(57)【要約】【課題】  被検査体中の添付品の位置に拘らず、添付品を異物と判定せずに、被検査物中の異物を検出することができるＸ線異物検査装置を提供する。【解決手段】  Ｘ線透視画像の一の画素Ｐを取り囲む第一探索ユニット内の全画素の階調データと内容物レベル閾値（ｔｈ）との関係に基づいて画素Ｐが副内容物の本体領域を構成する画素か否かを判定する本体領域探索演算を行い、続いて拡大副内容物領域探索演算を行い、拡大副内容物領域を抽出した拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）を作成し、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）の拡大副内容物領域以外の領域に対応するＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の各画素の階調データを第一異物判定レベル値に基づいて判定することにより異物の有無を判定する。【選択図】図２
2008232814.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
主内容物と副内容物とが含まれる被検査物を映した二次元のＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）を取得し、このＸ線透視画像を形成する各画素の階調データに対して演算処理を行うことにより被検査物中の主内容物および副内容物以外の異物の有無を検査するＸ線異物検査装置であって、
主内容物の透過Ｘ線量に対応する階調レベルと副内容物の透過Ｘ線量に対応する階調レベルとを分割するための階調レベル値を、内容物レベル閾値（ｔｈ）として設定する内容物レベル閾値設定部と、
画素の二次元形状の集合からなる第一塊領域を、Ｘ線透視画像に映る副内容物領域のうち本体領域を抽出するための演算に用いる第一探索ユニット（Ｓ１）として設定する第一探索ユニット設定部と、
Ｘ線透視画像の一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）に対し、前記画素Ｐを取り囲むように第一探索ユニットを設定し、画素Ｐを含む第一探索ユニット内の全画素の階調データと内容物レベル閾値との関係に基づいて前記画素Ｐが副内容物の本体領域を構成する画素か否かを判定する本体領域探索演算を行い、Ｘ線透視画像の全画素について前記本体領域探索演算を行うことにより、副内容物の本体領域を抽出した副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）を作成する副内容物本体領域袖出部と、
画素の二次元形状の集合であって前記第一塊領域より大きな第二塊領域を、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ、ｙ）に映る副内容物の本体領域の周辺領域も含めた拡大副内容物領域を抽出するための演算に用いる第二探索ユニット（Ｓ２）として設定する第二探索ユニット領域設定部と、
副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）の一の画素Ｑ（ｘ，ｙ）に対し、前記画素Ｑを取り囲むように第二探索ユニットを設定し、画素Ｑを含む第二探索ユニット内の全画素の階調データと副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ、ｙ）に映る副内容物の本体領域の階調データとの比較結果に基づいて前記画素Ｑが拡大副内容物領域を構成する画素か否かを判定する拡大副内容物領域探索演算を行い、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）の全画素について前記拡大副内容物領域探索演算を行うことにより、拡大副内容物領域を抽出した拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）を作成する拡大副内容物領域袖出部と、
拡大副内容物領域以外の領域の異物判定に用いる階調レベル値を第一異物判定レベル値（ｔｈ１）として設定する第一異物判定レベル値設定部と、
拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）の拡大副内容物領域以外の領域に対応するＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の各画素を第一検査範囲として、第一検査範囲に含まれる各画素の階調データを第一異物判定レベル値に基づいて判定することにより異物の有無を判定する拡大副内容物領域外異物検査部とを備えたことを特徴とするＸ線異物検査装置。
【請求項２】
Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）を内容物レベル閾値（ｔｈ）に基づいて二値化した二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）を作成する二値化画像抽出部をさらに備え、
副内容物本体領域抽出部は、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）に代えて、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）の一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）に対して前記本体領域探索演算を行い、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）の全画素について前記本体領域探索演算を行うことにより、副内容物の本体領域を抽出した副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）を作成することを特徴とする請求項１に記載のＸ線異物検査装置。
【請求項３】
前記副内容物本体領域袖出部は、画素Ｐを含む第一探索ユニット内の全画素の階調データが内容物レベル閾値（ｔｈ）以下であることを条件として前記画素Ｐを副内容物の本体領域を構成する画素と判定する本体領域探索演算を行い、
前記拡大副内容物領域袖出部は、画素Ｑを含む第二探索ユニット内の少なくとも１つの画素の階調データが副内容物本体領域の階調データであることを条件として前記画素Ｑを拡大副内容物領域と判定する拡大副内容物領域探索演算を行うことを特徴とする請求項１または請求項２のいずれかに記載のＸ線異物検査装置。
【請求項４】
副内容物本体領域袖出部は、次式（１）を用いて本体領域探索演算を行うことを特徴とする請求項３に記載のＸ線異物検査装置。  
2008232814.tif 000008
【請求項５】
拡大副内容物領域袖出部は、次式（２）を用いて拡大副内容物領域探索演算を行うことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれかに記載のＸ線異物検査装置。  
2008232814.tif 000009
【請求項６】
拡大副内容物領域外異物検査部は、次式（３）を用いて拡大副内容物領域外の異物の有無を判定することを特徴とする請求項１〜請求項５のいずれかに記載のＸ線異物検査装置。  
2008232814.tif 000010
【請求項７】
Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全領域に対する異物判定に用いる階調レベル値を第二異物判定レベル値（ｔｈ２）として設定する第二異物判定レベル値設定部と、
画素の二次元形状の集合からなる第三の塊領域が、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全領域から異物領域を抽出するための演算に用いる第三探索ユニット（Ｓ３）として設定されている状態で、第三探索ユニットに含まれる全画素の階調データと第二異物判定レベル値との関係に基づいて異物認定を行うときの判定基準とする画素数閾値（ＭＳ３）を設定する画素数閾値設定部と、
Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の一の画素Ｒ（ｘ，ｙ）に対し、前記画素Ｒを取り囲むように第三探索ユニット（Ｓ３）を設定し、画素Ｒを含む第三探索ユニット内の各画素の階調データと第二異物判定レベル値（ｔｈ２）との比較により抽出した画素の数と画素数閾値（ＭＳ３）とに基づいて、前記画素Ｒが異物を構成する画素であるか否かを判定する異物領域探索演算を行い、Ｘ線透視画像の全画素を第二検査範囲として、前記第二検査範囲の各画素について異物領域探索演算を行うことにより異物の有無を判定する全体領域異物検査部とをさらに備えたことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれかに記載のＸ線異物検査装置。
【請求項８】
全体領域異物検査部は、次式（４）を用いて異物領域探索演算を行うことを特徴とする請求項７に記載のＸ線異物検査装置。  
2008232814.tif 000011
【請求項９】
画素の二次元形状の集合からなる第四の塊領域を、副内容物の欠落を判定するための演算に用いる欠落判定閾値（Ｓ４）として設定する欠落判定閾値設定部と、
副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）に映る副内容物の本体領域と欠落判定閾値（Ｓ４）とに基づいて、被検査物中の副内容物の有無を判定する副内容物欠落検査部とをさらに備えたことを特徴とする請求項１〜請求項８のいずれかに記載のＸ線異物検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検査物のＸ線透視画像を撮影して被検査物中の異物の有無を検査するＸ線異物検査装置に関し、さらに詳細には、異物検査を行いたい主内容物と、異物検査の障害となる副内容物（添付品等）とが含まれる被検査物についての異物検査を行うＸ線異物検査装置に関する。
具体的には、菓子、加工食品、医薬のような内容物（主内容物）に、脱酸素剤、粉末スープ、おまけ玩具等の添付品（副内容物）が含まれている被検査物、あるいは、生肉、魚の切り身（主内容物）の一部に、骨（副内容物）が混在する被検査物、あるいは、衣服や袋類（主内容物）に、ボタンやファスナー（副内容物）が固定された被検査物などについてのＸ線異物検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、例えば、生肉、魚、加工食品、医薬等の被検査物中（表面も含む）の異物（金属、骨、ガラス、石、合成樹脂材等）を検出するためにＸ線異物検査装置が用いられている（例えば、特許文献１参照）。図１６は、Ｘ線異物検査装置の一部の構成を示す図である。このようなＸ線異物検査装置１１０においては、ベルトコンベア５の上方に配置されたＸ線管１でＸ線を発生させ、そのＸ線を、コリメータ（図示せず）を用いて扇状に広がるＸ線ビームとし、そのＸ線ビームを、上側搬送ベルト５ｂの下方に配置された多数のＸ線検出素子からなる直線状のＸ線検出器３で検出する。
【０００３】
