(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
プローブパルス光を生成するプローブパルス光源と、
ローカルパルス光を生成するローカルパルス光源と、
連続光を生成する連続光源と、
被測定デバイスを通過後のプローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングし、線形サンプリング後のプローブパルス光の波形の複素振幅及び位相を、第１の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第１の測定部と、
前記被測定デバイスを通過していないプローブパルス光と前記被測定デバイスを通過していない連続光との干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第２の干渉信号として、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第２の測定部と、
ローカルパルス光と前記被測定デバイスを通過後の連続光との干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第３の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第３の測定部と、
前記プローブパルス光源からのプローブパルス光を前記第１の測定部用と前記第２の測定部用に分岐する第１の光分岐部と、
前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光を前記第１の測定部用と前記第３の測定部用に分岐する第２の光分岐部と、
前記連続光源からの連続光を前記第２の測定部用と前記第３の測定部用に分岐する第３の光分岐部と、
前記第１の光分岐部で前記第１の測定部用に分岐されたプローブパルス光のうち、連続光の波長成分を阻止しかつ前記被測定デバイスに通過させる波長成分を透過する帯域通過フィルタと、
前記帯域通過フィルタを通過後のプローブパルス光と前記第３の光分岐部で前記第３の測定部用に分岐された連続光を波長多重し、前記被測定デバイスに入射する第１の波長多重カプラと、
前記被測定デバイスを通過後のプローブパルス光と連続光を分離し、当該プローブパルス光を前記第１の測定部に出力し、当該連続光を前記第３の測定部に出力する第２の波長多重カプラと、
前記第２の干渉信号を用いて求められるプローブパルス光と連続光の位相雑音の差、及び、前記第３の干渉信号を用いて求められるローカルパルス光と連続光の位相雑音の差、を用いて、前記第１の干渉信号に含まれるプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を除去するインパルスレスポンス解析部と、
を備えるインパルスレスポンス測定装置。
【請求項２】
前記第２の測定部用の連続光の前記連続光源からの遅延と前記第３の測定部用の連続光の前記連続光源からの遅延とを一致させるための連続光遅延調整部をさらに備える、
請求項１に記載のインパルスレスポンス測定装置。
【請求項３】
プローブパルス光を生成するプローブパルス光源と、
ローカルパルス光を生成するローカルパルス光源と、
連続光を生成する連続光源と、
を備えるインパルスレスポンス測定装置が実行するインパルスレスポンス測定方法であって、
帯域通過フィルタが、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光のうち、連続光の波長成分を阻止しかつ被測定デバイスに通過させる波長成分を透過し、第１の波長多重カプラが、前記帯域通過フィルタを通過後のプローブパルス光と前記連続光源からの連続光を波長多重して前記被測定デバイスに入射し、第２の波長多重カプラが、前記被測定デバイスを通過後のプローブパルス光と連続光を分離する手順と、
前記第２の波長多重カプラで分離された前記被測定デバイスを通過後のプローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングし、線形サンプリング後のプローブパルス光の波形の複素振幅及び位相を、第１の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第１の測定手順と、
前記被測定デバイスを通過していないプローブパルス光と前記被測定デバイスを通過していない連続光との干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第２の干渉信号として、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第２の測定手順と、
