(57)【要約】【課題】大地帰路インピーダンスに起因した測定誤差を低減し、低い接地抵抗の測定精度を向上させる。【解決手段】大地に埋設される接地電極１と、大地に配置される第１リターン線３及び第２リターン線４と、可変インダクタ６とを備える接地抵抗測定装置１００を使用して３つの異なる経路の閉ループ回路に切り替えつつ接地抵抗を測定する。第１閉ループ回路では周波数を変えて共振させてループ抵抗を測定し、第２閉ループ回路では同一の周波数を維持しつつインダクタンスを変えて共振させてループ抵抗を測定し、第３閉ループ回路では同一の周波数およびインダクタンスを維持しつつループ抵抗を測定する。各閉ループ回路の共振点において実数成分のみで測定されたループ抵抗から接地抵抗を計算することで、周波数などの測定環境に依存する大地帰路インピーダンスに起因した測定誤差を低減することができる。【選択図】図１
2008232953.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一端が大地に埋設された接地電極と発振器と大地に配置された第１の金属部材との間で形成される第１の閉ループ回路と、前記接地電極と前記発振器と可変インダクタンス素子と大地に配置された第２の金属部材との間で形成される第２の閉ループ回路と、前記第１の金属部材と前記発振器と前記可変インダクタンス素子と前記第２の金属部材との間で形成される第３の閉ループ回路と、が切り替え手段により切り替え可能な接地抵抗測定装置を使用して接地抵抗を測定する接地抵抗測定方法であって、
前記切り替え手段により前記第１の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を変えて当該第１の閉ループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第１の金属部材と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗を測定する第１のステップと、
前記切り替え手段により前記第２の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持しつつ、前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを変えて当該第２のループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第２の金属部材と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗を測定する第２のステップと、
前記切り替え手段により前記第３の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持すると共に前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを前記第２の閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ、インピーダンス測定器により前記第１の大地帰路インピーダンス及び前記第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗を測定する第３のステップと、
前記第１及び第２のループ抵抗を加算した値から第３のループ抵抗を減算して接地抵抗を計算する第４のステップと、
を有することを特徴とする接地抵抗測定方法。
【請求項２】
一端が大地に埋設された接地電極と発振器と大地に配置された第１の金属部材との間で形成される第１の閉ループ回路と、前記接地電極と前記発振器と可変インダクタンス素子と可変抵抗と大地に配置された第２の金属部材との間で形成される第２の閉ループ回路と、前記接地電極と前記発振器と前記第１の金属部材及び前記可変インダクタンス素子と前記可変抵抗と第２の金属部材との間で形成される第３の閉ループ回路と、が切り替え手段により切り替え可能な接地抵抗測定装置を使用して接地抵抗を測定する接地抵抗測定方法であって、
前記切り替え手段により前記第１の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を変えて当該第１の閉ループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第１の金属部材と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗を測定する第１のステップと、
前記切り替え手段により前記第２の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持しつつ、前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを変えて当該第２のループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第２の金属部材と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗を測定しつつ前記可変抵抗の抵抗を変えて当該第２のループ抵抗が前記第１のループ抵抗と等しくなるように調整する第２のステップと、
前記切り替え手段により前記第３の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持すると共に前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを前記第２の閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ前記可変抵抗の抵抗を前記第１及び第２のループ抵抗が等しくなったときの値に維持し、インピーダンス測定器により前記第１の大地帰路インピーダンス及び前記第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗を測定する第３のステップと、
前記第３のループ抵抗から前記第１又は第２のループ抵抗の値を減算して接地抵抗を計算する第４のステップと、
を有することを特徴とする接地抵抗測定方法。
【請求項３】
一端が大地に埋設された接地電極と発振器と大地に配置された第１の金属部材との間で形成される第１の閉ループ回路と、
前記接地電極と前記発振器と可変インダクタンス素子と大地に配置された第２の金属部材との間で形成される第２の閉ループ回路と、
前記第１の金属部材と前記発振器と前記可変インダクタンス素子と前記第２の金属部材との間で形成される第３の閉ループ回路と、
前記第１の閉ループ回路、前記第２の閉ループ回路、及び前記第３の閉ループ回路を切り替え可能な切り替え手段と、を備え、
前記切り替え手段により前記第１の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を変えて当該第１の閉ループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第１の金属部材と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗を測定し、
