(57)【要約】【課題】ＤＶＤ−ＲＡＭディスクからデータを読み出す際などにサーボ特性を評価したり最適化を行なう方法として、複数の連続したＥＣＣブロックごとにエラー数の測定を行ない、その平均値を算出してサーボ特性を決定する場合にランドとグルーブの出現比率をほぼ一定とし、平均化したエラー数のデータの信頼性を上げる。【解決手段】ＤＶＤ−ＲＡＭディスクのエラー計数のためにランドとグルーブとの境界がＥＣＣブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のＥＣＣブロックにわたってディスク上信号を取得することを特徴とするエラー数測定装置及び方法を提案する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＤＶＤ−ＲＡＭディスクのエラー計数のために
ランドとグルーブとの境界がＥＣＣブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のＥＣＣブロックにわたってディスク上信号を取得する連続信号取得部を有するエラー数測定装置。
【請求項２】
連続信号取得部は、ディスク上信号を取得すべきＥＣＣブロックの数を定める連続ＥＣＣブロック数保持手段を有し、この連続ＥＣＣブロック数保持手段に保持する連続ＥＣＣブロック数として、ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているＥＣＣブロックの数（小数点以下も含む）の２倍以上の数を保持する請求項１に記載のエラー数測定装置。
【請求項３】
ランドとグルーブとの境界がＥＣＣブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のＥＣＣブロックにわたってディスク上信号を取得する連続信号取得ステップを有するＤＶＤ−ＲＡＭディスクのエラー数測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
記録済みＤＶＤ−ＲＡＭディスクに対してサーボ特性の最適化等のために行なうエラー数の測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、データを記録済みのＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等のＤＶＤメディアからデータを読み出す際などサーボ特性を評価したり最適化を行なう方法として、複数の連続したＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｈｅｃｋ  ａｎｄ  Ｃｏｒｒｅｃｔ）ブロックごとにエラー数の測定を行ない、その平均値を算出してサーボ特性を決定する方法がある。また、特許文献１においては、主にＤＶＤ−ＲＡＭディスクなどを対象として、ランドとグルーブとにおいて別々にサーボ特性に関する設定値を測定し記憶しておく方法が開示されている。
【特許文献１】特開２０００−２２２７４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の記録型ＤＶＤにおいてはその構造上、ランドという畝状構造とグルーブという溝が存在し、ＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷの場合はグルーブのみにデータを記録するが、ＤＶＤ−ＲＡＭにおいてはランドとグルーブの双方にデータを記録する記録方式を採用している。図１４に一般的なＤＶＤ−ＲＡＭの構造を示す。ＤＶＤ−ＲＡＭ（１４００）では略一周ごとにランド（１４０１）とグルーブ（１４０２）が出現するようになっており、ランド（１４０１）とグルーブ（１４０２）は接続領域（１４０３）において接続されてらせん状に形成されている。ＤＶＤ−ＲＡＭのこのような構造により、上述のようなエラー数の測定を行なう場合、エラー測定範囲内においてランドとグルーブの出現比率が一定とならない場合がある。例えば、図１３は一周が２．７ＥＣＣである場合であって連続した８ＥＣＣブロックのエラー数を測定する場合を模式的に示している（（Ｌ）はランド、（Ｇ）はグルーブ）。（ａ）のように連続した８ＥＣＣブロックを選択すると、ランドとグルーブの出現比率は４．３ＥＣＣ：３．７ＥＣＣであるので約７：６となり、（ｂ）の場合にはランドとグルーブの出現比率は５．３ＥＣＣ：２．７ＥＣＣであるので約２：１となる。このように、どの位置において連続したＥＣＣブロックを選択するかによってランドとグルーブの出現比率に偏りが出てしまう。つまり、ディスク上の任意のアドレスから連続した複数のＥＣＣブロックにおいてエラー数の測定をするとランドとグルーブの出現比率に偏りがあるために、特にランドとグルーブとにおいてエラー数に大差がある場合等ではエラー数の平均値は相対的なデータとして信頼性が低くなってしまう。また、常に同じアドレスの箇所でエラー数の測定を行なうという方法もあるが、たまたまそのアドレスが読めないディスクであった場合は評価ができなくなってしまう。また、特許文献１のように、ランドとグルーブとで別々にサーボ特性に関する設定値を測定する方法は処理負荷も大きく煩雑である。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
