(57)【要約】【課題】実回線を停止させることなく回線の設計妥当性を正確に検証することができるペナルティ光信号を生成すること。【解決手段】光送信装置１００は、光源から出力された光を分岐する分岐部１１０と、分岐部１２０によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御部１４０およびＡＢＣ回路１６０と、分岐部１２０によって分岐されたそれぞれの光に対して位相変調を行うデータ処理部１３１、位相変調部１３２および位相変調部１３３と、データ処理部１３１、位相変調部１３２および位相変調部１３３によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉部１５０と、位相制御部１４０が制御する位相量を、所望のペナルティ量に応じた位相量だけπ／２から変更する信号生成制御部１８０と、を備える。【選択図】図１
2008141670.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出力された光を分岐する分岐手段と、
前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御手段と、
前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光に対して位相変調を行う位相変調手段と、
前記位相変調手段によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉手段と、
前記位相制御手段が前記光の一方の位相を制御する位相量を、所望のペナルティ量に応じた位相量だけπ／２から変更する変更手段と、
を備えることを特徴とするＤＱＰＳＫ変調装置。
【請求項２】
光源から出力された光を分岐する分岐手段と、
前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御手段と、
交番の値または一定の値からなる２つの符号化データ列を生成する生成手段と、
前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光に対して、前記２つの符号化データ列のそれぞれによって位相変調を行う位相変調手段と、
前記位相変調手段によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉手段と、
前記位相制御手段が前記光の一方の位相を制御する位相量を０またはπに変更する変更手段と、
を備えることを特徴とするＤＱＰＳＫ変調装置。
【請求項３】
前記生成手段は、交番の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量を０またはπに変更することを特徴とする請求項２に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【請求項４】
前記生成手段は、一定の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量を０またはπに変更することを特徴とする請求項２に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【請求項５】
前記生成手段は、交番の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量をπ／２またはπ・３／２に変更することを特徴とする請求項２に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【請求項６】
前記生成手段は、一定の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量をπ／２またはπ・３／２に変更することを特徴とする請求項２に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【請求項７】
前記干渉手段によって干渉した干渉光をＲＺパルス化する強度変調手段をさらに備えることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一つに記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか一つに記載のＤＱＰＳＫ変調装置と、
前記ＤＱＰＳＫ変調装置によって変調された信号光を送信する送信手段と、
を備えることを特徴とする光送信装置。
【請求項９】
光源から出力された光を分岐する分岐工程と、
前記分岐工程によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御工程と、
前記分岐工程によって分岐されたそれぞれの光に対して位相変調を行う位相変調工程と、
前記位相変調工程によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉工程と、
前記位相制御工程が前記光の一方の位相を制御する位相量を、所望のペナルティ量に応じた位相量だけπ／２から変更する変更工程と、
を含むことを特徴とするＤＱＰＳＫ変調方法。
【請求項１０】
光源から出力された光を分岐する分岐工程と、
前記分岐工程によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御工程と、
交番の値または一定の値からなる２つの符号化データ列を生成する生成工程と、
前記分岐工程によって分岐されたそれぞれの光に対して、前記２つの符号化データ列のそれぞれによって位相変調を行う位相変調工程と、
前記位相変調工程によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉工程と、
前記位相制御工程が前記光の一方の位相を制御する位相量を０またはπに変更する変更工程と、
を含むことを特徴とするＤＱＰＳＫ変調方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ペナルティ光信号を生成するＤＱＰＳＫ変調装置、光送信装置およびＤＱＰＳＫ変調方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、次世代の４０Ｇｂ／ｓ光伝送システム導入の要求が高まっており、しかも、１０Ｇｂ／ｓと同等の伝送距離と周波数利用率とが求められている。その実現手段として、従来１０Ｇｂ／ｓ以下のシステムで適用されてきたＮＲＺ（Ｎｏｎ  Ｒｅｔｕｒｎ  ｔｏ  Ｚｅｒｏ）変調方式に比べて、光信号対雑音比（ＯＳＮＲ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）耐力、非線形性体力に優れたＲＺ−ＤＰＳＫ（Ｒｅｔｕｒｎ  ｔｏ  Ｚｅｒｏ−Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｈａｓｅ  Ｓｈｉｆｔ  Ｋｅｙｉｎｇ）変調方式またはＣＳＲＺ−ＤＰＳＫ（Ｃａｒｒｉｅｒ  Ｓｕｐｐｒｅｓｓｅｄ  ＲＺ−ＤＰＳＫ）変調方式の研究開発が活発になっている。
【０００３】
