(57)【要約】【課題】電流供給端子および電位差計測端子の位置ずれによる誤差をなくし、端子間距離のずれによる誤差を少なくした電位差法による非破壊検査装置を提供する。また、これを用いて計測結果の再現性、正確性を高めることができる非破壊検査の計測方法を提供する。【解決手段】複数の脚部７、８を介して構造物１と対向し、複数の孔２３、２４、２５、２６を有する板状土台２を備える。先端が構造物１面に接離可能に設けられた対を成す電流供給端子３、４と、電流供給端子３、４間の内側あるいは外側に配置され、先端が構造物１面に接離可能に設けられた対を成す電位差計測端子５、６とを備える。電流供給端子３、４及び電位差計測端子５、６が板状土台２の孔２３、２４、２５、２６に案内される。【選択図】図２
2008128816.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物面に配置される複数の脚部を介して前記被測定物と対向し、複数の端子ガイドを有する板状土台と、先端が前記被測定物面に接離可能に設けられた対を成す電流供給端子と、該対を成す電流供給端子間の内側あるいは外側に配置され、かつ先端が前記被測定物面に接離可能に設けられた対を成す電位差計測端子とを備え、前記対を成す電流供給端子及び前記対を成す電位差計測端子が前記板状土台の各端子ガイドに案内されるようにしたことを特徴とする電位差法による非破壊検査装置。
【請求項２】
前記電流供給端子先端が前記被測定物面方向に突出するように前記電流供給端子にバイアスを印加する第１弾性部材を備えたことを特徴とする請求項１に記載の電位差法による非破壊検査装置。
【請求項３】
前記電位差計測端子先端が前記被測定物面方向に突出するように前記電位差計測端子にバイアスを印加する第２弾性部材を備えたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電位差法による非破壊検査装置。
【請求項４】
前記電流供給端子先端が前記被測定物面に接触するのを阻止する第１ロック部材を備えたことを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載の電位差法による非破壊検査装置。
【請求項５】
前記電位差計測端子先端が前記被測定物面に接触するのを阻止する第２ロック部材を備えたことを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載の電位差法による非破壊検査装置。
【請求項６】
前記対を成す電流供給端子のそれぞれが複数の電流供給端子からなることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載の電位差法による非破壊検査装置。
【請求項７】
前記板状土台を前記被測定物面に対して垂直方向に移動可能とするＺ軸ステージ、あるいは前記電流供給端子および前記電位差計測端子を前記被測定物面に対して垂直方向に移動可能とするＺ軸ステージを備えたことを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか１項に記載の電位差法による非破壊検査装置。
【請求項８】
請求項１乃至請求項７に記載の電位差法による非破壊検査装置を用い、被測定物面の所定の箇所に対して前記電流供給端子および前記電位差計測端子を複数回接離させて前記所定の箇所に対応する電位差を複数回計測し、計測された値の平均値を求めて前記所定の箇所の計測結果とすることを特徴とする非破壊検査の計測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原子力プラントにおける金属円管等の構造物の非破壊検査に用いる電位差法による非破壊検査装置およびそれを用いた非破壊検査の計測方法に関し、特に計測結果の再現性と正確性を高めることができる接触電位差法による非破壊検査装置およびそれを用いた計測方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、原子力プラントにおける構造物の欠陥検査に関しては、維持基準が導入されている。構造物の健全性に影響を与えない程度の小さな欠陥を、維持基準に基づき監視しながらプラントを運転することは、経済的にも有益である。構造物に対する維持基準の適切な運用には、非破壊検査技術の高い欠陥検出、寸法評価能力が要求される。構造物の非破壊検査手法の１つとして接触電位差法がある。
