(57)【要約】【課題】撮像素子光学系部品に異物が付着している場合でも、欠陥画素の補正精度が低下することを抑制できるようにする。【解決手段】被写体像を光電変換する複数の画素が２次元的に配列された撮像素子と、撮像素子の前方であって撮影光軸上に配設された光学部材に付着した異物の位置を検出する検出部と、撮像素子の欠陥画素部から出力される画像信号を、欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて補正する補正部と、検出部の検出結果から、欠陥画素部の近傍の画素が異物の影の影響を受けていると判断される場合に、異物の影の影響を受けている画素を除いた欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて、欠陥画素部から出力される画像信号を補正するように補正部を制御する制御部と、を具備する。【選択図】図３
2008131607.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体像を光電変換する複数の画素が２次元的に配列された撮像素子と、
前記撮像素子の前方であって撮影光軸上に配設された光学部材に付着した異物の位置を検出する検出手段と、
前記撮像素子の欠陥画素部から出力される画像信号を、前記欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて補正する補正手段と、
前記検出手段の検出結果から、前記欠陥画素部の近傍の画素が前記異物の影の影響を受けていると判断される場合に、該異物の影の影響を受けている画素を除いた前記欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて、前記欠陥画素部から出力される画像信号を補正するように前記補正手段を制御する制御手段と、
を具備することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記欠陥画素部の近傍の画素が異物の影の影響を受けている場合に、該異物の影の影響を受けている画素に代わる異物の影の影響を受けていない画素を選択して、該画素からの画像信号を前記欠陥画素部から出力される画像信号の補正に用いるように前記補正手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
被写体像を光電変換する複数の画素が２次元的に配列された撮像素子と、該撮像素子の前方であって撮影光軸上に配設された光学部材に付着した異物の位置を検出する検出手段と、前記撮像素子の欠陥画素部から出力される画像信号を、前記欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて補正する補正手段と、を備える撮像装置を制御する方法であって、
前記検出手段の検出結果から、前記欠陥画素部の近傍の画素が前記異物の影の影響を受けていると判断される場合に、該異物の影の影響を受けている画素を除いた前記欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて、前記欠陥画素部から出力される画像信号を補正するように前記補正手段を制御する制御工程を具備することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【請求項４】
請求項３に記載の制御方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項５】
請求項４に記載のプログラムを記憶したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタルカメラ等の撮像装置における画素欠陥の補正技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
固体メモリ素子を有するメモリカードを記録媒体として、ＣＣＤ、ＣＭＯＳセンサ等の固体撮像素子（以下撮像素子）で撮像した静止画像や動画像を記録及び再生するデジタルカメラ等の撮像装置が知られている。
【０００３】
このような撮像装置においては、光学レンズを通して入射した外光は、多数の受光素子（以下画素と記載）を平面内に二次元的に配列して形成された撮像素子で受光される。各画素は夫々、撮像対象からの光を受光し、受光量に応じたアナログ電気信号を出力する。撮像素子の各画素の出力は走査されて一つずつ順次Ａ／Ｄ変換器でデジタル信号に変換された後に信号処理回路へ供給される。信号処理回路は、デジタル信号を表示信号に変換し表示器や記録媒体へ供給する。その結果、表示器の画面には、二次元的に配列された画素に対応する画像が表示されることになる。
