(57)【要約】【課題】テストプログラムのデバッグツール上で、パフォーマンスボードの回路構成を直接にカスタマイズ可能なＩＣテスタを提供。【解決手段】ブロック図エディタ３０を用いて、パフォーマンスボード上に構築すべき回路をブロック図として描画し、描画されたブロック図をテキストデータとして表記するブロック図定義ファイル３４を作成する。さらにブロック図定義ファイル３４から、回路を表示するための表示定義データ３６と、回路の構成要素および構成要素間の接続状態を定義する制御定義データ３８とを抽出する。カスタマイズ表示ツール４０は、データ３６・３８を用いてパフォーマンスボード上に構築すべき回路を表示部２４に表示し、データ３６・３８をパフォーマンスボードに与えてパフォーマンスボードの回路構成をカスタマイズする。【選択図】図２
2008128705.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験デバイスが載置されるパフォーマンスボードを有するＩＣテスタにおいて、
前記パフォーマンスボード上に構築すべき回路の構成要素および該構成要素間の接続状態を表すブロックおよび結線から成るブロック図を描画するためのブロック図描画手段と、
該描画されたブロック図をテキストデータとして表記するブロック図定義ファイルを作成するブロック図定義ファイル作成手段と、
該作成されたブロック図定義ファイルから、前記パフォーマンスボード上に構築すべき回路の構成要素および該構成要素間の接続状態を定義する制御定義データを抽出する制御定義データ抽出手段と、
前記パフォーマンスボード上に構築すべき回路を表示するための少なくともシンボル、位置、サイズを定義する表示定義データを抽出する表示定義データ抽出手段と、
回路を表示可能な表示手段と、
前記制御定義データおよび表示定義データを用いて前記パフォーマンスボード上に構築すべき回路を前記表示手段に表示するカスタマイズ表示手段とを含むことを特徴とする、ＩＣテスタ。
【請求項２】
前記カスタマイズ表示手段は、前記表示定義データおよび制御定義データをパフォーマンスボードに与えることによって、前記パフォーマンスボード上の回路構成を決定することを特徴とする、請求項１に記載のＩＣテスタ。
【請求項３】
前記表示手段に表示された回路を変更するための入力手段をさらに含み、
前記カスタマイズ表示手段は、前記パフォーマンスボード上に構築すべき回路が前記入力手段によって変更されると、前記表示定義データおよび制御定義データを変更することにより、前記パフォーマンスボード上の回路構成を変更することを特徴とする、請求項１または２に記載のＩＣテスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストヘッド上のパフォーマンスボード上の回路構成をカスタマイズするＩＣテスタに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣテスタによって被試験デバイスをテストする際には、通常、テストヘッドに設けられ被試験デバイスを載置するパフォーマンスボードの回路構成を、所望のテストに応じてカスタマイズする。ここで言う回路構成とは、典型的には、回路に含まれるリレーのＯＮ／ＯＦＦによって変更される信号経路や、リレーのＯＮ／ＯＦＦによって加減される負荷（抵抗）などを言う。
【０００３】
上記のカスタマイズは、通常、テスタ本体で実行されるテストプログラムによって行われる。例えば特許文献１には、パフォーマンスボードの回路情報から作成した仮想回路にテストプログラムを適用し、テストプログラムが所望のテスト規格を満たしているか否か、すなわち、テストプログラムによって、パフォーマンスボードが所望の回路構成を有しているか否かを判定し、テストプログラムのデバッグ作業を行う技術が記載されている。
【特許文献１】特開２００４−３４８５９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、従来技術では、ユーザがテストプログラムをデバッグする際、パフォーマンスボード上の回路構成を、回路図として、直接的に参照することはできない。一般的には、テスタ本体に設けられ、パフォーマンスボード上の回路構成を制御する、制御モジュールの状態表示を参照して、パフォーマンスボードのリレーや負荷が正しく構成されているか否かが判断する。この制御モジュールは、ｃｂｉｔ（コントロールビット）というビット列の並びであり、回路構成を直接的に表すものではない。したがって、ユーザは、知識と経験とによって、かかるビット列から、パフォーマンスボードの回路構成を想起し、場合によっては、パフォーマンスボードに直接、ハンディテスタをあてがうなどして、パフォーマンスボードの回路構成が正しいことを確認せざるを得なかった。
【０００５】