そこで本発明においては、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクのエラー計数のためにランドとグルーブとの境界がＥＣＣブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のＥＣＣブロックにわたってディスク上信号を取得することを特徴とするエラー数測定装置及び方法を提案する。
【０００５】
図１は、本発明に係るエラー数測定装置及び方法におけるエラー数測定方法の概念図である。なお、図１３と同様に一周が２．７ＥＣＣである場合であって、（ａ）は連続した４ＥＣＣブロックのエラー数を測定する場合、（ｂ）は連続した８ＥＣＣブロックのエラー数を測定する場合を模式的に示している（（Ｌ）はランド、（Ｇ）はグルーブ）。境界Ｐは連続した複数ＥＣＣブロックの中央であり、かつランドとグルーブの境界に位置するようになっている。このような場合、（ａ）においても（ｂ）においてもランドとグルーブの出現比率は常に１：１となるため、エラー数の平均値は相対的なデータとして信頼性が高くなる。なお本発明においては、ランドとグルーブの境界をほぼ中央とする連続した複数のＥＣＣブロックにおいてエラー数を測定すればよく、図１に示したように厳密に中央に位置せずとも同様の効果が期待できる。
【発明の効果】
【０００６】
本発明のエラー数測定装置及び測定方法によれば、ランドとグルーブの出現比率がほぼ一定となるため、平均化したエラー数のデータの信頼性が高くなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
本発明を実施するための最良の形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、本発明はこれら実施の形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施しうる。実施形態１は、主に請求項１、３などについて説明する。実施形態２は、主に請求項２などについて説明する。
（実施形態１）
【０００８】
（実施形態１：概要）本実施形態は、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクのエラー計数のためにランドとグルーブとの境界がＥＣＣブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のＥＣＣブロックにわたってディスク上信号を取得することを特徴とするエラー数測定装置及び方法について説明する。
【０００９】
（実施形態１：構成）本実施形態に係るエラー数測定装置の機能ブロック図を図２に例示する。エラー数測定装置（０２００）は、「連続信号取得部」（０２０１）を有する。また、図３はエラー数測定装置の概念図である。通常、光ディスク装置において光ディスクにデータを記録する場合、信号処理機構（０３０４）にてデータが記録するための信号に変換され、光ピックアップ（０３０１）からアクチュエータ（０３０２）を通してレーザ光が出力されて光ディスク（０３０３）に記憶される。この際、サーボ制御機構（０３０５）によってフォーカスサーボやトラッキングサーボなどの制御が行なわれる。また、光ディスクからデータを読み出す場合には、光ピックアップ（０３０１）からアクチュエータ（０３０２）を通して出力されたレーザ光は、光ディスク（０３０３）で反射され、光ピックアップ（０３０１）に戻り、光ピックアップ内の光ディテクタによって取り込まれる。光ディテクタによって取り込まれた光は、信号処理機構（０３０４）によって処理される。本実施形態に係るエラー数測定装置は、光ディスク（０３０３）からデータを読み出す場合などの前準備として適切なサーボ制御を行なうために、信号処理機構（０３０４）にて処理済みの光ディスク（０３０３）上の信号を連続信号取得部（０３０６）にて取得しエラー数の測定を行なうことを目的とする。また、エラー数測定装置は光ディスク装置と別体であってもよいが、光ディスク装置の内部に組み込まれていてもよい。
【００１０】
