(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
模擬試験の対象品であって、複数の構成品を有する模擬用被試験器と、前記模擬用被試験器に対して試験を行う試験用端末とから成る試験システムにおいて、
前記模擬用被試験器の前記構成品は、各々前記模擬試験による試験結果をスイッチのオン・オフ状態にて設定する模擬情報設定部を備え、
前記試験用端末は、
前記模擬情報設定部での模擬試験設定情報に応じた試験結果の設定内容を登録した模擬試験条件設定テーブルと、
前記模擬用被試験器から取得した前記模擬試験設定情報における前記構成品の良否情報に基づき、故障構成品の特定や試験結果の生成を行う故障分離マトリクス情報と、
前記模擬用被試験器から取得した前記模擬試験設定情報から、前記模擬試験条件設定テーブルを参照し、前記構成品の故障の有無と試験結果の生成条件の解析を行う模擬試験情報解析部と、
前記模擬試験情報解析部での解析結果を基に、前記故障分離マトリクス情報を参照して試験結果を生成する試験結果生成部と、
前記故障分離マトリクス情報は、故障構成品の組合せをマトリクス表示した故障構成品候補データ表と、前記故障構成品の組合せに対する試験項目毎の良否結果を表示した故障分離マトリクス表とから構成されることを特徴とする試験システム。
【請求項２】
請求項１記載の試験システムにおいて、前記模擬情報設定部は、ＤＩＰスイッチであることを特徴とする試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、無線機等の被試験器の性能を自動測定する試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
航空機に搭載される通信・航法装置などの装置に対しての整備基地での整備作業は、迅速、正確、漏れのないことが必須である。そのため、整備基地では、自動測定が行われる試験システムとして、図９の従来の試験システムの外観図に示すようなシステムが備えられている。この試験システムの操作および被試験器の故障区分判定には、整備担当者の習熟が欠かせない。
【０００３】
従来の試験システム１００は、図９に示すように、各種の汎用測定器１２０（ラックの各段に配置）、信号切換等を行う測定経路切換器１４０、試験信号切換制御、汎用測定器１２０の測定モードの設定、測定データの記憶・表示などを行う試験用端末１１０を主な構成としている。
【０００４】
整備担当者の習熟方法としては、故障した被試験器（試験対象機材）１３０を試験システム１００に接続して試験を行い、試験項目の測定結果の不良発生箇所から被試験器１３０の故障モジュールを特定するような手順がある。
【０００５】
この場合、整備担当者が行う試験システムの習熟訓練時においては、被試験器に予め識別された不良状況を発生させておく必要があるので、従来は、そのようなことが設定できる訓練用被試験器を備えておき、この訓練用被試験器に対して任意に故障状態を設定させるため、モジュールに故障となるような原因の細工を行っていた。
【０００６】
しかし、実際面で発生する故障は、１つのモジュールで１つの故障原因とは限らず、複数の故障状態が存在することがある。特に複数の機能を有するモジュールに関しては、より多重故障の傾向がある。
【０００７】
そのようなことから、被試験器に予め識別された、あらゆる不良状況を模擬的に発生させておくために、故障毎にモジュールを多数備える必要があった。これは試験システムとして大変非効率であることから、極めて限定的な故障モジュールが備えられた試験システムであった。
【０００８】
なお、故障解析を効率的に行うものとして、自動試験装置による試験結果のデータを遠隔監視して、必要な場所での被試験器の故障分析ができるような自動試験システムが提案されている。（例えば、特許文献１参照）
【０００９】
つまり、従来技術の試験システムは、被試験器が予め識別された、極めて限定的な故障モジュールを備えたものであったため、習熟訓練に際しあらゆる不良状況を模擬的に発生させておくことが不可能であった。
【００１０】
そこで、上記課題を解決するための技術として、特許文献２には、故障毎に故障モジュールを備えておかなくても、試験装置のシステムの操作および被試験器の故障区分の判定が行え、整備担当者の習熟訓練が実施できる試験装置が開示されている。
