(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を発生する光源と、
ガラス基板上の複数の薄膜トランジスタの各々の前記薄膜トランジスタに含まれるソース電極とドレイン電極との間に被着されたアモルファスシリコン薄膜の所定の領域にレーザ光を照射して、ポリシリコン薄膜を形成する投影レンズと、
前記投影レンズ上に設けられ、前記複数の薄膜トランジスタの各々に対して前記レーザ光が照射されるように複数の開口部が設けられ、前記開口部は一の薄膜トランジスタに対応する投影マスクパターンと、を備え、
前記投影レンズは、所定の方向に移動する前記ガラス基板上の前記複数の薄膜トランジスタに対して、前記投影マスクパターンを介して前記レーザ光を照射し、
前記投影マスクパターンは、前記移動する方向に直交する一列において前記開口部が連続しないように設けられ、前記レーザ光が照射された前記複数の薄膜トランジスタにおいて、隣接する薄膜トランジスタの隣接するアモルファスシリコン薄膜に対し前記投影マスクパターンを介して異なるレーザ光が照射される
ことを特徴とするレーザ照射装置。
【請求項２】
前記投影レンズは、前記レーザ光を分離可能なマイクロレンズアレイに含まれる複数のマイクロレンズであり、
前記投影マスクパターンは、前記移動する方向に直交する一列のマイクロレンズのうち、前記開口部を介してレーザ光を照射するマイクロレンズが互いに隣接しないように、当該開口部が設けられる
ことを特徴とする請求項１に記載のレーザ照射装置。
【請求項３】
前記光源から照射されたレーザ光は、一回の照射において、前記直交する一列に対応するマイクロレンズを介して、前記複数の薄膜トランジスタに照射され、
前記投影マスクパターンは、前記一列に対応するマイクロレンズのうち、互いに隣接しないマイクロレンズを介してレーザ光が照射されるように、前記開口部が設けられることを特徴とする請求項２に記載のレーザ照射装置。
【請求項４】
前記投影レンズは、前記複数の薄膜トランジスタの各々に対して、所定数のレーザ光を照射し、
前記投影マスクパターンは、前記移動する方向に対して、所定数の開口部が設けられることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか記載のレーザ照射装置。
【請求項５】
レーザ光を発生する第１のステップと、
ガラス基板上の複数の薄膜トランジスタの各々の前記薄膜トランジスタに含まれるソース電極とドレイン電極との間に被着されたアモルファスシリコン薄膜の所定の領域にレーザ光を照射して、ポリシリコン薄膜を形成するに際して、複数の開口部を含み前記開口部は一の薄膜トランジスタに対応する投影マスクパターンが設けられた投影レンズを用いて、前記レーザ光を照射する第２のステップと、
前記レーザ光が照射されるごとに、前記ガラス基板を所定の方向に移動する第３のステップと、を含み、
第２のステップにおいて、前記移動する方向に直交する一列において、前記開口部が連続しないように配置された前記投影マスクパターンを介して、前記複数の薄膜トランジスタにおいて、隣接する薄膜トランジスタの隣接するアモルファスシリコン薄膜に対して前記投影マスクパターンを介して異なる前記レーザ光を照射する
ことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。
【請求項６】
前記投影レンズは、前記レーザ光を分離可能なマイクロレンズアレイに含まれる複数のマイクロレンズであり、
第２のステップにおいて、前記移動する方向に直交する一列のマイクロレンズのうち、前記開口部を介してレーザ光を照射するマイクロレンズが互いに隣接しないように、当該開口部が設けられた前記投影マスクパターンを介して、前記レーザ光を照射する
ことを特徴とする請求項５に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
【請求項７】
前記投影マスクパターンは、前記一列に対応するマイクロレンズのうち、互いに隣接しないマイクロレンズを介してレーザ光が照射されるように、前記開口部が設けられ、
前記第２のステップにおいて、前記レーザ光は、一回の照射において、直交方向の一列に対応するマイクロレンズを介して、前記複数の薄膜トランジスタに照射され、
ことを特徴とする請求項６に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
【請求項８】
第２のステップにおいて、前記移動する方向に対して所定数の開口部が設けられた投影マスクパターンを介して、前記複数の薄膜トランジスタの各々に対して、当該所定数のレーザ光を照射する
ことを特徴とする請求項５乃至７のいずれかに記載の薄膜トランジスタの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、薄膜トランジスタの形成に関するものであり、特に、薄膜トランジスタ上のアモルファスシリコン薄膜にレーザ光を照射して、ポリシリコン薄膜を形成するためのレーザ照射装置、薄膜トランジスタおよび薄膜トランジスタの製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
