(57)【要約】【課題】  従来のバウンダリスキャンの利用では、シリアルバス接続によるデイジーチェーン構成としており、転送速度が遅く、プロセッサやＬＳＩの動作とは別クロックで動作するため、稼動状態での誤動作・故障の検出が難しい。【解決手段】  本発明は、複数のプロセッサと各種ＬＳＩが搭載されたプリント基板において、前記ＬＳＩの動作状態を取得する手段と、この取得結果を記憶する手段とを有する診断制御部を設ける。また、その取得結果とプロセッサの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段を設けた上で、該データを同一時間字軸で時系列に管理、保存する手段を設け、プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩで取得した結果を元に運用状態における故障要因、部位の特定を行う解析手段を設けて動的基板診断方式を実現する。【選択図】図１
2008096325.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のプロセッサと各種ＬＳＩが搭載されたプリント基板であって、
前記ＬＳＩの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段とを有する診断制御部を設け、その結果とプロセッサの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段を設け、該データを同一時間字軸で時系列に管理、保存する手段を設け、プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩで取得した結果を元に運用状態における故障要因、部位の特定を行う解析手段を設けたことを特徴としたプリント基板。
【請求項２】
複数のプロセッサと各種ＬＳＩが搭載されたプリント基板であって、
前記ＬＳＩに入出力信号をサンプリングする手段と、該サンプリング結果を記憶する手段とを有する診断制御部を設け、その結果とプロセッサの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段を設け、該データを同一時間字軸で時系列に管理、保存する手段を設け、プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩで取得した結果を元に運用状態における故障要因、部位の特定を行う解析手段を設けたことを特徴としたプリント基板。
【請求項３】
複数のプロセッサと各種ＬＳＩが搭載されたプリント基板であって、
前記ＬＳＩに入出力信号をサンプリングする手段と、該サンプリング結果を時間方向に論理演算手段にから一意な固有値を生成する手段と、該サンプリング結果や前記固有値を記憶する手段とを有する診断制御部を設け、その結果とプロセッサの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段を設け、該データを同一時間字軸で時系列に管理、保存する手段を設け、プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩで取得した結果を元に運用状態における故障要因、部位の特定を行う解析手段を設けたことを特徴としたプリント基板。
【請求項４】
複数のプロセッサと各種ＬＳＩが搭載されたプリント基板であって、
前記ＬＳＩに入出力信号をサンプリングする手段と、該サンプリング結果と乱数とを論理演算し固有値を生成する手段と、該サンプリング結果や前記固有値を記憶する手段とを有する診断制御部を設け、その結果とプロセッサの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段を設け、該データを同一時間字軸で時系列に管理、保存する手段を設け、プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩで取得した結果を元に運用状態における故障要因、部位の特定を行う解析手段を設けたことを特徴としたプリント基板。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれかのプリント基板であって、
