(57)【要約】【課題】熱衝撃チルトにより時々刻々とディスクチルトが変化する状態でドライブの調整動作を行うと、記録パワーなどが誤った値に調整され、そのまま記録動作を行うと記録品質を大きく損なうことがある。【解決手段】ディスクチルト検出器２７と、ディスクチルト検出器２７の出力からディスクチルト角度変化速度を求める処理を行うマイクロコンピュータ５１とを備え、光ディスク挿入時からのディスクチルトの変化速度を測定し、変化速度が所定の閾値を超える場合は記録動作を禁止状態とし、さらにディスクチルトの変化速度が所定の閾値以下になるまで監視し、ディスクチルトの変化が収まった後に起動処理をやり直す。【選択図】図１
2008186500.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対して光ビームを照射して前記光ディスクに記録されている情報を読み取るかあるいは前記光ディスクに対して情報を記録する光ピックアップと、前記光ディスクと前記光ピックアップの対物レンズから出射されるレーザ光との相対的なチルト角度を検出する検出手段と、前記検出手段の出力に基づいてチルト角度を補正する補正手段と、を備えた光ディスク装置において、
チルト角度の時間的な変化を検出するディスクチルト角度変化速度検出手段と、
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段の出力と第１の閾値とを比較する手段とを有し、
前記ディスクチルト角度変化速度が前記第１の閾値を超えた場合に前記光ディスクに対する記録動作を禁止する手段と、を備えたこと特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段の出力と第２の閾値とを比較する手段とを有し、前記ディスクチルトの変化速度が第２の閾値以下になるか、または所定の時間だけ、前記ディスクチルトの変化速度を監視し、記録動作を禁止する手段と、を備えたことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
さらに再生手段を禁止する手段を備えたこと特徴とする請求項１または請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段は、ディスクチルト検出手段を備え、前記ディスクチルト検出手段は、第１の半径位置におけるフォーカス制御動作時の対物レンズの高さと、第２の半径位置におけるフォーカス制御動作時の対物レンズの高さとの差分から求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記ディスクチルト検出手段は、第１の半径位置におけるフォーカス制御動作時のフォーカスアクチュエータに流れる駆動電流の低域成分と、第２の半径位置におけるフォーカス制御動作時のフォーカスアクチュエータに流れる駆動電流の低域成分との差分から求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記ディスクチルト検出手段は、第１の半径位置におけるフォーカス制御動作時のフォーカスアクチュエータに出力するフォーカス駆動信号の低域成分と、第２の半径位置におけるフォーカス制御動作時のフォーカスアクチュエータに出力するフォーカス駆動信号の低域成分との差分から求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段は、光ディスクを挿入してから記録もしくは再生動作が可能となるまでの処理において、第１の時刻における前記ディスクチルト検出手段の出力と、第２の時刻における前記ディスクチルト検出手段の出力との差分から求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段は、光ディスクを挿入してから記録もしくは再生動作が可能となるまでの処理において、第１の時刻におけるフォーカス制御動作時の対物レンズの高さと、第２の時刻におけるフォーカス制御動作時の対物レンズの高さの差分から求めることを特徴とする請求項１または請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段は、光ディスクを挿入してから記録もしくは再生動作が可能となるまでの処理において、第１の時刻におけるフォーカス制御動作時のフォーカスアクチュエータに流れる駆動電流の低域成分と、第２の時刻におけるフォーカス制御動作時のフォーカスアクチュエータに流れる駆動電流の低域成分の差分から求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段は、光ディスクを挿入してから記録もしくは再生動作が可能となるまでの処理において、第１の時刻におけるフォーカス制御動作時のフォーカスアクチュエータに出力するフォーカス駆動信号の低域成分と、第２の時刻におけるフォーカス制御動作時のフォーカスアクチュエータに出力するフォーカス駆動信号の低域成分の差分から求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