(57)【要約】【課題】  より小さなディフェクトを検出してブロック単位のデータ破綻を精度良く推定できる情報記録再生装置を提供する。【解決手段】  媒体へ記録中のＲＦ信号から導かれる信号を入力してゲイン調整するゲイン調整手段と、前記ゲイン調整手段の出力を処理するＬＰＦ手段と、前記ＬＰＦ手段の出力からエンベロープ検波をするエンベロープ検波手段と、前記エンベロープ検波結果に対するスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、前記スライスレベルにより前記エンベロープ検波結果をスライスして２値化するスライス手段と、前記スライス手段の出力からディフェクト検出を行いこのディフェクト検出結果により、ディフェクト検出関連動作をコントロールするコントロール手段とを備えこのディフェクト検出関連動作は記憶情報欠陥度合いの閾値判定処理を含むことを特徴とする情報記録再生装置。【選択図】      図２
2008210470.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
媒体へ記録中のＲＦ信号から導かれ入力される信号をゲイン調整するゲイン調整手段と、
前記ゲイン調整された信号をローパスフィルタ処理するＬＰＦ手段と、
前記ローパスフィルタ処理された信号からエンベロープ検波をするエンベロープ検波手段と、
前記エンベロープ検波結果に対するスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、
前記スライスレベルにより前記エンベロープ検波結果をスライスして２値化するスライス手段と、
前記スライス手段の出力からディフェクト検出を行いこのディフェクト検出結果により、ディフェクト検出関連動作をコントロールするコントロール手段とを
備えこのディフェクト検出関連動作は記憶情報欠陥度合いの閾値判定処理を含むことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項２】
前記閾値判定処理はユーザーデータ記録時に行うことを特徴とする請求項１に記載の情報記録再生装置。
【請求項３】
前記ユーザーデータ記録は複数セクタ単位とし、前記閾値判定処理中に記録されたユーザーデータはベリファイにより記録品位を判定することを特徴とする請求項２に記載の情報記録再生装置。
【請求項４】
前記ディフェクト検出の手段は、ディフェクト無しレベル時の平均レベルを検波しそのレベルを正規化するレベル調整方法とディフェクト検出のアナログ閾値調整方法を具有することを特徴とする請求項１に記載の情報記録再生装置。
【請求項５】
前記レベル調整とアナログ閾値調整は媒体記録データ単位をサンプリング単位とし、少なくとも媒体一周以上の領域の積分結果をサンプルする事を特徴とし、その記録データ単位はユーザーデータ単位の倍数である事を特徴とする請求項４に記載の情報記録再生装置。
【請求項６】
前記レベル調整とアナログ閾値調整はユーザーデータを用いて行うことを特徴とする請求項４に記載の情報記録再生装置。
【請求項７】
前記レベル調整とアナログ閾値調整はユーザーデータ記録時に行うことを特徴とする請求項６に記載の情報記録再生装置。
【請求項８】
前記ユーザーデータ記録時にベリファイにより記録品位を判定することを特徴とする請求項７に記載の情報記録再生装置。
【請求項９】
媒体へ記録中のＲＦ信号から導かれ入力される信号にゲイン調整を行い、
ゲイン調整の結果にローパスフィルタ処理を行い、
前記ローパスフィルタ処理の結果からエンベロープ検波を行い、
前記エンベロープ検波結果に対するスライスレベル設定を行い、
前記スライスレベル設定結果により前記エンベロープ検波結果をスライスして２値化を行い、
前記スライス結果からディフェクト検出を行いこのディフェクト検出結果により、ディフェクト検出関連動作をコントロールし
