(57)【要約】【課題】発光灯装置個別に発光量調整が可能で、製品歩留まりの低下を抑制可能な発光量調整装置の提供を図る。【解決手段】発光灯装置２と発光量テスタ４は暗箱３の内部に配置されていて発光量調整装置１に接続されている。発光量調整装置１は、所定の発光時間を設定して発光灯装置２を発光させて、発光量テスタ４を用いて発光量を計測する。そして、ガイドナンバと基準発光量との関係が予め記憶されたテーブルから、前記計測した発光量に対応するガイドナンバを読み出し、当該ガイドナンバと前記発光時間とを関係付けて発光灯装置２に記憶させる。以上の処理を前記発光時間の設定を異ならせながら交互に繰り返す。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光灯装置に搭載されている発光灯の発光時間と、前記発光灯の発光に係る発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する発光量調整装置において、
前記発光制御パラメータと前記発光灯の基準発光量との関係が予め記憶されたテーブルと、
暗箱の内部に配置された前記発光灯を、発光時間を異ならせて複数回発光させ、前記暗箱の内部に配置された発光量計測器を用いて各発光時間に応じた発光量を計測する計測手段と、
前記計測手段で計測した前記発光量に対応する発光制御パラメータを、前記テーブルから読み出す読み出し手段と、
前記計測手段で設定した前記発光時間と前記読み出し手段で読み出した前記発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する出力手段と、
前記計測手段で設定していない発光時間での発光量を、すでに計測した発光量から推定する推定手段と、
前記推定手段で推定した発光量に対応する発光制御パラメータを前記テーブルから読み出す補間読み出し手段と、
前記推定手段で推定に用いた前記発光時間と前記補間読み出し手段で読み出した前記発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する補間出力手段と、を備える発光量調整装置。
【請求項２】
発光灯装置に搭載されている発光灯の発光時間と、前記発光灯の発光に係る発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する発光量調整装置において、
前記発光制御パラメータと前記発光灯の基準発光量との関係が予め記憶されたテーブルと、
所定の発光時間を設定して前記発光灯を発光させ、発光量を計測する計測手段と、
前記計測手段で計測した前記発光量に対応する発光制御パラメータを、前記テーブルから読み出す読み出し手段と、
前記計測手段で設定した前記発光時間と前記読み出し手段で読み出した前記発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する出力手段と、を備える発光量調整装置。
【請求項３】
前記計測手段で設定していない発光時間での発光量を、すでに計測した発光量から推定する推定手段と、
前記推定手段で推定した発光量に対応する発光制御パラメータを前記テーブルから読み出す補間読み出し手段と、
前記推定手段で推定に用いた前記発光時間と前記補間読み出し手段で読み出した前記発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する補間出力手段と、を備える請求項２に記載の発光量調整装置。
【請求項４】
前記計測手段は、前記発光灯に設定する発光時間を異ならせ、発光量を複数回計測する手段である請求項２または３に記載の発光量調整装置。
【請求項５】
前記計測手段は、暗箱の内部に前記発光灯装置とともに配置された発光量計測器を用いて前記発光量を計測する手段である請求項２〜４のいずれかに記載の発光量調整装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光灯装置に搭載されている発光灯の発光時間と、その発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する発光量調整装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
外部から入力される発光制御パラメータに従った発光量で発光する発光灯装置が従来から利用されている。このような発光灯装置は、供給される電力に従った発光量で発光する発光灯と、発光制御パラメータに従った発光時間だけ発光灯に電力を供給する発光制御回路と、を備え、発光制御パラメータと発光時間との対応を記憶している。
