【誤訳訂正書】
【提出日】平成25年8月7日(2013.8.7)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１５】
図１Ａを参照すると、本発明による、ＯＬＥＤデバイスの経年劣化および駆動トランジスタの閾値電圧の変化を調整する補償駆動回路８の一実施態様の概略図が示される。駆動回路８は、ＯＬＥＤデバイス１０、駆動トランジスタ１３、ＯＬＥＤデバイス１０からの所望の輝度レベルを表すアナログデータ（例えば電圧）を運ぶデータ線２４、スイッチングトランジスタ１５、および選択線２８を含む。ＯＬＥＤディスプレイは駆動回路８のアレイを含むことができる。駆動トランジスタ１３は、電源１１（ＰＶＤＤ）およびＯＬＥＤデバイス１０に接続されている。駆動トランジスタ１３は、時間および／または使用に伴って特性が変化するアモルファスシリコントランジスタまたは他のトランジスタである。選択線２８が稼働すると、スイッチングトランジスタ１５が稼働し、そしてデータ線２４からの電圧が駆動トランジスタ１３のゲート電極３２に印加され、その結果、印加されたデータ線電圧に比例する電流がＯＬＥＤデバイス１０を通る駆動トランジスタ１３のドレインおよびソース電極を流れる。それぞれのＯＬＥＤデバイス１０についての電圧感知回路は、スイッチングトランジスタ１２を含み、ここで第一パラメータ、例えば駆動回路と関連する第一パラメータ信号１４を測定するために、前記ゲート電極も選択線２８に接続される。この第一パラメータは、たとえばＯＬＥＤデバイス１０を通る電圧の関数である電圧出力であってもよく、これはここではＶOLEDと称される。同様に、ＯＬＥＤデバイス１０とアース間に接続された電流測定デバイス１８（例えば負荷レジスタ、電流ミラー、または当該技術分野で既知の他のそのようなデバイス)が、ＯＬＥＤデバイス１０を流れる電流の関数である第二パラメータの測定を可能にし、これは第二パラメータ信号１９を生み出す。制御器１６は、駆動回路を通じてＯＬＥＤデバイス１０を制御する。制御器１６は、入力信号２６および測定された第一と第二パラメータに応答して、ＯＬＥＤデバイス１０の経年劣化による変化を調整するために、データ線２４のアナログ電圧に印加されるオフセット電圧を演算し、および駆動トランジスタ１３の閾値電圧の変化を調整することもできる。制御器１６のいくつかの有用で非限定的な例は、マイクロプロセッサ、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）、およびアプリケーション特有の集積回路（ＡＳＩＣ）を含む。図１Ｂは、本発明による補償駆動回路の別の実施態様の一部の概略図である。この実施態様では、電流測定デバイス１８は、アースではなく電源１１に接続されている。図１ＡおよびＡＢで示される実施態様では、別々の第一および第二パラメータ信号１４および１９が、測定されるべき駆動回路８のそれぞれかまたは一群の駆動回路について提供されることが可能である。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２２】
一つのデバイスに関する輝度効率とｄＶOLEDの関係の例が、図６のグラフに示される。輝度の減少と、△Ｖに対する所定の電流との関係とを測定することによって、ＯＬＥＤデバイス１０に通常の輝度を出力させるために必要な補正信号２５の変化を測定することができる。この測定は、或るモデルシステムに基づいて行い、その後にルックアップテーブルに保存するか、またはアルゴリズムとして使用されることが可能である。制御器１６は、ルックアップテーブルまたはアルゴリズムを含むことができ、それは制御器１６がＯＬＥＤデバイスについてのオフセット電圧を演算することを可能にする。