(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼の断層像を撮影するための眼科撮像装置であって、
被検眼に照射された測定光と参照光との干渉を光検出器によって検出するＯＣＴ光学系と、
前記測定光を走査するために、前記ＯＣＴ光学系からの前記測定光を偏向する光スキャナ、前記光スキャナと前記被検眼の間に配置されており、前記光スキャナによって偏向された測定光を被検眼に導く対物光学系、および、前記測定光の集光位置を光軸方向に変更する集光位置変更手段、を含む測定光学系と、
前記対物光学系に対する前記光スキャナの相対位置であって、前記光軸方向に関する相対位置を変位させる駆動機構と、
前記駆動機構を制御し、前記測定光の旋回位置を前記光軸方向に関して調整する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、前記旋回位置を、前記被検眼の第１深度帯に対応する第１位置と、前記第１深度帯とは異なる前記被検眼の第２深度帯に対応する第２位置との間で変更し、
更に、前記旋回位置が第１位置に変位される場合、前記第１深度帯において前記測定光が集光するように、前記旋回位置が第２位置に変位される場合、前記第２深度帯において前記測定光が集光するように、前記光スキャナの相対位置に連動させて前記集光位置変更手段を制御する眼科撮像装置。
【請求項２】
被検眼の断層像を撮影するための眼科撮像装置であって、
被検眼に照射された測定光と参照光との干渉を光検出器によって検出するＯＣＴ光学系と、
前記測定光を走査するために、前記ＯＣＴ光学系からの前記測定光を偏向する光スキャナ、および、前記光スキャナと前記被検眼の間に配置されており、前記光スキャナによって偏向された測定光を被検眼に導く対物光学系、を含む測定光学系と、
前記対物光学系に対する前記光スキャナの相対位置であって、光軸方向に関する相対位置を、前記光スキャナを前記光軸方向に関して移動させることによって、変位させる駆動機構と、
前記駆動機構を制御し、前記測定光の旋回位置を前記光軸方向に関して調整する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、前記旋回位置を、前記被検眼の第１深度帯に対応する第１位置と、前記第１深度帯とは異なる前記被検眼の第２深度帯に対応する第２位置との間で変更することを特徴とする眼科撮像装置。
【請求項３】
被検眼の断層像を撮影するための眼科撮像装置であって、
被検眼に照射された測定光と参照光との干渉を光検出器によって検出するＯＣＴ光学系と、
前記測定光を走査するために、前記ＯＣＴ光学系からの前記測定光を偏向する光スキャナ、および、前記光スキャナと前記被検眼の間に配置されており、前記光スキャナによって偏向された測定光を被検眼に導く対物光学系、を含む測定光学系と、
前記参照光が導かれる参照光学系であって、第１参照光路と、第１参照光路とは光路長が異なる第２参照光路とに参照光を分岐させる分岐部を有し、更に、前記第１参照光路を経た参照光である第１参照光と、前記第２参照光路を経た参照光である第２参照光とを、同時に前記光検出器に導く参照光学系と、
前記対物光学系に対する前記光スキャナの相対位置であって、光軸方向に関する相対位置を変位させる駆動機構と、
前記駆動機構を制御し、前記測定光の旋回位置を前記光軸方向に関して調整する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、前記旋回位置を、前記被検眼の第１深度帯に対応する第１位置と、前記第１深度帯とは異なる前記被検眼の第２深度帯に対応する第２位置との間で変更することを特徴とする眼科撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、被検眼の断層像を撮影する眼科撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被検物の断層像を撮影する装置として、光断層干渉計（Optical Coherence Tomography：OCT）が知られている。
【０００３】
また、眼科分野では、近年、被検眼において、深度帯が異なる２以上の部位（例えば、前眼部と眼底と等）についての断層像を、１台の装置で得る試みが行われている。例えば、特許文献１には、検査窓に対するレンズアタッチメントの着脱に応じて、前眼部の撮影と、眼底の撮影とを、切換えて行う装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−１４７６０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、上記特許文献１の技術では、撮影する深度帯を前眼部と眼底との間で変更する場合に、アタッチメントを着脱する必要があり、手間であった。
【０００６】
本開示は、上記事情に鑑みてなされたものであり、被検眼において深度帯が異なる２以上の部位についての断層像を、それぞれ良好に得ることができる新たな眼科撮像装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示の第１態様に係る眼科撮像装置は、被検眼の断層像を撮影するための眼科撮像装置であって、被検眼に照射された測定光と参照光との干渉を光検出器によって検出するＯＣＴ光学系と、前記測定光を走査するために、前記ＯＣＴ光学系からの前記測定光を偏向する光スキャナ、前記光スキャナと前記被検眼の間に配置されており、前記光スキャナによって偏向された測定光を被検眼に導く対物光学系、および、前記測定光の集光位置を光軸方向に変更する集光位置変更手段、を含む測定光学系と、前記対物光学系に対する前記光スキャナの相対位置であって、前記光軸方向に関する相対位置を変位させる駆動機構と、  前記駆動機構を制御し、前記測定光の旋回位置を前記光軸方向に関して調整する制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記旋回位置を、前記被検眼の第１深度帯に対応する第１位置と、前記第１深度帯とは異なる前記被検眼の第２深度帯に対応する第２位置との間で変更し、更に、前記旋回位置が第１位置に変位される場合、前記第１深度帯において前記測定光が集光するように、前記旋回位置が第２位置に変位される場合、前記第２深度帯において前記測定光が集光するように、前記光スキャナの相対位置に連動させて前記集光位置変更手段を制御する。
本開示の第２態様に係る眼科撮像装置は、被検眼の断層像を撮影するための眼科撮像装置であって、被検眼に照射された測定光と参照光との干渉を光検出器によって検出するＯＣＴ光学系と、前記測定光を走査するために、前記ＯＣＴ光学系からの前記測定光を偏向する光スキャナ、および、前記光スキャナと前記被検眼の間に配置されており、前記光スキャナによって偏向された測定光を被検眼に導く対物光学系、を含む測定光学系と、前記対物光学系に対する前記光スキャナの相対位置であって、光軸方向に関する相対位置を、前記光スキャナを前記光軸方向に関して移動させることによって、変位させる駆動機構と、  前記駆動機構を制御し、前記測定光の旋回位置を前記光軸方向に関して調整する制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記旋回位置を、前記被検眼の第１深度帯に対応する第１位置と、前記第１深度帯とは異なる前記被検眼の第２深度帯に対応する第２位置との間で変更することを特徴とする。
