(57)【要約】【課題】操作性を低下させることなく零点調整を短時間で行い得る測定装置を提供する。【解決手段】電圧検出部３と、電圧検出部３によって検出された電圧信号Ｓｖの電圧値Ｖに基づいて抵抗測定値Ｒｍを演算すると共に平均化処理モードが選択されているときに抵抗測定値Ｒｍの平均値を算出して最終的な測定値とする処理を実行可能なＣＰＵ９とを備え、ＣＰＵ９は、平均化処理モードが選択されている状態において、電圧値Ｖが閾値Ｂ以上のときに平均値を算出して最終的な測定値とし、かつ電圧値Ｖが閾値Ｂ未満のときに平均化前の抵抗測定値Ｒｍを最終的な測定値とする測定処理を実行する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気信号を検出する検出部と、当該検出部によって検出された前記電気信号の検出値に基づいて所定の電気的パラメータを演算する処理を実行すると共に、平均化処理モードが選択されているときに当該電気的パラメータの測定値の平均値を算出して最終的な測定値とする処理を実行可能な処理部とを備えた測定装置であって、
前記処理部は、前記平均化処理モードが選択されている状態において、前記検出値が所定の基準値以上のときに前記平均値を算出して前記最終的な測定値とし、かつ当該検出値が当該基準値未満のときに平均化前の前記測定値を前記最終的な測定値とする測定処理を実行する測定装置。
【請求項２】
複数の前記基準値を記憶する記憶部を備え、
前記処理部は、前記複数の基準値の中から選択された当該基準値に基づいて前記測定処理を実行する請求項１記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気信号の検出値に基づいて所定の電気的パラメータを演算する処理およびその電気的パラメータの測定値の平均値を算出する処理を実行する測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の測定装置として、特開平９−２８１２０２号公報において出願人が開示した電池測定装置が知られている。この電池測定装置は、交流定電流源、内部抵抗検出部、電圧検出部およびディジタル処理部等を備えて構成されている。この場合、交流定電流源は、測定対象体としての電池の各端子に測定電極を介して交流電流（測定信号）を出力し、内部抵抗検出部は、交流電流の出力によって各端子間に生じる交流電圧を測定電極を介して入力して、その交流電圧に基づいて電池の内部抵抗を検出する。また、電圧検出部は、測定電極を介して入力される電池の各端子間の直流電圧を検出し、ディジタル処理部は、各検出部からの検出信号を処理した測定データをＲＡＭに保存する。また、ディジタル処理部は、電池の劣化判定結果や測定値をディスプレイに表示させる。
【特許文献１】特開平９−２８１２０２号公報（第４−６頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、上記の電池測定装置には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、上記した電池の内部抵抗の検出（算出）の基礎となる交流電圧は、一般的に、その値が小さいために外部からの影響を受け易く、例えば、充電器が接続されている状態においては、充電電流がノイズとなって測定値が大きくに変動する。このため、この電池測定装置では、変動を少なく抑えるために測定値を平均化処理してその平均値を表示するモード（以下、「第１のモード」ともいう）、および平均化処理を行うことなく測定値をそのまま表示するモード（以下、「第２のモード」ともいう）の２つのモードで測定を行うことが可能となっている。一方、抵抗測定においては、正確な測定値を得るために、測定に先立って零点調整を行う必要がある。この零点調整では、まず、各測定電極同士を接触させて抵抗値を表示させ、表示値の変動が少なくなって小さな値に収束した時点で零点調整用のスイッチを操作する。ここで、電極同士を接触させたときには、抵抗値が測定範囲を超えるような大きな値から０Ωに近い小さな値に急激に変化する。この場合、上記した第１のモードを選択している状態で零点調整を行ったときには、測定装置が変動を少なく抑えるための平均化処理を実行するため、表示値が０Ωに近づいて十分に小さな値に収束するまでに比較的長い時間を要することとなる。このため、零点調整用のスイッチを操作するまで比較的長い時間待機する必要がある。
