(57)【要約】【課題】複数の読み書き可能な不揮発性メモリのアドレス空間が連続している構成で、その不揮発性メモリのデバイステストのテスト回数を減らしたりできるようにする。【解決手段】プリント配線基板上に搭載された強誘電体メモリ４、５、６、７をその記憶領域のアドレスがつながっている状態に実装した構成とし、個々の強誘電体メモリのアドレス間のつながり部分の記憶空間を予め空き領域１１、１２として確保し、その空き領域１１、１２をデバイステスト対象領域として前記個々の強誘電体メモリのデバイステストを行う。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の読み書き可能な不揮発性メモリを搭載した画像情報装置において、前記複数の不揮発性メモリをその記憶領域のアドレスがつながっている状態に実装した構成であって、個々の不揮発性メモリのアドレス間のつながり部分の記憶空間を前記不揮発性メモリのデバイステスト対象領域として前記個々の不揮発性メモリのデバイステストを行うテスト手段を備えたことを特徴とする画像情報装置。
【請求項２】
請求項１記載の画像情報装置において、前記テスト手段は、前記デバイステストとして、所定のデータを前記デバイステスト対象領域に書き込み、書き込まれているデータを該デバイステスト対象領域から読み出し、読み出したデータを前記所定のデータと比較して一致するか否かを判定するテストを行うことを特徴とする画像情報装置。
【請求項３】
複数の不揮発性メモリを搭載した画像情報装置において、または請求項１記載の画像情報装置において、デバイステスト対象の不揮発性メモリのデバイステスト対象領域に記憶されているデータを他の記憶デバイスにバックアップし、続いて該デバイステスト対象領域のデバイステストを行い、次にバックアップされたデータを前記デバイステスト対象領域に戻すことを特徴とする画像情報装置。
【請求項４】
請求項３記載の画像情報装置において、最初に実行するデバイステスト対象領域については予め空き領域として確保しておいて前記デバイステストを行い、次のデバイステスト対象領域からは、当該デバイステスト対象領域に記憶されているデータを前記空き領域にバックアップし、続いて当該デバイステスト対象領域のデバイステストを行い、次にバックアップされたデータを当該デバイステスト対象領域に戻すことを特徴とする画像情報装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像情報装置において、当該不揮発性メモリのコマンド認識が正常に実行されているか否かを判定することにより該不揮発性メモリまたは該不揮発性メモリが搭載されているプリント配線ボードの配線パターンをテストする異常テスト手段を備えたことを特徴とする画像情報装置。
【請求項６】
請求項５記載の画像情報装置において、前記異常テスト手段は、不揮発性メモリのライトプロテクトレジスタ機能を用いて当該不揮発性メモリのコマンド認識が正常に実行されていか否かを判定することを特徴とする画像情報装置。
【請求項７】
請求項５または６記載の画像情報装置において、前記異常テスト手段はコマンドを複数の不揮発性メモリに一度に書き込むことを特徴とする画像情報装置。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像情報装置において、前記不揮発性メモリが強誘電体メモリであることを特徴とする画像情報装置。
【請求項９】
プリント配線基板上に搭載された複数の強誘電体メモリのデバイステスト方法において、前記複数の強誘電体メモリをその記憶領域のアドレスがつながっている状態に実装した構成とし、個々の強誘電体メモリのアドレス間のつながり部分の記憶空間を前記強誘電体メモリのデバイステスト対象領域として前記個々の強誘電体メモリのデバイステストを行うことを特徴とするデバイステスト方法。
【請求項１０】