ＯＬＥＤデバイス１０の経年劣化による効率低下を補償するために電流を増加させるだけでなく、駆動トランジスタ１３の閾値電圧の変化およびＯＬＥＤデバイス１０の経年劣化によるＯＬＥＤ電流の変化を補正するために、オフセット電圧が演算されて、完全な補償方法が提供される。これらの変化は制御器１６によって適用されて、光出力を所望の標準輝度値へ補正することができる。ＯＬＥＤデバイスへ印加する信号を制御することによって、一定の輝度出力と所定の輝度での長寿命を有するＯＬＥＤデバイスが得られる。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２３】
ここで図４を参照すると、本発明により駆動トランジスタの閾値電圧の変化およびＯＬＥＤデバイスの経年劣化を調整する、操作方法の第一部の実施態様が示される。この方法について、上述したような、例えばデータ線、選択線、駆動トランジスタ、電源、およびＯＬＥＤデバイスを有する補償駆動回路がまず提示される。ディスプレイが使用される前に、所定の入力信号が一以上のＯＬＥＤデバイス１０に印加され(ステップ 50)、そしてＯＬＥＤデバイス１０の輝度とともに、第一および第二パラメータ (例えばOLED電圧および電流)が測定される(ステップ ５２）。この測定値は制御器１６または別の便利な場所に保存される（ステップ ５４）。このプロセスは繰り返され(ステップ ５６）、そこでは制御器１６が各ＯＬＥＤデバイス１０を所望の輝度レベルの範囲に対して複数の異なる輝度レベルで稼働させる。所定の電流でのOLED 電圧の変化に輝度の変化を関連づけるように、ＯＬＥＤデバイスが使用された後の様々な時期に、この一連のステップが繰り返される（ステップ ５７）。一度、デバイス寿命の間に各ＯＬＥＤデバイス１０についてこのデータが保存されると、ｄＶOLEDが式１を使って決定でき、ＯＬＥＤ効率の変化にｄＶOLEDを関連づける式２を使ってルックアップテーブルまたはアルゴリズムが作成される(ステップ ５８）。このことは、次に、例えば一連の輝度測定値が実用的でない市販ユニットのような、同様の性質のＯＬＥＤディスプレイの補正に使用できる。この補正は、ルックアップテーブルを使用し、当該技術分野で周知の技術を使用して適用することができる。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２４】
ここで、図４Ｂを参照すると、本発明の操作方法の第二の部分の一実施態様が示され、そこではＯＬＥＤディスプレイについて決定された補正が使用される。使用時に、入力信号が制御器１６に印加され（ステップ ６０）、これが続いて個々のＯＬＥＤデバイスを稼働させ、そして第一および第二パラメータ（例えばＯＬＥＤ電圧および電流）が測定される（ステップ ６２）。ＯＬＥＤ特性曲線の移動が提供されることにより、ＯＬＥＤ電圧および電流が、ＯＬＥＤデバイスの経年劣化の測定を提供する。制御器１６は、ｄＶOLEDを決定し、そしてＯＬＥＤ効率についての補正をルックアップし(ステップ ６４）、そしてオフセット電圧を演算し、補正された信号を生成するように各ＯＬＥＤデバイスについて入力信号を補正し(ステップ ６６）、これにより電流の喪失(閾値電圧の変化およびＯＬＥＤデバイスの経年劣化による)およびＯＬＥＤ効率の喪失が補正される。この補正された信号がディスプレイに印加される（ステップ ６８）。このように、この方法は完全な補償方法を提供する。この方法は、生じ得る経年劣化を補償するために、周期的に、例えばあらかじめ決められた期間の後で、または電源オン−オフルーチンの間に実施することができる。続いて、それぞれの新しい入力信号が印加されるときに、制御器が新しい補正された信号を作成し、そしてその補正された信号をディスプレイに印加する。本発明を使用することによって、ディスプレイの連続的な監視が不要となる。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＬＥＤデバイス（１０）の経年劣化および駆動トランジスタ（１３）の閾値電圧Ｖthの変化を調整することによって補償するように構成されたアクティブマトリクスＯＬＥＤ補償回路（８）であって、
