(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１，第２の２本のテストプローブを用いて電気測定を行う際に用いられるテストプローブの電気測定用操作具であって、
所定の軸長を有する筒状のグリップ部と、一端側に上記第１テストプローブが着脱自在に装着される第１プローブ支持部を有する第１アーム部と、一端側に上記第２テストプローブが着脱自在に装着される第２プローブ支持部を有する第２アーム部とを含み、上記グリップ部には回転支軸を有する連結手段が設けられ、
上記第１アーム部と上記第２アーム部の各他端が上下に重なるようにして上記回転支軸に取り付けられ、上記第１アーム部と上記第２アーム部がそれぞれ上記テストプローブが装着された状態で上記回転支軸を中心として個別に回動可能であり、
上記連結手段は上記各アーム部の他端側の重なる部分を挟み込むように上記グリップ部に設けられた弾性変形可能な一対の挟持片を含むとともに、上記回転支軸として上記各挟持片間に挿通される緊締用の雄ネジが用いられ、上記雄ネジにより上記挟持片の間隔を強制的に狭めることにより、上記各アーム部の他端側の重なる部分に摩擦係止力を生じさせて上記各アーム部を所定の回動位置に固定することを特徴とするテストプローブの電気測定用操作具。
【請求項２】
上記回転支軸は上記グリップ部の軸線とほぼ平行に配置されており、上記第１アーム部と上記第２アーム部は上記グリップ部の軸線とほぼ直交する平面内で個別に回動可能であることを特徴とする請求項１に記載のテストプローブの電気測定用操作具。
【請求項３】
上記第１プローブ支持部および上記第２プローブ支持部は、それぞれ、上記テストプローブが挿通されるプローブ挿通孔を有し、上記各プローブ挿通孔は、上記回転支軸の軸線に対して所定角度傾斜して設けられていることを特徴する請求項１または２に記載のテストプローブの電気測定用操作具。
【請求項４】
上記各プローブ挿通孔は、上記第１プローブ支持部と上記第２プローブ支持部とを接近させたとき、上記各テストプローブのコンタクト部側の間隔が狭く反コンタクト部側の間隔が広くなるように上記回転支軸の軸線に対して所定角度傾斜して設けられていることを特徴する請求項３に記載のテストプローブの電気測定用操作具。
【請求項５】
上記テストプローブは測定時の安全対策手段としての鍔部を有し、上記第１プローブ支持部と上記第２プローブ支持部は、それぞれ、上記鍔部が着脱可能に係合され上記テストプローブの装着位置を規定する係合爪を備えていることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載のテストプローブの電気測定用操作具。
【請求項６】
上記第１プローブ支持部側の上記係合爪と上記第２プローブ支持部側の上記係合爪はほぼ同一平面に存在していることを特徴とする請求項５に記載のテストプローブの電気測定用操作具。
【請求項７】
上記グリップ部は、上記テストプローブが接続される測定器本体に対して所定の指示信号を与えるスイッチ手段が取り付けられるスイッチ取付部を備えていることを特徴とする請求項１ないし６のいずれか１項に記載のテストプローブの電気測定用操作具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、２本のテストプローブを用いて電気測定を行う際に用いられるテストプローブの電気測定用操作具に関し、さらに詳しく言えば、片手で２本のテストプローブを操作して測定することができるようにしたテストプローブの電気測定用操作具に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電気測定方法の１つとして、２本のテストプローブをテスター等の電気測定器に接続して、被測定対象の検査部位の２点間の電気的特性を測定する方法がある。この種のテストプローブには、特許文献１に記載されているように、ペン型のグリップ部の先端に金属製のコンタクト部（探針）を備え、他端から電気測定器に接続されるリード線が引き出されたプローブが多用されている。
【０００３】
通常、この種のテストプローブを用いて電圧や電流等を測定するにあたっては、プラス側とマイナス側の２本のテストプローブをそれぞれ片手で把持して、例えば配電盤の端子台等の被測定部位に接触させるようにしている。
【０００４】
したがって、測定中は両手が塞がってしまうため、測定中に測定器の数値を読み取ったり、測定値を記録したりすることが困難となる場合がある。片手で２本のテストプローブを操作できると都合がよい。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１０−２３９３５０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