前記切り替え手段により前記第２の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持しつつ、前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを変えて当該第２のループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第２の金属部材と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗を測定し、
前記切り替え手段により前記第３の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持すると共に前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを前記第２の閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ、インピーダンス測定器により前記第１の大地帰路インピーダンス及び前記第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗を測定し、
前記第１及び第２のループ抵抗を加算した値から第３のループ抵抗を減算することにより接地抵抗を計算可能にしたことを特徴とする接地抵抗測定装置。
【請求項４】
一端が大地に埋設された接地電極と発振器と大地に配置された第１の金属部材との間で形成される第１の閉ループ回路と、
前記接地電極と前記発振器と可変インダクタンス素子と可変抵抗と大地に配置された第２の金属部材との間で形成される第２の閉ループ回路と、
前記接地電極と前記発振器と前記第１の金属部材及び前記可変インダクタンス素子と前記可変抵抗と第２の金属部材との間で形成される第３の閉ループ回路と、
前記第１の閉ループ回路、前記第２の閉ループ回路、及び前記第３の閉ループ回路を切り替え可能な切り替え手段と、を備え、
前記切り替え手段により前記第１の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を変えて当該第１の閉ループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第１の金属部材と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗を測定し、
前記切り替え手段により前記第２の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持しつつ、前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを変えて当該第２のループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第２の金属部材と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗を測定しつつ前記可変抵抗の抵抗を変えて当該第２のループ抵抗が前記第１のループ抵抗と等しくなるように調整し、
前記切り替え手段により前記第３の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持すると共に前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを前記第２の閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ前記可変抵抗の抵抗を前記第１及び第２のループ抵抗が等しくなったときの値に維持し、インピーダンス測定器により前記第１の大地帰路インピーダンス及び前記第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗を測定し、
前記第３のループ抵抗から前記第１又は第２のループ抵抗の値を減算することにより接地抵抗を計算可能にしたことを特徴とする接地抵抗測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、補助電極を使用することなく大地に埋設した接地電極の接地抵抗を測定する接地抵抗測定方法および接地抵抗測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、大地に埋設した接地電極の接地抵抗を測定する方法として、３電極法が用いられてきた。この方法は測定精度が優れている一方で測定の際には補助電極を大地に打ち込む必要があり手間がかかるという問題があった。
【０００３】
これに対し、近年では補助電極を使用することなく容易に接地抵抗を測定できる接地抵抗測定方法が提案されている（例えば、特許文献１を参照）。この方法に使用する測定装置は、図１７のブロック図に示すように、大地に配置された接地電極と、大地に配置されたリターン線と、コイル及び発振器を装置３００内部に備える。測定の際には、図１８に示すように、リターン線と大地との間のインピーダンスを静電容量Ｃ（未知数）のみと仮定し、接地抵抗Ｒｇと、内部抵抗Ｒｉと、装置内部のコイルＬと、静電容量Ｃとで構成されるＲＬＣ直列共振回路において共振点でのインピーダンスを求める。
【０００４】
具体的には、図１９のフローチャートに示すように、発振器の周波数ｆを変化させつつ直列共振回路のインピーダンスを測定する（Ｓ３１）。インピーダンスの最小値をループ抵抗として測定する（Ｓ３２）。内部抵抗Ｒｉは既知であるので接地抵抗Ｒｇが求まる（Ｓ３２）。この方法は接地抵抗が１００Ω〜５００Ωの範囲では測定精度が良好なことから最近では実用化されている。
【特許文献１】特許第２９３５２２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の単電極接地抵抗測定方法により、更に低い接地抵抗を測定する場合にはリターン線と大地との間の静電容量Ｃだけでなく大地帰路インピーダンスの影響が無視できなくなる。図２０のグラフは、従来の単電極接地抵抗測定方法による接地抵抗の測定精度を示すグラフである。図中の丸は単電極接地電極測定方法による測定値を示し、図中の菱形は測定誤差を示している。測定誤差は図中の直線で示した３電極法による測定値を真値としたときの真値からの誤差である。
【０００６】
図中の点線矢印で示すように、従来の単電極接地抵抗測定方法では測定対象の接地抵抗が１００Ω以下に小さくなると、リターン線と大地との間の静電容量Ｃだけでなく大地帰路インピーダンスの影響を無視できなくなるため、３電極法と比べて誤差が拡大し測定精度が劣化するという問題があった。
【０００７】
本発明は、上記問題点に鑑み、大地帰路インピーダンスに起因した測定誤差を低減し、低い接地抵抗の測定精度を向上させることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