その結果、問題がなければ、そのテストプログラムはデバッグ不要となり、別のテストプログラムをデバッグするという手順になる。しかし、良否を判定してデバッグすべきテストプログラムは複数あるため、上述のような作業にて行われる従来のデバッグは、効率的なものとは言いがたかった。
【０００６】
本発明はこのような課題に鑑み、パフォーマンスボードの回路構成を回路図として直接的に参照可能とし、同回路図を変更することにより、テストプログラム開発環境でのデバッグツールにて、パフォーマンスボードの回路構成を直接にカスタマイズ可能なＩＣテスタを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は上述の課題を解決するために、被試験デバイスが載置されるパフォーマンスボードを有するＩＣテスタにおいて、パフォーマンスボード上に構築すべき回路の構成要素および構成要素間の接続状態を表すブロックおよび結線から成るブロック図を描画するためのブロック図描画手段と、描画されたブロック図をテキストデータとして表記するブロック図定義ファイルを作成するブロック図定義ファイル作成手段と、作成されたブロック図定義ファイルから、パフォーマンスボード上に構築すべき回路の構成要素および構成要素間の接続状態を定義する制御定義データを抽出する制御定義データ抽出手段と、パフォーマンスボード上に構築すべき回路を表示するための少なくともシンボル、位置、サイズを定義する表示定義データを抽出する表示定義データ抽出手段と、回路を表示可能な表示手段と、制御定義データおよび表示定義データを用いてパフォーマンスボード上に構築すべき回路を表示手段に表示するカスタマイズ表示手段とを含むことを特徴とする。本発明によれば、パフォーマンスボード上に構築すべき回路を最初に入力する段階から、ブロック図描画手段という直感的なツールを用いることができるし、さらに、カスタマイズ表示手段によって表示された回路そのものを、視覚的に確認することができる。
【０００８】
また、上述のカスタマイズ表示手段は、表示定義データおよび制御定義データをパフォーマンスボードに与えることによって、パフォーマンスボード上の回路構成を決定することができる。
【０００９】
本発明によるＩＣテスタは、さらに、表示手段に表示された回路を変更するための入力手段を含み、カスタマイズ表示手段は、パフォーマンスボード上に構築すべき回路が入力手段によって変更されると、表示定義データおよび制御定義データを変更することにより、パフォーマンスボード上の回路構成を変更する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、パフォーマンスボード上の回路構成の状態確認や変更が、テストプログラム開発環境でのデバッグツールにて、回路図やブロック図として表示することにより、可能となる。またその状態変更を、パフォーマンスボード上の回路構成を図示した状態で、ツール上から行えるため、デバッグ効率を向上させることができる。
【００１１】
また、従来は制御モジュールのテキストベースの状態表示のみであったパフォーマンスボード上の回路切り替え状態や被試験デバイスの負荷制御状態が、本発明により、デバッグツールのカスタマイズ機能として実現できる。
【００１２】
さらに本発明によれば、ユーザサイドでカスタマイズする際に利便性が大きい。すなわち、ユーザがパフォーマンスボードの回路構成を直接にカスタマイズすることによって、デバッグ環境が格段に向上する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
次に添付図面を参照して本発明によるＩＣテスタの実施形態を詳細に説明する。図中、本発明に直接関係のない要素は図示を省略する。また、同様の要素は同一の参照符号によって表示する。
【００１４】
図１は本発明によるＩＣテスタの構成を示すブロック図である。ＩＣテスタ１０は、本体１２とテストヘッド１４とで構成されている。本体１２は、後述のテストヘッド１４に制御信号を与えて、被試験デバイス（Device Under Test; ＤＵＴ）１６の測定を行わせる装置である。
【００１５】
本体１２は、入力インターフェース１８、中央制御部２０、記憶部２２、表示部２４および制御モジュール５４を含む。入力インターフェース１８は、ユーザがテスト遂行のためのコマンドその他の操作を行うキーボードやポインティングデバイスとしてよい。また入力インターフェース１８は、後述のカスタマイズ表示ツール４０を操作する手段として使用される。中央制御部２０は、入力インターフェース１８からの操作信号に応じて、記憶部２２から読み出した後述のカスタマイズ表示ツール４０等のアプリケーションソフトウェアを実行し、パフォーマンスボード１７の回路構成をカスタマイズする役割を果たす。記憶部２２は、様々なアプリケーションソフトウェアを記憶する記憶装置である。記憶部２２はハードディスクその他の記録媒体としてよい。
