(57)【要約】【課題】高速化・高解像度化に伴う数十・数百ビームといったマルチビーム光学系においても、走査線傾きと複数のレーザビームの倍率を同時に検出し、画像形成中においても検出可能な光走査装置の提供。【解決手段】主走査方向の上流側に走査位置検出センサ３７を、下流側に走査位置検出センサ３８を配置し、このとき辺３７ａと辺３８ａ、および辺３７ｂと辺３８ｂとがそれぞれ平行になるようにし、さらに辺３７ａと辺３８ａが主走査方向に対し直角をなすように配置し、走査位置検出センサ３７，３８により検出した時間Ｔ１，Ｔ２，Ｔから傾き角θを、時間Ｔ、傾き角θから走査線倍率を算出する構成とする。【選択図】図３
2008012905.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出射されるレーザビームを像担持体に走査して潜像を形成する光走査装置において、
前記レーザビームを検出する第一と第二のレーザビーム検出手段と、
前記第一と第二のレーザビーム検出手段からの検出結果に基づいて前記像担持体上での走査線の傾きを検出する走査線傾き検出手段とを備えることを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
請求項１記載の光走査装置において、
前記第一のレーザビーム検出手段は前記像担持体への潜像形成前の走査領域で、前記第二のレーザビーム検出手段は前記像担持体への潜像形成終了後の走査領域で、前記レーザビームを検出することを特徴とする光走査装置。
【請求項３】
請求項２記載の光走査装置において、
前記走査線傾き検出手段は、前記像担持体上の走査線の傾きθを以下の式で算出することを特徴とする光走査装置。
ｔａｎθ＝（Ｔ１−Ｔ２）／（Ｔ−Ｔ１＋Ｔ２）
ここで、
前記第一のレーザビーム検出手段に入射してから前記第二のレーザビーム検出手段に入射するまでの時間Ｔ、
前記第一のレーザビーム検出手段からの出力信号の時間Ｔ１、
前記第二のレーザビーム検出手段からの出力信号の時間Ｔ２
【請求項４】
請求項３記載の光走査装置において、
前記走査線傾き検出手段で求めた前記傾きθ、前記時間Ｔ、さらに前記傾きθ＝０としたときの前記第一のレーザビーム検出手段に前記レーザビームが入射してから前記第二のレーザビーム検出手段に入射するまでの時間ｔとに基づいて、前記レーザビームの走査倍率を算出することを特徴とする光走査装置。
【請求項５】
光源から出射されるレーザビームを偏向走査手段で主走査方向に偏向走査して像担持体に潜像を形成する光走査装置において、
前記像担持体への潜像形成前の走査領域で前記レーザビームを検出する第一のレーザビーム検出手段と、
前記像担持体への潜像形成終了後の走査領域で前記レーザビームを検出する第二のレーザビーム検出手段と、
前記第一のレーザビーム検出手段からの出力信号の時間と、前記第二のレーザビーム検出手段からの出力信号の時間と、前記第一のレーザビーム検出手段に入射してから前記第二のレーザビーム検出手段に入射するまでの時間とに基づいて、前記像担持体上での走査線の前記主走査方向に対する傾きを検出する走査線傾き検出手段とを備えることを特徴とする光走査装置。
【請求項６】
請求項５記載の光走査装置において、
前記走査線傾き検出手段は、前記像担持体上での走査線の前記主走査方向に対する傾きθを以下の式で算出することを特徴とする光走査装置。
ｔａｎθ＝（Ｔ１−Ｔ２）／（Ｔ−Ｔ１＋Ｔ２）
ここで、
前記第一のレーザビーム検出手段に入射してから前記第二のレーザビーム検出手段に入射するまでの時間Ｔ、
前記第一のレーザビーム検出手段からの出力信号の時間Ｔ１、
前記第二のレーザビーム検出手段からの出力信号の時間Ｔ２
【請求項７】
請求項６記載の光走査装置において、
前記走査線傾き検出手段で求めた前記傾きθ、前記時間Ｔ、さらに前記傾きθ＝０としたときの前記第一のレーザビーム検出手段に前記レーザビームが入射してから前記第二のレーザビーム検出手段に入射するまでの時間ｔとに基づいて、前記レーザビームの走査倍率を算出することを特徴とする光走査装置。
【請求項８】
