(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査体から発せられる弾性波を該被検査体の表面に配設した複数個のセンサで計測・解析して前記弾性波の発生源を位置標定する方法であって、
前記複数個のセンサを用いて前記弾性波の波形信号を計測する波形信号計測ステップと、
計測した前記波形信号の全てを一時的に記憶する波形信号一時記憶ステップと、
一時記憶した前記波形信号を所定の単位計測時間毎に保存する波形信号保存ステップと、
保存した前記波形信号から伝搬解析に用いる波形信号を含む時間領域を読み出す波形信号読出ステップと、
読み出した時間領域の前記波形信号をスキャンして該波形信号の中に所定のエラー信号が含まれるか否かを判定する読出波形信号判定ステップと、
スキャンした前記波形信号の中に前記所定のエラー信号を含むと判定した場合に、該所定のエラー信号の収録時間部分を「波形信号＝0」のダミーデータで置換して調整波形信号を作成する調整波形信号作成ステップと、
前記調整波形信号および前記所定のエラー信号を含まないと判定した前記波形信号のそれぞれを時間反転して時間反転波形信号を作成する時間反転波形信号作成ステップと、
前記時間反転波形信号のそれぞれを前記被検査体のモデル上で逆伝搬解析する逆伝搬解析ステップと、を有することを特徴とする弾性波計測解析方法。
【請求項２】
請求項１に記載の弾性波計測解析方法において、
前記所定のエラー信号は、空白状態の信号または前記センサの測定レンジ上限の信号であることを特徴とする弾性波計測解析方法。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載の弾性波計測解析方法において、
保存する前記波形信号のデータ量を抑制するために、前記複数個のセンサをアクティブなセンサと非アクティブなセンサとに仕分けるセンサ仕分けステップを更に有することを特徴とする弾性波計測解析方法。
【請求項４】
請求項３に記載の弾性波計測解析方法において、
前記アクティブなセンサのいずれかで所定の特性値を有する前記弾性波を計測した場合に、前記非アクティブなセンサの全てをアクティブな状態にする非アクティブセンサ起動ステップを更に有することを特徴とする弾性波計測解析方法。
【請求項５】
請求項４に記載の弾性波計測解析方法において、
前記非アクティブセンサ起動ステップの際に、当該ステップが含まれる前記単位計測時間および直前の前記単位計測時間に前記非アクティブなセンサが計測して前記波形信号一時記憶ステップで記憶した波形信号を追加転送する波形信号追加転送ステップを更に有することを特徴とする弾性波計測解析方法。
【請求項６】
請求項４又は請求項５に記載の弾性波計測解析方法において、
前記所定の特性値は、前記波形信号の波高値で設定していることを特徴とする弾性波計測解析方法。
【請求項７】
請求項１乃至請求項６のいずれか一項に記載の弾性波計測解析方法において、
保存した前記波形信号のデータ量を削減するために、保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間毎にスキャンして、当該単位計測時間において保存した前記波形信号に伝搬解析に用いる波形信号が存在するか否かを判定する保存波形信号判定ステップと、
当該単位計測時間において保存した前記波形信号の全てに伝搬解析に用いる波形信号が存在しないと判定した場合に、当該保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間の幅で削除する保存波形信号削除ステップとを更に有することを特徴とする弾性波計測解析方法。
【請求項８】
請求項１乃至請求項６のいずれか一項に記載の弾性波計測解析方法において、
保存した前記波形信号のデータ量を削減するために、前記逆伝搬解析ステップによる解析結果を前記単位計測時間毎にスキャンして、該解析に用いた前記波形信号が弾性波発生の位置評定に寄与した波形信号であるか否かを判定する解析結果判定ステップと、
当該スキャンした単位計測時間の前記波形信号が前記弾性波発生の位置評定に寄与しなかった波形信号のみを含むと判定した場合に、当該保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間の幅で削除する保存データ削除ステップとを更に有することを特徴とする弾性波計測解析方法。
【請求項９】
被検査体から発せられる弾性波を計測・解析して前記弾性波の発生源を位置標定する装置であって、
前記弾性波の波形信号を受信する複数個のセンサと、
受信した前記波形信号を計測する弾性波計測部と、
計測した前記波形信号を保存する波形信号保存部と、
保存した前記波形信号を読み出して処理する波形信号処理部と、
前記波形信号の計測条件および処理条件を入力すると共に前記条件の入力値および前記波形信号処理部での解析結果を出力する入出力部とを具備し、
前記弾性波計測部は、受信した前記波形信号の全てを一時的に記憶する波形信号メモリ機構と、前記計測条件で規定された単位計測時間を一単位として記憶した前記波形信号を前記波形信号保存部に転送・保存する計測時間制御機構とを有し、
前記波形信号処理部は、保存した前記波形信号から伝搬解析に用いる波形信号を含む時間領域を読み出す波形信号読出機構と、読み出した時間領域の前記波形信号をスキャンして該波形信号の中に所定のエラー信号が含まれるか否かを判定する読出波形信号判定機構と、スキャンした前記波形信号の中に前記所定のエラー信号を含むと判定した場合に該所定のエラー信号の収録時間部分を「波高値＝0」のダミーデータで置換して調整波形信号を作成する波形信号調整機構と、前記調整波形信号および前記所定のエラー信号を含まないと判定した前記波形信号のそれぞれを時間反転して時間反転波形信号を作成する時間反転波形信号作成機構と、前記時間反転波形信号のそれぞれを前記被検査体のモデル上で逆伝搬解析する逆伝搬解析機構と、を有することを特徴とする弾性波計測解析装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の弾性波計測解析装置において、
前記所定のエラー信号は、空白状態の信号または前記センサの測定レンジ上限の信号であることを特徴とする弾性波計測解析装置。
【請求項１１】
請求項９又は請求項１０に記載の弾性波計測解析装置において、
前記弾性波計測部は、保存する前記波形信号のデータ量を抑制するために、前記複数個のセンサをアクティブなセンサと非アクティブなセンサとに仕分ける収録センサ制御機構を更に有することを特徴とする弾性波計測解析装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の弾性波計測解析装置において、
前記収録センサ制御機構は、前記アクティブなセンサのいずれかで所定の特性値を有する前記弾性波を計測した場合に、前記非アクティブなセンサの全てをアクティブな状態に制御する機能を更に有することを特徴とする弾性波計測解析装置。
