(57)【要約】【課題】  アナログ回路と２値化回路を含む回路の検査システムを提供する。【解決方法】  電圧源１１２は、アナログ回路１００に入力する電圧ｖ１を所定の反転タイミングで反転し、アナログ回路１００でアナログ処理された電圧ｖ１は電圧ｖ２として２値化回路１０２に出力され、２値化される。取得手段１０６では反転タイミングから第１及び第２所定時間が経過した時の２値化結果が取得され、その結果が判定手段１０８で基準値と比較される。回路１０４が正常であるときに、第１及び第２所定時間で取得される２値化結果が異なるように所定時間を設定しておくことで、２値化結果が反転する所定時間を特定することができ、アナログ回路の正常・異常を判定することができる。【選択図】  図１
2008292208.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電圧を入力してアナログ処理するアナログ回路と、そのアナログ回路でアナログ処理された電圧を入力して２値化する２値化回路を含む回路の検査システムであって、
前記アナログ回路に入力する電圧を所定の反転タイミングで反転させる電圧源と、
その反転タイミングから第１所定時間が経過した時の前記２値化回路の２値化結果と、その反転タイミングから第２所定時間が経過した時の前記２値化結果を取得する取得手段と、
前記第１所定時間経過時の２値化結果と第２所定時間経過時の２値化結果の組合せから前記アナログ回路と前記２値化回路を含む回路の正常・異常を判定する判定手段と、
を備えており、
前記第１所定時間は、前記アナログ回路と前記２値化回路の双方が正常であるときに、前記反転タイミングから前記２値化結果が反転するまでの時間よりも短時間に設定されており、
前記第２所定時間は、前記アナログ回路と前記２値化回路の双方が正常であるときに、前記反転タイミングから前記２値化結果が反転するまでの時間よりも長時間に設定されていることを特徴する検査システム。
【請求項２】
電圧を入力してアナログ処理するアナログ回路と、そのアナログ回路でアナログ処理された電圧を入力して閾値と比較して２値化するとともにその比較に用いる閾値を切り替えることが可能な２値化回路を含む回路の検査システムであって、
前記アナログ回路に入力する電圧を所定の反転タイミングで反転させる電圧源と、
その反転タイミングから所定時間が経過した時の前記２値化回路の２値化結果を取得する取得手段と、
前記２値化回路の前記閾値を第１閾値と第２閾値の間で切り替える手段と、
前記第１閾値を用いたときの２値化結果と第２閾値を用いたときの２値化結果の組合せから前記アナログ回路と前記２値化回路を含む回路の正常・異常を判定する判定手段と、
を備えており、
前記第１閾値は、前記アナログ回路が正常であるときに、前記反転タイミングから前記所定時間が経過した時に前記アナログ回路が出力する電圧以下に設定されており、
前記第２閾値は、前記アナログ回路が正常であるときに、前記反転タイミングから前記所定時間が経過した時に前記アナログ回路が出力する電圧以上に設定されていることを特徴する検査システム。
【請求項３】
電圧を入力してアナログ処理するアナログ回路と、そのアナログ回路でアナログ処理された電圧を入力して２値化する２値化回路を含む回路の時定数を計測するシステムであって、
前記アナログ回路に入力する電圧を所定の反転タイミングで反転させる電圧源と、
その反転タイミング後に所定時間間隔をおいて前記２値化回路の２値化結果を繰り返し取得する取得手段と、
前記反転タイミングから前記２値化結果が反転するタイミングまでの遅延時間を特定する手段と
前記遅延時間から前記アナログ回路の時定数を特定する手段と、
を備えている計測システム。
【請求項４】
前記電圧源は、電圧を反転させてから再反転させることによってパルス状の電圧変化を生成し、同一パルス幅のパルス電圧をＮ回に亘って生成するとともに、パルス幅が異なるパルス電圧を繰り返し生成し、
前記取得手段は、前記再反転タイミングにおける前記２値化結果を取得し、
前記の遅延時間を特定する手段は、前記Ｎパルスあたりに観測される２値化結果の反転回数から前記遅延時間を特定することを特徴とする請求項３の計測システム。
【請求項５】
電圧を入力してアナログ処理するアナログ回路と、そのアナログ回路でアナログ処理された電圧を入力して閾値と比較して２値化するとともにその比較に用いる閾値を切り替えることが可能な２値化回路を含む回路の時定数を測定するシステムであって、
前記アナログ回路に入力する電圧を所定の反転タイミングで反転させる電圧源と、
その反転タイミングから所定時間が経過した時の前記２値化回路の２値化結果を取得する取得手段と、
前記２値化回路の前記閾値を多段階に切り替える手段と、
前記２値化結果が反転する前後の２つの閾値を特定する手段と
前記手段で特定された２つの閾値から前記アナログ回路の時定数を特定する手段と、
を備えている計測システム。
【請求項６】
前記電圧源は、電圧を反転させてから再反転させることによってパルス状の電圧変化を生成し、同一電圧のパルス電圧をＮ回に亘って生成するとともに、異なる電圧のパルス電圧を繰り返し生成し、
前記取得手段は、前記再反転タイミングにおける前記２値化結果を取得し、
前記の時定数を特定する手段は、前記Ｎパルスあたりに観測される２値化結果の反転回数から前記時定数を特定することを特徴とする請求項５の計測システム。
【請求項７】
前記アナログ回路と前記２値化回路がコンピュータを備えているＥＣＵに組み込まれており、
前記電圧源が、前記アナログ回路と前記コンピュータに接続され、
前記コンピュータが、前記電圧源に電圧を反転させる指示を出力し、前記２値化回路の前記２値化結果を所得する処理を実行し、取得した２値化結果を処理することを特徴とする請求項１から６のいずれかのシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、アナログ回路と２値化回路を含む回路の検査システムに関する。本発明は、アナログ回路と２値化回路を含むＥＣＵの検査に適している。
【背景技術】
【０００２】
例えば自動車の制御の一部は電子制御装置（Electronic Control Unit：ＥＣＵ）を利用して実行される。ＥＣＵはＣＰＵ（Central Processing Unit：中央演算処理装置であり本明細書ではコンピュータということもある）を備えており、エンジンやブレーキ等の各種機器を制御する。各種機器を条件に合わせて適確に制御するために、ＥＣＵは各種情報を入力する。例えば自動車の速度情報を入力する。
速度情報を入力する一つの手法に、タイヤと同速度で回転する物体と、物体までの距離に応じて出力電圧が変化するセンサを組み合わせて用いる手法が知られている。この手法では、タイヤの回転に追従してその物体がセンサの前方を横切っていく。この手法を用いると、タイヤの回転に追従してセンサの出力電圧が時間的に変化する。その変化速度を検出することによってタイヤの回転速度を検出することができる。
時間的に変化する出力電圧の変化速度を検出するために、その出力電圧を２値化回路に入力することがある。２値化回路による２値化結果が単位時間当たりに反転する回数をカウントすることによって変化速度を検出することができる。
【０００３】
センサの出力電圧には、各種のノイズが重複していることがある。例えばタイヤの回転速度よりも高速に変化する高周波ノイズが含まれていることがある。高周波ノイズを含む出力電圧をそのまま２値化すると、実際の速度以上の速度であると誤計測してしまう恐れがある。
