(57)【要約】【課題】  非接触データキャリアに物理量の測定機能を搭載しても、安価、小型化を維持でき、しかも、測定可能な物理量の融通性を高くする。【解決手段】  本発明の非接触データキャリアシステムは、質問器と、質問器とデータ授受を行う測定ポートを有する非接触データキャリアと、測定ポートに接続された、周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源とを有する。非接触データキャリアは、接続される測定ポートと、入力された被比較信号を閾値と比較し、比較結果を出力する比較手段と、閾値を可変出力する可変閾値手段と、質問器と測定のための通信を行う比較制御手段を有する。質問器は、閾値を変更させた上記比較手段の比較を繰り返し実行させ、比較結果の論理が変化した閾値の情報を取り込んで、被比較信号に係る物理量の情報を得る。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
質問器と、
上記質問器と無線通信によりデータ授受を行う、少なくとも１個の測定ポートを有する非接触データキャリアと、
上記非接触データキャリアの少なくとも１個の測定ポートに接続された、周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源とを有し、
上記非接触データキャリアが、
外部からの被比較信号が入力される上記測定ポートと、
上記測定ポートから入力された被比較信号を閾値と比較し、両者の大小関係を表す論理値の比較結果を出力する比較手段と、
上記閾値を出力する可変閾値手段と、
上記質問器からの比較出力要求に従い、上記可変閾値手段からの閾値を制御し、上記比較手段の比較結果、又は、上記比較結果に関係する情報を返信する比較制御手段とを備える
ことを特徴とする非接触データキャリアシステム。
【請求項２】
上記比較手段は、アナログ信号でなる被比較信号とアナログ信号でなる閾値とを比較するものであることを特徴とする請求項１に記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項３】
上記可変閾値手段は、直列接続された複数の抵抗を有し、分圧電圧を選択してアナログ信号でなる閾値として取り出す閾値形成部を有することを特徴とする請求項２に記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項４】
上記測定ポートと上記比較手段との対応組が複数組設けられていることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項５】
上記測定ポートとして複数を備えると共に、いずれかの上記測定ポートからの被比較信号を共通な上記比較手段に入力させる信号選択手段を備えることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項６】
上記測定ポートから上記比較手段への経路上に、被比較信号のダイナミックレンジを拡大するブリッジ回路手段を備えることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項７】
上記可変閾値手段の構成が２分され、一方の構成部分が外付け要素とされていることを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項８】
上記非接触データキャリアが、周囲の物理量に応じて上記被比較信号を発生する被比較信号発生源の非線形性の情報を記憶する非線形性補償情報記憶手段を備え、
上記比較制御手段は、上記非線形性補償情報記憶手段の記憶情報に従い、上記可変閾値手段に出力閾値を指示する情報を変更する
ことを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項９】
上記非接触データキャリアが、少なくとも上記比較手段と上記可変閾値手段への動作電源の供給をオンオフ制御する電源制御手段を有することを特徴とする請求項１〜８のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１０】
上記非接触データキャリアが、上記質問器からの無線エネルギーから得た電源を外部に供給し得る電源外部供給ポートを有することを特徴とする請求項１〜９のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１１】
上記非接触データキャリアが、上記電源外部供給ポートへの電源供給をオンオフ制御する電源外部供給制御手段を有することを特徴とする請求項１０に記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１２】
上記非接触データキャリアが、周囲の物理量に応じて上記被比較信号を発生する外部の被比較信号発生源に対し、動作のオンオフを指示するコマンドを与える動作コマンド出力ポートを有することを特徴とする請求項１〜９のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１３】
上記非接触データキャリアが、上記質問器からの比較出力要求を許容するか無視するかを指示する、外部からの比較出力要求オンオフ信号を取り込んで上記比較制御手段に与える入力ポートを有することを特徴とする請求項１〜１２のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１４】
上記非接触データキャリアの構成要素となっている複数の上記手段中、少なくとも１個の手段は半導体チップ上に形成したことを特徴とする請求項１〜１３のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１５】
上記非接触データキャリアの構成要素となっている複数の上記手段の全て又は一部を、複数の半導体チップ上に分散して形成したことを特徴とする請求項１〜１４のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１６】
上記質問器は、測定モードで、閾値を変更させた上記比較手段の比較を繰り返し実行させて、上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を上記比較制御手段からの返信信号から得て、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得ることを特徴とする請求項１〜１５のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１７】
上記質問器は、閾値の変更値をその都度上記非接触データキャリアに指示することを特徴とする請求項１６に記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１８】
上記質問器は、閾値を変更することを上記非接触データキャリアに指示し、上記非接触データキャリアの上記比較制御手段が閾値の変更を自律的に実行することを特徴とする請求項１６に記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項１９】
１個の上記質問器が、複数の上記非接触データキャリアと通信し得ることを特徴とする請求項１〜１５のいずれかに記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項２０】
上記質問器は、同報通信により、上記各非接触データキャリアに、閾値を変更させた上記比較手段の比較を繰り返し実行させて、上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を記憶させておき、
その後、個別通信により、上記各非接触データキャリアから、比較結果の論理が変化した閾値の情報を取り込んで、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得ることを特徴とする請求項１９に記載の非接触データキャリアシステム。
【請求項２１】
質問器と、
上記質問器と無線通信によりデータ授受を行う、外部からの被比較信号が入力される測定ポートと、上記測定ポートから入力された被比較信号を閾値と比較し、比較結果を出力する比較手段と、上記閾値を出力する可変閾値手段と、上記質問器からの比較出力要求に従い、上記可変閾値手段からの閾値を制御し、上記比較手段の比較結果、又は、上記比較結果に関係する情報を返信する比較制御手段とを備える非接触データキャリアと、
上記非接触データキャリアの少なくとも１個の測定ポートに接続された、周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源とを有し、
