(57)【要約】【課題】欠陥画素を適切に補正することが可能な撮像装置を提供することを目的とする。【解決手段】撮像装置１Ａは、欠陥画素を有し被写体像に関する撮影画像を取得する撮像素子１５と、撮影光学系に対する撮像素子１５の相対位置を本撮影画像取得位置から補正用画像取得位置に変更させる位置変更手段と、この位置変更手段を用いて、本撮影画像取得位置における撮像素子１５により本撮影画像を取得するとともに、補正用画像取得位置における撮像素子１５により補正用画像を取得する撮影制御手段と、本撮影画像と補正用画像との一致度を取得する一致度取得部１１４ａと、本撮影画像において、欠陥画素で取得された画素信号を補正する欠陥画素の補正部１１４ｃと、補正部１１４ｃにおいて一致度に応じた欠陥画素補正を実行させる補正制御部１１４ｂとを備える。【選択図】図４
2008245236.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影光学系を有する撮像装置であって、
欠陥画素を有し、被写体像に関する撮影画像を取得する撮像素子と、
前記撮影光学系に対する前記撮像素子の相対位置を第１の相対位置から第２の相対位置に変更させる位置変更手段と、
前記位置変更手段を用いて、前記第１の相対位置における撮像素子により第１の撮影画像を取得するとともに、前記第２の相対位置における撮像素子により第２の撮影画像を取得する撮影制御手段と、
前記第１の撮影画像と前記第２の撮影画像との一致度を取得する一致度取得手段と、
前記第１の撮影画像において、前記欠陥画素で取得された画素信号を補正する欠陥画素補正手段と、
前記欠陥画素補正手段において前記一致度に応じた欠陥画素補正を実行させる補正制御手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記欠陥画素補正手段は、
前記第２の撮影画像における画素のうち、前記第１の相対位置における前記撮像素子の欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素を、前記第１の相対位置から前記第２の相対位置までの変位を表す移動ベクトルに基づいて特定し、前記対応画素の画素信号を用いて前記第１の撮影画像における前記欠陥画素補正を行う第１の欠陥補正手段、
を有し、
前記補正制御手段は、前記一致度が所定のしきい値より高い場合は、前記第１の欠陥補正手段を用いて前記欠陥画素補正を行わせることを特徴とする撮像装置。
【請求項３】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記欠陥画素補正手段は、
前記第１の撮影画像の取得時における被写体と前記第２の撮影画像の取得時における被写体との変化を表す変化ベクトルを取得する変化取得手段と、
前記第２の撮影画像における画素のうち、前記第１の相対位置における前記撮像素子の欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素を、前記第１の相対位置から前記第２の相対位置までの変位を表す移動ベクトルと前記変化ベクトルとに基づいて特定し、前記対応画素の画素信号を用いて前記第１の撮影画像における前記欠陥画素補正を行う第２の欠陥補正手段と、
を有し、
前記補正制御手段は、前記一致度が所定の範囲内にある場合は、前記第２の欠陥補正手段を用いて前記欠陥画素補正を行わせることを特徴とする撮像装置。
【請求項４】
請求項３に記載の撮像装置において、
前記欠陥画素補正手段は、
前記撮像素子における前記欠陥画素周辺の非欠陥画素の画素信号を用いた補間によって、前記第１の撮影画像における前記欠陥画素補正を行う第３の欠陥補正手段、
をさらに有し、
前記補正制御手段は、前記一致度が前記所定の範囲における下限値より低い場合は、前記第３の欠陥補正手段を用いて前記欠陥画素補正を行わせることを特徴とする撮像装置。
【請求項５】
請求項４に記載の撮像装置において、
前記欠陥画素補正手段は、
前記第２の撮影画像における画素のうち前記対応画素を、前記移動ベクトルに基づいて特定し、前記対応画素の画素信号を用いて前記第１の撮影画像における前記欠陥画素補正を行う第１の欠陥補正手段、
をさらに有し、
前記補正制御手段は、前記一致度が前記所定の範囲における上限値より高い場合は、前記第１の欠陥補正手段を用いて前記欠陥画素補正を行わせることを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記第１の撮影画像の取得時における被写体と前記第２の撮影画像の取得時における被写体との変化を表す変化ベクトルを取得する変化取得手段、
をさらに備え、
前記一致度取得手段は、
前記変化ベクトルに基づいて前記一致度に関する情報を取得する情報取得手段、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項７】
請求項６に記載の撮像装置において、
前記情報取得手段は、前記変化ベクトルの大きさを算出し、
前記欠陥画素補正手段は、
前記第２の撮影画像における画素のうち、前記第１の相対位置における前記撮像素子の欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素を、前記第１の相対位置から前記第２の相対位置までの変位を表す移動ベクトルに基づいて特定し、前記対応画素の画素信号を用いて前記第１の撮影画像における前記欠陥画素補正を行う第１の欠陥補正手段、
を有し、
前記補正制御手段は、前記変化ベクトルの大きさが所定のしきい値より小さい場合は、前記第１の欠陥補正手段を用いて前記欠陥画素補正を行わせることを特徴とする撮像装置。
【請求項８】
請求項６に記載の撮像装置において、
前記変化取得手段は、前記被写体に関する複数の部位について前記変化ベクトルをそれぞれ取得し、
前記情報取得手段は、
前記複数の部位に係る各変化ベクトルに関してばらつき度を取得するばらつき度取得手段、
を有し、
前記欠陥画素補正手段は、
前記第２の撮影画像における画素のうち、前記第１の相対位置における前記撮像素子の欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素を、前記第１の相対位置から前記第２の相対位置までの変位を表す移動ベクトルと前記変化ベクトルとに基づいて特定し、前記対応画素の画素信号を用いて前記第１の撮影画像における前記欠陥画素補正を行う第２の欠陥補正手段、
を有し、
前記補正制御手段は、前記ばらつき度が、所定のしきい値より小さい場合は、前記第２の欠陥補正手段を用いて前記欠陥画素補正を行わせることを特徴とする撮像装置。
【請求項９】
請求項８に記載の撮像装置において、
前記欠陥画素補正手段は、
前記撮像素子における前記欠陥画素周辺の非欠陥画素の画素信号を用いた補間によって、前記第１の撮影画像における前記欠陥画素補正を行う第３の欠陥補正手段、
をさらに有し、
前記補正制御手段は、前記ばらつき度が、前記所定のしきい値より大きい場合は、前記第３の欠陥補正手段を用いて前記欠陥画素補正を行わせることを特徴とする撮像装置。
【請求項１０】
欠陥画素を有する撮像素子によって取得される撮影画像の欠陥画素補正方法であって、
ａ）撮影光学系に対する前記撮像素子の相対位置を第１の相対位置から第２の相対位置に変更させる工程と、
ｂ）前記第１の相対位置における撮像素子により第１の撮影画像を取得するとともに、前記第２の相対位置における撮像素子により第２の撮影画像を取得する工程と、
ｃ）前記第１の撮影画像と前記第２の撮影画像との一致度を取得する工程と、
ｄ）前記第１の撮影画像において、前記欠陥画素で取得された画素信号を補正する工程と、
を備え、
前記工程ｄ）においては、前記一致度に応じた欠陥画素補正が実行されることを特徴とする欠陥画素補正方法。
【請求項１１】
撮影光学系を有する撮像装置であって、
欠陥画素を有し、被写体像に関する撮影画像を取得する撮像素子と、
前記撮影光学系に対する前記撮像素子の相対位置を第１の相対位置から第２の相対位置に変更させる位置変更手段と、
前記位置変更手段を用いて、前記第１の相対位置における撮像素子により第１の撮影画像を取得するとともに、前記第２の相対位置における撮像素子により第２の撮影画像を取得する撮影制御手段と、
前記第１の撮影画像の取得時における被写体と前記第２の撮影画像の取得時における被写体との変化を表す変化ベクトルを取得する変化取得手段と、
前記第２の撮影画像における画素のうち、前記第１の相対位置における前記撮像素子の欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素を、前記第１の相対位置から前記第２の相対位置までの変位を表す移動ベクトルと前記変化ベクトルとに基づいて特定する特定手段と、
前記対応画素の画素信号を用いて前記第１の撮影画像における欠陥画素補正を行う欠陥補正手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子における欠陥画素の補正技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル一眼レフカメラ（ＤＳＬＲ）が急速に普及している。デジタル一眼レフカメラでは、ＣＣＤ等の撮像素子を用いて被写体像に関する画像（撮影画像）を取得しているが、当該撮像素子には欠陥画素が存在することがある。欠陥画素には、例えば、露光量に依存しないか、或いは依存の仕方が明らかに他の画素と異なる高出力の画素（白キズ）と露光量に依存しないか、或いは依存の仕方が明らかに他の画素と異なる低出力の画素（黒キズ）とが存在する。このような、欠陥画素を有する撮像素子によって取得された本撮影画像には、高出力の画素による高輝度の点、または低出力の画素による低輝度の点が発生し、良好な撮影画像を取得することができない。
