(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
軸心方向に貫通する貫通孔を有する筒状のケースと、
前記ケースの外面に取り付けられており、測定子により微小な距離の変化量を測定可能なダイヤルゲージと、
前記ケースの前記軸心と同軸心かつ当該ケースに対して回転自在に前記貫通孔を貫通するように取り付けられた筒状の保持体と、
前記保持体の基端側に取り付けられて前記保持体を支持する支持体と、
前記保持体の径方向の内側に設けられて当該保持体に対して前記軸心方向に沿って移動可能な摺動体と、
前記摺動体の先端側に取り付けられて、先端部分が揺動すると共に揺動量を前記摺動体に伝達する揺動体と、を備え、
前記摺動体は、前記軸心方向に沿って形成される軸方向延在部と、前記径方向に沿って形成される径方向延在部と、を有し、
前記ダイヤルゲージの前記測定子と前記摺動体の前記径方向延在部とが、当接するように構成され、
前記揺動体の揺動量が、前記摺動体の前記軸方向延在部を介して前記径方向延在部に伝達されて、当該径方向延在部に当接した前記ダイヤルゲージの前記測定子によって測定可能に構成されている芯ずれ測定装置。
【請求項２】
前記摺動体は、前記径方向延在部を前記軸心方向に貫通する挿通孔を有し、
前記保持体は、前記挿通孔に内挿される挿入部を有し、
前記挿通孔に前記挿入部が内挿された状態で、前記挿通孔の内周面と前記挿入部の外周面の少なくとも一部が接触することにより、前記径方向延在部に対して前記保持体が周方向に回転しないように構成されている請求項１に記載の芯ずれ測定装置。
【請求項３】
前記支持体は、前記軸心方向に垂直な方向に沿って切り欠かれた調整スリットと、前記調整スリットの両側の面のうち前記保持体から遠い方の面を押圧して当該調整スリットが開く方向に力を作用させる調整押圧部と、と有し、
前記調整押圧部は、前記軸心から前記径方向に離間した位置に配置されている請求項１又は２に記載の芯ずれ測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、旋盤や円筒研削盤等に用いられるセンタの芯ずれを測定するための芯ずれ測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１において、センタの芯ずれを測定すると共にセンタの芯出しを行うダイヤルゲージ式芯出し装置が開示されている。特許文献１の装置は、以下のように構成されている。すなわち、測定子取付部材（２９）に取り付けられた棒状測定子（３０）をワーク（Ｗ）の測定面に接触させた状態で、当該棒状測定子（３０）に外力が作用するとスイングアーム（２８）が揺動支点（３３）を中心に揺動する。そして、スイングアーム（２８）は、主軸（４）の先端から突出しているスライド軸（１２）を押動する。スライド軸（１２）が押動されることにより横ピン（１４）を介してスライドカラー（７）が押動される。そして、スライドカラー（７）が押動されることにより、アーム受けピン（２４）及び支持アーム（２０）を介してダイヤルゲージ（９）の測定端子軸（１７）が移動して指針（１９）が振れる。特許文献１では、棒状測定子（３０）をワーク（Ｗ）の穴部（Ｈ）の内周面に接触させると共に工作機械のスピンドル（Ｓ）を低速回転させ、当該スピンドル（Ｓ）の回転に伴う指針（１９）の振れに基づいてワーク（Ｗ）のセンタの芯ずれを測定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平７−２２７７４１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ここで、一般的なダイヤルゲージとしては、対象物に当接する測定子の揺動量により指針が振れるように構成されたてこ式ダイヤルゲージと、当該測定子の突出量及び引退量により指針が振れるように構成されたストローク式ダイヤルゲージと、があり、いずれも簡素に構成されている。しかし、前述した特許文献１の装置は、センタの芯ずれを測定するために、スイングアーム（２８）、アーム受けピン（２４）、支持アーム（２０）等の多くの要素を含む複雑な構成となっている。そして、特許文献１の装置は、複雑な構成であるために、てこ式ダイヤルゲージやストローク式ダイヤルゲージなどの簡素に構成された一般的なダイヤルゲージを用いることができない。【０００５】