プリント配線基板上に搭載された複数の強誘電体メモリのデバイステスト方法において、または請求項９記載のデバイステスト方法において、デバイステスト対象の強誘電体メモリのデバイステスト対象領域に記憶されているデータを他の記憶デバイスにバックアップし、続いて該デバイステスト対象領域のデバイステストを行い、次にバックアップされたデータを前記デバイステスト対象領域に戻すことを特徴とするデバイステスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複写機、ファクシミリ装置、プリンタなど、画像情報装置に係り、特に、プリント配線基板などに搭載されている強誘電体メモリのテスト技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
複写機、ファクシミリ装置、プリンタなど、従来の画像情報装置では、不揮発性メモリである強誘電体メモリ（Ferroelectric Random Access Memory、以下、ＦＲＡＭと称する）を１個搭載し、そのデバイスの記憶領域の一部を常に空き領域としておき、当該画像情報装置への電源投入時、その空き領域をテスト対象領域としてデバイステストを行っている。所定のデータを予めＲＯＭやフラッシュメモリなど他の不揮発性メモリに記憶しておき、ＦＲＡＭのテスト時には、その所定のデータをその不揮発性メモリから読み出し、ＦＲＡＭのテスト領域である前記空き領域に書き込み、続いてそのテスト領域からＲＡＭなどへデータを読み出し、読み出したデータを前記所定のデータと比較して一致するか否かを判定する所謂ライト／リード／ベリファイがそのデバイステストの内容である。
また、前記したデバイステストの際、ＦＲＡＭが搭載されているプリント配線基板の配線チェックも行われている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、前記した従来技術では、ＦＲＡＭが２個以上搭載された場合、個々のＦＲＡＭごとにデバイステスト行わねばならないという問題があった。つまり、従来技術では、例えばＦＲＡＭが２個の場合にはデバイステストも２回、ＦＲＡＭが４個の場合にはデバイステストも４回になってしまうのである。
また、デバイステスト対象領域としての空き領域をそれぞれのＦＲＡＭに確保する必要があった。
本発明は、このような従来技術の問題を解決しようとするものであり、具体的には、複数のＦＲＡＭなど読み書き可能な不揮発性メモリのアドレス空間が連続している場合において、各不揮発性メモリのアドレスのつながり部分の記憶空間をテスト対象領域とすることによりデバイステストのテスト回数を減らすことができる画像情報装置を提供することを目的とする。また、デバイステストのために不揮発性メモリ内に予め確保する必要があった空き領域を不要にしたり少なくしたりできる画像情報装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
前記した課題を解決するために、請求項１記載の画像情報装置は、複数の不揮発性メモリを搭載した画像情報装置において、前記複数の不揮発性メモリをその記憶領域のアドレスがつながっている状態に実装した構成であって、個々の不揮発性メモリのアドレス間のつながり部分の記憶空間を前記不揮発性メモリのデバイステスト対象領域として前記個々の不揮発性メモリのデバイステストを行うテスト手段を備える。
請求項２記載の画像情報装置は、請求項１記載の画像情報装置において、前記テスト手段が、前記デバイステストとして、所定のデータを前記デバイステスト対象領域に書き込み、書き込まれているデータを該デバイステスト対象領域から読み出し、読み出したデータを前記所定のデータと比較して一致するか否かを判定するテストを行う構成とする。
【０００５】
請求項３記載の画像情報装置は、複数の不揮発性メモリを搭載した画像情報装置において、または請求項１記載の画像情報装置において、デバイステスト対象の不揮発性メモリのデバイステスト対象領域に記憶されているデータを他の記憶デバイスにバックアップし、続いて該デバイステスト対象領域のデバイステストを行い、次にバックアップされたデータを前記デバイステスト対象領域に戻す構成とする。
