(57)【要約】【課題】電子部品のリード線位置の検出精度を向上させる。【解決手段】第２ミラー部２３には、第１照明部２４から第１ミラー部２２を介して、電子部品１のリード線２の影響を受けた光が入る。同様に、第１ミラー部２２には、第２照明部２５から、第２ミラー部２３を介して、電子部品１のリード線２の影響を受けた光が入る。撮像部２６は、第１ミラー部２２と第２ミラー部２３に写された画像を２次元データとして取得する。制御装置１９は、撮像部２６のデータと第１，第２ミラー部２２，２３の成す角度情報より、リード線位置の演算を行う。電子部品１のリード線２の位置を対象部品等の回転誤差の影響なしに高精度に検出することができる。【選択図】図１
2008128865.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
リード線付き部品のリード線の位置を検出するリード線位置検出方法であって、
第１光源から出射した光を第１ミラーで反射し、前記第１ミラーで反射した光を前記リード線に照射し、前記リード線を透過した光を第２ミラーで反射し、前記第２ミラーで反射した光を撮像手段で撮像する第１撮像工程と、
第２光源から出射した光を前記第２ミラーで反射し、前記第２ミラーで反射した光を前記リード線に照射し、前記リード線を透過した光を前記第１ミラーで反射させ、前記第１ミラーで反射した光を前記撮像手段で撮像する第２撮像工程と、
前記第１撮像工程および前記第２撮像工程を同時に実施して、前記リード線の位置を示す画像を前記撮像手段により撮像し、前記撮像した画像により前記リード線の位置を検出する位置検出工程とを有することを特徴とするリード線位置検出方法。
【請求項２】
前記リード線の位置検出工程は、位置検出に加えて前記リード線長手方向の前記部品との角度を検出することを特徴とする請求項１に記載のリード線位置検出方法。
【請求項３】
前記第１ミラーと前記第２ミラーの成す角度が、２０度以上９０度未満であることを特徴とする請求項１または２に記載のリード線位置検出方法。
【請求項４】
前記第１光源と前記第２光源から出射する光の色周波数を異なる周波数とし、前記撮像手段において特定の色を抽出した光の画像を撮像することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載のリード線位置検出方法。
【請求項５】
前記撮像手段の撮像した画像を表示手段により表示し、前記第１ミラーと前記第２ミラーの成す角度の変更、あるいは前記撮像手段の撮像領域の変更を行うことを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載のリード線位置検出方法。
【請求項６】
リード線付き部品のリード線の位置を検出するリード線位置検出装置であって、
リード線付き部品を保持する保持手段と、前記保持手段を移動させる移動手段と、第１光源と、第２光源と、前記第１光源から出射した光を反射する第１ミラーと、前記第２光源から出射した光を反射する第２ミラーと、
前記第１光源から前記第１ミラーを経て前記リード線を透過し前記第２ミラーで反射した光、および前記第２光源から前記第２ミラーを経て前記リード線を透過し前記第１ミラーで反射した光を同時に撮像する撮像手段と、
前記第１ミラーを移動させる第１ミラー移動手段と、前記第２ミラーを移動させる第２ミラー移動手段と、前記撮像手段で撮像した画像を表示する表示手段とを備えたことを特徴とするリード線位置検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品に係り、特に、リード線付き部品におけるリード線の位置を検出するリード線位置検出方法および装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子部品には、本体からリード線を延び出させて構成したものがある。コネクタ，リレー，トランス，ピン挿入型電子部品等がその例である。この種の電子部品はプリント基板等の対象物に挿入されて電子回路を構成するものであり、そのために、プリント基板等の対象物にはリード線を挿入すべき位置が予め設定されている。しかし、電子部品本体の保持ヘッドによる保持位置やリード線の本体に対する取付け位置にズレがあったり、リード線に曲がり等があれば、リード線を所定の接続位置に精度良く挿入することができない。
【０００３】
