(57)【要約】【課題】より高い偽造防止効果を達成すること。【解決手段】面内方向に並んだ第１および第２光反射領域を具備し、前記第１光反射領域は、円偏光反射層を含み、前記第２光反射領域は、光反射層と、その前面と向き合ったλ／４位相差層とを含んだことを特徴とする偽造防止媒体を提供する。【選択図】      図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
面内方向に並んだ第１および第２光反射領域を具備し、
前記第１光反射領域は、円偏光反射層を含み、
前記第２光反射領域は、光反射層と、その前面と向き合ったλ／４位相差層とを含んだことを特徴とする偽造防止媒体。
【請求項２】
前記第１光反射領域は前記第２光反射領域に隣接していることを特徴とする請求項１記載の偽造防止媒体。
【請求項３】
前記第１および第２光反射領域と前記面内方向に並んだ第３光反射領域をさらに具備し、前記第３光反射領域は光反射層を含み、前記第３光反射領域は、それが含む前記光反射層の前方に層を含んでいないか又は光学的に等方性の層のみを含んでいることを特徴とする請求項１記載の偽造防止媒体。
【請求項４】
前記第１光反射領域は、前記円偏光反射層の少なくとも一部を被覆したλ／８位相差層をさらに含んでいることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載の偽造防止媒体。
【請求項５】
前記第１光反射領域は、前記円偏光反射層を部分的に被覆したλ／８位相差層をさらに含んでいることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載の偽造防止媒体。
【請求項６】
前記円偏光反射層はコレステリック液晶層であることを特徴とする請求項１から５のいずれか１項記載の偽装防止媒体。
【請求項７】
前記λ／４位相差層はネマチック液晶からなり、前記光反射層は金属光反射層であることを特徴とする請求項１から６のいずれか１項記載の偽造防止媒体。
【請求項８】
前記第１光反射領域は、前記円偏光反射層の背面と向き合った光吸収層をさらに含んでいることを特徴とする請求項１から７のいずれか１項記載の偽造防止媒体。
【請求項９】
請求項１から８のいずれか１項記載の偽造防止媒体と、その背面に支持された粘着層とを具備したことを特徴とする偽造防止ラベル。
【請求項１０】
請求項１から８のいずれか１項記載の偽造防止媒体と、これがすき込まれた紙とを具備したことを特徴とする印刷物。
【請求項１１】
請求項１から８のいずれか１項記載の偽造防止媒体と、
前記偽造防止媒体の前面を剥離可能に支持した基材と、
前記偽造防止媒体の背面に支持された接着層とを含んだことを特徴とする転写箔。
【請求項１２】
真正であるか否かが未知の物品を検証具を用いて真正品と非真正品との間で判別する方法であって、
前記真正品は請求項１から８のいずれか１項記載の偽造防止媒体を支持した物品であり、
前記検証具は、直線偏光フィルムと、前記直線偏光フィルムの一方の主面の一部と向き合い且つ進相軸が前記直線偏光フィルムの透過軸に対して４５°の角度をなしている第１のλ／４位相差層と、前記直線偏光フィルムの前記主面の他の一部と向き合い且つ進相軸が前記第１のλ／４位相差層の進相軸と直交している第２のλ／４位相差層とを具備し、
前記真正であるか否かが未知の物品と前記検証具とを、前記検証具の前記第１及び第２のλ／４位相差層と前記真正であるか否かが未知の物品とが向き合うように重ね、この状態で前記検証具のうち前記第１のλ／４位相差層に対応した部分を介して前記真正であるか否かが未知の物品を観察したときの明るさと前記第２のλ／４位相差層に対応した部分を介して前記真正であるか否かが未知の物品を観察したときの明るさとが異なる領域を含んでいない場合には、前記真正であるか未知の物品は非真正品であると判断することと、
前記真正であるか否かが未知の物品と前記検証具とを、前記検証具の前記直線偏光フィルムと前記真正であるか否かが未知の物品とが向き合うように重ね、この状態で前記検証具を介して前記真正であるか否かが未知の物品を観察したときに、前記直線偏光フィルタの透過軸の方位に応じて明るさが変化する領域を含んでいない場合には、前記真正であるか未知の物品は非真正品であると判断することとを含んだことを特徴とする判別方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、株券、債券、小切手、及び商品券などの有価証券、宝くじ、並びにＩＤカード等の偽造を防止するために利用可能な偽造防止技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子写真技術を利用した複写機が普及し、これを利用して誰でも簡単に書類を複写できるようになった。特に、最近のカラーデジタル複写機によれば、原稿か複写物かの判定が極めて困難な複写物でさえも容易に作製することができる。
【０００３】
一般的なカラーデジタル複写機では、以下の方法で複写を行う。まず、原稿に光を照射し、反射光をＣＣＤラインセンサで検知する。ＣＣＤラインセンサは、反射光の強度に応じたデジタル信号を生成し、複写機内のメモリに送信する。この読み取りを、レッド（Ｒ）、グリーン（Ｇ）、ブルー（Ｂ）の３色について行い、それぞれの色について得られたデジタル信号をメモリに格納する。次に、格納されたデジタル信号に基づいて、レーザー光で感光体ドラムに静電潜像を描画する。続いて、静電力を利用して、感光体ドラム上に静電潜像に対応したトナー像を形成する。その後、このトナー像を用紙へと転写し、転写したトナー像を用紙上に定着させる。例えば、このプロセスを３色について行うことにより、精巧なカラー複写物を得ることができる。
【０００４】
このようなカラー複写は、便利である反面、株券、債権、約束手形、小切手などの有価証券や、入場券、搭乗券などの印刷物の偽造を容易にする。このため、容易に複写できないように、印刷物に複製防止対策を施す提案が種々なされている。
【０００５】
カラー複写による複写物の色が原稿の色と異なるようにする技術が提案されている。例えば、有価証券などの原稿を非常に淡い色で着色する技術が提案されている。この淡い色を複写で正確に再現することは難しい。また、原稿に大きさの異なる網点を形成する技術が提案されている。これの複写物では、小さい網点の再現性が不十分となり易い。さらに、緑、紫、橙、金、銀等のカラー複写機のトナーにない色で印刷する技術が提案されている。また、人間が容易に知覚できる光の波長域では反射及び／又は吸収特性がほぼ等しく、人間が知覚困難な光の波長域、例えば３８０ｎｍ〜４５０ｎｍおよび６５０ｎｍ〜７８０ｎｍの波長域における反射及び／又は吸収特性が異なる２種類のインキを用いる技術が提案されている。これらインキを使用して形成した２つの領域は、見た目には同色であるが、カラー複写機で複写した場合に異なる色に再現され得る。
【０００６】
しかし、カラー複写機では、出力色の補正が可能である。また、カラースキャナで読み込んだデジタルデータをコンピュータで補正し、カラープリンタで出力するデジタルプレスが普及しつつある。従って、多少の手間をかければ、原稿の色を精巧に再現することが可能であり、上記のような技術で偽造を防止することは困難である。
【０００７】
また、例えば、有価証券などに、カラー複写機では再現不可能な特殊部品を設けておく技術も提案されている。このうち、特許文献１および２に記載されているホログラム箔などのＯＶＤ（Optical Variable Device）を有価証券などの表面上に設ける技術は、すでに実用化されている。この技術によると、ホログラムの銀面が光を鏡面反射するため、ＣＣＤラインセンサに反射光が入射せず、原稿の銀面部分は複写物では黒色に再現される。また、特許文献３には、屈折率の異なるセラミック層を積層してなり且つ見る角度によって色が変化する光学薄膜を使用する技術が記載されている。この色の変化は複写物では得ることができないので、容易に真贋判定が可能となる。さらにまた、この方法で形成された薄膜を細かく砕き、破片をインキに混入して印刷を行うことも提案されている。
【０００８】
しかしながら、エンボス技術が発達したため、レリーフ型の回折光を用いた反射層の形成は以前より低難易度化している。加えて、多層薄膜フィルムは、一般の包装用フィルムとして販売され始めている。その結果、ホログラムの偽造防止効果は低化してきている。
【０００９】
特許文献４〜７には、ホログラムと同様に見る角度に応じて反射光の色が変化する効果、すなわち、カラーシフト効果を得るべく、コレステリック液晶を使用することが記載されている。
【００１０】
高分子コレステリック液晶が選択反射する円偏光の波長は、視角に応じて変化する。特許文献４〜７には、偽造防止効果を得るべく、このカラーシフト効果を利用することが開示されている。また、コレステリック液晶層とホログラム形成部とを積層することや、コレステリック液晶顔料と電離放射線硬化性樹脂とを含んだインキを使用する技術も開示されている。さらにはコレステリック液晶層とネマチック液晶を用いた位相差層とを組み合せ、反射光としての偏光の回転方向を制御する技術の開示もある。
【００１１】
しかしながら、ディスプレイで円偏光板が頻繁に利用されるようになった昨今、コレステリック液晶が入手し易くなっている。そのため、コレステリック液晶による偽造防止効果は低下しつつある。
【特許文献１】特開平６−２５９０１３号公報
【特許文献２】特開平７−０８９２９３号公報
【特許文献３】特表２００４−５０５１５８号公報
【特許文献４】特開昭６３−５１１９３号公報
【特許文献５】ＷＯ００／１３０６５号
【特許文献６】特開２００２−１１４９３５号公報
【特許文献７】特開２００５−８８３８１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明の目的は、より高い偽造防止効果を達成することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記の課題を解決するための第１の発明は、面内方向に並んだ第１および第２光反射領域を具備し、前記第１光反射領域は、円偏光反射層を含み、前記第２光反射領域は、光反射層と、その前面と向き合ったλ／４位相差層とを含んだことを特徴とする偽造防止媒体である。
