(57)【要約】【課題】  ディスクドライブの経時変化に伴う障害発生時期、交換時期を予測することのできる磁気ディスク装置、障害予測装置、障害予測方法を提供する。【解決手段】  障害予測装置３０は、シークテストを定期的に実施するシークテスト手段３１と、テスト実施の時間間隔（ｔｃ）に対する現在のシークタイム（Ｔｎ）と前回のシークタイム（Ｔｎ−１）との差（Ｔｎ−Ｔｎ−１）／ｔｃと障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）３５とからディスクドライブ２０の予測交換時期（ｔｐ）を算出し判断する障害予兆判断部３６とを備える。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスク媒体と前記ディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブと、前記ディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置とを有する磁気ディスク装置であって、前記障害予測装置は、障害予兆診断のためのシークを行うシークテスト手段と、前記シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とを格納するテスト結果格納部と、障害予兆を判断するための障害予兆シーク時間を設定し格納する障害予兆基準時間格納部と、前記テスト結果と前記稼働時間と前記障害予兆シーク時間とから交換時期の予測を行う障害予兆判断部とを有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項２】
ディスク媒体と前記ディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブと、前記ディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置とを有する磁気ディスク装置であって、前記障害予測装置は、障害発生診断のためのシークを行うシークテスト手段と、前記シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とを格納するテスト結果格納部と、障害発生を判断するための障害発生シーク時間を設定し格納する障害発生基準時間格納部と、前記テスト結果と前記稼働時間と前記障害発生シーク時間とから障害時期の予測を行う障害発生判断部とを有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記シークテスト手段は、シーク時間を測定するタイマーカウンタを有することを特徴とする請求項１または２記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記シークテスト手段は、定期的にテストを実行する手段と、特定のシークパターンを複数サイクル繰り返す手段とを有することを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
前記シークパターンは、ランダムシークパターンを有することを特徴とする請求項４記載の磁気ディスク装置。
【請求項６】
前記障害予兆シーク時間は、稼働時初期のシーク時間に対応して予め設定することを特徴とする請求項１、３、４、５の何れか１項記載の磁気ディスク装置。
【請求項７】
前記障害予兆判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から交換時期を予測する手段を有することを特徴とする請求項１、３、４、５、６の何れか１項記載の磁気ディスク装置。
【請求項８】
前記障害発生シーク時間は、シークタイムアウト時間値を予め設定することを特徴とする請求項２乃至５の何れか１項記載の磁気ディスク装置。
【請求項９】
前記障害発生判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から障害時期を予測する手段を有することを特徴とする請求項２、３、４、５、８の何れか１項記載の磁気ディスク装置。
【請求項１０】
ディスク媒体と前記ディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置であって、障害予兆診断のためのシークを行うシークテスト手段と、前記シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とを格納するテスト結果格納部と、障害予兆を判断するための障害予兆シーク時間を設定し格納する障害予兆基準時間格納部と、前記テスト結果と前記稼働時間と前記障害予兆シーク時間とから交換時期の予測を行う障害予兆判断部とを有することを特徴とする障害予測装置。
【請求項１１】
ディスク媒体と前記ディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置であって、障害発生診断のためのシークを行うシークテスト手段と、前記シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とを格納するテスト結果格納部と、障害発生を判断するための障害発生シーク時間を設定し格納する障害発生基準時間格納部と、前記テスト結果と前記稼働時間と前記障害発生シーク時間とから障害時期の予測を行う障害発生判断部とを有することを特徴とする障害予測装置。