このディフェクト検出関連動作は記憶情報欠陥度合いの閾値判定処理を含むことを特徴とする情報記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報記録再生装置、および情報記録再生方法に係り、特に、書き換え可能な光ディスク等に情報を記録、再生する情報記録再生装置、および情報記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、情報を書き換へ可能に記録できる光ディスク等の情報記録媒体においては、媒体上に発生した記録する上での欠陥箇所を補償するための仕組みを持っている。
【０００３】
周知のように、現在では、デジタル記録媒体としてＤＶＤ(digital versatile disk)等の光ディスクが普及してきており、これらを再生する光ディスク装置においては高い信頼性が望まれている。このような光ディスクにおいては、記憶領域が螺旋状のトラック上に設けられており、そのアドレス情報にトラック番号が含まれている。またやトラックやその周辺のユーザーデータ領域にユーザーデータを記録することができる。
【０００４】
ディスク上に発生した記録する上での欠陥箇所としては、指紋、汚れ、傷などのいわゆるディフェクトがある。それを補償するための仕組みとして、特許文献１に記載されている以下の技術がある。
【０００５】
再生ＲＦ信号のレベルを正規化後、記録データの高周波数成分を除去し、全波整流してプラスとマイナスのディフェクトを同一象限にする。次に全波整流信号からクリップ回路にてノイズ成分の切り捨てとラージ・ディフェクトのレベルの最大絶対値の制限を行う。また全波整流信号からラージ・ディフェクトの波形部分を検出し、そのラージ・ディフェクトのディフェクト時間を補償加算するためのディフェクト補償パルスを生成する。１ブロック積分回路にて、クリップ回路の出力とラージ・ディフェクト補償パルスを対象に１ブロックごとの積分を行う。そして１ブロック積分値からＥＤＣ（エラー検出コード）エラー検出レベルを基準としてＥＤＣエラーの有無を推定する。
【０００６】
即ちディフェクト検出結果を積分しエラー閾値を設けるというものである。この従来の技術の問題点として、上記の動作を実施する構成において、ディフェクト閾値が定義されているものの、その閾値確定方法は明記されてないことがあり、以下のような不具合を生じる。
【０００７】
検出ディフェクトの種別によってはその検出幅と記録信号への影響度（例えばシンボルエラー悪化への影響度）が異なる。例えば特許文献１の図２に示される様に、指紋汚れについてのエンベロープ検波信号についてのディフェクト検波結果は、ディフェクト検出部位スライスレベルによってその検出幅は異なってくる事が判る。
【０００８】
これは実験的に、もっとも感度が高い、すなわちディフェクト信号と通常エンベロープ検波レベルの境界（例えば図２ａのようなレベルを１例とする）でスライスした結果が正しいディフェクト検出幅となるとは限らないと判っている。即ちディフェクト度合、この場合には指紋汚れの厚みが、信号品位に影響するかしないか、という点にかかる。また、一般的に引っかき傷等の幅細い傷についてはその形状よりピックアップヘッド（以下、ＰＵＨ）制御系への影響度が大きく、信号品位としては傷幅以上の影響を及ぼす事が殆どである。これらディフェクトが混在する場合に、閾値の判断が難しくなる。また、同一記録媒体でも記録速度が異なる事により前記感度差が出る事も考えられる。また、記録レーザーパワーコントロールすなわち一般的に光パワーコントロール（以下ＯＰＣ）や波形エッジのジッタ最適化調整（以下ストラテジ調整）の操作毎に戻り光パワーが異なり結果としてディフェクト感度が異なる場合もある。つまり、特許文献１において、媒体種別や記録条件毎のディフェクト検出感度バラつきが考慮されておらず、過検出や検出抜けや無用なベリファイ動作の発生が懸念される。