【００１４】
また、第２の発明は、前記第１光反射領域は前記第２光反射領域に隣接していることを特徴とする第１の発明の偽造防止媒体である。
【００１５】
また、第３の発明は、前記第１および第２光反射領域と前記面内方向に並んだ第３光反射領域をさらに具備し、前記第３光反射領域は光反射層を含み、前記第３光反射領域は、それが含む前記光反射層の前方に層を含んでいないか又は光学的に等方性の層のみを含んでいることを特徴とする第１の発明の偽造防止媒体である。
【００１６】
また、第４の発明は、前記第１光反射領域は、前記円偏光反射層の少なくとも一部を被覆したλ／８位相差層をさらに含んでいることを特徴とする第１から第３の発明のいずれか１つの偽造防止媒体である。
【００１７】
また、第５の発明は、前記第１光反射領域は、前記円偏光反射層を部分的に被覆したλ／８位相差層をさらに含んでいることを特徴とする第１から第３の発明のいずれか１つの偽造防止媒体である。
【００１８】
また、第６の発明は、前記円偏光反射層はコレステリック液晶層であることを特徴とする第１から第５の発明のいずれか１つの偽造防止媒体である。
【００１９】
また、第７の発明は、前記λ／４位相差層はネマチック液晶からなり、前記光反射層は金属光反射層であることを特徴とする第１から第６の発明のいずれか１つの偽造防止媒体である。
【００２０】
また、第８の発明は、前記第１光反射領域は、前記円偏光反射層の背面と向き合った光吸収層をさらに含んでいることを特徴とする第１から第７の発明のいずれか１つの偽造防止媒体である。
【００２１】
また、第９の発明は、第１から第８の発明のいずれか１つの偽造防止媒体と、その背面に支持された粘着層とを具備したことを特徴とする偽造防止ラベルである。
【００２２】
また、第１０の発明は、第１から第８の発明のいずれか１つの偽造防止媒体と、これがすき込まれた紙とを具備したことを特徴とする印刷物である。
【００２３】
また、第１１の発明は、第１から第８の発明のいずれか１つの偽造防止媒体と、前記偽造防止媒体の前面を剥離可能に支持した基材と、前記偽造防止媒体の背面に支持された接着層とを含んだことを特徴とする転写箔である。
【００２４】
また、第１２の発明は、真正であるか否かが未知の物品を検証具を用いて真正品と非真正品との間で判別する方法であって、前記真正品は第１から第８の発明のいずれか１つの偽造防止媒体を支持した物品であり、前記検証具は、直線偏光フィルムと、前記直線偏光フィルムの一方の主面の一部と向き合い且つ進相軸が前記直線偏光フィルムの透過軸に対して４５°の角度をなしている第１のλ／４位相差層と、前記直線偏光フィルムの前記主面の他の一部と向き合い且つ進相軸が前記第１のλ／４位相差層の進相軸と直交している第２のλ／４位相差層とを具備し、前記真正であるか否かが未知の物品と前記検証具とを、前記検証具の前記第１及び第２のλ／４位相差層と前記真正であるか否かが未知の物品とが向き合うように重ね、この状態で前記検証具のうち前記第１のλ／４位相差層に対応した部分を介して前記真正であるか否かが未知の物品を観察したときの明るさと前記第２のλ／４位相差層に対応した部分を介して前記真正であるか否かが未知の物品を観察したときの明るさとが異なる領域を含んでいない場合には、前記真正であるか未知の物品は非真正品であると判断することと、前記真正であるか否かが未知の物品と前記検証具とを、前記検証具の前記直線偏光フィルムと前記真正であるか否かが未知の物品とが向き合うように重ね、この状態で前記検証具を介して前記真正であるか否かが未知の物品を観察したときに、前記直線偏光フィルタの透過軸の方位に応じて明るさが変化する領域を含んでいない場合には、前記真正であるか未知の物品は非真正品であると判断することとを含んだことを特徴とする判別方法である。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、より高い偽造防止効果を達成することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図において、同様又は類似した機能を発揮する構成要素には同一の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
【００２７】
図１は、本発明の第一実施形態の偽造防止媒体を概略的に示す平面図である。図２は、図１に示す偽造防止媒体のＩＩ−ＩＩ線に沿った断面図である。
【００２８】
この偽造防止媒体１０は、図２に示す基材２１を含んでいる。基材２１は、例えば、ポリエチレンテレフタレートからなる二軸延伸フィルムである。
【００２９】
基材２１上には、光反射層２２が形成されている。典型的には、光反射層２２は、鏡面反射体である。光反射層２２は、例えば、アルミニウムを蒸着することにより形成することができる。
【００３０】
光反射層２２の前面は、光吸収層２３で部分的に被覆されている。光吸収層２３は、例えば、光反射層２２の前面の一部に黒色インキを塗布することにより形成することができる。この黒色インキとしては、例えば、カーボンブラックを樹脂中に分散させてなるものを使用することができる。
【００３１】
光吸収層２３上には、円偏光反射層２４が形成されている。円偏光反射層２４は、円偏光の一部を選択的に反射する。円偏光反射層２４は、例えば、コレステリック液晶からなる。コレステリック液晶については、後で詳述する。
【００３２】
光反射層２２の前面上では、λ／４位相差層２５が光吸収層２３と隣接している。λ／４位相差層２５は、例えば、ネマチック液晶からなる。λ／４位相差層２５は、例えば、図１に矢印ｎＡ２５で示す方向に沿った進相軸と、この進相軸に垂直な遅相軸ｎＢ２５（図１では図示せず）とを有している。λ／４位相差層２５は、波長がλであり且つ偏光面（電場ベクトルの振動面）が進相軸ｎＡ２５に対して斜めの直線偏光を入射させると、偏光面が遅相軸ｎＢ２５に平行な第１直線偏光と、偏光面が進相軸ｎＡ２５に平行であり且つ第１直線偏光からλ／４だけ位相が進んだ第２直線偏光とを出射する。
【００３３】
波長λは、設計波長である。設計波長λは、典型的には、自然光のうち人間の視細胞の感度が高い緑色光の波長、例えば約５５０ｎｍである。設計波長λにおけるλ／４位相差層２５のリターデイションは、その厚さのばらつきなどに起因して、設計通りにならないことがある。このような場合であっても、このリターデイションの設計値からのずれが、設計値の約１０％以下であれば、後述する検証に大きな影響を及ぼすことはない。
【００３４】
以下、この偽造防止媒体１０のうち、円偏光反射層２４に対応した部分を第１光反射領域１１と呼び、λ／４位相差層２５に対応した部分を第２光反射領域１２と呼ぶ。なお、図２では、円偏光反射層２４とλ／４位相差層２５とを面一にしているが、それら表面の高さは等しくなくてもよい。
【００３５】
次に、コレステリック液晶について説明する。
【００３６】
コレステリック液晶は、複数の分子層からなる。コレステリック液晶の分子の配向方向は、各々の分子層においては一定であるが、隣り合う分子層間でわずかに異なっている。このようにして、コレステリック液晶において、液晶分子は、右まわりまたは左まわりのヘリカル構造を形成している。
【００３７】
コレステリック液晶は、そのヘリカルピッチと一致する波長の光のうち、そのヘリカル構造の捩じれ方向と同じ方向に回転する偏光面を有する円偏光を、偏光面の捩じれ方向を維持したまま反射し、偏光面の回転方向が逆向きの円偏光を透過させる。コレステリック液晶のこの性質は、選択反射と呼ばれている。
【００３８】
コレステリック液晶は、そのヘリカルピッチと一致する波長の右円偏光又は左円偏光に対して最大の反射率を示す。そして、この反射率は、円偏光の波長がヘリカルピッチからずれるのに応じて小さくなる。
【００３９】
ここでは、一例として、円偏光反射層２４は、ヘリカルピッチが設計波長λと等しいコレステリック液晶からなるとする。なお、このヘリカルピッチの設計波長λからのずれが、設計波長λの約１０％以下であれば、後述する検証に大きな影響を及ぼすことはない。
【００４０】
また、以下の説明では、一例として、円偏光反射層２４は、右回りのヘリカル構造を有しているコレステリック液晶からなるとする。もちろん、円偏光反射層２４において、コレステリック液晶のヘリカル構造は右回りでも左回りでも構わない。
【００４１】
次に、偽造防止媒体１０に自然光を照射して、これを肉眼で観察した場合に見える画像について説明する。
【００４２】
第１光反射領域１１の円偏光反射層２４は、自然光のうち、波長が設計波長λとほぼ等しい右円偏光を選択反射し、それ以外の光成分を透過させる。円偏光反射層２４を透過した光成分は、光吸収層２３で吸収される。従って、第１光反射領域１１は、円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光のみを放出する。
【００４３】
一方、第２光反射領域１２では、光反射層２２が入射光を鏡面反射する。従って、第２反射領域１２は、入射光と強度がほぼ等しい光を放出する。
【００４４】
よって、偽造防止媒体１０に自然光を照射して、これを観察した場合には、第１光反射領域１１は、第２光反射領域１２と比較してより暗く見える。
【００４５】
次に、この偽造防止媒体１０を支持した物品が真正品であることを確認するためなどに用いる検証具について説明する。
【００４６】
図３は、検証具の一例を概略的に示す分解図である。図３に示す検証具５０は、直線偏光フィルム５１と、λ／４位相差層５３及び５４とを含んでいる。
【００４７】
直線偏光フィルム５１は、例えば、吸収型の偏光フィルムである。この場合、直線偏光フィルム５１は、その透過軸ＯＰと平行な偏光面を持つ直線偏光は透過させ、透過軸ＯＰと直交する偏光面を持つ直線偏光を吸収する。
【００４８】
λ／４位相差層５３は、直線偏光フィルム５１の一方の主面の一部と向き合っている。λ／４位相差層５４は、直線偏光フィルム５１の先の主面の他の一部と向き合っている。λ／４位相差層５３及び５４は、隣り合っており、典型的には１つの位相差層５２を形成している。