さらに、プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩの動作状態の取得と、該取得結果データを同一時間軸で時系列的に管理、保存する手段を設けた診断処理ＬＳＩを設けたことを特徴としたプリント基板。
【請求項６】
請求項５記載のプリント基板であって、
運用状態における故障要因、部位の特定を行う解析手段を前記診断処理ＬＳＩに設けたことを特徴としたプリント基板。
【請求項７】
請求項６記載のプリント基板であって、
前記診断処理ＬＳＩを故障診断対象となる基板とは別基板もしくは別システムとしたことを特徴とするプリント基板。
【請求項８】
請求項７記載のプリント基板であって、
前記プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩの動作状態を専用バス接続で取得する手段を設けたことを特徴としたプリント基板。
【請求項９】
請求項８記載のプリント基板であって、
前記専用バスをシリアルバスもしくはバウンダリスキャンバスを使用した構成とし、シリアルバスでの動作状態取得タイミングを制御する手段を設けたことを特徴としたプリント基板。
【請求項１０】
請求項９記載のプリント基板であって、
前記プロセッサや前記ＬＳＩからの全取得データを時系列に検索可能なデータとして保存する手段と、前記データを元に時系列に診断結果を表示する手段を設けたことを特徴としたプリント基板。
【請求項１１】
動的基板診断システムであって、
請求項１乃至１０のいずれかに記載のプリント基板を用いて動的に基板を診断することを特徴とする動的基板診断システム。
【請求項１２】
請求項５乃至１０のいずれかに記載した基板を搭載したことを特徴とする製造装置。
【請求項１３】
請求項５乃至１０のいずれかに記載した基板を搭載したことを特徴とする自動車。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、車載制御基板、エレベータ制御基板、検査装置制御基板、これらを組み込みシステムの基板診断方式及びシステムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年の電子機器の高機能化により回路基板に複数のＬＳＩやプロセッサ（マイコン）が高密度に実装される一方で、搭載される半導体集積回路等、電子部品の低電圧・高速化により回路基板における誤動作・故障が問題となっている。高密度化においては、特にＢＧＡ（Ｂａｌｌ  Ｇｒｉｄ  Ａｒｒａｙ）に代表される接続部をパッケージ基板下面に持つデバイスの登場により、視覚での故障検出及び外部からプローブを接触させての故障検出・評価が困難になっている。また、プロセッサやＳｏＣ、ＦＰＧＡ等の高機能なＬＳＩが複数搭載された基板が増加していることから、部品故障、配線故障による不具合の要因を現象から特定することが困難になっている。その上、動作速度も高速化しており、ＬＳＩやプロセッサ間での信号受け渡しのマージン不良による間欠的な不具合の発生頻度が増えている。特にマージン不良等の間欠的な不具合・故障に関しては、動作環境の影響を受けることが多く、不具合発生基板を運用している装置から外して詳細な故障解析を行おうとしても、不具合を再現できないことが多くなっている。そのため、本質的な故障・不具合要因を特定することができず対策、保守工数の増大を招いている。
【０００３】
従来、回路基板の故障診断・検査においては、ＩＥＥＥ規格１１４９．１によるディジタル・バウンダリスキャンテストがある。これは、内部ロジックと各信号ピンとの間にセルと呼ばれるシフトレジスタを配置し、ここを通過する信号を監視したり、任意のデータを入力したりする。つまり、セルが従来のインサーキットテストにおけるテストプローブと等価の働きをする。さらに命令を受け取るインストラクションレジスタ、入力されたデータを最短経路で出力するためのバイパスレジスタ、バウンダリスキャンセルを制御するＴＡＰコントローラ（Ｔｅｓｔ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｐｏｒｔ）を内蔵する。これによって、ＴＤＩ（Ｔｅｓｔ  Ｄａｔａ  Ｉｎ）、ＴＭＳ（Ｔｅｓｔ  Ｍｏｄｅ  Ｓｅｌｅｃｔ）、ＴＣＫ（Ｔｅｓｔ  Ｃｌｏｃｋ）、ＴＤＯ（Ｔｅｓｔ  Ｄａｔａ  Ｏｕｔ）、ＴＲＳＴ（Ｔｅｓｔ  Ｒｅｓｅｔ）の少ない種類の信号で外部回路との相互接続テストなどを通して、プリント回路基板上におけるＬＳＩ間の配線接続を検査・診断する。
