(57)【要約】【課題】処理負担を増大させることなく高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる画像形成装置を提供する。【解決手段】分割部１５１は、測定部１１０により測定された表面電位の分布を、主走査方向に所定間隔Ｋ１で区切って複数のブロック（大ブロック）に分割する。判定部１５２は、分割部１５１により分割された各大ブロック内において、表面電位が予め定められた閾値以上変化しているか否かを判定する。特定部１５３は、判定部１５２により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロック、すなわち、表面電位の変化が大きな大ブロックを更に主走査方向に所定間隔で区切って複数の小ブロックに分割し、各小ブロックにおける表面電位の代表値を特定する。光量制御部１５４は、各代表値が目標とする基準電位となるように、光源１７１を駆動する駆動電流値のレベルを調整し、光源１７１から出力されるレーザ光の光量を制御する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体ドラムに光を出力する光源と、
前記光源から所定光量の光を出力して前記感光体ドラムを露光したときの感光体ドラムの主走査方向における表面電位の分布を測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された表面電位の分布を、主走査方向に所定間隔で区切って複数のブロックに分割する分割手段と、
前記分割手段により分割された各ブロック内において、表面電位が予め定められた閾値以上変化しているか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックを更に主走査方向に前記間隔より小さな所定間隔で区切って複数の小ブロックに分割し、各小ブロックにおける表面電位の代表値を特定すると共に、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していないと判定されたブロックにおける表面電位の代表値を特定する特定手段と、
前記特定手段により特定された各代表値が目標とする基準電位となるように、前記光源から出力される光の光量を制御する制御手段とを備えることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
感光体ドラムに光を出力する光源と、
前記光源から所定光量の光を出力して前記感光体ドラムを露光したときの感光体ドラムの主走査方向における表面電位の分布を測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された表面電位の分布を、主走査方向に所定間隔で区切って複数のブロックに分割する分割手段と、
前記分割手段により分割された各ブロック内において、表面電位が予め定められた閾値以上変化しているか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックにおいて、当該ブロック内の主走査方向における一方の端点である第１の端点の表面電位と他方の端点である第２の端点の表面電位とを特定し、これら両表面電位から所定の演算により当該ブロックの代表値を特定すると共に、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していないと判定されたブロックにおいて、当該ブロック内の前記第１の端点又は前記第２の端点の表面電位を当該各ブロックの表面電位の代表値として特定する特定手段と、
前記特定手段により特定された各代表値が目標とする基準電位となるように、前記光源から出力される光の光量を制御する光量制御手段とを備えることを特徴とする画像形成装置。
【請求項３】
前記特定手段は、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックにおいて、前記第１の端点の表面電位と前記第２の端点の表面電位との中間値を当該ブロックの代表値として特定することを特徴とする請求項２記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記特定手段は、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックを、前記第１の端点から前記第１の端点及び前記第２の端点の中間点までの第１の小ブロックと、前記中間点から前記第２の端点までの第２の小ブロックとに分け、前記第１の端点の表面電位を前記第１の小ブロックの代表値として特定すると共に、前記第２の端点の表面電位を前記第２の小ブロックの代表値として特定することを特徴とする請求項２記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記特定手段は、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックを、前記第１の端点から前記第１の端点及び前記第２の端点の中間点までの第１の小ブロックと、前記中間点から前記第２の端点までの第２の小ブロックとに分け、前記第１の端点の表面電位を前記第１の小ブロックの代表値として特定すると共に、前記第１及び第２の端点の表面電位の中間値を前記第２の小ブロックの代表値として特定することを特徴とする請求項２記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタル複合機、ファクシミリ、及びプリンタ等の画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の画像形成装置では、感光体ドラムの主走査方向における表面電位の分布を測定し、測定した表面電位の分布を、主走査方向に均等に区切って複数のブロックに分割し、各ブロックの主走査方向の開始点又は終了点における表面電位の値を各ブロックの表面電位の代表値として求め、この代表値が目標電位になるように光量を調整することで、感光体ドラムの表面電位ムラが補正されていた。この従来の方法において高精度な補正を行うためには、主走査方向のブロック数を増やすことが考えられる。
【０００３】
また、特許文献１には、レーザ駆動電流による補正だけでは反応速度が遅く、ＰＷＭパルス幅補正だけでは回路規模が複雑化・大規模化する点をカバーしつつ、感光体ドラムの表面電位ムラを低減することを目的として、感光体ドラムの表面電位の分布を高周波成分と低周波成分とに分け、高周波成分はパルス幅変調（ＰＷＭ）により補正し、低周波成分はレーザ駆動電流により補正することで、表面電位ムラを補正する技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００５−２３４０３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来の手法において、高精度な補正を行うために主走査方向のブロック数を増やすと、各ブロックの代表値を格納するメモリ容量が増加してしまい、装置のコストアップを招来するという問題が生じると共に、代表値の個数が増えることから補正処理の回数が増大してしまい、処理負担が増大するという問題がある。
【０００５】
また、上記特許文献１の手法は、ＰＷＭによる補正とレーザ駆動電流による補正というように２種類の補正が並列的に実行されるため、処理負担が増大してしまう。
【０００６】
本発明の目的は、処理負担を増大させることなく高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる画像形成装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明による画像形成装置は、感光体ドラムに光を出力する光源と、前記光源から所定光量の光を出力して前記感光体ドラムを露光したときの感光体ドラムの主走査方向における表面電位の分布を測定する測定手段と、前記測定手段により測定された表面電位の分布を、主走査方向に所定間隔で区切って複数のブロックに分割する分割手段と、前記分割手段により分割された各ブロック内において、表面電位が予め定められた閾値以上変化しているか否かを判定する判定手段と、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックを更に主走査方向に前記間隔よりも小さな所定間隔で区切って複数の小ブロックに分割し、各小ブロックにおける表面電位の代表値を特定すると共に、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していないと判定されたブロックにおける表面電位の代表値を特定する特定手段と、前記特定手段により特定された各代表値が目標とする基準電位となるように、前記光源から出力される光の光量を制御する制御手段とを備えることを特徴とする。
【０００８】
この構成によれば、光源から所定光量の光を出力して感光体ドラムを露光したときの感光体ドラムの主走査方向における表面電位の分布が測定され、この表面電位の分布が、主走査方向に所定間隔で区切られて複数のブロックに分割され、分割された各ブロック内において、表面電位が予め定められた閾値以上変化しているか否かが判定され、表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックが更に主走査方向に所定間隔で区切られて複数の小ブロックに分割され、各小ブロック内の表面電位の代表値が特定されると共に、表面電位が閾値以上変化していないと判定された各ブロック内の表面電位の代表値が特定され、各代表値が目標とする基準電位となるように、光源から出力される光の光量が制御される。
【０００９】
すなわち、表面電位の変化量が大きなブロックに対しては、複数の代表値が特定され、表面電位の変化量が小さなブロックに対しては、１つの代表値が特定されるため、必要以上に代表値を増やさなくとも、高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる。その結果、処理負担を増大させることなく高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる。