このために、従来からリード線の位置ズレや曲がりを検出し、挿入位置を補正する方法や、リード線に挿入不可能なほどの位置ズレがある場合にはその電子部品を廃棄したり、リード線の曲がりを矯正する方法等、適宜の処理が行われている。
【０００４】
従来の電子部品におけるリード線の位置を検出する方法としては、電子部品の本体に設けられたリード線の長手方向と直交する切断平面における断面の像を、その切断平面内の３方向以上からリード線の像を撮像して得たデータを処理することにより、リード線の位置を取得するものがあった（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
図１０は、特許文献１に記載された従来の電子部品のリード線位置を検出する装置を示すものである。図１０に示すように、電子部品１は、電子部品本体部３を図示されていない駆動系によって保持されており、電子部品本体部３から、出ているリード線２の位置を検出している。
【０００６】
この撮像方法において、レーザダイオード等の発光部４より出射された光は、第１レンズ部５により平行な光に変換される。その平行光の部分に、電子部品１のリード線２を置き、そのリード線２の影響を受けた平行光が、第２レンズ部６によってリニアイメージセンサ等の受光部７に収まるように変換される。そして、その受光部７のデータは、撮像時の回転部８のデータと合わせて、デジタルデータとして、制御装置９に格納される。
【０００７】
この撮像方法において、電子部品１のリード線２のある部分が、リード線２のない他の部分とは異なるデータの形で受光部７にて撮像することが可能となる。
【０００８】
さらに、図１１は図１０の回転部８が回転して、（ａ）角度０度，（ｂ）角度４５度，（ｃ）角度９０度のときのリード線２の受光状態と、検出方法を説明する図である。
【０００９】
ここでは、電子部品１として４本の足のある部品を想定している。まず、図１１（ａ）に示す角度０度のときには、受光部７に、角度０度のデータ１１が入力される。次に、回転部８を図１１（ｂ）に示す４５度に回転させたときに、受光部７に角度４５度のデータ１２が入力される。次に、回転部８を図１１（ｃ）に示す９０度に回転させたときに、受光部７に角度９０度のデータ１３が入力される。
【００１０】
そして、各データを、元の電子部品１のリード線２があった２次元空間１４に、投影し、各角度のデータが重なった部分に、検出リード線１５があると、計測される。この検出リード線１５のデータと、基準のデータとの差分により、電子部品１の挿入位置を補正し、挿入を行っていた。
【特許文献１】特許第２８９９１２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、前記従来の構成では、対象物もしくは測定部を回転させる必要があって、回転中心の位置ズレ誤差，回転部の倒れ方向の誤差をなくすことが困難であり、検出精度を劣化させるという第１の課題がある。また、測定部のＺ方向の１断面しか測定していないため、対象が傾いていたときに、リード線の長さが異なっていた場合には、正確に先端位置を検出することができないという第２の課題がある。また、多リード（２列）部品において撮像回数を少なくすると、検出精度が低下するという第３の課題を有していた。
【００１２】
特に、第３の課題の具体的例としては、図１１（ａ）〜（ｃ）に示す右上の検出リード線１５が、元々存在していなかった場合には、図示した３回の撮像では、リード線がないということを検出することができない。
【００１３】
本発明は、前記従来技術の問題を解決することに指向するものであり、電子部品のリード線位置の検出精度を向上したリード線位置検出方法および装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
前記の目的を達成するために、本発明に係る請求項１に記載したリード線位置検出方法は、リード線付き部品のリード線の位置を検出するリード線位置検出方法であって、第１光源から出射した光を第１ミラーで反射し、第１ミラーで反射した光をリード線に照射し、リード線を透過した光を第２ミラーで反射し、第２ミラーで反射した光を撮像手段で撮像する第１撮像工程と、第２光源から出射した光を第２ミラーで反射し、第２ミラーで反射した光をリード線に照射し、リード線を透過した光を第１ミラーで反射させ、第１ミラーで反射した光を撮像手段で撮像する第２撮像工程と、第１撮像工程および第２撮像工程を同時に実施して、リード線の位置を示す画像を撮像手段により撮像し、撮像した画像によりリード線の位置を検出する位置検出工程とを有することを特徴とする。
