(57)【要約】【課題】  高度な信頼性の算出寿命を得るための必要試験個数を、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても必要試験個数を試算することのできる方法を提供する。【解決手段】  あるワイブル分布から乱数を発生させ（Ｊ２１）、同じワイブル分布から乱数を発生させる（Ｊ２２）。その発生させた乱数から求まる寿命を演算して１組の寿命比を算出する（Ｊ２３）。この処理を設定回数繰り返して設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成する（Ｊ２４）。個数を順次変えて、上記累積確率分布作成までの処理を繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する（Ｊ２５）。このグラフから、入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定める（Ｊ２６）。【選択図】        図５
2008128696.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
軸受等の機械部品または試験片からなる試験対象品を使用環境よりも厳しい所定の環境条件におき、破損が発生した時間から寿命を算出する加速試験において、試験対象品の２つのロット間で有為差有りと判断できる必要試験個数を見積もる方法であって、
コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品の持つワイブル分布のワイブルスロープの値、および何倍であれば有為差有りと判断するかの倍数で示される寿命差を入力する過程と、
上記コンピュータに、必要試験個数を演算させ演算結果を表示装置の画面に表示させるコンピュータ演算処理過程とを含み、
上記コンピュータ演算処理過程として、
試験対象品の上記入力情報のワイブルスロープの値および仮に定めた寿命から定まるワイブル分布に従った乱数を仮試験個数分発生させる第１乱数発生手順と、
この第１乱数発生手順と同じワイブル分布に従った乱数を上記仮試験個数分発生させる第２乱数発生手順と、
第１乱数発生手順で発生させた設定個数の乱数から所定の寿命計算方法で求まる寿命と第２乱数発生手順で発生させた設定個数の乱数から上記所定の寿命計算方法で求まる寿命との１組の寿命比を算出する寿命比算出手順と、
これら第１乱数発生手順，第２乱数発生手順，および寿命比算出手順を設定回数繰り返し、上記設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成する累積確率分布作成手順と、
上記仮試験個数を繰り返しの都度変えて、上記第１乱数発生手順，第２乱数発生手順，および累積確率分布の作成までの手順である累積確率分布作成手順を、上記仮試験個数が設定最小個数から設定最大個数まで変わる範囲で繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する個数・寿命差関係グラフ作成手順と、
この手順で作成された試験個数と必要寿命差の関係のグラフから、上記入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定める必要試験個数読み取り手順と、
この読み取った必要試験個数を表示装置に出力させる必要試験個数出力手順と、
を含む、加速試験における必要試験個数見積もり方法。
【請求項２】
軸受等の機械部品または試験片からなる試験対象品を使用環境よりも厳しい所定の環境条件におき、破損が発生した時間から寿命を算出する加速試験において、試験対象品の２つのロット間で有為差有りと判断できる必要試験個数を見積もる装置であって、
演算処理装置と、この演算処理装置の出力を画面に表示する表示装置と、上記演算処理装置に入力を行う入力手段とを備え、
上記演算処理装置は、
上記表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品の持つワイブル分布のワイブルスロープの値、および何倍であれば有為差有りと判断するかの倍数で示される寿命差の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手段と、
実行命令に応答して必要試験個数を演算しその演算結果を上記表示装置の画面に出力する必要試験個数演算手段とを備え、
この必要個数演算手段は、
試験対象品の上記入力情報のワイブルスロープの値および仮に定めた寿命から定まるワイブル分布に従った乱数を仮試験個数分発生させる第１乱数発生手段と、
この第１乱数発生手段と同じワイブル分布に従った乱数を上記仮試験個数分発生させる第２乱数発生手段と、
第１乱数発生手段で発生させた設定個数の乱数から所定の寿命計算方法で求まる寿命と第２乱数発生手段で発生させた設定個数の乱数から上記所定の寿命計算方法で求まる寿命との１組の寿命比を算出する寿命比算出手段と、
これら第１乱数発生手段，第２乱数発生手段，および寿命比算出手段の処理を設定回数繰り返し、上記設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成する累積確率分布作成手段と、
上記仮試験個数を繰り返しの都度変えて、上記第１乱数発生手段，第２乱数発生手段，の処理および上記累積確率分布の作成までを行う累積確率分布作成手段の処理を、上記仮試験個数が設定最小個数から設定最大個数まで変わる範囲で繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する個数・寿命差関係グラフ作成手段と、
この手順で作成された試験個数と必要寿命差の関係のグラフから、上記入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定める必要試験個数読み取り手段と、
この読み取った必要試験個数を表示装置に出力させる必要試験個数出力手段と、
を含む、加速試験における必要試験個数見積もり装置。
【請求項３】
