(57)【要約】【課題】欠陥箇所の検出精度を高めることが可能な表示パネルの製造方法を提供する。【解決手段】本発明の表示パネルの製造方法は、表示パネル２０の欠陥箇所２１を検出する欠陥検出工程を含み、前記欠陥検出工程は、前記表示パネル２０とタッチパネル２２とを対向させた状態で位置決めするパネル位置決め工程と、前記タッチパネル２２へのタッチペン３０の操作に基づいて当該操作点を前記タッチパネル２２上の座標として特定する座標特定工程と、特定した前記座標を前記欠陥箇所２１として記憶する座標記憶工程と、を含み、前記タッチペン３０は、指向性を示す光４０を出射する光源部３１と、前記指向性を示す光の光軸４１と前記タッチパネル２２のパネル面２２ａとが垂直に交わるように当該タッチペン３０を位置決めする垂直位置決め手段とを備えることを特徴とする。【選択図】図３
2008026631.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示パネルの欠陥箇所を検出する欠陥検出工程を含む表示パネルの製造方法であって、
前記欠陥検出工程は、前記表示パネルとタッチパネルとを対向させた状態で位置決めするパネル位置決め工程と、前記タッチパネルへのタッチペンの操作に基づいて当該操作点を前記タッチパネル上の座標として特定する座標特定工程と、特定した前記座標を前記欠陥箇所として記憶する座標記憶工程と、を含み、
前記タッチペンは、指向性を示す光を出射する光源部と、前記指向性を示す光の光軸と前記タッチパネルのパネル面とが垂直に交わるように当該タッチペンを位置決めする垂直位置決め手段とを備えることを特徴とする表示パネルの製造方法。
【請求項２】
前記座標特定工程は、前記タッチペンの前記タッチパネルへの接触に基づいて、当該接触面の重心位置を前記座標として特定する処理を含むことを特徴とする請求項１に記載の表示パネルの製造方法。
【請求項３】
前記タッチペンは、前記タッチパネルに対して接触する点の集合が平面とされるとともに、前記光源部から出射される指向性を示す光の光軸が当該タッチペンの前記表面に対して垂直とされ、
前記垂直位置決め手段は、前記タッチペンの前記表面全体が前記タッチパネルに接触した場合に、前記座標特定工程が実行される構成を備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の表示パネルの製造方法。
【請求項４】
前記タッチパネルに対して接触する前記表面を前記光源部が具備し、
前記タッチペンは、前記光源部が軸方向に沿って移動自在に取り付けられた筐体を備え、
前記筐体には、前記垂直位置決め手段として、前記光源部の前記表面が前記タッチパネルと接触した場合に、前記座標の特定を開始するための信号を創出するスイッチが備えられていることを特徴とする請求項３に記載の表示パネルの製造方法。
【請求項５】
前記スイッチは、前記光源部の表面が前記タッチパネルと接触した後、当該タッチペンの押圧に基づいて、前記筐体と前記光源部とが軸方向に相対移動することにより、当該光源部と接触可能な位置に配設された接触センサであることを特徴とする請求項４に記載の表示パネルの製造方法。
【請求項６】
表示パネルの欠陥を検査する検査装置であって、
前記表示パネルに対向して配置されるタッチパネルと、
前記タッチパネル上の位置を特定するためのタッチペンと、
前記タッチペンにより特定された位置を座標として特定する座標特定手段と、前記座標特定手段により特定された座標を記憶する座標記憶手段とを含む制御装置と、を備え、
前記タッチペンは、指向性を示す光を出射する光源部と、前記指向性を示す光の光軸と前記タッチパネルのパネル面とが垂直に交わるように当該タッチペンを位置決めする垂直位置決め手段とを備えることを特徴とする表示パネルの検査装置。
【請求項７】
前記座標特定手段は、前記タッチペンの前記タッチパネルへの接触に基づいて、当該接触面の重心位置を前記座標として特定する重心位置特定手段を含むことを特徴とする請求項６に記載の表示パネルの検査装置。
【請求項８】
前記タッチペンは、前記タッチパネルに対して接触する点の集合が平面とされるとともに、前記光源部から出射される指向性を示す光の光軸が当該タッチペンの前記表面に対して垂直とされ、
