(57)【要約】【課題】被写体に過大な負荷をかけること無く、Ｘ線画像の画質の低下を防止することを実現できるようにする。【解決手段】Ｘ線発生装置１００から被写体に照射するＸ線のＸ線量を透視線量制御部１１５で変更する。また、Ｘ線発生装置１００から被写体を介して検出されたＸ線に基づくＸ線画像に対して、画像補正部１０５で画像補正処理を行う。そして、システム制御部１０３において、透視線量制御部１１５によるＸ線量の変化に応じて、画像補正部１０５による画像補正処理に係る画像補正量を変更する制御を行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線発生装置から被写体に照射する放射線の放射線量を変更する放射線量変更手段と、
前記放射線発生装置から前記被写体を介して検出された放射線に基づく放射線画像に対して画像補正処理を行う画像補正手段と、
前記放射線量変更手段による前記放射線量の変化に応じて、前記画像補正手段による前記画像補正処理に係る画像補正量を変更する制御を行う制御手段と
を有することを特徴とする放射線画像処理装置。
【請求項２】
前記放射線量変更手段は、前記放射線量を、予め定められた上限値から時間の経過とともに低下させる変更を行うものであり、
前記制御手段は、前記放射線量の低下に伴う変化量に応じて、前記画像補正量を上昇させる変更を行うことを特徴とする請求項１に記載の放射線画像処理装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記画像補正量を上昇させる変更を行う際に、段階的に変更することを特徴とする請求項２に記載の放射線画像処理装置。
【請求項４】
前記放射線量変更手段は、前記放射線量を時間の経過とともに低下させる際に、前記放射線量が予め定められた下限値に到達した場合には、前記放射線量を前記下限値で維持することを特徴とする請求項２又は３に記載の放射線画像処理装置。
【請求項５】
前記放射線量を既定の値に戻すための操作手段を更に有し、
前記放射線量変更手段は、前記操作手段が操作された場合に、前記放射線量を前記既定の値に戻す変更を行い、
前記制御手段は、前記放射線量の前記既定の値への変更に伴って、前記画像補正量を低下させる変更を行うことを特徴とする請求項２乃至４のいずれか１項に記載の放射線画像処理装置。
【請求項６】
前記放射線量変更手段は、前記操作手段が操作された場合に、前記放射線量を、前記予め定められた上限値に戻す変更を行うことを特徴とする請求項５に記載の放射線画像処理装置。
【請求項７】
前記放射線量変更手段は、前記操作手段が操作された場合に、当該操作手段の操作された条件により、前記放射線量を、前記予め定められた上限値よりも小さい値に戻す変更を行うことを特徴とする請求項５に記載の放射線画像処理装置。
【請求項８】
前記放射線量変更手段は、前記操作手段が操作された時点の前記放射線量を、前記放射線量の低下における下限値とすることを特徴とする請求項５乃至７のいずれか１項に記載の放射線画像処理装置。
【請求項９】
前記放射線量変更手段による前記放射線量の変更に係る上限値及び下限値を記録媒体に設定する設定手段を更に有することを特徴とする請求項１に記載の放射線画像処理装置。
【請求項１０】
時間の経過とともに、放射線発生装置から被写体に照射する放射線の放射線量を予め定められた下限値まで低下させる放射線量変更手段を有することを特徴とする放射線量制御装置。
【請求項１１】
前記放射線量を既定の値に戻すための操作手段を更に有し、
前記放射線量変更手段は、前記操作手段が操作された場合に、前記放射線量を、予め定められた上限値よりも小さい値に変更することを特徴とする請求項１０に記載の放射線量制御装置。
【請求項１２】
前記放射線量を既定の値に戻すための操作手段を更に有し、
前記放射線量変更手段は、前記操作手段が操作された場合に、前記放射線量を、予め定められた上限値に変更することを特徴とする請求項１０に記載の放射線量制御装置。
【請求項１３】
前記放射線量変更手段は、前記操作手段が操作された時点の前記放射線量を、前記放射線量の低下における下限値とすることを特徴とする請求項１０乃至１２のいずれか１項に記載の放射線量制御装置。
【請求項１４】
放射線発生装置から被写体に照射する放射線の放射線量を変更する放射線量変更ステップと、
前記放射線発生装置から前記被写体を介して検出された放射線に基づく放射線画像に対して画像補正処理を行う画像補正ステップと、
前記放射線量変更ステップによる前記放射線量の変化に応じて、前記画像補正ステップによる前記画像補正処理に係る画像補正量を変更する制御を行う制御ステップと
を有することを特徴とする放射線画像処理方法。
【請求項１５】
放射線発生装置から被写体に照射する放射線の放射線量を変更する放射線量変更ステップと、
前記放射線発生装置から前記被写体を介して検出された放射線に基づく放射線画像に対して画像補正処理を行う画像補正ステップと、
前記放射線量変更ステップによる前記放射線量の変化に応じて、前記画像補正ステップによる前記画像補正処理に係る画像補正量を変更する制御を行う制御ステップと
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１６】
請求項１５に記載のプログラムを記憶したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被写体に照射された放射線に基づく放射線画像の処理を行う放射線画像処理装置及び放射線画像処理方法、放射線量制御装置、放射線画像処理方法をコンピュータに実行させるためのプログラム、並びに、当該プログラムを記憶した記憶媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、被写体を透過した、Ｘ線を代表とする放射線の透過分布を検出することにより、被写体、特に人体の内部を観察することが医療現場等において行われている。従来の技術として、例えば、曝射するＸ線のＸ線量を人体の部位に応じてリアルタイムに変化させ、被爆量を低減させるという技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。また、例えば、人体の内部を観察する際に、放射線画像情報を表示する表示装置の状況に応じて、曝射するＸ線のＸ線量を変化させるという技術が提案されている（例えば、特許文献２参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−１２４９７５号公報
【特許文献２】特開２００４−７７７０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来では、Ｘ線の透過分布を検出して人体の内部を観察する際に、Ｘ線による被爆という問題があった。より詳細に人体の内部を観察しようとすると、Ｘ線のＸ線量を増加させることになり、結果的に人体の被爆による二次的な被害が発生する可能性が高くなる。その一方で、被爆を考慮してＸ線のＸ線量を低下させると、ノイズの発生及び増加により放射線画像の画質が低下してしまい、本来の目的である診察行為に支障をきたしてしまうことになる。
【０００５】
背景技術に記載されているＸ線のＸ線量を制御する従来の技術においては、目的に応じて適切なＸ線のＸ線量を制御することにある。しかしながら、この従来の技術においても、Ｘ線のＸ線量は、あらかじめ設定された条件で固定的に開始され、オペレータの手動操作により可変としているため、無意識のうちに高いレベルのＸ線のＸ線量を曝射し続けるということが懸念される。
【０００６】
即ち、従来の技術においては、被写体に過大な負荷をかけること無く、放射線画像の画質の低下を防止することが困難であるという問題点があった。
【０００７】
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、被写体に過大な負荷をかけること無く、放射線画像の画質の低下を防止することを実現する放射線画像処理診断装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の放射線画像処理装置は、放射線発生装置から被写体に照射する放射線の放射線量を変更する放射線量変更手段と、前記放射線発生装置から前記被写体を介して検出された放射線に基づく放射線画像に対して画像補正処理を行う画像補正手段と、前記放射線量変更手段による前記放射線量の変化に応じて、前記画像補正手段による前記画像補正処理に係る画像補正量を変更する制御を行う制御手段とを有する。
