(57)【要約】【課題】短時間で精度良くオフセット調整を行い得るようにする。【解決手段】アンプ１５の特性における線形性を利用し、互いに異なるオフセット値ＯＦ１及びＯＦ２を基に得られる２種類の測定値ＤＬ１及びＤＬ２を用いて測定値ＤＬが値「０」となるべきオフセット値ＯＦ３を算出し、さらに当該オフセット値ＯＦ３又は当該オフセット値ＯＦ３を１ステップ増加又は減少させたオフセット値ＯＦ３ｎのうち良好な測定値ＤＬを得られる方を最適なオフセット値ＯＦとして採用することにより、極めて少ない測定回数でオフセット値ＯＦの調整を行うことができる。【選択図】図２
2008204547.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の入力信号に印加するバイアス電圧のオフセット値を調整するオフセット調整装置であって、
上記オフセット値を設定する設定部と、
上記オフセット値が加えられた上記入力信号を測定する測定部と、
上記測定部による測定結果を基に上記オフセット値を調整する調整制御部と
を具え、
上記調整制御部は、
上記入力信号に所定の第１オフセット値を加えたときの第１測定結果と、上記入力信号に上記第１オフセット値と異なる第２オフセット値を加えたときの第２測定結果とを用い、上記オフセット値と上記測定結果との間の線形性に基づき上記測定結果を所定の目標値に一致させるよう上記オフセット値を調整する
ことを特徴とするオフセット調整装置。
【請求項２】
上記調整制御部は、
上記第１オフセット値及び上記第２オフセット値の差分と、上記第１測定結果及び上記第２測定結果の差分との比を基に、上記バイアス電圧と上記測定結果との関係を表す１次方程式における１次項の係数及び定数項を算出し、
当該１次方程式に上記第１オフセット値及び上記第１測定結果、又は上記第２オフセット値及び上記第２測定結果を代入して当該１次方程式の定数項を算出し、
当該１次方程式において上記測定結果が上記目標値となるときの上記オフセット値を算出し上記オフセット値とする
ことを特徴とする請求項１に記載のオフセット調整装置。
【請求項３】
上記調整制御部は、
調整後の上記オフセット値を上記入力信号に加えたときの上記測定結果が上記目標値と異なる場合、上記測定結果を上記目標値へ近づけるよう上記オフセットを補正する
ことを特徴とする請求項１に記載のオフセット調整装置。
【請求項４】
上記調整制御部は、
補正前の上記オフセット値を上記入力信号に加えたときの上記測定結果と補正後の上記オフセット値を上記入力信号に加えたときの上記測定結果とを比較し、上記目標値に近い測定結果を得られる方の上記オフセット値を選択する
ことを特徴とする請求項３に記載のオフセット調整装置。
【請求項５】
所定の入力信号に印加するバイアス電圧のオフセット値を調整するオフセット調整方法であって、
所定の第１オフセット値を加算した上記入力信号を所定の測定部により測定し第１測定結果を得る第１測定ステップと、
上記第１オフセット値と異なる第２オフセット値を加えた上記入力信号を上記測定部により測定し第２測定結果を得る第２測定ステップと、
上記第１オフセット値、上記第２オフセット値、上記第１測定結果及び上記第２測定結果を用い、上記オフセット値と上記測定結果との間の線形性に基づき上記測定結果を所定の目標値に一致させるよう上記オフセット値を調整する調整ステップと
を具えることを特徴とするオフセット調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はオフセット調整装置及びオフセット調整方法に関し、例えば光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置においては、例えばＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、或いはＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標）等のように音楽や映像、或いは種々のデータ等が記録された光ディスクに対して光ビームを照射し、その反射光を読み取ることにより、記録されている音楽や映像、或いは種々のデータ等を読み出し得るようになされたものが広く普及している。
【０００３】
またかかる光ディスク装置では、光ビームを光ディスクにおける所望の箇所に合焦させるべく、光ピックアップにおいて所謂フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等を基に、対物レンズのフォーカスサーボ制御やトラッキングサーボ制御等を行うようになされている。
【０００４】