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
上記表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品の持つワイブル分布のワイブルスロープの値、および何倍であれば有為差有りと判断するかの倍数で示される寿命差の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手順と、
実行命令に応答して必要試験個数を演算し上記表示装置の画面に表示させる必要試験個数演算手順とを含み、
上記必要試験個数演算手順は、
試験対象品の上記入力情報のワイブルスロープの値および仮に定めた寿命から定まるワイブル分布に従った乱数を仮試験個数分発生させる第１乱数発生手順と、
この第１乱数発生手順と同じワイブル分布に従った乱数を上記仮試験個数分発生させる第２乱数発生手順と、
第１乱数発生手順で発生させた設定個数の乱数から所定の寿命計算方法で求まる寿命と第２乱数発生手順で発生させた設定個数の乱数から上記所定の寿命計算方法で求まる寿命との１組の寿命比を算出する寿命比算出手順と、
これら第１乱数発生手順，第２乱数発生手順，および寿命比算出手順を設定回数繰り返し、上記設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成する累積確率分布作成手順と、
上記仮試験個数を繰り返しの都度変えて、上記第１乱数発生手順，第２乱数発生手順，および累積確率分布の作成までの手順である累積確率分布作成手順を、上記仮試験個数が設定最小個数から設定最大個数まで変わる範囲で繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する個数・寿命差関係グラフ作成手順と、
この手順で作成された試験個数と必要寿命差の関係のグラフから、上記入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定める必要試験個数読み取り手順と、
この読み取った必要試験個数を表示装置に出力させる必要試験個数出力手順と、
を含む、加速試験における必要試験個数見積もりプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、軸受等の機械部品または試験片からなる試験対象品を使用環境よりも厳しい所定の環境条件におき、破損が発生した時間から寿命を算出する加速試験において、試験対象品の２つのロット間で有為差有りと判断できる必要試験個数を見積もる方法、装置、プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
寿命試験は、軸受等の機械部品の性能を評価するために欠かせない試験の１つである。寿命試験には、大きく分けて(1) 実機の使用環境に近い条件で試験を行う実機試験と、(2) 比較的過酷な条件で寿命試験を行う加速試験がある。前者は、製品が有限時間内に破損するケースが極めて少ないため、ある目標時間まで破損することなく試験が継続すれば、寿命は問題ないと判断する試験である（以下、このような試験を「打切り試験」と呼ぶ）。一方、後者は、比較的短時間で破損が発生するので、ワイブルプロットで寿命が算出でき（例えば非特許文献１）、その算出寿命から性能の優劣を判定する試験である（以下、このような試験を「加速試験」と呼ぶ）。
【０００３】
従来より、寿命試験は経験を積んだ熟練者が行っており、試験条件や試験個数を決める寿命試験の設計と寿命試験結果の解釈に対して経験的に確からしい判断ができたと考えられる。
図１４に、従来から行われてきた寿命試験の設計と寿命試験結果の解釈の手順を、打切り試験と加速試験ごとに示す。
また、現在、寿命試験において経験的に判断されているものの詳細を、表１に示す。
【０００４】
【表１】
2008128696.tif 000003
【０００５】
なお、ワイブル分布を機械部品の寿命判断に用いるものは、種々の特許文献，非特許文献に提案されている。
【特許文献１】特開２００６−０４０２０３号公報
【特許文献２】特開２００２−２７７３８２号公報
【特許文献３】特開２００５−２２６８２９号公報
【非特許文献１】真壁肇著著、信頼性工学入門７９、１９９１年発行
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
加速試験では、試験個数の設計を試験前に設計しなければならない。加速試験では、試験個数が多いほど、算出される寿命の信頼性は高くなるが（ここでいう信頼性が高いとは、寿命のばらつきが小さいことをいう）、使用できる試機の台数や、ロットから抜き出した試験対象品を破損させてしまうことから、際限なく試験個数を増やすことはできない。加速試験の試験個数を決定する際に重要なことは、試験個数をどの程度多くすれば、どの程度信頼性の高い算出寿命が得られるかという点である。
上記のように、従来は、試験個数を決める設計を熟練者が経験的に行っており、また信頼性の確保できる試験個数を定めるには、長い時間がかかっていた。
【０００７】
この発明の目的は、高度な信頼性の算出寿命を得るための必要試験個数を、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても必要試験個数を試算することのできる方法、装置、およびその方法の実施のためのコンピュータプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明の加速試験における必要試験個数見積もり方法は、軸受等の機械部品または試験片からなる試験対象品を使用環境よりも厳しい所定の環境条件におき、破損が発生した時間から寿命を算出する加速試験において、試験対象品の２つのロット間で有為差有りと判断できる必要試験個数を見積もる方法であって、
コンピュータに対し、入力情報として、試験対象品の持つワイブル分布のワイブルスロープの値、および何倍であれば有為差有りと判断するかの倍数で示される寿命差を入力する過程（Ｈ１）と、
上記コンピュータに、必要試験個数を演算させ演算結果を表示装置の画面に表示させるコンピュータ演算処理過程（Ｈ２）とを含む。