逆スタガ構造の薄膜トランジスタとして、アモルファスシリコン薄膜をチャネル領域に使用したものが存在する。ただ、アモルファスシリコン薄膜は電子移動度が小さいため、当該アモルファスシリコン薄膜をチャネル領域に使用すると、薄膜トランジスタにおける電荷の移動度が小さくなるという難点があった。【０００３】
そこで、アモルファスシリコン薄膜の所定の領域をレーザ光により瞬間的に加熱することで多結晶化し、電子移動度の高いポリシリコン薄膜を形成して、当該ポリシリコン薄膜をチャネル領域に使用する技術が存在する。【０００４】
例えば、特許文献１には、チャネル領域にアモルファスシリコン薄膜形成し、その後、このアモルファスシリコン薄膜にエキシマレーザ等のレーザ光を照射してレーザアニールすることにより、短時間での溶融凝固によって、ポリシリコン薄膜に結晶化させる処理を行うことが開示されている。特許文献１には、当該処理を行うことにより、薄膜トランジスタのソースとドレイン間のチャネル領域を、電子移動度の高いポリシリコン薄膜とすることが可能となり、トランジスタ動作の高速化が可能になる旨が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１６−１００５３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に記載の薄膜トランジスタでは、ソースとドレイン間のチャネル領域が、一か所（一本）のポリシリコン薄膜により形成されている。そのため、薄膜トランジスタの特性は、一か所（一本）のポリシリコン薄膜に依存することになる。【０００７】
ここで、エキシマレーザ等のレーザ光のエネルギ密度は、その照射（ショット）ごとにばらつきが生じるため、当該レーザ光を用いて形成されるポリシリコン薄膜の電子移動度にもばらつきが生じる。そのため、当該ポリシリコン薄膜を用いて形成される薄膜トランジスタの特性も、レーザ光のエネルギ密度のばらつきに依存してしまう。【０００８】
その結果、ガラス基板に含まれる複数の薄膜トランジスタの特性には、ばらつきが生じてしまう可能性がある。【０００９】
本発明の目的は、かかる問題点に鑑みてなされたものであって、ガラス基板に含まれる複数の薄膜トランジスタの特性のばらつきを抑制可能なレーザ照射装置、薄膜トランジスタおよび薄膜トランジスタの製造方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の一実施形態におけるレーザ照射装置は、レーザ光を発生する光源と、ガラス基板上の複数の薄膜トランジスタの各々に被着されたアモルファスシリコン薄膜の所定の領域に、当該レーザ光を照射する投影レンズと、当該投影レンズ上に設けられ、当該複数の薄膜トランジスタの各々に対して当該レーザ光が照射されるように、複数の開口部が設けられた投影マスクパターンと、を備え、当該投影レンズは、所定の方向に移動する当該ガラス基板上の当該複数の薄膜トランジスタに対して、当該投影マスクパターンを介して当該レーザ光を照射し、当該投影マスクパターンは、当該移動する方向に直交する一列において、当該開口部が連続しないように設けられることを特徴とする。【００１１】
本発明の一実施形態におけるレーザ照射装置において、当該投影レンズは、当該レーザ光を分離可能なマイクロレンズアレイに含まれる複数のマイクロレンズであり、当該投影マスクパターンは、当該移動する方向に直交する一列のマイクロレンズのうち、当該開口部を介してレーザ光を照射するマイクロレンズが互いに隣接しないように、当該開口部が設けられていてもよい。【００１２】
本発明の一実施形態におけるレーザ照射装置において、当該光源から照射されたレーザ光は、一回の照射において、当該直交方向の一列に対応するマイクロレンズを介して、当該複数の薄膜トランジスタに照射され、当該投影マスクパターンは、当該一列に対応するマイクロレンズのうち、互いに隣接しないマイクロレンズを介してレーザ光が照射されるように、当該開口部が設けられていてもよい。【００１３】
本発明の一実施形態におけるレーザ照射装置において、当該投影レンズは、当該複数の薄膜トランジスタの各々に対して、所定数のレーザ光を照射し、当該投影マスクパターンは、当該移動する方向に対して、所定数の開口部が設けられていてもよい。【００１４】
本発明の一実施形態におけるレーザ照射装置において、当該投影レンズは、薄膜トランジスタに含まれるソース電極とドレイン電極との間に被着されたアモルファスシリコン薄膜の所定の領域にレーザ光を照射して、ポリシリコン薄膜を形成されていてもよい。【００１５】
本発明の一実施形態における薄膜トランジスタの製造方法は、レーザ光を発生する第１のステップと、ガラス基板上の複数の薄膜トランジスタの各々に被着されたアモルファスシリコン薄膜の所定の領域に、複数の開口部を含む投影マスクパターンが設けれた投影レンズを用いて、当該レーザ光を照射する第２のステップと、当該レーザ光が照射されるごとに、当該ガラス基板を所定の方向に移動する第３のステップと、を含み、第２のステップにおいて、当該移動する方向に直交する一列において、当該開口部が連続しないように配置された当該投影マスクパターンを介して、当該レーザ光を照射することを特徴とする。【００１６】