しかしながら光ディスク装置では、各信号を増幅するアンプの特性にばらつきがあることが多く、このため各信号においてサーボ制御時の基準となる基準電圧がばらついてしまい、例えば光ビームの合焦時やオントラック時に「ゼロ」となるべき信号レベルが「ゼロ」にならない可能性がある。この場合、光ディスク装置では、サーボ制御の応答性が悪化する可能性や、サーボ制御を正しく行い得ない可能性がある。
【０００５】
そこで光ディスク装置のなかには、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等を正しく得られるよう、各信号にそれぞれバイアス電圧を印加するようにし、オフセット調整として当該バイアス電圧を調整するようになされたものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００５−９２９９９公報（第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、光ディスク装置のなかには、各種信号をＡ／Ｄ（Analog / Digital）コンバータ等により例えば８ビットのディジタル値にそれぞれ変換し、これらにディジタル演算処理を施すものがある。
【０００７】
かかる光ディスク装置では、オフセット調整の一例として、光ビームの合焦時やオントラック時に得られる信号と同等の信号をディジタル化し、これにバイアス電圧相当のオフセット値を加算した値が所定の目標値に一致するよう、当該オフセット値を調整する手法が考えられる。この場合、例えば、当該オフセット値の最上位ビットから最下位ビットまで、順に１ビットずつ変化させオフセット加算値に近づけていく、といった調整方法が考えられる。
【０００８】
しかしながら、光ディスク装置におけるかかるオフセット調整処理は、ディジタル値を構成するビット数分繰り返す必要があるため、長時間を要してしまう、といった問題があった。
【０００９】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、短時間で精度良くオフセット調整を行い得るオフセット調整装置及びオフセット調整方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
かかる課題を解決するため本発明のオフセット調整装置においては、所定の入力信号に印加するバイアス電圧のオフセット値を調整するオフセット調整装置であって、オフセット値を設定する設定部と、オフセット値が加えられた入力信号を測定する測定部と、測定部による測定結果を基にオフセット値を調整する調整制御部とを設け、調整制御部は、入力信号に所定の第１オフセット値を加えたときの第１測定結果と、入力信号に第１オフセット値と異なる第２オフセット値を加えたときの第２測定結果とを用い、オフセット値と測定結果との間の線形性に基づき測定結果を所定の目標値に一致させるようオフセット値を調整するようにした。
【００１１】
これにより、２回の測定によって得られた第１測定結果及び第２測定結果から、測定結果を所定の目標値に一致させるときのオフセット値を算出することができる。
【００１２】
また本発明のオフセット調整方法においては、所定の入力信号に印加するバイアス電圧のオフセット値を調整するオフセット調整方法であって、所定の第１オフセット値を加算した入力信号を所定の測定部により測定し第１測定結果を得る第１測定ステップと、第１オフセット値と異なる第２オフセット値を加えた入力信号を測定部により測定し第２測定結果を得る第２測定ステップと、第１オフセット値、第２オフセット値、第１測定結果及び第２測定結果を用い、オフセット値と測定結果との間の線形性に基づき測定結果を所定の目標値に一致させるようオフセット値を調整する調整ステップとを設けるようにした。
【００１３】
これにより、２回の測定によって得られた第１測定結果及び第２測定結果から、測定結果を所定の目標値に一致させるときのオフセット値を算出することができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、２回の測定によって得られた第１測定結果及び第２測定結果から、測定結果を所定の目標値に一致させるときのオフセット値を算出することができ、かくして短時間で精度良くオフセット調整を行い得るオフセット調整装置及びオフセット調整方法を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００１６】
（１）光ディスク装置の構成
