(57)【要約】【課題】本発明は、作業者がＯＬＴ等の近端側光通信装置からＯＮＵ等の遠端側光通信装置までの距離を設計図面から求めることなく或いは実測することなく、どの遠端側光通信装置に対応する試験用光パルス反射手段からの反射パルスであるかを特定可能な光線路試験システムを提供することを目的とする。【解決手段】光線路試験システム１００は、Ｍ個目の遠端側光通信装置３０が第２光線路２４に接続されたときの反射レベルとＭ−１個目の遠端側光通信装置３０が第２光線路２４に接続されたときの反射レベルとの差分を求め、差分の中で最も高い反射レベルとなる反射位置までの距離をＭ個目の遠端側光通信装置３０に対応させる反射位置の対応付けを行う試験合否判定手段７０を備えることを特徴とする。【選択図】図１
2008107106.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
近端側光通信装置、前記近端側光通信装置と通信するＮ個（但し、Ｎは正整数）の遠端側光通信装置、Ｎ以上に分岐する光分岐回路、前記近端側光通信装置と前記光分岐回路とを接続する第１光線路、前記光分岐回路と前記Ｎ個の遠端側光通信装置とをそれぞれ接続するＮ個の第２光線路、及び、前記Ｎ個の遠端側光通信装置と前記第２光線路との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システムであって、
前記第１光線路に結合回路を介して接続され、前記遠端側光通信装置に向けて前記試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器と、
前記光パルス測定器に前記試験用光パルスを出射させて前記光パルス測定器が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから前記結合回路と前記試験用光パルス反射手段との間の光損失を求め、前記光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段と、を備え、
前記試験合否判定手段は、Ｍ個目（但し、ＭはＮ以下の正整数）の前記遠端側光通信装置が前記第２光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとＭ−１個目の前記遠端側光通信装置が前記第２光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、前記差分の中で最も高い反射レベルとなる前記反射位置までの距離を前記Ｍ個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置の対応付けを行うことを特徴とする光線路試験システム。
【請求項２】
近端側光通信装置、前記近端側光通信装置と通信するＮ個（但し、Ｎは正整数）の遠端側光通信装置、Ｎ以上に分岐する光分岐回路、前記近端側光通信装置と前記光分岐回路とを接続する第１光線路、及び、前記光分岐回路と前記Ｎ個の遠端側光通信装置とをそれぞれ接続するＮ個の第２光線路、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システムであって、
前記Ｎ個の遠端側光通信装置と前記第２光線路との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段と、
前記第１光線路に結合回路を介して接続され、前記遠端側光通信装置に向けて前記試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器と、
前記光パルス測定器に前記試験用光パルスを出射させて前記光パルス測定器が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから前記結合回路と前記試験用光パルス反射手段との間の光損失を求め、前記光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段と、を備え、
前記試験合否判定手段は、Ｍ個目（但し、ＭはＮ以下の正整数）の前記遠端側光通信装置が前記第２光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとＭ−１個目の前記遠端側光通信装置が前記第２光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、前記差分の中で最も高い反射レベルとなる前記反射位置までの距離を前記Ｍ個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置の対応付けを行うことを特徴とする光線路試験システム。
【請求項３】
前記光ネットワークは、前記近端側光通信装置とＭ個目の前記遠端側光通信装置との間でリンクが確立されたときに、前記リンクが確立された旨のリンク情報を前記近端側光通信装置が前記試験合否判定手段に送信し、
前記試験合否判定手段は、前記リンク情報を前記近端側光通信装置から受信した後に前記反射位置の対応付けを行うことを特徴とする請求項１又は２に記載の光線路試験システム。
【請求項４】
前記試験合否判定手段は、前記光パルス測定器の内部で発生するノイズによる前記反射レベルが最も高くなるノイズレベルを求め、前記ノイズレベルを基準として前記反射位置の対応付けを行うことを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光線路試験システム。
【請求項５】
前記試験合否判定手段は、前記光パルス測定器の測定する反射位置までの距離に対する後方散乱光の前記反射レベルが最も高くなる後方散乱光レベルを求め、前記後方散乱光レベルを基準として前記反射位置の対応付けを行うことを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光線路試験システム。
【請求項６】
前記光ネットワークは、前記光パルス測定器と前記遠端側光通信装置との間に光コネクタが配置され、
前記試験合否判定手段は、前記光コネクタで発生する前記反射レベルが最も高くなる光コネクタ反射レベルを求め、前記光コネクタ反射レベルが前記後方散乱光レベルよりも高い場合、前記光コネクタ反射レベルを基準として前記反射位置の対応付けを行うことを特徴とする請求項５に記載の光線路試験システム。
