(57)【要約】【課題】検査用にメモリを増設することなく、処理経路中にあるすべての画像処理回路について異常を検査することのできる画像処理装置を提供する。【解決手段】読取部１１と、読取系画像処理回路２０と、画像メモリ１３と、画像メモリ１３の後段の出力系画像処理回路３０と、プリンタ部１８と、出力系画像処理回路３０の出力を読取系画像処理回路２０の前段に戻すためのループバック経路１９と、検査処理を制御するＣＰＵ４２とを備え、画像メモリ１３に検査用の元画像データを展開し、この元画像データを画像メモリ１３から出力系画像処理回路およびループバック経路、読取系画像処理回路に流して画像メモリ１３に戻した後、この戻ってきた画像データと所定のリファレンス画像データとの比較結果から異常の発生状況を判定する。【選択図】図１
2008187494.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像の読取部と、
前記読取部から出力された画像データに対して画像処理を施す読取系画像処理回路と、
前記読取系画像処理回路から出力された画像データを記憶する記憶部と、
前記記憶部から読み出された画像データに対して画像処理を施す出力系画像処理回路と、
前記出力系画像処理回路から出力された画像データに基づいて用紙上に画像形成する画像形成部と、
前記出力系画像処理回路の出力を前記読取系画像処理回路の前段に戻すためのループバック経路と、
検査処理を制御する制御部と
を備え、
前記制御部は、前記記憶部に検査用の元画像データを展開し、この元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻した後、この戻ってきた画像データと所定のリファレンス画像データとの比較結果から異常の発生状況を判定する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記制御部は、元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻す動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のうち、特定の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施し、他の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施さずに画像データを通過させる設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から前記特定の基板に関する異常を判定する
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記制御部は、元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻す動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のすべての画像処理を施す設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から異常の有無を判定し、
異常有りの場合は、前記動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のうち、特定の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施し、他の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施さずに画像データを通過させる設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から前記特定の基板に関する異常を判定する
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項４】
元画像データおよびリファレンス画像データを予め記憶した第２記憶部を備え、
前記制御部は、前記第２記憶部から元画像データおよびリファレンス画像データを入手する
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１つに記載の画像処理装置。
【請求項５】
画像の読取部と、前記読取部から出力された画像データに対して画像処理を施す読取系画像処理回路と、前記読取系画像処理回路から出力された画像データを記憶する記憶部と、前記記憶部から読み出された画像データに対して画像処理を施す出力系画像処理回路と、前記出力系画像処理回路から出力された画像データに基づいて用紙上に画像形成する画像形成部とを備えた画像処理装置に前記出力系画像処理回路の出力を前記読取系画像処理回路の前段に戻すためのループバック経路を設け、
前記記憶部に検査用の元画像データを展開し、この元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻した後、この戻ってきた画像データと所定のリファレンス画像データとの比較結果から異常の発生状況を判定する
ことを特徴とする画像処理装置の検査方法。
【請求項６】