また、前記バウンダリスキャンを利用して、ＬＳＩやプロセッサの入出力ピンの動作状態をリアルタイムで表示する診断・解析方法も提案されている。
【０００４】
【特許文献１】特開平５−９９９８０号公報
【特許文献２】特開２００５−２１４９５７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来のバウンダリスキャンの利用では、装置における回路基板の接続診断を少ない信号で実現することを主目的としていることから、シリアルバス接続によるデイジーチェーン構成としており、転送速度が遅く、プロセッサやＬＳＩの動作とは別クロックで動作するため、稼動状態での誤動作・故障の検出が難しい。また、回路基板上にプロセッサを搭載し、この間で互いに協調して動作する場合、各プロセッサ個別に異常がなくても協調制御が正常であるか否かの診断が困難である。
【０００６】
また、自動車に搭載される車載用制御基板に関しては、走行中に発生した故障・不具合箇所の特定が困難であり、評価・解析時に走行環境を再現することも難しい。エレベータ等の昇降機に関しても、全体制御基板やかご制御基板等の複数基板、プロセッサ、ＬＳＩ間での連携制御時の不具合箇所の特定が困難である。また、評価・解析のために顧客エレベータを長時間止めることが難しいため、運用環境での原因特定が困難である。
【０００７】
本発明は、上記課題を解決し、複数のプロセッサやロジックＬＳＩ等が搭載されている制御基板を動作状態でリアルタイムで故障検出、診断、解析を行うことを特徴とした基板診断を実現する車載制御基板、エレベータ制御基板、検査装置制御基板、及びこれらの組み込みシステムの基板診断方式を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば次のとおりである。
（１）複数のプロセッサと各種ＬＳＩが搭載されたプリント基板であって、
前記ＬＳＩの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段とを有する診断制御部を設け、その結果とプロセッサの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段を設け、該データを同一時間字軸で時系列に管理、保存する手段を設け、プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩで取得した結果を元に運用状態における故障要因、部位の特定を行う解析手段を設けたことを特徴としたプリント基板である。
（２）複数のプロセッサと各種ＬＳＩが搭載されたプリント基板であって、
前記ＬＳＩに入出力信号をサンプリングする手段と、該サンプリング結果を記憶する手段とを有する診断制御部を設け、その結果とプロセッサの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段を設け、該データを同一時間字軸で時系列に管理、保存する手段を設け、プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩで取得した結果を元に運用状態における故障要因、部位の特定を行う解析手段を設けたことを特徴としたプリント基板である。
【０００９】
本発明は、複数のプロセッサと各種ＬＳＩが搭載されたプリント基板において、前記ＬＳＩの動作状態を取得する手段と、この取得結果を記憶する手段とを有する診断制御部を設ける。また、その取得結果とプロセッサの動作状態を取得する手段と、該取得結果を記憶する手段を設けた上で、該データを同一時間字軸で時系列に管理、保存する手段を設け、プロセッサの動作状態と前記ＬＳＩで取得した結果を元に運用状態における故障要因、部位の特定を行う解析手段を設けて動的基板診断方式を実現する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、上記課題を解決し、複数のプロセッサやロジックＬＳＩ等が搭載されている制御基板を動作状態でリアルタイムで故障検出、診断、解析を行うことを特徴とした基板診断を実現する車載制御基板、エレベータ制御基板、検査装置制御基板、及びこれらの組み込みシステムの基板診断方式を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について、実施例を用い、図を参照して説明する。
