(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
車両内のカーボンセラミック製ブレーキディスクの摩耗依存の品質値Ｍを決定するための方法であって、前記品質値Ｍが、前記ブレーキディスク（２）の伝導率Ｓに単調に依存し、
−  インピーダンスＺを有するコイル（１０）が前記ブレーキディスク（２）から距離ｄのところにある状態で、前記コイル（１０）に電圧を印加するステップと、
−  前記インピーダンスＺ、前記距離ｄ及び前記伝導率ｓの関数であるパラメータＰの測定を行なうステップであって、前記パラメータＰの値ＰｉがＮ個の異なる周波数ｆｉにおいて測定され、ここでｉ＝１〜Ｎであり、Ｎ＞１である、ステップと、
−  前記距離ｄ及び前記伝導率ｓを変動させることによって、前記周波数ｆｉ、前記距離ｄ及び前記伝導率ｓの関数として前記パラメータＰを記述する数学モデルを前記測定にフィッティングさせるステップと、
−  前記数学モデルのフィッティングから得られる前記伝導率ｓの値から前記品質値Ｍを導出するステップと、
を含む方法。
【請求項２】
【数１】
0006659821.tif 000007
によって定義される、距離ｄの誤差又は変動に対する前記品質値Ｍのロバスト性ＲＭが、０．１よりも小さい、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記コイル（１０）がハウジング（８）内に配置され、前記ブレーキディスク（２）からの前記ハウジング（８）の距離が少なくとも５ｍｍ、特に５〜２０ｍｍである、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
周波数ｆｉで前記電圧を前記コイル（１０）に印加し、ｉ＝１〜Ｎについての前記パラメータＰの前記値Ｐｉを測定する少なくともＮ個の後続するステップを含む、請求項１〜３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項５】
−  ｉ＝１〜Ｎについての前記周波数ｆｉ全てにおいてスペクトル成分を有する電圧パルスを適用するステップと、
−  時間の関数としての前記コイル（１０）の、特に前記コイルを通る電流の、応答を測定するステップと、
−  前記コイル（１０）の前記応答から、前記パラメータの１番目の値及び値Ｐｉを決定するステップと、
を含む、請求項１〜３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項６】
前記ブレーキディスク（２）の休止中に前記測定が実施される、請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項７】
前記ブレーキディスク（２）の回転中に前記測定が実施される、請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項８】
前記周波数が０．５ＭＨｚより大きくかつ／又は１５ＭＨｚ未満である、特に３ＭＨｚ未満である、請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法。
【請求項９】
Ｎ＞２である、請求項１〜８のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１０】
請求項１〜９のいずれか一項に記載の方法を実施するための装置において、
−  インピーダンスＺを有するコイル（１０）と、
−  制御ユニット（１７）と、
を含む装置であって、前記制御ユニットは、請求項１〜９のいずれか一項に記載の前記方法を実施するように構成され適合されている、装置。
【請求項１１】
フェライト体（１３）をさらに含み、前記装置が、前記ブレーキディスク（２）に面して位置設定されるべき第１の側面（９）を含み、前記フェライト体（１３）が、前記第１の側面（９）とは反対の前記コイル（１０）の側面全体にわたって延在しているが、前記第１の側面（９）では前記コイル（１０）を覆っていない、請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