図１において、光ディスク装置１０は、制御部１１により全体を統括制御するようになされており、ＣＤ（Compact Disc）メディアでなる光ディスク（図示せず）に記録されている情報を読み出し得るようになされている。
【００１７】
制御部１１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit、図示せず）構成でなり、ＲＯＭ（Read Only Memory、図示せず）から基本プログラムやオフセット値調整プログラム等の各種プログラムを読み出し、ＲＡＭ（Random Access Memory、図示せず）に展開して実行するようになされている。
【００１８】
光学ブロック１４は、レーザダイオードやフォトディテクタ（図示せず）を有しており、光ディスク（図示せず）に対して光ビームを照射すると共にその反射光ビームを受光し、その受光結果に応じた検出原信号ＳＯをアンプ１５によって増幅させることにより検出信号ＳＤとし、これを演算処理部１２へ供給させる。
【００１９】
因みに検出原信号ＳＯ及び検出信号ＳＤには、光学ブロックから光ディスクへ照射する光ビームにおけるフォーカスのずれ量を表すフォーカスエラー信号ＳＦＥ、当該光ビームの焦点と所望のトラックとのトラック方向のずれ量を表すトラッキングエラー信号ＳＴＥ、光学ブロックで反射光ビームを検出する分割フォトディテクタ（図示せず）から供給されるＳＡＣ信号及びＳＢＤ信号並びにＳＥ信号及びＳＦ信号、サーボ中点電圧信号ＳＶＣ等が含まれる。
【００２０】
演算処理部１２は、制御部１１の制御に基づき、検出信号ＳＤに対してオフセット調整等の種々の演算処理を行うことにより調整信号ＳＡを生成し（詳しくは後述する）、当該調整信号ＳＡを後段のモータドライバ１３へ供給するようになされている。
【００２１】
モータドライバ１３は、調整信号ＳＡを増幅して駆動信号ＳＭＤとし、これを光学ブロック１４内の対物レンズ（図示せず）を駆動するアクチュエータや光ディスク（図示せず）を回転駆動するスピンドルモータ等へ供給することにより、当該アクチュエータや当該スピンドルモータ等を駆動させる。
【００２２】
かくして光ディスク装置１０は、光学ブロック１４において生成した検出原信号ＳＯをアンプ１５により増幅して検出信号ＳＤとし、これに対して演算処理部１２により演算処理を施して調整信号ＳＡを生成してモータドライバ１３へ供給するといった一連のフィードバック処理により、フォーカスサーボ制御やトラッキングサーボ制御を行い得るようになされている。
【００２３】
ところでアンプ１５は、上述したように、特性がばらついている可能性がある。このアンプ１５における特性のばらつきにより、光ディスク装置１０では、フィードバック制御において所望の目標値に収束できない可能性があり、フォーカスサーボ制御やトラッキングサーボ制御を正しく行い得ない可能性もある。さらには、アンプ１５を構成する各信号経路において、それぞれ特性が異なることも考えられる。
【００２４】
そこで演算処理部１２では、かかるアンプ１５における特性のばらつきを吸収すべく、電源が投入される度に、検出信号ＳＤの各信号に対して適切なバイアス電圧を印加するべく、ディジタル制御により当該バイアス電圧のオフセット値を調整するようになされている。
【００２５】
演算処理部１２は、いわゆるＤＳＰ（Digital Signal Processor）によって構成されており、制御部１１の制御に基づき、図１に示す各機能をソフトウェアによって実現するようになされている。実際上、演算処理部１２は、まずセレクタ２１により検出信号ＳＤのうち処理対象とする１つの検出信号ＳＤ（例えばフォーカスエラー信号ＳＦＥ）を選択し、これをＡ／Ｄ（Analog / Digital）変換器２２へ供給する。Ａ／Ｄ変換器２２は、供給された検出信号ＳＤを例えば８ビットのディジタル値Ｄ１に変換し、これを加算器２３へ供給する。
【００２６】
一方、制御部１１は、所定のオフセット値設定処理に従い、ディジタル値Ｄ１に加算すべき値、すなわちバイアス電圧に相当する値としてオフセット値ＯＦを設定し、これをオフセット値レジスタ２４に記憶させる。オフセット値レジスタ２４は、記憶しているオフセット値ＯＦを所定のタイミングで加算器２３へ供給する。
【００２７】
加算器２３は、ディジタル値Ｄ１にオフセット値ＯＦを加算することにより加算ディジタル値ＤＡを生成し、これをＬＰＦ（Low Pass Filter）２５へ供給する。ＬＰＦ２５は、ディジタル値ＤＡに含まれるノイズ成分、すなわち後段のモータドライバ１３に供給すべきでない高周波成分等を除去することによりディジタル値ＤＬを生成し、これをディジタルフィルタ２６及び測定値レジスタ２８へ供給する。
【００２８】
