(57)【要約】【課題】プラズマディスプレイパネルの点灯・不点灯を確率的に繰り返すチラツキ現象を精度よく検出する。【解決手段】複数の放電セルを有するパネル１０の検査装置１００であって、パネルの画像表示面に検査パターンを表示させるパネル駆動回路１２０と、パネル１０の画像表示面を複数回撮像して複数枚の画像データを生成する撮像手段１３０と、画像データのデータ処理を行いパネル１０の良否判定を行う画像処理手段１５０とを備え、画像処理手段１５０は、複数枚の画像データの最大値と最小値との差分値を画像データの各画素のそれぞれに対して算出する差分算出部１７６と、差分値が所定のしきい値以上となる画像データの領域を抽出する領域抽出部１８２と、抽出した領域の個数が所定の個数以上となるパネル１０は不適合であると判定する良否判定部１８４とを有する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の放電セルを有するプラズマディスプレイパネルの検査装置であって、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面に検査パターンを表示させるプラズマディスプレイパネル駆動回路と、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面を複数回撮像して複数枚の画像データを生成する撮像手段と、前記画像データのデータ処理を行い前記プラズマディスプレイパネルの良否判定を行う画像処理手段とを備え、
前記画像処理手段は、複数枚の前記画像データの最大値と最小値との差分値を前記画像データの各画素のそれぞれに対して算出する差分算出部と、前記差分値が所定のしきい値以上となる画像データの領域を抽出する領域抽出部と、抽出した前記領域の個数が所定の個数以上となるプラズマディスプレイパネルは不適合であると判定する良否判定部とを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの検査装置。
【請求項２】
複数の放電セルを有するプラズマディスプレイパネルの検査装置であって、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面に検査パターンを表示させるプラズマディスプレイパネル駆動回路と、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面を複数回撮像して複数枚の画像データを生成する撮像手段と、前記画像データのデータ処理を行い前記プラズマディスプレイパネルの良否判定を行う画像処理手段とを備え、
前記画像処理手段は、複数枚の前記画像データの標準偏差を前記画像データの各画素のそれぞれに対して算出する標準偏差算出部と、前記標準偏差が所定のしきい値以上となる画像データの領域を抽出する領域抽出部と、抽出した前記領域の個数が所定の個数以上となるプラズマディスプレイパネルは不適合であると判定する良否判定部とを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの検査装置。
【請求項３】
複数の放電セルを有するプラズマディスプレイパネルの検査方法であって、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面に検査パターンを表示させるステップと、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面を複数回撮像して複数枚の画像データを生成するステップと、前記画像データのデータ処理を行い前記プラズマディスプレイパネルの良否判定を行うステップとを備え、
前記プラズマディスプレイパネルの良否判定を行うステップは、複数枚の前記画像データの最大値と最小値との差分値を前記画像データの各画素のそれぞれに対して算出するステップと、前記差分値が所定のしきい値以上となる画像データの領域を抽出するステップと、抽出した前記領域の個数が所定の個数以上となるプラズマディスプレイパネルは不適合であると判定するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの検査方法。
【請求項４】