段は、光ディスクの回転速度を同一にして動作することを特徴とする請求項１から請求項１０のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段は、光ディスクがカートリッジに入っている場合にのみ実行することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記ディスクチルト角度変化速度検出手段は、光ディスクが再生専用か、またはファイナライズ済みであることが判別された場合には非動作とすることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記光ディスク装置は、光ディスクに対して記録パワーを変えて記録パワー調整用領域に記録を行い、前記記録した領域の再生信号に基づいて記録パワーを調整する記録パワー調整手段を備え、前記ディスクチルト角度変化速度が前記第１の閾値を超えた時は記録パワーの調整動作及び記録動作を禁止することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記第１及び第２の閾値は、前記光ディスクの種類に応じて切り替えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記第２の閾値は、記録動作を禁止するか、または記録・再生動作の両方を禁止するかに応じて値を切り替えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
前記ディスクチルト角度変化速度が前記第２の閾値以下になった後に前記記録パワーの調整手段を行うことを特徴とする請求項１４に記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
前記ディスクチルト角度変化速度が前記第２の閾値以下になった後に起動処理をやり直すことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１９】
前記ディスクチルト角度変化速度が前記第２の閾値以下になった場合、オフセット調整の結果を記憶する調整結果記憶手段を有し、起動処理をやり直す場合は前記オフセット調整は実行せず、前記調整結果記憶手段によって記憶したオフセット調整値を設定することを特徴とする請求項１８の光ディスク装置。
【請求項２０】
前記ディスクチルト角度変化速度が前記第２の閾値以下になった場合、ディスク判別処理によって得られたディスク種別を記憶する調整結果記憶手段を有し、起動処理をやり直す場合は前記ディスク判別処理は実行せず、挿入された光ディスク種別は前記調整結果記憶手段によって記憶した光ディスク種別であることを前提として起動処理を行うことを特徴とする請求項１８の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクの記録面に光ビームを照射して情報の記録再生を行う光ディスク装置において、ディスク傾きの急激な変化を検出する方法を実行する機能を備えた光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置において、光ピックアップの対物レンズから照射されるレーザ光に対して光ディスクの記録面が垂直からずれる角度はディスクチルト角と呼ばれ、ディスクチルト角がゼロでない場合はディスクチルトが発生していると呼ばれる。光ディスクに対して情報の記録・再生が行われる場合にディスクチルトが発生していると、コマ収差が発生し、記録・再生性能が悪化することになる。
【０００３】
また、Ｂｌｕ−ｒａｙ  ＤｉｓｃやＨＤ−ＤＶＤといった、次世代ＤＶＤと呼ばれる光ディスクにおいては、対物レンズのＮＡ（開口数）を大きくするかあるいはレーザ波長を短くする、もしくはその両方を行って光ディスクの記録面上のスポットサイズを小さくすることで、より高密度の記録・再生が実現されている。
【０００４】
レーザ波長は、ＤＶＤでは６５０ｎｍだったものが、Ｂｌｕ−ｒａｙ  ＤｉｓｃやＨＤ−ＤＶＤでは４０５ｎｍに、対物レンズのＮＡはＤＶＤでは０．６だったものが、ＨＤ−ＤＶＤは０．６５、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃにおいては０．８５となっている。
【０００５】
ところが、コマ収差の発生量はレーザ波長に反比例して増加し、また対物レンズのＮＡの３乗に比例して増加する。そのため、Ｂｌｕ−ｒａｙ  ＤｉｓｃやＨＤ−ＤＶＤにおいて、コマ収差による記録・再生性能の低下はＤＶＤと比べてさらに大きくなる。
【０００６】
そこで良好な記録・再生を行うために、一般には、ディスクチルト検出手段によってディスクチルトを検出しその傾きに応じて適切に光ピックアップの対物レンズを傾ける、レンズチルトと呼ばれる動作を行うことでディスクチルトの補正が行われている。
【０００７】
なお、光ディスクの傾きの状態は、内周から外周にかけて一様ではないため、あらかじめ光ディスクを複数のゾーンに分割し、各ゾーンの所定の位置で検出したディスクチルト補正量を求めておき、その値に基づいて光ディスクと光ピックアップとの間のディスクチルト量の補正が行われている。
