(57)【要約】【課題】サブガイドを設けることなく金型の位置決めを高精度になし得るダイセットおよびその金型実装方法を提供する。【解決手段】下型ホルダ１と、上型ホルダ２と、ガイドポスト３と、ガイドブッシュ４とを備えてなるダイセットＤであって、下型ホルダ１に位置調整基板５を備え、その位置調整基板５を芯出し装置１００による位置調整後に上型ホルダ２に上型をセットし、位置調整基板５に下型をセットする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
下型ホルダと、上型ホルダと、ガイドポストと、ガイドブッシュとを備えてなるダイセットであって、
下型ホルダに位置調整基板を備えてなることを特徴とするダイセット。
【請求項２】
下型ホルダが収納凹部を備え、該収納凹部に位置調整基板が面一に収納されてなることを特徴とする請求項１記載のダイセット。
【請求項３】
位置調整後における位置調整基板のずれを防止するずれ防止ピンを備えてなることを特徴とする請求項１記載のダイセット。
【請求項４】
上型ホルダが、装置上側基板および／または上型の位置決めをなす昇降式位置決めピンを有する昇降式位置決め機構を備えてなることを特徴とする請求項１記載のダイセット。
【請求項５】
位置調整基板が、装置下側基板および／または下型の位置決めをなす昇降式位置決めピンを有する昇降式位置決め機構を備えてなることを特徴とする請求項１記載のダイセット。
【請求項６】
下型ホルダが、装置下側基板および／または下型の位置決めをなす昇降式位置決めピンを有する昇降式位置決め機構を備えてなることを特徴とする請求項２記載のダイセット。
【請求項７】
上型ホルダが、装置上側基板および／または上型のセットをガイドするガイド部を有するガイド部材を備えてなることを特徴とする請求項１記載のダイセット。
【請求項８】
位置調整基板を有するダイセットにおける金型実装方法であって、
下型ホルダに位置調整基板を位置調整可能にセットする手順と、
芯出し装置により装置下側基板と装置上側基板とのずれを計測する手順と、
前記計測値に基づいて位置調整基板の位置調整をなす手順と、
位置調整基板にずれ防止ピンを挿通して同位置調整基板のずれを防止する手順
とを含んでいることを特徴とする金型実装方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はダイセットおよびその金型実装方法に関する。さらに詳しくは、サブガイドを設けることなく加工精度を高精度に維持できるダイセットおよびその金型実装方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、プレス成形においては、型合わせおよびプレス機械への金型の取り付けを容易にするため、下型ホルダ、上型ホルダ、ガイドポストおよびガイドブッシュをユニット化してなるダイセットが用いられている。
【０００３】
このダイセットには、金型の位置決め精度をよくして成形精度を向上させるため、図２０に示すように、ダイセット内の各金型にガイドポストおよびガイドブッシュからなるサブガイドＳＧを設けた、いわゆるサブガイド方式を採用してなるダイセットＤ‘が知られている。
【０００４】
しかしながら、かかるサブガイド方式のダイセットＤ‘には、サブガイドＳＧを設けたために金型が大きくなり、ダイセットＤ‘の大型化および高コスト化を招来しているという問題がある。また、サブガイドＳＧが存在するため、金型の有効面積が限定されるとともに、金型の交換が煩雑になっているという問題もある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明はかかる従来技術の課題に鑑みなされたものであって、サブガイドを設けることなく金型の位置決めを高精度になし得るダイセットおよびその金型実装方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明のダイセットは、下型ホルダと、上型ホルダと、ガイドポストと、ガイドブッシュとを備えてなるダイセットであって、下型ホルダに位置調整基板を備えてなることを特徴とする。
【０００７】
本発明のダイセットにおいては、下型ホルダが収納凹部を備え、該収納凹部に位置調整基板が面一に収納されてなるのが好ましい。
【０００８】
