(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を被検眼に照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成し、生成された前記干渉光を検出する干渉光学系と、
前記参照光を第１参照光路及び第２参照光路に導く光路分割部材と、
１以上の透光部及び１以上の遮光部を含む複数の光学機能部を備えた光学部材と、
前記第１参照光路及び前記第２参照光路のそれぞれに前記複数の光学機能部のいずれかを同時に配置させるように前記光学部材を移動する移動機構と、
前記移動機構により前記第１参照光路及び前記第２参照光路のそれぞれに前記複数の光学機能部のいずれかが配置された状態で前記干渉光学系により取得された前記干渉光の検出データに基づいて前記被検眼の眼内距離を求める眼内距離算出部と、
前記光源に関する校正量を求める校正量算出部と、
を含み、
前記１以上の透光部の少なくとも１つには光路長変更部材が設けられ、
前記干渉光学系は、前記第１参照光路及び前記第２参照光路の少なくとも一方に前記光路長変更部材が配置された状態において、前記第１参照光路からの戻り光と前記第２参照光路からの戻り光との第３干渉光を検出して第３検出データを生成し、かつ、前記第１参照光路及び前記第２参照光路のそれぞれに前記透光部が配置された状態において、前記第１参照光路からの戻り光と前記第２参照光路からの戻り光との第４干渉光を検出して第４検出データを生成し、
前記校正量算出部は、前記第３検出データと前記第４検出データとに基づいて、前記光源に関する校正量を求め、
前記眼内距離算出部は、前記干渉光の検出データと前記校正量とに基づいて、前記眼内距離を求める、眼科装置。
【請求項２】
前記校正量算出部は、前記第１参照光路の長さと前記第２参照光路の長さとが略等しい状態でそれぞれ取得された前記第３検出データと前記第４検出データとに基づいて前記校正量を求める
ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
前記第１参照光路の長さと前記第２参照光路の長さとを相対的に変更する参照光路長変更部と、
前記参照光路長変更部を制御する制御部と、
を含み、
前記校正量算出部は、前記第３検出データと前記第４検出データとの間の信号変位量と、前記信号変位量に対応する前記参照光路長変更部に対する制御量とに基づいて前記参照光路長変更部に関する校正量を求める
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科装置。
【請求項４】
２以上の前記透光部を含み、前記２以上の透光部には参照光路の長さの変更量が異なる２以上の光路長変更部材が設けられ、
前記校正量算出部は、前記２以上の光路長変更部材のそれぞれに対応する前記校正量を求める
ことを特徴とする請求項３に記載の眼科装置。
【請求項５】
前記１以上の透光部の少なくとも１つには分散補償部材が設けられている
ことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の眼科装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、眼科装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
白内障は、レンズの役目を担う水晶体が混濁することにより徐々に視力が低下していく眼疾患である。白内障が進行した被検眼に対しては、一般的に、白内障手術が行われる。例えば、白内障手術では、混濁した水晶体を取り除き、代わりに眼内レンズ（Ｉｎｔｒａｏｃｕｌａｒ  Ｌｅｎｓ：以下、ＩＯＬ）が挿入される。ＩＯＬには、球面度のみを有するものや、乱視の矯正が可能なトーリックＩＯＬや、遠方と近方の双方に焦点を合わせることが可能な多焦点ＩＯＬ等がある。白内障手術の前には、被検眼の構造を表す眼球情報（眼軸長等）の測定が行われ、得られた眼球情報からＩＯＬの度数が決定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−１６１４２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ＩＯＬ度数の決定には、被検眼について眼軸長や前房深度等の複数の眼内距離が必要である。眼内距離は、干渉光学系により生成された干渉光を用いて求めることが可能である。しかしながら、眼内距離の測定には、参照光や測定光の光路の長さを変更する機構や当該機構を駆動する駆動部等が必要になり、装置内の配置スペースが問題になる。
【０００５】
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、省スペースで被検眼の眼内距離を測定することが可能な眼科装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
実施形態に係る眼科装置は、干渉光学系と、光路分割部材と、光学部材と、移動機構と、眼内距離算出部と、校正量算出部とを含む。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被検眼に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。光路分割部材は、参照光を第１参照光路及び第２参照光路に導く。光学部材は、１以上の透光部及び１以上の遮光部を含む複数の光学機能部を備えている。移動機構は、第１参照光路及び第２参照光路のそれぞれに複数の光学機能部のいずれかを同時に配置させるように光学部材を移動する。眼内距離算出部は、移動機構により第１参照光路及び第２参照光路のそれぞれに複数の光学機能部のいずれかが配置された状態で干渉光学系により取得された干渉光の検出データに基づいて被検眼の眼内距離を求める。校正量算出部は、光源に関する校正量を求める。１以上の透光部の少なくとも１つには光路長変更部材が設けられる。干渉光学系は、第１参照光路及び第２参照光路の少なくとも一方に光路長変更部材が配置された状態において、第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第３干渉光を検出して第３検出データを生成し、かつ、第１参照光路及び第２参照光路のそれぞれに透光部が配置された状態において、第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第４干渉光を検出して第４検出データを生成する。校正量算出部は、第３検出データと第４検出データとに基づいて、光源に関する校正量を求める。眼内距離算出部は、干渉光の検出データと校正量とに基づいて、眼内距離を求める。
【発明の効果】
【０００７】
実施形態によれば、省スペースで被検眼の眼内距離を測定することが可能な眼科装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図。
【図２】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図。
【図３】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図。
【図４】実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図。
【図５】実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図。
【図６】実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図。
【図７】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図。
【図８】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図。
【図９】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図。
【図１０】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図。
【図１１】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図。
【図１２】実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図。
【図１３】実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図。
【図１４】実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
この発明に係る眼科装置の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。
【００１０】
実施形態に係る眼科装置は、他覚測定と自覚検査とを実行可能である。他覚測定は、被検者からの応答を参照することなく、主に物理的な手法を用いて被検眼に関する情報を取得する測定手法である。
【００１１】
他覚測定には、被検眼の特性を取得するための測定と、被検眼の画像を取得するための撮影とが含まれる。他覚測定には、他覚屈折測定、角膜形状測定、眼圧測定、眼底撮影、光干渉計測等がある。一方、自覚検査は、被検者からの応答を利用して情報を取得する測定手法である。自覚検査には、遠用検査、近用検査、コントラスト検査、グレア検査等の自覚屈折測定や、視野検査などがある。
【００１２】
実施形態に係る眼科装置は、任意の自覚検査及び任意の他覚測定の少なくとも一方を実行可能である。光干渉計測は、眼軸長、角膜厚、前房深度、水晶体厚など、被検眼の構造を表す眼球情報を取得するために用いられる。また、被検眼の画像や解析データを取得するために光干渉計測を利用することもできる。
【００１３】
光干渉計測を行う装置では、設置環境（室温）や自己発熱により時間の経過に伴って装置内部の温度が変化し、光源の特性や参照光学系の移動特性が変化することにより、受光素子等で受光される干渉光の特性が変化する場合がある。また、経年変化によってもこれらの特性が変化する場合がある。光源の特性の変化には、発生された光の中心波長のドリフトや波長幅の変化がある。参照光学系の移動特性の変化には、参照光路の長さを変更するための参照ミラーユニットを移動させる駆動手段の駆動特性の変化がある。実施形態に係る眼科装置は、光源の特性や参照光学系の移動特性の経時変化を校正するための校正量を求めることが可能である。
【００１４】
＜構成＞
図１〜図３に、実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。眼科装置１０００は、被検眼Ｅの検査を行うための光学系として、Ｚアライメント系１、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、視標投影系４、観察系５、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７、及び眼内距離測定系８を含む。また、眼科装置１０００は処理部９を含む。
【００１５】
（処理部９）