【００１１】
特許文献２の試験装置は、無線機等の性能の自動測定を行い、該無線機等の被訓練者によって操作される試験用ＰＣが備えられた試験装置であって、前記試験用ＰＣにＬＡＮ接続され、前記試験用ＰＣに模擬試験を行わせるため、訓練指導者によって操作される模擬データ設定用ＰＣを備え、前記模擬データ設定用ＰＣは、メモリに記憶された実測試験データまたは模擬試験データを読み出し、読み出されたデータを画面に表示させて、該画面の複数の試験項目欄に示された測定値に対して、要求基準と斟酌して、該測定値を任意の値に変更して、前記模擬試験に用いられるような模擬試験データの設定が行え、該設定された模擬試験データを前記試験用ＰＣに転送する機能を有し、前記試験用ＰＣでは、前記模擬試験であっても実機である被試験器および測定器を用いた試験の場合と同等な試験操作および前記被試験器の故障探求の訓練が可能となるように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００６−１３２９９９号公報
【特許文献２】特開２００８−１７５６８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
特許文献２に記載された技術内容を含めた従来の試験システムの構成を図１０に示す。
図１０に示す従来の試験システム５００は、訓練対象とする整備担当者（被訓練者）が操作する試験用端末（パソコン）３１０と、測定経路切換器３４０と、汎用測定器３２０と、被試験器３３０とで構成された通常の実測試験を行う試験システム３００とともに、模擬試験を行うために、訓練指導する教官（訓練指導者）が操作し、模擬試験用のデータ設定を行うための模擬データ設定用端末（パソコン）３８０をＬＡＮ（ローカル・エリア・ネットワーク）回線で試験用端末３１０に接続した構成となっている。
【００１４】
試験用端末３１０は、試験用のソフトウェアを記憶しており、試験を実施する際には、測定経路切換器３４０を介して被試験器３３０と試験用ケーブル（電源ケーブル、ＲＦケーブル、通信用ケーブルなど）で接続され、所定の試験を実行する。
また、試験用端末３１０には、過去に実際に行われた測定において、汎用測定器３２０が使用された時の試験結果として、実際の被試験器３３０での試験結果の各種の実測試験データが当該端末内のメモリに記憶・保存されている。
また、試験用端末３１０は、例えばコンピュータであって、測定経路切換器３４０、汎用測定器３２０を制御する。
具体的には、試験用端末３１０は、試験内容に応じて使用する汎用測定器３２０に試験信号を入力させるように測定経路を切り替えるため、測定経路切換器３４０に対して、測定経路切換信号を送信する。
【００１５】
一方、模擬データ設定用端末３８０は、試験用端末３１０に保存されている実測試験データをＬＡＮ回線経由で、一旦、模擬データ設定用端末３８０内に有するメモリに取り込んで記憶させる。模擬データ設定用端末３８０は、データ編集用の操作画面を有しており、各測定項目に対して、指導教官が編集作業を行い、訓練用の模擬試験データに仕立てることが可能である。
【００１６】
また、模擬データ設定用端末３８０では、この端末にて過去に訓練用として作成・登録し、当該端末のメモリに記憶・保存しておいた模擬試験データのファイルにより、これを読み出してのデータ編集も可能である。
【００１７】
更に、模擬データ設定用端末３８０では、試験用端末３１０および模擬データ設定用端末３８０のメモリに記憶・保存された過去データを用いず、全項目について、今回、新たな模擬試験データとして作成することも可能である。
【００１８】
ここで、従来の試験システム５００において、通常の実測試験時のシステム動作について、図１０を参照して説明する。
先ず、試験用端末３１０にて選択された試験項目に応じて、試験用端末３１０から測定経路切換器３４０に対して測定経路切換信号が出力され、測定経路切換器３４０では、低周波信号、高周波信号の接続経路、ＣＭＯＳ又はＴＴＬレベルでのディスクリート信号の経路設定が行われる。
【００１９】
また、試験用端末３１０より各種の汎用測定器３２０に対して測定器設定信号が出力されて、ＧＰ−ＩＢ、ＲＳ−２３２Ｃ等の通信インターフェイス基準により各種の汎用測定器３２０に対して周波数などの測定条件の設定が行われる。
【００２０】