したがって、本発明の課題は、２本のテストプローブを片手で同時に操作することができるようにしたテストプローブの電気測定用操作具を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記した課題を解決するため、本発明は、第１，第２の２本のテストプローブを用いて電気測定を行う際に用いられるテストプローブの電気測定用操作具であって、
所定の軸長を有する筒状のグリップ部と、一端側に上記第１テストプローブが着脱自在に装着される第１プローブ支持部を有する第１アーム部と、一端側に上記第２テストプローブが着脱自在に装着される第２プローブ支持部を有する第２アーム部とを含み、上記グリップ部には回転支軸を有する連結手段が設けられ、上記第１アーム部と上記第２アーム部の各他端が上記回転支軸に支持されており、上記第１アーム部と上記第２アーム部がそれぞれ上記テストプローブが装着された状態で上記回転支軸を中心として個別に回動可能であることを特徴としている。
【０００８】
本発明の好ましい態様として、上記回転支軸は上記グリップ部の軸線とほぼ平行に配置されており、上記第１アーム部と上記第２アーム部は上記グリップ部の軸線とほぼ直交する平面内で個別に回動可能である。
【０００９】
また、上記第１アーム部と上記第２アーム部の各他端が上下に重なるようにして上記回転支軸に取り付けられ、上記連結手段は上記各アーム部の他端側の重なる部分を挟み込むように上記グリップ部に設けられた弾性変形可能な一対の挟持片を含むとともに、上記回転支軸として上記各挟持片間に挿通される緊締用の雄ネジが用いられ、上記雄ネジにより上記挟持片の間隔を強制的に狭めることにより、上記各アーム部の他端側の重なる部分に摩擦係止力を生じさせて上記各アーム部を所定の回動位置に固定することができる。
【００１０】
本発明において、上記第１プローブ支持部および上記第２プローブ支持部は、それぞれ、上記テストプローブが挿通されるプローブ挿通孔を有し、上記各プローブ挿通孔は、上記回転支軸の軸線に対して所定角度傾斜して設けられる。
【００１１】
好ましくは、上記各プローブ挿通孔は、上記第１プローブ支持部と上記第２プローブ支持部とを接近させたとき、上記各テストプローブのコンタクト部側の間隔が狭く、反コンタクト部側の間隔が広くなるように上記回転支軸の軸線に対して所定角度傾斜して設けられる。
【００１２】
本発明には、上記テストプローブは測定時の安全対策手段としての鍔部を有し、上記第１プローブ支持部と上記第２プローブ支持部は、それぞれ、上記鍔部が着脱可能に係合され上記テストプローブの装着位置を規定する係合爪を備えている態様も含まれる。
【００１３】
この場合、上記第１プローブ支持部側の上記係合爪と上記第２プローブ支持部側の上記係合爪はほぼ同一平面に存在していることが好ましい。
【００１４】
また、上記グリップ部は、上記テストプローブが接続される測定器本体に対して所定の指示信号を与えるスイッチ手段が取り付けられるスイッチ取付部を備えている態様も本発明に含まれる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、２本のアーム部にそれぞれテストプローブを保持し、各アーム部の一端側（先端側）を開閉することで、各テストプローブのコンタクト部の位置を自在に調節することができ、片手で２本のテストプローブを操作して電気測定作業を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係るテストプローブの電気測定用操作具を示す斜視図。
【図２】上記電気測定用操作具の正面図。
【図３】上記電気測定用操作具の平面図。
【図４】上記電気測定用操作具の（ａ）左側面図および（ｂ）右側面図。
【図５】上記電気測定用操作具のアーム部にテストプローブを係止した状態を示す拡大斜視図。
【図６】上記電気測定用操作具の把持部にトリガスイッチを装着した状態を示す斜視図。
【図７】上記電気測定用操作具の各アーム部の先端を近接させた状態を示す斜視図。
【図８】上記電気測定用操作具の各アーム部の変形例を示す正面図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
次に、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００１８】