処理部９は、眼科装置１０００の各部を制御する。また、処理部９は、各種演算処理を実行可能である。処理部９はプロセッサを含む。プロセッサの機能は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ））等の回路により実現される。処理部９は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。
【００１６】
（観察系５）
観察系５は、被検眼Ｅの前眼部を動画撮影する。被検眼Ｅの前眼部からの光（赤外光）は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及び５３を透過し、絞り５４の開口を通過する。絞り５４の開口を通過した光は、ハーフミラー５５を透過し、リレーレンズ５６及び５７を通過し、結像レンズ５８により撮像素子５９（エリアセンサ）の撮像面に結像される。撮像素子５９は、所定のレートで撮像及び信号出力を行う。撮像素子５９の出力（映像信号）は処理部９に入力される。処理部９は、この映像信号に基づく前眼部像Ｅ’を表示部１０の表示画面１０ａに表示させる。前眼部像Ｅ’は、例えば赤外動画像である。観察系５は、前眼部を照明するための照明光源を含んでいてもよい。
【００１７】
（Ｚアライメント系１）
Ｚアライメント系１は、観察系５の光軸方向（前後方向、Ｚ方向）におけるアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。Ｚアライメント光源１１から出力された光は、被検眼Ｅの角膜Ｋに照射され、角膜Ｋにより反射され、結像レンズ１２によりラインセンサ１３に結像される。角膜頂点の位置が前後方向に変化すると、ラインセンサ１３に対する光の投影位置が変化する。処理部９は、ラインセンサ１３に対する光の投影位置に基づいて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づきＺアライメントを実行する。
【００１８】
（ＸＹアライメント系２）
ＸＹアライメント系２は、観察系５の光軸に直交する方向（左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向））のアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。ＸＹアライメント系２は、ハーフミラー５５により観察系５から分岐された光路に設けられたＸＹアライメント光源２１を含む。ＸＹアライメント光源２１から出力された光は、ハーフミラー５５により反射され、観察系５を通じて被検眼Ｅに照射される。その角膜Ｋによる反射光は、観察系５を通じて撮像素子５９に導かれる。
【００１９】
この反射光の像（輝点像）は前眼部像Ｅ’に含まれる。処理部９は、図１に示すように、輝点像Ｂｒを含む前眼部像Ｅ’とアライメントマークＡＬとを表示画面１０ａに表示させる。手動でＸＹアライメントを行う場合、ユーザは、アライメントマークＡＬ内に輝点像Ｂｒを誘導するように光学系の移動操作を行う。自動でアライメントを行う場合、処理部９は、アライメントマークＡＬに対する輝点像Ｂｒの変位がキャンセルされるように、光学系を移動させるための機構を制御する。
【００２０】
（ケラト測定系３）
ケラト測定系３は、角膜Ｋの形状を測定するためのリング状光束（赤外光）を角膜Ｋに投影する。ケラト板３１は、対物レンズ５１と被検眼Ｅとの間に配置されている。ケラト板３１の背面側（対物レンズ５１側）にはケラトリング光源３２が設けられている。ケラトリング光源３２からの光でケラト板３１を照明することにより、角膜Ｋにリング状光束が投影される。その反射光（ケラトリング像）は撮像素子５９により前眼部像とともに検出される。処理部９は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで角膜形状パラメータを算出する。
【００２１】
（視標投影系４）
視標投影系４は、固視標や自覚検査用視標等の各種視標を被検眼Ｅに呈示する。光源４１から出力された光（可視光）は視標チャート４２に照射される。視標チャート４２は、例えば透過型の液晶パネルを含み、視標を表すパターンを表示する。視標チャート４２を透過した光は、結像レンズ４３及びＶＣＣレンズ４４を通過し、反射ミラー４５により反射され、ダイクロイックミラー５３により反射され、ダイクロイックミラー５２を透過し、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。光源４１及び視標チャート４２は、一体となって光軸方向に移動可能である。
【００２２】
自覚検査を行う場合、処理部９は、他覚測定の結果に基づき視標チャート４２、光源４１及びＶＣＣレンズ４４を制御する。処理部９は、検者又は処理部９により選択された視標を視標チャート４２に表示させる。それにより、当該視標が被検者に呈示される。被検者は視標に対する応答を行う。応答内容の入力を受けて、処理部９は、更なる制御や、自覚検査値の算出を行う。例えば、視力測定において、処理部９は、ランドルト環等に対する応答に基づいて、次の視標を選択して呈示し、これを繰り返し行うことで視力値を決定する。
【００２３】
（レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７）
レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７は他覚屈折測定（レフ測定）に用いられる。レフ測定投影系６は、他覚測定用のリング状光束（赤外光）を眼底Ｅｆに投影する。レフ測定受光系７は、このリング状光束の被検眼Ｅからの戻り光を受光する。
【００２４】
レフ測定光源６１は光軸方向に移動可能であり、眼底Ｅｆと光学的に共役な位置に配置される。レフ測定光源６１から出力された光は、コンデンサレンズ６２を通過し、反射ミラー６３により反射され、円錐プリズム６４Ａ及びリレーレンズ６４Ｂを透過し、リング絞り６４Ｃのリング状透光部を通過してリング状光束となる。リング絞り６４Ｃにより形成されたリング状光束は、孔開きプリズム６５の反射面により反射され、ロータリープリズム６６を通過し、クイックリターンミラー６７に導かれる。
【００２５】
ロータリープリズム６６は、眼底Ｅｆの血管や疾患部位に対するリング状光束の光量分布を平均化させるために用いられる。また、クイックリターンミラー６７は、他覚屈折測定と眼内距離測定との切り換えに用いられる。他覚屈折測定を行う場合、クイックリターンミラー６７の反射面は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路（分岐光路）に配置される。それにより、レフ測定投影系６の光路及びレフ測定受光系７の光路の双方が観察系５の光路に結合される。一方、眼内距離測定を行う場合、クイックリターンミラー６７は、この分岐光路から退避される。それにより、眼内距離測定系８の光路が観察系５の光路に結合される。
【００２６】
他覚屈折測定では、ロータリープリズム６６を通過したリング状光束は、クイックリターンミラー６７により反射され、ダイクロイックミラー５２に反射され、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。
【００２７】
眼底Ｅｆに投影されたリング状光束の戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及びクイックリターンミラー６７により反射される。クイックリターンミラー６７により反射された戻り光は、ロータリープリズム６６を通過し、孔開きプリズム６５の孔部を通過し、リレーレンズ７１及び合焦レンズ７２を透過し、結像レンズ７３により撮像素子７４の撮像面に結像される。撮像素子７４の出力は処理部９に入力される。処理部９は、撮像素子７４からの出力を基に公知の演算を行うことで被検眼Ｅの球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを算出する。
【００２８】
処理部９は、算出された屈折値に基づいて、レフ測定光源６１と眼底Ｅｆと撮像素子７４とが共役となる位置に、レフ測定光源６１と合焦レンズ７２とをそれぞれ光軸方向に移動させる。更に、処理部９は、合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１の移動に連動して眼内距離測定系８の合焦レンズ８５をその光軸方向に移動させる。処理部９は、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２及び合焦レンズ８５、光源４１及び視標チャート４２を一体的に移動させることも可能である。
【００２９】
（眼内距離測定系８）
眼内距離測定系８は眼球情報としての眼内距離測定のための光干渉計測を行う。光干渉計測が行われるとき、クイックリターンミラー６７が上記分岐光路から退避される。また、光干渉計測よりも前にレフ測定が実施され、光ファイバ８０ａの端面が眼底Ｅｆと共役となるように合焦レンズ８５の位置が調整される。
【００３０】
図２に示すように、干渉計ユニット８０において、干渉計光源８１から出力された光（赤外光、広帯域光）Ｌ０は、光ファイバ８０ｂを通じて導かれたファイバカプラ８２により測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。測定光ＬＳは、光ファイバ８０ａを通じてコリメータレンズ８４に導かれる。一方、参照光ＬＲは、光ファイバ８０ｃを通じて参照光路長変更ユニット９０に導かれる。
【００３１】
参照光路長変更ユニット９０は、参照光ＬＲの光路長を変更する。参照光路長変更ユニット９０に導かれた参照光ＬＲは、コリメータレンズ９１により平行光束とされてビームスプリッタ９２に入射する。ビームスプリッタ９２は、５０：５０の分割比で参照光ＬＲを２つの光束（網膜・前房深度用光束、角膜用光束）に分割する。ビームスプリッタ９２により分割された２つの光束のうち網膜・前房深度用光束はビームスプリッタ９２の透過方向に形成される網膜・前房深度用参照光路（以下、単に網膜用参照光路と呼ぶ）に導かれる。角膜用光束はビームスプリッタ９２の反射方向に形成される角膜用参照光路に導かれる。ビームスプリッタ９２の分割比は光学系の構成などに応じて必ずしも等分割でなくてもよい。
【００３２】
ビームスプリッタ９２の透過方向には、ターレット板９７と網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４とが配置されている。ターレット板９７は、複数の光学機能部を備えている。複数の光学機能部は、１以上の透光部及び１以上の遮光部を含む。ターレット板９７は、ビームスプリッタ９２の透過方向の網膜用参照光路に前述の１以上の透光部及び１以上の遮光部のいずれかを配置可能である。
【００３３】