上記寿命は、例えばＬ１０寿命（９０％の信頼度の寿命）や、Ｌ５０寿命（５０％の信頼度の寿命）等の所定信頼度の寿命である。
【０００９】
上記コンピュータ演算処理過程（Ｈ２）として、
試験対象品の上記入力情報のワイブルスロープの値および仮に定めた寿命から定まるワイブル分布に従った乱数を仮試験個数分発生させる第１乱数発生手順（Ｊ２１）と、
この第１乱数発生手順と同じワイブル分布に従った乱数を上記仮試験個数分発生させる第２乱数発生手順（Ｊ２２）と、
第１乱数発生手順で発生させた設定個数の乱数から所定の寿命計算方法で求まる寿命と第２乱数発生手順で発生させた設定個数の乱数から上記所定の寿命計算方法で求まる寿命との１組の寿命比を算出する寿命比算出手順（Ｊ２３）と、
これら第１乱数発生手順（Ｊ２１），第２乱数発生手順（Ｊ２２），および寿命比算出手順（Ｊ２３）を設定回数繰り返し、上記設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成する累積確率分布作成手順（Ｊ２４）と、
上記仮試験個数を繰り返しの都度変えて、上記第１乱数発生手順（Ｊ２１），第２乱数発生手順（Ｊ２２），および累積確率分布の作成までの手順である累積確率分布作成手順（Ｊ２４）を、上記仮試験個数が設定最小個数から設定最大個数まで変わる範囲で繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する個数・寿命差関係グラフ作成手順（Ｊ２５）と、
この手順（Ｊ２５）で作成された試験個数と必要寿命差の関係のグラフから、上記入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定める必要試験個数読み取り手順（Ｊ２６）と、
この読み取った必要試験個数を表示装置に出力させる必要試験個数出力手順（Ｊ２７）と、
を含む。
【００１０】
上記第１，第２乱数発生手順（Ｊ２１，Ｊ２２）において、乱数発生に用いるワイブル分布を特定するための所定信頼度の寿命（例えばＬ１０寿命）は、適宜想定した寿命を設定すれば良い。
また、寿命比算出手順（Ｊ２３）において、乱数発生手順（Ｊ２１，Ｊ２２）で発生させた設定個数の乱数から寿命を求める所定の寿命計算方法は、加速試験において従来から用いられている中の適宜の寿命計算方法を用いれば良い。加速試験においては、破損の発生した時間からワイブルプロットで寿命を求めることが行われており、このような破損時間から寿命を求める計算方法を、上記寿命比算出手順における寿命計算方法として用いる。
ワイブル分布は、次式、
【００１１】
【数１】
2008128696.tif 000004
【００１２】
ただし、ｍ：ワイブルスロープ、α：尺度因子、γ：最小寿命、
によって特定される。
【００１３】
軸受等の機械部品の寿命は、ワイブル分布に従うとされている。ワイブル分布は、ワイブルスロープｍ、尺度因子α、最小寿命γの３つのパラメータを持っており、ワイブルスロープｍによって指数分布、対数正規分布、正規分布を表現できる万能分布として知られている。量産される軸受等では、ワイブルスロープは実績値が既知である場合が多く、この発明方法において、ワイブルスロープには、試験対象品の実績値を用いることが好ましい。実績値がない場合は、適宜の方法で見積もったワイブルスロープを用いてもよい。最小寿命γは、種々の規格、例えばＩＳＯ等によって計算方法が定められており、そのように定められたいずれかの計算方法を用いることが好ましい。尺度因子αは、ワイブルスロープの値、要求寿命の信頼度、要求寿命の値、および上記最小寿命γから一義的に決定される演算式があり、その演算式を用いて特定しても良い。
【００１４】
この方法において、累積分布作成手順（Ｊ２４）で行う処理は、同じ寿命分布を持つロットから仮試験個数分の試験対象品を２組抜きとり、寿命試験を行った結果、どの程度の寿命差が出るのかを設定回数確認することに対応している。同じ寿命分布を持つロットから試験片を抜きとった試験においても、寿命はばらついてる。その寿命比のばらつきを累積確率分布の適宜の信頼区間、例えば５％と９５％の区間（９０％信頼区間）として定義すると、その寿命ばらつきは、上記累積確率分布から算出できる。この結果は、同じ寿命分布を持つロットから仮試験個数の試験片を２組抜きとって寿命比較を行っても、９０％のものは、累積確率分布に示された信頼区間の範囲で寿命比がばらついてしまうことを示している。逆にいうと上記信頼区間の最大の寿命差があれば、そのロット間の寿命分布が異なっている可能性が高いということになるので、２ロットの比較試験で試験個数がそれぞれ上記仮試験個数の場合、有為差を判断できる寿命差は、上記信頼区間の最大の寿命差であるといえる。
個数・寿命差関係グラフ作成手順（Ｊ２５）では、試験個数を順次増やして、有意差を判断できる寿命差を上述と同様な手順で算出し、試験個数と必要寿命差のグラフを作成する。このグラフから、ワイブルスロープが入力情報の値となる試験における試験個数と有為差を判断する必要寿命差が分かる。
【００１５】
この発明方法は、このようにワイブル分布に基づくシミュレーションにより必要試験個数を求めるため、目的の信頼性の算出寿命を得るための必要試験個数を、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても必要試験個数を試算することができる。
【００１６】
この発明の加速試験における必要試験個数見積もり装置は、軸受等の機械部品または試験片からなる試験対象品を使用環境よりも厳しい所定の環境条件におき、破損が発生した時間から寿命を算出する加速試験において、試験対象品の２つのロット間で有為差有りと判断できる必要試験個数を見積もる装置であって、
演算処理装置（１）と、この演算処理装置（１）の出力を画面に表示する表示装置（２）と、上記演算処理装置（１）に入力を行う入力手段（３）とを備える。
【００１７】
上記演算処理装置（１）は、