前記垂直位置決め手段は、前記タッチペンの前記表面全体が前記タッチパネルに接触した場合に、前記座標特定手段に対して前記座標の特定を開始させる構成を備えることを特徴とする請求項６又は７に記載の表示パネルの検査装置。
【請求項９】
前記タッチパネルに対して接触する前記表面を前記光源部が具備し、
前記タッチペンは、前記光源部が軸方向に沿って移動自在に取り付けられた筐体を備え、
前記筐体には、前記垂直位置決め手段として、前記光源部の前記表面が前記タッチパネルと接触した場合に、前記座標特定手段に対して当該座標の特定を開始するための信号を送信するスイッチが備えられていることを特徴とする請求項８に記載の表示パネルの検査装置。
【請求項１０】
前記スイッチは、前記光源部の表面が前記タッチパネルと接触した後、当該タッチペンの押圧に基づいて、前記筐体と前記光源部とが軸方向に相対移動することにより、当該光源部と接触可能な位置に配設された接触センサであることを特徴とする請求項９に記載の表示パネルの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示パネルの製造方法、及び表示パネルの検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶パネル等の表示パネルの製造工程では、周辺回路接続前の表示パネルに対して、欠陥箇所を検出する表示品位検査が行われる。特に、例えば液晶表示装置の中で近年主流になりつつあるアクティブマトリクス型液晶パネルにおいては、その良品率を１００％で維持することは困難であり、表示検査および欠陥箇所の修正がその製造工程において必要不可欠である。
【０００３】
そこで、例えば特許文献１には、タッチパネルを内蔵する表示検査装置を用いて、液晶パネルの欠陥箇所をタッチパネル上の座標として入力し、その座標を記憶手段に記憶するとともに、記憶した座標を基に欠陥箇所の修正を行う技術が開示されている。
【特許文献１】特開平６−１８６２６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記特許文献１に開示された技術では、液晶パネルの機種の違いや検査オペレータの違いにより、実際の欠陥位置と入力座標位置との間にズレが生じ、高い検査精度が得られない場合がある。つまり、液晶パネルとタッチパネルとの間には、パネル搬送の際に干渉しないように一定の間隙を設ける必要があるが、この間隙によってオペレータが斜め方向から欠陥を視認した場合、実際の欠陥位置と、座標入力する位置との間にズレが生じ、検査精度の低下を招く場合がある。
【０００５】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、表示パネルの欠陥箇所を検出する工程における作業を簡素化すると共に、検出精度を高めることが可能な表示パネルの製造方法を提供することを目的としている。また、本発明は、表示パネルの欠陥検出精度を高めた表示パネルの検査装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明の表示パネルの製造方法は、表示パネルの欠陥箇所を検出する欠陥検出工程を含む表示パネルの製造方法であって、前記欠陥検出工程は、前記表示パネルとタッチパネルとを対向させた状態で位置決めするパネル位置決め工程と、前記タッチパネルへのタッチペンの操作に基づいて当該操作点を前記タッチパネル上の座標として特定する座標特定工程と、特定した前記座標を前記欠陥箇所として記憶する座標記憶工程と、を含み、前記タッチペンは、指向性を示す光を出射する光源部と、前記指向性を示す光の光軸と前記タッチパネルのパネル面とが垂直に交わるように当該タッチペンを位置決めする垂直位置決め手段とを備えることを特徴とする。
【０００７】
