(57)【要約】【課題】試験箱の電波遮蔽性能を向上させた電子機器の試験を精密に行うことができる電子機器用試験装置を提供する。【解決手段】電子機器Ｐが内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する開口部１１を有する試験箱１０と、当該試験箱１０にヒンジを介して取り付けられ、開口部１１を開閉する扉２０と、を備える電子機器用試験装置１であって、試験箱１０と扉２０との当接部分である扉２０の周縁部２２に設けられる立設板３１の側面に取り付けられる金属製のフィンガー３０と、扉２０の周縁部２２に取り付けられる電波の遮蔽性を有するパッキン４０と、をさらに備えることを特徴とする。【選択図】図１
2008235730.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、
当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、前記開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、
前記試験箱と前記扉との当接部分である前記試験箱の開口縁部または前記扉の周縁部に取り付けられる金属製のフィンガーと、
前記扉の周縁部または前記試験箱の開口縁部に取り付けられる電波の遮蔽性を有するパッキンと、をさらに備えることを特徴とする電子機器用試験装置。
【請求項２】
前記フィンガーは、前記試験箱の開口縁部または前記扉の周縁部に設けられる立設板の側面に取り付けられることを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験装置。
【請求項３】
前記パッキンは、前記扉を閉じた際に前記フィンガーよりも外周側に位置することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子機器用試験装置。
【請求項４】
電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、
当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、前記開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、
前記試験箱と前記扉との当接部分である前記試験箱の開口縁部および前記扉の周縁部の一方に形成される挿入片と、
他方に形成され、前記扉を閉じた際に前記挿入片が挿入される挿入溝と、を有し、
前記フィンガーが前記挿入片または前記挿入溝の内周側に取り付けられると共に、前記パッキンが前記挿入溝の底部に取り付けられることを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験装置。
【請求項５】
電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、
当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、前記開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、
前記試験箱と前記扉との当接部分である前記試験箱の開口縁部および前記扉の周縁部の一方に形成される挿入片と、
他方に形成され、前記扉を閉じた際に前記挿入片が挿入される挿入溝と、を有し、
前記フィンガーが前記挿入片または前記挿入溝の内周側に取り付けられると共に、前記パッキンが前記挿入片の両側に取り付けられることを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験装置。
【請求項６】
前記挿入溝の内部に金属製のフィンガーが取り付けられることを特徴とする請求項４または請求項５に記載の電子機器用試験装置。
【請求項７】
前記挿入片に金属製のフィンガーが取り付けられることを特徴とする請求項４または請求項５に記載の電子機器用試験装置。
【請求項８】
前記試験箱は、電磁妨害を防止すると共に、電子機器に接続可能なケーブルをその内部に導通するダクトを備えることを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
【請求項９】
前記ケーブルは、光信号を伝送する光ケーブルであることを特徴とする請求項８に記載の電子機器用試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯電話等の電子機器に対する試験を行うための電子機器用試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、携帯電話等の電子機器は、製造後や修理後に正常に動作・機能するか否かについて、無線電波による無線接続試験（以下、試験という）を行う場合がある。従来、このような試験は、正確な受信能力の試験を行うために、外来電波が遮断された電波無響室（電波暗室）と称される大型の特殊な部屋や、シールドボックス（電波遮蔽箱）と称される箱の内部で行われていた。
【０００３】
例えば、特許文献１には、電波を反射するアルミ製の内筐体を有する外筐体と、携帯電話を載置するトレーが固定され、筐体に形成された開口部を閉塞する前面パネルとを備え、前面パネルの外周に設けられたＵ字深溝と、内筐体の開口部に設けられ、Ｕ字深溝に嵌合して電波迷路を形成する仕切り板と、仕切り板の外周に設けられたフィンガー・スプリングと、仕切り板の内周に固定されたＬ字アングルおよび前面パネルのＵ字深溝の底部にそれぞれ設けられたＥＭＩガスケットとを有するシールドボックスが開示されている。
【０００４】
また、例えば、特許文献２には、開口部を有する試験箱本体と、ガラスの片面にＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウムスズ）膜を形成した窓を有する開閉自在の扉（ヒンジ式）と、試験箱本体の上面に設けられたケーブル配線用導波管とを主に備えた電子機器用試験箱が開示されている。
【特許文献１】特開２００５−２５２０１５号公報（段落００１９〜００２８、図１〜３）
【特許文献２】特開２００６−１５３８４１号公報（段落００５１、段落００８３、図１０）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、近年、電子機器の高性能化、高感度化等に伴って、電子機器の試験を精密に行うことができる電波遮蔽性能に優れた電子機器用試験装置の必要性がますます高まっている。
【０００６】
前記した特許文献１に記載のシールドボックスは、携帯電話をトレーに載置し、前面パネルをスライドさせて閉めた際に、フィンガー・スプリングがＵ字深溝の側面と、仕切り板の内周に設けられたＥＭＩガスケットが前面パネルと、Ｕ字深溝の底部に設けられたＥＭＩガスケットが仕切り板の先端部とが、それぞれ当接することによって、前面パネルと仕切り板との隙間を通る電波を三重の遮蔽構造で遮断することができるというものである。
【０００７】
しかしながら、前記した特許文献２に記載されたようなヒンジ式の扉を有する電子機器用試験箱においては、試験箱本体と扉との当接部分にＥＭＩガスケットや導電ゴムパッキン等を備える電波遮蔽構造を有するものしかなく、近年必要とされる電波遮蔽性能に十分に応えることができなかった。また、特許文献１に記載の電波遮蔽構造（扉構造）を、電波暗室のような大型の部屋（試験室）の扉に適用することは現実的ではない。
【０００８】
そこで、本発明は、このような問題を解決すべく、試験箱（試験室）の電波遮蔽性能を向上させた電子機器の試験を精密に行うことができる電子機器用試験装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するため、本発明に係る電子機器用試験装置は、電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、試験箱と扉との当接部分である試験箱の開口縁部または扉の周縁部に取り付けられる金属製のフィンガーと、扉の周縁部または試験箱の開口縁部に取り付けられる電波の遮蔽性を有するパッキンと、をさらに備えることを特徴とする。
【００１０】
このような電子機器用試験装置によれば、扉を閉じた際に、金属製のフィンガーが扉の周縁部（または試験箱の開口縁部）に当接すると共に、電波の遮蔽性を有するパッキンが試験箱の開口縁部（または扉の周縁部）に当接する。これにより、試験箱と扉との隙間が閉塞されるため、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガーやパッキンで回折損失を起こし、その結果、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。
【００１１】
