(57)【要約】【課題】ＥＣＵのリセット処理後再起動の時間を短縮し早期に電装品への制御を開始すると共に、メモリ異常が繰り返し検知された場合であっても電装品の誤動作やＥＣＵのリセット処理の反復を防止する。【解決手段】車両に搭載されたＲＯＭ１５と、所定周期で周期処理を行うＣＰＵ１３とを備えた電子制御ユニット１０を備え、起動時に第１のリセット処理を開始してＣＰＵ１３は周期処理を実行すると共に、周期処理の空き時間にＲＯＭのチェックを行い、メモリチェックで異常を検知した場合には、ＣＰＵ１３が自動的に第２のリセット処理を行い、第２のリセット処理後ＣＰＵ１３の周期処理の開始前に、再びＲＯＭのチェックを行い、該メモリチェックによりＲＯＭ異常を検知した場合には、メモリチェックを繰り返して周期処理を行わないことを特徴とする。【選択図】図４
2008210096.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
車両に搭載された電装品を動作させるアプリケーションおよびデータがメモリされた記憶部と、所定周期で前記アプリケーションの起動を含む周期処理を行う演算処理部を有する電子制御ユニットを備え、
起動時に第１のリセット処理を開始して初期設定を行い、前記演算処理部は前記周期処理を行うと共に、前記周期処理が開始してから前記所定周期が終了するまでの空き時間に前記記憶部のメモリチェックを行い、
前記メモリチェックでメモリ異常が検知された場合には、前記演算処理部が自動的に第２のリセット処理を行い、
前記第２のリセット処理後に、前記演算処理部の周期処理の開始前に前記メモリのチェックを行ってメモリ異常の検知時にメモリチェックを繰り返し、前記演算処理部による周期処理を行わないことを特徴とする電子制御ユニットのメモリチェックシステム。
【請求項２】
前記記憶部にはメモリ異常回数カウンタを備え、メモリ異常が所定回数以上検知された場合、省電力モードへ移行する請求項１に記載の電子制御ユニットのメモリチェックシステム。
【請求項３】
前記第２のリセット処理後のメモリチェックでメモリ異常が検知されない場合、再び前記第２のリセット処理を行った後、前記演算処理部が前記周期処理を実行する請求項１または請求項２に記載の電子制御ユニットのメモリチェックシステム。
【請求項４】
前記記憶部はＲＯＭおよびＲＡＭを備え、前記第１のリセット処理後にＲＡＭチェックおよびＲＡＭの初期化して、前記演算処理部による周期処理を行い、前記空き時間に前記ＲＯＭのチェックを実施する請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載の電子制御ユニットのメモリチェックシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子制御ユニットのメモリチェックシステムに関し、詳しくは、電子制御ユニットのリセット処理後の再起動に要する時間を短縮すると共に、メモリ異常による電装品の誤動作を防止するものである。
【背景技術】
【０００２】
車両に搭載されたライトやパワーウィンドウなどの電装品は、電子制御ユニット（ＥＣＵ）により制御されている。これらＥＣＵは、電装品が電力消費量の大きい高負荷状態となったり、配線にノイズが混入するなどの原因により、一時的にＥＣＵに電力を供給している電源の電圧が下がり、自動車の走行中にリセット処理を行う場合がある。
ＥＣＵがリセット処理を行った場合、演算処理部等の初期設定、記憶されているＲＯＭやＲＡＭのメモリチェック、初期化等処理および各電装品制御用のアプリケーションの起動を含む周期処理を行い、再起動を行っている。
一方、車両や電装品の高性能化に伴い、ＥＣＵも高機能化、高性能化が進んでおり、ＲＯＭやＲＡＭの容量が増加していると共にＥＣＵが処理すべきアプリケーションの数も増大している。
【０００３】
