(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電圧変化をモニターするためのシステムであって、
マイクロエレクトロニック回路の電源レール上で、電圧変化が、定義された周波数を超えたことの検出に応答して信号を生成するように構成されたハイパスフィルタを有する差動増幅回路であって、前記差動増幅回路は、前記電圧変化を表す増幅信号を与えるべく、前記信号を受信しかつ増幅するように構成された差動増幅器を有し、前記差動増幅回路の第１入力および前記差動増幅回路の第２入力はそれぞれ、レジスタを介して共通モード電圧に電気的に接続されており、前記共通モード電圧は、前記電源レールの公称電圧と実質的に等しい、ところの差動増幅回路と、
前記差動増幅回路および前記マイクロエレクトロニック回路のひとつ以上のコンポーネントに接続された補償コンポーネントであって、前記補償コンポーネントは、前記増幅信号が前記電源レール上での高周波振動を示すことを表す前記差動増幅回路からの信号を受信したことに応答して、前記マイクロエレクトロニック回路の前記ひとつ以上のコンポーネントの振る舞いを修正する対抗手段を開始するように構成されており、前記対抗手段は、前記マイクロエレクトロニック回路の前記ひとつ以上のコンポーネントをディスエーブルにするか、および／または、その動作速度を削減する、ところの補償コンポーネントと
を備えるシステム。
【請求項２】
前記ハイパスフィルタは、前記差動増幅回路を与えるべく前記差動増幅器に前記電源レールを接続する少なくともひとつのレジスタおよび少なくともひとつのキャパシタを有し、
前記差動増幅器は、定義された帯域幅にわたって実質的に一定の利得を有するデジェネラティブ差動ペア回路を有する、ことを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記差動増幅器の出力ラインと前記電源レールとの間に接続されたひとつ以上の終端レジスタをさらに備える、請求項２に記載のシステム。
【請求項４】
ローカルメモリまたは外部メモリ内に、前記増幅信号の記録を格納するように構成されたロギングコンポーネントをさらに備える請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記ロギングコンポーネントは、前記増幅信号によって表される高周波電圧振動が前記定義された周波数を超えたことの検出に応答して、前記ローカルメモリまたは前記外部メモリ内に前記増幅信号の前記記録を格納するように構成される、ことを特徴とする請求項４に記載のシステム。
【請求項６】
前記ロギングコンポーネントは、前記増幅信号によって表される前記電圧変化が定義された時間間隔の間持続したことの検出に応答して、前記ローカルメモリまたは前記外部メモリ内に前記増幅信号の前記記録を格納するように構成される、ことを特徴とする請求項４に記載のシステム。
【請求項７】
高周波電圧変化を検出するための方法であって、
ハイパスフィルタおよび差動増幅器を有する差動増幅回路の前記ハイパスフィルタの入力において、マイクロエレクトロニック回路の電源レール上の電圧変化を検出する工程であって、前記差動増幅回路は、前記電源レールの公称電圧と実質的に等しい共通モード電圧にバイアスされる、ところの工程と、
前記ハイパスフィルタの出力において、前記電圧変化に基づいて、信号を生成する工程と、
前記差動増幅回路によって、前記電圧変化を表す増幅信号を生成するべく前記信号を増幅する工程と、
前記差動増幅回路によって、前記差動増幅回路に接続された補償回路へ前記増幅信号を送信する工程と、
前記増幅信号が定義された基準を満たすことの判定に応用して、前記補償回路によって、前記マイクロエレクトロニック回路のひとつ以上のコンポーネントの振る舞いを修正する対抗手段を開始する工程であって、前記対抗手段は、前記マイクロエレクトロニック回路のひとつ以上のＩＣコンポーネントの動作をディスエーブルにすること、抑制すること、および／または、制限することを実行する、ところの工程と
を備える方法。
【請求項８】
前記信号を増幅する工程は、前記差動増幅器としてデジェネラティブ差動ペア回路を使って前記信号を増幅することを有する、ことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項９】
