(57)【要約】【課題】コリメータレンズの光軸方向以外の方向の変位が、光検知器の検出信号に与える影響を許容範囲内にすることができる光ピックアップ装置の調整方法及びこの方法を可能にする光ピックアップ調整用光ディスクを提供する。【解決手段】光ピックアップ調整用光ディスク３０は、保護基板３１と、光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層の深さＤｍａｘと最小深さ情報記録層の深さＤｍｉｎとの中間の深さＤｍｉｄに形成された、光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄとを有する。光ピックアップ装置の調整方法は、光ピックアップ装置１０が、光ピックアップ調整用光ディスク３０の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄに保護基板３１を介してレーザ光Ｌ１を照射し、反射レーザ光Ｌ２を検出し、調整装置２０が、反射レーザ光Ｌ２の検出結果に基づいて光ピックアップ装置１０の光検知器１６の位置を調整する。【選択図】図１
2008210433.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
透明の保護基板の内面側に形成された多層の情報記録層を有する光ディスクに対して前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記情報記録層からの反射レーザ光を検出する光ピックアップ装置を調整する際に使用される、光ピックアップ調整用光ディスクであって、
前記光ピックアップ装置が記録又は再生対象とする光ディスクを規定する光ディスク規格には、少なくとも、前記保護基板の外面から前記情報記録層までの深さが最大である最大深さ情報記録層と、前記保護基板の外面から前記情報記録層までの深さが最小である最小深さ情報記録層とが規定されており、
前記光ピックアップ調整用光ディスクは、
透明の保護基板と、
前記保護基板の内面側に形成され、前記光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層の深さと前記光ディスク規格が規定する前記最小深さ情報記録層の深さとの中間の深さに形成された、光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層と
を有することを特徴とする光ピックアップ調整用光ディスク。
【請求項２】
前記光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層の深さと同じ深さに形成された光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層と、
前記光ディスク規格が規定する最小深さ情報記録層の深さと同じ深さに形成された光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層と
をさらに有し、
前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層と、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層と、前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層とが、前記光ピックアップ調整用光ディスクの半径方向の異なる領域に分割されて形成された
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ調整用光ディスク。
【請求項３】
前記光ディスク規格が規定する前記多層の情報記録層は、２層の情報記録層であることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ピックアップ調整用光ディスク。
【請求項４】
前記光ディスク規格が規定する前記多層の情報記録層は、３層以上の情報記録層であることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ピックアップ調整用光ディスク。
【請求項５】
光ピックアップ調整用の他の中間深さ情報記録層をさらに有し、
前記他の中間深さ情報記録層は、前記光ディスク規格とは異なる他の光ディスク規格が規定する他の最大深さ情報記録層の深さと、前記他の光ディスク規格が規定する他の最小深さ情報記録層の深さと、の中間の深さに形成される
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光ピックアップ調整用光ディスク。
【請求項６】
前記光ディスク規格が規定するレーザ光の波長及び／又は対物レンズの開口数は、前記他の光ディスク規格が規定するレーザ光の波長及び／又は対物レンズの開口数と異なることを特徴とする請求項５に記載の光ピックアップ調整用光ディスク。
【請求項７】
光ディスクを回転させるディスク駆動手段と、前記光ピックアップ装置の光検知器の検出信号に基づいて前記光検知器の位置を調整する光検知器調整手段を有する調整装置と、
前記調整装置に装着された請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光ピックアップ調整用光ディスクと
を使用して、光ピックアップ装置を調整する方法であって、
前記調整装置の前記ディスク駆動手段が、前記光ピックアップ調整用光ディスクを回転させるステップと、
前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、
前記調整装置の前記光検知器調整手段が、前記反射レーザ光の検出結果に基づいて前記光ピックアップ装置の光検知器を調整するステップと
を有することを特徴とする光ピックアップ装置の調整方法。
【請求項８】
光ディスクを回転させるディスク駆動手段、光ディスクに対する前記ディスク駆動手段の相対的位置を変更する移動手段、及び前記光ピックアップ装置の光検知器の検出信号に基づいて前記光検知器の位置を調整する光検知器調整手段を有する調整装置と、
前記調整装置に装着された請求項２に記載の光ピックアップ調整用光ディスクと
を使用して、光ピックアップ装置を調整する方法であって、
前記調整装置の前記ディスク駆動手段が、前記光ピックアップ調整用光ディスクを回転させるステップと、
前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、
前記調整装置の前記光検知器調整手段が、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果に基づいて前記光ピックアップ装置の光検知器を調整するステップと、
前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、
前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、
前記調整装置が、前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果及び前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果に基づいて、信号品質を判定するステップと
を有することを特徴とする光ピックアップ装置の調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置の光ピックアップ装置を調整する際に使用される光ピックアップ調整用光ディスク及びこの光ピックアップ調整用光ディスクを用いる光ピックアップ装置の調整方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクとしては、中心波長が０．７８μｍである赤色レーザ光を用いて情報の記録又は再生が行われるＣＤ（コンパクトディスク）と、中心波長が０．６５μｍである赤色レーザ光を用いて情報の記録又は再生が行われるＤＶＤ（デジタルバーサタイルディスク）とが実用化されている。また、中心波長が０．４０５μｍである青色レーザ光を用いて情報の記録又は再生が行われるＨＤ−ＤＶＤ及びＢｌｕ−ｒａｙディスク（以下、これらを総称して「青色レーザ光ディスク」と言う。）も実用化され始めている。
