(57)【要約】【課題】例えば、マイクロレンズが作り込まれた液晶装置において、液晶分子のプレチルト角を測定する。【解決手段】制御部１５０は、ステップＳ１０で測定された照度のうち、明視方向において、視角α毎に照度を取得する（ステップＳ２０）。ステップＳ２０では、制御部１５０により、視野角特性に関するグラフが作成される。尚、ステップＳ１０では、明視方向のみについて、視角毎に画像表示領域１０ａの照度を測定しておいてもよい。制御部１５０は、最も低い照度に対応した視角Ｘａに基づいて、液晶分子５０ａのプレチルト角を特定する。【選択図】図８
2008058865.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
液晶装置の明視方向において、前記液晶装置の非動作状態における照度を測定する測定
工程と、
前記明視方向における前記照度が最も低くなる角度に基づいて、前記液晶装置が備える
液晶層に含まれる液晶分子のプレチルト角を特定する特定工程と
を備えたことを特徴とするプレチルト角の測定方法。
【請求項２】
液晶装置の明視方向において、前記液晶装置のコントラスト値を測定する測定工程と、
前記明視方向における前記コントラスト値が最も高くなる角度に基づいて、前記液晶装
置が備える液晶層に含まれる液晶分子のプレチルト角を特定する特定工程と
を備えたことを特徴とするプレチルト角の測定方法。
【請求項３】
前記液晶分子は、負の誘電率異方性を有しており、
前記測定工程において、透過軸が互いに直交するように配置された一対の偏光板間に、
前記液晶装置が配置されていること
を特徴とする請求項１又は２に記載のプレチルト角の測定方法。
【請求項４】
前記液晶装置は、マイクロレンズアレイを備えていること
を特徴とする請求項１から３の何れか一項に記載のプレチルト角の測定方法。
【請求項５】
請求項１から４の何れか一項に記載のプレチルト角の測定方法を用いて前記液晶装置を
検査する検査工程を備えたこと
を特徴とする液晶装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、垂直配向モードで駆動される液晶のプレチルト角を測定するための
プレチルト角の測定方法、及びそのような測定方法を含む液晶装置の製造方法の技術分野
に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の液晶装置が含む液晶分子のプレチルト角を測定する場合、液晶層、当該液晶層
を挟持するＴＦＴアレイ基板及び対向基板を備えた液晶パネルの両面の夫々の側に偏光子
及び検光子等の偏光板を配置した状態で、単一波長を有する光束を偏光子が配置された側
から液晶パネルに照射する。この際、偏光子及び検光子の夫々の透過軸を互いに平行に維
持しながら液晶パネルの明視方向において当該液晶パネルを傾斜させることによって、各
傾斜角において検光子側で検出される光の位相差を測定し、当該光の位相差に基づいて液
晶分子のプレチルト角を測定している。
【０００３】
他方、単一波長光ビームの透過強度のビーム入射角依存性からプレチルト角を測定する
測定方法も開示されている（例えば特許文献１。）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−３４８０５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、ランプ光源等から出射された光を画素に集光するマイクロレンズアレイ
が設けられた液晶パネルについて、検光子側で光の位相差を測定した場合、マイクロレン
ズアレイによる光の回折によって位相差を正確に測定することが困難になり、プレチルト
角を特定することが困難となる問題点がある。言い換えれば、測定される光の位相差にズ
レを生じさせる何らかの障害物が予め液晶装置に作り込まれている場合には、正確なプレ
チルト角を測定することが困難となる。このような場合、液晶装置が、当該液晶装置の製
造プロセスにおいて設定された狙いのプレチルト角を有しているか否かを判断することが
困難となり、例えば製造された液晶装置におけるプレチルト角が狙いのプレチルト角より
ずれている場合には、当該ズレに応じて液晶装置の表示性能が狙いの表示性能より低くな
ってしまう問題点が生じる。
【０００６】
よって、本発明は上記問題点等に鑑みてなされたものであり、例えば、液晶パネルにマ
