(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線発生手段及び放射線検出手段を被検体の周囲で回転させることにより複数の回転角度から前記被検体に照射された前記放射線の検出データに基づいて、前記被検体の複数の放射線画像を取得する画像取得手段と、
前記複数の放射線画像を、第１の放射線画像と、前記第１の放射線画像と異なる第２の放射線画像と、に分類する分類手段と、
前記第１の放射線画像の第１の散乱線分布を推定する第１の散乱線推定手段と、
前記第１の散乱線分布を用いて、前記第２の放射線画像の第２の散乱線分布を推定する第２の散乱線推定手段と
を備え、
前記分類手段は、前記第１の散乱線分布の解像間隔に対応する前記回転角度の間隔で取得された前記放射線画像を前記第１の放射線画像として分類することを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項２】
前記分類手段は、前記複数の第１の放射線画像の前記回転角度により規定される鋭角内で取得された前記放射線画像を前記第２の放射線画像として分類することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項３】
放射線発生手段及び放射線検出手段を被検体の周囲で回転させることにより複数の回転角度から前記被検体に照射された前記放射線の検出データに基づいて、前記被検体の複数の放射線画像を取得する画像取得手段と、
前記複数の放射線画像における第１の放射線画像の第１の散乱線分布を推定する第１の散乱線推定手段と、
前記第１の散乱線分布を用いて、前記第１の放射線画像と異なる第２の放射線画像の第２の散乱線分布を推定する第２の散乱線推定手段と
を備え、
前記第２の散乱線推定手段は、前記第２の放射線画像を撮影した際の回転角を挟んだ複数の前記第１の放射線画像の前記第１の散乱線分布を推定することを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項４】
前記第２の散乱線推定手段は、複数の前記第１の散乱線分布を補間又は補外することにより、前記第２の散乱線分布を推定することを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項５】
被検体に放射線を照射する放射線発生手段と、
前記被検体を挟んで前記放射線発生手段と対向配置され、前記放射線発生手段からの放射線を検出する放射線検出手段と、
前記放射線発生手段及び前記放射線検出手段を前記被検体の周囲で回転させる回転手段と、
前記放射線発生手段及び前記放射線検出手段を被検体の周囲で回転させることにより複数の回転角度から前記被検体に照射された前記放射線の検出データに基づいて、前記被検体の複数の放射線画像を取得する画像取得手段と、
前記複数の放射線画像を、第１の放射線画像と、前記第１の放射線画像と異なる第２の放射線画像と、に分類する分類手段と、
前記第１の放射線画像の第１の散乱線分布を推定する第１の散乱線推定手段と、
前記第１の散乱線分布を用いて、前記第２の放射線画像の第２の散乱線分布を推定する第２の散乱線推定手段と
を備え、
前記分類手段は、前記第１の散乱線分布の解像間隔に対応する前記回転角度の間隔で取得された前記放射線画像を前記第１の放射線画像として分類することを特徴とする放射線撮影システム。
【請求項６】
被検体に放射線を照射する放射線発生手段と、
前記被検体を挟んで前記放射線発生手段と対向配置され、前記放射線発生手段からの放射線を検出する放射線検出手段と、
前記放射線発生手段及び前記放射線検出手段を前記被検体の周囲で回転させる回転手段と、
前記放射線発生手段及び前記放射線検出手段を被検体の周囲で回転させることにより複数の回転角度から前記被検体に照射された前記放射線の検出データに基づいて、前記被検体の複数の放射線画像を取得する画像取得手段と、
前記複数の放射線画像における第１の放射線画像の第１の散乱線分布を推定する第１の散乱線推定手段と、
前記第１の散乱線分布を用いて、前記第１の放射線画像と異なる第２の放射線画像の第２の散乱線分布を推定する第２の散乱線推定手段と
を備え、
前記第２の散乱線推定手段は、前記第２の放射線画像を撮影した際の回転角を挟んだ複数の前記第１の放射線画像の前記第１の散乱線分布を推定することを特徴とする放射線撮影システム。