ここで、回折損失とは、電波が金属製のフィンガー等によって反射することで、電波の進行方向側（この場合、試験箱の内部側）に伝搬しにくいことをいう。
なお、本発明に係る電子機器用試験装置の試験箱には、電波暗室のような大型の部屋（試験室）も含まれる。
【００１２】
また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記フィンガーが、試験箱の開口縁部または扉の周縁部に設けられる立設板の側面に取り付けられることを特徴とする。
【００１３】
このような電子機器用試験装置によれば、フィンガーが、試験箱の開口縁部（または扉の周縁部）に設けられる立設板の側面に取り付けられるので、閉扉時に扉の周縁部（または試験箱の開口縁部）に当接して変形するフィンガーの復元力が扉の開閉方向に対して垂直にかかることになる。このような構成により、フィンガーの復元力による扉の開扉を防止することができる。また、フィンガーの復元力が扉の開閉方向に対して垂直にかかるので、扉を閉扉状態に固定することができる。
【００１４】
また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記パッキンが、扉を閉じた際に前記フィンガーよりも外周側に位置することを特徴とする。
【００１５】
このような電子機器用試験装置によれば、パッキンが、扉を閉じた際にフィンガーよりも外周側に位置するので、フィンガーによる遮蔽機能とパッキンによる遮蔽機能とが相乗的に働いて、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。また、フィンガーまたはパッキン、どちらか一方の遮蔽機能が低下しても、他方の遮蔽機能によって電子機器用試験装置の急激な電波遮蔽性能の低下を防止することができる。
【００１６】
また、前記課題を解決するため、本発明に係る電子機器用試験装置は、電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、試験箱と扉との当接部分である試験箱の開口縁部および扉の周縁部の一方に形成される挿入片と、他方に形成され、扉を閉じた際に挿入片が挿入される挿入溝と、を有し、前記フィンガーが挿入片または挿入溝の内周側に取り付けられると共に、前記パッキンが挿入溝の底部に取り付けられることを特徴とする。
【００１７】
このような電子機器用試験装置によれば、扉を閉じた際に、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が、挿入片や挿入溝で回折損失を起こす。また、フィンガーが試験箱の開口縁部（または扉の周縁部）に当接することで試験箱と扉との隙間が閉塞されると共に、パッキンが挿入片の先端部に当接することで挿入片と挿入溝との隙間が閉塞されるため、当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガーやパッキンで回折損失を起こす。これらにより、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。
【００１８】
また、前記課題を解決するため、本発明に係る電子機器用試験装置は、電子機器が内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する少なくとも一つの開口部を有する試験箱と、当該試験箱にヒンジを介して取り付けられ、開口部を開閉する扉と、を備える電子機器用試験装置であって、試験箱と扉との当接部分である試験箱の開口縁部および扉の周縁部の一方に形成される挿入片と、他方に形成され、扉を閉じた際に挿入片が挿入される挿入溝と、を有し、前記フィンガーが挿入片または挿入溝の内周側に取り付けられると共に、前記パッキンが挿入片の両側に取り付けられることを特徴とする。
【００１９】
このような電子機器用試験装置によれば、扉を閉じた際に、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が、挿入片や挿入溝で回折損失を起こす。また、フィンガーが試験箱の開口縁部（または扉の周縁部）に当接すると共に、パッキンが挿入溝の両側に当接することで、試験箱と扉との隙間が閉塞されるため、当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガーやパッキンで回折損失を起こす。これらにより、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。
【００２０】
また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記挿入溝の内部に金属製のフィンガーが取り付けられることを特徴とする。
【００２１】
このような電子機器用試験装置によれば、挿入溝の内部にさらに金属製のフィンガーが取り付けられるので、扉を閉じた際に、フィンガーが挿入片に当接する。これにより、挿入片と挿入溝との隙間が閉塞されるため、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が当該フィンガーで回折損失を起こし、その結果、当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。
【００２２】
また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記挿入片に金属製のフィンガーが取り付けられることを特徴とする。
【００２３】
このような電子機器用試験装置によれば、挿入片にさらに金属製のフィンガーが取り付けられるので、扉を閉じた際に、フィンガーが挿入溝の内部に当接する。これにより、挿入片と挿入溝との隙間が閉塞されるため、試験箱と扉との当接部分から侵入しようとする電波が当該フィンガーで回折損失を起こし、その結果、当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。
【００２４】
また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記試験箱が、電磁妨害を防止すると共に、電子機器に接続可能なケーブルをその内部に導通するダクトを備えることを特徴とする。
【００２５】
このような電子機器用試験装置によれば、試験箱が電磁妨害を防止すると共に、電子機器に接続可能なケーブルをその内部に導通するダクトを備えるので、電磁妨害を好適に防止することができると共に、試験箱の外部から内部にケーブルを配線することができる。また、ダクトの導波管としての作用によってケーブルの挿通部分から侵入しようとする電波を遮蔽することができる。
【００２６】
また、本発明に係る電子機器用試験装置は、前記ケーブルが、光信号を伝送する光ケーブルであることを特徴とする。
【００２７】
このような電子機器用試験装置によれば、ケーブルを光信号を伝送する光ケーブルとすることで、電磁妨害を良好に防止することができる。
【発明の効果】
【００２８】
本発明によれば、試験箱と扉との当接部分に金属製のフィンガーや電波の遮蔽性を有するパッキンを備えるので、試験箱の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。これにより、電子機器の試験を精密に行うことができる電波遮蔽性能に優れた電子機器用試験装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、本発明の一実施形態について、適宜図面を参照しながら説明する。図１は電子機器用試験装置を示す全体斜視図である。
図１に示すように、電子機器用試験装置１は、電子機器Ｐが内部に入れられると共に、外部と内部とを連通する開口部１１を有する試験箱１０と、当該試験箱１０にヒンジ（図示せず）を介して取り付けられ、開口部１１を開閉する扉２０とを主に備え、試験箱１０と扉２０との当接部分である扉２０の周縁部２２に設けられる立設板３１の側面に取り付けられる金属製のフィンガー３０と、扉２０の周縁部２２に取り付けられる電波の遮蔽性を有するパッキン４０とをさらに備えている。
【００３０】
以下、まず、試験箱１０および扉２０の各部の構成について、適宜図面を参照しながら説明する。図２は図１のII−II断面図であり、図３は図１のIII−III断面図であり、図４は図１のIV−IV断面図である。
【００３１】
図２乃至４に示すように、試験箱１０は、金属製の筐体１１０と、筐体１１０の内面に設けられた電波吸収体１２０と、筐体１１０の上壁の内面側に設けられたＬＥＤランプ１３０と、筐体１１０の背面側に設けられたＥＭＩダクト１４０と、金属製のハニカムフィルタ１５０と、筐体１１０の側壁の内面側に設けられたアンテナ１６０と、電子機器Ｐが固定される取付ユニット１７０とを備えている。
【００３２】
