(57)【要約】【課題】複数の回路ブロックを有する電子機器内で、回路ブロック間の信号伝達を制御するクロック信号の位相調整を行う位相調整装置を提供する。【解決手段】電子回路カード１３０、１４０は、可変遅延素子１３４、１４４を経由して次段の電子回路カード１５０に、遅延クロック信号ＤＣＬＫ１、ＤＣＬＫ１０を供給する。可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間を段階的に変えながら、試験データパターンを電子回路カード１３０、１４０から次段の電子回路カード１５０に送信し、次段の電子回路カード１５０からループリターンパスを経由して返信された試験データパターンの正否を判定する。正しい試験データパターンが得られた遅延時間の上限及び下限の中間値を、可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間に設定する。【選択図】図１
2008294808.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
クロック信号で作動すると共に、可変遅延回路によって前記クロック信号を遅延した遅延クロック信号を供給する第１の回路ブロックと、該第１の回路ブロックから供給される遅延クロック信号に応答して、前記第１の回路ブロックとの間でデータ信号を送受信する第２の回路ブロックとを備える電子機器のためのクロック位相調整装置であって、
前記可変遅延回路の遅延時間を、複数のテスト段階毎に異なる値に設定する遅延時間設定手段と、
前記複数のテスト段階毎に、前記第１の回路ブロックから所定の試験データを前記第２の回路ブロックに送信する試験データ送信手段と、
前記第２の回路ブロックが前記遅延クロック信号に応答して受信した前記所定の試験データに基づいて返信した返信データが前記第１の回路ブロックで正常に受信されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって前記第１の回路ブロックが正常に返信データを受信したと判定されたテスト段階で設定された遅延時間に基づいて、前記可変遅延回路の遅延時間を選定する選定手段と、を備えることを特徴とするクロック位相調整装置。
【請求項２】
前記テスト段階では、前記第２の回路ブロックが、受信した試験データをそのまま返信するループバックパスを形成する、請求項１に記載のクロック位相調整装置。
【請求項３】
前記判定手段は、前記第１の回路ブロックと前記第２の回路ブロックとの間に配設される複数の信号経路について前記判定を行う、請求項１又は２に記載のクロック位相調整装置。
【請求項４】
前記選定手段は、前記判定手段で正常に返信データを受信したと判定されたテスト段階で設定された遅延時間の上限と下限の中間値を、前記可変遅延回路の遅延時間に選定する、請求項１〜３の何れか一に記載のクロック位相調整装置。
【請求項５】
請求項１〜４の何れか一に記載のクロック位相調整装置を備える電子機器であって、前記第１及び第２の回路ブロックの少なくとも一方が、少なくとも１つの電子回路カードで構成されることを特徴とする電子機器。
【請求項６】
交換機内装置として構成される、請求項５に記載の電子機器。
【請求項７】
新たな電子回路カードが検出されると、前記クロック位相調整装置を作動させて位相調整を行う、請求項５又は６に記載の電子機器。
【請求項８】
クロック信号で作動すると共に、可変遅延回路によって前記クロック信号を遅延した遅延クロック信号を供給する第１の回路ブロックと、該第１の回路ブロックから供給される遅延クロック信号に応答して、前記第１の回路ブロックとの間でデータ信号を送受信する第２の回路ブロックとを備える電子機器のためのクロック位相調整方法であって、
前記可変遅延回路の遅延時間を、複数のテスト段階毎に異なる値に設定するステップと、
前記複数のテスト段階毎に、前記第１の回路ブロックから所定の試験データを前記第２の回路ブロックに送信するステップと、
前記第２の回路ブロックが前記遅延クロック信号に応答して受信した前記所定の試験データに基づいて返信した返信データが前記第１の回路ブロックで正常に受信されたか否かを判定するステップと、
