(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
共有リスクリンクグループを検出する方法であって、
プローブビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンク内に入射することと、
前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクから戻る前記プローブビームの第１のバックライト及び第２のバックライトをそれぞれ受信することと、
前記第１のバックライトを第１の偏光器でフィルタリングして、第１の指定された方向の光が前記第１の偏光器を通過できるようにし、前記第２のバックライトを第２の偏光器でフィルタリングして、第２の指定された方向の光が前記第２の偏光器を通過できるようにすることと、
前記第１の偏光器を通過する前記光のパワーレベルの第１の時間的に変化する応答を検出して記録し、前記第２の偏光器を通過する前記光のパワーレベルの第２の時間的に変化する応答を検出して記録することと、
前記第１の時間的に変化する応答における第１の波高点の時間を前記第２の時間的に変化する応答における第１の波高点の時間に揃えることと、
前記第１の時間的に変化する応答及び前記第２の時間的に変化する応答の類似値を計算することと、
前記類似値に基づいて、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定することと、
を備える方法。
【請求項２】
共有リスクリンクグループを検出する方法であって、
プローブビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンク内に入射することと、
前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクから戻る前記プローブビームの第１のバックライト及び第２のバックライトをそれぞれ受信することと、
前記第１のバックライトを第１の偏光器でフィルタリングして、第１の指定された方向の光が前記第１の偏光器を通過できるようにし、前記第２のバックライトを第２の偏光器でフィルタリングして、第２の指定された方向の光が前記第２の偏光器を通過できるようにすることと、
前記第１の偏光器を通過する前記光のパワーレベルの第１の時間的に変化する応答を検出して記録し、前記第２の偏光器を通過する前記光のパワーレベルの第２の時間的に変化する応答を検出して記録することと、
前記第１の時間的に変化する応答及び前記第２の時間的に変化する応答をタイムラインと関連付け、前記タイムラインを一連の離散した時点に変換し、前記第１の時間的に変化する応答の第１のパワー値及び前記第２の時間的に変化する応答の第２のパワー値をそれぞれの離散した時点と関連付け、
それぞれの離散した時点と関連付けられた前記第１のパワー値および前記第２のパワー値から類似値を計算することによって、
前記第１の時間的に変化する応答及び前記第２の時間的に変化する応答の類似値を計算することと、
前記類似値に基づいて、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定することと、
を備える方法。
【請求項３】
前記プローブビームの前記バックライトが、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光を備える、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記第１の時間的に変化する応答及び前記第２の時間的に変化する応答が、光時間領域反射率計によって得られる、請求項２に記載の方法。
【請求項５】
共有リスクリンクグループを検出する方法であって、
プローブビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンク内に入射することと、
前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクから戻る前記プローブビームの第１のバックライト及び第２のバックライトをそれぞれ受信することと、
前記第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の応答及び前記第２のバックライトに対応する時間的に変化する第２のパワーの第２の応答をそれぞれ記録することと、
前記第１の応答及び前記第２の応答の類似値を計算することであって、前記類似値を計算することは、前記第１の応答及び前記第２の応答をタイムラインと関連付け、前記タイムラインを一連の離散した時点に変換し、前記第１の応答の第１のパワー値及び前記第２の応答の第２のパワー値をそれぞれの離散した時点と関連付け、並びにそれぞれの離散した時点と関連付けられた前記第１のパワー値及び前記第２のパワー値から類似値を計算することを含む、ことと、
前記類似値に基づいて、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定することと、
を備える方法。
【請求項６】
前記類似値に基づいて決定することは、前記類似値が予め定められた閾値を超えるとき、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたことを決定することを含む、請求項５に記載の方法。
【請求項７】
共有リスクリンクグループを検出する方法であって、
プローブビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンク内に入射することと、
前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクから戻る前記プローブビームの第１のバックライト及び第２のバックライトをそれぞれ受信することと、
前記第１のバックライトの偏光特性を時間的に変化する第１のパワーとして、かつ、前記第２のバックライトの偏光特性を時間的に変化する第２のパワーとしてマッピングすることと、
前記第１のバックライトに対応する前記時間的に変化する第１のパワーの第１の応答及び前記第２のバックライトに対応する前記時間的に変化する第２のパワーの第２の応答を記録することと、
前記第１の応答及び前記第２の応答の類似値を計算することであって、前記類似値を計算することは、前記第１の応答及び前記第２の応答の波高点及び波底を検出して前記第１の応答の第１の固有ベクトルグループ及び前記第２の応答の第２の固有ベクトルグループを取得すること、前記第１の固有ベクトルグループ及び前記第２の固有ベクトルグループから同じ固有ベクトルを抽出すること、並びに前記第１の固有ベクトルグループの前記同じ固有ベクトルの第１の比率と前記第２の固有ベクトルグループの前記同じ固有ベクトルの第２の比率を計算することを含む、ことと、
前記類似値に基づいて、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定することであって、前記決定することは、前記第１の比率及び前記第２の比率の両方が予め定められた閾値を超えるとき、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたことを決定することを含む、ことと、
を備える方法。
【請求項８】
グルーピングの前に、前記第１の応答の第１の波高点の時間を前記第２の応答の第１の波高点の時間と合わせることをさらに備える、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
共有リスクリンクグループを検出するための装置であって、
光ビームを生成する光源ユニットと、
前記光源ユニットによって生成された前記光ビームを受信し、前記光ビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンクに入射させ、
前記第１のテストリンクによって戻された前記光ビームの第１のバックライトと前記第２のテストリンクによって戻された前記光ビームの第２のバックライトとを受信する
送信／受信ユニットと、
前記第１のバックライトをフィルタリングして、第１の指定された方向の光が第１の偏光器を通過できるようにする第１の偏光器および前記第２のバックライトをフィルタリングして、第２の指定された方向の光が第２の偏光器を通過できるようにする第２の偏光器と、
前記第１の偏光器を通過する前記光のパワーレベルの第１の時間的に変化する応答を検出して記録し、前記第２の偏光器を通過する前記光のパワーレベルの第２の時間的に変化する応答を検出して記録する情報記録ユニットと、
前記第１の時間的に変化する応答における第１の波底の時間を前記第２の時間的に変化する応答における第１の波底の時間に揃えて、第１の補正された応答及び第２の補正された応答を取得し、
前記第１の補正された応答を前記第１の時間的に変化する応答として情報処理ユニットに送信し、および前記第２の補正された応答を前記第２の時間的に変化する応答として前記情報処理ユニットに送信する
遅延ユニットと、
前記第１の時間的に変化する応答及び前記第２の時間的に変化する応答の類似値を計算し、前記類似値に基づいて、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定する情報処理ユニットと
を備えた装置。
【請求項１０】
共有リスクリンクグループを検出するための装置であって、
光ビームを生成する光源ユニットと、
前記光源ユニットによって生成された前記光ビームを受信し、前記光ビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンクに入射させ、
前記第１のテストリンクによって戻された前記光ビームの第１のバックライトと前記第２のテストリンクによって戻された前記光ビームの第２のバックライトとを受信する
送信／受信ユニットと、