【請求項７】
放射線発生手段及び放射線検出手段を被検体の周囲で回転させることにより複数の回転角度から前記被検体に照射された前記放射線の検出データに基づいて、前記被検体の複数の放射線画像を取得する工程と、
前記複数の放射線画像を、第１の放射線画像と、前記第１の放射線画像と異なる第２の放射線画像と、に分類する工程と、
前記複数の放射線画像における第１の放射線画像の第１の散乱線分布を推定する工程と、
前記第１の散乱線分布を用いて、前記第１の放射線画像と異なる第２の放射線画像の第２の散乱線分布を推定する工程と、
を備え、
前記分類する工程は、前記第１の散乱線分布の解像間隔に対応する前記回転角度の間隔で取得された前記放射線画像を前記第１の放射線画像として分類することを特徴とする放射線撮影方法。
【請求項８】
放射線発生手段及び放射線検出手段を被検体の周囲で回転させることにより複数の回転角度から前記被検体に照射された前記放射線の検出データに基づいて、前記被検体の複数の放射線画像を取得する工程と、
前記複数の放射線画像における第１の放射線画像の第１の散乱線分布を推定する工程と、
前記第１の散乱線分布を用いて、前記第１の放射線画像と異なる第２の放射線画像の第２の散乱線分布を推定する工程と
を備え、
前記第２の散乱線分布を推定する工程は、前記第２の放射線画像を撮影した際の回転角を挟んだ複数の前記第１の放射線画像の前記第１の散乱線分布を推定することを特徴とする放射線撮影方法。
【請求項９】
コンピュータを請求項１乃至４の何れか１項に記載の放射線撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
１９７０年代に開発されたＸ線ＣＴ装置は、その後、普及と進歩を遂げてきた。Ｘ線ＣＴ装置では、Ｘ線源（放射線発生部）と、被検体を挟んでＸ線源に対向配置される検出部とを備え、被検体を中心にＸ線源及び検出部が回転しながらＸ線を測定することで、被検体を透過したＸ線を様々な角度で測定する。そして、測定の結果から得られた情報を基に、Ｆｉｌｔｅｒｅｄ  Ｂａｃｋ  Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ（ＦＢＰ）法などの方法を用いて、被検体の画像を再構成することで、被検体の線減弱係数の空間分布を得ることができる。
【０００３】
ＣＴ装置では、放射線源（放射線発生部）から照射された放射線が、被検体内を直進する間にどの程度減弱したかを測定することで、被検体の線減弱係数の空間分布を得る。この場合、被検体で散乱した放射線が混入した状態で測定されるため、線減弱係数の空間分布の再構成について精度が低下する。そこで、混入する散乱線を推定し、測定量から取り除く必要がある。
【０００４】
例えば、特許文献１には、隣接するｎ個の投影方向について、共通する散乱線分布を用いることにより、散乱線推定を高速化する手法が開示されている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第５３８８６８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１で開示されている方法では、隣接する投影方向で同じ散乱線分布を使うため、精度が悪いという課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る放射線撮影装置の一形態は、放射線発生手段及び放射線検出手段を被検体の周囲で回転させることにより複数の回転角度から前記被検体に照射された前記放射線の検出データに基づいて、前記被検体の複数の放射線画像を取得する画像取得手段と、前記複数の放射線画像を、第１の放射線画像と、前記第１の放射線画像と異なる第２の放射線画像と、に分類する分類手段と、前記第１の放射線画像の第１の散乱線分布を推定する第１の散乱線推定手段と、前記第１の散乱線分布を用いて、前記第２の放射線画像の第２の散乱線分布を推定する第２の散乱線推定手段とを備え、前記分類手段は、前記第１の散乱線分布の解像間隔に対応する前記回転角度の間隔で取得された前記放射線画像を前記第１の放射線画像として分類する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明に係る放射線撮影装置によれば、高い精度で散乱線を推定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施形態に係る放射線撮影システムの構成の一例を示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係る放射線撮影装置の処理フローの一例を示す図である。
