(57)【要約】【課題】未知や粗悪品のディスクを含むあらゆるディスクに対しても、最適な記録波形を形成することができるようにする。【解決手段】本発明に係る光ディスク装置１においては、ＣＰＵ３８は、予め設定された所定の符号長のパルス幅を所定の値変更し、光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３や評価指標測定回路３５などを制御し、変更されたパルス幅を用いて、テストデータを光ディスク４２に記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定し、測定された再生信号のアシンメトリに基づいて、予め設定された所定の符号長のパルス幅を補正するための補正値を算出し、算出された補正値に基づいて、所定の符号長のパルス幅を補正する。【選択図】  図１
2008159133.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め設定された所定の符号長のパルス幅を所定の値変更する変更手段と、
前記変更手段により変更された前記パルス幅を用いて、テストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された前記再生信号のアシンメトリに基づいて、予め設定された所定の符号長のパルス幅を補正するための補正値を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された前記補正値に基づいて、前記所定の符号長のパルス幅を補正する補正手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記補正手段により補正された前記所定の符号長のパルス幅に基づいて、前記ディスクにユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを決定する決定手段をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記テストデータは、ランダムパターンのテストデータであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生する発生手段をさらに備え、
前記測定手段は、前記発生手段により発生された前記特定パターンのテストデータを前記ディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定し、前記パルス幅の補正処理を行った後、ランダムパターンのテストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記所定の符号長は、少なくとも、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔの符号長であることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記変更手段は、予め設定された所定の符号長のパルス幅を所定の値広げるように、または狭めるように変更することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
予め設定された所定の符号長のパルス幅を所定の値変更する変更ステップと、
前記変更ステップの処理により変更された前記パルス幅を用いて、テストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定ステップと、
前記測定ステップの処理により測定された前記再生信号のアシンメトリに基づいて、予め設定された所定の符号長のパルス幅を補正するための補正値を算出する算出ステップと、
前記算出ステップの処理により算出された前記補正値に基づいて、前記所定の符号長のパルス幅を補正する補正ステップを含むことを特徴とする光ディスク装置の光ディスク記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置および光ディスク記録再生方法に係り、特に、ライト・ストラテジを補正することができるようにした光ディスク装置および光ディスク記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＣＤ（Compact Disc）−Ｒ／ＲＷやＤＶＤ（Digital Versatile Disc）−Ｒ／ＲＷ、ＨＤ（High Definition）−ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷなどの記録可能な光ディスクにデータを記録する際、光ディスクの所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）を変化させてテストデータを試し書きし、試し書きされたテストデータを再生することでそれぞれのディスクに最適な記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）を決定する技術が提案されている。
【０００３】
最適な記録パラメータを決定する技術には、例えば、再生信号のアシンメトリ（非対称性）やジッタを用いて最適な記録パラメータを決定する技術が知られている。
【０００４】
近年、光ディスクの高密度化に伴い、Ｓ／Ｎの確保と符号間干渉の低減のために、ＰＲＭＬ（Partial Response and Maximum likelihood）識別方式が採用されてきている。このＰＲＭＬ識別方式では、記録再生特性に応じたＰＲ（Partial Response）特性が用いられる。
【０００５】
このＰＭＲＬ識別方式を採用した光ディスク装置において、最適な記録パラメータを決定することができる技術が提案されている（例えば特許文献１参照）。
【０００６】
特許文献１に提案されている技術によれば、書き込み系の光ディスクの記録波形の作成、再生信号の測定、および最適な記録波形の解析を自動的に行うことができる。これにより、書き込み系の光ディスクドライブの評価時間を削減し、メディアに最適なライト・ストラテジを容易に解析することができる。
【特許文献１】特開２００２−２０８１３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１に提案されている技術では、書き込み系の光ディスクの記録波形の作成、再生信号の測定、および最適な記録波形の解析を自動的に行うことはできるが、ユーザデータが記録される光ディスクには多くの種類（例えばＤＶＤ−ＲＯＭやＤＶＤ−Ｒなど）があるだけでなく、製造するメーカによってもその特性などが異なるため、特許文献１に提案されている技術によって自動的にこれらの解析を行うには、少なくとも、事前に各光ディスクに応じた記録パラメータの初期値をメモリに記憶させておく必要がある。
【０００８】
ところが、メーカからは常に新しい種類の光ディスクが提案されているだけでなく、同じ種類（例えばＤＶＤ−ＲＷなど）の光ディスクであっても、製造される場所によって製造される光ディスクの品質も大きく異なることから、たとえ光ディスク装置の製造時に存在するすべての光ディスクごとに記録パラメータの初期値を設定し、設定された記録パラメータをメモリに記憶させておいたとしても、未知の光ディスクや粗悪品の光ディスクに対しては最適な記録パラメータを決定することはできず、ユーザデータの記録時において最適な記録波形を形成するができないという課題があった。
【０００９】
付言すると、光ディスク装置の製造時に存在する良品質の光ディスク（推奨のメーカの光ディスクなど）に対してしか記録品質（記録品位）を保証することができず、依然として、未知や粗悪品のディスクを含むすべての光ディスクに対して最適な記録波形を形成することを自動化することは非常に困難であった。
【００１０】
本発明は、このような状況に鑑みてなされてものであり、未知や粗悪品のディスクを含むあらゆるディスクに対しても、最適な記録波形を形成することができる光ディスク装置および光ディスク記録再生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の光ディスク装置は、上述した課題を解決するために、予め設定された所定の符号長のパルス幅を所定の値変更する変更手段と、変更手段により変更されたパルス幅を用いて、テストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定手段と、測定手段により測定された再生信号のアシンメトリに基づいて、予め設定された所定の符号長のパルス幅を補正するための補正値を算出する算出手段と、算出手段により算出された補正値に基づいて、所定の符号長のパルス幅を補正する補正手段とを備えることを特徴とする。
【００１２】
本発明の光ディスク装置の光ディスク記録再生方法は、上述した課題を解決するために、予め設定された所定の符号長のパルス幅を所定の値変更する変更ステップと、変更ステップの処理により変更されたパルス幅を用いて、テストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定ステップと、測定ステップの処理により測定された再生信号のアシンメトリに基づいて、予め設定された所定の符号長のパルス幅を補正するための補正値を算出する算出ステップと、算出ステップの処理により算出された補正値に基づいて、所定の符号長のパルス幅を補正する補正ステップを含むことを特徴とする。
【００１３】
