(57)【要約】【課題】  大容量のコンデンサＣ１と小容量のコンデンサＣ２が並列して存在するアナログ回路１４では、合成容量の検査を行っても、小容量のコンデンサＣ２の正常・異常を判定することができない。【解決方法】  信号発生手段２からコンデンサＣ２が接続されている信号線４に所定の周波数を持ったスパイク状電圧波形を入力する。スパイク状電圧波形の周波数は、コンデンサＣ２が正常であるときに除去可能な周波数帯域に設定されているので、アナログ回路１４から出力される信号ｖ２にスパイク状電圧波形が残っているかをカウント手段６及び判定手段８を用いて確認することで、コンデンサＣ２の正常・異常の判定をすることができる。  コンデンサＣ１及びＣ２が並列して存在する場合でも、除去可能な周波数帯域が異なっていれば、それぞれの周波数帯域に設定されたスパイク状電圧波形を用いることで、個々のコンデンサについて検査することができる。【選択図】  図１
2008292399.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電圧信号を伝達する信号線と一定電圧の間に接続されているコンデンサを検査するシステムであって、
前記信号線にスパイク状電圧波形をＮ回に亘って発生させる信号発生手段と、
前記信号線の電圧が所定の閾値と等しくなった回数をカウントするカウント手段と、
前記カウント手段のカウント結果から前記コンデンサの正常・異常を判定する判定手段を備えており、
前記信号発生手段が発生するスパイク状電圧波形の周波数が、前記コンデンサが正常であるときに、前記コンデンサが前記信号線の電圧からスパイク状電圧波形を除去可能な周波数帯域に設定されていることを特徴とする検査システム。
【請求項２】
前記信号線と一定電圧の間に並列に接続されているとともに容量が異なる第１コンデンサと第２コンデンサの各々を検査するシステムであって、
前記信号発生手段は、前記第１コンデンサが正常であるときに、前記第１コンデンサが前記信号線の電圧からスパイク状電圧波形を除去可能な周波数帯域に属する第１周波数を持つスパイク状電圧波形をＮ回に亘って発生させるとともに、前記第２コンデンサが正常であるときに、前記第２コンデンサが前記信号線の電圧からスパイク状電圧波形を除去可能な周波数帯域に属する第２周波数を持つスパイク状電圧波形をＮ回に亘って発生させものであり、
前記カウント手段は、第１周波数のスパイク状電圧波形をＮ回に亘って発生させる間の第１回数と、第２周波数のスパイク状電圧波形をＮ回に亘って発生させる間の第２回数を別々にカウントするものであり、
前記判定手段は、前記第１回数から前記第１コンデンサの正常・異常を判定し、前記第２回数から前記第２コンデンサの正常・異常を判定するものであることを特徴とする請求項１の検査システム。
【請求項３】
前記信号線と前記コンデンサがＣＰＵを備えているＥＣＵに組み込まれており、
前記信号発生手段が、前記信号線と前記ＣＰＵに接続されており、  前記ＣＰＵが、前記回数をカウントする処理を実行することを特徴とする請求項１又は２の検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンデンサを検査するシステムに関する。本発明は、ＥＣＵに組み込まれているコンデンサを検査するのに適したシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば自動車の制御の一部は電子制御装置（Electronic Control Unit：ＥＣＵ）を利用して実行される。ＥＣＵはＣＰＵ（Central Processing Unit：中央演算処理装置）を備えており、ＣＰＵ周辺の回路にアナログ回路を備えたＥＣＵが存在している。ＥＣＵ内のアナログ回路は出荷の段階で検査が行わる。あるいは車載後の適宜な時期に検査が行われる。特許文献１にＥＣＵの検査装置が開示されている。