本発明の一実施形態における薄膜トランジスタの製造方法において、当該投影レンズは、当該レーザ光を分離可能なマイクロレンズアレイに含まれる複数のマイクロレンズであり、第２のステップにおいて、当該移動する方向に直交する一列のマイクロレンズのうち、当該開口部を介してレーザ光を照射するマイクロレンズが互いに隣接しないように、当該開口部が設けられた当該投影マスクパターンを介して、当該レーザ光を照射してもよい。【００１７】
本発明の一実施形態における薄膜トランジスタの製造方法において、当該投影マスクパターンは、当該一列に対応するマイクロレンズのうち、互いに隣接しないマイクロレンズを介してレーザ光が照射されるように、当該開口部が設けられ、当該第２のステップにおいて、当該レーザ光は、一回の照射において、当該直交方向の一列に対応するマイクロレンズを介して、当該複数の薄膜トランジスタに照射されてもよい。【００１８】
本発明の一実施形態における薄膜トランジスタの製造方法において、第２のステップにおいて、当該移動する方向に対して所定数の開口部が設けられた投影マスクパターンを介して、当該複数の薄膜トランジスタの各々に対して、当該所定数のレーザ光を照射してもよい。【００１９】
本発明の一実施形態における薄膜トランジスタの製造方法において、当該第２のステップにおいて、薄膜トランジスタに含まれるソース電極とドレイン電極との間に被着されたアモルファスシリコン薄膜の所定の領域にレーザ光を照射して、ポリシリコン薄膜を形成されてもよい。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、ガラス基板に含まれる複数の薄膜トランジスタの特性のばらつきを抑制可能な、レーザ照射装置、薄膜トランジスタおよび薄膜トランジスタの製造方法を提供することである。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】レーザ照射装置１０の構成例を示す図である。
【図２】マイクロレンズアレイ１３の構成例を示す図である。
【図３】所定の領域がアニール化された薄膜トランジスタ２０の例を示す模式図である。
【図４】レーザ照射装置１０がレーザ光１４を照射するガラス基板３０の例を示す模式図である。
【図５】レーザ照射装置１０がレーザ光１４を照射するガラス基板３０の他の例を示す模式図である。
【図６】マイクロレンズアレイ１３に設けられた投影マスクパターン１５の構成例を示す模式図である。
【図７】レーザ照射装置１０の他の構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明の実施形態について、添付の図面を参照して具体的に説明する。
【００２３】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態におけるレーザ照射装置１０の構成例を示す図である。
【００２４】
本発明の第１の実施形態において、レーザ照射装置１０は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）２０のような半導体装置の製造工程において、例えば、チャネル領域形成予定領域のみにレーザ光を照射してアニールし、当該チャネル領域形成予定領域を多結晶化するための装置である。
【００２５】
レーザ照射装置１０は、例えば、液晶表示装置の周辺回路などの画素の薄膜トランジスタを形成する際に用いられる。このような薄膜トランジスタを形成する場合、まず、ガラス基板３０上にＡｌ等の金属膜からなるゲート電極を、スパッタによりパターン形成する。そして、低温プラズマＣＶＤ法により、ガラス基板３０上の全面にＳｉＮ膜からなるゲート絶縁膜を形成する。その後、ゲート絶縁膜上に、例えば、プラズマＣＶＤ法によりアモルファスシリコン薄膜２１を形成する。そして、図１に例示するレーザ照射装置１０により、アモルファスシリコン薄膜２１のゲート電極上の所定の領域にレーザ光１４を照射してアニールし、当該所定の領域を多結晶化してポリシリコン化する。
【００２６】
図１に示すように、レーザ照射装置１０において、レーザ光源１１から出射されたレーザ光は、カップリング光学系１２によりビーム系が拡張され、輝度分布が均一化される。レーザ光源１１は、例えば、波長が３０８ｎｍや２４８ｎｍなどのレーザ光を、所定の繰り返し周期で放射するエキシマレーザである。
【００２７】
その後、レーザ光は、マイクロレンズアレイ１３上に設けられた投影マスクパターン１５（図示しない）の複数の開口（透過領域）により、複数のレーザ光１４に分離され、アモルファスシリコン薄膜２１の所定の領域に照射される。マイクロレンズアレイ１３には、投影マスクパターン１５が設けられ、当該投影マスクパターン１５によって所定の領域にレーザ光１４が照射される。そして、アモルファスシリコン薄膜２１の所定の領域が瞬間加熱されて溶融し、アモルファスシリコン薄膜２１の一部がポリシリコン薄膜２２となる。