【０００３】
また、更なる高密度記録を実現するため、ＤＶＤ規格やＢｌｕ−ｒａｙディスク規格においては、複数の情報記録層を積層させた多層型の光ディスクが規格化されている。一般に、光ディスクは、レーザ光が入射する側に透明な保護基板を有しているので、多層型の光ディスクにおいては、表面に近い（浅い）層と表面から遠い（深い）層では保護基板の厚みが異なる。例えば、Ｂｌｕ−Ｒａｙディスク規格では、表面に近い層と表面から遠い層の間隔は２５μｍであり、表面に近い層の保護基板の厚みは７５μｍ（標準値）、表面から遠い層の保護基板の厚みは１００μｍ（標準値）に規定されている。
【０００４】
保護基板に、レンズで収束させたレーザ光を入射させた場合、保護基板の厚みに対応した球面収差が発生する。この球面収差は、光ディスクにおける信号の記録又は再生の障害になるので、光ピックアップ装置は、球面収差が極小となるように、レンズ及び光検出器を含む光学系が設計されている。
【０００５】
このように球面収差は保護基板の厚みに依存するので、多層型の光ディスクに対応するためには、光ピックアップ装置自身が球面収差を可変できる機能を備える必要がある。例えば、半導体レーザから出射したレーザ光を略平行光束に変換するためのコリメータレンズを光軸方向に移動させて、球面収差を可変できるようにした光ピックアップ装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００６】
【特許文献１】特開２００５−３２７３９５号公報（第７頁、図２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１に記載された光ピックアップ装置においては、コリメータレンズは理想的には光軸方向にのみ移動することが要求されている。しかし、実際のコリメータレンズの移動機構は、「あそび」や「がた」を伴うことが通常であり、さらに、移動機構の各構成部材の配置誤差も存在する。したがって、実際のコリメータレンズは、光軸方向以外の方向の変位を伴って移動することになる。このように、コリメータレンズに所望される方向以外の方向の変位が生じた場合、光ディスクからの反射レーザ光と、この反射レーザ光を受光して信号を検出する光検知器との位置関係が所望の位置関係ではなくなる。その結果、従来の光ピックアップ装置においては、コリメータレンズの移動によって、光検知器から出力される検出信号が変化するという問題が生じる。
【０００８】
そこで、本発明は、上記従来技術の課題を解決するためになされたものであり、その目的は、コリメータレンズの光軸方向以外の方向の変位が、光検知器の検出信号に与える影響を許容範囲内にすることができる調整方法を可能にする光ピックアップ調整用光ディスクを提供することにある。
【０００９】
また、本発明の他の目的は、コリメータレンズの光軸方向以外の方向の変位が、光検知器の検出信号に与える影響を許容範囲内にすることができる光ピックアップ装置の調整方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の光ピックアップ調整用光ディスクは、透明の保護基板の内面側に形成された多層の情報記録層を有する光ディスクに対して前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記情報記録層からの反射レーザ光を検出する光ピックアップ装置を調整する際に使用されるものであって、前記光ピックアップ装置が記録又は再生対象とする光ディスクを規定する光ディスク規格には、少なくとも、前記保護基板の外面から前記情報記録層までの深さが最大である最大深さ情報記録層と、前記保護基板の外面から前記情報記録層までの深さが最小である最小深さ情報記録層とが規定されているときに、透明の保護基板と、前記保護基板の内面側に形成され、前記光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層の深さと前記光ディスク規格が規定する前記最小深さ情報記録層の深さとの中間の深さに形成された、光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層とを有することを特徴としている。
【００１１】
また、本発明の光ピックアップ装置の調整方法は、光ディスクを回転させるディスク駆動手段と前記光ピックアップ装置の光検知器の検出信号に基づいて前記光検知器の位置を調整する光検知器調整手段を有する調整装置と、前記調整装置に装着された請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光ピックアップ調整用光ディスクとを使用して、光ピックアップ装置を調整する方法であって、前記調整装置の前記ディスク駆動手段が、前記光ピックアップ調整用光ディスクを回転させるステップと、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、前記調整装置の前記光検知器調整手段が、前記反射レーザ光の検出結果に基づいて前記光ピックアップ装置の光検知器を調整するステップとを有することを特徴としている。
【００１２】
また、本発明の他の光ピックアップ装置の調整方法は、光ディスクを回転させるディスク駆動手段、光ディスクに対する前記ディスク駆動手段の相対的位置を変更する移動手段、及び前記光ピックアップ装置の光検知器の検出信号に基づいて前記光検知器の位置を調整する光検知器調整手段を有する調整装置と、前記調整装置に装着された請求項２に記載の光ピックアップ調整用光ディスクとを使用して、光ピックアップ装置を調整する方法であって、前記調整装置の前記ディスク駆動手段が、前記光ピックアップ調整用光ディスクを回転させるステップと、前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、前記調整装置の前記光検知器調整手段が、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果に基づいて前記光ピックアップ装置の光検知器を調整するステップと、前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、前記調整装置が、前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果及び前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果に基づいて、信号品質を判定するステップとを有することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の光ピックアップ調整用光ディスクを用いて光ピックアップ装置を調整すれば、コリメータレンズの光軸方向以外の方向の変位が、光ピックアップ装置の光検知器の検出信号に与える影響を許容範囲内にすることができ、情報記録層に記録されている信号の検出精度を向上させることができるという効果がある。
【００１４】
また、本発明の光ピックアップ装置の調整方法によれば、コリメータレンズの光軸方向以外の方向の変位が、光ピックアップ装置の光検知器の検出信号に与える影響を許容範囲内にすることができ、情報記録層に記録されている信号の検出精度を向上させることができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
実施の形態１．
図１は、本発明の実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０の概略的な断面形状、実施の形態１に係る調整方法が適用される光ピックアップ装置１０の概略的な平面形状、及び実施の形態１に係る光ピックアップ装置の調整方法を実行するために使用される調整装置２０の概略的な構成を示す図である。
【００１６】