特許文献１に開示されたＥＣＵの検査装置では、アナログ回路に反転信号（例えばロー電圧からハイ電圧に切換える信号や、逆にハイ電圧からロー電圧に切換える信号）を加えてから所定時間後にアナログ回路から出力される信号強度をＡ／Ｄ変換手段を用いて検出する。検出された信号が設定範囲内に含まれている場合、アナログ回路が正常であると判定する。一方、アナログ回路から出力される信号が設定範囲内に含まれない場合、アナログ回路が異常であると判定する。
【０００３】
また特許文献２に開示されたＥＣＵの検査装置では、アナログ回路の出力を繰返し測定することによって、所定の過渡現象が得られているか否かを検査する。例えば反転信号をアナログ回路に加えてからの経過時間に対応付けてアナログ回路から出力される信号強度をＡ／Ｄ変換手段を用いて検出し、検出値の時間変化パターンを検査する。検出した時間変化パターンを基準パターンと比較することによってアナログ回路が所望の過渡現象を実現しているか否かを検査し、アナログ回路の正常・異常を判定する。
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２３９７９８号公報
【特許文献２】特開２００４−６９３５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
アナログ回路の回路構成によっては、特許文献１及び２の技術を用いても、アナログ回路を構成する素子の検査ができない場合がある。
例えば、電圧信号を伝達する信号線にノイズが重複していることがあり、そのノイズを除去するために信号線とグランドとの間にコンデンサを接続することによってフィルタ回路を構成することがある。コンデンサの容量によって、信号線を伝達する電圧信号から取り除くことができるノイズの周波数帯域が異なる。例えば容量の比較的小さいセラミックコンデンサを用いると高周波ノイズを除去することができ、容量の比較的大きい電界コンデンサを用いると低周波ノイズを除去することができる。
図１のフィルタ回路１４に示すように、複数種類のコンデンサＣ１、Ｃ２を並列に接続すると、広い周波数範囲のノイズを取り除くことができ、ノイズ耐性に優れたアナログ回路を形成することができる。
【０００６】
図１のように複数種類のコンデンサが並列に接続されている場合、特許文献１及び２の技術を用いて正常・異常を判定すると、複数のコンデンサの合成容量が正常であれば正常とされ、個々のコンデンサは異常であっても合成容量が正常であれば異常が見過ごされてしまう。特に図１のように、並列に接続されている二種類のコンデンサが、容量の比較的大きい電界コンデンサと、容量の比較的小さいセラミックコンデンサで形成されている場合、合成容量に大きく影響する大容量の電界コンデンサの正常・異常は判定できても、合成容量に影響する程度が低い小容量のセラミックコンデンサの正常・異常を判定することができない。
前記したように、セラミックコンデンサは高周波ノイズを取り除く働きをしており、セラミックコンデンサの異常が見逃された場合、信号線を伝達する電圧信号から高周波ノイズを取り除くことができない。そのために高周波ノイズの振幅が電子部品の耐圧を上回るときには、ノイズにより電子部品が破壊され、アナログ回路を含んだＥＣＵ全体に大きな影響を与える。このため、フェイルセーフ回路を追加して、二重のノイズ対策が必用となり、製品コストに影響を与えている。図１のように容量が異なる複数のコンデンサが並列に存在する場合でも、個別のコンデンサの正常・異常を検査できる方法が望まれる。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本出願の発明は、図１に模式的に例示するように、電圧信号ｖ１を伝達する信号線４と一定電圧に維持されている点（図１の場合はグランド）の間に接続されているコンデンサＣ１とＣ２等を検査するシステムに関する。本発明の検査システムでは、信号線４とグランドとの間に容量が異なる複数種類のコンデンサが並列に接続されていても、個々のコンデンサの正常・異常を検査することができる。信号線４とグランドの間に１つのコンデンサが接続されていれば、その１つのコンデンサの正常・異常を検査することができる。コンデンサの個数に制約されることがない。