少なくとも１つのブレーキディスク（２）と、前記ブレーキディスク（２）を監視するための請求項１０又は１１のいずれか１項に記載の少なくとも１つの装置（３）と、を含む車両。
【請求項１３】
複数のブレーキディスク（２）と、各ブレーキディスク（２）に割当てられた少なくとも１つの前記装置（３）と、を有する、請求項１２に記載の車両。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、車両内のカーボンセラミック製ブレーキディスクの摩耗を決定するための方法、並びに、この方法を実施するための装置及びこのような装置を伴う車両に関する。
【背景技術】
【０００２】
「カーボンセラミック製ブレーキディスク」は、カーボンセラミック材料を含み、カーボンセラミック材料がセラミックマトリックス及びマトリックス内に埋込まれた炭素繊維を含んでいる、ブレーキディスクである。
【０００３】
このようなカーボンセラミック製ブレーキディスクにおいては、高い作動温度に起因して、炭素繊維の酸化、ひいては摩耗が発生する。この摩耗は、単なる光学検査では高い信頼性で認識することができない。摩耗認識の改善は、誘導測定方法によって達成される。このタイプの測定において使用される原理は、渦電流減衰に基づいており、連続的に作動する２つのコイルを用いる（欧州特許第１３８７１６６号（ＥＰ１３８７１６６））、又は、パルス作動で１つ又は２つのコイルを用いる（独国特許第１０２００８０５１８０２号（ＤＥ１０２００８０５１８０２））。これらの文書では、摩耗の重量測定と誘導測定との間の優れた相関関係が開示されている。従来取引されているプロフォメータ（ｗｗｗ．ｐｒｏｃｅｑ．ｃｏｍ）が測定用装置として使用される。このタイプの技術を使用すると、測定のためにブレーキディスクを分解する必要はない。
【０００４】
米国特許出願公開第２０１３／００１５８４９号（ＵＳ２０１３／００１５８４９）は、カーボンセラミック製ブレーキディスクの摩耗を測定するための方法において、複数のコイルを保持するハウジングがブレーキディスクに対して保持されている方法について説明している。
【０００５】
ブレーキディスクのインダクタンスに依存する品質値の決定に基づいているこれらの技術は全て、測定用装置が車両内に恒久的に組込まれていないオフライン測定向け、例えば車両が休止中である場合のガレージにおける測定又は車両の外部でのブレーキディスクの測定向けに設計されている。測定用装置はブレーキディスクと物理的に接触させられ、コイルのインピーダンスに応じたパラメータが測定される。
【０００６】
このタイプの測定用装置は、車両内の恒久的設備とするのには適していない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明が解決すべき課題は、車両内に恒久的に設置される装置と共に使用されるのにより適した上述のタイプの方法、及び、このタイプの測定を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この課題は、独立クレームの方法及び装置によって解決される。したがって、ブレーキディスクの伝導率ｓに応じて品質値を得ることによって車両内のカーボンセラミック製ブレーキディスクの摩耗を決定するための方法及び装置が提示される。
【０００９】
本発明によると、典型的には好適なハードウェア及びファームウェアを格納する装置の制御ユニットによって、以下のステップが講じられる：
−  インピーダンスＺを有する（電磁）コイルが前記ブレーキディスクから距離ｄのところにある状態で、前記コイルに電圧を印加するステップ；
