(57)【要約】【課題】回転角度の検出応答性が高い回転角度検出装置およびそれを用いた回転制御装置を提供する。【解決手段】ホールＩＣ３０には、第１磁気検出部に感磁面の角度をずらして複数のホール素子３２が設置され、第２磁気検出部に１個のホール素子３２が設置されている。ＥＥＰＲＯＭ６０には、第１磁気検出部の複数のホール素子３２の検出信号から１個の検出信号を選択する選択情報が記憶されている。出力選択回路７０は、トランジスタによるスイッチング回路等により構成されている。出力選択回路７０は、第２磁気検出部の１個のホール素子３２の検出信号を必ず選択し、第１磁気検出部の複数のホール素子３２の検出信号からは、第２磁気検出部のホール素子３２の検出信号との位相差が目標位相差の９０°に最も近い検出信号を選択する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検出対象の回転角度を検出する回転角度検出装置において、
前記検出対象の回転に伴い、磁界発生手段に対して相対回転することにより生じる磁界の変化に応じて互いに位相の異なるアナログの検出信号を出力する第１磁気検出素子および第２磁気検出素子を有し、前記第１磁気検出素子および前記第２磁気検出素子の少なくとも一方は感磁面の角度をずらして複数設置されている磁気検出手段と、
前記第１磁気検出素子と前記第２磁気検出素子との検出信号から、予め設定した目標位相差に最も近い位相差の検出信号の組み合わせを１個ずつ選択して出力する出力選択手段と、
を備える回転角度検出装置。
【請求項２】
前記両磁気検出素子はホール素子である請求項１に記載の回転角度検出装置。
【請求項３】
前記磁気検出手段は１チップの半導体で形成されており、前記両磁気検出素子は感磁面が半導体のチップ面に対して略垂直な縦型ホール素子である請求項２に記載の回転角度検出装置。
【請求項４】
前記磁気検出手段および前記出力選択手段は１チップの半導体で形成されている請求項３に記載の回転角度検出装置。
【請求項５】
前記第１磁気検出素子および前記第２磁気検出素子はそれぞれ感磁面の角度をずらして複数設置されており、前記第１磁気検出素子の感磁面の角度間隔と、前記第２磁気検出素子の感磁面の角度間隔とは異なっている請求項１から４のいずれか一項に記載の回転角度検出装置。
【請求項６】
前記目標位相差は９０°である請求項１から５のいずれか一項に記載の回転角度検出装置。
【請求項７】
前記出力選択手段は、前記第１磁気検出素子と前記第２磁気検出素子との検出信号から、前記目標位相差に最も近い位相差の検出信号の組み合わせを１個ずつ選択する選択情報を記憶する記憶部と、前記記憶部の前記選択情報により、前記第１磁気検出素子と前記第２磁気検出素子との検出信号から１個ずつ選択して出力する選択部と、を有する請求項１から６のいずれか一項に記載の回転角度検出装置。
【請求項８】
前記磁界発生手段をさらに備える請求項１から７のいずれか一項に記載の回転角度検出装置。
【請求項９】
請求項１から８のいずれか一項に記載の回転角度検出装置と、
前記出力選択手段で選択された検出信号に基づき、三角関数演算により前記検出対象の回転角度を算出する算出手段と、
前記算出手段が算出した前記検出対象の回転角度に基づき、前記検出対象を回転駆動するアクチュエータを制御する回転制御手段と、
を備える回転制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検出対象の回転角度を検出する回転角度検出装置およびそれを用いた回転制御装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、検出対象とともに磁石が回転することにより生じる磁界の変化を１組の磁気検出素子で検出し、１組の磁気検出素子が出力する位相の異なる検出信号に基づいて三角関数演算により検出対象の回転角度を検出する回転角度検出装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
このような回転角度検出装置では、２個のホール素子の出力の位相差が目標位相差になるようにホール素子を設置している。例えば、図８に示すように、２個のホール素子３０２の感磁面の交差角度αがα＝９０°になるようにホール素子３０２を設置し、図９の実線に示すように、位相差９０°の検出信号４００、４０２を出力させる。位相差９０°の検出信号４００、４０２は、ｓｉｎとｃｏｓとの関係になるので、検出対象の回転角度をθ、検出信号４００、４０２の出力電圧をＶ１、Ｖ２とすると、回転角度θを次式（１）から求めることができる。