このため、リセット処理されたＥＣＵが再起動し、リセット処理により動作を停止したアプリケーションが再び起動するまでに時間を要するという問題がある。
特に、ＥＣＵがヘッドライトやテールライトなど安全系の電装品を制御している場合、該ＥＣＵがリセット処理を行い、ヘッドライト等の制御用アプリケーションが起動するまでの時間が所定時間を越えて長くなると、点灯していたヘッドライト等が一時的に消灯してしまうなどの問題がある。
【０００４】
リセット処理からアプリケーションの起動までに時間を要する原因のひとつに、ＲＯＭチェック等のメモリチェックを行う時間が長いことが挙げられる。
そこで、例えば、特開平１０−８３３５５号公報（特許文献１）においては、各電装品制御用のアプリケーションの起動を含む周期処理を優先的に行い、時間の要するＲＯＭチェックをメイン周期の余り時間に行う方法が提案されている。
ＥＣＵのリセット処理後の再起動の際に特許文献１の方法を用いると、ＲＯＭのチェックを行なう前に各電装品制御用のアプリケーションが起動するので、ＥＣＵのリセット処理後再起動に要する時間を短縮でき、早期に電装品への制御を開始することができる。
【０００５】
また、特開２００６−１５０９９号公報（特許文献２）においては、電装品の重要度に応じて電装品制御用アプリケーションに優先度を付け、ＥＣＵのリセット処理後には、優先度の高いアプリケーションに関する初期設定、ＲＯＭ、ＲＡＭのメモリチェック、初期化およびアプリケーションの起動を行い、その後に優先度の低いアプリケーションの初期設定等および起動を行っている。
特許文献２においても、時間を要するメモリチェックは優先度の高いアプリケーションに関するものだけを先に行っているので、ＥＣＵのリセット処理後重要な電装品への制御開始までの時間を短縮することができる。
【０００６】
【特許文献１】特開平１０−８３３５５号公報
【特許文献２】特開２００６−１５０９９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、特許文献１においては、全てのＲＯＭチェックが完了する前にアプリケーションが起動するため、ＲＯＭに異常があっても常にアプリケーションが起動してしまい、ＥＣＵがリセット処理を行う度に電装品の誤動作を引き起こす問題がある。
また、ＲＯＭやＲＡＭのメモリチェックにおいてメモリ異常が検知されたときにはＥＣＵが自発的にリセット処理を行う設定とする場合が多い。特許文献２において該設定とした場合、メモリ異常を検知して自発的にリセット処理を行った後もメモリ異常が回復していなければ、電装品の誤動作を引き起こす問題がある。
【０００８】
本発明は、前記問題に鑑みてなされたもので、ＥＣＵのリセット処理後再起動に要する時間を短縮し早期に電装品への制御を開始すると共に、メモリ異常が繰り返し検知された場合であっても電装品の誤動作やＥＣＵのリセット処理の反復を防止することを課題としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するため、本発明は、車両に搭載された電装品を動作させるアプリケーションおよびデータがメモリされた記憶部と、所定周期で前記アプリケーションの起動を含む周期処理を行う演算処理部を有する電子制御ユニットを備え、
起動時に第１のリセット処理を開始して初期設定を行い、前記演算処理部は前記周期処理を行うと共に、前記周期処理が開始してから前記所定周期が終了するまでの空き時間に前記記憶部のメモリチェックを行い、
前記メモリチェックでメモリ異常が検知された場合には、前記演算処理部が自動的に第２のリセット処理を行い、
前記第２のリセット処理後に、前記演算処理部の周期処理の開始前に前記メモリのチェックを行ってメモリ異常の検知時にメモリチェックを繰り返し、前記演算処理部による周期処理を行わないことを特徴とする電子制御ユニットのメモリチェックシステムを提供している。