−  コイルのインピーダンスＺ、コイルとブレーキディスクとの間の距離ｄ及びブレーキディスクの伝導率ｓの関数であるパラメータＰの測定を行なうステップ。これらの測定を用いて、前記パラメータＰの値ＰｉがＮ個の周波数ｆｉにおいて測定され、ここでｉ＝１〜Ｎであり、Ｎ＞１である。周波数ｆｉは、コイルに印加される電圧の周波数又は周波数成分であり、これらは互いに異なっている。
−  距離ｄ及び伝導率ｓを変動させることによって、周波数ｆｉ、距離ｄ及び前記伝導率ｓの関数として前記パラメータＰを記述する数学モデルを前記測定にフィッティングさせるステップ。これに関連して、「フィッティング」なる用語は、測定によって作成されたＰについての方程式系を少なくとも近似的に解く任意のアルゴリズム又は方法を記述する。
−  数学モデルのフィッティングから得られる前記伝導率の値から品質値Ｍを導出するステップ。
【００１０】
本発明は、特に以下のもののような、幾つかの見識に基づいている：
−  第１に、コイルとブレーキディスクとの間の距離ｄがコイルのインピーダンスＺに強く影響することが発見された。
−  第２に、この距離ｄを確実に一定に保ちかつ／又は公知であるようにする試みは、車両内に恒久的に設置される装置の場合困難であることが発見された。
−  第３に、本発明は、インピーダンスが距離の関数であるのみならず印加された電圧の周波数ｆの関数でもあること、並びに、距離ｄ及び周波数ｆに対するパラメータＰの依存関係が異なるため、異なる周波数での測定を数値的に及び／又は数学的に組合わせることにより距離ｄに対する測定の依存関係を除去すること（又は少なくとも大幅に減少させること）が可能になること、という理解に基づいている。
【００１１】
有利な実施形態において、この方法は、周波数ｆｉで前記電圧を前記コイルに印加し、ｉ＝１〜Ｎについての前記パラメータの前記値Ｐｉを測定する少なくともＮ個の後続するステップを含む。代替的には、周波数ｆｉにおけるスペクトル成分を含む電圧パルスがコイルに適用され、例えばスペクトル分析などを用いてコイルの応答が分析されて、値Ｐｉが決定される。
【００１２】
本発明は同様に、このような装置を含む車両、及び、装置により監視される少なくとも１つのブレーキディスクにも関する。
【００１３】
本発明は、それについての以下の詳細な説明を考慮した場合により良く理解され、上述のもの以外の目的も明らかになるものである。本説明は、添付図面を参照して行うものである。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】ブレーキディスクを監視するための装置を伴う車両の概略的上面図を示す。
【図２】ブレーキディスク及びその付随する測定用装置を示す。
【図３】コイル及びブレーキディスクの断面図である。
【図４】測定用装置のブロック回路図である。
【図５】周波数の関数としてのさまざまな条件におけるコイルの抵抗及びインダクタンスを示す。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
図１は、４つの車輪１を伴う自動車などの車両を概略的に示している。各車輪にはブレーキディスク２が備わっている。ブレーキディスクは、カーボンセラミック製ブレーキディスクである。
【００１６】
測定用装置３が各ブレーキディスク２に位置設定されている。その目的は、ブレーキディスクの品質、詳細には、ブレーキディスク内の材料の伝導率に依存する品質値Ｍを測定することにある。この品質値は、以上で説明されているように、セラミックマトリックス内の炭素繊維の分解状態を査定することを可能にする。
【００１７】
全ての測定用装置３は、例えば、車両のダッシュボード上に状態メッセージを示すように適応させることができる、共通中央監視ユニット４に接続されている。
【００１８】
図２は、その付随する測定用装置３を伴う単一のブレーキディスク２の図を示している。図を見れば分かるように、ブレーキディスク２は車軸５上に組付けられている。
【００１９】