なお、以下に詳述する本発明の構成要素である各部は、ハードウェア、ソフトウェア、ハードウェアとソフトウェアの両方のいずれかによって構成される。例えば、これらを実現する一例として、コンピュータを利用する場合には、ＣＰＵ、バス、メモリ、インタフェース、周辺装置などで構成されるハードウェアと、それらハードウェア上で実行可能なソフトウェアがある。ソフトウェアとしては、メモリ上に展開されたプログラムを順次実行することで、メモリ上のデータや、インタフェースを介して入力されるデータの加工、保存、出力などにより各部の機能が実現される。（明細書の全体を通じて同様である。）
【００１１】
「連続信号取得部」（０２０１）は、ランドとグルーブとの境界がＥＣＣブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のＥＣＣブロックにわたってディスク上信号を取得する機能を有する。「ランドとグルーブとの境界がＥＣＣブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のＥＣＣブロック」について図４を用いて説明する。図４は、一周が２．７ＥＣＣである場合において連続した１０ＥＣＣブロックを選択する場合を模式的に示す。図４（ａ）は、ランドとグルーブとの境界がＥＣＣブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した１０ＥＣＣブロックを選択する場合である。この場合の「略中央」とは、５番目と６番目のＥＣＣブロックの境界Ｐ（アドレス（論理アドレス、以下同様）‘１１７０１０ｈ’）の位置が該当し、位置Ｐはランドとグルーブの境界となっている。このような位置において１０ＥＣＣブロックを選択すると、１０ＥＣＣ中のランドとグルーブの出現比率は、５ＥＣＣ：５ＥＣＣ＝１：１となる。よって、この１０ＥＣＣの先頭Ｓのアドレス‘１１６ＦＣ０ｈ’から信号を取得してエラー数の測定をしていけばよい。また、「略中央」とは厳密に中央ではなくともよいことを意味する。図４（ｂ）は、取得する連続した複数のＥＣＣブロックの位置が図４（ａ）の位置から１ＥＣＣ後方にずれている場合を示す。この場合、ランドとグルーブの境界は４番目と５番目のＥＣＣブロックの境界となっているが、ランドとグルーブの出現比率は、５．４ＥＣＣ：４．６ＥＣＣであるので出現比率に大きな偏りはなく問題がない。また、通常の光ディスク装置においてはサーボの状態が安定してアドレスが読めるようになるまで多少の時間が必要であるため、例えば図４における先頭位置Ｓのアドレス‘１１６ＦＣ０ｈ’の位置に読み取りヘッドをポジショニングしてもすぐにこのアドレスを読むことができない。よって、アドレス‘１１６ＦＣ０ｈ’から読みたい場合には、さらに５ＥＣＣ程度前のアドレスの位置に読み取りヘッドをポジショニングしなければならない。よって、このような事情を考慮すると、図４（ａ）の理想の先頭位置Ｓのアドレスから５ＥＣＣ前にサーボを落としてサーボが最初に読めたアドレス位置から１０ＥＣＣを選択する等となっていてもよい。この場合、実際にエラー数を測定する１０ＥＣＣブロックは図４（ａ）のような理想の位置から前後に若干ずれることが予測されるが、図４（ｂ）にて説明したような場合であれば前後にずれてもランドとグルーブの出現比率がほぼ同じであるので問題とならない。なお、図４（ａ）のような位置Ｐのアドレスは、通常、図５のような情報を光ディスク装置において取得できるため、エラー測定装置は図５の情報から位置Ｐのアドレス‘１１７０１０ｈ’を知り、さらに先頭位置Ｓのアドレス‘１１６ＦＣ０ｈ’を知ることができる。なお、図５において「Ｌ」はランド、「Ｇ」はグルーブを表し、「Ｌ→Ｇ」、「Ｇ→Ｌ」は一のＥＣＣブロックの途中でランドからグルーブ、若しくはグルーブからランドに切り換わっている場合を表す。
【００１２】
また、「複数のＥＣＣブロック」とは、主に偶数個のＥＣＣブロックを想定している。奇数個のＥＣＣブロックを選択すると、ランドとグルーブのいずれかが１ＥＣＣ欠落することとなるため偏りが発生するからである。ただし、一つのＥＣＣブロックの真ん中、すなわち８セクタ目と９セクタ目（１ＥＣＣブロックは１６のセクタによって構成される）の境界がランドとグルーブの境界となるような箇所がディスク上に存在する場合には奇数個のＥＣＣブロックを選択しても、ランドとグルーブの出現比率には偏りは発生しないため、奇数個のＥＣＣブロックを選択するようになっていてもよい。すなわち、ランドとグルーブの境界がＥＣＣブロックの中央となるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のＥＣＣブロックにわたってディスク上信号を取得するようになっていてもよい。また、「ディスク上信号」とは、ＤＶＤ−ＲＡＭ上に記録された情報を表す信号であってもよいし、記録された情報を表す信号から読み取ることが可能な各ＥＣＣブロックにおけるエラーの有無を表す情報であってもよい。
【００１３】
