(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＣＴ光源から発せられた光の光量を調整する調整手段と、
前記調整手段を介した光を被検眼に照射する測定光と参照光とに分割する第一の分割手段と、
前記調整手段を介した光を分割する第二の分割手段と、
前記第二の分割手段により分割して得た光量測定用の光の光量を測定する手段と、
前記測定された光量に基づいて前記ＯＣＴ光源から発せられた光の光量を調整するように前記調整手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする眼科装置。
【請求項２】
前記第二の分割手段は、前記測定光の光路に配置されることを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記測定された光量及び前記第二の分割手段の分割比から得られる前記測定光の光量が所定の範囲の値となるように前記調整手段を制御することを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記測定光の光量から前記所定の範囲の値までの差分の光量を算出し、前記算出された差分の光量を用いて前記第一の分割手段の分割比から前記調整手段が減衰する光量を算出し、前記ＯＣＴ光源から発せられた光の光量を前記算出された減衰する光量だけ減衰させるように前記調整手段を制御することを特徴とする請求項３に記載の眼科装置。
【請求項５】
前記第二の分割手段は、前記参照光の光路に配置されることを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項６】
前記第二の分割手段は、前記調整手段と前記第一の分割手段との間に配置されることを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項７】
前記制御手段は、前記測定された光量、前記第一の分割手段の分割比及び前記第二の分割手段の分割比から得られる前記測定光の光量が所定の範囲の値となるように前記調整手段を制御することを特徴とする請求項５又は６に記載の眼科装置。
【請求項８】
前記制御手段は、前記測定光の光量から前記所定の範囲の値までの差分の光量を算出し、前記算出された差分の光量を用いて前記第一の分割手段の分割比及び前記第二の分割手段の分割比から前記調整手段が減衰する光量を算出し、前記ＯＣＴ光源から発せられた光の光量を前記算出された減衰する光量だけ減衰させるように前記調整手段を制御することを特徴とする請求項７に記載の眼科装置。
【請求項９】
前記測定光の光量が所定の範囲の値よりも大きい所定値を超える場合に、前記測定光の前記被検眼への照射を中止する手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至８の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１０】
前記中止する手段は、前記測定光が前記被検眼に至る光路に挿入されて前記測定光を遮るシャッタ又は前記被検眼に前記測定光が至らないように光路を変更させる光学部材を制御することにより前記照射を中止することを特徴とする請求項９に記載の眼科装置。
【請求項１１】
前記中止する手段は、前記測定光を走査する走査手段が、前記測定光が前記被検眼に至る光路から前記測定光を外すように前記走査手段を制御することを特徴とする請求項９に記載の眼科装置。
【請求項１２】
前記制御手段は、前記測定する手段が前記光量を測定する際に前記中止する手段により前記測定光の前記被検眼への照射を中止させ、前記調整手段による前記光量の調整が実行された後に前記中止する手段による前記照射の中止を解除させることを特徴とする請求項９乃至１１の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１３】
前記制御手段は、前記測定光が前記被検眼に照射された状態において前記光量測定用の光の光量の測定と前記調整手段による前記光量の調整とを繰り返すことを特徴とする請求項１乃至１２の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１４】
前記調整手段は、前記ＯＣＴ光源から発せられた光を透過させる際に光量を減衰させる光学部材を有し、前記減衰させる光学部材を介して前記光量の調整を行うことを特徴とする請求項１乃至１３の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１５】