本開示の第３態様に係る眼科撮像装置は、被検眼の断層像を撮影するための眼科撮像装置であって、被検眼に照射された測定光と参照光との干渉を光検出器によって検出するＯＣＴ光学系と、前記測定光を走査するために、前記ＯＣＴ光学系からの前記測定光を偏向する光スキャナ、および、前記光スキャナと前記被検眼の間に配置されており、前記光スキャナによって偏向された測定光を被検眼に導く対物光学系、を含む測定光学系と、前記参照光が導かれる参照光学系であって、第１参照光路と、第１参照光路とは光路長が異なる第２参照光路とに参照光を分岐させる分岐部を有し、更に、前記第１参照光路を経た参照光である第１参照光と、前記第２参照光路を経た参照光である第２参照光とを、同時に前記光検出器に導く参照光学系と、前記対物光学系に対する前記光スキャナの相対位置であって、光軸方向に関する相対位置を変位させる駆動機構と、前記駆動機構を制御し、前記測定光の旋回位置を前記光軸方向に関して調整する制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記旋回位置を、前記被検眼の第１深度帯に対応する第１位置と、前記第１深度帯とは異なる前記被検眼の第２深度帯に対応する第２位置との間で変更することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本開示によれば、被検眼において深度帯が異なる２以上の部位についての断層像を、それぞれ良好に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１Ａ】第１実施形態における眼科撮像装置の構成を示す概略図であって、眼底撮影時の光学配置が図示されている。
【図１Ｂ】第１実施形態における眼科撮像装置の構成を示す概略図であって、前眼撮影時の光学配置が示されている。
【図２】走査部の一例を、拡大した図である。
【図３】眼科撮像装置において撮影される断層像を示した図である。
【図４Ａ】前眼撮影時における干渉光学系の各部の位置関係を示した説明図である。
【図４Ｂ】眼底撮影時における干渉光学系の各部の位置関係を示した説明図である。
【図５】第２実施形態における眼科撮像装置の構成を示した概略図である。
【図６】前眼部からの測定光の戻り光と参照光とによる干渉信号と、眼底からの測定光の戻り光と参照光とによる干渉信号と、におけるフーリエ変換後の強度分布を示す図である。
【図７】対物光学系に対する走査部の相対位置を調整する構成の第１の変容例を示した眼科撮像装置の概略図である。
【図８Ａ】対物光学系に対する走査部の相対位置を調整する構成の第２の変容例を示した眼科撮像装置の概略図であって、眼底撮影時の光学配置が図示されている。
【図８Ｂ】対物光学系に対する走査部の相対位置を調整する構成の第２の変容例を示した眼科撮像装置の概略図であって、前眼部撮影時の光学配置が図示されている。
【図９Ａ】対物光学系に対する走査部の相対位置を調整する構成の第３の変容例を示した眼科撮像装置の概略図であって、眼底撮影時の光学配置が図示されている。
【図９Ｂ】対物光学系に対する走査部の相対位置を調整する構成の第３の変容例を示した眼科撮像装置の概略図であって、前眼部撮影時の光学配置が図示されている。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を参照しつつ、本開示における典型的な実施形態を説明する。まず、図１Ａ〜図４を参照して、第１実施形態を説明する。第１実施形態に係る光断層干渉計１（以下、「ＯＣＴデバイス１」と称す）は、被検眼Ｅの深さ情報を取得する眼科撮像装置である。ＯＣＴデバイス１は、例えば、フーリエドメイン光コヒーレンストモグラフィー（ＦＤ−ＯＣＴ）であってもよいし、タイムドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）であってもよい。ＦＤ−ＯＣＴとしては、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ：Spectral Domain OCT）、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ：Swept source-OCT）が代表的であり、勿論、それらの装置に対して本開示が適用され得る。
【００１１】
図１Ａ，図１Ｂに示すＯＣＴデバイス１は、主に、干渉光学系２（ＯＣＴ光学系）と、測定光学系（導光光学系）２０と、制御部７０と、を備える。本第１実施形態において、ＯＣＴデバイス１は、更に、固視標投影ユニット９０（第２光学系）と、記憶部（メモリ）７２と、操作部７４と、モニタ７５と、を備える。
【００１２】
まず、干渉光学系２について説明する。干渉光学系２は、光源１１から発せられた光束を測定光と参照光に分割する。干渉光学系２は、測定光を被検眼Ｅに導くと共に、参照光を参照光学系３０に導く。そして、干渉光学系２は、被検眼Ｅに照射された測定光と参照光との干渉を検出器（光検出器）４０によって検出する。より具体的には、本実施形態では、被検眼Ｅで反射（又は後方散乱）された測定光と、および参照光の合成による光の干渉信号が、検出器４０によって検出される。
【００１３】
ＳＤ−ＯＣＴの場合、光源１１として低コヒーレント光源（広帯域光源）が用いられ、検出器４０には、干渉光を周波数成分に分光する分光光学系（スペクトルメータ）が設けられる。スペクトルメータは、例えば、回折格子とラインセンサからなる。
【００１４】
また、ＳＳ−ＯＣＴの場合、光源１１として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源（波長可変光源）が用いられ、検出器４０には、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源１１は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、および波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。
【００１５】
ＯＣＴデバイス１では、測定光学系２０の光学配置が切換わる。一例として、図１Ａに示す光学配置と、図１Ｂに示す光学配置とに切換わってもよい。図１Ａおよび図１Ｂの光学配置では、ＯＣＴデバイス１によって断層像が撮像される部位の深度帯が互いに異なる。以下、図１Ａおよび図１Ｂの光学配置を持つＯＣＴデバイス１にＳＤ―ＯＣＴを適用した具体例を中心として、本第１実施形態を説明する。
【００１６】
図１Ａ，図１Ｂに例示する干渉光学系２は、光源１１と、光ファイバ１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄと、分割器１５と、参照光学系３０と、検出器４０と、を備える。
【００１７】
光源１１は、干渉光学系２の測定光および参照光として用いられる低コヒーレントの光を発する。光源１１としては、例えば、ＳＬＤ光源等が用いられてもよい。この場合の具体例として、光源１１は、λ＝８００ｎｍ〜１１００ｎｍの間に中心波長を持つ光を出射してもよい。光源１１からの光は、光ファイバ１５ａを介して、分割器１５へ導かれる。
【００１８】
なお、光ファイバ１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄは、内部に光を通過させることで、分割器１５，光源１１，測定光学系２０，参照光学系３０，および，検出器４０等，のそれぞれとを繋ぐ。
【００１９】
分割器１５は、（光ファイバ１５ａを介して）光源１１から導かれた光を、測定光と参照光とに分割する。測定光は、ファイバ１５ｂを通って、測定光学系２０へ導かれる。一方、参照光は、ファイバ１５ｃ、および、ポラライザ３１を介して、参照光学系３０へ導かれる。
【００２０】
図１Ａ，図１Ｂの例において、分割器１５は、被検眼Ｅへ導光された測定光の戻り光と、参照光との導光路を結合する結合部（コンバイナ）を兼用する（詳細は後述する）。このような分割器１５は、例えば、ファイバーカップラーであってもよい。以下、分割器１５をカップラー１５と示す。
【００２１】
便宜上、ここで、測定光学系２０について説明する。測定光学系２０は、例えば、測定光を被検眼Ｅに導く。一例として、図１Ａ，図１Ｂに示す測定光学系２０は、コリメータレンズ２１，光束径調節部２２，集光位置可変光学系（集光位置可変レンズ系）２３，走査部（光スキャナー）２４，ミラー２５，ダイクロイックミラー２６，および，対物光学系２７，を有する。
【００２２】
コリメータレンズ２１は、光ファイバ１５ｂの端部１６ｂから出射される測定光を、コリメートする。
【００２３】
光束径調節部２２は、干渉光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路中に配置されており、その光路における測定光の光束径を変更するために利用される。図１Ａ，図１Ｂの例において、光束径調節部２２は、測定光学系２０におけるカップラー１５と、走査部２４と、の間の光路中に設けられる。光束径調節部２２は、例えば、挿脱機構によって光路から挿脱可能なアパーチャ、可変ビームエクスパンダ，および，開口の径を調整可能な可変アパーチャ等の少なくともいずれかであってもよい。具体例として、図１Ａ，図１Ｂに示す光束径調節部２２は、可変ビームエクスパンダである。図１Ａ，図１Ｂに示すように、可変ビームエクスパンダには、例えば、２つのレンズ２２ａ，２２ｂと、駆動部２２ｃと、が含まれてもよい。駆動部２２ｃは、互いのレンズ２２ａ，２２ｂにおける光軸方向の位置関係を、制御部７０からの制御信号に基づいて変更する。これにより、測定光の光束径（およびＮＡ）が変更される。