図１に示されるように、実施の形態１に係る光ピックアップ装置の調整方法を実行する際には、光ピックアップ装置１０を調整装置２０に取り付け、また、調整装置２０のスピンドルモータ２８に光ピックアップ調整用光ディスク３０を装着する。光ピックアップ装置１０は、多層の光ディスクの規格に適合したものである。光ピックアップ装置１０は、透明の保護基板の内面側に形成された多層の情報記録層を有する光ディスクに対して、同一方向から保護基板を介してレーザ光を照射し、多層の情報記録層のいずれかからの反射レーザ光を検出する。また、光ピックアップ装置１０が記録又は再生対象とする光ディスクを規定する光ディスク規格には、少なくとも、保護基板の外面から情報記録層までの深さが最大である最大深さ情報記録層と、保護基板の外面から前記情報記録層までの深さが最小である最小深さ情報記録層とが規定されている。ただし、光ピックアップ装置１０が記録又は再生対象とする光ディスクを規定する光ディスク規格には、最大深さ情報記録層と最小深さ情報記録層に加えて、他の情報記録層が規定されている場合、すなわち、情報記録層が３層以上の場合もある。
【００１７】
図１に示されるように、光ピックアップ装置１０は、レーザ光Ｌ１を出射する半導体レーザ１１と、ビームスプリッタ１２と、コリメータレンズ光学系１３と、対物レンズ１４と、シリンドリカルレンズ１５と、光検知器１６とを主要な構成としている。コリメータレンズ光学系１３は、コリメータレンズ１３１と、コリメータレンズ１３１を保持するレンズホルダ１３２と、レンズホルダ１３２を矢印ＤＡ方向に移動可能に支持するガイドシャフト１３３と、モータ１３４と、レンズホルダ１３２のねじ孔に係合すると共にモータ１３４に連結されたスクリューネジ１３５とを有している。レンズホルダ１３２、ガイドシャフト１３３、モータ１３４、及びスクリューネジ１３５は、コリメータレンズ１３１を、半導体レーザ１１から対物レンズ１４までの光学系の光軸（以下「対物レンズの光軸」とも言う。）ＡＸに略平行な矢印ＤＡ方向に移動させるコリメータレンズ移動機構を構成している。モータ１３４によりスクリューネジ１３５を回転させることによって、レンズホルダ１３２はガイドシャフト１３３に沿って、矢印ＤＡ方向にスライドする。
【００１８】
光ピックアップ装置１０において、半導体レーザ１１から出射したレーザ光Ｌ１は、ビームスプリッタ１２を透過して、コリメータレンズ１３１に入射する。コリメータレンズ１３１で略平行状になったレーザ光Ｌ１は、対物レンズ１４に入射し、光ピックアップ調整用光ディスク３０に集光される。光ピックアップ調整用光ディスク３０で反射したレーザ光Ｌ２は、対物レンズ１４とコリメータレンズ１３１を逆方向に透過して、ビームスプリッタ１２で反射され、シリンドリカルレンズ１５を透過して、光検知器１６に入射する。
【００１９】
また、図１に示されるように、調整装置２０は、光検知器１６から受け取った信号から再生信号を検出する再生信号検出回路２１と、光検知器１６から受け取った信号から制御信号を検出する制御信号検出回路２２と、再生信号検出回路２１から出力される再生信号を受け取る信号補正回路２３と、再生信号検出回路２１から出力される再生信号及び制御信号検出回路２２から出力される制御信号を受け取って、調整信号を生成する光検知器調整回路２４ａと、光検知器調整回路２４ａから出力される調整信号を受け取る、例えば、ステッピングモータ等で構成される光検知器調整機構２４ｂとを有する。光検知器調整機構２４ｂは、光検知器１６に備えられた位置調整機構（図示せず）に連結されており、光検知器調整回路２４ａから出力される調整信号に基づいて光検知器１６に備えられた位置調整機構（図示せず）を調整して、光検知器１６の位置を調整する。また、調整装置２０は、信号補正回路２３の出力信号を受け取り、レンズ移動信号を光ピックアップ装置１０のモータ１３４に出力するレンズ移動回路２５と、層選択信号生成部２６と、スピンドルモータ移動回路２７ａと、スピンドルモータ移動回路２７ａの出力信号に基づいて動作するスピンドルモータ移動機構２７ｂと、スピンドルモータ移動機構２７ｂに備えられ、光ディスクを回転させるスピンドルモータ２８とを有する。レンズ移動回路２５の出力信号は、光ピックアップ装置１０のモータ１３４に入力される。層選択信号生成部２６は、例えば、図示しないシステム制御系から生成され、レンズ移動回路２５とスピンドルモータ移動回路２７ａに対して、光ピックアップ調整用光ディスク３０の選択されている層に関する信号を出力する。スピンドルモータ移動回路２７ａの出力信号は、スピンドルモータ移動機構２７ｂに出力され、光ピックアップ調整用光ディスク３０の半径に沿った矢印ＤＢ方向に移動できるように構成されている。
【００２０】
図２（Ａ）は、実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスクの構成を概略的に示す断面図であり、（Ｂ）は、実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスクを同図（Ａ）の下からから見た平面図である。
【００２１】
図２（Ａ）及び（Ｂ）に示されるように、光ピックアップ調整用光ディスク３０は、透明の保護基板３１と、保護基板３１の内面側に形成された情報記録層３２と、情報記録層３２を覆う保護層３３とを有する。実施の形態１においては、情報記録層３２は、光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層と同じ深さＤｍａｘに形成された光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層３２ｍａｘと、光ディスク規格が規定する最小深さ情報記録層と同じ深さＤｍｉｎに形成された光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層３２ｍｉｎと、光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層の深さＤｍａｘと最小深さ情報記録層の深さＤｍｉｎの中間の深さＤｍｉｄに形成された光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄとを有する。なお、情報記録層の深さは、保護基板３１の厚み、すなわち、保護基板３１の外面から情報記録層までの距離に相当する。また、各情報記録層の構成は、各種の光ディスク（例えば、ＣＤ、ＤＶＤ、ＨＤ−ＤＶＤ、又はＢｌｕ−Ｒａｙディスク）規格にしたがって、各種の光ディスクと同様の構造及び材質で構成さる。
【００２２】
図２（Ａ）及び（Ｂ）に示されるように、最大深さ情報記録層３２ｍａｘ、中間深さ情報記録層３２ｍｉｄ、及び最小深さ情報記録層３２ｍｉｎは、光ピックアップ調整用光ディスク３０の中心から径方向外側に向けて順に配列されている。最大深さ情報記録層３２ｍａｘ、中間深さ情報記録層３２ｍｉｄ、及び最小深さ情報記録層３２ｍｉｎには、それぞれ光ピックアップ装置１０を調整するための信号（例えば、凹凸のビット）Ｓが記録されている。なお、図２（Ａ）及び（Ｂ）には、情報記録層の深さが３種類の場合が示されているが、これら以外の深さの情報記録層を備えることもできる。また、情報記録層の配列も図示の例に限定されない。
【００２３】
次に、光ピックアップ調整用光ディスク３０を用いた光ピックアップ装置１０の調整方法について説明する。まず、調整をしようとする光ピックアップ装置１０を調整装置２０に取り付ける。次に、調整装置２０に光ピックアップ調整用光ディスク３０を装着する。装着後は、図１の状態となる。
【００２４】
次に、層選択信号生成部２６からの層選択信号により、光ピックアップ調整用の光ディスク３０の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄが選択されて、スピンドルモータ移動回路２７ａの出力に基づいて、スピンドルモータ移動機構２７ｂが、対物レンズ１４に光ピックアップ調整用光ディスク３０の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄを対向させるように、光ピックアップ調整用光ディスク３０を移動させる。
【００２５】
次に、スピンドルモータ２８によって、ピックアップ調整用光ディスク３０を回転させる。
【００２６】
次に、光ピックアップ装置１０は、層選択信号生成部２６の指示により、コリメータレンズ光学系１３のモータ１３４を動作させて、コリメータレンズ１３１の光軸方向の位置を、中間深さ情報記録層３２ｍｉｄの深さ、すなわち、保護基板３１の厚みＤｍｉｄに適合する位置（後述する図３のＰｍｉｄ）にする。