【００１０】
また、本発明による画像形成装置は、感光体ドラムに光を出力する光源と、前記光源から所定光量の光を出力して前記感光体ドラムを露光したときの感光体ドラムの主走査方向における表面電位の分布を測定する測定手段と、前記測定手段により測定された表面電位の分布を、主走査方向に所定間隔で区切って複数のブロックに分割する分割手段と、前記分割手段により分割された各ブロック内において、表面電位が予め定められた閾値以上変化しているか否かを判定する判定手段と、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックにおいて、当該ブロック内の主走査方向における一方の端点である第１の端点の表面電位と他方の端点である第２の端点の表面電位とを特定し、これら両表面電位から所定の演算により当該ブロックの代表値を特定すると共に、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していないと判定されたブロックにおいて、当該ブロック内の前記第１の端点又は前記第２の端点の表面電位を当該各ブロックの表面電位の代表値として特定する特定手段と、前記特定手段により特定された各代表値が目標とする基準電位となるように、前記光源から出力される光の光量を制御する光量制御手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
この構成によれば、光源から所定光量の光を出力して感光体ドラムを露光したときの感光体ドラムの主走査方向における表面電位の分布が測定され、測定された表面電位の分布が、主走査方向に所定間隔で区切られて複数のブロックに分割され、分割された各ブロック内において、表面電位が予め定められた閾値以上変化しているか否かが判定され、表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックにおいて、当該ブロック内の主走査方向における一方の端点である第１の端点の表面電位と他方の端点である第２の端点の表面電位とが特定され、これら両表面電位を用いて当該ブロックの代表値が特定されると共に、表面電位が閾値以上変化していないと判定された各ブロックにおける第１の端点又は第２の端点の表面電位が当該各ブロックの表面電位の代表値として特定され、特定された各代表値が目標とする基準電位となるように、光源から出力される光の光量が制御される。
【００１２】
すなわち、表面電位の変化量が大きなブロックに対しては、第１の端点の表面電位と第２の端点の表面電位とを用いて所定の演算を行うことにより当該ブロックの代表値が特定されるため、この代表値は当該ブロックの表面電位をより正確に表すこととなり、単に第１又は第２の端点の表面電位を当該ブロックの代表値とする場合に比べて、高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる。更に、代表値の個数も不必要に増大しないため、処理負担の増大を抑制することができる。
【００１３】
また、前記特定手段は、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックにおいて、前記第１の端点の表面電位と前記第２の端点の表面電位との中間値を当該ブロックの代表値として特定することが好ましい。
【００１４】
この構成によれば、表面電位が閾値以上変化していると判定された各ブロックにおいて、第１の端点の表面電位と第２の端点の表面電位との中間値が当該各ブロックの表面電位の代表値として特定されるため、この代表値は当該ブロックの表面電位をより正確に表すこととなり、単に第１又は第２の端点の表面電位を当該ブロックの代表値とする場合に比べて、高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる。更に、代表値の個数もブロック数分存在することになるため、ブロック数を増大させた場合に比べて、処理負担の増大を抑制することができる。
【００１５】
また、前記特定手段は、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックを、前記第１の端点から前記第１の端点及び前記第２の端点の中間点までの第１の小ブロックと、前記中間点から前記第２の端点までの第２の小ブロックとに分け、前記第１の端点の表面電位を前記第１の小ブロックの代表値として特定すると共に、前記第２の端点の表面電位を前記第２の小ブロックの代表値として特定するが好ましい。
【００１６】
