(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象物の坪量を測定する坪量測定装置であって、
前記測定対象物は印刷用紙であり、
基板と、
前記基板上に配置され、前記基板上に互いに分離された第１収容空間および第２収容空間を形成するレンズホルダと、
前記レンズホルダの上面側に配置されたレンズと、
前記第１収容空間の前記基板上に配置された発光素子と、
前記第１収容空間の前記基板上に配置され、前記発光素子の照射光に対する前記レンズホルダからの第１反射光を受光する第１受光素子と、
前記第２収容空間の前記基板上に配置され、前記照射光に対する前記測定対象物からの第２反射光のＰ波成分を受光する第２受光素子と、
前記第２収容空間の前記基板上に配置され、前記第２反射光のＳ波成分を受光する第３受光素子と、
前記第１反射光の光量から前記第２反射光の前記Ｐ波成分の光量および前記Ｓ波成分の光量を差し引いて前記測定対象物の擬似透過光の光量を算出し、前記擬似透過光の光量に基づいて前記坪量を測定する測定部と、
を備え、
前記測定部は、前記照射光の光量が一定になるように前記発光素子を制御し、
前記レンズホルダが前記発光素子の上方に位置する第１開口部を有し、前記第１開口部が前記発光素子の照射範囲を制限する絞り部として機能することを特徴とする坪量測定装置。
【請求項２】
前記測定部は、前記第１受光素子が受光した前記第１反射光の光量に基づいて、前記照射光の光量が一定になるように前記発光素子を制御することを特徴とする請求項１に記載の坪量測定装置。
【請求項３】
前記測定部は、前記第２受光素子および前記第３受光素子の測定結果に基づいて、前記測定対象物の光沢度を測定することを特徴とする請求項１または２に記載の坪量測定装置。
【請求項４】
反射型センサを用いて測定対象物の坪量を測定する坪量測定方法であって、
前記測定対象物は印刷用紙であり、
前記反射型センサの発光素子の照射光を、前記反射型センサのレンズホルダの上面側に配置されたレンズを介して、前記測定対象物に照射する照射ステップと、
前記反射型センサの第１受光素子により、前記照射光に対する前記レンズホルダからの第１反射光を測定する第１受光ステップと、
前記反射型センサの第２受光素子により、前記照射光に対する前記測定対象物からの第２反射光のＰ波成分を測定する第２受光ステップと、
前記反射型センサの第３受光素子により、前記第２反射光のＳ波成分を測定する第３受光ステップと、
前記第１反射光の光量から前記第２反射光の前記Ｐ波成分の光量および前記Ｓ波成分の光量を差し引いて前記測定対象物の擬似透過光の光量を算出し、前記擬似透過光の光量に基づいて前記坪量を測定する坪量測定ステップと、
前記照射光の光量が一定になるように前記発光素子を制御する発光制御ステップと、
を含み、
前記レンズホルダが前記発光素子の上方に位置する第１開口部を有し、前記第１開口部が前記発光素子の照射範囲を制限する絞り部として機能することを特徴とする坪量測定方法。
【請求項５】
前記発光制御ステップでは、前記第１受光素子が受光した前記第１反射光の光量に基づいて、前記照射光の光量が一定になるように前記発光素子を制御することを特徴とする請求項４に記載の坪量測定方法。
【請求項６】
前記第２受光素子および前記第３受光素子の測定結果に基づいて、前記測定対象物の光沢度を測定する光沢度測定ステップを含むことを特徴とする請求項４または５に記載の坪量測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、坪量測定装置および坪量測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、印刷用紙等の測定対象物の坪量を測定する坪量測定装置として、例えば、特許文献１に記載のものや、特許文献２に記載のものが知られている。
【０００３】
表面の光沢度が高い印刷用紙は、通常の光沢度を有する印刷用紙に対して、印刷用紙からの反射光（正反射光および拡散反射光）の光量が増大する一方、印刷用紙を透過した透過光の光量が減少する傾向にある。特許文献１に記載の坪量測定装置は、この傾向を利用し、減少した透過光の光量を増大した反射光の光量を用いて補正することで、表面の光沢度が異なる印刷用紙の坪量を判別可能とするものである。
【０００４】
