(57)【要約】【課題】光ディスクからの情報の再生又は記録を高精度に行い得るようにする。【解決手段】光ディスク７０の表面におけるレーザ光の反射率が当該光ディスク７０の種類に拘わらずほぼ一定であることを利用し、レーザ光を任意の光ディスク７０の表面において反射させた反射レーザ光の光量を測定して経時信号レベルＶ１とし、これを工場出荷時に測定した基準信号レベルＶ０と比較して当該光ディスク７０の表面に到達する光量の減少度合いを認識し、その減少度合いに応じてＲＦサーボのゲインを調整することにより、経時的な要因により低下した信号レベルを工場出荷時と同程度まで補正することができるので、光ディスク７０の記録層における反射率を高精度に認識でき当該光ディスク７０の種類を高い確度で判別することができる。【選択図】図８
2008059692.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の光源から発射され所定波長でなる光ビームを集光して光ディスクに照射する対物レンズと、
上記対物レンズを上記光ビームの光軸方向に駆動することにより上記光ビームの焦点を移動させる駆動手段と、
上記光ビームが上記光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光し、当該反射光ビームの光量に応じた光量信号を生成する受光手段と、
上記光量信号に応じて上記駆動手段により上記対物レンズを駆動し上記光ビームの焦点を所定の照射目標に合わせるようサーボ制御を行うサーボ制御手段と、
上記駆動手段により上記対物レンズを駆動し上記光ビームの焦点を上記光ディスクの表面に合焦させたときにおける上記光量信号の信号レベルを表面信号レベルとして測定する測定手段と、
上記表面信号レベルの基準値として予め設定された基準信号レベルを記憶する記憶手段と、
上記測定手段により任意の光ディスクについて測定した上記表面信号レベルと上記記憶手段から読み出した上記基準信号レベルとを比較する比較手段と、
上記比較手段における比較結果に応じて上記サーボ制御におけるゲインを調整する調整手段と
を具えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記基準信号レベルは、
上記光ディスク装置の製造時に測定された上記表面信号レベルでなる
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記光源は、複数種類の波長でなる上記光ビームのいずれか一種類を選択して発射し、
上記測定手段は、上記複数種類の波長のうち最も短い波長の上記光ビームを用いて上記表面信号レベルを測定する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記光源は、上記複数波長の一波長としておよそ４０５［ｎｍ］でなる上記光ビームを発射し、
上記測定手段は、
上記光源から上記波長がおよそ４０５［ｎｍ］でなる上記光ビームを用いて上記表面信号レベルを測定する
ことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記測定手段は、上記複数種類の波長のうち、上記光ディスクに情報を記録し又は上記光ディスクから情報を再生する際に選択される上記波長と異なる波長を用いて上記信号レベルを測定する
ことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記受光手段において生成された上記光量信号をアナログ値からディジタル値に変換し上記サーボ制御手段へ供給するアナログディジタル変換器と、
を具え、
上記調整手段は、
上記比較手段における比較結果に応じて、上記アナログディジタル変換器において上記光量信号をアナログ値からディジタル値に変換する際のゲインを調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
上記調整手段は、
上記比較手段における比較結果に応じて、上記受光手段において上記光量信号を生成する際の上記反射光ビームの光量に対する当該光量信号の信号レベルの割合を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
上記調整手段は、
上記比較手段における比較結果に応じて、上記表面信号レベルを上記基準信号レベルに近づけるよう上記光源から発射する上記光ビームの光量を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
上記光ディスクの種類を大まかに分類した分類群のいずれかに上記光ディスクを分類する分類手段と
を具え、
上記記憶手段は、
予め上記分類群ごとに上記基準信号レベルを対応付けて記憶し、
上記比較手段は、
上記分類手段により上記光ディスクを上記分類群のいずれかに分類し、当該分類群に対応付けられた上記基準信号レベルと上記表面信号レベルとを比較する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
所定光源から発射され所定波長でなる光ビームを集光する対物レンズを、所定の駆動手段により当該光ビームの光軸方向に駆動し、当該光ビームが光ディスクに反射されてなる反射光ビームの光量に応じた光量信号に応じて、上記駆動手段により上記対物レンズを駆動し上記光ビームの焦点を所定の照射目標に合わせるようサーボ制御を行うサーボ制御ステップと、
上記光ビームの焦点を上記光ディスクの表面に合焦させたときにおける上記光量信号の信号レベルを表面信号レベルとして測定する測定ステップと、
上記測定ステップにより任意の光ディスクについて測定した上記表面信号レベルと上記記憶手段から読み出した上記基準信号レベルとを比較する比較ステップと、
上記比較ステップにおける比較結果に応じて上記サーボ制御におけるゲインを調整する調整ステップと
を具えることを特徴とする光ディスク装置のサーボ調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置及び光ディスク装置のサーボ調整方法に関し、例えば複数方式の光ディスクに対応し得る光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置においては、情報記録媒体としての光ディスクに対して音楽コンテンツや映像コンテンツ、或いはアプリケーションプログラムや各種データ等の情報を記録し、またかかる情報を読み出し再生し得るようになされたものが広く普及している。
【０００３】
この光ディスク装置は、例えば情報を再生する場合、レーザダイオード等でなる光源に所定の電流を供給することにより光ビームを発射させ、これを光ディスクの記録層に合焦するよう照射し、その反射光の光量を検出して復調化することにより、元の情報を再生するようになされている。
【０００４】
また光ディスク装置のなかには、複数の種類でなる光ディスク、すなわちＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）及びＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）といった複数の方式、或いはＲＯＭ（Read Only Memory）型、Ｒ（Recordable）型、ＲＷ（ReWritable）型といった複数の型、さらには１層（ＳＬ：Single Layer）又は２層（ＤＬ：Double Layer）といった情報を記録する記録層の数でなる光ディスクに対応し得るものがある。
【０００５】
これらの光ディスクでは、物理的制約等により、記録フォーマット、アドレス体系、記録層の反射率、或いは光ディスク表面から記録層までの間隔（いわゆるカバー層の厚さ）等が光ディスクの種類ごとにそれぞれ異なっている。
【０００６】
このため光ディスク装置は、光ディスクから精度良く情報を読み出し、又は精度良く記録するべく、光ディスクの種類ごとに光ビームの強度やフォーカス等を調整する必要がある。
