(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板のブラシ洗浄を行う基板処理装置であって、
回転軸線の周りで回転可能に設けられたスピンベースと、
前記スピンベースを回転させるスピンベース回転機構と、
開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに設けられた複数の第１チャックピンと、
開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに設けられた複数の第２チャックピンと、
を備えており、
前記複数の第１チャックピンの各々は、閉状態において基板の端部と当接する第１当接面を有しており、
前記複数の第２チャックピンの各々は、閉状態において基板の端部と当接する第２当接面を有しており、
前記第１当接面と第２当接面は異なる素材で形成されており、
前記第２当接面がブラシ素材で形成されていることを特徴とする、基板処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の基板処理装置であって、
前記複数の第１チャックピンと前記複数の第２チャックピンが交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする、基板処理装置。
【請求項３】
請求項１乃至２のいずれか１つに記載の基板処理装置であって、
前記複数の第１チャックピンと前記複数の第２チャックピンが基板の周方向に沿って交互に配置されていることを特徴とする、基板処理装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか１つに記載の基板処理装置であって、
前記第２当接面の基板に対する摩擦係数が、前記第１当接面の基板に対する摩擦係数よりも小さいことを特徴とする、基板処理装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１つに記載の基板処理装置であって、
前記複数の第１チャックピンと前記複数の第２チャックピンが交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする、基板処理装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか１つに記載の基板処理装置であって、
前記スピンベースの回転数が一定速度であるときにおいて、
前記複数の第１チャックピンと前記複数の第２チャックピンが交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする、基板処理装置。
【請求項７】
請求項１乃至５のいずれか１つに記載の基板処理装置であって、
前記スピンベースの回転数が加速している間において、
前記複数の第１チャックピンと前記複数の第２チャックピンが交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする、基板処理装置。
【請求項８】
請求項１乃至５のいずれか１つに記載の基板処理装置であって、
前記スピンベースの回転数が減速している間において、
前記複数の第１チャックピンと前記複数の第２チャックピンが交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする、基板処理装置。
【請求項９】
基板のブラシ洗浄を行う基板処理方法であって、
回転軸線の周りで回転可能に設けられたスピンベースと、
前記スピンベースを回転させるスピンベース回転機構と、
開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに設けられてた複数の第１チャックピンと、
開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに前記スピンベースに設けられており、基板との当接面がブラシ素材で形成された複数の第２チャックピンと、
を備えた基板処理装置において、
前記複数の第１チャックピンを閉状態にし、かつ前記複数の第２チャックピンを開状態にする第１チャックピン保持工程と、
前記複数の第１チャックピンを開状態にし、かつ前記複数の第２チャックピンを閉状態にする第２チャックピン保持工程とを実行し、
前記第２チャックピン保持工程において、前記スピンベースと前記基板とが相対的に回転移動することを特徴とする、基板処理方法。
【請求項１０】
前記請求項９に記載の基板処理方法であって、
前記第１チャックピン保持工程においては、前記スピンベースと前記基板とが互いに相対的に回転せず、
前記第２チャックピン保持工程においては、前記スピンベースと前記基板とが互いに相対的に回転することを特徴とする、基板処理方法。
【請求項１１】
前記請求項９乃至１０のいずれか１つに記載の基板処理方法であって、
前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベースの回転数が一定速度であるときに行われることを特徴とする、基板処理方法。
【請求項１２】
前記請求項９乃至１０のいずれか１つに記載の基板処理方法であって、
前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベースの回転数が加速しているときに行われることを特徴とする、基板処理方法。
【請求項１３】
前記請求項９乃至１０のいずれか１つに記載の基板処理方法であって、
前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベースの回転数が減速しているときに行われることを特徴とする、基板処理方法。
【請求項１４】
前記請求項９乃至１３のいずれか１つに記載の基板処理方法であって、
前記第１チャックピン保持工程と前記第２チャックピン保持工程が複数回繰り返されることを特徴とする、基板処理方法。
【請求項１５】
基板のブラシ洗浄を行う基板処理方法を実行するプログラムのプログラム記録媒体であって、当該プログラムが、
回転軸線の周りで回転可能に設けられたスピンベースと、
前記スピンベースを回転させるスピンベース回転機構と、
開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに設けられてた複数の第１チャックピンと、
開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに設けられており、基板との当接面がブラシ素材で形成された複数の第２チャックピンと、
を備えた基板処理装置において、
前記複数の第１チャックピンを閉状態にし、かつ前記複数の第２チャックピンを開状態にする第１チャックピン保持工程と、
前記複数の第１チャックピンを開状態にし、かつ前記複数の第２チャックピンを閉状態にする第２チャックピン保持工程とを実行し、
前記第２チャックピン保持工程において、前記スピンベースと前記基板とが相対的に回転移動することを特徴とする、プログラム記録媒体。
【請求項１６】
前記請求項１５に記載のプログラム記録媒体であって、
前記第１チャックピン保持工程においては、前記スピンベースと前記基板とが互いに相対的に回転せず、
前記第２チャックピン保持工程においては、前記スピンベースと前記基板とが互いに相対的に回転することを特徴とする、プログラム記録媒体。
【請求項１７】
前記請求項１５乃至１６のいずれか１つに記載のプログラム記録媒体であって、
前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベースの回転数が一定速度であるときに行われることを特徴とする、プログラム記録媒体。
【請求項１８】