上記表示装置（２）の画面に、入力情報として、試験対象品の持つワイブル分布のワイブルスロープの値、および何倍であれば有為差有りと判断するかの倍数で示される寿命差の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手段（７Ｆ）と、
実行命令に応答して必要試験個数を演算しその演算結果を上記表示装置の画面に出力する必要試験個数演算手段（３２）とを備える。
【００１８】
この必要個数演算手段（３２）は、次の構成の第１乱数発生手段（３３）、第２乱数発生手段（３４）、寿命比算出手段（３５）、累積確率分布作成手段（３６）、個数・寿命差関係グラフ作成手段（３７）、必要試験個数読み取り手段（３８）、および必要試験個数出力手段（３９）を有する。
【００１９】
第１乱数発生手段（３３）は、試験対象品の上記入力情報のワイブルスロープの値および仮に定めた寿命から定まるワイブル分布に従った乱数を仮試験個数分発生させる手段である。
第２乱数発生手段（３４）は、第１乱数発生手段（３３）と同じワイブル分布に従った乱数を上記仮試験個数分発生させる手段である。
寿命比算出手段（３５）は、第１乱数発生手段（３３）で発生させた設定個数の乱数から所定の寿命計算方法で求まる寿命と第２乱数発生手段（３４）で発生させた設定個数の乱数から上記所定の寿命計算方法で求まる寿命との１組の寿命比を算出する手段である。
【００２０】
累積確率分布作成手段（３６）は、上記第１乱数発生手段（３３），第２乱数発生手段（３４），および寿命比算出手段（３５）の処理を設定回数繰り返し、上記設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成する手段である。
【００２１】
個数・寿命差関係グラフ作成手段（３７）は、上記仮試験個数を繰り返しの都度変えて、上記第１乱数発生手段（３３），第２乱数発生手段（３４）の処理および上記累積確率分布の作成までを行う累積確率分布作成手段（３６）の処理を、上記仮試験個数が設定最小個数から設定最大個数まで変わる範囲で繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する手段である。
【００２２】
必要試験個数読み取り手段（３８）は、上記手順で作成された試験個数と必要寿命差の関係のグラフから、上記入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定める手段である。
必要試験個数出力手段（３９）は、この読み取った必要試験個数を表示装置に出力させる手段である。
【００２３】
この構成の必要試験個数見積もり装置は、この発明の必要試験個数見積もり方法を実施して、必要試験個数を、簡単、迅速求めることができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても未破損時間から寿命水準を適切に求めることができる。
【００２４】
この発明の加速試験における必要試験個数見積もりプログラムは、コンピュータで実行可能なプログラムであって、
上記表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品の持つワイブル分布のワイブルスロープの値、および何倍であれば有為差有りと判断するかの倍数で示される寿命差の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手順（Ｊ１）と、
実行命令に応答して必要試験個数を演算し上記表示装置の画面に表示させる必要試験個数演算手順（Ｊ２）とを含む。
【００２５】
上記必要試験個数演算手順（Ｊ２）は、
試験対象品の上記入力情報のワイブルスロープの値および仮に定めた寿命から定まるワイブル分布に従った乱数を仮試験個数分発生させる第１乱数発生手順（Ｊ２１）と、
この第１乱数発生手順と同じワイブル分布に従った乱数を上記仮試験個数分発生させる第２乱数発生手順（Ｊ２２）と、
第１乱数発生手順（Ｊ２１）で発生させた設定個数の乱数から所定の寿命計算方法で求まる寿命と第２乱数発生手順（Ｊ２２）で発生させた設定個数の乱数から上記所定の寿命計算方法で求まる寿命との１組の寿命比を算出する寿命比算出手順（Ｊ２３）と、
これら第１乱数発生手順（Ｊ２１），第２乱数発生手順（Ｊ２２），および寿命比算出手順（Ｊ２３）を設定回数繰り返し、上記設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成する累積確率分布作成手順（Ｊ２４）と、
上記仮試験個数を繰り返しの都度変えて、上記第１乱数発生手順（Ｊ２１），第２乱数発生手順（Ｊ２２），および累積確率分布の作成までの手順である累積確率分布作成手順（Ｊ２４）を、上記仮試験個数が設定最小個数から設定最大個数まで変わる範囲で繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する個数・寿命差関係グラフ作成手順（Ｊ２５）と、
この手順で作成された試験個数と必要寿命差の関係のグラフから、上記入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定める必要試験個数読み取り手順（Ｊ２６）と、
この読み取った必要試験個数を表示装置に出力させる必要試験個数出力手順（Ｊ２７）と、を含む。
【００２６】
この構成の加速試験における必要試験個数見積もりプログラムは、この発明の必要試験個数見積もり方法の実施に使用され、必要試験個数を、簡単、迅速求めることができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても未破損時間から寿命水準を適切に求めることができる。
【発明の効果】
【００２７】
