(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
本体を含み、前記本体の中には測定空間が設置され、前記測定空間の底壁には選別空間が設置され、前記選別空間の底壁には歯車空間が設置され、前記歯車空間の底壁には対称空間が左右対称になるように設置され、前記測定空間の左右壁にはばね空間が対称になるように設置され、前記ばね空間と前記選別空間との間には半導体メモリを測定できる測定機構が設置され、
前記測定機構は前記選別空間の内壁に摺動可能に連結された円板を含み、前記円板の下面には前記対称空間と摺動可能に連結されたヒンジ板が左右対称になるようにヒンジで連結され、前記歯車空間の後側には選別モータが固定的に装着され、前記選別モータの左側には前記歯車空間の前壁と回転可能に連結された動力軸が伝動可能に連結され、前記動力軸には二つの前記ヒンジ板と噛み合った歯車が固定的に設置され、各前記ばね空間の片側壁と前記測定空間の片側壁との間にはＴ型ブロックが摺動可能に連結され、各前記Ｔ型ブロックにおいて前記測定空間から離れた側面と、前記ばね空間において前記測定空間から離れた側壁との間には圧迫ばねが連結され、各前記Ｔ型ブロックにおいて前記測定空間に近接する側面にはメモリを測定できる測定器が固定的に設置され、前記測定器と前記選別モータとの間には選択電線が連結され、
各前記ばね空間において前記測定空間から離れた側には横変位空間が二つ左右対称になるように設置され、各前記横変位空間の下側には傘歯車空間が設置され、二つの前記傘歯車空間の後壁には前記傘歯車空間を連通する後側空間が設置され、前記後側空間と前記横変位空間との間には伝動機構が設置され、前記選別空間の左右両側には収集空間が対称になるように設置され、各前記収集空間と前記選別空間とは連通空間によって連通され、各前記収集空間の前壁には門板空間が設置され、各前記収集空間の底壁には底側空間が設置され、前記収集空間と前記門板空間との間には収集機構が設置されていることを特徴とする半導体メモリ用の簡易型測定装置。
【請求項２】
前記伝動機構は前記Ｔ型ブロックの片側面に固定的に装着され且つ前記ばね空間の片側壁と摺動可能に連結された摺動板を含み、前記摺動板は前記横変位空間に入って且つ対応する前記横変位空間の片側壁と摺動可能に連結され、各前記摺動板には中空空間が設置され、各前記横変位空間の上下壁には前記中空空間の中で摺動できる横変位板が摺動可能に連結され、前記横変位板において前記測定空間から離れた側面と、対応する前記横変位空間の片側壁との間には復位ばねが連結され、前記後側空間の後壁には伝動モータが固定的に設置され、前記伝動モータと前記測定器との間には伝動電線が連結され、前記伝動モータの前側には左側の前記傘歯車空間の前壁と回転可能に連結されたモータ軸が伝動可能に連結され、前記後側空間の後壁と右側の前記傘歯車空間の前壁との間には前記モータ軸と対応するサブ軸が回転可能に連結され、前記後側空間において前記サブ軸と前記モータ軸とにはプーリが左右対称になるように固定的に設置され、二つの前記プーリの間にはベルトが連結され、前記モータ軸と前記サブ軸の前側には第一傘歯車が左右対称になるように固定的に設置され、各前記横変位空間の上下壁には傘歯車軸が回転可能に連結され、各前記傘歯車軸は下方へ前記横変位空間の底壁を貫通して前記傘歯車空間に入り、かつ前記傘歯車空間の頂壁と回転可能に連結され、各前記傘歯車軸の下側には前記第一傘歯車と噛み合った第二傘歯車が固定的に設置され、前記横変位空間において各前記傘歯車軸には前記横変位板と当接する偏心輪が固定的に設置されていることを特徴とする請求項１に記載の半導体メモリ用の簡易型測定装置。
【請求項３】
前記収集機構は前記底側空間の中に摺動可能に連結されかつ前記収集空間の内壁と摺動可能に連結された収集板を含み、各前記収集板の底面と前記底側空間の底壁との間には支持ばねが連結され、各前記収集板の下側には電源器が固定的に設置され、各前記底側空間の片側壁には前記電源器と対応する警音器が固定的に設置され、各前記収集板の上側にはローラ空間が固定的に設置され、各前記ローラ空間の左右壁にはローラ軸が回転可能に連結され、各前記ローラ軸にはローラが固定的に設置され、前記ローラの上側にはメモリを収集できる収集箱が置かれ、前記門板空間の前後壁には門板軸が回転可能に連結され、前記門板軸には門板が固定的に設置されていることを特徴とする請求項１に記載の半導体メモリ用の簡易型測定装置。