【０００９】
本発明の放射線量制御装置は、時間の経過とともに、放射線発生装置から被写体に照射する放射線の放射線量を予め定められた下限値まで低下させる放射線量変更手段を有する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、被写体に照射する放射線の放射線量を変更し、当該放射線量の変化に応じて画像補正量を変更するようにしたので、被写体に過大な負荷をかけること無く、放射線画像の画質の低下を防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の諸実施形態について説明する。
なお、以下に示す本発明の諸実施形態の説明においては、放射線としてＸ線を適用した例を示すが、本発明においてはこれに限定されず、例えば、放射線として、可視光等の電磁波やα線、β線、γ線なども含まれるものとする。
【００１２】
（第１の実施形態）
以下、図１〜図６を参照しながら、本発明の第１の実施形態を説明する。
図１は、本発明の第１の実施形態に係るＸ線画像処理システム（放射線画像処理システム）の全体構成の一例を示すブロック図である。
【００１３】
図１に示すＸ線画像処理システムは、Ｘ線発生装置（放射線発生装置）１００、イメージセンサ１０１、Ｘ線画像処理装置（放射線画像処理装置または放射線量制御装置）１０２、表示装置１０８、操作パネル１１０、記録装置１１４、モータ１２１及びフットペダル１２２を有して構成されている。
【００１４】
このＸ線発生装置１００は、Ｘ線画像処理装置１０２内の透視線量制御部１１５から供給される駆動電圧によって、被写体の透視画像を得るために被写体に照射するＸ線のＸ線量（放射線量）が制御される。ここで、以下の説明においては、必要に応じて、被写体に照射するＸ線のＸ線量（放射線量）を透視線量と称する。
【００１５】
イメージセンサ１０１は、被写体を透過したＸ線の強度分布（Ｘ線像）を検出し、電気信号に変換して被写体の透視画像であるＸ線画像（放射線画像）を取得するものである。
【００１６】
Ｘ線画像処理装置１０２内のシステム制御部１０３は、当該Ｘ線画像処理装置１０２における動作を統括的に制御するものであり、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を含み構成されている。このシステム制御部１０３では、例えば、操作パネル１１０やフットペダル１２２が操作者により操作された際にその操作情報の内容を判断することや、Ｘ線のＸ線量（透視線量）の変化量を記録処理する機能も有する。
【００１７】
Ｘ線画像処理装置１０２内の画像入力部１０４は、Ｘ線画像処理装置１０２内に、イメージセンサ１０１から出力されたＸ線画像の入力を行うものである。この画像入力部１０４には、イメージセンサ１０１から出力されたＸ線画像に係るアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器が含まれている。
【００１８】
Ｘ線画像処理装置１０２内の画像補正部１０５は、イメージセンサ１０１から画像入力部１０４を介して入力されたＸ線画像に対して、ノイズ低減処理や輪郭協調処理を段階的に行う等の各種の画像補正処理を行う。即ち、画像補正部１０５は、Ｘ線発生装置１００から被写体に照射されたＸ線に基づくＸ線画像に対して画像補正処理を行う画像補正手段を構成する。この画像補正部１０５で処理されたＸ線画像は、システム制御部１０３の制御により、画像処理部１０６に出力されたり、システムバス１１９を経由して記録装置１１４に蓄積されたり、或いは、外部Ｉ／Ｆ部１１２から他の装置に対して出力されたりする。
【００１９】
Ｘ線画像処理装置１０２内の画像処理部１０６は、入力されたＸ線画像に対して、様々な診断などの目的に応じた画像処理や符号化処理等の各種の画像処理を行う。この画像処理部１０６では、表示装置１０８に出力表示するための表示画像の画像データの生成も行われる。この画像処理部１０６で処理されたＸ線画像は、システム制御部１０３の制御により、システムバス１１９を経由して記録装置１１４に蓄積されたり、外部Ｉ／Ｆ部１１２から他の装置に対して出力されたり、表示画像として表示装置１０８に表示されたりする。
【００２０】
Ｘ線画像処理装置１０２内の表示制御部１０７は、画像処理部１０６で生成された表示画像の画像データを表示装置１０８に表示できる画像データに変換等して、当該画像データに基づく表示画像を表示装置１０８に表示する制御を行う。
【００２１】
表示装置１０８は、表示制御部１０７から出力される表示画像の画像データに基づく表示画像等を表示するものである。この表示装置１０８は、例えば、ブラウン管や液晶ディスプレイ等からなるモニタで構成されている。操作者は、例えば、この表示装置１０８に表示される透視画像のＸ線画像を見ながら、操作パネル１１０を操作する。
【００２２】
Ｘ線画像処理装置１０２内の操作制御部１０９は、操作者が操作パネル１１０やフットペダル１２２を介して入力した各種の操作情報をシステム制御部１０３に入力する制御を行う。また、操作制御部１０９は、例えば、当該Ｘ線画像処理システムの動作状況を操作パネル１１０の表示パネルに表示させるための制御も行う。
【００２３】
操作パネル１１０は、操作者により操作されるパネルであり、表示パネル等を具備して構成されている。フットペダル１２２は、操作者により操作され、Ｘ線発生装置１００から照射するＸ線のＯＮ／ＯＦＦの切り替えを行うためのものである。
【００２４】
Ｘ線画像処理装置１０２内の計時部１１１は、システム制御部１０３からの制御に基づいて、経過時間を計測する計時手段である。
【００２５】
Ｘ線画像処理装置１０２内の外部Ｉ／Ｆ部１１２は、当該Ｘ線画像処理装置１０２と、外部のＰＣや診断装置等の外部装置とを接続するためのインターフェースである。この外部Ｉ／Ｆ部１１２は、例えば、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）やＵＳＢ２．０等で構成されている。
【００２６】
Ｘ線画像処理装置１０２内の記録装置制御部１１３は、記録装置１１４を制御する。
【００２７】
記録装置１１４は、Ｘ線画像処理装置１０２の外部に設けられた外部記憶装置である。この記録装置１１４は、例えば、ハードディスク、メモリカード、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ（Compact Disk）、磁気カード、光カード、ＩＣカード、或いは、メモリカードなどから構成される。
【００２８】
Ｘ線画像処理装置１０２内の透視線量制御部１１５は、Ｘ線発生装置１００から被写体に照射するＸ線のＸ線量（透視線量）を制御し、当該Ｘ線量を変更する放射線量変更手段を構成する。
【００２９】
Ｘ線画像処理装置１０２内のセンサ制御部１１６は、イメージセンサ１０１に対して駆動タイミング信号や各種の設定データに係る信号を出力して、イメージセンサ１０１の動作を制御するものである。
【００３０】
Ｘ線画像処理装置１０２内のＲＡＭ（Random Access Memory）１１７は、外部装置やＦｌａｓｈメモリ１１８などから供給されるプログラムやデータ等を一時的に記憶するメモリである。Ｘ線画像処理装置１０２内のＦｌａｓｈメモリ１１８は、変更を必要としないプログラムやパラメータ等を格納するメモリである。
【００３１】
Ｘ線画像処理装置１０２内のシステムバス１１９は、当該Ｘ線画像処理装置１０２内に設けられた各構成部を相互に接続するためのバスである。
【００３２】
Ｘ線画像処理装置１０２内のモータ制御部１２０は、当該Ｘ線画像処理システムに構成された各種のモータ１２１の動作を制御する。
【００３３】
モータ１２１は、Ｘ線画像処理システムに構成された各種のモータである。例えば、モータ１２１は、被写体を支持する寝台を移動させるモータなどである。
【００３４】
図２は、本発明の第１の実施形態に係るＸ線画像処理システム（放射線画像処理システム）を適用した診断時のイメージの一例を示す模式図である。ここで、図２において、図１と同様の構成については、同じ符号を付している。
