(57)【要約】【課題】システムの異なる要求に沿って、パルス幅変調信号の高，低レベル値を変え、測定できるレベル測定装置とレベル測定方法を提供する。【解決手段】本発明におけるパルス幅変調信号のレベル測定装置は、第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１を発生するパルス幅変調信号発生ループ２１と、基準電圧信号Ｓｖ１を発生する基準電圧発生ループ２２と、および前記パルス幅変調信号発生ループ２１と前記基準電圧発生ループ２２にそれぞれ電気的に接続され、前記基準電圧信号Ｓｖ１に基づいて、前記第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１の高，低レベル値を測定し、第２パルス幅変調信号Ｓｐ１２を発生する測定ループ２３と、を含む。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１パルス幅変調信号を発生するパルス幅変調信号発生ループと、
基準電圧信号を発生する基準電圧発生ループと、
前記パルス幅変調信号発生ループと前記基準電圧発生ループにそれぞれ電気的に接続され、前記基準電圧信号に基づいて、前記第１パルス幅変調信号の高，低レベル値を測定し、第２パルス幅変調信号を発生する測定ループと、を含むパルス幅変調信号のレベル測定装置。
【請求項２】
前記測定ループは、コンパレータを含む請求項１に記載のレベル測定装置。
【請求項３】
前記測定ループは、ＯＰアンプを含む請求項１に記載のレベル測定装置。
【請求項４】
前記基準電圧発生ループは、外部より入力された電源信号に基づいて前記基準電圧信号を発生する請求項１に記載のレベル測定装置。
【請求項５】
前記電源信号は、電圧からなる請求項４に記載のレベル測定装置。
【請求項６】
前記基準電圧発生ループは、前記基準電圧信号を発生する分圧器を含む請求項５に記載のレベル測定装置。
【請求項７】
前記分圧器は、第１レジスタと第２レジスタを含む請求項６に記載のレベル測定装置。
【請求項８】
前記電源信号は、電流からなる請求項４に記載のレベル測定装置。
【請求項９】
前記基準電圧発生ループは、前記電流に基づいて前記基準電圧信号を発生するレジスタを含む請求項８に記載のレベル測定装置。
【請求項１０】
前記パルス幅変調信号発生ループは、アナログ回路またはデジタル回路からなる請求項１に記載のレベル測定装置。
【請求項１１】
パルス幅変調信号発生ループより第１パルス幅変調信号を発生するステップと、
基準電圧発生ループより基準電圧信号を発生するステップと、
前記基準電圧信号に基づいて、前記第１パルス幅変調信号の高，低レベル値を測定し、測定ループより第２パルス幅変調信号を発生するステップと、を含むパルス幅変調信号のレベル測定方法。
【請求項１２】
前記基準電圧発生ループに電源信号を入力するステップを更に含む請求項１１に記載のレベル測定方法。
【請求項１３】
前記基準電圧信号は、分圧器を経由した前記電源信号より発生される請求項１２に記載のレベル測定方法。
【請求項１４】
前記基準電圧信号は、レジスタを経由した前記電源信号より発生される請求項１２に記載のレベル測定方法。
【請求項１５】
前記基準電圧信号と前記第１パルス幅変調信号は、前記測定ループのコンパレータに入力され、第２パルス幅変調信号を発生する請求項１１に記載のレベル測定方法。
【請求項１６】
前記基準電圧信号と前記第１パルス幅変調信号は、前記測定ループのＯＰアンプに入力され、第２パルス幅変調信号を発生する請求項１１に記載のレベル測定方法。
【請求項１７】
ループを発生する前記パルス幅変調信号は、アナログ回路またはデジタル回路からなる請求項１１に記載のレベル測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定装置と測定方法に関し、特に、パルス幅変調信号のレベル測定装置（level determining device）とレベル測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子技術の発展により、パルス幅変調信号を用いて電子素子の制御信号とすることがますます普及している。
【０００３】
図１を参照すると、パルス幅変調は、アナログ信号のレベルにデジタルコードを割り当てる方法であり、即ち、アナログ信号を高，低レベルの区別のみを有する方形波に変換する。その重要なパラメータは、高レベルＶＨおよび低レベルＶＬと、デューティーサイクルＤとを含み、デューティーサイクルＤは、方形波の１サイクルＴ内で高レベルＶＨにある方形波の時間ｔが占めている比率を表しており、一般的に百分率で表示される。
【０００４】
