(57)【要約】【課題】  試験体のガス漏れを誤認なく、誰でもがその検出結果について異論の生じない低圧漏れ試験方法を提供する。【解決手段】  試験体１００に内径１０μｍの貫通孔２を有する試験片１を装置し、この表面に検出剤５を貼付し更にその表面側を金属シート４によって覆い、試験用ガス体を低圧で流して１乃至１０μｍの貫通孔２からのガスが漏れるまでの時間を求め、ガス体（ａ）と低圧（ｂ）と時間（ｃ）の条件の基に試験体１００のテストを行う。このａ，ｂ，ｃの条件でガス漏れがない場合には試験体１００のガス漏れがないと判断する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験体の漏れの有無を誤認なく、かつ簡便に検出できる漏れ試験方法であって、該方法は、前記試験体に連通する微細孔を有する試験片を取り付け、前記試験体内に試験ガスを低圧で導入し、前記試験片の前記微細孔からの前記試験ガスの漏れが生ずるまでの時間を検出し、前記試験体の漏れ発生の可能のある箇所において前記時間を経過した状態で夫々漏れが発生しているか否かを観察して漏れの有無を検出することを特徴とする低圧漏れ試験方法。
【請求項２】
前記試験片の微細孔が１乃至１０μｍであり、その板厚が試験体の肉厚の１．０乃至３倍であることを特徴とする請求項１に記載の低圧漏れ試験方法。
【請求項３】
前記低圧が１．３ｋｐａ乃至５０．６ｋｐａであることを特徴とする請求項１に記載の低圧漏れ試験方法。
【請求項４】
前記試験片や漏れの発生する箇所には試験ガスに対応する漏れ検知剤やこれを覆うシートが設けられることを特徴とする請求項１に記載の低圧漏れ試験方法。
【請求項５】
前記シートが薄手の金属シートであることを特徴とする請求項４に記載の低圧漏れ試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験体の各部の漏れの有無を誤認なく、かつ簡便に検出でき、その試験結果に対して誰もが納得できる低圧漏れ試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
漏れ試験方法としては、検知ガスとしてヘリウムガス，アンモニアガス，水素ガスを用いたヘリウム漏れ試験方法，アンモニア漏れ試験方法，水素漏れ試験方法がある。検出感度を高くする方法としては、試験体内を真空にして漏れがある場合、試験体内にヘリウムガラを吸込ませ、吸込んだガスを質量分析を行うヘリウム漏れ試験方法等が従来より実施されている。また、ＪＩＳとしても各種の漏れ試験方法が定められている。また、簡便な「アンモニア漏れ試験方法」として「特許文献１」が一例として挙げられる。
【特許文献１】特開２００４−２８９７４号（図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
漏れ試験方法としては前記のように各種のものがあるが、一般的な試験方法としては試験体に圧力気体を流し、試験体から漏れ出る気体を夫々のガス検知器で検出する方式であるが、この場合、気体の圧力を高圧にするのが普通である。これは漏れ検出時間を短縮することが主の目的であり、高圧を負荷することにより漏れの検出が容易にできることによるものである。しかしながら、漏れの検出精度は、試験ガスの濃度，圧力，試験時間等に大きく左右されて正確な漏れが検出しにくい問題点がある。また、仮りにある条件で漏れ試験を実施して漏れが検出されなければその試験体に漏れ箇所が無ないと判断したとしても、他の条件で漏れ試験をした場所に漏れが検出される場合であり、確実で誤認のない検出ができない問題点がある。また、ヘリウム漏れ試験方法の場合、一般的に真空が採用されるが真空にして漏れ試験を行うことにより漏れ発生の検出精度は向上するが真空にするための段取りが大変である。また、試験ガスを高圧にする場合も試験段取りに多大の工数を必要とする問題点もある。
【０００４】
本発明は、以上の事情に鑑みて発明されたものであり、漏れ試験のための工数が大幅に低減でき、試験効果について誰もが納得でき誤認のない結果を得ることができる低圧漏れ試験方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、以上の目的を達成するために請求項１の試験体の漏れの有無を誤認なく、かつ簡便に検出できる漏れ試験方法であって、該方法は、前記試験体に連通する微細孔を有する試験片を取り付け、前記試験体内に試験ガスを低圧で導入し、前記試験片の前記微細孔からの前記試験ガスの漏れが生ずるまでの時間を検出し、前記試験体の漏れ発生の可能のある箇所において前記時間を経過した状態で夫々漏れが発生しているか否かを観察して漏れの有無を検出することを特徴とする。