【０００７】
そこで光ディスク装置は、新たに光ディスクが装填された場合、まず光ディスクの種類を正確に判別するようになされている。
【０００８】
例えば、ＣＤ−ＤＡ（ＣＤ−ＲＯＭ）とＣＤ−ＲＷとで記録層における反射率が異なることを利用し、所定の強度でなる光ビームを記録層に照射した場合における反射光の光量を基に、光ディスクがＣＤ−ＤＡ（ＣＤ−ＲＯＭ）又はＣＤ−ＲＷのいずれであるかを判別する光ディスクプレーヤ（光ディスク装置）が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００３−３６５４１公報（第３頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで光ディスク装置では、レーザダイオードの劣化や光学部品に対する塵等の付着といった経時変化が生じ得る。このとき光ディスク装置では、レーザダイオードに供給する電流が同一であっても、実際に出射される光ビームの光量や、光ディスクに照射される光ビームの光量が、工場出荷時（すなわち本来の光ビームの光量）よりも低下することになる。
【００１０】
すると光ディスク装置は、反射光の光量を基に光ディスクの種類を判別する場合、仮に反射光の光量を基準値よりも低く検出したとしても、このことが光ディスクの記録面における反射率の違い、又は光ディスク装置における経時変化のいずれを要因とするものであるかを区別することができない。
【００１１】
すなわち光ディスク装置は、記録層における反射光の光量を基に光ディスクの種類を判別する場合、経時変化により光ディスクの種類を正確に判別できない可能性があり、その結果、光ディスクからの情報の再生又は記録を正常に行い得ないという問題があった。
【００１２】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光ディスクからの情報の再生又は記録を高精度に行い得る光ディスク装置及び光ディスク装置のサーボ調整方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
かかる課題を解決するため本発明の光ディスク装置においては、所定の光源から発射され所定波長でなる光ビームを集光して光ディスクに照射する対物レンズと、対物レンズを光ビームの光軸方向に駆動することにより光ビームの焦点を移動させる駆動手段と、光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光し、当該反射光ビームの光量に応じた光量信号を生成する受光手段と、光量信号に応じて駆動手段により対物レンズを駆動し光ビームの焦点を所定の照射目標に合わせるようサーボ制御を行うサーボ制御手段と、駆動手段により対物レンズを駆動し光ビームの焦点を光ディスクの表面に合焦させたときにおける光量信号の信号レベルを表面信号レベルとして測定する測定手段と、表面信号レベルの基準値として予め設定された基準信号レベルを記憶する記憶手段と、測定手段により任意の光ディスクについて測定した表面信号レベルと記憶手段から読み出した基準信号レベルとを比較する比較手段と、比較手段における比較結果に応じてサーボ制御におけるゲインを調整する調整手段とを設けるようにした。
【００１４】
光ディスクの表面における反射率が光ディスクの種類に拘わらずほぼ一定となることを利用し、基準信号レベルと表面信号レベルとを比較することにより、任意の光ディスクを用いて光ディスク装置の光学系部品に起因する光量の変化度合いを検出することができるので、この変化度合いに応じて光ビームの光量を調整することにより、光量信号の信号レベルを適切に調整することができる。
【００１５】
また本発明による光ディスク装置のサーボ調整方法においては、所定光源から発射され所定波長でなる光ビームを集光する対物レンズを、所定の駆動手段により当該光ビームの光軸方向に駆動し、当該光ビームが光ディスクに反射されてなる反射光ビームの光量に応じた光量信号に応じて、駆動手段により対物レンズを駆動し光ビームの焦点を所定の照射目標に合わせるようサーボ制御を行うサーボ制御ステップと、光ビームの焦点を光ディスクの表面に合焦させたときにおける光量信号の信号レベルを表面信号レベルとして測定する測定ステップと、測定ステップにより任意の光ディスクについて測定した表面信号レベルと記憶手段から読み出した基準信号レベルとを比較する比較ステップと、比較ステップにおける比較結果に応じてサーボ制御におけるゲインを調整する調整ステップとを設けるようにした。
【００１６】
光ディスクの表面における反射率が光ディスクの種類に拘わらずほぼ一定となることを利用し、基準信号レベルと表面信号レベルとを比較することにより、任意の光ディスクを用いて光ディスク装置の光学系部品に起因する光量の変化度合いを検出することができるので、この変化度合いに応じてサーボ制御におけるゲインを調整することにより、光量信号の信号レベルを適切に調整することができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、光ディスクの表面における反射率が光ディスクの種類に拘わらずほぼ一定となることを利用し、基準信号レベルと表面信号レベルとを比較することにより、任意の光ディスクを用いて光ディスク装置の光学系部品に起因する光量の変化度合いを検出することができるので、この変化度合いに応じてサーボ制御におけるゲインを調整することにより、光量信号の信号レベルを適切に調整することができ、かくして光ディスクからの情報の再生又は記録を高精度に行い得る光ディスク装置及び光ディスク装置のサーボ調整方法を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００１９】
（１）光ディスク装置の構成
図１において光ディスク装置１は、全体として、ホストコンピュータ５０からの指示に基づき、光ディスク２００に記録されている情報を読み出して再生し、これを当該ホストコンピュータ５０へ送出するようになされている。
【００２０】
この光ディスク装置１は、ＣＤ方式・ＤＶＤ方式・ＢＤ方式のうち、ＲＯＭ型・Ｒ型・ＲＷ型（ＲＥ（Rewritable）型とも呼ぶ）といった複数種類の光ディスク７０に対応し得るようになされており、さらにＤＶＤ方式及びＢＤ方式の場合における記録層の数については、１層又は２層のいずれの光ディスク７０にも対応し得るようになされている。
【００２１】
光ディスク装置１は、制御部２により全体を統括制御するようになされている。この制御部２は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）を中心に構成されており、不揮発性メモリ３から再生プログラムやディスク種類判別プログラム等の各種プログラムを読み出して実行することにより、再生処理やディスク種類判別処理等を行うようになされている。
【００２２】
実際上、制御部２は、図示しない装填機構を介して光ディスク７０が装填されたことを検出すると、当該光ディスク７０の種類を判別し、その判別結果に応じた再生処理等を行うようになされている。
【００２３】
このとき制御部２は、光ディスク７０の種類を判別するために当該光ディスク７０の所定トラックから当該光ディスク７０の種類に関する情報（以下、これをディスク種類情報と呼ぶ）を読み出すようになされており、その前の準備として、当該光ディスク７０の記録層に対して光ビームの焦点をおおよそ合わせる、いわゆる引き込み（Pull-In）処理を行うようになされている。
【００２４】
具体的に制御部２は、スピンドルドライバ４を介してスピンドルモータ５を回転駆動させることにより、当該光ディスク７０を所定の回転速度で回転させる。また制御部２は、レーザパワー制御部６へレーザ光の制御命令を送信することにより、光ピックアップ７内のレーザダイオードからレーザ光を発射させ、これを対物レンズ９から光ディスク７０へ照射させる。
【００２５】