【請求項１２】
前記シークテスト手段は、シーク時間を測定するタイマーカウンタを有することを特徴とする請求項１０または１１記載の障害予測装置。
【請求項１３】
前記シークテスト手段は、定期的にテストを実行する手段と、特定のシークパターンを複数サイクル繰り返す手段とを有することを特徴とする請求項１０乃至１２の何れか１項記載の障害予測装置。
【請求項１４】
前記シークパターンは、ランダムシークパターンを有することを特徴とする請求項１３記載の障害予測装置。
【請求項１５】
前記障害予兆シーク時間は、稼働時初期のシーク時間に対応して予め設定することを特徴とする請求項１０、１２、１３、１４の何れか１項記載の障害予測装置。
【請求項１６】
前記障害予兆判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から交換時期を予測する手段を有することを特徴とする請求項１０、１２、１３、１４、１５の何れか１項記載の障害予測装置。
【請求項１７】
前記障害発生シーク時間は、シークタイムアウト時間値を予め設定することを特徴とする請求項１１乃至１４の何れか１項記載の障害予測装置。
【請求項１８】
前記障害発生判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から障害時期を予測する手段を有することを特徴とする請求項１１、１２、、１３、１４、１７の何れか１項記載の障害予測装置。
【請求項１９】
ディスク媒体と前記ディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブと、前記ディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置とを有する磁気ディスク装置の障害予測方法であって、前記障害予測装置は、シークテスト手段により障害予兆診断のためのシークを行うステップと、前記シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とをテスト結果格納部へ格納するステップと、障害予兆を判断するための障害予兆シーク時間を設定し障害予兆基準時間格納部へ格納するステップと、前記テスト結果と前記稼働時間と前記障害予兆シーク時間とから障害予兆判断部により交換時期の予測を行うステップとを有することを特徴とする磁気ディスク装置の障害予測方法。
【請求項２０】
ディスク媒体と前記ディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブと、前記ディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置とを有する磁気ディスク装置の障害予測方法であって、前記障害予測装置は、シークテスト手段により障害発生診断のためのシークを行うステップと、前記シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とをテスト結果格納部へ格納するステップと、障害発生を判断するための障害発生シーク時間を設定し障害発生基準時間格納部へ格納するステップと、前記テスト結果と前記稼働時間と前記障害発生シーク時間とから障害発生判断部により障害時期の予測を行うステップとを有することを特徴とする磁気ディスク装置の障害予測方法。
【請求項２１】
前記障害予兆判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から交換時期を予測するステップを有することを特徴とする請求項１９記載の磁気ディスク装置の障害予測方法。
【請求項２２】
前記障害発生判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から障害時期を予測する手段を有することを特徴とする請求項２０記載の磁気ディスク装置の障害予測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク装置、障害予測装置、磁気ディスク装置の障害予測方法に関し、特に、可動部の機構部品の寿命を予測し、交換時期や障害発生時期の予測を行うことのできる磁気ディスク装置、障害予測装置、磁気ディスク装置の障害予測方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置は、寿命がある。特に、磁気ディスク装置の可動部を構成する機構部品は、稼働時間、経年変化による劣化に起因する寿命がある。
【０００３】
従来、磁気ディスクユニット交換システムは、磁気ディスク記憶装置の各ディスクユニットの障害予兆を検知して、運用ディスクユニットを予備ディスクユニットに代替するものがある（例えば、特許文献１参照。）。
【０００４】
特許文献１は、障害予兆を監視する障害監視プロセスを設け、障害監視プロセスは、磁気ディスクの動作状況（リード／ライト動作のリトライ回数）に基付いて障害予兆を行う。この障害予兆は、リード／ライト動作が失敗するようになってから認識することになる。従って、可動部の劣化の場合、劣化の進行度合いが非常に大となった時点で障害予兆を認識するため、余寿命が殆どなく、代替する前に磁気ディスク装置が障害を発生するという欠点がある。
【０００５】