因みにＬＰＦ２５は、その特性上、時定数を有しており、出力が安定するまでにある程度の時間を要することが知られている。
【００２９】
ディジタルフィルタ２６は、ディジタル値ＤＬに対し、光学ブロック１４内のアクチュエータ（図示せず）等に合わせた周波数補正処理等を施すことによりディジタル値ＤＦを生成し、これをＤ／Ａ（Digital / Analog）変換器２７によりアナログの調整信号ＳＡに変換させ、後段のモータドライバ１３に供給させる。
【００３０】
一方、測定値レジスタ２８は、供給されたディジタル値ＤＬを記憶し、これを所定のタイミングで制御部１１へ供給する。制御部１１は、ディジタル値ＤＬを所望の基準値ＳＴと比較することにより、設定したオフセット値ＯＦが適正であったか否かを判定し、当該オフセット値ＯＦが適正でないと判断した場合、当該オフセット値ＯＦを変更するようになされている（詳しくは後述する）。
【００３１】
このように演算処理部１２は、検出信号ＳＤに対してオフセット値ＯＦによるオフセット調整等を行って調整信号ＳＡを生成すると共に、オフセット調整後の検出信号ＳＤに相当するディジタル値ＤＬを基に当該オフセット値ＯＦを変更し得るようになされている。
【００３２】
（２）オフセット値の調整
ところで、アンプ１５の入出力特性、すなわち入力信号の信号レベルと出力信号の信号レベルとの関係を調査したところ、ある程度の線形性を有していることが判明した。そこで制御部１１は、この線形性を利用し、検出信号ＳＤを構成する各信号について、ディジタル値ＤＬを基にオフセット値ＯＦをそれぞれ調整するようになされている。
【００３３】
具体的に制御部１１は、図２に示すように、アンプ１５の特性を表す特性曲線Ｑを、次に示す（１）式のように一次方程式として表すものとする。
【００３４】
【数１】
2008204547.tif 000003
【００３５】
因みに（１）式は一般的な一次方程式となっており、係数ａにより傾きを表し、定数項ＤＬ０（すなわち点Ｐ０）により特性曲線ＱがＤＬ軸と交差するときの値を表している。
【００３６】
制御部１１は、まず任意のオフセット値ＯＦ１を設定し、そのときに得られるディジタル値ＤＬを測定値ＤＬ１とする。次に制御部１１は、オフセット値ＯＦ１と異なるオフセット値ＯＦ２を設定し、このときに得られるディジタル値ＤＬを測定値ＤＬ２とする。
【００３７】
この場合、オフセット値ＯＦ１及び測定値ＤＬ１は、特性曲線Ｑにおける点Ｐ１に対応し、オフセット値ＯＦ２及び測定値ＤＬ２は、点Ｐ２に対応する。
【００３８】
ここで制御部１１は、オフセット値ＯＦ１及びＯＦ２、測定値ＤＬ１及びＤＬ２並びに（１）式を基に、次に示す（２）式を用いることにより傾きａを算出することができる。
【００３９】
【数２】
2008204547.tif 000004
【００４０】
因みに制御部１１は、（１）式に傾きａ、オフセット値ＯＦ１及び測定値ＤＬ１を代入することにより、定数項ＤＬ０についても算出することができる。
【００４１】
次に、特性曲線ＱがＯＦ軸と交差するとき（すなわち点Ｐ３）のオフセット値ＯＦをオフセット値ＯＦ３とすると、当該特性曲線Ｑにおける係数ａを一定とみなし得ることにより、（２）式と同様の（３）式を得ることができる。
【００４２】
【数３】
2008204547.tif 000005
【００４３】
この（３）式において、オフセット値ＯＦ３について整理すると、次に示す（４）式を得ることができる。
【００４４】
【数４】
2008204547.tif 000006
【００４５】
そこで制御部１１は、（２）式により得られた係数ａ、オフセット値ＯＦ２及び測定値ＤＬ２を（４）式に代入することにより、オフセット値ＯＦ３を算出する。
【００４６】
このオフセット値ＯＦ３は、測定値ＤＬを値「０」とするための最適なオフセット値ＯＦを表している。このため、当該オフセット値ＯＦ３を基に得られる測定値ＤＬ３は、計算上、値「０」となるはずである。
【００４７】
しかしながら光ディスク装置１０では、実際の特性曲線Ｑが完全な線形性を呈するとは限らないため、当該オフセット値ＯＦ３が最適なオフセット値ＯＦではない可能性があり、測定値ＤＬ３が値「０」とならない可能性も考えられる。
【００４８】
そこで制御部１１は、オフセット値ＯＦ３を算出した後、当該オフセットＯＦ３をオフセット値レジスタ２４（図１）に設定し、このとき得られる測定値ＤＬ３を基準値ＳＴ（すなわち値「０」）と比較する。ここで測定値ＤＬ３が値「０」であれば、そのままオフセット値ＯＦ３を採用する。
【００４９】
