(57)【要約】【課題】  シンボルレートの異なるＤＰＳＫ、ＤＱＰＳＫ等における光位相変調信号の位相変調状態を正確に評価できる光位相変調評価装置を提供する。【解決手段】  ビームスプリッタ１、ビット遅延器２としてのコーナーミラー２ａ及びコーナーミラー３で構成され、光位相変調信号を光強度変換信号に変換するマイケルソン型のビット遅延干渉計１０と、このビット遅延干渉計１０から出力される光強度変換信号の波形を観測する光波形測定部１１とを備えた光位相変調評価装置であって、上記ビット遅延器２が、上記光位相変調信号の複数のシンボルレートのそれぞれに対応して、それぞれのシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定できるようにされており、さらに、上記光位相変調信号の上記シンボルレートを指定するシンボルレート指定信号を受け、このシンボルレート指定信号に基づいて、上記ビット遅延器２の遅延量を設定する遅延量設定手段１２を備えた。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光搬送波がデータ信号によって所定のシンボルレートで位相変調されてなる光位相変調信号（ｂ）を受けて、第１のコーナーミラー（２ａ）を含んで構成される第１の光路を通る第１の光と第２のコーナーミラー（３）を含んで構成される第２の光路を通る第２の光に分波するとともに、前記第１のコーナーミラーで反射されて戻ってきた第１の光と前記第２のコーナーミラーで反射されて戻ってきた第２の光とを合波して干渉させ、当該光位相変調信号が変換されてなる光強度変換信号（ｃ１、ｃ２）を出力するビームスプリッタ（１）と前記シンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定するためのビット遅延器（２）とを有するマイケルソン型のビット遅延干渉計（１０）と、該ビット遅延干渉計から出力される前記光強度変換信号（ｃ１、ｃ２）を電気信号に変換し前記光位相変調信号の波形を観測する光波形測定部（１１）とを備えた光位相変調評価装置において、
前記光位相変調信号の前記シンボルレートを指定するシンボルレート指定信号を受け、該シンボルレート指定信号に基づいて、前記ビット遅延器の遅延量を設定する遅延量設定手段（１２）を備えたことを特徴とする光位相変調評価装置。
【請求項２】
前記ビット遅延器（２）が、前記第１のコーナーミラー（２ａ）で構成されており、該第１のコーナーミラーを前記第１の光路と平行する方向へ移動させて、複数の前記シンボルレートに対応した１ビットに相当する遅延量を設定できることを特徴とする請求項１に記載の光位相変調評価装置。
【請求項３】
前記ビット遅延器（２）が、複数の前記シンボルレートの１ビットに相当する遅延量を与えるための厚さをもつ複数の透過性材質の平行板（２ｂ、２ｃ）で構成されており、複数の前記平行板は複数の前記シンボルレートに対応して前記第１の光路に切り替えて１ビットに相当する遅延量を設定できることを特徴とする請求項１に記載の光位相変調評価装置。
【請求項４】
前記ビット遅延器（２）が、複数の前記シンボルレートから特定のシンボルレートを除いたシンボルレートに対応した所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の平行板（２ｅ）とで構成されており、該第１のコーナーミラーは前記特定のシンボルレートに対応した遅延量となるように前記第１の光路と平行する方向の位置が固定され、かつ、前記平行板は前記特定のシンボルレート以外のシンボルレートのときに前記第１の光路に１ビットに相当する遅延量を設定できることを特徴とする請求項１に記載の光位相変調評価装置。
【請求項５】
前記ビット遅延器（２）が、複数の前記シンボルレートのそれぞれに対応した所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の２枚の平行板（２ｆ１、２ｆ２、２ｇ１、２ｇ２）の複数個のペアとで構成されており、さらに、前記シンボルレートのそれぞれの１ビットに相当する遅延量を与えるようにハの字型に配置されているとともに、複数の前記シンボルレートに対応して前記第１の光路に切り替えて１ビットに相当する遅延量を設定できることを特徴とする請求項１に記載の光位相変調評価装置。
【請求項６】
