(57)【要約】【課題】下面電極タイプの微小なチップ部品を四端子測定法により精度を高めて確実に測定できるほか、面サイズを異にするチップ部品であっても柔軟に対応させることもできる四端子測定用チップ部品治具の提供。【解決手段】チップ部品が下面側に備える一対の電極における一方の電極側に各別に接触させる２本の接触端子を具備させた一側端子台１２と、他方の電極側に各別に接触させる２本の接触端子を具備させた他側端子台３２と、これら一側端子台１２と他側端子台３２とをチップ部品の面サイズに対応させるべく相互の接離とその位置固定とを自在に支持する基台５２とを少なくとも備え、該基台５２には、一側端子台１２の各接触端子に一方の電極を、他側端子台３２の各接触端子に他方の電極をそれぞれ接触させてチップ部品を定置する押当て部材６９を配設した。【選択図】図１
2008026260.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象試料としてのチップ部品が下面側に相互に向き合った位置関係のもとで備える一対の電極における一方の前記電極側に各別に接触させる２本の接触端子を具備させた一側端子台と、他方の前記電極側に各別に接触させる２本の接触端子を具備させた他側端子台と、これら一側端子台と他側端子台とを前記チップ部品の下面サイズに対応させるべく相互の接離とその位置固定とを自在に支持する基台とを少なくとも備え、
該基台には、前記一側端子台の各接触端子にチップ部品の一方の前記電極を、前記他側端子台の各接触端子にチップ部品の他方の前記電極をそれぞれ接触させて前記チップ部品を定置する押当て部材を配設したことを特徴とする四端子測定用チップ部品治具。
【請求項２】
それぞれの前記接触端子における少なくとも各接触端部側は、前記押当て部材を介して前記チップ部品が押し付けられた際に撓む可撓性が付与されて前記一側端子台と前記他側端子台とに各別に配設された請求項１に記載の四端子測定用チップ部品治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、下面に電極を備える微小なチップ部品の電気的な特性を四端子測定法により測定することができるほか、サイズを異にするチップ部品にも柔軟に対応させつつ、電気的な接触も確実に確保させた状態のもとで位置固定することができる四端子測定用チップ部品治具に関する技術である。
【背景技術】
【０００２】
図７は、下記特許文献１に開示されているチップ部品測定用治具の全体斜視図であり、チップ部品測定用治具１の全体は、測定されるべきチップ部品が水平な下面側に備える一対の電極と個別に接触する各接触端子５，５を表出させてなる定置台部３を固定した筐体などからなる基台２と、該基台２上に配設されて接触端子５，５に電極を各別に接触させた状態のもとで定置台部３との間でチップ部品を位置固定する保持機構６とで構成されている。
【特許文献１】特開２００４−１３８５４６号公報
【０００３】
この場合、定置台部３は、基台２側にねじ止めして固定配置される絶縁性の台本体部４と、該台本体部４の略中央部にチップ部品の大きさとの関係で定まる縦横幅が付与された凹部４ａと、該凹部４ａ上の適宜位置に平面視が略三角形状を呈し、かつ、それぞれの頂角部側を対向させて隣接配置された導電性の一対の接触端子５，５とを備えて形成されている。
【０００４】
一方、保持機構６は、基台１上に位置固定を自在に配設される支台部７と、該支台部７上にその雄ねじ側を突出させて直立配置されるボルト軸部８と、該ボルト軸部８にその長さ方向を直交させ、かつ、上昇方向への付勢力を伴って遊挿される昇降腕部９と、付勢力に抗した昇降腕部９の押し下げを自在にボルト軸部８に螺着されるナット部８ａと、昇降腕部９を回動停止させるストッパー９ａとで形成されている。
【０００５】
このため、測定時には、昇降腕部９の先端側に垂設された圧接部の押圧力によりその位置が固定された状態のもとで定置台部３上にチップ部品を定置することができることになる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、図７に示すチップ部品測定用治具１による場合には、下面に電極を備えるチップ部品を二端子測定法により測定することはできるものの、より測定精度が高い四端子測定法による測定には対応させることができない不都合があった。