前記判定ステップによって前記第１の回路ブロックが正常に返信データを受信したと判定されたテスト段階で設定された遅延時間に基づいて、前記可変遅延回路の遅延時間を選定するステップと、を有することを特徴とするクロック位相調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器、クロック位相調整装置及び方法に関し、更に詳しくは、複数の回路ブロックを備え、その回路ブロック間でクロック信号に同期してデータの送受信を行う電子機器、並びに、そのクロック信号の位相を調整する位相調整装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来は、交換機内装置に搭載される電子回路カードでは、インターフェースが規格化されておらず、各交換機で独自のインターフェースを持っていた。このため、電子回路カードの端子数の制限等により、電子回路カード間で送受信されるデータ信号とクロック信号の対応は、理想的な１：１の対応関係になかった。複数のデータ信号に対して１つのクロック信号を対応させると、電子回路カードが搭載される装置の種類や搭載位置に応じて、データ信号に対するクロック信号の位相関係が異なる。このため、従来の交換機内装置に搭載される電子回路カードでは、搭載される装置の種類や搭載位置、及び、搭載部品の特性のバラツキなどの影響を受けて、電子回路カード間のデータ信号とクロック信号との間でタイミングマージンが確保できず、搭載装置の種類や搭載位置、搭載部品に応じて、専用のクロック位相調整装置を付加する必要があった。
【０００３】
図５は、従来の交換機内装置１００の構成例を示し、図６は、別の従来の交換機内装置２００の構成例を示す。このように、２種類の交換機内装置の構成例を示したのは、搭載装置の種類に応じて、電子回路カード間のタイミングマージンが異なる旨を示すためである。
【０００４】
図５の従来の交換内装置１００の構成では、電子回路カード１１０が、他の電子回路カード１２０、１３０、１４０にクロック信号（ＣＬＫ）を供給するクロック源となっている。図５及び以下に示す全ての図では、電子回路カード間の配線を示す際に、実線でデータ信号の配線を、点線でクロック信号（ＣＬＫ）の配線を示す。電子回路カード１２０は、電子回路カード１１０から供給されるクロック信号で動作し、電子回路カード１２０内の部品１２１から電子回路カード１５０内の部品１５１に同じクロック信号を送出し、このクロック信号で、電子回路カード１２０内の部品１２１と電子回路カード１５０内の部品１５１との間のデータ信号の送受信を制御している。
【０００５】
電子回路カード１３０は、電子回路カード１１０から供給されるクロック信号で動作し、電子回路カード１３０内の部品１３１が電子回路カード１５０内の部品１５２に同じクロック信号を送出し、このクロック信号が電子回路カード１３０内の部品１３１、１３２と電子回路カード１５０内の部品１５２間のデータ信号の送受信を制御する。電子回路カード１４０も、電子回路カード１３０と同等の構成を有する。
【０００６】
図６の従来の交換機内装置２００の構成では、電子回路カード２１０は，他の電子回路カード２２０、２３０、２４０にクロック信号を供給する構成となっている。電子回路カード２２０は、電子回路カード２１０から供給されるクロック信号で動作し、電子回路カード２２０内の部品２２１が電子回路カード２４０内の部品２４１、２４２に同じクロック信号を送出し、このクロック信号が、電子回路カード２４０内の部品２４１、２４２から電子回路カード２２０内の部品２２１、２２２に送信されるデータ信号の送受信を制御している。
【０００７】
電子回路カード２３０は、電子回路カード２１０から供給されるクロック信号で動作し、電子回路カード２３０内の部品２３１が電子回路カード２４０内の部品２４３に同じクロック信号を供給し、このクロック信号が電子回路カード２３０内の部品２３２と電子回路カード２４０内の部品２４３との間のデータ信号の送受信を行う構成を有する。しかし、電子回路カード２３０内の部品２３１と電子回路カード２４０内の部品２４２との間のデータ信号の送受信は、電子回路カード２３０内では、電子回路カード２３０のクロック信号で制御され、電子回路カード２４０内では、電子回路カード２２０内の部品２２１から送出されるクロック信号で制御されるという、ねじれたクロック構成になっている。