前記ビット遅延器（２）が、複数の前記シンボルレートから特定のシンボルレートを除いたシンボルレートに対応した所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の２枚の平行板（２ｈ１、２ｈ２）のペアとで構成されており、該第１のコーナーミラーは前記特定のシンボルレートに対応した遅延量となるように前記第１の光路と平行する方向の位置が固定され、さらに、前記平行板のペアは前記シンボルレートに対応した所定の遅延量を与えるようにハの字型に配置されているとともに、前記特定のシンボルレート以外のシンボルレートのときに前記第１の光路に設定できることを特徴とする請求項１に記載の光位相変調評価装置。
【請求項７】
前記ビット遅延干渉計の前記第１及び第２の光路のいずれか一方に設けられ、２つの該光路の光位相差の１周期分変化させられるような遅延量を任意に設定できる光位相遅延器（４）と、
該光位相遅延器の遅延量を設定する位相制御手段（１３）とを備えたことを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載の光位相変調評価装置。
【請求項８】
前記光位相遅延器が、前記第２のコーナーミラーで構成されており、該第２のコーナーミラーを前記第２の光路と平行する方向へ移動させることによって任意の遅延量に設定できることを特徴とする請求項７に記載の光位相変調評価装置。
【請求項９】
前記光位相遅延器が、所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の平行板（４ａ）であって、該平行板を回転して当該平行板への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できることを特徴とする請求項７に記載の光位相変調評価装置。
【請求項１０】
前記光位相遅延器が、所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の２枚の平行板（４ｂ１、４ｂ２）のペアであって、該平行板のペアは光の入射角と出射角がほぼ等しくなるようにハの字型に配置されており、２枚の該平行板の少なくともいずれか一方を回転して当該平行板への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できることを特徴とする請求項７に記載の光位相変調評価装置。
【請求項１１】
前記ビット遅延干渉計が、前記ビームスプリッタから出力された２つの前記光強度変換信号に対して相対的な遅延時間を与えるために、２つの該光強度変換信号の通る光路のいずれか一方の光路長を変化させる光出力信号遅延器（５）を備えたことを特徴とする請求項１〜１０のいずれかに記載の光位相変調評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コヒーレント光通信方式における光搬送波がデータ信号によって位相変調（例えばＤＰＳＫ、ＤＱＰＳＫ等）されてなる光位相変調信号を評価する光位相変調評価装置に関し、特に異なるシンボルレートの光位相変調信号の評価が正確に行える光位相変調評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光搬送波がデータ信号によって所定のシンボルレートで位相変調されてなる光位相変調信号を評価する光位相変調評価装置として、ビット遅延干渉計で光位相変調信号の光位相検波を行って当該光位相変調信号の位相変調特性を評価するものがあった（例えば特許文献1参照）。
【０００３】
この種の光位相変調評価装置の概略構成を図１２に示す。光位相変調評価装置の被測定光である光位相変調信号は、光搬送波がデータ信号によって所定のシンボルレートで位相変調されることによって発生されており、光位相検波器としてのビット遅延干渉計２０に入力される。ビット遅延干渉計２０は、光導波路を用いたマッハツェンダ型の干渉計で構成されており、ポート２０ａから入力された光位相変調信号を分波部２０ｂでアーム２０ｃを通る光とアーム２０ｄ（ビット遅延器２０ｆを含んで構成される）を通る光に分波するとともに、アーム２０ｃを通った光とアーム２０ｄを通った光とを合波部２０ｅで合波し干渉させる。それによって、光位相変調信号の位相の変化を光強度の変化に変換し、互いの位相が１８０°（π）異なる２つの光強度変換信号を２つのポート２０ｇ、２０ｈからそれぞれ出力する。なお、上記ビット遅延器２０ｆは、２つのアーム間の遅延量（遅延時間差）が上記シンボルレートの１ビット分に相当する遅延量（時間）になるように、その遅延量分アーム２０ｄの光路長をアーム２０ｃの光路長より長くしている。
【０００４】
