(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
キャビティを有するコネクタハウジングと、
相手側の導電性部材との間で一方が他方に挿入される範囲全体において絶縁膜が設けられ、前記絶縁膜を挟んで前記導電性部材と接続され、かつ、前記キャビティ内に収容される第１の端子とを備える、
コネクタ。
【請求項２】
前記コネクタハウジングは、複数の前記キャビティを備え、
前記コネクタは、さらに、
相手側の導電性部材との間で電気的に接続され、かつ、前記第１の端子が収容される前記キャビティとは異なるキャビティに収容される第２の端子を備える、
請求項１に記載のコネクタ。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載のコネクタと、
前記第１の端子に接続され、かつ、相手側の前記導電性部材と前記第１の端子との間の導通の有無を検知する検知部とを備える、
接続状態検知システム。
【請求項４】
前記検知部は、報知部である、
請求項３に記載の接続状態検知システム。
【請求項５】
相手側の導電性部材と接続される端子であり、
相手側の前記導電性部材との間で一方が他方に挿入される範囲全体に設けられる絶縁膜を備える、
端子。
【請求項６】
前記絶縁膜は、亜鉛、アルマイト、または、エナメルを含む、
請求項５に記載の端子。
【請求項７】
前記端子は、雄端子である、
請求項５または請求項６に記載の端子。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願明細書に開示される技術は、コネクタ、接続状態検知システム、および、端子に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
車両に搭載されるワイヤーハーネスなどでは、高い通電信頼性が求められる。そこで、経年劣化などによって導通不良となった箇所を検知することによって、通電信頼性を維持する技術が提案されている。
【０００３】
たとえば、特許文献１に開示される回路構造では、通常の電気経路であるメインラインとは別に、ダミーラインが用意される。そして、メインラインよりも経年劣化を生じやすいダミーラインの導通不良に基づいて、メインラインにおける導通不良を検知する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１５−２２２６８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記の特許文献１に開示される技術では、ダミーラインを、メインラインよりも経年劣化が生じやすい電気経路とするための加工が必要である。また、ダミーラインの導通不良を検知するための構成も、複雑なものとなりやすい。
【０００６】
本願明細書に開示される技術は、以上に記載されたような問題を解決するためになされたものであり、簡易な手法で、経年劣化などによって導通不良となった箇所を検知する技術に関するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願明細書に開示される技術の第１の態様は、キャビティを有するコネクタハウジングと、相手側の導電性部材との間で一方が他方に挿入される範囲全体において絶縁膜が設けられ、前記絶縁膜を挟んで前記導電性部材と接続され、かつ、前記キャビティ内に収容される第１の端子とを備える。
【０００８】
また、本願明細書に開示される技術の第２の態様は、第１の態様に関連し、前記コネクタハウジングは、複数の前記キャビティを備え、前記コネクタは、さらに、相手側の導電性部材との間で電気的に接続され、かつ、前記第１の端子が収容される前記キャビティとは異なるキャビティに収容される第２の端子を備える。
【０００９】
また、本願明細書に開示される技術の第３の態様は、第１の態様または第２の態様に記載のコネクタと、前記第１の端子に接続され、かつ、相手側の前記導電性部材と前記第１の端子との間の導通の有無を検知する検知部とを備える。
【００１０】
また、本願明細書に開示される技術の第４の態様は、第３の態様に関連し、前記検知部は、報知部である。
