(57)【要約】 【課題】Low to Highタイプの光ディスクに対する再生レーザパワーの設定を適正に行うことにより、記録膜特性の劣化を抑制し、ディスクの再生耐久性ないし記録情報の信頼性を高める。【解決手段】システムリードイン領域から取得された最適再生パワーＰｗｒ０に調整係数αを乗じて再生レーザパワーＰｗｒの初期値が設定される（Ｓ１０３）。次に、光ピックアップ１０５がデータリードイン領域に送られ、Ｓ１０３にて設定された再生レーザパワーＰｗｒにてデータリードイン領域がリードされ、このとき取得される再生信号からＰＲＳＮＲが測定される（Ｓ１０４）。測定されたＰＲＳＮＲは、閾値Ｐｓｈと比較され（Ｓ１０５）、ＰＲＳＮＲ≧Ｐｓｈであれば（Ｓ１０５:ＹＥＳ）、Ｓ１０３で設定された再生レーザパワーＰｗｒ（初期値）が、当該再生動作時における再生レーザパワーに設定される（Ｓ１０６）。【選択図】図４
2008108306.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクに対してレーザ光を照射する光ピックアップと、
前記ディスクから最適再生パワーを取得する最適再生パワー取得部と、
前記最適再生パワーより低いパワーを初期値として設定する初期パワー設定部と、
再生試行を実行しながら再生信号の品質レベルが基準レベル以上となるまで再生パワーを前記初期値から引き上げるパワー調整部と、
前記品質レベルが前記基準レベル以上となったときの再生パワーを当該ディスクに対する再生パワーとして設定する再生パワー設定部と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記初期パワー設定回路は、前記ディスクから取得した最適再生パワーに対し１未満の調整係数を乗じて前記初期値を求める、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記初期パワー設定回路は、ディスク製造会社と前記初期値に関する情報とを対応付けたテーブルと、前記ディスクから当該ディスクの製造会社に関する情報を取得する情報取得部とを備え、当該ディスクから前記ディスク製造会社に関する情報を取得し、取得したディスク製造会社に対応する前記初期値に関する情報を前記テーブルから読み出し、読み出した情報に基づいて前記初期値を設定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスク装置において、
前記初期値に関する情報は１未満の調整係数であり、
前記初期パワー設定回路は、前記ディスクから取得した最適再生パワーに対し、当該ディスクの製造会社に対応する調整係数を乗じて前記初期値を求める、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１ないし４の何れか一項に記載の光ディスク装置において、
前記パワー調整部は、前記初期値から、予め設定された再生パワーの上限値までの範囲で、前記再生パワーを引き上げる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスク装置において、
前記再生パワーの上限値は、前記ディスクから取得された最適再生パワーに設定される、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に関し、特に、記録部分の反射率が未記録部分の反射率よりも高くなる、いわゆるLow to Highタイプの光ディスクから情報を再生する際に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
現在、商品化が進められているＨＤＤＶＤ−Ｒディスクには、記録部分の反射率が未記録部分の反射率よりも高くなる、いわゆるLow to Highタイプのディスクが提案されている。この種のディスクは、記録層が有機色素材料によって形成されるため、記録層が無機材料によって形成されるHigh to Lowタイプのディスクに比べ、外部からの光によって感光を受け易いといった特性を有している。その一方、ＨＤＤＶＤ規格では、最低、１００万回の再生が求められており、Low to Highタイプのディスクにおいても高い信頼性が確保されなければならない。このため、ドライブ装置では、過度の感光による記録膜特性の劣化や、クロスイレーズが起こらないよう、記録時のレーザパワーを適正に設定することが求められる。
【０００３】