前記調整手段は、前記ＯＣＴ光源から発せられた光の光量を減衰させる割合の異なる複数の光学部材を有し、前記光の光路上に前記複数の光学部材から一の光学部材を選択して配置することにより前記光量の調整を行うことを特徴とする請求項１乃至１３の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１６】
前記ＯＣＴ光源は、前記発せられた光の波長を掃引する波長掃引光源であることを特徴とする請求項１乃至１５の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１７】
前記測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と前記参照光とを干渉させて得た干渉光を検出する検出部と、
前記検出部が前記干渉光を検出して得たアナログ信号をデジタル信号に変換する変換部と、
前記ＯＣＴ光源から発せられた光のうち一部の光が通る光路が第一光路と前記第一光路に対して光路長差を有する第二光路とに分岐された干渉計として構成され、前記変換部が前記アナログ信号をサンプリングするクロックを生成するクロック発生部と、
前記生成されたクロックに応じてサンプリングした前記アナログ信号を前記変換部が変換して得た前記デジタル信号に基づいて、前記被検眼の断層画像を取得する断層画像取得部と、を更に備え、
前記クロック発生部は、前記ＯＣＴ光源と前記調整手段との間の光路を分岐した光路として構成され、
前記断層画像取得部は、前記調整手段により前記光量が調整された後に得られた前記干渉光に対応する前記デジタル信号に基づいて、前記断層画像を取得することを特徴とする請求項１６に記載の眼科装置。
【請求項１８】
前記ＯＣＴ光源は、下部反射鏡と、活性層と、上部反射鏡と、をこの順に有し、前記活性層と前記上部反射鏡との間に空隙部を備え、前記上部反射鏡、前記下部反射鏡の少なくとも何れか一方の光軸方向の位置を変化させることで、出射する光の波長を変化させる面発光レーザであることを特徴とする請求項１乃至１７の何れか１項に記載の眼科装置。
【請求項１９】
ＯＣＴ光源から発せられた光の光量を調整する調整手段と、前記調整手段を介した光を被検眼に照射する測定光と参照光とに分割する第一の分割手段と、前記調整手段を介した光を分割する第二の分割手段と、を備える眼科装置の作動方法であって、
前記第二の分割手段により分割して得た光量測定用の光の光量を測定する工程と、
前記測定された光量に基づいて前記ＯＣＴ光源から発せられた光の光量を調整するように前記調整手段を制御する工程と、
を含むことを特徴とする眼科装置の作動方法。
【請求項２０】
請求項１９に記載の眼科装置の作動方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼科装置及びその作動方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、光波の干渉を利用したＯＣＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）による光干渉断層撮影装置（以下、ＯＣＴ装置）が眼科分野で診断などにおいて広く利用されている。このＯＣＴ装置では、低コヒーレンス光源光を被検眼へ照射する測定光と参照光とにそれぞれに分岐し、該測定光を被検眼へ照射している。その後、被検眼から得られる測定光の後方散乱光である戻り光と、所定の経路を経た参照光とを干渉させて干渉光を得る。この干渉光により、被検眼のある位置での断層信号を取得している。
【０００３】
このＯＣＴ装置において、診断に適した画像を得るためにはより大きな光量を有する測定光を用いることが好ましい。しかし、測定対象が眼であることから被検眼に照射する光はより高い安全性が求められる。即ち、被検眼に対してダメージを与えない光量の光を用いることが必須となる。よって測定光はこの相反する条件より適切な光量とすることが求められる。ここで、特許文献１には、参照光の光量を測定し、測定された光量が許容範囲内にあれば測定を実行し、許容範囲内になければ測定を実行しないように、光路に対して挿脱可能に設けられたシャッタを制御するＯＣＴ装置が開示されている。また、特許文献２には、被検眼に測定光を照射している際に照射光量を測定し、測定された照射光量に基づいて光源に供給する電源の電流或いは電圧を制御して、該光源からの光の強度の制御を行う眼科装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−２７７１５号公報