前記第１のバックライトをフィルタリングして、第１の指定された方向の光が第１の偏光器を通過できるようにする第１の偏光器および前記第２のバックライトをフィルタリングして、第２の指定された方向の光が第２の偏光器を通過できるようにする第２の偏光器と、
前記第１の偏光器を通過する前記光のパワーレベルの第１の時間的に変化する応答を検出して記録し、前記第２の偏光器を通過する前記光のパワーレベルの第２の時間的に変化する応答を検出して記録する情報記録ユニットと、
前記第１の時間的に変化する応答及び前記第２の時間的に変化する応答の類似値を計算し、前記類似値に基づいて、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定する情報処理ユニットであって、前記類似値を計算することは、
前記第１の時間的に変化する応答及び前記第２の時間的に変化する応答をタイムラインと関連付け、前記タイムラインを一連の離散した時点に変換し、前記第１の時間的に変化する応答の第１のパワー値及び前記第２の時間的に変化する応答の第２のパワー値をそれぞれの離散した時点と関連付けることと、
それぞれの離散した時点と関連付けられた前記第１のパワー値および前記第２のパワー値から類似値を計算することと
を含む、情報処理ユニットと
を備えた装置。
【請求項１１】
前記光源ユニットがレーザーを備える、請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
前記送信／受信ユニットが循環装置を備える、請求項１０に記載の装置。
【請求項１３】
前記光ビームの前記第１及び第２のバックライトが、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光を備える、請求項１０に記載の装置。
【請求項１４】
共有リスクリンクグループを検出するための装置であって、
光ビームを生成する光源ユニットと、
前記光源ユニットによって生成された前記光ビームを受信し、前記光ビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンクに入射させ、
前記第１のテストリンクによって戻された前記光ビームの第１のバックライトと前記第２のテストリンクによって戻された前記光ビームの第２のバックライトとを受信する
送信／受信ユニットと、
前記第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の曲線及び前記第２のバックライトに対応する時間的に変化する第２のパワーの第２の曲線を記録する情報記録ユニットと、
前記第１の曲線及び前記第２の曲線の類似値を計算し、前記類似値に基づいて、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定する情報処理ユニットであって、前記情報処理ユニットはさらに、
前記第１の曲線及び前記第２の曲線をタイムラインと関連付け、前記タイムラインを一連の離散した時点に変換し、前記第１の曲線の第１のパワー値および前記第２の曲線の第２のパワー値をそれぞれの離散した時点と関連付け、
それぞれの離散した時点と関連付けられた前記第１のパワー値及び前記第２のパワー値から類似値を計算する、
情報処理ユニットと
を備えた装置。
【請求項１５】
前記情報処理ユニットは、前記類似値が予め定められた閾値を超えるとき、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたことを決定する、請求項１４に記載の装置。
【請求項１６】
共有リスクリンクグループを検出するための装置であって、
光ビームを生成する光源ユニットと、
前記光源ユニットによって生成された前記光ビームを受信し、前記光ビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンクに入射させ、
前記第１のテストリンクによって戻された前記光ビームの第１のバックライトと前記第２のテストリンクによって戻された前記光ビームの第２のバックライトとを受信する
送信／受信ユニットと、
前記第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の応答及び前記第２のバックライトに対応する時間的に変化する第２のパワーの第２の応答を記録する情報記録ユニットと、
前記第１の応答の波高点及び波底を第１の固有ベクトルグループにグループ化し、
前記第２の応答の波高点及び波底を第２の固有ベクトルグループにグループ化し、
前記第１の固有ベクトルグループ及び前記第２の固有ベクトルグループから類似の固有ベクトルを抽出し、前記第１の固有ベクトルグループの前記類似の固有ベクトルの第１の比率を計算し、
前記第１の固有ベクトルグループ及び前記第２の固有ベクトルグループから類似の固有ベクトルを抽出し、前記第２の固有ベクトルグループの前記類似の固有ベクトルの第２の比率を計算し、
前記第１の比率及び前記第２の比率の両方が予め定められた閾値を超えるとき、前記第１のテストリンク及び前記第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたことを決定する
情報処理ユニットと
を備えた装置。
【請求項１７】
前記第１の応答における第１の波高点の時間を前記第２の応答における第１の波高点の時間に揃えて、第１の補正された応答及び第２の補正された応答を取得し、
前記第１の補正された応答を前記第１の応答として前記情報処理ユニットに送信し、前記第２の補正された応答を前記第２の応答として前記情報処理ユニットに送信する
遅延ユニットをさらに備えた、請求項１６に記載の装置。
【請求項１８】
前記第１の応答における第１の波底の時間を前記第２の応答における第１の波底の時間に揃えて、第１の補正された応答及び第２の補正された応答を取得し、
前記第１の補正された応答を前記第１の応答として前記情報処理ユニットに送信し、前記第２の補正された応答を前記第２の応答として前記情報処理ユニットに送信する
遅延ユニットをさらに備えた、請求項１６に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
関連出願の相互参照
本出願は、2015年2月16日に出願された中国特許出願第201510083681.7号の優先権を主張し、その全体が参照により本明細書に組み込まれる。
【０００２】
本発明の実施形態は、概して光ネットワークに基づいた通信技術の分野に関し、より詳細には、共有リスクリンクグループを検出する方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００３】
光ネットワークに基づいた通信技術の着実な成長により、クラウドコンピューティング、ビデオオンデマンド、波長リーシング（wavelength leasing）、及び光レイヤ仮想プライベートネットワーク（ＯＶＰＮ）等のような異なる種類の光ネットワークサービスが生まれ続けてきた。これらの新規のネットワークサービスが人々の生活に利便性を提供する一方で、これらのサービスの信頼性に関するより厳しい要求も生じている。光ネットワークサービスの信頼性を向上させるため、光ネットワークにおいて、メインルートに加えてバックアップルートが通常設定される。光ネットワーク内のメインルートに問題があるとき、メインルートにおける光ネットワークサービスは、それらのサービスの通常の操作を維持するためにバックアップルートに切り替えられ得る。
【０００４】
近年、光ネットワークの信頼性を評価するときに、共有リスクリンクグループ（ＳＲＬＧ）のコンセプトが通常使用されてきた。ＳＲＬＧは、同じノードまたは同じケーブルを共有するリンクのグループのような、光ネットワーク内で特定の物理的リソースを共有するリンクのグループを示す。その物理的リソースが損傷されるとき、この物理的リソースを共有するリンクのグループは、障害を生じる。例えば、リンクのグループが同じケーブルに配置されたと仮定すると、そのケーブルが損傷される場合、グループ内のそれらのリンクは、同時に障害を生じる。
【０００５】
光ネットワーク内のメインルート及びバックアップルートの両方が、同じＳＲＬＧ内に配置される場合、次いでそのＳＲＬＧの物理的リソースが損傷される場合、メイン及びバックアップルートの両方において同時に障害が生じる。従って、メインルート及び対応するバックアップルートが異なるＳＲＬＧに割り当てられることを確認するために光ネットワーク内のＳＲＬＧを検出することが不可欠である。
【０００６】
ＳＲＬＧを検出するための従来の技術は、光学的リンクの偏光特性を検出するための偏光検出機能を有する機器を通常使用する。従って、２つの光学的リンクの偏光特性が同じであるとき、それらの２つの光学的リンクは、同じＳＲＬＧにあるとみなされる。
【０００７】
しかしながら、これらの従来の技術は全て問題を有する。例えば、光信号の偏光特性は、３次元の成分を有する。適用において、３次元の成分をテスト及び分析するのはたびたび困難となる。従って、光学的リンクの偏光特性に基づき同じグループ内のリンクが同じＳＲＬＧ内にあるかどうかの判断に基づいた方法を実行するのは困難である。新しい方法が必要とされる。
【発明の概要】
【０００８】
本発明に係る実施形態は、グループのテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを容易に検出できる共有リスクリンクグループを検出する方法及び装置を提供する。本発明に係る実施形態によれば、テストリンク内のプローブビームのバックライトのパワー特性をテストすることによって共有リスクリンクグループを検出し、その１次元のパワー特性に基づいてテストリンクが同じ共有リスクリンクグループにあるかどうかを判断または決定する方法及び装置が紹介される。従来の技術において用いられた３次元の成分と比較すると、１次元の成分を用いるテストは、比較的容易である。本発明に係る実施形態は、１次元のパワー特性に基づいてテストリンクが共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを検出する方法及び装置を紹介し、これは従来の技術より適用がより容易である。