またコンデンサＣ１及びＣ２と信号線４を含むアナログ回路１４がＥＣＵ１６に内蔵されている場合には、ＥＣＵ１６に信号発生手段２を接続し、ＥＣＵ１６に検査用プログラムを組みこむことによって、検査システムを構築することができる。後記するカウント手段６と判定手段８等は、ＥＣＵ１６が備えているＣＰＵやその他の電子部品で実現することができる。
【０００８】
本発明を具現化した検査システムは、アナログ回路１４にスパイク状電圧波形を発生させる信号発生手段２と、アナログ回路１４から出力される信号ｖ２が閾値に達した回数をカウントするカウント手段６と、カウント手段６のカウント結果からアナログ回路１４に含まれるコンデンサの正常・異常を判定する判定手段８を備えている。
例えば、アナログ回路１４は、信号発生手段２で発生する信号をカウント手段６に伝達する信号線４と、信号線４上の接続点１０とグランドとの間に接続されているコンデンサＣ１、及び信号線４上の接続点１２とグランドとの間に接続されているコンデンサＣ２で構成されている。アナログ回路１４に入力された信号ｖ１は、信号線４上の接続点１０及び１２を通過する際にコンデンサＣ１及びＣ２によりアナログ処理されて信号ｖ２に変換され、カウント手段６に出力される。
【０００９】
信号発生手段２から出力されるスパイク状電圧波形の周波数は、検査対象のコンデンサが正常であるときに、スパイク状電圧波形を除去可能な周波数帯域に設定しておく。
例えばＣ１に示す大容量の電界コンデンサを検査する場合には、低周波のスパイク状電圧波形が出力されるように設定しておく。並列して存在する小容量のセラミックコンデンサＣ２は、低周波を持つ信号に対して影響を与えないので、アナログ回路１４から出力された信号から低周波のスパイク状電圧波形が取り除かれていれば、電界コンデンサＣ１が正常であると判定してよい。
またＣ２に示す小容量のセラミックコンデンサを検査する場合には、高周波のスパイク状電圧波形が出力されるように設定しておく。並列して存在する大容量の電界コンデンサＣ１は、高周波を持つ信号に対して影響を与えないので、アナログ回路１４から出力された信号から高周波のスパイク状電圧波形が取り除かれていれば、セラミックコンデンサＣ２が正常であると判定してよい。
このように容量の異なる複数種類のコンデンサが並列して接続されている場合でも、信号線４に入力するスパイク状電圧波形の周波数を変えることで個々のコンデンサの正常・異常を検査することができる。
【００１０】
アナログ回路１４から出力される信号ｖ２にスパイク状電圧波形が存在するか否かを判定する方法について説明する。図２に示すように、信号発生手段２からアナログ回路１４にスパイク状電圧波形２０がＮ回加えられる。カウント手段６は、アナログ回路１４から出力される信号ｖ２を閾値Ｖ０と比較し、信号ｖ２が閾値Ｖ０に達した回数をカウントする。
アナログ回路１４に含まれるコンデンサが正常である場合、アナログ回路１４に入力されたスパイク状電圧波形２０は取り除かれ、又は弱められる為、信号ｖ２の電圧は閾値Ｖ０に達せず、カウントされない。
一方、コンデンサが異常である場合、アナログ回路１４に入力されたスパイク状電圧波形がそのまま存続し、信号ｖ２の電圧は閾値Ｖ０に達し（図２（Ａ）の斜線部）、カウント手段６でカウントされる。
カウント手段６のカウント結果は判定手段８で許容カウント数と比較される。カウント結果が許容カウント数以内である場合はコンデンサが正常であると判定することができ、カウント結果が許容カウント数を超えている場合にはコンデンサが異常であると判定することができる。これによりコンデンサの正常・異常を判定することができる。
【００１１】
