(57)【要約】【課題】様々な形状及び構造のコネクタを搭載する配線基板を低コストで提供する。【解決手段】基板本体１１の一端側に測定器の接続ケーブルと接続可能なＳＭＡコネクタ１２を設け、他端側に切欠部１３を設ける。基板本体１１の表面にＳＭＡコネクタ１２と切欠部１３の縁部とを結ぶ差動信号ライン１４１を設ける。支持部１６と固定板１８との間に、緩衝材１５および高周波コネクタ２０を挟んだ状態で、固定板１８を基板本体１１に取り付ける。【選択図】図１
2008277137.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板本体と、
前記基板本体の一部を切り欠いて設けた切欠部と、
前記基板本体の一面の少なくとも前記切欠部の縁部に設けられていて、前記コネクタのコネクタ端子が電気的に接続される信号ラインと、
前記基板本体の前記一面とは反対側の他面側に前記切欠部を覆うように設けられた支持部と、
前記支持部に支持される変形自在な緩衝材と、
前記支持部との間に前記緩衝材及び前記コネクタを挟んだ状態で前記基板本体に取り付けられるコネクタ固定部と、を有することを特徴とする配線基板。
【請求項２】
前記コネクタの特性を測定する測定器の接続線と接続可能な前記基板本体に設けられた測定用コネクタを有し、そして、
前記信号ラインが、前記測定用コネクタと電気的に接続されていることを特徴とする請求項１に記載の配線基板。
【請求項３】
前記切欠部が、２つ設けられていて、
前記緩衝材、前記支持部、前記コネクタ固定部が各々、前記２つの切欠部に対応して２つ設けられていて、そして、
前記信号ラインが、前記２つの切欠部の縁部間を結ぶように設けられていることを特徴とする請求項１に記載の配線基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、配線基板に係り、特に、コネクタが搭載される基板本体を有する配線基板に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
上述した配線基板としての電子回路基板とコネクタとを簡易な組立作業で固定すると共に固定に必要な部品点数を削除するようにした電子回路基板とコネクタとの固定構造が特許文献１に記載されている。この固定構造によれば、電子回路基板の実装面に載置されるべきフレームをコネクタと一体的に形成し、そのフレームに複数のスナップフィットを形成すると共にその電子回路基板にそのスナップフィットが係止されるべき受部を形成している。
【０００３】
ところで、コネクタを搭載した高周波回路基板を設計する際、コネクタの周波数特性やインピーダンスが重要となる。このため、測定器を使って上記コネクタとしての高周波コネクタの評価を行う必要がある。しかしながら、測定器の接続線としての接続ケーブルと高周波コネクタとを直接、接続することはできない。そこで、測定器の接続ケーブルと接続可能な測定用コネクタを搭載させた評価基板上に高周波コネクタを搭載して、この高周波コネクタと測定用コネクタとを電気的に接続した後、測定器を使って高周波コネクタの特性を測定していた。
【０００４】
上述した評価基板に上述した特許文献１に記載された電子回路基板とコネクタとの固定構造を適用すると次に示す問題点が生じる。まず、コネクタを固定するフレームは、コネクタ形状に合わせて設計されるため、コネクタの形状が変更されるとその都度、再設計の必要がある。フレームが変更されると、フレームに設けたスナップフィットと電子回路基板に設けた受部との位置関係から当然、電子回路基板も再設計しなければならない。このため、コネクタの形状ごとに評価基板を設ける必要があり、コスト的に問題があった。
【特許文献１】特開２００６−５２０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、本発明は、上記のような問題点に着目し、様々な形状および構造のコネクタを搭載することができる配線基板を低コストで提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するためになされた請求項１記載の発明は、基板本体と、前記基板本体の一部を切り欠いて設けた切欠部と、前記基板本体の一面の少なくとも前記切欠部の縁部に設けられていて、前記コネクタのコネクタ端子が電気的に接続される信号ラインと、  前記基板本体の前記一面とは反対側の他面側に前記切欠部を覆うように設けられた支持部と、前記支持部に支持される変形自在な緩衝材と、前記支持部との間に前記緩衝材及び前記コネクタを挟んだ状態で前記基板本体に取り付けられるコネクタ固定部と、を有することを特徴とする配線基板に存する。