上記の方法によれば、欠陥検出工程において、オペレータのタッチペン操作により欠陥箇所を特定することができるため、当該欠陥検出工程が非常に簡便なものとなる。また、特に本発明では、タッチペンの光源部から出射される指向性を示す光の光軸とタッチパネルのパネル面とが垂直に交わるように、当該タッチペンを位置決めする垂直位置決め手段を具備させたため、表示パネルとタッチパネルとの間に間隙があって、オペレータの視認方向によって実際の欠陥位置と視認する欠陥位置との間に視差が生じる場合にも、オペレータが目視した欠陥に対してタッチペンから出射される光の照準を合わせ、当該タッチペンを操作すれば、実際の欠陥位置とタッチパネル上で特定される座標との間にズレが生じ難いものとなる。つまり、タッチペンの光軸とパネル面とが垂直に交わるように当該タッチペンが位置決めされるため、オペレータの視認方向がパネル面に対して斜め方向となる場合であっても、タッチペンから出射される光の照準を欠陥に合わせれば、欠陥位置とタッチペンにより特定される座標位置とを結ぶ線はタッチパネル面と垂直となって、当該特定される座標と欠陥位置との間にズレが生じ難いものとなり、欠陥検出精度を向上させることが可能となるのである。
【０００８】
本発明の製造方法において、前記座標特定工程は、前記タッチペンの前記タッチパネルへの接触に基づいて、当該接触面の重心位置を前記座標として特定する処理を含むものとすることができる。
このような座標特定処理を行うことで、接触面における座標特定位置を一定にすることが可能となる。特に、タッチパネルの光源部から出射される光の光軸が接触面の重心位置を通るものとすれば、実際の欠陥位置と特定される座標位置との間のズレを極めて低減することが可能となる。
【０００９】
前記タッチペンは、前記タッチパネルに対して接触する点の集合が平面とされるとともに、前記光源部から出射される指向性を示す光の光軸が当該タッチペンの前記表面に対して垂直とされ、前記垂直位置決め手段は、前記タッチペンの前記表面全体が前記タッチパネルに接触した場合に、前記座標特定工程が実行される構成を備えるものとすることができる。
この場合、座標特定を行う際には、タッチペンの光源部から出射される光の光軸とタッチパネルのパネル面とが確実に垂直となるように当該タッチペンが位置決めされ、欠陥検出精度が一層向上することとなる。つまり、平面状のタッチペン表面全体がタッチパネル面に接触した場合に座標特定を行うものとすれば、タッチペン表面に対して垂直とされた光軸はタッチパネル表面に対しても垂直となり、当該垂直位置決め手段は確実にタッチペンの位置決めを行うことができるようになるのである。
【００１０】
前記タッチパネルに対して接触する前記表面を前記光源部が具備し、前記タッチペンは、前記光源部が軸方向に沿って移動自在に取り付けられた筐体を備え、前記筐体には、前記垂直位置決め手段として、前記光源部の前記表面が前記タッチパネルと接触した場合に、前記座標の特定を開始するための信号を創出するスイッチが備えられているものとすることができる。
このように筐体に対して軸方向に移動自在に取り付けられた光源部の表面がタッチパネルと接触した場合に、スイッチにより検出して座標の特定を開始するものとすれば、光軸とパネル面とを垂直に位置決めして、一層精度の高い欠陥検出を行うことが可能となる。
また、このように筐体に対して軸方向に移動自在に取り付けられた光源部を備えるため、位置決めと座標入力トリガを一連の動作で行うことが可能となり、一層精度の高い欠陥検出を行うことができるようになる。さらに、当該構成によりタッチパネル操作を非常に簡便化できるという効果を奏することも可能となる。
【００１１】
前記スイッチは、前記光源部の表面が前記タッチパネルと接触した後、当該タッチペンの押圧に基づいて、前記筐体と前記光源部とが軸方向に相対移動することにより、当該光源部と接触可能な位置に配設された接触センサとすることができる。
このように光源部の表面がタッチパネルと接触した場合に、当該光源部と接触可能な位置に配設された接触センサにより上記スイッチを構成すれば、当該センサの検出結果に基づいて座標の特定を行うことで、光軸とパネル面とを垂直に位置決めして、精度の高い欠陥検出を確実に行うことが可能となる。
【００１２】