【請求項７】
前記試験の合否を表示する通信端末をさらに備え、前記試験合否判定手段は前記試験の合否を無線で前記通信端末に通知することを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載の光線路試験システム。
【請求項８】
前記光ネットワークは、前記近端側光通信装置が前記試験の合否を示す警告を前記遠端側光通信装置に転送し、前記遠端側光通信装置が前記警告に従って前記警告の内容を出力し、
前記試験合否判定手段は、前記警告を前記近端側光通信装置に送信し前記警告を前記遠端側光通信装置に転送させることを特徴とする請求項１から７のいずれかに記載の光線路試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光パルス測定器（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）を用いて光ファイバの光損失を測定する光線路試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＯＮＵ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）の直前に取付けられた反射器からの反射レベルを測定して、光パルス測定器で光ファイバ通信網の光ファイバの光損失を求める技術が開示されている（例えば、特許文献１を参照。）。
【０００３】
また、光パルス測定器でＯＮＵの直前に取付けられた反射器からの反射レベル及び反射位置の変化を測定し、光ファイバ通信網で発生した故障の切り分けを行う技術が開示されている（例えば、特許文献２を参照。）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２２２５７３号公報
【特許文献２】特開平４−２１１２０４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
光ファイバ通信網に複数のＯＮＵが接続されている場合、特許文献１又は２で開示される技術では、１回の試験用光パルスの出射で複数のＯＮＵからの複数の反射パルスが測定されるため、事前にどの反射パルスがどのＯＮＵに対応するか特定する必要があった。ここで、事前に反射パルスとＯＮＵとの対応を特定しておかないと、反射パルスの反射レベルが変動しても、どのＯＮＵまでの間で故障が発生したかを切り分けるのが難しいという問題があった。
【０００６】
ＯＬＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｌｉｎｅ  Ｔｅｒｍｉｎａｌ）からＯＮＵまでの距離を設計図面から求めることで、反射パルスとＯＮＵとの対応を特定することが可能である。しかし、作業者が設計図面からＯＬＴからＯＮＵまでの距離を求める方法では、設計図面の設計誤差に加え、クロージャー又はキャビネット内での光ファイバの接続余長があり、誤差が生じる場合がある。この誤差が生じることで、ＯＬＴから複数のＯＮＵまでの距離が近い場合、反射パルスとＯＮＵとの対応を正確に特定できない問題があった。
【０００７】
また、ＯＬＴとＯＮＵとを結ぶ光ファイバの長さを工事や点検の際、作業者がメジャー等の測定手段で測定し、ＯＬＴからＯＮＵまでの距離を求める方法がある。しかし、作業者が光ファイバの長さを実測することは大変な手間が掛かり、更に、光ファイバが配管内部に敷設されている場合、光ファイバの長さを測定することが非常に困難な問題があった。
【０００８】
本発明は、前記課題を解決するため、作業者がＯＬＴ等の近端側光通信装置からＯＮＵ等の遠端側光通信装置までの距離を設計図面から求めることなく或いは実測することなく、どの遠端側光通信装置に対応する試験用光パルス反射手段からの反射パルスであるかを特定可能な光線路試験システムを提供することを目的とする。さらに、本発明は、光損失を求めると共に、光線路の故障であるか或いは遠端側光通信装置の故障であるかを切り分け可能な光線路試験システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明に係る光線路試験システムは、Ｍ個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射レベルとＭ−１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射レベルとの差分を求め、差分の中で最も高い反射レベルとなる反射位置までの距離をＭ個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置の対応付けを行う試験合否判定手段を備えることを特徴とする。
【００１０】
具体的には、本発明に係る光線路試験システムは、近端側光通信装置、前記近端側光通信装置と通信するＮ個（但し、Ｎは正整数）の遠端側光通信装置、Ｎ以上に分岐する光分岐回路、前記近端側光通信装置と前記光分岐回路とを接続する第１光線路、前記光分岐回路と前記Ｎ個の遠端側光通信装置とをそれぞれ接続するＮ個の第２光線路、及び、前記Ｎ個の遠端側光通信装置と前記第２光線路との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システムであって、前記第１光線路に結合回路を介して接続され、前記遠端側光通信装置に向けて前記試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器と、前記光パルス測定器に前記試験用光パルスを出射させて前記光パルス測定器が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから前記結合回路と前記試験用光パルス反射手段との間の光損失を求め、前記光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段と、を備え、前記試験合否判定手段は、Ｍ個目（但し、ＭはＮ以下の正整数）の前記遠端側光通信装置が前記第２光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとＭ−１個目の前記遠端側光通信装置が前記第２光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、前記差分の中で最も高い反射レベルとなる前記反射位置までの距離を前記Ｍ個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置の対応付けを行うことを特徴とする。
