(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
照明装置（１）であって、
配向された光ビームを放射するように構成された光源（１０）と、
前記光源（１０）の配向された前記光ビームを偏向するように構成された偏向装置（２０）と、
前記偏向装置（２０）によって偏向された前記光ビームの一部を分離するように構成されたビームスプリッタ（４０）と、
前記ビームスプリッタ（４０）によって分離された前記光ビームの一部を検出し、かつ、前記検出された光ビームに対応する出力信号を供給するように構成されたイメージセンサ（５０）と、
評価装置（６０）と、
を備え、
前記評価装置（６０）は、前記イメージセンサ（５０）によって供給された前記出力信号を受信し、かつ、前記イメージセンサ（５０）から供給された前記出力信号が所定の目標値から逸脱している場合に、前記照明装置（１）のエラー機能を検出するように構成されていることを特徴とする照明装置（１）。
【請求項２】
前記光源から放射された前記光ビームの波長を有する光を、少なくとも部分的に、少なくとも１つのさらなる波長を有する光に変換するように構成された変換装置（３０）を備えている、請求項１に記載の照明装置（１）。
【請求項３】
前記変換装置（３０）は、前記偏向装置（２０）と前記ビームスプリッタ（４０）との間に配置されている、請求項２に記載の照明装置（１）。
【請求項４】
前記イメージセンサ（５０）は、二次元センサ面を含む、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の照明装置（１）。
【請求項５】
前記評価装置（６０）は、前記イメージセンサ（５０）上の局所的光分布及び／又は前記イメージセンサ（５０）によって検出された光の光色を評価するように構成されている、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の照明装置（１）。
【請求項６】
前記評価装置（６０）は、前記エラー機能が検出された場合に、前記光源（１０）をスイッチオフするように構成されている、請求項１乃至５のいずれか一項に記載の照明装置（１）。
【請求項７】
前記偏向装置（２０）を駆動制御し、かつ、前記偏向装置（２０）の駆動制御を、前記イメージセンサ（５０）から供給された出力信号を用いて適合化するように構成されている制御装置を備えている、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の照明装置（１）。
【請求項８】
前記ビームスプリッタ（４０）は、前記ビームスプリッタ（４０）に入射する光ビームの光強度の１％未満を分離するように構成されている、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の照明装置（１）。
【請求項９】
前記偏向装置（２０）は、微小電気機械システムを有するマイクロミラー装置を含む、請求項１乃至８のいずれか一項に記載の照明装置（１）。
【請求項１０】
光源（１０）から放射されて配向された光ビームを偏向する偏向装置（２０）を備えた照明装置（１）を監視するための方法であって、
前記偏向装置（２０）によって偏向された前記光ビームの一部を分離させるステップ（Ｓ１）と、
前記偏向された光ビームの分離された一部を、イメージセンサ（５０）によって検出するステップ（Ｓ２）と、
前記偏向された光ビームの前記分離されて検出された一部が、所定の目標値から逸脱している場合に、前記照明装置（１）のエラー機能を検出するステップ（Ｓ３）と、
を含むことを特徴とする方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、照明装置及び照明装置を監視するための方法に関する。特に本発明は、光源から放射され配向された光ビームを偏向する偏向装置を含む、照明装置の監視に関する。
【背景技術】
【０００２】
背景技術
独国特許出願公開第１０２０１１０８０５５９号明細書（ＤＥ１０２０１１０８０５５９Ａ１）には、車両用照明装置が開示されている。この照明装置は、光源と、所定の光分布を形成する光案内ユニットとを含んでいる。この光案内ユニットは、ここでは、旋回軸線周りで相互に独立して調整可能な複数のマイクロミラーを備えた偏向面を含んでいる。