また、本発明のダイセットにおいては、位置調整後における位置調整基板のずれを防止するずれ防止ピンを備えてなるのが好ましい。
【０００９】
さらに、本発明のダイセットにおいては、上型ホルダが、装置上側基板および／または上型の位置決めをなす昇降式位置決めピンを有する昇降式位置決め機構を備えているのが好ましい。
【００１０】
さらに、本発明のダイセットにおいては、位置調整基板が、装置下側基板および／または下型の位置決めをなす昇降式位置決めピンを有する昇降式位置決め機構を備えていたり、下型ホルダが、装置下側基板および／または下型の位置決めをなす昇降式位置決めピンを有する昇降式位置決め機構を備えていたりするのが好ましい。
【００１１】
さらに、本発明のダイセットにおいては、上型ホルダが、装置上側基板および／または上型のセットをガイドするガイド部を有するガイド部材を備えているのが好ましい。
【００１２】
本発明の金型実装方法は、位置調整基板を有するダイセットにおける金型実装方法であって、下型ホルダに位置調整基板を位置調整可能にセットする手順と、芯出し装置により装置下側基板と装置上側基板とのずれを計測する手順と、前記計測値に基づいて位置調整基板の位置調整をなす手順と、位置調整基板にずれ防止ピンを挿通して同位置調整基板のずれを防止する手順とを含んでいることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、位置調整基板を下型が上型との芯ずれがないよう位置調整した後に、上型および下型のダイセットへのセットがなされるので、サブガイドを設けることなく高精度の成形がなし得るという優れた効果が得られる。
【００１４】
また、本発明によれば、サブガイドが設けられていないので、ダイセットの有効面積が増大するという優れた効果が得られる。
【００１５】
さらに、本発明によれば、サブガイドが設けられていないので、金型の交換が迅速にできるという優れた効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、添付図面を参照しながら本発明を実施形態に基づいて説明するが、本発明はかかる実施形態のみに限定されるものではない。
【００１７】
実施形態１
本発明の実施形態１に係るダイセットを図１および図２に概略図で示す。
【００１８】
ダイセットＤは、図１および図２に示すように、下型ホルダ１と、上型ホルダ２と、ガイドポスト３とガイドブッシュ４とを主要構成要素として備えてなるものとされる。なお、図２中、符号Ｌはパスラインを示す。
【００１９】
また、下型ホルダ１と上型ホルダ２との各対向面を図３および図４にそれぞれ示す。下型ホルダ１は、図１〜図３に示すように、上面に位置調整基板５を備えてなるものとされる。
【００２０】
まず、図５および図６も参照しながら下型ホルダ１および位置調整基板５について説明する。
【００２１】
位置調整基板５は、直方体状のブロック体とされ、下型および芯出し装置１００（図７参照）の下側基板（以下、装置下側基板という）１０１の位置決めをなす昇降式位置決め機構５１、ならびに下型および装置下側基板１０１をボルト留めする適宜配置とされた４個の雌ねじ穴５２を有する。また、位置調整基板５の下型ホルダ１への固定つまりセットは、位置調整基板５の四隅を下型ホルダ１へボルト留めすることによりなされ、固定後における位置調整基板５のずれ防止は、位置調整基板５の中心線上に設けられた２個のピン孔（ずれ防止ピン孔）５３、および下型ホルダ１に前記ずれ防止ピン孔５３に対応させて設けられたピン穴（ずれ防止ピン穴）にずれ防止ピンを挿通させることによりなされる。ずれ防止ピン孔５３，５３間の間隔は、各ずれ防止ピンが位置調整基板５に載置される下型および装置下側基板１０１の外側となるように調整されている。
【００２２】
位置調整基板５を下型ホルダ１へボルト留めするボルト孔５４は、仮固定された状態で位置調整基板５の位置調整がなし得るよう所定の裕度が設けられている。また、ボルト孔５４は、明瞭には図示はされていないが、ボルト頭部が位置調整基板５上面から突出しないよう段付孔とされている。
【００２３】
なお、位置調整基板５の下型ホルダ１への固定は、ボルト留めに限定されるものではなく、例えば油圧式クランプ機構によりなすこともできる。
【００２４】
昇降式位置決め機構５１は、昇降式位置決めピン５５と、昇降式位置決めピン５５を昇降させる昇降手段５６とを備えてなるものとされる。昇降式位置決めピン５５は２個が、図３に示すように、対角線状に配設されたり、あるいは側端に沿って直線状に配設されたりする。