【０００７】
請求項２記載の発明は、前記コネクタの特性を測定する測定器の接続線と接続可能な前記基板本体に設けられた測定用コネクタを有し、そして、前記信号ラインが、前記測定用コネクタと電気的に接続されていることを特徴とする請求項１に記載の配線基板に存する。
【０００８】
請求項３記載の発明は、前記切欠部が、２つ設けられていて、前記緩衝材、前記支持部、前記コネクタ固定部が各々、前記２つの切欠部に対応して２つ設けられていて、そして、前記信号ラインが、前記２つの切欠部の縁部間を結ぶように設けられていることを特徴とする請求項１に記載の配線基板に存する。
【発明の効果】
【０００９】
以上説明したように請求項１記載の発明によれば、コネクタの形状及び構造に合わせて緩衝材が変形して、コネクタ端子と信号ラインとが接続できるようにコネクタの位置を調節することができるため、様々な形状及び構造のコネクタを搭載することができる。また、コネクタを基板本体に取り付ける際に半田付けの必要がなく、コストダウンを図ることができる。
【００１０】
請求項２記載の発明によれば、信号ラインが、測定用コネクタと電気的に接続されているので、測定器を使ってコネクタの特性を測定することができる。
【００１１】
請求項３記載の発明によれば、信号ラインが、２つの切欠部の縁部間を結ぶように設けられているため、基板本体により２つのコネクタ間を電気的に接続することができ、コネクタを使ってハーネス同士を中継したときの特性を測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の一実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、本発明の配線基板としての評価基板の表面側からの分解斜視図である。図２は、図１に示す評価基板の裏面側からの分解斜視図である。図３は、図１に示す評価基板の表面図である。図４は、図３のＡ−Ａ線断面図である。図５は、図３に示すＢ−Ｂ線断面図である。
【００１３】
同図に示すように、評価基板１は、基板本体１１と、測定用コネクタとしての一対のＳＭＡコネクタ１２と、切欠部１３と、信号ラインとしての差動信号ライン１４１と、緩衝材１５と、支持部１６と、コネクタ固定部１７と、を備えている。
【００１４】
基板本体１１には、測定器によって特性を評価すべきコネクタとしての高周波コネクタ２０が搭載される。高周波コネクタ２０は、図１に示す実施形態では、差動信号を出力する。高周波コネクタ２０は、コネクタハウジング２１の下端部にコネクタ端子２２と基板固定用の突出部２３とが突設されている。
【００１５】
一対のＳＭＡコネクタ１２は、高周波コネクタ２０の特性を測定する測定器の接続ケーブル（接続線）と接続可能なコネクタである。一対のＳＭＡコネクタ１２は、基板本体１１の一端に取り付けられている。
【００１６】
上記切欠部１３は、ＳＭＡコネクタ１２が設けられている基板本体１１の一端と対向する他端中央を矩形状に切り欠いて設けられている。基板本体１１は、図４に示すように、板状の誘電体１１１と、この誘電体１１１の両面に設けられた銅箔層１１２とから構成されている。銅箔層１１２は、グランド１２１と、グランド１２１とは離間して設けられた一対の差動信号ライン１４１とから構成されている。
【００１７】
上記一対の差動信号ライン１４１は、基板本体１１の表面（＝一面）に設けられていて、互いに離間している。一対の差動信号ライン１４１の一端はそれぞれ、一対のＳＭＡコネクタ１２が設けられている基板本体１１の一端に設けられていて、ＳＭＡコネクタ１２と電気的に接続されている。一対の差動信号ライン１４１の他端はそれぞれ、切欠部１３の縁部に設けられている。即ち、一対の差動信号ライン１４１は、一対のＳＭＡコネクタ１２と切欠部１３の縁部とを結ぶように設けられている。上記基板本体１１は、差動信号ライン１４１とグランド１２１との間のインピーダンスが例えば１００Ωとなるように、差動信号ライン１４１の幅、高さ、差動信号ライン１４１とグランド１２１とのギャップ、誘電体１１１の厚さ、誘電体１１１の誘電率が調整されている。
【００１８】
