(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定開口を有し、互いに異なるジオメトリの複数の光学系を用いることによって、前記測定開口に臨む測定対象に測定光を照射してその反射光を受光して互いに異なる複数種類の反射特性を測定する光学測定部を備える反射特性測定装置であって、
前記光学測定部は、前記複数の光学系のうちの少なくとも１つに、拡散反射する拡散反射面を持つ拡散反射部材を備え、
前記測定開口に臨む測定対象から放射された光が前記拡散反射面で反射されて前記測定開口に臨む測定対象を照明することによって生じる誤差で、前記光学測定部で測定される前記反射特性を補正する補正部を備える、
反射特性測定装置。
【請求項２】
前記光学測定部は、第１照明光を放射する第１光源と、前記第１光源部で放射された前記第１照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を単一方向から前記第１照明光で照明する第１照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記第１照明光の第１反射光を単一方向から受光する第１受光光学系を備える第１光学系と、前記第１受光光学系から射出された前記第１照明光の第１反射光を測定する第１測定部と、前記第１測定部の第１測定出力に基づいて、前記反射特性を求める反射特性演算部とを備え、
前記拡散反射面を照明する補正用照明光を放射する補正用光源と、
前記拡散反射面の輝度を測定する補正用輝度測定部とをさらに備え、
前記補正部は、前記補正用光源のみが前記補正用照明光を放射した場合における前記補正用輝度測定部の第Ａ１測定出力、前記第１光源のみが前記第１照明光を放射した場合における前記補正用輝度測定部の第Ａ２測定出力、および、前記補正用光源のみが前記補正用照明光を放射した場合に前記第１測定部の第Ａ３測定出力に基づいて、前記誤差を求め、前記求めた誤差で、前記第１光源のみが前記第１照明光を放射した場合における前記第１測定部の第１測定出力を補正し、
前記反射特性演算部は、前記補正した第１測定部の第１測定出力に基づいて前記反射特性を求める、
請求項１に記載の反射特性測定装置。
【請求項３】
前記拡散反射面の輝度を測定する補正用輝度測定部と、
前記補正用輝度測定部の第Ｂ測定出力と前記誤差との第１対応関係を記憶する第１補正情報記憶部とをさらに備え、
前記補正部は、前記測定開口に臨む測定対象を測定する際における前記補正用輝度測定部の第Ｂ測定出力に対応する前記誤差を、前記第１対応関係から求め、前記求めた誤差で、前記光学測定部で測定される前記反射特性を補正する、
請求項１に記載の反射特性測定装置。
【請求項４】
前記光学測定部は、第１照明光を放射する第１光源と、前記第１光源部で放射された前記第１照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を単一方向から前記第１照明光で照明する第１照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記第１照明光の第１反射光を単一方向から受光する第１受光光学系を備える第１光学系と、前記第１受光光学系から射出された前記第１照明光の第１反射光を測定する第１測定部と、前記拡散反射面を照明する第２照明光を放射する第２光源と、前記第２光源部で放射された前記第２照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を前記拡散反射面で拡散反射された前記第２照明光の拡散光で照明する第２照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記拡散光の第２反射光を受光する第２受光光学系を備える第２光学系と、前記第２受光光学系から射出された前記拡散光の第２反射光を測定する第２測定部とを備え、
前記拡散反射面を照明する補正用照明光を放射する補正用光源と、
前記第１測定部の第Ｃ測定出力または前記第２測定部の第Ｄ測定出力と前記誤差との第２対応関係を記憶する第２補正情報記憶部とをさらに備え、
前記補正部は、前記測定開口に臨む測定対象を測定する際における前記第１測定部の第Ｃ測定出力または前記第２測定部の第Ｄ測定出力に対応する前記誤差を、前記第２対応関係から求め、前記求めた誤差で、前記光学測定部で測定される前記反射特性を補正する、
請求項１に記載の反射特性測定装置。
【請求項５】
前記第２測定部は、前記第２対応関係から前記誤差を求める際に、前記第１測定部と同じ分光感度である、
請求項４に記載の反射特性測定装置。
【請求項６】
前記補正用輝度測定部は、前記第１対応関係から前記誤差を求める際に、前記第１測定部と同じ分光感度である、
請求項３に記載の反射特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象の被測定物を照明し、その反射特性を測定する反射特性測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、反射特性を測定する反射特性測定装置が知られている。前記反射特性として、例えば、分光反射率、光沢値および光輝感等が挙げられる。分光反射率は、波長ごとの反射率である。光沢値は、光沢の度合いを表す数値であり、正反射光の強度と散乱反射光の強度の比等に応じて求められる。光輝感は、メタリック塗装、パール塗装等に含まれる光輝剤（アルミフレーク等）によって生じるキラキラ感を表す数値である。これら各種の反射特性には、例えば規格等で規定され、その測定に好適なジオメトリが存在する。例えば、分光反射率は、４５°照明／０°受光、４５°照明／多角度受光、拡散照明／８°受光等の、ジオメトリで測定される。また例えば、光沢値は、２０°光沢（２０°照明／２０°受光）、６０°光沢（６０°照明／６０°受光）、８５°光沢（８５°照明／８５°受光）のジオメトリで測定される。このため、従来では、一般に、分光反射率は、分光反射率測定用の例えば分光器で測定され、光沢値は、光沢測定用の例えば光沢計で測定され、光輝感は、光輝感測定用の測定器で測定されてきたが、近年では、例えば、特許文献１のように、これら複数の測定装置が１台の測定装置に統合され、測定対象の被測定物の同一箇所に対し、複数種類の反射特性を測定できる装置が開発されてきている。【０００３】
ところで、反射特性の測定には、例えば積分球等の、拡散反射する拡散反射面を持つ拡散反射部材を用いる測定がある。例えば、拡散照明／８°受光のジオメトリで分光反射率を測定する場合、前記拡散照明を生成するために、積分球が用いられる。上述のように、複数の測定装置が１台の測定装置に統合されると、この統合された測定装置は、複数種類の反射特性を測定可能とするために、複数のジオメトリを備えることになり、この結果、この統合された測定装置が、測定で必要なために拡散反射部材を含むジオメトリ（第１ジオメトリ）と、測定で必要ではない拡散反射部材を含まないジオメトリ（第２ジオメトリ）とを備える場合が生じ得る。このような場合、前記第２ジオメトリで測定する際に、前記第２ジオメトリでの光が前記第１ジオメトリの拡散反射面で拡散反射され、この拡散反射された拡散光や前記拡散光に起因する光が前記第２ジオメトリで測定されてしまう場合があり、この結果、測定誤差が生じてしまう。一例では、拡散照明／８°受光のジオメトリと、６０°光沢（６０°照明／６０°受光）のジオメトリとが統合された場合、６０°光沢のジオメトリにおける照明光が被測定物の表面で反射し、この反射光の多くの光は、６０°光沢のジオメトリにおける受光部で受光され測定される一方、前記反射光の一部は、拡散照明／８°受光のジオメトリにおける積分球に入射される。例えば、前記反射光は、表面でフレネル反射した表面反射光と、被測定物の内部に一度潜り込み、被測定物の吸収等を受けて表面から放射する内部拡散反射光とに、大別される。前記表面反射光は、被測定物の表面粗さによって散乱が生じ、６０°光沢のジオメトリにおける受光角範囲よりも大きい角度の光は、前記積分球に入射する。前記内部拡散反射光の大部分は、前記積分球に入射する。このような積分球に入射した光は、積分球内で乱反射を繰り返し、その一部の光は、前記被測定物を照明してしまう（再帰拡散照明）。この再帰拡散照明による光は、上述の６０°光沢のジオメトリにおける照明光と同様に、被測定物と作用し、この結果、その一部の光は、６０°光沢のジオメトリにおける受光部で受光されてしまい、測定誤差を生じさせてしまう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】米国特許第７７４１６２９号公報
【発明の概要】
【０００５】
本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、複数のジオメトリを持つ反射特性測定装置において、再帰拡散照明による誤差を低減できる反射特性測定装置を提供することである。
【０００６】
本発明にかかる反射特性測定装置は、拡散反射面を含み、互いに異なるジオメトリの複数の光学系を用いることによって、互いに異なる複数種類の反射特性を測定する装置であって、測定対象から放射された光が前記拡散反射面で反射されて前記測定対象を照明することによって生じる誤差で、測定される前記反射特性を補正する。したがって、本発明にかかる反射特性測定装置は、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【０００７】
上記並びにその他の本発明の目的、特徴及び利点は、以下の詳細な記載と添付図面から明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】第１および第２実施形態における反射特性測定装置の光学的な構成を示す図である。
【図２】第１および第２実施形態における反射特性測定装置の電気的な構成を示す図である。
【図３】第１ないし第６実施形態における反射特性測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図４】再帰拡散照明を説明するための図である。
【図５】第２実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【図６】第３実施形態における反射特性測定装置の光学的な構成を示す図である。
【図７】第３実施形態における反射特性測定装置の電気的な構成を示す図である。
【図８】第３実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【図９】第４および第５実施形態における反射特性測定装置の光学的な構成を示す図である。