【０００４】
この場合、零点調整の際には、充電電流等の外部からの影響が少ないため、抵抗値の変動は比較的少なく抑えられる。このため、上記した第２のモードを選択することで、零点調整の時間短縮を図ることができる。しかしながら、この方法では、第２のモードを選択して零点調整を行った後に第１のモードを選択して測定を開始する必要があり、操作が煩雑となるという課題が生じる。
【０００５】
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、操作性を低下させることなく零点調整を短時間で行い得る測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成すべく請求項１記載の測定装置は、電気信号を検出する検出部と、当該検出部によって検出された前記電気信号の検出値に基づいて所定の電気的パラメータを演算する処理を実行すると共に、平均化処理モードが選択されているときに当該電気的パラメータの測定値の平均値を算出して最終的な測定値とする処理を実行可能な処理部とを備えた測定装置であって、前記処理部は、前記平均化処理モードが選択されている状態において、前記検出値が所定の基準値以上のときに前記平均値を算出して前記最終的な測定値とし、かつ当該検出値が当該基準値未満のときに平均化前の前記測定値を前記最終的な測定値とする測定処理を実行する。
【０００７】
また、請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、複数の前記基準値を記憶する記憶部を備え、前記処理部は、前記複数の基準値の中から選択された当該基準値に基づいて前記測定処理を実行する。
【発明の効果】
【０００８】
請求項１記載の測定装置によれば、処理部が、平均化処理モードが選択されている状態において、検出値が基準値以上のときに平均値を算出してその平均値を最終的な測定値とし、かつ検出値が基準値未満のときに平均化前の測定値を最終的な測定値とする測定処理を実行することにより、検出値が基準値未満のときには、測定値がそのまま最終的な測定値とされるため、例えば、抵抗測定の際に行う零点調整の実行時において、測定値が測定範囲を超えるような大きな値から小さな値に急激に変化するときに、最終的な測定値を測定値の実際の変化に即応して小さな値に収束させることができる。このため、測定用端子の接続後に長い時間待機することなく直ちに零点調整を実行することができる。したがって、この測定装置によれば、測定モードを平均化処理モードに設定した状態のまま、つまりモード切り替え等の煩雑な操作を行うことなく零点調整を短時間で確実に行うことができる。
【０００９】
また、請求項２記載の測定装置によれば、複数の基準値を記憶する記憶部を備えたことにより、例えば、各基準値を各測定レンジに対応させて予め設定することで、測定レンジを切り替えるだけでその測定レンジに対応する基準値に基づく測定処理を処理部に自動的に実行させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明に係る測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１１】
最初に、バッテリテスタ１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１２】
図１に示すバッテリテスタ１は、本発明に係る測定装置の一例であって、バッテリ２０１の電圧や抵抗（本発明における電気的パラメータ）を４端子法によって測定可能に構成されている。具体的には、バッテリテスタ１は、電源部２、電圧検出部３、バッファ４、ＲＡＭ５、ＲＯＭ６、操作部７、表示部８およびＣＰＵ９を備えて構成されている。電源部２は、測定用の交流電流Ｉｍを生成可能に構成されている。この場合、電源部２には、一対の第１端子２１ａ，２１ｂが接続され、この第１端子２１ａ，２１ｂを介して交流電流Ｉｍが出力される。
【００１３】