【０００７】
また、図７に示すチップ部品測定用治具１による場合には、面サイズを同じくする同一のチップ部品に限定され、面サイズを異にするチップ部品には柔軟に適用させることができないという不具合もあった。
【０００８】
本発明は、従来例にみられた上記課題に鑑み、下面電極タイプの微小なチップ部品の電気的な特性を四端子測定法により精度を高めて確実に測定することができるほか、サイズを異にするチップ部品であっても柔軟に対応させることもできる四端子測定用チップ部品治具を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、測定対象試料としてのチップ部品が下面側に相互に向き合った位置関係のもとで備える一対の電極における一方の前記電極側に各別に接触させる２本の接触端子を具備させた一側端子台と、他方の前記電極側に各別に接触させる２本の接触端子を具備させた他側端子台と、これら一側端子台と他側端子台とを前記チップ部品の下面サイズに対応させるべく相互の接離とその位置固定とを自在に支持する基台とを少なくとも備え、該基台には、前記一側端子台の各接触端子にチップ部品の一方の前記電極を、前記他側端子台の各接触端子にチップ部品の他方の前記電極をそれぞれ接触させて前記チップ部品を定置する押当て部材を配設したことを最も主要な特徴とする。
【００１０】
この場合、それぞれの前記接触端子における少なくとも各接触端部側は、前記押当て部材を介して前記チップ部品が押し付けられた際に撓む可撓性が付与されて前記一側端子台と前記他側端子台とに各別に配設させておくのが好ましい。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１に係る発明によれば、２本の接触端子を具備させた一側端子台と、２本の接触端子を具備させた他側端子台とを、チップ部品のサイズに対応させるべく相互の接離とその位置固定とを自在に基台側に支持させてあるので、下面電極タイプの微小なチップ部品の電気的な特性をそのサイズの大小によく対応させながら四端子測定法により精度を高めて確実に測定することができる。
【００１２】
また、請求項２に係る発明によれば、計４本の接触端子における各接触端部側には、押し当て部材を介してチップ部品が押し付けられた際に下方に撓む可撓性が付与されているので、各接触端のすべての位置を同一平面上に強制的に位置させることで、より確実な接触関係を確保して精度の高い四端子測定を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
図１は、本発明の一例を押当て部材の一部を省略して示す全体斜視図であり、図２は、図１におけるＡ−Ａ線矢視方向での断面構造をチップ部品を定置した状態のもとで拡大して示す説明図である。また、図３は、本発明を構成している一側端子台の外観形状を示す斜視図であり、図４は、図３におけるＢ−Ｂ線矢視方向での断面図である。なお、図１における楕円形状の囲繞領域は、四端子測定法による測定領域を示す。
【００１４】
これらの図によれば、四端子測定用チップ部品治具１１の全体は、測定対象試料としてのチップ部品７１がその下面側に例えば図６に明示されているように相互に向き合った位置関係のもとで備える一対の電極７２，７３における一方の電極７２側に各別に接触させる２本の接触端子２０，２３を具備させた一側端子台１２と、他方の電極７３側に各別に接触させる２本の接触端子４０，４３を具備させた他側端子台３２と、これら一側端子台１２と他側端子台３２とをチップ部品７１の下面サイズの大小に対応させるべく相互の接離とその位置固定とを自在に支持する基台５２とを少なくとも備えて構成されている。なお、図中の符号１９は、アルミ板を備える下カバーを示し、例えば一側端子台１２や台本体部１３を左右方向に開いた際などに内部に意図しないごみが入り込むのを防止することができるようになっている。
【００１５】
このうち、一側端子台１２を構成している略直方体形状を呈する台本体部１３は、図３および図４からも明らかなように、その前端部側に位置する下側部を略Ｌ字状に削除して前面側と下底面側とを開口させた隔室部１４が形成されており、該隔室部１４を介して２本の接触端子２０，２３を配設することができるようになっている。
【００１６】