【００２８】
ポリシリコン薄膜２２は、アモルファスシリコン薄膜２１に比べて電子移動度が高く、薄膜トランジスタ２０において、ソース２３とドレイン２４とを電気的に接続させるチャネル領域に用いられる。なお、図１の例では、マイクロレンズアレイ１３を用いた例を示しているが、必ずしもマイクロレンズアレイ１３を用いる必要はなく、１個の投影レンズを用いてレーザ光１４を照射してもよい。なお、実施形態１では、マイクロレンズアレイ１３を用いて、ポリシリコン薄膜２２を形成する場合を例にして説明する。
【００２９】
図２は、アニール化に用いるマイクロレンズアレイ１３の構成例を示す図である。図２に示すように、マイクロレンズアレイ１３において、スキャン方向の１列（又は１行）には、２０個のマイクロレンズ１７が配置される。レーザ照射装置１は、１つの薄膜トランジスタ２０に対して、マイクロレンズアレイ１３の１列（又は１行）に含まれる２０個のマイクロレンズ１７の少なくとも一部を用いて、レーザ光１４を照射する。なお、なお、マイクロレンズアレイ１３に含まれる一列（又は一行）のマイクロレンズ１７の数は、２０個に限られず、いくつであってもよい。
【００３０】
図２に示すように、マイクロレンズアレイ１３は、その一列（または一行）にマイクロレンズ１７を２０個含むが、一行（または一列）には例えば８３個含む。なお、８３個は例示であって、いくつであってもよいことは言うまでもない。
【００３１】
図３は、所定の領域がアニール化された薄膜トランジスタ２０の例を示す模式図である。なお、薄膜トランジスタ２０は、最初にポリシリコン薄膜２２を形成し、その後、形成されたポリシリコン薄膜２２の両端にソース２３とドレイン２４を形成することで、作成される。
【００３２】
図３に示すように、薄膜トランジスタは、ソース２３とドレイン２４との間に、ポリシリコン薄膜２２が形成されている。レーザ照射装置１０は、１つの薄膜トランジスタ２０に対して、図３に示したマイクロレンズアレイ１３の一列（または一行）に含まれる例えば２０個のマイクロレンズ１７を用いて、レーザ光１４を照射する。すなわち、レーザ照射装置１０は、ポリシリコン薄膜２２に対して、２０ショットのレーザ光１４を照射する。その結果、薄膜トランジスタ２０において、アモルファスシリコン薄膜２１の所定の領域が瞬間加熱されて溶融し、ポリシリコン薄膜２２となる。
【００３３】
図４は、レーザ照射装置１０がレーザ光１４を照射するガラス基板３０の例を示す模式図である。図４に示すように、ガラス基板３０は、複数の画素３１を含み、当該画素３１の各々に薄膜トランジスタ２０を備える。薄膜トランジスタ２０は、複数に画素３１の各々における光の透過制御を、電気的にＯＮ／ＯＦＦすることにより実行するものである。図４に示すように、ガラス基板３０には、所定の間隔「Ｈ」で、アモルファスシリコン薄膜２１が設けられている。当該アモルファスシリコン薄膜２１の部分は、薄膜トランジスタ２０となる部分である。
【００３４】
レーザ照射装置１０は、アモルファスシリコン薄膜２１にレーザ光１４を照射する。ここで、レーザ照射装置１０は所定の周期でレーザ光１４を照射し、レーザ光１４が照射されていない時間にガラス基板３０を移動させ、次のアモルファスシリコン薄膜２１の箇所に当該レーザ光１４が照射されるようにする。図３に示すように、ガラス基板３０は、移動方向に対して、所定の間隔「Ｈ」でアモルファスシリコン薄膜２１が配置される。そして、レーザ照射装置１０は、所定の周期で、ガラス基板３０上に配置されたアモルファスシリコン薄膜２１の部分に、レーザ光１４を照射する。
【００３５】
そして、レーザ照射装置１０は、マイクロレンズアレイ１３を用いて、ガラス基板上の複数のアモルファスシリコン薄膜２１に対して、同一のレーザ光１４を照射する。レーザ照射装置１０は、例えば、図３に示す領域Ａに含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１に対して、同一のレーザ光１４を照射する。また、レーザ照射装置１０は、図４に示す領域Ｂに含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１に対しても、同一のレーザ光１４を照射する。
【００３６】
ここで、レーザ照射装置１０は、アニール化を行うために、図２に示すマイクロレンズアレイ１３の一列（又は一行）に含まれる２０個のマイクロレンズ１７の各々を用いて、レーザ光１４を照射することが考えられる。
【００３７】
この場合、図４の領域Ａにある複数のアモルファスシリコン薄膜２１は、まず、図２に示すマイクロレンズアレイ１３に含まれる第１のマイクロレンズ１７ａを用いて、レーザ光１４を照射される。その後、ガラス基板３０を所定の間隔「Ｈ」だけ移動させる。ガラス基板３０が移動している間、レーザ照射装置１０は、レーザ光１４の照射を停止する。そして、ガラス基板３０が「Ｈ」だけ移動した後、領域Ａにある複数のアモルファスシリコン薄膜２１は、図２に示すマイクロレンズアレイ１３に含まれる第２のマイクロレンズ１７ｂを用いて、レーザ光１４を照射される。なお、レーザ照射装置１０は、ガラス基板３０が「Ｈ」だけ移動した後、一旦停止した当該ガラス基板３０に対してレーザ光１４を照射してもよいし、移動し続けている当該ガラス基板３０に対してレーザ光１４を照射してもよい。
