【手続補正書】
【提出日】平成25年1月17日(2013.1.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８１】
本発明は、以下の適用例としても実現可能である。
［適用例１］
質量分析の方法であって、
減衰装置と、前記減衰装置の下流側に配置されるイオントラップとを準備する工程と、
第１のイオン電流Ｉ1を求める工程と、
前記求めた第１のイオン電流Ｉ1に基づき前記減衰装置を制御して、前記減衰装置を透過し前記イオントラップに移動されたイオンの強度を第１のレベルに設定する工程と、
前記求めた第１のイオン電流Ｉ1と実質的に独立な第１の一定時間Ｔ1にわたって、前記イオントラップ内にイオンを蓄積させる工程と、を備える方法。
［適用例２］
適用例１に記載の方法であって、
前記イオントラップがイオントラップ型質量分析器を備え、
イオン検出器が、前記イオントラップから放出されるイオン又はその他の方法で前記イオントラップから出現するイオンを検出するように構成されている、方法。
［適用例３］
適用例１に記載の方法であって、さらに、
前記イオントラップからイオンを放出させる、又は、前記イオントラップからイオンを出現させる工程を備え、
前記放出又は出現させたイオンは、前記イオントラップの下流側に配置される質量分析器に送られる、方法。
［適用例４］
適用例１、２又は３に記載の方法であって、
前記第１のイオン電流Ｉ1を求める工程は、第１の装置を用いて、前記第１のイオン電流Ｉ1を求め、
前記第１の装置は、（ｉ）質量分析器、（ｉｉ）電荷検出器、（ｉｉｉ）電荷誘導装置、（ｉｖ）イメージ電流検出器、及び（ｖ）１つ以上の溶離液の吸収プロファイルを求めるように構成された液体クロマトグラフィーシステムと組み合わせた紫外線（ＵＶ）検出器、からなる群から選択される、方法。
［適用例５］
前記いずれかの適用例に記載の方法であって、
前記第１のイオン電流Ｉ1を求める工程は、
（ｉ）以前に取得されたデータ又は質量スペクトルデータを用いる工程、
及び／又は、
（ｉｉ）以前に取得されたデータ又は質量スペクトルデータに基づき、前記イオン電流を推定する工程、
を含む、方法。
［適用例６］
前記いずれかの適用例に記載の方法であって、さらに、
前記求めた第１のイオン電流Ｉ1に基づいて減衰係数を算出する工程を備え、
前記減衰装置を制御する工程は、前記減衰装置から前方に送られるイオンビームを前記減衰係数で減衰するように前記減衰装置を設定する、方法。
［適用例７］
前記いずれかの適用例に記載の方法であって、
前記減衰装置が、（ｉ）イオンビームを変化、偏向、フォーカス、デフォーカス、減衰、妨害、拡大、縮小、迂回、反射させるように構成された静電レンズ、及び／又は、（ｉｉ）イオンビームを変化、偏向、フォーカス、デフォーカス、減衰、妨害、拡大、縮小、迂回、反射させるように構成された１つ以上の電極、ロッドセット又はイオン光学装置を備える、方法。
［適用例８］
前記いずれかの適用例に記載の方法であって、
前記減衰装置を制御する工程は、低透過動作モードと高透過動作モードとの間で前記減衰装置を繰り返し切り替え、
前記減衰装置は、時間ΔＴ１にわたって前記低透過動作モードに保持され、時間ΔＴ２にわたって前記高透過動作モードに保持され、前記減衰装置のデューティ・サイクルがΔＴ２／（ΔＴ１＋ΔＴ２）である、方法。
［適用例９］
前記いずれかの適用例に記載の方法であって、さらに、
第２のイオン電流Ｉ2を求める工程と、
前記求めた第２のイオン電流Ｉ2に基づき前記減衰装置を制御して、前記減衰装置を透過し前記イオントラップに移動されたイオンの強度を第２の異なるレベルに設定する工程と、
前記求めた第２のイオン電流Ｉ2と実質的に独立な第２の一定時間Ｔ2にわたって、前記イオントラップ内にイオンを蓄積させる工程と、を備え、