ベルトコンベア５は、ローラ５ａの間に掛け回された搬送ベルト５ｂを有する。そして、上側搬送ベルト５ｂの上面に、被検査物７が載置される。モータ等の駆動手段（図示せず）によってローラ５ａを駆動することにより、搬送ベルト５ｂが循環して移動し、被検査物７が移動することになる。
コリメータは、被検査物７の移動方向と直交するように、扇状に広がるＸ線ビームを形成する。Ｘ線検出器３は、扇状に広がるＸ線ビームを検出できるように、被検査物７の移動方向と直交するように配置されている。
【０００４】
これにより、Ｘ線異物検査装置１１０では、移動してくる被検査物７にＸ線を照射し、コンピュータ１０９で被検査物７のＸ線透過像データを作成して、そのＸ線透過像データを収集して時間軸に沿って並べると、２次元的なＸ線透視画像を得ることができる。このとき、被検査物７中に異物が存在し、その異物の透過Ｘ線量が被検査物７自体の透過Ｘ線量と異なれば、Ｘ線透視画像上に異物が陰として表れることになる。したがって、操作者が、モニタ画面に映し出されたＸ線透視画像を観察することで、被検査物７中の異物を発見することができるようにしている。
【０００５】
このようなＸ線異物検査装置で、生肉、魚、加工食品等の内容物と、内容物の収容状態を保持するためのクリップ（例えばソーセージの両端を密封するために留められる金属クリップ）とからなる被検査体中の異物の有無を判定する場合に、クリップがあると想定される所定の位置にマスク領域を予め設定し、検査対象からマスク領域を除外することにより、クリップを異物と判定することを防止するものが知られている（例えば、特許文献２参照）。
【０００６】
しかしながら、Ｘ線異物検査装置において、内容物と、内容物と一緒に包装された脱酸素剤、粉末スープ、玩具（おまけ）等の添付品とからなる被検査体７中の異物の有無を判定する場合、添付品が内容物上の何れの位置に存在するか不明であるときには、Ｘ線透視画像中にマスク領域を設定することができず、添付品を異物と判定しないようにすることができないという問題点があった。
【０００７】
これを解決するために、透過Ｘ線量に基づいて生成されたＸ線画像のうち被検査体中の添付品に対応する添付品領域、及び、添付品外領域を分割するための分割閾値を設定し、Ｘ線画像の画素の濃度及び分割閾値に基づいて添付品領域及び添付品外領域を分割し、分割した添付品外領域のＸ線画像に対してＸ線画層の画素の濃度および所定の閾値に基づいて異物の有無を判断することが開示されている。さらに添付品領域に対しても、他の閾値に基づいて異物の有無を判断することが開示されている（特許文献３参照）。
【特許文献１】特開２００６−２７５８５３号公報
【特許文献２】特開２００２−２４３６６５号公報
【特許文献３】特開２００６−３０８３１５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上述した特許文献３の異物検査装置によれば、異物の有無を検査する際に障害となる添付品の位置に拘わらず、添付品の位置をマスク領域として除外しつつ検査を行うことができるので、添付品が異物として検出される誤検出を低減することができる。また、添付品領域についても、分割閾値の設定を調整することにより、添付品と重なって存在する異物を検出することができるようになる。
【０００９】
しかしながら、この特許文献に記載された方法では、予め設定してあるレベル（分割閾値）を基準にして、各画素の濃度（すなわち階調データ）との比較を行うことにより、添付品領域であるか添付品外領域であるかを判定するようにしているため、Ｘ線透視画像に画素単位程度の小さな何らかのノイズ画像が映っていると、ノイズ画像部分を添付品領域と誤って判定することがあり、誤った検出結果を生じるおそれがあった。例えば、添付品によっては添付品の周縁に突起部分を有するものがあり、その突起部分を添付品の一部としてではなく、異物と判定する誤検出を生じることがあった。
【００１０】
このことは、内容物と添付品との関係だけではなく、生肉と骨の関係のように、検査を行いたい領域（主内容物）と検査の障害となる領域（副内容物）とが、いずれも内容物として混在する被検査物の場合でも同様である。
【００１１】
そこで、本発明は主内容物と副内容物（以後、主内容物と副内容物という場合には、内容物と添付品との関係も含まれるものとする（この場合、内容物を主内容物、添付品を副内容物として扱う））とが含まれる被検査物について、階調レベル（分割閾値）のみを基準とするだけではなく、他の基準も合わせて判定基準とすることにより、ノイズの影響を除去しつつ異物検査を行うことができるようにしたＸ線異物検査装置を提供することを目的とする。
【００１２】
また、本発明は検査の障害となる副内容物領域をマスク領域として除外する際に、実際に副内容物が映し出される領域のまわりに、その周辺領域も含めて拡大した領域をマスク領域とすることで、副内容物の周囲に不規則に生じる突起等の異常部分を異物と誤って検出するエラーを除くことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するためになされた本発明のＸ線異物検査装置では、主内容物に対する異物検査の障害となる副内容物領域を、主内容物の領域から分離し、従来と同様のマスク領域を設けるための境界を求める演算を行うのであるが、その演算において、副内容物領域を抽出する際に、副内容物領域（さらには異物領域についても同様）は、ある程度の面積からなる同じＸ線レベルの階調データを有する領域の拡がり（画素の集合）が存在することを利用して、単に個々の画素の階調データの閾値のみで境界を判定するのではなく、隣接する画素の階調データも境界の判定に利用することにより、ノイズの影響を除去しつつ境界を判定するようにしている。さらに、実際の副内容物領域の周辺領域も含めた拡大副内容物領域をマスク領域にするための演算を追加するようにして、境界を定めるようにしている。
【００１４】
すなわち、本発明のＸ線異物検査装置は、主内容物と副内容物とが含まれる被検査物を映した二次元のＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）を取得し、このＸ線透視画像を形成する各画素の階調データに対して演算処理を行うことにより被検査物中の主内容物および副内容物以外の異物の有無を検査するＸ線異物検査装置であって、主内容物の透過Ｘ線量に対応する階調レベルと副内容物の透過Ｘ線量に対応する階調レベルとを分割するための階調レベル値を、内容物レベル閾値（ｔｈ）として設定する内容物レベル閾値設定部と、画素の二次元形状の集合からなる第一塊領域を、Ｘ線透視画像に映る副内容物領域のうち本体領域を抽出するための演算に用いる第一探索ユニット（Ｓ１）として設定する第一探索ユニット設定部と、Ｘ線透視画像の一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）に対し、前記画素Ｐを取り囲むように第一探索ユニットを設定し、画素Ｐを含む第一探索ユニット内の全画素の階調データと内容物レベル閾値との関係に基づいて前記画素Ｐが副内容物の本体領域を構成する画素か否かを判定する本体領域探索演算を行い、Ｘ線透視画像の全画素について前記本体領域探索演算を行うことにより、副内容物の本体領域を抽出した副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）を作成する副内容物本体領域袖出部と、画素の二次元形状の集合であって前記第一塊領域より大きな第二塊領域を、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ、ｙ）に映る副内容物の本体領域の周辺領域も含めた拡大副内容物領域を抽出するための演算に用いる第二探索ユニット（Ｓ２）として設定する第二探索ユニット領域設定部と、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）の一の画素Ｑ（ｘ，ｙ）に対し、前記画素Ｑを取り囲むように第二探索ユニットを設定し、画素Ｑを含む第二探索ユニット内の全画素の階調データと副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ、ｙ）に映る副内容物の本体領域の階調データとの比較結果に基づいて前記画素Ｑが拡大副内容物領域を構成する画素か否かを判定する拡大副内容物領域探索演算を行い、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）の全画素について前記拡大副内容物領域探索演算を行うことにより、拡大副内容物領域を抽出した拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）を作成する拡大副内容物領域袖出部と、拡大副内容物領域以外の領域の異物判定に用いる階調レベル値を第一異物判定レベル値（ｔｈ１）として設定する第一異物判定レベル値設定部と、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）の拡大副内容物領域以外の領域に対応するＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の各画素を第一検査範囲として、第一検査範囲に含まれる各画素の階調データを第一異物判定レベル値に基づいて判定することにより異物の有無を判定する拡大副内容物領域外異物検査部とを備えるようにしている。
【００１５】
ここで、「階調データ」とは、画像中の各画素の明暗の濃度を表すデータをいう。典型的な階調データとしては、明暗の濃度を２５６段階に分けた２５６階調データが一般的であるが、ここでいう「階調データ」は、画像の濃度差を表現することができるデータであればこれに限定されない。例えば画素の濃度をカラー表示したものも、階調データとして扱う。
【００１６】
また、内容物レベル閾値（ｔｈ）は、主内容物のみの領域を透過するＸ線量と、主内容物とそれ以外（副内容物および異物）とが重なる領域を透過するＸ線量とを分割するための基準として用いられる閾値であり、主内容物を透過する透過Ｘ線量に対応する階調レベルより小さな階調レベル（主内容物領域より暗い階調）であることが要求されるが、主内容物とそれ以外（副内容物および異物）との重なり領域を透過するＸ線量に対応する階調レベルよりは大きな階調レベル（重なり領域より明るい階調）であることが必要となる。
【００１７】
また、第一探索ユニット（Ｓ１）は、Ｘ線透視画像に映る副内容物領域のうち本体領域を抽出するための演算において、画像に含まれる小さなノイズ（例えば不規則に発生する副内容物の突起部、異物）の影響を除外するために用いる演算範囲であり、画素の二次元形状の集合からなる。この二次元形状は、方形の画素集合や円形の画素集合にするのが好ましいが、それ以外の二次元形状の画素集合でもよい。なお第一探索ユニット（Ｓ１）を方形形状（正方形または長方形）にすれば、演算範囲に含まれる各画素を、ｘｙ座標を用いて簡単に表現できるようになる。例えば、第一探索ユニット（Ｓ１）を正方形にする場合にはｘｙ方向にそれぞれＮ個ずつ並んだ集合からなるＮ×Ｎ個（例えばｘ方向×ｙ方向：１０個×１０個）の画素集合を第一探索ユニット（Ｓ１）として簡単に設定することができる。また、第一探索ユニット（Ｓ１）を円形形状にする場合は、演算範囲に含まれる画素を、ｘｙ座標を用いて演算する点では複雑になるが、二次元の画像上で全方向に対し均等な演算範囲を設定することができることになる。