【０００８】
交換機内装置１００と交換機内装置２００の２種類の装置内では、電子回路カード１３０、電子回路カード１４０、電子回路カード２２０及び電子回路カード２３０の４つの搭載位置の電子回路カードを共用し、また、電子回路カード１５０と電子回路カード２４０の２つの搭載位置の電子回路カードを共用化している。上記で述べた従来の交換機内装置１００、２００の回路構成は、このように電子回路カードを共用したために発生した構成部分もあり、交換機内装置間や電子回路カード間のインターフェースが、各交換機で独自のインターフェースを持っている従来の装置では、一般的に存在する構成である。
【０００９】
図７は、図５に示した従来の交換機内装置１００内の部品１３２について、その受信データと受信データ用クロックとの位相関係を例示する。受信データ（ａ）は、部品１３１が標準品のカスタムＬＳＩである場合の部品１３２の受信データを示し、受信データ（ｂ）は、部品１３１が最新のカスタムＬＳＩを採用した場合の部品１３２の受信データを示し、クロック信号ＣＬＫ１はその部品１３２を含む電子回路カード１３０内で使用されるクロックを示す。
【００１０】
図７において、点線で示す部品１３１がカスタムＬＳＩであり、そのＬＳＩが標準品のカスタムＬＳＩから最新の製造プロセスで製造されたカスタムＬＳＩに置換されると、部品１３１から出力されるクロック信号及びデータ信号の遅延時間が短くなる。部品１３２が受信するデータ信号については、受信データ（ａ）から受信データ（ｂ）のように変化する。部品１３１から送出されるクロック信号の遅延時間が短くなり、部品１５２で使用されるクロック信号ＣＬＫ１の位相も早くなる。従って、このクロック信号のタイミングで部品１５２から部品１３２に返送される受信データも遅延時間が短くなり、位相が早くなる。しかし、電子回路カード１３０で使用されているクロック信号ＣＬＫ１には従来から変化はなく、その結果、部品１３２では、受信データが１ビットずれて読み出される場合がある。
【００１１】
図８は、図６に示した従来の交換機内装置２００内の部品２２２、２３１について、その受信データと受信データ用クロックとの位相関係を例示する。受信データ（ｃ）は、部品２２１が標準のカスタムＬＳＩの場合における部品２２２、２３１の受信データを示し、受信データ（ｄ）は、部品２２１が最新のカスタムＬＳＩである場合における部品２２２、２３１の受信データを示し、ＣＬＫ２は、電子回路カード２２０内のクロック信号を示し、ＣＬＫ３は、電子回路カード２３０内のクロック信号を示している。
【００１２】
図８において、部品２２１が標準のカスタムＬＳＩから最新の製造プロセスで製造されたカスタムＬＳＩに置換されると、部品２２１における遅延時間が短くなる。このため、部品２２１から送出されるクロック信号及びデータ信号の遅延時間が短くなり、クロック信号の位相が早くなる。従って、部品２２２、２３１が部品２４２から受信するデータも、受信データ（ｃ）から受信データ（ｄ）に、位相が早まるように変化する。従って、交換機内装置１００と同様に受信データが１ビットずれて読み出される場合がある。
【００１３】
上記に加えて、交換機内装置２００では、電子回路カード２４０は、電子回路カード２２０から供給されたクロック信号ＣＬＫ２を使用して、データを送信している。同図に示すように、電子回路カード２３０で使用するクロック信号ＣＬＫ３は、電子回路カード２２０で使用するクロック信号ＣＬＫ２よりも、その搭載位置の関係で位相が遅れている。この場合には、部品２３１が受信するデータ信号は、クロック信号ＣＬＫ３よりも位相が更に早まる。このため、交換機内装置２００の部品２３１では、先の交換機内装置１００の場合よりも、受信データが１ビットずれて読み出される可能性が更に高くなる。
【００１４】
