(57)【要約】【課題】搬送される物品の検査を複数列に領域を分けて行うＸ線検査装置において、物品の合否の判定を高速に行う。【解決手段】物品の搬送方向の幅方向に複数列の検査領域Ａ１，Ａ２を持つＸ線検査装置に関する。予め、前記Ｘ線検査装置によって撮像されたＸ線画像の全域に対する処理単位（αi ，βj ）が設定され、各処理単位（α1 ，β1 ）〜（α10，β8 ）が複数の前記検査領域Ａ１，Ａ２のいずれに属するかを設定することを特徴とする。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品の搬送方向の幅方向に複数列の検査領域を持つＸ線検査装置において、
予め、Ｘ線画像の全域に対する処理単位が設定され、
各処理単位が複数の検査領域のいずれに属するかを設定することを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項２】
請求項１において、各処理単位ごとに背景か否かの背景判断を行い、当該処理単位が背景である場合には合否の判断処理をしないことを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項３】
請求項１もしくは２において、複数の検査領域のそれぞれについて、１つでも不合格の処理単位があれば、当該不合格の出た検査領域については合否の判断処理を終了することを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項４】
請求項１、２もしくは３において、前記判断処理が画素の濃度に基づくヒストグラムによって判断されることを特徴とするＸ線検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、搬送される物品の検査を複数列の検査領域に分けて各々行うＸ線検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、Ｘ線検査装置において、複数の物品の検査を並行して行うＸ線検査装置が提案されている（たとえば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００４−１３２８１９（要約書）
【０００３】
前記従来のＸ線検査装置では、一組の光学系を用いて、複数列の検査領域ごとに物品のＸ線検査を行っている。前記各検査領域において、物品検査を並行して行うことにより、Ｘ線検査装置の単位時間当たりの検査の個数、つまり、処理能力が増大すると共に、高価な光学系を有効に使用することができる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、従来のＸ線検査装置では、各検査領域ごとに物品の合否の判定処理を行うので、判定処理に要する時間を短縮するのに限界がある。また、前記判定処理を並列処理する場合であっても、判定処理が複雑になり大幅な処理時間の短縮が難しく、特に、各検査領域の大きさが異なる場合には、最も大きな面積の検査領域の処理が終了するまで判定処理が終わらないため、判定処理に要する時間の短縮が難しい。
【０００５】
したがって、本発明の目的は、複数列検査を行うＸ線検査装置において、物品の合否の判定を高速に行うことである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記目的を達成するために、本発明のＸ線検査装置は、物品の搬送方向の幅方向に複数列の検査領域を持つＸ線検査装置において、予め、Ｘ線画像の全域に対する処理単位が設定され、各処理単位が複数の検査領域のいずれに属するかを設定することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、従来とは異なり、物品搬送方向の幅方向（搬送方向に略直交する方向）の複数列の各検査領域に対応するＸ線画像の画像全体に対して、一括して検査を行うのではなく、画素数の少ない各処理単位ごとに検査を繰り返し行うので、演算処理が単純になる。そのため、物品の合否の判断処理を高速に行うことができる。
