(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
テーブル上に載置された被検体に向けて放射線を放射する放射線源と、前記被検体を透過した放射線を検出して透過像として出力する放射線検出手段と、前記放射線と交差する回転軸に対し前記テーブルと前記放射線とを相対的に回転させる回転手段と、前記回転の多数の方向で検出された透過像から前記被検体の断層像を再構成する再構成手段を有するコンピュータ断層撮影装置において、
前記被検体を前記回転軸上もしくはその近傍から撮影する撮影手段と、
前記撮影手段により撮影された前記被検体の外観像を表示する外観像表示手段と、
前記外観像表示手段で表示された前記被検体の外観像上で任意の着目部分を設定する着目部分設定手段と、
前記着目部分設定手段で設定された着目部分の範囲を前記外観像表示手段上に表示する着目部分表示手段と、
前記着目部分設定手段で設定した着目部分が前記被検体の断層像視野にちょうど包含されるように前記放射線源と前記回転軸との間の透過像撮影距離を計算する透過像撮影距離計算手段と、
前記透過像撮影距離計算手段によって計算された透過像撮影距離になるように前記放射線源と前記回転軸との間の距離を調整する透過像撮影距離調整手段と、
前記着目部分表示手段は、さらに前記外観像表示手段で表示される前記着目部分の縁を前記被検体の上面と底面を示す二つの縁で描画することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
【請求項２】
請求項１に記載のコンピュータ断層撮影装置において、
前記透過像を表示する透過像表示手段と、
前記外観像表示手段で表示された外観像と前記透過像表示手段で表示された透過像から前記被検体の前記着目部分を設定するコンピュータ断層撮影装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載のコンピュータ断層撮影装置において、
前記着目部分の中心位置が前記断層像の中心に合うように前記被検体の移動量を計算する移動量計算手段と、
前記移動量計算手段によって計算された移動量になるように前記放射線源および前記放射線検出器の組と前記被検体とを相対的に移動させる移動手段を有するコンピュータ断層撮影装置。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載のコンピュータ断層撮影装置において、
前記透過像撮影距離調整手段により動作する前記テーブルの移動方向を表示する移動方向表示手段を有するコンピュータ断層撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は被検体の断層像を撮像するコンピュータ断層撮影装置（以下、ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置という。）に関する。
【背景技術】
【０００２】  図７は従来のＣＴ装置の（Ａ）平面図と（Ｂ）正面図と（Ｃ）ブロック図である。ブロック図は制御処理部Ｐ１と入力部Ｐ２と表示部Ｐ３で構成される。Ｘ線源１（放射線源）と二次元的なＸ線検出器２（放射線検出手段）との間に被検体３を載置するためのテーブル５が配置されている。被検体３の断層像を生成するときは、Ｘ線源１から被検体３に向けてＸ線ビームＢ（放射線）を照射すると共に、被検体３を載置したテーブル５の回転軸Ｃを回転させ、当該被検体３の多方向から透過してくるコーン状のＸ線ビームＢをＸ線検出器２で検出し多数の透過像（透過データ）を収集する。前記の操作をスキャンと呼ぶ。収集された透過データは再構成部Ｐ１−５（再構成手段）で再構成と呼ばれる演算により、被検体３の三次元画像（多数の断層像）を生成することができる。