(57)【要約】【課題】導電性高分子に対し優れたエッチング処理能力を有する導電性高分子用エッチング液を提供すること、さらには前記導電性高分子用エッチング液を用いたパターニング方法を提供すること。【解決手段】有効塩素濃度が０．０６重量％以上であり、かつ、ｐＨが３を超え８未満である次亜塩素酸塩水溶液であることを特徴とする導電性高分子用エッチング液。前記次亜塩素酸塩水溶液は、次亜塩素酸アルカリ金属塩水溶液であることが好ましい。また、導電性高分子は、ポリアニリン類またはポリチオフェン類であることが好ましい。【選択図】なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
有効塩素濃度が０．０６重量％以上であり、かつ、ｐＨが３を超え８未満である次亜塩素酸塩水溶液であることを特徴とする
導電性高分子用エッチング液。
【請求項２】
前記次亜塩素酸塩水溶液が次亜塩素酸アルカリ金属塩水溶液である請求項１に記載の導電性高分子用エッチング液。
【請求項３】
導電性高分子がポリアニリン類またはポリチオフェン類である請求項１または２に記載の導電性高分子用エッチング液。
【請求項４】
導電性高分子がポリ（３，４−エチレンジオキシチオフェン）である請求項１〜３いずれか１つに記載の導電性高分子用エッチング液。
【請求項５】
請求項１〜４いずれか１つに記載の導電性高分子用エッチング液を用いて導電性高分子をパターニングする方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、導電性高分子用エッチング液および導電性高分子をパターニングする方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、透明導電膜としては、インジウム（Ｉｎ）を含むＩＴＯ（酸化インジウムスズ）が主に使われているが、Ｉｎは可採埋蔵量が３千トンという希少元素で早ければ２０１１年〜２０１３年頃には可採埋蔵量を使い切ってしまう、といった予測もあり、Ｉｎを使わないＩＴＯの代替材料の開発が急務である。導電性高分子の導電率は目覚しく向上しており、ＩＴＯの代替材料として導電性高分子は有望である。
この導電性高分子は、導電性、光の透過性、発光性、製膜後もフレキシブルであるという特徴をもっており、透明導電膜、電解コンデンサー、帯電防止剤、電池、および有機ＥＬ素子等への応用が研究され、一部では実用化されている。
【０００３】
電解コンデンサーの電解液よりも導電性が高く安定性も高い導電性高分子を使うことで、周波数特性が改善され、耐熱性にも優れた電解コンデンサーを得ることができる。
また、導電性高分子をポリマーフィルムの表面に薄く製膜することで透明性を保ったまま静電気を防止することができるため、このようなものは使い勝手の良い帯電防止フィルムや帯電防止容器として使用されている。
【０００４】
導電性高分子は２次電池の正極として用いることができ、リチウムポリアニリン電池やリチウムイオンポリマー電池等に使われている。
発光層に導電性高分子を用いた高分子有機ＥＬディスプレイがあり、基板にガラスではなくプラスチックを用いることで、フレキシブルなディスプレイが作製できる。また、正孔輸送層にも導電性高分子を用いることができる。高分子有機ＥＬディスプレイを含む有機ＥＬディスプレイは、自発光のディスプレイなので視野角が広く、薄型化しやすく、色の再現性に優れる。また、正孔と電子の再結合による発光なので応答速度が速い。有機ＥＬディスプレイはこのような優れた特徴を持っているために、将来有望なディスプレイである。
また、導電性高分子を使用してダイオードやトランジスタなどの電子素子を作製することができ、性能の向上が研究されている。導電性高分子を白金の代わりに色素増感型太陽電池の二酸化チタンの対極として使用することにより、現在主流となっているシリコンを利用した太陽電池よりも安価な太陽電池の開発を目指し研究されている。
