(57)【要約】【課題】画像欠陥の検出精度を向上できる画像検査装置、画像検査装置システム、及び画像検査プログラムを提供する。【解決手段】所定の画像を印刷した画像を読取って得た検査画像を構成する領域であり、かつ検査対象とする検査領域の近傍に位置する近傍領域から、所定の画像を構成する領域であり、かつ近傍領域に対応する対応領域の濃度分布と類似した濃度分布を有する領域を選択する選択手段と、選択手段が選択した近傍領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値とを比較することで、検査領域が画像欠陥を有するか否かを検査する欠陥検査手段とを備える。全体的に不均一な検査画像の濃度、及び局所的に不均一な検査画像の近傍領域の濃度であって、検査画像の基となった所定の画像にない不均一な濃度の影響を軽減して画像欠陥の検出精度を向上できる。【選択図】図７
2008096206.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の画像を印刷した画像を読取って得た検査画像を構成する領域であり、かつ検査対象とする検査領域の近傍に位置する近傍領域から、前記所定の画像を構成する領域であり、かつ前記近傍領域に対応する領域の濃度分布と類似した濃度分布を有する領域を選択する選択手段と、
前記選択手段が選択した領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、前記検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値とを比較することで、前記検査領域が画像欠陥を有するか否かを検査する欠陥検査手段とを備えることを特徴とする画像検査装置。
【請求項２】
前記検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、前記所定の画像を構成する領域であり、かつ前記検査領域に対応する対応領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、を比較することで、前記検査領域が画像欠陥を有する、有しない、及び有する可能性があるのいずれか１つであることを初期検査する初期検査手段を備え、
前記欠陥検査手段は、前記初期検査手段が画像欠陥を有する可能性があると初期検査した検査領域についてのみ、画像欠陥を有するか否かを検査することを特徴とする請求項１に記載の画像検査装置。
【請求項３】
前記欠陥検査手段が検査に用いる特徴値は、前記特徴値が特徴を表す領域の階調値の最大値と最小値との差、階調値投影波形の最大値と最小値との差、及び階調値投影波形の周波数特性のいずれか１つ以上を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像検査装置。
【請求項４】
前記対応領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値は、前記対応領域の階調値投影波形を含み、
前記初期検査手段が検査に用いる特徴値であり前記検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値は、前記検査領域の階調値投影波形を含み、
初期検査手段は、前記対応領域の階調値投影波形と前記検査領域の階調値投影波形との正規化相関係数、又は前記対応領域と前記検査領域との正規化相関係数に基づいて、前記検査領域を初期検査することを特徴とする請求項２に記載の画像検査装置。
【請求項５】
前記選択手段は、前記初期検査手段が初期検査の結果として画像欠陥を有しないと判断した近傍領域から領域を選択することを特徴とする請求項２又は４に記載の画像検査装置。
【請求項６】
所定の画像と前記所定の画像を印刷した画像を読取って得た検査画像とを送信する送信手段を有する画像形成装置と、
前記画像形成装置の有する送信手段が送信した検査画像と所定の画像とを受信する受信手段と、
前記受信手段が受信した検査画像を構成する領域であり、かつ検査対象とする検査領域の近傍に位置する近傍領域から、前記受信手段が受信した所定の画像を構成する領域であり、かつ前記近傍領域に対応する領域の濃度分布と類似した濃度分布を有する領域を選択する選択手段と、
前記選択手段が選択した近傍領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、前記検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値とを比較することで、前記検査領域が画像欠陥を有するか否かを検査する欠陥検査手段とを有する画像検査装置とを備えることを特徴とする画像検査システム。
【請求項７】
コンピュータを、所定の画像を印刷した画像を読取って得た検査画像を構成する領域であり、かつ検査対象とする検査領域の近傍に位置する近傍領域から、前記所定の画像を構成する領域であり、かつ前記近傍領域に対応する領域の濃度分布と類似した濃度分布を有する領域を選択する選択手段と、
前記選択手段が選択した近傍領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、前記検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値とを比較することで、前記検査領域が画像欠陥を有するか否かを検査する欠陥検査手段として機能させることを特徴とする画像検査プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像欠陥の検出精度を向上できる画像検査装置、画像検査装置システム、及び画像検査プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、画像を構成する画素の濃度に基づいて、画像に表された欠陥を検出する技術が知られている。このような機能を有する検査方法としては、電子部品の表面に存在する小さな穴（ボイド）等と言った欠陥部分の反射率と、欠陥では無い部分の反射率とが異なることに着目し、電子部品の表面を撮影した画像を構成する二値化された画素値を検査することで、電子部品の欠陥を検出する外観検査方法が知られている。
【０００３】
また、電子部品の表面に照射される照射光源の光強度が均一でない、又は電子部品の表面状態が均一でないことにより電子部品の表面を撮影した画像に生じる不均一な濃度分布に影響を受けることなく、画像に表された欠陥を検出する技術が知られている。
【０００４】
このような機能を有する検査方法としては、電子部品の表面を撮影した画像を構成する二値化された画素値に基づいて電子部品の欠陥を含む可能性がある領域を求め、求めた領域及びその周辺領域から得られる特徴的な値に基づいて、実際に欠陥を含むか否かを検出する電子部品の外観検査方法が知られている（例えば、特許文献１）。尚、特徴的な値とは、濃淡レベルの度数分布のピーク数、分散値、標準偏差、及び微分値の最大値を言う。
【特許文献１】特開２０００‐２５８１３７
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ここで、検査を行う検査画像の濃度は全体的に不均一であるだけでなく、欠陥を含む可能性がある領域の周辺領域の濃度も局所的に不均一である場合があり、これらの不均一な濃度により生じる影響を軽減して検出精度を向上させる必要がある。
【０００６】
本発明は、上記事情に鑑みて成されたものであり、本発明の目的とするところは、画像欠陥の検出精度を向上できる画像検査装置、画像検査装置システム、及び画像検査プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る画像検査装置は、所定の画像を印刷した画像を読取って得た検査画像を構成する領域であり、かつ検査対象とする検査領域の近傍に位置する近傍領域から、所定の画像を構成する領域であり、かつ近傍領域に対応する領域の濃度分布と類似した濃度分布を有する領域を選択する選択手段と、選択手段が選択した領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値とを比較することで、検査領域が画像欠陥を有するか否かを検査する欠陥検査手段とを備えることを特徴としている。
【０００８】
上記構成において、検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、所定の画像を構成する領域であり、かつ検査領域に対応する対応領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、を比較することで、検査領域が画像欠陥を有する、有しない、及び有する可能性があるのいずれか１つであることを初期検査する初期検査手段を備え、欠陥検査手段は、初期検査手段が画像欠陥を有する可能性があると初期検査した検査領域についてのみ、画像欠陥を有するか否かを検査する構成を採用できる。
【０００９】
上記構成において、欠陥検査手段が検査に用いる特徴値は、特徴値が特徴を表す領域の階調値の最大値と最小値との差、階調値投影波形の最大値と最小値との差、及び階調値投影波形の周波数特性のいずれか１つ以上を含む構成を採用できる。
【００１０】
上記構成において、対応領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値は、対応領域の階調値投影波形を含み、初期検査手段が検査に用いる特徴値であり検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値は、検査領域の階調値投影波形を含み、初期検査手段は、対応領域の階調値投影波形と検査領域の階調値投影波形との正規化相関係数、又は前記対応領域と前記検査領域との正規化相関係数に基づいて、検査領域を検査する構成を採用できる。