【００３８】
なお、レーザ照射装置１０の照射ヘッド（すなわち、レーザ光源１１、カップリング光学系１２、マイクロレンズアレイ１３及び投影マスク１５０）が、ガラス基板３０に対して移動してもよい。
【００３９】
レーザ照射装置１０は、これを繰り返し実行して、最後に、領域Ａにある複数のアモルファスシリコン薄膜２１に対して、図２に示すマイクロレンズアレイ１３のマイクロレンズ１７ｔ（すなわち、最後のマイクロレンズ１７）を用いて、レーザ光１４を照射する。その結果、領域Ａにある複数のアモルファスシリコン薄膜２１は、図２に示すマイクロレンズアレイ１３の一列（又は一行）に含まれる２０個のマイクロレンズ１７の各々を用いて、レーザ光１４を照射されることになる。
【００４０】
同様にして、レーザ照射装置１０は、図４の領域Ｂにある複数のアモルファスシリコン薄膜２１に対しても、図２に示すマイクロレンズアレイ１３の一列（又は一行）に含まれる２０個のマイクロレンズ１７の各々を用いて、レーザ光１４を照射する。ただ、領域Ｂは、領域Ａに比べてガラス基板の移動方向に対して「Ｈ」だけ位置が異なるため、レーザ光１４が照射されるタイミングが、１照射分だけ遅れる。すなわち、領域Ａの複数のアモルファスシリコン薄膜２１が第２のマイクロレンズ１７ｂを用いてレーザ光１４を照射される時に、領域Ｂの複数のアモルファスシリコン薄膜２１は、第１のマイクロレンズ１７ａを用いてレーザ光１４を照射される。そして、領域Ａの複数のアモルファスシリコン薄膜２１が第２０のマイクロレンズ１７ｔ（すなわち、最後のマイクロレンズ１７）を用いてレーザ光１４を照射される時には、領域Ｂの複数のアモルファスシリコン薄膜２１は、一つ前の第１９のマイクロレンズ１７ｓを用いて、レーザ光が照射されることになる。そして、領域Ｂの複数のアモルファスシリコン薄膜２１は、次のレーザ光の照射のタイミングで、第２０のマイクロレンズ１７ｔ（すなわち、最後のマイクロレンズ１７）を用いて、レーザ光が照射されることになる。
【００４１】
つまり、図４に示す領域Ａに含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１と、領域Ｂに含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１とは、最後に照射されるレーザ光１４が異なることになる。
【００４２】
ここで、エキシマレーザにおいて、パルス間の安定性は、０．５％程度である。すなわち、レーザ照射装置１０は、１ショットごとに、そのレーザ光１４のエネルギ密度に０．５％程度のばらつきを生じさせる。そのため、レーザ照射装置１０によって形成されるポリシリコン薄膜２２の電子移動度にも、ばらつぎが生じてしまう可能性がある。そして、レーザ光１４を照射されたことにより形成されたポリシリコン薄膜２２の電子移動度は、当該ポリシリコン薄膜２２に最後に照射されたレーザ光１４のエネルギ密度、すなわち最後のショットのエネルギ密度に依存する。
【００４３】
そのため、領域Ａに含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１と、領域Ｂに含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１とは、最後に照射されるレーザ光が異なるため、形成されるポリシリコン薄膜２２の電子移動度が互いに異なることになる。
【００４４】
一方で、領域Ａに含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１どうしは、最後に照射されたレーザ光１４は同じであるため、領域Ａ内においては、形成されるポリシリコン薄膜２２の電子移動度は同じとなる。これは、領域Ｂに含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１どうしでも同様であり、領域Ｂ内においては、形成されるポリシリコン薄膜２２の電子移動度は同じとなる。すなわち、ガラス基板上において、互いに隣接する領域間では電子移動度が互いに異なるが、同じ領域内の複数のアモルファスシリコン薄膜２１どうしは電子移動度が同一となる。
【００４５】
このことは、液晶画面において、表示むらが発生する原因となる。図４に例示するように、領域Ａと領域Ｂとの境界が“線状”であるため、互いに異なる特性の薄膜トランジスタ２０が、当該“線上”の境界において突き合うことなり、その特性の違いによる表示の違い（例えば色の濃淡などの違い）が“線”となって表れてしまう。その結果、液晶画面において表示むらが“すじ”となってしまい、無視できない程度に強調されてしまう。
【００４６】