本発明の光ディスク装置においては、予め設定された所定の符号長のパルス幅が所定の値変更され、変更されたパルス幅を用いて、テストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリが測定され、測定された再生信号のアシンメトリに基づいて、予め設定された所定の符号長のパルス幅を補正するための補正値が算出され、算出された補正値に基づいて、所定の符号長のパルス幅が補正される。
【００１４】
本発明の光ディスク装置の光ディスク記録再生方法においては、予め設定された所定の符号長のパルス幅が所定の値変更され、変更されたパルス幅を用いて、テストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリが測定され、測定された再生信号のアシンメトリに基づいて、予め設定された所定の符号長のパルス幅を補正するための補正値が算出され、算出された補正値に基づいて、所定の符号長のパルス幅が補正される。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、未知や粗悪品のディスクを含むあらゆるディスクに対しても、最適な記録波形を形成することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１７】
［第１実施形態］
図１は、本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置１の構成を表している。
【００１８】
光ディスク装置１は、例えばＤＶＤ（Digital Versatile Disc）−Ｒ／ＲＷ、ＨＤ（High Definition）−ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷなど情報記録媒体としての光ディスク４２に対して情報の記録及び再生を行う。光ディスク４２は、同心円状または螺旋状に溝が刻まれており、溝の凹部をランド、凸部をグルーブと呼び、グループまたはランドの一周をトラックと呼ぶ。ユーザデータは、このトラック（グルーブのみ、またはグルーブおよびランド）に沿って、強度変調されたレーザ光が照射されて記録マークが形成されることにより光ディスク４２上に記録される。データ再生は、記録時より弱いリードパワー(Read Power)のレーザ光をトラックに沿って照射して、トラック上にある記録マークによる反射光強度の変化を検出することにより行われる。記録されたデータの消去は、リードパワーより強いイレースパワー(Erase Power)のレーザ光をトラックに沿って照射し、記録層を結晶化することにより行われる。
【００１９】
光ディスク４２はスピンドルモータ２によって回転駆動される。スピンドルモータ２に付設されたロータリエンコーダ２ａからスピンドルモータ駆動回路３に回転角信号が出力される。スピンドルモータ２が１回転すると、回転角信号は例えば５パルス発生する。これにより、スピンドルモータ制御回路４は、スピンドルモータ駆動回路３を介してロータリエンコーダ２ａから入力された回転角信号に基づいて、スピンドルモータ２の回転角度および回転数を判定することができる。このスピンドルモータ２はスピンドルモータ制御回路４により制御される。
【００２０】
光ディスク４２に対する情報の記録または再生は、光ピックアップ５によって行われる。光ピックアップ５は、ギア１８およびスクリューシャフト１９を介して送りモータ２０と連結されており、この送りモータ２０は送りモータ駆動回路２１により制御される。送りモータ２０が送りモータ駆動回路２１から供給された送りモータ駆動電流によって回転することで、光ピックアップ５が光ディスク４２の半径方向に移動する。
【００２１】
光ピックアップ５には、図示しないワイヤあるいは板バネによって支持された対物レンズ６が設けられる。対物レンズ６はフォーカスアクチュエータ８の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能であり、また、トラッキングアクチュエータ７の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。
【００２２】
レーザ制御回路１７は、記録時にレーザダイオード９を制御するためのレーザ制御信号を生成する記録レーザ制御回路１７−１と、再生時にレーザダイオード９を制御するためのレーザ制御信号を生成する再生レーザ制御回路１７−２からなり、情報記録時（マーク形成時）に、ホスト装置４３からインタフェース回路４１を介して供給される記録データ（変調回路４４において例えばＥＦＭ変調方式などにより変調された記録データ）に基づいて、書き込み用信号をレーザダイオード（レーザ発光素子）９に供給する。また、レーザ制御回路１７は、情報読取り時に、書き込み信号より小さい読取り用信号をレーザダイオード９に供給する。なお、レーザ制御回路１７には、ユーザデータを光ディスク４２に記録する際に用いられるライト・ストラテジと呼ばれる、符号長パターンごとのエッジタイミング微調整情報が予め設定されており、このエッジタイミング微調整情報に基づいてエッジタイミング調整されたレーザ駆動電流（レーザ制御信号）がレーザダイオード９に出力される。
【００２３】
フロントモニタ・フォトダイオード１０は、レーザダイオード９が発生するレーザ光の一部をハーフミラー１１により一定比率だけ分岐し、光量すなわち照射パワーに比例した受光信号を検出し、検出された受光信号をレーザ制御回路１７に供給する。レーザ制御回路１７はフロントモニタ・フォトダイオード１０から供給された受光信号を取得し、取得された受光信号に基づいて、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３８により予め設定された再生時のレーザパワー（照射パワー）、記録時のレーザパワー、および消去時のレーザパワーで発光するようにレーザダイオード９を制御する。
【００２４】
レーザダイオード９は、レーザ制御回路１７から供給される信号に応じてレーザ光を発光する。レーザダイオード９から発光されるレーザ光は、コリメータレンズ１２、ハーフプリズム１３、および対物レンズ６を介して光ディスク３９上に照射される。光ディスク４２からの反射光は、対物レンズ６、ハーフプリズム１３、集光レンズ１４、およびシリンドリカルレンズ１５を介して、光検知器１６に導かれる。
【００２５】
光検知器１６は、例えば４分割の光検知セルからなり、検知信号を生成し、生成された検知信号をＲＦアンプ２３に出力する。ＲＦアンプ２３は、光検知器１６からの検知信号を処理し、ジャストフォーカスからの誤差を示すフォーカス誤差信号（ＦＥ）、レーザ光のビームスポット中心とトラック中心との誤差を示すトラッキング誤差信号（ＴＥ）、および検知信号の全加算信号である再生信号（ＲＦ）を生成し、生成されたフォーカス誤差信号（ＦＥ）、トラッキング誤差信号（ＴＥ）、および再生信号（ＲＦ）をＡ／Ｄ変換器３０に供給する。
【００２６】
フォーカス制御回路２５は、ＲＦアンプ２３からＡ／Ｄ変換器３０を介して取り込まれたフォーカス誤差信号（ＦＥ）に応じてフォーカス制御信号を生成し、生成されたフォーカス制御信号をフォーカスアクチュエータ駆動回路２４に供給する。フォーカスアクチュエータ駆動回路２４は、フォーカス制御回路２５から供給されたフォーカス制御信号に基づいて、フォーカスアクチュエータ８を駆動するためのフォーカスアクチュエータ駆動電流をフォーカシング方向のフォーカスアクチュエータ８に供給する。これにより、レーザ光が光ディスク４２の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなるフォーカスサーボが行われる。
【００２７】
トラック制御回路２７は、ＲＦアンプ２３からＡ／Ｄ変換器３０を介して取り込まれたトラッキング誤差信号（ＴＥ）に応じてトラッキング制御信号を生成し、生成されたトラッキング制御信号をトラッキングアクチュエータ駆動回路２６に供給する。トラッキングアクチュエータ駆動回路２６は、トラッキング制御回路２７から供給されたトラッキング制御信号に基づいて、トラッキングアクチュエータ７を駆動するためのトラッキングアクチュエータ駆動電流をトラッキング方向のトラッキングアクチュエータ７に供給する。これにより、レーザ光が光ディスク４２上に形成されたトラック上を常にトレースするトラッキングサーボが行われる。
【００２８】
このようなフォーカスサーボおよびトラッキングサーボがなされることで、光検知器１６（各光検知セル）からの検知信号の全加算信号である再生信号（ＲＦ）には、記録情報に対応して光ディスク４２のトラック上に形成されたピットなどからの反射光の変化が反映される。この再生信号は微弱なアナログ信号であり、ＲＦアンプ２３により増幅されて、Ａ／Ｄ変換器３０において一定周波数でサンプリングされた後、データ再生回路３１に供給される。また、データ再生回路３１は、Ａ／Ｄ変換器３０から供給される再生信号の振幅やオフセットの補正を行うとともに、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路２９にて再生クロック信号に同期した信号へと変換した上で等化器３２に出力する。
【００２９】
等化器３２は、任意のＰＲ特性を用いて、データ再生回路３１から入力された再生信号を任意のＰＲ特性に近い等化再生信号に変換し、変換された等化再生信号をビタビ復号回路３３、評価指標測定回路３５、およびパルス誤差検出回路３６に出力する。ビタビ復号回路３３は、等化器３２から入力された等化再生信号とのユークリッド距離が最も小さいパスを選択し、選択されたパスに対応する符号長ビット系列を復号データとしてエラー訂正回路３４に出力するとともに、この復号データを等化器３２、評価指標測定回路３５、およびパルス誤差検出回路３６にも出力する。
