(57)【要約】【課題】光ディスク装置内の温度変化に応じて記録パワーを補正することができるようにする。【解決手段】本発明に係る光ディスク装置１においては、ＣＰＵ３５は、光ディスク４０にユーザデータを記録させ、温度センサ４２は、光ディスク装置１内の例えばレーザダイオード９近傍の温度を検知して検知信号を生成し、ＣＰＵ３５は、生成された検知信号を取得し、取得された検知信号に基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された光ディスクへの記録処理に用いる記録パワーを補正する。【選択図】  図１
2008108402.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにユーザデータを記録する記録手段と、
光ディスク装置内の温度を検知して検知信号を生成する生成手段と、
前記生成手段により生成された検知信号を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された前記検知信号に基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された前記光ディスクへの記録処理に用いる記録パワーを補正する補正手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記記録手段は、前記補正手段により補正されたＯＰＣ処理により予め設定された前記光ディスクへの記録処理に用いる記録パワーを用いて、前記光ディスクにユーザデータを記録することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ディスクは、少なくとも第１層目ディスクと第２層目ディスクからなることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記取得手段は、前記記録手段により前記第１層目ディスクにユーザデータを記録する際に、および、前記記録手段により前記第２層目ディスクにユーザデータを記録する際に、前記生成手段により生成された検知信号を取得することを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記補正手段は、前記取得手段により取得された前記検知信号に含まれる前記光ディスク装置内の温度変化量に基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された前記光ディスクへの記録処理に用いる記録パワーを補正することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクにユーザデータを記録する記録ステップと、
光ディスク装置内の温度を検知して検知信号を生成する生成ステップと、
前記生成ステップの処理により生成された前記検知信号を取得する取得ステップと、
前記取得ステップの処理により取得された前記検知信号に基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された前記光ディスクへの記録処理に用いる記録パワーを補正する補正ステップとを含むことを特徴とする光ディスク装置の光ディスク記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置および光ディスク記録方法に係り、特に、ディスクに最適な記録パワーを設定することができるようにした光ディスク装置および光ディスク記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、記録容量の増加を目的として例えば２層ディスクなどに代表される多層ディスクが提案されている。例えば２層ディスクを用いて記録処理を実行する場合、まず、第１層目ディスクの記録処理を３０分実行し、次に、第１層目ディスクから第２層目ディスクにジャンプし、第２層目ディスクを３０分実行する。これにより、２つのディスク（第１層目ディスクと第２層目ディスク）にユーザデータを記録することができる。
【０００３】
また、近年、ＣＤ（Compact Disc）−Ｒ／ＲＷやＤＶＤ（Digital Versatile Disc）−Ｒ／ＲＷなどの記録可能な光ディスクにデータを記録する際、光ディスクの所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に記録パワーを変化させてテストデータを試し書きし、試し書きされたテストデータを再生することでそれぞれのディスクに最適な記録パワーを設定する技術（ＯＰＣ（Optimum Power Control））も提案されている。
【０００４】
上述した多層ディスクにおいてＯＰＣ処理を実行する際には、各層のディスク（例えば第１層目ディスクや第２層目ディスクなど）ごとにＯＰＣ処理が実行され、各層のディスクごとに最適な記録パワーが設定される。
【０００５】
なお、ディスクに最適な記録パワーを設定する技術として、以下のような技術が提案されている（例えば特許文献１参照）。
【０００６】
特許文献１に提案されている技術によれば、所定のタイミングで光源近傍の温度情報が検出され、その検出された温度情報と予め得られている光源から出射される光ビームの波長の温度特性情報に基づいて、光源から出射される光ビームの波長に関する情報が取得される。また、情報記録媒体における記録条件の波長依存性情報が取得され、取得された波長に関する情報と取得された記録条件の波長依存性情報に基づいて、情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件をすることができる。これにより、記録品質の低下を抑制し、良好な記録品質を安定して得ることができる。