実施例として、車載制御基板、エレベータ制御基板、検査装置制御基板などの組み込みシステムの制御基板を例にとり説明する。図１は本発明の基板診断方式の一実施例である構成を示したものである。
【００１２】
各種装置、組込み機器、自動車等に一般的に用いられるプリント基板１８上に、所望の機能を実現するための主要部品である、ロジックＬＳＩ１３、１４、１５とプロセッサ１６，１７が搭載されている基板において、各ロジックＬＳＩ（１３，１４，１５）内に動作状態や入出力信号を診断用データとして取得し、この取得した診断用データの入出力制御を行う診断制御部１１を設け、プロセッサ１６，１７に動作状態や主要レジスタ内容、エラー割込み情報等を診断データとして取得し、この結果の入出力制御を行うテスト制御部１２を設ける。さらに、各ロジックＬＳＩ１３，１４，１５、プロセッサ１６，１７からの診断用データの統合的な制御・管理を行う診断処理部１０を設ける。診断処理部１０は、前記ロジックＬＳＩ、プロセッサからの診断用データを収集する診断バス制御部２４と、その結果を保存する結果格納部２５と、故障部位の特定、要因の解析を行う故障解析部１９とのＩ／Ｆ制御を行う結果出力部２６と、前記ロジックＬＳＩやプロセッサの診断制御部１１、テスト制御部１２のデータ取得や入出力タイミング等、動作タイミングを制御する診断タイミング制御部２３で構成する。本実施例では、前記ロジックＬＳＩとプロセッサの診断制御部１１とテスト制御部１２への診断制御用動作クロックを診断処理部１０から出力し、前記ロジックＬＳＩ、プロセッサ間における統一的な動作タイミングでの診断制御を行う。
【００１３】
図２に診断処理部１０の詳細構成を示す。診断処理部１０は、外部よりクロック信号４１を入力し、そのクロックを元に診断タイミング制御部２３が、診断制御タイミングを生成し、ロジックＬＳＩ１３，１４，１５やプロセッサ１６，１７の診断制御部１１、テスト制御部１２の動作タイミング信号３１を出力する。診断バス制御部２４は、診断指示や診断結果データを転送するための診断バス３２により、診断タイミング制御部からの動作タイミング４３を元に前記ロジックＬＳＩやプロセッサからの診断データの取得指示を送信し、診断結果データを収集する。この取得指示は、前記ロジックＬＳＩやプロセッサでの動作状態サンプリングタイミングを考慮して出力する。収集した診断結果データは、診断結果格納部２５に保存する。その際、前記ロジックＬＳＩやプロセッサの動作状態取得指示タイミングの履歴と前記各ロジックＬＳＩやプロセッサの診断結果のデータとを診断結果格納部２５で関係付けて保存、管理する。この診断結果を保存する際、例えばタイマカウンタなどの時間を算出できる回路を有す、診断時間管理部４６の時間データも同時に保存する。診断結果出力制御部２６は、診断結果格納部２５に保存されたデータを故障部位特定や要因解析を行う故障解析部１９への入出力タイミングや入出力バス３３のバスアービトレーション等を行う。本実施例では、診断指示と診断データ転送用のバスをシリアルバス接続によるデイジーチェーン構成の例であるが、診断処理部１０から各ロジックＬＳＩやプロセッサへ個別に接続するスター形接続等でも良い。また、この診断用バスをバウンダリスキャンで構成しても良い。
【００１４】
図３にロジックＬＳＩ（図１の例ではロジックＬＳＩ１３，１４，１５）と診断制御部１１の構成を示す。診断処理部１０との接続、または診断バス接続構造がデイジーチェーンの場合の他ロジックＬＳＩやプロセッサと接続し、診断データのＩ／Ｆ制御を行う診断バスローカル制御部５２を設ける。また、内部ステータス取得制御部５１は、動作タイミング信号３１と診断バス３２からの指示に従い取得する。この取得結果は、ログメモリ５４に保存される。その際、取得タイミング（取得時間）もログメモリ５４に格納する。加えて、ロジックＬＳＩの入出力信号を監視する入出力監視部５３を設ける。入出力信号監視部５３は、入出力信号の変化をサンプリングし、その結果を時間方向に論理演算により一意な固有値を生成する。固有値生成回路は、診断処理部１０が、診断データを間欠的に収集する場合でも、入出力信号の全ての変化を保存することである。この固有値生成回路には、サンプリング結果と乱数とを論理演算し固有値を生成する方法もある。この乱数との組合せによる固有値生成回路の例を図４に示す。図４の例では、EORで帰還をかけたシフトレジスタによって構成されるカウンタ．