(57)【要約】【課題】半接触障害や半断線障害等のような動作環境の変化等によって一時的に発生する不良画素の検出を確実かつ容易に行なうことを目的とする。【解決手段】複数の画素１１で構成される表示パネル１２を検査する表示パネル検査装置１０であって、該画素１１が不良画素であることを検出する検出部１３，１４と、該検出部１３，１４により検出された結果を保持する保持部１５とをそなえたことを特徴としている。【選択図】図１
2008039462.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素で構成される表示パネルを検査する表示パネル検査装置であって、
該画素が不良画素であることを検出する検出部と、
該検出部により検出された結果を保持する保持部とをそなえたことを特徴とする、表示パネル検査装置。
【請求項２】
該検出部は、該画素の出力光に応じた検出状態を生成する光検出部と、該検出状態に基づいて、該画素が不良画素であるか否かを判定し、不良画素であると判定した場合に検出信号を出力する判定部とをそなえ、
該保持部は、該判定部により出力された検出信号の状態を保持することを特徴とする、請求項１に記載の表示パネル検査装置。
【請求項３】
該表示パネルの動作環境を変更する動作環境変更部をそなえたことを特徴とする、請求項１または請求項２に記載の表示パネル検査装置。
【請求項４】
該動作環境変更部が、該表示パネルにかかる温度環境を変化させる温度環境変更部をそなえることを特徴とする、請求項３に記載の表示パネル検査装置。
【請求項５】
複数の画素で構成される表示パネルを検査する表示パネル検査方法であって、
該画素が不良画素であることを検出する検出ステップと、
該検出ステップにより検出された結果を保持する保持ステップとをそなえたことを特徴とする、表示パネル検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display；液晶ディスプレイ）等の表示パネルにおけるライン抜け障害の検出に用いて好適な、表示パネル検査装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display；液晶ディスプレイ）等の表示パネルには、本来の機能を発揮しない不良画素が含まれる場合があることが知られている。
また、このような表示パネルの不良画素として、画素単位で不良画素が発生するドット落ち障害や、ライン状に連続して不良画素が発生するライン抜け障害が一般的に知られている。
【０００３】
表示パネルに不良画素が含まれていると、その不良画素においては、正常な表示が行なわれなかったり、本来とは異なる色の表示が行なわれたりするという不具合が発生するので、その製造ラインにおいては、例えば、一定数の不良画素を含む表示パネルを不良品として扱う。
例えば、上述したドット落ち障害については、表示パネルを構成する数十万〜数百万画素のうちのごくわずかの画素が不良画素として点在していることが多い。このように表示パネル中にごくわずかに点在する不良画素は、使用時に目立ち難いので、不良画素が一定数以下の表示パネルを不良品として扱わないことも多い。
【０００４】
従来から、表示パネルにおける不良画素を検出して未然に不良品の流出を防止することが求められている。このような表示パネルにおける不良画素の検出手法として、例えば、下記特許文献１には、点灯した液晶パネルの表示画面を撮像し、撮像された画像に対して差分処理を行なうことにより、微量な輝度差の輝点欠陥と黒点欠陥とを正確に検出する手法が開示されている。
【特許文献１】特開平１１−１１９６８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
一方、ライン抜け障害については、表示パネル中において不良画素が連続するので目立ち易く、使用時に目障りに感じることが多いので、ドット落ち障害に比べてライン抜け障害を効果的に検出することが望まれている。なお、このようなライン抜け障害は、主に、表示パネルの電極間に異物が混入することにより発生する。
また、表示パネルのライン抜け障害は、例えば、表示パネル内の温度が上昇して電極や絶縁物，表示パネル内に混入した異物が熱膨張したり、表示パネルが振動して内部の異物が移動したりすることにより生じる電極間の短絡（半接触障害）や、電極ラインの断線もしくは欠損（半断線障害）によっても発生し、例えば、表示パネル内の温度が変化したり、表示パネル自体が振動したりする等のような、表示パネルの動作環境の変化に伴い、一時的（瞬間的）に半接触障害や半断線障害が発生することが多い。
【０００６】
