(57)【要約】【課題】サンプリングデータの総数を抑えつつ制御対象の制御量に対するパラメータ値を適切に設定する。【解決手段】制御対象の制御量に対するパラメータ値を設定し、当該パラメータ値に基づき当該制御対象を制御する制御装置の調整方法において、前記パラメータ値の設定を変えて、当該パラメータ値の設定値及び当該設定値に応じて前記制御対象から得られる前記制御量の二次元データである複数のサンプリングデータを取得し、前記複数のサンプリングデータを用いて前記設定値に対する前記制御量の特性関数を算定し、前記特性関数を所定の基準線に基づいて積分区間の全区間にわたって積分した積分値を算定し、前記積分値を等分する前記積分区間内の前記設定値を算定し、当該設定値を前記パラメータ値として決定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
制御対象の制御量に対するパラメータ値を設定し、当該パラメータ値に基づき当該制御対象を制御する制御装置の調整方法において、
前記パラメータ値の設定を変えて、当該パラメータ値の設定値及び当該設定値に応じて前記制御対象から得られる前記制御量の二次元データである複数のサンプリングデータを取得し、
前記複数のサンプリングデータを用いて前記設定値に対する前記制御量の特性関数を算定し、
前記特性関数を所定の基準線に基づいて積分区間の全区間にわたって積分した積分値を算定し、
前記積分値を等分する前記積分区間内の前記設定値を算定し、当該設定値を前記パラメータ値として決定すること、
を特徴とする制御装置の調整方法。
【請求項２】
請求項１に記載の制御装置の調整方法において、
前記複数のサンプリングデータのうちの１つのサンプリングデータの前記制御量が、残りの前記複数のサンプリングデータの前記制御量の分布よりも離散しているか否かを判定し、
前記分布から離散していると判定された前記サンプリングデータを、前記特性関数を求める際の対象外として取り扱うこと、
を特徴とする制御装置の調整方法。
【請求項３】
請求項１に記載の制御装置の調整方法において、前記特性関数は、前記複数のサンプリングデータをつなぎ合わせた折れ線関数であること、を特徴とする制御装置の調整方法。
【請求項４】
請求項３に記載の制御装置の調整方法において、前記積分値は、前記積分区間のうち前記サンプリングデータで区切られた各区間の台形の面積の総和であること、を特徴とする制御装置の調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、制御装置の調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
制御対象の制御量に対するパラメータ値を設定して当該パラメータ値に基づき当該制御対象を制御する制御装置には、予め定めておいた最適化条件に従って当該パラメータ値を求める方法が採用されている。例えば、以下に示す特許文献１には、光ピックアップ（制御対象）のチルト設定の調整方法が開示されている。
【０００３】
図８を用いて詳述すると、ＣＰＵ（制御装置）が、光ピックアップのチルト調整用のパラメータ値の設定（設定値Ｘ）を変えることにより、チルト（制御量）を実際に可変させる。また、ＣＰＵは、チルトを可変させる毎に、チルトを評価するための再生信号レベル（評価値Ｙ）を検出する。そして、ＣＰＵは、チルト調整用のパラメータの設定値対再生信号レベルの二次元データである複数のサンプリングデータＤ０〜Ｄ７の分布を表現した特性関数を二次曲線Ｌで近似して、当該二次曲線Ｌの中で再生信号レベルが最も大きくなるチルトを設定すべきパラメータ値ＸＯとして採用する。
【特許文献１】特開２００４−１６４８１０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、複数のサンプリングデータの特性関数を二次曲線で近似して当該二次曲線を用いてパラメータ値を探索する方法の場合、当該二次曲線の近似の精度に問題がある。即ち、サンプリングデータの総数が少ないと、サンプリングデータに含まれる測定誤差が近似に与える影響が大きくなる。また、サンプリングデータの分布に偏りがある場合、単純な一次元関数に基づく二次曲線で特性関数を近似することは困難である。