特許文献２に記載の坪量測定装置は、偏光フィルタで印刷用紙からの拡散反射光を遮光しながら、印刷用紙からの内部拡散反射光のＰ波成分を受光器で受光することで、当該内部拡散反射光のＰ波成分に基づいて印刷用紙の坪量を測定するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１９−８２４３３号公報
【特許文献２】特開２０１８−１３４８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に記載の坪量測定装置は、２つのセンサユニットで構成されるため、装置の大型化を招き、製造コストの増大を招いてしまう。同様に、特許文献２に記載の坪量測定装置は、内部拡散反射光を受光器に導く光路上に偏光フィルタを配置する必要があるので、装置の大型化および製造コストの増大を招いてしまう。
【０００７】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、その課題とするところは、比較的簡易な構成で測定対象物の坪量を測定可能な坪量測定装置および坪量測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明に係る坪量測定装置は、
測定対象物の坪量を測定する坪量測定装置であって、
前記測定対象物は印刷用紙であり、
基板と、
前記基板上に配置され、前記基板上に互いに分離された第１収容空間および第２収容空間を形成するレンズホルダと、
前記レンズホルダの上面側に配置されたレンズと、
前記第１収容空間の前記基板上に配置された発光素子と、
前記第１収容空間の前記基板上に配置され、前記発光素子の照射光に対する前記レンズホルダからの第１反射光を受光する第１受光素子と、
前記第２収容空間の前記基板上に配置され、前記照射光に対する前記測定対象物からの第２反射光のＰ波成分を受光する第２受光素子と、
前記第２収容空間の前記基板上に配置され、前記第２反射光のＳ波成分を受光する第３受光素子と、
前記第１反射光の光量から前記第２反射光の前記Ｐ波成分の光量および前記Ｓ波成分の光量を差し引いて前記測定対象物の擬似透過光の光量を算出し、前記擬似透過光の光量に基づいて前記坪量を測定する測定部と、
を備え、
前記測定部は、前記照射光の光量が一定になるように前記発光素子を制御し、
前記レンズホルダが前記発光素子の上方に位置する第１開口部を有し、前記第１開口部が前記発光素子の照射範囲を制限する絞り部として機能することを特徴とする。
【０００９】
この構成によれば、発光素子と第１〜第３受光素子とを基板上に配置したセンサ構成、すなわち、１つの反射型センサにより測定対象物の坪量を測定できるので、装置の大型化および製造コストの増大を抑制することができる。
【００１０】
上記坪量測定装置において、
前記測定部は、前記第１受光素子が受光した前記第１反射光の光量に基づいて、前記照射光の光量が一定になるように前記発光素子を制御するよう構成できる。
【００１１】
上記坪量測定装置において、
前記測定部は、前記第２受光素子および前記第３受光素子の測定結果に基づいて、前記測定対象物の光沢度を測定するよう構成できる。
【００１２】
上記課題を解決するために、本発明に係る坪量測定方法は、
反射型センサを用いて測定対象物の坪量を測定する坪量測定方法であって、
前記測定対象物は印刷用紙であり、
前記反射型センサの発光素子の照射光を、前記反射型センサのレンズホルダの上面側に配置されたレンズを介して、前記測定対象物に照射する照射ステップと、
前記反射型センサの第１受光素子により、前記照射光に対する前記レンズホルダからの第１反射光を測定する第１受光ステップと、
前記反射型センサの第２受光素子により、前記照射光に対する前記測定対象物からの第２反射光のＰ波成分を測定する第２受光ステップと、
前記反射型センサの第３受光素子により、前記第２反射光のＳ波成分を測定する第３受光ステップと、
前記第１反射光の光量から前記第２反射光の前記Ｐ波成分の光量および前記Ｓ波成分の光量を差し引いて前記測定対象物の擬似透過光の光量を算出し、前記擬似透過光の光量に基づいて前記坪量を測定する坪量測定ステップと、
前記照射光の光量が一定になるように前記発光素子を制御する発光制御ステップと、
を含み、