そこで、センサの出力電圧を２値化回路に入力するのに先立って高周波ノイズを除去する必要がある。センサの出力電圧をフィルター回路に入力し、フィルター回路で高周波ノイズが除去された電圧を２値化回路に入力すれば、高周波ノイズによる誤計測を防止することができる。
【０００４】
上記は一例であって、センサ等から出力されるアナログ電圧を、フィルター回路等のアナログ回路で処理し、アナログ回路でアナログ処理された電圧を２値化回路に入力する回路が普及している。多くのＥＣＵが、アナログ回路と２値化回路を組み合わせた回路を備えている。
【０００５】
アナログ回路と２値化回路を組み合わせた回路、あるいはアナログ回路と２値化回路を組み合わせた回路を備えているＥＣＵを検査する技術が必要とされている。特にアナログ回路の時定数が所望の時定数に調整されているのか否かを検査する技術が必要とされている。
【０００６】
特許文献１にアナログ回路を内蔵するＥＣＵを検査する技術が開示されている。この技術では、アナログ回路が入力する電圧を所定の反転タイミングで反転させ（例えばロー電圧からハイ電圧に切り替え、逆にハイ電圧からロー電圧に切り替える）、その反転タイミングからの経過時間に対応付けて、アナログ回路でアナログ処理された電圧を繰り返し計測する。経過時間に対応付けて計測された電圧が所望の変化パターンにほぼ一致していれば、アナログ回路が正常であることがわかり、経過時間に対応付けて計測された電圧が所望の変化パターンから大きく外れていれば、アナログ回路が異常であることがわかる。
【０００７】
【特許文献１】特開２００４−６９３５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１の技術を用いれば、アナログ回路の時定数を計測することができる。しかしながら、アナログ回路でアナログ処理された電圧の大きさを計測する必要がある。特許文献１の技術では、検査装置にＡ／Ｄ変換器を用意することによって、アナログ処理された電圧の大きさを計測する。
【０００９】
ＥＣＵに内蔵されているアナログ回路の中には、そのアナログ回路から出力される電圧の大きさが重要なものがあり、その場合には、アナログ回路の出力がＥＣＵのＡ／Ｄ変換器に入力される。この場合、ＥＣＵのＡ／Ｄ変換器によってアナログ処理された電圧の大きさを計測することができる。本発明者は、ＥＣＵのＡ／Ｄ変換器によってアナログ処理された電圧の大きさを計測し、その計測結果によってアナログ回路の正常・異常を判別する技術を提案している。この技術が特許文献２に開示されている。ただし、本出願の時点において特許文献２はまだ公開されていない。特許文献２の技術によると、検査装置にＡ／Ｄ変換器を用意する必要がない。ＥＣＵ内のＡ／Ｄ変換器によってＥＣＵ内のアナログ回路の正常・異常をＥＣＵ自体で判定することができる。
【００１０】
【特許文献２】特願２００７−１１６９９２号の願書に添付した明細書と図面
【００１１】
アナログ回路の出力電圧がＥＣＵ内のＡ／Ｄ変換器によって変換される場合には、特許文献２の技術で問題がない。特許文献２の技術は非常に有用である。
しかしながら、ＥＣＵに接続されているアナログ回路の全部がＡ／Ｄ変換器に接続されているものでない。前記したように、アナログ回路が２値化回路に接続されていることがある。
この場合、アナログ回路に反転電圧を入力したタイミング以降にアナログ回路から出力される電圧の時間的変化パターンを計測しようとすると、検査装置にＡ／Ｄ変換器を用意するか、あるいはＥＣＵにＡ／Ｄ変換器を追加しなければならない。
前者の方式では、ＥＣＵ自体でアナログ回路の正常・異常を判定することができない。また、アナログ回路の出力電圧を検査装置に伝達するための検査用パッドをＥＣＵ内に組み込む必要がある。後者の方式では、検査のためだけのＡ／Ｄ変換器をＥＣＵに組み込む必要がある。ＥＣＵに検査用パッドやＡ／Ｄ変換手段を組み込むと、ＥＣＵが大型化してしまう。
【００１２】
本発明では、検査用パッドやＡ／Ｄ変換器を利用しないでアナログ回路の正常・異常を判定することができる技術を提供する。特に、アナログ回路の時定数の正常・異常を判定することができる技術を提供する。
アナログ回路の正常・異常を判定する技術では、異常な場合に、アナログ回路の時定数が長すぎる異常なのか、短すぎる異常なのかまで判定できることが好ましい。それが判定できれば、異常原因となっているアナログ素子を特定する作業が容易化される。本発明では、アナログ回路が異常な場合に、Ａ／Ｄ変換器を利用しないで、アナログ回路の時定数が長すぎるのか、短すぎるのかまで判定できる技術をも提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本出願の発明は、図１に例示するように、電圧ｖ１を入力してアナログ処理するアナログ回路１００と、そのアナログ回路１００でアナログ処理された電圧ｖ２を入力して２値化する２値化回路１０２を含む回路１０４の検査システムに関する。
アナログ回路１００と２値化回路１０２がＥＣＵ１１０に内蔵されている場合には、ＥＣＵ１１０に電圧源１１２を接続し、ＥＣＵ１１０に検査用プログラムを組みこんでおくことによってこの検査システムを構築することができる。後記する取得手段１０６と判定手段１０８等は、ＥＣＵ１１０が備えているコンピュータで実現することができる。
【００１４】
本出願の一つの発明を具現化した検査システムは、アナログ回路１００に入力する電圧ｖ１を所定の反転タイミング（図２のｔ０参照）で反転させる電圧源１１２と、その反転タイミング（ｔ０）から第１所定時間が経過した時（図２のｔ１参照）の２値化回路の２値化結果と、その反転タイミング（ｔ０）から第２所定時間が経過した時（図２のｔ２参照）の２値化結果を取得する取得手段１０６と、第１所定時間経過時（ｔ１）の２値化結果と第２所定時間経過時（ｔ２）の２値化結果の組合せからアナログ回路１００と２値化回路１０２を含む回路１０４の正常・異常を判定する判定手段１０８を備えている。
前記の第１所定時間は、アナログ回路と２値化回路の双方が正常であるときに反転タイミングから２値化結果が反転するまでの時間よりも短時間に設定しておく。また第２所定時間は、アナログ回路と２値化回路の双方が正常であるときに反転タイミングから２値化結果が反転するまでの時間よりも長時間に設定しておく。
【００１５】
反転タイミング（ｔ０）から２値化結果が反転するまでの時間は、アナログ回路１００の時定数によって変化する。アナログ回路１００の時定数が長すぎれば、その時間が長時間となり、アナログ回路１００の時定数が短すぎれば、その時間が短時間となる。アナログ回路１００が正常であれば、長すぎも短すぎもしない所望の時間幅内で２値化結果が反転するはずである。
本システムでは、アナログ回路１００が正常であれば２値化結果が反転するタイミングの直前（すなわち第１所定時間の経過時ｔ１）と直後（すなわち第２所定時間の経過時ｔ２）に２値化結果を取得する。以下では説明の便宜のために、図２の（Ａ）に示すように、反転タイミング（ｔ０）でアナログ回路１００に入力される電圧がロー電圧からハイ電圧に変化し、それに伴ってアナログ回路１００の出力電圧も所定の時定数だけ送れて上昇し、２値化回路１０２の閾値以上に上昇したときに２値化結果がローからハイに反転する場合を説明する。