【０００３】
欠陥画素を補正する手法としては、例えば、撮像素子を用いて被写体像に関する記録用の画像（変位前の画像）を撮影した後に、撮影光学系と撮像素子との相対位置を変更（変位）させて、同一の被写体像に関する画像（変位後の画像）を当該撮像素子の異なる領域で撮影し、変位前の画像において欠陥画素によって取得される画素信号（画素値）を、変位後の画像において変位前の画像の欠陥画素と同一の絶対座標の正常な画素によって取得される画素信号を用いて補正する技術が提案されている（特許文献１）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−８６４１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、２回の撮影間において被写体が移動等して変化した場合は、２枚の画像において上記の同一の絶対座標を有する画素は、それぞれ異なる被写体部位に関する画素信号を取得することになる。
【０００６】
このため、２回の撮影間における被写体変化を考慮せず、一律に、変位後の画像において変位前の画像の欠陥画素と同一の絶対座標の画素の画素信号を用いて、変位前の画像の欠陥画素補正を実行すると、欠陥画素の補正精度が著しく低下する場合がある。
【０００７】
そこで、本発明は、２回の撮影間における被写体の変化に応じた適切な欠陥画素補正を実行することが可能な撮像装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の第１の側面は、撮影光学系を有する撮像装置であって、欠陥画素を有し、被写体像に関する撮影画像を取得する撮像素子と、前記撮影光学系に対する前記撮像素子の相対位置を第１の相対位置から第２の相対位置に変更させる位置変更手段と、前記位置変更手段を用いて、前記第１の相対位置における撮像素子により第１の撮影画像を取得するとともに、前記第２の相対位置における撮像素子により第２の撮影画像を取得する撮影制御手段と、前記第１の撮影画像と前記第２の撮影画像との一致度を取得する一致度取得手段と、前記第１の撮影画像において、前記欠陥画素で取得された画素信号を補正する欠陥画素補正手段と、前記欠陥画素補正手段において前記一致度に応じた欠陥画素補正を実行させる補正制御手段とを備えることを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の第２の側面は、欠陥画素を有する撮像素子によって取得される撮影画像の欠陥画素補正方法であって、ａ）撮影光学系に対する前記撮像素子の相対位置を第１の相対位置から第２の相対位置に変更させる工程と、ｂ）前記第１の相対位置における撮像素子により第１の撮影画像を取得するとともに、前記第２の相対位置における撮像素子により第２の撮影画像を取得する工程と、ｃ）前記第１の撮影画像と前記第２の撮影画像との一致度を取得する工程と、ｄ）前記第１の撮影画像において、前記欠陥画素で取得された画素信号を補正する工程とを備え、前記工程ｄ）においては、前記一致度に応じた欠陥画素補正が実行されることを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の第３の側面は、撮影光学系を有する撮像装置であって、欠陥画素を有し、被写体像に関する撮影画像を取得する撮像素子と、前記撮影光学系に対する前記撮像素子の相対位置を第１の相対位置から第２の相対位置に変更させる位置変更手段と、前記位置変更手段を用いて、前記第１の相対位置における撮像素子により第１の撮影画像を取得するとともに、前記第２の相対位置における撮像素子により第２の撮影画像を取得する撮影制御手段と、前記第１の撮影画像の取得時における被写体と前記第２の撮影画像の取得時における被写体との変化を表す変化ベクトルを取得する変化取得手段と、前記第２の撮影画像における画素のうち、前記第１の相対位置における前記撮像素子の欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素を、前記第１の相対位置から前記第２の相対位置までの変位を表す移動ベクトルと前記変化ベクトルとに基づいて特定する特定手段と、前記対応画素の画素信号を用いて前記第１の撮影画像における欠陥画素補正を行う欠陥補正手段とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、撮影光学系に対する撮像素子の相対位置を本撮影画像取得位置から補正用画像取得位置に変更して、それぞれの位置で撮影画像を取得し、２枚の撮影画像の一致度を取得する。そして、２枚の撮影画像の一致度に応じた欠陥画素補正を実行するので、適切な欠陥画素補正を行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
【００１３】
＜１．第１実施形態＞
＜１−１．構成＞
図１および図２は、本発明の第１実施形態に係る撮像装置１Ａの外観構成を示す図である。ここで、図１は、撮像装置１Ａの正面外観図であり、図２は、撮像装置１Ａの背面外観図である。この撮像装置１Ａは、レンズ交換式一眼レフレックスタイプのデジタルカメラとして構成されている。
【００１４】
図１に示すように、撮像装置１Ａは、カメラ本体部（カメラボディ）２を備えている。このカメラ本体部２に対して、交換式の撮影レンズユニット（交換レンズ）３が着脱可能である。
【００１５】
撮影レンズユニット３は、主として、鏡胴１０１、ならびに、鏡胴１０１の内部に設けられるレンズ群３７（図３参照）及び絞り（不図示）等によって構成される。レンズ群３７には、光軸方向に移動することによって焦点位置を変更するフォーカスレンズ等が含まれている。
【００１６】
カメラ本体部２は、撮影レンズユニット３が装着される円環状のマウント部Ｍｔを正面略中央に備え、撮影レンズユニット３を着脱するための着脱ボタン８９を円環状のマウント部Ｍｔ付近に備えている。
【００１７】
また、カメラ本体部２は、その正面左上部にモード設定ダイアル８２を備え、その正面右上部に制御値設定ダイアル８６を備えている。モード設定ダイアル８２を操作することによって、カメラの各種モード（各種撮影モード（人物撮影モード、風景撮影モード、および連続撮影モード等）、撮影した画像を再生する再生モード、および外部機器との間でデータ交信を行う通信モード等を含む）の設定動作（切替動作）を行うことが可能である。また、制御値設定ダイアル８６を操作することによれば、各種撮影モードにおける制御値を設定することが可能である。
【００１８】
また、カメラ本体部２は、正面左端部に撮影者が把持するためのグリップ部１４を備えている。グリップ部１４の上面には露光開始を指示するためのレリーズボタン１１が設けられている。グリップ部１４の内部には電池収納室とカード収納室とが設けられている。電池収納室にはカメラの電源として、例えば４本の単３形乾電池が収納されており、カード収納室には撮影画像の画像データを記録するためのメモリカード１１９（図４参照）が着脱可能に収納されるようになっている。
【００１９】
レリーズボタン１１は、半押し状態（Ｓ１状態）と全押し状態（Ｓ２状態）の２つの状態を検出可能な２段階検出ボタンである。レリーズボタン１１が半押しされＳ１状態になると、被写体に関する記録用静止画像（本撮影画像）を取得するための準備動作（例えば、ＡＦ制御動作およびＡＥ制御動作等）が行われる。また、レリーズボタン１１がさらに押し込まれてＳ２状態になると、当該本撮影画像の撮影動作（撮像素子１５（後述）を用いて被写体像に関する露光動作を行い、その露光動作によって得られた画像信号に所定の画像処理を施す一連の動作）が行われる。
【００２０】
図２において、カメラ本体部２の背面の略中央には、背面モニタ１２が設けられている。背面モニタ１２は、例えばカラー液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）として構成される。背面モニタ１２は、撮影条件等を設定するためのメニュー画面を表示したり、再生モードにおいてメモリカード１１９に記録された撮影画像を再生表示したりすることができる。
【００２１】
カメラ本体部２の背面略中央上部には、ファインダ窓１０が設けられている。ファインダ窓１０には、撮影レンズユニット３からの被写体像が導かれ、撮影者は、ファインダ窓１０を覗くことによって、撮像素子１５によって取得される被写体像と等価な像を視認することができる。具体的には、撮影光学系に入射された被写体像は、ミラー機構１０３(図３参照)で上方に反射され、接眼レンズ１０６を介して視認される。このように、撮影者は、ファインダ窓１０を覗くことによって構図決めを行うことが可能である。なお、本撮影画像の撮影時においては、ミラー機構１０３は被写体像を形成する光の光路から待避し、撮影レンズユニット３からの光（被写体像を形成する光）が撮像素子１５に到達し、被写体に係る撮影画像（画像データ）が得られる。
【００２２】
背面モニタ１２の左上部にはメインスイッチ８１が設けられている。メインスイッチ８１は２点スライドスイッチからなり、接点を左方の「ＯＦＦ」位置に設定すると、電源がオフになり、接点を右方の「ＯＮ」位置に設定すると、電源がオンになる。
【００２３】