ａ．前記ＯＬＥＤデバイス（１０）から所望される輝度レベルを表すアナログデータを運ぶデータ線（２４）および選択線（２８）と、
ｂ．前記選択線（２８）に接続したゲート電極および前記データ線（２４）に接続した第一電極を有する選択トランジスタ（１５）と、
ｃ．電源（１１）に接続した第一電極および前記ＯＬＥＤデバイス（１０）に接続した第二電極を有し、前記選択トランジスタ（１５）の第二電極に接続したゲート電極を有する前記駆動トランジスタ（１３）であって、前記選択線（２８）が稼働し、前記データ線（２４）からの電圧Ｖgが前記駆動トランジスタ（１３）のゲート電極に印加されると、印加された前記電圧Ｖgに比例する電流ＩOLEDが前記駆動トランジスタ（１３）のドレインおよびソース電極を流れ、前記ＯＬＥＤデバイス（１０）を流れる、前記駆動トランジスタ（１３）と、
ｄ．前記データ線（２４）および前記選択線（２８）に接続した制御器（１６）と、
ｅ．スイッチングトランジスタ（１２）を含む電圧感知回路であって、前記スイッチングトランジスタ（１２）は、前記駆動トランジスタ（１３）の前記第二電極、前記選択トランジスタ（１５）および前記制御器（１６）に接続し、前記ＯＬＥＤデバイス（１０）に印加される電圧ＶOLEDの関数である第一パラメータを測定する、電圧感知回路と、
ｆ．前記ＯＬＥＤデバイス（１０）を流れる前記電流ＩOLEDの関数である第二パラメータを測定する、電流測定デバイス（１８）と、
ｇ．前記ＯＬＥＤデバイス（１０）の経年劣化および前記駆動トランジスタ（１３）の前記閾値電圧Ｖthの変化を調整するために、測定した前記第一および第二パラメータに応じて、前記データ線に印加される前記駆動トランジスタ（１３）のゲート電圧Ｖgのオフセット電圧ΔＶを演算するための前記制御器（１６）と、を含んでなり、
前記制御器（１６）は、前記ＯＬＥＤデバイスの経年劣化による前記ＯＬＥＤデバイスに印加される前記電圧の変化（ｄＶOLED、４２）を決定し、前記ＯＬＥＤデバイスの経年劣化による前記ＯＬＥＤデバイスに印加される複数の電圧の変化（ｄＶOLED、４２）と前記ＯＬＥＤデバイス（１０）の複数の輝度効率の変化を関係づけているルックアップテーブルで、前記ＯＬＥＤデバイス（１０）の輝度効率の減少を補正するための補正値をルックアップし、前記ＯＬＥＤデバイス（１０）に印加される電圧の変化（ｄＶOLED、４２）及び前記閾値電圧Ｖthの変化（ｄＶth、４０）の合計である前記オフセット電圧ΔＶを演算するように構成され、
前記制御器（１６）は、前記ＯＬＥＤデバイスの経年劣化による電圧の変化（ｄＶOLED、４２）及び前記閾値電圧Ｖthの変化（ｄＶth、４０）を、以下の式、
ＩOLED＝Ｋ／２（Ｖg−ＶOLED−Ｖth）2
（ただし、
ＩOLED：ＯＬＥＤデバイス（１０）を流れる電流、
Ｋ＝ＷμＣ0／Ｌ、
Ｗ：前記駆動トランジスタ（１３）のチャネル幅、
Ｌ：前記駆動トランジスタ（１３）のチャネル長さ、
μ：前記駆動トランジスタ（１３）のモビリティ、
Ｃ0：前記駆動トランジスタ（１３）の単位面積あたりの酸化物キャパシタンス、
Ｖg：前記駆動トランジスタ（１３）のゲート電圧、
ＶOLED：前記ＯＬＥＤデバイス（１０）に印加される電圧、
Ｖth：前記駆動トランジスタ（１３）の閾値電圧）
を用いて、前記ＯＬＥＤデバイス（１０）の経年劣化前後におけるＩOLED及び前記ゲート電圧Ｖgに基づいて決定する、
ことを特徴とするアクティブマトリクスＯＬＥＤ補償回路。