【００３５】
図２のＣアーム２０１には、Ｘ線発生装置１００とイメージセンサ１０１とが、寝台２０３に載置される人体等の被写体２０２に対して、対向する位置に備えられている。寝台移動装置２０４には、寝台２０３を移動させる図１に示すモータ１２１が内蔵されている。また、図２では、不図示であるが、Ｃアーム２０１には、当該Ｃアーム２０１を駆動させるためのモータ１２１も設けられている。
【００３６】
図２に示す操作パネル１１０は、Ｃアーム２０１や寝台２０３を駆動させる際に操作者が操作するパネルである。また、操作パネル１１０には、Ｘ線発生装置１００から照射するＸ線のＸ線量を調整するためのＸ線制御操作パネル４００も具備されている。
【００３７】
図３は、本発明の第１の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）１０２による処理動作の一例を示すフローチャートである。このフローチャートの処理動作については、後述する。
【００３８】
図４は、本発明の第１の実施形態を示し、図２に示すＸ線制御操作パネル４００の一例を示す模式図である。
図４に示すＸ線制御操作パネル４００には、表示パネル４０１、ボリューム４０２、自動スイッチ（オートＳＷ）４０３、マニュアルスイッチ（マニュアルＳＷ）４０４及び再指定スイッチ（再指定ＳＷ）４０７が設けられている。
【００３９】
表示パネル４０１は、Ｘ線発生装置１００から照射するＸ線に係る情報を表示したり、システムの状態を表示したりするパネルである。ボリューム４０２は、透視線量（Ｘ線発生装置１００から照射するＸ線のＸ線量）の変更を行う際に操作者が操作するものである。オートＳＷ４０３は、透視線量（Ｘ線発生装置１００から照射するＸ線のＸ線量）の制御を自動で行いたい場合に操作者が操作（押下）するスイッチである。マニュアルＳＷ４０４は、ボリューム４０２を用いた透視線量の変更を行う際に操作者が操作（押下）するスイッチである。再指定ＳＷ４０７は、透視線量（Ｘ線発生装置１００から照射するＸ線のＸ線量）を所定のレベル（既定の値）に戻す際に操作者が操作（押下）する操作手段のスイッチである。
【００４０】
図５は、本発明の第１の実施形態を示し、透視線量、ノイズ量及び画像補正量の相関の一例を示す模式図である。ここで、図５において、タイミング５０１は、再指定ＳＷ４０７を押下する最初のタイミングを表しており、また、タイミング５０２は、再指定ＳＷ４０７を押下する２回目のタイミングを表している。
【００４１】
図５（ａ）は、システム制御部１０３が透視線量制御部１１５を通して制御する透視線量５０５の時間的な変化の経過を示している。再指定ＳＷ４０７が押下された場合、図５（ａ）に示す透視線量５０５は、予め設定された上限レベル（上限値）５０３に復帰する。１回目のタイミング５０１は、透視線量５０５が予め設定された下限レベル（下限値）５０４に到達した後で再指定ＳＷ４０７が押下された場合である。２回目のタイミング５０２は、透視線量５０５が下限レベル（下限値）５０４に到達する前の時点で再指定ＳＷ４０７が押下された場合である。どちらのタイミングの場合においても、再指定ＳＷ４０７が押下された時点で、透視線量５０５が既定の値である上限レベル（上限値）５０３まで復帰する。
【００４２】
ここで、図５（ａ）に示す透視線量５０５の上限レベル（上限値）５０３及び下限レベル（下限値）５０４は、被写体２０２の診断部位（撮影部位）により、予め設定されたものである。この上限レベル（上限値）５０３及び下限レベル（下限値）５０４は、例えば、操作者が操作パネル１１０を介して入力した操作情報に基づいて、システム制御部１０３が設定を行う。このシステム制御部１０３で設定した上限レベル（上限値）５０３及び下限レベル（下限値）５０４の設定値は、例えば、システム制御部１０３により、記録媒体であるＦｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアに記録（設定）されている。
【００４３】
図５（ｂ）は、透視線量５０５の時間的な変化に伴い、イメージセンサ１０１から出力される透視画像（Ｘ線画像）のアナログ信号に発生するノイズ量５１１の時間的な変化の経過を示している。この図５（ｂ）には、図５（ａ）に示す透視線量５０５の低下に応じて、ノイズ量５１１が増加していくことが示されている。
【００４４】
図５（ｃ）は、画像補正部１０５が、システム制御部１０３の制御に基づいて、透視線量５０５の時間的な変化に伴って発生するノイズ量５１１を低減させるために行う画像補正処理での画像補正量５２１の時間的な変化の経過を示している。
【００４５】
図５（ｃ）に示すように、再指定ＳＷ４０７の１回目の押下のタイミング５０１では、画像補正部１０５は、透視線量５０５の上限レベル（上限値）５０３への変更に伴って、画像補正量が最低レベルに戻るような処理を行う。また、再指定ＳＷ４０７の２回目の押下のタイミング５０２では、画像補正部１０５は、画像補正量が途中の段階であっても、透視線量５０５が上限レベル（上限値）５０３にまで復帰しているため、画像補正量を最低レベルに戻すような処理を行う。即ち、システム制御部１０３は、再指定ＳＷ４０７が押下された場合に、画像補正部１０５に対して、透視線量５０５の上限レベル（上限値）５０３への変更に伴って、画像補正量を低下させる変更の制御を行う。
【００４６】
図５に示すこれらの一連の処理は、システム制御部１０３が、計時部１１１の時間的変化や操作パネル１１０からの操作に応じて、透視線量制御部１１５や画像補正部１０５に対する設定値を制御することで実現される。また、図５（ａ）に示す透視線量５０５の変化量は、予めＦｌａｓｈメモリ１１８に記録されている基本変化量が適用される。また、透視線量５０５の変化に対する画像補正部１０５の画像補正量は、予めＦｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアに記録されている基本補正量が適用される。
【００４７】
図６は、本発明の第１の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）１０２の画像補正部１０５の詳細な構成の一例を示すブロック図である。
【００４８】
図６に示すように、画像補正部１０５は、階調補正処理部６００、平均値フィルタ６０１、高域強調フィルタ６０２及び係数設定部６０３を有して構成されている。
【００４９】
階調補正処理部６００は、画像入力部１０４から入力されるＸ線画像（透視画像）の輝度レベルを補正する、覆い焼き補正等の各種の階調補正の処理を行うものである。平均値フィルタ６０１は、ノイズの除去を行うフィルタである。高域強調フィルタ６０２は、平均値フィルタ６０１により輪郭があいまいになったＸ線画像の高周波成分を強調して先鋭化するフィルタである。係数設定部６０３は、階調補正処理部６００や平均値フィルタ６０１、高域強調フィルタ６０２に対して、それぞれの処理量の多少を決めるための補正係数を設定するものである。
【００５０】
具体的に、係数設定部６０３は、システム制御部１０３からシステムバス１１９を通して指示される画像補正量に応じて、平均値フィルタ６０１及び高域強調フィルタ６０２に係数の設定を行う。
【００５１】
係数設定部６０３は、この係数の設定に関しては、例えば、以下のように処理を行う。
画像補正量が少ない場合には、階調補正による輝度調整量を少なくすることで暗部の輝度上昇を抑え、且つノイズ除去量が少なくなるように、平均値フィルタ６０１の処理量が少なく、高域強調フィルタ６０２の処理量も少なくなるように係数を設定する。また、画像補正量が多い場合には、階調補正による輝度調整量を多くすることで暗部の輝度を上昇させ、且つノイズ除去量が多くなるように、平均値フィルタ６０１の処理量が多く、高域強調フィルタ６０２の処理量も多くなるように係数を設定する。
【００５２】
なお、図６に示すノイズ除去に係る構成は単なる１つの実施例であり、例えば、メディアンフィルタを使用する方式や、高域強調フィルタ６０２の代わりに輪郭強調フィルタを使用した方式などのいくつかの形態も本実施形態に適用可能である。
【００５３】