背面モニタ１２の右側には方向選択キー８４が設けられている。この方向選択キー８４は円形の操作ボタンを有し、この操作ボタンにおける上下左右の４方向の押圧操作と、右上、左上、右下及び左下の４方向の押圧操作とが、それぞれ検出されるようになっている。なお、方向選択キー８４は、上記８方向の押圧操作とは別に、中央部のプッシュボタンの押圧操作も検出されるようになっている。
【００２４】
背面モニタ１２の左側には、メニュー画面の設定、画像の削除などを行うための複数のボタンからなる設定ボタン群８３が設けられている。
【００２５】
次に、撮像装置１Ａの内部構成について説明する。図３は、撮像装置１Ａの縦断面図である。図３に示すように、撮像装置１Ａの内部には、撮像素子１５、ファインダ部１０２（ファインダ光学系）、ミラー機構１０３、焦点検出部１０７、撮像素子駆動機構１１２及びシャッタユニット４０などが備えられている。
【００２６】
撮像素子（撮像センサ）１５は、撮像装置１Ａに撮影レンズユニット３が装着された場合の当該撮影レンズユニット３が備えているレンズ群３７の光軸Ｌ上において、光軸Ｌに対して垂直な平面内に配置され、被写体像に関する画像信号を生成する。詳細は、後述する。
【００２７】
上記の光軸Ｌ上において、被写体光をファインダ部１０２へ向けて反射する位置には、ミラー機構１０３（反射板）が配置されている。撮影レンズユニット３を通過した被写体光は、ミラー機構１０３（後述の主ミラー１０３１）によって上方へ反射され、焦点板１０４（ピントグラス）に結像される。撮影レンズユニット３を通過した被写体光の一部はこのミラー機構１０３を透過する。
【００２８】
ファインダ部１０２は、ペンタプリズム１０５と接眼レンズ１０６とファインダ窓１０とを備えている。ペンタプリズム１０５は、断面５角形を呈し、その下面から入射された被写体像を内部での反射によって当該光像の天地左右を入れ替えて正立像にするためのプリズムである。接眼レンズ１０６は、ペンタプリズム１０５により正立像にされた被写体像をファインダ窓１０の外側に導く。このような構成により、ファインダ部１０２は、撮影待機時において被写界を確認するための光学ファインダとして機能する。
【００２９】
ミラー機構１０３は、主ミラー１０３１及びサブミラー１０３２から構成されており、主ミラー１０３１の背面側において、サブミラー１０３２が主ミラー１０３１の背面に向けて倒れるように回動可能に設けられている。主ミラー１０３１を透過した被写体光の一部はサブミラー１０３２によって反射され、この反射された被写体光は焦点検出部１０７に入射される。
【００３０】
上記のミラー機構１０３は、所謂クイックリターンミラーとして構成されており、露光時には回転軸１０３３を回動支点として矢印Ａに示す上方に向けて跳ね上がり、焦点板１０４の下方位置で停止する。この際、サブミラー１０３２は、主ミラー１０３１の背面に対して矢印Ｂで示す方向に回転軸１０３４を支点として回動し、上記のミラー機構１０３が焦点板１０４の下方位置で停止したときには、主ミラー１０３１と略平行となるように折り畳まれた状態となる。これにより、撮影レンズユニット３からの被写体光がミラー機構１０３によって遮られることなく撮像素子１５上に届き、当該撮像素子１５が露光される。露光が終了すると、ミラー機構１０３は元の位置（図３に示す位置）に復帰する。
【００３１】
焦点検出部１０７は、被写体のピント情報を検出する測距素子等からなる所謂ＡＦセンサとして構成されている。この焦点検出部１０７は、ミラー機構１０３の底部に配設されており、例えば周知の位相差検出方式により合焦位置を検出する。
【００３２】
撮像素子１５は、撮像素子駆動機構（単に「駆動機構」とも称する）１１２（図４参照）にて光軸Ｌと直交する平面において二次元的に移動可能に保持されている。また、撮像素子１５の光軸方向直前には、赤外線の入射を防止するための（ＩＲカット用の）及び疑似カラーや色モアレの発生を防止するためのローパスフィルタ１０８が配置されており、さらにローパスフィルタ１０８の直前には、シャッタユニット４０が配置されている。このシャッタユニット４０は、上下方向に移動する幕体を備え、光軸Ｌに沿って撮像素子１５に導かれる被写体光の光路開口動作及び光路遮断動作を行うメカニカルフォーカルプレーンシャッタである。
【００３３】
撮像装置１Ａの上記各部品は、例えば鉄などの金属材料からなるシャーシによって互いに連結（固定）されている。本実施形態では上記のシャーシが、前面シャーシ（図示省略）、背面シャーシ１８３及び底面シャーシ１８４から構成されてなる例を示している。これらのシャーシは、上述した撮像装置１Ａ内の各部品を支持する支持材としての役目を果たしている。なお、底面シャーシ１８４には、三脚取付部１８５が設けられている。
【００３４】
次に、撮像装置１Ａの機能の概要について説明する。図４は、撮像装置１Ａの機能構成を示すブロック図である。
【００３５】
図４に示すように、撮像装置１Ａは、全体制御部１１０、撮像処理部１１３、欠陥補正部１１４、画像処理部１１５、操作部１１８等を備える。
【００３６】
全体制御部１１０は、マイクロコンピュータとして構成され、主にＣＰＵ、ＲＡＭ４ａ及びＲＯＭ４ｂ等を備える。全体制御部１１０は、ＲＯＭ４ｂ内に格納されるプログラムを読み出し、当該プログラムをＣＰＵで実行することによって、各種機能を実現する。
【００３７】
例えば、全体制御部１１０は、ジャイロセンサ１１７の出力信号（ブレ信号）に基づいて、振動による被写体像のブレ量およびその向きに対応する撮像素子１５の移動すべき移動量および向きを導出する。そして、駆動機構制御部１１１を介して、駆動機構１１２を駆動することにより、撮像素子１５を光軸Ｌに垂直な平面内で移動させて、手ブレ等に起因する撮像装置１Ａのブレを補正する機能を有している。なお、駆動機構１１２は、ピッチ方向アクチュエータとヨー方向アクチュエータとを有し、撮像素子１５を光軸Ｌに垂直な平面内において水平および垂直の２方向に移動させる機能を有している。
【００３８】
操作部１１８は、レリーズボタン１１（図１参照）を含む各種ボタンおよびスイッチ等を備えて構成される。操作部１１８に対するユーザーの入力操作に応答して、全体制御部１１０等が各種動作を実現する。例えば、レリーズボタン１１の全押し状態が検出されると、本撮影画像の撮影動作が実行されるとともに、上記駆動機構１１２によって撮像素子１５が移動され補正用画像の撮影動作が実行される。なお、取得された補正用画像は、撮像素子１５の欠陥画素によって取得される画素信号（画素値）の補正に用いられる。詳細は、後述する。
【００３９】
撮像素子１５は、受光面に結像された被写体像の露光（光電変換による電荷蓄積）を行い、当該被写体像に関する画像信号を生成する。具体的には、撮像素子１５は、フォトダイオードを有して構成される複数の画素がマトリクス状に２次元配置され、各画素の受光面にＲ(赤)、Ｇ(緑)、Ｂ(青)の原色透過フィルターが市松状に配設されてなるベイヤー配列のカラーセンサ（例えば、ＣＣＤ）として構成される。そして、撮像素子１５は、レンズ群３７により結像された被写体の光像をＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）各色成分のアナログの電気信号に変換し、画像信号を生成する。
【００４０】
撮像素子１５によって取得された画像信号は、撮像処理部１１３へと出力される。そして、当該画像信号は、撮像処理部１１３においてノイズ除去およびゲイン調整が行われた後、Ａ／Ｄ変換によってデジタル画像データ（画像データ）に変換される。そして、この画像データは、画像メモリ１１６に書き込まれる。以後は、画像メモリ１１６に格納された画像データに対して、欠陥補正部１１４および画像処理部１１５によって各種の処理が実行される。なお、画像メモリ１１６は、生成された画像データを一時的に記憶するための、高速アクセス可能な画像メモリであり、複数フレーム分の画像データを記憶可能な容量を有する。
【００４１】
欠陥補正部１１４は、一致度取得部１１４ａと補正制御部１１４ｂと補正部１１４ｃとを有している。一致度取得部１１４ａは、本撮影画像における被写体と補正用画像における被写体との一致度を取得する。補正制御部１１４ｂは、一致度に基づいて欠陥画素の補正手法を選択制御する。補正部１１４ｃは、補正制御部１１４ｂにおいて選択指示された補正手法を用いて、本撮影画像において撮像素子１５の欠陥画素によって取得された画素信号を補正する。なお、欠陥補正部１１４において実行される欠陥画素補正についての詳細は、後述する。
【００４２】
画像処理部１１５は、画像メモリ１１６に格納された画像データに対してデジタル信号処理を行い、撮像画像に係る画像データを生成する。具体的には、画像処理部１１５では、画素補間処理、ホワイトバランス調整処理、および輪郭強調処理等の各種処理が実行される。
【００４３】
画素補間処理では、ベイヤー配列の各画素において不足する色信号の画素値が補間により算出される。例えば、Ｇ成分の画素値を取得可能な画素（Ｇ画素）においては、Ｒ成分の画素値は、当該Ｇ画素の上下に存在するＲ画素の画素値の平均値として決定されるとともに、Ｂ成分の画素値は、当該Ｇ画素の左右に存在するＢ画素の画素値の平均値として決定される。また、Ｒ画素においては、不足するＧ成分またはＢ成分の画素値は、当該Ｒ画素の周囲に存在する４つのＧ画素または４つのＢ画素の画素値に基づいてそれぞれ決定される。同様に、Ｂ画素においては、不足するＧ成分またはＲ成分の画素値は、当該Ｂ画素の周囲に存在する４つのＧ画素または４つのＲ画素の画素値に基づいてそれぞれ決定される。
【００４４】
ホワイトバランス調整処理では、ＲＧＢ各画素を独立にゲイン補正することによって画像のホワイトバランス制御が行われる。
