【手続補正書】
【提出日】平成20年11月18日(2008.11.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｍ行×Ｎ列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の行列数分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたＭ個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたＮ個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項２】
Ｍ行×Ｎ列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項３】
Ｍ行×Ｎ列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項４】
Ｍ行×Ｎ列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の行列数分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたＭ個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたＮ個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項５】
Ｍ行×Ｎ列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項６】
Ｍ行×Ｎ列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項７】
有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたＭ個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたＮ個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。
【請求項８】
有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。
【請求項９】
有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。
【請求項１０】
有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたＭ個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたＮ個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。
【請求項１１】
有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。
【請求項１２】
有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与る一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。
【請求項１３】
有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたＭ個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたＮ個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【請求項１４】
有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【請求項１５】
有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【請求項１６】
有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたＭ個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたＮ個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する処理と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【請求項１７】
有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する処理と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【請求項１８】
有効表示領域の複数行に１個分及び複数列に１個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値／劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する少なくとも１つのダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する処理と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。