また、回転体記憶装置の寿命予測・管理装置は、回転体記憶装置の余寿命を的確に予測し、管理するものもある（例えば、特許文献２参照。）。
【０００６】
特許文献２は、スピンドルモータのベアリング部から発生する回転音または振動をセンシング、解析して余寿命を予測する。音声解析部、振動解析部は、余寿命状態を、正常、何らかの寿命の予兆のある状態、異常の３段階に診断する。しかし、ベアリング部のグリース劣化による余寿命を回転音または振動から予測する上記技術は、回転音または振動と、回転体記憶装置の実使用状態（シーク動作、リード／ライト動作など）での障害（エラー発生）との対応付けがなく、余寿命状態と障害とが正確には対応しないという欠点がある。また、スピンドルモータの回転音、振動は、製造時の組み立て状態でバラツキがあり、スピンドルモータの個々の初期値と比較しない限り、経年変化による変化であるか否かを正確に解析できないことになる。さらに、グリース劣化に伴い発生する振動周波数は、一定でなく複数あり、一般に回転同期周波数のレベルとグリース寿命との関連性は低い故、回転音、振動の解析は、着目する周波数を特定することが実際には困難である。
【０００７】
さらに、磁気ディスク装置の障害発生予測システムは、磁気ディスク装置の障害発生を事前に予測でき、また、磁気ディスク装置のメーカや型番号の仕様が様々である場合でも障害発生を事前に予測できるものもある（例えば、特許文献３参照。）。
【０００８】
特許文献３は、中央処理装置が制御装置を介して磁気ディスク装置へリード／ライト要求を出した時刻と、データを受け取った時刻との差分から応答時間を得ると共に、応答時間がリトライ無し正常応答時間を超えているか否かを判別する。超えていると判別したとき、データベース装置に磁気ディスク装置に関わる情報を記録すると共に、統計解析によって磁気ディスク装置の損傷の進行具合を判定する。上記技術は、中央処理装置がリード／ライトコマンドを発行したとき、応答時間を得て、応答時間から損傷の進行具合を判定するため、磁気ディスク装置へアクセスがないときは、障害発生を事前に予測できないという欠点がある。
【０００９】
【特許文献１】特開平０９−０１６３４０号公報
【特許文献２】特開２００４−１５２３３６号公報
【特許文献３】特開２００４−１１８３９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
特許文献１の技術は、リード／ライト動作が失敗するようになって障害予兆を認識する。従って、可動部の劣化の進行度合いが非常に大となった時点で障害予兆を認識するため、余寿命が殆どなく、代替する前に磁気ディスク装置が障害を発生するという課題がある。
【００１１】
特許文献２の技術は、回転音または振動と、回転体記憶装置の実使用状態での障害（エラー発生）との対応付けがなく、余寿命状態と障害とが正確には対応しないという課題がある。
【００１２】
特許文献３の技術は、中央処理装置から磁気ディスク装置へのアクセスがないときは、磁気ディスク装置の障害発生を事前に予測できないという課題がある。
【００１３】
本発明の目的は、上記課題を解決すべく、シークテストを定期的に実施し、テスト実施の時間間隔に対する現在のシークタイムと前回のシークタイムとの差（シーク時間変化率）から磁気ディスク装置の劣化状況を認識して予兆診断を行い、障害発生時期、交換時期を予測することのできる磁気ディスク装置、障害予測装置、障害予測方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の磁気ディスク装置は、ディスク媒体とディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブと、ディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置とを有する磁気ディスク装置であって、障害予測装置は、障害予兆診断のためのシークを行うシークテスト手段と、シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とを格納するテスト結果格納部と、障害予兆を判断するための障害予兆シーク時間を設定し格納する障害予兆基準時間格納部と、テスト結果と稼働時間と障害予兆シーク時間とから交換時期の予測を行う障害予兆判断部とを有することを特徴とする。
【００１５】
本発明の磁気ディスク装置は、ディスク媒体とディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブと、ディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置とを有する磁気ディスク装置であって、障害予測装置は、障害発生診断のためのシークを行うシークテスト手段と、シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とを格納するテスト結果格納部と、障害発生を判断するための障害発生シーク時間を設定し格納する障害発生基準時間格納部と、テスト結果と稼働時間と障害発生シーク時間とから障害時期の予測を行う障害発生判断部とを有することを特徴とする。
【００１６】
シークテスト手段は、シーク時間を測定するタイマーカウンタを有することを特徴とする。
【００１７】