この構成によれば、表面電位が閾値以上変化していると判定された各ブロックが、第１の端点から第１の端点及び第２の端点の中間点までの第１の小ブロックと、中間点から第２の端点までの第２の小ブロックとに分けられ、第１の端点の表面電位が第１の小ブロックの代表値として特定されると共に、第２の端点の表面電位が第２の小ブロックの代表値として特定されるため、この代表値は当該ブロックの表面電位をより正確に表すこととなり、単に第１又は第２の端点の表面電位を当該ブロックの代表値とする場合に比べて、高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる。更に、代表値の個数も不必要に増大しないため、単にブロック数を増大させる場合に比べて、処理負担の増大を抑制することができる。
【００１７】
また、前記特定手段は、前記判定手段により表面電位が閾値以上変化していると判定されたブロックを、前記第１の端点から前記第１の端点及び前記第２の端点の中間点までの第１の小ブロックと、前記中間点から前記第２の端点までの第２の小ブロックとに分け、前記第１の端点の表面電位を前記第１の小ブロックの代表値として特定すると共に、前記第１及び第２の端点の表面電位の中間値を前記第２の小ブロックの代表値として特定することが好ましい。
【００１８】
この構成によれば、表面電位が閾値以上変化していると判定された各ブロックが、第１の端点から第１の端点及び第２の端点の中間点までの第１の小ブロックと、中間点から第２の端点までの第２の小ブロックとに分けられ、第１の端点の表面電位が第１の小ブロックの代表値として特定されると共に、第１及び第２の端点の表面電位の中間値が第２の小ブロックの代表値として特定されるため、この代表値は当該ブロックの表面電位をより正確に表すこととなり、単に第１又は第２の端点の表面電位を当該ブロックの代表値とする場合に比べて、高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる。更に、代表値の個数も不意必要に増大しないため、ブロック数を増大させた場合に比べて、処理負担の増大を抑制することができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、処理負担を増大させることなく高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
（実施の形態１）
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。図１は、本実施の形態１による画像形成装置の機械的構成を主に示す側面概略図である。画像形成装置は、本体部２０と、本体部２０の左側に配設された用紙後処理部３００と、ユーザが種々の操作指令等を入力するための操作部４００と、本体部２０の上部に配設された原稿読取部５００と、原稿読取部５００の上方に配設された原稿給送部６００とから構成される。
【００２１】
操作部４００は、操作パネル４０１、スタートキー４０２及びテンキー４０３等を備える。操作パネル４０１は、種々の操作画面を表示するとともに、ユーザが種々の操作指令を入力するための種々の操作ボタン等を表示する。スタートキー４０２は、ユーザが印刷実行指令等を入力するために用いられ、テンキー４０３は、印刷部数等を入力するために用いられる。
【００２２】
原稿給送部６００は、原稿載置部６０１、原稿排出部６０２、給紙ローラ６０３及び原稿搬送部６０４、及びコンタクトガラス６０５等を備え、原稿読取部５００は、スキャナ５０１等を備える。給紙ローラ６０３は、原稿載置部６０１にセットされた原稿を繰り出し、原稿搬送部６０４は、繰り出される原稿を１枚ずつ順にスキャナ５０１上に搬送する。スキャナ５０１は搬送される原稿を順次読み取り、読み取られた原稿は原稿排出部６０２に排出される。また、スキャナ５０１は、コンタクトガラス６０５に載置された原稿を読み取る場合は、Ａ方向にスライドして原稿を読み取る。
【００２３】
本体部２０は、複数の給紙カセット２０１、複数の給紙ローラ２０２、転写ローラ２０３、感光体ドラム２０４、露光装置２０５、現像装置２０６、定着ローラ２０８、排出口２０９、及び排出トレイ２１０を備える。
【００２４】
感光体ドラム２０４は、矢印方向に回転しながら帯電装置（図示省略）によって一様に帯電される。露光装置２０５は、原稿読取部５００において読み取られた原稿の画像データに基づいて生成された変調信号をレーザ光に変換して出力し、感光体ドラム２０４に静電潜像を形成する。現像装置２０６は、現像剤を感光体ドラム２０４に供給してトナー像を形成する。ここで、露光装置２０５は、レーザ光を出力するレーザ光源と、レーザ光源から出力されたレーザ光を感光体ドラム２０４の長手方向である主走査方向に走査するポリゴンミラー等を備え、原画像を構成する各画素の階調値に応じたパルス幅を有するＰＷＭ信号に従ってレーザ光源を駆動し、感光体ドラム２０４を露光する。
【００２５】
一方、給紙ローラ２０２は、記録紙が収納された給紙カセット２０１から記録紙を引き出し、引き出した記録紙を転写ローラ２０３へと搬送する。転写ローラ２０３は、搬送された記録紙に感光体ドラム２０４上のトナー像を転写させる。トナー像が転写された記録紙は、定着ローラ２０８へと搬送され、定着ローラ２０８は、転写されたトナー像を加熱して記録紙に定着させる。その後、記録紙は、排出口２０９へと搬送され用紙後処理部３００に搬入される。また、記録紙は、必要に応じて排出トレイ２１０へも排出される。