【００１０】
起動時の第１のリセット処理とは、バッテリ電源との接続などにより電子制御ユニットに電源投入がなされた場合、また、電子制御ユニットに電力を供給している電源電圧の一時的な低下、マイコンの瞬停などの後に再び電子制御ユニットに所定電圧が印加された場合など、電源電圧の変化により行われる電子制御ユニットの起動によるリセット処理を指す。
また、第２のリセット処理とは、マイコンの動作中に自発的にあるいは外部からの指令に応じて割り込み的に行われる演算処理部のリセット処理を指す。
【００１１】
ＥＣＵの起動時の第１のリセット処理時には、記憶部のメモリチェックによりメモリ異常が検知されるか否かは不明であるが、メモリ異常が発生していない場合もあるため、メモリチェックよりもアプリケーションの起動を含む周期処理を優先し、メモリチェックは周期処理が開始してから前記所定周期が終了するまでの周期処理の空き時間に行う。
メモリチェックよりも周期処理を先に行うことで、第１のリセット処理後、電装品制御用のアプリケーションを早期に起動することができ、電装品への制御開始までの時間を短縮することができる。
【００１２】
第１のリセット処理後の周期処理の空き時間でのメモリチェックによりメモリ異常が検知された場合には、演算処理部は自動的に再起動を行う第２のリセット処理を行う。
既に一度メモリ異常を検知しているため、第２のリセット処理後にはアプリケーションの起動を含む周期処理よりも記憶部のメモリチェックを優先する。該メモリチェックにより再びメモリ異常が検知された場合にはメモリチェックを繰り返し行う構成とすることで、メモリ異常が解消するまでは周期処理を実行しないため、アプリケーションが起動せず電装品の誤動作を防ぐことができる。
【００１３】
なお、起動時の第１のリセット処理後から第２のリセット処理前までは記憶部にメモリ異常が発生している場合であっても周期処理が行われてアプリケーションが起動するが、短時間であるため電装品の動作に影響はない。
【００１４】
前記記憶部にはメモリ異常回数カウンタを備え、メモリ異常が所定回数以上検知された場合、省電力モードへ移行することが好ましい。
第２のリセット処理後のメモリチェックにおいて所定回数以上メモリ異常が繰り返して検知された場合には、演算処理部は電子制御ユニットが正常に動作することができないと判断し自らを省電力モードへ移行する。省電力モードとすることで、電子制御ユニットを起動させるためのバッテリの消費を抑えることができる。
【００１５】
前記第２のリセット処理後のメモリチェックでメモリ異常が検知されない場合には、再び前記第２のリセット処理を行った後、前記演算処理部が前記周期処理を実行することが好ましい。
メモリ異常が解消した場合にのみ再び第２のリセット処理を行うことで、メモリ異常を検知する度に電子制御ユニットのリセット処理が繰り返し行われることを防ぐことができる。
また、電子制御ユニットはリセット処理の度に起動信号を同じ通信バスに接続された他の電子制御ユニットに向けて送信するため、電子制御ユニットのリセット処理が繰り返されると不要な信号が通信バスに流れて通信負荷率が上昇するが、電子制御ユニットのリセット処理の繰り返しを防ぐことで、通信バスの通信負荷率の上昇を防ぐことができる。
さらに、同じ通信バスに接続された他の電子制御ユニットは、自身が省電力モードに移行可能な状態であっても起動信号を受信していると省電力モードに移行できないが、電子制御ユニットは繰り返し起動信号を送信することがないので、他の電子制御ユニットは省電力モードへの移行が可能となる。
さらにまた、前記第２のリセット処理後にはメモリチェックよりも前記周期処理を優先して実行するため、前記第２のリセット処理後ＥＣＵを早期に起動することができる。
【００１６】
