(57)【要約】【課題】  観察用光束を受光する撮像素子の欠陥画素を適切に検出することが可能な撮像装置を提供する。【解決手段】  撮像装置１は、撮影光学系からの光束であって主反射面６１で反射された光束である観察用光束をファインダ窓１０へと導くファインダ光学系と、観察用光束を受光して画像信号を生成する撮像素子７と、主反射面６１をミラーアップ位置ＰＳ１に移動して撮像素子７を含む所定の空間ＳＵを遮光状態にし、当該遮光状態における撮像素子７の露光画像を取得して撮像素子７の欠陥画素を検出する制御手段と、を備える。【選択図】図１３
2008294590.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像装置であって、
撮影光学系からの光束であって主反射面で反射された光束である観察用光束をファインダ窓へと導くファインダ光学系と、
前記観察用光束を受光して画像信号を生成する第１の撮像素子と、
前記主反射面をミラーアップ位置に移動して前記第１の撮像素子を含む所定の空間を遮光状態にし、当該遮光状態における前記第１の撮像素子の露光画像を取得して前記第１の撮像素子の欠陥画素を検出する制御手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記制御手段は、前記ファインダ光学系のアイピースシャッタが閉じられた状態において、前記主反射面を前記ミラーアップ位置に移動することによって、前記遮光状態を形成することを特徴とする撮像装置。
【請求項３】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記制御手段は、前記ファインダ光学系のアイピースシャッタを閉じるとともに前記主反射面を前記ミラーアップ位置に移動することによって、前記遮光状態を形成することを特徴とする撮像装置。
【請求項４】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記遮光状態は、アイピースカバーが前記ファインダ窓を覆うように配置された状態において前記主反射面が前記ミラーアップ位置に移動することによって形成されることを特徴とする撮像装置。
【請求項５】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記焦点板の前記主反射面側に設けられる遮光性緩衝材、
をさらに備え、
前記制御手段は、前記焦点板に近接し且つ前記遮光性緩衝材に接触するミラーアップ位置に前記主反射面を移動することによって、前記遮光状態を形成することを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
請求項１に記載の撮像装置において、
開口部を有し、当該開口部に焦点板を保持する保持部材と、
前記保持部材の前記主反射面側に設けられる遮光性緩衝材と、
をさらに備え、
前記制御手段は、前記焦点板に近接し且つ前記遮光性緩衝材に接触するミラーアップ位置に前記主反射面を移動することによって、前記遮光状態を形成することを特徴とする撮像装置。
【請求項７】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記制御手段は、操作者からの撮影指示入力に応答して、前記主反射面を前記ミラーアップ位置に移動し前記所定の空間を前記遮光状態にするとともに、前記第１の撮像素子の欠陥画素を検出することを特徴とする撮像装置。
【請求項８】
請求項７に記載の撮像装置において、
前記制御手段は、電源再投入後における最初の撮影指示入力に応答して、前記主反射面を前記ミラーアップ位置に移動し前記所定の空間を前記遮光状態にするとともに、前記第１の撮像素子の欠陥画素を検出することを特徴とする撮像装置。
【請求項９】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記制御手段は、第２の撮像素子を含む内部空間であって前記所定の空間とは異なる内部空間を清掃するクリーニングモードにおいて、前記主反射面を前記ミラーアップ位置に移動し前記所定の空間を前記遮光状態にするとともに、前記第１の撮像素子を通電状態にして前記第１の撮像素子の欠陥画素を検出することを特徴とする撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタルカメラなどの撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一眼レフレックスタイプのカメラ（一眼レフカメラとも称する）において、ライブビュー機能（被写体に関する時系列の画像を順次に液晶表示部等に表示する機能、換言すれば被写体の画像を動画的態様で液晶表示部等に表示する機能）を搭載する技術が存在する。
【０００３】
例えば、特許文献１のカメラにおいては、撮像用（静止画像記録用）の撮像素子とは別個のライブビュー用の撮像素子がファインダー光学系の近傍に設けられている。また、接眼レンズ付近のファインダー光路中に当該光路に対して進退可能な可動反射ミラーが設けられている。そして、この反射ミラーがファインダー光路に対して進退することによって、被写体からの観察用光束が接眼レンズへ向かう状況と、被写体からの観察用光束がライブビュー用の撮像素子へ到達する状況とが選択的に切り換えられる。当該カメラにおいては、ライブビュー用の撮像素子へと導かれた光像を用いてライブビュー機能が実現される。
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−１３３８４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、静止画像記録用の撮像素子と同様に、観察用光束を受光する撮像素子（上述のようなライブビュー用の撮像素子等）においても、宇宙線等の影響による後天的な欠陥画素が発生し得る。このような欠陥画素は、ライブビュー画像等の劣化を引き起こすため望ましくない。
【０００６】
しかしながら、観察用光束を受光する撮像素子の欠陥画素対策に関しては未だ十分には考慮されていない。
【０００７】
そこで、この発明は、観察用光束を受光する撮像素子の欠陥画素を適切に検出することが可能な撮像装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、撮像装置であって、撮影光学系からの光束であって主反射面で反射された光束である観察用光束をファインダ窓へと導くファインダ光学系と、前記観察用光束を受光して画像信号を生成する第１の撮像素子と、前記主反射面をミラーアップ位置に移動して前記第１の撮像素子を含む所定の空間を遮光状態にし、当該遮光状態における前記第１の撮像素子の露光画像を取得して前記第１の撮像素子の欠陥画素を検出する制御手段とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、主反射面をミラーアップ位置に移動して第１の撮像素子を含む所定の空間が遮光状態にされ、当該遮光状態における第１の撮像素子の露光画像が取得されて第１の撮像素子の欠陥画素が検出されるので、第１の撮像素子の欠陥画素を適切に検出することが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１１】
＜１．第１実施形態＞
＜１−１．構成概要＞
図１および図２は、本発明の第１実施形態に係る撮像装置１（１Ａ）の外観構成を示す図である。ここで、図１は、撮像装置１の正面外観図であり、図２は、撮像装置１の背面外観図である。この撮像装置１は、レンズ交換式一眼レフレックスタイプのデジタルカメラとして構成されている。
【００１２】
図１に示すように、撮像装置１は、カメラ本体部（カメラボディ）２を備えている。このカメラ本体部２に対して、交換式の撮影レンズユニット（交換レンズ）３が着脱可能である。
【００１３】
撮影レンズユニット３は、主として、鏡胴３６、ならびに、鏡胴３６の内部に設けられるレンズ群３７（図３参照）及び絞り等によって構成される。レンズ群３７（撮影光学系）には、光軸方向に移動することによって焦点位置を変更するフォーカスレンズ等が含まれている。
【００１４】
カメラ本体部２は、撮影レンズユニット３が装着される円環状のマウント部Ｍｔを正面略中央に備え、撮影レンズユニット３を着脱するための着脱ボタン８９を円環状のマウント部Ｍｔ付近に備えている。
【００１５】