【００２７】
次に、半導体レーザ１１を発光させ、光ピックアップ調整用光ディスク３０の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄで反射したレーザ光Ｌ２を光検知器１６で受光する。ここで、反射レーザ光Ｌ２の検出光学系には、シリンドリカルレンズ１５の動作により、公知の非点収差法による焦点検出方式が採用されている。光検知器１６は、受光されたレーザ光Ｌ２に応じた強度の電気信号を出力し、再生信号検出回路２１と制御信号検出回路２２に入力する。再生信号検出回路２１と制御信号検出回路２２のそれぞれでは、再生信号及び焦点誤差信号等の制御信号が検出され、反射レーザ光Ｌ２と光検知器１６の位置関係が最適となるように、光検知器調整回路２４ａが光検知器１６の調整されるべき位置を割り出し、光検知器調整機構２４ｂを動作させて、光検知器１６が最適な位置に調整される。
【００２８】
さらに、光検知器１６の位置を最適とする調整以外に、再生信号の品質をさらに向上させるために、光学的な収差を変更して、再生信号品質を調整する動作が次のように実行される。再生信号検出回路２１から出力された再生信号の品質を信号補正回路２３で分析し、再生信号の品質が最も高いものとなるように、コリメータレンズ１３１を移動軸１３６に沿った矢印ＤＡ方向に移動させるようにする。なお、図１においては、コリメータレンズ１３１の移動軸１３６と対物レンズ１４の光軸１４とが一致するように描いているが、実際には、後述の図３に示されるように、ずれがある。このため、レンズ移動回路２５の信号に基づいて、コリメータレンズ光学系１３のモータ１３４が回転し、この回転に連動したスクリューネジ１３５の回転によって、レンズホルダ１３２がガイドシャフト１３３に沿って矢印ＤＡ方向に移動することで、コリメータレンズ１３１は収差の観点から最良の位置に調整される。
【００２９】
上述したように、光検知器１６の位置調整は、まず光ピックアップ調整用光ディスク３０の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄで行う。さらに、光ピックアップ調整用光ディスク３０の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄを用いて行われた光検知器１６の位置調整が、光ディスク規格で定められた保護基板の厚みの範囲内で問題無いことを確認する。このために、光ピックアップ調整用光ディスク３０の最大深さ情報記録層３２ｍａｘ及び最小深さ情報記録層３２ｍｉｎを用いて、再生信号及び焦点誤差信号等の制御信号の品質を確認する。なお、レーザ光を照射する位置を最大深さ情報記録層３２ｍａｘ及び最小深さ情報記録層３２ｍｉｎのそれぞれに移動した場合（後述する図５の場合と図６の場合）には、最大深さ情報記録層３２ｍａｘ及び最小深さ情報記録層３２ｍｉｎのそれぞれで再生信号の品質が最も高いものとなるように、コリメータレンズ１３１が移動軸１３６に沿った矢印ＤＡ方向に移動する。例えば、最大深さ情報記録層３２ｍａｘでは保護基板の厚みが大きいので、コリメータレンズ１３１は対物レンズ１４から遠ざかる方向に移動し（後述する図５の場合）、その反対に最小深さ情報記録層３２ｍｉｎでは保護基板の厚みが小さいので、コリメータレンズ１３１は対物レンズ１４に近づく方向に移動する（後述する図６の場合）。
【００３０】
次に、以上に説明した手順で実行される光ピックアップ装置１０の調整方法によって、光検知器１６の検出信号の品質が良好になることを、図３から図７までを用いて説明する。
【００３１】
図３は、実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄを用いた調整方法が適用される光ピックアップ装置１０の概略的な平面形状を示す図である。
【００３２】
図３には、図１で示した調整装置２０は示されていないが、実際には、図１に示されるように、光ピックアップ装置１０は調整装置２０に取り付けられている。図３は、光ピックアップ装置１０のコリメータレンズ光学系１３が、理想的な配置から傾斜した場合を示している。実際に、コリメータレンズ光学系１３のモータ１３４によって移動するコリメータレンズ１３１の移動軸１３６（矢印ＤＡ方向）を、完全に誤差が無く光軸ＡＸに一致させることは不可能であり、多少の傾斜や平行ずれが存在する。また、このような傾斜や平行ずれは、レンズホルダ１３２とガイドシャフト１３３間に存在するあそびの影響を受ける。このコリメータレンズ１３１の移動軸１３６の光軸ＡＸに対する傾斜によって、最大深さ情報記録層３２ｍａｘの深さ（最大深さ情報記録層３２ｍａｘの保護基板３１の厚み）Ｄｍａｘに適したコリメータレンズ１３１の位置である位置Ｐｍａｘと、最小深さ情報記録層３２ｍｉｎの深さ（最小深さ情報記録層３２ｍｉｎの厚み）Ｄｍｉｎに適したコリメータレンズ１３１の位置である位置Ｐｍｉｎとでは、光軸ＡＸと直交する矢印ＤＣ方向に変位が発生する。
【００３３】
図４（Ａ）は、実施の形態１における光検知器の受光面１０ａの形状及びレーザ光の位置を示し、図４（Ｂ）は、同図（Ａ）の場合の焦点誤差信号特性を示し、図４（Ｃ）は、実施の形態１における光検知器の受光面１０ａの形状及びレーザ光の位置を示し、図４（Ｄ）は、同図（Ｃ）の場合の焦点誤差信号特性を示す。図４（Ａ）及び（Ｂ）は、コリメータレンズ１３１の移動軸１３６が光軸ＡＸに一致して配置されている条件で光検知器１６の調整を行った場合を示し、図４（Ｃ）及び（Ｄ）は、図４（Ａ）の状態から他の保護基板の厚みに適合するようにコリメータレンズ１３１が移動し、かつ、光軸ＡＸと直交する矢印ＤＣ方向に変位を伴って移動した場合を示している。
【００３４】
図４（Ａ）及び（Ｃ）に示されるように、光検知器１６は、例えば、非点収差法による焦点誤差検出が可能なように、田の字型（マトリクス状）に四つに分割された受光面１０ａを有している。各受光面にはＡ〜Ｄの符号を付しているが、以下の説明においては、各受光面によって検出される検出信号の強度もＡ〜Ｄで示す。図４（Ａ）及び（Ｂ）に示されるように、コリメータレンズ１３１が正しく光軸ＡＸ上にある条件で光検知器１６の調整が行われた場合、レーザ光Ｌ２が光検知器１６の受光面Ａ〜Ｄに均等に入射するように、光検知器１６を調整することが可能である。このような状態では、受光面Ａ〜Ｄにおいて（各受光面における検出信号の強度もＡ〜Ｄで示す）、焦点誤差信号ＦＥを次式で計算する。
ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）
この演算を行う非点収差法による焦点誤差信号は、オフセット成分が無い信号とすることができる。
【００３５】
しかしながら、コリメータレンズ１３１が光軸ＡＸ上を正確に移動できなかった場合には、例えば、図４（Ｃ）及び（Ｄ）に示されるように、レーザ光Ｌ２が特定の受光面の方向（受光面Ａの方向）にずれてしまう。この結果、焦点誤差信号はオフセット成分ｄを有した信号となり、オフセット成分ｄに対応した焦点誤差が発生し、この焦点誤差量が大きくなると情報の記録や再生に支障を来たすことになる。
【００３６】
図５は、本発明の実施の形態１において、２つの層を有する光ディスク規格における深い側の層に対応する保護基板の厚みＤｍａｘを有する最大深さ情報記録層３２ｍａｘが選択された場合の、光ピックアップ調整用光ディスク３０の側面図とコリメータレンズ１３１の位置関係を示す平面図である。また、図６は、本発明の実施の形態１において、２つの層を有する光ディスク規格における浅い側の層に対応する保護基板の厚みＤｍｉｎを有する最小深さ情報記録層３２ｍｉｎが選択された場合の、光ピックアップ調整用光ディスク３０の側面図とコリメータレンズ１３１の位置関係を示す平面図である。
【００３７】
コリメータレンズ１３１は、図５において位置Ｐｍａｘに、図６において位置Ｐｍｉｎに移動する。位置Ｐｍａｘと位置Ｐｍｉｎは、図３に示すように中間深さ情報記録層３２ｍｉｄが選択された場合の位置Ｐｍｉｄを基準として、それぞれ反対方向となる。したがって、コリメータレンズ１３１の移動軸１３６が対物レンズ１４の光軸ＡＸに対して傾斜する場合に、コリメータレンズ１３１が位置Ｐｍａｘから位置Ｐｍｉｎまでの移動で発生する光軸ＡＸと直交する方向の変位量に対して、位置Ｐｍｉｄから位置Ｐｍａｘまで、又は、位置Ｐｍｉｄから位置Ｐｍｉｎまでのコリメータレンズ１３１の移動で発生する光軸ＡＸと直交する方向の変位の量は略半分となる。