また、板状を呈する２本の接触端子２０，２３は、それぞれの開放端側をチップ部品７１の一方の電極７２への接触端２１，２４とする直立片部２０ａ，２３ａと、これら直立片部２０ａ，２３ａの終端側から水平方向に延設された水平片部２０ｂ，２３ｂと、これら水平片部２０ｂ，２３ｂの終端側から垂設された垂下片部２０ｃ，２３ｃとで形成されている。
【００１７】
この場合、２本の接触端子２０，２３は、接触端子２０の水平片部２０ｂ側を上方に、接触端子２３の水平片部２３ｂ側を下方にそれぞれ配置するとともに、これら水平片部２０ｂ，２３ｂ相互間にスペーサ材２６を介在させた上で一体的に連結して組み合わされており、これにより接触端子２３の接触端２４側が前列に、接触端子２０の接触端２１側が後列に配置されることになる。
【００１８】
これを図示例に基づきより詳しく説明すれば、接触端子２０，２３における水平片部２０ｂ，２３ｂとスペーサ材２６とには、その組み合わせ時に相互が対面合致する部位にボルト材２９を挿通させるための通孔２２，２５，２７が穿設されている。
【００１９】
また、台本体部１３にあって隔室部１４の天井としての役割を担っている表出面１４ａ側の所定位置には、スペーサ材２６を介して一体的に組み合わされている接触端子２０，２３をボルト材２９を介して位置固定するための雌ねじ部１５が形成されており、該雌ねじ部１５にボルト材２９を螺着させることで接触端子２０，２３側を台本体部１３側に取り付けることができるようになっている。
【００２０】
この場合、台本体部１３の前端上角側の中央部に位置する領域には、チップ部品７１が一方の電極７２側を介して載置される定置部１６が形成されており、該定置部１６を介して接触端子２０の接触端２１と接触端子２３の接触端２４とを一方の電極７２に同時接触させるために表出配置することができることになる。
【００２１】
しかも、台本体部１３は、接触端子２０の直立片部２０ａと水平片部２０ｂとの境界部位である内側角部と対面する角部に切除部１７が形成されており、該切除部１７により直立片部２０ａと水平片部２０ｂとの境界部位である内側角部がやや円曲している場合にも追随させることができるようになっている。また、スペーサ材２６は、接触端子２０にあって直立片部２０ａ側に位置する直立片部２０ａとの対面部位の肉厚を薄くして空隙２８が確保できるように形成されている。このため、接触端子２０には、その接触端２１が上方から外力により押し込まれた際に撓ませるための可撓性を付与することができることになる。
【００２２】
他の１本である接触端子２３の直立片部２３ａと水平片部２３ｂとは、スペーサ材２６を介して下方への撓みが自在となって配置されている。この場合、スペーサ材２６は、接触端子２３の直立片部２３ａと水平片部２３ｂとの境界部位である内側角部と対面する角部に切除部２６ａが形成されており、該切除部２６ａにより直立片部２３ａと水平片部２３ｂとの境界部位である内側角部がやや円曲している場合にも追随させることができるようになっている。また、接触端子２３の直立片部２３ａと水平片部２３ｂとは、スペーサ材２６に対し非固定状態となって単に接触させてあるだけなので、接触端子２３の接触端２４が上方から外力により押し込まれた際に下方に撓ませることができることになる。
【００２３】
また、台本体部１３は、隔室部１４近傍に位置する部位の上下方向に貫通させた雌ねじ孔１８を有しており、該雌ねじ孔１８に抓みねじ５８が一側支持片部５５上面から長孔５７を通して螺着される。このとき、一側端子台１２は、一側支持片部５５の内壁面方向へと吊り上げられる固定される。その結果、台本体部１３は、その全体が一側支持片部５５を介して基台５２側に固定できることになる。
【００２４】
他側端子台３２は、一側端子台１２と同じ構造を備えて形成されており、基台５２側に一側端子台１２と向き合わせた配置関係のもとで一側端子台１２と同様に位置固定されることなる。なお、他側端子台３２の構造については、図中に一側端子台１２と対応させた符号を付してその詳細説明を省略する。
【００２５】
一側端子台１２と他側端子台３２とを相互の接離とその位置固定とを自在に支持する基台５２は、接触端子２０，２３，４０，４３と各別に結線された計４個の接続端子５４を備えてなる基台本体部５３と、該基台本体部５３上に位置固定されて一側端子台１２と他側端子台３２とをそれぞれの定置部１６，３６を表出させた状態のもとで接離自在に各別に支持する一側支持片部５５と他側支持片部６５とを少なくとも備えて構成されている。
