(57)【要約】【課題】テスト対象に対して、評価者が同種のテストを繰り返し実行する場合であっても、容易にテスト工数を見積もることができるテスト工数見積装置、およびプログラムを提供する。【解決手段】追加格納処理部４１は、複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となったテストに関するデータをテスト情報テーブル１６ａに追加格納する。更新部４２は、テストが実行された後、追加格納処理部４１による追加格納が実行される毎に、習熟度テーブル１６ｂの対応レコードを更新する。工数演算部４３は、表示部２０の表示内容にしたがって指定された評価者およびテストに関して、テスト工数を見積もる処理を実行する。これにより、テスト工数見積装置１は、評価者が繰り返し実行するテストの工数を、テーブル１６ａ、１６ｂに蓄積されたデータに基づき、正確に見積もることができる。【選択図】図４
2008003842.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト対象に対して評価者が繰り返し実行する同種のテストにつき、該テストの工数を見積もるテスト工数見積装置であって、
(a)  複数のテーブル、すなわち、
1)  複数のテストから第１テストを特定するテスト仕様識別データと、
前記第１テストを実行した第１評価者を示す第１氏名データと、
前記第１テストについて、前記第１評価者によって実行された回数を示す第１繰返し数と、
前記第１評価者によって前記第１繰返し数で示される回数実行された前記第１テストにつき、前記第１評価者の実行効率を示す各回実行係数と、
を関連付けて格納可能なテスト情報テーブルと、
2)  前記第２評価者を示す第２氏名データと、
第２繰返し数と、
同一テストを前記第２繰返し数で示される回数実行した前記第２評価者の習熟度を示す習熟度データと、
前記第２評価者によって実行されたテストのうち、前記第２繰返し数で示される回数実行されたテストの個数を示す累積数と、
を関連付けて格納可能な習熟度テーブルと、
を記憶可能な記憶部と、
(b)  前記複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となった第２テストに関するデータ、すなわち、前記テスト仕様識別データと、前記第１氏名データと、前記第１繰返し数と、前記各回実行係数と、を前記テスト情報テーブルに追加格納する追加格納処理部と、
(c)  前記複数のテストのいずれかが実行された後、前記追加格納処理部による追加格納が実行される毎に、
i)  実行対象となった第３テストと、前記第３テストを実行した第３評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第１レコードを求める処理と、
ii)  前記第３テストと、前記第３評価者と、に対応し、かつ、前記第１繰返し数が１となるレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、該レコードに含まれる前記各回実行係数を第１初期実行係数として求める処理と、
iii)  前記第３評価者に対応する前記第２氏名データと、前記第１レコードに含まれる前記第１繰返し数と一致する前記第２繰返し数と、を有する第２レコードにつき、該第２レコードを前記習熟度テーブルから抽出する処理と、
iv)  前記第１レコードの前記各回実行係数と、前記第２レコードの前記習熟度データおよび前記累積数と、前記第１初期実行係数と、に基づいて新たな習熟度データを演算する処理と、
v)  前記新たな習熟度データと、前記累積数に１を加算したものと、によって前記習熟度テーブルを更新する処理と、
を実行する更新部と、
(d)  データ入力を受け付ける入力部と、
(e)  テスト工数を見積もるために、
i)  前記入力部からの入力によって指定された第４テストと、前記第４テストを実行する第４評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第３レコードを求める処理と、
ii)  前記第４テストと、前記第４評価者と、に対応し、かつ、前記第１繰返し数が１となるレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、該レコードに含まれる前記各回実行係数を第２初期実行係数として求める処理と、
iii)  前記第３レコードに含まれる前記第１氏名データと一致する前記第２氏名データと、前記第３レコードに含まれる前記第１繰返し数に１を加算したものと一致する前記第２繰返し数と、を有する第４レコードにつき、該第４レコードを前記習熟テーブルから抽出する処理と、
iv)  前記第４レコードの前記習熟度データと、前記第２初期実行係数と、に基づいて前記第４テストのテスト工数を演算する処理と、
を実行する工数演算部と、
を備えることを特徴とするテスト工数見積装置。
【請求項２】
テスト対象に対して評価者が繰り返し実行する同種のテストにつき、該テストの工数を見積もるテスト工数見積装置であって、
(a)  複数のテーブル、すなわち、
1)  複数のテストから第１テストを特定するテスト仕様識別データと、
前記第１テストを実行した第１評価者を示す第１氏名データと、
前記第１テストについて、前記第１評価者によって実行された回数を示す第１繰返し数と、
前記第１評価者によって前記第１繰返し数で示される回数実行された前記第１テストにつき、前記第１評価者の実行効率を示す各回実行係数と、
前記第１テストが１回実行された場合における前記第１評価者の実行効率を示す初期実行係数につき、該初期実行係数で前記各回実行係数を除した正規化実行係数と、
を関連付けて格納可能なテスト情報テーブルと、
2)  前記第２評価者を示す第２氏名データと、
第２繰返し数と、
同一テストを前記第２繰返し数で示される回数実行した前記第２評価者の習熟度を示す習熟度データと、
前記第２評価者によって実行されたテストのうち、前記第２繰返し数で示される回数実行されたテストの個数を示す累積数と、
を関連付けて格納可能な習熟度テーブルと、
を記憶可能な記憶部と、
(b)  前記複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となった第２テストに関するデータ、すなわち、前記テスト仕様識別データと、前記第１氏名データと、前記第１繰返し数と、前記各回実行係数と、前記正規化実行係数と、を前記テスト情報テーブルに追加格納する追加格納処理部と、
(c)  前記複数のテストのいずれかが実行された後、前記追加格納処理部による追加格納が実行される毎に、
i)  実行対象となった第３テストと、前記第３テストを実行した第３評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第１レコードを求める処理と、
ii)  前記第３評価者に対応する前記第２氏名データと、前記第１レコードに含まれる前記第１繰返し数と一致する前記第２繰返し数と、を有する第２レコードにつき、該第２レコードを前記習熟度テーブルから抽出する処理と、
iii)  前記第１レコードの前記正規化実行係数と、前記第２レコードの前記習熟度データおよび前記累積数と、に基づいて新たな習熟度データを演算する処理と、
iv)  前記新たな習熟度データと、前記累積数に１を加算したものと、によって前記習熟度テーブルを更新する処理と、