受光器（ＰＤ）２１は、ビット遅延干渉計２０のポート２０ｇから出力される光強度変換信号を光電変換して電気信号を出力する。信号処理部２２は、受光器２１から出力される電気信号から上記データ信号を復調し、それによって得られた復調波形を用いて誤り率測定や波形観測を行って光位相変調信号の評価を行う。
【特許文献１】特開平６−２１８９１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
昨今、通信トラフィックの大容量化に伴うファイバの非線形や分散の問題から周波数効率の良いＤＰＳＫやＤＱＰＳＫといった位相変調方式が注目されている。そして、その方式によっては、異なったシンボルレートが用いられている。例えば、４０Ｇｂｐｓ−ＤＰＳＫでは、シンボルレートが４０Ｇｂｐｓであり、また４０Ｇｂｐｓ−ＤＱＰＳＫでは、シンボルレートが２０Ｇｂｐｓである。このように、方式によって異なったシンボルレートが用いられている状況において、光位相変調信号の評価を行う光位相変調評価装置として、１台の光位相変調評価装置で複数のシンボルレートに対応できることが望まれている。
【０００６】
しかしながら、上記の従来の光位相変調評価装置では、ビット遅延器２０ｆで設定されるシンボルレートの１ビット分に相当する遅延量が、特定のシンボルレートに対して固定されているために、光位相変調信号のシンボルレートが上記のように２０Ｇｂｐｓ、４０Ｇｂｐｓと異なる場合、いずれか一方のシンボルレートの光位相変調信号しか評価できないという問題があった。
【０００７】
本発明は、ビット遅延干渉計のビット遅延器が光位相変調信号の複数のシンボルレートのそれぞれに対応して、それらのシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定できるようにすることによって、これらの課題を解決し、異なるシンボルレートの光位相変調信号の評価が正確に行える光位相変調評価装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１の光位相変調評価装置では、光搬送波がデータ信号によって所定のシンボルレートで位相変調されてなる光位相変調信号（ｂ）を受けて、第１のコーナーミラー（２ａ）を含んで構成される第１の光路を通る第１の光と第２のコーナーミラー（３）を含んで構成される第２の光路を通る第２の光に分波するとともに、前記第１のコーナーミラーで反射されて戻ってきた第１の光と前記第２のコーナーミラーで反射されて戻ってきた第２の光とを合波して干渉させ、当該光位相変調信号が変換されてなる光強度変換信号（ｃ１、ｃ２）を出力するビームスプリッタ（１）と前記シンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定するためのビット遅延器（２）とを有するマイケルソン型のビット遅延干渉計（１０）と、該ビット遅延干渉計から出力される前記光強度変換信号（ｃ１、ｃ２）を電気信号に変換し前記光位相変調信号の波形を観測する光波形測定部（１１）とを備えた光位相変調評価装置において、前記光位相変調信号の前記シンボルレートを指定するシンボルレート指定信号を受け、該シンボルレート指定信号に基づいて、前記ビット遅延器の遅延量を設定する遅延量設定手段（１２）を備えた。
【０００９】
また、本発明の請求項２の光位相変調評価装置では、上述した請求項１の光位相変調評価装置において、前記ビット遅延器が、前記第１のコーナーミラーで構成されており、該第１のコーナーミラーを前記第１の光路と平行する方向へ移動させて、複数の前記シンボルレートのそれぞれに対応した前記遅延量を設定できるようにした。
【００１０】
また、本発明の請求項３の光位相変調評価装置では、上述した請求項１の光位相変調評価装置において、前記ビット遅延器が、複数の前記シンボルレートの１ビットに相当する遅延量を与えるための厚さをもつ複数の透過性材質の平行板（２ｂ、２ｃ）で構成されており、複数の前記平行板は複数の前記シンボルレートに対応して前記第１の光路に切り替えて１ビットに相当する遅延量を設定できるようにした。
【００１１】
また、本発明の請求項４の光位相変調評価装置では、上述した請求項１の光位相変調評価装置において、前記ビット遅延器が、複数の前記シンボルレートから特定のシンボルレートを除いたシンボルレートに対応した所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の平行板（２ｅ）とで構成されており、該第１のコーナーミラーは前記特定のシンボルレートに対応した遅延量となるように前記第１の光路と平行する方向の位置が固定され、かつ、前記平行板は前記特定のシンボルレート以外のシンボルレートのときに前記第１の光路に１ビットに相当する遅延量を設定できるようにした。