前記レンズホルダが前記発光素子の上方に位置する第１開口部を有し、前記第１開口部が前記発光素子の照射範囲を制限する絞り部として機能することを特徴とする。
【００１３】
この構成によれば、発光素子と第１〜第３受光素子とを備える１つの反射型センサを用いて測定対象物の坪量を測定できるので、装置の大型化および製造コストの増大を抑制することができる。
【００１４】
上記坪量測定方法は、
前記発光制御ステップでは、前記第１受光素子が受光した前記第１反射光の光量に基づいて、前記照射光の光量が一定になるように前記発光素子を制御するよう構成できる。
【００１５】
上記坪量測定方法は、
前記第２受光素子および前記第３受光素子の測定結果に基づいて、前記測定対象物の光沢度を測定する光沢度測定ステップを含むよう構成できる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、比較的簡易な構成で測定対象物の坪量を測定可能な坪量測定装置および坪量測定方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明に係る坪量測定装置を示す図である。
【図２】本発明に係る坪量測定装置の基板の部分平面図である。
【図３】本発明に係る坪量測定の原理を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る坪量測定装置および坪量測定方法の実施形態について説明する。
【００１９】
［坪量測定装置］
図１に、本発明の一実施形態に係る坪量測定装置１を示す。坪量測定装置１は、反射型センサ１００と制御回路２００とで構成される。坪量測定装置１は、例えば、レーザプリンタや複合機などの画像形成装置において、印刷用紙（本発明の「測定対象物」に相当）の種別を判別するためのメディアセンサとして用いられる。
【００２０】
反射型センサ１００は、基板１１０と、レンズホルダ１２０と、レンズ１３０と、発光素子１４０と、第１受光素子１５１と、第２受光素子１５２と、第３受光素子１５３と、信号処理回路１６０と、を備える。
【００２１】
基板１１０は、例えば、矩形状のプリント配線板である。基板１１０の上面には、図２に示すように、発光素子１４０と、第１受光素子１５１と、第２受光素子１５２と、第３受光素子１５３と、信号処理回路１６０とが基板１１０の長手方向に並んで配置される。また、基板１１０には、レンズホルダ１２０の一部が嵌め込まれる貫通溝が設けられている。
【００２２】
レンズホルダ１２０は、発光素子１４０の照射光に対して不透明で、かつ照射光を反射させる材料で構成される。レンズホルダ１２０は、基板１１０の上面に配置され、下面側に第１収容部１２１、第２収容部１２２および第３収容部１２３を有する。
【００２３】
第１収容部１２１は、基板１１０上に第１収容空間を形成する。第１収容空間には、発光素子１４０と第１受光素子１５１とが収容される。第２収容部１２２は、基板１１０上に第２収容空間を形成する。第２収容空間には、第２受光素子１５２と第３受光素子１５３とが収容される。第３収容部１２３は、基板１１０上に第３収容空間を形成する。第３収容空間には、信号処理回路１６０が配置される。第１収容空間、第２収容空間および第３収容空間は、互いに分離している。このように受光素子１５１〜１５３と信号処理回路１６０の収容空間を分離することにより、信号処理チップ等の信号処理回路１６０で光が反射して受光素子１５１〜１５３に入るのを防止することができる。
【００２４】
レンズホルダ１２０は、上面側にレンズ固定部１２４を有する。レンズ固定部１２４は、図１では省略しているが、レンズ１３０を固定できるような形状に構成されている。
【００２５】
また、レンズホルダ１２０は、第１収容部１２１につながる第１開口部１２５と、第２収容部１２２につながる第２開口部１２６と、第１開口部１２５と第２開口部１２６との間に位置する遮光部１２７とを有する。
【００２６】
第１開口部１２５は、発光素子１４０の上方に位置し、発光素子１４０の照射光の照射範囲を制限する絞り部として機能する。第１開口部１２５の上端には、第１偏光フィルタ１７１が設けられている。第１偏光フィルタ１７１は、照射光のＳ波成分を遮光し、Ｐ波成分を透過させるＰ波透過用偏光フィルタである。
【００２７】
