(57)【要約】【課題】読み取り開始までに時間を要することなく、補正の対象である欠陥画素を探す。【解決手段】欠陥画素決定装置であって、複数のチャンネルの複数の画素データを取得する画素データ取得部と、複数のチャンネルのそれぞれの高周波成分を有する画素データの複数の受光素子の並び方向の位置である高周波画素データ位置を抽出する高周波位置抽出部と、複数のチャンネルのうちのいずれか一つで高周波成分を有する高周波画素データ位置を、欠陥画素データの候補となる画素データの複数の受光素子の並び方向の位置である欠陥画素データ候補位置として取得する欠陥候補位置取得部と、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置の画素データを欠陥画素データに決定する欠陥画素決定部とを備える。【選択図】図２
2008160193.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
カラーの画像を表現する複数のチャンネルのそれぞれの複数の受光素子を並べて配したリニアセンサを用いて原稿を撮像する撮像動作を、前記リニアセンサと前記原稿とを、前記複数の受光素子が並んだ方向に対して交差する方向に相対的に移動しながら繰り返すことにより、前記複数のチャンネルの複数の画素データを取得する画素データ取得部と、
前記画素データ取得部により一の撮像動作で取得された前記複数の前記画素データのうち、高周波成分を有する前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の位置である高周波画素データ位置を前記複数のチャンネルのそれぞれにおいて抽出する高周波位置抽出部と、
前記高周波位置抽出部により一の撮像動作で抽出された前記高周波画素データ位置のうち、前記複数のチャンネルのうちのいずれか一つのチャンネルにおいて高周波成分を有する前記高周波画素データ位置を、欠陥画素データの候補となる前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の位置である欠陥画素データ候補位置として取得する欠陥候補位置取得部と、
前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の一の位置が、所定の数の連続したそれぞれの前記撮像動作で、前記所定の数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって前記欠陥候補位置取得部により前記欠陥画素データ候補位置として取得された場合であって、前記所定の数連続して前記欠陥候補位置取得部により取得された前記欠陥画素データ候補位置の前記画素データの前記同一のチャンネルのそれぞれの値が、前記それぞれの撮像動作で取得された前記欠陥画素データ候補位置と前記複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の前記画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいとき、または、前記他の位置の前記画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいときは、前記所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で取得された前記欠陥画素データ候補位置の前記画素データを前記欠陥画素データに決定する欠陥画素決定部と
を備える欠陥画素決定装置。
【請求項２】
前記複数のチャンネルが、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルを含む請求項１に記載の欠陥画素決定装置。
【請求項３】
前記欠陥画素決定部は、前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の一の位置が、３回以上連続したそれぞれの前記撮像動作で、３回以上数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって前記欠陥候補位置取得部により前記欠陥画素データ候補位置として取得された場合であって、前記３回以上連続して前記欠陥候補位置取得部により取得された前記欠陥画素データ候補位置の前記画素データの前記同一のチャンネルのそれぞれの値が、前記それぞれの撮像動作で取得された前記欠陥画素データ候補位置と前記複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の前記画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいとき、または、前記他の位置の前記画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいときは、前記３回以上連続したそれぞれの撮像動作で取得された前記欠陥画素データ候補位置の前記画素データを前記欠陥画素データに決定する請求項１に記載の欠陥画素決定装置。
【請求項４】
前記欠陥候補位置取得部は、前記高周波画素データ位置の前記画素データの一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値から当該位置に隣接する他の位置の前記画素データの当該一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値を減じた高周波の程度を示す高周波値から、当該位置の前記画素データの当該一のチャンネルと異なる他の一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値から当該位置に隣接する他の位置の前記画素データの当該異なる他の一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値を減じた前記高周波値を減じた値と、前記高周波画素データ位置の前記画素データの一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値から当該位置に隣接する他の位置の前記画素データの当該一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値を減じた高周波の程度を示す高周波値から、当該位置の前記画素データの当該一のチャンネルおよび前記異なる他の一のチャンネルと異なる他のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値から当該位置に隣接する他の位置の前記画素データの当該他のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値を減じた前記高周波値を減じた値とを、を乗じた値の絶対値が、所定の値よりも大きいか否かを判断し、前記絶対値が前記所定の値よりも大きいと判断した場合、前記高周波画素データ位置を、前記欠陥画素データ候補位置として取得する請求項１に記載の欠陥画素決定装置。
【請求項５】
前記欠陥画素決定装置は、前記欠陥画素決定部により決定された前記欠陥画素データを、少なくとも、前記欠陥画素データと前記複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の前記画素データに基づいて補正する補正部をさらに備える請求項１に記載の欠陥画素決定装置。
【請求項６】
カラーの画像を表現する複数のチャンネルのそれぞれの複数の受光素子を並べて配したリニアセンサを用いて原稿を撮像する撮像動作を、前記リニアセンサと前記原稿とを、前記複数の受光素子が並んだ方向に対して交差する方向に相対的に移動しながら繰り返すことにより、前記複数のチャンネルの複数の画素データを取得する画素データ取得手順と、
前記画素データ取得手順により一の撮像動作で取得された前記複数の前記画素データのうち、高周波成分を有する前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の位置である高周波画素データ位置を前記複数のチャンネルのそれぞれにおいて抽出する高周波位置抽出手順と、