【０００４】
撮像素子では、二次元的に配列された画素のうち、その製造過程もしくは製造後において半導体の局部的な感度不良が生ずることが知られている。この現象が起きると、入射した光量に応じた電荷出力が得られなくなるため、取得した画像には被写体とは無関係に白点や黒点が見て取れる、いわゆる欠陥画素となって現れる問題が発生する。
【０００５】
こうした欠陥画素に起因する画質劣化を信号処理によって補正するために、従来、次のような方法がとられていた。即ち、撮像素子の工場出荷時に、所定の環境下での所定の蓄積時間における画素出力を評価し、欠陥と判定された画素については、その欠陥の種別（黒点、白点）及び画素のアドレス（欠陥画素の座標（ｘ，ｙ））、さらに欠陥の度合い（レベル）の情報を得る。そして、得られた情報を撮像装置に備えられた不揮発性メモリに記憶させ、実際の撮影時に、撮影された画像に対して、この情報を元に欠陥画素部分を補正する（例えば特許文献１）。
【０００６】
また欠陥画素は時間の経過と共に増加するものであるため、欠陥画素を検出する手段を設け、新たに発生した欠陥画素の情報を追加記憶し、欠陥画素を補正するよう構成された撮像装置もある（例えば特許文献２）。
【０００７】
また、欠陥画素を補正する手法としては、補正対象画素の周辺にある同色画素の平均値や補間値を画素欠陥部の画像信号と置きかえる手法が知られている。この手法の一例を図４Ａを使って説明する。図４Ａは撮像素子の画素の一部を模式的に表した図であり、Ｒ、Ｇ、Ｂの三色の画素が規則的な組合せで配列されている。今Ｇ２１が欠陥画素とすると、隣接する同色画素であるＧ１６，Ｇ１７，Ｇ２５，Ｇ２６の画像信号の平均値を求め、Ｇ２１の画像信号と置き換えることで欠陥画素を補正している。
【特許文献１】特開２０００−２３０５１号公報
【特許文献２】特開２００５−１２３８７３号公報
【特許文献３】特開２００３−０１８４４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、デジタルカメラでは、撮像素子の前方であって撮影光軸上に配置される、撮像素子保護ガラスや光学フィルター等（以下、まとめて撮像素子光学系部品）の表面上にゴミ、ほこりなどの異物が付着する場合がある。そして、この付着した異物は影として撮影画像に写り込むこととなる。このような場合、上記のように欠陥画素を周囲の同色画素で補間しようとしたときに、補間に使用する画素が異物の影になっていると、欠陥画素の補正を正確に行なうことができない。具体的には、補間に使用する画素が異物の影になっていると、それらの画素は画像信号が低下しており、補正値が低下方向に引っ張られる。
【０００９】
そこで撮像素子光学系部品に付着した異物を、自動的に除去する手段を備えたカメラが知られており（例えば特許文献３）、この異物除去動作により大半の異物は除去することが可能となった。
【００１０】
しかしながら、付着した異物の中には撮像素子の数画素分にまたがる程度の非常に細かく且つ除去しきれないものが存在する。そのため、この異物が補正に使用する画像信号に影響を与えるような位置に付着している場合、補正値が低下方向に引っ張られて補正精度が低下してしまう。即ち、従来の異物除去手段を用いても、欠陥画素の補正精度の低下の問題は完全には解決されない。
【００１１】
したがって、本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、撮像素子光学系部品に異物が付着している場合でも、欠陥画素の補正精度が低下することを抑制できるようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係わる撮像装置は、被写体像を光電変換する複数の画素が２次元的に配列された撮像素子と、前記撮像素子の前方であって撮影光軸上に配設された光学部材に付着した異物の位置を検出する検出手段と、前記撮像素子の欠陥画素部から出力される画像信号を、前記欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて補正する補正手段と、前記検出手段の検出結果から、前記欠陥画素部の近傍の画素が前記異物の影の影響を受けていると判断される場合に、該異物の影の影響を受けている画素を除いた前記欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて、前記欠陥画素部から出力される画像信号を補正するように前記補正手段を制御する制御手段と、を具備することを特徴とする。