測定用装置３は、内部に構成部品を収容するハウジング８を含む。これに関連して、「ハウジング」なる用語は、測定用装置の物理的外部表面として広義に解釈されるべきである。ハウジング８は、ディスクの回転中に測定用装置とディスクとの間の物理的接触を回避するために、ブレーキディスク２から距離ｄのところに位置設定される。距離ｄは、有利には軸方向７に沿って少なくとも５ｍｍであるが、有利には２０ｍｍ以下でなければならない。
【００２０】
測定用装置３はコイル１０を含む。図２に示された実施形態において、コイル１０は、ブレーキディスク２に面する側であるハウジング８の第１の側面９に直接位置設定されている。コイル１０は、ブレーキディスク２から距離ｄのところに位置付けされている。すなわち、ブレーキディスク２とコイル１０との間には、少なくともこの距離ｄの間隔が存在する。
【００２１】
図３は、コイル１０及びその隣接するブレーキディスク２の断面図を示す。コイル１０は、コイル軸１２の周りに巻回されたワイヤで構成されるコイル本体１１を含み、コイル軸１２は、ブレーキディスク２の表面に対し垂直に、かつ軸方向７に対して平行に延在している。
【００２２】
図３の実施形態において、コイル本体１１は（任意には）フェライト体１３の中に埋込まれている。フェライト体１３は、ハウジング８の第１の側面９から遠ざかる方を向くコイル１１の側面全体にわたって延在する背面板１５を形成する。フェライト体１３はさらに、コイル本体１１を通って軸方向に延在する中央コア１６、及び、コイル本体１１の半径方向外側に位置設定された環状シールド１７を形成する。
【００２３】
フェライト体１３は、第１の側面９においてコイル１０をカバーしていない。フェライト体１５のこの設計は、第１の側面９とは反対であるコイル１０の側の磁力線を空間的に制限する一方で、力線がブレーキディスク２に向かって自由に延在できるようにする。
【００２４】
図４は、測定用装置の一実施形態の概略的ブロック図を示す。
【００２５】
図を見れば分かるように、装置は信号発生器１６を含む。ここで示された実施形態においては、信号発生器１６は、ＶＣＯ（電圧制御発振機）であり、その周波数は制御ユニット１７によって制御される。代替的には、信号発生器１６は、例えばソフトウェア設計の信号発生器であり得る。
【００２６】
制御ユニット１７は、例えば、少なくとも部分的に測定用装置３のハウジング８内に位置設定され得、かつ／又は、少なくとも部分的に中央監視ユニット４内に位置設定され得る。
【００２７】
信号発生器１６によって生成された電圧Ｕ０は、コイル１０の１つの端子に供給され、一方もう１つの端子は抵抗器Ｒを介してアース線又は基準電位に接続されている。
【００２８】
抵抗器Ｒ上の電圧は増幅器１８によって増幅されフィルタリングされ、ハードウェア及び／又はソフトウェアの形で実装され得る制御ユニット１７の分析用区分１９に供給される。
【００２９】
抵抗器Ｒ上の電圧降下Ｕ１は、コイル１０のインピーダンスＺに依存し、このことはすなわち、インピーダンスＺ又はそれに依存するパラメータＰ、詳細にはそれに直線的に依存するパラメータを、分析用区分１９により測定することができることを意味している。
【００３０】
インピーダンスＺ、ひいてはパラメータＰは、以下の値の関数である：
−  コイル１０とブレーキディスク２との間の距離ｄ、
−  ブレーキディスク２の厚みＤ、
−  ブレーキディスク２の伝導率ｓ、及び
−  コイル１０上の電圧の周波数ｆ。
【００３１】
インピーダンスＺひいてはパラメータＰは、本事例においては公知であること及び／又は測定間で変化しないことを理由として関心の対象となっていないコイル幾何形状などのさらなるパラメータに依存している。
【００３２】
フェライト体の無いコイルについてのインピーダンスＺ（ｄ、Ｄ、ｓ、ｆ）の分析公式は、以下の参考文献の中に見出すことができる：
