(57)【要約】【課題】プローブピンのコンタクト部を作業性よく短時間で交換することができるプローブユニットを提供すること。【解決手段】  第１プローブピン２では、そのピン本体２０の先端部分がコンタクト部２１とされ、その後端部分が配線接続部２２とされている。配線接続部２２には通電試験装置からの配線がハンダ付けされている。第１プローブピン２は第１ブロック４を介してプレート６に固定されており、第１ブロック４はプレート６に対して着脱可能になっている。ピン本体２０（コンタクト部２１）の交換を行う場合には、第１ブロック４ごとプレート６から取り外して新たな第１ブロック４と交換する。交換作業に伴うハンダ付けなどをプレート６が取り付けられている場所で行わなくてもよいので、作業性が向上する。また、第１ブロック４ごと交換しているので、その交換を短時間で行うことができる。【選択図】図５
2008232681.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ワークに接触するコンタクト部および配線がハンダ付けされる配線接続部を備えたプローブピンと、
前記プローブピンが取り付けられている非導電性のブロックと、
前記ブロックを着脱可能な状態で保持しているプレートとを有していることを特徴とするプローブユニット。
【請求項２】
請求項１において、
前記プローブピンは、前記コンタクト部が形成されたピン本体を有し、
前記配線接続部は前記ピン本体に形成されていることを特徴とするプローブユニット。
【請求項３】
請求項１において、
前記ブロックには第１および第２プローブピンが取り付けられており、
前記第１プローブピンは、前記コンタクト部が形成されたピン本体を有し、前記配線接続部は前記ピン本体に形成されており、
前記第２プローブピンは、前記コンタクト部が形成されたピン本体と、前記ピン本体を着脱可能な状態で保持している保持筒とを有し、前記配線接続部は前記保持筒に形成されていることを特徴とするプローブユニット。
【請求項４】
請求項１ないし３のうちのいずれかの項に記載されたプローブユニットと、
通電試験装置と、
前記通電試験装置および前記プローブユニットを接続するための配線を備えた配線ユニットとを有し、
前記配線ユニットは前記通電装置に対して着脱可能になっていることを特徴とする通電試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品などの被試験品に対して通電試験を行う際に用いられるプローブユニットに関する。更に詳しくは、プローブピンの交換を作業性良く短時間で行うことができるプローブユニットに関する。
【背景技術】
【０００２】
環境試験装置は、温度や湿度が調節された試験槽に電子基板などのワークを順次に搬入して、当該ワークに対して通電試験を行うものである。次々と製造されてくるワークを検査するために、製造ラインの一部に設置される。このような環境試験装置は、例えば、特許文献１に記載されている。
【０００３】
通電試験は、ワークの通電箇所に対応する本数のプローブピンを備えたプローブユニットを用いて行なわれる。各プローブピンの先端部分に形成されたコンタクト部は、それぞれバネ力によって軸線方向に沿って前方に付勢されているので、プローブユニットを所定の押圧力でワークに押し付けると、全てのピンのコンタクト部がワークの通電箇所に接触状態になる。このような構成のプローブピンおよびプローブユニットは、特許文献２に記載されている。
【特許文献１】特開平９−１９７０００号公報
【特許文献２】特開２００２−１５６４１５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
プローブピンのワークと接触するコンタクト部は磨耗するので、定期的に交換する必要がある。ここで、コンタクト部と、通電試験装置からの配線がハンダ付けにより接続されている配線接続部とが別の部材から構成されているプローブピンであれば、ハンダ付けされている配線を取り外すことなくコンタクト部だけを交換することができるので、その交換作業は短時間で済む。
【０００５】