【特許文献１】特開２００４−８６９４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、例えば２層ディスクを用いて記録処理を実行する場合、第１層目ディスクの記録処理を例えば３０分実行した後に第２層目ディスクの記録処理を実行するが、すでに行われた第１層目ディスクの記録処理によって光ディスク装置内の温度が大きく上昇するため、第２層目ディスクの記録処理の実行を開始する時点における第２層目ディスクに最適な記録パワーは、ＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスクに最適な記録パワーとは異なってしまう。従って、たとえＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスクに最適な記録パワーを用いたとしても、第２層目ディスクの記録処理を良好に実行することができず、第２層目ディスクの記録品質が低下してしまうという課題があった。
【０００８】
このような課題は、特許文献１に提案されている技術を用いたとしても、光ディスク装置ごとのばらつきが存在するため、解決することはできない。
【０００９】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、光ディスク装置内の温度変化に応じて記録パワーを補正することができる光ディスク装置および光ディスク記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の光ディスク装置は、上述した課題を解決するために、光ディスクにユーザデータを記録する記録手段と、光ディスク装置内の温度を検知して検知信号を生成する生成手段と、生成手段により生成された検知信号を取得する取得手段と、前記取得手段により取得された検知信号に基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された光ディスクへの記録処理に用いる記録パワーを補正する補正手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
本発明の光ディスク装置の光ディスク記録方法は、上述した課題を解決するために、光ディスクにユーザデータを記録する記録ステップと、光ディスク装置内の温度を検知して検知信号を生成する生成ステップと、生成ステップの処理により生成された検知信号を取得する取得ステップと、取得ステップの処理により取得された検知信号に基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された光ディスクへの記録処理に用いる記録パワーを補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
【００１２】
本発明の光ディスク装置においては、光ディスクにユーザデータが記録され、光ディスク装置内の温度を検知して検知信号が生成され、生成された検知信号が取得され、取得された検知信号に基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された光ディスクへの記録処理に用いる記録パワーが補正される。
【００１３】
本発明の光ディスク装置の光ディスク記録方法においては、光ディスクにユーザデータが記録され、光ディスク装置内の温度を検知して検知信号が生成され、生成された検知信号が取得され、取得された検知信号に基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された光ディスクへの記録処理に用いる記録パワーが補正される。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、光ディスク装置内の温度変化に応じて記録パワーを補正することができる
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１６】
図１は、本発明に係る光ディスク装置１の内部の構成を表している。
【００１７】
光ディスク装置１は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）など情報記録媒体としての光ディスク４０に対して情報の記録及び再生を行う。光ディスク４０は、同心円状または螺旋状に溝が刻まれており、溝の凹部をランド、凸部をグルーブと呼び、グループまたはランドの一周をトラックと呼ぶ。ユーザデータは、このトラック（グルーブのみ、またはグルーブおよびランド）に沿って、強度変調されたレーザ光が照射されて記録マークが形成されることにより光ディスク４０上に記録される。データ再生は、記録時より弱いリードパワー(Read Power)のレーザ光をトラックに沿って照射して、トラック上にある記録マークによる反射光強度の変化を検出することにより行われる。記録されたデータの消去は、リードパワーより強いイレースパワー(Erase Power)のレーザ光をトラックに沿って照射し、記録層を結晶化することにより行われる。
【００１８】
なお、光ディスク４０は、例えば２層ディスク（第１層目ディスク４０−１と第２層目ディスク４０−２）からなる。勿論、光ディスク４０には、２層ディスクだけでなく、例えば４層ディスクなどのあらゆる多層ディスクを用いることができる。
