【誤訳訂正書】
【提出日】平成25年6月13日(2013.6.13)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを提供するステップと、
２次元回折光学素子に前記光ビームを適用するステップと
を含む、材料を処理するための光トラップを確立する方法であって、
拡張型光トラップを３次元の曲線に沿って作成するため、独立に指定された位相情報及び振幅情報を提供することであって、前記拡張型光トラップが拡張型光学線状トラップであり、前記２次元回折光学素子において前記位相情報及び振幅情報を符号化することと、１つの選択した次元を用いて位相情報を符号化することと、前記１つの選択した次元に対する横方向の次元を用い振幅情報を符号化することとを含むことと、
材料を処理するために前記拡張型光学線状トラップを用いることを特徴とする、方法。
【請求項２】
前記拡張型光学線状トラップに沿って前記位相情報及び振幅情報の少なくとも１つを符号化することによって、前記拡張型光学線状トラップの指定された形状及び力のプロファイルを形成することを含む請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記拡張型光学線状トラップを用いることは、前記拡張型光学線状トラップのための指定された形状及び力のプロファイルを一般的な曲線に沿って３次元において形成することを含み、それによって、３次元のいずれかにおいて材料の移動及び操作を可能にする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記拡張型光学線状トラップを複数個、かつ動的に制御可能に作成するため、振幅情報を、電磁界の振幅関数として符号化するステップを含む請求項１に記載の方法。
【請求項５】
さらなるトラッピング様式と組み合わさった前記拡張型光学線状トラップを形成するために振幅関数を構成することを含む請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記３次元の曲線から光をそらせるため、回折光学素子に変位位相関数を加えるステップをさらに含む請求項４に記載の方法。
【請求項７】
前記拡張型光学線状トラップから光をそらす際、光をそらす方向を制御するために、前記変位位相関数に、割り当てられていない画素に関して選択可能な値を有する一定の波ベクトルを含める請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記均一な拡張型光学線状トラップの制御された投影のため、以下の式（９）、（１０）で規定される形状関数Ｓ（ρ）
Ｓ（ρ）＝φｓ（ρ）／φ（ρｙ）        （９） 
式中、
【数１】
2009518688.tif 000001
の使用をさらに含む請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記拡張型光学線状トラップのそれぞれが重ならないように、光軸に対して複数の拡張型光学線状トラップを変位させるステップをさらに含む請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記拡張型光学線状トラップは、引き続く操作のために、光が光画素の割り当てられていない領域を通過するように、前記拡張型光学線状トラップを形成するように回折光学素子に加えられる適切な位相関数を有するように変換された均一な線状トラップを構成することによって形成され、前記均一な線状トラップが、下式
【数２】
2009518688.tif 000002
で表わされる請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
前記適切な位相関数が、変位位相関数である請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
３次元の強度分布を生成する回折光学素子における場の関数を加えるステップをさらに含む請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記場の関数が、
Ψ（ρ）＝ｕ（ρ）ｅｘｐ（ｉφ（ρ））      （１３）
（Ψは、関数として示した光領域、ρは実空間変数ｒからフーリエ変換された逆空間変数、前記回折光学素子で、ｕは振幅プロファイル、φは位相プロファイルである。）
で表わされる請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
光ビームを提供する光源と、