元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻す動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のうち、特定の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施し、他の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施さずに画像データを通過させる設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から前記特定の基板に関する異常を判定する
ことを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置の検査方法。
【請求項７】
元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻す動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のすべての画像処理を施す設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から異常の有無を判定し、
異常有りの場合は、前記動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のうち、特定の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施し、他の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施さずに画像データを通過させる設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から前記特定の基板に関する異常を判定する
ことを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理回路に関する異常の検査機能を備えた画像処理装置および検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の画像処理装置の多くは、特定用途向き集積回路であるＡＳＩＣ(Application Specific Integrated Circuit)などを搭載した画像処理回路によって、画像をデジタル化し、各種の補正や画像処理を行って印刷出力している。そのため、市場で画像出力に異常が見られる場合、主な画像処理を行っている基板をまず交換することが一般に行われる。
【０００３】
しかし、画像処理を行う基板は、通常、ＥＭＩ（Electro-Magnetic Interference）対策のために、機械内部の奥にしっかりとした板金に囲まれてネジ止めされているため、他の基板に比べて交換に手間を要してしまう。また、画像処理を行う基板を交換しても出力画像の異常が直らない場合は、出力画像が正常になるまで、束線やその他の部品・基板などの交換作業を基板の組み合わせなどを変更しながら継続しなければならない。このため、装置が正常に復帰するまでの時間（平均復旧時間、ＭＴＴＲ：Mean Time To Repair）が長くなり、ユーザが画像処理装置を使用できない時間が増えるばかりか、保守作業員の負担が大きくなっていた。また、画像処理を行う基板は、ＡＳＩＣやメモリなどを多数搭載して高価なことが多いため、交換の必要性は慎重に判断されることが望ましい。
【０００４】
画像処理の異常個所を検出する技術には、たとえば、テストパターンを処理ルートの上流にあるシェーディングメモリから処理ルートの途中の変倍メモリまで流し、変倍メモリに格納されたデータと元のテストパターンとを比較し、その一致・不一致によって画像処理の異常個所を判定する画像処理装置がある（特許文献１参照。）。
【０００５】
また、出力イメージが既知のテストパターンを画像処理部に処理させてフレームメモリに格納し、該処理結果と既知の出力イメージとを対比することで画像処理の異常を検出する画像処理装置がある（たとえば、特許文献２参照。）。
【特許文献１】特開平１０−７０６２７号公報
【特許文献２】特開平１１−３９４６０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
テストパターンと画像処理部を通した後の画像データとを比較するためには、これらを一旦メモリに格納する必要がある。特許文献１に記載の画像処理装置では、この格納用に処理ルートの途中にある変倍メモリを使用するので、変倍メモリより上流の画像処理回路は検査できるが、変倍メモリの下流にある画像処理回路は検査できない。一方、変倍メモリの下流にある画像処理回路についても検査するためには、画像処理回路の最終段の後ろに別途のメモリを追加しなければならず、装置価格の高騰を招いてしまう。
【０００７】
また、特許文献１の画像処理装置では、テストパターンと変倍メモリに格納された画像の一致・不一致により異常の有無を検査するので、画像処理回路で実際に画像処理を施してデータを変化させることはできず、画像処理を施さずに画像データを通過させるスルー設定でしか検査できない。このため、画像処理回路のオープン／ショートの検査しかできず、画像処理が正常に行われているか否かは検査できない。