【００１５】
また、請求項２〜５に記載したリード線位置検出方法は、請求項１のリード線位置検出方法であって、リード線の位置検出工程は、位置検出に加えてリード線長手方向の部品との角度を検出すること、さらに、第１ミラーと第２ミラーの成す角度が、２０度以上９０度未満であること、さらに、第１光源と第２光源から出射する光の色周波数を異なる周波数とし、撮像手段において特定の色を抽出した光の画像を撮像すること、さらに、撮像手段の撮像した画像を表示手段により表示し、第１ミラーと第２ミラーの成す角度の変更、あるいは撮像手段の撮像領域の変更を行うことを特徴とする。
【００１６】
また、請求項６に記載したリード線位置検出装置は、リード線付き部品のリード線の位置を検出するリード線位置検出装置であって、リード線付き部品を保持する保持手段と、保持手段を移動させる移動手段と、第１光源と、第２光源と、第１光源から出射した光を反射する第１ミラーと、第２光源から出射した光を反射する第２ミラーと、第１光源から第１ミラーを経てリード線を透過し第２ミラーで反射した光、および第２光源から第２ミラーを経てリード線を透過し第１ミラーで反射した光を同時に撮像する撮像手段と、第１ミラーを移動させる第１ミラー移動手段と、第２ミラーを移動させる第２ミラー移動手段と、撮像手段で撮像した画像を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする。
【００１７】
前記の方法および装置によれば、電子部品のリード線位置を高精度に検出することができる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、回転誤差、部品の傾きおよびリード線の長短の影響を受けることなく、リード線の位置および傾きを高精度に検出することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、図面を参照して本発明における実施の形態を詳細に説明する。
【００２０】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１におけるリード線位置検出装置を示す構成図である。ここで、前記従来例を示す図１０において説明した構成要件に対応し同等の機能を有するものには同一の符号を付して示し、その重複する説明は省略する。
【００２１】
図１において、電子部品１は、図示していない供給ユニット（保持手段）の把持部２１により電子部品本体部３を把持され、図示していないＸＹ（横移動），Ｚ（上下），Ｒ(回転)の自由度を持つ駆動系により、リード線位置検出を行う位置に移動していることを示す。
【００２２】
図１に示すように、第２ミラー部（第２ミラー）２３には、第１照明部（第１光源）２４から第１ミラー部（第１ミラー）２２を介して、電子部品１のリード線２の影響を受けた光が入る。同様に、第１ミラー部（第１ミラー）２２には、第２照明部（第２光源）２５から、第２ミラー部（第２ミラー）２３を介して、電子部品１のリード線２の影響を受けた光が入る。
【００２３】
また、撮像手段である撮像部２６は、第１ミラー部２２と第２ミラー部２３に写された画像を２次元データとして取得する。制御装置１９は、撮像部２６のデータと第１，第２ミラー部２２，２３の成す角度情報より、リード線位置の演算を行う。
【００２４】
さらに、この光学系について、図２（ａ），（ｂ）、図３を用いて詳細な説明を行う。図２（ａ）は、図１に示す第１，第２ミラー部２２，２３のＺ方向において、ＸＹ平面での＋Ｚ方向から−Ｚ方向を見た図、図２（ｂ）は、図２（ａ）の矢印Ｂ方向からＹＺ平面の第１ミラー部，第１照明部を見た図である。
【００２５】
図２（ａ）において、第１照明部２４は、発光させた光を、第１ミラー部２２に反射させて、電子部品１のリード線２の影を第２ミラー部２３に写す機能を有している。リード線２の全てをカバーするために、十分な長さを有しており、ＸＹ平面に長く、均一でむらの少ない白色ＬＥＤ照明を用いている。別の方法の照明としては、ハロゲン照明のライトガイドを用いて所定の位置に設置し、拡散板などで、均一性を上げる使い方をしても良い。
【００２６】
また、第１，第２ミラー部２２，２３は、白色ＬＥＤを用いているので、可視光領域の光を全て９９％以上で反射する材料を用い、面粗さを極力小さくするために、ガラスを基材として用いている。
