【手続補正書】
【提出日】平成21年7月6日(2009.7.6)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電気光学素子が配列された素子配列部と、
前記素子配列部の周辺にて所定の方向に配列する複数の単位回路を含む周辺回路と、
所定の電位を素子配列部に供給する電源線とを具備し、
前記電源線は、
前記周辺回路と前記素子配列部との間隙にて前記所定の方向に延在する第１主配線と、
前記第１主配線から前記素子配列部に延在する複数の給電線と、
前記周辺回路を挟んで前記素子配列部とは反対側の領域から延在して前記第１主配線に接続される複数の副配線とを有し、
前記複数の副配線は、
隣り合う前記各単位回路の間隙に位置する第１副配線と、
２以上の前記単位回路を挟んで前記第１副配線と隣り合う第２副配線とを含む
電気光学装置。
【請求項２】
前記電源線は、前記周辺回路を挟んで前記素子配列部とは反対側の領域にて前記所定の方向に延在する第２主配線を含み、
前記複数の副配線は、前記第１主配線と前記第２主配線とを連結する
請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記電源線は、前記第２主配線を挟んで前記周辺回路とは反対側の領域に形成されて当該第２主配線に連結された複数の接続端子を含む
請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記第１副配線は、前記第２副配線よりも、前記複数の単位回路の配列における中央寄に位置し、前記第２副配線よりも幅広である
請求項１から請求項３の何れかに記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記電源線の少なくとも一部は、前記各単位回路を構成する要素と共通の導電層から形成される
請求項１から請求項４の何れかに記載の電気光学装置。
【請求項６】
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差に対応して配置された複数の電気光学素子が設けられた素子配列部と、
前記素子配列部の周辺にて所定の方向に配列する複数の単位回路を含む周辺回路と、
所定の電位を素子配列部に供給する電源線と、を具備し、
前記電源線は、
前記周辺回路と前記素子配列部との間隙にて前記所定の方向に延在する第１主配線と、
前記複数の電気光学素子と前記第１主配線との間に接続された複数の給電線と、
前記第１主配線に接続された複数の副配線と、を有し、
前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記複数の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、
前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記複数の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、
前記副配線の本数は、前記複数の給電線の本数と比して少ない、
電気光学装置。
【請求項７】
ｍ本の走査線と、
ｎ本のデータ線と、
前記ｍ本の走査線と前記ｎ本のデータ線との交差に対応して配置されたｍ×ｎ個の電気光学素子と、
ｍ個の単位回路を少なくとも備え、前記ｍ本の走査線に接続された走査線駆動回路と、
前記ｍ×ｎ個の電気光学素子と前記走査線駆動回路との間に配置された第１主配線と、
前記第１主配線に接続されるとともに、前記ｍ本の走査線に1対１に対応して設けられたｍ本の給電線と、
前記第１主配線に接続された複数の副配線を備え、
前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記走査線駆動回路のｍ個の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、
前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記ｍ個の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、
複数の副配線の本数は、ｍ本より少ない、
電気光学装置。
【請求項８】
ｍ本の走査線と、
ｎ本のデータ線と、
前記ｍ本の走査線と前記ｎ本のデータ線との交差に対応して配置されたｍ×ｎ個の電気光学素子と、
ｎ個の単位回路を少なくとも備え、前記ｎ本のデータ線に接続されたプリチャージ回路と、
前記ｍ×ｎ個の電気光学素子と前記プリチャージ回路との間に配置された第１主配線と、
前記第１主配線に接続されるとともに、前記ｎ本の走査線に1対１に対応して設けられたｎ本の給電線と、
前記第１主配線に接続された複数の副配線を備え、
前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記プリチャージ回路のｎ個の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、
前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記ｎ個の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、
複数の副配線の本数は、ｎ本より少ない、
電気光学装置。
【請求項９】
ｍ本の走査線と、
ｎ本のデータ線と、
前記ｍ本の走査線と前記ｎ本のデータ線との交差に対応して配置されたｍ×ｎ個の電気光学素子と、
ｍ個の単位回路を少なくとも備え、前記ｍ本の走査線に接続された検査回路と、
前記ｍ×ｎ個の電気光学素子と前記検査回路との間に配置された第１主配線と、
前記第１主配線に接続されるとともに、前記ｍ本の走査線に1対１に対応して設けられたｍ本の給電線と、
前記第１主配線に接続された複数の副配線を備え、
前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記検査回路のｍ個の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、
前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記ｍ個の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、
複数の副配線の本数は、ｍ本より少ない、
電気光学装置。
【請求項１０】
ｍ本の走査線と、
ｎ本のデータ線と、
前記ｍ本の走査線と前記ｎ本のデータ線との交差に対応して配置されたｍ×ｎ個の電気光学素子と、
ｎ個の単位回路を少なくとも備え、前記ｎ本のデータ線に接続された検査回路と、
前記ｍ×ｎ個の電気光学素子と前記検査回路との間に配置された第１主配線と、
前記第１主配線に接続されるとともに、前記ｎ本の走査線に1対１に対応して設けられたｎ本の給電線と、
前記第１主配線に接続された複数の副配線を備え、