【００３０】
評価指標測定回路３５は、等化器３２およびビタビ復号回路３３からそれぞれ入力された等化再生信号および復号データに基づいて、再生信号の評価指標として例えばＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal to Noise Ratio）やＳｂＥＲ（Simulated Bit Error Rate）、アシンメトリなどを算出し、算出されたＰＲＳＮＲやＳｂＥＲ、アシンメトリなどに関するデータをバス３７を介してＣＰＵ３８に供給する。このとき、ビタビ復号回路３３において等化再生信号がビタビ復号化されると、符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）ごとに分別（弁別）されるとともに、再生信号の各波高値が得られるため、得られた再生信号の各波高値の平均を取ることにより再生信号のアシンメトリが算出される。
【００３１】
パルス誤差検出回路３６は、等化器３２およびビタビ復号回路３３からそれぞれ入力された等化再生信号および復号データに基づいて、例えば特開２００４−６３２０４で開示されている技術を用いることにより、再生信号のパルス誤差を検出する。
【００３２】
ＣＰＵ３８は、ＲＦアンプ２３から出力された後にＡ／Ｄ変換器３０を介してディジタル信号に変換されたフォーカス誤差信号（ＦＥ）およびトラッキング誤差信号（ＴＥ）などのディジタル信号に種々の演算処理を施し、スピンドルモータ制御回路４、送りモータ制御回路２２、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７の制御を行う。
【００３３】
また、レーザ制御回路１７、ＰＬＬ回路２９、Ａ／Ｄ変換器３０、エラー訂正回路３４、評価指標測定回路３５、およびパルス誤差測定回路３６などは、バス３７を介してＣＰＵ３８によって制御される。ＣＰＵ３８は、インタフェース回路４１を介してホスト装置４３から供給される動作コマンドに従うとともに、ＲＯＭ（Read Only Memory）３９に記憶されているプログラムおよびＲＯＭ３９からＲＡＭ（Random Access Memory）４０にロードされたプログラムに従って各種の処理を実行し、種々の制御信号を生成し、各部に供給することにより光ディスク装置１を統括的に制御する。
【００３４】
ところで、光ディスク装置１では、評価指標測定回路３５においてすべての符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）を含む一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定するときには、例えば図２に示されるようにテストデータに含まれる各符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）のアシンメトリが測定される。
【００３５】
図２の例の場合、［数１］に従い、２Ｔ（２Ｔマークおよび２Ｔスペース）のアシンメトリが測定され、例えば２Ｔシンメトリは最長符号長１１Ｔを基準としたＤＣ成分のズレとして計算される。
【００３６】
［数１］
２Ｔアシンメトリ
＝{（Ｉ１１Ｈ＋Ｉ１１Ｌ）／２−（Ｉ２Ｈ＋Ｉ２Ｌ）／２}／（Ｉ１１Ｈ−Ｉ１１Ｌ）
ここで、Ｉ１１Ｈはテストデータに含まれる１１Ｔマークの再生信号レベル、Ｉ１１Ｌはテストデータに含まれる１１Ｔスペースの再生信号レベル、Ｉ２Ｈはテストデータに含まれる２Ｔマークの再生信号レベル、および、Ｉ２Ｌはテストデータに含まれる２Ｔスペースの再生信号レベルを示している。
【００３７】
また、図２の例の場合、［数２］に従い、３Ｔ（３Ｔマークおよび３Ｔスペース）のアシンメトリが測定される。
【００３８】
［数２］
３Ｔアシンメトリ
＝{（Ｉ１１Ｈ＋Ｉ１１Ｌ）／２−（Ｉ３Ｈ＋Ｉ３Ｌ）／２}／（Ｉ１１Ｈ−Ｉ１１Ｌ）
ここで、Ｉ１１Ｈはテストデータに含まれる１１Ｔマークの再生信号レベル、Ｉ１１Ｌはテストデータに含まれる１１Ｔスペースの再生信号レベル、Ｉ３Ｈはテストデータに含まれる３Ｔマークの再生信号レベル、および、Ｉ３Ｌはテストデータに含まれる３Ｔスペースの再生信号レベルを示している。
【００３９】
本発明においては、各符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）のアシンメトリに注目する。以下、このアシンメトリを用いた記録波形の最適化方法の概念について説明する。
【００４０】
一般的に、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いられるライト・ストラテジでは、短い数種類の符号長の前後の組み合わせ（例えば２Ｔマークと４Ｔスペースの組み合わせや、３Ｔマークと５Ｔスペースの組み合わせなど）に対してパルスのエッジタイミングを微調整（補正）することが可能である。より具体的には、例えば図３に示されるように、２Ｔマークの後に４Ｔスペースがくる符号長の組み合わせで形成される記録データにおいて、例えば先端または後端でのレーザ駆動電流の立ち上がりまたは立ち下がり（パルスのエッジタイミング）を微調整（補正）することが可能である。
【００４１】
そこで、例えば最短ビット幅を１Ｔとし、かつ、最短符号長を２Ｔとする変調系の場合、全符号長のうち例えば２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの４種類の符号長についてパルス幅（ライト・ストラテジで用いられるマルチパルス列のうちの所定のパルスの幅）を微調整（補正）するようにする。
【００４２】
ここで、それぞれの符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）に対してマークとスペースが存在するので、図３に示されるように、２Ｔマーク後に４Ｔスペースが存在する場合の２Ｔマークの後端のエッジタイミングを２Ｍ４Ｓと表記する。
【００４３】
そうすると、全符号長のうち例えば２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの４種類の符号長についてパルス幅を微調整（補正）する場合、４種類の符号長およびマークとスペースの組み合わせを考慮すると、図４［Ａ１］と［Ａ２］に示されるように、先端と後端のそれぞれにおいて、２Ｍ２Ｓ乃至５Ｍ５Ｓと２Ｓ２Ｍ乃至５Ｓ５Ｍの計３２種類のパルス幅調整用パラメータが存在することになる。
【００４４】
なお、本発明の実施形態においては、全符号長のうち最短符号長（例えば２Ｔ）から４種類の符号長（例えば２Ｔ乃至５Ｔ）に関してパルス幅の調整（補正）を行うようにするが、このような場合に限られず、３種類の符号長でもよいし、５種類以上の符号長に関してパルス幅を調整（補正）するようにしてもよい。すなわち、符号長３Ｔ乃至５Ｔでもよいし、符号長２Ｔ乃至１３Ｔでもよい。但し、符号間干渉の影響が大きい符号長は特に短い符号長であり、どの符号長まで微調整を行うか否かについては、レーザ制御回路１７のメモリと制御性能がトレードオフの関係であることを考慮して決定する必要がある。勿論、符号間干渉の影響が大きい符号長である特に短い符号長に本発明を適用することで、より大きな効果を得ることができ、より好適である。
【００４５】
図４[Ａ１]と[Ａ２]および[Ｂ]の場合、斜線部分において、４Ｔマークの両端のパルス幅（換言すれば、エッジタイミング）を微調整（補正）するパルス幅調整用パラメータを示している。この４Ｔマークの両端のパルス幅は、パルス幅調整用パラメータを変更し、図４[Ｂ]に示されるように例えば平均的なパルス幅（初期設定されるパルス幅）を先端と後端で±ΔＷ／２ずつ変更することで、パルス幅を例えば＋ΔＷ広げるように変更したり、あるいは、−ΔＷ狭めるように変更することができる。なお、パルス幅を例えば＋ΔＷ広げるように変更することにより、その符号長を記録する際の実効的なレーザパワーを増幅させることができ、その結果、その符号長でのアシンメトリを深く取ることが可能となる。
【００４６】
このとき、パルス幅調整用パラメータを変化させることでパルス幅を変更すると、再生信号のアシンメトリも同時に変化し、両者の間には線形的な因果関係が存在することが実験的に分かっている。そこで、この線形性を用いることで例えば２Ｔ乃至５Ｔのアシンメトリがそれぞれ０となるΔＷ２、ΔＷ３、ΔＷ４、およびΔＷ５を算出し、算出されたΔＷ２、ΔＷ３、ΔＷ４、およびΔＷ５に基づいて予め初期値として設定されているパルス幅を微調整（補正）して記録パラメータを決定することが可能である。以下、この方法を用いた図１の光ディスク装置１における記録パラメータ決定処理について説明する。
【００４７】
図６のフローチャートを参照して、図１の光ディスク装置１における記録パラメータ決定処理について説明する。この記録パラメータ決定処理は、ユーザにより光ディスク装置１に光ディスク４２が挿入され、ホスト装置４３の図示せぬ操作部が操作されることにより記録処理を開始するとの指示がなされることで光ディスク４２にユーザデータを記録する際に、予め開始される。
【００４８】
なお、図６のフローチャートを用いて説明する記録パラメータ決定処理においては、例えばユーザデータを光ディスク４２に記録する際に用いられる全符号長のうちの２Ｔ乃至５Ｔの４種類の符号長についてパルス幅（ライト・ストラテジで用いられるマルチパルス列のうちの所定のパルスの幅）を微調整（補正）するようにする場合について明示的に記載する。
【００４９】