【００１９】
光ディスク４０はスピンドルモータ２によって回転駆動される。スピンドルモータ２に付設されたロータリエンコーダ２ａからスピンドルモータ駆動回路３に回転角信号が出力される。スピンドルモータ２が１回転すると、回転角信号は例えば５パルス発生する。これにより、スピンドルモータ制御回路４は、スピンドルモータ駆動回路３を介してロータリエンコーダ２ａから入力された回転角信号に基づいて、スピンドルモータ２の回転角度および回転数を判定することができる。このスピンドルモータ２はスピンドルモータ制御回路４により制御される。
【００２０】
光ディスク４０に対する情報の記録または再生は、光ピックアップ５によって行われる。光ピックアップ５は、ギア１８およびスクリューシャフト１９を介して送りモータ２０と連結されており、この送りモータ２０は送りモータ駆動回路２１により制御される。送りモータ２０が送りモータ駆動回路２１から供給された送りモータ駆動電流によって回転することで、光ピックアップ５が光ディスク４０の半径方向に移動する。
【００２１】
光ピックアップ５には、図示しないワイヤあるいは板バネによって支持された対物レンズ６が設けられる。対物レンズ６はフォーカスアクチュエータ８の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能であり、また、トラッキングアクチュエータ７の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。
【００２２】
レーザ駆動回路１７は、情報記録時（マーク形成時）に、ホスト装置４１からインタフェース回路３９を介して供給される記録データに基づいて、書き込み用信号をレーザダイオード（レーザ発光素子）９に供給する。また、レーザ駆動回路１７は、情報読取り時に、書き込み信号より小さい読取り用信号をレーザダイオード９に供給する。
【００２３】
フロントモニタ・フォトダイオード１０は、レーザダイオード９が発生するレーザ光の一部をハーフミラー１１により一定比率だけ分岐し、光量すなわち照射パワーに比例した受光信号を検出し、検出された受光信号をレーザ駆動回路１７に供給する。レーザ駆動回路１７はフロントモニタ・フォトダイオード１０から供給された受光信号を取得し、取得された受光信号に基づいて、ＣＰＵ３５により予め設定された再生時のレーザパワー（照射パワー）、記録時のレーザパワー、および消去時のレーザパワーで発光するようにレーザダイオード９を制御する。
【００２４】
レーザダイオード９は、レーザ駆動回路１７から供給される信号に応じてレーザ光を発光する。レーザダイオード９から発光されるレーザ光は、コリメータレンズ１２、ハーフプリズム１３、および対物レンズ６を介して光ディスク３９上に照射される。光ディスク４０からの反射光は、対物レンズ６、ハーフプリズム１３、集光レンズ１４、およびシリンドリカルレンズ１５を介して、光検知器１６に導かれる。
【００２５】
光検知器１６は、例えば４分割の光検知セルからなり、検知信号を生成し、生成された検知信号をＲＦアンプ２３に出力する。ＲＦアンプ２３は、光検知器１６からの検知信号を処理し、ジャストフォーカスからの誤差を示すフォーカス誤差信号（ＦＥ）、レーザ光のビームスポット中心とトラック中心との誤差を示すトラッキング誤差信号（ＴＥ）、および検知信号の全加算信号である再生信号（ＲＦ）を生成し、生成されたフォーカス誤差信号（ＦＥ）、トラッキング誤差信号（ＴＥ）、および再生信号（ＲＦ）をＡ／Ｄ変換器３０に供給する。
【００２６】
フォーカス制御回路２５は、ＲＦアンプ２３からＡ／Ｄ変換器３０を介してＤＳＰ３８で取り込まれたフォーカス誤差信号（ＦＥ）に応じてフォーカス制御信号を生成し、生成されたフォーカス制御信号をフォーカスアクチュエータ駆動回路２４に供給する。フォーカスアクチュエータ駆動回路２４は、フォーカス制御回路２５から供給されたフォーカス制御信号に基づいて、フォーカスアクチュエータ８を駆動するためのフォーカスアクチュエータ駆動電流をフォーカシング方向のフォーカスアクチュエータ８に供給する。これにより、レーザ光が光ディスク４０の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなるフォーカスサーボが行われる。
【００２７】
トラックキング制御回路２７は、ＲＦアンプ２３からＡ／Ｄ変換器３０を介してＤＳＰ３８で取り込まれたトラッキング誤差信号（ＴＥ）に応じてトラック制御信号を生成し、生成されたトラック制御信号をトラッキングアクチュエータ駆動回路２６に供給する。トラッキングアクチュエータ駆動回路２６は、トラッキング制御回路２７から供給されたトラッキング制御信号に基づいて、トラッキングアクチュエータ７を駆動するためのトラッキングアクチュエータ駆動電流をトラッキング方向のトラッキングアクチュエータ７に供給する。これにより、レーザ光が光ディスク４０上に形成されたトラック上を常にトレースするトラッキングサーボが行われる。
【００２８】
