(57)【要約】【課題】外乱の存在により、位置を正確に取得することができなかった。【解決手段】強誘電体メモリは、対象物の予想される座標Ｘｃ（ｔ）、Ｙｃ（ｔ）、Ｚｃ（ｔ）と、対象物の実際の座標Ｘｄ（ｔ）、Ｙｄ（ｔ）、Ｚｄ（ｔ）と、外乱の影響を低減するための座標補正量Ｘａ（ｔ）、Ｙａ（ｔ）、Ｚａ（ｔ）との対応関係を規定するテーブルを記憶しており、実行部は、テーブルの参照を経て、対象物の最終的な座標Ｘｅ（ｔ）、Ｚｅ（ｔ）、Ｙｅ（ｔ）を算出する。【選択図】図１
2008296341.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
強誘電体メモリと、実行部とを含む位置補正装置であって、
［Ｉ］前記強誘電体メモリは、
［１］［１ａ］一の時刻（ｔ）での対象物の本来の座標Ｘ（ｔ）、Ｙ（ｔ）、Ｚ（ｔ）と、［１ｂ］前記一の時刻（ｔ）に先立つ他の時刻（ｔ−１）での外乱の影響を低減するための補正量である座標補正量Ｘａ（ｔ−１）、Ｙａ（ｔ−１）、Ｚａ（ｔ−１）とにより定まる、［１ｃ］前記一の時刻（ｔ）での前記対象物の予想される座標Ｘｃ（ｔ）、Ｙｃ（ｔ）、Ｚｃ（ｔ）と、
［２］前記一の時刻（ｔ）での前記対象物の実際の座標Ｘｄ（ｔ）、Ｙｄ（ｔ）、Ｚｄ（ｔ）と、
［３］前記一の時刻（ｔ）での前記外乱の影響を低減するための補正量である座標補正量Ｘａ（ｔ）、Ｙａ（ｔ）、Ｚａ（ｔ）と、の間の複数の対応関係を規定するテーブルを有しており、
［ＩＩ］前記実行部は、
［１］［１ａ］前記座標Ｘ（ｔ）、Ｙ（ｔ）、Ｚ（ｔ）と、前記座標補正量Ｘａ（ｔ−１）、Ｙａ（ｔ−１）、Ｚａ（ｔ−１）とにより定まる、当該一の時刻（ｔ）での前記座標Ｘｃ（ｔ）、Ｙｃ（ｔ）、Ｚｃ（ｔ）と、［１ｂ］前記座標Ｘｄ（ｔ）、Ｙｄ（ｔ）、Ｚｄ（ｔ）とに基づき、［１ｃ］前記テーブルを参照することにより、［１ｄ］前記座標補正量Ｘａ（ｔ）、Ｙａ（ｔ）、Ｚａ（ｔ）を取得し、
［２］前記座標Ｘｃ（ｔ）、Ｙｃ（ｔ）、Ｚｃ（ｔ）と、前記座標補正量Ｘａ（ｔ）、Ｙａ（ｔ）、Ｚａ（ｔ）とから、前記一の時刻（ｔ）での前記対象物の最終的な座標Ｘｅ（ｔ）、Ｚｅ（ｔ）、Ｙｅ（ｔ）を算出することを特徴とする位置補正装置。
【請求項２】
請求項１において、ネジを締めるドライバーを有する位置補正装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、空間（一次元、二次元、三次元等）における座標系（直交座標系（Ｘ、Ｙ、Ｚ）、極座標系（（ｒ、θ、Φ））等）中で特定される位置を補正する位置補正装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、図４に図示された、一定の速度Ｖで搬送を行うべきベルトコンベアＢ上を搬送されるコンピュータＣの筐体の裏面カバーＲＣにドライバーでネジ締めを行う場合、例えば、時刻ｔ１のとき、コンピュータＣにおける、予め定められた座標（Ｘ（ｔ１）、Ｙ（ｔ１）、Ｚ（ｔ１））のネジ穴ＮＨ１にネジＮ１を締める。