図９は、上記従来の交換機内装置１００におけるクロック位相のずれを調整するための、クロック位相調整方法を例示している。交換機内装置１００では、クロック位相調整のために、電子回路カード１３０内の動作速度が速くなった部品１３１のクロック信号の出力側に、遅延素子１３４を挿入し、クロック信号ＣＬＫ１から遅延クロック信号ＣＬＫ１１を生成する。遅延クロック信号ＣＬＫ１１によって、電子回路カード１５０内の部品１５２から、電子回路カード１３０内の部品１３２に返送される受信データの位相を、受信データ（Ａ）として示した位相から受信データ（Ｂ）として示した位相に補正し、クロック信号ＣＬＫ１によって、受信データが正しく受けとれる構成とする。
【００１５】
図１０は、上記従来の交換機内装置２００におけるクロック位相のずれを調整するためのクロック位相調整方法を例示している。交換機内装置２００では、遅延時間が短いＬＳＩが搭載された電子回路カードが、交換機内装置２００の電子回路カード２２０の位置に搭載されると、ＬＳＩの遅延時間の短さと装置の種類及び搭載位置の双方を考慮した遅延時間を持つ遅延素子２２４を挿入する。この遅延素子２２４の挿入により、遅延クロック信号ＣＬＫ２１を生成し、これを電子回路カード２２０内の部品２２１から電子回路カード２４０内の部品２４１、２４２に供給している。電子回路カード２４０内の部品２４２から、電子回路カード２２０内の部品２２２、及び、電子カード回路２３０内の部品２３１に送信されるデータが、受信データ（Ｃ）から受信データ（Ｄ）となるように位相が補正され、クロック信号ＣＬＫ２、ＣＬＫ３によって、受信データが正しく受けとれる構成としている。
【特許文献１】特開２００１−１５６２５５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
上記のように、従来の交換機内の特定の装置では、電子回路カードに搭載される部品の遅延時間や電子回路カードが搭載される装置の種類や搭載位置に対応した遅延素子を挿入することから、管理者が可変遅延回路で遅延時間を設定するためのスイッチ設定を行う必要があった。従って、製造部門での設定工数の増加が不可避であり、また、電子回路カードを交換機内装置に挿入する際にも、搭載される装置の種類や搭載される位置に応じたスイッチ設定が不可欠であった。このため、交換機システムの検査部門や、交換機稼動サイトでの設定工数が増え、また、人間がスイッチ設定を行うために誤設定が発生し、交換機の動作の信頼性も損なわれる等の問題があった。
【００１７】
本発明は、一般的に複数の回路ブロックを搭載する電子機器を改良し、回路ブロック間のデータ送受信の際に使用されるクロック信号の位相を、電子機器の内部で自動的に調整が可能となるようにした電子機器、並びに、その電子機器で使用される位相調整装置及び方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上記目的を達成するために、本発明のクロック位相調整装置は、クロック信号で作動すると共に、可変遅延回路によって前記クロック信号を遅延した遅延クロック信号を供給する第１の回路ブロックと、該第１の回路ブロックから供給される遅延クロック信号に応答して、前記第１の回路ブロックとの間でデータ信号を送受信する第２の回路ブロックとを備える電子機器のためのクロック位相調整装置であって、
前記可変遅延回路の遅延時間を、複数のテスト段階毎に異なる値に設定する遅延時間設定手段と、
前記複数のテスト段階毎に、前記第１の回路ブロックから所定の試験データを前記第２の回路ブロックに送信する試験データ送信手段と、
前記第２の回路ブロックが前記遅延クロック信号に応答して受信した前記所定の試験データに基づいて返信した返信データが前記第１の回路ブロックで正常に受信されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって前記第１の回路ブロックが正常に返信データを受信したと判定されたテスト段階で設定された遅延時間に基づいて、前記可変遅延回路の遅延時間を選定する選定手段と、を備えることを特徴とする。
【００１９】