【請求項４】
半導体メモリを二つの前記測定器の間に置いた後、前記Ｔ型ブロックと前記摺動板との移動は前記横変位板に影響しなく、前記偏心輪が前記横変位を押して移動させる距離は比較的に長いことを特徴とする請求項２に記載の半導体メモリ用の簡易型測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願発明はメモリ分野を取り上げ、特に半導体メモリ用の簡易型測定装置に関わる。
【背景技術】
【０００２】
現在、社会の発展につれ、電子情報は新時代における最も重要な技術構成要素となり、このようなビッグデータ時代において、メモリの容量とメモリ自体の品質とがますます重要になる。中で、半導体メモリは最も一般的なメモリの一種として、世界中に販売されている。半導体メモリを成型した後に、メモリに対する測定は、基本的に作業員がメモリを測定装置の測定口に插入し、そしてメモリを大量に測定する。しかし、これでは時間がかなりかかり、また、測定後、作業員は人力でメモリを分類し、効率が悪く、したがって、上記問題を解決できる半導体メモリ用の簡易型測定装置を設計する必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】中国特許出願公開第１０９９９４１４６号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記問題を解決できる半導体メモリ用の簡易型測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の問題を解決するため、本願は以下の技術的解決策を提供する。
【０００６】
本願に記載の半導体メモリ用の簡易型測定装置は、本体を含み、前記本体の中には測定空間が設置され、前記測定空間の底壁には選別空間が設置され、前記選別空間の底壁には歯車空間が設置され、前記歯車空間の底壁には対称空間が左右対称になるように設置され、前記測定空間の左右壁にはばね空間が対称になるように設置され、前記ばね空間と前記選別空間との間には半導体メモリを測定できる測定機構が設置され、
前記測定機構は前記選別空間の内壁に摺動可能に連結された円板を含み、前記円板の下面には前記対称空間と摺動可能に連結されたヒンジ板が左右対称になるようにヒンジで連結され、前記歯車空間の後側には選別モータが固定的に装着され、前記選別モータの左側には前記歯車空間の前壁と回転可能に連結された動力軸が伝動可能に連結され、前記動力軸には二つの前記ヒンジ板と噛み合った歯車が固定的に設置され、各前記ばね空間の片側壁と前記測定空間の片側壁との間にはＴ型ブロックが摺動可能に連結され、各前記Ｔ型ブロックにおいて前記測定空間から離れた側面と、前記ばね空間において前記測定空間から離れた側壁との間には圧迫ばねが連結され、各前記Ｔ型ブロックにおいて前記測定空間に近接する側面にはメモリを測定できる測定器が固定的に設置され、前記測定器と前記選別モータとの間には選択電線が連結され、
各前記ばね空間において前記測定空間から離れた側には横変位空間が二つ左右対称になるように設置され、各前記横変位空間の下側には傘歯車空間が設置され、二つの前記傘歯車空間の後壁には前記傘歯車空間を連通する後側空間が設置され、前記後側空間と前記横変位空間との間には伝動機構が設置され、前記選別空間の左右両側には収集空間が対称になるように設置され、各前記収集空間と前記選別空間とは連通空間によって連通され、各前記収集空間の前壁には門板空間が設置され、各前記収集空間の底壁には底側空間が設置され、前記収集空間と前記門板空間との間には収集機構が設置されている。
【０００７】