【０００８】
また、光ディスクが周囲温度及び湿度の影響を受けて反るとディスクチルト量が変化し、ディスクチルト補正量が最適値からずれるため記録・再生性能を損なうことがある。そこで、図１２に示すように光ディスク装置内に温度センサ４１を設け、温度変化量がある閾値を超えた時には改めて各ゾーンにおけるディスクチルト補正量を再度検出することでディスクチルト量の補正が行われている。
【特許文献１】特開２００５−１２９１１９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、光ディスク装置の内部の温度は検出できるが、挿入された光ディスク自身の温度を低コストで検出する手段が無い。また、光ディスクに記録動作を行う場合、光ピックアップのレーザ出力は再生時と比べて１０倍以上となるため、再生時と比べて発熱量が増加する。同時に光ディスク制御ＬＳＩやアクチュエータドライバＩＣなども発熱するため、光ディスクに対して連続して記録動作を行うと、光ディスク装置の内部温度は周辺温度と比べて大きく上昇する。
【００１０】
この状態で光ディスクを取り出し、すぐに別の光ディスクと入れ替えると、新しく入れた光ディスクの温度は周辺温度とほぼ等しくなっているのに対して光ディスク装置内部の温度は周辺温度に対して大きく上昇した状態から大きく変化しないため、光ディスクと光ディスク装置内部に大きな温度差が生じることになる。このような状態は、ハードディスク内蔵の光ディスクレコーダでハードディスクの映像を複数の光ディスクに連続してダビング操作を行う時などに発生する。
【００１１】
このように温度差が顕著な場合、いわゆる熱衝撃チルトが発生し、従来の構成では正しくチルト補正できない、といった課題が生じていた。
【００１２】
図２は光ディスク装置と光ディスク温度（周辺温度）の温度差がある場合の、光ディスク挿入後からの時間経過に対するディスクチルト量の変化を示している図である。ディスクチルト量は、光ディスクを挿入すると同時に急激に増加し、約３０秒後にピークとなり、以降は緩やかに減少している。このようなディスクチルトの変化を、熱衝撃チルトと呼ぶ。
【００１３】
この熱衝撃チルトによって発生するディスクチルト量は周辺温度（＝光ディスクの温度）と光ディスク装置内部の温度差によって大きく変わり、温度差が大きい程増加する傾向にある。
【００１４】
ここで、連続してダビング動作を行う場合においては、光ディスクを挿入後に素早く記録動作を開始することが望まれるため、起動処理後または起動処理中に記録パワーなどの調整を行い、起動完了後はすぐに記録動作が行われるようになっている。ディスク挿入直後から記録動作が可能になるまでの時間は、一般的な光ディスク装置においては、高々３０秒程度である。その間に熱衝撃チルトが発生することになる。このように熱チルトが発生すると、次の様な課題が生じる。
【００１５】
（１）急激にチルトが発生した後は、記録パワーなどの調整中にも刻々とディスクチルト量が変化し続けるため、記録パワーの調整結果が大きくずれることがある。図２において、光ディスク温度が２５℃で光ディスク装置内部温度が６０℃の場合、ディスク挿入後から１０秒後に記録パワーを調整すると、２０秒後にはディスクチルトが０．６ｄｅｇ変化してしまい、調整したパワーは変化したディスクチルト値に対する最適パワーから大きく外れてしまう。
【００１６】
（２）光ディスク装置内部にディスクチルトセンサを設けても、そのセンサの校正処理をしている間にもディスクチルトが刻々と変化するため、校正結果にも誤差が生じる。そのため、急激なディスクチルト変化に対して正しく追従することが困難になる。
【００１７】
（３）刻々と変化するディスクチルトに対して適切にレンズチルト補正が行われることによりコマ収差は低減されるが、レーザ光が対物レンズを垂直に通過しなくなるため球面収差や非点収差など別の収差が発生する。これらの収差による記録・再生性能への影響は、対物レンズの開口数の大きい程、またレーザ波長が短いほど大きくなる。よって、Ｂｌｕ−ｒａｙ  ＤｉｓｃやＨＤ−ＤＶＤへの影響はＤＶＤと比べてより顕著になる。そのため、大きなレンズチルトに対して補正を行うとコマ収差は補正できるが別の収差が発生してしまい、かえって状況は悪化する。逆に別の収差が発生しないようにレンズチルト量に制限をかけるとコマ収差が補正しきれないため、結局、いずれの場合にも記録・再生性能が悪化してしまう。
【００１８】
さらに、光ディスク装置内部の温度センサでは内部の温度は検出できるが、新しく挿入された光ディスクの温度を検出することはできない。そのためディスクチルトが刻々と変化する光ディスクの状態に対して、記録パワーなどの自動調整を行ったとしても、結果が大きな誤差を持ってしまい、誤差があるにも関わらず光ディスクに対して記録動作を行うことになる。
【００１９】
その結果、情報マークが光ディスク記録膜に正しく記録されず、記録した情報を誤り無く再生することが出来ず、最悪の場合は光ディスクに過度に高いパワーで記録されてしまい、光ディスクの記録膜が破壊される虞がある。