【００３８】
図７は、実施の形態１において、光検知器１０の受光面１０ａの形状とコリメータレンズ１３１が移動した場合のレーザ光Ｌ１の位置関係を示す平面図である。Ｌｍａｘはコリメータレンズ１３１が位置Ｐｍｉｄにある場合に、光検知器１６の調整が行われたときのレーザ光Ｌ１の分布位置を示し、ＬｍｉｎとＬｍｉｄはそれぞれコリメータレンズ１３１が位置Ｐｍａｘにある場合、及び位置Ｐｍｉｎにある場合のレーザ光Ｌ１の分布位置を示す。位置Ｐｍａｘと位置Ｐｍｉｎでは光検知器１０でのレーザ光Ｌ１の分布のずれる方向が反対であり、先述の理由からずれる量も略半分となるので、焦点誤差信号に与える影響が小さくなる。
【００３９】
以上のような光ピックアップ装置の調整方法を、従来の調整方法と比較すると、従来の光ピックアップ調整用光ディスクには、光ディスク規格に規定された深さの情報記録層のみしか形成されていないので、光ディスク規格に規定された深さの情報記録層のいずれかを選択して光検知器の位置調整が行われていた。したがって、調整時に選択されなかった他方の深さの情報記録層に切り換えて、コリメータレンズ１３１を移動させると、図４（Ｃ）及び（Ｄ）に示すように、調整時に選択されなかった他方の深さの情報記録層においては光検知器１６に入射するレーザ光Ｌ２の照射位置が受光面１０ａの中心から大きくずれてしまうという問題があった。しかしながら、本発明の実施の形態１に係る光ピックアップ装置の調整方法では、光ディスク規格に規定された情報記録層の最大深さＤｍａｘと情報記録層の最小深さＤｍｉｎの中間の深さＤｍｉｄの中間深さ情報記録層３２ｍｉｄを導入し、この中間深さ情報記録層３２ｍｉｄを行うようにしているので、光検知器１６に入射するレーザ光Ｌ１の照射位置の中心からのずれ量を略半減できる。
【００４０】
また、上記のような光ピックアップ装置の調整方法について、図８を用いて説明する。図８は、本発明の実施の形態１に係る光ピックアップ装置の調整方法を示すフローチャートである。まず、最初の手順（ステップＳＴ１）として光ディスク規格に規定された複数の深さ（保護基板の厚み）の中間の深さＤｍｉｄである中間深さ情報記録層３２ｍｉｄにおいて、光検知器１６の調整を実施する。
【００４１】
次のステップＳＴ２において、光ピックアップ調整用光ディスク３０を半径方向に移動させ、例えば、光ディスク規格に規定された最大深さ情報記録層３２ｍａｘで光検知器１６からの出力信号の品質検査を実施する。
【００４２】
次のステップＳＴ３において、光ピックアップ調整用光ディスク３０を半径方向に移動させ、光ディスク規格に規定された最小深さ情報記録層３２ｍｉｎで光検知器１６からの出力信号の品質検査を実施する。
【００４３】
次にステップＳＴ４において、ステップＳＴ２及びステップＳＴ３で検査された出力信号の合否判定を実施し、全て合格であれば、調整を終了する。一方、判定が不合格の場合には、例えば、ステップＳＴ１に戻って最初から再調整を行う。ただし、同じ調整工程を２回以上行っても不合格となる場合が考えられる。このような場合には、コリメータレンズ光学系１３の配置精度に問題があり、コリメータレンズ１３１の移動軸１３６と光軸ＡＸのずれが初期的に大きい可能性が考えられる。したがってこのような場合には、コリメータレンズ光学系１３の初期的な配置精度を（例えば、人による構成配置の再調整によって）向上させてから、光検知器１６の調整を行う必要がある。そこで、ステップＳＴ５においては、調整回数を確認し、１回目の調整で不合格なら再調整とし、２回目でも不合格の場合には、一旦コリメータレンズ光学系１３の構成配置を再調整してから、光検知器１６の調整を再度開始する。
【００４４】
以上の説明においては、同一方向から記録又は再生が可能な２つの情報記録層を有する光ディスクの規格を対象に説明したが、情報記録層の数が３以上の場合には、最も深い情報記録層と、最も浅い情報記録層と、これらの中間の深さの情報記録層を持つ光ピックアップ調整用光ディスクを形成すればよい。
【００４５】
なお、以上の説明においては、光ディスクを支持するスピンドルモータ２８を光ディスクの半径方向に移動する場合を説明したが、光ピックアップ装置１０を光ディスクの半径方向に移動させる構成を採用してもよい。
【００４６】
また、以上の説明においては、光ディスクの中心から外側に向けて順に、最大深さ情報記録層３２ｍａｘ、中間深さ情報記録層３２ｍｉｄ、及び最小深さ情報記録層３２ｍｉｎを配置した場合を説明したが、各情報記録層の配置は上記例に限定されない。
【００４７】
さらに、以上の説明においては、調整の対象となる光ピックアップ装置において、球面収差を補正する方法として、コリメータレンズ１３１を光軸方向に移動させる場合を例示したが、コリメータレンズ１３１以外に、レーザ光の光束の幅を広げる機能を持つエキスパンダー方式のレンズ（図示せず）を追加し、このレンズを移動させる方法を採用してもよい。
【００４８】
さらにまた、以上の説明においては、調整の対象となる光ピックアップ装置において、コリメータレンズを移動させる方式として、モータ１３４によってスクリューネジ１３５を回転させる方式を用いた場合を例示したが、例えば、ボイスコイルモータによる駆動手段を用いてコリメータレンズ１３１を光軸方向に直進移動させる機構（図示せず）を採用してもよい。
【００４９】
また、以上の説明においては、調整の対象となる光ピックアップ装置において、焦点誤差検出方式として、非点収差法を用いる場合を説明したが、焦点誤差を検出するための方式は、非点収差法を用いる方式に限定されない。
【００５０】
実施の形態２．
図９は、本発明の実施の形態２に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ａの構成を概略的に示す断面図である。
【００５１】
図９に示されるように、実施の形態２に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ａは、透明の保護基板３１ａと、保護基板３１ａの内面側に形成された情報記録層３２ａと、情報記録層３２ａを覆う保護層３３ａとを有する。実施の形態２においては、情報記録層３２ａは、光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層の深さＤｍａｘと最小深さ情報記録層の深さＤｍｉｎの中間の深さＤｍｉｄに形成された光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄを有する。図９に示されるように、実施の形態２に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ａは、光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層と最小深さ情報記録層を有していない点が、実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０と相違する。
【００５２】
実施の形態２に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ａ及びこれを用いた光ピックアップ装置の調整方法は、中間深さ情報記録層３２ｍｉｄによる調整だけで、光検知器の位置を適切に調整できることが保証できる場合に、有効である。この光ピックアップ調整用光ディスク３０ａを用いる場合には、光ディスク規格に即した情報記録層を有する光ディスクを用いた確認検査を省略することが可能である。
【００５３】
なお、実施の形態２において、上記以外の点は、上記実施の形態１の場合と同じである。
【００５４】
実施の形態３．
図１０は、本発明の実施の形態３に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂの構成を概略的に示す断面図である。
【００５５】
