(57)【要約】【課題】オシロスコープの波形観測により、テストプログラムの異常個所を容易に検出できるテストシステムを実現することを目的にする。【解決手段】本発明は、テストプログラムにより、被試験対象の試験を行うと共に、トリガ信号を入力し、このトリガ信号入力時のテストプログラムの実行中の位置データを記録するＩＣテスタと、このＩＣテスタを波形観測し、トリガ信号をＩＣテスタに出力するオシロスコープとを備えたことを特徴とするものである。【選択図】図１
2008026083.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストプログラムにより、被試験対象の試験を行うと共に、トリガ信号を入力し、このトリガ信号入力時のテストプログラムの実行中の位置データを記録するＩＣテスタと、
このＩＣテスタを波形観測し、トリガ信号をＩＣテスタに出力するオシロスコープと
を備えたことを特徴とするテストシステム。
【請求項２】
ＩＣテスタは、
テストプログラムを記憶する記憶部と、
被試験対象を試験する試験部と、
この試験部を、前記記憶部のテストプログラムにより制御するコントローラと、
前記テストプログラムの位置データを記憶する位置記憶部と、
この位置記憶部に、オシロスコープのトリガ信号により、前記コントローラのテストプログラム実行中の位置データを記録する記録部と
を設けたことを特徴とする請求項１記載のテストシステム。
【請求項３】
記録部は、
マスクデータを記憶するマスク記憶部と、
このマスク記憶部のマスクデータにより、マスクに該当しない場合、位置データの記録を行い、マスクに該当する場合、位置データの記録を行わないマスク処理部と
を設けたことを特徴とする請求項２記載のテストシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験対象を試験するテストシステムに関し、オシロスコープの波形観測により、テストプログラムの異常個所を容易に検出できるテストシステムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣテスタは、被試験対象（以下ＤＵＴ）に信号を出力し、ＤＵＴの出力により良否の判定を行うものである。従来、例えば、下記特許文献１に示されるように、オシロスコープを用いて、ＩＣテスタの出力端の波形観測を行っていた。これにより、テストプログラムのミスにより、ＤＵＴに対して、過電圧をかけている波形をオシロスコープで確認したら、テストプログラム中のどこで過電圧をかけているかを、テストプログラムの停止等を操作者が行い、テストプログラムの位置確認を行っていた。
【０００３】
【特許文献１】実開平５−３３５３２公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このような作業は、ＤＵＴの各端子に対して行わなければならず、確認作業が大変であった。
【０００５】
本発明の目的は、オシロスコープの波形観測により、テストプログラムの異常個所を容易に検出できるテストシステムを実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
テストプログラムにより、被試験対象の試験を行うと共に、トリガ信号を入力し、このトリガ信号入力時のテストプログラムの実行中の位置データを記録するＩＣテスタと、
このＩＣテスタを波形観測し、トリガ信号をＩＣテスタに出力するオシロスコープと
を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載のテストシステムであって、
ＩＣテスタは、
テストプログラムを記憶する記憶部と、
被試験対象を試験する試験部と、
この試験部を、前記記憶部のテストプログラムにより制御するコントローラと、
前記テストプログラムの位置データを記憶する位置記憶部と、
この位置記憶部に、オシロスコープのトリガ信号により、前記コントローラのテストプログラム実行中の位置データを記録する記録部と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項２記載の発明であって、
記録部は、
マスクデータを記憶するマスク記憶部と、
このマスク記憶部のマスクデータにより、マスクに該当しない場合、位置データの記録を行い、マスクに該当する場合、位置データの記録を行わないマスク処理部と
を設けたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば以下のような効果がある。
請求項１，２によれば、オシロスコープのトリガ信号により、ＩＣテスタが、テストプログラムの位置データを記録するので、テストプログラムの異常箇所を容易に検出できる。