筐体１１０は、図２に示すように、複数の金属製のパネル１１１を骨格となるフレーム（図示せず）に溶接して、正面側に開口部１１を有する略直方体の箱状に形成されている。筐体１１０は、導電性を有する金属製のパネル１１１およびフレーム（図示せず）から形成されているので、所定の剛性を有し、その耐久性が高められていると共に、外部からの電波の遮蔽性を有している。また、パネル１１１とフレーム（図示せず）とが、溶接によって接合されているので、筐体１１０の密閉性、すなわち、電波の遮蔽性が高められている。
【００３３】
パネル１１１およびフレーム（図示せず）を形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属（例えば、アルミニウム、スチール、銅等）だけでなく合金（例えば、アルミニウム合金、ステンレス等）であってもよい。なお、パネル１１１やフレーム（図示せず）を、特にアルミニウムまたはアルミニウム合金で形成した場合、所望の剛性を維持することができると共に、筐体１１０の軽量化を図ることができる。また、アルミニウムやアルミニウム合金は独特の光沢を有するので、筐体１１１は美観に優れたものとなる。
【００３４】
電波吸収体１２０は、電子機器Ｐやアンテナ１６０から放射される電波を筐体１１０（試験箱１０）の内面で反射させずに擬似的に吸収することで、試験箱１０の内部で放射された電波と反射した電波とが共振することを防止するものであり、図２に示すように、各パネル１１１の内面を覆うように形成されている。
【００３５】
このような電波吸収体１２０の種類は、本発明では特に限定されず、内部で放射される電波の特性に応じて、公知の電波吸収体を広く使用することができる。例えば、抵抗性電波吸収体、誘電性電波吸収体、磁性電波吸収体、そしてこれらを組み合せた電波吸収体等のいずれであっても使用することができ、さらに、単層型、多層型のいずれであってもよい。
【００３６】
具体的には、例えば、（１）パネル１１１の側から順に、λ／４の厚みを有するスペーサ（λは試験箱の内部で放射される電波の波長）、表面抵抗値が自由空間のインピーダンス（３７６．７Ω）に略等しい抵抗膜シート、樹脂製の保護膜を備えるλ／４型電波吸収体、（２）パネル１１１の側から順に、抵抗膜シート（インピーダンス１０８８Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、抵抗膜シート（インピーダンス２８０Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、保護膜（アルミニウム板またはアルミニウム箔）を備える二種の電波（８０ＭＨｚ周辺および２０５０ＭＨｚ周辺）を吸収可能な電波吸収体、（３）カーボン粉末や酸化チタン等の化合物から形成される誘電性電波吸収シート、（４）フェライトやカルボニル鉄等の化合物から形成される磁性電波吸収シート、（５）ポリウレタン等の樹脂と磁性体との複合体から形成される電波吸収シート、（６）磁性体と抵抗体とを貼り合わせた電波吸収体（例えば、ルミディオン（登録商標）（東洋サービス株式会社））等のいずれであっても使用することができる。
【００３７】
なお、電波吸収体１２０の表面は平坦であること（平板型）が望ましい。これによれば、例えば、波型や山型、四角錐型等の電波吸収体を備える場合と比較して、試験箱１０の内部（容積）を大きくしたり、試験箱１０のサイズを小さくしたりすることができる。
【００３８】
ＬＥＤ（Light Emitting Diode）ランプ１３０は、試験箱１０の内部を照らすための照明であり、図３に示すように、筐体１１０の上壁に設けられている。これにより、例えば、電子機器Ｐを試験する間、試験箱１０の内部を照らすことで電子機器Ｐを視認することができる。ＬＥＤランプ１３０は、蛍光灯と異なり、点滅時におけるノイズがほとんど発生しないので、試験箱１０の内部を照らす照明として好適に用いることができる。
【００３９】
なお、ＬＥＤランプ１３０の設置位置や個数、配置等は適宜設定することができ、図３に示す構成に限定されるものではない。また、試験箱１０の内部を照らす照明は、ＬＥＤランプに限定されず、例えば、ハロゲンランプや白熱灯等であってもよい。
【００４０】
ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference：電磁妨害または電磁干渉）ダクト１４０は、電磁妨害を防止すると共に、電子機器Ｐ等に接続されるケーブル１８０を筐体１１０の外部から内部に挿通するダクトであり、図４に示すように、絶縁抵抗性を有するガスケット１４１を介して、筐体１１０の背面に固定されている。
【００４１】
これにより、ＥＭＩダクト１４０を介して、試験箱１０の外部から内部にケーブル１８０を配線することができると共に、ダクトの導波管としての作用（所定波長より長い波長の電波を伝搬させない）によってケーブル１８０の挿通部分から侵入しようとする電波を遮蔽することができるので、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００４２】
また、図２に示すように、ケーブル１８０の所定長さ（例えば、１００ｍｍ以上）が、ＥＭＩダクト１４０の内部を通るように、ケーブル１８０を配線することによって、電磁妨害を好適に防止することができる。
【００４３】
なお、ケーブル１８０には、図２に示すように、ＥＭＩダクト１４０の内部を通る部分および所定の前後部分の外周面にケーブル１８０の内部を導通するノイズを吸収するノイズ吸収体１８１が被覆されている。具体的には、例えば、ルミディオン（登録商標）（東洋サービス株式会社）等のＥＭＩテープが、ケーブル１８０に所定の長さ（例えば、３００ｍｍ以上）で巻回されている。これにより、ケーブル１８０からのノイズの輻射と伝搬を抑制することができるので、電子機器Ｐで授受される電波を試験ユニット１９０で高精度に制御・測定することができる。
【００４４】
このようなＥＭＩダクト１４０は、ダイカスト製であり、図４に示すように、ケーブル１８０が通る側（筐体１１０の側）に複数の凹溝１４２が形成されている。この凹溝１４２にケーブル１８０を通すことによって、ＥＭＩダクト１４０の内部でケーブル１８０が上下方向に移動することを防止すると共に、ケーブル１８０を整列させることができる。また、ＥＭＩダクト１４０に複数のケーブル１８０を通した場合、各ケーブル間の空間が凹溝１４２の側壁部（金属）によって埋められるので、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。さらに、各ケーブルを平行に配線することができるので、例えば、各ケーブルに一様に接触するアース等を取付ける場合には、その取付けが容易となる。
【００４５】
ハニカムフィルタ１５０は、試験箱１０の外部と内部とを連通すると共に、試験箱１０の外部から侵入しようとする電波を遮蔽する給排気用のフィルタであり、図４に示すように、絶縁抵抗性を有するガスケット１５１を介して、筐体１１０の背面に固定されている。図５（ａ）はハニカムフィルタを示す斜視図である。
【００４６】
さらに説明すると、ハニカムフィルタ１５０は、図５（ａ）に示すように、正面視正六角形状の複数の細孔１５２を有する金属製（例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等）のハニカム体として形成され、この複数の細孔１５２を介して、試験箱１０の外部と内部との空気の流通を確保し、例えば、電子機器Ｐ等から放射される熱を排気することができるようになっている。なお、細孔１５２の形状は、正六角形に限定されず、例えば、円形や四角形等であってもよい。
【００４７】
また、細孔１５２は、導波管としての機能を備える周壁１５３に取り囲まれているので、所定波長より長い波長の電波を伝搬させないため、試験箱１０の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。なお、筐体１１０（試験箱１０）の背面に形成される貫通孔１１２（図４参照）の開口径、ハニカムフィルタ１５０の長さ（周壁１５３からなる導波管の長さ）、および、細孔１５２の開口径（正六角形の対向する二辺間の距離）は、ハニカムフィルタ１５０の内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定される。
【００４８】
ここで、一般に導波管は、その開口部の形状と寸法（長さ）が同一であれば、導波管が長くなるほど、電波の遮蔽性能が高くなる。また、導波管の開口部の形状にも依存するが、開口部の面積が小さくなるほど、導波管が遮蔽できる電波の限界周波数（所定の周波数）が高くなる。
【００４９】
なお、前記したハニカムフィルタ１５０の代わりに、図５（ｂ）に示すようなメッシュフィルタ１５５を備える構成としてもよい。図５（ｂ）はメッシュフィルタを示す斜視図である。