緩衝材１５は、ポリウレタンなどの変形自在な材質から設けられている。支持部１６は、基板本体１１の裏面（＝他面）側に切欠部１３を覆うように設けられている。支持部１６は、図２に示すように、底部１６１と、一対の立壁部１６２と、一対のフランジ部１６３とから構成されている。底部１６１は、基板本体１１と水平に設けられていて緩衝材１５を基板本体１１よりも裏面側で支持するためのものである。一対の立壁部１６２は、底部１６１の差動信号ライン１４１の延在方向Ｙ１と直交する直交方向Ｙ２の縁部から立ち上がって設けられる。一対のフランジ部１６３は、立壁部１６２の底部１６１から離れた側に設けられている。支持部１６は、底部１６１上に緩衝材１５を載せた状態でフランジ部１６３を基板本体１１の裏側に重ねて基板本体１１に取り付けられる。
【００１９】
コネクタ固定部１７は、図１に示すように、固定板１８と、固定ネジ１９とから構成されている。固定板１８は、上部１８１と、一対の立壁部１８２と、一対のフランジ部１８３とから構成されている。上部１８１は、基板本体１１と水平に設けられている。一対の立壁部１８２は、上部１８１の直交方向Ｙ２の縁部から立ち下がって設けられている。一対のフランジ部１８３は、立壁部１８２の上部１８１から離れた側に設けられている。
【００２０】
上述した固定板１８のフランジ部１８３、基板本体１１、支持部１６のフランジ部１６３にはそれぞれ、ネジ穴Ｈが設けられている。固定ネジ１９は、ネジ部１９１と、ネジ部１９１に挿入されるナット１９２とから構成されている。ネジ部１９１は、固定板１８と支持部１６との間に、高周波コネクタ２０及び緩衝材１５を挟んだ状態で、フランジ部１８３、基板本体１１、フランジ部１５３に設けたネジ穴Ｈに挿入される。ナット１９２は、ネジ穴Ｈに挿入されたネジ部１９１の先端部に螺合される。即ち、コネクタ固定部１７は、支持部１６との間に緩衝材１５及び高周波コネクタ２０を挟んだ状態で基板本体１１に取り付けられるものである。
【００２１】
上述した評価基板１に対する高周波コネクタ２０の取付手順について以下説明する。まず、支持部１６の底部１６１上に緩衝材１５を載せた状態で、支持部１６のフランジ部１６３を基板本体１１の裏面に重ねる。このとき、例えば、図１に示すように、コネクタ端子２２がコネクタハウジング２１の下端部から突出している場合、緩衝材１５は基板本体１１の表面と同じ高さになるように予めカットしておく。
【００２２】
その後、緩衝材１５上に高周波コネクタ２０を搭載させて、コネクタ端子２２と差動信号ライン１４１、グランド１２１とを半田付けして電気的に接続する。具体的には、４本のコネクタ端子２２のうち外側の２本がグランド１２１に接続され、内側に２本がそれぞれ差動信号ライン１４１に接続される。これにより、コネクタ端子２２とＳＭＡコネクタ１２とが差動信号ライン１４１を介して電気的に接続される。
【００２３】
そして、高周波コネクタ２０の上面に固定板１８を重ねて、支持部１６と固定板１８との間に緩衝材１５及び高周波コネクタ２０を挟む。この状態で、支持部１６のフランジ部１６３、基板本体１１、固定板１８のフランジ部１８３に設けたネジ穴Ｈにネジ部１９１を挿入した後、ナット１９２によりネジ止めする。これにより、基板本体１１に、支持部１６、高周波コネクタ２０、緩衝材１５、固定板１８を取り付けることができる。
【００２４】
次に、図６（Ａ）に示すように、ＴＤＲオシロスコープなどの測定器４０の接続ケーブル３０を基板本体１１上のＳＭＡコネクタ１２に接続して、高周波コネクタ２０のインピーダンスや周波数特性などを測定する。また、図６（Ｂ）に示すように、２つの評価基板１同士をハーネス５０で接続して、ＳＭＡコネクタ１２に接続ケーブル３０を接続すれば、評価基板１を含めた高周波コネクタ２０、ハーネス５０の周波数特性の測定が可能となる。  
【００２５】
上述した実施形態では、高周波コネクタ２０としては、コネクタハウジング２１の下端部からコネクタ端子２２が突出するものについて説明していたが、本発明を適用することができる高周波コネクタ２０の形状はこの形状に限ったものではない。例えば、図７に示すように、コネクタハウジング２１の中央からコネクタ端子２２が突出するような高周波コネクタ２０であっても適用することができる。この場合、コネクタ端子２２が差動信号ライン１４１と同じ高さとなるように緩衝材１５をカットしておけば、より安定して高周波コネクタ２０を評価基板１に搭載することができる。
【００２６】