前記高周波位置抽出手順により一の撮像動作で抽出された前記高周波画素データ位置のうち、前記複数のチャンネルのうちのいずれか一つのチャンネルにおいて高周波成分を有する前記高周波画素データ位置を、欠陥画素データの候補となる前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の位置である欠陥画素データ候補位置として取得する欠陥候補位置取得手順と、
前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の一の位置が、所定の数の連続したそれぞれの前記撮像動作で、前記所定の数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって前記欠陥候補位置取得手順により前記欠陥画素データ候補位置として取得された場合であって、前記所定の数連続して前記欠陥候補位置取得手順により取得された前記欠陥画素データ候補位置の前記画素データの前記同一のチャンネルのそれぞれの値が、前記それぞれの撮像動作で取得された前記欠陥画素データ候補位置と前記複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の前記画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいとき、または、前記他の位置の前記画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいときは、前記所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で取得された前記欠陥画素データ候補位置の前記画素データを前記欠陥画素データに決定する欠陥画素決定手順と
を備える欠陥画素決定方法。
【請求項７】
欠陥画素決定装置を制御するプログラムであって、前記欠陥画素決定装置に、
カラーの画像を表現する複数のチャンネルのそれぞれの複数の受光素子を並べて配したリニアセンサを用いて原稿を撮像する撮像動作を、前記リニアセンサと前記原稿とを、前記複数の受光素子が並んだ方向に対して交差する方向に相対的に移動しながら繰り返すことにより、前記複数のチャンネルの複数の画素データを取得する画素データ取得手順、
前記画素データ取得手順により一の撮像動作で取得された前記複数の前記画素データのうち、高周波成分を有する前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の位置である高周波画素データ位置を前記複数のチャンネルのそれぞれにおいて抽出する高周波位置抽出手順、
前記高周波位置抽出手順により一の撮像動作で抽出された前記高周波画素データ位置のうち、前記複数のチャンネルのうちのいずれか一つのチャンネルにおいて高周波成分を有する前記高周波画素データ位置を、欠陥画素データの候補となる前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の位置である欠陥画素データ候補位置として取得する欠陥候補位置取得手順、および、
前記画素データの前記複数の受光素子の並び方向の一の位置が、所定の数の連続したそれぞれの前記撮像動作で、前記所定の数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって前記欠陥候補位置取得手順により前記欠陥画素データ候補位置として取得された場合であって、前記所定の数連続して前記欠陥候補位置取得手順により取得された前記欠陥画素データ候補位置の前記画素データの前記同一のチャンネルのそれぞれの値が、前記それぞれの撮像動作で取得された前記欠陥画素データ候補位置と前記複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の前記画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいとき、または、前記他の位置の前記画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいときは、前記所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で取得された前記欠陥画素データ候補位置の前記画素データを前記欠陥画素データに決定する欠陥画素決定手順
を実行させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥画素決定装置、欠陥画素決定方法およびプログラムに関する。特に、本発明は、所定の条件を満たす画素データを欠陥画素データに決定する欠陥画素決定装置、欠陥画素決定方法およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
原稿に光を照射してその反射光または透過光を、受光素子で受けて当該受光素子からの出力電圧に基づいて画像を読み取る画像読取装置がある。この画像読取装置において、工場出荷時に欠陥のある受光素子を見つけ出して、当該受光素子からの出力を欠陥画素としてその欠陥画素を補正する方法がある。しかしながら、この方法においては、欠陥のある受光素子を記憶しておく不揮発メモリを要することになり、また、工場出荷時は正常であって使用中に欠陥となった受光素子からの出力を補正することができない。そこで、原稿の読み取り前に、予め装置内に設けた白基準を撮像することにより出力電圧が異常である受光素子を特定し、当該受光素子に対応する欠陥画素を補正する方法がある（例えば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−２７８４９８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、特許文献１に記載の画像読取装置は、白基準を撮像した場合の出力電圧に基づいて異常を特定するので、暗部で感度が不良な受光素子、および、原稿の読み取り前に正常であったのに読み取り途中に異常となった受光素子に対応する画素を欠陥画素として補正できないという課題がある。なお、原稿の読み取り途中に受光素子の出力電圧が異常となる原因として、例えば、外部からの電磁波、宇宙線などの影響によりＣＣＤが一時的にダメージを受けた場合が挙げられる。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、欠陥画素決定装置であって、カラーの画像を表現する複数のチャンネルのそれぞれの複数の受光素子を並べて配したリニアセンサを用いて原稿を撮像する撮像動作を、リニアセンサと原稿とを、複数の受光素子が並んだ方向に対して交差する方向に相対的に移動しながら繰り返すことにより、複数のチャンネルの複数の画素データを取得する画素データ取得部と、画素データ取得部により一の撮像動作で取得された複数の画素データのうち、高周波成分を有する画素データの複数の受光素子の並び方向の位置である高周波画素データ位置を複数のチャンネルのそれぞれにおいて抽出する高周波位置抽出部と、高周波位置抽出部により一の撮像動作で抽出された高周波画素データ位置のうち、複数のチャンネルのうちのいずれか一つのチャンネルにおいて高周波成分を有する高周波画素データ位置を、欠陥画素データの候補となる画素データの複数の受光素子の並び方向の位置である欠陥画素データ候補位置として取得する欠陥候補位置取得部と、画素データの複数の受光素子の並び方向の一の位置が、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で、所定の数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって欠陥候補位置取得部により欠陥画素データ候補位置として取得された場合であって、所定の数連続して欠陥候補位置取得部により取得された欠陥画素データ候補位置の画素データの同一のチャンネルのそれぞれの値が、それぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置と複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいとき、または、他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいときは、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置の画素データを欠陥画素データに決定する欠陥画素決定部とを備える。