【００１３】
また、本発明に係わる撮像装置の制御方法は、被写体像を光電変換する複数の画素が２次元的に配列された撮像素子と、該撮像素子の前方であって撮影光軸上に配設された光学部材に付着した異物の位置を検出する検出手段と、前記撮像素子の欠陥画素部から出力される画像信号を、前記欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて補正する補正手段と、を備える撮像装置を制御する方法であって、前記検出手段の検出結果から、前記欠陥画素部の近傍の画素が前記異物の影の影響を受けていると判断される場合に、該異物の影の影響を受けている画素を除いた前記欠陥画素部の近傍の画素から出力される画像信号を用いて、前記欠陥画素部から出力される画像信号を補正するように前記補正手段を制御する制御工程を具備することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明に係わるプログラムは、上記の制御方法をコンピュータに実行させることを特徴とする。
【００１５】
また、本発明に係わる記憶媒体は、上記のプログラムを記憶したことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、撮像素子光学系部品に異物が付着している場合でも、欠陥画素の補正精度が低下することを抑制することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の好適な一実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【００１８】
図１は、ＣＣＤ、ＣＭＯＳセンサ等の複数の光電変換部を有する撮像素子を用いたデジタルカメラの構成を示すブロック図である。
【００１９】
複数の光電変換部を有する撮像素子１のアナログ出力信号は、ＣＤＳ／ＡＧＣ回路２でノイズリダクション処理とゲイン調整処理が施され、Ａ／Ｄ変換器３でデジタル信号に変換され、デジタル信号処理ＩＣであるエンジン４に入力される。なお、撮像素子１には、被写体像を光電変換する複数の光電変換部（画素）が２次元的に配列されている。
【００２０】
エンジン４は、欠陥画素補正部５、欠陥画素情報記憶部６、異物付着検出部７、異物情報記憶部８、スイッチ９、及び現像処理部１０を含む。
【００２１】
エンジン４に入力された画像信号は、欠陥画素補正部５に入力され、撮像素子１の欠陥画素からの画像信号に対して後述する所定の補正が施される。欠陥画素補正部５で処理された画像信号は、現像処理部１０に入力され、色補間処理などの現像処理を施され、メモリ１９に保存される。
【００２２】
欠陥画素補正部５では、欠陥画素情報記憶部６、異物情報記憶部８のそれぞれの情報より得られる、欠陥画素の位置データ、欠陥部画像の補正に使用する画像信号の異物の有無などから有効な補正値を割り出し、欠陥画素部からの画像信号を補正する。
【００２３】
例えば図４Ａは撮像素子の画素の一部を模式的に表した図であり、Ｒ、Ｇ、Ｂの三色の画素が規則的な組合せで配列されている。今Ｇ２１が欠陥画素の場合、隣接する同色画素であるＧ１６，Ｇ１７，Ｇ２５，Ｇ２６の画像信号の平均値を求め、Ｇ２１の画像信号と置き換えることで欠陥画素部からの画像信号を補正する。尚、上記補正方法以外にも、補正に用いる画像信号の画素数を変えたりすることも考えられ、欠陥画素による画像の劣化を回避できる手法であれば上記以外の方法を用いてもよい。
【００２４】
欠陥画素情報記憶部６には、例えば撮像素子１の工場出荷時に取得した欠陥画素の位置データ、欠陥のレベル、欠陥の種類などの情報が記憶されている。また、撮像素子１のカバーガラス表面または撮像素子１のカバーガラス表面に貼り付けられた光学フィルタ２０表面の異物は異物付着検出部７により検出され、異物の位置情報、異物の大きさなどが異物情報記憶部８に記憶される。なお、以後、撮像素子１のカバーガラスの表面または撮像素子１のカバーガラス表面に貼り付けられた光学フィルタ２０の表面を、簡単のため「撮像素子表面」と記述することにする。
【００２５】
現像処理部１０で現像処理された画像は、例えばＴＦＴ液晶表示器等の表示器（ＬＣＤ）１１に表示されたり、あるいは、ビデオ端子（ＶＩＤＥＯ）１２等から外部モニターなどに出力されたりする。