このように導電性高分子は将来のエレクトロニクス産業にとって有益な材料で、導電性高分子のパターニング方法は導電性高分子を使用するにあたって重要な技術である。
【０００５】
導電性高分子をパターニングする方法には幾つかの種類がある。まず、インクジェット等の印刷法を使ったパターニングがある（例えば、特許文献１参照）。印刷法はパターニングと同時に製膜も行うため生産工程は簡便だが、導電性高分子をインク化する必要がある。しかし、導電性高分子は凝集しやすくインク化は困難である。また、印刷後の広がり防止や、インク乾燥後に液滴周辺部が中心部より厚くなる問題も存在する。
これに対し、パターニングに広く用いられているフォトエッチング方法は均一な膜を製膜後にパターニングを行うので、簡単な製膜方法を採用できる利点がある。
【０００６】
導電性高分子をエッチングによってパターニングする方法については、例えば特許文献２および特許文献３に開示されている。
しかしながら、特許文献２には、導電性高分子のエッチングに使用するエッチング液については述べられていない。
特許文献３には、導電性高分子としてpolypyrrole（ＰＰｙ）に対して、次亜塩素酸塩または（ＮＨ4）2Ｃｅ（ＳＯ4）3などを使用してエッチングすることが開示されている。ここで用いている次亜塩素酸塩は、市販の漂白剤（Ｃｌｏｒｏｘ（商品名）  ｂｌｅａｃｈ）で、その水溶液はアルカリ性であり、エッチングに欠かせないフォトレジストにダメージを与えてしまう問題がある。また、（ＮＨ4）2Ｃｅ（ＳＯ4）3を用いた実施例が記載されている。
また、特許文献３にはエッチングせずにフォトレジストで覆われなかった部分に薬液（例えばtetramethylammonium hydroxide（ＴＭＡＨ）、またはＮＨ4ＯＨ）を接触させ、電気抵抗を増加させたり、別の薬液（例えばＨＣｌ、ＨＮＯ3、ＨＣｌＯ4、およびＨ2ＳＯ4）を接触させ電気抵抗を減少させたりすることでパターニングする方法が開示されている。しかし、このような電気抵抗を増減させてパターニングする方法は絶縁が不十分であり現実的ではない。特に有機ＥＬディスプレイ等のディスプレイ用途には素子間の絶縁性が重要である。
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−１０９４３５号公報
【特許文献２】特開平５−３３５７１８号公報
【特許文献３】国際公開第９７／１８９４４号パンフレット
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の目的は、導電性高分子に対し優れたエッチング処理能力を有する導電性高分子用エッチング液を提供することであり、さらには前記導電性高分子用エッチング液を用いたパターニング方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の上記課題は、以下の＜１＞および＜５＞に記載の手段により達成された。好ましい実施態様である＜２＞〜＜４＞と共に以下に記載する。
＜１＞  有効塩素濃度が０．０６重量％以上であり、かつ、ｐＨが３を超え８未満である次亜塩素酸塩水溶液であることを特徴とする導電性高分子用エッチング液、
＜２＞  前記次亜塩素酸塩水溶液が次亜塩素酸アルカリ金属塩水溶液である＜１＞に記載の導電性高分子用エッチング液、
＜３＞  導電性高分子がポリアニリン類またはポリチオフェン類である＜１＞または＜２＞に記載の導電性高分子用エッチング液、
＜４＞  導電性高分子がポリ（３，４−エチレンジオキシチオフェン）である＜１＞〜＜３＞いずれか１つに記載の導電性高分子用エッチング液、