【０００９】
より詳細には、本発明に係る実施形態において、共有リスクリンクグループを検出する方法は、プローブビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンク内へとそれぞれ入射することを含む。方法は、第１のテストリンク及び第２のテストリンクからそれぞれ戻されたプローブビームの第１のバックライト及び第２のバックライトを受信することをさらに含む。ここで、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光は、全体としてバックライトと称される。方法は、さらに以下の、第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の曲線と第２のバックライトに対応する時間的に変化する第２のパワーの第２の曲線とをそれぞれ記録することと、第１の曲線及び第２の曲線の類似値を計算することと、類似値に基づいて第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを判断することと、を含む。
【００１０】
本発明に係る別の実施形態において、共有リスクリンクグループを検出するための装置は、光源ユニットと、送信／受信ユニットと、情報記録ユニットと、情報処理ユニットと、を含む。光源ユニットは、プローブビームを生成し、プローブビームを送信／受信ユニット内へと入射する。送信／受信ユニットは、光源ユニットによって生成されたプローブビームを受信し、プローブビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンク内へと入射し、第１のテストリンク及び第２のテストリンクからそれぞれ戻されたプローブビームの第１のバックライト及び第２のバックライトを受信する。情報記録ユニットは、第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の曲線と、第２のバックライトに対応する時間的に変化する第２のパワーの第２の曲線と、を記録する。情報処理ユニットは、第１の曲線及び第２の曲線の類似値を計算し、類似値に基づいて第１及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを判断する。
【００１１】
本発明に係る別の実施形態において、共有リスクリンクグループを検出する装置は、光源ユニットと、送信／受信ユニットと、マッピングユニットと、を含む。光源ユニットは、プローブビームを生成し、プローブビームを送信／受信ユニット内へと入射する。送信／受信ユニットは、光源ユニットによって生成されたプローブビームを受信し、プローブビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンク内へと入射し、第１のテストリンク及び第２のテストリンクからそれぞれ戻されたプローブビームの第１のバックライト及び第２のバックライトを受信する。マッピングユニットは、受信モジュールによって受信された第１のバックライト及び第２のバックライトの偏光特性を、第１のパワー及び第２のパワーとしてそれぞれマッピングする。
【００１２】
本発明に係る別の実施形態において、共有リスクリンクグループを検出する装置が開示され、情報記録ユニット及び情報処理ユニットを有する。情報記録ユニットは、第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の曲線と、第２のバックライトに対応する時間的に変化する第２のパワーの第２の曲線と、を記録する。情報処理ユニットは、第１の曲線及び第２の曲線の類似値を計算し、類似値に基づいて第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを判断する。
【００１３】
本発明に係る実施形態によって提供される共有リスクリンクグループを検出する方法及び装置は、テストリンク内のプローブビームのバックライトのパワー特性をテストすることによって検出を実行し、１次元のパワー特性に基づいてテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを判断する。従来の技術における３次元の成分を用いるテストと比較して、１次元の成分を用いるテストは、実行が比較的容易である。本発明に係る実施形態は、１次元のパワー特性に基づいてテストリンクが共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを検出する方法及び装置を紹介し、これは従来用いられてきたものより適用が容易である。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための例示的方法のフローチャートである。
【図２】本発明に係る実施形態による第１のテストリンクをテストするための装置のブロック図である。
【図３】本発明に係る実施形態による第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の曲線の実例の概略図である。
【図４】本発明に係る実施形態による第１の曲線を記録する光時間領域反射率計のブロック図である。
【図５】本発明に係る実施形態による遅延する第１の曲線及び第２の曲線を示す概略図である。
【図６】本発明に係る実施形態による光信号の偏光特性の変化を示す概略図である。
【図７】本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための例示的方法のフローチャートである。
【図８】本発明に係る実施形態にしたがったプリセットルールによる、バックライトの偏光特性をパワー特性としてマッピングするための装置のブロック図である。
【図９】本発明に係る実施形態による第１の曲線を記録する光時間領域反射率計のブロック図である。
【図１０】本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置のブロック図である。
【図１１】本発明に係る別の実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置のブロック図である。
【図１２】本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置における情報処理ユニットのブロック図である。
【図１３】本発明に係る別の実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置のブロック図である。
【図１４】本発明に係る別の実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置のブロック図である。
【図１５】本発明に係るさらに別の実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置のブロック図である。
【図１６】本発明に係る別の実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置のブロック図である。
【図１７】本発明に係るさらに別の実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置における情報処理ユニットのブロック図である。
【図１８】本発明に係るさらに別の実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置のブロック図である。
【図１９】本発明に係る実施形態による偏光アナライザにおいて操作される光の特性を示す図である。
【図２０】本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための例示的方法のフローチャートである。
【図２１】本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための例示的方法のフローチャートである。
【図２２】本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための例示的方法のフローチャートである。
【図２３】本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置における第１の関数マッピングモジュール及び第２の関数マッピングモジュールのブロック図である。
【図２４】本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための装置における情報処理ユニットのブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
当業者が本発明に係る実施形態の技術的解決法をより理解するのを支援するため、本発明に係る実施形態において示されるような技術的解決法の明確且つ完全な説明が添付図面の参照と共にここでなされる。本明細書に記載の実施形態は、明らかに本発明に係る実施形態の一部にすぎず、全てではない。本発明に係る実施形態に基づいて、いかなる発明的試みを実行することなく当業者によって得られる全ての他の実施形態は、本発明に係る保護の範囲内にあるものである。
【００１６】