次に、上記課題を解決するために、本発明の表示パネルの検査装置は、表示パネルの欠陥を検査する検査装置であって、前記表示パネルに対向して配置されるタッチパネルと、  前記タッチパネル上の位置を特定するためのタッチペンと、前記タッチペンにより特定された位置を座標として特定する座標特定手段と、前記座標特定手段により特定された座標を記憶する座標記憶手段とを含む制御装置と、を備え、前記タッチペンは、指向性を示す光を出射する光源部と、前記指向性を示す光の光軸と前記タッチパネルのパネル面とが垂直に交わるように当該タッチペンを位置決めする垂直位置決め手段とを備えることを特徴とする。
【００１３】
このような検査装置によれば、タッチペンの光源部から出射される指向性を示す光の光軸とタッチパネルのパネル面とが垂直に交わるように、当該タッチペンを位置決めする垂直位置決め手段を具備させたため、表示パネルとタッチパネルとの間に間隙があって、オペレータの視認方向によって実際の欠陥位置と視認する欠陥位置との間に視差が生じる場合にも、オペレータが目視した欠陥に対してタッチペンから出射される光の照準を合わせ、当該タッチペンを操作すれば、実際の欠陥位置とタッチパネル上で特定される座標との間にズレが生じ難いものとなる。つまり、タッチペンの光軸とパネル面とが垂直に交わるように当該タッチペンが位置決めされるため、オペレータの視認方向がパネル面に対して斜め方向となる場合であっても、タッチペンから出射される光の照準を欠陥に合わせれば、欠陥位置とタッチペンにより特定される座標位置とを結ぶ線はタッチパネル面と垂直となって、当該特定される座標と欠陥位置との間にズレが生じ難いものとなり、欠陥検出精度を向上させることが可能となるのである。
【００１４】
前記座標特定手段は、前記タッチペンの前記タッチパネルへの接触に基づいて、当該接触面の重心位置を前記座標として特定する重心位置特定手段を含むものとすることができる。このように座標の特定を行うことで、接触面における座標特定位置を一定にすることが可能となる。特に、タッチパネルの光源部から出射される光の光軸が接触面の重心位置を通るものとすれば、実際の欠陥位置と特定される座標位置との間のズレを極めて低減することが可能となる。
【００１５】
前記タッチペンは、前記タッチパネルに対して接触する点の集合が平面とされるとともに、前記光源部から出射される指向性を示す光の光軸が当該タッチペンの前記表面に対して垂直とされ、前記垂直位置決め手段は、前記タッチペンの前記表面全体が前記タッチパネルに接触した場合に、前記座標特定手段に対して前記座標の特定を開始させる構成を備えるものとすることができる。
この場合、座標特定を行う際には、タッチペンの光源部から出射される光の光軸とタッチパネルのパネル面とが確実に垂直となるように当該タッチペンが位置決めされ、欠陥検出精度が一層向上することとなる。つまり、平面状のタッチペン表面全体がタッチパネル面に接触した場合に座標特定を行うものとすれば、タッチペン表面に対して垂直とされた光軸はタッチパネル表面に対しても垂直となり、当該垂直位置決め手段は確実にタッチペンの位置決めを行うことができるようになるのである。
【００１６】
前記タッチパネルに対して接触する前記表面を前記光源部が具備し、前記タッチペンは、前記光源部が軸方向に沿って移動自在に取り付けられた筐体を備え、前記筐体には、前記垂直位置決め手段として、前記光源部の前記表面が前記タッチパネルと接触した場合に、前記座標特定手段に対して当該座標の特定を開始するための信号を送信するスイッチが備えられているものとすることができる。
このように筐体に対して軸方向移動自在に取り付けられた光源部の表面がタッチパネルと接触した場合に、スイッチにより検出して座標の特定を開始するものとすれば、光軸とパネル面とを垂直に位置決めして、一層精度の高い欠陥検出を行うことが可能となる。
【００１７】
前記スイッチは、前記光源部の表面が前記タッチパネルと接触した後、当該タッチペンの押圧に基づいて、前記筐体と前記光源部とが軸方向に相対移動することにより、当該光源部と接触可能な位置に配設された接触センサとすることができる。