上記質問器は、閾値の変更値をその都度上記非接触データキャリアに指示する
ことを特徴とする非接触データキャリアシステム。
【請求項２２】
少なくとも１個の測定ポートに周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源が接続された請求項１〜１５のいずれかに記載の非接触データキャリアシステムにおける非接触データキャリアを配下にしている質問器であって、
測定モードで、閾値を変更させた上記非接触データキャリアの上記比較手段の比較を繰り返し実行させて、上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を上記比較制御手段からの返信信号から得て、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得ることを特徴とする質問器。
【請求項２３】
閾値の変更値をその都度上記非接触データキャリアに指示することを特徴とする請求項２２に記載の質問器。
【請求項２４】
閾値を変更することを上記非接触データキャリアに指示し、上記非接触データキャリアの上記比較制御手段に閾値の変更を自律的に実行させることを特徴とする請求項２２に記載の質問器。
【請求項２５】
閾値の変更の初期値が、前回の測定モード時に、上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値に基づいて定められることを特徴とする請求項２３又は２４に記載の質問器。
【請求項２６】
複数の上記非接触データキャリアを配下に有することを特徴とする請求項２２に記載の質問器。
【請求項２７】
同報通信により、上記各非接触データキャリアに、閾値を変更させた上記比較手段の比較を繰り返し実行させて、上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を記憶させておき、
その後の個別通信により、上記各非接触データキャリアから、比較結果の論理が変化した閾値の情報を取り込んで、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得る
ことを特徴とする請求項２６に記載の質問器。
【請求項２８】
質問器が、少なくとも１個の測定ポートに周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源が接続された請求項１〜１５のいずれかに記載の非接触データキャリアシステムにおける非接触データキャリアを配下にしており、上記非接触データキャリアから、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得る、非接触データキャリアのデータ取得方法であって、
上記質問器が、上記非接触データキャリアに、閾値を変更させた上記比較手段の比較を繰り返し実行させる探索工程と、
上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を、上記質問器又は上記非接触データキャリアが認識する変化閾値認識工程と、
上記質問器が、論理が変化した閾値の情報に基づき、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得る物理量同定工程とを含む
ことを特徴とする非接触データキャリアのデータ取得方法。
【請求項２９】
上記探索工程で、上記質問器が上記非接触データキャリアに、閾値の変更値をその都度指示することを特徴とする請求項２８に記載の非接触データキャリアのデータ取得方法。
【請求項３０】
上記探索工程で、上記質問器は、閾値を変更することを上記非接触データキャリアに指示し、上記非接触データキャリアの上記比較制御手段が閾値の変更を自律的に実行することを特徴とする請求項２８に記載の非接触データキャリアのデータ取得方法。
【請求項３１】
上記探索工程は、閾値の変更の初期値を、前回の探索工程時に、上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値に基づいて定めていることを特徴とする請求項２９又は３０に記載の非接触データキャリアのデータ取得方法。
【請求項３２】
上記質問器が、複数の上記非接触データキャリアから、上記被比較信号に係る物理量の情報を得ることを特徴とする請求項２８に記載の非接触データキャリアのデータ取得方法。
【請求項３３】
上記探索工程は、上記質問器から上記非接触データキャリアへの同報通信により、上記各非接触データキャリアについて並行して実行され、
上記変化閾値認識工程は、上記各非接触データキャリアが実行し、上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を内部記憶させ、
上記物理量同定工程は、上記質問器が、個別通信により、上記各非接触データキャリアから、比較結果の論理が変化した閾値の情報を取り込んで、上記各非接触データキャリアについて繰り返し実行する
ことを特徴とする請求項３２に記載の非接触データキャリアのデータ取得方法。
【請求項３４】
外部からの被比較信号が入力される測定ポートと、上記測定ポートから入力された被比較信号を閾値と比較し、比較結果を出力する比較手段と、上記閾値を出力する可変閾値手段と、上記質問器からの比較出力要求に従い、上記可変閾値手段からの閾値を制御し、上記比較手段の比較結果、又は、上記比較結果に関係する情報を返信する比較制御手段とを備える非接触データキャリアであって、少なくとも１個の測定ポートに周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源が接続された非接触データキャリアを、質問器が配下にしており、
上記質問器が、上記非接触データキャリアから、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得る、非接触データキャリアのデータ取得方法であって、
上記質問器が、上記非接触データキャリアに、閾値を変更させた上記比較手段の比較を繰り返し実行させる探索工程と、
上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を、上記質問器又は上記非接触データキャリアが認識する変化閾値認識工程と、
上記質問器が、論理が変化した閾値の情報に基づき、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得る物理量同定工程とを含み、
上記探索工程で、上記質問器が上記非接触データキャリアに、閾値の変更値をその都度指示する
ことを特徴とする非接触データキャリアのデータ取得方法。
【請求項３５】
請求項２８〜３４のいずれかに記載の非接触データキャリアのデータ取得方法の各工程をコンピュータに実行させる非接触データキャリアのデータ取得用プログラムであって、質問器に搭載される第１のプログラム部分と、非接触データキャリアに搭載される第２のプログラム部分でなることを特徴とする非接触データキャリアのデータ取得用プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムに関し、特に、センサシステムに適用し得るようにしたものである。
【背景技術】
【０００２】
非接触データキャリア（応答器）及び質問器でなる非接触データキャリアシステムが、簡易なデータ処理システムとして種々の用途で用いられている。さらに、特許文献１に記載のように、非接触データキャリアが温度センサや圧力センサなどのセンサを備え、非接触データキャリアシステムを測定システムに適用する用途も出現してきている。
【特許文献１】特開平１０−２８９２９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、特許文献１に記載の非接触データキャリアや非接触データキャリアシステムは、以下のような課題を有するものであった。
【０００４】
非接触データキャリアが温度センサや圧力センサなどのセンサを備えるため、製品単価が安く、小型、軽量であるという非接触データキャリアの特質が失われる恐れがある。例えば、非接触データキャリアから質問器へ、センサが得たアナログ信号をデジタルデータに変換して送信するためには、送信のために必要なある程度の電力が必要である。非接触データキャリアに電池を設けない場合、この必要な電力を確保することが困難であるが、電池を設ければ必要な電力を確保することができる。しかしながら、非接触データキャリアに電池を設けたならば、小型、軽量化が阻害される。
【０００５】
また、非接触データキャリアが備えるセンサの種類によって測定項目（温度、圧力など）が定まっている。言い換えると、測定項目が複数の場合には、各測定項目対応の非接触データキャリアを別途独立して形成しなければならない。