【００１２】
また、本発明の請求項５の光位相変調評価装置では、上述した請求項１の光位相変調評価装置において、前記ビット遅延器が、複数の前記シンボルレートのそれぞれに対応した所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の２枚の平行板（２ｆ１、２ｆ２、２ｇ１、２ｇ２）の複数個のペアとで構成されており、さらに、前記シンボルレートのそれぞれの１ビットに相当する遅延量を与えるようにハの字型に配置されているとともに、複数の前記シンボルレートに対応して前記第１の光路に切り替えて１ビットに相当する遅延量を設定できるようにした。
【００１３】
また、本発明の請求項６の光位相変調評価装置では、上述した請求項１の光位相変調評価装置において、前記ビット遅延器が、複数の前記シンボルレートから特定のシンボルレートを除いたシンボルレートに対応した所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の２枚の平行板（２ｈ１、２ｈ２）のペアとで構成されており、該第１のコーナーミラーは前記特定のシンボルレートに対応した遅延量となるように前記第１の光路と平行する方向の位置が固定され、さらに、前記平行板のペアは前記シンボルレートに対応した所定の遅延量を与えるようにハの字型に配置されているとともに、前記特定のシンボルレート以外のシンボルレートのときに前記第１の光路に設定できるようにした。
【００１４】
また、本発明の請求項７の光位相変調評価装置では、上述した請求項１〜６のいずれかの光位相変調評価装置において、前記ビット遅延干渉計の前記第１及び第２の光路のいずれか一方に設けられ、２つの該光路の光位相差の１周期分変化させられるような遅延量を任意に設定できる光位相遅延器（４）と、該光位相遅延器の遅延量を設定する位相制御手段（１３）とを備えた。
【００１５】
また、本発明の請求項８の光位相変調評価装置では、上述した請求項７の光位相変調評価装置において、前記光位相遅延器が、前記第２のコーナーミラーで構成されており、該第２のコーナーミラーを前記第２の光路と平行する方向へ移動させることによって任意の遅延量に設定できるようにした。
【００１６】
また、本発明の請求項９の光位相変調評価装置では、上述した請求項７の光位相変調評価装置において、前記光位相遅延器が、所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の平行板（４ａ）であって、該平行板を回転して当該平行板への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できるようにした。
【００１７】
また、本発明の請求項１０の光位相変調評価装置では、上述した請求項７の光位相変調評価装置において、前記光位相遅延器が、所定の遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の２枚の平行板（４ｂ１、４ｂ２）のペアであって、該平行板のペアは光の入射角と出射角がほぼ等しくなるようにハの字型に配置されており、２枚の該平行板の少なくともいずれか一方を回転して当該平行板への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できるようにした。
【００１８】
また、本発明の請求項１１の光位相変調評価装置では、上述した請求項１〜１０のいずれかの光位相変調評価装置において、前記ビット遅延干渉計が、前記ビームスプリッタから出力された２つの前記光強度変換信号に対して相対的な遅延時間を与えるために、２つの該光強度変換信号の通る光路のいずれか一方の光路長を変化させる光出力信号遅延器（５）を備えた。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の請求項１〜６の光位相変調評価装置では、ビット遅延干渉計のビット遅延器が光位相変調信号の複数のシンボルレートのそれぞれに対応して、それらのシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定できるようにしたので、異なるシンボルレートの光位相変調信号の波形を正確に観測することができる。したがって、シンボルレートの異なるＤＰＳＫやＤＱＰＳＫや多値変調における光位相変調信号の位相変調状態を１台の光位相変調評価装置で正確に評価できる。