【０００３】
接触電位差法とは、各端子を被測定物に押し当てて欠陥部のある場所で計測した電位差をＶ1、健全部で計測した電位差をＶ0とし、これらの差、即ちΔＶ=（Ｖ1−Ｖ0）を検出することで、欠陥の有無を判定する手法である。
【０００４】
直流を用いる電位差法は部材の板厚方向にも電流が流れるため、埋没き裂、裏面き裂を電流場の乱れに起因する電位差の変化として検出することができる。また同手法は、現在問題である応力腐食割れや疲労き裂といった閉じたき裂を評価できることが確認されている（例えば、特許文献１、特許文献２あるいは特許文献３参照）。しかし従来の同手法では、被検査部位が３ｃｍないし４ｃｍ程度の厚肉の場合、き裂の存在する部材裏面までは電流が届きにくく、検出感度が不足するので、その裏面き裂の検出は容易でない。特に実際の電位差計測端子で計測される電位差は測定を繰り返すごとのばらつきが大きいという問題点がある。このばらつきは、電流供給端子及び電位差計測端子が一つのプローブに設けられ、プローブをハンドリングにより被測定物の面から持ち上げたり、被測定物の面に接触させたりするので、端子を被測定物に接触させた際にハンドリングにより生じる位置ずれによる誤差と、ハンドリングにより生じる接触姿勢の違いおよび端子に構成されたばねの機械的交差等により生じる各端子間距離のずれによる誤差が重なるためである。
【０００５】
また、電流が届きにくく検出感度が不足する点については、単純に大電流を付加して検出感度を高める方法も試みられている。しかし、この場合は、端子部の発熱によりゼーベック効果に起因するノイズが発生して、検出感度を改善することができないという問題がある。
このことから、計測結果の再現性と正確性を高めるとともに検出感度を高めることができる計測手法に注目が集まっている。
【０００６】
【特許文献１】特許第２８５６４１３号公報
【特許文献２】特許第３１６７４４９号公報
【特許文献３】特開２００６−３０８３２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
前述のように従来の技術では、電流供給端子および電位差計測端子の位置ずれによる誤差と各端子間距離のずれによる誤差とが重なるので、測定を繰り返すごとのばらつきが大きく、再現性、正確性が低く、信頼性に問題があった。
【０００８】
本発明は、電流供給端子および電位差計測端子の位置ずれによる誤差をなくして、誤差の要因を各端子間距離のずれによる誤差に限定するとともに、各端子間距離のずれの要因を少なくして誤差を抑えることができる電位差法による非破壊検査装置を提供することを目的としている。
また、これを用いて計測結果の再現性、正確性を高めることができる非破壊検査の計測方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明によれば、被測定物面に配置される複数の脚部を介して前記被測定物と対向し、複数の端子ガイドを有する板状土台と、先端が前記被測定物面に接離可能に設けられた対を成す電流供給端子と、該対を成す電流供給端子間の内側あるいは外側に配置され、かつ先端が前記被測定物面に接離可能に設けられた対を成す電位差計測端子とを備え、前記対を成す電流供給端子及び前記対を成す電位差計測端子が前記板状土台の各端子ガイドに案内されるようにしたことを特徴とする電位差法による非破壊検査装置が得られる。
【００１０】
また、前記電流供給端子先端が前記被測定物面方向に突出するように前記電流供給端子にバイアスを印加する第１弾性部材を備えたことを特徴とする電位差法による非破壊検査装置を提供する。
