(57)【要約】【課題】差動出力信号における正信号および負信号に生じる上記差電圧の校正、および差動出力信号における正信号および負信号それぞれの基準電圧の校正を容易に実施することができる。【解決手段】差動入力信号を増幅して差動出力信号として出力する差動アンプと、差動入力信号を入力する差動入力端子と差動アンプとの間に設けられ、差動入力信号の正信号および負信号の差電圧にオフセット電圧を加えるオフセット加算部と、を備える差動出力装置が提供される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
差動入力信号を増幅して差動出力信号として出力する差動アンプと、
前記差動入力信号を入力する差動入力端子と前記差動アンプとの間に設けられ、前記差動入力信号の正信号および負信号の差電圧にオフセット電圧を加えるオフセット加算部と、
を備える差動出力装置。
【請求項２】
正信号および負信号の電圧値が等しくなるように制御された前記差動入力信号が前記差動入力端子から入力された状態において、前記差動出力信号の正信号および負信号の差電圧を測定する測定部と、
前記オフセット電圧の設定値を変更して、前記差動出力信号の正信号および負信号の差電圧を減少させる制御部と、
を更に備える請求項１に記載の差動出力装置。
【請求項３】
前記オフセット加算部は、前記差動入力信号の正信号に前記オフセット電圧の１／２を加え、前記差動入力信号の負信号から前記オフセット電圧の１／２を減じる請求項２に記載の差動出力装置。
【請求項４】
前記オフセット加算部は、
前記オフセット電圧のデジタル設定値をアナログに変換して、前記オフセット電圧を出力するＤＡ変換部と、
前記オフセット電圧の１／２倍の電圧を前記差動入力信号の正信号に加える正側加算部と、
前記オフセット電圧の−１／２倍の電圧を前記差動入力信号の負信号に加える負側加算部と、
を有する請求項３に記載の差動出力装置。
【請求項５】
前記差動アンプは、前記差動出力信号の正信号および負信号の基準電圧を定めるコモン電圧を入力し、
前記制御部は、更に、前記オフセット電圧の設定値を変更して前記差動出力信号の正信号および負信号の差電圧を予め定められた基準誤差以下とした状態において、前記差動出力信号の正信号および負信号の少なくとも一方の電圧を予め定められた基準値に近付けるように前記コモン電圧の設定を変更する
請求項４に記載の差動出力装置。
【請求項６】
前記オフセット電圧の設定値を複数記憶する設定メモリを更に備え、
前記オフセット加算部は、前記オフセット電圧の複数の設定値のうち選択された設定値に変更された前記オフセット電圧を前記差動入力信号の正信号および負信号の差電圧に加える請求項５に記載の差動出力装置。
【請求項７】
前記差動入力信号を出力する複数の差動出力回路と、
前記複数の差動出力回路の中から指定された差動出力回路を前記差動入力端子に接続する切替部と
を更に備え、
前記制御部は、前記差動入力端子に接続された前記差動出力回路が出力する前記差動入力信号に対応する前記オフセット電圧の設定値を前記設定メモリから読み出して、前記オフセット加算部が加える前記オフセット電圧の大きさを変更する
請求項６に記載の差動出力装置。
【請求項８】
波形メモリに記憶された信号波形を差動出力端子から出力する任意波形発生装置であって、
前記波形メモリに記憶された信号波形を差動信号として出力する波形発生部と、
前記波形発生部が発生した差動信号を差動入力端子から入力し、増幅して差動出力信号として出力する差動アンプと、
前記差動入力端子と前記差動アンプとの間に設けられ、前記差動入力信号の正信号および負信号の差電圧にオフセット電圧を加えるオフセット加算部と、
を備える任意波形発生装置。
【請求項９】
当該任意波形発生装置を調整する場合において、正信号および負信号の電圧値が等しくなるように制御された前記差動入力信号を前記差動入力端子へ入力した状態で、前記差動出力信号の正信号および負信号の差電圧を測定する測定部と、
前記オフセット電圧の設定を変更して、前記差動出力信号の正信号および負信号の差電圧を減少させる制御部と、
を更に備える請求項８に記載の任意波形発生装置。
【請求項１０】
前記波形発生部は、
前記波形メモリを順次読み出して信号波形を出力する波形発生器と、
経路上に接続される信号増幅器、減衰器、およびフィルタの組み合わせが異なる複数の信号伝達経路と、
前記波形発生器から出力されて前記複数の信号伝達経路のうち指定された前記信号伝達経路を介して伝達された信号波形を出力する波形出力部と
