(57)【要約】【課題】動作時の信頼性を高めることが可能な光ディスク装置を提供する。【解決手段】オフセット量特定回路７１は、電圧Ｖ１の最大値（Ｖｆｏ＿ｍａｘ）においてジッタ量が最小となるオフセット量Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍａｘと、電圧Ｖ１の最小値（Ｖｆｏ＿ｍｉｎ）においてジッタ量が最小となるオフセット量Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎとを特定する。そしてこれらの値に基づいてオフセット量供給回路７３はオフセット量Ｔｅｏｆｓｔを決定して、トラッキングサーボ回路６１にオフセット量Ｔｅｏｆｓｔを与える。これによりトラッキングサーボ回路６１は常に再生信号のジッタ量が最小となるようにトラッキング制御を行なうことができる。【選択図】図１
2008097719.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの信号記録面に対してレーザ光を照射する光源と、
前記レーザ光を集光する対物レンズと、
第１および第２の制御電圧を受けて、前記対物レンズを前記レーザ光の光軸方向、および、前記レーザ光の光軸方向と垂直方向にそれぞれ移動させる対物レンズ駆動装置と、
前記信号記録面で前記レーザ光が反射して生じた反射光に基づいて、フォーカスエラー信号と、トラッキングエラー信号とを出力するとともに、前記反射光に基づいて前記信号記録面に記録された情報を含む再生信号を生成して、前記再生信号に含まれるジッタ量を検出して出力する信号処理部と、
前記フォーカスエラー信号に基づいて前記第１の制御電圧を変化させるフォーカス制御回路と、
前記トラッキングエラー信号とオフセット量とに基づいて、前記第２の制御電圧を変化させるトラッキング制御回路と、
前記第１の制御電圧の変化に基づいて、前記光ディスクの半径方向に前記光ディスクが傾いていることを検出する検出回路と、
前記検出回路の検出結果を受けた場合に、前記第１の制御電圧と前記ジッタ量とに基づいて前記オフセット量を変化させて、前記第１の制御電圧の最大値において前記ジッタ量が最小となる第１のオフセット量と、前記第１の制御電圧の最小値において前記ジッタ量が最小となる第２のオフセット量とを特定するオフセット量特定回路と、
前記第１および第２のオフセット量に基づいて、前記第１の制御電圧と前記オフセット量とを対応付ける関数を定め、前記フォーカス制御回路から取得した前記第１の制御電圧の値を前記関数に代入して前記オフセット量を算出し、算出した前記オフセット量を前記トラッキング制御回路に供給するオフセット量供給回路とを備える、光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクの信号記録面に対してレーザ光を照射する光源と、
前記レーザ光を集光する対物レンズと、
制御電圧を受けて、前記対物レンズを前記レーザ光の光軸方向に移動させる対物レンズ駆動装置と、
前記信号記録面で前記レーザ光が反射して生じた反射光に基づいて、フォーカスエラー信号を出力するとともに、前記反射光に基づいて前記信号記録面に記録された情報を含む再生信号を生成して、前記再生信号に含まれるジッタ量を検出して出力する信号処理部と、
前記フォーカスエラー信号とオフセット量とに基づいて前記制御電圧を変化させるフォーカス制御回路と、
前記制御電圧の変化に基づいて、前記光ディスクの半径方向に前記光ディスクが傾いていることを検出する検出回路と、
前記検出回路の検出結果を受けた場合に、前記制御電圧と前記ジッタ量とに基づいて前記オフセット量を変化させて、前記制御電圧の最大値において前記ジッタ量が最小となる第１のオフセット量と、前記制御電圧の最小値において前記ジッタ量が最小となる第２のオフセット量とを特定するオフセット量特定回路と、
前記フォーカス制御回路からの前記制御電圧と、前記制御電圧の最大値および最小値と、前記第１および第２のオフセット量とに基づいて決定した値を前記オフセット量として前記フォーカス制御回路に与えるオフセット量供給回路とを備える、光ディスク装置。
【請求項３】
光ディスクの信号記録面に対してレーザ光を照射する光源と、
前記レーザ光を集光する対物レンズと、
第１および第２の制御電圧を受けて、前記対物レンズを前記レーザ光の光軸方向、および、前記レーザ光の光軸方向と垂直方向にそれぞれ移動させる対物レンズ駆動装置と、
前記信号記録面で前記レーザ光が反射して生じた反射光に基づいて、フォーカスエラー信号と、トラッキングエラー信号とを出力する信号処理部と、
前記フォーカスエラー信号に基づいて前記第１の制御電圧を変化させるフォーカス制御回路と、
前記第１の制御電圧に基づいて前記光ディスクの傾きの有無を判定し、前記光ディスクが傾いていることを検出すると、前記第１の制御電圧に基づいて前記光ディスクの傾きに伴う前記トラッキングエラー信号のオフセット量を算出して、算出した前記オフセット量を出力するオフセット出力回路と、
前記トラッキングエラー信号と前記オフセット量とに基づいて、前記第２の制御電圧を変化させるトラッキング制御回路とを備える、光ディスク装置。
【請求項４】
前記信号処理部は、前記反射光に基づいて、前記信号記録面に記録された情報を含む再生信号を生成して、前記再生信号に含まれるジッタ量を検出して出力し、
前記オフセット出力回路は、
前記第１の制御電圧と前記ジッタ量とに基づいて前記オフセット量を変化させて、前記第１の制御電圧の所定の第１および第２の電圧値において、前記ジッタ量をそれぞれ最小とする第１および第２のオフセット量を特定するオフセット量特定回路と、
前記第１および第２のオフセット量に基づいて、前記第１の制御電圧と前記オフセット量とを対応付ける関数を定め、前記フォーカス制御回路から取得した前記第１の制御電圧の値を前記関数に代入して、前記オフセット量を算出するオフセット量算出回路とを含む、請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記所定の第１および第２の電圧値は、それぞれ前記第１の制御電圧の最大値および最小値である、請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクの信号記録面に対してレーザ光を照射する光源と、
前記レーザ光を集光する対物レンズと、
制御電圧を受けて、前記対物レンズを前記レーザ光の光軸方向に移動させる対物レンズ駆動装置と、
前記信号記録面で前記レーザ光が反射して生じた反射光に基づいて、フォーカスエラー信号を出力する信号処理部と、
前記制御電圧に基づいて前記光ディスクの傾きの有無を判定し、前記光ディスクが傾いていることを検出すると、前記制御電圧に基づいて前記光ディスクの傾きに伴う前記フォーカスエラー信号のオフセット量を算出して、算出した前記オフセット量を出力するオフセット出力回路と、
前記フォーカスエラー信号とオフセット量とに基づいて前記制御電圧を変化させるフォーカス制御回路とを備える、光ディスク装置。
【請求項７】
前記信号処理部は、前記反射光に基づいて前記信号記録面に記録された情報を含む再生信号を生成して、前記再生信号に含まれるジッタ量を検出して出力し、
前記オフセット出力回路は、
前記制御電圧と前記ジッタ量とに基づいて前記オフセット量を変化させて、前記制御電圧の所定の第１および第２の電圧値において、前記ジッタ量をそれぞれ最小とする第１および第２のオフセット量を特定するオフセット量特定回路と、
前記第１および第２のオフセット量に基づいて、前記第１の制御電圧と前記オフセット量とを対応付ける関数を定め、前記フォーカス制御回路から取得した前記第１の制御電圧の値を前記関数に代入して、前記オフセット量を算出するオフセット量算出回路とを含む、請求項６に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記所定の第１および第２の電圧値は、それぞれ前記第１の制御電圧の最大値および最小値である、請求項７に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置に関し、特に、光ディスク上の光スポットを制御する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）再生装置、あるいはＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）再生装置等の光ディスク装置では、光ピックアップから出射したレーザ光の焦点をディスクの信号面に合わせ、信号面からの反射光を光ピックアップで検出することでデータの読取りを行なう。光ピックアップから出射された光がディスクの信号面で反射されて光ピックアップに戻ってくるためには、光ピックアップから出射された光の光軸が信号面に対し垂直であることが必要である。