【００１１】
前記差分は、Ｍ個目の前記遠端側光通信装置のみに対応する。これによって、前記差分からＭ個目の前記遠端側光通信装置までの距離を求めることができる。従って、上記の光線路試験システムは、前記反射位置の対応付けを行うことによって、作業者が前記近端側光通信装置から前記遠端側光通信装置まで距離を設計図面から求めることなく或いは実測することなく、どの遠端側光通信装置に対応する試験用光パルス反射手段からの反射パルスであるかを特定可能である。さらに、上記の光線路試験システムは、光損失を求めると共に、光線路の故障であるか或いは遠端側光通信装置の故障であるかを切り分け可能である。
【００１２】
上記目的を達成するために、本発明に係る光線路試験システムは、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段、及び、Ｍ個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射レベルとＭ−１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射レベルとの差分を求め、差分の中で最も高い反射レベルとなる反射位置までの距離をＭ個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置の対応付けを行う試験合否判定手段を備えることを特徴とする。
【００１３】
具体的には、本発明に係る光線路試験システムは、近端側光通信装置、前記近端側光通信装置と通信するＮ個（但し、Ｎは正整数）の遠端側光通信装置、Ｎ以上に分岐する光分岐回路、前記近端側光通信装置と前記光分岐回路とを接続する第１光線路、及び、前記光分岐回路と前記Ｎ個の遠端側光通信装置とをそれぞれ接続するＮ個の第２光線路、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システムであって、前記Ｎ個の遠端側光通信装置と前記第２光線路との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段と、前記第１光線路に結合回路を介して接続され、前記遠端側光通信装置に向けて前記試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器と、前記光パルス測定器に前記試験用光パルスを出射させて前記光パルス測定器が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから前記結合回路と前記試験用光パルス反射手段との間の光損失を求め、前記光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段と、を備え、前記試験合否判定手段は、Ｍ個目（但し、ＭはＮ以下の正整数）の前記遠端側光通信装置が前記第２光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとＭ−１個目の前記遠端側光通信装置が前記第２光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、前記差分の中で最も高い反射レベルとなる前記反射位置までの距離を前記Ｍ個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置の対応付けを行うことを特徴とする。
【００１４】
前記差分は、Ｍ個目の前記遠端側光通信装置のみに対応する。これによって、前記差分からＭ個目の前記遠端側光通信装置までの距離を求めることができる。従って、上記の光線路試験システムは、前記反射位置の対応付けを行うことによって、作業者が前記近端側光通信装置から前記遠端側光通信装置まで距離を設計図面から求めることなく或いは実測することなく、どの遠端側光通信装置に対応する試験用光パルス反射手段からの反射パルスであるかを特定可能である。さらに、上記の光線路試験システムは、光損失を求めると共に、光線路の故障であるか或いは遠端側光通信装置の故障であるかを切り分け可能である。
【００１５】
本発明に係る光線路試験システムでは、前記光ネットワークは、前記近端側光通信装置とＭ個目の前記遠端側光通信装置との間でリンクが確立されたときに、前記リンクが確立された旨のリンク情報を前記近端側光通信装置が前記試験合否判定手段に送信し、前記試験合否判定手段は、前記リンク情報を前記近端側光通信装置から受信した後に前記反射位置の対応付けを行うことが好ましい。
【００１６】
上記の光線路試験システムは、前記反射位置の対応付けを行う前にさらに前記遠端側光通信装置が前記第２光線路に接続されてしまうことで、前記反射位置の対応付けを行うことができない事態を減少させることができる。
【００１７】
本発明に係る光線路試験システムでは、前記試験合否判定手段は、前記光パルス測定器の内部で発生するノイズによる前記反射レベルが最も高くなるノイズレベルを求め、前記ノイズレベルを基準として前記反射位置の対応付けを行うことが好ましい。
【００１８】
上記の光線路試験システムは、前記ノイズに影響されず、前記反射位置の対応付けを正確に行うことができる。
【００１９】
本発明に係る光線路試験システムでは、前記試験合否判定手段は、前記光パルス測定器の測定する反射位置までの距離に対する後方散乱光の前記反射レベルが最も高くなる後方散乱光レベルを求め、前記後方散乱光レベルを基準として前記反射位置の対応付けを行うことが好ましい。
【００２０】
上記の光線路試験システムは、前記後方散乱光に影響されず、前記反射位置の対応付けを正確に行うことができる。
【００２１】