このように光源部の表面がタッチパネルと接触した場合に、当該光源部と接触可能な位置に配設された接触センサにより上記スイッチを構成すれば、当該センサの検出結果に基づいて座標の特定を行うことで、光軸とパネル面とを垂直に位置決めして、精度の高い欠陥検出を確実に行うことが可能となる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、表示パネルの欠陥検出精度を向上させることができ、特に表示パネルの大きさが異なる場合、欠陥検出オペレータが欠陥を視認する位置（高さ等）が異なる場合にも、一定の精度で欠陥検出を行うことができ、ひいては信頼性の高い表示パネルを提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の表示パネルの製造方法に係る実施形態について図面を参照しつつ説明する。ここでは、アクティブマトリクス型液晶パネルを製造する場合を例に挙げて説明するものとする。
【００２０】
アクティブマトリクス型液晶パネル（以下、液晶パネルと称する）の製造工程においては、まずガラス等からなる一対の基板を用意し、これらの基板にＩＴＯ(Indium Tin Oxide)電極を形成する。次に、配向膜印刷、配向処理を行い、セルギャップ材を散布し、シール印刷を行って、上記一対の基板を対向させて貼り合わせた後、表示領域周辺の端子出しを行い、両基板間に液晶を注入する。
【００２１】
上記のようにして作製した液晶パネルには、周辺回路を接続する前に、実際に液晶パネルを表示させることにより、欠陥箇所を検出する欠陥検出工程と、この欠陥検出工程により検出された欠陥箇所を修正する修正工程とを実施する。このような欠陥検出及び検査結果に基づく修正は、液晶パネルの良品率の向上を目的として行うものである。
【００２２】
本実施形態の欠陥検出工程では、図１に示すような検査装置（液晶パネルの検査装置）１を用いて、液晶パネルの表示検査を行うものとしている。この検査装置１は、液晶パネルの欠陥を検査するもので、例えば図２に示すように液晶パネル２０に対向して配置されるタッチパネル２２と、タッチパネル２２上の位置を特定するためのタッチペン３０と、タッチペン３０により特定された位置を座標として特定する制御部（座標特定手段）８と、制御装置８により特定された座標を記憶するメモリ（座標記憶手段）７とを含む制御装置６と、を備えて構成されている。
【００２３】
なお、タッチパネル２２は、図１に示すように、メモリ７、表示装置９、キーボード１０、及びこのキーボード１０からの入力指示に応じてメモリ７、表示装置９等を制御する制御部８等を有する制御装置６に接続されており、タッチパネル２２を押圧することにより入力された箇所の座標は、制御部８を介してメモリ７に記憶されるようになっている。つまり、図２に示すようにオペレータ２３が液晶パネル２０上の欠陥箇所２１を視認した場合に、タッチペン３０をタッチパネル２２に対して操作し、欠陥箇所２１とタッチペン３０とを位置合わせした後に、当該タッチペン３０を押圧することで座標の特定が行われるものとされている。
【００２４】
タッチペン３０は、指向性を示すレーザー光４０を出射する光源部（レーザー光源）３１を備え、レーザー光４０の光軸４１とタッチパネル２２のパネル面２２ａとが垂直に交わるように位置決めされる。具体的には、タッチペン３０は、タッチパネル２２に対して接触する表面（接触する点の集合）３６が平坦面とされるとともに、光源部３１から出射されるレーザー光４０の光軸４１が当該タッチペン３０の表面３６に対して垂直とされ、図４に示すようにタッチペン３０の表面３６全体がタッチパネル２２の表面２２ａに接触した場合に、座標の特定を開始させる信号（座標特定開始信号）を配線３５を介して制御部８（図１参照）に送信するものとされている。
【００２５】
本実施形態では、このように（１）タッチペン３０の表面３６が平坦面であること、（２）該表面３６全体がタッチパネル２２の表面２２ａに接触した場合に、制御部８に座標特定開始信号を送信すること、により、レーザー光４０の光軸４１とタッチパネル２２のパネル面２２ａとが垂直に交わるようにタッチペン３０の位置決めが行われている（垂直位置決め手段）。
【００２６】