【０００５】
そこで、特性関数の近似の精度を向上させるために、サンプリングデータの総数を増やした場合、特性関数の近似に要する処理の負荷が増加するという別の問題が生じてくる。また、特性関数の近似の精度を向上させる別の方法として、多項式関数や多次元関数等といった複雑な関数を導入すると、特性関数の近似並びに最適なパラメータ値の探索に要する処理負荷が増加するという問題も生じてくる。
【０００６】
特性関数の近似のための処理負荷を軽減する調整方法の一つとして、複数のサンプリングデータを取得し、最適なサンプリングデータをパラメータ値とすることが知られている。例えば、図８の例においては、７つのサンプリングデータＤ１〜Ｄ７のうち、最も評価値Ｙが高いサンプリングデータＤ３に対応する設定値Ｘ３をパラメータ値とする。しかし、この方法では、パラメータ値とされた設定値Ｘ３と本来最適とされる設定値ＸＯとの間の誤差が大きくなる可能性がある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前述した課題を解決するための主たる本発明は、制御対象の制御量に対するパラメータ値を設定し、当該パラメータ値に基づき当該制御対象を制御する制御装置の調整方法において、前記パラメータ値の設定を変えて、当該パラメータ値の設定値及び当該設定値に応じて前記制御対象から得られる前記制御量の二次元データである複数のサンプリングデータを取得し、前記複数のサンプリングデータを用いて前記設定値に対する前記制御量の特性関数を算定し、前記特性関数を所定の基準線に基づいて積分区間の全区間にわたって積分した積分値を算定し、前記積分値を等分する前記積分区間内の前記設定値を算定し、当該設定値を前記パラメータ値として決定すること、とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、サンプリングデータの総数を抑えつつ制御対象の制御量に対するパラメータ値を適切に設定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
＜＜＜光ディスク再生装置の全体構成＞＞＞
本発明に係る制御装置の調整方法の一例として、図１に示す光ディスク再生装置１０において、ＣＰＵ６００（制御装置）が、光ピックアップ２００（制御対象）のチルト（制御量）を最適化すべく、チルト制御部４４０に対して設定するパラメータ値を探索するための手法を例に挙げて説明する。
【００１０】
チルトとは、光ディスク１００の面に対する光ピックアップ２００の光学的な傾きのことを指す。光ディスク１００は、製造ばらつきや使用環境等に起因して平坦な面ではないので、光ディスク１００の面と光ピックアップ２００が出射するレーザ光の光軸との間に成立すべき直交関係にずれが生じる。このため、光ディスク１００から光学的に情報を読み出す場合には、光ピックアップ２００のチルトを調整して、光ディスク１００の面に対してレーザ光の光軸を直交させてレーザ光の受光量を大きくする必要がある。そこで、ＣＰＵ６００は、光ディスク１００の面に対してレーザ光の光軸を直交させるべく、チルト制御部４４０に設定するパラメータ値を算出する。尚、チルトが最適化されたか否かの評価に際してレーザ光の光軸の傾きを直接的に利用するのは現実的には困難である。このため、本実施形態では、チルトを評価するための評価値として後述のジッタを採用している。若しくは、光ディスク１００から読み出された再生信号のレベルを評価値として採用してもよい。
【００１１】