図１〜図３を参照して、本発明は、図示しないテスター等の測定器本体に接続される２本のテストプローブＰ１，Ｐ２を片手で操作可能とする電気測定用操作具１であって、手で把持されるグリップ部２と、グリップ部２の一端側（図１において下端側）に連結手段３を介して連結される第１および第２の２つのアーム部４ａ，４ｂとを備えている。なお、アーム部４ａ，４ｂを区別する必要がない場合には総称としてアーム部４と言う。
【００１９】
この実施形態で使用するテストプローブＰ１，Ｐ２は、ともに先端側（図１では下端側）から後端側（図１では上端側）に向かうにつれて外径が漸次細くなるペンシル型を呈し、その先端にはコンタクト部（探針とも言う）Ｃ１，Ｃ２が設けられている。また、テストプローブＰ１，Ｐ２の後端からは、それぞれ、上記測定器本体に接続されるリード線Ｌ１，Ｌ２が引き出されている。
【００２０】
テストプローブＰ１，Ｐ２は、それぞれ先端側の所定部位に、測定作業時に指がコンタクト部Ｃ１，Ｃ２方向にずれないように注意を喚起するための鍔部（環状突起でバリアとも言う）Ｆ１，Ｆ２を備えている。
【００２１】
なお、テストプローブＰ１，Ｐ２を区別する必要がない場合には、総称としてテストプローブＰと言い、また、鍔部Ｆ１，Ｆ２およびコンタクト部Ｃ１，Ｃ２も同様に総称として鍔部Ｆ、コンタクト部Ｃと言う。
【００２２】
この実施形態において、グリップ部２は、親指と人差し指で把持される把持部２１と、親指と人差し指の付け根にあてがわれる支持部２２とを有し、それらが同軸に配置された筆の柄状に形成されている。
【００２３】
把持部２１は、円柱状に形成されており、その外周には所定の間隔で環状リブ２１１が多数設けられている。環状リブ２１１は、手で把持部２１を把持する際の滑り止め手段であり、また、図６に示すように、把持部２１にスイッチＳＷを取り付ける際の係止手段としても用いられる。
【００２４】
スイッチＳＷは、テストプローブＰ１，Ｐ２が接続される上記測定器本体に対して所定の指示信号を与えるスイッチで、この実施形態では、例えば記録開始時点や記録終了時点等を指示するトリガスイッチである。
【００２５】
この実施形態において、トリガスイッチＳＷは、中央から軸線方向に沿って半分に分割されるスイッチユニットであって、表面側（図６では正面側）には、スイッチボタンＢが設けられている。
【００２６】
トリガスイッチＳＷの対向する分割面には、半円筒状の係合溝Ｇが設けられており、互いの係合溝Ｇ同士が向き合って合致することにより、把持部２１が挿通される円筒状の係合孔が形成される。
【００２７】
係合溝Ｇの両端は、環状リブ２１１よりも小径なフランジ状に形成されており、そこに環状リブ２１１と環状リブ２１１の間に形成された環状溝２１２が嵌合することにより、把持部２１にトリガスイッチＳＷが係止される。
【００２８】
支持部２２は、親指と人差し指の付け根部に沿ってフィットしやすいように、その外径が、基端側（把持部２１との連結端）から約１／３程度の長さに至るまで漸次太くなり、そこから後端に向かうにつれて外径が漸次小さくなる花芽状に形成されている。
【００２９】
グリップ部２の図１において下端側には、アーム部４を取り付けるための連結手段３が設けられている。連結手段３は、グリップ部２の軸線方向に沿って所定の間隔をもって対向して配置された第１挟持片３１および第２挟持片３２と、第１挟持片３１と第２挟持片３２の間に掛け渡され、第１挟持片３１および第２挟持片３２を互いに近接させてアーム部４を緊締する緊締手段としての緊締ネジ（緊締用の雄ネジ）３３とを備えている。
【００３０】
第１挟持片３１と第２挟持片３２は、それぞれ、グリップ部２の軸線に対して直交する同方向に突設された舌片状を呈し、弾性変形可能としてグリップ部２と一体に形成されている。第１挟持片３１と第２挟持片３２のほぼ中央には、緊締ネジ３３が挿通されるネジ挿通孔３１１，３２１が同軸として穿設されている。
【００３１】
第２挟持片３２の下面にはさらに、ロックナット３４を収納する収納凹部３２４がネジ挿通孔３２１と同軸に設けられている。収納凹部３２４は、ロックナット３４が回転しないように例えば断面六角形状に形成された凹部であり、そこにロックナット３４を収納した状態で、緊締ネジ３３が螺合されるようになっている。
【００３２】
緊締ネジ３３は、一端に各ネジ挿通孔３１１，３２１よりも大径なねじ頭３３１を有する有頭の雄ネジで、その下端が少なくともロックナット３４を螺合可能な長さのネジ軸３３２を備えている。
【００３３】