【００２５】
対角線状に配設された昇降式位置決めピン５５を昇降させる昇降手段５６は、例えば図５に示すように、先端に昇降用突起５７ａを偏心させて有する操作ロッド５７と、昇降式位置決めピン５５の下部に形成され、昇降用突起５７ａと係合する係合溝５５ａとを備えてなるものとされる。なお、図５（ａ）中、２点鎖線からなる円Ａで囲まれた部分は、同図中の矢視Ａ−Ａを示す。
【００２６】
より具体的には、昇降式位置決めピン５５は、係合溝５５ａを操作側端面に向けて位置決めピン孔に昇降自在に挿通され、操作ロッド５７は、その昇降用突起５７ａを係合溝５５ａに係合させて位置調整基板５の操作側端面に開口を有し位置決めピン孔に連通しているロッド横穴に回転自在に挿通されている。ここで、操作端側（手前側）に位置する昇降式位置決めピン５５を昇降させる操作ロッド５７は短尺とされる一方、操作端とは反対側（奥側）に位置する昇降式位置決めピン５５を昇降させる操作ロッド５７は長尺とされる。また、各操作ロッド５７の操作側端面から突出している部分には操作つまみ５７ｂが設けられるとともに、各操作ロッド５７の操作側端部には、操作ロッド５７に設けられた抜け止め溝５７ｃと、この抜け止め溝５７ｃに係合する抜け止めボルト５７ｄとを備えた公知の抜け止め防止機構５７ｅが設けられている。
【００２７】
昇降式位置決め機構５１がかかる構成とされているので、操作つまみ５７ｂを回転させることにより昇降式位置決めピン５５が昇降する。つまり、昇降式位置決めピン５５の頭部が位置調整基板５の上面から突出したり引っ込んだりする。なお、図中の符号５５ｂは、昇降式位置決めピン５５の昇降をガイドするガイドブッシュを示す。
【００２８】
直線状に配設された２個の昇降式位置決めピン５５を昇降させる昇降手段５６は、例えば図６に示すように、位置調整基板５の側端に沿って配設された２個の昇降式位置決めピン５５のそれぞれの下部に形成されたラック５５ｃと、各ラック５５ｃに歯合するギア５８ａが所定間隔で形成された操作ロッド５８とを備えてなるものとされる。なお、図６（ａ）中、２点鎖線からなる円Ｂで囲まれた部分は、同図中の矢視Ｂ−Ｂを示す。
【００２９】
より具体的には、昇降式位置決めピン５５は、ラック５５ｃを他方の側面に向けて位置決めピン孔に昇降自在に挿通され、操作ロッド５８は、そのギア５８ａをラック５５ｃに歯合させて位置調整基板５の操作側端面に開口を有し位置決めピン孔に連通しているロッド横穴に回動自在に挿通されている。
【００３０】
また、操作ロッド５８の操作側端面から突出している部分には操作つまみ５８ｂが設けられるとともに、操作ロッド５８の操作側端部には、操作ロッド５８に設けられた抜け止め溝５８ｃと、この抜け止め溝５８ｃに係合する抜け止めボルト５８ｄとを備えた公知の抜け止め防止機構５８ｅが設けられている。
【００３１】
昇降式位置決め機構５１がかかる構成とされているので、操作つまみ５８ｂを回動させることにより昇降式位置決めピン５５が昇降する。つまり、昇降式位置決めピン５５の頭部が位置調整基板５の上面から突出したり引っ込んだりする。
【００３２】
上型ホルダ２は、図４に示すように、上型および芯出し装置１００の上側基板（以下、装置上側基板という）１０２の位置決めをなす昇降式位置決め機構２１、上型および装置上側基板１０２をボルト留めする適宜配置とされた４個の雌ねじ穴２２、ならびに上型および装置上側基板１０２の落下を防止しながら上型および装置上側基板１０２のセットをガイドする対向配置されたＬ字状ガイド部を有するガイド部材２３を有する。
【００３３】
昇降式位置決め機構２１は、昇降式位置決めピン２５および昇降式位置決めピン２５を昇降させる昇降手段２６を有する。なお、それらの構成は、位置調整基板５の昇降式位置決め機構５１と同様とされているので、その詳細な説明は省略する。
【００３４】
次に、芯出しをなす芯出し装置１００について説明する。
【００３５】
芯出し装置（以下、単に装置という）１００は、図７に示すように、上型ホルダ２に昇降式位置決め機構２１により位置決めされかつボルト留めされる装置上側基板１０２を有する、芯ずれを計測する芯ずれ計測部（以下、単に計測部という）１１０と、位置調整基板５に昇降式位置決め機構５１により位置決めされかつボルト留めされる装置下側基板１０１を有する、芯ずれが計測される芯ずれ被計測部（以下、単に被計測部という）１２０とを備えてなるものとされる。なお、計測部１１０と被計測部１２０との取り付け位置は、入れ替えられてもよい。つまり、計測部１１０を位置調整基板５にセットし、被計測部１２０を上型ホルダ２にセットするようにしてもよい。