図２（Ｃ）に示すように、アナログ回路１００の時定数が適切であれば、第１所定時間経過時（ｔ１）には２値化結果がまだ反転しておらず、第２所定時間経過時（ｔ２）には２値化結果が既に反転しているはずである。第１所定時間経過時（ｔ１）の２値化結果がローであり、第２所定時間経過時（ｔ２）の２値化結果がハイであれば、アナログ回路１００の時定数が適切であることがわかる。しかもこの場合、２値化回路１０２の動作まで正常であるとしてよい。第１所定時間経過時（ｔ１）の２値化結果がローであり、第２所定時間経過時（ｔ２）の２値化結果がハイであれば、アナログ回路１００と２値化回路１０２の双方が正常であるとしてよい。
図２（Ｄ）に示すように、アナログ回路１００の時定数が大きすぎれば、２値化結果は、第２所定時間が経過してもまだ反転しない。第１所定時間経過時（ｔ１）の２値化結果がローであり、第２所定時間経過時（ｔ２）の２値化結果もローであれば、アナログ回路１００の時定数が長すぎることがわかる。あるいは、２値化回路１０２が異常であるのかもしれない。別の検査で２値化回路１０２が正常であることが判明していれば、アナログ回路１００の時定数が長すぎるとしてよい。
図２（Ｂ）に示すように、アナログ回路１００の時定数が小さすぎれば、２値化結果は、第１所定時間が経過した時点で既に反転している。第１所定時間経過時（ｔ１）の２値化結果がハイであり、第２所定時間経過時（ｔ２）の２値化結果もハイであれば、アナログ回路１００の時定数が短すぎることがわかる。あるいは、２値化回路１０２が異常であるのかもしれない。別の検査で２値化回路１０２が正常であることが判明していれば、アナログ回路１００の時定数が短すぎるとしてよい。
上記では、ローからハイに反転する場合を例示したが、ハイからローに反転する場合も同様である。アナログ回路１００の時定数が適切であれば、第２所定時間経過時（ｔ２）の２値化結果は第１所定時間経過時（ｔ１）の２値化結果から反転しているはずである。反転していれば、アナログ回路１００と２値化回路１０２の双方が正常であるとしてよい。
本システムでは、第１所定時間経過時の２値化結果と第２所定時間経過時の２値化結果を取得すればよく、その他のタイミングでの２値化結果を取得することを妨げない。後記するように、正常・異常だけでなく、どの種の異常なのかまで検査する場合には、その他のタイミングでの２値化結果を取得することが有用である。
第１所定時間経過時の２値化結果と第２所定時間経過時の２値化結果を取得するために所定の反転タイミングで反転した後に再反転するパルス状の電圧変化を利用することができる。所定の反転タイミングで反転してから第１所定時間が経過した時に再反転するパルス状電圧を用い、その再反転タイミングでの２値化結果を取得することによって第１所定時間経過時の２値化結果を取得することができる。所定の反転タイミングで反転してから第２所定時間が経過した時に再反転するパルス状電圧を用い、その再反転タイミングでの２値化結果を取得することによって第２所定時間経過時の２値化結果を取得することができる。再反転時の２値化結果を保存する回路と組み合わせて用いる場合には特に有用である。
【００１６】
前記では、異なるタイミングでの２値化結果を利用して検査した。２値化回路１０２の中にはアナログ電圧との比較に用いる閾値を切り替えることが可能なものが存在する。この種の２値化回路を利用している場合には、閾値を切り替えることによってアナログ回路１００の時定数の正常・異常を判定することもできる。
本出願の第２発明の検査システムは、上記の場合に対応するものであり、アナログ回路１００に入力する電圧ｖ１を所定の反転タイミング（図３のｔ０参照）で反転させる電圧源１１２と、その反転タイミング（ｔ０）から所定時間が経過した時（図３のＴ０参照）の２値化回路１０２の２値化結果を取得する取得手段１０６と、２値化回路１０２の閾値を第１閾値（図３のＶ１参照）と第２閾値（図３のＶ２参照）の間で切り替える手段と、第１閾値（Ｖ１）を用いたときの２値化結果と第２閾値（Ｖ２）を用いたときの２値化結果の組合せからアナログ回路１００と２値化回路１０２を含む回路１０４の正常・異常を判定する判定手段１０８を備えている。
前記の第１閾値（Ｖ１）は、アナログ回路１００が正常であるときに、反転タイミング（ｔ０）から前記所定時間が経過した時（Ｔ０）にアナログ回路１００が出力する電圧以下に設定しておく。前記の第２閾値（Ｖ２）は、アナログ回路が正常であるときに、反転タイミング（ｔ０）から前記所定時間が経過した時（Ｔ０）にアナログ回路１００が出力する電圧以上に設定しておく。
【００１７】
以下でも説明の便宜のために、図３の（Ａ）に示すように、反転タイミング（ｔ０）でアナログ回路１００に入力される電圧がロー電圧からハイ電圧に変化し、それに伴ってアナログ回路１００の出力電圧が所定の時定数だけ遅れて上昇し、２値化回路１０２の閾値以上に上昇したときに２値化結果がローからハイに反転する場合を説明する
本システムでは、図３の（Ａ）に示すように、少なくとも２回に亘ってアナログ回路１００に入力する電圧を反転させる。
図３（Ｃ）に示すように、アナログ回路１００の時定数が適切であれば、反転タイミング（ｔ０）から所定時間が経過した時（Ｔ０）のアナログ回路１００の出力電圧は第１閾値（Ｖ１）以上であり、第１閾値（Ｖ１）を用いた２値化結果は既に反転している。それに対し、反転タイミング（ｔ０）から所定時間が経過した時（Ｔ０）のアナログ回路１００の出力電圧は第２閾値（Ｖ２）以下であり、第２閾値（Ｖ２）を用いた２値化結果はまだ反転していない。第１閾値（Ｖ１）を用いた２値化結果がハイであり、第２閾値（Ｖ２）を用いた２値化結果がローであれば、アナログ回路１００の時定数が適切であることがわかる。しかもこの場合、２値化回路１０２の動作まで正常であるとしてよい。第１閾値（Ｖ１）を用いた２値化結果がハイであり、第２閾値（Ｖ２）を用いた２値化結果がローであれば、アナログ回路１００と２値化回路１０２の双方が正常であるとしてよい。
図３（Ｄ）に示すように、アナログ回路１００の時定数が長すぎれば、反転タイミング（ｔ０）から所定時間が経過した時（Ｔ０）のアナログ回路１００の出力電圧は第１閾値（Ｖ１）以下であり、第１閾値（Ｖ１）を用いた２値化結果はまだ反転していない。反転タイミング（ｔ０）から所定時間が経過した時（Ｔ０）のアナログ回路１００の出力電圧も当然に第２閾値（Ｖ２）以下であり、第２閾値（Ｖ２）を用いた２値化結果もまだ反転していない。第１閾値（Ｖ１）を用いた２値化結果がローであり、第２閾値（Ｖ２）を用いた２値化結果もローであれば、アナログ回路１００の時定数が長すぎることがわかる。あるいは、２値化回路１０２が異常であるのかもしれない。別の検査で２値化回路１０２が正常であることが判明していれば、アナログ回路１００の時定数が長すぎるとしてよい。
図３（Ｂ）に示すように、アナログ回路１００の時定数が短すぎれば、反転タイミング（ｔ０）から所定時間が経過した時（Ｔ０）のアナログ回路１００の出力電圧は第１閾値（Ｖ１）以上であり、第１閾値（Ｖ１）を用いた２値化結果はすでに反転している。反転タイミング（ｔ０）から所定時間が経過した時（Ｔ０）のアナログ回路１００の出力電圧は第２閾値（Ｖ２）以上であり、第２閾値（Ｖ２）を用いた２値化結果も既に反転している。第１閾値（Ｖ１）を用いた２値化結果がハイであり、第２閾値（Ｖ２）を用いた２値化結果もハイであれば、アナログ回路１００の時定数が短すぎることがわかる。あるいは、２値化回路１０２が異常であるのかもしれない。別の検査で２値化回路１０２が正常であることが判明していれば、アナログ回路１００の時定数が短すぎるとしてよい。
上記では、ローからハイに反転する場合を例示したが、ハイからローに反転する場合も同様である。アナログ回路１００の時定数が適切であれば、第１閾値を用いたときの２値化結果と第２閾値を用いたときの２値化結果は異なるはずである。異なっていれば、アナログ回路１００と２値化回路１０２の双方が正常であるとしてよい。