具体的には、前記記憶部はＲＯＭおよびＲＡＭを備え、起動時の第１のリセット処理後にＲＡＭチェックおよびＲＡＭの初期化して、前記演算処理部による周期処理を行い、前記空き時間に前記ＲＯＭのチェックを実施している。
【００１７】
本発明のメモリチェックシステムは、エアバックなど安全に関わる電装品や、エンジン・ハンドル制御等走行に関わる電装品を制御する電子制御ユニットに搭載されるものではないことが好ましい。
安全や走行に関わる電装品は、メモリチェックでメモリ異常が検知されてもメモリチェックを繰り返したり省電力モードとならず、動作を継続することが好ましいからである。
【００１８】
本発明のメモリチェックシステムは、安全や走行に関わる電装品以外の電装品、例えばパワーウィンドウ、ドア開閉、ドアロック等のボディ系の電装品を制御する電子制御ユニットに搭載されるものであることが好ましい。
ボディ系の電装品を制御する電子制御ユニットに搭載されることで、電子制御ユニットのリセット処理後、電装品の制御開始までに時間を要さず、さらに、メモリ異常が解消するまではアプリケーションが起動せず、電装品の誤動作を防ぐことができる。
【発明の効果】
【００１９】
前述したように、本発明のメモリチェックシステムによれば、電子制御ユニットの起動時の第１のリセット処理時には、メモリチェックよりもアプリケーションの起動を含む周期処理を優先し、メモリチェックは周期処理が開始してから前記所定周期が終了するまでの周期処理の空き時間に行っているので、第１のリセット処理後電子制御ユニットを早期に起動することができ、電装品への制御開始までの時間を短縮することができる。
【００２０】
さらに、第１のリセット処理後の周期処理の空き時間でのメモリチェックによりメモリ異常を検知した場合には、演算処理部は第２のリセット処理を行い、第２のリセット処理後の起動は周期処理よりもメモリチェックを優先する。該メモリチェックにより再びメモリ異常を検知した場合には、メモリ異常が解消するまではアプリケーションが起動せず、電装品の誤動作を防ぐことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
図１乃至図４は本発明の第１実施形態を示す。
図１は本発明のメモリチェックシステムが搭載された電子制御ユニット１０（ＥＣＵ）のハードウェア構成図を示し、マイコン１１、入出力インターフェース１２を備えている。
マイコン１１は入出力インターフェース１２を介して車載ＬＡＮの通信線２０と接続しており、通信線２０に接続された他の電子制御ユニット１０と情報信号を送受信している。また、イグニッションスイッチ２１等を介して電源２２を接続しており、電源２２が入力されることで第１のリセット処理である電子制御ユニット１０の起動を行っている。
【００２２】
マイコン１１は演算処理部であるＣＰＵ１３、記憶部であるＲＡＭ１４およびＲＯＭ１５、入出力ポート１６を備えている。
ＲＯＭ１５はＣＰＵ１３の動作のためのアプリケーションプログラム及び動作データを記憶している。
ＣＰＵ１３は演算処理、メモリチェック、自己リセット処理等の動作を行うものであり、各動作はアプリケーションプログラムとしてＲＯＭ１５に記憶され、該アプリケーションプログラムをＲＯＭ１５から読み出し、各動作を行っている。
メモリチェックはチェックサム演算によりＲＯＭ１５のメモリチェックを行うものである。
自己リセット処理は第２のリセット処理であり、マイコン１１の動作中に、自発的にあるいは外部からの指令に応じて割り込み的にマイコン１１のリセット処理を行うものである。
演算処理は、電子制御ユニットに接続された電装品を制御するためのアプリケーションの起動を含むメイン周期処理を行っているものであり、その処理結果を入出力ポート１６、通信線２０を介して外部に出力することで、電装品（図示せず）の制御を行っている。
【００２３】