イクロレンズが配置された状態で液晶分子のプレチルト角を測定できるプレチルト角の測
定方法、及びそのような測定方法を含む液晶装置の製造方法を提供することを課題とする
。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の第１の発明に係るプレチルト角の測定方法は上記課題を解決するために、液晶
装置の明視方向において、前記液晶装置の非動作状態における照度を測定する測定工程と
、前記明視方向における前記照度が最も低くなる角度に基づいて、前記液晶装置が備える
液晶層に含まれる液晶分子のプレチルト角を特定する特定工程とを備える。
【０００８】
本発明の第１の発明に係るプレチルト角の測定方法によれば、液晶装置は、その非動作
時において、例えば動作時より低い輝度、言い換えれば当該輝度を測定する測定系から見
れば表示領域の照度である黒表示を行う。測定工程では、液晶装置の明視方向において、
例えば、液晶装置の角度毎に、液晶装置が非駆動状態に維持された状態で当該液晶装置の
照度を測定する。ここで、明視方向とは、液晶装置の表示領域に平行な面内方向において
、表示領域の中心に対して測定系が配置された方位角のうち、液晶装置の動作時における
表示領域の照度（即ち、白表示時の照度）が最も高い方向を意味する。このような明視方
向は、液晶装置に設けられた配向膜に対するラビング方向、或いは配向膜の蒸着方向に応
じて設定される。角度とは、表示領域と平行な面に対して表示領域の中心と測定系とを結
んだ線がなす仰角を意味する。
【０００９】
測定工程では、液晶装置を非動作状態に維持した状態で、例えば、明視角方向のみにお
いて、角度毎に表示領域の照度を測定してもよいし、表示領域に平行な面内において表示
領域の中心に対する各方位角において角度毎に表示領域の照度を測定した後、測定された
照度から明視方向における照度のみを抽出してもよい。
【００１０】
特定工程では、明視方向における照度が最も低くなる角度に基づいて、液晶装置が備え
る液晶層に含まれる液晶分子のプレチルト角を特定する。
【００１１】
ここで、照度を測定する測定系の測定ばらつき、或いは表示領域から出射される光を屈
折させる光学部材等によって、最も低い照度に対応した角度と液晶分子のプレチルト角が
一致しない場合も想定される。しかしながら、例えば予めプレチルト角の設定値と、最も
低い照度に対応した角度との誤差を測定しておき、当該角度からプレチルト角を算出する
換算表を作成しておくことによって、最も低い照度に対応した角度に基づいてプレチルト
角を特定でき、液晶装置の表示品位を確認できる。
【００１２】
したがって、本発明の第１の発明に係るプレチルト角の測定方法によれば、測定系のば
らつき或いは表示領域から出射される光を屈折させる光学部材が液晶装置に配置されてい
る場合であっても、最も低い照度に対応した角度に基づいて、液晶分子のプレチルト角を
特定でき、液晶装置の表示品位を確認できる。尚、本発明の第１の発明に係るプレチルト
角の測定方法は、測定系のばらつき或いは表示領域から出射される光を屈折させる光学部
材が液晶装置に配置されていない場合でも、プレチルト角を正確に測定できることは言う
までもない。
【００１３】
本発明の第２の発明に係るプレチルト角の測定方法は上記課題を解決するために、液晶
装置の明視方向において、前記液晶装置のコントラスト値を測定する測定工程と、前記明
視方向における前記コントラスト値が最も高くなる角度に基づいて、前記液晶装置が備え
る液晶層に含まれる液晶分子のプレチルト角を特定する特定工程とを備える。
【００１４】
本発明の第２の発明に係るプレチルト角の測定方法によれば、液晶装置について、その
非動作時及び動作時の夫々における表示領域の照度の比であるコントラストを測定する。
ここで、明視方向及び角度とは、上述した本発明の第１の発明に係るプレチルト角の測定
方法と同様の意味である。
【００１５】
測定工程では、液晶装置を非動作状態及び動作状態の夫々の状態に維持し、例えば、明
視方向のみにおいて、角度毎に液晶装置の非動作状態及び動作状態の夫々で測定された表
示領域の照度に基づいて、コントラストを測定してもよいし、表示領域に平行な面内にお
いて表示領域の中心に対する各方位角について角度毎に、液晶装置の非動作状態及び動作
状態の夫々において表示領域の照度を測定した後、測定された照度から明視方向における
コントラストのみを抽出してもよい。