次に、本発明の第１の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）１０２の処理動作について、図３に示すフローチャートを用いて説明を行う。
【００５４】
操作者が表示装置１０８を見ながら診断を行い、操作者がオートＳＷ４０３を押下すると、ステップＳ３０１において、システム制御部１０３は、操作制御部１０９を介してこれを検知する。
【００５５】
続いて、ステップＳ３０２において、システム制御部１０３は、Ｆｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアから、上限レベル（上限値）５０３や下限レベル（下限値）５０４、変化量等の透視線量５０５に関する設定値を読み込み、透視線量制御部１１５に設定する。また、システム制御部１０３は、Ｆｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアから、画像補正量５２１に関する設定値を読み込み、画像補正部１０５に設定する。さらに、システム制御部１０３は、計時部１１１に対して計時機能の作動を開始させる。
【００５６】
続いて、ステップＳ３０３において、システム制御部１０３は、計時部１１１による計時機能の作動と連動して、透視線量制御部１１５に対して、図５（ａ）に示す透視線量５０５に表されるような基本変化量に応じた、透視線量を低下させる制御を行う。これに基づいて、透視線量制御部１１５は、Ｘ線発生装置１００に対して、当該Ｘ線発生装置１００から被写体２０２に照射するＸ線のＸ線量（透視線量）を、予め定められた上限レベル（上限値）５０３から時間の経過とともに低下させる制御を行う。
【００５７】
続いて、ステップＳ３０４において、システム制御部１０３は、透視線量を低下させる基本設定量（割合）に応じて、画像補正部１０５に、図５（ｃ）に示す画像補正量５２１のような段階的な画像補正量の増加に基づく画像補正処理を実行させる。即ち、システム制御部１０３は、透視線量の低下に伴う変化量に応じて、画像補正部１０５による画像補正処理に係る画像補正量を上昇させる制御を行う。
【００５８】
続いて、ステップＳ３０５において、システム制御部１０３は、ステップＳ３０３で開始した透視線量の低下処理における透視線量５０５を常時監視しており、透視線量５０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達したか否かを判断する。
【００５９】
ステップＳ３０５の判断の結果、透視線量５０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達した場合には、ステップＳ３０６に進む。
【００６０】
ステップＳ３０６に進むと、システム制御部１０３は、透視線量５０５を当該下限レベル（下限値）５０４で維持するための制御を透視線量制御部１１５に対して行うと共に、現時点の画像補正量５２１を維持するための制御を画像補正部１０５に対して行う。
【００６１】
ステップＳ３０６の処理が終了した場合、或いは、ステップＳ３０５において透視線量５０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達していないと判断された場合には、ステップＳ３０７に進む。
【００６２】
ステップＳ３０７に進むと、システム制御部１０３は、図４に示すＸ線制御操作パネル４００に対して、操作者により当該オートＳＷ４０３以外の他のスイッチの操作（押下）があったか否かを判断する。この判断の結果、Ｘ線制御操作パネル４００に対して、操作者により当該オートＳＷ４０３以外の他のスイッチの操作（押下）が無かった場合には、ステップＳ３０８に進む。
【００６３】
ステップＳ３０８に進むと、システム制御部１０３は、透視線量５０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達したか否かを判断する。この判断の結果、透視線量５０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達した場合には、ステップＳ３０６に戻り、また、透視線量５０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達していない場合には、ステップＳ３０３に戻る。
【００６４】
一方、ステップＳ３０７の判断の結果、Ｘ線制御操作パネル４００に対して、操作者により当該オートＳＷ４０３以外の他のスイッチの操作（押下）があった場合には、ステップＳ３０９に進む。
【００６５】
ステップＳ３０９に進むと、システム制御部１０３は、Ｘ線制御操作パネル４００に対して、操作者により操作（押下）されたスイッチの種類を判断する。この判断の結果、操作者により操作（押下）されたスイッチが再指定ＳＷ４０７である場合には、ステップＳ３１０に進む。
【００６６】
ステップＳ３１０に進むと、システム制御部１０３は、透視線量制御部１１５に対して、透視線量５０５を上限レベル（上限値）５０３に復帰させる再設定を行う。これに基づいて、透視線量制御部１１５は、Ｘ線発生装置１００に対して、当該Ｘ線発生装置１００から被写体２０２に照射するＸ線のＸ線量（透視線量）を上限レベル（上限値）５０３に復帰させる制御を行う。
【００６７】
続いて、ステップＳ３１１において、システム制御部１０３は、透視線量５０５を上限レベル（上限値）５０３に復帰させる制御に基づいて、画像補正部１０５に、図５（ｃ）に示す画像補正量５２１を初期設定値にまで復帰させる処理を行わせる。即ち、画像補正部１０５では、図５（ｃ）に示すように、画像補正量を最低レベルに戻した画像処理を行う。このステップＳ３１１の処理が終了すると、ステップＳ３０３に戻る。
【００６８】
一方、ステップＳ３０９の判断の結果、操作者により操作（押下）されたスイッチがマニュアルＳＷ４０４である場合には、ステップＳ３１２に進む。
【００６９】
ステップＳ３１２に進むと、システム制御部１０３は、オートＳＷ４０３による全ての自動制御処理を停止し、その時点での全ての処理パラメータを保持したまま、マニュアルＳＷ４０４によるマニュアル操作へ移行する制御を行う。そして、図３に示すフローチャートにおける処理動作が終了する。
【００７０】
（第２の実施形態）
以下、図７〜図９を参照しながら、本発明の第２の実施形態を説明する。
本発明の第２の実施形態に係るＸ線画像処理システム（放射線画像処理システム）の全体構成については、図１に示す第１の実施形態に係るＸ線画像処理システム（放射線画像処理システム）と同様である。
【００７１】
図７は、本発明の第２の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）１０２による処理動作の一例を示すフローチャートである。なお、図７に示すフローチャートにおいて、第１の実施形態における図３に示すフローチャートと同様のステップについては、同じステップ番号を付している。また、このフローチャートの処理動作については、後述する。
【００７２】
図８は、本発明の第２の実施形態を示し、透視線量、ノイズ量及び画像処理量の相関の一例を示す模式図である。なお、図８において、第１の実施形態における図５に示す模式図と同様のものについては、同じ符号を付している。
【００７３】
また、第２の実施形態では、第１の実施形態における図４に示すＸ線制御操作パネル４００に代えて、図９に示すＸ線制御操作パネル９００を適用する。
【００７４】
図９は、本発明の第２の実施形態を示し、Ｘ線制御操作パネル９００の一例を示す模式図である。なお、図９において、第１の実施形態における図４に示すＸ線制御操作パネル４００と同様の構成については、同じ符号を付している。即ち、第２の実施形態におけるＸ線制御操作パネル９００には、図４に示すＸ線制御操作パネル４００の構成に加えて、イニシャルスイッチ（イニシャルＳＷ）９０１が設けられている。このイニシャルＳＷ９０１は、再設定された、図８に示す上限レベル（上限値）８０６及び下限レベル（下限値）８０７を予め定められた初期設定状態の上限レベル（上限値）５０３及び下限レベル（下限値）５０４に変更させるためのスイッチである。
【００７５】
まず、以下に、図８の模式図の説明を行う。