本システムでは、第１閾値での２値化結果と第２閾値での２値化結果を取得すればよく、その他の閾値での２値化結果を取得することを妨げない。後記するように、正常・異常だけでなく、どの種の異常なのかまで検査する場合には、その他の閾値での２値化結果を取得することが有用である。
【００１８】
本発明は、アナログ回路の時定数の適否を検査するだけでなく、それが異常であれば、アナログ回路の時定数を計測する技術に具現化することもできる。  本出願の一つの発明は、図１に例示するように、電圧ｖ１を入力してアナログ処理するアナログ回路１００と、そのアナログ回路１００でアナログ処理された電圧ｖ２を入力して２値化する２値化回路１０２を含む回路１０４の時定数を計測するシステムに関する。
本出願の一つの発明を具現化した計測システムは、アナログ回路１００に入力する電圧ｖ１を所定の反転タイミング（図４のｔ０参照）で反転させる電圧源１１２と、その反転タイミング（ｔ０）後に所定時間間隔をおいて２値化回路の２値化結果を繰り返し取得する取得手段１０６と、反転タイミング（ｔ０）から２値化結果が反転するタイミングまでの遅延時間を特定する手段と、その遅延時間からアナログ回路１００の時定数を特定する手段１０８とを備えている。図４の場合、反転タイミング（ｔ０）後に、所定時間間隔をおいた複数のタイミング（ｔ１、ｔ２、ｔ３…）で２値化結果を取得した場合を例示している。
【００１９】
上記によると、２値化結果が反転したタイミングからアナログ回路１００の時定数を計測することができる。例えばタイミングｔ１〜ｔ２の間で２値化結果が反転すれば、時定数が小さいことがわかる。例えばタイミングｔ３〜ｔ４で２値化結果が反転すれば、時定数が中間値であることがわかる。例えばタイミングｔ５〜ｔ６で２値化結果が反転すれば、時定数が大きいことがわかる。
【００２０】
繰り返し観測することによって計測精度を向上させることもできる。例えば、図５のように、電圧源１１２によってアナログ回路１００に、パルス幅がΔｔ１であるパルス電圧をＮ回加え、パルス幅がΔｔ２であるパルス電圧をＮ回加え、パルス幅がΔｔ３であるパルス電圧をＮ回加える。ここでパルス幅Δｔ１及びΔｔ２及びΔｔ３は、この順にパルス幅が長くなる。２値化結果の取得手段は、パルス電圧が再反転して元のレベル（図５の場合ロー電圧）に復帰する直前での２値化結果を取得する。
いま、アナログ回路１００の時定数が、電圧反転後にΔｔ２時間だけ経過した時点で、アナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値に上昇する大きさであるとする。
この場合、パルス幅がΔｔ１である間は、２値化結果は安定して反転しない。２値化結果をＮ回取得しても、反転回数は０回である。それに対し、パルス幅がΔｔ３である間は、２値化結果は安定して反転する。２値化結果をＮ回取得すれば、反転回数はＮ回である。
以上に対して、パルス幅がΔｔ２である間は、ゆらぎの影響によって２値化結果は不安定となる。電圧反転後にΔｔ２時間だけ経過した時点で、アナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値に一致する場合、ゆらぎの影響によって、２値化結果は反転したり反転しなかったりする。Ｎパルスあたりの反転回数ｎが予定の回数と一致する場合、アナログ回路１００の時定数は、確実に、電圧反転後にΔｔ２時間だけ経過した時点でアナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値に上昇する大きさであるとすることができる。
【００２１】
上記の計測は、電圧源１１２が、（１）電圧を反転させてから再反転させることによってパルス状の電圧変化を生成するものであり、（２）同一パルス幅のパルス電圧をＮ回に亘って生成するとともに、（３）パルス幅が異なるパルス電圧を繰り返し生成するものであり、２値化結果の取得手段１０６が、再反転タイミングにおける２値化結果を取得するものであり、遅延時間を特定する手段１０８が、Ｎパルスあたりに観測される２値化結果の反転回数から遅延時間を特定するものによって実施することができる。
なお、パルス生成順序は特に制約されない。図５のように、同一パルス幅のパルスをＮ回生成してからパルス幅を変化させてもよいし、次々にパルス幅を変える処理をＮ回繰り返してもよい。この場合、取得手段１０６で取得された２値化結果はパルス幅と対応付けて取得される。
【００２２】
アナログ電圧との比較に用いる閾値を切り替えることが可能な２値化回路を利用している場合には、閾値を切り替えることによってアナログ回路１００の時定数を計測することもできる。
そのためのシステムは、図１に例示するように、電圧ｖ１を入力してアナログ処理するアナログ回路１００と、そのアナログ回路１００でアナログ処理された電圧ｖ２を入力して２値化する２値化回路１０２を含む回路１０４の時定数を計測するシステムに関する。本システムで用いる２値化回路１０２は、アナログ電圧ｖ２との比較に用いる閾値を切り替えることが可能である。
本システムは、アナログ回路１００に入力する電圧ｖ１を所定の反転タイミング（図６のｔ０）で反転させる電圧源１１２と、その反転タイミング（ｔ０）から所定時間が経過した時（図６のＴ０）の２値化回路１０２の２値化結果を取得する取得手段１０６と、２値化回路１０２の前記閾値を多段階に切り替える手段と、２値化結果が反転する前後の２つの閾値を特定する手段と、その手段で特定された２つの閾値からアナログ回路１００の時定数を特定する手段１０８を備えている。図６の場合、アナログ電圧ｖ２との比較に用いる閾値をＶ１，Ｖ２，Ｖ３…と切り替える場合を例示している。
【００２３】
上記によると、２値化結果が反転した２つの閾値からアナログ回路１００の時定数を計測することができる。例えば閾値Ｖ１での２値化結果と閾値Ｖ２での２値化結果が異なれば、アナログ回路１００の時定数が大きいことがわかる。例えば閾値Ｖ３での２値化結果と閾値Ｖ４での２値化結果が異なれば、アナログ回路１００時定数が中間値であることがわかる。例えば閾値Ｖ５での２値化結果と閾値Ｖ６での２値化結果が異なれば、アナログ回路１００の時定数が小さいことがわかる。
【００２４】
繰り返し計測することによって計測精度を高めることもできる。このためには、電圧源１１２に、（１）電圧を反転させてから再反転させることによってパルス状の電圧変化を生成し、図７に例示するように、（２）同一電圧のパルス電圧をＮ回に亘って生成するとともに、（３）異なる電圧のパルス電圧を繰り返し生成する電圧源を用いる。
取得手段１０６には、電圧の再反転タイミングにおける２値化結果を取得するものを用いる。時定数を特定する手段１０８には、前記Ｎパルスあたりに観測される２値化結果の反転回数から時定数を特定するものを用いる。
【００２５】
いま、アナログ回路１００の時定数が、アナログ回路１００に入力される電圧がｐｖ２に反転してからΔＴ時間だけ経過した時点で、アナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値に上昇する大きさであるとする。ここでアナログ回路１００に入力される電圧ｐｖ１及びｐｖ２及びｐｖ３は、この順に電圧が大きくなる。
この場合、パルス電圧がｐｖ１である間は、２値化結果は安定して反転しない。その為、２値化結果をＮ回取得しても、反転回数は０回である。それに対し、パルス電圧の電圧がｐｖ３である間は、２値化結果は安定して反転する。２値化結果をＮ回取得すれば、反転回数はＮ回である。