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、簡素な構成のダイヤルゲージを用いてセンタの芯ずれを測定することが可能な芯ずれ測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、本開示に係る芯ずれ測定装置の特徴構成は、軸心方向に貫通する貫通孔を有する筒状のケースと、前記ケースの外面に取り付けられており、測定子により微小な距離の変化量を測定可能なダイヤルゲージと、前記ケースの前記軸心と同軸心かつ当該ケースに対して回転自在に前記貫通孔を貫通するように取り付けられた筒状の保持体と、前記保持体の基端側に取り付けられて前記保持体を支持する支持体と、前記保持体の径方向の内側に設けられて当該保持体に対して前記軸心方向に沿って移動可能な摺動体と、前記摺動体の先端側に取り付けられて、先端部分が揺動すると共に揺動量を前記摺動体に伝達する揺動体と、を備え、前記摺動体は、前記軸心方向に沿って形成される軸方向延在部と、前記径方向に沿って形成される径方向延在部と、を有し、前記ダイヤルゲージの前記測定子と前記摺動体の前記径方向延在部とが、当接するように構成され、前記揺動体の揺動量が、前記摺動体の前記軸方向延在部を介して前記径方向延在部に伝達されて、当該径方向延在部に当接した前記ダイヤルゲージの前記測定子によって測定可能に構成された点にある。【０００７】
本構成によれば、測定対象の芯ずれ量に応じて揺動体が揺動し、その揺動量が摺動体の軸方向延在部を介して径方向延在部に伝達される。すなわち、揺動体が揺動すると、その揺動量に応じて摺動体は軸心方向に移動し、径方向延在部も軸心方向に移動する。そして、径方向延在部の軸心方向への移動量に応じて当該径方向延在部に当接するダイヤルゲージの測定子が振れることにより、本構成に係る芯ずれ測定装置は、測定対象の芯ずれを測定することができる。すなわち、本構成では、ダイヤルゲージの測定子を摺動体の径方向延在部に当接させて径方向延在部の軸心方向の移動量を測定することにより測定対象の芯ずれを測定することができる。従って、本構成によれば、周知である簡素な構成のダイヤルゲージを用いて測定対象の芯ずれを測定することができる。【０００８】
また、前記摺動体は、前記径方向延在部を前記軸心方向に貫通する挿通孔を有し、前記保持体は、前記挿通孔に内挿される挿入部を有し、前記挿通孔に前記挿入部が内挿された状態で、前記挿通孔の内周面と前記挿入部の外周面の少なくとも一部が接触することにより、前記径方向延在部に対して前記保持体が周方向に回転しないように構成されていると好適である。【０００９】
本構成によれば、摺動体の挿通孔に保持体の挿入部が内挿され、かつ、挿通孔の内周面と挿入部の外周面の少なくとも一部が接触していることにより、摺動体と保持体とが相対的に周方向に回転できない。また、挿通孔は軸心方向に貫通しているため、摺動体と保持体との相対回転は上記のように規制されつつも、これら摺動体と保持体とは軸心方向においては相対移動が可能となっている。すなわち、本構成に係る芯ずれ測定装置によれば、摺動体と保持体とが相対回転することによる測定誤差を防ぎつつ、これら摺動体と保持体との軸心方向における相対移動を許容して、測定対象の芯ずれを正確に測定することができる。【００１０】
また、前記支持体は、前記軸心方向に垂直な方向に沿って切り欠かれた調整スリットと、前記調整スリットの両側の面のうち前記保持体から遠い方の面を押圧して当該調整スリットが開く方向に力を作用させる調整押圧部と、と有し、前記調整押圧部は、前記軸心から前記径方向に離間した位置に配置されていると好適である。【００１１】