前記光ビームを処理する２次元回折光学素子であって、３次元の曲線に沿って拡張型光学線状トラップを作成するために独立に指定された位相情報及び振幅情報であって、前記２次元回折光学素子において符号化された位相情報及び振幅情報によって形成され、符号化された位相情報を有する１つの選択された次元と、符号化された振幅情報を有する前記選択された次元に対する横方向の次元とを備える位相情報及び振幅情報を含む、回折光学素子と、
前記拡散光学素子によって処理された光ビームを投影し、材料の処理を実行する光学トレインと
を備える、材料を処理するための拡張型光学線状トラップを確立するシステム。
【請求項１５】
前記位相情報は、前記拡張型光学線状トラップの所望の光学的強度を形成するために予めプログラムされた位相関数として符号化される請求項１４に記載のシステム。
【請求項１６】
プログラムされた位相関数により形成される前記拡張型光学線状トラップが、製品のナノ製造のための組み立てラインを形成する請求項１５に記載のシステム。
【請求項１７】
前記位相情報及び振幅情報は、変位位相関数と、回折光学素子上に描像されることで、３次元形状の拡張型光学線状トラップを形成するような関数と、割り当てられた光画素及び割り当てられていない光画素をプログラム可能に配置可能にする位相関数との少なくとも１つを含む請求項１５に記載のシステム。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】発明の名称
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【発明の名称】材料を処理するための光トラップを確立する方法及び材料を処理するための拡張型光学線状トラップを確立するシステム
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００３】
１つの点状の光トラップを直線、曲線及び３次元形状に拡張するための種々の試みが、従来技術においてなされてきた。しかしながら、深刻な欠陥が、全てのそのような尽力においてある。例えば、線状ピンセットは、円筒レンズ又はそのホログラフィック等価物を有するように実装される。しかし、円筒レンズを用いて形成される線は、著しい非点収差によって劣化する。したがって、３次元の物体を捕捉することができない。円筒レンズはまた、さらに一般的な構造を生成することができず、線状拡張型トラップのみである。線状トラップはまた、ケプラー式望遠鏡において配置される円筒レンズの対を用いて形成されている。そのような線状トラップは、非点収差から解放されることはできるが、それらの形状は一定であり、それらの強度及び位相のプロファイルを変更することはできない。そのような線状トラップはまた、ホログラフィック光トラッピング技術と互換性がなく、したがって、ホログラフィック投影によって可能な種々のトラッピング性能を組み込むことができない。別の従来技術の方法論において、拡張型光トラップは、光トラップの時分割又は走査によって形成されている。本方法は、以下に詳細に記載する種々の欠点を有する。 
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００４】
さらに別の従来技術の方法論において、拡張型光トラップは、従来のホログラフィック技術によって投影されることができる。この手法は、投影された線に関して一般的な３次元構造を許容することはできず、光スペックルなどの投影欠陥を有する。さらなる欠点は、本発明の詳細の部分として以下で本明細書に記載され、従来技術に比べて実質的な利点を示す。 
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００６】
最も簡素な拡張型光トラップは、いわゆる線状ピンセットの形態をとり、光の適切に構造化されたビームが、スポットに対してではなく、線分に対して集束する。そのような線状ピンセットは、円筒レンズ又はそのホログラフィック等価物を用いて実装された。しかし、結果として生じるトラップは、いくつかの望ましくない特性を有する。円筒レンズによって投影される線状トラップは実際には、著しい非点収差によって劣化される従来技術の光学ピンセットの３次元構造を有する。したがって、線状トラップは、１つの平面における１つの軸に沿った直線及び別の平面における垂線に集束する。２つの直線は、ビームの軸上で交差し、その点における軸強度勾配を減少させ、したがって、３次元において物体を捕捉するそのようなトラップの性能を著しく劣化させる。円筒レンズはまた、１つの線状ピンセットのみを投影することができ、線に沿った強度及び位相のプロファイルに関する制御を提供することができない。最後に、円筒レンズは、線状の拡張型トラップのみを投影することができない。さらに、円筒レンズは、一般的な構造を投影することはできない。以下で本明細書に記載されるシステムは、それぞれが、指定の捕捉マニフォルドにおける１つの曲線に集束し、その長さに沿って独立に指定の強度及び位相のプロファイルを有する１つ又は複数の拡張型トラップの形成を可能にすることによって、これらの短所を回避する。 