【０００６】
そのため、製品単価が安く、小型、軽量である非接触データキャリアの特質を保持しつつ、かつ、測定項目に対する融通性を高くできる、質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムが望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
かかる課題を解決するため、第１の本発明の非接触データキャリアシステムは、（１）質問器と、（２）上記質問器と無線通信によりデータ授受を行う、少なくとも１個の測定ポートを有する非接触データキャリアと、（３）上記非接触データキャリアの少なくとも１個の測定ポートに接続された、周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源とを有し、上記非接触データキャリアが、（２−１）外部からの被比較信号が入力される測定ポートと、（２−２）上記測定ポートから入力された被比較信号を閾値と比較し、両者の大小関係を表す論理値の比較結果を出力する比較手段と、（２−３）上記閾値を出力する可変閾値手段と、（２−４）上記質問器からの比較出力要求に従い、上記可変閾値手段からの閾値を制御し、上記比較手段の比較結果、又は、上記比較結果に関係する情報を返信する比較制御手段とを備えることを特徴とする。
【０００８】
第２の本発明の非接触データキャリアシステムは、（１）質問器と、（２）上記質問器と無線通信によりデータ授受を行う、外部からの被比較信号が入力される測定ポートと、上記測定ポートから入力された被比較信号を閾値と比較し、比較結果を出力する比較手段と、上記閾値を出力する可変閾値手段と、上記質問器からの比較出力要求に従い、上記可変閾値手段からの閾値を制御し、上記比較手段の比較結果、又は、上記比較結果に関係する情報を返信する比較制御手段とを備える非接触データキャリアと、（３）上記非接触データキャリアの少なくとも１個の測定ポートに接続された、周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源とを有し、（４）上記質問器は、閾値の変更値をその都度上記非接触データキャリアに指示することを特徴とする。
【０００９】
第３の本発明は、少なくとも１個の測定ポートに周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源が接続された第１の本発明の非接触データキャリアシステムにおける非接触データキャリアを配下にしている質問器であって、測定モードで、閾値を変更させた上記非接触データキャリアの上記比較手段の比較を繰り返し実行させて、上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を上記比較制御手段から取り込み、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得ることを特徴とする。
【００１０】
第４の本発明は、質問器が、少なくとも１個の測定ポートに周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源が接続された第１の本発明の非接触データキャリアシステムにおける非接触データキャリアを配下にしており、上記非接触データキャリアから、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得る、非接触データキャリアのデータ取得方法であって、（１）上記質問器が、上記非接触データキャリアに、閾値を変更させた上記比較手段の比較を繰り返し実行させる探索工程と、（２）上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を、上記質問器又は上記非接触データキャリアが認識する変化閾値認識工程と、（３）上記質問器が、論理が変化した閾値の情報に基づき、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得る物理量同定工程とを含むことを特徴とする。
【００１１】
第５の本発明は、外部からの被比較信号が入力される測定ポートと、上記測定ポートから入力された被比較信号を閾値と比較し、比較結果を出力する比較手段と、上記閾値を出力する可変閾値手段と、上記質問器からの比較出力要求に従い、上記可変閾値手段からの閾値を制御し、上記比較手段の比較結果、又は、上記比較結果に関係する情報を返信する比較制御手段とを備える非接触データキャリアであって、少なくとも１個の測定ポートに周囲の物理量に応じて被比較信号を発生する被比較信号発生源が接続された非接触データキャリアを、質問器が配下にしており、上記質問器が、上記非接触データキャリアから、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得る、非接触データキャリアのデータ取得方法であって、（１）上記質問器が、上記非接触データキャリアに、閾値を変更させた上記比較手段の比較を繰り返し実行させる探索工程と、（２）上記比較手段の比較結果の論理が変化した閾値の情報を、上記質問器又は上記非接触データキャリアが認識する変化閾値認識工程と、（３）上記質問器が、論理が変化した閾値の情報に基づき、上記被比較信号発生源が発生した上記被比較信号に係る物理量の情報を得る物理量同定工程とを含み、（４）上記探索工程で、上記質問器が上記非接触データキャリアに、閾値の変更値をその都度指示することを特徴とする。
【００１２】
第６の本発明は、第４又は第５の本発明の非接触データキャリアのデータ取得方法の各工程をコンピュータに実行させる非接触データキャリアのデータ取得プログラムであって、質問器に搭載される第１のプログラム部分と、非接触データキャリアに搭載される第２のプログラム部分でなることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、非接触データキャリアの構成を高価、複雑化することなく、同一の非接触データキャリアが多様な物理量の同定に用いることができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
（Ａ）第１の実施形態
以下、本発明による質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムの第１の実施形態を図面を参照しながら詳述する。
【００１５】
図１は、第１の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図である。
【００１６】
図１において、第１の実施形態の非接触データキャリアシステム１は、非接触データキャリア２、質問器３及び上位装置４を有し、非接触データキャリア２には１又は複数（図１は２個の場合を示している）のセンサ５−１、５−２が適宜接続可能なものである。
【００１７】
なお、第１の実施形態の場合、非接触データキャリア２が固定位置のものであっても可搬式のものであっても良く、質問器３も固定位置のものであっても可搬式のものであっても良い（後述する動作説明では少なくとも一方が可搬式のものであるとして説明を行う）。また、質問器３が通信し得る非接触データキャリア２は１個だけでも複数あっても良い（後述する動作説明では複数存在するとして説明を行う）。非接触データキャリア２とセンサ５−１、５−２とは一旦接続された以降、継続して接続されている接続形態でも良く、また、測定の度に、オペレータによって接続されるものであっても良い。
【００１８】
非接触データキャリア２は、例えば、ＲＦＩＤタグが該当し、ＩＤタグコア部１０、不揮発性メモリ１１、アンテナ１２、１又は複数（図１は２個の場合を示している）のアナログ比較器１３−１、１３−２、及び、可変閾値部１４を有し、さらに、アナログ比較器１３−１、１３−２と同数の測定ポート１５−１、１５−２と、外部拡張端子１６と、外部入出力端子（外部Ｉ／Ｏ端子）１７とを有する。
【００１９】
ＩＤタグコア部１０は、ＣＰＵや無線部などが該当するＩＤタグとしての一般的な処理を実行する部分である。ＩＤタグコア部１０は、アンテナ１２が捕捉した無線信号をデジタル信号（シリアル信号；質問信号）に復調し、そのデジタル信号（又は、そのデジタル信号をシリアル／パラレル変換したデータ）を解析し、得られた質問器３からの質問に応じた処理を実行し、応答信号（例えば、パラレルデータでなる）を形成し、その応答信号（又は、その応答信号をパラレル／シリアル変換した信号）を変調してアンテナ１２から返信させるものである。質問器３からの質問信号として、後述するような測定モードでの信号が存在し、このとき、ＩＤタグコア部１０は、測定モードでの動作を制御するものとなっている（特許請求の範囲での「比較制御手段」にＩＤタグコア部１０が該当する）。