【００２０】
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、内部温度が上昇した光ディスク装置に低温の光ディスクを挿入した場合、急激に大きなディスクチルトが発生しても、不適切な記録パワーで光ディスクに記録動作をして低品質な記録を行ったり、光ディスクを破壊したりすることなく、良好な記録再生性能を実現することができる。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
前記従来の課題を解決するために、本発明の光ディスク装置は、光ディスクに対して光ビームを照射して前記光ディスクに記録されている情報を読み取るかあるいは光ディスクに対して情報を記録する光ピックアップと、前記光ディスクと前記光ピックアップとの相対的なチルト角度を検出するディスクチルト検出手段とを備えた光ディスク装置において、前記光ディスク装置に前記光ディスクを挿入後、起動処理中におけるディスクチルト角度変化速度を求める手段と、前記ディスクチルト角度変化速度と第１の閾値とを比較する手段とを有し、前記ディスクチルト角度変化速度が前記第１の閾値を超えた場合に前記光ディスクに対する記録動作を禁止すると共に前記ディスクチルト角度の変化速度が第２の閾値以下になるまで前記ディスクチルト角度の変化速度を監視することを特徴とする。
【００２２】
また、光ディスクに向かって光ビームを集束させる集束手段と、対物レンズを駆動して前記集束手段を所定の状態に制御するフォーカス制御手段と、光ビームを照射して前記光ディスクに記録されている情報を読み取るかあるいは光ディスクに対して情報を記録する光ピックアップと、前記光ディスクと前記光ピックアップとの相対的なチルト角度を検出するディスクチルト検出手段と、を備えた光ディスク装置において、前記光ディスク装置に前記光ディスクを挿入後、起動処理中のフォーカス制御動作時における前記対物レンズ高さの時間変化からディスクチルト角度変化速度を求める手段と、前記ディスクチルト角度変化速度と第１の閾値とを比較する手段とを有し、前記ディスクチルト角度変化速度が前記第１の閾値を超えた場合には前記光ディスクに対する記録動作を禁止すると共に前記ディスクチルト角度の変化速度が第２の閾値以下になるまで前記ディスクチルト角度の変化速度を監視することを特徴とする。
【００２３】
本構成によって、時々刻々とディスクチルトが変化している間に記録パワーをはじめとする各種調整を行ってしまい、不適切な記録パワーでディスクに記録することを防ぐことが出来る。
【発明の効果】
【００２４】
本発明の光ディスク装置のディスクチルト検出方法を用いれば、ドライブ内外の温度差によって発生する急激なディスクチルトの変化を正確に検出することができ、時々刻々とディスクチルトが変化している間に記録パワー調整が行われることを防ぎ、常に最適な記録パワーの調整を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００２６】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１における光ディスク装置の構成を示したブロック図である。図１の光ディスク装置は、まず、光ディスク３１に対して光ビームを照射して光ディスク３１に記録されている情報を読み取るかあるいは前記光ディスクに対して情報を記録する光ピックアップ１１と、光ディスク３１と光ピックアップ１１の対物レンズ１から出射されるレーザ光との相対的なチルト角度を検出する検出手段と、前記検出手段の出力に基づいてチルト角度を補正する補正手段と、を備えている。
【００２７】
図１に記載された光ディスク装置は、光ディスク３１に情報を記録し、または、光ディスク３１に記録された情報を再生する。まず、光ピックアップ１１に設けられたレーザ光源８から出射された光ビームはコリメータレンズ９によって平行光ビームになる。この平行光ビームは、球面収差補正素子４、偏光ビームスプリッター１０、１／４波長板７を通過し、対物レンズ１によって光ディスク３１の情報記録面（記録膜）に収束する。光ディスク３１からの反射光は、対物レンズ１、１／４波長板７、偏光ビームスプリッター１０によって反射され、受光部５に到達する。ここで、光ディスク３１は、ディスクモータ２８によって回転駆動されている。
【００２８】
受光部５は、光ディスク３１からの反射光を電気信号に変換する。受光部５の出力は、フォーカスエラー生成器２５とトラッキングエラー生成器２６及びディスクチルト検出器２７に供給される。
【００２９】
フォーカスエラー生成器２５は、受光部５の出力に基づいて、光ディスク３１に照射されたフォーカス位置と光ディスク３１の情報面との間の位置ずれを検出してフォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号という）として出力する。ＦＥ信号は、例えば、非点収差法と呼ばれる方式によって生成することができる。
【００３０】