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００８】
拡張型光トラップはまた、従来技術のホログラフィック法によって投影されてもよい。この場合には、所望の曲線を符号化する位相のみ又は振幅のみのホログラムが、サンプルに投影される。しかし、大部分のそのようなホログラムは、投影される線の３次元構造を指定しないため、３次元全てにおいて光トラッピングのために必要な強度勾配を最適化しない。従来のホログラフィック線状トラップはまた、スペックルなどの投影の欠陥を有する。これらは、所期のポテンシャルエネルギ井戸構造を劣化するように、投影される曲線に沿って強度分布を変化させる。そのようなホログラフィック線状トラップを符号化する位相伝達関数は、投影される強度パターンと、本質的に非線形な関係を有しており、投影欠陥を補正するための最適化は困難である。本明細書に記載されるシステムは、位相ホログラムの形状のほか、その位相値における位相及び振幅の両方の情報を符号化することによって、これらの問題点を回避する。結果は、適応して最適化されることができる指定の滑らかに変化するトラッピングパターンを結果として生じる。例えば、好ましい実施形態におけるトラップは、好適には光軸に対して垂直な線に沿って拡張され、実質的にいかなる光強度又は位相のプロファイルも、当該線に沿って設定することができる。そのような光照射は、選択された線（又は以下に説明するような曲線）に沿って連続的であってもよく、その結果、低い強度を用いることができ、サンプルの損傷を回避することができる。これらのタイプの拡張型トラップは、適切な位相及び振幅ホログラムが用いられるのであれば、従来のホログラフィックトラップシステムによって作製又は確立されることができる。これらの拡張型線状トラップはまた、光渦などのさらなるトラッピング様式と共に用いられることができ、新たな機能性を実装するように設計された光の波形における特定の動作によって定義される各モダリティを備えた拡張型光トラップと混合されることができる。 
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１１】
さらなる機能性がない場合には、このシステム９０は、１つの従来の光学ピンセットを投影する。適切に構成された回折光学素子（ＤＯＥ）３００及びさらなる中継光学素子３１０の追加により、システム９０は拡張型光トラップを投影することが可能である。図１において、最も好ましいＤＯＥ３００は、空間光変調器（ＳＬＭ）であり、通常、コンピュータ制御下で、回折光学素子を定義する位相変調のパターンを符号化することができるデバイスである。ＤＯＥ３００のＳＬＭ形態は、トラップを形成する一連のホログラムが、投影されることになっている場合に特に有用である。しかし、本発明の実現には必要でない。拡張型光トラップの１つのパターンが必要とされる別の実装において、ＤＯＥ３００の静的形態は、ＳＬＭと置き換えられることができる。このシステム９０は、ホログラフィック光トラップ（ＨＯＴ）を投影するために有用であることが既に示され、ここの説明下の部類に加えて拡張型光トラップの複数の部類を投影するために用いられることができる。具体的には、ホログラフィック光トラップは、光渦を投影することができ、トルクのほか、光渦は、力を与えるリング状の光トラップである。ＨＯＴ技術はまた、最大強度の曲線が任意の特定の曲線に沿って減少する、汎化された光渦を投影するために用いられることができる。光渦及びその汎化には、２つの主な欠点がある。与えられるトルクを削減することができず、したがって、全ての用途にとって望ましいわけではないことと、強度プロファイルを指定することができないことである。ＨＯＴはまた、１次元の軸方向の線状トラップであるベッセルビームを投影することができる。しかし、これらは、光軸に沿って線状トラップを形成することに限定されており、その長さに沿って力を生じ、その強度プロファイルを指定することができない。最後に、ＨＯＴ技術はまた、円筒形の線状トラップ及びホログラフィック線状トラップを投影することができ、いずれも前述の実装問題を有する。 
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１２】