請求項３によれば、マスク処理部が、マスク記憶部のマスクデータにより、位置データの記録を行わないので、検出不要な異常個所を除外することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
【０００９】
図１において、ＤＵＴ１は、ＩＣ、ＬＳＩ等である。パフォーマンスボード２は、プリント基板で、ＤＵＴ１と電気的に接続する。テストヘッド３は、パフォーマンスボード２と電気的に接続し、ピンエレクトロニクスボードと呼ばれる複数のプリント基板が搭載されている。本体４は、テストヘッド３とケーブルを介して電気的に接続される。本体４は、記憶部４１、本体試験部４２、コントローラ４３、メモリ４４、記録部４５を有する。記憶部４１は、テストプログラムを記憶する。本体試験部４２は、テストヘッド３、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ１の試験を行う。コントローラ４３は、本体試験部４２、テストヘッド３等を、記憶部４１のテストプログラムにより制御する。メモリ４４は位置記憶部で、テストプログラムの位置データを記憶する。記録部４５は、マスク記憶部４５１、マスク処理部４５２を有し、トリガ信号により、コントローラ４３のテストプログラム実行中の位置データを、メモリ４４に記録する。マスク記憶部４５１は、マスクデータを記憶する。マスク処理部４５２は、マスク記憶部４５１のマスクデータにより、マスクに該当しない場合、位置データの記録をメモリ４４に行い、マスクに該当する場合、位置データの記録を行わない。ここで、パフォーンスボード２、テストヘッド３、本体４がＩＣテスタである。また、パフォーマンスボード２、テストヘッド３、本体試験部４２が、ＤＵＴ１を試験する試験部である。
【００１０】
オシロスコープ５は、パフォーマンスボード２の波形観測し、トリガ信号を本体４に出力する。オシロスコープ５は、プローブ５１、波形入力端５２、トリガ出力端５３、表示部５４等を有する。プローブ５１は、ＤＵＴ１の端子またはパフォーマンスボード２に電気的に接続する。波形入力端５２は、プローブ５１と電気的に接続する。トリガ出力端５３は、トリガ信号を本体４の記録部４５に出力する。表示部５４は、波形入力端５２が入力した波形を表示する。
【００１１】
このような装置の動作を以下に説明する。コントローラ４３が、記憶部４１のテストプログラムにより、本体試験部４２、テストヘッド３を制御し、テストヘッド３が、パフォーマンスボード２に信号をＤＵＴ１に出力する。オシロスコープ５が、プローブ５１により、ＤＵＴ１の端子の信号を入力し、表示部５４に波形表示を行う。そして、オシロスコープ５は、過電圧のトリガ条件により、トリガ出力端５３からトリガ信号を本体４に出力する。トリガ信号により、記録部４５のマスク処理部４５２は、コントローラ４３の実行中のテストプログラムの位置データとマスク記憶部４５１のマスクデータを比較し、同じならば、処理を終了し、異なれば、位置データをメモリ４４に記録する。
【００１２】
このように、オシロスコープ５のトリガ信号により、記録部４５がコントローラ４３の実行中のテストプログラムの位置データをメモリ４４に記録するので、テストプログラムの異常箇所を容易に検出できる。
また、マスク処理部４５２が、マスク記憶部４５１のマスクデータにより、位置データの記録を行わないので、検出不要な異常個所を除外することができる。
【００１３】
なお、トリガ条件として、過電圧検出を示したが、どのようなトリガ条件でもよい。また、オシロスコープ５がＤＵＴ１の端子（パフォーマンスボード２）を観測する構成を示したが、ＩＣテスタのどの箇所でもよい。また、ＤＵＴ１をパフォーマンスボード２に接続せずに、観測する構成でもよい。また、ＩＣテスタは、テストヘッド３、本体４に分離された構成を示したが、一体型でもよい。
【００１４】
そして、コントローラ４３が、テストプログラム４３の位置データを出力する構成を示したが、コントローラ４３から位置データを取得する構成でもよい。また、カンタを設け、テストプログラムのスタート時にカウンタをスタートさせ、カウント値を記録部４５が記録して、テストプログラムの位置データとしてもよい。
【００１５】
また、ＤＵＴ１を試験するために、ＤＵＴ１の周辺に配置される周辺回路は、ＩＣテスタに含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【符号の説明】
【００１７】
１  ＤＵＴ
２  パフォーマンスボード
３  テストヘッド
４  本体
４１  記憶部
４２  本体試験部
４３  コントローラ
４４  メモリ
４５  記録部
４５１  マスク記憶部
４５２  マスク処理部
５  オシロスコープ
【図１】
2008026083.tif 000003