そこで、本発明の第１の実施形態では、図３に示す同一領域内（例えば領域Ａ内）に含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１の各々が、同一のレーザ光１４を照射されないようにする。すなわち、同一領域内（例えば領域Ａ内）に含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１について、少なくとも隣接するアモルファスシリコン薄膜２１が、互いに異なるレーザ光１４を照射されるようにする。その結果、同一領域内（例えば領域Ａ内）において、隣接するアモルファスシリコン薄膜２１に最後に照射されるレーザ光１４も異なることになる。その結果、同一領域内（例えば領域Ａ内）において、隣接するポリシリコン薄膜２２の電子移動度は、互いに異なることとなる。そうすると、同一領域内（例えば領域Ａ内）において、隣接する薄膜トランジスタ２０の特性も異なることになる。そうすると、ガラス基板３０全体において、互いに隣接する薄膜トランジスタ２０の特性は、互いに異なることになり、当該特性の違いによる表示の違い（例えば色の濃淡などの違い）が“線状”に表れることが無くなる。そのため、液晶画面において表示むらが“スジ”とならず、当該表示むらが強調されることを防止することができる。
【００４７】
図５は、ガラス基板３０において隣接する薄膜トランジスタ２０による、表示むらの発生の有無を説明するための図である。図５（ａ）において、領域Ａ内の複数の薄膜トランジスタ２０の特性は特性Ａで同一であり、領域Ｂ内の複数の薄膜トランジスタ２０の特性は特性Ｂで同一である。その結果、領域Ａと領域Ｂの“線状”の境界において、特性Ａの薄膜トランジスタ２０と、特性Ｂの薄膜トランジスタ２０とが突き合うことになり、特性の違いによる表示の違いが、“線状”になって表れてしまう。そのため、液晶画面において表示むらが“スジ”となって強調されてしまう。
【００４８】
一方、図５（ｂ）において、同一領域内（領域Ａ／領域Ｂ）の隣接する薄膜トランジスタ２０が、互いに異なる特性であるため、特性の違いによる表示の違いが分散され、特性の違いによる表示の違いが“線状”になって表れない。そのため、液晶画面において表示むらを低減することが可能となる。
【００４９】
上述した内容を実現するために、本発明の第１の実施形態において、レーザ照射装置１０は、１つのアモルファスシリコン薄膜２１に対して、図２に示すマイクロレンズアレイ１３の一列（又は一行）に含まれる２０個のマイクロレンズ１７のうちの一部を用いて、レーザ光１４を照射する。例えば、レーザ照射装置１０は、１つのアモルファスシリコン薄膜２１に対して、マイクロレンズアレイ１３の一列（又は一行）に含まれる２０個のマイクロレンズ１７のうちの５個を用いて、レーザ光１４を照射する。
【００５０】
また、本発明の第１の実施形態において、レーザ照射装置１０は、当該使用する一部のマイクロレンズ１７を、スキャン方向にランダムに配置する。例えば、レーザ照射装置１０は、２０個のマイクロレンズ１７のうち、１つのアモルファスシリコン薄膜２１に対して照射する５個のマイクロレンズ１７を、スキャン方向に例えばランダムに配置する。
【００５１】
その結果、図３に示す同一領域内（例えば領域Ａ内）において、隣接するアモルファスシリコン薄膜２１は、同一のレーザ光１４を照射されなくなる。そのため、同一領域内（例えば領域Ａ内）に含まれる複数のアモルファスシリコン薄膜２１について、少なくとも隣接するアモルファスシリコン薄膜２１が、互いに異なるレーザ光１４を照射されるようにする。その結果、同一領域内（例えば領域Ａ内）において、隣接するアモルファスシリコン薄膜２１に最後に照射されるレーザ光１４も異なることになる。その結果、同一領域内（例えば領域Ａ内）において、隣接するポリシリコン薄膜２２の電子移動度は、互いに異なることとなる。
【００５２】
本発明の第１の実施形態では、マイクロレンズアレイ１３上に設けられる投影マスクパターン１５の開口（通過領域）が、スキャン方向の２０個のマイクロレンズ１７のうちの５個から、レーザ光１４が透過するように構成するとともに、スキャン方向に直交する一列（また一行）において開口（通過領域）が連続しないように構成する。
【００５３】
図６は、本発明の第１の実施形態における、投影マスクパターン１５の開口（通過領域）の構成例を示す図である。
【００５４】
図６に示すように、投影マスクパターン１５は、スキャン方向の２０個のマイクロレンズ１７のうちの５個から、レーザ光１４が透過するように、開口（透過領域）が設けられている。また、図６に示すように、投影マスクパターン１５は、スキャン方向に直交する一列（また一行）において連続しないように、開口（通過領域）が設けられている。レーザ光１４は、当該透過領域１６を透過し、薄膜トランジスタ２０上のアモルファスシリコン薄膜２１に投射される。各投影マスクパターン１５における透過領域１６の幅は、例えば４μｍである。
【００５５】
なお、図６は一例であり、投影マスクパターン１５の開口（通過領域）は、スキャン方向の２０個のマイクロレンズ１７のうちの５個からレーザ光１４が透過し、かつ、スキャン方向に直交する一列（また一行）において連続しないように配置されていればよい。
