(57)【要約】【課題】光ディスク装置に対する光ディスクのオーバーライト特性等を工場出荷前段階で把握し、記録パワー値に応じた適切なεを設定する光ディスク装置を提供することを課題とする。【解決手段】ＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出する算出部と、記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じた記録パワーと消去パワーとの比であるεを割り当てた割当データを保持する割当データ保持部と、最適記録パワー値をキーとして割当データを検索しεを決定する決定部と、を有する光ディスク装置を提供する。【選択図】    図１
2008257817.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出する算出部と、
記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じた記録パワーと消去パワーとの比であるεを割り当てた割当データを保持する割当データ保持部と、
最適記録パワー値をキーとして割当データを検索しεを決定する決定部と、
を有する光ディスク装置。
【請求項２】
決定部は、
最適記録パワー値をキーとして割当データを検索して得た検索εと、算出部がＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出した際の当初εと、が異なる値である場合には、検索εを当初εとして採用して再度ＯＰＣ処理を実行して最適記録パワー値を算出させ新たな検索εを得て、得られた検索εが置き換えられた当初εと略等しくなるまで処理を繰返す繰返制御手段
を有する請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
割当データ保持部は、
光ディスクの種別毎に割当データを保持する割当データ種別毎保持手段
を有する請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
記録パワー値対オーバーライト寿命を複数のεに対して取得する特性取得部と、
記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じたεを割り当てた割当データを生成する割当データ生成部と、
生成した割当データを請求項１から３に記載の光ディスク装置の割当データ保持部に書込む割当データ書込部と、
を有する光ディスク装置の製造装置。
【請求項５】
記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じた記録パワーと消去パワーとの比であるεを割り当てた割当データを保持した光ディスク装置のεを決定して動作する光ディスク装置の動作方法であって、
ＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出する算出ステップと、
最適記録パワー値をキーとして前記保持されている割当データを検索しεを決定する決定ステップと、
を有する光ディスク装置の動作方法。
【請求項６】
決定ステップにて最適記録パワー値をキーとして割当データを検索して得た検索εと、算出ステップにてＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出した際の当初εと、が異なる値である場合には、検索εを当初εとして採用して再度ＯＰＣ処理を実行して最適記録パワー値を算出させ新たな検索εを得て、得られた検索εが置き換えられた当初εと略等しくなるまで処理を繰返す繰返制御ステップ
をさらに有する請求項５に記載の光ディスク装置の動作方法。
【請求項７】
記録パワー対オーバーライト寿命を複数のεに対して取得する特性取得ステップと、
記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じたεを割り当てた割当データを生成する割当データ生成ステップと、
生成した割当データを光ディスク装置に割当データとして書込む割当データ書込ステップと、
を有する光ディスク装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、書換え可能な光ディスクに対し情報を記録する光ディスク装置に関し、特に記録パワー値に応じてεを設定する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ−ＲＷ等の書換え可能な光ディスクは、光ディスクの同一箇所に上書き記録（オーバーライト）を数千回行ってもデータを良好に再生できることが求められる。
【０００３】