【特許文献２】特開２０１４−８３２３２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、光源に供給する電力の変更は、変更前後で光源から発せられる光の光量がゆらいでしまうため、正確な断層画像を取得できなくなる可能性がある。特に、波長掃引型の光源の場合、掃引しながら発せられる光の波長毎の光量がゆらいでしまう可能性があり、正確な断層画像を取得できなくなる可能性が高くなる。
【０００６】
本発明は、上記課題に鑑みて為されたものであって、光源の発光量を直接制御せずに、被検眼に照射する測定光の光量を調整することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題に鑑み、本発明の一態様に係る眼科装置は、
ＯＣＴ光源から発せられた光の光量を調整する調整手段と、
前記調整手段を介した光を被検眼に照射する測定光と参照光とに分割する第一の分割手段と、
前記調整手段を介した光を分割する第二の分割手段と、
前記第二の分割手段により分割して得た光量測定用の光の光量を測定する手段と、
前記測定された光量に基づいて前記ＯＣＴ光源から発せられた光の光量を調整するように前記調整手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、光源の発光量を直接制御せずに、被検眼に照射する測定光の光量を調整することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るＯＣＴ装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１に示す構成において、被検眼への照射光の安全な光量を確保するための主要構成をブロック図として模式的に示す図である。
【図３】本発明の第２の実施形態に係るＯＣＴ装置の概略構成を示す図である。
【図４】図３に示す構成において、被検眼への照射光の安全な光量を確保するための主張構成をブロック図として模式的に示す図である。
【図５】本発明の第３の実施形態に係るＯＣＴ装置の概略構成を示す図である。
【図６】図４に示す構成において、被検眼への照射光の安全な光量を確保するための主要構成をブロック図として模式的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付の図面を参照し、本発明の第１の実施形態について説明する。なお、以下の実施の形態は特許請求の範囲に関わる本発明を限定するものではなく、また、本実施の形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。また、以下の説明を通じて、異なる実施形態において同一の参照番号を付記した構成は、互いに同一の構成であることを示している。
【００１１】
（第１の実施形態）
図１は本発明の第１の実施形態におけるＯＣＴ装置の構成図を示す。
該ＯＣＴ装置は、光源１０、調光装置２０、及び光学ヘッド９０を有する。光学ヘッド９０内には、各光学要素がその上に配される光路Ｌ１〜Ｌ３が配置される。光路Ｌ１には、光源１０を発して調光装置２０を介した光線を測定光と参照光とに分岐する分岐部まで導くための光学要素が配置される。測定光の光路である測定光路Ｌ２には、被検眼へ測定光を照射するための光学要素が配置される。参照光の光路である参照光路Ｌ３には該参照光を後述する光カプラ７０まで導いて干渉光を得るための光学要素が配置される。
【００１２】
光源１０には、波長可変装置であるＳＳ光源を用いることができる。光源１０より発せられた光線は光ファイバを介して調光装置２０に導かれ、該光ファイバのファイバ端１２より該調光装置２０内に射出される。ここで、本実施形態において、光源１０より射出される測定光の中心波長は、１０５０ｎｍ、掃引幅は約１００ｎｍである。なお、本実施形態では、断層信号の分解能を高くするため、上記のような光源を選択しているが、その他の光源或いは波長の光を用いることも可能である。すなわち、本実施形態において、光源１０は光の波長を変化させる光源であれば特に限定されない。ここで、ＯＣＴ装置を用いて物体の情報を得るためには、この光源部から出る光の波長を連続的に変化させる必要がある。本実施形態における光源１０として例えば、回折格子やプリズム等を用いた外部共振器型の波長掃引光源、共振器長可変のファブリペローチューナブルフィルタを用いる各種外部共振器型光源をもちいることができる。