第１の本発明に係る接地抵抗測定方法は、一端が大地に埋設された接地電極と発振器と大地に配置された第１の金属部材との間で形成される第１の閉ループ回路と、前記接地電極と前記発振器と可変インダクタンス素子と大地に配置された第２の金属部材との間で形成される第２の閉ループ回路と、前記第１の金属部材と前記発振器と前記可変インダクタンス素子と前記第２の金属部材との間で形成される第３の閉ループ回路と、が切り替え手段により切り替え可能な接地抵抗測定装置を使用して接地抵抗を測定する接地抵抗測定方法であって、前記切り替え手段により前記第１の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を変えて当該第１の閉ループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第１の金属部材と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗を測定する第１のステップと、前記切り替え手段により前記第２の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持しつつ、前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを変えて当該第２のループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第２の金属部材と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗を測定する第２のステップと、前記切り替え手段により前記第３の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持すると共に前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを前記第２の閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ、インピーダンス測定器により前記第１の大地帰路インピーダンス及び前記第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗を測定する第３のステップと、前記第１及び第２のループ抵抗を加算した値から第３のループ抵抗を減算して接地抵抗を計算する第４のステップと、を有することを特徴とする。
【０００９】
本発明にあっては、一端が大地に埋設される接地電極と、可変インダクタンス回路と、大地に配置される第１の金属部材及び第２の金属部材とを備える接地抵抗測定装置を使用して３つの異なる経路の閉ループ回路に切り替えつつループ抵抗を測定する。第１の閉ループ回路では周波数を変えて共振させて第１のループ抵抗を測定し、第２の閉ループ回路では同一の周波数を維持しつつインダクタンスを変えて共振させて第２のループ抵抗を測定し、第３の閉ループ回路では同一の周波数およびインダクタンスを維持しつつ第３のループ抵抗を測定する。それぞれの閉ループ回路の共振点において実数成分のみで測定された第１乃至第３のループ抵抗から導出された接地抵抗を計算することで、周波数などの測定環境に依存する大地帰路インピーダンスに起因した測定誤差を低減することができる。
【００１０】
第２の本発明に係る接地抵抗測定方法は、一端が大地に埋設された接地電極と発振器と大地に配置された第１の金属部材との間で形成される第１の閉ループ回路と、前記接地電極と前記発振器と可変インダクタンス素子と可変抵抗と大地に配置された第２の金属部材との間で形成される第２の閉ループ回路と、前記接地電極と前記発振器と前記第１の金属部材及び前記可変インダクタンス素子と前記可変抵抗と第２の金属部材との間で形成される第３の閉ループ回路と、が切り替え手段により切り替え可能な接地抵抗測定装置を使用して接地抵抗を測定する接地抵抗測定方法であって、前記切り替え手段により前記第１の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を変えて当該第１の閉ループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第１の金属部材と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗を測定する第１のステップと、前記切り替え手段により前記第２の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持しつつ、前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを変えて当該第２のループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第２の金属部材と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗を測定しつつ前記可変抵抗の抵抗を変えて当該第２のループ抵抗が前記第１のループ抵抗と等しくなるように調整する第２のステップと、前記切り替え手段により前記第３の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持すると共に前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを前記第２の閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ前記可変抵抗の抵抗を前記第１及び第２のループ抵抗が等しくなったときの値に維持し、インピーダンス測定器により前記第１の大地帰路インピーダンス及び前記第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗を測定する第３のステップと、前記第３のループ抵抗から前記第１又は第２のループ抵抗の値を減算して接地抵抗を計算する第４のステップと、を有することを特徴とする。
【００１１】
本発明にあっては、可変抵抗により、第２の閉ループ回路において測定される第２のループ抵抗を第１のループ抵抗と等しくなるように調整すると共に、第３の閉ループ回路を接地抵抗に対して第１の大地帰路インピーダンスを含んだループ抵抗と第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗とが並列に接続された並列回路として扱うことができるので接地抵抗の計算が容易になる。また、第３の閉ループ回路は接地電極を経由したループ回路であるので、３つの閉ループ回路全てが接地電極を経由したループ回路となりそれぞれで測定されるループ抵抗が大地帰路インピーダンスに影響されにくくすることができる。
【００１２】
