(57)【要約】【課題】それ自体で高電圧を生成してＨＶＳテストができる液晶表示装置、液晶表示装置のテスト用コネクタ、およびそのテスト方法を提供する。【解決手段】液晶表示装置は、外部から電源電圧が供給される入力ピンと、ＮＣ（Ｎｏ  Ｃｏｎｎｅｃｔｉｏｎ）ピンと、グラウンドピンとを含む内部コネクタと、ＮＣピンおよび入力ピンに接続された電源供給装置であって、電源電圧が供給されて、ＮＣピンとグラウンドピンとの電気的接続の有無に応じて電圧レベルが調節されるゲートオン電圧およびゲートオフ電圧を出力する電源供給装置と、ゲートオン電圧およびゲートオフ電圧が供給されて、ゲート信号を供給するゲート駆動部と、ゲート信号を受信してオン／オフにし、映像を表示する複数の画素を含む液晶パネルとを含む。【選択図】図１
2008158480.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部から電源電圧が供給される入力ピンと、ＮＣ（Ｎｏ  Ｃｏｎｎｅｃｔｉｏｎ）ピンと、グラウンドピンとを含む内部コネクタと、
前記ＮＣピンおよび前記入力ピンに接続された電源供給装置であって、前記電源電圧が供給されて、前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとの電気的接続の有無に応じて電圧レベルが調節されるゲートオン電圧およびゲートオフ電圧を出力する電源供給装置と、
前記ゲートオン電圧および前記ゲートオフ電圧が供給されて、ゲート信号を供給するゲート駆動部と、
前記ゲート信号を受信してオン／オフにし、映像を表示する複数の画素を含む液晶パネルとを含むことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項２】
前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとが電気的に接続されると、前記ゲートオン電圧の電圧レベルは上昇し、前記ゲートオフ電圧の電圧レベルは下降することを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項３】
前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとは、前記液晶表示装置のテスト動作時に電気的に接続されることを特徴とする請求項２に記載の液晶表示装置。
【請求項４】
前記液晶表示装置の普通の動作時に、前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとは電気的に接続されず、前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとの電気的接続時より、前記ゲートオン電圧の電圧レベルは下降し、前記ゲートオフ電圧の電圧レベルは上昇することを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項５】
前記電源供給装置は、
第１入力電圧をブーストして、フィードバック電圧の電圧レベルに応じて電圧レベルが可変する駆動電圧およびパルス信号を出力するブースト部と、
前記駆動電圧を電圧分配して、前記フィードバック電圧を供給するフィードバック電圧生成部と、
前記駆動電圧を前記パルス信号の電圧レベルだけシフトして、前記ゲートオン電圧を出力するゲートオン電圧生成部と、
第２入力電圧を前記パルス信号の電圧レベルだけシフトして、前記ゲートオフ電圧を出力するゲートオフ電圧生成部とを含むことを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項６】
前記フィードバック電圧の電圧レベルが低くなって、前記ゲートオン電圧の電圧レベルが上昇し、前記ゲートオフ電圧の電圧レベルが下降するとき、
前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとが電気的に接続されると、前記フィードバック電圧の電圧レベルが低くなることを特徴とする請求項５に記載の液晶表示装置。
【請求項７】
前記フィードバック電圧生成部は、
前記駆動電圧と前記フィードバック電圧との間に接続される第１抵抗と、
前記フィードバック電圧とグラウンド電圧との間に接続される第２抵抗と、
前記フィードバック電圧と前記ＮＣピンとの間に接続されるオプション抵抗とを含むことを特徴とする請求項５に記載の液晶表示装置。
【請求項８】
前記液晶表示装置のテスト時に、前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとを電気的に接続する接続部材をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項９】
外部から供給される電源電圧と、グラウンド電圧と、テスト用映像信号とを受信して液晶表示装置に伝送する伝送部と、
前記電源電圧、前記グラウンド電圧、および前記テスト用映像信号を受信する前記液晶表示装置の、内部コネクタのＮＣピンとグラウンドピンとを電気的に接続する接続部とを含むことを特徴とする液晶表示装置のテスト用コネクタ。
【請求項１０】
前記伝送部は、前記電源電圧と、前記グラウンド電圧と、前記テスト用信号とが入力される入力端子とこれらを出力する出力端子とを含み、
前記接続部は、前記ＮＣピンに接続される第１接続端子と前記グラウンドピンに接続される第２接続端子とを含み、前記第１接続端子と前記第２接続端子とは電気的に接続されることを特徴とする請求項９に記載の液晶表示装置のテスト用コネクタ。
【請求項１１】