ステップＳ１において、ＣＰＵ３８は、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いる記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）の初期値をＲＯＭ３９から読み出し、読み出された記録パラメータの初期値に基づいて、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを初期設定する。
【００５０】
ステップ２において、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて光ディスク４２の所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に所定のランダムパターンのテストデータの記録動作を行う。これにより、初期設定された記録パラメータを用いて、光ディスク４２に所定のランダムパターンのデータが記録される。
【００５１】
ステップＳ４おいて、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて記録された所定のランダムパターンのテストデータの再生動作を行う。
【００５２】
ステップＳ５において、ＣＰＵ３８は、データ再生回路３１、等化器３２、ビタビ復号回路３３、および評価指標測定回路３５を制御し、所定のランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ（符号長ごとの再生信号のアシンメトリ）を測定する。
【００５３】
具体的には、等化器３２は、任意のＰＲ特性を用いて、データ再生回路３１から入力された再生信号を任意のＰＲ特性に近い等化再生信号に変換し、変換された等化再生信号をビタビ復号回路３３および評価指標測定回路３５に出力する。ビタビ復号回路３３は、等化器３２から入力された等化再生信号とのユークリッド距離が最も小さいパスを選択し、選択されたパスに対応する符号長ビット系列を復号データとして等化器３２および評価指標測定回路３５に出力する。
【００５４】
評価指標測定回路３５は、等化器３２とビタビ復号回路３３からそれぞれ入力された等化再生信号と復号データに基づいて、再生信号の評価指標としてアシンメトリを算出（測定）する。
【００５５】
このときに算出された符号長ごとの現在の再生信号のアシンメトリを、例えば２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔについてｓ２、ｓ３、ｓ４、およびｓ５と表記する。
【００５６】
評価指標測定回路３５は、算出（測定）されたアシンメトリに関するデータをバス３７を介してＣＰＵ３８に供給する。ＣＰＵ３８は、評価指標測定回路３５から供給されたアシンメトリ（ランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ）に関するデータを取得する。このアシンメトリに関するデータには、符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２、ｓ３、ｓ４、およびｓ５に関するデータが含まれている。取得されたアシンメトリに関するデータは、ＲＡＭ３９に一時的に記憶される。
【００５７】
ステップＳ５において、ＣＰＵ３８は、パルス幅を変更する現在の符号長を示す変数である変数ｉの初期値をｉ＝２に設定する。すなわち、変数ｉが２に設定されると、以下の処理により、２Ｔのパルス幅が＋ΔＷまたは−ΔＷだけ変更されて記録再生された後、再生信号のアシンメトリが測定される。
【００５８】
ステップＳ６において、ＣＰＵ３８は、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いる記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）の初期値をＲＯＭ３９から読み出し、読み出された記録パラメータの初期値に基づいて、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを初期設定するとともに、パルス幅調整用パラメータを変更することで記録パラメータのうちのパルス幅を＋ΔＷに変更して初期設定する。
【００５９】
このとき、例えば図５[Ａ]に示されるように、ライト・ストラテジにおけるパルス幅調整用パラメータに関する初期値がｄ１乃至ｄ１６に設定されている場合、例えば４Ｔマークの両端のパルス幅（エッジタイミング）を変更するときには、図５[Ｃ]に示されるようにパルス調整用パラメータが変更される。
【００６０】
ステップＳ７において、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて光ディスク４２の所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に所定のランダムパターンのテストデータの記録動作を行う。これにより、初期設定された記録パラメータを用いて、光ディスク４２に所定のランダムパターンのデータが記録される。
【００６１】
ステップＳ８おいて、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて記録された所定のランダムパターンのテストデータの再生動作を行う。
【００６２】
ステップＳ９において、ＣＰＵ３８は、データ再生回路３１、等化器３２、ビタビ復号回路３３、および評価指標測定回路３５を制御し、所定のランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ（符号長ごとの再生信号のアシンメトリ）を測定する。なお、具体的な測定方法については、ステップＳ４において説明した測定方法と同様であり、その説明は繰り返しになるので省略する。
【００６３】
ここで、ｉＴのパルス幅が＋ΔＷだけ変更されて記録再生された後、測定された符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリをｓ２ｉ０、ｓ３ｉ０、ｓ４ｉ０、およびｓ５ｉ０と表記する。一方、ｉＴのパルス幅が−ΔＷだけ変更されて記録再生された後、測定された符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリをｓ２ｉ１、ｓ３ｉ１、ｓ４ｉ１、およびｓ５ｉ１と表記する。
【００６４】
例えば２Ｔのパルス幅が＋ΔＷだけ変更されて記録再生された後、測定された符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリはｓ２２０、ｓ３２０、ｓ４２０、およびｓ５２０と表記される。一方、例えば２Ｔのパルス幅が−ΔＷだけ変更されて記録再生された後、測定された符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリはｓ２２１、ｓ３２１、ｓ４２１、およびｓ５２１と表記される。
【００６５】
この場合、ステップＳ５の処理において、符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２０、ｓ３２０、ｓ４２０、およびｓ５２０が算出される。
【００６６】
評価指標測定回路３５は、算出（測定）されたアシンメトリに関するデータをバス３７を介してＣＰＵ３８に供給する。ＣＰＵ３８は、評価指標測定回路３５から供給されたアシンメトリ（ランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ）に関するデータを取得する。このアシンメトリに関するデータには、符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２０、ｓ３２０、ｓ４２０、およびｓ５２０に関するデータが含まれている。
【００６７】
ステップＳ１０において、ＣＰＵ３８は、パルス幅調整用パラメータを変更することで記録パラメータのうちのパルス幅を−ΔＷに変更して初期設定する。
【００６８】
このとき、例えば図５[Ｂ]に示されるように、ライト・ストラテジにおけるパルス幅調整用パラメータに関する初期値がｄ１７乃至ｄ３２に設定されている場合、例えば４Ｔマークの両端のパルス幅（エッジタイミング）を変更するときには、図５[Ｄ]に示されるようにパルス調整用パラメータが変更される。
【００６９】
ステップＳ１１において、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて光ディスク４２の所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に所定のランダムパターンのテストデータの記録動作を行う。これにより、初期設定された記録パラメータを用いて、光ディスク４２に所定のランダムパターンのデータが記録される。
【００７０】
ステップＳ１２おいて、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて記録された所定のランダムパターンのテストデータの再生動作を行う。
【００７１】
ステップＳ１３において、ＣＰＵ３８は、データ再生回路３１、等化器３２、ビタビ復号回路３３、および評価指標測定回路３５を制御し、所定のランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ（符号長ごとの再生信号のアシンメトリ）を測定する。なお、具体的な測定方法については、ステップＳ４において説明した測定方法と同様であり、その説明は繰り返しになるので省略する。
【００７２】