【０００３】
従来、このような発光灯装置を製造する際には、発光制御パラメータと発光時間の対応関係を予め設定したテーブルを発光灯装置に記憶させていた。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、このような発光灯装置は、製品ごとに発光灯の発光特性のばらつきと、発光制御回路の時間分解能のばらつきがある。したがって、同じ型番の複数の発光灯装置に同一内容のテーブルに設定したのでは、発光制御パラメータに応じた発光灯装置の発光量が製品ごとにばらつく。
【０００５】
そこで、製品個別に発光量調整することが考えられる。この場合には、各発光灯装置における時間分解能のばらつきと発光特性のばらつきとを把握して、発光灯と発光制御回路とのそれぞれを調整する必要があり、発光灯の発光特性を調整する工程と、発光制御回路の時間分解能を調整する工程が必要となり、工程数の増大と製品歩留まりの低下を起こす要因となる。
【０００６】
そこで本発明の目的は、発光灯装置個別に発光量調整が可能で、製品歩留まりの低下を抑制可能な発光量調整装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
（１）本発明は、発光灯装置に搭載されている発光灯の発光時間と、前記発光灯の発光に係る発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する発光量調整装置において、前記発光制御パラメータと前記発光灯の基準発光量との関係が予め記憶されたテーブルと、所定の発光時間を設定して前記発光灯を発光させ、発光量を計測する計測手段と、前記計測手段で計測した前記発光量に対応する発光制御パラメータを、前記テーブルから読み出す読み出し手段と、前記計測手段で設定した前記発光時間と前記読み出し手段で読み出した前記発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する出力手段と、を備える。
【０００８】
この発光量調整装置により、発光灯装置個別に発光量調整を行うことで、発光灯装置の発光制御パラメータに応じた発光量のばらつきを低減できる。また、この発光量調整装置を用いる調整工程は、各発光灯装置の発光量を計測するのみで発光量のばらつきを低減できるため、工程数を抑制して製品歩留まりの低下を抑制できる。
【０００９】
（２）本発明は、前記計測手段で設定していない発光時間での発光量を、すでに計測した発光量から推定する推定手段と、前記推定手段で推定した発光量に対応する発光制御パラメータを前記テーブルから読み出す補間読み出し手段と、前記推定手段で推定に用いた前記発光時間と前記補間読み出し手段で読み出した前記発光制御パラメータとの関係を示す情報を出力する補間出力手段と、を備える。
【００１０】
この構成により、計測していない発光時間に対しても、対応する発光制御パラメータを得ることができる。したがって、この発光量調整装置を用いて調整工程を行う場合、発光灯装置を発光させる回数が少なくてもよくなり、工程数を抑制して発光灯装置の歩留まり低下をさらに抑制できる。
【００１１】
（３）本発明の前記計測手段は、前記発光灯に設定する発光時間を異ならせ、発光量を複数回計測する手段である。
【００１２】
この構成により、発光灯の発光制御パラメータに応じた発光量のばらつきを、広範囲に亘って低減できる。
【００１３】
（４）本発明の前記計測手段は、暗箱の内部に前記発光灯装置とともに配置された発光量計測器を用いて前記発光量を計測する手段である。
【００１４】
したがって、発光量計測器からのデータ受信処理のみで発光灯装置の発光量を取得でき、発光量調整装置の構成を簡易にできる。
【発明の効果】
【００１５】
この発明によれば、発光灯装置個別に発光量調整でき、発光制御パラメータによる発光量の制御精度が良好な発光灯装置を、高い歩留まりで製造可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
まず、本発明の第１の実施形態に係る発光量調整装置の概要を説明する。以下では、発光制御パラメータの用語をガイドナンバに呼び代えて説明する。したがって、本実施形態の発光量調整装置により、発光量調整される発光灯装置は、外部からガイドナンバが設定されて、そのガイドナンバに対応する発光時間だけ発光するものである。
【００１７】