ローカルパルス光と前記第２の波長多重カプラで分離された前記被測定デバイスを通過後の連続光との干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第３の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第３の測定手順と、
前記第２の干渉信号を用いて求められるプローブパルス光と連続光の位相雑音の差、及び、前記第３の干渉信号を用いて求められるローカルパルス光と連続光の位相雑音の差、を用いて、前記第１の干渉信号に含まれるプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を除去するインパルスレスポンス解析手順と、
を備えるインパルスレスポンス測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、光学デバイスのインパルスレスポンスを測定する測定装置及びその測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光学デバイスのインパルスレスポンス測定方法について、非特許文献１記載の方法が知られている。狭線幅ＣＷレーザをマスターレーザとして、２つの周波数コム発生光源を同期する。２つの周波数コム光源の一方をプローブ光として、もう一方をローカル光とする。参照経路を伝搬したプローブ光と被測定デバイスを伝搬したプローブ光をローカル光と干渉させ、それらの干渉信号を測定する。プローブ光とローカル光は狭線幅レーザによって同期しているため、被測定デバイスを伝搬したプローブ光とローカル光の干渉信号の位相は、参照経路を伝搬したプローブ光とローカル光の干渉信号の位相に対して、参照経路と被測定デバイス間の遅延分位相シフトしている。周波数解析によって、この位相シフト量を解析することで、インパルスレスポンスを測定する。
【０００３】
この技術において、狭線幅レーザをマスターレーザとして、プローブ光とローカル光を同期することなく、長距離に及ぶ被測定デバイスのインパルスレスポンスを解析するために、非特許文献２の方法（以下、関連技術と呼ぶ）が考案されている。この方法では、プローブパルスを送信し、被測定デバイスに入射する。被測定デバイスを伝搬したプローブパルス光を受信側に設置したローカルパルスレーザからのローカルパルス光で線形サンプリングし、プローブパルスの振幅・位相を測定する。このとき、両パルスの繰り返し周波数をわずかに離調し、サンプリング点を波形全体にわたって掃引することで、プローブパルス波形全体について振幅と位相を測定する。
【０００４】
この測定と同時に、ローカルパルスレーザとは別に、連続光（ＣＷ光）レーザからのＣＷ光を、プローブパルス光、ローカルパルス光それぞれと干渉させる。この干渉の結果から、ＣＷ光との相対的な位相雑音を、プローブパルス光とローカルパルス光についてそれぞれについて測定ができ、それらの差分をとることで、プローブパルス光とローカルパルス光の間の位相雑音を計算できる。この値を使い、プローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングした際の位相雑音を除去することができ、その結果のプローブパルス光の振幅・位相から、被測定デバイスの精密なインパルス応答を求めることができる。
【０００５】
関連技術では、測定可能な被測定デバイスの群遅延時間差の測定範囲は原理的にはプローブパルス光の周期間隔までである。この測定において、プローブパルス光とＣＷ光の干渉波形のデータを取得するときのクロック信号の周期はローカルパルス光の周期に合わせたものとなる。このとき、ローカルパルス光の周期はプローブパルス光の周期とわずかに異なるため、ＣＷ光とプローブパルス光の干渉波形測定において、サンプリングされる点がずれていき、このときプローブパルス光がその周期全体に広がっていなければ、プローブパルス光が存在しないときにもサンプリングしてしまう、デッドタイムが存在することになる。
【０００６】