【００４５】
輪郭強調処理では、画像データに応じたハイパスフィルタによって輪郭を際立たせるエッジ強調処理が行われる。
【００４６】
画像メモリ１１６に格納された画像データは、欠陥補正部１１４および画像処理部１１５において適宜画像処理が施された後、記録媒体（ここでは、メモリカード１１９）に記録される。
【００４７】
＜１−２．動作＞
＜１−２−１．全体動作＞
次に、本実施形態における欠陥画素補正について説明する。図５は、撮像素子１５における欠陥画素を示す図である。なお、図５の撮像素子１５において点線によって区画される各単位領域は、撮像素子１５の１画素を表し、撮像素子１５の各画素は簡単化のために模式的に拡大して表されている。図６は、欠陥画素補正に関する全体フローチャートである。図７は、撮影光学系と撮像素子１５との相対位置を変更させて取得される２枚の画像を示す図である。なお、図７では、移動前の位置における撮像素子は、符号１５ａを用いて表され、移動後の位置における撮像素子は、符号１５ｂを用いて表されている。図８は、一致度を取得するための評価領域を示す図である。図９は、補正用画像ＧＲ２において、評価領域に対応する領域を示す図である。なお、図７，図８，図９において表される２枚の画像ＧＲ１，ＧＲ２中の点線によって区画される各単位領域は、画像の１画素を表し、当該画像の各画素は簡単化のために模式的に拡大して表されている。
【００４８】
なお、本実施形態では、図５に示されるような１画素単位の欠陥画素が２次元方向に互いに隣接して構成された領域（「欠陥画素領域」とも称する）ＫＡに含まれる複数の欠陥画素を補正する場合を想定し、手ブレ等による撮像装置１Ａのブレは存在しないものとする。
【００４９】
図６に示されるように、ステップＳＰ１では、撮影光学系と撮像素子１５との相対位置を変更させて、２枚の画像（詳細には本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２）が取得される。具体的には、レリーズボタン１１のＳ２状態が検出されると、被写体像の露光が行われ、当該被写体像に関する本撮影画像ＧＲ１が取得される。本撮影画像の露光が終了すると、上述の手ブレ補正機能を利用して撮像素子１５が移動され、撮影光学系と撮像素子１５との相対位置が変更される。そして、新たな相対位置において露光が行われ、同一の被写体像に関する画像（補正用画像）ＧＲ２が撮像素子１５の異なる領域で撮影される。より詳細には、図７に示されるように、移動前の位置における撮像素子１５ａ（図７（ａ））によって本撮影画像ＧＲ１（図７（ｂ））が取得され、移動後の位置における撮像素子１５ｂ（図７（ａ））によって補正用画像ＧＲ２（図７（ｂ））が取得される。なお、図７（ａ）の矢印ＭＶは、撮影光学系と撮像素子１５との相対位置の変位（相対位置の変更方向と変更量）を表し、以降では移動ベクトルＭＶとも称することとする。また、図７（ｂ）の本撮影画像ＧＲ１上の一点鎖線によって囲まれる領域は、本撮影画像ＧＲ１において、撮像素子１５の欠陥画素領域ＫＡ内の各画素によって取得された画素信号を有する領域（「欠陥信号領域」とも称する）ＫＳを表している。また、撮影光学系と撮像素子１５との相対位置の変更に関する変位情報（撮影光学系と撮像素子１５との相対位置の変位を２次元成分値で表現した値）ＨＩは、ＲＯＭ４ｂに予め格納され、当該変位情報ＨＩに基づいて、撮像素子１５の移動先が決定される。
【００５０】
ステップＳＰ２では、取得された２枚の画像における被写体の一致度を表す評価値ＥＳが算出される。本実施形態では、一致度を表す評価値ＥＳは、異なる相対位置で取得された２枚の画像において、同一の被写体部位に関する情報を有すると想定される領域同士を比較することによって取得される。
【００５１】
具体的には、まず、図８に示すように、本撮影画像ＧＲ１における欠陥信号領域ＫＳ近傍の領域が評価領域（「一致度取得領域」とも称する）ＨＲとして特定される。ここでは、欠陥信号領域ＫＳ周辺の４つの領域ＨＲ１，ＨＲ２，ＨＲ３，ＨＲ４を評価領域ＨＲとして用いる場合について例示する。
【００５２】
４つの評価領域ＨＲ１〜ＨＲ４の設定手法としては、まず、本撮影画像ＧＲ１の左下隅の画素（「原点画素」とも称する）ＯＰが存在する位置を原点として、欠陥信号領域ＫＳに含まれる各画素の座標値が比較され、各画素が示す座標値の中からＸ座標の最小値ＸｓとＸ座標の最大値ＸｂとＹ座標の最小値ＹｓとＹ座標の最大値Ｙｂとがそれぞれ取得される。そして、欠陥信号領域ＫＳにおいてＸ座標の座標値として最小値Ｘｓを有する画素の中から選択された１の画素から−Ｘ方向に一定距離（ここでは、３画素）移動した位置に存在する画素（「基準画素」とも称する）ＣＰ１を中心とする３画素×３画素の領域が評価領域ＨＲ１として設定（特定）される。同様に、欠陥信号領域ＫＳにおいてＸ座標の座標値として最大値Ｘｂを有する画素の中から選択された１の画素から＋Ｘ方向に３画素移動した位置に存在する画素ＣＰ３を中心とする３画素×３画素の領域が評価領域ＨＲ３として設定される。また同様に、欠陥信号領域ＫＳにおいてＹ座標の座標値として最大値Ｙｂを有する画素の中から選択された１の画素から＋Ｙ方向に３画素移動した位置に存在する画素ＣＰ２を中心とする３画素×３画素の領域が評価領域ＨＲ２として設定される。また同様に、欠陥信号領域ＫＳにおいてＹ座標の座標値として最小値Ｙｓを有する画素の中から選択された１の画素から−Ｙ方向に３画素移動した位置に存在する画素ＣＰ４を中心とする３画素×３画素の領域が評価領域ＨＲ４として設定される。
【００５３】
次に、図９に示されるように、補正用画像ＧＲ２において、４つの評価領域ＨＲ１〜ＨＲ４に対応する対応領域ＴＲ１，ＴＲ２，ＴＲ３，ＴＲ４がそれぞれ特定される。具体的には、本撮影画像ＧＲ１の左下隅の原点画素ＯＰが存在する位置を原点とした場合に、補正用画像ＧＲ２において、本撮影画像ＧＲ１の４つの評価領域ＨＲ１〜ＨＲ４内の画素と同じ絶対座標を有する画素によって構成される領域が対応領域ＴＲ１〜ＴＲ４としてそれぞれ決定される。なお、このように決定される各対応領域ＴＲ１〜ＴＲ４は、それぞれ対応する評価領域ＨＲ１〜ＨＲ４と同一の被写体部位に関する情報を有すると想定される領域であるとも表現される。また、評価領域の絶対座標は、当該評価領域における中心画素の絶対座標によって与えられるとすると、各対応領域ＴＲ１〜ＴＲ４は、それぞれ対応する評価領域ＨＲ１〜ＨＲ４と同一の絶対座標を有する領域であるとも表現される。
【００５４】
そして、一致度を表す評価値ＥＳは、本撮影画像ＧＲ１における評価領域ＨＲ内の画素（「評価画素」とも称する）と補正用画像ＧＲ２の対応領域ＴＲ内において評価画素に対応する画素（「対応評価画素」とも称する）とを比較することによって取得される。一致度を表す評価値ＥＳとしては、例えば、評価画素のＧ成分の画素値と当該評価画素に対応する対応評価画素のＧ成分の画素値との差の２乗値を評価画素ごとに加算して取得される値が用いられる。より詳細には、評価値ＥＳは、評価画素（座標（ｘ，ｙ））のＧ成分の画素値ＰＧ１（ｘ，ｙ）と対応評価画素（座標（ｘ，ｙ））のＧ成分の画素値ＰＧ２（ｘ，ｙ）とを用いて式（１）のように表される。
【００５５】
【数１】
2008245236.tif 000003
【００５６】
このようにして算出される評価値ＥＳは、２枚の画像において、同一の絶対座標を有する領域（或いは画素）に結像された被写体部位の一致度合いを表している。すなわち、式（１）によって表される評価値ＥＳは、評価領域ＨＲにおける被写体部位と対応領域ＴＲにおける被写体部位との同一性が高くなると小さな値となり、同一性が低くなると大きな値となる。
【００５７】
図８に示されるように、欠陥信号領域ＫＳ周辺の４つの領域ＨＲ１，ＨＲ２，ＨＲ３，ＨＲ４を評価領域ＨＲとして用いる場合は、１つの評価領域あたり９つの画素が存在することから、３６個（９×４）の対応する２画素間における画素値の差に基づいて評価値ＥＳが取得される。
【００５８】
次に、ステップＳＰ３（図６）では、ステップＳＰ２で算出された評価値ＥＳと予め設定された第１のしきい値ＴＨ１とが比較される。そして、評価値ＥＳが第１のしきい値ＴＨ１よりも小さい場合は、本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との一致度は高い、すなわち本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との画像取得間における被写体の移動（変化）はなかったと判断して、ステップＳＰ４へと移行する。
【００５９】
ステップＳＰ４では、補正用画像ＧＲ２における画素のうち、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５ａの欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素が特定される。そして、補正用画像ＧＲ２の対応画素の画素信号を用いて、本撮影画像ＧＲ１において欠陥画素によって取得された画素信号が補正される。詳細は、後述する。
【００６０】
一方、評価値ＥＳが第１のしきい値ＴＨ１以上の場合は、本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２とは一致度は低いと判断して、ステップＳＰ５へと移行する。
【００６１】
ステップＳＰ５では、評価値ＥＳと予め設定された第２のしきい値ＴＨ２とがさらに比較される。なお、第２のしきい値ＴＨ２は、第１のしきい値ＴＨ１よりも大きい値に設定されている。
