(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
シーンの１個または複数の画像を、能動画素時間遅延積分画像センサであって、前記画像センサのＰ個の感光画素からなる少なくとも２個のラインにより連続的に行われる同一のシーン帯の同期読み出し、および様々なラインにより読み出しされた信号の画素単位の合算を可能にする能動画素時間遅延積分画像センサを用いて、キャプチャするための方法であって、
−前記様々なラインの前記画素からの前記信号が、デジタル値であって、前記センサの前記様々なラインの同一のランクの前記画素に対して、同一のシーン点の輝度をそれぞれ表すデジタル値を確定しながら、デジタル化され、
−前記センサのラインの第１の画素からの第１のデジタル値と、前記センサの少なくとも１個の他のラインの前記同一のランクの前記画素または複数の前記画素からの第２のデジタル値との間で差が計算され、
−計算の結果が閾値（ｋ）と比較され、
−前記結果が前記閾値未満である場合には、前記第１のデジタル値が許容可能であると見なされ、前記センサの前記様々なラインの前記同一のランクの前記画素からの前記デジタル値が加算されて、前記シーン点の前記輝度を表す第３のデジタル値を供給し、
−前記結果が前記閾値を上回っている場合には、前記第１のデジタル値が許容不可であると見なされ、前記様々なラインの前記同一のランクの前記画素からの前記デジタル値の加算の際に前記第１のデジタル値を考慮に入れない第４のデジタル値を確定して、前記シーン点の前記輝度を表すことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記センサが、Ｎが少なくとも２に等しいＮ個のラインを備え、前記第２のデジタル値が、画素からなる前記Ｎ個のラインの別のラインの同一のランクの第２の画素によって供給されたデジタル値である、請求項１に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項３】
前記第４のデジタル値が、前記センサの前記Ｎ個のラインの同一のランクの前記画素からの前記Ｎ個のデジタル値の加算の際に前記第１のデジタル値を、前記第２のデジタル値に置き換えることによって得られる、請求項２に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項４】
前記第４のデジタル値が、前記センサの前記Ｎ個のラインの前記同一のランクの前記画素からの前記Ｎ個のデジタル値の前記加算の際に前記第１のデジタル値を平均値に置き換えることによって得られるとともに、前記平均値が、前記同一のランクの前記画素からの、前記第１のデジタル値を除外しているデジタル値の平均値であることが好ましい請求項２に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項５】
前記第１のデジタル値および前記第２のデジタル値が、画素からなる２個の隣接したラインに属する同一のランクの２個の画素によって供給されたデジタル値である、請求項２〜４のいずれか一項に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項６】
前記センサが、Ｎが２よりも大きいＮ個のラインを備え、計算動作および比較動作が、様々な隣接したラインのペアに対して連続的に行われることを特徴とする、請求項１に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項７】
前記計算の結果が、前記第１のデジタル値と、前記第２のデジタル値との間の前記差の絶対値の形式で供給されることを特徴とする、請求項１、２、３、５または６のいずれか一項に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項８】
前記センサが、Ｎが２よりも大きいＮ個のラインを備えるとともに、前記第２のデジタル値が、前記センサの前記Ｎ個のラインの前記同一のランクの前記画素によって供給された前記Ｎ個のデジタル値から計算された平均値であって、前記同一のシーン点の前記輝度を表す平均値であることを特徴とする、請求項１に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項９】
前記第２のデジタル値が、前記センサの前記Ｎ個のラインの前記同一のランクの前記画素によって供給された前記デジタル値の前記平均値であって、前記第１のデジタル値を除外している前記平均値である、請求項８に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項１０】
前記第４のデジタル値が、前記センサの前記Ｎ個のラインの前記同一のランクの前記画素からの前記Ｎ個の値の前記加算の際に前記第１のデジタル値を、前記第２のデジタル値に置き換えることによって得られる、請求項８または９に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項１１】
前記第４のデジタル値が、前記センサのＮ個のラインの前記同一のランクのＮ個の画素からのＮ個のデジタル値の総和に等しく、かつ、前記同一のシーン点の前記輝度を表し、前記第１のデジタル値がナル値に置き換えられる場合であって、ｒが、前記センサの前記同一のランクの画素の数であり、この画素の数に対して前記第１のデジタル値がナル値に置き換えられている場合に、係数Ｎ／（Ｎ−ｒ）を乗算することを特徴とする、請求項１、２、８または９のいずれか一項に記載の画像キャプチャ方法。
【請求項１２】
Ｐ個の感光画素からなるＮ個のラインを含み、かつ、Ｐ個の感光画素からなる少なくとも２個のラインにより連続的に行われる同一のシーン帯の同期読み出し、および様々なラインにより読み出しされた信号の画素単位の合算を可能にする能動画素時間遅延積分画像センサであって、各画素によって供給された前記信号をデジタル化するための回路（ＣＡＮ）と、前記様々なラインに属する同一のランクの画素であって、同一のシーン点を調べた同一のランクの画素からのデジタル値のデジタル加算を行うように構成され、出力として供給された加算の結果が、像点によって受光された光を表すデジタル処理回路（ＣＴ）と、を備えるとともに、前記デジタル処理回路が、