光ピックアップ２００は、光ディスク１００にレーザ光を出射し、レーザ光の反射光を受光する。尚、光ピックアップ２００は、光ディスク１００のトラックにレーザ光を追従させるトラッキングサーボ制御用、光ディスク１００にレーザ光を合焦させるフォーカシングサーボ制御用、光ディスク１００の面にレーザ光の光軸を直交させるチルト制御用の各種のアクチュエータ２１０を備える。特に、チルト制御用のアクチュエータ２１０は、アクチュエータドライバ２３０を介してステッピングモータ、圧電素子、カム機構等を駆動して、光ピックアップ２００をラジアル方向（光ディスク１０の径方向）又はタンジェンシャル方向（光ディスク１００の円周方向）に回動させる構造を具備する。これにより、アクチュエータ２１０は、光ピックアップ２００のチルトを調整する。
【００１２】
アナログ信号処理回路３００は、光ピックアップ２００によって光ディスク１００から得られた信号に基いてＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成部３１０、トラッキングサーボ用のトラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号と称する。）を生成するＴＥ信号生成部３２０、フォーカスサーボ用のフォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号と称する。）を生成するＦＥ信号生成部３３０、を有する。
【００１３】
デジタル信号処理回路４００は、ＴＥ信号に基づいてトラッキングサーボ制御用のアクチュエータ２１０を駆動するための駆動信号を生成するトラッキングサーボ制御部４１０、ＦＥ信号に基づいてフォーカシングサーボ制御用のアクチュエータ２１０を駆動するための駆動信号を生成するフォーカシングサーボ制御部４２０、ＲＦ信号の二値化信号のジッタを検出するジッタ検出部４３０、ＣＰＵ６００によって設定されたパラメータ値に基づきチルト制御用のアクチュエータ２１０を駆動するための駆動信号を生成するチルト制御部４４０、ＲＦ信号の二値化信号に対して光ディスク１００の規格に応じたデコード処理を行うデコーダ４５０、を有する。
【００１４】
チルト制御部４４０が生成する駆動信号のレベルは、ＣＰＵ６００によって設定されたチルトパラメータ値に基づいて光ピックアップ２００のラジアル方向並びにタンジェンシャル方向のチルトを調整するための操作量である。また、ジッタ検出部４３０により検出されるジッタ（時間軸方向のゆらぎ量）は、チルト制御部４４０が生成する駆動信号のレベルに基づき調整された光ピックアップ２００のチルトを評価するための評価値である。ジッタが小さくなれば光ピックアップ２００のチルトが最適化される方向に制御されることが分かる。従って、本実施形態におけるチルト制御とは、評価値が最も低くなるパラメータ値を算出することによって実施される。
【００１５】
出力装置５００は、デコーダ４５０のデコード処理により得られる再生信号（音声信号や映像信号）を出力する装置である。
【００１６】
ＣＰＵ６００は、メモリ６１０に格納されたファームウェア（プログラム）に基づいて、光ディスク再生装置１０全体の制御を司るものである。例えば、アナログ信号処理回路３００における各種アナログ処理や、デジタル信号処理回路４００における各種デジタル処理等を統括的に制御する。尚、以下では、本発明に係る調整方法は、ＣＰＵ６００が実行するファームウェアの一機能として実施される場合とするが、同一機能のハードウェアによって実施してもよい。
【００１７】
＜＜＜光ディスク再生装置の動作＞＞＞
＝＝＝サンプリングデータ取得処理＝＝＝
図２に示すフローチャートを用いて、パラメータ値の設定値Ｘｋ（ｋ＝１〜ｎ）並びに当該設定値Ｘｋに応じて得られる評価値Ｙｋ（ｋ＝１〜ｎ）の二次元データである複数のサンプリングデータＣｋ（ｋ＝１〜ｎ）の取得開始から取得終了までの処理の流れを説明する。
【００１８】
ＣＰＵ６００は、パラメータｋの値を１に設定した上で（Ｓ２００）、チルト制御部４４０に設定した設定値Ｘ１に対してジッタ検出部４３０において検出された評価値Ｙ１を、一回目の第１のサンプリングデータＣ１（設定値Ｘ１、評価値Ｙ１）として取得する（Ｓ２０１）。また、評価値Ｙ１をパラメータＹｍｉｎとして設定する（Ｓ２０２）。
【００１９】