また、カメラ本体部２は、その正面左上部にモード設定ダイヤル８２を備え、その正面右上部に制御値設定ダイヤル８６を備えている。モード設定ダイヤル８２を操作することによれば、カメラの各種モード（各種撮影モード（人物撮影モード、風景撮影モード、およびフルオート撮影モード等）、撮影した画像を再生する再生モード、および外部機器との間でデータ交信を行う通信モード等を含む）の設定動作（切替動作）を行うことが可能である。また、制御値設定ダイヤル８６を操作することによれば、各種撮影モードにおける制御値を設定することが可能である。
【００１６】
また、カメラ本体部２は、正面左端部に撮影者が把持するためのグリップ部１４を備えている。グリップ部１４の上面には露光開始を指示するためのレリーズボタン１１が設けられている。グリップ部１４の内部には電池収納室とカード収納室とが設けられている。電池収納室にはカメラの電源として、例えば４本の単３形乾電池が収納されており、カード収納室には撮影画像の画像データを記録するためのメモリカード９０（図３参照）が着脱可能に収納されるようになっている。
【００１７】
レリーズボタン１１は、半押し状態（Ｓ１状態）と全押し状態（Ｓ２状態）の２つの状態を検出可能な２段階検出ボタンである。レリーズボタン１１が半押しされＳ１状態になると、被写体に関する記録用静止画像（本撮影画像）を取得するための準備動作（例えば、ＡＦ制御動作およびＡＥ制御動作等）が行われる。また、レリーズボタン１１がさらに押し込まれてＳ２状態になると、当該本撮影画像の撮影動作（撮像素子５（後述）を用いて被写体像（被写体の光像）に関する露光動作を行い、その露光動作によって得られた画像信号に所定の画像処理を施す一連の動作）が行われる。
【００１８】
図２において、カメラ本体部２の背面略中央上部には、ファインダ窓（接眼窓）１０が設けられている。撮影者は、ファインダ窓１０を覗くことによって、撮影レンズユニット３から導かれた被写体の光像を視認して構図決定を行うことができる。すなわち、光学ファインダを用いて構図決めを行うことが可能である。
【００１９】
なお、この実施形態に係る撮像装置１においては、背面モニタ１２（後述）に表示されるライブビュー画像を用いて構図決めを行うことも可能である。また、光学ファインダによる構図決め動作とライブビュー表示による構図決め動作との切換操作は、操作者が切換ダイヤル８７を回転させることによって実現される。この切換操作等に関しては後に詳述する。
【００２０】
図２において、カメラ本体部２の背面の略中央には、背面モニタ１２が設けられている。背面モニタ１２は、例えばカラー液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）として構成される。背面モニタ１２は、撮影条件等を設定するためのメニュー画面を表示したり、再生モードにおいてメモリカード９０に記録された撮影画像を再生表示したりすることができる。また、操作者が光学ファインダによる構図決めではなくライブビュー表示による構図決めを選択した場合には、背面モニタ１２には、撮像素子７（後述）によって取得された時系列の複数の画像（すなわち動画像）がライブビュー画像として表示される。
【００２１】
背面モニタ１２の左上部にはメインスイッチ８１が設けられている。メインスイッチ８１は２点スライドスイッチからなり、接点を左方の「ＯＦＦ」位置に設定すると、電源がオフになり、接点の右方の「ＯＮ」位置に設定すると、電源がオンになる。
【００２２】
背面モニタ１２の右側には方向選択キー８４が設けられている。この方向選択キー８４は円形の操作ボタンを有し、この操作ボタンにおける上下左右の４方向の押圧操作と、右上、左上、右下及び左下の４方向の押圧操作とが、それぞれ検出されるようになっている。なお、方向選択キー８４は、上記８方向の押圧操作とは別に、中央部のプッシュボタンの押圧操作も検出されるようになっている。
【００２３】
背面モニタ１２の左側には、メニュー画面の設定、画像の削除などを行うための複数のボタンからなる設定ボタン群８３が設けられている。
【００２４】
＜１−２．機能ブロック＞
つぎに、図３を参照しながら、撮像装置１の機能の概要について説明する。図３は、撮像装置１の機能構成を示すブロック図である。
【００２５】
図３に示すように、撮像装置１は、操作部８０、全体制御部１０１、フォーカス制御部１２１、ミラー制御部１２２、シャッタ制御部１２３、タイミング制御回路１２４、およびデジタル信号処理回路５０等を備える。
【００２６】
操作部８０は、レリーズボタン１１（図１参照）を含む各種ボタンおよびスイッチ等を備えて構成される。操作部８０に対するユーザーの入力操作に応答して、全体制御部１０１が各種動作を実現する。
【００２７】
全体制御部１０１は、マイクロコンピュータとして構成され、主にＣＰＵ、メモリ、及びＲＯＭ等を備える。全体制御部１０１は、ＲＯＭ内に格納されるプログラムを読み出し、当該プログラムをＣＰＵで実行することによって、各種機能を実現する。
【００２８】
例えば、全体制御部１０１は、後述する撮像素子７の欠陥画素検出動作等を実現する。また、全体制御部１０１は、ＡＦモジュール２０およびフォーカス制御部１２１等と協動して、フォーカスレンズの位置を制御する合焦制御動作を行う。全体制御部１０１は、ＡＦモジュール２０によって検出される被写体の合焦状態に応じて、フォーカス制御部１２１を用いてＡＦ動作を実現する。なお、ＡＦモジュール２０は、ミラー機構６を介して進入してきた光を用いて、位相差方式等の合焦状態検出手法により被写体の合焦状態を検出することが可能である。
【００２９】
フォーカス制御部１２１は、全体制御部１０１から入力される信号に基づいて制御信号を生成しモータＭ１を駆動することによって、撮影レンズユニット３のレンズ群３７に含まれるフォーカスレンズを移動する。また、フォーカスレンズの位置は、撮影レンズユニット３のレンズ位置検出部３９によって検出され、フォーカスレンズの位置を示すデータが全体制御部１０１に送られる。このように、フォーカス制御部１２１および全体制御部１０１等は、フォーカスレンズの光軸方向の動きを制御する。
【００３０】
ミラー制御部１２２は、ミラー機構６が光路から退避した状態（ミラーアップ状態）とミラー機構６が光路を遮断した状態（ミラーダウン状態）との状態切替を制御する。ミラー制御部１２２は、全体制御部１０１から入力される信号に基づいて制御信号を生成しモータＭ２を駆動することによって、ミラーアップ状態とミラーダウン状態とを切り替える。
【００３１】
シャッタ制御部１２３は、全体制御部１０１から入力される信号に基づいて制御信号を生成しモータＭ３を駆動することによって、シャッタ４の開閉を制御する。
【００３２】
タイミング制御回路１２４は、撮像素子５等に対するタイミング制御を行う。
【００３３】
撮像素子（ここではＣＣＤセンサ（単にＣＣＤとも称する））５は、光電変換作用により被写体の光像を電気的信号に変換して、本撮影画像に係る画像信号（記録用の画像信号）を生成する。撮像素子５は、記録画像取得用の撮像素子であるとも表現される。
【００３４】
撮像素子５は、タイミング制御回路１２４から入力される駆動制御信号（蓄積開始信号および蓄積終了信号）に応答して、受光面に結像された被写体像の露光（光電変換による電荷蓄積）を行い、当該被写体像に係る画像信号を生成する。また、撮像素子５は、タイミング制御回路１２４から入力される読出制御信号に応答して、当該画像信号を信号処理部５１へ出力する。また、タイミング制御回路１２４からのタイミング信号（同期信号）は、信号処理部５１及びＡ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路５２にも入力される。
【００３５】
撮像素子５で取得された画像信号は、信号処理部５１において所定のアナログ信号処理が施され、当該アナログ信号処理後の画像信号はＡ／Ｄ変換回路５２によってデジタル画像データ（画像データ）に変換される。この画像データは、デジタル信号処理回路５０に入力される。
【００３６】
デジタル信号処理回路５０は、Ａ／Ｄ変換回路５２から入力される画像データに対してデジタル信号処理を行い、撮像画像に係る画像データを生成する。デジタル信号処理回路５０は、黒レベル補正回路５３、ホワイトバランス（ＷＢ）回路５４、γ補正回路５５及び画像メモリ５６を備える。
【００３７】
黒レベル補正回路５３は、Ａ／Ｄ変換回路５２が出力した画像データを構成する各画素データの黒レベルを基準の黒レベルに補正する。ＷＢ回路５４は、画像のホワイトバランス調整を行う。γ補正回路５５は、撮像画像の階調変換を行う。画像メモリ５６は、生成された画像データを一時的に記憶するための、高速アクセス可能な画像メモリであり、複数フレーム分の画像データを記憶可能な容量を有する。