前記請求項１５乃至１６のいずれか１つに記載のプログラム記録媒体であって、
前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベースの回転数が加速しているときに行われることを特徴とする、プログラム記録媒体。
【請求項１９】
前記請求項１５乃至１６のいずれか１つに記載のプログラム記録媒体であって、
前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベースの回転数が減速しているときに行われることを特徴とする、プログラム記録媒体。
【請求項２０】
前記請求項１５乃至１９のいずれか１つに記載のプログラム記録媒体であって、
前記第１チャックピン保持工程と前記第２チャックピン保持工程が複数回繰り返されることを特徴とする、プログラム記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、処理対象の基板に対して処理液を用いた処理を施すための基板処理装置、基板処理方法およびプログラム記録媒体に関する。処理対象の基板には、半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基板、プラズマディスプレイ用ガラス基板、フォトマスク用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板などの各種の基板が含まれる。これら基板を以下、ウエハと総称する。
【背景技術】
【０００２】
基板の処理工程の一つに、基板の表面に処理液を供給することにより基板表面を洗浄する工程がある。処理液供給のみでは充分に洗浄目的が達せられない場合、ブラシを基板表面に適用し基板表面を洗浄するブラシ洗浄工程が行われる。
基板を水平に保持しつつ回転させた上で基板洗浄処理を行ういわゆる枚葉洗浄装置においては、基板表面に処理液を供給した上でブラシが基板表面に適用され、ブラシによる洗浄処理が実施される。
【０００３】
基板を水平面に平行に保持し、一つの処理室で一枚ずつ基板処理を行ういわゆる枚葉基板処理装置においてブラシ洗浄する際には、基板をスピンベースに保持した上で基板とスピンベースを一体回転させ、これにブラシを当接させることによりブラシ洗浄が行われる。スピンベースに基板を保持させる方式としては、基板の主面の一方を吸引保持する吸引チャック方式や、基板の端部（ベベルまたはエッジ周辺）を基板側面から挟持するエッジホールド方式などがある。エッジホールド方式は、吸引チャック方式と違い基板端部以外の部分を洗浄することが可能であり、広く用いられる。特にウエハ裏面洗浄工程ではその工程の性質上、殆どの場合においてエッジホールド方式が使われる。
【０００４】
しかしながら、エッジホールド方式の基板保持には、チャックピンが基板の端部を保持するため基板端部のブラシ洗浄が困難となるという問題がある。
この問題に対処するため、基板の端部を保持する複数のチャックピンの一部を適宜退避させ、基板の端部のうちチャックピンが退避した箇所についてブラシを進入させブラシ洗浄を行うという方法が提案されている。このようにチャックピンの一部を退避させる技術例が特許文献１に記載されている。
特許文献１では、エッジホールド方式にて基板が保持されているが、ブラシとチャックピンが干渉しないようにチャックピンを退避させ、これと基板主面のブラシ洗浄を同期させている。チャックピンが退避したところについて、ブラシは基板のエッジを超えた位置まで水平移動し、いわゆるブラシオーバースキャン走査がなされる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第４９３９３７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に例示されるようにブラシオーバースキャンにおいてチャックピンを開くためには、基板飛びを防止するため基板回転数を低回転（例：５０ｒｐｍ以下）にする必要がある。しかし、低回転数にてブラシ洗浄を行うと、汚染除去効率の低下や、遠心力不足による汚染残留などの問題が発生しやすくなる。こうしたことから、エッジホールド方式にて基板を保持しつつ、中速以上の回転数（例：数百から１０００ｒｐｍ以上）で基板を回転させつつブラシ洗浄する装置・方法が必要とされている。
【０００７】
また、ブラシオーバースキャンでは、ブラシを主面に垂直に当接させる。一方で基板端部（ベベルまたはエッジ周辺）は、水平面に対して斜めまたは垂直に切り落とした形状となっている。このため、基板端部の汚れがブラシオーバースキャンでは充分に除去されない場合がある。このため、エッジホールド方式にて基板を保持しつつ、基板端部の形状に適合したブラシにてブラシ洗浄を行う装置・方法が必要とされている。
【０００８】
そこで、この発明の目的は、基板をその端部で挟持するいわゆるエッジホールド方式による保持方式を採用しつつ、基板の端部（ベベルまたはエッジ周辺）を良好にブラシ洗浄する装置および方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の目的を達成するための請求項１記載の発明は、基板（Ｗ）のブラシ洗浄を行う基板処理装置（１）であって、回転軸線（ＡＸ）の周りで回転可能に設けられたスピンベース（７０）と、前記スピンベースを回転させるスピンベース回転機構（５３）と、開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンチャックに設けられた複数の第１チャックピン（ＣＡ）と、開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンチャックに設けられた複数の第２チャックピン（ＣＢ）と、を備えており、前記複数の第１チャックピンの各々は、閉状態において基板の端部と当接する第１当接面（ＣＡ２）を有しており、前記複数の第２チャックピンの各々は、閉状態において基板の端部と当接する第２当接面（ＣＢ２）を有しており、前記第１当接面と第２当接面は異なる素材で形成されており、前記第２当接面がブラシ素材で形成されていることを特徴とする。
【００１０】
なお、括弧内の英数字は、後述の実施形態における対応構成要素等を表す。以下、この項において同じ。
【００１１】
請求項１記載の発明によれば、基板を第１チャックピンＣＡおよび第２チャックピンＣＢそれぞれを用いて保持することが可能であり、第２チャックピンと基板が当接する第２当接面がブラシ素材で形成されている。従って、第２チャックピンＣＢにより基板を保持しつつ基板の端部をブラシ洗浄することが可能となる。
【００１２】
請求項２記載の発明は、請求項１に記載の基板処理装置（１）であって、前記複数の第１チャックピン（ＣＡ）と前記複数の第２チャックピン（ＣＢ）が交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする。
【００１３】
請求項２記載の発明によれば、第２チャックピンと第１チャックピンで交互に基板を持ち替えて保持することが可能となる。
【００１４】
請求項３記載の発明は、請求項１乃至２のいずれか１つに記載の基板処理装置（１）であって、前記複数の第１チャックピン（ＣＡ）と前記複数の第２チャックピン（ＣＢ）が基板（Ｗ）の周方向に沿って交互に配置されていることを特徴とする。
【００１５】
請求項３記載の発明によれば、第１チャックピンと第２チャックピンが基板の周方向に沿って交互に配置されているため、基板の持ち替えを行っても、基板を安定して保持することが可能となる。
【００１６】
請求項４記載の発明は、請求項１乃至３のいずれか１つに記載の基板処理装置（１）であって、前記第２当接面（ＣＢ２）の基板（Ｗ）に対する摩擦係数が、前記第１当接面（ＣＡ２）の基板に対する摩擦係数よりも小さいことを特徴とする。