しかしながら、従来手法では、一時的に生じたライン抜け障害を検出することが困難であるという課題があり、例えば、上記特許文献１にかかる手法においては、表示画面の撮像を１回行なうだけであるので、撮像時に半接触障害や半断線障害が発生しなかった場合には、これらの障害を検出することができず、表示パネルの工場出荷にかかる検査時には、ライン抜け障害が検出されなくても、その後、使用中にライン抜け障害が生じることがある。
【０００７】
また、上記特許文献１にかかる手法においては、表示画面の撮像を複数回行なうと、１つの表示パネルに要する検査時間が長くなってしまい、結果的に、作業者の負担や製造コストの増大を招くことになるという課題もある。
本発明は、このような課題に鑑み創案されたもので、半接触障害や半断線障害等のような動作環境の変化等によって一時的に発生する不良画素の検出を確実かつ容易に行なうことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明の表示パネル検査装置（請求項１）は、複数の画素で構成される表示パネルを検査する表示パネル検査装置であって、該画素が不良画素であることを検出する検出部と、該検出部により検出された結果を保持する保持部とをそなえたことを特徴としている。
なお、該検出部は、該画素の出力光に応じた検出状態を生成する光検出部と、該検出状態に基づいて、該画素が不良画素であるか否かを判定し、不良画素であると判定した場合に検出信号を出力する判定部とをそなえ、該保持部は、該判定部により出力された検出信号の状態を保持することが好ましい（請求項２）。
【０００９】
さらに、該表示パネルの動作環境を変更する動作環境変更部をそなえることが好ましい（請求項３）。
また、該動作環境変更部は、該表示パネルにかかる温度環境を変化させる温度環境変更部をそなえることが好ましい（請求項４）。
また、本発明に係る表示パネル検査方法（請求項５）は、複数の画素で構成される表示パネルを検査する表示パネル検査方法であって、該画素が不良画素であることを検出する検出ステップと、該検出ステップにより検出された結果を保持する保持ステップとをそなえたことを特徴としている。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、画素が不良画素であることを検出し、検出された結果を保持するようになっているので、半接触障害や半断線障害等によるライン抜け障害が一時的に発生した場合であっても、ライン抜け障害の検出を確実に行なうことができる。また、一時的に発生したライン抜け障害の検出結果を検査終了後に確認できるので、検査を行なっている間中、検査者が目視で確認を行なう必要がなくなり、検査者の作業負担を低減することができる。従って、検査者の負担をかけることなく、ライン抜け障害の検出精度を向上させることができる（請求項１，５）。
【００１１】
また、画素の出力光に応じた検出状態に基づいて、画素が不良画素であるか否かを判定するようになっているので、ライン抜け障害が発生している箇所を確実かつ容易に特定することができる（請求項２）。
また、表示パネルの動作環境を変更できるようになっているので、様々な動作環境の変化に伴って発生するライン抜け障害の検出を確実に行なうことができる（請求項３）。
【００１２】
特に、表示パネルにかかる温度環境を変化させることにより、表示パネル内の温度が上昇して電極や絶縁物，異物が熱膨張することによって発生するライン抜け障害の検出を確実に行なうことができる（請求項４）。
また、表示パネルの一辺に沿って複数の光検出部を配列することにより、ライン抜け障害の検出を短時間で行なうことができる。更に、光検出部や判定部および保持部の数を減らすことができ、これにより、装置構成を簡素化し、製造コストを低減することができる。
【００１３】
また、判定部により検出信号が出力されたことを通知することにより、ライン抜け障害が発生している箇所を容易に特定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。
〔１〕本発明の一実施形態の説明
図１は本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置であって輝線をライン抜け障害として検出する場合の構成例を模式的に示す図、図２はその光検出部の配置状態の例を説明するための図、図３はその光検出部から通知部までの接続状態を説明するための図である。
【００１５】
本実施形態に係る表示パネル検査装置１０は、図１に示すように、複数の画素１１で構成される矩形状のＬＣＤ（Liquid Crystal Display；液晶ディスプレイ，表示パネル）１２におけるライン抜け障害を検査する装置であって、光検出素子（検出部，光検出部）２５，電圧比較器（判定部，検出部，不良画素判定部）２６，ダイオード（保持部，ラッチ部）２８およびＬＥＤ（Light Emitting Diode；通知部）３０をそなえた電気回路として構成され、更に動作環境変更部１７をそなえている。