【００３８】
本撮影時には、画像メモリ５６に一時記憶される画像データは、全体制御部１０１において適宜画像処理（圧縮処理等）が施された後、カードＩ／Ｆ１３２を介してメモリカード９０に記憶される。
【００３９】
また、画像メモリ５６に一時記憶される画像データは、全体制御部１０１によって適宜ＶＲＡＭ１３１に転送され、背面モニタ１２に画像データに基づく画像が表示される。これによって、撮影画像を確認するための確認表示（アフタービュー）、および撮影済みの画像を再生する再生表示等が実現される。
【００４０】
また、この撮像装置１は、撮像素子５とは別の撮像素子７（図４も参照）をさらに備えている。撮像素子７は、いわゆるライブビュー画像取得用（動画取得用）の撮像素子としての役割を果たす。撮像素子７も、撮像素子５と同様の構成を有している。ただし、撮像素子７は、ライブビュー用の画像信号（動画像）を生成するための解像度を有していればよく、通常、撮像素子５よりも少ない数の画素で構成される。
【００４１】
撮像素子７で取得された画像信号に対しても、撮像素子５で取得された画像信号と同様の信号処理が施される。すなわち、撮像素子７で取得された画像信号は、信号処理部５１で所定の処理が施され、Ａ／Ｄ変換回路５２でデジタルデータに変換された後、デジタル信号処理回路５０で所定の画像処理が施され、画像メモリ５６に格納される。
【００４２】
また、撮像素子７で取得され画像メモリ５６に格納される時系列の画像データは、全体制御部１０１によって適宜ＶＲＡＭ１３１に順次に転送され、当該時系列の画像データに基づく画像が背面モニタ１２に表示される。これによって、構図決めを行うための動画的態様の表示（ライブビュー表示）が実現される。
【００４３】
なお、特に、後述するように撮像素子５による撮影動作とともに撮像素子７の欠陥画素検出動作を行う場合には、処理の高速化を図るため、撮像素子５に関する画像処理と撮像素子７に関する画像処理とは並列的に処理されることが好ましい。そのため、ここでは、タイミング制御回路１２４、信号処理部５１、Ａ／Ｄ変換回路５２、およびデジタル信号処理回路５０等が、それぞれ、２系統の処理回路を有するものとし、両撮像素子５，７に関する画像処理が並列的に行われるものとする。ただし、これに限定されず、タイミング制御回路１２４、信号処理部５１、Ａ／Ｄ変換回路５２、およびデジタル信号処理回路５０等を、それぞれ、１系統のみ設けておき、撮像素子５に関する画像処理と撮像素子７に関する画像処理とを、この順序であるいは逆順に、順次に実行するようにしてもよい。
【００４４】
さらに、撮像装置１は、通信用Ｉ／Ｆ１３３を有しており、当該インターフェイス１３３の接続先の機器（例えば、パーソナルコンピュータ等）とデータ通信をすることが可能である。
【００４５】
また、撮像装置１は、フラッシュ４１、フラッシュ制御回路４２、およびＡＦ補助光発光部４３を備えている。フラッシュ４１は、被写体の輝度不足時等に利用される光源である。フラッシュの点灯の有無および点灯時間等は、フラッシュ制御回路４２および全体制御部１０１等によって制御される。ＡＦ補助光発光部４３は、ＡＦ用の補助光源である。ＡＦ補助光発光部４３の点灯の有無および点灯時間等は、全体制御部１０１等によって制御される。
【００４６】
＜１−３．撮影動作＞
＜概要＞
つぎに、この撮像装置１における構図決め動作を含む撮影動作について説明する。上述したように、この撮像装置１においては、ファインダ光学系等で構成される光学ファインダ（光学ビューファインダ（ＯＶＦ）とも称される）を用いて構図決め（フレーミング）を行うことが可能であるとともに、背面モニタ１２（後述）に表示されるライブビュー画像を用いて構図決めを行うことも可能である。なお、撮像素子７および背面モニタ１２を利用して実現されるファインダ機能は、被写体の光像を電子データに変換した後に可視化するものであることから電子ビューファインダ（ＥＶＦ）とも称される。
【００４７】
後述するように、操作者は切換ダイヤル８７を操作することによって、光学ビューファインダ（ＯＶＦ）を用いて構図決めを行うか、操作者が電子ビューファインダ（ＥＶＦ）を用いて構図決めを行うかを選択することができる。
【００４８】
図４および図５は、撮像装置１の断面図である。図４は、ＯＶＦを用いた構図決め動作を示しており、図５は、ＥＶＦを用いた構図決め動作を示している。また、図６は、露光動作時（詳細にはＯＶＦ時）の状態を示す断面図である。
【００４９】
図４等に示すように、撮影レンズユニット３から撮像素子５に至る光路（撮影光路）上にはミラー機構６が設けられている。ミラー機構６は、撮影光学系からの光を上方に向けて反射する主ミラー６１（主反射面）を有している。この主ミラー６１は、例えばその一部または全部がハーフミラーとして構成され、撮影光学系からの光の一部を透過する。また、ミラー機構６は、主ミラー６１を透過した光を下方に反射させるサブミラー６２（副反射面）をも有している。サブミラー６２で下方に反射された光は、ＡＦモジュール２０へと導かれて入射し、位相差方式のＡＦ動作に利用される。
【００５０】
撮影モードにおいてレリーズボタン１１が全押し状態Ｓ２にされるまで、換言すれば構図決めの際には、ミラー機構６はミラーダウン状態となるように配置される（図４および図５参照）。そして、この際には、撮影レンズユニット３からの被写体像は、主ミラー６１で上方に反射され観察用光束としてペンタミラー６５に入射する。ペンタミラー６５は、複数のミラー（反射面）を有しており、被写体像の向きを調整する機能を有している。また、ペンタミラー６５に入射した後の、観察用光束の進路は、上記の両方式（すなわちＯＶＦ方式およびＥＶＦ方式）のいずれを採用して構図決めを行うかに応じて異なっている。これについては後述する。操作者は、選択した所望の方式によって構図決めを行うことが可能である。
【００５１】
一方、レリーズボタン１１が全押し状態Ｓ２にされると、ミラー機構６はミラーアップ状態となるように駆動され、露光動作が開始される（図６参照）。被写体に係る記録用静止画像（本撮影画像とも称する）を取得する際の基本的動作（すなわち露光の際の動作）は、上記の両方式（すなわちＯＶＦ方式およびＥＶＦ方式）による構図決めに共通である。
【００５２】
具体的には、図６に示すように、露光時には、ミラー機構６は、撮影光路から待避する。詳細には、撮影光学系からの光（被写体像）を遮らないように主ミラー６１とサブミラー６２とが上方に待避し、撮影レンズユニット３からの光がシャッタ４の開放タイミングに合わせて撮像素子５に到達する。撮像素子５は、光電変換によって、受光した光束に基づいて被写体の画像信号を生成する。このように、被写体からの光が撮影レンズユニット３を介して撮像素子５に導かれることによって、被写体に係る撮影画像（撮影画像データ）が得られる。
【００５３】
なお、この実施形態においては、ＥＶＦ方式による構図決めを行う場合には、上述の記録用静止画像（本撮影画像）取得動作の際に、撮像素子７における欠陥画素の検出動作等が追加的に実行される。当該欠陥画素の検出動作等については後に詳述する。
【００５４】
＜光学ファインダによる構図決め動作（フレーミング動作）＞
次に、構図決めの際の上記両方式の各動作についてそれぞれ説明する。
【００５５】
まず、ＯＶＦ方式の構図決め動作について説明する。
【００５６】
図４に示すように、ミラー機構６の主ミラー６１およびサブミラー６２が、撮影レンズユニット３からの被写体像の光路上に配置されると、被写体像が主ミラー６１とペンタミラー６５と接眼レンズ６７とを介してファインダ窓１０へと導かれる。このように、主ミラー６１とペンタミラー６５と接眼レンズ６７とを含むファインダ光学系は、撮影光学系からの光束であって主ミラー６１で反射された光束である観察用光束をファインダ窓１０へと導くことが可能である。
【００５７】
詳細には、撮影レンズユニット３からの光は、主ミラー６１で反射されて上方に進路を変更し、焦点板６３において結像し、焦点板６３を通過する。その後、焦点板６３を通過した光は、ペンタミラー６５でその進路をさらに変更した後に接眼レンズ６７を通ってファインダ窓１０へ向かう（図４の光路ＰＡ参照）。このようにして、ファインダ窓１０を通過した被写体像は撮影者（観察者）の眼へ到達して視認される。すなわち、撮影者はファインダ窓１０を覗くことによって、被写体像を確認することができる。
【００５８】
