(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検知器であって、
検知器本体と、
前記検知器の取付面に前記検知器本体を取り付けるための取付ベースと、
を備え、
前記取付ベースは、前記取付面に前記取付ベースを取り付けるための複数のビス孔を有しており、
前記検知器の前記取付ベースと前記検知器以外の複数の検知器であって互いに異なる機種に係る複数の検知器の各取付ベースとをそれぞれ仮想的に重ね合わせた状態において、前記複数のビス孔の開孔範囲は、前記各取付ベースにそれぞれ設けられた２以上のビス孔の各開孔範囲のうち、ビスが実際に配置されている旨が推定される領域である推定領域を包含し、
前記取付ベースは、
前記複数のビス孔のうちの少なくとも１つのビス孔に隣接する開孔部であってビス頭部よりも大きなサイズを有するビス頭部挿通用の開孔部、
をさらに有し、
前記複数の検知器のいずれかである一の検知器が前記検知器に交換される際、前記一の検知器を前記取付面に固定していた一のビスの頭部を、前記一の検知器に設けられていた前記ビス頭部挿通用の一の開孔部にて通過させることによって、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一の検知器が前記取付面から取り外された後、前記検知器の前記ビス頭部挿通用の開孔部にて前記一のビスを挿通させることを利用して、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一のビスを用いて前記検知器が前記取付面に固定されるように構成されることを特徴とする検知器。
【請求項２】
請求項１に記載の検知器において、
前記推定領域は、
前記各取付ベース内の円形状のビス孔の全開孔領域と、
前記各取付ベース内にて周方向に伸びる細長形状のビス孔の中央領域と、
前記各取付ベース内にて径方向に伸びる細長形状のビス孔の外周側端領域と
のうちの少なくとも１つを含む領域であることを特徴とする検知器。
【請求項３】
検知器の取付面に検知器本体を取り付けるための取付ベースであって、
取付ベース本体と、
前記取付ベース本体と前記検知器本体とを接続する接続部と、
を備え、
前記取付ベース本体は、前記取付面に前記取付ベースを取り付けるための複数のビス孔を有しており、
前記検知器の前記取付ベースと前記検知器以外の複数の検知器であって互いに異なる機種に係る複数の検知器の各取付ベースとをそれぞれ仮想的に重ね合わせた状態において、前記複数のビス孔の開孔範囲は、前記各取付ベースにそれぞれ設けられた２以上のビス孔の各開孔範囲のうち、ビスが実際に配置されている旨が推定される領域である推定領域を包含し、
前記取付ベース本体は、
前記複数のビス孔のうちの少なくとも１つのビス孔に隣接する開孔部であってビス頭部よりも大きなサイズを有するビス頭部挿通用の開孔部、
をさらに有し、
前記複数の検知器のいずれかである一の検知器が前記検知器に交換される際、前記一の検知器を前記取付面に固定していた一のビスの頭部を、前記一の検知器に設けられていたビス頭部挿通用の一の開孔部にて通過させることによって、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一の検知器が前記取付面から取り外された後、前記検知器の前記ビス頭部挿通用の開孔部にて前記一のビスを挿通させることを利用して、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一のビスを用いて前記検知器が前記取付面に固定されるように構成されることを特徴とする、検知器の取付ベース。
【請求項４】
検知器であって、
検知器本体と、
前記検知器の取付面に前記検知器本体を取り付けるための取付ベースと、
を備え、
前記取付ベースは、前記取付面に前記取付ベースを取り付けるための複数のビス孔を有しており、
前記検知器の前記取付ベースと前記検知器以外の複数の検知器であって互いに異なる機種に係る複数の検知器の各取付ベースとをそれぞれ仮想的に重ね合わせた状態において、前記複数のビス孔の開孔範囲は、前記検知器以外の前記複数の検知器の各取付ベースにそれぞれ設けられた２以上のビス孔の開孔範囲を包含し、
前記取付ベースは、
前記複数のビス孔のうちの少なくとも１つのビス孔に隣接する開孔部であってビス頭部よりも大きなサイズを有するビス頭部挿通用の開孔部、
をさらに有し、
前記複数の検知器のいずれかである一の検知器が前記検知器に交換される際、前記一の検知器を前記取付面に固定していた一のビスの頭部を、前記一の検知器に設けられていたビス頭部挿通用の一の開孔部にて通過させることによって、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一の検知器が前記取付面から取り外された後、前記検知器の前記ビス頭部挿通用の開孔部にて前記一のビスを挿通させることを利用して、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一のビスを用いて前記検知器が前記取付面に固定されるように構成されることを特徴とする検知器。
【請求項５】
検知器の取付面に検知器本体を取り付けるための取付ベースであって、
取付ベース本体と、
前記取付ベース本体と前記検知器本体とを接続する接続部と、
を備え、
前記取付ベース本体は、前記取付面に前記取付ベースを取り付けるための複数のビス孔を有しており、
前記検知器の前記取付ベースと前記検知器以外の複数の検知器であって互いに異なる機種に係る複数の検知器の各取付ベースとをそれぞれ仮想的に重ね合わせた状態において、前記複数のビス孔の開孔範囲は、前記検知器以外の前記複数の検知器の各取付ベースにそれぞれ設けられた２以上のビス孔の開孔範囲を包含し、
前記取付ベース本体は、
前記複数のビス孔のうちの少なくとも１つのビス孔に隣接する開孔部であってビス頭部よりも大きなサイズを有するビス頭部挿通用の開孔部、
をさらに有し、
前記複数の検知器のいずれかである一の検知器が前記検知器に交換される際、前記一の検知器を前記取付面に固定していた一のビスの頭部を、前記一の検知器に設けられていたビス頭部挿通用の一の開孔部にて通過させることによって、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一の検知器が前記取付面から取り外された後、前記検知器の前記ビス頭部挿通用の開孔部にて前記一のビスを挿通させることを利用して、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一のビスを用いて前記検知器が前記取付面に固定されるように構成されることを特徴とする、検知器の取付ベース。
【請求項６】
請求項１、請求項２および請求項４のいずれかに記載の検知器において、
前記複数の検知器のいずれかである前記一の検知器においては、細長形状を有する一のビス孔に隣接して前記ビス頭部挿通用の一の開孔部が設けられており、
前記検知器における前記少なくとも１つのビス孔のうちの細長形状を有する特定のビス孔は、前記検知器の前記取付ベースと前記一の検知器の一の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態において、前記一のビス孔に対応する位置に設けられており、
前記ビス頭部挿通用の開孔部は、前記検知器において前記特定のビス孔に隣接して設けられることを特徴とする検知器。
【請求項７】
請求項３または請求項５に記載の取付ベースにおいて、
前記複数の検知器のいずれかである前記一の検知器においては、細長形状を有する一のビス孔に隣接して前記ビス頭部挿通用の一の開孔部が設けられており、