第２開口部１２６は、第２収容部１２２とほぼ同じ大きさに形成されている。第２開口部１２６と第２収容部１２２とは、１つの貫通孔で構成されていてもよい。第２開口部１２６の上端には、第２偏光フィルタ１７２が設けられている。第２偏光フィルタ１７２は、第２受光素子１５２の上方に位置するＰ波透過用偏光フィルタと、第３受光素子１５３の上方に位置するＳ波透過用偏光フィルタとで構成される。Ｓ波透過用偏光フィルタは、測定対象物からの反射光のＰ波成分を遮光し、Ｓ波成分を透過させる。
【００２８】
遮光部１２７は、上部がレンズ１３０内に突出して設けられており、レンズ１３０内を伝搬する照射光を遮ることができる一方、下部が基板１１０の貫通溝に嵌め込まれており、基板１１０内を伝搬する照射光を遮ることができる。
【００２９】
レンズ１３０は、発光素子１４０の照射光に対して透明な材料で構成され、レンズホルダ１２０のレンズ固定部１２４に固定される。レンズ１３０は、上面側に凸レンズ部１３１を有し、下面側に発光レンズ部１３２および受光レンズ部１３３を有する。
【００３０】
凸レンズ部１３１は、下面側の発光レンズ部１３２および受光レンズ部１３３に対向している。凸レンズ部１３１の上面は平坦になっており、凸レンズ部１３１の幅方向（短手方向）の長さは遮光部１２７の幅方向の長さよりも大きくなっている。
【００３１】
発光レンズ部１３２は、発光素子１４０の上方に位置して発光素子１４０の照射光を集光する一方、受光レンズ部１３３は、第２受光素子１５２および第３受光素子１５３の上方に位置して測定対象物からの反射光を集光する。発光レンズ部１３２は、レンズホルダ１２０の筒状の開口部（第１開口部１２５）を通して光を絞る関係上、受光レンズ部１３３よりも高い位置に形成されている。
【００３２】
発光素子１４０は、制御回路２００の制御下で、第１偏光フィルタ１７１およびレンズ１３０を介して測定対象物に照射光を照射する。発光素子１４０としては、例えば、赤外線を照射する赤外発光ダイオード（赤外ＬＥＤ）または赤色光を照射する赤色発光ダイオード（赤色ＬＥＤ）を用いることができる。
【００３３】
第１受光素子１５１は、発光素子１４０の照射光に対するレンズホルダ１２０からの第１反射光を受光する。すなわち、発光素子１４０の照射光は、第１開口部１２５を通過して測定対象物に照射される光と、第１収容部１２１内で反射する光（第１反射光）とを含む。なお、発光素子１４０からの第１受光素子１５１への直接光の入射を防止するために、発光素子１４０と第１受光素子１５１との間に突起等の遮蔽物を設けてもよい。本実施形態では、測定対象物に照射される光の光量と第１反射光の光量とが同程度になる。第１受光素子１５１は、第１反射光の受光量に応じた電流信号を信号処理回路１６０に出力する。第１受光素子１５１としては、例えば、フォトダイオードまたはフォトトランジスタを用いることができる。
【００３４】
第２受光素子１５２は、照射光に対する測定対象物からの反射光（第２反射光）のＰ波成分を受光し、受光量に応じた電流信号を信号処理回路１６０に出力する。第３受光素子１５３は、第２反射光のＳ波成分を受光し、受光量に応じた電流信号を信号処理回路１６０に出力する。第２受光素子１５２および第３受光素子１５３としては、例えば、フォトダイオードまたはフォトトランジスタを用いることができる。
【００３５】
本実施形態では、発光素子１４０、第１受光素子１５１、第２受光素子１５２および第３受光素子１５３を、パッケージ（樹脂封止）されていないベアチップのまま基板１１０に実装している。これにより、センサ全体の小型化を図ることができる。
【００３６】
信号処理回路１６０は、第１受光素子１５１の電流信号に応じた電圧信号（第１出力信号）と、第２受光素子１５２の電流信号に応じた電圧信号（第２出力信号）と、第３受光素子１５３の電流信号に応じた電圧信号（第３出力信号）と、を生成して制御回路２００に出力する。
【００３７】
信号処理回路１６０は、例えば、オペアンプで構成される複数の電流増幅回路を含む。なお、信号処理回路１６０は、差動増幅回路を含み、第２出力信号および第３出力信号の電位差に相当する第２反射光の正反射光の光量に応じた電圧信号を生成し、当該電圧信号を制御回路２００に出力してもよい。
【００３８】
制御回路２００は、本発明の「測定部」に相当し、測定対象物の坪量を測定する坪量測定部と、測定対象物の光沢度を測定する光沢度測定部と、照射光の光量が一定になるように発光素子１４０を制御する発光制御部とを備える。制御回路２００は、例えば、マイコンで構成される。