を実行する更新部と、
(d)  データ入力を受け付ける入力部と、
(e)  テスト工数を見積もるために、
i)  前記入力部からの入力によって指定された第４テストと、前記第４テストを実行する第４評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第３レコードを求める処理と、
ii)  前記第３レコードに含まれる前記第１氏名データと一致する前記第２氏名データと、前記第３レコードに含まれる前記第１繰返し数に１を加算したものと一致する前記第２繰返し数と、を有する第４レコードにつき、該第４レコードを前記習熟テーブルから抽出する処理と、
iii)  前記第４レコードの前記習熟度データと、前記第４テストおよび前記第４テストを実行する第４評価者に関する前記初期実行係数と、に基づいて前記第４テストのテスト工数を演算する処理と、
を実行する工数演算部と、
を備えることを特徴とするテスト工数見積装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載のテスト工数見積装置において、
前記工数演算部は、前記第４評価者の前記習熟度と、前記第４評価者を含む複数の評価者の平均習熟度と、に基づいて、前記第４テストのテスト工数を見積もることを特徴とするテスト工数見積装置。
【請求項４】
請求項３に記載のテスト工数見積装置において、
前記工数演算部は、前記第４評価者の前記習熟度と、前記第４評価者を含む複数の評価者の平均習熟度と、のそれぞれに重み付けを設定することにより、前記第４テストのテスト工数を見積もることを特徴とするテスト工数見積装置。
【請求項５】
前記工数演算部は、演算されたテスト工数を表示部に表示させることを特徴とするテスト工数見積装置。
【請求項６】
テスト対象に対して評価者が繰り返し実行する同種のテストにつき、該テストの工数を見積り可能なコンピュータ読み取り可能なプログラムであって、
前記コンピュータの記憶部は、複数のテーブル、すなわち、
1)  複数のテストから第１テストを特定するテスト仕様識別データと、
前記第１テストを実行した第１評価者を示す第１氏名データと、
前記第１テストについて、前記第１評価者によって実行された回数を示す第１繰返し数と、
前記第１評価者によって前記第１繰返し数で示される回数実行された前記第１テストにつき、前記第１評価者の実行効率を示す各回実行係数と、
を関連付けて格納可能なテスト情報テーブルと、
2)  前記第２評価者を示す第２氏名データと、
第２繰返し数と、
同一テストを前記第２繰返し数で示される回数実行した前記第２評価者の習熟度を示す習熟度データと、
前記第２評価者によって実行されたテストのうち、前記第２繰返し数で示される回数実行されたテストの個数を示す累積数と、
を関連付けて格納可能な習熟度テーブルと、
を記憶しており、
前記コンピュータのＣＰＵに、
(a)  前記複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となった第２テストに関するデータ、すなわち、前記テスト仕様識別データと、前記第１氏名データと、前記第１繰返し数と、前記各回実行係数と、を前記テスト情報テーブルに追加格納する機能と、
(b)  前記複数のテストのいずれかが実行された後、追加格納する機能が実現される毎に、
i)  実行対象となった第３テストと、前記第３テストを実行した第３評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第１レコードを求め、
ii)  前記第３テストと、前記第３評価者と、に対応し、かつ、前記第１繰返し数が１となるレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、該レコードに含まれる前記各回実行係数を第１初期実行係数として求め、
iii)  前記第３評価者に対応する前記第２氏名データと、前記第１レコードに含まれる前記第１繰返し数と一致する前記第２繰返し数と、を有する第２レコードにつき、該第２レコードを前記習熟度テーブルから抽出し、
iv)  前記第１レコードの前記各回実行係数と、前記第２レコードの前記習熟度データおよび前記累積数と、前記第１初期実行係数と、に基づいて新たな習熟度データを演算し、
v)  前記新たな習熟度データと、前記累積数に１を加算したものと、によって前記習熟度テーブルを更新する処理する機能と、
(c)  テスト工数を見積もるために、
i)  入力部からの入力によって指定された第４テストと、前記第４テストを実行する第４評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第３レコードを求め、
ii)  前記第４テストと、前記第４評価者と、に対応し、かつ、前記第１繰返し数が１となるレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、該レコードに含まれる前記各回実行係数を第２初期実行係数として求め、
iii)  前記第３レコードに含まれる前記第１氏名データと一致する前記第２氏名データと、前記第３レコードに含まれる前記第１繰返し数に１を加算したものと一致する前記第２繰返し数と、を有する第４レコードにつき、該第４レコードを前記習熟テーブルから抽出し、
iv)  前記第４レコードの前記習熟度データと、前記第２初期実行係数と、に基づいて前記第４テストのテスト工数を演算する機能と、
を実現させることを特徴とするプログラム。
【請求項７】
ソフトウェアに対して評価者が繰り返し実行する同種のテストにつき、該テストの工数を見積り可能なコンピュータ読み取り可能なプログラムであって、
前記コンピュータの記憶部は、複数のテーブル、すなわち、
1)  複数のテストから第１テストを特定するテスト仕様識別データと、
前記第１テストを実行した第１評価者を示す第１氏名データと、
前記第１テストについて、前記第１評価者によって実行された回数を示す第１繰返し数と、
前記第１評価者によって前記第１繰返し数で示される回数実行された前記第１テストにつき、前記第１評価者の実行効率を示す各回実行係数と、
前記第１テストが１回実行された場合における前記第１評価者の実行効率を示す初期実行係数につき、該初期実行係数で前記各回実行係数を除した正規化実行係数と、
を関連付けて格納可能なテスト情報テーブルと、
2)  前記第２評価者を示す第２氏名データと、
第２繰返し数と、
同一テストを前記第２繰返し数で示される回数実行した前記第２評価者の習熟度を示す習熟度データと、
前記第２評価者によって実行されたテストのうち、前記第２繰返し数で示される回数実行されたテストの個数を示す累積数と、
を関連付けて格納可能な習熟度テーブルと、
を記憶しており、
前記コンピュータのＣＰＵに、
(a)  前記複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となった第２テストに関するデータ、すなわち、前記テスト仕様識別データと、前記第１氏名データと、前記第１繰返し数と、前記各回実行係数と、前記正規化実行係数と、を前記テスト情報テーブルに追加格納する機能と、
(b)  前記複数のテストのいずれかが実行された後、追加格納する機能が実現される毎に、
i)  実行対象となった第３テストと、前記第３テストを実行した第３評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第１レコードを求め、