を有し、
前記複数の信号伝達経路のそれぞれに対応して、前記オフセット電圧の設定値を記憶する設定メモリを更に備え、
前記制御部は、指定された前記信号伝達経路に対応する前記オフセット電圧の設定値を前記設定メモリから読み出して、前記オフセット加算部が加える前記オフセット電圧の大きさを変更する
請求項９に記載の任意波形発生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、差動信号を出力する差動出力装置、および、信号波形を出力する任意波形発生装置に関する。特に本発明は、入力した差動信号を増幅して出力する差動出力装置、および、信号波形を出力する任意波形発生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、半導体回路等の被測定デバイスに対して試験信号を入力するとともに、当該被測定デバイスから出力する差動信号を測定する試験装置が知られている（特許文献１参照。）。この試験装置は、被測定デバイスを試験する試験パターンを生成するパターン発生器、当該パターン発生器で生成される試験パターンに基づいて被測定デバイスに供給する試験信号を生成する波形成形器、並びに、被測定デバイスが出力する差動信号からオフセット電圧を除去して当該差動信号をデジタル信号に変換する測定装置等を有する。
【特許文献１】特開２００７−４０８４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
被測定デバイスに試験信号として差動信号を供給するときに当該差動信号の基準となる電圧が目標とする誤差範囲よりも大きくずれている場合、パターン発生器で生成される試験パターンを書き換えることにより、波形成形器が生成する試験信号を調整することが考えられる。しかしながら、このような試験パターンの書き換えには非常に手間がかかってしまう。
【０００４】
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる差動出力装置および任意波形発生装置を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の第１の形態によると、差動入力信号を増幅して差動出力信号として出力する差動アンプと、差動入力信号を入力する差動入力端子と差動アンプとの間に設けられ、差動入力信号の正信号および負信号の差電圧にオフセット電圧を加えるオフセット加算部と、を備える差動出力装置が提供される。
【０００６】
また、本発明の第２の形態によると、波形メモリに記憶された信号波形を差動出力端子から出力する任意波形発生装置であって、波形メモリに記憶された信号波形を差動信号として出力する波形発生部と、波形発生部が発生した差動信号を差動入力端子から入力し、増幅して差動出力信号として出力する差動アンプと、差動入力端子と差動アンプとの間に設けられ、差動入力信号の正信号および負信号の差電圧にオフセット電圧を加えるオフセット加算部とを備える任意波形発生装置が提供される。
【０００７】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【０００９】
図１は、本発明の実施形態に係る差動出力装置１０の構成の一例を示す図である。差動出力装置１０は、半導体回路等の被測定デバイスを試験する差動信号を出力する装置であって、両端にそれぞれ差動入力端子５０および差動出力端子７０を有する正信号伝送路６２（ポジティブ側信号伝送路）および負信号伝送路６４（ネガティブ側信号伝送路）と、増幅部１００と、オフセット加算部２００と、測定部３００と、制御部４００と、設定メモリ５００と、差動入力信号発生部６００とを備える。
【００１０】
増幅部１００は、ＤＡ変換部１１０、バッファ１２０、フィルタ１３０、および差動アンプ１４０を有する。ＤＡ変換部１１０は、入力されるデジタル設定値をアナログに変換して当該デジタル設定値に応じた特定の大きさの電圧（以下、「コモン電圧」と称する）を出力する。また、ＤＡ変換部１１０は、入力されるコモン電圧のデジタル設定値が変更された場合、変更前と異なる大きさのコモン電圧を出力する。フィルタ１３０は、ＤＡ変換部１１０からバッファ１２０を経て出力されたコモン電圧に含まれるノイズ成分を除去する。差動アンプ１４０は、差動入力端子５０から正信号伝送路６２および負信号伝送路６４にそれぞれ入力される差動入力信号の正信号および負信号を所定の増幅率で増幅して差動出力信号として出力する。また、差動アンプ１４０は、この差動出力信号の基準電圧を制御するためのコモン電圧を入力することにより、当該差動出力信号の正信号および負信号の基準電圧を定める。なお、上記所定の増幅率は、１倍以上に限らず、1倍未満であってもよい。