【０００８】
特許文献２に開示された画像処理装置では、出力イメージが既知のテストパターンに対する画像処理部の処理結果と既知の出力イメージとを比較するので、画像処理が正常に行われているか否かを検査できる。しかし、フレームメモリより下流に出力系の画像処理回路がある場合には、特許文献１に開示された装置と同様の問題が生じ、フレームメモリより後段の画像処理回路は検査できない、もしくは最終段の後ろに別途のメモリが必要になってしまう。
【０００９】
本発明は、上記の問題を解決しようとするものであり、検査用のメモリを増設することなく、処理経路中にあるすべての画像処理回路について異常を検査することのできる画像処理装置及び画像処理装置の検査方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
かかる目的を達成するための本発明の要旨とするところは、次の各項の発明に存する。
【００１１】
［１］画像の読取部と、
前記読取部から出力された画像データに対して画像処理を施す読取系画像処理回路と、
前記読取系画像処理回路から出力された画像データを記憶する記憶部と、
前記記憶部から読み出された画像データに対して画像処理を施す出力系画像処理回路と、
前記出力系画像処理回路から出力された画像データに基づいて用紙上に画像形成する画像形成部と、
前記出力系画像処理回路の出力を前記読取系画像処理回路の前段に戻すためのループバック経路と、
検査処理を制御する制御部と
を備え、
前記制御部は、前記記憶部に検査用の元画像データを展開し、この元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻した後、この戻ってきた画像データと所定のリファレンス画像データとの比較結果から異常の発生状況を判定する
ことを特徴とする画像処理装置。
【００１２】
上記発明では、記憶部に展開した検査用の元画像データを記憶部から出力系画像処理回路に流し、出力系画像出力回路の最終段の出力を、ループバック経路を通じて読取系画像処理回路の最前段に入力し、読取系画像処理回路の出力を記憶部に戻す。そして、この戻ってきた画像データと所定のリファレンス画像データとの比較結果から異常の発生状況を判定する。ループバック経路を設けることで画像データをすべての画像処理回路に経由させて記憶部へ戻すことができるので、最終段に別途のメモリを配置することなく、入力から出力までの間にあるすべての画像処理回路を検査することができる。また、戻ってきた画像データとリファレンス画像データとを比較するので、元画像データが正常に画像処理された場合の期待値画像に相当するリファレンス画像データと比較することで、実際に画像処理回路を作動させた状態での正常性を検査できる。
【００１３】
［２］前記制御部は、元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻す動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のうち、特定の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施し、他の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施さずに画像データを通過させる設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から前記特定の基板に関する異常を判定する
ことを特徴とする［１］に記載の画像処理装置。
【００１４】
上記発明では、異常のある基板の特定が可能になる。
【００１５】
［３］前記制御部は、元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻す動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のすべての画像処理を施す設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から異常の有無を判定し、
異常有りの場合は、前記動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のうち、特定の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施し、他の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施さずに画像データを通過させる設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から前記特定の基板に関する異常を判定する
ことを特徴とする［１］に記載の画像処理装置。
【００１６】
上記発明では、全体として異常の有無を判定し、異常ありの場合に異常基板の特定作業が行われる。
【００１７】
［４］元画像データおよびリファレンス画像データを予め記憶した第２記憶部を備え、
前記制御部は、前記第２記憶部から元画像データおよびリファレンス画像データを入手する