【０００３】
θ＝ａｒｃｔａｎ（ｓｉｎθ／ｃｏｓθ）
＝ａｒｃｔａｎ（Ｖ１／Ｖ２）  ・・・（１）
【０００４】
しかしながら、所定の交差角度αにホール素子３０２を設置するときの角度誤差、磁石に対してホール素子３０２を設置する位置のばらつき、ホール素子３０２が設置された磁界における磁束分布のばらつき等により、図９の点線で示す検出信号４１０、４１２のように、ホール素子３０２の検出信号の位相差が目標位相差である９０°からずれることがある。ホール素子３０２の検出信号の位相差がずれると、検出信号に基づいて回転角度を高精度に検出できない。
【０００５】
そこで、ホール素子３０２の検出信号の位相差がずれても、位相差のずれを補正して回転角度を高精度に検出することが考えられる。
例えば、図１０に示す回転角度検出装置では、ホールＩＣ３００に搭載されたホール素子３０２の検出信号をアンプ回路３０４で増幅し、増幅した検出信号をＡ／Ｄ回路３０６でＡ／Ｄ変換した後、目標位相差からの位相差のずれを位相補正値としてＥＥＰＲＯＭ３１０から読み取り、位相補正値に基づいて演算回路３０８で位相をデジタル補正する。位相補正値は、例えば、位相補正値の初期値がＥＥＰＲＯＭ３１０に書き込まれた状態で、ホールＩＣ３００から出力される信号と、エンコーダ等で実際に検出した回転角度とを比較することにより、ＥＥＰＲＯＭ３１０に予め記憶させておくことができる。演算回路３０８では、補正された検出信号から、式（１）等の三角関数演算により回転角度を算出する。求められた回転角度信号は、Ｄ／Ａ回路３１２でＤ／Ａ変換され、ホールＩＣ３００から電子制御装置（Electronic Control Unit;ＥＣＵ）３２０に送出される。
【０００６】
ＥＣＵ３２０にはマイクロコンピュータ（以下、「マイコン」という。）３３０が収容されている。マイコン３３０は、ホールＩＣ３００から送出された回転角度のアナログ信号をＡ／Ｄ回路３３２でＡ／Ｄ変換し、デジタル化された回転角度信号に基づいて、例えば、検出対象を回転駆動するモータ等のアクチュエータの制御量を演算してアクチュエータに送出する。
【０００７】
しかしながら、図１０に示す構成では、ホールＩＣ３００の演算回路３０８でホール素子３０２の検出信号の位相をデジタル補正するために、ホールＩＣ３００内でホール素子３０２の検出信号をＡ／Ｄ変換し、位相補正後の検出信号に基づいて求めた回転角度をＥＣＵ３２０等に送出するときにＤ／Ａ回路３１２でＤ／Ａ変換している。このように、ホールＩＣ３００側で信号変換を２度行うと、算出した回転角度信号をホールＩＣ３００から出力するまでに要する時間が長くなる。さらに、検出対象の回転角度に基づき、検出対象を回転駆動するモータ等のアクチュエータの制御量をＥＣＵ３２０で演算するために、ホールＩＣ３００から送出された回転角度信号をＥＣＵ３２０でＤ／Ａ変換する必要がある。このように、信号変換を繰り返す構成では、ＥＣＵ３２０でアクチュエータの制御量を演算するまでに要する時間が長くなるので、検出対象の回転速度が高速になると、アクチュエータに対する制御量の算出が検出対象の回転速度に追随できなくなる。その結果、検出対象を回転駆動するモータ等のアクチュエータを検出対象の回転角度に基づいて高精度に制御できないという問題が生じる。
【０００８】
そこで、図１１に示す回転角度検出装置のように、ホール素子３０２の検出信号の位相を演算回路３０８で補正し、補正された検出信号に基づいて算出された回転角度信号を、ホールＩＣ３００側でＤ／Ａ変換せず、デジタル信号のままＥＣＵ３２０に送出することが考えられる。ＥＣＵ３２０側では、ホールＩＣ３００が送出する回転角度信号をデジタル信号としてそのまま入力し、演算回路３３４で使用できる。これにより、信号の変換回数が減少する。
【０００９】
しかしながら、図１１に示す構成では、ホールＩＣ３００からＥＣＵ３２０にデジタル信号を送出するときに、シリアルで送出すると信号の伝送時間が長くなり、結果としてＥＣＵ３２０でアクチュエータの制御量を演算するまでに要する時間が長くなるという問題がある。一方、ホールＩＣ３００からＥＣＵ３２０にパラレルでデジタル信号を送出すると、伝送時間は短くなるが、信号線の数が増加するという問題がある。
【００１０】