好適な技術的解決策として、前記伝動機構は前記Ｔ型ブロックの片側面に固定的に装着され且つ前記ばね空間の片側壁と摺動可能に連結された摺動板を含み、前記摺動板は前記横変位空間に入って且つ対応する前記横変位空間の片側壁と摺動可能に連結され、各前記摺動板には中空空間が設置され、各前記横変位空間の上下壁には前記中空空間の中で摺動できる横変位板が摺動可能に連結され、前記横変位板において前記測定空間から離れた側面と、対応する前記横変位空間の片側壁との間には復位ばねが連結され、前記後側空間の後壁には伝動モータが固定的に設置され、前記伝動モータと前記測定器との間には伝動電線が連結され、前記伝動モータの前側には左側の前記傘歯車空間の前壁と回転可能に連結されたモータ軸が伝動可能に連結され、前記後側空間の後壁と右側の前記傘歯車空間の前壁との間には前記モータ軸と対応するサブ軸が回転可能に連結され、前記後側空間において前記サブ軸と前記モータ軸とにはプーリが左右対称になるように固定的に設置され、二つの前記プーリの間にはベルトが連結され、前記モータ軸と前記サブ軸の前側には第一傘歯車が左右対称になるように固定的に設置され、各前記横変位空間の上下壁には傘歯車軸が回転可能に連結され、各前記傘歯車軸は下方へ前記横変位空間の底壁を貫通して前記傘歯車空間に入り、かつ前記傘歯車空間の頂壁と回転可能に連結され、各前記傘歯車軸の下側には前記第一傘歯車と噛み合った第二傘歯車が固定的に設置され、前記横変位空間において各前記傘歯車軸には前記横変位板と当接する偏心輪が固定的に設置されている。
【０００８】
好適な技術的解決策として、前記収集機構は前記底側空間の中に摺動可能に連結されかつ前記収集空間の内壁と摺動可能に連結された収集板を含み、各前記収集板の底面と前記底側空間の底壁との間には支持ばねが連結され、各前記収集板の下側には電源器が固定的に設置され、各前記底側空間の片側壁には前記電源器と対応する警音器が固定的に設置され、各前記収集板の上側にはローラ空間が固定的に設置され、各前記ローラ空間の左右壁にはローラ軸が回転可能に連結され、各前記ローラ軸にはローラが固定的に設置され、前記ローラの上側にはメモリを収集できる収集箱が置かれ、前記門板空間の前後壁には門板軸が回転可能に連結され、前記門板軸には門板が固定的に設置されている。
【０００９】
好適な技術的解決策として、半導体メモリを二つの前記測定器の間に置いた後、前記Ｔ型ブロックと前記摺動板との移動は前記横変位板に影響しなく、前記偏心輪が前記横変位を押して移動させる距離は比較的に長い。
【発明の効果】
【００１０】
本発明は以下のプラス効果を有する：本願発明はメモリを測定口に插入するという伝統的な測定方法を変え、測定装置で半導体メモリを測定し、作業強度を下げ、また、測定後に人力で分類するという伝統的な方法に対して、本願発明はメモリを測定した後に、直接にメモリを分類でき、また、分類後のメモリが一定数になると、自動的に作業員に収集箱を取り替えるように呼びかけられ、作業時間を大幅に縮減し、作業効率を向上させ、普及に値する。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
下記に図１〜７を合わせて本発明について詳しく説明し、便利に説明するために、下記の方向を以下のように規定する：図１は本発明装置の正面図であり、以下に述べる上下左右前後の方向と図１の自身投影関係の上下左右前後の方向とが一致である。
【００１２】
【図１】図１は本願発明の全体断面の正面構成略図
【図２】図２は図１におけるモータ軸の後側部分の断面図
【図３】図３は図１におけるＡ部の拡大図
【図４】図４は図１におけるＢ―Ｂ方向からの断面図
【図５】図５は図１におけるＣ―Ｃ方向からの断面図
【図６】図６は図２におけるＤ―Ｄ方向からの断面図
【図７】図７は図１における偏心輪の正面図
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本願に記載の半導体メモリ用の簡易型測定装置の実施例は、本体２０を含み、前記本体２０の中には測定空間３６が設置され、前記測定空間３６の底壁には選別空間５４が設置され、前記選別空間５４の底壁には歯車空間５３が設置され、前記歯車空間５３の底壁には対称空間４９が左右対称になるように設置され、前記測定空間３６の左右壁にはばね空間３３が対称になるように設置され、前記ばね空間３３と前記選別空間５４との間には半導体メモリを測定できる測定機構１０１が設置され、前記測定機構１０１は前記選別空間５４の内壁に摺動可能に連結された円板５５を含み、前記円板５５の下面には前記対称空間４９と摺動可能に連結されたヒンジ板５０が左右対称になるようにヒンジで連結され、前記歯車空間５３の後側には選別モータ６２が固定的に装着され