ここで、図２を用いて光ピックアップ７の構成について説明する。レーザダイオード１１は、レーザパワー制御部６（図１）からの制御命令に従い、発散光でなるレーザ光Ｌ１を発射し、コリメータレンズ１２により平行光に変換させ、偏光ビームスプリッタ１４へ入射させる。
【００２６】
因みにレーザダイオード１１は、いわゆる３波長対応型でなり、ＢＤ方式に対応した青色でなる波長４０５［ｎｍ］のレーザ光、ＤＶＤ方式に対応した赤色でなる波長６６０［ｎｍ］のレーザ光、又はＣＤ方式に対応した赤色でなる波長７８０［ｎｍ］のレーザ光といった３種類の波長のレーザ光を切り換えて出射し得るようになされている。
【００２７】
偏光ビームスプリッタ１４は、入射される光の偏光方向に応じて反射又は透過させるようになされており、この場合、レーザ光Ｌ１の偏光方向に応じて当該レーザ光Ｌ１を透過しエキスパンダ１８へ入射させる。因みにエキスパンダ１８は、エキスパンダアクチュエータ１８により一部のレンズが駆動されることにより、球面収差の補正量等を調整し得るようになされている。
【００２８】
その後光ピックアップ７は、エキスパンダ１８によりレーザ光Ｌ１の球面収差を補正し、１／４波長板１９により当該レーザ光Ｌ１を直線偏光から円偏光に変換し、対物レンズ９により当該レーザ光Ｌ１を光ディスク７０の記録面に照射し、当該光ディスク７０の内部に形成されている記録層に集光させる。
【００２９】
このとき光ピックアップ７は、レーザ光Ｌ１が光ディスク７０の表面又は記録層において反射されてなる反射レーザ光Ｌ２を対物レンズ９により平行光に変換し、当該反射レーザ光Ｌ２を１／４波長板１９により直線偏光に変換しエキスパンダ１８により球面収差を補正して偏光ビームスプリッタ１４へ入射させる。
【００３０】
この場合、偏光ビームスプリッタ１４は、反射レーザ光Ｌ２の偏光方向に応じて当該反射レーザ光Ｌ２を反射し、集光レンズ２１により収束光に変換した上でビームスプリッタ２２へ入射させる。
【００３１】
ビームスプリッタ２２は、波長選択性を有しており、反射レーザ光Ｌ２がＢＤ方式に対応した青色でなる場合、これを透過して青色用回折格子２３を介して回折させた上で青色用フォトディテクタ２４へ照射させる。一方ビームスプリッタ２２は、当該反射レーザ光Ｌ２がＣＤ方式又はＤＶＤ方式に対応した赤色でなる場合、これを反射して赤色用回折格子２５を介して回折させた上で赤色用フォトディテクタ２６へ照射させる。
【００３２】
青色用フォトディテクタ２４は、所定形状でなる複数の検出領域を有しており、各検出領域において検出した光量に応じて検出信号ＳＤをそれぞれ生成し、これらの検出信号ＳＤをサーボエラー信号生成回路３０（図１）へ送出する。また赤色用フォトディテクタ２６も、同様に複数の検出領域を有しており、各検出領域において検出した光量に応じて検出信号ＳＤをそれぞれ生成しサーボエラー信号生成回路３０へ送出する。
【００３３】
また青色用フォトディテクタ２４及び赤色用フォトディテクタ２６は、各検出領域において検出した光量に対する各検出信号ＳＤの信号レベルの割合（いわゆる感度）を、制御部２の制御に基づいてそれぞれ調整し得るようになされている。
【００３４】
サーボエラー信号生成回路３０（図１）は、検出信号ＳＤを基に所定の演算処理を行うことにより、フォーカスエラー信号ＳＦＥ、トラッキングエラー信号ＳＴＥ及び再生ＲＦ信号ＳＲＦをそれぞれ生成し（以下、これらをまとめて算出信号群と呼ぶ）、これらをＡＤ（Analog/ Digital）変換器３１によりディジタル化した上で制御部２へ送出する。
【００３５】
因みにフォーカスエラー信号ＳＦＥは、光ディスク７０の記録層とレーザ光の焦点とのずれ量に応じた信号となり、トラッキングエラー信号ＳＴＥは、光ディスク７０の記録層に螺旋状に形成されたトラックのうち所望のトラックとレーザ光の照射箇所とのずれ量に応じた信号となり、再生ＲＦ信号ＳＲＦは、反射レーザ光の全光量に応じた信号となる。
【００３６】
またＡＤ変換器３１は、制御部２の制御に基づき、アナログ値でなる算出信号群をディジタル化する際のゲインを調整し得るようになされている。これによりＡＤ変換器３１は、入力されるアナログ値に対して、生成するディジタル信号における変動幅（ダイナミンクレンジ）を適切に調整し得るようになされている。
【００３７】
これに応じて制御部２は、フォーカスエラー信号ＳＦＥに基づいたフォーカス制御処理、トラッキングエラー信号ＳＴＥに基づいたトラッキング制御処理及びスレッド制御処理を行うことにより、フォーカス制御信号、トラッキング制御信号及びスレッド制御信号を生成し、これらをＤＡ（Digital/Analog）変換器３２によってアナログ化した上で、それぞれフォーカスドライバ３３、トラッキングドライバ３４及びスレッドドライバ３５へ供給する。
【００３８】
フォーカスドライバ３３及びトラッキングドライバ３４は、フォーカス制御信号及びトラッキング制御信号に対してそれぞれ所定のゲインを乗じることによりフォーカス駆動信号ＳＤＦ及びトラッキング駆動信号ＳＤＴを生成し、これらを２軸アクチュエータ８へ送出する。またスレッドドライバ３５は、スレッド制御信号に基づいてスレッド駆動信号ＳＤＳを生成し、これをスレッドモータ３７へ送出する。
【００３９】
この結果、光ピックアップ７は、ディスク種別情報が記録されているトラックに合わせて光ビームを合焦させることができ、これによりサーボエラー信号生成回路３０は、当該トラックからの反射レーザ光を基に再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成することができる（以下、一連の制御処理をＲＦサーボ制御と呼ぶ）。
【００４０】
これに応じて制御部２は、再生ＲＦ信号ＳＲＦに対して所定の復調化処理等を施すことによりディスク種類情報を再生し、当該ディスク種類情報及びこのときの反射レーザ光の光量（すなわち再生ＲＦ信号ＳＲＦの信号レベル）に応じて光ディスク７０の種類を判別する。
【００４１】
また制御部２は、このとき得られた再生ＲＦ信号ＳＲＦをレーザパワー制御部６へ供給する。レーザパワー制御部６は、再生ＲＦ信号ＳＲＦの信号レベルに所定のゲインを乗じ、実際にレーザダイオード１１に供給する供給信号ＳＥとの差分をなくすよう制御する、いわゆるフィードバック制御を行うようになされている。
【００４２】
さらに制御部２は、認識した光ディスク７０の種類に応じてエキスパンダ１８における球面収差の補正量を決定し、当該補正量に応じてエキスパンダアクチュエータ１８Ａの駆動量を決定する。続いて制御部２は、当該駆動量に応じてエキスパンダ制御信号を生成し、これをＤＡ変換器３２によりディジタル化した上でエキスパンダドライバ３６へ供給する。
【００４３】
エキスパンダドライバ３６は、エキスパンダ制御信号に基づいてエキスパンダ駆動信号ＳＤＥを生成し、これを光ピックアップ７内のエキスパンダアクチュエータ１８Ａ（図２）へ送出する。
【００４４】
これにより光ピックアップ７は、エキスパンダ１８における一部のレンズを駆動し光ディスク７０の種類に合わせて調整することができ、結果的に当該光ディスク７０におけるカバー層の厚さに応じてレーザ光の球面収差（非点収差）を補正することができる。
【００４５】
因みに制御部２は、判別した光ディスク７０の種類に応じて、当該光ディスク７０におけるアドレス体系やデータ構造、変調方式や符号化方式、或いは記録層の数等といった再生処理に必要な情報を認識し、以降の再生処理を行うようにもなされている。
【００４６】
このように光ディスク装置１は、光ディスク７０が装填されると、引き込み動作を行った上で、ディスク種類情報及び再生ＲＦ信号ＳＲＦの信号レベルを基に当該光ディスク７０の種類を認識し、エキスパンダ１８を調整すると共に再生処理に必要な情報を認識するようになされている。
【００４７】
（２）光量変化の検出及びゲイン調整
（２−１）光ディスクに照射されるレーザ光の光量の変化
ところで光ディスク装置１は、上述した従来の光ディスク装置と同様に、経時変化によりレーザダイオード１１が徐々に劣化し、所定の供給電流に対して発射するレーザ光の光量が徐々に減少することになる。