【０００６】
また、本発明の請求項２は、前記試験片の微細孔が１乃至１０μｍであり、その板厚が試験体の肉厚の１．０乃至３倍であることを特徴とする。なお、一般的に産業機器等で漏れ孔として確視されるものは５乃至１０μｍ程度の貫通孔であり、初期漏孔は小さく１乃至３０μｍ程度を１つの目標としている。
【０００７】
また、請求項３の発明は、前記低圧が１．３ｋｐａ乃至５０．６ｋｐａであることを特徴とする。
【０００８】
また、請求項４の発明は、前記試験片や漏れの発生する箇所には試験ガスに対応する漏れ検知剤やこれを覆うシートが設けられることを特徴とする。
【０００９】
また、請求項５の発明は、前記シートが薄手の金属シートであることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の請求項１の低圧漏れ試験方法によれば、試験体に微細孔を有する試験片を取り付け、低圧の試験ガスを流してこの微細孔からガス漏れが生じ検知器で確認されるまでの時間を求めるものであり、試験体の漏れの生じ易い箇所に以上の低圧の試験ガスを前記の時間保持した状態でガス漏れの有無を検出する方法を試験方法とするため漏れ検出の基準が一定となり誤認が生ずる恐れがない。即ち、低圧で試験ガスを流すことにより微細孔からのガス漏れを溜め込む方法のための試験時間が長くなるが、この長い時間が経過しても試験体からのガス漏れが検出されなければ少なくとも微細孔に相当する大きさの漏れ箇所がないと判断でき、かつ微細孔の大きさや試験片の板厚等を基準化することにより、高精度の漏れ検出結果を得ることができる。
【００１１】
また、本発明の請求項２の低圧漏れ試験方法によれば、試験片の微細孔を１乃至１０μｍとし、その板厚を試験体の肉厚の１．０乃至３．０倍とすることにより、試験体のガス漏れの有無をほぼ正確に判断することができる。即ち、１乃至１０μｍの漏れ箇所が仮りにあったとしてもその漏れ箇所は通常の状態では問題外として取り扱ってもかまわない。また、試験体における漏れ孔の形状は必ずしも板厚方向に直線的でない場合が多いため試験片の板厚を試験体の肉厚の１．０乃至３．０倍とすることにより安全側に漏れ検出ができる。
【００１２】
また、本発明の請求項３の低圧漏れ試験方法によれば、圧力を１．３ｋｐａ乃至５０．６ｋｐａの低圧にすることにより、試験時間が長くなるが、試験段取りを容易にしての漏れ試験が可能になる。
【００１３】
また、本発明の請求項４の低圧漏れ試験方法によれば、試験ガスに対応する漏れ検知剤を用いることにより試験体の漏れ検出が正確にでき、かつシートを設けることにより、漏れ出た試験ガスを溜め込むことができるため、より正確な漏れ検出ができる。
【００１４】
また、本発明の請求項５の低圧漏れ試験方法によれば、シートとして金属シートを用いることにより、ゴムやビニールのように試験ガスによっておかされて試験ガスがシートを通過することがなくなり、漏れガスの溜め込みが確実になり、試験精度が正確になる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の低圧漏れ試験方法の実施の形態を図面を参照して詳述する。
図４の試験体１００の一例を示すものである。勿論、試験体としては任意のものでよい。
この試験体１００は図示のように配管の連続群からなり、配管にはフランジ等による連結部６や溶接等による連続部７がある。また、この試験体１００には管内の圧力を測定して安全管理を行うための圧力ゲージ８が配置されている。この試験体１００は管それ自体からのガス漏れも発生する可能性もあるが、主として図の「Ｂ」で示す連結部６，７からのガス漏れが主であり、試験体１００のガス漏れの検出はこの「Ｂ」の箇所で行い、この部位からのガス漏れがない場合には試験体１００のガス漏れがないものと判断する。
【００１６】
本発明におけるガス漏れ試験方法としては、図１及び図２に示す試験片１が使用される。この試験片１は硬質の材料であればよいが、本実施例では試験体１００の材質と同一の材料が用いられ、図２に示すように矩形状の板体からなる。この板体は適宜の面積を有するものからなり、そのほぼ中央部には１乃至１０μｍの貫通孔２が形成される。また、この板体の板厚Ｔは図１に示す試験体１００の肉厚３をｔとした場合にＴ＝１．０ｔ乃至３．０ｔとする。これは試験体１００に発生しているキズが直線的のものに限らず肉厚３よりも長い場合が多いためであり、その長さに対応させるためである。