本構成によれば、調整スリットの両側の面のうち保持体から遠い方の面を押圧することにより調整スリットを開かせることができる。また、調整スリットを開かせるために当該調整スリットが開く方向に力を作用させる調整押圧部は、軸心から径方向に離間した位置に配置されている。そのため、調整押圧部の位置に相当する軸心から径方向に離間した部分ほど調整スリットの開きが大きくなり、軸心に近い部分ほど調整スリットの開きが小さくなる。すなわち、調整スリットが不均一に開くことで当該調整スリットを境に支持体が軸心方向に対して傾くことになり、支持体に支持されている保持体等の他の部材も軸心方向に対して傾くことになる。従って、本構成に係る芯ずれ測定装置によれば、調整押圧部により調整スリットを開閉させることで、芯ずれ測定装置の軸心方向に対する傾きを微調整することができる。その結果、芯ずれ測定装置が軸心方向に沿う姿勢となるように傾きを調整することができ、測定対象の芯ずれを正確に測定することができる。【００１２】
本開示に係る技術のさらなる特徴と利点は、図面を参照して記述する以下の例示的かつ非限定的な実施形態の説明によってより明確になるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本実施形態に係る芯ずれ測定装置の概要を示す正面図である。
【図２】同芯ずれ測定装置の正面図である。
【図３】同芯ずれ測定装置の要部断面図である。
【図４】図３におけるＩＶ−ＩＶ断面図である。
【図５】同芯ずれ測定装置の平面図である。
【図６】同芯ずれ測定装置の底面図である。
【図７】同芯ずれ測定装置の右側面図である。
【図８】同芯ずれ測定装置の動きを示す左側面図である。
【図９】同芯ずれ測定装置の動きを模式的に示す図である。
【図１０】芯ずれを測定する際の同芯ずれ測定装置の動きを説明する図である。
【図１１】他の実施形態に係る芯ずれ測定装置の要部拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
〔本実施形態〕
本実施形態に係る芯ずれ測定装置１について図面に基づいて説明する。図１に示すように、芯ずれ測定装置１は、例えば、工作機械としての旋盤に用いることができる。図１では、主軸心ＣＸまわりにチャック９１を回転させる回転駆動装置９０に対して、軸心方向Ｘで対向する位置にセンタ９２が取り付けられた芯押し台９４が設けられている。そして、回転駆動装置９０と芯押し台９４とは、基台９７により軸心方向Ｘで連結している。基台９７には、軸心方向Ｘに移動自在な刃物台９６が設けられている。このような旋盤においては、旋削対象のワーク（図示省略）の基端部を芯ずれ測定装置１が取り外された状態のチャック９１で把持し、ワークの先端部を芯押し台９４のセンタ９２により軸心第１方向Ｘ１に押し付けることで、ワークを軸心方向Ｘの両端から固定する。そして、回転駆動装置９０を作動させることによりワークを主軸心ＣＸまわりに回転させると共に、当該回転するワークを刃物台９６に取り付けられた刃物（図示省略）によって旋削するものである。ワークを正確に旋削するためには、チャック９１の主軸心ＣＸとセンタ９２の中心とが一致する必要がある。芯ずれ測定装置１は、ワークを旋削する前に、主軸心ＣＸに対するセンタ９２の芯ずれを測定するものである。芯ずれ測定装置１は、チャック９１に把持された円盤状の回転基盤９３に取り付けられる。また、芯ずれ測定装置１は、主軸心ＣＸに対して偏心した位置に配置されている。なお、図中に示すＣＸは、回転駆動装置９０によってチャック９１を回転させる回転軸心としての主軸心ＣＸである。図２に示すＭＸは、芯ずれ測定装置１の軸心であり、主軸心ＣＸを中心として旋回する移動軸心ＭＸである。また、移動軸心ＭＸを中心とする周方向を第１周方向Ｃ１とし、主軸心ＣＸを中心とする周方向を第２周方向Ｃ２とする。
【００１５】