【００１１】
上記構成において、選択手段は、初期検査手段が初期検査の結果として画像欠陥を有しないと判断した近傍領域から領域を選択する構成を採用できる。
【００１２】
本発明に係る画像検査システムは、所定の画像と所定の画像を印刷した画像を読取って得た検査画像とを送信する送信手段を有する画像形成装置と、画像形成装置の有する送信手段が送信した検査画像と所定の画像とを受信する受信手段と、受信手段が受信した検査画像を構成する領域であり、かつ検査対象とする検査領域の近傍に位置する近傍領域から、受信手段が受信した所定の画像を構成する領域であり、かつ近傍領域に対応する領域の濃度分布と類似した濃度分布を有する領域を選択する選択手段と、選択手段が選択した近傍領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値とを比較することで、検査領域が画像欠陥を有するか否かを検査する欠陥検査手段とを有する画像検査装置とを備えることを特徴としている。
【００１３】
本発明に係る画像検査プログラムは、コンピュータを、所定の画像を印刷した画像を読取って得た検査画像を構成する領域であり、かつ検査対象とする検査領域の近傍に位置する近傍領域から、所定の画像を構成する領域であり、かつ近傍領域に対応する領域の濃度分布と類似した濃度分布を有する領域を選択する選択手段と、選択手段が選択した近傍領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値と、検査領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値とを比較することで、検査領域が画像欠陥を有するか否かを検査する欠陥検査手段として機能させることを特徴としている。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、画像濃度が不均一であることにより生じる画像欠陥の検出精度の低下を抑制できる画像形成装置、画像検査装置、画像検査装置システム、及び画像検査プログラムを提供できる。
【００１５】
請求項１の構成によれば、全体的に不均一な検査画像の濃度、及び局所的に不均一な検査画像の近傍領域の濃度であって、検査画像の基となった所定の画像にない不均一な濃度の影響を軽減して画像欠陥の検出精度を向上できる。
【００１６】
請求項２の構成によれば、検査画像の不均一な濃度により生じる検出精度の低下を抑制する必要がある場合とそうでない場合とに場合分けして画像欠陥の有無を効率よく検査できる。
【００１７】
請求項３の構成によれば、例えば、階調値等の濃淡レベルの度数分布に基づいて欠陥を有するか否かを判断する場合と比べて、色を有する微小な点状の欠陥、線状の欠陥、及び周期性を有する欠陥のいずれか１つ以上を精度良く検出できる。
【００１８】
請求項４の構成によれば、二値化された画素値に基づいて検査領域が画像欠陥を有するか否かを判断する場合と比べて、検査画像の不均一な濃度により生じる検出精度の低下を抑制できる。
【００１９】
請求項５の構成によれば、画像欠陥の有無を精度良く検査できる。
【００２０】
請求項６の構成によれば、全体的に不均一な検査画像の濃度、及び局所的に不均一な検査画像の近傍領域の濃度であって、検査画像の基となった所定の画像にない不均一な濃度の影響を軽減して画像欠陥の検出精度を向上できる。
【００２１】
請求項７の構成によれば、全体的に不均一な検査画像の濃度、及び局所的に不均一な検査画像の近傍領域の濃度であって、検査画像の基となった所定の画像にない不均一な濃度の影響を軽減して画像欠陥の検出精度を向上できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の最良の実施形態について、添付図面を参照しつつ説明する。
【実施例１】
【００２３】
図１は本発明の画像検査装置の一実施形態を示す構成図である。
画像検査装置１０００は、例えば、例えば、プリンタ機能、ファクシミリ機能（以下単に、ＦＡＸ機能と言う）、及び複製機能を有する複合機で構成される。
【００２４】
画像検査装置１０００は、通信網１００に接続している。尚、画像検査装置１０００は、画像検査装置１０００が読取った画像が欠陥を有するか否かを検査する画像検査機能をも有する。
【００２５】
通信網１００は、例えば、ＬＡＮ（Local Area Network ）、ＷＡＮ（Wide Area Network）、ＭＡＮ（Metropolitan Area Network）、又は公衆回線網で構成される。
【００２６】
画像検査装置１０００は、ＦＡＸ制御部１０１０、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、プリント制御部１０４０、記憶部１０５０ないし１０５ｍ（以下単に、記憶部１０５０等と言う）、画像形成制御部１０６０、Ｕ／Ｉ制御部１０７０、アクチュエータ制御部１０８０〜ｎ、入力部１０９０、表示部１１００、及び通信部１１１０で構成される。
【００２７】
ＦＡＸ制御部１０１０、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、プリント制御部１０４０、画像形成制御部１０６０、Ｕ／Ｉ制御部１０７０、及びアクチュエータ制御部１０８０〜ｎの有する各機能は、画像検査装置１０００が実行するソフトウェア制御により実現される。
【００２８】
ここで図２を参照して、ソフトウェア制御を実行するための画像検査装置１０００のハードウェア構成について説明する。図２は、このソフトウェア制御を実現するための画像検査装置１０００のハードウェアの一構成例を表す図である。
【００２９】
画像検査装置１０００は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等の演算部１００１、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read-Only Memory）又はＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）等の読み出し専用メモリであるＲＯＭ１００２（Read-Only Memory ）、ＤＲＡＭ（Dynamic  RAM）又はＳＲＡＭ（Static  RAM）等の揮発性メモリ及びＮＶＲＡＭ（Non Volatile RAM）等の不揮発性メモリで構成されるＲＡＭ１００３（Random Access Memory）、並びにハードディスク等で構成される外部記憶部１００４で構成され、演算部１００１、ＲＯＭ１００２、ＲＡＭ１００３、及び外部記憶部１００４は互いにバス１００５によって接続している。
【００３０】
ソフトウェア制御は、ＲＯＭ１００２又は外部記憶部１００４に格納したプログラムを演算部１００１が読み、読込んだプログラムに従って演算部１００１が演算を行うことにより上記各部の機能を実現する。なお、ＲＡＭ１００３には、演算結果のデータが書き込まれ、特にＮＶＲＡＭには、電源オフ時にバックアップが必要なデータが保存される。
【００３１】
ここで、図１に戻り、画像検査装置１０００の構成について引き続き説明する。
ＦＡＸ制御部１０１０は、プリント制御部１０４０に接続している。また、ＦＡＸ制御部１０１０は、通信部１１１０を介して通信網１００に接続している。
【００３２】
ＦＡＸ制御部１０１０は、後述する画像読取部１０２０で読取られた画像を画像処理部１０３０及びプリント制御部１０４０を介して取得する。次に、ＦＡＸ制御部１０１０は、取得した画像を圧縮し、圧縮したデータをＧ３又はＧ４等のプロトコルに従って送信するよう通信部１１１０を制御する。
【００３３】
また、ＦＡＸ制御部１０１０は、同様に、データをＧ３又はＧ４等のプロトコルに従って受信するよう通信部１１１０を制御し、通信部１１１０が受信した情報を伸長する。尚、ＦＡＸ制御部１０１０の伸長した情報は、プリント制御部１０４０を介して画像形成制御部１０６０に送信され、画像形成制御部１０６０が制御する画像形成部により出力画像として印刷出力される。
【００３４】
画像読取部１０２０は、例えば、スキャナ等で構成され、画像処理部１０３０及びプリント制御部１０４０に接続している。画像読取部１０２０は、プリント制御部１０４０に制御されて、読取対象とするシート状の原稿から、その原稿上に描かれた画像を光学的に読み取って原稿情報を取得し、取得した原稿情報をディジタル化した電子情報へ変換する。
【００３５】
画像読取部１０２０は、図示を省略するが、光源制御部、受光センサ部、及び画像信号補正処理部で構成されている。光源制御部は、原稿へ光を照射する光源を制御する。
【００３６】
受光センサ部は、例えば、ＣＭＯＳ（Complementary Metal-Oxide Semiconductor）イメージセンサ、又はＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサで構成され、光源制御部により制御された光源が照射した光であって、原稿に照射した光の反射光を受光する。次に、受光センサ部は、受光した反射光に基づいて電気信号を出力することで原稿情報をディジタル化する。
【００３７】
画像信号補正処理部は、受光センサ部の出力した信号を補正し、補正した信号を電子原稿として画像処理部１０３０へ送信する。
【００３８】
尚、画像読取部１０２０及び後述する画像処理部１０３０は、画像読取部１０２０及び画像処理部１０３０が実行する処理をリアルタイム処理として実現するために、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）により構成される。
