(57)【要約】【課題】接着剤の歪み及び熱膨張による光ファイバへ与える影響を低減することを可能とする光ファイバの固定方法及びこれを用いた光ファイバ干渉計を実現すること。【解決手段】光ファイバを接着剤で固定する光ファイバの固定方法であって、基板上に接着剤を等間隔に塗布する第１の工程と、光路長が異なる第１及び第２の光ファイバの一端及び他端を前記基板上に配置され一端が光源と接続する第３の光ファイバの他端と接続する光カプラの他端及び測定部の一端にそれぞれ接続させ前記接着剤上に前記第１及び第２の光ファイバを配置し前記接着剤を硬化させる第２の工程とから成ることを特徴とする。【選択図】                    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバを接着剤で固定する光ファイバの固定方法であって、
基板上に等間隔で複数の接着剤を線状に塗布する第１の工程と、
前記複数の接着剤上であって前記複数の接着剤にそれぞれ直交すると共に前記複数の接着剤の中央部の近傍に光ファイバを配置する第２の工程と、
前記複数の接着剤を硬化させて前記光ファイバを前記基板に固定する第３の工程と
から成ることを特徴とする光ファイバの固定方法。
【請求項２】
前記第２の工程で、
前記複数の接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ以上離れた部分に前記光ファイバを配置することを特徴とする
請求項１記載の光ファイバの固定方法。
【請求項３】
光ファイバを接着剤で固定する光ファイバの固定方法を用いた光ファイバ干渉計において、
光源と、
この光源の出力光が一端に入射される第１の光ファイバと、
この第１の光ファイバの他端からの出射光が一端に入射され入射光を２つに分岐して出射する光カプラと、
この光カプラの２つの分岐光がそれぞれ一端に入射される第２及び第３の光ファイバと、
これら第２及び第３の光ファイバの他端からの出射光がそれぞれ入射される測定部とを備え、
基板上に等間隔で塗布された複数の接着剤上であって前記複数の接着剤にそれぞれ直交すると共に前記複数の接着剤の中央部の近傍に前記第２及び第３の光ファイバを固定したことを特徴とする光ファイバ干渉計。
【請求項４】
前記第２及び第３の光ファイバが、
前記複数の接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ以上離れた部分に前記光ファイバを配置することを特徴とする
請求項３記載の光ファイバ干渉計。
【請求項５】
前記測定部が、
前記第２及び第３の光ファイバの他端からの出射光の間隔を調整して出射するピッチ変換部と、
このピッチ変換部からの２つの出射光をそれぞれ平行光にするレンズと、
このレンズから２つの平行光が照射され発生する干渉光の光強度を検出するフォトダイオードアレイと、
このフォトダイオードアレイの出力信号に基づき前記光源の出力光の波長を演算する信号処理部とから構成されたことを特徴とする
請求項３若しくは請求項４記載の光ファイバ干渉計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバを接着剤で固定する光ファイバの固定方法及びこれを用いた光ファイバ干渉計に関し、特に接着剤の歪み及び熱膨張による光ファイバへ与える影響を低減することが可能な光ファイバの固定方法及びこれを用いた光ファイバ干渉計に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ファイバを接着剤で固定する光ファイバの固定方法及びこれを用いた光ファイバ干渉計に関連する先行技術文献としては次のようなものがある。
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−２１８６３７号公報
【特許文献２】特開２００２−３１８１０３号公報
【０００４】
光通信や光計測の分野で使用される光源には外部の影響（例えば、周囲の温度変化など）によって波長が変化するという問題があり、光源の波長を高精度に測定しモニタリングする必要がある。このような中で、光源の波長を測定する装置として例えば光を干渉させて波長を測定する光ファイバ干渉計がある。
【０００５】
図７は従来の光ファイバ干渉計の一例を示す構成図及び断面図である。図７（ａ）は平面図、図７（ｂ）は図７（ａ）のＡ−Ａ断面図である。
【０００６】
図７において１は樹脂等で形成される基板、２は光源、３、５及び６は光ファイバ、４は光カプラ及び７は測定部である。また、光ファイバ５及び６は光路長が異なる。
【０００７】
基板１上には光カプラ４、光ファイバ５及び６及び測定部７が配置される。また、基板１上には光ファイバ５及び６を覆うように図７中”ＡＤ１００”に示す接着剤が配置され、光ファイバ５及び６は図７中”ＡＤ１００”に示す接着剤によって基板１に固定される。