また、本発明のクロック位相調整方法は、クロック信号で作動すると共に、可変遅延回路によって前記クロック信号を遅延した遅延クロック信号を供給する第１の回路ブロックと、該第１の回路ブロックから供給される遅延クロック信号に応答して、前記第１の回路ブロックとの間でデータ信号を送受信する第２の回路ブロックとを備える電子機器のためのクロック位相調整方法であって、
前記可変遅延回路の遅延時間を、複数のテスト段階毎に異なる値に設定するステップと、
前記複数のテスト段階毎に、前記第１の回路ブロックから所定の試験データを前記第２の回路ブロックに送信するステップと、
前記第２の回路ブロックが前記遅延クロック信号に応答して受信した前記所定の試験データに基づいて返信した返信データが前記第１の回路ブロックで正常に受信されたか否かを判定するステップと、
前記判定ステップによって前記第１の回路ブロックが正常に返信データを受信したと判定されたテスト段階で設定された遅延時間に基づいて、前記可変遅延回路の遅延時間を選定するステップと、を有することを特徴とする。
【００２０】
更に、本発明の電子機器は、上記クロック位相調整装置を有し、又は、上記クロック位相調整方法を実施することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２１】
本発明のクロック位相調整装置及び方法、並びに、電子機器によると、遅延時間を設定する度に、第１の回路ブロックから第２の回路ブロックに試験データを送信し、その試験データに応答して第２の回路ブロックから第１の回路ブロックに返信される返信データが正常なデータか否かを判定し、その結果として良好な返信データが得られときに設定された遅延時間に基づいて可変遅延回路の遅延時間を設定するので、最適なクロック位相の調整が可能となる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、図面を参照し本発明の実施例について詳細に説明する。なお、本発明の理解を容易にするために、図面を通して、同様な機器、装置は同様な参照符号で示している。図１は、本発明の第１の実施例に係る電子機器を構成する交換機内装置をブロック図で示している。交換機内装置１００は、それぞれが部品などを搭載する電子回路カード１１０、１２０、１３０、１４０、１５０と、これら電子回路カードを接続する信号配線と、図示しない電源配線などとで構成される。信号配線には、クロック信号ＣＬＫ１、ＤＣＬＫ１を伝達するクロック配線と、データ信号ＤＳを伝達するデータ配線とが含まれる。本実施例の交換機内装置１００は、図５に示した交換機内装置１００の機能に加えて、クロック位相の自動調整機能を有する。
【００２３】
詳しくは、本実施例の交換機内装置１００は、クロック信号ＣＬＫ１を他の電子回路カードに供給するクロック源の電子回路カード１１０が、部品１１１に加えて、制御回路１１２を有すること、電子回路カード１３０が、部品１３１及び１３２に加えて、制御回路１３３及び可変遅延素子１３４を有すること、電子回路カード１４０が部品１４１、１４２に加えて、制御回路１４３及び可変遅延素子１４４を有すること、及び、電子回路カード１５０に搭載される各部品１５１〜１５３が、通常の機能に加えて、データ信号をループバックさせるループバック機能を有することで、図５に示した交換機内装置１００と異なる。なお、部品１５１のループバック機能は、本実施例では必ずしも必要な機能ではないが、電子回路カードの互換性を持たせるために、部品１５１にもこのループバック機能を持たせている。
【００２４】
電子回路カード１１０の制御回路１１２は、電子回路カード１３０の制御回路１３３を介して、電子回路カード１５０の部品１５２内のデータ信号のループバックパスの設定を制御し、部品１３１及び部品１３２からの送信データとして試験データパターンを送出し、部品１５２から部品１３１及び部品１３２に返送される試験データパターンを受信する。制御回路１１２は、送信した試験データパターンと受信した試験データパターンとが同じか否か比較すると共に、制御回路１３３を介して可変遅延素子１３４の遅延時間を設定する機能を持っている。可変遅延素子１３４は、設定された遅延時間によってクロック信号ＣＬＫ１を遅延して、遅延クロック信号ＤＣＬＫ１を生成する。