、前記選別モータ６２の左側には前記歯車空間５３の前壁と回転可能に連結された動力軸５１が伝動可能に連結され、前記動力軸５１には二つの前記ヒンジ板５０と噛み合った歯車５２が固定的に設置され、各前記ばね空間３３の片側壁と前記測定空間３６の片側壁との間にはＴ型ブロック３４が摺動可能に連結され、各前記Ｔ型ブロック３４において前記測定空間３６から離れた側面と、前記ばね空間３３において前記測定空間３６から離れた側壁との間には圧迫ばね３２が連結され、各前記Ｔ型ブロック３４において前記測定空間３６に近接する側面にはメモリを測定できる測定器３７が固定的に設置され、前記測定器３７と前記選別モータ６２との間には選択電線３８が連結され、各前記ばね空間３３において前記測定空間３６から離れた側には横変位空間２６が二つ左右対称になるように設置され、各前記横変位空間２６の下側には傘歯車空間２１が設置され、二つの前記傘歯車空間２１の後壁には前記傘歯車空間２１を連通する後側空間５８が設置され、前記後側空間５８と前記横変位空間２６との間には伝動機構１０２が設置され、前記選別空間５４の左右両側には収集空間４０が対称になるように設置され、各前記収集空間４０と前記選別空間５４とは連通空間４８によって連通され、各前記収集空間４０の前壁には門板空間６３が設置され、各前記収集空間４０の底壁には底側空間４５が設置され、前記収集空間４０と前記門板空間６３との間には収集機構１０３が設置されている。
【００１４】
前記伝動機構１０２は前記Ｔ型ブロック３４の片側面に固定的に装着され且つ前記ばね空間３３の片側壁と摺動可能に連結された摺動板３０を含み、前記摺動板３０は前記横変位空間２６に入って且つ対応する前記横変位空間２６の片側壁と摺動可能に連結され、各前記摺動板３０には中空空間２９が設置され、各前記横変位空間２６の上下壁には前記中空空間２９の中で摺動できる横変位板２７が摺動可能に連結され、前記横変位板２７において前記測定空間３６から離れた側面と、対応する前記横変位空間２６の片側壁との間には復位ばね２５が連結され、前記後側空間５８の後壁には伝動モータ５６が固定的に設置され、前記伝動モータ５６と前記測定器３７との間には伝動電線３５が連結され、前記伝動モータ５６の前側には左側の前記傘歯車空間２１の前壁と回転可能に連結されたモータ軸２３が伝動可能に連結され、前記後側空間５８の後壁と右側の前記傘歯車空間２１の前壁との間には前記モータ軸２３と対応するサブ軸３９が回転可能に連結され、前記後側空間５８において前記サブ軸３９と前記モータ軸２３とにはプーリ６６が左右対称になるように固定的に設置され、二つの前記プーリ６６の間にはベルト５７が連結され、前記モータ軸２３と前記サブ軸３９の前側には第一傘歯車２２が左右対称になるように固定的に設置され、各前記横変位空間２６の上下壁には傘歯車軸３１が回転可能に連結され、各前記傘歯車軸３１は下方へ前記横変位空間２６の底壁を貫通して前記傘歯車空間２１に入り、かつ前記傘歯車空間２１の頂壁と回転可能に連結され、各前記傘歯車軸３１の下側には前記第一傘歯車２２と噛み合った第二傘歯車２４が固定的に設置され、前記横変位空間２６において各前記傘歯車軸３１には前記横変位板２７と当接する偏心輪２８が固定的に設置され、
測定完了後、前記測定器３７は前記伝動電線３５によって前記伝動モータ５６を駆動して作動させ、そして前記モータ軸２３は駆動されて回転し、さらに前記プーリ６６と、前記サブ軸３９とは駆動されて回転し、さらに前記第一傘歯車２２と前記第二傘歯車２４とは駆動されて回転し、さらに前記偏心輪２８は駆動されて回転し、さらに前記横変位板２７は押されて前記測定空間３６から離れるように移動し、さらに前記摺動板３０と、前記Ｔ型ブロック３４とは駆動されて前記測定空間３６から離れるように移動し、そして二つの前記測定器３７の間に挟まれた半導体メモリは放され、前記円板５５に落下して選別を行う。
【００１５】