通常、断層像の再構成演算には、フィルタ補正逆投影法（ＦＢＰ（Ｆｉｌｔｅｒｅｄ  Ｂａｃｋ  Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）法）が用いられている。【０００３】  テーブル５は、回転機構６（回転手段）、昇降機構７及びＸＹ移動機構８上に配置されている。回転機構６の回転軸ＣはＸ線源１のＸ線焦点ＦとＸ線検出器２のスキャン面Ｌで交差する。昇降機構７は被検体３を上下方向へ移動できるため、被検体３のスキャンする位置をスキャン面Ｌまで移動させることができる。ＸＹ移動機構８は、テーブル５の回転軸Ｃを移動させることができる。ＸＹ移動機構８により、Ｘ線焦点Ｆと回転軸Ｃの撮影距離ＦＣＤ（Ｆｏｃｕｓ  ｔｏ  ｒｏｔａｔｉｏｎ  Ｃｅｎｔｅｒ  Ｄｉｓｔａｎｃｅ）を連続的に変更できる。また、Ｘ線検出器移動機構９の移動により、Ｘ線焦点ＦとＸ線検出器入力面Ｄの検出距離ＦＤＤ（Ｆｏｃｕｓ  ｔｏ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ  Ｄｉｓｔａｎｃｅ）も連続的に変更できる。図７の構成は、撮影距離ＦＣＤと検出距離ＦＤＤを常に変更できるので、被検体３の大きさや目的に応じて幾何倍率（＝ＦＤＤ／ＦＣＤ）が自由に設定できる。【０００４】  図８は通常スキャンのスキャン領域を示す概念図である。通常スキャンの撮像領域ＦＯＶ（Ｆｉｅｌｄ  Ｏｆ  Ｖｉｅｗ）は、回転平面上（ｘ−ｙ平面）で、回転軸Ｃを中心として、Ｘ線ビームＢに包含される領域で、ｚ軸方向に厚みをもった円柱領域である。原理的に撮影領域ＦＯＶは幾何倍率が大きくなると小さくなる。従来のＣＴ装置では、Ｘ線焦点Ｆの大きさがＸ線検出器の分解能に比べると十分小さいため分解能の高い断層像を生成するには、幾何倍率を上げて撮像領域ＦＯＶを小さくして撮影する。つまり、被検体３を精度よく撮影するには、被検体３がちょうど収まる撮影領域ＦＯＶで撮影する必要がある。【０００５】  操作者がテーブル５に載置した被検体３を精度良くスキャンする場合、透過像表示部Ｐ３−１（透過像表示手段）で表示される透過像を確認しながら、位置指定入力部Ｐ２−１で、昇降機構７及びＸＹ移動機構８を移動させて、被検体３が撮像領域ＦＯＶ内にちょうど収まる位置までテーブル５を移動させる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−３１０９４３号公報
【特許文献２】特開２００５−３５１８７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】  従来のＣＴ装置において、被検体３を撮像領域ＦＯＶ内にちょうど収める場合、表示部Ｐ３の透過像表示部Ｐ３−１で表示される透過像だけでは、撮像領域ＦＯＶが直接わからないため、何度かスキャンを行い、断層像を確認しながら位置決めする必要がある。特に、被検体３の一部を拡大してスキャンする場合や被検体３の大きさが数ｍｍと小さい場合、撮影距離を数ｍｍ移動させるだけで大きく撮像領域ＦＯＶが変わるため、位置決めが非常に難しいという問題がある。【０００８】  特許文献１のＣＴ装置では、幾何倍率を低く設定した状態で仮のスキャンを行い、仮スキャンした断層像上で操作者が任意の部位のＲＯＩ（Ｒｅｇｉｏｎ  Ｏｆ  Ｉｎｔｅｒｅｓｔ、着目部分）指定を行い、このＲＯＩ指定した部分が撮像領域ＦＯＶとなるよう回転軸Ｃの位置決めを行なっているが、操作者としては、仮のスキャンと仮の断層像の再構成の時間を要するため、使い勝手として簡便でなかった。