【００１６】
ライン抜け障害とは、ＬＣＤを構成する複数の画素のうち、本来の機能を発揮しない不良画素が連続してライン状に発生するものであって、本実施形態においては、図１に示すように、ＬＣＤ１２の全面に黒等の輝度の低い色を表示させた場合に（以下、全黒画面表示という）、輝線２０として表示されるライン抜け障害を例に説明するものとする。
なお、一般的に市販されているＬＣＤは数十万画素〜数百万画素で構成されており、本実施形態においても数十万画素〜数百万画素のＬＣＤに対応するように構成されているが、便宜上、一部の画素を省略して示すものとする。
【００１７】
また、以下、画素を示す場合のうち、複数の画素を指すときは複数の画素１１といい、又、単数の画素を指すときは単に画素１１というものとする。
本表示パネル検査装置１０においては、光検出素子２５がコレクタ側端子２１ａおよびエミッタ側端子２１ｂをそなえたフォトダイオードとして構成されており、光検出素子２５のコレクタ側端子２１ａにおいて、電圧比較器２６とダイオード２８とが並列に接続されている。又、これらの電圧比較器２６およびダイオード２８の出力側には、ＬＥＤ３０が接続されている。又、このＬＥＤ３０には、抵抗Ｒ２を介して図示しない電源装置が接続されており、抵抗Ｒ２を介して印加電圧Ｖ２が印加されるようになっている。又、光検出素子２５のコレクタ側端子２１ａには抵抗Ｒ１を介して図示しない電源装置が接続されており、この抵抗Ｒ１を介して印加電圧Ｖ１が印加されるようになっている。又、光検出素子２５のエミッタ側端子２１ｂは、アース２２に接続されている。
【００１８】
光検出素子２５（検出部）は、図１に示すように、画素１１の出力光２４に応じた検出状態を生成するものであって、後述する光検出部１３として機能するようになっている。
この光検出素子２５は、出力光２４を検知した場合に、その光量に応じて光検出素子２５の電流量を増加させることにより、光検出素子２５のコレクタ側の電圧Ｖｄを、印加電圧Ｖ１から降下させるようになっており、この電圧降下が検出状態として機能するようになっている。
【００１９】
なお、光検出素子２５としては、上述したフォトトランジスタの他、フォトダイオード，ＣＣＤ（Charge Coupled Device）等の光（もしくはその光量）を電気信号（電流，電圧）に変換するものが用いられる。
また、光検出素子２５が検知する出力光２４の光量は、ライン抜け障害の判断基準や回路構成に応じて任意に設定可能であって、例えば、光検出素子２５内部のＳ／Ｎ比を調整したり、抵抗Ｒ１，Ｒ２や後述する基準電圧Ｖｒｅｆの値を変更・調整したりすることにより種々設定できるようになっている。
【００２０】
本実施形態に係る表示パネル検査装置１０においては、図２に示すように、この光検出素子２５を矩形状のＬＣＤ１２の一辺に沿って複数個配設しており、これらの複数の光検出素子２５を光検出部１３という場合もある（図３参照）。
複数の光検出素子２５は、図２に示すように、矩形状に構成されたＬＣＤ１２の一辺に沿って（図２に示す例では紙面横方向）１列にプレート３１に固定されている。図２に示す例においては、１個の光検出素子２５は、主に隣り合う３個の画素１１の出力光２４を検知するようになっている。又、ＬＣＤ１２と光検出素子２５との距離は、光検出素子２５の特性に基づいて決定される。
【００２１】
電圧比較器（検出部，不良画素判定部）２６は、図１に示すように、光検出素子２５の検出状態に基づいて、画素１１が不良画素であるか否かを判定し、不良画素であると判定した場合に検出信号ｄ１を出力するものである。
電圧比較器２６は、＋入力端子２７ａ，−入力端子２７ｂおよび出力端子２７ｃをそなえた演算増幅器として構成されており、＋入力端子２７ａが光検出素子２５のコレクタ側端子２１ａに、又、出力端子２７ｃがＬＥＤ３０にそれぞれ接続され、−入力端子２７ｂには基準電圧Ｖｒｅｆが印加されている。この基準電圧Ｖｒｅｆは、ライン抜け障害の判断基準に応じて、印加電圧Ｖ１よりも低い値を任意に設定できるようになっている。
【００２２】
そして、電圧比較器２６を用いて＋入力端子２７ａの検知電圧Ｖｄと−入力端子２７ｂの基準電圧Ｖｒｅｆとを比較した結果、検知電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒｅｆよりも高い場合には出力端子２７ｃの電圧レベルがHighの状態になり、検知電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒｅｆよりも低い場合には出力端子２７ｃの電圧レベルがLowの状態になるようになっており、これにより、出力端子２７ｃにおいて電圧レベルがLowになる状態が検出信号ｄ１として機能するようになっている。
【００２３】