前記収集機構１０３は前記底側空間４５の中に摺動可能に連結されかつ前記収集空間４０の内壁と摺動可能に連結された収集板４７を含み、各前記収集板４７の底面と前記底側空間４５の底壁との間には支持ばね４６が連結され、各前記収集板４７の下側には電源器４３が固定的に設置され、各前記底側空間４５の片側壁には前記電源器４３と対応する警音器４４が固定的に設置され、各前記収集板４７の上側にはローラ空間５９が固定的に設置され、各前記ローラ空間５９の左右壁にはローラ軸６０が回転可能に連結され、各前記ローラ軸６０にはローラ６１が固定的に設置され、前記ローラ６１の上側にはメモリを収集できる収集箱４１が置かれ、前記門板空間６３の前後壁には門板軸６４が回転可能に連結され、前記門板軸６４には門板６５が固定的に設置され、
半導体メモリを収集する中で、メモリは重力によって前記収集箱４１と前記収集板４７とを下方へ押し、そして前記電源器４３は前記警音器４４と重なって前記警音器４４に給電し、前記警音器４４は音を鳴らして作業員に前記収集箱４１を取り替えるように呼びかけ、そして、作業員は前記門板６５を開ければ、前記ローラ６１にある前記収集箱４１を取り出すことができる。
【００１６】
半導体メモリを二つの前記測定器３７の間に置いた後、前記Ｔ型ブロック３４と前記摺動板３０との移動は前記横変位板２７に影響しなく、前記偏心輪２８が前記横変位２７を押して移動させる距離は比較的に長いため、前記摺動板３０を駆動して移動させることができる。  
【００１７】
半導体メモリに品質測定を行う時、作業員はメモリを二つの測定器３７の間に挟み、測定器３７はメモリを測定し、測定完了後、測定器３７は伝動電線３５によって伝動モータ５６を駆動して作動させ、そしてモータ軸２３は駆動されて回転し、さらにプーリ６６と、サブ軸３９とは駆動されて回転し、さらに第一傘歯車２２と第二傘歯車２４とは駆動されて回転し、さらに偏心輪２８は駆動されて回転し、さらに横変位板２７は押されて測定空間３６から離れるように移動し、さらに摺動板３０と、Ｔ型ブロック３４とは駆動されて測定空間３６から離れるようの移動し、そして二つの測定器３７の間に挟まれた半導体メモリは放され、円板５５に落下して選別を行い、
もしメモリが合格ラインに達したら、測定器３７は選択電線３８を通じて選別モータ６２を制御して正回転させ、そして動力軸５１は駆動されて時計回り方向へ回転し、右側のヒンジ板５０を駆動して降下させ、左側のヒンジ板５０を駆動して上昇させ、そして円板５５は駆動されて右側が低くなり、円板５５にあるメモリが右側の収集箱４１に滑り落ち、もしメモリが合格ラインに達していないなら、測定器３７は選択電線３８を通じて選別モータ６２を制御して逆回転させ、そして動力軸５１は駆動されて反時計回り方向へ回転し、左側のヒンジ板５０を駆動して降下させ、右側のヒンジ板５０を駆動して上昇させ、そして円板５５は駆動されて左側が低くなり、円板５５にあるメモリが左側の収集箱４１に滑り落ち、また、半導体メモリを収集する中で、メモリは重力によって収集箱４１と収集板４７とを下方へ押し、そして電源器４３は警音器４４と重なって警音器４４に給電し、警音器４４は音を鳴らして作業員に収集箱４１を取り替えるように呼びかけ、そして、作業員は門板６５を開ければ、ローラ６１にある収集箱４１を取り出すことができる。
【００１８】
以上に述べたのは本発明の具体的な実施方式であり、本発明の保護範囲は以上の内容に限らず、すべての創造的な労働を通じず思いつきの改動と取替は本発明の保護範囲にカバーされるべき。よって、本発明の保護範囲は権利要求書が限定された保護範囲を標準とすべきである。
【要約】
【課題】本願は半導体メモリ用の簡易型測定装置を開示した。
【解決手段】
本願は半導体メモリ用の簡易型測定装置を開示し、本体を含み、前記本体の中には測定空間が設置され、前記測定空間の底壁には選別空間が設置され、前記選別空間の底壁には歯車空間が設置され、前記歯車空間の底壁には対称空間が左右対称になるように設置され、前記測定空間の左右壁にはばね空間が対称になるように設置され、前記ばね空間と前記選別空間との間には半導体メモリを測定できる測定機構が設置され、本願発明はメモリを測定口に插入するという伝統的な測定方法を変え、測定装置で半導体メモリを測定し、作業強度を下げ、また、測定後に人力で分類するという伝統的な方法に対して、本願発明はメモリを測定した後に、直接にメモリを分類できる。
【選択図】図１【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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