【０００９】  また、特許文献２のＣＴ装置で、外観カメラ４（撮影手段）で撮影した外観像上に撮影領域ＦＯＶを重畳して表示しているが、外観像上に表示される撮像領域ＦＯＶは、まずＸ線源１とＸ線検出器２およびテーブル５の位置関係等から定まり、その後に撮像領域ＦＯＶを希望する範囲へ調整することから、第１動作で撮像領域ＦＯＶを指定することはできない。また、図９は、被検体３の背丈が高い場合に表示部Ｐ３の外観像表示部Ｐ３−３（外観像表示手段）に表示される（Ａ）外観表示部の例と（Ｂ）正面図を示す図で、撮像領域ＦＯＶは被検体３の高さと無関係に重畳されているため、外観カメラ４に装着したレンズの光線Ｋの角度影響により、表示される被検体３の外観像は、外観カメラ４に近い部分は大きく、遠い部分は小さくなる。このため操作者が意図して指示した領域と、実際に生成される断層像の領域は必ずしも一致しない問題があった。【００１０】  従って、本発明は、被検体３をスキャンするときの位置決めを簡単に正確に行うコンピュータ断層撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】  前記目的を達成するため、実施形態のコンピュータ断層撮影装置は、テーブル上に載置された被検体に向けて放射線を放射する放射線源と、前記被検体を透過した放射線を検出して透過像として出力する放射線検出手段と、前記放射線と交差する回転軸に対し前記テーブルと前記放射線とを相対的に回転させる回転手段と、前記回転の多数の方向で検出された透過像から前記被検体の断層像を再構成する再構成手段を有するコンピュータ断層撮影装置において、前記被検体を前記回転軸上もしくはその近傍から撮影する撮影手段と、前記撮影手段により撮影された前記被検体の外観像を表示する外観像表示手段と、前記外観像表示手段で表示された前記被検体の外観像上で任意の着目部分を設定する着目部分設定手段と、前記着目部分設定手段で設定された着目部分の範囲を前記外観像表示手段上に表示する着目部分表示手段と、前記着目部分設定手段で設定した着目部分が前記被検体の断層像視野にちょうど包含されるように前記放射線源と前記回転軸との間の透過像撮影距離を計算する透過像撮影距離計算手段と、前記透過像撮影距離計算手段によって計算された透過像撮影距離になるように前記放射線源と前記回転軸との間の距離を調整する透過像撮影距離調整手段と、前記着目部分表示手段は、さらに前記外観像表示手段で表示される前記着目部分の縁を前記被検体の上面と底面を示す二つの縁で描画することを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第一の実施形態であるＣＴ装置の（Ａ）平面図と（Ｂ）正面図とブロック図。
【図２】本発明の第一の実施形態における撮影距離計算手段の作用を示すフローチャート。
【図３】外観像表示部Ｐ３−３で表示された被検体３の外観像に上面ＲＯＩと底面ＲＯＩを描画した図。
【図４】本発明の第二の実施形態であるＣＴ装置の（Ａ）平面図と（Ｂ）正面図とブロック図。
【図５】本発明の第二の実施形態におけるｘｙ移動機構５’の移動量を計算するフローチャート。
【図６】本発明の第三の実施形態の作用を示すフローチャート。
【図７】従来のＣＴ装置の（Ａ）平面図と（Ｂ）正面図と（Ｃ）ブロック図。
【図８】通常スキャンのスキャン領域を示す概念図。
【図９】従来の表示部Ｐ３の外観像表示部Ｐ３−３に表示される（Ａ）外観表示部の例と（Ｂ）正面図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】（本発明の第一の実施形態の構成）
図１は、本発明の第一の実施形態であるＣＴ装置の（Ａ）平面図と（Ｂ）正面図とブロック図である。このブロック図を実現するには、汎用のワークステーション等の計算機が用いられ、ＣＰＵ、主メモリ、ディスク、機構制御用ボード、キーボード、マウス、モニタで構成されている。なお、前述と同じ説明は省略する。