【請求項１３】
請求項１２に記載の弾性波計測解析装置において、
前記計測時間制御機構は、前記収録センサ制御機構が前記非アクティブなセンサをアクティブな状態に制御した際に、当該制御が含まれる前記単位計測時間および直前の前記単位計測時間に前記非アクティブなセンサが計測して前記波形信号メモリ機構に記憶した波形信号を前記波形信号保存部へ追加転送する機能を更に有することを特徴とする弾性波計測解析装置。
【請求項１４】
請求項１２又は請求項１３に記載の弾性波計測解析装置において、
前記所定の特性値は、前記入出力部で入力設定された前記波形信号の波高値であることを特徴とする弾性波計測解析装置。
【請求項１５】
請求項９乃至請求項１４のいずれか一項に記載の弾性波計測解析装置において、
前記波形信号処理部は、保存した前記波形信号のデータ量を削減するために、保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間毎にスキャンして、当該単位計測時間において保存した前記波形信号に伝搬解析に用いる波形信号が存在するか否かを判定し、当該単位計測時間において保存した前記波形信号の全てに伝搬解析に用いる波形信号が存在しないと判定した場合に当該保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間の幅で削除する波形信号データ削除機構を更に有することを特徴とする弾性波計測解析装置。
【請求項１６】
請求項９乃至請求項１４のいずれか一項に記載の弾性波計測解析装置において、
前記波形信号処理部は、保存した前記波形信号のデータ量を削減するために、前記逆伝搬解析機構による解析結果を前記単位計測時間毎にスキャンして、該解析に用いた前記波形信号が弾性波発生の位置評定に寄与した波形信号であるか否かを判定し、当該スキャンした単位計測時間の前記波形信号が前記弾性波発生の位置評定に寄与しなかった波形信号のみを含むと判定した場合に当該保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間の幅で削除する解析結果判定・データ削除機構を更に有することを特徴とする弾性波計測解析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、非破壊検査技術に関し、特にアコースティックエミッションによって被検査体から発せられる弾性波を計測・解析して該弾性波の発生源を位置標定する方法、および該方法を実施するための弾性波計測解析装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、大型構造物（例えば、橋梁、トンネル、電力プラント）の健全性管理を目的として、構造物の損傷を広範囲で精度よく検知可能な非破壊検査システムが求められている。そのような非破壊検査システムでの損傷検知方法／探傷検査方法として、代表的には超音波探傷検査（UT）およびアコースティックエミッション（AE）法がある。【０００３】
UTは、振動子を内蔵する探触子を被検査体に当てて超音波（例えば1〜5 MHz）を入射し、その反射波（エコー）を探触子で受信する検査方法である。このとき、被検査体の内部に傷が無い場合は入射波が被検査体の裏面で反射し、被検査体の内部に傷が有る場合は当該傷でエコーが生じるため、エコーの受信を解析・画像化することによって傷の有無や位置を検査することができる。【０００４】
例えば、特許文献１（WO 2014/167698）には、超音波を用いて被検査体を検査する超音波探傷検査方法において、超音波の送信と受信により収録した超音波波形から第一の探傷画像を作成するステップと、収録した超音波波形から求めた荷重条件を含む逆伝搬解析モデルを作成するステップと、前記逆伝搬解析モデル上で逆伝搬解析を実施した結果から第二の探傷画像を作成するステップと、を有することを特徴とする超音波探傷検査方法が開示されている。【０００５】
一方、AE法とは、被検査体の変形や亀裂発生の際に放出される弾性波（例えば、数kHz〜数MHz）を、被検査体表面に設置したセンサで検出・信号処理することによって被検査体の様子（摩擦、変形、損傷）を検知する手法である。AEで放出される弾性波（AE波とも言う）を検出するセンサとしては、ジルコン酸チタン酸鉛（PZT）やタンタル酸リチウム（LT）やニオブ酸リチウム（LN）などの圧電素子がしばしば用いられる。【０００６】
例えば、特許文献２（特開2003-232782）には、被検査体の欠陥部位で発生する音を被検査体外面に設置したセンサにより検出するようにしたアコースティックエミッション法を用いた欠陥部位検出装置であって、センサで検出した音の原波形から時間周波数解析を用いて抽出できる最高周波数成分をある周波数帯域で抽出した後、それより低い周波数帯域で周波数成分を抽出する操作を順次行うことにより波形分離する時間周波数解析部と、該時間周波数解析部で波形分離した各周波数帯域の成分の波形を記憶する解析波形記憶部と、該解析波形記憶部に記憶された各周波数帯域の成分の波形の伝播時間を読み取り、該伝播時間の差と各周波数帯域における伝播速度とに基づき音源となる欠陥部位とセンサとの間の距離を算出する演算部とを有する波形解析装置を備えたことを特徴とするアコースティックエミッション法を用いた欠陥部位検出装置が開示されている。また、被検査体外面の少なくとも三箇所にセンサを設置し、音源となる欠陥部位と各センサとの間の距離に基づいて被検査体の欠陥部位を位置標定するように構成することが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】国際公開第２０１４／１６７６９８号
【特許文献２】特開２００３−２３２７８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１によると、被検査体の超音波探傷検査において、被検査体が非均質で音響異方性を有する材料であっても、欠陥位置を高精度にかつ検査時間を短縮して実施することができるとされている。ただし、超音波探傷検査（UT）は、被検査体に意図的に超音波を入射してそのエコーを観測するという能動的な検査方法であるため、被検査体の定期検査など（例えば１回／年）に用いるのには好適であるが、被検査体の常時観察に用いるのには適していないという弱点がある。【０００９】
これに対し、アコースティックエミッション（AE）法は、被検査体自身が発する弾性波（AE波）を受動的に検知する検査方法であるため、被検査体の常時観察に対しても好適であり、被検査体の変形や微視的破壊の進展を略リアルタイムで観測できる利点がある。例えば特許文献２によると、時間軸の情報を失うことなく周波数解析を行うことができ、被検査体の欠陥部位の位置情報を明確化し得るとされている。【００１０】