【００２４】
集光位置可変光学系２３は、測定光の集光位置を、光軸Ｌ１方向に変更するために利用される。集光位置可変光学系２３は、少なくとも１つのレンズ２３ａを有し、レンズ２３ａを用いて測定光の集光位置を、光軸Ｌ１方向に関して調整する。図１Ａ，図１Ｂの例において、集光位置可変光学系２３は、カップラー１５と、走査部２４と、の間の光路中に設けられている。なお、本実施形態では、光束径調節部２２と走査部２４との中間に集光位置可変光学系２３が配置される。しかし、光束径調節部２２と集光位置可変光学系２３の配置は、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、互いに置き換えられてもよい。また、両者の間にリレー光学系等が介在してもよい。レンズ２３ａは、光軸Ｌ１方向に関して、測定光の集光位置を定めるフォーカス光学系を構成する。フォーカス光学系は、レンズ２３ａ単独で構成されてもよいし、レンズ２３ａと、それ以外の光学素子と共に構成されてもよい。集光位置可変光学系２３は、例えば、レンズ２３ａの屈折力，対物光学系２７とレンズ２３ａとの光軸Ｌ１方向に関する位置関係，のいずれかを調整する構成で実現される。なお、対物光学系２７とレンズ２３ａとの位置関係の調整は、例えば、光軸Ｌ１方向に関するレンズ２３ａの位置，レンズ２３ａと対物光学系２７ａとの間の光路長，および，測定光路に対するレンズの挿脱，のいずれかによって実現されてもよい。この場合、レンズ２３ａを所期する方向に移動させる駆動部（アクチュエータ）が、制御部７０によって制御される。本第１実施形態において、集光位置可変光学系２３は、眼底Ｅｒ等の眼内を撮影する場合において、視度を補正する視度補正光学系としても利用し得る（詳細は後述する）。
【００２５】
図１Ａ，図１Ｂの例において、レンズ２３ａは、可変焦点レンズである。レンズ２３ａは、光軸Ｌ１に対して静止した状態で、焦点位置を変更可能である。レンズ２３ａは、制御部７０によって設定される印加電圧の大きさに応じて、屈折力を変化させる。典型的な可変焦点レンズとしては、液晶レンズ等が知られている。なお、屈折力可変のレンズとしては、液晶レンズに限られるものではなく、例えば、液体レンズ、非線形光学部材、分子部材、回転非対称な光学部材等であってもよい。
【００２６】
走査部２４は、測定光を走査するために、前記ＯＣＴ光学系からの測定光を偏向する光スキャナを有する。走査部２４は、例えば、２つのガルバノミラー２４１，２４２（光スキャナの一例）を有してもよい。図２の例において、２４１は、Ｘ走査用ガルバノミラーであり、２４２は、Ｙ走査用ガルバノミラーである。各ガルバノミラー２４１，２４２は、それぞれ、ミラー部２４１ａ，２４２ａと、それぞれの２４１ａ，２４２ａを回転させる駆動部２４１ｂ，２４２ｂ（例えば、モーター）を含んでいてもよい。制御部７０が、各々のガルバノミラー２４１，２４２の向きを独立に制御することで、測定光の進行方向を変更する。その結果、被検眼Ｅに対して、上下左右方向に測定光を走査することができる。なお、走査部２４は、ガルバノミラー２４１ｂ，２４２ｂ以外の光スキャナを用いることができる。例えば、反射型のスキャナ（例えば、ＭＥＭＳスキャナ、レゾナントスキャナ、ポリゴンミラー等でもよい）が用いられてもよいし、音響光学素子等が用いられてもよい。
【００２７】
図１Ａ，図１Ｂの例では、走査部２４によって進行方向が変えられた測定光は、各ミラー面が直角を挟んで配置されるミラー２５，および，ダイクロイックミラー２６，のそれぞれで反射される。これにより、測定光は、走査部２４からの出射時とは反対向きに折り返される。その結果として、測定光が対物光学系２７へ導かれる。
【００２８】
本実施形態において、対物光学系２７は、固定的に配置されている。より詳細には、対物光学系２７は、測定光学系２０において、走査部２４と被検眼Ｅとの間に配置されている。対物光学系２７は、光スキャナ（本実施形態では、ガルバノミラー２４１，２４２）によって偏向された測定光を、被検眼Ｅに導く。本実施形態において、対物光学系２７は、正のパワーを持つレンズ系（対物レンズ系）として形成されている。このため、走査部２４からの測定光は、対物光学系２７を通過することで、光軸Ｌ１側に折れ曲がる。なお、図１Ａ，図１Ｂでは、便宜上、対物光学系２７を、２枚のレンズ２７ａ，２７ｂからなる光学系として示しているが、対物光学系２７を構成するレンズの数は、これに限定されない。対物光学系２７は、１枚のレンズに置き換えてもよいし、３枚以上のレンズに置き換えてもよい（例えば、図４参照）。また、対物光学系２７は、レンズ系に限られるものではなく、例えば、ミラー系であってもよいし、レンズとミラーとの組み合わせによる光学系であってもよいし、レンズおよびミラー以外の光学部材を含む光学系であってもよい。
【００２９】
このような測定光学系２０では、光ファイバ１５ｂの端部１６ｂから測定光が出射すると、コリメータレンズ２１によって測定光がコリメートされる。その後、測定光は、光束径調節部２２および集光位置可変光学系２３を通過して、走査部２４に達する。測定光は、走査部２４に設けられた２つのガルバノミラーで反射された後、更に、ミラー２５およびダイクロイックミラー２６で反射される。その結果、測定光は、対物光学系２７に入射する。そして、測定光は、対物光学系２７を通過して、被検眼Ｅへ導光される。その後、測定光は、被検眼Ｅで反射または散乱され、その結果として、測定光学系２０を逆に辿って光ファイバ１５ｂの端部１６ｂに入射する。端部１６ｂに入射した測定光は、光ファイバ１５ｂを介して、カップラー１５に入射する。
【００３０】
ＯＣＴデバイス１は、駆動部（アクチュエータ）を備える。駆動部は、対物光学系２７に対する走査部２４（つまり、光スキャナであるガルバノミラー２４１，２４２）の相対位置であって、測定光学系２０の光軸Ｌ１方向に関する相対位置を変位させる。より詳細には、駆動部の駆動によって、対物光学系２７の後側焦点位置（又は、その共役位置）に対する走査部２４の相対位置が変更される。この相対位置の変位によって、測定光の旋回位置が光軸Ｌ１方向に関して変更される（詳細は後述する）。駆動部は、走査部２４、及び、対物光学系２７と走査部２４との間に配置される光学部材、の少なくとも一方を移動させることで、対物光学系２７に対する走査部２４の相対距離を変位させてもよい。図１Ａ，図１Ｂの例において、ＯＣＴデバイス１は、駆動部５０を有する。対物光学系２７と走査部２４との間隔（光路長）が、駆動部５０の駆動によって変更され、これにより、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置が変位される。この相対位置は、断層像が撮影される被検眼Ｅの深度帯と対応して変更される。
【００３１】
図１Ａ，図１Ｂの例において、駆動部５０は、それぞれのミラー面が直角を挟んで配置される２枚のミラー（ミラー２５およびダイクロイックミラー）を、所定の方向に一体的に移動させる。本実施形態では、対物光学系２７の光軸方向に移動される。その結果、走査部２４から対物光学系２７までの光路長が変更される（例えば、図１Ａ→図１Ｂ，図１Ｂ→図１Ａ）。例えば、断層像が得られる深度帯を前眼部と眼底Ｅｒとの間で切換える場合は、走査部２４から対物光学系２７までの光路長を比較的大きく変更する必要がある。これに対し、図１Ａの例において、走査部２４から出射した測定光は、２枚のミラーによって折り返されているので、２枚のミラーを移動させた場合、走査部２４から対物光学系２７までの光路長の変化（換言すれば、対物光学系２７に対する走査部２４の光軸Ｌ１方向に関する変位量）を、２枚のミラー２５，２６の移動量の２倍とることができる。故に、対物光学系２７に対する走査部２４の位置を、測定光学系２０の光軸Ｌ１方向に関して変位させるために必要なスペースを抑制できる。
【００３２】
