(57)【要約】      （修正有）【課題】分光光度計に標準的に搭載・使用される試料室ユニットとは保持機構の異なる試料室ユニットを、通常と同様に搭載・使用することができる分光光度計を提供する。【解決手段】Ａ型試料室ユニットを標準的に搭載・使用する分光器の試料室内に、Ｂ型試料室ユニットの保持機構を備えたアダプターを取り付け、これによってＢ型試料室ユニットを搭載・使用可能にする。更に、アダプターとＢ型試料室ユニットおよび分光光度計内部の部品の間に寸法的に重複する部分を意図的に追加して、搭載した時の外光の侵入を防止する。【選択図】図１
2008292503.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに共通な被保持機構を具備する複数種類の試料室ユニットを、前記被保持機構に一意的に嵌合する保持固定機構上に着脱可能に保持固定することによって、前記複数種類の試料室ユニットの交換使用が可能である分光光度計において、前記保持固定機構に嵌合しない別種の被保持機構を具備する試料室ユニットを保持固定するための着脱可能なアダプターを備えたことを特徴とする分光光度計。
【請求項２】
アダプターが、試料室ユニット底部に設けられた１個のピンに嵌合するピン穴と、前記試料室ユニット底部に設けられた１個の切欠きを受納するクランプを備えていることを特徴とする請求項１記載の分光光度計。
【請求項３】
アダプターは試料室への外光の浸入を防止する遮蔽機構を備えていることを特徴とする請求項１または請求項２記載の分光光度計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は分光光度計に関する。
【背景技術】
【０００２】
多様な物質の光学的特性の検査や、含有成分の定性定量分析に使用される分光光度計は、装置の構成上、光源、分光器、検出器、試料室、およびこれらを駆動する電源部、制御部、信号処理用電気回路などによって構成されている。このうち試料室内部には試料室ユニットが設置されており、この試料室ユニット内に測定試料が保持され、分光器からの光束が測定試料を照射し、測定試料からの透過光あるいは反射光が検出器に導かれて測定が行われる。
【０００３】
測定対象となる試料の形態および形状は目的に応じて極めて多様であり、１種類の試料室ユニットではあらゆる試料に対応することが不可能であるため、通常は一つの分光光度計に対して複数の種類の試料室ユニットが準備されており、目的に合致する試料室ユニットが選択使用される。このように試料室ユニットを交換使用するためには、試料室ユニットを常に正しい位置に再現性良く保持する機構が必須である。これを実現するために、一方の試料室ユニットにおいては、全ての種類の試料室ユニットに共通の被保持機構が設けられる。他方、分光光度計の試料室内には、前記の被保持機構と一意的に嵌合する保持固定機構が設けられる。これらの被保持機構と保持固定機構の組合せによって高度な位置再現性としかも容易な着脱が可能となる。このような被保持機構および保持固定機構の例を図３および図４に示す。この例の試料室ユニットの被保持機構は、試料室ユニット下部の２本のピンによって構成される。以後この方式の被保持機構を備えた試料室ユニットをＡ型試料室ユニットと呼ぶ。図３は試料室ユニットの外観を示し、図４は分光光度計の試料室内に設けられた保持固定機構を示す。
【０００４】
図３に例示するＡ型試料室ユニットＡは、最も一般的に用いられる液体試料を測定対象とするものであり、（ａ）で示すように、前板５ａ、側板５ｂ、５ｄ、および背板５ｃに囲まれた室内に光路長１０ｍｍの角型ガラスセルを保持するサンプルセルホルダー１およびリファレンスセルホルダー２が設けられている。分光光度計の試料室内に設置された状態では、サンプル光束３およびリファレンス光束４はこの図に示すように、それぞれサンプルセルホルダー１およびリファレンスセルホルダー２を通過して、分光光度計の検出器へ送られる。これはＡ型試料室ユニットの単なる一例であり、これ以外に、より長光路のセルを備えたものや、固体試料の透過光あるいは反射光を測定するための物など種々の形の試料室ユニットが利用されるが、いずれも共通して（ｂ）で示すように試料室ユニットの底板５ｅには被保持機構としての２個のピン５が設けられており、これらのピン５と、以下に述べる試料室内に設けられた位置決め台座上のピン穴によって、Ａ型試料室ユニットＡの設置位置が正確に定まる構造を有している。
【０００５】
図４は、試料室ユニット未設置の状態の分光光度計の試料室内部を分光器上部より俯瞰したものである。分光器から導かれたサンプル光束３とリファレンス光束４は試料室内部を右方より左方に通過し、それぞれサンプル側窓１１とリファレンス側窓１２を介して分光光度計左方内部に置かれた検出器に入射する。試料室内底部には保持固定機構としての位置決め台座７と位置決め台座８が固定されており、位置決め台座７にはピン穴９が、また位置決め台座８にはピン穴１０が開削されている。