以上に対して、パルス電圧の電圧がｐｖ２である間は、ゆらぎの影響によって２値化結果は不安定となる。電圧反転後にΔＴ時間だけ経過した時点で、アナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値に一致する場合、ゆらぎの影響によって、２値化結果は反転したり反転しなかったりする。Ｎパルスあたりの反転回数ｎが予定の回数と一致する場合、アナログ回路１００の時定数は、確実に、ｐｖ２の電圧反転後にΔＴ時間だけ経過した時点でアナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値に上昇する大きさであるとすることができる。
【００２６】
本発明のシステムは、アナログ回路１００と２値化回路１０２が、コンピュータを備えているＥＣＵ１１０に組み込まれている場合に特に有用である。
この場合、電圧源１１２が、アナログ回路１００とＥＣＵに内蔵されているコンピュータに接続される。ＥＣＵのコンピュータは、電圧源１１２に電圧を反転させる指示を出力し、２値化回路１０２の２値化結果を所得する処理を実行し、取得した２値化結果を処理することによって、アナログ回路１００と２値化回路１０２の正常・異常を判別し、あるいはアナログ回路１００の時定数を決定する。ＥＣＵとは別に用意されている検査装置にコンピュータが内蔵されている場合、電圧源１１２の電圧を反転させる指示を検査装置のコンピュータが出力しても良い。この場合、ＥＣＵのコンピュータは電圧源１１２ではなく、検査装置のコンピュータに接続される。またＥＣＵとは別に用意されている検査装置にコンピュータが内蔵されている場合、ＥＣＵで取得した２値化結果を検査装置の側へデータ転送し、検査装置の側で正常・異常を判定してもよい。
【発明の効果】
【００２７】
本発明の検査システムでは、２値化回路の入力端子に接続したアナログ回路の時定数をその２値化回路を用いて検査する。検査の為にＡ／Ｄ変換手段や検査用パッドを追加する必要がない。アナログ回路がＥＣＵ等の電子回路に形成されている場合、検査のための回路を組み込むことによって電子回路が大型化することもない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
以下に説明する実施例の主要な特徴を最初に整理する。
（特徴１）電圧源は複数のパルス幅のパルス信号を逐次的に出力することができる。
（特徴２）アナログ回路を含んだＥＣＵの検査装置では、ＥＣＵの入力ポートに接続されているアナログ回路と、そのアナログ回路に接続されている２値化回路を検査する。
【実施例】
【００２９】
（第１実施例）
図１に本発明の第１実施例である検査システムのブロック図を示す。図１に示す検査システムは、アナログ回路１００と２値化回路１０２を含んでいる回路１０４と、電圧源１１２と、取得手段１０６と、判定手段１０８を備えている。回路１０４内でアナログ回路１００と２値化回路１０２は接続されており、電圧源１１２と回路１０４と取得手段１０６と判定手段１０８はこの順に接続されている。その結果、電圧源１１２とアナログ回路１００は接続され、２値化回路１０２と取得手段１０６は接続される。
第１実施例で検査処理を開始すると、図２（Ａ）に示すように、電圧源１１２はアナログ回路１００に入力する電圧ｖ１を所定の反転タイミングｔ０で反転させる。反転された電圧ｖ１はアナログ回路１００でアナログ処理され、図２（Ｂ）〜（Ｄ）に示すように、入力電圧ｖ１に対して時定数をもった電圧ｖ２がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は一定の閾値Ｖ０を基に電圧ｖ２を２値化し、取得手段１０６は反転タイミングｔ０から第１所定時間ｔ１及び第２所定時間ｔ２が経過した時の２値化結果を取得する。
【００３０】
判定手段１０８は所定時間ｔ１及びｔ２に取得された２値化結果に基づいて、回路１０４の正常・異常を判定する。判定手段１０８には所定時間ｔ１及びｔ２に対応付けられた２値化出力の基準値が予め格納されており、これと取得した２値化結果を比較することで回路１０４の正常・異常を判定することができる。第１所定時間ｔ１が、回路１０４が正常であるときに、反転タイミングｔ０から２値化結果が反転するまでの時間よりも短時間に設定されており、逆に第２所定時間ｔ２が、回路１０４が正常であるときに、反転タイミングｔ０から２値化結果が反転するまでの時間よりも長時間に設定されている場合、
回路１０４が正常と判定される基準値は、所定時間ｔ１ではロー（図２のＬ）、所定時間ｔ２ではハイ（図２のＨ）に設定された基準値である。図２（Ｃ）のように、取得した結果と基準値が等しい場合には回路１０４は正常と判定される。また図２（Ｂ）及び図２（Ｄ）のように、取得した結果と基準値が異なる場合には、回路１０４は異常と判定される。これにより回路１０４の正常・異常を判定することができる。
第１実施例では少なくとも第１所定時間経過時の２値化結果と第２所定時間経過時の２値化結果を取得すればよく、その他のタイミングでの２値化結果を取得することを妨げない。例えば回路１０４が正常であるときに反転タイミングから２値化回路が反転するまでの時間よりも長時間及び短時間の時間帯のそれぞれについて複数回の２値化結果の取得を行っても構わない。複数回の測定を行うことで、正常・異常を判定するだけでなく、異常である場合にどの種の異常であるかについても同時に検査することができる。
【００３１】
（第２実施例）
本発明の第２実施例も図１に示す検査システムのブロック図にて実現される。第２実施例に含まれる２値化回路１０２では、閾値を切り替える手段が含まれており、検査処理前に第１閾値Ｖ１及び第２閾値Ｖ２の１つが選択される。
閾値を選択後、検査処理を開始すると図３（Ａ）に示すように、電圧源１１２はアナログ回路１００に入力する電圧ｖ１を所定の反転タイミングｔ０で反転させる。反転された電圧ｖ１はアナログ回路１００でアナログ処理され、図３（Ｂ）〜（Ｄ）に示すように、入力電圧ｖ１に対して時定数をもった電圧ｖ２がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は選択された閾値Ｖ１又はＶ２を基に電圧ｖ２を２値化し、取得手段１０６は反転タイミングｔ０から所定時間Ｔ０が経過した時の２値化結果を取得する。この取得処理を閾値Ｖ１とＶ２に対して行い、図３（１）に示す閾値Ｖ１に対応付けた２値化結果及び図３（２）に示す閾値Ｖ２に対応付けた２値化結果を得る。
【００３２】
判定手段１０８は閾値Ｖ１及びＶ２に対応付けて取得された２値化結果に基づいて、回路１０４の正常・異常を判定する。判定手段１０８には閾値Ｖ１及びＶ２に対応付けられた２値化出力の基準値が予め格納されており、これと取得した２値化結果を比較することで回路１０４の正常・異常を判定することができる。第１閾値Ｖ１が、回路１０４が正常であるときに、反転タイミングｔ０から所定時間Ｔ０が経過した時にアナログ回路１００が出力する電圧以下に設定されており、逆に第２閾値Ｖ２が、回路１０４が正常であるときに、反転タイミングｔ０から所定時間Ｔ０が経過した時にアナログ回路１００が出力する電圧以上に設定されている場合、回路１０４が正常と判定される基準値は、閾値Ｖ１ではハイ、閾値Ｖ２ではローに設定された基準値である。図３（Ｃ）のように、取得した結果と基準値が等しい場合には、回路１０４は正常と判定される。また図３（Ｂ）及び図３（Ｄ）のように、取得結果と基準値が異なる場合には、回路１０４は異常と判定される。これにより回路１０４の正常・異常を判定することができる。
