(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
印刷媒体の切断を行うオートカッターと、
複数のヘッド素子により前記印刷媒体に印刷を実行するサーマルヘッドと、
前記ヘッド素子による印刷実行時に印加する印刷用電圧である第１電圧または前記ヘッド素子の検査実行時に印加する検査用電圧である第２電圧を前記ヘッド素子に印加する電圧印加回路と、
前記ヘッド素子の分圧電圧を測定する制御部と、を有し、
前記制御部は、
複数の前記ヘッド素子を、前記オートカッターによる切断の開始から終了までの間に分圧電圧の測定を完了できる所定数の前記ヘッド素子に分割し、
前記オートカッターによる切断を行うときに、前記電圧印加回路により、前記ヘッド素子に印加する前記第１電圧を、前記第２電圧に切り替え、所定数の前記ヘッド素子の分圧電圧を測定し、次に前記オートカッターによる切断を行うときには、前記第１電圧から前記第２電圧に切り替えて、次の所定数の前記ヘッド素子の分圧電圧を測定する
ことを特徴とする印刷装置。
【請求項２】
請求項１において、
更に、データ記憶部を有し、
前記サーマルヘッドは、更に、選択部を備え、
前記制御部は、前記オートカッターによる切断を行うときに、
前記ヘッド素子毎に、
前記選択部によって当該ヘッド素子を選択し、当該ヘッド素子の抵抗要素と前記電圧印加回路の検査用抵抗による直列回路の分圧電圧を測定し、当該測定した分圧電圧と予め前記データ記憶部に記憶された初期分圧電圧値に基づいて、当該ヘッド素子の劣化状態を判断する、劣化判断処理を行う
ことを特徴とする印刷装置。
【請求項３】
請求項２において、
前記劣化判断処理は、前記オートカッターによる切断の開始から終了までの間に分圧電圧の測定を完了できる所定数の前記ヘッド素子について実行される
ことを特徴とする印刷装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか１項において、
前記制御部は、前記分圧電圧に対して予め設定した複数の閾値を用いて、前記ヘッド素子の劣化状態を判断する
ことを特徴とする印刷装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項において、
前記第２電圧と前記制御部の電圧は同じである
ことを特徴とする印刷装置。
【請求項６】
印刷媒体の切断を行うオートカッターと、複数のヘッド素子により前記印刷媒体に印刷を実行するサーマルヘッドと、前記ヘッド素子による印刷実行時に印加する印刷用電圧である第１電圧または前記ヘッド素子の検査実行時に印加する検査用電圧である第２電圧を前記ヘッド素子に印加する電圧印加回路と、前記ヘッド素子の分圧電圧を測定する印刷装置の制御方法であって、
複数の前記ヘッド素子を、前記オートカッターによる切断の開始から終了までの間に分圧電圧の測定を完了できる所定数の前記ヘッド素子に分割し、
前記オートカッターによる切断を行うときに、前記電圧印加回路により、前記ヘッド素子に印加する前記第１電圧を、前記第２電圧に切り替え、所定数の前記ヘッド素子の分圧電圧を測定し、次に前記オートカッターによる切断を行うときには、前記第１電圧から前記第２電圧に切り替えて、次の所定数の前記ヘッド素子の分圧電圧を測定する
ことを特徴とする制御方法。
【請求項７】
印刷媒体の切断を行うオートカッターと、複数のヘッド素子により前記印刷媒体に印刷を実行するサーマルヘッドと、前記ヘッド素子による印刷実行時に印加する印刷用電圧である第１電圧または前記ヘッド素子の検査実行時に印加する検査用電圧である第２電圧を前記ヘッド素子に印加する電圧印加回路と、前記ヘッド素子の分圧電圧を測定する制御部と、を備える印刷装置と、当該印刷装置と通信可能なホスト装置とを有する印刷システムであって、
前記印刷装置は、
複数の前記ヘッド素子を、前記オートカッターによる切断の開始から終了までの間に分圧電圧の測定を完了できる所定数の前記ヘッド素子に分割し、
前記オートカッターによる切断を行うときに、前記電圧印加回路により、前記ヘッド素子に印加する前記第１電圧を、前記第２電圧に切り替え、所定数の前記ヘッド素子の分圧電圧を測定し、次に前記オートカッターによる切断を行うときには、前記第１電圧から前記第２電圧に切り替えて、次の所定数の前記ヘッド素子の分圧電圧を測定し、
分圧電圧に対して予め設定した閾値を用いて、前記ヘッド素子の劣化状態を判断し、前記測定した分圧電圧または前記閾値による判断結果に係る情報を、前記ホスト装置へ送信し、
前記ホスト装置は、
前記印刷装置から前記情報を取得する
ことを特徴とする印刷システム。
【請求項８】
請求項７において、
前記ホスト装置は、前記印刷装置にコマンドを送信し、
前記印刷装置は、当該コマンドを受信して、前記制御部による前記ホスト装置への前記情報の送信を実行する
ことを特徴とする印刷システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ヘッド素子を備えるサーマル式の印刷装置等に関し、特に、ヘッド素子の劣化状態を段階的に、印刷処理に支障をきたす事無く検査でき、かつ、回路規模も小さく抑えることが出来る、印刷装置等に関する。
【背景技術】
【０００２】
レシートなどの印刷においてサーマル式のプリンターが普及している。
【０００３】
サーマルプリンターは、サーマルヘッドに複数のヘッド素子を備え、それらのヘッド素子に電圧を印加することによってヘッド素子の抵抗要素（発熱体）を発熱させ、用紙に印刷を行う。このようなプリンターではヘッド素子に不良があると印刷品質が低下し好ましくない。そこで、従来、サーマルプリンターのヘッド素子の検査方法について提案がされている。
【０００４】
下記特許文献１では、サーマルヘッドの不良検出方法が提案され、発熱素子の抵抗値を用いてその最大値と最小値に基づき、ヘッドの良・不良を判断することが開示されている。また、下記特許文献２では、検出の高速化を実現する技術の一つとして、印字中にヘッド素子の劣化を検出する方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−１４１７３０号公報
【特許文献２】特開平１０−１６６６３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記特許文献１に記載の方法は、ヘッド素子の良・不良の検出であり、ヘッド素子の劣化の進行状態を把握することは出来ず、ヘッド素子が不良になる前の適切なタイミングでヘッド素子を交換することが出来ないため、印刷結果に問題が出てしまう虞がある。
【０００７】
また、２４時間営業している飲食店、コンビニエンスストア等で用いられるレジのレシートプリンターにおいては、劣化の検査を行う場合、その検査方法によっては、レシート出力を停止する必要があり、営業に支障が出てしまうという課題がある。
【０００８】
この課題に関し、上記特許文献２には、全信号ラインに電流検出抵抗等を備え、レシートの印刷中に検査をする方法が提案されているが、この方法では、回路規模が大きくなり、高コストとなってしまうという課題がある。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、ヘッド素子を備えるサーマル式の印刷装置であって、ヘッド素子の劣化状態を段階的に、印刷処理に支障をきたす事無く検査でき、かつ、回路規模も小さく抑えることが出来る印刷装置、等を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記の目的を達成するために、本発明の一つの側面は、印刷装置が、複数のヘッド素子により印刷媒体に印刷を実行するサーマルヘッドと、前記ヘッド素子に第１電圧または第２電圧を印加する電圧印加回路と、前記ヘッド素子の分圧電圧を測定するヘッド制御部と、を有し、前記ヘッド制御部は、前記印刷が実行され得ない状態を検知すると、前記電圧印加回路により、前記ヘッド素子に印加する電圧を、前記第２電圧に切り替え、前記ヘッド素子の分圧電圧を測定する、ことである。
【００１１】
これにより、印刷が実行され得ない時間を利用してヘッド素子の検査がなされるので、印刷処理に支障をきたすことなくヘッド素子の劣化診断を行うことができるようになる。更に、印刷処理と並行してヘッド素子の検査を行わなくてよいので、回路規模を小さく抑えることが出来る。
【００１２】
更に、上記発明において、その好ましい態様は、更に、データ記憶部を有し、前記サーマルヘッドは、更に、選択部を備え、前記ヘッド制御部は、前記印刷が実行され得ない状態を検知すると、前記ヘッド素子毎に前記選択部によって当該ヘッド素子を選択し、当該ヘッド素子の抵抗要素と前記電圧印加回路の検査用抵抗による直列回路の分圧電圧を測定し、当該測定した分圧電圧と予め前記データ記憶部に記憶された初期分圧電圧値に基づいて、当該ヘッド素子の劣化状態を判断する、劣化判断処理を行う、ことを特徴とする。
【００１３】
これにより、初期分圧電圧値に基づいてヘッド素子の劣化状態を判断するため、各ヘッド素子の劣化状況を適確に判断することができる。
【００１４】
更に、上記発明において、その好ましい態様は、前記劣化判断処理は、前記印刷が実行され得えない状態の間に完了できる、全ヘッド素子数を分割した所定数のヘッド素子について実行される、ことを特徴とする。
【００１５】
これにより、全ヘッド素子について連続して劣化判断処理を行うのではなく、切断処理中など印刷が実行され得ない状態の期間中に完了できる数のヘッド素子について劣化判断処理を行うので、確実に印刷処理に支障をきたすことはない。
【００１６】
更に、上記発明において、その好ましい態様は、前記ヘッド制御部は、前記分圧電圧に対して予め設定された複数の閾値を用いて、前記ヘッド素子の劣化状態を判断する、ことを特徴とする。
【００１７】
これにより、劣化度合（劣化状態）の判断を、複数の閾値を用いて行うので、きめ細かい管理が可能になる。
【００１８】
更に、上記発明において、その好ましい態様は、前記印刷後の前記印刷媒体を切断するオートカッターを有し、前記印刷が実行され得ない状態の検知は、前記オートカッターによる前記切断の開始を検知することである、ことを特徴とする。