＜５＞  ＜１＞〜＜４＞いずれか１つに記載の導電性高分子用エッチング液を用いて導電性高分子をパターニングする方法。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、導電性高分子に対し優れたエッチング処理能力を有するエッチング液を提供することができる。さらには前記エッチング液を用いたパターニング方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下本発明について詳細に説明する。
本発明の導電性高分子用エッチング液（以下、単に「エッチング液」ともいう。）は、有効塩素濃度が０．０６重量％以上であり、ｐＨが３を超え８未満である次亜塩素酸塩水溶液であることを特徴とする。
また、前記次亜塩素酸塩水溶液は、次亜塩素酸アルカリ金属塩水溶液であることが好ましい。
さらに、本発明の導電性高分子をパターニングする方法（以下、単に「パターニング方法」ともいう。）は、前記エッチング液を用いることを特徴とする。
なお、「％」は特に断らない限り「重量％」を示す。
【００１２】
導電性高分子のパターニング方法の一例について、図１を参照して説明する。
図１Ａ〜図１Ｇは、本発明のエッチング液を用いて導電性高分子をエッチングして、導電性高分子の回路パターンを得る一例の概略工程図である。
本発明のエッチング液の使用例として、透明基板１（図１Ａ）上に導電性高分子２（図１Ｂ）をコーティングし、この透明基板１（図１Ｂ）上にレジスト３（図１Ｃ）を塗布し（図１Ｃ）、回路図に従って露光する（図１Ｄ）。そして露光した部分のレジスト４を現像液で除去し導電性高分子膜を露出させる（図１Ｅ）。現像した基板に本発明のエッチング液を用いてエッチングし（図１Ｆ）、導電性高分子膜をパターニングする。その後、洗浄し、残存するレジスト部を除去して導電性高分子部がパターニングされた基板を得ることができる（図１Ｇ）。
尚、図１ではレジスト３として、ポジ型レジストを使用したが、本発明はこれに限定されるものではなく、ネガ型のレジストを使用することもできる。
【００１３】
導電性高分子はπ電子が移動して導電性を示す。このような導電性高分子は多数報告されている。
本発明に用いることができる導電性高分子としては、ポリアニリン、ポリチオフェン、ポリピロール、ポリフェニレン、ポリフルオレン、ポリビチオフェン、ポリイソチオフェン、ポリ（３，４−エチレンジオキシチオフェン）、ポリイソチアナフテン、ポリイソナフトチオフェン、ポリアセチレン、ポリジアセチレン、ポリパラフェニレンビニレン、ポリアセン、ポリチアジル、ポリエチレンビニレン、ポリパラフェニレン、ポリドデシルチオフェン、ポリフェニレンビニレン、ポリチエニレンビニレン、ポリフェニレンスルフィド等やその誘導体が例示できる。これらのうち、ポリアニリン類およびポリチオフェン類が好ましく、ポリチオフェン類がより好ましく、電気伝導度、空気中での安定性および耐熱性に優れたポリ（３，４−エチレンジオキシチオフェンが）最も好ましい。
また、導電性高分子を用いる際により高い電気伝導度を発現する目的で、ドーパントと呼ばれるドーピング剤を併用することができる。前記導電性高分子に用いることができるドーパントとしては、公知のドーパントを用いることができ、導電性高分子の種類に応じ、ハロゲン類（臭素、ヨウ素、塩素等）、ルイス酸（ＢＦ3、ＰＦ5等）、プロトン酸（ＨＮＯ3、Ｈ2ＳＯ4等）、遷移金属ハライド（ＦｅＣｌ3、ＭｏＣｌ5等）、アルカリ金属（Ｌｉ、Ｎａ等）、有機物質（アミノ酸、核酸、界面活性剤、色素、アルキルアンモニウムイオン、クロラニル、テトラシアノエチレン（ＴＣＮＥ）、７，７，８，８−テトラシアノキノジメタン（ＴＣＮＱ）等）等が例示できる。導電性高分子自体にドーピング効果を持つ自己ドープ型の導電性高分子であってもよい。また、導電性高分子としてポリチオフェン類を用いる場合、ドーパントとしてポリスチレンスルホン酸を用いることが好ましい。