つぎに、ＣＰＵ６００は、パラメータｋの値をインクリメントした上で、チルト制御部４４０に設定した設定値Ｘ２に対してジッタ検出部４３０において検出された評価値Ｙ２を、二回目のサンプリングデータＣ２（設定値Ｘ２、評価値Ｙ２）として取得する（Ｓ２０４）。
【００２０】
評価値Ｙ２がパラメータＹｍｉｎとして設定された評価値Ｙ１よりも低くなれば（Ｓ２０５：ＹＥＳ）、ＣＰＵ６００は、評価値Ｙ２をパラメータＹｍｉｎとして設定して（Ｓ２０２）、更にパラメータｋの値をインクリメントする（Ｓ２０３）。そして、チルト制御部４４０に設定した設定値Ｘ３に対してジッタ検出部４３０において検出された評価値Ｙ３を、三回目のサンプリングデータＣ３（設定値Ｘ３、評価値Ｙ３）として取得する（Ｓ２０４）。
【００２１】
以上の処理は、サンプリングデータＣｋの評価値Ｙｋが、パラメータＹｍｉｎに設定された前回のサンプリングデータＣｋ−１の評価値Ｙｋ−１よりも高くなる（Ｓ２０５：ＮＯ）まで繰り返し行われる。
【００２２】
即ち、評価値Ｙｋが前回の評価値Ｙｋ−１よりも低くなるとき（Ｓ２０５：ＹＥＳ）、即ちジッタが小さくなるとき、光ピックアップ２００のチルトの設定が最適化される方向に向かっている。従って、評価値Ｙｋが、パラメータＹｍｉｎに設定された前回の評価値Ｙｋ−１よりも低くなるとき、新たなサンプリングデータＣｋ＋１の取得を行う。
【００２３】
一方、評価値Ｙｋが前回の評価値Ｙｋ−１よりも高くなるとき（Ｓ２０５：ＮＯ）、即ち、ジッタが大きくなるとき、光ピックアップ２００のチルトの設定が最適化される方向と逆の方向に向かっている。しかし、ノイズや測定条件の不良等の原因により、前回の評価値より高くなる可能性がある。従って、評価値Ｙｋが前回の評価値Ｙｋ−１よりも高くなっても（Ｓ２０５：ＮＯ）、新たなサンプリングデータＣｋ＋１の取得（Ｓ２０３〜Ｓ２０５）を所定の制限下で継続することにした。具体的には、現在の評価値Ｙｋが、所定の回数Ｐ（例えば、四回）連続して前回の評価値Ｙｋ−１よりも高くなるまで（Ｓ２０６：ＹＥＳ）、新たなサンプリングデータＣｋ＋１の取得行う。
【００２４】
＝＝＝ワーストデータ取捨選択処理＝＝＝
図３に示すフローチャートを用いて、複数のサンプリングデータＣｋのうち最も高い評価値Ｙｋ（ワーストデータ）を、後述のパラメータ値探索処理の際に用いるサンプリングデータの対象とするか否かの処理の流れを説明する。
【００２５】
ＣＰＵ６００は、複数のサンプリングデータＣｋの中で、後述の積分区間の開始点に該当する第１のサンプリングデータＣ１（設定値Ｘ１、評価値Ｙ１）、後述の積分区間の終了点に該当する第２のサンプリングデータＣｎ（設定値Ｘｎ、評価値Ｙｎ）の評価値が、残りのサンプリングデータＣ２〜Ｃｎ−１の評価値の分布よりも離散しているか否かを判別する。そして、ＣＰＵ６００は、残りのサンプリングデータＣ２〜Ｃｎ−１の評価値の分布から離散していることを判別したとき、第１のサンプリングデータＣ１又は第２のサンプリングデータＣｎを、特性関数Ｆ（Ｘ）を求める際に用いるサンプリングデータの対象外として取り扱うことにしている。
【００２６】
具体的には、ＣＰＵ６００は、複数のサンプリングデータＣｋの中で、第１のサンプリングデータＣ１と第２のサンプリングデータＣｎの他に、３番目に高い評価値Ｙｍを持つ第３のサンプリングデータＣｍを抽出する（Ｓ３００）。尚、第１のサンプリングデータＣ１、Ｃｎは、全てのサンプリングデータＣｋ（ｋ＝１〜ｎ）の中で１番目と２番目に高い評価値Ｙ１、Ｙｎを持つ。ここで、評価値Ｙ１、Ｙｎのうち高い方を持つ第１のサンプリングデータＣ１又はＣｎのことをワーストデータＷ１と呼び、評価値Ｙ１、Ｙｎのうち低い方を持つ第１のサンプリングデータＣ１又はＣｎのことをワーストデータＷ２と呼ぶ（Ｓ３０１）。また、評価値Ｙｍを持つ第３のサンプリングデータＣｍのことをワーストデータＷ３と呼ぶ。
【００２７】