光ファイバーは、通常光ネットワークにおけるリンクグループのための伝達媒体である。光ファイバーの製造工程の間、堆積、融合、及び線引きのような熱的工程は、光ファイバーを製造するために用いられる材料内への近位の熱的擾乱を生じさせ得るものであり、光ファイバー内の不均等な屈折率を生じさせる。これらの不均等な、屈折率は、信号伝達の間の左、右、前方及び後方伝達を含む、伝達の間に光ファイバー内で散乱する光信号となる。光ファイバー内で散乱する光信号のこの現象は、レイリー散乱と呼ばれる。さらに、光信号の前方向の反対の光の散乱は、レイリー後方散乱光と呼ばれる。さらに、前方伝達における光信号が急な屈折率の変化を備えたスポットに至るとき、光信号の区分は、そのスポットから入力端子へと反射して戻され、光信号のこの区分は、フレネル後方反射光と呼ばれる。本発明に係る実施形態において、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光の両方は、バックライトと称される。バックライトは、リンクにおける前方伝達の間の光信号損失としてみなされ得る。適用において、光ファイバー内の前方伝達における光信号のパワーを直接的に計測するのは困難である。しかしながら、光ファイバーの入力ポートに戻されたバックライトのパワーを計測するのはより容易である。本発明に係る実施形態において、リンク内の前方伝達における光信号損失を特徴づけるまたは測定するためにバックライトのパワーが用いられる。バックライトのパワーが増加するとき、前方伝達における光信号損失が増加していることを示し、逆に、バックライトのパワーが減少するとき、前方伝達における光信号損失が減少していることを示す。適用において、近くの構成からの振動のような環境要因は、光ファイバーを阻害し得るものであり、光ファイバーの屈折率の変化を生じさせる。屈折率の変化は、光信号損失を変化させ、これはバックライトのパワーをさらに変化させる。本発明に係る実施形態は、リンク周りの環境における擾乱を検出し、明らかにするためにバックライトのパワーの変化を使用する。
【００１７】
図１は、本発明に係る実施形態による共有リスクリンクグループを検出するための例示的方法のフローチャートを示す。方法は、以下に説明される。
【００１８】
Ｓ１００において、プローブビームが第１のテストリンク及び第２のテストリンク内へとそれぞれ入射される。
【００１９】
図１の方法は、例として第１のテストリンクを用いてさらに説明される。図２は、本発明に係る実施形態による第１のテストリンクをテストするための装置のブロック図を示す。図１及び図２の両方を参照する。図２によると、レーザー２１０は、循環装置２２０を通して第１のテストリンク２３０の入力ポート内へとプローブビームを入射する。適用において、通信リンクとして機能するテストリンクにおいて存在する通信サービスを送信するために用いられる光信号が通常存在する。これらの適した機能の光信号の波長は、通常おおよそ１，５５０ｎｍである。通信サービスにおけるテストリンクの通常の機能との干渉を避けるため、本発明に係る実施形態は、例として１，６５０ｎｍの波長を有するプローブビームのような、１，５５０ｎｍとは異なる波長を有するプローブビームを用いる。従って、プローブビーム及び適した機能の光信号の両方が同じテストリンクにおいて伝達するが、それらの間の比較的大きな波長幅のため、それらは互いに小さな影響を有する。プローブビームが循環装置２２０のポート１内へと入射された後、それはポート２から出され、第１のテストリンク２３０に入る。
【００２０】
図１のＳ１１０において、プローブビームの第１のバックライトは、第１のテストリンクから戻され、受信される。同様に、プローブビームの第２のバックライトは、第２のテストリンク（図示せず）から戻され、受信される。
【００２１】
より詳細には、プローブビームが第１のテストリンクにおいて前方に伝達するとき、それは、第１のテストリンクにおいてバックライトを生成する。バックライトは、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光を含む。バックライトは、後方伝達を通して第１のテストリンクの入射ポートに戻る。特に、図２に示されるように、バックライトは、第１のテストリンク２３０において循環装置２２０のポート２へと後方に伝達される。バックライトは、循環装置のポート２に入った後にポート３から出される。本発明に係る実施形態において、例えばオシロスコープ２４０のようなテスト機器は、循環装置のポート３から出されたバックライトを受信するために使用され得る。
【００２２】
図１のＳ１２０において、第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の曲線が記録される。同様に、第２のバックライトに対応する時間的に変化する第２のパワーの第２の曲線が記録され得る。
【００２３】
本発明に係る実施形態によれば、例えばオシロスコープ２４０のようなテスト機器が上述の第１及び第２の曲線を得るため、経時的なバックライトのパワーの変化を表示するために使用され得る。
【００２４】
図３は、本発明に係る実施形態による第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の曲線の概略図である。図３において、第１のテストリンクが例えば環境要因によって妨害された場合、バックライトのパワーは、急に変化し、従って、バックライトのパワーのグラフは、波高点を生成するように経時的に変化する。図３の例において観測され得るが、３つの波高点及び波底が存在し、これは、第１のテストリンクの検出の間に第１のテストリンクに影響した４つの擾乱（disturbances）が存在することを意味する。第１の曲線において波高点及び波底が生じる時点は、これらの擾乱が生じたそれぞれの時点を示す。
【００２５】
本発明に係る実施形態において、従来の技術において用いられる比較的よく知られた機器である光時間領域反射率計は、図１のステップＳ１００からＳ１２０を実行するために適合され得る。
【００２６】
図４は、本発明に係る実施形態による前述の第１の曲線を記録するために使用され得る光時間領域反射率計４００の概略図である。図４の例において、光時間領域反射率計４００は、パルス発生器４１０、光源４２０（例えば、図２のレーザー２１０）、循環装置４３０（機能において図２の循環装置２２０に対応）、光検出器４５０、信号処理部４６０、ディスプレイ４７０、及び内部クロック４８０を統合する。光時間領域反射率計４００のパルス発生器４１０は、内部クロック４８０によって駆動される電気的パルスを生成する。電気的パルスは、光学的パルスを生成するために光源４２０を変調する。光学的パルスは、１つの実施形態において、図１のＳ１００で述べたプローブビームとして機能し得る。プローブビームは、ポート１（図示せず）に入った後に循環装置４３０のポート２から出され、テストリンク４４０（機能において図１のテストリンク２３０に対応）内へと入射される。
【００２７】
光学的パルスは、第１のテストリンク４４０に沿って前方に伝達されるときにバックライトを生成する。バックライトは、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光を含む。バックライトは、後方伝達によって第１のテストリンク４４０の入射ポートに戻る。特に、バックライトは、第１のテストリンクにおいて循環装置４３０のポート２へと後方に伝達される。バックライトは、循環装置のポート２に入った後にポート３から出される。光検出器４５０は、循環装置のポート３から出されたバックライトから電気的パルスを検出し、その電気的パルスを信号処理部４６０へと送信することができる。信号処理部４６０は、経時的に電気的パルスの変化の関係を得るために内部クロック４８０によって駆動される電気的パルスに対応する信号を処理する。最後に、ディスプレイ４７０は、第１のテストリンクにおける第１のバックライトに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の曲線を表示する（例えば、図３の例における曲線）。同様に、第２のテストリンクにおいて第２のバックライトに対応する時間的に変化する第２のパワーの第２の曲線が記録され得る。
【００２８】
図１のＳ１３０において、第１の曲線と第２の曲線との間の類似性または類似値が計算され、その類似値は、第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定するために使用される。
【００２９】
第１の曲線及び第２の曲線が得られた後、２つの曲線の類似値が計算され得る。類似値は、第１の曲線と第２の曲線との間の類似性の程度を示す。例えば、類似性のより高い程度は、第１のテストリンクにおけるバックライトのパワー及び第２のテストリンクにおけるバックライトのパワーが、第１のテストリンク及び第２のテストリンクの環境によって阻害される程度における、より高い類似を意味する。これは、第１及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置される、より高い確率を示す。類似値は第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを決定するために使用され得ることに留意されたい。第１及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定するための例示的工程の実施形態は、以下で図２０を参照しつつ説明される。
【００３０】
Ｓ２００１において、前述の第１及び第２の曲線は第１の関数及び第２の関数としてそれぞれマッピングされる。
【００３１】
第１の曲線を例として挙げると、第１の曲線を得た後に、第１の曲線の連続的なタイムラインは離散した時点へと変換され得る。例えば、ゼロから１００秒までのタイムラインは、０．５秒時間間隔を用いて、離散したタイムラインにおいて２００時点、０．５、１、１．５、．．．、１００、へと変換され得る。その第１の曲線に基づいて、離散したタイムラインにおけるそれぞれの時点に対応するバックライトのパワー値を得ることができ、その時点におけるそれぞれの時点とパワー値との間の１対１対応も得ることができる。こうした、その時点における時点とパワー値との間の１対１対応は、以下の式のような前述の第１の関数であり、