【００１４】
本発明に用いることができる導電性高分子の導電率は、導電性を示す値の範囲であれば特に制限はないが、１０-6〜１０4Ｓ／ｃｍであることが好ましく、１０-5.5〜１０3Ｓ／ｃｍであることがより好ましく、１０-5〜５×１０2Ｓ／ｃｍであることが更に好ましい。本発明において用いる導電性高分子の導電率が上記範囲内であると、接続部分のパターニング等において好適であるので好ましい。
【００１５】
また、本発明において、製膜後の導電性高分子は、使用時において、可視光域における透過率が高いものが好ましい。なお、透過率は、波長５５０ｎｍにおいて６０〜９８％であることが好ましく、７０〜９５％であることがより好ましく、８０〜９３％であることが更に好ましい。導電性高分子自体の透過率が上記範囲内であると、ディスプレイ等に好適に使用できる。
ここで、本発明において、可視光域とは波長４００〜７００ｎｍである。なお、透過率は、分光光度計により測定することができる。
【００１６】
各種の導電性高分子が市販されている。Panipol社により製造され「Ｐａｎｉｐｏｌ」の商品名で市販されているポリアニリンは、機能性スルホン酸でドープした有機溶媒可溶型ポリアニリンである。Ｏｒｍｅｃｏｎ社により製造され「Ｏｒｍｅｃｏｎ」の商品名で市販されたポリアニリンは、有機酸をドーパントに用いた溶媒分散型ポリアニリンである。Ｂａｙｅｒ社により製造され「Ｂａｙｔｒｏｎ」の商品名で市販されているポリ（３，４−エチレンジオキシチオフェン）はポリスチレンスルホン酸をドーパントとしている。その他に、アキレス（株）から商品名「ＳＴポリ」で市販されるポリピロール、東洋紡績（株）から商品名「ＰＥＴＭＡＸ」で市販されるスルホン化ポリアニリン、マルアイ（株）から商品名「ＳＣＳ−ＮＥＯ」で市販されるポリアニリンも本発明に使用できる。
【００１７】
特許流通促進事業として特許流通支援チャートの平成１３年度  化学６「有機導電性ポリマー」に記載されている導電性高分子も本発明に使用できる。
【００１８】
本発明のエッチング液は、次亜塩素酸塩の水溶液を用いるものであり、当該塩としては、アルカリ金属塩またはアルカリ土類金属塩が例示でき、好ましくはアルカリ金属塩である。当該アルカリ金属塩としては、ナトリウム塩またはカリウム塩が好ましく、より好ましくはナトリウム塩である。当該アルカリ土類金属塩としては、カルシウム塩が好ましい。
なお、本発明のエッチング液の溶媒としては、エッチング処理に影響のない媒体であれば、特に制限はないが、水であることが好ましい。
【００１９】
次亜塩素酸塩は、水酸化アルカリ金属または水酸化アルカリ土類金属に塩素を吸収させて製造するので、未反応の水酸化アルカリ金属または水酸化アルカリ土類金属の影響でその水溶液は強アルカリ性を示す。このように強アルカリ性を示す導電性高分子用エッチング液は、レジストに悪影響を与えるので、本発明のエッチング液のｐＨは、３を超え８未満であり、ｐＨ４〜７．５が好ましく、ｐＨ４．５〜７がより好ましく、更に好ましくはｐＨが５〜６である。
エッチング液のｐＨが８以上であると、レジストに悪影響を与える。また、ｐＨが３以下であると、塩素ガスの発生によりエッチング液中の有効塩素濃度が低下することによりエッチング所要時間が延長するとともに、発生した塩素ガスによりエッチング装置や近くにある機器などに障害を与える。また、エッチング液のｐＨが４．０以上であると塩素ガスの発生ほとんどないことから好ましく、ｐＨが４．５以上であると塩素ガスの発生が無いことから特に好ましい。
【００２０】