同様にして、時刻ｔ２のとき、コンピュータＣにおける、予め定められた座標（Ｘ（ｔ２）、Ｙ（ｔ２）、Ｚ（ｔ２））のネジ穴ＮＨ２にネジＮ２を締め、最終的には、即ち、時刻ｔ４の後には、コンピュータＣの筐体における４つのネジ穴ＮＨ１〜ＮＨ４に４つのネジＮ１〜Ｎ４を締められていることになる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、ベルトコンベアＢの速度Ｖが一定ではないと、即ち、ばらつきがあると、例えば、時刻ｔ１のときに、ネジＮ１を、本来のネジ穴ＮＨ１の座標（Ｘ（ｔ１）、Ｙ（ｔ１）、Ｚ（ｔ１））からずれた座標（Ｘ１（ｔ１）’、Ｙ（ｔ１）’、Ｚ（ｔ１）’）（図示せず。）の位置で締めようとすることになり、その結果、コンピュータＣの裏面カバーＲＣに当該ネジＮ１を締めることができないという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明に係る位置補正装置は、上記した課題を解決すべく、
強誘電体メモリと、実行部とを含む位置補正装置であって、
［Ｉ］前記強誘電体メモリは、
［１］［１ａ］一の時刻（ｔ）での対象物の本来の座標Ｘ（ｔ）、Ｙ（ｔ）、Ｚ（ｔ）と、［１ｂ］前記一の時刻（ｔ）に先立つ他の時刻（ｔ−１）での外乱の影響を低減するための補正量である座標補正量Ｘａ（ｔ−１）、Ｙａ（ｔ−１）、Ｚａ（ｔ−１）とにより定まる、［１ｃ］前記一の時刻（ｔ）での前記対象物の予想される座標Ｘｃ（ｔ）、Ｙｃ（ｔ）、Ｚｃ（ｔ）と、
［２］前記一の時刻（ｔ）での前記対象物の実際の座標Ｘｄ（ｔ）、Ｙｄ（ｔ）、Ｚｄ（ｔ）と、
［３］前記一の時刻（ｔ）での前記外乱の影響を低減するための補正量である座標補正量Ｘａ（ｔ）、Ｙａ（ｔ）、Ｚａ（ｔ）と、の間の対応関係を規定するテーブルを有しており、
［ＩＩ］前記実行部は、
［１］［１ａ］前記座標Ｘ（ｔ）、Ｙ（ｔ）、Ｚ（ｔ）と、前記座標補正量Ｘａ（ｔ−１）、Ｙａ（ｔ−１）、Ｚａ（ｔ−１）とにより定まる、当該一の時刻（ｔ）での前記座標Ｘｃ（ｔ）、Ｙｃ（ｔ）、Ｚｃ（ｔ）と、［１ｂ］前記座標Ｘｄ（ｔ）、Ｙｄ（ｔ）、Ｚｄ（ｔ）とに基づき、［１ｃ］前記テーブルを参照することにより、［１ｄ］前記座標補正量Ｘａ（ｔ）、Ｙａ（ｔ）、Ｚａ（ｔ）を取得し、
［２］前記座標Ｘｃ（ｔ）、Ｙｃ（ｔ）、Ｚｃ（ｔ）と、前記座標補正量Ｘａ（ｔ）、Ｙａ（ｔ）、Ｚａ（ｔ）とから、前記一の時刻（ｔ）での前記対象物の最終的な座標Ｘｅ（ｔ）、Ｚｅ（ｔ）、Ｙｅ（ｔ）を算出する。
【０００５】
上記した本発明に係る位置補正装置によれば、前記強誘電体メモリが、前記テーブルを有していることにより、前記実行部は、当該テーブルの参照によって前記座標補正量Ｘａ（ｔ）、Ｙａ（ｔ）、Ｚａ（ｔ）を取得し、さらに、当該座標補正量Ｘａ（ｔ）、Ｙａ（ｔ）、Ｚａ（ｔ）を用いて、最終的な座標Ｘｅ（ｔ）、Ｙｅ（ｔ）、Ｚｅ（ｔ）を取得する。これにより、上記した外乱（「前記ベルトコンベアＢの速度Ｖのばらつき」に相当。）による影響を低減することが可能となる。
【０００６】
上記した位置補正装置は、ネジを締めるドライバーを有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
本発明に係る位置補正装置の実施例について図面を参照して説明する。