一方、制御部１１は、測定値ＤＬ３が値「０」と異なった場合、当該測定値ＤＬ３を値「０」に近づける方向に、オフセット値ＯＦ３を１ステップだけ変更しオフセット値ＯＦ３ｎとする。すなわち制御部１１は、測定値ＤＬ３が正の値であればオフセット値ＯＦ３を１ステップ減少させ、反対に測定値ＤＬ３が負の値であればオフセット値ＯＦ３を１ステップ増加させる。
【００５０】
因みに制御部１１は、測定値ＤＬ３が仮に値「０」と異なっていたとしても、特性曲線Ｑの線形性により、オフセット値ＯＦ３が最適なオフセット値ＯＦから大きく外れている可能性は低いと考えられることから、当該オフセット値ＯＦ３を１ステップのみ増減させるようになされている。
【００５１】
さらに制御部１１は、オフセットＯＦ３ｎをオフセット値レジスタ２４（図１）に設定し、このとき得られる測定値ＤＬ３ｎを測定値ＤＬ３と比較して、値「０」に近い測定値ＤＬが得られる方のオフセット値ＯＦを採用する。
【００５２】
このように制御部１１は、オフセット値ＯＦ１及びＯＦ２を設定して得られた測定値ＤＬ１及びＤＬ２を用い（２）式に従って係数ａを算出し、さらに（４）式に従いオフセット値ＯＦ３を算出するようになされている。
【００５３】
さらに制御部１１は、オフセット値ＯＦ３により測定値ＤＬ３が値「０」とならなかった場合には、当該オフセットＯＦ３を１ステップ増減したときの測定値ＤＬ３ｎを測定値ＤＬ３と比較し、値「０」に近い測定値ＤＬが得られる方のオフセット値ＯＦを最適なオフセット値ＯＦとするようになされている。
【００５４】
（３）オフセット値の調整処理手順
次に、制御部１１及び演算処理部１２によりオフセット値ＯＦを更新する際のオフセット値調整処理手順ＲＴ１について、図３のフローチャートを用いて説明する。
【００５５】
制御部１１は、光ディスク装置１０の電源が投入されると、オフセット値調整処理手順ＲＴ１を開始してステップＳＰ１へ移る。
【００５６】
ステップＳＰ１において制御部１１は、演算処理部１２のオフセット値レジスタ２４（図１）にオフセット値ＯＦ１を設定することにより、加算器２３によってディジタル値Ｄ１と当該オフセット値ＯＦ１とを加算させ、次のステップＳＰ２へ移る。
【００５７】
ステップＳＰ２において制御部１１は、オフセット値ＯＦ１が加算されＬＰＦ２５によりノイズ除去された測定値ＤＬ１を測定値レジスタ２８から取得し、次のステップＳＰ３へ移る。
【００５８】
ステップＳＰ３において制御部１１は、オフセット値レジスタ２４にオフセット値ＯＦ２を設定することにより、加算器２３によってディジタル値Ｄ１と当該オフセット値ＯＦ２とを加算させ、次のステップＳＰ４へ移る。
【００５９】
ステップＳＰ４において制御部１１は、オフセット値ＯＦ２が加算されＬＰＦ２５によりノイズ除去された測定値ＤＬ２を測定値レジスタ２８から取得し、次のステップＳＰ５へ移る。
【００６０】
ステップＳＰ５において制御部１１は、オフセット値ＯＦ１及びＯＦ２、測定値ＤＬ１及びＤＬ２並びに（２）式及び（４）式を基にオフセット値ＯＦ３を算出し、次のステップＳＰ６へ移る。
【００６１】
ステップＳＰ６において制御部１１は、オフセット値レジスタ２４にオフセット値ＯＦ３を設定することにより、加算器２３によってディジタル値Ｄ１と当該オフセット値ＯＦ３とを加算させ、次のステップＳＰ７へ移る。
【００６２】
ステップＳＰ７において制御部１１は、オフセット値ＯＦ３又はＯＦ３ｎが加算されＬＰＦ２５によりノイズ除去された測定値ＤＬ３又はＤＬ３ｎを測定値レジスタ２８から取得し、次のステップＳＰ８へ移る。
【００６３】
ステップＳＰ８において制御部１１は、既にオフセット値ＯＦ３ｎに基づく測定値ＤＬ３ｎを取得したか否かを判定する。ここで否定結果が得られると、このことはこの段階ではオフセット値ＯＦ３ｎに基づく測定値ＤＬ３ｎについては未だ測定していないことを表しており、このとき制御部１１は、オフセット値ＯＦ３を基に得られた測定値ＤＬ３について妥当性を確認するべく、次のステップＳＰ９へ移る。
【００６４】
ステップＳＰ９において制御部１１は、測定値ＤＬ３が所望の基準値ＳＴ、すなわち値「０」と一致するか否かを判定する。ここで肯定結果が得られると、このことはオフセット値ＯＦ３により所望の基準値ＳＴが得られたために当該オフセット値ＯＦ３がオフセット値ＯＦとして最適であることを表しており、このとき制御部１１は次のステップＳＰ１０へ移る。
【００６５】
ステップＳＰ１０において制御部１１は、最適なオフセット値ＯＦとしてオフセット値ＯＦ３をオフセット値レジスタ２４に設定し、次のステップＳＰ１７へ移ってオフセット値調整処理手順ＲＴ１を終了する。
【００６６】