この場合、ステップＳ５の処理において、符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２１、ｓ３２１、ｓ４２１、およびｓ５２１が算出される。
【００７３】
評価指標測定回路３５は、算出（測定）されたアシンメトリに関するデータをバス３７を介してＣＰＵ３８に供給する。ＣＰＵ３８は、評価指標測定回路３５から供給されたアシンメトリ（ランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ）に関するデータを取得する。このアシンメトリに関するデータには、符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２１、ｓ３２１、ｓ４２１、およびｓ５２１に関するデータが含まれている。
【００７４】
ここで、パルス幅調整用パラメータを変化させることでパルス幅を変更すると、再生信号のアシンメトリも同時に変化し、両者の間には線形的な因果関係が存在することが実験的に分かっている。また、符号間干渉により、例えばパルス幅調整用パラメータを変化させることで２Ｔのパルス幅を変更すると、符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリだけでなく、その他の符号長（例えば３Ｔ、４Ｔ、および５Ｔなどの符号長）の再生信号のアシンメトリも同時に変化することが実験的に分かっている。
【００７５】
例えば２Ｔのパルス幅を変更すると、例えば図７に示されるように、符号長ごとの再生信号のアシンメトリが線形的に変化する。このとき、２Ｔのパルス幅を変更すると、符号長２Ｔ乃至５Ｔの再生信号のアシンメトリのうち、符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリが最も大きく変化する。ここで、２Ｔのパルス幅を変更したときの符号長３Ｔの再生信号のアシンメトリの変化を直線の傾き（θ２３）からｔａｎ（θ２３）により求め、Δｓ２３（＝ｔａｎ（θ２３））と表記する。
【００７６】
なお、ｔａｎ（θ２３）は再生信号のアシンメトリの変化量を２ΔＷで割った値である。
【００７７】
なお、本発明の実施形態においては、パルス幅を−ΔＷから＋ΔＷに変更したときの２プロット間の傾きを求めることで、各符号長の再生信号のアシンメトリの変化を算出するようにしているが、このような場合に限られず、例えば３プロット間の傾きを求めることでより正確なアシンメトリの変化を算出するようにしてもよい。また、再生信号のアシンメトリとパルス幅の変化量との間の線形性が崩れない程度の最適なΔＷ（パルス幅の変化量）は、実験的に決定することが可能である。
【００７８】
ステップＳ１４において、ＣＰＵ３８は、取得された各符号長の再生信号のアシンメトリに関するデータに基づいて、ｉＴのパルス幅を変更したときの各符号長（２Ｔ，３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔ）の再生信号のアシンメトリの変化Δｓｉｊ（ｊ＝２、３、４、５）を直線の傾き（θ）を求めることで算出する。すなわち、この場合、取得された符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２０、ｓ３２０、ｓ４２０、およびｓ５２０に関するデータと、符号長２Ｔ、３Ｔ，４Ｔ，および５Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２１、ｓ３２１、ｓ４２１、およびｓ５２１に関するデータに基づいて、２Ｔのパルス幅を変更したときの各符号長の再生信号のアシンメトリの変化Δｓ２２、Δｓ２３、Δｓ２４、およびΔｓ２５が直線の傾き（θ２２、θ２３、θ２４、およびθ２５）からｔａｎ（θ２２）、ｔａｎ（θ２３）、ｔａｎ（θ２４）、およびｔａｎ（θ２５）により求められる。
【００７９】
ステップＳ１５において、ＣＰＵ３８は、すべての符号長についてパルス幅を変更して記録再生動作を行ったか否かを判定する。ステップＳ１５においてすべての符号長についてパルス幅を変更して記録再生動作を行っていないと判定された場合、ＣＰＵ３８はステップＳ１２で、変数ｉを１だけインクリメントする。この場合、変数ｉは２に１だけインクリメントされることで３に設定される。
【００８０】
その後、処理はステップＳ６に戻り、ステップＳ６以降の処理が繰り返し実行される。すなわち、３Ｔのパルス幅が−ΔＷおよび＋ΔＷに変更されて記録再生動作がなされた際の再生信号のアシンメトリが測定され、測定された各符号長の再生信号のアシンメトリの変化Δｓ３２、Δｓ３３、Δｓ３４、およびΔｓ３５が算出される。
【００８１】
次に、ステップＳ６乃至Ｓ１６の処理が繰り返し実行されることで、さらに、４Ｔと５Ｔのパルス幅が−ΔＷおよび＋ΔＷに変更されて記録再生動作がなされた際の再生信号のアシンメトリが測定され、測定された各符号長の再生信号のアシンメトリの変化Δｓ４２、Δｓ４３、Δｓ４４、およびΔｓ４５、そして、Δｓ５２、Δｓ５３、Δｓ５４、およびΔｓ５５が算出される。
【００８２】
ステップＳ１５においてすべての符号長についてパルス幅を変更して記録再生動作を行ったと判定された場合、ＣＰＵ３８は、光ディスク４２における符号長ごとの現在のアシンメトリをそれぞれ０にするようなパルス幅の補正量ΔＷ２、ΔＷ３、ΔＷ４、およびΔＷ５を、図８に示される線形方程式を用いて、算出されたΔｓ２２乃至Δｓ２５、Δｓ３２乃至Δ３５、Δｓ４２乃至Δｓ４５、およびΔｓ５２乃至Δｓ５５、さらに符号長２Ｔ乃至５Ｔの現在の再生信号のアシンメトリ（初期値を用いたときの再生信号のアシンメトリ）ｓ２乃至ｓ５に基づいて算出する。
【００８３】
ステップＳ１８において、ＣＰＵ３８は、算出されたパルス幅の補正量ΔＷ２、ΔＷ３、ΔＷ４、およびΔＷ５（光ディスク４２における符号長ごとの現在のアシンメトリをそれぞれ０にするようなパルス幅の補正量）に基づいて、予め設定されたパルス幅の初期値を補正する。
【００８４】
ステップＳ１９において、ＣＰＵ３８は、光ディスク４２にユーザデータを記録する際の記録パラメータを、現在の記録パラメータ（記録パワーと補正後のライト・ストラテジ）に決定する。
【００８５】
本発明の実施形態においては、記録パラメータのうちのパルス幅（すなわち、エッジタイミング）を符号長（例えば２Ｔ乃至５Ｔなど）ごとに予め設定された初期値から−ΔＷまたは＋ΔＷだけ変更し、変更されたパルス幅を用いてテストデータの記録再生動作を行い、符号長（例えば２Ｔ乃至５Ｔなど）ごとの再生信号のアシンメトリを測定し、測定された符号長ごとの再生信号のアシンメトリの変化を直線の傾き（θ）から算出するとともに、算出された再生信号のアシンメトリの変化および初期値のパルス幅を用いたときの現在の再生信号のアシンメトリに基づいて、光ディスク４２における符号長ごとの現在のアシンメトリをそれぞれ０にするようなパルス幅の補正量（例えばΔＷ２、ΔＷ３、ΔＷ４、およびΔＷ５）を算出することができる。
【００８６】
また、算出されたパルス幅の補正量（例えばΔＷ２、ΔＷ３、ΔＷ４、およびΔＷ５）に基づいて予め設定されたパルス幅の初期値を補正することができ、光ディスク４２に対して最適な記録パラメータを決定することができる。
【００８７】
これにより、たとえ光ディスク装置１の製造時以降においてメーカから新しい種類の光ディスクが提案されたり、場所によって製造される光ディスクの品質も大きく異なったとしても、未知や粗悪品の光ディスク４２を含むあらゆる光ディスク４２に対しても、最適な記録波形を形成することができる。
【００８８】
従って、光ディスク４２にユーザデータを記録した場合における記録品質（品位）を向上させることができる。また、メディア（記録媒体）や光ディスク装置１によるばらつきを抑制し、歩留まりを向上させることができ、開発時間の短縮を図ることができる。さらに、本発明を光ディスク装置１に実装することで、未知や粗悪品のディスクを含むすべての光ディスクに対して最適な記録波形を形成することを簡単に自動化することが可能となる。
【００８９】
なお、図６のステップＳ１８の処理によりライト・ストラテジにおけるパルス幅を補正した後に、さらに、例えばパルス誤差検出回路３６により特開２００４−６３０２４公報に示される方式を用いて符号間干渉によるエッジタイミング調整を行うようにしてもよい。特開２００４−６３０２４公報に示される方式は、アシンメトリに積極的には変化を与えないで符号間干渉を除去する制御方式であり、この制御方式と組み合わせることでより良好な記録波形を得ることができる。
【００９０】
また、図６のフローチャートを参照して説明した図１の光ディスク装置１における記録パラメータ決定処理においては、アシンメトリを変化させる実効的なパワーを変化させるためにパルス幅を変更するようにしたが、このような場合に限られず、例えばパルス幅の変わりに符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）ごとの記録パワーを変更するようにしても同様の結果が得られる。これにより、アシンメトリの変化を補正することができる範囲を広げることが可能となる。
【００９１】
さらに、本発明の実施形態においては、予め設定された符号長のパルス幅の初期値を用いて記録再生動作を行った後、さらにパルス幅を変更した２プロット間のアシンメトリの変化を求め、光ディスク４２における符号長ごとの現在のアシンメトリをそれぞれ０にするようなパルス幅の補正量（例えばΔＷ２、ΔＷ３、ΔＷ４、およびΔＷ５）を算出するようにしたが、このような場合に限られず、予め設定された符号長のパルス幅の初期値を用いて記録再生動作を行わずに、パルス幅を変更した２プロットのアシンメトリを用いてパルス幅の補正量を算出するようにしてもよい。