【００３６】
計測部１１０は、前記装置上側基板１０２の他に、装置上側基板１０２に載置・固定される計測側載置台と、計測側載置台の計測基準線（例えば中心線）上に所定間隔を設けて配設される同一構造とされた第１計測具および第２計測具とを備えてなるものとされる。
【００３７】
装置上側基板１０２は、昇降式位置決めピン２５が挿通される昇降式位置決めピン孔、および装置上側基板１０２を上型ホルダ２にボルト留めするボルト孔を有している。ボルト孔は、明瞭には図示はされていないが、ボルト頭部が装置上側基板１０２から突出しないよう段付孔とされている。
【００３８】
計測具は、計測側載置台に装着される側の端部つまり上端部近傍に鍔が形成された計測基準軸と、計測基準軸の他端部つまり下端部近傍に回転自在に装着された保持部材と、保持部材の外周部に探針を内側下方に向けて配設されたダイヤルゲージとを備えてなるものとされる。
【００３９】
被計測部１２０は、前記装置下側基板１０１の他に、装置下側基板１０１に載置・固定される被計測側載置台と、被計測側載置台の被計測基準線（例えば中心線）上に前記所定間隔を設けて配設される同一構造とされた第１被計測軸および第２被計測軸とを備えてなるものとされる。この被計測軸の下端部には鍔が形成されている。
【００４０】
装置下側基板１０１は、昇降式位置決めピン５５が挿通される昇降式位置決めピン孔、および装置下側基板１０１を位置調整基板５にボルト留めするボルト孔を有している。ボルト孔は、明瞭には図示はされていないが、ボルト頭部が装置下側基板１０１から突出しないよう段付孔とされている。
【００４１】
しかして、かかる構成とされた装置１００を用いたダイセットＤにおける芯出しは、以下のようにしてなされる。
【００４２】
手順１：上型ホルダ２の昇降式位置決め機構２1の昇降式位置決めピン２５を装置上側基板１０２に設けられた位置決めピン孔に挿通して位置決めした後、装置上側基板１０２を上型ホルダ２にボルト留め（本固定）する。
【００４３】
手順２：位置調整基板５を下型ホルダ１にボルト留め（仮固定）する。つまり、位置調整基板５を下型ホルダ１にスライド可能な状態でセットする。
【００４４】
手順３：位置調整基板５の昇降式位置決め機構５１の昇降式位置決めピン５５を装置下側基板１０１に設けられたピン孔に挿通して位置決めした後、装置下側基板１０１を位置調整基板５にボルト留め（本固定）する。
【００４５】
手順４：計測部１１０の第１および２計測具で被計測部１２０の第１および２被計測軸の芯ずれを計測する。
【００４６】
手順５：計測値から芯ずれ量およびずれ方向を算出する。
【００４７】
手順６：算出された芯ずれ量およびずれ方向に基づいて、位置調整基板５の位置を調整する。
【００４８】
手順７：位置調整基板５の位置調整が終了した後、位置調整基板５を下型ホルダ１に本固定する。つまり、位置調整基板５を下型ホルダ１にスライド不能な状態でセットする。
【００４９】
手順８：位置調整基板５を本固定した後、再度、芯ずれを計測する。
【００５０】
手順９：計測値に問題がなければ、位置調整基板５のずれ防止ピン孔と下型ホルダ１のずれ防止ピン穴とをハンドリーマーにて共明けしてずれ防止ピンを挿通する。
【００５１】
手順１０：再度、芯ずれを計測する。
【００５２】
これにより、装置下側基板１０１と装置上側基板１０２との芯出し、つまり下型と上型との芯出しが完了する。
【００５３】
このように、この実施形態１によれば、上型および下型の芯出しを高精度になし得るので、成形精度を向上させることができる。また、サブガイドを設けていないので、金型の交換が円滑になし得るとともに、ダイセットＤの有効面積が増大する。
【００５４】
実施形態２
本発明の実施形態２に係るダイセットＤ１を図８および図９に概略図で示す。この実施形態２は実施形態１を改変してなるものであって、下型ホルダ１Ａに位置調整基板５Ａを収納する収納凹部１１を設け、その収納凹部１１に位置調整基板５Ａを面一に収納してなるものとされる。また、収納凹部１１底部に昇降式位置決め機構１２を昇降式位置決めピン１５をその頭部が位置調整基板５Ａ上面から突出するように設けてなるものとされる。なお、実施形態２のその余の構成は実施形態１と同様とされている。