ＲＡＭ１４はＣＰＵ１３が使用するデータの保存場所として利用していると共に、メモリ異常フラグＦのための領域を備えている。メモリ異常フラグＦの領域はＲＯＭチェックでエラーが生じた場合に該エラーを記憶するためのものである。本実施形態では、メモリ異常フラグＦのオンをメモリ異常有り、メモリ異常フラグＦのオフをメモリ異常無しとして、それぞれ４バイトの数値列を用いて表している。メモリ異常フラグＦのオンオフは１ビットの０、１で表すと最も簡単であるが、第１のリセット処理時にＲＡＭ値にノイズが入ると、本来オンであるはずのメモリ異常フラグＦの値がオフとなって記憶されるなど、誤ったフラグの状態がメモリ異常フラグＦに記憶され、メモリ異常フラグＦの値に信頼性がなくなるため、４バイトの数値列を用いて信頼性の向上を図っている。
なお、メモリ異常フラグＦをＲＡＭ１４に設けず、例えばＥＥＰＲＯＭなどの不揮発性メモリに記憶してもよい。
【００２４】
次に、マイコン１１の動作を説明する。
まず、電源２２の投入時のマイコン１１の処理動作について図２および図３を参照して説明する。
ステップＳ１０は起動時の第１のリセット処理であり、バッテリ電源の接続により電子制御ユニット１０に電源２２が投入された場合に、マイコン１１の起動処理を行っている。
ステップＳ１１は起動による初期設定を行っている。ＣＰＵ１３周辺レジスタの内容設定、ＲＯＭ１５からのプログラムの読み込み等を含む一般的な初期設定である。
ステップＳ１２はＲＡＭ１４の全アプリケーションの割当領域のチェック処理を行っている。
ステップＳ１３はＲＡＭ１４の初期化を行っている。
【００２５】
ステップＳ１４はＲＯＭ１５から読み出したアプリケーションのプログラムを起動して実行するメイン周期処理を行っている。ここで、ステップＳ１４からＳ１６までの処理はメイン周期時間に１回行うものである。
ステップＳ１５はメイン周期時間のうち、メイン周期処理を行っていない余り時間にＲＯＭチェックを行っている。ＲＯＭチェックは、ＲＯＭ１５の先頭アドレスから最終アドレスまでメモリ内容を加算し、加算結果であるサム値が所定値と一致すればＲＯＭ１５は正常であると判定し、サム値が所定値と一致しなければＲＯＭ１５に異常があると判定するものである。
ＲＯＭチェックは１回のメイン周期時間内では終了せず、ステップＳ１４からＳ１６までの処理を複数回繰り返すことで最終アドレスまでチェックを行っている。ＲＯＭチェックの詳細については図３に後述する。
【００２６】
ステップＳ１６はメイン周期時間が経過したか否かをチェックしている。メイン周期時間が経過している場合にはステップＳ１４に戻り、新たにメイン周期時間を開始してステップＳ１４のメイン周期処理を行う。メイン周期時間が経過していない場合は、ステップＳ１５に戻りＲＯＭチェックの続きを行う。
【００２７】
次に、ステップＳ１５のＲＯＭチェックの動作について、図３を用いて説明する。
ステップＳ２０ではＲＯＭ１５の先頭アドレスからメモリ内容を順次加算していくＲＯＭチェックサム演算を所定時間行っている。
ステップＳ２１では、加算が最終アドレスまで終了しているか否かを判断している。最終アドレスまで終了していない場合、加算を一時中断し、加算が終了したアドレスを記憶した後にフローチャートを終了して図２のステップＳ１６にリターンする。
【００２８】
ステップＳ１６でメイン周期時間が経過している場合は、図２のステップＳ１４に戻り、新たにステップＳ１４のメイン周期処理を行った後、残り時間でステップＳ１５のＲＯＭチェックの続きを行う。このとき、ステップＳ２０では、前回のＲＯＭチェックで加算したアドレスの次のアドレスから加算を開始する。
このように、ステップＳ１４からＳ１６を繰り返してＲＯＭチェックを行い、最終アドレスまでＲＯＭチェックサム演算が終了した場合にはステップＳ２２に進む。
【００２９】