【００２０】
また、ＩＤタグコア部１０は、アンテナ１２が捕捉した無線信号から、当該非接触データキャリア２が動作する際に必要となる電源を得る電源部を有し、各部に動作電源として供給するものである（図１では電源供給線を省略している）。
【００２１】
不揮発性メモリ１１は、例えば、ＦｅＲＡＭなどでなり、当該非接触データキャリア２に割り当てられたＩＤなどのデータや、ＩＤタグコア部１０が実行するプログラムを格納している。なお、不揮発性メモリ１１に、後述する閾値データが格納されることもあり得る。また、不揮発性メモリ１１に格納されているプログラムとして、測定モード用プログラム１１Ｐが存在する。
【００２２】
アンテナ１２は、例えば、送受共用アンテナ（送信、受信用が別個であっても良い）である。アンテナ１２は、例えば、アンテナコイルと、ＩＤタグコア部１０などを構成するＩＣチップの容量成分などとで所定周波数に共振する形式のものであり、その共振によって、当該非接触データキャリア２が動作する際に必要なエネルギーを効率良く取り出せるようになされているものである。
【００２３】
各アナログ比較器１３−１、１３−２はそれぞれ、例えば、コンパレータ回路又はシュミットトリガ回路などでなり、対応する測定ポート１５−１、１５−２を介して接続されているセンサ５−１、５−２の検出信号（検出電圧）を、可変閾値部１４による閾値（閾値電圧）と比較し、センサ検出信号が閾値より大きいときに論理「１」、センサ検出信号が閾値以下のときに論理「０」を出力するものである。
【００２４】
なお、当該非接触データキャリア２に接続し得るセンサ５−１、５−２の種類は問われない。例えば、温度センサ、導電度センサ、歪センサ、圧力センサ、濃度センサ、水分センサ、抵抗分センサなどの任意のもので良い。但し、各センサ５−１、５−２は、電圧出力型のものであることを要する。また、各センサ５−１、５−２は、検出出力のダイナミックレンジを内蔵する増幅器やアッテネータなどで調整し得るものであることが好ましい。
【００２５】
可変閾値部１４は、ＩＤタグコア部１０から与えられた閾値データに応じた閾値（閾値電圧）を、アナログ比較器１３−１、１３−２に与えるものである。可変閾値部１４は、例えば、閾値データのラッチ部１４Ａと、図２に詳細に示すような直列接続された複数の抵抗を有し、分圧電圧を選択して閾値（閾値電圧）として取り出す閾値形成部１４Ｂとを有するものを適用でき、閾値形成部１４Ｂにおけるスイッチのオンオフがラッチ部１４Ａの閾値データに応じて制御され、閾値データに対応した閾値（閾値電圧）を出力するものである。
【００２６】
ここで、ラッチ部１４Ａにラッチされる閾値データとしては、質問器３から転送されてきた閾値データの場合（第１の測定モードの場合）もあれば、不揮発性メモリ１１に格納されている閾値データの場合（第２の測定モードの場合）もある。
【００２７】
なお、外部拡張端子１６は、可変閾値部１４によって設定されている閾値（閾値電圧）を、外部から参照し得るように出力するためのものである。また、外部入出力端子（外部Ｉ／Ｏ端子）１７は、不揮発性メモリ１１に記憶されているデータやプログラムを外部から有線によって参照し得ると共に、外部から有線によって不揮発性メモリ１１に新たなデータやプログラムを書き込むことができるようにするためのものである。
【００２８】
質問器３は、従来と同様なハードウェア構成を有し、例えば、有線又は無線回線を介して接続されている上位装置４の制御下で、質問信号を変調した無線信号を非接触データキャリア２に送信し、非接触データキャリア２が返信した応答信号を変調した無線信号を受信し、復調処理して応答信号を取り出すものである。ここで、第１の実施形態の場合、質問器３は、動作用のプログラムとして後述する測定モード用プログラム３Ｐ（図３参照）を有し、上位装置４が測定モードの動作を起動指示したときには、質問器３の主制御部（図示せず）は、測定モード用プログラム３Ｐに従って、非接触データキャリア２との間で質問信号及び応答信号を授受する。質問器３と非接触データキャリア２との間の質問信号及び応答信号の授受は、例えば、ＩＳＯ１５６９３などの規格に従って又は準拠して実行する。
【００２９】
上位装置４は、例えば、パソコンが該当し、質問器３を起動して、質問器３及び非接触データキャリア２間の通信を制御するものである。上位装置４は、非接触データキャリア２に係る測定データを収集するものである。なお、上位装置４に対し、有線又は無線で接続するさらに上位の装置が存在していても構わない。
【００３０】
次に、第１の実施形態の非接触データキャリアシステムの特徴動作である測定モードでの動作を説明する。
【００３１】
質問器３は、例えば、周期的に近傍に非接触データキャリア２が存在しているか否かを確認するための質問信号（の変調信号）の送信を行っており、その質問信号に対する応答信号（の変調信号）が返信されてきたことにより、非接触データキャリア２が近傍に存在していることを認識し、応答信号に含まれていたＩＤを含めてそのことを上位装置４に通知する。
【００３２】
上位装置４は、非接触データキャリア２のＩＤに、測定モードの動作対象か否かや、第１の測定モードを適用するか第２の測定モードを適用するかや、有効な測定ポートや、各測定ポートでの最小閾値に対応する測定データ（温度センサを接続した測定ポートであれば最小温度）や、各測定ポートでの閾値の１単位分に対応する測定データの変換分（温度センサを接続した測定ポートであれば温度の検出精度）などを対応付けたテーブル情報４Ｔを保持しており、上位装置４は、近傍に存在する非接触データキャリア２が測定モードの動作対象である場合には、第１の測定モードを適用するか第２の測定モードを適用するかや有効な測定ポートの情報を含む測定動作の起動指令を質問器３に与える。このとき、質問器３は、図３に示す測定モード用プログラム３Ｐを開始する。なお、上位装置４は、第１の測定モードを適用することを通知した場合には、テーブル情報４Ｔの当該非接触データキャリア２のレコードを、次回は第２の測定モードを適用するように更新させる。
【００３３】
なお、上述したようなテーブル情報４Ｔを質問器３に持たせ、質問器３自体が、測定モードの動作を起動するか否かなどを確認するようにしても良い。
【００３４】
ここで、第１の測定モードとは、その非接触データキャリア２に対する初めて（テーブル情報４Ｔのクリアにより初めてと見なされる場合を含む）の測定動作のモードであり、第２の測定モードとは、その非接触データキャリア２に対する２回目以降の測定動作のモードである。
【００３５】
質問器３は、図３に示す測定モード用プログラム３Ｐを開始すると、まず、第１の測定モードの動作を実行するか第２の測定モードの動作を実行するかを判別する（ステップ１００）。
【００３６】
第１の測定モードであれば、質問器３は、第１の測定モードにおける初期の測定依頼の質問信号を形成して非接触データキャリア２に送信し（ステップ１０１）、それに対する非接触データキャリア２からの返信を待ち受ける（ステップ１０２）。
【００３７】
ここでの質問信号は、非接触データキャリア２のＩＤ、第１の測定モードであること、最小の閾値データ（又は最小の閾値データを指示するコード）、測定ポートの番号などを含んでいる。このような質問信号を受信した非接触データキャリア２のＩＤタグコア部１０においては、質問信号に含まれているＩＤにより自己への質問信号であることを認識し、測定モードが第１の測定モードであることを不揮発性メモリ１１に記憶し、質問信号に含まれている最小の閾値データに係る閾値を可変閾値部１４によって設定させ、質問信号に含まれている測定ポートの番号に対応付けられたアナログ比較器１３−１又は１３−２の比較結果（「０」又は「１」）を取り込む。そして、ＩＤタグコア部１０は、その比較結果を含む応答信号を形成して質問器３に返信する。なお、ＩＤタグコア部１０は、比較結果が「０」の場合には、応答信号の形成だけでなく、その際の閾値データより所定単位分だけ小さい閾値データを、次回の第２の測定モードにおける測定開始時の閾値データとして不揮発性メモリ１１に記憶させることも行う。
【００３８】
上述のような応答信号の返信を受けた質問器３は比較結果が「０」であるか「１」であるかを判別する（ステップ１０３）。比較結果が「１」であると、今回の閾値データが最大のものでないことを確認して（ステップ１０４）、今回より閾値データが１単位分だけ大きく指示する測定依頼の質問信号を形成して非接触データキャリア２に送信し（ステップ１０５）、上述と同様に、それに対する非接触データキャリア２からの返信を待ち受ける（ステップ１０２）。
【００３９】
なお、今回の質問信号における閾値データが最大のものであった場合には、質問器３は、測定値として最大の閾値データに係る最大閾値より大きいものに設定し（ステップ１０６）、後述するステップ１０８に移行する。