前記時間Ｔ1は前記時間Ｔ2に等しい、又は、ほぼ等しい、方法。
［適用例１０］
適用例９に記載の方法であって、さらに、
第３のイオン電流Ｉ3を求める工程と、
前記求めた第３のイオン電流Ｉ3に基づき前記減衰装置を制御して、前記減衰装置を透過し前記イオントラップに移動されたイオンの強度を第３の異なるレベルに設定する工程と、
前記求めた第３のイオン電流Ｉ3と実質的に独立な第３の一定時間Ｔ3にわたって、前記イオントラップ内にイオンを蓄積させる工程と、を備え、
前記時間Ｔ1は前記時間Ｔ2に等しい、又は、ほぼ等しく、
前記時間Ｔ2は前記時間Ｔ3に等しい、又は、ほぼ等しい、方法。
［適用例１１］
適用例１０に記載の方法であって、さらに、
第４のイオン電流Ｉ4を求める工程と、
前記求めた第４のイオン電流Ｉ3に基づき前記減衰装置を制御して、前記減衰装置を透過し前記イオントラップに移動されたイオンの強度を第４の異なるレベルに設定する工程と、
前記求めた第４のイオン電流Ｉ4と実質的に独立な第４の一定時間Ｔ4にわたって、前記イオントラップ内にイオンを蓄積させる工程と、を備え、
前記時間Ｔ1は前記時間Ｔ2に等しい、又は、ほぼ等しく、
前記時間Ｔ2は前記時間Ｔ3に等しい、又は、ほぼ等しく、
前記時間Ｔ3は前記時間Ｔ4に等しい、又は、ほぼ等しい、方法。
［適用例１２］
前記いずれかの適用例に記載の方法であって、さらに、
前記減衰装置の上流側及び／又は下流側に、イオン蓄積装置又はイオントラップを配置する工程を備える、方法。
［適用例１３］
適用例１２に記載の方法であって、
前記イオン蓄積装置又はイオントラップが、（ｉ）使用時にイオンを透過させる少なくとも１つの開口部を各々有する複数の電極を備えるイオントンネル型又はイオンファネル型イオントラップ、（ｉｉ）多極ロッドセット、（ｉｉｉ）軸方向にセグメント化された多極ロッドセット、及び（ｉｖ）イオン移動平面内にほぼ配置される複数の平板電極、からなる群から選択される、方法。
［適用例１４］
適用例１２又は１３に記載の方法であって、
前記イオン蓄積装置又はイオントラップが、第１の上流側イオン蓄積領域と第２の下流側イオン蓄積領域とを備え、動作モードにおいて、（ｉ）前記第１の上流側イオン蓄積領域の入口側に配置された電極に直流（ＤＣ）又はＲＦ（高周波）ポテンシャル障壁を印加して、前記イオン蓄積装置又はイオントラップへのこれ以上のイオンの入射を防ぐ、及び／又は、（ｉｉ）前記第１の上流側イオン蓄積領域と前記第２の下流側イオン蓄積領域との間に配置される電極に直流又はＲＦポテンシャル障壁を印加して、前記第１の上流側イオン蓄積領域から前記第２の下流側イオン蓄積領域へのイオンの移動を防ぐ、及び／又は、（ｉｉｉ）前記第２の下流側イオン蓄積領域の出口に配置された電極に直流又はＲＦポテンシャル障壁を印加して、前記イオン蓄積装置又はイオントラップからのイオンの出射を防ぐ、方法。
［適用例１５］
適用例１２、１３又は１４に記載の方法であって、
前記イオン蓄積装置又はイオントラップにイオンが蓄積された後、前記イオン蓄積装置又はイオントラップを作動させて、不要な質量又は質量対電荷比を有する少なくとも一部のイオンを、質量選択的に、又は、質量対電荷比選択的に、除去又は減衰する、方法。
［適用例１６］
適用例１２ないし１５のいずれかに記載の方法であって、
質量選択的に、又は、質量対電荷比選択的に、前記イオン蓄積装置又はイオントラップからイオンを放出させる、又は、前方にイオンを送り出す、方法。
［適用例１７］
質量分析計であって、
減衰装置と、
前記減衰装置の下流側に配置されるイオントラップと、
制御システムと、を備え、
前記制御システムが、
（ｉ）第１のイオン電流Ｉ1を求め、
（ｉｉ）前記求めた第１のイオン電流Ｉ1に基づき前記減衰装置を制御して、前記減衰装置を透過し前記イオントラップに移動されたイオンの強度を第１のレベルに設定し、