前記液晶表示装置のテスト時に前記内部コネクタに接続されて、前記電源電圧と、グラウンド電圧と、テスト用映像信号とを伝送することを特徴とする請求項１０に記載の液晶表示装置のテスト用コネクタ。
【請求項１２】
外部から電源電圧が供給される入力ピンと、ＮＣ（Ｎｏ  Ｃｏｎｎｅｃｔｉｏｎ）ピンと、グラウンドピンとを含む内部コネクタと、前記ＮＣピンおよび前記入力ピンに接続された電源供給装置であって、前記電源電圧が供給されて、前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとの電気的接続の有無に応じて電圧レベルが調節されるゲートオン電圧およびゲートオフ電圧を出力する電源供給装置とを含む被テスト液晶表示装置を準備し、
前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとを電気的に接続することを特徴とする液晶表示装置のテスト方法。
【請求項１３】
前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとが電気的に接続されると、前記ゲートオン電圧の電圧レベルは上昇し、前記ゲートオフ電圧の電圧レベルは下降することを特徴とする請求項１２に記載の液晶表示装置のテスト方法。
【請求項１４】
前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとの電気的接続は、請求項９のテスト用コネクタを前記内部コネクトに接続することを特徴とする請求項１２に記載の液晶表示装置のテスト方法。
【請求項１５】
前記電源供給装置は、
第１入力電圧をブーストして、フィードバック電圧の電圧レベルに応じて電圧レベルが可変である駆動電圧およびパルス信号を出力するブースト部と、
前記駆動電圧を電圧分配して、前記フィードバック電圧を供給するフィードバック電圧生成部と、
前記駆動電圧を前記パルス信号の電圧レベルだけシフトして、前記ゲートオン電圧を出力するゲートオン電圧生成部と、
第２入力電圧を前記パルス信号の電圧レベルだけシフトして、前記ゲートオフ電圧を出力するゲートオフ電圧生成部とを含み、
前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとの電気的接続は、前記フィードバック電圧の電圧レベルを低くするものであることを特徴とする請求項１２に記載の液晶表示装置のテスト方法。
【請求項１６】
前記フィードバック電圧生成部は、
前記駆動電圧と前記フィードバック電圧との間に接続される第１抵抗と、
前記フィードバック電圧とグラウンド電圧との間に接続される第２抵抗と、
前記フィードバック電圧と前記ＮＣピンとの間に接続されるオプション抵抗とを含み、
前記ＮＣピンと前記グラウンドピンとの電気的接続は、前記フィードバック電圧と前記グラウンド電圧との間の抵抗値を低くするものであることを特徴とする請求項１５に記載の液晶表示装置のテスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タイミングコントローラおよびそれを含む液晶表示装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置は、画素電極が備えられた第１表示板と、共通電極が備えられた第２表示板と、第１表示板と第２表示板との間に注入された誘電率異方性（ｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃ  ａｎｉｓｏｔｒｏｐｙ）を有する液晶層と、複数のゲートラインを駆動するゲート駆動部と、データ信号を出力するデータ駆動部と、基本階調電圧とゲートターンオンおよびターンオフ電圧を発生して出力する駆動装置とを含む。
【０００３】
このような液晶表示装置は、製造後、別途の検査装置を用いることによって不良であるか否かが判定される。このようなテストのうちの１つである高電圧ストレス（Ｈｉｇｈ  Ｖｏｌｔａｇｅ  Ｓｔｒｅｓｓ、以下「ＨＶＳ」という）テストは、液晶表示装置に定格電圧レベルより高い電圧を印加して、液晶表示装置の動作をテストするテスト方法である。このようなＨＶＳテストは、高電圧を供給する別途のＨＶＳ検査装置を備えて、ＨＶＳテスト装置と液晶表示装置とを電気的に接続して検査を行う。
【０００４】
このような従来技術によれば、高電圧を供給する別途のＨＶＳテスト装置が必要となり、テスト過程も煩わしく、さらにＨＶＳテスト装置は液晶表示装置の原価上昇の１つの要因にもなる。
【０００５】
【特許文献１】大韓民国特開第２００６−０１３１０２１号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が達成しようとする技術的課題は、それ自体でＨＶＳテストが可能な液晶表示装置を提供することにその目的がある。
【０００７】
本発明が達成しようとする他の技術的課題は、それ自体でＨＶＳテストが可能な液晶表示装置に用いられる液晶表示装置のテスト用コネクタを提供することにその目的がある。
【０００８】
本発明が達成しようとするまた他の技術的課題は、それ自体でＨＶＳテストが可能な液晶表示装置のテスト方法を提供することにその目的がある。
【０００９】
