【誤訳訂正書】
【提出日】平成25年4月3日(2013.4.3)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１つ以上のベンダーハードウェアモジュールを介して１つの試験コントローラへと接続された少なくとも２つの被試験デバイス（ＤＵＴ）を含む１つの並列試験システムにおいて複数の試験をスケジューリングする方法であって、
１つの所定の試験フローに配置される複数の試験を含む１つの試験計画を受け取る工程であって、前記所定の試験フローは、１つの有向グラフに配置された複数の試験を含み、各試験は前記有向グラフにおいて１つの頂点として配置される工程と、
ランタイムにおいて前記試験計画に従って１つの試験実行スケジュールを決定する工程であって、前記試験実行スケジュールは、前記少なくとも２つのＤＵＴの現在の状態に従って実行するべき複数の次回試験の１組を特定し、前記複数の次回試験の１組は、複数の異なるＤＵＴに対して実行される複数の異なる試験を含む工程と、
前記試験実行スケジュールを用いて前記少なくとも２つのＤＵＴを試験する工程と、
前記少なくとも２つのＤＵＴに対する１つの試験における複数の結果に従って複数のＤＵＴ状態を作成する工程であって、複数のＤＵＴ状態は、現在試験が実行されているまたは実行されようとしている状態のａｃｔｉｖｅ、試験の状態が保留される状態のｏｎ‐ｈｏｌｄ、試験から永久に除外された状態のｒｅｊｅｃｔｅｄ、定義された全てのＤＵＴを含むｄｅｆｉｎｅｄ、使用が可能とされた状態のｌｏａｄｅｄ、及び前記ｌｏａｄｅｄの状態であって試験から永久に除外されていない状態のｍｅａｓｕｒａｂｌｅの複数の状態を含む工程と、
前記少なくとも２つのＤＵＴの現在の状態に従って、前記少なくとも２つのＤＵＴに対して異なる試験を実行する工程と
を含む方法。
【請求項２】
前記有向グラフは、複数の有向辺に階層的に接続された複数の頂点を含み、前記有向グラフの各頂点は１つの試験を表し、各頂点は０個以上のサブフローを含み、
前記有向グラフの各有向辺は、１つの移行元試験から１つの移行先試験への、当該移行元試験の結果に基づいた、１つの移行を示す
ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
ランタイムにおいて１つの試験実行スケジュールを決定する前記工程は、
前記試験フローが有向閉路を含まないかを判定する工程と、
前記試験フローが有向閉路を含むとき、前記少なくとも２つのＤＵＴを試験するために通行するべき複数の頂点の次の１組を決定する工程と、
前記通行するべき複数の頂点の次の１組に従って複数の試験を実行する工程と
を含むことを特徴とする、請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
通行すべき複数の頂点の次の１組を決定する前記工程は、深さ優先遷移と幅優先遷移からなる群から選択される１つの通行メカニズムを適用する工程を含むことを特徴とする、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
複数のＤＵＴ状態を作成する前記工程は、１つの試験における、前記少なくとも２つのＤＵＴの不合格に基づいて、前記複数のＤＵＴ状態を分類する工程を含むことを特徴とする、請求項１から４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
ランタイムにおいて１つの試験実行スケジュールを決定する前記工程は、
前記試験フローが有向閉路を含まないかを判定する工程と、
前記試験フローが有向閉路を含まないとき、前記少なくとも２つのＤＵＴを試験するために通行するべき複数の頂点の次の１組を決定する工程と、
前記通行するべき複数の頂点の次の１組に従って複数の試験を実行する工程と
を更に含むことを特徴とする、請求項１から５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
前記複数の頂点の次の１組は１つのトポロジー的順序に配置されており、いずれの頂点も１回より多くは通行されないことを特徴とする、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
