(57)【要約】【課題】試験槽内に被試験品を出し入れする際の外気の侵入を最小限に抑制できるようにした環境試験装置を提案すること。【解決手段】ライン型環境試験装置１のパレット搬送機構２０は送りピン２３が同一のピッチで取り付けられた搬送シャフト２４、２５を有し、各送りピン２３を搬送路１５上の各パレット４に係合させ、１ピッチずつで間欠的に一括して搬送する。搬送シャフト２４、２５の送りピン２３のうち、試験槽５の搬入口６の手前の送り位置４−２，４−１２から次の送り位置４−３、４−１３にパレットを送る送りピンを取り除き、これらの間の１ピッチ分のパレットの送りはパレット送り部材５０によって行う。試験槽５へのパレット４の搬入と搬出が交互に行なわれるので、試験槽５の搬入口６、搬出口７を同時に開く必要がなく、試験槽５への外気の侵入を抑制できる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験槽を経由するパレット搬送路に沿って被試験品を載せた各パレットを搬送し、試験槽において各パレット上の被試験品に環境試験を順次に行う環境試験装置におけるパレット搬送方法において、
送りピンが一定のピッチで取り付けられている搬送シャフトを、各送りピンが前記パレット搬送路上の各パレットに係合した状態で、当該パレット搬送路に沿って前進させて各パレットを前方に１ピッチ分だけ送り出す動作と、当該搬送シャフトを、各送りピンが各パレットから外れた状態で、元の位置まで後退させる動作とを繰り返して、前記パレット搬送路上に位置している各パレットを間欠的に１ピッチずつ一括して搬送し、
前記搬送シャフトの前記送りピンのうち、試験槽におけるパレット搬入口の手前の送り位置から、当該パレット搬入口を通過し終えた次の送り位置まで、前記パレットを送り出すための送りピンを省略しておき、
これらの送り位置間の１ピッチ分の前記パレットの送りを、前記搬送シャフトとは別個に設けたパレット送り部材を用いて行ない、
前記搬送シャフトによる送り動作と前記パレット送り部材による送り動作を交互に行うことを特徴とする環境試験装置のパレット搬送方法。
【請求項２】
前記パレット搬入口を閉じ、前記パレット搬出口を開けた状態で、前記搬送シャフトによる送り動作を行うことを特徴とする請求項１に記載の環境試験装置のパレット搬送方法。
【請求項３】
前記パレット搬入口を開き、前記パレット搬出口を閉じた状態で、前記パレット送り部材による送り動作を行うことを特徴とする請求項１または２に記載の環境試験装置のパレット搬送方法。
【請求項４】
請求項１ないし３のうちのいずれかの項に記載のパレット搬送方法により被試験品を載せたパレットを試験槽を経由させて搬送することを特徴とする環境試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気部品、電子部品などの被試験品に対して様々な環境温度に設定された試験槽内で通電試験などの各種の環境試験を行う環境試験装置に関し、特に、試験槽を経由して被試験品を載せたパレットを間欠的に一括して搬送するパレット搬送方法の改良に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
環境試験装置、例えばライン型環境試験装置は、温度や湿度が調整された各試験槽に被試験品を順次に搬入して、当該被試験品に対して異なる条件で環境試験を行うものである。このようなライン型環境試験装置では、各試験槽の一方の端に形成された搬入口から被試験品を載せたパレットを搬入して、各試験槽内を搬送する間に被試験品を所定温度に到達させて通電などの試験を行ない、各試験槽の他方の端に形成された搬出口から搬出して、次の試験槽に向けて搬送するようになっている。搬入口および搬出口には試験槽への外気の侵入を防止するための搬入口シャッタ、搬出口シャッタが取り付けられており、パレットの搬入、搬出に同期して一時的に開くようになっている。