【図１０】第４および第５実施形態における反射特性測定装置の電気的な構成を示す図である。
【図１１】第４実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【図１２】第５実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【図１３】第６実施形態における反射特性測定装置の光学的な構成を示す図である。
【図１４】第６実施形態における反射特性測定装置の電気的な構成を示す図である。
【図１５】第６実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明にかかる実施の一形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。本明細書において、総称する場合には添え字を省略した参照符号で示し、個別の構成を指す場合には添え字を付した参照符号で示す。
【００１０】
実施形態における反射特性測定装置は、測定開口を有し、互いに異なるジオメトリの複数の光学系を用いることによって、前記測定開口に臨む測定対象に測定光を照射してその反射光を受光して互いに異なる複数種類の反射特性を測定する光学測定部を備える。前記反射特性は、例えば、測定対象である被測定物の分光反射率、光沢値および光輝感等の中から少なくとも複数を含む。前記光学測定部は、前記複数の光学系のうちの少なくとも１つに、拡散反射する拡散反射面を持つ拡散反射部材を備える。前記拡散反射部材は、例えば、積分球である。前記積分球は、拡散反射率の高い材で内面を覆った中空の球体である。拡散反射率の高い前記材は、例えば、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、硫酸バリウム、硫酸マグネシウム、酸化亜鉛等である。拡散反射率の高い材を含む塗布剤が球体内面に塗布され、拡散反射面が形成される。そして、前記反射特性測定装置は、前記測定開口に臨む測定対象から放射された光が前記拡散反射面で反射されて前記測定開口に臨む測定対象を照明することによって生じる誤差で、前記光学測定部で測定される前記反射特性を補正する補正部をさらに備える。このような反射特性測定装置は、前記補正部を備えるので、複数のジオメトリを持つ反射特性測定装置において、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【００１１】
以下、このような反射特性測定装置を第１ないし第６実施形態によって、より具体的に説明する。なお、各図において、第１実施形態における反射特性測定装置Ｍ（Ｍａ）にかかる構成は、その符号に添え字「ａ」を付加することによって示され、第２実施形態における反射特性測定装置Ｍ（Ｍｂ）にかかる構成は、その符号に添え字「ｂ」を付加することによって示され、第３実施形態における反射特性測定装置Ｍ（Ｍｃ）にかかる構成は、その符号に添え字「ｃ」を付加することによって示され、第４実施形態における反射特性測定装置Ｍ（Ｍｄ）にかかる構成は、その符号に添え字「ｄ」を付加することによって示され、第５実施形態における反射特性測定装置Ｍ（Ｍｅ）にかかる構成は、その符号に添え字「ｅ」を付加することによって示され、そして、第６実施形態における反射特性測定装置Ｍ（Ｍｆ）にかかる構成は、その符号に添え字「ｆ」を付加することによって示される。
【００１２】
（第１実施形態）
図１は、第１および第２実施形態における反射特性測定装置の光学的な構成を示す図である。図２は、第１および第２実施形態における反射特性測定装置の電気的な構成を示す図である。
【００１３】
第１実施形態における反射特性測定装置Ｍａは、理論的な考察によって求められた誤差で反射特性を補正する装置であり、例えば、図１および図２に示すように、拡散反射部材の一例として積分球２２を備える光学測定部１、２と、補正用光源３と、補正用輝度測定部４と、補正部５３ａを備える制御処理部５ａとを備え、これら図１および図２に示す例では、さらに、記憶部６ａと、入力部７と、出力部８と、インターフェース部（ＩＦ部）９とを備える。
【００１４】
光学測定部１、２は、測定開口ＳＡを有し、互いに異なるジオメトリの複数の光学系を用いることによって、測定開口ＳＡに臨む測定対象（不図示）に測定光を照射し、その反射光を受光し、そして、互いに異なる複数種類の反射特性を測定する装置である。前記反射特性は、上述したように、例えば、測定対象である被測定物の分光反射率、光沢値および光輝感等の中から少なくとも複数を含み、複数の光学系は、前記複数種類の反射特性それぞれに対応するように、構成される。一例として、本実施形態では、反射特性は、６０°光沢（６０°照明／６０°受光）のジオメトリで測定される光沢値、および、拡散照明／８°受光のジオメトリで測定される分光反射率である。これに応じて本実施形態における光学測定部１、２は、６０°光沢（６０°照明／６０°受光）のジオメトリで光沢値を測定する光沢測定部１と、拡散照明／８°受光のジオメトリで分光反射率を測定する分光測定部２とを備える。
【００１５】
光沢測定部１は、第１光源１１と、第１照明光学系１２および第１受光光学系１３を備え、６０°光沢のジオメトリを構成する第１光学系と、第１測定部１４と、制御処理部５ａにおける後述の反射特性演算部５２とを備える。第１光源１１は、制御処理部５ａに接続され、制御処理部５ａの制御に従って、所定の第１照明光を放射する装置であり、例えば白色ＬＥＤ等を備えて構成される。第１照明光学系１２は、第１光源１１で放射された前記第１照明光が入射され、前記第１照明光を平行光化し、測定開口ＳＡに臨む測定対象を単一方向から前記第１照明光で照明する光学系であり、１または複数の、例えばレンズ等の光学素子を備えて構成される。第１受光光学系１３は、前記測定対象で反射した前記第１照明光の第１反射光を単一方向から受光して第１測定部１４へ集光して導光する光学系であり、１または複数の、例えばレンズ等の光学素子を備えて構成される。第１測定部１４は、制御処理部５ａに接続され、制御処理部５ａの制御に従って、第１受光光学系１３から射出された前記第１照明光の第１反射光を測定する装置であり、例えば、前記反射光の強度を測定する例えばシリコンホトダイオード等を備えて構成される。第１測定部１４は、その測定出力を、制御処理部５ａへ出力する。
【００１６】
分光測定部２は、第２光源２１と、第２照明光学系２２および第２受光光学系２３を備え、拡散照明／８°のジオメトリを構成する第２光学系と、第２測定部２４と、反射特性演算部５２とを備える。第２光源２１は、制御処理部５ａに接続され、制御処理部５ａの制御に従って、第２照明光学系２２の拡散反射面を照明する所定の第２照明光を放射する装置であり、例えば白色ＬＥＤ等を備えて構成される。第２照明光学系２２は、第２光源２１で放射された前記第２照明光が入射され、前記測定開口ＳＡに臨む測定対象を、拡散反射面で拡散反射された前記第２照明光の拡散光で照明する光学系であり、例えば、拡散反射部材の一例である積分球２２である。第２光源２１は、積分球２２の内面に所定の位置で形成された第１凹所内に配設され、その第２照明光によって、積分球２２の内面全面を覆う拡散反射面を照明する。第２受光光学系２３は、前記測定対象で反射した前記拡散光の第２反射光を受光して第２測定部２４へ集光して導光する光学系であり、１または複数の、例えばレンズ等の光学素子を備えて構成される。より詳しくは、前記測定開口ＳＡの８°方向に当たる位置で積分球２２に形成された開口部上に設けられ、前記開口部から射出された前記拡散光の第２反射光を反射するミラー２３１と、ミラー２３１で反射された前記拡散光の第２反射光を第２測定部２４へ導光する、１または複数のレンズ２３２とを備える。第２測定部２４は、制御処理部５ａに接続され、制御処理部５ａの制御に従って、第２受光光学系２３から射出された前記拡散光の第２反射光を分光測定する装置であり、例えば、分光計を備えて構成される。より詳しくは、第２測定部２４は、前記拡散光の第２反射光が入射されるスリット状の開口部を持つ箱形の筐体２４１と、前記開口部から入射された前記拡散光の第２反射光を回折反射する反射型凹面回折格子２４２と、反射型凹面回折格子２４２で回折反射された前記第２反射光を受光する、ライン状の並設された複数のホトダイオードを持つラインセンサ２４３とを備えて構成される。第２測定部２４は、その測定出力を、制御処理部５ａへ出力する。
【００１７】
測定開口ＳＡは、光沢測定部１と分光測定部２とで共用され、積分球２２に１個だけ形成される。
【００１８】
補正用光源３は、制御処理部５ａに接続され、制御処理部５ａの制御に従って、積分球２２の前記拡散反射面を照明する所定の補正用照明光を放射する装置であり、例えば白色ＬＥＤ等を備えて構成される。補正用光源３は、積分球２２の内面に、第１凹所とは異なる所定の位置で形成された第２凹所内に配設され、その補正用照明光によって、積分球２２の内面全面を覆う拡散反射面を照明する。なお、補正用光源３は、第２光源２１と兼用されても良い。
【００１９】
補正用輝度測定部４は、制御処理部５ａに接続され、制御処理部５ａの制御に従って、補正用光源３の補正用照明光によって照明された、積分球２２における前記拡散反射面の輝度と、第１光源１１で放射された前記第１照明光で照明された測定対象からの反射光によって照明された、積分球２２における前記拡散反射面の輝度とを測定する装置であり、例えば、前記拡散反射面で拡散反射された拡散反射光の強度を測定する例えばシリコンホトダイオード等を備えて構成される。補正用輝度測定部４は、その測定出力を、制御処理部５ａへ出力する。補正用輝度測定部４は、積分球２２の内面に、第１および第２凹所それぞれとは異なる所定の位置で形成された第３凹所内に配設され、積分球２２の内面全面を覆う拡散反射面で拡散反射された拡散反射光を受光して測定する。なお、補正用光源３から放射された補正用照明光が補正用輝度測定部４に直達しないように、補正用光源３と補正用輝度測定部４との間にバッフルが設けられても良い。また、分光測定部２が分光反射率を測定するために積分球２２の内面輝度をモニタするセンサを備えている場合には、補正用輝度測定部４は、このセンサと兼用されても良い。
【００２０】
なお、より正確に誤差を求めるために、補正用輝度測定部４の分光感度は、第１測定部１４の分光感度と同じであることが好ましい。この場合では、例えば、補正用輝度測定部４の分光感度と、第１測定部１４の分光感度との差を補償（補正）する光学フィルタが補正用輝度測定部４の受光側に配設される。
【００２１】