ii)  前記第３評価者に対応する前記第２氏名データと、前記第１レコードに含まれる前記第１繰返し数と一致する前記第２繰返し数と、を有する第２レコードにつき、該第２レコードを前記習熟度テーブルから抽出し、
iii)  前記第１レコードの前記正規化実行係数と、前記第２レコードの前記習熟度データおよび前記累積数と、に基づいて新たな習熟度データを演算し、
iv)  前記新たな習熟度データと、前記累積数に１を加算したものと、によって前記習熟度テーブルを更新する機能と、
(c)  テスト工数を見積もるために、
i)  前記入力部からの入力によって指定された第４テストと、前記第４テストを実行する第４評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第３レコードを求め、
ii)  前記第３レコードに含まれる前記第１氏名データと一致する前記第２氏名データと、前記第３レコードに含まれる前記第１繰返し数に１を加算したものと一致する前記第２繰返し数と、を有する第４レコードにつき、該第４レコードを前記習熟テーブルから抽出し、
iii)  前記第４レコードの前記習熟度データと、前記第４テストおよび前記第４テストを実行する第４評価者に関する前記初期実行係数と、に基づいて前記第４テストのテスト工数を演算する機能と、
を実現させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テスト対象に対して評価者が繰り返し実行する同種のテストにつき、該テストの工数を見積もるテスト工数見積装置、およびコンピュータ読み取り可能なプログラムに関するもので、特に、工数の見積手法の改良に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、信頼度成長モデルに基づいてソフトウェアをテスト対象とするテストプロセスを評価する手法が知られている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−３４２１１８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ここで、同種のテストが繰り返し実行される場合、テスト工数（テスト期間）は、一定のレベルまで短縮されることが経験的に知られている。また、この短縮レベルは、個々の評価者（テストエンジニア）によって相違することも知られている。
【０００５】
しかしながら、特許文献１のテストプロセスは、この個々の評価者の短縮レベルを反映しているものとは言えず、正確にソフトウェアのテスト工数を見積もることができなかった。
【０００６】
そこで、本発明では、テスト対象に対して、評価者が同種のテストを繰り返し実行する場合であっても、容易にテスト工数を見積もることができるテスト工数見積装置、およびコンピュータ読み取り可能なプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、請求項１の発明は、テスト対象に対して評価者が繰り返し実行する同種のテストにつき、該テストの工数を見積もるテスト工数見積装置であって、複数のテーブル、すなわち、複数のテストから第１テストを特定するテスト仕様識別データと、前記第１テストを実行した第１評価者を示す第１氏名データと、前記第１テストについて、前記第１評価者によって実行された回数を示す第１繰返し数と、前記第１評価者によって前記第１繰返し数で示される回数実行された前記第１テストにつき、前記第１評価者の実行効率を示す各回実行係数とを関連付けて格納可能なテスト情報テーブルと、前記第２評価者を示す第２氏名データと、第２繰返し数と、同一テストを前記第２繰返し数で示される回数実行した前記第２評価者の習熟度を示す習熟度データと、前記第２評価者によって実行されたテストのうち、前記第２繰返し数で示される回数実行されたテストの個数を示す累積数とを関連付けて格納可能な習熟度テーブルとを記憶可能な記憶部と、前記複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となった第２テストに関するデータ、すなわち、前記テスト仕様識別データと、前記第１氏名データと、前記第１繰返し数と、前記各回実行係数とを前記テスト情報テーブルに追加格納する追加格納処理部と、前記複数のテストのいずれかが実行された後、前記追加格納処理部による追加格納が実行される毎に、実行対象となった第３テストと、前記第３テストを実行した第３評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第１レコードを求める処理と、前記第３テストと、前記第３評価者と、に対応し、かつ、前記第１繰返し数が１となるレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、該レコードに含まれる前記各回実行係数を第１初期実行係数として求める処理と、前記第３評価者に対応する前記第２氏名データと、前記第１レコードに含まれる前記第１繰返し数と一致する前記第２繰返し数とを有する第２レコードにつき、該第２レコードを前記習熟度テーブルから抽出する処理と、前記第１レコードの前記各回実行係数と、前記第２レコードの前記習熟度データおよび前記累積数と、前記第１初期実行係数と、に基づいて新たな習熟度データを演算する処理と、前記新たな習熟度データと、前記累積数に１を加算したものと、によって前記習熟度テーブルを更新する処理とを実行する更新部と、データ入力を受け付ける入力部と、テスト工数を見積もるために、前記入力部からの入力によって指定された第４テストと、前記第４テストを実行する第４評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第３レコードを求める処理と、前記第４テストと、前記第４評価者と、に対応し、かつ、前記第１繰返し数が１となるレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、該レコードに含まれる前記各回実行係数を第２初期実行係数として求める処理と、前記第３レコードに含まれる前記第１氏名データと一致する前記第２氏名データと、前記第３レコードに含まれる前記第１繰返し数に１を加算したものと一致する前記第２繰返し数とを有する第４レコードにつき、該第４レコードを前記習熟テーブルから抽出する処理と、前記第４レコードの前記習熟度データと、前記第２初期実行係数と、に基づいて前記第４テストのテスト工数を演算する処理とを実行する工数演算部とを備えることを特徴とする。
【０００８】