【００５０】
メッシュフィルタ１５５は、試験箱１０の外部と内部とを連通すると共に、試験箱１０の外部から侵入しようとする電波を遮蔽する給排気用のフィルタであり、ハニカムフィルタと同様に、絶縁抵抗性を有するガスケットを介して、筐体１１０の背面に固定される（図４参照）。
【００５１】
メッシュフィルタ１５５は、金属製（例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等）のメッシュが複数重ねられたメッシュ積層体であり、このメッシュを介して、試験箱１０の外部と内部との空気の流通を確保し、例えば、電子機器Ｐ等から放射される熱を排気することができるようになっている。また、金属製のメッシュ積層体の内部では、電波の回折損失が起こるので、試験箱１０の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。
【００５２】
アンテナ１６０は、電子機器Ｐとの間で電波を授受するためのアンテナであり、図２乃至４に示すように、筐体１１０の側壁に固定されたコネクタ１６１に、アンテナ用導波管１６２を介して設けられている。アンテナ１６０には、ケーブル（図示せず）の一端が接続されており、このケーブル（図示せず）は、アンテナ用導波管１６２を介して試験箱１０の外部に引き出され、その他端が電波送受信ユニット（図示せず）に接続されている。
【００５３】
なお、電波送受信ユニット（図示せず）は、アンテナ１６０に電波を放射させたり、その電波の周波数帯域や出力等を制御したり、アンテナ１６０が受信した電子機器Ｐからの電波を測定したりする機能を有する。
【００５４】
コネクタ１６１は、アンテナ用導波管１６２を固定するためのものであり、筐体１１０の側壁に固定した状態で設けられている。このようなコネクタ１６１を緩めてアンテナ用導波管１６２を回動させ、アンテナ１６０の向きを変えた後、コネクタ１６１を締めてアンテナ用導波管１６２を再び固定することで、アンテナ１６０の向きを変えることができるようになっている。
【００５５】
これにより、アンテナ１６０から放射される電波の偏波面と、電子機器ＰのアンテナＰａ（図３参照）から放射される電波の偏波面とが、平行または垂直となるようにアンテナ１６０の軸を回転調整することができる。
なお、偏波面とは、電磁波において電界の波の振動する面をいい、これが一定の平面状にある電磁波を直線偏波という。通常のアンテナから放射される電波は直線偏波である。
【００５６】
コネクタ１６１は、図２，４に示すように、その左右（水平方向）に別（予備）のコネクタ１６３を設けてもよい。これにより、所望の位置にアンテナ用導波管１６２を付け替えることができるので、所望の位置にアンテナ１６０を配置することができる。なお、このようなコネクタ１６３は、コネクタ１６１の上下（垂直方向）に設けてもよいし、コネクタ１６１の左右上下に二つ以上設けてもよい。
【００５７】
アンテナ用導波管１６２は、円筒状かつＬ字状に屈曲した、例えば、アルミニウムまたはアルミニウム合金等から形成された金属製の導波管であり、電波の遮蔽性を有している。このアンテナ用導波管１６２は、試験箱１０の外部と内部とを連通しており、その中空部（内部）には、アンテナ１６０に接続されたケーブル（図示せず）が配線されている。また、アンテナ用導波管１６２の先端部には、矩形状のグランドプレート１６４が固定されている。なお、アンテナ用導波管１６２の断面は、円形に限定されず、例えば、多角形であってもよい。
【００５８】
アンテナ用導波管１６２の仕様は、その内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、アンテナ用導波管１６２の内径および長さは、所定波長よりも長い波長の電波が、その内部を伝搬しないように設定されている。これにより、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００５９】
なお、一般にアンテナを金属物体に近接して設置すると金属物体に渦電流が流れて電波の再放射等が起こり、供試体に対して適切に放射された電波に干渉して影響を与えることがある。そこで、図４に示すように、アンテナ１６０の近傍の筐体１１０の側壁に磁性体シート１６５を設けることが望ましい（アンテナ１６０は、磁性体シート１６５と電子機器Ｐとの間に位置することになる）。これにより、前記したような渦電流による電波の再放射等の影響を低減することができる。
【００６０】
取付ユニット１７０は、電子機器Ｐを筐体１１０の内部に固定するためのユニットであり、図２，３に示すように、筐体１１０の底面全面を覆うように設けられた固定板１７１と、この固定板１７１の上に着脱自在に固定されて電子機器Ｐを保持・固定する保持固定治具１７２とから構成されている。
【００６１】
固定板１７１は、図２に示すように、平面視矩形状の板材であり、保持固定治具１７２を固定するための複数のボルト孔１７１ａが形成されている。ボルト孔１７１ａは、保持固定治具１７２の固定位置を所望の位置に変えられるように、筐体１１０の正面視左右方向に並列して複数設けられている。なお、固定板１７１の上には電波吸収性を有する電波吸収シートを設けてもよいし、固定板１７１を電波吸収性を有する部材で形成してもよい。
【００６２】
保持固定治具１７２は、図３に示すように、側面視Ｌ字状の部材であり、底部にボルトＢを螺入するためのボルト孔１７２ａが形成されている。このボルト孔１７２ａを介して、固定板１７１のボルト孔１７１ａにボルトＢが螺入されることで、保持固定治具１７２が固定板１７１に固定される。保持固定治具１７２には、取付板１７３と固定具１７４が取り付けられている。
【００６３】
取付板１７３は、長尺状の板材（図２参照）で、保持固定治具１７２に固定されている。また、固定具１７４は、電子機器Ｐを保持する部材で、電子機器Ｐを挿通して保持する挿通部１７４ａが形成されている。この固定具１７４は、取付板１７３に着脱自在に取り付けられており、所望に応じて、電子機器Ｐの取付方向や取付位置を変えることができるようになっている。
【００６４】
試験ユニット１９０（図２参照）は、電子機器Ｐで授受される電波を制御・測定するユニット、すなわち、電子機器Ｐの電波の受信状態を検出して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定すると共に、電子機器Ｐに各種の指示を送信して動作をさせることができるユニットである。
【００６５】
このような試験ユニット１９０は、ケーブル１８０を介して試験対象である電子機器Ｐに接続可能となっている。具体的には、ケーブル１８０の一端が試験ユニット１９０に接続され、他端が、ＥＭＩダクト１４０を介して、試験箱１０の内部に引き出され、電子機器Ｐに接続されている。なお、ケーブル１８０の他端には、電子機器Ｐに着脱自在に接続するためのコネクタ（図示せず）が設けられている。
【００６６】
図２に示すように、扉２０は、試験箱１０の側面にヒンジＨを介して回動自在に取り付けられ、適宜開閉可能な構成となっている。この扉２０は、金属製のパネル２０１から形成され、このパネル２０１の正面視右側には窓２１０が形成されている。また、図２に示すように、前記した電波吸収体１２０が、パネル２０１の内面を覆うように形成されている。
なお、パネル２０１を形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属（例えば、アルミニウム、スチール、銅等）だけでなく合金（例えば、アルミニウム合金、ステンレス等）であってもよい。
【００６７】
窓２１０は、可視光に対する透過性を有する矩形状のガラス板２１１を備えている。これにより、電子機器Ｐの試験を行いながら、窓２１０（ガラス板２１１）を介して、外部から試験箱１０の内部を視認することができるので、例えば、電波を受信したことによる電子機器Ｐの着信ランプの点灯の有無等を確認することができる。
【００６８】
ガラス板２１１は、窓２１０（ガラス板２１１）を介しての電波の往来を防止するため、電波の反射性（遮断性）を有している。これにより、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。このようなガラス板２１１としては、例えば、ガラス板２１１の少なくとも片面にＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウムスズ）膜を形成したものを使用することができる。
【００６９】
また、ガラス板２１１は、図２に示すように、扉２０に形成された窓用の開口部２０２の周囲に設けられた凹溝２０３に、電波の遮蔽性を有するパッキン２１２（例えば、導電性ゴムパッキン等）を介して固定されている。これにより、窓２１０（ガラス板２１１）の周縁部分における電波の遮蔽性を確保することができるので、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００７０】