本発明に係る光線路試験システムでは、前記光ネットワークは、前記光パルス測定器と前記遠端側光通信装置との間に光コネクタが配置され、前記試験合否判定手段は、前記光コネクタで発生する前記反射レベルが最も高くなる光コネクタ反射レベルを求め、前記光コネクタ反射レベルが前記後方散乱光レベルよりも高い場合、前記光コネクタ反射レベルを基準として前記反射位置の対応付けを行うことが好ましい。
【００２２】
上記の光線路試験システムは、前記光コネクタで発生する前記反射レベルに影響されず、前記反射位置の対応付けをより正確に行うことができる。
【００２３】
本発明に係る光線路試験システムでは、前記試験の合否を表示する通信端末をさらに備え、前記試験合否判定手段は前記試験の合否を無線で前記通信端末に通知することが好ましい。
【００２４】
上記の光線路試験システムは、作業者の居場所に関わらず、前記通信端末を所持する作業者が試験の合否を知ることができ、利便性が良い。
【００２５】
本発明に係る光線路試験システムでは、前記光ネットワークは、前記近端側光通信装置が前記試験の合否を示す警告を前記遠端側光通信装置に転送し、前記遠端側光通信装置が前記警告に従って前記警告の内容を出力し、前記試験合否判定手段は、前記警告を前記近端側光通信装置に送信し前記警告を前記遠端側光通信装置に転送させることが好ましい。
【００２６】
上記の光線路試験システムは、前記遠端側光通信装置の近くにいる作業者に試験の合否を通知でき、利便性が良い。
【発明の効果】
【００２７】
本発明は、作業者がＯＬＴ等の近端側光通信装置からＯＮＵ等の遠端側光通信装置までの距離を設計図面から求めることなく或いは実測することなく、どの遠端側光通信装置に対応する試験用光パルス反射手段からの反射パルスであるかを特定可能な光線路試験システムを提供することができる。さらに、本発明は、光損失を求めると共に、光線路の故障であるか或いは遠端側光通信装置の故障であるかを切り分け可能な光線路試験システムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
添付の図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。以下に説明する実施の形態は本発明の構成の例であり、本発明は、以下の実施の形態に制限されるものではない。また、同一部材及び同一部位には同一符号を付した。
【００２９】
（第１実施形態）
図１に、第１実施形態に係る光線路試験システムの概略構成図を示した。第１実施形態に係る光線路試験システムは、近端側光通信装置１０、近端側光通信装置１０と通信する８個の遠端側光通信装置３０、８以上に分岐する光分岐回路２２、近端側光通信装置１０と光分岐回路２２とを接続する第１光線路２０、光分岐回路２２と８個の遠端側光通信装置３０とをそれぞれ接続する８個の第２光線路２４、及び、８個の遠端側光通信装置３０と第２光線路２４との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段６０、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システム１００であって、第１光線路２０に結合回路５２を介して接続され、遠端側光通信装置３０に向けて試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器５０と、光パルス測定器５０に試験用光パルスを出射させて光パルス測定器が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから結合回路５２と試験用光パルス反射手段６０との間の光損失を求め、光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段７０と、を備え、試験合否判定手段７０は、Ｍ個目（但し、Ｍは８以下の正整数）の遠端側光通信装置３０が第２光線路２４に接続されたときの反射位置までの距離に対する反射レベルとＭ−１個目の遠端側光通信装置３０が第２光線路２４に接続されたときの反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、差分の中で最も高い反射レベルとなる反射位置までの距離をＭ個目の遠端側光通信装置３０に対応させる反射位置の対応付けを行う。さらに、図１には、光スイッチ５４を示した。なお、図１では、３個目〜７個目までの遠端側光通信装置及び第２光線路を省略している。
【００３０】
近端側光通信装置１０としては、例えば、ＯＬＴがある。また、第１光線路２０としては、芯線が１本の単芯光ファイバがある。また、光分岐回路２２としては、例えば、光スプリッタがある。
【００３１】
第２光線路２４としては、例えば、光ファイバがある。ここで、第２光線路２４は、例えば、光分岐回路２２からの引き込み区間（ドロップ区間）となっている。また、遠端側光通信装置３０としては、例えば、ＯＮＵがある。さらに、試験用光パルス反射手段６０としては、例えば、試験用光パルスを反射し、信号光を透過する光フィルタがある。図２に、試験用光パルス反射手段６０を遠端側光通信装置３０と第２光線路２４との間に挿入する形態を示した。図１の光線路試験システム１００では、図２（ａ）に示すように、試験用光パルス反射手段６０は、遠端側光通信装置３０の外部に配置されている。ここで、図２（ｂ）に示すように、試験用光パルス反射手段６０は、遠端側光通信装置３０の内部に配置することが好ましい。これによって、遠端側光通信装置３０が第２光線路２４に接続されたとき、試験用光パルス反射手段６０の設置する時間を要することなく速やかに試験を行うことが可能となる。
【００３２】
図１の結合回路５２は、試験を行う光ファイバの芯線を選択する光スイッチ５４と接続される。図１には図示していないが、光スイッチ５４は、例えば、複数の結合回路と接続されている。光パルス測定器５０は、例えば、光スイッチ５４に光ファイバを介して接続される。試験合否判定手段７０は、例えば、近端側光通信装置１０、光パルス測定器５０及び光スイッチ５４に接続される。
【００３３】
