(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物を搬送する搬送部と、
Ｘ線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、
磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、
前記搬送部の少なくとも一部、前記Ｘ線検査部、及び前記金属検出部を内部に収容し、前記Ｘ線検査部のＸ線の外部漏洩を抑制する筐体と、を備え、
前記筐体には、当該筐体を開閉する第１扉部及び第２扉部が設けられており、
前記第１扉部は、前記搬送部による前記被検査物の搬送方向に垂直な方向のうちの水平方向における一方の側に配置され、開けられた際に少なくとも前記金属検出部を外部に露出させ、
前記第２扉部は、前記搬送部による前記被検査物の前記搬送方向に垂直な方向のうちの前記水平方向における他方の側に配置され、開けられた際に少なくとも前記金属検出部を外部に露出させる、異物検査装置。
【請求項２】
前記第１扉部及び前記第２扉部のそれぞれは、開けられた際に前記搬送部の前記一部を外部に露出させる、請求項１記載の異物検査装置。
【請求項３】
前記第１扉部及び前記第２扉部のそれぞれは、前記Ｘ線検査部及び前記金属検出部の電装部品の遮蔽状態を維持しつつ開閉可能である、請求項１又は２記載の異物検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、異物検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、Ｘ線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査と、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する金属検出との両方を行うことができる異物検査装置が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１５−２８４６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述したような異物検査装置では、Ｘ線の外部漏洩を抑制する筐体の内部に、Ｘ線検査部と共に金属検出部を収容する必要がある。ただし、金属検出部が筐体の内部に収容されていると、例えば金属検出部はＸ線検査部よりも重いのが通常であるため、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスが困難になる。
【０００５】
そこで、本発明は、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスの容易化を図ることができる異物検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、Ｘ線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、Ｘ線検査部、及び金属検出部を内部に収容し、Ｘ線検査部のＸ線の外部漏洩を抑制する筐体と、を備え、筐体には、当該筐体を開閉する第１扉部及び第２扉部が設けられており、第１扉部は、搬送部による被検査物の搬送方向に垂直な所定方向における一方の側に配置され、開けられた際に少なくとも金属検出部を外部に露出させ、第２扉部は、搬送部による被検査物の搬送方向に垂直な所定方向における他方の側に配置され、開けられた際に少なくとも金属検出部を外部に露出させる。
【０００７】
この異物検査装置では、第１扉部及び第２扉部を開けることで、搬送方向に垂直な所定方向における一方の側及び他方の側の両側から金属検出部にアクセスすることができる。よって、この異物検査装置によれば、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスの容易化を図ることが可能となる。
【０００８】
本発明の異物検査装置では、所定方向は、搬送部による被検査物の搬送方向に垂直な水平方向であってもよい。これにより、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスの更なる容易化を図ることが可能となる。
【０００９】
本発明の異物検査装置では、第１扉部及び第２扉部のそれぞれは、開けられた際に搬送部の一部を外部に露出させてもよい。これにより、搬送方向に垂直な所定方向における一方の側及び他方の側の両側から搬送部の一部にアクセスすることができるので、搬送部の清掃等、搬送部のメンテナンスの容易化を図ることが可能となる。
【００１０】
本発明の異物検査装置では、第１扉部及び第２扉部のそれぞれは、Ｘ線検査部及び金属検出部の電装部品の遮蔽状態を維持しつつ開閉可能であってもよい。これにより、電装部品を保護しつつ金属検出部のメンテナンスを実施することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスの容易化を図ることができる異物検査装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】実施形態に係る異物検査装置の正面図である。
【図２】図１に示される異物検査装置の内部構成及び制御系を説明する概念図である。
【図３】図２のＸ線検査部及び金属検出部の主要構成の説明図である。