しかしながら、AE法では、AE波を受動的に検知する方法であることに加えて、AE波の発生自体がいつ起こるか不明という不確実さがある。そのため、AE法を被検査体の常時観察に用いる際には、計測の取りこぼしを防ぐために連続的なデータの取得・保存（すなわち、膨大なデータ量の取り扱い）が必要になるという困難さがある。【００１１】
そこで、データ量をできるだけ抑制するため、一般的にはAE波の波高値にしきい値を設けて、該しきい値よりも強いAE波の特性値を記録する方式が用いられている。AE波の特性値としては、主に、波高値（例えば最大振幅値）、受信時刻、継続時間、リングダウン計数（継続時間内のしきい値を越えた振動回数）、立ち上がり時間（しきい値を越えてから最大振幅までの経過時間）、波数、イベント回数などが記録される。【００１２】
また、特許文献２に記載されているように、被検査体の三箇所以上にセンサを設置することで、欠陥部位の位置標定における精度をより高めることができると考えられる。言い換えると、AE波発生源の位置標定の精度を高めるためには、被検査体上に三個以上のAEセンサを設置することが好ましいと言える。【００１３】
前述したように、AE波の発生はいつ起こるか不明という不確実さがある。一方、AEセンサを含むAE計測機器は工業製品の一種であり、長期間のモニタリングなどにも用いることから、当然のことながら定期的なメンテナンスが必要であると共に、偶発的な故障が発生する可能性もある。すなわち、一部のAEセンサにおいて、計測不能の時間帯が生じたり誤ったAE波計測を行ったりする（結果として、誤ったAE波データを送信する）ことが考えられる。そして、そのような誤ったAE波データは、AE波発生源の解析・位置標定の際に誤った結果を導くことが懸念される。【００１４】
しかしながら、先行技術文献（例えば特許文献２）においては、AEセンサの偶発的なエラー（それによる誤ったAE波データ）の発生自体が想定されていない。そのため、AEセンサの偶発的なエラーが生じた場合の対処方法や手段に関する教示・示唆はない。【００１５】
したがって、本発明の目的は、AE波の計測解析方法において、複数個のAEセンサのうちの一部に偶発的なエラーが発生した場合であっても、AE波発生源の位置標定を精度よく行うことができる弾性波計測解析方法、および該方法を実施するための弾性波計測解析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
（I）本発明の一態様は、被検査体から発せられる弾性波を該被検査体の表面に配設した複数個のセンサで計測・解析して前記弾性波の発生源を位置標定する方法であって、
前記複数個のセンサを用いて前記弾性波の波形信号を計測する波形信号計測ステップと、
計測した前記波形信号の全てを一時的に記憶する波形信号一時記憶ステップと、
一時記憶した前記波形信号を所定の単位計測時間毎に保存する波形信号保存ステップと、
保存した前記波形信号から伝搬解析に用いる波形信号を含む時間領域を読み出す波形信号読出ステップと、
読み出した時間領域の前記波形信号をスキャンして該波形信号の中に所定のエラー信号が含まれるか否かを判定する読出波形信号判定ステップと、
スキャンした前記波形信号の中に前記所定のエラー信号を含むと判定した場合に、該所定のエラー信号の収録時間部分を「波高値＝0」のダミーデータで置換して調整波形信号を作成する調整波形信号作成ステップと、
前記調整波形信号および前記所定のエラー信号を含まないと判定した前記波形信号のそれぞれを時間反転して時間反転波形信号を作成する時間反転波形信号作成ステップと、
前記時間反転波形信号のそれぞれを前記被検査体のモデル上で逆伝搬解析する逆伝搬解析ステップと、を有することを特徴とする弾性波計測解析方法を提供するものである。【００１７】
本発明は、上記の弾性波計測解析方法（I）において、以下のような改良や変更を加えることができる。
（i）前記所定のエラー信号は、空白状態の信号または前記センサの測定レンジ上限の信号である。
（ii）保存する前記波形信号のデータ量を抑制するために、前記複数個のセンサをアクティブなセンサと非アクティブなセンサとに仕分けるセンサ仕分けステップを更に有する。
（iii）前記アクティブなセンサのいずれかで所定の特性値を有する前記弾性波を計測した場合に、前記非アクティブなセンサの全てをアクティブな状態にする非アクティブセンサ起動ステップを更に有する。
（iv）前記非アクティブセンサ起動ステップの際に、当該ステップが含まれる前記単位計測時間および直前の前記単位計測時間に前記非アクティブなセンサが計測して前記波形信号一時記憶ステップで記憶した波形信号を追加転送する波形信号追加転送ステップを更に有する。
（v）前記所定の特性値は、前記波形信号の波高値で設定している。
（vi）保存した前記波形信号のデータ量を削減するために、保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間毎にスキャンして、当該単位計測時間において保存した前記波形信号に伝搬解析に用いる波形信号が存在するか否かを判定する保存波形信号判定ステップと、
当該単位計測時間において保存した前記波形信号の全てに伝搬解析に用いる波形信号が存在しないと判定した場合に、当該保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間の幅で削除する保存波形信号削除ステップとを更に有する。
（vii）保存した前記波形信号のデータ量を削減するために、前記逆伝搬解析ステップによる解析結果を前記単位計測時間毎にスキャンして、該解析に用いた前記波形信号が弾性波発生の位置評定に寄与した波形信号であるか否かを判定する解析結果判定ステップと、
当該スキャンした単位計測時間の前記波形信号が前記弾性波発生の位置評定に寄与しなかった波形信号のみを含むと判定した場合に、当該保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間の幅で削除する保存データ削除ステップとを更に有する。
【００１８】
（II）本発明の他の一態様は、被検査体から発せられる弾性波を計測・解析して前記弾性波の発生源を位置標定する装置であって、
前記弾性波の波形信号を受信する複数個のセンサと、
受信した前記波形信号を計測する弾性波計測部と、
計測した前記波形信号を保存する波形信号保存部と、
保存した前記波形信号を読み出して処理する波形信号処理部と、
前記波形信号の計測条件および処理条件を入力すると共に前記条件の入力値および前記波形信号処理部での解析結果を出力する入出力部とを具備し、
前記弾性波計測部は、受信した前記波形信号の全てを一時的に記憶する波形信号メモリ機構と、前記計測条件で規定された単位計測時間を一単位として記憶した前記波形信号を前記波形信号保存部に転送・保存する計測時間制御機構とを有し、