【００１６】
特定工程では、明視方向におけるコントラスト値が最も高くなる角度に基づいて、液晶
装置が備える液晶層に含まれる液晶分子のプレチルト角を特定する。ここで、コントラス
トは、液晶装置の非動作状態及び動作状態の夫々における表示領域の照度の比であるため
、上述した本発明の第１の発明に係るプレチルト角の測定方法と同様に、コントラストの
ピークに対応した角度に基づいて、液晶分子のプレチルト角を特定できる。
【００１７】
尚、本発明の第２の発明に係るプレチルト角の測定方法でも、上述した本発明の第１の
発明に係るプレチルト角の測定方法と同様に、例えば予めプレチルト角の設定値と、コン
トラストのピークに対応した角度との誤差を測定しておき、当該角度からプレチルト角を
算出する換算表を作成しておくことによって、コントラストのピークに対応した角度に基
づいてプレチルト角を特定できる。
【００１８】
したがって、本発明の第２の発明に係るプレチルト角の測定方法によれば、本発明の第
１の発明に係るプレチルト角の測定方法と同様に、測定系のばらつき或いは表示領域から
出射される光を屈折させる光学部材が液晶装置に配置されている場合であっても、液晶分
子のプレチルト角を正確に特定できる。尚、本発明の第２の発明に係るプレチルト角の測
定方法も、測定系のばらつき或いは表示領域から出射される光を屈折させる光学部材が液
晶装置に配置されていない場合でも、プレチルト角の正確に測定できることは言うまでも
ない。
【００１９】
本発明の第１及び第２の発明に係るプレチルト角の測定方法の一の態様では、前記液晶
分子は、負の誘電率異方性を有しており、前記測定工程において、透過軸が互いに直交す
るように配置された一対の偏光板間に、前記液晶装置が配置されていてもよい。
【００２０】
この態様によれば、液晶分子は負の誘電率異方性を有しているため、垂直配向（Vertic
ally Aligned：以下、ＶＡ）モードで駆動される。測定工程では、液晶装置は、透過軸が
互いに直交するように液晶層の両側の夫々に配置された一対の偏光板間に配置されている
ため、液晶装置が非動作状態では、動作状態に比べて表示領域の照度は低くなる。より具
体的には、液晶装置は、非動作状態で表示領域に黒表示がなされる、所謂ノーマリーブラ
ック方式で表示領域に画像を表示する。このような液晶装置では、非動作時における表示
領域の照度は、他の駆動モードで液晶分子が駆動される液晶装置に比べて低くなるため、
最も低い照度が明確に判別できる。また、これに伴い、コントラストのピークに対応した
角度もより明確に判別できる。
【００２１】
本発明の第１及び第２の発明に係る液晶装置の製造方法の他の態様では、前記液晶装置
は、マイクロレンズアレイを備えていてもよい。
【００２２】
この態様によれば、マイクロレンズによる光の回折によって表示領域の照度を正確に測
定できない場合であっても、例えば、最も低い照度に対応した角度、或いはコントラスト
のピークに対応した角度と、プレチルト角の換算表を予め作成しておくことによって、マ
イクロレンズが液晶装置に配置された後であっても、実践的に液晶分子のプレチルト角を
特定できる。
【００２３】
本発明の第３の発明に係る液晶装置の製造方法は上記課題を解決するために、上述した
プレチルト角の測定方法を用いて前記液晶装置を検査する検査工程を備えている。
【００２４】
本発明の第３の発明に係る液晶装置の製造方法によれば、液晶装置の検査工程において
、液晶装置における液晶分子のプレチルト角と、狙いプレチルト角との差が特定できるた
め、例えば、狙いのプレチルト角からずれたプレチルト角を有する液晶装置を選別できる
。
【００２５】
本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施形態から明らかにされる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、図面を参照しながら、本発明に係るプレチルト角の測定方法、及び液晶装置の製
造方法を説明する。
【００２７】
＜１：第１実施形態＞
図１乃至図１１を参照しながら、本発明の第１の発明に係るプレチルト角の測定方法及
び本発明の第３の発明に係る液晶装置の製造方法の各実施形態を説明する。
【００２８】
＜１−１：液晶装置＞
先ず、図１及び図２を参照しながら、本実施形態に係るプレチルト角の測定方法によっ