【００２６】
用紙後処理部３００は、搬入口３０１、記録紙搬送部３０２、搬出口３０３及びスタックトレイ３０４等を備える。記録紙搬送部３０２は、排出口２０９から搬入口３０１に搬入された記録紙を順次搬送し、最終的に搬出口３０３からスタックトレイ３０４へ記録紙を排出する。スタックトレイ３０４は、搬出口３０３から搬出された記録紙の集積枚数に応じて矢印方向に上下動可能に構成されている。
【００２７】
図２は、図１に示す画像形成装置の電気的構成を示すブロック図である。本画像形成装置は、測定部１１０、スキャナ部１２０、画像メモリ１３０、電位分布記憶部１４０、制御部１５０、代表値記憶部１６０、画像形成部１７０、及び操作表示部１８０を備えている。
【００２８】
測定部１１０は、感光体ドラム２０４の表面電位を所定の基準電位にするためのデフォルトの駆動電流によって駆動された光源１７１から出力される所定光量のレーザ光によって露光された感光体ドラム２０４の主走査方向における表面電位の分布を測定する。具体的には、測定部１１０は、電位センサと、電位センサを主走査方向に移動させるモータ等の駆動機構とを備え、制御部１５０の制御の下、駆動機構によって電位センサを主走査方向の上流側から下流側に向けて移動させ、所定のサンプリング間隔で感光体ドラム２０４の表面電位を順次測定し、電位分布記憶部１４０に記憶させる。ここで、測定部１１０は、主走査方向において複数ライン分の感光体ドラム２０４の表面電位の分布を求め、主走査方向上の各位置の表面電位の平均値からなるデータ群を、感光体ドラム２０４の主走査方向における表面電位の分布としても良い。
【００２９】
スキャナ部１２０は、図１に示す原稿読取部５００から構成され、原稿の画像データを取得する。画像メモリ１３０は、不揮発性の記憶装置等から構成され、スキャナ部１２０により取得された原稿の画像データを記憶する。
【００３０】
電位分布記憶部１４０は、不揮発性の記憶装置等から構成され、測定部１１０により測定された感光体ドラム２０４の主走査方向の表面電位の分布を記憶する。
【００３１】
制御部１５０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等のマイクロコンピュータから構成され、画像形成装置全体の制御を司るものであり、分割部１５１、判定部１５２、特定部１５３、及び光量制御部１５４の機能を備えている。これらの機能は、ＣＰＵがＲＯＭに記憶された制御プログラムを実行することで実現される。
【００３２】
分割部１５１は、測定部１１０により測定された表面電位の分布を、主走査方向に所定間隔で区切って複数のブロック（大ブロック）に分割する。図３は、表面電位の分布を示すグラフであり、縦軸は表面電位を示し、横軸は主走査方向を示している。また、図３のグラフにおいて右側がレーザ光の主走査方向の下流側を示し、左側がレーザ光の主走査方向の上流側を示している。また、図３においてはグラフＧ１が表面電位の分布を示している。図３の例では、グラフＧ１は、主走査方向の中央に向かうにつれて表面電位が高くなり、ほぼ上に凸のカーブを描いて変化していることが分かる。
【００３３】
そして、分割部１５１は、表面電位の分布を主走査方向に一定の間隔Ｋ１で区切り、表面電位の分布を主走査方向に対して複数個の大ブロックに分割する。なお、図３では、表面電位の分布は９個の大ブロックに分割されているが、これは一例であり、８個以下の大ブロック、又は１０個以上の大ブロックに分割されてもよい。
【００３４】
判定部１５２は、分割部１５１により分割された各大ブロック内において、表面電位が予め定められた閾値以上変化しているか否かを判定する。ここで、判定部１５２は、各大ブロック内において、表面電位の最高値と最低値とを特定し、これら最高値と最低値との差分が閾値以上である大ブロックを、表面電位の変化が大きい大ブロックとして特定する。
【００３５】
特定部１５３は、判定部１５２により表面電位が閾値以上変化していると判定された大ブロック、すなわち、表面電位の変化が大きな大ブロックを更に主走査方向に間隔Ｋ１より小さな所定間隔で区切って複数の小ブロックに分割し、各小ブロックにおける表面電位の代表値を特定する。また、特定部１５３は、判定部１５２により表面電位が閾値以上変化していないと判定された大ブロック、すなわち、表面電位の変化が小さな大ブロックにおける表面電位の代表値を特定する。ここで、特定部１５３は、大ブロックの主走査方向の上流側の端点である第１の端点Ｐ１又は、下流側の端点である第２の端点Ｐ２（図３参照）の表面電位を当該大ブロックの代表値として特定する。また、特定部１５３は、小ブロックの主走査方向の上流側の端点である第１の端点Ｐ１又は下流側の端点である第２の端点Ｐ２を当該小ブロックの代表値として特定する。