この発明の加速試験における必要試験個数見積もり方法、装置、およびプログラムによると、コンピュータシミュレーションにより、あるワイブル分布から乱数を発生させ、同じワイブル分布から乱数を発生させ、その発生させた乱数から求まる寿命を演算して１組の寿命比を算出し、この処理を設定回数繰り返して設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成し、個数を順次変えて、上記累積確率分布作成までの処理を繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成し、このグラフから、入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定めるため、目的の信頼性の算出寿命を得るための必要試験個数を、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても必要試験個数を試算することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
この発明の実施形態を説明する。この加速試験における必要試験個数見積もり方法は、軸受等の機械部品、またはその機械部品の材料となる試験片からなる試験対象品を使用環境よりも厳しい所定の環境条件におき、破損が発生した時間から寿命を算出する加速試験において、試験対象品の２つのロット間で有為差有りと判断できる必要試験個数を見積もる方法である。
【００２９】
以下、この実施形態を図面と共に説明する。この加速試験における必要試験個数見積もり方法は、図１に示すコンピュータ１に、シミュレーションプログラムである必要試験個数見積もりプログラム３１を実行させることで行う。コンピュータ１はパーソナルコンピュータ等からなり、中央処理装置４およびメモリ５を有し、所定のオペレーションシステムによって動作するものである。コンピュータ１には、液晶表示装置等の画面によって表示可能な表示装置２と、キーボードやマウス等の入力装置３が接続され、あるいは付属して設けられている。コンピュータ１、表示装置２、入力装置３、および必要試験個数見積もりプログラム３１により、図２に各機能達成手段をブロックで示した必要試験個数見積もり装置が構成される。同図の必要試験個数見積もり装置の構成については、後に説明する。
必要試験個数見積もりプログラム３１は、コンピュータ１で実行可能なプログラムであって、図４および図５に流れ図で示す手順を備えるものである。同図の内容は、後に説明する。
【００３０】
この必要試験個数見積もり方法は、図２に示すように、コンピュータ１に対して所定の情報を入力する入力過程Ｈ１と、コンピュータ１で演算処理を行って演算結果を出力するコンピュータ演算処理過程Ｈ２とからなる。
【００３１】
入力過程Ｈ１では、図６に示すように所定の入力情報の入力を促す入力画面２ａが、コンピュータ１の出力によって表示装置２に表示される。この画面では、入力情報として、試験対象品の持つワイブル分布のワイブルスロープの値、および何倍であれば有為差有りと判断するかの倍数で示される寿命差を入力する。ワイブルスロープの値には、試験の実績値を入力することが好ましい。実績値は１０個以上の試験で得た結果を用いることが望ましく、より好ましくは２０個以上の試験結果である。また、有為差有りと判断する寿命差は、２倍を標準とすることが好ましい。以上の点に注意して、所定の条件を入力し、入力画面２ａのＯＫボタンを押すと計算が開始される。
【００３２】
図３のコンピュータ演算処理過程Ｈ２では、入力されたワイブルスロープの値および寿命差等から、有為差有りと判断するために必要となる必要試験個数を演算し、その演算結果を、図７のように出力画面２ｂに表示する。
なお、この必要試験個数見積もり装置およびプログラムでは、計算が終了すると、例えば、試験個数と有為差有りと判断できる必要寿命差との関係を示すグラフ（例えば図８）を初めに出力し、この状態で所定の入力を行うことで、図７の計算結果の表示が、上記グラフ上に重ねて表示されるようにしてある。上記所定の入力は、例えば上記必要試験個数見積もりプログラムが複数のシートをブックとして持つ表計算ソフトウェアである場合、シートを選択する入力とされる。
【００３３】
図１の必要試験個数見積もりプログラム３１は、コンピュータ１で実行可能なプログラムであって、図４，図５に流れ図で示す手順を備える。図４に示すように、必要試験個数見積もりプログラム２１は、促し画面出力手順Ｊ１と必要試験個数演算手順Ｊ２とでなり、促し画面出力手順Ｊ１では、図６と共に前述した入力画面２ａを出力する。この入力画面２ａに対して、上記各入力情報が入力手段３から入力され、かつ入力画面２ａのＯＫキーのクリック等によって実行命令が入力手段３から入力されると、必要試験個数演算手順Ｊ２が実行される。同図の入力画面２ａに対して入力する過程が、図３の入力過程Ｈ１であり、同図のコンピュータ演算処理過程Ｈ２は図４の寿命演算手順Ｊ２を実行する過程である。
【００３４】
必要試験個数演算手順Ｊ２は、図５に流れ図で示す各手順で構成される。この流れ図には、各手順Ｊ２１〜Ｇ２７毎の具体的な処理例を注釈として併記してある。
理解の容易のため、具体的数値を上げ、同図の具体的処理例を参照して、各手順Ｊ２１〜Ｇ２７を説明する。
【００３５】
加速試験では、何ロットかの試験対象品を用意して寿命試験を行い、それらロット間の寿命差を比較することが多い。今、２ロットの比較試験で試験個数がそれぞれ３個の場合、どのくらいの寿命差が出れば、それらロット間に寿命の有為差があるといえるのかということについて考える。
【００３６】
まず、あるＬ１０寿命を持つワイブル分布（図９（Ａ）で、ワイブルスロープは４としている）から乱数を３個発生し、その３個のデータからＬ１０寿命とＬ５０寿命を算出する（Ｊ２１）。算出方法は、従来の加速試験の結果からの寿命算出に用いられている適宜の方法を使用する。なお、Ｌ１０寿命だけ、またはＬ５０寿命だけを演算しても良いが、この実施形態では、Ｌ１０寿命とＬ５０寿命のそれぞれについて必要試験個数を計算するために、Ｌ１０寿命とＬ５０寿命の両方を算出している。
次に、同じＬ１０寿命を持つワイブル分布から乱数を３個発生させ、その３個のデータからＬ１０寿命とＬ５０寿命を上記と同じ方法で算出する（Ｊ２２）。
次に、得られた１組のＬ１０寿命とＬ５０寿命の寿命比をそれぞれ算出する。すなわちＬ１０寿命同士の寿命比、およびＬ５０寿命同士の寿命比を算出する（Ｊ２３）。
【００３７】