（ｉｉｉ）前記求めた第１のイオン電流Ｉ1と実質的に独立な第１の一定時間Ｔ1にわたって、前記イオントラップ内にイオンを蓄積させる、
ように構成されている、質量分析計。
［適用例１８］
適用例１７に記載の質量分析計であって、
前記イオントラップがイオントラップ型質量分析器を備え、
前記質量分析計が、さらに、前記イオントラップから放出される又はその他の方法で前記イオントラップから出現するイオンを検出するように構成されたイオン検出器を備える、質量分析計。
［適用例１９］
適用例１７に記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオントラップの下流側に配置される質量分析器を備え、
前記質量分析計の使用時に、イオンは、前記イオントラップから放出され、又は、前記イオントラップから出現し、前記質量分析器に送られる、質量分析計。
［適用例２０］
適用例１７、１８又は１９に記載の質量分析計であって、さらに、
前記質量分析計内のイオン電流を求めるように構成された第１の装置を備える、質量分析計。
［適用例２１］
適用例２０に記載の質量分析計であって、
前記第１の装置は、（ｉ）質量分析器、（ｉｉ）電荷検出器、（ｉｉｉ）電荷誘導装置、（ｉｖ）イメージ電流検出器、及び（ｖ）１つ以上の溶離液の吸収プロファイルを求めるように構成された液体クロマトグラフィーシステムと組み合わせた紫外線（ＵＶ）検出器、からなる群から選択される、質量分析計。
［適用例２２］
適用例１７ないし２１のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記減衰装置が、（ｉ）イオンビームを変化、偏向、フォーカス、デフォーカス、減衰、妨害、拡大、縮小、迂回、反射させるように構成された静電レンズ、及び／又は、（ｉｉ）イオンビームを変化、偏向、フォーカス、デフォーカス、減衰、妨害、拡大、縮小、迂回、反射させるように構成された１つ以上の電極、ロッドセット又はイオン光学装置を備える、質量分析計。
［適用例２３］
適用例１７ないし２２のいずれかに記載の質量分析計であって、
使用時に、前記減衰装置は、低透過動作モードと高透過動作モードとの間で繰り返し切り替えられ、
前記減衰装置は、時間ΔＴ１にわたって前記低透過動作モードに保持され、時間ΔＴ２にわたって前記高透過動作モードに保持され、前記減衰装置のデューティ・サイクルがΔＴ２／（ΔＴ１＋ΔＴ２）である、質量分析計。
［適用例２４］
適用例１７ないし２３のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記減衰装置の上流側及び／又は下流側に配置されるイオン蓄積装置又はイオントラップを備える、質量分析計。
［適用例２５］
適用例２４に記載の質量分析計であって、
前記イオン蓄積装置又はイオントラップが、（ｉ）使用時にイオンを透過させる少なくとも１つの開口部を各々有する複数の電極を備えるイオントンネル型又はイオンファネル型イオントラップ、（ｉｉ）多極ロッドセット、（ｉｉｉ）軸方向にセグメント化された多極ロッドセット、及び（ｉｖ）イオン移動平面内にほぼ配置される複数の平板電極、からなる群から選択される、質量分析計。
［適用例２６］
適用例２４又は２５に記載の質量分析計であって、
前記イオン蓄積装置又はイオントラップが、第１の上流側イオン蓄積領域と第２の下流側イオン蓄積領域とを備え、動作モードにおいて、（ｉ）前記第１の上流側イオン蓄積領域の入口側に配置された電極に直流（ＤＣ）又はＲＦ（高周波）ポテンシャル障壁を印加して、前記イオン蓄積装置又はイオントラップへのこれ以上のイオンの入射を防ぐ、及び／又は、（ｉｉ）前記第１の上流側イオン蓄積領域と前記第２の下流側イオン蓄積領域との間に配置される電極に直流又はＲＦポテンシャル障壁を印加して、前記第１の上流側イオン蓄積領域から前記第２の下流側イオン蓄積領域へのイオンの移動を防ぐ、及び／又は、（ｉｉｉ）前記第２の下流側イオン蓄積領域の出口に配置された電極に直流又はＲＦポテンシャル障壁を印加して、前記イオン蓄積装置又はイオントラップからのイオンの出射を防ぐ、質量分析計。