拡張型線状トラップは、それを投影するために用いられるＤＯＥ３００の性質において、これらの他のタイプのホログラフィック光トラップとは異なる。特に、拡張型トラップを投影することは、ホログラムにおいて、位相及び振幅の両方の情報を符号化することを必要とするのに対し、従来のホログラフィック光トラップは、位相情報のみを必要とする。ＤＯＥ３００の中で位相情報が符号化される領域の形状を指定することによって、位相のみのＤＯＥにおいて位相及び振幅の両方の情報を符号化する。拡張型光トラップを形成するために位相情報を用いることは、１つの特に有用な実施形態である。以下の段落において、形状位相変調又は形状位相ホログラフィの原理と、指定された形状及び力のプロファイルを用いて拡張型光トラップを形成するためのその用途について説明する。具体的な実施例として、均一な線状ピンセットの実装を提示する。さらに、体積測定用途のために、平面中の線分から３次元におけるさらに一般的な曲線にトラップの概要を改変するための方法について記載する。 
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１３】
理想的な線状ピンセットは、指定された強度分布を有する線分に焦点を合わせ、線分に対して垂直な全方向において最も急峻な可能な強度勾配を有する。これは、原則的には、レンズの焦点体積における光とＤＯＥ３００の平面における電界との間の数学的関係を反転することによって達成されることができる。結果は一般に、入射光の振幅及び位相の両方を変調することを含むが、これは、位相のみ又は振幅のみを変調するＤＯＥ３００を考えると可能ではない。本発明における重要な点は、線状ピンセットが本質的に１次元であり、したがって、位相情報を符号化するための１次元と、振幅情報を符号化するための横方向の次元とを用いることによって、その振幅及び位相に関する両方の情報を２次元の位相のみのＤＯＥ３００において符号化することができる。 
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１４】
実施例として、レンズの焦点平面におけるｙ軸と整列された長さＬの均一に明るい線状ピンセットを形成する。捕捉平面における領域は、以下のように近似される。 
【数１】
2009518688.tif 000003
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
ＤＯＥ３００が均一に照らされると仮定すると、Ａ（ρ）＝Ａ（ρｘ）は、トラップを形成するために通過可能なρｙにおいてＤＯＥに入射する光の部分として解釈される。画素化ＤＯＥの場合には、これは、ホログラムに寄与するρｙにおける行に沿った画素の部分に対応する。他の画素を通過する光は、ホログラムに寄与せず、投影パターンから逸らさなければならない。ホログラムに寄与する領域と寄与しない領域とへ入力領域が分割される結果、形状位相ホログラムの形状成分を構成する。Ａ（ρ）がｙに沿って整列される任意の線状トラップに関してρｘに独立であり、φ（ρ）は均一に明るい線の特殊な場合にはρｘにも独立であることは、強調する価値がある。したがって、振幅関数Ａ（ρｙ）は、ρｙにおけるどれほど多くの画素がホログラムに寄与するかを指定するが、どの画素が寄与するかを指定しない。これは、多数の線状トラップのため及び以下に示すように他のトラッピング様式と線状トラップを結合するためのさらなる寛容度を提供する。 
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１８】
したがって、均一な線状ピンセットの場合、１つの適切な位相関数は、 
【数５】
2009518688.tif 000004
である。 
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１９】
従来の光学ピンセットを形成することに寄与する場合、割り当てられていない領域を通過する光は普通、焦点平面の中心に焦点を持ってくることになる。あるいは、光は、従来の変位位相関数を加えることによって、線からそらされることができる。 
【数６】
2009518688.tif 000005
式中、ｑは、割り当てられていない光の変位を記述する一定の波ベクトルである。そのような変位関数は、図２におけるＤＯＥ位相関数４００における波形の背景の原因である。ここで、ρｘに沿った滑らかな勾配は、等価なのこぎり歯状の位相関数を形成するために２πの位相値で巻き付けられる。線状ピンセットはまた、式（８）の形の位相関数を割り当てられた画素に加えることによって、光軸から離れるように変位させることができる。割り当てられていない画素を通過する光は依然として、割り当てられていない画素に関するｑの異なる値を選択することによって、別の方向にそらすことができる。 
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２０】