ステップＳ２２では、ＲＯＭチェックサム演算のサム値が所定値と一致しているか否かを判定している。一致した場合にはＲＯＭ１５に異常がないと判定してステップＳ２３に進む。一致しない場合には、ＲＯＭ１５に異常があると判定して図４に進む。
ステップＳ２３ではＲＯＭチェックの終了処理を行っている。
【００３０】
図３のステップＳ２２でＲＯＭ１５に異常があると判定した場合の動作を図４を用いて説明する。
ステップＳ３０で、ＲＡＭ１４に備えたメモリ異常フラグＦをオンにし、メモリ異常が発生していることを記憶する。
ステップＳ３１ではリセット処理前のフェールセーフ処理を行っている。
ステップＳ３２では第２のリセット処理を行っている。第２のリセット処理は、ＣＰＵ１３が割り込み的に自らマイコン１１の再起動を行うものである。なお、第２のリセット処理ではＣＰＵ１３がリセット処理されるだけであり、ＲＡＭ１４にはリセット処理中も常に電源２２が供給されているため、ＲＡＭ１４に記憶されたメモリ異常フラグＦ等の内容はリセット処理後も保存されている。
【００３１】
ステップＳ３３では、ステップ１１と同様にＣＰＵ１３のリセット処理後の一般的な初期設定を行っている。
ステップＳ３４では、メモリ異常フラグＦがオンか否かを判定している。ステップＳ３０でメモリ異常フラグＦをオンしているので、ステップＳ３４ではメモリ異常フラグＦはオンのままであり、ステップＳ３５に進む。
【００３２】
ステップＳ３５では再びステップＳ２０と同様のＲＯＭチェックサム演算を行っている。
ステップＳ３６で最終アドレスまでＲＡＭ１４の内容の加算が終了したかを判定し、終了していない場合はステップＳ３５に戻って最終アドレスまで加算を繰り返す。最終アドレスまで加算が終了した場合はステップＳ３７に進む。
【００３３】
ステップＳ３７ではサム値が所定値と一致しているか否かを判定している。一致していない場合は、ステップＳ３５に戻り、再びＲＯＭ１５の開始アドレスからＲＯＭチェックサム演算を繰り返す。すなわち、ＲＯＭ１５に異常がある場合には、常にサム値は所定値と一致しないので、ステップＳ３５のＲＯＭチェックサム演算からステップＳ３７の判定までのＲＯＭチェックを繰り返すこととなる。
ＲＯＭチェックを繰り返して、ステップＳ３７でサム値と所定値が一致した場合、即ちサム値が正常になり、ＲＯＭ１５の異常が解消した場合、ステップＳ３８に進む。
ステップＳ３８では、メモリ異常フラグＦをオフにする。
【００３４】
その後、ステップＳ３２の第２のリセット処理に戻り、再び自己リセット処理を行う。ステップＳ３３の初期設定を行い、ステップＳ３４のメモリ異常フラグＦがオンか否かの判定を行う。ここで、ステップＳ３８でメモリ異常フラグＦをオフにしているので、図２のステップＳ１２に戻る。
図２のステップ１２のＲＡＭ１４チェック、ステップＳ１３のＲＡＭ１４初期化を行い、ステップＳ１４からＳ１６をメイン周期時間ごとに１回ずつ処理する。
【００３５】
なお、一度図４のフローチャートの動作を行い、図４から割り込みのステップでステップＳ１４のメイン周期処理を行っている場合には、ステップＳ１５のＲＯＭチェックは行わず、ステップＳ１４のメイン周期処理だけを繰り返してもよい。
また、電源２２の投入時のマイコン１１の処理動作において、図２のステップＳ１１と図４からの割り込みのステップとの間に、メモリ異常フラグがオンか否かを判断するステップがあってもよい。電源投入などの起動時の第１のリセット処理後においては、メモリ異常フラグにはＣＰＵは書き込みを行っていない状態なので、メモリ異常フラグはオンにはならず、ステップＳ１２に進むことになる。
【００３６】
本実施形態によれば、ＥＣＵ１０の電源投入等の第１のリセット処理時には、メモリチェックよりもアプリケーションの起動を含むメイン周期処理を優先し、メモリチェックは周期処理が開始してから前記所定周期が終了するまでの周期処理の空き時間に行うため、第１のリセット処理後ＥＣＵ１０を早期に起動することができ、電装品への制御開始までの時間を短縮することができる。