【００１７】
請求項４記載の発明によれば、第２チャックピンで基板を保持した際に基板がチャックピンとの間で滑りやすくなる。この滑り動作を利用してブラシ洗浄を行うことが可能となる。
【００１８】
請求項５記載の発明は、請求項１乃至４のいずれか１つに記載の基板処理装置（１）であって、前記複数の第１チャックピン（ＣＡ）と前記複数の第２チャックピン（ＣＢ）が交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする。
【００１９】
請求項６記載の発明は、請求項１乃至５のいずれか１つに記載の基板処理装置（１）であって、  前記スピンベース（７０）の回転数が一定速度であるときにおいて、
前記複数の第１チャックピン（ＣＡ））と前記複数の第２チャックピン（ＣＢ）が交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする、基板処理装置（１）である。
【００２０】
請求項７記載の発明は、請求項１乃至５のいずれか１つに記載の基板処理装置（１）であって、前記スピンベース（７０）の回転数が加速している間において、前記複数の第１チャックピン（ＣＡ）と前記複数の第２チャックピン（ＣＢ）が交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする。
【００２１】
請求項８記載の発明は、請求項１乃至５のいずれか１つに記載の基板処理装置であって、前記スピンベース（７０）の回転数が減速している間において、前記複数の第１チャックピン（ＣＡ）と前記複数の第２チャックピン（ＣＢ）が交互に基板を保持するように開状態と閉状態を切り替えることを特徴とする。
【００２２】
請求項９記載の発明は、基板（Ｗ）のブラシ洗浄を行う基板処理方法であって、回転軸線（ＡＸ）の周りで回転可能に設けられたスピンベース（７０）と、
前記スピンベースを回転させるスピンベース回転機構（５３）と、開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに設けられてた複数の第１チャックピン（ＣＡ）と、開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに設けられており、基板との当接面がブラシ素材で形成された複数の第２チャックピン（ＣＢ）と、を備えた基板処理装置において、前記複数の第１チャックピンを閉状態にし、かつ前記複数の第２チャックピンを開状態にする第１チャックピン保持工程と、前記複数の第１チャックピンを開状態にし、かつ前記複数の第２チャックピンを閉状態にする第２チャックピン保持工程とを実行し、前記第２チャックピン保持工程において、前記スピンベース（７０）と前記基板（Ｗ）とが相対的に回転移動することを特徴とする。
【００２３】
請求項９記載の発明によれば、基板を第１チャックピンＣＡおよび第２チャックピンＣＢそれぞれを用いて保持することが可能であり、第２チャックピンと基板が当接する第２当接面がブラシ素材で形成されており、第２チャックピンと第１チャックピンで交互に基板を持ち替えて保持することが可能である。第２チャックピン保持工程において、スピンベースと基板とが相対的に回転移動するため、第２チャックピンが基板端面をブラシ洗浄する動作が可能となる。
【００２４】
請求項１０記載の発明は、前記請求項９に記載の基板処理方法であって、
前記第１チャックピン保持工程においては、前記スピンベース（７０）と前記基板（Ｗ）とが互いに相対的に回転せず、前記第２チャックピン保持工程においては、前記スピンベースと前記基板とが互いに相対的に回転することを特徴とする。
【００２５】
請求項１０記載の発明によれば、第１工程においてスピンベースの回転に基板が追随されるため、基板をスピンベースの回転に合わせて回転させることができる。一方で第２工程においては、スピンベースと基板とが相対的に回転移動するため、第２チャックピンが基板端面をブラシ洗浄する動作が可能となる。
【００２６】
請求項１１記載の発明は、前記請求項９乃至１０のいずれか１つに記載の基板処理方法であって、前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベース（７０）の回転数が一定速度であるときに行われることを特徴とする。
【００２７】
請求項１２記載の発明は、前記請求項９乃至１０のいずれか１つに記載の基板処理方法であって、前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベース（７０）の回転数が加速しているときに行われることを特徴とする。
【００２８】
請求項１３記載の発明は、前記請求項９乃至１０のいずれか１つに記載の基板処理方法であって、前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベース（７０）の回転数が減速しているときに行われることを特徴とする。
【００２９】
請求項１４記載の発明は、前記請求項９乃至１３のいずれか１つに記載の基板処理方法であって、前記第１チャックピン保持工程と前記第２チャックピン保持工程が複数回繰り返されることを特徴とする。
【００３０】
請求項１５記載の発明は、基板（Ｗ）のブラシ洗浄を行う基板処理方法を実行するプログラムのプログラム記録媒体であって、当該プログラムが、回転軸線（ＡＸ）の周りで回転可能に設けられたスピンベース（７０）と、前記スピンベースを回転させるスピンベース回転機構（５３）と、開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに設けられてた複数の第１チャックピン（ＣＡ）と、開状態と閉状態に切替可能であり、閉状態において基板の端部を側面から挟持可能に構成されており、前記スピンベースに設けられており、基板との当接面がブラシ素材で形成された複数の第２チャックピン（ＣＢ）と、を備えた基板処理装置において、前記複数の第１チャックピンを閉状態にし、かつ前記複数の第２チャックピンを開状態にする第１チャックピン保持工程と、前記複数の第１チャックピンを開状態にし、かつ前記複数の第２チャックピンを閉状態にする第２チャックピン保持工程とを実行し、前記第２チャックピン保持工程において、前記スピンベース（７０）と前記基板（Ｗ）とが相対的に回転移動することを特徴とする。
【００３１】
請求項１５記載の発明によれば、基板を第１チャックピンＣＡおよび第２チャックピンＣＢそれぞれを用いて保持することが可能であり、第２チャックピンと基板が当接する第２当接面がブラシ素材で形成されており、第２チャックピンと第１チャックピンで交互に基板を持ち替えて保持することが可能である。第２チャックピン保持工程において、スピンベースと基板とが相対的に回転移動するため、第２チャックピンが基板端面をブラシ洗浄する動作が可能となる。
【００３２】
請求項１６記載の発明は、前記請求項１５に記載のプログラム記録媒体であって、前記第１チャックピン保持工程においては、前記スピンベースと前記基板とが互いに相対的に回転せず、前記第２チャックピン保持工程においては、前記スピンベースと前記基板とが互いに相対的に回転することを特徴とする。
【００３３】
請求項１６記載の発明によれば、第１工程においてスピンベースの回転に基板が追随されるため、基板をスピンベースの回転に合わせて回転させることができる。一方で第２工程においては、スピンベースと基板とが相対的に回転移動するため、第２チャックピンが基板端面をブラシ洗浄する動作が可能となる。
【００３４】