複数の放電セルを有するプラズマディスプレイパネルの検査方法であって、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面に検査パターンを表示させるステップと、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面を複数回撮像して複数枚の画像データを生成するステップと、前記画像データのデータ処理を行い前記プラズマディスプレイパネルの良否判定を行うステップとを備え、
前記プラズマディスプレイパネルの良否判定を行うステップは、複数枚の前記画像データの標準偏差を前記画像データの各画素のそれぞれに対して算出するステップと、前記標準偏差が所定のしきい値以上となる画像データの領域を抽出するステップと、抽出した前記領域の個数が所定の個数以上となるプラズマディスプレイパネルは不適合であると判定するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルに画像を表示して検査を行うプラズマディスプレイパネルの検査方法および検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
テレビ等の画像表示装置やコンピュータ用モニタとして、薄型、軽量のプラズマディスプレイパネル（以下、「パネル」と略す）が用いられるようになり、近年、その生産台数が飛躍的に向上しつつある。それに伴いパネルの生産現場ではパネルの画像表示品質を短時間で検査する技術の確立が要望されている。
【０００３】
パネルの画像表示品質を左右する要因として放電遅れ等があり、これらによる表示異常を検出する検査方法が従来より提案されている。例えば特許文献１には、放電遅れ、電荷漏れによる表示異常を誘発し、かつ画像処理による判定を容易にする検査パターンをパネルに表示させ、表示異常を定量化して検査する方法が記載されている。
【特許文献１】特開２００４−３５４２１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、パネルに要求される画像表示品質はますます向上し、パネルの検査方法についても、その検査精度の向上が求められている。そのため、ある駆動条件における放電セルの点灯・不点灯を検出するだけではなく、点灯状態の安定性、すなわち点灯・不点灯を確率的に繰り返す、いわゆる「チラツキ」についても精度よく検出する必要がある。
【０００５】
本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、点灯・不点灯を確率的に繰り返すチラツキ現象を精度よく検出することができるパネルの検査方法および検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、複数の放電セルを有するパネルの検査装置であって、パネルの画像表示面に検査パターンを表示させるパネル駆動回路と、パネルの画像表示面を複数回撮像して複数枚の画像データを生成する撮像手段と、画像データのデータ処理を行いパネルの良否判定を行う画像処理手段とを備え、画像処理手段は、複数枚の画像データの最大値と最小値との差分値を画像データの各画素のそれぞれに対して算出する差分算出部と、差分値が所定のしきい値以上となる画像データの領域を抽出する領域抽出部と、抽出した領域の個数が所定の個数以上となるパネルは不適合であると判定する良否判定部とを有することを特徴とする。この構成により、点灯・不点灯を確率的に繰り返すチラツキ現象を精度よく検出することができる。
【０００７】
また本発明は、複数の放電セルを有するパネルの検査装置であって、パネルの画像表示面に検査パターンを表示させるパネル駆動回路と、パネルの画像表示面を複数回撮像して複数枚の画像データを生成する撮像手段と、画像データのデータ処理を行いパネルの良否判定を行う画像処理手段とを備え、画像処理手段は、複数枚の画像データの標準偏差を画像データの各画素のそれぞれに対して算出する標準偏差算出部と、標準偏差が所定のしきい値以上となる画像データの領域を抽出する領域抽出部と、抽出した領域の個数が所定の個数以上となるパネルは不適合であると判定する良否判定部とを有する。この構成によれば、点灯・不点灯を確率的に繰り返すチラツキ現象をさらに精度よく検出することができる。
【０００８】