そのようなことを防ぐために、データ取得時に低周波数透過フィルタ（ＬＰＦ）を用いてプローブパルス波形を広げ、取得したいプローブパルス光とＣＷ光の干渉波形を広げることが考えられる。しかし、周期的に存在するプローブパルス光の波形を重ねることはできないため、周期全体まで広げることはできず、また測定できる群遅延時間差もＬＰＦで広がった程度までしか測定できない。したがって、関連技術での測定可能な群遅延時間差は、プローブパルスの周期間隔よりも小さくなってしまう。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】Ｉ．  Ｃｏｄｄｉｎｇｔｏｎ  ｅｔ  ａｌ．，  “Ｒａｐｉｄ  ａｎｄ  ｐｒｅｃｉｓｅ  ａｂｓｏｌｕｔｅ  ｄｉｓｔａｎｃｅ  ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ  ａｔ  ｌｏｎｇ  ｒａｎｇｅ，”  Ｎａｔｕｒｅ  Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ，  ３，  ３５１−３５６，  ２００９．
【非特許文献２】寺田昇平、原田真之、伊藤文彦、岡本達也、真鍋哲也、“独立パルスレーザを用いた線形光サンプリング法における位相補正法”電子情報通信学会  総合大会，  Ｂ−１３−２９，  ２０１５年３月
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本開示は、ＣＷ光とプローブパルスの干渉波形測定におけるサンプリングタイミングのずれによるデッドタイムを防ぐことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本開示は、ＣＷ光とプローブパルス光の干渉光をプローブパルス光と同期したサンプリング周波数でデータ取得し、プローブパルス光の周期と同等の値の群遅延時間差のインパルス応答を測定する。
【００１０】
本開示に係るインパルスレスポンス測定装置は、
プローブパルス光を生成するプローブパルス光源と、
ローカルパルス光を生成するローカルパルス光源と、
連続光を生成する連続光源と、
被測定デバイスを通過後のプローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングし、線形サンプリング後のプローブパルス光の波形の複素振幅及び位相を、第１の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第１の測定部と、
前記被測定デバイスを通過していないプローブパルス光と前記被測定デバイスを通過していない連続光との干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第２の干渉信号として、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第２の測定部と、
ローカルパルス光と前記被測定デバイスを通過後の連続光との干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第３の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第３の測定部と、
前記プローブパルス光源からのプローブパルス光を前記第１の測定部用と前記第２の測定部用に分岐する第１の光分岐部と、
前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光を前記第１の測定部用と前記第３の測定部用に分岐する第２の光分岐部と、
前記連続光源からの連続光を前記第２の測定部用と前記第３の測定部用に分岐する第３の光分岐部と、
前記第１の光分岐部で前記第１の測定部用に分岐されたプローブパルス光のうち、連続光の波長成分を阻止しかつ前記被測定デバイスに通過させる波長成分を透過する帯域通過フィルタと、
前記帯域通過フィルタを通過後のプローブパルス光と前記第３の光分岐部で前記第３の測定部用に分岐された連続光を波長多重し、前記被測定デバイスに入射する第１の波長多重カプラと、
前記被測定デバイスを通過後のプローブパルス光と連続光を分離し、当該プローブパルス光を前記第１の測定部に出力し、当該連続光を前記第３の測定部に出力する第２の波長多重カプラと、
前記第２の干渉信号を用いて求められるプローブパルス光と連続光の位相雑音の差、及び、前記第３の干渉信号を用いて求められるローカルパルス光と連続光の位相雑音の差、を用いて、前記第１の干渉信号に含まれるプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を除去するインパルスレスポンス解析部と、
を備える。
【００１１】
本開示に係るインパルスレスポンス測定方法は、
プローブパルス光を生成するプローブパルス光源と、
ローカルパルス光を生成するローカルパルス光源と、
連続光を生成する連続光源と、
を備えるインパルスレスポンス測定装置が実行するインパルスレスポンス測定方法であって、