信号線と一定電圧の間に容量が異なる第１コンデンサと第２コンデンサが並列に接続されており、第１コンデンサと第２コンデンサの双方を別々に検査する場合には、信号発生手段が、第１コンデンサが正常であるときに、第１コンデンサが信号線の電圧からスパイク状電圧波形を除去可能な周波数帯域に属する第１周波数を持つスパイク状電圧波形をＮ回に亘って発生させるとともに、第２コンデンサが正常であるときに、第２コンデンサが信号線の電圧からスパイク状電圧波形を除去可能な周波数帯域に属する第２周波数を持つスパイク状電圧波形をＮ回に亘って発生させものであることが好ましい。この場合、カウント手段は、第１周波数のスパイク状電圧波形をＮ回に亘って発生させる間の第１回数と、第２周波数のスパイク状電圧波形をＮ回に亘って発生させる間の第２回数を別々にカウントする。そして、判定手段は、第１回数から第１コンデンサの正常・異常を判定し、第２回数から第２コンデンサの正常・異常を判定する。
なお、本発明は、さらに第３コンデンサや第４コンデンサが並列に接続されている場合にも有効である。第１コンデンサと第２コンデンサに加えて第３コンデンサや第４コンデンサが並列に接続されていても、第１コンデンサと第２コンデンサの双方を別々に検査することができる。また第３コンデンサの検査のための周波数を持つスパイク状電圧波形を加えれば第３コンデンサを検査することができ、第４コンデンサの検査のための周波数を持つスパイク状電圧波形を加えれば第４コンデンサを検査することができる。
【００１２】
本発明のシステムは、アナログ回路１４が、コンピュータを備えているＥＣＵに組み込まれている場合に特に有用である。
この場合、信号発生手段２をアナログ回路１４とＥＣＵに内蔵されているコンピュータに接続する。この場合、ＥＣＵのコンピュータによって信号線の電圧が閾値に達した回数をカウントする処理を実行するようにプログラムしておく。
ＥＣＵのコンピュータによってカウント結果からコンデンサの正常・異常を判定する処理を実行するようにプログラムしておいてもよい。ＥＣＵとは別に用意されている検査装置がコンピュータを内蔵している場合、ＥＣＵでカウントした回数を検査装置にデータ転送し、検査装置のコンピュータでコンデンサの正常・異常を判定してもよい。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の検査システムでは、検査対象とするコンデンサを、そのコンデンサに対応する周波数帯域の周波数を持ったスパイク状電圧波形を用いて検査する。容量の異なる複数のコンデンサが並列して接続されていても、他のコンデンサから独立して個々のコンデンサの検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下に説明する実施例の主要な特徴を最初に整理する。
（特徴１）信号発生手段は、出力するスパイク状電圧波形の周波数を選択することができる。
（特徴２）ＥＣＵの入力ポートに接続されている信号線とＥＣＵのグランドポートとの間に接続されているコンデンサを検査する。
【実施例】
【００１５】
（第一実施例）
図１は本発明の第一実施例である検査システムのブロック図を示す。図１に示す検査システムは、信号発生手段２と、アナログ回路１４と、カウント手段６と、判定手段８を備えている。アナログ回路１４は、信号線４と、信号線４とグランドとの間に並列に接続されたコンデンサＣ１及びＣ２で構成されており、コンデンサＣ１と信号線４は接続点１０で接続されており、コンデンサＣ２と信号線４は接続点１２で接続されている。アナログ回路１４は、信号発生手段２とカウント手段６を接続しており、判定手段８は、カウント手段６と接続されている。信号発生手段２は所定の周波数を持ったスパイク状電圧波形を出力する。スパイク状電圧波形の周波数は検査対象のコンデンサによって決定され、検査対象のコンデンサがノスパイク状電圧波形を除去可能である周波数帯域に設定しておく。
検査を開始すると、図２に示すように、信号発生手段２は信号線４に所定の周波数を持ったスパイク状電圧波形２０をＮ回加える。スパイク状電圧波形を持っている信号ｖ１はアナログ回路１４でコンデンサＣ１及びＣ２を用いてアナログ処理され、アナログ処理された信号ｖ２がアナログ回路１４から出力される。カウント手段６は閾値Ｖ０を基準として、アナログ処理された信号ｖ２が閾値Ｖ０に達した回数をカウントする。