余分な光はまた、ランダムな位相値を割り当てられていない位相画素に割り当てることによって分散されることができる。最後に、余分な光は、さらなる線状ピンセットを構成するために用いられることができる。この余分な機能性は、重ならないようにするため、線状トラップを光軸に対して変位させる必要がある。割り当てられていない領域はまた、従来の光学ピンセット、光渦及び他の光トラッピング様式を作成するなどの他の用途に適用される。 
【誤訳訂正１５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２１】
例えば、均一な線状ピンセットは、 
φｓ（ρ）＝φ（ρｙ）Ｓ（ρ） （９） 
であり、式中、 
【数７】
2009518688.tif 000006
である。形状関数Ｓ（ρ）は、ＤＯＥの平面を割り当てられた領域（Ｓ＝１）と割り当てられていない領域（Ｓ＝０）に分割する。割り当てられていない領域を通過する光は、そらしたり、拡散したり、又は別の位相マスクφ１−ｓ（ρ）を割り当てられていない画素に適用することによって、別のタスクに適用したりすることができる。割り当てられた領域を通過する光は、次に、拡張型光トラップを形成するために必要な位相及び振幅の両方の構造を有する。 
【誤訳訂正１６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２２】
図２は、式（９）による長さＬ＝１５μｍの均一な線状ピンセットを符号化し、割り当てられていない画素を用いて、５０μｍ分横方向に変位した従来の光学ピンセットを投影する位相のみのホログラムを示す。図３Ａに示された計算された強度パターンは、サンプル平面においてミラーを配置し、対物レンズを用いて反射光を集光することによって、測定される図３Ｂの実際の光の分布に厳密に一致する。 
【誤訳訂正１７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２３】
図２における線状トラップ４１０は、３つの容易に改善される欠陥を有する。式（１０）によって記述された分析的形状関数は、線の端部に横方向のアーチファクトを形成する。これらは、Ｓ（ρ）を各列における正確な数の画素を割り当てるランダムな分布に置き換えることによって排除される。式（３）において必要とされる急激な強度勾配はさらに、ＤＯＥの実際の空間帯域幅を超えるため、設計された強度プロファイルから振動状の逸脱（ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒｙ ｄｅｖｉａｔｉｏｎ）を生じる。これは、ギブズの現象の一例であり、トラップの設計を勾配を緩和するように改変することによって、又は標準的な数値手法を用いることによって最小限に抑えられることができる。図４Ａ〜図４Ｅに示す結果は、これらの補正の利点を示している。 
【誤訳訂正１８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２４】
１５ｍＷの光を作動させると、これらの線状ピンセットのそれぞれは、３次元におけるマイクロメートルスケールのコロイド球を容易に捕捉すると同時に、それらに拡張軸に沿ってある程度の移動自由度を可能にする。線上に１つの粒子を配置し、ディジタルビデオ顕微鏡検査法を介して１／３０秒間隔及び１０ｎｍの空間解像度でその熱的に駆動される移動を追跡することによって、直径１．５μｍのポリスチレン球（Ｄｕｋｅ Ｓｃｉｅｎｔｉｆｉｃ Ｌｏｔ５２３８）に関する拡張型トラップのポテンシャルエネルギプロファイルを特徴付ける。平衡におけるポテンシャルｒのｄ２ｒの中の粒子を見つけるための確率Ｐ（ｒ）ｄ２ｒは、ボルツマンの式によって局所的なポテンシャルＶ（ｒ）に関連付けられる。
Ｐ（ｒ）＝ｅｘｐ（−βＶ（ｒ）） （１１） 
式中、β−１＝ｋＢＴは、絶対温度Ｔにおける熱エネルギスケールである。１０分間にわたる１つの粒子の軌跡が、図４Ａの結果を生じる。長手方向のポテンシャルエネルギプロファイルは、設計された形状に厳密に従い、３０±７ｋＢＴの深さである。井戸の下から３番目が、放物線プロファイルに対するフィッティングと共に図４Ａにプロットされる。設計された形状からの逸脱は、０．８ｋＢＴより小さい。これらは、適応型最適化によってさらに削減可能である。横方向のプロファイルは、予想したように、球の直径によって広がる。 
【誤訳訂正１９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２５】
図１に示されるこのシステム９０は、線状トラップ４１０を実装するために用いられることが好ましい。ここでは、位相関数４００は、式（７）によって記述される形状位相ホログラムを組み込み、式（８）を用いて割り当てられていない光を変位させる。図３Ａに示されているように、強度分布に示された拡張型線状トラップ４１２及びそらされるピンセット４１４の両方が、この位相関数４００に関して計算された強度分布として示されている。実際に投影された線状トラップ４１２及びそらされるピンセット４１４の実験バーションを示す結果が、図３Ｂの写真に示されている。この線状トラップ４１２は、長さ１６μｍである。図３Ｃの差し込み写真は、水中に分散されるそれぞれが直径１．５μｍの７個のポリスチレン球を捕捉するこの拡張型光トラップを示している。 