また、メモリ異常を検知した場合には、第２のリセット処理を行っており、第２のリセット処理後の起動はメイン周期処理よりもメモリチェックを優先するため、メモリ異常が解消するまではアプリケーションが起動せず、電装品の誤動作を防ぐことができる。
なお、本実施形態ではＲＡＭチェックは常に初期設定の後に行っているが、ＲＯＭチェックを常に初期設定の後に行い、第１のリセット処理後メイン周期処理の後にＲＡＭチェックを行うと共に第２リセット処理の後にＲＡＭチェックを行ってもよい。
【００３７】
図５及び図６に本発明の第２実施形態を示す。
ＲＡＭ１４にメモリ異常カウンタＣの領域を設けており、ＣＰＵ１３は第２のリセット処理後のＲＯＭチェックで所定の回数以上メモリ異常を判定した場合には、ＥＣＵを省電力モードに移行している。
【００３８】
第２実施形態の動作を図６を用いて説明する。
電源２２の投入時のマイコン１１の起動の処理動作については図２および図３に示す第１実施形態と同様である。図３のステップＳ２２でＲＯＭ１５に異常があると判定した場合、図６のフローチャートの動作を行う。
【００３９】
第１実施形態と同様に、メモリ異常フラグＦをオン（Ｓ３０）したのち、フェールセーフ処理（Ｓ３１）、第２のリセット処理（Ｓ３２）、初期設定（Ｓ３３）を行う。ステップＳ３４ではメモリ異常フラグＦはオンのままであり、ステップＳ４０に進む。
ステップＳ４０ではメモリ異常カウンタＣをクリアしてゼロにする。
ステップＳ３５でＲＯＭチェックサム演算を最終アドレスまで行い、サム値が所定値と一致しておらず、ＲＯＭ１５が異常の場合には、ステップＳ４１に進む。
ステップＳ４１ではメモリ異常カウンタＣをインクリメント（＋１）する。
【００４０】
ステップＳ４２ではメモリ異常カウンタＣが所定回数以上であるか否かを判定する。所定回数以下であれば、再びステップＳ３５に戻りステップＳ３７の判定までＲＯＭチェックを行い、ステップＳ４２でメモリ異常カウンタＣをインクリメントする。メモリ異常カウンタＣが所定回数以上であれば、ステップＳ４３に進む。
ステップＳ４３では、ＣＰＵ１３はフェールセーフ処理を行っている。
ステップＳ４４ではＣＰＵ１３は自らを省電力モードに移行している。
【００４１】
本実施形態によれば、第２のリセット処理後のメモリチェックにおいて所定回数以上メモリ異常を繰り返して検知する場合には、省電力モードへ移行させているので、ＥＣＵを起動させるためのバッテリの消費を抑えることができる。
なお、他の構成および作用効果は第１実施形態と同様のため、同一の符号を付して説明を省略する。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明である電子制御ユニットの第１実施形態のハードウェア構成図を示す図である。
【図２】電源投入時の電子制御ユニットの動作を示すフローチャートである。
【図３】ＲＯＭチェックのフローチャートである。
【図４】ＲＯＭチェックでメモリ異常が検知された場合のフローチャートである。
【図５】第２実施形態のハードウェア構成図を示す図である。
【図６】第２実施形態を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４３】
１０  電子制御ユニット
１１  マイコン
１３  ＣＰＵ
１４  ＲＡＭ
１５  ＲＯＭ
２０  通信線
２２  電源
Ｃ  メモリ異常カウンタ
Ｆ  メモリ異常フラグ
【図１】
2008210096.tif 000003
【図２】
2008210096.tif 000004
【図３】
2008210096.tif 000005
【図４】
2008210096.tif 000006
【図５】
2008210096.tif 000007
【図６】
2008210096.tif 000008