図２及び図３に示すように、芯ずれ測定装置１は、軸心方向Ｘに貫通する貫通孔２１を有する筒状のケース２と、ケース２の外面に取り付けられており、測定子３２により微小な距離の変化量を測定可能なダイヤルゲージ３と、移動軸心ＭＸと同軸心かつ当該ケース２に対して回転自在に貫通孔２１を貫通するように取り付けられた筒状の保持体４と、保持体４の基端側に取り付けられて保持体４を支持する支持体５と、保持体４の径方向Ｒの内側に設けられて当該保持体４に対して軸心方向Ｘに沿って移動可能な摺動体６と、摺動体６の先端側に取り付けられて、先端部分が揺動すると共に揺動量を摺動体６に伝達する揺動体７と、を備えている。なお、移動軸心ＭＸは「ケースの軸心」に相当する。また、径方向Ｒとは、軸心方向Ｘに対して直交する方向である。本実施形態では、ある部材から見て、径方向Ｒに沿って移動軸心ＭＸから遠ざかる方向を径外方向Ｒ１とし、移動軸心ＭＸに近づく方向を径内方向Ｒ２とする。
【００１６】
図５〜図８に示すように、ケース２は、貫通孔２１を有する略円筒状に形成されている。貫通孔２１は、移動軸心ＭＸに沿ってケース２を貫通して形成されている。ケース２の外面、すなわち径外方向Ｒ１を向く面には、ダイヤルゲージ３がボルト等により固定された状態で取り付けられている。本実施形態では、ダイヤルゲージとして、てこ式のダイヤルゲージ３が用いられる。ダイヤルゲージ３は、周知の構造であり、測定子３２の微小な振れを歯車機構（図示省略）により拡大して、これを本体３１に設けられたインジケータ３３に表示させるように構成されている。
【００１７】
図３に示すように、保持体４は、ケース２の径内方向Ｒ２において、ベアリングＢを介してケース２に取り付けられている。このため、保持体４は、ケース２に対して移動軸心ＭＸまわりに相対回転が可能となっている。本実施形態では、回転する保持体４に対してケース２が固定されるように構成されている。ケース２を固定させるために、ケース２には、固定ウェイト８が径外方向Ｒ１に突出した状態で取り付けられている（図８等参照）。固定ウェイト８は、ケース２の側面２か所に形成された取付穴８ａのいずれかに取り付けることができる。取付穴８ａの内周には雌ネジが切られており、固定ウェイト８の取付穴８ａに対する取付部分には雄ネジが切られている。従って、固定ウェイト８と取付穴８ａとが螺合することで、固定ウェイト８がケース２に対して取り付けられるように構成されている。固定ウェイト８は重く構成されている。そのため、固定ウェイト８が取り付けられた状態で芯ずれ測定装置１を作動させると、固定ウェイト８の重みによって、保持体４が移動軸心ＭＸまわりに回転し、固定ウェイト８が垂直下方に位置した状態でケース２は固定された状態となる。ケース２が固定されることで、ケース２の外面に取り付けられたダイヤルゲージ３も固定される。本実施形態では、図５〜図８に示すように、ケース２の外周面における固定ウェイト８の取付位置とダイヤルゲージ３の取付位置とが形成する移動軸心ＭＸを中心とする円弧上の角度が、１８０°よりも少し小さい角度となるように構成されている。このため、固定ウェイト８が自重により垂直下方に位置すると、インジケータ３３は上向きよりも固定ウェイト８側に少し傾いた方向に向くこととなり、使用者が芯ずれ測定装置１の側方からインジケータ３３を確認するのが容易となる。なお、固定ウェイト８が取り付けられる取付穴８ａは、軸心方向Ｘ視で、移動軸心ＭＸを通る垂直線を基準とする線対称の位置に一対設けられている（図８参照）。そのため、使用者の立ち位置に合わせていずれかの取付穴８ａを選んで、これに固定ウェイト８を取り付けることにより、芯ずれ測定装置１の両側方のいずれを立ち位置とする場合でも、ダイヤルゲージ３のインジケータ３３を使用者に対向させることができる。
【００１８】
図３に示すように、保持体４は、軸心方向Ｘに沿って延在する略円筒状であり、その内周面は径内方向Ｒ２において摺動体６及び揺動体７を保持するための保持部４１となっている。また、保持体４は、後述する摺動体６の径方向延在部６２に形成された挿通孔６２ａに内挿される挿入部４２を有している（図４も参照）。挿入部４２は、ケース２の外部に露出している。