【０００３】
しかしながらディスクの製造時又は保存時の状態によってはディスクに反りが発生することがある。また、ディスクを回転させるモータの回転軸に対してディスクが傾くことも考えられる。これらの場合には、ディスクを高速回転させるといわゆる「面振れ」が発生して、光ピックアップとディスクの表面との距離が周期的に変動する。このためレーザ光の焦点ずれが生じるといった問題、あるいは、反射光の進行方向が本来の方向と異なるといった問題が生じる。これらの問題はディスク再生時に読取りエラーが発生させる要因となる。
【０００４】
特開平１１−２３２６７６号公報（特許文献１）は、光ディスクの半径方向の傾斜に対する再生信号のトレランスを拡大することが可能な光ディスク制御装置を開示する。この光ディスク制御装置は、再生信号のジッタ量を測定する測定回路と、その測定結果に基づいてジッタ量が最小とするオフセット信号を生成する演算回路と、光ピックアップからのトラッキングエラー信号およびオフセット信号とを用いてトラッキング制御を行なうトラッキングサーボ回路とを含む。
【０００５】
一方、特開２００４−１２７４５４号公報（特許文献２）は、光ディスクのチルトを補正する光ディスク装置を開示する。この光ディスク装置は光ディスクの半径方向に沿った第１および第２の位置における光ピックアップの焦点位置に基づき光ピックアップの光軸に対するディスクの傾きを演算する。そして、光ディスク装置は演算結果に基づいて光ピックアップを傾けることにより光ピックアップの光軸に対するディスクの角度を補正する。
【０００６】
また、特開２００５−３２７４２５号公報（特許文献３）は、面振れ変化量が大きいディスクを再生するときにフォーカス制御が有効に機能しないという課題を解決するためのフォーカス制御方法を開示する。この方法によれば、光ディスクの１回転中の面振れ変化量を正弦波に近似して面振れ量を予め算出して、算出結果に基づいてフォーカス制御を行なう。
【０００７】
また、特開２００５−１６６０８８号公報（特許文献４）は、光ディスクの面振れによる影響を抑圧することにより、安定したフォーカス制御が可能な光ディスク装置を開示する。この光ディスク装置は、低速の記録速度（線速度）におけるフォーカスエラー検出部の出力信号（フォーカスエラー信号）に基づいて面振れ量を検出する面振検出部と、この面振れ量に基づいてバイアス付与量を決定するコントローラと、バイアス付与量に応じたバイアス信号をフォーカス制御部に出力するバイアス付与部と、通常の光ピックアップの駆動信号にバイアス信号を付与して生成した信号を光ピックアップに出力するフォーカス制御部とを備える。これにより高速の線速度で記録する場合であっても、光ピックアップの収束レンズと光ディスクとの位置関係は一定距離を維持しつつ正確なフォーカスサーボを可能とする。
【０００８】
また、特開２０００−２０９６７号公報（特許文献５）は、ディスクの偏心あるいは面振れが存在していても、オフトラックあるいはデフォーカスを起こすことなくトラックジャンプ、およびフォーカスジャンプを行なうことが可能な光ディスク装置を開示する。この光ディスク装置は、光検出回路を移動させるためのジャンプ信号を発生させるジャンプ信号発生回路と、光ディスクの回転角と偏心（あるいは面振れ）成分とを対応させて記憶する記憶回路と、ジャンプ時に光ディスクの回転角に従って記憶回路から情報を取り出し、その情報とジャンプ信号とを加算する演算回路と、演算回路の演算結果に基づいて光検出回路を移動させる駆動回路とを備える。
【特許文献１】特開平１１−２３２６７６号公報
【特許文献２】特開２００４−１２７４５４号公報
【特許文献３】特開２００５−３２７４２５号公報
【特許文献４】特開２００５−１６６０８８号公報
【特許文献５】特開２０００−２０９６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
特開平１１−２３２６７６号公報（特許文献１）に開示される光ディスク制御装置の場合、あるトラック（ディスク１周分のマークの列）全体に対してジッタ量を最小とするためのオフセット量が決定される。したがってそのトラックのある部分ではジッタ量が最小とならない可能性がある。
【００１０】
また、特開２００４−１２７４５４号公報（特許文献２）の開示によれば、光ピックアップを傾けるための機構を設ける必要があるため光ディスク装置の構造が複雑になる。
【００１１】
また、特開２００５−３２７４２５号公報（特許文献３）、特開２００５−１６６０８８号公報（特許文献４）、および、特開２０００−２０９６７号公報（特許文献５）の開示によれば、面振れ量、すなわちディスク回転時に生じるディスクの振動の大きさを予め求めることにより再生時（あるいは記録時）におけるフォーカス制御が可能であるものの、トラッキング制御については特に考慮がなされていないため、読取エラー（あるいは記録エラー）が生じることが想定される。
【００１２】
それゆえに本発明の目的は動作時の信頼性を高めることが可能な光ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は要約すれば、光ディスク装置であって、光源と、対物レンズと、対物レンズ駆動装置と、信号処理部と、フォーカス制御回路と、トラッキング制御回路と、検出回路と、オフセット量特定回路と、オフセット量供給回路とを備える。光源は、光ディスクの信号記録面に対してレーザ光を照射する。対物レンズは、レーザ光を集光する。対物レンズ駆動装置は、第１および第２の制御電圧を受けて、対物レンズをレーザ光の光軸方向、および、レーザ光の光軸方向と垂直方向にそれぞれ移動させる。信号処理部は、信号記録面でレーザ光が反射して生じた反射光に基づいて、フォーカスエラー信号と、トラッキングエラー信号とを出力するとともに、反射光に基づいて信号記録面に記録された情報を含む再生信号を生成して、再生信号に含まれるジッタ量を検出して出力する。フォーカス制御回路は、フォーカスエラー信号に基づいて第１の制御電圧を変化させる。トラッキング制御回路は、トラッキングエラー信号とオフセット量とに基づいて、第２の制御電圧を変化させる。検出回路は、第１の制御電圧の変化に基づいて、光ディスクの半径方向に光ディスクが傾いていることを検出する。オフセット量特定回路は、検出回路の検出結果を受けた場合に、第１の制御電圧とジッタ量とに基づいてオフセット量を変化させて、第１の制御電圧の最大値においてジッタ量が最小となる第１のオフセット量と、第１の制御電圧の最小値においてジッタ量が最小となる第２のオフセット量とを特定する。オフセット量供給回路は、第１および第２のオフセット量に基づいて、第１の制御電圧とオフセット量とを対応付ける関数を定める。オフセット量供給回路は、フォーカス制御回路から取得した第１の制御電圧の値を関数に代入してオフセット量を算出する。オフセット量供給回路は、算出したオフセット量をトラッキング制御回路に供給する。
【００１４】