図１０に示されるように、実施の形態３に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂは、透明の保護基板３１ｂと、保護基板３１ｂの内面側に形成された情報記録層３２ｂと、情報記録層３２ｂを覆う保護層３３ｂとを有している。実施の形態３に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂは、光ディスクの径方向外側の第１の光ディスク規格に対応する領域Ｒ１と径方向内側の第２の光ディスク規格に対応する領域Ｒ２とに分割されている。第１の光ディスク規格は、例えば、青色のＤＶＤ規格の一つであるＢｌｕ−Ｒａｙディスク規格に準拠しており、第２の光ディスク規格は、例えば、赤色のＤＶＤ規格に準拠している。このように、第１の光ディスク規格と第２の光ディスク規格は、半導体レーザの波長及び／又は対物レンズの開口数といった光学的条件が異なる規格であってもよい。また、光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂが備える領域の数は、３以上であってもよい。さらにまた、第１の光ディスク規格に対応する領域Ｒ１又は第２の光ディスク規格に対応する領域Ｒ２は、上記実施の形態２における構造を有するものであってもよい。
【００５６】
図１０に示されるように、光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂは、第１の光ディスク規格に対応する領域Ｒ１内に、第１の光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層と同じ深さＤｍａｘ１に形成された光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層３２ｍａｘ１と、第１の光ディスク規格が規定する最小深さ情報記録層と同じ深さＤｍｉｎ１に形成された光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層３２ｍｉｎ１と、第１の光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層の深さＤｍａｘ１と最小深さ情報記録層の深さＤｍｉｎ１の中間の深さＤｍｉｄ１に形成された光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄ１とを有している。
【００５７】
また、図１０に示されるように、光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂは、第２の光ディスク規格に対応する領域Ｒ２内に、第２の光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層と同じ深さＤｍａｘ２に形成された光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層３２ｍａｘ２と、第２の光ディスク規格が規定する最小深さ情報記録層と同じ深さＤｍｉｎ２に形成された光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層３２ｍｉｎ２と、第２の光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層の深さＤｍａｘ１と最小深さ情報記録層の深さＤｍｉｎ２の中間の深さＤｍｉｄ２に形成された光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄ２とを有している。
【００５８】
実施の形態３に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂ及びこれを用いた光ピックアップ装置の調整方法によれば、上記実施の形態１における効果に加え、光ピックアップ調整用光ディスクを交換することなく、複数の光ディスク規格の調整を行うことができる。
【００５９】
なお、実施の形態３において、上記以外の点は、上記実施の形態１又は２の場合と同じである。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスクの概略的な断面形状、実施の形態１に係る光ピックアップ装置の調整方法が適用される光ピックアップ装置の概略的な平面形状、及び実施の形態１に係る光ピックアップ装置の調整方法を実行するために使用される調整装置の概略的な構成を示す図である。
【図２】（Ａ）は、実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスクの構成を概略的に示す断面図であり、（Ｂ）は、実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスクを同図（Ａ）の下からから見た平面図である。
【図３】実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスクの概略的な断面形状、及び光ピックアップ調整用光ディスクの中間深さ情報記録層を用いた調整方法が適用される光ピックアップ装置の概略的な平面形状を示す図である。
【図４】（Ａ）は、実施の形態１に係る光ピックアップ装置の光検知器の受光面の形状及びレーザ光の照射位置を示し、（Ｂ）は、同図（Ａ）の場合の焦点誤差信号特性を示し、（Ｃ）は、実施の形態１に係る光ピックアップ装置の光検知器の受光面の形状及びレーザ光の照射位置を示し、（Ｄ）は、同図（Ｃ）の場合の焦点誤差信号特性を示す。
【図５】実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスクの概略的な断面形状、及び光ピックアップ調整用光ディスクの最大深さ情報記録層を用いた検査が適用される光ピックアップ装置の概略的な平面形状を示す図である。
【図６】実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスクの概略的な断面形状、及び光ピックアップ調整用光ディスクの最小深さ情報記録層を用いた検査が適用される光ピックアップ装置の概略的な平面形状を示す図である。
【図７】実施の形態１に係る光ピックアップ装置の光検知器の受光面の形状とコリメータレンズが移動した場合のレーザ光の照射位置を示す図である。
【図８】実施の形態１に係る光ピックアップ装置の調整方法を概略的に示すフローチャートである。
【図９】本発明の実施の形態２に係る光ピックアップ調整用光ディスクの構成を概略的に示す断面図である。
【図１０】本発明の実施の形態３に係る光ピックアップ調整用光ディスクの構成を概略的に示す断面図である。
【符号の説明】
【００６１】
１０  光ピックアップ装置、  １１  半導体レーザ、  １２  ビームスプリッタ、  １３  コリメータレンズ光学系、  １４  対物レンズ、  １５  シリンドリカルレンズ、  １６  光検知器、  ２０  調整装置、  ２１  再生信号検出回路、  ２２  制御信号検出回路、  ２３  信号補正回路、  ２４ａ  光検知器調整回路、  ２４ｂ  光検知器調整機構、  ２５  レンズ移動回路、  ２６  層選択信号生成部、  ２７ａ  スピンドルモータ移動回路、  ２７ｂ  スピンドルモータ移動機構、  ２８  スピンドルモータ、  ３０，３０ａ，３０ｂ  光ピックアップ調整用光ディスク、  ３１，３１ａ，３１ｂ  保護基板、  ３２，３２ａ，３２ｂ  情報記録層、  ３２ｍａｘ，３２ｍａｘ１，３２ｍａｘ２  光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層、  ３２ｍｉｎ，３２ｍｉｎ１，３２ｍｉｎ２  光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層、  ３２ｍｉｄ，３２ｍｉｄ１，３２ｍｉｄ２  光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層、  ３３，３３ａ，３３ｂ  保護層、  １３１  コリメータレンズ、  １３２  レンズホルダ、  １３３  ガイドシャフト、  １３４  モータ、  １３５  スクリューネジ、  １３６  コリメータレンズの光軸、  ＡＸ  対物レンズの光軸、  ＤＡ  コリメータレンズの移動方向、  ＤＢ  光ピックアップ調整用光ディスクの移動方向、  ＤＣ  コリメータレンズの変位の方向、  Ｄｍａｘ  最大深さ情報記録層の深さ、  Ｄｍｉｎ  最小深さ情報記録層の深さ、  Ｄｍｉｄ  中間深さ情報記録層の深さ、  Ｌ１  照射レーザ光、  Ｌ２  反射レーザ光、  Ｒ１  第１の光ディスク規格に適合した領域、  Ｒ２  第２の光ディスク規格に適合した領域。