【００３９】
画像処理部１０３０は、画像読取部１０２０及びプリント制御部１０４０に接続しており、画像読取部１０２０から電子原稿を取得する。画像処理部１０３０は、取得した電子原稿を画像形成部の出力特性に合わせるための処理を行なう。尚、画像形成部は、画像形成制御部１０６０により制御されて出力画像を形成する。
【００４０】
具体的には、画像処理部１０３０の実行する処理は、色を補正する処理、絵と文字とを分離する処理、下地を除去する処理、若しくは拡大又は縮小出力を実現するための拡大又は縮小処理を含む。
【００４１】
プリント制御部１０４０については後述する。
記憶部１０５０等は、例えば、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read-Only Memory）等の読み出し専用メモリであるＲＯＭ（Read-Only Memory ）、又はＤＲＡＭ（Dynamic  RAM）等の揮発性メモリ及びＮＶＲＡＭ（Non Volatile RAM）等の不揮発性メモリで構成されるＲＡＭ（Random Access Memory）、若しくはハードディスク（Hard Disk）等の外部記憶装置で構成され、プリント制御部１０４０に接続している。
【００４２】
ＲＯＭ１００２は、画像検査装置１０００の有する機能を提供するためにＣＰＵ等で構成される演算部１００１が実行するファームフェアを格納する。尚、画像検査装置１０００の有する機能は、スキャン機能、複写機能、印刷（プリント）機能、ＦＡＸ機能、データ転送機能、待機機能、省電力機能、起動機能、又は画像検査機能を含む。
【００４３】
揮発性メモリ１００３は、演算部１００１がファームフェアを実行する際に使用するワーク領域を提供する。ハードディスク（Hard Disk）等の外部記憶装置１００４は、複写機能、プリント機能、及びＦＡＸ機能等の提供機能を提供する際に使用される画像情報、特に、電子ソートされて複写、又はプリントされる、若しくはＦＡＸ送受信される電子原稿等の画像情報を記憶する。
【００４４】
画像形成制御部１０６０は、プリント制御部１０４０及びアクチュエータ制御部１０８０に接続している。画像形成制御部１０６０は、アクチュエータ制御部１０８０を介して画像形成部を制御する。
【００４５】
具体的には、画像形成制御部１０６０は、電子写真プロセス及び用紙搬送に関する制御を行う。電子写真プロセスに関する制御とは、画像形成に係わるプロセスであって、例えば、帯電、露光、現像、転写、クリーニング、及び定着プロセスを行う部材の駆動タイミングの制御、並びに画像形成に係わるプロセスで使用される各種センサが取得した情報に基づいたフィードバック制御を言う。
【００４６】
用紙搬送に関する制御とは、画像読取部１０２０の原稿、及び画像形成部の記録（印刷）用紙を搬送する部品の動作に関する制御を言い、具体的には、例えば、モータ、ソレノイド、及びクラッチ等の各アクチュエータに関するタイミング制御、及び用紙詰まりの検出制御を言う。
【００４７】
ここで、図示は省略するが、画像形成部を構成する用紙搬送部は、複数のタイミングセンサを有する。タイミングセンサは、用紙搬送のタイミングに関する情報を収集する。画像形成制御部１０６０は、タイミングセンサによって収集したタイミング情報に基づいて用紙詰まりを検出して用紙搬送に関する制御を実行する。
【００４８】
Ｕ／Ｉ制御部１０７０については後に説明する。
アクチュエータ制御部１０８０は、画像形成制御部１０６０及び画像形成部を構成するアクチュエータに接続している。アクチュエータ制御部１０８０は、画像形成制御部１０６０により出力される各アクチュエータを制御する制御信号を、各アクチュエータ固有の制御信号に変換する。その後、アクチュエータ制御部１０８０は、変換した制御信号を用いて各アクチュエータを制御する。
【００４９】
Ｕ／Ｉ制御部１０７０は、プリント制御部１０４０、入力部１０９０、及び表示部１１００に接続している。Ｕ／Ｉ制御部１０７０は、表示部１１００の表示を制御し、入力部１０９０により入力された信号に基づいてプリント制御部１０４０へ各種命令を出力する。
【００５０】
入力部１０９０は、例えば、タッチパネル、キーボード、又はマウスで構成され、Ｕ／Ｉ制御部１０７０に接続している。入力部１０９０は、ユーザに操作されて複写機能、プリント機能、ＦＡＸ機能、及び欠陥検査機能等の機能を選択し、選択した機能の提供を指示する信号を入力する。
【００５１】
表示部１１００は、例えば、液晶ディスプレイ又はＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイで構成され、Ｕ／Ｉ制御部１０７０に接続している。表示部１１００は、Ｕ／Ｉ制御部１０７０に制御されて、各種の情報を表示する。尚、各種の情報は、検出された画像欠陥の有無に関する情報、及び画像欠陥の位置に関する情報を含む。
【００５２】
通信部１１１０は、例えば、ＦＡＸモデム等で構成され、通信網１００、ＦＡＸ制御部１０１０、及びプリント制御部１０４０に接続している。通信部１１１０は、ＦＡＸ制御部１０１０に制御されて、電子原稿をＧ３又はＧ４等のプロトコルに従って送受信する
【００５３】
プリント制御部１０４０は、ＦＡＸ制御部１０１０、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、記憶部１０５０等、画像形成制御部１０６０、及びＵ／Ｉ制御部１０７０に接続している。
【００５４】
プリント制御部１０４０は、記憶部１０５０等に記憶されたファームウェアを実行して、ＦＡＸ制御部１０１０、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、及び画像形成制御部１０６０を制御して、画像検査機能を含む各種の機能を提供する。
【００５５】
ここで、プリント制御部１０４０について説明する前に、プリント制御部１０４０が画像検査機能を提供する際に、検査対象とする検査画像等について説明する。
【００５６】
検査画像は、画像検査のために用いられる所定の画像（以下単に、検査チャートと言う）を画像形成部が印刷出力した出力画像を、画像読取部１０２０が読取った画像であって、画像処理部１０３０が画像処理を施した画像である。
【００５７】
尚、検査チャートは、記憶部１０５０等が記憶している。また、プリント制御部１０４０は、画像処理部１０３０が処理した検査画像を記憶部等に記憶させる。
【００５８】
ここで、図３を参照して、検査チャートについて説明する。図３は、検査チャートの一例について説明するための図である。
図３に示す検査チャートＩＴは、検査チャートＩＴの全面を構成する画素の画素値が全て同じ画素値を有する。つまり、検査チャートＩＴの濃度は均一であり、主走査方向ＤＭ及び副走査方向ＤＳの双方の階調値投影波形は、それぞれ主走査方向の座標軸ＡＭ及び副走査方向の座標軸ＡＳと平行な線分の形となり、それぞれの階調値はそれぞれ同じ値となる。
【００５９】
次に、図４を参照して、画像欠陥を有しない検査画像（以下単に、正常な検査画像と言う）の一例について説明する。図４は、正常な検査画像の一例を説明するための図である。
【００６０】
図４に示す検査画像ＩＩＯ１は、画像欠陥を有していない。しかし、図４に示す検査画像ＩＩＯ１の濃度は、副走査方向に均一であるが、主走査方向には全体的に不均一である。この濃度の不均一は、例えば、ＲＯＳ（Raster Output Scanner）から感光体ドラムに対してレーザを書き込むための光路差のバラツキ等により生じる。
【００６１】
具体的には、検査画像ＩＩＯ１の副走査方向の階調値投影波形は、副走査方向座標軸ＡＳと平行な線分の形であり、原点から印刷用紙の端まで階調値は同じ値を取る。しかし、主走査方向の階調値投影波形は、原点Ｏに対して凸形状であり、原点及び印刷用紙の端に近づくにつれて階調値が高くなる。
【００６２】
次に、図５を参照して、正常な検査画像の他例について説明する。図５は、正常な検査画像の他例を説明するための図である。
図５に示す検査画像ＩＩＯ２は、画像欠陥を有していない。また、図５に示す検査画像ＩＩＯ２の濃度は、副走査方向及び主走査方向に対して全体的に均一である。しかし、検査画像ＩＩＯ２は、局所的に濃度が不均一な部分である背景ムラＵＤ１及びＵＤ２を有する。
【００６３】
この濃度の不均一は、例えば、印刷用紙等の印刷媒体の表面が皺等の局所的な凹凸を有しているために、画像読取部１０２０が照射した光を均一に反射ないこと等により生じる。
【００６４】
次に、図６を参照して、欠陥を有する検査画像の一例について説明する。図６は、欠陥を有する検査画像の他例を説明するための図である。
図６に示す検査画像ＩＩＤの全体的な濃度は、図４を用いて説明したように主走査方向ＤＭに対して不均一である。また、検査画像ＩＩＤは、図５を用いて説明したように、局所的に濃度が不均一な背景ムラＵＤ１及びＵＤ２を有している。
【００６５】
更に、検査画像ＩＩＤは、例えば、感光体ドラムの傷等により生じた細い色線状の画像欠陥ＰＤＬ、転写ベルトの汚れ等により生じた微小な色点状の画像欠陥ＰＳＳ３、その他の欠陥ＰＬＬ、ＰＬＳ、及びＰＳＬを有している。
【００６６】
尚、欠陥ＰＬＬは欠陥ＰＬＬ以外の部分（つまり背景）との階調値差が大きく、かつ欠陥ＰＬＬが占める面積が大きいと言う特徴があり、欠陥ＰＬＳは背景との階調値差が大きく、かつ欠陥ＰＬＳが占める面積が小さいと言う特徴があり、欠陥ＰＳＬは背景との階調値差が小さく、かつ欠陥ＰＳＬが占める面積が大きいと言う特徴があり、画像欠陥ＰＳＳ３は背景との階調値差が小さく、かつ欠陥ＰＳＳが占める面積が小さいと言う特徴がある。また、背景ムラＵＤ１及びＵＤ２は、画像欠陥ＰＳＳ３と同様に、背景との階調値差が小さく、かつ背景ムラＵＤが占める面積が小さいと言う特徴がある。