このようなフォーカスサーボおよびトラッキングサーボがなされることで、光検知器１６（各光検知セル）からの検知信号の全加算信号である再生信号（ＲＦ）には、記録情報に対応して光ディスク４０のトラック上に形成されたピットなどからの反射光の変化が反映される。この再生信号は、Ａ／Ｄ変換器３０を介してデータ再生回路３１に供給される。データ再生回路３１は、Ａ／Ｄ変換器３０から供給される再生信号に応じて１もしくは０の２値化信号を生成し、生成された２値化信号をエラー訂正回路３２に出力する。また、データ再生回路３１は、２値化信号をエラー訂正回路３２に出力すると同時に、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路２９から供給される再生クロック信号と、この２値化信号との位相差をＰＬＬ位相比較信号として生成し、生成されたＰＬＬ位相比較信号をＰＬＬ回路２９に出力する。
【００２９】
ジッタ測定回路３３は、Ａ／Ｄ変換器３０から供給される再生信号とＰＬＬ回路２９で生成される再生クロック信号から再生信号のジッタを測定する。この測定されたジッタ測定信号は、バス３４を介してＣＰＵ３５により読み出し可能となっている。
【００３０】
ＤＳＰ（Digital Signal Processor）３８は、ＲＦアンプ２３から出力された後にＡ／Ｄ変換器３０を介してディジタル信号に変換されたフォーカス誤差信号（ＦＥ）およびトラッキング誤差信号（ＴＥ）などのディジタル信号に種々の演算処理を施し、スピンドルモータ制御回路４、送りモータ制御回路２２、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７の制御を行う。
【００３１】
スピンドルモータ制御回路４、送りモータ制御回路２２、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７は、バス３４を介してＤＳＰ３８によって制御される。
【００３２】
また、レーザ駆動回路１７、ＰＬＬ回路２９、Ａ／Ｄ変換器３０、エラー訂正回路３２、ジッタ測定回路３３、ＤＳＰ３８、および温度センサ４２などは、バス３４を介してＣＰＵ（Central Processing Unit）３５によって制御される。ＣＰＵ３５は、インタフェース回路３９を介してホスト装置４１から供給される動作コマンドに従うとともに、ＲＯＭ（Read Only Memory）３６に記憶されているプログラムおよびＲＯＭ３６からＲＡＭ（Random Access Memory）３７にロードされたプログラムに従って各種の処理を実行し、種々の制御信号を生成し、各部に供給することにより光ディスク装置１を統括的に制御する。
【００３３】
温度センサ４２は、光ピックアップ５の内部に設けられ、ＣＰＵ３５の制御に従い、光ディスク装置１内の例えばレーザダイオード９近傍の温度を検知して検知信号を生成し、生成された検知信号をバス３４を介してＣＰＵ３５に適宜供給する。なお、本発明の実施形態においては、温度センサ４２を光ピックアップ５内の特にレーザダイオード９の近傍に配置するようにしたが、このような場合に限られず、光ピックアップ９の外に設けるようにしてもよい。
【００３４】
ところで、例えば２層ディスクである光ディスク４０を用いて記録処理を実行する場合、第１層目ディスク４０−１の記録処理を例えば３０分実行した後に第２層目ディスク４０−２の記録処理を実行する。具体的には、図２に示されるように、例えば、まず、ＯＰＣ処理により予め設定された第１層目ディスクに最適な記録パワーを用いて第１層目ディスク４０−１の内周側から外周側に向けて記録処理を順次実行し、次に、第１層目ディスク４０−１から第２層目ディスク４０−２にジャンプさせて、その後、ＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスクに最適な記録パワーを用いて第２層目ディスク４０−２の外周側から内周側に向けて記録処理を順次実行する。
【００３５】
しかし、すでに行われた第１層目ディスク４０−１の記録処理によってレーザダイオード９近傍の温度が大きく上昇してしまう。例えば図３に示されるように、第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行開始時においては、レーザダイオード９近傍の温度はＴ１（℃）であるが、第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行開始時においては、レーザダイオード９近傍の温度はＴ２（℃）である。すなわち、第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行開始時においては、レーザダイオード９近傍の温度が、第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行開始時よりもΔＴ（Ｔ１−Ｔ２）（℃）上昇してしまう。より具体的には、例えばレーザダイオード９近傍の温度は２５（℃）から４５（℃）程度に上昇してしまう。
【００３６】
そのため、第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行を開始する時点における第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーは、ＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーとは異なってしまう。その結果、たとえＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーを用いたとしても、第２層目ディスク４０−２の記録処理を良好に実行することができず、第２層目ディスク４０−２の記録品質が低下してしまう。
【００３７】