入力部７は、制御処理部５ａに接続され、例えば、測定対象である被測定物の測定を指示するコマンド等の各種コマンド、および、例えば測定対象における識別子の入力等の測定する上で必要な各種データを反射特性測定装置Ｍａに入力する装置であり、例えば、所定の機能を割り付けられた複数の入力スイッチ等である。出力部８は、制御処理部５ａに接続され、制御処理部５ａの制御に従って、入力部７から入力されたコマンドやデータ、および、当該反射特性測定装置Ｍａによって測定された測定対象の反射特性を出力する装置であり、例えばＣＲＴディスプレイ、ＬＣＤ（液晶表示装置）および有機ＥＬディスプレイ等の表示装置やプリンタ等の印刷装置等である。
【００２２】
なお、入力部７および出力部８からタッチパネルが構成されてもよい。このタッチパネルを構成する場合において、入力部７は、例えば抵抗膜方式や静電容量方式等の操作位置を検出して入力する位置入力装置であり、出力部８は、表示装置である。このタッチパネルでは、表示装置の表示面上に位置入力装置が設けられ、表示装置に入力可能な１または複数の入力内容の候補が表示され、ユーザが、入力したい入力内容を表示した表示位置を触れると、位置入力装置によってその位置が検出され、検出された位置に表示された表示内容がユーザの操作入力内容として反射特性測定装置Ｍａに入力される。このようなタッチパネルでは、ユーザは、入力操作を直感的に理解し易いので、ユーザにとって取り扱い易い反射特性測定装置Ｍａが提供される。
【００２３】
ＩＦ部９は、制御処理部５ａに接続され、制御処理部５ａの制御に従って、外部機器との間でデータの入出力を行う回路であり、例えば、シリアル通信方式であるＲＳ−２３２Ｃのインターフェース回路、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）規格を用いたインターフェース回路、ＩｒＤＡ（Ｉｎｆｒａｒｅｄ  Ｄａｔａ  Ａｓｓｃｏｉａｔｉｏｎ）規格等の赤外線通信を行うインターフェース回路、および、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｓｅｒｉａｌ  Ｂｕｓ）規格を用いたインターフェース回路等である。
【００２４】
記憶部６ａは、制御処理部５ａに接続され、制御処理部５ａの制御に従って、各種の所定のプログラムおよび各種の所定のデータを記憶する回路である。前記各種の所定のプログラムには、例えば、反射特性測定装置Ｍａの各部を制御する制御プログラムや、所定の反射特性を求める反射特性演算プログラムや、前記反射特性を補正する補正プログラム等の制御処理プログラムが含まれる。前記各種の所定のデータには、測定対象の識別子や各部からの測定出力等の、これら各プログラムを実行する上で必要なデータが含まれる。このような記憶部６ａは、例えば不揮発性の記憶素子であるＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）や書き換え可能な不揮発性の記憶素子であるＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）等を備える。そして、記憶部６ａは、前記所定のプログラムの実行中に生じるデータ等を記憶するいわゆる制御処理部５ａのワーキングメモリとなるＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等を含む。
【００２５】
制御処理部５ａは、反射特性測定装置Ｍａの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、測定対象の反射特性を求めるための回路である。制御処理部５ａは、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）およびその周辺回路を備えて構成される。制御処理部５ａは、制御処理プログラムが実行されることによって、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ａを機能的に備える。
【００２６】
制御部５１は、反射特性測定装置Ｍａの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、反射特性測定装置Ｍａの全体制御を司るものである。
【００２７】
反射特性演算部５２は、光学測定部１、２の測定出力に基づいて、所定の反射特性を求めるものである。より具体的には、本実施形態では、上述したように、反射特性は、６０°光沢（６０°照明／６０°受光）のジオメトリで測定される光沢値、および、拡散照明／８°受光のジオメトリで測定される分光反射率であるので、反射特性演算部５２は、後述のように補正された第１測定部１４の測定出力（第１測定出力）に基づいて、公知の演算手法によって前記反射特性の１つとして光沢値を求め、第２測定部２４の測定出力（第２測定出力）に基づいて、公知の演算手法によって前記反射特性の他の１つとして分光反射率を求める。このように反射特性演算部５２は、本実施形態では、前記光沢値を求める光沢演算部および前記分光反射率を求める分光演算部として機能する。
【００２８】
補正部５３ａは、測定開口ＳＡに臨む測定対象から放射された光が積分球２２の前記拡散反射面で反射されて前記測定開口ＳＡに臨む測定対象を照明することによって生じる誤差；Ｅで、光学測定部１、２で測定される反射特性を補正し、真値または前記真値により近い反射特性を求めるものである。本実施形態では、補正部５３ａは、理論的な考察によって求められた誤差；Ｅで補正する。より具体的には、補正部５３ａは、補正用光源３のみが補正用照明光を放射した場合における補正用輝度測定部４の測定出力（第Ａ１測定出力）；Ｂｃ、第１光源１１のみが第１照明光を放射した場合における補正用輝度測定部４の測定出力（第Ａ２測定出力）；Ｂ、および、補正用光源３のみが補正用照明光を放射した場合に第１測定部１４の測定出力（第Ａ３測定出力）；Ｇｄに基づいて、前記誤差；Ｅを求め、この求めた誤差；Ｅで、第１光源１４のみが第１照明光を放射した場合における第１測定部１４の第１測定出力；Ｇｅを補正し、真値または前記真値により近い第１測定出力；Ｇを求める。
【００２９】
より詳しくは、第１光源１４の発光スペクトル分布（第１照明光のスペクトル分布）は、Ｓｇとされ、補正用光源３の発光スペクトル分布（補正用照明光のスペクトル分布）は、Ｓｃとされる。積分球２２からの拡散反射光で測定対象を照明している場合に、第１受光光学系１３の方向に向かう前記拡散反射光の反射光における反射スペクトル分布は、Ｒｄｇとされる。第１光源１１からの第１照明光で測定対象を照明している場合に、積分球２２の方向に向かう前記第１照明光の反射光における反射スペクトル分布は、Ｒ６０ｓとされる。第１光源１１からの第１照明光で測定対象を照明している場合に、第１受光光学系１３の方向に向かう前記第１照明光の反射光における反射スペクトル分布は、Ｒ６０ｇとされる。第１測定部１４の分光感度は、Ｆｇとされ、補正用輝度測定部４の分光感度は、Ｆｃとされる。そして、測定対象の反射特性の影響を含む積分球効率をＭとする場合に、第１光源１１のみが第１照明光を放射した場合における第１測定部１４の第１測定出力；Ｇｅは、式１で表される。補正用光源３のみが補正用照明光を放射した場合に第１測定部１４の第Ａ３測定出力；Ｇｄは、式２で表される。第１光源１１のみが第１照明光を放射した場合における補正用輝度測定部４の第Ａ２測定出力；Ｂは、式３で表される。そして、補正用光源３のみが補正用照明光を放射した場合における補正用輝度測定部４の第Ａ１測定出力；Ｂｃは、式４によって表される。
【００３０】
【数１】
0006763427.tif 000002
【００３１】
【数２】
0006763427.tif 000003
【００３２】
【数３】
0006763427.tif 000004
【００３３】
【数４】
0006763427.tif 000005
【００３４】
式１の右辺第１項は、第１測定出力の真値；Ｇであり、式１の右辺第２項は、再帰拡散照明による誤差；Ｅである。式２、式３および式４から、誤差；Ｅは、式５で推定でき、したがって、真値または前記真値により近い第１測定出力；Ｇは、式６によって求められる。
【００３５】
【数５】
0006763427.tif 000006
【００３６】
【数６】
0006763427.tif 000007
【００３７】
第１実施形態における補正部５３ａは、このように誤差；Ｅを求め、真値または前記真値により近い第１測定出力；Ｇを求める。
【００３８】
そして、制御処理部５ａは、反射特性演算部５２によって、この求めた真値または前記真値により近い第１測定出力；Ｇに基づいて反射特性の１つである光沢値；Ｓｈを求め、制御部５１によって、この求めた反射特性の１つである光沢値；Ｓｈを出力部８に出力する。あるいは、必要に応じて、制御部５１は、この求めた反射特性の１つである光沢値；ＳｈをＩＦ部９から外部機器（例えばＵＳＢメモリ等）へ出力する。
【００３９】
次に、第１実施形態における反射特性測定装置Ｍａの動作について説明する。図３は、第１ないし第６実施形態における反射特性測定装置の動作を示すフローチャートである。図４は、再帰拡散照明を説明するための図である。
【００４０】
まず、図略の電源スイッチがオンされると、反射特性測定装置Ｍａが起動され、制御処理部５ａによって必要な各部の初期化が行われ、制御処理部５ａには、制御処理プログラムが実行されることによって、機能的に、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ａが構成される。
【００４１】
光沢値の測定指示がユーザ（オペレータ）によって入力部７から入力されると、図３において、各部によって測定が行われる（Ｓ１ａ）。より具体的には、反射特性測定装置Ｍａは、制御部５１によって、補正用光源３のみを点灯し、この場合における補正用輝度測定部４の第Ａ１測定出力；Ｂｃ、および、第１測定部１４の第Ａ３測定出力；Ｇｄを取得して記憶部６ａに記憶する。次に、反射特性測定装置Ｍａは、制御部５１によって、第１光源１１のみを点灯し、この場合における補正用輝度測定部４の第Ａ２測定出力；Ｂ、および、第１測定部１４の第１測定出力；Ｇｅを取得して記憶部６ａに記憶する。
【００４２】
次に、反射特性測定装置Ｍａは、制御処理部５ａの補正部５３ａによって、誤差；Ｅを求める（Ｓ２ａ）。より具体的には、補正部５３ａは、記憶部６ａに記憶した第Ａ１測定出力；Ｂｃ、第Ａ２測定出力；Ｂおよび第Ａ３測定出力；Ｇｄから、上述の式５によって、誤差；Ｅを求めて記憶部６ａに記憶する（Ｅ＝Ｇｄ×（Ｂ／Ｂｃ））。
【００４３】