て液晶分子のプレチルト角が測定される液晶装置の一例を説明する。図１は、液晶装置を
対向基板として用いられるマイクロレンズ基板側から見た平面図であり、図２は、図１の
Ｈ−Ｈ´断面図である。ここでは、液晶装置の一例である駆動回路内蔵型のＴＦＴアクテ
ィブマトリクス駆動方式の液晶装置を例に挙げ、負の誘電率異方性を有する液晶分子を用
いている。したがって、本実施形態に係る液晶装置１は、液晶分子が垂直配向（ＶＡ）モ
ードで駆動される液晶装置である。
【００２９】
図１及び図２において、液晶装置１では、ＴＦＴアレイ基板１０と、対向基板として用
いられるマイクロレンズ基板２０とが対向配置されている。ＴＦＴアレイ基板１０とマイ
クロレンズ基板２０との間に液晶層５０が封入されており、ＴＦＴアレイ基板１０とマイ
クロレンズ基板２０とは、画像表示領域１０ａの周囲に位置するシール領域に設けられた
シール材５２により相互に接着されている。
【００３０】
シール材５２は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等
からなり、製造プロセスにおいてＴＦＴアレイ基板１０上に塗布された後、紫外線照射、
加熱等により硬化させられたものである。シール材５２中には、ＴＦＴアレイ基板１０と
マイクロレンズ基板２０との間隔（基板間ギャップ）を所定値とするためのグラスファイ
バ或いはガラスビーズ等のギャップ材５６が散布されている。したがって、液晶装置１は
、ギャップが均一であり、プロジェクタのライトバルブ用として小型で拡大表示を行うの
に適している。
【００３１】
シール材５２が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域１０ａの額縁領
域を規定する遮光性の額縁遮光膜５３が、マイクロレンズ基板２０側に設けられている。
この額縁遮光膜５３は、例えばマイクロレンズ基板２０において、後述する第１基板２１
０上に形成される電極より下層側に配置されている。但し、このような額縁遮光膜５３の
一部又は全部は、マイクロレンズ基板２０の第１基板２１０上において、電極より上層側
に配置されて形成されてもよいし、ＴＦＴアレイ基板１０側に内蔵遮光膜として形成され
てもよい。尚、図１及び図２において、マイクロレンズ基板２０を構成する、第１基板２
１０や接着層２３０、マイクロレンズ５００等の詳細な構成については図示を省略してあ
る。
【００３２】
画像表示領域１０ａの周辺に位置する周辺領域のうち、シール材５２が配置されたシー
ル領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２
がＴＦＴアレイ基板１０の一辺に沿って設けられている。走査線駆動回路１０４は、この
一辺に隣接する２辺のいずれかに沿い、且つ、額縁遮光膜５３に覆われるようにして設け
られている。尚、走査線駆動回路１０４を、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端
子１０２が設けられたＴＦＴアレイ基板１０の一辺に隣接する２辺に沿って設けるように
してもよい。この場合、ＴＦＴアレイ基板１０の残る一辺に沿って設けられた複数の配線
によって、二つの走査線駆動回路１０４は互いに接続されるようにする。
【００３３】
マイクロレンズ基板２０の４つのコーナー部には、両基板間の上下導通端子として機能
する上下導通材１０６が配置されている。他方、ＴＦＴアレイ基板１０にはこれらのコー
ナー部に対向する領域において上下導通端子が設けられている。これらにより、ＴＦＴア
レイ基板１０とマイクロレンズ基板２０との間で電気的な導通をとることができる。
【００３４】
図２において、ＴＦＴアレイ基板１０上には、画素スイッチング用のＴＦＴ（Thin Fil
m Transistor；以下適宜、“ＴＦＴ”と称する）や走査線、データ線等の配線が形成され
た後の画素電極９ａ上に、配向膜１６が形成されている。他方、詳細な構成については後
述するが、液晶装置において、マイクロレンズ基板２０に形成された電極が、画素電極９
ａと対向するように配置されており、この電極上には、配向膜２２が形成されている。尚
、ＴＦＴアレイ基板１０には、例えば、石英やプラスチック等の透明基板が用いられる。
【００３５】
ＴＦＴアレイ基板１０又はマイクロレンズ基板２０上において、配向膜１６又は２２は
、例えばポリイミド等の有機材料により形成される。本実施形態では、ＴＦＴアレイ基板