また、図１Ａ，図１Ｂに示すように、ＯＣＴデバイス１は、対物光学系２７に対する走査部２４の位置を検出するためのセンサ５１を備えていてもよい。センサ５１としては、様々なデバイスを利用可能である。例えば、ポテンションメータ等のリニア変位センサがセンサ５１として適用されてもよい。
【００３３】
ここで、干渉光学系２の説明に戻る。参照光学系３０は、参照光を生成する。参照光は、眼底Ｅｒによって反射された測定光の反射光と合成される光である。参照光学系３０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。図１Ａ，図１Ｂに例示する参照光学系３０は、反射光学系（例えば、参照ミラー３４）によって形成される。図１Ａ，図１Ｂの例では、カップラー１５からの光が、反射光学系によって反射されることで再度カップラー１５に戻され、結果として、検出器４０に導かれる。必ずしもこれに限られるものではなく、参照光学系３０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成されてもよい。この場合、参照光学系３０は、カップラー１５で分割された参照光を、カップラー１５へ戻さずに、透過させることで検出器４０へ導く。
【００３４】
図１Ａ，図１Ｂの例において、参照光学系３０は、分割器１５から、参照ミラー３４までの光路に、光ファイバ１５ｃ，光ファイバ１５ｃの端部１６ｃ，コリメータレンズ３３，参照ミラー３４，を有している。光ファイバ１５ｃは、参照光の偏光方向を変化させるため、駆動部３２により回転移動される。すなわち、光ファイバ１５ｃおよび駆動部３２は、偏光方向を調整するためのポラライザ３１として用いられる。なお、ポラライザとしては、上記構成に限定されず、測定光の光路または参照光の光路に配置されるポラライザを駆動させることにより、測定光と参照光の偏光状態を略一致させるものであればよい。例えば、１／２波長板や１／４波長板を用いることやファイバに圧力を加えて変形させることで偏光状態を変えるもの等が適用できる。
【００３５】
なお、ポラライザ３１（偏光コントローラ）は、測定光と参照光の偏光方向を一致させるために、測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光方向を調整する構成であればよい。例えば、ポラライザ３１は、測定光の光路に配置された構成であってもよい。
【００３６】
また、参照ミラー３４は、参照ミラー駆動部３４ａによって、光軸方向Ｌ２に関して変位する。参照ミラー３４が変位することで、参照光の光路長が調整される。
【００３７】
光ファイバ１５ｃの端部１６ｃから出射した参照光は、コリメータレンズ２１で平行光束とされ、参照ミラー３４で反射される。その後、参照光はコリメータレンズ２１によって集光されて光ファイバ１５ｃの端部１６ｃに入射する。端部１６ｃに入射した参照光は、光ファイバ１５ｃ、光ファイバ３１（ポラライザ３１）を介して、カップラー１５に達する。
【００３８】
図１Ａ，図１Ｂの例では、参照ミラー３４で反射された参照光と、被検眼Ｅに導光された測定光の戻り光（つまり、被検眼Ｅで反射または散乱された測定光）とは、カップラー１５によって合成されて、干渉光とされる。この干渉光は、ファイバ１６ｄを介して、端部１６ｄから出射される。その結果、干渉光が検出器４０に導かれる。
【００３９】
検出器（ここでは、スペクトロメータ部）４０は、周波数（波長）毎の干渉信号を得るために、参照光と測定光による干渉光を周波数（波長）毎に分光し、分光された干渉光を受光する。
【００４０】
図１Ａ，図１Ｂに示す検出器４０は、例えば、コリメータレンズ、グレーティングミラー（回折格子）、集光レンズ、等の光学系（いずれも図示せず）を含んでいてもよい。検出器４０の本体（受光素子部分）は、例えば、一次元受光素子（ラインセンサ）が適用されてもよい。検出器４０は、光源１１から出射される光の波長に対して、感度を有する。上述したように、光源１１から赤外域の光が出射される場合、赤外域の感度がある検出器４０を利用し得る。
【００４１】
端部１６ｂから出射された干渉光は、コリメータレンズ２１によって平行光とされ、その後、グレーティングミラー４２によって、周波数成分に分光される。そして、周波数成分に分光された干渉光は、集光レンズ４３を介して、検出器４０の受光面に集光する。これによって、検出器４０上での干渉縞のスペクトル情報（スペクトル信号）が得られる。スペクトル情報は、制御部７０へ入力され、制御部７０において、フーリエ変換を用いて解析される。そして、解析結果として、眼の断層像（図３参照）が形成される。また、解析結果として、被検眼Ｅの深さ方向における情報が計測可能となる。
【００４２】
ここで、制御部７０は、走査部２４により測定光を被検眼Ｅの横断方向に走査することにで、断層像を取得できる。例えば、Ｘ方向もしくはＹ方向に走査することにより、被検眼眼底ＥｒのＸＺ面もしくはＹＺ面における断層像を取得できる（なお、本第１実施形態においては、このように測定光を眼底Ｅｒに対して一次元走査し、断層像を得る方式をＢスキャンとする）。なお、取得された断層像は、制御部７０に接続された記憶部７２に記憶される。更に、走査部２４の駆動を制御して、測定光をＸＹ方向に二次元的に走査することにより、被検者眼眼底ＥｒのＸＹ方向に関する二次元動画像，および，被検眼眼底Ｅｒの三次元画像を検出器４０からの出力信号に基づいて形成可能である。
【００４３】
次に、固視標投影ユニット９０について説明する。固視標投影ユニット９０は、眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。固視標投影ユニット９０は、眼Ｅに呈示する固視標（固視光源９１）を有する。固視標投影ユニット９０は、複数の方向に眼Ｅを誘導する構成でもよい。ここで、ダイクロイックミラー２６は、干渉光学系２の測定光として用いられる波長成分の光を透過し、固視標投影ユニット９０に用いられる波長成分の光を透過する特性を有する。故に、固視標投影ユニット９０から出射される固視標光束は、対物光学系２７を介して被検眼Ｅの眼底Ｅｒに照射される。これにより、被検者は、固視が可能になる。
【００４４】
＜制御系＞
次に、ＯＣＴデバイス１の制御系を説明する。制御部（コントローラ）７０は、ＯＣＴデバイス１の各部を制御する。例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）およびメモリ等を含んで構成されてもよい。また、本第１実施形態において、制御部７０は、例えば、検出器４０からの出力信号（つまり、干渉信号）を処理することによって、被検眼Ｅの深さ情報を取得する。深さ情報としては、断層像等の画像情報，被検眼Ｅの各部の寸法を示す寸法情報，測定光の照射部位における動き量を示す情報，偏光特性の情報を含む（複素数の）解析信号，等の少なくともいずれかであってもよい。本第１実施形態では、制御部７０が、干渉信号に基づいて被検眼Ｅの断層像を形成する画像処理器を兼用している。また、本第１実施形態の制御部７０は、断層像の形成以外にも、各種画像処理を行う。画像処理は、制御部７０に設けられた専用の電子回路（例えば、図示無き画像処理ＩＣ）によって行われてもよいし、プロセッサ（例えば、ＣＰＵ）によって行われてもよい。
【００４５】
制御部７０には、記憶部７２，操作部（ユーザインターフェイス）７４，および，モニタ７５，が接続されている。記憶部７２は、書き換え可能な非一過性の記憶媒体を含んでいてもよく、例えば、フラッシュメモリおよびハードディスク等のいずれかであってもよい。撮影および測定の結果得られた画像および測定データは、記憶部７２に保存される。ＯＣＴデバイス１における撮影シーケンスを規定するプログラムおよび固定データは、この記憶部７２に記憶されていてもよいし、制御部７０内のＲＯＭに記憶されていてもよい。また、光源１１，検出器４０，および，各種駆動部２２ｃ，２３ａ，２４１ａ，２４２ｂ，３２，３４ａ，５０のほか、センサ５１等が接続されている。
【００４６】
＜撮影深度帯の切換動作＞