この電圧比較器２６は、図３に示すように、光検出素子２５に対応してそれぞれそなえられており、これらの複数の電圧比較器２６を判定部１４という場合もある。
ダイオード（保持部，ラッチ部）２８は、図１に示すように、電圧比較器２６から出力される検出信号ｄ１の状態を保持（ラッチ）するものであって、後述する保持部１５として機能するようになっており、そのカソード側端子２９ａがＬＥＤ３０に、又、アノード側端子２９ｂが光検出素子２５のコレクタ側端子２１ａにそれぞれ接続されている。
【００２４】
このダイオード２８は、図３に示すように、光検出素子２５に対応してそれぞれそなえられており、これらの複数のダイオード２８を保持部１４という場合もある。
ＬＥＤ（通知部）３０は、電圧比較器２６により検出信号ｄ１が出力されたことを外部（例えば、検査者）に対して通知するものであって、電圧比較器２６から検出信号ｄ１が出力された場合、すなわち、出力端子２７ｃにおける電圧レベルがLowの状態となったときに点灯するようになっており、これにより通知部１６として機能するようになっている。又、ＬＥＤ３０は、図１に示すように、そのカソード側端子３２ｂが電圧比較器２６の出力側端子２７ｃに、又、アノード側端子３２ａが抵抗Ｒ２にそれぞれ接続されている。
【００２５】
このＬＥＤ３０は、図３に示すように、光検出素子２５に対応してそれぞれそなえられており、これらの複数のＬＥＤ３０を通知部１６という場合もある。
動作環境変更部１７は、表示パネル１２の動作環境を変更するものであって、例えば、光検出部１３を取り付けたＬＣＤ１２を環囲して任意温度に加温・冷却することにより、ＬＣＤ１２にかかる温度環境を変化させる加温装置および冷却装置等（温度環境変更部）や、ＬＣＤ１２を振動させる加振装置等（加振部）をそなえて構成されている。なお、これらの加温装置や冷却装置，加振装置は既知の種々の技術で実現することができる。
【００２６】
即ち、本実施形態に係る表示パネル検査装置１０は、図３に示すように、光検出部１３のコレクタ側端子２１aには判定部１４および保持部１５がそなえられており、判定部１４は、複数の光検出素子２５のそれぞれに対応して接続される複数の電圧比較器（不良画素判定部）２６で構成されている。又、保持部１５は、複数の光検出素子２５のそれぞれに対応して接続される複数のダイオード（ラッチ部）２８で構成されている。更に、判定部１４および保持部１５の出力側には通知部１６がそなえられている。又、通知部１６は、複数の電圧比較器２６および複数のダイオード２８のそれぞれに対応して接続される複数のＬＥＤ３０で構成されているのである。
【００２７】
上述の如く構成された本発明の一実施形態に係る表示パネル検査装置１０における輝線２０をライン抜け障害として検出する手順を、図４に示すフローチャート（ステップＳ１１〜Ｓ２０）に従って説明する。
先ず、検査者が、光検出素子２５（光検出部１３）の受光部（図示省略）を検査対象となる画素１１の発光面に対面させるように、その上方に配置し、ＬＣＤ１２を構成する複数の画素１１の全てを黒画面表示の状態にする（ステップＳ１１）。
【００２８】
次に、抵抗Ｒ１に印加電圧Ｖ１を印加するとともに、抵抗Ｒ２に印加電圧Ｖ２を印加する。又、電圧比較器２６の−入力端子２７ｂに対して、ライン抜け障害の判断基準に応じて、印加電圧Ｖ１よりも低い基準電圧Ｖｒｅｆを印加することにより、出力端子２７ｃの電圧レベルをHighの状態にする（ステップＳ１２）。そして、動作環境変更部１７によりＬＣＤ１２にかかる温度環境を変化させたり、ＬＣＤ１２を振動させたりする（ステップＳ１３；動作環境変更ステップ）。
【００２９】
この状態において、検査対象の画素１１の中にライン抜け障害（輝線２０）が生じた場合には、ライン抜け障害を発生させている画素１１が出力光２４を出力（発光）し、出力光２４を出力する画素１１に対面するように配置されている光検出素子２５が、輝線２０からの出力光２４を検知する（ステップＳ１４）。
光検出素子２５は、輝線２０からの出力光２４を検知することにより、その光量に応じて光検出素子２５の電流量を増加させ、これにより電圧比較器２６の＋入力端子２７ａの検知電圧Ｖｄが印加電圧Ｖ１から降下する（ステップＳ１５；光検出ステップ，検出ステップ）。
【００３０】
電圧比較器２６は、＋入力端子２７ａの検知電圧Ｖｄと−入力端子２７ｂの基準電圧Ｖｒｅｆとを比較した結果、検知電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒｅｆよりも低くなった場合には、出力端子２７ｃの電圧レベルをHighの状態からLowの状態にする。これにより、出力端子２７ｃと抵抗Ｒ１および抵抗Ｒ２との間に電位差が生じる（ステップＳ１６；判定ステップ，検出ステップ）。
【００３１】