そこで、図１２に示すように、ホールＩＣ３００では位相差のずれを補正せず、ホール素子３０２の検出信号を位相差がずれた状態でアナログ信号のままＥＣＵ３２０に送出することが考えられる。ＥＣＵ３２０は、ホールＩＣ３００から送出されたアナログ信号をＡ／Ｄ変換してから、ＥＥＰＲＯＭ３２２に記憶されたホールＩＣ３００の位相補正値に基づいて演算回路３３６でホール素子３０２の検出信号の位相差を補正し、補正された検出信号から三角関数演算により、検出対象の回転角度を算出する。このように、位相差のずれを補正しないアナログ信号のままホール素子３０２の検出信号をホールＩＣ３００からＥＣＵ３２０に送出することにより、検出信号の変換時間を短縮できるとともに、ホールＩＣ３００からＥＣＵ３２０に検出信号を送出する信号線数を減らすことができる。
【００１１】
しかしながら、図１２のようにホールＩＣ３００でホール素子３０２の検出信号の位相差のずれを補正しない場合、ホールＩＣ３００から出力されるホール素子３０２の検出信号の位相差がホールＩＣ３００毎に異なる恐れがある。その結果、ホールＩＣ３００またはＥＣＵ３２０のいずれかを補修等で交換する場合、ホールＩＣ３００の検出信号の位相補正値を、新たにＥＣＵ３２０のＥＥＰＲＯＭ３２２に記憶させる必要がある。このような作業を、補修等の交換時に行うことは困難である。
【００１２】
【特許文献１】特開昭６２−９５４０２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
本発明は上記問題を解決するためになされたものであり、回転角度の検出応答性が高い回転角度検出装置およびそれを用いた回転制御装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
請求項１から９に記載の発明によると、磁気検出手段の第１磁気検出素子および第２磁気検出素子の少なくとも一方は、感磁面の角度をずらして複数設置されている。そして、第１磁気検出素子と第２磁気検出素子との検出信号から、予め設定した目標位相差に最も近い位相差の検出信号の組み合わせを１個ずつ選択して出力する。つまり、アナログ信号の状態で位相差のずれを補正している。
【００１５】
このように、複数の磁気検出素子の検出信号から、目標位相差に最も近い位相差の検出信号をアナログ信号のまま選択し、選択された検出信号を回転角度検出装置の検出信号として出力するので、磁気検出素子の検出信号の位相差を補正するために、磁気検出素子の検出信号に対して演算処理を施す必要がない。つまり、回転角度検出装置において磁気検出素子の信号をＡ／Ｄ変換およびＤ／Ａ変換することなく、磁気検出素子の検出信号の位相差をアナログ信号のまま目標位相差に極力近づけて出力することができる。したがって、回転角度検出装置から、位相差を補正された検出信号を出力する応答時間を短縮できる。
【００１６】
また、磁気検出素子の検出信号の位相差をアナログ信号のまま補正して出力できるので、デジタルの検出信号をシリアルで送出する場合に比べ、伝送時間が短くなる。また、デジタルの検出信号をパラレルで送出する場合に比べ、信号線数が減少する。
また、回転角度検出装置で磁気検出素子の検出信号の位相差を補正するので、回転角度検出装置、または回転角度検出装置の出力信号に基づいて検出対象を回転駆動するアクチュエータを制御する制御装置を交換しても、回転角度検出装置に応じた位相補正値を制御装置に再入力する必要がない。したがって、回転角度検出装置または制御装置の交換作業が容易である。
【００１７】
請求項３に記載の発明によると、磁気検出手段が１チップの半導体で形成されているので、磁気検出手段を複数チップで形成するよりも、半導体製造工程において第１磁気検出素子と第２磁気検出素子との設置角度のずれに起因する位相角度差を低減できる。さらに、第１磁気検出素子および第２磁気検出素子の少なくとも一方において、複数の磁気検出素子の感磁面の角度をずらす角度間隔を高精度に設定できる。したがって、磁気検出素子の位相差を高精度に補正できる。
また、磁気検出手段が１チップの半導体で形成されているので、回転角度検出装置を小型化できる。
【００１８】
請求項４に記載の発明によると、磁気検出手段および出力選択手段が１チップの半導体で形成されているので、回転角度検出装置を小型化できる。