次に、反射特性測定装置Ｍａは、補正部５３ａによって、記憶部６ａに記憶した補正前の第１測定出力；Ｇｅを、処理Ｓ２ａで求めた誤差；Ｅで補正し、補正後の第１測定出力；Ｇを求める（Ｓ３）。より具体的には、補正部５３ａは、記憶部６ａに記憶した、補正前の第１測定出力；Ｇｅと誤差；Ｅとから、上述の式６によって（すなわち、補正前の第１測定出力；Ｇｅから誤差；Ｅを減算することによって）、補正後の第１測定出力；Ｇを求める（Ｇ＝Ｇｅ−Ｅ）。
【００４４】
次に、反射特性測定装置Ｍａは、制御処理部５ａの反射特性演算部５２によって、反射特性の１つである光沢値；Ｓｈを求める（Ｓ４）。より具体的には、反射特性演算部５２は、補正後の第１測定出力；Ｇに基づいて、公知の演算手法によって光沢値；Ｓｈを求めて記憶部６ａに記憶する。
【００４５】
そして、反射特性測定装置Ｍａは、制御処理部５ａの制御部５１によって、この求めた反射特性の１つである光沢値；Ｓｈを出力部８に出力し（Ｓ５）、処理を終了する。なお、必要に応じて、制御部５１は、この求めた反射特性の１つである光沢値；ＳｈをＩＦ部９から外部機器（例えばＵＳＢメモリ等）へ出力しても良い。
【００４６】
なお、反射特性測定装置Ｍａは、分光反射率の測定指示がユーザ（オペレータ）によって入力部７から入力されると、公知の分光計と同様に、分光測定部２によって測定を行い、反射特性演算部５２によって、第２測定部２４の第２測定出力に基づいて、公知の演算手法によって前記反射特性の他の１つとして分光反射率を求め、この求めた分光反射率を出力部８に出力する。
【００４７】
以上説明したように、第１実施形態における反射特性測定装置Ｍａは、補正部５３ａを備えるので、拡散反射部材（ここでは積分球）２２を含む複数のジオメトリを持つ装置であっても、再帰拡散照明による誤差を低減できる。すなわち、図４に示すように、測定対象の光沢値を測定する場合、光沢測定部１の第１光源１１によって第１照明光ＯＰ１が測定開口ＳＡに臨む測定対象に照明されると、第１照明光ＯＰ１は、前記測定対象の表面で反射し、この反射光の多くの光ＯＰ２は、光沢測定部１の第１受光光学系１３を介して第１測定部１４で受光され測定される一方、前記反射光の一部ＯＰ３（ＯＰ３−１、ＯＰ３−２）は、分光測定部２の積分球２２に入射される。例えば、前記反射光は、表面でフレネル反射した表面反射光と、被測定物の内部に一度潜り込み、被測定物の吸収等を受けて表面から放射する内部拡散反射光とに、大別される。前記表面反射光は、被測定物の表面粗さによって散乱が生じ、光沢測定部１における第１受光光学系１３の受光角範囲よりも大きい角度の光ＯＰ３−１は、積分球２２に入射する。前記内部拡散反射光の大部分ＯＰ３−２は、積分球２２に入射する。このような積分球２２に入射した光ＯＰ３は、積分球内で乱反射を繰り返し、その一部の光ＯＰ４は、前記測定対象を照明してしまう（再帰拡散照明）。この再帰拡散照明による光ＯＰ４は、上述の第１照明光ＯＰ１と同様に、前記測定対象と作用し、この結果、その一部の光ＯＰ５は、光沢測定部１の第１受光光学系１３を介して第１測定部１４で受光され、前記誤差；Ｅを生じさせる。この前記誤差Ｅは、測定対象の表面反射率、面粗さ、内部拡散反射率および積分球効率等により変化する。積分球効率は、積分球２２の設計によって決まるので、ある程度既知な値であるが、その他の各値は、それぞれに専用の測定が必要となり、その測定が煩雑である。しかしながら、第１実施形態における反射特性測定装置Ｍａは、上述したように補正部５３ａによって、この再帰拡散照明による誤差；Ｅを求め、前記誤差；Ｅで補正するので、再帰拡散照明による誤差；Ｅを低減できる。
【００４８】
そして、第１実施形態における反射特性測定装置Ｍａは、上述した理論的な考察によって補正し、再帰拡散照明による誤差；Ｅを低減できる。
【００４９】
次に、別の実施形態について説明する。
【００５０】
（第２実施形態）
図５は、第２実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【００５１】
第１実施形態における反射特性測定装置Ｍａは、理論的な考察によって補正したが、第２実施形態における反射特性測定装置Ｍｂは、予め求めた所定の対応関係から前記誤差；Ｅを求めて補正するものである。以下の第３ないし第６実施形態における反射特性測定装置Ｍｃ〜Ｍｆも、前記所定の対応関係が異なるが、第２実施形態における反射特性測定装置Ｍｂと同様に、予め求めた所定の対応関係から前記誤差；Ｅを求めて補正するものである。
【００５２】
このような第２実施形態における反射特性測定装置Ｍｂは、例えば、図１および図２に示すように、光学測定部１、２と、補正用光源３と、補正用輝度測定部４と、補正部５３ｂを備える制御処理部５ｂと、記憶部６ｂとを備え、これら図１および図２に示す例では、さらに、入力部７と、出力部８と、ＩＦ部９とを備える。これら第２実施形態の反射特性測定装置Ｍｂにおける光学測定部１、２、補正用光源３、補正用輝度測定部４、入力部７、出力部８およびＩＦ部９は、それぞれ、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける光学測定部１、２、補正用光源３、補正用輝度測定部４、入力部７、出力部８およびＩＦ部９と同様であるので、その説明を省略する。
【００５３】
記憶部６ｂは、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける記憶部６ａと同様に機能し、さらに、第２実施形態では、所定の第１対応関係を記憶する、図２に破線で示す補正情報記憶部６１ｂを備える。
【００５４】
前記所定の第１対応関係は、補正用輝度測定部の測定出力（第Ｂ測定出力）と前記誤差；Ｅとの対応関係である。より具体的には、第２実施形態では、前記所定の第１対応関係は、補正用光源３のみが補正用照明光を放射した場合における補正用輝度測定部４の測定出力（第Ｂ１測定出力）と前記誤差；Ｅとの第Ｂ１対応関係である。このような第Ｂ１対応関係は、例えば、複数のサンプルを用いた実測によって、また例えば、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められる。このように求められた第１対応関係は、その関数式で、あるいは、ルックアップテーブルで、補正情報記憶部６１ｂに記憶される。
【００５５】
ここでは、第Ｂ１対応関係は、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められ、その関数式で補正情報記憶部６１ｂに記憶された。光学シミュレーターは、例えば、Ｓｙｎｏｐｓｙｓ社製のＬｉｇｈｔＴｏｏｌｓである。このシミュレーションでは、測定対象としてガラスや樹脂類（プラスチック）が想定され、表面反射率が約１０％に設定され、表面散乱および内部拡散反射率それぞれを振った複数の条件でシミュレーションが実施された。前記第Ｂ１測定出力と前記誤差；Ｅとの複数のシミュレーション結果が複数の●で図５に示されている。このように求められた、前記第Ｂ１測定出力と前記誤差；Ｅとの複数のシミュレーション結果（複数の●）にフィットするフィッティング関数が前記第Ｂ１対応関係として例えば最小二乗法によって求められ、この求められたフィッティング関数が前記第Ｂ１対応関係を表す関数式として補正情報記憶部６１ｂに記憶される。
【００５６】
なお、複数のサンプルを実測する場合には、複数のサンプルが光沢計単体で測定されるとともに、第２実施形態における反射特性測定装置Ｍｂで測定され、光沢計単体の測定結果と、第２実施形態の反射特性測定装置Ｍｂにおける補正前の測定結果との差から、前記誤差；Ｅが求められ、これによって前記第Ｂ１対応関係が求められる。
【００５７】
また、図５には、測定対象として金属類を想定した場合のシミュレーション結果も複数の▲で示されている。この場合では、表面反射率が９０％（アルミニウム相当）に設定され、表面散乱を振った複数の条件でシミュレーションが実施された。この結果から、測定対象の種類（表面反射率の相違）によって、第Ｂ１対応関係が異なることが理解される。このため、測定対象の複数種類（複数の表面反射率）それぞれに対応する複数の第Ｂ１対応関係を予め求め、測定対象の複数種類（複数の表面反射率）それぞれに対応付けて複数の第Ｂ１対応関係を補正情報記憶部６１ｂに記憶し、測定の際に、ユーザによって、あるいは、測定対象の表面反射率を測定することで自動的に、複数の第Ｂ１対応関係の中から好適な第Ｂ１対応関係を選択するように、反射特性測定装置Ｍｂが構成されても良い。
【００５８】
制御処理部５ｂは、反射特性測定装置Ｍｂの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、測定対象の反射特性を求めるための回路である。制御処理部５ｂは、例えば、ＣＰＵおよびその周辺回路を備えて構成される。制御処理部５ｂは、その制御処理プログラムが実行されることによって、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｂを機能的に備える。これら第２実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２は、それぞれ、第１実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２と同様であるので、その説明を省略する。
【００５９】
補正部５３ｂは、測定開口ＳＡに臨む測定対象から放射された光が積分球２２の前記拡散反射面で反射されて前記測定開口ＳＡに臨む測定対象を照明することによって生じる誤差Ｅで、光学測定部１、２で測定される反射特性を補正し、真値または前記真値により近い反射特性を求めるものである。本実施形態では、補正部５３ｂは、測定開口ＳＡに臨む測定対象を測定する際における補正用輝度測定部４の第Ｂ測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、前記第Ｂ１対応関係から求め、前記求めた誤差；Ｅで補正し、真値または前記真値により近い反射特性（本実施形態では光沢値）；Ｓｈを求める。
【００６０】
次に、第２実施形態における反射特性測定装置Ｍｂの動作について説明する。まず、図略の電源スイッチがオンされると、反射特性測定装置Ｍｂが起動され、制御処理部５ｂによって必要な各部の初期化が行われ、制御処理部５ｂには、制御処理プログラムが実行されることによって、機能的に、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｂが構成される。
【００６１】