【００１４】  図１において、Ｘ線源１としては、照射するＸ線ビームＢのＸ線焦点Ｆが数ないし数十μｍのマイクロフォーカスＸ線源を用い、Ｘ線放射の中心がＸ線検出器２方向を向くようにベース１０に支持される。Ｘ線検出器２としては、複数のＸ線検出素子を二次元マトリックス的に配置した例えばＸ線フラットパネルディテクタ（ＦＰＤ）が用いられ、Ｘ線検出器移動機構９に支持される。ここで、Ｘ線ビームＢは、実際に測定されるＸ線であり、Ｘ線ビームＢの外側の領域にはみ出して放射される測定されないＸ線は含まない。Ｘ線源１の照射は制御処理部Ｐ１のＸ線源制御部Ｐ１−１で行い、Ｘ線検出器の透過データの収集は制御処理部Ｐ１の検出器制御部Ｐ１−２で行う。
【００１５】  図１において、テーブル５を移動するための、回転機構６、昇降機構７及びＸＹ移動機構８の制御は制御処理部Ｐ１の機構制御部Ｐ１−３で行う。
【００１６】  図１の（Ａ）平面図のＸ線焦点ＦとＸ線検出器中心Ｄｃの間をセンターラインＣＬと定義して、センターラインＣＬ上を回転軸Ｃが移動するように、ＸＹ移動機構８の調整を行う。撮影距離ＦＣＤは回転軸Ｃの移動により変更することができる。検出距離ＦＤＤは検出器移動機構９の移動により変更できる。操作者がテーブル５を移動する場合、入力部Ｐ２の位置指定入力部Ｐ２−１から行う。
【００１７】  操作者が被検体３のスキャンを行う場合、入力部Ｐ２のスキャン入力部Ｐ２−２から行う。スキャン入力部Ｐ２−２からスキャン指令を受けると、制御処理部Ｐ１のスキャン制御部Ｐ１−４は、Ｘ線制御部Ｐ１−１を介してＸ線源１にＸ線放射ＯＮを、検出器制御部Ｐ１−２を介してＸ線検出器２に透過データの取り込みを、機構制御部Ｐ１−３を介してテーブル５の回転を、それぞれ指令する。テーブル５の回転で多方向の透過データを取り込んだ後、再構成部Ｐ１−５で、透過データの再構成演算を行う。再構成後に生成した断層像は、表示部Ｐ３の断層像表示部Ｐ３−２で確認できる。
【００１８】  図１において、被検体３を上から撮影する外観カメラ４と、外観カメラ４を制御する外観カメラ制御部Ｐ１−６、操作者が外観カメラ４に撮影指令するための外観カメラ撮影部Ｐ２−３、外観カメラ４で取り込んだ外観像を表示する外観像表示部Ｐ３−３、表示した外観像のＲＯＩ入力を受け付けるＲＯＩ入力部Ｐ２−４（着目部分設定手段）、入力されたＲＯＩを表示するＲＯＩ表示部Ｐ３−４（着目部分表示手段）、入力されたＲＯＩの大きさから、Ｘ線源１と回転位置の撮影距離を計算する撮影距離計算部Ｐ１−７（透過像撮影距離計算手段）が特徴的な構成要素である。
【００１９】  図１において、外観カメラ４と被検体３は外観カメラ４のレンズの光線角度による影響があるため、外観カメラ４に近い部分は大きく、遠い部分は小さく写ってしまう。この影響を低減するには、できる限り外観カメラ４と被検体３の距離を離すことが望ましい。外観カメラ４と被検体３の距離が離せない場合は、必要に応じて、外観カメラの光線軸上に鏡を置いて、光線を折り返す機構を採用しても良い。
【００２０】（本発明の第一の実施形態の作用）
図２は、操作者が外観像上に描画したＲＯＩで包含される範囲が、断層像の視野にちょうど包含されるような、Ｘ線源と回転位置の撮影距離を計算する撮影距離計算手段の作用を示すフローチャートである。図１および図２を使って、撮影距離ＦＣＤの計算手順について説明する。