図３に、第１実施形態における試験合否判定手段のブロック図を示した。試験合否判定手段７０は、例えば、ＣＰＵ７１、ＯＬＴインターフェース７２、光スイッチインターフェース７３、光パルス測定器インターフェース７４及び記憶部７５を有する。ＣＰＵ７１は、例えば、ＯＬＴインターフェース７２、光スイッチインターフェース７３、光パルス測定器インターフェース７４及び記憶部７５の制御並びに試験の合否の判定に必要な演算を行う。ＯＬＴインターフェース７２は、例えば、電気ケーブル等の電気的接続手段を介してＯＬＴ等の近端側光通信装置に接続するための端子である。光スイッチインターフェース７３は、例えば、電気的接続手段を介して光スイッチに接続するための端子である。光パルス測定器インターフェース７４は、例えば、電気的接続手段を介して光パルス測定器に接続するための端子である。これによって、図１の試験合否判定手段７０は、近端側光通信装置１０からの信号を受信し、光パルス測定器５０及び光スイッチ５４の制御が可能となる。
【００３４】
図３の記憶部７５は、例えば、ＯＮＵ記憶部７５ａ、測定条件記憶部７５ｂ、測定結果記憶部７５ｃ、ノイズレベル記憶部７５ｄ、後方散乱光レベル記憶部７５ｅ及び光コネクタ反射レベル記憶部７５ｆを有する。ＯＮＵ記憶部７５ａは、例えば、第２光線路２４に接続されたＯＮＵ等の遠端側光通信装置の個数を記憶する。測定条件記憶部７５ｂは、例えば、試験用光パルスの出力レベル、波長及びパルス幅、測定距離レンジ、サンプリングレート並びに平均化回数等の測定条件並びに試験の合否の基準となる規定値を記憶する。測定条件記憶部７５ｂが記憶した測定条件を読み込こむことで、同一の測定条件での試験が可能となる。測定結果記憶部７５ｃは、例えば、光パルス測定器が測定した反射レベル、光パルス測定器が測定した反射位置までの距離、光パルス測定器が測定した反射波形、及び、試験合否判定手段７０が行う反射位置の対応付けを記憶する。ノイズレベル記憶部７５ｄは、例えば、ノイズレベルを記憶する。後方散乱光レベル記憶部７５ｅは、例えば、後方散乱光レベルを記憶する。光コネクタ反射レベル記憶部７５ｆは、例えば、光コネクタ反射レベルを記憶する。なお、ノイズレベル、後方散乱光レベル及び光コネクタ反射レベルの詳細については、後述する。
【００３５】
図１の一点鎖線で囲われた部分、すなわち、２個目の遠端側光通信装置３０ａを第２光線路２４ａに接続する場合を例として、遠端側光通信装置３０の接続作業の手順について説明する。図４に、遠端側光通信装置を光分岐手段に接続する作業のフローチャートを示した。まず、作業者は、図１の第２光線路２４ａの配線工事を実施する（図４のＳ１０１を参照。）。次に、作業者は、試験用光パルス反射手段６０ａを第２光線路２４ａの端に取り付ける（図４のＳ１０２を参照。）。作業者は、試験用光パルス反射手段６０ａが取付けられた第２光線路２４ａの端を遠端側光通信装置３０ａに接続し、遠端側光通信装置３０ａの電源を投入する（図４のＳ１０３を参照。）。作業者は、遠端側光通信装置３０ａと近端側光通信装置１０とのリンクを開始させる。このとき、遠端側光通信装置３０ａが接続されたらリンクを確立できるように、近端側光通信装置１０の設定を事前に行っておくことが好ましい。第１実施形態に係る光線路試験システムでは、光ネットワークは、近端側光通信装置１０と２個目の遠端側光通信装置３０との間でリンクが確立されたときに（図４のＳ１０４を参照。）、リンクが確立された旨のリンク情報を近端側光通信装置１０が試験合否判定手段７０に送信し（図４のＳ１０５を参照。）、試験合否判定手段７０は、リンク情報を近端側光通信装置１０から受信した後、すみやかに反射位置の対応付けを行うことが好ましい（図４のＳ１０６を参照。）。これによって、第１実施形態に係る光線路試験システムは、遠端側光通信装置３０ａを接続した後、反射位置の対応付けを行う前にさらに遠端側光通信装置３０が第２光線路２４に接続されてしまうことで、反射位置の対応付けを行うことができない事態を減少させることができる。また、反射位置の対応付けの詳細については、後述する。このとき、同時に２以上の遠端側光通信装置３０を第２光線路２４に接続しないように、遠端側光通信装置３０の接続作業のスケジュールの調整を必要とする場合がある。なお、図４は遠端側光通信装置の接続作業の手順の一例であり、図４に示す手順に限定されない。
【００３６】
試験合否判定手段の動作について説明する。図５に、試験合否判定手段の処理のフローチャートを示した。まず、試験合否判定手段は、試験を行う芯線を光スイッチに選択させる（図５のＳ２０１を参照。）。次に、試験合否判定手段は、１個目の遠端側光通信装置が接続されたか判定する（図５のＳ２０２を参照。）。ここで、第２光線路に既に接続されている遠端側光通信装置の個数は、図３のＯＮＵ記憶部７５ａから読み込むか、作業者が予め試験合否判定手段に登録するか、或いは、設備データベース（図１及び図３には図示していない。）から取得する。図５に示すように、試験合否判定手段は、１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続された場合と２個目以降の遠端側光通信装置が第２光線路に接続された場合とで、動作が異なる。まず、１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続された場合の試験合否判定手段の動作について説明する。
【００３７】
試験合否判定手段は、測定条件を設定し、設定した測定条件を記憶する（図５のＳ２０３を参照。）。設定した測定条件の下、試験合否判定手段は、光パルス測定器に試験用光パルスを出射させ、光パルス測定器が測定する反射レベルを記憶する（図５のＳ２０４を参照。）。試験合否判定手段は、反射レベルから反射位置の対応付けを行い、この反射位置の対応付けを記憶する（図５のＳ２０５を参照。）。図６に、１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続された場合の反射波形を示した。このとき、試験合否判定手段は、反射パルスαの中で最も高い反射レベルａとなる反射位置までの距離ｂを１個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置の対応付けを行うことが好ましい。光ネットワークには、１個の試験用光パルス反射手段しか取付けられておらず、１個目の遠端側光通信装置に対応する反射パルスαが測定されるためである。試験合否判定手段は、反射位置までの距離に対する反射レベルから光損失を算出し、光損失と予め定められた規定値とを比較して試験の合否を判定する（図５のＳ２０６を参照。）。