［適用例２７］
適用例２４、２５又は２６に記載の質量分析計であって、
前記イオン蓄積装置又はイオントラップにイオンが蓄積された後、前記イオン蓄積装置又はイオントラップを動作モードで作動させて、不要な質量又は質量対電荷比を有する少なくとも一部のイオンを、質量選択的に、又は、質量対電荷比選択的に、除去又は減衰する、質量分析計。
［適用例２８］
適用例２４ないし２７のいずれかに記載の質量分析計であって、
動作モードにおいて、質量選択的に、又は、質量対電荷比選択的に、前記イオン蓄積装置又はイオントラップからイオンを放出させる、又は、前方にイオンを送り出す、質量分析計。
［適用例２９］
減衰装置と前記減衰装置の下流側に配置されるイオントラップとを備える質量分析計の制御システムにより実行可能なコンピュータプログラムであって、
前記コンピュータプログラムは、前記制御システムに、
（ｉ）第１のイオン電流Ｉ1を求め、
（ｉｉ）前記求めた第１のイオン電流Ｉ1に基づき前記減衰装置を制御して、前記減衰装置を透過し前記イオントラップに移動されたイオンの強度を第１のレベルに設定し、
（ｉｉｉ）前記求めた第１のイオン電流Ｉ1と実質的に独立な第１の一定時間Ｔ1にわたって、前記イオントラップ内にイオンを蓄積させる、
ように動作させる、コンピュータプログラム。
［適用例３０］
コンピュータで実行可能な命令が記憶されたコンピュータ読み取り可能な媒体であって、
前記命令は、減衰装置と前記減衰装置の下流側に配置されるイオントラップとを備える質量分析計の制御システムにより実行可能に構成されており、
前記コンピュータプログラムは、前記制御システムに、
（ｉ）第１のイオン電流Ｉ1を求め、
（ｉｉ）前記求めた第１のイオン電流Ｉ1に基づき前記減衰装置を制御して、前記減衰装置を透過し前記イオントラップに移動されたイオンの強度を第１のレベルに設定し、
（ｉｉｉ）前記求めた第１のイオン電流Ｉ1と実質的に独立な第１の一定時間Ｔ1にわたって、前記イオントラップ内にイオンを蓄積させる、
ように動作させる、コンピュータ読み取り可能な媒体。
［適用例３１］
適用例３０に記載のコンピュータ読み取り可能な媒体であって、
前記コンピュータ読み取り可能な媒体は、（ｉ）ROM、（ｉｉ）EAROM、（ｉｉｉ）EPROM、（ｉｖ）EEPROM、（ｖ）フラッシュメモリ、（ｖｉ）光ディスク、（ｖｉｉ）RAM、及び（ｖｉｉｉ）ハードディスクからなる群から選択される、コンピュータ読み取り可能な媒体。
［適用例３２］
質量分析の方法であって、
イオン電流を求める工程と、
前記求めたイオン電流に依存する変数量だけイオンビームを減衰させる工程と、
減衰させたイオンビームをイオントラップに移動させ、前記求めたイオン電流に実質的に独立な時間にわたって、前記イオントラップ内にイオンを蓄積させる工程と、を備える方法。
［適用例３３］
質量分析計であって、
イオン電流を求める装置と、
前記求めたイオン電流に依存する変数量だけイオンビームを減衰させる装置と、
イオントラップと、を備え、
前記イオントラップの使用時に、減衰させたイオンビームが前記イオントラップに移動し、前記求めたイオン電流に実質的に独立な時間にわたって、前記イオントラップ内にイオンが蓄積される、質量分析計。
［適用例３４］
イオントラップにイオンを蓄積させる方法であって、
イオントラップ内に入る前にイオンビームを減衰させるための減衰係数を変化させる工程を備え、