また、傷の種別によって発生する影響が他の制御軸、例えばＰＵＨをコントロールするサーボコントロール手段に与える影響度が異なり、一意に傷幅や深さがデータ欠損と等価になるとは限らない為、ディフェクト検出結果における所定レベルや所定幅という評価基準のみでは致命的ディフェクトの取りこぼしや無用なベリファイ動作をする懸念がある。また、所謂ブランクエリアへの記録と概データ記録済みトラックへの記録（所謂オーバーライト記録）で前記エンベロープ検波結果についてのノイズ成分の有無が異なる場合がある。これは記録面に既にピット列が存在する場合に、記録マークへのレーザー照射と記録スペースへのレーザー照射でその反射光量が異なる為で、記録済みトラックと未記録トラックが混在する様なディスクに情報記録する場合に、２値化スライスレベル等留意する必要がある。
【０００９】
しかしながら特許文献１においては、ディフェクト検出閾値確定手段、例えば具体的なアルゴリズムは開示されていないという問題がある。
【特許文献１】特開２００６−９９８６３号公報（９頁、図２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は、より小さなディフェクトを検出してブロック単位のデータ破綻を精度良く推定できる情報記録再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、本発明の情報記録再生装置は、媒体へ記録中のＲＦ信号から導かれる信号を入力してゲイン調整するゲイン調整手段と、前記ゲイン調整手段の出力を処理するＬＰＦ手段と、前記ＬＰＦ手段の出力からエンベロープ検波をするエンベロープ検波手段と、前記エンベロープ検波結果に対するスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、前記スライスレベルにより前記エンベロープ検波結果をスライスして２値化するスライス手段と、前記スライス手段の出力からディフェクト検出を行いこのディフェクト検出結果により、ディフェクト検出関連動作をコントロールするコントロール手段とを備えこのディフェクト検出関連動作は記憶情報欠陥度合いの閾値判定処理とを具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、より小さなディフェクトを検出してブロック単位のデータ破綻を精度良く推定できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施例を説明する。
【実施例１】
【００１４】
本発明による実施例１を図１乃至図９を参照して説明する。ＤＶＤ＋ＲＷを扱う装置の例を説明する。
図１はＤＶＤ＋ＲＷの１ＥＣＣ(Error Check Correction)ブロックのデータ構造を示す図である。主にユーザーデータからなる１７２Ｂｙｔｅ×１９２Ｂｙｔｅのデータに、パリティ１６Ｂｙｔｅを縦方向１７２列全てに付加して外符号（以下ＰＯ）を形成し、横方向のＰＯ行を含む２０８行全てに１０Ｂｙｔｅのパリティを付加して内符号（以下ＰＩ）を形成する。いわゆる積符号構造と呼ばれる事もあるデータ構造Ｅ１である。この１ＥＣＣブロックを行インターリーブし１３行のデータ列として１セクタＳ１を形成する。Ｓ２以下、計１６セクタが１ＥＣＣブロックから形成される。セクタＳ１の図から判るように１７２Ｂｙｔｅ×１２行＝２０６４Ｂｙｔｅから、パリティやＩＤ等１２Ｂｙｔｅ＋４Ｂｙｔｅ＝１６Ｂｙｔｅを省いたユーザーデータは１セクタで２Ｋ（２０４８）Ｂｙｔｅとなる。
【００１５】
図２は、この発明の一実施例を示すブロック構成図およびディフェクト検波の信号推移の説明図である。