【００６７】
ここで、図７を参照してプリント制御部１０４０の構成を説明する。図７は、プリント制御部１０４０の一実施形態を表す図である。
【００６８】
プリント制御部１０４０は、画像分割部１０４１、第１特徴値算出部１０４２、初期検査部１０４５、選択部１０４６、第２特徴値算出部１０４７、欠陥検査部１０４８、及び欠陥領域判定部１０４９で構成される。
【００６９】
画像分割部１０４１は、図示を省略するが、記憶部１０５０等、画像処理部１０３０、及び第１特徴値算出部１０４２に接続している。画像分割部１０４１は、記憶部１０５０等が記憶した検査画像及び検査チャートを取得し、取得した検査画像及び検査チャートを複数の領域に分割する。その後、画像分割部１０４１は、分割した領域を記憶部１０５０等の所定のディレクトリへ所定のファイル名で保存する。
【００７０】
ここで、図８を参照して、画像分割部１０４１が検査画像を基に生成する領域について説明する。図８は、画像分割部１０４１が検査画像を基に生成する領域の一例を説明するための図である。
【００７１】
図８に示す領域は、検査画像を複数領域に分割した方形領域である。分割されたそれぞれの領域は互いに重なり合うことが無く、かつそれぞれの方形領域は互いに隙間無く接している。つまり、検査画像は、方形領域を要素とする行列で構成される。
【００７２】
次に、図９を参照して、画像分割部１０４１が検査チャートを基に生成する領域について説明する。図９は、画像分割部１０４１が検査チャートを基に生成する領域の一例を説明するための図である。
【００７３】
図９に示す領域は、検査チャートを複数領域に分割した方形領域である。分割されたそれぞれの領域は、図８に示す領域と同様に、互いに重なり合うことが無く、かつそれぞれの方形領域は互いに隙間無く接している。つまり、検査チャートは、方形領域を要素とする行列で構成される。尚、図９に示す方形領域で構成される行列は、図８に示す行列と同じ行数及び列数を有する。
【００７４】
ここで、図７に戻りプリント制御部１０４０の構成について説明する。
第１特徴値算出部１０４２は、階調値平均値算出部１０４３、及び相関値算出部１０４４で構成されている。階調値平均値算出部１０４３及び相関値算出部１０４４は、記憶部１０５０等、画像分割部１０４１、及び初期検査部１０４５に接続し、記憶部１０５０等から検査チャートを分割した領域及び検査画像を分割した領域を取得する。
【００７５】
階調値平均値算出部１０４３は、取得した領域の階調値の平均値を算出する。その後、階調値平均値算出部１０４３は、算出した階調値の平均値を初期検査部１０４５へ出力する。
【００７６】
相関値算出部１０４４は、検査画像を分割した領域であって画像欠陥が存在するか否かを初期検査の対象とする領域（以下単に、初期検査領域と言う）に対応する検査チャートを分割した領域（以下単に、対応領域と言う）を選出する。
【００７７】
具体的に説明すると、図８に示すように、初期検査領域が、検査画像の３行２列に位置する領域である場合には、図９に示すように、検査チャートの３行２列に位置する領域を対応領域とする。
【００７８】
次に、相関値算出部１０４４は、初期検査領域及び対応領域の主走査方向及び副走査方向の階調値投影波形を算出する。その後、相関値算出部１０４４は、算出したそれぞれの領域の階調値投影波形間の正規化相関係数を主走査方向及び副走査方向のそれぞれに対して算出する。
【００７９】
また、相関値算出部１０４４は、大きさは微小であるが階調値差が大きいために、肉眼によりはっきりとした欠陥として認識される微小な点状の欠陥を検出をするために、二次元領域としての初期検査領域と二次元領域としての対応領域間の正規化相関係数を算出する。最後に、相関値算出部１０４４は、算出したそれぞれの正規化相関係数を初期検査部１０４５へ出力する。
【００８０】
尚、以下単に、第１特徴値算出部１０４２を構成する階調値平均値算出部１０４３が算出した階調値平均値、及び相関値算出部１０４４が算出した正規化相関係数とを第１特徴値と言い、第１特徴値を算出するために第１特徴値算出部１０４２が実行する処理を第１特徴値算出処理と言う。
【００８１】
初期検査部１０４５は、階調値平均値算出部１０４３、相関値算出部１０４４、選択部１０４６、及び欠陥領域判定部１０４９に接続している。初期検査部１０４５は、階調値平均値算出部１０４３及び相関値算出部１０４４から第１特徴値を取得し、検査領域が欠陥を含む、含まない、及び含む可能性があるのいずれか１つであることを初期検査する。また、初期検査部１０４５は、初期検査の結果を選択部１０４６、及び欠陥領域判定部１０４９二出力する。
【００８２】
尚、初期検査部１０４５が初期検査を行う場合に実行する処理を初期検査処理と言う。また、初期検査処理については後述する。
【００８３】
選択部１０４６は、記憶部１０５０等、初期検査部１０４５、及び第２特徴値算出部１０４７に接続している。選択部１０４６は、初期検査部１０４５から、初期検査によって欠陥を含む可能性があると判断した領域（以下単に、欠陥候補領域と言う）を取得し、取得した領域の１つを検査対象とする（以下、欠陥候補領域の内で検査対象とした領域を検査領域と言う）。また、選択部１０４６は、記憶部１０５０等から検査画像を分割した領域、及び検査チャートを分割した領域を取得する。
【００８４】
次に、選択部１０４６は、検査画像を分割した領域であって検査領域の近傍に位置する領域（以下単に、近傍領域と言う）から、初期検査によって欠陥を有しないと判断された領域であって、かつ対応領域の濃度分布と類似した濃度分布を有する領域を選択する（選択部１０４６が選択した領域を、以下単に、選択領域という）。
【００８５】
つまり、選択部１０４６は、検査画像の濃度が全体的に不均一であっても、局所的には濃度が均一であり検査精度に影響を与えない程度の濃度を有すると期待される検査領域の近傍に位置する領域を近傍領域とする。
【００８６】
ただし、選択部１０４６は、初期検査によって欠陥領域、又は欠陥候補領域であると判断された結果、局所的に濃度が不均一であると判断された領域を選択しない。
【００８７】
その後、選択部１０４６は、検査画像と選択領域とを第２特徴値算出部１０４７へ出力する。尚、選択部１０４６が、選択領域を選択する際に実行する処理を選択処理と言う。
【００８８】
ここで、図１０を参照して、近傍領域の一例について説明する。図１０は、近傍領域の一例について説明するための図である。
図１０に表す検査画像は、初期検査部１０４５が初期検査処理を実行した結果、欠陥を有すると判断した領域（以下単に、欠陥領域と言う）、欠陥を有しないと判断した領域（以下単に、正常領域と言う）、及び欠陥候補領域を有している。
【００８９】
一例として、選択部１０４６は、検査領域を番号１で表した欠陥候補領域とする場合には、１行６列、１行８列、２行６列から８列に位置する検査領域に隣接した領域を近傍領域とする。尚、近傍領域が検査領域に隣接する場合について説明したが、これに限定される訳ではなく、近傍領域は検査領域に隣接しない構成をも採用できる。
【００９０】
次に、図１１を参照して、近傍領域の他例について説明する。図１１は、近傍領域の他例について説明するための図である。
選択部１０４６は、図１０に示した検査領域に直接隣接した近傍領域のみならず、図１０に示した近傍領域に更に隣接した領域をも近傍領域とする。更に、図１１に示した近傍領域に限定される訳ではなく、図１１に示した近傍領域に更に隣接した領域をも近傍領域とする構成を採用できる。
【００９１】
ここで、図７に戻り引き続きプリント制御部１０４０の構成について説明する。
第２特徴値算出部１０４７は、記憶部１０５０等、選択部１０４６及び欠陥検査部１０４８に接続している。
第２特徴値算出部１０４７は、選択部１０４６から検査領域及び選択領域を取得する。次に、第２特徴値算出部１０４７は、取得した検査領域及び選択領域を濃度に基づいて特徴付ける特徴値（以下単に、第２特徴値と言う）をそれぞれ算出し、算出した第２特徴値を欠陥検査部１０４８へ出力する。
【００９２】
具体的には、検査領域及び選択領域の第２特徴値は、検査領域及び選択領域の階調値平均値、階調値分散値、階調値の最大値と最小値との差分、投影波形最大値と最小値との差分、及び周波数特性の係数を含む。
【００９３】
欠陥検査部１０４８は、第２特徴値算出部１０４７及び欠陥領域判定部１０４９に接続している。欠陥検査部１０４８は、第２特徴値算出部１０４７から第２特徴値を取得し、取得した第２特徴値に基づいて欠陥候補領域が欠陥を有するか否かを検査する欠陥検査処理を実行する。尚、欠陥検査処理については後述する。
【００９４】
欠陥領域判定部１０４９は、初期検査部１０４５及び欠陥検査部１０４８に接続している。欠陥領域判定部１０４９は、初期検査部１０４５から初期検査の結果を、欠陥検査部１０４８から欠陥検査の結果を取得する。その後、取得した検査結果に基づいて、欠陥を有する領域を判定する。
【００９５】
ここで、図１２を参照して、プリント制御部１０４０が画像検査機能を提供する際に実行する画像検査処理について説明する。図１２は、プリント制御部１０４０が実行する画像検査処理の一例を表すフローチャートである。
【００９６】
先ず、プリント制御部１０４０は、画像検査装置１０００を使用する使用者が、入力部１０９０を操作して入力した画像検査機能の提供を命じる命令を取得する。その後、プリント制御部１０４０は、画像形成制御部１０６０へ、記憶部１０５０等に記憶した所定の画像を印刷出力するよう命じる命令を出力する（ステップＳＴ００１）。