【００３９】
坪量測定部は、図３に示すように、照射光Ｖ（Ｉ）に対する測定対象物の透過光Ｖｔを擬似的に算出した擬似透過光Ｖｔ’に基づいて、測定対象物の坪量を測定する。擬似透過光Ｖｔ’は、下記の（１）式に示すように、第１反射光Ｖ（Ｒ）から第２反射光のＰ波成分Ｖ（Ｐ）およびＳ波成分Ｖ（Ｓ）を差し引くことにより算出される。Ｖ（Ｒ）は第１出力信号に基づいて算出され、Ｖ（Ｐ）およびＶ（Ｓ）は第２出力信号および第３出力信号に基づいて算出される。
【数１】
0006761912.tif 000002
【００４０】
透過光Ｖｔと坪量は相関関係を有し、透過光Ｖｔと擬似透過光Ｖｔ’も相関関係を有する（本実施形態では、ほぼ同じ値になる）ため、擬似透過光Ｖｔ’と坪量は相関関係を有する。したがって、坪量測定部は、擬似透過光Ｖｔ’に基づいて坪量を測定することができる。
【００４１】
測定対象物の内部拡散反射光Ｖｉは無視できる程度に小さいため、本実施形態では、擬似透過光Ｖｔ’を算出する際に内部拡散反射光Ｖｉを考慮していない。これにより、擬似透過光Ｖｔ’を検出する受光素子を省略できるため、センサ全体の小型化を図ることができる。
【００４２】
測定対象物の種別ごとの内部拡散反射光Ｖｉを予め測定できるのであれば、予め測定したＶｉを坪量測定部に記憶させておき、Ｖ（Ｒ）からＶ（Ｐ）、Ｖ（Ｓ）、Ｖｉを差し引くことにより擬似透過光Ｖｔ’を算出してもよい。
【００４３】
本実施形態では、測定対象物に照射される照射光Ｖ（Ｉ）の光量と第１反射光Ｖ（Ｒ）の光量とが同程度であるが、両者に差がある場合は、その差に応じて第１反射光Ｖ（Ｒ）を補正し、補正後の第１反射光Ｖ（Ｒ）を上記の（１）式に適用することが好ましい。例えば、照射光Ｖ（Ｉ）の光量および第１反射光Ｖ（Ｒ）の光量を予め測定して補正係数を算出し、算出した補正係数により第１反射光Ｖ（Ｒ）を補正してもよい。
【００４４】
光沢度測定部は、照射光に対する測定対象物からの反射光（第２反射光）に基づいて、測定対象物の光沢度を測定する。例えば、光沢度測定部は、第２出力信号および第３出力信号の電位差に基づいて、換言すれば、第２反射光の正反射光（本実施形態では、Ｐ波成分）の光量に応じた電圧信号に基づいて、測定対象物の光沢度を測定する。
【００４５】
発光制御部は、第１出力信号に基づいて、発光素子１４０の照射光の光量が一定になるように発光素子１４０をフィードバック制御する。本実施形態では、１つの第１受光素子１５１が、発光素子１４０のフィードバック制御を行うためのセンサ素子として機能し、かつ測定対象物の坪量を測定するためのセンサ素子としても機能しているので、装置全体の小型化を図ることができる。
【００４６】
［坪量測定方法］
本発明の一実施形態に係る坪量測定方法は、坪量測定装置１により行われ、照射ステップと、第１受光ステップと、第２受光ステップと、第３受光ステップと、坪量測定ステップと、光沢度測定ステップと、発光制御ステップとを含む。
【００４７】
照射ステップでは、発光素子１４０の照射光を、第１偏光フィルタ１７１およびレンズ１３０を介して測定対象物に照射する。
【００４８】
第１受光ステップでは、第１受光素子１５１により、発光素子１４０の照射光に対するレンズホルダ１２０からの第１反射光、すなわち第１収容部１２１内で反射する光を受光する。
【００４９】
第２受光ステップでは、第２受光素子１５２により、発光素子１４０の照射光に対する測定対象物からの反射光（第２反射光）のＰ波成分を受光する一方、第３受光ステップでは、第３受光素子１５３により、第２反射光のＳ波成分を受光する。
【００５０】
坪量測定ステップでは、上記の（１）式に示すように、制御回路２００により、第１反射光Ｖ（Ｒ）から第２反射光のＰ波成分Ｖ（Ｐ）およびＳ波成分Ｖ（Ｓ）を差し引くことで擬似透過光Ｖｔ’を算出し、擬似透過光Ｖｔ’に基づいて測定対象物の坪量を測定する。
【００５１】
光沢度測定ステップでは、制御回路２００により、第２受光素子１５２および第３受光素子１５３の測定結果に基づいて、例えば、第２反射光の正反射光（本実施形態では、Ｐ波成分）の光量に基づいて、測定対象物の光沢度を測定する。
【００５２】
発光制御ステップでは、制御回路２００により、第１受光素子の測定結果に基づいて、発光素子１４０の照射光の光量が一定になるように発光素子１４０をフィードバック制御する。