【００１８】
また、第二探索ユニット（Ｓ２）は、拡大副内容物領域を抽出するための演算において、副内容物の本体領域の周辺領域も含めるようにして副内容物を完全にマスクするための演算に用いる演算範囲であり、画素の二次元形状の集合からなるが、この二次元形状についても、第一探索ユニットと同様に、方形の画素集合であってもよいし、その他の形状の画素集合であってもよい。なお、本体領域よりも大きくなるように拡大するため、第一塊領域より大きな領域を、第二探索ユニット（Ｓ２）として設定する（例えば、第一探索ユニットがｘ方向×ｙ方向：１０個×１０個の画素集合である場合に、第二探索ユニットがｘ方向×ｙ方向：１６×１６個の画素集合に設定する）。さらにＸ方向に並ぶ画素数とｙ方向に並ぶ画素数とを個別に設定できるようにし拡大量を縦横で異なるようにしてもよい。
【００１９】
本発明の異物検査装置によれば、主内容物と副内容物とが含まれる被検査物を映した二次元のＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）を取得する。
そして、副内容物本体領域袖出部が、Ｘ線透視画像の各画素Ｐ（ｘ、ｙ）に対し、一画素ずつ、その画素が副内容物の本体領域を構成する画素であるかを判定する「本体領域探索演算」を行う。この「副内容物の本体領域」は、簡単に言えば、画像に映る副内容物領域のうちで外周部分を除いた中心寄りの部分のみを抽出した領域であり、具体的には、副内容物本体領域抽出部が利用する判定式に基づいて抽出される領域である。
すなわち、Ｘ線透視画像の一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）に対し、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を取り囲むように第一探索ユニット（Ｓ１）を演算範囲として設定し、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を含む第一探索ユニット（Ｓ１）内の全画素の階調データと内容物レベル閾値との関係に基づいて画素Ｐ（ｘ，ｙ）が副内容物の本体領域を構成する画素か否かを判定する本体領域探索演算を行う。
この演算は、画素Ｐ（ｘ，ｙ）および画素Ｐ（ｘ，ｙ）を取り囲む第一探索ユニット（Ｓ１）内の各画素の階調データを対象とし、直接的に、あるいは後述する二値化関数を用いて間接的に、各画素の階調データと内容物レベル閾値（ｔｈ）との比較が行われ、画素Ｐ（ｘ、ｙ）が副内容物の本体領域を構成する画素であるか否かを判定する。
【００２０】
例えば、図１５（ａ）に示すように、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）上の画素Ｐ（ｘ，ｙ）を中心とする円形の画素集合を第一探索ユニット（Ｓ１）とし、第一探索ユニット（Ｓ１）内の各画素ごとに、直接、その階調データと内容別レベル閾値（ｔｈ）との比較を行い、第一探索ユニット（Ｓ１）内の全画素（あるいは一定基準以上の画素数）が内容物レベル閾値（ｔｈ）より小さい階調データ（主内容物領域より暗い）であるときに画素Ｐ（ｘ，ｙ）は副内容物の本体領域を構成する画素であると判定する。（後述するように、予め、内容物レベル閾値（ｔｈ）に基づいて二値化した画像Ｂ１を作成し、二値化画像Ｂ１を利用して判定を行うようにしてもよい。）
【００２１】
そして、一の画素Ｐ（ｘ、ｙ）に対して行った本体領域探索演算を、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全画素にわたって行うことにより、図１５（ｂ）に示すように、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）上で内容物レベル閾値（ｔｈ）未満の階調データを有する領域Ｕ（すなわち副内容物領域）が存在するときに、その周辺を除いた中央部分を、副内容物本体領域Ｖとして抽出した副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）を作成する。これにより、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）上には、第一探索ユニット（Ｓ１）よりも小さなノイズ画像部分（異物部分や副内容物の突起部分を含む）は完全に消去されることとなり、実質的に副内容物領域Ｕの中心部分だけが抽出されるようになる。作成された副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）は、副内容物本体領域Ｖの領域が「１」で、それ以外の領域が「０」になるように二値化しておく。
【００２２】
続いて、拡大副内容物領域袖出部が、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）の各画素Ｑ（ｘ、ｙ）に対し、一画素ずつ、その画素が拡大副内容物領域を構成する画素か否かを判定する「拡大副内容物領域探索演算」を行う。この「拡大副内容物領域」は、簡単に言えば、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）に映る副内容本体領域に対し、この領域を中心としてその外周部分を拡大することにより、副内容物領域全体を完全に覆いつくすようにした領域（副内容物に不規則に生じる突起等も含まれるように拡大量が設定される）であり、具体的には、拡大副内容物領域袖出部が利用する判定式に基づいて抽出される領域である。
すなわち、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）の一の画素Ｑ（ｘ，ｙ）に対し、画素Ｑ（ｘ，ｙ）を取り囲むようにして第一探索ユニットよりも大きな領域の第二探索ユニット（Ｓ２）を設定し、画素Ｑを含む第二探索ユニット（Ｓ２）内の全画素の階調データと副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ、ｙ）に映る副内容物の本体領域Ｖの階調データ（二値化しているときは「１」）との比較結果に基づいて画素Ｑ（ｘ，ｙ）が拡大副内容物領域を構成する画素か否かを判定する拡大副内容物領域探索演算を行う。
【００２３】
例えば、図１５（ｃ）に示すように、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）上の画素Ｑ（ｘ，ｙ）を中心とする円形の画素集合を第二探索ユニット（Ｓ２）（ただし、第一探索ユニット（Ｓ１）より大きい領域とする）とし、第二探索ユニット（Ｓ２）内の各画素ごとに、その階調データと本体領域の階調データ（二値化しているときは「１」）の比較を行い、第二探索ユニット（Ｓ２）内のいずれか１つ（あるいは一定基準以下の画素数）が本体領域Ｖの階調データであるときに画素Ｑ（ｘ，ｙ）は拡大副内容物領域を構成する画素であると判定する。
なお、第二探索ユニット（Ｓ２）の領域が大きくなるほど拡大される領域は大きくなるので、副内容物に突起等の突出部分が発生する被検査物の場合には、発生しうる突起の大きさを考慮して、第二探索ユニット（Ｓ２）の領域を設定することで、突起が発生しても拡大副内容物領域内に含まれるようになる。
【００２４】
そして、一の画素Ｑ（ｘ、ｙ）に対して行った拡大副内容物領域探索演算を、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）の全画素にわたって行うことにより、図１５（ｄ）に示すように、副内容物本体領域Ｖを拡大し、拡大副内容物領域Ｗとして抽出した拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）を作成する。これにより、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）上には、突起部分も含めて副内容物領域が完全に覆われることになる。作成された拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）は、拡大副内容物領域Ｗの領域が「１」で、それ以外の領域が「０」になるように二値化しておく。
【００２５】
続いて、拡大副内容物領域外異物検査部は、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）の拡大副内容物領域Ｗ以外の領域に対応するＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の各画素を第一検査範囲として、第一検査範囲に含まれる各画素の階調データを第一異物判定レベル値（ｔｈ１）に基づいて判定することにより異物の有無を判定する。
【発明の効果】
【００２６】
以上のように、本発明のＸ線異物検査装置によれば、Ｘ線の内容物レベル閾値（ｔｈ）のみを基準とするだけではなく、第一探索ユニット（Ｓ１）に含まれる画素の集合の階調データも合わせて判定基準に含めることにより、小さなノイズ（副内容物の突起部分、異物）の影響を除去しつつマスク領域を作成し、異物検査を行うことができる。
【００２７】
また、本発明の異物検査装置によれば、検査の障害となる副内容物領域をマスク領域として除外する際に、実際に副内容物が映し出される領域のまわりに、その周辺領域も含めて拡大した拡大副内容物領域をマスク領域とするようにしたので、副内容物の周囲に不規則に生じる突起等の異常部分を異物と誤って検出するエラーを除くことができる。
そして、拡大副内容物領域外の検査範囲にある異物については、誤って副内容物の一部と判定するエラーを完全になくすことができる。
【００２８】
（その他の課題を解決するための手段および効果）
上記発明において、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）を内容物レベル閾値（ｔｈ）に基づいて二値化した二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）を作成する二値化画像抽出部をさらに備え、副内容物本体領域抽出部は、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）に代えて、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）の一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）に対して本体領域探索演算を行い、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）の全画素について本体領域探索演算を行うことにより、副内容物の本体領域を抽出した副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）を作成するようにしてもよい。
【００２９】
例えば、二値化を行う式として次式（５）を用いることができる。