従来の光ディスク装置では最適な記録パワーと消去パワーを得るために、光ディスクへ本記録する直前にディスク内に存在するテスト記録領域にて記録パワー値と消去パワー値との比であるεを固定してテスト記録（ＯＰＣ処理；Optimum Power Calibration）を行う。そして、ＯＰＣ処理の結果、最適記録パワー値が算出される。このとき、εが定まっているので消去パワーも同時に決定される。
【０００４】
しかし、従来のＯＰＣ処理では、初期状態の再生ジッタやエラーレートが良好となるアシンメトリ（再生信号の非対称性）を指標にして最適記録パワー値を算出しており、光ディスクの種類によって異なる経時的なオーバーライト特性に関しては考慮されていなかった。従って、ＯＰＣ処理で得られた最適記録パワー値を利用してオーバーライト特性が悪い光ディスクを記録した場合には、再生品位が初期状態で良好であっても、その後、オーバーライト回数の増加に伴って著しく劣化してゆき、最終的に必要十分なオーバーライト回数を確保できない場合があった。また、ＯＰＣ処理で得られる最適記録パワー値は光ディスクとピックアップの特性等の影響によってばらつくことも多い。最適記録パワー値として過大な記録パワー値が算出されると消去パワーも過大となりオーバーライト耐久性が著しく劣化していた。
【０００５】
上記の対応策として、ＯＰＣ処理で得られた最適記録パワー値が過大になった場合に、ε（ここでは、記録パワーに対する消去パワーの比である）を小さく設定することで、記録パワーと消去パワーの合計パワーを抑え、光ディスクのオーバーライト耐久性を向上させる発明が特許文献１により提案されている。
【特許文献１】特開２００２−２３７０４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、記録パワー値の増加に伴ってεを小さく設定する際に、記録パワー値に対してεを具体的にどのように設定すればオーバーライト耐久性が最適になるかというεの設定方法に関しては言及されていない。
【０００７】
本件発明はこの状況に鑑みてなされたものであり、光ディスク装置に対する光ディスクのオーバーライト特性等を事前に把握し、記録パワー値に応じた適切なεを設定する光ディスク装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
そこで本発明においては、以下の構成により、記録パワー値に応じてεを設定する光ディスク装置及びその動作方法、光ディスク装置の製造装置及び製造方法を提案する。
【０００９】
第一の発明は、ＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出する算出部と、記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じた記録パワーと消去パワーとの比であるεを割り当てた割当データを保持する割当データ保持部と、最適記録パワー値をキーとして割当データを検索しεを決定する決定部と、を有する光ディスク装置である。
【００１０】
第二の発明は、決定部は、最適記録パワー値をキーとして割当データを検索して得た検索εと、算出部がＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出した際の当初εと、が異なる値である場合には、検索εを当初εとして採用して再度ＯＰＣ処理を実行して最適記録パワー値を算出させ新たな検索εを得て、得られた検索εが置き換えられた当初εと略等しくなるまで処理を繰返す繰返制御手段を有する第一の発明に記載の光ディスク装置である。
【００１１】
第三の発明は、割当データ保持部は、光ディスクの種別毎に割当データを保持する割当データ種別毎保持手段を有する第一の発明又は第二の発明に記載の光ディスク装置である。
【００１２】
第四の発明は、記録パワー値対オーバーライト寿命を複数のεに対して取得する特性取得部と、記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じたεを割り当てた割当データを生成する割当データ生成部と、生成した割当データを第一の発明から第三の発明に記載の光ディスク装置の割当データ保持部に書込む割当データ書込部と、を有する光ディスク装置の製造装置である。
【００１３】
第五の発明は、記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じた記録パワーと消去パワーとの比であるεを割り当てた割当データを保持した光ディスク装置のεを決定して動作する光ディスク装置の動作方法であって、ＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出する算出ステップと、最適記録パワー値をキーとして前記保持されている割当データを検索しεを決定する決定ステップと、を有する光ディスク装置の動作方法である。
【００１４】