【００２６】
また、現像処理された画像は、外部メモリ１３、例えばＣＦカード（コンパクトフラッシュ（登録商標）メモリカード）などに保存することもできる。またエンジン４にはシリアル通信装置であるＵＳＢインターフェース等のインターフェース１４が接続されており、これを通して外部のコンピュータなどに画像データなどを出力できる。さらに、エンジン４はタイミングジェネレータ（ＴＧ／ＶＤＲ）１５を駆動して、これによって撮像素子１に供給すべきクロック信号等を発生させる。
【００２７】
また、エンジン４には、マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）１８が接続されており、ＣＰＵ１８からの命令に応じて種々の設定が行われ、ＣＰＵ１８によって動作が管理される。メモリ１９は、ＣＰＵ１８に供給すべきプログラムを格納したり、撮影画像を一時的に格納したりするために使用され、また作業領域としても使用される。レンズ（ＬＥＮＳ）１６は、撮影のための光学系であり、その絞りや焦点を調節するためのアクチュエータを有する。アクチュエータは、ＣＰＵ１８からの指示にしたがって制御される。また異物除去部１７は撮像素子１に貼り付けられた光学フィルタ２０表面の異物を除去するためのアクチュエータを有し、例えば電源起動時にＣＰＵ１８により駆動制御される。具体的には、アクチュエータとしては例えば圧電素子を使用することができ、この圧電素子により光学フィルタ２０を振動させることにより異物を除去する。
【００２８】
また光学フィルタ２０は、撮像素子１のカバーガラスの表面上及び光学フィルタ２０の表面上の異物を充分除去した後に高密閉状態で貼り合わされることにより、組みつけられている。
【００２９】
次にエンジン４内部に備えられた異物付着検出部７の動作について図２のフローチャートを参照して説明する。
【００３０】
図２においてカメラの主電源（不図示）が起動されると、ＣＰＵ１８は異物除去部１７を制御し、撮像素子１のカバーガラスに貼り付けられた光学フィルタ２０の表面の異物除去を所定時間だけ自動的に実行する（ステップＳ２０１）。なお、本実施形態では、この異物除去動作をカメラの主電源起動時に実行するようにしているが、動作時期はこれに限らず定期的に自動実行してもよいし、または使用者が任意に実行するようにしてもかまわない。異物除去動作の詳細については、例えば特開２００３−０１８４４０号公報に記載されているような方法でもよいし、その他でも撮像素子表面の異物を効果的に除去できる方法であれば上記公報に記載されている方法に限定されるものではない。
【００３１】
上記の異物除去動作の目的は、撮像素子１のカバーガラスに貼り付けられた光学フィルタ２０の表面に付着した異物を除去することにある。しかしながらこの除去能力には限界があり、付着したほとんどの異物は確実に除去可能であるが、撮像素子の数画素分程度の非常に細かい一部の異物は除去しきれない場合もある。よってステップＳ２０２以降で撮像素子表面にどの程度の異物が残っているかを検出する。
【００３２】
異物除去動作が完了すると、ＣＰＵ１８はエンジン４における異物情報記憶部８の記憶内容を初期化（ステップＳ２０２）する。そして、スイッチ９をＯＮにしてＡ／Ｄ変換器３からの画像信号が異物付着検出部７に入力される状態にする（ステップＳ２０３）。
【００３３】
そして、異物検出用の画像の撮影を行う（ステップＳ２０４）。撮像素子１の表面に異物が付着している個所では撮影された画像に影ができるため、ステップＳ２０４では異物を検出しやすい比較的明るい均一光を撮影する。光の入射方法は、特開２００２−３００４４２号公報に記載されているようにカメラ内部に専用光源を備えてもよいし、カメラ外部からの光を利用しても構わない。均一光の撮影により得られた撮像素子１の出力信号は、ＣＤＳ／ＡＧＣ回路２、Ａ／Ｄ変換器３を経てエンジン４へ入力される。エンジン４に入力された画像信号は異物付着検出部７へ１画素相当の画像信号毎に順次入力される（ステップＳ２０５）。
【００３４】
この異物付着検出部７では、入力された画像信号に対して欠陥画素情報記憶部の情報をもとに欠陥画素判定を行い（ステップＳ２０６）、欠陥画素である画像信号については異物付着判定は行わなわない（ステップＳ２０６の判定Ｙｅｓ）。そして、Ｓ２０９へ移行する。
【００３５】