【図４】図２のＸ線検査部及び金属検出部の主要構成の斜視図である。
【図５】下部扉及び後面下部扉が開けられた状態での異物検査装置の（ａ）正面図及び（ｂ）背面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の説明において、同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１４】
図１は実施形態に係る異物検査装置１の正面図である。図１に示される異物検査装置１は、被検査物に含まれる異物を検出する装置である。被検査物は例えば食品である。異物検査装置１は、その内部において被検査物を搬送しつつＸ線検査及び金属検出を行い、被検査物に異物が含まれるか否かを検査する。
【００１５】
Ｘ線検査は、Ｘ線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、Ｘ線検査部２（図２参照）によって実現される。Ｘ線検査では、被検査物とは異なるＸ線透過性を有する異物を検出することができる。一方、金属検出は、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、金属検出部３（図２参照）によって実現される。金属検出では金属異物を検出することができる。Ｘ線検査部２及び金属検出部３の詳細については後述する。
【００１６】
異物検査装置１は、その内部に空間が画成された筐体４を有する。筐体４は、Ｘ線検査部２及び金属検出部３を内部に収容する。筐体４は、Ｘ線検査部２により発生されるＸ線を遮蔽し、Ｘ線の外部漏洩を抑制する。筐体４は、例えばステンレスなどで形成される。
【００１７】
筐体４は、本実施形態では箱状を呈している。筐体４の左側面には、筐体４の内部に連通する開口部４ａが形成されている。同様に、筐体４の右側面には、筐体４の内部に連通する開口部４ｂが形成されている。本実施形態では、被検査物は、開口部４ａから筐体４の内部へ搬入されて検査が行われ、開口部４ｂから筐体４の外部へ搬出される。つまり、開口部４ａが被検査物の搬入口、開口部４ｂが被検査物の搬出口となる。
【００１８】
筐体４の前面には、筐体４を開閉する上部扉４０及び下部扉（第１扉部）４１が設けられている。上部扉４０及び下部扉４１は、例えば開き戸構造である。上部扉４０又は下部扉４１が開閉されることで、後述するＸ線検査部２及び金属検出部３の少なくとも一部が外部に露出される。上部扉４０及び下部扉４１は、例えばステンレスなどで形成される。
【００１９】
上部扉４０の前面には、ディスプレイ５及び操作スイッチ６が設けられている。ディスプレイ５は、表示機能と入力機能を兼ね備えた表示装置であり、例えばタッチパネルである。ディスプレイ５は、Ｘ線検査及び金属検出の結果などを表示するとともに、金属検出及びＸ線検査に関する各種パラメータの設定を行う操作画面を表示する。操作スイッチ６は、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の電源スイッチなどである。
【００２０】
筐体４は、支持台７によって支持されている。筐体４の上面には、報知部８及びクーラー９が設けられている。報知部８は、異物混入や機器の作動状態を報知する。報知部８は、Ｘ線検査部２に対応する第１報知器８１、及び金属検出部３に対応する第２報知器８２を備えている。クーラー９は、筐体４の内部に冷気を送り、筐体４の内部に配置された機器の温度を調整する。
【００２１】
図２は、図１に示される異物検査装置１の内部構成及び制御系を説明する概念図である。図２に示されるように、筐体４の内部は、後述するＸ線発生器の一部や構成要素の制御基板などが配置される基板室Ｔ１と、被検査物Ｓが搬入されて検査が行われる検査室Ｔ２とに区画されている。基板室Ｔ１は、上述したクーラー９によって温度調整されている。
【００２２】
検査室Ｔ２には、被検査物Ｓを搬送するコンベヤ（搬送部）１０が配置されている。コンベヤ１０は、本実施形態ではローラ式のベルトコンベヤであり、一端部が開口部４ａに位置し且つ他端部が開口部４ｂに位置した状態で、筐体４の内部を水平方向に延在している。つまり、筐体４は、コンベヤ１０のうち一端部及び他端部を除く部分を内部に収容している。本実施形態のコンベヤ１０は、開口部４ａを介して被検査物Ｓを筐体４の内部に搬入し、開口部４ｂを介して被検査物Ｓを筐体４の外部に搬出する。
【００２３】
開口部４ａには、Ｘ線遮蔽カーテン４２が配置されている。同様に、開口部４ｂには、Ｘ線遮蔽カーテン４３が配置されている。Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、上端が筐体４に対する固定端であり且つ下端が自由端である。Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、Ｘ線検査部２が発生したＸ線を遮蔽し、Ｘ線の外部漏洩を抑制する。Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、例えばタングステンを含有する可撓性材料などにより形成される。なお、被検査物Ｓの搬入及び搬出を自動化すべく、コンベヤ１０の右側に搬入用コンベヤ１１を配置し、コンベヤ１０の左側に搬出用コンベヤ１２を配置してもよい。また、搬出用コンベヤ１２が、被検査物Ｓの振分機能を備えていてもよい。
【００２４】