また本発明は、複数の放電セルを有するパネルの検査方法であって、パネルの画像表示面に検査パターンを表示させるステップと、パネルの画像表示面を複数回撮像して複数枚の画像データを生成するステップと、画像データのデータ処理を行いパネルの良否判定を行うステップとを備え、パネルの良否判定を行うステップは、複数枚の画像データの最大値と最小値との差分値を画像データの各画素のそれぞれに対して算出するステップと、差分値が所定のしきい値以上となる画像データの領域を抽出するステップと、抽出した領域の個数が所定の個数以上となるパネルは不適合であると判定するステップとを有することを特徴とする。この方法により、点灯・不点灯を確率的に繰り返すチラツキ現象を精度よく検出することができる。
【０００９】
また本発明は、複数の放電セルを有するパネルの検査方法であって、パネルの画像表示面に検査パターンを表示させるステップと、パネルの画像表示面を複数回撮像して複数枚の画像データを生成するステップと、画像データのデータ処理を行いパネルの良否判定を行うステップとを備え、パネルの良否判定を行うステップは、複数枚の画像データの標準偏差を画像データの各画素のそれぞれに対して算出するステップと、標準偏差が所定のしきい値以上となる画像データの領域を抽出するステップと、抽出した領域の個数が所定の個数以上となるパネルは不適合であると判定するステップとを有する。この方法により、点灯・不点灯を確率的に繰り返すチラツキ現象をさらに精度よく検出することができる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、点灯・不点灯を確率的に繰り返すチラツキ現象を精度よく検出することができるパネルの検査方法および検査装置を提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施の形態におけるパネルの検査方法および検査装置について、図面を用いて説明する。
【００１２】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１に用いるパネルの要部を示す分解斜視図である。パネル１０は、ガラス製の前面基板２１と背面基板３１とを対向配置して、その間に放電空間を形成するように構成されている。前面基板２１上には表示電極対２８を構成する走査電極２２と維持電極２３とが互いに平行に対をなして複数形成されている。そして、走査電極２２および維持電極２３を覆うように誘電体層２４が形成され、誘電体層２４上には保護層２５が形成されている。また、背面基板３１上には複数のデータ電極３２が平行に形成されている。そしてデータ電極３２を覆うように絶縁体層３３が形成され、絶縁体層３３上に井桁状の隔壁３４が設けられている。また、絶縁体層３３の表面および隔壁３４の側面に蛍光体層３５が設けられている。そして、走査電極２２および維持電極２３とデータ電極３２とが交差するように前面基板２１と背面基板３１とが対向配置されており、その間に形成される放電空間には、放電ガスとして、例えばネオンとキセノンの混合ガスが封入されている。なお、パネルの構造は上述したものに限られるわけではなく、例えばストライプ状の隔壁を備えたものであってもよい。
【００１３】
図２は本発明の実施の形態１に用いるパネルの電極配列図である。行方向にｎ本の走査電極２２およびｎ本の維持電極２３が配列され、列方向にｍ本のデータ電極３２が配列されている。そして、１対の走査電極および維持電極と１つのデータ電極とが交差した部分に放電セルが形成され、放電セルは放電空間内にｍ×ｎ個形成されている。
【００１４】
次に、パネルの検査装置について説明する。図３は本発明の実施の形態１におけるパネルの検査装置の回路ブロック図である。パネルの検査装置１００はパネル１０を設置するパネル検査台１１０と、パネル１０を駆動するパネル駆動回路１２０と、パネル１０の画像表示面を撮像する撮像手段１３０と、撮像手段１３０から出力される画像信号の信号処理を行う画像処理手段１５０とを備える。
【００１５】
撮像手段１３０は、パネル１０の画像表示面を撮像する１台または複数台のカメラ１３２と、カメラ１３２の露光時間の設定、カメラ１３２の同期等の制御を行うとともに、カメラ１３２の出力信号にＡＤ変換等の信号処理を施し画像データを生成する撮像制御部１３４とを有する。
【００１６】