【００２０】
本発明の請求項７〜１０の光位相変調評価装置では、ビット遅延干渉計の第１及び第２の光路のいずれか一方に、この２つの光路の光位相差の１周期分変化させられるような遅延量を任意に設定できる光位相遅延器を設けたので、温度等の環境条件が変化した場合にも２つの光路の光位相差をπ／２ラジアンや０に合わせることができる。それによって任意の相対的なビット間位相差の設定が可能となる。
【００２１】
本発明の請求項１１の光位相変調評価装置では、ビット遅延干渉計が、ビームスプリッタから出力された２つの光強度変換信号に対して相対的な遅延時間を与えるために、この２つの光強度変換信号の通る光路のいずれか一方に当該光路の遅延時間を変化させる光出力信号遅延器を備えるようにしたので、例えば、ビット遅延干渉計の２つの光出力信号をバランスド受信する場合に２つの光強度変換信号の変調信号の位相差を正確に合わせることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下に本発明の実施形態を記載する。
【００２３】
［第１実施形態］
本発明の第１実施形態の光位相変調評価装置の構成を図１に示す。光位相変調評価装置の被測定光である光位相変調信号は、光搬送波がデータ信号によって所定のシンボルレートで位相変調されることによって発生されており、ビット遅延干渉計１０に入力される。ビット遅延干渉計１０は、空間伝搬路を用いたマイケルソン型の干渉計で構成されており、入力された光位相変調信号をビームスプリッタ（ＢＳ）１で、ビット遅延器２としてのコーナーミラー２ａを含んで構成される第１の光路を通る第１の光とコーナーミラー３を含んで構成される第２の光路を通る第２の光に分波するとともに、上記コーナーミラー２ａで反射されて戻ってきた第１の光と上記コーナーミラー３で反射されて戻ってきた第２の光とを合波して干渉させる。それによって、光位相変調信号の位相の変化を光強度の変化に変換し、互いの位相が１８０°（π）異なる２つの光強度変換信号をビームスプリッタ１から出力する。
【００２４】
上述のビット遅延器２は、上記コーナーミラー２ａで構成されており、２つの上記第１及び第２の光路間の遅延量（遅延時間差）が上記シンボルレートの１ビット分に相当する遅延量（時間）になるように、その遅延量分第１の光路の光路長を第２の光路の光路長より長くするもので、シンボルレートに対応するように、コーナーミラー２ａを第１の光路と平行する方向へ移動できるようになっている。コーナーミラー２ａの移動は、遅延量設定手段１２からの指令に基づいて行われる。
【００２５】
シンボルレートに対するコーナーミラー２ａの移動量Ｌ（２光路間の光路長差のない状態からの移動量）は、次のように求められる。すなわち、シンボルレートをＳＲ［ｂｐｓ］とすると、１ビットに相当する遅延時間ｔ［ｓｅｃ］は、ｔ＝１／ＳＲとなる。そして、移動量Ｌは、Ｌ＝（ｃ×ｔ）／２となる。ここで、ｃは光速である。具体例を示すと、ＳＲ＝４０Ｇｂｐｓの場合には、ｔ＝２５ｐｓでありＬ１＝３．２５ｍｍとなる。また、ＳＲ＝２０Ｇｂｐｓの場合には、ｔ＝５０ｐｓでありＬ２＝７．５ｍｍとなる。
【００２６】
上述のコーナーミラー２ａは、上記のようにビット遅延器２を構成するとともに、ビームスプリッタ１から入力される第１の光を反射してビームスプリッタ１に戻す。また、上述のコーナーミラー３は、ビームスプリッタ１から入力される第２の光を反射してビームスプリッタ１に戻す。
【００２７】
次に、光波形測定部１１は、ビット遅延干渉計１０から出力される、互いの位相が１８０°（π）異なる２つの光強度変換信号の一方を電気信号に変換（Ｏ／Ｅ変換）し、得られた電気信号波形のデータ処理を行って光位相変調信号の波形の観測、位相変調特性の測定等を行う。光波形測定部１１として、光サンプリングオシロスコープを用いることができる。なお、図１では、２つの光強度変換信号の一方を光波形測定部１１に入力する場合、すなわちシングル受信の場合を示しているが、２つの光強度変換信号の双方を入力するようにしてもよい。その場合には、光波形測定部１１においてバランスド受信ができ、測定の受光感度をシングル受信の場合より良くすることができる。
【００２８】
遅延量設定手段１２は、操作部等（図示しない）から入力されるシンボルレート指定信号（光位相変調信号のシンボルレートを指定する）を受け、このシンボルレート指定信号に基づいて、ビット遅延器２の遅延量を設定する。具体的には、シンボルレート指定信号がシンボルレート４０Ｇｂｐｓを指定している場合には、ビット遅延器２としてのコーナーミラー２ａをＬ１＝３．２５ｍｍ移動させ、またシンボルレート２０Ｇｂｐｓを指定している場合には、コーナーミラー２ａをＬ２＝７．５ｍｍ移動させるように制御する。