【００１１】
オフセット加算部２００は、ＤＡ変換部２１０、バッファ２２２、２２４、抵抗２３２、２３４、正側加算部２４２、および負側加算部２４４を有する。ＤＡ変換部２１０は、入力されるデジタル設定値をアナログに変換して当該デジタル設定値に応じた大きさの電圧（以下、「オフセット電圧」と称する）を出力する。また、ＤＡ変換部２１０は、入力されるオフセット電圧のデジタル設定値が変更された場合、変更前と異なる大きさのオフセット電圧を出力する。正側加算部２４２は、正信号伝送路６２における差動入力端子５０と差動アンプ１４０との間に設けられており、バッファ２２２および抵抗２３２が配された伝送線を介してＤＡ変換部２１０の出力側と接続する。この正側加算部２４２は、例えばＤＡ変換部２１０が出力するオフセット電圧の１／２倍の電圧を差動入力信号の正信号に加える。また、負側加算部２４４は、負信号伝送路６４における差動入力端子５０と差動アンプ１４０との間に設けられており、バッファ２２４および抵抗２３４が配された伝送線を介してＤＡ変換部２１０の出力側と接続する。この負側加算部２４４は、例えばＤＡ変換部２１０が出力するオフセット電圧の−１／２倍の電圧を差動入力信号の負信号に加える。なお、正側加算部２４２が差動入力信号の正信号に加える電圧および負側加算部２４４が差動入力信号の負信号に加える電圧は、上記のようにそれぞれ互いに絶対値が等しく正負が異なる電圧でもよいが、例えば互いに絶対値が異なる（正負も異なる）電圧であってもよい。
【００１２】
測定部３００は、信号測定器３１０、およびスイッチ３２２、３２４を有する。信号測定器３１０は、スイッチ３２２、３２４を介して正信号伝送路６２および負信号伝送路６４における差動アンプ１４０の出力側と接続され、スイッチ３２２がＯＮのときに差動出力信号の正信号を測定し、スイッチ３２４がＯＮのときに差動出力信号の負信号を測定する。
【００１３】
制御部４００は、ＤＡ変換部１１０により出力させるべきコモン電圧の大きさに応じたデジタル設定値をＤＡ変換部１１０に出力する。また、制御部４００は、ＤＡ変換部２１０により出力させるべきオフセット電圧の大きさに応じたデジタル設定値をＤＡ変換部２１０に出力する。また、制御部４００は、上記測定部３００のスイッチ３２２、３２４をそれぞれＯＮまたはＯＦＦの状態に切替える。また、制御部４００は、後述する差動入力信号発生部６００の切替部６２０に対して差動出力回路６１１、６１２、６１３のうち何れの回路を差動入力端子５０に接続するべきかの情報を出力する。また、制御部４００は、信号測定器３１０が測定する差動出力信号の正信号および負信号の測定結果を取得する。
【００１４】
設定メモリ５００は、差動入力端子５０から入力される差動入力信号に応じた差動出力信号のコモン電圧およびオフセット電圧の設定値を複数記憶する。上記制御部４００は、上記増幅部１００のＤＡ変換部１１０に出力させるコモン電圧の大きさを変更する場合、この設定メモリ５００から特定のコモン電圧の設定値を読み出して当該設定値に応じたデジタル設定値をＤＡ変換部１１０に出力する。また、制御部４００は、上記オフセット加算部２００のＤＡ変換部２１０に出力させるオフセット電圧の大きさを変更する場合、この設定メモリ５００から特定のオフセット電圧の設定値を読み出して当該設定値に応じたデジタル設定値をＤＡ変換部２１０に出力する。
【００１５】
差動入力信号発生部６００は、複数の差動出力回路６１１、６１２、６１３、および切替部６２０を有する。複数の差動出力回路６１１、６１２、６１３は、例えば正信号および負信号の基準レベルおよび振幅の少なくとも一方が異なる差動入力信号をそれぞれ出力する。なお、差動入力信号発生部６００が有する差動出力回路の数は、差動出力装置１０が出力する差動出力信号の種類に応じて適宜選択される。切替部６２０は、上記制御部４００から差動出力回路６１１、６１２、６１３のうち何れの回路を差動入力端子５０に接続するべきかの情報が入力されると、入力された当該情報により指定された差動出力回路を差動入力端子５０に接続する。
【００１６】