−前記センサのラインの画素からの第１のデジタル値であって、シーン点の輝度を表す前記信号の第１のデジタル値と、前記センサの少なくとも１個の他のラインの前記同一のランクの前記画素または複数の前記画素からの第２のデジタル値であって、前記同一のシーン点の輝度を表す第２のデジタル値との間で差を計算し、
−前記計算の結果を閾値（ｋ）と比較し、
−前記計算の前記結果が前記閾値を超過する場合には、前記デジタル加算を修正し、前記デジタル加算に対する置き換えの際に、前記第１のデジタル値を考慮に入れない別のデジタル総和を供給するようにさらに構成されていることを特徴とする、センサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、時間遅延積分およびデジタル合算画像キャプチャ方法、ならびに対応するセンサに関する。
【背景技術】
【０００２】
線形時間遅延積分（ＴＤＩ：ｔｉｍｅ  ｄｅｌａｙ  ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）センサが、例えば、地球観測衛星において、産業用モニタリング、および医療用途（歯科用パノラマ撮影、マンモグラフィ）で使用されている。
【０００３】
ＴＤＩセンサは、感光画素からなるＮ個の平行なラインを備える。なお、このときＮは少なくとも２以上である。またＴＤＩセンサは、センサの前を感光性のラインに垂直に移動する同一帯のシーンを連続的に観察する。観察されたシーン帯の画像は、次に、感光性のラインのそれぞれにより連続的にキャプチャされた画像を加算することによって、再構成される。この加算は、観察されたシーン帯の各点１つ１つに対して行われる。
【０００４】
特に対象となるのは、トランジスタ能動画素を有するＴＤＩセンサである。それらの画素は、様々なピクセル制御位相をシーケンシングするために容量性蓄積ノードおよびトランジスタに接続された感光性エレメントで形成されている。特に、読み出す画素の選択時には、画素の容量性蓄積ノードに累積された電荷の量に対応する電圧が、読み出し回路に接続された列導体に印加される。この電圧レベルは、画素が受光した光の量を表す。
【０００５】
読み出し回路は、アナログ／デジタル変換器の入力にこのレベルを適用する。変換器は、例えば、ランプ変換器であり、線形電圧ランプに変換される電圧レベルを比較するためのコンパレータと、ランプの開始時からコンパレータが状態を変えるまで、高周波でカウントするカウンタと、を備える。状態変化時におけるカウンタの内容は、変換される電圧レベルのデジタル値を表す。この値は、画素が受光した輝度の測定値を表す。この測定値の信号対雑音比を高めるために、特に、画素の蓄積ノードの初期化レベルを表す信号を減算するデジタル技法またはアナログ技法を用いた手段が一般に講じられる。
【０００６】
センサがＰ個の画素からなるＮ個の感光性のラインを備えているとき、画素の各列に対して、および各積分期間に、Ｎ個の画素が共通の列導体に連続的に接続され、読み出し回路が、Ｎ個の連続したデジタル量であって、それぞれ、対応する画素が受光した輝度を表すデジタル量を供給する。
【０００７】
能動画素ＴＤＩセンサにするためには、Ｎ個の画素から得られたデジタル値だが、同一のシーン点のＮ個の連続した観察に対応するデジタル値、すなわち、Ｎ個の連続した積分期間のセットの１積分期間にわたってそれぞれ得られたデジタル値を合算することがまだ残っている。実際には、観察されたシーン帯の各点に対して、Ｎ個の連続した積分期間にわたって移動するセンサの速度と同期してこの合算を行うのは、デジタル処理回路である。そこでは、観察されたシーン帯の各点に対して測定された輝度を表すＰ個のデジタル値が、出力として生成されている。
【０００８】
例えば、このような能動画素ＴＤＩセンサの一例が、本出願人が出願した国際公開第２０１１／１３８３７４号パンフレットに記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】国際公開第２０１１／１３８３７４号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
画像センサによって生成された画像は、観察された画像ではなく、宇宙粒子のイオン化作用によって蓄積されたエネルギーに由来する光スポットを示す場合がある。
【００１１】
これらの宇宙粒子は、太陽または銀河系外を起源とするが、エネルギーがほぼ１ギガ電子ボルトと非常に大きく、質量が非常に小さいという特有の特徴を有する。これにより、宇宙粒子は電子機器を通り抜けることが可能になり、進行するにつれて、ある特定の数の電荷、すなわち電子−正孔ペアを生成する。
【００１２】
画像センサにおいて、このような粒子が画素の感光性領域を通り抜ける場合には、この粒子によって生成された電荷は、感光性エレメントによってキャプチャされ、光子と見なされることになり、画像中に偽情報を生成するスポットが、キャプチャされた画像に反映されるという影響を及ぼす。このスポットは、様々な大きさ、および様々な数の輝点として出現する場合がある。したがって、センサの複数の画素が同一の粒子による影響を受けている場合には、こうした粒子の入射角度によっては、このスポットは、ライン全体にわたって筋を形成する可能性がある。このような粒子による影響を受けた画素に対して、それに対応する影響は残留しない。対応する影響が残留するのは、粒子によって生成された電荷が、感光性エレメントによりキャプチャされる間だけである。画像に残ったスポットの明るさのレベルについていえば、レベルは、観察されたシーン自体の背景の明るさ、粒子のエネルギーおよびタイプ、粒子のセンサに対する入射角度、画素の幾何学的形状などに左右される。
【００１３】
宇宙粒子の通過した痕跡は、宇宙で使用するビデオカメラで生成された画像に見られるが、それらは、地上で使用するビデオカメラで生成された画像にもまた見られる。この場合、問題となる粒子は、概して、大気を通り抜ける際の大型の宇宙粒子の壊変によって生成されたミュー粒子である。
【００１４】
例として、地上で、産業界で、電子部品製造業者が生産ライン（製品チェック）を離れるときに用いる自動光学検査（ＡＯＩ：Ａｕｔｏｍａｔｅｄ  Ｏｐｔｉｃａｌ  ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ）システムで使用する画像センサによって供給された画像を考えられたい。