【００６２】
評価値ＥＳが第２のしきい値ＴＨ２よりも小さい場合は、本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との画像取得間において微小な被写体変化があったと判断して、ステップＳＰ６へと移行する。
【００６３】
ステップＳＰ６では、補正用画像ＧＲ２において、本撮影画像ＧＲ１の評価領域ＨＲに含まれる被写体部位と同一の被写体部位を有する領域（「同一領域」とも称する）が特定され、当該同一領域の絶対座標と評価領域ＨＲの絶対座標とから動きベクトル（詳細は後述）が算出される。なお、或る領域の絶対座標は、当該領域における中心画素の絶対座標によって表される。
【００６４】
そして、当該動きベクトルと移動ベクトルＭＶとに基づいて、補正用画像ＧＲ２取得位置における撮像素子１５ｂの各画素の中から、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５ａの各欠陥画素についての対応画素が特定され、当該対応画素の画素信号を用いて本撮影画像ＧＲ１において欠陥画素によって取得された画素信号が補正される。詳細は、後述する。
【００６５】
一方、評価値ＥＳが第２のしきい値ＴＨ２以上の場合は、本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との画像取得間において被写体変化があったと判断して、ステップＳＰ７へと移行する。
【００６６】
ステップＳＰ７では、本撮影画像ＧＲ１における欠陥信号領域ＫＳ周辺の非欠陥画素（欠陥のない画素）より得られる情報（周辺情報）を用いて、欠陥信号領域ＫＳ内の各画素の画素信号が補正される。詳細は、後述する。
【００６７】
以上のように、本実施形態に係る撮像装置１Ａは、撮影光学系に対する撮像素子の相対位置を本撮影画像ＧＲ１取得位置から補正用画像ＧＲ２取得位置に変更して、それぞれの位置で２枚の画像を撮影し、さらに当該２枚の画像の一致度を取得する。そして、２枚の画像の一致度に応じて最も有効な欠陥画素補正を実行する。これによれば、一致度に応じた適切な欠陥画素補正を実行することが可能となる。
【００６８】
＜１−２−２．欠陥画素補正＞
以下では、ステップＳＰ４とステップＳＰ６とステップＳＰ７とにおいて実行される欠陥画素補正についてそれぞれ詳述する。
【００６９】
まず、ステップＳＰ４で実行される第１の欠陥画素補正について説明する。図１０は、撮像素子１５の移動の様子を示す図である。図１１は、移動ベクトルＭＶを用いた対応画素の特定の様子を示す図である。
【００７０】
ステップＳＰ４では、まず、相対位置の変更後の補正用画像ＧＲ２取得位置における撮像素子１５の各画素の中から、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５の欠陥画素に対応する画素（対応画素）が特定される。具体的には、図１０に示されるように、変位情報ＨＩに基づいてずらされた２つの位置の撮像素子１５ａ，１５ｂにおいて、移動後の位置における撮像素子１５ｂの各画素のうち、移動前の位置における欠陥画素領域ＫＡ（図１０（ａ））に対応する領域ＨＡ（二点鎖線で囲まれる領域）内の各画素が、各欠陥画素の対応画素となる。
【００７１】
このような対応画素は、変位情報ＨＩに基づいて特定することが可能である。具体的には、撮像素子１５の各欠陥画素から、変位情報ＨＩの各方向成分の移動量の正負を反転させて取得される変位分移動した位置に存在する各画素が各欠陥画素の対応画素となる。例えば、図１０（ｂ）に示す欠陥画素領域ＫＡｍ内の欠陥画素ＰＫ１の対応画素を特定する場合について説明する。この場合は、欠陥画素ＰＫ１から、各方向成分の移動量（ここでは、Ｘ方向に＋３画素、Ｙ方向に−４画素）の正負を反転させて取得される変位、すなわち欠陥画素ＰＫ１からＸ方向に−３画素、Ｙ方向に＋４画素分移動した位置に存在する画素ＰＸｚが、欠陥画素ＰＫ１の対応画素となる。このような対応画素の特定は、欠陥画素領域ＫＡ内の他の各欠陥画素についても実行され、当該他の各欠陥画素についての対応画素がそれぞれ特定される。
【００７２】
また、このような対応画素の特定は、相対位置の変位（相対位置の変更方向と変更量）を表す移動ベクトルＭＶを用いても説明することができる。具体的には、補正用画像ＧＲ２取得位置における撮像素子１５（１５ｂ）の欠陥画素を移動ベクトルＭＶの終点とした場合に、当該移動ベクトルの始点に存在する画素が、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５（１５ａ）の欠陥画素の対応画素となる。例えば、図１１に示されるように、欠陥画素ＰＫ１の対応画素は、欠陥画素ＰＫ１を移動ベクトルＭＶの終点とした場合に、当該移動ベクトルＭＶの始点に存在する画素ＰＸｚとなる。このように、第１の欠陥画素補正における対応画素は、相対位置の変更に関する移動ベクトルＭＶに基づいて特定することができる。なお、相対位置の変位を表す移動ベクトルＭＶは、ＲＯＭ４ｂに格納されている変位情報ＨＩを用いて取得される。
【００７３】
そして、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５ａの欠陥画素によって取得された画素信号を、補正用画像ＧＲ２取得位置における撮像素子１５ｂの対応画素によって取得された画素信号で置換することによって、本撮影画像ＧＲ１における欠陥信号領域ＫＳの画素の画素値が補正される。
【００７４】
なお、画素信号の置換は、撮像素子１５ａの欠陥画素と同一色の画素信号を用いて行われる。具体的には、撮像素子１５ｂにより取得された画像データに対して、画素補間処理が実行され、撮像素子１５ｂの各画素において不足する色信号の画素信号が取得される。そして、ステップＳＰ４では、撮像素子１５ａの欠陥画素の画素信号が、撮像素子１５ｂの対応画素における３つの色信号のうち撮像素子１５ａの欠陥画素と同一色の画素信号によって置換される。例えば、撮像素子１５ａの欠陥画素がＲ成分の画素であり、撮像素子１５ｂにおける対応画素がＧ成分の画素であった場合は、画素補間により算出された対応画素におけるＲ成分の画素信号によって、欠陥画素の画素信号が置換される。
【００７５】
以上のように、本実施形態に係る撮像装置１Ａは、２枚の画像の一致度を表す評価値ＥＳが第１のしきい値ＴＨ１よりも小さい場合、すなわち一致度が高い場合は、補正用画像ＧＲ２における画素のうち、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５ａの欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素を、本撮影画像ＧＲ１取得位置から補正用画像ＧＲ２取得位置までの変位を表す移動ベクトルＭＶに基づいて特定し、対応画素の画素信号を用いて本撮影画像ＧＲ１における欠陥画素補正を行う。
【００７６】
これによれば、２枚の画像の一致度が高い場合は、欠陥画素に関する情報として現実に存在する被写体の正確な情報を用いて欠陥画素の画素信号が補正されるので、精度の高い欠陥画素補正を実行することが可能となる。またさらに、正確な情報を用いて欠陥画素の画素信号が補正されるので、１画素単位の欠陥画素だけでなく、比較的大きな欠陥画素領域についても精度の高い補正を実行することが可能となる。
【００７７】
次に、ステップＳＰ６で実行される第２の欠陥画素補正について説明する。図１２は、評価領域ＨＲ２の画像ＧＦ２を補正用画像ＧＲ２においてシフトさせる様子を示す図である。なお、図１２における評価領域ＨＲ２の画像ＧＦ２については、その領域のみが縦線ハッチングで表されている。また、図１２（ｂ）では、本撮影画像ＧＲ１における被写体（図１２（ａ））に比べて被写体の変化が生じた状態を示している。図１３は、変化ベクトルＨＶが取得される様子を示す図である。図１４は、移動ベクトルＭＶと変化ベクトルＨＶとを用いた対応画素の特定の様子を示す図である。
【００７８】
ステップＳＰ６では、まず、補正用画像ＧＲ２において、本撮影画像ＧＲ１の評価領域ＨＲに含まれる被写体部位と同一の被写体部位に関する情報を有する領域（同一領域）が特定される。具体的には、評価領域ＨＲの画像（「シフト画像」とも称する）ＧＦを補正用画像ＧＲ２上の参照領域ＦＲ内において微小幅（例えば、１画素）ずつシフトさせて相関値を順次算出するマッチング処理が行われ、補正用画像ＧＲ２においてシフト画像ＧＦが一致する位置（一致位置）ＭＰが検出される。相関値としては、例えば、シフト画像ＧＦを補正用画像ＧＲ２に重ねた場合に、シフト画像ＧＦの各画素と補正用画像ＧＲ２においてシフト画像ＧＦの各画素に重なる各画素との間で画素信号の差分絶対値を算出し、それによって得られるシフト画像ＧＦ内の画素数分の差分絶対値の平均値（或いは積算値）を採用することができる。このような相関値は、対応する画素同士が被写体の同一部分を含む場合には小さな値となり、異なる部分である場合には大きな値となる。したがって、補正用画像ＧＲ２において相関値の最も小さくなる位置が一致位置ＭＰとして検出され、同一領域が特定される。なお、一致位置ＭＰは、補正用画像ＧＲ２上において相関値の最も小さくなる位置にシフト画像ＧＦを配置した場合の当該シフト画像ＧＦの中心画素が示す絶対座標によって表される。
【００７９】
そして、本撮影画像ＧＲ１における評価領域ＨＲの中心画素（ここでは、基準画素）を始点とし、一致位置ＭＰを終点とするベクトル（「動きベクトル」または「変化ベクトル」とも称する）ＨＶが取得される。このようにして取得される変化ベクトルＨＶは、被写体に対する２回の撮像間における撮影画像上の被写体自体の動き（変化）を表すベクトルであるとも表現される。