【００３８】
次に、２個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続された場合の試験合否判定手段の動作について説明する。図５のＳ２０１及びＳ２０２は、上記と同様である。試験合否判定手段は、記憶されている測定条件を読み込む（図５のＳ２０７を参照。）。読み込まれている測定条件の下、試験合否判定手段は、光パルス測定器に試験用光パルスを出射させ、光パルス測定器が測定する反射レベルを記憶する（図５のＳ２０８を参照。）。試験合否判定手段は、差分から反射位置の対応付けを行い、この反射位置の対応付けを記憶する（図５のＳ２０９を参照。）。図７に、２個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続された場合の反射波形を示した。光ネットワークには２個の試験用光パルス反射手段が取り付けられているため、図７に示すように２個の遠端側光通信装置に対応する反射パルスα，βが測定される。ここで、１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射レベルと２個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射レベルとの差分を求める。図８に、図６の反射波形と図７の反射波形の差分波形を示した。試験合否判定手段は、差分の中で最も高い反射レベルｃとなる反射位置までの距離ｄを２個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置として対応付けを行う。すなわち、図７で、距離ｄとなる反射パルスβが２個目の遠端側光通信装置として対応付けを行う。試験合否判定手段は、反射パルスβと反射位置までの距離ｄから光損失を算出し、光損失と予め定められた規定値とを比較して試験の合否を判定する（図５のＳ２０６を参照。）。従って、第１実施形態に係る光線路試験システムは、反射位置の対応付けを行うことによって、作業者が近端側光通信装置から遠端側光通信装置まで距離を設計図面から求めることなく或いは実測することなく、どの遠端側光通信装置に対応する試験用光パルス反射手段からの反射パルスであるかを特定可能である。
【００３９】
さらに、３個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときは、試験合否判定手段は、２個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射レベルと３個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射レベルとの差分から反射位置の対応付けを行う。
【００４０】
また、図５のフローチャートは、遠端側光通信装置の接続時の処理である。ここで、故障が発生した際、予め、試験合否判定手段に記憶されている反射レベルと故障発生時に測定した反射レベルの測定結果とを比較することで、どの遠端側光通信装置との間で故障が発生したかを特定可能である。さらに、第１実施形態に係る光線路試験システムは、光損失を求めると共に、試験用光パルス反射手段からの反射光が測定されなければ光線路の故障とし、或いは、試験用光パルス反射手段からの反射光が測定されれば遠端側光通信装置の故障とする故障の切り分けが可能である。なお、図５は試験合否判定手段の動作の一例であり、図５に示す手順に限定されない。
【００４１】
光パルス測定器の内部で発生するノイズの影響について、図９を用いて説明する。図９に、光パルス測定器の内部で発生するノイズｘと２個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形とを重ねて示した。図９の破線で示すように、反射パルスα，βにノイズｘが重なっている。この場合、差分波形を求めると、図８に示すように、反射パルスγが凹凸の激しいギザギザ状となってしまう。図１０に、光パルス測定器の内部で発生するノイズｘ及びノイズレベルｅを示した。第１実施形態に係る光線路試験システムでは、試験合否判定手段は、光パルス測定器の内部で発生するノイズによる反射レベルが最も高くなるノイズレベルｅを求め、ノイズレベルｅを基準として反射位置の対応付けを行うことが好ましい。図１１に、ノイズレベルｅを基準とした場合の１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形を示した。また、図１２に、ノイズレベルｅを基準とした場合の２個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形を示した。ノイズレベルｅを基準としているため、図１１及び図１２に示すように、ノイズに影響されない。図１３に、図１１の反射波形と図１２の反射波形との差分波形を示した。図１１及び図１２のようにノイズに影響されないことで、図１３の反射パルスβは、ギザギザ状とならず、２個目の遠端側光通信装置に対応する反射パルス（図１２の反射パルスβを参照。）と略等しくなる。これによって、第１実施形態に係る光線路試験システムは、ノイズに影響されず、反射位置の対応付けを正確に行うことができる。
【００４２】
第１光線路及び第２光線路では、試験の際に光線路内で後方散乱光が反射波形とともに測定される場合がある。図１４に、ノイズｘ及び後方散乱光ｙが測定される場合の１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形を示した。ここで、反射パルスδが遠端側光通信装置に対応する反射パルスである。図１４に示すように、ノイズレベルｅより、後方散乱光レベルｆの方が高くなる。また、後方散乱光ｙとノイズｘとが重なる場合、ノイズレベルｅが変化し、試験合否判定手段が誤ってノイズを反射位置と対応付けてしまうことがある。第１実施形態に係る光線路試験システムでは、試験合否判定手段は、光パルス測定器の測定する反射位置までの距離に対する後方散乱光ｙの反射レベルが最も高くなる後方散乱光レベルｆを求め、後方散乱光レベルｆを基準として反射位置の対応付けを行うことが好ましい。これによって、第１実施形態に係る光線路試験システムは、後方散乱光に影響されず、反射位置の対応付けを正確に行うことができる。