欠陥画素でない画像信号（ステップＳ２０６の判定Ｎｏ）については所定値と比較し（ステップＳ２０７）、比較した画像信号が所定値より小さいときは撮像素子表面に異物が付着しているものと判断する。そして、異物情報記憶部８に異物の影響を受けている画素の位置データ、画像信号のレベルなどの情報を書き込む（ステップＳ２０８）。一方比較した画像信号が所定値以上のときは、異物が付着していないと判断できるため、異物情報記憶部８への書き込みは行わない。
【００３６】
そして、１画素分の検出動作が終了する度に全画素の検出動作が終了したかを確認し（ステップＳ２０９）、終了するまでステップＳ２０５〜Ｓ２０９を繰り返す。
【００３７】
次に、エンジン４の内部に備えられた欠陥画素補正部５の動作について図３のフローチャートを参照して説明する。
【００３８】
図３において、使用者の手により通常の撮影が行われると、撮影対象からの光を受けた撮像素子１の出力が、ＣＤＳ／ＡＧＣ回路２、Ａ／Ｄ変換器３を経てエンジン４へ入力される（ステップＳ３０１）。エンジン４に入力された画像信号は欠陥画素補正部５へ１画素相当の画像信号毎に順次入力される（ステップＳ３０２）。
【００３９】
この欠陥画素補正部５では、入力された画像信号に対して欠陥画素情報記憶部６の情報をもとに欠陥画素判定を行う（ステップＳ３０３）。そして、この画像信号が欠陥画素のものでない場合（ステップＳ３０３の判定Ｎｏ）には、画像信号を補正せずにステップＳ３０７へ移行する。ステップＳ３０７の説明は後述する。
【００４０】
画像信号が欠陥画素部のものである場合（ステップＳ３０３の判定Ｙｅｓ）には、欠陥画素部の補正値を作るために周辺の画像信号が異物付着対象であるか否かを異物情報記憶部８の情報より判定する（ステップＳ３０４）。上記の周辺の画像信号が異物付着の影響を受けていない場合（ステップＳ３０４の判定Ｎｏ）には、通常行われる手法で欠陥画素周辺の画素からの画像信号を使って補正値を求める（ステップＳ３０５）。そして、求められた補正値を欠陥画素部の画像信号と置き換える（ステップＳ３０６）。
【００４１】
上記の補正手法では、例えば図４Ａのように欠陥画素Ｇ２１に隣接した同色画素Ｇ１６，Ｇ１７，Ｇ２５，Ｇ２６（ハッチング部）の画像信号の平均値を求め、この平均値をＧ２１の画像信号と置き換えることで欠陥画素の補正を行う。
【００４２】
画像信号の置き換え（ステップＳ３０６）の後、１画素分の補正動作が終了する度に全画素分の欠陥画素判定及び欠陥画素部からの画像信号の補正動作が終了したかを確認し（ステップＳ３０７）、これが終了するまでステップＳ３０２〜Ｓ３０７を繰り返す。
【００４３】
一方、ステップＳ３０４において、周辺の画像信号が異物付着による影響を受けている場合（ステップＳ３０４の判定Ｙｅｓ）には、次のようにする。即ち、異物付着による影響を受けている画像信号を使わないようにして欠陥画素部からの画像信号を補正する（ステップＳ３０８、ステップＳ３０６）。
【００４４】
例えば図４Ｂのように欠陥画素Ｇ２１と隣接する同色画素のひとつであるＧ１７の画像信号が異物付着による影響を受けているような場合では、次のようにする。即ち、Ｇ１７を除くＧ１６，Ｇ２５，Ｇ２６（ハッチング部）の画像信号の平均値を求めこの平均値をＧ２１の画像信号と置き換えることで欠陥画素の補正を行う。または図４Ｃのように、Ｇ１７を除くＧ１６，Ｇ２５，Ｇ２６に加え、Ｇ２０，Ｇ３０の画像信号の平均値を求めこの平均値をＧ２１の画像信号と置き換えることで欠陥画素の補正を行ってもよい。また図４Ｄのように欠陥画素Ｇ２１と隣接する同色画素Ｇ１７とＧ２６の画像信号が異物付着による影響を受けているような場合は、次のようにする。即ち、Ｇ１７とＧ２６を除くＧ１６，Ｇ２５に加え、Ｇ１２，Ｇ２０，Ｇ３０の画像信号の平均値を求めこの平均値をＧ２１の画像信号と置き換えることで欠陥画素の補正を行う。
【００４５】
図３に戻り、画像信号の置き換え（ステップＳ３０６）後、１画素分の補正動作が終了する度に全画素分の欠陥画素判定及び欠陥画素部からの画像信号の補正動作が終了したかを確認する（ステップＳ３０７）。そして、この動作が終了するまでステップＳ３０２〜Ｓ３０７を繰り返す。
【００４６】
以上が、本実施形態における欠陥画素の補正動作である。
【００４７】
なお、上記では、欠陥画素部の周辺の画素が異物による影響を受けている場合には、異物の影響を受けている画素の信号を補正に使用しないように説明した。しかし、欠陥画素部及びその周辺の画素の双方が異物による影響を受けている（異物の影になっている）場合には、異物の影響を受けていない場合と同様に補正を行なう。即ち、欠陥画素部の周辺の画素が異物の影響を受けていたとしても、その画素の信号を用いて補正を行なう。
