(57)【要約】【課題】電源装置の寿命をより高い精度で検出することを目的とする。【解決手段】電源装置は、寿命検出回路１０６に、コンデンサ２０７，２０８の温度を測定する温度測定部として、抵抗器２０１，２０２、コンデンサ２０７，２０８に近接するサーミスタ２０３，２０４、温度計測電圧信号線２１１，２１２、および、マイコン２１０を備えている。また、コンデンサ２０７，２０８の静電容量を測定する容量測定部として、切替部２０５，２０６、放電抵抗２０９、静電容量測定用電圧信号線２１３、切替指示信号線２１４，２１５、および、マイコン２１０を備えている。また、温度測定部により測定された温度と容量測定部により測定された静電容量とに基づいて、コンデンサ２０７，２０８の寿命を演算することにより、電源装置１００の寿命を検出する演算部として、マイコン２１０の内部にＣＰＵ２２１を備えている。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力電源の電圧を平滑化する複数のコンデンサを備えた電源装置であって、
前記複数のコンデンサに近接し、各コンデンサの温度を測定する温度測定部と、
各コンデンサの静電容量を測定する容量測定部と、
前記温度測定部により測定された温度と前記容量測定部により測定された静電容量とに基づいて、前記複数のコンデンサの寿命を演算することにより、前記電源装置の寿命を検出する演算部とを備えることを特徴とする電源装置。
【請求項２】
前記電源装置は、さらに、
各コンデンサを前記電源の本線から切り離した状態に切り替え可能な切替部と、
前記切替部により前記電源の本線から切り離されたコンデンサの充電電圧を放電させる放電部とを備え、
前記容量測定部は、前記放電部により該コンデンサから放電された放電電圧を測定し、測定した放電電圧に基づいて、該コンデンサの静電容量を測定することを特徴とする請求項１に記載の電源装置。
【請求項３】
前記温度測定部は、前記容量測定部により１つのコンデンサの放電電圧が測定される度に、該コンデンサの温度を測定し、
前記切替部は、前記温度測定部により測定された温度が所定の温度より高い場合には、該コンデンサを前記電源の本線に接続した状態に切り替え、該コンデンサが充電された後に該コンデンサを前記電源の本線から切り離した状態に再び切り替え、
前記容量測定部は、該コンデンサが前記切替部により前記電源の本線から切り離される度に、前記放電部により該コンデンサから放電される放電電圧を測定し、前記温度測定部により測定された温度が所定の温度と略等しくなるまでに複数回測定した放電電圧に基づいて、該コンデンサの静電容量を測定することを特徴とする請求項２に記載の電源装置。
【請求項４】
前記所定の温度は、該コンデンサの周囲温度であることを特徴とする請求項３に記載の電源装置。
【請求項５】
前記電源装置は、前記複数のコンデンサのうち、１つのコンデンサが前記切替部により前記電源の本線から切り離された状態でも、安定化電源を出力可能であることを特徴とする請求項１から４までのいずれかに記載の電源装置。
【請求項６】
電源の電圧を平滑する複数のコンデンサを備えた電源装置の寿命を検出する寿命検出方法であって、
前記電源装置が備える温度測定部が、前記複数のコンデンサに近接し、各コンデンサの温度を測定し、
前記電源装置が備える容量測定部が、各コンデンサの静電容量を測定し、
前記電源装置が備える演算部が、前記温度測定部により測定された温度と前記容量測定部により測定された静電容量とに基づいて、前記複数のコンデンサの寿命を演算することにより、前記電源装置の寿命を検出することを特徴とする寿命検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電源装置および電源装置の寿命検出方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の寿命検知機能を搭載した電源装置では、特許文献１のように、寿命検知対象となる平滑コンデンサの近傍に温度センサを配置し、測定した結果から、コンデンサの温度を推定し、この推定値を元にアレニウスの寿命計算式よりコンデンサの寿命時間を算出し、その算出時間から電源装置の残り寿命時間を類推していた。