【００１６】
本体１２に含まれる制御モジュール５４は、例えばｃｂｉｔモジュールと呼ばれる半導体スイッチで構成されたハードウェアであり、この制御モジュール５４の状態に応じて、パフォーマンスボード１７の回路構成はカスタマイズされる。
【００１７】
テストヘッド１４は、被検査デバイス１６が載置されるパフォーマンスボード１７を含み、実際に被検査デバイス１６に検査信号波形を与えて電気的試験を行う装置である。パフォーマンスボード１７は、本体１２の中央制御部２０からの制御信号に基づき、その回路構成をカスタマイズ可能である。ここで回路構成とは、典型的には、回路に含まれるリレーのＯＮ／ＯＦＦによって変更される信号経路や、リレーのＯＮ／ＯＦＦによって加減される負荷（抵抗）を言う。
【００１８】
図２は図１に示す本体１２の機能ブロック図である。中央制御部２０は、記憶部２２からブロック図エディタ３０を読み出して実行する。ブロック図エディタ３０は、パフォーマンスボード１７上に構築すべき回路の構成要素および構成要素間の接続状態を表すブロックおよび結線から成るブロック図を描画するためのブロック図描画ツールであり、ユーザは、入力インターフェース１８を用い、表示部２４に表示されたブロック図を編集可能である。
【００１９】
ブロック図エディタ３０は、図２に示すように、後述するカスタマイズ表示ツール４０によって定義されているシンボル定義ライブラリ３２に基づいて、描画を行う。ブロック図エディタ３０として、例えばＭｉｃｒｏｓｏｆｔ Ｖｉｓｉｏ（登録商標）などの図形描画ソフトウェアを用いてよい。シンボル定義ライブラリ３２は、パフォーマンスボード１７上の回路を構成する様々な要素（リレー、抵抗、ＩＣ等）をいかなるシンボルやブロックで表記するかを定義したライブラリである。これらのシンボル情報とスイッチ等の制御に関する情報が、描画されたブロック図に組み込まれる。
【００２０】
ユーザがブロック図エディタ３０を用いてパフォーマンスボード１７上の回路に相当するブロック図を描画するときは、ＩＣテスタ１０の設計仕様に含まれている、紙面に描かれたパフォーマンスボードの回路図を利用してもよいし、ＣＡＤ（Computer Aided Design）ソフトによってネットリスト化された情報があれば、それを基礎として回路図を描画してもよい。
【００２１】
中央制御部２０は、ユーザによって描画されたブロック図を、ブロック図定義ファイル３４に変換する。ブロック図定義ファイル３４は、描画されたブロック図をテキストデータとして表記するファイルであり、回路図に含まれるシンボル、位置、サイズ、接続情報、制御情報を、例えばＶｉｓｉｏ ＸＭＬ（Extensible Markup Language）形式データで記述するファイルとしてよい。
【００２２】
さらに中央制御部２０は、ブロック図定義ファイル３４から、後述のカスタマイズ表示ツール４０にて利用される表示定義データ３６と、制御定義データ３８とを抽出する。表示定義データ３６は、パフォーマンスボード１７上に構築すべき回路を表示するための少なくともシンボル、位置、サイズを定義するデータであり、例えば、ＸＭＬウィジェット構成データとしてよい。制御定義データ３８は、パフォーマンスボード１７上に構築すべき回路の構成要素および構成要素間の接続状態を定義するデータであり、ＸＭＬ制御定義データとしてよい。
【００２３】
カスタマイズ表示ツール４０は、デバッグツールの一種であり、上述の表示定義データ３６と制御定義データ３８とを用いて、回路を表示可能な表示部２４に、パフォーマンスボード１７上に構築すべき回路を表示するツールである。この表示された回路の正否をユーザが確認することにより、カスタマイズ表示ツール４０は、制御定義データ３８を実際にパフォーマンスボード１７に与えて、パフォーマンスボード１７の回路構成を決定する。
【００２４】
このように、本発明によれば、リレー等のパフォーマンスボード１７上の回路状態を、回路図という直感的に理解可能な方法で表示し、デバッグ効率を向上させることができる。
【００２５】
本発明によれば、パフォーマンスボード１７上の回路を簡単に決定することが可能である。図３は制御モジュール５４の状態表示例を示す図であり、これは表示部２４に表示可能である。同図に示すように、制御モジュールの状態は、例えば６４ビットから成るビット列として表示され、このビット列は制御モジュール５４の接点のＯＮ／ＯＦＦ状態を示していて、これらの状態に応じて、パフォーマンスボード１７の回路構成もカスタマイズされることとなる。こうした制御モジュール５４の状態を示す情報は、図２に示す表示定義データ３６および制御定義データ３８に相当する。したがって、カスタマイズ表示ツール４０は、表示定義データ３６および制御定義データ３８を、制御モジュール５４を介してパフォーマンスボード１７に与えることによって、パフォーマンスボード１７上の回路構成を決定することが可能である。