そのため、抵抗Ｒ１からダイオード２８を介して電圧比較器２６の出力端子２７ｃに向かって電流が流れるとともに、抵抗Ｒ２からＬＥＤ３０を介して電圧比較器２６の出力端子２７ｃに向かって電流が流れることにより、ＬＥＤ３０が点灯する（ステップＳ１７；通知ステップ）。
また、ＬＣＤ１２からの出力光２４の出力が瞬間的な場合であっても、出力端子２７ｃの電圧レベルはLowの状態で保持され、ダイオード２８は、抵抗Ｒ１からダイオード２８を介して電圧比較器２６の出力端子２７ｃに向かって電流を流れ続けさせることにより、検知電圧Ｖｄが基準電圧Ｖｒｅｆよりも低い状態を保持する（ステップＳ１８；保持ステップ）。
【００３２】
従って、ダイオード２８によって、電圧比較器２６の出力端子２７ｃの電圧レベルがLowの状態に保持され、抵抗Ｒ２からの電流がＬＥＤ３０を介して電圧比較器２６の出力端子２７ｃに向かって流れ続けるので、ＬＥＤ３０は常時点灯する。
検査者は、ＬＥＤ３０の点灯状態を目視にて確認することにより、ライン抜け障害が発生したことを知ることができ、その点灯しているＬＥＤ３０に対応する光検出素子２５の設置位置に基づいて、輝線２４としてライン抜け障害が発生している箇所を特定する（ステップＳ１９）。その後、検査者は、ＬＥＤ３０が点灯している回路の基準電圧Ｖｒｅｆを検知電圧Ｖｄ以下まで下げてＬＥＤ３０を消灯させて表示パネル検査装置１０のリセットを行ない（ステップＳ２０）、検査を終了する。
【００３３】
このように、本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置１０によれば、輝線２０として表示されるライン抜け障害が発生している画素１１を検出し、その検出結果を保持するようになっているので、半接触障害や半断線障害等のように、ライン抜け障害による出力光２４が一時的に出力した場合であっても、ライン抜け障害が発生したことを認知することができ、更に、そのライン抜け障害が発生している画素１１の特定を確実に行なうことができる。また、一時的に発生したライン抜け障害による出力光２４の検出結果を検査終了後に確認できるので、検査を行なっている間中、検査者が目視で確認を行なう必要がなくなり、検査者の作業負担を低減することができる。従って、検査者の負担をかけることなく、ライン抜け障害の検出精度を向上させることができる。
【００３４】
また、画素１１の出力光２４に応じた検出状態に基づいて、画素１１が不良画素であるか否かを判定するようになっているので、画素１１からの出力光２４を検知するだけでライン抜け障害が発生している画素１１を確実かつ容易に特定することができる。
また、検査中に、ＬＣＤ１２にかかる温度を変化させたり、ＬＣＤ１２を振動させたりすることにより、ＬＣＤ１２の動作環境を変更できるようになっているので、様々な動作環境下において発生するライン抜け障害の検出を確実に行なうことができる。
【００３５】
また、ＬＣＤ１２の一辺に沿って複数の光検出素子２５を配列することにより、ライン抜け障害の検出を短時間で行なうことができる。更に、光検出素子２５や電圧比較器２６，ダイオード２８，ＬＥＤ３０の数を減らすことができ、これにより、装置構成を簡素化し、製造コストを低減することができる。
また、出力光２４を検知した結果をＬＥＤ３０を用いて通知することにより、ライン抜け障害が発生している箇所を視覚的に特定することができる。
【００３６】
〔２〕その他
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
例えば、上述した実施形態では、図１に示す全黒画面表示から輝線２０として表示されるライン抜け障害を検出する場合を例に説明しているが、それに限定されるものではなく、ＬＣＤの全面に白等の輝度の高い画面を表示させた場合（以下、全白画面表示という）に、暗線をライン抜け障害として検出してもよい。
【００３７】
図５は本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の第１変形例を示す図であって、暗線４１をライン抜け障害として検出する場合の表示パネル検査装置４０の構成例を模式的に示す図である。
なお、図中、既述の符号と同一の符号は同一もしくは略同一の部分を示しているので、その詳細な説明は省略する。
【００３８】
図５に示す表示パネル検査装置４０は、図１に示す表示パネル検査装置１０の構成要素に加えて、光検出素子（光検出部）２５と抵抗Ｒ１の上流側との間に信号反転回路４２をそなえて構成されており、この信号反転回路４２が、光検出素子２５からの検出状態を反転させ、反転された検出状態が電圧比較器（判定部）２６およびダイオード（保持部）２８に出力されるようになっている。
【００３９】