【０００３】
また、その他の方法として、特許文献２のように平滑コンデンサとは別に寿命検知のためにコンデンサを用意したり、特許文献３のように１つのコンデンサ容器の中に平滑用と寿命検知用の２つのコンデンサを封入したコンデンサを用意するなど、電源装置の動作に必要な平滑コンデンサとは別に、寿命検知のためのみのコンデンサを用意してその容量劣化を測定し、電源装置の寿命検知としていた。
【特許文献１】特開２００６−２２９１３０号公報
【特許文献２】特開２００１−２３１２５３号公報（第２図）
【特許文献３】特開２００１−３２７１６２号公報（第７図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の、コンデンサ直近の温度を測定し、アレニウスの寿命計算式を用いてコンデンサ寿命を精度良く算出する方法では、コンデンサの周囲温度、コンデンサに加わるリップル電流による自己発熱を測定する必要がある。しかし、このようにコンデンサ近傍の温度センサのみで測定する場合では、コンデンサの自己発熱温度を、コンデンサの外側の温度を測定することにより類推することができるのみで、正確でない。また、周囲温度測定用に温度センサを追加しない場合には、周囲温度については電源装置の動作状態を想定した想定値を用いることとなり、結果として精度良くコンデンサ寿命を算出することができないという課題がある。
【０００５】
また従来の、平滑コンデンサとは別、あるいは同一ケース内に寿命測定用のコンデンサを用意し、その劣化容量を測定する方法では、実際に寿命に影響する平滑コンデンサと寿命測定用のコンデンサが別に存在することになり、以下の４つの測定精度に関わる課題が生じる。
【０００６】
１つめの課題は、平滑コンデンサと寿命測定用コンデンサを別とする場合には、平滑コンデンサのみの故障、寿命測定用のコンデンサのみの故障のいずれかが発生した場合、正しい寿命予測を実施できないということである。
【０００７】
２つめの課題は、上記のようにそれぞれのコンデンサが故障しておらず正常品であったとしても、通常の電解コンデンサの初期静電容量の許容差は±１０％から２０％程度存在するため、これらの最悪値もマージンとして含める必要が生じるということである。この課題はコンデンサの温度測定による寿命予測の場合でも同様である。
【０００８】
３つめの課題は、同一ケース内のコンデンサを測定するなど、平滑コンデンサの使用環境を平滑コンデンサに近似させる工夫がなされた場合でも、寿命測定用のコンデンサの環境温度を平滑コンデンサの測定時の使用環境、使用条件における自己発熱温度に近似したにすぎず、電源装置の保障範囲内の最悪値で保障することを考慮すると、実使用状態に対してマージンを持たせた寿命を提示する必要があるということである。平滑コンデンサと寿命測定用コンデンサが別に存在する場合には、これよりさらに多くのマージンを含める必要が生じる。
【０００９】
４つめの課題は、コンデンサの静電容量は常温で規定されており、その静電容量は温度に依存し、温度が高い程、静電容量が大きくなることが知られているが、測定温度を寿命推定に反映させていないため、誤差が生じるということである。
【００１０】
本発明は、電源装置の寿命をより高い精度で検出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の一の態様に係る電源装置は、
入力電源の電圧を平滑化する複数のコンデンサを備えた電源装置であって、
前記複数のコンデンサに近接し、各コンデンサの温度を測定する温度測定部と、