以上の測定経路切換器３４０および各種の汎用測定器３２０の設定が完了すれば、測定経路切換器３４０に接続された被試験器３３０に対して、汎用測定器３２０のうち信号発生器から出力された低周波および高周波などの試験信号が入力され、性能測定試験に入る。
【００２１】
次に、被試験器３３０では、入力された信号に対応して、送信出力又は受信出力などが測定経路切換器３４０を経由してスペクトラム・アナライザなどの汎用測定器３２０に、被試験器データとして転送される。
【００２２】
送信出力又は受信出力などの測定のために、測定系として割り付けられた汎用測定器３２０では所定の測定が行われ、その測定結果の出力は、測定結果のデータとして試験用端末３１０に転送される。
【００２３】
測定データとして入力された試験用端末３１０では、要求基準との差値の算出およびその良否判定などを行って、その結果を試験結果としてのデータの一覧表に編集され、これを試験用端末３１０の表示部に表示し、かつ、測定データとしてメモリに記憶される。
これらの試験結果は、試験が行われる都度のデータ毎に日時管理されてメモリに記憶・保存される。
【００２４】
試験用端末３１０に実測試験データとして保存されたデータは、ＬＡＮ接続された模擬データ設定用端末３８０の転送要求に従い出力することができる。
【００２５】
次に、訓練対象とする整備担当者が模擬訓練操作に入る前準備として、試験用端末３１０と模擬データ設定用端末３８０とが接続された従来の試験システム５００の構成で、指導教官が模擬データ設定用端末３８０に対し、その画面を前にして訓練のための模擬試験データの設定を以下の手順により行う。
【００２６】
従来の試験システム５００における模擬データ設定用端末３８０の表示画面の一例を図１１に示す。
図１１に示す表示画面での主な表示内容は、以下の通りである。
・模擬試験データファイル選択                              （ａ）
・測定項目、要求基準                                      （ｂ）
・模擬試験データファイル選択で選択したファイルでの測定値  （ｃ）
・測定値の良否判定                                        （ｄ）
・試験結果が“否”の時の故障該当モジュール                （ｅ）
・模擬試験開始ボタン                                      （ｆ）
・測定値変更画面                                          （ｇ）
【００２７】
模擬データ設定用端末３８０では、試験用端末３１０で測定した試験結果や、模擬データ設定用端末３８０にて作成し保存した模擬試験データファイルからもデータ編集を可能とする。
【００２８】
図１１に示すように、模擬試験での測定値の設定は、任意の測定項目行の測定値欄（ｃ）を選択することにより、（ｇ）に示す測定値変更画面が表示され、測定値を任意に変更可能で、測定値変更画面を閉じると、設定した値が要求基準を満たしているか否かを自動で判断し、判定欄（ｄ）に良否を表示、もしくは、判定欄（ｄ）をクリック毎に良好、不良を交互に切り換えると共に、良好、不良時のデフォルトデータで測定値欄（ｃ）の値を変更可能とする。
【００２９】
また、（ｅ）に示す通り、測定項目毎に、当該測定項目が不良だった場合に故障原因と推測されるモジュール部位を表示することにより、モジュール交換させたい測定項目を考慮した不良箇所設定を可能とする。
【００３０】
また、試験用端末３１０は、通常、被試験器３３０を接続し、汎用測定器３２０等を使用して測定が行われるが、模擬データ設定用端末３８０より模擬試験開始ボタン（ｆ）をクリックすることにより、ＬＡＮを介して試験用端末３１０に模擬試験データを使用して試験を行うことを通知することで模擬試験として測定を行う。
【００３１】
なお、指導教官は、模擬データ設定用端末３８０での設定作業に際し、故障モジュールを予め念頭に置きながらモジュール交換させるための試験項目を考慮した不良箇所内在モジュールの設定を行う。
【００３２】
次に、従来の試験システム５００における試験用端末３１０での測定処理について、図１２を参照して説明する。図１２は、従来の試験システムにおける試験用端末での測定処理のフローチャートである。