【００２７】
次に、ミラー部，照明部の配置は、測定対象である電子部品、例えばコネクタのリード線の配置により決定されるので、コネクタのリード線の配置も含めた説明を行う。
【００２８】
コネクタの多くは、リード線が２列になっている場合、１列目のリード線間のピッチが２ｍｍだとすると、２列目との列間ピッチも２ｍｍになっている場合が多い。このために、４５度の角度を付けて、コネクタを横から見ると、ちょうどリード線が重なるという状態になる。そこで、１列のリード線とリード線の間に、２列目のリード線を見るようにするためには、４５度の半分の２２．５度付近が良い角度となる。ただし、リード線には太さがあるので、今回の説明では、２５度の角度を設定角度とした。
【００２９】
図２（ａ）における２５度は、コネクタ（電子部品１）をＹ軸の原点とすると、第２ミラー部２３は＋Ｘ方向に２５度、第１ミラー部２２は−Ｘ方向に２５度の角度に設置した。また、第１，第２ミラー部２２，２３間のＸ方向の距離は、対象物の全景が撮像できる距離とした。
【００３０】
照明部のＸＹ空間での位置は、第２ミラー部２３にコネクタの全リード線が入り第２ミラー部２３に垂直に光を入れるためには、第１ミラー部２２から４０度の角度で入射させる必要があり、さらに、第１照明部２４は、第１ミラー部２２に対して、４０度の角度で第１ミラー部２２に入射させる必要がある。このため第１照明部２４の角度は、ミラー部のＹＺ平面において、図２（ｂ）に示すように第１ミラー部２２対して４０度の角度になるように配置している。これは、第２照明部２５においても同様である。
【００３１】
また図３は、図２（ａ）に示すＡ−Ａ’断面において、ＸＺ平面において−Ｙ方向から＋Ｙ方向を見た図である。第１，第２ミラー部２２，２３ともに、ＸＹ平面に対して反射する面が４５度の角度を持った位置に配置してある。そのため、第１照明部２４は、第１ミラー部２２に対して、ＸＺ平面において、第１ミラー部２２から第１照明部２４への端同士での距離が異なることから、その異なる距離の長さに比例して、第１照明部２４を傾けて配置する必要がある。これは、図示しないが第２照明部２５も同様の配置をとる必要がある。
【００３２】
ここで、撮像部２６は、２次元情報を取得できるＣＣＤカメラを用いている。ＣＤカメラに用いたレンズでは、電子部品１のリード線２の位置が、焦点位置からずれる光学系において、テレセントリックレンズを用いて、被写界深度の影響を少なくするばかりでなく、透過照明系を用いることで、レンズの絞りを上げて、さらに被写界深度の影響を少なくしている。なお、カメラはＣＭＯＳカメラを用いても良い。
【００３３】
次に、リード線の３次元位置検出方法について、図４，図５を用いて説明する。図５に示すフローチャートのデータ取得処理（Ｓ１）では、図４に示すような、撮像エリア２９内の画像を取得する。
【００３４】
先端位置計測処理（Ｓ２）では、第１，第２ミラー部２２，２３に写った２つの部分のみについて、リード線位置の計測を行う。
【００３５】
具体的には、１つ目の部分として、リード線の各先端位置であるＴｎと、その位置からリード線の高さ方向に３〜５画素の部分でのリード線の境界位置Ｐ１Ａｎ，Ｐ１Ｂｎを求める（ここで、ｎ＝１−１，１−２，…，２−１，２−２，…：各列毎の順番を示すリード線）。各点は、画像エリア２９内での画素データとして計測され、Ｘ方向とＹ方向の成分を持つ。この３〜５画素の設定データは部品により任意に設定可能である。
【００３６】
また、２つ目の部分として、リード線の境界位置Ｐ１ＡｎとＰ１Ｂｎからさらに１０画素の部分でリード線の根元方向にずれた地点でのリード線の境界位置Ｐ２Ａｎ，Ｐ２Ｂｎを求める。同様に各点は、画像エリア２９内での画素データとして計測され、Ｘ方向とＹ方向の成分を持つ。ここで１０画素としたズレ量も部品により任意に設定可能である。
【００３７】
図６は撮像エリア内の各ミラー部におけるミラー基準座標を説明する図である。図６に示すように、基準となるピンα，βを設けた基準治具を保持手段（把持部）により保持して所定の基準位置に移動させ、撮像した画像のミラー上（第１，第２ミラー部２２，２３）でのピンαの先端位置（ＴＡα，ＴＢα）をＡ，Ｂ基準点とする。なお、保持手段は基準治具のピンα，βの中心が撮像中心に位置するようにした所定の基準位置に移動する。
【００３８】