【００２９】
なお、この第１実施形態のビット遅延器２としては、図１に示したものの他に図２〜図  ６に示すものでもよい。
【００３０】
すなわち、図２に示すビット遅延器２においては、２種類のシンボルレートに対応するように、一方のシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を与えるための厚さｄ１をもつ透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の平行板２ｂと、他方のシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を与えるための厚さｄ２をもつ透過性材質の平行板２ｃとが、遅延量設定手段１２からの指令に基づいて、光路に対して直交する方向に移動して切り替えられるようになっている。この場合において、コーナーミラー２ａは、上記の２つの平行板２ｂ、２ｃのいずれもが光路に設定されていない状態で２つの光路の光路長が等しくなるようにその位置が固定されている。
【００３１】
シンボルレートに対する平行板の厚さｄは、上述した１ビットに相当する遅延時間ｔ＝１／ＳＲ［ｓｅｃ］（ＳＲ：シンボルレート［ｂｐｓ］）を用いて、ｄ＝（ｃ×ｔ）／２（ｎ−１）で求められる。ここで、ｎは平行板（透過性材質）の屈折率、ｃは光速である。平行板にガラス（ｎ＝１．５）を用いたときの具体例を示すと、ＳＲ＝４０Ｇｂｐｓの場合には、ｔ＝２５ｐｓでありｄ＝７．５ｍｍとなる。また、ＳＲ＝２０Ｇｂｐｓの場合には、ｔ＝５０ｐｓでありｄ＝１５ｍｍとなる。したがって、シンボルレート４０Ｇｂｐｓの場合には、ｄ１＝７．５ｍｍのガラスの平行板２ｂを、またシンボルレート２０Ｇｂｐｓの場合には、ｄ２＝１５ｍｍのガラスの平行板２ｃを光路に挿入すればよい。なお、ここでは、２種類のシンボルレートに対応する場合について説明したが、シンボルレートの数が増えても同様である。また、図２では、第１の光が平行板２ｂ、２ｃを２回透過するようにしたが、１回のみ透過するように平行板２ｂ、２ｃを光路に挿入するようにしてもよい。その場合、平行板２ｂ、２ｃのそれぞれの厚さは、上記の２倍（ｄ１＝１５ｍｍ、ｄ２＝３０ｍｍ）となる。
【００３２】
また、図３に示すビット遅延器２においては、２種類のシンボルレートに対して、コーナーミラー２ａと、第１の光路に挿入される、所定の遅延量を与えるための厚さｄ３をもつ透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の平行板２ｅとで、それぞれのシンボルレートの１ビットに相当する遅延量が設定されるようになっている。つまり、一方のシンボルレートに対応するようにコーナーミラー２ａの位置が固定され、そして、他方のシンボルレートに対応するように、平行板２ｅが、遅延量設定手段１２からの指令に基づいて、光路に対して直交する方向に移動して挿入される。
【００３３】
ＳＲ＝４０Ｇｂｐｓ及びＳＲ＝２０Ｇｂｐｓの場合についてのコーナーミラー２ａの固定位置、平行板２ｅの厚さｄ３は次のようになる。すなわち、コーナーミラー２ａの固定位置は、ＳＲ＝４０Ｇｂｐｓに対応させて、上述した移動量Ｌ（２光路間の光路長差のない状態からの移動量）のＬ１＝３．２５ｍｍとなる。そして、平行板２ｅの厚さｄ３は、ＳＲ＝２０Ｇｂｐｓに対応させて、上述したＳＲ＝４０Ｇｂｐｓに対するＳＲ＝２０Ｇｂｐｓのコーナーミラー２ａの移動量Ｌの差分（ΔＬ＝Ｌ２−Ｌ１＝３．２５ｍｍ）だけ光路長を長くするように決められる。したがって、平行板２ｅの厚さｄ３は、上述したｄ＝（ｃ×ｔ）／２（ｎ−１）で求められる。ここで、（ｃ×ｔ）／２は上記の差分ΔＬ＝３．２５ｍｍであるので、平行板２ｅにガラス（ｎ＝１．５）を用いた場合は、ｄ３＝７．５ｍｍとなる。なお、ここでは、２種類のシンボルレートに対応する場合について説明したが、シンボルレートの数が増えても同様である。また、図３では、第１の光が平行板２ｅを２回透過するようにしたが、１回のみ透過するように平行板２ｅを光路に挿入するようにしてもよい。その場合、平行板２ｅの厚さは、上記の２倍（ｄ３＝１５ｍｍ）となる。
【００３４】