シークテスト手段は、定期的にテストを実行する手段と、特定のシークパターンを複数サイクル繰り返す手段とを有することを特徴とする。
【００１８】
シークパターンは、ランダムシークパターンを有することを特徴とする。
【００１９】
障害予兆シーク時間は、稼働時初期のシーク時間に対応して予め設定することを特徴とする。
【００２０】
障害予兆判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から交換時期を予測する手段を有することを特徴とする。
【００２１】
障害発生シーク時間は、シークタイムアウト時間値を予め設定することを特徴とする。
【００２２】
障害発生判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から障害時期を予測する手段を有することを特徴とする。
【００２３】
本発明の障害予測装置は、ディスク媒体とディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置であって、障害予兆診断のためのシークを行うシークテスト手段と、シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とを格納するテスト結果格納部と、障害予兆を判断するための障害予兆シーク時間を設定し格納する障害予兆基準時間格納部と、テスト結果と稼働時間と障害予兆シーク時間とから交換時期の予測を行う障害予兆判断部とを有することを特徴とする。
【００２４】
本発明の障害予測装置は、ディスク媒体とディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置であって、障害発生診断のためのシークを行うシークテスト手段と、シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とを格納するテスト結果格納部と、障害発生を判断するための障害発生シーク時間を設定し格納する障害発生基準時間格納部と、テスト結果と稼働時間と障害発生シーク時間とから障害時期の予測を行う障害発生判断部とを有することを特徴とする。
【００２５】
シークテスト手段は、シーク時間を測定するタイマーカウンタを有することを特徴とする。
【００２６】
シークテスト手段は、定期的にテストを実行する手段と、特定のシークパターンを複数サイクル繰り返す手段とを有することを特徴とする。
【００２７】
シークパターンは、ランダムシークパターンを有することを特徴とする。
【００２８】
障害予兆シーク時間は、稼働時初期のシーク時間に対応して予め設定することを特徴とする。
【００２９】
障害予兆判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から交換時期を予測する手段を有することを特徴とする。
【００３０】
障害発生シーク時間は、シークタイムアウト時間値を予め設定することを特徴とする。
【００３１】
障害発生判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から障害時期を予測する手段を有することを特徴とする。
【００３２】
本発明の磁気ディスク装置の障害予測方法は、ディスク媒体とディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブと、ディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置とを有する磁気ディスク装置の障害予測方法であって、障害予測装置は、シークテスト手段により障害予兆診断のためのシークを行うステップと、シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とをテスト結果格納部へ格納するステップと、障害予兆を判断するための障害予兆シーク時間を設定し障害予兆基準時間格納部へ格納するステップと、テスト結果と稼働時間と障害予兆シーク時間とから障害予兆判断部により交換時期の予測を行うステップとを有することを特徴とする。
【００３３】
本発明の磁気ディスク装置の障害予測方法は、ディスク媒体とディスク媒体に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッドとを備えるディスクドライブと、ディスクドライブの障害予測を行う障害予測装置とを有する磁気ディスク装置の障害予測方法であって、障害予測装置は、シークテスト手段により障害発生診断のためのシークを行うステップと、シークテスト手段によるテスト結果とテスト実行時の稼働時間とをテスト結果格納部へ格納するステップと、障害発生を判断するための障害発生シーク時間を設定し障害発生基準時間格納部へ格納するステップと、テスト結果と稼働時間と障害発生シーク時間とから障害発生判断部により障害時期の予測を行うステップとを有することを特徴とする。
【００３４】
障害予兆判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から交換時期を予測するステップを有することを特徴とする。
【００３５】
障害発生判断部は、テストを実行した稼働時間間隔に対するシーク時間の差から障害時期を予測する手段を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００３６】