さらに、タッチスクリーンなどを用いて前記処理単位で検査領域を指定するようにすれば、検査領域の指定を簡便に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
本発明においては、各処理単位ごとに背景か否かの背景判断を行い、当該処理単位が背景である場合には合否の判断処理をしないのが好ましい。
かかる態様によれば、１つの処理単位が背景（バックグラウンド）であれば、当該処理単位の合否の判断処理を行うことなく、次の処理単位の処理に移るので、合否の判断処理がより一層高速化される。
【０００９】
本発明においては、複数の検査領域のそれぞれについて、１つでも不合格の処理単位があれば、当該不合格の出た検査領域については合否の判断処理を終了するのが好ましい。
かかる態様によれば、不合格の出た検査領域については、当該不合格の出た時点でその後の合否の判断処理を終了するので、処理がより一層高速化される。
【００１０】
本発明においては、前記判断処理が画素の濃度に基づくヒストグラムによって判断されるのが好ましい。
かかる態様によれば、判断処理に前記ヒストグラムを用いることにより、処理が単純になり、より一層高速化を図り得る。
なお、「ヒストグラム」の適用方法としては、種々の方法を用いることができるが、たとえば、所定の画素濃度範囲についての積算画素数によって判断する方法などを用いることができる。
【実施例１】
【００１１】
以下、本発明の一実施例を図面にしたがって説明する。
全体構成：
図１に示すように、物品のＸ線検査装置１は、コンベヤ（搬送手段の一例）５および光学系２０を備えている。前記光学系２０は、Ｘ線源２１およびラインセンサ２２を備えている。前記Ｘ線源２１はＸ線Ｌを発生させ、該Ｘ線Ｌをラインセンサ２２に向って照射する。
前記ラインセンサ２２の上流には、たとえば光センサなどからなる物品検出器３０が設けられている。
【００１２】
コンベヤ５の搬送面５１の上方には、たとえば樹脂板などからなる仕切板７が設けられ、物品が搬送される空間を搬送方向Ｙに直交する幅方向Ｄに分けて第１検査部２と第２検査部３とに区画している。
【００１３】
以下の説明では、Ｘ線検査装置１を用いて検査を行う物品の一例として、袋物からなる第１商品Ｍ１の検査と並行して、小さな箱物からなる第２商品Ｍ２の検査を行う場合について例示して説明する。
前記第１検査部２においては、前記第１商品（物品）Ｍ１が搬送されて、合否の判断が行われる。
【００１４】
一方、前記第２検査部３には、前記第２商品Ｍ２が搬送方向Ｙの幅方向（搬送方向Ｙに略直交する方向）に互いに離間させた状態で搬送されて、合否の判断が行われる。
【００１５】
前記Ｘ線源２１は、第１検査部２および第２検査部３を搬送される第１商品Ｍ１および第２商品Ｍ２の双方に対してＸ線Ｌを照射する。前記ラインセンサ２２は前記第１検査部２および前記第２検査部３に跨がるようにこれらの下方に配設されており、第１商品Ｍ１および第２商品Ｍ２を透過したＸ線Ｌを検出する。
なお、前記第１検査部２および前記第２検査部３の下流には、不良品をラインアウトさせるための振り分け装置９ａ、９ｂがそれぞれ設けられている。前記振り分け装置９ａ，９ｂとしては、種々の装置を用いることができるが、たとえば、いわゆるドロップ式（コンベアが一方向を支点として回動することで、物品を下方に振り分ける）の振り分け装置などを採用することができる。
【００１６】
ラインセンサ２２：