次に、図４Ａ，図４Ｂを参照して、上記のような構成のＯＣＴデバイス１における、撮影深度帯の切換動作について説明する。本第１実施形態では、撮影深度帯を切換えるために、制御部７０は、駆動部５０を制御し、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して変位させる。旋回位置は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置に応じて変位する。つまり、本第１実施形態において、制御部７０は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置を駆動部５０によって変更させ、その結果として、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して調整する。その際、制御部７０は、測定光の旋回位置を、少なくとも、第１位置と、第２位置との間で変更する。第１位置は、被検眼Ｅの第１深度帯に対応し、第２位置は、第１深度帯とは異なる被検眼Ｅの第２深度帯に対応する。また、第２位置は、測定光学系の光軸方向（被検眼Ｅの深さ方向）に関して第１位置とは異なる。
【００４７】
また、第１位置と、第２位置とは、走査部２４から対物光学系２７における被検者側端部までの区間に形成される瞳のフーリエ変換像の数（又は、瞳像の数）が、互いに異なる旋回位置であってもよい。図４Ａ，図４Ｂにおいて、対物光学系２７における被検者側端部は、対物光学系２７において、最も被検眼Ｅの近くに配置されるレンズ面である。なお、仮に、対物光学系２７がミラー系である場合、最も被検眼Ｅの近くに配置されるミラー面が、被検者側端部である。第１位置と第２位置との間で旋回位置が切換わることで、上記区間における瞳のフーリエ変換像の数（又は、瞳像の数）の偶奇が切換わってもよい（詳細は後述する）。なお、このとき、瞳のフーリエ変換像の数，および瞳像の数のうち、両方における偶奇が切換わってもよいし、一方だけが切換わってもよい。第１位置と第２位置とにおいて、上記区間における瞳のフーリエ変換像の数（又は、瞳像の数）の偶奇が切換わることで、例えば、第１位置と第２位置との一方では、前眼部の断層像が良好に撮像されやすくなり、他方では、眼底Ｅｒの断層像が良好に撮像されやすくなる。なお、瞳のフーリエ変換像は、瞳から出射される平行光束が集光する位置に形成される（例えば、図４ＢにおけるＦｒの位置）。
【００４８】
ここで、図４Ａは、前眼部（本第１実施形態における第１深度帯）の撮影時における測定光学系２０の各部の位置関係を示す。図４Ｂは、眼底Ｅｒ（本第１実施形態における第２深度帯）の撮影時における測定光学系２０の各部の位置関係を示す。なお、図４Ａ，図４Ｂでは、ミラー２５およびダイクロイックミラー２６の図示を省略している。なお、図４Ａ，図４Ｂにおいて、Ｆｆは、対物光学系２７の前側焦点を示し、Ｆｒは、対物光学系２７の後側焦点を示す。また、Ｉｃは、対物光学系２７に関し、被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置を示している。
【００４９】
図４Ａ，図４Ｂの例において、制御部７０は、前眼部の撮影時と，眼底Ｅｒの撮影時と，において、駆動部５０を制御することで、測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して切換える。このとき、対物光学系２７と走査部２４との相対位置の変更と連動して、制御部７０は、参照光学系３０における光路長を調整してもよい。また、このとき、制御部７０は、集光位置可変光学系２３を制御して、測定光の集光位置を切換えてもよい。また、更に、制御部７０は、光束径調節部２２を制御して、ＮＡを調節してもよい。このような走査部２４の位置変更（換言すれば、撮影深度帯の変更）は、例えば、操作部７４から制御部７０へ出力される切換信号に基づいて実行されてもよい。また、一連の撮影シーケンスにおいて、制御部７０が自動的に切換えを行ってもよい。以下、詳細を説明する。
【００５０】
＜前眼部撮影＞
図４Ａに示すように、前眼部撮影時において、制御部７０は、走査部２４を眼底撮影時（図４Ｂ参照）に対して対物光学系２７に近づける。結果、測定光の旋回位置を、瞳のフーリエ変換像の数が偶数となる位置に設定する。図４Ａの例では、瞳のフーリエ変換像の数は「０」である。この場合において、制御部７０は、走査部２４を、対物光学系２７の後側焦点位置Ｆｒに配置してもよい。例えば、制御部７０は、センサ５１の検出信号に基づいて、走査部２４を後側焦点位置Ｆｒへ位置決めする。位置決めの際、走査部２４を構成する光スキャナ（第１実施形態では、ガルバノミラー２４１，２４２）は、許容される測定精度（又は、断層像の画質）の範囲で、後側焦点位置Ｆｒの近傍に配置されることが望ましい。例えば、制御部７０は、２つの光スキャナ（本第１実施形態では、ガルバノミラー２４１，２４２）の中間点Ｃｐ（図２参照）を、後側焦点位置Ｆｒに位置させてもよいし、いずれか一方の光スキャナの反射面を、後側焦点位置Ｆｒに位置させてもよい。勿論、これら以外の配置もありうる。
【００５１】
走査部２４が対物光学系２７の後側焦点位置Ｆｒに配置された結果、対物光学系２７の物体側（被検眼側）において、測定光の主光線がテレセントリック（又は、略テレセントリック）となる。つまり、本第１実施形態では、走査部２４と対物光学系２７からなる光学系（便宜上、スキャン光学系という）が、物体側テレセントリック光学系として形成される。この場合、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置（第１実施形態における第１位置）は、光軸Ｌ１上の無限遠点であるものと、考えることができる。また、この場合、対物光学系２７の前面（つまり、最も被検眼側に配置されるレンズ面）から、被検眼Ｅの瞳孔面に照射される測定光の主光線は、走査部２４で反射される測定光の向きに関わらず、光軸Ｌ１と平行（略平行）となる。これにより、被検眼Ｅの位置の変化による撮影画像の倍率変化を低減させることができる。結果、撮影された前眼部断層像から、精度よく距離計測が行える。また、前眼撮影時にテレセントリックな測定光を照射することによって、被検眼Ｅの作動距離方向の位置ずれに起因する断層像の歪みが生じにくくなる。これによって、検者は、歪みの少ない断層像を観察することができ、断層像による診断を行い易くなる。更に、前眼部撮影時にテレセントリックな測定光を照射することによって、被測定部からの戻り光（反射光または後方散乱光）の回収効率が向上するため、画像の周辺部が暗くなることを低減できる。
【００５２】
なお、図４Ａの例では、テレセントリックな測定光を照射するために、駆動部５０の制御によって、走査部２４が対物光学系２７の後側焦点位置Ｆｒに配置される場合を例示したが、後側焦点位置Ｆｒとレンズ系等を関して共役な位置に走査部２４が配置されるように、駆動部５０が制御されてもよい。なお、本開示において、「共役」は、必ずしも光学的に完全な共役関係に限定されるものではない。本開示において、「共役」な関係は、完全な共役関係のほか、許容される測定精度（又は、断層像の画質）の範囲で完全な共役関係からずれた位置関係であってもよい。
【００５３】
また、本第１実施形態では、制御部７０は、前眼部撮影時において、参照光学系３０の光路長を、前眼部から眼底Ｅｒまでの測定光の光路長に応じて、眼底撮影時に対して短く設定する。より詳細には、前眼部からの測定光の戻り光の光路長と、参照光学系３０の光路長とが同じになるように、参照光学系３０の光路長は調整される。これによって、測定光の戻り光と参照光とが良好に干渉した干渉信号が、検出器４０で良好に得られる。この干渉信号に基づいて制御部７０が画像を形成することによって、前眼部画像の断層像Ｗ２が得られる（図３参照）。
【００５４】
また、図４Ａに示すように、制御部７０は、前眼部撮影時において、集光位置可変光学系２３を制御して、前眼部に測定光の集光位置を設定する。この場合、制御部７０は、レンズ２３ａから走査部２４へ入射する測定光が、若干拡散されるように、集光位置可変光学系２３を制御してもよい。具体例としては、制御部７０が、可変焦点レンズ（レンズ２３ａ）の屈折力を、負の値に設定してもよい。これにより、集光位置が、角膜前面と水晶体後面との中間（より好ましくは、水晶体前面と、水晶体後面の中間）に設定されることが好ましい。この場合、角膜面上に集光位置を設定する場合と比べて、断層像において比較的高い分解能を持つ領域が、より広くなる。
【００５５】