信号反転回路４２は、例えば、図５に示すように、抵抗Ｒ３，トランジスタ４３およびダイオード４４をそなえて構成されている。抵抗Ｒ３は、一方が抵抗Ｒ１に、他方が光検出素子２５のコレクタ側端子２１ａにそれぞれ接続されている。トランジスタ４３は、エミッタ側端子４５ａ，コレクタ側端子４５ｂおよびベース側端子４５ｃをそなえたＮＰＮ形として構成され、エミッタ側端子４５ａが光検出素子２５のエミッタ側端子２１ｂに、コレクタ側端子４５ｂが抵抗Ｒ１および抵抗Ｒ３の一端側にそれぞれ接続されている。又、ベース側端子４５ｃには、ダイオード４４のカソード側端子（符号省略）が接続されている。ダイオード４４は、カソード側端子（符号省略）がトランジスタ４３のベース側端子４５ｃに、アノード側端子（符号省略）が光検出素子２５のコレクタ側端子２１ａおよび抵抗Ｒ３の他端側にそれぞれ接続されている。
【００４０】
なお、信号反転回路４２は上述した構成以外のものであってもよく、光検出部１３が生成する検出状態を反転させ、反転された検出状態を電圧比較器２６（判定部１４）およびダイオード２８（保持部１５）に入力する既知の種々の手法を用いることができる。
本表示パネル検査装置４０においては、光検出部１３が画素１１からの出力光を検知しない（暗線４１）場合に、光検出素子２５の電流量を増加させることにより、光検出素子２５のコレクタ側の電圧Ｖｄを、印加電圧Ｖ１から降下させるようになっているので、電圧比較器において、輝線が形成されている部分を正常と判定し、暗線４１が形成されている部分をライン抜け障害として判定するようになっている。
【００４１】
また、上述した輝線２０と暗線４１の両方を検出できるように構成してもよい。
図６は本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の第２変形例の構成を模式的に示す図であって、切替えにより輝線と暗線との両方を検出可能に構成された表示パネル検査装置５０の構成を示している。
なお、図中、既述の符号と同一の符号は同一もしくは略同一の部分を示しているので、その詳細な説明は省略する。
【００４２】
図６に示す表示パネル検査装置５０においては、光検出部１３をそなえて構成される輝線検出用回路５２と、光検出部１３および信号反転回路４２をそなえて構成される暗線検出用回路５３とをそなえるとともに、輝線検出用回路５２の光検出部１３と電圧比較器２６およびダイオード２８との間に、これらのダイオード２８および電圧比較器２６に対する輝線検出用回路５２と暗線検出用回路５３との接続を切替可能な切替スイッチ５１をそなえて構成されている。
【００４３】
表示パネル検査装置５０においては、検出するライン抜け障害に応じて切替スイッチ５１を切り替えることにより、ダイオード２８，電圧比較器２６，ＬＥＤ３０等を共通して用いることができるので、利便性が高く、製造コストを低減でき、省スペース化を実現することができる。
なお、本実施形態においては、１個の光検出素子２５が３個の画素１１の出力光２４を検知するようにしているが、それに限定されるものではなく、１個の光検出素子２５が検知する出力光２４の数を増減させてもよい。この場合、光検出素子２５における受光面のサイズ（面積）や画素１１の発光面のサイズによって出力光２４を検知する数が種々決定され、特に、光検出素子２５を画素１１のそれぞれに対応させて配置することにより、１個の光検出素子２５が１つの出力光２４を検知する場合には、ライン抜け障害が発生している箇所を容易に特定することができる。
【００４４】
また、光検出素子２５をＬＣＤ１２上において１列ではなく複数列設け、これらの複数列の受光結果に基づいて、ライン抜け障害が発生している箇所を特定してもよく、例えば、複数の光検出素子２５を千鳥状に３列に配置したり、列数を増減させてその他の配列パターンを用いたりすることができ、これらの複数の光検出素子２５の検出結果の組み合わせ等により、ライン抜け障害の発生位置を特定してもよい。
【００４５】
さらに、本実施形態においては、図２に示すように、複数の光検出素子２５をＬＣＤ１２の一辺に沿って配置しているが、それに限定されるものではない。
図７および図８は本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の光検出部の他の配置状態を説明するための図であって、図７は光検出部がＬＣＤの他の辺に沿って配置されている状態を説明するための図、図８は光検出部がＬＣＤの対角線に沿って配置されている状態を説明するための図である。
【００４６】
例えば、図７に示すように、複数の光検出素子２５をＬＣＤ１２の他の辺（図７に示す例では紙面縦方向）に沿って配置したり、図８に示すように、複数の光検出素子２５をＬＣＤ１２の対角線に沿って配置したりさせてもよい。