【０００３】
レーザベースの光モジュールは、例えば自動車用ヘッドライトにも用いられる。その上さらにレーザベースの走査型照明モジュールが、益々多くの適用分野で使用される。ここでは例えばレーザ源からの配向された光ビームが、走査型ミラーシステムを介して変換器への一次元又は二次元の偏向により偏向される。ここでのこの変換器は、通常は単色性の光を、幅広の波長スペクトルに変換し、これによって出射する光は、例えば全体で白色光として現れる。この場合は偏向システムと、レーザ源の同期スイッチングの適切な駆動制御により、様々な適合化された光分布が形成され得る。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】独国特許出願公開第１０２０１１０８０５５９号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
この原理のために、数Ｗａｔｔの領域のレーザ出力が必要である。場合によっては１ｍｍ未満の比較的僅かなビーム直径との組み合わせの結果として、高い出力密度が走査型の光ビームにおいて生じる。それ故そのような高エネルギー光ビームの高い潜在的危険性に基づいて、適切な安全性コンセプトが不可欠であり、一部は立法機関による規定がなされている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
発明の開示
本発明の第１の態様によれば、独立請求項１の特徴部分を有する照明装置が得られる。
【０００７】
ここでの本発明によれば、光源と、偏向装置と、ビームスプリッタと、イメージセンサと、評価装置とを備えた照明装置が得られる。光源は、配向された光ビームを放射するように構成されている。偏向装置は、光源の配向された光ビームを偏向するように構成されている。ビームスプリッタは、偏向装置によって偏向された光ビームの一部を分離するように構成されている。イメージセンサは、ビームスプリッタによって分離された光ビームの一部を検出し、かつ、検出された光ビームに対応する出力信号を供給するように構成されている。評価装置は、イメージセンサによって供給された出力信号を受信し、かつ、イメージセンサから供給された出力信号が所定の目標値から逸脱している場合に、照明装置のエラー機能を検出するように構成されている。
【０００８】
本発明のさらなる態様によれば、独立請求項１０の特徴部分を有する照明装置を監視するための方法が得られる。
【０００９】
本発明のこの態様によれば、光源から放射されて配向された光ビームを偏向する偏向装置を備えた照明装置を監視するための方法が得られる。ここでのこの方法は、偏向装置によって偏向された光ビームの一部を分離させるステップと、偏向された光ビームの分離された一部を、イメージセンサによって検出するステップとを含む。さらにこの方法は、偏向された光ビームの、分離されて検出された一部が、所定の目標値から逸脱している場合に、照明装置のエラー機能を検出するステップを含む。
【００１０】
発明の利点
本発明は、次のような考察を基礎としている。即ち、走査型照明システムにおいて、ビームスプリッタを用いて、走査型の光ビームの一部を分離させ、この走査型の光ビームの分離された一部を、イメージセンサを用いて検出し、評価することである。特にこのイメージセンサは平坦であり、即ち、二次元イメージセンサであり得る。このようにして、走査型の光ビームの完全な検出が可能となる。特にそれにより、配向された光ビームの誤った偏向に起因するエラーが直接検出できるようになる。このようにして、配向された光ビームのための偏向装置の駆動制御の際のエラーを検出することが可能になる。その上さらに、偏向装置の損傷や誤った調整に基づく、配向された光ビームの誤った偏向も、非常に簡単に検出できるようになる。最後に照明装置の動作中の熱的変形などに基づく誤った偏向も、迅速にかつ高い信頼性のもとで識別可能になる。
【００１１】
光ビームが、偏向装置によって偏向された後に、この光ビームの一部が、本発明による照明装置のビームスプリッタによって分離されるので、イメージセンサによって検出され、引き続き評価される画像信号は、照明装置によって出力される光パターンに相応する。それにより、イメージセンサによって検出された光パターンからは、直接的に、コストのかかるさらなる処理ステップなしで、照明パターンを推論することが可能になる。このようにして、照明装置によって出力される照明パターンの特に簡単で効果的な監視が可能になる。