上記差動出力装置１０は、例えば使用開始時において、先ず、差動出力回路６１１、６１２、６１３の一つを選択して、校正動作が実施される。具体的には、正信号および負信号の電圧値が等しくなるように制御された差動入力信号を上記の選択した差動出力回路から差動入力端子５０へ入力させた状態で、先ず、差動出力信号の正信号および負信号の差電圧を減少させる第一の校正動作が実施される。図２は、差動出力装置１０の第一の校正動作を示すフローチャートである。なお、以下では、差動出力回路６１１を選択して校正動作を実施する場合について説明する。
【００１７】
第一の校正動作では、まず、制御部４００が切替部６２０に対して、正信号および負信号の電圧値が等しい差動入力信号を出力する差動出力回路６１１を差動入力端子５０に接続するべき旨の情報を出力する。切替部６２０は、入力された当該情報により指定された差動出力回路６１１と差動入力端子５０との間のスイッチをＯＮに切替える。これにより、正信号伝送路６２および負信号伝送路６４に正信号および負信号の電圧値が等しい差動入力信号が入力される（ステップＳ１００）。
【００１８】
次に、制御部４００は、差動出力回路６１１が出力する差動入力信号に対応する差動出力信号のオフセット電圧の設定値を設定メモリ５００から読み出して、当該設定値に応じたデジタル設定値をオフセット加算部２００のＤＡ変換部２１０に出力する（ステップＳ１１０）。上記デジタル設定値がＤＡ変換部２１０に入力されると、ＤＡ変換部２１０は、このデジタル設定値が入力されるまで出力していたオフセット電圧の大きさを、このデジタル設定値に応じた大きさに変更する（ステップＳ１２０）。このとき、オフセット加算部２００の正側加算部２４２は、ＤＡ変換部２１０が出力する大きさの変更されたオフセット電圧の１／２倍の電圧を差動入力信号の正信号に加え、負側加算部２４４は、大きさの変更された当該オフセット電圧の−１／２倍の電圧を差動入力信号の負信号に加える（ステップＳ１３０）。
【００１９】
次に、制御部４００は上記測定部３００のスイッチ３２２、３２４をそれぞれＯＮの状態に切替える。ここで、測定部３００の信号測定器３１０は、差動出力信号の正信号および負信号を測定する（ステップＳ１４０）。また、制御部４００は、測定部３００の信号測定器３１０が測定する差動出力信号の正信号および負信号の測定結果を取得する。
【００２０】
次に、制御部４００は、取得した差動出力信号の測定結果に基づいて、当該差動出力信号の正信号および負信号の差電圧を算出するとともに、算出した当該差電圧の大きさが実質的にゼロとなっているか、すなわち例えば予め定められた基準誤差以下であるかどうか判別する（ステップＳ１５０）。制御部４００における判別の結果、上記差電圧が予め定められた基準誤差よりも大きい場合、制御部４００は、当該差電圧を減少させて基準誤差以下とするべく、ＤＡ変換部２１０に出力するデジタル設定値を変更する。これにより、上記ステップＳ１２０と略同様に、ＤＡ変換部２１０が出力するオフセット電圧の大きさが再度変更される。この後、上記ステップＳ１３０からステップＳ１５０を再び繰り返す。また、上記ステップＳ１５０における上記判別の結果、上記差電圧が予め定められた基準誤差よりも小さい場合は、第一の校正動作は終了する。
【００２１】
上記差動出力装置１０は、上記第一の校正動作に引き続いて、差動出力信号の正信号および負信号の電圧を予め定められた基準値に近付ける第二の校正動作が実施される。図３は、差動出力装置１０の第二の校正動作を示すフローチャートである。
【００２２】
第二の校正動作では、まず、制御部４００が、上記第一の校正動作において電圧値が変更された差動入力信号に対応する差動出力信号のコモン電圧の設定値を設定メモリ５００から読み出して、当該設定値に応じたデジタル設定値を増幅部１００のＤＡ変換部１１０に出力する（ステップＳ１６０）。上記デジタル設定値がＤＡ変換部１１０に入力されると、ＤＡ変換部１１０は、このデジタル設定値が入力されるまで出力していたコモン電圧の大きさを、このデジタル設定値に応じた大きさに変更する（ステップＳ１７０）。このとき、増幅部１００の差動アンプ１４０は、上記ＤＡ変換部１１０が出力する大きさの変更されたコモン電圧を差動出力信号に対して入力することにより、当該差動出力信号の正信号および負信号の基準電圧を定める（ステップＳ１８０）。
【００２３】