ディスプレイデバイスに前記増幅信号を送信する送信ラインのインピーダンスをマッチングする工程をさらに備え、前記マッチングする工程は、前記送信ラインと前記電源レールとの間に接続された一つ以上の終端レジスタを使ってマッチングを行うことを含む、ことを特徴とする請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記増幅信号に基づいてメモリ内に前記電圧変化の記録をロギングする工程をさらに備える、請求項７に記載の方法。
【請求項１１】
前記ロギングする工程は、前記電圧変化が、定義された周波数を超えたことの判定に応答して、前記記録をロギングすることを含む、ことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記ロギングする工程は、前記電圧変化が、定義された時間間隔の間持続したことの判定に応答して、前記記録をロギングすることを含む、ことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
電力モニターシステムであって、ハイパスフィルタおよび差動増幅器を有する差動増幅回路を使って、集積回路の電源レール上の電圧変動をモニターするための手段と、
前記差動増幅回路の入力を、前記電源レールの公称電圧と実質的に等しい共通モード電圧にバイアスするための手段と、
前記電圧変動に基づいて、信号を生成するための手段と、
ディスプレイデバイスによって測定可能な増幅信号を与えるべく、前記信号を増幅するための手段と、
前記増幅信号が前記電源レール上で、定義された基準を満足する高周波振動を示すことの判定に応答して、前記集積回路のコンポーネントをディスエーブルにするか、および／または、その動作速度を抑制する対抗手段を開始するよう、前記差動増幅回路に接続された補償回路に指示するための手段であって、前記補償回路は前記集積回路の前記コンポーネントに接続されている、ところの手段と
を備えるシステム。
【請求項１４】
前記信号を生成するための手段は、定義された周波数を超えた前記電圧変動のサブセットに基づいて、前記信号を生成するための手段を含む、ことを特徴とする請求項１３に記載のシステム。
【請求項１５】
前記増幅信号に基づいて、前記電圧変動が定義された周波数を超えたことの判定に応答して、前記電圧変動の記録をロギングするための手段をさらに備える請求項１３に記載のシステム。
【請求項１６】
前記ロギングするための手段は、前記増幅信号に基づいて、前記電圧変動が定義された時間間隔の間持続したことの判定に応答して、前記記録をロギングするための手段を含む、ことを特徴とする請求項１５に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、概して、デジタル方式で電力をモニターすることに関する。
【背景技術】
【０００２】
マイクロエレクトロニックシステムは、しばしば、システムを形成するさまざまな集積回路（ＩＣ）に電力を分配する電源レール上で電圧変動に晒される。スパイク、オシレーション、または他の電源電圧ノイズは、予想外の回路応答を引き起こすか、さもなければ、システムパフォーマンスおよび信頼性を低下させる。電源電圧変動は、マイクロエレクトロニック回路の公称電源電圧が減少するに従い、より古い技術と比較してより低い電源電圧で動作するように設計されたナノメータ技術を使った回路を有するので、より大きな問題になる。例えば、ナノメータ技術を使ったある回路は、より古いシステム用の５ＶＤＣと比べ、０．９ＶＤＣの電源電圧で動作するように設計される。公称電源電圧が減少するに従い、電源電圧ノイズに対するシステムトレランスも減少する。
【０００３】
システム動作速度の突然の変化が、電源電圧レール上でスパイク、ドループ、または、一次的なオシレーションを生じさせるため、高周波デジタルシステムは、特に電源電圧ノイズの傾向がある。電源レールのスパイクおよびオシレーションは、ＩＲドロップ、または、電源と回路コンポーネントとの間の寄生抵抗によるＤＣ電圧降下の機能でもある。電源電圧変動の他の原因は、ｄｉ／ｄｔノイズ、または、電源電圧ライン上の誘導効果による瞬間的な電圧変化である。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