また、請求項２の発明は、テスト対象に対して評価者が繰り返し実行する同種のテストにつき、該テストの工数を見積もるテスト工数見積装置であって、複数のテーブル、すなわち、複数のテストから第１テストを特定するテスト仕様識別データと、前記第１テストを実行した第１評価者を示す第１氏名データと、前記第１テストについて、前記第１評価者によって実行された回数を示す第１繰返し数と、前記第１評価者によって前記第１繰返し数で示される回数実行された前記第１テストにつき、前記第１評価者の実行効率を示す各回実行係数と、前記第１テストが１回実行された場合における前記第１評価者の実行効率を示す初期実行係数につき、該初期実行係数で前記各回実行係数を除した正規化実行係数とを関連付けて格納可能なテスト情報テーブルと、前記第２評価者を示す第２氏名データと、第２繰返し数と、同一テストを前記第２繰返し数で示される回数実行した前記第２評価者の習熟度を示す習熟度データと、前記第２評価者によって実行されたテストのうち、前記第２繰返し数で示される回数実行されたテストの個数を示す累積数とを関連付けて格納可能な習熟度テーブルとを記憶可能な記憶部と、前記複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となった第２テストに関するデータ、すなわち、前記テスト仕様識別データと、前記第１氏名データと、前記第１繰返し数と、前記各回実行係数と、前記正規化実行係数とを前記テスト情報テーブルに追加格納する追加格納処理部と、前記複数のテストのいずれかが実行された後、前記追加格納処理部による追加格納が実行される毎に、実行対象となった第３テストと、前記第３テストを実行した第３評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第１レコードを求める処理と、前記第３評価者に対応する前記第２氏名データと、前記第１レコードに含まれる前記第１繰返し数と一致する前記第２繰返し数とを有する第２レコードにつき、該第２レコードを前記習熟度テーブルから抽出する処理と、前記第１レコードの前記正規化実行係数と、前記第２レコードの前記習熟度データおよび前記累積数と、に基づいて新たな習熟度データを演算する処理と、前記新たな習熟度データと、前記累積数に１を加算したものと、によって前記習熟度テーブルを更新する処理とを実行する更新部と、データ入力を受け付ける入力部と、テスト工数を見積もるために、前記入力部からの入力によって指定された第４テストと、前記第４テストを実行する第４評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第３レコードを求める処理と、前記第３レコードに含まれる前記第１氏名データと一致する前記第２氏名データと、前記第３レコードに含まれる前記第１繰返し数に１を加算したものと一致する前記第２繰返し数とを有する第４レコードにつき、該第４レコードを前記習熟テーブルから抽出する処理と、前記第４レコードの前記習熟度データと、前記第４テストおよび前記第４テストを実行する第４評価者に関する前記初期実行係数と、に基づいて前記第４テストのテスト工数を演算する処理とを実行する工数演算部とを備えることを特徴とする。
【０００９】
また、請求項３の発明は、請求項１または請求項２の発明に記載のテスト工数見積装置において、前記工数演算部は、前記第４評価者の前記習熟度と、前記第４評価者を含む複数の評価者の平均習熟度と、に基づいて、前記第４テストのテスト工数を見積もることを特徴とする。
【００１０】
また、請求項４の発明は、請求項３の発明に記載のテスト工数見積装置において、前記工数演算部は、前記第４評価者の前記習熟度と、前記第４評価者を含む複数の評価者の平均習熟度と、のそれぞれに重み付けを設定することにより、前記第４テストのテスト工数を見積もることを特徴とする。
【００１１】
また、請求項５の発明は、前記工数演算部は、演算されたテスト工数を表示部に表示させることを特徴とする。
【００１２】
また、請求項６の発明は、テスト対象に対して評価者が繰り返し実行する同種のテストにつき、該テストの工数を見積り可能なコンピュータ読み取り可能なプログラムであって、前記コンピュータの記憶部は、複数のテーブル、すなわち、複数のテストから第１テストを特定するテスト仕様識別データと、前記第１テストを実行した第１評価者を示す第１氏名データと、前記第１テストについて、前記第１評価者によって実行された回数を示す第１繰返し数と、前記第１評価者によって前記第１繰返し数で示される回数実行された前記第１テストにつき、前記第１評価者の実行効率を示す各回実行係数とを関連付けて格納可能なテスト情報テーブルと、前記第２評価者を示す第２氏名データと、第２繰返し数と、同一テストを前記第２繰返し数で示される回数実行した前記第２評価者の習熟度を示す習熟度データと、前記第２評価者によって実行されたテストのうち、前記第２繰返し数で示される回数実行されたテストの個数を示す累積数とを関連付けて格納可能な習熟度テーブルとを記憶しており、前記コンピュータのＣＰＵに、前記複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となった第２テストに関するデータ、すなわち、前記テスト仕様識別データと、前記第１氏名データと、前記第１繰返し数と、前記各回実行係数とを前記テスト情報テーブルに追加格納する機能と、前記複数のテストのいずれかが実行された後、追加格納する機能が実現される毎に、実行対象となった第３テストと、前記第３テストを実行した第３評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第１レコードを求め、前記第３テストと、前記第３評価者と、に対応し、かつ、前記第１繰返し数が１となるレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、該レコードに含まれる前記各回実行係数を第１初期実行係数として求め、前記第３評価者に対応する前記第２氏名データと、前記第１レコードに含まれる前記第１繰返し数と一致する前記第２繰返し数とを有する第２レコードにつき、該第２レコードを前記習熟度テーブルから抽出し、前記第１レコードの前記各回実行係数と、前記第２レコードの前記習熟度データおよび前記累積数と、前記第１初期実行係数と、に基づいて新たな習熟度データを演算し、前記新たな習熟度データと、前記累積数に１を加算したものと、によって前記習熟度テーブルを更新する処理する機能と、テスト工数を見積もるために、入力部からの入力によって指定された第４テストと、前記第４テストを実行する第４評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第３レコードを求め、前記第４テストと、前記第４評価者と、に対応し、かつ、前記第１繰返し数が１となるレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、該レコードに含まれる前記各回実行係数を第２初期実行係数として求め、前記第３レコードに含まれる前記第１氏名データと一致する前記第２氏名データと、前記第３レコードに含まれる前記第１繰返し数に１を加算したものと一致する前記第２繰返し数とを有する第４レコードにつき、該第４レコードを前記習熟テーブルから抽出し、前記第４レコードの前記習熟度データと、前記第２初期実行係数と、に基づいて前記第４テストのテスト工数を演算する機能とを実現させることを特徴とする。
【００１３】