これにより、工場出荷時に欠陥のある受光素子を記憶することなく、読み取り時に適宜、補正することができる。特に、暗部において感度が不良な受光素子、および、原稿の読み取り途中で一時的に異常な電圧を出力した受光素子について、正常な電圧を出力していたときに対応する画素を補正の対象から除外し、かつ、異常な電圧を出力したときに対応する画素を補正の対象とすることができる。なお、複数のチャンネルが、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルを含んでもよい。
【０００５】
欠陥画素決定部は、画素データの複数の受光素子の並び方向の一の位置が、３回以上連続したそれぞれの撮像動作で、３回以上数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって欠陥候補位置取得部により欠陥画素データ候補位置として取得された場合であって、３回以上連続して欠陥候補位置取得部により取得された欠陥画素データ候補位置の画素データの同一のチャンネルのそれぞれの値が、それぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置と複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいとき、または、他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいときは、３回以上連続したそれぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置の画素データを欠陥画素データに決定してもよい。これにより、ある受光素子に対応する画素が３回以上連続して異常となった場合に、連続して異常となった画素を欠陥画素として補正の対象とすることができる。
【０００６】
前記欠陥候補位置取得部は、前記高周波画素データ位置の前記画素データの一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値から当該位置に隣接する他の位置の前記画素データの当該一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値を減じた高周波の程度を示す高周波値から、当該位置の前記画素データの当該一のチャンネルと異なる他の一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値から当該位置に隣接する他の位置の前記画素データの当該異なる他の一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値を減じた前記高周波値を減じた値と、前記高周波画素データ位置の前記画素データの一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値から当該位置に隣接する他の位置の前記画素データの当該一のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値を減じた高周波の程度を示す高周波値から、当該位置の前記画素データの当該一のチャンネルおよび前記異なる他の一のチャンネルと異なる他のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値から当該位置に隣接する他の位置の前記画素データの当該他のチャンネルの値に所定の乗数を掛けた値を減じた前記高周波値を減じた値とを、を乗じた値の絶対値が、所定の値よりも大きいか否かを判断し、前記絶対値が前記所定の値よりも大きいと判断した場合、前記高周波画素データ位置を、前記欠陥画素データ候補位置として取得してもよい。これにより、簡便に、かつ、正確に、欠陥画素を探すことができる。
【０００７】
欠陥画素決定装置は、欠陥画素決定部により決定された欠陥画素データを、少なくとも、欠陥画素データと複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の画素データに基づいて補正する補正部をさらに備えてもよい。これにより、原稿の読み取り途中に正常な出力電圧から異常な出力電圧となった受光素子に対応する欠陥画素を補正することができる。
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の第２の形態においては、欠陥画素決定方法であって、カラーの画像を表現する複数のチャンネルのそれぞれの複数の受光素子を並べて配したリニアセンサを用いて原稿を撮像する撮像動作を、リニアセンサと原稿とを、複数の受光素子が並んだ方向に対して交差する方向に相対的に移動しながら繰り返すことにより、複数のチャンネルの複数の画素データを取得する画素データ取得手順と、画素データ取得手順により一の撮像動作で取得された複数の画素データのうち、高周波成分を有する画素データの複数の受光素子の並び方向の位置である高周波画素データ位置を複数のチャンネルのそれぞれにおいて抽出する高周波位置抽出手順と、高周波位置抽出手順により一の撮像動作で抽出された高周波画素データ位置のうち、複数のチャンネルのうちのいずれか一つのチャンネルにおいて高周波成分を有する高周波画素データ位置を、欠陥画素データの候補となる画素データの複数の受光素子の並び方向の位置である欠陥画素データ候補位置として取得する欠陥候補位置取得手順と、画素データの複数の受光素子の並び方向の一の位置が、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で、所定の数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって欠陥候補位置取得手順により欠陥画素データ候補位置として取得された場合であって、所定の数連続して欠陥候補位置取得手順により取得された欠陥画素データ候補位置の画素データの同一のチャンネルのそれぞれの値が、それぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置と複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいとき、または、他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいときは、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置の画素データを欠陥画素データに決定する欠陥画素決定手順とを備える。これにより、第１の形態と同一の効果を得ることができる。