【００４０】
非接触データキャリア２からの応答信号内の比較結果が「０」であると、質問器３は、測定値として、今回と前回の質問信号における閾値データに対応する２個の閾値の中間値に設定する（ステップ１０７）。
【００４１】
その後、未測定の測定ポートが残っているか判断し（ステップ１０８）、残っていると、ステップ１０１に戻って、その測定ポートについての測定を実行する（ステップ１０１〜ステップ１０７）。
【００４２】
以上のようにして、その非接触データキャリア２についての全ての測定ポートについての測定値を得ると、質問器３は、非接触データキャリア２に対しては、測定終了を表す質問信号を送信し（ステップ１０９）、その返信を待って（ステップ１１０）、上位装置４に測定結果を送信し（ステップ１１１）、一連の処理を終了する。なお、このとき、上位装置４は、テーブル情報４Ｔを参照しつつ、閾値（閾値電圧）で表現された測定結果を、その測定項目（例えば温度）に係る表現の測定結果（温度）に変換し、内部記憶したり外部に送信したりする。なお、測定項目（例えば温度）に係る表現の測定結果（温度）への変換も質問器３が行うようにしても良い。
【００４３】
上位装置から指示された測定モードが第２の測定モードであれば、質問器３は、第２の測定モードにおける初期の測定依頼の質問信号を形成して非接触データキャリア２に送信し（ステップ１１２）、それに対する非接触データキャリア２からの返信を待ち受ける（ステップ１１３）。
【００４４】
ここでの質問信号は、非接触データキャリア２のＩＤ、第２の測定モードであること、測定ポートの番号などを含んでいる。このような質問信号を受信した非接触データキャリア２（のＩＤタグコア部１０）は、後述する図４に示すような制御処理により、比較結果が「１」から「０」へ変化する境界の閾値データを得、その境界閾値データを含む応答信号を形成して質問器３に返信する。
【００４５】
上述のような応答信号の返信を受けた質問器３は、測定値として、応答信号に含まれている境界閾値データに係る閾値より１／２単位分だけ小さい値に設定する（ステップ１１４）。なお、境界閾値データが最大閾値データの場合には、測定値として、最大閾値より大きいことを設定する。
【００４６】
その後、未測定の測定ポートが残っているか判断し（ステップ１１５）、残っていると、ステップ１１２に戻って、その測定ポートについての測定を実行させる（ステップ１１２〜ステップ１１４）。
【００４７】
以上のようにして、第２の測定モードでも、その非接触データキャリア２についての全ての測定ポートについての測定値を得ると、質問器３は、上述したステップ１０９に移行して、非接触データキャリア２に対して測定終了を表す質問信号を送信し、その返信を待って（ステップ１１０）、上位装置４に測定結果を送信し（ステップ１１１）、一連の処理を終了する。
【００４８】
次に、図４を参照しながら、第２の測定モードの測定依頼の質問信号を受信した非接触データキャリア２（のＩＤタグコア部１０）の制御処理を説明する。
【００４９】
ＩＤタグコア部１０は、第２の測定モードの測定依頼の質問信号を受信すると、その質問信号に含まれている測定ポートの番号が規定する測定ポートの測定開始時用の閾値データを不揮発性メモリ１１から取り出して可変閾値部１４によって設定させ（ステップ２００、２０１）、その測定ポートの番号に対応付けられたアナログ比較器１３−１又は１３−２の比較結果（「０」又は「１」）を取り込む（ステップ２０２）。そして、比較結果が「０」であるか「１」であるかを判別する（ステップ２０３）。
【００５０】
比較結果が「１」であると、ＩＤタグコア部１０は、今回の閾値データが最大のものでないことを確認して（ステップ２０４）、今回より閾値データを１単位分だけ大きくし（ステップ２０５）、上述したステップ２０１に戻って、可変閾値部１４によって設定させる。
【００５１】
なお、最大の閾値データでも「１」の比較結果を得た場合には、境界閾値データとして最大閾値データを設定し（ステップ２０６）、後述するステップ２１０に移行する。
【００５２】
一方、比較結果が「０」であると、ＩＤタグコア部１０は、適用した閾値データが測定開始時用の閾値データであるか否かを判別し（ステップ２０７）、適用した閾値データが測定開始時用の閾値データであると、閾値データを最小データ（又は測定開始時用の閾値データより所定単位分だけ小さいデータ）に更新し（ステップ２０８）、上述したステップ２０１に戻って、可変閾値部１４によって設定させる。
【００５３】
比較結果として「０」が得られた際の閾値データが測定開始時用の閾値データでなければ、今回の閾値データを境界閾値データに設定する（ステップ２０９）。そして、境界閾値データを含む応答信号を形成して質問器３に返信する（ステップ２１０）。その後、不揮発性メモリ１１に記憶されている測定開始時用の閾値データを、境界閾値データより所定値だけ小さいものに更新し（ステップ２１１）、一連の処理を終了する。
【００５４】
上記第１の実施形態によれば、以下のような効果を奏することができる。
【００５５】
第１の実施形態の非接触データキャリアは、ＩＤタグコア部１０及び不揮発性メモリ１１のみが１つの半導体集積回路中に形成した例を示した（すなわち、ＩＤタグコア部１０及び不揮発性メモリ１１は１チップ化されている）。
【００５６】
しかしながら、この実施形態の非接触データキャリアは、上述のチップ構成に限定されるものではなく、アナログ比較器１３及び可変閾値部１４が１チップ化され、この１チップ化されたアナログ比較器１３及び可変閾値部１４と、上述の１チップ化されたＩＤタグコア部１０及び不揮発性メモリ１１とのマルチチップ構成であっても良い。
【００５７】
このような構成を採用することにより、測定機能対応の非接触データキャリアを安価、軽量、小型で実現できることが期待できる。
【００５８】
第１の実施形態の非接触データキャリアは、センサは外付けのものであるため、非接触データキャリアから見れば、センサの種類は問わない。すなわち、第１の実施形態の非接触データキャリアは、測定項目に関して汎用性が高いものである。また、従来の測定機能付きの非接触データキャリアの場合、センサそのものを搭載しているため、１個の非接触データキャリアが複数の測定項目に対応するようにすることは実際上難しい面があったが、第１の実施形態の場合、追加構成が、アナログ比較器とそれに対する閾値の設定構成だけであるので、従来に比較して、複数の測定項目に対応させることは容易である。
【００５９】
第１の実施形態の場合、閾値を変化させ、比較結果が「０」と「１」との境界の閾値を探索し、その境界閾値を間接的な測定値とするようにしたので、測定信号をアナログ／デジタル変換するような構成要素を不要とでき、この点からも、非接触データキャリアの構成を安価、軽量、小型に抑えることができ、また、非接触データキャリア及び質問器間で必要な通信ビット数も抑えることができる。
【００６０】
また、２回目以降の測定動作では、前回の測定結果を利用して、比較結果が「０」と「１」との境界閾値の探索動作での初期閾値を設定するようにしたので、探索時間の短縮化が期待できる。
【００６１】
（Ｂ）第２の実施形態
次に、本発明による質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムの第２の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００６２】
図５は、第２の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図であり、上述した第１の実施形態に係る図１との同一、対応部分には同一、対応符号を付して示している。
【００６３】
第２の実施形態は、上述した第１の実施形態と比較すると、非接触データキャリア２の内部構成が異なっている。第２の実施形態の非接触データキャリア２は、複数（図５のものは２個の例）の測定ポート１５−１、１５−２の全てに共通に、アナログ比較器１３を設けると共に、共通なアナログ比較器１３と複数の測定ポート１５−１、１５−２との間に、アナログスイッチ（セレクタ）２０を設けたものであり、その他の構成は、第１の実施形態と同様である。
【００６４】
アナログスイッチ２０は、各測定ポート１５−１、１５−２からのセンサ検出信号から１個の信号を選択して共通なアナログ比較器１３に入力させるものであり、どの測定ポート１５−１、１５−２からのセンサ検出信号を選択するかは、ＩＤタグコア部１０からの選択制御信号による。
【００６５】