図８において、タイミング８０１は、図９の再指定ＳＷ４０７を押下する最初のタイミングを表しており、タイミング８０２は、再指定ＳＷ４０７を押下する２回目のタイミングを表している。また、タイミング８０３は、図９のイニシャルＳＷ９０１を押下するタイミングを表している。
【００７６】
図８（ａ）は、システム制御部１０３が透視線量制御部１１５を通して制御する透視線量８０５の時間的な変化の経過を示している。上限レベル（上限値）８０６及び下限レベル（下限値）８０７は、それぞれ、再設定された上限レベル（上限値）及び下限レベル（下限値）である。
【００７７】
図８（ｂ）は、透視線量８０５の時間的な変化に伴い、イメージセンサ１０１から出力される透視画像（Ｘ線画像）のアナログ信号に発生するノイズ量８１１の時間的な変化の経過を示している。この図８（ｂ）には、図８（ａ）に示す透視線量８０５の低下に応じて、ノイズ量８１１が増加していくことが示されている。
【００７８】
図８（ｃ）は、画像補正部１０５が、システム制御部１０３の制御に基づいて、透視線量８０５の時間的な変化に伴って発生するノイズ量８１１を低減するために行う画像補正処理での画像補正量８２１の時間的な変化の経過を示している。
【００７９】
１回目のタイミング８０１は、透視線量８０５が予め定められた初期設定状態の下限レベル（下限値）５０４に達した後で再指定ＳＷ４０７が押下された場合である。この場合、システム制御部１０３は、操作者が、予め設定されている下限レベル（下限値）５０４での診断を許容したと判断し、下限レベル（下限値）５０４の再設定は行わない。そして、この場合、システム制御部１０３は、操作者が、下限レベル（下限値）５０４までの診断を許容したということで、上限レベル（上限値）５０３を下げるための再設定を行う。この再設定処理により再設定された、予め定められた上限レベル（上限値）５０３よりも小さい値である上限レベル（上限値）８０６の設定値は、システム制御部１０３により、記録媒体であるＦｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアに記録（設定）される。この再設定された既定の値である上限レベル（上限値）８０６は、イニシャルＳＷ９０１が押下されるタイミング８０３まで適用され続ける。即ち、本実施形態では、再指定ＳＷ４０７が押下された条件により、透視線量８０５を、上限レベル（上限値）８０６に戻す変更がなされる。
【００８０】
２回目のタイミング８０２は、透視線量８０５が予め定められた初期設定状態の下限レベル（下限値）５０４に到達する前の時点で再指定ＳＷ４０７が押下された場合である。この場合、システム制御部１０３は、操作者が、下限レベル（下限値）５０４での診断が困難であるという理由で再指定ＳＷ４０７を押下したと判断し、下限レベル（下限値）５０４を上昇させるための再設定を行う。即ち、透視線量制御部１１５は、当該再指定ＳＷ４０７が押下された時点の透視線量８０５を新たな下限レベル（下限値）８０７として、透視線量８０５を低下させる処理を行う。この再設定処理により再設定された下限レベル（下限値）８０７の設定値は、システム制御部１０３により、記録媒体であるＦｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアに記録（設定）される。この再設定された下限レベル（下限値）８０７は、イニシャルＳＷ９０１が押下されるタイミング８０３まで適用され続ける。
【００８１】
システム制御部１０３は、透視線量制御部１１５に対する透視線量に係る設定値に応じて、Ｆｌａｓｈメモリ１１８から画像補正量に係る設定値を読み出し、画像補正部１０５に設定する。
【００８２】
次に、本発明の第２の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）１０２の処理動作について、図７に示すフローチャートを用いて説明を行う。
【００８３】
操作者が表示装置１０８を見ながら診断を行い、操作者がオートＳＷ４０３を押下すると、ステップＳ３０１において、システム制御部１０３は、操作制御部１０９を介してこれを検知する。
【００８４】
続いて、ステップＳ３０２において、システム制御部１０３は、Ｆｌａｓｈメモリ１１８から、上限レベル（上限値）５０３や下限レベル（下限値）５０４、変化量等の透視線量８０５に関する初期設定値を読み込み、透視線量制御部１１５に設定する。また、システム制御部１０３は、Ｆｌａｓｈメモリ１１８から、画像補正量８２１に関する初期設定値を読み込み、画像補正部１０５に設定する。さらに、システム制御部１０３は、計時部１１１に対して計時機能の作動を開始させる。
【００８５】
続いて、ステップＳ３０３において、システム制御部１０３は、計時部１１１による計時機能の作動と連動して、透視線量制御部１１５に対して、図８（ａ）に示す透視線量８０５に表されるような基本変化量に応じた、透視線量を低下させる制御を行う。これに基づいて、透視線量制御部１１５は、Ｘ線発生装置１００に対して、当該Ｘ線発生装置１００から被写体２０２に照射するＸ線のＸ線量（透視線量）を、予め定められた上限レベル（上限値）５０３から時間の経過とともに低下させる制御を行う。
【００８６】
続いて、ステップＳ３０４において、システム制御部１０３は、透視線量を低下させる基本設定量に応じて、画像補正部１０５に、図８（ｃ）に示す画像補正量８２１のような段階的な画像補正量の増加に基づく画像補正処理を実行させる。即ち、システム制御部１０３は、透視線量の低下に伴う変化量に応じて、画像補正部１０５による画像補正処理に係る画像補正量を上昇させる制御を行う。
【００８７】
続いて、ステップＳ３０５において、システム制御部１０３は、ステップＳ３０３で開始した透視線量の低下処理における透視線量８０５を常時監視しており、透視線量８０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達したか否かを判断する。
【００８８】
ステップＳ３０５の判断の結果、透視線量８０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達した場合には、ステップＳ３０６に進む。
【００８９】
ステップＳ３０６に進むと、システム制御部１０３は、透視線量８０５を当該下限レベル（下限値）５０４で維持するための制御を透視線量制御部１１５に対して行うと共に、現時点の画像補正量８２１を維持するための制御を画像補正部１０５に対して行う。
【００９０】
ステップＳ３０６の処理が終了した場合、或いは、ステップＳ３０５において透視線量８０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達していないと判断された場合には、ステップＳ３０７に進む。
【００９１】
ステップＳ３０７に進むと、システム制御部１０３は、図９に示すＸ線制御操作パネル９００に対して、操作者により当該オートＳＷ４０３以外の他のスイッチの操作（押下）があったか否かを判断する。この判断の結果、Ｘ線制御操作パネル９００に対して、操作者により当該オートＳＷ４０３以外の他のスイッチの操作（押下）が無かった場合には、ステップＳ３０８に進む。
【００９２】
ステップＳ３０８に進むと、システム制御部１０３は、透視線量８０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達したか否かを判断する。この判断の結果、透視線量８０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達した場合には、ステップＳ３０６に戻り、また、透視線量８０５が予め設定した下限レベル（下限値）５０４に到達していない場合には、ステップＳ３０３に戻る。
【００９３】
一方、ステップＳ３０７の判断の結果、Ｘ線制御操作パネル９００に対して、操作者により当該オートＳＷ４０３以外の他のスイッチの操作（押下）があった場合には、ステップＳ７０１に進む。
【００９４】
ステップＳ７０１に進むと、システム制御部１０３は、Ｘ線制御操作パネル９００に対して、操作者により操作（押下）されたスイッチの種類を判断する。この判断の結果、操作者により操作（押下）されたスイッチがイニシャルＳＷ９０１である場合には、ステップＳ３０２に戻る。
【００９５】