前記波形信号処理部は、保存した前記波形信号から伝搬解析に用いる波形信号を含む時間領域を読み出す波形信号読出機構と、読み出した時間領域の前記波形信号をスキャンして該波形信号の中に所定のエラー信号が含まれるか否かを判定する読出波形信号判定機構と、スキャンした前記波形信号の中に前記所定のエラー信号を含むと判定した場合に該所定のエラー信号の収録時間部分を「波高値＝0」のダミーデータで置換して調整波形信号を作成する波形信号調整機構と、前記調整波形信号および前記所定のエラー信号を含まないと判定した前記波形信号のそれぞれを時間反転して時間反転波形信号を作成する時間反転波形信号作成機構と、前記時間反転波形信号のそれぞれを前記被検査体のモデル上で逆伝搬解析する逆伝搬解析機構と、を有することを特徴とする弾性波計測解析装置を提供するものである。【００１９】
本発明は、上記の弾性波計測解析装置（II）において、以下のような改良や変更を加えることができる。
（viii）前記所定のエラー信号は、空白状態の信号または前記センサの測定レンジ上限の信号である。
（ix）前記弾性波計測部は、保存する前記波形信号のデータ量を抑制するために、前記複数個のセンサをアクティブなセンサと非アクティブなセンサとに仕分ける収録センサ制御機構を更に有する。
（x）前記収録センサ制御機構は、前記アクティブなセンサのいずれかで所定の特性値を有する前記弾性波を計測した場合に、前記非アクティブなセンサの全てをアクティブな状態に制御する機能を更に有する。
（xi）前記計測時間制御機構は、前記収録センサ制御機構が前記非アクティブなセンサをアクティブな状態に制御した際に、当該制御が含まれる前記単位計測時間および直前の前記単位計測時間に前記非アクティブなセンサが計測して前記波形信号メモリ機構に記憶した波形信号を前記波形信号保存部へ追加転送する機能を更に有する。
（xii）前記所定の特性値は、前記入出力部で入力設定された前記波形信号の波高値である。
（xiii）前記波形信号処理部は、保存した前記波形信号のデータ量を削減するために、保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間毎にスキャンして、当該単位計測時間において保存した前記波形信号に伝搬解析に用いる波形信号が存在するか否かを判定し、当該単位計測時間において保存した前記波形信号の全てに伝搬解析に用いる波形信号が存在しないと判定した場合に当該保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間の幅で削除する波形信号データ削除機構を更に有する。
（xiv）前記波形信号処理部は、保存した前記波形信号のデータ量を削減するために、前記逆伝搬解析機構による解析結果を前記単位計測時間毎にスキャンして、該解析に用いた前記波形信号が弾性波発生の位置評定に寄与した波形信号であるか否かを判定し、当該スキャンした単位計測時間の前記波形信号が前記弾性波発生の位置評定に寄与しなかった波形信号のみを含むと判定した場合に当該保存した前記波形信号のデータを前記単位計測時間の幅で削除する解析結果判定・データ削除機構を更に有する。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、弾性波の計測解析方法において、弾性波を受信する複数個のセンサのうちの一部に偶発的なエラーが発生した場合であっても、弾性波発生源の位置標定を精度よく行う弾性波計測解析方法、および該方法を実施するための弾性波計測解析装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１Ａ】突発型のAE波形例である。
【図１Ｂ】連続型のAE波形例である。
【図２】本発明に係る弾性波計測解析装置の概略構成を示す模式図である。
【図３Ａ】本発明における弾性波計測の手順の一例を示すフローチャートである。
【図３Ｂ】各センサが計測した波形信号の一例を示すチャートである。
【図３Ｃ】保存した波形信号データを示すマトリクス例である。
【図４Ａ】本発明における波形信号解析の手順の一例を示すフローチャートである。
【図４Ｂ】伝搬解析に用いる時間領域の波形信号の一例を示すチャートである。
【図５Ａ】本発明における波形信号解析の手順の他の一例を示すフローチャートである。
【図５Ｂ】伝搬解析に用いる波形信号を含む時間領域の他の一例を示すチャートである。
【図６Ａ】第２実施形態の弾性波計測解析装置の概略構成を示す模式図である。
【図６Ｂ】第２実施形態の弾性波計測手順の一例を示すフローチャートである。
【図７】第４実施形態の弾性波計測解析装置の概略構成を示す模式図である。
【図８】第５実施形態の弾性波計測解析装置の概略構成を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
まず、本発明で取り扱う弾性波（AE波）およびAE法について簡単に説明する。図１Ａは突発型のAE波形例であり、図１Ｂは連続型のAE波形例である。
【００２３】
突発型AE波は、単発で計測されるAE波のことであり、被検査体中の亀裂発生や亀裂進展に対応して検出されることが多い。突発型AE波の検出回数は亀裂の発生・進展回数と相関し、振幅は亀裂の進展長さと相関し、波形の面積（エネルギー）は亀裂の進展面積と相関し、周波数は被検査体の材料と相関するとされている。
【００２４】
連続型AE波は、一つのAE波が減衰する前に次のAE波が計測される状態のものであり、被検査体中の摩擦・摩耗現象（例えば、係合面や既存の亀裂面での摩擦・摩耗）に対応して検出されることが多い。連続型AE波の実効値は摩擦面での摩擦係数と相関し、波形の面積は摩擦・摩耗量と相関し、周波数は被検査体の材料と相関するとされている。
【００２５】
AE法においては、複数個のAEセンサを用いて計測を行うことで、各AEセンサで検出されるAE波の到達時間差からAE波発生源の位置評定が可能になる。原理的には、２個のAEセンサを用いると一次元の位置評定が可能になり、３個のAEセンサを用いると二次元の位置評定が可能になり、６個のAEセンサを用いると三次元の位置評定が可能になる。
【００２６】
大型構造物に対してAE法による非破壊検査を行おうとした場合、非常に多くのAEセンサが必要になることが容易に想像できる。言い換えると、大型構造物においてAE波発生源の位置評定を精度よく行うためには、それら多数個のAEセンサで検出した波形信号およびその計算処理が必要になる。
【００２７】
一方、現在は、コンピュータによる計算処理能力が非常に高いことから、AE法によるAE波発生源の位置評定においてもコンピュータが一般的に利用されており、多数個のAEセンサを用いて多数の波形信号を検出してもそれなりに計算処理が可能と考えられる。しかしながら、コンピュータによる計算処理では、入力データに偶発的なエラーが生じると、途方もない計算結果を出したり計算自体が不能になったりすることが起こりえる。
【００２８】
前述したように、AEセンサは工業製品の一種であることから、当然のことながら定期的なメンテナンスが必要であると共に、偶発的な故障が発生する可能性もある。言い換えると、一部のAEセンサにおいて、偶発的に計測不能の時間帯が生じたり誤ったAE波形信号を検出したりすることが考えられる。その結果、本来計測が必要とされるタイミングでAE法の計測が不能になることが起こりえる。