１０及びマイクロレンズ基板２０のいずれか一方上にのみ配向膜を形成するか、或いはこ
れらのいずれか一方上に形成される配向膜を無機材料により形成するようにしてもよい。
【００３６】
液晶層５０は、負の誘電率異方性を有する液晶分子を含んでおり、ＶＡモードで駆動さ
れる。液晶装置１は、その使用時に、互いに液晶層５０の両側で透過軸が互いに直交する
よう偏光板が配置され、ノーマリーブラック方式で画像を表示する。
【００３７】
図１及び図２に示したＴＦＴアレイ基板１０上には、これらのデータ線駆動回路１０１
、走査線駆動回路１０４等に加えて、画像信号線上の画像信号をサンプリングしてデータ
線に供給するサンプリング回路、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリチャージ信号を
画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回路、製造途中や出荷時の当該電気光学装
置の品質、欠陥等を検査するための検査回路等を形成してもよい。
【００３８】
次に、図３を参照しながら、マイクロレンズ基板２０の詳細な構成を説明する。図３は
、複数の画素について、図２に示す断面の一部の構成を拡大して示した拡大図である。
【００３９】
図３において、マイクロレンズ基板２０では、第１基板２１０上（図中では、第１基板
２１０の下側）であって、マイクロレンズ５００より下層側に、例えば格子状の平面パタ
ーンを有する遮光膜２３が形成される。マイクロレンズ基板２０において、遮光膜２３に
よって光が透過しない非開口領域が規定され、遮光膜２３によって区切られた領域が、実
質的に画像表示に寄与する光が透過する開口領域７００となる。尚、遮光膜２３をストラ
イプ状に形成し、遮光膜２３と、ＴＦＴアレイ基板１０側に設けられる容量電極やデータ
線等の各種構成要素とによって、非開口領域を規定するようにしてもよい。
【００４０】
マイクロレンズ５００は各画素に対応するように接着層２３０を介して第１基板２３０
に配置される。より具体的には、マイクロレンズ基板２０において、画素毎に、開口領域
７００及び開口領域７００の周辺に位置する非開口領域を少なくとも部分的に含む領域に
、マイクロレンズ５００が配置されて形成されている。
【００４１】
マイクロレンズ基板２０上（図中ではマイクロレンズ基板２０の下側）に、透明な電極
２１を介して配向膜２２が形成されている。加えて、マイクロレンズ基板２０は、第１基
板２１０の上層側に又は下層側に、各開口領域７００に配置されたカラーフィルタを有し
ていてもよい。
【００４２】
図３において、ＴＦＴアレイ基板１０上の各開口領域７００に対応する領域には画素電
極９ａが形成されている。ＴＦＴアレイ基板１０上において、画素スイッチング用のＴＦ
Ｔ３０や、画素電極９ａを駆動するための走査線やデータ線等の各種配線並びに蓄積容量
等の電子素子が、非開口領域に形成されている。このように構成すれば、当該液晶装置に
おける画素開口率を比較的大きく維持することが可能となる。更に、画素電極９ａ上には
配向膜１６が設けられている。
【００４３】
ランプ光源等の光源から出射された光源光のうちマイクロレンズ基板２０に入射する光
は、各マイクロレンズ５００によって集光される。図３中、一点鎖線によってマイクロレ
ンズ５００によって集光された光の様子を概略的に示してある。各マイクロレンズ５００
によって集光された光は、液晶層５０を透過して画素電極９ａに照射され、画素電極９ａ
を通過して表示光としてＴＦＴアレイ基板１０から出射される。よって、マイクロレンズ
基板２０に入射された光のうち非開口領域に向かう光も、マイクロレンズ５００の集光作
用により開口領域７００に入射させることができるため、各画素における実行開口率を高
めることができる。
【００４４】
＜１−２：プレチルト角の測定方法＞
次に、図４乃至図１０を参照しながら、本発明の第１の発明に係るプレチルト角の測定
方法の実施形態を説明する。図４は、本実施形態に係るプレチルト角の測定方法を実行可
能な測定装置を図式的に示した図式的構成図である。図５は、方位角及び本発明の「角度
」の一例である視角を示した図式的斜視図である。図６は、明視方向が示された液晶装置
の図式的平面図である。図７は、図６に示した液晶装置を明視方向に沿った平面で切った
断面の一部を拡大して示した図式的断面図である。図８は、本実施形態に係るプレチルト