前記検知器における前記少なくとも１つのビス孔のうちの細長形状を有する特定のビス孔は、前記検知器の前記取付ベースと前記一の検知器の一の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態において、前記一のビス孔に対応する位置に設けられており、
前記ビス頭部挿通用の開孔部は、前記検知器において前記特定のビス孔に隣接して設けられることを特徴とする、検知器の取付ベース。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、火災警報器などの検知器、およびそれに関連する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
火災警報器などの検知器の中には、当該検知器を取付面（天井面あるいは壁面等）に固定するための取付ベースを備えるものが存在する（特許文献１等参照）。
【０００３】
当該取付ベースには、複数のビス孔が設けられている。そして、複数のビスの軸部が当該複数のビス孔をそれぞれ貫通し、当該複数のビスの頭部が取付ベースを取付面に向けて押さえつけることによって、当該取付ベースが取付面に固定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−４４１３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述のような取付ベースは、一般に製品種類ごとに異なっている。たとえば、異なる会社の複数の検知器は、互いに異なる位置にビス孔を有していることが多い。より詳細には、Ａ社製の検知器の取付ベースとＢ社製の検知器の取付ベースとは、互いに異なる位置にビス孔を有していることが多い。また、同一の会社の複数の検知器に関しても同様であり、或る製品（たとえば旧製品）の取付ベースと別の製品（たとえば新製品）の取付ベースとは、互いに異なる位置に複数のビス孔を有していることがある。
【０００６】
ところで、天井等に固定された検知器は、一定期間（たとえば１０年）を経過すると、新たな検知器に交換される。天井等に固定された検知器を交換する場合、上述のように交換前後の検知器の取付ベースのビス孔の位置が異なるときには、次のような作業が行われる。たとえば、複数のビスが交換前の固定位置（天井面）から一旦取り外され、新たな取付ベースのビス孔に応じた新たな位置に天井面におけるビスの取付位置が変更された上で、当該ビスを用いて新たな取付ベースが天井面に締結固定される。
【０００７】
しかしながら、このような作業においては、取付面（天井面等）における新たな位置にビスを固定し直すことを余儀なくされる。この場合、取付面にビス用の新たな穴が開けられ、取付面におけるビス用の穴の数が増大してしまう、という問題が存在する。
【０００８】
そこで、本発明は、検知器を交換する場合において、取付面におけるビス用の穴の数の増大を回避ないし抑制することが可能な技術を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決すべく、請求項１の発明は、検知器であって、検知器本体と、前記検知器の取付面に前記検知器本体を取り付けるための取付ベースと、を備え、前記取付ベースは、前記取付面に前記取付ベースを取り付けるための複数のビス孔を有しており、前記検知器の前記取付ベースと前記検知器以外の複数の検知器であって互いに異なる機種に係る複数の検知器の各取付ベースとをそれぞれ仮想的に重ね合わせた状態において、前記複数のビス孔の開孔範囲は、前記各取付ベースにそれぞれ設けられた２以上のビス孔の各開孔範囲のうち、ビスが実際に配置されている旨が推定される領域である推定領域を包含し、前記取付ベースは、前記複数のビス孔のうちの少なくとも１つのビス孔に隣接する開孔部であってビス頭部よりも大きなサイズを有するビス頭部挿通用の開孔部、をさらに有し、前記複数の検知器のいずれかである一の検知器が前記検知器に交換される際、前記一の検知器を前記取付面に固定していた一のビスの頭部を、前記一の検知器に設けられていたビス頭部挿通用の一の開孔部にて通過させることによって、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一の検知器が前記取付面から取り外された後、前記検知器の前記ビス頭部挿通用の開孔部にて前記一のビスを挿通させることを利用して、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一のビスを用いて前記検知器が前記取付面に固定されるように構成されることを特徴とする。
【００１０】
請求項２の発明は、請求項１の発明に係る検知器において、前記推定領域は、前記各取付ベース内の円形状のビス孔の全開孔領域と、前記各取付ベース内にて周方向に伸びる細長形状のビス孔の中央領域と、前記各取付ベース内にて径方向に伸びる細長形状のビス孔の外周側端領域とのうちの少なくとも１つを含む領域であることを特徴とする。
【００１２】
請求項３の発明は、検知器の取付面に検知器本体を取り付けるための取付ベースであって、取付ベース本体と、前記取付ベース本体と前記検知器本体とを接続する接続部と、を備え、前記取付ベース本体は、前記取付面に前記取付ベースを取り付けるための複数のビス孔を有しており、前記検知器の前記取付ベースと前記検知器以外の複数の検知器であって互いに異なる機種に係る複数の検知器の各取付ベースとをそれぞれ仮想的に重ね合わせた状態において、前記複数のビス孔の開孔範囲は、前記各取付ベースにそれぞれ設けられた２以上のビス孔の各開孔範囲のうち、ビスが実際に配置されている旨が推定される領域である推定領域を包含し、前記取付ベース本体は、前記複数のビス孔のうちの少なくとも１つのビス孔に隣接する開孔部であってビス頭部よりも大きなサイズを有するビス頭部挿通用の開孔部、をさらに有し、前記複数の検知器のいずれかである一の検知器が前記検知器に交換される際、前記一の検知器を前記取付面に固定していた一のビスの頭部を、前記一の検知器に設けられていたビス頭部挿通用の一の開孔部にて通過させることによって、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一の検知器が前記取付面から取り外された後、前記検知器の前記ビス頭部挿通用の開孔部にて前記一のビスを挿通させることを利用して、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一のビスを用いて前記検知器が前記取付面に固定されるように構成されることを特徴とする。
【００１３】
請求項４の発明は、検知器であって、検知器本体と、前記検知器の取付面に前記検知器本体を取り付けるための取付ベースと、を備え、前記取付ベースは、前記取付面に前記取付ベースを取り付けるための複数のビス孔を有しており、前記検知器の前記取付ベースと前記検知器以外の複数の検知器であって互いに異なる機種に係る複数の検知器の各取付ベースとをそれぞれ仮想的に重ね合わせた状態において、前記複数のビス孔の開孔範囲は、前記検知器以外の前記複数の検知器の各取付ベースにそれぞれ設けられた２以上のビス孔の開孔範囲を包含し、前記取付ベースは、前記複数のビス孔のうちの少なくとも１つのビス孔に隣接する開孔部であってビス頭部よりも大きなサイズを有するビス頭部挿通用の開孔部、をさらに有し、前記複数の検知器のいずれかである一の検知器が前記検知器に交換される際、前記一の検知器を前記取付面に固定していた一のビスの頭部を、前記一の検知器に設けられていたビス頭部挿通用の一の開孔部にて通過させることによって、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一の検知器が前記取付面から取り外された後、前記検知器の前記ビス頭部挿通用の開孔部にて前記一のビスを挿通させることを利用して、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一のビスを用いて前記検知器が前記取付面に固定されるように構成されることを特徴とする。