図２を参照すると、従来技術は、トランジスタ−トランジスタロジック（ＴＴＬ）回路１１によって、パルス幅変調信号発生ループ１２より発生したパルス幅変調信号Ｓｐ０１の高，低レベルを測定している。しかし、ＴＴＬ回路１１が低レベルを測定している時、その最大の測定電圧値は、一般的に０.８Ｖである。即ち、パルス幅変調信号Ｓｐ０１が信号伝送をするプロセスで雑音の干渉を受け、パルス幅変調信号Ｓｐ０１の低レベル値を０.８Ｖ以上にさせた時、ＴＴＬ回路１１はこれを高レベルとして誤って測定、または測定できなくなり、ＴＴＬ回路１１またはその他の回路に誤った動作を生じさせる。
【０００５】
よって、好ましい耐雑音性を有し、パルス幅変調信号のレベル値を誤って測定する状態が発生するのを防ぐ、パルス幅変調信号のレベル測定装置およびレベル測定方法を如何に提供するかが、目下の重要な課題の１つである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述の課題に鑑みて、本発明の目的は、システムの異なる要求に沿って、パルス幅変調信号の高，低レベル値を変え、測定できるレベル測定装置とレベル測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
よって、上述の目的を達成するために、本発明に基づいたパルス幅変調信号のレベル測定装置は、パルス幅変調信号発生ループと、基準電圧発生ループと、測定ループと、を含む。前記パルス幅変調信号発生ループは、第１パルス幅変調信号を発生する。前記基準電圧発生ループは、電圧信号を発生する。前記測定ループは、前記パルス幅変調信号発生ループと前記基準電圧発生ループにそれぞれ電気的に接続され、前記電圧信号に基づいて、前記第１パルス幅変調信号の高，低レベル値を測定し、第２パルス幅変調信号を発生する。
【０００８】
また、上述の目的を達成するために、本発明に基づいたパルス幅変調信号のレベル測定方法は、以下のステップを含む。パルス幅変調信号発生ループより第１パルス幅変調信号を発生する。基準電圧発生ループより基準電圧信号を発生する。前記基準電圧信号に基づいて、前記第１パルス幅変調信号の高，低レベル値を測定し、測定ループより第２パルス幅変調信号を発生する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明のパルス幅変調信号のレベル測定装置およびレベル測定方法に基づくと、基準電圧発生ループを用いて基準電圧信号を発生し、測定ループに基準電圧信号に基づいて、パルス幅変調信号が高レベルであるか、或いは低レベルであるかを測定させて、異なるシステムに基づいて基準電圧信号の大きさを適当に調節し、パルス幅変調信号のレベル値を正確に測定することができる。従来のＴＴＬ回路を用いてパルス幅変調信号のレベル値を測定する技術に比べ、本発明のパルス幅変調信号のレベル測定装置およびレベル測定方法は、雑音の干渉を受けて、誤った測定をし難い利点を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
本発明についての目的，特徴，長所が一層明確に理解されるよう、以下に実施形態を例示し、図面を参照にしながら、詳細に説明する。
【実施例】
【００１１】
図３を参照すると、本発明の好ましい実施例に基づいたパルス幅変調信号のレベル測定装置２は、パルス幅変調信号発生ループ２１と、基準電圧発生ループ２２と、測定ループ２３とを含む。
【００１２】
パルス幅変調信号発生ループ２１は、第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１を発生し、異なるシステムの要求に沿って、前記第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１の周波数と、デューティーサイクルと、レベル値とを任意に調整することができる。また、前記第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１は、アナログ回路より発生することができ、デジタル回路より発生することもできる。
【００１３】
前記基準電圧発生ループ２２は、電源信号Ｐ１に基づいて基準電圧信号Ｓｖ１を発生する。図４Ａに示すように、前記電源信号Ｐ１が電圧ＶＤＤである時、前記電源信号Ｐ１は、電圧源より発生する。前記基準電圧発生ループ２２は、分圧器を含む。本実施例では、前記分圧器は、第１レジスタＲ１と第２レジスタＲ２を有し、前記第１レジスタＲ１と前記第２レジスタＲ２によって、前記電源信号Ｐ１を前記基準電圧信号Ｓｖ１に変換する。前記基準電圧信号Ｓｖ１は、下記の式より得ることができる。
【００１４】
【数１】
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【００１５】
図４Ｂに示すように、前記電源信号Ｐ１が電流Ｉｓからなる時、即ち、電源信号Ｐ１が電流源から発生される時、本実施例の前記基準電圧発生ループ２２は、レジスタＲｓを含み、前記レジスタＲｓに流れた前記電流より発生した電圧降下が前記基準電圧信号Ｓｖ１となる。