【００２１】  外観像上に描画したＲＯＩが、被検体３の上面（外観カメラ４側）と底面（テーブル５側）を示す二つのＲＯＩが一度に描画できるようにするため校正を行う。昇降機構７でテーブル５を下限位置まで移動させて、テーブル底面に寸法が既知である寸法治具を置いて外観カメラ４で寸法治具の撮影を行う。寸法治具は高さの影響を受けないように薄くする。外観像に写った寸法治具の画素数を数えて治具の寸法で除した値を、底面の画素サイズＡとして求める。次にテーブル５がスキャン面と同一となる位置まで上昇させて、同様に外観像に写った寸法治具の画素数を数えて治具の寸法で除した値を、上面の画素サイズＢとして求める。
【００２２】  操作者が通常、外観像表示部Ｐ３−３においてＲＯＩ入力を行うときは、上面ＲＯＩを描画する設定とし、上面ＲＯＩの外接円の径の画素数に、画素サイズＢに画素サイズＡを除算した値を掛けた画素数が、底面ＲＯＩの外接円として描画されるようにする。この時、ＲＯＩの形状は、円形だけでなく矩形等でも良く、画素サイズＢに画素サイズＡを除算した値を掛けた大きさの画素分を変更できれば良い。
【００２３】  操作者は被検体３をテーブル５に載置した後、ステップＳ１で、入力部Ｐ２の外観カメラ撮影部Ｐ２−３を用いて、外観カメラ制御部Ｐ１−６へ外観像の撮影指令を行う。外観カメラ制御部Ｐ１−６は、外観カメラ４で載置した被検体３を上から撮影し、その外観像を表示部Ｐ３の外観像表示部Ｐ３−３へ表示する。
【００２４】  ステップＳ２で、操作者は外観像表示部Ｐ３−３に表示された外観像からスキャンを行う部位をＲＯＩで描画する。この時描画されるＲＯＩは上面ＲＯＩで、底面ＲＯＩは計算により同時に描画する。図３は、外観像表示部Ｐ３−３で表示された被検体３の外観像に、上面ＲＯＩと底面ＲＯＩを描画している。
【００２５】  ステップＳ３で描画した上面ＲＯＩを包含する外接円の上面ＲＯＩ半径（ＲＯＩ＿Ｒ）を（１）式で計算する。
ＲＯＩ＿Ｒ＝（画素サイズＢ×画素数Ｎ）／２・・・（１）
ここで、画素数Ｎは、上面ＲＯＩを包含する外接円径の画素数である。
【００２６】  ステップＳ４で、計算したＲＯＩ＿Ｒと、検出器距離ＦＤＤと検出器有効幅Ｌｗから、移動後の撮影距離ＲＯＩ＿ＦＣＤを（２）式で計算する。
ＲＯＩ＿ＦＣＤ＝ＲＯＩ＿Ｒ／ｓｉｎ（ａｒｃｔａｎ（Ｌｗ／ＦＤＤ））・・・（２）
【００２７】  上記は校正を行って画素サイズＡと画素サイズＢを求め上面ＲＯＩと底面ＲＯＩを描画したが、校正を行わなくても描画できる方法を以下に述べる。
【００２８】  通常、昇降機構７はテーブル５の位置（高さ）を測定するためのリニアゲージやエンコーダ等の位置センサを備えており、テーブル５の位置を把握することができる。従って、外観カメラ４からテーブル５までの距離である撮影距離を把握することができる。また外観カメラ４はカメラレンズと内部に備える撮像素子から画角が仕様上、一意に定まるため、この画角と撮影距離を使ってテーブル５の現在位置における撮影視野を求めることができる。撮影視野は、撮影距離が長くなればテーブル５の面全体を広く表示するため撮影視野は大きくなり（外観像表示部Ｐ３−３の表示では縮小方向）、逆に撮影距離が短くなれば撮影視野は狭く（外観像表示部Ｐ３−３の表示では拡大方向）なる。
【００２９】  ここで、上面ＲＯＩは、テーブル５を下限位置にした場合の仕様上最大許容高さの被検体上面でのＲＯＩを描画するようにする。操作者がテーブル５下限位置での底面ＲＯＩを目的の大きさに描画すると、それに相応する被検体３の上面ＲＯＩの大きさを、外観カメラ４の撮影距離（既知）から決まる撮影視野を計算して自動的に描画する。テーブル５の高さが任意の位置にある場合には、その下限位置から上昇した距離だけ撮影距離が短くなり、その撮影視野は拡大され、その大きさはテーブル５の高さから一意に計算することができる。そのテーブル５の位置におけるテーブル面上で操作者が底面ＲＯＩを設定すると、上面ＲＯＩは前述の通りテーブル５を下限位置にした場合の仕様上最大許容高さの被検査物上面におけるＲＯＩの大きさを計算してその上面ＲＯＩも描画する。