【００１４】
請求項５の発明は、検知器の取付面に検知器本体を取り付けるための取付ベースであって、取付ベース本体と、前記取付ベース本体と前記検知器本体とを接続する接続部と、を備え、前記取付ベース本体は、前記取付面に前記取付ベースを取り付けるための複数のビス孔を有しており、前記検知器の前記取付ベースと前記検知器以外の複数の検知器であって互いに異なる機種に係る複数の検知器の各取付ベースとをそれぞれ仮想的に重ね合わせた状態において、前記複数のビス孔の開孔範囲は、前記検知器以外の前記複数の検知器の各取付ベースにそれぞれ設けられた２以上のビス孔の開孔範囲を包含し、前記取付ベース本体は、前記複数のビス孔のうちの少なくとも１つのビス孔に隣接する開孔部であってビス頭部よりも大きなサイズを有するビス頭部挿通用の開孔部、をさらに有し、前記複数の検知器のいずれかである一の検知器が前記検知器に交換される際、前記一の検知器を前記取付面に固定していた一のビスの頭部を、前記一の検知器に設けられていたビス頭部挿通用の一の開孔部にて通過させることによって、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一の検知器が前記取付面から取り外された後、前記検知器の前記ビス頭部挿通用の開孔部にて前記一のビスを挿通させることを利用して、前記一のビスを前記取付面から取り外すことなく前記一のビスを用いて前記検知器が前記取付面に固定されるように構成されることを特徴とする。
請求項６の発明は、請求項１、請求項２および請求項４のいずれかの発明に係る検知器において、前記複数の検知器のいずれかである前記一の検知器においては、細長形状を有する一のビス孔に隣接して前記ビス頭部挿通用の一の開孔部が設けられており、前記検知器における前記少なくとも１つのビス孔のうちの細長形状を有する特定のビス孔は、前記検知器の前記取付ベースと前記一の検知器の一の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態において、前記一のビス孔に対応する位置に設けられており、前記ビス頭部挿通用の開孔部は、前記検知器において前記特定のビス孔に隣接して設けられることを特徴とする。
請求項７の発明は、請求項３または請求項５の発明に係る取付ベースにおいて、前記複数の検知器のいずれかである前記一の検知器においては、細長形状を有する一のビス孔に隣接して前記ビス頭部挿通用の一の開孔部が設けられており、前記検知器における前記少なくとも１つのビス孔のうちの細長形状を有する特定のビス孔は、前記検知器の前記取付ベースと前記一の検知器の一の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態において、前記一のビス孔に対応する位置に設けられており、前記ビス頭部挿通用の開孔部は、前記検知器において前記特定のビス孔に隣接して設けられることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
請求項１から請求項７に記載の発明によれば、取付面におけるビス用の穴の数の増大を回避ないし抑制することが可能である。また、複数の検知器のいずれかである一の検知器が新たな検知器に交換される際、当該一の検知器を取付面に固定していた一のビスを取付面から取り外すことなく当該一の検知器を取付面から取り外すとともに当該一のビスを用いて当該新たな検知器を取付面に固定できるので、ビスの取り外し工程を削減ないし簡略化すること、すなわち交換作業の工数を削減することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明に係る検知器を示す分解斜視図である。
【図２】取付ベースを示す平面図である。
【図３】取付ベース内の各種要素のうちビス孔等を示す図である。
【図４】交換前の検知器の取付ベースを示す図である。
【図５】交換前の検知器の取付ベースを示す図である。
【図６】交換前の検知器の取付ベースを示す図である。
【図７】交換前の検知器の取付ベースを示す図である。
【図８】交換前の検知器の取付ベースを示す図である。
【図９】交換前の検知器の取付ベースを示す図である。
【図１０】図４の取付ベースにおける推定領域を示す図である。
【図１１】図５の取付ベースにおける推定領域を示す図である。
【図１２】図６の取付ベースにおける推定領域を示す図である。
【図１３】図７の取付ベースにおける推定領域を示す図である。
【図１４】図８の取付ベースにおける推定領域を示す図である。
【図１５】図９の取付ベースにおける推定領域を示す図である。
【図１６】図４の取付ベースと交換後の検知器の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。
【図１７】図５の取付ベースと交換後の検知器の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。
【図１８】図６の取付ベースと交換後の検知器の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。
【図１９】図７の取付ベースと交換後の検知器の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。
【図２０】図８の取付ベースと交換後の検知器の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。
【図２１】図９の取付ベースと交換後の検知器の取付ベースとを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１８】
＜１．構成概要＞
図１は、本発明に係る検知器１を示す分解斜視図である。ここでは、検知器１として、火災警報器を例示する。
【００１９】
検知器１は、検知器本体２と取付ベース３とを備える。
【００２０】
検知器本体２は、火災検知部および火災警報部等を備えて構成される。火災検知部は、火災を検知するセンサ（たとえば、煙を検知するセンサ（煙センサ）、および／または熱を感知するセンサ（熱センサ）等）を有し、火災警報部は、警報音を出力する出力部（警報ブザー等）を有する。
【００２１】
取付ベース３は、検知器１の取付面（取付対象面とも称する）（たとえば、天井面あるいは壁面等）に当該検知器１（詳細には、検知器本体２）を取り付けるための部材である。検知器本体２は、当該取付ベース３を介して、取付面に取り付けられる。
【００２２】
取付ベース３は、取付ベース本体１１と、当該取付ベース本体１１を検知器本体２に対して（着脱自在に）接続する接続部１２とを備える。取付ベース本体１１は、平面視にて略円形状を有する板状部分と、略円形状の外縁部分において当該板状部分に対して略垂直に立ち上がった円筒部分（円周状の壁面部分）とを有する。接続部１２は、取付ベース本体１１の円筒部分における開放側（板状部分の反対側）の外側面（壁面部分の外周側の面）に設けられたネジ部等によって構成される。また、検知器本体２のハウジング２１は、取付ベース本体１１の円筒部分に対応する箇所に、取付ベース本体１１の当該円筒部分とほぼ同じ直径（厳密には若干大きな直径）を有する円筒部分を有している。当該ハウジング２１の当該円筒部分の内側面に設けられたネジ溝と、取付ベース本体１１の円筒部分の外側面に設けられたネジ部（接続部１２）とが螺合することによって、検知器本体２が取付ベース３に接続される。