トラッキングエラー生成器２６は、受光部５の出力に基づいて、光ディスク３１の情報面上に形成される光ビームのスポットと光ディスク３１の情報面上のトラックとの間の位置ずれを検出し、トラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号という）として出力する。ＴＥ信号は、例えば、一般にプッシュプル法と呼ばれる検出方式によって生成することができる。
【００３１】
ＦＥ信号及びＴＥ信号は制御部５２に供給され、位相補償等がなされて制御信号が生成される。
【００３２】
フォーカスアクチュエータ駆動回路２１、レンズチルトアクチュエータ駆動回路２２及びトラッキングアクチュエータ駆動回路２３は、制御部５２からの制御信号に応じて、光ピックアップ７に設けられたフォーカスアクチュエータ２及びトラッキングアクチュエータ３にそれぞれ駆動信号を供給することにより、フォーカスアクチュエータ２及びトラッキングアクチュエータ３を駆動する。
【００３３】
フォーカスアクチュエータ２及びトラッキングアクチュエータ３は、フォーカスアクチュエータ駆動回路２１及びトラッキングアクチュエータ駆動回路２３からの駆動信号に応じて、対物レンズ１を駆動する。
【００３４】
このように、制御部５２は、ＦＥ信号に応じて、フォーカスアクチュエータ２を駆動するフォーカスアクチュエータ駆動回路２１を制御することにより、フォーカス制御のためのサーボループを形成するとともに、ＴＥ信号に応じて、トラッキングアクチュエータ３を駆動するトラッキングアクチュエータ駆動回路２３を制御することにより、トラッキング制御のためのサーボループを形成する。このようにして、サーボ制御が実行される。
【００３５】
ディスクチルト検出器２７は、チルトセンサ６の出力に基づいて、ディスクチルト角度を検出する。ディスクチルト角度の検出結果を元にレンズチルト補正を行う。これを図６及び図７を用いて説明する。
【００３６】
図６は、光ピックアップ７の対物レンズ１及びフォーカスアクチュエータ２について詳細に説明した図である。フォーカスアクチュエータ２は、対物レンズ１に対してラジアル方向（光ディスクの半径方向）に対称となるように配置されたフォーカスアクチュエータＡ１０１とフォーカスアクチュエータＢ１０２の２対のアクチュエータによって構成される。
【００３７】
また図７はフォーカスアクチュエータ駆動回路２１及びレンズチルトアクチュエータ駆動回路２２によってフォーカスアクチュエータＡ１０１及びフォーカスアクチュエータＢ１０２を駆動し、フォーカス制御及びレンズチルトを行う構成を示すブロック図である。
【００３８】
フォーカスアクチュエータ駆動回路２１よりフォーカス駆動電流が出力され、フォーカスアクチュエータＡ１０１とフォーカスアクチュエータＢ１０２に同量の駆動電流が供給される。また、レンズチルトアクチュエータ駆動回路２２よりチルト駆動電流が出力され、フォーカスアクチュエータＡ１０１にはチルト駆動電流を加算し、フォーカスアクチュエータＢ１０２にはチルト駆動電流を減算してそれぞれ供給される。
【００３９】
その結果、フォーカスアクチュエータ駆動回路２１を上流に持つ駆動電流対は対物レンズを平行変位させ、レンズチルトアクチュエータ駆動回路２２を上流に持つ駆動電流対は対物レンズを回転変位させる。
【００４０】
このように本実施の形態では、フォーカスアクチュエータＡ１０１とフォーカスアクチュエータＢ１０２に駆動電流差を与えることでレンズチルト補正を実現している。
【００４１】
なお、レンズチルトを実現する方法として、別途レンズチルト用アクチュエータを用いる方法もある。例えば、別途対物レンズを回転変位させるためのアクチュエータを設けてもよい。
【００４２】
球面収差補正アクチュエータ駆動回路２４は、マイクロコンピュータ５１からの制御信号に応じて、球面収差補正素子４に駆動信号を供給することにより、球面収差の補正を実行する。
【００４３】
なお、制御部５２、マイクロコンピュータ５１は、１つ以上のデジタル回路で構成されることが好ましい。制御部５２及びマイクロコンピュータ５１は、単一の半導体集積回路基板（単一の半導体チップ）上に集積され得る。
【００４４】
さらに、図１の光ディスク装置は、チルト角度の時間的な変化を検出するディスクチルト角度変化速度検出手段と、前記ディスクチルト角度変化速度検出手段の出力と閾値Ｔｈ１とを比較する手段とを有し、前記ディスクチルト角度変化速度が閾値Ｔｈ１を超えた場合には光ディスク３１に対する記録動作を禁止する手段と、を備えたこと特徴としている。
【００４５】
まず、熱衝撃チルトの検出処理を図１及び図５を用いて説明する。図５、および以下に記載さる処理ステップＳ０１〜Ｓ１３はマイクロコンピュータ５１によって実行されるとする。
【００４６】
まず始めに、光ディスクが挿入されると、ディスクチルト測定が可能となるまで起動処理を実行する。（Ｓ０１）。ディスクチルトの測定結果は、光ディスク３１自身の面振れやディスクモータ２８の傾きがあると、光ディスクをディスクモータ２８へ取り付けたときの角度によって変動してしまう。そのため、起動処理１（Ｓ０１）においてディスクモータの回転をさせるところまで処理を進める。