また、ステップＳ７０１の判断の結果、操作者により操作（押下）されたスイッチが再指定ＳＷ４０７である場合には、ステップＳ７０２に進む。ステップＳ７０２に進むと、システム制御部１０３は、現時点での透視線量８０５が初期設定状態の下限レベル（下限値）５０４に到達しているか否かを判断する。
【００９６】
ステップＳ７０２の判断の結果、現時点での透視線量８０５が初期設定状態の下限レベル（下限値）５０４に到達していない場合（例えば、図８に示すタイミング８０２の場合）には、ステップＳ７０３に進む。ステップＳ７０３に進むと、システム制御部１０３は、再指定ＳＷ４０７が押下された時点での透視線量８０５を下限レベル（下限値）８０７として、Ｆｌａｓｈメモリの所定のエリアに対して記録し、下限レベル（下限値）の再設定を行う。
【００９７】
ステップＳ７０３の処理が終了した場合、或いは、ステップＳ７０２において現時点の透視線量８０５が初期設定状態の下限レベル（下限値）５０４に到達していると判断された場合（例えば、図８に示すタイミング８０１の場合）には、ステップＳ７０４に進む。
【００９８】
ステップＳ７０４に進むと、システム制御部１０３は、初期設定状態の上限レベル（上限値）５０３を上限レベル（上限値）８０６に下げるための再設定を行う。そして、システム制御部１０３は、Ｆｌａｓｈメモリの所定のエリアに対して、再設定を行う上限レベル（上限値）８０６の設定値を記録する。
【００９９】
続いて、ステップＳ３１０において、システム制御部１０３は、透視線量制御部１１５に対して、透視線量８０５を上限レベル（上限値）８０６に復帰させる再設定を行う。これに基づいて、透視線量制御部１１５は、Ｘ線発生装置１００に対して、当該Ｘ線発生装置１００から被写体２０２に照射するＸ線のＸ線量（透視線量）を上限レベル（上限値）８０６に復帰させる制御を行う。
【０１００】
続いて、ステップＳ３１１において、システム制御部１０３は、透視線量８０５を上限レベル（上限値）８０６に復帰させる制御に基づいて、画像補正部１０５に、図８（ｃ）に示す画像補正量８２１を透視線量８０５にあわせた設定値に再設定する。このステップＳ３１１の処理が終了すると、ステップＳ３０３に戻る。
【０１０１】
一方、ステップＳ７０１の判断の結果、操作者により操作（押下）されたスイッチがマニュアルＳＷ４０４である場合には、ステップＳ３１２に進む。
【０１０２】
ステップＳ３１２に進むと、システム制御部１０３は、オートＳＷ４０３による全ての自動制御処理を停止し、その時点での全ての処理パラメータを保持したまま、マニュアルＳＷ４０４によるマニュアル操作へ移行する制御を行う。そして、図７に示すフローチャートにおける処理動作が終了する。
【０１０３】
（第３の実施形態）
以下、図１０〜図１２を参照しながら、本発明の第３の実施形態を説明する。
本発明の第３の実施形態に係るＸ線画像処理システム（放射線画像処理システム）の全体構成については、図１に示す第１の実施形態に係るＸ線画像処理システム（放射線画像処理システム）と同様である。
【０１０４】
図１０は、本発明の第３の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）１０２による処理動作の一例を示すフローチャートである。なお、図１０に示すフローチャートにおいて、第１の実施形態における図３に示すフローチャートと同様のステップについては、同じステップ番号を付している。また、このフローチャートの処理動作については、後述する。
【０１０５】
また、第３の実施形態では、第１の実施形態における図４に示すＸ線制御操作パネル４００（第２の実施形態における図９に示すＸ線制御操作パネル９００）に代えて、図１１に示すＸ線制御操作パネル１１００を適用する。
【０１０６】
図１１は、本発明の第３の実施形態を示し、Ｘ線制御操作パネル１１００の一例を示す模式図である。なお、図１１において、第２の実施形態における図９に示すＸ線制御操作パネル９００と同様の構成については、同じ符号を付している。即ち、第３の実施形態におけるＸ線制御操作パネル１１００には、図９に示すＸ線制御操作パネル９００の構成に加えて、各種のスイッチ１１０１〜１１０５が設けられている。
【０１０７】
上限スイッチ（上限ＳＷ）１１０１は、上限レベル（上限値）を変更する場合に操作者が操作（押下）するスイッチである。下限スイッチ（下限ＳＷ）１１０２は、下限レベル（下限値）を変更する場合に操作者が操作（押下）するスイッチである。入力スイッチ（入力ＳＷ）１１０３は、上限ＳＷ１１０１による上限レベルの変更や下限ＳＷ１１０２による下限レベルの変更を設定する場合に操作者が操作（押下）するスイッチである。メモリ１スイッチ（メモリ１ＳＷ）１１０４及びメモリ２スイッチ（メモリ２ＳＷ）１１０５は、設定した任意の上限レベルや下限レベルを記録する場合に操作者が操作（押下）するスイッチである。
【０１０８】
図１２は、本発明の第３の実施形態を示し、透視線量、ノイズ量及び画像処理量の相関の一例を示す模式図である。ここで、図１２において、タイミング１２０１は、再指定ＳＷ４０７を押下する最初のタイミングを表しており、また、タイミング１２０２は、再指定ＳＷ４０７を押下する２回目のタイミングを表している。
【０１０９】
図１２（ａ）は、システム制御部１０３が透視線量制御部１１５を通して制御する透視線量１２０５の時間的な変化の経過を示している。再指定ＳＷ４０７が押下された場合、図１２（ａ）に示す透視線量１２０５は、予め設定された上限レベル（上限値）１２０３に復帰する。１回目のタイミング１２０１は、透視線量１２０５が予め設定された下限レベル（下限値）１２０４に到達した後で再指定ＳＷ４０７が押下された場合である。２回目のタイミング１２０２は、透視線量１２０５が下限レベル（下限値）１２０４に到達する前の時点での再指定ＳＷ４０７が押下された場合である。どちらのタイミングの場合においても、再指定ＳＷ４０７が押下された時点で、透視線量１２０５が既定の値である上限レベル（上限値）１２０３まで復帰する。
【０１１０】
ここで、図１２（ａ）に示す透視線量１２０５の上限レベル（上限値）１２０３及び下限レベル（下限値）１２０４は、被写体２０２の診断部位（撮影部位）により予め設定されたもの、もしくは操作者により任意に設定されたものである。この診断部位により予め設定された上限レベル（上限値）１２０３及び下限レベル（下限値）１２０４の設定値は、例えば、システム制御部１０３により、記録媒体であるＦｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアに予め記録（設定）されている。また、操作者により任意に設定した上限レベル及び下限レベルの設定値は、例えば、システム制御部１０３により、被写体２０２の診断部位により予め設定された設定値とは異なるＦｌａｓｈメモリ１１８のエリアに記録（設定）される。
【０１１１】
図１２（ｂ）は、透視線量１２０５の時間的な変化に伴い、イメージセンサ１０１から出力される透視画像（Ｘ線画像）のアナログ信号に発生するノイズ量１２１１の時間的な変化の経過を示している。この図１２（ｂ）には、図１２（ａ）に示す透視線量１２０５の低下に応じて、ノイズ量１２１１が増加していくことが示されている。
【０１１２】
図１２（ｃ）は、画像補正部１０５が、システム制御部１０３の制御に基づいて、透視線量１２０５の時間的な変化に伴って発生するノイズ量１２１１を低減するために行う画像補正処理での画像補正量１２２１の時間的な変化の経過を示している。
【０１１３】
図１２（ｃ）に示すように、再指定ＳＷ４０７の１回目の押下のタイミング１２０１では、画像補正部１０５は、透視線量１２０５の上限レベル（上限値）５０３への変更に伴って、画像補正量が最低レベルに戻るような処理を行う。また、再指定ＳＷ４０７の２回目の押下のタイミング１２０２では、画像補正部１０５は、画像補正量が途中の段階であっても、透視線量１２０５が上限レベル（上限値）１２０３にまで復帰しているため、画像補正量を最低レベルに戻すような処理を行う。即ち、システム制御部１０３は、再指定ＳＷ４０７が押下された場合に、画像補正部１０５に対して、透視線量１２０５の上限レベル（上限値）１２０３への変更に伴って、画像補正量を低下させる変更の制御を行う。
【０１１４】