マイクロエレクトロニック回路の内部電源電圧レールをモニターすることは困難である。あるシステムは、内部電源ラインをモニターするように設計されたモニターシステムを含むが、このシステムはしばしば、制限された帯域幅を有し、その結果、電源レール上の比較的低い周波数変化の情報しか与えない。これらのモニターシステムは、内部電源電圧レール上のＩＲおよびＤＣドロップを補償するために使用可能であるが、主にｄｉ／ｄｔ変動により生じる高周波ノイズに対しては不適切である。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
リアルタイムで、高周波電源変動をモニターしかつ測定することにより、このような変動を補償することができ、それにより、システム全体のパフォーマンスが改善する。この目的のため、ここに開示する高周波電源電圧モニターの実施形態は、集積回路の内部電源電圧の高周波変動を感知し、この測定変動を増幅し、生成した増幅信号をモニターおよび測定用の出力パッドに分配する。電源電圧モニターは、広い帯域幅に渡って一定の利得を有するように設計され、モニターが高周波電圧変化に対してのみ応答するように、電源にＡＣ接続される。
【０００６】
実施形態において、電源電圧モニターは、制限された利得を有するように設計された差動アンプを有し、その結果、回路内のオフセットは、アンプを飽和させることはなく、モニターは、さまざまな条件のもとで、内部電源電圧のＡＣ変化を正確に検出することができる。差動アンプ回路は、ＡＣ変化が正確に測定され、かつ、特定の補償回路に分配されるように、明確に定義された利得を有する。電源電圧モニターは、キャリブレーション、サンプリングシステム、または、アナログ・デジタル（ＡＤ）コンバーターを必要としない。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、回路の電源レール上の高周波変化をモニターするための電源電圧モニターを含むマイクロエレクトロニック回路の略示図である。
【図２】図２は、電源電圧レールの高周波電圧モニターを実行するように使用される差動回路の例示図である。
【図３】図３は、電源レールの高周波電圧モニターを実行することができるデジェネラティブ差動ペア回路の例示図である。
【図４】図４は、高周波および低周波の両方をモニターすることができる回路の例を示す図である。
【図５】図５は、測定した電圧変化に基づいて、リアルタイムの回路補償を実行するマイクロエレクトロニックシステムの例を示す図である。
【図６】図６は、マイクロエレクトロニック回路の電源レール上の測定した電圧変化に関連するデータをロギングするためのシステム図である。
【図７】図７は、電源レール上の高周波電圧変化をモニターする方法の実施形態のフローチャートである。
【図８】図８は、電源レール上で検出された高周波電圧変化を記録する方法の実施形態のフローチャートである。
【図９】図９は、電源レール上で検出された高周波電圧変化を補償する方法の実施形態のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
本開示のさまざまな態様は、集積回路（例えば、システムオンチップ、または、他のマイクロエレクトロニック回路）の内部電源レール上の高周波変化をモニターすることができる高周波電源電圧モニターを与える。図１は、回路の電源電圧レール上の高周波変化をモニターするための電源電圧モニターを含むマイクロエレクトロニック回路のハイレベル図である。マイクロエレクトロニック回路は、例えば、集積回路（ＩＣ）、ＩＣチップのシステム、システムオンチップ（ＳｏＣ）、または、他のマイクロエレクトロニックシステムを有する。回路は、一つ以上のＩＣコンポーネント、例えば、ＩＣチップ１０４を含み、それは、電源レール１０２Ａおよび１０２Ｂを通じて電力を受け取る。
【０００９】
電源レール１０２Ａおよび１０２Ｂ上の電圧は、これに限定しないが、ＩＲドロップおよび／またはｄｉ／ｄｔノイズを含む内部回路特性の結果として高周波電圧変動に影響されやすい。また、電源レール１０２Ａよび１０２Ｂにより与えられるＩＣコンポーネント１０４の動作速度の突然の増加が、電源レール上の電圧スパイクまたはオシレーションを生じさせる。これらの電圧変化は、ＩＣコンポーネントの予想不能または信用できないパフォーマンスを生じさせ、それは電源電圧偏移に対して小さいトレランスを有する。
【００１０】