ことを特徴とする［１］乃至［３］のいずれか１つに記載の画像処理装置。
【００１８】
［５］画像の読取部と、前記読取部から出力された画像データに対して画像処理を施す読取系画像処理回路と、前記読取系画像処理回路から出力された画像データを記憶する記憶部と、前記記憶部から読み出された画像データに対して画像処理を施す出力系画像処理回路と、前記出力系画像処理回路から出力された画像データに基づいて用紙上に画像形成する画像形成部とを備えた画像処理装置に前記出力系画像処理回路の出力を前記読取系画像処理回路の前段に戻すためのループバック経路を設け、
前記記憶部に検査用の元画像データを展開し、この元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻した後、この戻ってきた画像データと所定のリファレンス画像データとの比較結果から異常の発生状況を判定する
ことを特徴とする画像処理装置の検査方法。
【００１９】
［６］元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻す動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のうち、特定の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施し、他の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施さずに画像データを通過させる設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から前記特定の基板に関する異常を判定する
ことを特徴とする［５］に記載の画像処理装置の検査方法。
【００２０】
［７］元画像データを前記記憶部から前記出力系画像処理回路および前記ループバック経路、前記読取系画像処理回路に流して前記記憶部に戻す動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のすべての画像処理を施す設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から異常の有無を判定し、
異常有りの場合は、前記動作を、前記読取系画像処理回路および前記出力系画像処理回路のうち、特定の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施し、他の基板に搭載された画像処理回路では画像処理を施さずに画像データを通過させる設定で行い、戻ってきた画像データと前記設定に対応するリファレンス画像データとの比較結果から前記特定の基板に関する異常を判定する
ことを特徴とする［５］に記載の画像処理装置の検査方法。
【発明の効果】
【００２１】
本発明に係る画像処理装置及び画像処理装置の検査方法によれば、検査用にメモリを増設することなく、すべての画像処理回路について異常を検査できる。また、画像処理の正常性を含めて異常を検査できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、図面に基づき本発明の実施の形態を説明する。
【００２３】
図１は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置１０の概略構成を示すブロック図である。画像処理装置１０は、原稿を光学的に読み取り、該読み取りで得た画像データを用紙上に画像形成して印刷出力するコピー機能などを備えたデジタル複写機として構成されている。
【００２４】
画像処理装置１０は、原稿を光学的に読み取る読取部１１と、読取部１１で原稿を読み取って得た画像データに対して各種の画像処理を施す読取系画像処理回路２０と、画像データの圧縮および伸張を行う第１圧縮伸張器１２および第２圧縮伸張器１４と、画像データを一時的に記憶するための第１画像メモリ１３および第２画像メモリ１５と、第１圧縮伸張器１２および第１画像メモリ１３が配下に接続された第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６と、第２圧縮伸張器１４および第２画像メモリ１５が配下に接続された第２のメモリ／圧縮伸張コントローラ１７とを備えている。
【００２５】
さらに画像処理装置１０は、画像データに対して印刷出力のための各種画像処理を施す出力系画像処理回路３０と、出力系画像処理回路３０から出力された画像データに基づいて用紙上に画像形成する画像形成部としてのプリンタ部１８とを備えている。
【００２６】
また、画像処理装置１０は、ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect）バスなどで構成されたシステムバス４１を有する。システムバス４１には、画像処理装置１０としての通常動作のほか検査処理を制御する制御部としてのＣＰＵ（Central Processing Unit）４２と、ハードディスク装置４３（図中、ＨＤＤと表示）が配下に接続されたＨＤＤ−Ｉ／Ｆ（Hard Disk Drive−Interface）４４と、ＮＩＣ／プリンタコントローラ４５と、第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６およ第２のメモリ／圧縮伸張コントローラ１７が接続されている。