【００２６】
また本発明によれば、パフォーマンスボード１７上の回路を簡単にカスタマイズ（変更）することが可能である。カスタマイズ表示ツール４０によって表示部２４に表示された回路は、入力インターフェース１８を用いて、変更することができる。カスタマイズ表示ツール４０は、パフォーマンスボード上に構築すべき回路が入力インターフェース１８によって変更されると、表示定義データ３６および制御定義データ３８を変更する。そして変更したこれらのデータ３６、３８を制御モジュール５４に与えることにより、パフォーマンスボード１７上の回路構成を変更可能である。
【００２７】
このように、デバッグツールであるカスタマイズ表示ツール４０を用いて、表示部２４に回路図として表示された回路に対して、直接、リレーの切り替え等ができるようにし、回路状態、リレーのオン、オフ、負荷などを、カスタマイズ表示ツール４０上で切り替えることができる。すなわち、パフォーマンスボード１７の回路構成を変更することができる。
【００２８】
図４は図１との比較例を示すＩＣテスタの構成を示すブロック図である。図４に示すＩＣテスタ５０のうち、図１と同様の要素は同一の参照符号にて表記し、図１と異なる点についてのみ、以下、説明する。図１のＩＣテスタ１０によって行われるカスタマイズは、図４の比較例に示すように、中央制御部２０にテストプログラム５２を読み込んで実行することによっても、行うことができる。本体１２に含まれる制御モジュール５４は、例えばｃｂｉｔモジュールと呼ばれる半導体スイッチで構成されたハードウェアであり、この制御モジュール５４の状態に応じて、パフォーマンスボード１７の回路構成はカスタマイズされる。
【００２９】
図４に示すようなＩＣテスタ５０によって被試験デバイス１６をテストする際、テストエンジニアは、まず、テスト仕様を決定し、テストプログラム５２を作成する。テストプログラム５２は、パフォーマンスボード１７の回路を構成するリレー等の要素や、それらのＯＮ／ＯＦＦ制御など、信号接点の切り替えの必要性等を定義しているため、テストプログラム５２を実行することにより、制御モジュール５４の状態が決定され、さらには、パフォーマンスボード１７上の回路構成がカスタマイズされることとなる。
【００３０】
しかし、図４のような制御モジュール５４のみを用いる場合、ユーザはパフォーマンスボード１７上の回路状態を、回路図として、直接的に参照することはできない。ユーザは、図３に示すような制御モジュール５４の状態を示すビット列の並びから、パフォーマンスボード１７の回路構成を想起し、パフォーマンスボード１７の回路構成の正否を確認し、テストプログラム５２をデバッグせざるを得ない。かかるデバッグには知識と経験が必要である。一方、本発明の実施形態である図１のＩＣテスタ１０を用いれば、パフォーマンスボード１７の回路構成を直接参照できるため、デバッグ効率を向上させることが可能である。
【００３１】
また、本発明を応用すれば、パフォーマンスボード１７上の回路状態だけでなく、テスタヘッド１４内の信号経路切替等への拡張も可能と考えられる。さらに、図２に示す表示定義データ３６、制御定義データ３８を、ＣＡＤソフトウェアを用いて回路図ネットリストから自動生成する仕組みを構築すれば、本発明を応用して、回路図から直接パフォーマンスボード上の回路構成を表示することも可能となる。
【００３２】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【産業上の利用可能性】
【００３３】
本発明は、テストヘッド上のパフォーマンスボードの回路構成をカスタマイズするＩＣテスタに適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明によるＩＣテスタの構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す本体の機能ブロック図である。
【図３】図１の制御モジュールの状態表示例を示す図である。
【図４】図１との比較例を示すＩＣテスタの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００３５】
１０  ＩＣテスタ
１２  本体
１４  テストヘッド
１６  被検査デバイス
１７  パフォーマンスボード
１８  入力インターフェース
２０  中央制御部
２４  表示部
５４  制御モジュール
【図１】
2008128705.tif 000003
【図２】
2008128705.tif 000004
【図３】
2008128705.tif 000005
【図４】
2008128705.tif 000006