第２実施例では少なくとも反転タイミングｔ０から所定時間Ｔ０が経過した時の第１閾値Ｖ１の２値化結果と、第２閾値Ｖ２の２値化結果を取得すればよく、その他の閾値での２値化結果を取得することを妨げない。例えば回路１０４が正常であるときに、反転タイミングｔ０から所定時間Ｔ０が経過した時にアナログ回路１００が出力する電圧以下又は以上の複数の閾値を用いて２値化結果の取得を行っても構わない。複数回の測定を行うことで、正常・異常を判定するだけでなく、異常である場合に異常の原因にどの種の異常であるかについても同時に検査することができる。
【００３３】
本発明は、アナログ回路の時定数の適否を検査する検査システムだけでなく、それが異常であれば、アナログ回路の時定数を計測する計測システムに具現化することもできる。
（第３実施例）
本発明の第３実施例はアナログ回路の時定数を計測する計測システムであり、第１及び第２実施例の検査システムと同じ図１のブロック図にて実現される。第３実施例に含まれる２値化回路１０２では、第２実施例で必要とした閾値を切り替える手段は必ずしも必要ない。  第３実施例では、計測処理を開始すると、図４（Ａ）に示すように、電圧源１１２はアナログ回路１００に入力する電圧ｖ１を所定の反転タイミングｔ０で反転させる。反転された電圧ｖ１はアナログ回路１００でアナログ処理され、図４（Ｂ）に示すように、入力電圧ｖ１に対して時定数をもった電圧ｖ２がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は一定の閾値Ｖ０を基に電圧ｖ２を２値化し、取得手段１０６は反転タイミングｔ０から所定時間間隔に設定されている所定時間群ｔ１〜ｔ６において２値化結果を繰り返し取得する。
【００３４】
特定手段１０８は所定時間群ｔ１〜ｔ６に取得された２値化結果に基づいて、アナログ回路１００の時定数を特定する。取得された２値化結果が、図４に示すように所定時間ｔ０〜ｔ２でロー、所定時間ｔ３〜ｔ６でハイである場合、所定時間ｔ２とｔ３の間で２値化結果が異なることから、反転タイミングｔ０から２値化結果が反転するタイミングまでの遅延時間がｔ２とｔ３の間のいずれかの時間であることが特定される。特定された遅延時間は、アナログ回路１００から出力される電圧ｖ２が２値化回路１０２の閾値Ｖ０に達するまでの時間を示しており、一定の閾値Ｖ０に達する時間が特定されることでアナログ回路１００の時定数を特定することができる。
【００３５】
第３実施例の計測システムでは、繰り返し計測することによって計測精度を向上させることができる。繰り返し計測する場合、電圧源１１２が、（１）電圧を反転させてから再反転させることによってパルス状の電圧変化を生成する機能、（２）同一パルス幅のパルス電圧をＮ回に亘って生成する機能、（３）パルス幅が異なるパルス電圧を繰り返し生成する機能を有しており、取得手段１０６が、再反転タイミングにおける２値化結果を取得する機能を有しており、特定手段１０８が、Ｎパルスあたりに観測される２値化結果の反転回数から遅延時間を特定する機能を有することで実現される。
繰り返し計測する第３実施例では、図４（Ａ）に示す反転信号の代わりに、図５（Ａ）に示すように、電圧源１１２からアナログ回路１００に、パルス幅がΔｔ１であるパルス電圧をＮ回加えられ、パルス幅がΔｔ２であるパルス電圧をＮ回加えられ、パルス幅がΔｔ３であるパルス電圧をＮ回加えられる。ここでパルス幅Δｔ１及びΔｔ２及びΔｔ３は、この順にパルス幅が長くなる。取得手段１０６は、パルス電圧が再反転して元のレベル（図５の場合ロー電圧）に復帰する直前での２値化結果を取得する。
いま、アナログ回路１００の時定数が、電圧反転後にΔｔ２時間だけ経過した時点で、アナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値Ｖ０に上昇する大きさであるとする。
パルス幅がΔｔ２よりも短いΔｔ１である場合、２値化結果は安定して反転しない。２値化結果をＮ回取得しても、反転回数は０回である。それに対し、パルス幅がΔｔ２よりも長いΔｔ３である場合、２値化結果は安定して反転する。２値化結果をＮ回取得すれば、反転回数はＮ回である。
以上に対して、パルス幅がΔｔ２である場合、ゆらぎの影響によって２値化結果は不安定となる。電圧反転後にΔｔ２だけ経過した時点で、アナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値Ｖ０に一致する場合、ゆらぎの影響によって、２値化結果は反転したり反転しなかったりする。Ｎパルスあたりの反転回数がｎ回であり、アナログ回路１００が正常である場合に標準偏差等の統計的な手段を用いて予想される回数と一致する場合、アナログ回路１００は正常であることが特定される。統計的な手段を用いる場合には、一般に測定回数が多いほど精度のよい予想をすることができ、繰り返し計測することによって計測精度を向上させることができる。
繰り返し計測される場合のパルス生成順序は特に制約されない。図５のように、同一パルス幅のパルスをＮ回生成してからパルス幅を変化させてもよいし、次々にパルス幅を変える処理をＮ回繰り返してもよい。取得手段１０６で取得された２値化結果がパルス幅と対応付けて取得されることで検査を行うことができる。
【００３６】
（第４実施例）
第４実施例の計測システムはアナログ回路の時定数を計測する計測システムの別の実施例であり、第１〜３実施例の検査システムと同じ図１のブロック図にて実現される。第４実施例にふくまれる２値化回路１０２では、第２実施例と同じように閾値を切り替える手段が含まれており、計測処理前に閾値の一つが選択される。  第４実施例では閾値を選択後に計測処理を開始すると、図６（Ａ）に示すように、電圧源１１２はアナログ回路１００に入力する電圧ｖ１を所定の反転タイミングｔ０で反転させる。反転された電圧ｖ１はアナログ回路１００でアナログ処理され、図６（Ｂ）に示すように、入力電圧ｖ１に対して時定数をもった電圧ｖ２がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は選択された閾値Ｖ１〜Ｖ６を基に電圧ｖ２を２値化し、取得手段１０６は反転タイミングｔ０から所定時間Ｔ０が経過した時の２値化結果を取得する。この２値化結果の取得を閾値Ｖ１〜Ｖ６に対してそれぞれ行い、閾値Ｖ１〜Ｖ６に対応付けた２値化結果を得る。
【００３７】
特定手段１０８は閾値Ｖ１〜Ｖ６に対応付けて取得された２値化結果に基づいて、アナログ回路１００の時定数を特定する。取得された２値化結果が、図６に示すように閾値Ｖ１〜Ｖ３でハイ、閾値Ｖ４〜Ｖ６でローである場合、閾値Ｖ３と閾値Ｖ４の間で２値化結果が異なることから、反転タイミングｔ０から所定時間Ｔ０にアナログ回路１００から出力される電圧ｖ２が達する電圧はＶ３とＶ４の間のいずれかの電圧であることが特定される。一定の所定時間Ｔ０に達する電圧が特定されることでアナログ回路１００の時定数を特定することができる。
【００３８】