【図３】回転部の回転により複数の測定画像が取得されることを説明する図である。
【図４】検出部の座標と散乱線量との関係の一例を示す図である。
【図５】解像間隔と回転角度との関係の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態について、添付の図面を参照して具体的に説明する。図１は、本実施形態に係る放射線撮影システムの構成の一例を示す図であり、図２は、本実施形態に係る放射線撮影装置の処理フローの一例を示す図である。
【００１１】
まず、図１の各構成を説明する。本実施形態に係る放射線撮影システムは、放射線発生部（放射線発生源）１０１、検出部（検出器）１０４、及び回転部１０５を備える。放射線発生部１０１は、放射線発生源であり、被検体１０２に放射線１０３を照射する。なお、本実施形態では、放射線はＸ線であるが、α線、β線、重粒子線、又はγ線であってもよい。
【００１２】
本実施形態では、被検体１０２は生体であるが、工業製品などの生体以外を被検体としてもよい。検出部１０４は、被検体１０２を挟んで放射線発生部１０１と対向配置され、放射線発生部１０１からの放射線１０３を検出する。
【００１３】
本実施形態では、検出部１０４は、半導体材料によって形成され、多くの検出素子が格子状に並んだ平面検出器（Ｆｌａｔ  Ｐａｎｅｌ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ（ＦＰＤ））を用いるが、ラインセンサなどを用いてもよい。ＦＰＤでは、検出素子が２次元状に並んでおり、測定情報を画像のように可視化できるため、検出部１０４の測定情報（検出データ）を「測定画像」と呼ぶこととする。これは説明のための便宜的な呼称であり、ラインセンサなどの測定情報も「測定画像」と呼ぶこととする。
【００１４】
回転部１０５は、放射線発生部１０１及び検出部１０４を被検体１０２の周囲で回転させる回転測定手段である。本実施形態では、放射線発生部１０１と検出部１０４が、同調した上で、被検体１０２を中心に回転方向１１６へ回転し、放射線発生部１０１から被検体１０２に放射線１０３が曝射され、検出部１０４の測定により、回転角が異なる複数の測定画像が取得される。
【００１５】
ＣＴ装置であれば、回転部１０５が回転方向１１６へ３６０°回転することで、回転角が異なる複数の測定画像が取得されてもよい。また、Ｃ−ａｒｍの装置であれば、３６０°未満の回転で、回転角が異なる複数の測定画像が取得される。また、トモシンセシス装置であれば、検出部１０４は回転せずに、放射線発生部１０１が回転する。何れの放射線撮影装置にも、本発明は適用可能である。
【００１６】
検出部１０４で測定された測定情報は、画像処理部１０６に送られ、処理される。画像処理部１０６は、分類部１０７、第１の散乱線推定部１０８、選択部１０９、及び第２の散乱線推定部１１０を備える。
【００１７】
本実施形態では、画像処理部１０６はコンピュータである。また、分類部１０７、第１の散乱線推定部１０８、選択部１０９、及び第２の散乱線推定部１１０はコンピュータで実行される各プログラムにより機能する関数である。同様の機能を果たすのであれば、関数の形態である必要もなく、集積回路などの形態であってもよい。
【００１８】
表示部１１１は、本実施形態の各構成によって得られた結果を表示する。表示部１１１は、例えば、液晶ディスプレイやＣＲＴなどである。その他、表示部１１１は、人間が視認できるものであればよい。
【００１９】
次に、図２のフローチャートを用いて、図１の構成がどのような動作を行い、散乱線を推定するかを説明する。
【００２０】
まず、ステップＳ２０５において、回転測定工程が実行される。この工程では、回転部１０５が回転することにより、回転角が異なる測定画像が複数枚得られる。図３は、回転部１０５の回転により複数の測定画像が取得されることを説明する図である。図３では、放射線発生部１０１と検出部１０４とが回転して回転角を変えることにより、放射線発生部１０１のそれぞれの位置３０１，３１１，３２１から放射線１０３が曝射され、検出部１０４のそれぞれの位置３０４，３１４，３２４で放射線が検出される。
