【誤訳訂正書】
【提出日】平成25年4月15日(2013.4.15)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
繊維機械（１）においてストランド状の移動する繊維束（ＦＢ）の単位長当たりの質量及び／又は水分含有量を、繊維束（ＦＢ）が通過可能な測定チャンバー（２２）を含むマイクロ波共振器（２１）を用いて、及びマイクロ波共振器（２１、２１′）の共振周波数（ｆＲ）及び／又は線質係数（Ｑ−値）を設定することによって測定する装置（２０、２０′）において、
複数の周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）を含むスペクトル（ＧＳ）の発生器信号（ｇｓ）を出力するように設計される信号発生器（２７）が設けられ、
発生器信号（ｇｓ）は、マイクロ波共振器（２１）に入力され、
及び、マイクロ波共振器（２１）から出力される出力信号（ａｓ）が、出力信号（ａｓ）におけるスペクトル（ＡＳ）の複数の前記周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）の振幅及び／又は位相を同時に決定する評価回路（２８）を通過し、
評価回路（２８）は、出力信号（ａｓ）に対応しサンプリング回路（３２）により生成されたサンプリング信号（ａｓ′）のスペクトル分析用の分析回路（３３）を含むことを特徴とする装置。
【請求項２】
同期信号（ｓｙｓ，ｓｙｓa，ｓｙｓb）が、
評価回路（２８）と信号発生器（２７）を同期させるために提供されることを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項３】
信号発生器（２７）は、
発生器信号（ｇｓ）のスペクトル（ＧＳ）が、設定可能な最小周波数（ｆmin）、及び／又は設定可能な最大周波数（ｆmax）により限定されるように設計されることを特徴とする請求項１又は２に記載の装置。
【請求項４】
信号発生器（２７）は、
最小周波数（ｆmin）がマイクロ波共振器（２１）の使用可能な最小共振周波数（ｆRmin）よりも小さい、及び／又は最大周波数（ｆmax）がマイクロ波共振器（２１）の最大共振周波数（ｆRmax）よりも大きいことを特徴とする請求項３に記載の装置。
【請求項５】
信号発生器（２７）は、
前記周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）が発生器信号（ｇｓ）のスペクトル（ＧＳ）の全域で離散的に分散されるように設計されることを特徴とする請求項１〜４の何れか１項に記載の装置。
【請求項６】
信号発生器（２７）は、
前記離散した周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）が、発生器信号（ｇｓ）のスペクトル（ＧＳ）の全域で等間隔に分散されるように設計されることを特徴とする請求項５に記載の装置。
【請求項７】
信号発生器（２７）は、
隣接する周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）の間の間隔（Δｆ）が、マイクロ波共振器（２１、２１’）の最小帯域幅（Ｂmin）の１．５倍未満、好ましくはその最小帯域幅未満、特に好ましくは、その最小帯域幅の０．７５倍未満となるように構成されることを特徴とする請求項５又は６に記載の装置。
【請求項８】
信号発生器（２７）は、
少なくとも、評価に使用される発生器信号（ｇｓ）のスペクトル（ＧＳ）における前記周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）が、同一の振幅を有するように設計されることを特徴とする請求項１〜７の何れか１項に記載の装置。
【請求項９】
評価回路（２８）は、
マイクロ波共振器（２１、２１′）の共振周波数（ｆR）に対応する周波数信号（ｒｆｓ）、及び／又はマイクロ波共振器（２１、２１′）の線質係数に対応する線質係数信号（ｇｕｓ）を発生するように構成されることを特徴とする請求項１〜８の何れか１項に記載の装置。
【請求項１０】
評価回路（２８）は、
出力信号（ａｓ）のスペクトル（ＡＳ）における少なくとも３種の前記周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）の振幅又は位相を決定するように設計されることを特徴とする請求項１〜９の何れか１項に記載の装置。
【請求項１１】
評価回路（２８）は、
出力信号（ａｓ）のスペクトル（ＡＳ）における少なくとも２種の前記周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）の振幅及び位相を決定するように設計されることを特徴とする請求項１〜１０の何れか１項に記載の装置。
【請求項１２】
評価回路（２８）は、
誤差最小化アルゴリズムを用いてマイクロ波共振器（２１、２１′）の共振周波数（ｆR）及び／又は線質係数を決定するように設計されることを特徴とする請求項１〜１１の何れか１項に記載の装置。
【請求項１３】
評価回路（２８）は、
マイクロ波共振器（２１、２１′）の帯域幅（Ｂ）内に存在する出力信号（ａｓ）のスペクトル（ＡＳ）における前記周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）の振幅及び／又は位相を決定するように設計されることを特徴とする請求項１〜１２の何れか１項に記載の装置。