【００９７】
次に、プリント制御部１０４０は、画像読取部１０２０へ、印刷出力した画像を読取るよう命じる命令を出力する（ステップＳＴ００２）。その後、プリント制御部１０４０は、画像分割部１０４１へ、画像読取部１０２０が読取った検査画像を複数領域に分割するよう命じる命令を出力する（ステップＳＴ００３）。
【００９８】
次に、プリント制御部１０４０は、画像分割部１０４１が分割した全領域に対してステップ００５から００７の処理を実行したか否かを判断する（ステップＳＴ００４）。プリント制御部１０４０は、全領域に対してステップＳＴ００５から００７の処理を実行したと判断する場合にはステップＳＴ００８処理を実行し、そうでない場合にはステップＳＴ００５の処理を実行する。
【００９９】
ステップＳＴ００４において、プリント制御部１０４０は、全領域に対してステップＳＴ００５から００７の処理を実行していないと判断した場合には、画像分割部１０４１が分割した領域の内で、未処理の領域の１つを初期検査領域とする（ステップＳＴ００５）。
【０１００】
次に、プリント制御部１０４０は、第１特徴値算出部１０４２へ、第１特徴値を算出するよう命じる命令を出力する（ステップＳＴ００６）。その後、プリント制御部１０４０は、初期検査部１０４５へ、初期検査処理を実行するよう命じる命令を出力する（ステップＳＴ００７）。次に、プリント制御部１０４０は、上記ステップＳＴ００４に戻り上記処理を繰り返す。
【０１０１】
ステップＳＴ００４において、プリント制御部１０４０は、全領域に対してステップＳＴ００５から００７の処理を実行したと判断した場合には、初期検査部１０４５が初期検査処理の結果、欠陥候補領域であると判断した全ての領域についてステップＳＴ００９から０１３の処理を実行した否かを判断する（ステップＳＴ００８）。プリント制御部１０４０は、欠陥候補領域の全てについてステップＳＴ００９から０１３の処理を実行したと判断する場合にはステップＳＴ０１４の処理を実行し、そうでない場合にはステップＳＴ００９の処理を実行する。
【０１０２】
ステップＳＴ００８において、プリント制御部１０４０は、欠陥候補領域の全てについて処理を実行していないと判断する場合には、ステップＳＴ００９から０１３の処理の対象としていない欠陥候補領域の内の１つを検査領域とする（ステップＳＴ００９）。
【０１０３】
次に、プリント制御部１０４０は、選択部１０４６へ、ステップＳＴ００９で定めた検査領域の近傍領域から選択領域を選択する選択処理を実行するよう命じる命令を出力する（ステップＳＴ０１０）。
【０１０４】
その後、プリント制御部１０４０は、第２特徴値算出部１０４７へ、検査領域の第２特徴値を算出する処理の実行を命じる命令を出力する（ステップＳＴ０１１）。次に、プリント制御部１０４０は、第２特徴値算出部１０４７へ、ステップＳＴ０１０で選択部１０４６が選択した選択領域の第２特徴値を算出する処理の実行を命じる命令を出力する（ステップＳＴ０１２）。
【０１０５】
次に、プリント制御部１０４０は、欠陥検査部１０４８へ、欠陥検査処理を実行するよう命じる命令を出力する（ステップＳＴ０１３）。その後、プリント制御部１０４０は、ステップ００８に戻り上記処理を繰り返す。
【０１０６】
ステップＳＴ００８において、プリント制御部１０４０は、欠陥候補領域の全てについて処理を実行したと判断する場合には、ステップＳＴ００７で初期検査部１０４５に実行させた初期検査処理の結果、及びステップＳＴ０１３で欠陥検査部１０４８に実行させた欠陥検査処理の結果に基づいて欠陥領域を判定するよう欠陥領域判定部１０４９に命令を出力する（ステップＳＴ０１４）。その後、プリント制御部１０４０は、画像検査処理を終了する。
【０１０７】
次に、図１３を参照して初期検査部が実行する初期検査処理について説明する。図１３は、初期検査部が実行する初期検査処理の一例を表すフローチャートである。
【０１０８】
先ず、初期検査部１０４５は、検査領域と対応領域との階調値平均を取得する（ステップＳＴ１０１）。次に、初期検査部１０４５は、階調値平均差の絶対値が所定の閾値１１よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ１０２）。初期検査部１０４５は、階調値平均差の絶対値が所定の閾値１１よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ１０９の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ１０３の処理を実行する。
【０１０９】
ここで、閾値１１は、検査領域が明らかに欠陥を有すると判定される程度の値を設定する。閾値１１の一例としては、２０階調差程度が望ましい。
【０１１０】
つまり、初期検査部１０４５は、ステップＳＴ１０２の判定処理を実行することで、対応領域に比べて明らかに濃度が薄くなっており面積の大きい欠陥部分を含む領域を欠陥領域として検出する。具体的には、図８に示した階調値差及び領域が大きな部分ＰＬＬを含む領域を欠陥領域と判定する。
【０１１１】
ステップＳＴ１０２において、初期検査部１０４５は、階調値平均差の絶対値が所定の閾値１１よりも大きくないと判断した場合は、階調値平均の差の絶対値が所定の閾値１２よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ１０３）。初期検査部１０４５は、階調値平均差の絶対値が所定の閾値１２よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ１０８の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ１０４の処理を実行する。
【０１１２】
ここで、閾値１２は、検査領域が明らかに欠陥を有するとは判定されないが、欠陥を有する可能性があると判断される程度の値を設定する。閾値１２の一例としては、１０階調差程度が望ましい。
【０１１３】
つまり、初期検査部１０４５は、ステップＳＴ１０３の判定処理を実行することで、対応領域に比べて明らかに濃度が薄いとは言えない程度に濃度が薄くなっており、かつ面積の大きい欠陥部分を含む領域を欠陥候補領域として検出する。具体的には、図８に示した階調値差が小さくかつ領域が大きな部分ＰＳＬを含む領域を欠陥候補領域と判定する。
【０１１４】
ステップＳＴ１０３において、初期検査部１０４５は、階調値平均差の絶対値が所定の閾値１２よりも大きくないと判断した場合は、検査領域の階調値投影波形と対応領域の階調値投影波形との正規化相関値を相関値算出部１０４４から取得する（ステップＳＴ１０４）。
【０１１５】
次に、初期検査部１０４５は、二次元領域としての検査領域と二次元領域としての対応領域間との正規化相関値を相関値算出部１０４４から取得する（ステップＳＴ１０４１）。
【０１１６】
その後、初期検査部１０４５は、ステップＳＴ１０４で取得した正規化相関係数とステップＳＴ１０４１で取得した正規化相関係数とを比較して、値が小さい正規化相関係数を選択正規化相関係数とする（ステップＳＴ１０４２）。
【０１１７】
次に、初期検査部１０４５は、ステップＳＴ１０４２で取得した選択正規化相関値が所定の閾値２１より小さいか否かを判断する（ステップＳＴ１０５）。初期検査部１０４５は、選択正規化相関値が所定の閾値２１より小さいと判断する場合には、ステップＳＴ１０９の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ１０６の処理を実行する。
【０１１８】
ここで、閾値２１は、検査領域が明らかに欠陥を有すると判定される程度の値を設定する。閾値２１の一例としては、０．９９７程度が望ましい。
【０１１９】
つまり、初期検査部１０４５は、ステップＳＴ１０５の判定処理を実行することで、微小な白点や微細な白筋といった領域は小さいが階調差が大きな欠陥部分を含む領域を欠陥領域として検出する。具体的には、図８に示した階調値差が大きくかつ領域が小さな部分ＰＬＳを含む領域を欠陥候補領域と判定する。
【０１２０】
ステップＳＴ１０５において、初期検査部１０４５は、選択正規化相関値が所定の閾値２１より小さくないと判断した場合には、ステップＳＴ１０４２で取得した選択正規化相関値が所定の閾値２２より小さいか否かを判断する（ステップＳＴ１０６）。初期検査部１０４５は、選択正規化相関値が所定の閾値２２より小さいと判断する場合には、ステップＳＴ１０８の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ１０７の処理を実行する。
【０１２１】
ここで、閾値２２は、検査領域が明らかに欠陥を有するとは判定できないが、欠陥を有する可能性があると判定される程度の値を設定する。閾値２２の一例としては、０．９９９程度が望ましい。
【０１２２】
つまり、初期検査部１０４５は、ステップＳＴ１０６の判定処理を実行することで、対応領域に比べて明らかに濃度が薄いとは言えない程度に濃度が薄くなっており、かつ面積の小さい欠陥部分を含む領域を欠陥候補領域として検出する。具体的には、図８に示した階調値差が小さくかつ領域が小さな部分ＰＳＳを含む領域を欠陥候補領域と判定する。
【０１２３】
ステップＳＴ１０６において、初期検査部１０４５は、選択正規化相関値が所定の閾値２２より小さくないと判断する場合には、検査領域を正常な領域と判定する（ステップＳＴ１０７）。その後、初期検査部１０４５は初期検査処理を終了する。
【０１２４】
ステップＳＴ１０３において、初期検査部１０４５は、階調値平均差の絶対値が所定の閾値１２よりも大きくないと判断した場合、又はステップＳＴ１０６において、選択正規化相関値が所定の閾値２２より小さくないと判断した場合には、検査領域を欠陥候補領域と判定する（ステップＳＴ１０８）。その後、初期検査部１０４５は初期検査処理を終了する。