また、上述の変調方式に加えて、狭スペクトル（高周波数）の特徴を持ったＲＺ−ＤＱＰＳＫ（ＲＺ−Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ  Ｐｈａｓｅ  Ｓｈｉｆｔ  Ｋｅｙｉｎｇ）またはＣＳＲＺ−ＤＱＰＳＫ変調方式といった位相変調方式の研究開発も活発になっている。ＤＰＳＫ変調方式で変調された光信号を復調する光受信装置については、遅延干渉計を用いた光受信装置が検討されている（たとえば、特許文献１参照。）。
【０００４】
また、伝送路の設計妥当性を検証するため、信号光の波形を歪ませたペナルティ信号光を送信して受信側でエラー状態を監視するペナルティ試験が行われている。ペナルティ試験は、通常、実回線をシミュレートした試験専用系において設計段階で実施したり、実回線を停止させて実施したりする。
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−５１６７４３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述した実回線をシミュレートして実施するペナルティ試験では実回線と特性が異なる場合があり、この場合、回線の設計妥当性を正確に検証することができないという問題がある。また、実回線を停止させて実施するペナルティ試験ではコストがかかるという問題がある。また、実回線を用いて実施するペナルティ試験では、たとえばＷＤＭ（Ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ  Ｄｉｖｉｓｉｏｎ  Ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｉｎｇ）回線においては他のＣＨに悪影響を与えるという問題がある。
【０００７】
この発明は、上述した問題点を解消するものであり、実回線を停止させることなく回線の設計妥当性を正確に検証することができるペナルティ光信号を生成するＤＱＰＳＫ変調装置、光送信装置およびＤＱＰＳＫ変調方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明にかかるＤＱＰＳＫ変調装置は、光源から出力された光を分岐する分岐手段と、前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御手段と、前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光に対して位相変調を行う位相変調手段と、前記位相変調手段によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉手段と、前記位相制御手段が前記光の一方の位相を制御する位相量を、所望のペナルティ量に応じた位相量だけπ／２から変更する変更手段と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
上記構成によれば、位相制御手段が前記光の一方の位相を制御する位相量をπ／２から変更することで、強度方向のペナルティを有するペナルティ信号光を生成することができる。
【００１０】
また、この発明にかかるＤＱＰＳＫ変調装置は、光源から出力された光を分岐する分岐手段と、前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御手段と、交番の値または一定の値からなる２つの符号化データ列を生成する生成手段と、前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光に対して、前記２つの符号化データ列のそれぞれによって位相変調を行う位相変調手段と、前記位相変調手段によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉手段と、前記位相制御手段が前記光の一方の位相を制御する位相量を０またはπに変更する変更手段と、を備えることを特徴とする。
【００１１】
上記構成によれば、位相制御手段が前記光の一方の位相を制御する位相量を０またはπとし、分岐手段によって分岐されたそれぞれの光に対して交番の値または一定の値によって位相変調を行うことで、位相方向のペナルティを有するペナルティ信号光を送信することができる。
【発明の効果】
【００１２】
以上説明したように、この発明によれば、実回線を停止させることなく回線の設計妥当性を正確に検証することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかるＤＱＰＳＫ変調装置、光送信装置およびＤＱＰＳＫ変調方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。
【００１４】
（実施の形態１）
図１は、実施の形態１にかかる光送信装置の構成を示すブロック図である。図１に示すように、実施の形態１にかかる光送信装置１００は、光源部１１０と、分岐部１２０と、データ処理部１３１と、位相変調部１３２と、位相変調部１３３と、位相制御部１４０と、干渉部１５０と、ＡＢＣ回路１６０と、強度変調部１７０と、信号生成制御部１８０と、送信部１９０と、を備えている。
【００１５】
光源部１１０は、光を分岐部１２０へ出力する。分岐部１２０は、光源部１１０から出力された光を分岐し、分岐した光の一方を位相変調部１３２へ、他方を位相変調部１３３へ出力する。データ処理部１３１は、それぞれ２値のデータ符号列であるｄａｔａ１およびｄａｔａ２を生成し、ｄａｔａ１を位相変調部１３２へ、ｄａｔａ２を位相変調部１３３へ出力する。また、データ処理部１３１は、信号生成制御部１８０の制御にしたがってｄａｔａ１およびｄａｔａ２を出力し、または出力を停止する。
【００１６】
位相変調部１３２は、データ処理部１３１から出力されたｄａｔａ１に基づいて、分岐部１２０から出力された光に対して２値の位相変調を行う。位相変調部１３２は、位相変調を行った信号光を干渉部１５０へ出力する。位相変調部１３３は、データ処理部１３１から出力されるｄａｔａ２に基づいて、分岐部１２０から出力された光に対して２値の位相変調を行う。位相変調部１３３は、位相変調を行った信号光を位相制御部１４０へ出力する。
【００１７】
位相制御部１４０は、位相変調部１３３から出力された信号光の位相をＡＢＣ回路１６０の制御にしたがって制御し、干渉部１５０へ出力する。具体的には、位相制御部１４０は、位相変調部１３３から出力された信号光の位相を、位相変調部１３２から出力される信号光に対してθだけ遅延させる。干渉部１５０は、位相変調部１３２および位相制御部１４０から出力されたそれぞれの信号光を干渉させ、干渉光を強度変調部１７０およびＡＢＣ回路１６０へ出力する。
【００１８】
ＡＢＣ（Ａｕｔｏ  Ｂｉａｓ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路１６０は、干渉部１５０から出力された干渉光に基づいて、位相制御部１４０が制御する位相量θを調節する。具体的には、ＡＢＣ回路１６０は、干渉部１５０から出力された干渉光の強度をモニタし、位相量θが所定の値となるように自動制御する。
【００１９】
また、ＡＢＣ回路１６０は、信号生成制御部１８０の制御によって、位相量θの値を変更する。強度変調部１７０は、干渉部１５０から出力される干渉光をＲＺパルス信号光に変換する。強度変調部１７０によって変換されたＲＺパルス信号光は、送信部１９０によって受信装置へ送信される。
【００２０】