【００１９】
これにより、印刷媒体の切断処理中に劣化判断処理を実行するので、印刷処理に支障きたさない処理が保障される。更に、印刷装置が使用される限り印刷媒体の印刷及び切断が実行されるので、確実にヘッド素子の検査を実行することができる。
【００２０】
更に、上記発明において、その好ましい態様は、前記印刷装置の筐体に、前記印刷媒体の収納部を開放できるカバーを有し、前記印刷が実行され得ない状態の検知は、前記カバーの開放を検知することである、ことを特徴とする。
【００２１】
これにより、ヘッド素子の検査は、印刷が停止している、カバーの開放の際に行われるため、印刷に支障をきたす事が無く、実行できる。
【００２２】
更に、上記発明において、その好ましい態様は、前記印刷が実行され得ない状態の検知は、前記印刷装置におけるエラーの発生を検知することである、ことを特徴とする。
【００２３】
これにより、ヘッド素子の検査は、印刷が停止している、エラーの発生の際に行われるため、印刷に支障をきたす事が無く、実行できる。
【００２４】
更に、上記発明において、その好ましい態様は、前記第２電圧と前記ヘッド制御部の電圧は同じである、ことを特徴とする。
【００２５】
これにより、測定した分圧電圧からＡ／Ｄ変換された値の誤差が少なくなるため、ヘッド素子の適確な劣化判断ができる。
【００２６】
更に、上記目的を達成するために、本発明の別の側面は、複数のヘッド素子により印刷媒体に印刷を実行するサーマルヘッドと、前記ヘッド素子に第１電圧または第２電圧を印加する電圧印加回路と、前記ヘッド素子の分圧電圧を測定するヘッド制御部と、を備える印刷装置の制御方法であって、前記ヘッド制御部は、前記印刷が実行され得ない状態を検知すると、前記電圧印加回路により、前記ヘッド素子に印加する電圧を、前記第２電圧に切り替え、前記ヘッド素子の分圧電圧を測定する、ことである。
【００２７】
上記の目的を達成するために、本発明の更に別の側面は、複数のヘッド素子により印刷媒体に印刷を実行するサーマルヘッドと、前記ヘッド素子に第１電圧または第２電圧を印加する電圧印加回路と、前記ヘッド素子の分圧電圧を測定するヘッド制御部と、通信部と、を備える印刷装置と、当該印刷装置のホスト装置を有する印刷システムであって、前記印刷装置の前記ヘッド制御部は、前記印刷が実行され得ない状態を検知すると、前記電圧印加回路により、前記ヘッド素子に印加する電圧を、前記第２電圧に切り替え、前記ヘッド素子の分圧電圧を測定し、前記分圧電圧に対して予め設定された閾値を用いて、前記ヘッド素子の劣化状態を判断し、前記測定した分圧電圧及び／又は、前記閾値による判断結果を、前記通信部によって前記ホスト装置へ送信し、前記ホスト装置は、前記送信された情報を取得する、ことである。
【００２８】
これにより、ホスト装置などの外部装置で印刷装置の劣化情報を容易に取得することができるようになり、プリンターの劣化管理、特に、遠隔装置における集約的な管理が容易に行えるようになる。
【００２９】
更に、上記発明において、その好ましい態様は、前記ホスト装置は、前記印刷装置にコマンドを送信し、前記印刷装置は、当該コマンドを受信して、前記ヘッド制御部による前記ホスト装置への情報の送信を実行する、ことである。
【００３０】
これにより、当該ホスト装置は、コマンドにより、遠隔装置からヘッド素子の劣化情報を操作することができ、劣化情報の管理が多様になる。
【００３１】
本発明の更なる目的及び、特徴は、以下に説明する発明の実施の形態から明らかになる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明を適用した印刷装置の第１の実施の形態例に係る構成図である。
【図２】電圧印加回路２５とサーマルヘッド２６の一例を示した回路図である。
【図３】初期設定処理の手順を例示したフローチャートである。
【図４】分圧電圧と抵抗値変化率の関係を示すグラフである。
【図５】仮の変換テーブルを例示した図である。
【図６】動作タイミングを例示したタイムチャートである。
【図７】レシート印刷の1サイクルの処理手順を例示したフローチャートである。
【図８】劣化判断処理の手順を例示したフローチャートである。
【図９】不揮発性メモリー２４に記憶する劣化情報の一例を示す図である。
【図１０】分圧電圧値（ＡＤ値）と抵抗値（Ｒｈｅａｄ）の関係を示すグラフである。
【図１１】変換テーブルＣＴの一例を示した図である。
【図１２】初期値取得処理の手順を例示したフローチャートである。
【図１３】状態値取得処理の手順を例示したフローチャートである。
【図１４】劣化情報取得処理の手順を例示したフローチャートである。
【図１５】劣化情報の一例を示した図である。
【図１６】状態値の取得と劣化情報の取得を連続して行う場合の手順を示したフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態例を説明する。しかしながら、かかる実施の形態例が、本発明の技術的範囲を限定するものではない。なお、図において、同一又は類似のものには同一の参照番号又は参照記号を付して説明する。
【００３４】
［第１の実施の形態例］
図１は、本発明を適用した印刷装置の第１の実施の形態例に係る構成図である。図１に示すプリンター２が本発明を適用した印刷装置であり、本プリンター２では、初回起動時等に、そのサーマルヘッド２６に備えられるヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の各抵抗値（各分圧電圧）を測定して記憶しておく。その後、印刷処理の際に、オートカッター２７による印刷媒体（ロール状の用紙等）の切断のタイミングで、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の各抵抗値（各分圧電圧）を測定する。その測定値と上記記憶しておいた初期の各抵抗値（各分圧電圧）から換算して求められる抵抗値変化率から、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化状態を判定する。また、測定値及び／又は、判定結果に関する情報を、外部装置（ＰＯＳ端末装置１、劣化管理サーバー３等）に送信する構成とすることができる。
【００３５】
これにより、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化状態を段階的に把握することができる。また、印刷媒体の切断時に劣化検出処理を行うので、印刷処理に支障をきたすことなく劣化の検出が可能となる。更に、プリンター２の劣化管理をホスト装置等において容易に行えるようになる。
【００３６】
図１に示すように、本実施の形態例では、プリンター２はＰＯＳ（Ｐｏｉｎｔ  Ｏｆ  Ｓａｌｅｓ）端末装置１からの印刷命令によりレシート等を印刷する印刷装置である。ＰＯＳ端末装置１及びプリンター２は、それぞれ、インターネットなどの通信網４を介して劣化管理サーバー３と通信可能に構成される。ＰＯＳ端末装置１とプリンター２でプリンターシステム１００を構成することができ、また、ＰＯＳ端末装置１とプリンター２と劣化管理サーバー３で、あるいは、プリンター２と劣化管理サーバー３で、劣化管理システム２００を構成することができる。
【００３７】
なお、図示していないが、通信網４には、複数のプリンターシステム１００、ＰＯＳサーバー等が接続され得る。
【００３８】
ＰＯＳ端末装置１は、販売店などに設置されるいわゆるレジであり、プリンター２にレシート等の印刷命令を行うプリンター２のホスト装置である。ＰＯＳ端末装置１は、図示していないが、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、表示装置、入力装置（バーコードリーダーなど）、通信装置等を備え、商品販売時における精算処理等を実行する。また、後述の通り、ＰＯＳ端末装置１が、プリンター２のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化管理を行ってもよい。
【００３９】
図１に示す通り、ＰＯＳ端末装置１は、機能構成としてＰＯＳアプリケーション部１１、プリンタードライバー部１２、及び、劣化管理部１３を備える。
【００４０】
ＰＯＳアプリケーション部１１は、商品販売時の精算処理、レシート・クーポンの印刷要求、図示していないＰＯＳサーバーへのデータ送信等を担う部分である。印刷要求時には、印刷要求データをプリンタードライバー部１２に出力する。
【００４１】
プリンタードライバー部１２は、レシートプリンター２用のドライバー機能を担う部分である。プリンタードライバー部１２は、ＰＯＳアプリケーション部１１から出力された印刷要求データを受信し、その印刷要求データに従ってプリンター２用のコマンドで表現された印刷データを生成し、プリンター２へ送信する。
【００４２】
劣化管理部１３は、プリンター２のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化管理を行う部分である。具体的な機能については後述する。
【００４３】
なお、ＰＯＳアプリケーション部１１、プリンタードライバー部１２、及び、劣化管理部１３は、それぞれ、各処理内容を指示するプログラム、当該プログラムによって動作するＣＰＵ、ＲＡＭ等によって構成される。
【００４４】
次に、劣化管理サーバー３は、プリンター２など管理対象のプリンターの劣化に関する情報を管理するサーバーである。図示していないが、劣化管理サーバー３は、サーバーコンピューターで構成され、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ、表示装置、入力装置、通信装置等を備える。劣化管理サーバー３の具体的な機能については後述する。
【００４５】
次に、プリンター２は、ＰＯＳ端末装置１の命令に従って（印刷データに従って）レシート・クーポン等を印刷する、ラインヘッドを備えたサーマルプリンターである。プリンター２は、印刷媒体に印刷対象を印刷し、印刷が完了するとオートカッター２７により用紙を切断し、排出する。