本発明において、エッチング液のｐＨを上記範囲内とするためには、酸を添加する。添加する酸としては無機酸および有機酸のいずれも使用することができる。
具体的には、塩酸、硫酸、硝酸、燐酸、酢酸、クエン酸等が好ましく例示でき、これらの中でも硫酸および硝酸がより好ましい。
本発明のエッチング液のｐＨは、市販されているｐＨメーターを用いて測定することができる。
【００２１】
本発明の導電性高分子のエッチング液は、次亜塩素酸の有効塩素濃度が０．０６重量％以上である。エッチング液の有効塩素濃度が０．０６重量％未満であると、十分なエッチング処理能力が得られない。
有効塩素濃度は、より好ましくは０．１％以上であり、更に好ましくは０．２％以上であり、３％以下が好ましく、２％以下がより好ましく、１％以下が更に好ましい。本発明のエッチング液において、有効塩素濃度がこの範囲内であると導電性高分子のエッチングが効率よくできるので好ましい。
【００２２】
本発明において、有効塩素濃度は、Ｎａ2ＳＯ3での滴定法により測定する。即ち、測定する試料をＷグラム採取し、イオン交換水で２５０ｍｌにメスアップする。この試料液１０ｍｌを分取し、ヨウ化カリウム１０％水溶液１０ｍｌを加える。そして、酢酸（１：２）１０ｍｌを加えｐＨを酸性にし、０．１規定濃度チオ硫酸ナトリウム水溶液で滴定する（滴定の途中で終点を判定しやすくするため可溶性でんぷんを加える）。０．１規定濃度Ｎａ2ＳＯ3の滴定量および試料採取量Ｗと次式から有効塩素濃度を求める。
有効塩素濃度（％）＝
０．００３５４６×（Ｎａ2ＳＯ3滴定量：ｍｌ）×１００／Ｗ／（１０／２５０）
【００２３】
本発明のエッチング液においてエッチング液温は、１０〜７０℃であることが好ましく、２０〜６０℃であることがより好ましい。本発明のエッチング液において、液温が上記範囲内であるとエッチングの処理能力が良いので好ましい。
【００２４】
本発明のエッチング液を使用する際のエッチング時間は、０．２〜３０分間が好ましく、０．３〜１５分間がより好ましく、０．４〜５分間が更に好ましい。本発明のエッチング液において、エッチング時間が上記範囲内であるとエッチング処理において基板等に与えるダメージが少ないので好ましい。また、十分なエッチング処理能力を発揮できるので好ましい。
本発明においてエッチング方法は特に限定されず、浸漬法とスプレー法のいずれも使用可能である。
本発明のエッチング液において、次亜塩素酸塩の濃度の制御は、酸化還元電位、ｐＨ、電気伝導度または比重、あるいはこれらを組み合わせることで可能である。
【００２５】
本発明のエッチング液を使用して、導電性高分子をパターニングするには、エッチング液で導電性高分子が溶解しない部分を保護する、フォトレジストが必要になる。当該フォトレジストは紫外線を照射した部分が現像液に溶解するポジ型と紫外線を照射した部分が現像液に不溶化するネガ型がある。
ポジ型は液体のレジストが多く、ディスプレイでは、ＬＣＤ（液晶ディスプレイ（Liquid Crystal Display））等の線幅が数μｍオーダーのエッチングに用いられる。
ネガ型はドライフィルムレジストが多く、ディスプレイでは、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル(Plasma Display Panel)）等の線幅が数十μｍオーダーのエッチングに用いられる。ポジ型とネガ型どちらのレジストも本発明において使用可能なので、目的とするパターンの精細度によってポジ型とネガ型を適宜選択すればよい。
フォトレジストとしては、アルカリを用いて除去することの可能なレジストであることが好ましく、液体のレジストであることがより好ましい。
【００２６】