【００３０】  この場合、テーブル５が下限位置にある程、上面ＲＯＩと底面ＲＯＩとの大きさの差異が大きく（上面ＲＯＩの方が大きくなる）、テーブル５が上限位置にある程、上面ＲＯＩと底面ＲＯＩの大きさは同じに近くなる。被検体３の断層像は上面ＲＯＩと底面ＲＯＩの間の範囲で得られることなり、校正をしなくても希望する断層像を得ることができる。
【００３１】  前述の校正の有無にかかわらず、さらに希望する断層像を得るため、透過像表示部Ｐ３−１に表示された被検体３の透過像を見ながらＲＯＩを設定することで、被検体３の高さ方向の位置も加味したＲＯＩを設定することができる。すなわち、操作者は透過像表示部Ｐ３−１で表示された被検体３の側面からの透過像にてＣＴ撮影したい高さの中心位置を指定し、そのときのテーブル５の高さから外観カメラ４の撮影視野が計算され、そのテーブル５の位置および操作者が指定したＣＴ撮影したい高さの中心位置において操作者が底面ＲＯＩ（上面ＲＯＩ）を設定すれば、操作者が指定したＣＴ撮影したい高さの中心位置における上面ＲＯＩ（底面ＲＯＩ）の大きさを計算してその上面ＲＯＩ（底面ＲＯＩ）も描画することができる。
【００３２】  なお、ＲＯＩ表示部Ｐ３−４で表示されるＲＯＩは、色、太さ、線種を使い分けることでさらに操作者に分かり易いものとなる。例えば、上面ＲＯＩと底面ＲＯＩとで異なる色、異なる線の太さ、異なる線種を使っても良い。
【００３３】（第一の実施の形態の効果）
第一の実施の形態によれば、計算した撮影距離ＲＯＩ＿ＦＣＤが、Ｘ線源１やＸ線検出器２と干渉しない範囲であれば、計算した撮影距離ＲＯＩ＿ＦＣＤまでテーブル５をＸＹ移動機構８（透過像撮影距離調整手段）で移動する。撮影距離ＲＯＩ＿ＦＣＤでスキャンを行えば、描画した上面ＲＯＩで包含される範囲で断層像が生成される。
【００３４】  また、操作者は被検体の外観像上にＲＯＩを囲むだけで、囲んだＲＯＩの中心と、断層像の中心が一致する被検体の移動量の計算を行うため、計算した移動量分だけＸ線源１及びＸ線検出器２の組と被検体３とを相対移動させ、容易に被検体３を断層像の中心位置へ移動できる。
【００３５】  また、上面ＲＯＩとして描画した大きさに応じた撮影距離ＲＯＩ＿ＦＣＤまでしか移動しないため、操作者が光線角度の影響を考慮しないでＲＯＩを描画して、被検体３がＸ線源１やＸ線検出器２へ衝突することを避けることができる。
【００３６】  また、予め、外観カメラ４で寸法が既知である治具の撮影を行い、治具が底面にある場合の大きさと、治具が上面にある場合の大きさの比を求めておき、描画したＲＯＩに対して、求めた比に応じた大きさの異なる底面ＲＯＩと上面ＲＯＩの描画を同時に行うことで、外観像上に写った被検体３の高さやテーブル５の昇降の影響を含んだＲＯＩを描画できる。
【００３７】  また、上面ＲＯＩで包含された範囲が断層像視野としてちょうど包含される撮影距離の計算を行い、計算した撮影距離まで回転軸Ｃの移動を行うことで、スキャン前の位置決めの時間を短縮することができる。なお、上面ＲＯＩを描画するフローを説明してきたが、設定により底面ＲＯＩから上面ＲＯＩを描画してもよい。
【００３８】（本発明の第二の実施形態の構成）
本発明の第二の実施形態のＣＴ装置の（Ａ）平面図と（Ｂ）正面図と（Ｃ）ブロック図を図４に示す。図１との違いは、テーブル５の上にｘｙ移動機構５’（移動手段）を配置したことと、ｘｙ移動機構５’の移動量を計算する移動量計算部Ｐ１−８（移動量計算手段）を制御処理部Ｐ１に追加したことである。また外観カメラ４の中心座標は、テーブル５の回転軸上と一致するよう予め調整しておく。
【００３９】（本発明の第二の実施形態の作用）