【００１１】
さらに、前記電位差計測端子先端が前記被測定物面方向に突出するように前記電位差計測端子にバイアスを印加する第２弾性部材を備えたことを特徴とする電位差法による非破壊検査装置を提供する。
【００１２】
また、前記電流供給端子先端が前記被測定物面に接触するのを阻止する第１ロック部材を備えたことを特徴とする電位差法による非破壊検査装置を提供する。
【００１３】
さらに、前記電位差計測端子先端が前記被測定物面に接触するのを阻止する第２ロック部材を備えたことを特徴とする電位差法による非破壊検査装置を提供する。
【００１４】
また、前記対を成す電流供給端子のそれぞれが複数の電流供給端子からなることを特徴とする電位差法による非破壊検査装置を提供する。
【００１５】
さらに、前記板状土台を前記被測定物面に対して垂直方向に移動可能とするＺ軸ステージ、あるいは前記電流供給端子および前記電位差計測端子を前記被測定物面に対して垂直方向に移動可能とするＺ軸ステージを備えたことを特徴とする電位差法による非破壊検査装置を提供する。
【００１６】
また、本発明によれば、前記電位差法による非破壊検査装置を用い、被測定物面の所定の箇所に対して前記電流供給端子および前記電位差計測端子を複数回接離させて前記所定の箇所に対応する電位差を複数回計測し、計測された値の平均値を求めて前記所定の箇所の計測結果とすることを特徴とする非破壊検査の計測方法が得られる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、被測定物面に配置される複数の脚部を介して被測定物と対向する板状土台が設けられ、対を成す電流供給端子及び対を成す電位差計測端子が、板状土台の端子ガイドに案内されて被測定物面に接離可能とされているので、脚部を被測定物面に固定して端子を接離させることにより、接離のためのハンドリングが不要となる。従って、ハンドリングに伴う位置ずれがなく、それに起因する誤差がなくなる。更に、各端子間距離のずれ要因は、ハンドリングに伴う接触姿勢違いの成分がなくなり、各端子ガイドと各端子間の隙間による成分に限られる。
【００１８】
各端子間距離のずれが各端子ガイドと各端子の隙間成分に限られたものであれば、それによるばらつきは、端子先端の接離を複数回繰り返して計測を行い、容易に把握できる。従って、計測結果を平均化することなどにより計測結果の再現性、正確性を高めることができる。
【００１９】
各端子ガイドは、端子を板状土台に対して垂直方向に案内するものが望ましい。また各端子ガイドは、端子を一定の軌跡に沿って案内するもので、孔、溝あるいはレール状ないし鞍状構成とすることが可能である。脚部の数は、被測定物面に対する板状土台の姿勢を安定化させる点で、３つが望ましい。板状土台におもりを取り付ければ、脚部の位置を安定化させるとともに板状土台の姿勢を安定に保つことができる。
【００２０】
電流供給端子先端が被測定物面方向に突出するように第１弾性部材によって電流供給端子にバイアスを印加すると、被測定物面に脚部を配置すると同時に電流供給端子先端が被測定物面に接触するとともに安定した接触圧が確保されるので、正確な計測が迅速にできる。
【００２１】
電位差計測端子先端が被測定物面方向に突出するように第２弾性部材によって電位差計測端子にバイアスを印加すると、被測定物面に脚部を配置すると同時に電位差計測端子先端が被測定物面に接触するとともに安定した接触圧が確保されるので、正確な計測が迅速にできる。第１弾性部材および第２弾性部材としてはらせん状のばねなどが使用できる。
【００２２】
電流供給端子先端が被測定物面に接触するのを阻止する第１ロック部材を備えると、非計測時あるいは計測待機時に電流供給端子先端を被測定物面から離間させて電流供給端子先端を破損等から保護することができる。
【００２３】
電位差計測端子先端が被測定物面に接触するのを阻止する第２ロック部材を備えると、非計測時あるいは計測待機時に電位差計測端子先端を被測定物面から離間させて電位差計測端子先端を破損等から保護することができる。