【００４８】
その理由は次のようなものである。
【００４９】
欠陥画素部は、通常黒点になる場合よりも白点になる場合が多い。そのため、欠陥画素部を補正せずにそのまま欠陥画素部の信号を用いると、その画素が白く光ってしまい欠陥が目立ちやすい。そのため、異物の影になっている周辺の画素の信号を用いて欠陥画素部を補正すれば、欠陥画素部が暗い信号を出力することとなるので、欠陥が目立ちにくくなる。このような理由で、欠陥画素部と周辺画素の双方が異物の影響を受けている場合には、異物の影響がないものとして補正を行なう。
【００５０】
以上述べたように、本実施形態では、基本的には、撮像素子の欠陥画素の画像信号を欠陥画素部の近傍の画素部からの画像信号で補正する。しかし、その場合、上記の近傍画素部からの画像信号が異物付着による影響を受けているような時には、異物付着による影響を受けている画像信号を補正には使用しない。これにより、欠陥画素部の画像信号を、極度な精度低下を招くことなく補正することが可能となる。また、異物付着による影響を受けている画像信号を補正に使用しないだけでなく、異物付着による影響を受けておらず、且つ通常の補正時には使用しない周辺の画像信号も加えて補正する。これにより、情報量が増えるので補正精度が通常の補正時と同等レベルまで向上する。
【００５１】
（他の実施形態）
また、各実施形態の目的は、次のような方法によっても達成される。すなわち、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるいは装置に供給する。そして、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、本発明には次のような場合も含まれる。すなわち、プログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される。
【００５２】
さらに、次のような場合も本発明に含まれる。すなわち、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれる。その後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される。
【００５３】
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した手順に対応するプログラムコードが格納されることになる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の一実施形態に係わるデジタルカメラの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態のデジタルカメラにおける異物付着検出動作を説明するフローチャートである。
【図３】本発明の一実施形態のデジタルカメラにおける欠陥画素補正動作を説明するフローチャートである。
【図４Ａ】欠陥画素部からの画像信号を補正する方法を説明するための、撮像素子の画素の一部を模式的に表した図である。
【図４Ｂ】欠陥画素部からの画像信号を補正する方法を説明するための、撮像素子の画素の一部を模式的に表した図である。
【図４Ｃ】欠陥画素部からの画像信号を補正する方法を説明するための、撮像素子の画素の一部を模式的に表した図である。
【図４Ｄ】欠陥画素部からの画像信号を補正する方法を説明するための、撮像素子の画素の一部を模式的に表した図である。
【符号の説明】
【００５５】
１  撮像素子
２  ＣＤＳ／ＡＧＣ回路
３  Ａ／Ｄ変換器
４  エンジン
５  欠陥画素補正部
６  欠陥画素情報記憶部
７  異物付着検出部
８  異物情報記憶部
９  スイッチ
１０  現像処理部
１１  表示部
１２  ビデオ端子
１３  フラッシュメモリカード
１４  ＵＳＢ端子
１５  タイミングジェネレータ
１６  レンズ
１７  異物除去部
１８  マイクロプロセッサ
１９  メモリ
２０  光学フィルタ
【図１】
2008131607.tif 000003
【図２】
2008131607.tif 000004
【図３】
2008131607.tif 000005
【図４Ａ】
2008131607.tif 000006
【図４Ｂ】
2008131607.tif 000007
【図４Ｃ】
2008131607.tif 000008
【図４Ｄ】
2008131607.tif 000009