なお、試験箱１０の内部において、電子機器Ｐやアンテナ１６０等から放射される電波が窓２１０（ガラス板２１１）に直接照射されると、電波が窓２１０（ガラス板２１１）の表面で反射して電波の共振現象が発生するので、窓２１０は、電子機器Ｐやアンテナ１４０等から放射される電波ができるだけ照射しない位置に設けることが望ましい。
ここで、電波の共振現象とは、電波の遮蔽性を有する試験箱の内部でアンテナ等から電波が放射されたとき、試験箱の内部の壁面で電波が反射を繰り返して干渉を起こす現象をいう。
【００７１】
以上、説明した試験箱１０と扉２０との当接部分である試験箱１０の開口縁部１２および／または扉２０の周縁部２２には、扉２０を閉じた際に、外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽構造が形成されている。
次に、この電波遮蔽構造の実施形態について、適宜図面を参照しながら説明する。なお、図１，２，４に示した電波遮蔽構造は、後記する第１実施形態に係る電波遮蔽構造である。
【００７２】
［第１実施形態］
図６（ａ）は扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第１実施形態に係る電波遮蔽構造は、図６（ａ）に示すように、試験箱１０と扉２０との当接部分である扉２０の周縁部２２に設けられた立設板３１の側面に取り付けられた金属製のフィンガー３０と、扉２０の周縁部２２に取り付けられた電波の遮蔽性を有するパッキン４０とからなる。
【００７３】
フィンガー３０は、シールドフィンガー、フィンガーストリップ等とも呼ばれ、本実施形態においては、略櫛形をなす帯状の金属板の櫛の歯に相当する部分を、断面視円弧状に湾曲させて形成した板バネ部材であり、取付面の垂直方向に付勢され、電波の遮蔽性を有している。このフィンガー３０は、扉２０の周縁部２２の全周に、例えば、溶接等によって固定された断面視Ｌ字形状の金属製（例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等）の立設板３１の外周側側面に取り付けられている。
【００７４】
このようなフィンガー３０を形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属だけでなく合金であってもよい。特に、銅合金を使用することが望ましい。銅を主体とした銅合金は、導電性が高いのでフィンガー３０の電波の遮蔽性を高めることができる。また、銅合金は弾性性能が優れているので接触抵抗を小さくすることができる。このような銅合金としては、例えば、ベリリウム銅合金等が挙げられる。
【００７５】
パッキン４０は、弾性（クッション性）を有するスポンジ材を、導電性ファブリックで被覆したものであり、電波の遮蔽性を有している。このパッキン４０は、扉２０の周縁部２２の全周に設けられたフィンガー３０（立設板３１）の外周側に取り付けられている。なお、導電性ファブリックとしては、繊維をニッケルでめっきしたもの等が挙げられる。また、パッキンの永久歪率は、６０％以下であることが望ましい。
【００７６】
このような構成を備える第１実施形態に係る電波遮蔽構造は、図６（ｂ）に示すように、扉２０を閉じると、フィンガー３０が試験箱１０の開口縁部１２（折り曲げ部１３）に弾性的に当接すると共に、パッキン４０が試験箱１０の開口縁部１２に弾性的に当接する。これにより、試験箱１０と扉２０との隙間がフィンガー３０およびパッキン４０によって確実に閉塞されるため、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガー３０やパッキン４０で回折損失を起こすので、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。
【００７７】
また、フィンガー３０が、図６に示すように、立設板３１に取り付けられているので、扉２０を閉じた際に試験箱１０に当接して変形するフィンガー３０の復元力が、扉２０の開閉方向（図６の左右方向）に対して垂直（図６の上下方向）にかかることになる。これにより、フィンガー３０の復元力による扉２０の開扉を防止することができると共に、扉２０を閉扉状態に固定することができる。
【００７８】
さらに、パッキン４０が、図６に示すように、フィンガー３０の外周側に取り付けられているので、フィンガー３０による遮蔽機能とパッキン４０による遮蔽機能とが相乗的に働いて、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。また、フィンガー３０またはパッキン４０、どちらか一方の遮蔽機能が低下しても、他方の遮蔽機能によって電子機器用試験装置１の急激な電波遮蔽性能の低下を防止することができる。
【００７９】
なお、フィンガー３０は、立設板３１を介さずに、扉２０の周縁部２２に直接取り付ける構成としてもよい。また、パッキン４０は、試験箱１０の開口縁部１２の側に取り付けてもよい。
【００８０】
［第２実施形態］
図７（ａ）は扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第２実施形態に係る電波遮蔽構造は、図７（ａ）に示すように、試験箱１０と扉２０との当接部分である試験箱１０の開口縁部１２に設けられた立設板３１の側面に取り付けられた金属製のフィンガー３０と、扉２０の周縁部２２に取り付けられた電波の遮蔽性を有するパッキン４０とからなる。
【００８１】
第２実施形態に係る電波遮蔽構造は、フィンガー３０が、試験箱１０の開口縁部１２の全周に固定された断面視Ｌ字形状の金属製の立設板３１の外周側側面に取り付けられている点が、第１実施形態に係る電波遮蔽構造と異なる。
【００８２】
このような構成を備える第２実施形態に係る電波遮蔽構造は、図７（ｂ）に示すように、扉２０を閉じると、フィンガー３０が扉２０の周縁部２２（折り曲げ部２３）に弾性的に当接すると共に、パッキン４０が試験箱１０の開口縁部１２に弾性的に当接する。これにより、試験箱１０と扉２０との隙間がフィンガー３０およびパッキン４０によって確実に閉塞されるため、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガー３０やパッキン４０で回折損失を起こすので、当接部分から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。
【００８３】
また、フィンガー３０が、図７に示すように、立設板３１に取り付けられているので、扉２０を閉じた際に扉２０に当接して変形するフィンガー３０の復元力が、扉２０の開閉方向（図７の左右方向）に対して垂直（図７の上下方向）にかかることになる。これにより、フィンガー３０の復元力による扉２０の開扉を防止することができると共に、扉２０を閉扉状態に固定することができる。
【００８４】
さらに、パッキン４０が、図７に示すように、フィンガー３０の外周側に取り付けられているので、フィンガー３０による遮蔽機能とパッキン４０による遮蔽機能とが相乗的に働いて、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。また、フィンガー３０またはパッキン４０、どちらか一方の遮蔽機能が低下しても、他方の遮蔽機能によって電子機器用試験装置１の急激な電波遮蔽性能の低下を防止することができる。
【００８５】
なお、フィンガー３０は、立設板３１を介さずに、試験箱１０の開口縁部１２に直接取り付ける構成としてもよい。また、パッキン４０は、試験箱１０の開口縁部１２の側に取り付けてもよい。
【００８６】
［第３実施形態］
図８（ａ）は扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第３実施形態に係る電波遮蔽構造は、図８（ａ）に示すように、試験箱１０と扉２０との当接部分である試験箱１０の開口縁部１２に形成される挿入片５０と、扉２０の周縁部２２に形成される挿入溝６０と、を有し、フィンガー３０が扉２０の周縁部２２の挿入溝６０の内周側に取り付けられると共に、パッキン４１が挿入溝６０の底部に取り付けられ、パッキン４２，４２が挿入片５０の内周側および外周側の開口縁部１２にそれぞれ取り付けられている。
【００８７】
フィンガー３０は、第１，２実施形態に係る電波遮蔽構造で使用されたものと同一であり、扉２０の周縁部２２の全周に取り付けられている。
パッキン４１，４２は、第１，２実施形態に係る電波遮蔽構造で使用されたパッキン４０と同様に、弾性（クッション性）を有するスポンジ材を導電性ファブリックで被覆したものであるが、そのサイズが異なる。
【００８８】