【００１６】
判定手段８はカウント手段６でカウントされた結果に基づいて、アナログ回路１４に含まれているコンデンサの正常・異常を判定する。判定手段８には正常と判定する許容カウント数ｎが予め格納されており、これとカウント結果を比較することでアナログ回路１４に含まれているコンデンサの正常・異常を判定することができる。コンデンサが正常である場合、信号ｖ１に入力されたスパイク状電圧波形２０はコンデンサにより除去され、或いは振幅が縮小し、図２（Ａ）に示すようにスパイク状電圧波形２０は弱められた波形２２となり閾値Ｖ０には達しない。その結果、カウント手段６のカウント結果は０回となり、判定手段８の許容カウント数ｎ内に収まり、正常と判定される。逆にコンデンサが異常である場合、信号ｖ１に含まれているスパイク状電圧波形２０はコンデンサにより除去されず、図２（Ｂ）に示すように、アナログ処理された波形２４が閾値Ｖ０には達する。その結果、カウント手段６のカウント結果はＮ回となり、判定手段８の許容カウント数ｎを超え、異常と判定される。これによりコンデンサの正常・異常を判定することができる。
【００１７】
本発明の検査システムでは、前記したように検査対象のコンデンサのノイズ除去可能な周波数帯域に基づいたスパイク状電圧波形を用いて検査を行うので、図１のように、電界コンデンサＣ１及びセラミックコンデンサＣ２のように、容量が異なるコンデンサが存在する場合にも、各々の検査を行うことができる。例えば図２のセラミックコンデンサＣ２を検査する場合には、高周波スパイク状電圧波形が使用される。電界コンデンサＣ１は比較的容量が大きく、高周波信号に対して影響を及ぼさない。高周波スパイク状電圧波形を用いることによってセラミックコンデンサＣ２の影響のみを検査することができる。逆に電界コンデンサＣ１を検査する場合、には低周波スパイク状電圧波形を使用する。セラミックコンデンサＣ２は比較的容量が小さく、低周波信号に対して影響を及ぼさない。低周波スパイク状電圧波形を用いることによって電界コンデンサＣ１の影響のみを検査することができる。このように検査対象とするコンデンサのみの検査を行うことができる。
【００１８】
本発明の第１実施例では、信号発生手段２から出力されるスパイク状電圧波形の周波数が複数選択可能であることが好ましい。信号発生手段２から出力されるスパイク状電圧波形の周波数を選択することで、検査対象とするコンデンサを選択することができる。
【００１９】
本発明のシステムは、アナログ回路１４がＣＰＵを備えているＥＣＵ１６に組み込まれている場合、ＥＣＵの検査システムとして具現化される。
（第２実施例）
図３は本発明の第２実施例であり、入力ポートに接続されている信号線とグランドポートに接続されているグランド線との間にコンデンサが接続されて構築されているアナログ回路を内蔵しているＥＣＵの検査システムのブロック図を示す。
まず検査対象となるＥＣＵ７０の構成について説明する。ＥＣＵ７０は、入力ポート８４と、グランドポート８３と、電圧比較手段７４と、ＣＰＵ８０と、ＲＯＭ７６と、ＲＡＭ７８と、通信入力ポート８６と、通信出力ポート８８を備えている。ＣＰＵ８０は、通信手段８２を有している。ＣＰＵ８０の通信手段８２は通信ポート８６及び８８に接続されている。ＣＰＵ８０は電圧比較手段７４に接続されている。電圧比較手段７４は信号線７２を通して入力ポート８４に接続されている。グランド線８５はグランドポート８３を介して接地されている。信号線７２とグランド線８５の間には容量が異なるコンデンサＣ３及びＣ４が並列に接続されており、入力ポート８４から入力される電圧信号に含まれるノイズ成分を除去する働きをしている。また、ＣＰＵ８０のさらに別の端子は、ＲＯＭ７６及びＲＡＭ７８に接続されている。
ＲＯＭ７６の所定領域には、ＥＣＵ７０を検査するプログラムが予め格納されている。後述する検査開始準備信号が検査装置５２からＣＰＵ８０に入力されると、ＣＰＵ８０はＲＯＭ７６から検査プログラムを読み出し、検査を行う。