請求項１７記載の発明は、前記請求項１５乃至１６のいずれか１つに記載のプログラム記録媒体であって、前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベースの回転数が一定速度であるときに行われることを特徴とする。
【００３５】
請求項１８記載の発明は、前記請求項１５乃至１６のいずれか１つに記載のプログラム記録媒体であって、前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベースの回転数が加速しているときに行われることを特徴とする。
【００３６】
請求項１９記載の発明は、前記請求項１５乃至１６のいずれか１つに記載のプログラム記録媒体であって、前記第２チャックピン保持工程が、前記スピンベースの回転数が減速しているときに行われることを特徴とする。
【００３７】
請求項２０記載の発明は、前記請求項１５乃至１９のいずれか１つに記載の基板処理方法であって、前記第１チャックピン保持工程と前記第２チャックピン保持工程が複数回繰り返されることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】実施形態に係る基板処理装置の構成を模式的に示す側面図である。
【図２】実施形態に係る処理液供給機構２００の構成を模式的に示す側面図である。
【図３】実施形態に係る制御機構１００の構成を模式的に示す側面図である。
【図４】実施形態に係るチャックピンＣＡ及びＣＢの構造を説明するための模式的な側面図である。
【図５】実施形態に係るチャックピンＣＡ及びＣＢの動作を説明するための模式的な平面図である。
【図６】実施形態に係るチャックピンＣＡ及びＣＢの動作を説明するための模式的な平面図である。
【図７】実施形態に係るチャックピンＣＡ及びＣＢの動作を説明するための模式的な平面図である。
【図８】実施形態に係るチャックピンＣＡ及びＣＢの動作を説明するための模式的な平面図である。
【図９】実施形態に係る処理のタイムチャートである。
【図１０】実施形態に係る処理のフローチャートである。
【００３９】
以下、基板処理装置１の構成及び動作を図面に基づいて説明する。
【００４０】
図面では同様な構成および機能を有する部分に同じ符号が付され、下記説明では重複説明が省略される。また、各図面は模式的に示されたものである。
【００４１】
［実施形態について］
＜基板処理装置１の構成＞
図１は、実施形態に係る基板処理装置１の構成の一例を表す模式図である。
まず、基板処理装置１を構成する各種部材や機構について説明する。
【００４２】
基板処理装置１は、基板Ｗを保持回転するためのスピンチャック５０が設置されている。スピンチャック５０は、略円板形状のスピンベース７０と、スピンベース７０の下方に連結された円柱状の支軸５２と、支軸５２と連結するスピンベース回転機構５３を備える。
【００４３】
スピンベース７０の上面の周縁部には、基板Ｗをその周縁から保持するための複数のチャックピンＣＡと、複数のチャックピンＣＢが、スピンベース７０上面の周方向について略等間隔となるように互い違いに配設されている。スピンベース７０の内部には、点線で示すチャックピン移動機構７５Ａ及び７５Ｂが格納されている。チャックピン移動機構７５Ａは、複数のチャックピンＣＡを開状態と閉状態とに切り替える動作を実現する。チャックピン移動機構７５Ｂは、複数のチャックピンＣＢを開状態と閉状態とに切り替える動作を実現する。これら動作は、制御機構１００におけるアーム移動機構制御部１２２からの制御信号により実現される。
【００４４】
スピンチャック５０の側方には、アーム移動機構６０が設置されている。アーム移動機構６０は、アーム６４を水平面内で揺動移動させるための軸回転機構６１Ａと、アーム６４を鉛直方向に昇降させるための昇降機構６１Ｂを有する可動部６１を備える。可動部６１は、可動部６１から生じる汚染物を遮蔽するために可動部６１周囲を覆うためのカバー６２を備えている。なお、可動部６１は、ヘッド６５およびブラシをアーム５２の長軸方向に前後させるための図示しない前後移動機構６１Ｃを、軸回転機構６１Ａの代わりに、または軸回転機構６１Ａに加えて備えている構成としても良い。
【００４５】
可動部６１は、鉛直方向に延びる支軸６３に連結し、支軸６３は更に水平方向に延びるアーム６４に連結する。アーム６４の一端はヘッド６５に連結する。ヘッド６５上には、第１ブラシＢＲ１が固定されており、アーム移動機構６０によりヘッド６５を移動させることによって、第１ブラシＢＲ１の位置を移動させることができる。ヘッド６５は、固定具２５を介して図１に示すように第２ノズル２０と連結しても良い。
【００４６】
基板処理装置１は更に、スピンチャック５０で保持された基板Ｗに処理液を供給するための第１ノズルおよび第２ノズルを備える。
【００４７】
＜処理液供給機構２００の構成について＞
以下、図１に加えて適宜図２を参照して第１ノズル及び第２ノズルの配置構成および処理液供給機構２００の構成について説明する。図２は、実施形態に係る処理液供給機構２００の構成を模式的に示す側面図である。
第１ノズル１０は、配管２１０を通じて処理液供給機構２００から供給される処理液を吐出口１０Ａから吐出可能に構成されている。本実施形態においては、第１ノズル１０は、基板Ｗの主面（上面）の中心に向けて処理液を吐出するように、図示しない固定具により基板Ｗの上部に固定される。
第１ノズル１０の固定位置は、第２ノズル２０やヘッド６５の移動に伴い、これらと干渉しない高さに設定される。
【００４８】
第１ノズル１０の上記配置構成は、あくまで一例であり、基板Ｗの主面（上面）の中心に向けて処理液を吐出する構成としては、基板Ｗの上方に基板Ｗの主面と対向したいわゆる遮断板を配置し、この遮断板の中央に第１ノズル１０の吐出口を配置する構成など、多様な構成例が考えられる。また、第１ノズル１０は、各種移動機構と組み合わせることで基板Ｗの主面（上面）に沿って移動可能な構成とし、基板Ｗの主面（上面）の中心に向けて処理液を吐出するときに基板Ｗの回転軸上に沿って配置され、それ以外のときに退避位置に退避する構成としても良い。また、第１ノズル１０の吐出口が基板Ｗの回転軸上外に配置され、処理液が基板Ｗの主面（上面）の中心に向けて斜めに吐出される構成としても良い。
【００４９】
第１ノズル１０は、配管２１０を通じて、図２に示す処理液供給機構２００に接続する。処理液供給機構２００は、処理液タンク２５０に貯留された処理液を、ポンプＰ１により、配管２１０を通じて第１ノズル１０へと供給する。配管２１０には処理液の流量を調整するための流量調整バルブ２１１、配管２２０１０を開閉する開閉バルブ２１５が介接されている。第１ノズル１０から吐出される処理液の流量は、ポンプＰ１の移動出力および流量調整バルブ２１１の開度を調整することによって調節され、処理液の吐出の開始・停止は開閉バルブ２１５を開閉することにより実行される。
【００５０】
第２ノズル２０は、配管２２０を通じて処理液供給機構２００から供給される処理吐出口２０Ａから吐出可能に構成されている。処理液供給機構２００は、処理液タンク２５０に貯留された処理液を、ポンプＰ２により、配管２２０を通じて第２ノズル２０へと供給する。配管２２０には配管２２０を流れる処理液の流量を調整するための流量調整バルブ２２１、配管２２０を開閉する開閉バルブ２２５が介接されている。第２ノズル２０から吐出される処理液の流量は、ポンプＰ２の移動出力および流量調整バルブ２２１の開度を調整することによって調節され、処理液の吐出の開始・停止は開閉バルブ２２５を開閉することにより実行される。
【００５１】