【００１１】
また、本願明細書に開示される技術の第５の態様は、相手側の導電性部材と接続される端子であり、相手側の前記導電性部材との間で一方が他方に挿入される範囲全体に設けられる絶縁膜を備える。
【００１２】
また、本願明細書に開示される技術の第６の態様は、第５の態様に関連し、前記絶縁膜は、亜鉛、アルマイト、または、エナメルを含む。
【００１３】
また、本願明細書に開示される技術の第７の態様は、第５の態様または第６の態様に関連し、前記端子は、雄端子である。
【発明の効果】
【００１４】
本願明細書に開示される技術の第１の態様、および、第５の態様によれば、相手側の導電性部材との間で絶縁膜を挟んで接続される第１の端子に電流が流れた場合に、絶縁膜の経年劣化を検知することができる。そして、絶縁膜の経年劣化を、同等の環境下における端子間の電気的な接続の経年劣化に置き換えるという簡易な手法によって、当該端子間の電気的な接続を導通不良となった箇所として検知することができる。
【００１５】
特に、第２の態様によれば、同一のコネクタハウジングにおける異なるキャビティ内に、第１の端子と第２の端子とがともに収容される。したがって、双方の端子が置かれる環境が近似する。そのため、絶縁膜の経年劣化を、端子間の電気的な接続の経年劣化に置き換える妥当性が高まり、当該端子間の電気的な接続を導通不良となった箇所として検知する精度が高まる。
【００１６】
特に、第３の態様によれば、絶縁膜の経年劣化に起因する、相手側の導電性部材と第１の端子との間の導通を、検知部によって検知することができる。
【００１７】
特に、第４の態様によれば、簡易な構成の報知部を用いて、導通不良となった箇所を検知することができる。
【００１８】
特に、第６の態様によれば、絶縁膜の経年劣化を、同等の環境下における端子間の電気的な接続の経年劣化に置き換えることによって、当該端子間の電気的な接続を導通不良となった箇所として検知することができる。
【００１９】
特に、第７の態様によれば、雄端子の雌端子に挿入される部分に、絶縁膜を容易に形成することができる。
【００２０】
本願明細書に開示される技術に関する目的と、特徴と、局面と、利点とは、以下に示される詳細な説明と添付図面とによって、さらに明白となる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】実施の形態に関する、端子付き電線の構造を例示する図である。
【図２】実施の形態に関する、絶縁膜が形成された端子の構造を例示する断面図である。
【図３】実施の形態に関する、コネクタの構造を例示する斜視図である。
【図４】実施の形態に関する、絶縁膜を挟んで互いに接続された一対の端子を例示する断面図である。
【図５】実施の形態に関する、絶縁膜を挟まずに互いに接続された一対の端子を例示する断面図である。
【図６】実施の形態に関する、接続状態検知システムを含む回路構成を概念的に例示する回路図である。
【図７】実施の形態に関する、回路における抵抗値と時間との関係を例示する両対数グラフである。
【図８】実施の形態に関する、接続状態検知システムを含む他の回路構成を概念的に例示する回路図である。
【図９】実施の形態に関する、接続状態検知システムを含む他の回路構成を概念的に例示する回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、添付される図面を参照しながら実施の形態について説明する。
【００２３】
なお、図面は概略的に示されるものであり、異なる図面にそれぞれ示される画像の大きさと位置との相互関係は、必ずしも正確に記載されるものではなく、適宜変更され得るものである。
【００２４】
また、以下に示される説明では、同様の構成要素には同じ符号を付して図示し、それらの名称と機能とについても同様のものとする。したがって、それらについての詳細な説明を省略する場合がある。
【００２５】
＜実施の形態＞
以下、本実施の形態に関するコネクタ、接続状態検知システム、および、端子について説明する。説明の便宜上、まず、端子を有する端子付き電線の構成について説明する。