【００８０】
例えば、図１２（ａ）に示す評価領域ＨＲ２の画像（縦線ハッチング領域）をシフト画像ＧＦ２とすると、当該シフト画像ＧＦ２は、図１２（ｂ）に示すように補正用画像ＧＲ２の参照領域ＦＲ（破線で囲まれる領域）内において例えば矢印ＳＹで示すようにシフトされ、参照領域ＦＲ内の各シフト位置において相関値が算出される。そして、算出された相関値に基づいて、各シフト位置の中から一致位置ＭＰが検出され（図１３参照）、一致位置ＭＰにおける絶対座標が取得される。一致位置ＭＰが検出されると、本撮影画像ＧＲ１の左下隅の原点画素ＯＰが存在する位置を原点とした場合に、本撮影画像ＧＲ１における評価領域ＨＲの基準画素ＣＰ２を始点とし、一致位置ＭＰを終点とする変化ベクトルＨＶが取得される。なお、参照領域ＦＲとしては、例えば、評価領域ＨＲを含み、当該評価領域ＨＲよりも一回り広い範囲（例えば、評価領域ＨＲが３画素×３画素の領域であれば、９画素×９画素の領域）の領域が設定される。この参照領域ＦＲの範囲（大きさ）は、２枚の画像の取得間隔に応じて変更しても良い。具体的には、２枚の画像の取得間隔が大きくなれば、参照領域ＦＲの大きさを広くするようにしてもよい。
【００８１】
次に、補正用画像ＧＲ２における画素の中から、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５ａの欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素が特定される。第２の欠陥画素補正においては、対応画素は、移動ベクトルＭＶと変化ベクトルＨＶとに基づいて特定される。
【００８２】
具体的には、まず、撮像素子１５（１５ｂ）の欠陥画素を移動ベクトルＭＶの終点とした場合に、当該移動ベクトルＭＶの始点に存在する画素を特定する。そして、移動ベクトルＭＶの始点に存在する画素を変化ベクトルＨＶの始点とした場合に、当該変化ベクトルＨＶの終点に存在する画素が撮像素子１５（１５ａ）の欠陥画素の対応画素となる。
【００８３】
例えば、欠陥画素ＰＫ１の対応画素を特定する場合について図１４を参照して説明する。この場合は、撮像素子１５ｂの欠陥画素ＰＫ１を移動ベクトルＭＶの終点として、当該移動ベクトルＭＶの始点に存在する画素Ｐｅを特定する。そして、移動ベクトルＭＶの始点に存在する画素Ｐｅを変化ベクトルＨＶの始点とした場合に、当該変化ベクトルＨＶの終点に存在する画素ＰＸａが、撮像素子１５ａの欠陥画素の対応画素となる。このように、第２の欠陥画素補正における対応画素は、相対位置の変更に関する移動ベクトルＭＶと画像取得間における被写体変化を表す変化ベクトルＨＶとに基づいて特定される。
【００８４】
そして、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５ａの欠陥画素によって取得された画素信号を補正用画像ＧＲ２取得位置における撮像素子１５ｂの対応画素によって取得された画素信号で置換することによって、本撮影画像ＧＲ１における欠陥信号領域ＫＳの画素の画素値が補正される。
【００８５】
以上のように、本実施形態に係る撮像装置１Ａは、２枚の画像の一致度を表す評価値ＥＳが第１のしきい値ＴＨ１以上で、かつ、第２のしきい値ＴＨ２よりも小さい場合、すなわち一致度が所定の範囲（しきい値ＴＨ１を上限値とし、しきい値ＴＨ２を下限値とする中間的な範囲）内にある場合は、本撮影画像ＧＲ１の取得時における被写体と補正用画像ＧＲ２の取得時における被写体との変化を表す変化ベクトルＨＶを取得し、移動ベクトルＭＶと変化ベクトルＨＶとに基づいて対応画素を特定する。そして、補正用画像の対応画素の画素信号を用いて、本撮影画像における欠陥画素によって取得された画素信号を補正する。
【００８６】
これによれば、２枚の画像取得間において微小な被写体変化が発生した場合にも、欠陥画素に結像される被写体部位と同一の被写体部位に関する情報を有する画素を特定して、欠陥画素の画素信号が補正されるので、精度の高い欠陥画素補正を実行することが可能となる。また、欠陥画素に関する情報として現実に存在する被写体の正確な情報を用いて欠陥画素の画素信号が補正されるので、１画素単位の欠陥画素だけでなく、比較的大きな欠陥画素領域についても精度の高い補正を実行することが可能となる。
【００８７】
次に、ステップＳＰ７で実行される第３の欠陥画素補正について説明する。図１５は、補間に用いられる欠陥画素領域ＫＡの周辺画素を示す図である。
【００８８】
ステップＳＰ５において、評価値ＥＳが第２のしきい値ＴＨ２以上であると判定された場合は、本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との画像取得間において被写体が移動等するなど被写体変化があったと判断される。
【００８９】
２枚の画像取得間において被写体変化があった場合は、補正用画像ＧＲ２内の各画素において、本撮影画像ＧＲ１における欠陥信号領域ＫＳ内の各画素と同一の被写体部位に関する情報を有する画素が存在しないと考えられる。このような場合は、補正用画像ＧＲ２における対応画素の画素信号を用いて欠陥画素の画素信号を補正するよりも、欠陥画素領域ＫＡの周辺画素を用いた補間によって欠陥画素の画素信号を補正する方が、補正の精度は高くなる。
【００９０】
そこで、ステップＳＰ７では、補正用画像ＧＲ２を用いた欠陥画素補正は実行されず、本撮影画像ＧＲ１における欠陥信号領域ＫＳ周辺の非欠陥画素より得られる情報（周辺情報）を用いて、欠陥信号領域ＫＳ内の各画素の画素信号が補正される。
【００９１】
本実施形態では、欠陥画素の水平および垂直の４方向において、当該欠陥画素から最も近い位置に存在する４つの非欠陥画素により取得される画素信号を用いて、欠陥画素の画素信号が補間される。具体的には、図１５に示されるように、撮像素子１５における欠陥画素ＰＫ１の画素信号を補正する場合について詳述する。
【００９２】
まず、欠陥画素ＰＫ１の水平２方向（＋Ｘ方向および−Ｘ方向）において、欠陥画素ＰＫ１から最も近い位置に存在する２つの非欠陥画素Ｐａ１，Ｐａ２が特定される。そして、画素Ｐａ１におけるＸ座標および画素信号と、画素Ｐａ２におけるＸ座標および画素信号とを用いた一次補間が行われ、水平方向の画素より得られる欠陥画素ＰＫ１の画素信号（「水平画素信号」とも称する）が取得される。また同様に、欠陥画素ＰＫ１の垂直２方向（＋Ｙ方向および−Ｙ方向）において、欠陥画素ＰＫ１から最も近い位置に存在する２つの非欠陥画素Ｐｂ１，Ｐｂ２が特定される。そして、画素Ｐｂ１におけるＹ座標および画素信号と、画素Ｐｂ２におけるＹ座標および画素信号とを用いた一次補間が行われ、垂直方向の画素より得られる欠陥画素ＰＫ１の画素信号（「垂直画素信号」とも称する）が取得される。
【００９３】
次に、水平画素信号と垂直画素信号との平均値が算出され、当該平均値が欠陥画素ＰＫ１の画素信号として決定される。
【００９４】
このような補間による欠陥画素補正処理は、欠陥画素領域ＫＡの各欠陥画素について実行され、各欠陥画素によって取得された画素信号が補正される。
【００９５】
以上のように、本実施形態に係る撮像装置１Ａは、２枚の画像の一致度を表す評価値ＥＳが第２のしきい値ＴＨ２以上の場合は、本撮影画像ＧＲ１において、欠陥信号領域ＫＳの隣接画素の画素信号を用いた補間により本撮影画像における欠陥画素によって取得された画素信号を補正する。
【００９６】
これによれば、２枚の画像の一致度が低い場合は、欠陥画素周辺の非欠陥画素の画素信号を用いた補間によって欠陥画素の画素信号が補正されるので、異なる被写体部位についての情報を用いた精度の低い欠陥画素補正を回避することが可能となる。
【００９７】
＜２．第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態について説明する。上記第１実施形態に係る撮像装置１Ａは、異なる相対位置で取得された２枚の画像において、同一の被写体部位に関する情報を有すると想定される領域同士を比較して一致度を取得していたが、第２実施形態に係る撮像装置１Ｂは、変化ベクトルＨＶに基づいて一致度を取得し欠陥画素補正を実行する。図１６は、第２実施形態に係る欠陥画素補正の全体フローチャートである。図１７、図２０および図２５は、各評価領域ＨＲ１〜ＨＲ４における各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４を示す図である。図１８、図２１および図２６は、各基準画素ＣＰ１〜ＣＰ４を基準にした場合の各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ成分値を示す図である。図１９、図２２および図２７は、各基準画素ＣＰ１〜ＣＰ４を基準にした場合の各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＹ成分値を示す図である。図２３および図２４は、本撮影画像ＧＲ１における被写体ＳＪ１と補正用画像ＧＲ２における被写体ＳＪ２とを示す図である。
【００９８】
第２実施形態に係る撮像装置１Ｂは、第１実施形態に係る撮像装置１Ａと同様の構成および機能を有しており（図１，図２，図３，図４参照）、以下では第１実施形態と相違する点を中心に説明する。
【００９９】
図１６に示されるように、ステップＳＰ１１では、上述のステップＳＰ１と同様に、撮影光学系と撮像素子１５との相対位置を変更させて、２枚の画像（本撮影画像ＧＲ１および補正用画像ＧＲ２）が取得される。