【００４７】
この状態でディスクチルトＤ１を測定し、その測定値Ｄ１と測定半径位置Ｒ、測定時の回転速度ＲＰＭ、起動開始からの経過時刻Ｔ１を記憶する（Ｓ０２）。
【００４８】
次に、起動処理を継続し（Ｓ０３）、時刻Ｔ１以降の異なるタイミングで、半径位置Ｒに移動し、回転速度をＲＰＭに設定する（Ｓ０４）。なお、起動処理２（Ｓ０３）においてディスク回転速度を変化させていない場合は、回転速度をＲＰＭに設定する必要は無い。
【００４９】
この状態でディスクチルトＤ２を測定（Ｓ０５）し、起動開始からの経過時刻Ｔ２を記憶する。ディスクチルト角度変化速度を精度良く検出させるためには、時刻Ｔ１と時刻Ｔ２の間隔は少なくとも５秒程度あけることが望ましい。
【００５０】
次に、２つの時刻におけるディスクチルト値からディスクチルト角度変化速度Ｖ１＝（Ｄ２−Ｄ１）／（Ｔ２−Ｔ１）を計算し（Ｓ０６）、この絶対値｜Ｖ１｜が所定の閾値Ｔｈ１を超えた場合に熱衝撃チルトが発生したと判断する（Ｓ０７）。
【００５１】
ここで、起動時間が極端に短い場合（例えば１秒）、起動処理中に熱衝撃チルトを精度よく検出することが出来ない。その場合は一旦起動処理を完了し、時刻Ｔ１から所定時刻が経過した後（例えば５秒後）に上記条件でディスクチルトＤ２を測定し、ディスクチルト角度変化速度を計算して熱衝撃チルトが発生しているかどうかの判定を行う。
【００５２】
熱衝撃チルトが発生していないと判定された場合は、記録・再生動作が可能となるまで起動処理を継続する（Ｓ１３）。熱衝撃チルトが発生したと判定した場合は、起動処理を一旦中断し、Ｄ１及びＤ２を測定した状態と同じ半径位置Ｒ、回転速度ＲＰＭで所定時間間隔ΔＴごとにディスクチルトを測定する。
【００５３】
チルトが検出される毎に、ディスクチルト角度変化速度Ｖ（ｎ−１）（Ｄ（ｎ）−Ｄ（ｎ−１））／（Ｔ（ｎ）−Ｔ（ｎ−１））を計算し、その変化速度の絶対値｜Ｖ（ｎ−１）｜が所定の閾値Ｔｈ２より小さくなるまで繰り返す（Ｓ０８〜Ｓ０１１）。ここでｎはディスクチルトの測定回数である。
【００５４】
ディスクチルト角度変化速度の絶対値｜Ｖ（ｎ−１）｜がＴｈ２より小さくなった場合は、熱衝撃チルトによるディスクチルト変化が収まったと判断し、改めて起動処理をやり直す。
【００５５】
なお、起動処理において熱衝撃チルトを検出したと判断した時点までの様々なパラメータの調整結果には、ディスクチルトの値に依存しないものもある。例えば、ディスク種別の判定結果や、回路のオフセット量の調整結果である。このような場合は、起動処理をやり直し時において判別や調整を行わずに直前の判別あるいは調整結果を用いて起動処理を継続しても良い。
【００５６】
ディスクチルトの測定回数があらかじめ決めておいた測定回数Ｎ＿ＭＡＸを超えた場合は、熱衝撃チルトの影響が収まらないか、または異常状態であると判断し、最初から起動処理をやり直す（Ｓ１２）。
【００５７】
なお、ディスクチルトの測定にはチルトセンサを用いず、フォーカス制御動作時の２つの異なる半径位置ｒ１とｒ２におけるフォーカス駆動電流の低域成分（もしくはフォーカス駆動信号の低域成分）ｄ１とｄ２の差を用いても良い。この場合、ディスクチルトＤは次式で計算される。
【００５８】
Ｄ＝ｔａｎ−１（（ｄ２−ｄ１）／（ｒ２−ｒ１））
このように、ディスクチルトの測定にフォーカス駆動電流の低域成分（もしくはフォーカス駆動信号の低域成分）を用いる場合は、フォーカス制御動作が行われている必要がある。そのため、起動処理１（Ｓ０１）においてフォーカス制御動作まで実行しておくことが必要である。
【００５９】
ここでＳ０２、Ｓ０５及びＳ０９において、測定対象は光ディスク３１の傾きの変化であるので、つまり光ピックアップ１１と光ディスク３１との相対的な距離の変化が検出できれば良いので、例えばフォーカスアクチュエータ駆動回路２１が対物レンズアクチュエータ２に印加するフォーカス駆動電流の低域成分を用いても良い。
【００６０】
フォーカス駆動電流の測定値は、光ディスクの面振れ等の影響を受けるので、ディスク１回転を基準としてその整数倍回数測定し、それらの結果の平均値を採用することが望ましい。
【００６１】
ディスクチルトによる記録・再生性能への影響はディスク種別によっても異なる。常時ディスクチルト検出が可能なチルトセンサ、例えば光学的チルトセンサ等を用いる場合は、熱衝撃チルトによりディスクが急激に反っても、リアルタイムでレンズチルト補正を行うことでコマ収差による記録・再生性能の劣化を補正することができる。ところが先述のように大きなレンズチルトに対して補正を行うとコマ収差は補正できるが、別の収差（非点収差、球面収差など）が発生し、記録・再生性能をかえって悪化させる要因となる。逆に別の収差が発生しないようにレンズチルト量に制限をかけるとコマ収差が補正しきれないため、いずれの場合にも記録・再生性能が悪化してしまう。
【００６２】