角の測定方法のフローチャートである。図９は、非動作状態の液晶装置について測定され
た照度をマッピングしたマッピング図である。図１０は、視角と、明視方向における照度
との関係を示したグラフである。
【００４５】
＜１−２−１：測定装置の構成＞
図４及び図５を参照しながら、測定装置１６０の構成を説明する。
【００４６】
図４に示すように、測定装置１６０は、受光装置１４０、及び制御部１５０を備えてい
る。測定装置１６０は、平面的に見て透過軸Ｔ１及びＴ２が互いに直交するように配置さ
れた偏光板１２１及び１２２間に液晶装置１が配置された状態で、光源１３０から出射さ
れた光源光を偏光板１２１側から液晶装置１に照射する。受光装置１４０は、液晶装置１
及び偏光板１２２を透過した光を受光し、画像表示領域１０ａの照度を測定する。制御部
１５０は、測定された照度のデータ及び受光装置１４０の設定等について各種処理及び制
御を実行する。
【００４７】
図５に示すように、受光装置１４０は、液晶装置１及び偏光板１２２を透過した光を受
光することによって照度を測定する。この際、受光装置１４０は、画像表示領域１０ａに
おける各方位角φにおいて視角α毎に画像表示領域１０ａの照度を測定する。ここで、方
位角φとは、画像表示領域１０ａの中心点Ｃ及び光ビーム測定装置１４０を結ぶ線を、画
像表示領域１０ａの平行な面Ｓに投影した投影線が面Ｓ内の基準線（図中、面Ｓ内に示し
た点線Ｐ）となす角である。視角αは、画像表示領域１０ａの中心点Ｃ及び光ビーム測定
装置１４０を結ぶ線が面Ｓの法線Ｌｎとなす角度である。
【００４８】
＜１−２−２：測定原理＞
次に、図６及び図７を参照しながら、液晶装置１における視野角特性の測定原理を説明
する。
【００４９】
図６に示すように、液晶装置１は、当該液晶装置１の明視方向（１：３０方向）が透過
軸Ｔ１及びＴ２の夫々に対して４５°の角度をなすように配置されている。図７に示すよ
うに、非動作状態（黒表示がなされている状態）の液晶装置１では、液晶分子５０ａに電
圧が印加されていない。したがって、液晶分子５０ａは、ＴＦＴアレイ基板１０の法線Ｌ
ｎに対してプレチルト角θｐをなして傾いている。ここで、平面的に見て互いに透過軸Ｔ
１及びＴ２が直交するように配置された偏光板１２１及び１２２間において、液晶装置１
の明視方向（１：３０方向）が透過軸Ｔ１及びＴ２と４５°をなすように液晶装置１が配
置されているため、図中矢印Ａで示した方向、即ちプレチルト角θｐに平行な方向から画
像表示領域１０ａの照度を測定した場合、他の方向から照度を測定した場合に比べて照度
が低くなる。言い換えれば、明視方向において、視角α毎に取得された照度のうち、液晶
分子の長軸方向、即ち液晶分子５０ａのディレクタ方向に沿った角度に対応した照度は、
理論的には他の角度に対応する照度に比べて照度が低くなるため、照度が最も低くなる視
角に基づいて液晶分子のプレチルト角θｐを特定できる。
【００５０】
ここで、照度を測定する測定装置の測定ばらつき、或いはマイクロレンズ５００によっ
て、最も低い照度に対応した視角αと液晶分子のプレチルト角θｐとが一致しない場合も
想定される。しかしながら、例えば予めプレチルト角θｐの設定値と、最も低い照度に対
応した視角αとの誤差を測定しておき、当該視角からプレチルト角を算出する換算表を作
成しておき、当該換算表を参照することによって、最も低い照度に対応した視角αに基づ
いてプレチルト角θｐを特定できる。
【００５１】
＜１−２−３：測定方法＞
次に、図８乃至図１０を参照しながら、プレチルト角の測定方法を詳細に説明する。
【００５２】
図８において、本実施形態に係るプレチルト角の測定方法では、液晶装置１を測定装置
１６０に配置し、画像表示領域１０ａに黒表示がなされている非動作状態で画像表示領域
１０ａの照度を測定する（ステップＳ１０）。この際、照度は、図４乃至図７を参照しな
がら説明したように、各方位角において視角毎に測定され、図９に示すように、照度は各
方位角において視角αの角度毎にマッピングされる。ここで、図９において、同種の線は
、同一の照度を示しており、図９のマッピング図の径方向に沿った位置は、同一方位角に
おける視角の大きさを示している。図９に示すように、照度は、方位角及び視角の夫々に
依存する。
【００５３】
次に、図８において、制御部１５０は、ステップＳ１０で測定された照度のうち、明視