次に、これらの作業を設定回数（例えば１０００回）繰り返し、設定回数組（１０００組）のＬ１０およびＬ５０寿命の寿命比の確率分布（図９（Ｂ）と累積確率分布（図９（Ｃ）を作成する（Ｊ２４）。
これらは、同じ寿命分布を持つロットから３個の試験片を２組抜きとり、寿命試験を行った結果、どの程度の寿命差が出るのかを設定回数（１０００回）確認することに対応している。
【００３８】
度数分布の図（図９（Ｂ））から、同じ寿命分布を持つロットから試験片を抜きとって試験を行ったにもかかわらず、寿命はばらついていることが分かる。その寿命比のばらつきを、所定信頼度区間、例えば累積確率分布の５％と９５％の区間（９０％信頼区間）として定義すると、その寿命ばらつきは、図９（Ｃ）に示したように０．３９〜２．５７倍であると算出できる。
この結果は、同じ寿命分布を持つロットから３個の試験片を２組抜きとって寿命比較を行っても、９０％のものは０．３９〜２．５７倍の間で寿命比がばらついてしまうことを示している。逆にいうと、ばらつき内の最大値である２．５７倍以上の寿命差があれば、そのロット間の寿命分布が異なっている可能性が高いということになるので、２ロットの比較試験で試験個数がそれぞれ３個の場合、有為差を判断できる寿命差は２．５７倍以上であるといえる。
【００３９】
最後に、試験個数を増やして、有意差を判断できる寿命差を上述と同様な手順で算出し、試験個数と必要寿命差のグラフ（図９（Ｄ））を作成する（Ｊ２５）。この図から、ワイブルスロープが４の試験における試験個数と有為差を判断する必要寿命差が分かる。
今、２倍以上の寿命差がある時、そのロット間に寿命の有為差があるといえる試験個数を信頼性の高い算出寿命を得るための必要試験個数と定義する。この時、ワイブルスロープが４の試験における必要試験個数は、同図によると、Ｌ１０寿命で評価する場合８個、Ｌ５０寿命で評価する場合３個ということになる。通常、客先からはＬ１０寿命での評価が要求されるので、試験個数は８個にして試験を実施することになる。この場合、２倍以上の寿命差でロット間の寿命の有為差が判断できることになる。
【００４０】
図１０に試験個数と有為差有りと判断できる必要寿命差の計算結果の例をワイブルスロープ０．８、１．８５、４について示す。これらの図から、(1) 試験個数が増えるほど有為差有りと判断できる必要寿命差が低下すること、(2) Ｌ５０寿命で有意差を判定するほうが必要な試験個数を少なくできること、(3) ワイブルスロープが大きい試験条件ほど必要試験個数を少なくできることが分かる。
【００４１】
図５の必要試験個数読み取り手順Ｊ２６では、上記のように試験個数と必要寿命差のグラフから必要寿命差（この例では２倍）に対応する必要試験個数を読み取り、その結果を手順Ｊ２７で画面に出力する。
【００４２】
以上が加速試験における必要試験個数を試算する方法である。試験個数と必要寿命差のグラフ（図９（Ｄ））からは、試験個数が決まっている時の寿命の有為差を判断するための必要寿命差を読み取ることもできる。同図の例では、試験片が３個しか用意できない場合、Ｌ１０寿命では２．５７倍の寿命差が必要であり、Ｌ５０寿命では１．９０倍の寿命差が必要になる。
【００４３】
図４，図５に示した必要試験個数見積もりプログラム３１についての上記の説明は、具体的に数値を例にとって説明したが、この必要試験個数見積もりプログラム３１は、整理すると、次の手順により構成される。
【００４４】
この実施形態の寿命打切り試験からの必要試験個数見積もりプログラム３１は、
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
上記表示装置の画面に、入力情報として、試験対象品の持つワイブル分布のワイブルスロープの値、および何倍であれば有為差有りと判断するかの倍数で示される寿命差の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手順（Ｊ１）と、
実行命令に応答して必要試験個数を演算し上記表示装置の画面に表示させる必要試験個数演算手順（Ｊ２）とを含む。
【００４５】
上記必要試験個数演算手順（Ｊ２）は、
試験対象品の上記入力情報のワイブルスロープの値および仮に定めた寿命から定まるワイブル分布に従った乱数を仮試験個数分発生させる第１乱数発生手順（Ｊ２１）と、
この第１乱数発生手順と同じワイブル分布に従った乱数を上記仮試験個数分発生させる第２乱数発生手順（Ｊ２２）と、
第１乱数発生手順（Ｊ２１）で発生させた設定個数の乱数から所定の寿命計算方法で求まる寿命と第２乱数発生手順（Ｊ２２）で発生させた設定個数の乱数から上記所定の寿命計算方法で求まる寿命との１組の寿命比を算出する寿命比算出手順（Ｊ２３）と、
これら第１乱数発生手順（Ｊ２１），第２乱数発生手順（Ｊ２２），および寿命比算出手順（Ｊ２３）を設定回数繰り返し、上記設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成する累積確率分布作成手順（Ｊ２４）と、
上記仮試験個数を繰り返しの都度変えて、上記第１乱数発生手順（Ｊ２１），第２乱数発生手順（Ｊ２２），および累積確率分布の作成までの手順である累積確率分布作成手順（Ｊ２４）を、上記仮試験個数が設定最小個数から設定最大個数まで変わる範囲で繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する個数・寿命差関係グラフ作成手順（Ｊ２５）と、
この手順で作成された試験個数と必要寿命差の関係のグラフから、上記入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定める必要試験個数読み取り手順（Ｊ２６）と、
この読み取った必要試験個数を表示装置に出力させる必要試験個数出力手順（Ｊ２７）とを含む。
【００４６】
累積確率分布作成手順（Ｊ２４）は、手順Ｊ２１〜Ｊ２３を設定回数繰り返させる手順Ｊ２４１と、その繰り返し過程が得て記憶したおいた寿命比から確率分布および累積確率分布を演算する手順Ｊ２４２とでなる。
【００４７】