また、請求項７の発明は、ソフトウェアに対して評価者が繰り返し実行する同種のテストにつき、該テストの工数を見積り可能なコンピュータ読み取り可能なプログラムであって、前記コンピュータの記憶部は、複数のテーブル、すなわち、複数のテストから第１テストを特定するテスト仕様識別データと、前記第１テストを実行した第１評価者を示す第１氏名データと、前記第１テストについて、前記第１評価者によって実行された回数を示す第１繰返し数と、前記第１評価者によって前記第１繰返し数で示される回数実行された前記第１テストにつき、前記第１評価者の実行効率を示す各回実行係数と、前記第１テストが１回実行された場合における前記第１評価者の実行効率を示す初期実行係数につき、該初期実行係数で前記各回実行係数を除した正規化実行係数とを関連付けて格納可能なテスト情報テーブルと、前記第２評価者を示す第２氏名データと、第２繰返し数と、同一テストを前記第２繰返し数で示される回数実行した前記第２評価者の習熟度を示す習熟度データと、前記第２評価者によって実行されたテストのうち、前記第２繰返し数で示される回数実行されたテストの個数を示す累積数とを関連付けて格納可能な習熟度テーブルとを記憶しており、前記コンピュータのＣＰＵに、前記複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となった第２テストに関するデータ、すなわち、前記テスト仕様識別データと、前記第１氏名データと、前記第１繰返し数と、前記各回実行係数と、前記正規化実行係数とを前記テスト情報テーブルに追加格納する機能と、前記複数のテストのいずれかが実行された後、追加格納する機能が実現される毎に、実行対象となった第３テストと、前記第３テストを実行した第３評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第１レコードを求め、前記第３評価者に対応する前記第２氏名データと、前記第１レコードに含まれる前記第１繰返し数と一致する前記第２繰返し数とを有する第２レコードにつき、該第２レコードを前記習熟度テーブルから抽出し、前記第１レコードの前記正規化実行係数と、前記第２レコードの前記習熟度データおよび前記累積数と、に基づいて新たな習熟度データを演算し、前記新たな習熟度データと、前記累積数に１を加算したものと、によって前記習熟度テーブルを更新する機能と、テスト工数を見積もるために、前記入力部からの入力によって指定された第４テストと、前記第４テストを実行する第４評価者と、に対応するレコードを前記テスト情報テーブルから抽出するとともに、抽出されたレコードから前記第１繰返し数が最大となる第３レコードを求め、前記第３レコードに含まれる前記第１氏名データと一致する前記第２氏名データと、前記第３レコードに含まれる前記第１繰返し数に１を加算したものと一致する前記第２繰返し数とを有する第４レコードにつき、該第４レコードを前記習熟テーブルから抽出し、前記第４レコードの前記習熟度データと、前記第４テストおよび前記第４テストを実行する第４評価者に関する前記初期実行係数と、に基づいて前記第４テストのテスト工数を演算する機能とを実現させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１から請求項７に記載の発明によれば、各テストが実行される毎に、そのテストの評価者を示す第１氏名データ、第１繰返し数、および各回実行係数等を関連付けてテスト情報テーブルに追加格納することができる。
【００１５】
また、各テストが実行された後、テスト情報テーブルにデータが追加格納される毎に、各評価者の第２氏名データ、第２繰返し数、および習熟度データを関連付けて習熟度テーブルに格納することができる。
【００１６】
そのため、テスト情報テーブルおよび習熟度テーブルに蓄積されたデータに基づいて、評価者が繰り返し実行するテストの工数を、容易に、かつ、正確に見積もることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【００１８】
＜１．テスト工数見積装置のハードウェア構成＞
図１は、本発明の実施の形態におけるテスト工数見積装置１の全体構成の一例を示す図である。テスト工数見積装置１は、本実施の形態ではソフトウェアをテスト対象として評価者が繰り返し実行する同種のテスト（テスト）に関して、各評価者のテスト工数を見積もる装置である。図１に示すように、テスト工数見積装置１は、主として、ＣＰＵ１１と、大容量記憶部１６と、表示部２０と、操作部２１と、通信部２２と、を備えている。
【００１９】
なお、ここでいうソフトウェアとは、各種装置のＣＰＵ（制御部）の動作に関するプログラムを言う。例えば、画像記録装置において所望の画像を記録する機能や、基板処理装置において所望の基板処理機能を実現するためのプログラムをいう。
【００２０】
また、テストとは、例えば、（１）各モジュールが仕様通りに動作するかをテストする単体テスト、（２）モジュール間のインタフェースを検証する結合テスト、および、（３）複数のモジュールから構成されるソフトウェアが仕様通りに動作するかを確認する機能テスト、性能テスト、負荷テスト、および運用テスト等をいう。
【００２１】
表示部２０は、ＣＲＴ(Cathode Ray Tube)ディスプレイや液晶ディスプレイ等によって構成されている。また、操作部２１は、いわゆるキーボードやマウスによって構成される入力部である。したがって、テスト工数見積装置１の使用者（以下、単に、「使用者」と呼ぶ）は、表示部２０の表示内容に基づいた入力作業を行うことにより、テスト工数見積装置１に対して所定の動作を実行させることができる。
【００２２】
通信部２２は、ＬＡＮ（Local Area Network）等のネットワークを介して接続された情報処理装置との間でデータ通信を実行するＬＡＮインタフェースである。したがって、テスト工数見積装置１には、通信部２２を介して外部の情報処理装置から送信されるデータを入力することができる。すなわち、操作部２１だけでなく通信部２２も、テスト工数見積装置１へのデータ入力を受け付ける入力部２５として使用される。
【００２３】
大容量記憶部１６は、いわゆるハードディスクドライブやシリコンディスクドライブのように、ＲＡＭ１２と比較して大きな記憶容量を持つ記憶部である。図１に示すように、大容量記憶部１６は、複数のテーブル、すなわち、テスト情報テーブル１６ａと、習熟度テーブル１６ｂと、を記憶可能とされている。また、大容量記憶部１６は、必要に応じてＲＡＭ１２との間でデータの授受を行うことができる。なお、大容量記憶部１６に記憶されるテスト情報テーブル１６ａおよび習熟度テーブル１６ｂのデータ構成については、後述する。
【００２４】
ＲＡＭ１２は、読み書き自在の揮発性メモリであり、ＲＯＭ１３は、読出し専用メモリーである。ＣＰＵ１１は、ＲＡＭ１２に格納されたプログラム１２ａに従った制御を実行する。また、ＣＰＵ１１は、ＲＡＭ１２、大容量記憶部１６、表示部２０、操作部２１、および通信部２２等のそれぞれは、信号線１５を介して電気的に接続されている。
【００２５】
そのため、ＣＰＵ１１は、このプログラム１２ａに従って、例えば、表示部２０による画面表示処理や、大容量記憶部１６に記憶されたデータの読み書き処理等を所定のタイミングで実行することができる。
【００２６】
＜２．テスト情報テーブルおよび習熟度テーブルのデータ構成＞
図２は、大容量記憶部１６に記憶されているテスト情報テーブル１６ａのデータ構成の一例を示す図である。図２に示すように、テスト情報テーブル１６ａは、主として、「ＩＤ」、「テスト仕様識別データ」、「評価期間」、「ケース数」、「第１氏名データ」、「第１繰返し数」、「各回実行係数」、および「正規化実行係数」の各フィールド（列）を有している。
【００２７】
「ＩＤ」フィールドには、テスト情報テーブル１６ａに含まれる各レコード（各行）を一意に識別するための値が格納されている。「テスト仕様識別データ」フィールドには、複数のテストから一のテスト（第１テスト）を特定するために使用されるデータが格納されている。