しかし、プローブピンの中には、その先端部分にコンタクト部が形成されるとともに、後端部分に配線接続部が形成されているものがある。このような構成のプローブピンは大きな電流を流すのには適しているが、コンタクト部を交換するためにはハンダ付けされている配線接続部を取り外してプローブピンを交換し、交換したプローブピンに対して再び配線をハンダ付けしなければならない。このような交換作業は時間がかかるので、環境試験装置が設置されている製造ラインまで長時間停止させなければならないという問題がある。
【０００６】
このため、配線接続部をソケットから構成することにより、プローブピンの着脱を容易にすることが考えられる。しかし、通電試験の信頼性を確保するという観点から、配線をハンダ付けすることが必要である。
【０００７】
本発明の課題は、このような点に鑑みて、プローブピンのコンタクト部を作業性よく短時間で交換することができるプローブユニットを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するために、本発明のプローブユニットは、ワークに接触するコンタクト部および配線がハンダ付けされる配線接続部を備えたプローブピンと、前記プローブピンが取り付けられている非導電性のブロックと、前記ブロックを着脱可能な状態で保持しているプレートとを有している。
【０００９】
本発明によれば、コンタクト部を交換する際に、プローブピンが取り付けられているブロックごとプレートから取り外して新しいものに交換することができる。従って、交換作業は短時間で済む。また、プレートからブロックを取り外した状態でコンタクト部の交換作業を行うことができるので、これらの作業をプレートが取り付けられている場所、例えば、環境試験装置の試験槽内において行わなくてもよい。従って、コンタクト部を交換する作業性が向上する。
【００１０】
本発明において、前記プローブピンは、前記コンタクト部が形成されたピン本体を有し、前記配線接続部は前記ピン本体に形成されているものとすることができる。このような構成のプローブピンでは、コンタクト部が形成されたピン本体を交換する際にハンダの除去作業およびハンダ接続作業を行う必要がある。しかし、プローブピンが取り付けられているブロックをプレートから取り外すことができるので、これらの作業をプレートが取り付けられている場所で行わなくてもよい。また、プローブピンが取り付けられているブロックごと新しいものに交換することができるので、コンタクト部の交換作業は短時間で済む。
【００１１】
本発明において、前記ブロックには第１および第２プローブピンが取り付けられており、前記第１プローブピンは、前記コンタクト部が形成されたピン本体を有し、前記配線接続部は前記ピン本体に形成されており、前記第２プローブピンは、前記コンタクト部が形成されたピン本体と、前記ピン本体を着脱可能な状態で保持している保持筒とを有し、前記配線接続部は前記保持筒に形成されているものとすることができる。コンタクト部が形成されているピン本体を交換するためにハンダの除去作業およびハンダ接続作業が必要な第１プローブピンと、これらの作業が必要ない第２プローブピンとが一つのブロックに取り付けられている場合でも、ブロックごと新しいものに交換することができるので、コンタクト部の交換を短時間で行うことができる。
【００１２】
次に、本発明は、通電試験システムであって、上記のプローブユニットと、通電試験装置と、前記通電試験装置および前記プローブユニットを接続するための配線を備えた配線ユニットとを有し、前記配線ユニットは前記通電装置に対して着脱可能になっていることを特徴とする。本発明によれば、ブロックとともに配線ユニットまで取り外すことができるので、コンタクト部を交換する際の作業性は一層向上する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明のプローブユニットによれば、コンタクト部を交換する際に、プローブピンが取り付けられているブロックごとプレートから取り外して新しいものに交換することができる。従って、交換作業は短時間で済む。また、プレートからブロックを取り外した状態で交換作業を行うことができるので、これらの作業をプレートが取り付けられている場所、例えば、環境試験装置の試験槽内において行わなくてもよい。従って、コンタクト部を交換する際の作業性が向上する。
【００１４】