これによれば、第１挟持片３１の上方から緊締ネジ３３を差し込んで、先端を第２挟持片３２の下面のロックナット３４に螺合して強く締め付けることにより、第１挟持片３１と第２挟持片３２とが互いに近接する方向に弾性変形して、第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂを万力状に挟み込んで緊締し、その摩擦力で第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂを所定の回動位置に固定する。
【００３４】
第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂは、その後端部（他端部）が緊締ネジ３３のネジ軸３３２に回転可能に軸支されている。すなわち、緊締ネジ３３のネジ軸３３２は、第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂの回転支軸であり、その軸線を基軸線Ｌ１とする。なお、ネジ軸３３２の基軸線Ｌ１はグリップ部２の軸線と平行であることが好ましい。
【００３５】
第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂは、それらの後端部が上下に重ねられた状態で緊締ネジ３３のネジ軸３３２に回転可能に支持されるが、この実施形態において、第１アーム部４ａが上に配置され、その下に第２アーム部４ｂが配置されている。
【００３６】
第１アーム部４ａは、合成樹脂の細長い板状に形成され、その先端部（図２では左端側）に、テストプローブＰが装着される第１プローブ支持部４１ａを備えている。第１アーム部４ａの後端部には、緊締ネジ３３のネジ軸３３２が挿通される第１ネジ挿通孔４２ａが設けられている。
【００３７】
第１プローブ支持部４１ａは、第１アーム部４ａを板厚方向（図２では上下方向）に貫通するＣ字状の第１プローブ挿通孔４１１ａを備えている。また、第１プローブ挿通孔４１１ａの近傍には、テストプローブＰの鍔部Ｆを係止する第１係止部４５ａが設けられている。
【００３８】
第１係止部４５ａは、第１アーム部４ａの下面を基端として第１プローブ支持部４１ａの下端よりも低い位置にまで垂直に延在する舌片からなり、その先端（下端）には、鉤状の爪部４５１が設けられており、爪部４５１の内側に形成された係止溝４５２に、テストプローブＰの鍔部Ｆが係止されるようになっている。
【００３９】
第２アーム部４ｂも、第１アーム部４ａと同じく、合成樹脂の細長い板状に形成され、その先端部（図２では右端側）に、テストプローブＰが装着される第２プローブ支持部４１ｂを備えている。第２アーム部４ｂの後端部には、緊締ネジ３３のネジ軸３３２が挿通される第２ネジ挿通孔４２ｂが設けられている。
【００４０】
第２プローブ支持部４１ｂは、第２アーム部４ｂを板厚方向（図２では上下方向）に貫通するＣ字状の第２プローブ挿通孔４１１ｂを備えている。また、第２プローブ挿通孔４１１ｂの近傍には、テストプローブＰの鍔部Ｆを係止する第２係止部４５ｂが設けられている。
【００４１】
第２係止部４５ｂは、第２アーム部４ｂの下面を基端として第２プローブ支持部４１ｂの下端よりも低い位置にまで垂直に延在する舌片からなり、その先端（下端）には、鉤状の爪部４５１が設けられており、爪部４５１の内側に形成された係止溝４５２に、テストプローブＰの鍔部Ｆが係止されるようになっている。
【００４２】
ところで、第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂの板厚は同じであるが、第１アーム部４ａが第２アーム部４ｂの上に配置されているため、このままでは、第１アーム部４ａの第１プローブ支持部４１ａに第１テストプローブＰ１を装着し、第２アーム部４ｂの第２プローブ支持部４１ｂに第２テストプローブＰ２を装着した場合、テストプローブＰ１，Ｐ２のコンタクト部Ｃ１，Ｃ２の高さが異なることになる。テストプローブＰ１のコンタクト部Ｃ１方がテストプローブＰ２のコンタクト部Ｃ２よりも高い位置となる。
【００４３】
そこで、この実施形態では、第１プローブ支持部４１ａを、アーム部４ａ，４ｂを重ねた厚さに相当する軸長を有する横断面Ｃ字状の円筒部４４とし、円筒部４４の底面が第２プローブ支持部４１ｂの下面と同一平面内に存在するようにして、第１アーム部４ａに取り付けられた第１テストプローブＰ１のコンタクト部Ｃ１と、第２アーム部４ｂに取り付けられた第２テストプローブＰ２のコンタクト部Ｃ２とが同じ高さ位置になるようにしている。
【００４４】
図４に示すように、第１プローブ支持部４１ａの第１プローブ挿通孔４１１ａおよび第２プローブ支持部４１ｂの第２プローブ挿通孔４１１ｂはともに、その軸線Ｌ２が緊締ネジ３３のネジ軸３３２の基軸線Ｌ１に対して所定角度傾斜して設けられている。