第２の実施形態の場合も、ＩＤタグコア部１０は、第１の実施形態の場合とほぼ同様な制御処理を行うが、その時点の測定対象の測定ポート（センサ）に対応したアナログ比較器から比較結果を取り込むことに代え、その時点の測定対象の測定ポート（センサ）からのセンサ検出信号が共通なアナログ比較器１３に入力されるようにアナログスイッチ２０を制御すると共に、その共通なアナログ比較器から比較結果を取り込む。
【００６６】
この第２の実施形態によっても、上述した第１の実施形態と同様な効果を奏する。測定ポート数が多い場合には、第２の実施形態の方が、非接触データキャリア内の回路の小型、簡易化を期待できる。
【００６７】
（Ｃ）第３の実施形態
次に、本発明による質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムの第３の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００６８】
図６は、第３の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図であり、上述した第１の実施形態に係る図１との同一、対応部分には同一、対応符号を付して示している。
【００６９】
第３の実施形態は、上述した第１の実施形態と比較すると、非接触データキャリア２の内部構成が異なっている。第３の実施形態は、上述した第１の実施形態と比較すると、各アナログ比較器１３−１、１３−２（図６では１個のアナログ比較器１３−１だけを示している）と対応する測定ポート１５−１（測定ポート１５−１は厳密に言えば一対のポート１５−１Ｐ及び１５−１Ｎでなる；図１や図５なども同様）、１５−２との間に、センサ検出信号のダイナミックレンジを拡大するブリッジ回路２１−１、２１−２を設けたものであり、その他の構成は、第１の実施形態と同様である。なお、第２の実施形態の構成に対してブリッジ回路を追加する場合であれば、アナログスイッチ２０の出力側に設けることが好ましい。
【００７０】
ブリッジ回路２１−１（２１−２も同様）は、例えば、図７に示すように、測定ポート対１５−１Ｐ及び１５−１Ｎを介して接続されたセンサ５−１を一辺とする抵抗のブリッジ部２１Ａと、そのブリッジ部２１Ａの２個の出力端子間の電圧を取り出す差分部２１Ｂとからなり、差分部２１Ｂからの出力電圧がアナログ比較器１３−１に入力されるようになされている。
【００７１】
この第３の実施形態によれば、上述した第１の実施形態と同様な効果に加え、センサ検出信号が小信号であっても高精度に検出できるという効果をも奏する。
【００７２】
（Ｄ）第４の実施形態
次に、本発明による質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムの第４の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００７３】
図８は、第４の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図であり、上述した第１の実施形態に係る図１との同一、対応部分には同一、対応符号を付して示している。なお、図８では、質問器３及び上位装置４の図示を省略している。
【００７４】
第４の実施形態は、上述した第１の実施形態と比較すると、非接触データキャリア２の内部構成と、センサ側の外部構成とが異なっている。第４の実施形態は、可変閾値部１４の一方の構成要素であるラッチ部１４Ａだけを非接触データキャリア２の内部に残し、可変閾値部１４の他方の構成要素である閾値形成部１４Ｂを非接触データキャリア２の外部に設けるようにしたものである。すなわち、第４の実施形態の非接触データキャリア２は、閾値データの出力ポート２２と、閾値（閾値電圧）の入力ポート２３とを備えている。
【００７５】
なお、非接触データキャリア２の内部のラッチ部１４Ａから、非接触データキャリア２の外部の閾値形成部１４Ｂへの閾値データの転送は、図８に示すようなパラレル転送に限定されず、シリアル転送であっても良い。
【００７６】
また、閾値形成部１４Ｂを非接触データキャリア２の外部に設けるようにしたのは、閾値データの１ビットの相違に対応する閾値（閾値電圧）の変化分（単位変化）を任意に設定できるようにしていることを意図している。例えば、閾値データの１ビットの相違を閾値（閾値電圧）の０．１Ｖに対応させることもでき、また、０．２Ｖに対応させることもでき、閾値（閾値電圧）の単位変化をオペレータが任意に設定できる。例えば、単位変化が０．１Ｖの閾値形成部や、単位変化が０．２Ｖの閾値形成部など、単位変化が異なる複数種類の閾値形成部を用意しておき、いずれかの種類の閾値形成部１４Ｂを非接触データキャリア２に接続させて閾値（閾値電圧）の単位変化を任意に設定させるようにしても良い。また、調整操作子を備え、その調整操作子の位置に応じて閾値（閾値電圧）の単位変化を任意に設定させる閾値形成部１４Ｂを非接触データキャリア２に接続させるようにしても良い。例えば、可変型の閾値形成部としては、図２における直列接続されている各抵抗を可変抵抗に置き換え、調整操作子の位置に応じて、全ての可変抵抗の抵抗値を変化させるものを挙げることができる。
【００７７】
この第４の実施形態によれば、上述した第１の実施形態と同様な効果に加え、閾値（閾値電圧）のステップ幅を選択できるという効果を奏する。
【００７８】
（Ｅ）第５の実施形態
次に、本発明による質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムの第５の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００７９】
図９は、第５の実施形態の非接触データキャリアの内部構成を示すブロック図であり、上述した第１の実施形態に係る図１との同一、対応部分には同一、対応符号を付して示している。
【００８０】
第５の実施形態は、上述した第１の実施形態と比較すると、非接触データキャリア２の内部構成が異なっている。第５の実施形態の場合、不揮発性メモリ１１には、測定ポート１５−１、１５−２（図９では一方の測定ポート１５−１だけを示している）毎の閾値データ補正テーブル１１Ｔ−１、１１Ｔ−２が格納されている。
【００８１】
閾値データ補正テーブル１１Ｔ−１（テーブル１１Ｔ−２も同様）は、可変閾値部１４の閾値を規定する閾値データを受信したときや内部で決定した場合に（図３、図４参照）、その閾値データに対応する補正後の閾値データを得るためのものであり、この補正後の閾値データが可変閾値部１４のラッチ部１４Ａにラッチされる。
【００８２】
一般には、測定対象項目の状態（値；例えば温度）とセンサの出力検出信号（例えば電圧値）とは線形な関係にはなく、非線形である。詳述をしなかったが、既述した第１〜第４の実施形態は、センサ５−１、５−２が非線形関係を線形関係に補正する機能を有しているか、又は、上位装置４が、出力検出信号に対応する測定結果を、実際の測定対象項目の状態に補正する機能を備えていることを前提としている。この第５の実施形態は、閾値データを補正することにより、センサ５−１、５−２の入出力の非線形性を補償しようとしたものである。
【００８３】
ここで、非接触データキャリア２の測定ポート１５−１、１５−２に接続されるセンサ５−１、５−２の種類は任意であるので、不揮発性メモリ１１の閾値データ補正テーブル１１Ｔ−１、１１Ｔ−２を任意に書き換えられることができるものとしておく。書換（上書き）は、例えば、質問器３からのコマンド列の送信などによって実行したり、外部入出力端子１７から入力させることで行う。
【００８４】
この第５の実施形態によれば、上述した第１の実施形態と同様な効果に加え、非接触データキャリアに接続されているセンサの非線形性を補償できるという効果を奏する。
【００８５】
（Ｆ）第６の実施形態
次に、本発明による質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムの第６の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００８６】
図１０は、第６の実施形態の非接触データキャリアの内部構成を示すブロック図であり、上述した第１の実施形態に係る図１との同一、対応部分には同一、対応符号を付して示している。
【００８７】
第６の実施形態は、非接触データキャリア２が電源供給制御部２４を有する点が第１の実施形態と異なっている。電源供給制御部２４は、ＩＤタグコア部１０からの供給制御信号に応じて、アナログ比較器１３−１、１３−２（図１０では１３−１のみ示している）や可変閾値部１４への動作電源の供給を制御（オン又はオフ）するものである。ＩＤタグコア部１０は、質問器３からの供給制御コマンドを含む信号の受信に応じて電源供給制御部２４を制御したり、測定モードを規定する質問信号の受信や測定動作の終了の認識などに応じて電源供給制御部２４を制御したりする。