帯域通過フィルタが、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光のうち、連続光の波長成分を阻止しかつ被測定デバイスに通過させる波長成分を透過し、第１の波長多重カプラが、前記帯域通過フィルタを通過後のプローブパルス光と前記連続光源からの連続光を波長多重して前記被測定デバイスに入射し、第２の波長多重カプラが、前記被測定デバイスを通過後のプローブパルス光と連続光を分離する手順と、
前記第２の波長多重カプラで分離された前記被測定デバイスを通過後のプローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングし、線形サンプリング後のプローブパルス光の波形の複素振幅及び位相を、第１の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第１の測定手順と、
前記被測定デバイスを通過していないプローブパルス光と前記被測定デバイスを通過していない連続光との干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第２の干渉信号として、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第２の測定手順と、
ローカルパルス光と前記第２の波長多重カプラで分離された前記被測定デバイスを通過後の連続光との干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第３の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第３の測定手順と、
前記第２の干渉信号を用いて求められるプローブパルス光と連続光の位相雑音の差、及び、前記第３の干渉信号を用いて求められるローカルパルス光と連続光の位相雑音の差、を用いて、前記第１の干渉信号に含まれるプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を除去するインパルスレスポンス解析手順と、
を備える。
【発明の効果】
【００１２】
本開示によれば、ＣＷ光とプローブパルス光の干渉光をプローブパルス光と同期したサンプリング周波数でデータ取得するため、プローブパルス光の周期と同等の値の群遅延時間差のインパルス応答を測定することができる。これにより、本開示は、ＣＷ光とプローブパルスの干渉波形測定におけるサンプリングタイミングのずれによるデッドタイムを０にすることができ、より測定レンジの広いインパルスレスポンスの測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施形態に係るインパルスレスポンス測定装置の構成例を示す。
【図２】ローカルパルス光、準プローブパルス光及びＣＷ光の波長の一例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本開示は、以下に示す実施形態に限定されるものではない。これらの実施の例は例示に過ぎず、本開示は当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した形態で実施することができる。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００１５】
本開示に係る光学デバイスのインパルスレスポンス測定装置の実施形態を図１に示す。ここで、１−１はプローブパルスレーザ光源、１−２は被測定デバイス、１−３はローカルパルスレーザ光源、１−４はＣＷ光源、１−５−１、１−５−２と１−５−３は光分岐部、１−６−１、１−６−２と１−６−３は光９０度ハイブリッド、１−７−１、１−７−２、１−７−３、１−７−４、１−７−５と１−７−６はバランス型受光器、１−８−１、１−８−２はデータ取得部、１−９はインパルスレスポンス解析部、１−１０−１はプローブパルス光源１−１から出力されるプローブパルス光、１−１０−２はプローブパルス光１−１０−１が帯域通過フィルタ１−１４を通過してスペクトルの一部をカットされた準プローブパルス光、１−１１は被測定デバイス１−２から出力されるプローブパルス光、１−１２はローカルパルスレーザ光源１−３から出力されるローカルパルス光、１−１３−１はローカルパルス光１−１２と同期したデータ取得部１−８−１でのデータ取得クロック信号、１−１３−２はプローブパルス光１−１０と同期したデータ取得部１−８−２でのデータ取得クロック信号、１−１４はプローブパルス光１−１０のスペクトルの一部を取り出す帯域通過フィルタ、１−１５−１、１−１５−２はプローブパルス光１−１０とＣＷ光源１−４からのＣＷ光を合波・分波する波長多重カプラ、１−１６は、ＣＷ光の波形における時差やタイミングを識別するための変調を加える変調部を表す。