具体的には、タッチパネル２２に対して接触する表面３６は、円柱状に構成された光源部３１の一端面により構成されている。そして、タッチペン３０は円筒状の筐体３３を備え、円柱状の光源部３１が当該筐体３３に嵌入されている。ここで、光源部３１は、筐体３３に対して軸方向に移動自在に取り付けられており、筐体３３には、光源部３１の一端面３６がタッチパネル２２の表面２２ａと接触した場合に、制御部８に対して上記座標特定開始信号を送信するスイッチ３４が備えられている。
【００２７】
このスイッチ３４は、光源部３１の一端面３６がタッチパネル２２のパネル面２２ａと接触した後、当該タッチペン３０がオペレータ２３により押圧されることに基づいて筐体３３と光源部３１とが軸方向に相対移動することにより、当該光源部３１の他端面３７と接触可能な位置、つまり筐体３３の底部に配設された接触センサにより構成されている。
【００２８】
このように、タッチパネル２２に対して光源部３１の一端面３６が接触した後、当該接触を保ったまま筐体３３と光源部３１との相対移動が行われて、筐体３３の底部に配設された接触センサ３４に光源部３１の他端面３７が接触することにより座標特定開始信号が送信されるものとすれば、上述したように光源部３１の一端面３６と光軸４１とは垂直な関係とされているため、タッチパネル２２のパネル面２２ａと光軸４１との関係も垂直とすることができるようになる。
【００２９】
なお、例えば図５に示すようにタッチペン３０をタッチパネル２０に対して傾けた状態で押圧したとしても、筐体３３と光源部３１との相対移動は生じず、したがってスイッチ（接触センサ）３４による検出は行われないものとなっている。
【００３０】
液晶パネル２０の表示検査を実施するには、当該液晶パネル２０とタッチパネル２２とを対向させた状態で平行に保ち（パネル位置決め工程）、液晶パネル２０のタッチパネル２２と対向する側とは反対側に光源部（図示略）を配置した後、図示しない検査電極と液晶パネル２０の各端子（図示略）とを接触させる。なお、表示検査を行う液晶パネルが複数ある場合には、各液晶パネルに付された２次元バーコードをリーダーで読み取り、検出情報と紐付けてコンピュータ６に登録する。
【００３１】
次に、光源部を点灯させるとともに、上記検査電極を介して、ゲートバスライン端子部、ソースバスライン端子部、及び対向電極端子部に、それぞれ点灯駆動信号を入力することにより、ゲートバスライン、ソースバスライン、及び対向電極に所定の電圧を印加し、液晶パネル２０を表示状態にする。これにより、図２に示すように、オペレータ２３はタッチパネル２２越しに欠陥箇所２１を認識することができるようになる。なお、ここでいう欠陥には、点欠陥と線欠陥の二種類がある。つまり、点欠陥は、対向電圧をある値にすると他の絵素とは点灯状態が異なり、輝点、あるいは黒点となって現れるものである。一方、線欠陥は、ソースバスライン、あるいはゲートバスラインが断線することにより、点灯駆動信号が伝達せずに輝線となって現れるものと、ソースバスラインとゲートバスラインが液晶パネル表示部分内部で短絡し、輝線となって現れるものである。
【００３２】
そして、オペレータ２３は認識した欠陥箇所２１に対応するタッチパネル２２の位置をタッチペン３０により押圧する。この際、タッチペン３０から出射されるレーザー光４０の照準を欠陥箇所２１に合わせ、当該タッチペン３０の表面（先端面）３６をタッチパネル２２に接触させつつ、これを押圧するものとしている。このような押圧により、上述の通り筐体３３と光源部３１との相対移動が行われ、スイッチ３４により接触検出が行われて座標特定開始信号が制御部８に送信される。
【００３３】
制御部８に座標特定開始信号が送信されると、欠陥箇所２１に対応したタッチパネル２２上の座標が決定し（座標特定工程）、この座標が、図１に示す制御装置６のメモリ７に記憶される（座標記憶工程）。このようにして、液晶パネル２０の欠陥箇所２１の座標は、予め設定された液晶パネルの番号ごとにそれぞれ欠陥データとしてメモリ７に記憶されるようになっている。
【００３４】