【００４６】
また、プリンター２は、いわゆるインテリジェントプリンターと呼ばれるものであり、一般的なプリンターにおける印刷制御を行う制御装置のほかに、パーソナルコンピューターと同様のデータ処理装置（演算装置）を備える。
【００４７】
プリンター２は、図１に示すような機能構成を備える。通信部２１は、外部装置と通信を行う通信装置であり、ＰＯＳ端末装置１、劣化管理サーバー３などとの通信機能を担う。
【００４８】
メイン制御部２２は、後述するヘッド制御部２３が担う制御機能以外の制御機能を担う、プリンター２のメインコントローラーである。上述したパーソナルコンピューターと同様のデータ処理装置（演算装置）で構成される。なお、メイン制御部２２とヘッド制御部２３は別体でも一体でもよい。
【００４９】
ヘッド制御部２３は、サーマルヘッド２６及び電圧印加回路２５を制御し、印刷媒体に印刷を実行させると共に、サーマルヘッド２６が備えるヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化状態を判定する処理を行う。ヘッド制御部２３は、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＡＳＩＣ等で構成され、主にＲＯＭに記憶されたプログラムに従ってＣＰＵが動作することにより、処理を実行する。ヘッド制御部２３による具体的な処理内容は後述する。
【００５０】
不揮発性メモリー２４（データ記憶部）は、ヘッド制御部２３による、上述したヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化状態を判定する処理に関するデータを記憶する部分である。不揮発性メモリー２４は、後述する仮の変換テーブル、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の変換テーブル、及び、劣化情報（ヘッド素子の識別番号とそのヘッド素子の劣化度合、等）等のデータを記憶する。なお、不揮発性メモリー２４は、ＮＶＲＡＭなどで構成することができる。
【００５１】
電圧印加回路２５は、サーマルヘッド２６に電圧を印加する回路である。電圧印加回路２５は、電圧値の異なる２つの電源（２４Ｖ、３．３Ｖ）を備え、印刷実行時には印刷用電圧（２４Ｖ、（第１電圧））をサーマルヘッド２６に印加し、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の検査実行時には検査用電圧（３．３Ｖ、（第２電圧））に切り替えて、サーマルヘッド２６に電圧を印加する。
【００５２】
サーマルヘッド２６は、複数のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）とそれらの選択部を備える。印刷実行時には、選択部によって選択されたヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）に印刷用電圧が印加され、そのヘッド素子の発熱体（抵抗要素）が発熱し、印刷媒体に印刷がなされる。また、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の検査実行時には、選択部によって選択されたヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）に検査用電圧が印加される。
【００５３】
オートカッター２７は、刃とその駆動部から構成され、レシートの印刷が完了すると、メイン制御部２２の制御により、印刷媒体の切断を行う。
【００５４】
用紙搬送部２８は、搬送ローラー、その駆動部等から構成される。メイン制御部２２の制御により、印刷媒体の格納部から当該印刷媒体をヘッド素子の位置まで搬送し、印刷が終了すると、印刷媒体をオートカッター２７の位置まで搬送する。
【００５５】
カバー２９は、印刷装置の筐体に設けられる、印刷媒体の収納部を開放可能な蓋である。印刷媒体の交換の際などに、操作者にカバー２９が開放されると、メイン制御部２２によって、その開放が検知される。
【００５６】
図２は、電圧印加回路２５とサーマルヘッド２６の一例を示した回路図である。図２に示す通り、サーマルヘッド２６は、ラインヘッドを構成する複数のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）とラッチドライバー２６２とｎ段のＦＦ（フリップフロップ）からなるシフトレジスター２６３を備えている。上述した選択部は、ラッチドライバー２６２とシフトレジスター２６３で構成される。また、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）は、図２に示されるように、発熱体である抵抗要素を備える。
【００５７】
シフトレジスター２６３は第１段のシフトレジスターのＤＯ（Data Out）は第２段シフトレジスターのＤＩ（Data In）に接続されるように順次連結されている。
【００５８】
ラッチドライバー２６２は、ストローブ信号の入力端子ＳＴＢと、ラッチ信号の入力端子ＬＡＴを備えている。また、ｎ段の各シフトレジスターは、印刷データであるシリアルデータが入力される入力端子ＤＩ、クロック信号の入力端子ＣＬＫ、シフトレジスター２６３からあふれたシリアルデータが出力される出力端子ＤＯを備えている。
【００５９】
図２の左側でこれらの回路に接続されるヘッド制御部２３からの制御信号によって第１段のシフトレジスターの入力端子ＤＩから、クロック信号に対応して１ビットずつ１ライン分のシリアルデータが入力される。次に、１ライン分のシリアルデータがシフトレジスターに格納された時点で、ラッチ信号によって１ライン分のシリアルデータをパラレルデータとしてラッチドライバー５に格納する。
【００６０】
次に、ストローブ信号を受信したラッチドライバー２６２は、ストローブ信号を受けている間、ラッチしたデータの“１”に相当するヘッド素子に通電する。この通電によって印刷媒体に１ライン分（１ドット）の画像が形成され、図示しない紙送り機構によって１ドット分の紙送りが実行される。この手順を繰り返すことで印刷が実行される。
【００６１】
また、電圧印加回路２５は、スイッチ信号（ＳＷ２４ＶＡあるいはＤＯＴ＿ＤＥＴＥＣＴ）によって、ヘッド素子の印刷用電源２４［Ｖ］及び検査用電源３．３［Ｖ］のＯＮ／ＯＦＦを制御する。なお、検査用電源は、ヘッド制御部２３の電源と同じ電圧が望ましく、一例として、ここでは３．３Ｖとしている。これにより、後述するＡ／Ｄ変換時の誤差が少なくなる。
【００６２】
上述した印刷の実行時には、ヘッド制御部２３からのＳＷ２４ＶＡ信号により、ＦＥＴで構成されるスイッチング素子ＱＦ５をＯＮとして、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）へ印刷用電圧２４Ｖを印加する。
【００６３】
一方、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の検査時には、スイッチング素子ＱＦ５をＯＦＦにして、ヘッド制御部２３からのＤＯＴ＿ＤＥＴＥＣＴ信号により、それぞれＦＥＴで構成されるスイッチング素子ＱＦ１及びＱＦ２をＯＮとして、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）へ検査用電圧３．３Ｖを印加する。
【００６４】
次に、ヘッド制御部２３はＤＩ信号で検査対象のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）を指定（選択）し、ラッチドライバー２６２によってそのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）が通電される。
【００６５】
これにより、検査用抵抗Ｒ１とヘッド素子の抵抗要素（発熱体）をつなぐ直列回路が形成され、ヘッド制御部２３は、ＲＥＡＤ＿ＨＥＡＤ信号で上記直列回路の検査用抵抗Ｒ１とヘッド素子の抵抗要素（発熱体）間の分圧電圧を取得（測定）する。具体的には、Ａ／ＤコンバーターＡＤＣを介して、Ａ／Ｄ変換された値（ＡＤ値）を取得する。なお、１ヘッド素子あたりの検査時間内において、当該ヘッド素子に印加されるジュール熱により、通電時間が長くなると印字（発色）に至る虞がある。従って、発色する温度まで上昇することがないように、検査時間は一定時間以内に抑えるのが好ましい。
【００６６】
以上のような構成を備えるプリンター２では、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化判断に係る処理に特徴があり、以下、その具体的な内容について説明する。
【００６７】
ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）においては、劣化が進むことによりその発熱体（抵抗素子）の抵抗値が変化することが知られている。変化の仕方にはいくつかの現象が見られるが、１つの現象においては、抵抗値が徐々に増加していく。また、他の現象においては、抵抗値が徐々に減少していき、その後急激に増加する。いずれの場合においても、ある程度以上に抵抗値が増加すると印刷時に十分に発熱せず印刷不良を起こす虞がある。
【００６８】
従って、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化判断では、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の（発熱体の）抵抗値の変化を段階的に把握することが重要である。
【００６９】
そのため、本プリンター２では、まず、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の初期状態（初期抵抗値）を把握する処理（初期設定処理）を行った後、初期状態に基づいて適切な頻度で抵抗値を測定し、劣化判断処理を実行する。
【００７０】
