【手続補正書】
【提出日】平成25年1月18日(2013.1.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
質量分析の方法であって、
イオントラップ内にイオンを蓄積する工程と、
前記イオントラップ内で対象イオンを単離する工程と、
前記イオントラップ内の対象イオンの少なくとも一部をフラグメント化（断片化）して、複数の第１フラグメントイオンを形成する工程と、
前記第１フラグメントイオンの少なくとも一部を、前記イオントラップの上流側又は下流側のいずれかに配置されるフラグメンテーション装置に移動させる工程と、
前記フラグメンテーション装置内で前記第１フラグメントイオンの少なくとも一部をフラグメント化して、複数の第２フラグメントイオンを形成する工程と、
前記第２フラグメントイオンを蓄積する工程と
を備える方法。
【請求項２】
前記単離された対象イオンは、前駆イオンまたは親イオン、あるいは断片化された対象イオンである請求項１に記載の方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の方法であって、
前記イオントラップは動作モードで作動されて、有効な第１低質量又は低質量対電荷比カットオフを有し、
前記フラグメンテーション装置は動作モードで作動されて、有効な第２低質量又は低質量対電荷比カットオフを有し、
前記第２低質量又は低質量対電荷比カットオフが、前記第１低質量又は低質量対電荷比カットオフよりも実質的に低い、方法。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のいずれか一項に記載の方法であって、
前記イオントラップが、（ｉ）四重極ロッドセット、（ｉｉ）六重極ロッドセット、（ｉｉｉ）八重極以上のロッドセット、（ｉｖ）使用時にイオンを透過させる１つ以上の開口部を各々有する複数の電極を備えるイオントンネル型又はイオンファネル型イオントラップ、（ｖ）２次元又はリニアイオントラップ、及び（ｖｉ）３次元又はポール（Paul）型イオントラップ、からなる群から選択され、
および／または
前記フラグメンテーション装置が、（ｉ）四重極ロッドセット、（ｉｉ）六重極ロッドセット、（ｉｉｉ）八重極以上のロッドセット、（ｉｖ）使用時にイオンを透過させる１つ以上の開口部を各々有する複数の電極を備えるイオントンネル型又はイオンファネル型イオントラップ、（ｖ）２次元又はリニアイオントラップ、及び（ｖｉ）３次元又はポール（Paul）型イオントラップ、からなる群から選択される、方法。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４のいずれか一項に記載の方法であって、
前記イオントラップは、前記フラグメンテーション装置とは異なる数の電極を備える、又は、構造的に前記フラグメンテーション装置と異なるため、特定の質量対電荷比を有するイオンに関して、前記イオントラップは第１低質量カットオフを有し、前記フラグメンテーション装置は前記第１低質量カットオフと異なる第２低質量カットオフを有し、
および／または
前記イオントラップは、第１の間隔及び／又は開口部の大きさ及び／又は直径を有する第１の複数の電極を備え、
前記フラグメンテーション装置は、前記第１の間隔及び／又は開口部の大きさ及び／又は直径と異なる第２の間隔及び／又は開口部の大きさ及び／又は直径を有する第２の複数の電極を備える、
方法。
【請求項６】
請求項１ないし請求項５のいずれか一項に記載の方法であって、
さらに、イオン蓄積装置又はイオントラップに前記第２フラグメントイオンの少なくとも一部を蓄積する工程と、
前記イオン蓄積装置又はイオントラップから前記第２フラグメントイオンの少なくとも一部を放出させて、前記放出させた第２フラグメントイオンを質量分析を行なうために質量分析器に送る工程と、を備える方法。
【請求項７】
請求項１ないし請求項６のいずれか一項に記載の方法であって、
さらに、前記イオントラップ及び／又は前記フラグメンテーション装置にガスをパルス状に印加する工程を備える方法。
【請求項８】
質量分析計であって、
イオントラップと、前記イオントラップの上流側又は下流側のいずれかに配置されるフラグメンテーション装置と、を備え、