2008232814.tif 000003
【００３０】
本発明によれば、予め、内容物レベル閾値（ｔｈ）に基づいて二値化した画像Ｂ１（ｘ，ｙ）を作成し、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）を利用して本体領域探索演算を行うようにする。これにより、二値化演算を用いた本体領域探索演算を行うことができるようになる。
【００３１】
また、上記発明において、副内容物本体領域袖出部は、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を含む第一探索ユニット（Ｓ１）内の全画素の階調データが内容物レベル閾値（ｔｈ）以下であることを条件として画素Ｐ（ｘ，ｙ）を副内容物の本体領域を構成する画素と判定する本体領域探索演算を行い、拡大副内容物領域袖出部は、画素Ｑ（ｘ，ｙ）を含む第二探索ユニット（Ｓ２）内の少なくとも１つの画素の階調データが副内容物本体領域の階調データであることを条件として画素Ｑ（ｘ，ｙ）を拡大副内容物領域と判定する拡大副内容物領域探索演算を行うようにしてもよい。
【００３２】
本発明によれば、一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）が、その回りの第一探索ユニット内の画素がすべて内容物レベル閾値（ｔｈ）以下である場合に、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を副内容物本体領域と判定するので、小さなノイズ部分は確実に除去され、副内容物領域の中央部分だけが本体領域として抽出されることになる。さらに、一の画素Ｑ（ｘ，ｙ）が、その回りの第二探索ユニットの画素の少なくとも１つが副内容物本体領域であれば副内容物本体領域を拡大した拡大副内容物領域と判定するので、副内容物の中心部分（本体領域部分）だけを拡大して、拡大副内容物領域とすることができ、しかも第二探索ユニットを適切に設定することにより、副内容物の突起部分も含めた副内容物全体を完全に覆うような拡大内容物領域を抽出することができる。
【００３３】
また、上記発明において、副内容物本体領域袖出部は、次式（１）を用いて本体領域探索演算を行うようにしてもよい。
2008232814.tif 000004
【００３４】
本発明によれば、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）を用いて、ｘ方向、ｙ方向を縦横とする方形の第一探索ユニット（Ｓ１）（ｘ方向×ｙ方向：Ｎ個×Ｎ個）内を演算範囲とする二値化演算を行い、第一探索ユニット内のすべての画素が「１」である場合に、Ｂ２（ｘ，ｙ）は「１」すなわち副内容物本体領域を構成する画素となる。
これにより、方形の第一探索ユニット（Ｓ１）を用いた簡単な計算により、本体領域であるか否かの判定を行うことができる。
【００３５】
また、上記発明において、拡大副内容物領域袖出部は、次式（２）を用いて拡大副内容物領域探索演算を行うようにしてもよい。  
2008232814.tif 000005
【００３６】
本発明によれば、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）を用いて、ｘ方向、ｙ方向を縦横とする方形の第二探索ユニット（Ｓ２）（ｘ方向×ｙ方向：ｋｘ個×ｋｙ個）内を演算範囲とする二値化演算を行い、第二探索ユニット内のいずれか１つの画素が「１」である場合に、Ｂ３（ｘ，ｙ）は「１」、すなわち拡大副内容物領域を構成する画素となる。
これにより、方形の第二探索ユニット（Ｓ２）を用いた簡単な計算により、拡大副内容物領域であるか否かの判定を行うことができる。
【００３７】
また、上記発明において、拡大副内容物領域外異物検査部は、次式（３）を用いて拡大副内容物領域外の異物の有無を判定するようにしてもよい。  
2008232814.tif 000006
【００３８】
本発明によれば、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）を用いて、ｘｙ座標で表現される画像全体の演算を行い、拡大副内容物領域外のいずれか一の画素が内容物レベル閾値以下である場合に、Ｍ１が「０」以外、すなわち異物ありと判定する。
これにより、簡単な計算により、拡大副内容物領域であるか否かの判定を行うことができる。
【００３９】
また、上記発明において、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全領域に対する異物判定に用いる階調レベル値を第二異物判定レベル値（ｔｈ２）として設定する第二異物判定レベル値設定部と、画素の二次元形状の集合からなる第三の塊領域が、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全領域から異物領域を抽出するための演算に用いる第三探索ユニット（Ｓ３）として設定されている状態で、第三探索ユニット（Ｓ３）に含まれる全画素の階調データと第二異物判定レベル値（ｔｈ２）との関係に基づいて異物認定を行うときの判定基準とする画素数閾値（ＭＳ３）を設定する画素数閾値設定部と、Ｘ線透視画像Ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の一の画素Ｒ（ｘ，ｙ）に対し、前記画素Ｒ（ｘ，ｙ）を取り囲むように第三探索ユニット（Ｓ３）を設定し、画素Ｒ（ｘ，ｙ）を含む第三探索ユニット（Ｓ３）内の各画素の階調データと第二異物判定レベル値（ｔｈ２）との比較により抽出した画素の数と画素数閾値（ＭＳ３）とに基づいて、前記画素Ｒ（ｘ，ｙ）が異物を構成する画素であるか否かを判定する異物領域探索演算を行い、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全画素を第二検査範囲として、前記第二検査範囲の各画素について異物領域探索演算を行うことにより異物の有無を判定する全体領域異物検査部とをさらに備えるようにしてもよい。
【００４０】
ここで、第三探索ユニット（Ｓ３）は、異物領域を抽出するための演算において、画像に含まれる小さなノイズの影響を除外するために用いる演算範囲であり、画素の二次元形状の集合からなる。この二次元形状は、第一探索ユニットや第二探索ユニットと同様に、方形の画素集合や円形の画素集合にするのが好ましいが、形状は特に限定されない。例えば、第三探索ユニット（Ｓ３）として、ｘ方向×ｙ方向：７個×７個（合計４９個）の画素集合を設定する。第三探索ユニット（Ｓ３）の設定は、任意の値に設定変更できるようにしてもよいし、固定値としてもよい。
一方、画素数閾値（ＭＳ３）は、第三探索ユニット（Ｓ３）に含まれる画素の全数に対する個数として設定される閾値である。例えば画素数閾値を２０個として設定すると、第三探索ユニットが４９個として設定されている場合には、２０／４９が異物領域か否かの判定基準となる。
【００４１】
本発明によれば、全体領域異物検査部は、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全領域内に含まれる画素に、異物領域探索演算を行う。
すなわちＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の一の画素Ｒ（ｘ，ｙ）に対し、画素Ｒ（ｘ，ｙ）を取り囲むように第三探索ユニット（Ｓ３）を設定する。そして、画素Ｒ（ｘ，ｙ）を含む第三探索ユニット（Ｓ３）内の各画素の階調データと第二異物判定レベル値（ｔｈ２）（とを比較し、第二異物判定レベル以下の階調データの画素（すなわち第二異物判定レベル値以下の暗い階調データを有する画素）を抽出し、抽出された画素の数を算出する。そして、算出された画素の数と画素数閾値（ＭＳ３）とを比較し、画素数閾値（ＭＳ３）以上の数が検出された場合に、画素Ｒ（ｘ，ｙ）は異物領域を構成する画素であると判定し、それ以外は異物領域を構成しない画素であると判定する。画素Ｒ（ｘ，ｙ）に対して行ったこのような異物領域探索演算を、Ｘ線透視画像数のｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全画素に対し実行することにより、異物の有無を判定する。
これにより、拡大副内容物領域外異物検査部による拡大副内容物領域外の検査では、マスク領域として検査から除外される拡大副内容物領域が存在していたが、この部分も含めて、被検査物全体を検査することができる。また、拡大副内容物領域外異物検査部、全体領域異物検査部による２つのモードで続けて検査を行うことにより、拡大副内容物領域外、拡大副内容物領域のそれぞれに適した閾値に基づいて検査を行うことができるので、精度よく検査を行うことができる。
【００４２】
ここで、全体領域異物検査部は、次式（４）を用いて画像全体の異物探索演算を行うようにしてもよい。  
2008232814.tif 000007
【００４３】
本発明によれば、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の一の画素Ｒ（ｘ，ｙ）に対し異物領域探索演算を行う。すなわち、ｘ方向、ｙ方向を縦横とする方形の第三探索ユニット（Ｓ３）（ｘ方向×ｙ方向：Ｍ個×Ｍ個）内を演算範囲として、各画素の階調データと第二異物判定レベル値（ｔｈ２）との大小を比較する演算を行い、第二異物判定レベル値（ｔｈ２）以下の画素の数を算出する。算出された画素の数が、画素数閾値（ＭＳ３）以下であるときに、一の画素Ｒ（ｘ，ｙ）は異物領域を構成する画素（画素Ｒ（ｘ，ｙ）の二値化データが「１」）と判定し、それ以外は異物を構成しない画素（画素Ｒ（ｘ，ｙ）の二値化データが「０」）と判定する。このような異物領域探索演算を、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全領域の画素にわたって実行し、少なくとも１つの画素が異物領域を構成する画素であるとき、すなわちＭ２の値が「０」以外であるとき、異物ありと判定する。
これにより、方形の第三探索ユニット（Ｓ３）を用いた簡単な計算により、異物領域の有無についての判定を行うことができる。
【００４４】
また、上記発明において、画素の二次元形状の集合からなる第四の塊領域を、副内容物の欠落を判定するための演算に用いる欠落判定閾値（Ｓ４）として設定する欠落判定閾値設定部と、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）に映る副内容物の本体領域と欠落判定閾値（Ｓ４）とに基づいて、被検査物中の副内容物の有無を判定する副内容物欠落検査部とをさらに備えてもよい。
【００４５】
ここで、欠落判定閾値（Ｓ４）は、副内容物の本体領域として抽出された領域と比較される閾値であり、具体的には副内容物の本体領域として抽出されうる領域よりもひと回り小さな領域（画素集合）が設定される。
本発明によれば、副内容物欠落検査部が、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）に映る副内容物の本体領域と欠落判定閾値（Ｓ４）との領域を比較することにより、その本体領域が欠落判定閾値（Ｓ４）より小さな領域であるとき、あるいは本体領域がないときに、被検査物中に副内容物が欠落していると判定する。また、欠落判定閾値（Ｓ４）より大きな領域が複数存在するときに、副内容物が余分に含まれていると判定する。