【００２３】
また、図２および図３にも示すように、取付ベース本体１１は、複数の貫通孔１５を有する。なお、図２は、取付面（たとえば天井面）に取り付けられる取付ベース３を検知器本体２側（たとえば下側）から見た図であり、図３は、取付ベース３内の各種要素のうち、貫通孔１５（特にビス孔１６等）を抽出（抽象）し、その他の要素を捨象して示す図である。図２および図３においては、開孔部分（孔が設けられた部分）にハッチングが付されている。図３において、ビス孔１６は、実線で囲まれ且つ実線のハッチングが付された部分として示されており、大開孔部１７は、破線で囲まれ且つ破線のハッチングが付された部分として示されている。
【００２４】
複数の貫通孔１５は、取付ベース３を取付面に取り付けるためのビス孔１６をそれぞれ有する。ビス孔１６は、ビス軸部挿通用の開孔部分（ビスの軸部を挿通し且つビスの頭部を挿通しない開孔部分）であり、ビスの軸部の直径以上の幅を有し且つ当該ビスの頭部の直径よりも小さな幅を有する。ビス孔１６は、たとえば、ビスの軸部の直径とほぼ同等の幅を所定方向において有する。ビス孔１６は、取付ベース３を取付面（天井面あるいは壁面等）に取り付けるために用いられる。取付用のビスの軸部がビス孔１６に貫通した状態で更に当該ビスが取付面にねじ込まれ、当該ビスの頭部が取付ベース本体１１におけるビス孔１６の周辺部分を取付面に向けて押圧することによって、取付ベース３（取付ベース本体１１）が取付面に固定される。
【００２５】
また、複数の貫通孔１５のうちの一部（あるいは全部）は、ビス孔１６に隣接する大開孔部１７をも有している。大開孔部１７は、細長形状を有するビス孔１６の一方端側に連らなって設けられている。大開孔部１７は、ビス頭部挿通用の開孔部分（ここでは略円形状の開孔部分）であり、ビスの頭部よりも大きなサイズ（ここでは直径）を有する。大開孔部１７を利用することによれば、交換作業者は、ビスを取付面から完全には抜き取ることなく、当該ビスをそのまま利用して取付ベース本体１１を取付面に固定することもできる。
【００２６】
複数のビス孔１６のうち、図３内において取付ベース３の中央よりも上側に配置されたビス孔１６（領域Ｒ１）は、平面視にて略円形状を有する取付ベース３の径方向（直径方向）に伸びている。当該ビス孔１６（領域Ｒ１）の伸延方向に対して垂直な方向（ここでは左右方向）における当該ビス孔の大きさ（幅）ｄは、ビスの軸部の直径以上の幅を有し且つ当該ビスの頭部の直径よりも小さな幅を有する。たとえば、当該ビス孔１６（領域Ｒ１）の左右方向の大きさ（幅）は、ビスの軸部の直径とほぼ同等の幅を有する。
【００２７】
複数のビス孔１６のうち、図３内において中央よりも少し下側に配置されたビス孔１６（領域Ｒ４）は、平面視にて略円形状を有する取付ベース３の周方向（円周方向）に伸びている。ビス孔１６（領域Ｒ４）の伸延方向に対して垂直な方向（ここでは上下方向）における当該ビス孔の大きさ（幅）ｄは、ビスの軸部の直径以上の幅を有し且つ当該ビスの頭部の直径よりも小さな幅を有する。たとえば、当該ビス孔１６（領域Ｒ４）の上下方向の大きさ（幅）ｄは、ビスの軸部の直径とほぼ同等の幅を有する。
【００２８】
また、複数のビス孔１６のうち、図３内において中央よりも左側に配置されたビス孔１６（領域Ｒ２）は、平面視にて略円形状を有する取付ベース３の周方向に伸びる円弧状の細長形状部分と当該部分に直交する細長形状部分（取付ベース３の径方向に伸びる直線状の細長形状部分）とが合成された領域である。各細長形状部分（開孔部分）は、当該各細長形状部分の各伸延方向に対して垂直な方向において、ビスの軸部の直径以上の幅を有し且つ当該ビスの頭部の直径よりも小さな幅を有する。たとえば、当該ビス孔１６（領域Ｒ２）は、ビスの軸部の直径とほぼ同等の幅を有する２つの細長領域が合成されて形成される。
【００２９】
複数のビス孔１６のうち、図３内において中央よりも右側に配置されたビス孔１６（領域Ｒ３）も、平面視にて略円形状を有する取付ベース３の周方向に伸びる円弧状の細長形状部分と当該部分に直交する細長形状部分（取付ベース３の径方向に伸びる直線状の細長形状部分）とが合成された領域である。各細長形状部分（開孔部分）は、当該各細長形状部分の各伸延方向に対して垂直な方向において、ビスの軸部の直径以上の幅を有し且つ当該ビスの頭部の直径よりも小さな幅を有する。たとえば、当該ビス孔１６（領域Ｒ３）は、ビスの軸部の直径とほぼ同等の幅を有する２つの細長領域が合成されて形成される。
【００３０】
さらに、複数のビス孔１６のうち、図３内において中央よりも下側（外周側）に配置されたビス孔１６（領域Ｒ５）は、平面視にて略円形状を有する取付ベース３の周方向に伸びる円弧状の２つの細長形状部分（領域Ｒ５１，Ｒ５２とも称する）を有する。当該２つの細長形状部分は、それぞれ、取付ベース３の異なる径方向位置に設けられる。また、ビス孔１６（領域Ｒ５）は、当該２つの細長形状部分に直交する細長形状部分（取付ベース３の径方向に伸びる直線状の細長形状部分）（領域Ｒ５３とも称する）をも有する。当該細長形状部分（領域Ｒ５３）は、円弧状の２つの細長形状部分（領域Ｒ５１，Ｒ５２）を接続するように伸延している。ビス孔１６（領域Ｒ５）は、３つの領域Ｒ５１，Ｒ５２，Ｒ５３が合成された領域である。各細長形状部分（領域Ｒ５１，Ｒ５２，Ｒ５３）の伸延方向に対して垂直な方向において、当該各細長形状部分（開孔部分）は、ビスの軸部の直径以上の幅を有し且つ当該ビスの頭部の直径よりも小さな大きさ（幅）を有する。たとえば、当該ビス孔１６（領域Ｒ５）は、ビスの軸部の直径とほぼ同等の幅を有する２つの細長領域とビスの軸部の直径とほぼ同等の幅を有する接続部分（直交部分）とが合成されて形成されている。
【００３１】
このように、取付ベース本体１１は、取付面に取付ベース３を取り付けるための複数のビス孔１６（領域Ｒ１〜Ｒ５）を有している。検知器１を取り付けるにあたって、実際には、これらの複数のビス孔１６（Ｒ１〜Ｒ５）のうち、交換前に設置されていた（既存の）検知器９（後述）のビス位置に合わせたビス孔１６が用いられる。
【００３２】
また、取付ベース本体１１は、当該複数のビス孔１６のうちの少なくとも１つのビス孔に隣接する大開孔部１７をも有している。より詳細には、取付ベース本体１１は、領域Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５にそれぞれ隣接する大開孔部１７を有している。
【００３３】
＜２．交換前の検知器９と交換後の検知器１との関係等＞
図４から図９は、上述の検知器１以外の複数の検知器９（詳細には、９Ａ〜９Ｆ）の各取付ベース９３（９３Ａ〜９３Ｆ）、換言すれば、交換前の各検知器９の取付ベース９３をそれぞれ示す平面図である。詳細には、図４は、検知器９Ａの取付ベース９３Ａを示す図であり、図５は、検知器９Ｂの取付ベース９３Ｂを示す図である。同様に、図６〜図９は、検知器９Ｃ〜９Ｆの取付ベース９３Ｃ〜９３Ｆをそれぞれ示す図である。なお、当該各平面図は、取付面側ではなく検知器本体２側から各取付ベース９３を見た図である。
【００３４】
複数の検知器９Ａ〜９Ｆは、互いに異なる機種に係る検知器であるとともに、複数の検知器９Ａ〜９Ｆは、それぞれ、検知器１とも異なる機種に係る検知器である。なお、検知器１および複数の検知器９Ａ〜９Ｆは、互いに異なる会社の製品であってもよく、同一の会社の製品であってもよい。
【００３５】