【００８８】
すなわち、測定動作以外の通常動作（非接触データキャリア２としての質問器３との一般的な通信動作）では、アナログ比較器１３−１、１３−２や可変閾値部１４などの測定動作にのみ機能する部分への電源供給を停止し得るようにしている。
【００８９】
電池を搭載しない非接触データキャリア２の場合、動作エネルギーを質問器３側から得ているが、一般的な通信動作時に、測定動作にのみ機能する部分へ電源が供給され、僅かながらでも消費電力が生じている場合には、消費電力が生じていない場合に比べ、有効な交信距離が短くなってしまう。これを防止すべく、電源供給制御部２４が設けられている。
【００９０】
第６の実施形態によれば、上述した第１の実施形態と同様な効果に加え、測定機能構成を設けても、通常動作時の所望する交信距離（例えば、規格が定めている交信距離）を確保できるという効果を奏する。
【００９１】
（Ｇ）第７の実施形態
次に、本発明による質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムの第７の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００９２】
図１１は、第７の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図であり、上述した第１の実施形態に係る図１との同一、対応部分には同一、対応符号を付して示している。なお、図１１では、質問器３及び上位装置４を省略しており、また、アナログ比較器も１個のみ（１３）示している。
【００９３】
第７の実施形態は、非接触データキャリア２が一対の電源外部供給ポート２５Ｐ及び２５Ｎと、電源外部供給制御部２６とを有する点が第１の実施形態と異なっている。
【００９４】
一対の電源外部供給ポート２５Ｐ及び２５Ｎは、電源を搭載していないセンサ５の電源入力端子ＶＩＮＰ、ＶＩＮＮ（ＶＩＮＮがグランド側端子）と接続されるものであり、非接触データキャリア２からセンサ５への電源供給を可能としているものである。電源外部供給制御部２６は、ＩＤタグコア部１０からの供給制御信号に応じて、センサ５への動作電源の供給を制御（オン又はオフ）するものである。ＩＤタグコア部１０は、質問器３からの供給制御コマンドを含む信号の受信に応じて電源外部供給制御部２６を制御したり、測定モードを規定する質問信号の受信や測定動作の終了の認識などに応じて電源外部供給制御部２６を制御したりする。
【００９５】
第７の実施形態によれば、上述した第１の実施形態と同様な効果に加え、センサが電源を搭載していないものであっても（例えば、サーミスタ）、測定動作を実行できるという効果や、通常動作時の所望する交信距離を確保できるという効果（第６の実施形態の場合と同様）を奏する。
【００９６】
（Ｈ）第８の実施形態
次に、本発明による質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムの第８の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００９７】
図１２は、第８の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図であり、上述した第１の実施形態に係る図１との同一、対応部分には同一、対応符号を付して示している。なお、図１２では、質問器３及び上位装置４を省略しており、また、アナログ比較器も１個のみ（１３）を示している。
【００９８】
第８の実施形態は、非接触データキャリア２が動作コマンド出力ポート２７を有する点が第１の実施形態と異なっている。
【００９９】
動作コマンド出力ポート２７は、ＩＤタグコア部１０が出力した測定動作のオン又はオフを表す動作コマンドを、接続されているセンサ５に与えるために設けられているものである。この第８の実施形態の場合、センサ５が、外部からの動作コマンドによって、動作のオン、オフが制御されるものであることを前提としている。
【０１００】
ＩＤタグコア部１０は、質問器３からの動作コマンドを含む信号の受信に応じて、動作コマンド出力ポート２７へ動作コマンドを出力したり、測定モードを規定する質問信号の受信や測定動作の終了の認識などに応じて動作コマンド出力ポート２７へ動作コマンドを出力したりする。
【０１０１】
オペレータは、例えば、センサ５の測定タイミングがある場合には、上位装置４からそのタイミングに合わせて動作コマンドを出力させたり、また、センサ５の電源をオン状態にした後、所定時間の経過を待って上位装置４からオンの動作コマンドを出力させたりし、センサ５の測定動作状態を任意に制御する。なお、センサ５の電源のオンオフ信号を非接触データキャリア２のＩＤタグコア部１０に入力させる入力ポートを設け、センサ５の電源オンの検知に基づいて、ＩＤタグコア部１０が動作コマンド出力ポート２７へオンの動作コマンドを出力するようにしても良い。
【０１０２】
第８の実施形態によれば、上述した第１の実施形態と同様な効果に加え、センサの動作状態を非接触データキャリアを介して質問器や上位装置が制御できるという効果を奏する。
【０１０３】
（Ｉ）第９の実施形態
次に、本発明による質問器、非接触データキャリアシステム、非接触データキャリアのデータ取得方法、及び、非接触データキャリアのデータ取得用プログラムの第９の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【０１０４】
図１３は、第９の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図であり、上述した第１の実施形態に係る図１との同一、対応部分には同一、対応符号を付して示している。なお、図１３では、質問器３及び上位装置４を省略しており、また、アナログ比較器も１個のみ（１３）を示している。
【０１０５】
第９の実施形態は、非接触データキャリア２が、測定モードオンオフ信号生成器６と接続される測定モードオンオフ信号入力ポート２８を有する点が第１の実施形態と異なっている。
【０１０６】
測定モードオンオフ信号生成器６は、例えば、トグルスイッチの位置に応じて論理「０」（測定モードのオフを表す）か論理「１」（測定モードのオンを表す）をとる測定モードオンオフ信号を生成するものであり、この測定モードオンオフ信号が測定モードオンオフ信号入力ポート２８を介してＩＤタグコア部１０に与えられるようになされている。
【０１０７】
ＩＤタグコア部１０は、測定モードオンオフ信号が論理「１」の場合には、質問器３から測定モードの動作が指示されると測定モードの動作を実行させ、測定モードオンオフ信号が論理「０」の場合には、質問器３から測定モードの動作が指示されてもそれを無視し測定モードの動作を実行させない。
【０１０８】
なお、測定モードオンオフ信号入力ポート２８からＩＤタグコア部１０への経路上にタイマを設け、測定モードオンオフ信号入力ポート２８への測定モードオンオフ信号が一旦「１」に変化した場合には、測定モードオンオフ信号入力ポート２８への測定モードオンオフ信号が「０」に戻っても、ＩＤタグコア部１０へは、所定時間は「１」である測定モードオンオフ信号を入力させるようにしても良い。
【０１０９】
また、測定モードオンオフ信号生成器６とセンサ５とが別個独立なものでなくても良い。例えば、センサ５が測定モードオンオフ信号生成器６を内蔵し、自己が所定状態（例えば測定可能状態）のときにのみ、「１」の測定モードオンオフ信号を生成するようにしても良い。
【０１１０】
第９の実施形態によれば、上述した第１の実施形態と同様な効果に加え、質問器からの要求に基づいた非接触データキャリアの測定動作の実行可否を、非接触データキャリアの外部から指示できるという効果を奏する。
【０１１１】
（Ｊ）他の実施形態
上記各実施形態の説明においても、種々変形実施形態に言及したが、さらに、以下に例示するような変形実施形態を挙げることができる。
【０１１２】
上述した各実施形態の技術思想は矛盾が生じない限り、他の実施形態の技術思想と組み合わせて良いことは勿論である。また、測定ポートが複数ある場合には、測定ポートによって適用する技術思想を変えるようにしても良い。
【０１１３】
上記各実施形態では、測定値を探索している期間では閾値を変化させるものを示したが、閾値を固定化し、センサ検出信号の直流レベルを閾値データに合わせてシフトさせてアナログ比較器に入力させるようにしても良い。すなわち、アナログ比較器に入力される２入力のいずれを、閾値データに合わせてシフトさせるかは問われない。なお、特許請求の範囲の表現は、閾値側を変化させる場合だけを含むように読めるが、センサ検出信号の直流レベルをシフトさせる場合をも含むものとする。
【０１１４】