光源から出射されるレーザビームを偏向走査手段で主走査方向に偏向走査して像担持体に潜像を形成する光走査装置において、
前記レーザビームを検出する第一と第二のレーザビーム検出手段と、
前記第一と第二のレーザビーム検出手段からの検出結果に基づいて前記像担持体上での走査線の傾きを検出する走査線傾き検出手段と、を備え、
前記第一と第二のレーザビーム検出手段は、各々、前記主走査方向に対して始端側の第一の辺縁と終端側の第二の辺縁とが非平行であり、前記第一のレーザビーム検出手段の第一の辺縁と前記第二のレーザビーム検出手段の第一の辺縁とが平行、かつ前記第一のレーザビーム検出手段の第二の辺縁と前記第二のレーザビーム検出手段の第二の辺縁とが平行であることを特徴とする光走査装置。
【請求項９】
請求項８記載の光走査装置において、
前記走査線傾き検出手段は、前記第一のレーザビーム検出手段が出力する第一のパルスの幅と前記第二のレーザビーム検出手段が出力する第二のパルスの幅との差と、前記第一のレーザビーム検出手段に前記レーザビームが入射してから前記第二のレーザビーム検出手段に入射するまでの時間と、に基づいて前記像担持体上での走査線の傾きを検出することを特徴とする光走査装置。
【請求項１０】
請求項９記載の光走査装置において、
前記走査線傾き検出手段は、前記像担持体上の走査線の傾きθを以下の式で算出することを特徴とする光走査装置。
ｔａｎθ＝（Ｔ１−Ｔ２）／（Ｔ−Ｔ１＋Ｔ２）
ここで、
前記第一のレーザビーム検出手段に前記レーザビームが入射してから前記第二のレーザビーム検出手段に入射するまでの時間Ｔ、
前記第一のレーザビーム検出手段が出力する第一のパルスの幅に相当する時間Ｔ１、
前記第一のレーザビーム検出手段が出力する第一のパルスの幅に相当する時間Ｔ２
【請求項１１】
請求項１０記載の光走査装置において、
前記走査線傾き検出手段で求めた前記傾きθ、前記時間Ｔと前記傾きθ＝０としたときの前記第一のレーザビーム検出手段に前記レーザビームが入射してから前記第二のレーザビーム検出手段に入射するまでの時間ｔとに基づいて、前記レーザビームの走査倍率を算出することを特徴とする光走査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光走査装置に関し、静電記録方式や電子写真記録方式等を採用した画像形成装置における光学特性の検出に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式の画像形成装置における光走査装置は、入力された画像データに応じて半導体レーザを駆動し、その画像データに応じた静電潜像を感光体上に形成している。
【０００３】
光走査装置の光源として使用される半導体レーザは出射するレーザ光の波長に温度特性を有している。つまり温度が変動するとレーザ光の波長が変化する。これにより光走査装置内に主に設けられているレーザ光が透過するレンズや反射するミラーでの屈折率や反射率が変動し、感光体上でのレーザ光による走査線の倍率が変動しやすかった。
【０００４】
さらに光源としてマルチビームを使用した場合には、各ビーム間の元々の波長差による倍率差に、それぞれの温度特性による倍率変動も加わり、全てのレーザの倍率が各々変動してしまう。そこでこの各レーザの倍率を検出するために、感光体上にテストパターンを形成し、このパターン同士の間隔を中間転写体上などで測定することで各レーザの倍率を検出する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
しかし、今後の高速化・高解像度化に伴うさらなるマルチビーム化によって光源の数が数十・数百と増加した場合、テストパターンを形成して、検出するのでは非常に時間がかかるため、現実的ではないことが推測される。
【０００６】
従って、各ビームの倍率は中間転写体上などで検出するのではなく、光走査装置内で検出する方が望ましく、走査線の上流側と下流側にセンサを配置し、この２点間の時間を測定することで倍率を検出する方法が提案されている（例えば、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開平０８−１５６３３２号公報