【００４８】
また光ディスク装置１は、やはり上述した従来の光ディスク装置と同様に、経時変化により対物レンズ９等の各種光学部品に塵等が徐々に付着することにより、レーザ光の透過率が徐々に低下することになる。
【００４９】
この場合、光ディスク装置１では、反射レーザ光の光量を検出した検出信号ＳＤをそのまま用いて光ディスク７０の種類を判別すると、このような光ディスク装置１自体の経時変化に起因して反射レーザ光の光量が減少していることを、光ディスク７０における記録層の反射率に起因するものと誤解してしまうため、結果的に当該光ディスク７０の種類を誤判別してしまう危険性がある。
【００５０】
さらにレーザダイオード１１は、一般的に、周囲の温度に応じてレーザ光の光量が変化するといった出力特性を有している。すなわちレーザダイオード１１は、周囲の温度が変化した場合、所定の供給電流に対して発射するレーザ光の光量も変化することになってしまう。
【００５１】
この場合にも、光ディスク装置１は、反射レーザ光の光量を検出した検出信号ＳＤをそのまま用いて光ディスク７０の種類を判別すると、当該光ディスク７０の種類を誤判別してしまう危険性がある。
【００５２】
（２−２）光ディスクの表面におけるレーザ光の反射
ところで光ディスク装置１の制御部２は、上述した引き込み動作を行う際、２軸アクチュエータ８（図２）により対物レンズ９を一度光ディスク７０の遠方（図の下方）へ遠ざけた後、当該対物レンズ９を徐々に当該光ディスク７０へ近接させていくことにより、レーザ光の焦点を当該光ディスク７０へ近接させていく。
【００５３】
ここで、制御部２が引き込み動作の際に生成するプルイン信号ＳＰＩの波形は、図３に模式的に示すような形状となる。因みにプルイン信号ＳＰＩとは、再生ＲＦ信号ＳＲＦのエンベロープを抽出したものである。また図３において、横軸は本来時間軸であるものの、引き込み動作時は対物レンズ９を等速で駆動しているため、この横軸が対物レンズ９の焦点の位置を表しているとみなすことができる。
【００５４】
図３に示されているように、プルイン信号ＳＰＩは、レーザ光の焦点が光ディスク７０の記録層の位置ｐ２に達する際に大きなピークを形成することに加え、当該レーザ光の焦点が当該光ディスク７０の表面の位置ｐ１に達する際にも比較的小さなピークを形成する。
【００５５】
すなわち光ディスク装置１では、記録層における反射レーザ光Ｌ２（図２）を基に情報を再生するといった光ディスク装置の基本原理に従い、光ディスク７０の記録層においてレーザ光が比較的高い反射率で反射されることに加え、当該光ディスク７０の表面においても、当該レーザ光が比較的低い反射率で反射されることになる。
【００５６】
因みにこのことは、光ディスク７０の表面が平滑に形成されることと、物質の境界面におけるレーザ光の振る舞いとによる物理現象と推察される。
【００５７】
そこで、光ディスク装置１がＢＤ、ＤＶＤ又はＣＤでなる光ディスク７０（便宜上、それぞれＢＤディスク、ＤＶＤディスク、ＣＤディスクと呼ぶ）に対して引き込み動作を行う際に得られるプルイン信号ＳＰＩをそれぞれ測定し、レーザ光が当該光ディスク７０の表面において反射される際の信号レベルを比較した。
【００５８】
まず、波長４０５［ｎｍ］でなるレーザ光を用いた場合の、ＢＤディスク、ＤＶＤディスク及びＣＤディスクにおけるプルイン信号ＳＰＩの測定結果を図４（Ａ）〜（Ｃ）に示す。また、参考にフォーカスエラー信号ＳＦＥの測定結果を併記している。
【００５９】
ここで図４（Ａ）〜（Ｃ）では、図３と同様、横軸が対物レンズ９の焦点の位置に相当する。また縦軸は信号レベルを表しており、一目盛りが２００［ｍＶ］を表している。
【００６０】
ＢＤディスクにおけるプルイン信号ＳＰＩを示す図４（Ａ）では、レーザ光の焦点が光ディスク７０の表面に合焦した位置ｐ１において約１００［ｍＶ］のピークが現れ、またレーザ光の焦点が光ディスク７０の記録層に合焦した位置ｐ２において約７００［ｍＶ］の大きなピークが現れている。
【００６１】
またＤＶＤディスクにおけるプルイン信号ＳＰＩを示す図４（Ｂ）では、レーザ光の焦点が光ディスク７０の表面に合焦した位置ｐ３において約１００［ｍＶ］のピークが現れている。同様にＣＤディスクにおけるプルイン信号ＳＰＩを示す図４（Ｃ）でも、レーザ光の焦点が光ディスク７０の表面に合焦した位置ｐ５において約１００［ｍＶ］のピークが現れている。
【００６２】
因みに図４（Ｂ）及び（Ｃ）において、レーザ光の焦点が光ディスク７０の記録層に合焦する位置ではピークが現れていないが、これは、カバー層（すなわち光ディスク７０における表面から記録層までの部分）の厚さが、ＢＤディスクの約０．１［ｍｍ］に対して、ＤＶＤディスクでは約０．６［ｍｍ］、ＣＤディスクでは約１．２［ｍｍ］と互いに異なっていること、及びレーザ光の波長（４０５［ｎｍ］）が、光ディスク７０に照射すべき本来の波長（６６０［ｎｍ］又は７８０［ｎｍ］）と異なるためと推測される。
【００６３】
すなわち光ディスク装置１では、レーザ光の波長が４０５［ｎｍ］の場合、光ディスク７０がＢＤディスク、ＤＶＤディスク又はＣＤディスクのいずれであっても、光ディスク７０の表面において約１００［ｍＶ］のピークを検出できることがわかる。因みに、これらの約１００［ｍＶ］のピークは、レーザ光の反射率に換算すると約４〜５％に相当する。
【００６４】
また、光ディスク装置１において、任意の種類の光ディスク７０についてプルイン信号ＳＰＩを同様に測定したところ、当該光ディスク７０の種類に拘わらず、当該光ディスク７０の表面においてほぼ同レベルのピークが得られた。
【００６５】
次に、波長７８０［ｎｍ］でなるレーザ光を用いた場合の、ＢＤディスク、ＤＶＤディスク及びＣＤディスクにおけるプルイン信号ＳＰＩの測定結果を図４（Ｄ）〜（Ｆ）に示す。
【００６６】
ＢＤディスクにおけるプルイン信号ＳＰＩを示す図４（Ｄ）では、レーザ光の焦点が光ディスク７０の表面に合焦した位置ｐ１において信号レベルが約５０［ｍＶ］となっているものの、レーザ光の焦点が光ディスク７０の記録層に合焦した位置ｐ２における大きなピークに埋もれかけている。
【００６７】
因みに、このように位置ｐ１の信号レベルが位置ｐ２における大きなピークに埋もれかけているのは、レーザ光の波長（７８０［ｎｍ］）が、ＢＤディスクでなる光ディスク７０に照射すべき本来の波長（４０５［ｎｍ］）とは異なるためと推測される。
【００６８】
またＤＶＤディスクにおけるプルイン信号ＳＰＩを示す図４（Ｅ）では、レーザ光の焦点が光ディスク７０の表面に合焦した位置ｐ３において約５０［ｍＶ］のピークが現れ、またレーザ光の焦点が光ディスク７０の記録層に合焦した位置ｐ４において約８００［ｍＶ］の大きなピークが現れている。
【００６９】
さらにＣＤディスクにおけるプルイン信号ＳＰＩを示す図４（Ｆ）では、レーザ光の焦点が光ディスク７０の表面に合焦した位置ｐ５において約５０［ｍＶ］のピークが現れ、またレーザ光の焦点が光ディスク７０の記録層に合焦した位置ｐ６において約８００［ｍＶ］以上の大きなピークが現れている。
【００７０】
すなわち光ディスク装置１では、レーザ光の波長が７８０［ｎｍ］の場合、光ディスク７０がＢＤディスク、ＤＶＤディスク、ＣＤディスクのいずれであっても、光ディスク７０の表面において、約５０［ｍＶ］のピークを検出できることがわかる。
【００７１】
また光ディスク装置１において、任意の種類の光ディスク７０についてプルイン信号ＳＰＩを同様に測定したところ、波長４０５［ｎｍ］の場合と同様、当該光ディスク７０の種類に拘わらず、当該光ディスク７０の表面においてほぼ同レベルのピークが得られた。
【００７２】
このように光ディスク装置１では、光ディスク７０の種類に拘わらず、当該光ディスク７０の表面における反射率がほぼ一定となっており、また波長７８０［ｎｍ］のレーザ光よりも波長４０５［ｎｍ］のレーザ光を用いた場合の方が高い信号レベルを得られることが判明した。
【００７３】
（２−３）光量の補正