そして、図６に示す第１，第２ミラー部２２，２３に写った基準治具のピンα，βの先端位置（撮像エリア２９内の座標：ＴＡα，ＴＡβ，ＴＢα，ＴＢβ）から各ミラー上でピンα，βの先端位置を結んだ線分を各ミラー基準座標のＡＸ，ＢＸ軸方向とする。このＡＸ，ＢＸ軸方向は第１，第２ミラー部２２，２３の長手方向と平行となる。
【００３９】
データ変換処理（Ｓ３）では、図４に示した第１，第２ミラー部２２，２３の各ミラーに写ったリード線の各先端位置を、撮像エリア２９における位置データ（ＴＡｎ、ＴＢｎ）から、第１，第２ミラー部２２，２３の反射画像でミラー内のＡ，Ｂ基準点を基準として、ミラー部の長手方向をＡＸ方向およびＢＸ方向、短手方向をＡＹ方向およびＢＹ方向とした座標（ミラー基準座標）に座標変換を行う（ＭＴＡｎ、ＭＴＢｎ）。
【００４０】
位置演算処理（Ｓ４）では、まず、変換後のデータにおいて、ミラー基準座標のＡＹ，ＢＹ方向成分が、対象リード線の実空間でのＺ方向の位置を表すので、２つのミラーのＡＹ，ＢＹ方向成分の平均値の画素データに、実空間への変換係数をかけて、各リード線の先端位置のＺ方向を全て求める。
【００４１】
次に、リード線の実空間でのＸＹ位置を求める方法を説明する。まず、第１ミラー部２２のリード線と、第２ミラー部２３のリード線のどれとどれが対応するか測定データベースから求める。これにより第１ミラー部２２の２本目と、第２ミラー部２３の１本目が、リード線（１−１）であることが分かっている。
【００４２】
そこで、第１ミラー部２２におけるリード線（１−１）の先端位置ＴＡの座標（ＴＡ１−１．Ｘ）と（ＴＡ１−１．Ｙ）より、ミラー角度２５度を用いて、測定対象のリード線への線分の式を導く。その線分は、（数１）
【００４３】
【数１】
2008128865.tif 000003
となり、（数２）
【００４４】
【数２】
2008128865.tif 000004
となる。
【００４５】
次に、第２ミラー部２３におけるリード線（１−１）の先端位置ＴＢの座標（ＴＢ１−１．Ｘ）と（ＴＢ１−１．Ｙ）より、ミラー角度２５度を用いて、また撮像中心に対して逆となることから線分は（数３）
【００４６】
【数３】
2008128865.tif 000005
となり、（数４）
【００４７】
【数４】
2008128865.tif 000006
となる。
【００４８】
ここで、求めた線分の交点で検出リード線の位置を（Ｐ１−１．Ｘ），（Ｐ１−１．Ｙ）とすると（数５）
【００４９】
【数５】
2008128865.tif 000007
を解くことで、（Ｐ１−１．Ｘ）と（Ｐ１−１．Ｙ）が（数６）
【００５０】
【数６】
2008128865.tif 000008
より求まる。
【００５１】
これを、全てのリード線で演算することにより、各リード線のＸＹの画素データ位置が求まり、さらに基準位置からの相対位置に変換し、実空間への変換係数をかけて、実空間でのＸＹ位置が求まる。これにより、各リード線の先端位置でのＸＹＺ位置を求めることができる。
【００５２】
次に、リード線の境界位置Ｐ２Ａｎ，Ｐ２Ｂｎ（根元位置）の座標を用いて、前記と同様のリード線の位置演算を用いることで、リード線上のある一定の位置（根元）のＸＹ位置が求まる。先に求めたリード線の先端位置Ｔｎと、求めたリード線上の位置（Ｐ２Ａｎ，Ｐ２Ｂｎ）により、リード線の傾き方向を求めることができる。
【００５３】
判定処理（Ｓ５）では、各リード線位置の理想データに対してのズレ量を計算し、閾値により判断して、そのまま部品実装の挿入動作をさせるか、廃棄、修正するかの判定を行うことができる。そして、ズレ量が一定量以下のとき（処理Ｓ５のＹｅｓ）、次の処理を行う。
【００５４】
位置補正処理（Ｓ６）では、リード線先端位置の重心位置を用いて補正を行い、さらにリード線の傾き方向の平均値を用いて、挿入動作を実行する。この際、位置の補正方法としては、各リード線と穴位置との誤差を最小２乗法で求めて、挿入位置を補正しても良い。
【００５５】
リード線の位置検出後は、電子部品１は、図示していない、ＸＹ（横移動），Ｚ（上下），Ｒ(回転)の自由度を持つ駆動系により、リード線位置の補正演算を実施し、プリント基板上に移動し、プリント基板の対象物である実装位置に挿入される。
【００５６】