−  参考文献１：Ｄｏｄｄ，Ｃ．Ｖ．；Ｄｅｅｄｓ，Ｗ．Ｅ．，「Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ  Ｓｏｌｕｔｉｏｎｓ  ｔｏ  Ｅｄｄｙ−Ｃｕｒｒｅｎｔ  Ｐｒｏｂｅ−Ｃｏｉｌ  Ｐｒｏｂｌｅｍｓ」，Ｊｏｕｒｎａｌ  ｏｆ  Ａｐｐｌｉｅｄ  Ｐｈｙｓｉｃｓ，ｖｏｌ．３９，ｎｏ．６，ｐｐ．２８２９−２８３８，Ｍａｙ  １９６８．
−  参考文献２：Ｄｏｄｄ．Ｃ．Ｖ．；Ｄｅｅｄｓ．Ｗ．Ｅ．；Ｌｕｑｕｉｒｅ  Ｊ．Ｗ．；Ｓｐｏｅｒｉ  Ｗ．Ｇ．，「Ｓｏｍｅ  ｅｄｄｙ−ｃｕｒｒｅｎｔ  ｐｒｏｂｌｅｍｓ  ａｎｄ  ｔｈｅｉｒ  ｉｎｔｅｇｒａｌ  ｓｏｌｕｔｉｏｎｓ」，ＯＲＮＬ−４３８４；  ＯＲＮＬ，Ｏａｋ  Ｒｉｄｇｅ  Ｎａｔｉｏｎａｌ  Ｌａｂｏｒａｔｏｒｙ，Ａｐｒｉｌ  １９６９．
【００３３】
Ｚ（ｄ、Ｄ、ｓ、ｆ）の一例が、参考文献２の方程式３．４９中に示されている。
【００３４】
他のコイル幾何形状について、例えばフェライトコアを伴うコイルについて、インピーダンスＺは同様に、同じパラメータｄ、Ｄ、ｓ、ｆの関数であり、Ｚは有限要素法（ＦＥＭ）に基づくシミュレーションを使用することによってこれらのパラメータから計算可能である。同様にして、制御ユニット１７により測定されるパラメータＰも同様に、パラメータｄ、Ｄ、ｓ、ｆの関数である。
【００３５】
制御ユニット１７は、Ｕ０が信号発生器１６の出力端における公知の電圧でありＵ１が増幅器１８の入力端における電圧であり、その両方が周波数ｆにおける正弦波電圧についての（電圧の位相シフトをエンコードするための）複素数値であるものとして、以下の式
【数１】
0006659821.tif 000002
を用いることで直接パラメータＺを測定するように適応され得る。
【００３６】
より一般的な事例において、例えば増幅器１８の増幅係数が正確に分かっていない場合、測定されたパラメータＰはインピーダンスＺに等しくなく、その単調な関数であり、有利にはそれに正比例する。
【００３７】
Ｐ（ｄ、Ｄ、ｓ、ｆ）中の対象パラメータは、以上で論述したようにブレーキディスクの品質についての情報を提供することから、ブレーキディスク２の伝導率ｓである。ブレーキディスク２の厚みＤ及び周波数ｆは周知である。しかしながら、コイル１０とブレーキディスク２との間の距離ｄは、特に車両のシャーシとブレーキディスク２の位置との間には、典型的には軸方向７に沿って実質的な位置付け許容誤差が存在することを理由として、高い精度では分かっていない。
【００３８】
参考文献２の方程式３．４９から分かるように、コイル１０のインピーダンスは、異なる形で距離ｄ及び伝導率ｓに依存している。したがって、少なくとも第１の周波数ｆ１におけるパラメータＰの第１の値Ｐ１及び第２の周波数ｆ２におけるパラメータＰの第２の値Ｐ２を測定することによって、
【数２】
0006659821.tif 000003
という方程式系が得られ、この方程式系は、たとえ距離ｄが正確に分かっていなくても、未知の伝導率ｓについて解くことができる。
【００３９】
方程式（２）中の関数Ｐは、距離ｄ、伝導率ｓ及び周波数ｆｉの関数としてパラメータＰを記述する数学モデルである。これは、少なくとも近似的に分析により知ることができ、又は、例えば有限要素フィールド計算から数値形式で得ることができる。
【００４０】
方程式（２）は、（Ｐ（ｄ、Ｄ、ｓ、ｆ）が分析形で公知であり、方程式系が分析形で解ける場合）分析的に解いてよく、又は、より典型的には、方程式（２）は、例えば求根アルゴリズムを用いて数値的に解いてよい。
【００４１】
ただし、有利には、３つ以上の異なる周波数についての３つ以上の測定が行なわれる。したがってより一般的な形態において、ｉ＝１．．．Ｎ、Ｎ＞１、特にＮ＞２として、一連の測定、
【数３】
0006659821.tif 000004