第３の本発明に係る接地抵抗測定装置は、一端が大地に埋設された接地電極と発振器と大地に配置された第１の金属部材との間で形成される第１の閉ループ回路と、前記接地電極と前記発振器と可変インダクタンス素子と大地に配置された第２の金属部材との間で形成される第２の閉ループ回路と、前記第１の金属部材と前記発振器と前記可変インダクタンス素子と前記第２の金属部材との間で形成される第３の閉ループ回路と、前記第１の閉ループ回路、前記第２の閉ループ回路、及び前記第３の閉ループ回路を切り替え可能な切り替え手段と、を備え、前記切り替え手段により前記第１の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を変えて当該第１の閉ループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第１の金属部材と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗を測定し、前記切り替え手段により前記第２の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持しつつ、前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを変えて当該第２のループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第２の金属部材と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗を測定し、前記切り替え手段により前記第３の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持すると共に前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを前記第２の閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ、インピーダンス測定器により前記第１の大地帰路インピーダンス及び前記第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗を測定し、前記第１及び第２のループ抵抗を加算した値から第３のループ抵抗を減算することにより接地抵抗を計算可能にしたことを特徴とする。
【００１３】
第４の本発明に係る接地抵抗測定装置は、一端が大地に埋設された接地電極と発振器と大地に配置された第１の金属部材との間で形成される第１の閉ループ回路と、前記接地電極と前記発振器と可変インダクタンス素子と可変抵抗と大地に配置された第２の金属部材との間で形成される第２の閉ループ回路と、前記接地電極と前記発振器と前記第１の金属部材及び前記可変インダクタンス素子と前記可変抵抗と第２の金属部材との間で形成される第３の閉ループ回路と、前記第１の閉ループ回路、前記第２の閉ループ回路、及び前記第３の閉ループ回路を切り替え可能な切り替え手段と、を備え、前記切り替え手段により前記第１の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を変えて当該第１の閉ループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第１の金属部材と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗を測定し、前記切り替え手段により前記第２の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持しつつ、前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを変えて当該第２のループ回路を共振させ、インピーダンス測定器により前記第２の金属部材と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗を測定しつつ前記可変抵抗の抵抗を変えて当該第２のループ抵抗が前記第１のループ抵抗と等しくなるように調整し、前記切り替え手段により前記第３の閉ループ回路に切り替え、前記発振器の周波数を前記第１の閉ループ回路が共振したときの周波数に維持すると共に前記可変インダクタンス素子のインダクタンスを前記第２の閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ前記可変抵抗の抵抗を前記第１及び第２のループ抵抗が等しくなったときの値に維持し、インピーダンス測定器により前記第１の大地帰路インピーダンス及び前記第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗を測定し、前記第３のループ抵抗から前記第１又は第２のループ抵抗の値を減算することにより接地抵抗を計算可能にしたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、大地帰路インピーダンスに起因した測定誤差を低減し、低い接地抵抗の測定精度を向上させることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の一実施の形態について、図面を用いて説明する。
【００１６】
［第１の実施の形態］
図１は、第１の実施の形態に係る接地抵抗測定装置の概略的な構成を示すブロック図である。同図に示すように、接地抵抗測定装置１００は、接地電極１と、インピーダンス測定器２と、第１リターン線３と、第２リターン線４と、固定インダクタ５と、可変インダクタ６と、スイッチ７とを備える。
【００１７】
接地電極１は、接地抵抗測定時には大地に埋設された状態で配置される。リード線１０を介してスイッチ７の端子７ｃに接続される。
【００１８】
インピーダンス測定器２は、内部に発振器を備えており、周波数を変えながら一対の測定端子間のインピーダンスを測定可能である。ここで一方の測定端子はスイッチ７の端子７ａに接続され、他方の測定端子は端子７ｂに接続される。
【００１９】
第１リターン線３は、第１の金属部材として例えば導電性の金属線が絶縁体で被覆された測定線である。接地抵抗測定時には大地に配置される。
【００２０】
第２リターン線４は、第２の金属部材としてここでも例えば導電性の金属線が絶縁体で被覆された測定線である。接地抵抗測定時には大地に配置される。ここでは第１リターン線３及び第２リターン線４には例えば同一の長さ、形状、材質の部材を使用する。
【００２１】
固定インダクタ５は、インダクタンス素子として、例えばインダクタンスＬ１が固定値のコイルを有する。固定インダクタ５の一端はスイッチ７の端子７ｅに接続され、他端は第１リターン線３に接続される。
【００２２】
可変インダクタ６は、可変インダクタンス素子として、インダクタンスＬ２の値を変えることができるコイルを有する。可変インダクタ６の一端はスイッチ７の端子７ｄに接続され、他端は第２リターン線４に接続される。
【００２３】
スイッチ７は、インピーダンス測定器２の一方の測定端子に接続された端子７ａと、インピーダンス測定器２の他方の測定端子に接続された端子７ｂと、リード線１０を介して接地電極１に接続された端子７ｃと、固定インダクタ５の一端に接続された端子７ｅと、可変インダクタ６の一端に接続された端子７ｄとを有する。接地抵抗測定時には、切り替え手段として、第１閉ループ回路、第２閉ループ回路、及び第３閉ループ回路とを切り替え可能な構成である。ここでは測定者により手動で切り替え可能な構成とする。
【００２４】
第１閉ループ回路は、スイッチ７により、端子７ａと７ｃ、端子７ｂと７ｅに接続を切り替えて、一端が大地に埋設された接地電極１と、インピーダンス測定器２内部の発振器と、固定インダクタ５と、大地に配置された第１リターン線３との間で形成される。図２の等価回路に示すように、第１閉ループ回路は、大地に配置された接地電極１の接地抵抗Ｒｇと、固定インダクタ５のインダクタンスＬ１と、第１リターン線３と大地との間の静電容量Ｃ１とで構成されるＲＬＣ直列共振回路である。
【００２５】