第六の発明は、決定ステップにて最適記録パワー値をキーとして割当データを検索して得た検索εと、算出ステップにてＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出した際の当初εと、が異なる値である場合には、検索εを当初εとして採用して再度ＯＰＣ処理を実行して最適記録パワー値を算出させ新たな検索εを得て、得られた検索εが置き換えられた当初εと略等しくなるまで処理を繰返す繰返制御ステップをさらに有する第五の発明に記載の光ディスク装置の動作方法である。
【００１５】
第七の発明は、記録パワー対オーバーライト寿命を複数のεに対して取得する特性取得ステップと、記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じたεを割り当てた割当データを生成する割当データ生成ステップと、生成した割当データを光ディスク装置に割当データとして書込む割当データ書込ステップと、を有する光ディスク装置の製造方法である。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の光ディスク装置及びその動作方法によれば、工場出荷前段階で測定した光ディスクのオーバーライト特性等のデータに基づいて記録パワー値に適したεを予め割り当てておくため、ＯＰＣ処理で得られた最適記録パワー値に応じたεを設定することができ、適切な消去パワー値を設定することが可能である。つまり、オーバーライト寿命を延ばすために、現在利用すべきεの設定が可能である。そのため、光ディスクのオーバーライト耐久性を著しく劣化させることなく、常に良好な記録品位を保つことができる。
【００１７】
また、本発明の光ディスク装置の製造装置及び製造方法によれば、工場出荷前段階で測定した光ディスクのオーバーライト特性等のデータに基づいて記録パワー値に適したεを予め割り当てておくため、ＯＰＣ処理で得られた最適記録パワー値に応じたεを設定することができ、適切な消去パワー値を設定する光ディスク装置を製造することが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下に各発明を実施するための最良の形態を説明する。なお、本発明はこれら実施形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施しうる。なお、以下の実施形態と請求項の関係は次の通りである。実施形態１は、主に請求項１、５などについて説明する。実施形態２は、主に請求項２、６などについて説明する。実施形態３は、主に請求項３などについて説明する。実施形態４は、主に請求項４、７などについて説明する。
<<実施形態１>>
【００１９】
<実施形態１：概要>本実施形態は、ＤＶＤ−ＲＷ等の書換え可能な光ディスクに対してオーバーライトを行う際に、事前に測定した光ディスクのオーバーライト特性等のデータに基づいて記録パワー値に適したε（記録パワーと消去パワーとの比）を設定する光ディスク装置及びその動作方法について説明する。
【００２０】
<実施形態１：光ディスク装置>図１は、本実施形態に係る光ディスク装置全体の概念図である。光ディスク装置において光ディスク（０１０１）へデータを記録及び再生する際には、スピンドルモータ（０１０３）が回転することで光ディスクを安定に回転させ、光ピックアップ（０１０２）からレーザ光が出力される。記録の際には、フォーカス制御機構（０１１１）やトラッキング制御機構（０１１２）により、ピックアップのフォーカシングやトラッキングといった光スポットの位置制御が行われる。また、再生の際には、光ピックアップ（０１０２）から出力されたレーザ光が、光ディスク（０１０１）で反射され、光ピックアップ（０１０２）に戻り、光ピックアップ内の光ディテクタによって取り込まれる。光ディテクタによって取り込まれた光は、ヘッドアンプ（０１０４）により演算増幅され、サーボ検出機構（０１０５）やＲＦ検出機構（０１０６）により検出が行われる。サーボ検出機構とフォーカス制御機構のフォーカスサーボ回路により焦点制御が行われフォーカスサーボがかかる。また、サーボ検出機構で検出されたトラッキング誤差信号とサーボ検出機構とトラッキング制御機構のトラッキングサーボ回路により、トラッキングサーボがかかる。また、ＲＦ検出機構により検出されたＲＦ信号はデコーダ（０１０８）により二値化され、コントローラ（０１０９）を介して再生信号データとして上位装置に出力される。
【００２１】
オーバーライトを行う際には、まず、予め光ディスク中のディスク管理領域に記述されているεを利用してＯＰＣ処理が実行される。このときＲＦ検出機構によりＲＦ信号が検出され、検出されたＲＦ信号が信号処理機構（０１０７）に出力され、アシンメトリ値等の特性値が算出される。そして算出された特性値がコントローラ（０１０９）に出力される。コントローラは特性値に基づいて最適記録パワー値を算出する。そして、決定された最適記録パワー値に対応するεが検索され、最適記録パワー値とεを乗じる、あるいは、最適記録パワー値をεで除することにより、消去パワー値が決定される。決定された最適記録パワー値及び消去パワー値は記憶領域（０１１３）に記憶される。