上述した評価基板１によれば、支持部１６と固定板１８との間に緩衝材１５及び高周波コネクタ２０を挟んだ状態で基板本体１１に取り付けている。これにより、緩衝材１５が高周波コネクタ２０の突出部２３などの形状及び構造に合わせて自在に変形して、コネクタ端子２２と差動信号ライン１４１とが接続できるように高周波コネクタ２０の位置を調節することができるため、様々な形状の高周波コネクタ２０を搭載することができる。また、高周波コネクタ２０を基板本体１１に取り付ける際に半田付けの必要がなく、コストダウンを図ることができる。
【００２７】
また、上述した評価基板１によれば、差動信号ライン１４１が、ＳＭＡコネクタ１２と電気的に接続されているので、測定器４０を使って高周波コネクタ２０の特性を測定することができる。
【００２８】
なお、上述した実施形態によれば、高周波コネクタ２０は差動信号を出力するものであったが、本発明はこれに限ったものではない。例えば、単相信号を出力する高周波コネクタ２０を基板本体１１に搭載するようにしてもよい。単相信号を出力する高周波コネクタ２０の場合、図８に示すように、１つのＳＭＡコネクタ１２が設けられ、切欠部１３とＳＭＡコネクタ１２とを結ぶ１つの単信号ライン１４２が設けられる。また、図８に示すように、差動信号を出力する高周波コネクタ２０と単信号を出力する高周波コネクタ２０との両方を搭載できるようにしてもよい。
【００２９】
また、上述した実施形態によれば、高周波コネクタ２０は一対の差動信号を出力するものであったが、本発明はこれに限ったものではない。例えば、２対、３対…の差動信号を出力する高周波コネクタ２０を搭載できるように、信号ラインも２対、３対…と設けてよい。
【００３０】
また、上述した実施形態によれば、基板本体１１にＳＭＡコネクタ１２を設けていたが、本発明はこれに限ったものではない。例えば、図９に示すようにしてもよい。同図に示すように、基板本体１１には、２つの切欠部１３が設けられている。これに合わせて、緩衝材１５、支持部１６、コネクタ固定部１７もこの２つの切欠部１３に対応して２つ設ける。そして、信号ラインは、２つの切欠部１３の縁部間を結ぶように設ける。
【００３１】
この評価基板１を用いれば、図１０に示すように、高周波コネクタ２０を使ってハーネス５０同士を中継したときの特性をネットワークアナライザーなどの測定器４０により測定することができる。
【００３２】
また、上述した実施形態によれば、コネクタ固定部１７はネジ部１９１とナット１９２により固定板１８を固定していたが、本発明はこれに限ったものではない。例えば、突出部を固定板１８に設けて、固定板１８に設けた突出部をネジ穴Ｈに圧入するようにしてもよい。即ち、コネクタ固定部１７としては、支持部１６との間に緩衝材１５及び高周波コネクタ２０を挟んだ状態で基板本体１１に取り付けられるものであればよい。
【００３３】
また、前述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明の基板としての評価基板の表面側からの分解斜視図である。
【図２】図１に示す評価基板の裏面側からの分解斜視図である。
【図３】図１に示す評価基板の表面図である。
【図４】図３のＡ−Ａ線断面図である。
【図５】図３のＢ−Ｂ線断面図である。
【図６】図１に示す評価基板を測定器に接続したときの図である。
【図７】コネクタハウジングの中央からコネクタ端子が突出するような高周波コネクタを搭載したときの図３のＣ−Ｃ線断面図である。
【図８】他の実施形態における評価基板の分解表面斜視図である。
【図９】他の実施形態における評価基板の表面斜視図である。
【図１０】図９に示す評価基板を測定器に接続したときの図である。
【符号の説明】
【００３５】
１      評価基板（配線基板）
１１    基板本体
１２    ＳＭＡコネクタ（測定用コネクタ）
１３    切欠部
１４１  差動信号ライン（信号ライン）
１５    緩衝材
１６    支持部
１７    コネクタ固定部
２０    高周波コネクタ（コネクタ）
３０    接続ケーブル（接続線）
４０    測定器
【図１】
2008277137.tif 000003
【図２】
2008277137.tif 000004
【図３】
2008277137.tif 000005
【図４】
2008277137.tif 000006
【図５】
2008277137.tif 000007
【図６】
2008277137.tif 000008
【図７】
2008277137.tif 000009
【図８】
2008277137.tif 000010
【図９】
2008277137.tif 000011
【図１０】
2008277137.tif 000012