が行なわれる。通常過剰決定される方程式系（３）は、フィッティング技術、特に最小化手法及び／又は回帰分析を用いて解くことができる。このような技術は、当業者にとって公知であり、例えばＰｒｅｓｓら，「Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ｒｅｃｉｐｅｓ  ３ｒｄ  Ｅｄｉｔｉｏｎ：Ｔｈｅ  Ａｒｔ  ｏｆ  Ｓｃｉｅｎｔｉｆｉｃ  Ｃｏｍｐｕｔｉｎｇ」，ＩＳＢＮ−１３：９７８−０５２１８８０６８８，Ｓｅｃｔｉｏｎ１５中に記載されている。
【００４２】
図５は、周波数ｆの関数としてのコイル（フェライトコア無し）のインピーダンスＺの実数部及び虚数部Ｒ及びＬを示す。コイル近くにブレーキディスクの無いセットアップ（「ａｉｒ」）について及びコイルがブレーキディスクに近いセットアップ（「ｄｕｔ」）について、測定が行なわれた。両方の場合について、測定値と共に、理論上の抵抗及び誘導率値（参考文献１及び２の中の公式から得られるもの）がプロットされている。これを見れば分かるように、曲線は、コイルの共振周波数より充分に低い周波数について良好に整合する。
【００４３】
この時点で、ブレーキディスク２の品質を査定するために伝導率ｓの正確で絶対的な知識は全く必要とされないことを指摘しておかなければならない。むしろ、伝導率ｓに依存する（有利にはそれに単調に依存、特にそれに正比例する）任意の品質値Ｍを使用することができる。例えば、品質値Ｍは、伝導率ｓに等しいか又は伝導率ｓに正比例し得る。すなわち、
【数４】
0006659821.tif 000005
で、式中ｋはゼロではなく、例えば１である。
【００４４】
したがって、より一般的に言うと、該方法は、以下のステップを含む：
−  距離ｄ及び伝導率ｓの関数としてパラメータＰを記述する数学モデルを提供するステップ。すなわち、上述の通り、これは、例えば、上述の参考文献１及び２に記載のものなどの分析モデルであり得る。これは同様に、例えば公知の周波数ｆ、伝導率ｓ及び距離ｄについての一連のキャリブレーション測定又は有限要素演算に基づくことのできる数値モデルであってもよい。数値モデルは、例えば多次元ルックアップテーブルとして制御ユニット１７内に記憶され、補間アルゴリズムを用いてアクセスされ得る。
−  距離ｄ及び伝導率ｓを変動させることによって、測定されたパラメータ値Ｐ１、Ｐ２又はより一般的にＰｉに対しモデルをフィッティングするステップ。換言すると、それぞれ方程式（２）又は（３）の「最良の解」（例えば最小二乗偏差の最小和の意味合いで）を提供する距離ｄ及び伝導率ｓの値が検索される。
−  モデルのフィッティングから伝導率ｓの値の関数として品質値Ｍを導出するステップ。したがって、品質値Ｍは、例えば伝導率ｓに等しいか、方程式（４）により記述されるように伝導率ｓに正比例するか、又は、異なる形で、詳細には単調な形で伝導率ｓに依存することができる。
【００４５】
方程式（２）又は（３）を解くことによって、未知の距離ｄに対する依存度がはるかに低い品質値Ｍを得ることができる。距離ｄの変動又は誤差に対する品質値Ｍのロバスト性は、比率ＲMにより表現することができる：
【数５】
0006659821.tif 000006
【００４６】
距離ｄの誤差に対してロバストである品質値Ｍを得るためには、ＲMは有利には０．１未満である。
【００４７】
方程式（３）で使用されたモデルの品質が完璧である場合、比率ＲMはゼロであるはずである。しかしながら、大部分の場合において、モデルは近似であり、したがって比率ＲMはゼロより大きい可能性がある。
【００４８】
注記
以上の実施形態において、測定は以下の後続ステップを含む：
−  コイル１０に対し第１の周波数ｆ１を有する電圧を印加し、パラメータＰの第１の値Ｐ１を測定するステップ、及び
−  コイル１０に対し第２の周波数ｆ２の電圧を印加し、パラメータＰの第２の値Ｐ２を測定するステップ。
【００４９】
Ｎ個の周波数全てについてこれを続行する。換言すると、測定は周波数領域内で実施される。
【００５０】