【００２２】
そしてコントローラは、記憶領域に記憶された最適記録パワー値及び消去パワー値をドライバー（０１１０）に出力し、記録を行う際に光ピックアップが出力するレーザ光のパワーの設定を行う。
【００２３】
本実施形態における特徴的な機能をより詳細に説明するために、機能ブロック図を図２に示した。本実施形態に係る光ディスク装置は、「算出部」（０２０１）と、「割当データ保持部」（０２０２）と、「決定部」（０２０３）と、を有する。
【００２４】
なお、以下に詳述する本発明の構成要素である各部は、ハードウェア、ソフトウェア、ハードウェアとソフトウェアの両方のいずれかによって構成される。例えば、これらを実現する一例として、コンピュータを利用する場合には、ＣＰＵ、バス、メモリ、インタフェース、周辺装置などで構成されるハードウェアと、それらハードウェア上で実行可能なソフトウェアがある。ソフトウェアとしては、メモリ上に展開されたプログラムを順次実行することで、メモリ上のデータや、インタフェースを介して入力されるデータの加工、保存、出力などにより各部の機能が実現される。さらに具体的には、図１２は一般的なコンピュータの構成を例示する図でありコンピュータが主にＣＰＵ（１２１０）、ＲＡＭ（１２２０）、ＲＯＭ（１２３０）、入出力インタフェース（Ｉ／Ｏ）（１２４０）、ハードディスク（ＨＤＤ）（１２５０）、等から構成されており、それらがシステムバス（１２６０）等のデータ通信経路によって相互に接続され、情報の送受信や処理を行う。本実施形態に係る光ディスク装置の「算出部」（０２０１）、「割当データ保持部」（０２０２）、「決定部」（０２０３）の一部又は全部は図１２と同様の構成にて実現可能である。（明細書の全体を通じて同様である。）
【００２５】
また、ＲＡＭ（１２２０）は、各種処理を行うプログラムをＣＰＵに実行させるために読み出すと同時にそのプログラムのワーク領域を提供する。光ディスク装置を起動させるとＨＤＤ（１２５０）等の記憶装置に保持されている各種プログラムがＲＡＭ（１２２０）に展開される。また、このＲＡＭ（１２２０）やＲＯＭ（１２３０）にはそれぞれ複数のメモリアドレスが割り当てられており、ＣＰＵ（１２１０）で実行されるプログラムは、そのメモリアドレスを特定しアクセスすることで相互にデータのやり取りを行い、処理を行うことが可能になっている。各部におけるコンピュータ処理の流れは、各部の説明の中に記載する。
【００２６】
「算出部」（０２０１）は、ＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出する機能を有する。ＯＰＣ処理は、予め光ディスク中のディスク管理領域に記述されている当初εを利用して実行される。そして、ＯＰＣ処理により最適記録パワー値が算出される。コンピュータ処理の流れとしては、ＣＰＵ（１２１０）がＲＡＭ（１２２０）のワーク領域にて算出プログラムを実行する。そして、算出した最適記録パワー値をＲＡＭ（１２２０）の記憶データ領域に格納、保持する。
【００２７】
「割当データ保持部」（０２０２）は、記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じた記録パワーと消去パワーとの比であるεを割り当てた割当データを保持する機能を有する。記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値とは、事前に測定した光ディスクのオーバーライト特性等のデータに基づいて決定される。事前に測定した光ディスクのオーバーライト特性等のデータとは、図３に示したようなデータであり、これは記録パワー値対オーバーライト寿命、ジッタの関係を示したものである。また、図３（１）はε＝０．５のときの測定結果であり、（２）はε＝０．４のときの測定結果である。なお、図３のεは記録パワーに対する消去パワーの比であり、１以下の数値となる（以下、明細書の全体を通じて同様である）。
【００２８】
図３中のＡはオーバーライト回数を表している。例えば、図３（１）のεが０．５の場合においては、記録パワー値が１２ｍＷで１０００回のオーバーライトを行うことが可能である。また、記録パワーが値１４ｍＷの場合には、２０００回以上のオーバーライトを行うことが可能である。なお、図３に示したグラフはオーバーライト回数の測定上限を２０００回としている。さらに、記録パワー値が１５ｍＷよりも大きくなると記録パワー値の増大に伴ってオーバーライト寿命が短くなっていくのが分かる。次に、図３中のＢは初期ジッタを表している。例えば、図３（１）において記録パワー値が１０ｍＷのときの初期ジッタは２０％である。図３中には示していないが、初期エラーレートも測定しておくことが望ましい。予め、これらのデータを測定しておき、初期ジッタ及び初期エラーレートを共に満足できるεを設定する。最後に、図３中のＣはＯＰＣ分布を表している。これは、ＯＰＣ処理を繰返した際に算出される最適記録パワー値の分布領域及び発生頻度を示したものである。