ステップＳ５０１は、模擬試験モードで行うか、実測試験モードで行うかを指導教官または整備担当者が選択操作を行い、「ＹＥＳ」であれば模擬訓練とし、「ＮＯ」であれば、本番実測または実測訓練とするステップである。
【００３３】
ステップＳ５０４は、該当する試験項目の試験結果（測定値；保存されていた実測試験データ、または保存されていた模擬試験データ、または、今回、模擬データ設定用端末３８０にて全項目の設定が行われた模擬試験データ）を模擬データ設定用端末３８０より取得するステップである。
【００３４】
また、ステップＳ５０２は、測定経路切換器３４０により、該当試験項目の測定経路の接続設定を行い、測定系を確立させるステップである。このときには、各種の汎用測定器３２０から該当測定器が選択制御され、該当測定器に対して測定モードの設定制御も行われ、測定待ちの状態にする。
【００３５】
なお、試験用端末３１０と汎用測定器３２０とのインターフェイス、および、測定経路切換器３４０とのインターフェイスには、ＧＰ―ＩＢ、ＲＳ―２３２Ｃなどの制御基準を用いて制御およびデータ転送の接続確立を行う。
【００３６】
ステップＳ５０３は、当該試験項目の実測定を行い測定値のデータを試験用端末３１０に取得させるステップである。
【００３７】
ステップＳ５０５は、取得された測定値（模擬測定値）が要求基準の範囲内であるかを判定するステップである。
【００３８】
ステップＳ５０６は、ステップＳ５０５の判定が肯定（ＹＥＳ）であれば、判定結果＝良好、即ち、要求基準の範囲内であり、当該測定項目は正常と判定するステップである。
【００３９】
ステップＳ５０７は、ステップＳ５０５の判定が否定（ＮＯ）であれば、判定結果＝不良、即ち、要求基準の範囲から外れた値であったので、当該測定項目は異常と判定するステップである。
【００４０】
ステップＳ５０８は、測定値（模擬測定値）および良否判定結果を全項目の一覧表として試験用端末３１０の表示画面に表示するステップである。
【００４１】
上記したように、試験用端末３１０での測定処理では、模擬試験モードか否かを判断し、実測試験モード時は実際の被試験器を使用して測定を行った測定値を取得し、模擬試験モード時は模擬試験データから測定値を取得するということ以外は同一の処理を行うことにより、試験システムの操作者は模擬試験モードでも実機を使用した場合と同等な操作が可能となっている。
【００４２】
しかしながら、従来の模擬試験データを使用した実習機能では、模擬的に試験結果を取得させるために、模擬データ設定用端末で事前に試験データを作成しなければならず、模擬データ設定用端末が不可欠であった。
【００４３】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、模擬試験条件を設定するための模擬情報設定部を備えた模擬用被試験器を使用することにより、模擬データ設定用端末がなくても、模擬的な複数の故障を容易に設定することができ、模擬試験を効率的に実施することが可能な試験システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００４４】
上記課題を解決するために、本発明の試験システムは、模擬試験の対象品であって、複数の構成品を有する模擬用被試験器と、前記模擬用被試験器に対して試験を行う試験用端末とから成る試験システムにおいて、前記模擬用被試験器の前記構成品は、各々前記模擬試験による試験結果をスイッチのオン・オフ状態にて設定する模擬情報設定部を備え、前記試験用端末は、前記模擬情報設定部での模擬試験設定情報に応じた試験結果の設定内容を登録した模擬試験条件設定テーブルと、前記模擬用被試験器から取得した前記模擬試験設定情報における前記構成品の良否情報に基づき、故障構成品の特定や試験結果の生成を行う故障分離マトリクス情報と、前記模擬用被試験器から取得した前記模擬試験設定情報から、前記模擬試験条件設定テーブルを参照し、前記構成品の故障の有無と試験結果の生成条件の解析を行う模擬試験情報解析部と、前記模擬試験情報解析部での解析結果を基に、前記故障分離マトリクス情報を参照して試験結果を生成する試験結果生成部と、を備えることを特徴とする。
【００４５】
また、上記課題を解決するために、本発明の試験システムは、上記した試験システムにおいて、前記模擬情報設定部は、ＤＩＰスイッチであることを特徴とする。
【００４６】