【００２７】
ＮＩＣ／プリントコントローラ４５は、ネットワークコントローラ（ＮＩＣ…Network Interface Card）の機能を備えており、ＬＡＮ（Local Area Network）２などと接続され、外部とデータの授受を行う。また、ＮＩＣ／プリントコントローラ４５は文字コードなどで構成された印刷データを図示しない外部端末からＬＡＮ２を通じて受信し、該印刷データをイメージデータ（画像データ）に展開する機能を備えており、読取部１１と同様に画像データの入力手段としての機能を果たす。
【００２８】
ＣＰＵ４２はさらに、システムバス４１とは別のホストバス４６に接続されている。ホストバス４６にはＣＰＵ４２が実行する各種プログラムが格納されたフラッシュメモリやＣＰＵ４２のワークメモリとなるＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ４７が接続されている。また読取系画像処理回路２０、第１、第２メモリ／圧縮伸張コントローラ１６，１７、および出力系画像処理回路３０はホストバス４６を介してＣＰＵ４２と接続されており、ＣＰＵ４２から画像処理に関する設定を含む各種の動作設定を受けるようになっている。
【００２９】
読取部１１は、原稿を照射する光源、原稿を幅方向に１ライン分読み取るＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサおよびこのイメージセンサが出力するアナログ画像信号をデジタルの画像データに変換するＡ／Ｄ変換器を備えている。また、図示省略してあるが、イメージセンサによるライン単位の読取位置を原稿の長さ方向に移動させる移動機構、原稿からの反射光をイメージセンサに導いて結像させるレンズやミラーからなる光学部品などを備えている。
【００３０】
読取系画像処理回路２０は、シェーディング補正／輝度濃度変換２１、領域判別２３、空間フィルタ・変倍・濃度γ変換２４、傾き補正／誤差拡散２５、解像度変換２６などの画像処理を施す回路および画像遅延用ＦＩＦＯ（First-In First-Out）２２を備えている。読取系画像処理回路２０は、ＣＰＵ４２からスルー設定がなされると、画像処理を施すことなく画像データを通過させて出力する。またシェーディング補正／輝度濃度変換２１、領域判別２３などの画像処理単位にスルー設定可能になっている。読取系画像処理回路２０の出力は第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６と第２のメモリ／圧縮伸張コントローラ１７の双方に入力される。
【００３１】
第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６は、読取系画像処理回路２０、第１圧縮伸張器１２、第１画像メモリ１３、システムバス４１、出力系画像処理回路３０との間でのデータの受け渡しを管理し制御する機能を備えている。詳細には、読取系画像処理回路２０から出力される画像データを入力する機能、第１画像メモリ１３に対してアドレス信号やタイミング信号などを与えて第１画像メモリ１３へのデータの書き込み及び読み出しを制御する機能、第１圧縮伸張器１２との間でデータを授受する機能、ＨＤＤ−Ｉ／Ｆ４４を介してハードディスク装置４３と第１画像メモリ１３との間でデータ転送する機能、第１画像メモリ１３に記憶されている画像データを出力系画像処理回路３０に出力する機能などを果たす。
【００３２】
第２のメモリ／圧縮伸張コントローラ１７、第１圧縮伸張器１２、第１画像メモリ１３に代えて第２圧縮伸張器１４、第２画像メモリ１５を対象にして第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６と同様の機能を果たす。
【００３３】
出力系画像処理回路３０は、第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６からの画像データと第２のメモリ／圧縮伸張コントローラ１７からの画像データのいずれを入力するかを切り替えるセレクタ３１と、セレクタ３１を通じて入力された画像データに対して、セル平均・解像度変換３２、領域判別３４、プリンタγ変換・細線化処理３５、微小変倍３６、スクリーン処理３７などの画像処理を施す回路と画像遅延用ＦＩＦＯ３３とを備えている。
【００３４】
出力系画像処理回路３０は読取系画像処理回路２０と同様に、ＣＰＵ４２からスルー設定がなされると、画像処理を施すことなく画像データを通過させて出力する。またセル平均・解像度変換３２、プリンタγ変換・細線化処理３５などの画像処理単位にスルー設定可能になっている。また、セレクタ３１は、ＣＰＵ４２からの設定に従って画像データの入力先を第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６または第２のメモリ／圧縮伸張コントローラ１７のいずれかに切り替える。
【００３５】