図１に概要を示すように本実施形態では、暗箱３の外光を遮断した内室に発光灯装置２と発光量テスタ４とが配置されている。そして、発光灯装置２の発光量調整工程を行う発光量調整装置1が、発光灯装置２と発光量テスタ４とに接続されている。
【００１８】
図２に構成を示す発光量調整装置１は制御部１１とデータ入力部１２とＥＥＰＲＯＭ１４と発光灯装置接続Ｉ/Ｆ１５と発光量テスタ接続Ｉ/Ｆ１６とを備えている。制御部１１は発光量調整装置１全体を制御する。データ入力部１２には、図示しないキーボードや光ディスク装置が接続され、自装置の設定などに用いられる。発光灯装置接続Ｉ/Ｆ１５には発光灯装置２が通信線を介して接続される。発光量テスタ接続Ｉ/Ｆ１６には、発光量テスタ４が通信線を介して接続される。ＥＥＰＲＯＭ１４には、マスターテーブルと測定値テーブルと固有値テーブルが格納される。
【００１９】
マスターテーブルは、ガイドナンバと基準発光量との関係が予め記憶されたものである。このマスターテーブルは同じ型番の製品には共通のものであり、予めデータ入力部１２を介して入力されたものである。
【００２０】
測定値テーブルは、発光灯接続Ｉ/Ｆ１５に接続されている発光灯装置２に、発光量調整装置１が設定する発光時間と、発光量テスタ４で計測する発光量との関係を、逐次記憶していくものである。この測定値テーブルは、発光灯装置２が発光灯装置接続Ｉ/Ｆ１５を介して接続された当初には何も記憶されていない。
【００２１】
固有値テーブルは、マスターテーブルと測定値テーブルとに記憶されたデータに基づいて、ＣＰＵ１１で演算処理を行い、その結果としてのガイドナンバと発光時間との関係を逐次記憶するものである。この固有値テーブルには、発光灯装置２が発光灯装置接続Ｉ/Ｆ１５を介して接続された当初には何も記憶されていない。
【００２２】
図３に構成を示す発光灯装置２は、発光灯２４と発光制御部２１とＥＥＰＲＯＭ２２と接続Ｉ/Ｆ２３とを備えている。接続Ｉ/Ｆ２３には発光量調整装置１が通信線を介して接続される。発光制御部２１は発光灯２４に対して電力を供給するコンデンサ（不図示）を備えていて、このコンデンサの電荷を発光灯２４に供給する時間（発光時間）を制御する。ＥＥＰＲＯＭ１４には、固有値テーブルが格納される。発光灯２４は、発光制御部から与えられる電力により発光する。
【００２３】
固有値テーブルには、発光量調整装置１による発光量調整処理の終了後に発光量調整装置１から入力される、発光量調整装置１の固有値テーブルのデータを複写する。即ち、ガイドナンバ（発光制御パラメータ）と発光時間との関係を記憶する。発光灯装置２が発光灯装置接続Ｉ/Ｆ１５を介して接続された当初には何も記憶されていない。
【００２４】
次に、調整工程での各装置の動作を図４、および図１〜図３を参照して説明する。図４は、調整工程での発光量調整装置１の処理フローである。
【００２５】
発光量調整装置１に，新しい発光灯装置２が接続されると、発光量調整装置１は発光量測定処理を行う（Ｓ１）。
【００２６】
発光量測定処理において、発光量調整装置１は発光灯装置２に対して発光時間を設定する信号を出力する。そして、この発光時間を測定値テーブルに記憶する。これにより、発光灯装置２では発光量調整装置１から入力される信号に従って発光灯２４が発光する。そして、発光量テスタ４はその発光灯２４の照射光に対する露光量を計測し、この露光量と発光灯装置２までの距離とから発光灯装置２の発光量を計測し、発光量を通知する信号を発光量調整装置１に出力する。発光量調整装置１は、発光量テスタ４から受け取った発光量を、先に発光灯装置２に与えた発光時間に関係付けて測定値テーブルに記憶する。
【００２７】
以上のようにして、発光量調整装置１は一度目の発光量測定処理を行う。その後、発光量調整装置１の発光時間の設定を異ならせながら（Ｓ２）、予め定めた回数だけ発光量測定処理を繰り返し、発光量調整装置１の計測値テーブルを完成させる。
【００２８】
ここで、完成した計測値テーブルの例と、マスターテーブルの例とを図５示す。同図（Ａ）はマスターテーブルに記録されるガイドナンバ（ＧＮ）と基準発光量（Ｙ１）をプロットしたグラフである。また、同図（Ｂ）は計測値テーブルに記録される発光時間（ＯｎＴｉｍｅ）と発光量テスタで計測した発光量（Ｙ２）の表と、それらをプロットしたグラフである。
【００２９】
次に、発光量調整装置１は、上記の計測値テーブルと、マスターテーブルとを用いて、固有値テーブルプロット処理を行い、固有値テーブルを生成していく（Ｓ３）。
【００３０】