【００２４】
対を成す電流供給端子のそれぞれが複数の電流供給端子からなると、複数の電流供給端子から並列的に同時に電流を供給し、個々の電流供給端子から供給する電流は抑えながら、被測定物に大電流を供給することができる。それにより、電位差を増大させ、検出感度を高めることができる。一方、各端子部のジュール発熱量は低減される。従って、電位差計測端子に熱伝導することで発生する熱起電力に起因するノイズ発生は抑えられ、検出感度を改善することができる。さらに、ジュール発熱に伴った各端子の融解現象を防止することができる。
【００２５】
板状土台を被測定物面に対して垂直方向に移動可能とするＺ軸ステージを備えると、板状土台の位置をアクチュエータ等により垂直方向に制御して、各端子の接離および計測を自動化することが可能である。
また、電流供給端子および電位差計測端子を被測定物面に対して垂直方向に移動可能とするＺ軸ステージを備えると、電流供給端子および電位差計測端子の位置をアクチュエータ等により垂直方向に制御して、各端子の接離および計測を自動化することが可能である。
【００２６】
これら電位差法による非破壊検査装置を用い、被測定物面の所定の箇所に対して電流供給端子および電位差計測端子を複数回接離させて所定の箇所に対応する電位差を複数回計測し、計測された値の平均値を求めて所定の箇所の計測結果とすれば、計測結果の再現性、正確性が高まり、厚肉部材裏面き裂に代表される検出感度の低い欠陥でも、検出可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を用いて詳細に説明する。
図１は、本発明の電位差法による非破壊検査装置の実施の形態の原理説明図である。同図において、１は被測定物である構造物であり、ここでは金属円管の一部を示している。構造物１の大きさは厚さがｔ、幅がｗ、長さがｌで、構造物１の裏面１ｂにはｑ−ｒ平面に沿ってｐ−ｑ平面即ち表面１ａ側に向かう幅ｂ、深さａの半楕円状のき裂１ｃができている。尚、図中矢印ｐ、矢印ｑ、矢印ｒは直交座標軸を示している。
【００２８】
２は非破壊検査装置の板状土台で、板状土台２には対を成す電流供給端子３、４および対を成す電位差計測端子５、６が設けられている。電流供給端子３、４および電位差計測端子５、６の先端は、ｐ軸上において各々構造物１の表面１ａに接触しており、その位置はｑ−ｒ平面に対して対称に配置されている。
【００２９】
１１は非破壊検査装置の電流供給端子３、４に電流を供給する直流安定化電源、１２は直流安定化電源１１に直列に接続されたシャント抵抗、１３はシャント抵抗１２間の電位差を計測して直流安定化電源１１の電流を確認するためのデジタルマルチメータ、１４は電位差計測端子５、６間の電位差を計測するためのデジタルマルチメータ、１５はデジタルマルチメータ１４で得られた電位差の記録、平均値を求める演算処理、標準偏差を求める演算処理、比較・解析処理などを行うコンピュータである。
【００３０】
このような非破壊検査装置を用いると、構造物１のき裂１ｃの部分では電位差計測端子５、６間の電位差が大きく、き裂１ｃから外れた部分では電位差が小さいので、それらの電位差比較によりき裂１ｃの有無、あるいはき裂１ｃの大きさの程度などを評価することができる。
【００３１】
図２は、図１に関連する板状土台２の要部正面図である。同図において板状土台２には先端が尖った脚部７、８および図示を省略した脚部９が構造物１側に向かって取り付けられており、脚部７、８および脚部９の高さは共にｈである。従って板状土台２は構造物１の表面１ａと距離ｈを保って平行に設けられている。
【００３２】