第４実施例の計測システムでも、繰り返し計測することによって計測精度を高めることができる。前記の第４実施例では計測処理前に閾値の一つを選択する必要があり、繰り返し計測を行うことは難しい。そのため第４実施例で繰り返し測定を行う場合、閾値を変化させてアナログ回路１００に入力するパルス電圧と閾値の比を変化させる代わりに、パルス電圧を変化させて検査を行うことによりアナログ回路１００に入力するパルス電圧と閾値の比を変化させる。これにより繰り返し計測を簡単に行うことができる。この方法で計測を行う場合、電圧源１１２が、（１）電圧を反転させてから再反転させることによってパルス状の電圧変化を生成する機能、（２）同一電圧のパルス電圧をＮ回に亘って生成する機能、（３）異なる電圧のパルス電圧を繰り返し生成する機能を有しており、取得手段１０６が、再反転タイミングにおける２値化結果を取得する機能を有しており、特定手段１０８が、Ｎパルスあたりに観測される２値化結果の反転回数から遅延時間を特定する機能を有することで実現される。
【００３９】
繰り返し計測する第４実施例では、図６（Ａ）に示す反転信号の代わりに、図７（Ａ）に示すように、電圧源１１２からアナログ回路１００に、パルス電圧がｐｖ１であるパルス電圧をＮ回加えられ、パルス電圧がｐｖ２であるパルス電圧をＮ回加えられ、パルス電圧がｐｖ３であるパルス電圧をＮ回加えられる。ここでパルス電圧がｐｖ１及びｐｖ２及びｐｖ３は、この順にパルス電圧が大きくなる。取得手段１０６は、パルス電圧が再反転して元のレベル（図７の場合ロー電圧）に復帰する直前での２値化結果を取得する。
いま、アナログ回路１００の時定数が、アナログ回路１００に入力される電圧がｐｖ２に反転してからΔＴ時間だけ経過した時点で、アナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値Ｖ０に上昇する大きさであるとする。
パルス電圧がｐｖ２よりも小さいｐｖ１である場合、２値化結果は安定して反転しない。２値化結果をＮ回取得しても、反転回数は０回である。それに対し、パルス電圧がｐｖ２よりも大きいｐｖ３である場合、２値化結果は安定して反転する。２値化結果をＮ回取得すれば、反転回数はＮ回である。
以上に対して、パルス電圧の電圧がｐｖ２である間は、ゆらぎの影響によって２値化結果は不安定となる。電圧反転後にΔＴ時間だけ経過した時点で、アナログ回路１００の電圧が２値化回路１０２の閾値Ｖ０に一致する場合、ゆらぎの影響によって、２値化結果は反転したり反転しなかったりする。Ｎパルスあたりの反転回数がｎ回であり、アナログ回路１００が正常である場合に標準偏差等の統計的な手段を用いて予想される回数と一致する場合、アナログ回路１００は正常であることが特定される。統計的な手段を用いる場合には、一般に測定回数が多いほど精度のよい予想をすることができ、繰り返し計測することによって計測精度を向上させることができる。
繰り返し計測される場合のパルス生成順序は特に制約されない。図７のように、同一パルス電圧のパルスをＮ回生成してからパルス電圧を変化させてもよいし、次々にパルス電圧を変える処理をＮ回繰り返してもよい。取得手段１０６で取得された２値化結果がパルス電圧と対応付けて取得されることで検査を行うことができる。
【００４０】
本発明の検査システムでは、アナログ回路１００と２値化回路１０２が、コンピュータを備えているＥＣＵ１１０に組み込まれている場合、ＥＣＵの検査システムとして具現化することができる。
（第５実施例）
図８は本発明の第５実施例であり、アナログ回路１４０と２値化回路１４２を含んで構築される回路１４１を内蔵したＥＣＵ１６０の検査システムのブロック図を示す。第５実施例の検査システムは、検査装置１６２をＥＣＵ１６０に接続することでＥＣＵ内部の回路１４１を検査する検査システムを構築する。
まず検査対象となるＥＣＵ１６０の構成について説明する。ＥＣＵ１６０は、入力ポート１５４と、アナログ回路１４０と、２値化回路１４２と、ＣＰＵ１５０と、ＲＯＭ１４６と、ＲＡＭ１４８と、通信入力ポート１５６と、通信出力ポート１５８を備えている。ＣＰＵ１５０は、通信手段１５２を有している。ＣＰＵ１５０の通信手段１５２は、通信ポート１５６及び１５８に接続されており、ＣＰＵ１５０は２値化回路１４２及びアナログ回路１４０を介して入力ポート１５４に接続されている。ＣＰＵ１５０のさらに別の端子はＲＯＭ１４６及びＲＡＭ１４８に接続されている。
ＲＯＭ１４６の所定領域には、ＥＣＵ１６０を検査するプログラムが予め格納されている。後述する検査開始準備信号が検査装置１６２のＣＰＵ１１８からＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０に入力されると、ＣＰＵ１５０はＲＯＭ１４６から検査プログラムを読み出し、検査を行う。
【００４１】
次にＥＣＵ検査装置１６２の構成を説明する。検査装置１６２はＣＰＵ１１８と、ＲＯＭ１１４と、ＲＡＭ１１６と、電圧源１２２と、出力ポート１２４と、通信出力ポート１２６と、通信入力ポート１２８を備えている。ＣＰＵ１１８は通信手段１２０を有しており、通信ポート１２６及び１２８に接続されている。またＣＰＵ１１８は電圧源１２２を介して出力ポート１２４に接続されており、ＣＰＵ１１８のさらに別の端子はＲＯＭ１１２及びＲＡＭ１１４と接続している。
本発明の検査システムでは、検査装置１６２とＥＣＵ１６０をケーブル１３０で接続することで、検査装置１６２の出力ポート１２４がＥＣＵ１６０の入力ポート１５４に接続され、検査装置１６２の通信出力ポート１２６がＥＣＵ１６０の通信入力ポート１５６に接続され、検査装置１６２の通信入力ポート１２８がＥＣＵ１６０の通信出力ポート１５８に接続される。
ＲＯＭ１１４の所定領域には、ＥＣＵ１６０を検査するタイムチャートに相当するプログラムが予め格納されている。検査開始時にＣＰＵ１１８はＲＯＭ１１４からタイムチャートのプログラムを読み出し、そのタイムチャートに従って検査を行う。
【００４２】
図９に検査のタイミングチャートを示す。図９で、Ｈはハイ信号を示し、Ｌはロー信号を示す。参照番号Ｘ１は通信入力ポート１５６からＥＣＵ１６０に入力される信号を示し、参照番号Ｘ２は通信出力ポート１５８から検査装置１６２に出力される信号を示し、参照番号ＹはＥＣＵ１６０のアナログ回路１４０に出力される所定信号を示す。また、参照番号ＺはＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０の検査状況を示し、２値化回路１４２の２値化結果の検査が行われている状況をハイ状態、検査が行われていない状況をロー状態として示す。Ｔ１〜Ｔ５は検査の時間経過を示し、Ｔ１は検査開始指示時間を示し、Ｔ２は検査準備時間を示し、Ｔ３は検査時間を示し、Ｔ４は検査終了指示時間を示し、Ｔ５は検査結果転送時間を示す。
【００４３】
図９を使って検査手順を説明する。
検査開始指示時間Ｔ１に検査装置１６２ではＣＰＵ１１８がＲＯＭ１１４から図９のタイミングチャートに相当するプログラムを呼び出し、通信手段１２０を通して検査開始信号２０２をＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０に出力する。検査開始信号２０２を受け取ったＣＰＵ１５０は、ＲＯＭ１４６に予め格納されている検査プログラムを読み出して検査を行うと共に、検査開始信号２０２の入力を終了する時点からの経過時間を測定する。
検査準備時間Ｔ２終了後、検査時間Ｔ３に入ると、ＣＰＵ１５０は２値化回路１４２からの２値化結果の取得処理２０４を開始する。また検査時間Ｔ３から一定ディレイ時間ｔ１０経過後、検査装置１６２のＣＰＵ１１８は電圧源１２２を通してアナログ回路１４０に所定の反転信号２０６を入力し、検査開始信号２０２の入力を終了する時点から所定の時間が経過した時の２値化結果が取得され、その結果がＲＡＭ１４８に格納される。