【００４５】
これによれば、図７に示すように、第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂの先端を互いに近接する方向に回動させた際、テストプローブＰ１，Ｐ２が逆八状、すなわちテストプローブＰ１，Ｐ２のコンタクト部Ｃ１，Ｃ２側の間隔が狭く反コンタクト部側の間隔が広くなるため、被検査部位の狭ピッチに対応することができる。
【００４６】
図７から分かるように、この電気測定用操作具１を正面から見て、垂直の基軸線Ｌ１に対して、第１プローブ挿通孔４１１ａの軸線Ｌ１は右下がり、第２プローブ挿通孔４１１ｂの軸線Ｌ１は左下がりで、基軸線Ｌ１を挟んで線対称であることが好ましいが、軸線Ｌ２の傾斜角度は、第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂを最も接近させたとき、テストプローブＰ１，Ｐ２のコンタクト部Ｃ１，Ｃ２同士が接触しない範囲とする。
【００４７】
別の実施形態として、図８に示すように、第１プローブ支持部４１ａを第１アーム部４ａから分離し、第１プローブ支持部４１ａを第１アーム部４ａの端部にほぼ水平な回転軸Ｌ３を介して回動可能に連結し、同様に、第２プローブ支持部４１ｂを第２アーム部４ｂから分離し、第２プローブ支持部４１ｂを第２アーム部４ｂの端部にほぼ水平な回転軸Ｌ３を介して回動可能に連結してもよい。
【００４８】
これによれば、第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂを最も接近させたときのテストプローブＰ１，Ｐ２のコンタクト部Ｃ１，Ｃ２間の間隔を任意に調整することができる。
【００４９】
この電気測定用操作具１を使用するにあたっては、その一例として、第１アーム部４ａ側については、第１テストプローブＰ１のリード線Ｌ１をＣ字状の開口部から第１プローブ挿通孔４１１ａ内に入れた後、第１テストプローブＰ１をその後端側から第１プローブ挿通孔４１１ａ内に差し込んで、その鍔部Ｆ１を第１係止部４５ａに引っ掛ける。
【００５０】
同様に、第２アーム部４ｂ側についても、第２テストプローブＰ２のリード線Ｌ２をＣ字状の開口部から第２プローブ挿通孔４１１ｂ内に入れた後、第２テストプローブＰ２をその後端側から第２プローブ挿通孔４１１ｂ内に差し込んで、その鍔部Ｆ２を第２係止部４５ｂに引っ掛ける。
【００５１】
そして、第１アーム部４ａおよび／または第２アーム部４ｂを回動させて、コンタクト部Ｃ１，Ｃ２の間隔を図示しない被検査部位の間隔に合わせた後、緊締ネジ３３を締め付けて、第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂを動かないように固定する。
【００５２】
この電気測定用操作具１によれば、片手でグリップ部２を把持して、２本のテストプローブＰ１，Ｐ２を被接触部位に接触させることができる。特に、配電盤のように多くの端子台が並んでいるような箇所の場合、迅速かつ容易に検査（測定）を行うことができる。
【００５３】
また、グリップ部２に例えばトリガスイッチＳＷを取り付けて使用することにより、被測定部位への接触作業と、測定データのメモリへの書き込み作業とを片手で行うこともできる。
【００５４】
さらには、図８に示す態様によれば、第１アーム部４ａと第２アーム部４ｂを最も接近させたときのテストプローブＰ１，Ｐ２のコンタクト部Ｃ１，Ｃ２間の間隔を任意に調整することができるため、狭ピッチ化に対応することもできる。
【符号の説明】
【００５５】
１  テストプローブの電気測定用操作具
２  グリップ部
２１  把持部
２２  支持部
３  連結部
３１  第１挟持片
３２  第２挟持片
３３  緊締ネジ（雄ネジ）
３３２  ネジ軸（回転支軸）
４  アーム部
４ａ  第１アーム部
４ｂ  第２アーム部
４１ａ  第１プローブ支持部
４１ｂ  第２プローブ支持部
４２ａ  第１ネジ挿通孔
４２ｂ  第２ネジ挿通孔
４４  円筒部
４５ａ  第１係止部
４５ｂ  第２係止部
Ｐ（Ｐ１，Ｐ２）  テストプローブ
ＳＷ  トリガスイッチ
【図１】
0006700098.tif 000002
【図２】
0006700098.tif 000003
【図３】
0006700098.tif 000004
【図４】
0006700098.tif 000005
【図５】
0006700098.tif 000006
【図６】
0006700098.tif 000007
【図７】
0006700098.tif 000008
【図８】
0006700098.tif 000009