また、図４Ａに示すように、制御部７０は、前眼部撮影時において、光束径調節部２２を制御して、干渉光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路における測定光の光束径を、眼底撮影時に対して細くする。これにより、被検眼Ｅに入射する光束のＮＡが小さくなる。つまり、対物光学系２７に関しての焦点深度が眼底撮影時に比べて増大される。結果、被検眼Ｅの深さ方向に関し、検出器４０からの干渉信号が良好に得られる範囲が広がる。よって、光干渉断層計１によって、前眼部の広範囲（例えば、角膜前面から水晶体後面まで）を良好に撮像しやすくなる。
【００５６】
＜眼底撮影＞
一方、図４Ｂに示すように、眼底撮影時において、制御部７０は、前眼部眼底撮影時（図４Ａ参照）に対して、走査部２４を対物光学系２７から遠ざける。その結果、測定光の旋回位置を、瞳のフーリエ変換像の数が奇数となる位置に設定する。図４Ｂの例では、瞳のフーリエ変換像の数は「１」である。この場合において、制御部７０は、走査部２４を、対物光学系２７に関して、被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置Ｉｃに配置してもよい。例えば、制御部７０は、センサ５１の検出信号に基づいて、走査部２４を瞳孔共役位置Ｉｃへ位置決めする。例えば、走査部２４を構成する２つの光スキャナ（本第１実施形態では、ガルバノミラー）の中間点Ｃｐ（図２参照）が対物光学系２７に関して瞳孔共役となるように、走査部２４は配置されてもよい。勿論、これ以外の配置もありうる。走査部２４が、瞳孔共役位置Ｉｃに配置されることによって、走査部２４の駆動に伴い、対物光学系２７の前面（最も被検眼側のレンズ面）から出た測定光が、瞳孔位置を中心（旋回点）として旋回する。つまり、この場合、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置（第１実施形態における第２位置）は、瞳孔位置に設定される。これにより、測定光のケラレを抑制しつつ、測定光を眼底Ｅｒで走査できるようになる。その結果、眼底Ｅｒの断層像を、眼底Ｅｒの広範囲において撮影可能となる。なお本実施形態において、眼底撮影時においては、走査部２４を瞳孔共役位置Ｉｃに配置する場合について説明したが、前眼部の所定部位と略共役な位置であればよく、例えば、角膜共役であってもよい。
【００５７】
また、本第１実施形態において、制御部７０は、眼底撮影時において、参照光学系３０の光路長を、前眼部から眼底Ｅｒまでの測定光の光路長に応じて、前眼部撮影時に対して長く設定する。より詳細には、眼底Ｅｒからの測定光の戻り光の光路長と、参照光学系３０の光路長とが同じになるように、参照光学系３０の光路長は調整される。これによって、眼底Ｅｒからの測定光の戻り光と参照光とが良好に干渉した干渉信号が、検出器４０から良好に得られるようになる。この干渉信号に基づいて制御部７０が画像を形成することによって、眼底画像の断層像Ｗ１が得られる（図３参照）。
【００５８】
図４Ｂに示すように、制御部７０は、眼底撮影時において、集光位置可変光学系２３を制御して、眼底Ｅｒに測定光の集光位置を設定する。この場合、制御部７０は、対物光学系２７における後ろ側焦点位置Ｆｒにおいて、測定光が一旦集光するように、集光位置可変光学系２３を制御してもよい。例えば、制御部７０は、可変焦点レンズ（レンズ２３ａ）の屈折力を正の既定値に調整する。結果、測定光は、対物光学系２７によってコリメートされるので、屈折誤差がない被検眼Ｅであれば、眼底上で測定光が集光される。被検眼Ｅに屈折誤差がある場合は、その分だけ、制御部７０は集光位置をオフセットさせてもよい。結果として、眼底Ｅｒの断層像が、良好に取得されやすくなる。
【００５９】
また、図４Ｂに示すように、制御部７０は、眼底撮影時において、干渉光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路における測定光の光束径を、前眼部撮影時に対して太くする。結果、対物光学系２７に入射する測定光のＮＡが大きくなるので、高解像の眼底断層像が得られやすくなる。なお、焦点深度は、前眼撮影時と比べて狭くなる。
【００６０】
このように、図４Ａ，図４Ｂの例において、制御部７０は、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置が第１位置に変位される場合、検出器４０からの出力信号に基づいて前眼部の断層像Ｗ２を生成する。また、測定光の旋回位置が第２位置に変位される場合、検出器４０からの出力信号に基づいて、制御部７０は、眼底Ｅｒの断層像Ｗ１を生成する。
【００６１】
前眼部の断層像Ｗ２と、眼底Ｅｒの断層像Ｗ１とが生成された場合において、制御部７０は、各断層像Ｗ１，Ｗ２を、各断層像と対応する深度帯同士の距離（つまり、前眼部（第１深度帯）と眼底Ｅｒ（第２深度帯）との距離）を示す距離情報に基づいて合成して、合成画像Ｗ３を生成してもよい（図３参照）。距離情報は、例えば、人眼における平均値，標準値等の固定値であってもよいし、眼軸長測定装置等の眼寸法測定装置によって得られた被検眼Ｅにおける実測値であってもよい。また、ＯＣＴデバイス１における検出器４０からの出力信号に基づいて距離情報を取得し、制御部７０が、この距離情報を用いて合成画像Ｗ３を生成してもよい。また、図３において、合成画像Ｗ３は、それぞれの断層像Ｗ１，Ｗ２の全体を含む画像として示しているが、必ずしもこれに限られるものではなく、それぞれの断層像Ｗ１，Ｗ２の一部同士を合成した画像であってもよい。また、合成画像Ｗ３は、眼球を模した眼球モデル画像上に、各断層像Ｗ１，Ｗ２が重畳された画像であってもよい。
【００６２】
また、本第１実施形態では、対物レンズ系２７に対する走査部２４の相対位置が瞳共役位置Ｉｃに設定されることで、眼底Ｅｒの断層像Ｗ１が撮像可能となる。そこから、対物レンズ系２７の位置を固定したまま、走査部２４を対物光学系２７の後側焦点Ｆｒに設定すると、走査部２４と対物光学系２７からなるスキャン光学系が、物体側テレセントリック光学系となり、前眼部の断層像Ｗ２が撮像可能となる。このように、ＯＣＴデバイス１は、ワーキングディスタンス（例えば、被検眼Ｅの角膜Ｅｃから対物光学系２７における被検者側端部までの距離）を変えずに、前眼部の断層像Ｗ２と、眼底Ｅｒの断層像Ｗ１とを得ることができる。  
【００６３】
また、本第１実施形態では、制御部７０が集光位置可変光学系２３を制御することで、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置の変更と連動して測定光の集光位置を光軸Ｌ１方向に関して変更する。より詳細には、制御部７０は、測定光の集光位置を走査部２４の位置に対応する撮影深度帯に設定するように、集光位置可変光学系２３を制御する。即ち、制御部７０は、旋回位置が前眼部と対応する位置に変位される場合には、前眼部において測定光が集光するように、また、旋回位置が眼底Ｅｒと対応する位置に変位される場合には、眼底Ｅｒにおいて測定光が集光するように、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置と連動して集光位置可変光学系２３を制御する。その結果、各深度帯における断層像Ｗ１，Ｗ２を、良好に得ることができる。
【００６４】
また、本第１実施形態のＯＣＴデバイス１は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置の変更と連動して、制御部７０は、光束径調節部２２の駆動部５０（アジャスター）を制御する。これにより、干渉光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路における測定光の光束径が、走査部２７の位置に応じて調整される。その結果、前述したように、本第１実施形態では、撮影深度帯に応じた焦点深度が設定される。結果、断層像Ｗ１，Ｗ２毎に、良好な解像度が得られる領域が深さ方向に関して適正に設定される。
【００６５】
＜第２実施形態＞
次に、図５を参照して、本開示における第２実施形態を説明する。ここでは、第１実施形態との相違点を中心に説明する。また、第２実施形態において、第１実施形態と同様の構成については、同一の符号を付し、説明を省略する。
【００６６】