これにより、本来存在するはずの副内容物が不足していたり、多すぎたりする被検査物を見つけることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４６】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。
以下の実施形態では、被検査物には内容物（主内容物）と添付品（副内容物）とが含まれるものとする。そして、例外的に添付品が欠落した不良品が存在する。また、内容物に異物が含まれていないものが良品であり、例外的に異物が混入したものが不良品となる。
【００４７】
（装置構成）
図１は、本発明の一実施形態であるＸ線異物検査装置の外観を示す斜視図であり、図２は、Ｘ線異物検査装置の一部の構成を示す概略ブロック図である。
Ｘ線異物検査装置８０は、本体７０と、入口ベルトコンベア６０と、出口ベルトコンベア５０と、Ｘ線異物検査装置８０全体の制御を行う制御系（コンピュータ）２０とにより構成される。
入口ベルトコンベア６０は、本体７０の入口部６ａに設けられるとともに、出口ベルトコンベア５０は、本体７０の出口部６ｂに設けられる。
【００４８】
本体７０は、入口部６ａと出口部６ｂとを有する防護箱６と、Ｘ線を発生するＸ線管１と、Ｘ線管１からのＸ線を検出するＸ線検出器３と、Ｘ線管１とＸ線検出器３との間を被検査物７が通過するように被検査物７を搬送するためのベルトコンベア（搬送機構）５と、ベルトコンベア５を駆動する駆動機構（図示せず）とを備える。
【００４９】
防護箱６は、全体の構造を支えるフレームであり、入口部６ａから被検査物７を入れるとともに、出口部６ｂから被検査物７を出すものである。また、防護箱６の内部から有害な量のＸ線が防護箱６の外部に漏洩しないように、放射線遮蔽材料を用いて形成されている。さらに、入口部６ａと出口部６ｂとには、防護箱６の内部から有害な量のＸ線が防護箱６の外部に漏洩しないように、防護のれん８が下げられている。
【００５０】
ベルトコンベア５は、一対のローラ５ａの間に掛け回された搬送ベルト５ｂを有する。そして、上側の搬送ベルト５ｂの上面に、被検査物７が載置される。駆動機構でいずれかのローラ５ａが駆動することにより、搬送ベルト５ｂが循環して移動して、被検査物７が、入口部６ａから出口部６ｂに移動することになる。
【００５１】
駆動機構は、例えば、回転駆動用モータを有する。なお、駆動機構の制御は、後述する搬送機構制御部３４から出力された駆動信号が与えられることによって実行される。
【００５２】
Ｘ線管１は、防護箱６の上部に配置され、防護箱６の下部に配置されるＸ線検出器３に向けてＸ線を照射するものである。このとき、発生させたＸ線を、コリメータ（図示せず）を用いて、ベルトコンベア５が移動させる被検査物７の移動方向と直交するように、扇状に広がるＸ線ビームとして形成する。
【００５３】
図３は、Ｘ線検出器の平面図であり、図４は、図３に示すＡ−Ａ線の断面図である。Ｘ線検出器３は、Ｘ線を光に変換する蛍光体９１と光ダイオード列９２と支持体９３とからなる。また、Ｘ線検出器３は、上側になっている搬送ベルト５ｂの下方に配置されるとともに、下側になっている搬送ベルト５ｂの上方に配置される。光ダイオード列９２は、１画素（１ｃｈ）を構成する光ダイオード（９２ａ、９２ｂ、・・）を多数個（例えば、２５６個）直線状に並べてなるものであって、蛍光体９１からの光を信号（検出信号）に変換するものである。この信号が、コンピュータ２０に出力される。
このとき、Ｘ線検出器３は、Ｘ線管からの扇状に広がるＸ線ビームを検出できるように、ベルトコンベア５が移動させる被検査物７の移動方向と直交するように配置されている。
【００５４】
コンピュータ２０は、ハードウェアとして、各種機能を実現するための制御を行うＣＰＵ２１、入力装置であるキーボード２２ａやマウス２２ｂ、モニタ画面２３ａを有する表示装置２３、メモリ２５（ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等）を備える。
【００５５】
ＣＰＵ２１が処理する機能を説明するため、機能ごとにブロック化して説明すると、設定部３１と、Ｘ線透過像データ記憶制御部３２と、Ｘ線透過像データ表示部３３と、搬送機構制御部３４と、二値化画像抽出部３５と、副内容物本体領域抽出部３６と、拡大副内容物領域抽出部３７と、拡大副内容物領域外検査部３８と、全体領域検査部３９と、副内容物欠落検査部４０とを有する。
【００５６】
また、メモリ２５は、設定データを記憶する設定データ記憶領域４１と、Ｘ線検出器３により取得された検出信号に基づいて作成されたＸ線透視画像（Ｘ線透過像データＡ）を記憶する検出信号記憶領域４２、Ｘ線透視画像（Ｘ線透過像データＡ）から作成される各種画像（後述する二値化画像Ｂ１、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３）を記憶する画像記憶領域４３とを有する。
設定データ記憶領域４１には、内容物レベル閾値（ｔｈ）、第一探索ユニット（Ｓ１）、第二探索ユニット（Ｓ２）、第三探索ユニット（Ｓ３）、欠落判定閾値（Ｓ４）、第一異物判定レベル値（ｔｈ１）、第二異物判定レベル値（ｔｈ２）、画素数閾値（ＭＳ３）の設定値が記憶されており、必要に応じて設定値を変更することにより、変更後の設定値が記憶されるようにしてある。
【００５７】
これら設定データの具体的な設定内容について説明する。図５は、設定データを入力（設定変更）したり確認したりするために、画像表示される入力用モニタ画面２３ａの一例を示す図である。また、図６は画像表示されるＸ線透視画像の一例を示す模式図である。
なお、入力用モニタ画面では、操作者が設定データを入力しやすくするために、設定データ名を操作者にわかり易い表現に代えているものがある。そのため、入力用モニタ画面に表示される設定データ名と設定データ記憶領域４１の設定データ名とが異なるデータについては、対応を付けながら、設定データ記憶領域４１に記憶される設定内容を説明する。
説明の便宜上、正常な被検査物７は、内容物と、包装袋に封入された脱酸素剤である１個の添付品とから構成されるものとする。そして、Ｘ線透視画像に映し出された内容物の階調レベルは１５０とする。また、脱酸素剤の階調レベルは４０であり、大きさが６０×６０であるとする。
【００５８】
「内容物レベル閾値（ｔｈ）」は、内容物８１（階調レベル：１５０）を示す階調データと、添付品８２（階調レベル：４０）や異物８３を示す階調データとを分割する二値化の演算に用いる閾値であり、Ｘ線透視画像から、二値化画像Ｂ１を抽出する際の閾値である。具体的には、内容物の階調レベル「１５０」と添付品部分の階調レベル「４０」との中間の階調レベル、例えば、階調レベル「５０」が設定される。
【００５９】
「演算範囲（Ｓ１）」は、第一探索ユニット（Ｓ１）を設定する。この第一探索ユニット（Ｓ１）は、画素の二次元形状の集合で形成される範囲である。上述した二値化画像Ｂ１を用いて副内容物本体領域を抽出する「本体領域探索演算」を行う際の演算範囲であり、演算の際に、小さい異物８３や、添付品８２である脱酸素剤の突起部分８２ｂの影響を除外するための設定データである。ここでは、正方形の画素集合を設定するものとする。例えば、「１０」と入力すると、「１０×１０」と設定され、１００個の正方形の画素集合（ｘ方向×ｙ方向：１０個×１０個）が設定される。
【００６０】
内容物レベル閾値（ｔｈ）を用いた二値化演算と、第一探索ユニット（Ｓ１）を用いた本体領域探索演算の結果、添付品８２である脱酸素剤（副内容物）の本体部分８２ａ（正確には本体部分８２ａの周辺を除いた中央部分）を抽出した副内容物本体領域抽出画像Ｂ２が作成されることになる。
【００６１】
「拡大範囲  横（ｋｘ）、縦（ｋｙ）」は、第二探索ユニット（Ｓ２）を設定する。この第二探索ユニット（Ｓ２）は、上述した第一探索ユニット（Ｓ１）よりも大きな画素の二次元形状の集合で形成される範囲である。これは、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２を用いて、添付品８２全体（本体部分８２ａおよび突起部分８２ｂ）を覆った拡大副内容物領域（８２’）を抽出した拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３を求める「拡大副内容物領域探索演算」を行う際の演算範囲を設定する設定データである。ここでは拡大範囲を縦、横で個別に調整できるようにするため、２つの値を設定するものとする。例えば、「１６」と「１６」とを設定すると、「横×縦：１６×１６」と設定され、２５６個の画素集合が設定される。
【００６２】
「添付品範囲（Ｓ４）」は欠落判定閾値（Ｓ４）を設定する。欠落判定閾値（Ｓ４）は、画素の二次元集合からなり、被検査物７中の添付品８２の有無を判定するための閾値であり、後述する「添付品モード」で、添付品８２の有無を判定する演算に用いる閾値である。副内容物（大きさ：６０×６０）の大きさよりも、ひと回り小さな値、例えば「５０×５０」とされる。
【００６３】
「第一異物判定レベル値（ｔｈ１）」は、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３上で、添付品８２全体（本体部分８２ａおよび突起部分８２ｂ）を覆った拡大副内容物領域外に対して異物検査を行う（「検査モード１」という）ときの階調レベルの閾値であり、例えば、階調レベル「１００」が設定される。これにより、後述する検査モード１で拡大副内容物領域外における異物８３の有無の判定が行われる。
【００６４】
「第二異物判定レベル値（ｔｈ２）」は、Ｘ線透視画像の全領域上で、異物検査を行う（「検査モード２」という）ときの階調レベルの閾値であり、例えば階調レベル「３０」が設定される。これにより、後述する検査モード２で、全領域における異物８３の有無の判定が行われ、特に内容物８１に添付品８２が重なった重なり領域についての異物８３の有無の判定が行われる。
【００６５】
「画素数範囲（ＭＳ３／Ｓ３）」は、第三探索ユニット（Ｓ３）と画素数閾値（ＭＳ３）とを設定する。
第三探索ユニットＳ３は、画素の二次元形状の集合で形成される範囲である。第三探索ユニット（Ｓ３）は、後述する「検査モード２」で異物領域を抽出するための演算において、画像に含まれる小さなノイズの影響を除外するために用いる演算範囲である。ここでは、「７×７」の正方形の画素集合（合計「４９」）が設定されているものとする。また、この設定は固定値とする（設定可能にしてもよいが、画素数閾値（ＭＳ３）の設定で足りるため固定値としている）。
画素数閾値（ＭＳ３）は、第三探索ユニット（Ｓ３）に含まれる画素の全数（すなわち「４９」）に対する個数として設定される閾値である。例えば画素数閾値を「２０」と設定すると、第三探索ユニットが「４９」と設定されている場合には、「２０／４９」が異物領域か否かの判定基準となる。後述する検査モード２で、異物８３の有無を判定が行われるときに用いられる。