主に図２（ａ）のブロック構成図の上半分に見られるように、ＤＶＤ＋ＲＷへの記録時に記録パルスを光ディスク記録面に照射し記録動作を行っている時に、その記録パルスの光ディスクＯＤの記録面より反射した反射光を検出する光検出手段１と、前記反射光を増幅する手段２と、前記反射光増幅信号（以下、ＲＦエンベロープ）の信号振幅を検出する為のアンプ手段３およびＬＰＦ(Low Pass Filter)手段４およびエンベロープ検波手段５と、前記エンベロープ検波されたエンベロープ検波信号を２値化するスライス手段6と、このスライス手段6へ対してスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段７とを備えている。なお、増幅する手段２の増幅率をより上げておくことにより、アンプ手段３は減衰手段に置き換えてもよい。アンプ手段、減衰手段を総称してゲイン調整手段と呼ぶことにする。
【００１６】
更に前記スライス手段6の出力である２値化スライス信号を光ディスク記録レート基準クロックでカウントを行うディフェクトカウント手段８と、前記記録レート基準クロックと記録データタイミング信号を元として所定タイミングを生成するタイミング生成手段９と、前記ディフェクトカウント値を前記タイミング生成手段９より生成されたタイミングでラッチするラッチ手段１０と、光ディスクの物理アドレスを検出するアドレスデコード手段１１と、本発明のディフェクト検出動作を総合的にコントロールするコントロール手段１２と、光検出手段１を兼ねている光ディスクピックアップユニット１３と、前記光ディスクピックアップユニット１３を制御するサーボ制御部１４と、記録データを前記光ディスクピックアップユニット１３に送出する記録データ生成部１５と、アドレスデコード手段１１からの光ディスク物理情報（ウォブル信号をデコードした物理アドレス情報およびシンク情報）から基準クロックを生成する基準クロック生成部１６と、前記光ディスクよりユーザーデータを再生する場合の再生信号イコライジングと２値化とＥＣＣデコードとを行う調整手段１７とにより構成されている。
【００１７】
図２（ｂ）の信号推移説明の図に図２（ａ）の各部の信号の例を示す。ＡからＥまでがディフェクト検出時前後の信号を示し、ブロック図のＡからＥのポイントにおける波形となる。最終的にはＥの様にディフェクト検出幅が所定クロックにてカウントされた値となり、ディフェクト判定部であるコントローラに入力される。この例ではＣのローレベルの開始後Ｄの立ち上がりのタイミングで決まる時間ｔの間のカウント値例えば７０が、Ｄの立ち下がりのタイミングでラッチ１０へと取り込まれている。
【００１８】
図３に記録ＲＦ入力振幅調整の実施例を示す。横軸は時間であり、一単位（５プロット）は１００μＳＥＣを表す。また縦軸は電圧値であり、一単位（５プロット）はＢではフローティングで２００ｍＶを、またＣでは０から５Ｖのレンジを示している。Ｂ，Ｃは図２に対応している。指紋汚れの例であり、Ｂに対するあるスライスレベルの設定においてＣに見るように２値化信号波形がＬＯＷ（０）となっている。
【００１９】
（実施例のディフェクト検出に係る記録ＲＦ入力振幅調整）
図４は本提案の実施例のエンベロープ検波回路入力の記録ＲＦ入力振幅調整手段のフローチャートである。入力振幅調整手段としては、コントロール手段１２を中心に周囲の手段が協調する構成である。以下、コントロール手段１２の動作を示す。
【００２０】
図２（ａ）のブロックの動作時において、図２（ｂ）のＥのようなセクタ毎のディフェクトカウント値がラッチ手段１０に得られ、タイミング生成手段９からの割り込み信号によりコントロール手段１２は、このカウント値を取り込み後述の調整カウンタ（内部のセクタ数カウンタ）をインクリメントする（ステップＳ４１）。
【００２１】
コントロール手段１２は、スライスレベル設定手段７に対してスライスレベルを初期設定値にセットし、アンプ手段３に対してＲＦ信号入力レベルを初期値にセットし、内部の図示せぬ調整カウンタを０クリアし、内部の図示せぬ調整モードステートをラフ調整にする（ステップＳ４２）。ステートには他にファイン調整がある。調整フェーズには粗調整（以下ラフ）と精密調整（以下ファイン）があり、調整モードステートはそれらに対応している。
【００２２】
次に調整モードはラフであると判定し（ステップＳ４３）、次に調整カウンタが既定量Ｎに達したか判定する（ステップＳ４４）。
