(57)【要約】【課題】多層光ディスクの一の情報記録層からの回折光の反射光をともに受光する第１受光領域と第２受光領域の面積が、他の情報記録層からの０次光の反射光の光量を略同一とする面積で設定される光検出装置、光ピックアップ装置を提供することを目的とする。【解決手段】多層光ディスクの一の情報記録層からのレーザー光を基に発生する０次光の反射光を受光する第１受光面と、第１受光面と所定間隔をもって隣接しレーザー光を基に発生する回折光が一の情報記録層で反射されることにより発生する、０次の第１反射光の一部と正の回折次数の第２反射光を受光する第１受光領域と、第１反射光の他の一部と負の回折次数の第３反射光を受光する第２受光領域と、を有する第２受光面と、を備えた光検出装置であって、第１と第２受光領域の面積は、第１及び第２受光領域が受光する、他の情報記録層からの０次光の反射光の光量を略同一とする面積である、ことを特徴とする。【選択図】図１
2008059632.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
多層光ディスクの一の情報記録層からの、レーザー光を基に発生する０次光の反射光を受光する第１受光面と、
前記第１受光面と所定間隔をもって隣接し、前記レーザー光を基に発生する回折光が前記一の情報記録層で反射されることにより発生する、０次の第１反射光の一部と正の回折次数の第２反射光を受光する受光領域を含む第１受光領域と、前記第１反射光の他の一部と負の回折次数の第３反射光を受光する受光領域を含む第２受光領域と、を有する第２受光面と、
を備えた光検出装置であって、
前記第１受光領域と前記第２受光領域の面積は、前記第１受光領域及び前記第２受光領域が受光する、前記多層光ディスクの他の情報記録層からの前記０次光の反射光の光量を略同一とする面積である、
ことを特徴とする光検出装置。
【請求項２】
前記第１受光領域と前記第２受光領域のうち、前記第１受光面との距離が短い一方の受光領域の面積は、
前記他の情報記録層からの前記０次光の反射光の光強度に応じて、他方の受光領域の面積よりも小さく設定される、
ことを特徴とする請求項１に記載の光検出装置。
【請求項３】
前記第１受光領域と前記第２受光領域は、
前記第２受光面の全受光領域が直線状の第１分割線で分割された各受光領域であって、前記０次光が前記一の情報記録層に合焦するときの前記第１反射光を略同一の光量で受光し、
前記第１受光領域は、
前記第１受光領域の全受光領域が前記第１分割線と直交する第２分割線で分割された各受光領域からなり、前記第１受光領域が受光する前記第１反射光を、前記第２分割線で分割した各受光領域において略同一の光量で受光し、
前記第２受光領域は、
前記第２受光領域の全受光領域が前記第１分割線と直交する第３分割線で分割された各受光領域からなり、前記第２受光領域が受光する前記第１反射光を、前記第３分割線で分割した各受光領域において略同一の光量で受光する、
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光検出装置。
【請求項４】
前記回折光は、
前記レーザー光を基に発生する正の回折次数の回折光と負の回折次数の回折光とからなり、
前記第２受光面は、
前記第１受光面と所定間隔をもって隣接する第３受光面と、前記第３受光面と相反する側に前記第１受光面と所定間隔をもって隣接する第４受光面と、からなり、
前記第３受光面は、第３受光領域と第４受光領域とを有し、
前記第４受光面は、第５受光領域と第６受光領域とを有し、
前記第３受光領域は、前記正の回折次数の回折光が前記一の情報記録層で反射されることにより発生する、０次の第４反射光の一部と正の回折次数の第５反射光を受光する受光領域を含む、前記第１受光領域に相当する受光領域であり、
前記第４受光領域は、前記第４反射光の他の一部と負の回折次数の第６反射光を受光する受光領域を含む、前記第２受光領域に相当する受光領域であり、
前記第５受光領域は、前記負の回折次数の回折光が前記一の情報記録層で反射されることにより発生する、０次の第７反射光の一部と正の回折次数の第８反射光を受光する受光領域を含む、前記第１受光領域に相当する受光領域であり、
前記第６受光領域は、前記第７反射光の他の一部と負の回折次数の第９反射光を受光する受光領域を含む、前記第２受光領域に相当する受光領域である、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項３の何れかに記載の光検出装置。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４の何れかに記載の光検出装置を備えた、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光検出装置、光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスク（ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＨＤ・ＤＶＤ（High Definition DVD）、Ｂｌｕ-ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標）等）から情報の再生又は記録を行うための光ピックアップ装置が普及している。この光ピックアップ装置は、情報の再生又は記録を行うために、光ディスクの情報記録層に対し、レーザー光を基に発生する例えば０次光及び±１次回折光を用いた、差動プッシュプル法や３ビーム法等に基づくトラッキング制御、差動非点収差法等に基づくフォーカス制御を行う。
【０００３】
以下、図１５を参照しつつ、一例として差動プッシュプル法に基づくトラッキング制御及び差動非点収差法に基づくフォーカス制御について説明する。先ず、半導体レーザーから出射されるレーザー光が回折格子等を介することによって、例えば０次光及び±１次回折光が発生する。尚、この回折格子等は、０次光及と±１次回折光との光量比を、一般的に１０〜２０：１とする回折効率を有する。０次光及び±１次回折光は、各光学系（偏光ビームスプリッタ、コリメータレンズ、対物レンズ等）を介することにより、光ディスクの情報記録層に集光されて反射する。そして、０次光の反射光（以下、０次反射光という）及び±１次回折光の反射光（以下、±１次反射光という）は、例えば偏光ビームスプリッタにて反射されることにより、光検出装置の各受光面にて受光される。つまり、図１５に示すように、０次反射光は、光検出装置が有する受光面１０１の受光領域Ａ´乃至受光領域Ｄ´において受光され、＋１次反射光は、光検出装置が有する受光面１０２の受光領域Ｅ´乃至受光領域Ｈ´において受光され、−１次反射光は、光検出装置が有する受光面１０３の受光領域Ｉ´乃至受光領域Ｌ´において受光される。そして、各受光領域Ａ´乃至受光領域Ｌ´の反射光の光量に応じた光電変換信号Ａ´乃至光電変換信号Ｌ´に基づいて、（光電変換信号Ａ´＋光電変換信号Ｂ´）−（光電変換信号Ｃ´＋光電変換信号Ｄ´）−ｋ・｛（光電変換信号Ｅ´＋光電変換信号Ｆ´）−（光電変換信号Ｇ´＋光電変換信号Ｈ´）＋（光電変換信号Ｉ´＋光電変換信号Ｊ´）−（光電変換信号Ｋ´＋光電変換信号Ｌ´）｝（ｋ：０次光の光量／±１次回折光の光量）を演算処理することにより、レンズシフトや光ディスクの傾き等によるオフセットが除去された良好なトラッキングエラー信号が検出される。また、（光電変換信号Ａ´＋光電変換信号Ｃ´）−（光電変換信号Ｂ´＋光電変換信号Ｄ´）＋ｋ・｛（光電変換信号Ｅ´＋光電変換信号Ｇ´）−（光電変換信号Ｆ´＋光電変換信号Ｈ´）＋（光電変換信号Ｉ´＋光電変換信号Ｋ´）−（光電変換信号Ｊ´＋光電変換信号Ｌ´）｝を演算処理することにより、トラック横断時のトラッキングエラー信号の漏れ込み等が低減された良好なフォーカスエラー信号が検出される。そして、このトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号に基づいて、光ディスクの径方向及び光軸方向に対物レンズを移動することにより、０次光を光ディスクの情報記録層に合焦及び追従させることが可能となる。この結果、光ディスクからの良好な情報の再生又は記録を行うことが可能となる。
【０００４】
ところで、近年においては、１つの情報記録層のみを有する光ディスクと比べて、より多くの情報を記録可能とするべく、複数の情報記録層を有する所謂多層光ディスクが実現されている。そして、この多層光ディスクの各情報記録層に対しても同様に、良好な情報の再生又は記録を行うべく、トラッキング制御及びフォーカス制御を行う必要がある。
【特許文献１】特開２００５−３５３２５２号公報
【特許文献２】特開２００５−３４６８８２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、多層光ディスクの一の情報記録層に対して情報の再生又は記録をするためにトラッキング制御及びフォーカス制御を行う場合、一の情報記録層とは異なる他の情報記録層からの０次反射光（所謂、迷光）が発生し、正確なトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号を検出出来なくなる虞があった。このため、良好なトラッキング制御及びフォーカス制御を行うことが困難となり、正確な情報の再生又は記録を行うことが困難又は出来なくなる虞があった。
【０００６】
以下、図１６、図１７を参照しつつ、例えば２つの情報記録層Ｌ０、Ｌ１を有する光ディスク１００からの情報の再生又は記録に対する、迷光の影響について説明する。光ディスク１００の情報記録層Ｌ１は、情報記録層Ｌ０、Ｌ１の何れに対しても情報の再生又は記録を可能とするべく、半透明反射膜で形成されている。このため、図１６（ａ）に示すように、情報記録層Ｌ０に対して０次光を集光する場合、当該情報記録層Ｌ０からの０次反射光（実線）のみならず、情報記録層Ｌ１からの０次反射光（破線）が発生する。また、図１６（ｂ）に示すように、情報記録層Ｌ１に対して０次光を集光する場合、当該情報記録層Ｌ１からの０次反射光（実線）のみならず、０次光が情報記録層Ｌ１を透過し、情報記録層Ｌ０で反射することによる０次反射光（破線）が発生する。この結果、光検出装置の受光面１０１乃至受光面１０３は、受光するべき一の情報記録層からの０次反射光及び±１次反射光（実線）のみならず、図１７破線内の斜線部に示すように、他の情報記録層からの０次反射光を受光することとなる。このため、受光領域Ａ´乃至受光領域Ｌ´からの光電変換信号Ａ´乃至光電変換信号Ｌ´に基づくトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号は、他の情報記録層からの０次反射光の成分を含んだ信号となる。このトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号は、他の情報記録層からの０次反射光に応じて、他の情報記録層からの０次反射光の成分を含んでいないときのトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号に対するオフセットや振幅変動が発生した信号となる可能性があった。つまり、光ディスク１００の一の情報記録層に対する０次光の位置ずれを正確に反映していないトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号が検出される虞があった。特に、±１次反射光のみを受光するべき受光領域Ｅ´乃至受光領域Ｌ´からの光電変換信号Ｅ´乃至光電変換信号Ｌ´は、０次光と±１次回折光との光量比を補正するべく増幅（ｋ倍）されるため他の情報記録層からの０次反射光の影響が大きくなり、より不正確なトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号が検出される虞があった。この結果、良好なトラッキング制御及びフォーカス制御を行うことが困難となり、正確な情報の再生又は記録を行うことが困難又は出来なくなる虞があった。
【０００７】
そこで、上記特許文献１、２等に示す従来技術においては、±１次反射光を受光するための受光面１０２、１０３とは別途に、当該受光面１０２、１０３にて受光される他の情報記録層からの０次反射光を相殺するための受光面を設ける方法が提案されている。しかしながら、これらの従来技術では、当該他の情報記録層からの０次反射光を相殺するための受光面を新たに設ける必要があるため、光検出装置にかかる工程数の増加、コストアップ、複雑化、大型化等を招く虞があった。
【０００８】