【特許文献２】特開２００２−１２２７９９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところが、単純に２点間の時間を測定するだけでは、例えば光走査装置を画像形成装置に取り付けた際の取り付け公差による走査線傾きを光走査装置内で補正する場合には、正確な倍率は検出できない。この理由を図５、図６、図７を用いて説明する。
【０００８】
図５は光走査装置を上方から見た要部概略図であり、走査位置検出センサ９１，９２、マルチビームを構成するレーザＡ，Ｂ、回転多面鏡３３とｆ−θレンズ３４を示す。図６（ａ）は図５での走査位置検出センサ９１，９２とマルチビームを構成するレーザＡ，Ｂとの走査位置関係（図７での傾きθが０（ゼロ）の場合）を示した図であり、図６（ｂ）は走査位置検出センサ９１，９２で検出される信号を示す図である。図７（ａ）は角度θ傾いたレーザＡ，Ｂと走査位置検出センサ９１，９２との関係を示す図、図７（ｂ）は走査線傾きθがあるときの走査位置検出センサ９１，９２で検出される信号を示す図である。
【０００９】
ここでレーザＡ、Ｂの波長が異なる場合、回転多面鏡３３やｆ−θレンズ３４での屈折率や反射率が異なるため、図５のように走査線幅（走査倍率）がレーザＡ、Ｂ各々で変わってしまう（異なってしまう）。この場合、レーザＡの走査線よりレーザＢの走査線の方が、走査速度が速いため、図６における走査位置検出センサ９１及び９２を横切る時間はＴａ＞Ｔｂとなる。走査位置検出センサ９１、９２間の距離をＬ、レーザＡ、Ｂの走査速度をＶａ、Ｖｂとすると、
Ｖａ＝Ｌ／Ｔａ、Ｖｂ＝Ｌ／Ｔｂ
走査線Ａの走査倍率を１としたときの走査線Ｂの走査倍率は、
Ｖｂ／Ｖａ＝Ｔａ／Ｔｂ
となる。しかし、光走査装置を画像形成装置に取り付けた際の取り付け誤差により発生する走査線傾きを光走査装置内のレンズ位置調整等により調整した場合、走査位置検出センサ９１、９２に対する走査線は図７のように角度θだけ傾いたものになる。同図において、本来の走査幅はＬではなく、Ｌ’＝Ｌ／ｃｏｓθであるため、レーザＡの走査速度は、
Ｖａ’＝Ｌ’／Ｔａ＝Ｌ／（Ｔａ  ｃｏｓθ）
であるにも関わらず、
Ｖａ’＝Ｌ／Ｔａ
と、検出してしまう。従って、（１／ｃｏｓθ−１）倍の誤差を生じてしまうことになる。レーザＡの走査速度を基準に考えれば、走査線Ｂの走査倍率は、
Ｖｂ’／Ｖａ’＝Ｔａ／Ｔｂ
となるため、相対的な倍率は算出可能であるが、基準となる走査線Ａの倍率が前述した誤差を持つため、複数のレーザ全ての倍率が誤差を持つことになる。
【００１０】
本発明は、以上の点に着目して成されたもので、高速化・高解像度化に伴う数十・数百ビームのマルチビーム光学系においても、走査線傾きと複数のレーザの倍率を同時に検出し、画像形成中においても検出可能な光走査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、上記目的を達成するため、光源から出射されるレーザビームを像担持体面に走査して潜像を形成する光走査装置において、走査光路内に複数配置され、前記レーザビームを検出するレーザビーム検出手段と、前記レーザビーム検出手段からの検出情報に基づいて前記像担持体面上の走査線の傾きを検出する走査線傾き検出手段とを備えることを最も主要な特徴とする。
【００１２】
すなわち、本発明の技術内容は以下の構成を備えることにより前記課題を解決できた。
【００１３】
（１）光源から出射されるレーザビームを像担持体に走査して潜像を形成する光走査装置において、前記レーザビームを検出する第一と第二のレーザビーム検出手段と、前記第一と第二のレーザビーム検出手段からの検出結果に基づいて前記像担持体上での走査線の傾きを検出する走査線傾き検出手段とを備えることを特徴とする光走査装置。
【００１４】