なお、座標の特定は、図７に示すようにタッチパネル２２に対する押圧面Ｓを押圧面データとして取得し、これから重心位置Ｇを割り出す演算を行うことで、当該重心位置Ｇを座標として決定するものとしている。したがって、光軸４１が光源部３１の先端面３６の重心位置を通るように設計しておけば、当該先端面３６全体によりタッチパネル２２を押圧することで、特定される座標は光軸が通る位置に決定されるものとなる。
【００３５】
上記の表示検査により検出された欠陥箇所２１の修正は、液晶パネルの番号ごとに記憶した欠陥箇所２１を示す座標に基づいて行われる。つまり、修正を行う液晶パネルの番号をキーボード１０から制御装置８に入力することにより、メモリ７から該当する欠陥データを出力させ、表示装置９に表示させる。このように、タッチパネル２２により欠陥箇所２１の座標をコンピュータ６に入力し、記憶した欠陥データを基に欠陥箇所２１の修正を行うことができる。
【００３６】
以上の実施形態によると、タッチペン３０の光源部３１から出射されるレーザー光４０の光軸４１とタッチパネル２２のパネル面２２ａとが垂直に交わるようにしたため、例えば図６に示すように、液晶パネル２０とタッチパネル２２との間に間隙があって、オペレータ２３の視認方向によって実際の欠陥位置２６と視認する欠陥位置２５との間にズレ２７が生じる場合にも、オペレータ２３が目視した液晶パネル２０の欠陥２１に対してタッチペン３０から出射されるレーザー光４０の照準を合わせ、当該タッチペン３０を操作（押圧）すれば、実際の欠陥位置２６とタッチパネル上で特定される座標との間にズレが生じ難いものとなる。
【００３７】
つまり、オペレータ２３の視認方向がパネル面２２ａに対して斜め方向となる場合であっても、タッチペン３０から出射されるレーザー光４０の照準を液晶パネル２０の欠陥２５に合わせれば、該欠陥２５とタッチペンにより特定される座標位置２６とを結ぶ線はタッチパネル面２２ａと垂直となって、当該特定される座標と欠陥位置２６との間にズレが生じ難いものとなり、欠陥検出精度を向上させることが可能となる。
【００３８】
特に、タッチペン３０の先端面３６を平坦面とし、光源部３１から出射される指向性を示すレーザー光４０の光軸４１が当該タッチペン３０の先端面３６に対して垂直とされ、該タッチペン３０の先端面３６全体がタッチパネル２２に接触した場合に、座標特定を開始させるべく接触センサ３４をタッチペン３０の後端面３７側に配設したため、座標特定を行う際には、光軸４１とタッチパネル２２のパネル面２２ａとが確実に垂直となるように当該タッチペン３０が位置決めされており、欠陥検出精度が極めて良好なものとなっている。
【００３９】
以下、上記実施形態の変形例について説明する。
図８はタッチペンの一変形例を示す模式図であり、図９は図８のタッチペンについて押圧時の作用を示す模式図、図１０は図８のタッチペンの押圧面を示す模式図である。なお、特に説明のない限り、図８のタッチペン３０１において図３のタッチペン３０と構成が同様の部材については、図３と同じ符号を付すものとし、説明を省略するものとする。
【００４０】
このタッチペン３０１は、円筒状の筐体３３を主体として構成され、当該円筒の一方が開口し、他方が閉口して制御部８に接続された配線３５が付されている。また、円筒状の筐体３３内には、同じく円筒状の光源部３１１が嵌入されており、当該光源部３１１と筐体３３とは、図３のタッチペン３０と同様、軸方向への相対移動が可能に構成されている。また、光源部３１１の先端面（タッチパネル２２と接触する側の表面）３６１、及び後端面（タッチパネル２２と接触する側と反対側の表面）３７１は円環状に構成されて、タッチペン３０と同様、当該先端面３６１は平坦面とされている。なお、後端面３７１は、当該タッチペン３０１の押圧時に、筐体３３の閉口側（つまり筐体３３の筒底部）に配設された接触センサ３４１と接触可能となっている。
【００４１】
また、光源部３１１の円筒内部にはレーザー光源３１２が配設され、当該レーザー光源３１２から出射されるレーザー光４０は、円筒内部の空洞を通して先端面３６１側からタッチペン３０１の外部に出射される。なお、レーザー光４０の光軸４１は、先端面３６１に対して垂直となるようにレーザー光源３１２が位置決めされている。
【００４２】