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明の第３の形態においては、欠陥画素決定装置を制御するプログラムであって、欠陥画素決定装置に、カラーの画像を表現する複数のチャンネルのそれぞれの複数の受光素子を並べて配したリニアセンサを用いて原稿を撮像する撮像動作を、リニアセンサと原稿とを、複数の受光素子が並んだ方向に対して交差する方向に相対的に移動しながら繰り返すことにより、複数のチャンネルの複数の画素データを取得する画素データ取得手順、画素データ取得手順により一の撮像動作で取得された複数の画素データのうち、高周波成分を有する画素データの複数の受光素子の並び方向の位置である高周波画素データ位置を複数のチャンネルのそれぞれにおいて抽出する高周波位置抽出手順、高周波位置抽出手順により一の撮像動作で抽出された高周波画素データ位置のうち、複数のチャンネルのうちのいずれか一つのチャンネルにおいて高周波成分を有する高周波画素データ位置を、欠陥画素データの候補となる画素データの複数の受光素子の並び方向の位置である欠陥画素データ候補位置として取得する欠陥候補位置取得手順、および、画素データの複数の受光素子の並び方向の一の位置が、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で、所定の数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって欠陥候補位置取得手順により欠陥画素データ候補位置として取得された場合であって、所定の数連続して欠陥候補位置取得手順により取得された欠陥画素データ候補位置の画素データの同一のチャンネルのそれぞれの値が、それぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置と複数の受光素子の並び方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいとき、または、他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいときは、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置の画素データを欠陥画素データに決定する欠陥画素決定手順を実行させる。これにより、第１の形態と同一の効果を得ることができる。
【００１０】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【実施例１】
【００１２】
図１は、スキャナ２０の一例を示す。スキャナ２０は、欠陥画素決定装置の一例であって、本体２２と、ユーザに対して本体２２からの出力に基づく表示をするディスプレイ２４と、ユーザから本体２２に対する入力手段の一例としての操作パネル２６とを供える。スキャナ２０は、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのそれぞれの複数の受光素子を並べて配したリニアセンサを用いて原稿を撮像することにより、原稿のカラー画像を生成する。また、スキャナ２０は、ネットワークを介してパーソナルコンピュータ１０と接続する。パーソナルコンピュータ１０は、本体１２と、ユーザに対して本体１２からの出力に基づく表示をするディスプレイ１４と、ユーザから本体１２に対する入力手段の一例としてのキーボード１６及びマウス１８とを備える。
【００１３】
図２は、スキャナ２０のブロック図の一例を示す。図３は、判断情報記憶部１５０に格納された情報の一例を示す。図４は、欠陥画素特定情報記憶部１６０に格納された情報の一例を示す。スキャナ２０は、図２に示すように、画素データ取得部１００、高周波位置抽出部１１０、欠陥候補位置取得部１２０、欠陥画素決定部１３０、補正部１４０、判断情報記憶部１５０、欠陥画素特定情報記憶部１６０および画像記憶部１７０を備える。
【００１４】
画素データ取得部１００は、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのそれぞれの複数の受光素子を並べて配したリニアセンサを用いて原稿を撮像する撮像動作と、リニアセンサと原稿とを、複数の受光素子が並んだ方向（以下、「主走査方向」という。）に対して交差する方向（以下、「副走査方向」という。）に相対的に移動する移動動作とを交互に繰り返すことにより、撮像動作毎に、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルの複数の画素データを取得する。なお、受光素子は、例えばＣＣＤ、ＣＭＯＳなどである。また、画素データ取得部１００は、撮像動作毎に、一の撮像動作で取得された複数の画素データが、当該原稿において副走査方向の何番目の撮像動作により取得された複数の画素データであるかを識別する識別情報（以下、「ラインＩＤ」という。）を取得する。また、撮像動作と移動動作とを交互に繰り返すことに代えて、移動しながら撮像動作を繰り返してもよい。
【００１５】
高周波位置抽出部１１０は、画素データ取得部１００により一の撮像動作で取得された複数の画素データのうち、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのそれぞれの高周波成分を有する画素データの主走査方向の位置である高周波画素データ位置を抽出する。
【００１６】
欠陥候補位置取得部１２０は、高周波位置抽出部１１０により一の撮像動作で抽出された高周波画素データ位置のうち、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのうちのいずれか一つで高周波成分を有する高周波画素データ位置を、欠陥画素データの候補となる画素データの主走査方向の位置である欠陥画素データ候補位置として取得する。また、欠陥候補位置取得部１２０は、欠陥画素データ候補位置とともに、当該欠陥画素データ候補位置において高周波成分を有したチャンネルを識別する識別情報（以下、「チャンネルＩＤ」という。）取得する。
【００１７】
さらに、欠陥候補位置取得部１２０は、当該欠陥画素データ候補位置の画素データの高周波成分を有したチャンネルの値、および、当該欠陥画素データ候補位置と主走査方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値を取得する。そして欠陥候補位置取得部１２０は、当該欠陥画素データ候補位置の画素データの高周波成分を有したチャンネルの値と、当該欠陥画素データ候補位置と主走査方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値とを比較する。
【００１８】
判断情報記憶部１５０は、直近の所定の数の撮像動作において画素データ取得部１００により取得されたラインＩＤを記憶する。すなわち判断情報記憶部１５０は、最新のラインＩＤを、所定の数、サイクリックに記憶する。例えば図３に示す例において、判断情報記憶部１５０は、直近の３回（「今回」「前回」および「前々回」）の撮像動作において画素データ取得部１００により取得されたラインＩＤ「３」「２」「１」を記憶する。なお、判断情報記憶部１５０がラインＩＤを記憶する上記所定の数は、後述する、欠陥画素決定部１３０が高周波成分を有する位置が所定の数連続したか否かを判断する場合における所定の数と同一であるかそれ以上であることが好ましい。
【００１９】
また、判断情報記憶部１５０は、ラインＩＤに対応付けて、欠陥候補位置取得部１２０により取得された欠陥画素データ候補位置を記憶する。例えば図３（ａ）に示す例において、判断情報記憶部１５０は、ラインＩＤ「３」に対応付けて欠陥画素データ候補位置「２」および欠陥画素データ候補位置「７」を記憶している。
【００２０】
さらに、判断情報記憶部１５０は、ラインＩＤおよび欠陥画素データ候補位置に対応付けて、欠陥候補位置取得部１２０により取得された高周波成分を有したチャンネルのチャンネルＩＤ、および、欠陥候補位置取得部１２０が当該欠陥画素データ候補位置の画素データの高周波成分を有したチャンネルの値と当該欠陥画素データ候補位置と主走査方向に隣接する他の位置の画素データの高周波成分を有したチャンネルの値とを比較した比較結果を記憶する。例えば図３（ａ）に示す例において、判断情報記憶部１５０は、ラインＩＤ「３」および欠陥画素データ候補位置「２」に対応付けて、Ｒチャンネルを識別するチャンネルＩＤ「Ｒ」、および、当該欠陥画素データ候補位置の画素データの高周波成分を有したチャンネルの値が当該欠陥画素データ候補位置と主走査方向に隣接する他の位置の画素データの高周波成分を有したチャンネルの値よりも小さい旨を示す比較結果「小」を記憶している。