【００４９】
λ／４位相差層５３とλ／４位相差層５４とは、進相軸の向きが異なっている。また、λ／４位相差層５３及び５４の進相軸は、直線偏光フィルム５１の透過軸ＯＰに対して斜めである。一例として、直線偏光フィルム５１側から位相差層５２を見た場合に、λ／４位相差層５３の進相軸ｎＡ５３の方向は透過軸ＯＰに平行な方向から時計回りに４５°回転させた方向であり、λ／４位相差層５４の進相軸ｎＡ５４の方向は透過軸ＯＰに平行な方向から反時計回りに４５°回転させた方向であるとする。この場合、この検証具５０のうち、λ／４位相差層５３に対応した部分は右円偏光子として機能し、λ／４位相差層５４に対応した部分は左円偏光子として機能する。
【００５０】
設計波長λにおけるλ／４位相差層５３および５４の各々のリターデイションは、その厚さのばらつきなどに起因して、設計通りにならないことがある。このような場合であっても、このリターデイションの設計値からのずれが、設計値の約１０％以下であれば、後述する検証に大きな影響を及ぼすことはない。
【００５１】
次に、この検証具５０を用いて、偽造防止媒体１０を支持した物品が真正品であることを検証する方法を説明する。
【００５２】
図４は、図１及び図２に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の一例を概略的に示す平面図である。図５は、図４に示す構造のＶ−Ｖ線に沿った断面図である。
【００５３】
図４及び図５では、偽像防止媒体１０と検証具５０とを、λ／４位相差層５３及び５４の各々が光反射領域１１及び１２の双方と向き合うように配置している。この場合、図４に示すように、第１光反射領域１１のうち、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１１ｂは暗部として見え、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１１ａは領域１１ｂと比較してより明るく見える。一方、第２光反射領域１２のうち、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１２ａは明部として見え、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１２ｂは領域１２ａと同じ明るさに見える。
【００５４】
検証具５０を重ねることで明部と暗部とが形成される理由を説明する。ここでは、簡略化のため、設計波長λと等しい波長を有する光についてのみ考える。
【００５５】
まず、第１光反射領域１１で生じる明暗について説明する。
【００５６】
図５に示すように、偏光フィルム５１に自然光８０を照射すると、λ／４位相差層５３は右円偏光８２を放出し、λ／４位相差層５４は左円偏光８３を放出する。
【００５７】
円偏光反射層２４は、λ／４位相差層５３が放出した右円偏光を選択反射する。選択反射された右円偏光８２は、λ／４位相差層５４に入射する。λ／４位相差層５４は、右円偏光８２を直線偏光８２’へと変換する。直線偏光８２’は、偏光面が偏光フィルム５１の透過軸ＯＰに対して平行であるので、偏光フィルム５１を透過する。一方、λ／４位相差層５４が放出した左円偏光８３は、円偏光反射層２４を透過し、光吸収層２３によって吸収される。
【００５８】
以上の理由から、図４に示す第１光反射領域１１のうち、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１１ｂは暗部として見え、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１１ａは領域１１ｂと比較してより明るく見える。
【００５９】
次に、第２光反射領域１２で生じる明暗について説明する。
【００６０】
図５を参照しながら説明した通り、偏光フィルム５１に自然光を照射すると、λ／４位相差層５３は右円偏光を放出し、λ／４位相差層５４は左円偏光を放出する。
【００６１】
λ／４位相差層５３が放出した右円偏光は、図２に示すλ／４位相差層２５に入射する。λ／４位相差層２５は、右円偏光を第１直線偏光へと変換する。第１直線偏光は、光反射層２２によって鏡面反射され、λ／４位相差層２５に再び入射する。λ／４位相差層２５は、第１直線偏光を右円偏光へと変換する。λ／４位相差層２５が放出した右円偏光は、図３に示すλ／４位相差層５３に入射する。λ／４位相差層５３は、右円偏光を直線偏光へと変換する。この直線偏光は、偏光面が偏光フィルム５１の透過軸ＯＰに平行であるので、偏光フィルム５１を透過する。
【００６２】
図５に示すλ／４位相差層５４が放出した左円偏光は、図２に示すλ／４位相差層２５に入射する。λ／４位相差層２５は、左円偏光を、第１直線偏光の偏光面に対して垂直な偏光面を有する第２直線偏光へと変換する。第２直線偏光は、光反射層２２によって鏡面反射され、λ／４位相差層２５に再び入射する。λ／４位相差層２５は、第２直線偏光を左円偏光へと変換する。λ／４位相差層２５が放出した左円偏光は、図３に示すλ／４位相差層５４に入射する。λ／４位相差層５４は、左円偏光を直線偏光へと変換する。この直線偏光は、偏光面が偏光フィルム５１の透過軸ＯＰに平行であるので、偏光フィルム５１を透過する。
【００６３】
以上の理由から、図４に示す第２光反射領域１２のうち、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１２ａは明部として見え、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１２ｂは領域１２ａと同じ明るさに見える。
【００６４】
なお、領域１１ａ及び１１ｂ並びに領域１２ａ及び１２ｂについて上述した明るさの関係は、検証具５０を法線の周りで回転させたとしても変化しない。これは、λ／４位相差層５３及び５４が偽造防止媒体１０に向けて放出する光は円偏光であり、領域１１ｂは検証具５０に向けて光を放出せず、領域１１ａ、１２ａ及び１２ｂが検証具５０に向けて放出する光も円偏光であるためである。
【００６５】
次に、検証具５０を裏返しにして偽造防止媒体１０に重ねた場合に見える画像について説明する。
【００６６】
図６は、図１及び図２に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の他の例を概略的に示す平面図である。図７は、図６に示す構造のＶＩＩ−ＶＩＩ線に沿った断面図である。図６及び図７では、検証具５０を裏返しにすると共に、偏光フィルタ５１の透過軸ＯＰとλ／４位相差層２５の進相軸ｎＡ２５とを直交させている。
【００６７】
検証具５０を裏返しにした場合、検証具５０は、透過軸ＯＰを有する直線偏光子として機能する。すなわち、図７に示すように、λ／４位相差層５２側から検証具５０に自然光Ｌｉ−ｎを照射すると、検証具５０は、偽造防止媒体１０に向けて、偏光フィルム５１の透過軸ＯＰに平行な偏光面を有する直線偏光Ｌｐ−ｐ１を放出する。
【００６８】
第１光反射領域１１に入射した直線偏光Ｌｐ−ｐ１のうち、右円偏光Ｌｒ−ｒは円偏光反射層２４によって選択反射され、他の左円偏光Ｌｒ−ｌは円偏光反射層２４を透過して光吸収層２３に吸収される。選択反射された右円偏光Ｌｒ−ｒは、偏光フィルム５１に入射する。偏光フィルム５１は、この右円偏光Ｌｒ−ｒのうち、偏光面が透過軸ＯＰに平行な直線偏光を透過させ、偏光面が透過軸ＯＰに垂直な直線偏光を吸収する。偏光フィルム５１を透過した直線偏光は、λ／４位相差層５２に入射する。λ／４位相差層５２のλ／４位相差層５３及び５４は、それぞれ、先の直線偏光を右円偏光及び左円偏光へと変換する。これら右円偏光と左円偏光とに強度の違いはない。したがって、第１光反射領域１１のうち、λ／４位相差層５３を介して見える部分と、λ／４位相差層５４を介して見える部分との間に明るさの違いはない。
【００６９】
第２光反射領域１２に入射した直線偏光Ｌｐ−ｐ１は、λ／４位相差層２５を透過する。直線偏光Ｌｐ−ｐ１の偏光面とλ／４位相差層２５の進相軸ｎＡ２５とが直交しているので、入射した直線偏光Ｌｐ−ｐ１は直線偏光Ｌｐ−ｐ１として透過し、光反射層２２によって反射される。反射光としての直線偏光Ｌｒ−ｐ１は、λ／４位相差層２５を透過し、さらに偏光フィルム５１を透過する。偏光フィルム５１が出射した直線偏光Ｌｒ−ｐ１は、λ／４位相差層５２に入射する。λ／４位相差層５２のλ／４位相差層５３及び５４は、それぞれ、先の直線偏光を右円偏光及び左円偏光へと変換する。これら右円偏光と左円偏光とに強度の違いはない。したがって、第２光反射領域１２のうち、λ／４位相差層５３を介して見える部分と、λ／４位相差層５４を介して見える部分との間に明るさの違いはない。
【００７０】
図８は、図１及び図２に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図である。図９は、図８に示す構造のＩＸ−ＩＸ線に沿った断面図である。図８及び図９には、図６及び図７に示す状態から、検証具５０のみを観察者側から見て時計回りに４５°回転させた状態を描いている。
【００７１】
図８及び図９に示すように偽造防止媒体１０と検証具５０とを配置した場合、第１光反射領域１１は、図６及び図７を参照しながら説明したのと同じ明るさに見える。これは、第１光反射領域１１が表示に利用する光は、円偏光反射層２４が選択反射する光のみであるためである。
【００７２】
これに対し、第２光反射領域１２は、図６及び図７を参照しながら説明した配置を採用した場合と比較してより暗く見える。これについて、以下に説明する。
【００７３】
図８及び図９に示す配置では、光学軸ＯＰと進相軸ｎＡ２５とは４５°の角度をなしている。したがって、偏光フィルム５１が出射した直線偏光Ｌｐ−ｐ１は、λ／４位相差層２５によって右円偏光へと変換される。この右円偏光は、光反射層２２によって反射されることにより左円偏光となり、λ／４位相差層２５を透過することによって直線偏光Ｌｒ−ｐ２へと変換される。直線偏光Ｌｒ−ｐ２の偏光面は偏光フィルム５１の透過軸ＯＰに対して垂直である。したがって、偏光フィルム５１に入射した直線偏光Ｌｒ−ｐ２は、偏光フィルム５１によって吸収される。その結果、図８及び図９に示す配置では、第２光反射領域１２は、暗部として見える。