【００２６】
この場合、一側支持片部５５と他側支持片部６５とは、一側端子台１２と他側端子台３２とを相互に接離させる際のガイド部材として機能させるために基台本体部５３上に位置固定されている。
【００２７】
これを一側支持片部５５と一側端子台１２との配置関係について詳しく説明すれば、一側支持片部５５の底面側には、基台本体部５３との間で一側端子台１２側を定置部１６を表出させた状態のもとで位置規制しながら進退自在（図示例においては左右方向）に収容する空間部５６が形成されているほか、その上面には、一側端子台１２の進退方向を長さ方向とする長孔５７が形成されている。
【００２８】
そして、該長孔５７は、一側端子台１２が図２に示す位置関係にあるときに抓みねじ６８をその前端５７ａ側に当接させ、図６に示す位置関係にあるときに抓みねじ６８をその後端５７ｂ側に当接させる長さを付与して形成されている。
【００２９】
他側支持片部６５は、一側支持片部５５と同じ構造を備えて形成されており、基台５２上に一側支持片部５５と向き合わせた配置関係のもとで一側支持片部５５と同様に位置固定されることなる。なお、他側支持片部６５の構造については、図中に一側支持片部５５と対応させた符号を付してその詳細説明を省略する。
【００３０】
しかも、基台５２を構成している基台本体部５３には、一側端子台１２の各接触端子２０，２３にチップ部品７１の一方の電極７２を、他側端子台３２の各接触端子４０，４３にチップ部品７１の他方の電極７３をそれぞれ接触させてチップ部品７１を定置部１６，３６上に定置する押当て部材６９が配設されている。
【００３１】
該押当て部材６９は、サイズを異にするチップ部品７１を定置部１６，３６上に位置固定することができる構造を備えているものであればよく、例えば図５に示されているように、基台本体部５３上にその昇降を自在に螺着された螺杆材６９ａと、該螺杆材６９ａに取り付けられてチップ部品７１側と当接する押さえ板６９ｂとで構成するなど、適宜の構造のものを採用することができる。
【００３２】
次に、上記構成からなる本発明の作用・効果を説明すれば、まず、今回分の測定対象試料となるチップ部品７１が選択される。該チップ部品７１は、例えば図６からも明らかなように、水平な下面側に相互に向き合った位置関係で配設されている一対の電極７２，７３を備えている。
【００３３】
選択されたチップ部品７１が最も微少な面サイズを備えているものである場合には、一側端子台１２を基台５２側に位置固定している抓みねじ５８と、他側端子台３２を基台５２側に位置固定している抓みねじ６８とを緩め、一側端子台１２は一側支持片部５５の空間部５６内を進出させ、他側端子台３２は他側支持片部６５の空間部６６内を進出させる。これにより、抓みねじ５８は、長孔５７の前端５７ａに、抓みねじ６８は長孔６７の前端６７ａにそれぞれ当接する結果、一側端子台１２と他側端子台３２との移動も停止され、この停止位置にて抓みねじ５８と抓みねじ６８とを緊締することで位置固定され、図１に示すように相互を接近させることができる。
【００３４】
図１の状態のもとでは、一側端子台１２と他側端子台３２とを接近させることで、図中に楕円形状の囲繞領域として示される測定部が確保され、図２に示すように選択されたチップ部品７１が定置される。
【００３５】
この場合、チップ部品７１は、一方の電極７２に一側端子台１２が備える２本の接触端子２０，２３を、他方の電極７３に他側端子台３２が備える２本の接触端子４０，４３をそれぞれ接触させる位置関係のもとで定置させることができる。
【００３６】
また、基台５２には、押し当て部材６９が配設されおり、該押し当て部材６９を構成している押さえ板６９ｂをチップ部品７１の上面に押し当てることにより電気的な接触関係を確実なものとすることができる。
【００３７】
しかも、仮に接触端子２０，２３，４０，４３の接触端２１，２４，４１，４４の位置が同一平面上に位置していない場合には、押さえ板６９ｂでチップ部品７１の上面をより強く押し下げて既に接触状態にあるいずれかの直立片部２０ａ，２３ａ，４０ａ，４３ａのみを下方へと撓ませることで、接触端２１，２４，４１，４４のすべての位置を同一平面上に位置させることができるので、より確実な接触関係を確保して精度の高い四端子測定を行うことができることになる。