図３に示したＡ型試料室ユニットＡの下面のピン５が、それぞれ図４に示す位置決め台座７、８のピン穴９、１０に合致・挿入されるように、Ａ型試料室ユニットＡを分光光度計の試料室に圧入すると、ピン穴９および１０の内部にあって図示されていないスプリングキャッチの働きで、Ａ型試料室ユニットＡは試料室内の正しい位置に保持・固定される。Ａ型試料室ユニットＡが分光光度計の試料室内に保持された状態を図５に示す。（非特許文献１参照）
【０００６】
図４に示した位置決め台座７および位置決め台座８を有する分光光度計において複数種類の試料室ユニットを交換して使用する場合に、全ての試料室ユニットの被保持機構を上述のＡ型に統一することによって、目的に応じて最適の試料室ユニットを容易にしかも正確な位置に設置して使用することが可能である。
【非特許文献１】「紫外可視ダブルビーム分光光度計ＵＶ２５５０  取扱説明書」  株式会社島津製作所  ２００４年
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上に述べた従来方法には以下のような問題がある。
上に述べた構造の位置決め台座を保持固定機構として備えた分光光度計には、これと嵌合する２個のピンを被保持機構として備えた全ての種類のＡ型試料室ユニットを搭載・使用することが可能である。しかし、上記とは異なった構造の被保持機構を持った試料室ユニットは、搭載・使用することができない。図２にそのような搭載・使用できない試料室ユニットを例示する。図２（ａ）に示すように、この試料室ユニットもＡ型試料室ユニットと同様に前板５ａの後方の空間にサンプル光束３とリファレンス光束４の位置にそれぞれ対応してサンプルセルホルダー１とリファレンスセルホルダー２を備えている。Ａ型試料室ユニットと異なるのは、同図（ｂ）に示すように、この試料室ユニットは被保持機構として１個のピン５と、試料室ユニットの底板１７に削設された１個の切欠き６を有していることである。この形式の被保持機構を持つ試料室ユニットを、以後Ｂ型試料室ユニットと称する。
【０００８】
Ｂ型試料室ユニットは、上述のＡ型試料室ユニットを搭載・使用する分光光度計とは異なるモデルの分光光度計に搭載・使用されるために設計・製作されたものである。この分光光度計の試料室に設けられた保持固定機構は、図２（ｂ）に示したピン５と嵌合する１個のピン穴と、切欠き６に係合されて試料室ユニットの底板１７を上下より挟持・固定する１個のクランプによって構成されている。
【０００９】
Ａ型試料室ユニットを搭載・使用する分光光度計には、Ｂ型試料室ユニットを搭載・使用することができない。このため、複数種のＡ型試料室ユニットの中に含まれていない用途を目的とした試料室ユニットがＢ型試料室ユニットの中の一つとして存在しても、これを上記の分光光度計に利用することができない。このことは、分光光度計のユーザーにとっては機材の有効利用の妨げとなり、時として多額の不要な出費を強いる事になるという問題を生じている。また、分光光度計のメーカーにとっては、試料室のタイプの異なる複数の分光光度計に対して、目的・機能が同一の試料室ユニットを複数種製作しなくてはならないという問題点がある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は上記の問題を解決することを目的としており、互いに共通な被保持機構を具備する複数種類の試料室ユニットを、前記被保持機構に一意的に嵌合する保持固定機構上に着脱可能に保持固定することによって、前記複数種類の試料室ユニットの交換使用が可能である分光光度計において、前記保持固定機構に嵌合しない別種の被保持機構を具備する試料室ユニットを保持固定するための着脱可能なアダプターを備えた事を特徴とする。また、より具体的には、アダプターが、試料室ユニット底部に設けられた１個のピンに嵌合するピン穴と、前記試料室ユニット底部に設けられた１個の切欠きを受納するクランプを備えていることを特徴とする。更に、アダプターは試料室への外光の浸入を防止する遮蔽機構を備えていることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明にかかる分光光度計によって、形式の異なる被保持機構を有する複数の型の試料室ユニットを交換して搭載・使用することが可能となる。より具体的には、Ａ型試料室ユニットを標準的に搭載・使用する分光光度計に、Ｂ型試料室ユニットを搭載・使用することが可能となる。これによって、使用者の機材の利用効率が向上すると共に、製造メーカーの開発効率、製造効率を改善できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明の特徴は、異なる被保持機構を有する試料室ユニットを容易にしかも正確に分光光度計に保持固定することを可能とする点にある。これを実現するために、本発明は、分光器試料室内に、標準の保持・固定機構とは異なる保持固定・機構を具備したアダプターを付加することをその主要要素としている。
【実施例１】
【００１３】