ここにおいて、ペンタミラー６５は、三角屋根状に形成された２面のミラー（ダハミラー）６５ａ，６５ｂ（図７も参照）と、当該ダハミラー（ダハ面）６５ａ，６５ｂに対して固定された面６５ｃと、もう１つのミラー（反射面）６５ｅとを有している。また、三角屋根状の２面のミラー６５ａ，６５ｂは、プラスチック成型により一体部品６５ｄとして形成されている。主ミラー６１で反射されて上方に進路を変更した光は、ダハミラー６５ａ，６５ｂで反射されて左右反転されて進行し、さらにミラー６５ｅでも反射されることによって上下も反転されて撮影者の眼に到達する。このように、撮影レンズユニット３において左右上下が反転されていた光像は、ペンタミラー６５でさらに左右上下が反転される。これにより、撮影者は、光学ファインダにおいて、その上下左右が実際の被写体と同じ状態で被写体像を観察することができる。
【００５９】
なお、ここでは、ファインダ光学系の一部である光学ユニットＵ１が撮像装置１内部の上部空間ＳＵに設けられている。この光学ユニットＵ１は、接眼レンズ６７とファインダ窓１０とを有するととともに、駆動手段（不図示）によって開閉可能なアイピースシャッタ１６をさらに有している。ＯＶＦ方式の構図決め動作時においては、アイピースシャッタ１６は開放されており、ペンタミラー６５からの被写体像がファインダ窓１０を通過するように構成されている。
【００６０】
また、主ミラー６１を透過した光はサブミラー６２で反射されて下方に進路を変更しＡＦモジュール２０へと進入する。ＡＦモジュール２０およびフォーカス制御部１２１等は、主ミラー６１およびサブミラー６２を介して進入してきた光を用いて、ＡＦ動作を実現する。
【００６１】
＜電子ファインダによる構図決め動作（フレーミング動作）＞
次に、ＥＶＦ方式による構図決め動作について説明する。
【００６２】
この場合にも、図５に示すように、ミラー機構６の主ミラー６１およびサブミラー６２が、撮影レンズユニット３からの被写体像の光路上に配置される。そして、撮影レンズユニット３からの光は、主ミラー６１で反射されて上方に進路を変更し、焦点板６３において結像し、焦点板６３を通過する。
【００６３】
ただし、このＥＶＦ方式による構図決め動作においては、焦点板６３を通過した光は、ペンタミラー６５でその進路をさらに変更した後に、ビームスプリッタ７１でさらにその進路を変更して結像レンズ６９（結像光学系）を通過して撮像素子７の撮像面上で再結像する（図５の光路ＰＢ参照）。なお、主ミラー６１で反射されて上方に進路を変更した光は、ダハミラー６５ａ，６５ｂで反射されて左右反転されて進行し、さらにミラー６５ｅでも反射されることによって上下も反転され、さらに結像レンズ６９で上下左右反転されて撮像素子７に到達する。
【００６４】
より詳細には、図４と比較すると判るように、図５においてはミラー６５ｅの角度（カメラ本体部２に対する設置角度）が変更されている。具体的には、ミラー６５ｅは、図４の状態から、その下端側の軸ＡＸ１を中心に矢印ＡＲ１の向きに所定角度α回動している。なお、後述するように、ミラー６５ｅは、撮影者の操作に応じて回動する。
【００６５】
そして、このミラー６５ｅの角度変更によって、ミラー６５ｅで反射される光（観察用光束）の反射角度が変更され、当該ミラー６５ｅによる反射光の進行経路が変更される。具体的には、図４の状態に比べて、ミラー６５ｅへの入射角度θ１が比較的小さくなり、反射角度θ２も比較的小さくなる。その結果、ミラー６５ｅの反射光は、接眼レンズ６７に向かう光路からダハミラー６５ａ，６５ｂ寄りの光路へとその進路を上方に変更してビームスプリッタ７１に向かい、ビームスプリッタ７１でさらにその進路を変更して結像レンズ６９を通過して撮像素子７に到達する。なお、ビームスプリッタ７１、結像レンズ６９および撮像素子７は、接眼レンズ６７よりも上方に配置されており、且つ、ＯＶＦの際にミラー６５ｅから接眼レンズ６７へと進行する光束を遮らない位置に配置されている。
【００６６】
また、ミラー６５ｅで反射された光束の進路は、ミラー６５ｅの変更角度αに応じて、その２倍の大きさの角度β（＝２×α）変更される。逆に言えば、反射光路の進行角度を角度β変更するために、ミラー６５ｅの回転角度は、当該角度βの半分の角度αで済む。すなわち、ミラー６５ｅの比較的小さな回転角度でミラー６５ｅの反射光の進路を比較的大きく変更することが可能である。また、ミラー６５ｅと撮像素子７とは光学的に比較的離れて配置されているため、ミラー６５ｅの回転角度を小さく変更するだけで、ミラー６５ｅによる２つの反射光を、互いに離れて配置された接眼レンズ６７および撮像素子７へと確実に導くことが可能である。すなわち、ミラー６５ｅの回転角度を小さく変更することによってミラー６５ｅによる反射光の光束を良好に２つの光路に選択的に進行させることが可能である。したがって、ミラー６５ｅの回転によるスペースの増大は最小限に止められる。
【００６７】
撮像素子７は、ミラー６５ｅで反射され結像レンズ６９を通過して撮像素子７に到達した被写体像に基づいて、ライブビュー画像を生成する。具体的には、微小時間間隔（例えば、１／６０秒）で複数の画像を順次に生成する。そして、取得された時系列の画像は背面モニタ１２において順次に表示される。これによって、撮影者は、背面モニタ１２に表示される動画像（ライブビュー画像）を視認し、当該動画像を用いて構図決めを行うことが可能になる。
【００６８】
なお、ＥＶＦ方式の構図決め動作時においては、ファインダ窓１０からの光が上部空間ＳＵへと入射しないように、アイピースシャッタ１６が開じられてる。
【００６９】
また、この場合も、ＯＶＦによる構図決めの際（図４参照）と同様に、主ミラー６１とサブミラー６２とを介してＡＦモジュール２０に入射した光を用いてＡＦ動作が実現される。
【００７０】
以上のように、ミラー６５ｅで反射した後の観察用光束の進路（詳細には主進路）は、ミラー６５ｅの反射角度の変更によって、ミラー６５ｅから接眼レンズ６７およびファインダ窓１０に向かう光路ＰＡ（図４）と、ミラー６５ｅから結像レンズ６９および撮像素子７に向かう光路ＰＢ（図５）との間で切り換えられる。換言すれば、当該観察用光束の進路は、ミラー６５ｅの反射角度の変更によって、ミラー６５ｅで反射されてファインダ窓１０に向かう第１の光路ＰＡと、ミラー６５ｅで反射されて撮像素子７に向かう第２の光路ＰＢとの間で切り換えられる。
【００７１】
なお、撮像装置１によれば、上記の従来技術のように被写体像の光路に対して進退可能な可動反射ミラーをファインダ光学系の接眼レンズ６７の付近の光路内に設けることなく、ライブビュー表示を実現することが可能になる。換言すれば、撮像装置１によれば、コンパクトな構成でライブビュー表示を実現することができる。
【００７２】
また、撮像装置１においては、ペンタミラー６５を構成する複数のミラー６５ａ，６５ｂ，６５ｅのうち、或る反射面（ミラー６５ｅ）の反射角度が変更される一方で、他の反射面（ダハミラー６５ａ，６５ｂ）は固定されている。すなわち、複数の反射面のうち、一の反射面６５ｅのみを駆動することによって観察用光束の進路が変更されるので、駆動部分を少なくしコンパクトな構成にすることができる。
【００７３】
また、撮像装置１においては、ファインダ光学系のペンタミラー６５に含まれる複数の反射面のうち、ダハミラー６５ａ，６５ｂ以外の反射面であるミラー６５ｅの反射角度を変更して、観察用光束の進路を変更しているので、ダハミラー６５ａ，６５ｂを駆動する場合に比べて容易に観察用光束の進路を変更することができる。
【００７４】
＜両動作の切り換え機構＞
つぎに、ＯＶＦによる構図決め動作とＥＶＦによる構図決め動作との切り替え操作について説明する。
【００７５】
図７は、撮像装置１の上面図であり、図８は、ミラー６５ｅの駆動機構（角度変更機構）を示す概略図である。なお、図７においては、撮像装置１の一部を破断して内部の様子を示している。
【００７６】
図８に示すように、矩形状のミラー６５ｅは、その長手方向に略平行な軸を中心に回動可能となるように設けられている。具体的には、ミラー６５ｅの下端側においては、軸部材８８が、矩形状のミラー６５ｅの下辺に沿って設けられた貫通孔に貫通して、ミラー６５ｅに対して固定されている。この軸部材８８は、ミラー６５ｅが回動可能（揺動可能）となるようにその両端にて軸支されている。
【００７７】
また、この軸部材８８には、切換ダイヤル８７と回転子９２とが固定されている。
【００７８】
図７および図１に示すように、切換ダイヤル８７の一部は、撮像装置１のカメラ本体部２の外表面から突出しており、撮影者は、切換ダイヤル８７の当該突出部分を利用して切換ダイヤル８７を回転操作することが可能である。なお、塵埃等が切換ダイヤル８７部分から装置内部へと進入することを防止するため、切換ダイヤル８７を囲むように隔壁９６が設けられている。
