【手続補正書】
【提出日】平成21年2月13日(2009.2.13)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素を配置する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、前記複数個のダミー画素の発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御する一方で、測定タイミングには事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定部と、
測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化部と、
前記検出輝度の平均値に基づいて、前記複数個のダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測部と、
実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の階調値に対する実測劣化率を算出する実測劣化率算出部と、
算出された実測劣化率に基づいて、階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項２】
請求項１に記載の自発光表示装置において、
前記実測劣化率算出部は、
階調値と劣化率との基本対応関係を定める基本テーブルを参照し、
前記平均階調値ｐに対応する劣化率αp と、算出対象とする階調値ｑに対応する劣化率αq との対応比率αq ／αp を、平均階調値ｐに対応する実測劣化率Ｘp に乗算することより、前記平均階調値以外の階調値に対する実測劣化率を算出する
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項３】
請求項１に記載の自発光表示装置において、
前記複数個のダミー画素は、少なくとも有効表示領域の左右外方位置に分離して配置される
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項４】
請求項１に記載の自発光表示装置において、
前記複数個のダミー画素は、少なくとも有効表示領域の上段側外方位置と下段側外方位置に分離して配置される
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項５】
請求項４に記載の自発光表示装置において、
有効表示領域の垂直方向長さが２００ｍｍより大きい場合、
前記劣化特性実測部は、上段側外方に位置するダミー画素の検出輝度又はその平均値に基づいて第１の実測劣化情報を求めると共に、上段側外方及び下段側外方に位置するダミー画素の検出輝度の平均値に基づいて第２の実測劣化情報を求め、
前記実測劣化率算出部は、有効表示領域の下端から２００ｍｍ以上の範囲に位置する画素用には、実測期間内の平均階調値と前記第１の実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の階調値に対する実測劣化率を算出し、有効表示領域の下端から２００ｍｍ以内の範囲に位置する画素用には、実測期間内の平均階調値と前記第２の実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の階調値に対する実測劣化率を算出する
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項６】
有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素を配置する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、前記複数個のダミー画素の発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定部と、
測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化部と、
前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測部と、
階調値／劣化量変換テーブルを参照して算出されるダミー画素データについての劣化量の累積値と前記実測劣化情報とを比較し、劣化量の累積値の前記実測劣化情報に対する誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
算出された誤差率に基づいて、前記階調値／劣化量変換テーブルを参照して有効表示領域を構成する画素毎に算出された劣化量の累積値を補正する見積もり誤差補正部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項７】
請求項６に記載の自発光表示装置において、
前記複数個のダミー画素は、少なくとも有効表示領域の左右外方位置に分離して配置される
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項８】
請求項６に記載の自発光表示装置において、
前記複数個のダミー画素は、少なくとも有効表示領域の上段側外方位置と下段側外方位置に分離して配置される
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項９】
請求項８に記載の自発光表示装置において、
有効表示領域の垂直方向長さが２００ｍｍより大きい場合、
前記劣化特性実測部は、上段側外方に位置するダミー画素の検出輝度又はその平均値に基づいて第１の実測劣化情報を求めると共に、上段側外方及び下段側外方に位置するダミー画素の検出輝度の平均値に基づいて第２の実測劣化情報を求め、
前記見積もり誤差率算出部は、有効表示領域の下端から２００ｍｍ以上の範囲に位置する画素用には、前記ダミー画素データより算出した累積劣化量の見積もり値が前記第１の実測劣化情報に対して含む誤差率を算出し、有効表示領域の下端から２００ｍｍ以内の範囲に位置する画素用には、前記ダミー画素データより算出した累積劣化量の見積もり値が前記第２の実測劣化情報に対して含む誤差率を算出する
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項１０】
有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素と、当該複数個のダミー画素それぞれの発光輝度を検出する輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置であって、
測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定部と、
測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化部と、
前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測部と、
実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の階調値に対する実測劣化率を算出する実測劣化率算出部と、
算出された実測劣化率に基づいて、階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする階調値／劣化率変換テーブル更新装置。
【請求項１１】
有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素と、当該複数個のダミー画素それぞれの発光輝度を検出する輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置であって、
測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定部と、
測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化部と、
前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測部と、
ダミー画素データにより生じる劣化量の見積もり値を、階調値／劣化量変換テーブルを参照して算出する劣化量算出部と、
算出された劣化量の累積値と前記実測劣化情報とを比較し、劣化量の累積値の前記実測劣化情報に対する誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
算出された誤差率に基づいて、前記階調値／劣化量変換テーブルを参照して有効表示領域を構成する画素毎に算出された劣化量の累積値を補正する見積もり誤差補正部と
を有することを特徴とする入力表示データ補正装置。
【請求項１２】
有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素と、当該複数個のダミー画素それぞれの発光輝度を検出する輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新するコンピュータプログラムであって、
測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定処理と、
測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化処理と、
前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測処理と、
実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の階調値に対する実測劣化率を算出する実測劣化率算出処理と、
算出された実測劣化率に基づいて、階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブルを更新するテーブル更新処理と
をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１３】
ダミー画素と輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに入力される入力表示データを補正するコンピュータプログラムであって、
測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定処理と、
測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化処理と、
前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測処理と、
階調値／劣化量変換テーブルを参照して算出されるダミー画素データについての劣化量の累積値と前記実測劣化情報とを比較し、劣化量の累積値の前記実測劣化情報に対する誤差率を算出する見積もり誤差率算出処理と、
算出された誤差率に基づいて、前記階調値／劣化量変換テーブルを参照して有効表示領域を構成する画素毎に算出された劣化量の累積値を補正する見積もり誤差補正処理と
をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
（仕組み１）
劣化情報の算出時に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置として、以下に示す処理機能（ａ）〜（ｅ）を搭載するものを提案する。
（ａ）測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定処理
（ｂ）測定タイミング毎に複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化処理
（ｃ）検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測処理
（ｄ）実測期間内の平均階調値と実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の階調値に対する実測劣化率を算出する実測劣化率算出処理
（ｅ）算出された実測劣化率に基づいて、階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブルを更新するテーブル更新処理
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
（仕組み２）
表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置として、以下に示す処理機能（ａ）〜（ｆ）を搭載するものを提案する。
（ａ）測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で複数個のダミー画素を発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定処理
（ｂ）測定タイミング毎に複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化処理
（ｃ）検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測処理
（ｄ）ダミー画素データにより生じる劣化量の見積もり値を、階調値／劣化量変換テーブルを参照して算出する劣化量算出処理
（ｅ）算出された劣化量の累積値と実測劣化情報とを比較し、劣化量の累積値の実測劣化情報に対する誤差率を算出する見積もり誤差率算出処理
（ｆ）算出された誤差率に基づいて、階調値／劣化量変換テーブルを参照して有効表示領域を構成する画素毎に算出された劣化量の累積値を補正する見積もり誤差補正処理