挿入片５０は、試験箱１０の開口縁部１２の全周に形成された金属製（例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等）の立設部分である。この挿入片５０は、図８（ａ）に示すように、試験箱１０（筐体１１０）を構成するパネル１１１（図２乃至４参照）と一体に形成してもよいし、金属板（断面視Ｌ字形状や断面視凸形状等であってもよい）を試験箱１０の開口縁部１２の全周に溶接等によって固定することで形成してもよい。そして、この挿入片５０の両側には、パッキン４２，４２が試験箱１０の開口縁部１２の全周に亘って取り付けられている。
【００８９】
挿入溝６０は、扉２０の周縁部２２の全周に形成された凹部であり、扉２０を閉じた際に、前記した挿入片５０が挿入される。この挿入孔６０の底部には、パッキン４１が扉２０の周縁部２２の全周に亘って取り付けられている。
【００９０】
このような構成を備える第３実施形態に係る電波遮蔽構造は、図８（ｂ）に示すように、扉２０を閉じると、挿入片５０が挿入溝６０に挿入されて、電波回折構造を形成するので、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波が、挿入片５０や挿入溝６０の内部で回折損失を起こす。
【００９１】
また、扉２０を閉じると、パッキン４１が挿入片５０の先端部に弾性的に当接することで挿入片５０と挿入溝６０との隙間が確実に閉塞されると共に、パッキン４２，４２が挿入溝６０の両側に弾性的に当接することで試験箱１０と扉２０との隙間が確実に閉塞されるため、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波がパッキン４１，４２，４２で回折損失を起こす。
【００９２】
さらに、扉２０を閉じると、フィンガー３０が試験箱１０の開口縁部１２に弾性的に当接することで試験箱１０と扉２０との隙間が確実に閉塞されるので、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波がフィンガー３０で回折損失を起こす。
【００９３】
よって、第３実施形態に係る電波遮蔽構造は、フィンガー３０、パッキン４１，４２，４２、挿入片５０および挿入溝６０の相互の回折損失作用により、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。
【００９４】
なお、第３実施形態では、挿入片５０を試験箱１０の開口縁部１２に形成し、挿入溝６０を扉２０の周縁部２２に形成した構成としたが、これに限定されるものではない。すなわち、挿入片５０を扉２０の周縁部２２に形成し、挿入溝６０を試験箱１０の開口縁部１２に形成した構成としてもよい。
【００９５】
また、第３実施形態では、パッキン（４１，４２）を、挿入片５０の両側と挿入溝６０の底部とに取り付けた構成としたが、これに限定されず、例えば、挿入片５０の両側にのみ取り付ける構成としてもよいし、挿入溝６０の底部にのみ取り付ける構成としてもよい。さらに、フィンガー３０は、試験箱１０の開口縁部１２の側に取り付けてもよい。
【００９６】
［第４実施形態］
図９（ａ）は扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第４実施形態に係る電波遮蔽構造は、フィンガー３２，３２が、挿入溝６０の内部に取り付けられている点、より詳細には、フィンガー３２，３２が、挿入溝６０の内部の対向する側面の全周、それぞれに取り付けられている点が、第３実施形態に係る電波遮蔽構造と異なる。
【００９７】
フィンガー３２は、取付面の垂直方向に付勢される金属製の円弧状板バネ部材であり、フィンガー３０と同様に、電波の遮蔽性を有しているが、フィンガー３０とはサイズが異なる。
【００９８】
このような構成を備える第４実施形態に係る電波遮蔽構造は、前記した第３実施形態に係る電波遮蔽構造の作用効果に加えて、図９（ｂ）に示すように、扉２０を閉じると、フィンガー３２，３２が挿入片５０に両側から挟持するように弾性的に当接する。これにより、挿入片５０と挿入溝６０との隙間が確実に閉塞されるため、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波がフィンガー３２，３２で回折損失を起こし、その結果、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波をさらに効果的に遮蔽することができる。
【００９９】
［第５実施形態］
図１０（ａ）は扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
第５実施形態に係る電波遮蔽構造は、挿入溝６０の底部にパッキン４１を設けていない点と挿入片５０の全周にフィンガー３３が取り付けられている点が、第３実施形態に係る電波遮蔽構造と異なる。
【０１００】
フィンガー３３は、略櫛形をなす帯状の金属板の櫛の歯に相当する部分を、断面視略三角形状に折り曲げて形成した板バネ部材であり、取付面の垂直方向に付勢され、電波の遮蔽性を有している。また、フィンガー３３には、挿入片５０に取り付けるためのクリップ部３３ａが形成されている。このフィンガー３３は、クリップ部３３ａが挿入片５０を挟持することによって挿入片５０に取り付けられている。
【０１０１】
このような構成を備える第５実施形態に係る電波遮蔽構造は、図１０（ｂ）に示すように、扉２０を閉じると、挿入片５０が挿入溝６０に挿入されて、電波回折構造を形成するので、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波が、挿入片５０や挿入溝６０の内部で回折損失を起こす。
【０１０２】
また、扉を閉じると、パッキン４２，４２が挿入溝６０の両側に弾性的に当接すると共に、フィンガー３０が試験箱１０の開口縁部１２に弾性的に当接するので、試験箱１０と扉２０との隙間が確実に閉塞されるため、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波がパッキン４２，４２およびフィンガー３０で回折損失を起こす。
【０１０３】
さらに、扉２０を閉じると、フィンガー３３の先端部３３ｂおよび第２折曲部３３ｄが挿入溝６０の内部側面に弾性的に当接すると共に、フィンガー３３の第１折曲部３３ｃが挿入溝６０の底部に弾性的に当接するので、挿入片５０と挿入溝６０との隙間が確実に閉塞されるため、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波が、フィンガー３３で回折損失を起こす。
【０１０４】
よって、第５実施形態に係る電波遮蔽構造は、フィンガー３０，３３、パッキン４２，４２、挿入片５０および挿入溝６０の相互の回折損失作用により、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波をより効果的に遮蔽することができる。
【０１０５】
以上、電波遮蔽構造の実施形態について説明したが、電波遮蔽構造の実施形態はこれに限定されるものではない。具体的な構成については、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能である。例えば、前記した第１乃至５実施形態の少なくとも二つを組み合せた構成としてもよい。
【０１０６】
また、前記した第１，２実施形態では、扉２０の周縁部２２（または試験箱１０の開口縁部１２）に１つのパッキン４０が取り付けられる構成（図６，７参照）としたが、これに限定されるものではない。例えば、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波の侵入方向に対して、２つのパッキンが二重に配置されるように取り付けられる構成であってもよい（図示せず）。当然、パッキンが三重以上に配置されるように取り付けてもよい。第３乃至５実施形態のパッキン４１，４２についても同様である。
【０１０７】
また、前記した第３乃至５実施形態では、扉２０の周縁部２２（または試験箱１０の開口縁部１２）に１つのフィンガー３０が取り付けられる構成（図８乃至１０参照）としたが、これに限定されるものではない。例えば、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波の侵入方向に対して、２つのフィンガーが二重に配置されるように取り付けられる構成であってもよい（図示せず）。当然、フィンガーが三重以上に配置されるように取り付けてもよい。第１，２実施形態についても同様である。
【０１０８】
さらに、前記した第３乃至５実施形態では、挿入片５０および挿入溝６０をそれぞれ１つずつ形成する構成（図８乃至１０参照）としたが、これに限定されるものではない。例えば、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波の侵入方向に対して、二重以上となるように形成する構成としてもよい。