【００３２】
【数１】
0006730295.tif 000002
【００３３】
ここで、ｘは離散した時点を示し、Δｔは離散した時点の間の時間間隔を示し、Ｎは離散した時点の数を示し、ｙ1は第１の曲線におけるそれぞれの離散した時点に対応するパワー値を示す。
【００３４】
同じ方法を用いて、第２の関数は以下の式により得られ得るものであり、
【００３５】
【数２】
0006730295.tif 000003
【００３６】
ここで、ｘは離散した時点を示し、Δｔは隣接した離散した時点の間の時間間隔を示し、Ｎは離散した時点の数を示し、ｙ2は第２の曲線における離散した時点に対応するパワー値を示す。
【００３７】
Ｓ２００２において、第１の関数と第２の関数との間の類似値が計算される。
【００３８】
第１の関数及び第２の関数が得られた後、第１及び第２の関数の類似値が計算され得る。類似値は、第１の曲線と第２の曲線との間の類似性の程度を示す。類似性のより高い程度は、第１のテストリンクにおけるバックライトのパワー及び第２のテストリンクにおけるバックライトのパワーが、第１のテストリンク及び第２のテストリンクの環境によって阻害される程度における、より高い類似を意味する。これは、第１及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置される、より高い確率を示す。１つの実施形態において、類似値を計算するための数式は、
【００３９】
【数３】
0006730295.tif 000004
【００４０】
であり、ここで、ρは第１の曲線及び第２の曲線の類似値を示し、ｘは離散した時点を示し、Δｔは隣接した離散した時点の間の時間間隔を示し、Ｎは離散した時点の数を示し、ｆ1は第１の曲線における対応する離散した時点のバックライトのパワー値を示し、ｆ2は第２の曲線における離散した時点に対応するバックライトのパワー値を示す。
【００４１】
Ｓ２００３において、類似値がプリセット閾値を超える場合、第１のテストリンク及び第２のテストリンクは同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたことが決定される。
【００４２】
より詳細には、本発明に係る実施形態において、例示的閾値は予め決定され、または予め設定される（preset）。類似値を閾値と比較することによって、第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかが決定され得る。適用において、誤差の計測が不可欠であり、従って、第１の曲線及び第２の曲線を計測するときに誤差が存在し、これは計測される類似値をより低くし得る。さらに、個々の光ファイバーの製造のために用いられる材料の本質的な違いが存在するため、第１及び第２のテストリンクは環境擾乱に対して異なる感度を有することが予想される。例えば、通過する車によって導かれる振動は、第１のテストリンクにおいて光学的パワー損失を生じさせ得ないが、第２のテストリンクにおいて光学的パワー損失を生じさせ得る。これらの形式の違いは、計算された類似値を予想より低くし得る。上述のような要因を考慮し、本発明に係る実施形態は、類似値を（例えば）０．７５の値と比較するための閾値を設定する。類似値が０．７５の閾値を超えるとき、第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたものとみなされる。当然のことながら、任意の適したプリセット値が使用され得る。
【００４３】
本発明に係る別の実施形態において、図１に示されたステップＳ１３０を具現化するために以下のステップが実行され得る。
【００４４】
図２１のＳ２１０１において、第１の曲線の第１の固有ベクトルグループと第２の曲線の第２の固有ベクトルグループとを得るために、第１の曲線及び第２の曲線において波高点及び波底が検出される。
【００４５】
図３の第１の曲線を例として挙げると、本明細書において先に記載したように、第１のテストリンクが環境要因によって阻害された場合、擾乱に対応する時点において生成された波高点及び波底が存在する。本発明に係る実施形態は、第１の曲線の第１の固有ベクトルグループと第２の曲線の第２の固有ベクトルグループとをそれぞれ得るために、第１の曲線及び第２の曲線の波高点及び波底を検出する。それらの固有ベクトルグループにおいて固有ベクトルは、波高点または波底の代表値、及び波高点または波底が生成される時点として示され得る。
【００４６】
本発明に係る実施形態において、波高点を示す値は１であり、波底を示す値は０であり、波高点または波底が生成される時点は、秒の単位で表現される。特に、第１の曲線の第１０秒において生成された波底が存在すると仮定すると、波底が検出された後、その時点においてその波底に対応する事象が、固有ベクトルグループ（０、１０）によって示され得る。第１の曲線の波高点及び波底の検出の後、それらの波高点及び波底、並びにそれらの時点のそれぞれに対応する事象は、一連の固有ベクトルグループまたは固有ベクトルによって示され得る。例えば、第１の固有ベクトルグループが（１、５）、（０、７）、及び（１、１５）である場合、それは、第５秒における波高点、第７秒における波底、及び第１５秒における波高点が存在することを示す。このように、第１の曲線及び第２の曲線の第１の固有ベクトルグループ及び第２の固有ベクトルグループをそれぞれ得ることができる。
【００４７】
Ｓ２１０２において、第１及び第２の固有ベクトルグループにおける同一の固有ベクトルが抽出され、同一の固有ベクトルで構成される第１の固有ベクトルグループの第１の比率と同一の固有ベクトルで構成される第２の固有ベクトルグループの第２の比率とが計算される。
【００４８】
より詳細には、第１及び第２の曲線の第１及び第２の固有ベクトルグループがそれぞれ得られた後、同一の固有ベクトルが第１及び第２の固有ベクトルグループから抽出され得る。これらの同一の固有ベクトルが第１のテストリンクと第２のテストリンクとの間の類似の程度を示すことに留意されたい。第１及び第２の固有ベクトルグループにおける同一の固有ベクトルが抽出された後、同一の固有ベクトルで構成される第１の固有ベクトルグループの第１の比率と同一の固有ベクトルで構成される第２の固有ベクトルグループの第２の比率とが計算され得る。前述のような類似値を示すために第１の比率及び第２の比率が使用され得る。第１及び第２の比率が共にプリセット閾値より高いとき、第１のテストリンク及び第２のテストリンクの環境は類似し、これらの２つのテストリンクが同じ共有リスクリンクグループにある可能性は高い。
【００４９】
Ｓ２１０３において、第１及び第２の比率が共に所定のまたはプリセット閾値を超える場合、第１のテストリンク及び第２のテストリンクは、同じ共有リスクリンクグループ内にあるとみなされる。
【００５０】
本発明に係る実施形態において、例として使用されるプリセット閾値が存在する。第１の比率及び第２の比率の閾値との比較によって、第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかの決定がなされ得る。適用において、テストリンクの光ファイバーの製造に用いられる材料の本質的な多様性のため、環境擾乱に対するテストリンクの感度は、異なるものと予想され得る。例えば、通過する車によって導かれる振動は、第１のテストリンクにおいて光学的偏光特性の変化を生じさせ得ないが、第２のテストリンクにおいて光学的偏光特性の変化を生じさせ得る。従って、異なる波高点及び波底は、第１及び第２のテストリンクによって生成され得るものであり、これは、計算された比率の値を低下させ得る第１の固有ベクトルグループと第２の固有ベクトルグループとの間の差を生じさせる。本発明に係る実施形態における上述の状況に基づいて、比率の閾値は、（例えば）０．７５に設定される。当然のことながら、任意の適した値が使用され得る。第１の比率及び第２の比率の両方が０．７５を超えるとき、第１及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるとみなされる。
【００５１】
計測の間の計測誤差及びテスト機器によって生じる遅延のため、第１及び第２の曲線の間の遅延が存在し得る。図５は、本発明に係る実施形態における第１及び第２の曲線の間の遅延を示す概略図である。図５において、第１及び第２の曲線の傾向が類似することが観測され得る。例えば、それらが共に３つの波高点を有し、第１の曲線における第１の波高点を第２の曲線における第１の波高点にそろえた後、続く２つの波高点の時点は、一致する。これに基づいて、図５に表示される第１の曲線と第２の曲線との間の遅延は、計測の間の誤差及びテスト機器における遅延から生じるように決定され得る。第１の曲線と第２の曲線との間の遅延を補正するための補正ステップがなく、代わりに類似値が直接的に計算される場合、第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にない、といった誤った決定がなされ得る。２つの曲線の間の類似を考慮すればこの結果は明らかに正しくない。従って、本発明に係る実施形態において、図２２に示されるように、図１のステップＳ１２０とＳ１３０との間に以下のステップが付加される。
【００５２】
Ｓ２２０１において、補正されまたは修正された第１の曲線及び補正されまたは修正された第２の曲線を得るために、第１の曲線及び第２の曲線が時間遅延校正によって補正される。
【００５３】
