(57)【要約】【課題】大掛かりな装置や高価な特別な装置を必要とせずに、容易にラビング状態を観察することができる。【解決手段】ラビング処理された配向膜を備えた基板のラビング状態を観察するラビング状態観察方法であって、液晶材料とゲル化剤とを混合してゲル化温度以上に加熱して混合液を生成するステップＳ１と、混合液を基板に滴下するステップＳ２と、混合液が滴下された基板に、もう１枚の基板を重ね合わせるステップＳ３と、重ね合わせたそれらの基板を室温まで冷却するステップＳ４と、室温になった前記基板を顕微鏡で観察することにより、ラビング状態を検査するステップＳ５とを備えている。なお、混合液の加熱は、基板への滴下前に行わなくともよく、基板どうしを重ね合わせた後に行ってもよい。【選択図】図１
2008158329.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ラビング処理された配向膜を備えた基板のラビング状態を観察するラビング状態観察方法であって、
液晶材料とゲル化剤とを混合して、混合液を生成するステップと、
前記混合液を前記基板に滴下するステップと、
前記混合液が滴下された前記基板に、もう１枚の基板を重ね合わせるステップと、
重ね合わせた前記基板を室温まで冷却するステップと、
前記ラビング状態を検査するために、室温になった前記基板を顕微鏡にセットするステップと
を備えたことを特徴とするラビング状態観察方法。
【請求項２】
前記混合液は、前記基板に滴下するステップの前に、ゲル化温度以上に加熱されることを特徴とする請求項１に記載のラビング状態観察方法。
【請求項３】
前記混合液は、前記基板にもう１枚の基板を重ね合わせるステップの後に、それらの２枚の基板とともにゲル化温度以上に加熱されることを特徴とする請求項１に記載のラビング状態観察方法。
【請求項４】
前記基板にもう１枚の基板を重ね合わせるステップにおいて、
前記基板のラビング方向と、前記もう１枚の基板のラビング方向とが、互いに異なる向きになるように、それらの基板を重ね合わせる
ことを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載のラビング状態観察方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明はラビング状態観察方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置に用いられる液晶パネルは、ＴＦＴアレイ基板と、当該ＴＦＴアレイ基板に対向して設けられたカラーフィルタ基板と、当該ＴＦＴアレイ基板とカラーフィルタ基板との間に設けられた液晶層とから構成されている。ＴＦＴアレイ基板は、その表面に平行に設けられた複数のデータラインと、当該データラインに交差するように設けられたゲートラインと、それらのデータラインおよびゲートラインとの交差領域に設けられたＴＦＴ（薄膜トランジスタ）と、データライン、ゲートラインおよびＴＦＴの上に設けられた配向膜とを備えている。カラーフィルタ基板は、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）を具現するためのカラーフィルタ層と、その上に設けられた透明なＩＴＯ（indium Tin Oxide）膜からなる対向電極と、さらにその上に設けられた配向膜とを備えている。
【０００３】
これらの基板に設けられた配向膜には、通常、ポリイミド膜が用いられており、その膜表面をレーヨンまたは綿等の布によって一定方向に擦る（ラビング）ことにより、液晶配向能が付与される。しかしながら、配向膜の膜物性とこのラビング条件等が適合しないと、液晶表示素子化された後、ラビング傷が白や黒の線として認識されたり、ドメインが発生したりして、画質低下の原因となる。
【０００４】
そのため、ラビング状態を観察する必要があるが、これまでは、
・基板表面にレーザ光を当てて、レーザ光の散乱を利用して観察する（例えば、特許文献１）、
・基板表面に水（蒸気）を結露させて、当該結露により形成される像を受光して撮像し、撮像の結果に基づき、ラビング傷を検査する（例えば、特許文献２）、
の様な大掛かりな装置を用いて観察する方法や、
・ＡＦＭ（Atomic Force Microscope（原子間力顕微鏡））等の表面観察装置
を用いて観察する方法しかなく、容易にラビング状態を観察する方法はなかった。
【０００５】
【特許文献１】特開平１０−７３５４１号公報
【特許文献２】特開平１０−１１１２５７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したように、従来のラビング状態の観察方法においては、大掛かりな装置が必要であったり、あるいは、ＡＦＭ等の高価な装置が必要で、容易にラビング状態を観察する方法がないという問題点があった。
【０００７】
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたものであり、大掛かりな装置や高価な特別な装置を必要とせずに、容易にラビング状態を観察することができるラビング状態観察方法を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明は、ラビング処理された配向膜を備えた基板のラビング状態を観察するラビング状態観察方法であって、液晶材料とゲル化剤とを混合して、混合液を生成するステップと、前記混合液を前記基板に滴下するステップと、前記混合液が滴下された前記基板に、もう１枚の基板を重ね合わせるステップと、重ね合わせた前記基板を室温まで冷却するステップと、前記ラビング状態を検査するために、室温になった前記基板を顕微鏡にセットするステップとを備えたことを特徴とするラビング状態観察方法である。
【発明の効果】
【０００９】