板状土台２には端子ガイドとしての孔２３、２４及び孔２５、２６が板状土台２に垂直にかつ図中左右対称に設けられていて、孔２３、２４には電流供給端子３、４が孔２５、２６には電位差計測端子５、６が各々設けられている。電流供給端子３、４及び電位差計測端子５、６には、各々の先端が構造物１の表面１ａに接触しないように保持する端子止め３３、３４および端子止め３５、３６が取り付けられている。端子止め３３、３４および端子止め３５、３６は電流供給端子３、４および電位差計測端子５、６に対して着脱可能である。図２は、挿着した図で、計測しないときの状態である。端子止め３３、３４および端子止め３５、３６を取り外すと、電流供給端子３、４および電位差計測端子５、６の先端は構造物１の表面１ａに接触し、計測が可能となる。
【００３３】
板状土台２の左右には棚２１、２２が取り付けられていて、棚２１、２２には所定重量のおもり３１、３２が乗せられている。おもり３１、３２は、脚部７、８および９の位置を安定化させるとともに後述するばね４３の反発力により板状土台２の姿勢が不安定になるのを防止する。
【００３４】
図３は電流供給端子３と孔２３との関係を説明するための説明図であり、図３（ａ）は孔２３の要部断面図を示す。孔２３は下端の厚さＭ１部分の径がΦ１、中間の厚さＭ２の部分の径がΦ２で、上端に厚さＭ３で径がΦ１の孔を有する蓋２ａが取り付けられた構成となっている。尚、Φ１とΦ２の関係は、Φ１＜Φ２である。
【００３５】
図３（ｂ）は電流供給端子３の断面図を示し、電流供給端子３は径がΦ１よりわずかに小さく、円柱状のもので、下端３ａが凸状になっていて、下端３ａから距離Ｌ１の位置に厚さＬ２、径がΦ１より大きくΦ２より小さい鍔部３ｂが設けられている。鍔部３ｂの上方の距離Ｌ３の位置から所定長さのねじ３ｃが形成されている。
【００３６】
図３（ｃ）は孔２３に電流供給端子３を組み込んだ状態の要部断面図を示す。電流供給端子３の組み込みは、まず鍔部３ｂまでらせん状のばね４３を通し、蓋２ａを取り外した状態の孔２３に電流供給端子３を挿入する。次に電流供給端子３の上側を蓋２ａの孔に通し、蓋２ａを板状土台２に一体に取り付ける。続いてねじ３ｃと内面にねじを形成したリング３７を螺合させる。リング３７の径はΦ２と略同じである。この状態では、ばね４３が鍔部３ｂと蓋２ａ間で少しだけ縮んでいて、電流供給端子３の下端３ａが構造物１方向に突出する。このとき、高さｈと厚さＭ１と距離Ｌ１との関係は、Ｌ１＞（Ｍ１＋ｈ）である。また距離Ｌ３と厚さＬ２、厚さＭ２、厚さＭ３との関係は、Ｌ３＞（Ｍ２＋Ｍ３）−Ｌ２である。
【００３７】
図３（ｄ）は脚部７、８および脚部９を構造物１に載せた状態の要部断面図を示す。この状態のとき電流供給端子３の下端３ａが構造物１の表面１ａに接触し、計測が可能である。高さｈと厚さＭ１と距離Ｌ１とは、Ｌ１＞Ｍ１＋ｈの関係があるので、電流供給端子３の下端３ａがばね４３の力に抗して押し上げられる。移動量ΔＬ１は、ΔＬ１＝Ｌ１−（Ｍ１＋ｈ）の式で求められる。
【００３８】
図４は電流供給端子３に端子止め３３を取り付けた状態の要部断面図を示す。計測可能な状態から電流供給端子３をばね４３の力に抗して更に持ち上げ、電流供給端子３の下端３ａと構造物１の表面１ａを離間させる。続いて蓋２ａとリング３７間にできた隙間に端子止め３３を挿着したものである。端子止め３３は所定高さのリング状スペーサで、リングの一部に開口が設けられ、この開口から電流供給端子３に挿抜可能としている。このように端子止め３３を取り付けると、電流供給端子３の下端３ａが構造物１の表面１ａから離間した状態を安定して保つことができるので、計測待機時などに電流供給端子３の下端３ａが保護される。
【００３９】
以上、図３および図４を用いて電流供給端子３と孔２３との関係を説明したが、電流供給端子４と孔２４の関係及び電位差計測端子５、６と孔２５、２６の関係も全く同要であるので、以下その説明を省略する。
【００４０】
図５は、図１に関連する原理回路図であり、計測前後で安定した電流を供給するために使用されているスイッチ回路の動作を説明するためのものである。同図において、１６、１７はスイッチ回路あり、その他図１と同じ回路要素については同一符号を附し、その説明を省略する。また、コンピュータ１５についても図示を省略する。
【００４１】