図８は、Low to HighタイプのＨＤＤＶＤ−Ｒディスクに対し情報を記録または再生する際の動作を模式的に示す図である。図示の如く、この種のディスクでは、High to LowタイプのＨＤＤＶＤ−Ｒディスクと同じくグルーブのみに記録が行われる。また、この種のディスクは書き換え可能でないため、ディスク内周から外周にわたって１トラックずつ順番に記録が行われる。同図の場合、グルーブ（G1）への記録が済むと、これに隣接するグルーブ（G2）に記録が行われる。このため、グルーブ（G2）への記録時に、光スポットの周縁が既に記録済みのグルーブ（G1）に掛かることとなる。この場合、光スポット内におけるレーザ強度はスポット中心部分に集中するため、このように光スポットの周縁がグルーブ（G1）に掛かっても、これによりグルーブ（G1）上に記録マークが形成されることはない。しかし、微弱ながらもグルーブ（G1）にレーザ光が漏れこむため、これによりグルーブ（G1）の記録層が感光し、記録層に耐光性の面で劣化が生じる。この他、グルーブに強いパワーにてレーザ光が照射されると、記録膜特性に劣化が生じ、再生耐久性に問題が生じる可能性がある。
【０００４】
再生動作時には、記録時ほどではないものの、ある程度のパワーにてレーザ光が照射される。これにより、グルーブの記録層が感光し、記録層に耐光性の面で劣化が生じる。特に、データリードインエリアやファイル情報の格納エリア等、再生の都度リードされ、光ピックアップによって頻繁にアクセスされるエリアは、その分、再生レーザ光の照射頻度が高まる。このため、これらのエリアは、他のエリアに比べ、記録層の劣化が生じ易い。しかし、これらのエリアが再生不能になると、主情報の再生に必要な情報が取得できなくなり、ディスク全体の情報が再生不能となってしまう。
【０００５】
なお、以下の特許文献１には、データエリアとは別に用意されたテストゾーンに試し書きを行って最適な記録パワーを求めることが記載されている。
【特許文献１】特開２００３−２２８８４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、このような問題を解消するためになされたものであり、Low to Highタイプの光ディスクに対する再生レーザパワーの設定を適正に行うことにより、記録膜特性の劣化を抑制し、ディスクの再生耐久性ないし記録情報の信頼性を高め得る光ディスク装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題に鑑み本発明は、以下の特徴を有する。
【０００８】
請求項１の発明は、光ディスク装置において、ディスクに対してレーザ光を照射する光ピックアップと、前記ディスクから最適再生パワーを取得する最適再生パワー取得部と、前記最適再生パワーより低いパワーを初期値として設定する初期パワー設定部と、再生試行を実行しながら再生信号の品質レベルが基準レベル以上となるまで再生パワーを前記初期値から引き上げるパワー調整部と、前記品質レベルが前記基準レベル以上となったときの再生パワーを当該ディスクに対する再生パワーとして設定する再生パワー設定部とを有することを特徴とする。
【０００９】
請求項２の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記初期パワー設定回路は、前記ディスクから取得した最適再生パワーに対し１未満の調整係数を乗じて前記初期値を求めることを特徴とする。
【００１０】
請求項３の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記初期パワー設定回路は、ディスク製造会社と前記初期値に関する情報とを対応付けたテーブルと、前記ディスクから当該ディスクの製造会社に関する情報を取得する情報取得部とを備え、当該ディスクから前記ディスク製造会社に関する情報を取得し、取得したディスク製造会社に対応する前記初期値に関する情報を前記テーブルから読み出し、読み出した情報に基づいて前記初期値を設定することを特徴とする。
【００１１】
請求項４の発明は、請求項３に記載の光ディスク装置において、前記初期値に関する情報は１未満の調整係数であり、前記初期パワー設定回路は、前記ディスクから取得した最適再生パワーに対し、当該ディスクの製造会社に対応する調整係数を乗じて前記初期値を求めることを特徴とする。
【００１２】
請求項５の発明は、請求項１ないし４の何れか一項に記載の光ディスク装置において、前記パワー調整部は、前記初期値から、予め設定された再生パワーの上限値までの範囲で、前記再生パワーを引き上げることを特徴とする。
【００１３】