光沢値の測定指示がユーザ（オペレータ）によって入力部７から入力されると、図３において、各部によって測定が行われる（Ｓ１ｂ）。より具体的には、反射特性測定装置Ｍｂは、制御部５１によって、補正用光源３のみを点灯し、この場合における補正用輝度測定部４の第Ｂ１測定出力を取得して記憶部６ｂに記憶する。そして、反射特性測定装置Ｍａは、制御部５１によって、第１光源１１のみを点灯し、この場合における第１測定部１４の第１測定出力を取得して記憶部６ｂに記憶する。
【００６２】
次に、反射特性測定装置Ｍｂは、制御処理部５ｂの補正部５３ｂによって、誤差；Ｅを求める（Ｓ２ｂ）。より具体的には、補正部５３ｂは、記憶部６ｂに記憶した第Ｂ１測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、補正情報記憶部６１ｂに記憶された前記第Ｂ１対応関係から求めて記憶部６ｂに記憶する。
【００６３】
次に、反射特性測定装置Ｍｂは、補正部５３ｂによって、第１実施形態と同様に、記憶部６ｂに記憶した補正前の第１測定出力；Ｇｅを、処理Ｓ２ｂで求めた誤差；Ｅで補正し、補正後の第１測定出力；Ｇを求める（Ｇ＝Ｇｅ−Ｅ、Ｓ３）。
【００６４】
次に、反射特性測定装置Ｍｂは、制御処理部５ｂの反射特性演算部５２によって、第１実施形態と同様に、反射特性の１つである光沢値；Ｓｈを、補正後の第１測定出力；Ｇに基づいて、公知の演算手法によって光沢値；Ｓｈを求めて記憶部６ｂに記憶する（Ｓ４）。
【００６５】
そして、反射特性測定装置Ｍｂは、制御部５１によって、この求めた反射特性の１つである光沢値；Ｇを出力部８に出力し（Ｓ５）、処理を終了する。
【００６６】
以上説明したように、第２実施形態における反射特性測定装置Ｍｂは、補正部５３ｂを備えるので、拡散反射部材（ここでは積分球）２２を含む複数のジオメトリを持つ装置であっても、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【００６７】
そして、第２実施形態における反射特性測定装置Ｍｂは、上述のように予め求められた、例えば関係式やルックアップテーブル等の、所定の第Ｂ１対応関係によって補正し、再帰拡散照明による誤差；Ｅを低減できる。
【００６８】
次に、別の実施形態について説明する。
【００６９】
（第３実施形態）
図６は、第３実施形態における反射特性測定装置の光学的な構成を示す図である。図７は、第３実施形態における反射特性測定装置の電気的な構成を示す図である。図８は、第３実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【００７０】
第３実施形態における反射特性測定装置Ｍｃは、例えば、図６および図７に示すように、光学測定部１、２と、補正用輝度測定部４と、補正部５３ｃを備える制御処理部５ｃと、記憶部６ｃとを備え、これら図６および図７に示す例では、さらに、入力部７と、出力部８と、ＩＦ部９とを備える。すなわち、第３実施形態における反射特性測定装置Ｍｃは、補正用光源３を備えていない。これら第３実施形態の反射特性測定装置Ｍｃにおける光学測定部１、２、補正用輝度測定部４、入力部７、出力部８およびＩＦ部９は、それぞれ、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける光学測定部１、２、補正用輝度測定部４、入力部７、出力部８およびＩＦ部９と同様であるので、その説明を省略する。
【００７１】
記憶部６ｃは、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける記憶部６ａと同様に機能し、さらに、第３実施形態では、所定の第１対応関係を記憶する補正情報記憶部６１ｃを備える。
【００７２】
前記所定の第１対応関係は、補正用輝度測定部の測定出力（第Ｂ測定出力）と前記誤差；Ｅとの対応関係である。より具体的には、第３実施形態では、前記所定の第１対応関係は、第１光源１１のみが第１照明光を放射した場合における補正用輝度測定部４の測定出力（第Ｂ２測定出力）と前記誤差；Ｅとの第Ｂ２対応関係である。このような第Ｂ２対応関係は、上述の第Ｂ１対応関係と同様に、例えば、複数のサンプルを用いた実測によって、また例えば、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められる。一例として、第Ｂ１対応関係と同様に、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められた第Ｂ２対応関係が図８に示されている。このように求められた第Ｂ２対応関係は、その関数式で、あるいは、ルックアップテーブルで、補正情報記憶部６１ｃに記憶される。
【００７３】
制御処理部５ｃは、反射特性測定装置Ｍｃの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、測定対象の反射特性を求めるための回路である。制御処理部５ｃは、例えば、ＣＰＵおよびその周辺回路を備えて構成される。制御処理部５ｃは、その制御処理プログラムが実行されることによって、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｃを機能的に備える。これら第３実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２は、それぞれ、第１実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２と同様であるので、その説明を省略する。
【００７４】
補正部５３ｃは、測定開口ＳＡに臨む測定対象から放射された光が積分球２２の前記拡散反射面で反射されて前記測定開口ＳＡに臨む測定対象を照明することによって生じる誤差Ｅで、光学測定部１、２で測定される反射特性を補正し、真値または前記真値により近い反射特性を求めるものである。本実施形態では、補正部５３ｃは、測定開口ＳＡに臨む測定対象を測定する際における補正用輝度測定部４の第Ｂ測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、前記第Ｂ２対応関係から求め、前記求めた誤差；Ｅで補正し、真値または前記真値により近い反射特性（本実施形態では光沢値）；Ｓｈを求める。
【００７５】
次に、第３実施形態における反射特性測定装置Ｍｃの動作について説明する。まず、図略の電源スイッチがオンされると、反射特性測定装置Ｍｃが起動され、制御処理部５ｃによって必要な各部の初期化が行われ、制御処理部５ｃには、制御処理プログラムが実行されることによって、機能的に、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｃが構成される。
【００７６】
光沢値の測定指示がユーザ（オペレータ）によって入力部７から入力されると、図３において、各部によって測定が行われる（Ｓ１ｃ）。より具体的には、反射特性測定装置Ｍｃは、制御部５１によって、第１光源１１を点灯し、この場合における補正用輝度測定部４の第Ｂ２測定出力を取得して記憶部６ｃに記憶し、この場合における第１測定部１４の第１測定出力を取得して記憶部６ｃに記憶する。
【００７７】
次に、反射特性測定装置Ｍｃは、制御処理部５ｃの補正部５３ｃによって、誤差；Ｅを求める（Ｓ２ｃ）。より具体的には、補正部５３ｃは、記憶部６ｃに記憶した第Ｂ２測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、補正情報記憶部６１ｃに記憶された前記第Ｂ２対応関係から求めて記憶部６ｃに記憶する。
【００７８】
そして、反射特性測定装置Ｍｃは、補正部５３ｃによって、第１実施形態と同様に、記憶部６ｃに記憶した補正前の第１測定出力；Ｇｅを、処理Ｓ２ｃで求めた誤差；Ｅで補正し（Ｇ＝Ｇｅ−Ｅ、Ｓ３）、制御処理部５ｃの反射特性演算部５２によって、補正後の第１測定出力；Ｇに基づいて、反射特性の１つである光沢値；Ｓｈを求めて記憶部６ｃに記憶し（Ｓ４）、制御部５１によって、この求めた反射特性の１つである光沢値；Ｇを出力部８に出力し（Ｓ５）、処理を終了する。
【００７９】
以上説明したように、第３実施形態における反射特性測定装置Ｍｃは、補正部５３ｃを備えるので、拡散反射部材（ここでは積分球）２２を含む複数のジオメトリを持つ装置であっても、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【００８０】
そして、第３実施形態における反射特性測定装置Ｍｃは、上述のように予め求められた、例えば関係式やルックアップテーブル等の、所定の第Ｂ２対応関係によって補正し、再帰拡散照明による誤差；Ｅを低減できる。
【００８１】
次に、別の実施形態について説明する。
【００８２】
（第４実施形態）
図９は、第４および第５実施形態における反射特性測定装置の光学的な構成を示す図である。図１０は、第４および第５実施形態における反射特性測定装置の電気的な構成を示す図である。図１１は、第４実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【００８３】
第４実施形態における反射特性測定装置Ｍｄは、例えば、図９および図１０に示すように、光学測定部１、２と、補正用光源３と、補正部５３ｄを備える制御処理部５ｄと、記憶部６ｄとを備え、これら図９および図１０に示す例では、さらに、入力部７と、出力部８と、ＩＦ部９とを備える。すなわち、第４実施形態における反射特性測定装置Ｍｄは、補正用輝度測定部４を備えていない。これら第４実施形態の反射特性測定装置Ｍｄにおける光学測定部１、２、補正用光源３、入力部７、出力部８およびＩＦ部９は、それぞれ、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける光学測定部１、２、補正用光源３、入力部７、出力部８およびＩＦ部９と同様であるので、その説明を省略する。
【００８４】
記憶部６ｄは、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける記憶部６ａと同様に機能し、さらに、第４実施形態では、所定の第２対応関係を記憶する補正情報記憶部６１ｄを備える。
【００８５】
前記所定の第２対応関係は、第１測定部１４の測定出力（第Ｃ測定出力）と前記誤差；Ｅとの対応関係である。より具体的には、第４実施形態では、前記所定の第２対応関係は、補正用光源３のみが補正用照明光を放射した場合における第１測定部１４の測定出力（第Ｃ１測定出力）と前記誤差；Ｅとの第Ｃ１対応関係である。このような第Ｃ１対応関係は、上述の第Ｂ１対応関係と同様に、例えば、複数のサンプルを用いた実測によって、また例えば、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められる。一例として、第Ｂ１対応関係と同様に、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められた第Ｃ１対応関係が図１１に示されている。このように求められた第Ｃ１対応関係は、その関数式で、あるいは、ルックアップテーブルで、補正情報記憶部６１ｄに記憶される。