【００１５】
製品チェック画像において、部品の「真の」欠陥を、宇宙粒子との衝突により生じた「偽の」欠陥から識別するのは、概して簡単ではなかろう。痕跡が誤って真の欠陥であると見なされると、部品を修理のために不必要に返却したり、これに続いてチェックなどのために部品を返却したりすることに結びつく可能性もあるであろう。したがって、およそ１０時間の間に、このような粒子により生じたおよそ１０個の痕跡が存在する可能性があり、したがって、およそ１０回の不必要な返却があり得る。したがって、生産性が低下する。この低下は、宇宙粒子の流れが密集した地理的区域の方が、より大きくなる。
【００１６】
したがって、本発明が対象とする技術的問題は、高エネルギー粒子との衝突によって生成された偽情報に相当するキャプチャされた画像中の痕跡を除去するために、それらを検出することである。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明は、ＴＤＩセンサにおいて、センサと衝突する高エネルギー粒子によって生じたこれら偽の事象の検出、およびこれら偽の事象の除去を可能にする技術的解決法を提案する。
【００１８】
この解決法は、以下のことに基づいている。
−これらの粒子のランダム性および希少性。特に、２個の粒子が同時にセンサと衝突することが統計上相対的に起こりそうもないこと、言いかえれば、同時に影響を受ける画素がほとんどなく、同じランクの２個の隣接した画素が、２個の異なる宇宙粒子によって連続的に、つまり、ある１つの積分期間にわたって最初の画素が、そして次の積分期間にわたってもう１個の画素が壊れる可能性はさらに低くなること。
−これらの粒子の非残留性の影響。粒子が画素の感光性の領域を所与の時間に通り抜ける場合には、この粒子の目に見える影響は、１つの積分期間にわたってだけ「見られ」、この積分期間の間に、感光性エレメントが、粒子によって生成された電荷をキャプチャすることになり、この影響は、次の積分期間のために画素の蓄積ノードをゼロにリセットすると消滅すること。
−誘起された電荷が残っているため、通常期待されるデジタル値よりも大幅に高いデジタル値に結びつく影響が及ぼされた画素上に生成された輝度の差異（無論、この状況は、この期待値が飽和から大きく離れた状況であり、そうでなければ粒子の通過は「無痛」になる）。
【００１９】
本発明の基本的な考え方は、同一のシーン点を観察した２個の画素によって供給された第１のデジタル値と第２のデジタル値との間の差を、第１の値から第２の値を減算し、それを所定の閾値と比較しながら、計算することである。この差が閾値を上回っている場合には、第１の値が過度に高いのである。それは、宇宙粒子の通過の影響を反映している。この場合、第１の値は、シーン点の輝度を確定する合算を行う際に無視される。この値は、様々なやり方で、すなわち、この値を訂正することにより、すなわち、この値を、この値と比較された値もしくは平均値に置き換えることにより、またはこの値を計算から除外することにより、無視することができる。
【００２０】
このように、センサを通り抜ける高エネルギー粒子によって生じた画像欠陥が除去される。これは、出力時の信号対雑音比またはシステムの復調伝達関数（コントラスト、解像度）を落とさずに達成される。なぜなら、本発明に従う方法は、出力信号にフィルタリングを適用するのではなく、上り検出を適用し、実行することは、壊れた画素からの値を無視するか、または訂正することだけだからである。
【００２１】
したがって、本発明は、画像センサのＰ個の感光画素からなる少なくとも２個のラインにより連続的に行われる同一のシーン帯の同期読み出し、および様々なラインにより読み出しされた信号の画素単位の合算のための、時間遅延積分シーン画像キャプチャ方法に関する。
【００２２】
本発明によれば、
−様々なラインの画素からの信号が、デジタル値であって、センサの様々なラインの同一のランクの画素に対して、同一のシーン点の輝度をそれぞれ表すデジタル値を確定しながら、デジタル化され、
−センサのラインの第１の画素からの第１のデジタル値と、センサの少なくとも１個の他のラインの同一のランクの画素または複数の画素からの第２のデジタル値との間で差が計算され、
−減算の結果が閾値と比較され、
−結果が閾値未満である場合には、第１のデジタル値が許容可能であると見なされ、センサの様々なラインの同一のランクの画素からのデジタル値が加算されて、シーン点の輝度を表す第３のデジタル値を供給し、
−結果が閾値を上回っている場合には、第１のデジタル値が許容不可であると見なされ、様々なラインの同一のランクの画素からのデジタル値の加算の際に第１のデジタル値を考慮に入れない第４のデジタル値を確定して、シーン点の輝度を表す。
【００２３】
第２のデジタル値は、（同一のランクの隣接した画素であることが好ましい）第２の画素によって供給されたデジタル値であってもよい。第１の値が許容不可であると判明した場合には、第１の値は、デジタル加算の際に第２の値に置き換えることができる。２個の画素の間の比較は、差の絶対値を閾値と比較し、その後、２個の画素の値の総和を、２個のうちの低い方の値の２倍に置き換えることにより行うことができる。
【００２４】
センサが２個よりも多くのラインを有している場合には、２個のラインの様々なペアに対して連続して差を確定し、閾値と比較してもよい。
【００２５】
さらに、センサが２個よりも多くのラインを含む場合には、さらに詳しく言えば、センサが２個よりもずっと多く（１０〜２０個またはそれ以上）のラインを含む場合には、第１の値を、好ましくはこの第１の値を除外している平均値に置き換えることが好ましい。
【００２６】
平均は、理論的には１個のラインにしか影響を及ぼさない宇宙粒子によって著しい影響を受ける可能性がほとんどないことから、第１の値を、別のラインによって供給された値と比較するのではなく、この別のラインによって供給された値の平均値と比較するか、またさらにはすべてのラインの平均値と比較することがさらに好ましい場合がある。
【００２７】
第１の値が許容不可であると判明した場合には、第１の値は、次いで、Ｎ個の値の加算の際に平均値に置き換えられ、シーン点の輝度を表す第４のデジタル値を確定する。