特に、本発明に係る実施形態において、遅延を補正するために、第１の曲線において第１の事象が生じる時点は、第２の曲線において第１の事象が生じる時点に合わせられる。事象が生じる時点は、波高点及び波底が現れる時点に対応する。特に、第１の曲線において第１の事象が生じる時点と第２の曲線において第１の事象が生じる時点とが得られ、同じ時点として設定される。例えば、第１の曲線において第１の事象が生じる時点が第５秒であり、第２の曲線において第１の事象が生じる時点が第１０秒であると仮定すると、共通の時点が例えば、第５秒において、第１の曲線及び第２の曲線の両方における第１の事象のため設定され得る。こうした補正の後、第１の曲線は影響されないが、前述のことに従い、第２の曲線のタイムラインは５秒、より早くシフトされる必要がある（１０−５＝５であるため）。従って、第１の事象が生じる時点は、第１及び第２の曲線に対する補正の後、第１の曲線及び第２の曲線の両方において等しく、続く計算は前述のものと類似する。
【００５４】
本発明に係る別の実施形態において、光ファイバーに対する環境擾乱を考慮すると、光ファイバーにおいて伝達される光信号の偏光特性が影響され得る。特に、図６に示すように、破線は水平方向にある。光ファイバーに沿って前方に伝達される最初の偏光光信号と水平方向との間の水平角はαである。光ファイバーが環境要因によって乱されるとき、光信号の偏光特性が変化し、αからβへの角度変化を生じさせる。光ファイバーにおいて伝達されるバックライトは、前方に伝達される光信号と同じ偏光特性を有する。前方に伝達される光信号の偏光特性が環境変化のため変化するとき、バックライトの偏光特性がそれと共に変化することに留意されたい。本発明に係る実施形態において、バックライトの偏光特性は光信号周りの環境要因を特徴づけるために使用される。バックライトの偏光特性を直接的に検出するのは困難であるため、こうした実施形態は、バックライトの偏光特性を１次元のパワー特性としてマッピングし、さらにテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを決定するために１次元のパワー特性をテスト及び分析する。
【００５５】
図７は、本発明に係る実施形態において共有リスクリンクグループを検出するための例示的方法のフローチャートである。図７に示されるように、図１に示されたステップに加えて、方法は、さらに以下のステップを含む。
【００５６】
Ｓ１１１において、第１のバックライト及び第２のバックライトの偏光特性は、第１のパワー及び第２のパワーとしてそれぞれマッピングされる。
【００５７】
図８は、本発明に係る実施形態による一連の予め設定されたまたは所定のルールによる、バックライトの偏光特性をパワー特性としてマッピングするための装置８００のブロック図である。図８に示されるように、レーザー８１０は、循環装置８２０を通してテストリンク８３０の入射ポート（ポート１）内へとプローブビームパルスを入射する。
【００５８】
プローブビームがテストリンクにおいて前方に伝達されるとき、テストリンク内においてバックライトを生成する。バックライトは、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光を含む。バックライトは、後方伝達を通してテストリンクの入射ポートへと戻る。特に、バックライトは、第１のテストリンクにおいて循環装置８２０のポート２へと後方に伝達される。バックライトは、循環装置８２０のポート２に入った後にポート３から出される。循環装置８２０のポート３から出されるバックライトの偏光特性は、テストリンク８３０に沿った環境擾乱を特徴づける。本発明に係る実施形態において、偏光器８４０を用いて特定の方向が設定され、その特定の方向にマッピングされたバックライトの偏光特性の投影がバックライトのパワー特性として設定される。
【００５９】
図１９は、偏光器（例えば、図８の偏光器８４０）によって操作される光の特性を示す概略図である。図１９に示されるように、偏光器は、指定された方向におけるバックライトの成分のみが偏光器を通過できるように、指定された方向として方向（例えば、水平方向）を設定する。バックライトの方向と偏光器によって設定された指定された方向との間の角度がαであり、バックライトのパワーがＰであると仮定すると、バックライトが偏光器を通過した後に、指定された方向における成分のみが通過できる。偏光器を通過した後のバックライトのパワーは式１で表現され得る。  
Ｐ1＝Ｐ＊ＣＯＳα      （式１）
【００６０】
ここで、Ｐ1は偏光器が通過した後のバックライトのパワーを示し、αはバックライトの方向と偏光器によって設定された指定された方向との間の角度を示す。式１から、バックライトの偏光特性が変化するときに、バックライトの方向と偏光器によって設定される指定された方向との間の角度がそれと共に変化し、ＣＯＳαの値を変化させ、最終的にそれが偏光器を通過した後のバックライトのパワーも同様に変化させることが観測され得る。従って、バックライトの偏光特性の変化は、バックライトのパワー特性の変化によって特徴づけられ得ることに留意されたい。さらに、テストリンク周りの環境擾乱は、テストリンクにおける光信号の偏光特性の変化を生じさせ得るものであり、これはそれが偏光器を通過した後にバックライトのパワー特性の変化を生じさせる。それが偏光器を通過した後にバックライトのパワー特性の変化の状態を監視することによって、テストリンク周りに環境擾乱が存在するかどうかが決定され得る。
【００６１】
本発明に係る実施形態において、バックライトの偏光特性がパワー特性としてマッピングされた後、バックライトを受信するためにテスト機器（例えば、オシロスコープ８５０）が、バックライトが偏光器を通過した後、使用され得る。オシロスコープ８５０は、バックライトが偏光器を通過した後のバックライトのパワーのリアルタイムの変化を経時的に表示し、バックライトのパワーの変化を経時的に追跡する曲線を生成する。本発明に係る実施形態において、第１のテストリンクにおいてバックライトのパワーの変化を経時的に追跡する第１の曲線と、第２のテストリンクにおけるバックライトのパワーの変化を経時的に追跡する第２の曲線とが記録される。
【００６２】
テストリンクが環境要因（バックライトの偏光特性の変化、及びバックライトの方向と偏光器によって設定された方向との間の角度の変化）によって阻害されるとき、これは、それが偏光器を通過した後のバックライトのパワーを変化させ得る。グラフは、バックライトのパワーが経時的に変化し、図３の例で示されたもののような波高点及び波底を有する。
【００６３】
本発明に係る別の実施形態において、光時間領域反射率計は、第１のテストリンクにおけるバックライトの経時的なパワーの変化の第１のグラフを記録し、第２のテストリンクにおけるバックライトの経時的なパワーの変化の第２のグラフを記録するために使用され得る。図９は、本発明に係る実施形態における第１のテストリンクにおけるバックライトのパワーの第１の曲線を経時的に記録するために光時間領域反射率計を使用できる装置のブロック図である。図９の例において、光時間領域反射率計９００は、パルス発生器９１０と、光源９２０と、光検出器９６０と、信号処理部９７０と、内部クロック９９０と、ディスプレイ９８０とを含む。光時間領域反射率計９００におけるパルス発生器９１０は、内部クロック９９０によって駆動される電気的パルスを生成し、その電気的パルスは光学的パルスを生成するために光源９２０を変調する。光学的パルスは、図１のＳ１００において述べたプローブビームとして機能し得る。プローブビームは、ポート１に入った後に循環装置９３０のポート２から出され、第１のテストリンク９４０内へと入射される。
【００６４】
光学的パルスは、第１のテストリンクに沿って前方に伝達されるときにバックライトを生成する。バックライトはレイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光を含む。バックライトは後方伝達によって第１のテストリンクの入射ポートへと戻る。特に、バックライトは第１のテストリンクにおいて後方に循環装置のポート２へと伝達される。バックライトの偏光特性はプローブビームのそれと実質的に一致する。生成されたバックライトは、テストリンクの入射ポートへと戻るためにテストリンクにおいて後方に伝達する。特に、バックライトはテストリンクにおいて後方に伝達され、循環装置９３０のポート２へと戻る。バックライトは、循環装置のポート２に入った後にポート３から出される。循環装置のポート３から出されたバックライトの偏光特性は、テストリンク９４０周りの環境擾乱を特徴づける。実施形態において、特定の方向を設定するために偏光器９５０が使用され、その方向においてバックライトのパワー特性としてマッピングされたバックライトの偏光特性の投影として設定される。
【００６５】
光検出器９６０は、循環装置のポート３から出されたバックライトから電気的パルスを検出し、信号処理部９７０に電気的パルスを提供することができる。信号処理部９７０は、経時的な電気的パルスの変化の間の関係を得るために内部クロック９９０によって駆動される電気的パルスの信号を処理する。最後に、ディスプレイ９８０は、第１のテストリンクにおけるバックライトのパワーの変化を経時的に追跡する第１の曲線を表示する。バックライトの第２のパワーの変化の第２のグラフを経時的に記録する工程は類似する。
【００６６】
第１の曲線及び第２の曲線の類似値は、計算され得るものであり、図１のステップＳ１３０に類似する方式における類似値に基づいて、第１の曲線及び第２の曲線が同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかに関しての決定がなされ得る。
【００６７】
本発明に係る実施形態において、以下のようにステップＳ１２０とＳ１３０との間に付加的なステップが付加される。
【００６８】
Ｓ２２０１において、第１の曲線及び第２の曲線は、補正された第１の曲線及び補正された第２の曲線を得るために、時間遅延校正によって補正される。
【００６９】