【００２０】
次にＥＣＵ検査装置５２の構成を説明する。検査装置５２はＣＰＵ５８と、ＲＯＭ５４と、ＲＡＭ５６と、信号発生手段６２と、入力手段５７と、出力ポート６４と、通信出力ポート６６と、通信入力ポート６８を備えている。ＣＰＵ５８は通信手段６０を有しており、ＣＰＵ５８の通信手段６０は通信ポート６６及び６８に接続されている。またＣＰＵ５８は信号発生手段６２を通して出力ポート６４に接続されている。またＣＰＵ５８は入力手段５７に接続されている。ＣＰＵ５８のさらに別の端子は、ＲＯＭ５４及びＲＡＭ５６に接続されている。
本発明の検査システムでは、検査装置５２とＥＣＵ７０をケーブル９０で接続することで、検査装置５２の出力ポート６４をＥＣＵ７０の入力ポート８４に接続し、検査装置５２の通信出力ポート６６をＥＣＵ７０の通信入力ポート８６に接続し、検査装置１０の通信入力ポート６８をＥＣＵ７０の通信出力ポート８８に接続する。
ＲＯＭ５４の所定領域には、ＥＣＵ５２を検査するタイムチャートに相当するプログラムが予め格納されている。検査開始時にＣＰＵ５８はＲＯＭ５４からタイムチャートのプログラムを読み出し、そのタイムチャートに従って検査を行う。
【００２１】
図４に検査のタイミングチャートを示す。図４でＨはハイ信号を、Ｌはロー信号を示す。図３の参照番号Ｘ１は通信入力ポート８６からＥＣＵ７０に入力される電圧信号を示し、参照番号Ｘ２は通信出力ポート８８から検査装置５２に出力される電圧信号を示す。また参照番号Ｙ１はＥＣＵ７０の入力ポート８４を介して信号線７２に入力される電圧信号を示し、参照番号Ｙ２は信号線７２から電圧比較手段７４に出力される電圧信号を示す。また参照番号Ｙ３は電圧比較手段７４からＣＰＵ８０に出力される電圧信号を示し、電圧比較手段７４にて閾値Ｖ０と信号Ｙ２を比較した結果を伝達する。図４の参照番号ＺはＥＣＵ７０のＣＰＵ８０の検査状況を示し、カウント処理及び比較処理等の検査処理が行われている状況をハイ状態、検査が行われていない状況をロー状態として示す。Ｔ１〜Ｔ１１は検査時間の経過を示し、Ｔ１は検査開始指示時間を示し、Ｔ２及びＴ６は検査準備時間を示す。Ｔ３及びＴ７は準備完了報告時間を示し、Ｔ４及びＴ８はカウント処理時間を示す。Ｔ５及びＴ９は検査終了指示時間を示す。Ｔ１０は比較処理時間を示し、Ｔ１１は検査結果転送時間を示す。
【００２２】
図４を使って、図３に示すＥＣＵ７０に含まれるコンデンサＣ３及びＣ４を検査する手順を説明する。検査に先立って、コンデンサＣ３の検査に使用するスパイク状電圧波形１２０の周波数ｆ３及び個数Ｎ３と、コンデンサＣ４の検査に使用するスパイク状電圧波形１２８の周波数ｆ４及び個数Ｎ４を、入力手段５７を用いて検査装置５２のＣＰＵ５８に入力する。この処理は必ずしも必要なく、予め検査装置５２に必用とされるスパイク状電圧波形の周波数及び個数が格納されている場合、この処理は必要ではない。
検査開始指示時間Ｔ１に検査装置５２のＣＰＵ５８はＲＯＭ５４から図４のタイミングチャートに相当するプログラムを呼び出し、通信手段６０を通してＥＣＵ７０のＣＰＵ８０に検査開始信号１０２を出力する。ＥＣＵ７０のＣＰＵ８０は検査開始信号１０２を受け取ると、ＲＯＭ７６に予め格納されている検査プログラムを読み出す。検査開始信号１０２の出力終了後、検査準備期間Ｔ２になると、ＥＣＵ７０のＣＰＵ８０はＲＡＭ７８に残るカウンタ数等の前回の検査結果をクリアするなどの検査準備処理を行う。検査準備処理が完了すると、ＥＣＵ７０のＣＰＵ８０は準備完了報告時間Ｔ３に検査装置５２のＣＰＵ５８に準備完了信号１０４を出力する。