上述したレーザ光の反射に関する傾向を踏まえ、光ディスク装置１の制御部２は、図５に示すように、信号レベル測定部４１及び比較部４２といった複数の機能ブロックにより構成されている。
【００７４】
信号レベル測定部４１は、光ディスク７０の表面における反射レーザ光Ｌ２（すなわちプルイン信号ＳＰＩ）の信号レベルを測定し、その検出結果を不揮発性メモリ３へ供給して記憶させ、又は比較部４２へ供給するようになされている。
【００７５】
比較部４２は、不揮発性メモリ３に記憶している信号レベルと、信号レベル測定部４１から供給される信号レベルとを比較し、その比較結果に応じて、両者の差分値を算出してゲイン調整部４３へ供給するようになされている。
【００７６】
これに応じてゲイン調整部４３は、比較部４２から供給された差分値を基に、青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６における感度を調整することにより、検出信号ＳＤの信号レベルを変化させるようになされている。
【００７７】
すなわち光ディスク装置１は、制御部２によってフォーカスサーボ、トラッキングサーボ等（以下、これらＲＦサーボと呼ぶ）におけるゲインを調整することになる。
【００７８】
実際上、光ディスク装置１の制御部２は、経時変化前（例えば工場出荷時等）において、信号レベル測定部４１により光ディスク７０（例えばＢＤ−ＲＯＭディスク）の表面における反射レーザ光Ｌ２（すなわちプルイン信号ＳＰＩ）の信号レベルを予め測定し、これを不揮発性メモリ３に記憶させておく（以下、このときの信号レベルを基準信号レベルＶ０と呼ぶ）。
【００７９】
また制御部２は、その後の実使用状態において、光ディスク７０が装填された際に、信号レベル測定部４１により光ディスク７０の表面における反射レーザ光Ｌ２（すなわちプルイン信号ＳＰＩ）の信号レベルを再度測定し（以下、このときの信号レベルを経時信号レベルＶ１と呼ぶ）、比較部４２により当該経時信号レベルＶ１が基準信号レベルＶ０よりも低下しているか否かを判定する。
【００８０】
ここで制御部２は、経時信号レベルＶ１が基準信号レベルＶ０よりも低下していた場合、青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６に対して、経時信号レベルＶ１を基準信号レベルＶ０に近づけさせるよう感度を調整するための制御信号を供給する。
【００８１】
これに応じて青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６は、検出した光量に対する検出信号ＳＤの信号レベルを変化させる。この結果、制御部２は、信号レベルが調整された算出信号群（すなわちフォーカスエラー信号ＳＦＥ、トラッキングエラー信号ＳＴＥ及び再生ＲＦ信号ＳＲＦ）を供給されることになる。
【００８２】
すなわち光ディスク装置１は、経時変化によりレーザダイオード１１が劣化し、又は塵等により対物レンズ９等の各種光学部品におけるレーザ光Ｌ１又は反射レーザ光Ｌ２の透過率が低下することにより、青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６に照射される反射レーザ光Ｌ２の光量が減少していたとしても、制御部２に供給される算出信号群の変動幅を経時変化前とほぼ同等に補正することができる。
【００８３】
このことは、光ディスク装置１において、実際に反射レーザ光Ｌ２の光量が工場出荷時よりも減少している場合に、当該反射レーザ光Ｌ２の光量そのものは変化させないものの、算出信号群の信号レベルを経時変化前と同等に補正することにより、制御部２に対して反射レーザ光Ｌ２の光量が工場出荷時と同等であるように認識させることになる。
【００８４】
この場合、光ディスク装置１は、当該光ディスク７０の表面におけるレーザ光の反射率が光ディスク７０の種類に拘わらずほぼ一定であることを利用しているため、基準信号レベルＶ０と経時信号レベルＶ１との測定条件を実質的に統一でき、両者を適正に比較することができる。
【００８５】
また光ディスク装置１は、青色レーザ光を用いて青色用フォトディテクタ２４の感度を調整するだけでなく、当該青色レーザ光を用いて赤色用フォトディテクタ２６の感度も調整するようになされている。
【００８６】
これは、光ディスク装置１において青色レーザ光及び赤色レーザ光が多くの光学部品を共有するため、両者における塵等による光量低下の度合いがほぼ同等であるとの推測、及びレーザダイオード１１の劣化が青色レーザ光及び赤色レーザ光に対してほぼ同様に影響するとの推測に基づくものである。
【００８７】
この結果、光ディスク装置１は、光ディスク７０の記録層において反射された反射レーザ光Ｌ２の光量（すなわちプルイン信号ＳＰＩの信号レベル）と、所定の基準値とを比較し、青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６の感度を調整することにより、当該記録層における反射率を高精度に算出することができるので、当該反射率を基に当該光ディスク７０の種類を高精度に判別することができる。
【００８８】
（３）処理手順
次に、光ディスク装置１における具体的な処理手順について説明する。
【００８９】
（３−１）工場出荷時における基準信号レベルの測定
まず、光ディスク装置１の製造時に行われる基準信号レベル測定処理について、図６のフローチャートを用いて説明する。この場合、光ディスク装置１は、工場等で製造される過程において組み立て処理が一通り完了した後、所定の基準信号レベル設定治具（図示せず）が制御部２（図１）に接続されているものとする。
【００９０】
光ディスク装置１の制御部２は、基準信号レベル設定治具（図示せず）から所定の基準信号レベル設定プログラムを取得し実行することにより、図６に示す基準信号レベル設定処理手順ＲＴ１を開始し、ステップＳＰ１へ移る。
【００９１】
ステップＳＰ１において制御部２は、作業者等により光ディスク７０が装填されると、当該光ディスク７０が装填されたことを検出し、次のステップＳＰ２へ移る。因みにこの光ディスク７０は、表面におけるレーザ光Ｌ１の反射率が一般的な光ディスクと同等となるようになされている。
【００９２】
ステップＳＰ２において制御部２は、レーザパワー制御部６（図１）を介してレーザダイオード１１に所定電流を供給することにより所定光量でなる青色レーザ光を発射させ、次のステップＳＰ３へ移る。
【００９３】
ステップＳＰ３において制御部２は、引き込み動作の場合と同様、フォーカスドライバ１３を介して２軸アクチュエータ８を制御することにより、レーザ光Ｌ１の焦点を光ディスク７０のカバー層へ近づけさせながらプルイン信号ＳＰＩを取得し、次のステップＳＰ４へ移る。
【００９４】
ステップＳＰ４において制御部２は、プルイン信号ＳＰＩの波形が最初にピークを形成したとき、レーザ光Ｌ１の焦点が光ディスク７０の表面に合焦していると認識し、このときのプルイン信号ＳＰＩの信号レベルを基準信号レベルＶ０として不揮発性メモリ３に書き込んだ後、次のステップＳＰ５へ移って基準信号レベル測定処理手順ＲＴ１を終了する。
【００９５】
（３−２）光ディスクの判別
次に、光ディスク装置１が工場等から出荷され実際に使用される際、光ディスク７０が装填されたときに当該光ディスク７０の種類を判別する光ディスク種類判別処理手順ＲＴ２について、図７〜図９のフローチャートを用いて説明する。因みに光ディスク装置１の制御部２は、光ディスク７０が装填されていない間、所定周期（例えば０．５秒）ごとに光ディスク種類判別処理手順ＲＴ２を実行するようになされている。
【００９６】
光ディスク装置１の制御部２は、光ディスク種類判別処理手順ＲＴ２を開始するとステップＳＰ１１へ移り、光ディスク７０が装填されているか否かを判定する。ここで否定結果が得られると、制御部２はステップＳＰ１８へ移って光ディスク種類判別処理手順ＲＴ２を一旦終了し、当該光ディスク種類判別処理手順ＲＴ２を繰り返すことにより光ディスク７０の装填を待ち受ける。