この発明は、ラビング処理された配向膜を備えた基板のラビング状態を観察するラビング状態観察方法であって、液晶材料とゲル化剤とを混合して、混合液を生成するステップと、前記混合液を前記基板に滴下するステップと、前記混合液が滴下された前記基板に、もう１枚の基板を重ね合わせるステップと、重ね合わせた前記基板を室温まで冷却するステップと、前記ラビング状態を検査するために、室温になった前記基板を顕微鏡にセットするステップとを備えたことを特徴とするラビング状態観察方法であるので、大掛かりな装置や高価な特別な装置を必要とせずに、容易にラビング状態を観察することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１に係るラビング状態観察方法の処理の流れを示したフローチャートである。図１に示すように、まず、混合機（図示せず）等により液晶材料にゲル化剤を混合させ、混合後、ゲル化温度以上に加熱し、液晶材料とゲル化剤とを完全に溶解させて混合溶液を生成する（ステップＳ１）。なお、ここで、ゲル化剤としては例えばＬｙｓ１８を用い、ゲル化剤濃度を約０．４５〜５．０ｍｏｌ−％とする。次に、ラビング処理され、スペーサーが配置された、透明基板（すなわち、フォトスペーサーを配置した基板またはラビング後にスペーサーを散布した基板のいずれか）に、ステップＳ１で生成した混合溶液を滴下する（ステップＳ２）。なお、このとき、混合溶液の広がりは、後工程の観察に必要な領域（すなわち、顕微鏡の視野程度）に混合溶液が広がれば十分である。また、混合溶液の滴下（望ましくは基板の重ね工程完了まで）はゲル化温度以上で行う。この理由としては、ゲル化時に、ラビング傷に沿って、ゲル化し、模様が現れてくる為である。
【００１１】
次に、混合溶液を滴下した２枚の基板を重ね合わせる（ステップＳ３）。なお、ステップＳ２における混合溶液の滴下は２枚の基板の両方に行う必要はなく、いずれか１枚の基板に行えばよいものとするが、いずれにしても、混合溶液が２枚の基板の間に挟まれるように重ね合わせる。また、図２に示すように、２枚の基板１０および２０の重ねあわせる向きは、ラビング方向が互いに異なる方向になるように重ね合わせることが望ましい。図２の例では、２枚の基板１０，２０のラビング方向が互いに直交する向きに合わせるようにしている。この理由としては、後の工程でラビング状態を観察する際に、ラビング方向が同じ向きであった場合には、上下の基板のどちら側にラビング傷があるのかが判りにくくなってしまうため、２枚の基板のラビング方向が異なる向きになるように重ねあわせておけば、ラビング傷がどちらの基板であるかがわかりやすくなるためである。
【００１２】
次に、重ね合わせた２枚の基板を室温まで冷却する（ステップＳ４）。これにより、ラビングにより生じた微小な溝に沿って、液晶／ゲル化剤溶液の相分離構造が現れるので、偏光顕微鏡等の顕微鏡にセット（載置）することにより、ラビング状態を顕微鏡を通して容易に観察できる（ステップＳ５）。図３に、顕微鏡で観察したラビング状態の一例を示す。図において、上下基板のラビング方向をそれぞれ矢印で示す。図３は顕微鏡写真を描画したものであるが、このように、必要に応じて、写真を撮る等してもよい。なお、図３の例では、それぞれの基板のラビング方向に偏光板の透過軸を合わせている。
【００１３】
以上のように、本実施の形態においては、配向膜にラビング処理を施し、スペーサーが配置された基板に、ゲル化剤を溶解した液晶を滴下し、その後、上下基板を重ね合わせることで、ラビング状態の観察を顕微鏡で行うことができるようにしたので、大掛かりな装置や高価な装置を用いずに、容易にラビング状態を観察することができる。
【００１４】
実施の形態２．
上記の実施の形態１においては、ゲル化温度以上に熱した混合溶液を基板に滴下する例について説明した。図４は、本実施の形態におけるラビング状態観察方法の処理の流れを示したフローチャートである。図４において、図１と同様の処理については、同一符号を付して示し、ここでは、その説明を省略する。なお、図１と図４との違いは、図４においては、図１のステップＳ２の代わりにステップＳ２Ａの処理が行われるとともに、ステップＳ１１の処理がステップ３とステップＳ４との間に追加されている点である。
【００１５】
本実施の形態においては、図４に示すように、ステップＳ１において、実施の形態１と同様に、液晶材料にゲル化剤を混合させる。また、ステップＳ２Ａでは、そのゲル化温度よりも低い状態の混合液を基板に滴下する。この時点では、混合液は基板表面全体には広がらず、滴下された付近にのみ存在している。次に、ステップＳ３において実施の形態１と同様にして２枚の基板を重ね合わせる。次に、本実施の形態においては、重ね合わせた２枚の基板を、ゲル化温度以上に加熱する（ステップＳ１０）。この時点で、混合液は、観察に必要な領域（すなわち、顕微鏡の視野程度）に広がる。その後は、実施の形態１と同様に、ステップＳ４およびＳ５の処理を行う。
【００１６】
以上のように、本実施の形態においては、基板を重ね合わせた後に、基板ごと混合液をゲル化温度以上に加熱するようにしたが、本実施の形態においても、実施の形態１と同様の効果が得られる。
【００１７】
なお、上記の実施の形態１および２においては、上下の基板を重ね合わせた状態でラビング状態を観察する例について説明したが、その場合に限らず、１枚の基板での観察が可能であれば１枚ずつ観察するようにしてもよい。なお、その場合には、２枚同時に観察する場合に比べて、観察時間が多くかかることが予想されるが、１枚ずつであるため、より分かりやすくラビング状態を観察することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】この発明の実施の形態１に係るラビング状態観察方法の処理の流れを示したフローチャートである。
【図２】この発明の実施の形態１に係るラビング状態観察方法において２枚の基板を重ね合わせる向きを示した説明図である。
【図３】この発明の実施の形態１に係るラビング状態観察方法において顕微鏡で観察したラビング状態の一例を示した平面図である。
【図４】この発明の実施の形態２に係るラビング状態観察方法の処理の流れを示したフローチャートである。
【符号の説明】
【００１９】
１０，２０  基板。
【図１】
2008158329.tif 000003
【図２】
2008158329.tif 000004
【図３】
2008158329.tif 000005
【図４】
2008158329.tif 000006