前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記検査回路のｎ個の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、
前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記ｎ個の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、
複数の副配線の本数は、ｎ本より少ない、
電気光学装置。
【請求項１１】
請求項１から請求項１０の何れか１項に記載の電気光学装置を具備する電子機器。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
以上の課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、複数の電気光学素子が配列された素子配列部と、素子配列部の周辺にて所定の方向に配列する複数の単位回路を含む周辺回路と、所定の電位を素子配列部に供給する電源線とを具備し、電源線は、周辺回路と素子配列部との間隙にて所定の方向に延在する第１主配線と、第１主配線から素子配列部に延在する複数の給電線と、周辺回路を挟んで素子配列部とは反対側の領域から延在して第１主配線に接続される複数の副配線とを有し、複数の副配線は、隣り合う各単位回路の間隙に位置する第１副配線と、２以上の単位回路を挟んで第１副配線に隣り合う第２副配線とを含む。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
本発明の好適な態様において、電源線の少なくとも一部は、各単位回路を構成する要素と共通の導電層から形成される。以上の態様によれば、単位回路を構成する各要素と電源線とが個別に形成される場合と比較して製造工程が簡素化される。
また、上記の課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差に対応して配置された複数の電気光学素子が設けられた素子配列部と、前記素子配列部の周辺にて所定の方向に配列する複数の単位回路を含む周辺回路と、所定の電位を素子配列部に供給する電源線と、を具備し、前記電源線は、前記周辺回路と前記素子配列部との間隙にて前記所定の方向に延在する第１主配線と、前記複数の電気光学素子と前記第１主配線との間に接続された複数の給電線と、前記第１主配線に接続された複数の副配線と、を有し、前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記複数の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記複数の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、前記副配線の本数は、前記複数の給電線の本数と比して少ない。
また、上記の課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、ｍ本の走査線と、  ｎ本のデータ線と、前記ｍ本の走査線と前記ｎ本のデータ線との交差に対応して配置されたｍ×ｎ個の電気光学素子と、ｍ個の単位回路を少なくとも備え、前記ｍ本の走査線に接続された走査線駆動回路と、前記ｍ×ｎ個の電気光学素子と前記走査線駆動回路との間に配置された第１主配線と、前記第１主配線に接続されるとともに、前記ｍ本の走査線に1対１に対応して設けられたｍ本の給電線と、前記第１主配線に接続された複数の副配線を備え、前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記走査線駆動回路のｍ個の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記ｍ個の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、複数の副配線の本数は、ｍ本より少ない。
また、上記の課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、ｍ本の走査線と、ｎ本のデータ線と、前記ｍ本の走査線と前記ｎ本のデータ線との交差に対応して配置されたｍ×ｎ個の電気光学素子と、ｎ個の単位回路を少なくとも備え、前記ｎ本のデータ線に接続されたプリチャージ回路と、前記ｍ×ｎ個の電気光学素子と前記プリチャージ回路との間に配置された第１主配線と、前記第１主配線に接続されるとともに、前記ｎ本の走査線に1対１に対応して設けられたｎ本の給電線と、前記第１主配線に接続された複数の副配線を備え、前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記プリチャージ回路のｎ個の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記ｎ個の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、複数の副配線の本数は、ｎ本より少ない。
また、上記の課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、ｍ本の走査線と、ｎ本のデータ線と、前記ｍ本の走査線と前記ｎ本のデータ線との交差に対応して配置されたｍ×ｎ個の電気光学素子と、ｍ個の単位回路を少なくとも備え、前記ｍ本の走査線に接続された検査回路と、前記ｍ×ｎ個の電気光学素子と前記検査回路との間に配置された第１主配線と、前記第１主配線に接続されるとともに、前記ｍ本の走査線に1対１に対応して設けられたｍ本の給電線と、前記第１主配線に接続された複数の副配線を備え、前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記検査回路のｍ個の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記ｍ個の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、複数の副配線の本数は、ｍ本より少ない。
また、上記の課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、ｍ本の走査線と、ｎ本のデータ線と、前記ｍ本の走査線と前記ｎ本のデータ線との交差に対応して配置されたｍ×ｎ個の電気光学素子と、ｎ個の単位回路を少なくとも備え、前記ｎ本のデータ線に接続された検査回路と、前記ｍ×ｎ個の電気光学素子と前記検査回路との間に配置された第１主配線と、前記第１主配線に接続されるとともに、前記ｎ本の走査線に1対１に対応して設けられたｎ本の給電線と、前記第１主配線に接続された複数の副配線を備え、前記複数の副配線のうち、２つの副配線は、前記検査回路のｎ個の単位回路のうち、２以上の単位回路を挟むように配置され、前記２つの副配線のうち少なくとも１本は、前記ｎ個の単位回路のうち、２つの単位回路により挟まれるように配置され、複数の副配線の本数は、ｎ本より少ない。