【００２８】
さらに第１の値は、ナル値（ｎｕｌｌ  ｖａｌｕｅ）に置き換えることができ、これにより疑わしい値を純粋かつ単純に排除した量になる。ｒ個（ｒはＮよりも小さい）の第１の値が疑わしいと判断され、ナル値に置き換えられている場合には、第４の値は、次いで、同一のランクのＮ個の画素から得られたＮ個のデジタル値のデジタル加算の結果に、係数Ｎ／Ｎ−ｒを乗算することにより確定される。
【００２９】
本発明は、この方法を実施するように特に適合されたセンサにもまた関する。このセンサは、Ｐ個の感光画素からなる少なくとも２個のラインにより連続的に行われる同一のシーン帯の同期読み出し、および様々なラインにより読み出しされた信号の画素単位の合算を可能にする時間遅延積分シーン画像センサであって、各画素によって供給された信号をデジタル化するための回路と、様々なラインに属する同一のランクの画素であって、同一のシーン点を調べた同一のランクの画素からのデジタル値を加算するように構成され、出力として供給された加算の結果が、シーン点の輝度を表すデジタル処理回路と、を含むとともに、デジタル処理回路が、
−第１の画素からの第１のデジタル値であって、シーン点の輝度を表す信号の第１のデジタル値と、少なくとも１個の他のラインの同一のランクの画素または複数の画素からの第２のデジタル値であって、同一のシーン点の輝度を表す第２のデジタル値との間で減算を行い、
−この減算の結果を閾値と比較し、
−減算の結果が閾値を超過する場合に、デジタル加算を修正し、置き換えとして、第１のデジタル値を考慮に入れない別のデジタル総和を供給するように構成されていることを特徴とする時間遅延積分シーン画像センサである。
【００３０】
本発明の他の特徴および利点を、以下の本発明に従う画像キャプチャ方法の実施形態の説明において、また添付の図面を用いて説明する。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】双線形ＴＤＩセンサ、すなわち感光画素からなる２個の平行なラインを備えるＴＤＩセンサに適用された、本発明に従うＴＤＩ画像キャプチャ方法を示す。
【図２】本発明に従う方法を用いた、Ｐ個の画素からなるＮ個の感光性のラインを有する時間遅延積分画像センサの簡略化されたブロック図である。なお、Ｎは、２以上の整数である。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
最初に、双線形ＴＤＩセンサ、すなわち、２個の感光性のラインを備え、その前に観察対象のシーン帯を移動させるＴＤＩセンサの状況について本発明を説明する。
【００３３】
図１は、本発明に従う方法を示す。
【００３４】
センサは、２個の感光性のラインｌａおよびｌｂを備え、それぞれのラインは、ランク１，２，．．．ｉ，．．．ＰのＰ個の画素を備える。
【００３５】
センサの移動方向に、およびセンサの移動速度で、ラインｌａにより、次いでラインｌｂにより、連続的に観察されたシーン帯を考えられたい。
【００３６】
各ラインに対して、および各積分期間に、センサの読み出しおよびアナログ／デジタル変換回路は、ラインの画素によって供給されたＰ個のデジタル値の流れを出力としてデジタル処理回路ＣＴに供給する。この回路は、ある積分期間、例えば、期間Δ１＝ｔ１−ｔ０にわたってラインｌａによって、および次の積分期間、この例ではΔ２＝ｔ２−ｔ１にわたってラインｌｂによって連続的観察されたシーン帯のＰ個の点のそれぞれに対して、画素単位の合算を行う。
【００３７】
センサのラインｌａおよびｌｂのランクｉの画素Ｐｘｉ，ａおよびＰｘｉ，ｂによって連続的に観察されたシーン点を考えられたい。
【００３８】
ｐｉ，ａ（ｔ１）と表示された、時間ｔ１においてラインｌａの画素Ｐｘｉ，ａによって供給されたデジタル値は、このシーン点に対して積分期間Δ１の間に、この画素によって受光された光量に対応し、ｐｉ，ｂ（ｔ２）と表示された、時間ｔ２においてラインｌｂの画素Ｐｘｉ，ｂによって供給されたデジタル値は、同一のシーン点に対して次の積分期間Δ２の間に、この画素によって受光された光量に対応する。
【００３９】
各シーン点に対して、処理回路ＣＴは、対応する２個の値ｐｉ，ａ（ｔ１）およびｐｉ，ｂ（ｔ２）を受け取り、関係するシーン点の輝度を表すそれらの総和Σｉ＝ｐｉ，ａ（ｔ１）＋ｐｉ，ｂ（ｔ２）を計算する。
【００４０】
処理回路は、Ｐ個の輝度信号Ｓ（ｉ）ｉ＝１〜Ｐを出力として供給するために観察されたラインのＰ個のシーン点のそれぞれに対してこの計算を実行し、また、センサ、読み出しおよびアナログ／デジタル変換回路、ならびに、図には示されてないシーケンサによってセンサの移動速度と同期して制御されているデジタル処理回路によって観察された各シーン帯に対してこれを実行する。
【００４１】
雑音、および不均一なセンサの応答にもかかわらず、２個の画素Ｐｘｉ，ａおよびＰｘｉ，ｂから、２個の同一のデジタル値ｐｉ，ａ（ｔ１）およびｐｉ，ｂ（ｔ２）が得られるはずである。
【００４２】
しかしながら、画素Ｐｘｉ，ａが、画素の感光性エレメントによるキャプチャの前、またはキャプチャ中に、積分期間Δ１にわたって、高エネルギー粒子による影響を受けている場合には、時間ｔ１においてこの画素によって供給されたデジタル値ｐｉ，ａ（ｔ１）が壊れる一方で、時間ｔ２において画素Ｐｘｉ，ｂによって供給されたデジタル値ｐｉ，ｂ（ｔ２）が壊れない確率は通常、非常に高くなっている。
【００４３】
また、観察されたシーン点が、画素Ｐｘｉ，ａおよびＰｘｉ，ｂの感光性エレメントが飽和状態になり得るような輝度を有していない場合には、壊れた値ｐｉ，ａ（ｔ１）は、値ｐｉ，ｂ（ｔ２）よりもはるかに大きくなる。
【００４４】
したがって、これらの２個の値ｐｉ，ａ（ｔ１）およびｐｉ，ｂ（ｔ２）の間の差を計算することにより、関係するシーン点の輝度を表す出力値Ｓ（ｉ）を確定する前にこの差を閾値ｋと比較することにより、高エネルギー粒子との衝突によって壊れた画素を検出することが可能である。この閾値ｋは、読み出し雑音レベルよりも大きなデジタル値に設定される。読み出し雑音レベルは、センサの技術および用途によって決まる。
【００４５】
したがって、本発明に従う方法では、以下のことを考慮しなければならない。