【００２５】
制御回路１１２は、上記と同様に、制御回路１４３を介して、電子回路カード１５０内の部品１５３内のデータ信号のループバックパスの設定を制御し、電子回路カード１４０内の部品１４１及び部品１４２からの送信データとして試験データパターンを送出し、部品１５３から部品１４１及び部品１４２に返送される試験データパターンを受信する。制御回路１１２は、受信した試験データパターンと送信した試験データパターンとが同じか否か比較すると共に、制御回路１４３を介して可変遅延素子１４４の遅延時間を設定する機能を持っている。可変遅延素子１４４は、クロック信号ＣＬＫ１から遅延クロック信号ＤＬＣＫ１０を生成する。
【００２６】
図２は、本発明の第２の実施例に係る電子機器を構成する交換機内装置をブロック図で示している。交換機内装置２００は、それぞれが部品などを搭載する電子回路カード２１０、２２０、２３０、２４０と、これら電子回路カードを接続する信号配線と、図示しない電源配線などとで構成される。本実施例の交換機内装置２００は、図６に示した交換機内装置２００の機能に加えて、クロック位相の自動調整機能を有する。
【００２７】
詳しくは、本実施例の交換機内装置２００は、クロック信号を他の電子回路カードに供給するクロック源を構成する電子回路カード２１０が、部品２１１に加えて、制御回路２１２を有すること、電子回路カード２２０が、部品２２１及び２２２に加えて、制御回路２２３及び可変遅延素子２２４を有すること、電子回路カード２３０が部品２３１、２３２に加えて、制御回路２３３及び可変遅延素子２３４を有すること、及び、電子回路カード２４０に搭載される各部品２４１〜２４３が、通常の機能に加えて、データ信号をループバックさせるループバック機能を有することで、図６に示した交換機内装置２００と異なる。
【００２８】
電子回路カード２１０内の制御回路２１２は、電子回路カード２２０内の制御回路２２３を介して、電子回路カード２４０内の部品２４１と部品２４２内のデータ信号のループバックパスの設定を制御し、部品２２１及び部品２２２からの送信データとして試験データパターンを送出し、部品２４１と部品２４２から部品２２１及び部品２２２に返送される試験データパターンを受信する。制御回路２１２は、受信した試験データパターンと送信した試験データパターンとが同じか否か比較すると共に、制御回路２２３を介して可変遅延素子２２４の遅延時間を設定する機能を持っている。
【００２９】
制御回路２１２は、同様に、電子回路カード２３０内の制御回路２３３を介して、電子回路カード２４０内の部品２４３内のデータ信号のループバックパスの設定を制御し、部品２３１及び部品２３２の送信データに試験データパターンを送出し、部品２４２と部品２４３から部品２３１及び部品２３２に返送される試験データパターンを受信する。制御回路２１２は、受信した試験データパターンと送信した試験データパターンとが同じか否か比較すると共に、制御回路２３３を介して可変遅延素子２３４の遅延時間を設定する機能を持っている。
【００３０】
次に、第１の実施例に係る交換機内装置１００の動作を説明する。図１において、交換機内装置１００に電子回路カード１３０が挿入されると、制御回路１１２は、電子回路カード１３０が挿入されたことを検出し、可変遅延素子１３４の最適な遅延時間を設定するために、試験データパターンを送出して行う試験（遅延テスト）を複数回、例えば１０回連続して行うことを決定する。制御回路１１２は、制御回路１３３を介して、部品１５２のデータ信号のループバックパス設定を行うと共に、１回目の試験として、可変遅延素子１３４の遅延時間を０ｎｓに設定し、部品１３１と部品１３２からの送信データとして試験データパターンを送出し、部品１５２から部品１３１及び部品１３２に返送される試験データパターンを受信し、受信した試験データパターンが、送信した試験データパターンと同じか否か比較し、部品１３１の信号パスと部品１３２の信号パスの各々で、試験結果がＯＫかＮＧかを判定する。
【００３１】