検査室Ｔ２には、被検査物Ｓを通過させるための貫通穴３１ａが形成された環状体のケース３１が配置されている。コンベヤ１０は、貫通穴３１ａを介してケース３１を貫通している。被検査物Ｓは、コンベヤ１０によってケース３１の貫通穴３１ａを通過し、ケース３１においてＸ線検査及び金属検出が順次実行される。ケース３１は、例えばステンレスなどで形成される。
【００２５】
最初に、Ｘ線検査を行うＸ線検査部２について説明する。Ｘ線検査部２は、Ｘ線検査制御部２０、Ｘ線発生器２１、及びＸ線検出器２２を備える。Ｘ線発生器２１は、Ｘ線を発生するＸ線源、及びスリット機構を含む。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線発生器２１で発生したＸ線を検出する。Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２は、コンベヤ１０及びケース３１を上下方向から挟むように対向配置されている。なお、Ｘ線発生器２１のうち、Ｘ線源などは基板室Ｔ１に配置され、Ｘ線を照射する機構が検査室Ｔ２に配置されている。Ｘ線検出器２２としては、例えば複数のＸ線検出センサを前後方向に沿って並設したラインセンサが用いられる。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線漏洩を低減させるために、基板ケース２３に収容されている。基板ケース２３には、Ｘ線検出器２２へＸ線を到達させるために、スリット２３ａ（図４参照）が設けられている。
【００２６】
Ｘ線検査制御部２０は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースＩ／Ｏ、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたＲＯＭ（Read Only Memory）、データを一時的に記憶するＲＡＭ（RandomAccess Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）などの記憶媒体、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、及び通信回路などを有する。Ｘ線検査制御部２０は、ＣＰＵが出力する信号に基づいて、入力データをＲＡＭに記憶し、ＲＯＭに記憶されているプログラムをＲＡＭにロードし、ＲＡＭにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
【００２７】
Ｘ線検査制御部２０は、基板室Ｔ１に配置され、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２に接続されている。Ｘ線検査制御部２０は、ディスプレイ５に接続され、操作画面を介して作業員から操作情報を受け付ける。Ｘ線検査制御部２０は、操作情報に基づいてＸ線発生器２１及びＸ線検出器２２の動作プロファイルを設定するとともに、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２の動作を制御する。Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２よりも上流側に配置されたレーザセンサ２４を用いて被検査物Ｓを検出した場合、当該被検査物Ｓの検査を開始する。Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１を制御して、コンベヤ１０によって搬送されている被検査物ＳにＸ線を照射させる。Ｘ線検出器２２は、被検査物Ｓを透過したＸ線のＸ線透過量を計測し、計測したＸ線透過量をＸ線検査制御部２０へ出力する。
【００２８】
Ｘ線検査制御部２０は、時系列で取得したＸ線透過量を画素値に反映させたＸ線透過画像を生成する。そして、Ｘ線検査制御部２０は、画像処理技術によりＸ線透過画像を解析して、異物を検出する。例えば、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線透過画像の画素値に基づいて、被検査物Ｓの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在するか否かを判定する。そして、Ｘ線検査制御部２０は、被検査物Ｓの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在する場合には、異物を検出したと判定する。
【００２９】
Ｘ線検査制御部２０は、作業員からの要求に応じて、Ｘ線検査の結果データをディスプレイ５に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２が正常に作動している場合、第１報知器８１を用いてＸ線検査に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、Ｘ線検査制御部２０は、異物を検出したと判定した場合、第１報知器８１を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。
【００３０】
図３は、図２のＸ線検査部２及び金属検出部３の主要構成の説明図である。図４は、図２のＸ線検査部２及び金属検出部３の主要構成の斜視図である。図３及び図４に示されるように、ケース３１は、本体部３２、第１フード部３３、及び第２フード部３４を有する。第１フード部３３は、本体部３２に対して開口部４ａ側（搬入口側）に設けられている。第２フード部３４は、本体部３２に対して開口部４ｂ側（搬出口側）に設けられている。上述したケース３１の貫通穴３１ａは、本体部３２、第１フード部３３、及び第２フード部３４それぞれの内壁によって画成されている。