画像処理手段１５０は、連続して撮像された複数の画像を記憶する画像記憶部１６０と、画像記憶部１６０に記憶された複数の画像データの最大値を各画素のそれぞれに対して算出する最大値算出部１７２と、画像記憶部１６０に記憶された複数の画像データの最小値を各画素のそれぞれに対して算出する最小値算出部１７４と、最大値算出部１７２から得られた最大値データと最小値算出部１７４から得られた最小値データとの差分を各画素のそれぞれに対して算出する差分算出部１７６と、差分データを所定のしきい値と比較して差分データが所定のしきい値以上となるパネルの領域を抽出する領域抽出部１８２と、抽出した領域の個数を算出し所定の個数と比較してパネルの良否の判定を行う良否判定部１８４とを備えている。なお、本実施の形態においては、露光時間が１フィールドの時間に設定されているものとして説明するが、その整数倍の数フィールド、例えば４フィールドの時間に設定してもよい。
【００１７】
図４は、本発明の実施の形態１におけるパネルの検査装置１００の動作を説明するためのフローチャートである。
【００１８】
まず、パネル駆動回路１２０は、チラツキの発生しやすい検査パターンをパネル１０に表示させる。図５は本発明の実施の形態１においてパネル１０に表示する検査パターンの一例を模式的に示す図であり、点灯させる放電セルを等間隔に並べたパターンである。本実施の形態においては、比較的放電遅れが大きくなりやすい放電セルである緑色に発光する放電セルを縦方向、横方向ともに８画素毎に点灯させるパターンである（ステップＳ１１）。
【００１９】
次に、パネル１０の表示画像をカメラ１３２で撮像する（ステップＳ１２）。そして、撮像した画像データを画像記憶部１６０に記憶させる（ステップＳ１３）。画像記憶部１６０に記憶された画像データの枚数ｎが所定の枚数Ｎ、本実施の形態においてはＮ＝１００に満たない場合にはステップＳ１２に戻り撮像を繰り返す。一方、記憶された画像データの枚数ｎがＮ枚分になった場合には次のステップに進む（ステップＳ１４）。
【００２０】
次に、最大値算出部１７２は画像記憶部１６０に記憶されたＮ枚分の画像データの最大値を各画素のそれぞれに対して算出し、最小値算出部１７４は画像記憶部１６０に記憶されたＮ枚分の画像データの最小値を各画素のそれぞれに対して算出する（ステップＳ１５）。差分算出部１７６は、最大値算出部１７２から得られた最大値データと最小値算出部１７４から得られた最小値データとの差分を各画素のそれぞれに対して算出する（ステップＳ１６）。
【００２１】
図６は、本発明の実施の形態１において、ある放電セルに対して撮像された５５枚分の画像データの一例であり、横軸は撮像された時間、縦軸は画像データの大きさを示す。ここで、図６（ａ）は正常に点灯している放電セルに対する画像データの時間変化を示し、図６（ｂ）はチラツキ現象を生じている放電セルに対する画像データの時間変化を示している。このように、正常に点灯している放電セルでは画像データの大きさはほぼ一定であり、対応する放電セルの差分データは小さい値を示す。一方、チラツキ現象を生じている放電セルに対しては画像データが大きく変化するので、対応する放電セルの差分データは大きな値を示す。なお、点灯しない放電セルに対してもその画像データの差分データは小さい値を示す。
【００２２】
また、図７は、本発明の実施の形態１において、撮像した画像の一部の画像データの一例を示しており、３つの放電セルＡ〜Ｃに対応する画像データを示している。図７（ａ）、図７（ｂ）、図７（ｃ）は、３枚分の画像データの一例を示しており、図７（ｄ）は、３つの放電セルＡ〜Ｃに対応する差分データを示している。図７において、放電セルＡ、Ｃに対応する画像データは時間的に変動していないが、放電セルＢに対応する画像データは時間的に変動しており、その差分データも大きな値となっている。このように静止画像を表示しているにもかかわらず画像データが時間的に変動する放電セルはチラツキ現象を生じている放電セルである。そしてこのような放電セルは差分データの大きさを知ることにより検出することができる。
【００２３】
次に、領域抽出部１８２は、差分算出部１７６が算出した差分データと所定のしきい値とを比較し、差分データがしきい値以上となる領域を抽出する。こうして抽出された領域はチラツキ現象を生じている放電セルに対応している。良否判定部１８４は、領域抽出部１８２が抽出した領域の数、すなわちチラツキ現象を生じている放電セル個数を数え、その数があらかじめ決められたしきい値、本実施の形態においては１０個以上の場合はそのパネルは不適合であると判定しパネル検査を終了する。一方、その数がしきい値未満である場合には、次のステップに進む（ステップＳ１７）。