請求項４記載の画像情報装置は、請求項３記載の画像情報装置において、最初に実行するデバイステスト対象領域については予め空き領域として確保しておいて前記デバイステストを行い、次のデバイステスト対象領域からは、当該デバイステスト対象領域に記憶されているデータを前記空き領域にバックアップし、続いて当該デバイステスト対象領域のデバイステストを行い、次にバックアップされたデータを当該デバイステスト対象領域に戻す構成とする。
【０００６】
請求項５記載の画像情報装置は、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像情報装置において、当該不揮発性メモリのコマンド認識が正常に実行されているか否かを判定することにより該不揮発性メモリまたは該不揮発性メモリが搭載されているプリント配線ボードの配線パターンをテストする異常テスト手段を備える。
請求項６記載の画像情報装置は、請求項５記載の画像情報装置において、前記異常テスト手段が、不揮発性メモリのライトプロテクトレジスタ機能を用いて当該不揮発性メモリのコマンド認識が正常に実行されていか否かを判定する構成とする。
請求項７記載の画像情報装置は、請求項５または６記載の画像情報装置において、前記異常テスト手段がコマンドを複数の不揮発性メモリに一度に書き込む構成とする。
請求項８記載の画像情報装置は、請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像情報装置において、前記不揮発性メモリを強誘電体メモリとする。
【０００７】
請求項９記載の方法は、プリント配線基板上に搭載された複数の強誘電体メモリのデバイステスト方法において、前記複数の強誘電体メモリをその記憶領域のアドレスがつながっている状態に実装した構成とし、個々の強誘電体メモリのアドレス間のつながり部分の記憶空間を前記強誘電体メモリのデバイステスト対象領域として前記個々の強誘電体メモリのデバイステストを行う構成とする。
請求項１０記載の方法は、プリント配線基板上に搭載された複数の強誘電体メモリのデバイステスト方法において、または請求項９記載のデバイステスト方法において、デバイステスト対象の強誘電体メモリのデバイステスト対象領域に記憶されているデータを他の記憶デバイスにバックアップし、続いて該デバイステスト対象領域のデバイステストを行い、次にバックアップされたデータを前記デバイステスト対象領域に戻す構成とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、複数の強誘電体メモリをその記憶領域のアドレスがつかながっている状態に実装した構成として、個々の強誘電体メモリのアドレス間のつながり部分の記憶空間をこの強誘電体メモリのデバイステスト対象領域として個々の強誘電体メモリのデバイステストを行うので、２個の強誘電体メモリのデバイステストを１回のテストで実行でき、したがって、デバイステストのテスト回数を減らすことができる。また、デバイステスト対象の強誘電体メモリのデバイステスト対象領域に記憶されているデータを他の記憶デバイスにバックアップし、続いて該デバイステスト対象領域のデバイステストを行い、次にバックアップされたデータを前記デバイステスト対象領域に戻すことができるので、デバイステストのためにＦＲＡＭ内に予め確保する必要があった空き領域を不要にしたり少なくしたりできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。但し、この実施形態に記載される構成要素、種類、組み合わせ、形状、その相対位置などは特定的な記載がない限りこの説明の範囲をそれのみに限定する主旨ではなく、単なる説明例に過ぎない。
図１は本発明の一実施形態としてデジタル複写機要部の構成を示すブロック図である。図示したように、このデジタル複写機は、プログラムを内蔵したＲＯＭおよびそのプログラムに従って動作するＣＰＵを有してこのデジタル複写機の全体を制御するシステム制御部１、当該デジタル複写機を制御するための機能設定値や、固定設定値のプログラムデータを保持しておくフラッシュメモリ２、一時的に各種データを記憶するＳＤＲＡＭ３、当該デジタル複写機を制御するための機能設定値や利用者に合わせた設定値、機器固有値のデータなどを保持しておくＦＲＡＭ４、５、６、７などを備えている。