【００９２】
ところで、図６のフローチャートを参照して説明した図１の光ディスク装置１における記録パラメータ決定処理においては、すべての符号長を含む一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生を行うようにしたが、このような場合に限られず、まず粗調整として、例えば２つの符号長ｘＴとｙＴにより形成される特定パターンのテストデータを用いて記録再生を行い、各符号長ごとにパルス幅を予め設定された初期値から補正した後、微調整として符号間干渉を考慮した図６のステップＳ５乃至Ｓ１８の処理を実行するようにしてもよい。これにより、ＰＬＬ回路２９において再生信号が初期の段階で良好にロックされない場合であっても、粗調整の段階では符号分別を行う必要がないことから、粗調整の段階でパルス幅を粗く補正した上で、ＰＬＬ回路２９に再生信号が良好にロックされやすい状態で微調整を行うことができ、より粗悪品の光ディスク４２に対しても、最適な記録波形を形成することができる。以下、本発明の第２実施形態について説明する。
【００９３】
［第２実施形態］
図９は、本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置１の構成を表している。なお、図１の光ディスク装置１に対応するものについては、同一の符号長を付しており、その説明は繰り返しになるので省略する。
【００９４】
特定パターン発生器４５は、ＣＰＵ３８の制御に従い、光ディスク４２に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）により形成される特定パターンを発生し、発生された特定パターンに基づく特定パターンのテストデータをレーザ制御回路１７に出力する。
【００９５】
具体的には、例えば図１０に示されるように、２つの符号ｘＴとｙＴ（最短符号長≦ｘ、ｙ≦最長符号長）に関してすべての符号間干渉を含み、かつ、ＤＳＶ（Digital Sum Value）が０となる特定パターンを発生し、発生された特定パターンに基づく特定パターンのテストデータを光ディスク４２に記録した後、記録された特定パターンのテストデータを再生し、その再生信号のアシンメトリを測定する。
【００９６】
なお、２つの符号ｘＴとｙＴにより形成される特定パターンには、図１０の特定パターンＡ乃至Ｄに示されるように複数個（４つ）の同位体が存在し、２つの符号長ｘＴとｙＴにより特定パターンを形成する場合には３連続以上の符号間干渉を考慮していないため、４つの同位体の特定パターンの間で多少なりともアシンメトリに分散が生じる。そのため、４つの特定パターンのテストデータを用いてアシンメトリを測定した後、測定された４つのアシンメトリの平均値を算出するようにする。
【００９７】
これにより、再生信号に対して符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）分別を行う必要がなくなり、再生信号のＰＬＬ回路２９におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することが可能となる。
【００９８】
次に、図１１および図１２のフローチャートを参照して、図９の光ディスク装置１における記録パラメータ決定処理について説明数する。なお、図１１のステップＳ２２乃至Ｓ４０の処理は、図６のステップＳ１乃至Ｓ１９の処理と同様であり、その説明は繰り返しになるので省略する。
【００９９】
ステップＳ２１において、ＣＰＵ３８は、光ディスク装置１全体を制御し、特定パターンのテストデータを用いた特定パターンパルス幅補正処理を粗調整として実行する。この特定パターンパルス幅補正処理の詳細については、図１１のフローチャートに示されている。
【０１００】
図１１のフローチャートを参照して、図９の光ディスク装置１における特定パターンパルス幅補正処理について説明する。
【０１０１】
ステップＳ５１において、ＣＰＵ３８は、パルス幅を変更する現在の符号長を示す変数である変数ｉの初期値をｉ＝２に設定する。すなわち、変数ｉが２に設定されると、以下の処理により、特定パターンのテストデータが記録再生された後、再生信号のアシンメトリが測定されるとともに、２Ｔのパルス幅が＋ΔＷまたは−ΔＷだけ変更されて特定パターンのテストデータが記録再生された後、再生信号のアシンメトリが測定される。
【０１０２】
ステップＳ５２において、ＣＰＵ３８は、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いる記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）の初期値をＲＯＭ３９から読み出し、読み出された記録パラメータの初期値に基づいて、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを初期設定する。
【０１０３】
ステップＳ５３において、特定パターン発生器４５は、ＣＰＵ３８の制御に従い、光ディスク４２に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）により形成される特定パターンを設定するとともに、設定された特定パターンを発生する。具体的には、図１０に示されるように、２つの符号長ｘＴとｙＴ（最短符号長≦ｘ、ｙ≦最長符号長）に関してすべての符号間干渉を含み、かつ、ＤＳＶ（Digital Sum Value）が０となる特定パターン（例えば特定パターンＡ乃至Ｄのうち、特定パターンＡなど）が発生される。
【０１０４】
この場合、例えば２Ｔと１１Ｔに関してすべての符号間干渉を含み、かつ、ＤＳＶが０となる特定パターンが発生される。
【０１０５】
特定パターン発生器４５は、発生された特定パターンに基づく特定パターンのテストデータをレーザ制御回路１７に出力する。
【０１０６】
ステップＳ５４において、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて光ディスク４２の所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に特定パターンのテストデータの記録動作を行う。これにより、初期設定された記録パラメータを用いて、光ディスク４２に所定の特定パターンのデータが記録される。
【０１０７】
ステップＳ５５おいて、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて記録された所定の特定パターンのテストデータの再生動作を行う。
【０１０８】
ステップＳ５６において、ＣＰＵ３８は、データ再生回路３１、等化器３２、および評価指標測定回路３５を制御し、所定の特定パターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリを測定する。
【０１０９】
具体的には、等化器３２は、任意のＰＲ特性を用いて、データ再生回路３１から入力された再生信号を任意のＰＲ特性に近い等化再生信号に変換し、変換された等化再生信号を評価指標測定回路３５に出力する。
【０１１０】
評価指標測定回路３５は、等化器３２から入力された等化再生信号に基づいて、再生信号の評価指標としてアシンメトリを算出（測定）する。
【０１１１】
評価指標測定回路３５は、算出（測定）されたアシンメトリに関するデータをバス３７を介してＣＰＵ３８に供給する。ＣＰＵ３８は、評価指標測定回路３５から供給されたアシンメトリ（特定パターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ）に関するデータを取得する。この再生信号のアシンメトリに関するデータには、符号長ｉＴの再生信号のアシンメトリｓｉに関するデータが含まれている。この場合、この再生信号のアシンメトリに関するデータには、符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２に関するデータが含まれている。取得されたアシンメトリに関するデータは、ＲＡＭ３９に一時的に記憶される。
【０１１２】
ステップＳ５７において、ＣＰＵ３８は、特定パターン発生器４５に、すべての特定パターン（例えば図１０の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させたか否かを判定する。
【０１１３】
ステップＳ５７においてすべての特定パターン（例えば図１０の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させていないと判定された場合（すなわち、特定パターンのうち特定パターン発生器４５により発生されていない特定パターンが存在すると判定された場合）、処理はステップＳ５３に戻り、ステップＳ２以降の処理が繰り返される。これにより、特定パターン発生器４５によりすべての特定パターンが順次発生され、それぞれの特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作が行われ、再生信号のアシンメトリが測定される。
【０１１４】
勿論、複数存在する同位体のうち、１つだけの特定パターンのテストデータを記録するようにしてもよい。
【０１１５】
ステップＳ５７おいてすべての特定パターン（例えば図１０の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させたと判定された場合、ＣＰＵ３８はステップＳ５８で、すべての特定パターンのテストデータを記録再生した際に算出されたアシンメトリに関するデータを順次取得し、取得されたアシンメトリに関するデータに基づいて、すべての特定パターンにおけるアシンメトリの平均値を算出する。