出力系画像処理回路３０の出力する画像データはプリンタ部１８に入力されて印刷出力されるとともに、ループバック経路１９を通じて読取系画像処理回路２０の前段に戻されている。読取系画像処理回路２０の最前段のシェーディング補正／輝度濃度変換２１に、読取部１１からの画像データとループバック経路１９からの画像データのいずれを入力するかは、ＣＰＵ４２からの設定により図示省略のセレクタで切り替えられる。
【００３６】
プリンタ部１８は、出力系画像処理回路３０から入力された画像データに対応する画像を電子写真プロセスによって用紙上に形成して出力する。プリンタ部１８は、図示しない、用紙の搬送装置と、感光体ドラムと、帯電装置と、入力される画像データに応じて点灯制御されるＬＤ（Laser Diode）と、ＬＤから射出されたレーザ光を感光体ドラム上で走査させる走査ユニットと、現像装置と、転写分離装置と、クリーニング装置と、定着装置とを有する、いわゆるレーザープリンタとして構成されている。レーザ光に代えてＬＥＤ（Light Emitting Diode）で感光体ドラムを照射するＬＥＤプリンタのほか他の方式のプリンタであってもかまわない。
【００３７】
次に、通常のコピー動作における画像データの入力から出力までの流れを説明する。
【００３８】
読取部１１で原稿画像の読み取りを行うと、読取部１１から画像データが順次出力されて読取系画像処理回路２０のシェーディング補正／輝度濃度変換２１に入力される。この画像データは読取系画像処理回路２０で各種の画像処理が施された後、第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６を経由して第１画像メモリ１３に格納される。もしくは第２のメモリ／圧縮伸張コントローラ１７を経由して第２画像メモリ１５に格納される。
【００３９】
第１画像メモリ１３または第２画像メモリ１５に格納された画像データは第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６または第２のメモリ／圧縮伸張コントローラ１７を経由して出力系画像処理回路３０へ出力され、出力系画像処理回路３０で各種の画像処理が施された後、プリンタ部１８へ出力される。プリンタ部１８は出力系画像処理回路３０から入力される画像データに従ってＬＤの点灯制御を行って画像を用紙上に形成し、印刷出力する。
【００４０】
なお、第１画像メモリ１３または第２画像メモリ１５に格納された画像データは、必要に応じて第１圧縮伸張器１２または第２圧縮伸張器１４で圧縮されてハードディスク装置４３などに一旦格納される。また格納されたデータは出力時に読み出されて第１圧縮伸張器１２または第２圧縮伸張器１４で伸張され、第１画像メモリ１３または第２画像メモリ１５に戻される。第１画像メモリ１３または第２画像メモリ１５に戻された後は、圧縮・伸張されない場合と同様にして出力される。
【００４１】
次に、読取系画像処理回路２０および出力系画像処理回路３０に関する検査処理について説明する。
【００４２】
ハードディスク装置４３には、読取系画像処理回路２０や出力系画像処理回路３０の検査に使用する元画像の画像データ（以後、元画像データと呼ぶ。）と、この元画像データに対して所定の画像処理が正常に施された場合に得られる期待値画像の画像データ（以後、リファレンス画像データと呼ぶ。）が予め記憶されている。リファレンス画像データは、施す画像処理の種類別に複数種類記憶されている。
【００４３】
図２は検査処理の流れを示し、図３および図４は検査時の画像データフローを示している。この検査は、市場で異常画像が出力された場合に、その原因箇所を保守作業員が調べる場合などに使用される。画像処理装置１０においては、読取系画像処理回路２０および出力系画像処理回路３０が検査対象であり、これらは図３に示すように基板Ａと基板Ｂとに分けて画像処理装置１０に搭載されている。
【００４４】
ここでは、リファレンス画像データとして、基板Ａに含まれるすべての画像処理回路を有効設定にして機能させ、基板Ｂに含まれるすべての画像処理回路をスルー設定にした場合に得られる期待値画像の画像データであるＡ基板検査用リファレンス画像データと、基板Ｂに含まれるすべての画像処理回路を有効設定にして機能させ、基板Ａに含まれるすべての画像処理回路をスルー設定にした場合に得られる期待値画像の画像データであるＢ基板検査用リファレンス画像データとを使用して検査を行うことで、異常画像の原因箇所を含む基板を特定する。
【００４５】
ただし、画像処理のうちランダムな処理（入力に対して出力が一意に定まらない処理）については施さず、常にスルー設定にする。たとえば、乱数を使用した誤差拡散処理などは行わない。
【００４６】
保守作業員が所定の操作を行って検査処理を実行させると、ＣＰＵ４２は、最初にＡ基板に関する検査を行う。詳細には、元画像データをハードディスク装置４３から読み出して第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６経由で第１画像メモリ１３に展開する（図２：ステップＳ１０１、図３：Ｐ１）。なお、以後、第１画像メモリ１３を検査に使用する例を示すが、第２画像メモリ１５あるいは第１画像メモリ１３と第２画像メモリ１５の両者を使用してもよい。
【００４７】