第２ノズル２０は、固定具２５を介してヘッド６５に固定されており、ヘッド６５、ひいてはブラシＢＲ１とともに移動する。第２ノズル２０の主な役割は、ブラシＢＲ１が基板Ｗに当接した際、つまりブラシＢＲ１により基板Ｗの主面（上面）を洗浄する際に、ブラシＢＲ１と基板Ｗとが当接する当接領域について基板回転下流側に隣接する領域（回転下流隣接領域）に処理液を補充し、回転下流隣接領域における処理液膜切れまたは膜厚厚低下を回避することである。このため、第２ノズル２０の吐出口は、当該回転下流隣接領域のいずれかの位置に向けて処理液が吐出されるように、ブラシＢＲ１と第２ノズル２０との位置関係、第２ノズル２０の角度などを調節した上で固定具２５を介してヘッド６５に固定される。
【００５２】
より具体的に述べると、第２ノズル２０は、処理液がスピンベース７０に対して鉛直斜め下方へと吐出されるように、その長軸について角度をつけて（例えば、スピンベース７０の回転軸に対して、回転軸下方から４５度〜８０度）、ヘッド６５の側面に固定される。膜厚低下領域Ｒの形状は、典型的には、ブラシＢＲ１と基板Ｗとが当接する当接領域の基板回転下流側に生ずる。ブラシＢＲ１の構造からいうと、ブラシＢＲ１の下面の端面（エッジ）のうち基板回転下流側のエッジ（ブラシＢＲ１の下流側エッジ３０Ｂ）に端を発し、そこから基板回転下流側に若干延びる形状となる。従って、第２ノズル２０から処理液を吐出する目標位置Ｘは、ブラシＢＲ１の側面近傍かつ回転下流側に設定することが望ましく、更には、膜厚低下領域Ｒの全領域へと第２ノズル２０から補充した処理液が流れていく位置とすることが望ましい。
【００５３】
なお、当接領域の基板回転下流側のうち、もっとも処理液膜厚が低下するのは、当接領域の境界線近傍である。従って、第２ノズル２０からの処理液は、当接領域の境界線近傍にその一部が流れるように第２ノズルをヘッド６５に固定することが望ましい。
【００５４】
配管２１０と配管２２０は、図２に示すように、独立して共通の処理液タンク２５０に連結する構成としても良いし、処理液タンク２５０に至る手前で共通配管２３０（図示せず）に合流した後、処理液タンク２５０と共通配管２５０が接続する形態としても良い。また、それぞれ異なる処理液タンク２５０Ａ、２５０Ｂ（図示せず）へと連結する構成としても良い。
【００５５】
＜制御機構１００について＞
図１及び図３を参照し、制御機構１００の構成について説明する。
図３は、実施形態に係る制御機構１００の構成を模式的に示す側面図である。
基板処理装置１は、更に制御機構１００を有している。制御機構１００は、チャックピン移動機構７５、スピンベース回転機構５３、アーム移動機構６０の可動部６１、処理液供給機構２００におけるポンプＰ１及びＰ２、流量調整バルブ２１１及び２２１、開閉バルブ２１５及び２２５などの動作を制御する。
【００５６】
制御機構１００は、ＣＰＵ１２０、処理液供給機構制御部１２１、アーム移動機構制御部１２２、チャックピン移動機構制御部１２３、スピンベース回転機構制御部１２４、その他の制御部１２５を備える（図３参照）。
【００５７】
制御機構に接続する記憶部１１０は、処理工程の手順や工程実施に必要な装置制御パラメータなどを格納するレシピや、操作者指示情報、工程ごとの装置制御パラメータや制御信号の値を算出するための各種アルゴリズムを格納する。上記の各制御部は、記憶部１１０と連携して制御信号の値を算出し、装置の処理工程の進行状況に従って、制御信号を接続先に送信する。
【００５８】
制御機構１００は、基板Ｗの処理に伴う処理液飛沫や雰囲気汚染を回避するため、スピンチャック５１との間に設けたスピンチャック５１等を覆う図示しない隔壁の外部に設けた構成とし、制御信号を送受信するための配線を通じて上述の各種機構への通信を行う構成としても良い。
【００５９】
＜チャックピンＣＡ及びＣＢの構造＞
図４は、実施形態に係るチャックピンＣＡ及びＣＢの構造を説明するための模式的な側面図である。図４では、簡単のため、記憶部１１０、制御機構１００、処理液供給機構２００、第１ノズル１０、第２ノズル２０、アーム移動機構６０を図から省略している。
以下、図４を参照し、チャックピン移動機構７５Ａ及び７５Ｂ、ならびに、チャックピンＣＡ及びＣＢの構造について詳しく説明する。
【００６０】
図４では、スピンチャック５０のうち、簡単のためスピンベース７０のみを図示してい
スピンベース７０の内部には、図４の点線で示すスピンチャック移動機構７５が内蔵されている。スピンチャック移動機構７５は、スピンチャック移動機構７５Ａとスピンチャック移動機構７５Ｂとを有する。
【００６１】
スピンチャック移動機構７５Ａは、スピンベース７０内において、複数のチャックピンＣＡの各々の下方に格納されており、制御機構１００におけるチャックピン移動機構制御部による制御信号により作動する。
【００６２】
スピンチャック移動機構７５Ａは、チャックピンＣＡの支軸ＣＡ３をスロットＣＡ４に沿って移動させることにより、支軸ＣＡ３に連結されたチャックピン本体ＣＡ１を移動させる。当該移動により、チャックピンＣＡの当接面ＣＡ２が基板Ｗのエッジまたはベベルに当接可能な状態である「開状態」と、当接面ＣＡ２が基板Ｗのエッジまたはベベルに当接可能な状態である「閉状態」の２状態が実現される。スピンチャック移動機構７５Ａによる当該移動は、例えば、スピンベース７０の上面径方向に沿って溝が形成されたスロットＣＡ４に沿ってスピンチャック移動機構７５Ａが支軸ＣＡ３をスピンベース７０の上面径方向に沿って水平移動させることにより実現される。スピンチャック移動機構７５Ａによる当該移動は、別の態様、例えば、当該支軸ＣＡ４がその下方において水平方向に設けられた軸周りに回転することによって、基板Ｗへと当接または離反を実演するものであっても良い。支軸ＣＡ３を移動させ、チャックピンＣＡに開状態と閉状態を実現させるためのスピンチャック移動機構７５Ａの機械構成としては、従来からカム機構により部材の変位を実現する構成や、磁石を活用して非接触で部材の変位を実現する構成など様々な構成が公知であり、いずれの構成を用いても良い。
【００６３】
次にスピンチャック移動機構７５Ｂについて説明する。スピンチャック移動機構７５Ｂは、スピンベース７０内において、複数のチャックピンＣＢの各々の下方に格納されており、制御機構１００におけるチャックピン移動機構制御部による制御信号により作動する。その他構成については、スピンチャック移動機構７５Ａと７５Ｂは同様な構成をとる。
独立した移動機構であるスピンチャック移動機構７５Ａ、７５Ｂが、各々複数のチャックピンＣＡ、ＣＢに連結しているため、複数のチャックピンＣＡとＣＢを各々独立して移動させることができる。
【００６４】
引き続き図４を参照し、チャックピンＣＡ及びＣＢの構成について説明する。
チャックピンＣＡは、チャックピン本体ＣＡ１と、チャックピン本体ＣＡ１の側面にて基板Ｗに当接する当接面ＣＡ２と、スピンベース７０の上面周縁部に設けられたスロットＣＡ４と、スロットＣＡ４とチャックピン本体ＣＡ１の下面を接続するＣＡ３とを有する。
【００６５】
当接面ＣＡ２は、チャックピン本体ＣＡ１の一部分を構成しても良いし、チャックピン本体ＣＡ１と独立した部材であっても良い。すなわち、チャックピン本体ＣＡ１と当接面ＣＡ２が独立した部材であっても良いし、一体的に成型された部材であっても良い。
当接面ＣＡ２は、基板Ｗの端面と直接に接触するため、汚染の発生しやすさ、耐薬性、耐久性などを考慮して素材が決定される。チャックピンＣＡは、当接面ＣＡ２を基板Ｗの端面に当接させることにより、基板Ｗを確実に保持する必要がある。このため、基板Ｗに当接させた際に余り摩擦力が働かないような材料や表面形状とすることは望ましくない。
当接面ＣＡ２の材料としては、例えば、例えばＰＶＡ（ポリビニルアルコール）やウレタンなどの弾性変形可能な材料で形成されたスポンジ材（多孔質部材）などが選択される。
【００６６】
続いて、チャックピンＣＢについて説明する。