【００１９】
摺動体６は、保持体４の保持部４１によって保持されている。摺動体６は、軸心方向Ｘに沿って形成される軸方向延在部６１と、径方向Ｒに沿って形成される径方向延在部６２と、を有している。本実施形態では、ダイヤルゲージ３の測定子３２と摺動体６の径方向延在部６２とが、当接するように構成されている。詳細には、本実施形態では、軸心方向Ｘから見たときに、測定子３２の先端部分と径方向延在部６２とが重複するように配置され（図４参照）、かつ、測定子３２と径方向延在部６２とが当接するように構成されている。また、測定子３２は径方向延在部６２に追従するように構成されており、測定子３２と径方向延在部６２とは、径方向延在部６２が軸心方向Ｘ上を移動しても離間しないように構成されている。
【００２０】
摺動体６は、径方向延在部６２を軸心方向Ｘに貫通する挿通孔６２ａを有している。図４に示すように、本実施形態では、挿通孔６２ａは、径方向延在部６２に３つ形成されている。３つの挿通孔６２ａは、第１周方向Ｃ１上で等間隔に配置されている。前述したように、本実施形態では、この挿通孔６２ａに対して、保持体４の挿入部４２が内挿されるように構成されている。また、本実施形態では、３つの挿通孔６２ａに対応して、３つの挿入部４２が保持体４に形成されている。本実施形態では、挿通孔６２ａに挿入部４２が内挿された状態で、挿通孔６２ａの内周面と挿入部４２の外周面の少なくとも一部が接触することにより、径方向延在部６２に対して保持体４が第１周方向Ｃ１に回転しないように構成されている。詳細には、挿通孔６２ａの内周面と挿入部４２の外周面のうち、摺動体６の移動軸心ＭＸに近い側から遠い側に向かって延在する面同士が互いに接触するように構成されている。このため、挿入部４２を有する保持体４と挿通孔６２ａを有する摺動体６とは、移動軸心ＭＸまわりで一体回転する。言い換えれば、保持体４と摺動体６とは、相対回転が規制された状態となっている。一方で、挿入部４２の外周面と挿通孔６２ａの内周面のうち接触している面以外の部分では、互いに接触しないように構成されている。すなわち、挿入部４２と挿通孔６２ａとは、隙間なく嵌め合されたものではない。挿入部４２を有する保持体４と挿通孔６２ａを有する摺動体６とは、軸心方向Ｘで相対移動可能となっている。本実施形態では、保持体４が軸心方向Ｘでケース２に対して固定されており、固定された保持体４に対して摺動体６が軸心方向Ｘに移動自在に構成されている。
【００２１】
図３に示すように、軸方向延在部６１の径内方向Ｒ２には、移動軸心ＭＸに沿う有底孔である中空部６１ａが形成されている。中空部６１ａには、軸心方向Ｘにおける一方向である軸心第１方向Ｘ１及び他方向である軸心第２方向Ｘ２に向けて力を作用させる圧縮バネであるコイルバネＳが設けられている。コイルバネＳにおける軸心第２方向Ｘ２の端部は摺動体６と接触し、コイルバネＳにおける軸心第１方向Ｘ１の端部は、支持体５と接触している。このため、コイルバネＳは、摺動体６を軸心第２方向Ｘ２に付勢するように構成されている。
【００２２】
また、軸方向延在部６１における軸心第２方向Ｘ２の端部には、軸心第１方向Ｘ１に向かって縮径となるテーパ内周面６１ｂが形成されている。テーパ内周面６１ｂは、揺動体７と接触するように構成されている。
【００２３】
揺動体７は、軸心方向Ｘに沿って配置されており、保持体４に保持された状態で、摺動体６における軸心第２方向Ｘ２の端部に取り付けられている。揺動体７は、摺動体６のテーパ内周面６１ｂに接触する伝達部７２と、測定対象に接触する測定部７１と、を有している。そして、揺動体７は、伝達部７２と測定部７１との間に配置される支点軸７３によって軸支されている。支点軸７３は、径外方向Ｒ１から径内方向Ｒ２に向かって保持体４を貫通すると共に揺動体７に挿入されている。また、支点軸７３と揺動体７との間には、ベアリング（図示省略）が介在されている。このため、揺動体７は、支点軸７３まわりに揺動可能となっている。