図２（ａ）に示すように、前記ラインセンサ２２は多数の検出素子Ｓi を概ね直線状に並べて形成されている。たとえば、前記多数の検出素子Ｓi のうち、１番目からｍ番目までのｍ個の第１検出素子Ｓ1 〜Ｓm が前記第１検査部２に対応し、第１商品Ｍ１を透過したＸ線Ｌを検出する。
一方、前記多数の検出素子Ｓi のうち（ｍ＋ｃ＋１）番目からｎ番目までの（ｎ−（ｍ＋ｃ））個の第２検出素子Ｓm+c+1 〜Ｓn が前記第２検査部３に対応し、第２商品Ｍ２を透過したＸ線Ｌを検出する。
なお、（ｍ＋１）番目の検出素子Ｓm+1 から（ｍ＋ｃ）番目の検出素子Ｓm+c までのｃ個の第３検出素子は、仕切板７に対応している。
【００１７】
制御の構成：
図３に示すように、Ｘ線検査装置１は、たとえばマイコンからなる制御部１０を有している。制御部１０には、前記Ｘ線源２１、ラインセンサ２２、ローカル制御装置２５およびタッチスクリーン２６などが、図示しないインターフェイスを介してそれぞれ接続されている。
【００１８】
ローカル制御装置２５は、図１に示すコンベヤ５の運転や、物品検出器３０、振り分け装置９ａ、９ｂなどの動作を制御する。
図３のタッチスクリーン２６は、たとえば、液晶画面のようなディスプレイ画面に、Ｘ線透過画像や種々の情報を表示すると共に、該表示の一部をタッチすることによって入力や設定を行うことが可能である。
【００１９】
制御部１０：
前記制御部１０は、ＣＰＵ１１およびメモリ（記憶部）１２を備えている。
前記ＣＰＵ１１は、Ｘ線画像処理手段１１ａ、処理単位決定手段１１ｂ、背景判断手段１１ｃおよび判定手段１１ｄを備えている。
前記メモリ１２には、画像一時記憶部１２ａ、処理単位記憶部１２ｂ、背景閾値記憶部１２ｃ、第１閾値記憶部１２ｄおよび第２閾値記憶部１２ｅなどが記憶される。
【００２０】
画像一時記憶部１２ａには、図２（ｂ）に示すように、ラインセンサ２２からの撮像信号に基づいて作成されたＸ線透過画像が一時的に記憶される。
【００２１】
処理単位記憶部１２ｂには、図４（ａ）に示す処理単位の大きさと、図５に示す第１検査領域Ａ１および第２検査領域Ａ２における各処理単位の位置とが記憶される。
図３の背景閾値記憶部１２ｃには、前記処理単位ごとに背景（バックグランウド）か否かの背景判断を行うための背景閾値が記憶される。
第１閾値記憶部１２ｄには、第１検査部２（図１）を搬送される第１商品Ｍ１の検査を行うための第１閾値ＳＨ１が記憶される。
第２閾値記憶部１２ｅには、第２検査部３（図１）を搬送される第２商品Ｍ２の検査を行うための第２閾値ＳＨ２が記憶される。
【００２２】
Ｘ線画像処理手段１１ａ：
Ｘ線画像処理手段１１ａは、物品検出器３０（図１）が第１商品Ｍ１または第２商品Ｍ２を検出すると、所定のタイミングで図２（ａ）のラインセンサ２２からの撮像信号に基づき、図２（ｂ）に示すＸ線画像を作成し、画像一時記憶部１２ａ（図３）に記憶させる。
【００２３】
前記Ｘ線画像は、ラインセンサ２２（図２（ａ））の検出素子Ｓi が検出した透過Ｘ線量に応じた濃度の画像からなり、ｎ個の第１検出素子Ｓ1 〜Ｓn についてＸ線の取込時間が当該素子Ｓ1 〜Ｓn の搬送方向の長さΔＴになったところで、Ｘ線を取り込むことを連続的にｍ回繰り返して記録されたものである。
前記Ｘ線画像は、第１および第２検査部２，３にそれぞれ対応する第１および検査領域（検査エリア）Ａ１，Ａ２と、仕切板７に相当する部分の撮像画像からなる。
なお、図２（ｂ）のＸ線画像を示す図では、背景を白、第１検査領域Ａ１の第１商品Ｍ１を網点、仕切板７を黒色、第２検査領域Ａ２の第２商品Ｍ２を網点で図示している。
【００２４】
処理単位決定手段１１ｂ：
処理単位決定手段１１ｂは、図２（ｂ）に示すＸ線画像において、図５に示すように、仕切板７を除いた第１および第２検査領域Ａ１，Ａ２を所定数に縦横（マトリクス状）に分割し、予め設定された図４（ａ）に示す処理単位（αi ，βj ）毎に処理番号（ｉ，ｊ）を割り振り処理単位記憶部１２ｂに記憶させる。