本発明の他の局面に従うと、光ディスク装置であって、光源と、対物レンズと、対物レンズ駆動装置と、信号処理部と、フォーカス制御回路と、検出回路と、オフセット量特定回路と、オフセット量供給回路とを備える。光源は、光ディスクの信号記録面に対してレーザ光を照射する。対物レンズは、レーザ光を集光する。対物レンズ駆動装置は、制御電圧を受けて、対物レンズをレーザ光の光軸方向に移動させる。信号処理部は、信号記録面でレーザ光が反射して生じた反射光に基づいて、フォーカスエラー信号を出力するとともに、反射光に基づいて信号記録面に記録された情報を含む再生信号を生成して、再生信号に含まれるジッタ量を検出して出力する。フォーカス制御回路は、フォーカスエラー信号とオフセット量とに基づいて制御電圧を変化させる。検出回路は、制御電圧の変化に基づいて、光ディスクの半径方向に光ディスクが傾いていることを検出する。オフセット量特定回路は、検出回路の検出結果を受けた場合に、制御電圧とジッタ量とに基づいてオフセット量を変化させて、制御電圧の最大値においてジッタ量が最小となる第１のオフセット量と、制御電圧の最小値においてジッタ量が最小となる第２のオフセット量とを特定する。オフセット量供給回路は、フォーカス制御回路からの制御電圧と、制御電圧の最大値および最小値と、第１および第２のオフセット量とに基づいて決定した値をオフセット量としてフォーカス制御回路に与える。
【００１５】
本発明のさらに他の局面に従うと、光ディスク装置であって、光源と、対物レンズと、対物レンズ駆動装置と、信号処理部と、フォーカス制御回路と、オフセット出力回路と、トラッキング制御回路とを備える。光源は、光ディスクの信号記録面に対してレーザ光を照射する。対物レンズは、レーザ光を集光する。対物レンズ駆動装置は、第１および第２の制御電圧を受けて、対物レンズをレーザ光の光軸方向、および、レーザ光の光軸方向と垂直方向にそれぞれ移動させる。信号処理部は、信号記録面でレーザ光が反射して生じた反射光に基づいて、フォーカスエラー信号と、トラッキングエラー信号とを出力する。フォーカス制御回路は、フォーカスエラー信号に基づいて第１の制御電圧を変化させる。オフセット出力回路は、第１の制御電圧に基づいて光ディスクの傾きの有無を判定する。オフセット出力回路は、光ディスクが傾いていることを検出すると、第１の制御電圧に基づいて光ディスクの傾きに伴うトラッキングエラー信号のオフセット量を算出する。オフセット出力回路は、算出したオフセット量を出力する。トラッキング制御回路は、トラッキングエラー信号とオフセット量とに基づいて、第２の制御電圧を変化させる。
【００１６】
好ましくは、信号処理部は、反射光に基づいて、信号記録面に記録された情報を含む再生信号を生成して、再生信号に含まれるジッタ量を検出して出力する。
【００１７】
オフセット出力回路は、オフセット量特定回路と、オフセット量算出回路とを含む。オフセット量特定回路は、第１の制御電圧とジッタ量とに基づいてオフセット量を変化させる。オフセット量特定回路は、第１の制御電圧の所定の第１および第２の電圧値において、ジッタ量をそれぞれ最小とする第１および第２のオフセット量を特定する。オフセット量算出回路は、第１および第２のオフセット量に基づいて、第１の制御電圧とオフセット量とを対応付ける関数を定める。オフセット量算出回路は、フォーカス制御回路から取得した第１の制御電圧の値を関数に代入して、オフセット量を算出する。
【００１８】
より好ましくは、所定の第１および第２の電圧値は、それぞれ第１の制御電圧の最大値および最小値である。
【００１９】
本発明のさらに他の局面に従うと、光ディスク装置であって、光源と、対物レンズと、対物レンズ駆動装置と、信号処理部と、オフセット出力回路と、フォーカス制御回路とを備える。光源は、光ディスクの信号記録面に対してレーザ光を照射する。対物レンズは、レーザ光を集光する。対物レンズ駆動装置は、制御電圧を受けて、対物レンズをレーザ光の光軸方向に移動させる。信号処理部は、信号記録面でレーザ光が反射して生じた反射光に基づいて、フォーカスエラー信号を出力する。オフセット出力回路は、制御電圧に基づいて光ディスクの傾きの有無を判定する。オフセット出力回路は、光ディスクが傾いていることを検出すると、制御電圧に基づいて光ディスクの傾きに伴うフォーカスエラー信号のオフセット量を算出する。オフセット出力回路は、算出したオフセット量を出力する。フォーカス制御回路は、フォーカスエラー信号とオフセット量とに基づいて制御電圧を変化させる。
【００２０】
好ましくは、信号処理部は、反射光に基づいて信号記録面に記録された情報を含む再生信号を生成して、再生信号に含まれるジッタ量を検出して出力する。
【００２１】
オフセット出力回路は、オフセット量特定回路と、オフセット量算出回路とを含む。オフセット量特定回路は、制御電圧とジッタ量とに基づいてオフセット量を変化させる。オフセット量特定回路は、制御電圧の所定の第１および第２の電圧値において、ジッタ量をそれぞれ最小とする第１および第２のオフセット量を特定する。オフセット量算出回路は、第１および第２のオフセット量に基づいて、第１の制御電圧とオフセット量とを対応付ける関数を定める。オフセット量算出回路は、フォーカス制御回路から取得した第１の制御電圧の値を関数に代入して、オフセット量を算出する。
【００２２】
より好ましくは、所定の第１および第２の電圧値は、それぞれ第１の制御電圧の最大値および最小値である。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、光ディスク装置の動作時の信頼性を高めることが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下において、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。
【００２５】
［実施の形態１］
図１は、実施の形態１に係る光ディスク装置１００の概略構成図である。具体的には光ディスク装置１００はディスク再生装置である。
【００２６】
図１を参照して、光ディスク装置１００は、モータ１と、ディスクドライブコントローラ２と、ヘッドアクセス制御部３と、ガイド５０と、ピックアップ装置１０と、信号処理部４と、トラッキングサーボ回路６１と、フォーカスサーボ回路６２と、オフセット出力回路７０とを備える。
【００２７】
モータ１は、ディスクドライブコントローラ２からの制御信号を受けて、光ディスク２０を所定の回転数で回転させる。光ディスク２０は、たとえばＤＶＤ、ＣＤ等である。また、ＤＶＤ，ＣＤには様々な種類が存在するが、光ディスク２０の種類は特に限定されない。以下では光ディスク２０はＤＶＤ−ＲＡＭであるとする。
【００２８】
ピックアップ装置１０は、ヘッドアクセス制御部３によって、ガイド５０にそって光ディスク２０の半径方向に駆動される。ピックアップ装置１０は、レーザ光ＬＡを光ディスクの信号記録面に対してレーザ光ＬＡを照射する半導体レーザ１３と、半導体レーザ１３から出力されたレーザ光ＬＡを光ディスク２０の信号記録面に集光するとともに信号記録面からの反射光ＬＢが入射される対物レンズ１１と、対物レンズ１１を駆動する対物レンズ駆動装置１２とを備える。
【００２９】
対物レンズ駆動装置１２は、マグネットとコイルとを備える。対物レンズ駆動装置１２は、フォーカスサーボ回路６２から電圧Ｖ１を受けるとマグネットから生じる磁界中に置かれたフォーカスコイルに電流を流し、対物レンズ１１をフォーカス方向に駆動する。「フォーカス方向」とはレーザ光ＬＡの光軸方向（方向Ｒ１）である。
【００３０】
また、対物レンズ駆動装置１２は、トラッキングサーボ回路６１から電圧Ｖ２を受けるとマグネットから生じる磁界中に置かれたトラッキングコイルに電流を流し、対物レンズ１１をトラッキング方向に駆動する。「トラッキング方向」とはレーザ光ＬＡの光軸方向に垂直な方向（方向Ｒ２）である。
【００３１】
信号処理部４は、光検出器１４と、再生回路３０と、エラー検出回路４０と、ジッタ量測定回路４３とを含む。
【００３２】
光検出器１４は、対物レンズ１１に入射された反射光を検出して、受光信号を出力する。再生回路３０は、光検出器１４からの受光信号に基づいて信号記録面に記録された情報を含む再生信号を生成する。
【００３３】
ジッタ量測定回路４３は、再生回路３０から出力される再生信号のジッタ量を測定する。
【００３４】
エラー検出回路４０は、トラッキングエラー検出回路４１と、フォーカスエラー検出回路４２とを含む。
【００３５】
トラッキングエラー検出回路４１はプッシュプル法に従い光検出器１４からの受光信号を演算してトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。トラッキングエラー信号ＴＥは対物レンズ１１のトラッキング方向のずれを示す。