【００３６】
また、特定部１５３は、特定した代表値がどのブロックに属しているかを示す位置情報と関連付けて各代表値を代表値記憶部１６０に記憶させる。なお、大ブロックの位置情報は、当該大ブロックが最上流側の大ブロックのブロックから数えて何番目に位置するかを示し、小ブロックの位置情報は、当該小ブロックが属する大ブロックが最上流側の大ブロックから数えて何番目に位置するかを示すと共に、当該小ブロックが当該大ブロックにおいて最上流の小ブロックから数えて何番目に位置するかを示す。
【００３７】
例えば、最上流から数えて５番目に位置する大ブロックであれば、当該大ブロックの位置情報は「５」となり、最上流から数えて６番目に位置する大ブロックに属する小ブロックであって、６番目の大ブロックにおいて最上流から数えて３番目に位置する小ブロックであれば、当該小ブロックの位置情報は「６−３」となる。
【００３８】
光量制御部１５４は、特定部１５３により特定された大ブロック及び小ブロックの各代表値を代表値記憶部１６０から読み出し、読み出した各代表値が目標とする基準電位となるように、光源１７１を駆動する駆動電流値のレベルを調整し、光源１７１から出力されるレーザ光の光量を制御する。ここで、光量制御部１５４は、各大ブロック又は各小ブロックの代表値と基準電位との差を求め、求めた差に応じてデフォルトの駆動電流値を増大又は減少させ、光源１７１から出力されるレーザ光の光量を変更する。代表値記憶部１６０は不揮発性の記憶装置から構成され、特定部１５３により特定された大ブロック又は小ブロックの各代表値と、各代表値の位置情報とを関連付けて記憶する。
【００３９】
画像形成部１７０は、図１に示す転写ローラ２０３、感光体ドラム２０４、露光装置２０５、及び現像装置２０６等から構成されている。光源１７１は、レーザダイオード等のレーザ光源から構成され、光量制御部１５４により生成された駆動電流値に応じた光量のレーザ光を出力する。
【００４０】
操作表示部１８０は、図１に示す操作部４００から構成されユーザによりなされる種々の操作指令を受け付ける。
【００４１】
次に、画像形成装置の動作について説明する。図４は画像形成装置の動作を示すフローチャートである。まず、ステップＳ１において、光量制御部１５４は、デフォルトの駆動電流値を有する駆動電流で光源１７１を駆動させ、光源１７１から感光体ドラム２０４の表面電位を基準電位にするための所定光量のレーザ光を出力させ、感光体ドラム２０４の全域を露光する。
【００４２】
次に、ステップＳ２において、測定部１１０は、静止状態にある感光体ドラム２０４に対して主走査方向に移動して、感光体ドラム２０４の表面の各位置の表面電位を測定し、感光体ドラム２０４の表面電位の分布を測定する。
【００４３】
次に、ステップＳ３において、分割部１５１は、測定部１１０により測定された表面電位の分布を、主走査方向に間隔Ｋ１で区切って複数の大ブロックブロックに分割する。
【００４４】
次に、ステップＳ４において、判定部１５２は、各大ブロック内において、表面電位の最高値と最低値とを特定し、これら最高値と最低値との差分が閾値以上である大ブロックを、表面電位の変化が大きい大ブロックとして特定する。
【００４５】
次に、ステップＳ５において、特定部１５３は、表面電位の変化が大きな大ブロックを更に主走査方向に間隔Ｋ１より小さな所定間隔で区切って複数の小ブロックに分割し、分割した各小ブロックの第１の端点Ｐ１の表面電位を各小ブロックの代表値として特定する。図５は、ステップＳ５の説明図である。図５において、１〜８番目の大ブロックは表面電位の変化が小さいブロックと判定され、９番目の大ブロックは表面電位の変化が大きなブロックと判定されている。そのため、特定部１５３は、９番目の大ブロックを複数（例えば６個）の小ブロックに分割し、各小ブロックの第１の端点Ｐ１又は第２の端点Ｐ２の表面電位を各小ブロックの代表値として特定する。なお、図５では、第１の端点Ｐ１の表面電位が各小ブロックの代表値として特定されている。
【００４６】
図４に戻り、ステップＳ６において、特定部１５３は、ステップＳ６で特定された各代表値を位置情報と関連付けて代表値記憶部１６０に記憶する。
【００４７】
次に、本画像形成装置による画像形成時の動作について説明する。図６は、画像形成時の動作を示すフローチャートである。まず、ステップＳ１１において、原稿載置部６０１に原稿が載置され、操作表示部１８０が画像形成動作を開始するためのユーザによる操作指令を受け付けた場合（ステップＳ１１でＹＥＳ）、スキャナ部１２０は原稿載置部６０１に載置された原稿を読み取り（ステップＳ１２）、原稿の画像データを取得する。一方、操作表示部１８０が画像形成動作を開始するためのユーザによる操作指令を受け付けない場合（ステップＳ１１でＮＯ）、処理がステップＳ１１に戻される。
【００４８】
ステップＳ１３において、光量制御部１５４は、代表値記憶部１６０に記憶されている各代表値を読み出し、各大ブロック又は各小ブロックの代表値と基準電位との差から、表面電位が基準電位になるように、各大ブロック及び各小ブロックにおける光源１７１の駆動電流値を求める（ステップＳ１４）。