また、上記課題を解決するために、本発明の試験システムは、上記した試験システムにおいて、前記故障分離マトリクス情報は、故障構成品の組合せをマトリクス表示した故障構成品候補データ表と、前記故障構成品の組合せに対する試験項目毎の良否結果を表示した故障分離マトリクス表とから構成されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００４７】
本発明によれば、模擬試験条件を設定するための模擬情報設定部を備えた模擬用被試験器を使用することにより、模擬データ設定用端末がなくても、模擬的な複数の故障を容易に設定することができ、模擬試験を効率的に実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の一実施形態に係る試験システムの構成の一例を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る試験システムにおける試験用端末のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る試験システムにおける模擬用被試験器の外観を示す図である。
【図４】模擬用被試験器の各モジュールが備える情報設定用ＤＩＰスイッチで模擬条件を設定する際の設定内容の一例を示す一覧表である。
【図５】本発明の一実施形態に係る試験システムの試験用端末で行われる模擬データ設定処理のフローチャートである。
【図６】本発明の一実施形態に係る試験システムの試験用端末で行われる測定処理のフローチャートである。
【図７】模擬用被試験器に関する故障分離マトリクス情報を説明するための説明図である。
【図８】本発明の他の実施形態に係る試験システムにおけるＤＩＰスイッチによる模擬条件設定内容および当該模擬条件設定内容に応じた試験結果のパターンを示したものである。
【図９】従来の試験システムの外観図である。
【図１０】従来の試験システムの構成を示す図である。
【図１１】図１０における模擬データ設定用端末の表示画面の一例を示す図である。
【図１２】従来の試験システムにおける試験用端末での測定処理のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００４９】
以下、本発明の一実施形態に係る試験システムについて説明する。
本発明の一実施形態に係る試験システムは、無線機等の被試験器の性能を自動測定する試験システムにおいて、実際の被試験器や接続ケーブルや汎用測定器等がない状態でも、また、模擬試験データを作成するための模擬データ設定用端末がない状態でも、模擬情報設定部（ＤＩＰスイッチ）を備えた模擬用被試験器を使用して模擬的な試験が行え、試験システムの使用方法を学習することができるものである。
【００５０】
［試験システムの制御構成］
本発明の一実施形態に係る試験システム１の制御構成について、図１を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の一実施形態に係る試験システムの構成の一例を示す図である。
本発明の試験システム１は、図１に示すように、各種の汎用測定器２０と、信号切換等を行う測定経路切換器４０と、試験信号切換制御、汎用測定器２０の測定モードの設定、測定データの記憶・表示などを行う試験用端末１０と、試験対象品である模擬用被試験器３０または被試験器８０とから構成され、模擬試験を実施する際には、試験対象品として模擬用被試験器３０が使用され、通常の実測試験を実施する際には、試験対象品として被試験器８０が使用される。
【００５１】
試験用端末１０は、試験用のソフトウェアを記憶しており、試験を実施する際には、測定経路切換器４０を介して模擬用被試験器３０または被試験器８０と試験用ケーブル（電源ケーブル、ＲＦケーブル、通信用ケーブルなど）で接続され、所定の試験を実行する。
【００５２】
試験用端末１０は、例えばコンピュータであって、測定経路切換器４０、汎用測定器２０を制御する。
具体的には、試験用端末１０は、試験内容に応じて使用する汎用測定器２０に試験信号を入力させるように測定経路を切り替えるため、測定経路切換器４０に対して、測定経路切換信号を送信する。
【００５３】
また、試験用端末１０には、過去に実際に行われた測定において、汎用測定器２０が使用された時の試験結果として、被試験器８０での実測試験結果の各種の実測試験データが当該端末内のメモリに記憶・保存されている。