請求項６の発明は、請求項５に記載の光ディスク装置において、前記再生パワーの上限値は、前記ディスクから取得された最適再生パワーに設定されることを特徴とする。
【００１４】
なお、上記請求項における「最適再生パワー取得部」と、「初期パワー設定部」と、「パワー調整部」と、「再生パワー設定部」は、以下の実施形態において、主として、コントローラ１１１によって具現化されている。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、Low to Highタイプの光ディスクに対する再生レーザパワーの設定を適正に行うことができ、これにより、ディスクの再生耐久性ないし記録情報の信頼性を高めることができる。すなわち、本発明によれば、ディスクから取得した最適再生パワーよりも低いパワーにて再生が行われる。よって、再生レーザ光を照射することによる記録層の劣化を抑制することができ、ディスクの再生耐久性ないし信頼性を高めることができる。また、このように再生パワーを最適再生パワーより低く設定しても、再生信号の品質レベルを基準レベル以上に確保できるので、円滑な再生動作を実現できる。
【００１６】
なお、請求項５の発明によれば、再生パワー設定部によって設定される再生パワーが過度に大きくなるのを抑制することができる。特に、請求項６の発明のように、再生パワーの上限値を、そのディスクから取得される最適再生パワーに設定するようにすれば、再生パワー設定部によって設定される再生パワーがそのディスクの最適再生パワーを超えるのを防止することができる。
【００１７】
本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。特に、本発明による効果は、以下に示す実施形態の検証結果（図５）によって明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。本実施の形態は、Low to HighタイプのＨＤ ＤＶＤ−Ｒに記録再生を行う光ディスク装置に本発明を適用したものである。
【００１９】
まず、図１に光ディスク１００のエリアフォーマットを示す。
【００２０】
図示の如く、ディスク１００は、その径方向に、ＢＣＡ（Burst Cutting Area）、システムリードインエリア、データリードインエリア、データエリア、データリードアウトエリアに領域分割されている。さらに、データリードインエリアとデータリードアウトエリアは種々のゾーンに区分されており、このうち、インナードライブテストゾーンおよびアウタードライブテストゾーンを用いて、記録レーザパワーの設定動作が行われる。
【００２１】
ＢＣＡには、対応する規格書番号やディスクタイプ等が記録されている。光ディスク装置は、ディスク挿入時にＢＣＡを読み取ることにより、ディスク種別などを判別できる。また、システムリードインエリアには、対応する規格書番号・ディスク種別の他、当該ディスクの記録再生に関する情報がピットによって記録されている。この情報は、たとえば当該ディスクに適用される記録スピードや反射率、最適な記録再生パワー、Write  Strategy、記録エリアの設定および当該ディスクのディスク製造会社の識別情報等から構成されている。光ディスク装置は、ディスク挿入時にこのエリアを再生することでディスク種別の他、記録再生に必要な情報を取得する。
【００２２】
なお、ピット形成領域（システムリードイン領域）とグルーブ形成領域（データリードイン領域、データ領域、データリードアウト領域）は同じ膜構造となっている。すなわち、ピット形成領域にもグルーブ形成領域と同様、記録膜と反射膜が形成されている。
【００２３】
図２に、実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す。
【００２４】
図示の如く、光ディスク装置は、エンコーダ１０１と、変調回路１０２と、レーザ駆動回路１０３と、レーザパワー調整回路１０４と、光ピックアップ１０５と、信号増幅回路１０６と、復調回路１０７と、デコーダ１０８と、サーボ回路１０９と、ＡＤＩＰ再生回路１１０と、コントローラ１１１から構成されている。
【００２５】
なお、同図には、光ピックアップ１０５をディスク径方法に移動させるためのアクチュエータが図示省略されている。このアクチュエータは、サーボ回路１０９から入力されるサーボ信号によって駆動制御される。また、同図には、コントローラ１１１からサーボ回路に向かう信号線が図示省略されている。コントローラ１１１は、再生レーザパワーの設定時に、適宜、サーボ回路１０９に指令信号を出力する。