また、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の抵抗値は、上述した、検査用抵抗Ｒ１とヘッド素子の抵抗要素（発熱体）をつなぐ直列回路の上記分圧電圧を測定することによって求められるので、上記初期状態の把握及び劣化状態の把握は、分圧電圧を測定することによって行う。
【００７１】
図３は、初期設定処理の手順を例示したフローチャートである。なお、この初期設定処理においては、その後に行われる劣化判断処理の際に処理を速く行えるように、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）毎に変換テーブルを作成しておく。この変換テーブルは、測定される上記分圧電圧の各値（より具体的にはＡＤ値）に、上記初期抵抗値からの抵抗値変化率を対応付けたものである。
【００７２】
図４は、分圧電圧と抵抗値変化率の関係を示すグラフである。図４に示す例は、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の発熱体の抵抗値を５６４Ωとし、検査用抵抗Ｒ１の抵抗値を２５５Ωとした場合の、分圧電圧（ＡＤ値）と抵抗値変化率の関係を示している。なお、抵抗値変化率は初期抵抗値（ここでは５６４Ω）からの変化分（増加分）を百分率で表している。なお、この関係は、数式に基づく計算で求めることができる。
【００７３】
図５は、仮の変換テーブルを例示した図である。図５に示す仮の変換テーブルは、図４に示したグラフを表形式で表現したものである。仮の変換テーブルにおける「分圧電圧」において、Ｘは、仮の変換テーブルでは、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の発熱体の初期抵抗値５６４Ωに対応する分圧電圧を意味している。具体的には、Ｘ＝１７６である。すなわち、初期状態で発熱体の抵抗値が５６４Ωである場合に、上述した手順で分圧電圧を測定すると「１７６」という値が取得されるということである。この値が、初期分圧電圧値である。
【００７４】
プリンター２をある程度使用した後に、分圧電圧を測定して、例えば「１８１」という値を得たときは、仮の変換テーブルにおいて「分圧電圧」が「Ｘ＋５」であるので、それに対応付けられた「抵抗値変化率」の「１０＿１１％」発熱体の抵抗値が増加した、ということがわかる。
【００７５】
なお、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の発熱体の初期抵抗値５６４Ωは、装置の仕様通りの値（仕様値）であり、実際の抵抗値は、この仕様値から１０％程度の誤差を含む可能性がある。従って、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）毎により正確に劣化度合を判断するためには、その初期抵抗値を正確に把握し、それに基づいた変換テーブル（分圧電圧と抵抗値変化率の関係を示すテーブル）を用意する必要がある。なお初期抵抗値５６４Ωはサーマルヘッドにより異なり、上記は一例である。
【００７６】
以上説明した仮の変換テーブルは、予め作成され、不揮発性メモリー２４に記憶されている。
【００７７】
以降、図３に基づいて、初期設定処理の具体的な処理内容について説明する。本プリンター２の初回起動時において、初期設定処理は実行される。ヘッド制御部２３は、まず、上述したように、電圧印加回路２５に信号を出し、検査用電圧（３．３Ｖ）をサーマルヘッド２６に印加する（図３のステップＳ１）。
【００７８】
次に、ヘッド制御部２３は、初期設定を行う１つのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）を選択する（図３のステップＳ２）。具体的には、上述の通り、ＤＩ信号をサーマルヘッド２６に出して、そのヘッド素子に通電させる。
【００７９】
これにより、検査用抵抗Ｒ１と当該ヘッド素子の抵抗要素（発熱体）をつなぐ直列回路が形成されるので、ヘッド制御部２３は、ＲＥＡＤ＿ＨＥＡＤ信号で上記直列回路の検査用抵抗Ｒ１とヘッド素子の抵抗要素（発熱体）間の分圧電圧を測定し、その値を取得する（図３のステップＳ３）。すなわち、当該ヘッド素子の（抵抗要素（発熱体）の）初期抵抗値に対応する情報（初期分圧電圧値）が取得される。
【００８０】
次に、ヘッド制御部２３は、不揮発性メモリー２４に記憶される、上述した仮の変換テーブルを読み出し、そのテーブルの「Ｘ」に、取得した当該ヘッド素子の分圧電圧を代入して、当該ヘッド素子の変換テーブルを生成する（図３のステップＳ４）。すなわち、そのヘッド素子の実際の初期抵抗値に基づいた、分圧電圧と抵抗値変化率の関係を示す変換テーブルが生成される。
【００８１】
ヘッド制御部２３は、生成した変換テーブルを不揮発性メモリー２４に読み出し可能に記憶（保存）し（図３のステップＳ５）、当該ヘッド素子についての初期設定処理を終了する。
【００８２】
ヘッド制御部２３は、以上説明した初期設定処理（Ｓ２−Ｓ５）を、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について実行する（図３のステップＳ６のＹｅｓ）。
【００８３】
その後、ヘッド制御部２３は、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について生成され不揮発性メモリー２４に記憶される変換テーブルに、それぞれ、閾値を設定する（図３のステップＳ７）。ここでは、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化状態をきめ細かく把握できるように、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）毎に複数の閾値を設定する。
【００８４】
閾値は、変換テーブルにおいて、ＡＤ値として取得される分圧電圧に対応付けられる抵抗値変化率に設定され、例えば、５１％、１５％、−１５％と−３０％の抵抗値変化率が４つの閾値として、予め設定される。例えば、図５に示した仮の変換テーブルが、そのＸに測定された初期抵抗値が代入されたあるヘッド素子の変換テーブルであるとすると、図５に示す４つの閾値Ｎ１、Ｎ２、Ｎ３及びＮ４が設定される。
【００８５】
以上のようにして、初期設定処理が終了する。
【００８６】
次に、初期設定処理が行われた後、プリンター２が使用されて、所定のタイミングになると、ヘッド制御部２３は、劣化判断処理を実行する。この劣化判断処理が実行される所定のタイミングが、本プリンター２の１つの大きな特徴であり、具体的には印刷処理終了後の印刷媒体を切断するタイミングである。印刷媒体の切断処理中は、印刷処理が停止する、印刷処理が実行され得ない状態である。本プリンター２では、この印刷が実行され得ない切断処理の状態を検知すると、ヘッド素子の劣化判断処理を実行する。
【００８７】
図６は、プリンター２において実行される、劣化判断処理のタイミングを表したタイムチャートである。図６において、横軸は経過時間ｔを示す。また、縦軸は、処理の実行（上位値）／不実行（下位置）、又は、電圧のＯＮ（上位値）／ＯＦＦ（下位置）を示す。
【００８８】
（Ａ）は、レシートの発行処理を表した図である。タイムチャートの各山（ΔＴ１及び、ΔＴ２、ΔＴ３及びΔＴ４、ΔＴ５及びΔＴ６、…ΔＴｎ及びΔＴｎ＋１）は、それぞれ1レシートの発行処理に相当する。各山において、前者（ΔＴ１、ΔＴ３、ΔＴ５、…ΔＴｎ）は、印刷処理に相当し、後者（ΔＴ２、ΔＴ４、ΔＴ６、…ΔＴｎ＋１）は切断処理に相当する。例えば、ΔＴ１（ｔ１からｔ２）は、ヘッド制御部２３により、電圧印加回路２５へ信号が発せられ、サーマルヘッド２６に電圧が印加されて、レシートに印字をする時間である。また、ΔＴ２（ｔ２からｔ３）は、メイン制御部２２により、オートカッター２７が制御され、レシートを切断している時間である。
【００８９】
（Ｂ）は、上記レシートに印字をするためにサーマルヘッド２６へ印刷用電圧（２４Ｖ）を印加するタイミングを示した図である。（Ｂ）における各山は、（Ａ）における印刷処理（ΔＴ１、ΔＴ３、ΔＴ５、…ΔＴｎ）に一致している。（Ａ）の各印刷処理時間（ΔＴ１、ΔＴ３、ΔＴ５、…ΔＴｎ）にレシートへの印字が終了すると、ヘッド制御部２３の制御により、電圧印加回路２５は、サーマルヘッド２６へ印加されていた印刷用の電圧（２４Ｖ）を遮断する。
【００９０】
（Ｃ）は、検査用電圧（３．３Ｖ）をサーマルヘッド２６へ印加するタイミングを示した図である。（Ｃ）における各山は（Ａ）における切断処理（ΔＴ２、ΔＴ４、ΔＴ６、…ΔＴｎ＋１）に一致している。そして、（Ａ）における各切断処理（ΔＴ２、ΔＴ４、ΔＴ６、…ΔＴｎ＋１）の開始時に、ヘッド制御部２３の制御により、電圧印加回路２５は、サーマルヘッド２６へ検査用電圧（３．３Ｖ）を印加する。
【００９１】
（Ｄ）から（Ｇ）は、劣化判断処理の実行タイミングを示す。劣化判断処理の実行タイミングは、（Ａ）における切断処理（ΔＴ２、ΔＴ４、ΔＴ６、…ΔＴｎ＋１）、（Ｃ）における検査用電圧（３．３Ｖ）の印加時間と一致している。（Ｄ）から（Ｇ）の各劣化判断処理時間では、本実施の形態例では、一例として、５０個のヘッド素子について処理を実行する。このヘッド素子の数は、５０個に限定されるものではないが、（Ａ）における切断処理（ΔＴ２、ΔＴ４、ΔＴ６、…ΔＴｎ＋１）の時間内に処理が完了できる数が選択される。
【００９２】
このように、本プリンター２では、オートカッター２７によりレシートを切断している間に、ヘッド素子の全数を分割した所定数のヘッド素子について劣化判断処理を実行する。すなわち、全ヘッド素子について連続して劣化判断処理を実行するのではなく、印刷処理が実行され得ない状態の間に完了できる数のヘッド素子について実行する。
【００９３】
次に、劣化判断処理の処理内容について説明する。上述したように、劣化判断処理は、レシートが出力されるまでの１サイクルの間に行われるので、まず、レシートが出力されるまでの１サイクルの処理について説明する。
【００９４】