請求項５に記載の発明によると、第１磁気検出素子の感磁面の角度をずらして設置している角度間隔と、第２磁気検出素子の感磁面の角度をずらして設置している角度間隔とは異なっている。そこで、異なる角度間隔に設置された磁気検出素子の検出信号を組み合わせることにより、極力少ない磁気検出素子の総数でより高精度に第１磁気検出素子の検出信号と第２磁気検出素子の検出信号との位相差を補正し、目標位相差に近づけることができる。
【００１９】
請求項６に記載の発明によると、目標位相差を９０°に設定し、磁気検出素子の検出信号の位相差を９０°に近づけることにより、回転角度検出装置の検出信号がｓｉｎとｃｏｓの関係になる。したがって、式（１）等の三角関数演算により回転角度を簡単に算出できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
本発明の実施の形態を図に基づいて説明する。
（第１実施形態）
本発明の第１実施形態による回転角度検出装置を用いた回転制御装置１０を図１に示す。回転制御装置１０は、磁石２０、２２、ホールＩＣ３０およびＥＣＵ１００等からなる。
図２に示すように、回転角度検出装置１２は、ヨーク１４、磁石２０、２２およびホールＩＣ３０により構成される。ヨーク１４は、磁性材で円筒状に形成されており、例えば車両の車輪を駆動する電動モータの回転シャフト等の検出対象と連動して回転する。磁界発生手段としての磁石２０、２２は、円弧状に形成され、円筒状のヨーク１４の内周側の１８０°径方向反対側に取り付けられている。互いに向き合う側の極性の異なる磁石２０と磁石２２との間には、平行磁界が形成されている。ホールＩＣ３０は、ヨーク１４の回転中心に設置されている。
【００２１】
図１に示すように、ホールＩＣ３０は、複数のホール素子３２、ＥＥＰＲＯＭ６０、出力選択回路７０、およびアンプ回路８０を１チップの半導体で形成したものであり、回転角度検出素子として機能する。磁気検出素子としてのホール素子３２は、半導体チップ面に対して感磁面が略垂直（９０±１０°）な縦型のホール素子である。
図３に示す基準角度線２００、２０２は、交差角度αとして９０°を形成している。第１磁気検出部４０には、基準角度線２００を挟んで周方向両側に第１磁気検出素子として複数のホール素子３２が設置され、第２磁気検出部５０には、基準角度線２０２上に第２磁気検出素子として１個のホール素子３２が設置されている。第１磁気検出部４０および第２磁気検出部５０のホール素子３２は、特許請求の範囲に記載した磁気検出手段を構成している。第１磁気検出部４０の複数のホール素子３２は、それぞれ感磁面の角度をずらし、隣接するホール素子３２同士を所定の角度間隔βで設置している。角度間隔は、例えばβ＝０．１°程度に設定されている。
【００２２】
記憶部としてのＥＥＰＲＯＭ６０には、第１磁気検出部４０の複数のホール素子３２から１個のホール素子３２の出力を選択する選択情報が記憶されている。選択部としての出力選択回路７０は、例えばトランジスタによるスイッチング回路により構成されている。出力選択回路７０は、第２磁気検出部５０のホール素子３２の検出信号を必ず選択し、第１磁気検出部４０の複数のホール素子３２からはＥＥＰＲＯＭ６０の選択情報により１個のホール素子３２の検出信号を選択する。ＥＥＰＲＯＭ６０および出力選択回路７０は、出力選択手段を構成している。アンプ回路８０は、第１磁気検出部４０および第２磁気検出部５０から出力選択回路７０によりそれぞれ１個ずつ選択されたホール素子３２の検出信号を増幅し、アナログ信号のままホールＩＣ３０から出力する。
【００２３】
ＥＥＰＲＯＭ６０に記憶される選択情報は、例えば、次のように設定される。まず、ホールＩＣ３０を図２に示す位置に設置する。そして、出力選択回路７０にホールＩＣ３０の外部から切替信号を加え、出力選択回路７０により第１磁気検出部４０のホール素子３２の検出信号を順次切り替えて選択させる。出力選択回路７０を切り替える切替信号は、ホールＩＣ３０の切替用の専用端子から加えてもよいし、電源端子、アース端子、出力端子を利用してもよい。
【００２４】
そして、第２磁気検出部５０のホール素子３２の検出信号と、出力選択回路７０により順次選択された第１磁気検出部４０の各ホール素子３２の検出信号との位相差を比較する。比較した位相差が目標位相差の９０°に最も近い第１磁気検出部４０のホール素子３２に該当する選択情報を、ＥＥＰＲＯＭ６０に記憶させる。ＥＥＰＲＯＭ６０に選択情報が記憶されると、以後、第１磁気検出部４０のホール素子３２の検出信号から、第２磁気検出部５０のホール素子３２との位相差が９０°に最も近い検出信号が出力選択回路７０により選択される。そして、位相差が９０°に最も近い検出信号の組み合わせがアンプ回路８０で増幅され、ホールＩＣ３０から出力される。