（２）光源から出射されるレーザビームを偏向走査手段で主走査方向に偏向走査して像担持体に潜像を形成する光走査装置において、前記像担持体への潜像形成前の走査領域で前記レーザビームを検出する第一のレーザビーム検出手段と、前記像担持体への潜像形成終了後の走査領域で前記レーザビームを検出する第二のレーザビーム検出手段と、前記第一のレーザビーム検出手段からの出力信号の時間と、前記第二のレーザビーム検出手段からの出力信号の時間と、前記第一のレーザビーム検出手段に入射してから前記第二のレーザビーム検出手段に入射するまでの時間とに基づいて、前記像担持体上での走査線の前記主走査方向に対する傾きを検出する走査線傾き検出手段とを備えることを特徴とする光走査装置。
【００１５】
（３）光源から出射されるレーザビームを偏向走査手段で主走査方向に偏向走査して像担持体に潜像を形成する光走査装置において、前記レーザビームを検出する第一と第二のレーザビーム検出手段と、前記第一と第二のレーザビーム検出手段からの検出結果に基づいて前記像担持体上での走査線の傾きを検出する走査線傾き検出手段とを備え、前記第一と第二のレーザビーム検出手段は、各々、前記主走査方向に対して始端側の第一の辺縁と終端側の第二の辺縁とが非平行であり、前記第一のレーザビーム検出手段の第一の辺縁と前記第二のレーザビーム検出手段の第一の辺縁とが平行、かつ前記第一のレーザビーム検出手段の第二の辺縁と前記第二のレーザビーム検出手段の第二の辺縁とが平行であることを特徴とする光走査装置。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、例えば、走査線傾きとレーザビームの走査倍率を検出でき、それらの検出が画像形成中においても可能な光走査装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、図面に基づき本実施形態の光走査装置について説明する。
【００１８】
［画像形成装置：図１］
図１は本発明に係る画像形成装置の全体構成を示す断面図であり、図１を用いてデジタル複写機の基本的な動作について説明する。
【００１９】
本画像形成装置は、原稿給紙装置１を備え、原稿給紙装置１は、積載された原稿を１枚づつ順番に原稿台ガラス２上に搬送する。原稿が原稿台ガラス２上の所定位置へ搬送されると、スキャナユニット４のランプ３が点灯され、スキャナユニット４が、原稿面を照明しながら移動される。そして、原稿からの反射光は、ミラー５，６，７を介してレンズ８に導かれた後に、イメージセンサ部９の撮像面上に光学像として結像される。イメージセンサ部９は、結像された光学像を、光電変換により電気信号に変換し、この電気信号は、画像処理部（図示せず）に入力される。画像処理部は、入力された電気信号をデジタル信号に変換し、当該デジタル信号に対して必要な画像処理を施すことにより、画像信号を生成する。この画像信号は、直接、または一旦画像メモリに格納された後に、露光制御部（光走査装置）１０に入力される。
【００２０】
上記露光制御部１０は、入力された画像信号に応じて半導体レーザ（図示せず）を駆動する。これにより、半導体レーザからレーザビームが発光される。この発光されたレーザビームは、回転多面鏡を含む走査系を介して、主走査方向へ走査されながら、回転する感光ドラム１１（像担持体に相当）へ向けて照射される。これにより、感光体としての感光ドラム１１上には、画像信号に応じた静電潜像（潜像）が形成される。
【００２１】
感光ドラム１１の周囲には、補助帯電器２６、前露光ランプ２７、一次帯電器２８、電位センサ１００、現像器１３、転写器１６、クリーナ２５が配置されている。補助帯電器２６は、感光ドラム１１の表面を除電するための帯電器である。前露光ランプ２７は、感光ドラム１１の表面の残留電荷を除去するためのランプである。一次帯電器２８は、感光ドラム１１の表面を一様に帯電させるための帯電器である。電位センサ１００は、感光ドラム１１の表面の電位を測定するためのセンサである。この電位センサ１００によって、感光ドラム１１上の電位が測定される。電位センサ１００は、たとえば主走査方向に沿って均等に６つ程度設けられている。現像器１３は、感光ドラム１１上に形成された静電潜像をトナー像として可視像化するために、感光ドラム１１に対してトナーを供給する。転写器１６は、感光ドラム１１上のトナー像をカセット１４，１５のいずれかから給紙された用紙に転写する。クリーナ２５は、感光ドラム１１が次の画像形成に備えるために、感光ドラム１１上に残留しているトナーを掻き取り、回収する。