【図１】
2008210433.tif 000003
【図２】
2008210433.tif 000004
【図３】
2008210433.tif 000005
【図４】
2008210433.tif 000006
【図５】
2008210433.tif 000007
【図６】
2008210433.tif 000008
【図７】
2008210433.tif 000009
【図８】
2008210433.tif 000010
【図９】
2008210433.tif 000011
【図１０】
2008210433.tif 000012
【手続補正書】
【提出日】平成19年12月27日(2007.12.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項８】
光ディスクを回転させるディスク駆動手段、光ディスクに対する前記ディスク駆動手段の相対的位置を変更する移動手段、及び前記光ピックアップ装置の光検知器の検出信号に基づいて前記光検知器の位置を調整する光検知器調整手段を有する調整装置と、
前記調整装置に装着された請求項２に記載の光ピックアップ調整用光ディスクと
を使用して、光ピックアップ装置を調整する方法であって、
前記調整装置の前記ディスク駆動手段が、前記光ピックアップ調整用光ディスクを回転させるステップと、
前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、
前記調整装置の前記光検知器調整手段が、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果に基づいて前記光ピックアップ装置の光検知器の位置を調整するステップと、
前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、
前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、
前記調整装置が、前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果及び前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果に基づいて、信号品質を判定するステップと
を有することを特徴とする光ピックアップ装置の調整方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
また、本発明の他の光ピックアップ装置の調整方法は、光ディスクを回転させるディスク駆動手段、光ディスクに対する前記ディスク駆動手段の相対的位置を変更する移動手段、及び前記光ピックアップ装置の光検知器の検出信号に基づいて前記光検知器の位置を調整する光検知器調整手段を有する調整装置と、前記調整装置に装着された請求項２に記載の光ピックアップ調整用光ディスクとを使用して、光ピックアップ装置を調整する方法であって、前記調整装置の前記ディスク駆動手段が、前記光ピックアップ調整用光ディスクを回転させるステップと、前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、前記調整装置の前記光検知器調整手段が、前記光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果に基づいて前記光ピックアップ装置の光検知器の位置を調整するステップと、前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、前記調整装置の前記移動手段が、前記光ピックアップ装置と前記光ピックアップ調整用光ディスクの相対的位置を変更し、前記光ピックアップ装置が、前記光ピックアップ調整用光ディスクの前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層に前記保護基板を介してレーザ光を照射し、前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層からの反射レーザ光を検出するステップと、前記調整装置が、前記光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果及び前記光ピックアップ調整用の最小深さ情報記録層からの反射レーザ光の検出結果に基づいて、信号品質を判定するステップとを有することを特徴としている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
また、図１に示されるように、調整装置２０は、光検知器１６から受け取った信号から再生信号を検出する再生信号検出回路２１と、光検知器１６から受け取った信号から制御信号を検出する制御信号検出回路２２と、再生信号検出回路２１から出力される再生信号を受け取る信号補正回路２３と、再生信号検出回路２１から出力される再生信号及び制御信号検出回路２２から出力される制御信号を受け取って、調整信号を生成する光検知器調整回路２４ａと、光検知器調整回路２４ａから出力される調整信号を受け取る、例えば、ステッピングモータ等で構成される光検知器調整機構２４ｂとを有する。光検知器調整機構２４ｂは、光検知器１６に備えられた位置調整機構（図に破線で示す）に連結されており、光検知器調整回路２４ａから出力される調整信号に基づいて光検知器１６に備えられた位置調整機構（図示せず）を調整して、光検知器１６の位置を調整する。また、調整装置２０は、信号補正回路２３の出力信号を受け取り、レンズ移動信号を光ピックアップ装置１０のモータ１３４に出力するレンズ移動回路２５と、層選択信号生成部２６と、スピンドルモータ移動回路２７ａと、スピンドルモータ移動回路２７ａの出力信号に基づいて動作するスピンドルモータ移動機構２７ｂと、スピンドルモータ移動機構２７ｂに備えられ、光ディスクを回転させるスピンドルモータ２８とを有する。レンズ移動回路２５の出力信号は、光ピックアップ装置１０のモータ１３４に入力される。層選択信号生成部２６は、例えば、図示しないシステム制御系から生成され、レンズ移動回路２５とスピンドルモータ移動回路２７ａに対して、光ピックアップ調整用光ディスク３０の選択されている層に関する信号を出力する。スピンドルモータ移動回路２７ａの出力信号は、スピンドルモータ移動機構２７ｂに出力され、光ピックアップ調整用光ディスク３０の半径に沿った矢印ＤＢ方向に移動できるように構成されている。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２８】
さらに、光検知器１６の位置を最適とする調整以外に、再生信号の品質をさらに向上させるために、光学的な収差を変更して、再生信号品質を調整する動作が次のように実行される。再生信号検出回路２１から出力された再生信号の品質を信号補正回路２３で分析し、再生信号の品質が最も高いものとなるように、コリメータレンズ１３１を移動軸１３６に沿った矢印ＤＡ方向に移動させるようにする。なお、図１においては、コリメータレンズ１３１の移動軸１３６と対物レンズ１４の光軸ＡＸとが一致するように描いているが、実際には、後述の図３に示されるように、ずれがある。このため、レンズ移動回路２５の信号に基づいて、コリメータレンズ光学系１３のモータ１３４が回転し、この回転に連動したスクリューネジ１３５の回転によって、レンズホルダ１３２がガイドシャフト１３３に沿って矢印ＤＡ方向に移動することで、コリメータレンズ１３１は収差の観点から最良の位置に調整される。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２９】
