【手続補正書】
【提出日】平成25年6月19日(2013.6.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物体の、特に個々の蛍光色素分子の２次元または３次元の位置調整のための、好ましくは試料の空間的な高解像度の蛍光顕微鏡検査法のための高解像度顕微鏡であって、該試料はマーキング分子によってマーキングされており、該マーキング分子は信号によって活性化されたまたは切り替えられた状態で、初めて蛍光ビームの放出のために励起可能であるように活性化が可能または切り替え可能であり、その際この方法は、
１）試料中に存在するマーキング分子のただ１つのサブセットだけが活性化されるよう試料に信号を与えるステップであって、その際試料に部分領域が存在し、その中で活性化されたマーキング分子が最も近くで隣接した活性化されたマーキング分子に対して少なくとも１つの間隔を空けており、この間隔の大きさがあらかじめ定められた光学解像度から生じた長さより大きいかまたは同じである、前記試料に信号を与えるステップと、
２）活性化された分子を励起して蛍光ビームを放出するステップと、
３）あらかじめ定められた光学解像度を使用して蛍光ビームを検出するステップと、
４）ステップ３）で記録した蛍光ビームから単一画像を生成するステップであって、その際蛍光ビームを放出するマーキング分子の幾何学的位置が、あらかじめ定められた光学解像度によって高められた空間解像度を使用して算出される、前記単一画像を生成するステップと
を含み、その際Ｚ方向における検出の分割によるマルチレベル検出が、
結像ビーム路内にアナモルフィックレンズ、好ましくは円柱レンズが配置されているか、
または少なくとも１つのビームスプリッタが検出ビーム経路を少なくとも２つの部分ビーム経路に分割するために備えられており、該部分ビーム経路が検出レベル中で互いに空間的にずれていること、
活性化源または切り替え源として、非直線試料励起のためのショートパルスレーザが備えられていること、
ショートパルスレーザによる非直線励起のための点スキャナまたはラインスキャナが備えられていること
によって行われる、高解像度顕微鏡。
【請求項２】
ｇ）試料範囲を選択的に活性化または切り替えるための手段を備えられていること、
ｄ）非直線励起は２光子励起であること、
ｈ）選択的に活性化または切り替えるための手段がＡＯＴＦ、ＳＬＭまたはＤＭＤであること、
ｉ）試料を励起するために広視野照明および広視野照明検出が備えられていること、
ｌ）テレスコピックビーム路内で分割されたビーム成分が画像レベル内または試料内で統合されること、
ｍ）多光子切り替えまたは活性化のためにマイクロレンズアレイ、好ましくは円柱レンズアレイが備えられていること、
ｎ）ラインスキャンする装置が切り替えまたは活性化のためにおよび励起のために備えられていること、
ｏ）ライン検出のために空間分解センサが備えられており、その際スリット絞りが、それぞれ複数のセンサ列から成る少なくとも２つのセンサ列が試料光によって照らされるように開かれていること、
ｐ）センサが隣り合って、または連結されて、または４５度の配置で備えられていること、
ｑ）顕微鏡のために画像スプリッタ装置が備えられていること
の特徴のうちの少なくとも１つを有する、請求項１に記載の高解像度顕微鏡。
【請求項３】
光学的経路長を延長する、試料から来ている検出光の少なくとも第２の部分が検出ビーム経路から隠され、および検出ビーム経路への偏向手段を介して、少なくとも第２の検出ビーム経路内に導かれる、請求項１又は２に記載の高解像度顕微鏡。
【請求項４】
前記検出光の少なくとも前記第２の部分が、別の偏向手段を介して検出の方向に、面レシーバ上に隣り合って少なくとも２つの部分領域に検出光が当てられるように方向を戻される、請求項３に記載の高解像度顕微鏡。
【請求項５】
検出光の少なくとも第２の部分が、少なくとも部分的に光学的経路長を延長するために、光学的要素内で、第１の検出ビーム経路に対して高められた光学的密度で伸びる、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の高解像度顕微鏡。
【請求項６】
前記光学的要素がある角度で、好ましくは第１の検出ビーム経路の光学軸に対して垂直に、光学的経路長を調整するために、スライド可能に形成されており、少なくともその入光側および出光側に平坦な面を備えている、請求項５に記載の高解像度顕微鏡。