【００３６】
フォーカスエラー検出回路４２は非点収差法に従い光検出器１４からの受光信号を演算してフォーカスエラー信号ＦＥを生成する。フォーカスエラー信号ＦＥは対物レンズ１１のフォーカス方向のずれを示す。
【００３７】
トラッキングサーボ回路６１は、トラッキングエラー検出回路４１から送られるトラッキングエラー信号ＴＥおよびオフセット出力回路７０から送られるオフセット量Ｔｅｏｆｓｔ（オフセット電圧）との和に応じて電圧Ｖ２を変化させる。対物レンズ駆動装置１２は電圧Ｖ２を受けて対物レンズ１１をトラッキング方向に移動させる。
【００３８】
フォーカスサーボ回路６２は、フォーカスエラー検出回路４２から送られるフォーカスエラー信号ＦＥに応じて電圧Ｖ１を変化させる。対物レンズ駆動装置１２は電圧Ｖ１を受けて対物レンズ１１をフォーカス方向に移動させる。
【００３９】
オフセット出力回路７０は、電圧Ｖ１に基づいて光ディスク２０の傾きの有無を判定する。オフセット出力回路７０は、光ディスク２０が傾いていることを検出すると、電圧Ｖ１に基づいて光ディスク２０の傾きに伴うトラッキングエラー信号ＴＥのオフセット量Ｔｅｏｆｓｔを算出する。そしてオフセット出力回路７０は、算出したオフセット量Ｔｅｏｆｓｔを出力する。
【００４０】
オフセット出力回路７０は、オフセット量特定回路７１と、オフセット量供給回路７３と、メモリ７５と、検出回路７６とを備える。
【００４１】
オフセット量特定回路７１はフォーカスサーボ回路６２から電圧Ｖ１を受けるとともにジッタ量測定回路４３から再生信号のジッタ量を受ける。オフセット量特定回路７１は、光ディスク２０が傾いていることを検出回路７６が検出した場合には、電圧Ｖ１とジッタ量とに基づいてオフセット量を変化させる。
【００４２】
そしてオフセット量特定回路７１は、電圧Ｖ１が最大のときにジッタ量が最小となる第１のオフセット量、および、電圧Ｖ１が最小のときにジッタ量が最小となる第２のオフセット量を特定する。これらのオフセット量は電圧Ｖ１の値と対応付けられてメモリ７５に記憶される。
【００４３】
オフセット量供給回路７３は、第１および第２のオフセット量に基づいて、電圧Ｖ１とオフセット量とを対応付ける関数を定める。そしてオフセット量供給回路７３は、フォーカスサーボ回路６２から取得した電圧Ｖ１の値を関数に代入して、オフセット量を算出する。より詳細に説明すると、オフセット量供給回路７３はフォーカスサーボ回路６２から電圧Ｖ１を受ける。さらにオフセット量供給回路７３はメモリ７５から電圧Ｖ１の最大値、最小値およびその最大値および最小値にそれぞれ対応する２つのオフセット量を読み出す。そしてオフセット量供給回路７３は電圧Ｖ１、電圧Ｖ１の最大値、最小値、および２つのオフセット量に基づいて算出した値をオフセット量としてトラッキングサーボ回路６１に与える。
【００４４】
検出回路７６は、電圧Ｖ１に基づいて、光ディスク２０の傾きを検出する。光ディスク２０が傾いている場合、光ディスク２０を回転させると光ディスク２０の信号記録面は振動する。この場合、フォーカスサーボ回路６２は、光ディスク２０の信号記録面においてレーザ光ＬＡが焦点を結ぶように電圧Ｖ１を変化させる。検出回路７６は、電圧Ｖ１の変化量が所定のしきい値よりも大きい場合に、光ディスクが傾いていると判定する。
【００４５】
フォーカスサーボ時には光ディスク２０にレーザ光の焦点を合わせるために電圧Ｖ１は高速に変化する。一方、光ディスク２０の面振れに応じて電圧Ｖ１はゆっくりと変化する。つまりフォーカスサーボ回路から出力される信号は高周波成分および低周波成分を含んでいる。
【００４６】
この高周波成分の影響により検出回路７６は実際にはディスクに面振れがないにも拘らず面振れが存在すると誤検出する可能性がある。このような問題が生じるのを防ぐため、検出回路７６はその内部にローパスフィルタを備えている。これにより検出回路７６はフォーカスサーボ回路６２から出力される信号の低周波成分のみを抽出することができるので電圧Ｖ１の変動に基づいてディスクの面振れを検出することができる。
【００４７】
なお検出回路７６はオフセット量特定回路７１に含まれていてもよい。
図２は、図１の光ディスク２０がモータ１の回転軸に対して傾いた状態を示す図である。
【００４８】
図２を参照して、モータ１の回転軸に対して光ディスク２０が傾いている場合、光ディスク２０の記録面では半導体レーザ１３からのレーザ光ＬＡの入射角度が変化することになる。たとえば実線で示す光ディスク２０にレーザ光ＬＡが入射した場合には反射光ＬＢ１は光ディスク２０の内周側に進むが、破線で示す光ディスク２０にレーザ光ＬＡが入射した場合には反射光ＬＢ１は光ディスク２０の外周側に進む。
【００４９】
図３は、図１の光ディスク２０の外周部分に反りが生じている状態を示す図である。
図３を参照して、光ディスク２０が平坦な場合（実線）には光ディスク２０にレーザ光ＬＡが入射すると反射光ＬＢ３は半導体レーザ１３に向かって進むのに対し、破線で示す光ディスク２０の反りが生じている場合には、反射光ＬＢ４は光ディスク２０の外周側に進む。
【００５０】
なお、以下では図２，３に示すような光ディスク２０がレーザ光ＬＡに垂直な状態を基準状態としたときの光ディスク２０の傾きを「半径方向の傾き」、または「ｒａｄ  ｓｋｅｗ」と称することにする。また、以下ではレーザ光ＬＡの光軸方向における光ディスクの信号記録面の位置の変動量を「面振れ量」と称する。
【００５１】
図４は、図２に示す光ディスク２０にレーザ光ＬＡを照射したときに光検出器１４の受光面に形成される光スポットを説明する図である。
【００５２】
図４を参照して、光検出器１４の受光面は領域１４Ａ，１４Ｂに２分割される。図１に示す反射光ＬＢが受光面に入射すると受光面には光スポットＳＰが形成される。同一トラック上を光ビームが移動すると反射光の進行方向が変化するために光スポットＳＰは領域１４Ａから領域１４Ｂへの方向（および逆方向）に移動する。
【００５３】
領域１４Ａ，１４Ｂからは受光量に応じた受光信号ＳＡ，ＳＢがそれぞれ出力される。図１のトラッキングエラー検出回路４１はＴＥ＝（ＳＡ−ＳＢ）の演算を行なうことによりトラッキングエラー信号ＴＥを生成する（プッシュプル法）。
【００５４】
このようなプッシュプル法においては、光ディスクの半径方向の傾斜が原因となり隣接するトラックからのクロストーク成分が大きくなる。よって光スポットが光ディスク上のトラック中心を正確にトレースしていても再生信号の品質が低下してしまうことになる。
【００５５】
この問題を防ぐため図１のトラッキングサーボ回路６１にトラッキングエラー信号ＴＥだけでなくオフセット量も入力される。トラッキングサーボ回路６１は、トラッキングエラー信号ＴＥとオフセット量との和に応じた電圧Ｖ２を出力して対物レンズ駆動装置１２による対物レンズ１１の駆動を制御する。この場合、光スポットの位置を光ディスク上のトラック中心からややずらすことでジッタ量を最小とすることができる。よって再生信号の品質の低下を防ぐことができる。
【００５６】
しかしながら、たとえば光スポットＳＰが領域１４Ａ側に寄っている場合にジッタ量が最小となるようにオフセット量を決定し、かつそのオフセット量を変化させないとする。この場合、光スポットＳＰが領域１４Ａ側から領域１４Ｂ側に寄ったときには再生信号のジッタ量が最小にならない可能性がある。
【００５７】
本実施の形態では光ディスクの半径方向の傾きに応じてオフセット量を変化させる。これにより上述の問題が生じるのを防ぐことが可能になるので、光ディスクから情報を正確に読取る（あるいは光ディスクに情報を正しく書込む）ことができる。よって光ディスク装置の動作時の信頼性を高めることが可能になる。
【００５８】
図５は、図１の光ディスク２０の回転時における電圧Ｖ１の変動を説明する図である。
図５および図１を参照して、電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍａｘのときに対物レンズ１１は可動範囲のうち光ディスク２０に最も近い位置にあり、電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍｉｎのときに対物レンズ１１は可動範囲のうち光ディスク２０から最も遠い位置にある。