図７は、レシート印刷の１サイクルの処理手順を例示したフローチャートである。まず、ヘッド制御部２３は、メイン制御部２２からレシート印刷の指示を受け、電圧印加回路２５に信号を出し、印刷用電圧（２４Ｖ）をサーマルヘッド２６に印加する（図７のステップＳ１１）。
【００９５】
次に、メイン制御部２２は、ＰＯＳアプリケーション部１１から受信した印刷データに基づいて、レシートを印刷する処理を開始する（図７のステップＳ１２）。具体的には、用紙搬送部２８を制御して、印刷媒体を、順次、サーマルヘッド２６の位置へ搬送する（図７のステップＳ１２）。
【００９６】
また、ヘッド制御部２３へ指示して、搬送した印刷媒体への印刷を実行させる。レシートの印刷が終了すると（図７のステップＳ１３）、ヘッド制御部２３は、電圧印加回路２５に信号を出し、印刷用電圧（２４Ｖ）のサーマルヘッド２６への印加を遮断する（図７のステップＳ１４）。
【００９７】
次に、メイン制御部２２は、オートカッター２７を駆動して、印刷媒体の切断を開始する（図７のステップＳ１５）。ここで、ヘッド制御部２３は、メイン制御部２２から、オートカッター２７の駆動開始の信号を受けてサーマルヘッド２６の劣化判断処理を実行する（図７のステップＳ１６）。すなわち、ヘッド制御部２３は、印刷が実行され得ない切断処理の状態を検知して、劣化判断処理を開始する。劣化判断処理の具体的な処理内容については後述する。
【００９８】
オートカッター２７による印刷媒体の切断が終了すると、メイン制御部２２は、オートカッター２７の駆動を停止し、印刷媒体の切断を終了する（図７のステップＳ１７）。
【００９９】
このようにして、１レシートについての処理が実行される。かかる処理が、ＰＯＳ端末装置１からレシート印刷の要求を受ける度に、プリンター２によって実行される。
【０１００】
次に、劣化判断処理について説明する。図８は、図７のステップＳ１６の具体的な処理の手順を例示したフローチャートである。まず、ヘッド制御部２３は、上述したように、電圧印加回路２５に信号を出し、検査用電圧（３．３Ｖ）をサーマルヘッド２６に印加する（図８のステップＳ１６１）。
【０１０１】
次に、ヘッド制御部２３は、劣化判断を行う１つのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）を選択する（図８のステップＳ１６２）。具体的には、上述の通り、ＤＩ信号をサーマルヘッド２６に出して、そのヘッド素子に通電させる。
【０１０２】
これにより、検査用抵抗Ｒ１とヘッド素子の抵抗要素（発熱体）の間の分圧電圧を測定し、その値を取得する（図８のステップＳ１６３）。すなわち、当該ヘッド素子の（抵抗要素（発熱体）の）この時点における抵抗値に対応する情報が取得される。
【０１０３】
次に、ヘッド制御部２３は、不揮発性メモリー２４に記憶されている当該ヘッド素子の変換テーブルを読み出し、その変換テーブルにおいて、上記取得したこの時点での分圧電圧に対応付けられている抵抗値変化率を読み出す（取得する）（図８のステップＳ１６４）。すなわち、分圧電圧が抵抗値の情報に変換される。
【０１０４】
ヘッド制御部２３は、取得した抵抗値変化率が、当該変換テーブルに設定されている閾値を超えているか否かをチェックし（図８のステップＳ１６５）、取得した抵抗値変化率などの情報（劣化情報）を不揮発性メモリー２４へ保存（記憶）する（図８のステップＳ１６６）。
【０１０５】
図９は、不揮発性メモリー２４に保存する具体的なデータ（劣化情報）の一例である。
【０１０６】
本実施の形態例では、劣化情報として全５１２個のヘッド素子の各ヘッド素子（ヘッド素子の識別番号）について、「抵抗値変化率」及び「アラームフラグ」の情報を保存（記憶）する。抵抗値変化率（％）は、ステップＳ１６４で取得された抵抗値変化率であり、「アラームフラグ」は、ステップＳ１６５の判断により、閾値を超えていると判断された場合に立つ（ＯＮとされる）フラグである。本実施の形態例では、４つの閾値（Ｎ１、Ｎ２、Ｎ３、Ｎ４）を変換テーブルに設定しているので、「アラームフラグ」のデータは、どの閾値を超えているか判断可能なデータとしている。ＯＮ（Ｎ２）は閾値Ｎ２を超えているが、閾値Ｎ１を超えていないことを示し、ＯＮ（Ｎ１）は閾値Ｎ１を超えていることを示している。また、ＯＮ（Ｎ３）はマイナス方向に閾値Ｎ３を超えているが、閾値Ｎ４を超えていないことを示し、ＯＮ（Ｎ４）はマイナス方向に閾値Ｎ４を超えていることを示している。
【０１０７】
図９に示す例では、例えばヘッド素子「１」は、現在の（直近の検出結果における抵抗値変化率）抵抗値変化率が「２−３％」であり、閾値を超えていないことを示している。
【０１０８】
ヘッド素子「３０」は、抵抗値変化率が「−１６％」であり、閾値Ｎ３を超えていることを示している。
【０１０９】
また、ヘッド素子「５０」は、抵抗値変化率が「１６＿１７＿１８％」であり、閾値Ｎ２を超えていることを示している。
【０１１０】
ステップＳ１６６の処理では、選択されているヘッド素子について、「抵抗値変化率（％）」と「アラームフラグ」の値が保存（更新）される。
【０１１１】
なお、抵抗値変化率が、−１５％から＋１５％の間である場合には、そのヘッド素子については劣化があまり進んでおらず（直ぐに対応すべき劣化状態になく）、１５％を超えている場合、あるいは、−１５％を下回る場合には、そのヘッド素子については劣化が進んでいる（注視すべき劣化状態である）と判断できる。
【０１１２】
なお、劣化情報として、抵抗値変化率が閾値を超えたヘッド素子についてのみ、劣化情報を記憶する様にしても良い。また、各ヘッド素子について合わせて、測定された分圧電圧値、分圧電圧値から換算可能な抵抗値を記録するようにしても良い。
【０１１３】
このようにして、当該ヘッド素子についての劣化判断処理を終了する。そして、処理がステップＳ１６７に移行する。
【０１１４】
ステップＳ１６７では、ヘッド制御部２３は、今回検査用電圧（３．３Ｖ）を印加した後（ステップＳ１６１の後）、所定数（例えば、５０）のヘッド素子について処理（Ｓ１６２−Ｓ１６６）を終了したか否かを判断し（図８のステップＳ１６７）、未だ終了していない場合には（ステップＳ１６７のＮｏ）、次のヘッド素子についてステップＳ１６２からの処理を行う。
【０１１５】
一方、所定数のヘッド素子について処理を終了した場合には（ステップＳ１６７のＹｅｓ）、ヘッド制御部２３は、電圧印加回路２５に信号を出し、検査用電圧（３．３Ｖ）の印加を終了する（遮断する）（図８のステップＳ１６８）。
【０１１６】
このようにして、オートカッター２７による切断処理中に実行される劣化判断処理が終了する。
【０１１７】
このような劣化判断処理によって、注視すべき劣化状態にあるヘッド素子の情報、そのヘッド素子の劣化度合（抵抗値変化率）の情報が記憶され、ヘッド素子の交換等のメンテナンス処理に用いられ得る。
【０１１８】
なお、オートカッター２７による切断処理の間に、劣化判断処理を行うヘッド素子の数（図８のステップＳ１６７の「所定数」）は、切断処理の間に劣化判断処理が完了する数を予め定めておく。所定数が５０個で、全ヘッド数が５１２個の場合、概ね１０レシートの印刷出力が行われる間に全てのヘッド素子の劣化判断処理が完了する。
【０１１９】
また、劣化判断処理の実行タイミングは、オートカッター２７による印刷媒体の切断動作の時に限らず、レシートの印刷動作が実行され得ない状態であれば、他のタイミングで実行しても良い。例えば、印刷媒体が無くなって、操作者によって、印刷媒体の収納部を開放できるカバー２９が開けられたタイミングや、プリンター２に何らかのエラーが発生したタイミング等、プリンター２の印刷動作が停止している際に行っても良い。前者の場合、ヘッド制御部２３は、メイン制御部２２から発せられる収納部の開放がされた信号を検知して、すなわち、印刷が実行され得ない状態を検知して、劣化判断処理を開始し、後者の場合には、ヘッド制御部２３は、メイン制御部２２から発せられるエラー発生信号を検知して、すなわち、印刷が実行され得ない状態を検知して、劣化判断処理を開始する。
【０１２０】
また、上記の実施例において、ホスト装置（ＰＯＳ端末装置１、劣化管理サーバー３等）側へ劣化情報を提供する構成（態様）としてもよい。具体的には、ホスト装置は、プリンター２へコマンドを送信し、当該コマンドを受信したプリンター２は、測定した分圧電圧、及び／又は、予め設定した閾値による判断結果（上記閾値を用いた劣化判断処理の結果）をホスト装置へ送信する。
【０１２１】
なお、ホスト装置（ＰＯＳ端末装置１、劣化管理サーバー３等）からのコマンドにより、ホスト装置側が主導でヘッド素子の劣化を管理する場合には、初期設定処理を指示（命令）するコマンドを用意し、そのコマンドをホスト装置から送信することで、プリンター２における上述した初期設定処理がなされてもよい。更に、この場合には、仮の変換テーブルをホスト装置に記憶し、プリンター２は測定した各ヘッド素子の分圧電圧をホスト装置に返信し、ホスト装置が返信された分圧電圧によって各ヘッド素子の変換テーブルを作成し、記憶してもよい。この場合には、劣化判断処理においても、プリンター２（ヘッド制御部２３）はホスト装置から送信されるコマンドに応答して、測定した各ヘッド素子の分圧電圧をホスト装置に返信し、ホスト装置が取得した分圧電圧と記憶している変換テーブルを用いて上述した劣化判断（閾値との比較、劣化情報の記憶等）を行う。なお、ホスト装置がＰＯＳ端末装置１である場合には、これらの処理は劣化管理部１３が行う。
【０１２２】
また、ホスト装置からのコマンドにより、プリンター２における劣化判断処理の有効／無効（実施／不実施）や実行タイミングを設定できるようにしても良い。
【０１２３】