代替的には、測定を時間領域で実施することができる。この場合、対象の周波数ｆ１、ｆ２（又はさらに一般的なｉ＝１．．．Ｎについてのｆｉ）全てにおいてスペクトル成分を有する電圧パルスを生成するために、信号発生器１６を適応させることができる。この電圧パルスは、コイル１０に印加され、時間の関数として、コイル１０を通る電流（又は同等に、抵抗器Ｒ上の電圧）が測定される。当業者にとって公知であるように、これにより、ＦＦＴ技術などのスペクトル分析を用いてコイル１０のインピーダンスＺの周波数成分を決定することが可能になる。
【００５１】
参考文献１及び２に提供されているようなコイル１０のインピーダンスＺについて示された公式は、ブレーキディスク２が休止している場合に当てはまる。しかしながら、ブレーキディスク２が回転する場合、追加の渦電流がブレーキディスク２の材料中で生成され、これが理論からの逸脱を導く。
【００５２】
したがって、有利な実施形態において、測定は、ブレーキディスク２が休止している間、すなわちブレーキディスク２の運動によってひき起こされる（測定された伝導率ｓと理論的モデルから得られる伝導率の間の）偏差が無視できる程度のものである場合に実施される。
【００５３】
代替的には、ブレーキディスクの回転を考慮に入れたインピーダンスＺ又はパラメータＰについてのモデルを使用することができ、これにより車両の高速移動中に測定を行なうことが可能になる。
【００５４】
測定において使用すべき周波数ｆｉは、有利には少なくとも０．５ＭＨｚである、何故ならば、より低い周波数は、ブレーキディスク２を超えて延在する傾向をもつ磁場を導き、これにより、測定上の品質値Ｍがディスクの背後の構成部品にさらに依存するものとなるからである。
【００５５】
一方で、以上で言及した理由で、周波数ｆｉは、典型的なコイルについては１５ＭＨｚ以上であるコイルの共振周波数よりも低いものでなければならない。したがって、周波数ｆｉは有利には１５ＭＨｚより小さい。
【００５６】
さらに、周波数ｆｉは、バルク特性を測定するために磁場がブレーキディスク２内の奥深くに入ることが望まれる場合のものよりも、さらに小さくなるように、選択されなければならない。少なくとも１ｃｍ前後の侵入深さを得るためには、周波数ｆｉは３ＭＨｚより小さくなければならない。
【００５７】
ここで説明された装置は、車両内に固定して設置され、車両の運用中そこにとどまることができる。前述のように、測定は、車両が停止している間だけでなく（インピーダンスに好適なモデルが使用されている場合には）車両が走行しているときにも実施可能である。
【００５８】
車両は、例えば乗用車、特定用途車、又は、自動二輪車であり得る。この種の車両については概してそうであるように２基以上のブレーキディスクを有している場合、そのブレーキディスクの各々に対し少なくとも１つの測定用装置を割り当てて、それら全てを監視することができる。
【００５９】
図１の実施形態においては、各ブレーキディスクに対して１つの測定用装置が割り当てられている。しかしながら、所与の車両では、ブレーキディスク数よりも少ない数の測定用装置、例えば、車両１台あたり１基だけの測定用装置、又は、車軸１本あたり１基だけの測定用装置、が存在してもよく、その場合、１台の車両中又は１本の車軸上の全てのブレーキディスクが、同程度の摩耗及び経年劣化を受けると仮定し、ブレーキディスクの１サブセットのみが監視される。
【００６０】
本明細書中に記載の方法を実施するための全てのステップは、装置の制御ユニット１７内のハードウェア及びソフトウェアによって制御され、その中で実行され得る。
【００６１】
本発明の現在の好ましい実施形態が示され説明されているものの、本発明がそれに限定されず、以下の特許請求の範囲の範囲内で他の形でさまざまに具体化され実践され得ることをはっきりと理解すべきである。
【図１】
0006659821.tif 000008
【図２】
0006659821.tif 000009
【図３】
0006659821.tif 000010
【図４】
0006659821.tif 000011
【図５】
0006659821.tif 000012