また、本発明の通電試験システムによれば、ブロックとともに配線ユニットまで取り外すことができるので、コンタクト部を交換する際の作業性は一層向上する。この結果、コンタクト部の交換を短時間で行うことができるので、通電試験システムが設置されている製造ラインを長時間停止させてしまうことを回避できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下に、図面を参照して本発明を適用したプローブユニットを説明する。
【００１６】
(プローブユニット)
図１は本発明を適用したプローブユニットの側面図である。本例のプローブユニット１は、例えば、ワークの下側からワークの通電箇所にプローブピンの先端を押し当てて通電試験を行う際に用いられるものである。
【００１７】
図１に示すように、プローブユニット１は、複数本の第１、第２プローブピン２、３と、第１プローブピン２が取り付けられている第１ブロック４と、第２プローブピン３が取り付けられている第２ブロック５と、第１ブロック４が着脱可能な状態で取り付けられているプレート６を有している。第１ブロック４、第２ブロック５およびプレート６は非導電性の樹脂からなり、第２ブロック５とプレート６とは一体に形成されている。
【００１８】
第１、第２プローブピン２、３は、プローブユニット１をワークに押し当てた時に、ワークの通電箇所と第１、第２プローブピン２、３の先端とが対応する位置において、プレート６に対して垂直に固定されている。また、第１、第２プローブピン２、３の先端側のコンタクト部２１、３１は、それぞれバネ力によって軸線方向に沿って前方に付勢されているので、プローブユニット１をワークに押し当てると、第１、第２プローブピン２、３とワークの通電箇所とがバネ力によって接触状態になる。第１、第２プローブピン２、３の後端側はいずれもプレート６の下面から下方に突出しており、突出部分は通電試験装置(不図示)からの配線がハンダ付けされる配線接続部２２、３２となっている。プレート６の左右の端部分には取付孔６１、６２が形成されており、これらの取付孔６１、６２には、プローブユニット１を上下方向に移動させてワークに圧接させる際に、ワークとプローブユニット１との相対的な位置決めを行う位置決め部材などが取り付けられる。
【００１９】
図２は、ブローブユニット１に固定されている２種類のプローブピン２、３の構成を説明するための断面図である。
【００２０】
図２(ａ)に示す第１プローブピン２は、ピン本体２０と、ピン本体２０を着脱可能な状態で保持するための保持筒２３を備えている。ピン本体２０は、細長いピン２４と、このピン２４が軸線方向に移動可能な状態で挿入されている筒２５と、コイルバネ２６とを備えている。ピン２４は、その先端部分がワークと接触するコンタクト部２１となっており、後端部分が通電試験装置からの配線がハンダ付けされる配線接続部２２となっている。また、先端部分には大径部分２４ａが形成されており、大径部分２４ａと筒２５の先端開口縁２５ａとの間にコイルバネ２６が配置されている。コイルバネ２６は、コンタクト部２１および配線接続部２２を筒２５から所定の長さだけ突出させた状態で、ピン２４を保持している。
【００２１】
保持筒２３は筒２５と嵌合するように構成されている。ピン本体２０は保持筒２３の先端側から挿入される。そして、ピン本体２０は、保持筒２３を貫通した状態で、保持筒２３に保持される。
【００２２】
第１プローブピン２は、ピン本体２０の先端側にコンタクト部２１を備えており、後端側に配線接続部２２を備えているので、コンタクト部２１を交換するためには、配線接続部２２にハンダ付けされている配線を取り外した後に、ピン本体２０を保持筒２３から引き抜いて新たなピン本体２０と交換しなければならない。また、新たなピン本体２０を保持筒２３に挿入した後に配線接続部２２に対して配線をハンダ付けする必要がある。
【００２３】
図２(ｂ)に示す第２プローブピン３は、ピン本体３０と、ピン本体３０を着脱可能な状態で保持するための保持筒３３を備えている。ピン本体３０は、先端部分にワークと接触するコンタクト部３１が形成されているピン３４と、コイルバネ３６と、コイルバネ３６とピン３４とがこの順番で先端側から挿入されている細長い有底の筒３５を備えている。コイルバネ３６はピン３４の先端側を所定の長さだけ筒３５から突出させた状態にピン３４を支持している。