【００１６】
図３を参照すると、測定ループ２３は、前記パルス幅変調信号発生ループ２１と前記基準電圧発生ループ２２にそれぞれ電気的に接続され、前記基準電圧信号Ｓｖ１に基づいて、第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１の高，低レベル値を測定し、これに基づいて第２パルス幅変調信号Ｓｐ１２を発生する。前記測定ループ２３は、コンパレータ２３１、またはＯＰアンプ（OP Amplifier：演算増幅器）を含むことができ、本実施例では、コンパレータ２３１を例としている。
【００１７】
本実施例では、前記コンパレータ２３１は、正端子（Positive terminal）＃ｉｎ１と、負端子（Negative terminal）＃ｉｎ２と、出力端子＃ｏｕｔとを有し、前記正端子＃ｉｎ１は、前記パルス幅変調信号発生ループ２１と電気的に接続され、前記第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１は、前記正端子＃ｉｎ１から前記コンパレータ２３１に入力される。前記負端子＃ｉｎ２は、前記基準電圧発生ループ２２と電気的に接続され、前記基準電圧信号Ｓｖ１は、前記負端子＃ｉｎ２から前記コンパレータ２３１に入力される。
【００１８】
一般的なコンパレータの特性が、正端子のレベル値が負端子のレベル値より大きい時、その出力端子は高レベルを出力し、正端子のレベル値が負端子のレベル値より小さい時、その出力端子は低レベルを出力することから、本発明のパルス幅変調信号のレベル測定装置２は、システムの違いに基づいて前記基準電圧信号Ｓｖ１の大きさを調整することができ、前記測定ループ２３に前記第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１が高レベルであるか、或いは低レベルであるかを正確に測定させて、前記第２パルス幅変調信号Ｓｐ１２を発生し、雑音の干渉を受けて誤った測定を生じ難くすることができる。
【００１９】
また、図５を参照すると、本発明の好ましい実施例に基づいたパルス幅変調信号のレベル測定方法は、下記のステップを含む。ステップＳ０１は、パルス幅変調信号発生ループ２１より第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１を発生する。ステップＳ０２は、基準電圧発生ループ２２より基準電圧信号Ｓｖ１を発生する。ステップＳ０３は、前記基準電圧信号Ｓｖ１に基づいて、前記第１パルス幅変調信号Ｓｐ１１の高，低レベル値を測定し、測定ループ２３より第２パルス幅変調信号Ｓｐ１２を発生する。詳細なレベル測定方法は、上述の実施例で合わせて説明されていることから、ここでは省略する。
【００２０】
以上、本発明の好適な実施例を例示したが、これは本発明を限定するものではなく、本発明の精神及び範囲を逸脱しない限りにおいては、当業者であれば行い得る少々の変更や修飾を付加することは可能である。従って、本発明が保護を請求する範囲は、特許請求の範囲を基準とする。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】従来のパルス幅変調信号の概略図を表している。
【図２】従来のパルス幅変調信号のレベル測定装置の概略図を表している。
【図３】本発明の好ましい実施例に基づいたパルス幅変調信号のレベル測定装置の概略図を表している。
【図４Ａ】本発明の好ましい実施例に基づいたパルス幅変調信号のレベル測定装置の基準電圧がループを発生する変化態様の概略図を表している。
【図４Ｂ】本発明の好ましい実施例に基づいたパルス幅変調信号のレベル測定装置の基準電圧がループを発生する別な変化態様の概略図を表している。
【図５】本発明の好ましい実施例に基づいたパルス幅変調信号のレベル測定方法の流れ図を表している。
【符号の説明】
【００２２】
１１  トランジスタ−トランジスタロジック（ＴＴＬ）回路
１２  パルス幅変調信号発生ループ
２  パルス幅変調信号のレベル測定装置
２１  パルス幅変調信号発生ループ
２２  基準電圧発生ループ
２３  測定ループ
２３１  コンパレータ
Ｄ  デューティーサイクル
ｔ  時間
Ｔ  サイクル
ＶＨ  高レベル
ＶＬ  低レベル
Ｓｐ０１  パルス幅変調信号
Ｓｐ１１  第１パルス幅変調信号
Ｓｐ１２  第２パルス幅変調信号
Ｓｖ１  基準電圧信号
Ｐ１  電源信号
ＶＤＤ  電圧
Ｉｓ  電流
Ｒ１  第１レジスタ
Ｒ２  第２レジスタ
Ｒｓ  レジスタ
＃ｉｎ１  正端子
＃ｉｎ２  負端子
＃ｏｕｔ  出力端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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