また、上述した実施の形態例の変形例として、ホスト装置（ＰＯＳ端末装置１、劣化管理サーバー３等）がヘッド素子の劣化情報を取得する方法に、ＡＳＢ（オートステータスバック）という機能を適用してもよい。通常、ホスト装置とプリンターはマスター／スレーブの関係にあり、原則的にはプリンター側から自発的にホスト装置に情報送信を行うことはないが、プリンター２で所定のステータス情報について設定を行うことにより、そのステータス情報に変化があった際にプリンター側からそのステータス情報を自発的にホスト装置に送信することができ、その機能がＡＳＢである。この機能を適用することにより、不揮発性メモリー２４に記憶される上記劣化情報に変化があった際には、自発的にその劣化情報がホスト装置に送信されるようになる。すなわち、ヘッド制御部２３が劣化情報を不揮発性メモリー２４から読み出し、読み出された劣化情報がメイン制御部２２から通信部２１を介してホスト装置（例えば、ＰＯＳ端末装置１の劣化管理部１３）に送信される。
【０１２４】
また、上述した実施の形態例の変形例として、１つのヘッド素子毎に行っていた劣化判断処理を２以上のヘッド素子（複数のヘッド素子を含むグループ）毎に行ってもよい。すなわち、そのグループに含まれるヘッド素子に通電し、分圧電圧を測定して、そのグループ全体として劣化度合を判断する。この場合には、初期設定処理において、そのグループ毎に変換テーブルを作成して記憶しておくことが望ましい。この方法では、劣化度合（抵抗値変化率）が大きいグループについて、再度、ヘッド素子毎の劣化判断処理を実行する。当該変形例では、劣化判断処理（分圧電圧測定）の回数を減らし処理時間を短縮することができる。なお、この場合には、測定精度を上げるため、マルチプレクサ等を設けて検査用抵抗Ｒ１の抵抗値を変更してもよい。
【０１２５】
また、全てのヘッド素子の初期抵抗値が仕様値（製品仕様で定められた抵抗値）であると仮定して、仮の変換テーブルにおいて「Ｘ」（図５参照）に仕様値に対応する値を代入したテーブルを、全てのヘッド素子についての変換テーブルとすることもできる。この場合、劣化判断精度は落ちるものの、初期設定処理の時間を短縮することができる。
【０１２６】
以上説明したように、本実施の形態例及び変形例に係るプリンター２では、印刷処理と並行してヘッド素子の検査を実行可能な回路としなくても、印刷媒体の切断処理中など、印刷が実行され得ない時間を利用してヘッド素子の検査がなされるので、印刷処理に支障をきたすことなくヘッド素子の劣化診断を行うことができるようになる。当然の如く、回路規模を大きくする必要はない。
【０１２７】
また、初期設定処理において取得された初期分圧電圧値に基づいてヘッド素子の劣化状態を判断するため、各ヘッド素子の劣化状況を適確に判断することができる。
【０１２８】
更に、全ヘッド素子について連続して劣化判断処理を行うのではなく、切断処理中など印刷が実行され得ない状態の期間中に完了できる数のヘッド素子について劣化判断処理を行うので、確実に印刷処理に支障をきたすことはない。
【０１２９】
また、劣化判断処理は、分圧電圧に対して予め設定された複数の閾値を用いて、行うことから、各ヘッド素子の劣化状態の判断を、きめ細かく管理することができる。
【０１３０】
また、印刷媒体の切断処理中に劣化判断処理を実行するので、印刷処理に支障きたさない処理が保障される。更に、プリンター２が使用される限り印刷媒体の印刷及び切断が実行されるので、確実にヘッド素子の検査を実行することができる。
【０１３１】
また、ヘッド素子の劣化判断を、カバー２９の開放時やエラーの発生時に行うことによっても、印刷処理に支障をきたさない処理が保障される。
【０１３２】
以上のように、レシートの印刷動作が実行され得ない状態の時に、ヘッド素子の劣化判断処理を実行することから、例えば、２４時間営業している飲食店やコンビニエンスストア等で用いられるレシートプリンターなどにおいては、営業に支障をきたす事無くヘッド素子の劣化検査を行うことが出来るようになる。
【０１３３】
更にまた、ホスト装置に劣化判断に係る情報を送信することにより、ホスト装置などの外部装置でプリンターの劣化情報を容易に取得することができるようになり、プリンターの劣化管理、特に、遠隔装置における集約的な管理が容易に行えるようになる。
【０１３４】
更に、当該ホスト装置は、コマンドにより、遠隔装置からヘッド素子の劣化情報を操作することができ、劣化情報の管理が多様になる。
【０１３５】
このように、本プリンター２では、各ヘッド素子の劣化状態を段階的に把握できるようになるので、適切な時期にヘッド素子の交換等を行え、ヘッド素子の不良による印刷の不具合を未然に防止することができる。
【０１３６】
また、プリンター２の劣化に関する情報がＡＳＢの機能等によって、ＰＯＳ端末装置１、劣化管理サーバー３に送信されるので、ホスト装置側でプリンターの劣化情報を容易に取得することができるようになる。従って、プリンターの劣化管理、特に、遠隔装置における集約的な管理が容易に行えるようになる。
【０１３７】
［第２の実施の形態例］
第１の実施の形態例では、初期設定処理において変換テーブルという形で分圧電圧と抵抗値変化率を記憶しておき、劣化判断時において測定した分圧電圧から直ぐに抵抗値変化率を取得する方法であったが、その方法であると、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について変換テーブルを保持する必要があるため、第２の実施の形態例では、一つの変換テーブルＣＴを保持し、その変換テーブルＣＴを用いて、劣化判断時に抵抗値変化率を算出する方法を取る。
【０１３８】
以下、その具体的な内容について、第１の実施の形態例との相違点を中心に説明する。
【０１３９】
まず、装置構成（機能構成）と電圧印加回路２５及びサーマルヘッド２６の回路構成は、図１及び図２に基づいて説明した第１の実施の形態例と同様である。
【０１４０】
但し、不揮発性メモリー２４には、仮の変換テーブル及び各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の変換テーブルの代わりに、共通の一つの変換テーブルＣＴを記憶する。
【０１４１】
この変換テーブルＣＴは、分圧電圧値（ＡＤ値）を抵抗値（Ω）に変換するためのテーブルであり、当該変換テーブルＣＴは、プリンター２の出荷前に生成されて、プリンター２の不揮発性メモリー２４に記憶される。以下、変換テーブルＣＴの内容について説明する。
【０１４２】
ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の検査時（劣化判断時）に形成される、検査用抵抗Ｒ１とヘッド素子の抵抗要素（発熱体）をつなぐ直列回路では、検査用抵抗Ｒ１の抵抗値（Ω）をＲで表現し、ヘッド素子の抵抗要素の抵抗値（Ω）をＲｈｅａｄで表現すると、以下の関係式（１）が成り立つ。
【０１４３】
Ｒｈｅａｄ＝（Ｒ×ＡＤ）／（２５５−ＡＤ）              （１）
なお、ＡＤは、図２の「ＲＥＡＤ＿ＨＥＡＤ」でＡ／ＤコンバーターＡＤＣを介して読み取られる分圧電圧値（ＡＤ値）であり、例えば、０−２５５（０−３．３Ｖに相当）の１バイトのデータで表現される。なお、分圧電圧値（ＡＤ値）は、４バイト以下のデータで表現されることが好ましい。
【０１４４】
図１０は、分圧電圧値（ＡＤ値）と抵抗値（Ｒｈｅａｄ）の関係を示すグラフである。図１０に例示されるグラフは、検査用抵抗Ｒ１の抵抗値Ｒを２５５Ωとした場合に、上記関係式（１）に基づいて求められるものである。当該グラフは、測定（取得）された分圧電圧値（ＡＤ値）を抵抗値（Ｒｈｅａｄ）に変換するために用いることができ、その対応関係を表形式で表現したものが変換テーブルＣＴである。
【０１４５】
図１１は、変換テーブルＣＴの一例を示した図である。図１１に示すように、変換テーブルＣＴには、分圧電圧値である「ＡＤ値」に、上記関係式（１）で対応付けられる「抵抗値（Ω）」が対応付けて収められている。従って、変換テーブルＣＴを用いれば、検査時（劣化判断時）に、測定（取得）されるＡＤ値から、測定対象のヘッド素子の抵抗値（Ｒｈｅａｄ）をすぐに取得することができる。
【０１４６】
このような変換テーブルＣＴが、出荷前の各プリンターに記憶される。なお、プリンター２の各個体には、基板上のパターンや素子の抵抗値に起因する誤差があるので、実際の測定を行って、その測定結果に合うように上記変換テーブルＣＴの値（抵抗値又はＡＤ値）に補正を加えるようにしてもよい。この場合には、プリンター２の各個体に応じた変換テーブルＣＴが生成されて、プリンター２に記憶される。
【０１４７】
以上説明した変換テーブルＣＴを用いて第２の実施の形態例では、以下のような処理を実行する。
【０１４８】
まず、第１の実施の形態例で行われる、図３に基づいて説明した各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の変換テーブル作成処理に代わって、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の初期値の取得処理を行う。
【０１４９】
ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）においては、劣化が進むことによりその発熱体（抵抗素子）の抵抗値が変化することが知られている。変化の仕方にはいくつかの現象が見られるが、１つの現象においては、抵抗値が徐々に増加していく。また、他の現象においては、抵抗値が徐々に減少していき、その後急激に増加する。いずれの場合においても、ある程度以上に抵抗値が増加すると印刷時に十分に発熱せず印刷不良を起こす虞がある。
【０１５０】
従って、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化判断では、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の（発熱体の）抵抗値の変化を段階的に把握することが重要である。
【０１５１】
そのため、第２の実施の形態例では、まず、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の初期状態の値（初期値）を把握する処理（初期値取得処理）を行った後、適切な頻度でその時の状態を示す値（状態値）を測定し、初期値と状態値によって劣化判断を行う。
【０１５２】
図１２は、初期値取得処理の手順を例示したフローチャートである。初期値取得処理は、プリンター２の初回起動時等に実行される。