【０００３】
パレットの搬送機構としては、各試験槽を通るパレット搬送路に沿って、被試験品を載せた各パレットを、同一のピッチを保持したまま、当該ピッチと同一の送りピッチで間欠的に搬送して、各試験槽の搬入口から新たなパレットを搬入する動作と、各試験槽の搬出口から試験終了後のパレットを搬出する動作を同時に行う機構のものが知られている。例えば、特許文献１にこの形式のパレット搬送機構が開示されている。
【０００４】
図３は特許文献１に開示のパレット搬送機構を示す説明図である。この図に示すように、従来のパレット搬送機構は搬送路を規定する水平案内レールに沿って所定のストロークで前後に往復移動可能であると共に中心軸線の回りに回転可能な搬送シャフト８０と、この搬送シャフト８０における中心軸線方向に沿って所定の間隔で取り付けられた送りピン８１と、前記送りシャフトを前後に往復移動させるシャフト送り機構８２と、当該送りシャフトを回転させるシャフト回転機構８３とを備えている。パレット９０には、送りピン８１が所定の角度位置にあるときに当該送りピン８１に係合する係合部が形成されている。
【０００５】
搬送シャフト８０を回転して送りピン８１をパレット９０の係合部に係合させ、この状態で搬送シャフト８０を前方に送りだせば、パレット９０が搬送路に沿ってスライドするので、所定ストロークだけ前方に前進させることができる。その後、搬送シャフト８０を回転して送りピン８１とパレットの係合部との係合を解除して、搬送シャフト８０を後方に所定ストロークだけ戻す。かかる動作を繰り返し行うことにより、各パレット９０を間欠的に所定ストロークずつ一括して送り出すことができる。
【特許文献１】特開２００４−２１２０９１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
この形式のパレット搬送機構では、搬送路上にある各パレット９０が同一のタイミングで前進と停止を繰り返す。このため、パレット搬送時には、試験槽１００において、その搬入口９１からのパレット９０(Ａ)の搬入と、その搬出口９２からのパレット９０(Ｚ)の搬出が同時に行われる。したがって、パレット搬送時には、搬入口シャッタ９３および搬出口シャッタ９４が同時に開くので、試験槽１００に外気が侵入しやすい。
【０００７】
外気が侵入すると試験槽内の温度が大きく変動してしまうので、試験槽内の温度状態を効率良く維持することができない。また、外気が侵入すると、試験槽内を所定温度にするための温度制御機構の構成部品である冷却器に霜が付いて冷却性能が低下してしまうなどの弊害も発生する。
【０００８】
本発明の課題は、このような点に鑑みて、試験槽内に被試験品を出し入れする際の外気の侵入を最小限に抑制できるようにした環境試験装置のパレット搬送方法、および当該パレット搬送方法を採用した環境試験装置を提案することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題を解決するために、本発明は、試験槽を経由するパレット搬送路に沿って被試験品を載せた各パレットを搬送し、試験槽において各パレット上の被試験品に環境試験を順次に行う環境試験装置におけるパレット搬送方法において、送りピンが一定のピッチで取り付けられている搬送シャフトを、各送りピンが前記パレット搬送路上の各パレットに係合した状態で、当該パレット搬送路に沿って前進させて各パレットを前方に１ピッチ分だけ送り出す動作と、当該搬送シャフトを、各送りピンが各パレットから外れた状態で、元の位置まで後退させる動作とを繰り返して、前記パレット搬送路上に位置している各パレットを間欠的に１ピッチずつ一括して搬送し、前記搬送シャフトの前記送りピンのうち、試験槽におけるパレット搬入口の手前の送り位置から、当該パレット搬入口を通過し終えた次の送り位置まで、前記パレットを送り出すための送りピンを省略しておき、当該送り位置間の１ピッチ分の前記パレットの送りを、前記搬送シャフトとは別個に設けたパレット送り部材を用いて行ない、前記搬送シャフトによる送り動作と前記パレット送り部材による送り動作を交互に行うことを特徴としている。