【００７９】
図９は、切換ダイヤル８７付近の構成を示す図である。図９に示すように、切換ダイヤル８７の外周部には２つの切り欠き部Ｎａ，Ｎｂが設けられている。また、切換ダイヤル８７の外周部には弾性部材９１が設けられている。弾性部材９１の先端に設けられた突出部９１ａは、適度の弾性力を付与して切換ダイヤル８７の外周面に押し付けられており、切換ダイヤル８７の回転移動に伴って外周面に沿って相対移動することが可能である。また、弾性部材９１の突出部９１ａは、当該２つの切り欠き部Ｎａ，Ｎｂの一方に選択的に係合することによって切換ダイヤル８７の回転方向の位置を固定することができる。弾性部材９１の突出部９１ａが切り欠き部Ｎａに係合しているときには、ＯＶＦによる構図決め動作が行われる。また、弾性部材９１の突出部９１ａが切り欠き部Ｎｂに係合しているときには、ＥＶＦによる構図決め動作が行われる。
【００８０】
撮影者は、切換ダイヤル８７を操作して、ミラー６５ｅを矢印ＡＲ１の向きに回動させ弾性部材９１の突出部９１ａを切り欠き部Ｎｂに係合させることによって、ＥＶＦによる構図決め動作を行うことが可能になる。逆に、切換ダイヤル８７を操作して、ミラー６５ｅを矢印ＡＲ２の向きに回動させ弾性部材９１の突出部９１ａを切り欠き部Ｎａに係合させることによって、ＯＶＦによる構図決め動作を行うことが可能になる。
【００８１】
また、ミラー６５ｅの角度を検出するために、回転子９２および検出器９３が設けられている。図１０に示すように、ＯＶＦによる構図決め動作においては、検出器９３の２つの電気的接続子９４ａ，９４ｂが互いに接触して導通状態（オン状態）になっている。一方、図１１に示すように、ＥＶＦによる構図決め動作においては、軸部材８８の回動動作に伴って回転子９２の突出部９２ｂによって矢印ＡＲ３の向きの力が電気的接続子９４ｂに付与され、電気的接続子９４ｂが図１１の右向きに変形する。この結果、電気的接続子９４ｂが電気的接続子９４ａから離れ、電気的接続子９４ａ，９４ｂが非導通状態（オフ状態）になる。検出器９３は、この２つの状態（オン状態およびオフ状態）を検出することによって、ミラー６５ｅの角度を検出する。
【００８２】
全体制御部１０１は、検出器９３による検出状態に基づいて、ＯＶＦによる構図決め動作を行うべきか、ＥＶＦによる構図決め動作を行うべきかを決定する。具体的には、検出器９３のオン状態が検出されたときには、ＯＶＦによる構図決め動作を行うべき旨を決定して、撮像素子７への給電を停止し背面モニタ１２を非表示にする等の処理を行う。一方、検出器９３のオフ状態が検出されたときには、ＥＶＦによる構図決め動作を行うべき旨を決定して、撮像素子７への給電を行うとともに背面モニタ１２にライブビュー画像を表示する等の処理を行う。
【００８３】
＜測光処理＞
次に、ＥＶＦによる構図決め動作時の測光処理とＯＶＦによる構図決め動作時の測光処理とについてそれぞれ説明する。
【００８４】
図１２は、ペンタミラー６５付近の内部構成を示す拡大断面図である。図１２に示すように、光路ＰＡ上には接眼レンズ６７とファインダ窓１０とが設けられている。一方、光路ＰＢ上にはビームスプリッタ７１と結像レンズ６９と撮像素子７とが設けられている。
【００８５】
このビームスプリッタ７１は、光の進行方向（換言すれば光の進行路（光路））を変更する光路変更機能を有している。具体的には、ビームスプリッタ７１は、光路ＰＢ上に配置されており、光路ＰＢ上を進行してきた光（詳細には反射面６５ｅで反射された光）の進路を約９０度上方に変更する。当該ビームスプリッタ７１による進行方向変更後の光路ＰＢ（ＰＢ２）上には、結像レンズ６９と撮像素子７とが配置されており、ビームスプリッタ７１による進行方向変更後の光束は、結像レンズ６９を通過して撮像素子７上に結像する。
【００８６】
ＥＶＦによる構図決め動作時においては、反射面６５ｅが位置Ｐ１に配置され、観察用光束の進路が光路ＰＢとなる。このとき、光路ＰＢ上を進行しビームスプリッタ７１および結像レンズ６９を介して撮像素子７に結像した被写体像に基づいて、撮影画像が生成される。そして、当該撮影画像を用いてライブビュー表示が実行されるとともに、同じ撮影画像を用いて測光処理も実行される。例えば、撮像素子７による撮影画像を複数（例えば、８（横）×５（縦）＝４０個）の測光ブロックに分割して、各測光ブロックにおける受光量を算出する測光処理が実行される。また、この測光結果に基づいて、適切な明るさを実現する撮影パラメータ（絞り値、シャッタスピード等）を決定する処理（自動露光調整処理）が行われる。
【００８７】
一方、ＯＶＦによる構図決め動作時においては、反射面６５ｅが位置Ｐ２（図１２では破線で示される位置）に配置され、観察用光束の進路が光路ＰＡとなる。このとき、ファインダ窓１０を介して被写体像が視認されるとともに、光路ＰＡの近傍に配置された測光センサ７９を用いて測光処理が行われる。測光センサ７９は、光路ＰＡの近傍に配置されたビームスプリッタ７１を透過する光束を、結像レンズ７２を介して受光して、測光処理を行う。
【００８８】
測光センサ７９は、焦点板６３を睨んでおり、図１２の点線で示す光路ＰＥに従って進行した光、詳細には、光路ＰＡの近傍を進行し且つビームスプリッタ７１を透過した光を受光する。ここにおいて、ビームスプリッタ７１は、光路ＰＢ上であるとともに光路ＰＥ上でもある位置に存在するが、光路ＰＥ上を進行する光束はビームスプリッタ７１を通過して測光センサ７９へと到達する。測光センサ７９は、光路ＰＥを進行する光束を受光することによって、光路ＰＡを進行する観察用光束の被写体像と同様の被写体像（換言すれば撮影対象となる被写体像と同様の光像）、具体的には、ファインダ窓１０を介して受光される被写体像に関する被写体を若干異なる角度から（若干斜めから）見た光像を受光する。
【００８９】
そして、測光センサ７９での受光量に基づく測光処理が適切に実現される。例えば、測光センサ７９内の複数（例えば４０個）の測光単位のそれぞれにおける受光量を算出する測光処理が実行される。また、この測光結果に基づいて、適切な明るさを実現する撮影パラメータ（絞り値、シャッタスピード等）を決定する処理（自動露光調整処理）が行われる。
【００９０】
なお、ＯＶＦによる構図位置決め動作時においては、観察用光束の進路が光路ＰＡとなるため、撮像素子７には適切な被写体像が結像されない。したがって、上記のような測光センサ７９を設けない場合には、ＯＶＦによる構図位置決め動作時に適切な測光処理を実現することが困難である。
【００９１】
＜撮像素子７における欠陥画素検出動作等＞
この撮像装置１においては、以上のようにして撮影動作が行われる。
【００９２】
ところで、上述したように、撮像素子７において宇宙線等の影響による後天的な欠陥画素が発生し得る。そして、このような欠陥画素に基づく画像をそのまま表示するとライブビュー画像の劣化等が発生してしまう。
【００９３】
そこで、この実施形態においては、撮像素子７の欠陥画素を適切に検出し、撮像素子７によって取得される画像の劣化を抑制する技術についてさらに説明する。
【００９４】
具体的には、ＥＶＦモードにおいて、操作者によってレリーズボタン１１が押下され撮影指示入力が受けつけられると、撮像装置１は、当該撮影指示入力に応答して、さらに主ミラー６１をミラーアップ位置（焦点板６３の対向位置とも称される）ＰＳ１（図１３参照）に移動する。主ミラー６１のミラーアップ位置への移動によって、撮像装置１の内部空間のうち上部空間ＳＵが遮光状態になると、撮像装置１は、上部空間ＳＵに設けられた撮像素子７の当該遮光状態における露光画像を取得し、当該露光画像を利用して撮像素子７の欠陥画素を検出する。
【００９５】
図１３は、ＥＶＦモードにおける撮影時（撮像素子５による露光動作時）の撮像装置１の内部構成を示す図である。上述の図５に示すように、この実施形態では、ＥＶＦ方式による構図決め動作（レリーズボタン１１押下前）において既にアイピースシャッタ１６が閉じられており、ファインダ窓１０から空間ＳＵへの光の入射は遮られている。そのため、さらに主ミラー６１をミラーアップ位置に移動することによって焦点板６３を主ミラー６１によって覆うことによれば、上部空間ＳＵの遮光状態を容易に達成することが可能である。すなわち、アイピースシャッタ１６を撮影指示入力に応じて閉じる動作を伴うことを要しない。
【００９６】