【００３１】
第１フード部３３の上面には、Ｘ線を通過させるＸ線通過スリット３３ａがＸ線発生器２１の下方に位置するように形成されている。第１フード部３３の下面には、Ｘ線を通過させるＸ線通過スリット３３ｂがＸ線通過スリット３３ａと対向するように形成されている。Ｘ線通過スリット３３ｂの下方には、Ｘ線検出器２２が配置される。このように構成することで、Ｘ線発生器２１が発生したＸ線２１ａは、Ｘ線通過スリット３３ａ，３３ｂを通過し、ケース３１の内部を搬送されている被検査物Ｓに照射される。なお、第１フード部３３の側面において、Ｘ線通過スリット３３ａ，３３ｂよりも下流側（本体部３２側）にはスリット３３ｃが設けられている。スリット３３ｃには、レーザセンサ３８が配置される。レーザセンサ３８は、スリット３３ｃを介してコンベヤ１０上の被検査物Ｓにレーザを照射する。
【００３２】
次に、金属検出を行う金属検出部３について説明する。金属検出部３は、金属検出制御部３０、サーチコイルである環状の送信コイル３５、及びサーチコイルである環状の受信コイル３６，３７を備える。送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、金属などの導電性材料で形成され、ケース３１の本体部３２の内部に配置されている。送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、貫通穴３１ａの延在方向と同軸に配置されている。つまり、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、貫通穴３１ａを囲むように配置されている。これにより、被検査物Ｓは、コンベヤ１０によって送信コイル３５及び受信コイル３６，３７を通過する。
【００３３】
送信コイル３５は、受信コイル３６，３７間に配置されている。受信コイル３６，３７は、互いに差動接続されるとともに送信コイル３５に対して対称に配置されている。２つの受信コイル３６，３７は、同一の鎖交磁束を有する。送信コイル３５は、通電可能に構成されており、磁束を発生する。受信コイル３６，３７それぞれには、送信コイル３５が発生した磁界の電磁誘導によって電圧が励起する。なお、第１フード部３３及び第２フード部３４は、送信コイル３５が発生した磁界の外部漏洩と外来磁界の進入を遮蔽する。
【００３４】
金属検出制御部３０は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースＩ／Ｏ、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたＲＯＭ、データを一時的に記憶するＲＡＭ、ＨＤＤなどの記憶媒体、ＣＰＵ、及び通信回路などを有する。金属検出制御部３０は、ＣＰＵが出力する信号に基づいて、入力データをＲＡＭに記憶し、ＲＯＭに記憶されているプログラムをＲＡＭにロードし、ＲＡＭにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
【００３５】
金属検出制御部３０は、基板室Ｔ１に配置されるとともにＸ線検査制御部２０に接続され、Ｘ線検査制御部２０を介してディスプレイ５の操作画面に入力された作業員からの操作情報を受け付ける。金属検出制御部３０は、操作情報に基づいて送信コイル３５及び受信コイル３６，３７の動作プロファイルを設定する。金属検出制御部３０は、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７よりも上流側に配置されたレーザセンサ３８を用いて被検査物Ｓを検出した場合、当該被検査物Ｓの金属検出を開始する。
【００３６】
金属検出制御部３０は、送信コイル３５へ交番励磁電流を供給し、磁束を発生させる。送信コイル３５によって発生された磁束は、２つの受信コイル３６，３７を貫通し、電磁誘導によって受信コイル３６，３７それぞれに電圧が励起される。金属検出制御部３０は、受信コイル３６，３７の差動接続の出力電圧を取得して、金属検出の判定を行う。金属検出制御部３０は、差動接続の出力電圧が０のときは、金属異物を検出していないと判定する。一方、金属検出制御部３０は、差動接続の出力電圧が０でないときは、金属異物を検出したと判定する。
【００３７】
金属検出制御部３０は、作業員からの要求に応じて、金属検出の結果データをディスプレイ５に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、金属検出制御部３０は、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７が正常に作動している場合、第２報知器８２を用いて金属検出に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、金属検出制御部３０は、異物を検出したと判定した場合、第２報知器８２を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。なお、ケース３１は、耐振特性向上の目的で防振台３９（防振台３９ａ，３９ｂ）により保持されていてもよい。
【００３８】