【０１０９】
最後に、図１乃至４に示す電子機器用試験装置１（図６に示す第１実施形態に係る電波遮蔽構造を備える）の動作を説明しつつ、本発明の一実施形態に係る電子機器試験方法について、適宜図面を参照しながら説明する。
【０１１０】
まず、図１に示すように、扉２０を開き、電子機器Ｐを試験箱１０の内部に入れ、取付ユニット１７０の固定具１７４に形成された挿通部１７４ａ（図３参照）に挿通して、試験箱１０の内部に固定する。また、ケーブル１８０のコネクタ（図示せず）を電子機器Ｐに接続する。
【０１１１】
次に、扉２０を閉めると、図６に示すように、フィンガー３０が試験箱１０の開口縁部１２（折り曲げ部１３）に弾性的に当接すると共に、パッキン４０が試験箱１０の開口縁部１２に弾性的に当接する。これにより、試験箱１０と扉２０との隙間がフィンガー３０およびパッキン４０によって確実に閉塞され、試験箱１０と扉２０との当接部分から侵入しようとする電波がフィンガー３０やパッキン４０で回折損失を起こすので、高い電波遮蔽環境を実現できる。
【０１１２】
そして、例えば、試験開始スイッチ（図示せず）等をＯＮにすることで、電波送受信ユニット（図示せず）からアンテナ１６０に電気信号が送信され、アンテナ１６０から電波が放射される。電子機器Ｐの動作の試験は、アンテナ１６０から電波を放射しながら、電子機器Ｐの電波の受信状態を試験ユニット１９０（図２参照）で検出することで行われる。試験ユニット１９０では、電子機器Ｐの電波の受信状態を検出して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定する。
【０１１３】
このとき、前記した電波送受信ユニット（図示せず）によって、アンテナ１６０から放射される電波の強度や周波数帯域等を変化させて試験を行うこともできる。
【０１１４】
正常状態であると判定されたら、扉２０を開いてアンテナ１６０の向きを変えた後に、扉２０を閉めて異なる偏波面（水平波および垂直波）について試験を行うこともできる。
また、正常状態であると判定されたら、扉２０を開いて保持固定治具１７２の位置を変えて固定板１７１に固定し、アンテナ１６０との距離を変えて、電子機器Ｐが電波を正常に受信できるか否かの試験を行うこともできる。
【０１１５】
なお、電子機器ＰのアンテナＰａ（図３参照）とアンテナ１６０との距離は、電子機器Ｐやアンテナ１６０から放射される電波の波長λ以上となるように設定することが望ましく、２λ以上となるように設定するとさらに望ましい。これにより、遠方電磁界の領域に電子機器ＰのアンテナＰａを配置することが可能となり、電界強度が安定する位置で電子機器Ｐの試験を行うことができるので、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。
ここで、遠方電磁界の領域とは、波動インピーダンスが空間の波動インピーダンスＺ０に等しくなる領域のことを意味する。アンテナ１６０から放射される電波はこの領域において平面波に近い伝搬をする。
以上が、電子機器用試験装置１の一連の動作および電子機器試験方法である。
【０１１６】
以上のような電子機器用試験装置１によれば、試験箱１０と扉２０との当接部分に、フィンガー３０，３２，３３、パッキン４０，４１，４２、挿入片５０、挿入溝６０等からなる多重の電波遮蔽構造を備えるので、試験箱１０の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。また、このような電子機器用試験装置１を使用することで、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。
【０１１７】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されるものではない。具体的な構成については、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能であり、例えば、以下のような変更が可能である。
【０１１８】
前記した実施形態では、電子機器Ｐとして携帯電話を図示して説明したが、本発明の試験対象となる電子機器Ｐは、携帯電話に限定されるものではない。例えば、携帯電話と同様に電波の授受を行うＰＤＡ（Personal Digital Assistance）や無線ＬＡＮ（Local Area Network）機能を備えるノート型のパーソナルコンピュータ等であってもよい。また、外部電波の影響を受けることが好ましくない精密測定機器や医療機器等であってもよい。さらに、外部に所定値以上の電波を放射することが好ましくない家電機器や医療機器等であってもよい。なお、この場合、取付ユニット１７０の形状やサイズ等、または、取付ユニット１７０を備えるか否かについては、試験対象である電子機器に応じて適宜設定されることはいうまでもない。
【０１１９】
また、試験箱１０は、前記した実施形態に限定されず、例えば、電波暗室のような、試験員がその内部に出入りすることができる大型の部屋（試験室）であってもよい。このような試験室は、試験箱１０と同様に金属製の筐体で形成してもよいし、例えば、電波の遮蔽性を有するコンクリート構造としてもよい。
【０１２０】
前記した実施形態では、複数の金属製のパネル１１１を、骨格となるフレーム（図示せず）に溶接して筐体１１０を形成しているが、これに限定されず、例えば、複数の金属製のパネルをボルト等によって組み付けて形成する組立・分解可能な構成としてもよい。なお、このような構成の場合、複数の金属製のパネルの隙間に電波の遮蔽性を有する充填材を介在させることが望ましい。これにより、筐体（試験箱）の電波の遮蔽性を良好に維持することができる。電波の遮蔽性を有する充填材としては、例えば、上下面の少なくとも一方が絶縁層（例えば、紙、接着層を兼ねる粘着テープ等）で絶縁された抵抗損失体（例えば、カーボン抵抗シート、金属薄膜抵抗シート、熱線遮断フィルム等）を有する電磁遮蔽接合用シート体を使用することができる。具体的には、例えば、ルミディオン（登録商標）ＩＲ（東洋サービス株式会社）等を使用することができる。
【０１２１】
前記した実施形態では、筐体１１０を金属製とすることで、電波の遮蔽性や剛性等を高める構成としたが、これに限定されず、例えば、電波の遮蔽性を有する板材で筐体を形成してもよい。
【０１２２】
前記した実施形態では、ＥＭＩダクト１４０の内部にケーブル１８０（電気信号用のケーブル）を通す構成としたが、これに限定されるものではない。
電気信号用のケーブルは、その内部をノイズが導通するために電磁妨害が発生する。前記した実施形態では、ケーブル１８０をノイズ吸収体１８１で被覆することで（図２参照）、ケーブル１８０からのノイズの輻射と伝搬を抑制する構成となっているが、完全に防止することは現実的には困難である。そこで、試験箱１０の電波遮蔽性能をさらに向上させるため、例えば、ノイズが極めて小さい光信号用のケーブル（光ケーブル）をＥＭＩダクト１４０の内部に通す構成としてもよい。
【０１２３】
図１１は電子機器用試験装置の他の実施形態を示す水平断面図である。なお、ケーブル１８２，１８６は電気信号用のケーブルであり、変換ユニット１８３，１８５は電気信号と光信号とを相互に変換可能な公知のユニットである。
図１１に示すように、電子機器Ｐと試験ユニット１９０とは、ケーブル１８２、変換ユニット１８３、光ケーブル１８４、変換ユニット１８５およびケーブル１８６を介して接続されている。
【０１２４】
具体的には、一端に電子機器Ｐに着脱自在に接続可能なコネクタ（図示せず）を備えるケーブル１８２の他端が筐体１１０（試験箱１０）の内部に設置された変換ユニット１８３に接続され、この変換ユニット１８３に光ケーブル１８４の一端が接続されている。光ケーブル１８４は、その所定長さ（例えば、１００ｍｍ以上）が、ＥＭＩダクト１４０の内部を通るように配線されている。そして、光ケーブル１８４の他端が筐体１１０（試験箱１０）の外部に設置された変換ユニット１８５に接続されると共に、この変換ユニット１８５にケーブル１８６の一端が接続され、その他端が試験ユニット１９０に接続されている。なお、変換ユニット１８３，１８５と、光ケーブル１８４とは、例えば、ＵＳＢコネクタ、ＲＳ２３２Ｃコネクタ、ＬＡＮコネクタ等を介して接続することができる。
【０１２５】
ここで、変換ユニット１８３，１８５が、例えば、内部電源を備えない機器である場合は、別途、外部電源（例えば、電源コンセント等）から電力を供給する必要がある。このとき、筐体１１０の外部に設置される変換ユニット１８５に対しては、例えば、外部電源に接続された電源ケーブルを直接接続して電力を供給することができる（図示せず）。しかしながら、このような電源ケーブルはその内部をノイズが導通するため、筐体１１０の内部に電源ケーブルを直接導通して、変換ユニット１８３に接続すると電磁妨害が発生する。