【００４３】
後方散乱光レベルｆは、光パルス測定器の出荷時に工場等でダミーファイバを用いて後方散乱光レベルｆを算出しても良い。もしくは、光パルス測定器がダミーファイバを内部に備えて後方散乱光レベルｆを随時測定可能としても良い。なお、後方散乱光と重なるノイズ幅は、平均化回数と相関し、これを考慮すると、反射位置の対応付けがさらに正確になる。
【００４４】
光パルス測定器と遠端側光通信装置との間に光コネクタが配置されている場合、光コネクタで発生する反射パルスが後方散乱光に重なって測定される場合がある。図１５に、ノイズｘ、後方散乱光ｙ及び光コネクタで発生する反射パルスｚが測定される場合の１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形を示した。ここで、光コネクタで発生する反射パルスｚが光コネクタの温度変化又は経年劣化によって変化した場合、光コネクタで発生する反射パルスｚを測定してしまうことがある。第１実施形態に係る光線路試験システムでは、光ネットワークは、光パルス測定器と遠端側光通信装置との間に光コネクタが配置され、試験合否判定手段は、光コネクタで発生する反射レベルｚが最も高くなる光コネクタ反射レベルｇを求め、光コネクタ反射レベルｇが後方散乱光レベルｆよりも高い場合、光コネクタ反射レベルｇを基準として反射位置の対応付けを行うことが好ましい。これによって、第１実施形態に係る光線路試験システムは、光コネクタで発生する反射レベルに影響されず、反射位置の対応付けを正確に行うことができる。
【００４５】
基準となる光コネクタの反射レベルとして、例えば、光コネクタの代表的な反射減衰量である４０ｄＢから求めれば、試験合否判定手段が誤った反射位置の対応付けを行うといった問題が発生することはない。ただし、光コネクタによって代表的な反射減衰量が異なる為、光コネクタの反射レベルを求める方法としては、該当する光線路に使われる光コネクタの種別と、光コネクタの種別毎に有する工事規格値から基準となる光コネクタの反射レベルを用いれば良い。なお、光コネクタが外部要因で劣化することによって反射減衰量が、例えば、２０ｄＢに悪化した場合、光コネクタでの反射レベルが光コネクタ反射レベルｇを超え、かつ、反射パルスδをも超えた場合、試験合否判定手段が故障と判断する。第１実施形態に係る光線路試験システムは、光線路の故障の検出が目的であるため、光コネクタの故障を検出しても運用上問題ない。
【００４６】
（第２実施形態）
第２実施形態に係る光線路試験システムについて、第１実施形態に係る光線路試験システムと異なる点を中心に説明する。図１６に、第２実施形態に係る光線路試験システムの概略構成図を示した。第２実施形態に係る光線路試験システムは、近端側光通信装置１０、近端側光通信装置１０と通信する８個の遠端側光通信装置３０、８以上に分岐する光分岐回路２２、近端側光通信装置１０と光分岐回路２２とを接続する第１光線路２０、及び、光分岐回路２２と８個の遠端側光通信装置３０とをそれぞれ接続する８個の第２光線路２４、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システム１０１であって、８個の遠端側光通信装置３０と第２光線路２４との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段６０と、第１光線路２０に結合回路５２を介して接続され、遠端側光通信装置３０に向けて試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器５０と、光パルス測定器５０に試験用光パルスを出射させて光パルス測定器５０が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから結合回路５２と試験用光パルス反射手段６０との間の光損失を求め、光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段７０と、を備え、試験合否判定手段７０は、Ｍ個目（但し、Ｍは８以下の正整数）の遠端側光通信装置３０が第２光線路２４に接続されたときの反射位置までの距離に対する反射レベルとＭ−１個目の遠端側光通信装置３０が第２光線路２４に接続されたときの反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、差分の中で最も高い反射レベルとなる反射位置までの距離をＭ個目の遠端側光通信装置３０に対応させる反射位置の対応付けを行う。なお、図１６では、３個目〜７個目までの遠端側光通信装置及び第２光線路を省略し、無線通信手段８０及び通信端末９０を示した。無線通信手段８０は、例えば、無線で通信する機能を有する。
【００４７】
図１７に、第２実施形態における試験合否判定手段のブロック図を示した。試験合否判定手段７０は、無線インターフェース７６を介して無線通信手段８０が接続される。
【００４８】
図１６の通信端末９０は、無線で通信する機能を有する端末であり、例えば、携帯電話、ＰＨＳ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｈａｎｄｙ−ｐｈｏｎｅ  Ｓｙｓｔｅｍ）、ＰＤＡ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ａｓｓｉｓｔａｎｔｓ）及び無線通信機能を備えたノート型パソコンである。第２実施形態に係る光線路試験システムでは、試験の合否を表示する通信端末９０をさらに備え、試験合否判定手段７０は試験の合否を無線で通信端末９０に通知することが好ましい。第２実施形態に係る光線路試験システムは、作業者の居場所に関わらず、通信端末を所持する作業者に試験の合否を通知でき、利便性が良い。
【００４９】