また、図４に示すビット遅延器２においては、２種類のシンボルレートに対応するように、シンボルレートに対応して所定の遅延量を与えるための厚さｄ４をもつ透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の２枚の平行板２ｆ１、２ｆ２をペアにし、また同様に厚さｄ５をもつ透過性材質の２枚の平行板２ｇ１、２ｇ２をペアにして、これら２個のペアの平行板２ｆ１、２ｆ２及び平行板２ｇ１、２ｇ２はそれぞれ光の入射角と出射角が等しくなるようにかつシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を与えるようにハの字型に配置されている。そして、２種類のシンボルレートに対応した上記２個のペアは、遅延量設定手段１２からの指令に基づいて、光路に対して直交する方向に移動して切り替えられるようになっている。この場合において、コーナーミラー２ａは、上記２個のペアのいずれもが光路に設定されていない状態で２つの光路の光路長が等しくなるようにその位置が固定されている。
【００３５】
上記のように、それぞれのペアにおいて２枚の平行板２ｆ１、２ｆ２及び平行板２ｇ１、２ｇ２がハの字型に配置されることによって、ビット遅延器２からビームスプリッタ１への反射を防止でき、かつ遅延量の切り替え時の光線の移動（ビームシフト）を抑えることができる。ビームシフトが大きい場合には干渉強度への影響を生じる。なお、ここでは、２種類のシンボルレートに対応する場合について説明したが、シンボルレートの数が増えても同様である。また、上記２個のペアをそれぞれ第１の光路に挿入する場合、平行板２ｆ１、２ｆ２及び平行板２ｇ１、２ｇ２を図５に示すようなハの字型に配置してもよい。
【００３６】
また、図６に示すビット遅延器２においては、２種類のシンボルレートに対して、コーナーミラー２ａと、第１の光路に挿入される、所定の遅延量を与えるための厚さｄ６をもつ透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の２枚の平行板２ｈ１、２ｈ２（この２枚の平行板２ｈ１、２ｈ２は光の入射角と出射角が等しくなるようにかつシンボルレートに対応した所定の遅延量を与えるようにハの字型に配置されている）のペアとで、それぞれのシンボルレートの１ビットに相当する遅延量が設定されるようになっている。つまり、一方のシンボルレートに対応するようにコーナーミラー２ａの位置が固定され、そして、他方のシンボルレートに対応するように、上記ペアが、遅延量設定手段１２からの指令に基づいて、光路に対して直交する方向に移動して挿入される。
【００３７】
ＳＲ＝４０Ｇｂｐｓ及びＳＲ＝２０Ｇｂｐｓの場合についてのコーナーミラー２ａの固定位置、２枚の平行板２ｈ１、２ｈ２の厚さｄ６は次のようになる。すなわち、コーナーミラー２ａの固定位置は、ＳＲ＝４０Ｇｂｐｓに対応させて、上述した移動量Ｌ（２光路間の光路長差のない状態からの移動量）のＬ１＝３．２５ｍｍとなる。そして、２枚の平行板２ｈ１、２ｈ２の厚さｄ６は、ＳＲ＝２０Ｇｂｐｓに対応させて、上述したＳＲ＝４０Ｇｂｐｓに対するＳＲ＝２０Ｇｂｐｓのコーナーミラー２ａの移動量Ｌの差分（ΔＬ＝Ｌ２−Ｌ１＝３．２５ｍｍ）だけ光路長を長くするように決められる。
【００３８】
上記のように、２枚の平行板２ｈ１、２ｈ２がハの字型に配置されることによって、ビット遅延器２からビームスプリッタ１への反射を防止でき、かつ遅延量の切り替え時のビームシフトを抑えることができる。なお、ここでは、２種類のシンボルレートに対応する場合について説明したが、シンボルレートの数が増えても同様である。また、図６では、第１の光が上記ペアを２回透過するようにしたが、１回のみ透過するように上記ペアを光路に挿入するようにしてもよい。
【００３９】
［第２実施形態］
本発明の第２実施形態の光位相変調評価装置の構成を図７に示す。図１に示した第１実施形態とは、上述したビット遅延干渉計１０の第２の光路に、第１の光路と第２の光路の光位相差の１周期分変化させられるような遅延量を任意に設定できる光位相遅延器４を設け、その光位相遅延器４をコーナーミラー３で構成するとともに、このコーナーミラー３を位相制御手段１３からの制御に基づいて第２の光路と平行する方向へ移動させて、光位相遅延器４の遅延量を任意に設定できるようにした点のみが異なる。したがって、説明は省略する。
【００４０】
なお、この第２実施形態の光位相遅延器４としては、図７に示したものの他に図８、図９に示すものでもよい。
【００４１】