以下実施例を図に従って説明する。先述のように、図２はＢ型試料室ユニットＢの外観を示す。図１は、Ａ型試料室ユニットに適合する分光光度計の試料室中に、Ｂ型試料室ユニットを搭載・使用を可能とするための２個のアダプター(アダプター１３、アダプター１４)を取り付けた状態の俯瞰図である。アダプター１３は、図２に示したＢ型試料室ユニットＢ下面に設けられたピン５が嵌入するピン穴１５を有し、ピン穴１５の内部には図１には現れないスプリングキャッチが設けられている。アダプター１４は位置決め台座８の上に取り付けられており、この上には、図２に示したＢ型試料室ユニットＢの底板１７の後端部に削設された切欠き６が係合するクランプ１６が取り付けられている。アダプター１３およびアダプター１４は、いずれも容易に試料室内に着脱可能である。
【００１４】
分光光度計にＢ型試料室ユニットＢを搭載するには、最初に図１に示すようにアダプター１３とアダプター１４を試料室内に付設する。アダプター１３は、既設の位置決め台座７に嵌め合いの形で取り付けられるため、その位置の精度は極めて高い。次に、Ｂ型試料室ユニットＢの切欠き６をアダプター１４上のクランプ１６に係合させ、最後にピン５をピン穴１５に嵌合させる。切欠き６とクランプ１６の係合は図７に例示する方法で確保される。クランプの中心軸でつながる上下の２個の円盤の間隙に底板１７を挿入し、切欠き６の終端をクランプ１６の中心軸まで押込む。クランプ１６下部に設けられた押さえバネ１８の力によって、底板１７がクランプ１６の２個の円盤の間に確実に挟持される。このように、クランプ１６とピン穴１５の働きでＢ型試料室は再現性良く正しい位置に搭載される。
【００１５】
また、アダプター１３とＢ型試料室ユニットＢの前面の隙間、あるいはアダプター１３と分光光度計の前面の隙間から外部の光が試料室内に侵入すると、これによって測定値が擾乱され、測定結果に誤差を生ずる。これを防止するために、図８に示すように、Ｂ型試料室ユニットＢとアダプター１３の間、およびアダプター１３と分光光度計内構造物１９の間に互いに重なり合う部分を設けている。図８は、見やすくするためにＢ型試料室ユニットＢ、アダプター１３、分光光度計内構造物１９の位置を前後にずらせて、その寸法的な重なりの状況を示している。Ｂ型試料室ユニットＢとアダプター１３の間にはＤで示した長さの重複部分があり、アダプター１３と分光光度計内構造物１９の間にはＣで示した長さの重複部分がある。これによってＢ型試料室ユニットＢを搭載した状態での外光の侵入を防止することが可能となっている。最終的に、Ｂ型試料室ユニットＢを、アダプター１３、アダプター１４と共に搭載した外観を図６に示す。
【産業上の利用可能性】
【００１６】
本発明は分光光度計に関する。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明にかかる分光光度計の試料室内のアダプターの付設状態を示す図である。
【図２】Ｂ型試料室ユニットの外観図である。
【図３】Ａ型試料室ユニットの外観図である。
【図４】分光光度計の試料室内部の俯瞰図である。
【図５】分光光度計にＡ型試料室ユニットを搭載した図である。
【図６】分光光度計にＢ型試料室ユニットを搭載した図である。
【図７】クランプの係合方法を示す図である。
【図８】遮光のための部品の寸法の重複状態を示す図である。
【符号の説明】
【００１８】
１      サンプルセルホルダー
２      リファレンスセルホルダー
３      サンプル光束
４      リファレンス光束
５      ピン
６      切欠き
７      位置決め台座
８      位置決め台座
９      ピン穴
１０    ピン穴
１１    サンプル側窓
１２    リファレンス側窓
１３    アダプター
１４    アダプター
１５    ピン穴
１６    クランプ
１７    底板
１８    押さえバネ
１９    分光光度計内構造物
【図１】
2008292503.tif 000003
【図２】
2008292503.tif 000004
【図３】
2008292503.tif 000005
【図４】
2008292503.tif 000006
【図５】
2008292503.tif 000007
【図６】
2008292503.tif 000008
【図７】
2008292503.tif 000009
【図８】
2008292503.tif 000010
【手続補正書】
【提出日】平成20年8月5日(2008.8.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】  Ａ型試料室ユニットを搭載・使用する分光光度計には、Ｂ型試料室ユニットを搭載・使用することができない。このため、複数種のＡ型試料室ユニットの中に含まれていない用途を目的とした試料室ユニットがＢ型試料室ユニットの中の一つとして存在しても、これを上記の分光光度計に利用することができない。このことは、分光光度計のユーザーにとっては機材の有効利用の妨げとなり、時として多額の不要な出費を強いることになるという問題を生じている。また、分光光度計のメーカーにとっては、試料室のタイプの異なる複数の分光光度計に対して、目的・機能が同一の試料室ユニットを複数種製作しなくてはならないという問題点がある。