【００２９】
本発明者等は、そのような偶発的なエラーが生じても、AE波発生源の位置評定に特段の悪影響を与えない弾性波計測解析方法について鋭意研究した。その研究を通して、AEセンサに偶発的な故障が発生した場合、該AEセンサから送信される波形信号は、主に、空白状態の信号またはAEセンサの測定レンジ上限の信号であることを見出した。また、そのようなエラー信号に対して該エラー信号の収録時間部分を「波高値＝0」のダミーデータで置換すると、波形信号の計算処理においてエラーを生じさせず、AE波発生源の位置評定にも特段の悪影響を与えないことを見出した。本発明は、これらの知見に基づいて完成されたものである。
【００３０】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本発明はここで取り上げた実施形態に限定されることはなく、発明の技術的思想を逸脱しない範囲で適宜組み合わせや改良が可能である。
【００３１】
［第１の実施形態］
図２は、本発明に係る弾性波計測解析装置の概略構成を示す模式図である。図２に示したように、本発明の弾性波計測解析装置100は、被検査体から発せられる弾性波を計測・解析して該弾性波の発生源を位置標定する装置であって、被検査体の表面に配設され弾性波を受信する複数個のセンサ1と、受信した弾性波の波形信号を計測する弾性波計測部10と、計測した波形信号を保存する波形信号保存部20と、保存した波形信号を読み出して処理する波形信号処理部30と、波形信号の計測・処理の条件を入力すると共に各種入力値・解析結果を出力する入出力部40とを具備する。各部の内部構成については後述する。
【００３２】
橋梁やトンネルなどのインフラ構造物のような大型被検査体に対する常時観察を想定した場合、被検査体に配設するセンサ数が多くなりかつ全体の計測期間は非常に長時間になることが予想される。ここで、多数のセンサから得られる多数のAE波データでかつ長時間に亘るもの（すなわち極めて膨大なデータ量）を一括で取り扱おうとすると、波形信号の処理・解析の計算が極めて繁雑になるという問題が生じる。
【００３３】
そこで、本発明においては、波形信号の処理・解析の計算を簡単化するために、入出力部40の計測処理条件入力機構41で入力設定する計測時間（例えば、1〜60秒間）を一単位として計測して、該単位計測時間毎に、計測した波形信号データを保存・解析するという方法を採用した。
【００３４】
次に、本発明の弾性波計測解析装置100を用いた弾性波計測プロセスの基本形について図３Ａ〜Ｃを参照しながら説明する。
【００３５】
図３Ａは、本発明における弾性波計測の手順の一例を示すフローチャートであり、図３Ｂは、各センサが計測した波形信号の一例を示すチャートであり、図３Ｃは、保存した波形信号データを示すマトリクス例である。
【００３６】
弾性波計測解析装置100を起動した後、まず、入出力部40の計測処理条件入力機構41で計測の一単位となる単位計測時間を入力設定する計測条件入力ステップ（S101）を行う。なお、当該単位計測時間は、全計測期間・全センサで統一する必然性はないが、後で行う波形信号の処理・解析の計算を簡単化する観点からは統一することが望ましい。
【００３７】
次に、複数個のセンサ1のそれぞれで波形信号を計測する波形信号計測ステップ（S102）を行う。センサ1で検知された波は、弾性波計測部10の波形信号化機構11内で増幅、周波数フィルタ、Ａ／Ｄ変換されて波形信号化される。また、S102では、計測した波形信号の全てを、一時的に記憶する波形信号メモリ機構12に記憶させながら、計測時間制御機構14がS101で設定した単位計測時間に到達したか否かをチェックする。その結果、図３Ｂに示したように、複数個のセンサ1のそれぞれにおいて（ここではCh 1、Ch 2、・・・、Ch m-1、Ch mと表記）、時刻軸に沿って連続的な波形信号計測が行われる。
【００３８】
次に、S102の波形信号計測がS101で設定した単位計測時間に到達したら、波形信号メモリ機構12に記憶されている波形信号データを、波形信号保存部20に転送して保存する波形信号保存ステップ（S103）を行う。このとき、図３Ｃに示したように、計測したセンサ番号と何番目の単位計測時間（すなわち計測時刻に相等）とが判別できる形で、波形信号データを保存する。例えば、波形信号データφm,nは、m番のセンサでn番目の単位計測時間に計測した波形信号を表す。
【００３９】
また、S103と同時に（S103を行いながら）、S102に戻って次の単位計測時間の波形信号計測を行う。
【００４０】
ここで、S103の最中に次のS102による波形信号が上書きされて先の波形信号データが消失しないように、波形信号メモリ機構12は、二単位計測時間分以上の波形信号データを記憶できるメモリ容量を有していることが好ましい。厳密には波形信号を波形信号保存部20にデータ転送・保存するのに要する時間に依存するが、例えば、図３Ｂでは三単位計測時間分の波形信号データを記憶した例を示した。また、波形信号メモリ機構12のメモリとしては、波形信号保存部20内のデータ保存機構（例えば、ハードディスク）よりも書き込み速度の速い高速メモリを用いることが好ましい。
【００４１】
本発明では、計測した波形信号の全てを、一時的に記憶する波形信号メモリ機構12に一旦記憶させた後に波形信号保存部20にデータ転送・保存することから、波形信号メモリ機構12がない場合に比して、波形信号の取りこぼしを格段に抑制することができる作用効果がある。
【００４２】
次に、弾性波解析プロセスの基本形について図３Ａ、図４Ａ〜Ｂを参照しながら説明する。
【００４３】
図４Ａは、本発明における波形信号解析の手順の一例を示すフローチャートであり、図４Ｂは、伝搬解析に用いる波形信号を含む時間領域の一例を示すチャートである。
【００４４】
計測処理条件入力機構41で伝搬解析に用いる波形信号を含む時間領域を選定する条件を入力設定する処理条件入力ステップ（S201）を行う。選定条件としては、例えば、連続する二単位計測時間内に三個以上のセンサ1で所定のしきい値以上の波高値を有する波形信号が計測されること等が挙げられる。なお、S201は、先のS101と同時に行ってもよいし別のタイミングで行ってもよい。
【００４５】
S201で設定した条件に沿って、波形信号処理部30の波形信号読出機構31が、波形信号保存部20に保存されている波形信号から伝搬解析に用いる波形信号を含む時間領域を読み出す波形信号読出ステップ（S202）を行う。例えば、図４Ｂでは、n-1番目およびn番目の単位計測時間に計測した波形信号を読出領域iとして読み出している。
【００４６】