ＣＰＵ４２は、Ｂ基板での画像処理は全スルー設定にし、Ａ基板での画像処理回路はランダムな処理を除いてすべて有効設定にする(ステップＳ１０２)。図３ではスルー設定にされた画像処理部を破線で示してある。本例では、基板Ａには、読取系画像処理回路２０のうち解像度変換２６を除く残りの回路が搭載されており、基板Ｂには、読取系画像処理回路２０の解像度変換２６と出力系画像処理回路３０の全部とが搭載されている。
【００４８】
ＣＰＵ４２は、上記の設定を行った後、ループバック処理を実行させる（ステップＳ１０３）。ループバック処理では、図３に示すように、第１画像メモリ１３に格納された元画像データを、出力系画像処理回路３０に流し（Ｐ２）、出力系画像処理回路３０の最終段からの出力をループバック経路１９経由で読取系画像処理回路２０の初段の入力に戻して（Ｐ３）読取系画像処理回路２０に流し、読取系画像処理回路２０の最終段からの出力を第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６経由で第１画像メモリ１３に戻す（Ｐ４）。
【００４９】
次にＣＰＵ４２は、Ａ基板検査用リファレンス画像データをハードディスク装置４３から読み出して第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６経由で第１画像メモリ１３に展開する（図２：ステップＳ１０４、図３：Ｐ５）。ＣＰＵ４２は先のループバック処理で第１画像メモリ１３に戻ってきたループバック画像の画像データとＡ基板検査用リファレンス画像データとを比較し、これらが一致する場合は（ステップＳ１０５；一致）、Ａ基板に異常無しと判断し、図示省略の操作画面にＡ基板のエラー発生無しを表示する(ステップＳ１０６)。
【００５０】
一方、ループバック画像の画像データとＡ基板検査用リファレンス画像データとが一致しない場合は(ステップＳ１０５；不一致)、図示省略の操作画面にＡ基板にエラー発生箇所があることを表示する(ステップＳ１０７)。
【００５１】
上記ステップＳ１０６もしくはステップＳ１０７での表示を行った後、続いてＢ基板の検査処理が行われる。詳細には、元画像データをハードディスク装置４３から読み出して第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６経由で第１画像メモリ１３に展開する（図２：ステップＳ１０８、図４：Ｐ６）。ＣＰＵ４２はＡ基板での画像処理は全スルー設定にし、Ｂ基板での画像処理回路はランダムな処理を除いてすべて有効設定にする(ステップＳ１０９)。
【００５２】
ＣＰＵ４２は、上記の設定を行った後、ループバック処理を実行させる（ステップＳ１１０）。ループバック処理では、図４に示すように、第１画像メモリ１３に格納された元画像データを、出力系画像処理回路３０に流し（Ｐ７）、出力系画像処理回路３０の最終段からの出力をループバック経路１９経由で読取系画像処理回路２０の初段の入力に戻して（Ｐ８）読取系画像処理回路２０に流し、読取系画像処理回路２０の最終段からの出力を第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６経由で第１画像メモリ１３に戻す（Ｐ９）。
【００５３】
次にＣＰＵ４２は、Ｂ基板検査用リファレンス画像データをハードディスク装置４３から読み出して第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ１６経由で第１画像メモリ１３に展開する（図２：ステップＳ１１１、図４：Ｐ１０）。ＣＰＵ４２はこのループバック処理で第１画像メモリ１３に戻ってきたループバック画像の画像データとＢ基板検査用リファレンス画像データとを比較し、これらが一致する場合は（ステップＳ１１２；一致）、Ｂ基板に異常無しと判断し、図示省略の操作画面にＢ基板のエラー発生無しを表示して(ステップＳ１１３)、処理を終了する（エンド）。
【００５４】
一方、ループバック画像の画像データとＢ基板検査用リファレンス画像データとが一致しない場合は(ステップＳ１１２；不一致)、図示省略の操作画面にＢ基板にエラー発生箇所があることを表示して(ステップＳ１１４)処理を終了する（エンド）。
【００５５】
このようにして、異常画像の原因箇所がＡ基板にあるのか、Ｂ基板にあるのか、あるいは双方にあるのかを切り分けて特定することができるので、保守作業員は故障のある基板を迅速かつ容易、的確に特定して交換することができ、画像処理装置１０が正常復帰するまでの時間（ＭＴＴＲ）を短縮することができる。
【００５６】
また、元画像データに画像処理を施してループバックさせたループバック画像データと、正常に画像処理が施された場合の期待値画像の画像データであるリファレンス画像データとを比較して異常を検査するので、実際に画像処理回路を作動させた状態での正常性を検査でき、単なるハードウェアの接続チェックでは検出できない異常も検出され、高い精度で異常を検出することができる。たとえば、ＡＣ特性を満足できないとか、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）がロックしていないなどの異常による画像の異常も検出でき、総合的な異常画像検出が可能になる。
【００５７】