【００１０】
本発明のパレット搬送方法では、パレット搬入口の手前の送り位置まで搬送されてきたパレットは、その位置に留まり、搬送シャフトの送り動作によって次の送り位置に送り出されることはない。この送り位置まで搬送されてきたパレットは、搬送シャフトとは別個に設けたパレット送り部材による送り動作によって次の送り位置まで送り出される。パレット送り部材によって次の送り位置まで送り出されたパレットは、再び、搬送シャフトによって順次に１ピッチずつ次の送り位置に送り出される。
【００１１】
したがって、搬送シャフトによるパレット送り動作を、パレット搬入口を閉じ、パレット搬出口のみを開けた状態で行ない、当該パレット搬出口から１枚のパレットを試験槽外に搬出することができる。パレット搬入口とパレット搬出口とを同時に開けなくても済むので、試験槽内への外気の侵入を抑制できる。
【００１２】
また、パレット送り部材による送り動作時には、パレット搬入口のみを開けた状態で行うことができる。この場合にも、パレット搬入口とパレット搬出口とを同時に開けなくても済むので、試験槽内への外気の侵入を抑制できる。
【００１３】
さらに、本発明の搬送方法は、送りピンが一定のピッチで取り付けられている搬送シャフトから、試験槽のパレット搬入口手前の送り位置から次の送り位置にパレットを送るための送りピンを省略し、この１ピッチ分の送りのみを行う小型の送り部材を配置するだけで実現できる。よって、大幅な設計変更を伴うことなく既存の環境試験装置に適用することができる。
【００１４】
次に、本発明は環境試験装置に関するものであり、本願発明による環境試験装置は、上記のパレット搬送方法により被試験品を載せたパレットを試験槽を経由させて搬送することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、パレットの送り動作時には、試験槽のパレット搬入口あるいはパレット搬出口の一方のみを開けておくだけで良い。したがって、パレット搬入口および搬出口の双方が開放状態になる場合に比べて、試験槽内への外気の侵入を抑制できるので、試験槽内の温度状態を効率良く維持することができる。また、外気の侵入によって、試験槽内を所定温度にするための温度制御機構の構成部品である冷却器に霜が付いて冷却性能が低下してしまうなどの弊害の発生も抑制あるいは回避できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下に、図面を参照して本発明の実施の形態に係るライン型環境試験装置を説明する。
【００１７】
(全体構成)
図１は、本実施の形態に係るライン型環境試験装置を示す概略構成図であり、(ａ)はパレットが搬送路の上流端に投入された状態を示し、(ｂ)はパレットが試験槽から搬出された状態を示し、(ｃ)はパレットが試験槽に搬入された状態を示し、(ｄ)は各パレットの送り位置を示す。
【００１８】
これらの図に示すように、ライン型環境試験装置１は、被試験品に対して所定の温度で環境試験を行う２つの環境試験装置２、３を直列に連結したものである。各環境試験装置２、３は同一の構成を備えているので、共通部分には同一の符号を付して説明する。
【００１９】
各環境試験装置２、３は、それぞれ環境試験を行うための試験槽５を備えており、試験槽５の一方の端に形成された搬入口６から被試験品を載せたパレット４を搬入して、試験槽５内を搬送する間に被試験品を所定温度に到達させて通電試験を行ない、試験槽５の他方の端に形成された搬出口７から搬出するようになっている。矢印はパレット４の搬送方向である。
【００２０】