したがって、タッチペン３０１においても、図９に示すように先端面３６１全面をタッチパネル２２に接触させつつ当該タッチペン３０１を押圧することで、光源部３１１の軸方向とタッチパネル２２のパネル面２２ａとが垂直に保たれたまま、光源部３１１と筐体３３の軸方向移動が行われる。その結果、レーザー光４０の光軸４１とタッチパネル２２のパネル面２２ａとが垂直に交わった状態で後端面３７１と接触センサ３４とが接触し、当該接触センサ３４から座標特定開始信号が配線３５を介して制御部８に送信される。
【００４３】
この場合も、例えば図６に示すように、液晶パネル２０とタッチパネル２２との間に間隙があって、オペレータ２３の視認方向によって実際の欠陥位置２６と視認する欠陥位置２５との間にズレ２７が生じる場合にも、オペレータ２３が目視した液晶パネル２０の欠陥２１に対してタッチペン３０１から出射されるレーザー光４０の照準を合わせ、当該タッチペン３０１を操作（押圧）すれば、実際の欠陥位置２６とタッチパネル２２上で特定される座標との間にズレが生じ難いものとなる。
【００４４】
なお、このタッチペン３０１の場合の座標特定は、図１０に示すようにタッチパネル２２に対する円環状の押圧面Ｓ１、Ｓ２のうち、Ｓ２の押圧面データを選択的に取得し、これから重心位置Ｇを割り出す演算を行うことで、当該重心位置Ｇを座標として決定するものとしている。本構成では、タッチペン３０１の位置決めを押圧面Ｓ１とＳ２を含む広範な面で行うことによって、光軸４１とタッチパネル２２のパネル面２２ａとが確実に垂直となる効果を奏するとともに、重心位置Ｇを割り出すために用いる押圧面データをＳ２というより狭い押圧面より取得するため、重心位置Gの特定が安定的に行われるものである。
【００４５】
以上、本発明の表示パネルの製造方法、及び表示パネルの検査装置に係る実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限られるものではない。例えば図１１に示すように、円柱状の光源部３１について、その先端面が円環状となるように先端を半球に切り取り、当該円環部３６２がタッチパネル２２と接触するように構成しても良い。この場合、先端の円環部３６２は同一平面状に構成され、当該光源部３１から出射される指向性のレーザー光４０の光軸４１と、同一平面状に構成された円環部３６２上に形成され得る仮想面Ｆとが垂直となるようにレーザー光源３１ａが位置決めされる。なお、この場合も、図１２に示すように円環状の接触面Ｓから重心位置Ｇを算出して、座標の特定を行うものとする。また、上記実施形態では液晶パネルの製造方法、検査装置について説明したが、ＥＬ素子を用いたパネル等、その他の表示パネルにも本発明に係る製造方法、検査装置を適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明に係る表示パネルの検査装置の構成を示すブロック図。
【図２】図１の検査装置を用いる態様を示す模式図。
【図３】タッチペンとタッチパネルとの関係を示す模式図。
【図４】タッチペンをタッチパネルに操作する場合の作用を示す説明図。
【図５】タッチペンをタッチパネルに操作する場合の作用を示す説明図。
【図６】図１の検査装置の作用を示す説明図。
【図７】座標の特定方法について示す説明図。
【図８】変形例に係るタッチペンとタッチパネルとの関係を示す模式図。
【図９】図８のタッチペンをタッチパネルに操作する場合の作用を示す説明図。
【図１０】図８のタッチペンをタッチパネルに操作した場合の座標の特定方法について示す説明図。
【図１１】タッチペンのその他の変形例について示す模式図。
【図１２】図１１のタッチペンを用いた場合の座標特定方法を示す説明図。
【符号の説明】
【００４７】
２０…表示パネル、２１…欠陥箇所、２２…タッチパネル、２２ａ…タッチパネルのパネル面、３０…タッチペン、３１…光源部、４０…レーザー光（指向性を示す光）、４１…光軸
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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