本発明の技術的課題は、以上で言及した技術的課題に制限されず、言及していないまた他の技術的課題は下記記載によって当業者が明確に理解できるものである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記技術的課題を達成するための本発明の一態様に係る液晶表示装置は、外部から電源電圧が供給される入力ピンと、ＮＣ（Ｎｏ  Ｃｏｎｎｅｃｔｉｏｎ）ピンと、グラウンドピンとを含む内部コネクタと、ＮＣピンおよび入力ピンに接続された電源供給装置であって、電源電圧が供給されて、ＮＣピンとグラウンドピンとの電気的接続の有無に応じて電圧レベルが調節されるゲートオン電圧およびゲートオフ電圧を出力する電源供給装置と、ゲートオン電圧およびゲートオフ電圧が供給されて、ゲート信号を供給するゲート駆動部と、ゲート信号を受信してオン／オフにし、映像を表示する複数の画素を含む液晶パネルとを含む。
【００１１】
他の技術的課題を達成するための本発明の他の態様に係る液晶表示装置のテスト用コネクタは、外部から供給される電源電圧と、グラウンド電圧と、テスト用映像信号とを受信して液晶表示装置に伝送する伝送部と、電源電圧と、グラウンド電圧と、テスト用映像信号とを受信する液晶表示装置の、内部コネクタのＮＣピンとグラウンドピンとを電気的に接続する接続部とを含む。
【００１２】
他の技術的課題を達成するための本発明のまた他の態様に係る液晶表示装置のテスト方法は、外部から電源電圧が供給される入力ピンと、ＮＣ（Ｎｏ  Ｃｏｎｎｅｃｔｉｏｎ）ピンと、グラウンドピンとを含む内部コネクタと、ＮＣピンおよび入力ピンに接続された電源供給装置であって、電源電圧が供給されて、ＮＣピンとグラウンドピンとの電気的接続の有無に応じて電圧レベルが調節されるゲートオン電圧およびゲートオフ電圧を出力する電源供給装置とを含む被テスト液晶表示装置を準備し、ＮＣピンとグラウンドピンとを電気的に接続することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
上述したような本発明に実施形態に係る液晶表示装置、液晶表示装置のテスト用コネクタ、およびそのテスト方法によれば次のような効果がある。
【００１４】
第１に、それ自体で液晶表示装置のＨＶＳテストが可能である。第２に、液晶表示装置の検査過程がより簡単になる。第３に、高電圧を出力するＨＶＳ検査装置が不要になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
その他、実施形態の具体的な事項は、詳細な説明および図面に記載したとおりである。本発明の利点および特徴、そしてそれらを達成する方法は、添付する図面と共に詳細に後述する実施形態を参照すれば明確になる。しかし、本発明は以下にて開示する実施形態に限定されず、互いに異なる多様な形態によって実施され、単に本実施形態は本発明の開示が完全なものとなるようにし、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者に発明の範疇を完全に知らせるために提供されるものであって、本発明は請求項の記載に基づいてのみ定義されるものである。明細書の全体にわたり、同一参照符号は同一構成要素を示す。
【００１６】
以下にて添付する図面を参照して、本発明の一実施形態に係る液晶表示装置およびそのテスト方法について説明する。図１は本発明の一実施形態に係る液晶表示装置およびそのテスト方法を説明するためのブロック図であり、図２は図１の１つの画素に対する等価回路図であり、図３は図１のコネクタの一例を示す図であり、図４は図１の電源供給装置を説明するためのグラフである。普通の動作時とテスト動作時に電源供給装置が供給する電圧を区分するために、テスト動作時に電源供給装置が供給する電圧は括弧の中に示す。
【００１７】
図１に示すように、本発明の一実施形態に係る液晶表示装置１０は、液晶パネルアセンブリ３００、ゲート駆動部４００、データ駆動部５００、信号制御部６００、電源供給装置７００、階調電圧発生部８００、および内部コネクタ７５０を含む。
【００１８】
液晶パネルアセンブリ３００は、等価回路で見る時、複数の表示信号線Ｇ１〜Ｇｎ，Ｄ１〜Ｄｍと、それに接続されて行列状に配列された複数の画素ＰＸとを含む。
【００１９】
表示信号線Ｇ１〜Ｇｎ，Ｄ１〜Ｄｍは、ゲート信号を伝送する複数のゲート線Ｇ１〜Ｇｎと、データ信号を伝送する複数のデータ線Ｄ１〜Ｄｍとを含む。ゲート線Ｇ１〜Ｇｎは、大体行方向に延びて互いに略平行であり、データ線Ｄ１〜Ｄｍは、大体列方向に延びて互いに略平行である。
【００２０】
ここで、図２を参照すれば、液晶パネルアセンブリ３００の１つの画素ＰＸは、互いに対向する第１表示板１００、第２表示板２００、および両者の間に備えられた液晶層１５０を含む。第１表示板１００の画素電極ＰＥに対向するように第２表示板２００の共通電極ＣＥの一部領域に色フィルタＣＦが形成され得る。各画素、例えばｉ番目（ｉ＝１〜ｎ）ゲート線Ｇｉとｊ番目（ｊ＝１〜ｍ）データ線Ｄｊとに接続された画素は、信号線Ｇｉ，Ｄｊに接続された第１スイッチング素子Ｑ１と、それに接続された液晶キャパシタＣｌｃおよびストレージキャパシタＣｓｔを含む。ストレージキャパシタＣｓｔは、場合によって省略され得る。
【００２１】
内部コネクタ７５０は、外部のグラフィックコントローラ（図示せず）に接続されて、グラフィックコントローラ（図示せず）から供給される複数の信号を受信して液晶表示装置１０の内部に伝送する。例えば、Ｒ，Ｇ，Ｂ映像信号Ｒ，Ｇ，Ｂ、およびこれらの表示を制御する入力制御信号を受信して信号制御部６００に伝送する。入力制御信号の例としては、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃと垂直同期信号Ｈｓｙｎｃ、メインクロックＭＣＬＫ、データイネーブル信号ＤＥ等が挙げられる。また、外部から電源電圧Ｖｄｄが供給されて電源供給装置７００に供給する。内部コネクタ７５０は、上述したように電源電圧Ｖｄｄおよび映像信号を受信して伝送する入力ピンと、グラウンド電圧が印加されるグラウンドピンと、ノーコネクション（Ｎｏ  Ｃｏｎｎｅｃｔｉｏｎ、以下「ＮＣ」という）ピンとを含む。このような内部コネクタの例が図３に示されている。