【００２５】
算出手段および回転制御手段としてのＥＣＵ１００は、ホールＩＣ３０が出力する検出信号に基づいて、検出対象の回転角度を算出する。ＥＣＵ１００には、マイコン１１０が収容されている。マイコン１１０は、ホールＩＣ３０が出力する検出信号をＡ／Ｄ回路１２０でＡ／Ｄ変換し、変換された検出信号に基づいて、演算回路１３０において検出対象の回転角度を三角関数演算により算出する。そして、マイコン１１０は、算出した回転角度に基づいて、電動モータ等のアクチュエータの制御量を求め、アクチュエータ側に送出する。
【００２６】
以上説明した第１実施形態では、ホールＩＣ３０内で目標位相差の９０°に最も近い検出信号の組み合わせがホール素子３２のアナログ信号のまま選択されるので、ホール素子３２の位相差を目標位相差に近づける補正をデジタル演算するために、ホールＩＣ３０においてホール素子３２の検出信号をＡ／Ｄ変換するする必要がない。これにより、ホール素子３２が検出した検出信号の位相差を補正し、ホールＩＣ３０から出力するまでに要する処理時間を短縮できるので、回転角度の検出応答性が向上する。
【００２７】
また、ホールＩＣ３０内でホール素子３２の位相差が補正されるので、ホールＩＣ３０のＥＥＰＲＯＭ６０に選択情報が予め記憶されていれば、補修等によりホールＩＣ３０またはＥＣＵ１００が交換されても、あらたに位相差の補正情報を書き換えることなくホールＩＣ３０およびＥＣＵ１００を使用できる。したがって、ホールＩＣ３０およびＥＣＵ１００の交換作業が容易である。
【００２８】
また、検出対象の回転角度の検出信号として、ホール素子３２のアナログ信号がホールＩＣ３０からＥＣＵ１００に送出されるので、ホールＩＣ３０からＥＣＵ１００に検出信号としてデジタル信号をシリアルで送出する場合に比べ、検出信号の伝送速度が早くなる。また、ホールＩＣ３０からＥＣＵ１００に検出信号としてデジタル信号をパラレルで送出する場合に比べ、信号線数が減少する。
【００２９】
（第２、第３実施形態）
本発明の第２実施形態を図４に示し、第３実施形態を図５に示す。尚、第１実施形態と実質的に同一構成部分には同一符号を付す。
図４に示す第２実施形態では、第１磁気検出部４０に加え、第２磁気検出部５０においても、複数のホール素子３２を、感磁面の角度をずらして設置している。感磁面の角度間隔βは、第１磁気検出部４０と第２磁気検出部５０とで同じである。ただし、第２磁気検出部５０においては、基準角度線２０２に対し、第１磁気検出部４０のホール素子３２との位相差が広がる側にだけホール素子３２を設置している。
【００３０】
図５に示す第３実施形態の第１磁気検出部４０および第２磁気検出部５０には、基準角度線２００、２０２を挟んで周方向両側に、複数のホール素子３２が感磁面の角度をずらして設置されている。第１磁気検出部４０のホール素子３２の角度間隔β１と、第２磁気検出部５０のホール素子３２の角度間隔β２とは異なっている。例えば、β１＝１°、β２＝０．１°に設定されている。このように、第１磁気検出部４０と第２磁気検出部５０とでホール素子３２の角度間隔が異なっているので、第１磁気検出部４０のホール素子３２と第２磁気検出部５０のホール素子３２とを組み合わせることにより、ホール素子３２の総数を極力減らして、高精度に位相差を補正できる。
【００３１】
（第４、第５実施形態）
本発明の第４実施形態を図６に示し、第５実施形態を図７示す。尚、既述の実施形態と実質的に同一構成部分には同一符号を付す。
図６に示す第４実施形態では、円板状の磁石１４０の外周側にホールＩＣ３０を設置している。この場合にも、ホールＩＣ３０を使用する前に、予めホールＩＣ３０のＥＥＰＲＯＭ６０にホール素子３２の選択情報を記憶させておくことにより、位相差を補正されたホール素子３２の検出信号をホールＩＣ３０からアナログ信号として出力できる。
【００３２】
図７に示す第５実施形態では、磁石１４０の外周側に、周方向に９０°離れて第１磁気検出部４０と第２磁気検出部５０とを設置している。第１磁気検出部４０および第２磁気検出部５０のホール素子３２は、第１〜３実施形態のいずれかの構成になっている。第１磁気検出部４０および第２磁気検出部５０は、それぞれ１チップの半導体で別チップとして形成されている。このように、第１磁気検出部４０および第２磁気検出部５０が別チップの半導体として形成されているので、ホール素子３２は縦型である必要はない。