電圧検出部３は、本発明における検出部に相当し、例えばＡ／Ｄ変換回路（図示せず）を備えて構成されている。この場合、電圧検出部３は、ＣＰＵ９の制御に従い、一対の第２端子２２ａ，２２ｂ（図１参照）を介して入力した電圧信号Ｓｖ（本発明における電気信号）を検出してその電圧信号Ｓｖの電圧値Ｖ（本発明における検出値）を示す電圧データＤｖを出力する検出処理を実行する。なお、上記した第１端子２１ａおよび第２端子２２ａは、図２に示すプローブユニット１１ａの先端部において絶縁されつつ互いに隣接した状態で配設され、上記した第１端子２１ｂおよび第２端子２２ｂは、同図に示すプローブユニット１１ｂ（以下、プローブユニット１１ａ，１１ｂを区別しないときには「プローブユニット１１」ともいう）の先端部において絶縁されつつ互いに隣接した状態で配設されている。
【００１４】
バッファ４は、ＣＰＵ９の制御に従い、ＣＰＵ９によって算出される電圧測定値Ｖｍおよび抵抗測定値Ｒｍを記憶する。この場合、バッファ４は、ＣＰＵ９の制御に従い、いわゆるリングバッファ方式で電圧測定値Ｖｍおよび抵抗測定値Ｒｍを上書きすることにより、所定時間分の最新の電圧測定値Ｖｍおよび抵抗測定値Ｒｍを記憶する。ＲＡＭ５は、ＣＰＵ９の制御に従い、ＣＰＵ９によって実行される零点調整において算出されるオフセット値Ｒｏを記憶する。
【００１５】
ＲＯＭ６は、本発明における記憶部に相当し、ＣＰＵ９によって実行される測定処理４０の実行時において用いられる閾値Ｂ等を記憶する。この場合、ＲＯＭ６には、複数の測定レンジにそれぞれ対応付けて予め設定された複数の閾値Ｂが記憶されている。操作部７は、図２に示すように、バッテリテスタ１の正面パネルに配設された電源スイッチ７１、レンジ切替スイッチ７２、モード切替スイッチ７３、および零点調整スイッチ７４などの各種のスイッチを備えて構成されて、各スイッチが操作されたときに操作信号をＣＰＵ９に出力する。表示部８は、例えば、ＬＣＤパネルで構成されると共に、同図に示すように、バッテリテスタ１の正面パネルに配設されて、ＣＰＵ９の制御に従って各種の画像（例えば、図３に示す画像Ｇ）を表示する。
【００１６】
ＣＰＵ９は、本発明における処理部に相当し、図４に示す測定処理４０を実行する。この場合、ＣＰＵ９は、測定処理４０において、電圧検出部３から出力される電圧データＤｖに基づいて電圧測定値Ｖｍを演算する電圧演算処理、および電圧データＤｖに基づいて抵抗測定値Ｒｍを演算する抵抗演算処理を実行する。また、ＣＰＵ９は、測定処理４０において、平均化処理によって算出した抵抗測定値Ｒｍの平均値Ｒａ、および平均化処理前の抵抗測定値Ｒｍのいずれか一方を表示用抵抗測定値Ｒｄ（本発明における最終的な測定値）として、その表示用抵抗測定値Ｒｄと電圧測定値Ｖｍとを表示させるための表示用データＤｄを表示部８に出力することにより、表示用抵抗測定値Ｒｄおよび電圧測定値Ｖｍを示す画像を表示部８に表示させる。
【００１７】
ここで、このバッテリテスタ１では、第１モードおよび第２モードの２種類のモードを選択可能に構成されており、ＣＰＵ９は、第１モードが選択されているときには、測定処理４０において、所定時間分の複数の抵抗測定値Ｒｍを平均化処理して平均値Ｒａを算出し、その平均値Ｒａを表示用抵抗測定値Ｒｄとして表示部８に表示させる処理と、平均化処理前の抵抗測定値Ｒｍをそのまま表示用抵抗測定値Ｒｄとして表示部８に表示させる処理とを、電圧値Ｖと閾値Ｂとの比較結果に基づいて自動的に切り替えて実行する。また、ＣＰＵ９は、第２モードが選択されているときには、測定処理４０において、平均化処理前の抵抗測定値Ｒｍをそのまま表示用抵抗測定値Ｒｄとして表示部８に表示させる。さらに、ＣＰＵ９は、操作部７の零点調整スイッチ７４が操作されたときに、その操作に従って抵抗値についての零点調整を実行する。
【００１８】
次に、バッテリテスタ１の使用方法およびバッテリテスタ１を用いてバッテリ２０１の電圧値、および内部抵抗の抵抗値を測定する方法について、図面を参照して説明する。
【００１９】