【００２２】
図３に示すように、内部コネクタ７５０は、例えばＰＳＷＧ（Ｐａｎｅｌ  Ｓｔａｎｄａｒｄｉｚａｔｉｏｎ  Ｗｏｒｋｉｎｇ  Ｇｒｏｕｐ）で標準化された３０ピンのコネクタ７５０であってもよい。ＰＳＷＧで標準化されたコネクタは、一般的に第１番ピンから第３番ピンまでは電源電圧ＶＤＤが入力されるピンであり、第４番ピン〜第６番ピンはＮＣピンＮＣであり、第７番ピン、第１４番ピン、第１７番ピン、第２４番ピンはグラウンド電圧に接続されるグラウンドピンＧＮＤであり、その他のピンは映像信号またはクロック信号が入力されるピンである。図面に示すＲＸＯまたはＲＸＥの「ＲＸ」は「Ｒｅｃｅｉｖｅｒ」を意味する略字であり、「Ｏ」は「Ｏｄｄ」、「Ｅ」は「Ｅｖｅｎ」の略字であって、帯域幅を向上することが可能なデュアル方式でデータを受信するためにピンをＲＸＯとＲＸＥに分けて割り当てられることを意味する。本発明では、コネクタのＮＣピンＮＣが電源供給装置７００に接続される。
【００２３】
一方、図１のゲート駆動部４００は、信号制御部６００からゲート制御信号ＣＯＮＴ１を受信して、ゲート信号をゲート線Ｇ１〜Ｇｎに印加する。ここで、ゲート信号は、普通の動作時には電源供給装置７００から供給されるゲートオン電圧Ｖｏｎとゲートオフ電圧Ｖｏｆｆとの組み合わせからなる。テスト時にはテスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎとテスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆとの組み合わせからなる。ここで、テスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎは普通の動作時のゲートオン電圧Ｖｏｎより電圧レベルが高く、テスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆは普通の動作時のゲートオフ電圧Ｖｏｆｆより電圧レベルが低い。
【００２４】
ゲート制御信号ＣＯＮＴ１は、ゲート駆動部４００の動作を制御するための信号であって、ゲート駆動部４００の動作を開始する垂直開始信号、ゲートオン電圧Ｖｏｎの出力時期を決めるゲートクロック信号、およびゲートオン電圧Ｖｏｎのパルス幅を決める出力イネーブル信号などを含むことができる。
【００２５】
階調電圧発生部８００は、普通の動作時には電源供給装置７００から供給される駆動電圧ＡＶＤＤを電圧分配して、複数の階調電圧ＧＶをデータ駆動部５００に供給し、テスト動作時にはテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤを電圧分解して、テスト用階調電圧ＴＧＶを供給する。
【００２６】
データ駆動部５００は、信号制御部６００からデータ制御信号ＣＯＮＴ２を受信して動作し、階調電圧発生部８００から供給される複数の階調電圧ＧＶまたはテスト用階調電圧ＴＧＶのうちの映像信号に対応する映像データ電圧を選択して、データ線Ｄ１〜Ｄｍに印加する。データ制御信号ＣＯＮＴ２は、データ駆動部５００の動作を制御する信号であって、データ駆動部５００の動作を開始する水平開始信号、データ電圧の出力を指示する出力指示信号などを含む。
【００２７】
ゲート駆動部４００またはデータ駆動部５００は、複数の駆動集積回路チップの形態で液晶パネルアセンブリ３００上に直接取り付けられたり、可撓性印刷回路フィルム（ｆｌｅｘｉｂｌｅ  ｐｒｉｎｔｅｄ  ｃｉｒｃｕｉｔ  ｆｉｌｍ）（図示せず）上に取り付けられたりして、テープキャリアパッケージ（ｔａｐｅ  ｃａｒｒｉｅｒ  ｐａｃｋａｇｅ）の形態で液晶パネル３００に取り付けられ得る。その一方、ゲート駆動部４００またはデータ駆動部５００は、表示信号線Ｇ１〜Ｇｎ，Ｄ１〜Ｄｍとスイッチング素子Ｑ１などと共に液晶パネルアセンブリ３００に集積されてもよい。
【００２８】
信号制御部６００は、内部コネクタ７５０を介して伝送されるＲ，Ｇ，Ｂ映像信号およびこれらの表示を制御する入力制御信号を受信して、ゲート制御信号ＣＯＮＴ１およびデータ制御信号ＣＯＮＴ２を生成して、各々ゲート駆動部４００およびデータ駆動部５００に供給する。
【００２９】
電源供給装置７００は、内部コネクタ７５０から電源電圧Ｖｄｄが供給されて、液晶表示装置１０の動作に必要な電圧を供給する。図３および図４を参照してより具体的に説明すれば、電源供給装置７００は、普通の動作時には駆動電圧ＡＶＤＤ、ゲートオン電圧Ｖｏｎ、およびゲートオフ電圧Ｖｏｆｆを供給する。一方、テスト動作時には普通の動作時の駆動電圧ＡＶＤＤおよびゲートオン電圧Ｖｏｎより各々電圧レベルの高いテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤおよびテスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎを供給し、普通の動作時のゲートオフ電圧Ｖｏｆｆより電圧レベルの低いテスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆを供給する。テスト動作時には内部コネクタ７５０のＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続され、普通の動作時には内部コネクタ７５０のＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されない。