【００２６】
＜端子付き電線の構成について＞
図１は、端子付き電線の構造を例示する図である。図１に例示されるように、端子付き電線１０は、電線１１と、電線１１の端部に接続された端子１２と、端子１２に形成された絶縁膜１３とを備える。
【００２７】
電線１１は、銅またはアルミニウムなどの金属を主成分とする線材である芯線と、当該芯線の周囲を覆う絶縁被覆とを備える。絶縁被覆は、たとえば、ポリエチレン、塩化ビニルまたはポリアミド系ナイロンなどを主成分とする合成樹脂の部材である。
【００２８】
端子１２は、電線１１の端部に接続される。端子１２は、たとえば、銅またはスズなどの金属を主成分とする金属の部材である。端子１２と電線１１との接続方法としては、たとえば、圧着または溶接などがある。
【００２９】
絶縁膜１３は、たとえば、亜鉛、アルマイト、または、エナメルなどの材料を含む。ここで、エナメルとは、シリカ（二酸化ケイ素）を主成分とするガラス質の材料を指す。絶縁膜１３は、端子１２の表面のうち、対となる端子と接触する部分に形成される。図１に例示される端子１２、すなわち、雄端子で説明すれば、絶縁膜１３は、対となる雌端子との接触部分、具体的には雌端子に挿入される部分に、少なくとも形成される。一方で、雌端子で説明すれば、絶縁膜１３は、対となる雄端子との接触部分、具体的には雄端子を収容する穴部分の内壁に、少なくとも形成される。ここで、一対の端子付き電線の双方の、対となる端子と接触する部分に、絶縁膜１３が形成されていてもよい。
【００３０】
なお、図１に例示される絶縁膜１３は、端子１２の、雌端子に挿入される部分のうちの先端部１１２を除いて形成されているが、端子１２の先端部１１２を含めて形成されていてもよい。
【００３１】
図２は、絶縁膜１３が形成された端子１２の構造を例示する断面図である。図２においては、絶縁膜１３が、端子１２の上面および下面に形成される。
【００３２】
なお、対となる雌端子との接触態様によっては、絶縁膜１３は、必ずしも、端子１２の上面全体、および、端子１２の下面全体に形成されていなくてもよい。すなわち、端子１２の上面、および、端子１２の下面において、絶縁膜１３が形成されていない箇所が存在していてもよい。
【００３３】
＜コネクタの構成について＞
図３は、コネクタの構造を例示する斜視図である。図３において、コネクタは、コネクタハウジング３０と、コネクタハウジング３０に収容される端子付き電線１０、すなわち、端子１２に形成された絶縁膜１３を備える端子付き電線１０とを備える。なお、端子付き電線１０は、少なくとも１本設けられていればよい。
【００３４】
コネクタハウジング３０は、少なくとも１つのキャビティ３１を備える。図３においては、コネクタハウジング３０は、複数のキャビティ３１を備えている。端子付き電線１０は、いずれかのキャビティ３１内に収容される。そして、端子付き電線１０は、キャビティ３１内において、対となる端子付き電線と接続される。
【００３５】
コネクタハウジング３０の、端子付き電線１０が収容されるキャビティ３１とは異なるキャビティ３１内には、通常の端子付き電線が収容されていてもよい。通常の端子付き電線とは、端子１２に絶縁膜１３が形成されない、端子１２と電線１１とを備える端子付き電線である。通常の端子付き電線は、端子付き電線１０が収容されるキャビティ３１とは異なるキャビティ３１内に収容され、当該キャビティ３１内において対となる端子付き電線と電気的に接続される。
【００３６】
図４、および、図５は、互いに接続された一対の端子を例示する断面図である。
【００３７】
図４においては、端子１２と端子１２Ａとが、絶縁膜１３を挟んで接続されている。一方で、図５においては、端子１２と端子１２Ａとが、絶縁膜１３を挟まずに、すなわち、電気的に接続されている。
【００３８】
端子１２Ａは、端子１２と対となる端子である。図４、および、図５に例示される場合では、端子１２Ａは雌端子である。
【００３９】
端子１２Ａは、金属であるばね接点４０と、金属である天井板４１とを備える。ばね接点４０は、対向して設けられる天井板４１から離れる方向に撓むことができる弾性部材である。
【００４０】