【００２１】
放射線発生部１０１が位置３０１にある場合、検出部１０４は位置３０４にある。ここで、放射線発生源から放射線１０３が曝射され、検出部１０４が放射線１０３を測定し、測定画像を得る。
【００２２】
回転角の異なる測定画像を得るため、回転部１０５が回転し、放射線発生部１０１を位置３１１に移動させ、検出部１０４を位置３１４に移動させる。ここで、放射線発生源から放射線１０３が曝射され、検出部１０４が放射線１０３を測定し、測定画像を得る。
【００２３】
さらに回転角の異なる測定画像を得るため、回転部１０５が回転し、放射線発生部１０１を位置３２１に移動させ、検出部１０４を位置３２４に移動させる。ここで、放射線発生源から放射線１０３が曝射され、検出部１０４が放射線１０３を測定し、測定画像を得る。
【００２４】
このように、本工程において、放射線発生部１０１及び検出部（放射線検出部）１０４を被検体１０２の周囲で回転させることにより複数の回転角度から被検体１０２に放射線１０３が照射される。そして、放射線１０３の検出データに基づいて、画像取得部（画像処理部１０６）は、被検体１０２の複数の放射線画像を取得する。
【００２５】
ＣＴ装置であれば、回転部１０５が回転方向１１６へ３６０°回転することで、回転角が異なる複数の測定画像が取得されてもよい。説明のため、図３では比較的大きな回転角を設定したが、一般的には、被検体１０２の測定画像の解像度を高めるため、回転角は微小に設定される。また、本実施形態では、回転部１０５が所定の回転角まで回転して停止した後に、放射線１０３が曝射されて検出部１０４が測定情報を測定するが、回転部１０５が停止することなく、放射線１０３が曝射されて検出部１０４が測定情報を測定してもよい。
【００２６】
次に、ステップＳ２０７において、分類工程が実行される。この工程では、分類部１０７が、ステップＳ２０５で測定された複数の放射線画像（測定画像）を画像集合Ａ（第１の放射線画像）と画像集合Ｂ（第２の放射線画像）とに分類する。
【００２７】
図３に示すように、本実施形態では、検出部１０４が位置３０４にあるときに測定された測定画像ａ１と、検出部１０４が位置３２４にあるときに測定された測定画像ａ２が画像集合Ａ（第１の放射線画像）に分類される。検出部１０４が位置
３１４にあるときに測定された測定画像ｂ１が画像集合Ｂ（第２の放射線画像）に分類される。どのような基準により、画像集合Ａ（第１の放射線画像）と画像集合Ｂ（第２の放射線画像）とが分類されるかについては後述する。
【００２８】
次に、ステップＳ２０８において、第１の散乱線推定工程が実行される。画像集合Ａ（複数の第１の放射線画像）における放射線１０３の第１の散乱線分布を推定する。この工程では、第１の散乱線推定部１０８が、画像集合Ａのそれぞれの測定画像に対応する散乱線分布を推定し、散乱線分布集合Ａｓ（第１の散乱線分布）を得る。つまり、第１の散乱線推定部１０８は、複数の放射線画像における第１の放射線画像の第１の散乱線分布を推定する。
【００２９】
本実施形態では、画像集合Ａである測定画像ａ１と測定画像ａ２に含まれる散乱線分布が推定される。散乱線分布を推定する公知の方法が適用可能であり、例えば、特許第５０５２２８１号公報に示されるように、散乱線が被検体１０２を透過するパス長と、被検体１０２の吸収係数と、被検体１０２の散乱確率とを用いることにより、散乱線分布が求められる。
【００３０】
第１の散乱線推定部１０８が、測定画像ａ１に対応する散乱線分布ａｓ１及び測定画像ａ２に対応する散乱線分布ａｓ２を求める。したがって、本実施形態では、散乱線分布集合Ａｓは、散乱線分布ａｓ１及び散乱線分布ａｓ２を含む。
【００３１】
次に、ステップＳ２０９において、選択工程が実行される。この工程では、選択部１０９が、画像集合Ｂから１つの測定画像ｂ（第２の放射線画像）を選択する。本実施形態では、画像集合Ｂは測定画像ｂ１からなるため、測定画像ｂ１が選択される。
【００３２】
次に、ステップＳ２１０において、第２の散乱線推定工程が実行される。第２の散乱線推定部１１０は、散乱線分布集合Ａｓ（第１の散乱線分布）を用いて、測定画像ｂ（第２の放射線画像）における放射線１０３の第２の散乱線分布を推定する。この工程では、第２の散乱線推定部１１０が、散乱線分布集合Ａｓから測定画像ｂの散乱線分布ｂｓ（第２の散乱線分布）を推定する。つまり、第２の散乱線推定部１１０は、第１の散乱線分布を用いて、第１の放射線画像と異なる第２の放射線画像の第２の散乱線分布を推定する。