そこで、本発明は、多層光ディスクの一の情報記録層からの回折光の反射光をともに受光する第１受光領域と第２受光領域の面積が、他の情報記録層からの０次光の反射光の光量を略同一とする面積で設定される光検出装置、光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するための発明は、多層光ディスクの一の情報記録層からの、レーザー光を基に発生する０次光の反射光を受光する第１受光面と、前記第１受光面と所定間隔をもって隣接し、前記レーザー光を基に発生する回折光が前記一の情報記録層で反射されることにより発生する、０次の第１反射光の一部と正の回折次数の第２反射光を受光する受光領域を含む第１受光領域と、前記第１反射光の他の一部と負の回折次数の第３反射光を受光する受光領域を含む第２受光領域と、を有する第２受光面と、を備えた光検出装置であって、前記第１受光領域と前記第２受光領域の面積は、前記第１受光領域及び前記第２受光領域が受光する、前記多層光ディスクの他の情報記録層からの前記０次光の反射光の光量を略同一とする面積である、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、第１受光領域及び第２受光領域が受光する他の情報記録層からの０次光の反射光を相殺又は低減させることが可能となり、多層光ディスクの一の情報記録層からの良好な情報の再生又は記録を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本明細書および添付図面の記載により、少なくとも以下の事項が明らかとなる。
【００１２】
＝＝＝本発明に係る光検出装置１０を具備する光ピックアップ装置１の全体構成＝＝＝
以下、図２を参照しつつ、本発明に係る光検出装置１０を具備する光ピックアップ装置１の全体構成について説明する。図２は、本発明に係る光検出装置１０を具備する光ピックアップ装置１の全体構成の一例を示す図である。尚、図２に示す光ディスク９０は、複数の情報記録層を有する多層光ディスクの一例として、情報記録層Ｌ０と半透明反射膜から形成される情報記録層Ｌ１との２つの情報記録層を有するＢｌｕ-ｒａｙ Ｄｉｓｃであるものとして、以下説明する。また、光ピックアップ装置１は、例えば差動プッシュプル法に基づくトラッキング制御及び差動非点収差法に基づくフォーカス制御を行うものとして、以下説明する。
【００１３】
光ピックアップ装置１は、半導体レーザー２、回折格子３、偏光ビームスプリッタ４、コリメータレンズ５、１／４波長板６、対物レンズ７、アクチュエータ８、検出レンズ９、光検出装置１０を有する。尚、図２に示す光ピックアップ装置１は、一般的な光ピックアップ装置が有するフロントモニタダイオード等は省略している。
【００１４】
半導体レーザー２は、例えばｐ型半導体とｎ型半導体とをｐｎ接合したダイオードから構成されている。半導体レーザー２は、不図示のレーザー駆動回路からの制御電圧が印加されることにより、光ディスク９０の情報記録層Ｌ０までの保護層の厚み（０．１ｍｍ〜０．０７５ｍｍ）に対応する波長（４００ｎｍ〜４１０ｎｍ）であって、所定方向の直線偏光であるレーザー光を出射する。このレーザー光の光強度分布は、図２円内に示すように、中心の光強度が最も強く、中心から離れるにつれて光強度が弱くなる、所謂ガウシアン分布（正規分布）となる。
【００１５】
回折格子３は、半導体レーザー２からのレーザー光を基に、例えば０次光（メインビームとも称する）及び±１次回折光（正の回折次数の回折光、負の回折次数の回折光。（先行及び後行）サブビームとも称する）を発生する。この回折格子３は、０次光と±１次回折光との光量比を、例えば１０〜２０：１とする回折効率を有する。
【００１６】
偏光ビームスプリッタ４は、前述の所定方向の直線偏光を透過し、所定方向と直交する直線偏光を検出レンズ９へ反射する偏光膜を有する。このため、偏光ビームスプリッタ４は、回折格子３からの０次光及び±１次回折光を透過する。また、偏光ビームスプリッタ４は、光ディスク９０の情報の再生又は記録の対象である一の情報記録層（Ｌ０又はＬ１。以下、対象の情報記録層という）からの０次反射光及び±１次反射光を、検出レンズ９へ反射する。更に、偏光ビームスプリッタ４は、光ディスク９０の情報の再生又は記録の対象ではない他の情報記録層（Ｌ１又はＬ０。以下、非対象の情報記録層という）からの０次反射光（以下、迷光という。０次の反射光）及び±１次反射光を、検出レンズ９へ反射する。尚、光ディスク９０の前記非対象の情報記録層からの±１次反射光の光量は、回折格子３の回折効率や前記非対象の情報記録層に対する±１次回折光の非集光等に起因して、トラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号の検出に影響を及ぼさない程度の光量となるため、本実施形態においては、説明を省略する。
【００１７】
コリメータレンズ５は、偏光ビームスプリッタ４からの０次光及び±１次回折光を略平行光に変換して、１／４波長板６に出射する。また、コリメータレンズ５は、１／４波長板６からの０次反射光及び±１次反射光、迷光を収束光に変換して、偏光ビームスプリッタ４に出射する。
【００１８】
１／４波長板６は、前述の所定方向の直線偏光を所定回転方向の円偏光に変換し、所定回転方向とは逆方向の円偏光を所定方向と直交する直線偏光に変換するように光軸方向が設定された、複屈折シート、ポリマー材料等の高分子材料や水晶等から構成される。このため、１／４波長板６は、コリメータレンズ５からの０次光及び±１次回折光を、所定回転方向の円偏光に変換する。また、１／４波長板６は、対物レンズ７からの所定回転方向とは逆方向の円偏光である０次反射光及び±１次反射光、迷光を、所定方向と直交する直線偏光に変換する。
【００１９】
対物レンズ７は、光ディスク９０の規格に対応する開口数（０．８５）を有し、トラッキング制御用のコイル及びフォーカス制御用のコイルを有する不図示のホルダーにて保持される。対物レンズ７は、１／４波長板６からの０次光及び±１次回折光を、光ディスク９０の前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）に集光する。この結果、０次光及び±１次回折光は、光ディスク９０の前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）に集光されるとともに、光ディスク９０の前記非対象の情報記録層（Ｌ１又はＬ０）を照射することとなる。このため、光ディスク９０において、所定回転方向とは逆方向の円偏光である、０次反射光及び±１次反射光、迷光が発生することとなる。そして、対物レンズ７は、光ディスク９０からの０次反射光及び±１次反射光、迷光を略平行光に変換して、１／４波長板６に出射する。
【００２０】
尚、この０次反射光とは、光ディスク９０の前記対象の情報記録層（Ｌ０及びＬ１）に螺旋状に形成されたトラックのうち、情報の再生又は記録対象のトラック（以下、目標トラックという）で０次光が反射回折されることにより発生する、例えば０次光及び±１次回折光を示すものである。そこで、本実施形態おいては、通常０次反射光と称し、必要に応じて、０次反射光を構成する０次光を０次の０次反射光と称し、±１次回折光を±１次の０次反射光と称する。また、±１次反射光とは、光ディスク９０の前記対象の情報記録層の目標トラックと相反して隣接するトラック（以下、第１隣接トラック、第２隣接トラックという）で±１次回折光が反射回折されることにより発生する、例えば各０次光及び±１次回折光を示すものである。そこで、本実施形態においては、通常＋１次反射光と称し、必要に応じて、＋１次反射光を構成する０次光を０次の＋１次反射光（０次の第１反射光、０次の第４反射光）と称し、±１次回折光を±１次の＋１次反射光（正の回折次数の第２反射光、負の回折次数の第３反射光、正の回折次数の第５反射光、負の回折次数の第６反射光）と称する。同様に、通常−１次反射光と称し、必要に応じて、−１次反射光を構成する０次光を０次の−１次反射光（０次の第１反射光）と称し、±１次回折光を±１次の−１次反射光（正の回折次数の第２反射光、負の回折次数の第３反射光、正の回折次数の第８反射光、負の回折次数の第９反射光）と称する。
【００２１】
アクチュエータ８は、トラッキング制御用の磁気部材（マグネット、ヨーク等）、フォーカス制御用の磁気部材（同様）、一端が対物レンズ７を保持するホルダーに固着されたサスペンションワイヤ等から構成される。アクチュエータ８は、不図示のサーボ制御回路からのトラッキングエラー信号に基づく制御電圧が印加されることによって発生する、トラッキング制御用の磁気部材と前述のコイルとの磁気作用により、対物レンズ７を光ディスク９０の径方向へ移動する。また、アクチュエータ８は、不図示のサーボ制御回路からのフォーカスエラー信号に基づく制御電圧が印加されることによって発生する、フォーカス制御用の磁気部材と前述のコイルとの磁気作用により、対物レンズ７を光軸方向に移動する。
【００２２】
検出レンズ９は、シリンドリカルレンズ等で構成され、偏光ビームスプリッタ４からの０次反射光及び±１次反射光、迷光に非点収差を付与する。
【００２３】
光検出装置１０は、後述する受光面１１乃至受光面１３を有し、検出レンズ９からの０次反射光及び±１次反射光、迷光を受光する。以下、光検出装置１０の構成について詳述する。
【００２４】
＝＝＝本発明に係る光検出装置１０の構成＝＝＝
以下、図２、図１５、図１７を適宜参照しつつ、図１、図３、図４を用いて、本発明に係る光検出装置１０の構成について説明する。図１は、本発明に係る光検出装置１０が有する受光面１１乃至受光面１３を示す図である。図３は、本発明に係る光検出装置１０の受光面１１乃至受光面１３が受光する、迷光の光強度分布を示す図である。図４は、回折格子３を回転することにより、本発明に係る光検出装置１０において、０次反射光と迷光のみを受光する様子を示す図である。尚、図１等に示す０次反射光及び±１次反射光は、光ディスク９０の前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦及び追従しているときの、受光面１１乃至受光面１３への受光の様子を示すものである。
【００２５】
光検出装置１０は、受光面１１（第１受光面）、受光面１２（第２受光面、第３受光面）、受光面１３（第２受光面、第４受光面）を有する。
【００２６】
受光面１１は、全受光領域の形状が例えば正方形であって、０次反射光を受光するための受光領域Ａ乃至受光領域Ｄを有する。受光領域Ａ乃至受光領域Ｄは、各受光領域を正方形の形状とするために、全受光領域の中心から同一の放射角度をもって全受光領域を４分割したものである。詳述すると、受光領域Ａ、受光領域Ｂと受光領域Ｃ、受光領域Ｄとは、光ディスク９０の前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦しているときの０次の０次反射光の中心を通り、且つ、前記対象の情報記録層の目標トラックの接線と対応する分割線で、全受光領域を分割した領域である。また、受光領域Ａ、受光領域Ｄと受光領域Ｂ、受光領域Ｃとは、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦しているときの０次の０次反射光の中心を通り、且つ、光ディスク９０の径と対応する分割線で、全受光領域を分割した領域である。そして、このような分割結果により、受光領域Ａ乃至受光領域Ｄは、例えば従来の正方形の受光領域Ａ乃至受光領域Ｄの一辺の長さと等しい一辺の長さからなる正方形の形状となる。そして、受光面１１は、受光領域Ａ、受光領域Ｂにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの０次反射光のうち、０次の０次反射光の一部と＋１次の０次反射光（斜線部）を受光する。また、受光面１１は、受光領域Ｃ、受光領域Ｄにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの０次反射光のうち、０次の０次反射光の他の一部と−１次の０次反射光（斜線部）を受光する。尚、受光面１１は、受光領域Ａ乃至受光領域Ｄにおいて、前記非対象の情報記録層（Ｌ１又はＬ０）からの迷光を受光することとなる。しかしながら、受光面１１が受光する迷光は、例えば受光面１２、受光面１３が受光する迷光のように増幅されない等の理由により、トラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号に対する影響が受光面１２、受光面１３が受光する迷光の影響に比べて小さい。そこで、本実施形態においては、受光面１１が受光する迷光については、説明を省略するものとする。そして、受光面１１は、受光領域Ａ乃至受光領域Ｄにおいて受光した０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ａ乃至光電変換信号Ｄを生成して、後段のトラッキングエラー信号を生成する演算処理回路４０（後述の図５参照）、フォーカスエラー信号を形成する演算処理回路６０（後述の図６参照）に出力する。
【００２７】