図４に例示される場合では、表面に絶縁膜１３が形成された端子１２が、ばね接点４０と天井板４１との間に挿入される。そして、端子１２が、ばね接点４０と天井板４１との間に絶縁膜１３を介して間接的に挟まれた状態で保持される。したがって、図４に例示される場合では、端子１２と端子１２Ａとは電気的に接続されない。
【００４１】
一方で、図５に例示される場合では、表面に絶縁膜１３が形成されていない端子１２が、ばね接点４０と天井板４１との間に挿入される。そして、端子１２が、ばね接点４０と天井板４１との間で直接挟まれた状態で保持される。この状態で、端子１２と端子１２Ａとは、電気的に接続される。
【００４２】
なお、端子１２と端子１２Ａとの直接的または間接的な接続は、端子がコネクタハウジング３０のキャビティ３１内に収容されている場合には、コネクタハウジング３０のキャビティ３１内でなされる。
【００４３】
図６は、接続状態検知システムを含む回路構成を概念的に例示する回路図である。図６に概念的に示されるように、コネクタハウジング３０においては、端子１２と端子１２Ａとが電気的に接続された接続構造１００と、端子１２と端子１２Ａとが絶縁膜１３を挟んで接続された接続構造１１０とが、それぞれキャビティ内に収容されている。なお、キャビティの構造は、簡単のため図示を省略する。
【００４４】
図６に例示されるように、接続構造１００の端子１２Ａから延び出る電線は、電源５０に接続される。また、接続構造１１０の端子１２Ａから延び出る電線も、電源５０に接続される。なお、接続構造１００の端子１２Ａから延び出る電線と、接続構造１１０の端子１２Ａから延び出る電線とは、異なる電源に接続されていてもよい。
【００４５】
また、図６に例示されるように、接続構造１００の端子１２から延び出る電線は、電子制御ユニット（ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ  ｃｏｎｔｒｏｌ  ｕｎｉｔ、すなわち、ＥＣＵ）７０に接続される。また、接続構造１１０の端子１２から延び出る電線は、端子１２とは反対側の端部において、検知部、さらには、報知部としてのインジケータ６０に接続される。
【００４６】
インジケータ６０は、たとえば、所定の電圧値で発光する発光ダイオード（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ、すなわち、ＬＥＤ）である。ただし、インジケータ６０は、所定の電圧値で音を発するなどの、他の手法で報知を行うインジケータであってもよい。
【００４７】
上記のように、接続構造１１０においては、端子１２と端子１２Ａとは電気的に接続されない。ここで、たとえば、微摺動摩耗などに起因する経年劣化によって、絶縁膜１３が徐々に端子１２から剥がれると、端子１２が露出する。そして、端子１２が、ばね接点４０または天井板４１と接触する。そうすると、電源５０とインジケータ６０との間で徐々に通電するようになり、インジケータ６０が点灯する。
【００４８】
上記の、端子１２と端子１２Ａとの間における絶縁膜１３の経年劣化に起因する減少を、同等の環境下において端子１２と端子１２Ａとが電気的に接続された接続構造１００の、経年劣化に起因する導通不良に対応させて評価することができる。
【００４９】
すなわち、微摺動摩耗などに起因する経年劣化によって絶縁膜１３が剥がれて減少する一方で、同等の環境下においては、接続構造１００の端子１２と端子１２Ａとの接触部分で、たとえば、摩擦熱による酸化膜の形成、または、端子の損傷などが生じる。すなわち、接続構造１１０において絶縁膜１３が減少するほど、接続構造１００において導通不良の度合いが高まる。
【００５０】
したがって、経年劣化の結果生じる接続構造１１０における通電を検知することを、同等の環境下における接続構造１００の、経年劣化に起因する導通不良を検知することに置き換えることができる。
【００５１】
図６に例示された構成であれば、接続構造１１０に接続されたインジケータ６０が点灯した場合に、接続構造１００が経年劣化に起因する導通不良となっていると推定することができる。経年劣化に起因する導通不良の検知にインジケータ６０が用いられるため、たとえば、ＥＣＵ内の回路を変更するなどの複雑な作業が必要とならない。また、通電した場合に報知するのみでよいため、ＬＥＤであるインジケータ６０のような簡易な構成で足りる。