【００２５】
処理単位（αi ，βj ）：
図２（ｂ）に示すように、Ｘ線画像は、ラインセンサ２２（図２（ａ））が前記長さΔＴに相当する分だけ撮像した画素毎の濃度が記録される。したがって、前記Ｘ線画像としては、ラインセンサ２２の第１番目の検出素子Ｓ1 の記録を開始した時刻Ｔ1 に対応する第１番目の画素（Ｓ1 ，Ｔ1 ）から、第ｎ番目の検出素子Ｓn の記録を終了した前記長さΔＴに対応する第ｎ番目の画素（Ｓn ，Ｔl ）までの画素ごとの濃度が記録されている。
【００２６】
図４（ａ）に示すように、本実施例では、理解を容易にするために、前記処理単位（αi ，βj ）は、たとえば、２０個の連続する検出素子Ｓi+1 〜Ｓi+20が前記長さΔＴに相当する分だけ検出を２０回繰り返した方形の画素を１処理単位（αi ，βj ）としている。処理単位決定手段１１ｂは、図５に示すように、前記Ｘ線画像における第１および第２検査領域Ａ１，Ａ２を各処理単位（αi ，βj ）毎に、たとえば、処理番号（１，１）〜（１０，８）が割り振られた枡目状に分割する。
【００２７】
背景判断手段１１ｃ：
図３に示す背景判断手段１１ｃは、前記処理単位（αi ，βj ）毎に背景か否かの背景判断を行い、当該処理単位（αi ，βj ）が背景である場合には合否の判断処理を行わない。
【００２８】
ヒストグラムによる背景の判断：
背景判断手段１１ｃは、図４（ｂ）に示すように、処理単位（αi ，βj ）の画素の濃度毎に画素数を積算したヒストグラムを作成する。背景判断手段１１ｃは、前記ヒストグラムに基づき所定の濃度（明るさ）の積算画素数が背景閾値記憶部１２ｃから読み出した所定数からなる背景閾値を越える場合には、当該処理単位（αi ，βj ）を背景であると判断する。
【００２９】
判定手段１１ｄ：
判定手段１１ｄは、前記背景判断手段１１ｃによって背景ではないと判断された処理単位（αi ，βj ）について、当該第１および第２検査領域Ａ１，Ａ２のいずれのエリアであるかを判断した後、第１検査領域Ａ１である場合には、第１閾値記憶部１２ｄから読み出した第１閾値ＳＨ１に基づき第１商品Ｍ１の合否の判断を行う。ＣＰＵ１１は、第１検査領域Ａ１の処理単位（αi ，βj ）において、前記第１閾値ＳＨ１以下の暗い部分が存在する場合には、不合格の判断を行い、第１検査領域Ａ１に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタにＮＧのフラグを立てると共に、以後の第１検査領域Ａ１に属する処理単位（αi ，βj ）の合否の判断を中止する。ＣＰＵ１１は振り分け装置９ａに排出信号を送り、当該第１商品Ｍ１のラインアウトを行う。
【００３０】
一方、前記処理単位（αi ，βj ）が第２検査領域Ａ２である場合には、第２閾値記憶部１２ｅから第２閾値ＳＨ２を読み出し第２商品Ｍ２の合否の判断を行う。ＣＰＵ１１は、第２検査領域Ａ２の処理単位（αi ，βj ）において、前記第２閾値ＳＨ２以下の暗い部分が存在する場合には、不合格の判断を行い、第２検査領域Ａ２に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタにＮＧのフラグを立てると共に、以後の第２検査領域Ａ２に属する処理単位（αi ，βj ）の合否の判断を中止する。ＣＰＵ１１は振り分け装置９ｂに排出信号を送り、当該第２商品Ｍ２のラインアウトを行う。
【００３１】
ＣＰＵ１１の第１および第２検査領域Ａ１，Ａ２に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタの双方にＮＧフラグが立った場合には、ＣＰＵ１１は以降の合否の判断処理を中止すると共に、次のＸ線画像の処理を行う。