次に、制御部４００が上記測定部３００のスイッチ３２２、３２４をそれぞれＯＮの状態に切替えるとともに、測定部３００の信号測定器３１０が差動出力信号の正信号および負信号を測定する（ステップＳ１９０）。また、制御部４００は、測定部３００の信号測定器３１０が測定する差動出力信号の正信号の測定結果を取得する。
【００２４】
次に、制御部４００は、取得した差動出力信号の正信号および負信号の測定結果に基づいて、当該差動出力信号の正信号および負信号それぞれの基準電圧の大きさが、予め定められた基準値を中心とした一定の範囲（以下、「基準範囲」と称する）内であるかどうか判別する（ステップＳ２００）。なお、この基準範囲は、例えばＤＡ変換装置１０の性能上、許容される誤差の範囲である。制御部４００における上記判別の結果、上記それぞれの基準電圧の大きさが基準範囲よりも大きい場合、制御部４００は、上記それぞれの基準電圧の大きさを小さくして上記基準範囲内とするべく、上記ＤＡ変換部１１０に出力するデジタル設定値を変更する。また、上記それぞれの基準電圧の大きさが基準範囲よりも小さい場合、制御部４００は、上記それぞれの基準電圧の大きさを大きくして上記基準範囲内とするべく、上記ＤＡ変換部１１０に出力するデジタル設定値を変更する。
【００２５】
これにより、ステップＳ１７０と略同様に、ＤＡ変換部１１０が出力するコモン電圧の大きさが変更される。この後、ステップＳ１８０からステップＳ２００を再び繰り返す。また、ステップＳ２００における判別の結果、差動出力信号の正信号および負信号の測定結果が基準範囲内である場合は、第二の校正動作は終了する。なお、上記第二の校正動作において、差動出力信号の正信号または負信号の一方に対して上記ステップＳ１８０からステップＳ２００を実施した後、他方に対して同様に上記ステップＳ１８０からステップＳ２００を実施してもよい。
【００２６】
このように、本実施形態の差動出力装置１０によれば、正信号および負信号の電圧値が等しい差動入力信号に対応する差動出力信号の正信号および負信号に差電圧が生じた場合でも、第一の校正動作を実施することにより、当該差動出力信号における正信号および負信号に差電圧を予め定められた基準誤差よりも小さくすることができる。したがって、差動入力信号を出力する差動入力信号発生部６００の差動出力回路６１１、６１２、６１３等に変更を加えなくてもよいので、上記差動出力信号における正信号および負信号に生じる上記差電圧の校正を容易に実施することができる。
【００２７】
また、差動出力端子７０から出力する差動出力信号における正信号および負信号それぞれの基準電圧の大きさが予め定められた基準値よりも大きく外れた場合でも、上記第二の校正動作を実施することにより、当該差動出力信号における正信号および負信号それぞれの基準電圧の大きさを変更して基準範囲内に校正することができる。したがって、差動入力信号を出力する差動入力信号発生部６００の差動出力回路６１１、６１２、６１３等に変更を加えなくてもよいので、上記差動出力信号における正信号および負信号それぞれの基準電圧の校正を容易に実施することができる。
【００２８】
なお、上記差動出力装置１０の第一の校正動作は、正信号および負信号の電圧値が異なるように制御された、すなわち例えば正信号が「High」に相当する電圧値に負信号が「Low」に相当する電圧値に制御された差動入力信号を上記の選択した差動出力回路から差動入力端子５０へ入力させた状態で実施することもできる。この場合、上記第一の校正動作のステップ１５０において、算出した差電圧が正信号の「High」の電圧値と負信号の「Low」の電圧値との差電圧に対して予め定められた基準誤差以下であるかどうか判別する。また、これと同様に、上記差動出力装置１０の第一の校正動作は、正信号が「Low」に相当する電圧値に負信号が「High」に相当する電圧値に制御された差動入力信号を上記の選択した差動出力回路から差動入力端子５０へ入力させた状態で実施することもできる。この場合、上記第一の校正動作のステップ１５０において、算出した差電圧が正信号の「Low」の電圧値と負信号の「High」の電圧値との差電圧に対して予め定められた基準誤差以下であるかどうか判別する。
【００２９】