【００３３】
本実施形態では、図３を用いて、散乱線分布ａｓ１（第１の散乱線分布）と散乱線分布ａｓ２（第１の散乱線分布）に基づいて、散乱線分布ｂｓ（第２の散乱線分布）を求める例を示す。上述したように、ステップＳ２０５において、放射線発生部１０１と検出部１０４は回転させることにより、測定画像が得られる。回転部１０５の回転に伴って、測定画像は徐々に変化し、測定画像の散乱線分布も徐々に変化する。つまり、検出部１０４が位置３０４，３１４，３２４へと回転移動するに伴って、散乱線分布も徐々に変化する。
【００３４】
散乱線分布が徐々に変化するため、検出部１０４が位置３０４にあるときの散乱線分布ａｓ１と検出部１０４が位置３２４にあるときの散乱線分布ａｓ２とから、補間によって検出部１０４が位置３１４にあるときの散乱線分布ｂｓを求めることができる。例えば、式（１）により、散乱線分布ｂｓが求められる。
【００３５】
【数１】
0006730827.tif 000002
【００３６】
ここで、ξｉはＦＰＤのｉ番目の画素の散乱線分布値である。また、θ１は検出部１０４が位置３０４にあるときの回転角を示し、θ２は検出部１０４が位置３２４にあるときの回転角を示し、θは検出部１０４が位置３１４にあるときの回転角を示している。つまり、測定画像ｂ（第２の放射線画像）の所定の画素における散乱線分布ｂｓ（第２の散乱線分布）の値は、複数の測定画像ａ（第１の放射線画像）の同じ画素における散乱線分布ａｓ（第１の散乱線分布）の値を、回転角を用いて補間することにより推定される。
【００３７】
図４は、θ１及びθ２の回転角により規定される鋭角内にθがある場合における検出部１０４の座標と散乱線量との関係の一例を示す図である。図４の横軸は検出部１０４の座標を示し、縦軸は散乱線量を示す。図４の散乱線分布４０１は、検出部１０４が位置３０４にあるときの散乱線分布ａｓ１である。また、散乱線分布４２１は、検出部１０４が位置３２４にあるときの散乱線分布ａｓ２である。散乱線分布４１１は、補間された散乱線分布ｂｓであり、検出部１０４が位置３１４にあるときの散乱線分布ｂｓである。
【００３８】
分類部１０７は、複数の測定画像ａ（第１の放射線画像）の回転角度θ１，θ２により規定される鋭角内で取得された放射線画像を測定画像ｂ（第２の放射線画像）として分類する。複数の測定画像ａ（第１の放射線画像）の同じ画素における散乱線分布ａｓ１，ａｓ２の値を、回転角θ１，θ２，θを用いて補間することにより、測定画像ｂ（第２の放射線画像）の散乱線分布ｂｓが推定される。
【００３９】
一般に、得たい測定画像に比べて、補正に必要な散乱線分布の解像度は低いことが多い。したがって、ステップＳ２０８で利用される計算量の多い散乱線推定方法を、回転測定で得られたすべての測定画像に対して実行する必要はなく、ステップＳ２０８で得られた散乱線分布から補間することで、少ない計算量で十分な精度の散乱線分布が得られる。
【００４０】
また、画像集合Ｂ（第２の放射線画像）の第２の散乱線分布は、画像集合Ａ（第１の放射線画像）の第１の散乱線分布から推定されるので、推定が容易となるように放射線画像が分類されることが望ましい（ステップＳ２０７）。上述のように、回転角に基づいて散乱線分布が補間される場合、連続して取得された３つの放射線画像のうち最初と最後の放射線画像を画像集合Ａに分類し、中間の放射線画像を画像集合Ｂに分類することが望ましい。
【００４１】
分類部１０７は、任意の放射線画像を画像集合Ｂ（第２の放射線画像）として分類し、画像集合Ｂ（第２の放射線画像）の回転角度の前後で最も近接する回転角度で取得された２つの放射線画像を画像集合Ａ（第１の放射線画像）として分類してもよい。
【００４２】
この場合、第１の散乱線推定部１０８は、２つの第１の放射線画像ａ１，ａ２の第１の散乱線分布ａｓ１，ａｓ２を推定する。第２の散乱線推定部１１０は、２つの第１の放射線画像ａ１，ａ２の回転角度θ１，θ２及び第２の放射線画像ｂの回転角度θに基づいて、２つの第１の放射線画像ａ１，ａ２の第１の散乱線分布ａｓ１，ａｓ２を補間する。第２の散乱線推定部１１０は、補間することにより、第２の放射線画像ｂの第２の散乱線分布ｂｓを推定する
【００４３】