【００１２】
光源は、例えばレーザ源であり得る。特に、例えば所定の波長を有するレーザ光を放射する半導体ダイオードに基づくレーザ源が可能である。例えば光源として、４００乃至５００ｎｍの間の領域、特に４５０ｎｍ前後の領域の青色光を有するレーザ源が可能である。しかしながら、その上さらに任意の他の光源も可能であり、特に任意の他の波長を有するレーザ源も可能である。そのため、例えば、赤外線領域のレーザ源も、又は、紫外線波長領域のレーザ源も、可能である。さらにまた、異なる波長のレーザ源を組み合わせることも可能である。これにより、例えばその光に複数の色成分が含まれている光ビームを供給できるようになる。例えば赤色光（Ｒ）、緑色光（Ｇ）及び青色光（Ｂ）を、１つのＲＧＢ光ビームに組み合わせることも可能である。
【００１３】
一実施形態によれば、照明装置はさらに変換装置を含む。この変換装置は、光源から放射された光ビームの波長を、少なくとも部分的に、少なくとも１つのさらなる波長に変換するように構成されている。照明装置におけるこの種の変換装置によれば、光源の単色性の光を、複数の波長の光に、特に光スペクトルの光に変換することが可能である。このようにして、例えば単色性の青色光を、変換装置を用いて、より幅広の波長スペクトルの光に変換することが可能になり、そのため全体として例えば白色光が現れる。
【００１４】
一実施形態によれば、変換装置は、偏向装置とビームスプリッタとの間のビームパスに配置されている。このようにして、ビームスプリッタにより、偏向され変換された光が分離され、イメージセンサに供給される。それによりこのイメージセンサは、当該ケースでは、既に変換装置によって変換された光が検出できる。このようにして、イメージセンサ及び後続の評価装置により、変換装置による適正な光変換の検査が可能になる。
【００１５】
代替的実施形態によれば、ビームスプリッタが偏向装置と変換装置との間に配置されている。このようにして、ビームスプリッタは、光が変換装置によって変換されてしまう前に、走査型の光ビームを分離することができる。それにより、イメージセンサと後続の評価装置とによって、光源から放射された光の１つ又は複数の波長のみを含む、偏向された光ビームの検出を行う。それによりイメージセンサは、特に簡単に、当該光の検出すべき１つ又は複数の波長に設定調整可能になる。
【００１６】
さらなる実施形態によれば、評価装置は、イメージセンサ上の局所的光分布及び／又は光センサによって検出された光の光色を評価するように構成されている。この場合、イメージセンサ上の局所的光分布の評価により、偏向装置の駆動制御におけるエラー又はレーザ源の駆動制御におけるエラーが検出可能になる。その上さらに局所的光分布の評価により、場合によっては誤った同期も検出可能になる。光センサによって検出された光の光色の評価により、即ち、イメージセンサによって検出された波長又は色スペクトルの特定により、例えば変換装置におけるエラーが検出できるようになる。
【００１７】
さらなる実施形態によれば、評価装置は、エラー機能が検出された場合に、光源をスイッチオフするように構成されている。このようにして、照明装置においてエラーが検出された場合に、生じ得る潜在的危険性を回避するために、安全なスイッチオフが行われる。
【００１８】
さらなる実施形態によれば、イメージセンサは、二次元イメージセンサとして構成される。特にイメージセンサは、例えばＣＣＤ又はＣＭＯＳセンサなどのデジタルイメージセンサであってもよい。この場合、イメージセンサは、適用ケースに応じて、専ら１つ以上の所定の波長又は所定の波長スペクトルに対する光強度を検出するイメージセンサとして実施されてもよい。また代替的に、このイメージセンサは、純粋な光強度の他に光色も、即ち、入射光の波長又は波長スペクトルも検出するカラーセンサとして実施されていてもよい。
【００１９】