【００６６】
次に、ＣＰＵの各機能ブロックについて説明する。
設定部３１は、図５に示した入力用モニタ画面を用いて、上述した各種の設定データの初期設定値を表示するとともに、操作者に入力や変更を促し、最終的に設定されたデータを設定データ記憶領域４１に記憶する制御を行う。
【００６７】
Ｘ線透過像データ記憶制御部３２は、Ｘ線検出器１からの信号（Ｘ線透過像データＡ）を取得して、取得した時間ｔとともに信号を検出信号記憶領域４２に記憶する制御を行う。
【００６８】
Ｘ線透過像データ表示部３３は、Ｘ線透過像データＡに基づいて、モニタ画面２３ａにＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の画像表示を行う制御を行う。なお、Ｘ線透過像データＡは、ある瞬間の一次元的なデータであるので、Ｘ線透過像データＡを時間軸に沿って並べることにより、被検査物７の二次元的なＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）が得られる。このとき、被検査物７中に異物８３が存在し、異物８３のＸ線透過量が被検査物７自体のＸ線透過量と異なれば、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）に異物８３が陰として表れることになる。
なお、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）において、２次元ｘｙ座標系が設定されるが、１画素（１ｃｈ）を順番に並べたものをｘ軸（０ｃｈ〜２５５ｃｈ）とし、時間軸がｙ軸方向とするように定義するようにしてある。ｙ方向は被検査物の長さにより、変化するようにすればよいが、ここでは、説明の便宜上、ｙ軸も（０ｃｈ〜２５５ｃｈ）であるとする。
【００６９】
搬送機構制御部３４は、キーボード２２ａやマウス２２ｂの種々の操作によって入力される入力信号を受信することによって、ベルトコンベア５を駆動する駆動信号を駆動機構に出力する制御を行う。
【００７０】
二値化画像抽出部３５は、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）に対し、内容物レベル閾値（ｔｈ）に基づいて二値化した二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）を作成する制御を行う。
具体的には、式（５）を用いてＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の各画素の二値化を行い、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）を抽出する。
【００７１】
二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）は、「１」の画素が階調レベル０（暗）で表示され、「０」の画素が階調レベル２５５（明）で表示されるものとする。
【００７２】
副内容物本体領域抽出部３６は、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）において、一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）を中心にして、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を取り囲むように第一探索ユニット（Ｓ１）を設定し、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を含む第一探索ユニット（Ｓ１）内の全画素の二値化データが「１」（すなわち階調レベル０（暗））であることを条件として、一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）が副内容物の本体領域を構成する画素であると判定する本体領域探索演算を行う。
【００７３】
そして、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）上の全画素（あるいはＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）上の全画素）に対して、本体領域探索演算を行うことにより、副内容物の本体領域を抽出した副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）を作成する制御を行う。
具体的には、式（１）を用いて本体領域探索演算を行う。
【００７４】
作成された副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）は、「１」の画素が階調レベル０（暗）で表示され、「０」の画素が階調レベル２５５（明）で表示されるものとする。
これにより、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）上において、添付品である副内容物の本体領域（添付品の中央部分）が黒く表示され、それ以外が白く表示される。
（なお、上述した二値化の演算から本体領域探索演算までの演算は、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）において、一の画素Ｐ（ｘ，ｙ）を中心にして、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を取り囲むように第一探索ユニット（Ｓ１）を設定し、画素Ｐ（ｘ，ｙ）を含む第一探索ユニット（Ｓ１）内の全画素の階調データが内容物レベル閾値（ｔｈ）以下であることを条件として画素Ｐ（ｘ，ｙ）を副内容物の本体領域を構成する画素と判定する本体領域探索演算を行うことと実質的に同じである。）
【００７５】
拡大副内容物領域袖出部３７は、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）において、一の画素Ｑ（ｘ，ｙ）を中心にして、画素Ｑ（ｘ，ｙ）を取り囲むように第二探索ユニット（Ｓ２）を設定し、画素Ｑ（ｘ，ｙ）を含む第二探索ユニット（Ｓ２）内の全画素の二値化データのうち、いずれか１つが「１」（すなわち階調レベル０（暗））であることを条件として、一の画素Ｑ（ｘ，ｙ）が拡大副内容物領域を構成する画素であると判定する拡大副内容物領域探索演算を行う。
【００７６】
そして、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）上の全画素に対して、拡大副内容物領域探索演算を行うことにより、拡大副内容物領域を抽出した拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）を作成する。
具体的には、式（２）を用いて本体領域探索演算を行う。
【００７７】
作成された拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）は、「１」の画素が階調レベル０（暗）で表示され、「０」の画素が階調レベル２５５（明）で表示されるものとする。
これにより、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）上において、添付品である副内容物の本体部分（添付品の中央部分）および副内容物の突起部分や副内容物の周辺部分も含めた拡大副内容物領域が黒く表示され、それ以外が白く表示され、副内容物の領域全体を覆うように黒い部分（マスク領域）が形成される。
【００７８】
拡大副内容物領域外異物検査部３８は、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）の拡大副内容物領域（すなわちマスク領域）以外の領域に対応するＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の各画素を第一検査範囲として、第一検査範囲に含まれる各画素の階調データを第一異物判定レベル値（ｔｈ１）に基づいて判定することにより、異物の有無を判定する制御を行う。
具体的には、式（３）を用いて、異物の有無の判定を行う。
【００７９】
全体領域異物検査部３９は、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）において、一の画素Ｒ（ｘ，ｙ）に対し、画素Ｒ（ｘ，ｙ）を取り囲むように第三探索ユニット（Ｓ３）を設定し、画素Ｒを含む第三探索ユニット（Ｓ３）内の各画素の階調データと第二異物判定レベル値（ｔｈ２）との比較により抽出した画素の数と画素数閾値（ＮＳ３）とに基づいて、画素Ｒ（ｘ，ｙ）が異物を構成する画素であるか否かを判定する異物領域探索演算を行う。そしてＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の全画素を第二検査範囲として、第二検査範囲の各画素について異物領域探索演算を行うことにより異物の有無を判定する制御を行う。
具体的には、式（４）を用いて、異物の有無の判定を行う。
【００８０】
副内容物欠落検査部４０は、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）に映る副内容物の本体領域と欠落判定閾値（Ｓ４）とを比較することにより、その本体領域が欠落判定閾値（Ｓ４）より小さな領域であるとき、あるいは本体領域がないときに、被検査物中に副内容物が欠落していると判定する制御を行う。また、欠落判定閾値（Ｓ４）より大きな領域が複数存在するときに、副内容物が余分に含まれていると判定する制御を行う。
【００８１】
（異物検査の動作手順）
次に、Ｘ線異物検査装置８０による異物検査の動作手順について説明する。最初に異物検査の大きな流れについて説明する。図７は動作手順全体の流れを説明するフローチャートである。また、図８は、検査途中で作成される画像の模式図である。
【００８２】
最初に、ｓ１０の処理において、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）を作成する（図８（ａ））。
次に、ｓ１１の処理において、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）に基づいて、式（５）により、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）を作成する（図８（ｂ））。
次に、ｓ１２の処理において、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）に基づいて、式（１）により、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）を作成する（図８（ｃ））。
次に、ｓ１３の処理において、内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）に基づいて、式（２）により拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）を作成する（図８（ｄ））。