ビームスプリッタ９２の反射方向には、反射ミラー９５とターレット板９７と角膜用参照ミラーユニット９６とが配置されている。反射ミラー９５は、ビームスプリッタ９２により反射された参照光を網膜用参照光路と平行な向きに偏向する。それにより、網膜用参照光路及び反射ミラー９５により偏向された網膜用参照光路は互いに平行な光路となる。反射ミラー９５により偏向された網膜用参照光路にも、ターレット板９７が配置されている。すなわち、ビームスプリッタ９２の透過方向及び反射方向のそれぞれに、ターレット板９７が配置されている。ターレット板９７は、ビームスプリッタ９２の反射方向の角膜用参照光路に前述の１以上の透光部及び１以上の遮光部のいずれかを配置可能である。したがって、ターレット板９７は、網膜用参照光路及び角膜用参照光路のそれぞれに前述の１以上の透光部及び１以上の遮光部のいずれかを同時に配置可能である。
【００３４】
図３に示すように、ターレット板９７は、１以上の透光部及び１以上の遮光部が回動軸Ｏ１の回りの円周方向に設けられた円板状の部材である。１以上の透光部及び１以上の遮光部のいずれか１つが網膜用参照光路に配置され、当該いずれか１つに対向して配置されている別の透光部又は遮光部が角膜用参照光路に配置される。実施形態では、ターレット板９７を回動軸Ｏ１の回りに回動させることにより、図３に示す７組の透光部及び遮光部の組み合わせ（Ｇ１組〜Ｇ７組）のいずれかを網膜用参照光路及び角膜用参照光路に配置可能である。
【００３５】
透光部には、ターレット板９７に形成された孔部９７１ａ〜９７１ｇと分散補償部材９７２ａ〜９７２ｂと校正用光学部材とが設けられている。分散補償部材９７２ａ〜９７２ｂは、同一の分散補償特性を有している。校正用光学部材は、測定対象に対応した１以上の光路長変更部材（透光部材）（図３では光路長変更部材９７３〜９７５）を含む。光路長変更部材は、例えば、屈折率及び透過方向（光軸方向）の厚さの双方が既知であるガラス（硝材）である。光路長変更部材９７３は、前房深度に相当する厚さｔ２を有するガラス（中）である。光路長変更部材９７４は、角膜厚に相当する厚さｔ３（ｔ２＞ｔ３）を有するガラス（薄）である。光路長変更部材９７５は、眼軸長に相当する厚さｔ１（ｔ１＞ｔ２＞ｔ３）を有するガラス（厚）である。
【００３６】
遮光部には、参照光を遮光するためのシャッター部材９７６ａ〜９７６ｂが設けられている。遮光部に反射部材が設けられ、参照光を所定の向き反射することで参照光の戻り光をビームスプリッタ９２に入射させないようにしてもよい。
【００３７】
例えば、角膜用参照光路及び網膜用参照光路にＧ１組が適用（選択）されているとき、一方の参照光路にシャッター部材９７６ｂが配置され、他方の参照光路に分散補償部材９７２ａが配置される。同様に、例えば、角膜用参照光路及び網膜用参照光路にＧ３組が適用されているとき、一方の参照光路に孔部９７１ｂが配置され、他方に光路長変更部材９７３が配置される。
【００３８】
網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４は、結像レンズ９４Ａと網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂとを含む。角膜用参照ミラーユニット９６は、結像レンズ９６Ａと角膜用参照ミラー９６Ｂとを含む。
【００３９】
図４に示すように、校正時や測定時、ターレット板９７を回動させることにより網膜用参照光路及び角膜用参照光路に配置される透光部や遮光部を切り替えつつ、校正量や眼内距離の算出が行われる。
【００４０】
（校正時）
校正時には、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ３組〜Ｇ５組、及びＧ７組が選択的に適用される。それにより、角膜用参照光路には孔部９７１ｂ〜９７１ｄ、９７１ｆ、が選択的に配置され、網膜用参照光路には孔部９７１ｇや光路長変更部材９７３〜９７５が選択的に配置される。網膜・前房深度用光束は、孔部９７１ｇ又は光路長変更部材９７３〜９７５のいずれかを通過し、結像レンズ９４Ａにより網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂの反射面に結像され、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂにより反射される。網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂにより反射された光束は、結像レンズ９４Ａ及び当該光路長変更部材を通過してビームスプリッタ９２に戻る。角膜用光束は、孔部９７１ｂ〜９７１ｄ、９７１ｆのいずれかを通過し、結像レンズ９６Ａにより角膜用参照ミラー９６Ｂの反射面に結像され、角膜用参照ミラー９６Ｂにより反射され、結像レンズ９６Ａ及び当該孔部を通過してビームスプリッタ９２に戻る。ビームスプリッタ９２は、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂからの参照光の反射光と角膜用参照ミラー９６Ｂからの参照光の反射光とを干渉させる。それにより生成された干渉光は、校正用の干渉光として、光ファイバ８０ｃによりファイバカプラ８２に導かれる。
【００４１】
一方、被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光による干渉光が発生しないように、クイックリターンミラー６７は前述の分岐光路に挿入される。また、被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光の光路長が、干渉が発生しないように十分長くなるように被検眼Ｅが対物レンズ５１（眼内距離測定系８）から十分に離れた位置に配置されるようにしてもよい。ファイバカプラ８２は、光ファイバ８０ｃにより導かれてきた校正用の干渉光を光ファイバ８０ｄに導く。光ファイバ８０ｄは、校正用の干渉光を分光器８３に導く。校正用の干渉光には、光路長変更部材の挿脱により変化した参照光路の長さに関する情報が含まれる。処理部９は、分光器８３から出力された信号にＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）等の公知の信号処理を施すことにより、光路長変更部材の挿脱により変化した参照光路の長さに対応して変位する信号を取得する。この信号の変位量に基づいて、校正が行われる。
【００４２】
（測定時）
測定時には、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ１組、Ｇ２組及びＧ６組が選択的に適用される。それにより、角膜用参照光路には孔部９７１ａ、９７１ｅ又はシャッター部材９７６ｂが配置され、網膜用参照光路には分散補償部材（９７２ａ又は９７２ｂ）又はシャッター部材９７６ｂが配置される。網膜用参照光路に分散補償部材が配置されているとき、網膜・前房深度用光束は、当該分散補償部材を通過し、結像レンズ９４Ａにより網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂの反射面に結像され、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂにより反射される。網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂにより反射された光束は、結像レンズ９４Ａ及び当該分散補償部材を通過してビームスプリッタ９２に戻る。角膜用参照光路に孔部（９７１ａ又は９７１ｅ）が配置されているとき、角膜用光束は、当該孔部を通過し、結像レンズ９６Ａにより角膜用参照ミラー９６Ｂの反射面に結像され、角膜用参照ミラー９６Ｂにより反射される。角膜用参照ミラー９６Ｂにより反射された光束は、結像レンズ９６Ａ及び当該孔部を通過してビームスプリッタ９２に戻る。
【００４３】
一方、干渉計ユニット８０から出力された測定光ＬＳは、コリメータレンズ８４により平行光束とされる。平行光束とされた測定光ＬＳは、光スキャナ８７ｂにより偏向され、合焦レンズ８５及びリレーレンズ８６を通過し、ミラー８７ａにより偏向される。ミラー８７ａにより偏向された測定光ＬＳは、瞳レンズ８８を通過し、ダイクロイックミラー５２により反射され、対物レンズ５１を通過して被検眼Ｅに照射される。被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光は、対物レンズ５１を通過し、往路と同じ経路を通じて干渉計ユニット８０に導かれる。光スキャナ８７ｂは、例えば１以上のガルバノミラーを含み、処理部９による制御を受けて測定光ＬＳの偏向方向を変化させる。光スキャナ８７ｂは、瞳孔と光学的に共役な位置に配置される。
【００４４】
ファイバカプラ８２は、参照光路長変更ユニット９０を経由した参照光と、測定光ＬＳの戻り光とを干渉させる。それにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバ８０ｄにより分光器８３に導かれる。分光器８３は、干渉光ＬＣを空間的に波長分離し、これら波長成分をラインセンサで検出する。処理部９は、分光器８３から出力された信号にＦＦＴ等の公知の信号処理を施すことにより、深さ方向の情報を取り出す。
【００４５】
本例ではスペクトラルドメインＯＣＴが適用されているが、他のタイプのＯＣＴを適用することも可能である。例えばスウェプトソースＯＣＴが適用される場合、低コヒーレンス光源（干渉計光源８１）の代わりに波長掃引光源（波長可変光源）が設けられ、且つ、分光器８３の代わりにバランスドフォトダイオード等の光検出器が設けられる。
【００４６】
処理部９は、深さ方向の所定位置に干渉信号が配置されるように、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４と角膜用参照ミラーユニット９６とを移動させることが可能である。ＦＦＴにより得られる干渉信号の強度の深さ方向における変化の例を図５に示す。点線で示す干渉信号ＳＣ０が得られた状態において、図６に示すように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４をビームスプリッタ９２に近接させることにより、図５に示す所定範囲内に干渉信号ＳＣ０（網膜に相当）を移動させることができる。つまり、結像レンズ９４Ａ及び網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂを点線で示す位置から実線で示す位置に移動させることにより、所望の範囲内に干渉信号ＳＣ０を移動させることができる。
【００４７】
Ｚアライメント系１を用いて検出される角膜頂点の位置を利用することで、被検眼Ｅに対する対物レンズ５１の距離（作動距離）を一定に保つことができる。ここで、角膜用参照光路からシャッター部材が退避されると、角膜Ｋに相当する干渉信号も分光器８３により同時に検出される。角膜用参照ミラー９６Ｂは、網膜に相当する干渉信号ＳＣ１に重ならないように、角膜Ｋから所定距離ｄだけ離れた位置に配置される（図７）。これにより、図８に示すように、網膜に相当する干渉信号ＳＣ１と角膜に相当する干渉信号ＳＣ２の双方を、深さ方向における計測範囲Ｒにおいて同時に取得できる。
【００４８】
図８に示すように計測範囲Ｒにおいて信号感度ＳＣが変化する場合、比較的信号が弱い干渉信号ＳＣ１を比較的高感度の計測範囲Ｒ１で検出し、比較的信号が強い干渉信号ＳＣ２を比較的低感度の計測範囲Ｒ２で検出することができる。それにより、双方の干渉信号の検出精度が向上される。
【００４９】