【０１２５】
ステップＳＴ１０２において、初期検査部１０４５は、階調値平均差の絶対値が所定の閾値１１よりも大きいと判断した場合、又はステップＳＴ１０５において、選択正規化相関値が所定の閾値２１より小さいと判断した場合には、検査領域を欠陥領域と判定する（ステップＳＴ１０９）。その後、初期検査部１０４５は初期検査処理を終了する。
【０１２６】
ここで、図１４を参照して、図８に示した検査画像ＩＧに対して初期検査処理を実行した結果を説明する。図１４は、図８に示した検査画像ＩＧに対して初期検査処理を実行した結果を説明するための図である。
【０１２７】
図１４に示すように、検査画像ＩＧは、初期検査部１０４５がステップＳＴ１０２及びステップＳＴ１０５の判定処理を実行することで欠陥領域と判定した階調値差及び領域が大きな部分ＰＬＬを含む領域ＡＬＬ、及び階調値差が大きくかつ領域が小さな部分ＰＬＳを含む領域ＡＬＳを有する。
【０１２８】
また、検査画像ＩＧは、初期検査部１０４５がステップＳＴ１０３及びステップＳＴ１０６の判定処理を実行することで欠陥候補領域と判定した階調値差及び領域が小さな部分ＰＳＳを含む領域ＡＳＳ、及び階調値差が小さくかつ領域が大きな部分ＰＳＬを含む領域ＡＳＬを有する。
【０１２９】
次に、図１５を参照して選択部１０４６が実行する選択処理について説明する。図１５は、選択部１０４６が実行する選択処理の一例を表すフローチャートである。
【０１３０】
先ず、選択部１０４６は、初期検査部１０４５が初期検査の結果、正常領域であると判断した全ての近傍領域に対してステップＳＴ２０２からＳＴ２０５の処理を実行したか否かを判断する（ステップＳＴ２０１）。選択部１０４６は、全ての近傍領域に対して処理を実行したと判断する場合にはステップＳＴ２０６の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ２０２の処理を実行する。
【０１３１】
ステップＳＴ２０１において、選択部１０４６は、全ての近傍領域に対して処理を実行していない判断した場合には、ステップＳＴ２０２からＳＴ２０５の処理対象としておらず、かつ正常領域である近傍領域の内の１領域を処理対象領域とする（ステップＳＴ２０２）。
【０１３２】
次に、選択部１０４６は、処理対象領域の階調値投影波形を算出する（ステップＳＴ２０３）。その後、選択部１０４６は、処理対象領域に対応する検査チャートを分割した領域を選出し、選出した対応する領域の階調値投影波形を算出する（ステップＳＴ２０４）。尚、処理対象領域と処理対象領域に対応する領域との関係は、初期検査領域と対応領域との関係と同様であるため説明を省略する。
【０１３３】
その後、選択部１０４６は、ステップＳＴ２０３で算出した処理対象領域の階調値投影波形と、ステップＳＴ２０４で算出した処理対象領域に対応する領域の階調値投影波形との正規化相関係数を算出する（ステップＳＴ２０５）。その後、ステップＳＴ２０１に戻り上記処理を繰り返す。
【０１３４】
ステップＳＴ２０１において、選択部１０４６は、全ての正常領域である近傍領域に対して処理を実行したと判断した場合には、ステップＳＴ２０５で算出した正規化相関係数の内で最も高い値を示した近傍領域を選択領域として選択する（ステップＳＴ２０６）。その後、選択部１０４６は、選択処理を終了する。
【０１３５】
次に、図１６を参照して、第２特徴値算出部１０４７が実行する検査領域の第２特徴値を算出する処理について説明する。図１６は、第２特徴値算出部１０４７が実行する検査領域の第２特徴値を算出する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【０１３６】
先ず、第２特徴値算出部１０４７は、検査領域の階調値の平均値Ｄａｖｅを算出する（ステップＳＴ３０１）。次に、第２特徴値算出部１０４７は、検査領域の階調値の分散値Ｄｖａｒを算出する（ステップＳＴ３０２）。
【０１３７】
その後、第２特徴値算出部１０４７は、検査領域の階調値の最大値と最小値との差分Ｄｍａｘｍｉｎを算出する（ステップＳＴ３０３）。次に、第２特徴値算出部１０４７は、検査領域の投影波形の最大値と最小値との差分Ｄｐｍａｘｍｉｎを算出する（ステップＳＴ３０４）。
【０１３８】
その後、第２特徴値算出部１０４７は、検査領域の周波数特性の係数Ｄｆｒｅｑを算出する（ステップＳＴ３０５）。その後、第２特徴値算出部１０４７は、検査領域の第２特徴値を算出する処理を終了する。
【０１３９】
次に、図１７を参照して、第２特徴値算出部が実行する選択領域の第２特徴値を算出する処理について説明する。図１７は、第２特徴値算出部１０４７が実行する選択領域の第２特徴値を算出する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【０１４０】
先ず、第２特徴値算出部１０４７は、選択領域の階調値の平均値Ｃａｖｅを算出する（ステップＳＴ４０１）。次に、第２特徴値算出部１０４７は、選択領域の階調値の分散値Ｃｖａｒを算出する（ステップＳＴ４０２）。
【０１４１】
その後、第２特徴値算出部１０４７は、選択領域の階調値の最大値と最小値との差分Ｃｍａｘｍｉｎを算出する（ステップＳＴ４０３）。次に、第２特徴値算出部１０４７は、選択領域の投影波形最大値と最小値との差分Ｃｐｍａｘｍｉｎを算出する（ステップＳＴ４０４）。
【０１４２】
その後、第２特徴値算出部１０４７は、選択領域の周波数特性の係数Ｃｆｒｅｑを算出する（ステップＳＴ４０５）。その後、第２特徴値算出部１０４７は、選択領域の第２特徴値を算出する処理を終了する。
【０１４３】
次に、図１８を参照して、欠陥検査部が実行する欠陥検査処理について説明する。図１８は、欠陥検査部１０４８が実行する欠陥検査処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【０１４４】
先ず、欠陥検査部１０４８は、検査領域の階調値の平均値Ｄａｖｅと、選択領域の階調値の平均値Ｃａｖｅとの差の絶対値が所定の閾値３１よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ５０１）。欠陥検査部１０４８は、ＤａｖｅとＣａｖｅとの差の絶対値が閾値３１よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ５０７の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ５０２の処理を実行する。
【０１４５】
つまり、欠陥検査部１０４８は、ステップＳＴ５０１の判定処理を実行することで、対応領域に比べて明らかに濃度が薄くはないが、選択領域に比べて明らかに濃度が薄くなっており、かつ面積の大きい欠陥部分を含む領域を欠陥領域として検出する。
【０１４６】
ステップＳＴ５０１において、欠陥検査部１０４８は、欠陥検査部１０４８は、ＤａｖｅとＣａｖｅとの差の絶対値が閾値３１よりも大きくないと判断した場合には、検査領域の階調値の分散値Ｄｖａｒと選択領域の階調値の分散値Ｃｖａｒとの差の絶対値が閾値３２よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ５０２）。欠陥検査部１０４８は、ＤｖａｒとＣｖａｒとの差の絶対値が閾値３２よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ５０７の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ５０３の処理を実行する。
【０１４７】
ステップＳＴ５０２において、欠陥検査部１０４８は、ＤｖａｒとＣｖａｒとの差の絶対値が閾値３２よりも大きくないと判断した場合には、検査領域の階調値の最大値と最小値との差分Ｄｍａｘｍｉｎと選択領域の階調値の最大値と最小値との差分Ｃｍａｘｍｉｎとの差の絶対値が閾値３３よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ５０３）。欠陥検査部１０４８は、ＤｍａｘｍｉｎとＣｍａｘｍｉｎとの差の絶対値が閾値３３よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ５０７の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ５０４の処理を実行する。
【０１４８】
ステップＳＴ５０３において、欠陥検査部１０４８は、ＤｍａｘｍｉｎとＣｍａｘｍｉｎとの差の絶対値が閾値３３よりも大きくないと判断した場合には、検査領域の投影波形最大値と最小値との差分Ｄｐｍａｘｍｉｎと選択領域の投影波形最大値と最小値との差分Ｃｐｍａｘｍｉｎとの差の絶対値が閾値３４よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ５０４）。欠陥検査部１０４８は、ＤｐｍａｘｍｉｎとＣｐｍａｘｍｉｎとの差の絶対値が閾値３４よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ５０７の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ５０５の処理を実行する。
【０１４９】