なお、フラッシュメモリ２には、本発明に係るデバイステストのテストデータがコード情報のデータ形式で保持され、ＳＤＲＡＭ３には、電源投入時にフラッシュメモリ２内のテストデータがコピーされる。また、ＦＲＡＭ４、５、６、７はデバイステストの対象となるデバイスである。
【００１０】
以下、本発明の各実施例を説明する。なお、各実施例では、ＦＲＡＭは４個搭載され、個々のＦＲＡＭの記憶容量は１２８ｋＢとする。
（実施例１）
図２はこの実施例におけるＦＲＡＭの記憶アドレス空間を示す説明図である。また、図３はこの実施例の動作フローを示すフロー図である。以下、図１および図２を参照しながら図３に従ってこの実施例を説明する。なお、この実施例では、請求項記載のテスト手段がシステム制御部１およびＳＤＲＡＭ３などにより実現される。
前述したような構成で、この実施例のデジタル複写機では、電源が投入されると、システム制御部１がフラッシュメモリ２に記憶されているコード情報のテストデータを読み出し、そのテストデータをＳＤＲＡＭ３に格納し（ステップ１）、このデジタル複写機を起動する。さらに、システム制御部１は、ＳＤＲＡＭ３内のテストデータのビットマップ展開を行い（ステップ２）、展開されたテストデータをまずＦＲＡＭ４、５の空き領域（テスト領域）に書き込む（ステップ３）。図２に示したように、ＦＲＡＭ４の後端領域からＦＲＡＭ５の冒頭領域にまたがる空き領域１１に書き込むのである。ＦＲＡＭ４の後端領域からＦＲＡＭ５の冒頭にまたがる空き領域１１は連続したアドレス空間であるので（プリント配線基板上でそのように実装されている）、例えばＡ番地からＢ番地までと指定することにより、またはＡ番地からＣバイト分と指定することにより、１回の書き込み処理で書き込むことができる。同様に、ＦＲＡＭ６の後端領域からＦＲＡＭ７の冒頭領域にまたがる連続したアドレス空間の空き領域１２についても書き込みを行う（ステップ４）。
なお、ＦＲＡＭ４、５、６、７のデバイステストのための空き領域１１、１２は事前に確保しておく。また、各ＦＲＡＭはそれぞれのＣＳ（Chip Select）端子を用いてメモリ空間に割り当てられており、４個で５１２ｋバイトのメモリである。
【００１１】
次に、システム制御部１は、書き込みを行った空き領域１１、１２からデータを読み出しつつ対応するＳＤＲＡＭ３内のビットマップデータと比較する（ステップ５）。この読み出しおよび比較も、Ａ番地からＢ番地までと指定することにより、またはＡ番地からＣバイト分と指定することにより、それぞれ１回の処理（合計２回）で実行することができる。そして、すべてのビットについて比較結果が一致していたならば（ステップ６でＹｅｓ）、各ＦＲＡＭは正常と判定し（ステップ７）、いずれかのビットが不一致であれば（ステップ６でＮＯ）、不一致ビットのアドレスを含むＦＲＡＭを異常と判定する（ステップ８）。
このように、この実施例によれば、複数のＦＲＡＭのアドレス空間が連続している場合において、各ＦＲＡＭのアドレスのつながり部分の記憶空間をテスト対象領域とすることによりデバイステストのテスト回数を減らすことができる。
【００１２】
（実施例２）
図４はこの実施例の動作フローを示すフロー図である。以下、図４に従ってこの実施例を説明する。
この実施例では、図１に示したような構成で、まず、予め設けたＦＲＡＭ４、５にまたがった空き領域１１を対象にして実施例１と同様なデバイステストを行う（ステップ１１）。
続いて、システム制御部１はＦＲＡＭ６、７内のテスト対象領域（実施例１の空き領域１２と同じ領域）に記憶されているデータをＦＲＡＭ４、５の空き領域１１に転送する（バックアップする）（ステップ１２）。そして、データ転送完了後、ＦＲＡＭ６、７のテスト対象領域を空き領域とみなして実施例１と同様のデバイステストを行う（ステップ１３）。
次に、システム制御部１はＦＲＡＭ４、５の空き領域１１に移しておいたデータをＦＲＡＭ６、７の元の領域に戻す（ステップ１４）。
【００１３】
なお前述では、ＦＲＡＭ４、５については予め空き領域を確保したが、例えばＳＲＡＭ３の一部をバックアップ領域とすることによりＦＲＡＭ４、５についても空き領域の確保を不要とすることが可能である。つまり、ＦＲＡＭ４、５についてもテスト対象領域のデータをバックアップしてからデバイステストを行い、デバイステスト終了後、バックアップしたデータをＦＲＡＭ４、５に戻すのである。