また、判定処理（Ｓ５）において、ズレ量が一定量以下でないとき（処理Ｓ５のＮｏ）、修正回数判定処理（Ｓ７）による判定処理を行い、リード線の位置ズレや曲がりを修正する機構の処理が所定のｍ回以上実施したかを確認し、ｍ回未満のとき（処理Ｓ７のＮｏ）、リード線の位置ズレや曲がり修正機構の修正処理（Ｓ８）を実施し、データ取得処理（Ｓ１）に戻り前述した処理を繰り返す。そして、ｍ回以上のときには（処理Ｓ７のＹｅｓ）、実装する電子部品１を廃棄する。
【００５７】
なお、修正機構を備えていない場合には、修正回数判定処理（Ｓ７）に代えて、例えば把持部２１の保持する電子部品１を保持し直しを行って、これを所定回数（２〜３回）実施したことを判断して修正、廃棄しても良い。
【００５８】
また、図７に本実施の形態１のリード線位置検出装置を備えた電子部品実装装置の（ａ）は正面図、（ｂ）は断面図を示す図である。図７（ａ）に示すように、電子部品１を供給装置１６から把持部２１により保持し、プリント基板１７上の対象物となる実装位置に搬送、装着を行う。この際、電子部品１を保持する把持部２１は、移動手段である移載装置（２０ａ：Ｘ方向、２０ｂ：Ｙ方向、２０ｃ：Ｚ，θ方向）２０により供給装置１６から認識部２８を経てプリント基板１７上に移動する。
【００５９】
この部品実装における移動の際に、図７（ｂ）に示すように、制御装置１９で制御される認識部２８において、前述した第１，第２ミラー部２２，２３、第１，第２照明部２４，２５、撮像部２６を用いて、電子部品リード線２の位置、方向等を検出および補正して、誤差のない確実な実装処理を可能とする。
【００６０】
以上の構成によれば、コネクタ等の足が２列である部品においても、ミラーを狭角度に配置し、そのミラーを照明の反射にも用いて、さらに、透過照明方式を用いて、被写界深度を高め、対象物や測定系の移動を伴わない誤差成分の少ない光学系を用いることで、高速で高精度な、電子部品のリード線位置検出を実現することができる。
【００６１】
その他、特許請求の範囲を逸脱することなく、当業者の知識に基づいて種々の変形，改良を施した態様であっても本発明を実施することができる。
【００６２】
（実施の形態２）
図８は本発明の実施の形態２におけるリード位置検出装置を示す構成図である。図８において、前述の図１で説明した構成要件に対応し同等の機能を有するものには同一の符号を付して示し、その重複する説明は省略する。また、図９は光学系（ミラー部、照明部）の移動手段である駆動系を示す構成図である。
【００６３】
本実施の形態２を示す図８，図９は、主に対象部品（電子部品１）のサイズ，リード線のピッチ等が変わった場合への対応について記載している。
【００６４】
図８に示すように、表示装置３０は、撮像部２６のデータを常に表示する機能を有し、図９に示す開閉調整機構３５は、２つのミラー（第１，第２ミラー部２２，２３）の傾き角度を維持したまま、撮像中心位置を中心としてミラー間の距離を同時に変更する機能を有している。これは、対象とする電子部品１のサイズが変わった場合に使用する。
【００６５】
また、角度調整機構３６は、対象電子部品１の２列間におけるリード線２間のピッチが、１列上のリード線２間のピッチと異なる場合に用いられ、２つのミラーを同時移動し、かつ撮像中心に対し同一角度に設定する機能を有し、この角度調整機構３６は、ミラー間の角度を２０度から９０度の間で調整する機能を有する。
【００６６】
開閉調整機構３５と角度調整機構３６を用いて２つのミラー間の距離やミラーの傾き角度を調整しているが、第１ミラー部２２と第２ミラー部２３の夫々に移動手段を設けて、個別にミラーの角度や位置を変更しても良い。
【００６７】
照明調整機構３７は、開閉調整機構３５と角度調整機構３６を用いて、ミラー配置を変更した際に、撮像部２６に最適の画像を取得できるように調整する機能を有し、第１，第２照明部２４，２５のＸＹＺ位置だけでなく、ＸＹ平面に対する角度とＸＺ平面に対する角度をも調整できる機能を有する。
【００６８】
また、図８の撮像部２６に設けたズーム機能３１は、電子部品１のサイズ，リード線２のピッチが変わり、開閉調整機構３５と角度調整機構３６によって、ミラー位置を変更した場合に、撮像エリアを変更する必要があるときに用いられ、最適な視野サイズを確保する機能を有する。
【００６９】
電子部品１のサイズ、リード線２のピッチの変更に伴う光学系の変更時には、常に撮像状態を表示しており、表示装置３０の画面を見ながら調整することができ、調整の簡易化を図ることが可能である。また、表示装置３０には、検出されたリード線２のＸＹ位置を表示する機能も有し、認識状態の確認を行うこともできる。