上述したＸ線検査部２及び金属検出部３は、それぞれ独立に作動可能に構成されている。つまり、異物検査装置１は、Ｘ線検査及び金属検出の両方を行うだけでなく、Ｘ線検査及び金属検出の何れか一方を実行することもできる。上述のとおり、本実施形態では、Ｘ線検査部２がディスプレイ５の表示制御を行うため、Ｘ線検査部２が停止している場合には、ディスプレイ５に金属検出部３の操作画面が表示されない。このため、筐体４の内部には、金属検出部３に接続されたサブディスプレイ（不図示）が配置されている。金属検出部３は、Ｘ線検査部２が停止している場合には、サブディスプレイを介して操作情報を受け付け、サブディスプレイに結果データなどを表示する。
【００３９】
次に、筐体４の扉構造について説明する。図５の（ａ）に示されるように、筐体４において前側（コンベヤ１０による被検査物Ｓの搬送方向に垂直な水平方向における一方の側）に配置された下部扉４１を例えば下側に回動させて開くと、金属検出部３、コンベヤ１０及びＸ線遮蔽カーテン４２，４３などが外部に露出する。つまり、下部扉４１は、開けられた際に、金属検出部３、コンベヤ１０及びＸ線遮蔽カーテン４２，４３などを外部に露出させる。
【００４０】
一方、図５の（ｂ）に示されるように、筐体４の後面には、筐体４を開閉する後面上部扉４４及び後面下部扉（第２扉部）４５が設けられている。後面上部扉４４及び後面下部扉４５は、例えば開き戸構造であり、例えばステンレスなどで形成される。筐体４において後側（コンベヤ１０による被検査物Ｓの搬送方向に垂直な水平方向における他方の側）に配置された後面下部扉４５を例えば下側に回動させて開くと、金属検出部３、コンベヤ１０及びＸ線遮蔽カーテン４２，４３などが外部に露出する。つまり、後面下部扉４５は、開けられた際に、金属検出部３、コンベヤ１０及びＸ線遮蔽カーテン４２，４３などを外部に露出させる。
【００４１】
なお、上部扉４０及び後面上部扉４４のそれぞれを例えば左側に回動させて開くと、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の電装部品５０が外部に露出する。つまり、下部扉４１及び後面下部扉４５のそれぞれは、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の電装部品５０の遮蔽状態を維持しつつ開閉可能である。
【００４２】
以上説明したように、異物検査装置１では、下部扉４１及び後面下部扉４５を開けることで、コンベヤ１０による被検査物Ｓの搬送方向に垂直な水平方向における一方の側及び他方の側の両側から金属検出部３にアクセスすることができる。よって、異物検査装置１によれば、装置に対する金属検出部３の着脱等、金属検出部３のメンテナンスの容易化を図ることが可能となる。
【００４３】
また、異物検査装置１では、下部扉４１及び後面下部扉４５を開けることで、コンベヤ１０による被検査物Ｓの搬送方向に垂直な水平方向における一方の側及び他方の側の両側からコンベヤ１０にアクセスすることができる。よって、異物検査装置１によれば、コンベヤ１０の清掃等、コンベヤ１０のメンテナンスの容易化を図ることが可能となる。
【００４４】
また、異物検査装置１では、下部扉４１及び後面下部扉４５のそれぞれが、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の電装部品５０の遮蔽状態を維持しつつ開閉可能である。これにより、電装部品５０を保護しつつ金属検出部３及びコンベヤ１０のメンテナンスを実施することができる。
【００４５】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではない。
【００４６】
例えば、下部扉４１及び後面下部扉４５は、それぞれ、コンベヤ１０による被検査物Ｓの搬送方向に垂直な所定方向における一方の側及び他方の側に配置されていればよい。また、下部扉４１及び後面下部扉４５のそれぞれは、少なくとも金属検出部３を外部に露出させるものであればよい。また、下部扉４１及び後面下部扉４５のそれぞれは、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の電装部品５０の遮蔽状態を維持しつつ開閉可能なものであればよい。一例として、後面上部扉４４に相当する扉を残しつつ、後面下部扉４５に代えて、筐体４の後面全体を覆う扉が設けられてもよい。その場合、電装部品５０が配置される上部は、二重扉構造となる。
【００４７】
また、上述した実施形態では、被検査物Ｓを開口部４ａから開口部４ｂへ搬送する例を示したが、搬送方向を逆にしてもよい。この場合、レーザセンサ２４を開口部４ｂと第２フード部３４との間に配置し、第２フード部３４の側面にスリットを設けてレーザセンサ３８を配置すればよい。
【００４８】
また、本実施形態では、筐体４の内部にコンベヤ１０の一部を配置する例を説明したが、コンベヤ１０はその全てが筐体４の内部に収容されていてもよい。
【符号の説明】
【００４９】
１…異物検査装置、２…Ｘ線検査部、３…金属検出部、４…筐体、１０…コンベヤ（搬送部）、４１…下部扉（第１扉部）、４５…後面下部扉（第２扉部）、５０…電装部品、Ｓ…被検査物。
【図１】
0006654392.tif 000002
【図２】
0006654392.tif 000003
【図３】
0006654392.tif 000004
【図４】
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【図５】
0006654392.tif 000006