【誤訳訂正２０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２６】
位相マスク４００に対する他の改変は、本明細書には本発明以外の用途において記載され、光軸に沿って線状ピンセットを並進し、システム９０の収差を補正し、位相スケーリングエラーのようなシステム９０の欠陥を明らかとするといったことのために用いられることができる。
【誤訳訂正２１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２７】
円筒レンズ又はそれらの等価物を用いて形成された線状トラップとは異なり、この形状位相ホログラフィック線状トラップ４１０は、単に非点収差構造ではなく、むしろ、拡張円錐の３次元の構造を有する。この構造は、最も強力な可能な軸強度勾配を生じるため、光トラッピングに適している。したがって、この構造は、基体又は他の力の供給源を介在することなく、その長さに沿って物体を十分に捕捉する。 
【誤訳訂正２２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２８】
複数の拡張型光トラップは、ｉとｊとが同一でないとき、∫ΩSi(ρ)Sj(ρ)d2ρ=0という意味で、それらの形状関数Ｓｊ（ρ）が互いに素であるならば、同一のＤＯＥによって投影されることができる。このとき、割り当てられた領域は、領域Ｓ（ρ）＝ΣｊＳｊ（ρ）である。他の状況において記載された位相マスク４００に対する他の改変は、光軸に沿って線状トラップ４１０を並進し、光学トレインにおける収差を補正し、位相スケーリングエラーのような光学トレインにおける欠陥を明らかとするといったことに用いられることができる。最後に、形状位相変調は、位相マスク４００に適切な等角写像を適用することによって、曲線状のピンセットの強度変調に関して一般化されることができる。 
【誤訳訂正２３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４２】
連続的に照射される線状トラップは、１方向に沿って光トラップを拡張することによって作製された。これは、例えば、円筒レンズを対物レンズの入力平面に導入することによって達成されることができる。同等に、円筒レンズ式ピンセットは、ＳＬＭ５２０で関数φｃ（ρ）＝πｚ０ρ２ｘ／（λ∫２）を符号化することによって実装されることができる。図８Ａ〜図８Ｄに示される結果は、略一様な強度プロファイル及び放物線位相を有する線まで拡張された状態の点状のピンセットについて、最良の焦点平面ｚ＝ｚ０で有用であるように見える。しかし、図８Ａにおける３次元による再構成によれば、円筒レンズが、大量の非点収差をビームに持ち込んだにすぎず、第１の焦線に垂直な第２の焦線を形成していることが明らかである。これは、非点収差ビームの強度勾配が、従来の光学ピンセットに比べて、光軸に沿って著しく弱くなっているため、問題である。したがって、円筒レンズ型線状トラップは通常、光軸に沿った放射圧力に対して物体を局所化することはできない。 
【誤訳訂正２４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４４】
形状位相ホログラフィは、回折効率を犠牲にして、拡張型光トラップの振幅及び位相の両方のプロファイルに関する確実な制御を提供する。３次元トラッピングに適した最適な軸強度勾配を有するトラップも生じる。線状トラップが、対物レンズの焦点平面におけるρｘ方向に沿った振幅プロファイルｕ（ρｘ）及び位相プロファイルｐ（ρｘ）によって特徴付けられる場合には、ＳＬＭ平面における領域は、式（１２）によって以下のように与えられる。 
Ψ（ρ）＝ｕ（ρｘ）ｅｘｐ（ｉｐ（ρｘ）） （１６） 
このとき、位相ｐ（ρｘ）は、ｕ（ρｘ）＞０であるように調整される。形状位相ホログラフィは、この１次元の複雑な波面プロファイルを２次元の位相のみのホログラムとして実装する。 
【数１１】
2009518688.tif 000007
このとき、形状関数Ｓ（ρ）がｕ（ρｘ）に比例する列ρｙに沿って複数の画素に割り当てられる。１つの特に有効な選択は、Ｓ（ρ）に関して、適切な相対数における各列に沿ってランダムに画素を選択することである。割り当てられていない画素が次に、所期の線から過剰な光を再指向する値ｑ（ρ）を与える。代表的な結果が、図９Ａ〜図９Ｄに提供される。 