チャックピンＣＢは、チャックピン本体ＣＢ１と、チャックピン本体ＣＢ１の側面にて基板Ｗに当接する当接面ＣＢ２と、スピンベース７０の上面周縁部に設けられたスロットＣＢ４と、スロットＣＢ４とチャックピン本体ＣＢ１の下面を接続するＣＢ３とを有する。当接面ＣＢ２は、チャックピン本体ＣＢ１の一部分を構成しても良いし、チャックピン本体ＣＢ１と独立した部材であっても良い。すなわち、チャックピン本体ＣＢ１と当接面ＣＢ２が独立した部材であっても良いし、一体的に成型された部材であっても良い。後者の場合、チャックピン本体ＣＢ１全体が後述するようにブラシ洗浄に適し、かつ、チャックピンＣＡの当接面ＣＡ２よりも基板Ｗに対する摩擦力が低くなるように材料・形状を設計する必要がある。
当接面ＣＢ２は、基板Ｗの端面と直接に接触するため、汚染の発生しやすさ、耐薬性、耐久性などを考慮して素材が決定される。
【００６７】
チャックピンＣＢは、チャックピンＣＡと同様、当接面ＣＢ２を基板Ｗの端面に当接させることにより、基板Ｗを保持する機能に加えて、基板Ｗのエッジまたはエッジ及びベベルを洗浄する機能を有する。当該洗浄機能は、後に詳述するように、当接面ＣＢ２と基板Ｗが当接しつつ互いに相対的に回転移動することにより実現される。換言すると、チャックピンＣＢの当接面ＣＢ２が基板Ｗのエッジやベベルに接触しつつ、滑るように相対移動する。こうした洗浄機能を実現するために、チャックピンＣＢの当接面ＣＢ２は、いわゆるブラシ洗浄処理に適したブラシ素材であることが好ましい。さらに、当該洗浄機能においては、当接面ＣＢ２と基板Ｗとが互いに滑るように相対移動する必要があるため、当接面ＣＡ２に比べて滑りやすい素材を選択することが望ましい。
【００６８】
当接面ＣＢ２の材料としては、例えば、ＰＶＡ（ポリビニルアルコール）やウレタンなどの弾性変形可能な材料で形成されたスポンジ材（多孔質部材）が選択される。
【００６９】
本実施形態においては、当接面ＣＡ２やＣＢ２の形状は、図４に示すように基板Ｗの端部（ベベルまたはエッジ周辺）に対向する側面が基板径方向の外側に向けて凹むことで基板の端部のほぼ全てを上下及び側面から挟持するように構成されている。
【００７０】
なお、当接面ＣＡ２の形状は、こうした形状に限らず、基板Ｗの保持機能を適切に発揮しうる限りにおいて様々な形態をとりうる。例えば、当接面ＣＡ２は、基板Ｗの端部を下部から支持する載置面と、載置面から鉛直方向に延びる平板上の側面から成り、当該載置面と側面を基板Ｗの端部に当接させる椅子状の形状であっても良い。また、当接面ＣＢ２の形状は、基板Ｗの保持機能を発揮し、かつ、基板Ｗの端部のブラシ洗浄に適している限り、様々な形態をとりうる。
【００７１】
以上、基板処理装置１の装置構成について説明した。
次に、図５〜図８を参照し、チャックピンＣＡ及びＣＢの動作について説明する。
【００７２】
図５は、実施形態に係るチャックピンＣＡ及びＣＢの動作を説明するための模式的な平面図である
【００７３】
チャックピンＣＡは、当接面ＣＡ２の材質や形状が、基板Ｗのエッジまたはベベルを確実に保持することを想定して設計されており、その点では、通常のチャックピンと変わるところは無い。チャックピンＣＢは、当接面ＣＡ２の材質や形状が、基板Ｗのエッジまたはベベルを保持する機能を有するが、チャックピンＣＡほどに確実に基板Ｗを保持することは求められておらず、むしろ、後述するブラシ洗浄のためには、基板Ｗに当接しつつ基板Ｗと当接面ＣＢ２が互いに滑るように保持されることが想定されている。このため、当接面ＣＡ２の材質や形状は、ブラシ洗浄に用いられるブラシ素材などであり、かつ、チャックピンＣＡの当接面ＣＡ２よりも滑りが良いものが選択される。
【００７４】
チャックピンＣＡ、ＣＢはそれぞれ複数個あり、スピンベース７０の上方において、図５に例示するように周方向に互い違いに配置される。
既に説明したように、チャックピンＣＡは、チャックピン移動機構７５Ａにより、チャックピンＣＢはチャックピン移動機構７５Ｂにより、それぞれ独立に「開状態」と「閉状態」との間で移動可能である。
【００７５】
図５では、複数のチャックピンＣＡが「開状態」すなわちスピンベース７０の径方向外側に移動しており、かつ、複数のチャックピンＣＢもまた「開状態」すなわちスピンベース７０の径方向外側に移動している状態が示されている。なお、図５では、基板Ｗとチャックピンとの位置関係を示す目的で基板Ｗを記載しているが、基板Ｗの記載は、あくまで位置関係を示す参考のためである。実際には、この状態にて基板ＷをチャックピンＣＡまたはＣＢで保持することはできない。
【００７６】
図６は、図５と同様な模式図な平面図である。図６では、複数のチャックピンＣＡ及びＣＢの全てが「閉状態」となっている。
【００７７】
図７もまた、図５と同様な模式図な平面図である。図７では、複数のチャックピンＣＡが「閉状態」である一方で、複数のチャックピンＣＢが「開状態」となっている。
【００７８】
図８もまた、図５と同様な模式図な平面図である。図８では、複数のチャックピンＣＡが「開状態」である一方で、複数のチャックピンＣＢが「閉状態」となっている。
【００７９】
次に、図９及び図１０を参照し、基板処理装置１の動作例について説明する。
図９は、実施形態に係る処理のタイムチャートである。
図１０は、実施形態に係る処理のフローチャートである。
【００８０】
＜ＳＴＥＰ１  基板の搬入＞
先ず、基板Ｗに所定の処理を加えるために、基板Ｗがスピンチャック５０に保持される。基板Ｗが、図示しない基板搬送機構により基板処理装置１へと搬送されてくる。
このとき、チャックピンＣＡおよびＣＢは、既に説明した開状態となっている。
基板搬送機構は、記憶部１１０に既に格納されている位置情報に基づき、基板Ｗの端面がチャックピンＣＡおよびＣＢにより保持可能な位置、換言すると基板Ｗを水平移動させ、搬送する基板Ｗの端面がチャックピンＣＡおよびＣＢの当接面ＣＡ２およびＣＢ２の全てに対向する位置へと水平移動させる。
この段階においては、スピンベース７０は回転を停止している。
【００８１】
＜ＳＴＥＰ２  基板の保持＞
ＳＴＥＰ２では、チャックピンＣＡおよびチャックピンＣＢが「閉状態」となる。この結果、基板Ｗの端部（ベベルまたはエッジ）がチャックピンＣＡおよびＣＢにより保持される。
【００８２】
＜ＳＴＥＰ３  基板の回転開始＞
チャックピンＣＡおよびＣＢは、いずれも「閉状態」を維持したままで、スピンベース７０が回転開始する。本実施形態においては、スピンベース７０は少なくとも「停止」「低速」「中速」「高速」の４段階の速度切替が可能であるものとする。例えば、「低速」の回転数は数１０から数百ｒｐｍ、「中速」の回転数は数百から１０００ｒｐｍ、「高速」の回転数は１０００から３０００ｒｐｍの値をとる。ＳＴＥＰ３においては、スピンベース７０は低速回転数に至るまで加速する。
【００８３】
チャックピンＣＡは、基板Ｗを保持している間に、当接面ＣＡ２と基板Ｗとの間に実質的に滑りが生じないように確実に基板Ｗの端部（ベベルまたはエッジ）を保持するように、当接面ＣＡ２の材質、構造や基板Ｗの端部の押圧力の設定などが設計されている。従って、チャックピンＣＡとＣＢのうち、少なくともチャックピンＣＡが「閉状態」となって基板Ｗを保持しているときには、基板Ｗとチャックピンとの間の相対的な位置ずれ、換言すると両者間の滑りは実質的に発生しない。
【００８４】
ＳＴＥＰ３においても、複数のチャックピンＣＡが「閉状態」となっているため、基板Ｗとチャックピンとの間の相対的な位置ずれは実質的に発生しない。従って、図９のタイムチャートに示すようにＳＴＥＰ３においては、スピンベース回転数の変化とウエハ回転数の変化は同じ変化曲線を示す。
【００８５】