第２閉ループ回路は、スイッチ７により、端子７ａと７ｃ、端子７ｂと７ｄに接続を切り替えて、一端が大地に埋設された接地電極１と、インピーダンス測定器２内部の発振器と、可変インダクタ６と、大地に配置された第２リターン線４との間で形成される。図３の等価回路に示すように、第２閉ループ回路は、大地に配置された接地電極１の接地抵抗Ｒｇと、可変インダクタ６のインダクタンスＬ２と、第２リターン線４と大地との間の静電容量Ｃ２とで構成されるＲＬＣ直列共振回路である。
【００２６】
第３閉ループ回路は、スイッチ７により、端子７ａと７ｄ、端子７ｂと７ｅに接続を切り替えて、大地に配置された第１リターン線３と、固定インダクタ５と、インピーダンス測定器２内部の発振器と、可変インダクタ６と、大地に配置された第２リターン線４との間で形成される。図４の等価回路に示すように、第３閉ループ回路は、第１リターン線３と大地との間の静電容量Ｃ１と、固定インダクタ５のインダクタンスＬ１と、可変インダクタ６のインダクタンスＬ２と、第２リターン線４と大地との間の静電容量Ｃ２とで構成されるＲＬＣ直列共振回路である。
【００２７】
次に、接地抵抗測定装置１００を使用した接地抵抗測定方法について、図５のフローチャートも参照しながら具体的に説明する。
【００２８】
測定に先立って、測定者は、接地電極１を大地に埋設された状態で配置し、第１リターン線３及び第２リターン線４を地面に配置する。このとき第１リターン線３と第２リターン線４は、互いに影響し合うのを避けるために十分な距離を保った状態で地面に配置するのが望ましい。ここでは第１リターン線３と第２リターン線４は、例えば両者の角度が９０度程度に十分な距離を保った状態で大地に配置する。
【００２９】
以下、測定者は、スイッチ７により、第１閉ループ回路、第２閉ループ回路及び第３閉ループ回路とを順次切り替えつつ接地抵抗の測定を行う。
【００３０】
第１のステップとして、最初に、スイッチ７により図２の第１閉ループ回路に切り替える。次に、インピーダンス測定器２内部の発振器の周波数ｆを変えて第１閉ループ回路を共振させる。そして、インピーダンス測定器２により第１リターン線３と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗ＲＬ１を測定する（Ｓ１１）。具体的には、インピーダンス測定器２により測定されるインピーダンスが最小となる周波数を共振周波数ω０（＝２πｆ１）として、そのときのインピーダンスをループ抵抗ＲＬ１として測定する。
【００３１】
リターン線と大地との間のインピーダンスＺｅ（ω）は、実数成分をＲｅ（Ｚｅ（ω））、虚数成分をＩｍ（Ｚｅ（ω））としたとき、周波数ωの関数として次式（１）のように表すことができる。
【００３２】
Ｚｅ（ω）  ＝  Ｒｅ（Ｚｅ（ω））  ＋  Ｉｍ（Ｚｅ（ω））  ・・・（１）
ここで第１リターン線３と大地との間のインピーダンスをＺｅ１（ω）としたとき、共振点において測定される第１のループ抵抗ＲＬ１は、インピーダンスＺｅ１（ω）の虚数成分がゼロとなる第１の大地帰路インピーダンスＲε１を含んだ次式（２）で表すことができる。
【００３３】
ＲＬ１  ＝  Ｒｇ  ＋  Ｒｅ（Ｚｅ１（ω０））  
＝  Ｒｇ  ＋  Ｒε１                             ・・・（２）
第２のステップとして、最初に、スイッチ７により図３の第２閉ループ回路に切り替える。次に、インピーダンス測定器２内部の発振器の周波数ｆ１を第１閉ループ回路が共振したときの周波数ω０（＝２πｆ１）に維持しつつ、可変インダクタ６のインダクタンスＬ２を変えて第２ループ回路を共振させる。そして、共振点においてインピーダンス測定器２により第２リターン線４と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗ＲＬ２を測定する（Ｓ１２）。具体的には、インピーダンス測定器２により測定されるインピーダンスが最小となるようにインダクタンスＬ２を調整し、そのときのインピーダンスをループ抵抗ＲＬ２として測定する。
【００３４】
ここで第２リターン線４と大地との間のインピーダンスをＺｅ２（ω）としたとき、共振点において測定される第２のループ抵抗ＲＬ２は、インピーダンスＺｅ２（ω）の虚数成分がゼロとなる第２の大地帰路インピーダンスＲε２を含んだ次式（３）で表すことができる。
【００３５】
ＲＬ２  ＝  Ｒｇ  ＋  Ｒｅ（Ｚｅ２（ω０））  
＝  Ｒｇ  ＋  Ｒε２   ・・・（３）
このように、周波数ω０（＝２πｆ１）を同一に維持しつつインダクタンスＬ２を調整してインピーダンスＺｅ２（ω）の虚数成分をゼロにしている。これにより第１リターン線３を使用した第１のステップとは測定環境が異なった第２のステップにおいても第２のループ抵抗ＲＬ２を共振点で測定することができる。
【００３６】
第３のステップとして、最初に、スイッチ７により図４の第３閉ループ回路に切り替える。次に、インピーダンス測定器２内部の発振器の周波数を図２の第１閉ループ回路が共振したときの周波数ω０（＝２πｆ１）に維持すると共に可変インダクタ６のインダクタンスＬ２を図３の第２閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ、インピーダンス測定器２により第１の大地帰路インピーダンス及び第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗ＲＬ３を測定する（Ｓ１３）。
【００３７】
ここで測定される第３のループ抵抗ＲＬ３は、インピーダンスＺｅ１（ω）及びＺｅ２（ω）の虚数成分がゼロとなる第１の大地帰路インピーダンスＲε１及び第２の大地帰路インピーダンスＲε２を含んだ次式（４）で表すことができる。
【００３８】
ＲＬ３  ＝  Ｒｅ（Ｚｅ１（ω０））  ＋  Ｒｅ（Ｚｅ２（ω０））  
＝  Ｒε１  ＋  Ｒε２   ・・・（４）
このように３つの異なる閉ループ回路のそれぞれにおいて、同一周波数で共振させて実数成分のみでループ抵抗を測定することができる。
【００３９】
第４のステップとして、第１のステップ〜第３のステップで測定した第１ループ抵抗ＲＬ１、第２ループ抵抗ＲＬ２、及び第３ループ抵抗ＲＬ３に基づいて接地抵抗Ｒｇを計算する（Ｓ１４）。具体的には、次式（５）に表すように、第１ループ抵抗ＲＬ１及び第２ループ抵抗ＲＬ２を加算した値から第３ループ抵抗ＲＬ３を減算することで、ループ抵抗に含まれる大地帰路インピーダンスＲε１、Ｒε２が除去された接地抵抗Ｒｇが求まる。
【００４０】
Ｒｇ  ＝  （ＲＬ１  ＋  ＲＬ２  −  ＲＬ３）  ／  ２   ・・・（５）
これにより、周波数などの測定環境に依存する大地帰路インピーダンスに起因した測定誤差を低減することができる。もって、低い接地抵抗であっても精度よく測定することが可能となる。
【００４１】
したがって、第１の実施の形態によれば、大地に埋設される接地電極１と、大地に配置される第１リターン線３及び第２リターン線４と、可変インダクタ６とを備える接地抵抗測定装置１００を使用して３つの異なる経路の閉ループ回路に切り替えつつ接地抵抗を測定する。第１閉ループ回路では周波数を変えて共振させてループ抵抗を測定し、第２閉ループ回路では同一の周波数を維持しつつインダクタンスを変えて共振させてループ抵抗を測定し、第３閉ループ回路では同一の周波数およびインダクタンスを維持しつつループ抵抗を測定する。各閉ループ回路の共振点において実数成分のみで測定されたループ抵抗から接地抵抗を計算することで、周波数などの測定環境に依存する大地帰路インピーダンスに起因した測定誤差を低減することができる。