この実施形態では、被検眼Ｅの眼内距離を測定するとき、処理部９は、角膜用参照ミラーユニット９６を固定した状態で網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させる。それにより、基準部位としての角膜頂点を基準に被検眼Ｅの各種の眼内距離を測定することが可能になる。図７に示すように、眼軸長を測定する場合、網膜に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と眼底（網膜）との距離Ｄ１を求める。前房深度を測定する場合、水晶体前面に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と水晶体前面との距離Ｄ２を求める。水晶体厚を測定する場合、水晶体後面に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と水晶体後面との距離（Ｄ２＋Ｄ３）を求め、距離（Ｄ２＋Ｄ３）から前述の距離Ｄ２を差し引いて距離Ｄ３を求める。角膜厚を測定する場合、角膜後面に相当する干渉信号を検出して角膜頂点と角膜後面との距離を求める。
【００５０】
（情報処理系の構成）
眼科装置１０００の情報処理系について説明する。眼科装置１０００の情報処理系の機能的構成の例を図９〜図１１に示す。図９は、眼科装置１０００の情報処理系の機能ブロック図の一例を表したものである。図１０は、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４、角膜用参照ミラーユニット９６及びターレット板９７の制御系の機能ブロック図の一例を表したものである。図１１は、図９の演算処理部１２０の機能ブロック図の一例を表したものである。処理部９は、制御部１１０と演算処理部１２０とを含む。また、眼科装置１０００は、表示部１７０と、操作部１８０と、通信部１９０とを含む。
【００５１】
（制御部１１０）
制御部１１０は、プロセッサを含み、眼科装置１０００の各部を制御する。制御部１１０は、主制御部１１１と、記憶部１１２とを含む。主制御部１１１は、校正制御部１１１Ａを含む。
【００５２】
主制御部１１１は、測定制御部として眼科装置１０００の各部を制御する。主制御部１１１は、合焦制御部として、光源４１及び視標チャート４２、合焦レンズ７２、８５及びレフ測定光源６１のそれぞれを移動する移動機構を駆動する駆動部のそれぞれに対して制御信号を出力することによりそれぞれの移動を制御する。合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１は、共通の移動機構により移動されてもよい。この場合、主制御部１１１は、当該共通の移動機構を駆動する駆動部に対して制御信号を出力することにより合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１の一体的な移動を制御する。同様に、合焦レンズ８５は、合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１と一体となって移動されてもよい。
【００５３】
網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４は、移動機構９４Ｃにより光軸に沿って移動される。移動機構９４Ｃは、駆動部９４Ｄにより駆動される。処理部９（主制御部１１１）は、駆動部９４Ｄに対して制御信号を供給することにより、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動を制御する。角膜用参照ミラーユニット９６は、移動機構９６Ｃにより光軸に沿って移動される。移動機構９６Ｃは、駆動部９６Ｄにより駆動される。処理部９（主制御部１１１）は、駆動部９６Ｄに対して制御信号を供給することにより、角膜用参照ミラーユニット９６の移動を制御する。この実施形態では、駆動部９４Ｄ、９６Ｂは、パルスモータである。ターレット板９７は、移動機構（回動機構）９７Ａにより回動軸Ｏ１の回りに回動される。移動機構９７Ｃは、駆動部９７Ｄにより駆動される。処理部９は、駆動部９７Ｄに対して制御信号を供給することにより、ターレット板９７の回動を制御する。
【００５４】
校正制御部１１１Ａは、装置の各部を制御することにより、干渉計光源８１の校正と、少なくとも網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する移動機構を駆動するパルスモータ（駆動部９４Ｄ）の校正とを行う。
【００５５】
（演算処理部１２０）
演算処理部１２０は、例えば、眼屈折力の算出、眼内距離（眼軸長、前房深度、水晶体厚、角膜厚等）の算出、ＩＯＬ度数の算出、光干渉計測画像（ＯＣＴ画像）の生成、光干渉計測画像の解析など、各種の演算を実行する。演算処理部１２０は、眼屈折力算出部１２１と、眼内距離算出部１２２と、ＩＯＬ度数算出部１２３と、校正量算出部１２４と、データ生成部１２５とを含む。眼内距離算出部１２２は、眼軸長算出部１２２Ａと、前房深度算出部１２２Ｂと、水晶体厚算出部１２２Ｃと、角膜厚算出部１２２Ｄとを含む。
【００５６】
眼屈折力の算出において、眼屈折力算出部１２１は、レフ測定受光系７からの出力（リング像）の形状を解析する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、得られた画像における輝度分布からリング像の重心位置を求め、この重心位置から放射状に延びる複数の走査方向に沿った輝度分布を求め、この輝度分布からリング像を特定する。続いて、眼屈折力算出部１２１は、特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円の長径及び短径を公知の式に代入することによって球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを求める。或いは、眼屈折力算出部１２１は、基準パターンに対するリング像の変形及び変位に基づいて眼屈折力のパラメータを求めることができる。
【００５７】
眼屈折力算出部１２１は、眼内距離測定系８を用いた光干渉計測の結果から、少なくとも球面度数を求めることができる。例えば、眼屈折力算出部１２１は、合焦レンズ８５の移動により干渉光ＬＣの検出信号がピークになる合焦レンズ８５の位置を特定し、０Ｄに相当する合焦レンズの位置と、特定されたピークになる合焦レンズ８５の位置とに基づいて等価球面度数を求める。
【００５８】
眼屈折力算出部１２１は、観察系５により取得されたケラトリング像に基づいて、角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、ケラトリング像を解析することにより角膜前面の強主経線や弱主経線の角膜曲率半径を算出し、角膜曲率半径に基づいて上記パラメータを算出する。
【００５９】
眼内距離算出部１２２は、網膜用参照光路及び角膜用参照光路のそれぞれに透光部が配置された状態において眼内距離測定系８により取得された２つの干渉光の検出データ（第１検出データ、第２検出データ）に基づいて被検眼Ｅの１以上の眼内距離を算出する。第１検出データは、例えばターレット板９７により網膜用参照光路に透光部が配置され角膜用参照光路に遮光部が配置された状態において探索された測定光ＬＳの戻り光と網膜用参照光路からの参照光の戻り光との第１干渉光を分光器８３で検出することにより取得される。第２検出データは、Ｚアライメントを完了した状態での測定光ＬＳの戻り光と角膜用参照光路からの参照光の戻り光との第２干渉光を分光器８３で検出することにより取得される。第１検出データ及び第２検出データは、双方の参照光路に透光部を配置することにより分光器８３で双方の干渉光を同時に検出することにより生成される。眼内距離算出部１２２は、これら検出データに含まれる第１干渉光及び第２干渉光に基づく２つの干渉信号（例えば図８参照）の間隔と参照ミラーユニットの移動量とに基づいて被検眼Ｅの眼内距離を算出する。なお、第１検出データ及び第２検出データは、同時に検出された干渉光から生成されたものでなくてもよい。
【００６０】
眼内距離算出部１２２は、被検眼Ｅの基準部位を基準に複数の眼内距離を算出することが可能である。基準部位として、被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光の強度が強い部位が挙げられる。基準部位には、被検眼Ｅの角膜頂点（角膜前面）や網膜や内境界膜等がある。それにより、被検眼Ｅが動いてしまい、干渉信号の位置が変わってしまった場合でも、同時に検出することで相対的な信号間隔は変化しないため、常に高い精度で複数の眼内距離を算出することができる。
【００６１】
眼軸長算出部１２２Ａは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と網膜に相当する干渉信号の位置との間隔及び参照ミラーユニットの移動量に基づいて眼軸長（眼内距離Ｄ１）を求める。前房深度算出部１２２Ｂは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体前面に相当する干渉信号の位置との間隔及び参照ミラーユニットの移動量に基づいて前房深度（眼内距離Ｄ２）を求める。水晶体厚算出部１２２Ｃは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて距離（Ｄ２＋Ｄ３）を求め、求められた距離（Ｄ２＋Ｄ３）から距離Ｄ２を差し引くことにより水晶体厚（距離Ｄ３）を求める。角膜厚算出部１２２Ｄは、角膜頂点（角膜前面）に相当する干渉信号の位置と角膜後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて角膜厚を求める。
【００６２】
ＩＯＬ度数の算出において、ＩＯＬ度数算出部１２３は、ケラトの測定結果と眼内距離算出部１２２において求められた眼軸長、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも１つを公知の計算式に代入することによりＩＯＬ度数を求める。なお、ＩＯＬ度数算出部１２３は、眼屈折力の算出結果と眼軸長の算出結果とを公知の計算式に代入することによりＩＯＬ度数を求めてもよい。
【００６３】
校正量算出部１２４は、干渉計光源８１に関する校正量及び網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するためのパルスモータ（駆動部９４Ｄ）に関する校正量（調整量）を算出する。干渉計光源８１に関する校正量は、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４及び角膜用参照ミラーユニット９６の双方の移動が伴わない状態で算出される。校正量算出部１２４は、網膜用参照光路の長さと角膜用参照光路の長さとが略等しくされた後にいずれか一方の光路に光路長が既知である光路長変更部材が挿入されているときに取得された第３検出データと、当該光路から光路長変更部材が退避されているときに取得された第４検出データとに基づいて干渉計光源８１に関する校正量を算出する。第３検出データは、例えば、網膜用参照光路及び角膜用参照光路の少なくとも一方にターレット板９７により光路長変更部材が配置された状態において、網膜用参照光路からの反射光（戻り光）と角膜用参照光路からの戻り光との第３干渉光を分光器８３により検出することにより取得される。第４検出データは、例えば、網膜用参照光路及び角膜用参照光路のそれぞれにターレット板９７により透光部が配置された状態において、網膜用参照光路からの反射光と角膜用参照光路からの反射光との第４干渉光を分光器８３により検出することにより取得される。