あるいは、サンプルドグレーティングを用いて波長を変化させるＳＳＧ−ＤＢＲや、ＭＥＭＳ機構を用いた波長可変のＶＣＳＥＬ（ＭＥＭＳ−ＶＣＳＥＬ）などを用いることもできる。また、ファイバレーザーを用いることもできる。ファイバレーザーとしては、分散チューニング方式でもよく、フーリエドメインモードロック方式であってもよい。なお、回折格子やプリズム等を用いた外部共振器型の波長掃引光源としては、共振器に回折格子を設けて光を分光させ、ポリゴンミラーや、回転する円盤上にストライプ状の反射ミラーを設けたものを用いて出射させる光の波長を連続的に変える波長掃引光源などが挙げられる。また、ＶＣＳＥＬは、一般的に、下部反射鏡と、活性層と、上部反射鏡と、をこの順に有し、活性層と上部反射鏡との間に空隙部を備え、上部反射鏡と下部反射鏡との少なくともいずれか一方の光軸方向の位置を変化させることで、出射する光の波長を変化させる面発光レーザとして構成される。
【００１３】
調光装置２０内には、ファイバ端１２、コリメート用レンズ１４、１６、光量調整用光学素子１８及びファイバ端２２が配置される。ファイバ端１２から射出された光線は、コリメート用レンズ１４、１６を通り、光量調整用光学素子１８で光量が調整される。光量調整後の光線が、ファイバ端２２へ入射する。ファイバ端２２は光路Ｌ１を構成する光ファイバの端部であり、該光ファイバは入射した光線を光学ヘッド９０に導く。該光ファイバは後述する分岐カプラ３０に接続され、当該分岐カプラ３０に光線を導く。
【００１４】
本実施形態において、光量調整用光学素子とは、透過する光線の光量を減衰させる光学部材としての濃度可変のＮＤフィルタや、光線を遮るための遮光板を示す。また、ファイバ端２２に入射する光のスペクトル特性を変化させるためのダイクロイックミラーやレンズをさらに付加してもよく、これらの部品によって光源からのスペクトル分布の各波長における強度出力を調整してもよい。また、これら光学素子の各々であって光学性能、ＮＤフィルタの場合には光量を減衰させる割合の異なるものを交換可能に配置する構成でもよい。これらの光量調整用光学素子は光量調整駆動部２６によって制御され、複数のＮＤフィルタから一のＮＤフィルタを選択して光路上に配置される。
なお、調光装置２０は光出力をゼロにすることができることが好ましく、このとき調光装置２０は光線に対してシャッタの役目を果たす。
【００１５】
分岐カプラ３０では導かれた光線を測定光と参照光とに分岐する。本実施形態では、分岐された測定光は更に光ファイバ、分岐カプラ２００、及び光ファイバを経て、後段の光ファイバのファイバ端４２に至る。分岐された参照光は、光ファイバを経て該光ファイバのファイバ端７２に至る。
【００１６】
測定光路Ｌ２では、分岐カプラ３０より分岐された測定光がファイバ端４２から伝播される。該測定光路Ｌ２上には、コリメートレンズ４４、測定光フォーカス調整用レンズ４６、Ｘスキャナ４８、Ｙスキャナ５２、ミラー５４、及びレンズ５６が主たる光学要素として配置される。測定光フォーカス調整用レンズ４６はフォーカス調整用のレンズであって、不図示のモータによって光軸Ｌ２上を光軸方向に駆動される。また、Ｘスキャナ４８及びＹスキャナ５２は、各々不図示のモータ駆動によって操作され、測定光の被検眼１００での走査を可能とする。ファイバ端４２より射出された測定光は、これら光学要素を経て、ミラー６２に反射し、対物レンズ６４を経て被検眼１００に至る。被検眼１００で反射、散乱された測定光は、戻り光として同経路を逆にたどって、ファイバ端４２へ入射する。
【００１７】
参照光路Ｌ３には、レンズ７４、参照ミラーユニット７６、レンズ７８、及び光量調整部品８２が配される。ファイバ端７２から出射された参照光は、レンズ７４を経て参照ミラーユニット７６に導かれる。該参照ミラーユニット７６は不図示のモータによって光軸方向に移動可能であり、この移動により参照光の光路長、参照光路長を変えることができる。参照ミラーユニット７６を経た参照光はレンズ７８へ入射し、該レンズ７８を経て光量調整部品８２を透過して、ファイバ端８４へ到達する。該光量調整部品８２は、参照光路における分散量を測定光の分散量と一致させるために配されている。
【００１８】
測定光路Ｌ２を経て得られる被検眼１００からの戻り光と、参照光路Ｌ３を経た参照ミラーユニット７６からの反射光とは、光ファイバを介して光カプラ７０に導かれ、該光カプラ７０で合成される。この時、測定光路Ｌ２と参照光路Ｌ３の各光路長がほぼ同一となったときに干渉が生じる。この干渉光が、信号処理部８０によって処理され、当該信号に基づいて被検眼１００の断層画像が得られる。