これらの高周波電圧変動をモニターしかつ特徴化するために、高周波電圧供給モニター１０６が、内部回路の一部として含まれる。ある実施形態において、電源電圧モニター１０６は、システムの内部デバグ回路の一部であってよい。高周波電源電圧モニター１０６の入力ライン１１０Ａおよび１１０Ｂは、レール上の高周波電圧ノイズをモニターしかつ測定するのを容易にするべく、電源レール１０２Ａおよび１０２Ｂに電気的に接続されている。電源電圧モニター１０６は、電源レール１０２Ａおよび１０２Ｂ上の高周波電圧変化を検出し、測定した変化を増幅し、増幅した測定値を信号として、出力ライン１１２Ａおよび１１２Ｂを介して出力パッドに、または、さらなる加工および／または補償のための内部回路に分配する。
【００１１】
ひとつ以上の実施形態において、高周波電源電圧モニター１０６は、制限され、広い帯域幅にわたって比較的一定の利得により特徴づけられた差動アンプ回路を有し、それにより、電源電圧モニター１０６は電源レール１０２Ａおよび１０２Ｂ上で電圧の高周波ＡＣ変化を検出することができる。図２は、電源電圧レール１０２Ａおよび１０２の高周波電圧モニターを実行するのに使用される差動回路を示す。この実施形態において、内部電源レール１０２Ａおよび１０２Ｂ（それぞれ、ＶＤＤおよび接地電圧）が、キャパシタンス２０４およびレジスタ２０２を介して差動アンプ２０８にＡＣ接続されており、それは、電源レール１０２Ａ上の高周波電圧変化を差動アンプ２０８に渡すハイパスＲＣフィルタを形成する。ハイパスＲＣフィルタおよび差動アンプ２０８は一緒に、差動アンプ回路を形成し、それは、適切な共通モード電圧（Ｖｃｍ）にバイアスされる。ＡＣカップリングは、供給レール１０２Ａおよび１０２Ｂ上の高周波電圧変化にのみ応答する回路を与える。特に、差動アンプ回路は、ｄｉ／ｄｔの近接周波数範囲および高速ＩＲドロップ現象に敏感であり、その検出は、図示したモニター回路の態様の範囲内にある。共通モード電圧Ｖｃｍは、同相信号除去比（ＣＭＲＲ）および電源電圧変動除去比（ＰＳＲＲ）が最大となるように選択される。ある実施形態において、ＶｃｍはＶＤＤ付近に選択される。
【００１２】
図２に示す差動アンプ回路は、広い帯域幅にわたって一定の利得を特徴とする。結果として、差動アンプ回路は、既知の利得に従い、差動アンプ回路は、電源レール１０２Ａ、１０２Ｂ上の測定した電源電圧変化を増幅することができ、測定した変化に対応する信号を出力パッド１０８に送信することができる。出力パッド１０８に接続された信号ディスプレイデバイス２１０（例えば、オシロスコープまたは他のディスプレイデバイス）は、適当なフォーマット（例えば、数値ディスプレイ、測定した電圧の時間にわたる変化のグラフ等）で増幅した信号を表示することができる。終端レジスタ２０６がパッド１０８に接続された伝送ラインのインピーダンスを一致させるために使用される。
【００１３】
図２に示す回路は、高周波電源電圧モニター１０６の原理を示す。図３は、図２に示す一般的回路の例示的実行を示す。この実行例において、デジェネラティブ差動ペア回路３０８は、図２の一定利得、広帯域差動アンプ２０８を表す。差動ペアの抵抗負荷ＲＴは、パッド１０８に接続された伝送ラインに対する終端レジスタ２０６としても機能する。共通モード電圧Ｖｃｍは、アンプが適切なＣＭＲＰおよびＰＳＲＲを有するように、ＶＤＤ付近に選択される。
【００１４】
ひとつ以上の実施形態において、キャパシタンス２０４は、フリンジメタル、または、Ｎウエルキャパシタンス内のｎ型金属酸化膜半導体（ＮＭＯＳ）として実装可能である。差動ペア入力ピンをバイアスするためのレジスタ２０２は、回路が広帯域幅を有するように、十分に大きく選択される。
【００１５】
終端レジスタ２０６とデジェネラティブレジスタ３０２との間の比は、回路のアンプ利得を定義し、以下の式に等しい。
利得＝２ＲＴ／ＲＤ
【００１６】
図３に示すアンプ回路の制限された利得のために、回路内の任意のオフセットは、アンプを飽和させず、従って、回路は、広範囲の条件のもとで、内部電源電圧のＡＣ変化を検出することができる。
【００１７】
図２および３に示す回路は、電源レール１０２Ａ、１０２Ｂ上の高周波電圧変化に対してのみ敏感であるように設計される。しかし、電源電圧モニターのある実施形態は、電源レール上の高周波変化および低周波変化の両方をモニターするように構成されてよい。図４は、高周波変化および低周波変化の両方をモニターすることができる回路を示す。この例において、キャパシタンス２０４およびレジスタ２０２を有するハイパスＲＣフィルタは、電源レール１０２Ａおよび１０２Ｂ上で測定された高周波電圧変化および低周波電圧変化（ＤＣ偏移）の両方をパスすることができるフロントエンドネットワーク４０２と置換されている。上述した例と同様に、差動アンプ回路は、これらの検出した変化を増幅し、パッド１０８に対応する信号を送信し、その結果電圧変化はディスプレイデバイス２１０によってモニターされる。