【００５５】
以下、図１０〜図１３も参照しながら実施形態２の実施形態１と異なる点を主として説明する。
【００５６】
収納凹部１１は、位置調整基板５Ａの位置調整が可能なように内寸法に所定の裕度を有し、昇降式位置決めピン１５が挿通される位置決めピン孔を底面に対角線状または直線状に２個有し、位置調整基板５Ａをボルト留めする雌ねじ穴を底面に適宜配置で４個有し、位置調整基板５Ａの位置ずれを防止するずれ防止ピンが挿通されるずれ防止ピン穴を底面中心線上に２個有している。
【００５７】
昇降式位置決め機構１２は、昇降式位置決めピン１５が位置調整基板５Ａの上面から突出するよう長さが長くされている他は、操作ロッド１７を含む昇降手段１６等は実施形態１の昇降式位置決め機構５１と同様とされている（図１２および図１３参照）。なお、図１２中、２点鎖線からなる円Ｃで囲まれた部分は、同図中の矢視Ｃ−Ｃを示し、図１３中、２点鎖線からなる円Ｄで囲まれた部分は、同図中の矢視Ｄ−Ｄを示す。
【００５８】
位置調整基板５Ａは、収納凹部１１底面の昇降式位置決めピン孔、雌ねじ穴およびずれ防止ピン穴に対応させて昇降式位置決めピン孔、ボルト孔およびずれ防止ピン孔をそれぞれ有するとともに、装置下側基板１０１をボルト留めする雌ねじ穴４個を適宜配置で有している。ボルト孔は、明瞭には図示はされていないが、ボルト頭部が位置調整基板５Ａから突出しないよう段付孔とされている。ここで、位置決めピン孔およびボルト孔は、位置調整基板５Ａの位置調整が可能なように所定の裕度を有して設けられている。
【００５９】
次に、かかる構成とされた装置１００を用いたダイセットＤ１における芯出しは、以下のようにしてなされる。
【００６０】
手順１：上型ホルダ２の昇降式位置決め機構２１の昇降式位置決めピン２５を装置上側基板１０２に設けられたピン孔に挿通して位置決めした後、装置上側基板１０２を上型ホルダ２にボルト留め（本固定）する。
【００６１】
手順２：位置調整基板５Ａを下型ホルダ１Ａの収納凹部１１に収納してボルト留め（仮固定）する。つまり、位置調整基板５Ａを収納凹部１１にスライド可能な状態でボルト留めする。
【００６２】
手順３：下型ホルダ１Ａの収納凹部１１底部に昇降式位置決め機構１２をセットする。つまり、昇降式位置決めピン１５を位置調整基板５Ａの位置決めピン孔から挿通し、操作ロッド横穴から挿通される操作ロッド１７と係合させ、昇降式位置決めピン１５を昇降可能とする。
【００６３】
手順４：昇降式位置決めピン１５を装置下側基板１０１に設けられた昇降式位置決めピン孔に挿通して位置決めした後、装置下側基板１０１を位置調整基板５Ａにボルト留め（本固定）する。
【００６４】
手順５：計測部１１０の第１および２計測具で被計測部１２０の第１および２被計測軸の芯ずれを計測する。
【００６５】
手順６：計測値から芯ずれ量およびずれ方向を算出する。
【００６６】
手順７：算出された芯ずれ量およびずれ方向に基づいて、位置調整基板５Ａの位置を調整する。この位置調整は、例えば先端部が楔状に形成された位置調整治具Ｊを収納凹部１１と位置調整基板５Ａとの隙間に叩き込む（図１４参照）ことによりなされる。
【００６７】
手順８：位置調整基板５Ａの位置調整が終了した後、位置調整基板５Ａを下型ホルダ１Ａの収納凹部１１に本固定する。
【００６８】
手順９：位置調整基板５Ａを本固定した後、再度、芯ずれを計測する。
【００６９】
手順１０：計測値に問題がなければ、位置調整基板５Ａのずれ防止ピン孔と下型ホルダ１Ａのずれ防止ピン穴とをハンドリーマーにて共明けしてずれ防止ピンを挿通する。
【００７０】
手順１１：再度、芯ずれを計測する。
【００７１】
これにより、装置下側基板１０１と装置上側基板１０２との芯出し、つまり下型と上型との芯出しが完了する。
【００７２】
このように、この実施形態２によれば、下型ホルダ１Ａに収納凹部１１を設け、それに位置調整基板５Ａを収納するようにしているので、ダイハイトを従来と同様にできるという実施形態１では得られない効果も得られる。
【実施例】
【００７３】
以下、より具体的な実施例により説明する。
【００７４】