【００３３】
出力選択部１５０は、ＥＥＰＲＯＭ６０、出力選択回路７０、およびアンプ回路８０を１チップの半導体で形成したものである。出力選択部１５０は、第１磁気検出部４０および第２磁気検出部５０からホール素子３２の検出信号を入力し、ＥＥＰＲＯＭ６０に記憶されている選択情報に基づき、目標位相差に最も近い検出信号の組み合わせを選択し、アナログ信号として出力する。
【００３４】
（他の実施形態）
以上説明した上記実施形態では、ＥＥＰＲＯＭ６０に記憶された選択情報に基づいて目標位相差となるホール素子３２の検出信号をアナログ信号のまま選択し、位相差を補正した。これに対し、ホールＩＣの半導体において、ホール素子の検出信号線のパターンをレーザ等で切断することにより、目標位相差となるホール素子の検出信号をアナログ信号のまま選択してもよい。
【００３５】
また、上記実施形態では、ヨーク１４、磁石２０、２２およびホールＩＣ３０により回転角度検出装置を構成した。これに対し、本発明の回転角度検出装置としては、ホール素子３２、ＥＥＰＲＯＭ６０および出力選択回路７０を有するホールＩＣ３０のみの構成でもよい。
また、上記実施形態では、磁界発生手段としての永久磁石が検出対象と連動して回転した。これに対し、磁気検出手段を有するホールＩＣが検出対象と連動して回転してもよい。また、磁界発生手段として、電磁石等を使用してもよい。
また、上記実施形態では、三角関数演算を簡単にするために目標位相差を９０°に設定した。これに対し、目標位相差は９０°に限るものではなく、９０°以外の他の角度であってもよい。
【００３６】
上記実施形態では、ホール素子３２の感磁面の角度間隔を、例えば、０．１°、１°に設定した。感磁面の角度間隔を小さくすれば、位相補正の分解能は高くなるが、所定の角度範囲の位相差を補正するために要するホール素子数が多くなる。一方、感磁面の角度間隔を大きくすれば、所定の角度範囲の位相差を補正するために要するホール素子数は少なくなるが、位相補正の分解能は低くなる。そこで、ホール素子の感磁面の角度間隔は、要求される角度検出精度、位相差の補正角度範囲に応じて適宜設定すればよい。
このように、本発明は、上記複数の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の実施形態に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】第１実施形態の回転制御装置を示すブロック図。
【図２】回転制御装置を示す構成図。
【図３】ホール素子の構成を示す模式図。
【図４】第２実施形態のホール素子の構成を示す模式図。
【図５】第３実施形態のホール素子の構成を示す模式図。
【図６】第４実施形態の回転制御装置を示す構成図。
【図７】第５実施形態の回転制御装置を示す構成図。
【図８】ホール素子の設置状態を示す模式図。
【図９】回転角度とホール素子の出力との関係を示す特性図。
【図１０】従来の回転制御装置を示すブロック図。
【図１１】従来の回転制御装置を示すブロック図。
【図１２】従来の回転制御装置を示すブロック図。
【符号の説明】
【００３８】
１０：回転制御装置、１２：回転角度検出装置、２０、２２、１４０：磁石（磁界発生手段）、３０：ホールＩＣ（回転角度検出素子）、３２：ホール素子（第１磁気検出素子、第２磁気検出素子）、６０：ＥＥＰＲＯＭ（記憶部、出力選択手段）、７０：出力選択回路（選択部、出力選択手段）、１００：ＥＣＵ（算出手段、回転制御手段）
【図１】
2008082739.tif 000003
【図２】
2008082739.tif 000004
【図３】
2008082739.tif 000005
【図４】
2008082739.tif 000006
【図５】
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【図６】
2008082739.tif 000008
【図７】
2008082739.tif 000009
【図８】
2008082739.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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