フリップフロップの個数をnとすると2n−1まで計数する擬似乱数発生回路ＬＦＳＲ（Linear Feedback Shift Register）に入出力信号(図内Data Flow)をＥＯＲで積算することで固有値を生成する。尚、内部ステータス取得制御部５１と入出力信号監視部５３は、両方設けても、一方のみ設けても本発明の本質は変わらない。また、診断制御部１１をバウンダリスキャンで実施する場合、バウンダリスキャンに対するユーザ定義命令を追加して、内部状態の取得、制御を行うことで実現する。この場合、取得タイミングと診断バスとの入出力タイミングを診断処理部１０で制御し、基板上の全ロジックＬＳＩやプロセッサ等の診断対象となる主要部品からの診断データ取得タイミングと診断バス制御を統一的な時間管理で制御し、診断データを時系列管理することを特徴とする。
【００１５】
図５にプロセッサにおけるテスト制御部１２の構成例を示す。プロセッサの動作状態は、内部の汎用レジスタやステータスレジスタの内容を取得することで実現できる。プロセッサは、プログラムで記述された実行命令をインストラクションメモリに格納し、その格納された命令を順次実行していく。本発明では、所望の機能を実現するためのプログラムとは別に内部状態を監視、取得するための手段を設ける。この手段は、前記プログラムに加え、状態監視や取得を実行するプログラムで実現する。ただし、プロセッサ内に回路上で状態監視や取得回路を別に設けても良い。または、プロセッサからの割込みを監視する別ＬＳＩを設けても良い。ここで、状態監視、取得手段をプログラムにより設ける場合、このプログラムにより所望の間隔でプロセッサコア６４から内部状態を汎用レジスタまたは専用の状態監視レジスタ（６３）にライトする。診断バスローカル制御部５２は、前記レジスタ６３の内容を動作タイミング信号３１と診断バス３２からの指示に従い、プロセッサコア２１の内部状態を取得する。この取得結果は、ログメモリ５４に保存される。その際、取得タイミング（取得時間）もログメモリ５４に格納する。また、テスト制御部１２をバウンダリスキャンで実施する場合、バウンダリスキャンに対するユーザ定義命令を追加して、内部状態の取得、制御を行うことで実現する。この場合、取得タイミングと診断バスとの入出力タイミングを診断処理部１０で制御し、基板上の全ロジックＬＳＩやプロセッサ等の診断対象となる主要部品からの診断データ取得タイミングと診断バス制御を統一的な時間管理で制御し、診断データを時系列管理することを特徴とする。加えて、バウンダリスキャンを利用した場合、入出力信号のサンプリングした結果をレジスタ６３もしくはバウンダリスキャンレジスタから取得することもできる。この場合も取得タイミングもログメモリ５４に格納する。
【００１６】
図２で示した実施例での動作タイミングを図６に示す。図６では、ロジックＬＳＩ−Ｌ１（１３）の診断動作とＬ２（１４）との入出力信号監視の動作タイミングを示している。Ｌ１の論理回路からの出力信号（図中、Data0〜5）を入出力信号監視部５３に取り込み固有値を生成する (図中、Sig-0-0〜Sig4-4) 。この結果は、ログメモリ５４に保存される。同時に、内部状態を内部ステータス取得制御部５１により取得され、ログメモリ５４に保存される。Ｌ１から出力された出力信号は、Ｌ３に入力され、この入力結果からＬ１同様固有値を生成する。診断処理部１０は、所望の間隔で診断バス３２に診断データ取得を指示する（図中、”Read”）。この時、コマンド発行タイミング（時間）を記録しておき、各ロジックＬＳＩやプロセッサからの診断データの取得時間管理に使用する。ただし、診断制御部１１、テスト制御部１２にタイマを設け、診断データとともに診断バス３２に出力し、診断処理部１０や故障解析部１９等で集中制御してデータ取得時間の管理しても良い。
【００１７】
図６中の固有値生成の制御回路例を図７に示す。図７（ａ）は、ロジックＬＳＩの論理回路例を示し、所望の処理を実行するステータス［ＡＣＴ１］，[ＡＣＴ２]，［ＡＣＴ３］と待ちステータスである［ＩＤＬＥ］で構成する。図７（ｂ）は、診断制御回路１１の回路例を示し、制御用入力信号としては、回路の初期リセット信号であるＲＳＴ信号とデータの有効性を示すVLD信号と固有値を初期化するＤＲＳＴ信号である。また、出力信号は、固有値生成回路（例えば図４で示した回路）への動作イネーブル信号を出力する。この例では、内部論理回路での一連の動作を終了するＡＣＴ３からＩＤＬＥへの遷移時にＤＲＳＴ信号を出力し、診断制御部１１のデータリセットタイミングとしている。これにより、生成する固有値も内部回路の動作状態に関連付けられた結果を得ることができる。また、診断制御部１１は、ＶＬＤ信号に従って固有値生成を実行することにより、不定かつ無効なデータの影響を排除できる。