【００５３】
結局、本実施形態に係る坪量測定装置１および坪量測定方法では、第１反射光Ｖ（Ｒ）から第２反射光のＰ波成分Ｖ（Ｐ）およびＳ波成分Ｖ（Ｓ）を差し引くことにより算出される擬似透過光Ｖｔ’に基づいて測定対象物の坪量を測定するので、透過型のセンサユニットや内部拡散反射光を受光する受光器が不要となる。
【００５４】
したがって、本実施形態に係る坪量測定装置１および坪量測定方法によれば、比較的簡易な構成で測定対象物の坪量を測定することができ、装置の大型化および製造コストの増大を抑制することができる。
【００５５】
［変形例］
以上、本発明に係る坪量測定装置および坪量測定方法の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
【００５６】
本発明に係る坪量測定装置は、基板と、基板上に配置されるレンズホルダと、レンズホルダの上面側に配置されたレンズと、基板上に配置された発光素子と、発光素子の照射光に対するレンズホルダからの第１反射光を受光する第１受光素子と、照射光に対する測定対象物からの第２反射光のＰ波成分を受光する第２受光素子と、第２反射光のＳ波成分を受光する第３受光素子と、第１反射光から第２反射光のＰ波成分およびＳ波成分を差し引いて測定対象物の擬似透過光を算出し、擬似透過光に基づいて坪量を測定する測定部と、を備えるのであれば、適宜構成を変更できる。
【００５７】
例えば、制御回路２００は、少なくとも一部の機能部（例えば、坪量測定部、光沢度測定部および発光制御部の少なくとも１つ）を反射型センサ１００内に設けることができる。
【００５８】
本発明に係る坪量測定方法は、反射型センサの発光素子の照射光を測定対象物に照射する照射ステップと、反射型センサの第１受光素子により照射光に対するレンズホルダからの第１反射光を測定する第１受光ステップと、反射型センサの第２受光素子により照射光に対する測定対象物からの第２反射光のＰ波成分を測定する第２受光ステップと、反射型センサの第３受光素子により第２反射光のＳ波成分を測定する第３受光ステップと、第１反射光から第２反射光のＰ波成分およびＳ波成分を差し引いて測定対象物の擬似透過光を算出し、擬似透過光に基づいて坪量を測定する坪量測定ステップと、を含むのであれば、適宜構成を変更できる。
【符号の説明】
【００５９】
１    坪量測定装置
１００    反射型センサ
１１０    基板
１２０    レンズホルダ
１２１    第１収容部
１２２    第２収容部
１２３    第３収容部
１２４    レンズ固定部
１２５    第１開口部
１２６    第２開口部
１２７    遮光部
１３０    レンズ
１３１    凸レンズ部
１３２    発光レンズ部
１３３    受光レンズ部
１４０    発光素子
１５１    第１受光素子
１５２    第２受光素子
１５３    第３受光素子
１６０    信号処理回路
１７１    第１偏光フィルタ
１７２    第２偏光フィルタ
２００    制御回路
【要約】
【課題】比較的簡易な構成で測定対象物の坪量を測定可能な坪量測定装置を提供する。
【解決手段】測定対象物の坪量を測定する坪量測定装置１であって、基板１１０と、基板１１０上に配置されたレンズホルダ１２０と、レンズホルダ１２０の上面側に配置されたレンズ１３０と、発光素子１４０と、発光素子１４０の照射光に対するレンズホルダ１２０からの第１反射光を受光する第１受光素子１５１と、発光素子１４０の照射光に対する測定対象物からの第２反射光のＰ波成分を受光する第２受光素子１５２と、第２反射光のＳ波成分を受光する第３受光素子１５３と、第１反射光から第２反射光のＰ波成分およびＳ波成分を差し引いて測定対象物の擬似透過光を算出し、擬似透過光に基づいて坪量を測定する測定部２００と、を備えることを特徴とする。
【選択図】図１【図１】
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【図２】
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【図３】
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