すなわち、図８に示す光位相遅延器４においては、光位相遅延器４が第１の光路に図８のように配置された、所定の遅延量を与えるための厚さｄ７をもつ透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の平行板４ａで構成されている。位相制御手段１３からの指令に基づいて、平行板４ａを回転してこの平行板４ａへの光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できるようになっている。この構成の場合、平行板４ａの回転によってビームシフトを発生するが、その量は波長オーダーで小さく、干渉強度にはほとんど影響しない。なお、図８では、光位相遅延器４を第１の光路に設けるようにしたが、第２の光路に設けるようにしてもよい。また、図８では、第１の光が平行板４ａを２回透過するようにしたが、１回のみ透過するように平行板４ａを光路に挿入するようにしてもよい。
【００４２】
また、図９に示す光位相遅延器４においては、所定の遅延量を与えるための厚さｄ８をもつ透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の２枚の平行板４ｂ１、４ｂ２をペアにして、このペアの平行板４ｂ１、４ｂ２は光の入射角と出射角がほぼ等しくなるようにハの字型に配置されている。そして、位相制御手段１３からの指令に基づいて、２枚の平行板４ｂ１、４ｂ２の少なくともいずれか一方を回転してこの平行板４ｂ１、４ｂ２への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できるようになっている。なお、ペアの平行板４ｂ１、４ｂ２を光の入射角と出射角が等しくなるようにハの字型に配置し、かつ、これら平行板４ｂ１、４ｂ２を連動させて互いに逆方向に回転させるようにした場合には、反射を抑えるとともに遅延量の設定時のビームシフトを抑えることができる。また、図９では、光位相遅延器４を第１の光路に設けるようにしたが、第２の光路に設けるようにしてもよい。
【００４３】
［第３実施形態］
本発明の第３実施形態の光位相変調評価装置の構成を図１０に示す。図７に示した第２実施形態とは、上述したビット遅延干渉計１０のビームスプリッタ１から出力された２つの光強度変換信号の通る光路のいずれか一方の光路に、これら２つの光強度変換信号に対して相対的な遅延時間を与えるための、上記一方の光路の光路長を変化させる光出力信号遅延器５を設けるようにした点のみが異なる。
【００４４】
光出力信号遅延器５は、図１０に示すように、４つのミラー５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄと図示しない可動部から構成され、そのうち、２つのミラー５ａ、５ｂがコーナーミラーを形成し、可動部はコーナーミラーを矢印方向に移動させる。そして、コーナーミラーを移動して、ミラー５ｂとミラー５ｃの間及びミラー５ａとミラー５ｄの間の光路長を可変して、２つの光強度変換信号の位相差を調整する。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本発明の第１実施形態の構成を示す図
【図２】本発明のビット遅延器の別の構成を説明するための図
【図３】本発明のビット遅延器の別の構成を説明するための図
【図４】本発明のビット遅延器の別の構成を説明するための図
【図５】本発明のビット遅延器の別の構成を説明するための図
【図６】本発明のビット遅延器の別の構成を説明するための図
【図７】本発明の第２実施形態の構成を示す図
【図８】本発明の光位相遅延器の別の構成を説明するための図
【図９】本発明の光位相遅延器の別の構成を説明するための図
【図１０】本発明の第３実施形態の構成を示す図
【図１１】従来例の概略構成を示す図
【符号の説明】
【００４６】
１・・・ビームスプリッタ（ＢＳ）、２，２０ｆ・・・ビット遅延器、２ａ，３，５ａ，５ｂ・・・コーナーミラー、２ｂ，２ｃ，２ｅ，２ｆ１、２ｆ２，２ｇ１、２ｇ２，２ｈ１、２ｈ２，４ａ，４ｂ１，４ｂ２・・・平行板、４・・・光位相遅延器、５・・・光出力信号遅延器、１０，２０・・・ビット遅延干渉計、１１・・・光波形測定部、１２・・・遅延量設定手段、１３・・・位相制御手段、２０ａ，２０ｇ，２０ｈ・・・ポート、２０ｂ・・・分波部、２０ｃ，２０ｄ・・・アーム、２０ｅ・・・合波部、２１・・・受光器（ＰＤ）、２２・・・信号処理部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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