【００１８】
図２から４に示すモニター回路は、実質的にリアルタイムで電源電圧の高周波変化をモニターすることができる。また、上述したモニター回路の比較的小さい複雑さは、キャリブレーションの必要性を排除する。また、モニター回路は、サンプリングシステムまたはアナログ・デジタルコンバータを必要とせずに、高周波電圧モニターを実行することができる。
【００１９】
図１から４の実施形態において、高周波電源電圧モニターは、出力パッドへ増幅した電圧変化測定値を与え、増幅された信号は、ディスプレイデバイス上で可視化可能となる。他の実施形態において、測定した出力信号は、検出した電圧変化に応答してリアルタイムの補償を実行するために、マイクロエレクトロニックシステムによって内部で使用されてよい。図５は、リアルタイムで回路補償を実行し、かつ、電源レール１０２Ａおよび１０２Ｂ上のスパイクまたはオシレーションの効果を妨げるように、測定した電圧変化を利用するマイクロエレクトロニックシステムを示す。この例において、電源電圧モニター１０６は、上述した例と同様に、電源レール１０２Ａ、１０２Ｂ上の高周波ＡＣノイズをモニターしかつ測定する。これらの測定に基づき、電圧電源モニター１０６は、測定した電圧変化が定義された基準を満足することの決定（電源電圧モニター１０６または補償回路５０２のいずれかによる）に応答して、ひとつ以上のＩＣコンポーネントの動作を変更するように設計された補償回路５０２に、補償信号５０４を分配する。
【００２０】
例えば、電源レール１０２Ａ、１０２Ｂ上の高周波電圧オシレーションの検出に応答して、電源電圧モニター１０６は、電源レール上のＡＣの発生を報告する補償回路５０２へ補償信号５０４を送ってもよい。補償回路５０２は、動作悪化の可能性を減少させるために、マイクロエレクトロニックシステムのひとつ以上のＩＣコンポーネントの動作を削減、制限、またはディスエーブルしてよい。一例において、補償回路５０２は、電源レール１０２Ａ、１０２Ｂ上で高周波電圧変化の存在において、信頼性の低さから予想できない傾向がある特定のＩＣコンポーネントの動作を削減、制限またはディスエーブルするように構成されてよい。他の実施形態において、補償回路５０２は、システム動作に対して重要でないとして同定されたひとつ以上のＩＣコンポーネントの動作を削除、制限、またはディスエーブルしてよい。増加したシステム動作速度は、不所望な電圧変動の原因となりうるので、電圧電源モニター１０６によって検出される際に、この方法でシステム動作速度を低下させることは、少なくとも部分的に、高周波電圧変化を緩和することができる。
【００２１】
図６は、電圧電源モニター１０６のアプリケーションを示す。本例において、電源電圧モニター１０６により測定された電圧測定データ６０４は、保存用のローカルデバグメモリ６０２へ分配される。ある実施形態において、電源電圧モニター１０６は、マイクロエレクトロニックシステムの動作中にデバグメモリ６０２へ電圧測定データ６０４を連続的にロギングする。他の実施形態において、電源電圧モニター１０６は、動作中に検出した顕著な電圧変化のみを記録する。その場合、顕著な変化は、電圧変化の測定した特性が定義した基準を満足することの判定により同定される。例えば、電源電圧モニター１０６は、高周波電圧オシレーションが定義された周波数を超えるか、または、所定の時間間隔の間持続することの検出に応答して、デバグメモリ６０２へ電圧測定データ６０４を記録するように構成されてよい。他の適当なロギング基準もまた、本開示のひとつ以上の態様の範囲内である。デバグメモリ６０２は、続いて、外部デバイスによりアクセスされ、記録された電圧データを見ることができる（例えば、システムデバグモード中に）。
【００２２】
上述した例示的システムを考慮し、図７から９のフローチャートを参照して実行可能な方法がより理解可能となる。説明を単純化するために、方法は、連続するブロックとして示しかつ説明されるが、発明の主題は、ブロックの順序により限定されず、いくつかのブロックは、異なる順序で生じてもよく、および／または、ここに開示するもの以外の他のブロックとともに同時に生じてもよい。また、すべての図示したブロックが以下で説明する方法を実行するのに要求されない。
【００２３】