すなわち、内部コネクタ７５０のＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されるか否かに応じて、電源供給装置７００は、駆動電圧ＡＶＤＤ、ゲートオン電圧Ｖｏｎ、およびゲートオフ電圧Ｖｏｆｆを供給し、あるいは駆動電圧ＡＶＤＤおよびゲートオン電圧Ｖｏｎより各々電圧レベルの高いテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤおよびテスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎを供給し、普通の動作時のゲートオフ電圧Ｖｏｆｆより電圧レベルの低いテスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆを供給する。これに関する詳細な説明は以下のとおりである。
【００３０】
図５は図１の電源供給装置を説明するためのブロック図であり、図６は図５のブースト部とフィードバック電圧生成部を説明するための回路図であり、図７は図５のＰＷＭ信号発生器を説明するためのブロック図であり、図８は図５のゲートオン電圧生成部およびゲートオフ電圧生成部を説明するための回路図である。
【００３１】
図５に示すように、電源供給装置７００は、ブースト部７２０、ゲートオン電圧生成部７３０、ゲートオフ電圧生成部７４０、およびフィードバック電圧生成部７１０を含む。
【００３２】
内部コネクタ７５０の電源電圧ピンＶｄｄはブースト部７２０に接続され、ＮＣピンＮＣはフィードバック電圧生成部７１０に接続され、グラウンドピンＧＮＤはゲートオフ電圧生成部７４０に接続される。
【００３３】
先ず、ブースト部７２０は電源電圧Ｖｄｄをブーストして、フィードバック電圧ＦＢの電圧レベルに応じて電圧レベルが可変する駆動電圧ＡＶＤＤおよびパルス信号ＰＵＬＳＥを出力する。例えば、フィードバック電圧ＦＢの電圧レベルが減少すれば、駆動電圧ＡＶＤＤおよびパルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルは上昇し、フィードバック電圧ＦＢの電圧レベルが上昇すれば、駆動電圧ＡＶＤＤおよびパルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルは減少する。内部コネクタ７５０のＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されると、フィードバック電圧生成部７１０はフィードバック電圧ＦＢの電圧レベルを減少させる。すなわち、ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されると、フィードバック電圧生成部７１０は、ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されない場合より低いレベルのフィードバック電圧ＦＢをブースト部７２０に供給し、ブースト部７２０は、普通の動作時の駆動電圧ＡＶＤＤおよびパルス信号ＰＵＬＳＥより高いレベルのテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤと、パルス信号ＰＵＬＳＥとを出力する。このようなブースト部７２０およびフィードバック電圧生成部７１０については、図６および図７を参照して後述する。
【００３４】
ゲートオン電圧生成部７３０は、普通の動作時には駆動電圧ＡＶＤＤをパルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルだけシフトしてゲートオン電圧Ｖｏｎを出力し、テスト動作時には、すなわちＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されると、テスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎを出力する。このようなゲートオン電圧生成部７３０については図８を参照して後述する。
【００３５】
ゲートオフ電圧生成部７４０は、普通の動作時にはグラウンド電圧ＧＮＤをパルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルだけシフトしてゲートオフ電圧Ｖｏｆｆを出力し、テスト動作時には、すなわちＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されると、テスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆを出力する。このようなゲートオフ電圧生成部７４０については図８を参照して後述する。
【００３６】
図６を参照して、ブースト部７２０とフィードバック電圧生成部７１０についてより詳細に説明する。先ず、フィードバック電圧生成部７１０を説明すれば、フィードバック電圧生成部７１０は、駆動電圧ＡＶＤＤを電圧分配する第１抵抗Ｒ１および第２抵抗Ｒ２と、オプション抵抗Ｒ＿ＯＰとを含む。第１抵抗Ｒ１は駆動電圧ＡＶＤＤとフィードバック電圧ＦＢとの間に接続され、第２抵抗Ｒ２はフィードバック電圧ＦＢとグラウンド電圧との間に接続される。オプション抵抗Ｒ＿ＯＰの一端はフィードバック電圧ＦＢに接続され、他端は内部コネクタ７５０のＮＣピンＮＣに接続される。
【００３７】
ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されなければ、オプション抵抗Ｒ＿ＯＰはフローティング状態になり、フィードバック電圧ＦＢは、駆動電圧ＡＶＤＤが第１抵抗Ｒ１と第２抵抗Ｒ２によって電圧分配された電圧レベルになる。すなわち、ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されなければ、普通の動作としてブースト部７２０は駆動電圧ＡＶＤＤを出力する。
【００３８】
テスト時には、ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続され、オプション抵抗Ｒ＿ＯＰの他端はグラウンド電圧に接続されて、第２抵抗Ｒ２と並列に接続される。したがって、フィードバック電圧ＦＢとグラウンド電圧との間の抵抗値は減少して、フィードバック電圧ＦＢの電圧レベルは減少する。フィードバック電圧ＦＢレベルが減少すれば、ブースト部７２０は、普通の動作時の駆動電圧ＡＶＤＤおよびパルス信号ＰＵＬＳＥより高いレベルのテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤおよびパルス信号ＰＵＬＳＥを出力する。したがって、電源供給装置は、高い電圧レベルのテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤ、テスト用ゲートオン電圧Ｖｏｎ、およびテスト用ゲートオフ電圧Ｖｏｆｆを供給するようになる。ここで、ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとは、伝導性の接続部材ＣＭ、例えばケーブルなどによって電気的に接続されてもよい。
【００３９】
ブースト部７２０は、図６に示すように、ブーストコンバータであって、内部コネクタ７５０から供給された電源電圧Ｖｄｄが印加されるインダクタＬと、インダクタＬにアノードが接続され、駆動電圧ＡＶＤＤにカソードが接続される第１ダイオードＤ１と、第１ダイオードＤ１と接地との間に接続される第１キャパシタＣ１と、第１ダイオードＤ１のアノード端子に接続されるＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ  Ｗｉｄｔｈ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）信号発生器７２５とを含む。ここで、ブーストコンバータは、ブースト部７２０の一例であって、他種のコンバーターであり得る。ただし、図６に示すものとは異なり、電圧分圧器（ディバイダ、図示せず）を介して電源電圧Ｖｄｄより低い電圧がブースト部７２０に供給されてもよい。
【００４０】
動作について説明すれば、ＰＷＭ信号発生器７２５から出力されたＰＷＭ信号ＰＷＭがハイレベルである場合にスイッチング素子Ｑ２がターンオンし、インダクタＬの電流、電圧特性に応じてインダクタＬの両端に印加される電源電圧Ｖｄｄに比例して、インダクタＬを流れる電流ＩＬが徐々に増加する。
【００４１】
ＰＷＭ信号ＰＷＭがローレベルであれば、スイッチング素子Ｑ２がターンオフし、インダクタＬを流れる電流ＩＬは第１ダイオードＤ１を介して流れて、第１キャパシタＣ１の電流、電圧特性に応じて第１キャパシタＣ１に電圧が充電される。したがって、電源電圧Ｖｄｄが一定電圧に昇圧して、電源供給装置７００に出力される。ここで、ＰＷＭ信号ＰＷＭは、フィードバック電圧ＦＢの電圧レベルに応じてデューティ比（ｄｕｔｙ  ｒａｔｉｏ）が変わるが、ＰＷＭ信号ＰＷＭのデューティー比によってインダクタＬに流れる電流の量が変わるようになり、これに伴って駆動電圧ＡＶＤＤおよびパルス信号ＰＵＬＳＥが昇圧したりあるいは降圧したりする。
【００４２】
図７を参照してＰＷＭ信号発生器７２５がフィードバック電圧ＦＢの電圧レベルに応じてデューティ比が可変するＰＷＭ信号ＰＷＭを出力する動作について説明すれば、オシレータ７２６は一定の周波数の基準クロック信号ＲＣＬＫを発生する。比較器７２７は、オシレータ７２６から生成された基準クロック信号ＲＣＬＫとフィードバック電圧ＦＢとを比較して、フィードバック電圧ＦＢのレベルが基準クロック信号ＲＣＬＫのレベルより大きい場合はハイレベルを出力し、小さい場合はローレベルを出力して、ＰＷＭ信号ＰＷＭを生成する。ここで基準クロック信号ＲＣＬＫの周波数は一定であるため、フィードバック電圧ＦＢのレベルに応じてＰＷＭ信号ＰＷＭのデューティ比が変わる。ただし、ＰＷＭ信号発生器７２５はこれに限定されず、フィードバック電圧ＦＢに応じてデューティ比が変わるＰＷＭ信号ＰＷＭを発生する他種の回路であってもよい。
【００４３】
すなわち、ブースト部７２０は、ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されると、普通の動作時より電圧レベルの高いパルス信号ＰＵＬＳＥとテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤとを出力する。
【００４４】
図８を参照して、ゲートオン電圧生成部７３０およびゲートオフ電圧生成部７４０がチャージポンプ回路である場合を例に挙げて説明する。
【００４５】
ゲートオン電圧生成部７３０は、第２および第３ダイオードＤ２，Ｄ３と第２および第３キャパシタＣ２，Ｃ３とを含む。第２ダイオードＤ２のアノードに普通の動作時の駆動電圧またはテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤが供給され、第２ダイオードＤ２のカソードは第１ノードＮ１に接続される。第２キャパシタＣ２は、第１ノードＮ１とパルス信号ＰＵＬＳＥが印加される第２ノードＮ２との間に接続される。第３ダイオードＤ３のアノードは第１ノードＮ１に接続され、第３ダイオードＤ３のカソードは普通の動作時のゲートオン電圧Ｖｏｎまたはテスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎを出力する。第３キャパシタＣ３は、第２ダイオードＤ２のアノードと第３ダイオードＤ３のカソードとの間に接続される。ただし、これに限定されず、３つ以上のダイオードと３つ以上のキャパシタとの組み合わせであってもよい。