【００１７】
試験片１の試験体１００への取り付け位置は任意の場所でもよいが、図４に示すように場所（「Ａ」で示す）圧力ゲージ８又は試験用座（「Ｃ」で示す）が装着されているが望ましい。その理由としては図１に示すように圧力ゲージ８又は試験用座による装着場所にはねじ孔９が形成されており、このねじ孔９は試験体１００の内部に連通して形成されているためである。
【００１８】
以上のように、試験片１は図１に示すようにねじ孔９に形成されている試験体１００の場所に試験体１００と密接した状態で取り付けられる。
【００１９】
試験片１は試験体１００に密接固定されるだけでもよいが、実際上は次の処置を行う。まず、貫通孔２の表面側にガス漏れを溜め込むためのシート４で完全に被覆する。このシート４は金属シートが望ましい。その理由にしてはゴムやビニールのシートの場合には使用ガスの種類（水素やヘリウムガス等）によりこれ等のシートが通過する恐れがあるからである。
また、シート４を使用する目的は、試験片１の貫通孔２から漏れたガスを試験片１の表面とシート４の内面との間に溜め込んでガス濃度を上げて貫通孔２からの漏れの存在を明確にするためである。
【００２０】
一方、試験体１００のガス漏れの生じ易い場合の「Ｂ」位置には図３に示すように検出薬５を貼付すると共にこの検出薬５を金属シート４により被覆する準備を行う。
【００２１】
次に、ガス漏れ試験方法を説明する。
図１や図に示す準備が終了したら、試験用ガスとして試験体１００内を通るガス体（ｂで表示する）を選び、これを試験体１００内に導入する。この場合、ガス体の圧力（ａで示す）は低圧とする。低圧の度合は試験体１００の構造や内容等を考慮して設定するが特に限定するものではない。
低圧のガス体を試験体１００内に導入すると、試験片１の貫通孔２が１乃至１０μｍの極めて小さな孔のため、貫通孔２から導入されたガス体が漏れ出て来るに相当の時間がかかる。本発明ではこの時間（ｃで示す）を計測する。即ち、前記した圧力（ａ）（低圧）とガス体（ｂ）と時間（ｃ）が本発明の主要項目である。
【００２２】
以上のａ，ｂ，ｃの内容が解ったら、次に、ａ，ｂ，ｃの条件でガス体を流し、図３に示すようにこれ等の連結部６や連結部７からのガス漏れの有無を検出する。
仮りに連結部６，７にガス漏れがなかった場合には少なくとも貫通孔２の１乃至１０μｍ程度のキレツが試験体１００側に存在していないことがわかる。即ち、試験片１によるガス漏れをチェックすることによって少なくとも１乃至１０μｍ程度のガス漏れが試験体１００側に発生していないことを明確に証明することができる。
即ち、本発明は、一定の形状の試験片１のガス漏れの有無を検出することにより、試験体１００のガス漏れの発生の有無を確実に判断することができる。
【００２３】
本発明のガス漏れ試験方法は以上の説明の通りであるが、その内容については以上のものに限定するものではなく同一の技術的範疇のものが適用されることは勿論である。
【産業上の利用分野】
【００２４】
本発明のガス漏れ試験方法はガス漏れを検出する必要のあるすべての試験体に適用され、その利用範囲は極めて広い。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明の低圧漏れ試験方法の内容を説明するための模式部分拡大断面図。
【図２】本発明の低圧漏れ試験方法に使用する試験片の斜視図。
【図３】本発明の低圧漏れ試験方法を説明するための模式部分拡大外観図。
【図４】本発明の低圧漏れ試験方法が適用される試験体の一部を示す部分外観図。
【符号の説明】
【００２６】
１      試験片
２      貫通孔
３      肉厚（試験体）
４      シート（金属シート）
５      検出剤（試験薬）
６      連結部
７      連結部
８      圧力ゲージ
１００  試験体
【図１】
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【図２】
2008058009.tif 000004
【図３】
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【図４】
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