この実施形態においては、これらの複数の検知器９Ａ〜９Ｆのうちの一の検知器９Ｚが取付面に既に設置されている場合において、当該検知器９Ｚに代えて上述の検知器１を設置する。すなわち、既存の検知器９Ｚが新たな検知器１に交換される。より詳細には、当該検知器９Ｚが設置されていた取付面内のほぼ同じ位置に、新たな検知器１が取り付けられる。
【００３６】
ここにおいて、検知器１（詳細には、取付ベース３）のビス位置が複数の検知器９Ａ〜９Ｆ（詳細には、取付ベース９３Ａ〜９３Ｆ）のそれぞれのビス位置との間に互換性を有するように、検知器１は構成される。換言すれば、検知器１（取付ベース３）は、ビス位置に関して、複数の検知器９Ａ〜９Ｆ（取付ベース９３Ａ〜９３Ｆ）との間に互換性を有する。これによれば、交換前の検知器９Ｚの設置に利用されていたビスの位置を変更することなく、交換後の検知器１を設置することが可能である。
【００３７】
具体的には、複数の検知器９Ａ〜９Ｆのそれぞれの取付ベース９３Ａ〜９３Ｆにて取付面への固定に利用されていたビスの位置が考慮されて、検知器１のビス孔１６は形成される。換言すれば、取り換え前の検知器９Ｚの取付ベース９３内のビス孔９６の位置等に基づいて、検知器１のビス孔１６は形成される。
【００３８】
より詳細には、当該ビス孔９６の開孔範囲（開孔領域）のうち、取付ベース９３を固定するためのビスが実際に配置されている旨が推定される領域である「推定領域Ｐ」が、予め決定される。なお、「推定領域Ｐ」は、取付ベース９３固定用のビスが実際に配置されている確率（可能性）が所定程度以上であると判定される領域（端的に言えば「高確率領域Ｐ」）などとも表現される。
【００３９】
そして、検知器１の取付ベース３と複数の検知器９Ａ〜９Ｆの各取付ベース９３Ａ〜９３Ｆとがそれぞれ仮想的に重ね合わせられる。この仮想的な重畳状態にて検知器１のビス孔１６の開孔範囲が各推定領域Ｐを包含するように、検知器１のビス孔１６は形成される。より詳細には、各取付ベース９３にそれぞれ設けられた２以上のビス孔９６の各開孔範囲のうちの「推定領域Ｐ」を複数のビス孔１６の開孔範囲が包含するように、当該複数のビス孔１６の開孔範囲が形成される。
【００４０】
＜３．交換前の取付ベースにおけるビスの位置等＞
図１０〜図１５の各平面図は、各検知器９Ａ〜９Ｆの取付ベース９３Ａ〜９３Ｆにおける「推定領域Ｐ」をそれぞれ示す図である。なお、当該各平面図は、取付面側ではなく検知器本体２側から各取付ベース９３を見た図である。
【００４１】
＜取付ベース９３Ａにおける推定領域Ｐ＞
図１０においては、取付ベース９３Ａにおける推定領域Ｐ（Ｐ１１，Ｐ１２，Ｐ１３，Ｐ１４）が示されている。
【００４２】
領域Ｐ１１は、平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ａの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１０内にて最も上側に配置されたビス孔）９６（９６ａ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ａの外周側端領域である。当該外周側端領域（領域Ｐ１１）は、略円形状領域であり、その直径はビス孔の幅ｄに等しい。
【００４３】
一般に、取付ベース９３の径方向に伸びるビス孔９６においては、その外周側端領域にビスが配置される可能性が高い。この実施形態においては、このような特質を考慮して、当該ビス孔９６ａの外周側端領域を推定領域Ｐ（Ｐ１１）として決定する。
【００４４】
領域Ｐ１２は、平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ａの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１０内にて中段左側に配置されたビス孔）９６（９６ｂ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｂの外周側端領域である。上述のような特質を考慮して、当該ビス孔９６ｂの外周側端領域が推定領域Ｐ（Ｐ１２）として決定される。
【００４５】
また、領域Ｐ１３は、平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ａの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１０内にて中段右側に配置されたビス孔）９６（９６ｃ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｃの外周側端領域である。上述のような特質を考慮して、当該ビス孔９６ｃの外周側端領域が推定領域Ｐ（Ｐ１３）として決定される。
【００４６】
一方、領域Ｐ１４は、平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ａの周方向に沿って伸びる円弧状のビス孔（且つ、図１０内にて最も下側に配置されたビス孔）９６（９６ｄ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｄの中央領域（周方向における中央領域）である。
【００４７】
一般に、取付ベース９３の周方向に沿って伸びる円弧状のビス孔９６においては、その中央領域にビスが配置される可能性が高い。この実施形態においては、このような特質を考慮して、当該ビス孔９６ｄの中央領域が推定領域Ｐ（Ｐ１４）として決定される。
【００４８】
＜取付ベース９３Ｂにおける推定領域Ｐ＞
同様に、図１１においては、取付ベース９３Ｂにおける推定領域Ｐ（Ｐ２１，Ｐ２２，Ｐ２３，Ｐ２４）が示されている。
【００４９】
推定領域Ｐ２１は、平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ａの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１１内にて最も上側に配置されたビス孔）９６（９６ｅ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｅの外周側端領域である。同様に、推定領域Ｐ２４は、平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ａの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１１内にて最も下側に配置されたビス孔）９６（９６ｈ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｈの外周側端領域である。
【００５０】
また、推定領域Ｐ２２は、略円形状を有するビス孔（且つ、図１１内にて中段左側に配置されたビス孔）９６（９６ｆ）の全領域（全開孔領域）である。一般に、略円形状を有するビス孔９６においては、当該ビス孔の全領域に亘ってビスが配置される可能性が高い。この実施形態においては、このような特質を考慮して、略円形状を有する当該ビス孔９６の全領域が推定領域Ｐ（Ｐ２２）として決定される。同様に、略円形状を有するビス孔（且つ、図１１内にて中段右側に配置されたビス孔）９６（９６ｇ）の全領域が、推定領域Ｐ２３として決定される。
【００５１】
＜取付ベース９３Ｃにおける推定領域Ｐ＞
また、図１２においては、取付ベース９３Ｃにおける推定領域Ｐ（Ｐ３１，Ｐ３２，Ｐ３３，Ｐ３４）が示されている。
【００５２】