尚、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦及び追従している場合、受光面１１は図１に示すように０次反射光を略均等に受光するため、受光領域Ａにおいて受光する０次の０次反射光の一部と＋１次の０次反射光の光量と、受光領域Ｂにおいて受光する０次の０次反射光の一部と＋１次の０次反射光の光量と、受光領域Ｃにおいて受光する０次の０次反射光の他の一部と−１次の０次反射光の光量と、受光領域Ｄにおいて受光する０次の０次反射光の他の一部と−１次の０次反射光の光量とは略同一となる。
【００２８】
受光面１２は、受光面１１と所定間隔をもって隣接し、全受光領域の形状が例えばＴ字形である。この受光面１２は、＋１次反射光を受光するための受光領域Ｅ（第１受光領域、第３受光領域）、受光領域Ｆ（第１受光領域、第３受光領域）、受光領域Ｇ（第２受光領域、第４受光領域）、受光領域Ｈ（第２受光領域、第４受光領域）を有する。受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈは、受光領域Ｅ、受光領域Ｆの形状を例えば正方形とし、受光領域Ｇ、受光領域Ｈの形状を例えば長方形の形状とするために、受光面１２の全受光領域を４分割したものである。詳述すると、受光領域Ｅ、受光領域Ｆと受光領域Ｇ、受光領域Ｈとは、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦しているときの０次の＋１次反射光の中心を通り、且つ、＋１次回折光が集光する前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の第１隣接トラックの接線と対応する直線状の第１分割線で、受光面１２の全受光領域が分割された領域である。また、受光領域Ｅ、受光領域Ｈと受光領域Ｆ、受光領域Ｇとは、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦しているときの０次の＋１次反射光の中心を通り、且つ、第１分割線と直交し光ディスク９０の径と対応する第２分割線と第３分割線とで、受光面１２の全受光領域が分割され領域である。そして、このような分割結果により、受光領域Ｅ、受光領域Ｆは、受光領域Ａ乃至受光領域Ｄの一辺の長さと等しく、且つ、図１５、図１７に示す従来の正方形の受光領域Ｅ´、受光領域Ｆ´の一辺の長さと等しい一辺の長さｘ１からなる正方形の形状となる。また、受光領域Ｇ、受光領域Ｈは、前述の光ディスク９０の径と対応する分割方向の長さが、図１５、図１７に示す従来の正方形の受光領域Ｇ´、受光領域Ｈ´の一辺の長さと等しい長さｘ１であり、前述の第１隣接トラックの接線と対応する分割方向の長さが、従来の正方形の受光領域Ｇ´、受光領域Ｈ´の一辺の長さよりも短い長さｘ２である、長方形の形状となる。
【００２９】
この受光領域Ｇ、受光領域Ｈの長さｘ２は、当該受光領域Ｇ、受光領域Ｈがその面積に応じて受光する迷光の光量を、受光領域Ｅ、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量と略同一とするために、次のように定められる。以下、図３、図４を参照しつつ、受光領域Ｇ、受光領域Ｈの面積について詳述する。尚、説明の便宜上、受光領域Ｅと受光領域Ｆとの和を受光領域Ｅ＋Ｆと称し、受光領域Ｇと受光領域Ｈとの和を受光領域Ｇ＋Ｈと称する。
【００３０】
半導体レーザー２が出射するレーザー光は、前述したようにガウシアン分布を示す光強度となるため、迷光もまた、図３に示すように（Ｚ１、Ｚ２を含む）、中心の光強度が最も強く、中心から離れるにつれて光強度が弱くなる光強度分布となる。このため、受光面１１との距離が受光領域Ｅ＋Ｆよりも短い受光領域Ｇ＋Ｈは、受光領域Ｅ＋Ｆが受光する迷光よりも光強度が強い迷光を受光することとなる。このため、仮に、受光領域Ｇ＋Ｈの面積が、受光領域Ｅ＋Ｆの面積と等しい（図３、図４太字破線内に示す面積（α／２・２＝α）を受光領域Ｇ＋Ｈに加えた）場合、当該受光領域Ｇ＋Ｈが受光する迷光の光量（Ｙ１＋Ｚ１）は、受光領域Ｅ＋Ｆが受光する迷光の光量（Ｘ１）よりも光強度の差に応じて大きくなる。そこで、本実施形態においては、受光領域Ｅ＋Ｆが受光する迷光の光量（Ｘ１）と略同一の光量（Ｙ１）の迷光のみを受光領域Ｇ＋Ｈが受光するように、当該受光領域Ｇ＋Ｈの面積を受光領域Ｇ、受光領域Ｈの長さｘ２で定める。
【００３１】
この受光領域Ｇ、受光領域Ｈの長さｘ２は、
α／２＝ｘ１・（ｘ１−ｘ２）から、
ｘ２＝ｘ１−｛α／（２・ｘ１）｝
から求められる。そして、受光領域Ｇ、受光領域Ｈの長さｘ２を上式から得られる値とすることにより、受光領域Ｅ＋Ｆが受光する迷光の光量（Ｘ１）と略同一の光量（Ｙ１）の迷光のみを受光する受光領域Ｇ＋Ｈの面積が設定されることとなる。尚、受光領域Ｇ、受光領域Ｈの長さｘ２は、０次の＋１次反射光の半径以上であることが望ましい。何故ならば、受光領域Ｇ、受光領域Ｈの長さｘ２が、０次の＋１次反射光の半径以上であることによって、受光面１２が受光領域Ｇ、受光領域Ｈにおいて、全ての＋１次反射光を受光することとなり、より正確なトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号を検出可能となるためである。
【００３２】
尚、上述の迷光を受光しない面積α／２の検出は、例えば、以下の方法を用いることで検出可能となる。図４に示すように、回折格子３を所定方向（例えば、図２紙面手前から奥方向）へ回転すると、受光面１２は、受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈにおいて、迷光のみを受光することとなる。従って、このとき受光面１２が生成する光電変換信号Ｅ乃至光電変換信号Ｈは、迷光成分のみの信号となる（以下、迷光成分の光電変換信号Ｅ乃至光電変換信号Ｈを、光電変換信号Ｅ(２)乃至光電変換信号Ｈ(２)という）。そこで、（光電変換信号Ｇ(２)＋光電変換信号Ｈ(２)）−（光電変換信号Ｅ(２)＋光電変換信号Ｆ(２)）がゼロとなるように、受光領域Ｇ＋Ｈの面積を、例えばシミュレーション等で調整する。この結果、受光領域Ｅ＋Ｆが受光する迷光の光量（Ｘ１）と略同一の光量（Ｙ１）の迷光のみを受光可能となる受光領域Ｇ＋Ｈの面積が設定される。そして、シミュレーション等で調整する前の受光領域Ｇ＋Ｈの面積（図１５、図１７に示す受光領域Ｇ´の面積＋受光領域Ｈ´の面積）から、シミュレーション等で調整した後の受光領域Ｇ＋Ｈの面積を減じることにより、上述の面積α／２を検出することが可能となる。或いは、半導体レーザー２が出射するレーザー光の光強度分布に基づくシミュレーション等により、迷光を受光しない面積α／２を検出することも可能である。
【００３３】
そして、受光面１２は、受光領域Ｅ、受光領域Ｆにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの＋１次反射光のうち、０次の＋１次反射光の一部（０次の第１反射光の一部、０次の第４反射光の一部）と＋１次の＋１次反射光（斜線部）を受光する。また、受光面１２は、受光領域Ｇ、受光領域Ｈにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの＋１次反射光のうち、０次の＋１次反射光の他の一部（第１反射光の他の一部、第４反射光の他の一部）と−１次の＋１次反射光（斜線部）を受光する。更に、受光面１２は、受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈにおいて、前記非対象の情報記録層（Ｌ１又はＬ０）からの迷光を受光する。そして、受光面１２は、受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈにおいて受光した＋１次反射光及び迷光の光量に応じた光電変換信号Ｅ乃至光電変換信号Ｈを生成して、後段の演算処理回路４０、６０に出力する。尚、本実施形態において、０次の＋１次反射光の一部と０次の＋１次反射光の他の一部とは、図１に示すように、円形の０次の＋１次反射光を二分割した一方と他方であるものとして説明しているが、これに限るものではない。例えば、０次の＋１次反射光の一部は、０次の＋１次反射光の一部であって、０次の＋１次反射光の他の一部は、前記一部以外の０次の＋１次反射光の一部であっても良い。
【００３４】
尚、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦及び追従している場合、受光面１２は図１に示すように＋１次反射光を略同一に受光するため、受光領域Ｅにおいて受光する０次の＋１次反射光の一部と＋１次の＋１次反射光の光量と、受光領域Ｆにおいて受光する０次の＋１次反射光の一部と＋１次の＋１次反射光の光量と、受光領域Ｇにおいて受光する０次の＋１次反射光の他の一部と−１次の＋１次反射光の光量と、受光領域Ｈにおいて受光する０次の＋１次反射光の他の一部と−１次の＋１次反射光の光量とは略同一となる。
【００３５】
受光面１３は、受光面１２と相反する側に受光面１１と所定間隔をもって隣接し、全受光領域の形状が例えば凸形である。この受光面１３は、−１次反射光を受光するための受光領域Ｉ（第１受光領域、第５受光領域）、受光領域Ｊ（第１受光領域、第５受光領域）、受光領域Ｋ（第２受光領域、第６受光領域）、受光領域Ｌ（第２受光領域、第６受光領域）を有する。受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌは、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの形状を例えば長方形とし、受光領域Ｋ、受光領域Ｌの形状を例えば正方形とするために、受光面１３の全受光領域を４分割したものである。詳述すると、受光領域Ｉ、受光領域Ｊと受光領域Ｋ、受光領域Ｌとは、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦しているときの０次の−１次反射光の中心を通り、且つ、−１次回折光が集光する前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の第２隣接トラックの接線と対応する第１分割線で、受光面１３の全受光領域が分割された領域である。また、受光領域Ｉ、受光領域Ｌと受光領域Ｊ、受光領域Ｋとは、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦しているときの０次の−１次反射光の中心を通り、且つ、第１分割線と直交し光ディスク９０の径と対応する第２分割線と第３分割線とで、受光面１３の全受光領域が分割された領域である。そして、このような分割結果により、受光領域Ｋ、受光領域Ｌは、受光領域Ａ乃至受光領域Ｄの一辺の長さと等しく、且つ、図１５、図１７に示す従来の正方形の受光領域Ｋ´、受光領域Ｌ´の一辺の長さと等しい長さｙ１からなる正方形の形状となる。また、受光領域Ｉ、受光領域Ｊは、前述の光ディスク９０の径と対応する分割方向の長さが、図１５、図１７に示す従来の正方形の受光領域Ｉ´、受光領域Ｊ´の一辺の長さと等しい長さｙ１であり、前述の第２隣接トラックの接線と対応する分割方向の長さが、従来の正方形の受光領域Ｉ´、受光領域Ｊ´の一辺の長さよりも短い長さｙ２である、長方形の形状となる。
【００３６】
この受光領域Ｉ、受光領域Ｊの長さｙ２は、当該受光領域Ｉ、受光領域Ｊがその面積に応じて受光する迷光の光量を、受光領域Ｋ、受光領域Ｌがその面積に応じて受光する迷光の光量と略同一とするために、次のように定められる。以下、図３を参照しつつ、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの面積について詳述する。尚、説明の便宜上、受光領域Ｉと受光領域Ｊとの和を受光領域Ｉ＋Ｊと称し、受光領域Ｋと受光領域Ｌとの和を受光領域Ｋ＋Ｌと称する。
【００３７】
前述したように、迷光は、中心の光強度が最も強く、中心から離れるにつれて光強度が弱くなる光強度分布となる（図３（Ｚ１、Ｚ２を含む）参照）。このため、受光面１１との距離が受光領域Ｋ＋Ｌよりも短い受光領域Ｉ＋Ｊは、受光領域Ｋ＋Ｌが受光する迷光よりも光強度が強い迷光を受光することとなる。このため、仮に受光領域Ｉ＋Ｊの面積が、受光領域Ｋ＋Ｌの面積と等しい（図３、図４太字破線内に示す面積（β／２・２＝β）を受光領域Ｉ＋Ｊに加えた）場合、当該受光領域Ｉ＋Ｊが受光する迷光の光量（Ｙ２＋Ｚ２）は、受光領域Ｋ＋Ｌが受光する迷光の光量（Ｘ２）よりも光強度の差に応じて大きくなる。そこで、本実施形態においては、受光領域Ｋ＋Ｌが受光する迷光の光量（Ｘ２）と略同一の光量（Ｙ２）の迷光のみを受光領域Ｉ＋Ｊが受光するように、当該受光領域Ｉ＋Ｊの面積を受光領域Ｉ、受光領域Ｊの長さｙ２で定める。
【００３８】
この受光領域Ｉ、受光領域Ｊの長さｙ２は、
β／２＝ｙ１・（ｙ１−ｙ２）から、
ｙ２＝ｙ１−｛β／（２・ｙ１）｝