ラフ調整時の計測セクタ数はＮと定義されているが、ここでＮの数値は適当な整数（１以上）とする。例えばＮ＝２と小さな値とする。この数値の意味は、記録ＲＦ入力振幅粗調整の所要時間を短くするものである。
【００２３】
またラフ調整終了の閾値としてノイズスライス割合Ｚ％が定義されている。この数値は適当な数値（０より大きい数）とする。この数値の意味は、記録ＲＦ入力振幅粗調整の入力振幅が所定レベル（すなわち初期スライスレベル近傍）に達したと判断する為の閾値であり、例えばノイズスライスさえされていれば良いと考える。
【００２４】
ステップＳ４１のセクタ割り込みがＮ回起こったときに次のステップＳ４５へと進む。ステップＳ４５では、Ｎセクタ計測して全セクタにノイズが上記Ｚ％以上見えているかを判定しＹｅｓの判定ならば次のステップＳ４６へ進む。ステップＳ４６では調整カウンタをクリアし調整モードをファインとしてノードＡへ戻る。ステップＳ４５でＮｏの判定ならば、次のステップＳ４７で調整モードをラフとしアンプ手段３の振幅を下げノードＢへ行く。
【００２５】
ノードＢへ行くフローチャートの通り、所定スライスレベルにてノイズスライスされるまで、記録ＲＦ入力振幅の初期入力レベル（この場合、エンベロープ検波入力飽和するようなゲイン値で構わない）より徐々に振幅を落とす。この操作は図５のラフ調整領域Ｒの様な波形Ｂの動きとなる。ラフ調整収束後にはファイン調整を行う。
【００２６】
ファイン調整時の計測セクタ数はＭと定義されている。ここでＭの数値はディスク１周のセクタ数の整数倍とする。その数はディスクの半径位置によって異なる。装置はディスクの物理アドレスよりその半径位置を判断して１周セクタ数を判定する。ステップＳ４１のセクタ割り込みがＭ回起こったときに次のステップＳ４９へと進む（ステップＳ４８）。
【００２７】
ファイン調整時の判定フェーズとして判定ａ、判定ｂ、判定ｃ、がある。判定ａは本物のディフェクトを含む信号を検波して振幅調整する場合を想定しており、影響を及ぼしそうなディフェクトの、影響を除去する効果を持つ。例えば、数値Ｘａを４０％、数値Ｙａを６０％、数値Ｚａを７０％とした場合、エンベロープ検波のノイズ成分中心をスライスするような状態を想定しており、かつ全体の３０％程度のディフェクト影響をリジェクトするような効果が期待できる（ステップＳ４９）。
【００２８】
判定ｂは判定ａを合格した後に行う判定であり、これは記録ＲＦ入力振幅が妥当か如何かをディフェクトスライスの平均値で検出している。例えば、数値Ｘｂを４０％、数値Ｙｂを６０％、数値Ｚｂを４５％、数値Ｚｂｂを５５％、とした場合、入力信号をエンベロープ検波した結果のエンベロープ検波レベルが所定スライスをほぼ中心とした数値になる様に調整されたという事を示す（ステップＳ５０）。合格につき次にノードＣへ行く。
【００２９】
判定ｃは判定ａ乃至判定ｂを不合格の場合に行う判定であり、これは記録ＲＦ入力振幅が目標値に対して振幅大か小かを判定する処理である。例えば、数値Ｘｃを３０％、数値Ｙｃを７０％、数値Ｚｃを５０％、とした場合、入力信号をエンベロープ検波した結果のエンベロープ検波レベルが所定スライスをほぼ中心とした数値より大か小かを判定できるという事になる（ステップＳ５１）。次に数値Ｚｃより大との判定のときは調整モードをファインとし振幅を上げ（ステップＳ５２）、数値Ｚｃより大でないとの判定のときは調整モードをファインとし振幅を下げ（ステップＳ５３）、次にそれぞれノードＢへ行く。
【００３０】
各数値Ｘｎ、Ｙｎ、Ｚｎの値は、記録媒体の種別等に応じて適宜変更をしても良い。例えば判定ａの数値Ｚａを０％とした場合、それは判定ａを無効とする事になる。これはエンベロープ検波のノイズ成分振幅小の場合、振幅に対するノイズスライスの変化が敏感であり、ディフェクトの影響が極小となるので、判定ａを行わなくて良い場合があるからである。また、判定ａ、判定ｂ、判定ｃ、の数値を変更する事で、エンベロープ検波のノイズ成分の上端又は下端を振幅調整目標とする事を任意に選択可能である。特にノイズ下端を目標とした場合、後に記述するスライス調整時の値Ｈ（ｖ）を小さく設定でき、かつ誤検出防止が期待できる。