【００５９】
時刻ｔ＿ｍａｘにおいて電圧Ｖ１はＶｆｏ＿ｍａｘである。時刻ｔ＿ｍａｘからｔ＿ｍａｘ＋Ｔ（Ｔはディスク回転周期）までの期間、電圧Ｖ１はＶｆｏ＿ｍａｘからＶｆｏ＿ｍｉｎに低下し、その後Ｖｆｏ＿ｍａｘまで戻る。時刻ｔ＿ｍａｘ＋Ｔ〜ｔ＿ｍａｘ＋２Ｔの期間、およびそれ以後の期間においても電圧Ｖ１は上述のように変化する。
【００６０】
なおＶｆｏ＿ｃは、Ｖｆｏ＿ｍａｘとＶｆｏ＿ｍｉｎとの中間の電圧である。このとき半径方向の傾き（ｒａｄ  ｓｋｅｗ）は０となる。
【００６１】
図６は、電圧Ｖ１と光ディスク２０の半径方向の傾き（ｒａｄ  ｓｋｅｗ）との関係を説明する図である。
【００６２】
図６を参照して、グラフの縦軸は、対物レンズ１１のフォーカス方向の位置を固定した状態で光ディスクを回転させたときの対物レンズ１１と光ディスクとの距離の変化量を示す。ｒｓ＿ｍａｘ，ｒｓ＿ｍｉｎは、対物レンズ１１に対する光ディスクの距離が最大および最小のときの光ディスク２０の半径方向の傾きをそれぞれ示す。面振れ量の大きさは｜ｒｓ＿ｍａｘ−ｒｓ＿ｍｉｎ｜である。光ディスク２０の半径方向の傾きの大きさがｒｓ＿ｍａｘおよびｒｓ＿ｍｉｎである場合、電圧Ｖ１はそれぞれＶｆｏ＿ｍａｘ，Ｖｆｏ＿ｍｉｎとなる。図６に示すように電圧Ｖ１と光ディスク２０の半径方向の傾きとは比例関係にある。
【００６３】
図７は、光ディスク２０の半径方向の傾き（ｒａｄ  ｓｋｅｗ）とジッタ量を最小にすることが可能なトラッキングエラー信号ＴＥのオフセット量との関係を説明する図である。
【００６４】
図７を参照して、光ディスク２０の半径方向の傾きがｒｓ＿ｍａｘの場合に、オフセット量は最大値（Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ）となる。一方、光ディスク２０の半径方向の傾きがｒｓ＿ｍｉｎの場合に、オフセット量は最小値（Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎ）となる。光ディスク２０の半径方向の傾きがｒｓ＿ｍａｘからｒｓ＿ｍｉｎまでの範囲で変化するとオフセット量もＴｅｏｆｓｔ＿ｍａｘからＴｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎまでの範囲で変化する。図７に示すように光ディスク２０の半径方向の傾きとトラッキングエラー信号ＴＥのオフセット量とは比例関係にある。
【００６５】
図８は、光ディスク２０の半径方向の傾きの大きさがある固定値のときのオフセット量とジッタ量との関係を説明する図である。
【００６６】
図８を参照して、曲線Ａ，Ｃはそれぞれ、光ディスク２０の半径方向の傾きがｒｓ＿ｍｉｎおよびｒｓ＿ｍａｘの場合におけるオフセット量の変化に対するジッタ量の変化を示す。曲線Ｂは、光ディスク２０の半径方向の傾きが０の場合におけるオフセット量の変化に対するジッタ量の変化を示す。
【００６７】
曲線Ａ〜Ｃのいずれもジッタ量を最小にするためのオフセット量が存在することを示す。なお曲線Ａ，Ｃにおいてジッタ量を最小にするためのオフセット量がそれぞれＴｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎ，Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍａｘとなる。
【００６８】
図６および図７から、電圧Ｖ１とオフセット量とは比例関係にあることが導かれる。すなわち、電圧Ｖ１に応じてオフセット量を決定すれば、光ディスク２０の半径方向の傾きが変化してもその変化に応じたオフセット量を決定することができる。実施の形態１では、このような関係を用いてオフセット量を決定するので、光ディスク２０の半径方向の傾きによらずジッタ量を最小とするためのオフセット量を決定することができる。
【００６９】
図９は、図１のオフセット量特定回路７１がオフセット量を特定する処理を説明するための図である。
【００７０】
図９および図１を参照して、電圧Ｖ１はＶｆｏ＿ｍａｘとＶｆｏ＿ｍｉｎとの間で周期的に変化する。一方、オフセット量特定回路７１はオフセット量（ＴＥオフセット）をＴｅ１，Ｔｅ２，Ｔｅ３，Ｔｅ４，Ｔｅ５と順次変化させてジッタ量測定回路４３から再生信号のジッタ量を受ける。
【００７１】
オフセット量特定回路７１がオフセット量Ｔｅ１〜Ｔｅ５の各々を出力する期間は図５に示すディスク回転周期Ｔに等しい。また、オフセット量特定回路７１は各オフセット量を出力する期間内に電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍａｘおよびＶｆｏ＿ｍｉｎになるようにオフセット量Ｔｅ１〜Ｔｅ５を出力するタイミングを決定する。
【００７２】
ジッタ波形を示す曲線において円形の記号および三角形の記号は、電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍａｘおよびＶｆｏ＿ｍｉｎに達したときのジッタ量をそれぞれ示す。円形の記号だけについて着目すると、オフセット量がＴｅ２のとき（時刻ｔ１）にジッタ量は最も小さくなる。よってオフセット量特定回路７１は電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍａｘであるとき、すなわち、光ディスクの半径方向の傾きが最大であるときのオフセット量Ｔｏｆｓｔ＿ｍａｘの値をＴｅ２に特定する。
【００７３】
同様に三角形の記号だけについて着目すると、オフセット量がＴｅ４のとき（時刻ｔ２）にジッタ量は最も小さくなる。よってオフセット量特定回路７１は電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍｉｎであるとき、すなわち、光ディスクの半径方向の傾きが最小であるときのオフセット量Ｔｏｆｓｔ＿ｍｉｎの値をＴｅ４に特定する。
【００７４】
図１０は、図１のオフセット量特定回路７１の処理を説明するフローチャートである。
図１０および図１を参照して、処理が開始されると、ステップＳ１においてディスクドライブコントローラ２はモータ１を回転させる。これにより光ディスク２０が回転する。
【００７５】
次にステップＳ２において、ディスクドライブコントローラ２およびヘッドアクセス制御部３はピックアップ装置１０を所定のトラック位置に移動させる。
【００７６】
続いてステップＳ３において、フォーカスサーボ回路６２は、フォーカス制御動作を開始する（フォーカスサーボをオン）。これによりフォーカスサーボ回路６２はフォーカスエラー信号ＦＥに応じて電圧Ｖ１を変化させる。
【００７７】
続いてステップＳ４において、検出回路７６は光ディスク２０に振動（面振れ）が生じているか否かを判定する。検出回路７６は電圧Ｖ１の最大値（Ｖｆｏ＿ｍａｘ）および最小値（Ｖｆｏ＿ｍｉｎ）を取得し、最大値と最小値との差（Ｖｆｏ）が所定値よりも大きければ光ディスク２０に面振れが生じていると判定する。
【００７８】
検出回路７６が所定の振れ量よりも大きな光ディスク２０の振動を検出した場合（ステップＳ４においてＹＥＳ）、ステップＳ５においてトラッキングサーボ回路６１はトラッキング制御動作を開始する（トラッキングサーボをオン）。一方、光ディスク２０の振動の大きさが所定の振れ量よりも小さい場合（ステップＳ４においてＮＯ）、全体の処理は終了する。
【００７９】
ステップＳ６において、オフセット量特定回路７１は検出回路７６から検出結果を受ける。そしてオフセット量特定回路７１は、電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍａｘである場合および電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍｉｎである場合の各場合について、ジッタ量が最小となるトラッキングオフセット量（オフセット量Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ，Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎ）を特定する。
【００８０】