また、図１４および図１５は、焦点板６３付近の様子を示す一部拡大図である。図１４はミラーダウン状態を示し、図１５はミラーアップ状態を示している。また、図１６は、焦点板６３およびホルダ６４等の分解斜視図である。なお、図１４〜図１６においては、簡略化のため、隔壁６６およびサブミラー６２等の図示を省略している。
【００９７】
ここにおいて、撮像装置１の内部空間は、高さ方向において焦点板６３の位置と同様の位置に設けられた隔壁６６（図４および図１３等参照）によって、上側空間ＳＵと下側空間ＳＬとに隔てられている。そのうち、上部空間ＳＵは、カメラボディ２（隔壁６６等を含む）に覆われた閉空間として形成されており、焦点面６３とファインダ窓１０とを除く部分においては、上部空間ＳＵの外部からその内部へと光が入射しないように構成されている。また、下部空間ＳＬには、主ミラー６１および撮像素子５などが設けられている。
【００９８】
図１３等に示すように、この実施形態においては、焦点板６３を保持するホルダ（保持部材）６４が撮像装置１の本体内部の隔壁６６に対して固定されている。換言すれば、焦点板６３は、ホルダ６４を介して撮像装置１の本体に固定されて保持されている。
【００９９】
図１６等に示すように、ホルダ６４は、その中央に開口部６４ａを有し、当該開口部６４ａを包囲する四辺に枠部６４ｂを有している。
【０１００】
枠部６４ｂの上面側（換言すれば、ペンタミラー６５側）には、焦点板６３の大きさ（幅、高さ、奥行き）に合わせて段差部が設けられており、当該段差部に焦点板６３が嵌め込まれて保持されている。これにより、焦点板６３は、ホルダ６４の開口部６４ａに固定されて配置されている。
【０１０１】
また、枠部６４ｂの下面側（換言すれば、主ミラー６１側）には、略半円柱形状の緩衝材６４ｃが主ミラー６１側に突出するように設けられている。詳細には、緩衝材６４ｃは、焦点板６３を包囲する位置に、当該枠部６４ｂの全周にわたって設けられている。この緩衝材６４ｃは、例えば、ゴムなどの弾性材料、あるいは、不織布などで形成される。
【０１０２】
図１５に示すように、焦点板６３に近接する対向位置（ミラーアップ位置）ＰＳ１へと主ミラー６１が移動する際、すなわち、ミラーアップ動作時（上昇動作時）においては、主ミラー６１が停止位置直前から緩衝材６４ｃに接触した後に停止する。これによって、焦点板６３およびホルダ６４等が主ミラー６１から受ける衝撃が緩和される。
【０１０３】
また、緩衝材６４ｃは、遮光性を有している。そして、図１５に示すように、主ミラー６１がミラーアップ位置ＰＳ１に移動した状態（換言すれば、主ミラー６１が焦点板６３に対して微小な距離を隔てて近接した状態（図１３も参照））においては、緩衝材６４ｃは、主ミラー６１と接触している。このとき、緩衝材６４ｃは、焦点板６３と主ミラー６１との間隙を埋めて、主ミラー６１側からの光が上部空間ＳＵに入射しないように、当該主ミラー６１側からの光を遮っている。このように緩衝材６４ｃを遮光部材として機能させることによって、主ミラー６１のミラーアップ位置への移動後において、上部空間ＳＵの遮光状態を高いレベルで実現することができる。
【０１０４】
このように、遮光性の緩衝材６４ｃを焦点板６３付近に設けることによって、ミラーアップ動作時において主ミラー６１が他部材に与える衝撃を緩和するとともに、ミラーアップ状態での上部空間ＳＵにおける遮光の程度を高めることが可能である。
【０１０５】
図１７は、この第１実施形態に係る撮像装置１の概略動作を示すフローチャートである。以下では、図１７を参照しながら、撮影モードにおける撮像装置１の概略動作について説明する。
【０１０６】
図１７に示すように、電源がオン状態にされると、各種操作部材に関する操作の有無を感知するキーセンシングが実行される（ステップＳＰ１）。そして、当該キーセンシングによってレリーズボタン１１が全押し状態Ｓ２にまで押下されたことが検出されると、操作者からの撮影指示入力が受信されたものとして、ステップＳＰ２からステップＳＰ３に進む。なお、ステップＳＰ３以降においては、ステップＳ２０の撮影動作が完了するまで、背面モニタ１２におけるＥＶＦ表示は中断される。
【０１０７】
ステップＳＰ３においては、主ミラー６１をミラーアップ位置ＰＳ１に移動してミラーアップ状態にする。そして、ＥＶＦモードであることが確認される場合には、このミラーアップ状態において、ステップＳＰ１０の動作とステップＳＰ２０の動作とがさらに実行される。一方、ＥＶＦモードでない場合（すなわちＯＶＦモードである場合）には、ステップＳＰ１０の動作は実行されず、ステップＳＰ２０の動作が実行される。なお、この実施形態においては、高速化を図るため、ステップＳＰ１０の動作とステップＳＰ２０の動作とを並列的に実行するものとする。ただし、これに限定されず、ステップＳＰ１０の動作とステップＳＰ２０の動作とを順次に実行するようにしてもよい。
【０１０８】
ステップＳＰ１０においては、撮像素子７に関する露光動作および画像信号読み出し動作（ステップＳＰ１１）と、撮像素子７の欠陥画素検出動作（ステップＳＰ１２）と、補正データの生成動作および保存動作（ステップＳＰ１３）とが実行される。
【０１０９】
詳細には、ステップＳＰ１１において、まず、撮像素子７の電子シャッタを用いて適宜の露光時間が設定され、撮像素子７における露光動作が実現される。そして、当該露光動作において蓄積された電荷を読み出すことによって、撮像素子７の各画素ＰＥ（ｘ，ｙ）の画素値（階調値）Ｄ（ｘ，ｙ）が読み出される。
【０１１０】
次のステップＳＰ１２においては、各画素の画像値Ｄ（ｘ，ｙ）が、それぞれ、白キズ判定用の閾値ＴＨ１以上であるか否かが判定される。
【０１１１】
ミラーアップ状態においては、撮像素子７が配置された空間ＳＵは遮光状態になっているため、各画素の画像値Ｄ（ｘ，ｙ）は、本来的には、非常に小さな値（理想的にはゼロ）になる。しかしながら、撮像素子７内の複数の画素の中には、異常な画素値（比較的大きな画素値）を有する欠陥画素が存在することがある。このような欠陥画素は、いわゆる「白キズ」と呼ばれるものである。そこで、ここでは、適宜の閾値ＴＨ１を用いることによって、各画素が「白キズ」であるか否か、を判定する。詳細には、或る画素の画素値Ｄ（ｘ，ｙ）が閾値ＴＨ１以上である場合に当該画素を欠陥画素と判定し、当該画素の画素値Ｄ（ｘ，ｙ）が閾値ＴＨ１未満である場合に当該画素を正常画素と判定する。
【０１１２】
ステップＳＰ１３においては、ステップＳＰ１２で検出された欠陥画素の画素値を補正するための補正データが生成されて保存される。例えば、当該欠陥画素に隣接する同色画素の画素値の平均値Ｄaveが補正データとして算出され、当該平均値と当該欠陥画素の位置情報（アドレス情報）とが関連づけられて、撮像装置１の所定のメモリ（不揮発性メモリ（不図示）等）内の格納領域に保存される。また、当該補正データは、既にメモリ内に格納されている補正データを含む全補正データに対して追加されて当該メモリ内に保存される。データの読み出し効率を向上させるため、全補正データは、読み出しアドレス順にソートされた状態で格納されることが好ましい。
【０１１３】
また、ステップＳＰ２０においては、撮像素子５による静止画像記録動作が実行される。
【０１１４】
詳細には、まず、ステップＳＰ２１において、シャッタ（メカニカルシャッタ）４を駆動して、撮像素子５を所定の露光期間にわたって露光し、当該露光により生じた電荷を読み出す。
【０１１５】
その後、ステップＳＰ２２において、主ミラー６１がミラーダウン位置ＰＳ２（図１４参照）にまで下降して、ミラーダウン状態に戻される。なお、ステップＳＰ２２における主ミラー６１の下降動作は、ステップＳＰ１１における撮像素子７の各画素の読み出し動作が完了した後に実行されるように制御される。
【０１１６】
また、ステップＳＰ２３において、ステップＳＰ２１で取得された静止画像に関する画像処理が施され、撮像素子５による撮影画像が生成される。
【０１１７】
以上のようにして、撮像素子５による撮影画像の取得動作とともに、撮像素子７における欠陥画素の補正データの生成動作が実行される。
【０１１８】
ステップＳＰ２０の動作の終了後において、上記のステップＳＰ３以降において中断されていたＥＶＦ表示が再開される。そして、この再開後のＥＶＦ表示を行う際に、ステップＳＰ１３で保存された補正データを用いた欠陥画素の補正動作が実行される。
【０１１９】