【００７４】
この偽造防止媒体１０は、真正であることが確認されるべき物品に支持させる。このような偽造防止対策を施した物品と偽造品などの非真正品とを肉眼で判別できない場合であっても、例えば、検証具５０を使用することによりそれらを判別することができる。例えば、図４乃至図９を参照しながら説明した方法で真正であるか否かが未知の物品を観察したときに、上述した画像が表示されない場合、その物品は非真正品であると判断することができる。偽造防止媒体１０と検証具５０との配置に応じた表示画像の変化は、偽造防止媒体１０の複写物で再現することはできない。また、偽造防止媒体１０の複製は、困難である。したがって、偽造防止媒体１０を使用すると、より高い偽造防止効果を達成することが可能となる。
【００７５】
次に、本発明の他の実施形態を説明する。
【００７６】
図１０は、本発明の第二実施形態の偽造防止媒体を概略的に示す平面図である。図１１は、図１０に示す偽造防止媒体のＸＩ−ＸＩ線に沿った断面図である。
【００７７】
この偽造防止媒体１０は、以下の構成を採用したこと以外は、図１及び図２を参照しながら説明した偽造防止媒体１０と同様である。すなわち、図１０及び図１１に示す偽造防止媒体１０では、λ／４位相差層２５を光吸収層２３及び円偏光反射層２４から離間させている。換言すれば、この偽造防止媒体１０では、第１光反射領域１１と第２光反射領域１２とを互いから離間させ、それらの間に、光反射層１３を含んだ第３光反射領域１３を形成している。
【００７８】
第３光反射領域１３は、図１０及び図１１に示すように、それが含む光反射層１３の前方に層を含んでいなくてもよい。或いは、第３光反射領域１３は、それが含む光反射層２２の前方に光学的に等方性の層を含んでいてもよい。
【００７９】
次に、偽造防止媒体１０に自然光を照射して、これを肉眼で観察した場合に見える画像について説明する。
【００８０】
第一実施形態で説明した通り、第１光反射領域１１は円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光のみを放出し、第２反射領域１２は入射光と強度がほぼ等しい光を放出する。第３反射領域１３も、入射光と強度がほぼ等しい光を放出する。よって、偽造防止媒体１０に自然光を照射して、これを肉眼で観察した場合には、第１光反射領域１１は、第２光反射領域１２及び第３光反射領域１３と比較してより暗く見える。
【００８１】
次に、この偽造防止媒体１０が、図３に示す検証具５０を用いて観察した場合に表示する画像について説明する。
【００８２】
図１２は、図１０及び図１１に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の一例を概略的に示す平面図である。
【００８３】
図１２では、偽像防止媒体１０と検証具５０とを、λ／４位相差層５３及び５４の各々が光反射領域１１乃至１３と向き合うように配置している。この場合、図４及び図５を参照しながら説明したのと同様に、第１光反射領域１１のうち、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１１ｂは暗部として見え、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１１ａは領域１１ｂと比較してより明るく見える。そして、第２光反射領域１２のうち、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１２ａは明部として見え、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１２ｂは領域１２ａと同じ明るさに見える。
【００８４】
また、図５を参照しながら説明したように、偏光フィルム５１に自然光８０を照射すると、λ／４位相差層５３は右円偏光８２を放出し、λ／４位相差層５４は左円偏光８３を放出する。第３光反射領域１３は、右円偏光を左円偏光に変換し、左円偏光を右円偏光に変換する。すなわち、λ／４位相差層５３に入射する第３光反射領域１３からの反射光は左円偏光であり、λ／４位相差層５４に入射する第３光反射領域１３からの反射光は右円偏光である。したがって、第３光反射領域１３のうち、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１３ａは暗部として見え、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１３ｂも暗部として見える。
【００８５】
次に、検証具５０を裏返しにして偽造防止媒体１０に重ねた場合に見える画像について説明する。
【００８６】
図１３は、図１０及び図１１に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の他の例を概略的に示す平面図である。図１３では、検証具５０を裏返しにすると共に、偏光フィルタ５１の透過軸ＯＰとλ／４位相差層２５の進相軸ｎＡ２５とを直交させている。
【００８７】
この場合、第１光反射領域１１及び第２光反射領域１２は、図６及び図７を参照しながら説明したのと同じ明るさで見える。また、検証具５０を裏返しにした場合、検証具５０は、透過軸ＯＰを有する直線偏光子として機能する。したがって、第３光反射領域１３のうち、λ／４位相差層５３を介して観察可能な領域は明部として見え、λ／４位相差層５４を介して観察可能な領域も明部として見える。
【００８８】
図１４は、図１０及び図１１に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図である。図１４には、図１３に示す状態から、検証具５０のみを観察者側から見て時計回りに４５°回転させた状態を描いている。
【００８９】
この場合、第１光反射領域１１及び第２光反射領域１２は、図８及び図９を参照しながら説明したのと同じ明るさで見える。また、第３光反射領域１３は、図１３を参照しながら説明したのと同じ明るさで見える。
【００９０】
この偽造防止媒体１０を真正であることが確認されるべき物品に支持させた場合、第一実施形態で説明したのと同様の方法により、真正品と非真正品とを判別することができる。加えて、上記の通り、第３光反射領域１３が表示する画像の偽造防止媒体１０と検証具５０との配置に応じた変化は、第１光反射領域１１が表示する画像及び第２光反射領域１２が表示する画像の変化とは異なっている。それゆえ、真正であるか否かが未知の物品が第３光反射領域１３に関して上述した画像変化を生じない場合には、その物品は非真正品であると判断することができる。したがって、これを利用することにより、非真正品を真正品であると誤って判断する確率が低下する。
【００９１】
また、図１０及び図１１を参照しながら説明した偽造防止媒体１０は、図１及び図２を参照しながら説明した偽造防止媒体１０と比較して、構造がより複雑である。それゆえ、この偽造防止媒体１０は、複製がより困難である。したがって、この偽造防止媒体１０を使用すると、さらに高い偽造防止効果を達成することが可能となる。
【００９２】
次に、本発明のさらに他の実施形態を説明する。
【００９３】
図１５は、本発明の第三実施形態の偽造防止媒体を概略的に示す平面図である。図１６は、図１５に示す偽造防止媒体のＸＶＩ−ＸＶＩ線に沿った断面図である。
【００９４】
この偽造防止媒体１０は、以下の構成を採用したこと以外は、図１及び図２を参照しながら説明した偽造防止媒体１０と同様である。すなわち、図１５及び図１６に示す偽造防止媒体１０では、円偏光反射層２４をλ／８位相差層２６で部分的に被覆している。偽造防止媒体１０のうちλ／８位相差層２６に対応した部分は、第４光反射領域１４である。第４光反射領域１４は、第１光反射領域１１及び第２光反射領域１２と面内方向に隣り合っている。
【００９５】
λ／８位相差層２６は、例えば、図２０に矢印ｎＡ２６で示す方向に沿った進相軸と、この進相軸に垂直な遅相軸ｎＢ２６（図２０では図示せず）とを有している。λ／８位相差層２６は、波長がλであり且つ偏光面（電場ベクトルの振動面）が進相軸ｎＡ２６に対して斜めの直線偏光を入射させると、偏光面が遅相軸ｎＢ２６に平行な第１直線偏光と、偏光面が進相軸ｎＡ２６に平行であり且つ第１直線偏光からλ／８だけ位相が進んだ第２直線偏光とを出射する。λ／８位相差層２６は、λ／４位相差層２５に関して説明したのと同様の方法により形成することができる。
【００９６】
λ／８位相差層２６の進相軸ｎＡ２６がλ／４位相差層２５の進相軸ｎＡ２５に対してなす角度は任意である。ここでは、一例として、進相軸ｎＡ２６と進相軸ｎＡ２５とは直交していることとする。
【００９７】
次に、偽造防止媒体１０に自然光を照射して、これを肉眼で観察した場合に見える画像について説明する。
【００９８】
第一実施形態で説明した通り、第１光反射領域１１は円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光のみを放出し、第２反射領域１２は入射光と強度がほぼ等しい光を放出する。第４反射領域１４も、円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光のみを放出する。よって、偽造防止媒体１０に自然光を照射して、これを肉眼で観察した場合には、第１光反射領域１１と第４光反射領域１４とは、ほぼ同じ明るさに見えると共に、第２光反射領域１２と比較してより暗く見える。
【００９９】
次に、この偽造防止媒体１０が、図３に示す検証具５０を用いて観察した場合に表示する画像について説明する。
【０１００】
図１７は、図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の一例を概略的に示す平面図である。
【０１０１】