【００４９】
次に、ステップＳ１５において、光量制御部１５４は、ステップＳ１２で読み取られた画像データの各画素の階調値に応じたパルス幅を有し、かつ、ステップＳ１３で求めた駆動電流値を振幅とするＰＷＭ信号を生成して光源１７１を駆動させ、記録紙に画像を形成する。
【００５０】
以上説明したように、実施の形態１の画像形成装置によれば、光源１７１から所定光量の光を出力して感光体ドラム２０４を露光したときの感光体ドラム２０４の主走査方向における表面電位の分布が測定され、この表面電位の分布が、主走査方向に所定間隔Ｋ１で区切られて複数の大ブロックに分割され、分割された各大ブロック内において、表面電位が予め定められた閾値以上変化しているか否かが判定され、表面電位が閾値以上変化していると判定された大ブロックが更に主走査方向に間隔Ｋ１より小さな間隔で区切られて複数の小ブロックに分割され、各小ブロック内の表面電位の代表値が特定されると共に、表面電位が閾値以上変化していないと判定された各大ブロック内の表面電位の代表値が特定され、各代表値が目標とする基準電位となるように、光源１７１から出力される光の光量が制御される。
【００５１】
すなわち、表面電位の変化量が大きな大ブロックに対しては、複数の代表値が特定され、表面電位の変化量が小さな大ブロックに対しては、１つの代表値が特定されるため、必要以上に代表値を増やさなくとも、高精度に感光体ドラム２０４の表面電位ムラを補正することができる。その結果、処理負担を増大させることなく高精度に感光体ドラム２０４の表面電位ムラを補正することができる。
【００５２】
（実施の形態２）
次に、実施の形態２による画像形成装置について説明する。本実施の形態による画像形成装置において、機械構成図、ブロック構成図、及びフローチャートは実施の形態１と同様であるため、図１、図２、図６、及び図７を用いる。また、本実施の形態において、実施の形態１と同一のものは説明を省略する。
【００５３】
本実施の形態において、特定部１５３は、判定部１５２により表面電位が閾値以上変化し、表面電位の変化が大きいと判定された大ブロックにおいて、第１の端点Ｐ１の表面電位と第２の端点Ｐ２の表面電位との中間値を当該大ブロックの表面電位の代表値として特定する。図７は、特定部１５３の処理の説明図である。図７においては、１，６，７，９番目の大ブロックが表面電位の変化の大きい大ブロックと判定され、２，３，４，５，８番目の大ブロックが表面電位の変化が小さい大ブロックと判定されている。
【００５４】
図７の１番目の大ブロックに示すように、第１の端点Ｐ１の表面電位Ｖ１と第２の端点Ｐ２の表面電位Ｖ２との中間値Ｖ１２（＝（Ｖ１＋Ｖ２）／２）が１番目の大ブロックの代表値として特定されている。
【００５５】
本実施の形態において、図４に示すステップＳ５では、特定部１５３は、各小ブロックの第１の端点Ｐ１の表面電位と第２の端点Ｐ２の表面電位との中間値を各小ブロックの代表値として特定する。
【００５６】
以上、説明したように実施の形態２による画像形成装置によれば、表面電位が閾値以上変化していると判定された大ブロックにおいて、第１の端点Ｐ１の表面電位と第２の端点Ｐ２の表面電位との中間値Ｖ１２を当該大ブロックの表面電位の代表値として特定されるため、この代表値は当該大ブロックの表面電位をより正確に表すこととなり、単に第１又は第２の端点Ｐ１又はＰ２の表面電位を当該大ブロックの代表値とする場合に比べて、高精度に感光体ドラム２０４の表面電位ムラを補正することができる。更に、代表値の個数もブロック数分存在することになるため、ブロック数を増大させた場合に比べて、処理負担の増大を抑制することができる。
【００５７】
（実施の形態３）
次に、実施の形態３による画像形成装置について説明する。本実施の形態による画像形成装置において、機械構成図、ブロック構成図、及びフローチャートは実施の形態１と同様であるため、図１、図２、図６、及び図７を用いる。また、本実施の形態において、実施の形態１、２と同一のものは説明を省略する。
【００５８】
本実施の形態において、特定部１５３は、表面電位の変化が大きいと判定された大ブロックを、第１の端点Ｐ１から第１の端点Ｐ１及び第２の端点Ｐ２の中間点までの第１の小ブロックと、中間点から第２の端点までの第２の小ブロックとに分け、第１の端点Ｐ１の表面電位を第１の小ブロックの代表値として特定すると共に、第２の端点Ｐ２の表面電位を第２の小ブロックの代表値として特定する。
【００５９】
図８は、特定部１５３の処理の説明図である。図８においては、１，４，６，７，９番目の大ブロックが表面電位の変化の大きい大ブロックと判定され、２，３，５，８番目の大ブロックが表面電位の変化の小さい大ブロックと判定されている。
【００６０】