基板としては、特に制限はなく、使用用途に応じて選択することができ、具体的には、ガラス、石英、ポリエステル（例えばポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等）、ポリオレフィン（例えばポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン等）、ポリイミド、ポリアクリレート、メタクリレート等が挙げられる。
【００２７】
本発明の導電性高分子のエッチング液およびパターニング方法は、電解コンデンサー、電池、タッチパネル、液晶パネル、および有機ＥＬ素子等に用いる導電性高分子のエッチングに適用することができる。
従って、高分子有機ＥＬディスプレイに代表されるディスプレイの表示画素部分の導電性高分子および周辺回路と導電性高分子の接続部分のパターニング、タッチパネルの検出部分の導電性高分子および周辺回路と導電性高分子の接続部分のパターニング、コンデンサー製造時に不要部分に付着した導電性高分子の除去などといったエッチングの必要な用途において導電性高分子の利用を促進することが期待できる。
【実施例】
【００２８】
以下、実施例を用いて本発明を説明するが、これらの実施例で本発明が限定されるものではない。
【００２９】
（実施例１〜１４、比較例１〜８）
ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）シートの表面に導電性高分子としてＢＡＹＴＲＯＮ  Ｆ  Ｅ（商品名、スタルク（株）製、ポリ（３，４−エチレンジオキシチオフェン）含有）を用いて薄膜（５０ｎｍ程度）を作製したものをテスト基板（Ｂ）とした。
ドライフィルムレジスト（製品名：ＯＲＤＹＬ  ＬＦ５２５（東京応化工業（株）製）を、ラミネーターを用いてテスト基板（Ｂ）に貼り付け、テスト基板（Ｃ）とした。
ドライフィルムレジストを貼り付けた前述のテスト基板（Ｃ）に、型枠式真空露光機を用いてマスターパターンを密着させながら紫外線を照射して露光し、テスト基板（Ｄ）を得た。１％Ｎａ2ＣＯ3水溶液を現像液として、３０℃に調節しながら露光済みのテスト基板（Ｄ）にスプレー圧力１ＭＰａで噴霧し、現像し、テスト基板（Ｅ）を得た。
【００３０】
現像済みのテスト基板（Ｅ）を水洗後、次亜塩素酸ソーダの水溶液に浸漬してエッチングを行った（Ｆ）。次亜塩素酸ソーダの水溶液の有効塩素濃度およびｐＨは、以下の表１に示す通りである。また、実施例１４では、ＣａＣｌ（ＣｌＯ）（さらし粉）の水溶液（有効塩素濃度が０．３２％、ｐＨ５．２５）を使用した。
なお、このエッチングは、最長３０分間行った。
また、ｐＨの調整には３５％塩酸を適宜イオン交換水で希釈して使用した。
３％ＮａＯＨ水溶液を液温３０℃に調節しながらエッチング済みのテスト基板（Ｆ）を２分間浸漬しドライフィルムレジストを剥離した（Ｇ）。
ドライフィルムレジストを剥離したテスト基板（Ｇ）を水洗し、エアーを吹き付けてテスト基板を乾燥した。
【００３１】
乾燥後のテスト基板を走査型電子顕微鏡で観察し、被エッチング部分に導電性高分子のエッチング残りが無く、基板のＰＥＴが露出しているかどうかを確認した。
ここで、エッチング所要時間を次のように定義し、エッチング所要時間を評価した。即ち、基板上の導電性高分子のエッチング残りが無くなるのに必要なエッチング液への浸漬時間をエッチング所要時間とした。この結果を表１に記載した。なお、ドライフィルムレジストで覆われていた導電性高分子の表面は、エッチングによる変化が認められなかった。また、エッチングによる基板の変化も認められなかった。
また、現像後のテスト基板を長時間エッチング液に浸漬し、ドライフィルムレジストの剥がれを観察した。
【００３２】
