(57)【要約】【課題】効率的で多機能化を図った選別装置を提供する。【解決手段】インデックステーブルは、周縁部に設けられた複数のワーク収納溝と、基準となる溝番号に対応した検知用穴を備える。かかるインデックステーブルが搭載可能にされる。検知手段は、上記検知用穴を検知する。表示手段は、上記インデックステーブルに設けられたワーク収納溝番号の一覧と、上記検知手段からの検知信号に対応してパーツフィーダ部の溝番号を含む特定の位置の溝番号を表示する。操作パネルは、上記表示手段に表示された特定の位置の溝番号に対して特定の制御動作を設定する。制御部は、上記検知手段の検知信号を基に上記操作パネルにより設定された特定の位置の溝番号に対して特定の制御動作を行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
周縁部に設けられた複数のワーク収納溝と、基準となる溝番号に対応した検知用マークを備えたデバイス搬送用のインデックステーブルが搭載可能にされ、
上記検知用マークに対応した検知手段と、
上記インデックステーブルに設けられたワーク収納溝番号の一覧と上記検知手段からの検知信号に対応してパーツフィーダ部の溝番号を含む特定の位置の溝番号とを表示する表示手段と、
上記表示手段に表示された特定の位置の溝番号に対して特定の制御動作を設定する操作パネルと、
上記検知手段の検知信号を基に上記操作パネルにより設定された特定の位置の溝番号に対して特定の制御動作を行う制御部とを備えた選別装置。
【請求項２】
請求項１において、
上記制御部による特定の制御動作は、設定された溝番号に対するパーツフィーダ部でのデバイス供給を停止する動作を含む選別装置。
【請求項３】
請求項１において、
上記インデックステーブル周りには、デバイスの電気的特性を試験する複数の試験手段、外観検査用カメラ及び不良デバイス回収部を有し、
上記表示手段は、特定の試験手段又はカメラに対応された溝番号を上記操作パネルの設定に対応して選択的に表示する選別装置。
【請求項４】
請求項１において、
上記インデックステーブル周りに設けられる試験手段、外観検査用カメラ及び不良回収部の最後の部分には、良品デバイスをテーピングするテーピング部を更に有する選別装置。
【請求項５】
請求項３において、
表示手段は、上記操作パネルの設定により外観検査カメラの映像信号の表示も可能とされる選別装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、選別装置に関し、例えばＣＳＰタイプのデバイスの選別とテーピングを行うものに適用して有効な技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
微小電子部品、チップ型電子部品等の電子部品を、周縁部に設けられた複数のワーク収納部に収納してインデックスしながら回転搬送するターンテーブル装置及びターンテーブルの管理方法として特開２００３−０９５４２７号公報がある。同公報の技術では、ターンテーブルの収納部の折損をカメラで監視し、当該欠陥収納部を無効収納部として登録するというものである。
【特許文献１】特開２００３−０９５４２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
前記特許文献１においては、ターンテーブルの収納部の折損をカメラで監視し、当該欠陥収納部を無効収納部とするものである。この構成は、１つにカメラを収納部の折損の監視にしか用いていないので、カメラの利用効率が極めて悪い。つまり、上記カメラは、何時発生するかも知れない収納部の折損を常時監視する必要がある。しかしながら、上記収納部の折損は、それほど頻繁に発生するものではない。ターンテーブルの取り扱い時の落下やデバイス搬送時の収納部でデバイスを噛込むことにより欠損すること等のような場合に限られる。上記取り扱い時での欠損は、それを装着する前に欠損の有無は判っているので、上記カメラでの監視は不要である。また、上記収納部でデバイスを噛込んだときには、回転搬送動作を停止させるなどの安全対策、あるいは警報表示等により欠損の有無を知ることができる。そこで、本願発明者においては、上記欠陥収納部を無効収納部にする機能を含めて、設備の合理化や多機能化を図った選別装置の開発に至った。
【０００４】
本発明の目的は、効率的で多機能化を図った選別装置を提供することにある。この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本願における実施例の１つは下記の通りである。インデックステーブルは、周縁部に設けられた複数のワーク収納溝と、基準となる溝番号に対応した検知用穴を備える。かかるインデックステーブルが搭載可能にされる。検知手段は、上記検知用穴を検知する。表示手段は、上記インデックステーブルに設けられたワーク収納溝番号の一覧と、上記検知手段からの検知信号に対応してパーツフィーダ部の溝番号を含む特定の位置の溝番号を表示する。操作パネルは、上記表示手段に表示された特定の位置の溝番号に対して特定の制御動作を設定する。制御部は、上記検知手段の検知信号を基に上記操作パネルにより設定された特定の位置の溝番号に対して特定の制御動作を行う。
【発明の効果】
【０００６】