本実施形態では、揺動体７の揺動量が、摺動体６の軸方向延在部６１を介して径方向延在部６２に伝達されて、当該径方向延在部６２に当接したダイヤルゲージ３の測定子３２によって測定可能に構成されている。具体的には、図１０に示すように、測定部７１が揺動することにより支点軸７３を介して伝達部７２が揺動する。伝達部７２は摺動体６のテーパ内周面６１ｂに沿って揺動するため、摺動体６に対して軸心第１方向Ｘ１の力を作用させる。この力が、摺動体６を軸心第２方向Ｘ２に押し込むコイルバネＳの力に抗って、摺動体６を軸心第１方向Ｘ１に移動させる。これにより、摺動体６の一部である径方向延在部６２も軸心第１方向Ｘ１に移動し、径方向延在部６２に当接するダイヤルゲージ３の測定子３２が振れることになる。このようにして、芯ずれ測定装置１は、揺動体７の揺動量をダイヤルゲージ３により測定可能となっている。
【００２４】
図２及び図３等に示すように、支持体５は、回転基盤９３に取り付けられるための取付部５１と、芯ずれ測定装置１の軸心方向Ｘに対する傾きを調整するための調整部５２と、を有している。図７に示すように、支持体５の取付部５１には、３つの磁石穴５７が形成されており、この磁石穴５７に圧入又は磁気力により取り付けられた磁石（図示省略）によって、支持体５が回転基盤９３に取り付けられている。
【００２５】
図３に示すように、支持体５は、軸心方向Ｘに垂直な方向に沿って切り欠かれた調整スリット５３と、調整スリット５３の両側の面のうち保持体４から遠い方の面である押圧面５３ａを押圧して当該調整スリット５３が開くようにする調整押圧部５４と、を有している。調整スリット５３は、移動軸心ＭＸから径方向Ｒに離間した位置に軸心方向Ｘに幅広に形成された拡張部５３ｂを有している。拡張部５３ｂは、調整スリット５３の径方向Ｒにおける一端部に形成されている。調整スリット５３の径方向Ｒにおける他端部は、支持体５の径外方向Ｒ１の外部と連通した状態となっている。
【００２６】
調整押圧部５４は、移動軸心ＭＸから径外方向Ｒ１に離間した位置に配置されている。本実施形態では、調整押圧部５４は、移動軸心ＭＸを挟んで調整スリット５３の拡張部５３ｂと反対の位置に配置されている。調整押圧部５４には、調整スリット５３の押圧面５３ａを押圧するボール５６と、支持体５を径外方向Ｒ１から貫通すると共に軸心第２方向Ｘ２からボール５６に接触する調整ハンドル５５と、が設けられている。調整ハンドル５５は、支持体５に形成された雌ネジに対して螺合可能な雄ネジを先端に有している。また、調整ハンドル５５の雄ネジの先端部分は、先端側に向かって縮径となるテーパ状に形成されている。ボール５６は、調整ハンドル５５の雄ネジのテーパ状に形成された先端部分と軸心第２方向Ｘ２で接触しつつ、調整スリット５３の押圧面５３ａと軸心第１方向Ｘ１で接触している。調整ハンドル５５を径内方向Ｒ２に向かってねじ込むことで、テーパ状に形成された調整ハンドル５５の雄ネジの先端部分がボール５６を軸心第１方向Ｘ１に向かって押し込むように構成されている。そして、調整ハンドル５５の雄ネジによって押し込まれたボール５６は、押圧面５３ａを軸心第１方向Ｘ１に向かって押圧する。この際、押圧面５３ａを押圧するボール５６は、反作用により、押圧面５３ａから軸心第２方向Ｘ２に向かって押されることになる。その結果、調整スリット５３が軸心方向Ｘに開いていき、支持体５における調整スリット５３から軸心第２方向Ｘ２の部分が、調整スリット５３の拡張部５３ｂを支点に軸心方向Ｘに対して傾いていく。これにより、芯ずれ測定装置１の全体の傾きを調整することができる。そして、芯ずれ測定装置１の全体の傾きを、調整ハンドル５５のねじ込み量によって微調整することができる。
【００２７】