【００５２】
ここで、接続構造１００と接続構造１１０とは、同一のコネクタハウジング３０内の異なるキャビティ３１内においてそれぞれ形成されることが望ましい。絶縁膜１３が経年劣化する環境と、端子１２と端子１２Ａとが電気的に接続された接続構造１００が経年劣化する環境との間の差異が、小さくなると考えられるためである。両環境の差異が小さいほど、接続構造１００の導通不良の検知精度が高まる。
【００５３】
インジケータ６０を点灯させるためのしきい値（電圧値など）を調整することによって、どの程度絶縁膜１３の減少が進んだ時点で、接続構造１００の導通不良が生じたと推定するかを変更することができる。
【００５４】
また、絶縁膜１３を形成する際に絶縁膜１３の厚さを調整することによって、絶縁膜１３が減少して端子同士が直接接触するまでの時間を調整することができる。
【００５５】
上記の調整を行うことによって、たとえば、接続構造１００の導通不良が生じる前にインジケータ６０を点灯させることによって、導通不良となる蓋然性が高い接続構造１００を事前に警告することも可能である。
【００５６】
図７は、回路における抵抗値と時間との関係を例示する両対数グラフである。図７において、縦軸は抵抗値を示し、横軸は時間を示す。図７におけるＸは、接続構造１１０の抵抗値を示すグラフであり、図７におけるＹは、接続構造１００の抵抗値を示すグラフである。
【００５７】
図７のＸに例示されるように、接続構造１１０の抵抗値は、端子１２と端子１２Ａとが絶縁膜１３を挟んで接続されていることから、始めのうちは高い値となる。しかしながら、経年劣化に起因する絶縁膜１３の減少によって、徐々に通電するようになり、それに伴い抵抗値も下がる。
【００５８】
一方で、図７のＹに例示されるように、接続構造１００の抵抗値は、端子１２と端子１２Ａとが直接接触していることから、始めのうちは低い値となる。しかしながら、経年劣化に起因する酸化膜の形成、または、端子の損傷などによって、徐々に抵抗値が上がる。
【００５９】
上記のように、インジケータ６０を点灯させるためのしきい値、および、絶縁膜１３の厚さの少なくとも一方を調整することによって、図７のＸが抵抗値の低下を示すまでの時間を、図７のＹが抵抗値の上昇を示すまでの時間よりも早くする、望ましくは、図７のＸが抵抗値の低下を示すまでの時間を、図７のＹが抵抗値の上昇を示すまでの時間の直前にすることができる。
【００６０】
図８は、接続状態検知システムを含む他の回路構成を概念的に例示する回路図である。図８に概念的に示されるように、コネクタハウジング３０においては、接続構造１００と、接続構造１１０とが、それぞれキャビティ内に収容されている。
【００６１】
図８に例示されるように、接続構造１００の端子１２Ａから延び出る電線は、電源５０に接続される。また、接続構造１１０の端子１２Ａから延び出る電線も、電源５０に接続される。なお、接続構造１００の端子１２Ａから延び出る電線と、接続構造１１０の端子１２Ａから延び出る電線とは、異なる電源に接続されていてもよい。
【００６２】
また、図８に例示されるように、接続構造１００の端子１２から延び出る電線は、ＥＣＵ７１に接続される。また、接続構造１１０の端子１２から延び出る電線は、検知部としてのＥＣＵ７２に接続される。
【００６３】
ＥＣＵ７２においては、接続構造１１０における電圧値、または、電流値の変化などから、抵抗値の変化を検知することができる。したがって、接続構造１１０において通電した場合に正の電圧値となる回路だけでなく、接続構造１１０において通電した場合に電圧値が０となる回路、または、接続構造１１０において通電した場合に負の電圧値となる回路などであっても検知することができる。したがって、接続構造１００の導通不良の判断を、より柔軟に行うことができる。また、ＥＣＵ７２は、接続構造１１０における抵抗値の変化に基づいて、他のＥＣＵ７１の動作制御、たとえば、警告の表示、または、駆動動作を停止させるなどの制御を行うことができる。