個数・寿命差関係グラフ作成手順（Ｊ２５）は、仮試験個数が設定最大個数になるまで手順Ｊ２１〜Ｊ２４を繰り返させる手順（Ｊ２５１）と、繰り返し毎に仮試験個数を１個増加する手順（Ｊ２５２）とでなる。仮試験個数の初期値となる設定最小個数は、各乱数発生手順Ｊ２１，Ｊ２２に初期値として設定しておく。
【００４８】
各乱数発生手順（Ｊ２１，Ｊ２２）の詳細について説明する。これらの手順Ｊ２１，Ｊ２２は、ワイブル分布を特定し、その特定したワイブル分布に従ってワイブル乱数を発生させる。
一般に軸受の寿命分布は次式１）のワイブル分布に従うと言われている。
【００４９】
【数２】
2008128696.tif 000005
【００５０】
ただし、ｍ：ワイブルスロープ、α：尺度因子、γ：最小寿命、
ワイブル分布は、３つのパラメータを持っており、ワイブルスロープｍによって指数分布、対数正規分布、正規分布を表現できる万能分布として知られている。参考として、図１１に各種パラメータを変化させた時のワイブル分布の変化を示す。ワイブルスロープｍは、分布の形状を支配するパラメータであり、この値が小さいほどばらつきの大きい分布ということができる。尺度因子αは、横軸（寿命）のスケールを変化させるもので、この値が大きいほど寿命は相対的に長くなる。最小寿命γは、寿命分布の横軸（寿命）を単にシフトさせるものである。
【００５１】
この実施形態では、ワイブル乱数を発生させるが、この乱数を発生させるためにはワイブル分布の３つのパラメータを決定する必要がある。決め方の手順は、例えば以下のようになる。
１）  ワイブルスロープｍを実績から決定する。
２）  乱数を発生させたい分布の信頼度（例えばＬ１０寿命であるか、あるいはＬ５０寿      命であるか）を決定する。
３）  信頼度から求めたワイブルスロープｍから、最小寿命γを所定の数式を使って決定      する。例えば、Ｌ１０寿命またはＬ５０寿命から求めた尺度因子αから、
最小寿命γを、例えば、以下の２）式を使って決定する。
この式は、１９９０年制定のＩＳＯの最小寿命であり、実験値からの回帰式である。
【００５２】
【数３】
2008128696.tif 000006
【００５３】
これは、Ｒ≦１０の値で、Ｒ＝０（Ｌ１０寿命でのａ１）のとき、この式は１になるという式である。過去のＩＳＯの最少寿命考慮の式では、Ｌ１０寿命以下の寿命は、この式にＬ１０寿命を書けた値ということで定義されている。Ｒは信頼度に対応する値（１００−Ｒが信頼度となる値）である。
なお、最小寿命の定め方については、各種の規格（例えばＩＳＯ）において、時代と共に変更される場合があるが、規格の変更に伴い、実施時の規格に応じた定め方を採用すれば良い。また、最小寿命は、材料試験条件によっても変化するのでより一般的な式で記述するほうが良いとの主張もあり、適宜の値を用いれば良い。
【００５４】
ワイブル乱数の発生につき説明する。乱数とは、定性的にはでたらめな数列であって、発生頻度が均一（等確率）で、その発生に規則性がない（無規則性）というものであるが、完全な乱数を発生させることは不可能である。そこで、コンピュータで発生させることのできる疑似乱数を使う。簡易な乱数発生アルゴリズムでは、例えば１０進法で２０桁ぐらいの周期性が見られるが、周期性が６千桁以上の周期性となるものもあり、このような周期性の少ない乱数発生アルゴリズムを用いることが好ましい。
【００５５】
この実施形態では、一様な乱数ではなく、ワイブル分布に従った乱数であるワイブル乱数を発生させる。このため発生方法には工夫が必要になる。確率密度関数が複雑な場合、その分布に従う乱数を発生するには棄却法と呼ばれる方法を用いればよく、この実施形態においても、棄却法を用いる。
確率密度関数ｆ（ｘ）の変域が図１２のように、０からＸ0 の範囲にあるとみなされるものとし、その変域内でのｆ（ｘ）の最大値をＭとする。ＲＮを区間〔0,1 〕での一様擬似乱数とするとＸ0 ・ＲＮにより、区間〔0,x0〕での一様擬似乱数ｘｉを発生することができる。同様にして、Ｍ・ＲＮにより、区間〔0,M 〕での一様擬似乱数ｙｉを発生することができる。そこで、このようにして発生させた乱数ｘｉ，ｙｉがf(xi)> yi となる条件を満足する場合には、乱数ｘｉは与えられた確率密度分布に従うものとして採用し、満足しなければ、その乱数ｘｉを不採用とする。この作業を繰り返し、確率密度分布に従う確率で乱数ｘｉを採用し、確率密度分布に従う乱数の数列を作っていく方法を棄却法という。この方法は、条件に合わない乱数を捨てることになるので乱数発生法としては効率がよくないが、よい一様乱数さえ得られれば原理的に正しい数列が得られる方法である。
【００５６】
図５の乱数発生手順Ｊ２１，Ｊ２２において、ワイブル分布の特定のための寿命（Ｌ１０寿命）は、適宜想定した値を、これらの手順Ｊ２１，Ｊ２２の計算式等に設定しておいても良く、また入力手段３からの入力によって可変としても良い。
また、寿命比較算出手順Ｊ２３において、発生したワイブル乱数からのＬ１０寿命を求める演算は、加速試験において従来から用いられている中の適宜の寿命計算方法を用いれば良い。加速試験においては、破損の発生した時間からワイブルプロットで寿命を求めることが行われており、このような破損時間から寿命を求める計算方法を、上記寿命比算出手順における寿命計算方法として用いる。
【００５７】
この寿命計算には、例えば次の方法が採用できる。
(1) 寿命試験を実施する。
(2) 得られたデータ（破損した時間あるいは破損した負荷回数）を昇順に並び替える。
(3) これらデータを図１３のグラフ（ワイブル確率紙）にプロットする（縦軸：累積破損確率、横軸：寿命）。
(4) 図１３の紙にプロットしたデータの最適直線を最小二乗法で引く。このとき、Ｌ１０  寿命以下の位置に最小寿命があるということになるので、Ｌ１０  寿命の値を10分割し（何分割でも良いがフィッティングでの計算時間が妥当な時間になるように設定する）、累積確率0 ％の位置にプロットを加える。10通りの最適曲線で最もデータがフィットする最適直線を採用する。
(5) そうすると、ワイブルスロープがこの線の傾き、最小寿命は、Ｌ１０  寿命の値を10分割のいずれかの値、Ｌ１０  寿命（ワイブルスロープが累積確率10％交わる寿命）と尺度因子αの関係からαを決定できる。