一方、ステップＳＰ９において否定結果が得られると、このことは、測定値ＤＬ３が少なくとも値「０」ではなかったため、オフセット値ＯＦ３がオフセット値ＯＦとして最適ではない可能性があることを表しており、このとき制御部１１は、オフセット値ＯＦを増加又は減少させたときの測定値ＤＬを取得するべく、次のステップＳＰ１１へ移る。
【００６７】
ステップＳＰ１１において制御部１１は、測定値ＤＬ３が値「０」よりも大きいか否かを判定する。ここで肯定結果が得られると、このことはオフセット値ＯＦ３が大きすぎた可能性があることを表しており、このとき制御部１１は、次のステップＳＰ１２へ移る。
【００６８】
ステップＳＰ１２において制御部１１は、オフセット値ＯＦ３を１ステップ減少させることにより新たなオフセット値ＯＦ３ｎを生成し、これを基に新たな測定値ＤＬ３ｎを取得するべく、再度ステップＳＰ６へ戻る。
【００６９】
一方、ステップＳＰ１１において否定結果が得られると、このことは測定値ＤＬ３が値「０」よりも小さかったため、オフセット値ＯＦ３が小さすぎた可能性があることを表しており、このとき制御部１１は、次のステップＳＰ１３へ移る。
【００７０】
ステップＳＰ１３において制御部１１は、オフセット値ＯＦ３を１ステップ増加させることにより新たなオフセット値ＯＦ３ｎを生成し、これを基に新たな測定値ＤＬ３ｎを取得するべく、再度ステップＳＰ６へ戻る。
【００７１】
これに対して、ステップＳＰ８において肯定結果が得られると、このことはオフセット値ＯＦ３ｎに基づいた測定値ＤＬ３ｎを既に測定していることを表しており、このとき制御部１１は、この測定値ＤＬ３ｎについて判定を行うべく、次のステップＳＰ１４へ移る。
【００７２】
ステップＳＰ１４において制御部１１は、測定値ＤＬ３ｎが値「０」と一致するか否かを判定する。ここで肯定結果が得られると、このことはオフセット値ＯＦ３ｎにより所望の基準値ＳＴが得られたために当該オフセット値ＯＦ３ｎがオフセット値ＯＦとして最適であることを表しており、このとき制御部１１は次のステップＳＰ１５へ移る。
【００７３】
ステップＳＰ１５において制御部１１は、オフセット値ＯＦ３ｎを最適なオフセット値ＯＦとしてオフセット値レジスタ２４に設定し、次のステップＳＰ１７へ移ってオフセット値調整処理手順ＲＴ１を終了する。
【００７４】
一方、ステップＳＰ１４において否定結果が得られると、このことは、測定値ＤＬ３及びＤＬ３ｎのいずれも値「０」に一致しなかったこと、すなわちオフセット値ＯＦ３及びＯＦ３ｎのいずれが最適なオフセット値ＯＦであるか決定できなかったことを表しており、このとき制御部１１は、次善の策として、オフセット値ＯＦ３又はＯＦ３ｎのいずれか一方を最適なオフセット値ＯＦとして選択するべく、次のステップＳＰ１６へ移る。
【００７５】
ステップＳＰ１６において制御部１１は、測定値ＤＬ３ｎの絶対値が測定値ＤＬ３の絶対値以上であるか否かを判定する。
【００７６】
ここで肯定結果が得られると、このことは測定値ＤＬ３の方が測定値ＤＬ３ｎよりも値「０」に近いため、相対的にオフセット値ＯＦ３の方がオフセット値ＯＦとして適していることを表しており、このとき制御部１１は、ステップＳＰ１０に移ってオフセット値ＯＦ３を最適なオフセット値ＯＦとしてオフセット値レジスタ２４に設定した後、次のステップＳＰ１７へ移ってオフセット値調整処理手順ＲＴ１を終了する。
【００７７】
一方、ステップＳＰ１６において否定結果が得られると、このことは測定値ＤＬ３ｎの方が測定値ＤＬ３よりも値「０」に近いため、相対的にオフセット値ＯＦ３ｎの方がオフセット値ＯＦとして適していることを表しており、このとき制御部１１は、ステップＳＰ１５に移ってオフセット値ＯＦ３ｎを最適なオフセット値ＯＦとしてオフセット値レジスタ２４に設定した後、次のステップＳＰ１７へ移ってオフセット値調整処理手順ＲＴ１を終了する。
【００７８】
（４）動作及び効果
以上の構成において、光ディスク装置１０の制御部１１及び演算処理部１２は、アンプ１５の特性を表す特性曲線Ｑを（１）式の一次方程式により表し、互いに異なるオフセット値ＯＦ１及びＯＦ２をオフセット値レジスタ２４に設定することにより、測定値レジスタ２８を介して２種類の測定値ＤＬ１及びＤＬ２を取得し、これらを（２）式及び（４）式に代入することにより、係数ａ、定数項ＤＬ０及びオフセット値ＯＦ３を算出する。
【００７９】
続いて制御部１１は、オフセット値ＯＦ３に基づく測定値ＤＬ３を取得し、当該測定値ＤＬ３が値「０」（すなわち基準値ＳＴ）と一致する場合には、当該オフセット値ＯＦ３をそのまま最適なオフセット値ＯＦとして採用する。
【００８０】