【００８６】
制御処理部５ｄは、反射特性測定装置Ｍｄの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、測定対象の反射特性を求めるための回路である。制御処理部５ｄは、例えば、ＣＰＵおよびその周辺回路を備えて構成される。制御処理部５ｄは、その制御処理プログラムが実行されることによって、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｄを機能的に備える。これら第４実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２は、それぞれ、第１実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２と同様であるので、その説明を省略する。
【００８７】
補正部５３ｄは、測定開口ＳＡに臨む測定対象から放射された光が積分球２２の前記拡散反射面で反射されて前記測定開口ＳＡに臨む測定対象を照明することによって生じる誤差Ｅで、光学測定部１、２で測定される反射特性を補正し、真値または前記真値により近い反射特性を求めるものである。本実施形態では、補正部５３ｄは、測定開口ＳＡに臨む測定対象を測定する際における第１測定部１４の第Ｃ測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、前記第Ｃ１対応関係から求め、前記求めた誤差；Ｅで補正し、真値または前記真値により近い反射特性（本実施形態では光沢値）；Ｓｈを求める。
【００８８】
次に、第４実施形態における反射特性測定装置Ｍｄの動作について説明する。まず、図略の電源スイッチがオンされると、反射特性測定装置Ｍｄが起動され、制御処理部５ｄによって必要な各部の初期化が行われ、制御処理部５ｄには、制御処理プログラムが実行されることによって、機能的に、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｄが構成される。
【００８９】
光沢値の測定指示がユーザ（オペレータ）によって入力部７から入力されると、図３において、各部によって測定が行われる（Ｓ１ｄ）。より具体的には、反射特性測定装置Ｍｄは、制御部５１によって、補正用光源３のみを点灯し、この場合における第１測定部１４の第Ｃ測定出力を取得して記憶部６ｄに記憶する。そして、反射特性測定装置Ｍｄは、制御部５１によって、第１光源１１のみを点灯し、この場合における第１測定部１４の第１測定出力を取得して記憶部６ｄに記憶する。
【００９０】
次に、反射特性測定装置Ｍｄは、制御処理部５ｄの補正部５３ｄによって、誤差；Ｅを求める（Ｓ２ｄ）。より具体的には、補正部５３ｄは、記憶部６ｄに記憶した第Ｃ測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、補正情報記憶部６１ｄに記憶された前記第Ｃ１対応関係から求めて記憶部６ｄに記憶する。
【００９１】
そして、反射特性測定装置Ｍｄは、補正部５３ｄによって、第１実施形態と同様に、記憶部６ｄに記憶した補正前の第１測定出力；Ｇｅを、処理Ｓ２ｄで求めた誤差；Ｅで補正し（Ｇ＝Ｇｅ−Ｅ、Ｓ３）、制御処理部５ｄの反射特性演算部５２によって、補正後の第１測定出力；Ｇに基づいて、反射特性の１つである光沢値；Ｓｈを求めて記憶部６ｃに記憶し（Ｓ４）、制御部５１によって、この求めた反射特性の１つである光沢値；Ｇを出力部８に出力し（Ｓ５）、処理を終了する。
【００９２】
以上説明したように、第４実施形態における反射特性測定装置Ｍｄは、補正部５３ｄを備えるので、拡散反射部材（ここでは積分球）２２を含む複数のジオメトリを持つ装置であっても、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【００９３】
そして、第４実施形態における反射特性測定装置Ｍｄは、上述のように予め求められた、例えば関係式やルックアップテーブル等の、所定の第Ｃ１対応関係によって補正し、再帰拡散照明による誤差；Ｅを低減できる。
【００９４】
なお、上述の第４実施形態における反射特性測定装置Ｍｄにおいて、前記補正用輝度測定部は、前記第１対応関係から前記誤差；Ｅを求める際に、前記第１測定部１４と同じ分光感度であることが好ましい。この場合では、前記第１対応関係から前記誤差；Ｅを求める際に、補正部５３ｄは、第１測定部１４の第Ｃ測定出力に、いわゆる視感度Ｖλ（標準比視感度、ＸＹＺ色空間におけるＹに相当）を乗算することによって、第１測定部１４の分光感度と第１測定部１４の分光感度とを等しくし、このＶλを乗算した第Ｃ測定出力に対応する誤差；Ｅを第Ｃ１対応関係から求める。このような反射特性測定装置Ｍｄは、前記第１対応関係から前記誤差；Ｅを求める際に、第１測定部１４の分光感度が第１測定部１４の分光感度と同じにされるので、より正確に前記誤差；Ｅを求めることができ、再帰拡散照明による誤差；Ｅをより低減できる。
【００９５】
次に、別の実施形態について説明する。
【００９６】
（第５実施形態）
図１２は、第５実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【００９７】
第５実施形態における反射特性測定装置Ｍｅは、例えば、図９および図１０に示すように、光学測定部１、２と、補正用光源３と、補正部５３ｅを備える制御処理部５ｅと、記憶部６ｅとを備え、これら図９および図１０に示す例では、さらに、入力部７と、出力部８と、ＩＦ部９とを備える。すなわち、第５実施形態における反射特性測定装置Ｍｅは、補正用輝度測定部４を備えていない。これら第５実施形態の反射特性測定装置Ｍｅにおける光学測定部１、２、補正用光源３、入力部７、出力部８およびＩＦ部９は、それぞれ、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける光学測定部１、２、補正用光源３、入力部７、出力部８およびＩＦ部９と同様であるので、その説明を省略する。
【００９８】
記憶部６ｅは、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける記憶部６ａと同様に機能し、さらに、第５実施形態では、所定の第２対応関係を記憶する補正情報記憶部６１ｅを備える。
【００９９】
前記所定の第２対応関係は、第２測定部２４の測定出力（第Ｄ測定出力）と前記誤差；Ｅとの対応関係である。より具体的には、第５実施形態では、前記所定の第２対応関係は、補正用光源３のみが補正用照明光を放射した場合における第２測定部２４の測定出力（第Ｄ１測定出力）と前記誤差；Ｅとの第Ｄ１対応関係である。このような第Ｄ１対応関係は、上述の第Ｂ１対応関係と同様に、例えば、複数のサンプルを用いた実測によって、また例えば、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められる。一例として、第Ｂ１対応関係と同様に、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められた第Ｄ１対応関係が図１２に示されている。このように求められた第Ｄ１対応関係は、その関数式で、あるいは、ルックアップテーブルで、補正情報記憶部６１ｅに記憶される。
【０１００】
制御処理部５ｅは、反射特性測定装置Ｍｅの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、測定対象の反射特性を求めるための回路である。制御処理部５ｅは、例えば、ＣＰＵおよびその周辺回路を備えて構成される。制御処理部５ｅは、その制御処理プログラムが実行されることによって、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｅを機能的に備える。これら第５実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２は、それぞれ、第１実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２と同様であるので、その説明を省略する。
【０１０１】
補正部５３ｅは、測定開口ＳＡに臨む測定対象から放射された光が積分球２２の前記拡散反射面で反射されて前記測定開口ＳＡに臨む測定対象を照明することによって生じる誤差Ｅで、光学測定部１、２で測定される反射特性を補正し、真値または前記真値により近い反射特性を求めるものである。本実施形態では、補正部５３ｅは、測定開口ＳＡに臨む測定対象を測定する際における第２測定部２４の第Ｄ測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、前記第Ｄ１対応関係から求め、前記求めた誤差；Ｅで補正し、真値または前記真値により近い反射特性（本実施形態では光沢値）；Ｓｈを求める。
【０１０２】
次に、第５実施形態における反射特性測定装置Ｍｅの動作について説明する。まず、図略の電源スイッチがオンされると、反射特性測定装置Ｍｅが起動され、制御処理部５ｅによって必要な各部の初期化が行われ、制御処理部５ｅには、制御処理プログラムが実行されることによって、機能的に、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｅが構成される。
【０１０３】
光沢値の測定指示がユーザ（オペレータ）によって入力部７から入力されると、図３において、各部によって測定が行われる（Ｓ１ｅ）。より具体的には、反射特性測定装置Ｍｅは、制御部５１によって、補正用光源３のみを点灯し、この場合における第２測定部２４の第Ｄ１測定出力を取得して記憶部６ｅに記憶する。そして、反射特性測定装置Ｍｅは、制御部５１によって、第１光源１１のみを点灯し、この場合における第１測定部１４の第１測定出力を取得して記憶部６ｅに記憶する。
【０１０４】
次に、反射特性測定装置Ｍｅは、制御処理部５ｅの補正部５３ｅによって、誤差；Ｅを求める（Ｓ２ｅ）。より具体的には、補正部５３ｅは、記憶部６ｅに記憶した第Ｄ１測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、補正情報記憶部６１ｅに記憶された前記第Ｄ１対応関係から求めて記憶部６ｅに記憶する。