【００１６】
まず、スペクトルの配置について説明する。非特許文献２にあるように、線形サンプリングや干渉光測定の際には、合波する光のスペクトルが重なっている必要がある。一方、本開示では、被測定デバイス１−２の通過前にプローブパルス光１−１０−１を光分岐部１−５−１で分岐し、一方でプローブパルス光１−１０−１とＣＷ光の干渉波形を測定し、プローブパルス光１−１０−１の分岐した他方は帯域通過フィルタ１−１４を通りスペクトルの一部をカットし、ＣＷ光を波長多重カプラ１−１５−１で合波して被測定デバイス１−２に入射する。波長多重カプラ１−１５−１による合波・分波を可能にするため、帯域通過フィルタ１−１４によって、被測定デバイス１−２に入射する準プローブパルス光１−１０−２とＣＷ光のスペクトルを離す必要がある。これらの関係をまとめると、図２のようになる。
【００１７】
次に、図１の構成での被測定デバイス１−２のインパルスレスポンスの測定手順を説明する。基本的には非特許文献２と同等の処理を行う。プローブパルスレーザ光源１−１はプローブパルス光１−１０−１を周期Ｔで、ローカルパルスレーザ光源１−３はローカルパルス光１−１２を周期Ｔ＋ΔＴ（ΔＴ＜＜Ｔ）で送出するとする。
【００１８】
光９０度ハイブリッド１−６−１、バランス型受光器１−７−１、１−７−２、データ取得部１−８−１を含む第１の測定部について説明する。被測定デバイス１−２を通過したプローブパルス光１−１１を受信側にあるローカルパルスレーザ光源１−３からのローカルパルス光１−１２で線形サンプリングする。被測定デバイス１−２には、ＣＷ光源１−４からのＣＷ光も入射されているが、被測定デバイス１−２に入射される帯域通過フィルタ１−１４を通過した準プローブパルス光１−１０−２のスペクトルとＣＷ光のスペクトルは図２の通り重ならないため、波長多重カプラ１−１５−１、１−１５−２で問題なく合波、分波できる。このとき、データ取得のサンプリングクロックはローカルパルスレーザ光源１−３がローカルパルス光１−１２を送出する周期Ｔ＋ΔＴと同期したデータ取得クロック信号１−１３−１により取得する。これにより、データ取得部１−８−１は、被測定デバイス１−２のインパルスレスポンスの影響を受けた周期Ｔのプローブパルス光１−１１の波形の複素振幅及び位相を線形サンプリングの原理により取得する。
【００１９】
ところがここで取得したプローブパルス光１−１１の複素振幅及び位相は、もともとのプローブパルス光１−１０−１とローカルパルス光１−１２が持つ位相雑音の影響を、含んでいる。取得するのは干渉信号のため、位相雑音の影響は、プローブパルス光１−１０−１の位相雑音をθＰ、ローカルパルス光１−１２の位相雑音をθＬとすると、次式の形で複素位相に影響する。
（数１）
θＰ−θＬ    （１）
【００２０】
次に、光９０度ハイブリッド１−６−２、バランス型受光器１−７−３、１−７−４、データ取得部１−８−２を含む第２の測定部について説明する。被測定デバイス１−２に入射しないプローブパルス光１−１０−１とＣＷ光源１−４からのＣＷ光を光９０度ハイブリッド１−６−２で干渉させ、それらのビート信号の複素振幅及び位相を第２の干渉信号としてデータ取得部１−８−２で取得する。このとき、データ取得のサンプリングクロックは、プローブパルスレーザ光源１−１がプローブパルス光１−１０−１を送出する周期Ｔと同期したデータ取得クロック信号１−１３−２により、取得する。このように、本実施形態では、プローブパルス光１−１０−１とＣＷ光の干渉信号を被測定デバイス１−２に入射する前に、プローブパルス光１−１０−１の周期でサンプリングして取得する。これにより、データ取得部１−８−２では、サンプリングのタイミングがずれて、プローブパルス光が存在しないタイミングでサンプリングするようなデッドタイムが存在することはなく、プローブパルス光の位相雑音θＰとＣＷ光源の位相雑音θＣＷの差を、正しく測定することができる。
（数２）
θＰ−θＣＷ    （２）
【００２１】
最後に光９０度ハイブリッド１−６−３、バランス型受光器１−７−５、１−７−６、データ取得部１−８−３を含む第３の測定部について説明する。被測定デバイス１−２を通過し、波長多重カプラ１−１５−２から分離したＣＷ光とローカルパルス光１−１２を光９０度ハイブリッド１−６−３で干渉させ、それらのビート信号の複素振幅及び位相を第３の干渉信号としてデータ取得部１−８−３で取得する。このとき、データ取得のサンプリングクロックはローカルパルスレーザ光源１−３がローカルパルス光１−１２を送出する周期Ｔ＋ΔＴと同期したデータ取得クロック信号１−１３−１により取得する。これにより、データ取得部１−８−３は、周期Ｔ＋ΔＴのローカルパルス光１−１２の位相雑音θＬとＣＷ光の位相雑音θＣＷの差を、測定することができる。