一方、制御部１１は、測定値ＤＬ３が値「０」と一致しない場合には、オフセット値ＯＦ３を１ステップ増加又は減少させたオフセット値ＯＦ３ｎを基に測定値ＤＬ３ｎを取得し、測定値ＤＬ３又はＤＬ３ｎのうち値「０」に近い方を取得し得るオフセット値ＯＦ３又はＯＦ３ｎを、最適なオフセット値ＯＦとして採用する。
【００８１】
従って、制御部１１及び演算処理部１２は、アンプ１５における線形性を利用することにより、２種類のオフセット値ＯＦ１及びＯＦ２並びにそれぞれの測定値ＤＬ１及びＤＬ２を基に、オフセット値ＯＦ３を算出することができるので、１ビットずつ８回測定する場合と比較して、極めて少ない測定回数でオフセット値ＯＦの調整を行うことができる。
【００８２】
特に演算処理部１２では、上述したようにＬＰＦ２５の出力が安定するまである程度の時間を要するため、測定回数を削減することにより調整時間を大幅に短縮することを期待できる。
【００８３】
さらに制御部１１は、オフセット値ＯＦ３を基に取得した測定値ＤＬ３が値「０」と一致しなかったとしても、オフセット値ＯＦ３又はオフセット値ＯＦ３ｎのうち値「０」に近い測定値ＤＬを得られる方を採用することにより、必ずしも最適でないものの極めて適切なオフセット値ＯＦに調整することができる。
【００８４】
この場合、制御部１１及び演算処理部１２は、時間をかければ最終的に最適な（すなわち測定値ＤＬが確実に値「０」となる）オフセット値ＯＦに調整し得る可能性もあるが、特性曲線Ｑが比較的良好な線形性を有することが期待できることから、オフセット値ＯＦ３を１ステップのみ増減させたオフセット値ＯＦ３ｎまでを調整範囲とすることにより、極めて短い時間で適切なオフセット値ＯＦに調整することができる。
【００８５】
特に制御部１１及び演算処理部１２は、検出信号ＳＤを構成する各信号（フォーカスエラー信号ＳＦＥやトラッキングエラー信号ＳＴＥ等）について、演算処理部１２においてオフセット調整をそれぞれ行う必要があるが、各信号についてのオフセット調整をそれぞれ短時間で完了することができるため、全信号についてのオフセット調整に要する合計時間を格段に短縮することができる。
【００８６】
実際上、制御部１１及び演算処理部１２は、従来の１ビットずつ８回測定する手法では、全信号についてのオフセット調整に約６秒を要していたところ、本発明のオフセット調整手法によれば、全信号について約２秒弱で完了することができた。
【００８７】
また制御部１１及び演算処理部１２は、短時間でオフセット値ＯＦの調整処理を完了し得るため、例えば不揮発性メモリを設け工場出荷時に最適なオフセット値に調整する場合と比較して、当該不揮発性メモリを不要としてコストダウンを図ることができる。
【００８８】
さらに制御部１１及び演算処理部１２は、光ディスク装置１０が起動される度にオフセット値ＯＦの調整処理を行うため、当該オフセット値ＯＦを固定する場合と比較して、アンプ１５に経時劣化や周囲の温度変化等に起因する特性変化があったとしても、常に適切なオフセット値ＯＦに柔軟に調整することができる。
【００８９】
以上の構成によれば、光ディスク装置１０の制御部１１及び演算処理部１２は、アンプ１５の特性における線形性を利用し、互いに異なるオフセット値ＯＦ１及びＯＦ２を基に得られる２種類の測定値ＤＬ１及びＤＬ２を用いて測定値ＤＬが値「０」となるべきオフセット値ＯＦ３を算出し、さらに当該オフセット値ＯＦ３又は当該オフセット値ＯＦ３を１ステップ増加又は減少させたオフセット値ＯＦ３ｎのうち良好な測定値ＤＬを得られる方を最適なオフセット値ＯＦとして採用することにより、極めて少ない測定回数でオフセット値ＯＦの調整を行うことができる。
【００９０】
（５）他の実施の形態
なお上述した実施の形態においては、測定値ＤＬ３が値「０」と一致しなかった場合、オフセット値ＯＦ３を変化させて他の測定値ＤＬ３ｎを１回のみ測定するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばオフセット値ＯＦを変化させながら２回以上測定値ＤＬを測定するようにしても良い。この場合、測定回数を増やすことにより当該オフセット値ＯＦの精度を向上し得る反面、オフセット調整に要する時間が延長されてしまうため、両者の兼ね合いを考慮して適宜定めれば良い。また、オフセット値ＯＦ３の変化幅についても、１ステップに限らず、２ステップずつ以上とし、或いは測定値ＤＬと値「０」との差に応じてステップ数を変化させるようにしても良い。
【００９１】
また上述した実施の形態においては、オフセット値ＯＦ３を変化させて他の測定値ＤＬ３ｎを１回測定するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば、アンプ１５の線形性が極めて良好であることが判明しており、また特性曲線Ｑの係数ａを高精度に算出し得る場合等に、（４）式を基に算出されたオフセット値ＯＦ３をそのまま最適なオフセット値ＯＦとするようにしても良い。