【００２８】
ここで、テストには、様々な装置（例えば、画像記録装置や基板処理装置）に実装されたソフトウェアのテストに使用されるものが含まれる。例えば、図２中の「テスト仕様識別データ」が「ＳＴＣ０００１」、「ＳＴＣ０００２」、「ＳＴＣ０００３」、「ＳＴＣ０００４」となるレコードは、それぞれ基板処理装置に実装されたソフトウェアの機能テスト、性能テスト、負荷テスト、および運用テストに関するデータの集合体である。
【００２９】
「評価期間」フィールドには、「テスト仕様識別データ」によって特定されるテストが実行された期間（単位：日）が格納されている。また、「ケース数」フィールドには、各テストに含まれるテストケース（テスト項目）数が格納されている。
【００３０】
「第１氏名データ」には、「テスト仕様識別データ」によって特定されるテスト（第１テスト）につき、このテストを実行した評価者（第１評価者）を示すデータ（例えば、文字列データ）が格納されている。例えば、図２に示すように、「ＩＤ」＝「１００１」となるレコードの評価者は、「山田  太郎」であることが分かる。
【００３１】
「第１繰返し数」には、「テスト仕様識別データ」によって特定されるテストについて、評価者（第１評価者）によって実行された回数を示す値が格納されている。例えば、「ＩＤ」＝「１００７」となるレコードのテスト（「テスト仕様識別データ」＝「ＳＴＣ０００２」）については、「鈴木  一郎」によって「３」回実行されていることが分かる。
【００３２】
「各回実行係数」には、同一評価者（第１評価者）によって「第１繰返し数」で示される回数だけ実行されたソフトウェアにつき、その評価者による実行効率を示す値が格納されている。ここで、「各回実行係数」には、１ケースあたりの評価工数が格納されている。すなわち、「評価期間」に格納された値をＰ、「ケース数」に格納された値をＣ１とすると、１ケースあたりの評価工数（各回実行係数）Ｖｃは数１によって求めることができる。
【００３３】
Ｖｃ  ＝  Ｐ／Ｃ１                                ・・・  （数１）
【００３４】
「正規化実行係数」フィールドには、「各回実行係数」を初期実行係数によって除した値が格納されている。ここで、初期実行係数は、各テストが１回実行された場合における第１評価者の実行効率を示す値である。すなわち、初期実行係数とは、テスト情報テーブル１６ａのレコードのうち、同一テストおよび同一評価者に関するもので、かつ、「第１繰返し数」フィールドの値が「１」となるレコードについて、該レコードの「各回実行係数」フィールドに格納された値をいう。例えば、「山田  太郎」によって実行されたテスト「ＳＴＣ０００１」の初期化係数は、「０．１００」である。
【００３５】
なお、本実施の形態では、テスト情報テーブル１６ａに「正規化実行係数」フィールドを設けているが、テスト情報テーブル１６ａのデータ構成はこれに限定されるものでない。例えば、「正規化実行係数」の値が必要となる毎に、テスト情報テーブル１６ａから必要なレコードを抽出し、この抽出されたレコードに基づいて「正規化実行係数」を求めてもよい。
【００３６】
図３は、大容量記憶部１６に記憶されている習熟度テーブル１６ｂのデータ構成の一例を示す図である。図３に示すように、習熟度テーブル１６ｂは、主として、「ＩＤ」、「第２氏名データ」、「第２繰返し数」、「習熟度データ」、および「累積数」の各フィールドを有している。
【００３７】
「ＩＤ」フィールドには、習熟度テーブル１６ｂに含まれる各レコードを一意に識別するための値が格納されている。
【００３８】
「第２氏名データ」には、「第１氏名データ」と同様に、評価者（第２評価者）を示すデータ（例えば、文字列データ）が格納されている。したがって、習熟度テーブル１６ｂの「第２氏名データ」フィールドが検索キーとして使用され、習熟度テーブル１６ｂが検索されることにより、テスト情報テーブル１６ａの「第１氏名データ」フィールドの値と対応するレコードが習熟度テーブル１６ｂから抽出される。
【００３９】
例えば、テスト情報テーブル１６ａの「第１氏名データ」＝「山田  太郎」と対応するレコードが習熟度テーブル１６ｂから抽出される場合、習熟度テーブル１６ｂからは、その「ＩＤ」が「５００１」〜「５００６」となるものが抽出される。
【００４０】
「習熟度データ」フィールドには、同一評価者（第２評価者）が同一テストを「第２繰返し数」フィールドで示される回数だけ実行した場合の習熟度を示すデータが格納されている。また、「累積数」フィールドには、同一評価者によって実行されたテストのうち、「第２繰返し数」フィールドで示される回数だけ実行されたテストの個数を示す値が格納されている。
【００４１】
例えば、「ＩＤ」＝「５０１６」となるレコードの「第２氏名データ」の値は「工藤  純一」であり、「第２繰返し数」の値は「４」であり、「習熟度データ」の値は「０．８３」であり、「累積数」の値は「５」である。このレコードより、「工藤  純一」は、以前に５種類のテストについて、それぞれ４回繰返し実行しており、かつ、同一テストを４回繰返して実行したときの習熟度は「０．８３」であることが分かる。
【００４２】
そして、本実施の形態では、「習熟度データ」に基づいて各テストのテスト工数を演算する処理が実行される。なお、テスト工数の演算手法の詳細について、および、習熟度データの更新手法については、後述する。
【００４３】
＜３．テスト工数見積装置の機能構成＞
図４は、テスト工数見積装置１の機能構成の一例を示すブロック図である。図４に示すように、テスト工数見積装置１のＣＰＵ１１は、ＲＡＭ１２に格納されたプログラム１２ａに基づいて、主として、追加格納機能と、更新機能と、工数演算機能と、を実現させる。
【００４４】
追加格納処理部４１は、複数のテストのいずれかが実行される毎に、実行対象となったテスト（第２テスト）に関するデータをテスト情報テーブル１６ａに追加格納する。
【００４５】
すなわち、追加格納処理部４１は、複数のテストのいずれかが実行される毎に、テスト情報テーブル１６ａに新たなレコードを追加する。そして、追加されたレコードの「テスト仕様識別データ」フィールドと、「第１氏名データ」フィールドと、「第１繰返し数」フィールドと、「各回実行係数」フィールドとには、実行対象となったテストに関するデータが格納される。
【００４６】
また、追加格納処理部４１は、実行対象となったテストと、このテストの評価者と、に対応し、かつ、「第１繰返し数」が「１」となるレコードをテスト情報テーブル１６ａから抽出し、この抽出されたレコードの「各回実行係数」の値を「初期実行係数」として求める。続いて、追加格納処理部４１は、実行対象となったテストの「各回実行係数」を、求められた「初期実行係数」で除する。そして、追加格納処理部４１は、この除算で求められた値を「正規化実行係数」に格納する。
【００４７】
更新部４２は、複数のテストのいずれかが実行された後、追加格納処理部４１による追加格納が実行される毎に、習熟度テーブル１６ｂの対応レコードを更新する。すなわち、更新部４２は、実行対象となったテスト（第３テスト）と、このテストを実行した評価者（第３評価者）と、に対応するレコードをテスト情報テーブル１６ａから抽出する。次に、更新部４２は、抽出された各レコードの「第１繰返し数」の値を比較する。そして、抽出されたレコードから「第１繰返し数」の値が最大となるレコード（第１レコード）を求める。