微小な欠陥を検出する場合、直流安定化電源１１から供給される電流は計測前後でも安定した電流でなければならない。この回路の作業手順としては、まずスイッチ回路１６をON、スイッチ回路１７をＯＦＦとして電流を安定させる。電流が安定したら、スイッチ回路１７をON、スイッチ回路１６をＯＦＦとして電流供給端子３、４に電流が流れるようにする。電流供給端子３、４の電流を切る際はスイッチ回路１６をON、スイッチ回路１７をＯＦＦとする。計測前後で電流が安定に供給されているかは、シャント抵抗１２間の電位差を計測するデジタルマルチメータ１３により確認する。このように操作することにより、計測前後で安定した電流が構造物１に確実に供給され、計測結果の再現性、正確性を高めることができる。つまり、このようなスイッチ回路１６、１７を用いていない従来回路に比べ、スイッチ回路１６、１７を設けたことにより直流安定化電源１１からのノイズを低減させ、計測結果の再現性、正確性を高めることができる。
【００４２】
次に、本発明の電位差法による非破壊検査装置の他の実施の形態について説明する。この実施の形態の装置は、対を成す電流供給端子のそれぞれを複数の電流供給端子で構成したもので、板状土台にそれぞれ３個の電流供給端子を設けている。その他の構成については先に説明した実施の形態の装置と同様である。以下、この要部について説明する。
【００４３】
図６は本発明の他の実施の形態の要部説明図である。図６（ａ）は板状土台５１の要部平面図であり、板状土台５１にはそれぞれ３個の電流供給端子が設けられるように、端子ガイドとしての孔６２、６３、６４と孔６５、６６、６７が図中左右対称に設けられ、孔６８と孔６９が図中左右対称に設けられている。孔６２、６３、６４と孔６５、６６、６７には電流供給端子５２、５３、５４と電流供給端子５５、５６、５７が各々取り付けられ、孔６８と孔６９には電位差計測端子５８、５９が各々取り付けられる。
【００４４】
図６（ｂ）は板状土台５１に電流供給端子５２、５３、５４と電流供給端子５５、５６、５７および電位差計測端子５８、５９を取り付けた時の要部断面図であり、孔６２、６３、６４と孔６５、６６、６７に電流供給端子５２、５３、５４と電流供給端子５５、５６、５７が取り付けられるとともに、孔６８と孔６９に電位差計測端子５８、５９が各々取り付けられる。
【００４５】
電流供給端子５２、５３、５４と電流供給端子５５、５６、５７の各々の先端は、構造物５０の表面に接離可能となっている。電流供給端子５２、５３、５４と電流供給端子５５、５６、５７の先端を各々構造物５０の表面に接触させて、３個の電流供給端子に並列的に同時に電流を供給することが可能である。構造物５０にそれら全電流が供給されると、小さな抵抗値変化に対しても電流の増大に応じて大きな電位変化を発生させるので、厚肉の構造物５０の部材裏面にき裂が存在する場合でも、電位差計測端子５８、５９により高感度に計測が可能である。
【００４６】
しかも、各々個別電流供給端子５２、５３、５４、５５、５６、５７に供給する電流を増やすことがないので、各端子部のジュール発熱量が低減され、電位差計測端子５８、５９に熱伝導することで発生する熱起電力に起因するノイズ発生は抑えられる。
【００４７】
続いて、本発明の電位差法による非破壊検査装置の更に他の実施の形態について説明する。この実施の形態では、図示を省略したが、図１乃至図４を用いて説明した板状土台２を構造物１に対して垂直に上下動可能とするＺ軸ステージに取り付けた。Ｚ軸ステージにはリニアアクチュエータが備えられ、リニアアクチュエータが板状土台２を上下動させる構成である。リニアアクチュエータの動作により板状土台の高さを制御して、各端子と構造物１との接離を制御している。さらに、シーケンサーには各端子の接離のタイミングと計測タイミングとを同期させるプログラムを組み込んでいて、コンピュータ１５でプログラムを変更することが可能である。また、シーケンサーはリレースイッチを制御するプログラムも組み込まれており、スイッチ回路の操作により安定した電流をセンサに供給できる。このようにして、計測の自動化を実現した。
【実施例】