平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ｃの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１２内にて最も上側に配置されたビス孔）９６（９６ｉ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｉの外周側端領域が、指定領域Ｐ３１として決定される。また、取付ベース９３Ｃの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１２内にて中段左側に配置されたビス孔）９６（９６ｊ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｊの外周側端領域が、指定領域Ｐ３２として決定される。同様に、取付ベース９３Ｃの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１２内にて中段右側に配置されたビス孔）９６（９６ｋ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｋの外周側端領域が、指定領域Ｐ３３として決定される。
【００５３】
また、取付ベース９３Ｃの周方向に沿って伸びる円弧状のビス孔（且つ、図１２内にて最も下側に配置されたビス孔）９６（９６ｌ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｌの中央領域が推定領域Ｐ（Ｐ３４）として決定される。
【００５４】
＜取付ベース９３Ｄにおける推定領域Ｐ＞
また、図１３においては、取付ベース９３Ｄにおける推定領域Ｐ（Ｐ４１，Ｐ４２）が示されている。
【００５５】
平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ｄの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１３内にて最も上側に配置されたビス孔）９６（９６ｍ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｍの外周側端領域が、推定領域Ｐ（Ｐ４１）として決定される。また、取付ベース９３Ｄの周方向に沿って伸びる円弧状のビス孔（且つ、図１３内にて最も下側に配置されたビス孔）９６（９６ｎ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６の中央領域が推定領域Ｐ（Ｐ４２）として決定される。
【００５６】
＜取付ベース９３Ｅにおける推定領域Ｐ＞
また、図１４においては、取付ベース９３Ｅにおける推定領域Ｐ（Ｐ５１，Ｐ５２）が示されている。
【００５７】
平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ｅの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１４内にて最も上側に配置されたビス孔）９６（９６ｏ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｏの外周側端領域が、推定領域Ｐ（Ｐ５１）として決定される。
【００５８】
また、取付ベース９３Ｅの周方向に沿って伸びる円弧状のビス孔（且つ、図１４内にて最も下側に配置されたビス孔）９６（９６ｐ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｐの中央領域が推定領域Ｐ（Ｐ５２）として決定される。
【００５９】
＜取付ベース９３Ｆにおける推定領域Ｐ＞
また、図１５においては、取付ベース９３Ｆにおける推定領域Ｐ（Ｐ６１〜Ｐ６４）が示されている。
【００６０】
平面視にて略円形状を有する取付ベース９３Ｆの径方向に伸びる直線状のビス孔（且つ、図１５内にて最も上側に配置されたビス孔）９６（９６ｑ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｑの外周側端領域が、推定領域Ｐ（Ｐ６１）として決定される。
【００６１】
また、取付ベース９３Ｆの周方向に沿って伸びる円弧状のビス孔（且つ、図１５内にて最も下側に配置されたビス孔）９６（９６ｔ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｔの中央領域が推定領域Ｐ（Ｐ６４）として決定される。
【００６２】
さらに、取付ベース９３Ｅの周方向に沿って伸びる円弧状のビス孔（且つ、図１５内にて中段左側に配置されたビス孔）９６（９６ｒ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｒの中央領域が推定領域Ｐ（Ｐ６２）として決定される。また、取付ベース９３Ｅの周方向に沿って伸びる円弧状のビス孔（且つ、図１５内にて中段右側に配置されたビス孔）９６（９６ｓ）の開孔範囲のうち、当該ビス孔９６ｓの中央領域が推定領域Ｐ（Ｐ６３）として決定される。
【００６３】
＜４．交換後の取付ベースのビス孔の開孔範囲等＞
つぎに、交換前の各検知器９におけるビス位置と交換後の検知器１におけるビス孔との関係等について説明する。
【００６４】
＜検知器９Ａと検知器１との関係＞
まず、図１６等を参照しながら、交換前の検知器９Ａが新たな検知器１に交換される状況を想定する。
【００６５】
図１６は、交換前の検知器９Ａの取付ベース９３Ａ（図１０参照）と交換後の検知器１の取付ベース３（図３参照）とを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。図１６においては、検知器１の取付ベース３のビス孔１６（領域Ｒ）が太線で示されており、検知器９Ａの取付ベース９３Ａのビス孔９６および推定領域Ｐが極太線で示されている。
【００６６】
図１６に示されるように、取付ベース３の領域Ｒ１は推定領域Ｐ１１（図１０参照）を包含し、取付ベース３の領域Ｒ２は推定領域Ｐ１２を包含し、取付ベース３の領域Ｒ３は推定領域Ｐ１３を包含し、取付ベース３の領域Ｒ４は推定領域Ｐ１４を包含する。
【００６７】
図１６に示すような仮想的な重畳状態にて検知器１のビス孔１６の開孔範囲が取付ベース３内の全ての推定領域Ｐを包含するように、検知器１のビス孔１６は形成されている。
【００６８】
ここにおいて、たとえば、検知器９Ａの取付ベース９３Ａが、その推定領域Ｐ１１とその推定領域Ｐ１４とのそれぞれに配置された合計２本のビスによって、取付面に固定されていた場合を想定する。上述のように領域Ｒ１は領域Ｐ１１を包含し且つ領域Ｒ５は領域Ｐ１４を包含する。したがって、このような場合において検知器９Ａを検知器１に取り替えるときには、当該２本のビスを取付ベース３の領域Ｒ１，Ｒ５内に配置して当該２本のビスの位置を変えることなく、新たな検知器１を当該取付面の同じ位置に取り付けることができる。
【００６９】
また、検知器９Ａの取付ベース９３Ａが、その推定領域Ｐ１２とその推定領域Ｐ１３とのそれぞれに配置された合計２本のビスによって、取付面に固定されていた場合も同様である。上述のように領域Ｒ２は領域Ｐ１２を包含し且つ領域Ｒ３は領域Ｐ１３を包含する。したがって、このような場合において検知器９Ａを検知器１に取り替えるときにも、当該２本のビスの位置を変えることなく、新たな検知器１を当該取付面の同じ位置に取り付けることができる。
【００７０】
また、検知器９Ａの取付ベース９３Ａが、その推定領域Ｐ１１〜１４のそれぞれに配置された合計４本のビスによって、取付面に固定されていた場合も同様である。このような場合において検知器９Ａを検知器１に取り替えるときにも、当該４本のビスの位置を変えることなく、当該４本のビスを用いて新たな検知器１を当該取付面の同じ位置に取り付けることができる。なお、当該４本のビスのうちの一部（たとえば１本あるいは２本）を取り外してビスの数を低減し、低減後の数（たとえば３本あるいは２本）のビスによって検知器１を取り付けることも可能である。
【００７１】