から求められる。そして、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの長さｙ２を上式から得られる値とすることにより、受光領域Ｉ＋Ｊが受光する迷光の光量（Ｘ２）と略同一の光量（Ｙ２）の迷光のみを受光する受光領域Ｉ＋Ｊの面積が設定されることとなる。尚、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの長さｙ２は、０次の−次反射光の半径以上であることが望ましい。何故ならば、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの長さｙ２が、０次の−１次反射光の半径以上であることによって、受光面１３が受光領域Ｉ、受光領域Ｊにおいて、全ての−１次反射光を受光することとなり、より正確なトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号を検出可能となるためである。また、上述の迷光を受光しない面積β／２の検出は、前述した面積α／２の検出と同様の方法で検出可能である。
【００３９】
そして、受光面１３は、受光領域Ｉ、受光領域Ｊにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの−１次反射光のうち、０次の−１次反射光の一部（０次の第１反射光の一部、０次の第７反射光の一部）と＋１次の−１次反射光（斜線部）を受光する。また、受光面１３は、受光領域Ｋ、受光領域Ｌにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの−１次反射光のうち、０次の−１次反射光の他の一部（第１反射光の他の一部、第７反射光の他の一部）と−１次の−１次反射光（斜線部）を受光する。更に、受光面１３は、受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌにおいて、前記非対象の情報記録層（Ｌ１又はＬ０）からの迷光を受光する。そして、受光面１３は、受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌにおいて受光した−１次反射光及び迷光の光量に応じた光電変換信号Ｉ乃至光電変換信号Ｌを生成して、後段の演算処理回路４０、６０に出力する。尚、本実施形態において、０次の−１次反射光の一部と０次の−１次反射光の他の一部とは、図１に示すように、円形の０次の−１次反射光を二分割した一方と他方であるものとして説明しているが、これに限るものではない。例えば、０次の−１次反射光の一部は、０次の−１次反射光の一部であって、０次の−１次反射光の他の一部は、前記一部以外の０次の−１次反射光の一部であっても良い。
【００４０】
尚、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに０次光が合焦及び追従している場合、受光面１３は図１に示すように−１次反射光を略同一に受光するため、受光領域Ｉにおいて受光する０次の−１次反射光の一部と＋１次の−１次反射光の光量と、受光領域Ｊにおいて受光する０次の−１次反射光の一部と＋１次の−１次反射光の光量と、受光領域Ｋにおいて受光する０次の−１次反射光の他の一部と−１次の−１次反射光の光量と、受光領域Ｌにおいて受光する０次の−１次反射光の他の一部と−１次の−１次反射光の光量とは略同一となる。
【００４１】
＝＝＝本発明に係る光検出装置１０の受光結果による効果＝＝＝
以下、図１を適宜参照しつつ、図５、図６を用いて、本発明に係る光検出装置１０の受光結果による効果について説明する。
【００４２】
＜＜トラッキングエラー信号の検出における光検出装置１０の効果＞＞
図５は、本発明に係る光検出装置１０の受光結果に基づいてトラッキングエラー信号を生成する演算処理回路４０の全体構成の一例を示す回路図である。  
演算処理回路４０は、加算器４１、４２、４４、４５、４７、４８、５０、減算器４３、４６、４９、５２、増幅器５１を有する。
【００４３】
加算器４１、４２、減算器４３は、トラッキングエラー信号の基となる、０次反射光の光量に応じた信号を生成するために設けられる。
【００４４】
加算器４１は、光検出装置１０の受光面１１が、受光領域Ａにおいて受光した０次の０次反射光の一部と＋１次の０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ａと、受光領域Ｂにおいて受光した０次の０次反射光の一部と＋１次の０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｂと、を加算する。
【００４５】
加算器４２は、光検出装置１０の受光面１１が、受光領域Ｃにおいて受光した０次の０次反射光の他の一部と−１次の０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｃと、受光領域Ｄにおいて受光した０次の０次反射光の他の一部と−１次の０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｄと、を加算する。
【００４６】
減算器４３は、加算器４１の加算結果（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｂ）から、加算器４２の加算結果（光電変換信号Ｃ＋光電変換信号Ｄ）を減算する。この結果、減算器４３は、トラッキングエラー信号の基となる、０次反射光の光量に応じた信号｛（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｂ）−（光電変換信号Ｃ＋光電変換信号Ｄ）｝を出力することとなる。
【００４７】
加算器４４、４５、減算器４６は、トラッキングエラー信号の基となる、迷光を相殺した＋１次反射光の光量に応じた信号を生成するために設けられる。
【００４８】
加算器４４は、光検出装置１０の受光面１２が、受光領域Ｅにおいて受光した０次の＋１次反射光の一部と＋１次の＋１次反射光、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｅと、受光領域Ｆにおいて受光した０次の＋１次反射光の一部と＋１次の＋１次反射光、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｆと、を加算する。以下、光電変換信号Ｅ、光電変換信号Ｆのうち、０次の＋１次反射光の一部と＋１次の＋１次反射光の光量に応じた成分を光電変換信号Ｅ(１)、光電変換信号Ｆ(１)として説明する。このため、加算器４４の加算結果は、光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｅ(２)＋光電変換信号Ｆ(１)＋光電変換信号Ｆ(２)となる。
【００４９】
加算器４５は、光検出装置１０の受光面１２が、受光領域Ｇにおいて受光した０次の＋１次反射光の他の一部と−１次の＋１次反射光、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｇと、受光領域Ｈにおいて受光した０次の＋１次反射光の他の一部と−１次の＋１次反射光、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｈと、を加算する。以下、光電変換信号Ｇ、光電変換信号Ｈのうち、０次の＋１次反射光の他の一部と−１次の＋１次反射光の光量に応じた成分を光電変換信号Ｇ(１)、光電変換信号Ｈ(１)として説明する。このため、加算器４５の加算結果は、光電変換信号Ｇ(１)＋光電変換信号Ｇ(２)＋光電変換信号Ｈ(１)＋光電変換信号Ｈ(２)となる。
【００５０】
減算器４６は、加算器４４の加算結果（光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｅ(２)＋光電変換信号Ｆ(１)＋光電変換信号Ｆ(２)）から、加算器４５の加算結果（光電変換信号Ｇ(１)＋光電変換信号Ｇ(２)＋光電変換信号Ｈ(１)＋光電変換信号Ｈ(２)）を減じる。ここで、受光領域Ｇ＋Ｈの面積は、受光領域Ｅ＋Ｆが受光する迷光の光量（Ｘ１）と略同一の光量（Ｙ１）の迷光のみを受光するように設定されているため、光電変換信号Ｅ(２)＋光電変換信号Ｆ(２)と光電変換信号Ｇ(２)＋光電変換信号Ｈ(２)とは、略同一の光量（Ｘ１又はＹ１）を示す信号となる。この結果、減算器４６の減算処理により、光電変換信号Ｅ(２)＋光電変換信号Ｆ(２)は、光電変換信号Ｇ(２)＋光電変換信号Ｈ(２)で相殺される。つまり、受光面１２が、受光領域Ｅ、受光領域Ｆにおいて受光した迷光は、受光領域Ｇ、受光領域Ｈにおいて受光した迷光で相殺されることとなる。そして、このことにより減算器４６の減算結果は、迷光を相殺した＋１次反射光の光量に応じた、光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｆ(１)−（光電変換信号Ｇ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）となり、受光面１２が受光領域Ｅ乃至受光領域Ｌにおいて受光する迷光の、トラッキングエラー信号に対する影響を防止又は低減することが可能となる。
【００５１】
加算器４７、４８、減算器４９は、トラッキングエラー信号の基となる、迷光を相殺した−１次反射光の光量に応じた信号を生成するために設けられる。
【００５２】
加算器４７は、光検出装置１０の受光面１３が、受光領域Ｉにおいて受光した０次の−１次反射光の一部と＋１次の−１次反射光、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｉと、受光領域Ｊにおいて受光した０次の−１次反射光の一部と＋１次の−１次反射光、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｊと、を加算する。以下、光電変換信号Ｉ、光電変換信号Ｊのうち、０次の−１次反射光の一部と＋１次の−１次反射光の光量に応じた成分を光電変換信号Ｉ(１)、光電変換信号Ｊ(１)とし、迷光の光量に応じた成分を光電変換信号Ｉ(２)、光電変換信号Ｊ(２)として説明する。
【００５３】
加算器４８は、光検出装置１０の受光面１３が、受光領域Ｋにおいて受光した０次の−１次反射光の他の一部と−１次の−１次反射光、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｋと、受光領域Ｌにおいて受光した０次の−１次反射光の他の一部と−１次の−１次反射光、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｌと、を加算する。以下、光電変換信号Ｋ、光電変換信号Ｌのうち、０次の−１次反射光の他の一部と−１次の−１次反射光の光量に応じた成分を光電変換信号Ｋ(１)、光電変換信号Ｌ(１)とし、迷光の光量に応じた成分を光電変換信号Ｋ(２)、光電変換信号Ｌ(２)として説明する。
【００５４】
減算器４９は、加算器４７の加算結果（光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｉ(２)＋光電変換信号Ｊ(１)＋光電変換信号Ｊ(２)）から、加算器４８の加算結果（光電変換信号Ｋ(１)＋光電変換信号Ｋ(２)＋光電変換信号Ｌ(１)＋光電変換信号Ｌ(２)）を減じる。ここで、受光領域Ｉ＋Ｊの面積は、受光領域Ｋ＋Ｌが受光する迷光の光量（Ｘ２）と略同一の光量（Ｙ２）の迷光のみを受光するように設定されているため、光電変換信号Ｉ(２)＋光電変換信号Ｊ(２)と光電変換信号Ｋ(２)＋光電変換信号Ｌ(２)とは、略同一の光量（Ｘ２又はＹ２）を示す信号となる。この結果、減算器４９の減算処理により、光電変換信号Ｉ(２)＋光電変換信号Ｊ(２)は、光電変換信号Ｋ(２)＋光電変換信号Ｌ(２)で相殺される。つまり、受光面１３が、受光領域Ｉ、受光領域Ｊにおいて受光した迷光は、受光領域Ｋ、受光領域Ｌにおいて受光した迷光で相殺されることとなる。そして、このことにより、減算器４９の減算結果は、迷光を相殺した−１次反射光の光量に応じた、光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｊ(１)−（光電変換信号Ｋ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）となり、受光面１３が受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌにおいて受光する迷光の、トラッキングエラー信号に対する影響を防止又は低減することが可能となる。
【００５５】
加算器５０は、減算器４６の減算結果｛光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｆ(１)−（光電変換信号Ｇ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）｝と、減算器４９の減算結果｛光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｊ(１)−（光電変換信号Ｋ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）｝とを加算する。