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】  本発明は上記の問題を解決することを目的としており、互いに共通な被保持機構を具備する複数種類の試料室ユニットを、前記被保持機構に一意的に嵌合する保持固定機構上に着脱可能に保持固定することによって、前記複数種類の試料室ユニットの交換使用が可能である分光光度計において、前記保持固定機構に嵌合しない別種の被保持機構を具備する試料室ユニットを保持固定するための着脱可能なアダプターを備えたことを特徴とする。また、より具体的には、アダプターが、試料室ユニット底部に設けられた１個のピンに嵌合するピン穴と、前記試料室ユニット底部に設けられた１個の切欠きを受納するクランプを備えていることを特徴とする。更に、アダプターは試料室への外光の浸入を防止する遮蔽機構を備えていることを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】  本発明の特徴は、異なる被保持機構を有する試料室ユニットを容易にしかも正確に分光光度計に保持固定することを可能とする点にある。これを実現するために、本発明は、分光器試料室内に、標準の保持・固定機構とは異なる保持・固定機構を具備したアダプターを付加することをその主要要素としている。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】  以下実施例を図に従って説明する。先述のように、図２はＢ型試料室ユニットＢの外観を示す。図１は、Ａ型試料室ユニットに適合する分光光度計の試料室中に、Ｂ型試料室ユニットを搭載・使用を可能とするための２個のアダプター（アダプター１３、アダプター１４）を取り付けた状態の俯瞰図である。アダプター１３は、図２に示したＢ型試料室ユニットＢの下面に設けられたピン５が嵌入するピン穴１５を有し、ピン穴１５の内部には図１には現れないスプリングキャッチが設けられている。アダプター１４は位置決め台座８の上に取り付けられており、この上には、図２に示したＢ型試料室ユニットＢの底板１７の後端部に削設された切欠き６が係合するクランプ１６が取り付けられている。アダプター１３およびアダプター１４は、いずれも容易に試料室内に着脱可能である。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】  分光光度計にＢ型試料室ユニットＢを搭載するには、最初に図１に示すようにアダプター１３とアダプター１４を試料室内に付設する。アダプター１３は、既設の位置決め台座７に嵌め合いの形で取り付けられるため、その位置の精度は極めて高い。次に、Ｂ型試料室ユニットＢの切欠き６をアダプター１４上のクランプ１６に係合させ、最後にピン５をピン穴１５に嵌合させる。切欠き６とクランプ１６の係合は図７に例示する方法で確保される。クランプの中心軸でつながる上下の２個の円盤の間隙に底板１７を挿入し、切欠き６の終端をクランプ１６の中心軸まで押込む。クランプ１６下部に設けられた押さえバネ１８の力によって、底板１７がクランプ１６の２個の円盤の間に確実に挟持される。このように、クランプ１６とピン穴１５の働きでＢ型試料室ユニットＢは再現性良く正しい位置に搭載される。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】  また、アダプター１３とＢ型試料室ユニットＢの前面の隙間、あるいはアダプター１３と分光光度計の前面の隙間から外部の光が試料室内に侵入すると、これによって測定値が擾乱され、測定結果に誤差を生ずる。これを防止するために、図８に示すように、Ｂ型試料室ユニットＢとアダプター１３の間、およびアダプター１３と分光光度計内構造物１９の間に互いに重なり合う部分を設けている。図８は、見やすくするためにＢ型試料室ユニットＢ、アダプター１３、分光光度計内構造物１９の位置を前後にずらせて、その寸法的な重なりの状況を示している。Ｂ型試料室ユニットＢとアダプター１３の間にはＤで示した長さの重複部分があり、アダプター１３と分光光度計内構造物１９の間にはＣで示した長さの重複部分がある。これによってＢ型試料室ユニットＢを搭載した状態での外光の侵入を防止することが可能となっている。最終的に、Ｂ型試料室ユニットＢを、アダプター１３らと共に搭載した外観を図６に示す。なお、図１から図８において同一の符号で示される部品は、同一の機能を有するものである。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】  １      サンプルセルホルダー  ２      リファレンスセルホルダー  ３      サンプル光束  ４      リファレンス光束  ５      ピン  ６      切欠き  ７      位置決め台座  ８      位置決め台座  ９      ピン穴  １０    ピン穴  １１    サンプル側窓  １２    リファレンス側窓  １３    アダプター  １４    アダプター  １５    ピン穴  １６    クランプ  １７    底板  １８    押さえバネ  １９    分光光度計内構造物  Ａ      Ａ型試料室ユニット  Ｂ      Ｂ型試料室ユニット  ５ａ    前板  ５ｂ    側板  ５ｃ    背板  ５ｄ    側板  ５ｅ    底板