固有値テーブルプロット処理において、発光量調整装置１は、まず、測定値テーブルに記憶した発光時間を読出し、固有値テーブルに記憶する。そして、その発光時間に対応する発光量を測定値テーブルから読み出す。そして、その発光量に対応するガイドナンバをマスターテーブルから読み出す。そして、そのガイドナンバを、先に固有値テーブルに記憶した発光時間に対応付けて記憶する。
【００３１】
以上のようにして、発光量調整装置１は一度目の固有値テーブルプロット処理を行う。その後、測定値テーブルから読み出す発光時間を別のものに変更しながら（Ｓ４）、測定値テーブルに記憶された全て発光時間を読み出すまで固有値テーブルプロット処理を繰り返す。
【００３２】
ここで、このときの固有値テーブルの例を図６（Ａ）に示す。同図（Ａ）は固有値テーブルに記録されているガイドナンバ（ＧＮ）と発光時間（ＯｎＴｉｍｅ）を、プロットしたグラグである。
【００３３】
次に発光量調整装置１は、上記の固有値テーブルを用いて、固有値テーブル補間処理を行い、固有値テーブルを生成していく（Ｓ５）。
【００３４】
固有値テーブル補間処理において、発光量調整装置１は、補間する対象の発光時間に対して、計測値テーブルに記憶したデータに基づいて、発光量を推定する。そして、この発光量に対応するガイドナンバをマスターテーブルから取得する。そして、固有値テーブルに先に記憶した発光時間に関係付けてガイドナンバを記憶する。
【００３５】
以上のようにして、発光量調整装置１は一度目の固有値テーブル補間処理を行う。その後、補間する対象の発光時間を別のものに変更しながら（Ｓ６）、所定回数固有値テーブルプロット処理を繰り返す。
【００３６】
ここで、このときの固有値テーブルの例を図６（Ｂ）に示す。同図（Ｂ）は同図（Ａ）のプロット点間を補間したグラフである。このように、発光量調整装置１は固有値テーブルを生成し、次に、この固有値テーブルのデータを発光灯装置２に送信し（Ｓ７）、発光灯装置２の固有値テーブルに複写させる。
【００３７】
これによりこの発光量調整装置１から発光量調整を受ける発光灯装置２は、同型番の発光灯装置に一律のテーブルではなく、発光灯装置ごとに個別のテーブルを有することになる。
【００３８】
また、発光量調整装置１の行う処理の中、発光量測定処理はコンデンサに蓄電を行うための時間が必要であるので最も長い処理時間を必要とする。しかしながら本実施形態の発光量調整装置1を用いれば、少ない発光量測定処理数で発光量調整を行って、総処理時間を低減することができる。これにより、製品歩留まりの低下を抑制できる。
【００３９】
したがって、本実施形態の発光量調整装置１による調整を受けた発光灯装置２は、外部装置からガイドナンバが設定される際に、製品間でのばらつきを抑えて発光するものになる。
【００４０】
なお、図６（Ａ）における、プロット点間を線形補間して発光灯装置２の固有値テーブルとして用いてもよく、この場合にも発光灯装置２で外部装置から入力される任意のガイドナンバに対して発光時間を特定することも可能である。
【００４１】
なお、本発明の発光量調整装置に接続する発光灯装置としては、発光灯と発光制御回路とを備え、テーブルによって発光制御パラメータに対応する発光時間を決定するものであれば、どのような装置でも本発明の発光量調整装置によって発光量を調整できる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】実施形態に係る発光量調整装置により行う発光灯装置の発光量調整を説明する図である。
【図２】実施形態に係る発光量調整装置の構成を説明するブロック図である。
【図３】実施形態に係る発光量調整装置に接続する発光灯装置の構成を説明するブロック図である。
【図４】実施形態に係る発光量調整装置の制御部の処理フローである。
【図５】マスターテーブルと計測値テーブルの内容をプロットしたグラフである。
【図６】固有値テーブルの内容をプロットしたグラフである。
【符号の説明】
【００４３】
１−発光量調整装置
２−発光灯装置
３−暗箱
４−発光量テスタ
１１−ＣＰＵ
１１−制御部
１２−データ入力部
１４−ＥＥＰＲＯＭ
１５−発光灯装置接続Ｉ/Ｆ
１６−発光量テスタ接続Ｉ/Ｆ
２１−発光制御部
２２−ＥＥＰＲＯＭ
２３−接続Ｉ/Ｆ
２４−発光灯
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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