【００５６】
増幅器５１は、加算器５０の加算結果{（光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｆ(１)）−（光電変換信号Ｇ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）＋（光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｊ(１)）−（光電変換信号Ｋ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）}を、増幅率Ｋで増幅する。この増幅率Ｋは、回折格子３の回折効率による０次光と±１次回折光の光強度の相違を調整するべく定まる値である。
【００５７】
減算器５２は、減算器４３の減算結果{（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｂ）−（光電変換信号Ｃ＋光電変換信号Ｄ）}から、増幅器５１の増幅結果［Ｋ・{（光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｆ(１)）−（光電変換信号Ｇ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）＋（光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｊ(１)）−（光電変換信号Ｋ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）}］を減算することにより、トラッキングエラー信号を生成する。そして、このトラッキングエラー信号は、{（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｂ）−（光電変換信号Ｃ＋光電変換信号Ｄ）}−Ｋ・{（光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｆ(１)）−（光電変換信号Ｇ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）＋（光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｊ(１)）−（光電変換信号Ｋ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）}となり、受光面１２が受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈで受光した迷光、及び受光面１３が受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌで受光した迷光の何れもが相殺された信号となる。つまり、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに対する、０次光の位置ずれに正確に対応したトラッキングエラー信号が生成されることとなる。
【００５８】
＜＜フォーカスエラー信号の検出における光検出装置１０の効果＞＞
図６は、本発明に係る光検出装置１０の受光結果に基づいてフォーカスエラー信号を生成する演算処理回路６０の全体構成の一例を示す回路図である。  
演算処理回路６０は、加算器６１、６２、６４、６５、６７、６８、７０、７２、減算器６３、６６、６９、増幅器７１を有する。
【００５９】
加算器６１、６２、減算器６３は、フォーカスエラー信号の基となる、０次反射光の光量に応じた信号を生成するために設けられる。
【００６０】
加算器６１は、光検出装置１０の受光面１１が、受光領域Ａにおいて受光した０次の０次反射光の一部と＋１次の０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ａと、受光領域Ｃにおいて受光した０次の０次反射光の他の一部と−１次の０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｃと、を加算する。
【００６１】
加算器６２は、光検出装置１０の受光面１１が、受光領域Ｂにおいて受光した０次の０次反射光の一部と＋１次の０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｂと、受光領域Ｄにおいて受光した０次の０次反射光の他の一部と−１次の０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｄと、を加算する。
【００６２】
減算器６３は、加算器６１の加算結果（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｃ）から、加算器６２の加算結果（光電変換信号Ｂ＋光電変換信号Ｄ）を減算する。この結果、減算器６３は、フォーカスエラー信号の基となる、０次反射光の光量に応じた信号｛（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｃ）−（光電変換信号Ｂ＋光電変換信号Ｄ）｝を出力することとなる。
【００６３】
加算器６４、６５、減算器６６は、フォーカスエラー信号の基となる、迷光を相殺した＋１次反射光の光量に応じた信号を生成するために設けられる。
【００６４】
加算器６４は、光検出装置１０の受光面１２が、受光領域Ｅにおいて受光した０次の＋１次反射光の一部と＋１次の＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｅ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｅ(２)と、受光領域Ｇにおいて受光した０次の＋１次反射光の他の一部と−１次の＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｇ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｇ(２)と、を加算する。
【００６５】
加算器６５は、光検出装置１０の受光面１２が、受光領域Ｆにおいて受光した０次の＋１次反射光の一部と＋１次の＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｆ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｆ(２)と、受光領域Ｈにおいて受光した０次の＋１次反射光の他の一部と−１次の＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｈ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｈ(２)と、を加算する。
【００６６】
減算器６６は、加算器６４の加算結果（光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｅ(２)＋光電変換信号Ｇ(１)＋光電変換信号Ｇ(２)）から、加算器６５の加算結果（光電変換信号Ｆ(１)＋光電変換信号Ｆ(２)＋光電変換信号Ｈ(１)＋光電変換信号Ｈ(２)）を減じる。ここで、受光領域Ｇ＋Ｈの面積は、受光領域Ｅ＋Ｆが受光する迷光の光量（Ｘ１）と略同一の光量（Ｙ１）となる迷光のみを受光するように設定され、更に、受光領域Ｅと受光領域Ｆとは同一面積であり、受光領域Ｇと受光領域Ｈとは同一面積であるため、光電変換信号Ｅ(２)＋光電変換信号Ｇ(２)と光電変換信号Ｆ(２)＋光電変換信号Ｈ(２)とは、略同一の光量（Ｘ１又はＹ１）を示す信号となる。この結果、減算器６６の減算処理により、光電変換信号Ｅ(２)＋光電変換信号Ｇ(２)は、光電変換信号Ｆ(２)＋光電変換信号Ｈ(２)で相殺される。つまり、受光面１２が、受光領域Ｅ、受光領域Ｇにおいて受光した迷光は、受光領域Ｆ、受光領域Ｈにおいて受光した迷光で相殺されることとなる。そして、このことにより減算器６６の減算結果は、迷光を相殺した＋１次反射光の光量に応じた、光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｇ(１)−（光電変換信号Ｆ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）となり、受光面１２が受光領域Ｅ乃至受光領域Ｌにおいて受光する迷光の、フォーカスエラー信号に対する影響を防止又は低減することが可能となる。
【００６７】
加算器６７、６８、減算器６９は、フォーカスエラー信号の基となる、迷光を相殺した−１次反射光の光量に応じた信号を生成するために設けられる。
【００６８】
加算器６７は、光検出装置１０の受光面１３が、受光領域Ｉにおいて受光した０次の−１次反射光の一部と＋１次の−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｉ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｉ(２)と、受光領域Ｋにおいて受光した０次の−１次反射光の他の一部と−１次の−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｋ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｋ(２)と、を加算する。
【００６９】
加算器６８は、光検出装置１０の受光面１３が、受光領域Ｊにおいて受光した０次の−１次反射光の一部と＋１次の−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｊ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｊ(２)と、受光領域Ｌにおいて受光した０次の−１次反射光の他の一部と−１次の−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｌ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｌ(２)と、を加算する。
【００７０】
減算器６９は、加算器６７の加算結果（光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｉ(２)＋光電変換信号Ｋ(１)＋光電変換信号Ｋ(２)）から、加算器６８の加算結果（光電変換信号Ｊ(１)＋光電変換信号Ｊ(２)＋光電変換信号Ｌ(１)＋光電変換信号Ｌ(２)）を減じる。ここで、受光領域Ｉ＋Ｊの面積は、受光領域Ｋ＋Ｌが受光する迷光の光量（Ｘ２）と略同一の光量（Ｙ２）となる迷光のみを受光するように設定され、更に、受光領域Ｉと受光領域Ｊとは同一面積であり、受光領域Ｋと受光領域Ｌとは同一面積であるため、光電変換信号Ｉ(２)＋光電変換信号Ｋ(２)と光電変換信号Ｊ(２)＋光電変換信号Ｌ(２)とは、略同一の光量（Ｘ２又はＹ２）を示す信号となる。この結果、減算器６９の減算処理により、光電変換信号Ｉ(２)＋光電変換信号Ｋ(２)は、光電変換信号Ｊ(２)＋光電変換信号Ｌ(２)で相殺される。つまり、受光面１３が、受光領域Ｉ、受光領域Ｋにおいて受光した迷光は、受光領域Ｊ、受光領域Ｌにおいて受光した迷光で相殺されることとなる。そして、このことにより減算器６９の減算結果は、迷光を相殺した−１次反射光の光量に応じた、光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｋ(１)−（光電変換信号Ｊ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）となり、受光面１３が受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌにおいて受光する迷光の、フォーカスエラー信号に対する影響を防止又は低減することが可能となる。
【００７１】
加算器７０は、減算器６６の減算結果｛光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｇ(１)−（光電変換信号Ｆ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）｝と、減算器６９の減算結果｛光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｋ(１)−（光電変換信号Ｊ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）｝と、を加算する。
【００７２】
増幅器７１は、加算器７０の加算結果｛（光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｇ(１)）−（光電変換信号Ｆ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）＋（光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｋ(１)）−（光電変換信号Ｊ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）｝を、増幅率Ｋで増幅する。この増幅率Ｋは、前述の演算処理回路４０の増幅器５１の増幅率Ｋと略同一である。