【００５４】
また、試験用端末１０は、模擬試験を実施するために、後述する本体２５０のＣＰＵ２５２に、ＤＩＰスイッチ（ＳＷ）情報解析部２５２ａと、試験結果生成部２５２ｂとを有し、また、本体２５０のメモリ２５４に、ＤＩＰスイッチ（ＳＷ）設定テーブル２５４ａ（図４参照）と、故障分離マトリクス情報２５４ｂ（図７（ｂ）参照）とを記憶している。
【００５５】
汎用測定器２０は、汎用の測定機器であって、試験用端末１０が実行する実測試験で使用され、被試験器８０から出力された試験信号を、測定経路切換器４０を介して受信して所定の測定を行う。なお、例えば、通信・航法装置の測定に用いる汎用測定器２０には、デジタルオシロスコープ、シンセサイズド信号発生器、モジュレーション・アナライザ、低周波分析器およびスペクトラム・アナライザなどがある。
【００５６】
測定経路切換器４０は、試験用端末１０から切換制御ラインを介して入力される測定経路切換信号に従って、模擬用被試験器３０または被試験器８０と汎用測定器２０との測定経路を切り換える。
例えば、測定経路切換器４０は、被試験器８０からの試験信号が所定の汎用測定器によって測定されるべき場合は、その試験信号が伝送される試験用ケーブルと所定の汎用測定器とが電気的に接続されるように、経路を切り換える。なお、測定経路切換器４０が有する機能ブロックとしては、低周波信号切換部、高周波信号切換部、ディスクリート信号設定部などがある。
【００５７】
次に、模擬用被試験器３０の構成について、図３を参照して説明する。図３は、本発明の一実施形態に係る試験システムにおける模擬用被試験器の外観を示す図である。
模擬用被試験器３０は、実測試験を行うための被試験器８０と同様に、それぞれ交換可能なモジュール（１）３１，モジュール（２）３２，モジュール（３）３３，モジュール（４）３４，モジュール（５）３５を有している。また、モジュール（１）３１，モジュール（２）３２，モジュール（３）３３，モジュール（４）３４，モジュール（５）３５は、各々模擬試験を実施する際の条件を設定するための模擬情報設定部（ＤＩＰスイッチ）３１ａ，３２ａ，３３ａ，３４ａ，３５ａを備え、図４に示すような模擬条件を設定することが可能である。
【００５８】
図４は、模擬用被試験器の各モジュールが備える模擬情報設定部（ＤＩＰスイッチ）で模擬条件を設定する際の設定内容の一例を示す一覧表である。
図４の実施例においては、ＤＩＰスイッチＮｏ．「０」では、“モジュールの良否”の設定が行え、「０」が“良”、「１」が“否”となるように設定が為される。ＤＩＰスイッチＮｏ．「１」では、“モジュールが良の時の測定値の方向”の設定が行え、「０」が“平均値に対し＋方向にオーバー”、「１」が“平均値に対し−方向にオーバー”となるように設定が為される。ＤＩＰスイッチＮｏ．「２」では、“モジュールが否の時の測定値の方向”の設定が行え、「０」が“要求基準に対し＋方向にオーバー”、「１」が“要求基準に対し−方向にオーバー”となるように設定が為される。ＤＩＰスイッチＮｏ．「３」および「４」では、“測定値”の設定が行え、「００」が“５％”、「０１」が“１０％”、「１０」が“１５％”、「１１」が“２０％”となるように設定が為される。
なお、図４のＤＩＰスイッチによる模擬条件設定内容は、上述した試験用端末１０のＤＩＰスイッチ設定テーブル２５４ａに登録されている。
【００５９】
［試験用端末のハードウェア構成］
次に、試験用端末１０のハードウェア構成について、図２を参照して説明する。図２は、本発明の一実施形態に係る試験システムにおける試験用端末のハードウェア構成の一例を示す図である。
【００６０】
図２に示すように、試験用端末１０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）２５２およびメモリ２５４などを含む本体２５０、キーボードおよび表示装置などを含む入出力装置２５６、他の装置との通信を行う通信装置２５８、および、ＣＤ装置およびＨＤＤ装置など、記録媒体２６２に対するデータの記録および再生を行う記録装置２６０から構成される。
つまり、試験用端末１０は、情報処理および他の装置との通信が可能なコンピュータとしてのハードウェア構成部分を有している。
【００６１】