【００６４】
２つの検出データにそれぞれ含まれる第３干渉光に基づく干渉信号と第４干渉光に基づく干渉信号との変位量は、分光器８３に含まれるラインセンサのピクセル数に対応する。変位量からピクセル数を求めることで、光路長変更部材の挿脱による光路長の変化分に相当するラインセンサのピクセル数がわかり、干渉計光源８１に関する校正量を求めることが可能になる。
【００６５】
また、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するためのパルスモータ（駆動部９４Ｄ）に関する校正量は、網膜用参照光路の長さと角膜用参照光路の長さとを相対的に変更することにより算出される。校正量算出部１２４は、上記の光路長が相対的に変更された後に取得された第３検出データと、上記の光路長が相対的に変更される前に取得された第４検出データとに基づいて、当該パルスモータに関する校正量を算出する。第３検出データは、上記の光路長が相対的に変更された後に網膜用参照光路からの戻り光と角膜側参照光路からの戻り光との第３干渉光を分光器８３により検出することにより取得される。第４検出データは、上記の光路長が相対的に変更される前に生成された網膜用参照光路からの戻り光と角膜用参照光路からの戻り光との第４干渉光を分光器８３により検出することにより取得される。
【００６６】
２つの検出データにそれぞれ含まれる第３干渉光に基づく干渉信号と第４干渉光に基づく干渉信号との変位量は、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するためのパルスモータに対する制御パルス数（制御量）に対応する。例えば、取得された変位量から前述の干渉計光源８１に関する校正量に基づいて正確な変位量を求めることで、光路長が既知である光路長変更部材の挿脱による光路長の変化分に相当する制御パルス数がわかり、パルスモータに関する校正量を求めることが可能になる。なお、干渉計光源８１に関する校正量を用いて干渉信号の変位量を換算することなく、取得された干渉信号の変位量をそのまま用いてパルスモータに関する校正量を求めてもよい。
【００６７】
また、測定部位に応じて厚さが互いに異なる複数の光路長変更部材を選択的に光路に挿脱させることにより、各測定部位の測定範囲での校正が可能になり、高精度な眼内距離の測定を維持することができる。
【００６８】
この実施形態では、角膜用参照ミラーユニット９６が固定された状態で前述の測定が行われるため、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するためのパルスモータ（駆動部９４Ｄ）に関する校正量だけが算出される。角膜用参照ミラーユニット９６を移動するためのパルスモータに関する校正量も同様に算出することも可能である。
【００６９】
データ生成部１２５は、光干渉計測による測定時に得られた干渉光の検出結果と校正時に取得された校正量とに基づいて、被検眼Ｅに関するデータを生成する。被検眼Ｅに関するデータには、光干渉計測画像、光干渉計測画像の解析結果などがある。データ生成部１２５は、眼内距離算出部１２２を含んでもよい。
【００７０】
（表示部１７０、操作部１８０）
表示部１７０は、制御部１１０による制御を受けて情報を表示する。表示部１７０は表示部１０を含む。操作部１８０は、眼科装置１０００の操作や情報入力に使用される。操作部１８０は、各種のハードウェアキー（ジョイスティック、ボタン、スイッチなど）、及び／又は、表示部１７０に提示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、メニューなど）を含む。
【００７１】
（通信部１９０）
通信部１９０は、外部装置と通信する機能を持つ。通信部１９０は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置がある。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置１０００に入力する。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置（リーダ）や、記録媒体に情報を書き込む装置（ライタ）などでもよい。更に、外部装置は、病院情報システム（ＨＩＳ）サーバ、ＤＩＣＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｉｍａｇｉｎｇ  ａｎｄ  ＣＯｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ  ｉｎ  Ｍｅｄｉｃｉｎｅ）サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、クラウドサーバなどでもよい。
【００７２】
干渉計ユニット８０は実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。ビームスプリッタ９２は実施形態に係る「光路分割部材」の一例である。ターレット板９７は実施形態に係る「光学部材」の一例である。反射ミラー９５は実施形態に係る「偏向部材」の一例である。網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４、移動機構９４Ｃ及び駆動部９４Ｄは実施形態に係る「参照光路長変更部」の一例である。
【００７３】
＜動作例＞
実施形態に係る眼科装置１０００の動作について説明する。眼科装置１０００の動作の一例を図１２〜図１４に示す。図１２に、眼科装置１０００を用いた測定フローを示す。
【００７４】
（Ｓ１）
眼科装置１０００は、検者等のユーザによる電源オン操作により通常動作モードで起動される。
【００７５】
（Ｓ２）
眼科装置１０００は、眼内距離を測定するための校正量を算出する。
【００７６】
（Ｓ３）
眼科装置１０００は、眼内距離測定を含む他覚測定と自覚検査とを実行する。Ｓ３では、眼内距離測定において、Ｓ２において算出された校正量を用いて測定値が求められる。
【００７７】
（Ｓ４）
ユーザにより電源オフ操作が行われたとき（Ｓ４：Ｙ）、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。ユーザにより電源オフ操作が行われないとき（Ｓ４：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ５に移行する。
【００７８】
（Ｓ５）
ユーザにより一定時間内に操作部１８０に対して操作が行われなかったとき（Ｓ５：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ６に移行する。ユーザにより一定時間内に操作部１８０に対して操作が行われたとき（Ｓ５：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ３に移行する。
【００７９】
（Ｓ６）
ユーザにより一定時間内に操作部１８０に対して操作が行われなかったとき（Ｓ５：Ｙ）、眼科装置１０００は通常動作モードからスリープモードに移行する。スリープモードでは、光源の点灯がオフにされたり、表示部１３０の表示がオフにされたりする。
【００８０】
（Ｓ７）
スリープモードにおいてユーザにより操作部１８０に対して操作を行われなかったとき（Ｓ７：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ６に移行する。スリープモードにおいてユーザにより操作部１８０に対して操作が行われたとき（Ｓ７：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ２に移行する。
【００８１】
Ｓ２及びＳ３では、図４に示すようにターレット板９７を制御することにより、干渉計光源８１に関する校正量とパルスモータに関する校正量との算出と、被検眼Ｅの眼内距離の測定とが行われる。
【００８２】
図１３に、図１２のＳ２の校正の動作例のフロー図を示す。Ｓ１１〜Ｓ１８では、干渉計光源８１に関する校正量が求められる。Ｓ１９〜Ｓ２２では、前房深度及び水晶体厚の測定時に使用されるパルスモータに関する校正量が求められる。Ｓ２３〜Ｓ２６では、眼軸長測定時に使用されるパルスモータに関する校正量が求められる。
【００８３】
（Ｓ１１）
校正制御部１１１Ａは、干渉計光源８１から出力される光Ｌ０の光量を所定の校正用の光量まで低下させる。校正制御部１１１Ａは、例えば、パルス幅変調制御により点灯時間を短くすることにより干渉計光源８１からの光Ｌ０の光量を低下させる。校正制御部１１１Ａは、光Ｌ０の光路にＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタを挿入したり、図示しない光減衰器の減衰率を制御したりすることによりファイバカプラ８２に導かれる光Ｌ０の光量を低下させてもよい。また、校正制御部１１１Ａは、クイックリターンミラー６７を前述の分岐光路に挿入させると共に、網膜用参照光路及び角膜用参照光路に例えばＧ２組（図４参照）が適用されるようにターレット板９７を制御する。それにより、網膜用参照光路には分散補償部材９７２ｂが配置され、角膜用参照光路には孔部９７１ａが配置される。
【００８４】
（Ｓ１２）
校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂからの参照光の反射光と角膜用参照ミラー９６Ｂからの参照光の反射光とが干渉する位置に、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。校正制御部１１１Ａは、分光器８３により得られる干渉光の検出結果に基づいて網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動を制御することができる。
【００８５】
（Ｓ１３）
校正制御部１１１Ａは、網膜用参照光路及び角膜用参照光路に例えばＧ７組（図４参照）が適用されるようにターレット板９７を制御する。それにより、網膜用参照光路には孔部９７１ｆが配置され、角膜用参照光路には孔部９７１ｇが配置される。校正制御部１１１Ａは、網膜用参照光路及び角膜用参照光路のそれぞれの光路長が同じときの干渉信号を取得する。
【００８６】
（Ｓ１４）
校正制御部１１１Ａは、Ｓ１２で移動された網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の位置における２つの参照光路の反射光の干渉光に基づく干渉信号を取得する。校正量算出部１２４は、Ｓ１３で取得された干渉信号の重心位置を基準にＳ１４で取得された干渉信号の重心位置をガラス未挿入時の信号位置として求める。
【００８７】
（Ｓ１５）