より詳細には、信号処理部８０は、検出部、変換部、クロック発生部、及び断層画像取得部を有する。検出部では測定光が照射された被検眼１００からの戻り光と参照光とを干渉して得た干渉光を検出する。変換部は、検出部が干渉光を検出して得たアナログ信号をデジタル信号に変換する。クロック発生部は、変換部としてのＡ／Ｄ変換器における干渉信号のサンプリングタイミングを等光周波数（等波数）間隔で行うための基準となるクロック信号を発生する。より詳細には、クロック発生部は、光源から射出された光のうち一部の光が通る光路が第一光路と第一光路に対して光路長差を有する第二光路とに分岐された干渉計（ｋクロック干渉計）として構成される。これにより、変換部がアナログ信号をサンプリングするクロックを生成することができる。ここで、クロック発生部は、光源１０と調光装置２０との間の光路を分岐した光路として構成されることが好ましい。また、断層画像取得部は、生成されたクロック信号により変換部がサンプリングしたアナログ信号を変換して得た前記デジタル信号に基づいて、断層画像を生成する。
【００１９】
次に、本実施形態において、光量のモニタを行う構成について説明する。本実施形態では、分岐カプラ３０において分岐された測定光を測定光路Ｌ２に導く光ファイバにおいて、更に光量モニタ用分岐カプラ２００を配している。該光量モニタ用分岐カプラ２００では、所定の分岐比により、分岐カプラ３０からの光を実際の測定光とモニタ用光とに分割する。モニタ用光は、分岐カプラ３０に端部が接続された光ファイバにより、該光ファイバの端部に配された測定光量モニタ２１０に導かれる。光量モニタ用分岐手段である光量モニタ用分岐カプラ２００は、光源からの光線の光量を調整する調整手段たる調光装置２０による調整後の光線から光量モニタ用の光線を分岐する。即ち、該光量モニタ用分岐手段は、第二の分割手段として、調光装置２０を介した光より光量測定用の光を分割する。後述する測定光量モニタ２１０は信号処理部８０に接続されており、該測定光量モニタ２１０により得られたモニタ用光の強度情報は信号処理部８０に出力される。また、分岐カプラ３０は、光源からの光を測定光と参照光とに分割する第一の分割手段を構成する。
【００２０】
信号処理部８０は、あらかじめ取得した光源１０の光量、測定光路と参照光路の分岐カプラ３０の分岐比、光量モニタに用いるカプラの分岐比を記憶しており、被検眼への安全な照射光量の規格値も取得している。これらの値は、設計値でもよいし、組立時に測定し取得してもよい。また、信号処理部８０では、モニタ用光の強度情報に基づいて、光量調整駆動部２６を制御する。より具体的には、該強度情報に基づいて、測定光の強度が被検眼に照射して問題の無い強度であるか否かの判定を行う。強すぎると判定された場合には強度を下げるように、光量調整駆動部２６に光量調整を行わせる。また、まだ強度を上げることが可能であると判定され場合には、強すぎると判定されるまで、光量を低下させる制御を行わせる。以下、被検眼への照射光量の調整方法について説明する。
【００２１】
図１、図２に基づいて第一の実施形態を説明する。上述したように、本実施形態では、測定光路Ｌ２と参照光路Ｌ３の分岐カプラ３０を通過後の測定光路中に、光量モニタ用分岐カプラ２００を設置している。そして光量モニタ用分岐カプラ２００の分岐先に設置された測定光量モニタ２１０により、モニタ入射光量を測定する。得られたモニタ入射光量に基づいて、信号処理部８０はこれとあらかじめ記憶している光量モニタ用分岐カプラ２００の分岐比とから被検眼に入射する光量を算出する。そして、被検眼に測定光が入射した状態でのフィードバック制御により、測定光が適切な光量となるように調光装置２０を用いて光路Ｌ１に導く光の強度を調整する。調光装置２０では、信号処理部８０にて出力された制御信号に応じて光量調整駆動部２６を制御し、調光装置２０による光量の調整を実行させる。
即ち、信号処理部８０では、算出された光量から被検者に負担をかけず明瞭な画像が得られる所定の範囲の光量の値までの差分の光量を算出する。更に、算出された差分の光量を用いて分岐カプラ３０の分割比及び光量モニタ用分岐カプラ２００の分割比から調光装置２０によって減衰する光量を算出する。その後、光源から発せられた光の光量を算出された減衰する光量分、減衰するように光量調整駆動部２６を制御する。