そこで、第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行開始時に、光ディスク装置１に設けられた温度センサ４２を用いてレーザダイオード９近傍の温度を検知（測定）するとともに、第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行開始時に、光ディスク装置１に設けられた温度センサ４２を用いてレーザダイオード９近傍の温度を検知し、第１層目ディスク４０−１と第２層目ディスク４０−２のそれぞれの記録処理の実行開始時におけるレーザダイオード９近傍の温度差を用いて、ＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーを補正するようにする。これにより、レーザダイオード９近傍の温度変化に応じて記録パワーを補正することが可能となる。以下、この方法を用いた図１の光ディスク装置１における記録処理について説明する。
【００３８】
図４のフローチャートを参照して、図１の光ディスク装置１における記録処理について説明する。この記録処理は、ユーザによりホスト装置４１の図示せぬ入力部が操作されることにより記録処理を開始するとの指示がなされることで、開始される。
【００３９】
ステップＳ１において、ＣＰＵ３５は、ユーザによりホスト装置４１の図示せぬ入力部が操作されることにより記録処理を開始するとの指示がなされたか否かを判定し、ホスト装置４１の図示せぬ入力部が操作されることにより記録処理を開始するとの指示がなされたと判定するまで待機する。
【００４０】
ステップＳ１においてホスト装置４１の図示せぬ入力部が操作されることにより記録処理を開始するとの指示がなされたと判定された場合、ＣＰＵ３５はステップＳ２で、光ピックアップ５、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、第１層目ディスク４０−１のＯＰＣ処理の実行を開始する。なお、ＯＰＣ処理を実行するに際し、例えば、再生信号の非対称性（アシンメトリ）を用いる方法や、ジッタを用いる方法により第１層目ディスク４０−１（または第２層目ディスク４０−２）に最適な記録パワーが設定される。
【００４１】
ステップＳ３において、ＣＰＵ３５は、第１層目ディスク４０−１に最適な記録パワーを算出する。ステップＳ４において、ＣＰＵ３５は、算出結果に基づいて、第１層目ディスク４０−１に最適な記録パワーを設定し、設定された第１層目ディスク４０−１に最適な記録パワーに関するデータである第１層目ディスク記録パワー設定データを例えばＲＡＭ３７や図示せぬ不揮発性メモリなどに供給する。
【００４２】
ステップＳ５において、ＲＡＭ３７や図示せぬ不揮発性メモリなどは、ＣＰＵ３５の制御に従い、設定された第１層目ディスク４０−１に最適な記録パワーに関するデータである第１層目ディスク記録パワー設定データを記憶する。
【００４３】
ステップＳ６において、ＣＰＵ３５は、第２層目ディスク４０−２のＯＰＣ処理の実行を開始する。ステップＳ７において、ＣＰＵ３５は、第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーを算出する。ステップＳ８において、ＣＰＵ３５は、算出結果に基づいて、第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーを設定し、設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーに関するデータである第２層目ディスク記録パワー設定データを例えばＲＡＭ３７や図示せぬ不揮発性メモリなどに供給する。
【００４４】
ステップＳ９において、ＲＡＭ３７や図示せぬ不揮発性メモリなどは、ＣＰＵ３５の制御に従い、設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーに関するデータである第２層目ディスク記録パワー設定データを記憶する。
【００４５】
ステップＳ１０において、温度センサ４２は、ＣＰＵ３５の制御に従い、第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行開始時においてレーザダイオード９近傍の温度を検知して検知信号を生成し、生成された検知信号をバス３４を介してＣＰＵ３５に供給する。
【００４６】
ステップＳ１１において、ＣＰＵ３５は、第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行を開始するに際し、第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行開始時においてレーザダイオード９近傍の温度が検知されて生成された温度センサ４２からの検知信号（ＡＤＣ（analog to digital converter）値Ｔ１）を取得する。
【００４７】
ステップＳ１２において、ＣＰＵ３５は、例えばＲＡＭ３７や図示せぬ不揮発性メモリなどに記憶されている、ＯＰＣ処理により予め設定された第１層目ディスク４０−１に最適な記録パワーに関するデータである第１層目ディスク記録パワー設定データを読み出するとともに、光ピックアップ５、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、読み出された第１層目ディスク記録パワー設定データに基づき、ＯＰＣ処理により予め設定された第１層目ディスク４０−１に最適な記録パワーを用いて第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行を開始する。ステップＳ１３において、ＣＰＵ３５は、光ピックアップ５、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行を終了する。これにより、例えば第１層目ディスク４０−１の内周側から外周側に向けての記録処理が３０分実行され、第１層目ディスク４０−１にユーザデータが記録される。