【００６４】
図９は、接続状態検知システムを含む他の回路構成を概念的に例示する回路図である。図９に概念的に示されるように、コネクタハウジング３０においては、接続構造１００と、接続構造１１０とが、それぞれキャビティ内に収容されている。
【００６５】
図９に例示されるように、接続構造１００の端子１２Ａから延び出る電線は、電源５０に接続される。また、接続構造１１０の端子１２Ａから延び出る電線も、電源５０に接続される。なお、接続構造１００の端子１２Ａから延び出る電線と、接続構造１１０の端子１２Ａから延び出る電線とは、異なる電源に接続されていてもよい。
【００６６】
また、図９に例示されるように、接続構造１００の端子１２から延び出る電線は、ＥＣＵ７３内の駆動回路７４に接続される。また、接続構造１１０の端子１２から延び出る電線は、ＥＣＵ７３内の中央演算処理装置（ｃｅｎｔｒａｌ  ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  ｕｎｉｔ、すなわち、ＣＰＵ）７５に接続される。
【００６７】
検知部としてのＣＰＵ７５においては、接続構造１１０における電圧値、または、電流値の変化などから、抵抗値の変化を検知することができる。また、ＣＰＵ７５は、接続構造１１０における抵抗値の変化に基づいて、駆動回路７４の動作制御、たとえば、警告の表示、または、駆動動作を停止させるなどの制御を行うことができる。
【００６８】
＜以上に記載された実施の形態によって生じる効果について＞
次に、以上に記載された実施の形態によって生じる効果を例示する。なお、以下では、以上に記載された実施の形態に例示された具体的な構成に基づいて当該効果が記載されるが、同様の効果が生じる範囲で、本願明細書に例示される他の具体的な構成と置き換えられてもよい。
【００６９】
以上に記載された実施の形態によれば、コネクタは、キャビティ３１を有するコネクタハウジング３０と、第１の端子とを備える。ここで、端子１２は、第１の端子に対応するものである。端子１２は、相手側の導電性部材との間で絶縁膜１３を挟んで接続され、かつ、キャビティ３１内に収容される。ここで、端子１２Ａは、相手側の導電性部材に対応するものである。
【００７０】
このような構成によれば、簡易な手法で、経年劣化などによって導通不良となった箇所を検知することができる。具体的には、相手側の端子１２Ａとの間で絶縁膜１３を挟んで接続される端子１２に電流が流れた場合に、絶縁膜１３の経年劣化を検知することができる。そして、絶縁膜１３の経年劣化を、同等の環境下における端子間の電気的な接続の経年劣化に置き換えることによって、同等の環境下において電気的に接続された接続構造１００を導通不良となった箇所として検知することができる。
【００７１】
特に、自動運転車などへの搭載が検討されるワイヤーハーネスであれば、導通不良が生じても運転者による手動での対応が期待できない場合もある。そのような場合を想定して、インジケータ６０を点灯させるためのしきい値、または、絶縁膜１３の厚さを調整することによって、経年劣化に起因する電気的な失陥が発生する前に、通電信頼性の低下を検知することができることが望ましい。
【００７２】
なお、これらの構成以外の本願明細書に例示される他の構成については適宜省略することができる。すなわち、これらの構成のみで、以上に記載された効果を生じさせることができる。
【００７３】
しかしながら、本願明細書に例示される他の構成のうちの少なくとも１つを以上に記載された構成に適宜追加した場合、すなわち、以上に記載された構成としては記載されなかった本願明細書に例示される他の構成を以上に記載された構成に追加した場合でも、同様に以上に記載された効果を生じさせることができる。
【００７４】