【００２１】
欠陥画素決定部１３０は、画素データの主走査方向の一の位置が、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で、所定の数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって欠陥候補位置取得部１２０により欠陥画素データ候補位置として取得されたか否かを判断する。すなわち欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に、各ラインＩＤのそれぞれに対応付けて、同一の欠陥画素データ候補位置が記憶され、かつ、各ラインＩＤについて、当該同一の欠陥画素データ候補位置に対応付けて同一のチャンネルＩＤが記憶されているか否かを判断する。
【００２２】
また、欠陥画素決定部１３０は、画素データの主走査方向の一の位置が、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で、所定の数連続して同一のチャンネルで高周波成分を有することによって欠陥候補位置取得部１２０により欠陥画素データ候補位置として取得されたと判断した場合に、さらに、所定の数連続して欠陥候補位置取得部１２０により取得された欠陥画素データ候補位置の画素データの当該同一のチャンネルのそれぞれの値が、それぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置と主走査方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいか否か、または、他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいか否かを判断する。すなわち欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に、各ラインＩＤについて、当該同一の欠陥画素データ候補位置および当該同一のチャンネルＩＤに対応付けて、同一の比較結果が記憶されているか否かを判断する。
【００２３】
さらに、欠陥画素決定部１３０は、所定の数連続して欠陥候補位置取得部１２０により取得された欠陥画素データ候補位置の画素データの同一のチャンネルのそれぞれの値が、それぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置と主走査方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ大きいと判断した場合に、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置の画素データを欠陥画素データに決定する。または、欠陥画素決定部１３０は、所定の数連続して欠陥候補位置取得部１２０により取得された欠陥画素データ候補位置の画素データの同一のチャンネルのそれぞれの値が、それぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置と主走査方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値よりもそれぞれ小さいと判断した場合には、所定の数の連続したそれぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置の画素データを欠陥画素データに決定する。すなわち欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に、各ラインＩＤについて、当該同一の欠陥画素データ候補位置および当該同一のチャンネルＩＤに対応付けて、いずれも比較結果「大」が記憶されていると判断した場合、または、いずれも比較結果「小」が記憶されていると判断した場合には、各ラインＩＤにより識別されるラインにおける欠陥画素データ候補位置の画素データを欠陥画素データに決定する。ここで、本実施形態において所定の数は３に設定されている。ただし、所定の数は２つであってもよいし、４以上であってもよい。
【００２４】
欠陥画素特定情報記憶部１６０は、欠陥画素決定部１３０により欠陥画素データに決定された画素データを特定する欠陥画素特定情報を記憶する。一例として、欠陥画素特定情報記憶部１６０は、欠陥画素特定情報として欠陥画素データ候補位置およびラインＩＤを記憶する。例えば図４に示す例において、欠陥画素特定情報記憶部１６０は、欠陥画素データ候補位置「７」に対応付けてライン「１」等を記憶している。
【００２５】
画像記憶部１７０は、画素データ取得部１００により取得された複数の画素データを有する画像を記憶する。補正部１４０は、欠陥画素決定部１３０により決定された欠陥画素データを、少なくとも、欠陥画素データと主走査方向に隣接する他の位置の画素データに基づいて補正する。これにより、工場出荷時において欠陥のある受光素子に対応する欠陥画素を記憶する不揮発メモリ等を設ける必要がなくなる。また、暗部において感度が不良な受光素子、および、原稿の読み取り途中で一時的に異常な電圧を出力した受光素子について、正常な電圧を出力していたときに対応する画素を補正の対象から除外し、かつ、異常な電圧を出力したときに対応する画素を補正の対象とすることができる。
【００２６】
記憶媒体７０は、画素データ取得部１００、高周波位置抽出部１１０、欠陥候補位置取得部１２０、欠陥画素決定部１３０、補正部１４０、判断情報記憶部１５０、欠陥画素特定情報記憶部１６０および画像記憶部１７０の動作を行わせるプログラムを記憶する。スキャナ２０は、記憶媒体７０に記憶された上記プログラムをインストールすることにより、画素データ取得部１００等の動作を行わせてもよい。さらに、他の方法として、スキャナ２０は、そのようなプログラムを、ネットワークを介して取得してもよい。
【００２７】
図５は、スキャナ２０の動作の一例を示すフローチャートである。本フローチャートは、原稿を読み込むことにより開始する。なお、本フローチャートの開始時において、判断情報記憶部１５０は、ラインＩＤ、欠陥画素候補位置、チャンネルＩＤおよび比較結果を記憶していないものとする。また、欠陥画素特定情報記憶部１６０は、欠陥画素候補位置およびラインＩＤを記憶していないものとする。
【００２８】
まず、画素データ取得部１００は、撮像動作により全ラインについて画素データを取得したか否かを判断する（Ｓ１００）。ステップＳ１００において、画素データ取得部１００は、全ラインの画素データを取得していないと判断した場合に（Ｓ１００：Ｎｏ）、次の１ライン分について、ラインＩＤを採番し、採番したラインＩＤに対応付けて、当該ライン分の複数の画素データを取得し、高周波位置抽出部１１０に受け渡すとともに画像記憶部１７０に記憶する（Ｓ１０２）。
【００２９】
高周波位置抽出部１１０は、ラインＩＤに対応付けて画素データ取得部１００から取得した複数の画素データのうち、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのそれぞれの高周波成分を有する画素データがあるか否かを判断する（Ｓ１０５）。ステップＳ１０５において、高周波位置抽出部１１０は、ラインＩＤに対応付けて画素データ取得部１００から取得した複数の画素データのうち、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのそれぞれの高周波成分を有する画素データがあると判断した場合に（Ｓ１０５：Ｙｅｓ）、複数の画素データとともに、ラインＩＤに対応付けて高周波画素データ位置、および、当該高周波画素データ位置に対応付けて高周波成分を有するチャンネルのチャンネルＩＤを欠陥候補位置取得部１２０に受け渡す。
【００３０】