【００４８】
ステップＳ１４において、ＣＰＵ３５は、光ピックアップ５、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、第１層目ディスク４０−１から第２層目ディスク４０−２にジャンプさせる。例えば、ＣＰＵ３５は、第１層目ディスク４０−１の外周側から第２層目ディスク４０−２の外周側にジャンプさせる。
【００４９】
ステップＳ１５において、温度センサ４２は、ＣＰＵ３５の制御に従い、第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行開始時においてレーザダイオード９近傍の温度を検知して検知信号を生成し、生成された検知信号をバス３４を介してＣＰＵ３５に供給する。
【００５０】
次に、ステップＳ１６において、ＣＰＵ３５は、第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行を開始するに際し、第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行開始時においてレーザダイオード９近傍の温度が検知されて生成された温度センサ４２からの検知信号（ＡＤＣ値Ｔ２）を取得する。
【００５１】
ステップＳ１７において、ＣＰＵ３５は、ＲＡＭ３７や図示せぬ不揮発性メモリなどに記憶されている第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワー（ステップＳ６乃至Ｓ９のＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワー）に関するデータである第２層目ディスク記録パワー設定データを読み出し、取得された第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行開始時におけるレーザダイオード９近傍の温度が検知されて生成された温度センサ４２からの検知信号（ＡＤＣ値Ｔ１）と第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行開始時におけるレーザダイオード９近傍の温度が検知されて生成された温度センサ４２からの検知信号（ＡＤＣ値Ｔ２）、および第２層目ディスク記録パワー設定データに基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーを補正する。
【００５２】
ここで、光ディスク４０は特有の波長感度特性を有しており、例えば図５［Ａ］に示されるような波長感度特性を有している。例えば図５［Ａ］の場合、レーザダイオード９から照射されるレーザ光の波長が長くなれば長くなるほど、光ディスク４０にユーザデータを記録する際に用いる記録パワーのパワー値が大きくする必要がある。換言すれば、レーザダイオード９から照射されるレーザ光の波長が長波長側にシフトすればするほど、記録感度が低下する。具体的には、レーザダイオード９から照射されるレーザ光の波長が６５５ｎｍである場合に、光ディスク４０にユーザデータを記録する際に用いる記録パワーのパワー値は例えば２２ｍＷであるとすると、レーザダイオード９から照射されるレーザ光の波長が６６０ｎｍになると、光ディスク４０にユーザデータを記録する際に用いる記録パワーのパワー値は例えば２４ｍＷにする必要がある。
【００５３】
また、例えば図５［Ｂ］に示されるように、レーザダイオード９から照射されるレーザ光には波長温度特性が存在し、レーザダイオード９近傍の温度が上昇すればすれるほど、レーザダイオード９から照射されるレーザ光の波長が長波長側にシフトする。例えば図５［Ｂ］の場合、レーザダイオード９近傍の温度が２０（℃）である場合に、レーザダイオード９から照射されるレーザ光の波長が６５５ｎｍであるとすると、レーザダイオード９近傍の温度が３０（℃）になると、レーザダイオード９から照射されるレーザ光の波長は６６０ｎｍとなる。
【００５４】
そこで、例えば図５［Ａ］および［Ｂ］の場合、レーザダイオード９近傍の温度が、第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行開始時と第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行開始時と間で、２０（℃）から３０（℃）に変化していたとき（すなわちΔＴが１０（℃）であるとき）、波長感度特性と波長温度特性を用いて、ＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーに所定の補正係数（２４ｎＷ／２２ｎＷ＝１．０９）を乗じて補正する。
【００５５】