【請求項１４】
評価回路（２８）は、
出力信号（ａｓ）のスペクトル（ＡＳ）の前記周波数（ｆ1，ｆ2…ｆn）の内、マイクロ波共振器（２１、２１’）の共振周波数（ｆR）を超えて存在する少なくとも一つの振幅及び／又は位相及び
出力信号（ａｓ）のスペクトル（ＡＳ）の前記周波数（ｆ1，ｆ2…ｆn）の内、マイクロ波共振器（２１、２１’）の共振周波数（ｆR）未満に存在する少なくとも一つの振幅及び／又は位相を決定するように設計されていることを特徴とする請求項１〜１３の何れか１項に記載の装置。
【請求項１５】
評価回路（２８）は、
評価のために提供される発生器信号（ｇｓ）のスペクトル（ＧＳ）における前記周波数（ｆ1，ｆ2，・・・ｆn）の等しくない振幅を考慮に入れて設計を行うことを特徴とする請求項１〜１４の何れか１項に記載の装置。
【請求項１６】
サンプリング回路（３２）は、
出力信号（ａｓ）をサンプリングするように構成されることを特徴とする請求項１〜１５の何れか１項に記載の装置。
【請求項１７】
評価回路（２８）は、
出力信号（ａｓ）を低周波数ベースバンドに転移させて転移出力信号（ａｓBB、ａｓBBq）を発生させる転移回路（３４）を含み、
サンプリング回路（３２）が、転移出力信号（ａｓBB、ａｓBBq）をサンプリングするように設計されていることを特徴とする請求項１〜１６の何れか１項に記載の装置。
【請求項１８】
サンプリング回路（３２）は、デジタルサンプリング信号（ａｓ′）を発生させ、及び分析回路（３３）が、デジタルサンプリング信号（ａｓ′）を分析するデジタル分析回路（３３）として設計されることを特徴とする請求項１〜１７の何れか１項に記載の装置。
【請求項１９】
分析回路（３３）は、
高速フーリエ変換、及び／又はプロニー法に基づいたサンプリング信号（ａｓ′）のスペクトル分析用に設計されることを特徴とする請求項１〜１８の何れか１項に記載の装置。
【請求項２０】
内部接続部（２５）が、マイクロ波共振器（２１、２１′）に割り当てられ、
発生器信号（ｇｓ）が、内部接続部（２５）によりマイクロ波共振器（２１）に入力され、
外部接続部（２６）が、マイクロ波共振器（２１、２１′）に割り当てられ、
出力信号（ａｓ）が、外部接続部（２６）によりマイクロ波共振器（２１）から出力されることを特徴とする請求項１〜１９の何れか１項に記載の装置。
【請求項２１】
接続部（３０）が、マイクロ波共振器（２１、２１′）に割り当てられ、
発生器信号（ｇｓ）が、接続部（３０）によりマイクロ波共振器（２１）に入力され、
及び反射信号が、出力信号（ａｓ）としてマイクロ波共振器（２１）から出力されることを特徴とする請求項１〜２０の何れか１項に記載の装置。
【請求項２２】
信号発生器（２７）は、発生器信号（ｇｓ）が注入電流（ｉｅ）の形態をとるように設計され、及び
評価回路（２８）が、接続部（３０）において反射出力信号（ａｓ）として発生する電圧（ｕ）を評価するように設計されることを特徴とする請求項２１に記載の装置。
【請求項２３】
信号発生器（２７）は、発生器信号（ｇｓ）が印加電圧（ｕｅ）の形態をとるように設計され、及び
評価回路（２８）が、接続部（３０）に反射出力信号（ａｓ）として流入する電流（ｉ）を評価するように設計されることを特徴とする請求項２１又は２２に記載の装置。
【請求項２４】
信号発生器（２７）は、発生器信号（ｇｓ）が印加された波の形態をとるように設計され、及び
評価回路（２８）が、接続部（３０）において反射出力信号（ａｓ）として発生する波の振幅及び／又は位相を評価するように設計されることを特徴とする請求項２１〜２３の何れか１項に記載の装置。
【請求項２５】
ストランド状の移動する繊維束（ＦＢ）における単位長当たりの質量の測定結果（ＭＷ、ＭＷ′）、及び／又は水分含有量の測定結果（ＭＦ）を、周波数信号（ｒｔｓ）及び／又は線質係数信号（ｇｕｓ）から得る信号評価ステージ（２９）が設けられたことを特徴とする請求項１〜２４の何れか１項に記載の装置。
【請求項２６】
少なくとも１種のＦＰＧＡが設けられることを特徴とする請求項１〜２５の何れか１項に記載の装置。
【請求項２７】
マイクロ波共振器（２１、２１′）、及びそれに接続された電気回路（２７、２８、２９）、評価回路（２８）、及び／又は信号評価ステージ（２９）の少なくとも一部が、共通のハウジングに含まれることを特徴とする請求項１〜２６の何れか１項に記載の装置。
【請求項２８】
装置を外部通信パスに接続するための通信インターフェイスが、繊維機械（１）に設けられることを特徴とする請求項１〜２７の何れか１項に記載の装置。
【請求項２９】
請求項１〜２８の何れか１項に記載された装置が設けられる繊維機械（１）。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１６】
しかしながら、公知の従来技術とは異なり、種々の周波数の振幅−及び／又は位相伝達係数値について、次々に測定し、及び評価することによって、共振曲線を求める必要がない。結果として、測定結果を得るために要求される時間は、明らかに短くなる。従って、たとえ繊維束の通過速度が上昇しても、測定される値の精度を高めることができる。個々の測定結果は、測定が行われている時間の間に繊維束の部分が移動することによって、もはや品質を落とすことがなくなる。