【０１０５】
そして、反射特性測定装置Ｍｅは、補正部５３ｅによって、第１実施形態と同様に、記憶部６ｅに記憶した補正前の第１測定出力；Ｇｅを、処理Ｓ２ｅで求めた誤差；Ｅで補正し（Ｇ＝Ｇｅ−Ｅ、Ｓ３）、制御処理部５ｅの反射特性演算部５２によって、補正後の第１測定出力；Ｇに基づいて、反射特性の１つである光沢値；Ｓｈを求めて記憶部６ｅに記憶し（Ｓ４）、制御部５１によって、この求めた反射特性の１つである光沢値；Ｇを出力部８に出力し（Ｓ５）、処理を終了する。
【０１０６】
以上説明したように、第５実施形態における反射特性測定装置Ｍｅは、補正部５３ｅを備えるので、拡散反射部材（ここでは積分球）２２を含む複数のジオメトリを持つ装置であっても、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【０１０７】
そして、第５実施形態における反射特性測定装置Ｍｅは、上述のように予め求められた、例えば関係式やルックアップテーブル等の、所定の第Ｄ１対応関係によって補正し、再帰拡散照明による誤差；Ｅを低減できる。
【０１０８】
次に、別の実施形態について説明する。
【０１０９】
（第６実施形態）
図１３は、第６実施形態における反射特性測定装置の光学的な構成を示す図である。図１４は、第６実施形態における反射特性測定装置の電気的な構成を示す図である。図１５は、第６実施形態の反射特性測定装置に記憶される、誤差を求めるための対応関係を説明するための図である。
【０１１０】
第６実施形態における反射特性測定装置Ｍｆは、例えば、図１３および図１４に示すように、光学測定部１、２と、補正部５３ｆを備える制御処理部５ｆと、記憶部６ｆとを備え、これら図１３および図１４に示す例では、さらに、入力部７と、出力部８と、ＩＦ部９とを備える。すなわち、第６実施形態における反射特性測定装置Ｍｆは、補正用光源３および補正用輝度測定部４を備えていない。これら第６実施形態の反射特性測定装置Ｍｆにおける光学測定部１、２、入力部７、出力部８およびＩＦ部９は、それぞれ、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける光学測定部１、２、入力部７、出力部８およびＩＦ部９と同様であるので、その説明を省略する。
【０１１１】
記憶部６ｆは、第１実施形態の反射特性測定装置Ｍａにおける記憶部６ａと同様に機能し、さらに、第６実施形態では、所定の第２対応関係を記憶する補正情報記憶部６１ｆを備える。
【０１１２】
前記所定の第２対応関係は、第２測定部２４の測定出力（第Ｄ測定出力）と前記誤差；Ｅとの対応関係である。より具体的には、第６実施形態では、前記所定の第２対応関係は、第１光源１１のみが第１照明光を放射した場合における第２測定部２４の測定出力（第Ｄ２測定出力）と前記誤差；Ｅとの第Ｄ２対応関係である。このような第Ｄ２対応関係は、上述の第Ｂ１対応関係と同様に、例えば、複数のサンプルを用いた実測によって、また例えば、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められる。一例として、第Ｂ１対応関係と同様に、光学シミュレーターによるシミュレーションによって予め求められた第Ｄ２対応関係が図１５に示されている。このように求められた第Ｄ２対応関係は、その関数式で、あるいは、ルックアップテーブルで、補正情報記憶部６１ｆに記憶される。
【０１１３】
制御処理部５ｆは、反射特性測定装置Ｍｆの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、測定対象の反射特性を求めるための回路である。制御処理部５ｆは、例えば、ＣＰＵおよびその周辺回路を備えて構成される。制御処理部５ｆは、その制御処理プログラムが実行されることによって、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｆを機能的に備える。これら第５実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２は、それぞれ、第１実施形態における制御部５１および反射特性演算部５２と同様であるので、その説明を省略する。
【０１１４】
補正部５３ｆは、測定開口ＳＡに臨む測定対象から放射された光が積分球２２の前記拡散反射面で反射されて前記測定開口ＳＡに臨む測定対象を照明することによって生じる誤差Ｅで、光学測定部１、２で測定される反射特性を補正し、真値または前記真値により近い反射特性を求めるものである。本実施形態では、補正部５３ｆは、測定開口ＳＡに臨む測定対象を測定する際における第２測定部２４の第Ｄ測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、前記第Ｄ２対応関係から求め、前記求めた誤差；Ｅで補正し、真値または前記真値により近い反射特性（本実施形態では光沢値）；Ｓｈを求める。
【０１１５】
次に、第６実施形態における反射特性測定装置Ｍｆの動作について説明する。まず、図略の電源スイッチがオンされると、反射特性測定装置Ｍｆが起動され、制御処理部５ｆによって必要な各部の初期化が行われ、制御処理部５ｆには、制御処理プログラムが実行されることによって、機能的に、制御部５１、反射特性演算部５２および補正部５３ｆが構成される。
【０１１６】
光沢値の測定指示がユーザ（オペレータ）によって入力部７から入力されると、図３において、各部によって測定が行われる（Ｓ１ｆ）。より具体的には、反射特性測定装置Ｍｅは、制御部５１によって、第１光源１４を点灯し、この場合における第２測定部２４の第Ｄ２測定出力を取得して記憶部６ｆに記憶し、この場合における第１測定部１４の第１測定出力を取得して記憶部６ｆに記憶する。
【０１１７】
次に、反射特性測定装置Ｍｆは、制御処理部５ｆの補正部５３ｆによって、誤差；Ｅを求める（Ｓ２ｆ）。より具体的には、補正部５３ｆは、記憶部６ｆに記憶した第Ｄ２測定出力に対応する前記誤差；Ｅを、補正情報記憶部６１ｆに記憶された前記第Ｄ２対応関係から求めて記憶部６ｆに記憶する。
【０１１８】
そして、反射特性測定装置Ｍｆは、補正部５３ｆによって、第１実施形態と同様に、記憶部６ｆに記憶した補正前の第１測定出力；Ｇｅを、処理Ｓ２ｆで求めた誤差；Ｅで補正し（Ｇ＝Ｇｅ−Ｅ、Ｓ３）、制御処理部５ｆの反射特性演算部５２によって、補正後の第１測定出力；Ｇに基づいて、反射特性の１つである光沢値；Ｓｈを求めて記憶部６ｆに記憶し（Ｓ４）、制御部５１によって、この求めた反射特性の１つである光沢値；Ｇを出力部８に出力し（Ｓ５）、処理を終了する。
【０１１９】
以上説明したように、第６実施形態における反射特性測定装置Ｍｆは、補正部５３ｆを備えるので、拡散反射部材（ここでは積分球）２２を含む複数のジオメトリを持つ装置であっても、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【０１２０】
そして、第６実施形態における反射特性測定装置Ｍｆは、上述のように予め求められた、例えば関係式やルックアップテーブル等の、所定の第Ｄ２対応関係によって補正し、再帰拡散照明による誤差；Ｅを低減できる。
【０１２１】
なお、上述の第５および第６実施形態における反射特性測定装置Ｍｅ、Ｍｆにおいて、第２測定部２４は、前記第２対応関係から前記誤差；Ｅを求める際に、第１測定部１４と同じ分光感度であることが好ましい。この場合では、前記第２対応関係から前記誤差；Ｅを求める際に、補正部５３ｅは、第２測定部２４の第Ｄ１測定出力に、いわゆる視感度Ｖλ（標準比視感度、ＸＹＺ色空間におけるＹに相当）を乗算することによって、第２測定部２４の分光感度と第１測定部１４の分光感度とを等しくし、このＶλを乗算した第Ｄ１測定出力に対応する誤差；Ｅを第Ｄ１対応関係から求める。補正部５３ｆは、前記第２対応関係から前記誤差；Ｅを求める際に、第２測定部２４の第Ｄ２測定出力に、前記視感度Ｖλを乗算することによって、第２測定部２４の分光感度と第１測定部１４の分光感度とを等しくし、このＶλを乗算した第Ｄ２測定出力に対応する誤差；Ｅを第Ｄ２対応関係から求める。このような反射特性測定装置Ｍｅ、Ｍｆは、前記第２対応関係から前記誤差；Ｅを求める際に、第２測定部２４の分光感度が第１測定部１４の分光感度と同じにされるので、より正確に前記誤差；Ｅを求めることができ、再帰拡散照明による誤差；Ｅをより低減できる。
【０１２２】
本明細書は、上記のように様々な態様の技術を開示しているが、そのうち主な技術を以下に纏める。
【０１２３】
一態様にかかる反射特性測定装置は、測定開口を有し、互いに異なるジオメトリの複数の光学系を用いることによって、前記測定開口に臨む測定対象に測定光を照射してその反射光を受光して互いに異なる複数種類の反射特性を測定する光学測定部を備える反射特性測定装置である。前記光学測定部は、前記複数の光学系のうちの少なくとも１つに、拡散反射する拡散反射面を持つ拡散反射部材を備える。そして、この反射特性測定装置は、前記測定開口に臨む測定対象から放射された光が前記拡散反射面で反射されて前記測定開口に臨む測定対象を照明することによって生じる誤差で、前記光学測定部で測定される前記反射特性を補正する補正部を備える。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記拡散反射部材は、積分球である。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記光学測定部は、第１照明光を放射する第１光源と、前記第１光源部で放射された前記第１照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を単一方向から前記第１照明光で照明する第１照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記第１照明光の第１反射光を単一方向から受光する第１受光光学系を備える第１光学系と、前記第１受光光学系から射出された前記第１照明光の第１反射光を測定する第１測定部と、前記第１測定部の第１測定出力に基づいて、前記反射特性として光沢値を求める光沢演算部とを備える。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記光学測定部は、前記拡散反射面を照明する第２照明光を放射する第２光源と、前記第２光源部で放射された前記第２照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を前記拡散反射面で拡散反射された前記第２照明光の拡散光で照明する第２照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記拡散光の第２反射光を受光する第２受光光学系を備える第２光学系と、前記第２受光光学系から射出された前記拡散光の第２反射光を分光測定する第２測定部と、前記第２測定部の第２測定出力に基づいて、前記反射特性として分光反射率を求める分光演算部とを備える。