【００２６】
図において、エンコーダ１０１は、入力された記録データに対し誤り訂正符号の付加等のエンコード処理を施し、変調回路１０２へ出力する。変調回路１０２は、入力された記録データに所定の変調を施し、さらに記録信号を生成してレーザ駆動回路１０３に出力する。レーザ駆動回路１０３は、記録時には変調回路１０２からの記録信号に応じた駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力し、再生時には一定強度のレーザ光を出射するための駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力する。ここで、記録および再生時のレーザパワーは、レーザパワー調整回路１０４からの信号によってコントロールされる。レーザパワー調整回路１０４は、コントローラ１１１からの指令に応じて、記録および再生時のレーザパワーを規定する信号をレーザ駆動回路１０３に出力する。
【００２７】
光ピックアップ１０５は、半導体レーザ１０５ａおよび光検出器１０５ｂを備え、レーザ光をグルーブ上に収束させることにより、ディスクに対するデータの書き込みおよび読み出しを行う。なお、光ピックアップ１０５は、この他、グルーブに対するレーザ光の照射状態を調整するための対物レンズアクチュエータと、半導体レーザ１０５ａから出射されたレーザ光を対物レンズに導き、且つ、ディスク１００からの反射光を光検出器１０５ｂに導くための光学系等を備えている。
【００２８】
信号増幅回路１０６は、光検出器１０５ｂから受信した信号を増幅および演算処理して各種信号を生成し、これを対応する回路に出力する。復調回路１０７は、信号増幅回路１０６から入力された再生ＲＦ信号を復調して再生データを生成し、デコーダ１０８に出力する。デコーダ１０８は、復調回路１０７から入力されたデータに対し誤り訂正等のデコード処理を施し、後段回路に出力する。
【００２９】
サーボ回路１０９は、信号増幅回路１０６から入力されたフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号からフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号を生成し、光ピックアップ１０５の対物レンズアクチュエータに出力する。また、信号増幅回路１０６から入力されたウォブル信号からモータサーボ信号を生成し、ディスク駆動モータに出力する。ＡＤＩＰ再生回路１１０は、信号増幅回路１０６から入力されたウォブル信号からアドレス情報等を再生し、これらをコントローラ１１１に出力する。
【００３０】
コントローラ１１１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）と内蔵メモリを備え、内蔵メモリに各種データを格納するとともに、あらかじめ設定されたプログラムに従って各部を制御する。なお、コントローラ１１１の内蔵メモリには、再生レーザパワーの初期値を設定するための情報（初期値テーブル）が保持されている。この情報は、たとえば、図３（ａ）に示す如く、ディスク製造会社と初期値を対応付けたものとすることができる。この場合、コントローラ１１１は、システムリードインエリアからディスク製造会社に関する情報を読み取り、これに対応する初期値を内蔵メモリから取得して、再生レーザパワーの初期値に設定する。
【００３１】
あるいは、これに代えて、図３（ｂ）に示す如く、システムリードインエリアに記録されている最適再生パワーを補正するための係数αをディスク製造会社に対応付けて内蔵メモリに記憶させても良い。この場合、コントローラ１１１は、システムリードインエリアに記録されている最適再生パワーとディスク製造会社に関する情報を読み取り、読み取ったディスク製造会社に対応する係数αを内蔵メモリから取得し、取得した係数αをシステムリードインエリアから読み取った最適再生パワーに乗じて、試し書き時の初期パワーを算出する。
【００３２】
なお、システムリードインエリアから取得したディスク製造会社が内蔵メモリ内に存在しない場合が起こり得る。これに対応するために、内蔵メモリには、図３（ａ）（ｂ）に示す如く、再生レーザパワーの初期値または係数αのデフォルト値が格納されている。システムリードインエリアから取得したディスク製造会社が内蔵メモリ内に存在しない場合、コントローラ１１１は、内蔵メモリに格納されている初期値または係数αのデフォルト値を用いて再生レーザパワーの初期値を設定する。
【００３３】