検査時間Ｔ３終了後、検査終了指示時間Ｔ４に検査装置１６２のＣＰＵ１１８は通信手段１２０を通して検査終了信号２０８をＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０に出力し、信号を受け取ったＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０は２値化回路１４２からの２値化結果の取得処理２０４を終了する。その後、検査結果転送時間Ｔ５になると、ＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０はＲＡＭ１４６から取得結果を読み出し、ＲＯＭ１４６に予め格納されている基準値と比較処理２１０を行う。
検査準備時間Ｔ２及びディレイ時間ｔ１０が解っている場合、取得された２値化結果は反転信号２０６の入力からの経過時間と対応させることができる。取得された２値化結果が、反転信号２０６の入力から第１所定時間ｔ１及び第２所定時間ｔ２が経過したタイミングの２値化結果であり、第１所定時間ｔ１が、回路１４１が正常であるときに、反転信号２０６から２値化結果１４２が反転するまでの時間よりも短時間に設定されており、逆に第２所定時間ｔ２が、回路１４１が正常であるときに、反転信号２０６から２値化結果１４２が反転するまでの時間よりも長時間に設定されている場合、回路１４１が正常と判定される基準値は、所定時間ｔ１ではロー、所定時間ｔ２ではハイに設定された基準値である。取得した結果と基準値が等しい場合には回路１４１は正常であると判定し、取得した結果と基準値が違う場合には回路１４１は異常であると判定する。比較に用いる２値化結果と基準値は第１実施例に説明したものである。判定終了後、通信手段１５２を通して検査装置１６２へと判定結果を出力２１２し、検査を完了する。
【００４４】
第５実施例では、図８に示すＥＣＵの検査システムで第１実施例を実行する例を示した。前記の実施例では、ＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０で検出された２値化結果をＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０にて基準値と比較し、その結果をＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０は通信手段１５２を用いて検査装置に転送したが、この比較処理は検査装置１６２のＣＰＵ１１８で行われても構わない。その場合、参照番号２１０はＲＡＭ１４６から検出結果を読み出す処理を示し、参照番号２１２はＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０で検出された２値化出力を検査装置１６２のＣＰＵ１１８に転送する処理を示す。検査装置１６２のＣＰＵ１１８に転送された２値化出力は検査装置１６２のＲＯＭ１１４に予め格納された基準値と比較され、比較結果が得られる。
電圧源１１２からアナログ回路１４０に入力される所定の信号２０６は反転信号やパルス信号など、その信号は特に制限されない。第５実施例では検査装置１６２のＲＯＭ１１４に格納されている検査のタイミングチャート及びＥＣＵ１６０のＲＯＭ１４６に格納されている検査プログラムにより様々な検査をすることができ、第１実施例のみではなく、前記の第２〜４実施例を実行することも可能である。
【００４５】
図８に示す検査システムのブロック図はその構成を制限するものではない。２値化回路１４２はＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０の外部に形成されているが、ＥＣＵ１６０のＣＰＵ１５０に内蔵されていても構わない。ＥＣＵ１６０のＲＯＭ１４６に検査プログラムが予め格納されているが、検査プログラムはＲＡＭ１４８に格納されていても構わない。この場合、ＲＯＭ１４６は必ずしも必要ではない。またＣＰＵ１５０自体に記憶領域が存在する場合、ＣＰＵ１５０に検査プログラムが格納されていても構わない。
検査プログラムがＲＡＭに格納される場合、ＲＡＭではその記憶内容の上書き及び削除が制限されていないことが多く、ＲＡＭに検査プログラムが格納される時期は検査前であれば自由である。またＲＡＭに格納された検査プログラムは検査終了後に消去しても構わない。これは検査装置１６２のＲＯＭ１１４に格納されるタイミングチャートに相当するプログラムについても同様である。
【００４６】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず特許請求の範囲を限定するものではない。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書又は図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の検査システムを示すブロック図である。
【図２】第１実施例による検査処理の説明図を示す。
【図３】第２実施例による検査処理の説明図を示す。
【図４】第３実施例による計測処理の説明図を示す。
【図５】第３実施例を繰り返し計測する場合の計測処理の説明図を示す。
【図６】第４実施例による計測処理の説明図を示す。
【図７】第４実施例を繰り返し計測する場合の計測処理の説明図を示す。
【図８】本発明の第５実施例である。
【図９】第５実施例のタイミングチャートを示す。
【符号の説明】
【００４８】
１００・・・アナログ回路
１０２・・・２値化回路
１０４・・・回路
１０６・・・取得手段
１０８・・・判定手段又は特定手段
１１０・・・ＥＣＵ
１１２・・・電圧源
１１４・・・ＲＯＭ
１１６・・・ＲＡＭ
１１８・・・ＣＰＵ
１２０・・・通信手段
１２２・・・電圧源
１２４・・・出力ポート
１２６・・・通信出力ポート
１２８・・・通信入力ポート
１３０・・・ケーブル
１４０・・・アナログ回路
１４１・・・回路
１４２・・・２値化回路
１４６・・・ＲＯＭ
１４８・・・ＲＡＭ
１５０・・・ＣＰＵ
１５２・・・通信手段
１５４・・・入力ポート
１５６・・・通信入力ポート
１５８・・・通信出力ポート
１６０・・・ＥＣＵ
１６２・・・検査装置
２０２・・・検査開始信号
２０４・・・取得処理
２０６・・・所定の入力信号
２０８・・・検査終了信号
２１０・・・判定処理
２１２・・・結果出力信号
Ｈ・・・・・ハイ信号
Ｌ・・・・・ロー信号
ｖ１・・・・アナログ回路１００への入力信号
ｖ２・・・・アナログ回路１００からの出力信号
Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３、Ｖ４、Ｖ５、Ｖ６・・・閾値
ｐｖ１、ｐｖ２、ｐｖ３・・・パルス電圧
ｔ０・・・・反転タイミング
ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、ｔ６、・・・２値化結果取得タイミング
Δｔ１、Δｔ２、Δｔ３・・・パルス幅
Ｔ０・・・・２値化結果取得タイミング
ΔＴ・・・・パルス幅
Ｘ１・・・・ＥＣＵ１６０に対する通信入力信号
Ｘ２・・・・ＥＣＵ１６０に対する通信出力信号
Ｙ・・・・・ＥＣＵ１６０への信号入力
Ｚ・・・・・ＥＣＵ１６０の検査及び判定状況
Ｔ１・・・・検査開始指示時間
Ｔ２・・・・検査準備時間
Ｔ３・・・・検査時間
Ｔ４・・・・検査終了指示時間
Ｔ５・・・・検査結果転送時間
ｔ１０・・・ディレイ時間
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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