校正制御部１１１Ａは、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ４組が適用されるようにターレット板９７を制御し、角膜用参照光路に孔部９７１ｃを配置させ、網膜用参照光路に光路長変更部材９７４（ガラス（薄））を配置させる。
【００８８】
（Ｓ１６）
校正制御部１１１Ａは、Ｓ１５で網膜用参照光路に光路長変更部材９７４が配置されたときの２つの参照光路の反射光の干渉光に基づく干渉信号を取得する。校正量算出部１２４は、取得された干渉信号の重心位置をガラス（薄）挿入時の信号位置として求める。
【００８９】
（Ｓ１７）
校正量算出部１２４は、Ｓ１４で取得された干渉信号の重心位置とＳ１６で取得された干渉信号の重心位置との位置ずれ（重心間距離）を求める。
【００９０】
（Ｓ１８）
校正量算出部１２４は、Ｓ１７において求められた位置ずれ分に相当する分光器８３のラインセンサのピクセル数ｐを求め、光路長変更部材９７４による光路長の変化分Ｔ３を用いて、干渉計光源８１に関する校正量（Ｔ３／ｐ（μｍ／ピクセル））を算出する。Ｔ３は、光路長変更部材９７４の厚さｔ３と既知の屈折率を用いて特定することが可能である。
【００９１】
（Ｓ１９）
次に、校正制御部１１１Ａは、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ３組が適用されるようにターレット板９７を制御し、角膜用参照光路に孔部９７１ｂを配置させ、網膜用参照光路に光路長変更部材９７３（ガラス（中））を配置させる。
【００９２】
（Ｓ２０）
Ｓ１９において角膜用参照光路の長さが長くなるため、網膜用参照光路の長さを長くすることで、２つの参照光路の反射光の干渉光を生成することができる。そのため、校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動して、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂからの参照光の反射光と角膜用参照ミラー９６Ｂからの参照光の反射光とを干渉させる。このとき、校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を所望の位置まで移動するパルスモータ（駆動部９４Ｄ）を制御するための制御パルス数である移動パルス数をカウントし、カウントした移動パルス数ＰＬ１を取得する。
【００９３】
（Ｓ２１）
校正制御部１１１Ａは、Ｓ２０で移動された網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の位置における２つの参照光路の反射光の干渉光に基づく干渉信号を取得する。校正量算出部１２４は、取得された干渉信号の重心位置をガラス（中）挿入時の信号位置として求める。
【００９４】
（Ｓ２２）
校正量算出部１２４は、Ｓ２０の移動前の干渉信号の重心位置からＳ２１において求められた干渉信号の重心位置までの分光器８３のラインセンサのピクセル数ｐ´を求める。校正量算出部１２４は、Ｓ１８において算出された校正量を用いて、ピクセル数ｐ´に相当する移動距離Ｄ´（μｍ）を求める。校正量算出部１２４は、求められた移動距離Ｄ´と、光路長変更部材９７３による光路長の変化分Ｔ２と、Ｓ２０で取得された移動パルス数ＰＬ１とを用いて、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するパルスモータに関する校正量（（Ｄ´＋Ｔ２）／ＰＬ１（μｍ／パルス））を算出する。Ｓ２２において求められた校正量は、前房深度及び水晶体厚の測定時に使用される。
【００９５】
（Ｓ２３）
次に、校正制御部１１１Ａは、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ５組が適用されるようにターレット板９７を制御し、角膜用参照光路に孔部９７１ｄを配置させ、網膜用参照光路に光路長変更部材９７５（ガラス（厚））を配置させる。
【００９６】
（Ｓ２４）
Ｓ２４では、Ｓ２０と同様に、校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動して、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂからの参照光の反射光と角膜用参照ミラー９６Ｂからの参照光の反射光とを干渉させる。このとき、校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を所望の位置まで移動するパルスモータ（駆動部９４Ｄ）を制御するための制御パルス数である移動パルス数をカウントし、カウントした移動パルス数ＰＬ２を取得する。
【００９７】
（Ｓ２５）
校正制御部１１１Ａは、Ｓ２４で移動された網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の位置における２つの参照光路の戻り光の干渉光に基づく干渉信号を取得する。校正量算出部１２４は、取得された干渉信号の重心位置をガラス（厚）挿入時の信号位置として求める。
【００９８】
（Ｓ２６）
校正量算出部１２４は、Ｓ２４の移動前の干渉信号の重心位置からＳ２５において求められた干渉信号の重心位置までの分光器８３のラインセンサのピクセル数ｐ´´を求める。校正量算出部１２４は、Ｓ１８において算出された校正量を用いて、ピクセル数ｐ´´に相当する移動距離Ｄ´´（μｍ）を求める。校正量算出部１２４は、求められた移動距離Ｄ´´と、光路長変更部材９７５による光路長の変化分Ｔ１と、Ｓ２４で取得された移動パルス数ＰＬ２とを用いて、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するパルスモータに関する校正量（（Ｄ´´＋Ｔ１）／ＰＬ２（μｍ／パルス））を算出する。Ｓ２６において求められた校正量は、眼軸長の測定時に使用される。以上で、図１２のＳ２の校正の動作は終了する（エンド）。
【００９９】
図１４に、図１２のＳ３の測定の動作例のフロー図を示す。
【０１００】
（Ｓ３１）
検者等のユーザが操作部１８０に対して所定の操作を行うことで、眼科装置１０００は、アライメントを実行する。具体的には、主制御部１１１は、Ｚアライメント光源１１やＸＹアライメント光源２１や光源４１を点灯させる。処理部９は、撮像素子５９の撮像面上に結像された前眼部像の撮像信号を取得し、表示部１７０（表示部１０の表示画面１０ａ）に前眼部像Ｅ’を表示させる。その後、図１に示す光学系が被検眼Ｅの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Ｅの検査を行うことが可能な位置である。前述のアライメント（Ｚアライメント系１及びＸＹアライメント系２と観察系５とによるアライメント）を介して被検眼Ｅが検査位置に配置される。光学系の移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は制御部１１０による指示にしたがって、制御部１１０によって実行される。
【０１０１】
また、主制御部１１１は、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２、合焦レンズ８５、光源４１及び視標チャート４２を連動させて、光軸に沿って原点、例えば、０Ｄの位置に移動させる。原点への移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は主制御部１１１による指示にしたがって、主制御部１１１によって実行される。
【０１０２】
（Ｓ３２）
主制御部１１１は、ケラト測定を実行させる。すなわち、主制御部１１１は、ケラトリング光源３２を点灯させる。ケラトリング光源３２から光が出力されると、角膜Ｋに角膜形状測定用のリング状光束光が投影される。眼屈折力算出部１２１は、撮像素子５９によって取得された像に対して演算処理を施すことにより、角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。制御部１１０では、算出された角膜屈折力などが記憶部１１２に記憶される。
【０１０３】
（Ｓ３３）
主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路にクイックリターンミラー６７の反射面を配置させ、レフ測定を実行させる。すなわち、主制御部１１１は、前述のようにレフ測定のためのリング状の測定パターン光束を被検眼Ｅに投影する。被検眼Ｅからの測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が、撮像素子７４の結像面に結像される。主制御部１１１は、撮像素子７４により検出された眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かを判定する。例えば、主制御部１１１は、撮像素子７４により検出された戻り光に基づく像のエッジの位置（画素）を検出し、像の幅（外径と内径との差）が所定値以上であるか否かを判定することにより、リング像を取得できたか否かを判定する。或いは、主制御部１１１は、強度が所定の高さ以上の点（像）に基づいてリングを形成できるか否かを判定することにより、リング像を取得できたか否かを判定する。
【０１０４】
リング像を取得できたと判定されたとき、眼屈折力算出部１２１は、被検眼Ｅに投影された測定パターン光束の戻り光に基づくリング像を公知の手法で解析し、仮の球面度数Ｓ及び乱視度数Ｃを取得する。仮の球面度数及び乱視度数Ｃ基づき、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）、光源４１及び視標チャート４２を等価球面度数（Ｓ＋Ｃ／２）の位置へ移動させる。その位置から、雲霧を行った後、再度本測定としてリング像を取得し、前述と同様に得られたリング像の解析結果と合焦レンズの移動量から球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａが求める。制御部１１０では、合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）の位置や算出された球面度数などが記憶部１１２に記憶される。
【０１０５】
リング像を取得できないと判定されたとき、まずは強度屈折異常眼である可能性を考慮してレフ測定光源６１、合焦レンズ７２をあらかじめ設定したステップでマイナス度数側（例えば−１０Ｄ）、プラス度数側（例えば＋１０Ｄ）へ移動し各位置でリング像の検出を実施する。それでもリング像を取得できないと判定されたとき、眼科装置１０００の動作はＳ３４に移行する。制御部１１０では、レフ測定結果が得られなかったことを示す情報が記憶部１１２に記憶される。
【０１０６】
（Ｓ３４）
主制御部１１１は、眼軸長測定を実行させる。具体的には、主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させた後、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ１組が適用されるようにターレット板９７を制御する。それにより、角膜用参照光路にシャッター部材９７６ｂが配置され、網膜用参照光路に分散補償部材９７２ａが配置される。次に、主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させる。それにより、干渉計ユニット８０と被検眼Ｅとの間に測定光ＬＳの光路が形成され、光干渉計測経路が開放される。主制御部１１１は、Ｓ３３において記憶部１１２に記憶された情報に基づいて、レフ測定結果があるか否かを判定する。