【０１００】
ステップＳＰ１２では、２枚の画像に基づいて変化ベクトルＨＶが取得される。変化ベクトルＨＶの取得手法は、上記第１実施形態と同様である。具体的には、評価領域ＨＲの画像ＧＦ（図１２では、評価領域ＨＲ２の画像ＧＦ２）を補正用画像ＧＲ２上の参照領域ＦＲ内において微小幅ずつシフトさせてマッチング処理が行われ、補正用画像ＧＲ２においてシフト画像ＧＦが一致する位置（一致位置）ＭＰが検出される。そして、本撮影画像ＧＲ１における評価領域ＨＲの中心画素（ここでは、基準画素）を始点とし、一致位置ＭＰでのシフト画像ＧＦの中心画素を終点とする変化ベクトルＨＶが取得される。
【０１０１】
また、ステップＳＰ１２では、図１７に示されるように、４つの評価領域ＨＲ１〜ＨＲ４（図８参照）それぞれに関するシフト画像ＧＦ１〜ＧＦ４を用いて、４つの変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４が算出される。
【０１０２】
次のステップＳＰ１３では、４つの変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４の大きさ（絶対値）ＡＢ１〜ＡＢ４がそれぞれ算出される。
【０１０３】
ステップＳＰ１４では、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４の絶対値ＡＢ１〜ＡＢ４が予め設定されたしきい値ＴＨ３とそれぞれ比較される。そして、各絶対値ＡＢ１〜ＡＢ４がしきい値ＴＨ３よりも小さい場合は、本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との一致度は高い、すなわち本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との画像取得間における被写体の移動（変化）はなかったと判断して、ステップＳＰ１５へと移行する。
【０１０４】
そして、ステップＳＰ１５では、ステップＳＰ４（図６）と同様に、第１の欠陥画素補正が実行される。具体的には、補正用画像ＧＲ２における画素のうち、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５ａの欠陥画素に結像される被写体部位に対応する画素信号を有する対応画素が特定される。そして、補正用画像ＧＲ２における対応画素の画素信号を用いて、本撮影画像ＧＲ１において撮像素子１５ａの欠陥画素で取得された画素信号が補正される。
【０１０５】
一方、各絶対値ＡＢ１〜ＡＢ４のうち、少なくとも１つの絶対値がしきい値ＴＨ３より大きい場合は、本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との一致度は低いと判断して、ステップＳＰ１６へと移行する。
【０１０６】
ステップＳＰ１６では、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４がＸ軸方向，Ｙ軸方向の２次元成分にそれぞれ分解され、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ方向成分に関するばらつきを表す指標値（「ばらつき度」、「ばらつき度合い」とも称する）ＢＫｘおよび各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＹ方向成分に関するばらつきを表す指標値（ばらつき度）ＢＫｙがそれぞれ算出される。
【０１０７】
例えば、水平垂直方向に隣接する２の画素間の距離を「１」とすると、図１７に示される各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ軸方向の成分値（Ｘ成分値）ＩＸ１〜ＩＸ４は、いずれも「２」である（図１８参照）。そして、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ成分値ＩＸ１〜ＩＸ４のうち最小のＸ成分値と最大のＸ成分値との差の絶対値を各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ成分のばらつき度ＢＫｘとすると、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ成分のばらつき度ＢＫｘは、「０」となる。また、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＹ軸方向の成分値（Ｙ成分値）ＩＹ１〜ＩＹ４は、いずれも「０」であるから（図１９参照）、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＹ成分値のうち最小のＹ成分値と最大のＹ成分値との差の絶対値を各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＹ成分のばらつき度ＢＫｙとすると、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＹ成分のばらつき度ＢＫｙは、「０」となる。
【０１０８】
また、図２０に示されるような変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４がそれぞれ取得された場合は、変化ベクトルＨＶ１，ＨＶ２，ＨＶ４のＸ成分値ＩＸ１，ＩＸ２，ＩＸ４は、それぞれ「２」となり、変化ベクトルＨＶ３のＸ成分値ＩＸ３は、「３」となる（図２１参照）。そして、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ成分のばらつき度ＢＫｘは、「１」となる。また、変化ベクトルＨＶ１，ＨＶ２，ＨＶ４のＹ成分値ＩＹ１，ＩＹ２，ＩＹ４は、「０」となり、変化ベクトルＨＶ３のＹ成分値ＩＹ３は、「１」となる（図２２参照）。そして、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＹ成分のばらつき度ＢＫｙは、「１」となる。
【０１０９】
このようにして取得される各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４の２次元成分のばらつき度ＢＫｘ，ＢＫｙは、被写体の変化の態様を表しているとも表現される。
【０１１０】
具体的には、画像取得間における被写体変化が、被写体の形状に影響を与えないものである場合は、複数の被写体部位における各変化ベクトルＨＶのばらつき度は小さくなる。例えば、図２３に示されるように、画像取得間において被写体が平行移動した場合は、本撮影画像ＧＲ１における被写体ＳＪ１と補正用画像ＧＲ２における被写体ＳＪ２との形状変化は微小となり、ばらつき度は小さくなる。
【０１１１】
一方、画像取得間における被写体変化が、被写体の形状変化を含むものである場合は、複数の被写体部位における各変化ベクトルＨＶのばらつき度は大きくなる。例えば、図２４に示されるように、本撮影画像ＧＲ１における被写体ＳＪ１と補正用画像ＧＲ２における被写体ＳＪ２との形状変化が大きい場合は、ばらつき度は大きくなる。
【０１１２】
なお、被写体の形状変化としては、例えば、人物の手または足が動いたり、顔の向きが変わることによる被写体自身の変化、さらには、被写体が近づいたり、遠ざかったりすることによる取得画像における被写体の大きさの変化等が挙げられる。
【０１１３】
このように、ばらつき度ＢＫｘ，ＢＫｙは、画像取得間における被写体の変化の態様を表し、以下のステップにおいては、ばらつき度ＢＫｘ，ＢＫｙに応じた欠陥画素補正が実行（選択）される。
【０１１４】
具体的には、ステップＳＰ１７では、Ｘ成分およびＹ成分のばらつきが、いずれも予め設定された範囲（所定範囲）ＬＭ内であるか否か、より詳細には、Ｘ成分およびＹ成分のばらつき度ＢＫｘ，ＢＫｙが、いずれもしきい値ＴＨ４より小さいか否かが判断される。Ｘ成分およびＹ成分のばらつき度ＢＫｘ，ＢＫｙが、いずれもしきい値ＴＨ４より小さい場合は、本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との画像取得間において発生した被写体変化は、当該被写体の形状を変化させない微小な変化（例えば、図２３に示すような被写体の平行移動による変化）であると判断して、ステップＳＰ１８へと移行する。
【０１１５】
ステップＳＰ１８では、ステップＳＰ６（図６）と同様に、第２の欠陥画素補正が実行される。具体的には、移動ベクトルＭＶと変化ベクトルＨＶとに基づいて、補正用画像ＧＲ２取得位置における撮像素子１５ｂの各画素の中から、本撮影画像ＧＲ１取得位置における撮像素子１５ａの各欠陥画素についての対応画素が特定され、当該対応画素の画素信号を用いて本撮影画像ＧＲ１において撮像素子１５ａの欠陥画素で取得された画素信号が補正される。
【０１１６】
一方、Ｘ成分およびＹ成分のばらつき度ＢＫｘ，ＢＫｙのうち、少なくとも１つのばらつき度が、しきい値ＴＨ４以上である場合は、本撮影画像ＧＲ１と補正用画像ＧＲ２との画像取得間において発生した被写体変化は、当該被写体の形状を変化させるような大きい変化であると判断して、ステップＳＰ１９へと移行する。
【０１１７】
