【誤訳訂正書】
【提出日】平成24年12月20日(2012.12.20)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
環境中の関係ある電離放射線ソースを検出するための方法であって、前記環境は、前記検出を妨害するよう置かれた可能性あるバックグラウンド電離放射線遮蔽物質を含み、前記方法は、
（ａ）  少なくとも第１と第２の電離放射線エネルギー関心領域を選択するステップであって、
前記第１と第２の電離放射線エネルギー関心領域の各々は、あるスペクトル幅を有し、
前記第１電離放射線エネルギー関心領域は、前記関係ある電離放射線ソースからの検出可能な放出を含むように選択し、
前記第２電離放射線エネルギー関心領域は、前記関係ある電離放射線ソースからの実質的な放出を有さないエネルギー範囲を有するように選択した、
ステップと、
（ｂ）  前記第１電離放射線エネルギー関心領域内の第１バックグラウンド電離放射線測定値と、前記第２電離放射線エネルギー関心領域内の第２バックグラウンド電離放射線測定値とを取得するステップであって、前記第１バックグラウンド電離放射線測定値及び前記第２バックグラウンド電離放射線測定値の各々は、前記関係ある電離放射線ソースがないときに取られる、ステップと、
（ｃ）  前記第２バックグラウンド電離放射線測定値を前記第１バックグラウンド電離放射線測定値に対し正規化して、較正定数を求めるステップと、
（ｄ）  前記第１電離放射線エネルギー関心領域内の第１合計電離放射線測定値と、前記第２電離放射線エネルギー関心領域内の第２合計電離放射線測定値とを取得するステップであって、前記第１合計電離放射線測定値及び前記第２合計電離放射線測定値の各々は、可能性ある関係ある放射性ソースが存在し、且つ前記可能性ある関係ある電離放射線ソースの前記検出を妨害するように置かれた可能性あるバックグラウンド電離放射線遮蔽物質が存在するときに取られる、ステップと、
（ｅ）  前記較正定数を適用して前記第２合計電離放射線測定値を正規化し、正規化された第２合計電離放射線測定値を求めるステップと、
（ｆ）  前記正規化された第２合計電離放射線測定値を前記第１合計電離放射線測定値から減算して、前記関係ある電離放射線ソースの存在を指し示すためにそれらの間の正味の差を求めるステップと
を含み、前記第１電離放射線エネルギー関心領域内の前記可能性あるバックグラウンド電離放射線遮蔽物質から予期される減衰が、前記第２電離放射線エネルギー関心領域内の前記可能性あるバックグラウンド電離放射線遮蔽物質から予期される減衰と大体等しくなるように、前記第１と前記第２の電離放射線エネルギー関心領域を選択した、方法。
【請求項２】
前記第１電離放射線エネルギー関心領域及び前記第２電離放射線エネルギー関心領域は、境界を接するように選択した、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記関係ある電離放射線ソースの放射線ソース光電ピークで前記関係ある電離放射線ソースからの検出可能な放出を含むように、前記第１電離放射線エネルギー関心領域を選択した、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
前記関係ある電離放射線ソースに対するコンプトン端で前記関係ある電離放射線ソースからの検出可能な放出を含むように、前記第１電離放射線エネルギー関心領域を選択した、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項５】
前記第１電離放射線エネルギー関心領域が、前記第２電離放射線エネルギー関心領域を占めるエネルギーより低いエネルギーを含むように、前記第１と第２の電離放射線エネルギー関心領域を更に選択した、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項６】
前記第２電離放射線エネルギー関心領域が、前記第１電離放射線エネルギー関心領域の前記スペクトル幅よりも大きいスペクトル幅を有するように、前記第１電離放射線エネルギー関心領域の前記スペクトル幅を更に選択した、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項７】
バックグラウンド放射線環境において、関係ある電離放射線ソースからの放射線を検出するための放射線分析システムであって、前記バックグラウンド放射線環境は、前記検出を妨害するよう置かれた可能性あるバックグラウンド電離放射線遮蔽物質を含み、前記システムは、
空間放射線に曝され、少なくとも第１と第２の電離放射線エネルギー関心領域を検出するように構成された放射線検出器であって、前記第１電離放射線エネルギー関心領域は前記関係ある電離放射線ソースからの検出可能な放出を含み、前記第２電離放射線エネルギー関心領域は前記関係ある電離放射線ソースからの放出を除外した、前記放射線検出器と、
前記関係ある電離放射線ソースからの放射線のない前記バックグラウンド放射線環境を含む空間放射線に前記検出器が曝されたときに、第１のデータ取得トリガを発生させるよう構成され、前記バックグラウンド放射線環境及び遮蔽される可能性のある関係ある電離放射線ソースを含む空間放射線に前記検出器が曝されたときに、第２のデータ取得トリガを発生させるよう構成されたトリガリング・システムと、
前記放射線検出器及び前記トリガリング・システムと操作可能に通信するデータ取得システムであって、