【００３８】
かくして、今回分の測定対象試料であるチップ部品７１に対する四端子測定を終えた後は、逆の手順を踏むことで該チップ部品７１を回収することができる。
【００３９】
一方、選択されたチップ部品７１が最も大きな面サイズを備えているものである場合には、一側端子台１２を基台５２側に位置固定している抓みねじ５８と、他側端子台３２を基台５２側に位置固定している抓みねじ６８とを緩め、一側端子台１２は一側支持片部５５の空間部５６内を後退させ、他側端子台３２は他側支持片部６５の空間部６６内を後退させる。
【００４０】
これにより、抓みねじ５８は、長孔５７の後端５７ｂに、抓みねじ６８は長孔６７の後端６７ｂにそれぞれ当接する結果、一側端子台１２と他側端子台３２との移動も停止され、この停止位置にて抓みねじ５８と抓みねじ６８とを緊締することで位置固定され、図６に示すように相互を離間させることができる。
【００４１】
図６の状態のもとでは、一側端子台１２と他側端子台３２とを引き離すことで、大きな面領域となって確保される測定部へとチップ部品７１を定置させることができる。
【００４２】
この場合、チップ部品７１は、図２の場合と同様に一方の電極７２に一側端子台１２が備える２本の接触端子２０，２３を、他方の電極７３に他側端子台３２が備える２本の接触端子４０，４３をそれぞれ接触させる位置関係のもとで定置させることができる。
【００４３】
また、この場合においても押さえ板６９ｂをチップ部品７１の上面に押し当てることにより、電気的な接触関係を確実なものとすることができるので、既に接触状態にあるいずれかの直立片部２０ａ，２３ａ，４０ａ，４３ａのみを下方へと撓ませることで、接触端２１，２４，４１，４４のすべての位置を同一平面上に位置させて確実な接触関係を確保して精度の高い四端子測定を行うことができることになる。
【００４４】
かくして、今回分の測定対象試料である最もサイズの大きなチップ部品７１に対する四端子測定を終えた後は、逆の手順を踏むことで該チップ部品７１を回収することができる。
【００４５】
なお、以上は、図２に示す最小サイズのチップ部品７１と、図６に示す最大サイズのチップ部品７１とを例にその作用・効果を説明したものであり、当然のことながら両者のサイズ内に含まれるサイズを異にするチップ部品のための四端子測定用チップ部品治具１１として適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の一例を押当て部材の一部を省略して示す全体斜視図。
【図２】図１におけるＡ−Ａ線矢視方向での断面構造をチップ部品を定置した状態のもとで拡大して示す一部省略説明。
【図３】本発明を構成している一側端子台の外観形状を示す斜視図。
【図４】図３におけるＢ−Ｂ線矢視方向での断面図。
【図５】面サイズの大きなチップ部品に本発明を適用した際の状態を示す全体斜視図。
【図６】図５におけるＣ−Ｃ線矢視方向での断面構造を拡大して示す一部省略説明。
【図７】特許文献１に示されているチップ部品測定用治具の全体斜視図
【符号の説明】
【００４７】
１１  四端子測定用チップ部品治具
１２  一側端子台
３２  他側端子台
１３，３３  台本体部
１４，３４  隔室部
１５，３５  雌ねじ部
１６，３６  定置部
１７，３７  切除部
１８，３８  雌ねじ孔
２０，２３，４０，４３  接触端子
２０ａ，２３ａ，４０ａ，４３ａ  直立片部
２０ｂ，２３ｂ，４０ｂ，４３ｂ  水平片部
２０ｃ，２３ｃ，４０ｃ，４３ｃ  垂下片部
２１，２４，４１，４４  接触端
２２，２５，４２，４５  通孔
２６，４６  スペーサ
２６ａ，４６ａ  切除部
２７，４７  通孔
２８，４８  空隙
２９，４９  ボルト材
５２  基台
５３  基台本体部
５４  接続端子
５５  一側支持片部
６５  他側支持片部
５６，６６  空間部
５７，６７  長孔
５７ａ，６７ａ  前端
５７ｂ，６７ｂ  前端
５８，６８  抓みねじ
６９  押し当て部材
６９ａ  螺杆材
６９ｂ  押さえ板
７１  チップ部品
７２，７３  電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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