上流側の環境試験装置２の試験槽５は低温槽になっており、その上流には冷却槽へ搬入される被試験品に結露が発生することを防止するための結露防止槽８が設けられている。下流側の環境試験装置３の試験槽５は高温槽となっており、その下流には試験槽５内で高温状態になった被試験品を冷却するための冷却槽９が設けられている。
【００２１】
試験槽５は、断熱パネルで形成された直方体形状をしており、試験槽５の内部は冷却器および加熱器を備えた温度制御機構(不図示)によって所定の温度状態に保持されている。搬入口６および搬出口７は搬入口シャッタ１０および搬出口シャッタ１１によって封鎖されている。これらのシャッタ１０、１１は、搬入口６および搬出口７をパレット４が通過する際に開くようになっている。
【００２２】
試験槽５内には、搬送されてくる被試験品に対して通電試験を行う試験装置１２が配置されている。試験装置１２は、搬送路の下方で待機している通電用端子を待機位置と通電位置との間で昇降させるための試験用エアシリンダ１３と、通電用端子とは対向する方向からパレット４または被試験品を保持する冶具などを昇降させるバックアップ用エアシリンダ１４とを備えている。
【００２３】
次に、ライン型環境試験装置１は、２つの環境試験装置２、３の試験槽５を貫通して延びる搬送路１５を備えている。また、搬送路１５に沿って、被試験品を載せた各パレット４を一定の送りピッチで間欠的に一括して搬送するパレット搬送機構２０を備えている。
【００２４】
(パレット搬送機構)
図２(ａ)〜(ｃ)はパレット搬送機構２０を示す説明図であり、(ａ)はパレットが搬送路の上流端に投入された状態を示し、(ｂ)はパレットが試験槽から搬出された状態を示し、(ｃ)はパレットが試験槽に搬入された状態を示す。これらの図において、一点鎖線Ｌは試験槽５の搬入口６の位置を示すものであり、一点鎖線Ｌの左側が試験槽５の内側であり、右側が外側である。
【００２５】
図１および図２を参照して説明すると、パレット搬送機構２０は、搬送路１５に沿ってパレット４を水平方向にスライドさせるために平行に配置された一対の水平案内レール２１、２２と、複数の送りピン２３が送りピッチと同一のピッチで軸線方向に取り付けられた一対の搬送シャフト２４、２５を有している。搬送シャフト２４、２５は、軸受部材２６により、前後方向にスライド自在、且つその中心軸線を中心として回転自在に支持されている。
【００２６】
また、パレット搬送機構２０は、搬送路１５の下流端に配置した送り用エアシリンダ２７および左右一対の回転用エアシリンダ２８を備えている。送り用エアシリンダ２７によって、搬送シャフト２４、２５は前後方向に１ピッチ分のストロークで往復移動される。回転用エアシリンダ２８によって、搬送シャフト２４、２５は、各送りピン２３が垂直に起立した姿勢、および内側に水平に倒れた姿勢となるように、それらの軸線回りに回転される。
【００２７】
各パレット４は一定厚さの長方形の平板であり、その幅方向の両端部が水平案内レール２１、２２に載せられ、当該水平案内レール２１、２２に沿って前後方向にスライド可能である。各パレット４の表面には、その幅方向の両端に、それぞれ垂直に起立した係合突起４０が形成されている。搬送シャフト２４、２５を、その送りピン２３を内側に水平に倒した姿勢で前方に送り出すと、左右の送りピン２３がパレット４の係合突起４０に係合し、パレット４が水平案内レール２１、２２に沿って前方に送り出されるようになっている。
【００２８】
ここで、搬送シャフト２４、２５に取り付けた送りピン２３が全て一定のピッチｐで取り付けられている場合には、搬送シャフト２４、２５の送り動作によって、図１に示す各送り位置４−１〜４−２２・・・に順次にパレット４が送り出される。しかしながら、本例の搬送シャフト２４、２５には、各搬入口６の手前の送り位置４−２および４−１２から次の送り位置４−３および４−１３にパレット４を送り出すための送りピンが省略されている。すなわち、図２(ａ)において想像線で示す位置に送りピンが無く、その前後の送りピン２３の間隔が２ピッチ２ｐとされている。