前記データ取得システムは、前記トリガリング・システムが前記第１のデータ取得トリガを発生させた後に、バックグラウンド放射線測定値を前記放射線検出器から取得するよう構成され、前記バックグラウンド放射線測定値は、前記第１電離放射線エネルギー関心領域内の第１バックグラウンド電離放射線測定値と、前記第２電離放射線エネルギー関心領域内の第２バックグラウンド電離放射線測定値とを含み、
前記データ取得システムは、前記トリガリング・システムが前記第２のデータ取得トリガを発生させた後に、テスト放射線の測定値を前記放射線検出器から取得するよう更に構成され、前記テスト放射線の測定値は、前記第１電離放射線エネルギー関心領域内の第１合計電離放射線測定値と、前記第２電離放射線エネルギー関心領域内の第２合計電離放射線測定値とを含む、
前記データ取得システムと、
前記データ取得システムと操作可能に通信するコンピュータであって、前記コンピュータは、前記第２バックグラウンド電離放射線測定値を前記第１バックグラウンド電離放射線測定値に対し正規化して較正定数を求めるよう構成され、前記較正定数を適用して前記第２合計電離放射線測定値を正規化し、正規化された第２合計電離放射線測定値を求めるよう構成され、前記正規化された第２合計電離放射線測定値を前記第１合計電離放射線測定値から減算し、前記関係ある電離放射線ソースの存在を指し示すためにそれらの間の正味の差を求めるよう構成された、前記コンピュータと
を備え、前記第１電離放射線エネルギー関心領域内の前記可能性あるバックグラウンド電離放射線遮蔽物質から予期される減衰が、前記第２電離放射線エネルギー関心領域内の前記可能性あるバックグラウンド電離放射線遮蔽物質から予期される減衰と大体等しくなるように、前記第１と前記第２の電離放射線エネルギー関心領域を選択した、放射線分析システム。
【請求項８】
前記放射線検出器は、ＮａＩ（Ｔｌ）又はＣｓＩ（Ｎａ）を用いた放射線検出器を備えた、請求項７に記載の放射線分析システム。
【請求項９】
前記放射線検出器は、プラスティック・シンチレータを用いた放射線検出器を備えた、請求項７に記載の放射線分析システム。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５２】
この方法は、中分解能（例えば、ＮａＩ（Ｔｌ）、ＣｓＩ（Ｎａ））と低分解能（プラスティック・シンチレータ）の両方の検出器に対して効果的である。中分解能のスペクトルは適当なＲＯＩ内の放射線ソース光電ピーク（１３７Ｃｓに対して６６２ｋｅＶ）からの寄与を含んでいる一方、低分解能検出器のスペクトルは「コンプトン端」を含んでおり、光電ピーク・エネルギー（例えば、１３７Ｃｓに対して６６２ｋｅＶ）で始まりエネルギーが減少するにつれて「古典的な」上記コンプトン端のエネルギー（１３７Ｃｓに対して４７６ｋｅＶ）まで上昇する計数が上記ＲＯＩに追加される。ここで上記の寄与は、上記スペクトルにおいて記録する最小のエネルギーまで近似的に一定で下がってゆく。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５３】
特別なケースは、中分解能検出器に対する最高エネルギー範囲ＲＯＩに適用できる。最高エネルギーＲＯＩにおいてのみ観測するであろうガンマ放射線を放出する放射線ソースは、前述した差の方法によって監視することは不可能であり、なぜなら最高エネルギー範囲ＲＯＩの上方のエネルギー側で隣接するＲＯＩが存在しないからである。上記検出器の分解能が、ガンマ・エミッタに最高エネルギー範囲ＲＯＩ内の光電ピークを発生させる場合、このＲＯＩと、隣接する下方のエネルギー範囲ＲＯＩとの間の差は、これらソースからのガンマ放射線を指し示すものとして使用することができる。上記スペクトルにおいてその出力がはっきりとした光電ピークを作り出さない低分解能検出器では、この方法の実用性は低減する。
例
以下の例は、仮想の入り口監視テストで測定したスペクトルの事後分析を示しており、上記入り口を通過するステーク・ベッド・トラック内に７６Ｇａのソースがあるものとしている。上記の想定したスペクトルは、最初に単純なグロス計数率（検出されるガンマ放射線の全てのエネルギーでの合計）を使用して調べている。検出対時間の２つの例のプロットを図４に示している。プロット１００は、Ｘ軸１０４に関する約３０秒の経過時間に対し、Ｙ軸１０２に関してプロットされる想定したグロス計数率のプロットを示している。時間期間１０６は、上記のトラックが上記の入り口に入る前の間隔を表し、時間期間１０８は、上記のトラックが上記の入り口内にある間の「占有間隔」を表し、及び時間間隔１１０は、上記のトラックが上記の入り口を去った後の時間期間を表している。プロット１１２は、地上２．５から５ｍの視野をカバーする「上部ガンマ検出器」からの想定した総計数（０−３０００ｋｅＶ）を示し、プロット１１４は、地上０から２．５ｍの視野をカバーする「下部ガンマ検出器」からの想定した総計数（０−３０００ｋｅＶ）を示している。ベースライン降下１１６及び１１８は、上記のトラックのエンジンが上記の入り口を通過するとき、占有時間期間１０８の始まりで、プロット１１２及び１１４それぞれに対して見ることができる。即ち、想定したグロス計数率は、上記の放射線ソースを持つ上記の乗物が上記の入り口に進入したとき、最初は率において減少を示している。しかし、上記のトラックによる遮蔽のために「占有している」と「占有していない」と間の率の差が低減したにもかかわらず、７６Ｇａのソースは、有意な放射能を含んでいるので、プロット１１２及び１１４それぞれの領域１２０及び１２２に指し示されているように、検出される計数率は結局、「空の」入り口に対し観測される率よりも大きく増大することが予期される。