【００２４】
次に、検査すべき放電セルがまだ残っている場合にはステップＳ１１に戻り、その放電セルが点灯する検査パターンに切り替えて再び検査を繰り返す。そうでない場合にはそのパネルは適合であるとして検査を終了する（ステップＳ１８）。
【００２５】
以上のように、実施の形態１の構成によれば、差分データを算出し、差分データが所定のしきい値以上となる領域を検出することにより、チラツキ現象を生じている放電セルを精度よく検出することができる。
【００２６】
なお、本実施の形態においては、パネル１０の表示画像をＮ＝１００枚分撮像するものとして説明したが、この枚数は、検出精度、検査時間等を考慮して設定することが望ましい。また、良否判定を行うための、チラツキ現象を生じている放電セルの数のしきい値は評価基準に応じて適宜決めればよい。また検査パターンを切り替える場合には、チラツキ現象を生じている放電セルの総数に対してしきい値を決めてもよく、検査パターン毎にしきい値を決めてもよい。
【００２７】
さらに、実施の形態１においては、必要な枚数の画像データを画像記憶部１６０に記憶した後に画像信号処理を行うものとして説明したが、撮像手段１３０が画像を撮像する毎に画像データの最大値データおよび最小値データを記憶することで、記憶部を構成するメモリの容量を大幅に削減することができる。以下にメモリの容量を削減した実施の形態について説明する。
【００２８】
（実施の形態２）
図８は、本発明の実施の形態２におけるパネルの検査装置２００の回路ブロック図である。実施の形態２が実施の形態１と異なるところは、画像記憶部１６０の代わりに最大値記憶部２７２と最小値記憶部２７４とを設け、撮像手段１３０が画像を撮像する毎に最大値記憶部２７２に記憶された最大値データおよび最小値記憶部２７４に記憶された最小値データのそれぞれを更新するように構成した点である。
【００２９】
画像処理手段２５０は、最大値記憶部２７２と、最小値記憶部２７４と、差分算出部１７６と、領域抽出部１８２と、良否判定部１８４とを備えている。なお、画像処理手段２５０は、リアルタイム処理を実現するために、画像処理ボードに画像処理専用のＦＰＧＡを組み込む等により高速化しておくことが望ましい。
【００３０】
図９は、本発明の実施の形態２におけるパネルの検査装置２００の動作を説明するためのフローチャートである。
【００３１】
まず、パネル駆動回路１２０は、チラツキの発生しやすい検査パターンをパネル１０に表示させる（ステップＳ２１）。
【００３２】
次に、パネル１０の表示画像をカメラ１３２で撮像する（ステップＳ２２）。最大値記憶部２７２は、それまでに記憶されている最大値データと撮像手段１３０で撮像された画像データとを各画素のそれぞれに対して比較し、撮像手段１３０で撮像された画像データが大きい場合には最大値データをその値に更新する。最小値記憶部２７４は、それまでに記憶されている最小値データと撮像手段１３０で撮像された画像データとを各画素のそれぞれに対して比較し、撮像手段１３０で撮像された画像データが小さい場合には最小値データをその値に更新する（ステップＳ２３）。
【００３３】
撮像手段１３０が撮像した画像データの枚数ｎがＮ枚に満たない場合にはステップＳ２２に戻り撮像を繰り返す。一方、記憶された画像データの枚数ｎがＮ枚になった場合には次のステップに進む（ステップＳ２４）。
【００３４】
次に、差分算出部１７６は、最大値記憶部２７２から得られた最大値データと最小値記憶部２７４から得られた最小値データとの差分を各画素のそれぞれに対して算出する（ステップＳ２６）。
【００３５】
次に、領域抽出部１８２は、差分算出部１７６が算出した差分データと所定のしきい値とを比較し、差分データがしきい値以上となる領域を抽出する。こうして抽出された領域はチラツキ現象を生じている放電セルに対応している。良否判定部１８４は、領域抽出部１８２が抽出した領域の個数を数え、その数があらかじめ決められたしきい値以上の場合はそのパネルは不適合であると判定しパネル検査を終了する。一方、その数がしきい値未満である場合には、次のステップに進む（ステップＳ２７）。