＜検知器９Ｂと検知器１との関係＞
次に、交換前の検知器９Ｂが新たな検知器１に交換される状況を想定する。
【００７２】
図１７は、検知器９Ｂの取付ベース９３Ｂ（図１１参照）と検知器１の取付ベース３（図３参照）とを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。図１７においては、検知器１の取付ベース３のビス孔１６（領域Ｒ）が太線で示されており、検知器９Ｂの取付ベース９３Ｂのビス孔９６および推定領域Ｐが極太線で示されている。
【００７３】
図１７に示されるように、取付ベース９３Ｂの推定領域Ｐ２１は取付ベース３の領域Ｒ１に包含される。また、取付ベース９３Ｂの推定領域Ｐ２２は取付ベース３の領域Ｒ２に包含され、取付ベース９３Ｂの推定領域Ｐ２３は取付ベース３の領域Ｒ３に包含される。さらに、取付ベース９３Ｂの推定領域Ｐ２４は取付ベース３の領域Ｒ５（詳細には、領域Ｒ５２，Ｒ５３）に包含される。
【００７４】
端的に言えば、図１７に示すような仮想的な重畳状態にて検知器１のビス孔１６の開孔範囲が検知器９Ｂの取付ベース９３Ｂ内の全ての推定領域Ｐを包含するように、検知器１のビス孔１６は形成されている。
【００７５】
当該仮想的な重畳状態において、領域Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５は領域Ｐ２１，Ｐ２２，Ｐ２３，Ｐ２４をそれぞれ包含するので、交換前の取付ベース９３Ｂ用のビスの位置を変えることなく、新たな検知器１を当該取付面の同じ位置に取り付けることができる。
【００７６】
＜検知器９Ｃと検知器１との関係＞
次に、交換前の検知器９Ｃが新たな検知器１に交換される状況を想定する。
【００７７】
図１８は、検知器９Ｃの取付ベース９３Ｃ（図１２参照）と検知器１の取付ベース３（図３参照）とを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。図１８においては、検知器１の取付ベース３のビス孔１６（領域Ｒ）が太線で示されており、検知器９Ｃの取付ベース９３Ｃのビス孔９６および推定領域Ｐが極太線で示されている。
【００７８】
図１８に示されるように、取付ベース９３Ｃの推定領域Ｐ３１（図１２も参照）は取付ベース３の領域Ｒ１に包含される。また、取付ベース９３Ｃの推定領域Ｐ３２は取付ベース３の領域Ｒ２に包含され、取付ベース９３Ｃの推定領域Ｐ３３は取付ベース３の領域Ｒ３に包含される。さらに、取付ベース９３Ｃの推定領域Ｐ３４は取付ベース３の領域Ｒ５（詳細には、領域Ｒ５２，Ｒ５３）に包含される。
【００７９】
換言すれば、図１８に示すような仮想的な重畳状態にて検知器１のビス孔１６の開孔範囲が検知器９Ｃの取付ベース９３Ｃ内の全ての推定領域Ｐを包含するように、検知器１のビス孔１６は形成されている。
【００８０】
当該仮想的な重畳状態において領域Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５は領域Ｐ３１，Ｐ３２，Ｐ３３，Ｐ３４をそれぞれ包含するので、交換前の取付ベース９３Ｃ用のビスの位置を変えることなく、新たな検知器１を当該取付面の同じ位置に取り付けることができる。
【００８１】
＜検知器９Ｄと検知器１との関係＞
次に、交換前の検知器９Ｄが新たな検知器１に交換される状況を想定する。
【００８２】
図１９は、検知器９Ｄの取付ベース９３Ｄ（図１３参照）と検知器１の取付ベース３（図３参照）とを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。図１９においては、検知器１の取付ベース３のビス孔１６（領域Ｒ）が太線で示されており、検知器９Ｄの取付ベース９３Ｄのビス孔９６および推定領域Ｐが極太線で示されている。
【００８３】
図１９に示されるように、取付ベース９３Ｄの推定領域Ｐ４１は取付ベース３の領域Ｒ１に包含される。また、取付ベース９３Ｄの推定領域Ｐ４２は取付ベース３の領域Ｒ５（詳細には、領域Ｒ５１，Ｒ５３）に包含される。換言すれば、図１９に示すような仮想的な重畳状態にて検知器１のビス孔１６の開孔範囲が検知器９Ｄの取付ベース９３Ｄ内の全ての推定領域Ｐを包含するように、検知器１のビス孔１６は形成されている。
【００８４】
当該仮想的な重畳状態において領域Ｒ１，Ｒ５は領域Ｐ４１，Ｐ４２をそれぞれ包含するので、交換前の取付ベース９３Ｃ用のビスの位置を変えることなく、新たな検知器１を当該取付面の同じ位置に取り付けることができる。
【００８５】
＜検知器９Ｅと検知器１との関係＞
次に、交換前の検知器９Ｅが新たな検知器１に交換される状況を想定する。
【００８６】
図２０は、検知器９Ｅの取付ベース９３Ｅ（図１４参照）と検知器１の取付ベース３（図３参照）とを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。図２０においては、検知器１の取付ベース３のビス孔１６（領域Ｒ）が太線で示されており、検知器９Ｅの取付ベース９３Ｅのビス孔９６および推定領域Ｐが極太線で示されている。
【００８７】
図２０に示されるように、取付ベース９３Ｅの推定領域Ｐ５１は取付ベース３の領域Ｒ１に包含される。また、取付ベース９３Ｅの推定領域Ｐ５２は取付ベース３の領域Ｒ５（詳細には、領域Ｒ５１，Ｒ５３）に包含される。換言すれば、図２０に示すような仮想的な重畳状態にて検知器１のビス孔１６の開孔範囲が検知器９Ｅの取付ベース９３Ｅ内の全ての推定領域Ｐを包含するように、検知器１のビス孔１６は形成されている。
【００８８】
当該仮想的な重畳状態において領域Ｒ１，Ｒ５は領域Ｐ５１，Ｐ５２をそれぞれ包含するので、交換前の取付ベース９３Ｅ用のビスの位置を変えることなく、新たな検知器１を当該取付面の同じ位置に取り付けることができる。
【００８９】
なお、ここでは、取付ベース３と取付ベース９３Ｅとの両者の各中心位置を互いにずらして当該両者を重畳している。具体的には、図２０においては、取付ベース３と取付ベース９３Ｅとの両者の中心位置を完全に一致させた状態から取付ベース９３Ｅを若干上側にずらすことによって、既に他の取付ベース９３（９３Ｄ）向けに形成されたビス孔１６（領域Ｒ５１）に対して推定領域Ｐ５２が重ねられている。これによれば、取付ベース３と取付ベース９３Ｅとの両者の各中心位置を互いにずらさない場合に比べて、ビス孔１６の大きさ（幅）が拡大してしまうことが可能である。
【００９０】
＜検知器９Ｆと検知器１との関係＞
次に、交換前の検知器９Ｆが新たな検知器１に交換される状況を想定する。
【００９１】
図２１は、検知器９Ｆの取付ベース９３Ｆ（図１５参照）と検知器１の取付ベース３（図３参照）とを仮想的に重ね合わせた状態を示す図である。図２１においては、検知器１の取付ベース３のビス孔１６（領域Ｒ）が太線で示されており、検知器９Ｆの取付ベース９３Ｆのビス孔９６および推定領域Ｐが極太線で示されている。
【００９２】
図２１に示されるように、取付ベース９３Ｆの推定領域Ｐ６１は取付ベース３の領域Ｒ１に包含される。また、取付ベース９３Ｆの推定領域Ｐ６２は取付ベース３の領域Ｒ２に包含され、取付ベース９３Ｆの推定領域Ｐ６３は取付ベース３の領域Ｒ３に包含される。さらに、取付ベース９３Ｆの推定領域Ｐ６４は取付ベース３の領域Ｒ５（詳細には、領域Ｒ５１，Ｒ５３）に包含される。換言すれば、図２１に示すような仮想的な重畳状態にて検知器１のビス孔１６の開孔範囲が検知器９Ｆの取付ベース９３Ｆ内の全ての推定領域Ｐを包含するように、検知器１のビス孔１６は形成されている。
【００９３】
