延器に接続され、遅延調整量を求めるように構成されたプロセッサを更に備える。
【００４１】
本発明の概念４は、概念１のプローブであって；プローブが差動プローブである。
【００４２】
本発明の概念５は、概念１のプローブであって；このプローブは、トライモード・プローブであり、このプローブは、接地信号を受けるように構成された第３入力端を更に備えている。トライモード・プローブは、プローブと被測定装置上の試験点との間の接続を変更することなく、差動測定、シングル・エンド測定及びコモン・モード測定の間を切り替える能力がある点に留意されたい。
【００４３】
本発明の概念６は、概念１のプローブであり；電気的に調整可能な遅延器を増幅器内に集積している。
【００４４】
本発明の概念７は、２つの入力信号の間のスキューを調整するシステムであり；概念１のプローブと；電気的に調整可能な遅延器の遅延調整量を求めるように構成されたプロセッサを含む試験測定機器とを備えている。
【００４５】
本発明の概念８は、概念７のシステムであって；試験測定機器は、ユーザからの電気的に調整可能な遅延器用の遅延調整量を受け入れるように構成されたユーザ・インタフェースを更に含んでいる。
【００４６】
本発明の概念９は、第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューを補正する方法であって；この方法は；第１入力信号を受けることと；第２入力信号を受けることと；第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューの量を求めることと；第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューの量に基づいて少なくとも１つの電気的に調整可能な可変遅延器の遅延を調整して、第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューを除去することとを備えている。
【００４７】
本発明の概念１０は、概念９の方法であって；第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューの量を求めることは、第１入力信号のエッジから第２入力信号の対応するエッジまでの遅延を測定することを含む。
【００４８】
本発明の概念１１は、概念９の方法であって；トリガ信号を受けることを更に備え；第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューの量を求めることは、第１入力信号及び第２入力信号の間の共通タイミングを求めることと、この共通タイミングに基づいて第１入力信号のエッジから第２入力信号の対応するエッジまでの遅延を測定することを含む。
【００４９】
本発明の概念１２は、概念９の方法であって；第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューの量を求めることは、コモン・モード信号の大きさに基づいてスキューの量を求めることを含む。
【００５０】
本発明の概念１３は、概念９の方法であって；第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューの量を求めることは、コモン・モード信号の周波数領域分析に基づいてスキューの量を求めることを含む。
【００５１】
本発明の概念１４は、概念９の方法であって；第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューの量を求めることは、第１入力信号及び第２入力信号がスキューを除いて名目上一致したときに観察した差動信号の大きさに基づいてスキューの量を求めることを含む。
【００５２】
本発明の概念１５は、概念９の方法であって；第１入力信号及び第２入力信号の間のスキューの量を求めることは、差動信号内のエッジの遷移時点に基づいてスキューの量を求めることを含む。
【符号の説明】
【００５３】
１００  トライモード・プローブ
１０２  第１入力端
１０４  第２入力端
１０６  第３入力端
１０８  第１バッファ
１１０  第２バッファ
１１２  第１ケーブル
１１４  第２ケーブル
１１６  第１調整可能な可変遅延器
１１８  第２調整可能な可変遅延器
１２０  トライモード増幅器
４００  差動プローブ
４０２  差動増幅器
５００  プローブ
５０２  被試験装置
５０４  試験測定機器
５０６  プロセッサ
５０８  ユーザ・インタフェース
５１０  トリガ回路
５１２  トリガ源
７００  差動信号
７０２  コモン・モード信号
【図１】
0006799367.tif 000002
【図２】
0006799367.tif 000003
【図３】
0006799367.tif 000004
【図４】
0006799367.tif 000005
【図５】
0006799367.tif 000006
【図６】
0006799367.tif 000007
【図７】
0006799367.tif 000008
【図８】
0006799367.tif 000009