以上のように、第２実施形態係る光線路試験システムは、第１実施形態に係る光線路試験システムと同様に、反射位置の対応付けを行うことによって、作業者が近端側光通信装置から遠端側光通信装置まで距離を設計図面から求めることなく或いは実測することなく、どの遠端側光通信装置に対応する試験用光パルス反射手段からの反射パルスであるかを特定可能である。さらに、第２実施形態に係る光線路試験システムは、第１実施形態に係る光線路試験システムと同様に、光損失を求めると共に、光線路の故障であるか或いは遠端側光通信装置の故障であるかを切り分け可能である。
【００５０】
（第３実施形態）
第３実施形態に係る光線路試験システムについて、第２実施形態に係る光線路試験システムと異なる点を中心に説明する。第３実施形態に係る光線路試験システムでは、図１６の通信端末９０の代わりに、光ネットワークは、近端側光通信装置１０が試験の合否を示す警告を遠端側光通信装置３０に転送し、遠端側光通信装置３０が警告に従って警告の内容を出力し、試験合否判定手段７０は、警告を近端側光通信装置１０に送信し警告を遠端側光通信装置３０に転送させても良い。遠端側光通信装置３０が備える警告を出力する手段としては、例えば、アラームランプ、アラーム音又は音声を出力するスピーカー、警告文を出力するディスプレイがある。第３実施形態に係る光線路試験システムは、遠端側光通信装置１０の近くにいる作業者に試験の合否を通知でき、利便性が良い。
【００５１】
以上のように、第３実施形態に係る光線路試験システムは、第２実施形態に係る光線路試験システムと同様に効果に加え、既存の光ネットワークを利用して警告を転送できるので低コストである。
【産業上の利用可能性】
【００５２】
本発明に係る光通信システムは、ＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）をはじめとする光ネットワークで利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】第１実施形態に係る光線路試験システムの概略構成図である。
【図２】試験用光パルス反射手段を遠端側光通信装置と第２光線路との間に挿入する形態を示す概念図である。
【図３】試験合否判定手段のブロック図である。
【図４】遠端側光通信装置を光分岐手段に接続する作業のフローチャートである。
【図５】試験合否判定手段の処理のフローチャートである。
【図６】１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続された場合の反射波形を示す概念図である。
【図７】２個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続された場合の反射波形を示す概念図である。
【図８】図６の反射波形と図７の反射波形との差分波形を示す概念図である。
【図９】パルス測定器の内部で発生するノイズと２個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形とを重ねた概念図である。
【図１０】光パルス測定器の内部で発生するノイズ及びノイズレベルを示す概念図である。
【図１１】ノイズレベルを基準とした場合の１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形を示す概念図である。
【図１２】ノイズレベルを基準とした場合の２個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形を示す図である。
【図１３】図１１の反射波形と図１２の反射波形との差分波形を示す図である。
【図１４】ノイズ及び後方散乱光が測定される場合の１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形を示す図である。
【図１５】ノイズ、後方散乱光及び光コネクタで発生する反射波形が測定される場合の１個目の遠端側光通信装置が第２光線路に接続されたときの反射波形を示す図である。
【図１６】第２実施形態に係る光線路試験システムの概略構成図である。
【図１７】第２実施形態における試験合否判定手段のブロック図である。
【符号の説明】
【００５４】
１００、１０１  光線路試験システム
１０  近端側光通信装置 
２０  第１光線路
２２  光分岐回路
２４、２４ａ  第２光線路
３０、３０ａ  遠端側光通信装置 
５０  光パルス測定器
５２  結合回路
５４  光スイッチ
６０、６０ａ  試験用光パルス反射手段
７０  試験合否判定手段
７１  ＣＰＵ
７２  ＯＬＴインターフェース
７３  光スイッチインターフェース
７４  光パルス測定器インターフェース
７５  記憶部
７５ａ  ＯＮＵ記憶部
７５ｂ  測定条件記憶部
７５ｃ  測定結果記憶部
７５ｄ  ノイズレベル記憶部
７５ｅ  後方散乱光レベル記憶部
７５ｆ  光コネクタ反射レベル記憶部
７６  無線インターフェース
８０  無線通信手段
９０  通信端末
ａ、ｃ  反射レベルの最高値
ｂ、ｄ  反射位置からの距離
ｅ  ノイズレベル
ｆ  後方散乱光レベル
ｇ  光コネクタ反射レベル
ｘ  ノイズ
ｙ  後方散乱光
ｚ  光コネクタで発生する反射パルス
α、β、γ、δ  反射パルス
【図１】
2008107106.tif 000003
【図２】
2008107106.tif 000004
【図３】
2008107106.tif 000005
【図４】
2008107106.tif 000006
【図５】
2008107106.tif 000007
【図６】
2008107106.tif 000008
【図７】
2008107106.tif 000009
【図８】
2008107106.tif 000010
【図９】
2008107106.tif 000011
【図１０】
2008107106.tif 000012
【図１１】
2008107106.tif 000013
【図１２】
2008107106.tif 000014
【図１３】
2008107106.tif 000015
【図１４】
2008107106.tif 000016
【図１５】
2008107106.tif 000017
【図１６】
2008107106.tif 000018
【図１７】
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