（数３）
θＬ−θＣＷ    （３）
【００２２】
このとき、式（２）と式（３）でのθＣＷは、同じ値である必要があるため、ＣＷ光源１−４から光９０度ハイブリッド１−６−２までの遅延とＣＷ光源１−４から光９０度ハイブリッド１−６−３までの遅延を一致させなければならない。このため、実施形態に係るインパルスレスポンス測定装置は、連続光遅延調整部として機能する変調部１−１６を備える。調整部は、光９０度ハイブリッド１−６−２に用いられるＣＷ光のＣＷ光源１−４からの遅延と光９０度ハイブリッド１−６−３に用いられるＣＷ光のＣＷ光源１−４からの遅延とを一致させる機能を有する。
【００２３】
ＣＷ光の遅延を特定するために、変調部１−１６において、振幅などを一部だけ変調する。例えば、スイッチのように変調器を動作させ、ＣＷ光を瞬間的に遮断するなどしてＣＷ光波形の中で目印となる部分を生成する。これにより、インパルスレスポンス解析部１−９において、光９０度ハイブリッド１−６−２で干渉してサンプリングする点のＣＷ光上での位置を特定することができる。
【００２４】
インパルスレスポンス解析部１−９では、変調部１−１６で生成した目印の位置と光９０度ハイブリッド１−６−３で干渉してサンプリングする点を比べて、ＣＷ光の波形上同じ点での位相雑音の差を利用できるよう、式（２）と式（３）の計算において、どちらかの受信信号をシフトさせて計算する。これにより、インパルスレスポンス解析部１−９は、同じ遅延でのθＣＷを使って式（２）と式（３）の差からθＣＷを消すことができ、式（１）で現れるプローブパルス光のローカルパルス光による線形サンプリング波形での位相雑音の差を求めることができる。インパルスレスポンス解析部１−９は、このプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を干渉波形から除去することにより、プローブパルス波形が被測定デバイス１−２から受けたインパルスレスポンスを求めることができる。
【００２５】
（本開示の効果）
本開示によるインパルスレスポンス測定方法は、関連技術に対して、以下の優位性を持つと考えられる。プローブパルス光とローカルパルス光の間の相対的な位相雑音を共通のＣＷ光源からのＣＷ光との干渉を通じて補償し、被測定デバイス１−２のインパルスレスポンスを測定する方法において、ＣＷ光との干渉により位相雑音を測定する際に、プローブパルス光は被測定デバイス１−２への入射前、ローカルパルス光はインパルスレスポンスを受けたプローブパルス光を線形サンプリングする必要性から被測定デバイス１−２への入射後に、それぞれＣＷ光と干渉させることで、干渉信号取得サンプリング周波数をそれぞれのパルスの周期に合わせることができる。
【００２６】
このとき、プローブパルス光１−１０−１を被測定デバイス１−２への入射前に帯域通過フィルタ１−１４を通すことで、波長多重カプラ１−１５−１及び１−１５−２によるＣＷ光との合波・分波が可能になり、被測定デバイス１−２への入射前後での干渉信号取得が可能になる。これにより、本開示によるインパルスレスポンス測定方法は、干渉信号取得の際のタイミングのずれによるデッドタイムを０にすることができる。したがって、本開示によるインパルスレスポンス測定方法は、測定できるインパルスレスポンスにおける遅延時間差の範囲をプローブパルス送出周期いっぱいまで広げることが可能となり、より測定レンジを広げることができる。
【産業上の利用可能性】
【００２７】
本開示は情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【００２８】
１−１：プローブパルスレーザ光源
１−２：被測定デバイス
１−３：ローカルパルスレーザ光源
１−４：ＣＷ光源
１−５−１、１−５−２、１−５−３：光分岐部
１−６−１、１−６−２、１−６−３：光９０度ハイブリッド
１−７−１、１−７−２、１−７−３、１−７−４、１−７−５、１−７−６：バランス型受光器
１−８−１、１−８−２：データ取得部
１−９：インパルスレスポンス解析部
１−１４：帯域通過フィルタ
１−１５−１、１−１５−２：波長多重カプラ
１−１６：変調部
【図１】
0006722899.tif 000002
【図２】
0006722899.tif 000003