信号生成制御部１８０は、通常の信号光を生成する場合、位相量θをπ／２調節するようにＡＢＣ回路１６０を制御する。また、通常の信号光を歪ませたペナルティ信号光を生成する場合、所望のペナルティ量に応じた位相量だけ位相量θをπ／２から変更するようにＡＢＣ回路１６０を制御する。
【００２１】
以上説明した構成によって、本発明の実施の形態にかかるＤＱＰＳＫ変調装置が構成される。また、本発明の実施の形態にかかるＤＱＰＳＫ変調装置に送信部１９０を加えることで、本発明の実施の形態にかかる光送信装置１００が構成される。なお、ここでは位相変調部１３３を分岐部１２０側に、位相制御部１４０を干渉部１５０側に設けた場合について説明したが、位相変調部１３３を干渉部１５０側に、位相制御部１４０を分岐部１２０側に設けてもよい。
【００２２】
図２は、実施の形態１にかかる光送信装置における各部の光を示す図である。図２において、光２０１は、位相変調部１３２においてｄａｔａ１に基づいて位相変調された光である。光２０２は、位相変調部１３３においてｄａｔａ２に基づいて位相変調され、位相制御部１４０によって位相量θだけ制御された光である。
【００２３】
また、光２０１および光２０２が干渉部１５０において干渉して出力された２つの干渉光をそれぞれ干渉光２０３および干渉光２０４とする。干渉光２０３は、強度変調部１７０へ出力される。干渉光２０４は、ＡＢＣ回路１６０へ出力される。光２０１の強度をＣ［ｍＷ］、光２０２の強度をＤ［ｍＷ］とする。この場合、光２０１および光２０２の光電界ベクトルの大きさはそれぞれ√Ｃおよび√Ｄとなる。
【００２４】
図３−１は、実施の形態１にかかる光送信装置における各部の光の光電界ベクトルの極座標平面を示す図（その１）である。図３−２は、実施の形態１にかかる光送信装置における各部の光の光電界ベクトルの極座標平面を示す図（その２）である。図３−１に示すように、光２０２は、位相制御部１４０によって光２０１に対して位相量θだけ制御されているため、極座標平面において光２０１に対して位相がθだけ回転している。
【００２５】
干渉光２０３の光電界ベクトルは、光２０１の光電界ベクトルと光２０２の光電界ベクトルとの合成ベクトルとして示される。干渉光２０３の極座標平面上の座標は、（√Ｄ＋√Ｃ・ｃｏｓθ，√Ｃ・ｓｉｎθ）となる。また、図３−２に示すように、ｄａｔａ１の値が反転することで光２０１の位相がπだけ回転した場合、干渉光２０３の座標は、（−√Ｄ＋√Ｃ・ｃｏｓθ，√Ｃ・ｓｉｎθ）となる。
【００２６】
図４−１は、実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光の光電界ベクトルの極座標平面を示す図（θ＝π／２）である。図４−１は、位相制御部１４０が光を制御する位相量をθ＝π／２とし、Ｃ＝Ｄとした場合の干渉光２０３を示している。光２０１は、ｄａｔａ１＝０の場合は光２０１ａのようになり、ｄａｔａ１＝１の場合は光２０１ｂのようになる。光２０２は、ｄａｔａ２＝０の場合は光２０２ａのようになり、ｄａｔａ２＝１の場合は光２０２ｂのようになる。
【００２７】
光２０１および光２０２が干渉した干渉光であり、干渉光２０３および干渉光２０４に分岐する前の干渉光２０５は、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２の値の組み合わせによって、４種類の値となる。（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，０），（１，０），（１，１），（０，１）の場合、干渉光２０５は、それぞれ干渉光２０５ａ，２０５ｂ，２０５ｃ，２０５ｄのようになる。
【００２８】
また、一般に、（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，０），（１，１）の場合の干渉光２０５ａおよび干渉光２０５ｃのベクトルの大きさは２√Ｃ・ｃｏｓ（θ／２）となる。また、（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，０），（０，１）の場合の干渉光２０５ｂおよび干渉光２０５ｄのベクトルの大きさは２√Ｃ・ｓｉｎ（θ／２）となる。ここでは、θ＝π／２であるため、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２の値にかかわらず、干渉光２０５のベクトルの大きさは常に２√Ｃ・ｃｏｓ（π／４）＝２√Ｃ・ｓｉｎ（π／４）＝√２・√Ｃとなる。
【００２９】
図４−２は、実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光２０３の強度の変化を示すグラフ（θ＝π／２）である。図４−２は、データ処理部１３１の制御によって、（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，０），（１，０），（１，１），（０，１）の順に位相変調が行われた場合の干渉光２０３の強度の変化を示している。また、干渉光２０５Ａ〜干渉光２０５Ｄは、それぞれ図４−１の干渉光２０５ａ〜干渉光２０５ｄに対応している。この順で位相変調が行われると、干渉光２０５は、２０５Ａ，２０５Ｂ，２０５Ｃ，２０５Ｄの順に変化する（図４−１参照）。
【００３０】
ここでは、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２の値にかかわらず、干渉光２０５の強度は常に（√２・√Ｃ）2＝２Ｃとなる。また、干渉光２０５は、干渉部１５０において干渉光２０３および干渉光２０４に分岐し、干渉光２０３の強度は常にＣとなる。また、この場合、干渉光２０４の強度の変化も干渉光２０３と同様となり、干渉光２０４の強度も常にＣとなる。
【００３１】
図５−１は、実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光の光電界ベクトルの極座標平面を示す図（θ≠π／２）である。図５−１は、位相制御部１４０が光を制御する位相量をθ≠π／２とし、Ｃ＝Ｄとした場合の干渉光２０５を示している。位相量θ≠π／２の場合、干渉光２０５ａおよび干渉光２０５ｃのベクトルの大きさ２√Ｃ・ｃｏｓ（θ／２）と、干渉光２０５ｂおよび干渉光２０５ｄのベクトルの大きさ２√Ｃ・ｓｉｎ（θ／２）と、は異なる値となる。
【００３２】
たとえば、位相量θ＝π／３とした場合、干渉光２０５ａおよび干渉光２０５ｃのベクトルの大きさは２√Ｃ・ｃｏｓ（θ／２）＝２√Ｃ・ｃｏｓ（π／６）＝√３・√Ｃとなる。また、干渉光２０５ｂおよび干渉光２０５ｄのベクトルの大きさは２√Ｃ・ｓｉｎ（θ／２）＝２／√Ｃ・ｓｉｎ（π／６）＝√Ｃとなる。
【００３３】
図５−２は、実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光２０３の強度の変化を示すグラフ（θ≠π／２）である。図５−３は、実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光２０４の強度の変化を示すグラフ（θ≠π／２）である。図５−２は、図４−２と同様、データ処理部１３１の制御によって、（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，０），（１，０），（１，１），（０，１）の順に位相変調が行われた場合の干渉光２０３の強度の変化を示している。