ステップＳＴ５０４において、欠陥検査部１０４８は、ＤｐｍａｘｍｉｎとＣｐｍａｘｍｉｎとの差の絶対値が閾値３４よりも大きくないと判断した場合には、周期性を有する欠陥を有するか否かを判断するために検査領域の周波数特性の係数Ｄｆｒｅｑと選択領域の周波数特性の係数Ｃｆｒｅｑとの差の絶対値が閾値３５よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ５０５）。欠陥検査部１０４８は、ＤｆｒｅｑとＣｆｒｅｑとの差の絶対値が閾値３５よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ５０７の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ５０６の処理を実行する。
【０１５０】
ステップＳＴ５０５において、欠陥検査部１０４８は、ＤｆｒｅｑとＣｆｒｅｑとの差の絶対値が閾値３５よりも大きくないと判断した場合には、検査領域を正常領域であると判断する（ステップＳＴ５０６）。その後、欠陥検査部１０４８は、欠陥検査処理を終了する。
【０１５１】
ステップＳＴ５０１において、欠陥検査部１０４８は、ＤａｖｅとＣａｖｅとの差の絶対値が閾値３１よりも大きいと判断した場合、ステップＳＴ５０２において、ＤｖａｒとＣｖａｒとの差の絶対値が閾値３２よりも大きいと判断した場合、ステップＳＴ５０３において、ＤｍａｘｍｉｎとＣｍａｘｍｉｎとの差の絶対値が閾値３３よりも大きいと判断した場合、又はステップＳＴ５０４において、ＤｐｍａｘｍｉｎとＣｐｍａｘｍｉｎとの差の絶対値が閾値３４よりも大きいと判断した場合には、検査領域を欠陥領域であると判断する（ステップＳＴ５０７）。その後、欠陥検査部１０４８は、欠陥検査処理を終了する。
【０１５２】
ここで、図１９及び２０を参照して、欠陥検査部１０４８が、細い色線状の画像欠陥ＰＳＳ４を含む検査領域に対して実行する欠陥検査処理について説明する。図１９は、細い色線状の画像欠陥ＰＳＳ４を含む検査領域ＡＳＳ４と選択領域との関係を説明するための図であり、図２０は、図１９に示した検査領域ＡＳＳ４及び選択領域の階調値投影波形の一例を表す図である。
【０１５３】
図１９に示す検査領域は、階調値差及び領域が小さな部分ＰＳＳである細い色線状の欠陥部分ＰＳＳ４を含む１行７列に位置する領域ＡＳＳ４である。また、図１９に示す選択領域は、１行８列に位置し、かつ検査領域ＡＳＳ４に隣接する近傍領域である。
【０１５４】
図１９に示した選択領域は検査領域ＡＳＳ４の近傍に位置する領域から選択されたために、図２０に示す選択領域の階調値投影波形と検査領域ＡＳＳ４の階調値投影波形との相関関係は、全体的に不均一な濃度による影響を余り受けない。
【０１５５】
一方で、検査領域ＡＳＳ４は細い色線状の画像欠陥ＰＳＳ４を有するので、細い色線に直行する主走査方向における検査領域の階調値投影波形は、細い色線に対応する突出した波形を有する。つまり、選択領域の階調値投影波形と検査領域ＡＳＳ４の階調値投影波形との相関関係は、局所的に不均一な濃度による影響を受けている。
【０１５６】
よって、欠陥検査部１０４８は、ステップＳＴ５０４の判定処理を実行することで、対応領域に比べて明らかに濃度が薄くはないが、選択領域に比べて明らかに濃度が薄くなっており、かつ面積の小さい欠陥部分を含む領域を欠陥領域として検出する。具体的には、図８に示した階調値差及び領域が小さな部分ＰＳＳである細い色線状の画像欠陥ＰＳＳ４を含む領域ＡＳＳ４を欠陥領域と判定する。
【０１５７】
次に、図２１及び２２を参照して、欠陥検査部１０４８が、階調値差及び領域が小さな部分を含む検査領域に対して実行する欠陥検査処理について説明する。図２１は、階調値差及び領域が小さな部分を含む検査領域ＡＳＳ２と選択領域との関係を説明するための図であり、図２２は、図２１に示した検査領域ＡＳＳ２及び選択領域の階調値投影波形の一例を表す図である。
【０１５８】
図２１に示す検査領域は、階調値差及び領域が小さな部分を含む３行３列に位置する検査領域ＡＳＳ２である。また、図２２に示す選択領域は、３行４列に位置し、かつ検査領域ＡＳＳ２に隣接する近傍領域である。
【０１５９】
図２１に示した選択領域は検査領域ＡＳＳ２の近傍に位置する領域から選択されたために、図２２に示す選択領域の階調値投影波形と検査領域ＡＳＳ２の階調値投影波形との相関関係は、全体的に不均一な濃度による影響を余り受けない。
【０１６０】
また、検査領域ＡＳＳ２の有する階調値差及び領域が小さな部分は、検査領域ＡＳＳ２の階調値投影波形に対して、局所的に不均一な濃度による影響を余り与えていない。よって、欠陥検査部１０４８は、欠陥検査処理を実行した結果、検査領域ＡＳＳ２を正常領域と判断する。
【０１６１】
ここで、図２３を参照して、欠陥領域判定部１０４９が、初期検査処理の結果及び欠陥検査処理の結果に基づいて欠陥領域であると判定した領域について説明する。図２３は、欠陥領域判定部１０４９が、欠陥領域であると判定した領域を説明するための図である。
【０１６２】
図２３に示す階調値差及び領域が大きな部分を含む領域ＡＬＬ、並びに階調値差が大きくかつ領域が小さな部分を含む領域ＡＬＳは、初期検査部１０４５が実行した初期検査処理の結果に基づいて欠陥領域判定部１０４９が欠陥領域であると判断した領域である。
【０１６３】
また、欠陥領域と判断した領域ＡＬＬ及びＡＬＳ、階調値差が小さくかつ領域が大きな部分を含む領域ＡＳＬ、並びに階調値差及び領域が小さな部分を含む領域ＡＳＳ１〜４以外の領域は、初期検査部１０４５が実行した初期検査処理の結果に基づいて欠陥領域判定部１０４９が正常領域であると判断した領域である。
【０１６４】
領域ＡＳＬ、ＡＳＳ３、及びＡＳＳ４は、欠陥検査部１０４８が実行した欠陥検査処理の結果に基づいて、欠陥領域判定部１０４９が欠陥領域であると判断した領域である。
【０１６５】
また、領域ＡＳＳ１、及びＡＳＳ２は、欠陥検査部１０４８が実行した欠陥検査処理の結果に基づいて、欠陥領域判定部１０４９が正常領域であり、いわゆる背景ムラＵＤ１及び２であると判断した領域である。
【０１６６】
本実施例においては、選択部１０４６が選択手段に相当し、初期検査部１０４５が初期検査手段に相当し、欠陥検査部１０４８が欠陥検査手段に相当する。
【０１６７】
以下、本発明の第２の実施形態について説明する。
第２の実施例においては、画像検査システムの実施形態について説明する。
【実施例２】
【０１６８】
図２４は、第２の実施例における本発明の画像検査システムの一実施形態を示す構成図である。
画像検査システム１０は、通信網１００、画像検査装置２０００、１又は複数の画像形成装置９０００から９００ｎで構成されている。
【０１６９】
通信網１００の構成については、実施例１で説明した構成と同様であるため説明を省略する。通信網１００は、画像検査装置２０００と画像形成装置９０００から９００ｎとを通信可能に接続している。
【０１７０】
画像検査装置２０００について説明する前に、画像形成装置９０００から９００ｎについて説明する。画像形成装置９０００から９００ｎの構成、接続、及び機能については、それぞれほぼ同一であるために、画像形成装置９０００についてのみ説明する。
【０１７１】
ここで、図２５を参照して画像形成装置９０００の構成について説明する。図２５は、画像形成装置９０００一実施形態を示す構成図である。
【０１７２】
画像形成装置９０００の構成、接続、及び機能については、実施例１で説明した画像検査装置１０００の構成、接続、及び機能とほぼ同一であるために以下、主に相違点について説明する。
【０１７３】
プリント制御部９０４０は、画像検査機能を提供しない点で実施例１のプリント制御部１０４０と異なる。つまり、プリント制御部９０４０は、画像分割部１０４１、第１特徴値算出部１０４２、初期検査部１０４５、選択部１０４６、第２特徴値算出部１０４７、欠陥検査部１０４８、及び欠陥領域判定部１０４９に相当する部を有しない。
【０１７４】
通信部９１１０は、例えば、ＦＡＸモデム、又はネットワークアダプタで構成され、画像検査のために用いられる所定の画像である検査チャート、及び検査画像を画像検査装置２０００へ送信する点で実施例１の通信部１１１０と異なる。
【０１７５】
次に、図２６を参照して画像検査装置２０００の構成について説明する。図２６は、画像検査装置２０００一実施形態を示す構成図である。
【０１７６】
画像検査装置２０００は、ＦＡＸ制御部２０１０、プリント制御部２０４０、記憶部２０５０から２０５ｍ（以下単に、記憶部２０５０等と言う）、Ｕ／Ｉ制御部２０７０、入力部２０９０、表示部２１００、及び通信部２１１０で構成される。
【０１７７】
プリント制御部２０４０、記憶部２０５０等、Ｕ／Ｉ制御部２０７０、入力部２０９０、表示部２１００、及び通信部２１１０の接続、構成、及び機能は、実施例１で説明した画像検査装置１０００を構成するプリント制御部１０４０、記憶部１０５０等、Ｕ／Ｉ制御部１０７０、入力部１０９０、表示部１１００、及び通信部１１１０とほぼ同様であるために以下、主に相違点について説明する。
【０１７８】
プリント制御部２０４０は、ＦＡＸ制御部２０１０、記憶部２０５０等、Ｕ／Ｉ制御部２０７０、及び通信部２１１０に接続する。尚、プリント制御部１０４０は、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、及び画像形成制御部１０６０に相当する部に接続しない点で実施例１のプリント制御部１０４０と異なる。
【０１７９】
プリント制御部２０４０は、提供機能を提供しない点で実施例１のプリント制御部１０４０と異なるが、画像検査機能を提供する点で同じである。
【０１８０】
図示は省略するが、プリント制御部２０４０は、画像分割部２０６１、第１特徴値算出部２０６２、初期検査部２０６５、選択部２０６６、第２特徴値算出部２０６７、欠陥検査部２０６８、及び欠陥領域判定部２０６９で構成される点で実施例１のプリント制御部１０４０と同様である。
【０１８１】