図６は、連続信号取得部にて取得する情報の具体例である。連続信号取得部では、情報０６０１のように連続した複数のＥＣＣブロックについて、各ＥＣＣブロックにおけるエラー数についての情報が取得できる。また、連続信号取得部においては情報０６０１のような情報を例えばデータベース等としてハードディスク等の記憶装置に保持しておいてもよいが、エラー数測定装置の主な目的はエラー数の測定であるので、例えば情報０６０２のような情報のみを保持するようになっていてもよい。情報０６０２はエラー数をカウントするプログラム上の変数「ｅｒｒ＿ｃｏｕｎｔ」であり、情報０６０１のようなエラー情報が先頭ブロック（「ＩＤ」＝１のＥＣＣブロック）から順番に取得されていった場合に各ブロックのエラー数に応じてこの変数の値をカウントアップしていくことでエラー数がカウントできる。
【００１４】
図７は、連続信号取得部のハードウェア上における処理の具体例を示す。まず、光ディスク装置が通常、保持している図５のような情報から理想であるエラー測定開始アドレスを入出力インタフェースを介して取得してメインメモリに格納する（０７０１）。次に、サーボが読めたアドレスとそのアドレスにおけるＥＣＣブロックのエラー数に関する情報を、入出力インタフェースを介して取得してアドレスをメインメモリに格納する（０７０２）。エラー測定開始アドレスと取得したアドレスを比較し（０７０３）、双方が一致すれば、それ以降に入出力インタフェースを介して取得されるエラー数に関する情報に基づいて、メインメモリの所定の記憶領域に格納されている変数「ｅｒｒ＿ｃｏｕｎｔ」の値に取得したエラー数を加算していくように更新していく（０７０４）。所定のブロック数のエラー数に関する情報を取得したら処理を終了する。これにより、エラー数が取得できたことになる。なお、図７はハードウェアを用いた処理の大まかな流れを示したものであるので、実際の計算機における処理とは厳密には異なる場合がある。（明細書の全体を通じて同様である。）
【００１５】
（実施形態１：処理の流れ）図８は、本実施形態に係るエラー数測定装置及び方法における処理の流れを示すフロー図を例示する。
【００１６】
最初に、エラーを取得すべき連続したＥＣＣブロックのアドレスを取得する（Ｓ０８０１）。次に、取得したアドレスから順番に各ＥＣＣブロックにおける信号を取得する（Ｓ０８０２）。次に、処理を終了するか判断する（Ｓ０８０３）。なお、処理を終了する場合とは、主に所定数のＥＣＣブロックにおける信号をすべて取得した場合である。処理を終了しない場合にはステップＳ０８０２を繰り返す。
【００１７】
なお、図８のフロー図は、計算機に実行させるプログラムの処理フロー図とみなすことも可能である。さらに、このようなプログラムをフレキシブルディスク等の媒体に記録することも可能である。（明細書の全体を通じて同様である。）
【００１８】
（実施形態１：効果）本実施形態に係るエラー測定装置及び方法によれば、ランドとグルーブの出現比率がほぼ一定となるため、平均化したエラー数のデータの信頼性が高くなるという効果がある。
（実施形態２）
【００１９】
（実施形態２：概要）本実施形態は、ディスク上信号を取得すべきＥＣＣブロックの数を定める連続ＥＣＣブロック数を保持し、この保持する連続ＥＣＣブロック数として、ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているＥＣＣブロックの数（小数点以下も含む）の２倍以上の数を保持することを特徴とするエラー数測定装置及び方法について説明する。
【００２０】
（実施形態２：構成）本実施形態に係るエラー数測定装置の機能ブロック図を図９に例示する。エラー数測定装置（０９００）は、「連続信号取得部」（０９０１）を有する。また、連続信号取得部（０９０１）は、「連続ＥＣＣブロック数保持手段」（０９０２）を有する。
【００２１】
「連続ＥＣＣブロック数保持手段」（０９０２）は、ディスク上信号を取得すべきＥＣＣブロックの数を定める。「ディスク上信号を取得すべきＥＣＣブロックの数」とは、図４にて説明した具体例においては‘１０’である。図１０は連続ＥＣＣブロック数保持手段にて保持する情報の具体例を示す。「ｂｌｏｃｋ＿ｎｕｍ」とは、プログラム上の変数であって、ディスク上信号を取得すべきＥＣＣブロックの数を表す。また、この連続ＥＣＣブロック数は、ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているＥＣＣブロックの数（小数点以下も含む）の２倍以上の数を保持することを特徴とする。「ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているＥＣＣブロックの数」とは、例えば図４の具体例においては先頭アドレス‘１１６ＦＣ０ｈ’が位置するディスク周回における１周当たりのＥＣＣブロック数を指す。