つぎに、ＣＰＵ６００は、ワーストデータＷ１、Ｗ２の各評価値の第１の差分Δ１と、ワーストデータＷ２、Ｗ３の各評価値の第２の差分Δ２と、を算出する（Ｓ３０２）。そして、第１の差分Δ１が、第２の差分Δ２を所定数Ｒ倍した値よりも大きい場合（Ｓ３０３：ＹＥＳ）、ＣＰＵ６００は、ワーストデータＷ１は後述のパラメータ値探索処理の対象外のサンプリングデータとして取り扱う（Ｓ３０４）。即ち、ワーストデータＷ１は、第１及び第２のサンプリングデータＣ１、Ｃｎ以外のサンプリングデータＣ２〜Ｃｎ−１の評価値の分布から離散しているものと判別される。一方、第１の差分Δ１が、第２の差分Δ２を所定数Ｒ倍した値よりも小さい場合（Ｓ３０３：ＮＯ）、ＣＰＵ６００は、ワーストデータＷ１を後述のパラメータ値探索処理に用いるサンプリングデータＣｋの対象として取り扱う。
【００２８】
以上のワーストデータ取捨選択処理を図４に示した具体例を用いて説明する。  
図４に示す例は、図２に示したサンプリングデータ取得処理の結果、測定７回分の第１のサンプリングデータＣ１〜Ｃ７である。即ち、測定１回目から測定３回目まで評価値が最適化（最小化）の方向に向けて低くなっていたが、測定３回目を境として、測定４回目から測定７回目まで評価値が４回（図２に示すＰ回に相当）連続して高くなっている。
【００２９】
このとき、測定７回目のサンプリングデータＣ７がワーストデータＷ１となり、測定１回目のサンプリングデータＣ１がワーストデータＷ２となり、測定６回目のサンプリングデータＣ６がワーストデータＷ３となっている。また、第１の差分Δ１はワーストデータＷ１の評価値Ｙ７からワーストデータＷ２の評価値Ｙ１の差分となり、第２の差分Δ２はワーストデータＷ２の評価値Ｙ１からワーストデータＷ３の評価値Ｙ６の差分となっている。
【００３０】
ＣＰＵ６００は、第１の差分Δ１が第２の差分Δ２の２倍（Ｒ倍）以上となっているので、ワーストデータＷ１を、後述のパラメータ値探索処理に用いるサンプリングデータの対象外として取り扱う。
【００３１】
＝＝＝パラメータ値探索処理＝＝＝
図５に示すフローチャートを用いて、複数のサンプリングデータＣｋを用いてパラメータ値として設定すべき設定値ＸＯを求めるまでの処理の流れを説明する。
【００３２】
まず、ＣＰＵ６００は、複数のサンプリングデータＣｋの特性関数Ｆ（Ｘ）を、複数のサンプリングデータＣｋをつなぎ合わせた折れ線関数として近似する（Ｓ５００）。そして、特性関数Ｆ（Ｘ）の積分区間｛Ｘ１〜Ｘｎ｝を合計ｎ−１区間に分割した上で（Ｓ５０１）、積分区間｛Ｘ１〜Ｘｎ｝の各区間の台形面積Ｓｐ（ｐ＝１〜ｎ−１）の総和Ｓを算定した後（Ｓ５０２）、総和Ｓの等分Ｖを算定する（Ｓ５０３）。
【００３３】
そこで、パラメータｐを１、パラメータＴを０に設定した上で（Ｓ５０４）、パラメータＴに対して、積分区間｛Ｘ１〜Ｘｎ｝における第１区間（積分区間の開始区間）の台形面積Ｓ１から第ｎ−１区間（積分区間の終了区間）の台形面積Ｓｎ−１の順に、台形面積Ｓｐを加算していく（Ｓ５０５、Ｓ５０６、Ｓ５０７）。例えば、第１区間の台形面積Ｓ１とは、点Ａ（Ｘ１,Ｙ０）、点Ｂ（Ｘ１,Ｙ１）、点Ｃ（Ｘ２,Ｙ２）、点Ｄ（Ｘ２,Ｙ０）の４点で囲まれた台形の面積として求められる。そして、台形面積Ｓｐの累積加算の過程で、パラメータＴ（累積加算値）が総和Ｓの等分Ｖを超えたとき（Ｓ５０６：ＮＯ）、台形面積Ｓｐの累積加算を中止する。
【００３４】
つぎに、累積加算を中止したときのパラメータｐの値ｑに応じた第ｑ区間内で、総和Ｓの等分Ｖが得られる設定値Ｘ０を算定する（Ｓ５０８）。具体的には、第１区間から第ｑ−１区間までの各台形面積Ｓｐ（ｐ＝１〜ｑ−１）の累積加算値を総和Ｓから減算する。そして、第ｑ区間内で、当該減算結果を面積とする台形の高さｈを算定し、この台形の高さｈを、光ピックアップ２００のチルトを最適化するチルト制御部４４０に設定すべき設定値Ｘ０（最適パラメータ値）として取り扱う。前述したサンプリングデータ取得処理によって、設定値Ｘ０を求めるに際して必要なサンプリングデータの総数を抑えることができるとともに、サンプリングデータＣ１〜Ｃ５の評価値のばらつきを考慮した安定度の高いパラメータ値として採用できる。
【００３５】
以上のパラメータ値探索処理を図６、図７に示した具体例を用いて説明する。  