図７は、マイクロエレクトロニックシステムの電源レール上の高周波電圧変化をモニターするための方法の実施形態のフローチャートである。方法７００は、ブロック７０２で開始し、そこで、マイクロエレクトロニック回路の内部電源電圧の変化がモニターされる。電源電圧は、例えば、マイクロエレクトロニック回路を形成するＩＣコンポーネントに電力を分配する電源レール上の高周波電圧変化（例えば、高周波ＡＣノイズ）を測定することができる高周波電源電圧モニターによりモニターされる。ブロック７０４において、内部電源電圧の測定された高周波変化が増幅される。高周波変化は、これに限定されないが、高帯域幅にわたって一定の利得を有する差動アンプ回路を含む任意の適当な回路を使って増幅可能である。ブロック７０６において、増幅された信号は、外部のディスプレイデバイス（例えば、オシロスコープまたは他の適当なディスプレイデバイス）によってモニターおよびディスプレイ用に出力ポートへ送信される。
【００２４】
図８は、マイクロエレクトロニックシステムの電源レール上で検出される高周波電圧変化を記録するための方法の実施形態のフローチャートである。方法８００は、ブロック８０２で開始し、そこで、マイクロエレクトロニック回路の内部電源電圧の変化が、例えば、上述したような高周波電源電圧モニターを使って、モニターされる。ブロック８０４において、モニターされた電圧変化が定義された基準を満足するかどうかについて判定が為される。ひとつの例において、定義された基準は、検出された電圧変化が定義された周波数を超えること、または、処理の時間間隔の間に持続したことの判定に対応してもよい。ブロック８０６において、定義した基準が充たされないと判定された場合、方法は、ブロック８０２に戻り、モニタリングを続ける。替わりに、ブロック８０６で定義した基準が充たされたと判定された場合、検出した電圧変化に関連するデータはブロック８０８においてローカルまたは外部メモリに記録される。ある実施形態において、メモリは、マイクロエレクトロニックシステムの内部デバグメモリを有してよく、それは、システムがデバグモードに置かれる間アクセスされかつ読みとり可能となる。
【００２５】
図９は、マイクロエレクトロニックシステムの電源レール上で検出された高周波電圧変化を記録するための方法の実施形態のフローチャートである。方法９００はブロック９０２で始まり、そこで、マイクロエレクトロニック回路の内部電源電圧の変化がモニターされる（例えば、上述したような高周波電源電圧モニターを使って）。ブロック９０４において、モニターされた電圧変化が定義された基準を満足するか否かに関連する判定がなされる。ひとつの例において、定義された基準は、検出された電圧変化が定義された周波数を超えること、または、定義された時間間隔の間持続したことの判定に対応してよい。ブロック９０２において、定義した基準が充たされないと判定された場合、方法はブロック９０２に戻り、モニタリングが継続される。替わりに、ブロック９０６において、定義した基準が充たされたと判定された場合、検出した電圧変化から生じるシステムパフォーマンス悪化を減少または緩和する対抗手段が開始される。例えば、対抗手段は、動作の悪化または予測不能性の可能性を減少させるために、検出した変化が基準を充たすことの判定に応答して、マイクロエレクトロニックシステムのひとつ以上のＩＣコンポーネントの動作を削減、制限、またはディスエーブルする補償回路によって実行される。
【００２６】
メモリから実行されるプロセスおよびプロセッサの両方は、コンポーネントであってよい。他の例として、アーキテクチャーは、電気的ハードウエアの配列（例えば、並列または直列のトランジスタ）処理インストラクション、および、電気的ハードウエア配列に適した方法で処理インストラクションを実行するプロセッサを含む。
【００２７】
付加的に、開示した主題は、方法、装置、または、典型的な製造方法を使って製造した物、ハードウエアを製造するためのプログラミングまたはエンジニアリング技術、ファームウエア、ソフトウエア、または、開示した主題を実行するために電気的デバイスを制御するためのそれらの適当な組みあわせとして実行可能である。コンピュータ読み取り可能媒体は、ハードウエア媒体、ソフトウエア媒体、非一過性媒体、または、輸送媒体を含む。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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