ＳＴＥＰ３においては、ＳＴＥＰ４におけるブラシ洗浄に備え、基板Ｗの中央上方近傍のノズル１０から基板Ｗの主面上へとブラシ洗浄に好適な処理液が吐出される。処理液は、基板Ｗの回転に伴う遠心力により基板Ｗの径方向外側へと広がる。ノズル１０からの処理液の吐出は、ＳＴＥＰ４〜ＳＴＥＰ７のブラシ洗浄が全て終了するまで継続される。
【００８６】
＜ＳＴＥＰ４  ブラシ洗浄（１）＞
ＳＴＥＰ４では、ＳＴＥＰ３に引き続き、スピンベース７０の回転数がさらに増大し続ける。ここで、複数のチャックピンＣＡと複数のチャックピンＣＢが、交互に開閉する。図９のタイムチャートに例示するように、先ずチャックピンＣＡが「閉状態」かつチャックピンＣＢが「開状態」となる。つまり、ＳＴＥＰ４においてはこれらチャックピンが図６の状態であったのが、図７の状態となる。
【００８７】
次に、チャックピンＣＡが「開状態」かつチャックピンＣＢが「閉状態」となり、図８の状態となる。つまり、チャックピンが図７の状態から図８の状態になり、基板Ｗを保持するチャックピンがチャックピンＣＡからチャックピンＣＢに切り替わることとなる。
なお、当該チャックピン切替の間、基板Ｗを保持するチャックピンが無くなってしまうと基板Ｗがスピンベース７０から飛び出してしまうおそれがある。チャックピンＣＡ、ＣＢの開閉タイミングを同時に設定すると、チャックピンＣＡ、ＣＢの開閉完了までには一定の時間がかかるため、切替実行の間に基板Ｗがいずれのチャックピンにも保持されないタイミングが生じてしまうおそれがある。
【００８８】
そこで、チャックピンＣＡからチャックピンＣＢに切り替える際、チャックピンＣＡとチャックピンＣＢが共に基板Ｗを保持するようにすることが望ましい。チャックピン切替の際にチャックピンＣＡとチャックピンＣＢが共に基板Ｗを保持する時間（オーバーラップ保持時間）は、チャックピンの開閉タイミングの精度、開閉にかかる時間等と、基板飛び出しのリスクを勘案して設定され、例えば０．１秒〜数秒程度の時間とする。
【００８９】
ここで、図８の状態においては、チャックピンＣＢは基板Ｗを基板Ｗがスピンベース７０から飛び出さないように保持するが、既に説明したようにチャックピンＣＢと基板Ｗが当接する当接面ＣＢ２はチャックピンＣＡの当接面ＣＡ２よりも摩擦力が低くなるように材質や構造の設計がなされている。従って、チャックピンが図８の状態となると、基板Ｗはスピンベース７０の加速に充分に追随しきれず、スピンベース７０の回転よりもやや低い回転数で回転する。その結果、チャックピンＣＢの当接面ＣＢ２が基板Ｗの端面（ベベルまたはエッジ周辺）を保持しつつ当該端面に沿って滑るように移動する。この結果、当接面ＣＢ２が基板Ｗの端面を保持しつつブラシ洗浄する効果が生ずる。
【００９０】
当接面ＣＢ２の基板Ｗに対する摩擦力を、当接面ＣＡ２のそれよりも少なくするには、当接面ＣＢ２の材質について、当接面ＣＡ２の材質よりも摩擦係数の少ないものを選択することが好ましい。摩擦力に差異をつける別のやり方として、チャックピンを開状態から閉状態へ移行させた差異にチャックピンを基板Ｗの端面に押し付ける力の強さについて、チャックピンＣＡでは強く、チャックピンＣＢではやや弱くする態様をとっても良い。
【００９１】
次に、再びチャックピンＣＡが「閉状態」かつチャックピンＣＢが「開状態」となる。すなわち、図７の状態となる。つまり、チャックピンが図８の状態から図７の状態へと切り替わる。ここで、チャックピンＣＢからチャックピンＣＡに切り替える際、チャックピンＣＡとチャックピンＣＢが共に基板Ｗを保持するようにすることが望ましい。チャックピン切替の際にチャックピンＣＡとチャックピンＣＢが共に基板Ｗを保持する時間（オーバーラップ保持時間）は、チャックピンの開閉タイミングの精度、開閉にかかる時間等と、基板飛び出しのリスクを勘案して設定され、例えば０．１秒〜数秒程度の時間とする。
【００９２】
チャックピンＣＡの当接面ＣＡ２は、基板Ｗの端面（ベベルまたはエッジ周辺）をＣＢ２よりも高い摩擦力をもって保持するため、図７の状態に切り替わると基板Ｗとスピンベース７０は再び同じ速度で回転しともに回転速度を増大させていく。このように、ＳＴＥＰ４ではスピンベース７０を低速回転から中速回転へと加速させる間に、チャックピンＣＡとＣＢの切替を行うことにより、チャックピンＣＢの当接面ＣＢ２による基板Ｗ端面（ベベルまたはエッジ周辺）のブラシ洗浄を実行する。
【００９３】
＜ＳＴＥＰ５  ブラシ洗浄（２）＞
ＳＴＥＰ５では、チャックピンＣＡとＣＢはいずれも「閉状態」となる。すなわち、図６の状態となり、基板Ｗとスピンベース７０はともに一定の速度で回転する。このときのスピンベース７０の回転数（中速）は、例えば、数百から１０００ｒｐｍである。
【００９４】
ＳＴＥＰ５では、図１、図４に例示するブラシＢＲ１によるブラシ洗浄が行われる。ブラシＢＲ１は、アーム移動機構６０によりブラシＢＲ１を連結するヘッド６５を基板Ｗの主面上に沿って水平移動させることにより、基板Ｗの主面上で擦動する。擦動範囲は、基板Ｗの主面上の基板中心から基板周縁部近傍までであるが、チャックピンＣＡ又はＣＢにブラシＢＲ１が接触しない範囲までとなるように動作が指定される。
【００９５】
こうして、基板Ｗの主面上のパーティクルや汚れ等が、ブラシＢＲ１によってブラシ洗浄され、ブラシＢＲ１により基板Ｗから除去されたこれらパーティクル等は基板Ｗ上を径方向外側に向けて流れる処理液によって基板Ｗの端面から外へと流れ落ちる。
【００９６】
なお、ブラシＢＲ１の周辺はブラシにより除去されたパーティクルを極力大量の処理液で洗い流す必要がある。このため、図１に例示するように補助的な第２ノズル２０をヘッド６５に固定し、ブラシＢＲ１周辺に処理液を吐出する構成としても良い。
【００９７】
＜ＳＴＥＰ６  ブラシ洗浄（３）＞
ＳＴＥＰ５に引き続き、以下に説明するようにチャックピンＣＡ、ＣＢの切替を行うことによるブラシ洗浄をおこなっても良い。
ＳＴＥＰ６におけるブラシ洗浄では、図９のタイムチャートに例示するようにチャックピンＣＡとＣＢの切替を行い、図７の状態と図８の状態が交互に実現される。この結果、ＳＴＥＰ４のブラシ洗浄で説明したのと同様に、図８の状態において、チャックピンＣＢの当接面ＣＢ２が基板Ｗの端面（ベベルまたはエッジ周辺）を保持しつつ当該端面に沿って滑るように移動し、この結果、当接面ＣＢ２が基板Ｗの端面を保持しつつブラシ洗浄する効果が生ずる。
【００９８】
チャックピンＣＢからチャックピンＣＡに切り替える際、チャックピンＣＡとチャックピンＣＢが共に基板Ｗを保持するようにすることが望ましい。チャックピン切替の際にチャックピンＣＡとチャックピンＣＢが共に基板Ｗを保持する時間（オーバーラップ保持時間）は、チャックピンの開閉タイミングの精度、開閉にかかる時間等と、基板飛び出しのリスクを勘案して設定され、例えば０．１秒〜数秒程度の時間とする。チャックピンＣＡからチャックピンＣＢに切り替える際も同様である。
【００９９】
＜ＳＴＥＰ７  ブラシ洗浄（４）＞
ＳＴＥＰ７では、スピンベース７０の回転数が、中速回転から低速回転へと減速される。例えば、「中速」の回転数は数百から１０００ｒｐｍ、「低速」の回転数は数１０から数百ｒｐｍの値をとる。
【０１００】
ＳＴＥＰ７におけるブラシ洗浄でも、図９のタイムチャートに例示するようにチャックピンＣＡとＣＢの切替を行い、図７の状態と図８の状態が交互に実現される。
チャックピンＣＢからチャックピンＣＡに切り替える際、チャックピンＣＡとチャックピンＣＢが共に基板Ｗを保持するようにすることが望ましい。チャックピン切替の際にチャックピンＣＡとチャックピンＣＢが共に基板Ｗを保持する時間（オーバーラップ保持時間）は、チャックピンの開閉タイミングの精度、開閉にかかる時間等と、基板飛び出しのリスクを勘案して設定され、例えば０．１秒〜数秒程度の時間とする。チャックピンＣＡからチャックピンＣＢに切り替える際も同様である。