各コンデンサの静電容量を測定する容量測定部と、
前記温度測定部により測定された温度と前記容量測定部により測定された静電容量とに基づいて、前記複数のコンデンサの寿命を演算することにより、前記電源装置の寿命を検出する演算部とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の一の態様によれば、電源装置において、演算部が、温度測定部により測定された温度と容量測定部により測定された静電容量とに基づいて、複数のコンデンサの寿命を演算することにより、電源装置の寿命をより高い精度で検出することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施の形態について、図を用いて説明する。
【００１４】
実施の形態１．
図１は、本実施の形態に係る電源装置１００の機能構成図である。
【００１５】
図１において、交流電源入力１０１より入力された交流電圧は一次整流／平滑回路１０２により整流され、安定化される。安定化された電圧はスイッチング制御回路１０３（ＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ・Ｗｉｄｔｈ・Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）回路）にてスイッチングされ、変圧／絶縁回路１０４に送られる。変圧されたスイッチング電圧は二次整流／平滑回路１０５にて整流され、平滑され、直流電源出力１０７にて直流電圧として出力される。
【００１６】
二次整流／平滑回路１０５のうち平滑を行うコンデンサが、本実施の形態にて被測定対象となる平滑コンデンサであり、その寿命検知を行うのが寿命検出回路１０６である。
【００１７】
図２は、寿命検出回路１０６の詳細図である。
【００１８】
寿命検出回路１０６は、抵抗器２０１，２０２、温度測定用のサーミスタ２０３，２０４、切替部２０５，２０６、コンデンサ２０７，２０８（平滑コンデンサ）、放電抵抗２０９（放電部）、マイコン２１０（マイクロコンピュータ）を備える。
【００１９】
抵抗器２０１とサーミスタ２０３の抵抗比による温度計測電圧信号線２１１からの信号（温度計測電圧信号）がマイコン２１０のＡ／Ｄコンバータ２１７に入力され、マイコン２１０にてコンデンサ２０７の近傍温度が計測される。抵抗器２０２とサーミスタ２０４についても同様に、温度計測電圧信号線２１２からの信号（温度計測電圧信号）がマイコン２１０のＡ／Ｄコンバータ２１７に入力され、マイコン２１０にてコンデンサ２０８の近傍温度が計測される。
【００２０】
切替部２０５，２０６はそれぞれ、切替指示信号線２１４，２１５からの信号（切替指示信号）に従い、コンデンサ２０７，２０８を本線２１６から切り離し、静電容量測定用電圧信号線２１３に接続する。
【００２１】
静電容量測定用電圧信号線２１３にはコンデンサ２０７，２０８に蓄積した電圧を放電するための放電抵抗２０９が接続されており、放電抵抗２０９により放電される電圧が静電容量測定用電圧信号線２１３の信号（静電容量測定用電圧信号）としてマイコン２１０のＡ／Ｄコンバータ２１７に入力される。
【００２２】
マイコン２１０は温度計測電圧信号線２１１，２１２、静電容量測定用電圧信号線２１３からの信号を入力するＡ／Ｄコンバータ２１７と、Ａ／Ｄコンバータ２１７のデータを記憶するＲＡＭ２１８（Ｒａｎｄｏｍ・Ａｃｃｅｓｓ・Ｍｅｍｏｒｙ）と、マイコン２１０のプログラムや寿命予測時に使用するデータテーブルを記憶するＲＯＭ２１９（Ｒｅａｄ・Ｏｎｌｙ・Ｍｅｍｏｒｙ）と、切替指示信号線２１４，２１５への信号を出力するためのＩ／Ｏ部２２０（Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ部）と、プログラムを実行するＣＰＵ２２１（Ｃｅｎｔｒａｌ・Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ・Ｕｎｉｔ）とを備える。