有効塩素濃度の測定方法は、Ｎａ2ＳＯ3での滴定法により測定した。即ち、測定する試料をＷグラム採取しイオン交換水で２５０ｍｌにメスアップした。この試料液１０ｍｌを分取し、ヨウ化カリウム１０％水溶液１０ｍｌを加えた。そして、酢酸（１：２）１０ｍｌを加えｐＨを酸性にし、０．１規定濃度チオ硫酸ナトリウム水溶液で滴定した（滴定の途中で終点を判定しやすくするため可溶性でんぷんを加えた）。０．１規定濃度Ｎａ2ＳＯ3の滴定量および試料採取量Ｗと次式から有効塩素濃度を求めた。
有効塩素濃度（％）＝
０．００３５４６×（Ｎａ2ＳＯ3滴定量：ｍｌ）×１００／Ｗ／（１０／２５０）
【００３３】
【表１】
2008088231.tif 000002
【００３４】
表１において、有効塩素濃度が０．０６％以上であり、ｐＨが３を超え８未満である次亜塩素酸塩水溶液をエッチング液として使用した実施例１〜１４では、エッチング所要時間およびレジスト剥がれのいずれにおいても良好な結果が得られた。
これに対し、有効塩素濃度またはｐＨが上記範囲から外れるエッチング液を使用した比較例１〜８では、エッチング所要時間および／またはレジスト剥がれに問題があった。また、比較例５および比較例６では、測定時には有効塩素濃度はそれぞれ０．２７％および０．３３％であったが、経時による有効塩素濃度の減少により、エッチング時の有効塩素濃度が減少していたと考えられる。
【００３５】
なお、表１において、エッチング所要時間およびレジスト剥がれは、以下の基準に従い評価した。
＜エッチング所要時間の判定基準＞
×：３０分より長時間
△：５分より長く、３０分以内
〇：１分より長く、５分以内
◎：１分以内
＜レジスト剥がれの判定基準＞
×：１５分未満にレジスト剥がれが発生した
△：１５分以上２０分未満の間でレジスト剥がれが発生した
○：２０以上３０分未満の間でレジスト剥がれが発生した
◎：３０分経過してもレジスト剥がれが発生しなかった
【００３６】
（実施例１５）
表２に記載のエッチング液を使用し、表２に記載の導電性高分子を使用した以外は、実施例１と同様にして、エッチング所要時間を測定した。
結果を以下の表２に示す。
【００３７】
【表２】
2008088231.tif 000003
【００３８】
（実施例１６、比較例９〜１２）
有効塩素濃度を０．９９重量％とし、ｐＨを表２に記載のｐＨとした以外は実施例１と同様にしてエッチング所要時間およびレジスト剥がれを評価した。結果を以下の表３に示す。
【００３９】
【表３】
2008088231.tif 000004
【００４０】
（実施例１７〜２０）
実施例１において、導電性高分子用エッチング液のｐＨを以下に示す酸を用いて行い、エッチング所要時間およびレジスト剥がれを評価した。尚、ｐＨ調整に用いた酸は、実施例１と同様に、水で適宜希釈してｐＨ調製に使用した。
結果を以下の表４に示す。
【００４１】
【表４】
2008088231.tif 000005
【産業上の利用可能性】
【００４２】
本発明のエッチング液を用いることで、高分子有機ＥＬディスプレイに代表されるパターニングが必要なディスプレイ用途等に導電性高分子を適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明のエッチング剤を用いて導電性高分子をエッチングして導電性高分子の回路パターンを得る概略工程図の一例である。
【符号の説明】
【００４４】
Ａ  透明基板のみの概念図
Ｂ  透明基板に導電性高分子膜を取付けた概念図
Ｃ  導電性高分子膜の上にレジストを塗布したものの概念図
Ｄ  回路パターンに従ってレジストを露光した概念図
Ｅ  露光したレジストを除去した後の概念図
Ｆ  本発明のエッチング剤を用いて導電性高分子膜をエッチングした後の概念図
Ｇ  レジストを除去して導電性高分子を用いた回路図が完成した概念図
１  透明基板
２  導電性高分子膜
３  レジスト
４  露光したレジスト
【図１】
2008088231.tif 000006