【００３１】
上記のファイン調整に合格した場合に図４のフローではノードＣ以下、ステップＳ５４でスライスレベルの調整を行う。これは所定量スライスレベルを下げる操作である。操作量は記録媒体種別等により適当な数値を入れてよい。この数値Ｈ（ｖ）が小さい場合、ディフェクト検出が敏感かつ誤検出が多くなる。数値Ｈ（ｖ）が大きい場合、ディフェクト検出が鈍感かつ誤検出が減る。
【００３２】
ノードＢ以下では、まず調整カウンタをクリアする（ステップＳ５５）。振幅を下げる場合は（ステップＳ５６）、アンプ手段３のゲインダウン可能か判定し（ステップＳ５７）、可能と判定されたら規定量Ｆ下げ（ステップＳ５８）ノードＡに戻り、可能と判定されなかったら入力エンベロープを最小にしても調整不能につき異常終了とする（ステップＳ５９）。
【００３３】
また振幅を上げる場合は（ステップＳ５６）、アンプ手段３のゲインアップ可能か判定し（ステップＳ６０）、可能と判定されたら規定量Ｆ上げ（ステップＳ６１）ノードＡに戻り、可能と判定されなかったら入力エンベロープを最大にしても調整不能につき異常終了とする（ステップＳ６２）。
【００３４】
ファイン調整の動きの例として、図５にラフ調整時間領域に続きファイン調整領域の動作イメージを示す。横軸は時間を表すが図３と比べ５プロットが４０ｍｓと４００倍の長さとなっている。縦軸のＢ，Ｃは図３のＢ，Ｃの信号に対応するものである。ステートモニタ信号１はそのＬＯＷレベルがラフ調整領域Ｒであることを表すものである。また、ライトゲート信号２はそのＨＩＧＨレベルが媒体へ記録中であることを表すものである。
【００３５】
ラフ調整領域Ｒにおいては、Ｎセクタの計測が２回行われている。１回目の結果においては振幅を下げ図４のフローでノードＢへ行き、２回目の結果においてノードＡへ行っている。
【００３６】
続いてファイン調整領域Ｆ１ではＭセクタの計測が行われ、判定ｃにおいてディフェクト量が大につき振幅を上げてノードＢへ行っている。続くファイン調整領域Ｆ２でもＭセクタの計測が行われ、判定ｂにおいてディフェクト量が範囲内につきノードＣへ行っている。
【００３７】
なお、上記図４のフローの例ではエンベロープ検波入力レベルのみを調整しているが、例えばラフ調整は初期スライスレベル近傍へエンベロープ検波波形を調整する様に記録ＲＦ入力振幅調整を行い、ファイン調整についてはスライスレベルの微調整を行う様な方法でも良い。
【００３８】
図６にフローを用いこの動作例を示す。図４と比べ判定ｃの後はノードＢ´へ行くルーチンとなっている。図４と同様の部分は同じステップ番号とし説明を省略する。
【００３９】
ステップＳ５１の次にその判定がＹｅｓのときは調整モードをファインとしスライスレベルを下げ（ステップＳ５２´）、判定がＮｏのときは調整モードをファインとしスライスレベルを上げ（ステップＳ５３´）、次にそれぞれノードＢ´へ行く。
【００４０】
ノードＢ´以下では、まず調整カウンタをクリアする（ステップＳ６５）。スライスレベルを下げる場合は（ステップＳ６６）、スライスレベル設定手段７のスライスレベルダウン可能か判定し（ステップＳ６７）、可能と判定されたら規定量Ｇ下げ（ステップＳ６８）ノードＡに戻り、可能と判定されなかったらスライスレベルを最小にしても調整不能につき異常終了とする（ステップＳ６９）。
【００４１】
またスライスレベルを上げる場合は（ステップＳ６６）、スライスレベル設定手段７のスライスレベルアップ可能か判定し（ステップＳ７０）、可能と判定されたら規定量Ｇ上げ（ステップＳ７１）ノードＡに戻り、可能と判定されなかったらスライスレベルを最大にしても調整不能につき異常終了とする（ステップＳ７２）。
【００４２】