【００３４】
また、ここでは、位相制御部１４０が光を制御する位相量をθ≠π／２とした場合の干渉光２０３の強度の変化を示している。干渉光２０５Ａおよび干渉光２０５Ｃの強度は２Ｃ（１＋ｃｏｓθ）となる。したがって、干渉光２０５が干渉光２０５Ａおよび干渉光２０５Ｃの場合の干渉光２０３の強度はＣ（１＋ｃｏｓθ）となる。
【００３５】
干渉光２０５が干渉光２０５Ｂおよび干渉光２０５Ｄの場合の干渉光２０３の強度は、Ｃ（１−ｃｏｓθ）となる。上述した順に位相変調が行われると、干渉光２０３の強度はＣ（１＋ｃｏｓθ），Ｃ（１−ｃｏｓθ），Ｃ（１＋ｃｏｓθ），Ｃ（１−ｃｏｓθ）と交互に変化するが、干渉光２０３の強度の平均は位相量θ＝π／２の場合（図４−２参照）と同様にＣとなる。
【００３６】
また、図５−３に示すように、干渉光２０５が干渉光２０５Ａおよび干渉光２０５Ｃの場合の干渉光２０４の強度は、Ｃ（１−ｃｏｓθ）となる。干渉光２０５が干渉光２０５Ｂおよび干渉光２０５Ｄの場合の干渉光２０４の強度は、Ｃ（１＋ｃｏｓθ）となる。上述した順に位相変調が行われると、干渉光２０４の強度はＣ（１−ｃｏｓθ），Ｃ（１＋ｃｏｓθ），Ｃ（１−ｃｏｓθ），Ｃ（１＋ｃｏｓθ）と交互に変化する。
【００３７】
図６は、位相量θと干渉光の強度との関係を示すグラフである。横軸は、位相量θ（Ｐｈａｓｅ  ｓｈｉｆｔ［ｄｅｇ］）を示し、縦軸は干渉光の強度のピーク（Ｏｐｔ．ｐｏｗ．［／Ｃ  ｍＷ  ｐｅａｋ］）を示している。図６において、強度特性６０１は、干渉光２０５ａおよび干渉光２０５ｃの位相量θに対する強度特性を示している。強度特性６０２は、干渉光２０５ｂおよび干渉光２０５ｄの位相量θに対する強度特性を示している。
【００３８】
符号６０３は、干渉光２０５ａおよび干渉光２０５ｃと、干渉光２０５ｂおよび干渉光２０５ｄと、の強度の差分を示している。実際のデータ通信時には、位相量θをπ／２、π・３／２…とすることで差分６０３が０となり、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２の値にかかわらず安定した強度の信号光を生成することができる。
【００３９】
また、ペナルティ試験時には、位相量θをπ／２、π・３／２…以外の位相量とすることで差分６０３が０でなくなり、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２の値によって強度が異なるペナルティ信号光を生成することができる。なお、位相量θを０、π、２π…とすると、差分６０３が最大の値となる。
【００４０】
図７は、実施の形態１にかかる光送信装置の強度変調部によってＲＺパルス化された信号光を示す図である。図７に示すように、強度変調部１７０によってＲＺパルス化された信号光７０１の波形は、位相が変化する境の強度が０［ｍＷ］に近づいている。これによって、光位相角が急激に変化する部分の光パワーをＲＺ強度変調により低く抑えることで、光伝送後に発生する波形歪みを低減することができる。
【００４１】
図８は、実施の形態１にかかる光送信装置に対応した光受信装置の構成を示すブロック図である。図８に示すように、実施の形態１にかかる光送信装置１００に対応した光受信装置８００は、遅延干渉部８１０と、光電変換部８２０と、再生部８４０Ａおよび再生部８４０Ｂと、データ処理部８５０と、ＡＢＣ回路８６０と、受信信号監視部８７０と、を備えている。
【００４２】
遅延干渉部８１０は、光送信装置１００から受信した信号光を遅延干渉させ、干渉光を光電変換部８２０へ出力する。具体的には、遅延干渉部８１０は、アーム８１０Ａおよびアーム８１０Ｂを備えており、ＤＱＰＳＫ信号光を分岐してアーム８１０Ａおよびアーム８１０Ｂへそれぞれ出力する。
【００４３】
アーム８１０Ａは、出力された信号光をさらに分岐し、一方を１ビット分遅延させ、他方をπ／４だけ制御し、双方を干渉させる。アーム８１０Ｂは、出力された信号光をさらに分岐し、一方を１ビット分遅延させ、他方を−π／４だけ制御して双方を干渉させる。アーム８１０Ａおよびアーム８１０Ｂは、それぞれの干渉光を光電変換部８２０へ出力する。
【００４４】
光電変換部８２０は、遅延干渉部８１０から出力された干渉光を受光し、光電変換して再生部８４０Ａおよび再生部８４０Ｂへ出力する。具体的には、光電変換部８２０は、デュアルピンフォトダイオード８２０Ａおよびデュアルピンフォトダイオード８２０Ｂを備えている。デュアルピンフォトダイオード８２０Ａは、アーム８１０Ａから出力された２つの干渉光を受光し、電気信号に変換して再生部８４０Ａへ出力する。
【００４５】
デュアルピンフォトダイオード８２０Ｂは、アーム８１０Ｂから出力された２つの干渉光を受光し、電気信号に変換して再生部８４０Ｂへ出力する。なお、デュアルピンフォトダイオード８２０Ａおよびデュアルピンフォトダイオード８２０Ｂから再生部８４０Ａおよび再生部８４０Ｂへ出力される電気信号は、増幅器８３０Ａおよび増幅器８３０Ｂによってそれぞれ適宜増幅される。
【００４６】
再生部（ＣＤＲ：Ｃｌｏｃｋ  ａｎｄ  Ｄａｔａ  Ｒｅｃｏｖｅｒｙ）８４０Ａおよび再生部８４０Ｂは、光電変換部８２０から出力された電気信号に基づいてデータ信号を再生し、再生したデータ信号をデータ処理部８５０へ出力する。再生部８４０Ａは、デュアルピンフォトダイオード８２０Ａから出力された電気信号からＩ（Ｉｎ−ｐｈａｓｅ：同相）成分を再生し、データ処理部８５０へ出力する。また、再生部８４０Ｂは、デュアルピンフォトダイオード８２０Ｂから出力された電気信号からＱ（Ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ−ｐｈａｓｅ：直交）成分を再生し、データ処理部８５０へ出力する。
【００４７】
データ処理部８５０は、再生部８４０Ａおよび再生部８４０Ｂから出力されたＩ成分およびＱ成分に基づいてデータ信号を復調し、復調したデータ信号に基づいて誤り訂正などの論理処理を行う。ＡＢＣ回路８６０は、光電変換部８２０から出力される電気信号に基づいて、アーム８１０Ａおよびアーム８１０Ｂの制御位相量を調節する。
【００４８】
受信信号監視部８７０は、データ処理部８５０が復調したデータ信号のエラー状態を監視する。たとえば、受信信号監視部８７０は、誤り訂正（ＦＥＣ：Ｆｏｒｗａｒｄ  Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ）による誤り訂正ビット数をモニタすることで、データ信号のビット誤り率（ＢＥＲ：Ｂｉｔ  Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）を監視する。また、受信信号監視部８７０は、ペナルティ信号光のＢＥＲを監視することで、ペナルティ試験の結果を得る。
【００４９】
図９は、実施の形態１にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。図９において、信号光９０１は、光送信装置１００から送信された通常の信号光である。信号光９０２は、光送信装置１００から送信された、干渉光２０５が干渉光２０５Ａまたは２０５Ｃ（図７参照）の場合の信号光である。信号光９０３は、光送信装置１００から送信された、干渉光２０５が干渉光２０５Ｂまたは２０５Ｄの場合の信号光である。
