(57)【要約】【課題】実際の使用状態と同じ環境で試験が行えるＩＣテストシステム及びＩＣ試験方法を実現することを目的にする。【解決手段】本発明は、有機ＥＬドライバを試験するＩＣテストシステムに改良を加えたものである。本装置は、有機ＥＬドライバの階調電流出力ピンに一端が電気的に接続される１以上の抵抗と、この抵抗の他端に、有機ＥＬドライバの階調電流出力と同期し、有機ＥＬドライバの期待電流出力に応じた電圧を与える電圧発生部とを備え、抵抗の一端の電圧により試験を行うことを特徴とする装置である。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
有機ＥＬドライバを試験するＩＣテストシステムにおいて、
前記有機ＥＬドライバの階調電流出力ピンに一端が電気的に接続される１以上の抵抗と、
この抵抗の他端に、前記有機ＥＬドライバの階調電流出力と同期し、有機ＥＬドライバの期待電流出力に応じた電圧を与える電圧発生部と
を備え、前記抵抗の一端の電圧により試験を行うことを特徴とするＩＣテストシステム。
【請求項２】
抵抗の一端に電気的に接続し、液晶駆動ドライバの階調電圧出力ピンの試験が行える１以上の液晶駆動ドライバ試験部を設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテストシステム。
【請求項３】
抵抗の一端に電気的に接続し、電圧測定を行う１以上の電圧測定部を設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテストシステム。
【請求項４】
抵抗の一端からの電圧を入力し、比較電圧と比較する１以上のコンパレータを設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテストシステム。
【請求項５】
電圧発生部と同期して、有機ＥＬドライバに階調電流出力の制御信号を出力する制御信号発生部を設けたことを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載のＩＣテストシステム。
【請求項６】
有機ＥＬドライバの階調電流出力ピンに一端が電気的に接続される抵抗を用い、抵抗の一端の電圧により試験を行うＩＣ試験方法において、
電圧発生部が、前記抵抗の他端に、前記有機ＥＬドライバの階調電流出力と同期し、有機ＥＬドライバの期待電流出力に応じた電圧を与えることを特徴とするＩＣ試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機ＥＬドライバを試験するＩＣテストシステム及びＩＣ試験方法に関し、実際の使用状態と同じ環境で試験が行えるＩＣテストシステム及びＩＣ試験方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、有機ＥＬ（Electro Luminescence）を発光素子として用いたディスプレイが提案されている。この有機ＥＬは、ダイオード機能を有し、電流が与えられることで発光する。このため、従来の液晶駆動ドライバで用いられた電圧出力と異なり、有機ＥＬドライバは電流出力が用いられることになった。このような有機ＥＬドライバをＩＣテスタで試験する場合、Ｉ／Ｖ変換を用い、有機ＥＬドライバの電流出力を、ＩＣテスタが試験を行える電圧に変換している。このような装置は、例えば下記特許文献１等に記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−２９４０９３号公報
【０００４】
このような装置を図５に示し説明する。図５において、ＤＵＴ１は、有機ＥＬドライバで、複数の階調電流出力ピンから多階調の電流出力を行う。抵抗Ｒは、ＤＵＴ１の階調電流出力ピンごとに設けられ、ＤＵＴ１の階調電流出力ピンに一端が電気的に接続する。電圧発生部２は、複数の抵抗Ｒの他端に接続される。ＬＣＤピンエレ部３は、抵抗Ｒごとに設けられ、試験ピンが抵抗Ｒの一端に接続され、電圧測定部４等を有し、液晶ディスプレイを駆動する液晶駆動ドライバの試験が行える。電圧測定部４は、抵抗Ｒの一端に電気的に接続し、電圧測定を行う。ＤＵＴ１、抵抗Ｒは、パフォーマンスボードと呼ばれるプリント基板に搭載される。そして、電圧発生部２、ＬＣＤピンエレ部３は、ＩＣテスタに設けられる。
【０００５】
このような装置の動作を説明する。電圧発生部２が一定電圧を複数の抵抗Ｒに与える。そして、ＤＵＴ１が階調電流を出力し、階調電流が抵抗Ｒにより電圧に変換される。この電圧を電圧測定部４が測定する。この測定結果により、図示しない判定部によりＤＵＴ１の良否の判定を行っている。