さらなる実施形態によれば、照明装置は、制御装置を含む。この制御装置は、偏向装置を駆動制御するように構成されている。さらにこの制御装置は、偏向装置の駆動制御を、イメージセンサから供給された出力信号を用いて適合化するように構成されている。このようにして、偏向装置の駆動制御、又は、場合によっては照明装置のさらなる構成要素の駆動制御も、リアルタイムで適合化し、それと共に、生じ得る障害又はエラーを、動作中に既に補償することが可能になる。それにより、例えば温度変化などに基づく偏向中の変動が、リアルタイムで補償可能になる。
【００２０】
一実施形態によれば、ビームスプリッタは、ビームスプリッタに入射する光の光強度の１％未満を分離するように構成されている。特にビームスプリッタは、ビームスプリッタに入射する光の光強度の０．５％未満又は０．１％未満を分離するように構成され得る。その上さらに、ビームスプリッタによって、光強度のさらに僅かな成分を、例えば０．０１％又は場合によっては０．００１％のみを分離させることも可能である。その場合、ビームスプリッタは、一実施形態によれば、照明装置の全走査領域に亘って、即ち、偏向装置が配向された光ビームを偏向する完全な領域に亘って、光強度のそれぞれ１つの一定の成分を分離する。また代替的に、偏向装置が、走査領域の所定の部分領域のみにおいて、例えば縁部領域又は走査領域の中心の中央領域のみにおいて、配向された光ビームの光強度の一部を分離することも考えられ得る。
【００２１】
一実施形態によれば、偏向装置は、微小電気機械システムを有するマイクロミラー装置を含む。特にこの偏向装置は、微小電気機械システムを用いて、１つのマイクロミラーが２つの空間方向に偏向可能であるマイクロミラー装置を含み得る。代替的に、マイクロミラーがそれぞれ１つの空間方向にのみ偏向可能である、前後に接続された２つのマイクロミラー装置を有する偏向装置も可能である。その上さらに、偏向装置として、光分布が１つの光源によって制御され得る任意のさらなる偏向装置も可能である。特に例えば変調された面密度を有する可変の光分布が可能であるデジタルマイクロミラー装置（digital micro mirror device;ＤＭＤ）も可能である。
【００２２】
本発明のさらなる態様によれば、ヘッドライト、特に本発明による照明装置を備えた自動車用のヘッドライトが得られる。その上さらに、可視及び不可視の波長領域における照明システム用のさらなる照明装置も可能である。
【００２３】
本発明のさらなる実施形態及び利点は、添付の図面に関連した以下の説明から明らかとなる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】一実施形態による照明装置の概略図。
【図２】さらなる実施形態による照明装置の概略図。
【図３】本発明の一実施形態による方法の基礎にあるフローチャートの概略図。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
図１は、一実施形態による照明装置１の概略図を示している。この照明装置１は、光源１０と、偏向装置２０と、ビームスプリッタ４０と、イメージセンサ５０と、評価装置６０とを含む。その上さらにこの照明装置１は、変換装置３０を含み得る。さらにまた複数の光学レンズ又はレンズシステムも可能であるが、但し、それらは本発明のより良い理解のためにほとんど図示されていない。１つの結像レンズ７０のみが観察の目的のために示されている。この場合、以下で説明する実施形態においては、同一又は同種の構成要素には、同じ符号が付されている。その上さらに、以下で説明する実施形態は、それらが基本的に矛盾しない限り、相互の任意の組み合わせも可能である。ここでは、説明する実施形態の広範な補足及び変更も、同様に本発明の態様に含まれることを理解されたい。
【００２６】