【００７３】
加算器７２は、減算器６３の減算結果｛（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｃ）−（光電変換信号Ｂ＋光電変換信号Ｄ）｝と、増幅器７１の増幅結果[Ｋ・｛（光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｇ(１)）−（光電変換信号Ｆ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）＋（光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｋ(１)）−（光電変換信号Ｊ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）｝]とを加算することにより、フォーカスエラー信号を生成する。そして、このフォーカスエラー信号は、｛（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｃ）−（光電変換信号Ｂ＋光電変換信号Ｄ）｝＋Ｋ・｛（光電変換信号Ｅ(１)＋光電変換信号Ｇ(１)）−（光電変換信号Ｆ(１)＋光電変換信号Ｈ(１)）＋（光電変換信号Ｉ(１)＋光電変換信号Ｋ(１)）−（光電変換信号Ｊ(１)＋光電変換信号Ｌ(１)）｝となり、受光面１２が受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈで受光した迷光、及び受光面１３が受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌで受光した迷光の何れもが相殺された信号となる。つまり、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）に対する、０次光の焦点ずれに正確に対応したフォーカスエラー信号が生成されることとなる。この結果、このフォーカスエラー信号に基づくフォーカス制御と前述のトラッキングエラー信号に基づくトラッキング制御を行うことにより、光ディスク９０の一の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）に０次光を正確に合焦及び追従させることが可能となり、光ディスク９０からの良好な情報の再生又は記録を行うことが可能なる。
【００７４】
上述した実施形態によれば、受光領域Ｅ＋Ｆ（Ｋ＋Ｌ）と受光領域Ｇ＋Ｈ（Ｉ＋Ｊ）の面積を、光ディスク９０の他の情報記録層からの迷光の光量を略同一とする面積ことにより、当該受光領域Ｅ＋Ｆ（Ｋ＋Ｌ）が受光する迷光と、当該受光領域Ｇ＋Ｈ（Ｉ＋Ｊ）が受光する迷光とを、互いに相殺させることが可能となる。この結果、良子なトラッキングエラー信号及び／又はフォーカスエラー信号を検出することが可能となり、光ディスク９０の一の情報記録層に対して、０次光を正確に集光することが可能となる。このため、光ディスク９０の一の情報記録層からの良好な情報の再生又は記録を行うことが可能となる。また、迷光を受光するための受光面を別途設ける必要が無いため、光検出装置１０の小型化、コストダウン等を図ることが可能となる。
【００７５】
更に、受光面１１との距離が短い受光領域Ｈ＋Ｇ（Ｉ＋Ｊ）の面積を、受光領域Ｈ＋Ｇ（Ｉ＋Ｊ）が受光する迷光の光強度よりも弱い光強度の迷光を受光する受光領域Ｅ＋Ｆ（Ｋ＋Ｌ）よりも小さく設定することにより、より確実に当該受光領域Ｅ＋Ｆ（Ｋ＋Ｌ）が受光する迷光と、当該受光領域Ｇ＋Ｈ（Ｉ＋Ｊ）が受光する迷光とを、互いに相殺させることが可能となる。また、受光領域Ｇ＋Ｈ（Ｉ＋Ｊ）の面積を、従来の受光領域Ｇ＋Ｈ（Ｉ＋Ｊ）の面積（受光領域Ｇ＋Ｈ（Ｉ＋Ｊ）の面積にα（β）を加えた面積）から面積α（β）を減じることにより設定することから、光検出装置１０の小型化等を図ることが可能となる。
【００７６】
更に、受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈ、受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌを、受光面１２、受光面１３の全受光領域を前述の第１分割線乃至第３分割線で分割することにより形成することから、差動非点収差法に基づくフォーカス制御を行うことが可能となる。
【００７７】
更に、レーザー光を基に発生する＋１次の回折光と−１次の回折光とに応じた受光面１２、受光面１３及び受光領域Ｅ乃至受光領域Ｌを設けることにより、受光領域Ｅ＋Ｆが受光する迷光と受光領域Ｇ＋Ｈが迷光とを互いに相殺させることが可能となり、また、受光領域Ｉ＋Ｊが受光する迷光と受光領域Ｋ＋Ｌが受光する迷光とを互いに相殺させることが可能となる。この結果、＋１次反射光と−１次反射光とにより適したトラッキングエラー信号の検出又は／及びフォーカスエラー信号の検出をすることが可能となり、光ディスク９０の一の情報記録層に対して、０次光を正確に集光することが可能となる。
【００７８】
また、受光領域Ｅ＋Ｆ（Ｋ＋Ｌ）と受光領域Ｇ＋Ｈ（Ｉ＋Ｊ）の面積を、光ディスク９０の他の情報記録層からの迷光の光量を略同一とする面積ことにより、当該受光領域Ｅ＋Ｆ（Ｋ＋Ｌ）が受光する迷光と、当該受光領域Ｇ＋Ｈ（Ｉ＋Ｊ）が受光する迷光とを、互いに相殺させることが可能な光ピックアップ装置１を提供することができる。この結果、良子なトラッキングエラー信号及び／又はフォーカスエラー信号を検出することが可能となり、光ディスク９０の一の情報記録層に対して、０次光を正確に集光することが可能となる。このため、光ディスク９０の一の情報記録層からの良好な情報の再生又は記録を行うことが可能となる。また、迷光を受光するための受光面を別途設ける必要が無いため、光ピックアップ装置１が具備する光検出装置１０の小型化、コストダウン等を図ることが可能となる。
【００７９】
以上、本発明に係る光検出装置、光ピックアップ装置について説明したが、上記の説明は、本発明の理解を容易とするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得る。
【００８０】
＜＜その他の実施形態（その１）＞＞
＝＝＝本発明に係る光検出装置１０のその他の形態＝＝＝
以下、図４、図１５、図１７を適宜参照しつつ、図７、図８を用いて、本発明に係る光検出装置１０のその他の形態について説明する。図７は、本発明に係る光検出装置１０が有する受光面１１、受光面１４、受光面１５を示す図である。図８は、本発明に係る光検出装置１０の受光面１１、受光面１４、受光面１５が受光する、迷光の光強度分布を示す図である。尚、図７、図８に示す受光面１１、受光面１４、受光面１５において、図１と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。また、図７、図８に示す各受光面を有する光検出装置１０を具備する光ピックアップ装置１は（図２参照）、例えば差動プッシュプル法に基づくトラッキング制御及び非点収差法に基づくフォーカス制御を行うものとして、以下説明する。
【００８１】
受光面１４は、受光面１１と所定間隔をもって隣接し、全受光領域の形状が例えば正方形である。この受光面１４は、＋１次反射光を受光するための受光領域Ｅ（第１受光領域、第３受光領域）、受光領域Ｆ（第２受光領域、第４受光領域）を有する。受光領域Ｅ、受光領域Ｆは、それぞれの形状を例えば長方形とするために、受光面１４の全受光領域を２分割したものである。詳述すると、受光領域Ｅと受光領域Ｆとは、＋１次回折光が集光する前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の第１隣接トラックの接線と対応する線分と平行な第１分割線で、受光面１４の全受光領域が分割され領域である。そして、この分割結果によって、受光領域Ｅは、前述の第１隣接トラックの接線と対応する分割方向の長さが、受光領域Ａ＋受光領域Ｂ（受光領域Ｃ＋受光領域Ｄ）の長手の長さと等しく、且つ、図１５、図１７に示す従来の長方形の受光領域Ｅ´＋Ｆ´の長手の長さと等しい長さｘ３であり、光ディスク９０の径と対応する方向の長さが、従来の長方形の受光領域Ｅ´＋Ｆ´の短手の長さより長い長さｘ４である、長方形の形状となる。また、受光領域Ｆは、前述の第１隣接トラックの接線と対応する分割方向の長さが、受光領域Ａ＋受光領域Ｂ（受光領域Ｃ＋受光領域Ｄ）の長手の長さと等しく、且つ、図１５、図１７に示す従来の長方形の受光領域Ｇ´＋Ｈ´の長手の長さと等しい長さｘ３であり、前述の光ディスク９０の径と対応する方向の長さが、従来の長方形の受光領域Ｇ´＋Ｈ´の短手の長さより短い長さｘ５である、長方形の形状となる。この受光領域Ｅの長さｘ４と受光領域Ｆの長さｘ５とは、受光領域Ｅがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするために、次のように定められる。
【００８２】
半導体レーザー２が出射するレーザー光は、前述したようにガウシアン分布を示す光強度となるため、迷光もまた、図８に示すように、中心の光強度が最も強く、中心から離れるにつれて光強度が弱くなる光強度分布となる。このため、受光面１１との距離が受光領域Ｅよりも短い受光領域Ｆは、受光領域Ｅが受光する迷光よりも光強度が強い迷光を受光することとなる。このため、仮に受光領域Ｅの面積と受光領域Ｆの面積とが等しい場合（受光面１４の全受光領域が図７、図８に示す破線で分割される場合）、当該受光領域Ｆが受光する迷光の光量（Ｙ３＋Ｚ３）は、当該受光領域Ｅが受光する迷光の光量（Ｘ３）よりも光強度の差に応じて大きくなる。そこで、本実施形態においては、受光領域Ｅ、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量を略同一とするために、受光領域Ｅの面積を長さｘ４で定め、受光領域Ｆの面積を長さｘ５で定める。尚、受光領域Ｅがその面積に応じて受光する迷光の光量がＸ３＋Ｚ３となり、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量がＹ３となるとき、各迷光の光量は略同一であるものとして説明する。そして、受光領域Ｅの面積と受光領域Ｆの面積とが等しい場合の当該受光領域Ｅの面積に、受光領域Ｅが受光する迷光の光量をＸ３＋Ｚ３とするべく加える面積をγとする。逆に言えば、受光領域Ｅの面積と受光領域Ｆの面積とが等しい場合の当該受光領域Ｆの面積から、受光領域Ｆが受光する迷光の光量をＹ３とするべく減じる面積をγとする。
【００８３】
そして、この受光領域Ｅの長さｘ４は、
ｘ４＝γ／ｘ３＋ｘ３／２
＝（２・γ＋ｘ３２）／２・ｘ３
から求められる。
【００８４】
さらに、受光領域Ｆの長さｘ５は、
ｘ５＝ｘ３−ｘ４
＝（ｘ３２−２・γ）／２・ｘ３
から求められる。そして、受光領域Ｅの長さｘ４を上式から求められる値とし、受光領域Ｆの長さｘ５を上式から求められる値とすることにより、受光領域Ｅが受光する迷光の光量をＸ３＋Ｚ３とし、受光領域Ｆが受光する迷光の光量をＹ３とする、受光領域Ｅの面積と受光領域Ｆの面積とが設定されることとなる。尚、受光領域Ｅの長さｘ４と受光領域Ｆの長さｘ５とは、当該ｘ４とｘ５によって定まる受光領域Ｅと受光領域Ｆとの分割線を、＋１次の＋１次反射光と−１次の＋１次反射光との間とすることが望ましい。何故ならば、ｘ４とｘ５とによって定まる受光領域Ｅと受光領域Ｆとの分割線を、＋１次の＋１次反射光と−１次の＋１次反射光との間とすることにより、受光領域Ｅにおいて全ての＋１次の＋１次反射光を受光し、受光領域Ｆにおいて全ての−１次の＋１次反射光を受光することとなり、より正確なトラッキングエラー信号を検出可能となるためである。
【００８５】
尚、上述の受光領域Ｅに加える面積γ（逆に、受光領域Ｆから減じる面積γ）の検出は、例えば、以下の方法を用いることで検出可能となる。図４に示すように、回折格子３を所定方向（例えば、図２紙面手前から奥方向）へ回転すると、受光面１４は、受光領域Ｅ、受光領域Ｆ（尚、図４における受光領域Ｅ＋Ｆは本実施形態における受光領域Ｅを示し、受光領域Ｇ＋Ｈは本実施形態における受光領域Ｆを示すものである）において、迷光のみを受光することとなる。したがって、このとき受光面１４が生成する光電変換信号Ｅ、光電変換信号Ｆは、迷光成分のみの信号となる。そこで、光電変換信号Ｆ−光電変換信号Ｅがゼロとなるように、面積γを、例えばシミュレーション等で調整する。この結果、受光領域Ｅがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量と、を略同一とする面積γを検出することが可能となる。或いは、半導体レーザー２が出射するレーザー光の光強度分布に基づくシミュレーション等により、面積γを検出することも可能である。