【０００６】
つまり、ＤＵＴ１が発生した電流ｉは抵抗Ｒ（抵抗値：ｒ）にすべて流れ、抵抗Ｒの両端に発生する電圧降下をΔＶとすると、電流ｉは、ｉ＝ΔＶ／ｒとなる。ΔＶは、電圧発生部２が発生する電圧と電圧測定部４の測定電圧との差であるので、ＤＵＴ１の出力電流値を得ることができる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このような装置では、図６に示すように、ＤＵＴ１の出力電流の変化に伴い、ΔＶが変化する。つまり、ＤＵＴ１の階調電流出力ピンの電圧が電流出力の変化に伴い変化してしまう。しかし、実際に、ＤＵＴ１が有機ＥＬディスプレイを駆動する場合は、低電圧素子を駆動するので、ＤＵＴ１の電流出力ピンの電圧はほぼ一定電圧であり、実際の使用状態と異なる状態で試験を行うことになってしまう。
【０００８】
そこで、本発明の目的は、実際の使用状態と同じ環境で試験が行えるＩＣテストシステム及びＩＣ試験方法を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
有機ＥＬドライバを試験するＩＣテストシステムにおいて、
前記有機ＥＬドライバの階調電流出力ピンに一端が電気的に接続される１以上の抵抗と、
この抵抗の他端に、前記有機ＥＬドライバの階調電流出力と同期し、有機ＥＬドライバの期待電流出力に応じた電圧を与える電圧発生部と
を備え、前記抵抗の一端の電圧により試験を行うことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
抵抗の一端に電気的に接続し、液晶駆動ドライバの階調電圧出力ピンの試験が行える１以上の液晶駆動ドライバ試験部を設けたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
抵抗の一端に電気的に接続し、電圧測定を行う１以上の電圧測定部を設けたことを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
抵抗の一端からの電圧を入力し、比較電圧と比較する１以上のコンパレータを設けたことを特徴とするものである。
請求項５記載の発明は、請求項１〜４のいずれかに記載の発明であって、
電圧発生部と同期して、有機ＥＬドライバに階調電流出力の制御信号を出力する制御信号発生部を設けたことを特徴とするものである。
請求項６記載の発明は、
有機ＥＬドライバの階調電流出力ピンに一端が電気的に接続される抵抗を用い、抵抗の一端の電圧により試験を行うＩＣ試験方法において、
電圧発生部が、前記抵抗の他端に、前記有機ＥＬドライバの階調電流出力と同期し、有機ＥＬドライバの期待電流出力に応じた電圧を与えることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、電圧発生部が有機ＥＬドライバの階調電流出力と同期し、有機ＥＬドライバの期待電流出力に応じた電圧を与えるので、有機ＥＬドライバが所望の出力電圧を維持でき、実際の使用状態と同じ環境で試験が行える。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
【００１２】
図１において、ＤＵＴ１０は有機ＥＬドライバで、複数の階調電流出力ピンから多階調の電流出力を行う。抵抗Ｒは、ＤＵＴ１０の階調電流出力ピンごとに設けられ、ＤＵＴ１０の階調電流出力ピンに一端が電気的に接続する。電圧発生部２０は、複数の抵抗Ｒの他端に接続され、ＤＵＴ１０の階調電流出力と同期し、ＤＵＴ１０の期待電流出力に応じた電圧を与える。ＬＣＤピンエレ部３０は液晶駆動ドライバ試験部で、抵抗Ｒごとに設けられ、試験ピンが抵抗Ｒの一端に接続され、電圧測定部３１等を有し、液晶ディスプレイを駆動する液晶駆動ドライバの試験が行える。電圧測定部３１は、抵抗Ｒの一端に電気的に接続し、電圧測定を行う。制御信号発生部４０は、電圧発生部２０と同期して、ＤＵＴ１０に階調電流出力の制御信号を出力する。制御部５０は、同期バスＢを介して、電圧発生部２０、電圧測定部３１、制御信号発生部４０の同期制御を行う。ＤＵＴ１０、抵抗Ｒは、パフォーマンスボードと呼ばれるプリント基板に搭載される。そして、電圧発生部２０、ＬＣＤピンエレ部３０、制御信号発生部４０、制御部５０は、ＩＣテスタに設けられる。
【００１３】