図４は、本発明の他の実施形態に係る任意波形発生装置２０の構成の一例を示す図である。なお、図４において、上記差動出力装置１０と同様の構成については同じ参照番号を付して説明を省略する。任意波形発生装置２０は、半導体回路等の被測定デバイスを試験する差動信号の信号波形を出力する装置であって、図４に示すように、両端にそれぞれ差動入力端子５０および差動出力端子７０を有する正信号伝送路６２および負信号伝送路６４と、増幅部１００と、オフセット加算部２００と、測定部３００と、制御部４００と、設定メモリ５００と、波形発生部７００と、波形メモリ８００とを備える。また、任意波形発生装置２０において、制御部４００は、後述する波形発生部７００の切替部７３０に対して複数の信号伝達経路７２１、７２２、７２３のうち何れの信号伝達経路を差動入力端子５０に接続するべきかの情報を出力する。
【００３０】
波形発生部７００は、波形発生器７１０、複数の信号伝達経路７２１、７２２、７２３、切替部７３０、および波形出力部７４０を有する。また、波形メモリ８００は、複数の信号波形の波形データを記憶する。波形発生器７１０は、波形メモリ８００が記憶する波形データのうちの特定の波形データを読み出して、当該波形データに応じた信号波形を出力する。複数の信号伝達経路７２１、７２２、７２３は、経路上に接続される信号増幅器、減衰器、およびフィルタ等の組み合わせがそれぞれ異なる。切替部７３０は、上記制御部４００から複数の信号伝達経路７２１、７２２、７２３のうち何れの回路を差動入力端子５０に接続するべきかの情報が入力されると、入力された当該情報により指定された信号伝達経路を差動入力端子５０に接続する。波形出力部７４０は、波形発生器７１０から出力されて上記複数の信号伝達経路７２１、７２２、７２３のうち指定された信号伝達経路を介して伝達された信号波形を差動入力信号として差動入力端子５０から正信号伝送路６２および負信号伝送路６４に出力する。なお、上記のように、複数の信号伝達経路７２１、７２２、７２３は、それぞれ線路上の構成が異なることから、信号伝達経路７２１、７２２、７２３のそれぞれを介して伝達された信号波形は、その振幅および基準電圧等が異なる。
【００３１】
このような構成を有する任意波形発生装置２０によれば、出力すべき差動信号に応じて信号伝達経路７２１、７２２、７２３から増幅率および通過周波数帯域等が異なる信号伝達経路を選択することができる。また、選択した信号伝達経路を介して伝達された差動入力信号に対応する差動出力信号の正信号および負信号に差電圧が生じた場合でも、上記差動出力装置１０の第一の校正動作および第二の校正動作と同様の校正動作を実施することにより、当該差動出力信号における正信号および負信号に差電圧を予め定められた基準誤差よりも小さくすることができる。また、当該差動出力信号における正信号および負信号それぞれの基準電圧の大きさを変更して基準範囲内に校正することができる。したがって、信号伝達経路７２１、７２２、７２３の線路上の構成等に変更を加えなくてもよいので、上記差動出力信号における正信号および負信号に生じる差電圧の校正並びに正信号および負信号それぞれの基準電圧の校正を容易に実施することができる。
【００３２】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の実施形態に係る差動出力装置１０の構成の一例を示す図である。
【図２】差動出力装置１０の第一の校正動作を示すフローチャートである。
【図３】差動出力装置１０の第二の校正動作を示すフローチャートである。
【図４】本発明の他の実施形態に係る任意波形発生装置２０の構成の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００３４】
１０  差動出力装置
２０  任意波形発生装置
５０  差動入力端子
６２  正信号伝送路
６４  負信号伝送路
７０  差動出力端子
１００  増幅部
１１０  ＤＡ変換部
１２０  バッファ
１３０  フィルタ
１４０  差動アンプ
２００  オフセット加算部
２１０  ＤＡ変換部
２２２、２２４  バッファ
２３２、２３４  抵抗
２４２  正側加算部
２４４  負側加算部
３００  測定部
３１０  信号測定器
３２２、３２４  スイッチ
４００  制御部
５００  設定メモリ
６００  差動入力信号発生部
６１１、６１２、６１３  差動出力回路
６２０  切替部
７００  波形発生部
７１０  波形発生器
７２１、７２２、７２３  信号伝達経路
７３０  切替部
７４０  波形出力部
８００  波形メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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