なお、伝搬解析に用いる読出領域の選定は、各センサの波形信号データで読出開始時刻と終了時刻とを一致させる必要があるが、単位計測時間に合わせる必然性はない。ただし、波形信号の計測時刻（弾性波の受信時刻）の特定を簡単化するという観点からは、単位計測時間の境界に合わせることが望ましい。
【００４７】
次に、時間反転波形信号作成機構34において、読出領域iの波形信号データを時間反転して時間反転波形信号を作成する時間反転波形信号作成ステップ（S205）を行う。例えば、波形信号データφm,nを時間反転した時間反転波形信号φ’m,nは、m番のセンサでn番目の単位計測時間に計測した波形信号を時間反転した波形信号データを表す。先のS202で読出領域iとして単位計測時間の境界に合わせた時間領域の波形信号（図４Ｂでは、n-1番目およびn番目の単位計測時間に計測した波形信号）を選定することにより、波形信号の計測時刻の特定が容易になるという利点がある。
【００４８】
次に、逆伝搬解析機構35において、S205で作成した時間反転波形信号を用いて被検査体のモデル上で逆伝搬解析する逆伝搬解析ステップ（S206）を行う。また、S206では、S202で読み出した波形信号の全てが、時間反転され逆伝搬解析に利用されたか否かをチェックする。
【００４９】
本発明では、伝搬解析に用いる波形信号を所定条件で選定し、取り扱うデータ量を必要最小限に絞っていることから、処理・解析計算量を低減することができ、処理・解析計算を迅速に行うことができるという作用効果がある。
【００５０】
S206で逆伝搬解析に用いる解析アルゴリズムに特段の限定はなく、従前の方法（例えば、有限積分法、有限要素法、波線理論、開口合成的手法）を用いることができる。また、逆伝搬解析に用いる被検査体モデルにも特段の限定はなく、従前の方法で作成したモデル（例えば、CADによるモデル）を用いることができる。例えば、特許文献１（WO 2014/167698）参照。
【００５１】
逆伝搬解析では、時間反転波形信号は計測したセンサから被検査体モデルの内部に向かって進行する波面として取り扱われ、各センサからの波面（時間反転波形信号）を合成すると、時間の経過と共に（実際には、時間の逆算と共に）それら波面が重なり合って波高値が高くなる（振幅が大きくなる）箇所が算出される。そして、ある時間においてそれら波面が一箇所に集束して波高値が最も高くなる。該集束箇所が弾性波の発生位置であり、弾性波発生の位置評定と時間標定とが可能になる。
【００５２】
次に、得られた解析結果を出力する解析結果出力ステップ（S207）を行う。S207においては、解析結果を表示機構42に表示することに加えて、波形信号保存部20に解析結果を保存することは好ましい。また、S207では、逆伝搬解析の途中経過を表示機構42に表示してもよい。
【００５３】
以上のステップにより、被検査体表面に多数のセンサを配設した長時間の弾性波計測であっても、波形信号の取りこぼしを抑制すると共に、該波形信号の処理・解析計算を迅速に行うことができる。
【００５４】
一方、前述したように、AEセンサを含むAE計測機器は工業製品の一種であることから、一部のAEセンサで、AE波計測中に偶発的に計測不能の時間帯が生じたり誤ったAE波形信号を検出したりするエラー状態が発生することが考えられる。以下では、そのようなエラー状態が発生した場合における、本発明の弾性波解析プロセスおよび波形信号処理部30の特徴的な構成について図３Ａ、図５Ａ〜Ｂを参照しながら説明する。
【００５５】
図５Ａは、本発明における波形信号解析の手順の他の一例を示すフローチャートであり、図５Ｂは、伝搬解析に用いる波形信号を含む時間領域の他の一例を示すチャートである。
【００５６】
図５Ａに示したように、S201〜S202は、前述した解析フローと同じである。ここで、S202において、S201で設定した条件に従って、n-1番目およびn番目の単位計測時間に計測した波形信号を読出領域iとして読み出したところ、図５Ｂに示したようなエラー信号領域が含まれていたとする。この場合、エラー信号が含まれた波形信号をそのまま処理・解析計算すると、精度が低い計算結果を出したり計算自体が不能になったりすることが起こりえる。
【００５７】
そこで、本発明では、S202の次に、波形信号処理部30の読出波形信号判定機構32によって、読出領域iの波形信号をスキャンして該波形信号の中に所定のエラー信号が含まれるか否かを判定する読出波形信号判定ステップ（S203）を行う。本発明者等の研究から、所定のエラー信号としては、空白状態の信号またはAEセンサの測定レンジ上限の信号を好ましく利用できる。
【００５８】
次に、読出波形信号判定機構32によって読出領域iの波形信号の中に所定のエラー信号が含まれると判定された場合、波形信号調整機構33によって該所定のエラー信号の収録時間部分を「波高値＝0」のダミーデータで置換して調整波形信号を作成する調整波形信号作成ステップ（S204）を行う。一方、読出領域iの波形信号の中に所定のエラー信号は含まれないと判定された場合、S204を飛ばして前述したS205へ進む。
【００５９】
その後、前述の弾性波解析プロセスの基本形と同様に、S205〜S207へと進む。本発明者等の研究の結果、調整波形信号は、S205〜S206における処理・解析計算に特段の悪影響を与えないことが判明している。
【００６０】
言い換えると、本発明は、読出波形信号判定機構32によって行う読出波形信号判定ステップ（S203）、および波形信号調整機構33によって行う調整波形信号作成ステップ（S204）という特徴的な構成を有し、その結果、AE波を受信する複数個のAEセンサのうちの一部に偶発的なエラーが発生した場合であっても、AE波発生源の位置標定を精度よくかつ効率的に行うことができる作用効果がある。
【００６１】
［第２の実施形態］
前述したように、第１実施形態の弾性波計測解析方法および弾性波計測解析装置は、AE波を保存する際に、計測したセンサ番号と何番目の単位計測時間とが判別できる形で波形信号データを保存し、逆伝搬解析を行う際に、取り扱うデータ量を必要最小限に絞っていることから、処理・解析計算量を低減することができ、処理・解析計算を迅速に行うことができる利点がある。
【００６２】
しかしながら、全センサを用いて全ての計測期間の波形信号データを保存しようとするとデータ量が膨大になるため、装置コストが増大することが懸念される。一方、厳密には被検査体の種類・用途に依存するが、伝搬解析が必要になるようなAE波が極めて頻繁に観測されることは稀であり、一般的にはAE波が頻繁に観測される時間帯（被検査体への負荷が大きい時間帯）とAE波がほとんど観測されない時間帯（被検査体への負荷が小さい時間帯）とが存在すると考えられる。
【００６３】
そこで、本実施形態では、保存する波形信号のデータ量を抑制するための弾性波計測解析方法およびその装置について、図６Ａ〜図６Ｂを参照しながら説明する。
【００６４】
図６Ａは、第２実施形態の弾性波計測解析装置の概略構成を示す模式図であり、図６Ｂは、第２実施形態の弾性波計測手順の一例を示すフローチャートである。