欠陥候補位置取得部１２０は、高周波位置抽出部１１０から取得した高周波画素データ位置のうち、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのうちのいずれか一つで高周波成分を有する位置があるか否かを判断する（Ｓ１１０）。ステップＳ１１０において、欠陥候補位置取得部１２０は、高周波位置抽出部１１０から取得した高周波画素データ位置のうち、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのうちのいずれか一つで高周波成分を有する位置があると判断した場合に（Ｓ１１０：Ｙｅｓ）、いずれか一つで高周波成分を有する高周波画素データ位置を欠陥画素データ候補位置として取得するとともに、当該欠陥画素データ候補位置において高周波成分を有したチャンネルＩＤを取得する（Ｓ１１５）。
【００３１】
欠陥候補位置取得部１２０は、当該欠陥画素データ候補位置の画素データの高周波成分を有したチャンネルの値と、当該欠陥画素データ候補位置と主走査方向に隣接する他の位置の画素データの当該チャンネルの値とを比較した比較結果を取得する（Ｓ１２０）。
【００３２】
欠陥候補位置取得部１２０は、高周波位置抽出部１１０から取得したラインＩＤに対応付けてステップＳ１１５において取得した欠陥画素データ候補位置およびチャンネルＩＤを、また、ラインＩＤ、欠陥画素データ候補位置およびチャンネルＩＤに対応付けてステップＳ１２０において取得した比較結果を判断情報記憶部１５０に記憶する（Ｓ１２５）。欠陥候補位置取得部１２０は、これらを判断情報記憶部１５０に記憶した旨を欠陥画素決定部１３０に通知する。
【００３３】
通知を受けた欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に、３つのラインＩＤのそれぞれに対応付けて同一の欠陥画素データ候補位置が記憶されているか否かを判断する（Ｓ１３０）。ステップＳ１３０において、欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に、３つのラインＩＤのそれぞれに対応付けて同一の欠陥画素データ候補位置が記憶されていると判断した場合に（Ｓ１３０：Ｙｅｓ）、判断情報記憶部１５０に、各ラインＩＤおよび当該同一の欠陥画素データ候補位置に対応付けて同一のチャンネルＩＤが記憶されているか否かを判断する（Ｓ１３５）。ステップＳ１３５において、欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に、各ラインＩＤおよび当該同一の欠陥画素データ候補位置に対応付けて同一のチャンネルＩＤが記憶されていると判断した場合に（Ｓ１３５：Ｙｅｓ）、判断情報記憶部１５０に、各ラインＩＤ、当該同一の欠陥画素データ候補位置および当該同一のチャンネルＩＤに対応付けて同一の比較結果が記憶されているか否かを判断する（Ｓ１４０）。ステップＳ１４０において、欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に、各ラインＩＤ、当該同一の欠陥画素データ候補位置および当該同一のチャンネルＩＤに対応付けて同一の比較結果が記憶されていると判断した場合に（Ｓ１４０：Ｙｅｓ）、３回連続したそれぞれの撮像動作で取得された欠陥画素データ候補位置の画素データを欠陥画素データに決定する（Ｓ１４５）。そして欠陥画素決定部１３０は、欠陥画素特定情報として、欠陥画素データ候補位置に対応付けてラインＩＤを欠陥画素特定情報記憶部１６０に記憶する（Ｓ１５０）。そしてステップＳ１００に戻る。
【００３４】
一方、ステップＳ１３０において欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に３つのラインＩＤのそれぞれに対応付けて同一の欠陥画素データ候補位置が記憶されていないと判断した場合に（Ｓ１３０：Ｎｏ）、ステップＳ１３５からステップＳ１５０を飛ばしてステップＳ１００に戻る。また、ステップＳ１３５において欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に各ラインＩＤおよび当該同一の欠陥画素データ候補位置に対応付けて同一のチャンネルＩＤが記憶されていないと判断した場合に（Ｓ１３５：Ｎｏ）、ステップＳ１４０からステップＳ１５０を飛ばしてステップＳ１００に戻る。さらに、ステップＳ１４０において、欠陥画素決定部１３０は、判断情報記憶部１５０に、各ラインＩＤ、当該同一の欠陥画素データ候補位置および当該同一のチャンネルＩＤに対応付けて同一の比較結果が記憶されていないと判断した場合に（Ｓ１４０：Ｎｏ）、ステップＳ１４５、Ｓ１５０を飛ばしてステップＳ１００に戻る。
【００３５】
また、ステップＳ１０５において、高周波位置抽出部１１０は、ラインＩＤに対応付けて画素データ取得部１００から取得した複数の画素データのうち、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのそれぞれの高周波成分を有する画素データがないと判断した場合（Ｓ１０５：Ｎｏ）、ステップＳ１１０において、欠陥候補位置取得部１２０は高周波位置抽出部１１０から取得した高周波画素データ位置のうち、Ｒチャンネル、ＧチャンネルおよびＢチャンネルのうちのいずれか一つで高周波成分を有する位置がないと判断した場合には（Ｓ１１０：Ｎｏ）、画素データ取得部１００により採番されたラインＩＤを判断情報記憶部１５０に記憶する（Ｓ１５５）。そしてステップＳ１００に戻る。
【００３６】
また、ステップＳ１００において、画素データ取得部１００は、撮像動作により全ラインの画素データを取得したと判断した場合に（Ｓ１００：Ｙｅｓ）、その旨を補正部１４０に通知する。
【００３７】
通知を受けた補正部１４０は、欠陥画素特定情報が欠陥画素特定情報記憶部１６０に記憶されているか否かを判断する（Ｓ１６０）。ステップＳ１６０において、補正部１４０は欠陥画素特定情報が欠陥画素特定情報記憶部１６０に記憶されていると判断した場合に（Ｓ１６０：Ｙｅｓ）、欠陥画素特定情報記憶部１６０に記憶された欠陥画素特定情報を参照し、画像記憶部１７０に記憶された画像に含まれる画像から欠陥画素データを特定し、当該欠陥画素データと主走査方向に隣接する他の画素データに基づいて当該欠陥画素データを補正する（Ｓ１６５）。補正部１４０は、判断情報記憶部１５０および欠陥画素特定情報記憶部１６０を初期化、すなわち記憶されているラインＩＤ等を削除する（Ｓ１７０）。そして本フローチャートは終了する。
【００３８】
一方、ステップＳ１６０において、補正部１４０は、欠陥画素特定情報が欠陥画素特定情報記憶部１６０に記憶されていないと判断した場合に（Ｓ１６０：Ｎｏ）、ステップＳ１６５を飛ばして、ステップＳ１７０を実行する。そして本フローチャートは終了する。本フローチャートによれば、暗部において不良な受光素子、および、原稿の読み取り途中で一時的に異常な電圧を出力した受光素子について、正常な電圧を出力していたときに対応する画素を補正の対象から除外し、かつ、異常な電圧を出力したときに対応する画素を補正の対象とすることができる。
【００３９】
図６は、画素データ取得部１００により取得される画素データの一例を模式的に示す。図７は、一の撮像動作で取得された画素データの各画素データの画素値を示す。図８は、隣接する画素データに対する画素値の移動幅の一例を示す。図９は、高周波値の算出式の一例を示す。図１０は、欠陥画素データ候補位置の算出式の一例を示す。図１１は、画像記憶部に格納された情報の一例を示す。以下、図６から図１１を用いて図５に示すフローチャートに基づく動作の例を説明する。
【００４０】
まず、ステップＳ１００において、画素データ取得部１００は、例えば、図６に示すラインＡに含まれるａからｈまでの８個の画素データを取得したと判断した場合に（Ｓ１００：Ｙｅｓ）、ラインＡに対しラインＩＤ「１」を採番し、ラインＩＤ「１」に対応付けて８個の画素データを、高周波位置抽出部１１０に受け渡すとともに画像記憶部１７０に記憶する。なお、図６のラインＡからラインＨは、画素データ取得部１００が、撮像動作毎に取得する複数の画素データを示す。
【００４１】