−差ｐｉ，ａ（ｔ１）−ｐｉ，ｂ（ｔ２）が、所定の閾値ｋを上回っているかどうか。上回っている場合には、第１の画素は、積分期間Δ１に壊れている。
−差ｐｉ，ｂ（ｔ２）−ｐｉ，ａ（ｔ１）が、所定の閾値ｋを上回っているかどうか。上回っている場合には、第２の画素は、積分期間Δ２に壊れている。
−両方の場合において、差が閾値ｋ未満である場合には、２個の画素がいずれも、すなわち第１の画素が期間Δ１に、第２の画素が期間Δ２に壊れた可能性がないという現実的な推定に基づいて、２個の画素はいずれも対応する積分期間に壊れていないと結論が下される。この場合、処理回路によって供給された出力信号Ｓ（ｉ）は、２個の画素によって供給された２個のデジタル値ｐｉ，ａ（ｔ１）およびｐｉ，ｂ（ｔ２）の総和Σｉの通常の計算により確立される。
【００４６】
２個の画素のうちの１個が対応する積分期間に壊れている場合には、この画素から得られたデジタル値は、出力信号Ｓ（ｉ）の生成の際に考慮に入れない。それは無視される（そしてそれが無視されるという事実を数値の合算の際に考慮に入れる）か、またはより適切な値に置き換えられる。
【００４７】
本発明の１つの実施態様に従って、壊れた画素からのデジタル値、したがって過度に高いデジタル値は、他の画素からのデジタル値に置き換えられる。次に、処理回路の出力信号Ｓ（ｉ）が、訂正後の総和Σ’ｉを計算することにより確定される。影響を受けているのが画素Ｐｘｉ，ａである例では、この総和Σ’ｉは、Σ’ｉ＝２ｘｐｉ，ｂ（ｔ２）に等しい。言いかえれば、２個の画素によって供給された２個のデジタル値の合算により得られたデジタル値Σｉは、過度に高い値を考慮に入れない総和に対応するデジタル値Σ’ｉに置き換えられる。
【００４８】
要約すると、本発明は、同一のシーン点を観察する同一のランクの２個の画素だが、センサの異なる積分期間にわたって観察する２個の画素からのデジタル値を比較することを提案する。慣例によって、「第１のデジタル値」という表現は、２個のデジタル値のうちの高い方、例えば、ｐａ，ｉ（ｔ１）を指し、「第２のデジタル値」は、２個の値のうちの低い方を指す場合には、第１の値と第２の値との間の差が計算され、この差が、閾値ｋ（粒子によって生じた過度の信号レベルに気付くことが問題にされているので、正であると仮定する）と比較される。差が閾値未満である場合には、シーン点の輝度は、同一のシーン点を調べた画素からの値の従来の総和Σｉである第３のデジタル値Σｉによって確定される。一方、差が閾値を上回っている場合には、第１の値は、取り除けられ、第３の値に代わって、シーン点の輝度を表すために、第４のデジタル値Σ’ｉが確定される。これは、許容不可である第１の値を考慮に入れておらず、また第１の値は、直前に説明した例では、第２の値の２倍である。
【００４９】
実際には、必ずしも２個の画素のうちのどちらが壊れているかの検出を試みる必要はなく、むしろ、破壊の影響を是正することが必要である。
【００５０】
次に、２個のデジタル値間の差の絶対値を閾値ｋと比較することができる。それが閾値ｋを上回っている場合には、２個のデジタル値のうちの高い方を２個の値のうちの低い方に置き換えなければならない。閾値を「上回っている」という表現は、差がこの値ｋよりも大きいか、または、この値ｋ以上であることを意味し得ることに留意されたい。これは、所与のセンサおよび所与の用途を実際に実施する際の慣例によって得られる選択である。
【００５１】
観察されたラインのＰ個のシーン点のそれぞれに対して、ｉ＝１〜Ｐである出力信号Ｓ（ｉ）を生成するために適用された試験および加算ループＢＴ１は、次いで、以下のように表記することができる。
（ＢＴ１）：ｉ＝１〜Ｐに対して、
｜Ｐｉ，ａ（ｔ１）−Ｐｉ，ｂ（ｔ２）｜＜ｋである場合には、
Ｓ（ｉ）＝Σｉ＝Ｐｉ，ａ（ｔ１）＋Ｐｉ，ｂ（ｔ２）であり、
そうでなければ、Ｓ（ｉ）＝Σ’ｉ＝２ｘＭｉｎ［Ｐｉ，ｂ（ｔ２），Ｐｉ，ａ（ｔ１）］である。
【００５２】
このループは、実際には、図１に図式で示されているように、デジタル処理回路ＣＴによって実施されている。このループは、ＦＰＧＡ型のプログラマブル回路において容易に実施することができる。この処理回路は、センサ自体に組み込むか、またはセンサの外部の、センサを利用する光学系に、例えば、ビデオカメラに配置してもよい。
【００５３】
この回路ＣＴは、それぞれの感光性のラインから、デジタル値｛（ｐｉ，ａ）ｉ＝１，Ｐ｝ａｎｄ｛（ｐｉ，ｂ）ｉ＝１，Ｐ｝の流れを、それらが読み出しおよびデジタル化回路により供給されるとそれが続く間、現行の積分期間にそれを受け取る。回路ＣＴは、次の積分期間にわたって行われることになるデジタル処理が、対応するシーン帯の点のそれぞれの輝度を計算するように、このデータを一時的に記憶する。
【００５４】
各シーン点に対して、回路ＣＴは、この同一のシーン点を調べたセンサの同一のランクの２個の画素によって供給された２個のデジタル値、すなわち、時間ｔ１において供給された第１の値および時間ｔ２において供給された第２の値に、試験および加算ループＢＴ１を適用する。
【００５５】
試験および加算ループＢＴ１の、シーン帯のＰ個の点のそれぞれに対する実際の実施は、以下のようにしてもよい。すなわち、試験回路は、同一のシーン点を観察した同一のランクの２個の画素から第１のデジタル値および第２のデジタル値を回収する。第１の値と第２の値との間の差の絶対値を計算する。閾値ｋとの比較試験ＣＯＭＰを行う。比較試験が負である場合には、２個の画素によって供給された２個のデジタル値の総和に等しい第３のデジタル値Σｉが計算される。また、出力Ｓ（ｉ）として供給されるのはこの値Σｉである。比較試験が正である場合には、壊れた値を考慮に入れていない結果を提供する第４のデジタル値Σ’ｉが計算される。第４のデジタル値は、この例では、２個の値のうちの低い方の２倍に等しい。出力Ｓ（ｉ）として伝送されるのはこの値Σ’ｉである。
【００５６】
正常値Σｉを系統的に計算してもまたよいし、これと並行して、試験ループＢＴ１を実行してもまたよい。この場合、試験の結果は、出力（Ｓ（ｉ））として、一方の値（Σｉ）またはもう一方の値（Σ’ｉ）が伝送されたことを確認する。
【００５７】