図６、図７に示す例では、図４に示した例と同じ事例であり、サンプリングデータＣ１〜Ｃ７が測定され、サンプリングデータＣ７がパラメータ値の算出処理の対象外とされた場合である。従って、サンプリングデータＣ１〜Ｃ６をつなぎ合わせて折れ線近似した特性関数Ｆ（Ｘ）が得られ、積分区間は｛Ｘ１〜Ｘ６｝となる。また、積分区間｛Ｘ１〜Ｘ６｝は５つの区間に分割される。
【００３６】
つぎに、ワーストデータＷ１の評価値Ｙ７よりも低くワーストデータＷ２の評価値Ｙ１よりも高いオフセットＹ０を設定する。そして、当該オフセットＹ０を基準線Ｈとして各区間の台形面積Ｓ１〜Ｓ５を算定する。ここで、第１区間の台形面積Ｓ１は“６２”、第２区間の台形面積Ｓ２は“６４”、第３区間の台形面積Ｓ３は“８８”、第４区間の台形面積Ｓ４は“８４”、第５区間の台形面積Ｓ５は“７２”とする。この場合、台形面積Ｓ１〜Ｓ６の総和Ｓは“３７０”となり、総和Ｓの等分Ｖは“１８５”となる。
【００３７】
つぎに、第１区間の台形面積Ｓ１から第５区間の台形面積Ｓ５の順に累積加算していく。この過程で、第１区間の台形面積Ｓ１と第２区間の台形面積Ｓ２を加算すると累積加算結果が“１２６”となり、総和Ｓの等分Ｖ“１８５”よりも小さいが、更に第３区間の台形面積Ｓ３を加算すると累積加算結果が“２１４”となり、総和Ｓの等分Ｖ“１８５”よりも大きくなる。従って、第３区間の中で設定値ＸＯが得られることが分かる。
【００３８】
具体的には、第１区間から第２区間までの累積加算結果“１２６”と総和Ｓの等分Ｖの“１８５”との間の差分が“５９”である。従って、第３区間の中で、差分“５９”が得られる台形の高さｈを求めて、当該台形の高さｈに相当する設定値Ｘを設定値Ｘ０として求める。
【００３９】
以上、本発明の実施形態について説明したが、この実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更／改良され得るとともに、その等価物も含まれる。
【００４０】
例えば、本発明に係るパラメータ値探索方法を、光ディスク再生装置１０のチルト制御の場合に限らず、例えば、ＲＦ信号生成部３１０を構成するＲＦアンプ等のオフセット調整やサーボゲイン調整に対しても用いることができる。また、光ディスク再生装置１０に限らず、各種電子機器の制御装置に対しても用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明に係る光ディスク再生装置の全体構成を示す図である。
【図２】本発明に係る光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】本発明に係る光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【図４】本発明に係る光ディスク再生装置の動作を説明するための図である。
【図５】本発明に係る光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【図６】本発明に係る光ディスク再生装置の動作を説明するための図である。
【図７】本発明に係る光ディスク再生装置の動作を説明するための図である。
【図８】従来の最適化方法を説明するための図である。
【符号の説明】
【００４２】
１０  光ディスク再生装置
１００  光ディスク
２００  光ピックアップ
２１０  アクチュエータ
２３０  アクチュエータドライバ
３００  アナログ信号処理回路
３１０  ＲＦ信号生成部
３２０  ＴＥ信号生成部
３３０  ＦＥ信号生成部
４００  デジタル信号処理回路
４１０  トラッキングサーボ制御部
４２０  フォーカシングサーボ制御部
４３０  ジッタ検出部
４４０  チルト制御部
４５０  デコーダ
５００  出力装置
６００  ＣＰＵ
６１０  メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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