次に、芯ずれ測定装置１を用いたセンタ９２の芯ずれの測定について説明する。図３に示すように、まず、センタ９２を芯押し台９４から取り去り、カップ状に形成された案内体９５を芯押し台９４に取り付ける。案内体９５は、開口部９５ａが軸心第１方向Ｘ１に向くように、かつ、案内体９５の軸心とセンタ９２のセンタ軸心９２Ｘとを一致させるようにして芯押し台９４に取り付けられる。案内体９５の内周には、揺動体７の測定部７１を案内する案内面９５ｂが形成されている。ここで、芯ずれ測定装置１は、測定部７１の外面が案内面９５ｂに当接するように、主軸心ＣＸから偏心させて回転基盤９３に取り付けられている。そして、案内面９５ｂに揺動体７の測定部７１を沿わせつつ、回転駆動装置９０を作動させることにより、センタ９２の芯ずれを測定する。ここで、案内面９５ｂに対する測定部７１の当接は、調整ハンドル５５のねじ込み量を調整して芯ずれ測定装置１の全体を傾かせることで、調整することができる。すなわち、案内面９５ｂに測定部７１を当接させるために、大きくは回転基盤９３に対する芯ずれ測定装置１の取り付け位置を調整し、最終的には調整ハンドル５５のねじ込み量を微調整する。
【００２８】
回転駆動装置９０を作動させると、図８に示すように、芯ずれ測定装置１は、第２周方向Ｃ２に沿って主軸心ＣＸを中心に旋回すると共に、第１周方向Ｃ１に沿って移動軸心ＭＸまわりに自転する。この際、固定ウェイト８の重みにより、ケース２及びダイヤルゲージ３が固定されつつ、ケース２よりも内側に位置する部材が移動軸心ＭＸまわりに自転する。
【００２９】
センタ軸心９２Ｘと主軸心ＣＸとが一致していない場合には、例えば、図９に示すような状態となる。図９中の仮想線で示す円は、測定部７１が主軸心ＣＸを中心として旋回する旋回軌跡７１Ｌを表したものである。図９に示すように、センタ軸心９２Ｘと主軸心ＣＸとは一致していないため、測定部７１による旋回軌跡７１Ｌに沿った旋回が、案内体９５の案内面９５ｂによって妨げられることになる。すなわちこの場合、測定部７１は、一定範囲で案内面９５ｂに沿って旋回し、当該一定範囲以外の範囲では案内面９５ｂに接触しない状態で旋回軌跡７１Ｌに沿って旋回する。図９に示すように、測定部７１が案内面９５ｂに沿って旋回している期間のうち測定部７１が案内面９５ｂに対して接触した直後及び離間する直前以外の期間は、当該測定部７１は、案内面９５ｂによってセンタ軸心９２Ｘ方向に押されている状態である。そのため、図１０に示すように、測定部７１の旋回に連れて揺動体７が揺動して、この揺動量が、摺動体６を介してダイヤルゲージ３の測定子３２に伝達される。すなわち、測定部７１の揺動に伴い支点軸７３を介して伝達部７２も揺動する。伝達部７２は摺動体６のテーパ内周面６１ｂに沿って揺動するため、コイルバネＳの力に抗って摺動体６を軸心第１方向Ｘ１に押し込むと共に当該摺動体６が軸心第１方向Ｘ１に移動する。その結果、摺動体６の一部である径方向延在部６２も軸心第１方向Ｘ１に移動して、これに当接する測定子３２が振れる。そして、図９に示すように、測定部７１が案内面９５ｂに接触しない状態で旋回している期間並びに測定部７１が案内面９５ｂに対して接触した直後及び離間する直前の期間は、測定部７１は、案内面９５ｂに押されていない状態である。そのため、図１０において仮想線で示すように、揺動体７は揺動状態から元の状態に戻り、摺動体６はコイルバネＳにより軸心第２方向Ｘ２に付勢されて軸心第２方向Ｘ２に移動して元の状態に戻る。そして、摺動体６の移動に伴い、径方向延在部６２に当接するダイヤルゲージ３の測定子３２も元の状態に戻る。このように、測定子３２が、振れた状態と元の状態とを繰り返すことで、センタ軸心９２Ｘが主軸心ＣＸに対して一致していないことを確認することができる。
【００３０】
ここで、センタ軸心９２Ｘと主軸心ＣＸとが一致している場合は、測定部７１が案内面９５ｂに当接しているものの、測定部７１が揺動しないため、測定子３２が振れることがない。従って、インジケータ３３の指針も振れることがない。しかし、センタ軸心９２Ｘと主軸心ＣＸとが一致していても、例えば、案内体９５の開口部９５ａの大きさが、測定部７１の旋回軌跡７１Ｌよりも小さい場合には、測定部７１は、常に案内面９５ｂに接触した状態で旋回することとなる。この場合であってもセンタ軸心９２Ｘと主軸心ＣＸとは一致しているため、測定部７１の揺動量は常に一定となり、測定部７１は揺動せず、ダイヤルゲージ３の測定子３２も振れない。これにより、センタ軸心９２Ｘと主軸心ＣＸとが一致していることを確認することができる。