次に２回目の試験として、制御回路１１２は、制御回路１３３を介して、可変遅延素子１３４の遅延時間を２ｎｓに設定し、部品１３１と部品１３２の送信データに試験データパターンを送出し、部品１５２から部品１３１及び部品１３２に返送される試験データパターンを受信し、送信した試験データパターンと同じか否か比較し、部品１３１の信号パスと部品１３２の信号パスの各々で、試験結果がＯＫかＮＧかを判断する。以下、３回目以降の試験として、可変遅延素子１３４の遅延時間を、４ｎｓ、６ｎｓ、・・・、１４ｎｓと変更して、各試験を実行する。これらの１０回の試験の遅延時間の設定と試験結果の例を図３Ａに示す。
【００３２】
図３Ａには、試験回数、可変遅延素子１３４の設定時間、部品１３１と部品１５２の間のパスを経由した受信データの比較結果、及び、部品１３２と部品１５２の間の信号パスを経由した受信データの比較結果が示されており、比較結果が一致した場合はＯＫで一致しなかった場合はＮＧで示している。比較結果が一致するとは、正常なデータが受信できたことを意味する。同図から、双方の信号パスで受信データの比較結果が良好であったのは、４回目の試験で設定された遅延時間６ｎｓから、８回目の試験で設定された遅延時間１４ｎｓまでの間である。つまり、遅延時間が６ｎｓから１４ｎｓまでの間で正常なデータが受信できたことを意味している。この試験結果に基づいて、可変遅延素子１３４の設定として、６ｎｓから１４ｎｓまでの中間値である遅延時間１０ｎｓを、遅延クロック信号ＤＣＬＫ１の位相調整値として採用する。
【００３３】
図１で、交換機内装置１００に電子回路カード１４０が挿入された場合の可変遅延素子１４４の設定に関しても、電子回路カード１３０の場合と同様に行われる。つまり、制御回路１１２は、部品１５３のデータ信号のループバックパス設定を行い、可変遅延素子１４４の遅延時間を設定しながら、１０回の試験を行う。図３Ｂにその試験結果の様子を図３Ａと同様に示す。電子回路カード１４０の場合には、遅延時間４ｎｓから１２ｎｓまでの間で双方のパスで試験結果が良好であり、その結果として可変遅延素子１４４の遅延時間として８ｎｓが設定される旨が示されている。つまり、遅延クロック信号ＤＣＬＫ１０の遅延時間として８ｎｓが採用される。このように、電子回路カード１３０の可変遅延素子１３４と、電子回路カード１４０の可変遅延素子１４４とで設定時間が異なるのは、使用される部品の遅延時間等の特性がプロセス条件などによって異なること、及び、交換機内装置での搭載位置が異なることなどによって生じる。
【００３４】
次に、図２の交換機内装置２００の動作を説明する。図２において、交換機内装置２００に電子回路カード２２０が挿入されると、電子回路カード２１０内の制御回路２１２は、電子回路カード２２０が挿入されたことを検出し、可変遅延素子２２４の最適な遅延時間を決めるために、１０回の試験を連続して行うことを決定する。制御回路２１２は、電子回路カード２２０内の制御回路２２３を介して、電子回路カード２４０内の部品２４１と部品２４２のデータ信号のループバックパス設定を行う。その後、先の例と同様にして可変遅延素子２２４の設定を変更しつつ１０回の試験を行い、各リターンパスについて、受信データの比較を行う。この様子を図４Ａに示した。受信データの比較は、可変遅延素子２２４からクロック信号の供給を受けて試験データパターンを送信する部品２４１及び２４２がデータを送信する信号パスの全て、つまり、部品２２１と部品２４１の間の信号パス、部品２２２と部品２４２の間の信号パス、及び、部品２３１と部品２４２の間の信号パスについて行う。
【００３５】
図４Ａにおいて、全てのパスで受信データが良好であったのは、可変遅延素子２２４の遅延時間が１０ｎｓから１４ｎｓまでの間であり、従って、最終的に可変遅延素子２２４の遅延時間はその中間値である１２ｎｓに設定される。つまり、遅延クロック信号ＤＣＬＫ２は、クロック信号ＣＬＫ２から１２ｎｓ遅延したクロック信号とする。
【００３６】