（実施例のディフェクト検出に係る記録ＲＦ入力振幅調整手段を起動するタイミングの定義例）
図７以下に、ディフェクト検出関連動作を説明する。記憶情報欠陥度合いの閾値判定処理を含む。
図７に記録ＲＦ入力振幅自動調整手段起動および調整のタイミング図を示す。本例ではユーザーデータ記録時に前記振幅調整を行う事を想定している。その理由として、記録ＲＦ入力振幅の半径位置変動がある。つまりユーザーデータ記録半径位置によって記録ＲＦ入力振幅が変化し、その変化は半径位置依存性がある。又同様に温度変化による記録ＲＦ入力振幅もありうる。その為、本実施例では所定半径位置あるいは所定時間毎に実施する事を想定している。半径位置や経過時間は任意に設定して良い。また、所謂ランダム記録を実施している場合、記録ＲＦ入力振幅調整はアクセス毎に実施する事もありうる。
【００４３】
図７を説明する。縦軸は動作の種類であり、Ａ，Ｂ，Ｃの各動作を順番に行うものである。横軸は１６進アドレスの例であり、縦線で区切られた範囲一つが１ＥＣＣブロックを表す。
【００４４】
まずＡの記録ＲＦ入力振幅調整を伴う記録動作をする。これは記録ＲＦ入力振幅調整終了後の任意タイミングで停止する。この時記録するデータはユーザーデータである。次にＢのデータベリファイを行う。これはＥＣＣ訂正符号により訂正を行われたシンボル数（以下記録品位値と表現する）のチェックである。もしＢの品位チェックにおいて記録品位ＮＧレベルの品位悪化が見られた場合に、光ディスク装置のホストに記録品位ＮＧの通知をする等を行う。次にＣの記録動作に移行する。この場合、１記録単位（本例ではＤＶＤの１ブロック長）の糊代を設けている。これは前記の１記録単位記録中に前記記録ＲＦ入力振幅調整によって得られた調整値を再度入力する意味と再生エンベロープと記録エンベロープの振幅ギャップのよるディフェクト誤検出に対する対策の意味もある。Ｃの記録時は最初の１記録単位は前記ベリファイで概記録品位確認済みである。以降、記録単位毎にディフェクトを検出して判定をする事により記録動作中に即時に欠陥を検出する事が可能となる。なお図７ではＣのディフェクト検出閾値を初期値０としているが、これは適宜任意の数字として良い。
【００４５】
（実施例のディフェクト検出に係る閾値確定方法）
図８と図９にディフェクト検出に係るディフェクト閾値確定方法を示す。図７の手順で記録ＲＦ入力振幅調整実施し、ユーザーデータ記録実施中、すなわち図８のＣの記録動作実施中に、ディフェクトＡを検出した場合に、ディフェクト検出した１記録単位（この場合ＤＶＤの１ブロック長）通過後の１記録単位後に記録停止をする。これはディフェクト検出位置が１記録単位の最終端だった場合に即時に記録単位での記録終了操作が出来ない事を考慮している。そしてＤのベリファイを行う。これはディフェクトＡの影響でどの程度の記録品位低下があったかを前後の記録単位の品位と比較して判定する意味とデイフェクトＡ発生の１記録単位が品位ＮＧか如何かを判定する意味（記憶情報欠陥度合いの閾値判定処理）がある。前記Ｄの操作でディフェクトＡ付加による記録品位低下値が判明したらその数字がすなわちディフェクトＡと同等の幅を持つディフェクトによる記録品位値の悪化値を意味する。記録品位値許容最悪値より定常的記録品位値を引き算した値の所定割合、例えば５０％の記録品位悪化を閾値とする場合に、前記５０％値悪化すると判定されるディフェクト閾値Ｔが一意に確定できる。これは同様のディフェクトである隣接トラックのディフェクトＢの品位を予測する為の数字となる。前記Ｄの品位判定を行った後に再び記録動作に移行する。Ｅが記録動作再開の動きである。前記Ｄでベリファイをして信号品位確認済みの１記録単位より記録動作開始する。これは前記図７の動作と同様に１記録単位記録中に前記記録ＲＦ入力振幅調整によって得られた調整値を再度入力する意味と再生エンベロープと記録エンベロープの振幅ギャップのよるディフェクト誤検出に対する対策の意味もある。記録動作ＥにおいてディフェクトＢを検出時、そのディフェクト幅が前記Ｄにて確定した閾値Ｔより大か小かを判定し、小ならば記録ＯＫと判断し（図８のＥ）、大ならば記録品位が疑わしいと判断し再度ベリファイ動作をして必要ならば閾値を変更する（図９のＥ、Ｆ、Ｇ）。前記の記録品位値許容最悪値より定常的記録品位値を引き算した値の所定割合を５０％としたが、この値は適宜設定してよい。