【００２３】
以上のように、本実施の形態では、電源装置１００は、コンデンサ２０７，２０８の温度を測定する温度測定部として、抵抗器２０１，２０２、コンデンサ２０７，２０８に近接するサーミスタ２０３，２０４、温度計測電圧信号線２１１，２１２、および、マイコン２１０を備えている。また、電源装置１００は、コンデンサ２０７，２０８の静電容量を測定する容量測定部として、切替部２０５，２０６、放電抵抗２０９、静電容量測定用電圧信号線２１３、切替指示信号線２１４，２１５、および、マイコン２１０を備えている。また、電源装置１００は、温度測定部により測定された温度と容量測定部により測定された静電容量とに基づいて、コンデンサ２０７，２０８の寿命を演算することにより、電源装置１００の寿命を検出する演算部として、マイコン２１０の内部にＣＰＵ２２１を備えている。
【００２４】
例えば、切替部２０５は、コンデンサ２０７を電源の本線２１６に接続した状態を、コンデンサ２０７を電源の本線２１６から切り離した状態に切り替えることができる。また、その逆に、後者の状態を前者の状態に切り替えることもできる。放電抵抗２０９は、切替部２０５により電源の本線２１６から切り離されたコンデンサ２０７の充電電圧を放電させる。上記容量測定部は、放電抵抗２０９によりコンデンサ２０７から放電された放電電圧を測定し、測定した放電電圧に基づいて、コンデンサ２０７の静電容量を測定する。切替部２０５、コンデンサ２０７を、切替部２０６、コンデンサ２０８に置き換えた場合も同様である。
【００２５】
上記温度測定部は、上記容量測定部によりコンデンサ２０７の放電電圧が測定される度に、コンデンサ２０７の温度を測定する。切替部２０５は、上記温度測定部により測定された温度がコンデンサ２０７の周囲温度（所定の温度の一例）より高い場合には、コンデンサ２０７を電源の本線２１６に接続した状態に切り替え、コンデンサ２０７が充電された後にコンデンサ２０７を電源の本線２１６から切り離した状態に再び切り替える。上記容量測定部は、コンデンサ２０７が切替部２０５により電源の本線２１６から切り離される度に、放電抵抗２０９によりコンデンサ２０７から放電される放電電圧を測定し、上記温度測定部により測定された温度がコンデンサ２０７の周囲温度と略等しくなるまでに複数回測定した放電電圧に基づいて、コンデンサ２０７の静電容量を測定する。切替部２０５、コンデンサ２０７を、切替部２０６、コンデンサ２０８に置き換えた場合も同様である。
【００２６】
図３は、マイコン２１０に搭載されたＣＰＵ２２１がＲＯＭ２１９からプログラムを読み出して実行することにより実施する寿命検出処理の手順（寿命検出方法）を示すフローチャートである。
【００２７】
ＣＰＵ２２１は、処理開始時、まず、２つの平滑コンデンサのうち、コンデンサ２０７とコンデンサ２０８のどちらについて測定を実施するかを選択する（ステップＳ１０１）。ここでは初回の測定として、コンデンサ２０７を選択することとする。
【００２８】
次に、ＣＰＵ２２１は、選択したコンデンサ２０７を本線２１６から切り離すために、マイコン２１０のＩ／Ｏ部２２０から切替指示信号線２１４に信号を出力し、切替部２０５を制御して、本線２１６からコンデンサ２０７を切り離す（ステップＳ１０２）。
【００２９】
コンデンサ容量計測時以外の通常時は、コンデンサ２０７およびコンデンサ２０８の両方が本線２１６に接続され、電源の平滑化を行っている。それに対し、上記のとおりコンデンサ２０７を切り離した状態、即ち、コンデンサ２０８のみで電源の平滑化を行っている状態でも、電源装置１００の動作には支障が無い（安定化電源を出力可能な）ようにコンデンサ２０８の容量が選択されているものとする（コンデンサ２０７についても同様）。
【００３０】