また前述では、２つのＦＲＡＭの境界領域をテスト対象領域としたが、それを任意の領域とすることも可能である。つまり、個々のＦＲＡＭについて、任意の領域のデータをバックアップしてからその領域をデバイステスト対象領域としてデバイステストを行い、デバイステスト終了後、バックアップしたデータをＦＲＡＭ内の元の領域に戻すのである。但し、任意の領域をテスト対象領域とする場合には、テスト回数を減らすことはできない。
こうして、この実施例によれば、ＦＲＡＭのデバイステストのためにＦＲＡＭ内に予め空き領域を確保する必要がなくなる。あるいは、確保する空き領域を少なくできる。
【００１４】
（実施例３）
図５はこの実施例の動作フローを示すフロー図である。以下、図５に従ってこの実施例を説明する。なお、この実施例では、請求項記載の異常テスト手段がシステム制御部１により実現される。
この実施例では、図１に示したような構成で、システム制御部１はまず、順次ＣＳ１〜４を出して１つのＦＲＡＭを選択し（ステップ２１）、それぞれのＦＲＡＭ選択状態で、ＤＡＴＡ ＩＮ／ＯＵＴを用いてライトプロテクトコマンドデータをＦＲＡＭ４〜７へ転送する（ステップ２２）。そして、データ転送が完了したならば（Ｓ２３でＹｅｓ）、ライトプロテクトが有効か否かを各ＦＲＡＭについて確認し（ステップ２４）、有効になっていた場合は（ステップ２４でＹＥＳ）、当該ＦＲＡＭおよびプリント配線基板上の当該ＦＲＡＭ搭載部分の配線が正常と判断してライトプロテクトの解除コマンドをＤＡＴＡ ＩＮ／ＯＵＴを用いて対応したＦＲＡＭへ転送する（ステップ２５）。
また、有効となっていなかった場合は（ステップ２４でＮＯ）、当該ＦＲＡＭまたは配線の不良としてこのデジタル複写機を停止状態にする（ステップ２６）。
こうして、この実施例によれば、各ＦＲＡＭおよび各ＦＲＡＭが搭載されているプリント配線基板の配線が正常か否かを簡単にテストできる。
【００１５】
（実施例４）
この実施例では、実施例３において、システム制御部１は、ＣＳ１〜４を同時に出して、ＦＲＡＭ４〜７を同時に制御できる状態にする。そして、ＤＡＴＡ ＩＮ／ＯＵＴを用いてライトプロテクトコマンドデータをＦＲＡＭ４〜７へ同時に転送する。
次に、システム制御部１は、ライトプロテクトが有効になっているか否かを各ＦＲＡＭについて順次確認し、有効になっている場合は各ＦＲＡＭおよびプリント配線基板上のＦＲＡＭ搭載部分の配線が正常と判断し、ＤＡＴＡ ＩＮ／ＯＵＴを用いてライトプロテクトの解除コマンドをＦＲＡＭ４〜７へ同時に転送する。また、有効となっていない場合は当該ＦＲＡＭまたは配線の不良としてこのデジタル複写機を停止状態にする。
こうして、この実施例によれば、各ＦＲＡＭおよび各ＦＲＡＭが搭載されているプリント配線基板の配線が正常か否かを効率的にテストできる。
【００１６】
以上、テスト対象のデバイスがＦＲＡＭの場合で説明したが、このデバイスはＦＲＡＭだけに制限されず、例えばＥＰＲＯＭなど他の読み書き可能な不揮発性メモリであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施形態としてデジタル複写機要部の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施例におけるＦＲＡＭの記憶アドレス空間を示す説明図である。
【図３】本発明の第１の実施例におけるデバイステストの動作フローを示すフロー図である。
【図４】本発明の第２の実施例におけるデバイステストの動作フローを示すフロー図である。
【図５】本発明の第３の実施例における異常テストの動作フローを示すフロー図である。
【符号の説明】
【００１８】
１  システム制御部、２  フラッシュメモリ、３  ＳＤＲＡＭ、４〜７  ＦＲＡＭ（強誘電体メモリ）、１１〜１２  空き領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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