【００６５】
図６Ａに示したように、第２実施形態の弾性波計測解析装置200は、第１実施形態の弾性波計測解析装置100に比して、弾性波計測部10’の構成で異なり、他を同じとするものである。弾性波計測部10’は、波形信号化機構11を介して複数個のセンサ1をアクティブなセンサ（活動しているセンサ、ON状態のセンサ）と非アクティブなセンサ（休止しているセンサ、OFF状態のセンサ）とに制御する収録センサ制御機構13を有している。
【００６６】
弾性波計測プロセスは、図６Ｂに示したように、計測条件入力ステップとして第１実施形態のS101の代わりにS301を行う。S301は、測定の一単位となる単位計測時間に加えて、複数個のセンサ1をアクティブなセンサと非アクティブなセンサとに仕分ける条件を入力設定する計測条件入力ステップである。アクティブ／非アクティブに仕分ける条件に特段の限定はなく、被検査体の種類・用途に合わせて適宜設定すればよい。例えば、昼／夜のような時間帯による仕分けや、センサ1を一個飛ばしや二個飛ばしのように単純に間引く仕分けが考えられる。
【００６７】
以降、第１実施形態と同様に、S102〜S103を行うことによって、保存する波形信号のデータ量を抑制することができる。なお、第２実施形態におけるS102およびS103は、アクティブなセンサに対してのみ行われる。
【００６８】
一方、AE波は発生自体がいつ起こるか不明であるため、複数個のセンサ1の一部を単純に間引いただけでは、本来詳細に計測すべきAE波の波形信号を一部取りこぼしてしまう可能性がある。
【００６９】
そこで、S102の次に、アクティブなセンサのいずれかで所定の特性値（例えば、所定のしきい値以上の波高値）を有するAE波を計測したか否かを判定し、該所定の特性値を有するAE波を計測した場合に、非アクティブなセンサの全てを直ちにアクティブな状態に起動する非アクティブセンサ起動ステップ（S302）を更に行うことが好ましい。
【００７０】
そして、S302を行うため、収録センサ制御機構13は、アクティブなセンサのいずれかで所定の特性値を有するAE波を計測した場合に、非アクティブなセンサの全てを直ちにアクティブな状態に起動する機能を更に有することが好ましい。
【００７１】
S302およびS302を実行するための収録センサ制御機構13の追加機能により、突発的なAE波に対しても波形信号の取りこぼしを抑制することができる。
【００７２】
なお、S302によって緊急起動したセンサ（非アクティブであったセンサ）は、所定の時間経過後（例えば、三単位計測時間経過後）に再び非アクティブなセンサに戻すことによって、保存する波形信号のデータ量を抑制することができる。
【００７３】
また、S302によって緊急起動したセンサで計測した波形信号は、緊急起動する前は空白状態であるため、後で伝搬解析に用いる際に、エラー信号を含む波形信号と判定される可能性がある。ただし、これに対しては、第１実施形態で説明した弾性波解析プロセス（特に、調整波形信号作成ステップ）によって対応することができるため、特段の問題は生じない。
【００７４】
［第３の実施形態］
第３実施形態では、第２実施形態と同等に保存する波形信号のデータ量を抑制でき、かつ第１実施形態と同等の精度で弾性波発生源の位置標定が可能な弾性波計測解析方法およびその装置について説明する。
【００７５】
本実施形態の弾性波計測解析装置は、第２実施形態のそれと比して、弾性波計測部10’の収録センサ制御機構13が制御する機能において異なり、他を同じとするものである。
【００７６】
本実施形態の弾性波計測プロセスでは、まず第２実施形態と同様に、S301およびS102を行う。ここで、第３実施形態におけるS102は、第１実施形態と同様に複数個のセンサ1の全てに対して行う。すなわち、複数個のセンサ1の全てで計測した波形信号を、波形信号メモリ機構12に記憶する。
【００７７】
次に、第２実施形態と同様にS302を行う。
【００７８】
次のS103では、先のS302においてアクティブなセンサのいずれかで所定の特性値を有するAE波を計測しなかったと判定された場合には、波形信号メモリ機構12に記憶された全ての波形信号のうち、S301で入力設定されたアクティブなセンサの波形信号のみを波形信号保存部20に転送して保存する。
【００７９】
言い換えると、第３実施形態における収録センサ制御機構13は、複数個のセンサ1をアクティブ／非アクティブに仕分けるにあたって、波形信号化機構11に働き掛けて波形信号の計測におけるセンサ1のON／OFFを制御するのではなく、計測時間制御機構14に働き掛けて波形信号メモリ機構12に記憶した波形信号を波形信号保存部20に転送するか否かで制御する。この点において、本実施形態は第２実施形態と異なる。
【００８０】
そして、S302においてアクティブなセンサのいずれかで所定の特性値を有するAE波を計測したと判定された場合には、非アクティブセンサを緊急起動させた瞬間が含まれる単位計測時間およびその直前の単位計測時間に、緊急起動したセンサ（非アクティブであったセンサ）が計測して波形信号メモリ機構12に記憶していた波形信号を、波形信号保存部20へ追加転送する。
【００８１】
本実施形態では、前述したように複数個のセンサ1の全てで計測した波形信号を、波形信号メモリ機構12が一旦記憶しているため、非アクティブセンサを緊急起動した場合であっても、緊急起動の前に非アクティブセンサが計測していた波形信号を容易に転送・保存することができる。その結果、本実施形態は、保存・解析する波形信号データが第２実施形態よりも正確性が高くなるため、より精度よく弾性波発生源の位置標定が可能になる。
【００８２】
［第４の実施形態］
前述したように、第２・第３の実施形態は、第１実施形態に比して波形信号保存部20に保存するデータ量を抑制できる作用効果がある。これに対し、第４実施形態は、波形信号保存部20に保存したデータ量を削減するための弾性波計測解析方法およびその装置に関するものである。図７を参照しながら説明する。
【００８３】
図７は、第４実施形態の弾性波計測解析装置の概略構成を示す模式図である。なお、図７では、図面の簡単化のため、一部を省略して描いている。
【００８４】
図７に示した第４実施形態の弾性波計測解析装置300は、第１・第２の実施形態のそれらに比して、弾性波解析部30’の構成で異なり、他を同じとするものである。弾性波解析部30’は、波形信号保存部20に保存された波形信号データの中で、伝搬解析に用いる波形信号が存在しないと判定した単位計測時間の保存データを当該単位計測時間の幅（当該単位計測時間の時間長さ分）で削除する波形信号データ削除機構36を有している。
【００８５】
より具体的には、波形信号データ削除機構36は、波形信号読出機構31を介して、波形信号保存部20に保存された波形信号を単位計測時間毎にスキャンして、スキャンした単位計測時間の波形信号データの中に伝搬解析に用いる波形信号（例えば、所定のしきい値以上の波高値を有する波形信号）が存在するか否かを判定する保存波形信号判定ステップを行う。