【０１０７】
レフ測定結果があると判定されたとき、主制御部１１１は、Ｓ３３において記憶部１１２に記憶された合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）の位置から眼軸長測定時の合焦レンズ８５の位置を決定し、決定された位置に合焦レンズ８５を移動する。すなわち、Ｓ３４では、Ｓ３３のレフ測定を行うために被検眼Ｅに対する合焦において求められた合焦レンズ７２の位置から合焦レンズ８５の位置が決定される。具体的には、レフ測定は被検眼Ｅに雲霧させた状態で実行されるため、レフ測定時は、被検眼Ｅに対する合焦において求められた合焦レンズ７２の位置から所定の距離ΔＤだけ移動される。したがって、Ｓ３４において移動された合焦レンズ８５の位置は、レフ測定時の合焦レンズ８５（合焦レンズ７２）の位置から距離（−ΔＤ）だけ移動された位置となる。レフ測定系の移動部（レフ測定光源６１、合焦レンズ７２）と眼内距離測定系８の合焦レンズ８５は一体で移動可能であってもよいし、個別に移動可能であってもよい。一体で移動する場合、Ｓ３３のレフ測定時には合焦レンズ８５は既に雲霧位置にあるので雲霧分のみ戻せばよい。個別に移動される場合や、一体となっていても基準位置や倍率が異なる場合は上記のように移動する。主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。
【０１０８】
一方、レフ測定結果がないと判定されたとき、主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。次に、主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。
【０１０９】
以上のように、レフ測定結果に応じて合焦レンズ８５の移動と網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動とが行われると、主制御部１１１は、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ２組が適用されるようにターレット板９７を制御する。それにより、角膜用参照光路に孔部９７１ａが配置され、網膜用参照光路に分散補償部材９７２ｂが配置され、角膜頂点に相当する干渉信号と網膜に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。眼軸長算出部１２２Ａは、同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と網膜に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて眼軸長を算出する。このとき、Ｓ１８で求められた干渉計光源８１に関する校正量を用いた干渉信号の重心位置の移動距離と、Ｓ２６で求められたパルスモータに関する校正量を用いた網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動距離とを加味して、眼軸長が求められる。制御部１１０では、算出された眼軸長が記憶部１１２に記憶される。
【０１１０】
（Ｓ３５）
主制御部１１１は、前房深度測定を実行させる。具体的には、主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させた後、Ｓ３４と同様に、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ１組が適用されるようにターレット板９７を制御する。次に、主制御部１１１は、水晶体前面に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。主制御部１１１は、水晶体前面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動し、Ｓ３４と同様に、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ２組が適用されるようにターレット板９７を制御する。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と水晶体前面に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。前房深度算出部１２２Ｂは、同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体前面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて前房深度を算出する。このとき、Ｓ１８で求められた干渉計光源８１に関する校正量を用いた干渉信号の重心位置の移動距離と、Ｓ２２で求められたパルスモータに関する校正量を用いた網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動距離とを加味して、前房深度が求められる。制御部１１０では、算出された前房深度が記憶部１１２に記憶される。
【０１１１】
（Ｓ３６）
主制御部は、水晶体厚測定を実行させる。具体的には、主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させた後、Ｓ３４と同様に、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ１組が適用されるようにターレット板９７を制御する。次に、主制御部１１１は、水晶体後面に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。主制御部は、水晶体後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動し、Ｓ３４と同様に、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ２組が適用されるようにターレット板９７を制御する。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と水晶体後面に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。水晶体厚算出部１２２Ｃは、同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて、角膜頂点と水晶体後面との距離を求める。水晶体厚算出部１２２Ｃは、求められた角膜頂点と水晶体後面との距離からＳ３５において求められた前房深度を差し引くことにより、水晶体厚を算出する。このとき、Ｓ１８で求められた干渉計光源８１に関する校正量を用いた干渉信号の重心位置の移動距離と、Ｓ２２で求められたパルスモータに関する校正量を用いた網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動距離とを加味して、水晶体厚が求められる。制御部１１０では、算出された水晶体厚が記憶部１１２に記憶される。
【０１１２】
（Ｓ３７）
主制御部１１１は、角膜厚測定を実行させる。具体的には、主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させた後、網膜用参照光路及び角膜用参照光路にＧ６組が適用されるようにターレット板９７を制御する。それにより、角膜用参照光路に孔部９７１ｅが配置され、網膜用参照光路にシャッター部材９７６ａが配置される。次に、主制御部１１１は、角膜後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。角膜頂点に相当する干渉信号と角膜後面に相当する干渉信号とが同時に検出することが可能であるため、角膜厚算出部１２２Ｄは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と角膜後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて角膜厚を算出する。このとき、Ｓ１８で求められた干渉計光源８１に関する校正量を用いた干渉信号の重心位置の移動距離を加味して、角膜厚が求められる。制御部１１０では、算出された角膜厚が記憶部１１２に記憶される。
【０１１３】
（Ｓ３８）
ＩＯＬ度数算出部１２３は、Ｓ３１〜Ｓ３７で求められた角膜屈折力（ケラト値）、眼軸長測定、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも１つを用いてＩＯＬの度数を求める。制御部１１０では、求められたＩＯＬ度数が記憶部１１２に記憶される。
【０１１４】
（Ｓ３９）
制御部１１０は、例えば、操作部１８０に対するユーザの指示に基づき、視標チャート４２を制御することにより所望の視標を表示させる。また、制御部１１０は、他覚測定の結果に応じた位置に光源４１及び視標チャート４２を移動する。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部１１０の判断により繰り返し行われる。
【０１１５】
或いは、制御部１１０は、他覚測定で得られた被検眼Ｅの乱視状態（乱視度数、乱視軸角度）に基づいて、この乱視状態が矯正されるようにＶＣＣレンズ４４を制御する。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。被検者の応答に基づきＶＣＣレンズを制御することも可能である。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部１１０の判断により繰り返し行われる。検者又は制御部１１０は、被検者からの応答に基づいて視力値或いは処方値（Ｓ、Ｃ、Ａ）を決定し、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。
【０１１６】
この実施形態では、干渉計光源８１の特性及びパルスモータ（駆動部９４Ｄ）の駆動特性の双方の経時変化を考慮して眼軸長、前房深度及び水晶体厚を求める場合について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、干渉計光源８１の特性の経時変化だけを考慮して眼軸長、前房深度及び水晶体厚を求めてもよいし、パルスモータの駆動特性の経時変化だけを考慮して眼軸長、前房深度及び水晶体厚を求めてもよい。
【０１１７】
［作用・効果］
実施形態に係る眼科装置の作用及び効果について説明する。
【０１１８】