図８に示すように、例えば１番目の大ブロックは、第１の端点Ｐ１から中間点Ｍ１２までの区間が第１の小ブロックとされ、中間点Ｍ１２から第２の端点Ｐ２までが第２の小ブロックとされ、第１の端点Ｐ１の表面電位Ｖ１が第１の小ブロックの代表値として特定され、第２の端点Ｐ２の表面電位Ｖ２が第２の小ブロックの代表値として特定されている。
【００６１】
本実施の形態において、図４に示すステップＳ５では、特定部１５３は、各大ブロック第１の端点Ｐ１の表面電位を第１の小ブロックの代表値として特定し、各大ブロックの第２の端点Ｐ２の表面電位を第２の小ブロックの代表値として特定する。
【００６２】
以上説明したように、実施の形態３による画像形成装置によれば、表面電位が閾値以上変化していると判定された大ブロックにおいて、第１の端点Ｐ１の表面電位が第１の小ブロックの代表値として特定されると共に、第２の端点Ｐ２の表面電位が第２の小ブロックの代表値として特定されるため、この代表値は当該ブロックの表面電位をより正確に表すこととなり、単に第１又は第２の端点の表面電位を当該ブロックの代表値とする場合に比べて、高精度に感光体ドラムの表面電位ムラを補正することができる。更に、代表値の個数も不必要に増大しないため、単にブロック数を増大させる場合に比べて、処理負担の増大を抑制することができる。
【００６３】
（実施の形態４）
次に、実施の形態４による画像形成装置について説明する。本実施の形態による画像形成装置において、機械構成図、ブロック構成図、及びフローチャートは実施の形態１と同様であるため、図１、図２、図６、及び図７を用いる。また、本実施の形態において、実施の形態１〜３と同一のものは説明を省略する。
【００６４】
特定部１５３は、判定部１５２により表面電位が閾値以上変化していると判定された各ブロックを、第１の端点Ｐ１から第１の端点Ｐ１及び第２の端点Ｐ２の中間点までの第１の小ブロックと、中間点から第２の端点Ｐ２までの第２の小ブロックとに分け、第１の端点Ｐ１の表面電位を第１の小ブロックの代表値として特定すると共に、第１及び第２の端点Ｐ１及びＰ２の表面電位の中間値を第２の小ブロックの代表値として特定する。
【００６５】
図９は、特定部１５３の処理の説明図である。図９においては、１，４，６，７，９番目の大ブロックが表面電位の変化の大きい大ブロックと判定され、２，３，５，８番目の大ブロックが表面電位の変化の小さい大ブロックと判定されている。
【００６６】
図９に示すように、例えば１番目の大ブロックでは、第１の端点Ｐ１から中間点Ｍ１２までの区間が第１の小ブロックとされ、中間点Ｍ１２から第２の端点Ｐ２までが第２の小ブロックとされ、第１の端点Ｐ１の表面電位Ｖ１が第１の小ブロックの代表値として特定され、第１の端点Ｐ１の表面電位Ｖ１と第２の端点Ｐ２の表面電位Ｖ２との中間値（＝（Ｖ１＋Ｖ２）／２）が第２の小ブロックの代表値として特定されている。
【００６７】
本実施の形態において、図４に示すステップＳ５では、特定部１５３は、大ブロック第１の端点Ｐ１の表面電位を第１の小ブロックの代表値として特定し、大ブロックの第１の端点Ｐ１の表面電位と第２の端点Ｐ２の表面電位との中間値を第２の小ブロックの代表値として特定する。
【００６８】
以上説明したように、実施の形態４による画像形成装置によれば、第１の端点Ｐ１の表面電位Ｖ１が第１の小ブロックの代表値として特定されると共に、第１及び第２の端点Ｐ１及びＰ２の表面電位Ｖ１及びＶ２の中間値が第２の小ブロックの代表値として特定されるため、この代表値は当該ブロックの表面電位をより正確に表すこととなり、単に第１又は第２の端点Ｐ１及びＰ２の表面電位を当該大ブロックの代表値とする場合に比べて、高精度に感光体ドラム２０４の表面電位ムラを補正することができる。更に、代表値の個数も不必要に増大しないため、大ブロック数を増大させた場合に比べて、処理負担の増大を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】本実施の形態１による画像形成装置の機械的構成を主に示す側面概略図である。
【図２】図１に示す画像形成装置の電気的構成を示すブロック図である。
【図３】表面電位の分布を示すグラフであり、縦軸は表面電位を示し、横軸は主走査方向を示している。
【図４】画像形成装置の動作を示すフローチャートである。
【図５】ステップＳ５の説明図である。
【図６】画像形成時の動作を示すフローチャートである。
【図７】特定部の処理の説明図である。
【図８】特定部の処理の説明図である。
【図９】特定部の処理の説明図である。
【符号の説明】
【００７０】
１１０  測定部
１２０  スキャナ部
１３０  画像メモリ
１４０  電位分布記憶部
１５０  制御部
１５１  分割部
１５２  判定部
１５３  特定部
１５４  光量制御部
１６０  代表値記憶部
１７０  画像形成部
１７１  光源
１８０  操作表示部
Ｍ１２  中間点
Ｐ１  第１の端点
Ｐ２  第２の端点
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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