したがって、双線形ＴＤＩセンサのこの単純な例では、判別により、積分期間中に高エネルギー粒子との衝突が画素に及ぼす影響を検出し、この期間にわたってこの画素により観察されたシーン点の輝度を計算する際に、対応するデジタル値を無視することによって、その影響を除去することが可能であると実証されている。
【００５８】
このように、本方法は、画素のそれぞれからのデジタル値が使用可能であるという事実を好都合に活用する。したがって、本方法は、大体において、各画素からの信号がデジタル化されるあらゆるＴＤＩセンサに適用される。したがって、本方法は、特に、能動画素ＴＤＩセンサにあてはまる。
【００５９】
Ｎが２以上である場合、本方法は、感光画素からなるＮ個のラインを含むＴＤＩセンサに概括することができる。
【００６０】
この場合、観察されたシーン帯の各点に対して、Ｎ個の連続した積分期間Δ１＝ｔ１−ｔ０，Δ２＝ｔ２−ｔ１，．．．．ΔＮ−１＝ｔＮ−１−ｔＮ−２，ΔＮ＝ｔＮ−ｔＮ−１にわたるこの帯の同一のシーン点を連続的に観察したＮ個の画素によって供給されたＮ個のデジタル値に、１個以上の壊れた値があるかどうかを検出することが問題にされている。
【００６１】
各シーン点に対して、本発明に従う試験ループを適用して、このシーン点を連続的に観察したセンサのＮ個ラインの同一のランクのＮ個の画素によって供給されたＮ個のデジタル値を試験してもよい。
【００６２】
既知のやり方で、これらのＮ個の値が連続的に得られる。すなわち、時間ｔ１において第１のラインのランクｉの画素Ｐｘｉ，１から第１の値ｐｉ，１（ｔ１），時間ｔ２において第２のラインのランクｉの画素Ｐｘｉ，２から第２の値ｐｉ，２（ｔ２），．．．，時間ｔＮにおいて第Ｎ番目のラインのランクｉの画素Ｐｘｉ，Ｎから第Ｎ番目の値ｐｉ，Ｎ（ｔＮ）が得られる。
【００６３】
センサのＮ個の感光性のラインによって観察されたシーン帯のＰ個の点の、それぞれの輝度を確定するために、様々な試験アルゴリズムを想定することができ、試験、および訂正のいずれにも多数のオプションが実施可能である。ランクｉ（ｉ＝１〜Ｐ）のシーン点、およびこのシーン点に対して時間ｔ１，ｔ２，．．．，ｔＮにおいてセンサのランクｉのＮ個の画素Ｐｘｉ，ｊによって得られた、Ｎ個のデジタル値ｐｉ，１，ｐｉ，２，．．．，ｐｉ，Ｎを考慮しながら、様々な例を以下に挙げる。
【００６４】
多線形センサに適用される本発明に従う試験ループの一般的原理は、所与の観察された帯のランクｉの同一のシーン点の輝度を表すＮ個の値ｐｉ，ｊのそれぞれに対して、許容可能か許容不可かを判定し、許容不可である場合には、関係するシーン点の輝度Ｓ（ｉ）を計算する際に、それを無視するか、または訂正することである。
【００６５】
したがって、Ｎ個の値のそれぞれに対して、慣例によって「第１のデジタル値」と呼ばれるこの値と、センサの少なくとも１個の他のラインの同一のランクの画素または複数の画素から得られ、かつ、同一のシーン点の輝度を表す第２のデジタル値との間で減算を行い、閾値ｋとの比較動作を行うことが問題にされている。
【００６６】
比較の結果に応じて、関係するシーン点の輝度を表す出力信号Ｓ（ｉ）は、以下によって得られる。
−慣例によって「第３のデジタル値」と呼ばれる値であって、エラーが検出されていない場合には、画素によって供給されたＮ個のデジタル値ｐｉ，ｊの総和Σｉに等しい値、または、
−慣例によって「第４のデジタル値」と呼ばれる値であって、壊れているものとして検出された値を無視、または訂正して計算された値Σ’ｉに等しい値。
【００６７】
第１のアルゴリズム例では、第２のデジタル値は、同一のランクの画素によって供給された値である。この例では、Ｎ個のデジタル値は、ラインのペアに対し２個単位で比較される。
【００６８】
この２個単位の比較は、隣接したラインのペアに対して行われることが好ましい。したがって、Ｎ個のデジタル値ｐｉ，ｊはそれぞれ、次の（隣接した）ラインの次の同一のランクｉの画素によって供給された次のデジタル値ｐｉ，ｊ＋１と比較される。比較の結果が過度に高いというものである場合には、値ｐｉ，ｊは、次のデジタル値ｐｉ，ｊ＋１に置き換えられる。
【００６９】
これは暗黙的に、画素Ｐｘｉ，ｊによって取得されたデジタル値ｐｉ，ｊの試験は、少なくとも、（次のラインの）同一のランクの次の隣接したピクセルＰｘｉ，ｊ＋１によって取得されたデジタル値ｐｉ，ｊ＋１が使用可能であるときに実行されていると仮定する。したがって、この条件であると仮定すると、積分期間によって規定されたタイミングにおいて、デジタル値が同一のシーン点の輝度に関して取得されているときに、試験を行なうことが可能である。なお、この試験は、関係するシーン点の輝度に関してＮ個のデジタル値が使用可能になれば行なうこともまた可能であり得ることに留意されたい。そのため、取得順序は、たいして重要ではない。
【００７０】
同一のシーン点の輝度を表すデジタル値が取得されるとそれが続く間、適用される試験ループの場合を考えられたい。
【００７１】
センサの第１のラインｌ１の画素Ｐｘｉ，１は、期間Δ１＝（ｔ１−ｔ０）の間にシーン帯の第ｉ番目の点を観察する。それは、時間ｔ１において、このシーン点の輝度を表すデジタル値ｐｉ，１を供給する。
【００７２】
センサの第１のラインｌ２の画素Ｐｘｉ，２は、次の期間Δ２＝（ｔ２−ｔ１）の間にこの第ｉ番目のシーン点を観察する。それは、時間ｔ２において、同一のシーン点の輝度を表すデジタル値ｐｉ，２を供給し、このデジタル値が記憶される。
【００７３】
時間ｔ２において、この以前に取得した値ｐｉ，１と、画素Ｐｘｉ，２によって供給された現在の値ｐｉ，２との間の差を計算し、この差（またはこの差の絶対値）を閾値ｋと比較することが可能となる。
【００７４】
以降、このシーン点に対する第Ｎ番目の値ｐｉ，Ｎが取得される時間ｔＮまで続く。この第Ｎ番目の最終の値ｐｉ，Ｎに対しては、直前の期間に取得した値ｐｉ，Ｎ−１の比較を用いることが可能であろう。
【００７５】
例えば、対応する試験ループＢＴ２は、以下のように表記することができる。
（ＢＴ２）：ｊ＝１〜Ｎに対して、
ｐｉ，ｊ−ｐｉ，ｊ＋１＜ｋである場合には、ｐｉ，ｊ＝ｐｉ，ｊであり、
そうでなければ、ｐｉ，ｊ＝ｐｉ，ｊ＋１である。
【００７６】
この試験ループを終了すると、関係するシーン点の輝度を表す出力信号Ｓ（ｉ）として、