これら収差の影響は、光ディスク記録面上の光ビームのスポットサイズを小さくして記録容量を増加させるために、対物レンズの開口数を上げるか、レーザの波長を短くするか、またはその両方を行うことでさらに顕著になる。つまり、上記収差の影響はＤＶＤ＜Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ＜ＨＤ−ＤＶＤとなることが予測される。
【００６３】
そこで、ディスク挿入後の起動処理中に行われるディスク種別判別処理の結果に応じて、閾値Ｔｈ１及び閾値Ｔｈ２をＤＶＤとＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ、ＨＤ−ＤＶＤなどのディスク種別に応じて可変にしてもよい。この処理を図９及び図１０を用いて説明する。まず光ディスクを光ディスク装置にローディングし（Ｓ０１）、次にディスク種別の判別処理を行う（Ｓ０２）。このディスク種別の判別結果を元に、図１０で示したディスク種別毎の熱衝撃チルトの閾値表から対応する閾値Ｔｈ１及び閾値Ｔｈ２を参照して設定する。
【００６４】
閾値Ｔｈ１及び閾値Ｔｈ２の設定値は、チルトに対する許容量が大きいＤＶＤを大きくし、チルトに対する許容量が小さいＢｌｕ−ｒａｙＤｉｓｃやＨＤ−ＤＶＤは小さくすることが望ましい。また再生専用ディスク（ＲＯＭ）やファイナライズ済みの光ディスクに対しては、記録動作が無いため閾値Ｔｈ１及び閾値Ｔｈ２を大きく設定したり、もしくは熱衝撃チルトの検出動作を行わないようにしてもよい。
【００６５】
図２の結果によれば、熱衝撃チルトによるディスクチルト変化はディスク挿入後約３０秒経過後にピークに達するため、測定回数Ｎ＿ＭＡＸはΔＴ×Ｎ＿ＭＡＸが少なくとも３０秒以上となるように設定する必要がある。
【００６６】
また図３に示すように、熱衝撃チルト発生時において光ディスクは内周、中周及び外周にわたってほぼ同量のディスクチルトが発生している。この場合、ディスクチルトの変化量は内周から外周にかけてほぼ等しいが、光ディスクと光ピックアップとの距離は内周部に比べて外周分の変位が大きくなる。そのため、フォーカス駆動電流からチルトを検出する場合は、フォーカス駆動電流の低域成分を測定する半径位置Ｒを光ディスクの外周部にし、その半径位置Ｒにおける熱衝撃チルト検出閾値ＴｈＲをディスク全面に適用することで、測定ばらつきの影響が少なく、より正確な熱衝撃チルトの検出が出来る。
【００６７】
さらに図４に示すように、熱衝撃チルトの発生量は光ディスクが特に密閉型のカートリッジに入っている場合に非常に大きくなる。これは、光ディスクを光ディスク装置に挿入すると、高温になったディスクモータに光ディスクを装着することで光ディスクは中心部から熱せられるが、カートリッジによってカートリッジ内部（つまり光ディスク周辺）と光ディスク装置内部の温度差が長時間保たれることで光ディスクの内周側と外周側で温度が不均一になるためである。そこで熱衝撃チルト発生の検出動作をカートリッジに入ったディスクに限定することで、カートリッジに入った光ディスクの記録性能を損なわないようにするとともに、カートリッジに入っていないベアディスクにおける起動時間の短縮化が可能となる。
【００６８】
図１１を用いてカートリッジの有無により熱衝撃チルト検出動作を切り替える処理を説明する。マイクロコンピュータ５１は、光ディスクを挿入し（Ｓ０１）、挿入中もしくは挿入後にカートリッジ有無検出スイッチ２９によりカートリッジの有無を検出する（Ｓ０２）。この検出結果により動作を切り替える（Ｓ０３）。
【００６９】
カートリッジ有りと判別された場合は、前述した熱衝撃チルト検出動作を実行する。カートリッジ有りと判別された場合は、図５において説明した熱衝撃チルトの検出動作を行う（Ｓ０４）。カートリッジ無し（ベアディスク）と判別された場合は、熱衝撃チルトの検出動作は行わず（Ｓ０５）に起動処理を実行する。
【００７０】
以上、本発明の実施の形態１によれば、チルト角度の時間的な変化を検出するディスクチルト角度変化速度検出手段と、前記ディスクチルト角度変化速度検出手段の出力と閾値Ｔｈ１とを比較する手段とを有し、前記ディスクチルト角度変化速度が閾値Ｔｈ１を超えた場合には光ディスク３１に対する記録動作を禁止する手段と、を備えたことにより、ドライブ内外の温度差によって発生する急激なディスクチルトの変化を正確に検出することができ、時々刻々とディスクチルトが変化している間に記録パワー調整が行われることを防ぎ、常に最適な記録パワーの調整を行うことができる。
【００７１】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２について、図１及び図８を用いて説明する。本実施の形態のハードウェア上の構成は図１の記載の通り、実施の形態１と同等である。実施の形態１とはマイクロコンピュータ５１が実行するアルゴリズムが異なる。
【００７２】