【０１５３】
ヘッド制御部２３は、まず、電圧印加回路２５に信号を出し、検査用電圧（３．３Ｖ）をサーマルヘッド２６に印加する（図１２のステップＳ２１）。
【０１５４】
次に、ヘッド制御部２３は、初期値を取得する１つのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）を選択し、そのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）に通電する（図１２のステップＳ２２及びＳ２３）。具体的には、上述の通り、ＤＩ信号をサーマルヘッド２６に出して、そのヘッド素子に通電させる。
【０１５５】
これにより、検査用抵抗Ｒ１と当該ヘッド素子の抵抗要素（発熱体）をつなぐ直列回路が形成されるので、電圧が安定するのを待った後（図１２のステップＳ２４）、ヘッド制御部２３は、ＲＥＡＤ＿ＨＥＡＤ信号で上記直列回路の検査用抵抗Ｒ１とヘッド素子の抵抗要素（発熱体）間の分圧電圧の測定値（ＡＤ値）を取得する（図１２のステップＳ２５）。すなわち、当該ヘッド素子の（抵抗要素（発熱体）の）初期抵抗値に対応する情報が取得される。
【０１５６】
次に、ヘッド制御部２３は、取得したＡＤ値を当該ヘッド素子の初期値として、不揮発性メモリー２４に記憶（保存）する（図１２のステップＳ２６）。
【０１５７】
なお、取得したＡＤ値を、不揮発性メモリー２４に記憶される上記変換テーブルＣＴを用いて抵抗値に変換し、変換後の抵抗値を初期値として不揮発性メモリー２４に記憶するようにしてもよい。なお、ＡＤ値を初期値とすることにより、記憶するデータ量を１バイトに抑えることができる。
【０１５８】
ヘッド制御部２３は、以上説明した初期値取得処理（Ｓ２２−Ｓ２６）を、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について実行する（図１２のステップＳ２７のＮｏ）。
【０１５９】
全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について初期値取得処理が実行されると（図１２のステップＳ２７のＹｅｓ）、処理が終了し、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について初期値が不揮発性メモリー２４に記憶される。
【０１６０】
次に、第２の実施の形態例における劣化判断処理について説明する。劣化判断処理は、第１の実施の形態例の場合と同タイミングで行われ、すなわち、図７に基づいて説明した印刷処理は同様に行われて、図８に基づいて説明した劣化判断処理に代わって以下の処理が実行される。
【０１６１】
ヘッド制御部２３は、このタイミングで状態値取得処理を実行する。
【０１６２】
図１３は、状態値取得処理の手順を例示したフローチャートである。まず、ヘッド制御部２３は、電圧印加回路２５に信号を出し、検査用電圧（３．３Ｖ）をサーマルヘッド２６に印加する（図１３のステップＳ３１）。
【０１６３】
次に、ヘッド制御部２３は、状態値を取得する１つのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）を選択し、そのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）に通電する（図１３のステップＳ３２及びＳ３３）。具体的には、上述の通り、ＤＩ信号をサーマルヘッド２６に出して、そのヘッド素子に通電させる。
【０１６４】
これにより、検査用抵抗Ｒ１と当該ヘッド素子の抵抗要素（発熱体）をつなぐ直列回路が形成されるので、電圧が安定するのを待った後（図１３のステップＳ３４）、ヘッド制御部２３は、ＲＥＡＤ＿ＨＥＡＤ信号で上記直列回路の検査用抵抗Ｒ１とヘッド素子の抵抗要素（発熱体）間の分圧電圧の測定値（ＡＤ値）を取得する（図１３のステップＳ３５）。すなわち、当該ヘッド素子の（抵抗要素（発熱体）の）その時点の抵抗値に対応する情報が取得される。
【０１６５】
次に、ヘッド制御部２３は、取得したＡＤ値を当該ヘッド素子の状態値として、不揮発性メモリー２４に記憶（保存）する（図１３のステップＳ３６）。なお、状態値は、ヘッド制御部２３内のＲＡＭに記憶してもよい。
【０１６６】
なお、取得したＡＤ値を、不揮発性メモリー２４に記憶される上記変換テーブルＣＴを用いて抵抗値に変換し、変換後の抵抗値を状態値として不揮発性メモリー２４に記憶するようにしてもよい。なお、ＡＤ値を状態値とすることにより、記憶するデータ量を１バイトに抑えることができる。
【０１６７】
ヘッド制御部２３は、以上説明した状態値取得処理（Ｓ３２−Ｓ３６）を、第１の実施の形態例と同様の所定数のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について実行する（図１３のステップＳ３７のＮｏ）。
【０１６８】
上記所定数のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について状態値取得処理が実行されると（図１３のステップＳ１８のＹｅｓ）、ヘッド制御部２３は、検査用電圧（３．３Ｖ）の印加を遮断し（図１３のステップＳ３８）、処理が終了する。その結果、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について状態値が不揮発性メモリー２４に記憶される。
【０１６９】
以上説明した状態値取得処理が、第１の実施の形態例で説明した印刷が実行され得ないタイミングで繰り返し実行され、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について状態値が取得されると、ヘッド制御部２３は、劣化情報取得処理（抵抗値変化率取得処理）を実行する。
【０１７０】
図１４は、劣化情報取得処理の手順を例示したフローチャートである。まず、ヘッド制御部２３は、１つのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）を選択する（図１４のステップＳ４１）。その後、ヘッド制御部２３は、不揮発性メモリー２４にアクセスし、選択したヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の初期値を読み出す（図１４のステップＳ４２）。当該初期値は、上述した初期値取得処理で取得されて記憶されたものである。
【０１７１】
ヘッド制御部２３は、読み出した初期値を、不揮発性メモリー２４に記憶された変換テーブルＣＴを用いて、抵抗値に変換する（図１４のステップＳ４３）。読み出された初期値はＡＤ値であるので、変換テーブルＣＴにおいて、そのＡＤ値に対応付けて記憶されている抵抗値（Ω）を読み出すことによって、抵抗値への変換を行う。
【０１７２】
次に、ヘッド制御部２３は、不揮発性メモリー２４にアクセスし、選択したヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の状態値を読み出す（図１４のステップＳ４４）。当該状態値は、上述した状態値取得処理で取得されて記憶されたものである。
【０１７３】
ヘッド制御部２３は、読み出した状態値を、不揮発性メモリー２４に記憶された変換テーブルＣＴを用いて、抵抗値に変換する（図１４のステップＳ４５）。読み出された状態値はＡＤ値であるので、変換テーブルＣＴにおいて、そのＡＤ値に対応付けて記憶されている抵抗値（Ω）を読み出すことによって、抵抗値への変換を行う。
【０１７４】
次に、ヘッド制御部２３は、抵抗値変化率の計算を行う（図１４のステップＳ４６）。具体的には、下記（２）式を用いて行う。
【０１７５】
抵抗値変化率（％）＝（状態値（Ω）−初期値（Ω））／初期値（Ω）×１００      （２）
なお、初期値（Ω）は、ステップＳ４３で抵抗値に変換された初期値であり、状態値（Ω）は、ステップＳ４５で抵抗値に変換された状態値である。
【０１７６】
計算された抵抗値変化率が、マイナスである場合には、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の抵抗値が減少していることを意味し、計算された抵抗値変化率が、プラスである場合には、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の抵抗値が増加していることを意味する。
【０１７７】
上述の通り、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の劣化が進んでいる場合、その抵抗値が減少している場合及び増加している場合があり、いずれの場合にもその絶対値が所定値以上になった場合には、ドット抜けの虞があるとしてユーザーに報知すべきである。
【０１７８】
従って、その所定値を閾値として設定し、上記計算された抵抗値変化率がその閾値を超えたか否かを、ヘッド制御部２３は判断する。具体的には、閾値は、例えば、絶対値で「１５％」と「３０％」に設定される。
【０１７９】
その後、ヘッド制御部２３は、上記算出した抵抗値変化率と上記閾値を用いた判断結果を、劣化情報として不揮発性メモリー２４に記憶（保存）する（図１４のステップＳ４７）。
【０１８０】
図１５は、劣化情報の一例を示した図である。図１５に例示される劣化情報は、各ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の識別情報（ヘッド素子Ｎｏ．）に、そのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の上記算出した抵抗値変化率と、上記閾値を用いた判断結果としてのアラームフラグが対応付けられた情報である。これらの情報が不揮発性メモリー２４に記憶（保存）される。
【０１８１】