【００５６】
また、投影マスクパターン１５において、スキャン方向の開口（通過領域）は、５個に限られず、例えば４個や６個などであってもよい。
【００５７】
また、投影マスクパターン１５において、スキャン方向に直交する一列（また一行）において必ずしも連続しないように配置される必要はなく、例えば２つなどその数が少なければ、連続していてもよい。
【００５８】
図６に示す投影マスクパターン１５に設けられる開口部は、例えば、その形状が長方形であり、長辺が２０［μｍ］であり、短辺が１０［μｍ］である。なお、投影マスクパターン１５の開口部大きさは例示であって、マイクロレンズ１７の大きさに対応していれば、どのような大きさであってもよい。
【００５９】
図６の例では、ガラス基板３０の移動方向（スキャン方向）に対して、投影マスクパターン１５の透過領域１６は、直交するように設けられる。なお、投影マスクパターン１５の透過領域１６は、ガラス基板３０の移動方向（スキャン方向）に対して必ずしも直交する必要はなく、該移動方向（スキャン方向）に対して平行（略平行）に設けられていてもよい。
【００６０】
レーザ照射装置１０は、図６に示す投影マスクパターン１５を用いて、図２に例示するガラス基板３０にレーザ光１４を照射する。その結果、図４に例示するガラス基板３０において、例えば領域Ｉの薄膜トランジスタ２０は、図２に例示するマイクロレンズ１７のうち、Ａ列、Ｅ列、Ｉ列、Ｍ列、Ｑ列の５個のマイクロレンズ１７を用いて、レーザ光１４が照射される。一方、その隣の領域ＩＩの薄膜トランジスタ２０は、図２に例示するマイクロレンズ１７のうち、Ｄ列、Ｇ列、Ｋ列、Ｎ列、Ｔ列の５個のマイクロレンズ１７を用いて、レーザ光１４が照射される。その結果、図４に例示するガラス基板３０において、スキャン方向の領域（すなわち、領域Ｉや領域ＩＩ）において、隣接する領域の薄膜トランジスタ２０は、互いに異なる列のマイクロレンズ１７により、レーザ光１４が照射される。そのため、図４に例示するガラス基板３０において、スキャン方向の領域（すなわち、領域Ｉや領域ＩＩ）において、隣接する領域の薄膜トランジスタ２０は、互いに異なる特性となる。
【００６１】
また、スキャン方向に直交する領域（図３に例示する領域Ａや領域Ｂ）間では、上述したように、照射されるレーザ光１４が異なるため、隣接する領域の薄膜トランジスタ２０は、互いに異なる特性となる。
【００６２】
その結果、ガラス基板３０全体において、隣接する薄膜トランジスタ２０は、互いに異なる特性となる。そのため、薄膜トランジスタ２０の特性の違いによる表示の違い（例えば色の濃淡などの違い）が分散され、線状に表われなくなる。そのため、液晶画面において表示むらが“スジ”とならず、当該表示むらが強調されることを防止することができる。
【００６３】
本発明の第１の実施形態において、ガラス基板３０は、１つのマイクロレンズ１７によりレーザ光１４が照射されるごとに、所定の距離だけ移動する。所定の距離は、図２に例示するように、ガラス基板３０における複数の薄膜トランジスタ２０間の距離「Ｈ」である。レーザ照射装置１０は、ガラス基板３０を当該所定の距離移動させる間、レーザ光１４の照射を停止する。
【００６４】
ガラス基板３０が所定の距離「Ｈ」を移動した後、レーザ照射装置１０は、マイクロレンズアレイ１３に含まれるマイクロレンズ１７を用いて、レーザ光１４を照射する。なお、本発明の第１の実施形態では、図６に示す投影マスクパターン１５を用いるため、１つのアモルファスシリコン薄膜２１に対して、５個のマイクロレンズ１７によりレーザ光１４が照射される。
【００６５】
そして、ガラス基板３０の薄膜トランジスタ２０に、レーザアニールを用いてポリシリコン薄膜２２を形成した後、別の工程において、当該薄膜トランジスタ２０に、ソース２３とドレイン２４とが形成される。
【００６６】
このように、本発明の第１の実施形態では、ガラス基板３０全体において、互いに隣接する薄膜トランジスタ２０の特性は、互いに異なることになり、当該特性の違いによる表示の違い（例えば色の濃淡などの違い）が“線状”に表れることが無くなる。そのため、液晶画面において表示むらが“スジ”とならず、当該表示むらが強調されることを防止することができる。
【００６７】
（第２の実施形態）
本発明の第２の実施形態は、マイクロレンズアレイ１３の代わりに、１個の投影レンズ１８を用いて、レーザアニールを行う場合の実施形態である。
【００６８】
図７は、本発明の第２の実施形態におけるレーザ照射装置１０の構成例を示す図である。図７に示すように、本発明の第２の実施形態におけるレーザ照射装置１０は、レーザ光源１１と、カップリング光学系１２と、投影マスクパターン１５と、投影レンズ１８とを含む。なお、レーザ光源１１と、カップリング光学系１２とは、図１に示す本発明の第１の実施形態におけるレーザ光源１１と、カップリング光学系１２と同様の構成であるため、詳細な説明は省略される。また、投影マスクパターンは、本発明の第１の実施形態における投影マスクパターンと同様の構成であるため、詳細な説明は省略される。