【００９７】
一方、ステップＳＰ１１において肯定結果が得られると、制御部２は次のステップＳＰ１２へ移り、所定のＢＤディスク判定処理を行うことにより、装填された光ディスク７０がＢＤディスクであるか否かを判定する。
【００９８】
ここで肯定結果が得られると、このことは光ディスク７０が波長４０５［ｎｍ］でなる青色レーザ光を前提に設計されたＢＤディスクであることを表しており、このとき制御部２は、次のステップＳＰ１３へ移る。
【００９９】
ステップＳＰ１３において制御部２は、サブルーチンとして光量補正処理手順ＳＲＴ３（図８）を開始し、ステップＳＰ２１へ移る。ステップＳＰ２１において制御部２は、ステップＳＰ２（図６）と同様、レーザパワー制御部６（図１）を介してレーザダイオード１１に所定電流を供給することにより、青色のレーザ光Ｌ１を発射させ、次のステップＳＰ２２へ移る。
【０１００】
因みにレーザダイオード１１は、この時点では劣化している可能性があるため、所定電流に対して実際に発射するレーザ光Ｌ１の光量が工場出荷時よりも減少している可能性がある。
【０１０１】
ステップＳＰ２２において制御部２は、ステップＳＰ３（図６）と同様、フォーカスドライバ１３を介して２軸アクチュエータ８を制御することにより、レーザ光Ｌ１の焦点を光ディスク７０のカバー層へ近づけさせながらプルイン信号ＳＰＩを取得し、次のステップＳＰ２３へ移る。
【０１０２】
ステップＳＰ２３において制御部２は、プルイン信号ＳＰＩの波形が最初にピークを形成したとき、レーザ光Ｌ１の焦点が光ディスク７０の表面に合焦していると認識し、このときのプルイン信号ＳＰＩの信号レベルを経時信号レベルＶ１として、次のステップＳＰ２４へ移る。
【０１０３】
ステップＳＰ２４において制御部２は、不揮発性メモリ３に記憶している基準信号レベルＶ０と経時信号レベルＶ１とを比較し、次のステップＳＰ２５へ移る。
【０１０４】
ステップＳＰ２５において制御部２は、基準信号レベルＶ０に対する経時信号レベルＶ１の比（Ｖ１／Ｖ０）が値「０．４」以下であるか否かを判定する。ここで肯定結果が得られると、このことは、本来であれば値「１」となるべき比（Ｖ１／Ｖ０）が大きく低下していること、すなわち経時変化により光ディスク７０の表面に到達するレーザ光Ｌ１の光量がある程度減少していることを表しており、このとき制御部２は、次のステップＳＰ２６へ移る。
【０１０５】
ステップＳＰ２６において制御部２は、青色用フォトディテクタ２４（図２）の感度（すなわちサーボのゲイン）を＋６［ｄＢ］増加させることにより、算出信号群（すなわちフォーカスエラー信号ＳＦＥ、トラッキングエラー信号ＳＴＥ及び再生ＲＦ信号ＳＲＦ）の変動幅を変化させ、この結果として当該算出信号群の信号レベルを工場出荷時に近い値にまで回復させて、次のステップＳＰ２９へ移る。
【０１０６】
一方、ステップＳＰ２５において否定結果が得られると、このことは少なくとも比（Ｖ１／Ｖ０）が値「０．４」よりも大きいことを表しており、このとき制御部２は次のステップＳＰ２７へ移る。
【０１０７】
ステップＳＰ２７において制御部２は、比（Ｖ１／Ｖ０）が値「０．６」以下であるか否かを判定する。ここで肯定結果が得られると、このことは、本来であれば値「１」となるべき比（Ｖ１／Ｖ０）が多少低下していること、すなわち経時変化により光ディスク７０の表面に到達するレーザ光Ｌ１の光量がやや減少していることを表しており、このとき制御部２は、次のステップＳＰ２８へ移る。
【０１０８】
ステップＳＰ２８において制御部２は、青色用フォトディテクタ２４の感度（すなわちＲＦサーボのゲイン）を＋３［ｄＢ］増加させることにより、算出信号群の変動幅を変化させ、この結果として当該算出信号群の信号レベルを工場出荷時に近い値にまで回復させて、次のステップＳＰ２９へ移る。
【０１０９】
一方、ステップＳＰ２７において否定結果が得られると、このことは少なくとも比（Ｖ１／Ｖ０）が値「０．６」よりも大きいことを表しており、このとき制御部２は光ディスク７０の表面に到達するレーザ光Ｌ１の光量が充分であるものとみなし、青色用フォトディテクタ２４の感度を特に調整することなく、次のステップＳＰ２９へ移る。
【０１１０】
ステップＳＰ２９において制御部２は、光量補正処理手順ＳＲＴ３を終了し、元の光ディスク判別処理手順ＲＴ２（図７）のステップＳＰ１３へ戻った上で、その次のステップＳＰ１４へ移る。
【０１１１】
ステップＳＰ１４において制御部２は、ディスクチェック処理として、青色のレーザ光Ｌ１が光ディスク７０の記録層において反射された反射レーザ光Ｌ２の光量等を基に、所定のＢＤディスク判別処理を行うことにより、少なくともＢＤディスクであることが判別されている当該光ディスク７０がＢＤ−ＲＯＭ、ＢＤ−Ｒ又はＢＤ−ＲＥ等のうちいずれであるか、及び記録層が１層又は２層のいずれであるか等を判別して、次のステップＳＰ１８へ移って光ディスク判別処理手順ＲＴ２を終了する。
【０１１２】
一方、ステップＳＰ１２において否定結果が得られると、このことは光ディスク７０がＤＶＤディスク又はＣＤディスクのいずれかであること、すなわち当該光ディスク７０から情報を読み出すには波長６６０［ｎｍ］又は７８０［ｎｍ］でなる赤色レーザ光を用いるべきであることを表しており、このとき制御部２は次のステップＳＰ１５へ移る。
【０１１３】
ステップＳＰ１５において制御部２は、ステップＳＰ１３の場合と同様、光量補正処理手順ＳＲＴ３（図８）を実行し、次のステップＳＰ１６へ移る。
【０１１４】
このとき制御部２は、光ディスク７０がＤＶＤディスク又はＣＤディスクのいずれかであることが判別しているものの、光量補正処理手順ＳＲＴ３において、敢えて青色のレーザ光Ｌ１を用いて経時信号レベルＶ１を測定し、基準信号レベルＶ０に対する比（Ｖ１／Ｖ０）を基に、ＲＦサーボのゲインとして赤色用フォトディテクタ２６の感度を調整する。
【０１１５】
ステップＳＰ１６において制御部２は、タスク変更処理として、レーザダイオード１１から発射するレーザ光を青色レーザ光から赤色レーザ光に切り換え、次のステップＳＰ１７へ移る。
【０１１６】
ステップＳＰ１７において制御部２は、赤色のレーザ光Ｌ１が光ディスク７０の記録層において反射された反射レーザ光Ｌ２の光量等を基に、所定のＤＶＤ／ＣＤディスク判別処理を行う。これにより制御部２は、少なくともＤＶＤディスク又はＣＤディスクのいずれかである当該光ディスク７０が、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ若しくはＤＶＤ−ＲＷ、又はＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ若しくはＣＤ−ＲＷ等のうちいずれであるかを判別し、さらにＤＶＤディスクの場合には記録層が１層又は２層のいずれであるか等を判別して、次のステップＳＰ１８へ移って光ディスク判別処理手順ＲＴ２を終了する。
【０１１７】
（４）動作及び効果
以上の構成において、光ディスク装置１は、工場出荷時に青色のレーザ光Ｌ１を光ディスク７０の表面において反射させた反射レーザ光Ｌ２の光量（プルイン信号ＳＰＩ）を測定し、このときの信号レベルを基準信号レベルＶ０として不揮発性メモリ３に記憶させておく。
【０１１８】
その後光ディスク装置１は、光ディスク７０が装填された際、同様に青色のレーザ光Ｌ１を当該光ディスク７０の表面において反射させた反射レーザ光Ｌ２の光量（プルイン信号ＳＰＩ）を測定して経時信号レベルＶ１とし、これを基準信号レベルＶ０と比較することにより、当該光ディスク７０の表面に到達する光量の減少度合いを認識する。
【０１１９】
さらに光ディスク装置１は、認識した光量の減少度合いに応じて青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６の感度を調整することにより、算出信号群の信号レベルを工場出荷時における信号レベルに近づけさせる。
【０１２０】