上述したように、光検知器１６の位置調整は、まず光ピックアップ調整用光ディスク３０の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄで行う。さらに、光検知器１６の位置調整を、光ディスク規格で定められた保護基板の厚みの範囲内で問題無く行うことができることを確認する。このために、光ピックアップ調整用光ディスク３０の最大深さ情報記録層３２ｍａｘ及び最小深さ情報記録層３２ｍｉｎを用いて、再生信号及び焦点誤差信号等の制御信号の品質を確認する。なお、レーザ光を照射する位置を最大深さ情報記録層３２ｍａｘ及び最小深さ情報記録層３２ｍｉｎのそれぞれに移動した場合（後述する図５の場合と図６の場合）には、最大深さ情報記録層３２ｍａｘ及び最小深さ情報記録層３２ｍｉｎのそれぞれで再生信号の品質が最も高いものとなるように、コリメータレンズ１３１が移動軸１３６に沿った矢印ＤＡ方向に移動する。例えば、最大深さ情報記録層３２ｍａｘでは保護基板の厚みが大きいので、コリメータレンズ１３１は対物レンズ１４から遠ざかる方向に移動し（後述する図５の場合）、その反対に最小深さ情報記録層３２ｍｉｎでは保護基板の厚みが小さいので、コリメータレンズ１３１は対物レンズ１４に近づく方向に移動する（後述する図６の場合）。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
図３には、図１で示した調整装置２０は示されていないが、実際には、図１に示されるように、光ピックアップ装置１０は調整装置２０に取り付けられている。図３は、光ピックアップ装置１０のコリメータレンズ光学系１３が、理想的な配置から傾斜した場合を示している。実際に、コリメータレンズ光学系１３のモータ１３４によって移動するコリメータレンズ１３１の移動軸１３６（矢印ＤＡ方向）を、完全に誤差が無く光軸ＡＸに一致させることは不可能であり、多少の傾斜や平行ずれが存在する。また、このような傾斜や平行ずれは、レンズホルダ１３２とガイドシャフト１３３間に存在するあそびの影響を受ける。このコリメータレンズ１３１の移動軸１３６の光軸ＡＸに対する傾斜によって、最大深さ情報記録層３２ｍａｘの深さ（最大深さ情報記録層３２ｍａｘの保護基板３１の厚み）Ｄｍａｘに適したコリメータレンズ１３１の位置である位置Ｐｍａｘと、最小深さ情報記録層３２ｍｉｎの深さ（最小深さ情報記録層３２ｍｉｎの保護基板３１の厚み）Ｄｍｉｎに適したコリメータレンズ１３１の位置である位置Ｐｍｉｎとでは、光軸ＡＸと直交する矢印ＤＣ方向に変位が発生する。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３６】
図５は、本発明の実施の形態１において、２つの層を有する光ディスク規格における深い側の層に対応する保護基板の厚みＤｍａｘを有する最大深さ情報記録層３２ｍａｘが選択された場合の、光ピックアップ調整用光ディスク３０の断面図とコリメータレンズ１３１の位置関係を示す平面図である。また、図６は、本発明の実施の形態１において、２つの層を有する光ディスク規格における浅い側の層に対応する保護基板の厚みＤｍｉｎを有する最小深さ情報記録層３２ｍｉｎが選択された場合の、光ピックアップ調整用光ディスク３０の側面図とコリメータレンズ１３１の位置関係を示す平面図である。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
図７は、実施の形態１において、光検知器１０の受光面１０ａの形状とコリメータレンズ１３１が移動した場合のレーザ光Ｌ１の位置関係を示す平面図である。Ｌｍｉｄはコリメータレンズ１３１が位置Ｐｍｉｄにある場合に、光検知器１６の調整が行われたときのレーザ光Ｌ１の分布位置を示し、ＬｍａｘとＬｍｉｎはそれぞれコリメータレンズ１３１が位置Ｐｍａｘにある場合、及び位置Ｐｍｉｎにある場合のレーザ光Ｌ１の分布位置を示す。位置Ｐｍａｘと位置Ｐｍｉｎでは光検知器１０でのレーザ光Ｌ１の分布のずれる方向が反対であり、先述の理由からずれる量も略半分となるので、焦点誤差信号に与える影響が小さくなる。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
以上のような光ピックアップ装置の調整方法を、従来の調整方法と比較すると、従来の光ピックアップ調整用光ディスクには、光ディスク規格に規定された深さの情報記録層のみしか形成されていないので、光ディスク規格に規定された深さの情報記録層のいずれかを選択して光検知器の位置調整が行われていた。したがって、調整時に選択されなかった他方の深さの情報記録層に切り換えて、コリメータレンズ１３１を移動させると、図４（Ｃ）及び（Ｄ）に示すように、調整時に選択されなかった他方の深さの情報記録層においては光検知器１６に入射するレーザ光Ｌ２の照射位置が受光面１０ａの中心から大きくずれてしまうという問題があった。しかしながら、本発明の実施の形態１に係る光ピックアップ装置の調整方法では、光ディスク規格に規定された情報記録層の最大深さＤｍａｘと情報記録層の最小深さＤｍｉｎの中間の深さＤｍｉｄの中間深さ情報記録層３２ｍｉｄを導入し、この中間深さ情報記録層３２ｍｉｄを用いて調整を行うようにしているので、光検知器１６に入射するレーザ光Ｌ１の照射位置の中心からのずれ量を略半減できる。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５１】
図９に示されるように、実施の形態２に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ａは、透明の保護基板３１ａと、保護基板３１ａの内面側に形成された情報記録層３２ａと、情報記録層３２ａを覆う保護層３３ａとを有する。実施の形態２においては、情報記録層３２ａは、光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層の深さＤｍａｘと最小深さ情報記録層の深さＤｍｉｎの中間の深さＤｍｉｄに形成された光ピックアップ調整用の中間深さ情報記録層３２ｍｉｄを有する。図９に示されるように、実施の形態２に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ａは、光ディスク規格が規定する最大深さ情報記録層と最小深さ情報記録層に対応する光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層３２ｍａｘと光ピックアップ調整用の最大深さ情報記録層３２ｍｉｎとを有していない点が、実施の形態１に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０と相違する。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５５】
図１０に示されるように、実施の形態３に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂは、透明の保護基板３１ｂと、保護基板３１ｂの内面側に形成された情報記録層３２ｂと、情報記録層３２ｂを覆う保護層３３ｂとを有している。実施の形態３に係る光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂは、光ディスクの径方向外側の第１の光ディスク規格に対応する領域Ｒ１と径方向内側の第２の光ディスク規格に対応する領域Ｒ２とに分割されている。第１の光ディスク規格は、例えば、青色のＤＶＤ規格の一つであるＢｌｕ−Ｒａｙディスク規格に準拠しており、第２の光ディスク規格は、例えば、赤色のＤＶＤ規格に準拠している。このように、第１の光ディスク規格と第２の光ディスク規格は、半導体レーザの波長及び／又は対物レンズの開口数といった光学的条件が異なる規格であってもよい。また、光ピックアップ調整用光ディスク３０ｂが備える、各光ディスク規格に対応する領域の数は、３以上であってもよい。さらにまた、第１の光ディスク規格に対応する領域Ｒ１又は第２の光ディスク規格に対応する領域Ｒ２は、上記実施の形態２における構造を有するものであってもよい。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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