【００４８】
続いて、更新部４２は、実行対象となったテストの初期実行係数を求める。すなわち、更新部４２は、実行対象となったテストと、このテストを実行した評価者と、に対応し、かつ、「第１繰返し数」の値が「１」となるレコードをテスト情報テーブル１６ａから抽出する。そして、更新部４２は、抽出されたレコードに含まれる「各回実行係数」の値を、初期実行係数（第１初期実行係数）として求める。
【００４９】
続いて、更新部４２は、習熟度テーブル１６ｂの「第２氏名データ」および「第２繰返し数」フィールドをキーとして習熟度テーブル１６ｂを検索する。そして、実行対象となったテストの評価者（第３評価者）に対応する「第２氏名データ」と、「第１繰返し数」の最大値と一致する「第２繰返し数」と、を有するレコード（第２レコード）が、習熟度テーブル１６ｂから抽出される。
【００５０】
ここで、テスト情報テーブル１６ａから抽出された第１レコードの「各回実行係数」の値をＶｃと、習熟度テーブル１６ｂから抽出された第２レコードの習熟度データの値をＭｖ(n)、第２レコードの「累積数」の値をｎと、テスト情報テーブル１６ａから求められた初期実行係数（第１初期実行係数）の値をＶ０と、すると、新たな習熟度データＭｖ(n+1)は、数２によって演算することができる。
【００５１】
Ｍｖ(n+1)  ＝  （Ｖｃ／Ｖ０  ＋  ｎ・Ｍｖ(n)）／（ｎ＋１）  ・・・  （数２）
【００５２】
そして、更新部４２は、数２によって演算された新たな習熟度データ（更新用の習熟度データ）と、第２レコードの「累積数」に「１」を加算したものと、によって習熟度テーブル１６ｂの第２レコードを更新する。
【００５３】
このように、本実施の形態では、各評価者がテストを実行する毎に、習熟度データが更新される。これにより、テストの実行数が増加するにしたがって、習熟度テーブル１６ｂの「習熟度データ」の信頼性が向上する。そのため、工数演算部４３は、「習熟度データ」に基づいて実行されるテストのテスト工数を、さらに正確に見積もることが可能となる。
【００５４】
工数演算部４３は、表示部２０の表示内容にしたがって指定された評価者およびテストに関して、テスト工数を見積もる処理を実行する。図５は、表示部２０に表示されるダイアログ５０の一例を示す図である。図５に示すように、ダイアログ５０は、主として、複数のテキストボックス５２〜５４、５７と、複数のコンボボックス５１、５５とを有している。
【００５５】
コンボボックス５１は、複数のテストから一のテスト（第４テスト）を指定するために使用される。テキストボックス５２には、コンボボックス５１で指定されたテストと対応するテスト仕様名が表示される。
【００５６】
すなわち、コンボボックス５１の左横にあるボタン５１ａが操作部２１の指示によって押されると、コンボボックス５１の下側に選択可能な「テスト仕様識別データ」のリスト（図示省略）が表示される。したがって、使用者は、このリストから所望の「テスト仕様種別データ」を指定することにより、一のテストを指定することができる。なお、この指定によってコンボボックス５１の値が変更されると、この変更に連動して、対応するテキストボックス５２の表示が変更される。
【００５７】
テキストボックス５３には、各テストのケース数が入力される。工数演算部４３では、テキストボックス５３に入力されたケース数に基づいて、テスト工数を演算する。
【００５８】
テキストボックス５４には、コンボボックス５１で指定されたテストについて、前回テストを実行した評価者（前回担当者）の名前が表示される。使用者は、例えば、テキストボックス５４に表示された担当者名に基づいて、今回実行する評価者を決定することができる。
【００５９】
コンボボックス５５は、複数のテスト担当者の中から一の担当者を指定するために使用される。すなわち、コンボボックス５５の左横のボタン５５ａが操作部２１の指示によって押されると、コンボボックス５５の下側に選択可能な「テスト担当者」のリスト（図示省略）が表示される。したがって、使用者は、このリストから所望の「テスト担当者」を指定することにより、一のテスト担当者（第４評価者）を指定することができる。
【００６０】
工数演算部４３は、操作部２１からの入力によって指定されたテスト（第４テスト）と、対象となるテストを実行する評価者（第４評価者）と、に対応するレコードをテスト情報テーブル１６ａから抽出する。次に、工数演算部４３は、抽出されたレコードから「第１繰返し数」フィールドの値がが最大となるレコード（第３レコード）を求める。
【００６１】
続いて、工数演算部４３は、操作部２１によって指定されたテストと評価者とに対応し、かつ、「第１繰返し数」の値が「１」となるレコードをテスト情報テーブル１６ａから抽出する。そして、工数演算部４３は、抽出されたレコードに含まれる「各回実行係数」の値を初期実行係数（第２初期実行係数）として求める。すなわち、初期実行係数は、第４テスト、および該第４テストを実行する第４評価者に関するデータとして求められる。
【００６２】
続いて、工数演算部４３は、習熟度テーブル１６ｂの「第２氏名データ」および「第２繰返し数」フィールドをキーとして習熟度テーブル１６ｂを検索する。そして、テスト情報テーブル１６ａから抽出された第３レコードに含まれる「第１氏名データ」の値と一致し、かつ、第３レコードに含まれる「第１繰返し数」の値に「１」を加算したものと一致するレコード（第４レコード）が、習熟度テーブル１６ｂから抽出される。
【００６３】
ここで、習熟度テーブル１６ｂから抽出された第４レコードの「習熟度データ」をＭｖ(n)と、テスト情報テーブル１６ａから求められた初期実行係数（第２初期実行係数）の値をＶ０と、第４テストのケース数の値をＣ２と、するとテスト工数Ｐｆは、数３によって演算することができる。
【００６４】
Ｐｆ  ＝  Ｖ０・Ｍｖ(n)・Ｃ２                      ・・・  （数３）
【００６５】
そして、工数演算部４３は、数３によって演算されたテスト工数（評価工数）を表示部２０のテキストボックス５７に表示させる。このように、使用者は、ダイアログ５０を介した操作（入力）によって、各テストのテスト工数を容易に確認することができる。そのため、すべてのテストに要するテスト工数を容易に求めることができ、テスト全体の工数を容易に予測することが可能となる。
【００６６】
＜４．本実施の形態のテスト工数見積装置の利点＞
以上のように、本実施の形態のテスト工数見積装置１は、各テストが実行される毎に、そのテストの評価者を示す第１氏名データ、第１繰返し数、および各回実行係数等をテスト情報テーブル１６ａに追加格納することができる。
【００６７】
また、各テストが実行された後、テスト情報テーブル１６ａにデータが追加格納される毎に、各評価者の第２氏名データ、第２繰返し数、および習熟度データを習熟度テーブル１６ｂに格納することができる。
【００６８】
そのため、テスト工数見積装置１は、テスト情報テーブル１６ａおよび習熟度テーブル１６ｂに蓄積されたデータに基づき、評価者が繰り返し実行するテストの工数を、容易に、かつ、正確に見積もることが可能となる。
【００６９】
＜５．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく様々な変形が可能である。
【００７０】