コンデンサ２０７を本線２１６から切り離した後、ＣＰＵ２２１は、コンデンサ２０７の直近の温度を測定するために、マイコン２１０のＡ／Ｄコンバータ２１７にて温度計測電圧信号線２１１の信号の電圧を取り込み、デジタルデータとしてＲＡＭ２１８に蓄積する（ステップＳ１０３）。
【００３１】
温度測定後、ＣＰＵ２２１は、切替部２０５により本線２１６から切り離されたコンデンサ２０７から、放電抵抗２０９を通して放電される電圧を静電容量測定用電圧信号線２１３の信号としてＡ／Ｄコンバータ２１７より取り込み、デジタルデータとしてＲＡＭ２１８に蓄積する（ステップＳ１０４）。このとき取り込んだ電圧をＶとする。
【００３２】
ＣＰＵ２２１は、電圧Ｖを取り込んでから一定時間Ｔｎ（数ミリ秒〜１秒オーダの固定値）が経過したかどうかを判定し（ステップＳ１０５）、時間Ｔｎが経過したと判定した場合、再び静電容量測定用電圧信号線２１３からの信号をＡ／Ｄコンバータ２１７より取り込み、デジタルデータとしてＲＡＭ２１８に蓄積する（ステップＳ１０６）。このとき取り込んだ電圧をＶｎとする。
【００３３】
ここまでの処理でコンデンサ２０７の静電容量を計算するためのパラメータとして、温度、初期放電電圧Ｖ、電圧Ｖ測定から一定時間Ｔｎ経過後の放電電圧Ｖｎの情報を１セット準備できたこととなる。放電電圧Ｖ、時間Ｔｎ経過後の放電電圧Ｖｎの関係を図４に示す。
【００３４】
ＣＰＵ２２１は、さらにステップＳ１０６から一定時間が経過したかどうかを判定する（ステップＳ１０７）。ここで、ＣＰＵ２２１がステップＳ１０２〜Ｓ１０７の処理を実行している間、コンデンサ２０７は本線２１６から切り離されているため、コンデンサ２０７にリップル電流が流れ込むことが無く、リップル電流によるコンデンサ２０７の自己発熱が無くなる。そのためコンデンサ２０７の温度はステップＳ１０３での測定値よりも低くなり、最低でコンデンサ２０７の周囲温度まで温度が低下することとなる。
【００３５】
ＣＰＵ２２１は、ステップＳ１０７の判定にて一定時間の経過を検出した後、上記のように低下したコンデンサ２０７の直近の温度を測定するために、マイコン２１０のＡ／Ｄコンバータ２１７に温度計測電圧信号線２１１からの信号の電圧を取り込み（ステップＳ１０８）、コンデンサ２０７の直近の温度が規定温度まで低下したかどうかを判定する（ステップＳ１０９）。この規定温度は、ステップＳ１０２〜Ｓ１０７のループ処理の各回ごとに設定されているものとする。
【００３６】
ＣＰＵ２２１は、時間の経過によりコンデンサ２０７の直近の温度が規定温度まで低下したと判定した場合、Ｉ／Ｏ部２２０から切替指示信号線２１４に信号を出力し、切替部２０５を制御して、コンデンサ２０７を本線２１６に再び接続し、コンデンサ２０７の再充電を行う（ステップＳ１１０）。
【００３７】
コンデンサ２０７の再充電後、ＣＰＵ２２１は、再びステップＳ１０２〜Ｓ１０７の処理を実行することにより、先の第１セット目の温度、電圧Ｖ、電圧Ｖｎのセットと同様に第２セット目（および第３セット目以降）の温度、電圧Ｖ、電圧Ｖｎのセットを取得し、ＲＡＭ２１８に記憶する。
【００３８】
ステップＳ１０２〜Ｓ１０７のループ処理を複数回繰り返すと、ステップＳ１０８の温度測定結果が１つ前のループ処理で得られた温度より下がらない状態となる。この状態は、コンデンサ２０７の温度の自己発熱分が放熱され、周囲温度と同一温度（所定の温度）まで下がったことを示している。ＣＰＵ２２１は、この状態を検知した場合、温度、電圧Ｖ、電圧Ｖｎの取得ルーチンを終了して、ステップＳ１１１に進む。
【００３９】
ここまでの処理で、コンデンサ２０７のリップル電流による自己発熱を含む実使用温度から、コンデンサ２０７の周囲温度までの各規定温度ごとの複数の電圧データセットを取得することができる。
【００４０】
ＣＰＵ２２１は、データセット中の電圧ＶおよびＶｎ、時間Ｔｎ、放電抵抗２０９の値Ｒｄより、下記の計算式（１）を使用してコンデンサ２０７の静電容量Ｃを各規定温度ごとに計算する（ステップＳ１１２）。