【０００８】
《構成》
図１は、実施例の位置補正装置の構成を示す。実施例の位置補正装置Ｄは、従来と同様に、図４に図示のコンピュータＣの筐体の裏面カバーＲＣにドライバーを用いてネジＮ１〜Ｎ４を締めるとき、当該ネジ締めをすべき位置を補正すべく、処理ユニット１と、検出ユニット２とを含む。
【０００９】
処理ユニット１は、ＭＰＵ１ａと、ＦｅＲＡＭ１ｂと、ＲＡＭ１ｃとを有する。
【００１０】
ＭＰＵ１ａは、『実行部』に相当し、プログラム（図示せず。）に従って、コンピュータＣにおける、『対象物』に相当するネジ穴ＮＨ１〜ＮＨ４の位置について補正を行う。
【００１１】
ＦｅＲＡＭ１ｂは、『強誘電体メモリ』に相当し、不揮発性を有し、コンピュータＣのネジ穴ＮＨ１〜ＮＨ４の位置を補正するためのテーブルＴを記憶している。
【００１２】
テーブルＴは、ネジ穴ＮＨ１〜ＮＨ４について、図２に示されるように、基本的に、（２）式（後述。）に示されるように、ネジ穴ＮＨ１〜ＮＨ４の各毎に、３つの座標を有する、即ち、［１］時刻（ｔ）での本来のＸ座標Ｘ（ｔ）とその前の時刻（ｔ−１）における、外乱の影響を低減するための補正量であるＸ座標補正量Ｘａ（ｔ−１）との和として規定される（後述されるように、ＭＰＵ１ａにより算出された）Ｘ座標Ｘｃ（ｔ）と、［２］時刻（ｔ）での実際の（後述されるように、検出ユニット２内の検出部２ａにより検出された）Ｘ座標Ｘｄ（ｔ）と、［３］時刻（ｔ）での、外乱の影響を低減するための補正量であるＸ座標補正量Ｘａ（ｔ）と、の対応関係を規定している。テーブルＴは、前記ネジ穴ＮＨ１〜ＮＨ４のＹ座標、Ｚ座標についても、上記したと同様な対応関係を記憶している。
【００１３】
図１に戻り、ＲＡＭ１ｃは、例えば、ＤＲＡＭ又はＳＲＡＭであり、ＭＰＵ１ａが、前記プログラムを実行する上で必要なデータ（例えば、ネジ穴ＮＨ１〜ＮＨ４の本来の座標（Ｘ（ｔ１）、Ｙ（ｔ１）、Ｚ（ｔ１））〜（Ｘ（ｔ４）、Ｙ（ｔ４）、Ｚ（ｔ４）等）を一時的に記憶する。ＲＡＭ１ｃは、また、当該プログラムの実行の結果であるデータ（例えば、テーブルＴを参照して得られたＸ座標補正量Ｘａ（ｔ）等）を一時的に記憶するために用いられる。
【００１４】
検出ユニット２は、検出部２ａを有する。検出部２ａは、時刻ｔ１〜時刻ｔ４における、ネジ穴ＮＨ１〜ＮＨ４の実際の座標（Ｘｄ（ｔ１）、Ｙｄ（ｔ１）、Ｚｄ（ｔ１））〜（Ｘｄ（ｔ４）、Ｙｄ（ｔ４）、Ｚｄ（ｔ４））を検出する。
【００１５】
《動作》
図３は、実施例の位置補正装置の動作を示すフローチャートである。以下、実施例の位置補正装置Ｄについて、図３のフローチャートに沿って説明する。以下では、説明及び理解を容易にすべく、現時刻が、図４に図示の時刻ｔ０〜ｔ４のうち、時刻ｔ３であることを想定する。
【００１６】
ステップＳ１：時刻ｔ３のとき、検出部２ａは、図４に図示されるように、コンピュータＣのネジ穴ＮＨ３の実際の位置のＸ座標Ｘｄ（ｔ３）を検出し、同様にして、Ｙ座標Ｙｄ（ｔ３）及びＺ座標Ｚｄ（ｔ３）を検出する。
【００１７】