パターンデータを前記少なくとも２つのＤＵＴに対して自動的に複製する工程と、
複数の試験条件を前記少なくとも２つのＤＵＴに対して自動的に複製する工程と
を更に含む、請求項１から７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項９】
１つの試験コントローラと、
前記試験コントローラに接続された１つ以上のハードウェアモジュールと、
各ハードウェアモジュールに並列に接続された少なくとも２つの被試験デバイス（ＤＵＴ）と、
１つの所定の試験フローに配置される複数の試験を含む１つの試験計画を受け取る手段であって、前記所定の試験フローは１つの有向グラフに配置された複数の試験を含み、各試験は前記有向グラフにおいて１つの頂点として配置される手段と、
ランタイムにおいて前記試験計画に従って１つの試験実行スケジュールを決定する手段であって、前記試験実行スケジュールは前記少なくとも２つのＤＵＴの現在の状態に従って、実行するべき複数の次回試験の１組を特定し、前記複数の次回試験の１組は、複数の異なるＤＵＴに対して実行される複数の異なる試験を含む手段と、
前記試験実行スケジュールを用いて前記少なくとも２つのＤＵＴを試験する手段と
前記少なくとも２つのＤＵＴに対する１つの試験における複数の結果に従って複数のＤＵＴ状態を作成する手段であって、複数のＤＵＴ状態は、現在試験が実行されているまたは実行されようとしている状態のａｃｔｉｖｅ、試験の状態が保留される状態のｏｎ‐ｈｏｌｄ、試験から永久に除外された状態のｒｅｊｅｃｔｅｄ、定義された全てのＤＵＴを含むｄｅｆｉｎｅｄ、使用が可能とされた状態のｌｏａｄｅｄ、及び前記ｌｏａｄｅｄの状態であって試験から永久に除外されていない状態のｍｅａｓｕｒａｂｌｅの複数の状態を含む手段と、
前記少なくとも２つのＤＵＴの現在の状態に従って、前記少なくとも２つのＤＵＴに対して異なる試験を実行する手段と
を含む並列試験システム。
【請求項１０】
前記有向グラフは複数の有向辺に階層的に接続された複数の頂点を含み、前記有向グラフの各頂点は１つの試験を表し、各頂点は０個以上のサブフローを含み、
前記有向グラフの各有向辺は、１つの移行元試験から１つの移行先試験への、当該移行元試験の結果に基づいた、１つの移行を示す
ことを特徴とする、請求項９に記載の並列試験システム。
【請求項１１】
ランタイムにおいて１つの試験実行スケジュールを決定する前記手段は、
前記試験フローが有向閉路を含まないかを判定する手段と、
前記試験フローが有向閉路を含むとき、前記少なくとも２つのＤＵＴを試験するために通行するべき複数の頂点の次の１組を決定する手段と、
前記通行するべき複数の頂点の次の１組に従って複数の試験を実行する手段と
を含むことを特徴とする、請求項９または１０に記載の並列試験システム。
【請求項１２】
通行すべき複数の頂点の次の１組を決定する前記手段は、深さ優先遷移と幅優先遷移からなる群から選択される１つの通行メカニズムを適用する手段を含むことを特徴とする、請求項１１に記載の並列試験システム。
【請求項１３】
複数のＤＵＴ状態を作成する前記手段は、１つの試験における、前記少なくとも２つのＤＵＴの不合格に基づいて、前記複数のＤＵＴ状態を分類する手段を含むことを特徴とする、請求項９から１２のいずれか一項に記載の並列試験システム。
【請求項１４】
ランタイムにおいて１つの試験実行スケジュールを決定する前記手段は、
前記試験フローが有向閉路を含まないかを判定する手段と、
前記試験フローが有向閉路を含まないとき、前記少なくとも２つのＤＵＴを試験するために通行するべき複数の頂点の次の１組を決定する手段と、
前記通行するべき複数の頂点の次の１組に従って複数の試験を実行する手段と
を更に含むことを特徴とする、請求項９から１３のいずれか一項に記載の並列試験システム。
【請求項１５】
前記複数の頂点の次の１組は１つのトポロジー的順序に配置されており、いずれの頂点も１回より多くは通行されないことを特徴とする、請求項１４に記載の並列試験システム。
【請求項１６】
パターンデータを前記少なくとも２つのＤＵＴに対して自動的に複製する手段と、
複数の試験条件を前記少なくとも２つのＤＵＴに対して自動的に複製する手段と
を更に含む、請求項９から１５のいずれか一項に記載の並列試験システム。