【０００８】
光源２の出射端は光ファイバ３の一端に接続され、光ファイバ３の他端は光カプラ４の入射端に接続される。
【０００９】
光カプラ４の図７中”ＯＰ１００”及び”ＯＰ１０１”に示す出射端は光ファイバ５及び６の一端にそれぞれ接続され、光ファイバ５及び６の他端は測定部７の入射端にそれぞれ接続される。
【００１０】
また、図８を用いて測定部７の構成について説明する。図８は従来の光ファイバ干渉計の一例を示す構成図である。図８において８は出射端が設けられ出射端の間隔を調整するピッチ変換部、９はレンズ、１０は光信号を電気信号に変換するフォトダイオードアレイ及び１１は信号処理部である。図８において１、２、３、４、５、６及び７は図７と同一符号を付してある。
【００１１】
測定部７はピッチ変換部８、レンズ９、フォトダイオードアレイ１０及び信号処理部１１から構成される。
【００１２】
ピッチ変換部８では光ファイバ５及び６が平行に配置され、光ファイバ５及び６の一端がピッチ変換部８に設けられた図８中”ＯＰ１０２”及び”ＯＰ１０３”に示す出射端に接続される。
【００１３】
図８中”ＯＰ１０２”及び”ＯＰ１０３”に示す出射端から出射される出力光はレンズ９に入射し、レンズ９を介してフォトダイオードアレイ１０に照射される。また、フォトダイオードアレイ１０の一端は信号処理部１１の一端に接続される。
【００１４】
ここで、図７及び図８に示す従来の光ファイバ干渉計の動作を説明する。一般的に２方向から照射された２つの出射光は波面が重なり合いそれぞれ光路長が異なることにより干渉し干渉光が発生する。干渉光の干渉縞の明るさは正弦波状に変化することから、着目する点の明るさからその点の初期位相が分かる。
【００１５】
具体的には、光源２の出射光は光ファイバ３の一端に入射され、光ファイバ３の他端からの出射光は光カプラ４の入射端に入射される。
【００１６】
光カプラ４の入射端に入射された入射光は光カプラ４で２つに分岐され図７中”ＯＰ１００”及び”ＯＰ１０１”に示す出射端から出射され光ファイバ５及び６の一端にそれぞれ入射される。
【００１７】
２つの分岐光は光ファイバ５及び６を介してピッチ変換部８に入射され、ピッチ変換部８の図８中”ＯＰ１０２”及び”ＯＰ１０３”に示す出射端からそれぞれ出射されレンズ９によって平行光に変換される。
【００１８】
この時、図８中”ＯＰ１０２”及び”ＯＰ１０３”に示す出射端の位置が離れていることにより、２つの平行光の出射方向は僅かに傾いて交差し、レンズ９を通過した２つの平行光は干渉して干渉縞が発生しフォトダイオードアレイ１０に照射される。
【００１９】
フォトダイオードアレイ１０は干渉縞を受光し干渉光の光強度に応じた干渉信号を信号処理部１１に出力する。例えば、フォトダイオードアレイ１０は干渉縞の一周期分を受光し、９０°毎に位相の異なった干渉光の光強度に応じた干渉信号を信号処理部１１に出力する。
【００２０】
信号処理部１１は干渉信号から初期位相を求め光源２の出力光の波長を算出する。例えば、信号処理部１１は位相が０°、９０°、１８０°及び２７０°の４つの干渉信号を受信し、０°、９０°、１８０°及び２７０°の信号出力をそれぞれＩ0、Ｉ90、Ｉ180及びＩ270、光路長差をｈとすれば、信号処理部１１は以下の式（１）及び（２）により光源２の出力光の位相（φ）及び波長（λ）を算出する。
φ＝ｔａｎ-1｛（Ｉ0―Ｉ180）／（Ｉ90―Ｉ270）｝・・・（１）
λ＝４πｈ/φ ・・・（２）
【００２１】
この結果、光源の出力光が光カプラによって２つに分岐され、２つの分岐光がピッチ変換部に入射され、ピッチ変換部の出射端から僅かに傾いて出射される２つの出射光がレンズによって平行光に変換されて干渉光が発生し、干渉光がフォトダイオードアレイによって受光され光強度に応じた干渉信号が信号処理部に出力され、信号処理部によって干渉信号に基づいて波長が算出されることにより、光源の出力光の波長を測定することができる。
【００２２】
また、基板上に光ファイバを覆うように接着剤が塗布されることにより、光ファイバは基板上に固定される。
【００２３】
ここで、図７に示す従来の光ファイバ干渉計の一例の光ファイバを固定する工程について図９、図１０及び図１１を用いて説明する。図９、図１０及び図１１は従来の光ファイバ干渉計の光ファイバを固定する工程を説明する説明図である。１、２、３、４、５、６及び７は図７と同一符号を付してある。
【００２４】
まず、図９の工程に示すように光源２の出射端に接続される光ファイバ３、光カプラ４及び測定部７が配置された基板１上には図９中”ＡＤ１０１”に示す接着剤が塗布される。
【００２５】