また、ＬＣＤ１２の対角線に沿って複数の光検出素子２５を配列することにより、ＬＣＤ１２における縦方向および横方向に沿ってライン状に形成された出力光２４を同時に検出することができるので、光検出素子２５の数を削減できるとともにライン抜け障害の検出を迅速かつ確実に行なうことができる。
【００４７】
また、本実施形態では、判定部１４として電圧比較器２６を用いたが、これに限定されるものではなく、光検出部１３からの検出状態に基づいて、画素１１が不良画素であるか否かを判定し、不良画素であると判定した場合に検出信号ｄ１を出力する既知の種々の手法を用いることができる。
また、本実施形態では、保持部１５としてダイオード２８を用いたが、これに限定されるものではなく、判定部１４により出力された検出信号ｄ１を保持する既知の種々の手法を用いることができる。例えば、ダイオード２８に代えてフリップフロップ等のラッチ機能をそなえた回路を用いることができる。又、例えば、保持部１５としてフリップフロップを用いる場合には、判定部１４の出力側に保持部１５を直列に接続することが望ましい。即ち、保持部１５等に用いる部品に応じて、表示パネル検査装置１０の回路構成を種々変形して実施することができる。
【００４８】
また、本実施形態では、通知部１６としてＬＥＤ３０を用いたが、これに限定されるものではなく、外部に対して通知する既知の種々の手法を用いることができる。
また、上述した手法以外のものであってもよく、画素１１が不良画素であることを検出し、検出された状態を保持する既知の種々の手法を用いることができる。
また、複数の光検出素子２５のコレクタ側端子２１ａをマイコン（図示省略）に接続することにより、複数の光検出素子２５の電圧を相対的に比較してもよく、例えば、マイコンにおいて、複数の光検出素子２５の電圧の平均値を算出し、その平均値よりも低い箇所をライン抜け障害として検出するようになっている。
【００４９】
さらに上述した実施形態においては、動作環境変更部１７は、加温装置，冷却装置および加振装置をそなえて構成されているが、これに限定されるものではなく、これらのいずれか一部のみをそなえて構成されてもよく、又、例えば、温度等の温度環境の変更や加振以外の動作環境を変化させてもよく、このような動作環境の変化には既知の種々の技術を用いることができる。
【００５０】
また、上述した表示パネル検査装置をＬＣＤ以外の種類の表示パネルに適用してもよく、特に、ドットマトリックス方式の表示パネルに有効であり、例えば、ＰＤＰ（Plasma Display Panel）や有機ＥＬディスプレイ（Organic Electroluminescence Display）に適用することができる。
〔３〕付記
（付記１）  複数の画素で構成される表示パネルを検査する表示パネル検査装置であって、
該画素が不良画素であることを検出する検出部と、
該検出部により検出された結果を保持する保持部とをそなえたことを特徴とする、表示パネル検査装置。
（付記２）  該検出部は、該画素の出力光に応じた検出状態を生成する光検出部と、該検出状態に基づいて、該画素が不良画素であるか否かを判定し、不良画素であると判定した場合に検出信号を出力する判定部とをそなえ、
該保持部は、該判定部により出力された検出信号の状態を保持することを特徴とする、付記１に記載の表示パネル検査装置。
（付記３）  該光検出部は、前記複数の画素の配列方向に応じて配置される複数の光検出素子により構成され、
該判定部が、前記複数の光検出素子のそれぞれに対応して接続される複数の不良画素判定部で構成され、
該保持部が、前記複数の光検出素子のそれぞれに対応して接続される複数のラッチ部で構成されることを特徴とする、付記２に記載の表示パネル検査装置。
【００５１】
（付記４）  前記複数の光検出素子が、矩形状の該表示パネルの一辺に沿って配置されることを特徴とする、付記３に記載の表示パネル検査装置。
（付記５）  前記複数の光検出素子が、矩形状の該表示パネルの対角線に沿って配置されることを特徴とする、付記３に記載の表示パネル検査装置。
（付記６）  該判定部により該検出信号が出力されたことを通知する通知部をそなえることを特徴とする、付記２〜５のいずれか１項に記載の表示パネル検査装置。
【００５２】
（付記７）  該表示パネルの動作環境を変更する動作環境変更部をそなえたことを特徴とする、付記１〜６のいずれか１項に記載の表示パネル検査装置。
（付記８）  該動作環境変更部が、該表示パネルにかかる温度環境を変化させる温度環境変更部をそなえることを特徴とする、付記７に記載の表示パネル検査装置。
（付記９）  該動作環境変更部が、該表示パネルに対して振動を加える加振部をそなえることを特徴とする、付記７または付記８に記載の表示パネル検査装置。
【００５３】
（付記１０）  複数の画素で構成される表示パネルを検査する表示パネル検査方法であって、
該画素が不良画素であることを検出する検出ステップと、