【００２９】
オーバーライト特性等のデータに基づいた、記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値とは、図３（１）では、１３ｍＷと１５ｍＷである。まず、ＯＰＣ処理の結果１３ｍＷ未満の記録パワーを選択した場合について説明する。記録パワー値として１２ｍＷを採用したときに、εとして０．５を利用すると、記録パワー値として１３ｍＷを採用したときと比較してオーバーライト寿命が著しく低下することが分かる。また、１１ｍＷ以下の記録パワーでは、記録が一回もできないことが分かる。次に、ＯＰＣ処理の結果１５ｍＷよりも大きい記録パワーを選択した場合について説明する。記録パワー値が１５ｍＷよりも大きくなると、記録パワーとして１５ｍＷを採用していたときと比較してオーバーライト寿命が著しく低下することが分かる。つまり、記録パワー値として１３ｍＷ以上１５ｍＷまでの値を採用するときはεとして０．５を利用することが望ましい。
【００３０】
また、図３（２）の場合において、記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値とは、１５ｍＷと１８ｍＷである。先述の考察と同様にして、記録パワー値として１５ｍＷ以上１８ｍＷまでの値を採用するときはεとして０．４を利用することが望ましい。
【００３１】
具体例をあげて説明すると、記録パワー値として１７ｍＷを採用するときには、εとして０．５を利用するとオーバーライト寿命が６００回程度であるが、εとして０．４を利用するとオーバーライト寿命が２０００回以上であることが分かる。ゆえに、εとして０．４を利用した方が、オーバーライト寿命が長くなることが分かる。
【００３２】
これらの事前測定データに基づいて、初期ジッタ及び初期エラーレートが満足でき、かつ十分なオーバーライト回数が期待できるεを記録パワー値に対して設定する。このようにして、設定された割当データは図４のようになり、光ディスク装置のＲＯＭ等のファームウェア中に保持される。
【００３３】
「決定部」（０２０３）は、算出部により算出された最適記録パワー値をキーとして割当データを検索しεを決定する機能を有する。例えば、算出部により算出された最適記録パワー値が１７ｍＷであったときには、εとして０．４が選択される。なお、決定部によるεの設定は、ＯＰＣ処理により最適記録パワー値が算出される度に実行される。コンピュータ処理の流れとしては、ＣＰＵ（１２１０）がＲＡＭ（１２２０）のワーク領域にて決定プログラムを実行する。これにより、ＲＯＭ等のファームウェア中に保持されている割当データから最適記録パワー値をキーとして適切なεを検索し、εを決定する。そして、決定されたεをＲＡＭ（１２２０）の記憶データ領域に格納、保持する。
【００３４】
<実施形態１：処理の流れ>図５は、本実施形態に係る光ディスク装置の動作方法における処理の流れを示すフロー図である。最初に、ステップＳ０５０１においてＯＰＣ処理を実行する。この処理は、主に算出部によって実行される。次にステップＳ０５０２において、最適記録パワー値を算出する。この処理は、主に算出部によって実行される。次にステップＳ０５０３において、算出部により算出された最適記録パワー値をキーとして割当データを検索し、εを決定する。この処理は、主に決定部によって実行される。
【００３５】
なお、図５のフロー図は、計算機に実行させるプログラムの処理フロー図とみなすことも可能である。さらに、このようなプログラムをＣＤやＩＣメモリ等の媒体に記録することも可能である。（明細書の全体を通じて同様である。）
【００３６】
<実施形態１：効果>本実施形態の光ディスク装置及びその動作方法によれば、工場出荷前段階で測定した光ディスクのオーバーライト特性等のデータに基づいて記録パワー値に適したεを予め割り当てておくため、ＯＰＣ処理で得られた最適記録パワー値に応じたεを設定することができ、適切な消去パワー値を設定することが可能である。つまり、オーバーライト寿命を延ばすために、現在利用すべきεの設定が可能である。そのため、光ディスクのオーバーライト耐久性を著しく劣化させることなく、常に良好な記録品位を保つことができる。
<<実施形態２>>
【００３７】
<実施形態２：概要>本実施形態は、実施形態１を基本とし、最適記録パワー値をキーとして割当データを検索して得た検索εと、算出部がＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出した際の当初εと、が異なる値である場合には、検索εを当初εとして採用して再度ＯＰＣ処理を実行し、最適記録パワー値を算出する光ディスク装置及びその動作方法について説明する。