ステップＳ７において、オフセット量特定回路７１はオフセット量Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ，Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎをメモリ７５に記憶させる。ステップＳ７の処理が終了すると全体の処理が終了する。
【００８１】
図１１は、図１のオフセット量供給回路７３の処理を説明するフローチャートである。なお図１１に示す処理は光ディスクの再生時に行なわれる。
【００８２】
図１１および図１を参照して処理が開始されると、ステップＳ１１においてオフセット量供給回路７３はフォーカスサーボ回路６２から電圧Ｖ１を取得する。次にステップＳ１２においてオフセット量供給回路７３はメモリ７５から電圧値Ｖｆｏ＿ｍｉｎ，Ｖｆｏ＿ｍａｘおよびオフセット量Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ，Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎを取得する。
【００８３】
続いてステップＳ１３においてオフセット量供給回路７３は線形補間によりオフセット量Ｔｅｏｆｓｔを決定する。具体的にはオフセット量供給回路７３は以下の式（１）に示す関数にフォーカスサーボ回路６２から取得した電圧Ｖ１の値を代入してオフセット量Ｔｅｏｆｓｔを算出する。
【００８４】
Ｔｅｏｆｓｔ＝（Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ−Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎ）／（Ｖｆｏ＿ｍａｘ−Ｖｆｏ＿ｍｉｎ）×（Ｖ１−Ｖｆｏ＿ｍｉｎ）＋Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎ  …（１）
ステップＳ１４においてオフセット量供給回路７３はこのオフセット量Ｔｅｏｆｓｔをトラッキングサーボ回路６１に供給する。ステップＳ１４の処理が終了すると全体の処理はステップＳ１１に戻る。
【００８５】
なお図１０に示す処理は再生前にすべてのトラックに対して行なわれてもよいし、光ディスクの再生時に図１１に示す処理に先立って行なわれてもよい。ただし再生時に各トラックに対して図１０および図１１に示す処理を行なう場合、メモリ７５に記憶されるオフセット量Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ，Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎおよび電圧値Ｖｆｏ＿ｍａｘ，Ｖｆｏ＿ｍｉｎの情報は１トラック分だけでよくなる。このためメモリの容量が小さくても図１０，図１１の処理を実行することができる。
【００８６】
図１２は、実施の形態１の比較例による動作を説明する図である。
図１２を参照して、比較例による動作の場合、電圧Ｖ１の変化にかかわらずトラッキングエラーオフセット量の値は一定である。図８に示されるように、曲線Ａにおいてジッタ量を最小とするときのオフセット量Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎは、曲線Ｂ，Ｃにおいてジッタ量を最小とするときのオフセット量と異なる。つまり、図１２に示すように電圧Ｖ１の変化にかかわらずトラッキングエラーオフセット量の値を固定すると、トラックのある部分ではジッタ量が最小になるものの、他の部分ではジッタ量が増加する。よって再生信号の品質が低下する可能性がある。
【００８７】
図１３は、実施の形態１の光ディスク装置による動作を説明する図である。
図１３を参照して、オフセット量Ｔｅｏｆｓｔは電圧Ｖ１と同期して変化する。これにより、光ディスクの半径方向の傾きが変化しても、その変化に応じたオフセット量Ｔｅｏｆｓｔを発生させることができる。これにより光ディスクの再生時にジッタが最小となるように制御することが可能になるので再生信号の品質を高めることが可能になる。
【００８８】
以上のように実施の形態１によれば、オフセット量特定回路７１は、電圧Ｖ１の最大値（Ｖｆｏ＿ｍａｘ）においてジッタ量が最小となるオフセット量Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍａｘと、電圧Ｖ１の最小値（Ｖｆｏ＿ｍｉｎ）においてジッタ量が最小となるオフセット量Ｔｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎとを特定する。そしてこれらの値に基づいてオフセット量供給回路７３はオフセット量Ｔｅｏｆｓｔを決定して、トラッキングサーボ回路６１にオフセット量Ｔｅｏｆｓｔを与える。これによりトラッキングサーボ回路６１は再生信号のジッタ量が最小となるようにトラッキング制御を行なうことができるので、光ディスク装置の動作の信頼性を高めることが可能になる。
【００８９】
［実施の形態２］
実施の形態１では、対物レンズ駆動回路に入力される電圧Ｖ１の変化に応じてトラッキングエラー信号ＴＥに加えるオフセット量を変化させることによりトラッキング制御を行なう。これに対し、実施の形態２では電圧Ｖ１の変化に応じてフォーカスエラー信号ＦＥに加えるオフセット量を変化させることによりフォーカス制御を行なう。
【００９０】
図１４は、実施の形態２に係る光ディスク装置１００Ａの概略構成図である。
図１４および図１を参照して、光ディスク装置１００Ａはオフセット出力回路７０に代えてオフセット出力回路７０Ａを含む点で光ディスク装置１００と異なる。オフセット出力回路７０Ａは、フォーカスサーボ回路６２にオフセット量Ｆｅｏｆｓｔを出力する点でオフセット出力回路７０と異なる。
【００９１】
オフセット出力回路７０Ａは、電圧Ｖ１に基づいて光ディスク２０の傾きの有無を判定する。オフセット出力回路７０Ａは光ディスク２０が傾いていることを検出すると、電圧Ｖ１に基づいて光ディスク２０の傾きに伴うフォーカスエラー信号ＦＥのオフセット量Ｆｅｏｆｓｔを算出する。オフセット出力回路７０Ａは算出したオフセット量Ｆｅｏｆｓｔを出力する。
【００９２】
オフセット出力回路７０Ａは、オフセット量特定回路７１と、オフセット量供給回路７３と、メモリ７５と、検出回路７６とを備える。
【００９３】
オフセット量特定回路７１はフォーカスサーボ回路６２から電圧Ｖ１を受けるとともにジッタ量測定回路４３から再生信号のジッタ量を受ける。検出回路７６が光ディスク２０の傾きを検出した場合には、オフセット量特定回路７１は電圧Ｖ１とジッタ量とに基づいてオフセット量Ｆｅｏｆｓｔを変化させる。
【００９４】
そしてオフセット量特定回路７１は、電圧Ｖ１が最大のときにジッタ量が最小となる第１のオフセット量、および、電圧Ｖ１が最小のときにジッタ量が最小となる第２のオフセット量を特定する。これらのオフセット量は電圧Ｖ１の値と対応付けられてメモリ７５に記憶される。
【００９５】
オフセット量供給回路７３は、第１および第２のオフセット量に基づいて、電圧Ｖ１とオフセット量とを対応付ける関数を定める。そしてオフセット量供給回路７３は、フォーカスサーボ回路６２から取得した電圧Ｖ１の値を関数に代入して、オフセット量を算出する。より詳細に説明すると、オフセット量供給回路７３はフォーカスサーボ回路６２から電圧Ｖ１を受ける。さらにオフセット量供給回路７３はメモリ７５から電圧Ｖ１の最大値、最小値およびその最大値および最小値にそれぞれ対応する２つのオフセット量を読み出す。そしてオフセット量供給回路７３は電圧Ｖ１、電圧Ｖ１の最大値、最小値、および２つのオフセット量に基づいて算出した値をオフセット量としてフォーカスサーボ回路６２に与える。
【００９６】
なお図１４に示すメモリ７５および検出回路７６は、図１に示すメモリ７５および検出回路７６と同様の機能を有するので、以後の説明は繰返さない。
【００９７】
図１５は、一般的なフォーカスエラーの検出方法を説明する図である。