該検出ステップにより検出された結果を保持する保持ステップとをそなえたことを特徴とする、表示パネル検査方法。
（付記１１）  該検出ステップは、該画素の出力光に応じた検出状態を生成する光検出ステップと、該検出状態に基づいて、該画素が不良画素であるか否かを判定し、不良画素であると判定した場合に検出信号を出力する判定ステップとをそなえ、
該保持ステップは、該判定ステップにより出力された検出信号の状態を保持することを特徴とする、付記１０に記載の表示パネル検査方法。
【００５４】
（付記１２）  該光検出ステップは、前記複数の画素の配列方向に沿って複数回行なわれ、
該判定ステップおよび該保持ステップが、前記複数回行なわれた光検出ステップのそれぞれに対応して行なわれることを特徴とする、付記１１に記載の表示パネル検査方法。
（付記１３）  該光検出ステップが、矩形状の該表示パネルの一辺に沿って行なわれることを特徴とする、付記１２に記載の表示パネル検査方法。
【００５５】
（付記１４）  該光検出ステップが、矩形状の該表示パネルの対角線に沿って行なわれることを特徴とする、付記１２に記載の表示パネル検査方法。
（付記１５）  該判定ステップにより該検出信号が出力されたことを通知する通知ステップをそなえることを特徴とする、付記１１〜１４のいずれか１項に記載の表示パネル検査方法。
【００５６】
（付記１６）  該表示パネルの動作環境を変更する動作環境変更ステップをそなえたことを特徴とする、付記１０〜１５のいずれか１項に記載の表示パネル検査方法。
（付記１７）  該動作環境変更ステップにおいて、該表示パネルにかかる温度環境を変化させることを特徴とする、付記１６に記載の表示パネル検査方法。
（付記１８）  該動作環境変更ステップにおいて、該表示パネルに対して振動を加えることを特徴とする、付記１６または付記１７に記載の表示パネル検査方法。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の構成例を模式的に示す図である。
【図２】本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の光検出部の配置状態の例を説明するための図である。
【図３】本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の光検出部から通知部までの接続状態を説明するための図である。
【図４】本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置により輝線をライン抜け障害として検出する手順を示すフローチャートである。
【図５】本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の第１変形例の構成例を模式的に示す図である。
【図６】本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の第２変形例の構成例を模式的に示す図である。
【図７】本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の光検出部の他の配置状態を説明するための図である。
【図８】本発明の一実施形態としての表示パネル検査装置の光検出部の他の配置状態を説明するための図である。
【符号の説明】
【００５８】
１０，４０，５０  表示パネル検査装置
１１  画素
１２  ＬＣＤ（表示パネル）
１３  光検出部（検出部）
１４  判定部（検出部）
１５  保持部
１６  通知部
１７  動作環境変更部
２０  輝線
２１ａ  コレクタ側端子
２１ｂ  エミッタ側端子
２２  アース
２４  出力光
２５  光検出素子
２６  電圧比較器（不良画素判定部）
２７ａ  ＋入力端子
２７ｂ  −入力端子
２７ｃ  出力端子
２８  ダイオード（ラッチ部）
２９ａ  カソード側端子
２９ｂ  アノード側端子
３０  ＬＥＤ
３１  プレート
３２ａ  アノード側端子
３２ｂ  カソード側端子
４１  暗線
４２  信号反転回路
４３  トランジスタ
４４  ダイオード
４５ａ  エミッタ側端子
４５ｂ  コレクタ側端子
４５ｃ  ベース側端子
５１  切替スイッチ
５２  輝線検出用回路
５３  暗線検出用回路
Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３  抵抗
ｄ１  検出信号
Ｖ１  印加電圧
Ｖ２  印加電圧
Ｖｄ  検知電圧
Ｖｒｅｆ  基準電圧
【図１】
2008039462.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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