本発明は、シークテストを定期的に実施し、テスト実施の時間間隔に対する現在のシークタイムと前回のシークタイムとの差から磁気ディスク装置の劣化状況を判断して予兆診断を行うため、劣化状況に対応した障害予兆診断を行うことができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
次に、本発明を実施するための最良の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【実施例１】
【００３８】
図１は、本発明の磁気ディスク装置１０の第１実施例を示す概略構成図である。
【００３９】
図１を参照すると、磁気ディスク装置１０は、ディスクドライブ２０と障害予測装置３０とで構成する。
【００４０】
ディスクドライブ２０は、ディスク媒体２１とディスク媒体２１に対し情報の書き込み／読み出しを行う磁気ヘッド２２とを備える。
【００４１】
障害予測装置３０は、ディスクドライブ２０の障害予兆診断のためのシークを行うシークテスト手段３１と、テスト結果格納部３３と、障害予兆基準時間格納部３４と、障害予兆判断部３６とを備える。
【００４２】
シークテスト手段３１は、シーク時間を測定するタイマーカウンタ３２と、定期的にランダムシークテストを実行する手段（図示せず）と、ランダムシークパターンを複数サイクル繰り返す手段（図示せず）とを備える。なお、シークテスト手段３１は、ランダムシークテスト実行中、外部からのＩ／Ｏ（ＩＮＰＵＴ／ＯＵＴＰＵＴ）コマンドを受け付ず、常に同一条件下でシーク時間を測定する。
【００４３】
テスト結果格納部３３は、シークテスト手段３１によって実行したテスト結果（図示せず）と、テスト実行時のディスクドライブ２０の稼働時間（図示せず）とを格納する。
【００４４】
障害予兆基準時間格納部３４は、障害予兆を判断するための予め設定した障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）３５を格納する。障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）３５は、ディスクドライブ２０の稼働時の初期シーク時間（Ｔｏ）に対応して設定する。なお、テスト結果格納部３３と障害予兆基準時間格納部３４とは、図示しない不揮発性記憶手段内に設ける。
【００４５】
障害予兆判断部３６は、テスト結果と稼働時間と障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）３５とからディスクドライブ２０の予測交換時期（ｔｐ）を算出して予測を行う。
【００４６】
次に上述のように構成した磁気ディスク装置１０の動作について、図２、および図１を参照して説明する。
【００４７】
図２は、ディスクドライブ２０の予測交換時期（ｔｐ）を算出して予測する説明を行うための図であり、ディスクドライブ２０の稼働時間に対するシーク時間の変化を示す図である。
【００４８】
図１、図２を参照すると、シークテスト手段３１は、定期的にシークテストを実行する。本実施例では、図２に示すように、ランダムシークテストを一定稼働時間間隔（ｔｃ）で実行する。ランダムシークテストは、例えば、３サイクル実行する（サイクル回数を１０回以上にすると、テストに要する時間が長くなり、１サイクルにすると、動作バラツキが発生したときにバラツキを吸収できないため、２〜４サイクル実行する）。なお、シークパターンは、リピートシーク、インクリメントシークでもよいが、寿命に影響を及ぼす可動部の機構部品（磁気ヘッド２２を含むポジショナ機構、ディスク媒体２１を含むスピンドル機構）の動作位置の全ての位置を網羅する上でランダムシークがよい。
【００４９】
タイマーカウンタ３２は、シーク時間を測定し、測定結果と測定時の稼働時間（ディスクドライブ２０の初期稼働時からの経過時間）とをテスト結果格納部３３へ記録する。
【００５０】
次に、障害予兆判断部３６は、障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）３５と、テストを実行した稼働時間間隔（ｔｃ）に対する現在の測定時のシークタイム（Ｔｎ）と前回の測定時のシークタイム（Ｔｎー１）との差とから予測交換時期（ｔｐ）を算出して予測する。即ち、（Ｔｎ−Ｔｎ−１）／ｔｃを勾配とする一次関数と、障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）３５とから予測交換時期（ｔｐ）を算出する。なお、障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）３５は、フィールド実績データ、実験データなどを元に、予め、個々のディスクドライブ２０毎の初期シーク時間（Ｔｏ）に対して設定しておく。或いは、初期シーク時間（Ｔｏ）に対して、例えば１０％増加する時間値（１．１Ｔｏ）に設定する。
【００５１】