【００８６】
そして、受光面１４は、受光領域Ｅにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの＋１次反射光のうち、０次の＋１次反射光の一部と＋１次の＋１次反射光（斜線部）を受光する。また、受光面１４は、受光領域Ｆにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの＋１次反射光のうち、０次の＋１次反射光の他の一部と−１次の＋１次反射光（斜線部）を受光する。更に、受光面１４は、受光領域Ｅ、受光領域Ｆにおいて、前記非対象の情報記録層（Ｌ１又はＬ０）からの迷光を受光する。そして、受光面１４は、受光領域Ｅ、受光領域Ｆにおいて受光した＋１次反射光及び迷光の光量に応じた光電変換信号Ｅ、光電変換信号Ｆを生成して、後段のトラッキングエラー信号を生成する演算処理回路２０（後述の図９参照）に出力する。
【００８７】
受光面１５は、受光面１４と相反す側に受光面１１と所定間隔をもって隣接し、全受光領域の形状が例えば正方形である。この受光面１５は、−１次反射光を受光するための受光領域Ｇ（第１受光領域、第５受光領域）、受光領域Ｈ（第２受光領域、第６受光領域）を有する。受光領域Ｇ、受光領域Ｈは、それぞれの形状を例えば長方形とするために、受光面１５の全受光領域を２分割したものである。詳述すると、受光領域Ｇと受光領域Ｈとは、−１次回折光が集光する前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の第２隣接トラックの接線と対応する線分と平行な第１分割線で、受光面１５の全受光領域が分割された領域である。そして、この分割結果によって、受光領域Ｇは、前述の第２隣接トラックの接線と対応する分割方向の長さが、受光領域Ａ＋受光領域Ｂ（受光領域Ｃ＋受光領域Ｄ）の長手の長さと等しく、且つ、図１５、図１７に示す従来の長方形の受光領域Ｉ´＋Ｊ´の長手の長さと等しい長さｙ３であり、光ディスク９０の径と対応する方向の長さが、従来の長方形の受光領域Ｉ´＋Ｊ´の短手の長さより短い長さｙ４である、長方形の形状となる。また、受光領域Ｈは、前述の第２隣接トラックの接線と対応する分割方向の長さが、受光領域Ａ＋受光領域Ｂ（受光領域Ｃ＋受光領域Ｄ）の長手の長さと等しく、且つ、図１５、図１７に示す従来の長方形の受光領域Ｋ´＋Ｌ´の長手の長さと等しい長さｙ３であり、前述の光ディスク９０の径と対応する方向の長さが、従来の長方形の受光領域Ｋ´＋Ｌ´の短手の長さより長い長さｙ５である、長方形の形状となる。この受光領域Ｇの長さｙ４と受光領域Ｈの長さｙ５とは、受光領域Ｇがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｈがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするために、次のように定められる。
【００８８】
前述したように、迷光は、中心の光強度が最も強く、中心から離れるにつれて光強度が弱くなる光強度分布となる（図８参照）。このため、受光面１１との距離が受光領域Ｈよりも短い受光領域Ｇは、受光領域Ｈが受光する迷光よりも光強度が強い迷光を受光することとなる。このため、仮に受光領域Ｇの面積と受光領域Ｈの面積とが等しい場合（受光面１５の全受光領域が図７、図８に示す破線で分割される場合）、当該受光領域Ｇが受光する迷光の光量（Ｙ４＋Ｚ４）は、当該受光領域Ｈが受光する迷光の光量（Ｘ４）よりも光強度の差に応じて大きくなる。そこで、本実施形態においては、受光領域Ｇ、受光領域Ｈがその面積に応じて受光する迷光の光量を略同一とするために、受光領域Ｇの面積を長さｙ４で定め、受光領域Ｈの面積を長さｙ５で定める。尚、受光領域Ｈが受光する迷光の光量がＸ４＋Ｚ４となり、受光領域Ｇが受光する迷光の光量がＹ４となるとき、各迷光の光量は略同一であるものとして説明する。そして、受光領域Ｇの面積と受光領域Ｈの面積とが等しい場合の当該受光領域Ｈの面積に、受光領域Ｈが受光する迷光の光量をＸ４＋Ｚ４とするべく加える面積をγ´とする。逆に言えば、受光領域Ｇの面積と受光領域Ｈの面積とが等しい場合の当該受光領域Ｇの面積から、受光領域Ｇが受光する迷光の光量をＹ４とするべく減じる面積をγ´とする。
【００８９】
そして、この受光領域Ｈの長さｙ５は、
ｙ５＝γ´／ｙ３＋ｙ３／２
＝（２・γ´＋ｙ３２）／２・ｙ３
から求められる。
【００９０】
さらに、受光領域Ｇの長さｙ４は、
ｙ４＝ｙ３−ｙ５
＝（ｙ３２−２・γ´）／２・ｙ３
から求められる。そして、受光領域Ｈの長さｙ５を上式から求められる値とすることにより、受光領域Ｇが受光する迷光の光量をＹ４とし、受光領域Ｈが受光する迷光の光量をＸ４＋Ｚ４とする、受光領域Ｇの面積と受光領域Ｈの面積とが設定されることとなる。尚、受光領域Ｇの長さｙ４と受光領域Ｈの長さｙ５とは、当該ｙ４とｙ５とによって定まる受光領域Ｇと受光領域Ｈとの分割線を、＋１次の−１次反射光と−１次の−１次反射光との間とすることが望ましい。何故ならば、ｙ４とｙ５によって定まる受光領域Ｇと受光領域Ｈとの分割線を、＋１次の−１次反射光と−１次の−１次反射光との間とすることにより、受光領域Ｇにおいて全ての＋１次の−１次反射光を受光し、受光領域Ｈにおいて全ての−１次の−１次反射光を受光することとなり、より正確なトラッキングエラー信号を検出可能となるためである。また、上述の面積γ´の検出は、上述した面積γの検出と同様の方法で検出可能である。
【００９１】
そして、受光面１５は、受光領域Ｇにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの−１次反射光のうち、０次の−１次反射光の一部と＋１次の−１次反射光（斜線部）を受光する。また、受光面１５は、受光領域Ｈにおいて、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）からの−１次反射光のうち、０次の−１次反射光の他の一部と−１次の−１次反射光（斜線部）を受光する。更に、受光面１５は、受光領域Ｇ、受光領域Ｈにおいて、前記非対象の情報記録層（Ｌ１又はＬ０）からの迷光を受光する。そして、受光面１５は、受光領域Ｇ、受光領域Ｈにおいて受光した−１次反射光及び迷光の光量に応じた光電変換信号Ｇ、光電変換信号Ｈを生成して、後段の演算処理回路２０に出力する。
【００９２】
＝＝＝本形態に係る光検出装置１０の受光結果による効果＝＝＝
以下、図７を適宜参照しつつ、図９を用いて、本発明に係る光検出装置１０の受光結果による効果について説明する。図９は、本発明に係る光検出装置１０の受光結果に基づいてトラッキングエラー信号を生成する演算処理回路２０の全体構成の一例を示す回路図である。尚、図９に示す演算処理回路２０において、図５に示す演算処理回路４０と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
【００９３】
演算処理回路２０は、減算器２１、２２、４３、５２、加算器４１、４２、５０、増幅器５１を有する。
【００９４】
減算器２１は、トラッキングエラー信号の基となる、迷光を相殺した＋１次反射光の光量に応じた信号を生成するために設けられる。減算器２１は、光検出装置１０の受光面１４が、受光領域Ｅにおいて受光した０次の＋１次反射光の一部と＋１次の＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｅ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｅ(２)とから、受光領域Ｆにおいて受光した０次の＋１次反射光の他の一部と−１次の＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｆ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｆ(２)とを減じる。ここで、受光領域Ｅの面積と受光領域Ｆの面積とは、受光領域Ｅがその面積に応じて受光する迷光の光量（Ｘ３＋Ｚ３）と、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量（Ｙ３）とが略同一となるように設定されているため、光電変換信号Ｅ(２)と光電変換信号Ｆ(２)とは、略同一の光量（Ｘ３＋Ｚ３又はＹ３）を示す信号となる。この結果、減算器２１の減算処理により、光電変換信号Ｅ(２)と光電変換信号Ｆ(２)とは、互いに相殺される。つまり、受光面１４が、受光領域Ｅにおいて受光した迷光と、受光領域Ｆにおいて受光した迷光とは、互いに相殺されることとなる。そして、このことにより減算器２１の減算結果は、迷光を相殺した＋１次反射光の光量に応じた、光電変換信号Ｅ(１)−光電変換信号Ｆ(１)となり、受光面１４が受光領域Ｅ、受光領域Ｆにおいて受光する迷光の、トラッキングエラー信号に対する影響を防止又は低減することが可能となる。
【００９５】
減算器２２は、トラッキングエラー信号の基となる、迷光を相殺した−１次反射光の光量に応じた信号を生成するために設けられる。減算器２２は、光検出装置１０の受光面１５が、受光領域Ｇにおいて受光した０次の−１次反射光の一部と＋１次の−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｇ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｇ(２)とから、受光領域Ｈにおいて受光した０次の−１次反射光の他の一部と−１次の−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｈ(１)と、迷光の光量に応じた光電変換信号Ｈ(２)とを減じる。ここで、受光領域Ｇの面積と受光領域Ｈの面積とは、受光領域Ｇがその面積に応じて受光する迷光の光量（Ｙ４）と、受光領域Ｈがその面積に応じて受光する迷光の光量（Ｘ４＋Ｚ４）とが略同一となるように設定されているため、光電変換信号Ｇ(２)と光電変換信号Ｈ(２)とは、略同一の光量（Ｙ４又はＸ４＋Ｚ４）を示す信号となる。この結果、減算器２２の減算処理により、光電変換信号Ｇ(２)と光電変換信号Ｈ(２)とは、互いに相殺される。つまり、受光面１５が、受光領域Ｇにおいて受光した迷光と、受光領域Ｈにおいて受光した迷光とは、互いに相殺されることとなる。そして、このことにより減算器２２の減算結果は、迷光を相殺した−１次反射光の光量に応じた、光電変換信号Ｇ(１)−光電変換信号Ｈ(１)となり、受光面１５が受光領域Ｇ、受光領域Ｈにおいて受光する迷光の、トラッキングエラー信号に対する影響を防止又は軽減することが可能となる。
【００９６】
そして、減算器５２の減算結果であるトラッキングエラー信号は、{（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｂ）−（光電変換信号Ｃ＋光電変換信号Ｄ）}−Ｋ・{（光電変換信号Ｅ(１)−光電変換信号Ｆ(１)）＋（光電変換信号Ｇ(１)−光電変換信号Ｈ(１)）}となり、受光面１４が受光領域Ｅ、受光領域Ｆで受光した迷光、及び受光面１５が受光領域Ｇ、受光領域Ｈで受光した迷光の何れもが互いに相殺された信号となる。つまり、前記対象の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）の目標トラックに対する、０次光の位置ずれに正確に対応したトラッキングエラー信号が生成されることとなる。そして、このトラッキングエラー信号に基づくトラッキング制御と、フォーカスエラー信号{（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｃ）−（光電変換信号Ｂ＋光電変換信号Ｄ）}に基づくフォーカス制御を行うことにより、光ディスク９０の一の情報記録層（Ｌ０又はＬ１）に０次光を正確に合焦及び追従させることが可能となり、光ディスク９０からの良好な情報の再生又は記録を行うことが可能なる。つまり、上述の実施形態と同一の効果を奏することが可能となる。
【００９７】
＜＜その他の実施形態（その２）＞＞
図１を示して説明した上述の実施形態によれば、受光領域Ｇ、受光領域Ｈがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｅ、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするために、受光領域Ｇ、受光領域Ｈの面積を設定しているがこれに限るものではない。同様に、受光領域Ｉ、受光領域Ｊがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｋ、受光領域Ｌがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするために、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの面積を設定しているがこれに限るものではない。