【００１８】
図８にシリアルバス構造による診断バスの動作タイミング例を示す。診断バス３２をシリアルバス構造とした図８の例では、診断処理部１０からの診断指示がＬ１、Ｌ３、Ｐ１と伝播するとともに、各部品の動作状態を診断制御部１１またはテスト制御部１２が取得して、診断バス３２へ出力する。この時、本発明による診断制御部１１、テスト制御部１２は、診断バスローカル制御部５２で診断制御に関する指示（コマンド）の入力、前段診断結果データの入力、保存、動作状態取得、診断バス３２への出力を行う。診断バス３２への出力は、前段部品の診断結果データに自診断結果データを付加して出力することで、全部品の診断結果データを診断処理部１０に送る。この図８で示したように全部品の診断タイミングを同期制御することで、診断データである内部状態や入出力信号の変化データの取得タイミングを制御している。
【００１９】
図９に故障解析部１９での解析結果表示方法の例を示す。この実施例では、Ｐ１，Ｐ２で示されるプロセッサとＬ１，Ｌ２，Ｌ３で示されるロジックＬＳＩを主要部品とする基板の診断を対象としており、それぞれの動作状態や固有値を表示する。本発明では、全診断対象の診断データ取得タイミングを統一的に実行することから、故障解析部１９では、この診断結果を時間軸で表示する。時間軸で全部品の動作状態を表示することで、対象基板の診断、解析を容易に行える。また、故障解析部１９に動作状態の期待値を持たせることで、取得した結果と比較判定することで、基板動作としてのエラー検出を可能としている（図中の例ではｔ＝３）。
【００２０】
図１０に車載制御基板の一実施例を示す。主要な部品構成として、車載制御基板７１上にエンジンやモータへの制御パルスを制御するロジックＬＳＩ７２とエンジンやモータとの信号送受を行うコネクタ７７から、回転数を示すアナログ信号を受信しデジタルデータに変換するＲＤコンバータ７３、車両制御やエンジン、モータ制御パルスの生成を行うプロセッサ７４，７５と車両制御設定保存用メモリ７６で構成され、動作タイミング信号３１、診断バス３２で診断処理部１０と接続される。この例では、個別に診断処理部１０と接続するスター接続構成である。
【００２１】
図１１に本発明による昇降機(エレベータ)の実施例を示す。本例では、統合制御盤８１と端末装置８２と駆動モータ８３とかご８６から構成されるエレベータシステムである。本実施例では、統合制御盤８１に搭載されている統合制御基板８４と端末装置８２とかご内の操作制御基板８５に本発明による診断方式を実施した例である。それぞれの基板に搭載されているプロセッサやロジックＬＳＩの動作状態をそれぞれ監視・診断し、統合制御基板８４に診断結果を集める。故障解析が必要な場合は、統合制御基板８４に故障解析部１９を接続して解析する。尚、診断結果を集める基板は、統合制御基板８４に限定していない。また、集めることも限定せず、各基板で個別に解析することもできる。
【００２２】
図１２（ａ）では、故障解析部１９を基板上に設けた例を示す。また、図１２（ｂ）は、診断処理部１０を診断対象基板（回路）とは別に設けた（別基板として診断制御基板９１）例を示す。この際、診断処理部１０と故障解析部１９を同一基板としてまとめても良い。
【００２３】
以上により、ロジックＬＳＩやプロセッサ等の基板に搭載される主要部品の動作状態でのリアルタイム診断を可能にし、各部品の動作タイミング（時間）と診断タイミングを統一管理することが可能になる。また、ロジックＬＳＩの動作状態や入出力信号の受け渡し確認とプロセッサの動作状態を時系列に履歴・保存し、その結果を時系列に表示することで、基板全体の動作状態監視とエラー検出、解析を容易にすることができる。また、ロジックＬＳＩ内に入出力ピンでの監視回路（固有値生成）を設け、その内容をプロセッサステータスと同期監視する手段を設けることで、プロセッサの状態異常発生要因が、外部入力の異常によるものかを判断可能となり、故障箇所の特定できる。加えて、取得手段として、ＩＥＥＥで標準化されているバウンダリスキャンを利用することも可能である。
【００２４】