【００２２】
なお、本実施形態では、上述したように、光量調整駆動部２６において濃度の異なる複数のＮＤフィルタを光路上において交換可能に配している。これら個々のＮＤフィルタによる強度の減衰率は予めテーブルとして記憶されており、モニタされた入射光量に応じてモニタ光量を適切な値とするＮＤフィルタが光路上に配置される。より詳細には、光量調整駆動部２６では、信号処理部８０で光量を得た際に調光装置２０に用いられているＮＤフィルタが何であるかを認識している。この場合、ＮＤフィルタを用いない場合も光量調整の一態様として含まれる。信号処理部８０では得られた調整後の光量から、どの程度強度を低下させるかべきか、或いは高めるべきかを調整値として算出する。この調整値は光量調整駆動部２６に出力される。該光量調整駆動部２６では、予め記憶されているテーブルに基づき、或いは現状用いているＮＤフィルタの減衰量と調整値とに基づき、現ＮＤフィルタを何れのＮＤフィルタと交換すれば求める光量が得られるかを決定する。その後、ＮＤフィルタの交換が実行される。なお、このような制御は被検眼の断層画像を得る際に何度も実行されても良く、或いは画像取得前に常に実行することとしても良い。
【００２３】
また、以上のフィードバック制御では、前記被検眼への入射光量が調光装置の調整上限値を超えている場合、例えば測定光路中にシャッタを配することとし、これにより光路を閉じても良い。本実施形態では、測定光路Ｌ２上にシャッタ５０を配置している。よって、光量調整に際して、測定光路を閉じた状態でＮＤフィルタを配置せずに光量を測定し、光量に応じたＮＤフィルタを配置した後に測定光路を開放することとしても良い。また、シャッタ５０を配した場合、信号処理部８０に故障を示す信号を発せられ、例えば被検眼の画像を表示するモニタ等にこれを表示する処理を実行させても良い。また、測定された光量が被検眼への照射に適さない強度の上限を超える場合、及び診断に必要なコントラストを有した画像が得られる強度の下限以下の場合、が想定される。このように測定光量が画像取得に用いる所定の範囲の光量ではない場合、或いは該所定の範囲を超えて設定される所定値を更に超えた場合には、シャッタ５０及びこれを駆動する構成を、測定光の被検眼への照射を中止させる手段として用いても良い。なお、この所定値は、前述した所定の範囲の上限値及び下限値に対して安全率等を乗算することにより得ている。この場合、シャッタ５０の光路への侵入或いは退避は、測定光の被検眼への照射の中止或いはその解除に対応する。また、測定光を遮るシャッタに代えて、測定光の光軸を被検眼方向から変更させる光学部材を挿入することとしてもよい。また、中止する手段として、測定光を走査する走査手段を用い、測定光が被検眼に至る光路から測定光を外すように偏向方向を変えることとしてもよい。
以上の構成とすることにより、被検眼に照射される測定光の強度を精密に制御し、被検眼への過剰の負担を抑制すると共にコントラストの高い画像を得ることが可能となる。
【００２４】
（第２の実施形態）
上述した実施形態では、光源から得られた光線を測定光路と参照光路に分岐した後、測定光路側をさらに分岐し、測定光量をモニタしている構成について説明した。しかし、本発明はこれに限らず、例えば、図３に示すように、測定光路と参照光路とに分岐した後、参照光路側をさらに分岐し、参照光量をモニタしてもよい。
【００２５】
当該構成からなる第２の実施形態について、第１の実施形態と異なる構成に関して、図３及び図４を用いて説明する。本実施形態では、測定光路Ｌ２と参照光路Ｌ３の分岐カプラ３０を通過後の参照光路中に、第二の分割手段の一例である光量モニタ用分岐カプラ２２０を設置している。そして光量モニタ用分岐カプラ２２０の分岐先に設置された測定光量モニタ２３０により、モニタ入射光量を測定する。得られたモニタ入射光量に基づいて、信号処理部８０はこれとあらかじめ記憶している光量モニタ用分岐カプラ２００の分岐比とから被検眼に入射する光量を算出する。そして、光量測定−光量調整を繰り返すフィードバック制御により測定光が適切な光量となるように調光装置２０を用いて光路Ｌ１に導く光の強度を調整する。調光装置２０では、信号処理部８０にて出力された制御信号に応じて光量調整駆動部２６を制御する。
【００２６】
（第３の実施形態）
上述した実施形態では、光源から得られた光線を測定光路と参照光路に分岐した後、測定光路側或いは参照光路側をさらに分岐し、サンプル光量をモニタしている構成について説明した。しかし、本発明はこれに限らず、例えば、図５に示すように、光線が調光装置２０を透過直後に、光路Ｌ１にて該光線を分岐し、調光装置２０の射出光量をモニタしてもよい。