【００３２】
ＣＰＵ１１は、前記処理単位（αi ，βj ）、処理番号（ｉ，ｊ）、背景閾値、第１および第２閾値ＳＨ１，ＳＨ２を設定する登録モードと、第１商品Ｍ１および第２商品Ｍ２の検査を行う検査モードを備えている。
【００３３】
つぎに、本システムの動作について説明する。
登録モード：
まず、本システムを起動した後、オペレータが図３のタッチスクリーン２６などを用いて所定の操作を行い、ＣＰＵ１２を登録モードに設定する。その後、第１商品Ｍ１および第２商品Ｍ２をコンベヤ５に搬送させてＸ線画像を撮像する。ＣＰＵ１１は、当該Ｘ線画像に基づき、前記処理単位（αi ，βj ）、処理番号（ｉ，ｊ）、背景閾値、第１および第２閾値ＳＨ１，ＳＨ２を設定する。かかる設定により、処理単位（αi ，βj ）および処理番号（ｉ，ｊ）が処理単位記憶部１２ｂに記憶されると共に、背景閾値、第１閾値ＳＨ１および第２閾値ＳＨ２が、背景閾値記憶部１２ｃ、第１閾値記憶部１２ｄおよび第２閾値記憶部１２ｅにそれぞれ記憶される。
なお、前記第１および第２閾値ＳＨ１，ＳＨ２は、第１商品Ｍ１および第２商品Ｍ２の種類毎に記憶される。
【００３４】
検査モード：
その後、オペレータがタッチスクリーン２６に所定の操作を行い、メモリ１２を検査モードに設定すると、図６に示す検査モードがスタートする。
ステップＳ１では、図１の物品検出器３０の第１商品Ｍ１および第２商品Ｍ２の検出タイミングに基づき、図３のＸ線画像処理手段１１ａが透過Ｘ線に基づくＸ線画像（図２（ｂ））を作成し、ステップＳ２に進む。
ステップＳ２では、処理単位決定手段１１ｂにより、図５に示すように検査範囲（大きさ）の設定がなされ、ステップＳ３に進む。
【００３５】
ステップＳ３では、ＣＰＵ１１が前記処理番号（ｉ，ｊ）を初期化し、最初の処理番号（１，１）を設定してステップＳ４に進む。
ステップＳ４では、ＣＰＵ１１が前記処理番号（ｉ，ｊ）が最終の処理番号（１０，８）であるか否かの判断を行う。当該処理番号（ｉ，ｊ）が最終の処理番号（１０, ８）である場合には、ステップＳ１３に進み合否の判断処理を終了し、次のＸ線画像についての合否の判断に移る。一方、最終の処理番号（１０, ８）でない場合にはステップＳ５に進む。
【００３６】
ステップＳ５では、図３の背景判断手段１１ｃが当該処理単位（αi ，βj ）について、図４（ｂ）の前記ヒストグラムに基づき、背景閾値記憶部１２ｃから読み出した背景閾値を用いて背景か否かの判断を行う。
ＣＰＵ１１が当該処理単位（αi ，βj ）を背景であると判断した場合には、次の処理番号が付された処理単位（αi ，βj ）について、背景か否かの判断を行う。一方、背景ではないと判断した場合にはステップＳ６に進む。
ステップＳ６では、判定手段１１ｄが、当該処理単位（αi ，βj ）が第１検査領域（エリア）か第２検査領域（エリア）かの判断を行う。第１検査領域である場合にはステップＳ７に進み、第２検査領域である場合にはステップＳ２０に進む。
【００３７】
ステップＳ７では、ＣＰＵ１１が、第１検査エリアがすでに不合格（ＮＧ）であるか否かの判断を行う。ＣＰＵ１１は、第１検査領域Ａ１に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタにＮＧのフラグが立っている場合には、ステップＳ２３に進む。ステップＳ２３では、処理番号（ｉ，ｊ）をインクリメントして次の処理単位を指定した後、ステップＳ３に戻る。
一方、第１検査領域Ａ１に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタにＮＧのフラグが立っていない場合には、ステップＳ８に進む。
【００３８】