まず、操作部７の電源スイッチ７１を操作する。この際に、ＣＰＵ９が、その操作に応じて、バッファ４およびＲＡＭ５を初期化してバッファ４およびＲＡＭ５に記憶されている各データを消去する。また、電源スイッチ７１の操作に応じて、電源部２が交流電流Ｉｍの生成を開始し、電圧検出部３が検出処理を開始する。次いで、操作部７のレンジ切替スイッチ７２等を操作して測定レンジ等の測定条件を選択する。ここで、例えば、測定対象のバッテリ２０１に充電器が接続されているときには、充電電流がノイズとなって抵抗測定値Ｒｍ測定値が大きくに変動するおそれがある。このため、このような状態のバッテリ２０１における内部抵抗の抵抗値を測定する際には、モード切替スイッチ７３を操作して、バッテリテスタ１に対して平均化処理を実行させる第１モードを選択する。
【００２０】
一方、ＣＰＵ９は、レンジ切替スイッチ７２の操作に応じて、図４に示す測定処理４０を実行する。この測定処理４０では、ＣＰＵ９は、電圧データＤｖに基づいて電圧測定値Ｖｍを演算する電圧演算処理を実行して、演算した電圧測定値Ｖｍをバッファ４に記憶させる（ステップ４１）。ここで、ＣＰＵ９は、例えば、電圧データＤｖによって示される電圧値Ｖのうちの直流成分を電圧測定値Ｖｍとして抽出する処理をこの電圧演算処理において行う。この場合、この時点では、各端子２２ａ，２２ｂが測定対象体に接触していないため、電圧検出部３に入力する電圧信号Ｓｖの電圧値Ｖが０Ｖまたは０Ｖに近い小さな値（例えば０．０Ｖ）となっている。このため、ＣＰＵ９は、この時点において、電圧測定値Ｖｍを０．０Ｖと演算する。
【００２１】
次いで、ＣＰＵ９は、電圧データＤｖに基づいて抵抗測定値Ｒｍを演算する抵抗演算処理を実行して、演算した抵抗測定値Ｒｍをバッファ４に記憶させる（ステップ４２）。この場合、この時点では、端子２２ａ，２２ｂが互いに離間していて測定範囲を超えるような大きな値のため、ＣＰＵ９は、電圧データＤｖに基づいて抵抗測定値Ｒｍを大きな値（フルスケールオーバー）と演算する。続いて、ＣＰＵ９は、第１モードが選択されているか否かを判別する（ステップ４３）。この場合、第１モードが選択されているため、ＣＰＵ９は、選択された測定レンジに対応する閾値ＢをＲＯＭ６から読み出すと共に、電圧データＤｖによって特定される電圧値Ｖと閾値Ｂ（一例として、１．０Ｖ）とを比較して、電圧値Ｖが閾値Ｂ以上であるか否かを判別する（ステップ４４）。この場合、上記したように、電圧値Ｖが０．０Ｖのため、ＣＰＵ９は、バッファ４に記憶されている最新の抵抗測定値Ｒｍを表示用抵抗測定値Ｒｄとして、その表示用抵抗測定値Ｒｄおよびバッファ４に記憶されている最新の電圧測定値Ｖｍについての表示用データＤｄを表示部８に出力する（ステップ４５）。次いで、表示部８が、ＣＰＵ９から出力された表示用データＤｄに基づき、図３に示すように、電圧測定値Ｖｍが０．０Ｖで表示用抵抗測定値Ｒｄがフルスケールオーバー（Ｆ．Ｓ．ＯＶＥＲ：測定範囲外）である旨を示す画像Ｇを表示する。続いて、ＣＰＵ９は、測定処理４０を所定時間間隔で繰り返して実行する。
【００２２】
次に、零点調整を行うために、図２に示すように、導電性を有する金属板１０１における２箇所の部位にプローブユニット１１ａ，１１ｂの先端部を押し当てる。この際に、プローブユニット１１ａの先端部に配設されている第２端子２２ａとプローブユニット１１ｂの先端部に配設されている第２端子２２ｂとが金属板１０１を介して電気的に接続される。
【００２３】
この場合、第２端子２２ａ，２２ｂが金属板１０１を介して電気的に接続されて第２端子２２ａ，２２ｂ間がほぼ同電位となるため、電圧検出部３に入力する電圧信号Ｓｖの電圧値Ｖが０Ｖまたは０Ｖに近い小さな値（例えば０．１Ｖ）となっている。このため、ＣＰＵ９は、測定処理４０において、電圧データＤｖに基づいて、電圧測定値Ｖｍを０．１Ｖと演算して、その電圧測定値Ｖｍをバッファ４に記憶させる（ステップ４１）。また、端子２２ａ，２２ｂが金属板１０１を介して電気的に接続されているため、ＣＰＵ９は、端子２２ａ，２２ｂと金属板１０１との接触抵抗やバッテリテスタ１の内部抵抗等に起因する例えば０．１Ω程度の小さな抵抗測定値Ｒｍを電圧データＤｖに基づいて演算して、その抵抗測定値Ｒｍをバッファ４に記憶させる（ステップ４２）。
【００２４】