次に、図１０の工程に示すように基板１上に塗布された図１０中”ＡＤ１０１”に示す接着剤上には一端が光カプラ４の図１０中”ＯＰ１００”及び”ＯＰ１０１”に示す出射端に接続され他端が測定部７の入射端に接続されるように光ファイバ５及び６が配置される。
【００２６】
次に、図１１の工程に示すように光ファイバ５及び６上には図１１中”ＡＤ１０２”に示す接着剤が塗布される。すなわち、光ファイバ５及び６は図１１中”ＡＤ１０２”に示す接着剤によって覆われることになる。
【００２７】
図１１中”ＡＤ１０１”及び”ＡＤ１０２”に示す接着剤は１００℃〜２５０℃程度の温度で加熱され図１１中”ＡＤ１０１”及び”ＡＤ１０２”に示す接着剤は熱硬化する。
【００２８】
この結果、基板１、光ファイバ５及び６に塗布された接着剤が加熱されて熱硬化することにより、光ファイバ５及び６は基板１に固定される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２９】
しかし、図７に示す従来例では、光ファイバ５及び６は図７中”ＡＤ１００”に示す接着剤が熱硬化する際に発生する歪みの影響を受けることにより、測定部７で算出される光源の出力光の波長が長期的にドリフトするといった問題があった。
【００３０】
また、光ファイバ干渉計の動作中に周囲の温度の影響を受けて図７中”ＡＤ１００”に示す接着剤が熱膨張し光ファイバ５及び６の特性が変化してしまうことがある。
【００３１】
すなわち、図７中”ＡＤ１００”に示す接着剤の熱膨張係数が光ファイバ５及び６の熱膨張係数よりも大きいため、図７中”ＡＤ１００”に示す接着剤の熱膨張の影響を受けて光ファイバ５及び６の特性が変化して測定部７で算出される光源の出力光の波長が変化してしまうといった問題があった。
従って本発明が解決しようとする課題は、接着剤の歪み及び熱膨張による光ファイバへ与える影響を低減することを可能とする光ファイバの固定方法及びこれを用いた光ファイバ干渉計を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００３２】
上記のような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
光ファイバを接着剤で固定する光ファイバの固定方法であって、
基板上に等間隔で複数の接着剤を線状に塗布する第１の工程と、前記複数の接着剤上であって前記複数の接着剤にそれぞれ直交すると共に前記複数の接着剤の中央部の近傍に光ファイバを配置する第２の工程と、前記複数の接着剤を硬化させて前記光ファイバを前記基板に固定する第３の工程とから成ることにより、接着剤の歪み及び熱膨張による光ファイバへ与える影響を低減することを可能となる。
【００３３】
請求項２記載の発明は、
請求項１記載の発明である光ファイバの固定方法であって、
前記第２の工程で、前記複数の接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ以上離れた部分に前記光ファイバを配置することにより、接着剤の歪み及び熱膨張による光ファイバへ与える影響を低減することを可能となる。
【００３４】
請求項３記載の発明は、
光ファイバを接着剤で固定する光ファイバの固定方法を用いた光ファイバ干渉計において、
光源と、この光源の出力光が一端に入射される第１の光ファイバと、この第１の光ファイバの他端からの出射光が一端に入射され入射光を２つに分岐して出射する光カプラと、この光カプラの２つの分岐光がそれぞれ一端に入射される第２及び第３の光ファイバと、これら第２及び第３の光ファイバの他端からの出射光がそれぞれ入射される測定部とを備え、基板上に等間隔で塗布された複数の接着剤上であって前記複数の接着剤にそれぞれ直交すると共に前記複数の接着剤の中央部の近傍に前記第２及び第３の光ファイバを固定したことにより、接着剤の歪み及び熱膨張による光ファイバへ与える影響を低減することを可能となる。
【００３５】
請求項４記載の発明は、
請求項３記載の発明である光ファイバ干渉計において、
前記第２及び第３の光ファイバが、前記複数の接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ以上離れた部分に前記光ファイバを配置することにより、接着剤の歪み及び熱膨張による光ファイバへ与える影響を低減することを可能となる。
【００３６】
請求項５記載の発明は、
請求項３記載の発明である光ファイバ干渉計において、
前記測定部が、前記第２及び第３の光ファイバの他端からの出射光の間隔を調整して出射するピッチ変換部と、このピッチ変換部からの２つの出射光をそれぞれ平行光にするレンズと、このレンズから２つの平行光が照射され発生する干渉光の光強度を検出するフォトダイオードアレイと、このフォトダイオードアレイの出力信号に基づき前記光源の出力光の波長を演算する信号処理部とから構成されたことにより、接着剤の歪み及び熱膨張による光ファイバへ与える影響を低減することを可能となる。