なお、内蔵メモリに記憶されている初期値または係数αは、再生レーザパワーの初期値が、システムリードインエリアに記録されている最適再生パワーよりも数１０％程度小さくなるような値に設定されている。したがって、当該ディスクに対して最初に試行される再生動作は、ディスク製造会社によって設定された最適再生パワーよりも低く抑えられたパワーにて行われることとなる。
【００３４】
なお、図３に示す例では、ディスク製造会社毎に初期値と調整係数を設定するようにしたが、１種類の初期値と調整係数のみを内蔵メモリに格納しておき、これを再生レーザパワーの初期値として設定するようにしても良い。この場合、これら１種類の初期値と調整係数は、市場に存在するディスクの何れに対しても、再生レーザパワーの初期値が、そのディスクのシステムリードインエリアに記録されている最適再生パワーよりも小さくなるような値に設定される必要がある。
【００３５】
図４に、再生レーザパワー設定時の処理フローチャートを示す。なお、同図の処理フローチャートは、図３（ｂ）に示す調整係数を用いて再生レーザパワーの初期値を設定する場合のものである。初期値の設定方法として、図３（ａ）に示すテーブルを用いる方法や、上記に説明したそれ以外の方法を用いる場合には、それに応じて、図４のＳ１０１〜Ｓ１０３が適宜変更される。
【００３６】
再生レーザパワーの設定処理が開始されると、まず、再生対象ディスクのシステムリードイン領域から最適再生パワーＰｗｒ０とディスク製造会社の識別情報が取得される（Ｓ１０１）。ここで、システムリードイン領域からこれらの情報を読み取るときのレーザパワーは、一般的な再生レーザパワーとしてもよいし、または、規格で定める最低レーザパワーの値あるいは情報の読み取りが可能な範囲でこの最低レーザパワーよりも低いパワーに設定してもよい。なお、本実施の形態では利用されないが、機器の必要に応じて、ＢＣＡからも併せて情報が読み取られても良い。そして、このようにシステムリードイン領域から最適再生パワーＰｗｒ０とディスク製造会社の識別情報が取得された後、当該ディスクのディスク製造会社に対応する調整係数αが内蔵メモリから読み出され（Ｓ１０２）、システムリードイン領域から取得された最適再生パワーＰｗｒ０にこの調整係数αを乗じて、再生レーザパワーＰｗｒの初期値が設定される（Ｓ１０３）。
【００３７】
このようにして再生レーザパワーＰｗｒの初期値が設定されると、次に、光ピックアップ１０５がデータリードイン領域に送られる。そして、Ｓ１０３にて設定された再生レーザパワーＰｗｒにてデータリードイン領域がリードされ、このとき取得される再生信号からＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal to Noise Ratio）が測定される（Ｓ１０４）。測定されたＰＲＳＮＲは、閾値Ｐｓｈと比較され（Ｓ１０５）、ここで、ＰＲＳＮＲ≧Ｐｓｈであれば（Ｓ１０５:ＹＥＳ）、Ｓ１０３で設定された再生レーザパワーＰｗｒ（初期値）が、当該再生動作時における再生レーザパワーに設定される（Ｓ１０６）。
【００３８】
一方、Ｓ１０４にて測定されたＰＲＳＮＲが閾値Ｐｓｈ未満であれば（Ｓ１０５：ＮＯ）、再生レーザパワーＰｗｒがΔＰだけ高められ（Ｓ１０７）、Ｓ１０４に戻って、再度、ＰＲＳＮＲの測定が行われる。Ｓ１０４からＳ１０５の処理は、ＰＲＳＮＲが閾値Ｐｓｈ以上となる（Ｓ１０５:ＹＥＳ）まで繰り返される。そして、ＰＲＳＮＲが閾値Ｐｓｈ以上となったときの再生レーザパワーＰｗｒが当該再生動作時における再生レーザパワーに設定される（Ｓ１０６）。
【００３９】
なお、Ｓ１０５における閾値Ｐｓｈは、Ｐｓｈ＞１５に設定される。これは、ＰＲＳＮＲが１５以下の場合には、再生データにエラーが頻発し信号処理系にて誤り訂正を行っても訂正しきれないためである。実質的には、ディスク全面における信号特性のばらつきや、システムの安定性を考慮して、閾値Ｐｓｈは、Ｐｓｈ＝１５よりもやや高めに設定するのが好ましい。
【００４０】
本実施の形態によれば、ディスクに対する再生レーザパワーが、再生動作に支障がない範囲で、当該ディスクに設定された最適再生パワーより低く設定される。よって、再生動作を円滑に行いながら、再生レーザ光の照射による記録層の劣化を抑制することができ、ディスクの再生耐久性ないし信頼性を高めることができる。
【００４１】
図５に、ディスクの再生耐久性に関する検証結果を示す。
【００４２】