【０１０１】
ＳＴＥＰ７において、図８の状態となったときには、スピンベース７０の回転数が基板Ｗの回転数よりも低くなる。これは、ブラシ洗浄（１）と同様、基板Ｗがスピンベース７０の回転数の変化に追随できなくなるためである。ブラシ洗浄（１）では基板Ｗがスピンベース７０の加速に取り残される現象が生じていたのに対して、ここでのブラシ洗浄（４）では、基板Ｗがスピンベース７０の減速に取り残される現象が生じる。この結果、ブラシ洗浄（１）と同様に、チャックピンＣＢの当接面ＣＢ２が基板Ｗの端面（ベベルまたはエッジ周辺）を保持しつつ当該端面に沿って滑るように移動するため、当接面ＣＢ２が基板Ｗの端面を保持しつつブラシ洗浄する効果が生ずる。
【０１０２】
このように、チャックピンＣＢの当接面ＣＢ２によるブラシ洗浄が、スピンベース７０の回転数が低速回転となるまで続けられる。スピンベース７０の回転数は、低速回転に達した後は一定の値をとる。この後、チャックピンＣＡ及びＣＢは共に「閉状態」、つまり図６の状態となる。以降、図６の状態は、ＳＴＥＰ１２が終了するまで維持される。
【０１０３】
＜ＳＴＥＰ８  基板Ｗの回転を加速＞
ＳＴＥＰ８では、リンス処理に備えてスピンベース７０の回転数が中速回転となるまで加速される。図９のタイムチャートに示すように、チャックピンＣＡ及びＣＢは「閉状態」となっている。
【０１０４】
＜ＳＴＥＰ９  リンス処理＞
スピンベース７０の回転数が中速回転に達した後、基板Ｗの主面の中央部上方に配置した第１ノズル１０から、基板Ｗの主面へと処理液を吐出させ、リンス処理を行う。
なお、ここでの実施形態では、ブラシ洗浄に用いる処理液とリンス処理の処理液を同じタンクから採取しているが、図示しない別タンクを処理液供給機構に接続し、ブラシ洗浄とリンス処理とで異なる処理液を用いる構成としても良い。
【０１０５】
＜ＳＴＥＰ１０  基板Ｗの回転を加速＞
ＳＴＥＰ９が終了すると、第１ノズル１０からの処理液吐出が停止される。
ＳＴＥＰ１０では、ＳＴＥＰ１１のスピンドライ処理のためにスピンベース７０の回転数が高速回転に達するまでスピンベース７０の回転が加速される。「高速」の回転数は、例えば１０００から３０００ｒｐｍの値をとる。
【０１０６】
＜ＳＴＥＰ１１  スピンドライ処理＞
ＳＴＥＰ１１では、いわゆるスピンドライ処理、すなわち基板Ｗを高速回転させることによる基板の乾燥が実行される。
【０１０７】
＜ＳＴＥＰ１２  基板の回転を減速＞
ＳＴＥＰ１１が終了すると、スピンベース７０の回転が高速回転から回転停止に至るまで減速される。この間、チャックピンＣＡとＣＢはいずれも「閉状態」が維持されている。
【０１０８】
＜ＳＴＥＰ１３  チャックピンから基板を開放＞
ＳＴＥＰ１３では、スピンベース７０および基板Ｗの回転が停止する。
この後、図示しない搬送機構のハンド部が基板Ｗの下面とスピンベース７０の上面の間に侵入し、基板Ｗの開放に備える。
この後、チャックピンＣＡとＣＢがいずれも「開状態」となる。これにより基板Ｗはチャックピンから開放され、基板Ｗの下方で待ち受けていた搬送機構のハンド部へと受け渡される。
【０１０９】
＜ＳＴＥＰ１４  基板の搬出＞
ＳＴＥＰ１３の後、基板Ｗを受け取った搬送機構は、ハンド部に基板Ｗを載置した状態で、基板処理装置１の外部へと基板Ｗを搬送する。これにより、基板Ｗをブラシ洗浄する一連の工程が終了する。
【０１１０】
以上、本発明の実施形態について説明してきたが、本発明の実施態様は、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
【０１１１】
例えば、本発明の実施形態においては、１つの基板Ｗを処理するにあたり、チャックピンＣＢの当接面ＣＢ２を用いたブラシ洗浄を複数種類（ブラシ洗浄（１）、ブラシ洗浄（３）およびブラシ洗浄（４））行ったが、いずれか１種類のブラシ洗浄を実施する実施形態としても良い。
【０１１２】
また、チャックピンＣＢの当接面ＣＢ２を用いたブラシ洗浄を実行するにあたり、チャックピンＣＡとＣＢの保持切替（図７の状態と図８の状態を切替）を複数回繰り返す実施形態について説明した。この繰り返し回数はブラシ洗浄の要求に応じて任意の回数行ってよい。当該保持切替を１回行う実施形態でも良い。
【０１１３】
また、例えば、本発明の実施形態においては、チャックピンＣＢを用いた基板Ｗの端部のブラシ洗浄に加えて、ブラシＢＲ１を用いて基板Ｗの端部（ベベル、エッジ周辺）以外の部分のブラシ洗浄を行う処理工程について説明したが、基板Ｗの処理要求条件によっては、チャックピンＣＢを用いた基板Ｗの端部のブラシ洗浄のみを実行する処理工程としても良い。
【０１１４】
例えば、本発明の実施形態の上記説明におけるアーム移動機構、チャック回転機構、チャックピン制御機構、自転機構などの各種移動機構ならびに、アームやヘッドの構造、スピンチャックの構造、チャックピンの構造などについては、多様な実現形態が公知であり、当業者は特許請求の範囲に記載された事項の範囲内にて本発明を適用可能である。
【０１１５】
また、チャックピンの開閉や、ヘッドの高さ及び水平移動などを行うための制御情報の格納や制御の具体的な態様についても、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
【０１１６】
その他、特許請求の範囲による限定の範囲内において、願書に添付された明細書、請求の範囲、図面に開示された本発明の開示内容を超えない範囲内において、実施態様の種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【０１１７】
Ｗ  基板
１  基板処理装置
１００        制御機構
１１０        記憶部
１２１        処理液供給機構制御部
１２２        アーム移動機構制御部
１２３        チャックピン移動機構制御部
１２４        スピンベース回転機構制御部
１２５        その他機構制御部
２００        処理液供給機構
２１０        流路１
２１５        開閉バルブ
２１１        流量調節バルブ
Ｐ１            ポンプ
２２０        流路２
２２５        開閉バルブ
２２１        流量調節バルブ
Ｐ２            ポンプ
２５０        タンク
５０            スピンチャック
５３            スピンベース回転機構
ＡＸ  スピンベース回転軸
５２            支軸
７０            スピンベース
７５            チャックピン移動機構
７５Ａ        チャックピン移動機構
７５Ｂ        チャックピン移動機構
ＣＡ            チャックピン
ＣＡ１        チャックピン本体
ＣＡ２        当接面
ＣＡ３        支軸
ＣＡ４        スロット
６０            アーム移動機構
６１            可動部
６１Ａ        軸回転機構
６１Ｂ        昇降機構
６２            カバー
６３            支軸
６４            アーム
６５            ヘッド
２５            固定具
２０            第２ノズル
１０            第１ノズル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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