当該仮想的な重畳状態において領域Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５は領域Ｐ６１，Ｐ６２，Ｐ６３，Ｐ６４をそれぞれ包含するので、交換前の取付ベース９３Ｆ用のビスの位置を変えることなく、新たな検知器１を当該取付面の同じ位置に取り付けることができる。
【００９４】
なお、ここでは、取付ベース３と取付ベース９３Ｆとの両者の各中心位置を互いにずらして当該両者を重畳している。具体的には、図２１においては、取付ベース３と取付ベース９３Ｆとの両者の中心位置を完全に一致させた状態から取付ベース９３Ｆを若干上側にずらすことによって、他の取付ベース９３Ｄ向けに既に形成されているビス孔１６（領域Ｒ５１）に対して推定領域Ｐ５２が重なる。これによれば、取付ベース３と取付ベース９３Ｆとの両者の各中心位置を互いにずらさない場合に比べて、ビス孔１６の大きさ（幅）が拡大してしまうこと（および／または、ビス孔の数の増大を抑制すること）が可能である。
【００９５】
＜５．実施形態の効果等＞
以上のように、検知器１の取付ベース３における複数のビス孔１６の開孔範囲は、検知器１以外の複数の検知器９Ａ〜９Ｆの各取付ベース９３Ａ〜９３Ｆにそれぞれ設けられた２以上のビス孔９６の各開孔範囲のうち推定領域Ｐを少なくとも包含する。換言すれば、取付ベース３における複数のビス孔１６の開孔範囲は、複数の検知器９Ａ〜９Ｆの取付ベース９３Ａ〜９３Ｆにおける推定領域Ｐを合成した領域（合成領域）を少なくとも包含する。それ故、元の取付ベース（９３Ａ〜９３Ｆのいずれか）を固定するために利用されていたビスの位置を変えることなく、新たな検知器１を当該取付面の同じ位置に取り付けることが可能である。したがって、元の検知器（検知器９Ａ〜９Ｆのいずれか）を新たな検知器１に交換する場合において、取付面におけるビス用の穴の数の増大を回避ないし抑制することが可能である。
【００９６】
また、天井面における新たな位置でのビスの締結動作は、新たな位置の決定処理（および下穴処理）等を行うことを要することがあるなど、元の場所にビスを再びねじ込む場合に比べて、比較的困難である。一方、上述のようにビスの位置が変更されない場合（元のビスを一旦取り外してあるいは取り外さずにそのまま利用する場合、または元のビスと同じ形状且つ同じ大きさの新たなビスを元の位置にねじ込む場合）には、新たなビスを新たな位置にねじ込むことを要しないので、検知器の交換作業を比較的容易に行うことができる。
【００９７】
さらに、ビス孔１６に隣接する大開孔部１７（ビス頭部挿通用の開孔部）等を利用することによれば、ビスの取り外し工程を削減（ないし簡略化）することも可能である。具体的には、まず、交換作業者は、取換前の取付ベース９３を取付面に固定しているビスをその締結力を緩める向きに若干回転させる。つぎに、交換作業者は、当該取付ベース９３を取付面に対して回転等させて大開孔部９７（ビス孔９６に隣接する大開孔部９７）を当該ビスの位置へと移動させる。そして、交換作業者は、当該ビス（頭部を含む）を大開孔部９７にて通過させて取付ベース９３を取付面から取り外す。その後、交換作業者は、新たな取付ベース３の大開孔部１７（ビス孔１６に隣接する大開孔部１７）にビス頭部を挿通し且つ当該新たな取付ベース３を回転等することによって、当該ビス孔１６（当該大開孔部１７に隣接する円弧状等のビス孔１６）に沿ってビスを適宜の位置にまで相対的に移動する。そして、交換作業者は、当該ビスを更にねじ込み（ビスの締め付け力を増大し）、取付ベース３を取付面に固定する。このような交換作業によれば、ビスを取り外すことを要しない。すなわち、ビスの取り外し工程を削減（ないし簡略化）すること、すなわち交換作業の工数を削減することも可能である。
【００９８】
なお、取付ベース３のビス孔１６の開孔範囲は、取付ベース９３のビス孔９６のうち推定領域Ｐのみならず、取付ベース９３のビス孔９６のうち推定領域Ｐ以外の領域の全部又は一部をも包含してもよい。
【００９９】
たとえば、図１６等に示されるように、取付ベース９３内の対向する１組の直線状のビス孔９６（９６ｂ，９６ｃ）（図１０も参照）の領域全体を包含するように、取付ベース３内の対向する１組の直線状のビス孔１６（領域Ｒ２，Ｒ３）がそれぞれ設けられてもよい。同様に、図１７等に示されるように、取付ベース９３内の対向する１組の直線状のビス孔９６（９６ｅ，９６ｈ）（図１１も参照）の領域全体を包含するように、取付ベース３内の対向する１組の直線状のビス孔１６（領域Ｒ１，Ｒ５）がそれぞれ設けられてもよい。これによれば、取付ベース３内のビス孔１６の開孔範囲が既存のビスの位置をより確実に包含することが可能である。
【０１００】
＜６．変形例等＞
以上、この発明の実施の形態について説明したが、この発明は上記説明した内容のものに限定されるものではない。
【０１０１】
たとえば、上記実施形態においては、６個の取付ベース９３Ａ〜９３Ｆの推定領域Ｐの合成領域を取付ベース３のビス孔１６の開孔範囲が包含する態様が例示されているが、これに限定されない。具体的には、比較的少数（たとえば、３個）の取付ベース９３Ａ〜９３Ｃの推定領域Ｐの合成領域を取付ベース３のビス孔１６の開孔範囲が包含するようにしてもよい。あるいは、逆に、比較的多数（たとえば、８個）の取付ベース９３の推定領域Ｐの合成領域を取付ベース３のビス孔１６の開孔範囲が包含するようにしてもよい。
【０１０２】
また、上記実施形態においては、取換前の取付ベース９３のビス孔９６の開孔範囲の一部が推定領域Ｐである態様を例示しているが、これに限定されず、取換前の取付ベース９３のビス孔９６の開孔範囲の全部が推定領域Ｐであってもよい。
【０１０３】
たとえば、検知器１の取付ベース３と複数の検知器９Ａ〜９Ｃの各取付ベース９３Ａ〜９３Ｃとの仮想的な重畳状態において、取付ベース３のビス孔１６の開孔範囲が他の３つの取付ベース９３Ａ〜９３Ｃにおけるビス孔９６の開孔範囲の全部を包含するようにしてもよい。
【０１０４】
換言すれば、複数のビス孔１６の開孔範囲（図３参照）は、複数の検知器９Ａ〜９Ｃの各取付ベース９３Ａ〜９３Ｃにそれぞれ設けられた２以上のビス孔の開孔範囲を全て包含するようにしてもよい。より詳細には、
・複数のビス孔１６（領域Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４）が取付ベース９３Ａに設けられたビス孔９６ａ，９６ｂ，９６ｃ，９６ｄ（図１０参照）の開孔範囲を全て包含し（図１６参照）、且つ、
・複数のビス孔１６（領域Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５）が取付ベース９３Ｂに設けられたビス孔９６ｅ，９６ｆ，９６ｇ，９６ｈ（図１１参照）の開孔範囲を全て包含し（図１７参照）、且つ、
・複数のビス孔１６（領域Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ５）が取付ベース９３Ｃに設けられたビス孔９６ｉ，９６ｊ，９６ｋ，９６ｌ（図１２参照）の開孔範囲を全て包含する（図１８参照）ようにしてもよい。
【符号の説明】
【０１０５】
１  検知器
２  検知器本体
３  取付ベース
９，９Ａ〜９Ｆ  （検知器１とは異なる機種の）検知器
１１  取付ベース本体
１２  接続部
１５  貫通孔
１６  ビス孔
１７  大開孔部
２１  ハウジング
９３，９３Ａ〜９３Ｆ  取付ベース
９６，９６ａ〜９６ｔ  （取付ベース９３の）ビス孔
９７  大開孔部
Ｐ  推定領域（高確率領域）
Ｒ  （ビス孔１６の）開孔領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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