【００２９】
本例のパレット送り機構２０は、送り位置４−２、４−１２から送り位置４−３、４−１３にパレット４を１ピッチ分だけ送り出すために、２組のパレット送り部材５０を備えている。パレット送り部材５０はプッシャー５１によって、搬送路１５に沿って１ピッチ分のストロークで前後に移動させられる。プッシャー５１は昇降用エアシリンダ５２によって昇降され、搬送シャフト２４、２５によるパレット４の送り動作時には、それらの下側の位置に退避し、パレット送り部材５０が送り出されるパレット４に干渉しないようにしている。
【００３０】
(パレットの送り動作)
次に、図１および図２を参照して、ライン型環境試験装置１におけるパレット送り動作を説明する。
【００３１】
パレット４は例えば不図示のパレット投入機構によって、搬送路１５の上流端の送り位置４−１に投入される。図１(ａ)、図２(ａ)に示すように、パレット４(Ａ)が投入されると、搬送シャフト２４、２５がその軸線回りに回転して送りピン２３が内側に水平に倒れ、この状態で搬送シャフト２４、２５が前方に１ピッチ分だけ送り出される。水平に倒れた送りピン２３はパレット４(Ａ)の左右の係合突起４０の後側に係合し、パレット４(Ａ)を１ピッチ分だけ送り出して次の送り位置４−２に位置させる。
【００３２】
ここで、搬送シャフト２４、２５には、当該送り位置４−２から次の送り位置４−３にパレット４(Ａ)を送り出すための送りピンが取り付けられてない。すなわち、搬送シャフト２４、２５をその軸線回りに回転して送りピン２３を垂直に起立させ、しかる後に、元の位置まで１ピッチ分後退させた後に、再び搬送シャフト２４、２５をその軸線回りに回転させて送りピン２３を水平に倒しても、当該送り位置４−２に位置しているパレット４(Ａ)に係合する送りピンが存在しない。
【００３３】
先に述べたように、送り位置４−２に到ったパレット４(Ａ)の送りは、搬送シャフト２４、２５とは別の部材であるパレット送り部材５０によって行われる。図１(ｂ)、図２(ｂ)に示すように、パレット４(Ａ)が送り位置４−２に送り出された後は、搬送シャフト２４、２５が元の位置に戻る動作が行われる間に、パレット送り部材５０が上昇してパレット４(Ａ)の後端を１ピッチ分だけ送り出し、次の送り位置４−３に位置させる。図１(ｃ)、図２(ｃ)に示すように、パレット４(Ａ)が送り位置４−３まで送り出されると、その後、搬送シャフト２４、２５は元の位置まで後退する。
【００３４】
この後は、新たなパレット４が送り位置４−１に投入され、次に、搬送シャフト２４、２５によって新たなパレット４および送り位置４−３に位置しているパレット４(Ａ)が１ピッチ分だけ送り出されて、それぞれ次の送り位置４−２および４−４に至る。
【００３５】
このようにして、搬送シャフト２４、２５による送り動作と、パレット送り部材５０による送り動作を交互に行うことにより、パレット４は搬送路１５の上流端の送り位置４−１から１ピッチずつ次の送り位置に送り出される。かかる送り動作を繰り返すことにより、図１に示すように、搬送路１５上の各送り位置にパレット４が位置した状態になり、搬送路１５の下流端からは、試験が終了した試験品が載っているパレット４に順次に間欠的に送り出される。
【００３６】
ここで、各試験槽５の搬入口６および搬出口７は同時に開閉する必要がなく、一方のみを開けるだけでよい。上記のように、各試験槽５の搬入口手前の送り位置４−２および４−１２から各試験槽内にパレット４を送る搬入動作はパレット送り部材５０によって行われる。パレット送り部材５０による送り動作時には搬送シャフト２４、２５による送り動作が行われていない。したがって、各試験槽５にパレットを搬入する際には、各試験槽５の搬出口７を搬出口シャッタ１１で閉じたままでよい。
【００３７】