【００５０】
光受信装置８００は、識別点９０４における信号光の強度を測定し、信号光を識別する。図９に示すように、信号光９０２は信号光９０１よりも強度が大きい。信号光９０３は信号光９０１よりも強度が小さい。このように、信号光９０２および信号光９０３は、強度方向のペナルティを有するペナルティ信号光となる。
【００５１】
図１０は、実施の形態１にかかる光送信装置および光受信装置によるペナルティ試験動作を示すフローチャートである。図１０に示すように、まず、信号生成制御部１８０が、データ処理部１３１によるｄａｔａ１およびｄａｔａ２の出力を停止する（ステップＳ１００１）。つぎに、信号生成制御部１８０が、ＡＢＣ回路１６０による位相量θの自動制御を停止する（ステップＳ１００２）。
【００５２】
つぎに、信号生成制御部１８０が、ＡＢＣ回路１６０が制御する位相量θをπ／２から所定の位相量変更する（ステップＳ１００３）。つぎに、信号生成制御部１８０が、データ処理部１３１からｄａｔａ１およびｄａｔａ２を出力させることでペナルティ信号光を生成する（ステップＳ１００４）。つぎに、光送信装置１００が光受信装置８００に対してペナルティ信号光を送信する（ステップＳ１００５）。
【００５３】
つぎに、光受信装置８００がペナルティ信号光を受信して復調する（ステップＳ１００６）。つぎに、受信信号監視部８７０がＢＥＲを測定し（ステップＳ１００７）、一連の処理を終了する。以上のステップによって、光送信装置１００と光受信装置８００との間の伝送路のペナルティ試験を行うことができる。
【００５４】
このように、実施の形態１にかかる光送信装置１００によれば、ＡＢＣ回路１６０が制御する位相量θをθ≠π／２とすることで、強度方向のペナルティを有するペナルティ信号光を生成することができる。
【００５５】
また、実施の形態１にかかる光送信装置１００によれば、平均として通常時と同じ強度のペナルティ信号光を送信できるため、ＷＤＭ回線において他のＣＨに影響を与えることなくペナルティ試験を行うことができる。
【００５６】
（実施の形態２）
実施の形態２にかかる光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θを０とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を互いに等しい交番の値として位相変調を行う。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，１）、（０，０）、（１，１）、（０，０）…のように変化させる。
【００５７】
また、光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θをπとし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を、互いに異なる交番の値として位相変調を行ってもよい。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，０）、（０，１）、（１，０）、（０，１）…のように変化させる。
【００５８】
図１１は、実施の形態２にかかる光送信装置のＡＢＣ回路がモニタする干渉光２０４の強度を示すグラフである。図１１に示すように、実施の形態２においては、ＡＢＣ回路１６０によってモニタされる干渉光２０４の強度１１０１は常に０［ｍＷ］または０［ｍＷ］に近い値となる。このため、ＡＢＣ回路１６０は、干渉光２０４の強度が常に０または０に近い最小の値となるように位相制御部１４０の位相量θを調節する。
【００５９】
図１２は、実施の形態２にかかる光送信装置が送信する信号光の波形を示す図である。図１２に示すように、実施の形態２にかかる光送信装置１００が送信する信号光１２０１は位相がπずつ変化する。このため、信号光１２０１が示す値は常に「１１１１」となる。また、信号光１２０１の強度は常に２Ｃとなる。
【００６０】
図１３は、実施の形態２にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。図１３に示すように、光受信装置８００によって受信された信号光１３０１は、強度が通常時の２倍となり、ＲＺ波形のＴＩＡ出力後のＡＣ結合によって通常時よりも強度が低い方向へシフトする。これによって、識別点９０４における信号光１３０１のパルス幅が狭くなる。このため、信号光１３０１は、位相方向のペナルティを有するペナルティ信号光となる。
【００６１】
図１４は、実施の形態２にかかる光送信装置および光受信装置によるペナルティ試験動作を示すフローチャートである。図１４に示すように、まず、信号生成制御部１８０が、データ処理部１３１によるｄａｔａ１およびｄａｔａ２の出力を停止する（ステップＳ１４０１）。つぎに、信号生成制御部１８０が、ＡＢＣ回路１６０による位相量θの自動制御を停止する（ステップＳ１４０２）。つぎに、信号生成制御部１８０が、ＡＢＣ回路１６０が制御する位相量θを０またはπに変更する（ステップＳ１４０３）。
【００６２】
つぎに、信号生成制御部１８０が、データ処理部１３１にｄａｔａ１およびｄａｔａ２を出力させることでペナルティ信号光を生成する（ステップＳ１４０４）。つぎに、ＡＢＣ回路１６０が、干渉光２０４の強度が０［ｍＷ］または０［ｍＷ］に近い値となるように位相制御部１４０の位相量θを再設定する（ステップＳ１４０５）。
【００６３】
つぎに、光送信装置１００が光受信装置８００に対してペナルティ信号光を送信する（ステップＳ１４０６）。つぎに、光受信装置８００がペナルティ信号光を受信して復調する（ステップＳ１４０７）。つぎに、受信信号監視部８７０がＢＥＲを測定し（ステップＳ１４０８）、一連の処理を終了する。以上のステップによって、光送信装置１００と光受信装置８００との間の伝送路のペナルティ試験を行うことができる。
【００６４】
このように、実施の形態２にかかる光送信装置１００によれば、ＡＢＣ回路１６０が制御する位相量θを０またはπとし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を交番の値として位相変調を行うことで、位相方向のペナルティを有するペナルティ信号光を送信することができる。
【００６５】
（実施の形態３）
実施の形態３にかかる光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θを０とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を互いに等しい一定の値として位相変調を行う。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，１）、（１，１）、（１，１）、（１，１）…または、（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，０）、（０，０）、（０，０）、（０，０）…のように変化させる。
【００６６】