準備完了信号１０４の出力終了後、カウント時間Ｔ４に入ると、ＥＣＵのＣＰＵ８０は電圧比較手段７４から出力されるパルス信号のカウント処理１０６を開始する。それと同時に検査装置５２のＣＰＵ５８は信号発生手段６２を通して信号Ｙ１に、コンデンサＣ３を検査する為の周波数ｆ３のスパイク状電圧波形１２０をＮ３個発生させる。入力された信号Ｙ１はコンデンサＣ３によりアナログ処理されて信号Ｙ２に変換され、電圧比較手段７４に出力される。電圧比較手段７４で信号Ｙ２は閾値Ｖ０と比較され、閾値Ｖ０と信号Ｙ２が等しくなったときにＣＰＵ８０に出力する信号Ｙ３にパルス信号１２６を出力する。出力されたパルス信号１２６はＣＰＵ８０でカウント処理１０６が行われ、そのカウント結果ｎ１３がＲＡＭ７８に格納される。
【００２３】
ここで図５を用いてＥＣＵ７０のＣＰＵ８０でパルス信号１２６がカウント処理１０６される様子を説明する。
図５（Ａ）に示すように、信号発生手段６２を通して信号Ｙ１に周波数ｆ３を持つスパイク状電圧波形１２０がＮ３個入力される。周波数ｆ３はコンデンサＣ３のノイズ除去可能な周波数帯域に含まれる周波数が選ばれている為、コンデンサＣ３が正常である場合、図５（Ｂ）に示すように、信号Ｙ２に含まれるスパイク状電圧波形１２２の振幅は小さくなり、電圧比較手段７２の閾値Ｖ０に達しない。そのため電圧比較手段７２から出力される信号Ｙ３にはパルス信号が含まれず、カウント結果ｎ３は「０」となる。コンデンサＣ３が異常である場合、図５（Ｃ）に示すように、信号Ｙ２に含まれるスパイク状電圧波形１２４の振幅は小さくならず、電圧比較手段７２の閾値Ｖ０に達する（図５（Ｃ）の斜線部）。電圧比較手段７２は信号Ｙ２が閾値Ｖ０に達したときに信号Ｙ３にパルス信号１２６を出力し、この信号がＣＰＵにて取得され、その数がカウントされる。
【００２４】
検査装置５２のＣＰＵ５８はスパイク状電圧波形１２０の出力を終了すると、検査終了指示時間Ｔ５に、検査終了信号１０８を、通信手段６０を介してＥＣＵ７０のＣＰＵ８０に出力する。検査終了信号１０８を受け取ったＥＣＵ７０のＣＰＵ８０は、カウント処理１０６を終了し、カウント結果ｎ１３をＲＡＭ７８に格納する。
同様なカウント結果の取得をＴ６〜Ｔ９の経過時間を使ってコンデンサＣ４に対して行う。この場合、検査終了指示時間Ｔ５に伝えられた検査終了信号１０８の出力終了後、検査準備期間Ｔ６に、ＥＣＵ７０のＣＰＵ８０はカウント結果ｎ１３を除いたＲＡＭ７８に残るカウンタ数等の前回の検査結果をクリアするなどの検査準備処理を行う。またカウント時間Ｔ８では、信号発生手段６２を通して信号Ｙ１に周波数ｆ４を持つスパイク状電圧波形１２８がＮ４個入力され、カウント時間Ｔ８にカウントされた結果ｎ１４がＲＡＭ７８に格納される。
【００２５】
検査終了指示時間Ｔ９に出力された検査終了信号１０８の出力終了後、検査結果比較処理時間Ｔ１０に入ると、ＥＣＵ７０のＣＰＵ８０はＲＡＭ７８からカウント時間Ｔ４でカウントされた結果ｎ１３を呼び出し、ＲＯＭ７６に予め格納されている許容カウント数ｎ３と比較処理１１０を行う。カウント結果ｎ１３が許容カウント数ｎ３以内である場合、コンデンサＣ３を正常と判定する。カウント結果ｎ１３が許容カウント数ｎ３を超えている場合、コンデンサＣ３を異常と判定する。この判断結果をＲＡＭ７８に格納する。続いてカウント時間Ｔ８でカウントされた数ｎ１４を呼び出し、ＲＯＭ７６に予め格納されている許容カウント数ｎ４と比較処理を行う。カウント数ｎ１４が許容カウント数ｎ４と比較を行う。カウント数ｎ１４が許容カウント数ｎ４に含まれる場合、コンデンサＣ４を正常と判定し、カウント数ｎ１４が許容カウント数ｎ４を超えている場合、コンデンサＣ４を異常と判定する。この判定結果をＲＡＭ７８に格納する。
全ての判定結果がＲＡＭに格納されると検査結果比較処理時間Ｔ１０を終了し、検査結果転送時間Ｔ１１となる。ＥＣＵ７０のＣＰＵ８０はＲＡＭ７８から判定結果を読み出し、検査装置５２のＣＰＵ５８に転送信号１１２を出力する。検査装置５２が判定結果を受け取ることで検査を終了する。
【００２６】
図３に示す検査システムのブロック図はその構成を制限するものではない。電圧比較手段７４はＥＣＵ７０のＣＰＵ８０の外部に形成されているが、ＥＣＵ７０のＣＰＵ８０に内蔵されていても構わない。ＥＣＵ７０のＲＯＭ７６に検査プログラムが予め格納されているが、検査プログラムはＲＡＭ７８に格納されていても構わない。この場合、ＲＯＭ７８は必ずしも必要ではない。またＣＰＵ８０自体に記憶領域が存在する場合、ＣＰＵ８０に検査プログラムが格納されていても構わない。