【誤訳訂正２５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４５】
円筒レンズトラップとは異なり、ホログラフィック線状トラップは、対物レンズの焦点平面における１つの回折限界線における円錐形のくさびとして集束する。したがって、収束のその横方向の角度は、最適な点トラップの角度に匹敵する。このことは、ホログラフィック線状トラップが比較的強い軸強度勾配を有し、ホログラフィック線状トラップがｚ方向における放射圧力に対して物体を安定にトラップする能力があることを明らかにしている。
【誤訳訂正２６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４６】
線状トラップの横方向の収束は、線に沿った強度プロファイルの選択にあまり左右されない。しかし、その３次元の強度分布は、線に沿った位相プロファイルに対してきわめて敏感である。急激な位相変化は、弱め合う干渉によって、線状トラップの強度の局所的な抑制を生じる。より滑らかな変動は、線に沿った強度プロファイルに影響しないが、実質的にビームを再構成することができる。例えば、円筒レンズによって作製される線状トラップは、放物線強度プロファイルのほか、放物線位相プロファイルも有する。式１３にこの選択を導入し、式（１２）及び式（１７）を用いて関連する形状位相ホログラムを計算することにより、理想化された円筒レンズの位相伝達関数を生じる。この観察は、線に沿った位相プロファイルが所望の３次元の強度分布を形成するように同調されることができる用途又は測定された３次元の強度分布が、線に沿って位相プロファイルを評価するために用いられることができる用途に通じている。 
【誤訳訂正２７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４９】
【図１】拡張型光トラップを投影するために用いられる光トラップの概略図を示す。
【図２】均一に明るい線状ピンセットを符号化する位相マスク関数を示す。
【図３Ａ】計算された強度パターンを示す図である。
【図３Ｂ】実験のパターンを示す図である。
【図３Ｃ】直径１．５で水中に分散される７個のポリスチレン球を整列して捕捉する拡張型光トラップを示す図である。
【図４Ａ】ホログラフィック線状ピンセットの長手強度及び横強度のプロファイル（円）の画像化写真に関するガウス計算を示すグラフである。差し込み図は、投影光の画像である。
【図４Ｂ】１．５ｍＷレーザパワーで水中の直径１．５μｍのポリスチレン球に関する測定された電位エネルギ井戸を示すグラフである。破線は、放物線適合を示す。
【図４Ｃ】投影光の立ち上がりに関して均一な線の計算を示すグラフである。
【図４Ｄ】線によって細くされた７個の球の明領域画像である。
【図４Ｅ】二重井戸のフラットトップのプロファイルの計算を示すグラフ及び投影光の差し込みを有する。
【図５】コンピュータ生成ホログラムを用いた拡張型光トラップを投影するための別のシステムを示す概略図である。
【図６Ａ】軸に沿って伝搬する光学ピンセットの３次元再構成を示す図である。
【図６Ｂ】ｘｙ位相の断面を示す図である。
【図６Ｃ】ｙｚ位相の断面を示す図である。水平の破線は、そのｘｙ断面が得られる位相ｚ＝ｚ０を示す。
【図６Ｄ】入射光の９５％を入れる差し込み等値面を有するｘｚ位相における断面を示す図である。図６Ｃの目盛りバーは、５マイクロメートルを表し、各平面における断面は、図６Ｄにおける差し込みのスケールに関するグレースケール強度である。
【図７Ａ】図７Ｂの体心立方格子に配置される３５個の光学ピンセットの容積測定表示を示す図である。
【図８Ａ】円筒形の線状ピンセットの表示を示す図である。それぞれの対応物として図６Ａと比較すべきである。
【図８Ｂ】円筒形の線状ピンセットの表示を示す図である。それぞれの対応物として図６Ｂと比較すべきである。
【図８Ｃ】円筒形の線状ピンセットの表示を示す図である。それぞれの対応物として図６Ｃと比較すべきである。
【図８Ｄ】円筒形の線状ピンセットの表示を示す図である。それぞれの対応物として図６Ｄと比較すべきである。
【図９Ａ】本発明の実施形態によるホログラフィック光学線状トラップの３次元連続再構成を示す図である。図６Ａ及び図８Ａと比較されるべきである。
【図９Ｂ】本発明の実施形態によるホログラフィック光学線状トラップの３次元連続再構成を示す図である。図６Ｂ及び図８Ｂと比較されるべきである。
【図９Ｃ】本発明の実施形態によるホログラフィック光学線状トラップの３次元連続再構成を示す図である。図６Ｃ及び図８Ｃと比較されるべきである。
【図９Ｄ】本発明の実施形態によるホログラフィック光学線状トラップの３次元連続再構成を示す図である。図６Ｄ及び図８Ｄと比較されるべきである。