光源１０は、基本的に、配向された光ビームを放射するように構成されている任意の光源であり得る。特に例えば配向された光ビームが放射されるレーザ源が可能である。そのようなレーザ源は、例えば適切な半導体ダイオードを用いて実現可能である。特に複数の個別の光ビームが１つの共通の配向された光ビームに組み合わせられる配向された光源も可能である。光源１０はこの場合、例えば所定の波長の単色性の光を放射し得る。例えばそれは、この場合、可視領域の、例えば４００乃至５００ｎｍの間の、特に４５０ｎｍ前後の青色波長領域のような単色性の光であり得る。しかしながら、そこから逸脱した波長、特に紫外線波長領域又は赤外線波長領域の単色性の光も同様に可能である。その上さらに光源１０は、複数の波長を含んだ光又は１つの波長スペクトルを含んだ光を有する配向された光ビームも放射し得る。特に光源１０は、複数の個別の光源素子を含むことが可能であり、それらの光ビームは、光源１０内の１つの光ビームに対して、共通の１つの光ビームに組み合わせられる。その場合、個々の光源素子は、全てが同じ波長の光を放射し得るか、又は、代替的に異なる波長を有する光も放射し得る。光源１０内で、複数の異なる波長を有する光が組み合わされるならば、これによって、複数の異なる色成分を有する配向された光ビームを供給することが可能である。
【００２７】
光源１０から放射され配向された光ビームは、この場合、偏向装置２０の方向へ配向される。光源１０の配向された光ビームは、偏向装置２０に入射し、該偏向装置２０から１つ又は２つの空間方向へ偏向される。例えば偏向装置２０は、１つのマイクロミラーが好ましくは相互に直交関係にある２つの空間方向に偏向するマイクロミラー装置であり得る。その上、さらに２つのマイクロミラーがそれぞれ１つの空間方向に偏向する偏向装置２０も可能であり、そのため、これらの２つのマイクロミラーを相前後して接続することにより、同じ様に配向された光ビームを２つの空間方向に偏向することが可能になる。これらのマイクロミラーは、この場合、特に配向された光ビームを所望の空間方向に偏向するために、いわゆる微小電気機械構造（ＭＥＭＳ）によって偏向可能である。これのために対応する微小電気機械構造は、適切な駆動制御回路（図示せず）によって駆動制御可能である。従って、光源１０から放射され配向された光ビームが偏向装置２０によって所期のように偏向されると、それによって偏向された光ビームは、所定のパターンを走査する。このようにして、配向された光ビームを用いた所期の偏向により、所定の二次元照明パターンが投影可能になる。そのように偏向装置２０によって偏向された走査型の光ビームは、引き続き、場合によっては当該光ビームが照明すべき面に入射する前に、光学系７０によって集束され得る。
【００２８】
光ビームが、偏向装置２０によって偏向された後では、さらにビームスプリッタ４０を用いて、偏向された光ビームの一部が分離される。このビームスプリッタ４０は、この場合、偏向された光ビームの全走査領域に亘って、偏向された光ビームの一部を分離する。このケースでは、ビームスプリッタ４０の拡張規模は、少なくとも偏向された光ビームの走査領域と同じ大きさである。代替的に、ビームスプリッタ４０が、偏向された光ビームの走査領域の一部においてのみ、偏向された光の一部を分離することも可能である。この場合、例えばビームスプリッタ４０は、走査領域の縁部領域に配置されていてもよい。また代替的に、ビームスプリッタ４０を、偏向された光ビームの走査領域内の中央領域にのみ配置することも考えられる。その場合、ビームスプリッタ４０は、偏向された光ビームの走査領域よりも小さく、特に著しく小さい。
【００２９】
ビームスプリッタ４０は、例えばいわゆるビームスプリッタプレートであってもよい。この場合、そのようなビームスプリッタプレートは、当該ビームスプリッタプレートに入射した光の一部を反射し、それに対して当該ビームスプリッタプレートに入射した光の残余の部分は、当該ビームスプリッタプレートを透過する。この場合、好ましくはビームスプリッタ４０は、偏向された光ビームの光強度の非常に僅かな成分しか分離させないので、そのため、偏向された光ビームの大部分の成分は、当該ビームスプリッタ４０を透過する。例えばビームスプリッタ４０により、偏向された光ビームの光出力の１％未満、特に０．１％未満が分離され得る。しかしながら、またビームスプリッタは、当該ビームスプリッタ４０に入射した光の光出力の０．５％又は０．０５％を分離することも可能である。その上さらにまたビームスプリッタ４０は、入射した光出力のさらに僅かな成分を、例えば最大で０．０１％又は０．００１％を分離することも可能である。
【００３０】