図１５を参照して、光検出器の受光面は４つの領域に分割され、４つの領域のそれぞれに入射した光は電気信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに変換される。電気信号Ａ〜Ｄを受けるフォーカスエラー回路は電気信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを演算処理し、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）をフォーカスエラー信号ＦＥとして出力する。
【００９８】
まず光ディスクに面振れが生じていない場合のフォーカスエラー信号ＦＥの変化（実線）について説明する。光ディスクが焦点位置にある場合（合焦点）、光検出器の中央に円形の光スポットが形成される。この場合はフォーカスエラー信号ＦＥのレベルが０となる。光ディスクと対物レンズとの距離が大きいために焦点ずれが生じた場合、横に広がった楕円の光スポットが形成される。この場合は、フォーカスエラー信号ＦＥのレベルが０よりも低くなる。また、光ディスクと対物レンズとの距離が小さいために焦点ずれが生じた場合、縦に広がった楕円の光スポットが形成される。この場合は、フォーカスエラー信号ＦＥのレベルが０よりも高くなる。
【００９９】
光ディスクに半径方向の傾きが存在する場合には破線で示す範囲内でフォーカスエラー信号ＦＥのレベルが上下に変動する。このため再生信号のジッタ量も変動する。この問題を防ぐため実施の形態１と同様に、図１のフォーカスサーボ回路６２にはフォーカスエラー信号ＦＥだけでなくオフセット量も入力される。フォーカスサーボ回路６２は、フォーカスエラー信号ＦＥとオフセット量との和に応じた電圧Ｖ１を出力する。
【０１００】
次に実施の形態２の光ディスク装置の動作について説明する。概要を説明すると、実施の形態２の光ディスク装置の動作は実施の形態１の光ディスク装置の動作においてトラッキングオフセットをフォーカスオフセットに置き換えたものと同様である。
【０１０１】
図１６は、光ディスク２０の半径方向の傾き（ｒａｄ  ｓｋｅｗ）とジッタ量を最小にすることが可能なフォーカスエラー信号ＦＥのオフセット量との関係を説明する図である。
【０１０２】
図１６を参照して、光ディスク２０の半径方向の傾きがｒｓ＿ｍａｘの場合に、オフセット量は最大値（Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ）となる。一方、光ディスク２０の半径方向の傾きがｒｓ＿ｍｉｎの場合に、オフセット量は最小値（Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎ）となる。図１６に示すように光ディスク２０の半径方向の傾きとフォーカスエラー信号ＦＥのオフセット量とは比例関係にある。
【０１０３】
上述したように図６からは電圧Ｖ１と光ディスク２０の半径方向の傾きとは比例関係にある。よって、図１６と図６とから電圧Ｖ１とオフセット量とは比例関係にあることが導かれる。
【０１０４】
これにより実施の形態１と同様に電圧Ｖ１に応じてフォーカスオフセット量を決定すれば、光ディスク２０の半径方向の傾きが変化してもその変化に応じたオフセット量を決定することができる。実施の形態２ではこのような関係を用いてオフセット量を決定するので、光ディスク２０の半径方向の傾きによらずジッタ量を最小とするためのオフセット量を決定することができる。
【０１０５】
図１７は、光ディスク２０の半径方向の傾きがある大きさで固定されているときのオフセット量とジッタ量との関係を説明する図である。
【０１０６】
図１７を参照して、曲線Ａ１，Ｃ１はそれぞれ、光ディスク２０の半径方向の傾きがｒｓ＿ｍｉｎおよびｒｓ＿ｍａｘの場合におけるオフセット量の変化に対するジッタ量の変化を示す。曲線Ｂ１は、光ディスク２０の半径方向の傾きが０の場合におけるオフセット量の変化に対するジッタ量の変化を示す。
【０１０７】
曲線Ａ１〜Ｃ１のいずれもジッタ量を最小にするためのオフセット量が存在することを示す。曲線Ａ１，Ｃ１においてジッタ量を最小にするためのオフセット量がそれぞれＦｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎ，Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍａｘとなる。
【０１０８】
図１８は、図１のオフセット量特定回路７１がオフセット量を特定する処理を説明するための図である。
【０１０９】
図１８および図１４を参照して、オフセット量特定回路７１はオフセット量（ＦＥオフセット）をＦｅ１，Ｆｅ２，Ｆｅ３，Ｆｅ４，Ｆｅ５と順次変化させてジッタ量測定回路４３から再生信号のジッタ量を受ける。
【０１１０】
図１８および図９を参照して、実施の形態２においてもオフセット量特定回路７１がオフセット量Ｆｅ１〜Ｆｅ５の各々を出力する期間はディスク回転周期Ｔに等しい。また、オフセット量特定回路７１は各オフセット量を出力する期間内に電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍａｘおよびＶｆｏ＿ｍｉｎになるようにオフセット量Ｆｅ１〜Ｆｅ５を出力するタイミングを決定する。
【０１１１】
ジッタ波形を示す曲線において円形の記号および三角形の記号は、それぞれ電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍａｘおよびＶｆｏ＿ｍｉｎに達したときのジッタ量を示す。図９に示すジッタ量の変化と同様に、電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍａｘの場合にはオフセット量がＦｅ２のとき（時刻ｔ１）にジッタ量は最も小さくなる。一方、電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍｉｎの場合にはオフセット量がＦｅ４のとき（時刻ｔ２）にジッタ量は最も小さくなる。これによりオフセット量特定回路７１はオフセット量Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ，Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎをそれぞれＦｅ２，Ｆｅ４に特定する。
【０１１２】
図１９は、図１４のオフセット量特定回路７１の処理の流れを説明するフローチャートである。なお図１９に示す処理は光ディスクの再生時の処理である。
【０１１３】
図１９および図１０を参照して、実施の形態２の処理はステップＳ５の処理が実行されない点、ステップＳ６，Ｓ７の処理に代えてステップＳ６Ａ，Ｓ７Ａの処理が実行される点で実施の形態１の処理と異なる。図１９に示すステップＳ１〜Ｓ４の処理は図１０に示すステップＳ１〜Ｓ４の処理と同様である。よって以下では、ステップＳ６，７Ａの処理を説明する。
【０１１４】
図１９および図１４を参照して、検出回路７６が検出した光ディスクの振動の大きさが所定値より大きい場合（ステップＳ４においてＹＥＳ）、ステップＳ６Ａにおいて、オフセット量特定回路７１は電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍａｘである場合および電圧Ｖ１がＶｆｏ＿ｍｉｎである場合の各場合において、ジッタ量が最小となるフォーカスオフセット量（オフセット量Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ，Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎを特定する）。ステップＳ７Ａにおいて、オフセット量特定回路７１はオフセット量Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ，Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎをメモリ７５に記憶させる。ステップＳ７Ａの処理が終了すると全体の処理が終了する。
【０１１５】
図２０は、図１４のオフセット量供給回路７３の処理を説明するフローチャートである。
【０１１６】