具体的には、ステップＳＰ１３で保存された位置情報に対応する画素の画素値として、撮像素子７から読み出された値に代えて上記の補正データを採用することによって、当該画素の画素値を補正する。詳細には、読み出し対象画素の位置情報（アドレス情報）が、ステップＳＰ１３で保存された欠陥画素の位置情報（アドレス情報）に一致する場合には、ステップＳＰ１３で保存された補正データ（例えば、Ｄave）が補正後の画素値として採用される。これによって、撮像素子７による撮影画像の「白キズ」を解消することができる。
【０１２０】
以上のように、この第１実施形態における撮像装置１によれば、主ミラー６１をミラーアップ位置ＰＳ１に移動して撮像素子７を含む空間ＳＵを遮光状態にし、当該遮光状態を利用して撮像素子７の欠陥画素が検出される。したがって、撮像素子７の欠陥画素が適切に検出され、撮像素子７によって取得される画像の劣化を抑制することが可能になる。
【０１２１】
また、特に操作者からの撮影指示入力に応答して、主ミラー６１をミラーアップ状態にして空間ＳＵを遮光状態にするとともに、撮像素子７の欠陥画素を検出している。すなわち、撮影動作時において撮像素子７の欠陥画素が自動的に検出されている。したがって、ユーザが特別の操作を行うことなく撮像素子７の欠陥画素検出等を行うことが可能である。
【０１２２】
なお、ミラーアップ期間においては、撮像素子７には被写体像が到達しないため、ライブビュー表示を実現することができない。そのため、消費電力低減の観点からは、背面モニタ１２の表示を停止するとともに、撮像素子７への通電を停止することが好ましい。これに対して、この実施形態においては、撮像素子７への通電状態を意図的に維持して、上記のステップＳＰ１０（特にステップＳＰ１１）の動作を行っている。
【０１２３】
＜２．第２実施形態＞
この第２実施形態は、第１実施形態の変形例である。以下では、第１実施形態との相違点を中心に説明する。
【０１２４】
上記第１実施形態においては、ＥＶＦモードにおいて撮影指示入力を受け付けたときに欠陥画素検出動作等を行う場合を例示した。この第２実施形態に係る撮像装置１（１Ｂ）においては、ＥＶＦモードだけでなくＯＶＦモードにおいても、欠陥画素検出動作等を行う場合を例示する。
【０１２５】
図１８は、第２実施形態に係る概略動作を示すフローチャートである。図１８に示すように、第２実施形態においては、ＯＶＦモードでもステップＳＰ１０の動作が実行される。
【０１２６】
具体的には、ステップＳＰ４でＯＶＦモードでＯＶＦモードであると判定されると、ステップＳＰ５に進む。ステップＳＰ５では、図１９に示すようにアイピースシャッタ１６を閉じるとともに、撮像素子７に対する電力供給を開始する。これにより、ＯＶＦモードにおいて節電のため非通電状態にされていた撮像素子７が通電状態になる。なお、図１９は、ＯＶＦモードにおいて操作者による撮影指示が入力された後に、アイピースシャッタ１６が閉じられた状態を示している。
【０１２７】
その後、ステップＳＰ１０の動作およびステップＳＰ２０の動作が実行される。そして、ステップＳＰ８において、ＯＶＦモードである旨が判定されるとステップＳＰ９に進み、アイピースシャッタ１６を再び開放状態にするとともに、消費電力低減のため撮像素子７に対する電力供給を再び停止する。
【０１２８】
なお、ＥＶＦモードにおいては、上述の第１実施形態と同様の動作が実行される。
【０１２９】
図１８に示すような動作によれば、ＯＶＦモードにおいても、アイピースシャッタ１６を閉じるとともに主ミラー６１をミラーアップ位置ＰＳ１に移動することによって、上部空間ＳＵに関する遮光状態を形成して、撮像素子７の欠陥画素検出動作を実行することが可能になる。
【０１３０】
＜３．第３実施形態＞
第3実施形態は、第１実施形態の変形例である。以下では、第１実施形態との相違点を中心に説明する。
【０１３１】
第３実施形態では、（撮影モードではなく）クリーニングモードにおいて、欠陥画素検出動作等を実行する場合を例示する。このクリーニングモードにおいては、メインイメージセンサである撮像素子５、および当該撮像素子５を含む下部空間ＳＬを清掃する作業が操作者によって実行される。この第３実施形態においては、当該清掃作業時において、撮像素子７に関する画素検出動作が実行される。なお、下部空間ＳＬは、撮像装置１の内部空間のうち、焦点板６３および隔壁６６よりも下側の空間であり、上部空間ＳＵの外部の空間であるとも表現される。
【０１３２】
図２０は、この第３実施形態に係る概略動作を示すフローチャートである。図２０においては、ステップＳＰ５１の処理の前において、予め操作者の操作によってクリーニングモードに切り替えられているものとする。
【０１３３】
図２０に示すように、各種操作部材に関する操作の有無を感知するキーセンシングが実行される（ステップＳＰ５１）。そして、当該キーセンシングによってレリーズボタン１１が全押し状態Ｓ２にまで押下されたことが検出されると、操作者からのミラーアップ指示入力が受信されたものとして、ステップＳＰ５２からステップＳＰ５３に進む。なお、ステップＳＰ５１，ＳＰ５２で検出されるレリーズボタン１１の押下指示（ミラーアップ指示入力）は、清掃作業開始の指示入力であるとも表現される。
【０１３４】
そして、主ミラー６１のミラーアップ動作（ステップＳＰ５３）が実行されるとともにメカニカルシャッタ４が開放状態になる（ステップＳＰ５５）。この状態において、操作者は、クリーニング作業を実行することが可能である。また、ステップＳＰ５４においては、アイピースシャッタ１６が閉じられるとともに撮像素子７が通電状態にされる。これによって、クリーニング作業時において、サブイメージセンサである撮像素子７に関する欠陥画素検出動作等を実行することが可能になる。その後、撮像素子７の欠陥画素検出動作等（ステップＳＰ１０）が実行される。なお、このクリーニング作業中においては、メインイメージセンサである撮像素子５に対する電力供給は停止されており、当該撮像素子５は非通電状態である。
【０１３５】
さらにその後、キーセンシングが行われ、操作者の操作によってレリーズボタン１１が再度、全押し状態Ｓ２にまで押下されたことが検出される（ステップＳＰ６１，ＳＰ６２）と、クリーニング作業が終了したものとしてステップＳＰ６３以降の処理が実行される。具体的には、主ミラー６１のミラーダウン動作が実行されるとともにメカニカルシャッタ４が閉じた状態になる（ステップＳＰ６４，ＳＰ６５）。また、ステップＳＰ６５において、アイピースシャッタ１６を再び開放状態にするとともに、消費電力低減のため撮像素子７に対する電力供給を再び停止する。なお、ステップＳＰ６１，ＳＰ６２で検出される２回目のレリーズボタン１１の押下指示（ミラーダウン指示入力）は、清掃作業終了の指示入力であるとも表現される。
【０１３６】
以上のように、クリーニングモードにおける空間ＳＵの遮光状態を利用することによって、当該空間ＳＵ内に配置された撮像素子７の欠陥画素検出等を実行することが可能である。
【０１３７】
また特に、一般的なクリーニングモードにおいては撮像素子７への通電が停止されるのに対して、この実施形態に係るクリーニングモードにおいては撮像素子７を意図的に通電状態にすることによって、撮像素子７の欠陥画素検出動作等（ステップＳＰ１０）を実行することが可能になっている。
【０１３８】
＜４．変形例＞
以上、この発明の実施の形態について説明したが、この発明は上記説明した内容のものに限定されるものではない。
【０１３９】
例えば、上記各実施形態においては、ミラーアップ位置において主ミラー６１が焦点板６３に近接する場合を例示したが、これに限定されず、ミラーアップ位置において主ミラー６１が焦点板６３に接触するようにしてもよい。
【０１４０】
また、上記第１および第２実施形態においては、撮影指示入力が発生するたびに常に欠陥画素検出動作等を行う場合を例示しているが、これに限定されない。
【０１４１】
例えば、撮像装置１の電源再投入後における最初の撮影指示入力に応答する際に欠陥画素検出動作等を行うようにしてもよい。これによれば、欠陥画素検出の頻度を抑制することができる。
【０１４２】
また、上記第１および第２実施形態においては、撮影指示入力に応答して欠陥画素検出動作等を行う場合を例示したが、これに限定されない。例えば、所定期間の経過を検出するごとに（端的に言えば定期的に）欠陥画素検出動作等を行うようにしてもよい。より詳細には、前回の欠陥画素検出動作実行時点から所定期間（例えば１ヶ月）が経過した後の最初の電源投入時に、欠陥画素検出動作等を強制的に実行するようにしてもよい。
【０１４３】
また、上記各実施形態においては、主ミラー６１をミラーアップ状態にするとともにアイピースシャッタ１６を閉じることによって、撮像素子７の存在空間ＳＵを遮光状態にする場合を例示したが、これに限定されない。