ビームスプリッタ４０によって分離された光は、この場合、当該ビームスプリッタ４０によってイメージセンサ５０の方向へ偏向される。イメージセンサ５０は、この場合、二次元イメージセンサであり得る。例えばこのイメージセンサ５０は、二次元平面上に配置された複数の画像検出素子を有し得る。特にＣＣＤセンサ又はＣＭＯＳセンサを備えたイメージセンサが可能である。しかしながら、その上さらに任意のさらなる二次元イメージセンサも可能である。この場合、イメージセンサ５０は、当該イメージセンサ５０に入射した光強度の二次元的検出しか実施できない。その際イメージセンサ５０は、選択的に１つの所定の波長か又は複数の所定の波長の光にしか反応できない。例えばこれのために、イメージセンサ５０の前に適切なフィルタが配置されていてもよい。その上、さらにまた、イメージセンサ５０が全入射光の強度を検出し、評価することも可能である。しかしながら、代替的にまた、イメージセンサ５０が純粋な光強度の他に光色も、即ち、入射した光の波長又は波長スペクトルを検出することも可能である。例えばこれのために、それぞれ異なる波長毎に異なる感度を有する複数のセンサ素子を備えたイメージセンサが可能である。例えばイメージセンサ５０は、従来のイメージセンサ、従来のカメラモジュールなどであってもよい。さらに、異なる光色が、イメージセンサ５０の個々のセンサ素子の前にある適切なカラーフィルタを用いて選択可能にすることも可能である。
【００３１】
その上、さらに偏向装置２０とビームスプリッタ４０との間に、さらに１つの変換装置３０が設けられていてもよい。この変換装置３０は、例えば当該変換装置３０に入射した光の一部の波長を、他の波長又は波長スペクトルに変換可能である。このようにして、例えば偏向され配向された光ビームの単色性の光から、複数の波長又は波長スペクトルを含んだ光を生成することが可能になる。このケースでは、ビームスプリッタ４０は、変換装置３０によって生成された全スペクトルの光を分離可能である。
【００３２】
イメージセンサ５０はさらに、ビームスプリッタ４０によって分離された検出光に対応する出力信号を供給する。この出力信号は、ビームスプリッタ４０によってイメージセンサ上に投影される画像に相当する。場合によっては、ビームスプリッタ４０とイメージセンサ５０との間にさらに１つ以上の光学レンズからなる光学系が配置されていてもよい。イメージセンサ５０によって検出された画像は、さらに評価装置６０によって検出され分析される。この評価装置６０は、この場合、例えばイメージセンサ５０から出力された出力信号の画像データを、所定のパターンと比較可能である。この所定のパターンは、この場合、例えば偏向装置２０の適正な駆動制御のもとで投影されるべき画像に相当し得る。イメージセンサ５０によって検出された画像と、所望の目標画像とが完全に又は少なくともほぼ対応しているならば、偏向装置２０によって配向された光ビームは適正に偏向され、エラーは存在しない。しかしながら、イメージセンサ５０によって検出された画像が、獲得すべき目標画像から有意に逸脱している場合には、評価装置６０は、照明装置１内のエラーを検出し得る。このエラーは、例えば偏向装置２０のエラーを含んだ駆動制御であり得る。例えば加熱に基づいて、配向された光ビームの適正な偏向が偏向装置２０において行われない可能性がある。しかしながら、また照明装置１の損傷又はさらなる障害も同様に考えられ得る。さらに、同期化の問題などに基づいて、配向された光ビームの適正な偏向が行われていない可能性もある。このケースでは、評価装置６０は、例えばエラーを含んで放射された高い光強度を有する光ビームに基づき生じ得る危険性を回避するために、照明装置１を非活動化させることができる。
【００３３】
また代替的に、評価装置６０又はさらなる制御装置が、イメージセンサ５０によって検出された画像データを分析し、さらに獲得すべき画像と実際に検出された画像との間のずれを特定することも可能である。さらに、場合によっては、このずれに基づいて、偏向装置２０の偏向を適合化させるための制御パラメータが算出可能である。このようにして、照明装置１の動作中も、生じ得る障害などを補償するための能動的な制御がリアルタイムで可能である。
【００３４】