【００７０】
図８，図９に示す各調整機構の構成として、今回は手動で調整する方法を説明したが、調整機構の駆動部分にモータ等の駆動装置を設け、ズーム，開閉，角度をモータにより自動でセットしても良い。また、電子部品１のＣＡＤデータを元に、各調整機構の位置を自動で設定する機能を用いても良い。
【００７１】
また、電子部品１のリード線２の形状によっては、第１照明部２４の照明が、第１ミラー部２２に反射した後に、電子部品リード線２に反射して、また第１ミラー部２２に戻り、撮像部２６で取得したリード線２の内部が光って写る場合もある。
【００７２】
リード線２が光ると、認識時にリード線２の位置を誤認識する可能性がある。このような場合には、第１，第２照明部２４，２５を、補色関係の色をセットとして用いて、例えば、第１照明部２４には青色、第２照明部２５には赤色を用いて照射を行い、第２ミラー部２３から撮像部２６の間に青色を透過させる第２光学フィルタ３３を用いて、青色のみのデータを取得する。同様に第１ミラー部２２から撮像部２６の間に赤色を透過させる第１光学フィルタ３２を用いて、赤色のみのデータを取得する。
【００７３】
すなわち第１照明部２４と第２照明部２５から出射する色周波数を異なる周波数にして、撮像部２６で特定の色を抽出し所望の色のデータを取得する。この構成によって、リード線２において他方向からの反射光の影響を排除することができる。また、撮像部２６にカラーＣＣＤカメラを用いて、光学フィルタを用いずに、色相の差によって、リード線の反射の影響を排除しても良い。
【００７４】
また、本実施の形態２における電子部品のリード線の位置および長手方向の角度を検出する処理は、前述した実施の形態１において説明した処理と同様なため、その説明は省略する。
【産業上の利用可能性】
【００７５】
本発明に係るリード線位置検出方法および装置は、回転誤差、部品の傾きおよびリード線の長短の影響を受けることなく、リード線の位置および傾きを高精度に検出することができ、リード線付き部品におけるリード線の位置を検出として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明の実施の形態１におけるリード線位置検出装置を示す構成図
【図２】本実施の形態１におけるリード線位置検出装置のミラー部、照明部で（ａ）はＸＹ平面の配置、（ｂ）は（ａ）の矢印Ｂ方向からのＹＺ平面の配置を示す図
【図３】本実施の形態１におけるリード線位置検出装置のミラー部、照明部のＸＺ平面の配置を示す図
【図４】本実施の形態１におけるリード線位置検出装置の位置検出を説明する図
【図５】本実施の形態１におけるリード線位置検出装置の位置検出のフローチャート
【図６】本実施の形態１における撮像エリア内の各ミラー部でのミラー基準座標を説明する図
【図７】本実施の形態１のリード線位置検出装置を備えた電子部品実装装置の（ａ）は正面図、（ｂ）は断面図
【図８】本発明の実施の形態２におけるリード線位置検出装置を示す構成図
【図９】本発明の実施の形態２におけるリード線位置検出装置の光学系調整機構を示す図
【図１０】従来の電子部品リード線の位置を検出する装置を示す図
【図１１】従来の電子部品リード線の検出方法で（ａ）は角度０度、（ｂ）は角度４５度、（ｃ）は角度９０度の検出を説明する図
【符号の説明】
【００７７】
１  電子部品
２  リード線
３  本体部
４  発光部
５  第１レンズ部
６  第２レンズ部
７  受光部
８  回転部
９，１９  制御装置
１１  角度０度のデータ
１２  角度４５度のデータ
１３  角度９０度のデータ
１４  ２次元空間
１５  検出リード線
１６  供給装置
１７  プリント基板
２０  移載装置
２０ａ  移載装置（Ｘ方向）
２０ｂ  移載装置（Ｙ方向）
２０ｃ  移載装置（Ｚ，θ方向）
２１  把持部
２２  第１ミラー部
２３  第２ミラー部
２４  第１照明部
２５  第２照明部
２６  撮像部
２８  認識部
２９  撮像エリア
３０  表示装置
３１  ズーム機構
３２  第１光学フィルタ
３３  第２光学フィルタ
３５  開閉調整機構
３６  角度調整機構
３７  照明調整機構
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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