−画素によって供給されたＮ個のデジタル値ｐｉ，ｊの総和Σｉであって、すべてが許容可能であると見なされた第３のデジタル値、または、
−この総和の計算の際に、許容不可であると見なされた値または複数の値に対する置き換え値または複数の置き換え値を考慮に入れた第４のデジタル値Σ’ｉが供給される。
【００７７】
読み出し時、および時間ｔＮにおいてセンサの第Ｎ番目のラインをデジタル化するときに、すなわち、同一のシーン点に対応するＮ個の値がすべて使用可能であるときに適用される試験ループの場合、この試験ループは、読み出しの順序を問わず２個単位で得られたデジタル値に適用してもよい。「使用可能な値」とは、少なくとも処理時間の間にすでに取得され記憶された値、および、センサの画素を読み出し、デジタル化するための回路により供給されている途中である値を意味する。
【００７８】
第Ｎ番目の積分期間の終了時において、関係する第ｉ番目のシーン点に対するＮ個の値が試験されていることになる。次に、試験回路は、このシーン点に対する輝度値Ｓ（ｉ）を出力として供給することができる。輝度値Ｓ（ｉ）は、試験ループが許容不可である値を発見しなかったのか、または許容不可である値の少なくとも１個を発見したのかによって、第３の値Σｉまたは第４の値Σ’ｉに等しくなる。試験ループＢＴ２の上記の例では、このループは次に、値Σ’ｉを計算するための置き換え値または複数の置き換え値を供給する。
【００７９】
実際の実施は、以下のようにしてもよい。試験ループＢＴ２が実行される。ループの各反復の終了時において、試験ループは、比較試験の結果に応じて、試験されたデジタル値ｐｉ，ｊまたはその訂正された値ｐｉ，ｊ＋１を、処理回路の累算器レジスタに伝送する。ループの終了時において、累算器レジスタは、必要に応じて訂正された、Ｎ個のデジタル値の合算の結果を包含している。関係する像点に対する出力値Ｓ（ｉ）を形成するのは、この結果である。レジスタは、撮像素子のＮ個の取得ラインに対応するＮ個の合算ステージを包含している。
【００８０】
取得および試験の進行とともに、並行して第３の値および第４の値を計算してもまたよい。試験ループの第Ｎ番目の反復の終了時において、セレクタによって、（第３の値か、第４の値の）どちらの値を出力Ｓ（ｉ）として伝送しなければならないかを選択することが可能になる。
【００８１】
双線形センサに適用された試験ループＢＴ１について上述したように、閾値ｋと、差の絶対値との比較を適用することが同様に可能になることが示されている。次に、値のペアが好適に試験されるが、値のペアは、隣接したラインのペアに対応していることが好ましい。したがって、Ｎが偶数であると仮定して、Ｎ／２個のペアの値、すなわち、（ｐｉ，１，ｐｉ，２），（ｐｉ，３，ｐｉ，４），．．．．（ｐｉ，Ｎ−１，ｐｉ，Ｎ）が試験されることになる。差の絶対値の閾値との比較に基づいたこのアルゴリズムにより、行われる比較の数を半分にすることが可能になる。閾値との比較試験に続いて、試験が負である場合には、２個の値の総和に等しい中間結果を、または、試験が正である場合には、小さい方の値の２倍に等しい中間結果を計算することもまた可能である（図１参照）。Ｎ／２個のペアの値が試験されると、次に、Ｎ／２個の中間結果の総和を計算することにより、最終結果が得られる。したがって、ここでは、いかなる壊れた値も考慮に入れることはない。この場合、累算器レジスタに連続的に累積されることになるのは、中間結果である。
【００８２】
同一のシーン点に対応するＮ個の値がすべて使用可能であるときに適用可能な、別のアルゴリズムの例では、次に、Ｎ個の値のそれぞれをＮ個の値の平均と、または好ましくはＮ−１個の他の値の平均、すなわち試験されたデジタル値を除外した平均と比較することもまた可能である。
【００８３】
減算の結果が所定の閾値以上になる場合には、試験されたデジタル値は、この計算された平均値に置き換えられる。
【００８４】
平均値の計算の際に、試験されたデジタル値を除外するかどうかは、一般的には、感光性のラインの数Ｎによって決まる。
【００８５】
この数が十分に大きい場合には、例えば、３２、６４またはそれ以上である場合には、Ｎ個のデジタル値に関して計算された平均値は、試験されているデジタル値が壊れていても、壊れていなくても、事実上変わらない。この場合、各シーン点に対して、Ｎ個のデジタル値の平均値が計算される。この平均値の計算は一般的には、Ｎ個の連続した積分期間の終了時において、Ｎ個のデジタル値を連続的に受け取るＮ個の累算器レジスタを使用して行うことができる。そして、この平均値が試験ループに供給される。
【００８６】
Ｎが小さい場合には、例えば、１０、または２０に等しい場合には、試験された値は、平均の計算から除外されることが好ましい。なぜなら、壊れているかどうかによって、計算された平均値が著しく異なってしまうので、検出試験の効果が不十分になるか、さらには効果がなくなってしまう。
【００８７】
要約すると、Ｎ個の感光性のラインを有するセンサに対して、本発明に従うキャプチャ方法により、その輝度を確定する前に、所与のシーン点に対して、同一のランクのＮ個の画素によって供給されたＮ個の値を試験することが可能になる。
【００８８】
慣例によって、「第１のデジタル値」は、試験対象の値である。「第２のデジタル値」は、同一のランクの別の画素からの値、または、第１のデジタル値をおそらく除外している平均値Ｖｍとすることができるが、この第２のデジタル値が、第１のデジタル値から減算され、その差が閾値ｋと比較される。
【００８９】
この差が閾値を上回っている場合には、試験された値は許容不可であると見なされ、別の値に置き換えられるが、この別の値は、第２のデジタル値、すなわち他の画素からの値、または平均値Ｖｍとすることができる。
【００９０】
たとえ減算された第２のデジタル値が、同一のランクの別の画素によって供給された値であっても、平均値を置き換え値として採用することが好ましい場合がある。
【００９１】
最後に、第１のデジタル値をＮ個のデジタル値のうちの別の値との比較により試験するのか、または平均値との比較により試験するのかは、この第１の値が許容不可であると見なされている場合には、訂正された総和を計算するために、第１の値をナル値に置き換える選択をすることもまた可能である。この場合、シーン点の輝度は、訂正された総和Σ’ｉに係数Ｎ／Ｎ−１を乗算した結果から得られる。Ｎ個の値のうちの１個だけが壊れている場合には、これがあてはまる。画素によって供給されたＮ個の値のうちのｒ個の値が、壊れていると見なされ、ナル値に置き換えられる場合には、乗算係数はＮ／Ｎ−ｒになる。ただし、この変形例が対象となるのは、Ｎと比較してｒの方が小さいことが前提である。