【００６９】
レーザ光は、投影マスクパターン１５（図示しない）の開口（透過領域）を透過し、投影レンズ１８により、アモルファスシリコン薄膜２１の所定の領域に照射される。その結果、アモルファスシリコン薄膜２１の所定の領域が瞬間加熱されて溶融し、アモルファスシリコン薄膜２１の一部がポリシリコン薄膜２２となる。
【００７０】
本発明の第２の実施形態においても、レーザ照射装置１０は所定の周期でレーザ光１４を照射し、レーザ光１４が照射されていない時間にガラス基板３０を移動させ、次のアモルファスシリコン薄膜２１の箇所に当該レーザ光１４が照射されるようにする。第２の実施形態においても、図３に示すように、ガラス基板３０は、移動方向に対して、所定の間隔「Ｈ」でアモルファスシリコン薄膜２１が配置される。そして、レーザ照射装置１０は、所定の周期で、ガラス基板３０上に配置されたアモルファスシリコン薄膜２１の部分に、レーザ光１４を照射する。
【００７１】
ここで、投影レンズ１８を用いる場合、レーザ光１４が、当該投影レンズ１８の光学系の倍率で換算される。すなわち、投影マスクパターン１５のパターンが、投影レンズ１８の光学系の倍率で換算され、ガラス基板３０上の所定の領域がレーザアニールされる。
【００７２】
すなわち、投影マスクパターン１５のマスクパターンは、投影レンズ１８の光学系の倍率で換算され、ガラス基板３０上の所定の領域がレーザアニールされる。例えば、投影レンズ１８の光学系の倍率が約２倍であると、投影マスクパターン１５のマスクパターンは、約１／２（０．５）倍され、ガラス基板３０の所定の領域がレーザアニールされる。なお、投影レンズ１８の光学系の倍率は、約２倍に限られず、どのような倍率であってもよい。投影マスクパターン１５のマスクパターンは、投影レンズ１８の光学系の倍率に応じて、ガラス基板３０上の所定の領域がレーザアニールされる。例えば、投影レンズ１８の光学系の倍率が４倍であれば、投影マスクパターン１５のマスクパターンは、約１／４（０．２５）倍され、ガラス基板３０の所定の領域がレーザアニールされる。
【００７３】
また、投影レンズ１８が倒立像を形成する場合、ガラス基板３０に照射される投影マスクパターン１５の縮小像は、投影レンズ１８のレンズの光軸を中心に１８０度回転したパターンとなる。一方、投影レンズ１８が正立像を形成する場合、ガラス基板３０に照射される投影マスクパターン１５の縮小像は、当該投影マスクパターン１５そのままとなる。
【００７４】
上記のとおり、本発明の第２の実施形態では、１個の投影レンズ１８を用いて、レーザアニールを行った場合であっても、ガラス基板３０全体において、互いに隣接する薄膜トランジスタ２０の特性は、互いに異なることになり、当該特性の違いによる表示の違い（例えば色の濃淡などの違い）が“線状”に表れることが無くなる。そのため、液晶画面において表示むらが“スジ”とならず、当該表示むらが強調されることを防止することができる。
【００７５】
なお、以上の説明において、「垂直」「平行」「平面」「直交」等の記載がある場合に、これらの各記載は厳密な意味ではない。すなわち、「垂直」「平行」「平面」「直交」とは、設計上や製造上等における公差や誤差が許容され、「実質的に垂直」「実質的に平行」「実質的に平面」「実質的に直交」という意味である。なお、ここでの公差や誤差とは、本発明の構成・作用・効果を逸脱しない範囲における単位のことを意味するものである。
【００７６】
また、以上の説明において、外観上の寸法や大きさが「同一」「等しい」「異なる」等の記載がある場合に、これらの各記載は厳密な意味ではない。すなわち、「同一」「等しい」「異なる」とは、設計上や製造上等における公差や誤差が許容され、「実質的に同一」「実質的に等しい」「実質的に異なる」という意味である。なお、ここでの公差や誤差とは、本発明の構成・作用・効果を逸脱しない範囲における単位のことを意味するものである。
【００７７】
本発明を諸図面や実施形態に基づき説明してきたが、当業者であれば本開示に基づき種々の変形や修正を行うことが容易であることに注意されたい。従って、これらの変形や修正は本発明の範囲に含まれることに留意されたい。例えば、各手段、各ステップ等に含まれる機能等は論理的に矛盾しないように再配置可能であり、複数の手段やステップ等を１つに組み合わせたり、或いは分割したりすることが可能である。また、上記実施の形態に示す構成を適宜組み合わせることとしてもよい。
【符号の説明】
【００７８】
１０  レーザ照射装置
１１  レーザ光源
１２  カップリング光学系
１３  マイクロレンズアレイ
１４  レーザ光
１５  投影マスクパターン
１６  透過領域
１７  マイクロレンズ
１８  投影レンズ
２０  薄膜トランジスタ
２１  アモルファスシリコン薄膜
２２  ポリシリコン薄膜
２３  ソース
２４  ドレイン
３０  ガラス基板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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