上記各実施形態では、初回の測定動作のみ、最小値の閾値から閾値を徐々に変化（増加）させて比較結果の論理が変化する２つの閾値を探索する第１の測定モードで動作させる場合を示したが、全ての測定動作を、第１の測定モードで動作させるようにしても良い。
【０１１５】
第１の測定モードにおける閾値変化は、最大値の閾値から徐々に小さくなる場合であっても良い。
【０１１６】
なお、比較結果の論理が変化する閾値の探索方法は、上述した第１の測定モードの方法に限定されない。例えば、いわゆる２分探索法などを適用することができる。すなわち、閾値の総数をＮとしたとき、最初に、小さい方から数えてＮ／２番目の閾値を設定して比較結果を取り込み、その論理が「０」であれば小さい方から数えてＮ／４番目の閾値を設定して比較結果を取り込み、一方、初回の比較結果の論理が「１」であれば小さい方から数えて３Ｎ／４番目の閾値を設定して比較結果を取り込み、以下同様にして、前回の比較結果の論理に応じて探索範囲を半分ずつに絞り込んでいって、比較結果の論理が変化する２つの閾値を見つけ出す。
【０１１７】
上記各実施形態においては、第１の測定モードで閾値データを変更させる実行主体が質問器であるものを示したが、非接触データキャリアや上位装置が、第１の測定モードで閾値データを変更させる実行主体であっても良い。同様に、上記各実施形態においては、第２の測定モードで閾値データを変更させる実行主体が非接触データキャリアであるものを示したが、質問器や上位装置が、第２の測定モードで閾値データを変更させる実行主体であっても良い。
【０１１８】
上記各実施形態においては、測定モードにおいては、非接触データキャリアから質問器へ、比較結果を返信したり、又は、論理が「１」に変化した閾値データを返信したりするものを示したが、測定結果を表す他のパラメータを返信するようにしても良い。例えば、ローパスフィルタのような徐々に充電電圧が変化する可変閾値部を用い、充電開始時点から、センサ検出信号が閾値を越えるようになった時点までの時間をＩＤタグコア部内のタイマで計時し、その計時時間（この計時時間は比較結果が変化した閾値の情報に対応しているものである）を、測定値を表すパラメータとして、質問器へ返信するようにしても良い。
【０１１９】
上記各実施形態においては、質問器から非接触データキャリアへ閾値データそのものを与えるものを示したが、閾値データを規定する閾値コードを与え、非接触データキャリアが不揮発性メモリのコード／データ変換テーブルに従って閾値データに変換するものであっても良い。この場合においては、測定結果を表すパラメータとして、閾値データではなく閾値コードを、非接触データキャリアから質問器へ返信するようにしても良い。
【０１２０】
なお、質問器及び非接触データキャリア間の情報伝送方式は、電磁結合方式やマイクロ波方式などのいずれであっても良い。非接触データキャリアが、電池搭載型であっても良く、この場合には、電磁誘導方式や光通信方式などを適用することができる。
【０１２１】
上記各実施形態においては、閾値との大小を比較結果として出力するアナログ比較器の場合を示したが、センサ検出信号が＋閾値〜−閾値の範囲の中か外かを判定するウィンドコンパレータを適用するようにしても良い。また、デジタル出力のセンサを考慮してデジタル比較器を適用しても良い。例えば、この場合でも、デジタル比較器は、センサ出力データと閾値データが一致しているか否かの比較結果を出力するものであっても良い。このようなデジタル比較器は、例えば、各ビット毎に設けられたイクスクルーシブオア素子と、全てのイクスクルーシブオア素子の出力が入力されるオア素子とで構成することができる。
【０１２２】
また、上記各実施形態においては、１個の測定項目については１個のアナログ比較器で比較結果を得るものを示したが、１個の測定項目について複数個のアナログ比較器で比較結果を得るようにしても良い。例えば、１個の測定項目用に２個のアナログ比較器を設け、それぞれに異なる閾値（例えば、Ａと、Ａ＋１単位分）を設定して比較させ、２個の比較結果を同時に得て、質問器に送信するようにしても良い。
【０１２３】
各実施形態の非接触データキャリアに搭載する半導体チップの数や、各半導体チップにどのような構成要素を形成させるかは任意であって良い。
【０１２４】
上記各実施形態においては、質問器が１個の非接触データキャリアから測定動作に係る応答信号を得る場合を示したが、１個の質問器が複数の非接触データキャリアを配下にしている場合には、例えば、以下の処理１〜処理４により、各非接触データキャリアから、測定情報を取り込むようにすれば、効率よく測定情報を取り込むことができる。
【０１２５】
処理１：質問器は、全ての非接触データキャリアに対し、放送機能により、測定モードを指示する。
【０１２６】
処理２：質問器は、全ての非接触データキャリアに対し、放送機能により、閾値データを与えると共に、閾値データを、徐々に大きくしていく。
【０１２７】
処理３：非接触データキャリアは、測定モードが指示された後は、閾値データが与えられる毎に、アナログ比較器の比較結果を確認し、比較結果が変化した際の閾値データを内部の不揮発性メモリに記憶させる。比較結果が変化した際の閾値データを内部の不揮発性メモリに記憶させた場合には、非接触データキャリアは、それ以降、閾値データが与えられても比較動作を実行しない。
【０１２８】
処理４：質問器は、最大の閾値データを送出した後には、各非接触データキャリアを個別に指定して（例えば、ポーリング方式による）、その非接触データキャリアの不揮発性メモリに記憶されている、比較結果が変化した際の閾値データを取り込む。
【０１２９】
質問器と上位装置との機能分けは、上記各実施形態のものに限定されない。なお、特許請求の範囲では、非接触データキャリアに対する上位側の装置をまとめて質問器と呼んでいる。
【０１３０】
また、固定データの保持面などについての、非接触データキャリアと質問器との機能分けは、上記各実施形態のものに限定されない。例えば、閾値データ補正テーブルを質問器が備え、質問器が閾値データの補正処理を実行するようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１３１】
【図１】第１の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態の可変閾値部の要部構成を示す回路図である。
【図３】第１の実施形態の質問器の測定モードでの動作を示すフローチャートである。
【図４】第１の実施形態の非接触データキャリアの第２の測定モードでの動作を示すフローチャートである。
【図５】第２の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図である。
【図６】第３の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図である。
【図７】第３の実施形態のブリッジ回路の内部構成例を示す回路図である。
【図８】第４の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図である。
【図９】第５の実施形態の非接触データキャリアの内部構成を示すブロック図である。
【図１０】第６の実施形態の非接触データキャリアの内部構成を示すブロック図である。
【図１１】第７の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図である。
【図１２】第８の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図である。
【図１３】第９の実施形態の非接触データキャリアシステムの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【０１３２】
１…非接触データキャリアシステム、２…非接触データキャリア、３…質問器、４…上位装置、５、５−１、５−２…センサ、６…測定モードオンオフ信号生成器、１０…ＩＤタグコア部、１１…不揮発性メモリ、１１Ｔ−１、１１Ｔ−２…閾値データ補正テーブル、１２…アンテナ、１３、１３−１、１３−２…アナログ比較器、１４…可変閾値部、１５、１５−１、１５−２…測定ポート、１６…外部拡張端子、１７…外部入出力端子（外部Ｉ／Ｏ端子）、２０…アナログスイッチ、２１…ブリッジ回路、２２…閾値データの出力ポート、２３…閾値（閾値電圧）の入力ポート、２４…電源供給制御部、２５Ｐ、２５Ｎ…電源外部供給ポート、２６…電源外部供給制御部、２７…動作コマンド出力ポート、２８…測定モードオンオフ信号入力ポート。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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