【００３８】
<実施形態２：光ディスク装置>本実施形態に係る光ディスク装置全体の概念図は図１と同様であるので説明は省略する。本実施形態における特徴的な機能をより詳細に説明するために、機能ブロック図を図６に示した。本実施形態に係る光ディスク装置は、「算出部」（０６０１）と、「割当データ保持部」（０６０２）と、「決定部」（０６０３）と、「繰返制御手段」（０６０４）と、を有する。
【００３９】
「割当データ保持部」（０６０２）と、「決定部」（０６０３）と、は実施形態１と同様であるので、詳細な説明は省略する。
【００４０】
「算出部」（０６０１）は、ＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出する機能を有する。ＯＰＣ処理は、予め光ディスク中のディスク管理領域に記述されている当初εを利用して実行される。コンピュータ処理の流れとしては、ＣＰＵ（１２１０）がＲＡＭ（１２２０）のワーク領域にて算出プログラムを実行する。そして、算出した最適記録パワー値をＲＡＭ（１２２０）の記憶データ領域に格納、保持する。
【００４１】
「決定部」（０６０３）は、「繰返制御手段」（０６０４）を有する。「繰返制御手段」（０６０４）は、最適記録パワー値をキーとして割当データを検索して得た検索εと、算出部がＯＰＣ処理により最適記録パワー値を算出した際の当初εと、が異なる値である場合には、検索εを当初εとして採用して再度ＯＰＣ処理を実行して最適記録パワー値を算出させ新たな検索εを得て、得られた検索εが置き換えられた当初εと略等しくなるまで処理を繰返す機能を有する。ここで、略等しいとは、予め定められた範囲内に値が収まることをいう。
【００４２】
εが変更されると、最適記録パワー値も変わる可能性があり、当初εを利用して算出された最適記録パワー値が最適値でなくなる可能性があるあるため、検索εを利用して再度ＯＰＣ処理を実行する。また、この処理は、当初εと検索εとが略等しくなるまで繰返される。コンピュータ処理の流れとしては、ＣＰＵ（１２１０）が当初ε及び検索εをＲＡＭ（１２２０）のデータ領域に読み込み、繰返制御プログラムを実行する。これにより得られた検索εをＲＡＭ（１２２０）の記憶データ領域に格納、保持する。
【００４３】
<実施形態２：処理の流れ>図７は、本実施形態に係る光ディスク装置の動作方法における処理の流れを示すフロー図である。最初に、ステップＳ０７０１において当初εを利用してＯＰＣ処理を実行する。この処理は、主に算出部によって実行される。次にステップＳ０７０２において、最適記録パワー値を算出する。この処理は、主に算出部によって実行される。次にステップＳ０７０３において、取得された最適記録パワー値をキーとして割当データを検索し、検索εを決定する。この処理は、主に決定部によって実行される。
次にステップＳ０７０４において当初εと検索εとが等しいかを判断する。この処理は、主に決定部が有する繰返制御手段によって実行される。ここでの判断が当初εと検索εとが略等しくないとの判断であった場合には、ステップＳ０７０５にて検索εを当初εとして採用し、ステップＳ０７０１に戻る。この処理は、主に決定部が有する繰返制御手段によって実行される。そして、ステップＳ０７０４にて当初εと検索εとが等しいと判断されるまで繰返される。また、ステップＳ０７０４にて当初εと検索εとが等しいと判断された場合には、検索εを利用して実記録を行う。
【００４４】
<実施形態２：効果>本実施形態の光ディスク装置及びその動作方法によれば、工場出荷前段階で測定した光ディスクのオーバーライト特性等のデータに基づいて記録パワー値に適したεを予め割り当てておくため、ＯＰＣ処理で得られた最適記録パワー値に応じたεを設定することができ、適切な消去パワー値を設定することが可能である。つまり、オーバーライト寿命を延ばすために、現在利用すべきεの設定が可能である。そのため、光ディスクのオーバーライト耐久性を著しく劣化させることなく、常に良好な記録品位を保つことができる。また、検索εとして当初εとは異なる値が選択された場合には検索εを利用してＯＰＣ処理を繰返実行するため、実記録の際のεと記録パワー値の関係が適切に設定される。
<<実施形態３>>
【００４５】
<実施形態３：概要>本実施形態は、実施形態１又は２を基本とし、記録パワー値に応じたεを割り当てた割当データを光ディスクの種別毎に保持する光ディスク装置及びその動作方法について説明する。
【００４６】
<実施形態３：光ディスク装置>本実施形態に係る光ディスク装置全体の概念図は図１と同様であるので説明は省略する。本実施形態における特徴的な機能をより詳細に説明するために、機能ブロック図を図８に示した。本実施形態に係る光ディスク装置は、「算出部」（０８０１）と、「割当データ保持部」（０８０２）と、「決定部」（０８０３）と、「割当データ種別毎保持手段」（０８０４）と、を有する。