Ｔｎ＝Ｃ・Ｒｄ・ｌｎ（Ｖ／Ｖｎ）・・・（１）
【００４１】
ＲＯＭ２１９には、各温度での静電容量に対するコンデンサ寿命データテーブルが予め記憶されている。このデータテーブルには、コンデンサ２０７の静電容量と寿命の対応関係が示されているものとする。ＣＰＵ２２１は、上記の計算式（１）により測定した各温度でのコンデンサ２０７の静電容量とＲＯＭ２１９に予め用意されているコンデンサ寿命データテーブルを参照し、先に計算した各温度での静電容量よりコンデンサ寿命を求める（ステップＳ１１３）。ここで求まる各温度別のコンデンサ寿命は一致することが望ましいが、それぞれ少なからず誤差を含んでおり、値がばらつく場合がある。そこで、ＣＰＵ２２１は、各温度のコンデンサ寿命値の平均値を、コンデンサ２０７の寿命値として計算する（ステップＳ１１４）。これにより、精度の高いコンデンサ寿命を算出することができる。
【００４２】
以上のように、コンデンサ２０７の寿命が算出され、次に同様の手順でコンデンサ２０８の寿命が算出される（ＣＰＵ２２１がステップＳ１０１にてコンデンサ２０８を選択した上でステップＳ１０２以降の処理を実行する）。
【００４３】
ステップＳ１０２〜Ｓ１１４の処理は複数のコンデンサ２０７，２０８のそれぞれに対し、一定時間ごとに交互に実施する。
【００４４】
以上のように、電源装置の寿命を決定する平滑コンデンサの実静電容量を、放電電圧を測定することで正確に求めることができるため、コンデンサの近傍温度のみを測定し、アレニウスの式から寿命を推定する方式に対し、より精度良く寿命推定することができる。
【００４５】
また、寿命を決定する平滑コンデンサそのものを測定しているため、従来の平滑コンデンサと寿命予測用コンデンサを別に用意する方式で生じる、双方の初期静電容量偏差に基づく寿命予測誤差が無くなる。
【００４６】
また温度に起因する誤差に対しては、コンデンサの静電容量を、リップル電流による自己発熱を含む実使用温度から、コンデンサ周囲温度までの各規定温度ごとの容量を測定するようにしているので、電源装置の使用環境による温度変化、電源使用環境での負荷変動による温度変化などから生じるコンデンサ周囲温度の変化、負荷変動によるリップル発熱の変化などから生じるコンデンサ温度の変化に起因するコンデンサ静電容量の変化を検出することができるため、より精度良く寿命を推定することができる。
【００４７】
以上のように、本実施の形態に係る電源装置は、複数の電源リップル平滑用コンデンサを備え、それぞれの平滑用コンデンサの直近にコンデンサの温度を測定する温度測定部を備え、それぞれの平滑用コンデンサの静電容量を測定する容量測定部を備え、コンデンサの温度および静電容量からコンデンサの寿命を検知することで、当該電源装置の寿命を判断する演算部を備えることを特徴としたものである。
【００４８】
また、上記電源装置は、複数の平滑用コンデンサそれぞれを電源の本線から切り離す切替部を備え、切替部により本線から切り離されたコンデンサの充電電圧を放電させる放電部を備え、放電電圧を計測する電圧計測部（容量測定部）を備え、放電電圧を測定することでコンデンサの静電容量を演算する演算部を備えることを特徴としたものである。
【００４９】
また、上記電源装置は、複数コンデンサのうち１つのコンデンサを、電源の本線から切り離した状態で当該電源装置を動作させたとき、安定化電源としての動作を満足することを特徴としたものである。
【００５０】
また、上記電源装置は、１つのコンデンサの静電容量を計測するにあたり、コンデンサ周囲温度に加え自己発熱をした状態での容量から、自己発熱分の熱を放熱し、周囲温度に等しい状態での容量まで、複数温度における静電容量を測定することで、温度条件により変動し易い静電容量から正確にコンデンサ寿命を判断する演算部を備えることを特徴としたものである。
【００５１】