【００４８】
図１乃至図４を用いて説明した非破壊検査装置を用いて計測したデータを表１に示す。
この計測で使用した構造物１は、ｌ＝３００ｍｍ、ｗ＝３００ｍｍ、ｔ＝４０ｍｍのＳＵＳ３０４ステンレス材であり、き裂１ｃの大きさはａ／ｔ＝０．３７、ｂ／ａ＝４．７である。
【００４９】
【表１】
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【００５０】
電流供給端子３、４より２０アンペアの電流を供給し、１測定セットにつき同一箇所を各１０回計測し平均値と標準偏差とを算出した。これを、６測定セット行い、各測定セットの平均値と標準偏差及び全体の平均値と標準偏差とを算出し、実験結果とした。全体の平均値と標準偏差とは、き裂なし領域において４３０．１μＶ、０．９９であり、き裂ありの領域において４３５．６μＶ、０．８４であり、き裂有無による電位の差は５．５μＶである。この結果は、理論解析により求めた結果とよく一致するものである。
【００５１】
次に、先の実施例に対して電流供給端子３、４より供給する電流を変えて計測したデータを表２に示す。
【００５２】
【表２】
2008128816.tif 000004
【００５３】
この計測では、構造物１を変えることなく、電流供給端子３、４より３０アンペアの電流を供給し、１測定セットにつき同一箇所を各１０回計測し平均値と標準偏差とを算出した。これを、６測定セット行い、各測定セットの平均値と標準偏差及び全体の平均値と標準偏差とを算出し、実験結果とした。全体の平均値と標準偏差とは、き裂なし領域において６４３．５μＶ、０．９９であり、き裂ありの領域において６５１．４μＶ、０．５９であり、き裂有無による電位の差は７．９μＶである。この結果は、理論解析により求めた結果とよく一致するものである。先の実施例に比べて検出感度の改善が確認できる。
【産業上の利用可能性】
【００５４】
本発明に係わる電位差法による非破壊検査装置は、原子力プラントにおける金属円管等の構造物の非破壊検査に用いることが可能であり、配管におけるき裂や減肉など欠陥部を高精度に検出できる。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明の電位差法による非破壊検査装置の実施の形態の原理説明図である。
【図２】図１に示す電位差法による非破壊検査装置の板状土台の要部正面図である。
【図３】図２に示す電位差法による非破壊検査装置の板状土台の電流供給端子と孔との関係を説明するための説明図である。（ａ）は孔の要部断面図、（ｂ）は電流供給端子の断面図、（ｃ）は孔に電流供給端子を組み込んだ状態の要部断面図、（ｄ）は脚部および脚部を構造物に載せた状態の要部断面図である。
【図４】図３に示す電位差法による非破壊検査装置の板状土台の電流供給端子に端子止めを取り付けた状態の要部断面図である。
【図５】図１に示す電位差法による非破壊検査装置の原理回路図である。
【図６】本発明の電位差法による非破壊検査装置の他の実施の形態の要部説明図である。（ａ）は板状土台の要部平面図、（ｂ）は板状土台に電流供給端子、電流供給端子および電位差計測端子を取り付けた時の要部正面図である。
【符号の説明】
【００５６】
１、５０    構造物
２、５１    板状土台
３、４、５２、５３、５４、５５、５６、５７    電流供給端子
５、６、５８、５９    電位差計測端子
７、８、９    脚部
１１    直流安定化電源
１２    シャント抵抗
１３、１４    デジタルマルチメータ
１５    コンピュータ
１６、１７    スイッチ回路
２３、２４、２５、２６、６２、６３、６４、６５、６６、６７、６８、６９    孔
３３、３４、３５、３６    端子止め
３７    リング
４３    ばね
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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