逆に、各試験槽５の搬出口からパレットを送り出す動作は搬送シャフト２４、２５によって行われる。すなわち、送り位置４−１０、４−２０から次の送り位置４−１１、４−２１にパレットを送る動作は、送り位置４−２および４−１２に位置する２枚のパレット以外のパレットが一括して１ピッチ分送り出される。したがって、各試験槽５からパレットを搬出する際には、各試験槽５の搬入口６を搬入口シャッタ１０で閉じたままでよい。
【００３８】
以上説明したように、ライン型環境試験装置１の搬送シャフト２４、２５には、搬入口６の手前の送り位置４−２、４−１２からパレット４を１ピッチ分送り出すための送りピン２３ａが備わっていない。よって、搬送シャフト２４、２５によるパレット送り動作によって、搬入口６の手前の送り位置４−２、４−１２にあるパレット４が試験槽５内へ搬入されることがない。これらの送り位置４−２、４−１２にあるパレットは、別個に設けたパレット送り部材５０によって次の送り位置４−３、４−１３に送られる。
【００３９】
したがって、搬送シャフト２４、２５による送り動作と、パレット送り部材５０により送り動作を交互に行うことにより、各試験槽５へのパレット４を搬入する送り動作時に各試験槽５からパレット４を搬出する送り動作が行われず、各試験槽５からパレットを搬出する送り動作時に各試験槽５にパレット４を搬入する送り動作が行われない。よって、各試験槽５において搬入口６および搬出口７を同時に開状態にする必要がない。このため、試験槽５内への外気の侵入を抑制でき、試験槽５内の温度状態を効率良く維持することができる。また、外気の侵入によって、試験槽５内を所定温度にするための温度制御機構の構成部品である冷却器に霜が付いて冷却性能が低下してしまうなどの弊害が発生することがない。
【００４０】
さらに、本例のパレット搬送機構２０は、搬送シャフト２４、２５に一定のピッチで取り付けられている送りピンの一部を取り去り、１ピッチ分だけパレットを搬送するための送り機構を配置することにより構築できる。したがって、大幅な設計変更を伴うことなく、また、コスト高を招くことがない。
【００４１】
なお、本例では、搬送シャフト２４、２５をその軸線回りに回転させることにより、各送りピン２３をパレット４に係合した位置および係合が解除された位置に切り替えるようにしている。この代わりに、搬送シャフトを上下あるいは左右に移動させることにより、送りピンの係合および係合解除を行うようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明を適用したライン型環境試験装置を示す概略構成図であり、(ａ)はパレットが搬送路の上流端に投入された状態を示し、(ｂ)はパレットが試験槽から搬出された状態を示し、(ｃ)はパレットが試験槽に搬入された状態を示し、(ｄ)は搬送路上のパレットの各送り位置を示す。
【図２】図１のパレット搬送機構を示す説明図であり、(ａ)はパレットが搬送路の上流端に投入された状態を示し、(ｂ)はパレットが試験槽から搬出された状態を示し、(ｃ)はパレットが試験槽に搬入された状態を示す。
【図３】従来のパレット搬送機構を示す説明図である。
【符号の説明】
【００４３】
１  ライン型環境試験装置
２、３  環境試験装置
４、４(Ａ)、９０、９０(Ａ)、９０(Ｚ)  パレット
５、１００  試験槽
６、９１  搬入口
７、９２  搬出口
１０、９３  搬入口シャッタ
１１、９４  搬出口シャッタ
１２  試験装置
１３  試験用エアシリンダ
１４  バックアップ用エアシリンダ
１５  搬送路
２０  搬送機構
２１、２２  水平案内レール
２３、２３ａ、８１  送りピン
２４、２５、８０  搬送シャフト
２７、８２  送り用エアシリンダ
２８、８３  回転用エアシリンダ
４０  係合突起
５０  パレット送り部材
５１  プッシャー
５２  昇降用エアシリンダ
【図１】
2008232680.tif 000003
【図２】
2008232680.tif 000004
【図３】
2008232680.tif 000005