このように、本実施の形態では、交流電圧を整流し、整流した電圧の平滑化を行うコンデンサを含み、直流電圧を出力する直流安定化電源装置において、この電源装置が動作状態にあっても、コンデンサが容量劣化を起こし、規定の容量を下回ることを測定し、電源装置の寿命を判定できる。そのために、本実施の形態では、電源装置が、電源装置の寿命を直接決定する（電源装置に含まれるコンデンサの中で最も寿命が短い）平滑コンデンサを複数個有し、それぞれのコンデンサの直近の温度を測定する計測部と、それぞれのコンデンサを本線から切り離す切替部と、切り離したコンデンサの静電容量を測定する計測部とを有し、１つのコンデンサが切り離された状態でも電源装置の動作を継続し、それぞれの平滑コンデンサの温度条件を含めた正確な静電容量を検出し、寿命検知できる機能を有している。
【００５２】
実施の形態２．
本実施の形態について、主に実施の形態１との差異を説明する。
【００５３】
図５は、本実施の形態に係る電源装置１００の機能構成図である。
【００５４】
実施の形態１は、図１に示したとおり、二次整流／平滑回路１０５に存在する平滑コンデンサが電源装置１００の寿命を決定する場合において、二次整流／平滑回路１０５に存在する平滑コンデンサの寿命を予測することで電源装置１００の寿命予測を実施するようにしたものである。一方、本実施の形態は、一次整流／平滑回路１０２に存在する平滑コンデンサが電源装置１００の寿命を決定する場合において、一次整流／平滑回路１０２に実施の形態１と同様の寿命検出回路１０６を設けて一次整流／平滑回路１０２に存在する平滑コンデンサの寿命を予測することで電源装置１００の寿命予測を実施するようにしたものである。
【００５５】
一次側の平滑コンデンサに加わる電圧は一般的に二次側に比べて高電圧となる。そのため、本実施の形態では、寿命検出回路１０６において、図２に示した静電容量測定用電圧信号線２１３からの信号をマイコン２１０のＡ／Ｄコンバータ２１７に入力可能な電圧範囲に分圧して入力するものとする。
【００５６】
以上、本発明の実施の形態について説明したが、これらのうち、２つ以上の実施の形態を組み合わせて実施しても構わない。あるいは、これらのうち、１つの実施の形態を部分的に実施しても構わない。あるいは、これらのうち、２つ以上の実施の形態を部分的に組み合わせて実施しても構わない。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】実施の形態１に係る電源装置の機能構成図である。
【図２】実施の形態１に係る寿命検出回路の詳細図である。
【図３】実施の形態１に係る寿命検出方法を示すフローチャートである。
【図４】実施の形態１に係る平滑コンデンサからの放電電圧Ｖと一定時間Ｔｎ経過後の放電電圧Ｖｎとの関係を示すグラフである。
【図５】実施の形態２に係る電源装置の機能構成図である。
【符号の説明】
【００５８】
１００  電源装置、１０１  交流電源入力、１０２  一次整流／平滑回路、１０３  スイッチング制御回路、１０４  変圧／絶縁回路、１０５  二次整流／平滑回路、１０６  寿命検出回路、１０７  直流電源出力、２０１，２０２  抵抗器、２０３，２０４  サーミスタ、２０５，２０６  切替部、２０７，２０８  コンデンサ、２０９  放電抵抗、２１０  マイコン、２１１，２１２  温度計測電圧信号線、２１３  静電容量測定用電圧信号線、２１４，２１５  切替指示信号線、２１６  本線、２１７  Ａ／Ｄコンバータ、２１８  ＲＡＭ、２１９  ＲＯＭ、２２０  Ｉ／Ｏ部、２２１  ＣＰＵ。
【図１】
2008306850.tif 000003
【図２】
2008306850.tif 000004
【図３】
2008306850.tif 000005
【図４】
2008306850.tif 000006
【図５】
2008306850.tif 000007