また、画像処理回路の最終段（出力系画像処理回路３０の最終段）の出力をループバック経路１９によって画像処理回路の初段の入力（読取系画像処理回路２０の初段の入力）に戻すようにしたので、最終段の出力を保持するためのメモリを別途設けることなく、処理回路の途中にある既存の画像メモリを使用して、すべての画像処理回路の異常を検査することができる。
【００５８】
以上、本発明の実施の形態を図面によって説明してきたが、具体的な構成は実施の形態に示したものに限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲における変更や追加があっても本発明に含まれる。
【００５９】
たとえば、実施の形態では、Ａ基板、Ｂ基板と基板毎の検査を検査の当初から行ったが、画像処理経路に存在するすべての基板の画像処理を有効設定にして異常をチェックし、異常があった場合に基板毎の個別検査を行うようにしてもよい。すなわち、入力から出力までの画像処理経路にあるすべての画像処理を有効設定にした場合の期待値画像である全検査用リファレンス画像データを予め用意しておき、すべての画像処理を有効設定にした状態で元画像データをループバック処理し、第１画像メモリ１３に戻ってきたループバック画像データと全検査用リファレンス画像データとを比較し、これらが一致する場合は、全基板に異常が無いことを表示して検査処理を終了する。一方、不一致の場合は、図２で示したように、基板単位での検査処理を実施する。たとえば、人の目では気づき難い異常が、本当に生じていないか否かを確認検査するような場合に、全検査用リファレンス画像データを使用した検査を最初に行うことで、異常がないことを証明するための検査時間が短縮されて利便性が向上する。
【００６０】
また、実施の形態では基板単位に異常個所を特定する例を示したが、１または２以上の画像処理を単位に異常個所を特定するようにしてもよい。たとえば、１つ画像処理のみを有効設定にし、他の画像処理をスルー設定にした状態で元画像データに対してループバック処理を行い、該設定に対応するリファレンス画像データとループバック画像データとを比較することで、有効設定にした画像処理に異常があるか否かを特定することができる。そして、この検査を有効設定にする画像処理を順次変更して繰り返し行うことで、それぞれの画像処理について、異常の有無を検査することができる。
【００６１】
なお、実施の形態では、元画像データやリファレンス画像データをハードディスク装置４３から入手して展開するようにしたが、たとえば、サービスセンタの外部端末などからネットワーク経由で入手するように構成されてもよい。さらには、ループバック処理を行って得たループバック画像データをネットワーク経由で画像処理装置１０から外部端末へ送信し、ループバック画像データとリファレンス画像データとの比較を外部端末側で行い、その結果を画像処理装置１０に通知して表示するように構成されてもよい。
【００６２】
また、検査そのものを外部端末からのリモート操作で行うように構成されてもよい。すなわち、外部端末は検査の実行指示と検査用の元画像データとを画像処理装置１０に送信し、これを受信した画像処理装置１０は画像処理の有効設定やスルー設定を行った後、この元画像データを使用してループバック処理を実行し、画像メモリに戻ってきたループバック画像データを外部端末へ送信する。外部端末は、画像処理装置１０から受信したループバック画像データと所定のリファレンス画像データとを比較して異常の有無を判定する。この動作を有効設定にする画像処理を切り替えながら繰り返すことで、異常のある基板や画像処理部分を遠隔から特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本発明の実施の形態に係る画像処理装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る画像処理装置が行う検査処理を示す流れ図である。
【図３】Ａ基板を検査する際の画像データフローを示す説明図である。
【図４】Ｂ基板を検査する際の画像データフローを示す説明図である。
【符号の説明】
【００６４】
２…ＬＡＮ
１０…画像処理装置
１１…読取部
１２…第１圧縮伸張器
１３…第１画像メモリ
１４…第２圧縮伸張器
１５…第２画像メモリ
１６…第１のメモリ／圧縮伸張コントローラ
１７…第２のメモリ／圧縮伸張コントローラ
１８…プリンタ部
１９…ループバック経路
２０…読取系画像処理回路
２１…シェーディング補正／輝度濃度変換
２２…画像遅延用ＦＩＦＯ
２３…領域判別
２４…空間フィルタ・変倍・濃度γ変換
２５…傾き補正／誤差拡散
２６…解像度変換
３０…出力系画像処理回路
３１…セレクタ
３２…セル平均・解像度変換
３３…画像遅延用ＦＩＦＯ
３４…領域判別
３５…プリンタγ変換・細線化処理
３６…微小変倍
３７…スクリーン処理
４１…システムバス
４２…ＣＰＵ
４３…ハードディスク装置
４４…ＨＤＤ−Ｉ／Ｆ
４５…ＮＩＣ／プリンタコントローラ
４６…ホストバス
４７…メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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