【発明の効果】
【００３７】
本発明によれば次のような効果がある。
請求項１、２、３、４及び請求項５の発明によれば、基板上に等間隔で複数の接着剤を線状に塗布し、前期複数の接着剤上であって前記複数の接着剤にそれぞれ直交すると共に前記複数の接着剤の中央部の近傍に光ファイバを配置し、前記複数の接着剤を硬化させて前記光ファイバを前記基板に固定することにより、接着剤の歪み及び熱膨張による光ファイバへ与える影響を低減することを可能とする光ファイバの固定方法及びこれを用いた光ファイバ干渉計を実現する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明に係る光ファイバ干渉計の一実施例を示す構成図及び断面図である。図１（ａ）は平面図、図１（ｂ）は図１（ａ）のＡ−Ａ断面図である。
【００３９】
図１において１２は樹脂等で形成される基板、１３は光源、１４、１６及び１７は光ファイバ、１５は光カプラ及び１８は測定部である。光ファイバ１６及び１７は光路長が異なる。また、測定部１８の構成は従来例と同様であるため説明を省略する。
【００４０】
基板１２上には光カプラ１５及び測定部１８が配置される。図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す紫外線硬化性の接着剤がそれぞれ平行に等間隔で線状に配置される。
【００４１】
図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤上には光ファイバ１６及び１７が接着剤の長手方向に直交すると共に中央部の近傍にそれぞれ配置される。
【００４２】
また、光ファイバ１６及び１７は図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤によって基板１２にそれぞれ固定される。
【００４３】
光源１３の出射端は光ファイバ１４の一端に接続され、光ファイバ１４の他端は光カプラ１５の入射端に接続される。
【００４４】
光カプラ１５の図１中”ＯＰ１１０”及び”ＯＰ１１１”に示す出射端は光ファイバ１６及び１７の一端にそれぞれ接続され、光ファイバ１６及び１７の他端は測定部１８の入射端にそれぞれ接続される。
【００４５】
ちなみに、図１に示す本発明に係る光ファイバ干渉計の一実施例の動作は従来例と同様の動作であるため説明を省略する。
【００４６】
ここで、図１に示す本発明に係る光ファイバ干渉計の一実施例の光ファイバを固定する工程について図２及び図３を用いて説明する。
【００４７】
図２及び図３は本発明に係る実施例の光ファイバ干渉計の光ファイバを固定する工程を説明する説明図である。図３（ａ）は平面図、図３（ｂ）は図３（ａ）のＡ−Ａ断面図である。図２及び図３において１２、１３、１４、１５、１６、１７及び１８は図１と同一符号を付してある。
【００４８】
まず、図２の工程に示すように基板１２には図２中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤が平行に等間隔で線状に塗布される。
【００４９】
例えば、図２中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤はそれぞれ”１×３０ｍｍ”の線状に塗布されると共に、図２中”ＩＬ１１０”に示す隣り合う接着剤の間隔が”１０ｍｍ”ごとに平行に等間隔で塗布される。
【００５０】
次に、図３の工程に示すように図３中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤の中央部の近傍は、一端が光カプラ１５の図３中”ＯＰ１１０”及び”ＯＰ１１１”に示す出射端にそれぞれ接続され他端が測定部の一端にそれぞれ接続されるように光ファイバ１６及び１７が配置される。
【００５１】
例えば、図３中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤上には接着剤の中央部の近傍に図３中”Ｔ１１０”に示す基板から光ファイバまでの間隔が”０．３ｍｍ”になるように光ファイバ１６及び１７がそれぞれ配置される。
【００５２】
また、図３中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤に紫外線が照射され、接着剤はそれぞれ紫外線硬化する。
【００５３】
このため、図３中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す基板１２上に塗布された接着剤が紫外線硬化することにより、光ファイバ１６及び１７は基板１２に固定される。
【００５４】