続いて、ＣＰＵ９は、第１モードが選択されていると判別して（ステップ４３）、次いで、電圧値Ｖが閾値Ｂ以上であるか否かを判別する（ステップ４４）。この場合、上記したように、電圧値Ｖが０．１Ｖのため、ＣＰＵ９は、電圧値Ｖが閾値Ｂ以上ではないと判別して、バッファ４に記憶されている最新の抵抗測定値Ｒｍを表示用抵抗測定値Ｒｄとして、その表示用抵抗測定値Ｒｄおよびバッファ４に記憶されている最新の電圧測定値Ｖｍについての表示用データＤｄを表示部８に出力する（ステップ４５）。続いて、表示部８は、ＣＰＵ９から出力された表示用データＤｄに基づき、電圧測定値Ｖｍが０．１Ｖで、表示用抵抗測定値Ｒｄが０．１Ωである旨を示す画像を表示する。次いで、操作部７の零点調整スイッチ７４を操作する。この際に、ＣＰＵ９は、零点調整として、零点調整スイッチ７４が操された時点における表示用抵抗測定値Ｒｄ（この場合、０．１Ω：以下、この表示用抵抗測定値Ｒｄを「オフセット値Ｒｏ」ともいう）をＲＡＭ５に記憶させると共に、表示用抵抗測定値Ｒｄからオフセット値Ｒｏを差し引いて調整した値（この場合、０．０Ω）を表示させる表示用データＤｄ出力することにより、その調整後の表示用抵抗測定値Ｒｄを示す画像を表示部８に表示させる。以上により、零点調整が完了する。
【００２５】
ここで、従来の測定装置では、平均化処理を実行させるモード（バッテリテスタ１における第１モード）が選択されている状態では、電圧値Ｖの大小に拘わらず、バッファ４に記憶されている複数の抵抗測定値Ｒｍを平均して平均値Ｒａを算出する平均化処理を実行する。このため、従来の測定装置では、上記したように、端子２２ａ，２２ｂを電気的に接続したことに伴い、図５に示すように、抵抗測定値Ｒｍが実際には測定範囲を超えるような大きな値から０．１Ω程度の小さな値に急激に変化したときには、図６に示すように、平均化処理によって算出される平均値Ｒａが大きな値から小さな値に徐々に変化する。したがって、表示部８に表示される表示用抵抗測定値Ｒｄとしての平均値Ｒａの変化（変動）が少なくなって十分に小さな値に収束するまでに比較的長い時間を要するため、零点調整スイッチ７４を操作するまで比較的長い時間待機する必要がある。
【００２６】
これに対して、このバッテリテスタ１では、上記したように、電圧値Ｖが閾値Ｂ未満のときには、抵抗測定値Ｒｍをそのまま表示用抵抗測定値Ｒｄとして表示するため、図５に示すように、抵抗測定値Ｒｍが測定範囲を超えるような大きな値から０．１Ω程度の小さな値に急激に変化した際には、表示部８に表示される表示用抵抗測定値Ｒｄも抵抗測定値Ｒｍの実際の変化に即応して小さな値に収束する。したがって、このバッテリテスタ１では、表示部８に表示される表示用抵抗測定値Ｒｄが端子２２ａ，２２ｂを電気的に接続（短絡）した直後に小さな値に収束するため、長い時間待機することなく直ちに零点調整スイッチ７４を操作することができる。
【００２７】
次に、バッテリ２０１のバッテリの両電極２０２，２０２に両プローブユニット１１，１１の先端部をそれぞれ押し当てる。この際に、プローブユニット１１の第１端子２１ａ，２１ｂを介して電源部２からの交流電流Ｉｍが両電極２０２，２０２に出力される。次いで、電圧検出部３は、バッテリ２０１の直流電圧（例えば、３．０Ｖ）と交流電流Ｉｍの出力によって生じる交流電圧（例えば、３ｍＶ）とが重畳した電圧をプローブユニット１１の第２端子２２ａ，２２ｂを介して入力して検出し、その電圧信号Ｓｖの電圧値Ｖを示す電圧データＤｖを出力する。この際に、ＣＰＵ９は、測定処理４０において、電圧データＤｖによって示される電圧値Ｖのうちの直流成分（この場合、３．０Ｖ）を電圧測定値Ｖｍとして抽出する電圧演算処理を行い、その電圧測定値Ｖｍをバッファ４に記憶させる（ステップ４１）。続いて、ＣＰＵ９は、電圧データＤｖに基づいてバッテリ２０１の内部抵抗についての抵抗測定値Ｒｍを演算して、その抵抗測定値Ｒｍをバッファ４に記憶させる（ステップ４２）。
【００２８】
次いで、ＣＰＵ９は、第１モードが選択されていると判別して（ステップ４３）、続いて、電圧値Ｖが閾値Ｂ以上であるか否かを判別する（ステップ４４）。この場合、上記したように、電圧値Ｖを３．０Ｖと演算したため、ＣＰＵ９は、電圧値Ｖが閾値Ｂ以上であると判別して、次いで、平均化処理を実行することにより（ステップ４６）、バッファ４に記憶されている複数の抵抗測定値Ｒｍを平均して平均値Ｒａ（例えば、１．０Ω）を算出する。続いて、ＣＰＵ９は、ＲＡＭ５からオフセット値Ｒｏを読み出して、算出した平均値Ｒａからオフセット値Ｒｏ（この場合、０．１Ω）を差し引いて平均値Ｒａを調整する。次いで、ＣＰＵ９は、調整後の平均値Ｒａ（この場合、０．９Ω）を表示用抵抗測定値Ｒｄとして、その表示用抵抗測定値Ｒｄ、およびバッファ４に記憶されている最新の電圧測定値Ｖｍについての表示用データＤｄを表示部８に出力する（ステップ４７）。続いて、表示部８は、ＣＰＵ９から出力された表示用データＤｄに基づき、電圧測定値Ｖｍが３．０Ｖで、表示用抵抗測定値Ｒｄが０．９Ωである旨を示す画像を表示する。以上により、バッテリの電圧および内部抵抗の測定が完了する。