なお、この検証では、図６（ａ）に示す特性を有するサンプルディスク（Low to HighタイプのＨＤＤＶＤ−Ｒディスク）を用いた。図６（ａ）は、サンプルディスク上のあるトラック（グルーブ）に記録を行った後、そのトラックを再生してＰＲＳＮＲを測定したときの測定結果である。横軸は記録レーザパワー、縦軸はＰＲＳＮＲである。なお、この測定では、トラックに測定対象パワーのレーザ光を照射して記録を行った。また、測定機は、パルステック工業製  ＯＤＵ−１０００を用いた。測定時のディスク線速は６．６１ｍ/ｓ（一定）、再生パワーは０．４ｍＷである。
【００４３】
このサンプルディスクに対し、ＰＲＳＮＲがピークとなるレーザパワー（９．５ｍＷ）ではなく、これよりも低い８．５ｍＷで記録を行った。これは、記録レーザ光の照射によって生じる記録層の劣化を抑制するためである。なお、このとき用いた記録レーザパワー（８．５ｍＷ）は、以下に述べる図６（ｂ）の測定結果に基づくものである。
【００４４】
図６（ｂ）は、ある記録パワーＰｗｔにてトラック（グルーブ）Ｔ１に記録を行った後、これに隣接する次のトラックＴ２に同じパワーＰｗｔにて記録を行い、その後、トラックＴ２の記録部分を再生してＰＲＳＮＲ（Ｐ２）を求め、次いで、トラックＴ１の記録部分を再生してＰＲＳＮＲ（Ｐ１）を求め、さらに、Ｐ２とＰ１の差分を求めたときの測定結果である。横軸は記録レーザパワーＰｗｔ、縦軸はＰ２とＰ１の差分である。この測定は、トラックＴ１の記録部分とトラックＴ２の記録部分がディスク径方向に略完全に並ぶようにして行った。なお、このとき用いた測定機および測定条件は、同図（ａ）の場合と同じである。
【００４５】
この測定では、トラックＴ２に記録を行う際にトラックＴ１の記録済み部分にレーザ光が漏れこみ、トラックＴ１の記録部分にこのレーザ光の漏れ込みによる信号特性の劣化が生じる。ここで、劣化の程度は、Ｐ２とＰ１の差分の大きさによって評価できる。同図（ｂ）の測定結果では、記録レーザパワーが８．５ｍｗを超えるあたりでＰ２とＰ１の差分が急激に大きくなる。したがって、この場合には、記録レーザパワーを８．５ｍＷよりも大きくすると、記録済みトラックにおける信号劣化が顕著となり、ディスクの再生耐久性が低下するものと予測できる。すなわち、ＰＲＳＮＲが最良となる９．５ｍＷ程度に記録レーザパワーを設定すると、記録層に劣化が生じ、ディスクの再生耐久性が低下するものと予測できる。
【００４６】
したがって、本検証では、記録時のレーザパワーを、ＰＲＳＮＲがピークとなるレーザパワー（９．５ｍＷ）ではなく、これよりも低い８．５ｍＷとして、サンプルディスクに記録を行った。そして、記録済みのサインプルディスクに対して、０．５ｍＷ、０．４ｍＷ、０．３ｍＷの３種の再生レーザパワーにて再生を繰り返し、ＰＲＳＮＲの変化を測定した。測定結果は、図５に示すとおりである。なお、再生レーザパワー＝０．４ｍＷは、当該サンプルディスクのシステムリードイン領域から取得された最適再生パワーである。図中の横軸は再生回数、縦軸は再生信号のＰＲＳＮＲである。
【００４７】
この検証例では、記録レーザパワー（８．５ｍＷ）にてサンプルディスク内周から順に記録を行い、その後、隣接する内周側と外周側のトラックがともに記録された状態にあるトラックを選択して、このトラックを、上記３種の再生レーザパワーにて繰り返し再生するようにした。測定機は、パルステック工業製  ＯＤＵ−１０００を用いた。測定時のディスク線速は６．６１ｍ/ｓ（一定）である。
【００４８】
同６を参照して分かるとおり、再生レーザパワーを０．５ｍＷ（最適再生パワー０．４ｍＷよりも０．１ｍＷ超過）とした場合には、測定開始直後からＰＲＳＮＲが急激に低下し、再生回数が５０万回程度足らずで、ＰＲＳＮＲが下限設定値（ＰＲＳＮＲ＝１５）を下回ってしまう。一方、再生レーザパワーを０．４ｍＷ（システムリードインから取得した最適レーザパワー）とした場合には、再生回数が１００万回に達するまでの間、ＰＲＳＮＲ≧２０の状態を維持し続けることができ、よって、規格が求める１００万回の繰り返し再生を実現できる。これに対し、再生レーザパワーを０．３ｍＷ（最適再生パワー０．４ｍＷよりも０．１ｍＷ低減）とした場合には、再生回数が１００万回に達するまでの間、ＰＲＳＮＲ≒１８の状態を維持し続けることができ、よって、規格が求める１００万回の繰り返し再生を実現できる。さらに、再生回数が１００万回を超えると、再生レーザパワーが０．４ｍＷの場合よりも再生信号のＰＲＳＮＲが良好となり、１５０万回程度の再生にも耐え得ることが確認された。
【００４９】