図１５に示される例では、上述した閾値として、例えば、「１５％」、「３０％」、「−１５％」、「−３０％」の４つの閾値が設定されている場合である。「１５％」と「−１５％」の閾値は軽度の劣化進行の基準であり、これらを超えた（「−１５％」については、これよりも下回る）ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）のアラームフラグには、ＯＮ（Ａ）が立つ（記憶される）。また、「３０％」と「−３０％」の閾値は強度の劣化進行の基準であり、これらを超えた（「−３０％」については、これよりも下回る）ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）のアラームフラグには、ＯＮ（Ｂ）が立つ（記憶される）。なお、閾値を超えていないヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）のアラームフラグには、ＯＦＦが記憶される。
【０１８２】
例えば、図１５において、ヘッド素子Ｎｏ．「２」のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）は、抵抗値変化率が「５％」であり、従って、アラームフラグは「ＯＦＦ」となる。また、ヘッド素子Ｎｏ．「６１」のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）は、抵抗値変化率が「−１８％」であり、従って、アラームフラグは「ＯＮ（Ａ）」となる。また、ヘッド素子Ｎｏ．「１５０」のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）は、抵抗値変化率が「３３％」であり、従って、アラームフラグは「ＯＮ（Ｂ）」となる。これらの劣化情報から、ヘッド素子Ｎｏ．「２」のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）は劣化があまり進んでいないと判断でき、ヘッド素子Ｎｏ．「６１」のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）は劣化がある程度進んでいると判断でき、ヘッド素子Ｎｏ．「１５０」のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）は劣化がかなり進んでいると判断できる。
【０１８３】
ヘッド制御部２３は、以上説明した劣化情報取得処理（Ｓ４１−Ｓ４７）を、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について実行する（図１４のステップＳ４８のＮｏ）。
【０１８４】
全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について劣化情報取得処理が実行されると（図１４のステップＳ４８のＹｅｓ）、処理が終了し、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について劣化情報が不揮発性メモリー２４に記憶される。
【０１８５】
なお、上述の実施の形態例では、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について状態値を取得した後に、劣化情報取得処理を行ったが、ヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）毎に、状態値の取得と劣化情報の取得を連続して行う処理手順としてもよい。
【０１８６】
図１６は、状態値の取得と劣化情報の取得を連続して行う場合の手順を示したフローチャートである。なお、この処理は、図１３に基づいて説明した処理と同様に、印刷がなされえないタイミングで実行される。
【０１８７】
まず、ヘッド制御部２３は、電圧印加回路２５に信号を出し、検査用電圧（３．３Ｖ）をサーマルヘッド２６に印加する（図１６のステップＳ５１）。
【０１８８】
次に、ヘッド制御部２３は、１つのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）を選択し、そのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）に通電する（図１６のステップＳ５２及びＳ５３）。具体的には、上述の通り、ＤＩ信号をサーマルヘッド２６に出して、そのヘッド素子に通電させる。
【０１８９】
これにより、検査用抵抗Ｒ１と当該ヘッド素子の抵抗要素（発熱体）をつなぐ直列回路が形成されるので、電圧が安定するのを待った後（図１６のステップＳ５４）、ヘッド制御部２３は、ＲＥＡＤ＿ＨＥＡＤ信号で上記直列回路の検査用抵抗Ｒ１とヘッド素子の抵抗要素（発熱体）間の分圧電圧の測定値（ＡＤ値）を取得する（図１６のステップＳ５５）。すなわち、当該ヘッド素子の（抵抗要素（発熱体）の）その時点の抵抗値に対応する情報が取得される。
【０１９０】
次に、ヘッド制御部２３は、取得した状態値を、不揮発性メモリー２４に記憶された変換テーブルＣＴを用いて、抵抗値に変換する（図１６のステップＳ５６）。読み出された状態値はＡＤ値であるので、変換テーブルＣＴにおいて、そのＡＤ値に対応付けて記憶されている抵抗値（Ω）を読み出すことによって、抵抗値への変換を行う。
【０１９１】
次に、ヘッド制御部２３は、不揮発性メモリー２４にアクセスし、選択したヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）の初期値を読み出す（図１６のステップＳ５７）。当該初期値は、上述した初期値取得処理で取得されて記憶されたものである。
【０１９２】
ヘッド制御部２３は、読み出した初期値を、不揮発性メモリー２４に記憶された変換テーブルＣＴを用いて、抵抗値に変換する（図１６のステップＳ５８）。読み出された初期値はＡＤ値であるので、変換テーブルＣＴにおいて、そのＡＤ値に対応付けて記憶されている抵抗値（Ω）を読み出すことによって、抵抗値への変換を行う。
【０１９３】
次に、ヘッド制御部２３は、抵抗値変化率の計算を行う（図１６のステップＳ５９）。具体的には、上述した図１４のステップＳ４６と同様に行う。
【０１９４】
その後、ヘッド制御部２３は、劣化情報の保存処理を実行する（図１６のステップＳ６０）。具体的には、図１４のステップＳ４７と同様に行う。
【０１９５】
ヘッド制御部２３は、以上説明した劣化判断処理（Ｓ５２−Ｓ６０）を、図１３の場合と同様に所定数のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について実行する（図１６のステップＳ６１のＮｏ）。
【０１９６】
上記所定数のヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について劣化判断処理が実行されると（図１６のステップＳ６１のＹｅｓ）、ヘッド制御部２３は、検査用電圧（３．３Ｖ）の印加を遮断し（図１６のステップＳ６２）、処理が終了する。その結果、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について劣化情報が不揮発性メモリー２４に記憶される。
【０１９７】
以上説明した処理が、第１の実施の形態例で説明した印刷が実行され得ないタイミングで繰り返し実行され、全てのヘッド素子（ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ）について劣化情報が取得され、記憶される。
【０１９８】
第２の実施の形態例では、このようにして処理が実行される。その他の点については、第１の実施の形態例の場合と同様である。
【０１９９】
以上説明したように、第２の実施の形態例に係るプリンター２では、ヘッド素子毎に、適切なタイミングで、抵抗値から劣化判断を行うことができ、プリンター２は変換テーブルＣＴを予め記憶しておけばよいので、プリンター２に記憶するデータ量を少なく抑えることができる。
【０２００】
また、劣化判断には、各ヘッド素子の初期値（分圧電圧値（ＡＤ値）、抵抗値（Ω））が用いられるので、適確な劣化判断を行うことができる。
【０２０１】
劣化情報は、ヘッド素子の抵抗値変化率を含むので、適確な劣化判断を行うことができる。
【０２０２】
また、抵抗値変化率を算出するまでに記憶しておくＡＤ値は、４バイト以下のデータであり、記憶しておくデータ量を少なく抑えることができる。
【０２０３】
本発明の保護範囲は、上記の実施の形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された発明とその均等物に及ぶものである。
【符号の説明】
【０２０４】
１…ＰＯＳ端末装置、２…プリンター、３…劣化管理サーバー、４…通信網、１１…ＰＯＳアプリケーション部、１２…プリンタードライバー部、１３…劣化管理部、２１…通信部、２２…メイン制御部、２３…ヘッド制御部、２４…不揮発性メモリー、２５…電圧印加回路、２６…サーマルヘッド、２７…オートカッター、２８…用紙搬送部、２９…カバー、１００…プリンターシステム、２００…劣化管理システム、２６２…ラッチドライバー、２６３…シフトレジスター、ＲＨ−１〜ＲＨ−ｎ…ヘッド素子、ＣＴ…変換テーブル。
【図１】
0006682906.tif 000002
【図２】
0006682906.tif 000003
【図３】
0006682906.tif 000004
【図４】
0006682906.tif 000005
【図５】
0006682906.tif 000006
【図６】
0006682906.tif 000007
【図７】
0006682906.tif 000008
【図８】
0006682906.tif 000009
【図９】
0006682906.tif 000010
【図１０】
0006682906.tif 000011
【図１１】
0006682906.tif 000012
【図１２】
0006682906.tif 000013
【図１３】
0006682906.tif 000014
【図１４】
0006682906.tif 000015
【図１５】
0006682906.tif 000016
【図１６】
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