例えば、ステップＳＰ１６において、図２５に示されるような変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４がそれぞれ取得された場合は、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ成分値ＩＸ１〜ＩＸ４のうち最小のＸ成分値ＩＸ２と最大のＸ成分値ＩＸ１との差の絶対値は、「４」となるから（図２６参照）、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ成分のばらつき度ＢＫｘは、「４」となる。また、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ成分値ＩＸ１〜ＩＸ４のうち最小のＹ成分値ＩＹ２と最大のＹ成分値ＩＹ１との差の絶対値は、「３」となるから（図２７参照）、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ成分のばらつき度ＢＫｙは、「３」となる。ここで、しきい値ＴＨ４が「４」に設定されているとすると、Ｘ成分のばらつき度ＢＫｘは、しきい値ＴＨ４以上となる。すなわち、ステップＳＰ１７では、２枚の画像取得間で発生した被写体変化は被写体の形状を変化させるものであると判断されて、ステップＳＰ１９へと移行する。
【０１１８】
ステップＳＰ１９では、ステップＳＰ７（図６）と同様に、第３の欠陥画素補正が実行される。具体的には、本撮影画像ＧＲ１における欠陥信号領域ＫＳ周辺の非欠陥画素（欠陥のない画素）より得られる情報（周辺情報）を用いて、欠陥信号領域ＫＳ内の各画素の画素信号が補正される。
【０１１９】
以上のように、第２実施形態に係る撮像装置１Ｂは、補正用画像ＧＲ２において本撮影画像ＧＲ１内の複数の領域についての対応領域を特定することによって、複数の領域における各被写体部位（複数の被写体部位）の変化の様子（変化度合い）を表す変化ベクトルをそれぞれ取得する。そして、本撮影画像ＧＲ１における被写体と補正用画像ＧＲ２における被写体との一致度の指標として、一致度に関する情報（詳細には、各変化ベクトルＨＶの絶対値および各変化ベクトルＨＶの２次元成分のばらつき度）（「一致度情報」とも称する）を取得し、この一致度情報に応じて最も有効な欠陥画素補正を実行する。これによれば、本撮影画像ＧＲ１における被写体と補正用画像ＧＲ２における被写体との一致度に応じた適切な欠陥画素補正を実行することが可能となる。
【０１２０】
また、本実施形態のように、ばらつき度を用いることによれば、被写体の変化の有無だけではなく、被写体の変化の態様、換言すれば被写体がどのように変化したかを特定することができるので、被写体変化の種類（態様）に応じたより適切な欠陥画素補正を実行することが可能となる。例えば、画像取得間において被写体が比較的大きく平行移動した場合（図２３参照）に実行される欠陥画素補正動作に関して、撮像装置１Ａと撮像装置１Ｂとを比較すると、撮像装置１Ａでは、評価値ＥＳが大きくなるため第３の欠陥画素補正が実行される可能性が高くなるが、撮像装置１Ｂでは、変化ベクトルＨＶの絶対値は大きくなるもののばらつき度が小さいため、第２の欠陥画素補正が実行される可能性が高くなる。すなわち、撮像装置１Ｂでは、被写体の変化の態様が考慮され、第３の欠陥画素補正よりも補正精度の高い第２の欠陥画素補正を用いて、欠陥画素補正を実行することが可能となる。
【０１２１】
＜３．変形例＞
以上、この発明の実施の形態について説明したが、この発明は、上記に説明した内容に限定されるものではない。
【０１２２】
例えば、上記第１実施形態では、一致度を表す評価値ＥＳは、評価画素のＧ成分の画素値と対応評価画素のＧ成分の画素値とを用いて算出されていたが、これに限定されず、評価画素の輝度値と対応評価画素の輝度値とを用いて算出してもよい。
【０１２３】
また、上記第１実施形態では、４つの評価領域ＨＲ１〜ＨＲ４のうち、評価領域ＨＲ２の画像（シフト画像）ＧＦ２に基づいて変化ベクトルＨＶを算出していたがこれに限定されない。具体的には、４つの評価領域ＨＲ１〜ＨＲ４それぞれに関するシフト画像ＧＦ１〜ＧＦ４を用いて、４つのベクトルを算出し、これら４つのベクトルの平均ベクトルを変化ベクトルとしてもよい。より詳細には、シフト画像ごとに算出される各ベクトルの始点の絶対座標を平均化して取得される平均座標と、各ベクトルの終点の絶対座標を平均化して取得される平均座標とをそれぞれ始点、終点とするベクトルを変化ベクトルとして採用してもよい。
【０１２４】
また、上記第１実施形態では、評価値ＥＳと２つのしきい値ＴＨ１，ＴＨ２とを比較し、比較結果に基づいて、３つの欠陥補正手法を選択していたがこれに限定されず、評価値ＥＳと１つのしきい値とを比較し、比較結果に基づいて２つの欠陥補正手法を選択するようにしてもよい。
【０１２５】
また、上記第２実施形態では、ステップＳＰ１７（図１６）において、各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＸ方向成分に関するばらつき度ＢＫｘと各変化ベクトルＨＶ１〜ＨＶ４のＹ方向成分に関するばらつき度ＢＫｙとをそれぞれしきい値ＴＨ４と比較していたがこれに限定されず、いずれか一方のばらつき度をしきい値ＴＨ４と比較する（すなわち、いずれか一方のばらつき度を用いて欠陥補正手法を選択する）ようにしてもよい。
【０１２６】
また、上記各実施形態では、第１の欠陥画素補正と第２の欠陥画素補正とを区別していたが、第１の欠陥画素補正は、第２の欠陥画素補正に含まれる補正手法であると表現することができる。具体的には、第２の欠陥画素補正において、変化ベクトルの大きさが「ゼロ」となる場合に実行される処理は、第１の欠陥画素補正において実行される処理に相当する。
【図面の簡単な説明】
【０１２７】
【図１】本発明の第１実施形態に係る撮像装置の外観構成を示す図である。
【図２】本発明の第１実施形態に係る撮像装置の外観構成を示す図である。
【図３】撮像装置の縦断面図である。
【図４】撮像装置の機能構成を示すブロック図である。
【図５】撮像素子における欠陥画素を示す図である。
【図６】欠陥画素補正に関する全体フローチャートである。
【図７】撮影光学系と撮像素子との相対位置を変更させて取得される２枚の画像を示す図である。
【図８】一致度を取得するための評価領域を示す図である。
【図９】補正用画像において、評価領域に対応する領域を示す図である。
【図１０】撮像素子の移動の様子を示す図である。
【図１１】移動ベクトルを用いた対応画素の特定の様子を示す図である。
【図１２】評価領域の画像を補正用画像においてシフトさせる様子を示す図である。
【図１３】変化ベクトルが取得される様子を示す図である。
【図１４】移動ベクトルと変化ベクトルとを用いた対応画素の特定の様子を示す図である。
【図１５】補間に用いられる欠陥画素領域の周辺画素を示す図である。
【図１６】本発明の第２実施形態に係る欠陥画素補正の全体フローチャートである。
【図１７】各評価領域における各変化ベクトルを示す図である。
【図１８】各基準画素を基準にした場合の各変化ベクトルのＸ成分値を示す図である。
【図１９】各基準画素を基準にした場合の各変化ベクトルのＹ成分値を示す図である。
【図２０】各評価領域における各変化ベクトルを示す図である。
【図２１】各基準画素を基準にした場合の各変化ベクトルのＸ成分値を示す図である。
【図２２】各基準画素を基準にした場合の各変化ベクトルのＹ成分値を示す図である。
【図２３】本撮影画像における被写体と補正用画像における被写体とを示す図である。
【図２４】本撮影画像における被写体と補正用画像における被写体とを示す図である。
【図２５】各評価領域における各変化ベクトルを示す図である。
【図２６】各基準画素を基準にした場合の各変化ベクトルのＸ成分値を示す図である。
【図２７】各基準画素を基準にした場合の各変化ベクトルのＹ成分値を示す図である。
【符号の説明】
【０１２８】
１    撮像装置
１１  レリーズボタン
１５  撮像素子
ＧＲ１  本撮影画像
ＧＲ２  補正用画像
ＫＡ  欠陥画素領域
ＫＳ  欠陥信号領域
ＭＶ  移動ベクトル
ＨＶ，ＨＶ１〜ＨＶ４  変化ベクトル
ＢＫｘ，ＢＫｙ  ばらつき度
【図１】
2008245236.tif 000004
【図２】
2008245236.tif 000005
【図３】
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【図４】
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【図５】
2008245236.tif 000008
【図６】
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【図７】
2008245236.tif 000010
【図８】
2008245236.tif 000011
【図９】
2008245236.tif 000012
【図１０】
2008245236.tif 000013
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
2008245236.tif 000016
【図１４】
2008245236.tif 000017
【図１５】
2008245236.tif 000018
【図１６】
2008245236.tif 000019
【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
2008245236.tif 000023
【図２１】
2008245236.tif 000024
【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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