【００２４】
保持筒３３は大径部分３３ａと後端側に形成された小径部分３３ｂを備えている。ピン本体３０は、保持筒３３の先端側から大径部分３３ａに挿入されて、この保持筒３３に着脱可能な状態で保持される。小径部分３３ｂは、通電試験装置からの配線がハンダ付けされる配線接続部３２となっている。
【００２５】
第２プローブピン３は、ピン本体３０の側にコンタクト部３１を備え、保持筒３３の側に配線接続部３２を備えているので、コンタクト部３１を交換するためには、保持筒３３からピン本体３０を引き抜いて新しいピン本体３０と交換し、これを保持筒３３へ挿入すればよい。従って、配線接続部３２にハンダ付けされている配線を取り外す必要はない。
【００２６】
次に、図３は第１プローブピンを固定する構成を説明するための斜視図であり、(ａ)は第１プローブピンを固定する第１ブロックを示し、(ｂ)は第１プローブピンが第１ブロックへ固定された状態を示し、(ｃ)は第１プローブピンがプレートに固定された状態を示す。
【００２７】
第１プローブピン２は、略立方体の第１ブロック４に取り付けられている。第１ブロック４には、上下方向に貫通する第１貫通孔４１がワークの通電箇所と対応するように複数形成されている。この第１貫通孔４１に保持筒２３が圧入固定され、そこに上方からピン本体２０が挿入されている。保持筒２３はピン本体２０を貫通させた状態で保持するので、ピン本体２０の先端側のコンタクト部２１は第１貫通孔４１の上端開口から上方に突出しており、その後端側の配線接続部２２が第１貫通孔４１の下端開口から下方に突出している。また、第１ブロック４の左右の側面の下端縁部分には左右に突出する段部４２、４３が形成されている。
【００２８】
プレート６には第１ブロック４を装着するための開口部６３が形成されている。開口部６３の内壁面には、第１ブロック４の段部４２、４３が下側から係合する段部６４、６５が形成されている。第１ブロック４がプレート６の下面側から開口部６３に装着されると、図３(ｃ)に示す状態になる。この状態でプレート６および第１ブロック４に不図示のピンやネジを貫通させることによって、第１ブロック４がプレート６に固定される。第１ブロック４がプレート６に固定されると、当該第１ブロック４に取り付けられている第１プローブピン２のピン本体２０のコンタクト部２１がプレート６の上面から上方に突出した状態となり、当該ピン本体２０の配線接続部２２がプレート６の下面から下方に突出した状態になる。下方に突出している配線接続部２２には、通電試験装置から引き出された配線がハンダ付けされる。
【００２９】
次に、図４を参照して、第２プローブピン３をプレート６に固定する構成を説明する。図４は第２プローブピンを固定する構成部分を説明するための斜視図である。
【００３０】
第２プローブピン３は、プレート６と一体の第２ブロック５に取り付けられている。第２ブロック５には、上下方向に貫通する第２貫通孔５１がワークの通電箇所と対応するように複数形成されている。この第２貫通孔５１に第２プローブピン３の保持筒３３が圧入固定されている。保持筒３３は、後端側の配線接続部３２が第２貫通孔５１の下端開口から下方に突出した状態になるように圧入されており、配線接続部３２はプレート６の下面からも下方に突出した状態になっている。配線接続部３２には、通電試験装置から引き出された配線がハンダ付けされる。保持筒３３には、上方からピン本体３０が挿入されており、ピン本体３０の先端側のコンタクト部３１は第２貫通孔５１の上端開口から上方に突出した状態になっている。
【００３１】
(コンタクト部の交換作業)
図５は、第１、第２プローブピン２、３のコンタクト部２１、３１の交換作業を説明するための側面図であり、(ａ)は通電試験時の状態を示し、(ｂ)は交換作業中の状態を示す。
【００３２】
図５(ａ)に示すように、通電試験時には、第１プローブピン２は第１ブロック４を介してプレート６に固定されている。第２プローブピン２はプレート６と一体に形成された第２ブロック５に固定されている。また、通電試験装置から延びる配線がそれぞれの配線接続部２２、３２にハンダ付けされている。配線は通電試験装置の配線ユニット７１〜７４から延びており、配線ユニット７１は通電試験装置に対して着脱可能に構成されている。