以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。本発明は、自動車のエンジンやモータ等の車載制御基板や各種昇降機（エレベータ等）の制御基板、半導体製造装置や検査装置、医療装置などの各種基板に利用可能である。
【００２５】
本発明によれば、LSI間信号、ステータスとプロセッサステータスをログ取得位置と時間とともに連携して監視できることから、接続不良、スタック故障等の静的故障及びマージン不足や外部I/F要因、協調動作による不定動作等の運用状態での動的誤動作を早期に検出可能で、その要因も特定できる。また、運用状態でのリアルタイム動作時で誤動作要因を特定できることから、評価・解析工数を削減でき、保守・改造費等の削減効果もある。その上、本質的な誤動作、故障要因、不安定動作要因を特定することから、製品品質の向上、信頼性向上を実現でき、製品競争力も向上する。また、診断結果の取得をバウンダリスキャンチェーンで構成することもでき、この場合、本発明による方式を実装する上で基板上に新たな診断、解析のための信号線を増やす必要がない。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の実施の形態に係る動的方式の構成の一例を示した図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る診断処理部の構成の一例を示した図である。
【図３】本発明の実施の形態に係る診断制御部の構成の一例を示した図である。
【図４】本発明の擬似乱数による固有値生成回路の一例を示した図である。
【図５】本発明の実施の形態に係るテスト制御部の構成の一例を示した図である。
【図６】本発明の診断制御部と診断処理部との診断バス動作の説明図である。
【図７】診断制御回路の一例を示した図である。
【図８】本発明の診断制御部と診断処理部との診断バス動作の説明図である。
【図９】本発明の故障解析部の表示データ及びデータ属性の一例を示した図である。
【図１０】本発明を車載用制御基板に適用した一例を示した図である。
【図１１】本発明を昇降機(エレベータ)に適用した一例を示した図である。
【図１２】本発明の診断処理部と故障解析部を別構成にした例を示した図である。
【符号の説明】
【００２７】
１０…診断処理部、１１…診断制御部、１２…テスト制御部、１３…ロジックＬＳＩ、１４…ロジックＬＳＩ、１５…ロジックＬＳＩ、１６…プロセッサ、１７…プロセッサ、１８…基板（診断対象基板）、１９…故障解析部、２１…プロセッサコア、２２…レジスタ、２３…診断タイミング制御部、２４…診断バス制御部、２５…結果格納部、２６…結果出力部、２７…論理回路、３１…動作タイミング信号、３２…診断バス、３３…接続コネクタ、３４…入出力信号（ロジックＬＳＩ間データバス）、３５…動作状態取得信号、４１…クロック信号、４２…診断結果データ信号、４３…診断基準タイミング信号、４４…診断結果出力制御信号、４５…診断結果データ信号、４６…診断時間管理部、５１…内部ステータス取得制御部、５２…診断バスローカル制御部、５３…入出力信号監視部、５４…ログメモリ、５５…診断結果データ信号、５６…ロジックＬＳＩ出力データ、５７…固有値データ、５８…ロジックＬＳＩ入力データ、５９…診断基準タイミング信号、６１…ステータス処理部、７１…車載制御基板、７２…ロジックＬＳＩ（車載用）、７３…Ｒ／Ｄコンバータ、７４…プロセッサ、７５…プロセッサ、７６…メモリ、８１…統合制御盤、８２…端末装置、８３…駆動用モータ、８４…統合制御基板、８５…かご操作制御基板、８６…かご、９１…診断データ用コネクタ、
【図１】
2008096325.tif 000003
【図２】
2008096325.tif 000004
【図３】
2008096325.tif 000005
【図４】
2008096325.tif 000006
【図５】
2008096325.tif 000007
【図６】
2008096325.tif 000008
【図７】
2008096325.tif 000009
【図８】
2008096325.tif 000010
【図９】
2008096325.tif 000011
【図１０】
2008096325.tif 000012
【図１１】
2008096325.tif 000013
【図１２】
2008096325.tif 000014