【００３１】
以上は、センタ９２の芯ずれの測定について述べたが、センタ軸心９２Ｘと主軸心ＣＸとを一致させる、いわゆる芯出しを行うには、ダイヤルゲージ３のインジケータ３３が振れないか或いは一定の振れとなるように、前述した芯ずれの測定中に芯押し台９４の座標位置を調整すれば良い。
【００３２】
〔その他の実施形態〕
（１）上記の実施形態では、芯ずれ測定装置１が、てこ式のダイヤルゲージ３を用いて構成された例について説明した。しかし、本発明はこのような構成に限定されない。すなわち、本発明に係る芯ずれ測定装置は、ストローク式のダイヤルゲージを用いて構成することもできる。図１１に示すように、ストローク式のダイヤルゲージ３は、測定子３２の突出量及び引退量によって微小な距離の変化量を測定するものである。この場合には、測定子３２の突出方向及び引退方向を軸心方向Ｘに沿わせて、当該測定子３２を軸心第２方向Ｘ２から摺動体６の径方向延在部６２に当接させることにより、測定対象の芯ずれを測定することができる。この際、径方向延在部６２の径方向Ｒの長さは、測定子３２が当接できる長さに適宜調整されると良い。
【００３３】
（２）上記の実施形態では、ダイヤルゲージ３の測定子３２が摺動体６の径方向延在部６２に対して軸心第２方向Ｘ２から当接するように構成された例について説明した。しかし、本発明はこのような構成に限定されない。すなわち、測定子３２は、径方向延在部６２に対して軸心第１方向Ｘ１から当接するように構成されても良い。この場合であっても、軸心方向Ｘの移動量に変換された揺動体７の揺動量を、ダイヤルゲージ３により測定することができる。
【００３４】
（３）上記の実施形態では、ボール５６によって押圧される押圧面５３ａが、調整スリット５３の両側の面のうち保持体４から遠い方の面である例について説明した。しかし、本発明はこのような例に限定されない。すなわち、押圧面５３ａは、調整スリット５３の両側の面のうち保持体４から近い方の面であっても良い。この場合には、調整スリット５３に対して軸心第１方向Ｘ１の位置に、調整ハンドル５５とボール５６とが設けられる。また、調整ハンドル５５は、軸心第１方向Ｘ１からボール５６に当接するように構成される。この構成によっても、調整ハンドル５５により押し込まれたボール５６が押圧面５３ａを軸心第２方向Ｘ２に押圧することにより、調整スリット５３を開かせることができる。従って、芯ずれ測定装置１の軸心方向Ｘに対する傾きを調整することができる。
【００３５】
（４）本発明は上記の各実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。上記の各実施形態は、矛盾の生じない範囲で組み合わすことができる。
【符号の説明】
【００３６】
１      ：芯ずれ測定装置
２      ：ケース
３      ：ダイヤルゲージ
４      ：保持体
５      ：支持体
６      ：摺動体
７      ：揺動体
２１    ：貫通孔
３２    ：測定子
４２    ：挿入部
５３    ：調整スリット
５３ａ  ：押圧面
５４    ：調整押圧部
６１    ：軸方向延在部
６２    ：径方向延在部
６２ａ  ：挿通孔
９２Ｘ  ：センタ軸心
Ｃ１    ：第１周方向
Ｃ２    ：第２周方向
ＣＸ    ：主軸心
ＭＸ    ：移動軸心
Ｒ      ：径方向
Ｒ１    ：径外方向
Ｒ２    ：径内方向
Ｘ      ：軸心方向
Ｘ１    ：軸心第１方向
Ｘ２    ：軸心第２方向
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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