本発明に係る実施形態において、共有リスクリンクグループを検出するための装置１０００（図１０）が存在する。図１０は本発明に係る実施形態において共有リスクリンクグループを検出するための装置１０００のブロック図である。図１０の例に示されるように、装置は、光ビームを生成するため、及び光ビームを受信−送信ユニット１００２内へと入射するために用いられる光源ユニット１００１を含む。装置は、光源ユニット１００１によって生成された光ビームを受信するため、及び光ビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンク内へと入射するために用いられる受信−送信ユニット１００２をさらに含む（両方のリンクは全体として要素符号１００３として識別される）。受信ユニット１００２は、第１のテストリンクによって戻される光ビームの第１のバックライトと、第２のテストリンクによって戻される光ビームの第２のバックライトとを受信するためにも用いられる。装置は、経時的な第１のバックライトに対応する第１のパワーの変化をグラフ化する第１の曲線を記録し、経時的な第２のバックライトの第２のパワーの変化をグラフ化する第２の曲線を記録するために用いられる情報記録ユニット１００４をさらに含む。装置は、第１及び第２の曲線の類似値を計算し、本明細書において前述のような類似値に基づいて、第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを決定するために使用される情報処理ユニット１００５をさらに含む。実施形態において、光源ユニットはレーザーであり得るものであり、受信ユニットは例えば、循環装置であり得る。光ビームのバックライトは、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光を含む。
【００７０】
本発明に係る別の実施形態において、共有リスクリンクグループを検出するための装置１１００が存在する。図１１の例に示されるように、図１０に示されたブロックに加え、装置１１００は、受信ユニット１００２によって受信された第１のバックライトの偏光特性を第１のパワーとしてマッピングし、第２のバックライトの偏光特性を第２のパワーとしてマッピングするために用いられるマッピングユニット１００６、をさらに含む。実施形態において、光源ユニットはレーザーであり得るものであり、受信モジュールは例えば、循環装置であり得る。光ビームのバックライトは、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光を含む。
【００７１】
図１２は、本発明に係る実施形態において、共有リスクリンクグループを検出するための装置におけるコンピュータ制御の情報処理ユニット１００５のブロック図である。情報処理ユニット１００５は、第１の曲線を第１の関数としてマッピングするために用いられる第１の関数マッピングモジュール１２０１を含み、第２の曲線を第２の関数としてマッピングするために用いられる第２の関数マッピングモジュール１２０２をさらに含む。情報処理ユニット１００５は、第１の関数及び第２の関数の類似値を計算するために用いられる類似値計算モジュール１２０３をさらに含む。情報処理ユニット１００５は、本明細書において前述の類似値により第１及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを判断するために用いられる、判断または決定モジュール１２０４をさらに含む。
【００７２】
さらに、図２３に関連する本発明に係る実施形態において、（離散したタイムラインにより）第１の関数として第１の曲線をマッピングするために用いられる第１のタイムライン離散化モジュール２３０１をさらに含む第１の関数マッピングモジュール１２０１を含む。関連した第２の関数マッピングモジュール１２０２は、（離散したタイムラインにより）第２の関数として第２の曲線をマッピングするために用いられる第２のタイムライン離散化モジュール２３０２をさらに含む。
【００７３】
さらに、本発明に係る別の実施形態において、情報処理ユニット１６０２（図２４）は、第１の曲線の第１の固有ベクトルグループを得るため、第１の曲線の波高点及び波底を検出するために用いられる第１の固有ベクトルグループ獲得モジュール２４０１をさらに含む。また、第２の曲線の第２の固有ベクトルグループを得るため、第２の曲線の波高点及び波底を検出するために用いられる第２の固有ベクトルグループ獲得モジュール２４０２をさらに含む。情報処理ユニット１６０２は、第１及び第２の固有ベクトルグループから同一の固有ベクトルを抽出し、第１の固有ベクトルグループにおける同一の固有ベクトルの第１の比率を計算するための第１の比率獲得モジュール２４０３をさらに含む。情報処理ユニット１６０２は、第１及び第２の固有ベクトルグループから同一の固有ベクトルを抽出し、第２の固有ベクトルグループにおける同一の固有ベクトルの第２の比率を計算するための第２の比率獲得モジュール２４０４をさらに含む。情報処理ユニット１６０２は、第１及び第２の比率が共にプリセット閾値を超えるときに、第１及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたことを判断または決定するために用いられる判断モジュール２４０５をさらに含む。
【００７４】
図１３は、本発明に係る実施形態において共有リスクリンクグループを検出するための装置１０００Ａのブロック図である。装置１０００Ａは、図１０に記載の装置に対して付加的なモジュールを含む。装置１０００Ａは、第１の修正曲線及び第２の修正曲線を得るために第１及び第２の曲線において遅延補正を実行し、第１の修正曲線及び第２の修正曲線を情報処理ユニット１００５に送信するために用いられる遅延補正モジュール１３０１を含む。
【００７５】
図１４は、本発明に係る実施形態において共有リスクリンクグループを検出するための装置１０００Ｂのブロック図である。装置１０００Ｂは、図１１に記載の装置に対して付加的なモジュールを含む。装置１０００Ｂは、第１の修正曲線及び第２の修正曲線を得るために第１及び第２の曲線において遅延補正を実行し、第１の修正曲線及び第２の修正曲線を情報処理ユニット１００５に送信するために用いられるモジュール１３０１を含む。
【００７６】
本発明に係る別の実施形態において、共有リスクリンクグループを検出するための装置１５００のブロック図が図１５に示される。図１５の例によれば、装置１５００は、送信／受信ユニット１５０２内へと入射される光ビームを生成するために用いられる光源ユニット１５０１を含む。送信／受信ユニット１５０２は、光源ユニットによって生成された光ビームを受信し、光ビームを第１のテストリンク及び第２のテストリンク内へと入射し（リンクは共に全体として要素符号１５０４として識別される）、第１のテストリンクによって戻される光ビームの第１のバックライトと第２のテストリンクによって戻される光ビームの第２のバックライトとを受信するために用いられる。装置は、第１のバックライトの偏光特性を第１のパワーとしてマッピングし、第２のバックライトの偏光特性を第２のパワーとしてマッピングするために用いられるマッピングユニット１５０３を含む。特に、光源ユニット１５０１は、レーザーであり得るものであり、受信モジュールは１つの実例において循環装置であり得るものであり、マッピングユニットは偏光器であり得る。光ビームの第１及び第２のバックライトは、レイリー後方散乱光及びフレネル後方反射光を備える。
【００７７】
本発明に係る別の実施形態において、共有リスクリンクグループを検出するための装置１６００は、図１６に示される。図１６の例によれば、装置１６００は、第１のテストリンクに対応する時間的に変化する第１のパワーの第１の曲線と第２のテストリンクに対応する時間的に変化する第２のパワーの第２の曲線とを記録するために用いられる情報記録ユニット１６０１を含む。装置は、第１の曲線及び第２の曲線の類似値を計算し、本明細書において前述の類似値に基づいて第１及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを判断するために用いられる情報処理ユニット１６０２を含む。
【００７８】
図１７は、本発明に係る実施形態において共有リスクリンクグループを検出するために装置に組み込まれた情報処理ユニット１６０２のブロック図である。情報処理ユニット１６０２は、第１の曲線を第１の関数としてマッピングするために用いられる第１の関数マッピングモジュール１７０１と、第２の曲線を第２の関数としてマッピングするために用いられる第２の関数マッピングモジュール１７０２と、を含む。情報処理ユニット１６０２は、第１の関数及び第２の関数の類似値を計算するために用いられる類似値計算モジュール１７０３をさらに含む。情報処理ユニット１６０２は、本明細書において前述の類似値に基づいて第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたかどうかを判断、または決定するための判断モジュール１７０４をさらに含む。
【００７９】
さらに、本発明に係る実施形態において、第１の関数マッピングユニット１７０１は、離散したタイムラインにより第１の曲線を第１の関数としてマッピングするために用いられる第１のタイムライン離散化モジュール２３０１をさらに含む。関連した第２の関数マッピングモジュール１７０２は、離散したタイムラインにより第２の曲線を第２の関数としてマッピングするために用いられる第２のタイムライン離散化モジュール２３０２をさらに含む。
【００８０】