試験用端末１０は、本体２５０のＣＰＵ２５２に、ＤＩＰスイッチ情報解析部２５２ａと、試験結果生成部２５２ｂとを有し、また、本体２５０のメモリ２５４に、ＤＩＰスイッチ設定テーブル２５４ａと、後述する故障分離マトリクス情報２５４ｂとを記憶している。
【００６２】
試験用端末１０は、模擬用被試験器３０からのＤＩＰスイッチ設定情報を測定経路切換器４０経由でディスクリート信号等により取得し、ＣＰＵ２５２のＤＩＰスイッチ情報解析部２５２ａで故障モジュールの特定や試験結果の生成条件の解析を行う。また、試験用端末１０では、ＤＩＰスイッチ情報解析部２５２ａでの解析結果に基づいて、ＣＰＵ２５２の試験結果生成部２５２ｂでメモリ２５４内の故障分離マトリクス情報２５４ｂを用いて試験結果を生成する。
【００６３】
ここで、試験用端末１０のメモリ２５４内に保持する故障分離マトリクス情報２５４ｂについて、図７を参照して説明する。図７は、模擬用被試験器に関する故障分離マトリクス情報を説明するための説明図であり、図７（ａ）は、模擬用被試験器３０から取得したＤＩＰスイッチ設定情報に含まれる各モジュールの良否情報を示しており、図７（ｂ）は、故障分離マトリクス情報２５４ｂを示している。また、故障分離マトリクス情報２５４ｂは、故障モジュールの組合せをマトリクス表示した“故障モジュール候補データ表”と、故障モジュールの組合せに対する試験項目毎の良否結果を表示した“故障分離マトリクス表”とから構成されている。
【００６４】
試験用端末１０では、模擬用被試験器３０から取得したＤＩＰスイッチ設定情報を基に、ＤＩＰスイッチ設定テーブル２５４ａ（図４）を参照して各モジュールの良否情報を取得する。例えば、図７（ａ）のように、モジュール（１）とモジュール（２）が不良の場合には、図７（ｂ）の“故障モジュール候補データ表”の組合せ１から順に検索を行い、組合せ３が条件に合致することがわかる。
“故障モジュール候補データ表”において、組合せ３でのモジュール交換の優先順位は、モジュール（１）の順位が一番高いので、モジュール（１）のＤＩＰスイッチ設定情報を利用し、図７（ｂ）の“故障分離マトリクス表”の組合せ３の条件を満たす試験結果を生成することになる。
【００６５】
［試験用端末での模擬データ設定処理］
次に、本発明の一実施形態に係る試験システムの試験用端末で行われる模擬データ設定処理について、図５を参照して説明する。図５は、本発明の一実施形態に係る試験システムの試験用端末で行われる模擬データ設定処理のフローチャートである。なお、本処理は、模擬試験実行前に実施し、全試験項目の試験結果を事前に生成しておく。
【００６６】
ステップＳ１０１において、試験用端末１０は、模擬用被試験器３０内の各モジュールのＤＩＰスイッチ設定情報を取得する。
ステップＳ１０２において、試験用端末１０は、模擬用被試験器３０から取得した各モジュールのＤＩＰスイッチ設定情報を基にして、ＤＩＰスイッチ設定テーブル２５４ａを参照して故障モジュールの有無の判定を行い、故障モジュール「有（ＹＥＳ）」の場合には、ステップＳ１０３に処理を進め、故障モジュール「無（ＮＯ）」の場合には、ステップＳ１０５に処理を進める。
【００６７】
ステップＳ１０３において、試験用端末１０は、模擬用被試験器３０で不良に設定されているモジュールが「否」となる試験項目を図７（ｂ）の故障分離マトリクス情報２５４ｂより検索する。
ステップＳ１０４において、試験用端末１０は、故障分離マトリクス情報２５４ｂより検索した試験項目の測定値として、模擬情報設定部（ＤＩＰスイッチ）で設定されている条件を当てはめて測定結果を算出する。なお、測定結果を算出する際は、故障分離マトリクス情報２５４ｂの中での優先順位の高いモジュールのＤＩＰスイッチ設定情報を利用する。
【００６８】
また、ステップＳ１０５において、試験用端末１０は、先頭のモジュールのＤＩＰスイッチ設定情報からモジュールが「良」の時のＤＩＰスイッチ設定情報を取得する。
ステップＳ１０６において、試験用端末１０は、端末内に保持している当該模擬被試験器３０の試験結果を取得し、模擬情報設定部（ＤＩＰスイッチ）で設定されている条件を当てはめ測定値を算出する。
【００６９】
［試験用端末での測定処理］
次に、本発明の一実施形態に係る試験システムの試験用端末で行われる測定処理について、図６を参照して説明する。図６は、本発明の一実施形態に係る試験システムの試験用端末で行われる測定処理のフローチャートである。