つまり、図４の場合であれば‘２．７ＥＣＣ’である。よって、２．７ＥＣＣ×２＝５．４ＥＣＣ、であるので連続ＥＣＣブロック数保持手段において６ＥＣＣ以上のＥＣＣブロック数を保持することとなる。連続ＥＣＣブロックの数をこのようなブロック数とする意義について、図１１を用いて説明する。図１１は連続ＥＣＣブロック数として４ＥＣＣブロックしか指定しない場合であり、（ａ）の場合は連続ＥＣＣの中央Ｐがランドとグルーブの境界となっている場合であり、ランドとグルーブの出現比率は１：１となるので取得する連続ＥＣＣとして理想的な位置である。しかし、図１１（ｂ）のように後方に１ＥＣＣずれた場合にはランドとグルーブの出現比率は、１．３ＥＣＣ：２．７ＥＣＣであるので約１：２となってしまい、大きく偏ることとなる。これは特に１周当たりのＥＣＣブロック数（ここでは２．７ＥＣＣ）に対して連続ＥＣＣブロック数の値が小さい場合に起こりやすく、図４の具体例のように１周当たりのＥＣＣブロック数に対して連続ＥＣＣブロック数の値が大きい場合にはこのような状況は起こりにくい（図４（ｂ）においてはランドとグルーブの出現比率は５．４ＥＣＣ：４．６ＥＣＣであり、大差がない）。よって、連続ＥＣＣブロック数保持手段においては最低でも１周当たりのＥＣＣブロック数の２倍以上の数を保持することとしている。また、図１１（ｃ）と（ｄ）においては、連続した６ＥＣＣブロックを選択する場合であって、（ｃ）は理想的な位置であり、（ｄ）は連続した６ＥＣＣブロックの位置が（ｃ）の位置から１ＥＣＣ後方にずれた場合を示す。図１１（ｄ）においてはランドとグルーブの出現比率は、３．３ＥＣＣ：２．７ＥＣＣとなり、それほど大差がないことがわかる。
【００２２】
図１２は、本実施形態に係るエラー数測定方法のハードウェア上における処理の具体例を示す。まず、ハードディスク等の記憶装置に保持している変数「ｂｌｏｃｋ＿ｎｕｍ」の値をメインメモリに読み出す（１２０１）。以降の処理は図７において説明した処理と同様であるが、光ディスク装置が通常保持している図５のような情報から理想であるエラー測定開始アドレスを、入出力インタフェースを介して取得してメインメモリに格納する（１２０２）。次に、サーボが読めたアドレスとそのアドレスにおけるＥＣＣブロックのエラー数に関する情報を入出力インタフェースを介して取得してアドレスをメインメモリに格納する（１２０３）。エラー測定開始アドレスと取得したアドレスを比較し（１２０４）、双方が一致すれば、それ以降に入出力インタフェースを介して取得されるエラー数に関する情報に基づいて、メインメモリの所定の記憶領域に格納されている変数「ｅｒｒ＿ｃｏｕｎｔ」の値に取得したエラー数を加算していくように更新していく（１２０５）。所定のブロック数のエラー数に関する情報を取得したら処理を終了する。これにより、エラー数が取得できたことになる。
【００２３】
（実施形態２：処理の流れ）本実施形態に係るエラー数測定装置及び方法における処理の流れは、実施形態１に係るエラー数測定装置及び方法における処理の流れと同様である。
【００２４】
（実施形態２：効果）本実施形態に係るエラー測定装置及び方法によれば、エラー数を測定する連続ＥＣＣブロックの位置がずれてもランドとグルーブの出現比率が大きく偏らないという効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明に係るエラー数測定方法の概念図
【図２】実施形態１に係るエラー数測定装置の機能ブロック図
【図３】実施形態１に係るエラー数測定装置の概念図
【図４】連続した複数のＥＣＣブロックの一例図
【図５】通常の光ディスク装置が保持する情報の一例図
【図６】連続信号取得部にて保持する情報の一例図
【図７】連続信号取得部におけるハードウェア上の処理動作の一例図
【図８】実施形態１に係るエラー数測定装置及び方法の処理の流れを示すフロー図
【図９】実施形態２に係るエラー数測定装置の機能ブロック図
【図１０】連続ＥＣＣブロック数保持手段において保持する情報の一例図
【図１１】連続ＥＣＣブロック数保持手段について説明する図
【図１２】連続ＥＣＣブロック数保持手段におけるハードウェア上の処理動作の一例図
【図１３】従来のエラー数測定方法の概念図
【図１４】一般的なＤＶＤ−ＲＡＭの構造
【符号の説明】
【００２６】
０２００  エラー数測定装置
０２０１  連続信号取得部
０３０１  光ピックアップ
０３０２  アクチュエータ
０３０３  光ディスク
０３０４  信号処理機構
０３０５  サーボ制御機構
０３０６  連続信号取得部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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