次に、ｓ１４において、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）に基づいて、式（３）により、拡大副内容物領域外の異物検査（検査モード１）を行う。
次に、ｓ１５において、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）に基づいて、式（４）により、全体領域の異物検査を行う。ここでは、特にｓ１４では検査していない副内容物領域の異物検査（検査モード２）を行う。
次に、ｓ１６において、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）に基づいて、副内容物の欠落の検査を行う。
【００８３】
以上が、基本的な流れであるが、検査モード選択（図示しないモード設定ボタンの操作）を行うことにより、検査モード１のみを単独で実施したり、検査モード２、あるいは副内容物の欠落検査のみを単独で実施したりするようにしてもよい。
【００８４】
次に、具体的な動作手順について説明する。図９〜図１４はＸ線透視画像の作成から異物検査を終了するまでの具体的な動作フローを示す図である。
【００８５】
まず、ステップＳ１０１の処理において、操作者のキーボード２２ａやマウス２２ｂの種々の操作によって検査開始信号が入力される。
次に、ステップＳ１０２の処理において、Ｘ線検出器３からの信号（Ｘ線透過像データＡ）を取得して、取得した時間ｔとともに、被検査物７のＸ線透視画像を作成するために必要な所定時間間隔分（例えば、被検査物７の長さ分）を検出信号記憶領域４２に記憶する。そして記憶した信号（Ｘ線透過像データＡ）をｙ方向に沿って時系列的に並べることにより、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）を作成する。
【００８６】
次に、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）を二値化した二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）を作成するため、ステップＳ１０３の処理において、一の画素Ｐ（ｘ、ｙ）を検査点Ｐとし、この検査点Ｐの位置パラメータの初期値としてｘ＝０、ｙ＝０と設定する。
次に、ステップＳ１０４の処理において、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）において、検査点Ｐ（最初は座標（０，０）の画素が検査点Ｐ）が内容物レベル閾値（ｔｈ）（階調レベル５０が設定済み）以上であるか否かを判定する。
内容物レベル閾値（ｔｈ）未満であると判定した場合には、ステップＳ１０５の処理に進むことにより、検査点Ｐ（ｘ，ｙ）の二値化画像Ｂ１（ｘ、ｙ）の値を「１」とする。
一方、内容物レベル閾値（ｔｈ）以上であると判定した場合には、ステップＳ１０６の処理に進むことにより、検査点Ｐ（ｘ，ｙ）の二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）の値を「０」とする。
【００８７】
次に、ステップＳ１０７の処理において、ｘ＝２５５（ｘ方向の最後の画素の座標）であるか否かを判定する。ｘ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ１０８の処理に進むことにより、ｘ＝ｘ＋１と記憶され、さらにステップＳ１０４の処理に戻る。つまり、ｘ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ１０４〜Ｓ１０７の処理は繰り返し実行される。
一方、ｘ＝２５５であると判定した場合には、ステップＳ１０９の処理において、ｙ＝２５５（ｙ方向の最後の画素の座標）であるか否かを判定する。ｙ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ１１０の処理に進むことにより、ｙ＝ｙ＋１と記憶され、さらにステップＳ１０４の処理に戻る。つまり、ｙ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ１０４〜Ｓ１０９の処理は繰り返し実行される。
すべての検査点Ｐでの処理が実行されると、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）のすべての画素の値（「１」または「０」）が定まることになり、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）が完成する。
【００８８】
そして、ｙ＝２５５であると判定した場合には、副内容物の本体領域を探索する「本体領域探索演算」を実行するため、ステップＳ１１１の処理において、検査点Ｐの位置パラメータの初期値としてｘ＝０、ｙ＝０を記憶する。
【００８９】
次に、ステップＳ１１２の処理において、式（１）により、二値化画像Ｂ１（ｘ，ｙ）における検査点Ｐ（ｘ＋ｉ，ｙ+ｊ）（ｉ＝０，ｊ＝０）を中心とした１０×１０の正方形の第一探索ユニット（Ｓ１）、すなわち演算範囲（ｉ＝−５〜４，ｊ＝−５〜４）で、全ての値が「１」であるか否かを判定する。
全ての値が「１」であると判定した場合には、ステップＳ１１３の処理に進むことにより、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）における検査点Ｐ（ｘ，ｙ）で値を「１」（副内容物本体領域の画素が検査点であることを示す）とする。
一方、ある値が「０」であると判定した場合には、ステップＳ１１４の処理に進むことにより、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）における検査点Ｐ（ｘ，ｙ）で値を「０」（副内容物本体領域外の画素が検査点であることを示す）とする。
【００９０】
次に、ステップＳ１１５の処理において、ｘ＝２５５であるか否かを判定する。ｘ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ１１６の処理に進むことにより、ｘ＝ｘ＋１と記憶され、さらにステップＳ１１２の処理に戻る。つまり、ｘ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ１１２〜Ｓ１１５の処理は繰り返し実行される。
一方、ｘ＝２５５であると判定した場合には、ステップＳ１１７の処理において、ｙ＝２５５であるか否かを判定する。ｙ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ１１８の処理に進むことにより、ｙ＝ｙ＋１と記憶され、さらにステップＳ１１２の処理に戻る。つまり、ｙ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ１１２〜Ｓ１１７の処理は繰り返し実行される。
すべての検査点の処理が実行されると、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）のすべての画素の値（「１」または「０」）が定まることになり、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）が完成する。
【００９１】
一方、ｙ＝２５５であると判定した場合には、拡大副内容物領域を探索する「拡大副内容物領域探索演算」を実行するため、ステップＳ１１９の処理において、検査点Ｑの位置パラメータの初期値としてｘ＝０、ｙ＝０を記憶する。
【００９２】
次に、ステップＳ１２０の処理において、式（２）により、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）における検査点Ｑ（ｘ＋ｉ，ｔ+ｊ）（ｉ＝０，ｊ＝０）を中心とした第二探索ユニット（Ｓ２）、すなわち拡大範囲ｋｘ、ｋｔ（ｉ＝−８〜７，ｊ＝−８〜７）で、いずれかひとつの値が「１」であるか否かを判定する。
いずれかひとつの値が「１」であると判定した場合には、ステップＳ１２１の処理に進むことにより、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）における検査点Ｑ（ｘ，ｙ）で値を「１」（拡大副内容物領域８２’の画素が検査点であることを示す）とする。
一方、全ての値が「０」であると判定した場合には、ステップＳ１２２の処理に進むことにより、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）における検査点Ｑ（ｘ，ｙ）で値を「０」（拡大副内容物領域８２’以外の画素が検査点であることを示す）とする。
【００９３】
次に、ステップＳ１２３の処理において、ｘ＝２５５であるか否かを判定する。ｘ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ１２４の処理に進むことにより、ｘ＝ｘ＋１と記憶され、さらにステップＳ１２０の処理に戻る。つまり、ｘ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ１２０〜Ｓ１２３の処理は繰り返し実行される。
次に、ｘ＝２５５であると判定した場合には、ステップＳ１２５の処理において、ｙ＝２５５であるか否かを判定する。ｙ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ１２６の処理に進むことにより、ｙ＝ｙ＋１と記憶され、さらにステップＳ１２０の処理に戻る。つまり、ｙ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ１２０〜Ｓ１２５の処理は繰り返し実行される。
すべての検査点の処理が実行されると、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）のすべての画素の値（「１」または「０」）が定まることになり、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）が完成する。
る。
【００９４】
ｙ＝２５５であると判定した場合には、異物判定を開始する。すなわち、ステップＳ１２７の処理において、「検査モード１」が実行される。なお、検査モード１の詳細については後述するが、拡大副内容物領域以外の画素に対して、被検査物７中の異物８３の有無が判定されることになる。
【００９５】
次に、ステップＳ１２８の処理において、「検査モード２」が実行される。なお、検査モード２の詳細についても後述するが、拡大副内容物領域を含む全領域について、被検査物７中の異物８３の有無が判定されることになる。
【００９６】
次に、ステップＳ１２９の処理において、「添付品モード」が実行される。なお、添付品モードの詳細についても後述するが、被検査物７中の添付品８２の有無が判定されることになる。
【００９７】
次に、ステップＳ１３０の処理において、操作者のキーボード２２ａやマウス２２ｂの種々の操作によって検査終了信号が入力されたか否か判定する。
検査終了信号が入力されてない場合には、さらにステップＳ１０２の処理に戻る。
一方、検査終了信号が入力された場合には、本フローチャートを終了させることになる。
【００９８】