ここで、図１に示す実施例の接着剤の熱膨張が光ファイバに与える影響を図４、図５及び図６を用いて説明する。図４、図５及び図６は本発明に係る実施例の光ファイバ干渉計の接着剤及び光ファイバの熱膨張係数を説明する説明図である。図４（ａ）は平面図、図４（ｂ）は図４（ａ）のＡ−Ａ断面図である。図４において１２、１３、１４、１５、１６、１７及び１８は図１と同一符号を付してある。
【００５５】
まず、周囲の温度が変化した場合の図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤の熱膨張係数の変化と、図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤上の光ファイバ１６及び１７を配置する位置との関係を説明する。
【００５６】
図４中”ＡＤ１１０”に示す接着剤について周囲の温度を−１０℃から５０℃へ変化させた場合の図４中”Ｌ１２１”に示す接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ離れた接着剤上の部分及びその熱膨張係数の変化は図５に示すようなグラフで表される。
【００５７】
また、図４中”ＡＤ１１０”に示す接着剤のヤング率は”１．７５ＧＰａ”、熱膨張係数は”４０×１０-6／℃”である。
【００５８】
図４中”Ｔ１２０”に示す基板から光ファイバまでの間隔が”０．１ｍｍ”、”０．３ｍｍ”、”０．５ｍｍ”及び”１．０ｍｍ”の場合、図４中”Ｌ１２１”に示す接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ離れた接着剤上の部分及びその熱膨張係数の変化は、図５中”ＨＤ１１０”、”ＨＤ１１１”、”ＨＤ１１２”及び”ＨＤ１１３”に示す曲線でそれぞれ表される。
【００５９】
このような中で、図５に示すようなグラフに基づいて図４中”ＡＤ１１０”に示す接着剤の熱膨張係数が光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数よりも小さくなるように図４中”Ｌ１２１”に示す接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ離れた接着剤上の部分に光ファイバ１６及び１７をそれぞれ配置する。
【００６０】
このため、図４中”ＡＤ１１０”に示す接着剤の熱膨張係数が光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数より小さくなり、光ファイバ１６及び１７は図４中”ＡＤ１１０”に示す接着剤の熱膨張の影響を受けないことになる。
【００６１】
具体的には、図４中”Ｔ１２０”に示す基板から光ファイバまでの間隔が”０．３ｍｍ”であって図４中”Ｌ１２１”に示す接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ離れた接着剤上の部分が“３ｍｍ”以上離れた部分に熱膨張係数が”５．０×１０-7／℃”である光ファイバ１６及び１７をそれぞれ配置する。
【００６２】
図５中”ＨＤ１１１”に示す曲線に表されるように図４中”Ｌ１２１”に示す接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ離れた接着剤上の部分が”３ｍｍ”離れた部分である場合、図４中”ＡＤ１１０”に示す接着剤の熱膨張係数は約”１×１０-9／℃”となり、光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数よりも小さくなるので、光ファイバ１６及び１７は図４中”ＡＤ１１０”に示す接着剤の熱膨張の影響を受けない。
【００６３】
次に、基板１２上に等間隔に配置された図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤のヤング率と、図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤上に固定された光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数の変化について説明する。
【００６４】
図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す”１．７５ＧＰａ”程度の極めて高いヤング率、若しくは、”２．７ＭＰａ”程度の極めて低いヤング率の接着剤上に固定された光ファイバ１６及び１７について、それぞれ周囲の温度を−１０℃から５０℃へ変化させた場合の図４中”ＨＬ１２１”に示す接着剤の長手方向の側面から一定の長さが離れた光ファイバの部分及びその熱膨張係数の変化は図６に示すようなグラフで表される。
【００６５】