【００９８】
例えば、図１０に示すように、受光面１１からの距離が受光領域Ｇ、受光領域Ｈよりも長い受光領域Ｅ、受光領域Ｆの面積を、受光領域Ｇ＋Ｈが受光する迷光の光量と略同一とするように設定しても良い。図１０に示す受光領域Ｅ、受光領域Ｆの面積は、受光領域Ｅ＋Ｆが受光する迷光の光量を、受光領域Ｇ＋Ｈが受光する迷光の光量（Ｙ１＋Ｚ１）と略同一とするために、第１隣接トラックの接線と対応する分割方向の受光領域Ｅ、受光領域Ｆの長さを定めることにより設定されるものである。同様に、受光面１１からの距離が受光領域Ｉ、受光領域Ｊよりも長い受光領域Ｋ、受光領域Ｌの面積を、受光領域Ｉ＋Ｊが受光する迷光の光量と略同一となるように設定しても良い。図１０に示す受光領域Ｋ、受光領域Ｌの面積は、受光領域Ｋ＋Ｌが受光する迷光の光量を、受光領域Ｉ＋Ｊが受光する迷光の光量（Ｙ２＋Ｚ２）と略同一とするために、第２隣接トラックの接線と対応する分割方向の受光領域Ｋ、受光領域Ｌの長さを定めることにより設定されるものである。尚、受光領域Ｅ、受光領域Ｆ、受光領域Ｋ、受光領域Ｌの第１及び第２隣接トラックの接線と対応する分割方向のそれぞれの長さは、上述の実施形態と同様の方法により定めることが可能である。
【００９９】
このように、受光領域Ｅ、受光領域Ｆ、受光領域Ｋ、受光領域Ｌの面積を設定することにより、検出レンズ９において非点収差が付与された０次の±１次反射光を、受光面１２、受光面１３において全て受光することが可能となり、より正確な差動非点収差法に基づくフォーカスエラー信号を検出することが可能となる。
【０１００】
また、上述の図１０及び図１の実施形態によれば、受光領域Ｅ、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｇ、受光領域Ｈがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするために、受光領域Ｅ、受光領域Ｆの面積と受光領域Ｇ、受光領域Ｈの面積との何れかを設定しているがこれに限るものではない。同様に、受光領域Ｉ、受光領域Ｊがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｋ、受光領域Ｌがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするために、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの面積と受光領域Ｋ、受光領域Ｌの面積との何れかを設定しているがこれに限るものではない。
【０１０１】
例えば、図１１に示すように、受光領域Ｅ、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｇ、受光領域Ｈがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするために、第１隣接トラックの接線と対応する分割方向における受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈのそれぞれの長さを定めることにより、受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈの面積を設定しても良い。同様に、図１１に示すように、受光領域Ｉ、受光領域Ｊがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｋ、受光領域Ｌがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするために、第２隣接トラックの接線と対応する分割方向における受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌのそれぞれの長さを定めることにより、受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌの面積を設定して良い。尚、受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈ、受光領域Ｉ乃至受光領域Ｌの第１及び第２隣接トラックの接線と対応する分割方向のそれぞれの長さは、上述の実施形態と同様の方法により定めることが可能である。
【０１０２】
また、上述の図１に示す実施形態によれば、受光領域Ｅ、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｇ、受光領域Ｈがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするように受光領域Ｇ、受光領域Ｈの面積を設定するために、受光領域Ｇ、受光領域Ｈの第１隣接トラックの接線と対応する方向の長さを定めているが、これに限るものではない。同様に、受光領域Ｉ、受光領域Ｊがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｋ、受光領域Ｌがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とするように受光領域Ｉ、受光領域Ｊの面積を設定するために、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの第２隣接トラックの接線と対応する方向の長さを定めているが、これに限るものではない。
【０１０３】
例えば、図１２に示すように、検出レンズ９において非点収差が付与されて変化する０次の＋１次反射光の受光領域以外の面積を減じることにより、受光領域Ｅ、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量と略同一の光量の迷光を受光可能となる、受光領域Ｇ、受光領域Ｈの面積を設定しても良い。同様に、図１２に示すように、検出レンズ９において非点収差が付与されて変化する０次の−１次反射光の受光領域以外の面積を減じることにより、受光領域Ｋ、受光領域Ｌがその面積に応じて受光する迷光の光量と略同一の光量の迷光を受光可能となる、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの面積を設定しても良い。尚、受光領域Ｇ、受光領域Ｈ、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの面積は、例えば様々な形状の受光領域Ｇ、受光領域Ｈ、受光領域Ｉ、受光領域Ｊをシミュレーション等することにより設定することが可能である。このように、受光領域Ｇ、受光領域Ｈ、受光領域Ｉ、受光領域Ｊの面積を設定することにより、図１０に示す形態と同一の効果を奏することが可能となるとともに、受光面１２、受光面１３の大型化を防止することが可能となる。尚、図１２に示す形態は、上述の図１０、図１１に示す形態にも適用することが可能である。
【０１０４】
＜＜その他の実施形態（その３）＞＞
図７を示して説明した上述の実施形態によれば、受光領域Ｅがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｆがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とする受光領域Ｅ、受光領域Ｆの面積を設定するために、第１隣接トラックの接線と対応する分割方向に全受光領域を分割しているが、これに限るものではない。同様に、受光領域Ｇがその面積に応じて受光する迷光の光量と、受光領域Ｈがその面積に応じて受光する迷光の光量とを略同一とする受光領域Ｇ、受光領域Ｈの面積を設定するために、第２隣接トラックの接線と対応する分割方向に全受光領域を分割しているが、これに限るものではない。
【０１０５】
例えば、図１３に示すように、第１隣接トラック方向と対応しない、曲線状の分割線で全受光領域を分割することにより、受光領域Ｅ、受光領域Ｆの面積を設定して良い。図１３に示す受光領域Ｅ、受光領域Ｆの面積は、光ディスク９０の径と対応する方向における前述の受光領域Ｅの長さｘ４及び受光領域Ｆの長さｘ５を、当該ｘ４とｘ５とから定まる分割線が曲線となるように変化させて分割することにより設定されたものである。尚、この長さｘ４とｘ５とは、受光領域Ｅの面積と受光領域Ｆの面積とが等しい場合の当該受光領域Ｅの面積に、前述の面積γを加えるように変化する。逆に言えば、長さｘ４とｘ５とは、受光領域Ｅの面積と受光領域Ｆの面積とが等しい場合の当該受光領域Ｆの面積から、前述の面積γを減じるように変化する。同様に、第２隣接トラックと対応しない、曲線状の分割線で全受光領域を分割することにより、受光領域Ｇ、受光領域Ｈの面積を設定しても良い。図１３に示す受光領域Ｇ、受光領域Ｈの面積は、光ディスク９０の径と対応する方向における前述の受光領域Ｇの長さｙ４及び受光領域Ｈの長さｙ５を、当該ｙ４とｙ５とから定まる分割線が曲線となるように変化させて分割することにより設定されたものである。尚、この長さｙ４とｙ５とは、受光領域Ｇの面積と受光領域Ｈの面積とが等しい場合の当該受光領域Ｈの面積に、前述の面積γを加えるように変化する。逆に言えば、長さｙ４とｙ５とは、受光領域Ｇの面積と受光領域Ｈの面積とが等しい場合の当該受光領域Ｈの面積から、前述の面積γを減じるように変化する。このように、受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈの面積を設定することにより、上述の図７に示す形態と同一の効果を奏することが可能となる。また、例えば、図１４に示すように、第１隣接トラック方向と対応しない、三角波状の分割方向に全受光領域を分割することにより、受光領域Ｅ乃至受光領域Ｈの面積を設定しても、同一の効果を奏することが可能となる。尚、上述した図１、図１０乃至図１２と図７、図１３、図１４とに示す形態を組み合わせることも可能である。
【０１０６】
尚、上述の実施形態等においては、光ディスク９０の他の情報記録層からの迷光を相殺すると説明したが、本発明に係らない演算処理回路４０等を構成する加算器４４等のばらつき、製造誤差等によっては完全に相殺することが出来ないこともある。しかしながら、本発明に係る光検出装置１０は、迷光を相殺する目的で受光面１２、受光面１３等の面積が設定されているため、少なくとも迷光を低減することが可能となり、従来の光検出装置と比べて有用なものとなる。
【図面の簡単な説明】
【０１０７】
【図１】本発明に係る光検出装置が有する受光面を示す図である。
【図２】本発明に係る光検出装置を具備する光ピックアップ装置の全体構成を示す図である。
【図３】本発明に係る光検出装置の受光面が受光する、迷光の光強度分布を示す図である。
【図４】本発明に係る光検出装置において０次反射光と迷光のみを受光する様子を示す図である。
【図５】トラッキングエラー信号を生成する演算処理回路の全体構成を示す回路図である。
【図６】フォーカスエラー信号を生成する演算処理回路の全体構成を示す回路図である。
【図７】本発明に係る光検出装置が有する受光面を示す図である。
【図８】本発明に係る光検出装置の受光面が受光する、迷光の光強度分布を示す図である。
【図９】トラッキングエラー信号を生成する演算処理回路の全体構成を示す回路図である。
【図１０】本発明に係る光検出装置が有する受光面のその他の形態を示す図である。
【図１１】本発明に係る光検出装置が有する受光面のその他の形態を示す図である。
【図１２】本発明に係る光検出装置が有する受光面のその他の形態を示す図である。
【図１３】本発明に係る光検出装置が有する受光面のその他の形態を示す図である。
【図１４】本発明に係る光検出装置が有する受光面のその他の形態を示す図である。
【図１５】光検出装置が有する受光面を示す図である。
【図１６】多層光ディスクの情報記録層に対するレーザー光の照射の様子を示す図である。
【図１７】光検出装置の受光面に対する迷光の照射の様子を示すである。
【符号の説明】
【０１０８】
１  光ピックアップ装置
２  半導体レーザー
３  回折格子
４  偏光ビームスプリッタ
５  コリメータレンズ
６  １／４波長板
７  対物レンズ
８  アクチュエータ
９  検出レンズ
１０  光検出装置
１１、１２、１３、１４、１５  受光面
１０１、１０２、１０３  受光面
２０、４０、６０  演算処理回路
２１、２２、４３、４６、４９  減算器
５２、６３、６６、６９  減算器
４１、４２、４４、４５、４７、４８、５０  加算器
６１、６２、６４、６５、６７、６８、７０、７２  加算器
５１、７１  増幅器
９０、１００  光ディスク
Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊ、Ｋ、Ｌ  受光領域
【図１】
2008059632.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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