図１７では、偽像防止媒体１０と検証具５０とを、λ／４位相差層５３及び５４の各々が光反射領域１１、１２及び１４と向き合うように配置している。この場合、図４及び図５を参照しながら説明したのと同様に、第１光反射領域１１のうち、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１１ｂは暗部として見え、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１１ａは領域１１ｂと比較してより明るく見える。そして、第２光反射領域１２のうち、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１２ａは明部として見え、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１２ｂは領域１２ａと同じ明るさに見える。
【０１０２】
第４光反射領域１４のうち、λ／４位相差層５３と向き合っている領域１４ａは、λ／４位相差層５４と向き合っている領域１４ｂと比較してより明るく見える。これについて、図１８を参照しながら説明する。
【０１０３】
図１８は、図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に第４光反射領域が光を反射する様子を概略的に示す図である。図１８（Ａ）は、第４光反射領域１４のうちλ／４位相差層５３と向き合っている領域１４ａが光を反射する様子を示している。図１８（Ｂ）は、第４光反射領域１４のうちλ／４位相差層５４と向き合っている領域１４ｂが光を反射する様子を示している。
【０１０４】
図１８（Ａ）に示すように、光源１００が放出する自然光Ｌｉ−ｎは、直線偏光フィルム５１に入射する。偏光フィルム５１は、その透過軸ＯＰに平行な偏光面を有する直線偏光Ｌｐ−ｐ１を出射する。
【０１０５】
偏光フィルム５１が放出した直線偏光Ｌｐ−ｐ１は、λ／４位相差層５３に入射する。λ／４位相差層５３は、直線偏光Ｌｐ−ｐ１を右円偏光Ｌｐ−ｒへと変換する。
【０１０６】
λ／４位相差層５３が放出した右円偏光Ｌｐ−ｒは、λ／８位相差層２６に入射する。λ／８位相差層２６は、右円偏光Ｌｐ−ｒを右楕円偏光Ｌｐ−ｅｒへと変換する。この右楕円偏光Ｌｐ−ｅｒの電場ベクトルの終端の軌跡は、円偏光反射層２４側から見た場合に、長軸が進相軸ｎＡ２６に対して反時計回りに４５°傾いた楕円を形成している。
【０１０７】
λ／８位相差層２６が放出した右楕円偏光Ｌｐ−ｅｒは、円偏光反射層２４に入射する。円偏光反射層２４は、右ヘリカル構造を有しているので、右円偏光ＬＡｒ−ｒを選択反射し、他の光成分を透過させる。円偏光反射層２４を透過した光成分Ｌｐ−ｌは、光吸収層２３によって吸収される。
【０１０８】
円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光ＬＡｒ−ｒは、λ／８位相差層２６に入射する。λ／８位相差層２６は、右円偏光ＬＡｒ−ｒを右楕円偏光ＬＡｒ−ｅｒへと変換する。この右楕円偏光ＬＡｒ−ｅｒの電場ベクトルの終端の軌跡は、λ／４位相差層５３側から見た場合に、長軸が進相軸ｎＡ５３に対して時計回りに４５°傾いた楕円を形成している。
【０１０９】
λ／８位相差層２６が放出した右楕円偏光ＬＡｒ−ｅｒは、λ／４位相差層５３に入射する。λ／４位相差層５３は、右楕円偏光ＬＡｒ−ｅｒを右楕円偏光Ｌ’Ａｒ−ｅｒへと変換する。この右楕円偏光Ｌ’Ａｒ−ｅｒの電場ベクトルの終端の軌跡は、偏光フィルム５１側から見た場合に、長軸が透過軸ＯＰに対して平行な楕円を形成している。
【０１１０】
λ／４位相差層５３が放出した楕円偏光Ｌ’Ａｒ−ｅｒは、直線偏光フィルム５１に入射する。偏光フィルム５１は、楕円偏光Ｌ’Ａｒ−ｅｒのうち、透過軸ＯＰと平行な偏光面をもつ直線偏光ＬＡｒ−ｐ１を透過させ、他の光成分を吸収する。
【０１１１】
このようにして、領域１４ａからの反射光として、直線偏光ＬＡｒ−ｐ１が観察者２００へと到達する。
【０１１２】
領域１４ｂには、図１８（Ｂ）に示すように、光源１００が放出する自然光Ｌｉ−ｎのうち、直線偏光Ｌｐ−ｐ１が入射する。具体的には、直線偏光Ｌｐ−ｐ１は、λ／４位相差層５４に入射する。λ／４位相差層５４は、直線偏光Ｌｐ−ｐ１を左円偏光Ｌｐ−ｌへと変換する。
【０１１３】
λ／４位相差層５４が放出した左円偏光Ｌｐ−ｌは、λ／８位相差層２６に入射する。λ／８位相差層２６は、左円偏光Ｌｐ−ｌを左楕円偏光Ｌｐ−ｅｌへと変換する。この左楕円偏光Ｌｐ−ｅｌの電場ベクトルの終端の軌跡は、円偏光反射層２４側から見た場合に、長軸が進相軸ｎＡ２６に対して反時計回りに４５°傾いた楕円を形成している。
【０１１４】
λ／８位相差層２６が放出した左楕円偏光Ｌｐ−ｅｌは、円偏光反射層２４に入射する。円偏光反射層２４は、右ヘリカル構造を有しているので、右円偏光ＬＢｒ−ｒを選択反射し、他の光成分を透過させる。円偏光反射層２４を透過した光成分Ｌｐ−ｌは、光吸収層２３によって吸収される。
【０１１５】
なお、円偏光反射層２４に入射する円偏光は、領域１４ａでは右楕円偏光Ｌｐ−ｅｒであったのに対し、領域１４ｂでは左楕円偏光Ｌｐ−ｅｌである。したがって、領域１４ｂで円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光ＬＢｒ−ｒは、領域１４ａで円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光ＬＡｒ−ｒと比較して強度がより小さい。
【０１１６】
円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光ＬＢｒ−ｒは、λ／８位相差層２６に入射する。λ／８位相差層２６は、右円偏光ＬＢｒ−ｒを右楕円偏光ＬＢｒ−ｅｒへと変換する。この右楕円偏光ＬＢｒ−ｅｒの電場ベクトルの終端の軌跡は、λ／４位相差層５３側から見た場合に、長軸が進相軸ｎＡ５３に対して時計回りに４５°傾いた楕円を形成している。
【０１１７】
λ／８位相差層２６が放出した右楕円偏光ＬＢｒ−ｅｒは、λ／４位相差層５３に入射する。λ／４位相差層５３は、右楕円偏光ＬＢｒ−ｅｒを右楕円偏光Ｌ’Ｂｒ−ｅｒへと変換する。この右楕円偏光Ｌ’Ｂｒ−ｅｒの電場ベクトルの終端の軌跡は、偏光フィルム５１側から見た場合に、長軸が透過軸ＯＰに対して平行な楕円を形成している。
【０１１８】
λ／４位相差層５３が放出した楕円偏光Ｌ’Ｂｒ−ｅｒは、直線偏光フィルム５１に入射する。偏光フィルム５１は、楕円偏光Ｌ’Ｂｒ−ｅｒのうち、透過軸ＯＰと平行な偏光面をもつ直線偏光ＬＢｒ−ｐ１を透過させ、他の光成分を吸収する。
【０１１９】
このようにして、領域１４ｂからの反射光として、直線偏光ＬＢｒ−ｐ１が観察者２００へと到達する。
【０１２０】
上記の通り、領域１４ｂで円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光ＬＢｒ−ｒは、領域１４ａで円偏光反射層２４が選択反射した右円偏光ＬＡｒ−ｒと比較して強度がより小さい。したがって、領域１４ｂが放出する直線偏光ＬＢｒ−ｐ１は、領域１４ａが放出する直線偏光ＬＡｒ−ｐ１と比較して強度がより小さい。したがって、領域１４ａは、領域１４ｂと比較してより明るく見える。
【０１２１】
次に、検証具５０を裏返しにして偽造防止媒体１０に重ねた場合に見える画像について説明する。
【０１２２】
図１９は、図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の他の例を概略的に示す平面図である。
【０１２３】
図１９では、検証具５０を裏返しにすると共に、偏光フィルタ５１の透過軸ＯＰとλ／８位相差層２６の進相軸ｎＡ２６と平行にしている。この場合、第１光反射領域１１及び第２光反射領域１２は、図６及び図７を参照しながら説明したのと同じ明るさで見える。
【０１２４】
また、検証具５０を裏返しにした場合、検証具５０は、透過軸ＯＰを有する直線偏光子として機能する。図１９に示す配置では、偏光フィルム５１の透過軸ＯＰとλ／８位相差層２６の進相軸ｎＡ２６とは平行であるので、第４光反射領域１４において、円偏光反射層２４には、偏光面がλ／８位相差層２６の進相軸ｎＡ２６と平行な直線偏光が入射する。円偏光反射層２４は、これに入射した直線偏光のうち、右円偏光を選択反射し、左円偏光を透過させる。左円偏光は光吸収層２３によって吸収され、右円偏光はλ／８位相差層２６に入射する。
【０１２５】
λ／８位相差層２６は、先の右円偏光を、右楕円偏光へと変換する。この右楕円偏光の電場ベクトルの終端の軌跡は、偏光フィルム５１側から見た場合に、長軸が透過軸ＯＰに対して反時計回りに４５°傾いた楕円を形成している。λ／８位相差層２６が放出した右楕円偏光は、偏光フィルム５１に入射する。偏光フィルム５１は、右楕円偏光のうち、偏光面が透過軸ＯＰに平行な直線偏光を透過させる。λ／４位相差層５３及び５４は、この直線偏光を、強度が互いに等しい右円偏光及び左円偏光へとそれぞれ変換する。したがって、第４光反射領域１４のうち、λ／４位相差層５３を介して観察可能な領域と、λ／４位相差層５４を介して観察可能な領域とは、同じ明るさに見える。
【０１２６】
図２０は、図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図である。
【０１２７】
図２０には、図１９に示す状態から、検証具５０のみを観察者側から見て反時計回りに４５°回転させた状態を描いている。この場合、第１光反射領域１１及び第２光反射領域１２は、図８及び図９を参照しながら説明したのと同じ明るさで見える。
【０１２８】
図２０に示す配置では、検証具５０側から偽造防止媒体１０を見た場合に、偏光フィルム５１の透過軸ＯＰは、λ／８位相差層２６の進相軸ｎＡ２６に対して反時計回りに４５°の角度をなしている。したがって、第４光反射領域１４において、λ／８位相差層２６は、偏光フィルム５１が放出した直線偏光を、右楕円偏光へと変換する。この右楕円偏光の電場ベクトルの終端の軌跡は、円偏光反射層２４側から見た場合に、長軸がλ／８位相差層２６の進相軸ｎＡ２６に対して時計回りに４５°傾いた楕円を形成している。
【０１２９】