方向において、視角α毎に照度を取得する（ステップＳ２０）。ステップＳ１０及びステ
ップＳ２０が、本発明の第１の発明に係る測定工程の一例を構成する。ステップＳ２０で
は、制御部１５０により、図１０に示す視野角特性に関するグラフが作成される。尚、ス
テップＳ１０では、明視方向のみについて、視角の大きさ毎に画像表示領域１０ａの照度
を測定しておいてもよい。
【００５４】
次に、図８において、制御部１５０は、図１０に示した視野角特性に関するグラフから
最も低い照度に対応した視角Ｘａに基づいて、液晶分子５０ａのプレチルト角を特定する
（ステップＳ３０）。この際、制御部１５０は、例えば予め求めておいた、最も低い照度
に対応した視角と、プレチルト角との誤差を補正する換算表を参照して、プレチルト角を
特定する。
【００５５】
このように本実施形態に係るプレチルト角の測定方法によれば、測定系のばらつき或い
は画像表示領域１０ａから出射される光を屈折させるマイクロレンズ５００が液晶装置１
に配置されている場合であっても、最も低い照度に対応した視野角Ｘａに基づいて、液晶
分子５０ａのプレチルト角θｐを特定でき、液晶装置１の表示品位を確認できる。尚、本
実施形態に係るプレチルト角の測定方法は、測定系のばらつき或いは画像表示領域から出
射される光を屈折させるマイクロレンズ５００が液晶装置１に配置されていない場合でも
、プレチルト角を正確に測定できることは言うまでもない。
【００５６】
加えて、液晶装置１は、垂直配向（Vertically Aligned：以下、ＶＡ）モードで液晶分
子が駆動されるため、非動作時における画像表示領域１０ａの照度は、他の駆動モードで
液晶分子が駆動される液晶装置に比べて低くなる。したがって、他の液晶装置に比べて、
最も低い照度が明確に判別できる利点もある。
【００５７】
＜１−３：液晶装置の製造方法＞
次に、図１１を参照しながら、本発明の第３の発明に係る液晶装置の製造方法の実施形
態を説明する。本実施形態では、上述したプレチルト角の測定方法を検査工程に用いて液
晶装置１を製造するための液晶装置の製造方法を一例に挙げる。図１１は、本実施形態に
係る液晶装置の製造方法における主要な工程を示したフローチャートである。
【００５８】
図１１において、シール材でＴＦＴアレイ基板１０及び対向基板２０を貼り合わせた（
ステップＳ３１）後、これら基板間に液晶を注入し、液晶装置１を組み上げる（ステップ
Ｓ３２）。次に、上述したプレチルト角の測定方法を用いて、液晶分子のプレチルト角を
測定することによって、液晶分子が狙いのプレチルト角を有しているか否かを検査する（
ステップＳ３３）。これにより、液晶分子が狙いのプレチルト角を有している液晶装置の
みが選別される。これにより、液晶分子が設計通りのプレチルト角を有する高品位の液晶
装置のみを選択できる。
【００５９】
以上の工程によって、液晶装置１を形成できる。尚、ＴＦＴアレイ基板１０及び対向基
板２０を貼り合せる前にいずれか一方の基板上に液晶を配置し、その後ＴＦＴアレイ基板
１０と対向基板２０を貼り合わせることによって液晶装置１を組み上げてもよい。
【００６０】
＜２：第２実施形態＞
次に、図１２乃至図１５を参照しながら、本発明の第２の発明に係るプレチルト角の測
定方法及びこのようなプレチルト角の測定方法を検査工程に用いた液晶装置の製造方法の
各実施形態を説明する。以下では、第１実施形態と同様に液晶装置１における液晶分子の
プレチルト角を測定する場合を例に挙げ、第１実施形態と共通する部分については、共通
の参照符号を付し、詳細な説明を省略する。図１２は、本実施形態に係るプレチルト角の
測定方法のフローチャートである。図１３（ａ）は、動作状態の液晶装置について測定さ
れた照度をマッピングしたマッピング図、図１３（ｂ）は、非動作状態の液晶装置につい
て測定された照度をマッピングしたマッピング図、図１３（ｃ）は、コントラストをマッ
ピングしたマッピング図である。図１４は、図１３（ａ）乃至（ｃ）の夫々の明視方向に
おける各視角と、照度及びコントラストとの関係を示したグラフである。図１５は、本願
発明者が行った実験結果を示したグラフであり、プレチルト角の狙い値（即ち、設定値）
Ｘと、コントラストのピークに対応する視角Ｙとの相関を示したグラフである。
【００６１】
図１２において、本実施形態に係るプレチルト角の測定方法では、動作状態、即ち、画