【０１４４】
たとえば、撮像装置１がアイピースシャッタ１６を自動的に閉じる代わりに、操作者がアイピースカバー１７を図２１に示すように撮像装置１に装着するようにしてもよい。アイピースカバー１７がファインダ窓１０を覆うように配置された状態において、主ミラー６１がミラーアップ位置ＰＳ１に移動することによって、上部空間ＳＵの遮光状態を形成することができる。なお、図２１は、ストラップベルト１８に付属するタイプのアイピースカバー１７が、撮像装置１の背面側においてファインダ窓１０を覆うように装着されている状態を示す図である。
【０１４５】
より詳細には、例えば、クリーニングモードにおいて、アイピースカバー１７を装着すべき旨を背面モニタ１２などの表示部に表示して、操作者によるアイピースカバー１７の装着を促すようにすればよい。そして、操作者によってアイピースカバー１７が装着された後に清掃開始指示が入力されると、撮像装置１は主ミラー６１を跳ね上げてミラーアップ状態にして、上述のような欠陥画素検出動作等を行うことができる。
【０１４６】
或いは、このようなアイピースカバー１７に代えて操作者の手（もしくは操作者の顔の眼部付近）などでファインダ窓１０を覆うことによって、空間ＳＵの遮光状態を実現するようにしてもよい。
【０１４７】
なお、空間ＳＵの「遮光状態」は、完全な遮光状態であることを要しない。空間ＳＵの「遮光状態」は、白キズ検出が可能となるような遮光状態であれば十分である。例えば、当該空間ＳＵの明るさが、適宜に設定された所定のレベル以下、となるような遮光状態であれば十分である。
【０１４８】
また、これらの場合において、主ミラー６１がミラーアップ位置に移動するだけでは、実際には空間ＳＵの遮光状態が実現されていない状況も想定される。そのため、次のようにして空間ＳＵの遮光状態が実現されていることを確認することが好ましい。
【０１４９】
例えば、撮像素子７の全画素の平均値を求めるとともに、当該全画素の平均値が当該所定の閾値ＴＨ２以下である場合に、空間ＳＵの遮光状態が実現されていると判定すればよい。これによれば、撮像素子７における全体的な明るさを検出して、空間ＳＵの遮光状態が実現されているか否かを判定することができる。したがって、撮像素子７の欠陥画素検出動作を遮光状態にて実行することを確実化することができる。
【０１５０】
あるいは、測光センサ７９の測光結果に基づいて、空間ＳＵの明るさが所定レベル以下であることを確認することによって、空間ＳＵが遮光状態であることを確認するようにしてもよい。
【０１５１】
また、状況によっては、ファインダ窓１０が何らかの物体等で覆われなくても、主ミラー６１がミラーアップ位置に移動することによって、空間ＳＵの遮光状態が形成されることもあり得る。たとえば、夜景撮影において撮像装置１の近辺が暗く被写体のみが明るい場合には、撮影レンズユニット３で集光された光が空間ＳＵに入射しないように、主ミラー６１をミラーアップ位置に移動することのみによって、空間ＳＵの遮光状態が形成されることもある。
【０１５２】
このような事情を考慮すると、撮像装置１（例えば撮像装置１の外表面側）に照度計を配置しておき、当該照度計の測定結果に応じて欠陥画素の検出動作を行うようにしてもよい。より具体的には、照度計で測定された環境光の強度が所定レベル以下であると判定されるときに、主ミラー６１をミラーアップ位置に移動し、欠陥画素の検出動作を行うようにすればよい。撮像装置１の近辺が暗い状態で主ミラー６１をミラーアップ位置に移動すれば、空間ＳＵの遮光状態がより確実に実現され得る。したがって、好適な条件下で欠陥画素検出動作を実行することを確実化できる。あるいは、上記と同様に、撮像素子７あるいは測光センサ７９の測光結果に基づき、空間ＳＵの明るさが所定レベル以下であること、すなわち空間ＳＵが遮光状態であることを確認して、欠陥画素の検出動作を行うようにしてもよい。
【０１５３】
また、上記各実施形態においては、ホルダ（保持部材）６４が隔壁６６とは独立して設けられる場合を例示したが、これに限定されない。例えば、隔壁６６の一部が焦点板６３を保持する保持部材として機能するものであってもよい。
【０１５４】
また、上記各実施形態においては、緩衝材６４ｃがホルダ６４に配置される場合を例示したが、これに限定されない。例えば、緩衝材６４ｃがホルダ６４ではなく焦点板６３に配置されるものであってもよい。図２２は、このような変形例を示す図である。図２２においては、緩衝材６４ｃが焦点板６３の主反射面側に直接配置されている。詳細には、緩衝材６４ｃは、焦点板６３の主反射面側において、焦点板６３の中央の透光部６３ａを囲むように、焦点板６３の周辺部に設けられている。
【０１５５】
また、上記各実施形態においては、撮影者の物理的な操作力を利用して（いわば手動で）ミラー６５ｅの角度を変更する場合を例示しているが、これに限定されない。例えば、モータ等の駆動装置を利用してミラー６５ｅ等の角度を変更するようにしてもよい。
【０１５６】
また、上記各実施形態においては、ミラー６５ｅの反射角度を変更し観察用光束の進路を変更することなどによって、ＥＶＦ表示を実現する場合を例示したが、これに限定されない。例えば、上述の従来技術のように、被写体像の光路に対して進退可能な可動反射ミラーをファインダ光学系の接眼レンズ６７の付近の光路内に設けることによって、ライブビュー表示を実現する撮像装置において、本発明の思想を適用してもよい。
【０１５７】
あるいは、上記とは別の手法によってＥＶＦ表示を実現する装置に対して本発明の思想を適用するようにしてもよい。例えば、ペンタミラー６５とファインダ窓１０との間にビームスプリッタを設け、当該ビームスプリッタにより、観察用光束を、ライブビュー用の撮像素子７側へ向かう成分とファインダ窓１０側へ向かう成分とに分割することによってＥＶＦ表示を実現する撮像装置を構成することもできる。そして、このような撮像装置において上記の思想を適用して、遮光状態で撮像素子７の欠陥画素検出等を行うようにしてもよい。
【０１５８】
また、上記各実施形態においては、本発明の思想をデジタルカメラに適用する場合について例示したが、これに限定されず、本発明の思想をフィルム式のカメラに適用することも可能である。具体的には、撮像素子５を設けることなく、撮像素子５の撮像面の位置にフィルムの撮像面を配置すればよい。
【図面の簡単な説明】
【０１５９】
【図１】撮像装置の正面外観図である。
【図２】撮像装置の背面外観図である。
【図３】撮像装置の機能構成を示すブロック図である。
【図４】撮像装置の断面図（ＯＶＦ方式の構図決め動作時）である。
【図５】撮像装置の断面図（ＥＶＦ方式の構図決め動作時）である。
【図６】撮像装置の断面図（ＯＶＦ方式の構図決め動作後の露光動作時）である。
【図７】撮像装置の上面図である。
【図８】ミラーの駆動機構（角度変更機構）を示す概略図である。
【図９】切換ダイヤル付近の構成を示す図である。
【図１０】ＯＶＦ方式の構図決め動作における検出状態を示す図である。
【図１１】ＥＶＦ方式の構図決め動作における検出状態を示す図である。
【図１２】ペンタミラー付近の一部拡大図である。
【図１３】撮像装置の断面図（ＥＶＦ方式の構図決め動作後の露光動作時）である。
【図１４】焦点板付近の様子（ミラーダウン状態）を示す一部拡大図である。
【図１５】焦点板付近の様子（ミラーアップ状態）を示す一部拡大図である。
【図１６】ホルダ等の分解斜視図である。
【図１７】第１実施形態に係る撮像装置の概略動作を示すフローチャートである。
【図１８】第２実施形態に係る撮像装置の概略動作を示すフローチャートである。
【図１９】第２実施形態に係る撮像装置の断面図（ＯＶＦ方式の構図決め動作後の露光動作時）である。
【図２０】第３実施形態に係る撮像装置の概略動作を示すフローチャートである。
【図２１】アイピースカバーが装着された撮像装置を示す外観背面図である。
【図２２】変形例に係る撮像装置の断面図である。
【符号の説明】
【０１６０】
１，１Ａ，１Ｂ  撮像装置
４  メカニカルシャッタ
５，７  撮像素子
１０  ファインダ窓
１１  レリーズボタン
１２  背面モニタ
１６  アイピースシャッタ
１７  アイピースカバー
６１  主ミラー
６２  サブミラー
６３  焦点板
６４  ホルダ
６４ａ  開口部
６４ｂ  枠部
６４ｃ  緩衝材
６５  ペンタミラー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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