【００９２】
これまで説明してきた本発明は、Ｐ個の感光画素からなるＮ個のラインを有するあらゆる時間遅延積分線形画像センサに当てはまる。この場合、Ｎは２以上であり、観察されたシーン帯の各点に対して、同一のランクのＮ個の画素によって供給されたＮ個の信号のそれぞれが、デジタル化される。
【００９３】
図２は、本発明を実施する、Ｐ個の感光性エレメントＰｘｉ，ｊ，ｉ＝１〜Ｐ，ｊ＝１〜ＮからなるＮ個のラインを備えるセンサＣＰＴＩの理論上の図を示す。センサは、画素を読み出して、各積分期間の終了時にセンサのＮｘＰ個の画素によって供給されたＮｘＰ個のデジタル値を出力として順に供給するアナログ／デジタル変換するための回路ＣＬＡＮを含む。これらの値は、メモリＭに記憶され、本発明による試験ループＢｔｅｓｔを適用して、宇宙粒子の衝撃に関連付けされた異常値を取り除けるか、または訂正することにより計算された、それぞれの観察された帯ＬｚのＰ個の点のＰ個の輝度デジタル信号Ｓ（ｉ）を、順に出力として供給するデジタル処理回路ＣＴによって処理される。
【００９４】
従来のやり方では、このセンサでは、読み出しモードにおいて連続的に選択されたセンサの同一のランクｉの画素は、観察されるシーンの移動と同期して、それぞれ連続的に、同一の列導体Ｃｃｉに累積された電荷の量に対応する電圧信号を印加する。読み出しおよびデジタル化回路ＣＬＡＮは、読み出しのために選択された画素によって列導体Ｃｃｉに印加された電圧信号を読み出しして、メモリＭに記憶されるその電圧信号のデジタル値を供給するアナログ／デジタル変換器にその電圧信号を印加する。この変換器は、列導体ごとに固有であってもよいし、あるいはすべての列導体に共通であってもよい。
【００９５】
各積分期間の終了時において、例えば、第Ｎ番目の期間の後の時間ｔＮにおいて、センサのラインｌｉ１個当たりＰ個のデジタル値が、すなわち、センサのラインによってそれぞれ観察されたＮ個のシーン帯に対応するＮｘＰ個のデジタル値が収集される。この例では、回路ＣＬＡＮは、Ｎ個のラインｌｊのそれぞれ、すなわちｐ１，１（ｔＮ），．．．ｐＰ，１（ｔＮ），．．．．，ｐ１，ｊ（ｔＮ），．．．ｐＰ，ｊ（ｔＮ），ｐ１，Ｎ（ｔＮ），．．．ｐＰ，Ｎ（ｔＮ）によって供給された、Ｐ個の値ｐ１，１（ｔＮ），．．．ｐＰ，１（ｔＮ）を出力として供給する。したがって、回路ＣＬＡＮは、メモリＭに記憶され、デジタル処理回路ＣＴに伝送されるＮｘＰ個のデジタル値を供給する。これらの読み出し動作、変換動作、記憶動作および伝送動作は、図には示されてないシーケンサによって、センサの移動速度と同期してなされる。
【００９６】
所与のシーン帯Ｌｚの、センサの少なくともＮ個の連続した積分期間、すなわちΔ１＝ｔ１−ｔ０，Δ２＝ｔ２−ｔ１，．．．．ΔＮ＝ｔＮ−ｔＮ−１の後の、時間ｔＮを考えられたい。時間ｔＮにおいて、メモリＭはこのとき、このシーン帯のＰ個の点のそれぞれに対して、Ｎ個の連続した積分期間にわたって、このシーン点に対してセンサの同一のランクのＮ個の画素によって供給されたＮ個のデジタル値であって、このシーン点の輝度を表すＮ個のデジタル値を包含している。したがって、例えば、示されているように、メモリＭは、ランクｉのシーン点に対してＮ個の値、ｐｉ，１（ｔ１），ｐｉ，２（ｔ２），．．．．ｐｉ，Ｎ（ｔＮ）を供給する。
【００９７】
実際には、そして上記で詳述したように、これらの値は、取得されるとそれが続く間、またはＮ個の値が実際に使用可能になったときに、供給することができる。
【００９８】
デジタル処理回路およびメモリは、実際にはセンサ自体に組み込むか、またはセンサの外部の、センサを利用する光学系に、例えば、ビデオカメラに位置決めしてもよい。これらは、大体において、ＦＰＧＡ型回路によって実施されることになる。
【００９９】
所与のシーン帯Ｌｚに対して、処理回路をシーケンシングして、観察された帯ＬｚのＰ個の点のそれぞれに対して得られたＮ個の値を試験してもよい。
【０１００】
実際には、試験ループは、Ｐ個のシーン点に対して並行して実行され、Ｐ個の試験ループのそれぞれが、試験対象の画素によって供給されたＮ個の値を受け取る。
【０１０１】
Ｎ個の値が取得されるとそれが続く間、すなわち最初の２個の値が使用可能になり次第、または帯Ｌｚのシーン点１個当たりＮ個のデジタル値がすべて使用可能になったときに、試験ループを実行することができる。この後の方の変形例は、さらに詳しく言えば、試験ループが、Ｎ個の値、または試験されている値を除外したＮ−１個の他の値に関して計算された平均値Ｖｍとの比較を行うときに用いられる。
【０１０２】
実際には、適切なシーケンスに従って、処理回路ＣＴの試験回路および計算回路に、変換器回路ＣＬＡＮによって現行の積分期間に直接供給されたデジタル値を、およびメモリＭによって他の積分期間に供給されたデジタル値を与えることができる。
【０１０３】
デジタル処理回路ＣＴは通常、試験ループＢｔｅｓｔの出力の関数として、本発明に従って訂正された値Σｉまたは値Σ’ｉを計算するように適合されている。
【０１０４】
これらの計算回路および試験回路の実際の実施、ならびにそれらのシーケンシングは、当業者が実施する上で、特に困難を伴うものではない。それは、デジタル処理回路において、またはデジタル処理回路によって実施され、センサの各積分期間においてＮｘＰ個のデジタル値を取得して記憶するための、および、処理回路にデジタル値を供給して、センサの感光性のラインの前を移動するシーンの速度と同期して、観察されたそれぞれのシーン帯に対して計算された輝度値の流れを出力として得るための、通常のシーケンシングステップに組み込んでいる、通常のデジタル計算手段および試験手段、またはメカニズムを用いている。
【図１】
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【図２】
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