その上さらに、イメージセンサ５０上に投影された画像の有色検出のもとでは、場合によっては色スペクトルのシフト又は局所的色変化も検出可能である。評価装置６０は、例えばビームスプリッタ４０によってイメージセンサ５０上に投影された画像の、当該イメージセンサ５０によって検出された色を検出し、そのように検出された色を、所望の色用目標値と比較することが可能である。イメージセンサ５０によって検出された色が、所定の色から有意に逸脱している場合には、そこから例えば変換装置３０において生じ得るエラー又は損傷が推論可能になる。またイメージセンサ５０の前に、所定の波長又は所定の波長スペクトルに調整された相応のカラーフィルタを配置することも可能である。このカラーフィルタに入射した光の波長又は波長スペクトルがシフトすると、フィルタによって透過又は吸収された光の成分も変化する。このことは、イメージセンサ５０によって検出された光強度の変化によってもたらされる。従って、このことから、生じ得るエラー機能が推論可能になる。波長又は波長スペクトルの変化が検出されると、場合によっては、光源１０によって放射された光の色位置又は波長又は波長スペクトルを適合化するために、光源１０は相応に適合化され得る。特に色位置は、検出されたずれを補償するように適合化され得る。
【００３５】
その上さらに、偏向された光ビームによって投影される実際の画像と、投影すべき画像及び／又はイメージセンサに検出された色スペクトルのための所定の目標画像との間の一致の度合のような、評価装置６０によって特定されるパラメータは、後続処理のためにも、当該評価装置によって提供可能である。特にそのように検出されたデータは、エラーメモリに記憶可能であり、又は、場合によってはディスプレイ上でもユーザに表示可能である。
【００３６】
図２は、照明装置１のさらなる実施形態を示している。当該実施形態の照明装置１は、この場合、ほとんど前述した実施形態に相当している。しかしながら、分離すべき光の僅かな成分を反射するビームスプリッタ４０の代わりに当該実施形態では、分離すべき光の僅かな成分がビームスプリッタ４０を透過し、偏向された光ビームの残余の成分に対しては、それによって反射がなされるビームスプリッタ４０が設けられている。
【００３７】
その上、さらにこの実施形態でも、前述した実施形態の場合でも可能なように、ビームスプリッタ４０と変換装置３０とを共通の構成要素に組み合わせることが可能である。
【００３８】
さらに、変換装置３０を、ビームスプリッタ４０後方のビームパス内に配置することも可能であり、それにより、ビームスプリッタ４０によって、光は、変換装置３０による変換前に分離される。
【００３９】
その上さらに、光ビームの変換と分割とを１つの共通の構成要素内で実現することも可能である。それにより、例えば変換装置３０は、変換した光の大半の部分を反射可能であり、その際同時に、前述した光の僅かな成分は、当該変換装置３０を通って透過可能である。この透過した光はその後イメージセンサ５０によって検出及び評価可能である。同じように、光の大半の部分は変換装置３０を通って透過させられ、その際、光の僅かな部分は、変換装置３０によって反射される変換装置３０も可能である。ここでは、反射された光は、イメージセンサ５０へ偏向可能であり、さらに当該イメージセンサ５０によって検出及び評価可能である。
【００４０】
図３は、照明装置１を監視するための方法の基礎にあり、例えば前述した実施形態によって実現可能であるようなフローチャートの概略図を示している。特にこの方法により、偏向装置２０が光源１０によって配向された光ビームで照明される、偏向装置２０を備えた照明装置１が監視可能になる。まずステップＳ１では、偏向装置によって偏向された光ビームの一部が分離される。ステップＳ２では、偏向された光ビームの分離された一部が、イメージセンサ５０によって検出され、さらにステップＳ３では、偏向された光ビームの、分離されて検出された一部が、所定の目標値から逸脱している場合に、照明装置１のエラー機能が検出される。
【００４１】
要約すると、本発明は、走査型の配向された光ビームによる照明装置の監視に関する。この場合、走査型の光ビームの偏向後に、光強度の一部が分離され、二次元イメージセンサを用いて検出される。そのようにイメージセンサによって検出された画像データは、目標値と比較され、ずれがあった場合には、照明装置におけるエラーが推論され得る。
【図１】
0006775430.tif 000002
【図２】
0006775430.tif 000003
【図３】
0006775430.tif 000004