【００９２】
さらに上述した実施の形態においては、測定値ＤＬ３の基準値ＳＴを値「０」とし、測定値ＤＬが当該基準値ＳＴとなるようなオフセット値ＯＦに調整する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、検出信号ＳＤを構成する各信号の性質に応じて、それぞれ測定値ＤＬが当該基準値ＳＴとなるようなオフセット値ＯＦに調整するようにしても良い。
【００９３】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１０の電源が投入される度にオフセット調整を行うようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば光ディスクが入れ替えられる度に当該オフセット調整を行うようにし、或いは再生や記録を開始する度に当該オフセット調整を行うようにするなど、種々のタイミングでオフセット調整を行うようにしても良い。
【００９４】
さらに上述した実施の形態においては、制御部１１と当該制御部１１の制御に基づいた演算処理部１２とが協働することによりオフセット調整を行うようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば演算処理部１２内にソフトウェアによる制御機能部を設け、演算処理部１２内で当該制御機能部の制御に基づきオフセット調整を行うようにしても良い。
【００９５】
さらに上述した実施の形態においては、演算処理部１２をＤＳＰにより構成し、当該演算処理部１２内の各処理機能をソフトウェアにより構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、各処理機能をハードウェアによって構成し、或いはソフトウェアとハードウェアとを組み合わせて構成するようにしても良い。
【００９６】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１０がＣＤでなる光ディスクを再生する際にオフセット調整を行うようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、当該光ディスク装置１０がＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable）やＣＤ−ＲＷ（Compact Disc-Rewritable）等の光ディスクに情報を記録する際や、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）又はＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標）等の種々の光ディスクから情報を再生し、或いは情報を記録する際に本発明のオフセット調整を行うようにしても良い。
【００９７】
さらに上述した実施の形態においては、設定部としての制御部１１及びオフセット値レジスタ２４と、測定部としての測定値レジスタ２８と、調整制御部としての制御部１１とによってオフセット調整装置としての光ディスク装置１０を構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の回路構成でなる設定部と、測定部と、調整制御部とによってオフセット調整装置を構成するようにしても良い。
【産業上の利用可能性】
【００９８】
本発明は、種々の光ディスクの再生又は記録を行う光ディスク装置でも利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００９９】
【図１】光ディスク装置の構成を示す略線的ブロック図である。
【図２】オフセット値と測定値との関係を示す略線図である。
【図３】オフセット調整処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１００】
１０……光ディスク装置、１１……制御部、１２……演算処理部、１４……光学ブロック、１５……アンプ、２４……オフセット値レジスタ、２８……測定値レジスタ、ＯＦ……オフセット値、ＤＬ……測定値。
【図１】
2008204547.tif 000007
【図２】
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【図３】
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