【００４６】
動作について説明すれば、パルス信号ＰＵＬＳＥが第２キャパシタＣ２に供給されると、第１ノードＮ１は、普通の動作時には駆動電圧ＡＶＤＤからパルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルだけ上昇したパルスを出力し、テスト動作時にはテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤからパルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルだけ上昇したパルスを出力する。第３ダイオードＤ３および第３キャパシタＣ３は、第１ノードＮ１の電圧をクランプして、ゲートオン電圧Ｖｏｎまたはテスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎを出力する。すなわち、普通の動作時のゲートオン電圧Ｖｏｎは駆動電圧ＡＶＤＤが略パルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルだけシフトしたＤＣ電圧になり、テスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎはテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤが略パルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルだけシフトしたＤＣ電圧になる。
【００４７】
ゲートオフ電圧生成部７４０は、第４および第５ダイオードＤ４，Ｄ５と第４および第５キャパシタＣ４，Ｃ５とを含む。第４ダイオードＤ４のカソードにグラウンド電圧が供給され、第４ダイオードＤ４のアノードは第３ノードＮ３に接続される。第４キャパシタＣ４は、第３ノードＮ３とパルス信号ＰＵＬＳＥが印加される第２ノードＮ２との間に接続される。第５ダイオードＤ５のカソードは第３ノードＮ３に接続され、第５ダイオードＤ５のアノードはゲートオフ電圧Ｖｏｆｆまたはテスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆを出力する。第５キャパシタＣ５は、第４ダイオードＤ４のカソードと第５ダイオードＤ５のアノードとの間に接続される。ただし、ここに限定されす、３つ以上のダイオードと３つ以上のキャパシタの組み合わせであってもよい。
【００４８】
動作について説明すれば、パルス信号ＰＵＬＳＥが第４キャパシタＣ４に供給されると、第３ノードＮ３はグラウンド電圧からパルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルだけ下降したパルスを出力する。ここでパルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルは、上述したように、ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されると、接続されない場合より上昇する。第５ダイオードＮ５および第５キャパシタＣ５は、第３ノードＮ３の電圧をクランプして、ゲートオフ電圧Ｖｏｆｆまたはテスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆを出力する。すなわち、ゲートオフ電圧Ｖｏｆｆまたはテスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆは、略グラウンド電圧がパルス信号ＰＵＬＳＥの電圧レベルだけシフトしたＤＣ電圧になる。
【００４９】
つまり、ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されると、電源供給装置（図１の７００）がテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤ、テスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎ、およびテスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆを供給する。すなわち、高電圧をそれ自体で生成するため、別途の液晶表示装置のＨＶＳ検査装置が不要になる。
【００５０】
図９を参照して、本発明の一実施形態に係る液晶表示装置のテスト用コネクタについて説明する。図９は、本発明の一実施形態に係る液晶表示装置のテスト用コネクタを説明するための液晶表示装置のテストシステムのブロック図である。図１に示す構成要素と同じ機能を有する構成要素に対しては同一の図面符号を用い、説明の便宜上、該当構成要素に関する詳細説明は省略する。
【００５１】
図９に示すように、テストシステムは、テスト用信号Ｒ，Ｇ，Ｂ，ＤＥ，Ｈｓｙｎｃ，Ｖｓｙｎｃ，ＭＣＬＫを供給する外部信号供給装置９００と、外部信号供給装置９００からテスト用信号Ｒ，Ｇ，Ｂ，ＤＥ，Ｈｓｙｎｃ，Ｖｓｙｎｃ，ＭＣＬＫを液晶表示装置１０に伝送する液晶表示装置のテスト用コネクタ７６０、および被テスト液晶表示装置１０を含む。
【００５２】