このような装置の動作を以下に説明する。図２〜４は図１に示す装置の動作を説明する図で、横軸は時間で、縦軸は、図２がＤＵＴ１０の出力電流、図３が電圧発生部２０の出力電圧、図４が電圧測定部３１の測定電圧である。
【００１４】
始めに、制御部５０が、電圧発生部２０、電圧測定部３１、制御信号発生部４０に指示する。これにより、電圧発生部２０が電圧”ｖ０”を発生し、制御信号発生部４０がＤＵＴ１０に制御信号を与え、ＤＵＴ１０が階調電流出力ピンから電流”ｉ０”を出力する。そして、抵抗Ｒ（抵抗値：ｒ）の電圧降下は、ΔＶ＝ｉ０×ｒとなる。電流測定部３１が、”ｖ０−ｉ０×ｒ”を測定し、ＤＵＴ１０の出力電圧”Ｖｄｕｔ”を得る。
【００１５】
そして、時刻ｔ１のとき、制御部５０が、電圧発生部２０、電圧測定部３１、制御信号発生部４０に指示する。これにより、電圧発生部２０が電圧”ｖ１”を発生し、制御信号発生部４０がＤＵＴ１０に制御信号を与え、ＤＵＴ１０が電流出力ピンから電流”ｉ１”を出力する。そして、抵抗Ｒの電圧降下は、ΔＶ＝ｉ１×ｒとなる。電流測定部３１が、”ｖ１−ｉ１×ｒ”を測定し、ＤＵＴ１０の出力電圧”Ｖｄｕｔ”を得る。
【００１６】
時刻ｔ２になり、同じく、制御部５０が、電圧発生部２０、電圧測定部３１、制御信号発生部４０に指示する。これにより、電圧発生部２０が電圧”ｖ２”を発生し、制御信号発生部４０がＤＵＴ１０に制御信号を与え、ＤＵＴ１０が階調電流出力ピンから電流”ｉ２”を出力する。そして、抵抗Ｒの電圧降下は、ΔＶ＝ｉ２×ｒとなる。電流測定部３１が、”ｖ２−ｉ２×ｒ”を測定し、ＤＵＴ１０の出力電圧”Ｖｄｕｔ”を得る。
【００１７】
このような動作を繰り返し、電圧測定部３１の測定結果により、図示しない判定部によりＤＵＴ１０の良否の判定を行っている。つまり、ＤＵＴ１０の出力電圧が”Ｖｄｕｔ”の所望の範囲内を外れたら、不良品となる。
【００１８】
このように、電圧発生部２０がＤＵＴ１０の階調電流出力と同期し、ＤＵＴ１０の期待電流出力に応じた階調電圧を与えるので、ＤＵＴ１０が所望の出力電圧を維持でき、実際の使用状態と同じ環境で試験が行える。
【００１９】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、ＤＵＴ１０の電流出力ピンごとに抵抗Ｒを設ける構成を示したが、マルチプレクサ（切替部）を設けて、抵抗Ｒの一端をＤＵＴの電流出力ピンに対して切り替えて接続する構成にしてもよい。すなわち、１以上の抵抗を設ける構成ならばよい。
【００２０】
また、マルチプレクサを設けて、ＬＣＤピンエレ部３０（電圧発生部３１）をＤＵＴ１０の電流出力ピンに対して切り替えて接続する構成にしてもよい。
【００２１】
また、パフォーマンスボードに抵抗Ｒを搭載する構成を示したが、ＩＣ（液晶駆動ドライバ）テスタとＤＵＴ１０との間ならばどこに搭載する構成でもよい。
【００２２】
また、抵抗値を求める時に、電圧測定部３１の代わりに、ＬＣＤピンエレ部３０にＡ／Ｄ変換器またはコンパレータを設ける構成にしてもよい。コンパレータを設けた場合、比較電圧と比較し、良否の判定を行わせる構成にする。
【００２３】
そして、制御部５０により、電圧発生部２０、電圧発生部３１、制御信号発生部４０の同期を図る構成を示したが、電圧発生部２０、電圧発生部３１、制御信号発生部４０のどれかが他部と同期を図れるような構成にしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の動作を説明する図である。
【図３】図１に示す装置の動作を説明する図である。
【図４】図１に示す装置の動作を説明する図である。
【図５】従来のＩＣテストシステムの構成を示した図である。
【図６】図５に示す装置の動作を説明する図である。
【符号の説明】
【００２５】
１０  ＤＵＴ
Ｒ  抵抗
２０  電圧発生部
３０  ＬＣＤピンエレ部
３１  Ａ／Ｄ変換器
４０  制御信号発生部
５０  制御部
【図１】
2008145146.tif 000003
【図２】
2008145146.tif 000004
【図３】
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【図４】
2008145146.tif 000006
【図５】
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【図６】
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