また、画像集合Ａの画像間の回転角の間隔は、例えば、図５のΔθｓ程度（又は、所定の回転角度内）に抑えることが望ましい。図５では、検出部５０４における散乱線分布のサンプリングポイント５０１は、Δξｓの間隔で配置されている。つまり、Δξｓが散乱線分布の解像間隔である。
【００４４】
Δθｓは、解像間隔Δξｓに対応する回転部１０５の回転角度である。回転部１０５が回転中心５０２を中心に回転角度Δθｓで回転したときに、検出部５０４の検出面における移動距離が解像間隔Δξｓとなる。なお、図５では、検出部５０４の検出面の端部の解像間隔Δξｓを用いて回転角度Δθｓを求めているのは、検出面の中央部に比べて端部の方が回転角度Δθｓが小さくなるためである。
【００４５】
また、Δξｓが回転部１０５の回転半径Ｒに比べて十分小さいときは、式（２）により回転角度Δθｓが求められてもよい。
【００４６】
【数２】
0006730827.tif 000003
【００４７】
画像集合Ａの画像間の回転角の間隔はΔθｓ程度に抑えるために、分類部１０７は、第１の散乱線分布の解像間隔Δξｓに対応する回転角度Δθｓ又は回転角度Δθｓ内で取得された放射線画像を画像集合Ａ（第１の放射線画像）として分類する。
【００４８】
数１で示したように、本実施形態では線形補間の例を示したが、補間の種類はこれに限られない。例えば、２次補間であれば、第１の散乱線分布の集合Ａｓから３つの画像が選択されて補間処理が行われればよい。また、補外を利用することで、第２の散乱線分布を推定することもできる。第２の散乱線推定部１１０は、複数の第１の散乱線分布を補間又は補外することにより、第２の散乱線分布を推定する。
【００４９】
次に、ステップＳ２１９では、画像集合Ｂにおいてすべての第２の散乱線分布が推定されたか否かが判断される。すべての第２の散乱線分布が推定されていない場合は、ステップＳ２０９に戻り、選択工程及び第２の散乱線推定工程がさらに実施される。一方、すべての第２の散乱線分布が推定された場合は、散乱線分布の推定処理を終了する。
【００５０】
これにより、ステップＳ２０９，Ｓ２１０，Ｓ２１９を通じて、画像集合Ｂのそれぞれの第２の放射線画像に対応する第２の散乱線分布が、すべて推定される。
【００５１】
以上のように、画像集合Ａの第１の放射線画像についてはステップＳ２０８で第１の散乱線分布が推定され、画像集合Ｂの第２の放射線画像についてはステップＳ２１０で第２の散乱線分布が推定される。これにより、第１の放射線画像及び第２の放射線画像のすべての測定画像について散乱線分布が推定される。
【００５２】
また、必要に応じて、表示部１１１が、得られた散乱線分布を表示してもよい。これにより、散乱線推定の精度を確認することができる。
【００５３】
本実施形態によれば、高い精度で散乱線を推定することができる。特に、回転角を用いて補間処理を行うことにより、隣接する投影方向で同じ散乱線分布を用いる特許文献１の手法と比べて、より高い精度で散乱線を推定することができる。また、本実施形態によれば、補間処理を行うことで散乱線を推定するため、少ない計算量で十分な精度の散乱線分布が得られる。
【００５４】
以上、特定の実施形態を説明したが、本発明はこれらの実施形態に限らず、特許請求の範囲を逸脱しない限りにおいて、種々の変形例及び応用例を包含する。
【００５５】
本発明は、上記の実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、システム又は装置のコンピュータ（ＣＰＵやＭＰＵなど）がプログラムを読み出すことにより実行されてもよい。また、本発明は、システム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能であり、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００５６】
１０１  放射線発生部
１０４，５０４  検出部
１０５  回転部
１０６  画像処理部
１０７  分類部
１０８  第１の散乱線推定部
１０９  選択部
１１０  第２の散乱線推定部
１１１  表示部
【図１】
0006730827.tif 000004
【図２】
0006730827.tif 000005
【図３】
0006730827.tif 000006
【図４】
0006730827.tif 000007
【図５】
0006730827.tif 000008