また、光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θをπとし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を互いに異なる一定の値として位相変調を行ってもよい。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，０）、（１，０）、（１，０）、（１，０）…または（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，１）、（０，１）、（０，１）、（０，１）…のように変化させる。
【００６７】
図１５は、実施の形態３にかかる光送信装置が送信する信号光の波形を示す図である。図１５に示すように、実施の形態２にかかる光送信装置１００が送信する信号光１５０１は位相が変化しない。このため、信号光１５０１が示す値は常に「００００」となる。また、信号光１５０１の強度は常に２Ｃとなる。
【００６８】
図１６は、実施の形態３にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。図１６に示すように、光受信装置８００によって受信された信号光１６０１は、強度が通常時の２倍となり、ＲＺ波形のＴＩＡ出力後のＡＣ結合によって通常時よりも強度が高い方向へシフトする。これによって、識別点９０４における信号光１６０１のパルス幅が狭くなる。このため、信号光１６０１は、位相方向のペナルティを有するペナルティ信号光となる。
【００６９】
また、実施の形態３にかかる光送信装置１００においても、ＡＢＣ回路１６０によってモニタされる干渉光２０４の強度は常に０［ｍＷ］となる（図１１参照）。このため、ＡＢＣ回路１６０は、干渉光２０４の強度が常に０または０に近い最小の値となるように位相制御部１４０の位相量θを調節する。
【００７０】
このように、実施の形態３にかかる光送信装置１００によれば、ＡＢＣ回路１６０が制御する位相量θを０またはπとし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を一定の値として位相変調を行うことで、位相方向のペナルティを有するペナルティ信号光を送信することができる。
【００７１】
なお、実施の形態３にかかる光送信装置１００および光受信装置８００によるペナルティ試験動作は、実施の形態２にかかる光送信装置１００および光受信装置８００によるペナルティ試験動作と同様のためここでは説明を省略する（図１４参照）。
【００７２】
（実施の形態４）
実施の形態４にかかる光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θをπ／２とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を互いに等しい交番の値として位相変調を行う。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，１）、（０，０）、（１，１）、（０，０）…のように変化させる。
【００７３】
また、実施の形態４にかかる光送信装置１００は、光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θをπ・３／２とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を互いに異なる交番の値として位相変調を行ってもよい。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，０）、（０，１）、（１，０）、（０，１）…のように変化させる。
【００７４】
なお、実施の形態４にかかる光送信装置１００が出力する信号光の波形は、実施の形態２にかかる光送信装置１００が出力する信号光の波形と同様であるためここでは図示を省略する（図１１参照）。実施の形態４にかかる光送信装置１００が送信する信号光は位相がπずつ変化する。このため、この信号光が示す値は常に「１１１１」となる。また、この信号光の強度は常に２Ｃとなる。
【００７５】
図１７は、実施の形態４にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。図１７に示すように、光受信装置８００によって受信された信号光は、通常時と同じ強度となり、ＲＺ波形のＴＩＡ出力後のＡＣ結合によって通常時よりも強度が低い方向へシフトする。これによって、識別点９０４における信号光１７０１のパルス幅が狭くなる。このため、信号光１７０１は、強度方向および位相方向のペナルティを有するペナルティ信号光となる。
【００７６】
このように、実施の形態４にかかる光送信装置１００によれば、ＡＢＣ回路１６０が制御する位相量θをπ／２またはπ・３／２とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を交番の値として位相変調を行うことで、強度方向および位相方向のペナルティを有するペナルティ信号光を送信することができる。また、実施の形態４にかかる光送信装置１００によれば、通常時と同じ強度のペナルティ信号光を送信できるため、ＷＤＭ回線において他のＣＨに影響を与えることなくペナルティ試験を行うことができる。
【００７７】
なお、実施の形態４にかかる光送信装置１００および光受信装置８００によるペナルティ試験動作は、実施の形態１にかかる光送信装置１００および光受信装置８００によるペナルティ試験動作と同様のためここでは説明を省略する（図１０参照）。
（実施の形態５）
実施の形態５にかかる光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θをπ／２とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を互いに等しい一定の値として位相変調を行う。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，１）、（１，１）、（１，１）、（１，１）…または、（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，０）、（０，０）、（０，０）、（０，０）…のように変化させる。
【００７８】
また、実施の形態５にかかる光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θをπ／２とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を互いに異なる一定の値として位相変調を行ってもよい。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，０）、（１，０）、（１，０）、（１，０）…または（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，１）、（０，１）、（０，１）、（０，１）…のように変化させる。
【００７９】
また、実施の形態４にかかる光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θをπ・３／２とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を互いに等しい一定の値として位相変調を行う。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，１）、（１，１）、（１，１）、（１，１）…または、（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，０）、（０，０）、（０，０）、（０，０）…のように変化させる。