【０１１６】
これにより、２つの符号長ｘＴとｙＴ（例えば２Ｔと１１Ｔなど）により特定パターンを形成する場合に３連続以上の符号間干渉を考慮していないことから、４つの同位体の特定パターンの間で生じるアシンメトリの分散を低減することができる。
【０１１７】
ステップＳ５９において、ＣＰＵ３８は、パルス幅調整用パラメータを変更することで記録パラメータのうちの符号長ｉＴのパルス幅を＋ΔＷに変更して初期設定する。この場合、パルス幅調整用パラメータを変更することで記録パラメータのうちの符号長２Ｔのパルス幅が＋ΔＷに変更して初期設定される。
【０１１８】
このとき、例えば図５[Ａ]および[Ｃ]に示されるようにパルス調整用パラメータが変更される。
【０１１９】
ステップＳ６０において、特定パターン発生器４５は、ＣＰＵ３８の制御に従い、光ディスク４２に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）により形成される特定パターンを設定するとともに、設定された特定パターンを発生する。
【０１２０】
この場合、ステップＳ５３の処理と同様に、例えば２Ｔと１１Ｔに関してすべての符号間干渉を含み、かつ、ＤＳＶが０となる特定パターンが発生される。
【０１２１】
ステップＳ６１において、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて光ディスク４２の所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に所定のランダムパターンのテストデータの記録動作を行う。これにより、初期設定された記録パラメータを用いて、光ディスク４２に所定のランダムパターンのデータが記録される。
【０１２２】
ステップＳ６２おいて、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて記録された所定のランダムパターンのテストデータの再生動作を行う。
【０１２３】
ステップＳ６３において、ＣＰＵ３８は、データ再生回路３１、等化器３２、および評価指標測定回路３５を制御し、所定のランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ（符号長ごとの再生信号のアシンメトリ）を測定する。なお、具体的な測定方法については、ステップＳ５６において説明した測定方法と同様であり、その説明は繰り返しになるので省略する。
【０１２４】
ここで、ｉＴのパルス幅が＋ΔＷだけ変更されて記録再生された後、測定された符号長ｉＴの再生信号のアシンメトリをｓii０と表記する。一方、ｉＴのパルス幅が−ΔＷだけ変更されて記録再生された後、測定された符号長ｉＴの再生信号のアシンメトリをｓｉｉ１と表記する。
【０１２５】
例えば２Ｔのパルス幅が＋ΔＷだけ変更されて記録再生された後、測定された符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリはｓ２２０と表記される。一方、例えば２Ｔのパルス幅が−ΔＷだけ変更されて記録再生された後、測定された符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリはｓ２２１と表記される。
【０１２６】
この場合、ステップＳ６３の処理において、符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２０が算出される。
【０１２７】
評価指標測定回路３５は、算出（測定）されたアシンメトリに関するデータをバス３７を介してＣＰＵ３８に供給する。ＣＰＵ３８は、評価指標測定回路３５から供給されたアシンメトリ（ランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ）に関するデータを取得する。このアシンメトリに関するデータには、符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２０に関するデータが含まれている。
【０１２８】
ステップＳ６４において、ＣＰＵ３８は、特定パターン発生器４５に、すべての特定パターン（例えば図１０の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させたか否かを判定する。
【０１２９】
ステップＳ６４においてすべての特定パターン（例えば図１０の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させていないと判定された場合（すなわち、特定パターンのうち特定パターン発生器４５により発生されていない特定パターンが存在すると判定された場合）、処理はステップＳ６０に戻り、ステップＳ６０以降の処理が繰り返される。これにより、特定パターン発生器４５によりすべての特定パターンが順次発生され、それぞれの特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作が行われ、再生信号のアシンメトリが測定される。
【０１３０】
ステップＳ６４おいてすべての特定パターン（例えば図１０の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させたと判定された場合、ＣＰＵ３８はステップＳ６５で、すべての特定パターンのテストデータを記録再生した際に算出されたアシンメトリに関するデータを順次取得し、取得されたアシンメトリに関するデータに基づいて、すべての特定パターンにおけるアシンメトリｓｉｉ０の平均値を算出する。
【０１３１】
ステップＳ６６において、ＣＰＵ３８は、パルス幅調整用パラメータを変更することで記録パラメータのうちの符号長ｉＴのパルス幅を−ΔＷに変更して初期設定する。この場合、パルス幅調整用パラメータを変更することで記録パラメータのうちの符号長２Ｔのパルス幅が−ΔＷに変更して初期設定される。
【０１３２】
このとき、例えば図５[Ｂ]および[Ｄ]に示されるようにパルス調整用パラメータが変更される。
【０１３３】
ステップＳ６７において、特定パターン発生器４５は、ＣＰＵ３８の制御に従い、光ディスク４２に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）により形成される特定パターンを設定するとともに、設定された特定パターンを発生する。
【０１３４】
この場合、ステップＳ５３の処理と同様に、例えば２Ｔと１１Ｔに関してすべての符号間干渉を含み、かつ、ＤＳＶが０となる特定パターンが発生される。
【０１３５】
ステップＳ６８において、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて光ディスク４２の所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に所定のランダムパターンのテストデータの記録動作を行う。これにより、初期設定された記録パラメータを用いて、光ディスク４２に所定のランダムパターンのデータが記録される。
【０１３６】
ステップＳ６９おいて、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて記録された所定のランダムパターンのテストデータの再生動作を行う。
【０１３７】
ステップＳ７０において、ＣＰＵ３８は、データ再生回路３１、等化器３２、および評価指標測定回路３５を制御し、所定のランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ（符号長ごとの再生信号のアシンメトリ）を測定する。なお、具体的な測定方法については、ステップＳ５６において説明した測定方法と同様であり、その説明は繰り返しになるので省略する。
【０１３８】
この場合、ステップＳ７０の処理において、符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２１が算出される。
【０１３９】
評価指標測定回路３５は、算出（測定）されたアシンメトリに関するデータをバス３７を介してＣＰＵ３８に供給する。ＣＰＵ３８は、評価指標測定回路３５から供給されたアシンメトリ（ランダムパターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ）に関するデータを取得する。このアシンメトリに関するデータには、符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２１に関するデータが含まれている。
【０１４０】
ステップＳ７１において、ＣＰＵ３８は、特定パターン発生器４５に、すべての特定パターン（例えば図１０の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させたか否かを判定する。
【０１４１】
ステップＳ７１においてすべての特定パターン（例えば図１０の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させていないと判定された場合（すなわち、特定パターンのうち特定パターン発生器４５により発生されていない特定パターンが存在すると判定された場合）、処理はステップＳ６７に戻り、ステップＳ６７以降の処理が繰り返される。これにより、特定パターン発生器４５によりすべての特定パターンが順次発生され、それぞれの特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作が行われ、再生信号のアシンメトリが測定される。