【００４７】
「算出部」（０８０１）と、「割当データ保持部」（０８０２）と、は実施形態１又は２と同様であるので、詳細な説明は省略する。
【００４８】
「割当データ保持部」（０８０２）は、「割当データ種別毎保持手段」（０８０４）を有する。「割当データ種別毎保持手段」（０８０４）は、光ディスクの種別毎に割当データを保持する機能を有する。光ディスクの種別毎にそのオーバーライト特性が異なるため、光ディスクの種別毎に割当データを保持する。コンピュータ処理の流れとしては、ＲＯＭ等のファームウェア中に保持されている割当データに記録パワー値に対応するεが光ディスクの種別毎に保持されている。
【００４９】
「決定部」（０８０３）は、光ディスクの種別と算出部により算出された最適記録パワー値をキーとして割当データを検索しεを決定する機能を有する。光ディスクの種別は、光ディスクのディスク管理領域から読取ることが可能である。オーバーライト特性は光ディスクの種別によって大きく異なるものであり、光ディスクの種別を識別することで個々の光ディスクのオーバーライト特性を考慮したεを設定することが可能である。なお、光ディスクの種別が読取れない場合に備えて、平均的な光ディスクに対する割当データを別途用意しておくことが望ましい。コンピュータ処理の流れとしては、ＣＰＵ（１２１０）がＲＡＭ（１２２０）のワーク領域にて決定プログラムを実行する。これにより、ＲＯＭ等のファームウェア中に保持されている割当データから光ディスクの種別及び最適記録パワー値をキーとして適切なεを検索し、εを決定する。そして、決定されたεをＲＡＭ（１２２０）の記憶データ領域に格納、保持する。
【００５０】
<実施形態３：処理の流れ>図９は、本実施形態に係る光ディスク装置の動作方法における処理の流れを示すフロー図である。最初に、ステップＳ０９０１にて光ディスクの種類を取得する。次にステップＳ０９０２においてＯＰＣ処理を実行する。この処理は、主に算出部によって実行される。次にステップＳ０９０３において、最適記録パワー値を算出する。この処理は、主に算出部によって実行される。なお、ステップＳ０９０１はステップＳ０９０３の後に実行されても良い。次にステップＳ０９０４において、光ディスクの種別と算出部により算出された最適記録パワー値をキーとして割当データを検索し、εを決定する。この処理は、主に決定部によって実行される。
【００５１】
<実施形態３：効果>本実施形態の光ディスク装置及びその動作方法によれば、工場出荷前段階で測定した各種光ディスク固有のオーバーライト特性等のデータに基づいて記録パワー値に適したεを予め割り当てておくため、ＯＰＣ処理で得られた最適記録パワー値に応じたεを設定することができ、適切な消去パワー値を設定することが可能である。つまり、オーバーライト寿命を延ばすために、現在利用すべきεの設定が可能である。そのため、光ディスクのオーバーライト耐久性を著しく劣化させることなく、常に良好な記録品位を保つことができる。
<<実施形態４>>
【００５２】
<実施形態４：概要>本実施形態は、実施形態１から３に記載の光ディスク装置を製造する製造装置及び製造方法について説明する。
【００５３】
<実施形態４：光ディスク装置の製造装置>本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置の機能ブロック図を図１０に示した。本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置は、「特性取得部」（１００１）と、「割当データ生成部」（１００２）と、「割当データ書込部」（１００３）と、を有する。また、本実施形態に係る光ディスク装置は、「割当データ保持部」（１００４）を有する。本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置及び光ディスク装置の「特性取得部」（１００１）、「割当データ生成部」（１００２）、「割当データ書込部」（１００３）、「割当データ保持部」（１００４）の一部又は全部は図１２と同様の構成にて実現可能である。（明細書の全体を通じて同様である。）また、「割当データ保持部」（１００４）は実施形態１乃至３と同様であるので、詳細な説明は省略する。
【００５４】
「特性取得部」（１００１）は、記録パワー値対オーバーライト寿命を複数のεに対して取得する機能を有する。図３に示したような記録パワー値対オーバーライト寿命、ジッタの関係を複数のεに対して測定する。この測定は代表装置を用いて行われる。また、この測定は光ディスク装置にセットされることが予想される全ての各種光ディスクに対して行われても良い。コンピュータ処理の流れとしては、ＣＰＵ（１２１０）がＲＡＭ（１２２０）のワーク領域にて特性取得プログラムを実行する。そして、取得した各εに対する記録パワー値対オーバーライト寿命特性をＲＡＭ（１２２０）の記憶データ領域に格納、保持する。