また、以上に記載された実施の形態によれば、コネクタハウジング３０は、複数のキャビティ３１を備える。そして、コネクタは、さらに、通常の端子付き電線の端子１２Ａとの間で電気的に接続され、かつ、端子付き電線１０が収容されるキャビティとは異なるキャビティ３１に収容される第２の端子を備える。ここで、通常の端子付き電線の端子１２は、第２の端子に対応するものである。このような構成によれば、同一のコネクタハウジング３０における異なるキャビティ３１内に、端子付き電線１０と通常の端子付き電線とがともに収容される。したがって、接続構造１００と接続構造１１０とが置かれる環境が近似する。そのため、絶縁膜１３の経年劣化を、端子間の電気的な接続の経年劣化に置き換える妥当性が高まり、電気的に接続された接続構造１００を導通不良となった箇所として検知する精度が高まる。
【００７５】
また、以上に記載された実施の形態によれば、検知部は、報知部である。このような構成によれば、インジケータ６０などの簡易な構成の報知部を用いて、導通不良となった箇所を検知することができる。通電した場合に報知するのみでよいため、インジケータ６０のような簡易な構成で足りる。
【００７６】
また、以上に記載された実施の形態によれば、相手側の端子１２Ａと接続される端子１２であり、端子１２Ａと接触する位置に設けられる絶縁膜１３を備える。このような構成によれば、簡易な手法で、経年劣化などによって導通不良となった箇所を検知することができる。具体的には、相手側の端子１２Ａとの間で絶縁膜１３を挟んで接続される端子１２に電流が流れた場合に、絶縁膜１３の経年劣化を検知することができる。そして、絶縁膜１３の経年劣化を、同等の環境下における端子間の電気的な接続の経年劣化に置き換えることによって、同等の環境下において電気的に接続された接続構造１００を導通不良となった箇所として検知することができる。
【００７７】
また、以上に記載された実施の形態によれば、端子１２は、雄端子である。このような構成によれば、雄端子の雌端子に挿入される部分に、絶縁膜１３を容易に形成することができる。
【００７８】
＜以上に記載された実施の形態における変形例について＞
以上に記載された実施の形態では、それぞれの構成要素の材質、材料、寸法、形状、相対的配置関係または実施の条件などについても記載する場合があるが、これらはすべての局面において例示であって、本願明細書に記載されたものに限られることはないものとする。
【００７９】
したがって、例示されていない無数の変形例が、本願明細書に開示される技術の範囲内において想定される。たとえば、少なくとも１つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合が含まれるものとする。
【００８０】
また、矛盾が生じない限り、以上に記載された実施の形態において「１つ」備えられるものとして記載された構成要素は、「１つ以上」備えられていてもよいものとする。
【００８１】
さらに、以上に記載された実施の形態におけるそれぞれの構成要素は概念的な単位であって、本願明細書に開示される技術の範囲内には、１つの構成要素が複数の構造物から成る場合と、１つの構成要素がある構造物の一部に対応する場合と、さらには、複数の構成要素が１つの構造物に備えられる場合とを含むものとする。
【００８２】
また、以上に記載された実施の形態におけるそれぞれの構成要素には、同一の機能を発揮する限り、他の構造または形状を有する構造物が含まれるものとする。
【００８３】
また、本願明細書における説明は、本技術に関するすべての目的のために参照され、いずれも、従来技術であると認めるものではない。
【００８４】
また、以上に記載された実施の形態において、特に指定されずに材料名などが記載された場合は、矛盾が生じない限り、当該材料に他の添加物が含まれた、たとえば、合金などが含まれるものとする。
【符号の説明】
【００８５】
１０  端子付き電線
１１  電線
１２，１２Ａ  端子
１３  絶縁膜
３０  コネクタハウジング
３１  キャビティ
４０  ばね接点
４１  天井板
５０  電源
６０  インジケータ
７１，７２，７３  ＥＣＵ
７４  駆動回路
７５  ＣＰＵ
１００，１１０  接続構造
１１２  先端部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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