【００３３】
コンタクト部２１の交換を行う場合には、図５(ｂ)に示すように、第１プローブピン２が取り付けられている第１ブロック４を、プレート６の下面側から引き抜く。しかる後に、作業のしやすい所まで第１ブロック４を移動して、各プローブピン２の配線接続部２２にハンダ付けされている配線を取り外す。そして、新たな第１プローブピン２が固定されている新たな第１ブロック４と交換し、各第１プローブピン２の配線接続部２２に配線をハンダ付けする。
【００３４】
また、第１プローブピン２および第１ブロック４の交換作業をしている間に、第２プローブピン３については、ピン本体３０を第２ブロック５に固定された保持筒３３の先端側から抜き取って、新たなピン本体３０と交換して、それを保持筒３３へ挿入する。
【００３５】
ここで、本例では、第１プローブピン２にハンダ付けされている配線が、通電試験装置に対して着脱可能になっている配線ユニット７１から延びているので、第１ブロック４をプレート６から取り外した際に、配線部分までも一緒に移動することができる。従って、配線の取り外しやハンダ付け等の作業を行う場所を選ばない。
【００３６】
なお、第１ブロック４の交換後は、第１ブロック４に固定されている第１プローブピン２は、ピン本体２０を保持筒２３から引き抜ぬいて、新たなピン本体２０と交換し、保持筒２３へ挿入しておく。ピン本体２０を交換しておけば、次にコンタクト部２１を交換する際に、この第１ブロック４を、新たな第１ブロックとして利用できる。
【００３７】
以上、本例によれば、第１プローブピン２は第１ブロック４を介してプレート６に固定されているので、第１プローブピン２のコンタクト部２１を交換する際には、第１ブロック４ごとプレート６から取り外して、新しいものに交換することができる。従って、コンタクト部２１の交換を短時間で行うことができる。また、交換作業に伴うハンダ付けなどをプレート６が取り付けられている場所、例えば、環境試験装置の試験槽内において行わなくてもよいので、作業性が向上する。
【００３８】
なお、上記の例では、第１ブロック４に固定されているプローブピンは第１プローブピン２のみであったが、第１プローブピン２と第２プローブピン３とが混在した状態で第１ブロック４に固定されていてもよい。
【００３９】
また、第２ブロック５はプレート６と一体に形成されているが、第２ブロック５を、第１ブロック４と同様に、プレート６に対して着脱可能な構成としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明を適用したプローブユニットの側面図である。
【図２】プローブユニットに固定されている２種類のプローブピンの構成を説明するための断面図であり、(ａ)は第１プローブピンを示し、(ｂ)は第２プローブピンを示す。
【図３】第１プローブピンを固定する構成部分を説明するための斜視図であり、(ａ)は第１ブロックを示し、(ｂ)は第１プローブピンが第１ブロックへ固定された状態を示し、(ｃ)は第１プローブピンがプレートに固定された状態を示す。
【図４】第２プローブピンを固定する構成部分を説明するための斜視図である。
【図５】プローブピンのコンタクト部を交換する作業を説明するための側面図であり、(ａ)は通電試験時の状態であり、(ｂ)は交換作業中の状態である。
【符号の説明】
【００４１】
１  プローブユニット
２、３  プローブピン
４、５  ブロック
６  プレート
２０、３０  ピン本体
２１、３１  コンタクト部
２２、３２  配線接続部
２３、３３  保持筒
２４、３４  ピン
２５、筒
２６、３６  コイルバネ
４１、５１  貫通孔
４２、４３  段部
６３  開口部
６４、６５  段部
７１、７２、７３、７４  配線ユニット
【図１】
2008232681.tif 000003
【図２】
2008232681.tif 000004
【図３】
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【図４】
2008232681.tif 000006
【図５】
2008232681.tif 000007