【０１２６】
そこで、図１１に示すように、変換ユニット１８３に対しては、筐体１１０の側壁に貫設したローパスフィルタ１８７を介して電力を供給することが望ましい。具体的には、筐体１１０の外部においては、ローパスフィルタ１８７に接続された電源ケーブル１８８を外部電源（図示せず）に接続すると共に、筐体１１０の内部においては、変換ユニット１８３に接続された電源ケーブル１８９をローパスフィルタ１８７に接続することで、変換ユニット１８３に対して電力を供給する。
【０１２７】
ローパスフィルタ１８７は、特定の周波数以外の信号を遮断するフィルタのうち低域周波数のみを通過させるフィルタである。このようなローパスフィルタ１８７は、例えば、外部電源が電源コンセントである場合、５０Ｈｚまたは６０Ｈｚの周波数域を通過させると共に、試験対象となる電子機器Ｐが使用する周波数帯の周波数域を遮断するものであることが望ましい。例えば、電子機器Ｐが携帯電話である場合は、０．８〜２．４ＧＨｚの周波数域を遮断するものであることが望ましい。なお、変換ユニット１８３に電力を供給する外部電源は、電源コンセントに限定されず、例えば、筐体１１０の内部に設置されるバッテリ等であってもよい。
【０１２８】
以上のように、光ケーブル１８４の所定長さ（例えば、１００ｍｍ以上）が、ＥＭＩダクト１４０の内部を通るように、光ケーブル１８４を配線することによって、電磁妨害を良好に防止することができる。これにより、試験箱１０（電子機器用試験装置１）の電波遮蔽性能をさらに向上させることができるので、電子機器Ｐの試験をより精密に行うことができる。なお、ＥＭＩダクト１４０の内部を通って、筐体１１０の内部に導通されるケーブルが、全て光ケーブルである場合は、ＥＭＩダクト１４０を備えない構成としてもよい。
【０１２９】
電子機器Ｐおよび試験ユニット１９０が、共に光信号を直接送受信することができる機器である場合には、ケーブル１８２，１８６および変換ユニット１８３，１８５を設けずに、一端に電子機器Ｐに着脱自在に接続可能なコネクタ（図示せず）を備えた光ケーブル１８４によって、電子機器Ｐと試験ユニット１９０とを直接接続する構成としてもよい（図示せず）。
【０１３０】
前記した実施形態では、試験箱１０（筐体１１０）の背面に給排気用のハニカムフィルタ１５０（またはメッシュフィルタ１５５）を備える構成としたが、給排気用のフィルタは、これらに限定されるものではない。例えば、試験箱（筐体）の背面に、所定波長よりも長い電波を伝搬させない導波管として機能するように内径および長さ（パネル厚）を設定（設計）した複数の微細な貫通孔を形成した構成としてもよい。また、このような複数の微細な貫通孔を備えるプレートを、試験箱（筐体）の背面に形成される貫通孔（図４参照）に取付枠および絶縁抵抗性を有するガスケットを介して内側から固定する構成としてもよい。
【０１３１】
前記した実施形態では、試験箱１０（筐体１１０）の背面に一つの給排気用のフィルタ（ハニカムフィルタ１５０またはメッシュフィルタ１５５）を備える構成としたが、これに限定されず、例えば、吸気用と排気用の少なくとも二つのフィルタを備える構成としてもよい。この場合、全て同種のフィルタを使用してもよいし、異種のフィルタを組み合せて使用してもよい。また、排気用のフィルタまたは試験箱（筐体）の背面に形成される排気用の貫通孔に、排気ファン（図示せず）を取り付けてもよい。なお、電子機器用試験装置の電波遮蔽性能をさらに向上させたい場合には、給排気用のフィルタを備えなくてもよい。
【０１３２】
前記した実施形態では、アンテナ１６０の回転調整は、コネクタ１６１を緩めてアンテナ用導波管１６２を回動させ、アンテナ１６０の向きを変えた後、コネクタ１６１を締めてアンテナ用導波管１６２（アンテナ１６０）を再び固定するという手動で行う構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、公知の動力機構や制御機構等を組み合せて、機械的に行う構成としてもよい。
【０１３３】
前記した実施形態では、固定具１７４が取付板１７３に着脱自在に取り付けられる構成としたが、これに限定されず、固定具が取付板に回動自在に取り付けられる構成としてもよい。この場合、固定具の回転調整は機械的に行う構成としてもよい。
【０１３４】
前記した実施形態では、保持固定治具１７２が固定板１７１に形成された複数のボルト孔１７１ａとボルトＢとによって段階的に移動可能な構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、保持固定治具が固定板に設けたレールに沿って無段階で移動可能な構成としてもよい。これによれば、アンテナと保持固定治具（電子機器）との距離を簡単に調整することができる。
【０１３５】
前記した実施形態では、図１，２，４に示すように、扉２０に窓２１０が設けられている構成としたが、これに限定されず、試験箱に窓を設ける構成としてもよい。また、扉や窓はそれぞれ複数設けてもよい。なお、電子機器用試験装置の電波遮蔽性能をさらに向上させたい場合には、窓を設けなくてもよい。
【０１３６】
前記した実施形態では、パッキン４０，４１，４２として、スポンジ材を導電性ファブリックで被覆したものを例示したが、本発明で使用可能なパッキンはこれに限定されるものではない。例えば、導電性微粒子（金属微粒子、カーボンブラック等）を混合したゴム（シリコンゴム、クロロプレンゴム等）（いわゆる導電性ゴム）からなるパッキンを使用してもよい。また、金属メッシュでガスケットを被覆したもの（例えば、ソフト・シールド（太陽金網株式会社））を使用してもよいし、金属メッシュ束線を使用してもよい。
【０１３７】
前記した実施形態では、アンテナ１６０から電子機器Ｐに電波を放射して、電子機器Ｐが正常に電波を受信できるか否かを試験ユニット１９０で判定する電子機器試験方法について説明したが、電子機器試験方法はこれに限定されるものではない。例えば、試験ユニット１９０から電子機器Ｐに各種の指示を送信して電子機器Ｐ（アンテナＰａ。図３参照）からアンテナ１６０に電波を送信させ、アンテナ１６０が受信した電波を電波送受信ユニット（図示せず）で測定して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定してもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１３８】
【図１】本発明に係る電子機器用試験装置の一実施形態を示す全体斜視図である。
【図２】図１に示す電子機器用試験装置のII−II断面図である。
【図３】図１に示す電子機器用試験装置のIII−III断面図である。
【図４】図１に示す電子機器用試験装置のIV−IV断面図である。
【図５】（ａ）はハニカムフィルタを示す斜視図であり、（ｂ）はメッシュフィルタを示す斜視図である。
【図６】（ａ）は第１実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
【図７】（ａ）は第２実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
【図８】（ａ）は第３実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
【図９】（ａ）は第４実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
【図１０】（ａ）は第５実施形態に係る電波遮蔽構造の扉を開いた状態を示す概略図であり、（ｂ）は扉を閉じた状態を示す概略図である。
【図１１】本発明に係る電子機器用試験装置の他の実施形態を示す水平断面図である。
【符号の説明】
【０１３９】
１      電子機器用試験装置
１０    試験箱
１１    開口部
１２    開口縁部
２０    扉
２２    周縁部
３０，３２，３３  フィンガー
３１    立設板
４０，４１，４２  パッキン
５０    挿入片
６０    挿入溝
１４０  ＥＭＩダクト
１８０  ケーブル
１８４  光ケーブル
Ｈ      ヒンジ
Ｐ      電子機器
【図１】
2008235730.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2008235730.tif 000009
【図８】
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【図９】
2008235730.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
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