検査プログラムがＲＡＭに格納される場合、ＲＡＭではその記憶内容の上書き及び削除が制限されていないことが多く、ＲＡＭに検査プログラムが格納される時期は検査前であれば自由である。またＲＡＭに格納された検査プログラムは検査終了後に消去しても構わない。これは検査装置５２のＲＯＭ５４に格納されるタイミングチャートに相当するプログラムについても同様である。
【００２７】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず特許請求の範囲を限定するものではない。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書又は図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】第１実施例の検査システムを示すブロック図である。
【図２】第１実施例による検査処理の説明図を示す。
【図３】第２実施例の検査システムを示すブロック図である。
【図４】第５実施例のタイミングチャートを示す。
【図５】第２実施例による検査処理の説明図を示す。
【符号の説明】
【００２９】
２・・・・・信号発生装置
４・・・・・信号線
６・・・・・カウント手段
８・・・・・判定手段
１０・・・・接続点
１２・・・・接続点
１４・・・・アナログ回路
１６・・・・ＥＣＵ
２０・・・・スパイク状電圧波形
２２・・・・振幅が縮小したスパイク状電圧波形
２４・・・・振幅が拡大したスパイク状電圧波形
５２・・・・検査装置
５４・・・・ＲＯＭ
５６・・・・ＲＡＭ
５７・・・・入力手段
５８・・・・ＣＰＵ
６０・・・・通信手段
６２・・・・信号発生手段
６４・・・・出力ポート
６６・・・・通信出力ポート
６８・・・・通信入力ポート
７０・・・・ＥＣＵ
７２・・・・信号線
７４・・・・電圧比較手段
７６・・・・ＲＯＭ
７８・・・・ＲＡＭ
８０・・・・ＣＰＵ
８２・・・・通信手段
８３・・・・グランドポート
８４・・・・入力ポート
８５・・・・グランド線
８６・・・・通信入力ポート
８８・・・・通信出力ポート
９０・・・・ケーブル
１０２・・・検査開始信号
１０４・・・準備完了信号
１０６・・・カウント処理
１０８・・・検査終了信号
１１０・・・比較処理
１１２・・・転送信号
１２０・・・スパイク状電圧波形
１２２・・・振幅が縮小したスパイク状電圧波形
１２４・・・振幅が拡大したスパイク状電圧波形
１２６・・・パルス信号
１２８・・・スパイク状電圧波形
ｖ１・・・・アナログ回路１４への入力信号
ｖ２・・・・アナログ回路１４からの出力信号
Ｖ０・・・・閾値
Ｃ１・・・・電解コンデンサ
Ｃ２・・・・セラミックコンデンサ
Ｃ３、Ｃ４・・・コンデンサ
ｆ３、ｆ４・・・周波数
Ｎ、Ｎ３、Ｎ４・・・スパイク状電圧波形の入力数
ｎ、ｎ３、ｎ４・・・カウント許容数
ｎ１３、ｎ１４・・・カウント結果
Ｘ１・・・・検査装置５２からＥＣＵ７０に入力される通信入力信号
Ｘ２・・・・ＥＣＵ７０から検査装置５２に出力される通信出力信号
Ｙ１・・・・入力ポート８４から信号線７２へ入力される信号
Ｙ２・・・・信号線７２から電圧比較手段７４へ出力される信号
Ｙ３・・・・電圧比較手段７４からＣＰＵ８０へ入力される信号
Ｚ・・・・・ＥＣＵ８０の検査状況
Ｈ・・・・・ハイ信号
Ｌ・・・・・ロー信号
Ｔ１・・・・検査開始指示時間
Ｔ２、Ｔ６・・・検査準備時間
Ｔ３、Ｔ７・・・準備完了報告時間
Ｔ４、Ｔ８・・・カウント処理時間
Ｔ５、Ｔ９・・・検査終了指示時間
Ｔ１０・・・比較処理時間
Ｔ１１・・・検査結果転送時間
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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