【請求項７】
少なくとも第２の検出ビーム経路内で第１のビーム偏向の後ろにプリズムが、好ましくはガラスプリズムが、第１の検出ビーム経路に対して平行に、経路長の延長方向に偏向するためにおよび向きを戻すために備えられている、請求項１乃至６のいずれか１項に記載の高解像度顕微鏡。
【請求項８】
前記プリズムが、前記第２の検出ビーム経路の平行な部分によって通り抜けられ、および好ましくは光学的経路長の調整のために光学軸に対して垂直にスライド可能であるよう形成される、請求項７に記載の高解像度顕微鏡。
【請求項９】
試料から検出器へのテレセントリックビーム路を備えている、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の高解像度顕微鏡。
【請求項１０】
部分的に透明なミラーおよび偏向要素を介して４つの検出ビーム経路への分割が行われ、該検出ビーム経路が互いにずらされて１つまたは複数の検出器上に当たり、その際好ましくは３つの部分的に透明なミラーおよび３つの偏向要素が、分割のために備えられており、および該部分的に透明なミラーが好ましくは、伝送されたビームと反射されたビームとの間の分割比率２５／７５、６６／３３、および５０／５０を有している、請求項１乃至９のいずれか１項に記載の高解像度顕微鏡。
【請求項１１】
物体の、特に個々の蛍光色素の２次元または３次元の位置調整のための、好ましくは試料の空間的な高解像度の蛍光顕微鏡検査法のための方法であって、該試料はマーキング分子によってマーキングされており、該マーキング分子は信号によって、それが活性化されたまたは切り替えられた状態で初めて蛍光ビームの放出のために励起可能であるように活性化が可能または切り替え可能であり、その際この方法は、
１）試料中に存在するマーキング分子のただ１つのサブセットだけが活性化されるよう試料に信号を与えるステップであって、その際試料に部分領域が存在し、その中で活性化されたマーキング分子が最も近くで隣接した活性化されたマーキング分子に対して少なくとも１つの間隔を空けており、この間隔の大きさがあらかじめ定められた光学解像度から生じた長さより大きいかまたは同じである、前記信号を与えるステップと、
２）活性化された分子を励起して蛍光ビームを放出するステップと、
３）あらかじめ定められた光学解像度を使用して蛍光ビームを検出するステップと、
４）ステップ３）で記録した蛍光ビームから単一画像を生成するステップであって、その際蛍光ビームを放出するマーキング分子の幾何学的位置が、あらかじめ定められた光学解像度によって高められた空間解像度を使用して算出されている、前記単一画像を生成する
ステップと
を含み、その際Ｚ方向における検出の分割によるマルチレベル検出が、
結像ビーム路内にアナモルフィックレンズ、好ましくは円柱レンズが配置されているか、
または少なくとも１つのビームスプリッタにより、検出ビーム経路が少なくとも２つの部分ビーム経路に分割され、その際該部分ビーム経路が互いに空間的にずれていること、
活性化または切り替えを、非直線試料励起のためのショートパルスレーザによって行うこと、該活性化または切り替えを、点状またはライン状にスキャンしながら行うこと
によって行われる、高解像度顕微鏡法。
【請求項１２】
ｇ）試料範囲の選択的な活性化または切り替えを行うこと、
ｄ）非直線励起は２光子励起であること、
ｈ）選択的に活性化または切り替えるための手段がＡＯＴＦ、ＳＬＭまたはＤＭＤであること、
ｉ）試料を励起するために広視野照明および広視野照明検出が備えられていること、
ｌ）テレスコピックビーム路内で分割されたビーム成分が画像レベル内または試料内で統合されること、
ｍ）多光子切り替えまたは活性化のためにマイクロレンズアレイ、好ましくは円柱レンズアレイが備えられていること、
ｎ）ラインスキャンする装置が切り替えまたは活性化のためにおよび励起のために備えられていること、
ｏ）ライン検出のために空間分解センサが備えられており、その際スリット絞りが、それぞれ複数のセンサ列から成る少なくとも２つのセンサ列が試料光によって照らされるように開かれていること、
ｐ）センサが隣り合って、または連結されて、または４５度の配置で備えられていること
の特徴のうちの少なくとも１つを有する、請求項１１に記載の高解像度顕微鏡法。