まず、本実施の形態では、ディスクチルト角度変化速度の判定方法として、チルトセンサによるディスクチルト値の時間変化ではなく、対物レンズ高さと比例関係にあるフォーカス駆動電流の低域成分を用いる。図４によれば、熱衝撃チルトが発生した場合のディスクチルトは内周、中周、外周のいずれの位置においても同様の変化をしていることから、熱衝撃チルト発生時は光ディスクの内周を起点として光ディスク全体にディスクチルトが生じていることが分かる。この傾向を利用すれば、チルトセンサを用いずとも、フォーカス制御を動作させた状態で任意の半径位置でのフォーカス駆動電流の低域成分を測定すればディスクチルトの変化が検出可能である。
【００７３】
フォーカス駆動電流の低域成分を用いた熱衝撃チルトの検出処理について、図８を用いて説明する。図８の各処理のステップのうち、図５と内容が同じのもの（Ｓ０２、Ｓ０５Ｓ０５を除く各処理ステップ）については詳細な説明を省略する。
【００７４】
本実施の形態では、ステップＳ０２、ステップＳ０５及びステップＳ０８においてフォーカス制御動作時のフォーカス駆動電流の低域成分を測定することを特徴とする。ディスクチルト角度変化速度Ｖは、時刻Ｔ１におけるフォーカス駆動電流の低域成分をｄ１、時刻Ｔ２におけるフォーカス駆動電流の低域成分をｄ２、フォーカス駆動電流の低域成分を測定した半径位置をＲとすると次式のように近似可能である。
【００７５】
Ｖ＝ｔａｎ−１（（ｄ２−ｄ１）／Ｒ）／（Ｔ２−Ｔ１）×Ｋ
ここで、Ｋはフォーカスアクチュエータ特性と駆動回路定数から求まる、フォーカス駆動電流の低域成分から対物レンズ高さ（フォーカス方向変位量）への変換係数である。
【００７６】
ディスクチルト角度変化速度を、フォーカス駆動電流の低域成分の時間変化から求めることで、チルトセンサを必要とせず、より簡易な構成で熱衝撃チルトを検出することが可能である。
【００７７】
以上、本発明の実施の形態２によれば、特別なチルト検出手段を必要とすることなく熱衝撃チルト発生の有無が検出可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００７８】
本発明によるディスクチルト検出方法を備えた光ディスク装置は、光ディスク装置内部と光ディスク自身に大きな温度差がある状態において発生する熱衝撃チルトを検出することで不適切な記録パワーで光ディスクに記録することを防ぐ機能を有しているため、温度変化が大きい環境下で情報を記録するような光ディスク装置として有用である。例えば、デスクトップパソコン、ノートブックパソコン等パーソナルコンピュータ用途に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本発明の実施の形態１及び実施の形態２における光ディスク装置の構成図
【図２】光ディスク装置と光ディスクの温度差毎の、ディスクチルトの時間変化を示す図
【図３】光ディスクの半径位置毎の、ディスクチルトの時間変化を示す図
【図４】光ディスクのカートリッジの有無によるディスクチルト時間変化を示す図
【図５】本発明の実施の形態１及び実施の形態２における熱衝撃チルトの検出処理を示すフローチャート
【図６】本発明の実施の形態１及び実施の形態２における対物レンズ及びフォーカスアクチュエータの構成を示す図
【図７】本発明の実施の形態１及び実施の形態２におけるアクチュエータ駆動回路によって対物レンズアクチュエータを駆動し、フォーカス制御及びレンズチルトを行う構成を示すブロック図
【図８】本発明の実施の形態２における熱衝撃チルトの検出処理を示すフローチャート
【図９】本発明の実施の形態１及び実施の形態２におけるディスク種別判別結果によって熱衝撃チルトに関する閾値を切り替える処理を説明するフローチャート
【図１０】本発明の実施の形態１及び実施の形態２におけるディスク種別毎の熱衝撃チルトに関する閾値の表を示す図
【図１１】本発明の実施の形態１及び実施の形態２におけるカートリッジの有無によって熱衝撃チルトの検出動作を切り替える処理を説明するフローチャート
【図１２】従来の構成における光ディスク装置の構成を示すブロック図
【符号の説明】
【００８０】
１    対物レンズ
２    フォーカスアクチュエータ
３    トラッキングアクチュエータ
４    球面収差補正素子
５    受光部
６    チルトセンサ
７    １／４波長板
８    レーザ
９    コリメータレンズ
１０    偏光ビームスプリッター
１１    光ピックアップ
２１    フォーカスアクチュエータ駆動回路
２２    レンズチルトアクチュエータ駆動回路
２３    トラッキングアクチュエータ駆動回路
２４    球面収差補正アクチュエータ駆動回路
２５    フォーカスエラー生成器
２６    トラッキングエラー生成器
２７    ディスクチルト検出器
２８    ディスクモータ
２９    カートリッジ有無検出スイッチ
３１    光ディスク
３２    保護層
３３    情報面
３４    基材
４１    温度センサ
５１    マイクロコンピュータ
５２    制御部
１０１    フォーカスアクチュエータＡ
１０２    フォーカスアクチュエータＢ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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