前記減衰係数は求めたイオン電流に依存する一方、前記イオントラップの充填時間は、ほぼ一定に保持され、前記求めたイオン電流とは独立である、方法。
［適用例３５］
質量分析計であって、
使用時にイオンを蓄積させるイオントラップと、
前記イオントラップ内に入る前にイオンビームを減衰させるための減衰係数を変化させるように構成された制御システムと、を備え、
前記減衰係数は求めたイオン電流に依存する一方、前記イオントラップの充填時間は、ほぼ一定に保持され、前記求めたイオン電流とは独立である、質量分析計。
［適用例３６］
イオンを蓄積させる方法であって、
イオントラップ又は質量分析器に入る前にイオンビームを減衰させるための減衰係数を変化させる工程を備え、
前記減衰係数は、求めたイオン電流に依存する、方法。
［適用例３７］
適用例３６に記載の方法であって、
前記イオントラップ又は質量分析器が、（ｉ）四重極質量分析器、（ｉｉ）２次元又はリニア四重極質量分析器、（ｉｉｉ）ポール（Paul）トラップ型又は３次元四重極質量分析器、（ｉｖ）ペニング（Penning）トラップ型質量分析器、（ｖ）イオントラップ型質量分析器、（ｖｉ）磁場型質量分析器、（ｖｉｉ）イオンサイクロトロン共鳴（Ion Cyclotron Resonance：ICR）質量分析器（ｖｉｉｉ）フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴（Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance：FTICR）質量分析器、（ｉｘ）静電またはオービトラップ（RTM）型質量分析器、（ｘ）フーリエ変換（Fourier Transform）静電又はオービトラップ型質量分析器、（ｘｉ）フーリエ変換（Fourier Transform）質量分析器、（ｘｉｉ）飛行時間型（Time of Flight）質量分析器、（ｘｉｉｉ）直交加速飛行時間型（Time of Flight）質量分析器、及び（ｘｉｖ）線形加速飛行時間型（Time of Flight）質量分析器、からなる群から選択される、方法。
［適用例３８］
質量分析計であって、
イオントラップ又は質量分析器と、
前記イオントラップ又は質量分析器に入る前にイオンビームを減衰させるための減衰係数を変化させるように構成された制御システムと、を備え、
前記減衰係数は、求めたイオン電流に依存する、質量分析計。
［適用例３９］
適用例３８に記載の質量分析計であって、
前記イオントラップ又は質量分析器が、（ｉ）四重極質量分析器、（ｉｉ）２次元又はリニア四重極質量分析器、（ｉｉｉ）ポール（Paul）トラップ型又は３次元四重極質量分析器、（ｉｖ）ペニング（Penning）トラップ型質量分析器、（ｖ）イオントラップ型質量分析器、（ｖｉ）磁場型質量分析器、（ｖｉｉ）イオンサイクロトロン共鳴（Ion Cyclotron Resonance：ICR）質量分析器（ｖｉｉｉ）フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴（Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance：FTICR）質量分析器、（ｉｘ）静電またはオービトラップ（RTM）型質量分析器、（ｘ）フーリエ変換（Fourier Transform）静電又はオービトラップ型質量分析器、（ｘｉ）フーリエ変換（Fourier Transform）質量分析器、（ｘｉｉ）飛行時間型（Time of Flight）質量分析器、（ｘｉｉｉ）直交加速飛行時間型（Time of Flight）質量分析器、及び（ｘｉｖ）線形加速飛行時間型（Time of Flight）質量分析器、からなる群から選択される、質量分析計。
以下、例示を目的として、本発明のさまざまな実施形態や実施例を添付の図面を参照して詳述する。