従って光ディスク装置１は、光ディスク７０の表面における反射レーザ光Ｌ２の光量を比較して青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６の感度を調整することにより、ＲＦサーボのゲインを調整し、当該レーザダイオード１１の劣化や対物レンズ９等の光学系部品に付着した塵等の経時的な要因による光量の低下を制御部２に認識させることなく、当該制御部２に対して工場出荷時と同様の算出信号群を供給することができる。
【０１２１】
このとき光ディスク装置１は、基準信号レベルＶ０の測定に使用した光ディスク７０の種類と経時信号レベルＶ１の測定に使用した光ディスク７０の種類とが互いに異なっていたとしても、当該光ディスク７０の表面におけるレーザ光Ｌ１の反射率が当該光ディスク７０の種類に拘わらずほぼ一定であることを利用しているため（図４）、任意の種類の光ディスク７０を用いた場合であっても基準信号レベルＶ０と経時信号レベルＶ１との測定条件を実質的に統一することができ、反射レーザ光Ｌ２の光量の減少度合いを高精度に認識することができる。
【０１２２】
この結果、光ディスク装置１は、反射レーザ光Ｌ２の光量を基に光ディスク７０の種類を判別する際に、経時変化の影響を受けることなく、光ディスク７０の記録層における反射率の違いに起因する、反射レーザ光Ｌ２の光量の違いを正しく検出することができる。
【０１２３】
すなわち光ディスク装置１は、光ディスク７０の記録層における反射率を高精度に算出することができるので、当該反射率を基に当該光ディスク７０の種類を高精度に判別することができる。
【０１２４】
ところで、例えば光ディスク装置１において、フォーカスエラー信号ＳＦＥが描く、いわゆる「Ｓ字曲線」（図４）の振幅を比較することによりレーザ光Ｌ１の光量を調整する手法も考えられる。
【０１２５】
しかしながらこの手法では、光ディスク７０におけるカバー層の厚さにより「Ｓ字曲線」が大きく変化するため、当該光ディスク７０の種類によりレーザ光Ｌ１の光量の調整結果が異なる可能性が高い。
【０１２６】
またこの手法では、エキスパンダ１８（図２）の補正状態により当該「Ｓ字曲線」の振幅が変化してしまう可能性が高く、さらにレーザ光Ｌ１の波長と光ディスク７０の種類（光ディスク７０を構成する材料の種類）によっては、当該「Ｓ字曲線」をうまく検出できない可能性もある（図４（Ｄ）等）。
【０１２７】
これに対して、光ディスク装置１のように光ディスク７０の表面における反射レーザ光Ｌ２の光量（すなわちプルイン信号ＳＰＩの信号レベル）を用いる場合、エキスパンダ１８の補正状態による変動の影響が比較的小さいといった利点がある。
【０１２８】
また光ディスク装置１では、レーザ光Ｌ１（反射レーザ光Ｌ２）が光ディスク７０の内部を透過する前に表面で反射したときの信号レベルを用いることから、当該光ディスク７０を構成する材料の種類の影響を殆ど受けずに済む。この結果、光ディスク装置１は、実質的にこれらの影響を無視することができるので、基準信号レベルＶ０と経時信号レベルＶ１とを正しく比較することができ、レーザ光Ｌ１の光量を精度良く調整することができる。
【０１２９】
また光ディスク装置１は、当該光ディスク装置１内の温度変化等に起因してレーザダイオード１１の出力特性が変化していたとしても、実際に測定した経時信号レベルＶ１と基準信号レベルＶ０との比較結果に基づいて青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６の感度を調整するため、このときの温度に拘わらず、制御部２に供給される算出信号群の信号レベルを工場出荷時とほぼ同等に揃えることができる。
【０１３０】
さらに光ディスク装置１は、基準信号レベルＶ０及び経時信号レベルＶ１を測定する際に波長４０５［ｎｍ］の青色レーザ光を用いることにより、波長７８０［ｎｍ］の赤色レーザ光を用いた場合よりも高い信号レベルを得ることができるので（図４）、当該経時信号レベルＶ１と当該基準信号レベルＶ０との比較精度を高めることができる。
【０１３１】
以上の構成によれば、光ディスク装置１は、光ディスク７０の表面におけるレーザ光Ｌ１の反射率が当該光ディスク７０の種類に拘わらずほぼ一定であることを利用し、青色のレーザ光Ｌ１を任意の光ディスク７０の表面において反射させた反射レーザ光Ｌ２の光量を測定して経時信号レベルＶ１とし、これを工場出荷時に測定した基準信号レベルＶ０と比較して当該光ディスク７０の表面に到達する光量の減少度合いを認識し、その減少度合いに応じてＲＦサーボのゲインとして青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６の感度を調整することにより、経時的な要因により低下した算出信号群の信号レベルを工場出荷時と同程度まで補正することができるので、光ディスク７０の記録層における反射率を高精度に認識でき当該光ディスク７０の種類を高い確度で判別することができる。
【０１３２】
（５）他の実施の形態
なお上述した実施の形態においては、青色用フォトディテクタ２４又は赤色用フォトディテクタ２６の感度を調整することによりＲＦサーボのゲインを調整するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばＡＤ変換器３１においてフォーカスエラー信号ＳＦＥ、トラッキングエラー信号ＳＴＥ及び再生ＲＦ信号ＳＲＦをＡＤ変換処理する際のゲインやオフセット等を調整するようにし、又はサーボエラー信号生成回路３０においてアナログ信号としてのフォーカスエラー信号ＳＦＥ、トラッキングエラー信号ＳＴＥ及び再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成する際に係数を乗じるようにし、当該係数を制御部２の制御に基づき変更することにより算出信号群の信号レベルを調整するようにしても良い。
【０１３３】
また、例えばレーザパワー制御部６におけるゲインを調整することにより、実際のレーザ光Ｌ１及び反射レーザ光Ｌ２の光量を変更して算出信号群の信号レベルを調整する等しても良く、さらにはこれらを適宜組み合わせてＲＦサーボのゲインを調整するようにしても良い。
【０１３４】
さらに上述した実施の形態においては、工場出荷時に基準信号レベルＶ０を測定する際に用いる光ディスク７０をＢＤ−ＲＯＭディスクとするようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、他の種類の光ディスク７０を用いて基準信号レベルＶ０を測定するようにしても良い。
【０１３５】
さらに上述した実施の形態においては、基準信号レベルＶ０を１種類のみ用いるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばＢＤディスクでなる光ディスク７０を用いて測定した基準信号レベルＶ０ｂｄと、ＤＶＤディスクでなる光ディスク７０を用いて測定した基準信号レベルＶ０ｄｖｄとを記憶しておき、光ディスク装置１に装填された光ディスク７０がＢＤディスクであるか否かを判定した後、その判定結果に応じて基準信号レベルＶ０ｂｄ又は基準信号レベルＶ０ｄｖｄを切り換えて用いるようにしても良い。
【０１３６】
これにより、例えばＢＤディスクと、ＤＶＤディスク及びＣＤディスクとの間で表面の反射率が微妙に異なる傾向があったとしても、基準信号レベルＶ０ｂｄ又は基準信号レベルＶ０ｄｖｄと経時信号レベルＶ１とを高精度に比較することができる。
【０１３７】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１がＢＤディスク、ＤＶＤディスク又はＣＤディスクでなる光ディスク７０の種類を判別するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばＨＤ  ＤＶＤ（登録商標）ディスク、ＢＤディスク、ＤＶＤディスク又はＣＤディスクでなる光ディスク７０の種類を判別する等、他の種類でなる光ディスク７０を判別するようにしても良い。
【０１３８】