【００２２】
転写器１６によりトナー像が転写された用紙は、定着器１７に送られる。定着器１７は、用紙上のトナー像を熱圧し、用紙上に定着させる。トナー像が定着された用紙は、フラッパ２０により、排紙ローラ１８へ導かれ、機外へ排出される。また、用紙の両面にそれぞれ画像を形成する場合、用紙の一方の面への画像形成後に、センサ１９による後端の検出に基づき、フラッパ２０の切り換え動作により、画像形成面を一方の面から他方の面に反転させるための用紙反転動作を行うことができる。この用紙反転動作により、用紙は、両面パス２４へ導かれる。そして、両面パス２４から、用紙は、再度感光ドラム１１と転写器１６との間に送られ、用紙の他方の面にトナー像が転写される。
【００２３】
［露光制御部の構成：図２］
図２は、露光制御部１０の構成を模式的に示す図である。露光制御部１０は、半導体レーザ４３を有する。レーザ駆動制御部３１は、半導体レーザ４３を駆動制御してレーザ発振させる。半導体レーザ４３の内部には、レーザビームの一部を検出するＰＤセンサが設けられている。このＰＤの検出信号は、半導体レーザ４３を所定光量に制御するためのオートパワーコントロール（ＡＰＣ）制御に用いられる。
【００２４】
半導体レーザ４３から発光されたレーザビームは、コリメータレンズ３５および絞り３２によりほぼ平行な光に変換された後に、所定のビーム径で回転多面鏡（ポリゴンミラー、偏向走査手段に相当）３３へ入射する。回転多面鏡３３は、図中の矢印に示す方向へ等角速度で回転されており、この回転多面鏡３３の回転に伴い、入射したレーザビームは、連続的に角度を変える偏向ビームに変換されて反射される。偏向ビームは、ｆ−θレンズ３４により、集光作用を受ける。また、ｆ−θレンズ３４は、レーザビームに対して、同時に走査の時間的な直線性を保証するような歪曲収差の補正を行う。これにより、レーザビームは、感光ドラム１１上に等速で偏向走査される。
【００２５】
また、回転多面鏡３３からｆ−θレンズ３４を通過するレーザビームを検出するためのビームディテクトセンサ（以下、ＢＤセンサという）３６が設けられている。ＢＤセンサ３６の検出信号は、回転多面鏡３３の回転とデータの書き込みの同期をとるための同期信号として用いられる。
【００２６】
また走査位置検出センサ（レーザビーム検出手段に相当）は、上流側（像担持体への潜像形成前の走査領域に相当）に第一の走査位置検出センサ（第一のレーザビーム検出手段）３７が配置されている。また下流側（像担持体への潜像形成終了後の走査領域に相当）に第二の走査位置検出センサ（第二のレーザビーム検出手段）３８が配置されている。以下、第一の走査位置検出センサ３７は単に走査位置検出センサ３７、また、第二の走査位置検出センサ３８は単に走査位置検出センサ３８と記す。
【００２７】
こうして半導体レーザ４３から照射されたレーザビームは、コリメータレンズ３５および絞り３２によりほぼ平行な光に変換された後に所定のビーム径で回転多面鏡３３に入射することになる。
【００２８】
［走査位置検出センサの構成：図３］
図３（ａ）は、本発明の走査位置検出センサの構成の一例を示す図である。すなわち、走査位置検出センサ３７及び３８と、θの傾き（像担持体上の走査線の傾きに相当）を有する走査線Ａ（実線）、傾きがない（θ＝０）ときの仮想（理想）の走査線ａ（破線）との関係を示す図である。
【００２９】
図３（ｂ）は、各走査位置検出センサ３７及び３８からの検出結果である出力信号（パルスに相当）の時間Ｔ１、Ｔ２（パルスの幅（長さ）に相当）を示す。また、走査位置検出センサ３７に入射してから走査位置検出センサ３８に入射するまでの時間Ｔ（先端エッジ間隔に相当）を示し、時間Ｔ１、Ｔ２、Ｔの関係を示す。また、Ｌ１’、Ｌ２’、Ｌ’はそれぞれ実際の走査線Ａが第一の走査位置検出センサ３７及び第二の走査位置検出センサ３８を通過する距離、及び第一の走査位置検出センサ３７に入射してから第二の走査位置検出センサ３８に入射するまでの距離を示す。また、Ｌ１、Ｌ２、ＬはそれぞれＬ１’、Ｌ２’、Ｌ’を仮想の走査線ａに投影したときの距離を示す。