図２の交換機内装置２００において、電子回路カード２３０が挿入された場合にも、電子回路カード２１０の制御回路２１２は、同様な試験を行い、電子回路カード２３０内の可変遅延素子２３４の設定を行う。この様子を図４Ｂに示した。同様な１０回の試験によって、可変遅延素子２３４からクロック信号の供給を受けて試験データパターンを送受信する部品２４３がデータを送信する信号パス、つまり部品２３２と部品２４３の間の信号パスについて、比較試験を行う。図４Ｂには、比較試験の結果としてデータ受信が良好であった遅延時間２ｎｓから１４ｎｓの間の中間の遅延時間８ｎｓが選択される様子が示されている。つまり、遅延クロック信号ＤＣＬＫ３は、クロック信号ＣＬＫ３から８ｎｓ遅れたクロック信号とする。
【００３７】
以上説明したように、上記実施例では、交換機内装置の各電子回路カードに、クロック信号の遅延（位相）を設定する機能と、各電子回路カード間のデータ信号の送受信を試験する機能とを持たせている。交換機内装置では、新たに電子回路カードが装置に挿入された際に、自動的にクロック信号の遅延（位相）を最適な値に設定する。このため、電子回路カードが搭載される装置の種類や搭載位置、及び電子回路内の部品の特性に応じて、管理者がクロック信号の遅延（位相）を設定する必要がなく、交換機内装置の各電子回路カード間のデータ信号とクロック信号のタイミングマージンが、自動的に且つ最適な値に設定される。
【００３８】
本発明は、交換機内装置に好適に適用される。交換機内装置は、一般的に、電子回路カードを装置に挿入した後に、装置内の電子回路カードが正常に動作可能か否かを試験する自己診断機能を持っており、本発明に必要な、クロック信号の各遅延時間に応じたデータ信号の送受信の正常性を試験する機能は、この自己診断機能を流用することが可能であり、本発明の実現が特に容易である。
【００３９】
なお、本発明は、交換機内装置以外にも適用可能であり、複数の回路ブロックを有する電子機器、例えば複数の電子回路モジュールを有する電子機器に適用可能である。また、上記実施例では、電子回路カード１５０、２４０内の部品に、ループリターンパスを設定する例について示したが、ループリターンパスは、必ずしも必須な構成ではない。例えば、各部品が通常の機能によって試験データに応答して返信する返信データが正しいデータであるか否かを判定することでもよい。
【００４０】
以上、本発明をその好適な実施例に基づいて説明したが、本発明の電子機器、位相調整装置及び方法は、上記実施例の構成にのみ限定されるものではなく、上記実施例の構成から種々の修正及び変更を施したものも、本発明の範囲に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の第１の実施例に係る電子機器のブロック図。
【図２】本発明の第２の実施例に係る電子機器のブロック図。
【図３Ａ】第１の実施例の電子機器のテストにおける比較結果を示すグラフ。
【図３Ｂ】第１の実施例の電子機器のテストにおける比較結果を示すグラフ。
【図４Ａ】第２の実施例の電子機器のテストにおける比較結果を示すグラフ。
【図４Ｂ】第２の実施例の電子機器のテストにおける比較結果を示すグラフ。
【図５】従来の交換機内装置のブロック図。
【図６】従来の別の交換機内装置のブロック図。
【図７】図５の交換機内装置における受信データとクロック信号の位相関係を示す説明図。
【図８】図６の交換機内装置における受信データとクロック信号の位相関係を示す説明図。
【図９】図７の位相関係を補償する回路構成を示すブロック図及びタイミングチャート。
【図１０】図８の位相関係を補償する回路構成を示すブロック図及びタイミングチャート。
【符号の説明】
【００４２】
１００、２００：交換器内装置
１１０、１２０、１３０、１４０、１５０、２１０、２２０、２３０、２４０：電子回路カード
１１１、１２１、１２２、１３１、１３２、１４１、１４２、１５１、１５２、１５３、２２１、２２２、２３１、２３２、２４１、２４２、２４３：部品
１１２、１３３、１４３、２１２、２２３、２３３：制御回路
１３４、１４４、２２４、２３４：可変遅延素子
ＣＬＫ１、ＣＬＫ２、ＣＬＫ３：クロック信号
ＤＣＬＫ１、ＤＣＬＫ１０、ＤＣＬＫ２、ＤＣＬＫ３：遅延クロック信号
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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