【００３６】
次に、検査すべき放電セルの検査がまだ残っている場合にはステップＳ２１に戻り、その放電セルが点灯する検査パターンに切り替えて再び検査を繰り返す。そうでない場合にはそのパネルは適合であるとして検査を終了する（ステップＳ２８）。
【００３７】
以上のように、実施の形態２の構成によれば、撮像手段１３０が画像を撮像する毎に画像データの最大値データおよび最小値データを記憶することで、撮像する画像の枚数にかかわらず、記憶部を構成するメモリの容量を画像データの２枚分に削減することができる。
【００３８】
なお、実施の形態２においては、Ｎ枚分の撮像を終えた後で差分データを算出しパネルの良否判定を行うものとして説明したが、撮像手段１３０が画像を撮像する毎に差分データを算出しパネルの良否判定を行ってもよい。
【００３９】
（実施の形態３）
図１０は、本発明の実施の形態３におけるパネルの検査装置３００の回路ブロック図である。実施の形態３が実施の形態１と異なるところは、最大値算出部１７２、最小値算出部１７４および差分算出部１７６の代わりに標準偏差算出部３７０を備えた点である。すなわち、画像処理手段３５０は、Ｎ枚の画像データを記憶する画像記憶部１６０と、画像記憶部１６０に記憶されたＮ枚の画像データの標準偏差を各画素のそれぞれに対して算出する標準偏差算出部３７０と、標準偏差算出部３７０から出力された標準偏差データを所定のしきい値と比較して標準偏差データが所定のしきい値以上となるパネルの領域を抽出する領域抽出部１８２と、抽出された領域の個数によりパネルの良否の判定を行う良否判定部１８４とを備えている。
【００４０】
図１１は、本発明の実施の形態３におけるパネルの検査装置３００の動作を説明するためのフローチャートである。
【００４１】
まず、パネル駆動回路１２０は、チラツキの発生しやすい検査パターンをパネル１０に表示させる（ステップＳ３１）。
【００４２】
次に、パネル１０の表示画像をカメラ１３２で撮像する（ステップＳ３２）。そして、撮像した画像データを画像記憶部１６０に記憶させる（ステップＳ３３）。画像記憶部１６０に記憶された画像データの枚数ｎが所定の枚数Ｎ、本実施の形態においてはＮ＝１００に満たない場合にはステップＳ３２に戻り撮像を繰り返す。一方、記憶された画像データの枚数ｎがＮ枚分になった場合には次のステップに進む（ステップＳ３４）。
【００４３】
次に、標準偏差算出部３７０は画像記憶部１６０に記憶された複数の画像データの標準偏差を各画素のそれぞれに対して算出する。これにより、１フィールド毎に撮像されたＮ枚の画像データの変化の度合いをそれぞれの画素に対して算出することができる。
【００４４】
標準偏差は統計学で一般的に用いられている標準偏差を求める数式により算出する。すなわち、時刻ｔｋ（ｋ＝１〜Ｎ）においてパネルの表示画像を撮像し、そのときのカメラ１３２の画素Ｃｉｊ（ｉ、ｊ：カメラ１３２の画素の位置を示す正の整数）に対する画像データを（Ｄｉｊ）ｋとすると、標準偏差Ｕｉｊは次の数式（数１）で求められる（ステップ３６）。
【００４５】
【数１】
2008021531.tif 000003
【００４６】
次に、領域抽出部１８２は、標準偏差算出部３７０が算出した標準偏差データと所定のしきい値とを比較し、標準偏差データがしきい値以上となる領域を抽出する。こうして抽出された領域はチラツキ現象を生じている放電セルに対応している。良否判定部１８４は、領域抽出部１８２が抽出した領域の数、すなわちチラツキ現象を生じている放電セル個数を数え、その数があらかじめ決められたしきい値以上の場合はそのパネルは不適合であると判定しパネル検査を終了する。一方、その数がしきい値未満である場合には、次のステップに進む（ステップＳ３７）。
【００４７】
次に、検査すべき放電セルの検査がまだ残っている場合にはステップＳ３１に戻り、その放電セルが点灯する検査パターンに切り替えて再び検査を繰り返す。そうでない場合にはそのパネルは適合であるとして検査を終了する（ステップＳ３８）。
【００４８】