ステップＳ１０５において、まず、高周波位置抽出部１１０は、図７（ａ）に示すように、ラインＩＤ「１」の８個の画素データのＲチャンネルの画素値を取得する。同様に、図７（ｂ）および図７（ｃ）に示すように、ラインＩＤ「１」の８個の画素データのＧチャンネルの画素値、および、Ｂチャンネルの画素値をそれぞれ取得する。なお、図７の横軸は主走査方向の画素位置、縦軸は画素値を示す。
【００４２】
ステップＳ１０５において、次に、高周波位置抽出部１１０は、図８（ａ）に示すように、隣接する画素位置の画素データのＲチャンネルの画素値に対する当該画素位置のＲチャンネルの画素値の高周波値、図８（ｂ）に示すように、隣接する画素位置の画素データのＧチャンネルの画素値に対する当該画素位置のＧチャンネルの画素値の高周波値、および、図８（ｃ）に示すように、隣接する画素位置の画素データのＢチャンネルの画素値に対する当該画素位置のＢチャンネルの画素値の高周波値を算出する。なお、図８の横軸は主走査方向の画素位置、縦軸は高周波値を示す。
【００４３】
例えば、高周波位置抽出部１１０は、図９（ａ）から図（ｃ）に示すように隣接する画素値との平均を低周波値とし、この低周波値を元の画素から差し引くことにより高周波値を算出する。なお、図９において、Ｆｎは画素位置ｎの高周波値を示し、Ｐｎは画素位置ｎの画素値を示す。また、図８の例においてはｎ＝８である。図８（ａ）に示す例において、端である画素データａのＲチャンネルの高周波値を、図９（ａ）に示す式に基づいて算出する。すなわち高周波位置抽出部１１０は、画素データａのＲチャンネルの画素値「３２」および画素データｂのＲチャンネルの画素値を図９（ａ）の式に代入することにより、画素データａのＲチャンネルの高周波値「−４」を算出する。同様に、高周波位置抽出部１１０は、画素データｈのＲチャンネルの画素値「９８」および画素データｇのＲチャンネルの画素値「９５」を図９（ｂ）に示す式に代入して、画素データｈのＲチャンネルの高周波値「２」を算出する。また、高周波位置抽出部１１０は、画素データｂのＲチャンネルの画素値「４０」、画素データａのＲチャンネルの画素値「３２」および画素データｃのＲチャンネルの画素値「６０」を図９（ｃ）に示す式に代入して、画素データｂのＲチャンネルの高周波値「−４」を算出する。ＧチャンネルおよびＢチャンネルについても同様である。
【００４４】
ステップＳ１０５において、次に、高周波位置抽出部１１０は、算出した高周波値が所定の基準値を超えてマイナス、プラス、マイナスの順に画素位置方向に連続して現れる位置、または、マイナス、プラス、マイナスの順に画素位置方向に連続して現れる位置を検索し、見つかった場合には、高周波成分を有する画素データがあるか否かを判断する。例えば、図８に示す例において、高周波位置抽出部１１０は、Ｒチャンネルについて高周波成分を有する画素データがないと判断し、ＧチャンネルおよびＢチャンネルについて高周波成分を有する画素データがあると判断する。また、高周波位置抽出部１１０は、高周波値が所定の基準値を超えてマイナス、プラス、マイナスの順に画素位置方向に連続して現れる位置を見つけた場合には、当該プラスが現れた画素位置を高周波画素データ位置として抽出し、高周波値が所定の基準値を超えてプラス、マイナス、プラスの順に画素位置方向に連続して現れる位置を見つけた場合には、当該マイナスが現れた画素位置を高周波画素データ位置として抽出する。例えば、図８に示す例において、高周波位置抽出部１１０は、Ｇチャンネルについて高周波画素データ位置「７」、および、Ｂチャンネルについて高周波画素データ位置「４」を抽出する。そして高周波位置抽出部１１０は、複数の画素データとともに、ラインＩＤ「１」に対応付けて高周波画素データ位置「７」、および、高周波画素データ位置「７」に対応付けて高周波成分を有するチャンネルのチャンネルＩＤ「Ｇ」、並びに、ラインＩＤ「１」に対応付けて高周波画素データ位置「４」、および、高周波画素データ位置「４」に対応付けて高周波成分を有するチャンネルのチャンネルＩＤ「Ｂ」を欠陥候補位置取得部１２０に受け渡す。
【００４５】
続いてステップＳ１１０において、欠陥候補位置取得部１２０は、高周波画素データ位置「７」はＧチャンネルだけで高周波成分を有する位置であると判断し（Ｓ１１０：Ｙｅｓ）、高周波画素データ位置「７」を欠陥画素データ候補位置「７」として取得するとともに、欠陥画素データ候補位置「７」において高周波成分を有したチャンネルＩＤ「Ｇ」を取得する（Ｓ１１５）。同様に、欠陥候補位置取得部１２０は、欠陥画素データ候補位置「４」において高周波成分を有したチャンネルＩＤ「Ｂ」を取得する（Ｓ１１５）。
【００４６】
なお、ステップＳ１１０において、具体的には例えば、欠陥候補位置取得部１２０は、高周波画素データ位置を、図１０（ａ）から図１０（ｃ）に示す式を用いて取得する。例えば欠陥候補位置取得部１２０は、図８（ｂ）に示す例において、Ｇチャンネルの画素位置「７」の高周波値「１０７」、Ｇチャンネルの画素位置「７」の高周波値「２」、Ｂチャンネルの画素位置「７」の高周波値「０」を図１０（ｂ）に代入して、絶対値「１１２３５」を算出する。次に欠陥候補位置取得部１２０は、この絶対値「１１２３５」が、所定の値「例えば、９００」よりも大きいか否かを判断し、絶対値が所定の値よりも大きいと判断した場合、画素位置「７」を欠陥画素データ候補位置として取得する。なお、図１０において、ＲＤｎは画素位置ｎのＲチャンネルの上記絶対値を示し、ＲＦｎは画素位置ｎのＲチャンネルの高周波値を示す。ＧチャンネルおよびＢチャンネルについても同様である。これにより、簡便に、かつ、正確に、欠陥画素を探すことができる。
【００４７】
続いてステップＳ１２０において、欠陥候補位置取得部１２０は、欠陥画素データ候補位置「７」のＧチャンネルの画素値「２４０」と、隣接する他の画素位置「６」のＧチャンネルの画素値「８０」と、隣接する他の画素位置「８」のＧチャンネルの画素値「８０」とを比較した比較結果「大」を取得する（Ｓ１２０）。同様に、欠陥候補位置取得部１２０は、欠陥画素データ候補位置「４」のＢチャンネルの画素値「３０」と、隣接する他の画素位置「３」のＢチャンネルの画素値「１２５」と、隣接する他の画素位置「５」のＢチャンネルの画素値「１２５」とを比較した比較結果「小」を取得する（Ｓ１２０）。なお、高周波位置抽出部１１０が、ステップＳ１０５において比較を実施し、比較結果を欠陥候補位置取得部１２０に受け渡してもよい。なお、図６に示す、「Ｂ／小」等の記号は、Ｂチャンネルで高周波成分を有し、比較結果「小」である旨を示す。図６に示す２重線で囲んだ枠は、欠陥画素データ候補位置である旨を示す。
【００４８】
続いてステップＳ１２５において、ラインＩＤ「１」に対応付けて欠陥画素データ候補位置「７」およびチャンネルＩＤ「Ｇ」を、また、ラインＩＤ「１」、欠陥画素データ候補位置「７」およびチャンネルＩＤ「Ｇ」に対応付けてステップＳ１２０において取得した比較結果「大」を判断情報記憶部１５０に記憶し、ラインＩＤ「１」に対応付けて欠陥画素データ候補位置「４」およびチャンネルＩＤ「Ｂ」を、また、ラインＩＤ「１」、欠陥画素データ候補位置「４」およびチャンネルＩＤ「Ｂ」に対応付けてステップＳ１２０において取得した比較結果「小」を判断情報記憶部１５０に記憶する。例えば、画素データ取得部１００が図６に示すラインＣを取得することにより、ステップＳ１２５が３回繰り返された場合には、欠陥候補位置取得部１２０は、図３に示すラインＩＤ、欠陥画素データ候補位置、チャンネルＩＤ、および、比較結果を判断情報記憶部１５０に記憶する。
【００４９】