【００２９】
このように、このバッテリテスタ１によれば、ＣＰＵ９が、第１モードが選択されている状態において、電圧値Ｖが閾値Ｂ以上のときに平均値Ｒａを算出してその平均値Ｒａを表示用抵抗測定値Ｒｄとし、かつ電圧値Ｖが閾値Ｂ未満のときに平均化処理前の抵抗測定値Ｒｍを表示用抵抗測定値Ｒｄとする測定処理４０を実行することにより、電圧値Ｖが閾値Ｂ未満のときには、抵抗測定値Ｒｍがそのまま表示用抵抗測定値Ｒｄとされるため、抵抗測定の際に行う零点調整の実行時において、抵抗測定値Ｒｍが測定範囲を超えるような大きな値から０．１Ω程度の小さな値に急激に変化するときに、表示部８に表示される表示用抵抗測定値Ｒｄを抵抗測定値Ｒｍの実際の変化に即応して小さな値に収束させることができる。このため、端子２２ａ，２２ｂの接続後に長い時間待機することなく直ちに零点調整スイッチ７４を操作して零点調整を実行することができる。したがって、このバッテリテスタ１によれば、測定モードを第１モードに設定した状態のまま、つまりモード切替スイッチ７３による切り替え等の煩雑な操作を行うことなく零点調整を短時間で確実に行うことができる。
【００３０】
また、このバッテリテスタ１によれば、複数の閾値Ｂを記憶するＲＯＭ６を備えたことにより、各閾値Ｂを各測定レンジに対応させて予め設定することで、測定レンジを切り替えるだけでその測定レンジに対応する閾値Ｂに基づく測定処理４０をＣＰＵ９に自動的に実行させることができる。
【００３１】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、抵抗測定値Ｒｍについてのみ平均化処理を実行する例について上記したが、電圧測定値Ｖｍについても平均化処理を実行するバッテリテスタに本発明を適用することができる。また、抵抗や電圧に限定されず、電流および温度等の各種のパラメータを測定可能な測定装置に本発明を適用することができる。また、４端子法で抵抗測定値Ｒｍを測定するバッテリテスタ１を例に挙げて説明したが、２端子法で各種のパラメータを測定する測定装置に適用することもできる。また、零点調整スイッチ７４の操作に従ってＣＰＵ９が零点調整を実行する例について上記したが、例えば、表示用抵抗測定値Ｒｄの変化（変動）が少なくなって小さな値に収束した時点で、ＣＰＵ９が零点調整を自動的に実行する構成を採用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】バッテリテスタ１の構成を示す構成図である。
【図２】バッテリテスタ１の正面図である。
【図３】表示部８に画像Ｇを表示させている状態の表示画面図である。
【図４】測定処理４０のフローチャートである。
【図５】平均化処理を省略しているときの抵抗測定値Ｒｍの変化状態を示す時間に対する抵抗測定値Ｒｍの特性図である。
【図６】平均化処理を実行しているときの抵抗測定値Ｒｍの変化状態を示す時間に対する抵抗測定値Ｒｍの特性図である。
【符号の説明】
【００３３】
１  バッテリテスタ
３  電圧検出部
６  ＲＯＭ
９  ＣＰＵ
４０  出力制御処理
Ｂ  閾値
Ｒｍ  測定値
Ｓｖ  電圧信号
Ｖ  電圧
Ｖｍ  測定値
【図１】
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【図２】
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【図３】
2008039637.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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