図１５に示す芯出し装置（図示例では、計測部が下側とされ、被計測部が上側とされている。）により、芯出しを行った。この芯出しにおいては、上型（装置上側基板）１０２下型（装置下側基板）１０１とのずれに応じて、図１６に示すように、ダイヤルゲージの理想軌道からのすれが生ずる。なお、計測は、操作面側をゼロとし計測具を時計回りに回して行った。また、図中、プラスはダイヤルゲージの探針が押されていることを示し、マイナスはその逆を示す。
【００７５】
例えば、上型が下型の奥にずれている場合（図１６（ａ））、上型が下型の手前にずれている場合（図１６（ｂ））、上型が下型の斜め奥にずれている場合（図１６（ｃ））、上型が下型の斜め手前にずれている場合（図１６（ｄ））などである。
【００７６】
図１７に、計測結果を表で示し、図１８にグラフで示す。また、下型（装置下側基板）１０１および上型（装置上側基板）１０２座標位置は、図１９に示すように定め、ずれ量およびその方向を考慮しながら芯出しを行う。
【００７７】
図１７および図１８から、芯出しが高精度になされているのがわかる。
【産業上の利用可能性】
【００７８】
本発明は、ダイセットの製作およびダイセットにおける芯出しに適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本発明の実施形態１に係るダイセットの概略図である。
【図２】同概略側面図である。
【図３】同ダイセットの下型ホルダに位置調整基板をセットした状態の上面図である。
【図４】同ダイセットの上型ホルダの下面図である。
【図５】同ダイセットの位置調整基板の一例の２面図であって、同（ａ）は側面図を示し、同（ｂ）は平面図を示す。
【図６】同ダイセットの位置調整基板の他の例の２面図であって、同（ａ）は側面図を示し、同（ｂ）は平面図を示す。
【図７】芯出し装置の概略図である。
【図８】本発明の実施形態２に係るダイセットの図１相当図である。
【図９】同図２相当図である。
【図１０】同図３相当図である。
【図１１】同図４相当図である。
【図１２】同図５相当図である。
【図１３】同図６相当図である。
【図１４】本発明の実施形態２における位置調整基板の位置調整の説明図である。
【図１５】本発明の実施例における芯出し装置の概略図であって、同（ａ）は位置関係を示す平面図であり、同（ｂ）は概略正面図である。
【図１６】芯ずれのパターンを示すパターン図である。
【図１７】芯ずれの結果を示すテーブル図である。
【図１８】芯ずれの結果を示すグラフ図である。
【図１９】芯ずれ計測における座標位置の説明図である。
【図２０】従来のダイセットの図１相当図である。
【符号の説明】
【００８０】
１      下型ホルダ
１１    収納凹部
１２    昇降式位置決め機構
１５    昇降式位置決めピン
１６    昇降手段
１７    操作ロッド
２      上型ホルダ
２１    昇降式位置決め機構
２３    ガイド部材
２５    昇降式位置決めピン
３      ガイドポスト
４      ガイドブッシュ
５      位置調整基板
５１    昇降式位置決め機構
５５    昇降式位置決めピン
５６    昇降手段
５７    操作ロッド
１００      芯出し装置
１０１      装置下側基板
１０２      装置上側基板
１１０      計測部
１２０      被計測部
Ｄ      ダイセット
Ｊ      位置調整治具
【図１】
2008238198.tif 000003
【図２】
2008238198.tif 000004
【図３】
2008238198.tif 000005
【図４】
2008238198.tif 000006
【図５】
2008238198.tif 000007
【図６】
2008238198.tif 000008
【図７】
2008238198.tif 000009
【図８】
2008238198.tif 000010
【図９】
2008238198.tif 000011
【図１０】
2008238198.tif 000012
【図１１】
2008238198.tif 000013
【図１２】
2008238198.tif 000014
【図１３】
2008238198.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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