この右楕円偏光は、円偏光反射層２４に入射する。円偏光反射層２４は、これに入射した右楕円偏光のうち、右円偏光を選択反射し、他の光成分を透過させる。左円偏光は光吸収層２３によって吸収され、右円偏光はλ／８位相差層２６に入射する。
【０１３０】
λ／８位相差層２６は、先の右円偏光を、右楕円偏光へと変換する。この右楕円偏光の電場ベクトルの終端の軌跡は、偏光フィルム５１側から見た場合に、長軸が透過軸ＯＰに対して反時計回りに４５°傾いた楕円を形成している。λ／８位相差層２６が放出した右楕円偏光は、偏光フィルム５１に入射する。偏光フィルム５１は、右楕円偏光のうち、偏光面が透過軸ＯＰに平行な直線偏光を透過させる。λ／４位相差層５３及び５４は、この直線偏光を、強度が互いに等しい右円偏光及び左円偏光へとそれぞれ変換する。したがって、第４光反射領域１４のうち、λ／４位相差層５３を介して観察可能な領域と、λ／４位相差層５４を介して観察可能な領域とは、同じ明るさに見える。
【０１３１】
なお、図１９の配置では円偏光反射層２４には直線偏光が入射したのに対し、図２０の配置では円偏光反射層２４には右楕円偏光が入射する。したがって、図２０の配置によると、図１９の配置と比較して、円偏光反射層２４が選択反射する右円偏光の強度がより大きい。すなわち、図２０の配置では、図１９の配置と比較して、第４光反射領域１４がより明るく見える。
【０１３２】
図２１は、図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図である。
【０１３３】
図２１には、図１９に示す状態から、検証具５０のみを観察者側から見て反時計回りに９０°回転させた状態を描いている。この場合、第１光反射領域１１及び第２光反射領域１２は、図８及び図９を参照しながら説明したのと同じ明るさで見える。また、第４光反射領域１４は、偽造防止媒体１０と検証具５０とを図１９に示すように配置した場合と同じ明るさに見える。
【０１３４】
図２２は、図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図である。
【０１３５】
図２２には、図１９に示す状態から、検証具５０のみを観察者側から見て反時計回りに１３５°回転させた状態を描いている。この場合、第１光反射領域１１及び第２光反射領域１２は、図８及び図９を参照しながら説明したのと同じ明るさで見える。
【０１３６】
図２２に示す配置では、検証具５０側から偽造防止媒体１０を見た場合に、偏光フィルム５１の透過軸ＯＰは、λ／８位相差層２６の進相軸ｎＡ２６に対して時計回りに４５°の角度をなしている。したがって、第４光反射領域１４において、λ／８位相差層２６は、偏光フィルム５１が放出した直線偏光を、左楕円偏光へと変換する。この左楕円偏光の電場ベクトルの終端の軌跡は、円偏光反射層２４側から見た場合に、長軸がλ／８位相差層２６の進相軸ｎＡ２６に対して反時計回りに４５°傾いた楕円を形成している。
【０１３７】
この左楕円偏光は、円偏光反射層２４に入射する。円偏光反射層２４は、これに入射した左楕円偏光のうち、右円偏光を選択反射し、他の光成分を透過させる。左円偏光は光吸収層２３によって吸収され、右円偏光はλ／８位相差層２６に入射する。
【０１３８】
λ／８位相差層２６は、先の右円偏光を、右楕円偏光へと変換する。この右楕円偏光の電場ベクトルの終端の軌跡は、偏光フィルム５１側から見た場合に、長軸が透過軸ＯＰに対して反時計回りに４５°傾いた楕円を形成している。λ／８位相差層２６が放出した右楕円偏光は、偏光フィルム５１に入射する。偏光フィルム５１は、右楕円偏光のうち、偏光面が透過軸ＯＰに平行な直線偏光を透過させる。λ／４位相差層５３及び５４は、この直線偏光を、強度が互いに等しい右円偏光及び左円偏光へとそれぞれ変換する。したがって、第４光反射領域１４のうち、λ／４位相差層５３を介して観察可能な領域と、λ／４位相差層５４を介して観察可能な領域とは、同じ明るさに見える。
【０１３９】
図１９の配置では円偏光反射層２４には直線偏光が入射したのに対し、図２２の配置では円偏光反射層２４には左楕円偏光が入射する。したがって、図２２の配置によると、図１９の配置と比較して、円偏光反射層２４が選択反射する右円偏光の強度がより小さい。すなわち、図２２の配置では、図１９の配置と比較して、第４光反射領域１４がより暗く見える。
【０１４０】
この偽造防止媒体１０を真正であることが確認されるべき物品に支持させた場合、第一実施形態で説明したのと同様の方法により、真正品と非真正品とを判別することができる。加えて、上記の通り、第４光反射領域１３が表示する画像の偽造防止媒体１０と検証具５０との配置に応じた変化は、第１光反射領域１１が表示する画像及び第２光反射領域１２が表示する画像の変化とは異なっている。それゆえ、真正であるか否かが未知の物品が第４光反射領域１３に関して上述した画像変化を生じない場合には、その物品は非真正品であると判断することができる。したがって、これを利用することにより、非真正品を真正品であると誤って判断する確率が低下する。
【０１４１】
また、図１５及び図１６を参照しながら説明した偽造防止媒体１０は、図１及び図２を参照しながら説明した偽造防止媒体１０と比較して、構造がより複雑である。それゆえ、この偽造防止媒体１０は、複製がより困難である。したがって、この偽造防止媒体１０を使用すると、さらに高い偽造防止効果を達成することが可能となる。
【０１４２】
上述した偽造防止媒体１０には、様々な変形が可能である。例えば、円偏光反射層２４の前面全体をλ／８位相差層２６で被覆してもよいし、円偏光反射層２４の前面の一部をλ／８位相差層２６で被覆し、他の一部をλ／４位相差層で被覆してもよい。
【０１４３】
光吸収層２３は有色層でもよい。また、光吸収層２３の一部または全体を光反射層で置換してもよい。
【０１４４】
光反射層２２は、カラーシフト性の顔料含有層であってもよい。また、光反射層２２は、レリーフ構造を有する金属反射層であってもよい。
【０１４５】
偽造防止媒体１０が含む各位相差層は、反射光を遮らない程度に染料及び／又は顔料で着色されてもよい。例えば、着色層を一対の位相差層で挟み、それらで１つの位相差層を構成してもよい。或いは、位相差層の前方及び／又は後方に着色層を設けてもよい。
【０１４６】
円偏光反射層２４を形成するコレステリック液晶のヘリカル構造の捩れ方向は、左右どちらでもよい。また、右回りのヘリカル構造を有するコレステリック液晶層と左回りのヘリカル構造を有するコレステリック液晶層とを併用してもよい。円偏光反射層２４は、例えば、コレステリック液晶を粉砕し樹脂に分散したものを用いて形成してもよい。
【０１４７】
偽造防止媒体１０の前面を保護層で被覆してもよい。
【０１４８】
偽造防止媒体１０の背面、ここでは基材２１の２つの主面のうち、反射層２２が形成されていない面に、粘着又は接着加工を施してもよい。すなわち、偽造防止媒体１０を用いて、偽造防止ラベルとして使用可能な粘着ラベルを形成してもよい。
【０１４９】
偽造防止媒体１０は、様々な方法で印刷物に適用できる。例えば、上記の粘着ラベルを印刷物に貼り付けてもよい。この場合、基材２１に切り込み又はミシン目を設けておいてもよい。すなわち、ラベルを剥がそうとしたときに、基材２１が切り込みから破れるような構造を採用してもよい。もちろん、偽造防止媒体１０は、印刷物以外の物品に貼り付けることもできる。
【０１５０】
偽造防止媒体１０を含んだ転写箔を形成し、これを用いて、偽造防止媒体１０を物品に取り付けてもよい。
【０１５１】
図２３は、転写箔の一例を概略的に示す断面図である。図２３に示す転写箔９０は、基材９１を含んでいる。基材９１上には、剥離層９２、偽造防止媒体１０、及び接着層９３が順次積層されている。
【０１５２】
偽造防止媒体１０の前面は、基材９１と向き合っている。偽造防止媒体１０は、図２などを参照しながら説明した基材２１を含んでいなくてもよい。
【０１５３】
偽造防止媒体１０を印刷物に適用する場合、スレッド（ストリップ、フィラメント、糸状物、安全帯片などとも称される）と呼ばれる形態で、紙にすき込んでもよい。
【０１５４】
以下、偽装防止媒体１０に使用可能な材料について説明する。
【０１５５】
基材２１の材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、トリアセチルセルロース(ＴＡＣ)、ポリ塩化ビニル、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリメタクリル酸メチル、ポリスチレン等の合成樹脂のフィルム、天然樹脂のフィルム、合成紙、紙、ガラス板、アルミフォイルなどを単独で、または、それらを組み合わせた複合体などとして使用することが可能である。厚みは、偽造防止媒体の使用目的に応じて適宜選択すれば良い。
【０１５６】
光反射層２２に用いる材料としては、光反射性が得られれば特に限定されず、例えば、アルミニウム、金、銀、銅などの金属又は合金を用いることができる。これらの材料は単独でまたは積層して使用できる。光反射層２２は、例えば、真空蒸着やスパッタリングなどの公知の方法を用いて形成することができる。光反射層２２の厚さは、例えば、５０から１０００Åの範囲内とする。
【０１５７】
光吸収層２３は、例えば、カーボンブラックを樹脂に分散させた黒色インキを用いて形成することができる。光吸収層２３は、有彩色層であってもよい。
【０１５８】
円偏光反射層２４は、例えば、キラルな二次元又は三次元架橋性液晶物質を配向させ、この状態で架橋反応を生じさせることにより得ることができる。
【０１５９】
コレステリック液晶からなる円偏光反射層２４は、上で説明したように、選択反射性を示し、ヘリカル構造のピッチと等しい波長の右円偏光又は左円偏光を選択的に反射する。ヘリカル構造のピッチは、温度および／またはカイラル剤を用いて制御することができ、それによりコレステリック液晶による所望の反射色を作り出すことができる。ヘリカル構造を有する液晶は、各分子が層をなして配置されており、かつ層内で均一に配列されることで、初めてその光学的特性を形成する。
【０１６０】