【００８６】
そして、当該スキャンした単位計測時間に保存した波形信号データの全てに伝搬解析に用いる波形信号が存在しないと判定した場合、当該保存データ（当該スキャンした単位計測時間に保存した波形信号データの全て）を当該単位計測時間の幅で削除する保存波形信号削除ステップを行うものである。
【００８７】
例えば、図３Ｂに示したような波形信号データが波形信号保存部20に保存されているとする。図３Ｂを見ると、n+1番目の単位計測時間には、伝搬解析に用いる波形信号（所定のしきい値以上の波高値を有する波形信号）が存在しない。そして、このような場合に、n+1番目の単位計測時間に計測・保存した波形信号データを該単位計測時間の幅で全て削除するものである。
【００８８】
保存波形信号判定ステップおよび保存波形信号削除ステップを行うタイミングに特段の限定はなく、例えば、弾性波解析部30’の負荷が比較的軽いタイミングで行えばよい。また、保存波形信号判定ステップは、弾性波解析プロセスにおけるS202（波形信号読出ステップ）と同時に行ってもよい。
【００８９】
本発明では、何番目の単位計測時間に計測したかによってAE波の計測時刻を管理できることから、単位計測時間の幅で削除する分にはAE波計測時刻の管理に影響を与えるものではない。すなわち、本実施形態によれば、一旦保存した波形信号データであっても、AE波計測時刻の管理に影響を与えることなくデータ量を削減することができ、波形信号保存部20に掛かる負荷を低減することができる。
【００９０】
［第５の実施形態］
第５実施形態は、第４実施形態と同様に、波形信号保存部20に保存したデータ量を削減するための弾性波計測解析方法およびその装置に関するものである。図８を参照しながら説明する。
【００９１】
図８は、第５実施形態の弾性波計測解析装置の概略構成を示す模式図である。なお、図８では、図面の簡単化のため、一部を省略して描いている。
【００９２】
図８に示した第５実施形態の弾性波計測解析装置400は、第４実施形態のそれに比して、弾性波解析部30”の構成で異なり、他を同じとするものである。弾性波解析部30”は、第４実施形態の波形信号データ削除機構36の代わりに、逆伝搬解析結果から弾性波発生の位置評定に不要だった波形信号データを判定して、該波形信号データを単位計測時間の幅（当該単位計測時間の時間長さ分）で波形信号保存部20から削除する解析結果判定・データ削除機構37を有している。
【００９３】
より具体的には、解析結果判定・データ削除機構37は、まず、逆伝搬解析機構35における逆伝搬解析ステップ（S206）の解析結果を単位計測時間毎にスキャンし、解析に用いた波形信号が弾性波発生の位置評定に寄与した波形信号であるか否かを判定する解析結果判定ステップを行う。ここで、弾性波発生の位置評定に寄与しなかった波形信号とは、例えば、時間反転波形信号を合成した結果、弾性波の発生位置と思われる箇所に集束しなかった波形信号（言い換えると、弾性波の発生位置と思われる箇所で振幅増大に寄与しなかった波形信号）を意味する。
【００９４】
そして、そのスキャンした単位計測時間の波形信号データが、弾性波発生の位置評定に寄与しなかった波形信号のみを含む（弾性波発生の位置評定に寄与した波形信号を含まない）と判定した場合、その保存データ（当該スキャンした単位計測時間に保存した波形信号データ）を当該単位計測時間の幅で削除する保存データ削除ステップを行う。
【００９５】
解析結果判定ステップおよび保存データ削除ステップを行うタイミングに特段の限定はなく、例えば、弾性波解析部30”の負荷が比較的軽いタイミングで行えばよい。また、解析結果判定ステップは、弾性波解析プロセスにおけるS206（逆伝搬解析ステップ）と同時に行ってもよい。
【００９６】
本発明では、何番目の単位計測時間に計測したかによってAE波の計測時刻を管理できることから、単位計測時間の幅で削除する分にはAE波計測時刻の管理に影響を与えるものではない。すなわち、本実施形態によれば、第４実施形態と同様に、一旦保存した波形信号データであっても、AE波計測時刻の管理に影響を与えることなくデータ量を削減することができ、波形信号保存部20に掛かる負荷を低減することができる。
【００９７】
さらに、本実施形態では、弾性波発生の位置評定に寄与した波形信号であるか否かを判定することから、波高値を基準とする判別方法ではノイズと区別が付けづらいような微弱な波形信号であっても、取りこぼすことなく有効活用できる利点がある。その結果、弾性波発生源の位置標定の精度を更に高めることができる。
【００９８】
［第６の実施形態］
被検査体が非常に大規模な構造物の場合（例えば、長さが数kmのトンネルのような場合）、１台の弾性波計測解析装置で該被検査体全体を管理するのは、センサ総数やデータ転送距離の観点から困難になることが予想される。そのような場合、該大規模構造物を適当な大きさの区画に分けて考え、複数台の弾性波計測解析装置を用いて各区画を担当させ、当該複数台の弾性波計測解析装置同士を相互連結した弾性波計測解析装置システムを構築することが好ましい。
【００９９】
また、複数台の弾性波計測解析装置からなる弾性波計測解析装置システムを用いることにより、弾性波の計測・解析における分散並列処理が可能になり、弾性波発生源を位置標定する計算時間を短縮できる利点がある。
【０１００】
上述した実施形態は、本発明の理解を助けるために説明したものであり、本発明は、記載した具体的な構成のみに限定されるものではない。例えば、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。すなわち、本発明は、本明細書の実施形態の構成の一部について、削除・他の構成に置換・他の構成の追加をすることが可能である。
【符号の説明】
【０１０１】
100，200，300，400…弾性波計測解析装置、1…センサ、10，10’…弾性波計測部、11…波形信号化機構、12…波形信号メモリ機構、13…収録センサ制御機構、14…計測時間制御機構、20…波形信号保存部、30，30’，30”…波形信号処理部、31…波形信号読出機構、32…読出波形信号判定機構、33…波形信号調整機構、34…時間反転波形信号作成機構、35…逆伝搬解析機構、36…波形信号データ削除機構、37…解析結果判定・データ削除機構、40…入出力部、41…計測処理条件入力機構、42…表示機構。
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図３Ｃ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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【図８】
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