ステップＳ８では、判定手段１１ｄが、第１閾値記憶部１２ｄから読み出した第１閾値ＳＨ１と当該処理単位（αi ，βj ）とを比較し、該処理単位（αi ，βj ）に異物が存在するか否かの検査を行い、ステップＳ９に進む。
すなわち、判定手段１１ｄは、当該処理単位（αi ，βj ）に第１閾値記憶部１２ｄから読み出した第１閾値ＳＨ１を越える部分が存在する場合には、当該検査結果を不合格（ＮＧ）と判断し、一方、第１閾値ＳＨ１を越える部分が存在しない場合には、当該検査結果を合格と判断する。
【００３９】
ステップＳ９では、前記検査結果が合格であると判断された場合にはステップＳ２３に進む。一方、前記検査結果が不合格（ＮＧ）であると判断された場合には、ステップＳ１０に進む。
【００４０】
ステップＳ１０では、ＣＰＵ１１が、当該処理単位（αi ，βj ）が第１検査領域（エリア）か第２検査領域（エリア）かの判断を行う。第１検査領域である場合にはステップＳ１１に進み、第２検査領域である場合にはステップＳ２２に進む。
【００４１】
ステップＳ１１では、第１検査領域Ａ１に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタにＮＧのフラグを立てると共に、振り分け装置９ａに当該第１商品Ｍ１の排出信号を送信してステップＳ１２に進む。
【００４２】
ステップＳ１２では、第１および第２検査領域Ａ１，Ａ２に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタの双方にＮＧフラグが立っているか否かの判断を行う。いずれか一方のフラグのみにＮＧフラグが立っている場合にはステップＳ２３に進む。一方、両方の前記レジスタにＮＧフラグが立っている場合にはステップＳ１３に進む。
ステップＳ１３では、当該Ｘ線画像の合否の処理を終了し、次に撮像されたＸ線画像の合否の判断処理に移る。
【００４３】
第２検査領域Ａ２での検査：
一方、ステップＳ２０では、ＣＰＵ１１が、第２検査エリアがすでに不合格（ＮＧ）であるか否かの判断を行う。ＣＰＵ１１は、第２検査領域Ａ２に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタにＮＧのフラグが立っている場合には、ステップＳ２３に進む。ステップＳ２３では、処理番号（ｉ，ｊ）をインクリメントして次の処理単位を指定した後、ステップＳ３に戻る。
一方、第２検査領域Ａ２に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタにＮＧのフラグが立っていない場合には、ステップＳ２１に進む。
【００４４】
ステップＳ２１では、判定手段１１ｄが、第２閾値記憶部１２ｅから読み出した第２閾値ＳＨ２と当該処理単位（αi ，βj ）とを比較し、該処理単位（αi ，βj ）に異物が存在するか否かの検査を行い、ステップＳ９に進む。
すなわち、判定手段１１ｄは、当該処理単位（αi ，βj ）に第２閾値記憶部１２ｅから読み出した第２閾値ＳＨ２を越える部分が存在する場合には、当該検査結果を不合格（ＮＧ）と判断し、一方、第２閾値ＳＨ２を越える部分が存在しない場合には、当該検査結果を合格と判断する。
【００４５】
第２検査領域Ａ２での不合格品の排出：
一方、ステップＳ２２では、第２検査領域Ａ２に割り当てたＣＰＵ１１のレジスタにＮＧのフラグを立てると共に、振り分け装置９ｂに当該第２商品Ｍ２の排出信号を送信してステップＳ１２に進む。
【００４６】
このように、複数列の第１および第２検査領域Ａ１，Ａ２に対応するＸ線画像の全画素に対し、一括して検査を行うのではなく、画素数の少ない処理単位（αi ，βj ）ごとに検査を行うので、処理が簡便になるため物品の合否の判定を高速に行うことができる。