【００５５】
「割当データ生成部」（１００２）は、記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値を境界として記録パワー値に応じたεを割り当てた割当データを生成する機能を有する。記録パワー値に応じてオーバーライト寿命が劣化する予め定められた閾値とは、図３（１）においては１３ｍＷ、１５ｍＷであり、図３（２）においては１５ｍＷ、１８ｍＷである。図３の測定データに基づいて生成される割当データは図４のようになる。ＯＰＣ処理により算出された最適記録パワー値が、予め定められたオーバーライト回数を達成できる記録パワーの範囲外である場合には、よりオーバーライト寿命が延びるようなεを設定するように割当データが構成されている。なお、閾値としてどの値を利用するかは設計思想上の問題であり、確保したいオーバーライト寿命などのパラメータに応じて適宜定められる。
【００５６】
割当データに採用されるεには特性取得部によって取得された測定データに基づいて、初期ジッタ値及び初期エラーレートが満足でき、かつ十分なオーバーライト回数が期待できるものが設定される。コンピュータ処理の流れとしては、ＣＰＵ（１２１０）がＲＡＭ（１２２０）のワーク領域にて割当データ生成プログラムを実行する。生成された割当データをＲＡＭ（１２２０）の記憶データ領域に格納、保持する。
【００５７】
「割当データ書込部」（１００３）は、生成した割当データを光ディスク装置の割当データ保持部に書込む機能を有する。割当データ生成部によって生成された割当データは、個々の光ディスク装置の割当データ保持部（１００４）に書込まれる。コンピュータ処理の流れとしては、ＣＰＵ（１２１０）がＲＡＭ（１２２０）のワーク領域にて割当データ書込プログラムを実行する。これにより、割当データが光ディスク装置のＲＯＭ等のファームウェア中に格納、保持される。
【００５８】
<実施形態４：処理の流れ>図１１は、本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法における処理の流れを示すフロー図である。最初に、ステップＳ１１０１において複数のεに対する記録パワー値対オーバーライト寿命特性を取得する。この処理は、主に特性取得部によって実行される。次に、ステップＳ１１０２において割当データを生成する。この処理は、主に割当データ生成部によって実行される。次にステップＳ１１０３において生成された割当データを光ディスク装置の割当データ保持部に書込む。この処理は、主に割当データ書込部によって実行する。
【００５９】
<実施形態４：効果>本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置及び製造方法によれば、工場出荷前段階で測定した光ディスクのオーバーライト特性等のデータに基づいて記録パワー値に適したεを予め割り当てておくため、ＯＰＣ処理で得られた最適記録パワー値に応じたεを設定することができ、適切な消去パワー値を設定する光ディスク装置を製造することが可能である。本実施形態により製造された光ディスク装置は、オーバーライト寿命を延ばすために、現在利用すべきεの設定が可能である。そのため、光ディスクのオーバーライト耐久性を著しく劣化させることなく、常に良好な記録品位を保つことができる。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】実施形態１に係る光ディスク装置全体の概念図
【図２】実施形態１に係る機能ブロック図
【図３】記録パワー対オーバーライト寿命、ジッタの関係を示すグラフ
【図４】割当データの一例
【図５】実施形態１に係る処理フロー図
【図６】実施形態２に係る機能ブロック図
【図７】実施形態２に係る処理フロー図
【図８】実施形態３に係る機能ブロック図
【図９】実施形態３に係る処理フロー図
【図１０】実施形態４に係る機能ブロック図
【図１１】実施形態４に係る処理フロー図
【図１２】一般的なコンピュータの構成の一例図
【符号の説明】
【００６１】
０１０１  光ディスク
０１０２  光ピックアップ
０１０３  スピンドルモータ
０１０４  ヘッドアンプ
０１０５  サーボ検出機構
０１０６  ＲＦ検出機構
０１０７  信号処理機構
０１０８  デコーダ
０１０９  コントローラ
０１１０  ドライバー
０１１１  フォーカス制御機構
０１１２  トラッキング制御機構
０１１３  記憶領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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