【００４６】
又、前記閾値（例えば前記の閾値Ｔ、閾値Ｕ）は適宜変更して良い。例えば半径方向の移動量Ｌ（トラック数）を決め、前記Ｌトラック移動毎に前記閾値Ｔを０にし、ディフェクト検出時に再度閾値判定動作する事も出来る。
【００４７】
実施例では、未記録領域、記録済み領域、に関わらず本ディフェクト検出処理とそれに係る振幅調整手段とディフェクト検出閾値確定手段を実行しているが、これを例えば、記録済み領域での実施に限定し、未記録領域の可能性ある場合には記録品位チェックにシンボルエラー品位をチェックする為のリード動作を併用しても良い。これは、記録領域での記録パルス反射光と未記録領域での記録パルス反射光のレベル差を考慮する意味がある。なお、記録済みか未記録領域を含むかの判定方法としては、例えば所謂フォーマット処理による全面記録を実施した場合や、例えばマウントレイニア規格のバックグラウンドフォーマット等、記録装置自身がディスク全面にダミー情報を記録したという事を根拠として判断しても良い。またホスト装置による解釈で所謂ファイルシステムによりファイルが存在か非存在かを判断するような手段もある。
【００４８】
またＤＶＤ＋ＲＷ以外の書き換え可能な媒体に応用しても良い。
本発明を実施する事により、記録中のディフェクト検出を迅速かつ正確に行う事が出来るシステムを提供可能となる。これにより光ディスク記録再生装置、方法の記録パフォーマンス向上が期待できる。なお、この発明は上記実施例に限定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
【００４９】
また、上記した実施の形態に開示されている複数の構成要素を適宜に組み合わせることにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除しても良いものである。さらに、異なる実施の形態に係る構成要素を適宜組み合わせても良いものである。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】ＤＶＤ＋ＲＷの１ＥＣＣブロックのデータ構造を示す図。
【図２】この発明の一実施例を示すブロック構成図およびディフェクト検波の信号推移説明の図。
【図３】指紋汚れ検出時のエンベロープ検波２値化スライスレベル最適値の説明図。
【図４】実施例のエンベロープ検波回路入力の記録ＲＦ入力振幅調整手段のフローチャート。
【図５】実施例のエンベロープ検波回路入力の記録ＲＦ入力振幅調整手段の動作説明図。
【図６】実施例のエンベロープ検波回路入力の記録ＲＦ入力振幅調整手段の別の例を説明するフローチャート。
【図７】実施例のエンベロープ検波回路入力の記録ＲＦ入力振幅調整手段実施タイミングの説明図。
【図８】実施例のデータ記録中のディフェクト検出を説明する図。
【図９】実施例のデータ記録中のディフェクト検出を説明する図。
【符号の説明】
【００５１】
１…光検出手段、２…反射光を増幅する手段、３…アンプ手段、４…ＬＰＦ手段、５…エンベロープ検波手段、６…スライス手段、７…スライスレベル設定手段、８…ディフェクトカウント手段、９…タイミング生成手段、１０…ラッチ手段、１１…アドレスデコード手段、１２…コントロール手段、１３…光ディスクピックアップユニット、１４…サーボ制御部、１５…記録データ生成部、１６…基準クロック生成部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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