また、前記処理単位（αi ，βj ）での処理の繰り返しになるので、処理が単純になる。
【００４７】
なお、前述の検査では、検査物品の一例として、第２商品Ｍ２を包装した第１商品Ｍ１と、第２商品Ｍ２とを検査することとしたが、本装置で検査する物品は同一物品であってもよいし、異なる物品であってもよい。
また、検査の対象物は、包材に包まれたものに限定されない。
さらに、Ｘ線画像を第１および第２検査領域Ａ１，Ａ２からなる２つの検査領域に区分することとしたが、３以上の検査領域に区分して検査を行ってもよい。
【００４８】
また、前述の実施例１では、ヒストグラムを用いて所定の画素濃度範囲についての積算画素数について背景判断を行うこととしたが、第１および第２検査領域Ａ１，Ａ２についてもヒストグラムを用いて物品検査を行うようにしてもよい。
また、背景判断をヒストグラムを用いることなく、処理単位（αi ，βj ）ごとに所定の範囲の閾値と比較することにより行うこととしてもよい。
【００４９】
ここで、仕切板７の位置を移動可能にしてもよい。かかる場合には、Ｘ線画像において仕切板７を特定し、自動的に検査領域を決定するようにしてもよい。また、濃度の平均値を用いてもよい。
【００５０】
また、隣り合う検査領域Ａ１，Ａ２の間に仕切板を設ける必要もない。かかる場合には、オペレータがタッチスクリーン２６に表示された処理単位をタッチすることで、当該処理単位が、どの検査領域に属するかを指定できるようにしてもよい。
このように、タッチスクリーン２６にタッチすることで、検査領域に属する処理単位を指定可能にすることで、検査領域の設定が著しく容易になる。
【００５１】
また、タッチスクリーン２６に、図５に示す検査単位を枡目状に表示し、物品が位置する可能性のない検査単位をオペレータが指定することで、当該指定された検査単位については背景の判断や合否の判断処理を行わないように設定できるようにしてもよい。
【００５２】
以上のとおり、図面を参照しながら好適な実施形態を説明したが、当業者であれば、本明細書を見て、自明な範囲で種々の変更および修正を容易に想定するであろう。
たとえば、Ｘ線源およびラインセンサを２組設け、互いに異なる２つの断面について検査を行って、更に、検査の精度を向上させてもよい。
また、第１および第２閾値ＳＨ１，ＳＨ２を一定の値とする必要はなく、第１閾値ＳＨ１（および／または第２閾値ＳＨ２）を検出素子の位置に応じて互いに異なる値としてもよい。
したがって、そのような変更および修正は、請求の範囲から定まる本発明の範囲内のものと解釈される。
【産業上の利用可能性】
【００５３】
本装置は、搬送される物品の検査を複数列に領域を分けて行うＸ線検査装置に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の一実施例にかかるＸ線検査装置を示す概略斜視図である。
【図２】（ａ）は同Ｘ線検査装置の要部を示す概略正面図、（ｂ）はＸ線画像を示す概略正面図である。
【図３】Ｘ線検査装置を示す概略構成図である。
【図４】（ａ）は処理単位を示す概略正面図、（ｂ）は濃度に対する画素数のヒストグラムを示す図表である。
【図５】Ｘ線画像および処理単位を示す概略正面図である。
【図６】Ｘ線検査装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５５】
１：Ｘ線検査装置
Ａ１：第１検査領域
Ａ２：第２検査領域
αi ，βj ：処理単位
【図１】
2008232810.tif 000003
【図２】
2008232810.tif 000004
【図３】
2008232810.tif 000005
【図４】
2008232810.tif 000006
【図５】
2008232810.tif 000007
【図６】
2008232810.tif 000008