上記表示手段の表示機能によりインデックステーブルの欠陥溝の検出及び無効化の設定や溝番号を用いた異種デバイスの試験等の多機能化ができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
図１には、この発明に係る選別テーピング装置の一実施例の概略外観図が示されている。１は、選別テーピング装置の全体を示す。２は、パーツフィーダ部であり、デバイス（ワーク）のインデックステーブル３への供給が行われる。このインデックステーブル３の周辺部には、後に図３を用いて説明するデバイスの電気的特性を試験する複数の試験手段、外観検査用カメラ等が配置される。４は、試験結果により良品とされたデバイスをテーピングするテーピング部である。テーピングされたデバイスは、リール７により巻き取られる。８は、不良デバイスの回収部であり、上記試験結果に対応した不良の種類に対応した複数の回収ボックスを有している。点線で示した６は、テープ９を供給する供給リールである。
【０００８】
この実施例では、表示装置５が設けられる。表示装置５は、表示画面とその下部に操作パネル（キーボック）を有する。選別テーピング装置１には、内部に上記パーツフィーダ部２、インデックステーブル３及び試験手段やリール６，７を含めた装置全体の動作を制御する制御部が設けられている。そして、１０は、装置の動作状態や異常を示すシグナルタワーである。
【０００９】
図２には、上記表示装置５の表示画面の表示例が示されている。例えば、搭載されたインデックステーブル３が１００個の溝を有するものでは、００１〜１００までの１００個の溝番号一覧５２が表示される。表示画面上部には、現在位置５１として、溝番号及びかかる溝番号の該当場所（例えばＰＳ１）が表示される。また、表示画面下部には、キャンセル部５３として欠損による無効溝番号（例えば０２２，０２３）が表示される。特に制限されないが、上記溝番号一覧５２において、上記無効溝番号（例えば０２２，０２３）に対応したものは、カラー表示等により色ないし明度が他の溝番号の表示と異なるようにされている。
【００１０】
図３には、図１のインデックステーブルと周辺部の概略構成図が示されている。インデックステーブル３の周辺には、デバイス供給部ＰＳ１、試験装置ＰＳ４〜ＰＳ６、カメラＰＳ７，８等が設けられる。上記デバイス供給部ＰＳ１に対応して、パーツフィーダ部２が設けられる。パーツフィーダ部２は、デバイス有無確認透過センサやパーツフィーダデバイス方向確認用反射センサ、インデックステーブル確認反射センサＳ１〜Ｓ３、デバイス吹き落としノズルＮを有している。上記デバイス供給部ＰＳ１は、ポジション１とされて、それを基準にして上記インデックステーブルが時計周り方向で約２７０°回転したボジションＰＳ１０までの間に、次のような各種装置が配置される。
【００１１】
上記ポジションＰＳ１は、前記のようなデバイス供給部であり、上記パーツフィーダ部２でデバイスの上下方向を揃えられてインデックステーブル溝３に収まり、その回転に対応して搬送される。第２番目のポジションＰＳ２は、ダイオードのＰ／Ｎ（極性）判定が行われる。つまり、ダイオードの両電極に電圧を印加して電流が流れるか否かの判定が行われる。第３番目のポジションＰＳ３は、デバイスのローテーションが行われる。上記Ｐ／Ｎ判定で電流が流れたものは、このボジションＰＳ３に設けられたローテーション手段によりデバイスを溝から取り込み１８０°回転させて溝に戻すという動作を行う。
【００１２】
第４番目のポジションＰＳ４は、電気特性検査（１）を行う。この電気的特性（１）は、容量測定（キャパシンタンスチェック）とされる。第５番目のポジションＰＳ５は、電気特性検査（２）を行う。この電気的特性（２）は、ＤＣ（直流）測定（ＩＲ１，ＶＦ１等）である。第６番目のポジションＰＳ６は、電気特性検査（３）を行う。この電気的特性（３）は、ＤＣ（直流）測定（ＩＲ２，ＶＦ２等）である。
【００１３】
第７番目のポジションＰＳ７は、カメラによる外観検査（上面）を行う。パッケージマーク面の外観検査を行う。第８番目のポジションＰＳ８は、カメラによる外観検査（裏面）を行う。パッケージ電極面検査を行う。第９番目のポジションＰＳ９は、不良回収部であり、この実施例では丸付き数字４ないし８に示すように不良５分類にデバイスを分けて前記図１の回収部に落下させる。そして、第１０番目のポジションＰＳ１０は、テーピング挿入部であり、良品デバイスをテーピング装置でテーピングする。このようにテーピングされたデバイスはリールに巻き取られる。
【００１４】
この実施例では、上記インデックステーブルの各溝と周辺部のポジションＰＳ１〜ＰＳ１０との対応を採るために、インデックステーブル３には、溝の基準位置を示すための反射センサ通過穴ＲＥＦが設けられる。この通過穴がセンサで検知されたときのポジションＰＳ１に対応した溝が、例えば溝番号００１と決められる。そして、表示装置５の現在位置を第１番目のポジションＰＳ１とすると、ＰＳ１に対応した溝番号が図２のように０５７（ＰＳ１）と表示される。
【００１５】