図２０および図１１を参照して、実施の形態２の処理はステップＳ１２〜Ｓ１４の処理に代えてステップＳ１２Ａ，Ｓ１３Ａ，Ｓ１４Ａの処理が実行される点で実施の形態１の処理と異なる。
【０１１７】
図２０および図１４を参照して処理が開始されると、ステップＳ１１においてオフセット量供給回路７３はフォーカスサーボ回路６２から電圧Ｖ１を取得する。次にステップＳ１２Ａにおいてオフセット量供給回路７３はメモリ７５からオフセット量Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ，Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎを取得する。
【０１１８】
続いてステップＳ１３Ａにおいてオフセット量供給回路７３は線形補間によりオフセット量Ｆｅｏｆｓｔを決定する。具体的にはオフセット量供給回路７３は以下の式（２）に示す関数にフォーカスサーボ回路６２から取得した電圧Ｖ１の値を代入してオフセット量Ｆｅｏｆｓｔを算出する。
【０１１９】
Ｆｅｏｆｓｔ＝（Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍａｘ−Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎ）／（Ｖｆｏ＿ｍａｘ−Ｖｆｏ＿ｍｉｎ）×（Ｖ１−Ｖｆｏ＿ｍｉｎ）＋Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎ  …（２）
ステップＳ１４Ａにおいてオフセット量供給回路７３はこのオフセット量Ｆｅｏｆｓｔをフォーカスサーボ回路６２に供給する。ステップＳ１４Ａの処理が終了すると全体の処理はステップＳ１１に戻る。
【０１２０】
図２０に示す処理は再生前に行なわれてもよいし、再生時に図１９に示す処理に先立って行なわれてもよい。ただし再生時に図２０の処理と図１９の処理とを実行することによってメモリの容量が小さくても実行可能になるという効果が得られる。
【０１２１】
図２１は、実施の形態２の比較例による動作を説明する図である。
図２１を参照して、比較例による動作の場合、電圧Ｖ１の変化にかかわらずフォーカスエラーオフセット量の値は一定である。この場合には図１７に示されるように、曲線Ａ１においてジッタ量を最小とするときのオフセット量Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎは、曲線Ｂ１，Ｃ１においてジッタ量を最小とするときのオフセット量と異なる。つまり、図２１に示すように電圧Ｖ１の変化にかかわらずフォーカスエラーオフセット量の値を固定するとジッタ量が増えることにより再生信号の品質が低下する場合が生じる。
【０１２２】
図２２は、実施の形態２の光ディスク装置による動作を説明する図である。
図２２を参照して、オフセット量Ｆｅｏｆｓｔは電圧Ｖ１と同期して変化する。これにより、光ディスクの半径方向の傾きに対して最適なオフセット量Ｆｅｏｆｓｔを発生させることができる。これにより光ディスクの再生時に常にジッタ量を最小とするようにフォーカスオフセット量を設定することが可能になる。
【０１２３】
以上のように、実施の形態２によれば、オフセット量特定回路７１は、電圧Ｖ１の最大値（Ｖｆｏ＿ｍａｘ）においてジッタ量が最小となるオフセット量Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍａｘと、電圧Ｖ１の最小値（Ｖｆｏ＿ｍｉｎ）においてジッタ量が最小となるオフセット量Ｆｅｏｆｓｔ＿ｍｉｎとを特定する。そしてこれらの値に基づいてオフセット量供給回路７３はオフセット量Ｆｅｏｆｓｔを決定して、フォーカスサーボ回路６２にオフセット量Ｆｅｏｆｓｔを与える。これによりフォーカスサーボ回路６２は常に再生信号のジッタ量が最小となるようにフォーカス制御を行なうことができるので、光ディスク装置の動作の信頼性を高めることが可能になる。
【０１２４】
なお、以上の説明では電圧Ｖ１の最大値および最小値においてジッタ量を最小とするためのオフセット量を特定するものとした。しかしオフセット量を特定するための電圧Ｖ１の値は最大値および最小値に限定されず、異なる２つの値であればよい。
【０１２５】
また、実施の形態１，２ではトラッキング制御およびフォーカス制御のいずれか一方についてジッタ量を最小とするためのオフセット量を決定する。ただし本発明ではトラッキングエラー信号のオフセット量およびフォーカスエラー信号のオフセット量の両方を求めることも可能である。この場合、光ディスク装置はたとえばトラッキングエラー信号のオフセット量、フォーカスエラー信号のオフセット量の順にオフセット量を算出する。
【０１２６】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【０１２７】
【図１】実施の形態１に係る光ディスク装置１００の概略構成図である。
【図２】図１の光ディスク２０がモータ１の回転軸に対して傾いた状態を示す図である。
【図３】図１の光ディスク２０の外周部分に反りが生じている状態を示す図である。
【図４】図２に示す光ディスク２０にレーザ光ＬＡを照射したときに光検出器１４の受光面に形成される光スポットを説明する図である。
【図５】図１の光ディスク２０の回転時における電圧Ｖ１の変動を説明する図である。
【図６】電圧Ｖ１と光ディスク２０の半径方向の傾き（ｒａｄ  ｓｋｅｗ）との関係を説明する図である。
【図７】光ディスク２０の半径方向の傾き（ｒａｄ  ｓｋｅｗ）とジッタ量を最小にすることが可能なトラッキングエラー信号ＴＥのオフセット量との関係を説明する図である。
【図８】光ディスク２０の半径方向の傾きの大きさがある固定値のときのオフセット量とジッタ量との関係を説明する図である。
【図９】図１のオフセット量特定回路７１がオフセット量を特定する処理を説明するための図である。
【図１０】図１のオフセット量特定回路７１の処理を説明するフローチャートである。
【図１１】図１のオフセット量供給回路７３の処理を説明するフローチャートである。
【図１２】実施の形態１の比較例による動作を説明する図である。
【図１３】実施の形態１の光ディスク装置による動作を説明する図である。
【図１４】実施の形態２に係る光ディスク装置１００Ａの概略構成図である。
【図１５】一般的なフォーカスエラーの検出方法を説明する図である。
【図１６】光ディスク２０の半径方向の傾き（ｒａｄ  ｓｋｅｗ）とジッタ量を最小にすることが可能なフォーカスエラー信号ＦＥのオフセット量との関係を説明する図である。
【図１７】光ディスク２０の半径方向の傾きがある大きさで固定されているときのオフセット量とジッタ量との関係を説明する図である。
【図１８】図１のオフセット量特定回路７１がオフセット量を特定する処理を説明するための図である。
【図１９】図１４のオフセット量特定回路７１の処理の流れを説明するフローチャートである。
【図２０】図１４のオフセット量供給回路７３の処理を説明するフローチャートである。
【図２１】実施の形態２の比較例による動作を説明する図である。
【図２２】実施の形態２の光ディスク装置による動作を説明する図である。
【符号の説明】
【０１２８】
１  モータ、２  ディスクドライブコントローラ、３  ヘッドアクセス制御部、４  信号処理部、１０  ピックアップ装置、１１  対物レンズ、１２  対物レンズ駆動装置、１３  半導体レーザ、１４  光検出器、１４Ａ，１４Ｂ  領域、２０  光ディスク、３０  再生回路、４０  エラー検出回路、４１  トラッキングエラー検出回路、４２  フォーカスエラー検出回路、４３  ジッタ量測定回路、５０  ガイド、６１  トラッキングサーボ回路、６２  フォーカスサーボ回路、７０  オフセット出力回路、７１  オフセット量特定回路、７３  オフセット量供給回路、７５  メモリ、７６  検出回路、１００，１００Ａ  光ディスク装置、ＬＡ  レーザ光、ＬＢ，ＬＢ１，ＬＢ３，ＬＢ４  反射光、Ｒ１，Ｒ２  方向、ＳＰ  光スポット。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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