【００８０】
また、実施の形態４にかかる光送信装置１００の信号生成制御部１８０は、ＡＢＣ回路１６０が調節する位相制御部１４０の位相量θをπ・３／２とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を互いに異なる一定の値として位相変調を行ってもよい。すなわち、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（１，０）、（１，０）、（１，０）、（１，０）…または（ｄａｔａ１，ｄａｔａ２）＝（０，１）、（０，１）、（０，１）、（０，１）…のように変化させる。
【００８１】
実施の形態５にかかる光送信装置１００が出力する信号光の波形は、実施の形態３にかかる光送信装置１００が出力する信号光の波形と同様であるためここでは図示を省略する（図１５参照）。実施の形態４にかかる光送信装置１００が送信する信号光は位相が変化しない。このため、この信号光が示す値は常に「００００」となる。また、この信号光の強度は常に２Ｃとなる。
【００８２】
図１８は、実施の形態５にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。図１８に示すように、光受信装置８００によって受信された信号光は、通常時と同じ強度となり、ＲＺ波形のＴＩＡ出力後のＡＣ結合によって通常時よりも強度が高い方向へシフトする。これによって、識別点９０４における信号光１８０１のパルス幅が狭くなる。このため、信号光１８０１は、強度方向および位相方向のペナルティを有するペナルティ信号光となる。
【００８３】
このように、実施の形態５にかかる光送信装置１００によれば、ＡＢＣ回路１６０が制御する位相量θをπ／２またはπ・３／２とし、ｄａｔａ１およびｄａｔａ２を交番の値または一定の値として位相変調を行うことで、強度方向および位相方向のペナルティを有するペナルティ信号光を送信することができる。また、実施の形態５にかかる光送信装置１００によれば、通常時と同じ強度のペナルティ信号光を送信できるため、ＷＤＭ回線において他のＣＨに影響を与えることなくペナルティ試験を行うことができる。
【００８４】
なお、実施の形態５にかかる光送信装置１００および光受信装置８００によるペナルティ試験動作は、実施の形態１にかかる光送信装置１００および光受信装置８００によるペナルティ試験動作と同様のためここでは説明を省略する（図１０参照）。
【００８５】
以上説明したように、この発明にかかるＤＱＰＳＫ変調装置、光送信装置およびＤＱＰＳＫ変調方法によれば、実回線を停止させることなく回線の設計妥当性を正確に検証することができる。
【００８６】
なお、上述した実施の形態１にかかる光送信装置１００においては、強度方向のみのペナルティを有するペナルティ信号光を生成するため、強度変調部１７０を省略した構成も可能である。また、上述した実施の形態２〜５にかかる光送信装置１００が生成する信号光をペナルティ信号光として用いる場合について説明したが、実施の形態２〜５にかかる光送信装置１００の利用はこれに限られない。たとえば、実施の形態２〜５にかかる光送信装置１００が生成する信号光は警報転送信号としても用いることが可能である。
【００８７】
（付記１）光源から出力された光を分岐する分岐手段と、
前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御手段と、
前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光に対して位相変調を行う位相変調手段と、
前記位相変調手段によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉手段と、
前記位相制御手段が前記光の一方の位相を制御する位相量を、所望のペナルティ量に応じた位相量だけπ／２から変更する変更手段と、
を備えることを特徴とするＤＱＰＳＫ変調装置。
【００８８】
（付記２）光源から出力された光を分岐する分岐手段と、
前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御手段と、
交番の値または一定の値からなる２つの符号化データ列を生成する生成手段と、
前記分岐手段によって分岐されたそれぞれの光に対して、前記２つの符号化データ列のそれぞれによって位相変調を行う位相変調手段と、
前記位相変調手段によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉手段と、
前記位相制御手段が前記光の一方の位相を制御する位相量を０またはπに変更する変更手段と、
を備えることを特徴とするＤＱＰＳＫ変調装置。
【００８９】
（付記３）前記生成手段は、交番の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量を０またはπに変更することを特徴とする付記２に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９０】
（付記４）前記生成手段は、互いに等しい交番の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量を０に変更することを特徴とする付記３に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９１】
（付記５）前記生成手段は、互いに異なる交番の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量をπに変更することを特徴とする付記３に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９２】
（付記６）前記生成手段は、一定の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量を０またはπに変更することを特徴とする付記２に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９３】
（付記７）前記生成手段は、互いに等しい一定の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量を０に変更することを特徴とする付記６に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９４】
（付記８）前記生成手段は、互いに異なる一定の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量をπに変更することを特徴とする付記６に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９５】
（付記９）前記生成手段は、交番の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量をπ／２またはπ・３／２に変更することを特徴とする付記２に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９６】