ステップＳ２：ＭＰＵ１ａは、（１）式に従って、時刻ｔ３のときのＸ座標Ｘ（ｔ３）、及び、時刻ｔ２のときのＸ座標補正量Ｘａ（ｔ２）の乗算により、時刻ｔ３のときに予想される、ネジ穴ＮＨ３のＸ座標Ｘｃ（ｔ３）を算出する。同様にして、時刻ｔ３のときに予想される、ネジ穴ＮＨ３のＹ座標Ｙｃ（ｔ３）及びＺ座標Ｚｃ（ｔ３）を算出する。
【００１８】
【数１】
2008296341.tif 000003
【００１９】
ステップＳ３：ＭＰＵ１ａは、当該ＭＰＵ１ａにより算出された前記Ｘ座標Ｘｃ（ｔ３）、及び、検出部２ａにより検出された前記Ｘ座標Ｘｄ（ｔ３）に基づき、ＦｅＲＡＭ１ｂに記憶されており、かつ、（２）式の内容を規定しているテーブルＴを参照する。これにより、ＭＰＵ１ａは、時刻ｔ３での外乱の影響を低減するためのＸ座標補正量Ｘａ（ｔ３）を取得する。
【００２０】
【数２】
2008296341.tif 000004
【００２１】
ＭＰＵ１ａは、同様に、算出されたＹ座標Ｙｃ（ｔ３）及び検出されたＹ座標Ｙｄ（ｔ３）に基づき前記テーブルＴを参照することにより、時刻ｔ３での前記外乱の影響を低減するためのＹ座標補正量Ｙａ（ｔ３）を取得する。また、算出されたＺ座標Ｚｃ（ｔ３）及び検出されたＺ座標Ｚｄ（ｔ３）に基づきテーブルＴを参照することにより、時刻ｔ３での前記外乱の影響を低減するためのＺ座標補正量Ｚａ（ｔ３）を取得する。
【００２２】
ステップＳ４：ＭＰＵ１ａは、（３）式に従って、前記算出されたＸ座標Ｘｃ（ｔ３）から、前記取得されたＸ座標補正量Ｘａ（ｔ３）を減算することにより、時刻ｔ３での最終的なＸ座標Ｘｅ（ｔ３）を取得する。ＭＰＵ１ａは、同様にして、時刻ｔ３での最終的なＹ座標Ｙｅ（ｔ３）、及び、最終的なＺ座標Ｚｅ（ｔ３）を取得する。
【００２３】
【数３】
2008296341.tif 000005
【００２４】
《効果》
上記したように、実施例の位置補正装置Ｄでは、ＦｅＲＡＭ１ｂが、（２）式の内容を規定するテーブルＴを記憶しており、ＭＰＵ１ａが、時刻ｔ３のとき、当該テーブルＴを参照することを経て、ネジ穴ＮＨ３の最終的なＸ座標Ｘｅ（ｔ３）、最終的なＹ座標Ｙｅ（ｔ３）、及び、最終的なＺ座標Ｚｅ（ｔ３）を取得することから、従来と異なり、ネジ穴ＮＨ３の位置を正確に決定することが可能となる。この結果、ネジＮ３を正確にネジ穴ＮＨ３に締めることが可能となる。
【００２５】
上記した実施例の位置補正装置Ｄでは、上記したような直交座標系（Ｘ、Ｙ、Ｚ）に代えて、極座標系（ｒ、θ、Φ）を用いることによっても、上記したと同様な効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】実施例の位置補正装置の構成を示す図。
【図２】実施例のテーブルの内容を示す図。
【図３】実施例の位置補正装置の動作を示すフローチャート。
【図４】コンピュータへのネジ締めの動作を示す図。
【符号の説明】
【００２７】
Ｄ…位置補正装置、１…処理ユニット、１ａ…ＭＰＵ、１ｂ…ＦｅＲＡＭ、Ｔ…テーブル、１ｃ…ＲＡＭ、２…検出ユニット、２ａ…検出部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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