また、画像分割部２０６１、第１特徴値算出部２０６２、初期検査部２０６５、選択部２０６６、第２特徴値算出部２０６７、欠陥検査部２０６８、及び欠陥領域判定部２０６９の構成、接続、及び機能は、実施例１で説明した画像分割部１０６１、第１特徴値算出部１０６２、初期検査部１０６５、選択部１０６６、第２特徴値算出部１０６７、欠陥検査部１０６８、及び欠陥領域判定部１０６９の構成、接続、及び機能とほぼ同じであるために説明を省略する。
【０１８２】
プリント制御部２０４０が実行する画像検査処理のステップＳＴ００１においては、画像形成装置９０００の画像形成制御部９０６０へ、記憶部９０５０等に記憶した所定の画像を印刷出力するよう命じる命令を出力する。この命令は、プリント制御部２０４０が通信部２１１０を制御することで画像形成装置９０００へ送信される。
【０１８３】
同様に、プリント制御部２０４０は、ステップＳＴ００２においては、画像形成装置９０００の画像読取部９０２０へ、検査チャートを印刷出力した画像を読取るよう命じる命令を送信出力する。その後、プリント制御部２０４０は、画像形成装置９０００が送信した検査チャートと検査画像とを受信するよう通信部２１１０を制御し、受信した検査チャートと検査画像とを記憶部２０５０等に記憶させる点で実施例１のプリント制御部１０４０と異なる。
【０１８４】
その後、プリント制御部２０４０は、図１２に示した画像検査処理のステップＳＴ００３からＳＴ０１４の処理を実行する点で実施例１のプリント制御部１０４０と同様である。
【０１８５】
記憶部２０５０等は、画像検査装置２０００の有する機能を提供するためにＣＰＵ等で構成される演算部が実行するファームフェアを格納する。尚、画像検査装置２０００の有する機能は、データ転送機能、待機機能、省電力機能、起動機能、又は画像検査機能を含む点で実施例１で説明した記憶部１０５０等と同様であるが、スキャン機能、複写機能、及び印刷（プリント）機能を有しない点で異なる。
【０１８６】
通信部１１１０は、例えば、例えば、ＦＡＸモデム、又はネットワークアダプタで構成され、通信網１００、ＦＡＸ制御部１０１０、及びプリント制御部１０４０に接続している。通信部１１１０は、ＦＡＸ制御部１０１０、及びプリント制御部１０４０に制御されて検査チャート及び検査画像を受信する。
【０１８７】
本実施例においては、選択部２０４６が選択手段に相当し、初期検査部２０４５が初期検査手段に相当し、欠陥検査部２０４８が欠陥検査手段に相当し、画像検査装置２０００が有する通信部２１１０が受信手段に相当し、画像形成装置９０００が有する通信部９１１０が送信手段に相当する。
【０１８８】
画像検査装置１０００は、機能的には、演算部１００１がＲＯＭ１００２、ＲＡＭ１００３、外部記憶部１００４の少なくともひとつに格納されたプログラムを実行することにより実現できる。また、このプログラムは、磁気ディスクや光ディスク、半導体メモリ、その他の記録媒体に格納して配布したり、ネットワークを介して配信したりすることにより提供できる。
【０１８９】
以上本発明の好ましい実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形、変更が可能である。
【０１９０】
上記実施形態では、外部記憶装置はハードディスク（Hard Disk）で構成されるとして説明したが、これに限定されるわけではなく、例えば、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital Versatile Disk Read Only Memory）、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Digital Versatile Disk Random Access Memory）、ＭＯ（magneto-optic）、及びフラッシュメモリ（flash memory）で構成される実施形式を採用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１９１】
【図１】画像検査装置の一実施形態を示す構成図である。
【図２】画像検査装置１０００のハードウェアの一構成例を表す図である。
【図３】検査チャートの一例について説明するための図である。
【図４】正常な検査画像の一例を説明するための図である。
【図５】正常な検査画像の他例を説明するための図である。
【図６】欠陥を有する検査画像の一例を説明するための図である。
【図７】プリント制御部１０４０の一実施形態を表す図である。
【図８】画像分割部が検査画像を基に生成する領域の一例を説明するための図である。
【図９】画像分割部が検査チャートを基に生成する領域の一例を説明するための図である。
【図１０】近傍領域の一例について説明するための図である。
【図１１】近傍領域の他例について説明するための図である。
【図１２】プリント制御部１０４０が実行する画像検査処理の一例を表すフローチャートである。
【図１３】初期検査部が実行する初期検査処理の一例を表すフローチャートである。
【図１４】図８に示した検査画像に対して初期検査処理を実行した結果を説明するための図である。
【図１５】選択部が実行する選択処理の一例を表すフローチャートである。
【図１６】第２特徴値算出部が実行する検査領域の第２特徴値を算出する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図１７】第２特徴値算出部が実行する選択領域の第２特徴値を算出する処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図１８】欠陥検査部が実行する欠陥検査処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図１９】細い色線状の画像欠陥を含む検査領域と選択領域との関係を説明するための図である。
【図２０】図１９に示した検査領域及び選択領域の階調値投影波形の一例を表す図である。
【図２１】階調値差及び領域が小さな部分を含む検査領域と選択領域との関係を説明するための図である。
【図２２】図２１に示した検査領域及び選択領域の階調値投影波形の一例を表す図である。
【図２３】欠陥領域判定部が、欠陥領域であると判定した領域を説明するための図である。
【図２４】画像検査システムの一実施形態を示す構成図である。
【図２５】画像形成装置の一実施形態を示す構成図である。
【図２６】実施例２における画像検査装置の一実施形態を示す構成図である。
【符号の説明】
【０１９２】
１０…画像検査システム
１００…通信網
１０００…画像検査装置
１００１…演算部
１００２…ＲＯＭ
１００３…ＲＡＭ
１００４…外部記憶部
１００５…バス
１０１０…ＦＡＸ制御部
１０２０…画像読取部
１０３０…画像処理部
１０４０…プリント制御部
１０４１…画像分割部
１０４２…第１特徴値算出部
１０４３…階調値平均値算出部
１０４４…相関値算出部
１０４５…初期検査部（初期検査手段）
１０４６…選択部（選択手段）
１０４７…第２特徴値算出部
１０４８…欠陥検査部（欠陥検査手段）
１０４９…欠陥領域判定部
１０５０〜ｍ…記憶部
１０６０…画像形成制御部
１０７０…Ｕ／Ｉ制御部
１０８０〜ｎ…アクチュエータ制御部
１０９０…入力部
１１００…表示部
１１１０…通信部
２０００…画像検査装置
２０１０…ＦＡＸ制御部
２０４０…プリント制御部
２０５０〜ｍ…記憶部
２０７０…Ｕ／Ｉ制御部
２０９０…入力部
２１００…表示部
２１１０…通信部（受信手段）
９０００…画像形成装置
９００１〜ｎ…画像形成装置
９０１０…ＦＡＸ制御部
９０２０…画像読取部
９０３０…画像処理部
９０４０…プリント制御部
９０５０〜ｍ…記憶部
９０６０…画像形成制御部
９０７０…Ｕ／Ｉ制御部
９０８０〜ｎ…アクチュエータ制御部
９０９０…入力部
９１００…表示部
９１１０…通信部（送信手段）
ＡＧ…階調値軸
ＡＬＬ…階調値差及び領域が大きな部分を含む領域
ＡＬＳ…階調値差が大きくかつ領域が小さな部分を含む領域
ＡＭ…主走査方向座標軸
ＡＳ…副走査方向座標軸
ＡＳＬ…階調値差が小さくかつ領域が大きな部分を含む領域
ＡＳＳ１〜４…階調値差及び領域が小さな部分を含む領域
ＣＴ…検査チャート
ＤＭ…主走査方向
ＩＧ…検査画像
ＩＩＤ…検査画像
ＩＩＯ１，２…正常な検査画像
ＩＴ…所定の画像
Ｏ…原点
ＰＤＬ…傷により発生した微小な欠陥
ＰＬＬ…階調値差及び領域が大きな部分
ＰＬＳ…階調値差が大きくかつ領域が小さな部分
ＰＳＬ…階調値差が小さくかつ領域が大きな部分
ＰＳＳ１〜４…階調値差及び領域が小さな部分
ＵＤ１，２…背景ムラ
【図１】
2008096206.tif 000003
【図２】
2008096206.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2008096206.tif 000008
【図７】
2008096206.tif 000009
【図８】
2008096206.tif 000010
【図９】
2008096206.tif 000011
【図１０】
2008096206.tif 000012
【図１１】
2008096206.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
2008096206.tif 000015
【図１４】
2008096206.tif 000016
【図１５】
2008096206.tif 000017
【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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