【００３０】
走査位置検出センサ３７，３８の形状は、図３に示すようにここでは直角２等辺三角形である。第一の走査位置検出センサ３７の第一の辺３７ａ（始端側の第一の辺縁）と第二の走査位置検出センサ３８の第一の辺３８ａ（始端側の第一の辺縁）は、相互に平行になるよう配置される。さらに、第一の走査位置検出センサ３７の第二の辺３７ｂ（終端側の第二の辺縁）と第二の走査位置検出センサ３８の第二の辺３８ｂ（終端側の第二の辺縁）も相互に平行になるよう配置される。また、第一の走査位置検出センサ３７と第二の走査位置検出センサ３８は、それぞれ第一の辺３７ａと第一の辺３８ａが主走査方向（感光ドラムの長手方向、軸方向）に対し直角をなすよう配置される。
【００３１】
なお、本発明では計算の簡略化のため走査位置検出センサ３７及び走査位置検出センサ３８の形状は直角２等辺三角形を用いているが、この形状に限るものではなく、単なる直角三角形であってもよい。
【００３２】
つまり、第一と第二の走査位置検出センサ間で、平行な対となる受光部を持つ。第一の走査位置検出センサ３７は、辺縁が主走査方向と垂直な辺３７ａと、辺縁が主走査方向と非平行な辺（角度θ）を持つ辺３７ｂとから構成される。また第二の走査位置検出センサ３８は、辺縁が主走査方向と垂直な辺３８ａと、辺縁が主走査方向と非平行な辺（角度θ）を持つ辺３８ｂとから構成される。
【００３３】
同図において、
ｔａｎθ＝（Ｌ１−Ｌ２）（１＋ｔａｎθ）／Ｌ
であることから、
ｔａｎθ＝（Ｌ１−Ｌ２）／（Ｌ−Ｌ１＋Ｌ２）
また、Ｌ１＝Ｌ１’ｃｏｓθ、Ｌ２＝Ｌ２’ｃｏｓθ、Ｌ＝Ｌ’ｃｏｓθから、
ｔａｎθ＝（Ｌ１’−Ｌ２’）／（Ｌ’−Ｌ１’＋Ｌ２’）
となる。
【００３４】
ここで、Ｔ１∝Ｌ１’、Ｔ２∝Ｌ２’、Ｔ∝Ｌ’であることから、
ｔａｎθ＝（Ｔ１−Ｔ２）／（Ｔ−Ｔ１＋Ｔ２）
となる（Ｔ１−Ｔ２：パルスの幅の差に相当）。即ち、検出したＴ１、Ｔ２及びＴから傾き角θが算出されることになる（走査線傾き検出手段）。
【００３５】
次に走査速度Ｖ’はＶ’＝Ｌ’／Ｔ、Ｌ’＝Ｌ／ｃｏｓθであることから、
Ｖ’＝Ｌ／（Ｔ  ｃｏｓθ）
となる。傾き０のときの仮想の走査線ａが距離Ｌを通過する時間を時間ｔとすると、走査線ａの走査速度ｖはｖ＝Ｌ／ｔであるため、θの傾きを有する走査線Ａの倍率（走査倍率に相当）は、
Ｖ’／ｖ＝ｔ／（Ｔ  ｃｏｓθ）
と、算出される。ｔは設計値で決まった値であるため、走査線Ａの倍率は、前述した傾き角θとレーザビーム（以下、レーザとする）が走査位置検出センサ３７に入射してから走査位置検出センサ３８に入射するまでの時間Ｔの２つのパラメータで算出可能であることがわかる。
【００３６】
［走査位置検出センサの構成：図４］
図４は倍率誤差による主走査時間の変動を考慮し、走査位置変化を検出する方法の一例を説明する図である。ここでは回転多面鏡３３の反射面１面につき同時走査可能なレーザによる走査線が走査線Ａ、走査線Ｂ、走査線Ｃ、・・・で表されている。同図において、レーザＡは常にＢＤセンサ３６を走査して主走査同期信号の検出に用いるため、レーザＡの制御信号は反射面に関わらず、ＢＤセンサ３６の少し手前でＯＮになるようにし検出し終わるとＯＦＦになるよう制御する（ＣＡ１，ＣＡ２）。走査位置検出センサ３７，３８に関しては、１走査で入射するレーザはどれか１つになるよう切り替え制御を行う。このため、例えばある反射面〔１〕のときに、走査位置検出センサ３７、３８にレーザＡを入射する場合、レーザＡの制御信号はＣＡ１のようになり、レーザＢやレーザＣの制御信号はそれぞれＣＢ１、ＣＣ１のようになる。
【００３７】
このとき、画像領域内は各レーザに対応する画素変調信号で各レーザはＯＮ／ＯＦＦしていることを示している。結果として、ＢＤセンサ３６からの出力信号はＳ３６、上流側の走査位置検出センサ３７からの出力信号はＳ３７−１、下流側の走査位置検出センサ３８からの出力信号はＳ３８−１のようになる。このＳ３７−１及びＳ３８−１から時間ＴＡ１、ＴＡ２及びＴＡを計測し、上述した演算式に基づいて傾き角θとレーザＡの倍率を算出する。