【０１２４】
このような反射特性測定装置は、前記補正部を備えるので、拡散反射部材を含む複数のジオメトリを持つ反射特性測定装置において、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【０１２５】
他の一態様では、上述の反射特性測定装置において、前記光学測定部は、第１照明光を放射する第１光源と、前記第１光源部で放射された前記第１照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を単一方向から前記第１照明光で照明する第１照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記第１照明光の第１反射光を単一方向から受光する第１受光光学系を備える第１光学系と、前記第１受光光学系から射出された前記第１照明光の第１反射光を測定する第１測定部と、前記第１測定部の第１測定出力に基づいて、前記反射特性を求める反射特性演算部とを備え、前記拡散反射面を照明する補正用照明光を放射する補正用光源と、前記拡散反射面の輝度を測定する補正用輝度測定部とをさらに備え、前記補正部は、前記補正用光源のみが前記補正用照明光を放射した場合における前記補正用輝度測定部の第Ａ１測定出力（Ｂｃ）、前記第１光源のみが前記第１照明光を放射した場合における前記補正用輝度測定部の第Ａ２測定出力（Ｂ）、および、前記補正用光源のみが前記補正用照明光を放射した場合に前記第１測定部の第Ａ３測定出力（Ｇｄ）に基づいて、前記誤差（Ｅ）を求め、前記求めた誤差（Ｅ）で、前記第１光源のみが前記第１照明光を放射した場合における前記第１測定部の第１測定出力（Ｇｅ）を補正し、前記反射特性演算部は、前記補正した第１測定部の第１測定出力（Ｇｅ）に基づいて前記反射特性（Ｓｈ）を求める。
【０１２６】
このような反射特性測定装置は、理論的な考察によって補正し、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【０１２７】
他の一態様では、上述の反射特性測定装置において、前記拡散反射面の輝度を測定する補正用輝度測定部と、前記補正用輝度測定部の第Ｂ測定出力と前記誤差との第１対応関係を記憶する第１補正情報記憶部とをさらに備え、前記補正部は、前記測定開口に臨む測定対象を測定する際における前記補正用輝度測定部の第Ｂ測定出力に対応する前記誤差を、前記第１対応関係から求め、前記求めた誤差で、前記光学測定部で測定される前記反射特性を補正する。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記拡散反射面を照明する補正用照明光を放射する補正用光源をさらに備え、前記光学測定部は、第１照明光を放射する第１光源と、前記第１光源部で放射された前記第１照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を単一方向から前記第１照明光で照明する第１照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記第１照明光の第１反射光を単一方向から受光する第１受光光学系を備える第１光学系と、前記第１受光光学系から射出された前記第１照明光の第１反射光を測定する第１測定部と、前記第１測定部の第１測定出力に基づいて、前記反射特性として光沢値を求める光沢演算部とを備え、前記第１補正情報記憶部は、前記第１対応関係として、前記補正用光源のみが前記補正用照明光を放射した場合における前記補正用輝度測定部の第Ｂ１測定出力と前記誤差との第Ｂ１対応関係を記憶する。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記光学測定部は、第１照明光を放射する第１光源と、前記第１光源部で放射された前記第１照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を単一方向から前記第１照明光で照明する第１照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記第１照明光の第１反射光を単一方向から受光する第１受光光学系を備える第１光学系と、前記第１受光光学系から射出された前記第１照明光の第１反射光を測定する第１測定部と、前記第１測定部の第１測定出力に基づいて、前記反射特性として光沢値を求める光沢演算部とを備え、前記第１補正情報記憶部は、前記第１対応関係として、前記第１光源のみが前記第１照明光を放射した場合における前記補正用輝度測定部の第Ｂ２測定出力と前記誤差との第Ｂ２対応関係を記憶する。好ましくは、これら上述の反射特性測定装置において、前記補正用輝度測定部は、前記第１対応関係から前記誤差を求める際に、前記第１測定部と同じ分光感度である。
【０１２８】
このような反射特性測定装置は、予め求められた、例えば関係式やルックアップテーブル等の、所定の第１対応関係によって補正し、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【０１２９】
他の一態様では、上述の反射特性測定装置において、前記光学測定部は、第１照明光を放射する第１光源と、前記第１光源部で放射された前記第１照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を単一方向から前記第１照明光で照明する第１照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記第１照明光の第１反射光を単一方向から受光する第１受光光学系を備える第１光学系と、前記第１受光光学系から射出された前記第１照明光の第１反射光を測定する第１測定部と、前記拡散反射面を照明する第２照明光を放射する第２光源と、前記第２光源部で放射された前記第２照明光が入射され、前記測定開口に臨む測定対象を前記拡散反射面で拡散反射された前記第２照明光の拡散光で照明する第２照明光学系、および、前記測定対象で反射した前記拡散光の第２反射光を受光する第２受光光学系を備える第２光学系と、前記第２受光光学系から射出された前記拡散光の第２反射光を測定する第２測定部とを備え、前記拡散反射面を照明する補正用照明光を放射する補正用光源と、前記第１測定部の第Ｃ測定出力または前記第２測定部の第Ｄ測定出力と前記誤差との第２対応関係を記憶する第２補正情報記憶部とをさらに備え、前記補正部は、前記測定開口に臨む測定対象を測定する際における前記第１測定部の第Ｃ測定出力または前記第２測定部の第Ｄ測定出力に対応する前記誤差を、前記第２対応関係から求め、前記求めた誤差で、前記光学測定部で測定される前記反射特性を補正する。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記補正用光源は、前記第２光源と兼用されている。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記光学測定部は、前記第１測定部の第１測定出力に基づいて第１種類の反射特性を求め、前記第２測定部の第２測定出力に基づいて前記第１種類と異なる第２種類の反射特性を求める反射特性演算部をさらに備え、前記補正部は、前記求めた誤差で、前記第１測定部の第１測定出力を補正する。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記第２補正情報記憶部は、前記第２対応関係として、前記補正用光源のみが前記補正用照明光を放射した場合における前記第１測定部の第Ｃ１測定出力と前記誤差との第Ｃ１対応関係を記憶する。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記第２補正情報記憶部は、前記第２対応関係として、前記補正用光源のみが前記補正用照明光を放射した場合における前記第２測定部の第Ｄ１測定出力と前記誤差との第Ｄ１対応関係を記憶する。好ましくは、上述の反射特性測定装置において、前記第２補正情報記憶部は、前記第２対応関係として、前記第１光源のみが前記第１照明光を放射した場合における前記第２測定部の第Ｄ２測定出力と前記誤差との第Ｄ２対応関係を記憶する。
【０１３０】
このような反射特性測定装置は、予め求められた、例えば関係式やルックアップテーブル等の、所定の第２対応関係によって補正し、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
【０１３１】
他の一態様では、上述の反射特性測定装置において、前記第２測定部は、前記第２対応関係から前記誤差を求める際に、前記第１測定部と同じ分光感度である。
【０１３２】
このような反射特性測定装置は、前記第２対応関係から前記誤差を求める際に、前記第２測定部の分光感度が前記第１測定部の分光感度と同じにされるので、より正確に前記誤差を求めることができ、再帰拡散照明による誤差をより低減できる。
【０１３３】
他の一態様では、上述の反射特性測定装置において、前記補正用輝度測定部は、前記第１対応関係から前記誤差を求める際に、前記第１測定部と同じ分光感度である。
【０１３４】
このような反射特性測定装置は、前記第１対応関係から前記誤差を求める際に、前記補正用輝度測定部の分光感度が前記第１測定部の分光感度と同じにされるので、より正確に前記誤差を求めることができ、再帰拡散照明による誤差をより低減できる。
【０１３５】
この出願は、２０１６年５月３１日に出願された日本国特許出願特願２０１６−１０８２８２を基礎とするものであり、その内容は、本願に含まれるものである。
【０１３６】
本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および／または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。
【産業上の利用可能性】
【０１３７】
本発明によれば、測定対象の被測定物を照明し、その反射特性を測定する反射特性測定装置が提供できる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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