（１）本実施の形態において、更新部４２は、数２によって新たな習熟度データ（更新用の習熟度データ）を求めるものとして説明したが、この新たな習熟度データの算出手法は、これに限定されるものでない。
【００７１】
例えば、更新部４２は、実行対象となったテスト（第３テスト）と、このテストを実行した評価者（第３評価者）と、に対応するレコードをテスト情報テーブル１６ａから抽出する。次に、更新部４２は、抽出された各レコードの「第１繰返し数」の値を比較する。そして、抽出されたレコードから「第１繰返し数」の値が最大となるレコード（第１レコード）を求める。
【００７２】
続いて、更新部４２は、習熟度テーブル１６ｂの「第２氏名データ」および「第２繰返し数」フィールドをキーとして習熟度テーブル１６ｂを検索する。次に、実行対象となったテストの評価者（第３評価者）に対応する「第２氏名データ」と、「第１繰返し数」の最大値と一致する「第２繰返し数」と、を有するレコード（第２レコード）を、習熟度テーブル１６ｂから抽出する。
【００７３】
そして、テスト情報テーブル１６ａから抽出された第１レコードの「正規化実行係数」の値をＶｎと、習熟度テーブル１６ｂから抽出された第２レコードの習熟度データの値をＭｖ(n)と、第２レコードの「累積数」の値をｎとした場合、数４によって、新たな習熟度データＭｖ(n+1)を演算してもよい。
【００７４】
Ｍｖ(n+1)  ＝  （Ｖｎ  ＋  ｎ・Ｍｖ(n)）／（ｎ＋１）  ・・・  （数４）
【００７５】
この場合も、テストの実行数が増加するにしたがって、習熟度テーブル１６ｂの「習熟度データ」の信頼性が向上する。そのため、工数演算部４３は、「習熟度データ」に基づいて実行されるテストの工数を、さらに正確に見積もることが可能となる。
【００７６】
（２）また、本実施の形態では、数３によってテスト工数Ｐｆを演算しているが、テスト工数の演算手法はこれに限定されるものでない。例えば、評価者（第４評価者）の習熟度データと、この評価者（第４評価者）を含む複数の評価者の平均習熟度データと、に基づいてテストのテスト工数を見積もってもよい。
【００７７】
ここで、評価者の数がｑ（人）であり、「第２繰返し数」が「ｍ」（ｍは自然数）のときの各評価者の「習熟度データ」と、各評価者の「累積数」とを、それぞれＭｖ(n、x)、およびＣ（x）（１≦Ｘ≦ｑ）とした場合、平均習熟度データＭave(n)は、数５によって求めることができる。
【００７８】
Ｍave(n)  ＝  Σ（Ｃ（x）・Ｍｖ(n、x)）／（ΣＣ（x））  ・・・  （数５）
【００７９】
また、重み付け係数をｋ（０≦ｋ≦１）と、習熟度テーブル１６ｂから抽出された第４レコードの「習熟度データ」をＭｖ(n)と、テスト情報テーブル１６ａから求められた初期実行係数（第２初期実行係数）の値をＶ０と、第４テストのケース数の値をＣ２と、すると、第４レコードの「第２繰返し数」が「ｍ」の場合におけるテスト工数Ｐｆ’は、数６によって演算することができる。
【００８０】
Ｐｆ’  ＝  Ｖ０・Ｃ２（ｋ・Ｍｖ(n)＋（１−ｋ）・Ｍave(n)）  ・・・  （数６）
【００８１】
このように、工数演算部４３は、第４評価者の習熟度と、この第４評価者を含む複数の平均習熟度と、のそれぞれに重み付けを設定してテスト工数を求めることもできる。そのため、各評価者の習熟度データのばらつきに影響されることなく、テスト工数Ｐｆ’を求めることができ、さらに、正確にテスト工数を求めることが可能となる。なお、重み付け係数ｋの値は、例えば実験等によって予め求める。
【００８２】
（３）また、本実施の形態において、テスト情報テーブル１６ａ、および習熟度テーブル１６ｂは、大容量記憶部１６に記憶されるものとして説明したが、これに限定されるものでない。ＲＡＭ１２が十分な記憶容量を有する場合には、これらテーブル１６ａ、１６ｂは、ＲＡＭ１２に記憶されてもよい。
【００８３】
（４）また、本実施の形態の発明を具現化したものとしては、図１に示すテスト工数見積装置１に限定されない。図６は、テスト工数見積システム５００の構成の一例を示す図である。本実施の形態のテスト工数見積装置１の機能は、テスト工数見積システム５００によっても実現することができる。
【００８４】
ここで、情報処理装置１００は、いわゆるパーソナルコンピュータやワークステーションによって構成されており、主として、表示部１２０と、操作部１２１と、通信部１２２と、を備えている。これら表示部１２０、操作部１２１、および通信部１２２は、それぞれテスト工数見積装置１の表示部２０、操作部２１、および通信部２２に対応するものである。また、情報処理装置１００、およびテスト工数見積システム５００は、ネットワーク４００を介して電気的に接続されており、両装置１、１００の間では、データの送受信を実行することができる。
【００８５】
したがって、表示部１２０にダイアログ５０（図５参照）が表示され、情報処理装置１００の使用者が、その表示内容に従い、操作部１２１を操作することにより、情報処理装置１００の使用者は、所望のテスト（第４テスト）および「テスト担当者」（第４評価者）を指定することができる。すなわち、テスト工数見積装置１は、情報処理装置１００から送信され、テスト工数見積装置１の通信部２２に入力されたテストおよび評価者に関するデータに基づき、テスト工数を演算することができる。
【００８６】
そのため、テスト工数見積システム５００は、テスト工数見積装置１と同様に、テスト情報テーブル１６ａおよび習熟度テーブル１６ｂに蓄積されたデータに基づき、評価者が繰り返し実行するテストの工数を、容易に、かつ、正確に見積もることができる。
【００８７】
（５）さらに、本実施の形態では、ソフトウェアをテスト対象とするテスト工数見積装置１、テスト工数見積システム５００、およびそのプログラムについて説明したが、テスト対象はこれに限定されるものでない。例えば、装置の機構設計や装置の回路設計に関するテストが対象とされてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明の実施の形態におけるテスト工数見積装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図２】テスト情報テーブルのデータ構成の一例を示す図である。
【図３】習熟度テーブルのデータ構成の一例を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態におけるテスト工数見積装置の機能構成の一例を示すブロック図である。
【図５】表示部に表示されるダイアログの一例を示す図である。
【図６】テスト工数見積システムの構成の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００８９】
１  テスト工数見積装置
１１  ＣＰＵ
１２ａ  プログラム
１６  大容量記憶部
１６ａ  テスト情報テーブル
１６ｂ  習熟度テーブル
２０、１２０  表示部
２１、１２１  操作部
２２、１２２  通信部
４１  追加格納処理部
４２  更新部
４３  工数演算部
１００  情報処理装置
４００  ネットワーク
５００  テスト工数見積システム
【図１】
2008003842.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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