液晶表示装置１０をテストするために、テスト用コネクタ７６０が液晶表示装置１０の内部コネクタ７５０に接続され、テスト用コネクタ７６０が外部信号供給装置９００に接続される。
【００５３】
外部信号供給装置９００は、テスト用映像信号Ｒ，Ｇ，Ｂと制御信号ＤＥ，Ｈｓｙｎｃ，Ｖｓｙｎｃ，ＭＣＬＫ、および電源電圧Ｖｄｄおよびグラウンド電圧ＧＮＤを供給する。ここで、テスト用映像信号Ｒ，Ｇ，Ｂは液晶表示装置１０の表示品質をテストするためにパターン化した信号であってもよい。
【００５４】
テスト用コネクタ７６０は伝送部７６２，７６４と接続部７６６とを含む。伝送部７６２，７６４は、外部信号供給装置９００からテスト用信号Ｒ，Ｇ，Ｂ，ＤＥ，Ｈｓｙｎｃ，Ｖｓｙｎｃ，ＭＣＬＫが入力される入力端子７６２と、これらを液晶表示装置１０に伝送する出力端子７６４とを含む。接続部７６６は、液晶表示装置の内部コネクタ７５０のＮＣピンＮＣに接続される第１接続端子Ｐ１とグラウンドピンＧＮＤに接続される第２接続端子Ｐ２とを含む。ここで、第１接続端子Ｐ１と第２接続端子Ｐ２とは電気的に接続されている。このようなテスト用コネクタ７６０は、テスト用信号Ｒ，Ｇ，Ｂ，ＤＥ，Ｈｓｙｎｃ，Ｖｓｙｎｃ，ＭＣＬＫを液晶表示装置１０の内部コネクタ７５０に供給する。また、テスト用コネクタ７６０は、外部信号供給装置９００から電源電圧Ｖｄｄと、グラウンド電圧ＧＮＤとが供給されて内部コネクタ７５０に供給することもでき、他の装置から供給され得るため、外部からの電源電圧Ｖｄｄとグラウンド電圧ＧＮＤの入力は具体的に示していない。
【００５５】
内部コネクタ７５０がテスト用コネクタ７６０に接続されると、ＮＣピンＮＣとグラウンドピンＧＮＤとが電気的に接続されるため、電源供給装置７００は、上述したように、テスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤ、テスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎ、およびテスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆを供給する。
【００５６】
信号制御部６００はテスト用映像信号ＤＡＴをデータ駆動部５００に供給し、データ駆動部５００はテスト用階調電圧ＴＧのうちのテスト用映像信号ＤＡＴに対応する映像データ電圧を液晶パネル３００に供給する。
【００５７】
つまり、テスト用コネクタ７６０によって、液晶表示装置１０内部の電源供給装置７００がそのもので高電圧のテスト用駆動電圧ＴＡＶＤＤ、テスト用ゲートオン電圧ＴＶｏｎ、およびテスト用ゲートオフ電圧ＴＶｏｆｆを生成し、このようなテスト用電圧ＴＡＶＤＤ，ＴＶｏｎ，ＴＶｏｆｆと、テスト用コネクタ７６０を介して外部から供給されるテスト用映像信号Ｒ，Ｇ，Ｂとを用いて液晶表示装置１０をテストすることができる。
【００５８】
以上、添付した図面を参照して本発明の実施形態を説明したが、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者であれば、本発明がその技術的思想や必須の特徴を変更せず、他の具体的な形態によって実施することができるということを理解できる。したがって、以上で記述した実施形態はすべての面で例示的なものであり、限定的なものではないことを理解しなければならない。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
本発明は、液晶表示装置、液晶表示装置のテスト用コネクタ、およびそのテスト方法に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置およびそのテスト方法を説明するためのブロック図である。
【図２】図１の１つの画素に対する等価回路図である。
【図３】図１のコネクタの１例を示す図である。
【図４】図１の電源供給装置を説明するためのグラフである。
【図５】図１の電源供給装置を説明するためのブロック図である。
【図６】図５のブースト部とフィードバック電圧生成部を説明するための回路図である。
【図７】図５のＰＷＭ信号発生器を説明するためのブロック図である。
【図８】図５のゲートオン電圧生成部およびゲートオフ電圧生成部を説明するための回路図である。
【図９】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置のテスト用コネクタを説明するための液晶表示装置のテストシステムのブロック図である。
【符号の説明】
【００６１】
１０    液晶表示装置
３００    液晶パネル
４００    ゲート駆動部
５００    データ駆動部
６００    信号制御部
７００    電源供給装置
７１０    フィードバック電圧生成部
７２０    ブースト部
７３０    ゲートオン電圧生成部
７４０    ゲートオフ電圧生成部
７５０    内部コネクタ
７６０    テスト用コネクタ
８００    階調電圧発生部
９００    外部信号供給装置
ＮＣ    ＮＣピン
ＧＮＤ    グラウンドピン
【図１】
2008158480.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2008158480.tif 000008
【図７】
2008158480.tif 000009
【図８】
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【図９】
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