【００４２】
尚、第１の実施の形態において、接地抵抗測定装置１００は、第１及び第２の金属部材として、導電性の金属線が絶縁体で被覆された測定線である第１及び第２リターン線を備える構成としたが、これに限られるものではなく、第１の金属部材と第２の金属部材の少なくとも一方を例えば銅板などの金属製の板とし、測定の際に大地に配置するような構成としてもよい。
【００４３】
また、第１の実施の形態において、第１閉ループ回路はインダクタンス素子としてインダクタンスが固定値である固定インダクタ５を使用したが、インダクタンスの値を変えることができる可変インダクタンス素子を使用してもよい。また、第１閉ループ回路がインダクタンス素子を使用することなく周波数を変えるだけで共振可能な構成であれば、必ずしも固定インダクタ５は必須な構成要素ではない。
【００４４】
［第２の実施の形態］
以下、第２の実施の形態について説明する。本実施の形態に係る接地抵抗測定方法において使用する接地抵抗測定装置の基本的な構成は、第１の実施の形態で説明したものと同様である。以下、第１の実施の形態と異なる点を中心に説明する。
【００４５】
第１の実施の形態における接地抵抗測定装置１００の構成と異なる点は、図６のブロック図に示すように、接地抵抗測定装置２００が、固定抵抗８及び可変抵抗９を更に備え、第１〜第３閉ループ回路の構成が異なる点である。
【００４６】
以下、スイッチ７により切り替える閉ループ回路の構成について図７〜図９も参照しながら説明する。尚、第１の実施の形態と同様な構成部材については同一の番号を付している。
【００４７】
第１閉ループ回路は、スイッチ７により、端子７ａと７ｃ、端子７ｂと７ｅに接続を切り替えて、一端が大地に埋設された接地電極１と、インピーダンス測定器２内部の発振器と、固定インダクタ５と、固定抵抗８と、大地に配置された第１リターン線３との間で形成される。図７の等価回路に示すように、第１閉ループ回路は、大地に配置された接地電極１の接地抵抗Ｒｇと、固定インダクタ５のインダクタンスＬ１と、固定抵抗８の抵抗Ｒ１と、第１リターン線３と大地との間の静電容量Ｃ１とで構成されるＲＬＣ直列共振回路である。
【００４８】
第２閉ループ回路は、スイッチ７により、端子７ａと７ｃ、端子７ｂと７ｄに接続を切り替えて、一端が大地に埋設された接地電極１と、インピーダンス測定器２内部の発振器と、可変インダクタ６と、可変抵抗９と、大地に配置された第２リターン線４との間で形成される。図８の等価回路に示すように、第２閉ループ回路は、大地に配置された接地電極１の接地抵抗Ｒｇと、可変インダクタ６のインダクタンスＬ２と、可変抵抗９の抵抗Ｒ２と、第２リターン線４と大地との間の静電容量Ｃ２とで構成されるＲＬＣ直列共振回路である。
【００４９】
第３閉ループ回路は、スイッチ７により、端子７ａと７ｃ、端子７ｂと７ｅ及び７ｂと７ｄに接続を切り替えて、一端が大地に埋設された接地電極１と、インピーダンス測定器２内部の発振器と、固定インダクタ５と、固定抵抗８と、大地に配置された第１リターン線３と、可変インダクタ６と、可変抵抗９と、大地に配置された第２リターン線４との間で形成される。図９の等価回路に示すように、第３閉ループ回路は、接地抵抗Ｒｇに対して、インダクタンスＬ１、抵抗Ｒ１、静電容量Ｃ１で構成される第１のＲＬＣ直列共振回路と、インダクタンスＬ２、可変抵抗Ｒ２、静電容量Ｃ２で構成される第２のＲＬＣ直列共振回路とが並列に接続された共振回路である。本実施の形態では第３閉ループ回路は接地電極１を経由したループ回路となる。
【００５０】
次に、接地抵抗測定装置２００を使用した接地抵抗測定方法について、図１０のフローチャートも参照しながら具体的に説明する。
【００５１】
ここでも測定に先立って、測定者は、接地電極１を大地に埋設された状態で配置し、第１リターン線３及び第２リターン線４を地面に配置する。スイッチ７により、第１閉ループ回路、第２閉ループ回路及び第３閉ループ回路とを順次切り替えつつ接地抵抗の測定を行う。
【００５２】
また、第１の実施の形態では、第１リターン線３と第２リターン線４は、互いに影響し合うのを避けるために十分な距離を保った状態で地面に配置したが、本実施の形態では第１閉ループ回路〜第３閉ループ回路の全てが接地電極を経由したループ回路となるので、測定者は必ずしも第１リターン線３と第２リターン線４の配置の際に位置関係を考慮する必要はなく利便性が向上する。
【００５３】
第１のステップとして、最初に、スイッチ７により図７の第１閉ループ回路に切り替える。次に、インピーダンス測定器２内部の発振器の周波数ｆを変えて第１閉ループ回路を共振させる。そして、インピーダンス測定器２により第１リターン線３と大地との間の第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗ＲＬ１’を測定する（Ｓ２１）。具体的には、インピーダンス測定器２により測定されるインピーダンスが最小となる周波数を共振周波数ω０（＝２πｆ１）として、そのときのインピーダンスをループ抵抗ＲＬ１’として測定する。
【００５４】
ここで第１リターン線３と大地との間のインピーダンスをＺｅ１（ω）としたとき、共振点において測定される第１のループ抵抗ＲＬ１’は、インピーダンスＺｅ１（ω）の虚数成分がゼロとなる第１の大地帰路インピーダンスＲε１’を含んだ次式（２）’で表すことができる。
【００５５】
ＲＬ１’  ＝  Ｒｇ  ＋  Ｒ１  ＋  Ｒｅ（Ｚｅ１（ω０））  
＝  Ｒｇ  ＋  Ｒε１’           ・・・（２）’
第２のステップとして、最初に、スイッチ７により図８の第２閉ループ回路に切り替える。次に、インピーダンス測定器２内部の発振器の周波数ｆ１を第１閉ループ回路が共振したときの周波数ω０（＝２πｆ１）に維持しつつ、可変インダクタ６のインダクタンスＬ２を変えて第２ループ回路を共振させる。そして、共振点においてインピーダンス測定器２により第２リターン線４と大地との間の第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗ＲＬ２’を測定する。このとき可変抵抗９の抵抗Ｒ２を変えて第２のループ抵抗ＲＬ２’が第１のループ抵抗ＲＬ１’と等しくなるように調整する（Ｓ２２）。  
ここで第２リターン線４と大地との間のインピーダンスをＺｅ２（ω）としたとき、共振点において測定される第２のループ抵抗ＲＬ２’は、インピーダンスＺｅ２（ω）の虚数成分がゼロとなる第２の大地帰路インピーダンスＲε２’を含んだ次式（３）で表すことができる。
【００５６】
ＲＬ２’  ＝  Ｒｇ  ＋  Ｒ２  ＋  Ｒｅ（Ｚｅ２（ω０））  
＝  Ｒｇ  ＋  Ｒε２’  ・・・（３）’
このように、周波数ω０（＝２πｆ１）を同一に維持しつつインダクタンスＬ２を調整してインピーダンスＺｅ２（ω）の虚数成分をゼロにしている。これにより第１リターン線３を使用したステップ１とは測定環境が異なったステップ２においても第２のループ抵抗ＲＬ２を共振点で測定することができる。