次に、「検査モード１」の処理（ｓ１２７）について説明する。図１２は、検査モード１を説明するフローチャートである。
ここでは、拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）、第一異物判定レベル値（ｔｈ１）（階調レベル１００）に基づいて、式（３）の演算を行い、被検査物７中の異物８３の有無を判定する。
【００９９】
まず、ステップＳ２０１の処理において、検査点Ｒ（ｘ，ｙ）の位置パラメータの初期値としてｘ＝０、ｙ＝０を記憶する。
【０１００】
次に、ステップＳ２０２の処理において、検査点Ｒ（ｘ，ｙ）が拡大副内容物領域内か拡大副内容物領域外かを調べるため、検査点Ｒ（ｘ，ｙ）における拡大副内容物領域抽出画像Ｂ３（ｘ，ｙ）の値を判定する。
検査点Ｒ（ｘ，ｙ）の値が「１」であると判定した場合には、ステップＳ２０５の処理に進むことにより、Ｍ１（式（３）参照）の値に「＋０」を加算する。
一方、検査点Ｒ（ｘ，ｙ）の値が「０」であると判定した場合には、ステップＳ２０３の処理に進み、検査点Ｒ（ｘ，ｙ）におけるＸ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）の階調データが、第一異物判定レベル値（ｔｈ１）以下であるか否かを判定する。
第一異物判定レベル値（ｔｈ１）を超えていると判定した場合には、ステップＳ２０５の処理に進むことにより、Ｍ１の値に「＋０」を加算する。
一方、第一異物判定レベル値（ｔｈ１）以下であると判定した場合には、ステップＳ２０４の処理に進むことにより、Ｍ１の値に「＋１」を加算する。
【０１０１】
次に、ステップＳ２０６の処理において、ｘ＝２５５であるか否かを判定する。ｘ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ２０７の処理に進むことにより、ｘ＝ｘ＋１と記憶され、さらにステップＳ２０２の処理に戻る。つまり、ｘ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ２０２〜Ｓ２０６の処理は繰り返し実行される。
一方、ｘ＝２５５であると判定した場合には、ステップＳ２０８の処理において、ｙ＝２５５であるか否かを判定する。ｙ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ２０９の処理に進むことにより、ｙ＝ｙ＋１と記憶され、さらにステップＳ２０２の処理に戻る。つまり、ｙ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ２０２〜Ｓ２０８の処理は繰り返し実行される。
ｙ＝２５５であると判定した場合には、本フローチャートを終了させることになる。
【０１０２】
次に、「検査モード２」の処理（ｓ１２８）について説明する。図１３は、検査モード２を説明するフローチャートである。
ここでは、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）、第二異物判定レベル値（ｔｈ１）（階調レベル３０）、画素数範囲（画素数閾値（ＭＳ３）／第三探索ユニット（Ｓ３）＝２０／４９）に基づいて、式（４）の演算を行い、被検査物７中の異物８３の有無を判定する。
【０１０３】
まず、ステップＳ３０１の処理において、検査点Ｒ（ｘ，ｙ）の位置パラメータの初期値としてｘ＝０、ｙ＝０を記憶する。
次に、ステップＳ３０２の処理において、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）における検査点Ｒ（ｘ＋ｉ，ｙ+ｊ）（ｉ＝０，ｊ＝０）を中心とした４９（７×７）の画素からなる第三探索ユニット（Ｓ３）、すなわち演算範囲（ｉ＝−３〜３，ｊ＝−３〜３）の各画素のうち階調データが第二異物判定レベル値（ｔｈ２）以下である画素の数が画素数閾値（ＭＳ３）である「２０」以上であるか否かを判定する。
第二判定レベル値（ｔｈ２）以下である個数が画素数閾値（ＭＳ３）個以上であると判定した場合には、ステップＳ３０３の処理に進むことにより、Ｍ２（式（４）参照）の値に「＋１」を加算する。
一方、第二判定レベル値（ｔｈ２）以下である個数が画素数閾値（ＭＳ３）未満であると判定した場合には、ステップＳ３０４の処理に進むことにより、Ｍ２の値に「＋０」を加算する。
【０１０４】
次に、ステップＳ３０５の処理において、ｘ＝２５５であるか否かを判定する。ｘ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ３０６の処理に進むことにより、ｘ＝ｘ＋１と記憶され、さらにステップＳ３０２の処理に戻る。つまり、ｘ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ３０２〜Ｓ３０５の処理は繰り返し実行される。
一方、ｘ＝２５５であると判定した場合には、ステップＳ３０７の処理において、ｙ＝２５５であるか否かを判定する。ｙ＝２５５でないと判定した場合には、ステップＳ３０８の処理に進むことにより、ｙ＝ｙ＋１と記憶され、さらにステップＳ３０２の処理に戻る。つまり、ｙ＝２５５であると判定するときまで、ステップＳ３０２〜Ｓ３０７の処理は繰り返し実行される。
ｙ＝２５５であると判定した場合には、検査モード２による異物検査を終えるが、続いて、検査モード１と検査モード２とを含めた総合判定を行う。
【０１０５】
すなわち、ステップＳ３０９の処理において、Ｍ１＋Ｍ２＝０であるか否かを判定する。
Ｍ１＋Ｍ２＝０であると判定した場合には、ステップＳ３１０の処理に進むことにより、被検査物７中に異物が存在しないと判定する。
一方、Ｍ１＋Ｍ２＝０でないと判定した場合には、ステップＳ３１１の処理に進むことにより、被検査物７中に異物が存在すると判定する。
次に、ステップＳ３１０又はＳ３１１の処理が終了した場合には、本フローチャートを終了させることになる。
【０１０６】
次に、「添付品モード」の処理（ｓ１２９）について説明する。図１４は、添付品モードを説明するフローチャートである。
ここでは、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）、添付品範囲（Ｓ４）（５０×５０）に基づいて演算を行い、被検査物７中に添付品（副内容物）（６０×６０）が欠落していないかを判定する。
【０１０７】
まず、ステップＳ４０１の処理において、添付品判定部３９は、副内容物本体領域抽出画像Ｂ２（ｘ，ｙ）上で副内容物本体領域と判定された領域（Ｂ２（ｘ，ｙ）が「１」の領域）の範囲が、添付品範囲（Ｓ４）、すなわち欠落判定閾値（Ｓ４）以上であるか否かを判定する。
添付品範囲（Ｓ４）以上であると判定した場合には、ステップＳ４０２の処理に進むことにより、被検査物７中に添付品８２が存在すると判定する。
一方、添付品範囲（Ｓ３）未満であると判定した場合には、ステップＳ４０３の処理に進むことにより、被検査物７中に添付品８２が存在しないと判定する。
次に、ステップＳ４０２又はＳ４０３の処理が終了した場合には、本フローチャートを終了させる。
【０１０８】
以上のように、Ｘ線異物検査装置８０によれば、Ｘ線透視画像ｉｍｇ（ｘ，ｙ）において、被検査体７中の添付品８２（副内容物）に対応する領域を拡大した拡大副内容物領域８２’（マスク領域）と、拡大副内容物領域外とを分割するようにし、拡大副内容物領域外については階調レベルが大きい第一判定レベル値（ｔｈ１）（すなわち明るい階調レベル）を基準として異物８３の有無を判定するので、被検査体７中の添付品８２の位置に拘らず、添付品８２を誤って異物８３と判定するエラーを生じることなく、しかも精度よく被検査物７中の異物８３を検出することができる。
このとき、実際の副内容物よりも拡大された拡大副内容物領域８２’をマスク領域としているため、例えば、脱酸素剤が添付品であるときに脱酸素剤中の酸化鉄粉末の一部が他の酸化鉄粉末から突出した突起形状に分布されているような場合であっても、被検査体７中の添付品８２の全体を、確実に検査対象から除外することができる。
また、異物８３と重なる位置に存在する添付品８２と、それ以外の添付品８２とは、階調データ（すなわちＸ線透過量）が異なるので、第二判定レベル値（ｔｈ２）に基づいて、被検査物７中の添付品８２と重なった異物８３の有無を判定することができる。
さらに、被検査体７中の添付品８２の位置に拘らず、添付品８２の欠落を判定することができる。
【産業上の利用可能性】
【０１０９】
本発明は、生肉、魚、加工食品、医薬等の被検査物にＸ線を照射したときのＸ線透視画像から被検査物中の異物を検出するＸ線異物検査装置に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１１０】
【図１】本発明の一実施形態であるＸ線異物検査装置の外観を示す斜視図。
【図２】Ｘ線異物検査装置の一部の構成を示すブロック図。
【図３】Ｘ線検出器の平面図。
【図４】図３に示すＡ−Ａ線の断面図。
【図５】設定データを設定するために、画像表示されたモニタ画面の一例を示す図。
【図６】Ｘ線透視画像が画像表示されたモニタ画面の模式図。
【図７】異物検査の動作手順の大きな流れを示すフローチャート。
【図８】異物検査途中で作成される各画像の模式図。
【図９】異物検査の動作手順の流れの一例を示すフローチャート。
【図１０】異物検査の動作手順の流れの一例を示すフローチャート。
【図１１】異物検査の動作手順の流れの一例を示すフローチャート。
【図１２】検査モード１の動作手順を示すフローチャート。
【図１３】検査モード２の動作手順を示すフローチャート。
【図１４】添付品モードの動作手順を示すフローチャート。
【図１５】Ｘ線透視画像から副内容物本体領域抽出画面、拡大副内容物領域抽出画面を作成する状態を説明する図。
【図１６】従来の異物検査装置の構成を示す図。
【符号の説明】
【０１１１】
１：  Ｘ線源
３：  Ｘ線検出器
５：  ベルトコンベア（搬送機構）
７：  被検査物
２０：  制御系（コンピュータ）
２２：  入力装置
２３：  表示装置
２５：  メモリ（設定データ記憶部）
３１：  設定部
３５：  二値化画像抽出部
３６：  副内容物本体領域抽出部
３７：  拡大副内容物領域抽出部
３８：  拡大副内容物領域外異物検査部
３９：  全体領域異物検査部
４０：  副内容物欠落検査部
４１：  設定データ記憶領域
４２：  検出信号記憶領域
４３：  画像記憶領域
【図１】
2008232814.tif 000012
【図２】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
2008232814.tif 000022
【図１４】
2008232814.tif 000023
【図１５】
2008232814.tif 000024
【図１６】
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【図３】
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【図４】
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