まず、第２実施形態に係るＯＣＴデバイス１の光学系について説明する。第２実施形態に係るＯＣＴデバイス１は、参照光学系３０の光学構成が、第１実施形態とは異なる。第２実施形態における参照光学系３０は、第１参照光路１３ａと、第１参照光路１３０ａとは光路長が異なる第２参照光路１３０ｂを有する。例えば、図５に示すように、参照光学系３０の光路を、光分岐部材１３１（例えば、ハーフミラー等）によって、第１参照光路１３０ａと、第２参照光路１３０ｂとの２つに分岐する。また、第１参照光路１３０ａと、第２参照光路１３０ｂとの、それぞれには、参照ミラー１３４，１３５がそれぞれ配置される。また、図５に示すように、参照光学系３０は、第１参照光路１３０ａと、第２参照光路１３０ｂとの光路長を、それぞれ独立に調整するために、各参照ミラー１３４，１３５の位置、光軸方向に沿って変位させる駆動部１３４ａ，１３５ａを備えてもよい。
【００６７】
参照光学系３０は、第１参照光路１３０ａを経た第１参照光と、第２参照光路を経た第２参照光とを、同時に検出器４０に導く。図５の例において、第１参照光は、カップラー１５で分割された後、第１参照光路１３０ａを経た参照光であり、第２参照光は、カップラー１５で分割された後、第２参照光路１３０ｂを経た参照光である。第１参照光および第２参照光を生成する際、制御部７０は、駆動部１３４ａを制御して、一方の参照ミラー１３４を、前眼部に対応する光路長の位置に配置する。より詳細には、第１参照光路１３０ａの光路長が、前眼部からの測定光の戻り光における光路長と等しくなる位置に、参照ミラー１３４は配置される。その結果、前眼部からの戻り光と第１参照光路１３０ａで生成される第１参照光との干渉光が、検出器４０で受光される。また、制御部７０は、駆動部１３５ａを制御して、他方の参照ミラー１３５を、眼底Ｅｒに対応する光路長の位置に配置する。より詳細には、第２参照光路１３０ｂの光路長が、眼底Ｅｒからの測定光の戻り光における光路長と等しくなる位置に、参照ミラー１３５は配置される。その結果、眼底Ｅｒからの戻り光と第２参照光路１３０ｂで生成される第２参照光との干渉光が、検出器４０で受光される。第１参照光と第２参照光とが同時に生成される場合における、第１参照光路１３０ａと第２参照光路１３０ｂとの光路長差は、眼底Ｅｒと前眼部との間隔に応じた長さとなる。本実施形態において、第１参照光路１３０ａと第２参照光路１３０ｂとの光路長差を示す距離情報は、制御部７０によって、記憶部７２に記憶される。
【００６８】
次に、本第２実施形態におけるＯＣＴデバイス１の動作を説明する。
【００６９】
第２実施形態に係るＯＣＴデバイス１は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置を一定に維持した状態における検出器４０からの出力信号を処理することで、制御部７が、２つの深度帯における断層像を同時に生成してもよい。また、このときの出力信号を処理することで、制御部７０は、２つ以上の深度帯にまたがる被検眼Ｅの寸法に関する情報（寸法情報と称する）を取得してもよい。この場合、寸法情報の一例として、眼軸長情報が取得可能である。例えば、制御部７０は、駆動部５０を制御することによって、走査部２４を対物光学系２７の後側焦点位置Ｆｒに配置してもよい。この状態で検出器４０から出力される干渉信号を、制御部７０は、フーリエ変換する。フーリエ変換後の干渉信号の強度分布を、図６に示す。
【００７０】
図６に示す強度分布において、ＡＣは、角膜前面からの戻り光による干渉信号である。ＰＣは、眼底Ｅｒからの戻り光による干渉信号である。制御部７０は、干渉信号ＡＣ，および，干渉信号ＰＲがそれぞれ示す位置情報の差分と、第１参照光路１３０ａおよび第２参照光路１３０ｂとの光路長差の値とから、被検眼Ｅの眼軸長値を求める。例えば、制御部７０は、干渉信号ＡＣから干渉信号ＰＲまでの深さ方向の寸法Ｌ１を求める。そして、記憶部７２に予め記憶されている第１参照光路１３０ａおよび第２参照光路１３０ｂとの光路長差Ｌ２を、寸法Ｌ１に加える。これにより、被検眼Ｅの眼軸長を得ることができる(眼軸長＝Ｌ１+Ｌ２)。
【００７１】
また、角膜前面と眼底Ｅｒ以外の位置からの反射による干渉信号（ピーク）が得られる。制御部７０がこれを処理することで、深さ方向に関する寸法情報を求めてもよい。
【００７２】
＜第３実施形態＞
次に、本開示における第３実施形態を説明する。ここでは、第１実施形態、および第２実施形態の相違点を中心に説明する。また、第３実施形態において、第１実施形態と同様の構成については、同一の符号を付し、説明を省略する。第３実施形態に係るＯＣＴデバイス１は、ＳＳ−ＯＣＴ光学系を持つ。つまり、干渉光学系２が、出射波長を時間的に掃引させる波長掃引光源を備えるＳＳ−ＯＣＴ光学系に置き換えられる。また、光源１１が、波長掃引式の光源に置き換えられる。更に、検出器４０が、受光素子からなる平衡検出器に置き換えられてもよい。受光素子には、例えば、受光部が一つからなるポイントセンサを用いてもよい。受光素子としては、アパランシェフォトダイオード等を用いてもよい。この場合、制御部７０は、波長掃引光源による出射波長の変化に応じて測定光と参照光との干渉信号をサンプリングし、サンプリングによって得られた各波長での干渉信号に基づいて被検物の断層像を得る。より詳細なＳＳ−ＯＣＴでの干渉信号の処理手法、および深さ情報の取得手法については、例えば、特開２０１５−０６８７７５号公報等を参照されたい。
【００７３】
ＳＳ−ＯＣＴの場合、ＳＤ−ＯＣＴと比して、深部での感度低下が少ない。このため、サンプリングの結果として、幅広い深度帯（例えば、前眼部から眼底Ｅｒまで）からの戻り光による干渉信号が取得されやすい。このため、参照光学系３０の光路長を変化させなくても、また、参照光学系３０によって、位相の異なる２種類以上の参照光（例えば、第1参照光と第2参照光）を生成させなくても、幅広い深度帯からの戻り光による干渉信号を得ることができる。なお、この場合、参照光学系３０の光路長は、例えば、前眼部からの戻り光の光路長と、眼底Ｅｒからの戻り光の光路長と、の中間的な長さとすることが好ましい。この場合において、第３実施形態に係るＯＣＴデバイス１は、第２実施形態と同様、走査部２４を一定にした状態でサンプリングされる干渉信号に基づいて、被検眼Ｅの寸法情報を取得してもよい。但し、第３実施形態では、参照光の光路長は一定なので、眼底Ｅｒと前眼部との間の寸法情報（典型的には、眼軸長）は、角膜前面からの戻り光による干渉信号から、眼底Ｅｒからの戻り光による干渉信号までの深さ方向の寸法を、寸法情報として得ることができる。
【００７４】
なお、本第２実施形態，および第３実施形態のＯＣＴデバイス１は、第１実施形態と同様に、測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して変位させ、旋回位置毎に、異なる深度帯の断層像を得てもよい。また、その際、第１実施形態において説明したように、干渉光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路における測定光の光束径、および、測定光の集光位置の少なくとも一方が、走査部２４の位置切換と連動して調整されてもよい。
＜変容例＞
以上、実施形態に基づいて説明したが、本開示は、上記実施形態に限定されるものではなく、上記実施形態を種々に変形した実施例にも及ぶ。また、上記各実施形態および実施例は、適宜組み合わせて実施されてもよい。
【００７５】
例えば、上記各実施形態では、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置であって、光軸Ｌ１方向に関する相対位置を切換える構成の具体例として、対物光学系２７と走査部２４との光路長を変更する構成を示した。但し、必ずしもこれに限られるものではない。
【００７６】
例えば、図７に示すように、制御部７０による駆動部５０の駆動制御によって、少なくとも走査部２４（つまり、光スキャナ）を光軸Ｌ１方向に関して変位させることで、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置を変位してもよい。図７の例において、駆動部５０は、ファイバ１５ｂの端部１６ｂから走査部２４までを、図７の紙面の左右方向に移動させる。なお、走査部２４を移動させて、相対位置を変位させる構成は、これに限られるものではなく、例えば、走査部２４およびミラー２５を、レンズ２３ａからの測定光の光軸方向（例えば、図１Ａの紙面上下方向）に一体的に移動させる機構を、駆動部５０として備えてもよい。