各分子層の配向は、公知の方法、例えば配向層または電界または磁界によって制御できる。また、配向の固定化としては、代表的な方法として、キラルな三次元架橋性液晶と多官能性重合化合物とを組み合せ、紫外線を照射して三次元架橋を生じさせる方法が挙げられる。この方法により、ヘリカル構造が固定化したコレステリック高分子液晶を得ることができる。
【０１６１】
コレステリック高分子液晶の出発物質としては、ヘリカル構造のピッチが紫外線から赤外線の範囲の光の波長と等しいものであれば、全てのコレステリック液晶を使用できる。従って、キラル相を有する液晶物質はネマチックまたはスメクチック構造をとる液晶にキラル物質を加えることで製造できる。キラル物質の種類及び分子量がヘリカル構造の捩じれの向きやピッチ、延いては反射光の波長を決定する。さらに構造中に不整炭素を持つ液晶であれば、キラル物質の添加無しにヘリカル構造をとらせることも可能である。ヘリカル構造のピッチ変更には、温度の変更も有効である。ただし、ピッチは温度が低いと長く、温度が高いと短くなるため、温度が低すぎる場合には反射光は赤外線領域に、高いと分子による吸収を除けば紫外線領域に入り、さらには等方相となり液晶性を示さなくなる。従って、意匠性、偽造防止性等に必要な反射光を得るために、どの波長を利用するかによって適正に管理する必要がある。
【０１６２】
出発物質は、重合性基、重縮合性基または重付加に有効な基を有し、従来公知のエネルギー線硬化性化合物が使用されるが、特に分子中に２個ないしそれ以上のエネルギー線硬化性基を有する単量体またはオリゴマーを含有することが好ましい。ラジカル系光重合性単量体としては、従来公知である、例えば、トリメチロールプロパントリアクリレート、１，６−ヘキサンジオールジアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート等の多官能性単量体、ポリウレタンポリアクリレート、エポキシ樹脂系ポリアクリレート、アクリルポリオールポリアクリレート等の他官能性オリゴマー類が好ましい。一官能性の単量体としては、アルキル（Ｃ１〜Ｃ１８）（メタ）アクリレート、ベンジル（メタ）アクリレート、シクロヘキシル（メタ）アクリレート、アルキレン（Ｃ２〜Ｃ４）グリコール（メタ）アクリレート、アルコキシ（Ｃ１〜Ｃ１０）アルキル（Ｃ２〜Ｃ４）（メタ）アクリレート、ポリアルキレン（Ｃ２〜Ｃ４）グリコール（メタ）アクリレート、アルコキシ（Ｃ２〜Ｃ１０）ポリアルキレン（Ｃ２〜Ｃ４）グリコール（メタ）アクリレートなどが挙げられる。カチオン系光重合性単量体としては、従来公知の芳香族エポキシ化合物、脂環式エポキシ化合物、グリシジルエステル系化合物が挙げられる。
【０１６３】
コレステリック液晶層の製造においては、典型的には、エネルギー線硬化を起こすために必要に応じて重合開始剤などを使用する。使用する重合開始剤は、照射するエネルギー線に対して適切な特性を持つ公知のものが選択される。例えば、光重合開始剤としては従来公知のものを使用することができる。ラジカル系光重合開始剤としては、α−ヒドロキシアセトフェノン系、α−アミノアセトフェノン系などのアセトフェノン系、ベンゾインエーテル系、ベンジルケタール系、α−ジカルボニル系、α−アシルオキシムエステル系などの公知のものを使用することができる。具体的な使用法としては、α−アミノアセトフェノン、アセトフェノンジエチルケタール、ベンジルジメチルケタール、α−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、２−ヒドロキシ−２−メチルフェニルプロパノン、ベンゾフェノン、ミヒラーズケトン、イソプロピルチオキサントン、ベンゾフェノンとＮ−メチルジエタノールアミンとの併用などが挙げられる。カチオン系光重合開始剤としては、例えば、従来公知のものを特に制限なく使用することができる。好ましくは、カチオン系光重合開始剤は、公知の増感剤や過酸化物と適宜併用する。組み合せとしては、例えば、アリルヨードニウム塩−α−ヒドロキシアセトフェノン系、トリアリルスルホニウム塩系、メタロセン化合物−パーオキサイド併用系、メタロセン化合物−チオキサントン併用系、メタロセン化合物−アントラセン併用系などが挙げられる。
【０１６４】
コレステリック液晶層は、上述の材料を、コンマコーター、グラビア、マイクログラビアコーターオフセットなどの公知のコーティング方法や印刷方法で、膜厚０．５〜２０μｍ、好ましくは２〜１０μｍとなるよう基材上に塗布し、メタルハライドランプ高圧水銀ランプ等公知の活性エネルギー線照射装置で架橋させることで得られる。なお、架橋を速やかに進めるため、活性エネルギー線照射環境を不活性ガス、例えば窒素を用い酸素濃度を下げたり、ポリエチレン等のフィルムと貼り合わせ酸素阻害を回避したりすることも出来る。
【０１６５】
コーティングの際には適宜溶剤を選択し溶解しても良く、その希釈率はやはり必要に応じて設定すれば良い。
【０１６６】
また、基材上に構築したコレステリック液晶フィルムの液晶面に接着剤を塗布し、必要に応じた形状で別の基材に転写しても良い。
【０１６７】
λ／４位相差層２５などの位相差層は、例えば、ネマチック若しくはスメクチック液晶から形成され得る。位相差層の材料としては、円偏光反射層２４を形成するコレステリック液晶に関して説明したのと同様に重合性基、重縮合性基または重付加に有効な基を有したものが良く、従来公知のエネルギー線硬化性化合物を使用することができる。
【０１６８】
また、重合開始剤もコレステリック液晶に関して説明したのと同じものが使用でき、製造方法も同様である。
【０１６９】
必要膜厚は、液晶の屈折率と複屈折率の差に依存する。反射性基材の上で５５０ｎｍの波長の光に対しλ／２の位相差を与える液晶の膜厚は、屈折率差が０．１のとき約１．４μｍであり、λ／４の位相差を与える膜厚は約０．７μｍである。
【０１７０】
塗工にもコレステリック液晶に関して説明したのと同様な装置が使用でき、溶解希釈も必要に応じて適宜行うことが出来る。
【０１７１】
コレステリック液晶層、ネマチック若しくはスメクチック液晶層の液晶の配向には配向膜を使用してもよい。配向膜の材料としては、例えば、ポリビニルアルコール（ＰＶＡ）やポリイミドなどの公知の樹脂が使用できる。
【０１７２】
これらの樹脂を適宜溶解した樹脂溶液を、ワイヤバー、グラビア、マイクログラビア等の塗工方式を用いて反射性基材上に塗布し、この塗膜を乾燥する。膜厚は、例えば、０．１μｍから２０μｍの範囲であり、好ましくは０．３μｍから１０μｍの間である。
【０１７３】
その後、ラビング布にて配向膜面を擦るラビング処理を行い、配向膜を得る。ラビング布には、例えば、コットンやベルベット等公知の材料が使用出来る。
【０１７４】
このようにして作成した配向膜上に液晶を設置することで、より好適な位相差性、円偏光を得ることが出来る。
【０１７５】
偽造防止媒体１０を印刷物等に適用するための粘着剤としては、一般的な材料を用いることができる。例えば、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、ポリエステル系ポリアミド、アクリル系、ブチルゴム系、天然ゴム系、シリコン系、ポリイソブチル系などの粘着剤を単独で用いることもできるし、またはこれらの粘着剤にアルキルメタクリレート、ビニルエステル、アクリルニトリル、スチレン、ビニルモノマー等の凝集成分、不飽和カルボン酸、ヒドロキシ基含有モノマー、アクリルニトリル等に代表される改質成分や重合開始剤、可塑剤、硬化剤、硬化促進剤、酸化防止剤等の添加剤を必要に応じて添加したものを用いることもできる。粘着層の形成には、公知のグラビア印刷法、オフセット印刷法、スクリーン印刷法などの印刷方法やバーコート法、グラビア法、ロールコート法などの塗布方法を用いることができる。
【０１７６】
さらには、粘着剤を予めセパレーターに形成したものを準備しておき、偽造防止媒体１０へセパレーターを剥がして貼り合わせてもよい。
【０１７７】
また、粘着加工を施した偽造防止媒体１０の取り扱いを容易にするため、離型処理を行った離型紙や離型フィルムを粘着層の上に設置してもよい。
【実施例】
【０１７８】
以下、本発明を実施例について説明する。
【０１７９】
（実施例１）
厚さ２５μｍの片面アルミニウム蒸着ポリエチレンテレフタレート（蒸着ＰＥＴ）フィルムを用意し、平台校正刷機を用いて、そのアルミニウム蒸着面の一部に、光吸収層として墨インキをグラビア印刷した。墨インキとしては、以下のものを使用した。
【０１８０】
墨インキ    （ＦＤ  カルトンＡＣＥ  コンク墨    東洋インキ（株）製）
上記インキを印刷後、高圧水銀灯を用い２００ｍＪ／ｃｍ2の紫外線照射を行なった。
【０１８１】
次に、バーコーター法を用いて、全面に配向膜用インキの溶液を塗布した。塗布した配向膜用インキの組成を以下に示す。
【０１８２】
ポリビニルアルコール樹脂（商品名：ＰＶＡ−１１７  クラレ（株）製）１０重量％
溶剤（水）９０重量％
この塗膜は、乾燥膜厚が２μｍとなるように形成した。
【０１８３】
次いで、ラビング布（ＦＩＮＥ  ＰＵＦＦ  ＹＡ−２０−Ｒ  吉川化工（株）製）を用いて、この塗膜をラビング処理した。これにより、配向膜を得た。
【０１８４】
次に、円偏光反射層を形成すべく、平台校正機を用いて、先に記載の墨インキ層上に、以下の組成のインキを硬化膜厚が５μｍとなるようグラビア印刷した。
【０１８５】
ネマチック液晶（パリオカラー  ＬＣ２４２  ＢＡＳＦ（株）製）  ３０重量部
カイラル剤（パリオカラー  ＬＣ７５６  ＢＡＳＦ（株）製）  １．５重量部
重合開始剤（イルガキュア１８４    チバガイギー（株）製）  １．５重量部
溶剤（メチルエチルケトン）  ６７重量部。
【０１８６】
印刷後、８０℃で１分の乾燥を行い、その後、高圧水銀灯にて５００ｍＪ／ｃｍ2の照射を行って硬化させて、円偏光反射層を得た。
【０１８７】
次に、円偏光反射層に隣り合ったλ／４位相差層を形成すべく、平台校正機を用いて、以下の組成のインキを、硬化膜厚が１．０μｍとなるようグラビア印刷した。
【０１８８】
ネマチック液晶（パリオカラー  ＬＣ２４２  ＢＡＳＦ（株）製）  ３０重量部
重合開始剤（イルガキュア１８４    チバガイギー（株）製）  １．５重量部