像表示領域１０ａに白表示がなされた状態で、画像表示領域１０ａの照度を測定する（ス
テップＳ１）。次に、非動作状態で画像表示領域１０ａの照度を測定し（ステップＳ１０
）、動作状態及び非動作状態の夫々の状態で測定された照度の比から画像表示領域１０ａ
のコントラストを算出する（ステップＳ１１）。ここで、図１３（ａ）に示すように、ス
テップＳ１で測定された照度は、画像表示領域１０ａの中心点Ｃを基準として非対称に分
布している。図１３（ｂ）は、ステップＳ１０で測定された照度のマッピング図であり、
図１３（ａ）と同様に、中心点Ｃを基準として照度が非対称に分布している。図１３（ｃ
）は、ステップＳ１１で算出されたコントラストのマッピング図であり、コントラストの
分布は図１３（ａ）及び（ｂ）とは異なる分布になっている。
【００６２】
再び、図１２において、制御部１５０は、液晶装置１の明視方向において視角毎にコン
トラストを取得する（ステップ２１）。図１４に示すように、コントラストは、視角Ｘｂ
にピークを有している。
【００６３】
次に、制御部１５０は、コントラストのピークに対応した視野角Ｘｂに基づいて、プレ
チルト角を特定する（ステップＳ３１）。この際、制御部１５０が、第１実施形態と同様
に、例えば予め求めておいた、コントラストのピークに対応した視角と、プレチルト角と
の誤差を補正する換算表を参照して、プレチルト角を特定する。以上の工程によって、マ
イクロレンズ５００が形成された液晶装置１についてプレチルト角を特定できる。
【００６４】
尚、図１５に示すように、本願発明者による実験によれば、プレチルト角の狙い値Ｘと
、コントラストのピークに対応する視角Ｙとの相関を示す相関係数（Ｒ**２）は、０．９
０８１である。したがって、予めコントラストのピークに対応する視角と、狙いのプレチ
ルト角との誤差を求めておくことにより、本実施形態に係るプレチルト角の測定方法によ
って、プレチルト角を特定可能である。
【００６５】
また、本実施形態に係るプレチルト角の測定方法も、第１実施形態と同様にマイクロレ
ンズが形成されてない液晶装置におけるプレチルト角の測定に適用可能であることは言う
までもない。加えて、第１実施形態と同様に、本実施形態に係るプレチルト角の測定方法
を液晶装置の検査工程に用いることによって、表示性能のばらつきが抑制された液晶装置
を製造することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】第１実施形態に係るプレチルト角の測定方法を用いてプレチルト角が測定される液晶装置の全体構成を示す平面図である。
【図２】図１のＨ−Ｈ´断面図である。
【図３】図２に示す断面の一部の構成を拡大して示した拡大図である。
【図４】第１実施形態に係るプレチルト角の測定方法を実行可能な測定系を図式的に示した図式的構成図である。
【図５】方位角及び視野角の関係を示した図式的斜視図である。
【図６】明視方向が矢印で示された液晶装置の図式的平面図である。
【図７】図６に示した液晶装置を明視方向に沿った平面で切った断面の一部を拡大して示した図式的断面図である。
【図８】第１実施形態に係るプレチルト角の測定方法のフローチャートである。
【図９】非動作状態の液晶装置について測定された照度をマッピングしたマッピング図である。
【図１０】視角と、明視方向における照度との関係を示したグラフである。
【図１１】第１実施形態に係る液晶装置の製造方法における主要な工程を示したフローチャートである。
【図１２】第２実施形態に係るプレチルト角の測定方法のフローチャートである。
【図１３】液晶装置の動作状態及び非動作状態の夫々における照度、並びにコントラストをマッピングしたマッピング図である。
【図１４】図１３（ａ）乃至（ｃ）の夫々の明視方向における各視野角と、照度及びコントラストとの関係を示したグラフである。
【図１５】本願発明者が行った実験結果を示したグラフであり、プレチルト角の狙い値（即ち、設定値）Ｘと、コントラストのピークに対応する視角Ｙとの相関を示したグラフである。
【符号の説明】
【００６７】
１・・・液晶装置、１０・・・ＴＦＴアレイ基板、２０・・・マイクロレンズ基板、１
２１，１２２・・・偏光板、１６０・・・測定装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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