上記のような表示装置５により、特定のポジションでの溝番号を表示させることにより、インデックステーブル溝の任意の番号の溝に供給したデバイスを、指定されたステーションで処理・回収を個々に出来るようにする。この実施例の選別テーピング装置を量産デバイスの選別テーピングに用いることの他、複数種類の試作品の特性チェックに用いることができる。つまり、ポジションＰＳ１の溝番号を知ることにより供給された各デバイス番号を付したことと等価となり、指定されたステーション（試験装置）で処理・回収を個々に出来る。このようにインデックステーブル溝番号毎に、デバイスを指定供給・各ステーションでの処理を指定し、回収場所も指定できるので試作品評価・繰り返し評価などが効率よく出来る。この結果、量産デバイスの選別とテーピングの他に、上記のような新たな用途にも使用できるので、選別テーピング装置の多機能化、多用途化が図られて稼働効率を高めることができる。
【００１６】
インデックステーブルの取り扱い時の落下やデバイス搬送時の収納部でデバイスを噛込むことにより欠損が生じた場合には、かかるインデックステーブルを搭載して、デバイスを供給しないで前記外観検査カメラにより、溝の拡大画面を表示させるとともに、カメラ（ＰＳ７又はＰＳ８）の溝番号を表示させる。これにより、溝の拡大画面から欠損の有無を確認し、欠損を発見すると画面上に溝番号が表示されるので、当該溝番号をキャンセル部に登録する。上記インデックステーブルを１周りさせることにより、溝欠損の有無とそれを無効化（キャンセル）させるための登録を間違いなく同時に行うことができる。
【００１７】
このようにインデックステーブル溝が欠損しても設備を一時的にしか停めないで生産を継続させることができる。インデックステーブルの欠損した溝番号を操作パネルにて設定するのみで生産継続でき夜間・休日関係なく生産継続可能である。これにより、インデックステーブルの交換頻度も大幅に低減させることができる。
【００１８】
図４には、この発明に用いられるインデックステーブルの一実施例の平面図が示されている。インデックステーブル３は、例えばセラミック等の材料により形成されており、周縁部に設けられた複数のワーク収納溝が設けられる。同図では、代表として４個の溝が示されている。中心部は、選別テーピング装置に取り付けるための取付穴が設けられる。そして、前記溝の基準位置を示すための反射センサ通過穴ＲＥＦが設けられる。
【００１９】
ＣＳＰタイプのデバイスがインデックステーブル溝に引っ掛かるトラブルが発生すると、同図に示されているようにインデックステーブル溝が欠けることがある。１００個ある溝の１個が欠損しただけでも従来の選別テーピング装置は、装置は稼動できなくなる。また、１枚が約２５０Ｋ円程度と高価であることと、インデックステーブル交換は、各検査ユニットが周りに密集して取付いてあるため交換に時間が係る。この実施例では、上記トラブルが発生すると、インデックステーブル交換を行うことなく、前記カメラ等で溝番号を検知し、それを無効化する、つまりはデバイスの供給を停止させることにより、簡単に対応することができる。
【００２０】
図５には、ＣＳＰレジンタイプのＰＩＮダイオードの外観図が示されている。このＰＩＮダイオードは、同図に寸法の例を示したような小型電子部品であり、それが図４に拡大して例示的に示されているように溝に収まって、前記搬送が行われるものである。
【００２１】
以上本発明者によってなされた発明を、前記実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。例えば、表示装置は、インデックステーブルに設けられた全溝の一覧の表示を省略して、各ボジション毎の溝番号を順次に表示するものであってもよい。あるいは、上記溝番号の一覧に、色分けにより各ポジションにある溝をリアルタイムで表示させるようにするもの等種々の実施形態を採ることができる。インデックステーブルに設けられる溝番号を特定するための検知用穴は、それ以外の突起や目印等であってもよい。この発明では、マークは上記検知用穴を含めた突起や目印等のように広い意味で用いている。インデックステーブルの周りに設けられる検査ユニットの具体的構成は、測定されるデバイスに対応して種々の実施形態を採ることができる。この発明は、インデックステーブルを用いる小型デバイス選別装置として広く利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】この発明に係る選別テーピング装置の一実施例を示す概略外観図である。
【図２】図１の表示装置５の表示画面の表示例である。
【図３】図１のインデックステーブルと周辺部の概略構成図である。
【図４】この発明に用いられるインデックステーブルの一実施例を示す平面図である。
【図５】ＣＳＰレジンタイプのＰＩＮダイオードの外観図である。
【符号の説明】
【００２３】
１…選別テーピング装置（本体）２…パーツフィーダ部、３…インデックステーブル、４…テーピング部、５…表示装置。６，７…リール、８…不良デバイスの回収部、９…テープ、１０…シグナルタワー、ＰＳ１〜ＰＳ１０…ポジション。Ｓ１〜Ｓ３…センサ、Ｎ…ノズル、ＲＥＦ…反射センサ通過穴ＲＥＦ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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