溶剤（メチルエチルケトン）  ６８．５重量部
印刷後、１００℃で１分の乾燥を行い、その後、高圧水銀灯にて５００ｍＪ／ｃｍ2の照射を行い硬化させた。硬化処理終了後、偽造防止媒体を得た。
【０１８９】
上記で得られた偽造防止媒体に、図３を参照しながら説明した検証具５０の位相差層５２側を偽造防止媒体に向き合わせるように重ね、この状態で偽像防止媒体を観察した。その結果、偽造防止媒体のうち円偏光反射層が形成された領域は、検証具５０のλ／４位相差層５４に対応した部分を介して観察した場合には暗部として見え、検証具５０のλ／４位相差層５３に対応した部分を介して観察した場合には明部として見えた。
【０１９０】
一方、偽造防止媒体のうちλ／４位相差層が形成された領域は、検証具のどちらの部分で観察しても明部として見えた。
【０１９１】
次に、この偽造防止媒体と検証具５０とを、直線偏光フィルム５１が偽造防止媒体とを向き合うように重ねた。このとき、偽造防止媒体が含むλ／４位相差層の結晶の配向方向と直線偏光フィルム５１の透過軸ＯＰが平行または直交するような配置では、偽造防止媒体のうちλ／４位相差層が形成された領域で反射光が観察された。しかし、偽造防止媒体が含むλ／４位相差層の結晶の配向方向と偏光フィルム５１の透過軸ＯＰとがなす角度を４５°にすると、偽造防止媒体のうちλ／４位相差層が形成された領域は明らかに暗転した。一方、偽造防止媒体のうち円偏光反射層が形成された領域は、検証具をどの角度で置いても反射光が返ってきたため明部となり、見え方は変化しなかった。
【０１９２】
次に、この偽造防止媒体をカラーコピーして、検証具を用いて上記と同じ方法で検証した。その結果、明暗の変化は確認できなかった。
【０１９３】
（実施例２）
λ／４位相差層を円偏光反射層部と隣接させず形成することで、アルミ蒸着面に円偏光反射層もλ／４位相差層も形成されていない領域を設けた以外、実施例１と同じ方法で偽造防止媒体を得た。
【０１９４】
上記で得られた偽造防止媒体に、検証具５０を、その位相差層５２が偽造防止媒体に向き合うように重ね、この状態で偽造防止媒体を観察した。その結果、偽造防止媒体のうち円偏光反射層が形成された領域は、検証具５０のλ／４位相差層５４に対応した部分を介して観察した場合には暗部として見え、検証具５０のλ／４位相差層５３に対応した部分を介して観察した場合には明部として見えた。
【０１９５】
一方、偽造防止媒体のうちλ／４位相差層が形成された領域は、検証具のどちらの部分を介して観察しても明部として見えた。
【０１９６】
また、偽造防止媒体のうち円偏光反射層もλ／４位相差層も形成されていない領域は、検証具のどちらの部分を介して観察しても暗部として見えた。
【０１９７】
次に、この偽造防止媒体と検証具５０とを、偏光フィルム５１と偽造防止媒体とが向き合うように重ねた。このとき、偽造防止媒体が含むλ／４位相差層の結晶の配向方向と偏光フィルム５１の透過軸ＯＰが平行または直交するような配置では、偽造防止媒体のうちλ／４位相差層が形成された領域で反射光が観察された。しかし、偽造防止媒体が含むλ／４位相差層の結晶の配向方向と偏光フィルム５１の透過軸ＯＰとがなす角度を４５°にすると、偽造防止媒体のうちλ／４位相差層が形成された領域は明らかに暗転した。一方、偽造防止媒体のうち円偏光反射層が形成された領域と円偏光反射層もλ／４位相差層も形成されていない領域とは、検証具５０をどの角度で置いても明部として見え、見え方は変化しなかった。
【０１９８】
この偽造防止媒体をカラーコピーして、検証具を用いて上記と同じ方法で検証した。その結果、明暗の変化は確認できなかった。
【０１９９】
（実施例３）
円偏光反射層の上にＰＶＡ溶液をグラビア印刷機にて塗布し、乾燥させた。さらに、ＰＶＡ層にλ／４位相差層と同じ方向でラビング処理を行い、その上にλ／８位相差層を形成した。これ以外は、実施例１と同様の方法で偽造防止媒体を作成した。
【０２００】
上記で得られた偽造防止媒体と検証具５０とを、位相差層５２と偽造防止媒体とが向き合うように重ね、この状態で偽像防止媒体を観察した。その結果、偽造防止媒体のうち円偏光反射層のみが形成された領域は、検証具５０のλ／４位相差層５４に対応した部分を介して観察した場合には暗部として見え、検証具５０のλ／４位相差層５３に対応した部分を介して観察した場合には明部として見えた。
【０２０１】
また、偽造防止媒体のうちλ／８位相差層が形成された領域は、検証具５０のλ／４位相差層５３に対応した部分を介して観察した場合には円偏光反射層のみが形成された領域よりも明度は低いが明部として見え、検証具５０のλ／４位相差層５４に対応した部分を介して観察した場合にはλ／４位相差層５３に対応した部分を介して観察した場合ほど明度は高くないものの明部として見えた。
【０２０２】
一方、偽造防止媒体のうちλ／４位相差層が形成された領域は、検証具５０のどちらの部分を介して観察しても明部として見えた。
【０２０３】
次に、この偽造防止媒体と検証具５０とを、偏光フィルムと偽造防止媒体とが向き合うように重ねた。このとき、偽造防止媒体が含むλ／４位相差層の結晶の配向方向と偏光フィルム５１の透過軸ＯＰとが平行または直交するような配置では、偽造防止媒体のうちλ／４位相差層が形成された領域で反射光が観察された。しかし、偽造防止媒体が含むλ／４位相差層の結晶の配向方向と偏光フィルム５１の透過軸ＯＰとがなす角度を４５°にすると、偽造防止媒体のうちλ／４位相差層が形成された領域は明らかに暗転した。
【０２０４】
一方、偽造防止媒体のうち円偏光反射層が形成された領域は、検証具をどの角度で置いても明部として見え、見え方は変化しなかった。偽造防止媒体のうちλ／８位相差層が形成された領域は、λ／８位相差層の結晶の配向方向と偏光フィルム５１の透過軸ＯＰとがなす角度に応じて明度が変化した。λ／８位相差層の結晶の配向方向と偏光フィルム５１の透過軸ＯＰとが平行である配置とこれらが直交する配置とでは、偽造防止媒体のうちλ／８位相差層が形成された領域は明部として見え、その明度は同じであった。検証具５０を反時計回りに４５°回転させると、反射光の強度が高くなり、偽造防止媒体のうちλ／８位相差層が形成された領域の明度はより高くなった。一方、λ／８位相差層の結晶の配向方向と偏光フィルム５１の透過軸ＯＰとが平行である配置から検証具を時計回りに４５°回転させると、反射光の強度が低くなり、偽造防止媒体のうちλ／８位相差層が形成された領域の明度はより低くなった。
【０２０５】
この偽造防止媒体をカラーコピーして、検証具を用いて上記と同じ方法で検証した。その結果、明暗の変化は確認できなかった。
【図面の簡単な説明】
【０２０６】
【図１】本発明の第１実施形態の偽造防止媒体を概略的に示す平面図。
【図２】図１に示す偽造防止媒体のＩＩ−ＩＩ線に沿った断面図。
【図３】本発明の判別方法で使用する検証具の一例を概略的に示す分解図。
【図４】図１及び図２に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の一例を概略的に示す平面図。
【図５】図４に示す構造のＶ−Ｖ線に沿った断面図。
【図６】図１及び図２に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の他の例を概略的に示す平面図。
【図７】図６に示す構造のＶＩＩ−ＶＩＩ線に沿った断面図。
【図８】図１及び図２に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図。
【図９】図８に示す構造のＩＸ−ＩＸ線に沿った断面図。
【図１０】本発明の第２実施形態の偽造防止媒体を概略的に示す平面図。
【図１１】図１０に示す偽造防止媒体のＸＩ−ＸＩ線に沿った断面図。
【図１２】図１０及び図１１に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の一例を概略的に示す平面図。
【図１３】図１０及び図１１に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の他の例を概略的に示す平面図。
【図１４】図１０及び図１１に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図。
【図１５】本発明の第３実施形態の偽造防止媒体を概略的に示す平面図。
【図１６】図１５に示す偽造防止媒体のＸＶＩ−ＸＶＩ線に沿った断面図。
【図１７】図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の一例を概略的に示す平面図。
【図１８】図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に第４光反射領域が光を反射する様子を概略的に示す図。
【図１９】図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像の他の例を概略的に示す平面図。
【図２０】図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図。
【図２１】図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図。
【図２２】図１５及び図１６に示す偽造防止媒体と図３に示す検証具とを重ねた場合に観察可能な画像のさらに他の例を概略的に示す平面図。
【図２３】本発明の転写箔の一例を概略的に示す断面図。
【符号の説明】
【０２０７】
１０…偽造防止媒体、１１…第１光反射領域、１２…第２光反射領域、１３…第３光反射領域、１４…第４光反射領域、２１…基材、２２…光反射層、２３…光吸収層、２４…円偏光反射層、２５…λ／４位相差層、２６…λ／８位相差層、５０…検証具、５１…直線偏光フィルム、５２…λ／４位相差層、５３…λ／４位相差層、５４…λ／４位相差層、９０…転写箔、９１…基材、９２…剥離層、９３…接着層。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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