本実施の形態のように、再生レーザパワーを、当該ディスクのシステムリードイン領域から取得される最適再生パワーよりも低く抑えるようにすれば、円滑な再生動作を維持しながら、再生レーザ光の照射による記録層の劣化を効果的に抑制することができ、ディスクの再生耐久性ないし信頼性を高めることができる。図５の検証例によれば、再生レーザパワーをシステムリードインから取得した最適再生パワーに設定する場合に比べ、ディスクの再生耐久性を顕著に引き伸ばすことができる。なお、図５の検証例では、図６を参照して説明したとおり、記録レーザパワーの方も、再生耐久性を考慮したものに設定されているが、本実施の形態によれば、記録レーザパワーが再生耐久性を考慮したものに設定されていないような場合にも、当該ディスクの再生耐久性を、規格が求める程度のもの（再生回数：１００万回）へと近づけることができる。
【００５０】
なお、一般に、光ピックアップの固体ばらつきや、温度変化等によって、ディスクに照射される再生レーザ光のパワーは、半導体レーザに対する設定値に対し、１０％程度ずれる場合がある。このため、システムリードインから取得された最適再生パワーを当該ディスクに対する再生レーザパワーとして設定しても、設定したパワーよりも大きなパワーのレーザ光がディスクに照射されることが起こり得る。たとえば、システムリードインに最適再生パワーが０．４ｍＷと記述されていた場合、これをそのまま再生レーザパワーとして設定したとしても、実際の出力は０．４４ｍＷとなる場合がある。この場合、ディスクには過度のパワーの再生レーザ光が照射され、これにより記録層の劣化が生じる惧れがある。
【００５１】
本発明によれば、このような場合にも、システムリードインから取得した最適再生パワーよりも低い初期値から徐々にパワーを高めながら、ＰＲＳＮＲが閾値Ｐｓｈ以上となるときのパワーを当該ディスクに対する再生レーザパワーに設定するようにしたため、このように過度のレーザ光がディスクに照射されるのを防止することができる。よって、この点からも、ディスクの再生耐久性を高めることができる。
【００５２】
以上、本発明に係る実施の形態ついて説明したが、本発明は、上記実施の形態に制限されるものではない。
【００５３】
上記実施の形態では、図４の処理フローチャートにおいて、ＰＲＳＮＲ≧Ｐｓｈになるまで再生レーザパワーＰｗｒを高めるようにした（Ｓ１０４、Ｓ１０５、Ｓ１０７）が、この処理フローが繰り返されると、場合によっては、ＰＲＳＮＲ≧Ｐｓｈを満たすときの再生レーザパワーＰｗｒが、システムリードインから取得された最適再生パワーＰｗｒ０よりも大きくなることが起こり、その結果、最適再生パワーＰｗｒ０よりも高いパワーの再生レーザ光がディスクに照射される場合が起こり得る。これを回避するためには、図７に示すように、別途Ｓ１１０を追加し、再生レーザパワーＰｗｒが上限値Ｐｗｒ−ｍａｘを超えない範囲で、再生レーザパワーＰｗｒの設定を行うようにすると良い。また、この場合、上限値Ｐｗｒ−ｍａｘを、当該ディスクのシステムリードインから取得した最適再生パワーＰｗｒ０に設定すれば、当該ディスクに対する再生レーザパワーＰｗｒが、最適再生パワーＰｗｒ０を超えるのを防止することができる。
【００５４】
なお、上記実施例１、２では、再生信号の良否に関するパラメータ値としてＰＲＳＮＲを用いたが、これに代えて、再生エラーレート、ＣＮ、ジッター等を用いることもできる。
【００５５】
この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】実施の形態に係る光ディスクのエリアフォーマットを示す図
【図２】実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図
【図３】実施の形態に係る初期値テーブルの構成を示す図
【図４】実施の形態に係る再生レーザパワー設定時の処理フローチャート
【図５】実施の形態に係る検証例を示す図
【図６】検証に用いたサンプルディスクの特性と記録レーザパワーの設定方法を説明する図
【図７】実施の形態に係る再生レーザパワー設定時の処理フローチャートの変更例
【図８】Low to HighタイプのＨＤ ＤＶＤ−Ｒの問題点を説明する図
【符号の説明】
【００５７】
１０５  光ピックアップ
１０６  信号増幅回路
１０７  復調回路
１０８  デコーダ
１０９  サーボ回路
１１１  コントローラ
【図１】
2008108306.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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