【００５８】
図２と共に加速試験における必要試験個数見積もり装置につき説明する。この必要試験個数見積もり装置は、軸受等の機械部品または試験片からなる試験対象品を使用環境よりも厳しい所定の環境条件におき、破損が発生した時間から寿命を算出する加速試験において、試験対象品の２つのロット間で有為差有りと判断できる必要試験個数を見積もる装置であって、
演算処理装置であるコンピュータ１と、このコンピュータ１の出力を画面に表示する表示装置２と、上記コンピュータ１に入力を行う入力手段３とを備える。
【００５９】
コンピュータ１は、表示装置２の画面に、入力情報として、試験対象品の持つワイブル分布のワイブルスロープの値、および何倍であれば有為差有りと判断するかの倍数で示される寿命差の入力を促す表示を行わせる促し画面出力手段７Ｆと、実行命令に応答して必要試験個数を演算しその演算結果を上記表示装置の画面に出力する必要試験個数演算手段３２とを備える。
【００６０】
この必要個数演算手段３２は、次の構成の第１乱数発生手段３３、第２乱数発生手段３４、寿命比算出手段３５、累積確率分布作成手段３６、個数・寿命差関係グラフ作成手段３７、必要試験個数読み取り手段３８、および必要試験個数出力手段３９を有する。
【００６１】
第１乱数発生手段３３は、試験対象品の上記入力情報のワイブルスロープの値および仮に定めた寿命から定まるワイブル分布に従った乱数を仮試験個数分発生させる手段であり、図５の流れ図における手順Ｊ２１につき説明した処理を行う。
第２乱数発生手段３４は、第１乱数発生手段３３と同じワイブル分布に従った乱数を上記仮試験個数分発生させる手段であり、手順Ｊ２２につき説明した処理を行う。
寿命比算出手段３５は、第１乱数発生手段３３で発生させた設定個数の乱数から所定の寿命計算方法で求まる寿命と第２乱数発生手段３４で発生させた設定個数の乱数から上記所定の寿命計算方法で求まる寿命との１組の寿命比を算出する手段であり、手順Ｊ２３につき説明した処理を行う。
【００６２】
累積確率分布作成手段３６は、上記第１乱数発生手段３３，第２乱数発生手段３４，および寿命比算出手段３５の処理を設定回数繰り返し、上記設定回数の組数の寿命比を求め、この寿命比の確率分布と累積確率分布を作成する手段であり、手順Ｊ２４につき説明した処理を行う。
【００６３】
個数・寿命差関係グラフ作成手段３７は、上記仮試験個数を繰り返しの都度変えて、上記第１乱数発生手段３３，第２乱数発生手段３４の処理および上記累積確率分布の作成までを行う累積確率分布作成手段３６の処理を、上記仮試験個数が設定最小個数から設定最大個数まで変わる範囲で繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する手段であり、手順Ｊ２５につき説明した処理を行う。
【００６４】
必要試験個数読み取り手段３８は、上記手順で作成された試験個数と必要寿命差の関係のグラフから、上記入力情報の寿命差に対応する個数を読み取って必要試験個数と定める手段であり、手順Ｊ２６につき説明した処理を行う。
必要試験個数出力手段３９は、この読み取った必要試験個数を表示装置に出力させる手段であり、手順Ｊ２７につき説明した処理を行う。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】この発明の一実施形態に係る必要試験個数見積もり装置の概略ブロック図である。
【図２】同必要試験個数見積もり装置の概念構成を示すブロック図である。
【図３】同必要試験個数見積もり装置を用いた必要試験個数見積もり方法の概略流れ図である。
【図４】同必要試験個数見積もり方法を実施する必要試験個数見積もりプログラムの概略の流れ図である。
【図５】同プログラムにおける必要試験個数演算手順の詳細を示す流れ図である。
【図６】図１の必要試験個数見積もり装置における入力画面例の説明図である。
【図７】図１の必要試験個数見積もり装置における出力画面例の説明図である。
【図８】有為差有りと判断できる寿命差と試験個数の関係例を示すグラフである。
【図９】（Ａ）はワイブル分布の例のグラフ、（Ｂ）は頻度と寿命比の関係例を示す確率分布のグラフ、（Ｃ）は累積確率と寿命比の関係例を示すグラフ、（Ｄ）はＬ１０寿命、Ｌ５０寿命につき、有為差有りと判断できる寿命差と試験個数の関係例を示すグラフである。
【図１０】有為差有りと判断できる寿命差と試験個数の関係を、各種のワイブルスロープにつき示したグラフである。
【図１１】ワイブル分布の各パラメータの影響例を示すグラフである。
【図１２】ワイブル分布の定め方を示すグラフである。
【図１３】ワイブル確率紙の説明図である。
【図１４】従来の打切りおよび加速試験の手順を示す流れ図である。
【符号の説明】
【００６６】
１…コンピュータ（演算処理手段）
２…表示装置
３…入力装置
７Ｆ…促し画面出力手段
３１…必要試験個数見積もり演算プログラム
３２…必要試験個数演算手段
３３…第１乱数発生手段
３４…第２乱数発生手段
３５…寿命比算出手段
３６…累積分布作成手段
３７…個数・寿命差グラフ作成手段
３８…必要試験個数読み取り手段
３９…読取結果出力手段
【図１】
2008128696.tif 000007
【図２】
2008128696.tif 000008
【図３】
2008128696.tif 000009
【図４】
2008128696.tif 000010
【図５】
2008128696.tif 000011
【図６】
2008128696.tif 000012
【図７】
2008128696.tif 000013
【図８】
2008128696.tif 000014
【図９】
2008128696.tif 000015
【図１０】
2008128696.tif 000016
【図１１】
2008128696.tif 000017
【図１２】
2008128696.tif 000018
【図１３】
2008128696.tif 000019
【図１４】
2008128696.tif 000020