光ファイバ１６及び１７は図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤上に固定される前の熱膨張係数が”５．０×１０-7／℃”であり、図４中”Ｌ１２１”に示す接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ離れた接着剤上の部分が”１５ｍｍ”離れた部分に固定される。
【００６６】
図４中”ＨＬ１２１”に示す接着剤の長手方向の側面から一定の長さが離れた光ファイバの部分及びその熱膨張係数の変化は、図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤のヤング率が”１．７５ＧＰａ”及び”２．７ＭＰａ”の場合、図６中”ＨＡ１１０”及び図６中”ＨＡ１１１”に示す曲線でそれぞれ表される。
【００６７】
このような中で、図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示すヤング率が”１．７５ＧＰａ”の接着剤上に固定された光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数は図６中”ＨＡ１１０”に示す曲線に表されるように最大で”約２．０×１０-7／℃”となる。
【００６８】
すなわち、固定された光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数は固定される前の光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数に比較的影響が少ない数値であるので、光ファイバ１６及び１７は図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示すヤング率が極めて高い接着剤の熱膨張の影響を受けない。
【００６９】
また、図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示すヤング率が”２．７ＭＰａ”の接着剤上に固定された光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数は図６中”ＨＡ１１１”に示す曲線に表されるように”約５．０×１０-7／℃”となる。
【００７０】
したがって、固定された光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数は固定される前の光ファイバ１６及び１７の熱膨張係数とほぼ同じ数値であるので、光ファイバ１６及び１７は図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示すヤング率が極めて低い接着剤の熱膨張の影響を受けない。
【００７１】
このため、図４中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す基板１２上に平行で等間隔に塗布された接着剤のヤング率の大きさに関わらず、光ファイバ１６及び１７は接着剤の熱膨張の影響を受けない。
【００７２】
この結果、基板上に平行で等間隔に接着剤を線状に塗布し、接着剤上に接着剤の長手方向にそれぞれ直交すると共に接着剤上の中央部の近傍に光ファイバを配置し、接着剤を硬化させて光ファイバを基板に固定することにより、接着剤のヤング率の大きさに関わらず接着剤の歪み及び熱膨張が光ファイバへ与える影響を低減することが可能となる。
【００７３】
なお、図１等に示す実施例では、図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤は紫外線硬化型であるとされているが、特にこれに限定されるものではなく、熱硬化型の接着剤であっても構わない。
【００７４】
また、図１等に示す実施例では、光ファイバ１６及び１７は接着剤の中央部の近傍にそれぞれ配置されると例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、光ファイバ１６及び１７は接着剤の両端からそれぞれ一定の長さ以上離れた部分に配置されても構わない。
【００７５】
また、図１等に示す実施例では、図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤はそれぞれ”１×３０ｍｍ”の線状に塗布されると例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、接着剤は光ファイバ１６及び１７を基板１２に固定し歪み及び熱膨張による影響を低減することが可能な形状であればどのような形状で塗布されても構わない。
【００７６】
また、図１等に示す実施例では、ヤング率が”１．７５ＧＰａ”で熱膨張係数が”４０×１０-6／℃”である接着剤が例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、材質が異なる接着剤を使用するものであっても構わない。