【００７７】
また、対物光学系２７に対する走査部２４の光軸方向に関する相対位置を変更する構成は、対物光学系２７と光スキャナ２４との間の光路を切換える構成であってもよい。例えば、図８Ａ，図８Ｂの例では、レンズ２３ａの出射側に、モータ２２４ａ（駆動部の一部）の駆動によって、光軸周りに回転するミラー２２４が設けられている。このミラー２２４は、測定光の入射光軸に対して傾いて配置される。また、ミラー２２４の反射方向に走査部２４を配置するための図示無きアクチュエータ（駆動部の一部）が設けられており、ミラー２２４の回動に連動して走査部２４全体が移動する。ミラー２２４と走査部２４とが連動して動くことで、対物光学系２７と走査部２４との間の光路は、ダイクロイックミラー２６，レンズ２２７を含む第１光路（図８Ａ参照）と、ハーフミラー２７を含む第２光路（図８Ｂ参照）と、に切り替えられる。例えば、このような光路の切替によって、対物光学系２７に対する走査部２４の光軸方向に関する相対位置が変更されてもよい。なお、図８Ａ，図８Ｂの例においては、対物光学系２７との相対位置が固定されたレンズ２２７が設けられており、レンズ２２７が含まれる第１光路を介して測定光が照射される場合は、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置は、瞳孔共役位置に設定される。一方、レンズ２２７が含まれない第２光路を介して測定光が照射される場合は、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置は、無限遠点に設定される。第１光路と、第２光路との一方のみに含まれる光学部材は、レンズに限られるものではなく、ビームエキスパンダ等であってもよいし、それ以外でもよい。対物光学系２７と光スキャナ２４との間の光路を切換える構成は、図８Ａ，図８Ｂに示したものに限定されるものではない。例えば、走査部２４における測定光の振り角を切換えることで、異なる光路に測定光を導く構成であってもよい。
【００７８】
また、例えば、対物光学系２７と走査部２４との間の光路において、挿脱機構（駆動部の一例）によって挿脱可能な光学部材（例えば、レンズ，および，ミラーのいずれか等）を有し、制御部７０が挿脱機構を駆動制御して、光学部材が光路に挿入されている状態と、光学部材が光路に挿入されていない状態とを切換えることで、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置を切換える構成であってもよい。例えば、図９Ａ，図９Ｂの例では、走査部２４と対物光学系２７との間の相対位置が、ミラー３０２の挿脱によって切換えられる。なお、図９Ａ，図９Ｂにおいて、ミラー３０２の挿脱機構の図示は、省略されている。例えば、ミラー３０２は、図９Ａ，図９Ｂの紙面に対して垂直な方向に移動することで、測定光の光路に対する挿脱が行われてもよい。図９Ｂに示すように、ミラー３０２が測定光の光路上から退避された状態では、走査部２４からの測定光は、ミラー３０３，３０４とを介して対物光学系２７に導かれる。一方、図９Ａに示すように、ミラー３０２が測定光の光路上に挿入された状態では、図９Ｂに対して、ミラー３０３，３０４での反射が省略されて、走査部２４からの測定光が対物光学系２７に導かれる。つまり、ミラー３０２の挿脱によって、走査部２４と対物光学系２７との間における測定光の光路長が切換えられる。
【００７９】
また、上記各実施形態では、第１深度帯を前眼部，第２深度帯を眼底Ｅｒとし、それらの各深度帯における断層像を得る場合について説明した。しかし、第１深度帯、および第２深度帯は、被検眼Ｅの深さ方向に関して互いに異なる領域であればよく、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、第１深度帯は前眼部の前部、また、第２深度帯は前眼部の後部であってもよい。前眼部の前部における断層像を撮像する場合、制御部７０は、例えば、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置を、対物光学系２７の後側焦点位置Ｆｒに変位させてもよい（このとき、走査部２４よりも被検眼側に形成される測定光の旋回位置は、無限遠点として考えられる）。この場合、制御部７０は、前眼部の前部における断層像を検出器４０からの出力信号に基づいて生成してもよい。また、前眼部の後部における断層像を撮像する場合、制御部７０は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置を、対物光学系２７の後側焦点位置Ｆｒ（および、後側焦点位置Ｆｒの共役位置）から離れた位置に形成してもよい。これにより、例えば、旋回位置を、被検眼内に変位させてもよい。この場合、制御部７０は、前眼部の後部における断層像を光検出器４０からの出力信号に基づいて生成してもよい。
【００８０】
また、上記各実施形態では、対物光学系２７に対して走査部２４を２つの位置で切換えることによって、２つの深度帯（前眼部と眼底Ｅｒ）における断層像をそれぞれの位置で得る場合について説明した。しかし、ＯＣＴデバイス１は、走査部２４の位置を３つ以上の位置で切換えることで、３つ以上の深度帯における断層像を、各位置での干渉信号に基づいて得る構成であってもよい。また、集光位置可変光学系２３，または，光束径調節部２２，或いはその両方によって、走査部２４の位置毎に、測定光の集光位置、または、ＯＣＴ光学系２から走査部２４までの間における光束径、或いは、その両方が調整されるようにしてよい。
【００８１】
また、制御部７０は、測定光のスキャン位置に応じて集光位置可変光学系２３によって設定される集光位置を変化させてもよい。例えば、制御部７０は、前眼部の形状に応じてレンズ２３ａの屈折力を変化させてもよい。例えば、前眼部は対物レンズ側に凸な曲面であるので、角膜の周辺部を走査する場合は、角膜の中心部を走査する場合に比べて測定光を対物レンズから離れた位置に集光させるようにしてもよい。例えば、制御部７０は、屈折力可変ユニットの屈折力を小さくすることで、測定光を対物レンズから離れた位置に集光させるようにしてもよい。このように、測定光のスキャン位置に応じて、測定光の集光位置を調整することによって、測定光が前眼部により精度の良い断層像を取得することができる。
【００８２】
また、本開示の実施形態は、以下の第１および第２の眼科撮像装置であってもよい。
【００８３】
第１の眼科撮像装置は、被検眼の断層像を撮影するための眼科撮像装置であって、被検眼に照射された測定光と参照光との干渉を光検出器によって検出するＯＣＴ光学系と、前記測定光を走査するために、前記ＯＣＴ光学系からの前記測定光を偏向する光スキャナ、および、前記光スキャナと前記被検眼の間に配置されており、前記光スキャナによって偏向された測定光を被検眼に導く対物光学系、を含む測定光学系と、前記断層像が撮像される被検眼の深度帯を第１深度帯と、第２深度帯との間で少なくとも変更するために、前記測定光学系に含まれる光学部材を駆動させる駆動部と、前記ＯＣＴ光学系と前記光スキャナとの間の光路中において、前記光路における測定光の光束径を変更するための光束径調節部と、前記光束径調節部と前記駆動部とを制御することによって、前記光束径を、前記内部情報が得られる深度帯に応じて調整する制御手段と、を備える。
【００８４】
第２の眼科撮像装置は、第１の眼科撮像装置において、前記第１深度帯が前眼部であり、前記第２深度帯が眼底である場合において、前記制御手段は、前記第１位置に前記光スキャナを配置する場合は、前記光束径を第１光束径に調整し、前記第２位置に前記光スキャナを配置する場合は、前記光束径を前記第１光束径よりも大きな第２光束径に調整する。
【符号の説明】
【００８５】
１    眼科撮像装置
１１  光源
１５  分割器
２０  測定光学系
２２  光束径調節部
２３  集光位置可変光学系
２４  走査部
２７  対物光学系
３０  参照光学系
１３０ａ  第１参照光路
１３０ｂ  第２参照光路
４０  検出器
５０  駆動部
７０  制御部
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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