障害予兆判断部３６は、勾配が緩やかで、前回測定時との勾配の差が小さければ、障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）３５に達した時点で、図示しない表示部へ表示、または、オペレータに予測交換時期（ｔｐ）であることを通知する。勾配が大で前回測定時との勾配の差（勾配の変化）が急激に増加した場合は、急激に予測交換時期（ｔｐ）に達する虞れがあるため、障害予兆判断部３６は、障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）３５に達する前に通知を行う。なお、勾配と、今回と前回との勾配の測定値の差との大小により、通知を行うか否かの判定値は、フィールド実績値、実験値、経験値などにより、予め設定しておく。
【００５２】
上述のように、磁気ディスク装置１０は、テスト実施の時間間隔（ｔｃ）に対する現在のシーク時間と過去のシーク時間との差からディスクドライブ２０の劣化状況を判断して予兆診断を行うため、劣化状況に対応した予測交換時期（ｔｐ）を求めることができるという効果がある。
【実施例２】
【００５３】
図３は、本発明の磁気ディスク装置５０の第２実施例を示す概略構成図である。
【００５４】
図３を参照すると、磁気ディスク装置５０は、ディスクドライブ２０と障害予測装置６０とで構成する。なお、第１実施例と同一構成要素は、同一符号で表示する。第２実施例が第１実施例と異なる点は、障害予測装置６０が予測交換時期（ｔｐ）に代え、予測障害時期（ｔｒ）を算出する点のみであり、異なる点のみを重点的に説明する。
【００５５】
障害予測装置６０は、ディスクドライブ２０の障害予兆診断のためのシークを行うシークテスト手段３１と、テスト結果格納部３３と、障害発生基準時間格納部６７と、障害発生判断部６９とを備える。
【００５６】
障害発生基準時間格納部６７は、障害発生を判断するための予め設定した障害発生シーク時間（Ｔｓｒ）６８を格納する。障害発生シーク時間（Ｔｓｒ）６８は、ディスクドライブ２０のシークタイムアウト時間値を設定する。
【００５７】
障害発生判断部６９は、テスト結果と稼働時間と障害発生シーク時間（Ｔｓｒ）６８とからディスクドライブ２０の予測障害時期（ｔｒ）を算出して予測を行う。
【００５８】
次に上述のように構成した磁気ディスク装置５０の動作について、図３、および、図４を参照して説明する。
【００５９】
図４は、ディスクドライブ２０の予測障害時期（ｔｒ）を算出し予測交換時期（ｔｐ）を予測する説明を行うための図であり、ディスクドライブ２０の稼働時間に対するシーク時間の変化を示す図である。
【００６０】
以下、図３、図４を参照して、第１実施例と異なる点の動作についてのみ説明する。
【００６１】
障害発生判断部６９は、障害発生シーク時間（Ｔｓｒ）６８と、テストを実行した稼働時間間隔（ｔｃ）に対する現在の測定時のシークタイム（Ｔｎ）と前回の測定時のシークタイム（Ｔｎー１）との差とから予測障害時期（ｔｒ）を算出して予測する。即ち、（Ｔｎ−Ｔｎ−１）／ｔｃを勾配とする一次関数と、障害発生シーク時間（Ｔｓｒ）６８とから予測障害時期（ｔｒ）を算出する。
【００６２】
障害発生判断部６９は、予測障害時期（ｔｒ）からｎ時間前を予測交換時期（ｔｐ）と判断してオペレータに通知する。ｎは、障害発生を防止するため、充分マージンを持った時間に設定する。例えば、ｎは、機種別のディスクドライブ２０のフィールド実績データ、実験データなどを参照して決定する。
【００６３】
なお、上述の実施例１、２において、障害予測装置３０、６０は、磁気ディスク装置１０、５０と別個に設けているが、磁気ディスク装置１０、５０内に包含する構成としても良いことは云うまでもない。
【００６４】
上述のように、磁気ディスク装置５０は、テスト実施の時間間隔（ｔｃ）に対する現在のシークタイム（Ｔｎ）と前回のシークタイム（Ｔｎー１）との差からディスクドライブ２０の予測障害時期（ｔｒ）を算出し、予測障害時期（ｔｒ）を元に予測交換時期（ｔｐ）を決定する。従って、ディスクドライブ２０の劣化状況に対応した予測障害時期（ｔｒ）、予測交換時期（ｔｐ）を予測することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明の磁気ディスク装置の第１実施例を示す概略構成図である。
【図２】ディスクドライブの予測交換時期を算出して予測する説明を行うための図である。
【図３】本発明の磁気ディスク装置の第２実施例を示す概略構成図である。
【図４】ディスクドライブの予測障害時期を算出し予測交換時期を予測する説明を行うための図である。
【符号の説明】
【００６６】
１０    磁気ディスク装置
２０    ディスクドライブ
２１    ディスク媒体
２２    磁気ヘッド
３０    障害予測装置
３１    シークテスト手段
３２    タイマーカウンタ
３３    テスト結果格納部
３４    障害予兆基準時間格納部
３５    障害予兆シーク時間（Ｔｓｃ）
３６    障害予兆判断部
５０    磁気ディスク装置
６０    障害予測装置
６７    障害発生基準時間格納部
６８    障害発生シーク時間（Ｔｓｒ）
６９    障害発生判断部
（ｔｃ）    時間間隔
（ｔｐ）    予測交換時期
（Ｔｏ）    初期シーク時間
（ｔｒ）    予測障害時期
（Ｔｎ）    シークタイム
（Ｔｎ−１）    シークタイム
【図１】
2008084392.tif 000003
【図２】
2008084392.tif 000004
【図３】
2008084392.tif 000005
【図４】
2008084392.tif 000006