【００７７】
また、図１等に示す実施例では、基板１２上には図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤が塗布され、言い換えれば、基板１２上には６個の接着剤が塗布されていると例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、光ファイバ１６及び１７を基板１２に固定し歪み及び熱膨張による影響を低減することが可能であれば任意の個数の接着剤が基板１２上に塗布されるものであっても構わない。
【００７８】
また、図１等に示す実施例では、光ファイバ１６及び１７を図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤上に配置して固定する固定方法が例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤で光ファイバ１６及び１７の全体を覆うようにして固定する固定方法であっても構わない。
【００７９】
また、図１等に示す実施例では、光ファイバ１６及び１７は図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤上に配置されるとして例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、光ファイバ１６及び１７は図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤上及び図１中”ＡＤ１１０”、”ＡＤ１１１”、”ＡＤ１１２”、”ＡＤ１１３”、”ＡＤ１１４”及び”ＡＤ１１５”に示す接着剤が塗布されていない基板１２上に配置され基板１２上に接するものであっても構わない。
【００８０】
また、図１等に示す実施例では、光ファイバ１６及び１７を基板１２に固定するものとして例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、光ファイバに限らず配電線、ツイストペアケーブル及び同軸ケーブル等の電線及びケーブルを基板１２に固定するものであっても構わない。
【００８１】
また、図１等に示す実施例では、光ファイバ１６及び１７を基板１２に固定するものとして例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、任意の個数の光ファイバを基板１２に固定するものであっても構わない。
【００８２】
また、図１等に示す実施例では、光ファイバ１６及び１７を基板１２に固定するものとして例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、ガラスをシリコン構造体に固定するものであっても構わない。
【００８３】
また、図１等に示す実施例では、光ファイバ１６及び１７は光カプラ１５の出射端から測定部１８の一端まで直線的に配置されて例示されているが、特にこれに限定されるものではなく、実用上光ファイバ１６及び１７は基板内に納まるように巻いて配置、折り曲げて配置及びジグザグに曲げられて配置されるものであっても構わない。
【図面の簡単な説明】
【００８４】
【図１】本発明に係る光ファイバ干渉計の一実施例を示す構成図及び断面図である。
【図２】本発明に係る実施例の光ファイバ干渉計の光ファイバを固定する工程を説明する説明図である。
【図３】本発明に係る実施例の光ファイバ干渉計の光ファイバを固定する工程を説明する説明図である。
【図４】本発明に係る実施例の光ファイバ干渉計の接着剤及び光ファイバの熱膨張係数を説明する説明図である。
【図５】本発明に係る実施例の光ファイバ干渉計の接着剤及び光ファイバの熱膨張係数を説明する説明図である。
【図６】本発明に係る実施例の光ファイバ干渉計の接着剤及び光ファイバの熱膨張係数を説明する説明図である。
【図７】従来の光ファイバ干渉計の一例を示す構成図及び断面図である。
【図８】従来の光ファイバ干渉計の一例を示す構成図である。
【図９】従来の光ファイバ干渉計の光ファイバを固定する工程を説明する説明図である。
【図１０】従来の光ファイバ干渉計の光ファイバを固定する工程を説明する説明図である。
【図１１】従来の光ファイバ干渉計の光ファイバを固定する工程を説明する説明図である。
【符号の説明】
【００８５】
１、１２  基板
２、１３  光源
３、５、６、１４、１６、１７  光ファイバ
４、１５  光カプラ
７、１８  測定部
８  ピッチ変換部
９  レンズ
１０  フォトダイオードアレイ
１１  信号処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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