ステップＳ１８において、ＣＰＵ３５は、光ピックアップ５、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、補正された第２層目ディスク４０−１に最適な記録パワー（ＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーを補正処理により補正した記録パワー）を用いて第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行を開始する。ステップＳ１９において、ＣＰＵ３５は、光ピックアップ５、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行を終了する。これにより、例えば第２層目ディスク４０−２の外周側から内周側に向けての記録処理が３０分実行され、第２層目ディスク４０−１にユーザデータが記録される。
【００５６】
ステップＳ２０において、ＣＰＵ３５は、記録処理を終了する。
【００５７】
本発明の実施形態においては、第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行開始時において光ディスク装置１内の例えばレーザダイオード９近傍の温度が検知されて生成された温度センサ４２からの検知信号（ＡＤＣ値Ｔ１）を取得するとともに、第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行開始時において光ディスク装置１内の例えばレーザダイオード９近傍の温度が検知されて生成された温度センサ４２からの検知信号（ＡＤＣ値Ｔ２）を取得し、取得された第１層目ディスク４０−１の記録処理の実行開始時における光ディスク装置１内の温度が検知されて生成された温度センサ４２からの検知信号（ＡＤＣ値Ｔ１）と第２層目ディスク４０−２の記録処理の実行開始時における光ディスク装置１内の温度が検知されて生成された温度センサ４２からの検知信号（ＡＤＣ値Ｔ２）、および第２層目ディスク記録パワー設定データに基づいて、ＯＰＣ処理により予め設定された第２層目ディスク４０−２に最適な記録パワーを補正することができる。
【００５８】
これにより、光ディスク装置１内の例えばレーザダイオード９近傍の温度変化に応じて、光ディスク１にユーザデータを記録する際に用いる記録パワーを補正することができる。従って、長時間の記録処理によって光ディスク装置１内の例えばレーザダイオード９近傍の温度が変化した場合であっても、光ディスク４０に対して好適な記録処理を実行することができる。特に、光ディスク４０が多層ディスクである場合に、各層のディスクについてそれぞれ好適な記録処理を実行することができる。その結果、光ディスク４０の記録品質を向上させることができる。
【００５９】
なお、本発明の実施形態においては、第１層目ディスク４０−１から第２層目ディスク４０−２への記録処理に移行する際に、ＯＰＣ処理により予め設定された記録パワーを補正するようにしたが、このような場合に限られず、例えば第１層目ディスク４０−１への記録処理中において記録パワーの補正処理を行うようにしてもよいし、このような補正処理を複数回行うようにしてもよい。これにより、長時間の記録処理によって光ディスク装置１内の例えばレーザダイオード９近傍の温度が変化した場合であっても、その温度変化に応じて光ディスク４０に対してより好適な記録処理を実行することができる。その結果、光ディスク４０の記録品質をより向上させることができる。
【００６０】
また、本発明は多層ディスクに適用することができるだけでなく、勿論、単層ディスクにも適用することができる。
【００６１】
なお、本発明の実施形態では、フローチャートのステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理の例を示したが、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別実行される処理をも含むものである。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の内部の構成を示すブロック図。
【図２】多層ディスクの記録方法を説明する説明図。
【図３】記録処理に伴う光ディスク装置内の温度上昇を説明する説明図。
【図４】図１の光ディスク装置における記録処理を説明するフローチャート。
【図５】光ディスクの波長感度特性およびレーザ光の波長温度特性を示す図。
【符号の説明】
【００６３】
１…光ディスク装置、２…スピンドルモータ、２ａ…ロータリエンコーダ、３…スピンドルモータ駆動回路、４…スピンドル制御回路、５…光ピックアップ、６…対物レンズ、７…トラッキングアクチュエータ、８…フォーカスアクチュエータ、９…レーザダイオード、１０…フロントモニタ・フォトダイオード、１１…ハーフミラー、１２…コリメータレンズ、１３…ハーフプリズム、１４…集光レンズ、１５…シリンドリカルレンズ、１６…光検出器、１７…レーザ駆動回路、１８…ギア、１９…スクリューシャフト、２０…送りモータ、２１…送りモータ駆動回路、２２…送りモータ制御回路、２３…ＲＦアンプ、２４…フォーカスアクチュエータ駆動回路、２５…フォーカスアクチュエータ制御回路、２６…トラッキングアクチュエータ駆動回路、２７…トラッキング制御回路、２８…水晶、２９…ＰＬＬ回路、３０…Ａ／Ｄ変換器、３１…データ再生回路、３２…エラー訂正回路、３３…ジッタ測定回路、３４…バス、３５…ＣＰＵ、３６…ＲＯＭ、３７…ＲＡＭ、３８…ＤＳＰ、３９…インタフェース回路、４０…光ディスク、４１…ホスト装置、４２…温度センサ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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