【０１４２】
ステップＳ７１おいてすべての特定パターン（例えば図１０の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させたと判定された場合、ＣＰＵ３８はステップＳ７２で、すべての特定パターンのテストデータを記録再生した際に算出されたアシンメトリに関するデータを順次取得し、取得されたアシンメトリに関するデータに基づいて、すべての特定パターンにおけるアシンメトリｓｉｉ１の平均値を算出する。
【０１４３】
ステップＳ７３において、ＣＰＵ３８は、取得された所定の符号長の再生信号のアシンメトリに関するデータに基づいて、ｉＴのパルス幅を変更したときの各符号長（ｉＴ）の再生信号のアシンメトリの変化Δｓｉｉ（ｉ＝２、３、４、５）を直線の傾き（θ）を求めることで算出する。すなわち、この場合、取得された符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２０に関するデータと、符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリｓ２２１に関するデータに基づいて、２Ｔのパルス幅を変更したときの符号長２Ｔの再生信号のアシンメトリの変化Δｓ２２が直線の傾き（θ２２）からｔａｎ（θ２２）により求められる。
【０１４４】
ステップＳ７４において、ＣＰＵ３８は、光ディスク４２における所定の符号長ｉＴの現在のアシンメトリを０にするようなパルス幅の補正量ΔＷｉを、図８に示される線形方程式を用いて、算出されたΔｓｉｉ０およびΔｓｉｉ１、さらに符号長ｉＴの現在の再生信号のアシンメトリ（初期値を用いたときの再生信号のアシンメトリ）ｓｉに基づいて算出する。
【０１４５】
この場合、光ディスク４２における所定の符号長２Ｔの現在のアシンメトリを０にするようなパルス幅の補正量ΔＷ２が、図８に示される線形方程式を用いて、算出されたΔｓ２２０およびΔｓ２２１、さらに符号長２Ｔの現在の再生信号のアシンメトリｓ２に基づいて算出される。
【０１４６】
ステップＳ７５において、ＣＰＵ３８は、算出されたパルス幅の補正量ΔＷｉ（光ディスク４２における符号長ごとの現在のアシンメトリをそれぞれ０にするようなパルス幅の補正量）に基づいて、予め設定されたパルス幅の初期値を補正する。
【０１４７】
ステップＳ７６において、ＣＰＵ３８は、すべての符号長（例えば２Ｔ，３Ｔ、４Ｔ，５Ｔなど）についてパルス幅を変更して記録再生動作を行ったか否かを判定する。ステップＳ７６においてすべての符号長についてパルス幅を変更して記録再生動作を行っていないと判定された場合、ＣＰＵ３８はステップＳ７７で、変数ｉを１だけインクリメントする。この場合、変数ｉは２に１だけインクリメントされることで３に設定される。
【０１４８】
その後、処理はステップＳ５１に戻り、ステップＳ５１以降の処理が繰り返し実行される。すなわち、変数ｉが３に設定されると、以下の処理により、特定パターンのテストデータが記録再生された後、再生信号のアシンメトリが測定されるとともに、３Ｔのパルス幅が＋ΔＷまたは−ΔＷだけ変更されて特定パターンのテストデータが記録再生された後、再生信号のアシンメトリが測定され、測定された符号長３Ｔの再生信号のアシンメトリの変化Δｓ３３が算出される。そして、算出されたΔｓ３３に基づいて予め設定された３Ｔのパルス幅の初期値が補正される。
【０１４９】
次に、ステップＳ５１乃至Ｓ７７の処理が繰り返し実行されることで、さらに、変数ｉが４や５に設定され、以下の処理により、特定パターンのテストデータが記録再生された後、再生信号のアシンメトリが測定されるとともに、４Ｔや５Ｔのパルス幅が＋ΔＷまたは−ΔＷだけ変更されて特定パターンのテストデータが記録再生された後、再生信号のアシンメトリが測定され、測定された符号長４Ｔや５Ｔの再生信号のアシンメトリの変化Δｓ４４やΔｓ５５が算出される。そして、算出されたΔｓ４４やΔｓ５５に基づいて予め設定された４Ｔや５Ｔのパルス幅の初期値が補正される。
【０１５０】
ステップＳ７８において、ＣＰＵ３８は、光ディスク４２にユーザデータを記録する際の記録パラメータを、現在の記録パラメータ（記録パワーと補正後のライト・ストラテジ）に設定する。
【０１５１】
これにより、例えば図１３に示されるように、調整前よりも２Ｔ乃至５Ｔの再生信号のアシンメトリをほぼ０に近づけることができる。
【０１５２】
その後、処理は図１１のステップＳ２２に戻り、ステップＳ２２以降において符号間干渉を考慮したランダムパターンのテストデータを用いた記録再生動作が微調整として行われ、ビタビ復号回路３３において各符号長ごとに分別された上で再生信号のアシンメトリが測定されるとともに、測定された再生信号のアシンメトリに基づいてパルス幅が補正され、補正されたパルス幅に従い、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータが決定される。
【０１５３】
これにより、ＰＬＬ回路２９において再生信号が初期の段階で良好にロックされない場合であっても、粗調整の段階で符号分別を行う必要がないことから、より粗悪品の光ディスク４２に対しても、最適な記録波形を形成することができる。
【０１５４】
従って、光ディスク４２にユーザデータを記録した場合における記録品質（品位）をより向上させることができる。また、メディア（記録媒体）や光ディスク装置１によるばらつきをより抑制し、歩留まりをより向上させることができ、開発時間の短縮をより図ることができる。
【０１５５】
なお、本発明の第２の実施形態においては、２連続符号間干渉を考慮した特定パターンを用いるようにしたが、このような場合に限られず、３連続符号間干渉や４連続符号間干渉なども考慮した特定パターンを発生して用いるようにしてもよい。２連続符号間干渉を考慮した特定パターンは符号長が８で、同位体数が４であるが、３連続符号間干渉を考慮した特定パターンは符号長が１６で、同位体数が３２となる。これにより、同位体間での再生信号のアシンメトリのばらつきをより小さくすることができる。
【０１５６】
なお、本発明の実施形態において説明した一連の処理は、ソフトウェアにより実行させることもできるが、ハードウェアにより実行させることもできる。
【０１５７】
また、本発明の実施形態では、フローチャートのステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理の例を示したが、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別実行される処理をも含むものである。
【図面の簡単な説明】
【０１５８】
【図１】本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置の内部の構成を示すブロック図。
【図２】再生信号の非対称性（アシンメトリ）の測定方法を説明する説明図。
【図３】パルスのエッジタイミング（パルス幅）を説明するための説明図。
【図４】パルス幅を調整するためのパルス幅調整用パラメータを説明する説明図。
【図５】パルス幅を変更する際の、パルス幅を調整するためのパルス幅調整用パラメータの変更を示す図。
【図６】図１の光ディスク装置の記録パラメータ決定処理を説明するフローチャート。
【図７】パルス幅を変更した際のアシンメトリの変化を示すグラフ。
【図８】パルス幅の補正量を算出する算出式を示す図。
【図９】本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置の内部の構成を示すブロック図。
【図１０】図９の特定パターン発生器において発生される特定パターンの例を示す図。
【図１１】図９の光ディスク装置における記録パラメータ決定処理を説明するフローチャート。
【図１２】図９の光ディスク装置における記録パラメータ決定処理を説明するフローチャート。
【図１３】図１１のステップＳ２１の特定パターンパルス幅補正処理を実行した場合における再生信号のアシンメトリの実験結果を示す図。
【符号の説明】
【０１５９】
１…光ディスク装置、２…スピンドルモータ、２ａ…ロータリエンコーダ、３…スピンドルモータ駆動回路、４…スピンドル制御回路、５…光ピックアップ、６…対物レンズ、７…トラッキングアクチュエータ、８…フォーカスアクチュエータ、９…レーザダイオード、１０…フロントモニタ・フォトダイオード、１１…ハーフミラー、１２…コリメータレンズ、１３…ハーフプリズム、１４…集光レンズ、１５…シリンドリカルレンズ、１６…光検出器、１７…レーザ制御回路、１８…ギア、１９…スクリューシャフト、２０…送りモータ、２１…送りモータ駆動回路、２２…送りモータ制御回路、２３…ＲＦアンプ、２４…フォーカスアクチュエータ駆動回路、２５…フォーカスアクチュエータ制御回路、２６…トラッキングアクチュエータ駆動回路、２７…トラッキング制御回路、２８…水晶、２９…ＰＬＬ回路、３０…Ａ／Ｄ変換器、３１…データ再生回路、３２…等化器、３３…ビタビ復号回路、３４…エラー訂正回路、３５…評価指標測定回路、３６…パルス誤差検出回路、３７…バス、３８…ＣＰＵ、３９…ＲＯＭ、４０…ＲＡＭ、４１…インタフェース回路、４２…光ディスク、４３…ホスト装置、４４…変調回路、４５…特定パターン発生器。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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