（付記１０）前記生成手段は、互いに等しい交番の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量をπ／２に変更することを特徴とする付記９に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９７】
（付記１１）前記生成手段は、互いに異なる交番の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量をπ・３／２に変更することを特徴とする付記９に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９８】
（付記１２）前記生成手段は、一定の値からなる２つの符号化データ列を生成し、
前記変更手段は、前記位相量をπ／２またはπ・３／２に変更することを特徴とする付記２に記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【００９９】
（付記１３）前記干渉手段によって干渉した干渉光をＲＺパルス化する強度変調手段をさらに備えることを特徴とする付記１〜１１のいずれか一つに記載のＤＱＰＳＫ変調装置。
【０１００】
（付記１４）付記１〜１３のいずれか一つに記載のＤＱＰＳＫ変調装置と、
前記ＤＱＰＳＫ変調装置によって変調された信号光を送信する送信手段と、
を備えることを特徴とする光送信装置。
【０１０１】
（付記１５）光源から出力された光を分岐する分岐工程と、
前記分岐工程によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御工程と、
前記分岐工程によって分岐されたそれぞれの光に対して位相変調を行う位相変調工程と、
前記位相変調工程によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉工程と、
前記位相制御工程が前記光の一方の位相を制御する位相量を、所望のペナルティ量に応じた位相量だけπ／２から変更する変更工程と、
を含むことを特徴とするＤＱＰＳＫ変調方法。
【０１０２】
（付記１６）光源から出力された光を分岐する分岐工程と、
前記分岐工程によって分岐されたそれぞれの光の一方の位相をπ／２に制御する位相制御工程と、
交番の値または一定の値からなる２つの符号化データ列を生成する生成工程と、
前記分岐工程によって分岐されたそれぞれの光に対して、前記２つの符号化データ列のそれぞれによって位相変調を行う位相変調工程と、
前記位相変調工程によって位相変調が行われたそれぞれの光を干渉させる干渉工程と、
前記位相制御工程が前記光の一方の位相を制御する位相量を０またはπに変更する変更工程と、
を含むことを特徴とするＤＱＰＳＫ変調方法。
【産業上の利用可能性】
【０１０３】
以上のように、この発明にかかるＤＱＰＳＫ変調装置、光送信装置およびＤＱＰＳＫ変調方法は、伝送路の設計妥当性を検証するペナルティ試験に有用であり、特に、伝送路においてＷＤＭ回線を用いている場合に適している。
【図面の簡単な説明】
【０１０４】
【図１】実施の形態１にかかる光送信装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１にかかる光送信装置における各部の光を示す図である。
【図３−１】実施の形態１にかかる光送信装置における各部の光の光電界ベクトルの極座標平面を示す図（その１）である。
【図３−２】実施の形態１にかかる光送信装置における各部の光の光電界ベクトルの極座標平面を示す図（その２）である。
【図４−１】実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光の光電界ベクトルの極座標平面を示す図（θ＝π／２）である。
【図４−２】実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光２０３の強度の変化を示すグラフ（θ＝π／２）である。
【図５−１】実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光の光電界ベクトルの極座標平面を示す図（θ≠π／２）である。
【図５−２】実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光２０３の強度の変化を示すグラフ（θ≠π／２）である。
【図５−３】実施の形態１にかかる光送信装置における干渉光２０４の強度の変化を示すグラフ（θ≠π／２）である。
【図６】位相量θと干渉光の強度との関係を示すグラフである。
【図７】実施の形態１にかかる光送信装置の強度変調部によってＲＺパルス化された信号光を示す図である。
【図８】実施の形態１にかかる光送信装置に対応した光受信装置の構成を示すブロック図である。
【図９】実施の形態１にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。
【図１０】実施の形態１にかかる光送信装置および光受信装置によるペナルティ試験動作を示すフローチャートである。
【図１１】実施の形態２にかかる光送信装置のＡＢＣ回路がモニタする干渉光２０４の強度を示すグラフである。
【図１２】実施の形態２にかかる光送信装置が送信する信号光の波形を示す図である。
【図１３】実施の形態２にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。
【図１４】実施の形態２にかかる光送信装置および光受信装置によるペナルティ試験動作を示すフローチャートである。
【図１５】実施の形態３にかかる光送信装置が送信する信号光の波形を示す図である。
【図１６】実施の形態３にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。
【図１７】実施の形態４にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。
【図１８】実施の形態５にかかる光送信装置が送信し光受信装置が受信した信号光の波形を示す図である。
【符号の説明】
【０１０５】
１００  光送信装置
１１０  光源部
１２０  分岐部
１３１  データ処理部
１３２，１３３  位相変調部
１４０  位相制御部
１５０  干渉部
１６０  ＡＢＣ回路
１７０  強度変調部
１８０  信号生成制御部
８００  光受信装置
【図１】
2008141670.tif 000003
【図２】
2008141670.tif 000004
【図３−１】
2008141670.tif 000005
【図３−２】
2008141670.tif 000006
【図４−１】
2008141670.tif 000007
【図４−２】
2008141670.tif 000008
【図５−１】
2008141670.tif 000009
【図５−２】
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【図５−３】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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