以上のように、実施の形態３によれば、標準偏差データを算出し、標準偏差データが所定のしきい値以上となる領域を検出することにより、チラツキ現象を検出している。放電遅れに伴う放電セルの不灯は本質的に確率現象であり、チラツキ現象の発生しやすい放電セルは比較的高い確率で不灯が発生する放電セルである。したがって、差分データにもとづいて不灯の発生の有無を検出する実施の形態１においては、不灯の発生する確率の小さい放電セルであっても、検査中にたまたま不灯が発生した場合、そのパネルを不適合であると判定するおそれがある。しかし、実施の形態３においては、標準偏差データにもとづいて不灯発生の確率の大きさを検出するため、適合であるパネルを不適合であると判定するおそれがなく、さらに精度よくパネルを検査することができる。
【００４９】
なお、実施の形態３においては、必要な枚数の画像データを画像記憶部１６０に記憶した後に標準偏差データを算出するものとして説明したが、撮像手段１３０がパネルの表示画像を撮像する毎に標準偏差データを算出する構成としてもよい。さらに、撮像手段１３０が画像を撮像する毎に標準偏差データの算出およびパネルの良否判定を行う構成としてもよい。
【００５０】
また、実施の形態１〜３においては、カメラの撮像タイミングについては特に限定しなかったが、パネルの画像表示タイミングと同期させて撮像することが望ましい。具体的には、例えば、パネル駆動回路１２０からパネルの駆動と同期した垂直同期信号を撮像制御部１３４へ出力し、撮像制御部１３４はこの垂直同期信号にもとづきカメラ１３２を制御すればよい。または、撮像制御部１３４からカメラ１３２の制御に同期した同期信号をパネル駆動回路１２０へ出力し、パネル駆動回路１２０はこの同期信号にもとづいてパネルを駆動する構成でもよい。パネルの駆動とカメラの撮像とを同期させることにより、パネルの表示面を安定して撮像することができるのでノイズ成分の少ない安定した画像データを得ることができる。そのため、パネルの検査精度をさらに向上させることが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００５１】
本発明は、点灯・不点灯を確率的に繰り返すチラツキ現象を精度よく検出することができるので、パネルの検査方法および検査装置として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の実施の形態１に用いるパネルの要部を示す分解斜視図
【図２】同パネルの電極配列図
【図３】本発明の実施の形態１におけるパネルの検査装置の回路ブロック図
【図４】同パネルの検査装置の動作を説明するためのフローチャート
【図５】パネルに表示する検査パターンの一例を模式的に示す図
【図６】ある放電セルに対して撮像された画像データの一例を示す図
【図７】撮像した画像の一部の画像データの一例を示す図
【図８】本発明の実施の形態２におけるパネルの検査装置の回路ブロック図
【図９】同パネルの検査装置の動作を説明するためのフローチャート
【図１０】本発明の実施の形態３におけるパネルの検査装置の回路ブロック図
【図１１】同パネルの検査装置の動作を説明するためのフローチャート
【符号の説明】
【００５３】
１０    パネル
２２    走査電極
２３    維持電極
２８    表示電極対
３２    データ電極
１００，２００，３００    パネルの検査装置
１１０    パネル検査台
１２０    パネル駆動回路
１３０    撮像手段
１３２    カメラ
１３４    撮像制御部
１５０，２５０，３５０    画像処理手段
１６０    画像記憶部
１７２    最大値算出部
１７４    最小値算出部
１７６    差分算出部
１８２    領域抽出部
１８４    良否判定部
２７２    最大値記憶部
２７４    最小値記憶部
３７０    標準偏差算出部
【図１】
2008021531.tif 000004
【図２】
2008021531.tif 000005
【図３】
2008021531.tif 000006
【図４】
2008021531.tif 000007
【図５】
2008021531.tif 000008
【図６】
2008021531.tif 000009
【図７】
2008021531.tif 000010
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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