ステップＳ２０１は、試験対象品が模擬用被試験器か否かの判定を行い、模擬用被試験器（「ＹＥＳ」）の場合には、ステップＳ２０４に処理を進め、通常の被試験器（「ＮＯ」）の場合には、ステップＳ２０２に処理を進めるステップである。
【００７０】
ステップＳ２０４は、図５の模擬データ設定処理で生成した当該試験項目の測定値を取得するステップである。
【００７１】
また、ステップＳ２０２は、通常の被試験器８０で実測試験を行う処理であって、測定経路切換器４０により、該当試験項目の測定経路の接続設定を行い、測定系を確立させるステップである。このときには、各種の汎用測定器２０から該当測定器が選択制御され、該当測定器に対して測定モードの設定制御も行われ、測定待ちの状態にする。
【００７２】
なお、試験用端末１０と汎用測定器２０とのインターフェイス、および、測定経路切換器４０とのインターフェイスには、ＧＰ―ＩＢ、ＲＳ―２３２Ｃなどの制御基準を用いて制御およびデータ転送の接続確立を行う。
【００７３】
ステップＳ２０３は、当該試験項目の実測定を行い測定値のデータを試験用端末１０に取得させるステップである。
【００７４】
ステップＳ２０５は、模擬測定値（または測定値）および良否判定結果を全項目の一覧表として試験用端末１０の表示画面に表示するステップである。
【００７５】
これにより、模擬データ設定用端末がなくても、模擬用被試験器内モジュールのＤＩＰスイッチの設定や試験用端末内のデータを活用し、試験の模擬が可能となる。
また、試験実施後には、故障と診断されたモジュールのＤＩＰスイッチの良否情報を「良」とし、モジュールを戻し、試験を実施することで、モジュール交換についても実機と同様の実習が行える。
【００７６】
なお、図８は、本発明の他の実施形態に係る試験システムにおけるＤＩＰスイッチによる模擬条件設定内容および当該模擬条件設定内容に応じた試験結果のパターンを示したものであり、ＤＩＰスイッチの設定データを活用し、試験結果については図６に示す方法の他、試験結果のパターン（図８（ｂ））を試験用端末１０内にあらかじめ登録しておき、ＤＩＰスイッチの設定値（図８（ａ））と一致する結果を故障分離マトリクスの設定状態に応じて出力するようにしてもよい。
【００７７】
以上説明したように、本発明の一実施形態に係る試験システムによれば、模擬試験条件を設定するための模擬情報設定部を備えた模擬用被試験器を使用することにより、模擬データ設定用端末がなくても、模擬的な複数の故障を容易に設定することができ、模擬試験を効率的に実施することができる。
【００７８】
なお、上記実施の形態の構成及び動作は例であって、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更して実行することができることは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００７９】
本発明は、航空機に搭載される通信・航法装置などの装置に対しての整備基地での整備作業の訓練教材として利用することができる。
【符号の説明】
【００８０】
１：試験システム、１０：試験用端末、２０：汎用測定器、３０：模擬用被試験器、３１：モジュール（１）、３１ａ：模擬情報設定部、３２：モジュール（２）、３２ａ：模擬情報設定部、３３：モジュール（３）、３３ａ：模擬情報設定部、３４：モジュール（４）、３４ａ：模擬情報設定部、３５：モジュール（５）、３５ａ：模擬情報設定部、４０：測定経路切換器、１００：試験システム、１１０：試験用端末、１２０：汎用測定器、１３０：被試験器、１４０：測定経路切換器、２５０：本体、２５２：ＣＰＵ、２５２ａ：ＤＩＰスイッチ情報解析部、２５２ｂ：試験結果生成部、２５４：メモリ、２５４ａ：ＤＩＰスイッチ設定テーブル、２５４ｂ：故障分離マトリクス情報、２５６：入出力装置、２５８：通信装置、２６０：記録装置、２６２：記録媒体、３００：試験システム、３１０：試験用端末、３２０：汎用測定器、３３０：被試験器、３４０：測定経路切換器、３８０：模擬データ設定用端末、５００：試験システム。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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