図１２に示すこれらの一連の処理は、システム制御部１０３が、計時部１１１の時間的変化や操作パネル１１０からの操作に応じて、透視線量制御部１１５や画像補正部１０５に対する設定値を制御することで実現される。また、図１２（ａ）に示す透視線量１２０５の変化量は、予めＦｌａｓｈメモリ１１８に記録されている基本変化量が適用される。また、透視線量１２０５の変化に対する画像補正部１０５の画像補正量は、予めＦｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアに記録されている基本補正量が適用される。
【０１１５】
次に、本発明の第３の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）１０２の処理動作について、図１０に示すフローチャートを用いて説明を行う。
【０１１６】
まず、メモリ１ＳＷ１１０４及びメモリ２ＳＷ１１０５による上限レベル（上限値）及び下限レベル（下限値）の設定値の記録方法、並びに、一時的な上限レベル（上限値）及び下限レベル（下限値）の設定方法について説明する。
【０１１７】
ステップＳ１００１において、システム制御部１０３は、図１１に示すＸ線制御操作パネル１１００に対して、操作者によりスイッチの操作（押下）があったか否かを判断する。具体的に、このステップＳ１００１では、図１１に示すＸ線制御操作パネル１１００のスイッチのうち、上限ＳＷ１１０１又は下限ＳＷ１１０２の操作があったか否か、オートＳＷ４０３の操作があったか否か、並びに、メモリＳＷ（メモリ１ＳＷ１１０４、メモリ２ＳＷ１１０５）の操作後にオートＳＷ４０３の操作があったか否かの判断がされ、それ以外のスイッチが操作された場合でも、ステップＳ１００１での待機状態となる。
【０１１８】
ステップＳ１００１の判断の結果、上限ＳＷ１１０１又は下限ＳＷ１１０２の操作（押下）があった場合には、ステップＳ１００２に進む。ステップＳ１００２に進むと、システム制御部１０３は、操作者が、ボリューム４０２の操作に応じて変化する表示パネル４０１上の透視線量値を見ながら上限レベル（上限値）又は下限レベル（下限値）の調整を行うと、これを検出する。
【０１１９】
続いて、ステップＳ１００３において、システム制御部１０３は、操作者により入力ＳＷ１１０３が操作（押下）されたことを検知すると、ステップＳ１００２で調整された透視線量の上限レベル（上限値）又は下限レベル（下限値）を一時記録する。具体的に、システム制御部１０３は、入力ＳＷ１１０３が押下された時点での透視線量における上限レベル（上限値）又は下限レベル（下限値）を、Ｆｌａｓｈメモリ１１８の一時記録エリアに一時記録する。ここまでの処理動作が、一時的な上限レベル（上限値）及び下限レベル（下限値）の設定方法である。
【０１２０】
入力ＳＷ１１０３の操作（押下）が行われた後に、続いて、ステップＳ１００４において、システム制御部１０３は、操作者によりメモリＳＷ（メモリ１ＳＷ１１０４又はメモリ２ＳＷ１１０５）の操作（押下）があったか否かを判断する。
【０１２１】
ステップＳ１００４の判断の結果、操作者によりメモリＳＷ（メモリ１ＳＷ１１０４又はメモリ２ＳＷ１１０５）の操作（押下）があった場合には、ステップＳ１００５に進む。
【０１２２】
ステップＳ１００５に進むと、システム制御部１０３は、ステップＳ１００３でＦｌａｓｈメモリ１１８の一時記録エリアに記録していた設定値を、操作されたメモリＳＷの種類に応じて同じＦｌａｓｈメモリ１１８の対応するメモリエリアに記録する変更を行う。具体的に、メモリ１ＳＷ１１０４が操作（押下）された場合には、システム制御部１０３は、ステップＳ１００３でＦｌａｓｈメモリ１１８の一時記録エリアに一時記録していた設定値を、Ｆｌａｓｈメモリ１１８のメモリ１エリアに記録する。また、メモリ２ＳＷ１１０５が操作（押下）された場合には、システム制御部１０３は、ステップＳ１００３でＦｌａｓｈメモリ１１８の一時記録エリアに一時記録していた設定値を、Ｆｌａｓｈメモリ１１８のメモリ２エリアに記録する。
【０１２３】
一方、ステップＳ１００４の判断の結果、操作者によりメモリＳＷ（メモリ１ＳＷ１１０４又はメモリ２ＳＷ１１０５）の操作（押下）がなかった場合には、ステップＳ１００１に戻る。
【０１２４】
以上が、メモリ１ＳＷ１１０４及びメモリ２ＳＷ１１０５による上限レベル（上限値）及び下限レベル（下限値）の設定値の記録方法である。
【０１２５】
次に、第１の実施形態における自動制御、一時的に設定した上限レベルや下限レベルでの自動制御、メモリＳＷを利用した自動制御の処理動作について説明する。
【０１２６】
ステップＳ１００１の判断の結果、上限ＳＷ１１０１又は下限ＳＷ１１０２やメモリＳＷ（メモリ１ＳＷ１１０４、メモリ２ＳＷ１１０５）の操作（押下）がない状況で、オートＳＷ４０３の操作（押下）があった場合には、ステップＳ１００７に進む。この場合、ステップＳ１００７に進むと、システム制御部１０３は、診断部位により予め設定された透視線量の上限レベル及び下限レベルのそれぞれの設定値を、Ｆｌａｓｈメモリ１１８の所定エリアから読み出す。そして、システム制御部１０３は、読み出した透視線量の上限レベル及び下限レベルの設定値を、図１２（ａ）に示す上限レベル（上限値）１２０３及び下限レベル（下限値）１２０４として透視線量制御部１１５に設定する。さらに、このステップＳ１００７では、Ｆｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアから画像補正量１２２１に関する設定値が読み出されて画像補正部１０５に設定され、また、計時部１１１による計時機能の作動が開始される。
【０１２７】
また、ステップＳ１００１において上限ＳＷ１１０１又は下限ＳＷ１１０２の操作（押下）があったと判断され、ステップＳ１００２及びＳ１００３の処理を経た後、ステップＳ１００４においてメモリＳＷ（メモリ１ＳＷ１１０４又はメモリ２ＳＷ１１０５）の操作（押下）がなかった状況で再びステップＳ１００１に戻り、当該ステップＳ１００１において、オートＳＷ４０３の操作（押下）があったと判断された場合にも、ステップＳ１００７に進む。
【０１２８】
この場合、ステップＳ１００７に進むと、システム制御部１０３は、ステップＳ１００３でＦｌａｓｈメモリ１１８の一時記録エリアに一時記録された上限レベル（上限値）又は下限レベル（下限値）の設定値を読み出す。そして、システム制御部１０３は、ステップＳ１００３でＦｌａｓｈメモリ１１８に一時記録させた上限レベル又は下限レベルの設定値を、診断部位により予め設定された上限レベル及び下限レベルの設定値よりも優先させて、図１２（ａ）に示す上限レベル（上限値）１２０３及び下限レベル（下限値）１２０４の設定を透視線量制御部１１５に対して行う。例えば、ステップＳ１００３の複数回の処理によりＦｌａｓｈメモリ１１８に上限レベル及び下限レベルの両方の設定値が一時記録されている場合には、これらの設定値に基づいて上限レベル（上限値）１２０３及び下限レベル（下限値）１２０４の設定が行われる。さらに、このステップＳ１００７では、Ｆｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアから画像補正量１２２１に関する設定値が読み出されて画像補正部１０５に設定され、また、計時部１１１による計時機能の作動が開始される。
【０１２９】
また、ステップＳ１００１の判断の結果、メモリＳＷ（メモリ１ＳＷ１１０４、メモリ２ＳＷ１１０５）の操作後にオートＳＷ４０３の操作があった場合には、ステップＳ１００６に進む。
【０１３０】
ステップＳ１００６に進むと、システム制御部１０３は、ステップＳ１００５でＦｌａｓｈメモリ１１８のメモリエリア（メモリ１エリア又はメモリ２エリア）に記録された上限レベル（上限値）又は下限レベル（下限値）の設定値を読み出す。この場合、メモリ１エリア及びメモリ２エリアに重複して上限レベル（上限値）又は下限レベル（下限値）の設定値が記録されている場合には、後に記録された設定値が読み出される。そして、このステップＳ１００６では、読み出した設定値に基づく設定値の変更指示がなされ、ステップＳ１００７に進む。
【０１３１】