【００３８】
そして、反射面が次の反射面〔２〕に移動すると、走査位置検出センサ３７、３８に入射するレーザをレーザＢに切り替えるため、レーザＡ、レーザＢ及びレーザＣの制御信号はそれぞれＣＡ２、ＣＢ２、ＣＣ２のようになる。この場合は結果として、ＢＤセンサ３６からの出力信号は反射面〔１〕のときと同様Ｓ３６、上流側の走査位置検出センサ３７からの出力信号はＳ３７−２、下流側の走査位置検出センサ３８からの出力信号はＳ３８−２のようになる。このＳ３７−２及びＳ３８−２から時間ＴＢ１、ＴＢ２及びＴＢを計測し、反射面〔１〕のときに算出したθと上述した演算式に基づいてレーザＢの倍率を算出する。反射面がさらに次の反射面に移動すれば、走査位置検出センサ３７、３８に入射するレーザをレーザＣに切り替え、同様にしてレーザＣの倍率を算出する。
【００３９】
上述したように、走査に使用される反射面が変わるたびに走査位置検出センサ３７、３８に入射させるレーザを切り替え、走査位置検出センサ３７、３８からの出力信号を元に上述した方法で演算し、各レーザの倍率を算出する。こうすることで画像形成中であっても全レーザの倍率検出が可能になる。
【００４０】
上述した時間Ｔ１、Ｔ２、Ｔの計測や傾き角θ・倍率の演算は不図示のＣＰＵが直接行ってもよいし、ロジック回路を構成し高速クロックを用いて計測・演算した結果を不図示のＣＰＵが取り込む構成であってもよい（走査線傾き検出手段）。
【００４１】
また、本発明では反射面の１面毎に走査位置検出センサ３７、３８に入射するレーザを切り替えているが、回転多面鏡の１周或いは数周毎に切り替える構成とし、その間に検出されたＴ１、Ｔ２、Ｔの平均値から各レーザの倍率を算出する構成であっても良い。また同一のレーザに対しては同一の反射面を使用することで反射面ごとにばらつきがあってもより精度良く求めることが可能となる。
【００４２】
上述したように本実施例によれば、走査線が傾いた場合であっても正確な倍率が検出でき、さらには画像形成中であっても、画像領域外で得られた信号を用いることができるため、生産性を落とすことなく倍率を検出することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明に係る画像形成装置の全体構成を示す断面図
【図２】本実施例の露光制御部を上方から見た概略構成図
【図３】（ａ）走査位置検出センサと傾きを有する走査線、傾きがない走査線を示す図、（ｂ）走査位置検出センサからの出力信号の時間及び上流側の走査位置検出センサから下流側の走査位置検出センサまでの時間の関係を示す図
【図４】本実施例の制御信号のシーケンスを示す図
【図５】従来例の光走査装置を上方から見た要部概略図
【図６】（ａ）従来例の走査位置検出センサとレーザを示す図、（ｂ）従来例の走査位置検出センサで検出される信号を示す図
【図７】（ａ）角度θ傾いたレーザと走査位置検出センサを示す図、（ｂ）走査線傾きがあるときの走査位置検出センサで検出される信号を示す図
【符号の説明】
【００４４】
１０    露光制御部（光走査装置）
３１    半導体レーザ発光部
３２    絞り
３３    回転多面鏡（偏向走査手段）
３４    ｆ−θレンズ
３５    コリメータレンズ
３６    ＢＤセンサ
３７    走査位置検出センサ（第一のレーザビーム検出手段）
３８    走査位置検出センサ（第二のレーザビーム検出手段）
３７ａ  辺（始端側の第一の辺縁に相当）
３７ｂ  辺（終端側の第二の辺縁に相当）
３８ａ  辺（始端側の第一の辺縁に相当）
３８ｂ  辺（終端側の第二の辺縁に相当）
４３    レーザダイオード
θ      傾き（走査線傾き）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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