動作モードにおいて、前記イオントラップ内にイオンを蓄積し、前記イオントラップ内で対象イオンを単離し、前記対象イオンの少なくとも一部を前記イオントラップ内でフラグメント化して、複数の第１フラグメントイオンを形成し、前記第１フラグメントイオンの少なくとも一部を、前記フラグメンテーション装置に移動させ、前記フラグメンテーション装置内で前記第１フラグメントイオンの少なくとも一部をフラグメント化して、複数の第２フラグメントイオンを形成し、蓄積する、質量分析計。
【請求項９】
前記単離された対象イオンは、前駆イオンまたは親イオン、あるいは断片化された対象イオンである請求項８に記載の質量分析計
【請求項１０】
請求項８または請求項９記載の質量分析計であって、
動作モードにおいて、前記イオントラップは有効な第１低質量又は低質量対電荷比カットオフを有し、
前記フラグメンテーション装置は有効な第２低質量又は低質量対電荷比カットオフを有し、
前記第２低質量又は低質量対電荷比カットオフが、前記第１低質量又は低質量対電荷比カットオフよりも実質的に低い、質量分析計。
【請求項１１】
請求項８ないし請求項１０のいずれか一項に記載の質量分析計であって、
前記イオントラップが、（ｉ）四重極ロッドセット、（ｉｉ）六重極ロッドセット、（ｉｉｉ）八重極以上のロッドセット、及び（ｉｖ）使用時にイオンを透過させる１つ以上の開口部を各々有する複数の電極を備えるイオントンネル型又はイオンファネル型イオントラップ、からなる群から選択され、
および／または、
前記フラグメンテーション装置が、（ｉ）四重極ロッドセット、（ｉｉ）六重極ロッドセット、（ｉｉｉ）八重極以上のロッドセット、及び（ｉｖ）使用時にイオンを透過させる１つ以上の開口部を各々有する複数の電極を備えるイオントンネル型又はイオンファネル型イオントラップ、からなる群から選択される、
質量分析計。
【請求項１２】
請求項８ないし請求項１１のいずれか一項に記載の質量分析計であって、
前記イオントラップは、前記フラグメンテーション装置とは異なる数の電極を備える、又は、構造的に前記フラグメンテーション装置と異なるため、特定の質量対電荷比を有するイオンに関して、前記イオントラップは第１低質量カットオフを有し、前記フラグメンテーション装置は前記第１低質量カットオフと異なる第２低質量カットオフを有し、
および／または、
前記イオントラップは、第１の間隔及び／又は開口部の大きさ及び／又は直径を有する第１の複数の電極を備え、
前記フラグメンテーション装置は、前記第１の間隔及び／又は開口部の大きさ及び／又は直径と異なる第２の間隔及び／又は開口部の大きさ及び／又は直径を有する第２の複数の電極を備える、
質量分析計。
【請求項１３】
請求項８ないし請求項１２のいずれか一項に記載の質量分析計であって、
さらに、前記第２フラグメントイオンの少なくとも一部を蓄積するイオン蓄積装置又はイオントラップを備え、
動作モードにおいて、前記第２フラグメントイオンの少なくとも一部が、前記イオン蓄積装置又はイオントラップから放出され、質量分析を行なうために質量分析器に送られる、質量分析計。
【請求項１４】
請求項８ないし請求項１３のいずれか一項に記載の質量分析計であって、
さらに、前記イオントラップ及び／又は前記フラグメンテーション装置にガスをパルス状に印加する装置を備える、質量分析計。
【請求項１５】
コンピュータで実行可能な命令が記憶されたコンピュータ読み取り可能な媒体であって、
前記命令は、イオントラップと前記イオントラップの上流側又は下流側のいずれかに配置されるフラグメンテーション装置とを備える質量分析計の制御システムにより実行可能あり、
前記コンピュータで実行可能な命令は、前記制御システムに、
（ｉ）前記イオントラップ内にイオンを蓄積し、
（ｉｉ）前記イオントラップ内で対象イオンを単離し、
（ｉｉｉ）前記イオントラップ内の前記対象イオンの少なくとも一部をフラグメント化して、複数の第１フラグメントイオンを形成し、
（ｉｖ）前記第１フラグメントイオンの少なくとも一部を、前記フラグメンテーション装置に移動させて、
（ｖ）前記フラグメンテーション装置内で前記第１フラグメントイオンの少なくとも一部をフラグメント化して、複数の第２フラグメントイオンを形成し、
（ｖｉ）前記第２フラグメントイオンを蓄積する、
ように動作させる、コンピュータ読み取り可能な媒体。