さらに、本発明に係る別の実施形態において図２４を参照すると、情報処理ユニット１６０２は、第１の曲線の第１の固有ベクトルグループを得るため、第１の曲線の波高点及び波底を検出するために用いられる第１の固有ベクトルグループ獲得モジュール２４０１と、第２の曲線の第１の固有ベクトルグループを得るため、第２の曲線の波高点及び波底を検出するために用いられる第２の固有ベクトルグループ獲得モジュール２４０２と、をさらに含む。情報処理ユニット１６０２は、第１及び第２の固有ベクトルグループから同一の固有ベクトルを抽出し、第１の固有ベクトルグループにおける同一の固有ベクトルの第１の比率を計算するために用いられる第１の比率獲得モジュール２４０３をさらに含む。情報処理ユニット１６０２は、第１及び第２の固有ベクトルグループから同一の固有ベクトルを抽出し、第２の固有ベクトルグループにおける同一の固有ベクトルの第２の比率を計算するために用いられる第２の比率獲得モジュール２４０４をさらに含む。情報処理ユニット１６０２は、第１の比率及び第２の比率が共にプリセット閾値を超えるときに、第１のテストリンク及び第２のテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内に配置されたことを判断または決定するために用いられる判断モジュール２４０５をさらに含む。
【００８１】
図１８は、本発明に係る実施形態において共有リスクリンクグループを検出するための装置１８００のブロック図である。図１８の例によれば、装置１８００は、図１６に記載の装置１６００に対して付加的なモジュールを含む。装置１８００は、第１の修正曲線及び第２の修正曲線を得るために第１及び第２の曲線において遅延補正を実行し、第１の修正曲線及び第２の修正曲線を情報処理ユニット１６０２に送信するために用いられる遅延補正モジュール１８０１を含む。
【００８２】
本発明に係る実施形態によれば、テストリンクにおいてプローブビームのバックライトのパワー特性をテストすることによって共有リスクリンクグループを検出し、その１次元のパワー特性に基づいてテストリンクが同じ共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを判断または決定する方法及び装置が紹介される。従来の技術において用いられる３次元の成分と比較すると、１次元の成分を用いるテストは比較的容易である。本発明に係る実施形態は、１次元のパワー特性に基づいてテストリンクが共有リスクリンクグループ内にあるかどうかを検出する方法及び装置を紹介し、これは適用において従来の技術より容易である。
【００８３】
従来の技術におけるハードウェア回路構成の直接的改善として、方法における多くの改善を考慮することができる。設計者は、関連したハードウェア回路構成を得るために様々なハードウェア回路構成への改良された方法をプログラムする。例えば、プログラマブルロジックデバイス（ＰＬＤ）及び、特に、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）は、そのロジック機能がデバイスのプログラミングによって決定される集積回路の形式である。設計者は、チップ製造業者の設計を有して特定の集積回路チップ製造する代わりに、デジタルシステムをＰＬＤに統合するようにプログラムする。さらに、こうした形式のプログラミングは、ロジックコンパイラなどのソフトウェアを用いて実現される。ロジックコンパイラは、プログラムを開発し、記述するのに用いられるソフトウェアコンパイラに類似し、オリジナルコードをコンパイルするときに特定のプログラミング言語（ハードウェア記述言語、ＨＤＬと呼ばれる）も要求される。ＡＢＥＬ（アドバンスドブーリアンエクスプレッション言語）、ＡＨＤＬ（アドバンスドハードウェア記述言語）、コンフルエンス、ＣＵＰＬ（コーネル大学プログラミング言語）、ＨＤＣａｌ、ＪＨＤＬ（Ｊａｖａハードウェア記述言語）、Ｌａｖａ、Ｌｏｌａ、ＭｙＤＨＬ、ＰＡＬＡＳＭ、ＲＨＤＬ（Ｒｕｂｙハードウェア記述言語）等の、複数のＨＤＬが存在する。最もよく使われる言語は、ＶＨＤＬ（超高速集積回路ハードウェア記述言語）及びＶｅｒｉｌｏｇ２である。当業者は、論理的方法を実行するためのハードウェア回路を、集積回路内に上述の言語を論理プログラミングすることによって容易に得ることができることを理解し得る。
【００８４】
ハードウェア回路と関連付けられたコントローラは、任意の適した装置において具現化され得る。例えば、コントローラは、マイクロコントローラ、コントローラ、例えば、マイクロコントローラまたはコントローラによって実現され得るソフトウェアまたはファームウェアといったコンピュータ可読プログラミングコードを含む非一時的コンピュータ可読媒体、ロジックゲート、スイッチ、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、プログラマブルロジックコントローラ、または組み込まれたマイクロコントローラとして具現化され得る。コントローラの例は、限定されるものではないが、以下のコントローラ、ＡＲＣ  ６２５Ｄ、Ａｔｍｅｌ  ＡＴ９１ＳＡＭ、Ｍｉｃｒｏｃｈｉｐ  ＰＩＣ１８Ｆ２６Ｋ２０、及びｓｉｌｉｃｏｎｅ  Ｌａｂｓ  Ｃ８０５１Ｆ３２０を含む。ストレージコントローラは、ストレージデバイスのコントロールロジックの一部として具現化され得る。
【００８５】
当業者は、コンピュータ可読プログラミングコードによりコントローラのみを実行する一方で、コントローラを、同じ機能を具現化するためにロジックゲート、スイッチ、ＡＳＩＣ、プログラマブルロジックコントローラ、または組み込まれたマイクロコントローラとして実装させることは、それらのステップ及び方法を論理プログラミングすることによって具現化され得ることを理解することができる。従って、こうしたコントローラは、ハードウェアとしてみなされ得るものであり、内部に組み込まれた装置は、ハードウェアの内部構造としてみなされ得る。さらに、様々な機能を実施するための装置は、実施形態のソフトウェアモジュール及びハードウェアの内部構造の両方としてみなされ得る。
【００８６】
特定の機能を有するコンピュータチップ、関連したエンティティまたは製品は、前述のシステム、装置、方法、及びモジュールを特に具現化する。
【００８７】
説明の目的のため、装置は、それらが実行する様々な機能に基づいて分離したモジュールとして記載される。しかしながら、モジュールの機能は、本発明を具現化するために１つまたは複数のソフトウェア／ハードウェアモジュールへと一体化され得る。
【００８８】
前述の記載に基づいて、本発明に係る実施形態が一般ハードウェアプラットフォームと結合されたソフトウェアを利用することを当業者が理解し得ることが認識される。こうした理解により、本発明に係る本質または貢献は、ソフトウェアの形式により示され得る。こうしたコンピューティングソフトウェアは、例えば、パーソナルコンピュータ、サーバー、またはネットワークデバイスといったコンピューティング設備に本発明に係る実施形態または実施形態の部分を実行させる一連の命令を含む、ＲＯＭ／ＲＡＭ、磁気ディスク、またはＣＤのような記憶媒体に保存され得る。
【００８９】
本発明に係る特許請求の範囲及び明細書において、「ｆｉｒｓｔ（第１の）」及び「ｓｅｃｏｎｄ（第２の）」などの語は、実施形態または操作を別の実施形態または操作から区別するためだけのものである。これらの実施形態または操作が任意のこうした実際の関係または順序を有することを必要とするものではなく、または示唆するものでもない。さらに、本明細書において使用されるように、「ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ（備える）」、「ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ（含む）」、または任意の他のバリエーションの語は、要素のリストを備える工程、方法、製品または装置がこれらの要素のみを含むわけではなく、明確にリスト化されない、または固有の他の要素もこうした工程、方法、製品または装置に含んで良いように、非限定的な含有を包含することを意図される。さらなる限定がない限り、「ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ（備える）」というフレーズによって列挙された要素は、こうした要素を備える工程、方法、製品または装置を、他の同じ要素を含むことから排除しない。
【００９０】
本発明に係る実施形態は、類似する部分が相互参照され得る一方で、異なる実施形態の中の唯一の違いがハイライトされるような方法で記載される。
【００９１】
本発明に係る実施形態は、パーソナルコンピュータ、サーバーコンピュータ、ハンドヘルドデバイス、ポータブルデバイス、タブレットデバイス、マルチプルプロセッサシステム、マイクロコンピュータベースのシステム、セットトップボックス、プログラマブル民生電気デバイス、ネットワークＰＣ、小型サイズコンピュータ、大型コンピュータ及び任意のこれらのシステムまたはデバイスを含む、任意の分散コンピューティング環境などの、複数の一般的または個人的コンピューティング環境または構成において使用され得る。
【００９２】
本発明に係る実施形態はコンピュータで実行される命令の文脈において説明され得る。例えば、プログラムモジュールは、特定の機能を実行し、または抽象データ型を実行する特定のルーチン、プログラム、オブジェクト、モジュール、データ構造等を通常含む。本発明は、通信ネットワークを通して結合された遠隔処理装置を用いて分散コンピューティング環境にも具現化され得る。分散コンピューティング環境において、プログラムモジュールは、記憶装置を含むローカルまたはリモートコンピュータ記憶媒体に配置され得る。
【００９３】
本発明に係る実施形態はこうして説明される。本発明が特に実施形態において説明されてきたが、当然のことながら、本開示はこうした実施形態によって限定されるように解釈されるべきではなく、むしろ特許請求の範囲によって解釈されることが理解される。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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