【００５７】
第３のステップとして、最初に、スイッチ７により図９の第３閉ループ回路に切り替える。次に、インピーダンス測定器２内部の発振器の周波数を図７の第１閉ループ回路が共振したときの周波数ω０（＝２πｆ１）に維持すると共に可変インダクタ６のインダクタンスＬ２を図８の第２閉ループ回路が共振したときのインダクタンスに維持しつつ、可変抵抗９の抵抗Ｒ２を第２のループ抵抗ＲＬ２’が第１のループ抵抗ＲＬ１’と等しくなった値に維持し、インピーダンス測定器２により第１の大地帰路インピーダンス及び第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第３のループ抵抗ＲＬ３’を測定する（Ｓ２３）。
【００５８】
ここで測定される第３のループ抵抗ＲＬ３’は、接地抵抗Ｒｇに対して、インピーダンスＺｅ１（ω）の虚数成分がゼロとなる第１の大地帰路インピーダンスＲε１’と、インピーダンスＺｅ２（ω）の虚数成分がゼロとなる第２の大地帰路インピーダンスＲε２’とが並列に接続されたものとして次式で表すことができる。
【００５９】
ＲＬ３’＝Ｒｇ  ＋  （Ｒε１’  ×  Ｒε２’）／（Ｒε１’  ＋  Ｒε２’）
更に、第２のステップにおいて、第１のループ抵抗ＲＬ１’と第２のループ抵抗ＲＬ２’とは等しくなるように調整されているので次式（４）’が成立する。
【００６０】
ＲＬ３’  ＝  Ｒｇ  ＋  Ｒε１’／  ２  
＝  Ｒｇ  ＋  Ｒε２’／  ２  ・・・（４）’
ここでも３つの異なる閉ループ回路のそれぞれにおいて、同一周波数で共振させて実数成分のみでループ抵抗を測定することができる。
【００６１】
第４のステップとして、第１のステップ〜第３のステップで測定した第１ループ抵抗ＲＬ１’、第２ループ抵抗ＲＬ２’、及び第３ループ抵抗ＲＬ３’に基づいて接地抵抗Ｒｇを計算する（Ｓ１４）。具体的には、次式（５）’に表すように、第１ループ抵抗ＲＬ１’及び第２ループ抵抗ＲＬ２’を加算した値から第３ループ抵抗ＲＬ３’を減算することで、ループ抵抗に含まれる大地帰路インピーダンスＲε１’、Ｒε２’が除去された接地抵抗Ｒｇが容易に求まる。
【００６２】
Ｒｇ  ＝  ２ＲＬ３’  −  ＲＬ１’
＝  ２ＲＬ３’  −  ＲＬ２’  ・・・（５）’
これにより、周波数などの測定環境に依存する大地帰路インピーダンスに起因した測定誤差を低減することができる。もって、低い接地抵抗であっても精度よく測定することが可能となる。
【００６３】
したがって、第２の実施の形態によれば、可変抵抗により、第２閉ループ回路において測定される第２のループ抵抗を第１のループ抵抗と等しくなるように調整すると共に、第３閉ループ回路を接地抵抗に対して第１の大地帰路インピーダンスを含んだ第１のループ抵抗と第２の大地帰路インピーダンスを含んだ第２のループ抵抗とが並列に接続された並列回路として扱うことができるので第１の実施の形態と比べて接地抵抗の計算が容易になる。また、第３閉ループ回路は接地抵抗を経由したループ回路であり、３つの閉ループ回路全てが接地抵抗を経由したループ回路となるので、それぞれで測定されるループ抵抗が大地帰路インピーダンスに影響されにくくすることができる。これにより、測定者は必ずしも第１リターン線３と第２リターン線４の配置の際に位置関係を考慮する必要はないので第１の実施の形態と比べて利便性が向上する。
【００６４】
尚、第２の実施の形態において、接地抵抗測定装置１００は、第１の金属部材及び第２の金属部材として導電性の金属線が絶縁体で被覆された測定線を備える構成としたが、これに限られるものではなく、例えば第１の金属部材と第２の金属部材のすくなくとも一方が銅板などの金属製の板を備え、測定の際には大地に配置するようにしてもよい。
【００６５】
［比較例］
次に、上記各実施の形態の理解を容易にするために、比較例として図１１のブロック図に示すような接地抵抗測定装置３００を使用した接地抵抗測定方法においてリターン線と大地との間に生じる大地帰路インピーダンスについて説明する。比較例の接地抵抗測定装置３００は、大地に配置された接地電極と、例えば大地から３ｃｍ〜４０ｃｍの厚さで舗装されたアスファルトの上に配置されたリターン線と、コイル及び発振器を装置３００内部に備える。測定の際には、リターン線と大地との間の大地帰路インピーダンスを静電容量Ｃ（未知数）のみと仮定した直列共振回路において、周波数を変えて共振点において測定されたインピーダンスの値から接地抵抗Ｒｇを求める。ここでは３電極法との差分（平均値）を補正テーブルとして利用することで、得られた値から大地帰路インピーダンスの影響を補正していた。
【００６６】
しかしながら、大地帰路インピーダンスは、静電容量Ｃ以外にも、大地とリターン線の間の距離ｄ、大地の導電率σ（０．００３［１／Ωｍ］〜０．２［１／Ωｍ］）、大地誘電率ε、測定器の周波数ｆなどのパラメータに依存する。比較例の接地抵抗測定方法では、１００Ω以下の低い接地抵抗を測定する際には大地帰路インピーダンスを補正できなくなってしまうという問題がある。
【００６７】
本発明者は上記大地帰路インピーダンスの特性を考慮して、比較例の接地抵抗測定装置について分布定数回路を用いて表した。図１２はその等価回路を示している。
【００６８】
図１３は、図１２の等価回路において発振器から矢印方向を見たときのインピーダンスを示したグラフである。横軸は発振器の周波数を示している。ここではＲｇ＋Ｒｉ＝１０Ωの場合を示している。同図に示すように、インピーダンスが最小となる共振点であっても大地帰路インピーダンスに起因した誤差を含んだ値となる。
【００６９】
更に、比較例の接地抵抗測定装置において接地抵抗を測定する際の、大地帰路インピーダンスに起因した誤差について解析した。この場合、リターン線と大地との間に図１４の左図に示すような物理現象が生じる。（１）リターン線に電流Ｉ１が流れる。（２）電流Ｉ１により発生した磁束Φが大地を通過する。（３）磁束Φを打ち消す向きに磁束が発生するように電流Ｉ２が流れる。（４）磁束Φを打ち消す向きに磁束Φ’が発生する。
【００７０】
図１４の右図は上記物理現象（１）〜（４）を相互誘導回路によりモデル化した等価回路である。式で表すと以下のようになる。
【数１】
2008232953.tif 000003
【００７１】
ここで電源側からみたインピーダンスＺは以下のように導かれる。
【数２】
2008232953.tif 000004
【００７２】
このようにインピーダンスＺの実数成分と虚数成分は共に周波数の関数となり、ここでも
比較例の接地抵抗測定方法では周波数に依存する誤差を含んだ値となる。
【００７３】
そこで、このような周波数などの測定環境に依存する誤差を除去するために、上記実施の形態では、大地に埋設される接地電極１と、大地に配置される第１リターン線３及び第２リターン線４と、可変インダクタ６とを備える接地抵抗測定装置１００を使用して３つの異なる経路の閉ループ回路に切り替えつつ接地抵抗を測定する。第１閉ループ回路では周波数を変えて共振させてループ抵抗を測定し、第２閉ループ回路では同一の周波数を維持しつつインダクタンスを変えて共振させてループ抵抗を測定し、第３閉ループ回路では同一の周波数およびインダクタンスを維持しつつループ抵抗を測定する。
【００７４】