図５は、操作者が外観像上に描画した上面ＲＯＩの中心位置が、断層像の中心に合うように、ｘｙ移動機構５’の移動量を計算するフローチャートである。図４および図５を使って、ｘｙ移動機構５’のｘ及びｙ方向の移動量の計算について説明する。
【００４０】  第一の実施形態の作用と異なる点は、ステップＳ７とステップＳ８である。ステップＳ７では、入力した上面ＲＯＩの中心座標（Ｘ＿ＲＯＩ，Ｙ＿ＲＯＩ）を計算するステップである。円形ＲＯＩなら中心座標、矩形ＲＯＩなら対角線の１／２の座標となる。
【００４１】  ステップＳ８では、ステップＳ７で求めた中心座標（Ｘ＿ＲＯＩ，Ｙ＿ＲＯＩ）と、外観像の中心座標（Ｘｃ，Ｙｃ）と、上面ＲＯＩ上の画素サイズＢからｘ方向の移動量とｙ方向の移動量の計算を行う。
ｘ方向の移動量＝Ｘｃ−Ｘ＿ＲＯＩ×画素サイズＢ・・（３）
ｙ方向の移動量＝Ｙｃ−Ｙ＿ＲＯＩ×画素サイズＢ・・（４）
なお、描画するＲＯＩが底面ＲＯＩである場合は、底面ＲＯＩ上の画素サイズＡから、ｘ方向の移動量とｙ方向の移動量をそれぞれ計算する。
【００４２】（本発明の第二の実施形態の効果）
計算したｘ方向の移動量とｙ方向の移動量が、ｘｙ移動機構５’のストローク範囲内であれば、ｘｙ移動機構５’で移動を行う。ｘｙ移動機構５’でＸ線源１及びＸ線検出器２の組と被検体３とを相対的に移動させるため、上面ＲＯＩで被検体を囲むだけで、短時間に被検体３が断層像の中央となる位置へ移動することができる。
【００４３】（本発明の第三の実施形態の構成）
第三の実施形態の構成は、図４の表示部Ｐ３に移動方向表示部Ｐ３−５（移動方向表示手段）を設けた点で異なっている。図６は本発明の第三の実施形態の作用を示すフローチャートで図２のフローチャート終了後を起点とする。ステップＳ９で現在の撮影距離ＦＣＤと計算したＲＯＩ＿ＦＣＤの比較を行う点が異なっている。
【００４４】（本発明の第三の実施形態の作用）
ステップＳ９で、現在の撮影距離ＦＣＤとＲＯＩの半径ＲＯＩ＿ＲＩから求めた、移動後の撮影距離ＲＯＩ＿ＦＣＤの比較を行っている。ＦＣＤよりもＲＯＩ＿ＦＣＤの距離が小さければ、テーブル５はＸ線検出器２側へ進むので、表示部Ｐ３の移動方向表示部Ｐ３−５はＸ線検出器２側へ進む表示を行う。ＦＣＤよりもＲＯＩ＿ＦＣＤの距離が大きければ、移動方向表示部Ｐ３−５はＸ線源１側へ進む表示を行う。
【００４５】（本発明の第三の実施形態の効果）
操作者は、移動方向表示部Ｐ３−５を確認するだけで、被検体３の進行方向を確認できるため、被検体３とＸ線源１やＸ線検出器２との衝突を防止する効果がある。
【符号の説明】
【００４６】Ｆ…Ｘ線焦点、
Ｂ…Ｘ線ビーム、
Ｃ…回転軸
Ｄ…Ｘ線検出器入力面
Ｄｃ…Ｘ線検出器中心
Ｌ…スキャン面
ＣＬ…センターライン、
Ｋ…外観カメラのレンズ光線
１…Ｘ線源、
２…Ｘ線検出器、
３…被検体、
４…外観カメラ、
５…テーブル、
５’…ｘｙ移動機構、
６…回転機構、
７…昇降機構、
８…ＸＹ移動機構、
９…Ｘ線検出器移動機構、
１０…ベース、
Ｐ１…制御処理部、
Ｐ１−１…Ｘ線源制御部、
Ｐ１−２…検出器制御部、
Ｐ１−３…機構制御部、
Ｐ１−４…スキャン制御部、
Ｐ１−５…再構成部、
Ｐ１−６…外観カメラ制御部、
Ｐ１−７…撮影距離計算部、
Ｐ１−８…移動量計算部、
Ｐ２…入力部、
Ｐ２−１…位置指定入力部、
Ｐ２−２…スキャン入力部、
Ｐ２−３…外観カメラ撮影部、
Ｐ２−４…ＲＯＩ入力部、
Ｐ３…表示部、
Ｐ３−１…透過像表示部、
Ｐ３−２…断層像表示部、
Ｐ３−３…外観像表示部、
Ｐ３−４…ＲＯＩ表示部、
Ｐ３−５…移動方向表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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