この場合、図４に示した傾向から、光ディスク７０の表面における反射レーザ光の光量を測定する際に、レーザダイオード１１が発射し得るレーザ光Ｌ１のうち、波長が最も短いレーザ光を用いるようにすれば、良好な信号レベルを得られると推測される。
【０１３９】
さらに上述した実施の形態においては、波長４０５［ｎｍ］でなる青色レーザ光を用いて基準信号レベルＶ０及び経時信号レベルＶ１をそれぞれ測定するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば波長７８０［ｎｍ］や波長６６０［ｎｍ］でなる赤色のレーザ光Ｌ１を用いて基準信号レベルＶ０及び経時信号レベルＶ１をそれぞれ測定するようにしても良い。この場合、図４に示したように、青色のレーザ光Ｌ１を用いた場合よりもプルイン信号ＳＰＩの信号レベルが低減するため、比較時の精度が低下することになるものの、基準信号レベルＶ０及び経時信号レベルＶ１自体は測定することができるので、信号レベルの比（Ｖ１／Ｖ０）を算出してゲインを調整することも可能となる。
【０１４０】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク７０の表面における反射レーザ光Ｌ２の光量を測定する際に波長４０５［ｎｍ］でなる青色のレーザ光Ｌ１を用いるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標）の規格等に則った波長４０５［ｎｍ］±５［ｎｍ］程度の範囲でなる青色のレーザ光Ｌ１であっても良く、要はＢＤディスクからの情報の再生又は記録に用いられる波長であれば良い。
【０１４１】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク７０の表面における反射レーザ光Ｌ２の光量を測定する際に、レーザ光Ｌ１の波長を、ＢＤディスク用の４０５［ｎｍ］又はＣＤディスク用の７８０［ｎｍ］等の光ディスク７０から情報を再生する際に使用する波長とするようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばレーザダイオード１１が波長５００［ｎｍ］、すなわちＢＤディスク、ＤＶＤディスクまたはＣＤディスクのいずれにおいても情報の再生時に使用しない波長でなるレーザ光Ｌ１をも発射し得る場合に、当該波長５００［ｎｍ］のレーザ光Ｌ１を用いて光ディスク７０の表面における反射レーザ光Ｌ２の光量を測定するようにしても良い。
【０１４２】
さらに上述した実施の形態においては、光ピックアップ７において、ＢＤディスク用の４０５［ｎｍ］、ＤＶＤディスク用の６６０［ｎｍ］及びＣＤディスク用の７８０［ｎｍ］といった３種類の波長でなるレーザ光Ｌ１をいずれも対物レンズ９から光ディスク７０へ照射する、すなわち光学経路を１系統とした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば光ピックアップにＢＤディスク用の青色用対物レンズとＤＶＤディスク・ＣＤディスク用の赤色用対物レンズとの２つの対物レンズが設けられ、２系統の光学経路を有するようにしても良い。
【０１４３】
この場合、波長４０５［ｎｍ］の青色レーザ光が通過する光学部品と波長６６０［ｎｍ］又は波長７８０［ｎｍ］の赤色レーザ光が通過する光学部品とは別個のものとなるが、同一の光ディスク装置内に設けられていることから、両者における塵等の付着具合やレーザダイオードの劣化具合がほぼ同様であると推測される。このため、青色レーザ光を用いて測定した基準信号レベルＶ０及び経時信号レベルＶ１を基に、青色用フォトディテクタ２４のみでなく赤色用フォトディテクタ２６の感度を調整したとしても、充分に有効な調整を行うことができる。
【０１４４】
さらに上述した実施の形態においては、工場出荷時に実際に光ディスク装置１において基準信号レベルＶ０を測定するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばレーザダイオード１１の特性のばらつきや各光学部品のばらつき等が小さいことが判明している場合に、基準信号レベルＶ０を測定することなく、予め決定した基準信号レベルＶ０を工場出荷時に不揮発性メモリ３に記憶させるようにしても良い。
【０１４５】
さらに上述した実施の形態においては、信号レベルの比（Ｖ１／Ｖ０）が値０．４未満、値０．４以上値０．６未満、又は値０．６以上の３通りに分類してゲインを補正するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば２通り又は４通り以上に分類してゲインを補正してもよい。この場合の閾値となる信号レベルの比（Ｖ１／Ｖ０）は、適宜選定すれば良い。
【０１４６】
またゲインの補正手法としては、＋３［ｄＢ］や＋６［ｄＢ］のように一定のゲインにより補正するのみでなく、所定の係数や関数を用いた演算処理によりゲインを補正し、或いは予め信号レベルの比（Ｖ１／Ｖ０）とゲインとの対応テーブルを作成しておき、当該対応テーブルに従ってゲインを補正する等しても良い。
【０１４７】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１が光ディスク７０から情報を再生する際に本発明を適用するようにした場合について述べたが、これに限らず、当該光ディスク装置１が当該光ディスク７０に情報を記録する際に本発明を適用するようにしても良い。
【０１４８】
さらに上述した実施の形態においては、対物レンズとしての対物レンズ９と、駆動手段としての２軸アクチュエータ８と、受光手段としての青色用フォトディテクタ２４及び赤色用フォトディテクタ２６と、測定手段としての信号レベル測定部４１と、サーボ制御手段としての制御部２と、記憶手段としての不揮発性メモリ３と、比較手段としての比較部４２と、調整手段としての制御部２及び青色用フォトディテクタ２４及び赤色用フォトディテクタ２６とによって光ディスク装置としての光ディスク装置１を構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の回路構成でなる対物レンズと、駆動手段と、受光手段と、サーボ制御手段と、測定手段と、記憶手段と、比較手段と、調整手段とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。
【産業上の利用可能性】
【０１４９】
本発明は、光ディスクの種類を判別した上で情報を再生又は記録する種々の光ディスク装置でも利用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１５０】
【図１】光ディスク装置の構成を示す略線図である。
【図２】光ピックアップの構成を示す略線図である。
【図３】引き込み動作時におけるプルイン信号の波形を示す略線図である。
【図４】レーザ光の波長と光ディスクの種類に応じたプルイン信号の様子を示す略線図である。
【図５】制御部の機能構成を示すブロック図である。
【図６】基準信号レベル測定処理手順を示すフローチャートである。
【図７】光ディスク判別処理手順を示すフローチャートである。
【図８】光量補正処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１５１】
１……光ディスク装置、２……制御部、３……不揮発性メモリ、６……レーザパワー制御部、７……光ピックアップ、８……２軸アクチュエータ、９……対物レンズ、１１……レーザダイオード、２４……青色用フォトディテクタ、２６……赤色用フォトディテクタ、３０……サーボエラー信号生成回路、３１……ＡＤ変換器、４１……信号レベル検出部、４２……比較部、７０……光ディスク、ＳＲＦ……再生ＲＦ信号、ＳＰＩ……プルイン信号。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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