以下、上記実施の形態に係る接地抵抗測定方法と比較例の接地抵抗測定方法による測定結果を比較する。図１５は、上記実施の形態による効果を確認するための実験で使用した測定系の概略図である。インピーダンス測定器２には、周波数１０ｋＨｚ〜１５０ＭＨｚの範囲でインピーダンスを測定可能なＡＤＶＡＮＴＥＳＴ社製のＲ３７５４を使用した。測定対象の接地電極１には、予め３電極法による測定結果が９Ωと１２Ωの２つの接地電極を使用した。第１リターン線３と第２リターン線４には同一の面積２ｍｍ２、同一の長さ２０ｍの測定線を使用した。これにより可変抵抗を用いることなく第１のループ抵抗及び第２のループ抵抗を等しい値にしている。第１リターン線３と第２リターン線４はアスファルトで舗装された大地に配置した。インダクタ５にはインダクタンスが固定なインダクタンス素子を使用し、可変インダクタ６にはインダクタンス１ｍＨ〜１０ｍＨの範囲で可変な可変インダクタンス素子を使用した。スイッチ７による閉ループ回路の切り替えは測定者が手動で行った。
【００７５】
このような測定系において、第１の実施の形態及び第２の実施の形態に係る測定方法により接地抵抗をそれぞれ測定した。
【００７６】
図１６は、その測定結果を示すグラフである。図中の三角形はそれぞれの測定結果を示している。図中の斜めの直線は３電極法による測定値を示している。９Ω、１２Ωの接地抵抗を測定した結果は共に３電極法による測定値に近い値となっている。これに対し、比較例の測定方法により１２Ωの接地抵抗を測定した測定結果は、３電極法による測定値と比べて誤差が大きい。更に詳しくは、３電極法による真値に対する測定値の誤差が比較例の測定方法では１４０％であったのに対して、本発明による測定方法では誤差が５％と大幅に改善された結果となった。すなわち、本発明によれば、大地帰路インピーダンスに起因した測定誤差を低減し、低い接地抵抗の測定精度を向上させることが可能となる。
【００７７】
［応用例］
尚、上記各実施の形態において、スイッチにより第１〜第３の閉ループ回路への切り替えは手動で行うような構成としたが、これに限られるものではなく、例えば、スイッチに対して、タイミング信号と共に第１〜第３の閉ループ回路を順次切り替えるための命令を送信する制御手段を備え、スイッチにより受信した命令に基づいて順次切り替えを行うような構成としてもよい。これにより、測定者は手動で切り替え動作を行うことなく利便性が向上する。
【００７８】
更に、上記制御手段により発振器の周波数、可変インダクタンス素子のインダクタンス及び可変抵抗の抵抗値を調整し、第１から第３ループ抵抗を一時的に格納しておく記憶手段と、記憶手段からループ抵抗を読み出して接地抵抗を計算する演算手段とを更に備え、上記各実施の形態で説明した接地抵抗測定方法の各ステップを自動化するような構成にしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】第１の実施の形態に係る接地抵抗測定装置の概略的な構成を示すブロック図である。
【図２】図１の接地抵抗測定装置で形成される第１閉ループ回路の等価回路である。
【図３】図１の接地抵抗測定装置で形成される第２閉ループ回路の等価回路である。
【図４】図１の接地抵抗測定装置で形成される第３閉ループ回路の等価回路である。
【図５】上記接地抵抗測定装置を使用した接地抵抗測定方法の手順を示すフローチャートである。
【図６】第２の実施の形態に係る接地抵抗測定装置の概略的な構成を示すブロック図である。
【図７】図６の接地抵抗測定装置で形成される第１閉ループ回路の等価回路である。
【図８】図６の接地抵抗測定装置で形成される第２閉ループ回路の等価回路である。
【図９】図６の接地抵抗測定装置で形成される第３閉ループ回路の等価回路である。
【図１０】上記接地抵抗測定装置を使用した接地抵抗測定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１１】比較例の接地抵抗測定装置の概略的な構成を示すブロック図である。
【図１２】図１１の接地抵抗測定装置について分布定数回路を用いて表した等価回路である。
【図１３】図１２の等価回路において発振器から矢印方向を見たときのインピーダンスを示したグラフである。
【図１４】図１１の接地抵抗測定装置を使用して接地抵抗を測定する際のリターン線と大地との間の物理現象をモデル化した等価回路である。
【図１５】上記第１及び第２の実施の形態による効果確認実験における測定系を示した概略図である。
【図１６】上記実験による測定結果と比較例の測定結果を示すグラフである。
【図１７】従来の接地抵抗測定装置の概略的な構成を示すブロック図である。
【図１８】従来の接地抵抗測定装置の等価回路を示す図である。
【図１９】従来の接地抵抗測定方法の手順を示すフローチャートである。
【図２０】従来の接地抵抗測定方法による測定値及びその測定誤差を示すグラフである。
【符号の説明】
【００８０】
１…接地電極
２…インピーダンス測定器（周波数可変）
３…第１リターン線
４…第２リターン線
５…固定インダクタ
６…可変インダクタ
７…スイッチ
７ａ…インピーダンス測定器の一方の測定端子に接続された端子
７ｂ…インピーダンス測定器の他方の測定端子に接続された端子
７ｃ…リード線を介して接地電極に接続された端子
７ｄ…可変インダクタの一端に接続された端子
７ｅ…固定インダクタの一端に接続された端子
８…固定抵抗
９…可変抵抗
１０…リード線
１００…接地抵抗測定装置（実施例１）
２００…接地抵抗測定装置（実施例２）
３００…従来の接地抵抗測定装置（比較例）
ｆ…周波数
ｆ１…共振周波数
ＲＬ１…第１の閉ループ回路における第１のループ抵抗
ＲＬ２…第２の閉ループ回路における第２のループ抵抗
ＲＬ３…第３の閉ループ回路における第３のループ抵抗
Ｒｇ…接地抵抗
Ｌ１…固定インダクタ（コイル）のインダクタンス
Ｌ２…可変インダクタ（コイル）のインダクタンス
Ｒ１…固定抵抗の抵抗値
Ｌ２…可変抵抗の抵抗値
Ｃ１…第１のリターン線と大地との間の静電容量
Ｃ２…第２のリターン線と大地との間の静電容量
【図１】
2008232953.tif 000005
【図２】
2008232953.tif 000006
【図３】
2008232953.tif 000007
【図４】
2008232953.tif 000008
【図５】
2008232953.tif 000009
【図６】
2008232953.tif 000010
【図７】
2008232953.tif 000011
【図８】
2008232953.tif 000012
【図９】
2008232953.tif 000013
【図１０】
2008232953.tif 000014
【図１１】
2008232953.tif 000015
【図１２】
2008232953.tif 000016
【図１３】
2008232953.tif 000017
【図１４】
2008232953.tif 000018
【図１５】
2008232953.tif 000019
【図１６】
2008232953.tif 000020
【図１７】
2008232953.tif 000021
【図１８】
2008232953.tif 000022
【図１９】
2008232953.tif 000023
【図２０】
2008232953.tif 000024