また、３回目のステップＳ１２５に続くステップＳ１３０において、欠陥画素決定部１３０は、図３に示すラインＩＤ「１」「２」「３」のそれぞれに対応付けて同一の欠陥画素データ候補位置「７」が記憶されていると判断し（Ｓ１３０：Ｙｅｓ）、続くステップＳ１３５において、ラインＩＤ「１」「２」「３」のそれぞれ、および、欠陥画素データ候補位置「７」に対応付けて同一のチャンネルＩＤ「Ｇ」が記憶されていると判断し（Ｓ１３５：Ｙｅｓ）、続くステップＳ１４０において、ラインＩＤ「１」「２」「３」のそれぞれ、欠陥画素データ候補位置「７」、および、チャンネルＩＤ「Ｇ」に対応付けて比較結果「大」が記憶されていると判断する（Ｓ１４０：Ｙｅｓ）。欠陥画素決定部１３０は、続くステップＳ１４５において、欠陥画素データ候補位置「７」の画素データを欠陥画素データに決定し（Ｓ１４５）、続くステップＳ１５０において、図４の上から３つに示すように、欠陥画素データ候補位置「７」に対応付けてラインＩＤ「１」「２」「３」を欠陥画素特定情報記憶部１６０に記憶する（Ｓ１５０）。
【００５０】
なお、１回目および２回目のステップＳ１２５に続くステップＳ１３０において、欠陥画素決定部１３０は、３つのラインＩＤが記憶されていないので、同一の欠陥画素データ候補位置が記憶されていないと判断する（Ｓ１３０：Ｎｏ）。
【００５１】
また、４回目のステップＳ１２５に続くステップＳ１３０において、欠陥画素決定部１３０は、図６から、ラインＩＤ「２」「３」「４」のそれぞれに対応付けて同一の欠陥画素データ候補位置「７」が記憶されていると判断し（Ｓ１３０：Ｙｅｓ）、続くステップＳ１３５において、ラインＩＤ「２」「３」「４」のそれぞれ、および、欠陥画素データ候補位置「７」に対応付けて同一のチャンネルＩＤ「Ｇ」が記憶されていると判断し（Ｓ１３５：Ｙｅｓ）、続くステップＳ１４０において、ラインＩＤ「２」「３」「４」のそれぞれ、欠陥画素データ候補位置「７」、および、チャンネルＩＤ「Ｇ」に対応付けて比較結果「大」が記憶されていると判断する（Ｓ１４０：Ｙｅｓ）。欠陥画素決定部１３０は、続くステップＳ１４５において、欠陥画素データ候補位置「７」の画素データを欠陥画素データに決定し（Ｓ１４５）、続くステップＳ１５０において、図４の上から４つ目に示すように、欠陥画素データ候補位置「７」に対応付けてラインＩＤ「４」を欠陥画素特定情報記憶部１６０に記憶する（Ｓ１５０）。なお、ステップＳ１５０において、欠陥画素決定部１３０は、欠陥画素データ候補位置「７」に対応付けてラインＩＤ「２」「３」を欠陥画素特定情報記憶部１６０に再度記憶してもよい（Ｓ１５０）。同様に、画素データ取得部１００が、図６に示すラインＨに含まれる８個の画素データを取得し（Ｓ１００：Ｙｅｓ）、８回目のステップＳ１５０が欠陥画素決定部１３０により実行されたときは、欠陥画素特定情報記憶部１６０は、図４に示す欠陥画素データ候補位置およびラインＩＤを記憶している（Ｓ１５０）。
【００５２】
ステップＳ１６０において、補正部１４０は、図４に示す欠陥画素データ候補位置およびラインＩＤが欠陥画素特定情報記憶部１６０に記憶されている場合には、図１１に示す画像において「補正済」と示す画素位置の画素データを欠陥画素データと特定し、ステップＳ１６５において、当該画素データを補正する。なお、補正部１４０は、一例として、補正すべき画素データが両端の場合は、主走査方向の隣の画素位置の画素値を代入し、両端でない画素位置の場合は、主走査方向の両隣の画素値の平均を代入することにより補正する。
【００５３】
なお、ステップＳ１５０において、欠陥画素決定部１３０が、欠陥画素データ候補位置およびラインＩＤに加えて、欠陥画素データ候補位置において高周波成分を有したチャンネルＩＤを欠陥画素特定情報記憶部１６０に記憶することにより、補正部１４０は、欠陥画素データのＲ、Ｇ、Ｂの全てのチャンネルの画素値を対象として上記補正することにかえて、画素データの高周波成分を有したチャンネルの画素値を対象として上記補正をしてもよい。
【００５４】
なお、図５に示すフローチャートにおいて、全ラインの画素データの読み込みが完了した後に（ステップＳ１００：Ｙｅｓ）、欠陥画素データを補正するが（ステップＳ１６５）、欠陥画素データを補正するタイミングはこれに限定されない。例えば、全ラインの画素データの読み込みが完了する前であっても、欠陥画素データが決定される都度（ステップＳ１４５）、欠陥画素データを補正してもよい。
【００５５】
以上、本実施例によれば、これにより、工場出荷時に欠陥のある受光素子を記憶することなく、読み取り時に適宜、補正することができる。特に、暗部において感度が不良な受光素子、および、原稿の読み取り途中で一時的に異常な電圧を出力した受光素子について、正常な電圧を出力していたときに対応する画素を補正の対象から除外し、かつ、異常な電圧を出力したときに対応する画素を補正の対象とすることができる。
【００５６】
なお、本実施例は、スキャナ２０が画素データ取得部１００、高周波位置抽出部１１０、欠陥候補位置取得部１２０、欠陥画素決定部１３０、補正部１４０、判断情報記憶部１５０、欠陥画素特定情報記憶部１６０および画像記憶部１７０を備えたが、これに限定されない。一例として、パーソナルコンピュータ１０が画素データ取得部１００、高周波位置抽出部１１０、欠陥候補位置取得部１２０、欠陥画素決定部１３０、補正部１４０、判断情報記憶部１５０、欠陥画素特定情報記憶部１６０および画像記憶部１７０を備えてもよい。パーソナルコンピュータ１０がこれらを備える場合には、画素データ取得部１００は、撮像動作毎に画素データを取得することにかえて、画像記憶部１７０に記憶された画像の画素データを取得する。
【００５７】
なお、本実施例は、読み取りの都度、欠陥画素候補位置を取得するが、以前の読み取りにおいて特定された欠陥画素位置を固定位置として記憶し、次回以降の読み取りにおいて補正してもよい。これにより、出荷後に永久的に異常となった受光素子に対応する画素を簡便に補正の対象とすることができる。なお、欠陥画素位置の固定位置は、例えば、複数の原稿の読み取りにおいて、所定の基準回数以上、欠陥画素候補位置となった場合に設定されてもよい。
【００５８】
また、上記実施形態はスキャナで読み取られた画像をパーソナルコンピュータで補正する例であるが、補正をする主体はこれに限られない。他の例として、画像を撮像するデジタルカメラにおいて上記補正を実行してもよい。
【００５９】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】スキャナ２０の一例を示す。
【図２】スキャナ２０のブロック図の一例を示す。
【図３】判断情報記憶部１５０に格納された情報の一例を示す。
【図４】欠陥画素特定情報記憶部１６０に格納された情報の一例を示す。
【図５】スキャナ２０の動作の一例を示すフローチャートである。
【図６】画素データ取得部１００により取得される画素データの一例を模式的に示す。
【図７】一の撮像動作で取得された画素データの各画素データの画素値を示す。
【図８】隣接する画素データに対する画素値の移動幅の一例を示す。
【図９】高周波値の算出式の一例を示す。
【図１０】欠陥画素データ候補位置の算出式の一例を示す。
【図１１】画像記憶部に格納された情報の一例を示す。
【符号の説明】
【００６１】
１０  パーソナルコンピュータ、１２  本体、１４  ディスプレイ、１６  キーボード、１８  マウス、２０  スキャナ、２２  本体、２４  ディスプレイ、２６  操作パネル、７０  記憶媒体、１００  画素データ取得部、１１０  高周波位置抽出部、１２０  欠陥候補位置取得部、１３０  欠陥画素決定部、１４０  補正部、１５０  判断情報記憶部、１６０  欠陥画素特定情報記憶部、１７０  画像記憶部
【図１】
2008160193.tif 000003
【図２】
2008160193.tif 000004
【図３】
2008160193.tif 000005
【図４】
2008160193.tif 000006
【図５】
2008160193.tif 000007
【図６】
2008160193.tif 000008
【図７】
2008160193.tif 000009
【図８】
2008160193.tif 000010
【図９】
2008160193.tif 000011
【図１０】
2008160193.tif 000012
【図１１】
2008160193.tif 000013