【００２７】
当該構成からなる第３の実施形態について、第１及び第２の実施形態と異なる構成に関して、図５及び図６を用いて説明する。本実施形態では、調光装置２０を通過後の光路Ｌ１中に、第二の分割手段の一例である光量モニタ用分岐カプラ２４０を設置している。そして光量モニタ用分岐カプラ２４０の分岐先に設置された測定光量モニタ２５０により、モニタ入射光量を測定する。得られたモニタ入射光量に基づいて、信号処理部８０はこれとあらかじめ記憶している光量モニタ用分岐カプラ２４０の分岐比とから被検眼に入射する光量を算出する。そして、フィードバック制御により測定光が適切な光量となるように調光装置２０を用いて光路Ｌ１に導く光の強度を調整する。調光装置２０では、信号処理部８０にて出力された制御信号に応じて光量調整駆動部２６を制御する。
【００２８】
例えば波長掃引型の光源を用いた場合、該光源は出力の個体差が大きい。このため、そのマージンを含めて該光源が発する光の光量を予め決めておくとすると、眼の安全規格に対して目に照射し得る測定光の光量が少ない装置が発生することも考えられる。このような場合には検出感度が大きく低下してしまう。また、一般的に、光源から発せられる光の光量は、例えば点灯初期と定常状態時とでばらつくことが知られている。このためＯＣＴ装置個々に搭載される光源に合せて、又撮影タイミングに合わせて光源からの光の光量を調整することが好ましい。本発明によれば、被検眼へのダメージを与えない範囲で充分な光量を確保するという条件が得られる僅かな制御範囲において、被検眼へ照射する望ましい光量を保つことが可能となる。即ち、光源から発せられた光、測定光、及び参照光の何れかの光を分割してその光量を測定することで、撮影直前に測定光の光量を確認し、その際の最適な光量での撮影が可能となる。従って、常に一体の画質を保持した良好な光干渉断層画像を得ることが期待できる。
【００２９】
（その他の実施形態）
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。
上述した実施形態では、本発明を光干渉断層撮影装置に適応した場合を示しているが、これを光干渉断層撮影装置における測定光の調整方法として把握することも可能である。この場合、対象となる光干渉断層撮影装置は、光源から発せられた光を測定光と参照光とに分割する第一の分割手段と、測定光が照射された被検査物からの戻り光と参照光とを干渉させて得た干渉光を検出する検出部とを有し、検出された干渉光に基づいて被検査物の断層画像を取得する。調整装置は、光ファイバを介して該光干渉断層撮影装置と光学的に接続される。そして、上述したように、光源から発せられた光、測定光、及び参照光の少なくとも一つの光を分割する第二の分割手段により分割して得た光の光量に基づいて、光源から発せられた光の光量を調整する。
更に、例えば、上述した実施形態では、被検査物が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被検査物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される被検査物の断層画像を撮影する装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
【００３０】
また、本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００３１】
１００：被検眼
９０：光学ヘッド
１０：光源
２０：調光装置
１２：ファイバ端
１４：レンズ
１６：レンズ
１８：光量調整用光学素子
２２：ファイバ
２６：光量調整駆動部
３０：分岐カプラ
４２：ファイバ端
４４：レンズ
４６：レンズ
５０：シャッタ
４８：Ｘスキャナ
５２：Ｙスキャナ
５４：ミラー
５６：レンズ
６２：ミラー
６４：対物レンズ
７２：ファイバ
７４：レンズ
７６：参照ミラーユニット
７８：レンズ
８２：光量調整部品
２００、２２０、２４０：光量モニタ分岐カプラ
２１０、２３０、２５０：光量モニタ
Ｌ１：光路
Ｌ２：測定光路
Ｌ３：参照光路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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