この場合、ステップＳ１００７に進むと、システム制御部１０３は、ステップＳ１００６でＦｌａｓｈメモリ１１８のメモリエリアから読み出した上限レベル又は下限レベルの設定値を、診断部位により予め設定された上限レベル及び下限レベルの設定値よりも優先させて、図１２（ａ）に示す上限レベル（上限値）１２０３及び下限レベル（下限値）１２０４の設定を透視線量制御部１１５に対して行う。さらに、このステップＳ１００７では、Ｆｌａｓｈメモリ１１８の所定のエリアから画像補正量１２２１に関する設定値が読み出されて画像補正部１０５に設定され、また、計時部１１１による計時機能の作動が開始される。
【０１３２】
ステップＳ１００７の処理が終了すると、図３に示すステップＳ３０３〜Ｓ３０８の処理を経る。
【０１３３】
そして、ステップＳ３０７において操作者によりＸ線制御操作パネル１１００の当該オートＳＷ４０３以外の他のスイッチ（再指定ＳＷ４０７、マニュアルＳＷ４０４及びイニシャルＳＷ９０１）の操作があったと判断された場合には、ステップＳ１００８に進む。
【０１３４】
ステップＳ１００８に進むと、システム制御部１０３は、Ｘ線制御操作パネル１１００に対して、操作者により操作（押下）されたスイッチの種類を判断する。この判断の結果、操作者により操作（押下）されたスイッチが再指定ＳＷ４０７である場合には、図３に示すステップＳ３１０及びＳ３１１の処理を経た後、ステップＳ３０４に戻る。
【０１３５】
また、ステップＳ１００８の判断の結果、操作者により操作（押下）されたスイッチがマニュアルＳＷ４０４である場合には、図３に示すステップＳ３１２の処理を経た後、図１０に示すフローチャートにおける処理動作が終了する。
【０１３６】
また、ステップＳ１００８の判断の結果、操作者により操作（押下）されたスイッチがイニシャルＳＷ９０１である場合には、ステップＳ１００９に進む。ステップＳ１００９に進むと、システム制御部１０３は、ステップＳ１００７で設定した設定値を初期化する処理を行う。その後、ステップＳ１００１に戻り、ステップＳ１００１以降の処理を再度行う。なお、本実施形態では、ステップＳ１００９の処理が終了した後に処理をステップＳ１００１に移行させるようにしているが、ステップＳ１００７に移行させるようにする形態であってもよい。この場合、例えば、ステップＳ１００７では、オートＳＷ４０３のみが操作された場合の設定値を設定する形態を採る。
【０１３７】
（第４の実施形態）
前述した本発明の諸実施形態に係るＸ線画像処理装置１０２を構成する図１の各構成部、並びにＸ線画像処理方法を示す図３、図７及び図１０の各ステップは、コンピュータのＲＡＭやＲＯＭなどに記憶されたプログラムが動作することによって実現できる。このプログラム及び当該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は本発明に含まれる。
【０１３８】
具体的に、前記プログラムは、例えばＣＤ−ＲＯＭのような記憶媒体に記録し、或いは各種伝送媒体を介し、コンピュータに提供される。前記プログラムを記録する記憶媒体としては、ＣＤ−ＲＯＭ以外に、フレキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、光磁気ディスク、不揮発性メモリカード等を用いることができる。他方、前記プログラムの伝送媒体としては、プログラム情報を搬送波として伝搬させて供給するためのコンピュータネットワーク（ＬＡＮ、インターネットの等のＷＡＮ、無線通信ネットワーク等）システムにおける通信媒体を用いることができる。また、この際の通信媒体としては、光ファイバ等の有線回線や無線回線などが挙げられる。
【０１３９】
また、本発明は、コンピュータが供給されたプログラムを実行することにより本実施形態に係るＸ線画像処理装置１０２の機能が実現される態様に限られない。そのプログラムがコンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）或いは他のアプリケーションソフト等と共同して本実施形態に係るＸ線画像処理装置１０２の機能が実現される場合も、かかるプログラムは本発明に含まれる。また、供給されたプログラムの処理の全て、或いは一部がコンピュータの機能拡張ボードや機能拡張ユニットにより行われて本実施形態に係るＸ線画像処理装置１０２の機能が実現される場合も、かかるプログラムは本発明に含まれる。
【０１４０】
また、前述した本実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【０１４１】
本発明の諸実施形態に係るＸ線画像処理装置１０２では、Ｘ線発生装置１００から被写体２０２に照射するＸ線のＸ線量を透視線量制御部１１５で変更する。また、Ｘ線発生装置１００から被写体２０２を介して検出されたＸ線に基づくＸ線画像に対して、画像補正部１０５で画像補正処理を行う。そして、システム制御部１０３において、透視線量制御部１１５によるＸ線量の変化に応じて、画像補正部１０５による画像補正処理に係る画像補正量を変更する制御を行う。
かかる構成によれば、被写体２０２に照射するＸ線のＸ線量を抑えながら、診断等を行うのに十分な画質のＸ線画像を取得することができる。これにより、被写体２０２に過大な負荷をかけること無く、Ｘ線画像の画質の低下を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１４２】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るＸ線画像処理システム（放射線画像処理システム）の全体構成の一例を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係るＸ線画像処理システム（放射線画像処理システム）を適用した診断時のイメージの一例を示す模式図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）による処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施形態を示し、図２に示すＸ線制御操作パネルの一例を示す模式図である。
【図５】本発明の第１の実施形態を示し、透視線量、ノイズ量及び画像補正量の相関の一例を示す模式図である。
【図６】本発明の第１の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）の画像補正部の詳細な構成の一例を示すブロック図である。
【図７】本発明の第２の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）による処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図８】本発明の第２の実施形態を示し、透視線量、ノイズ量及び画像処理量の相関の一例を示す模式図である。
【図９】本発明の第２の実施形態を示し、Ｘ線制御操作パネルの一例を示す模式図である。
【図１０】本発明の第３の実施形態に係るＸ線画像処理装置（放射線画像処理装置）による処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１１】本発明の第３の実施形態を示し、Ｘ線制御操作パネルの一例を示す模式図である。
【図１２】本発明の第３の実施形態を示し、透視線量、ノイズ量及び画像処理量の相関の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
【０１４３】
１００  Ｘ線発生装置（放射線発生装置）
１０１  イメージセンサ
１０２  Ｘ線画像処理装置（放射線画像処理装置または放射線量制御装置）
１０３  システム制御部
１０４  画像入力部
１０５  画像補正部
１０６  画像処理部
１０７  表示制御部
１０８  表示装置
１０９  操作制御部
１１０  操作パネル
１１１  計時部
１１２  外部Ｉ／Ｆ部
１１３  記録装置制御部
１１４  記録装置
１１５  透視線量制御部
１１６  センサ制御部
１１７  ＲＡＭ
１１８  Ｆｌａｓｈメモリ
１１９  システムバス
１２０  モータ制御部
１２１  モータ
１２２  フットペダル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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