実施形態に係る眼科装置（眼科装置１０００）は、干渉光学系（干渉計ユニット８０）と、光路分割部材（ビームスプリッタ９２）と、光学部材（ターレット板９７）と、移動機構（移動機構９７Ｃ）と、眼内距離算出部（眼内距離算出部１２２）とを含む。干渉光学系は、光源（干渉計光源８１）からの光（光Ｌ０）を参照光（参照光ＬＲ）と測定光（測定光ＬＳ）とに分割し、測定光を被検眼（被検眼Ｅ）に照射し、その戻り光と参照光との干渉光（干渉光ＬＣ）を生成し、生成された干渉光を検出する。光路分割部材は、参照光を第１参照光路（網膜用参照光路）及び第２参照光路（角膜用参照光路）に導く。光学部材は、１以上の透光部（孔部９７１ａ〜９７１ｅ、分散補償部材９７２ａ〜９７２ｂ、光路長変更部材９７３〜９７５）及び１以上の遮光部（シャッター部材９７６ａ〜９７６ｂ）を含む複数の光学機能部を備えている。移動機構は、第１参照光路及び第２参照光路のそれぞれに複数の光学機能部のいずれかを同時に配置させるように光学部材を移動する。眼内距離算出部は、移動機構により第１参照光路及び第２参照光路のそれぞれに複数の光学機能部のいずれかが配置された状態で干渉光学系により取得された干渉光の検出データに基づいて被検眼の眼内距離を求める。
【０１１９】
このような構成では、１以上の透光部及び１以上の遮光部を含む光学部材を移動機構により移動することにより、第１参照光路及び第２参照光路のそれぞれに１以上の透光部及び１以上の遮光部のいずれかが同時に配置される。それにより、光学部材を移動する１つの移動機構で眼内距離を求めるための複数の干渉光を取得することができ、省スペースで被検眼の眼内距離を測定することが可能な眼科装置を提供することができるようになる。
【０１２０】
また、実施形態に係る眼科装置では、光学部材は、回動可能なターレット板（ターレット板９７）を含み、１以上の透光部及び１以上の遮光部は、ターレット板の回動軸（回動軸Ｏ１）を中心とする円周方向に沿って設けられていてもよい。
【０１２１】
このような構成によれば、ターレット板の回動により眼内距離を求めるための複数の干渉光を取得することが可能になるため、より一層の省スペース化と、移動機構に対する制御の簡素化とを図ることができる。
【０１２２】
また、実施形態に係る眼科装置は、第１参照光路と第２参照光路とが平行になるように第１参照光路及び第２参照光路の少なくとも一方を偏向する偏向部材（反射ミラー９５）を含んでもよい。
【０１２３】
このような構成によれば、第１参照光路と第２参照光路に対して挿脱される光学部材（ターレット板等）を共通にすることができるため、駆動部も共通化することが可能になり、構造を簡素化することができるようになる。
【０１２４】
また、実施形態に係る眼科装置では、干渉光学系は、第１参照光路及び第２参照光路のそれぞれに１以上の透光部のいずれかが配置された状態において、測定光の戻り光と第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光とを検出することにより、測定光の戻り光と第１参照光路からの戻り光との第１干渉光に対応した第１検出データを生成し、測定光の戻り光と第２参照光路からの戻り光との第２干渉光に対応した第２検出データを生成し、眼内距離算出部は、第１検出データと第２検出データとに基づいて、眼内距離を求めてもよい。
【０１２５】
このような構成によれば、第１干渉光と第２干渉光とをリアルタイムで同時に検出することができるためアライメントが多少ずれたとしても被検眼の眼内距離を高精度に測定可能な眼科装置を提供することができる。
【０１２６】
また、実施形態に係る眼科装置では、１以上の透光部の少なくとも１つには光路長変更部材（光路長変更部材９７３〜９７５）が設けられ、干渉光学系は、第１参照光路及び第２参照光路の少なくとも一方に光路長変更部材が配置された状態において、第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第３干渉光を検出して第３検出データを生成し、かつ、第１参照光路及び第２参照光路のそれぞれに透光部が配置された状態において、第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第４干渉光を検出して第４検出データを生成し、第３検出データと第４検出データとに基づいて、光源に関する校正量を求める校正量算出部（校正量算出部１２４）を含み、眼内距離算出部は、干渉光の検出データと校正量とに基づいて、眼内距離を求めてもよい。
【０１２７】
このような構成によれば、眼内距離を測定するための干渉光学系における参照光路を分割して得られた２つの参照光路からの戻り光を干渉させた干渉光を用いて、校正用の光学系を別途に設けることなく、省スペースで光源に関する校正量を求めることができる。
【０１２８】
また、実施形態に係る眼科装置では、校正量算出部は、第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとが略等しい状態でそれぞれ取得された第３検出データと第４検出データとに基づいて校正量を求めてもよい。
【０１２９】
このような構成によれば、干渉光学系における参照光路を分割して得られた第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとが略等しい状態で校正量を求めるようにしたので、光源の経時変化に基づく校正量を容易に求めることができる。
【０１３０】
また、実施形態に係る眼科装置は、第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとを相対的に変更する参照光路長変更部（網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４、移動機構９４Ｃ及び駆動部９４Ｄ）と、参照光路長変更部を制御する制御部（制御部１１０）と、を含み、校正量算出部は、第３検出データと第４検出データとの間の信号変位量と、信号変位量に対応する参照光路長変更部に対する制御量とに基づいて参照光路長変更部に関する校正量を求めてもよい。
【０１３１】
このような構成によれば、校正用の光学系を別途に設けることなく、第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとを相対的に変更する手段の特性の経時変化に基づく校正量を高精度に求めることができる。
【０１３２】
また、実施形態に係る眼科装置は、２以上の透光部を含み、２以上の透光部には参照光路の長さの変更量が異なる２以上の光路長変更部材が設けられ、校正量算出部は、２以上の光路長変更部材のそれぞれに対応する校正量を求めてもよい。
【０１３３】
このような構成によれば、参照光路の長さの変更量に対応した測定範囲で校正量を求めることができ、より高精度な眼内距離の測定が可能になる。
【０１３４】
また、実施形態に係る眼科装置では、１以上の透光部の少なくとも１つには分散補償部材（分散補償部材９７２ａ〜９７２ｂ）が設けられていてもよい。
【０１３５】
このような構成によれば、干渉光学系による測定時に分散補償部材を別途に設ける必要がなくなり、装置の省スペース化を図ることができる。
【０１３６】
＜変形例＞
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。
【０１３７】
前述の実施形態では、ターレット板９７には図３に示したように透光部及び遮光部が設けられている場合について説明したが、実施形態に係るターレット板の構成は図３に示したものに限定されない。例えば、網膜用参照光路及び角膜用参照光路のそれぞれに同時に配置される光学部材は円周の対角位置にあってもよい。また、各参照光路に同時に配置される光学部材は、円周上の隣り合う位置に配置されていてもよいし、１個以上の間をおいて配置されていてもよい。
【０１３８】
前述の実施形態では、回動軸Ｏ１の回りにターレット板９７を回動させることにより、ビームスプリッタ９２により分割された２つの参照光路のそれぞれに１以上の透光部及び１以上の遮光部のいずれかを同時に配置する場合について説明した。しかしながら、実施形態は、これに限定されるものではない。例えば、１以上の透光部及び１以上の遮光部が設けられた光学部材を所定の方向にスライドさせることにより、ビームスプリッタ９２により分割された２つの参照光路のそれぞれに１以上の透光部及び１以上の遮光部のいずれかを同時に配置してもよい。このような光学部材は、ソレノイド等によりスライドさせることが可能である。
【０１３９】
前述の実施形態では、１つの光学部材（実施形態ではターレット板）に１以上の透光部及び１以上の遮光部が設けられている場合について説明したが、実施形態に係る光学部材は１つの光学部材に限定されるものではない。例えば、２以上の光学部材のそれぞれに前述の１以上の透光部及び１以上の遮光部のいずれかを設け、２以上の光学部材を互いに独立に移動することで、網膜用参照光路及び角膜用参照光路に透光部及び遮光部のいずれかを配置するようにしてもよい。
【０１４０】
前述の実施形態では、パルスモータについて測定部位に対応した測定範囲で校正量を算出する場合について説明したが、１つの光路長変更部材を用いて求められた校正量を測定範囲にかかわらずに全範囲で用いてもよい。
【０１４１】
前述の実施形態では、算出された校正量をそのまま用いる場合について説明したが、公知の手法で補正係数を求め、取得された測定値に当該補正係数を適用するようにしてもよい。
【０１４２】
前述の実施形態では、角膜用参照光路に対してガラス等の光路長変更部材を挿入することにより参照光路の長さを変更してパルスモータの駆動特性の経時変化に基づく校正量を算出する場合について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、角膜用参照ミラーユニット９６及び網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の少なくとも一方を光軸に沿って移動することにより参照光路の長さを変更することも可能である。この場合、参照ミラーユニットの移動量は、ロータリーエンコーダ等の位置センサにより検出することができる。
【０１４３】
前述の実施形態では、測定前に校正を行う場合について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、電源投入直後、スリープモード解除直後、ユーザにより指定された任意のタイミング、自覚検査中、アライメント中、レフ測定中又はケラト測定中に、前述の校正量の算出を行うことが可能である。
【符号の説明】
【０１４４】
８０  干渉計ユニット
９２  ビームスプリッタ
９７  ターレット板
９７Ｃ  移動機構
１２２  眼内距離算出部
１０００  眼科装置
【図１】
0006691365.tif 000002
【図２】
0006691365.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
0006691365.tif 000006
【図６】
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【図７】
0006691365.tif 000008
【図８】
0006691365.tif 000009
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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