(57)【要約】【課題】回路規模の増大を回避しつつ、できるだけ正確な電池残量が算出できるようにする。【解決手段】情報処理装置は、電池から電源を供給するための電源供給ラインと、前記電源供給ラインから電源の供給を受けて動作するシステム負荷と、前記電源供給ラインに設けられた抵抗性素子と、前記抵抗性素子における電圧降下量を検出するための電圧降下量検出手段と、前記電圧降下量検出手段で検出した電圧降下量を、補正係数に基づいて補正し、補正電圧降下量を算出する、補正電圧降下量算出手段と、前記補正電圧降下量をパラメータの１つとして用いて、前記電池の電池残量を判定する電池残量判定手段と、を備えて構成されている。【選択図】図１
2008232714.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電池から電源を供給するための電源供給ラインと、
前記電源供給ラインから電源の供給を受けて動作するシステム負荷と、
前記電源供給ラインに設けられた抵抗性素子と、
前記抵抗性素子における電圧降下量を検出するための電圧降下量検出手段と、
前記電圧降下量検出手段で検出した電圧降下量を、補正係数に基づいて補正し、補正電圧降下量を算出する、補正電圧降下量算出手段と、
前記補正電圧降下量をパラメータの１つとして用いて、前記電池の電池残量を判定する電池残量判定手段と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
当該情報処理装置を所定の状態に設定したテストモードで、当該情報処理装置を動作させる、テストモード実行手段と、
前記テストモードにおける前記抵抗性素子の電圧降下量の理論値と、前記テストモードで前記電圧降下量検出手段が検出した電圧降下量とに基づいて、前記補正係数を算出する、補正係数算出手段と、
をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記抵抗性素子が設けられている基板の基板温度を取得する、基板温度取得手段と、
前記テストモードにおいて、前記基板温度に対応した前記抵抗性素子の電圧降下量の理論値を保持する、理論値保持手段と、
をさらに備えてており、
前記補正係数算出手段は、前記テストモードで当該情報処理装置を動作させた際の前記基板温度を取得し、この取得した基板温度に対応した前記抵抗性素子の電圧降下量の理論値に基づいて、前記補正係数を算出する、ことを特徴とする請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記補正係数算出手段は、前記抵抗性素子の電圧降下量の理論値と、前記テストモードで前記電圧降下量検出手段が検出した電圧降下量との乖離率を、前記補正係数として算出し、
前記補正電圧降下量算出手段は、前記電圧降下量検出手段で検出した電圧降下量に、前記補正係数を乗算することにより、前記補正電圧降下量を算出する、
ことを特徴とする請求項２又は請求項３に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記テストモードは異なる条件で複数用意されており、前記補正係数算出手段は、各テストモードで算出された補正係数の平均を、前記補正係数とする、ことを特徴とする請求項２乃至請求項４のいずれかに記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記抵抗性素子はトランジスタであり、アダプタから前記電源供給ラインを介して電源の供給を受けて前記システム負荷が動作する場合には、前記電池からの前記システム負荷への電源の供給を遮断するスイッチング素子の役割を有しており、
前記電圧降下量検出手段は、前記トランジスタのオン抵抗による電圧降下量を検出する、ことを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記電池の電池電圧を取得する、電池電圧取得手段と、
前記電池の電池温度を取得する、電池温度取得手段と、
をさらに備えており、
前記電池残量判定手段は、前記補正電圧降下量とともに、前記電池電圧と前記電池温度とをパラメータとして用いて、前記電池電圧の電池残量を判定する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれかに記載の情報処理装置。
【請求項８】
電池から電源を供給するための電源供給ラインと、
前記電源供給ラインから電源の供給を受けて動作するシステム負荷と、
前記電源供給ラインに設けられた抵抗性素子と、
を有する情報処理装置における電池残量判定方法であって、
前記抵抗性素子における電圧降下量を検出するステップと、
前記検出した電圧降下量を、補正係数に基づいて補正し、補正電圧降下量を算出するステップと、
前記補正電圧降下量をパラメータの１つとして用いて、前記電池の電池残量を判定するステップと、
を備えることを特徴とする電池残量判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報処理装置、及び、電池残量判定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電池を使用した情報処理装置には様々なものがあるが、ノートパソコンや、デジタルカメラ、携帯型動画再生装置、携帯型静止画再生装置などが代表的である。このような情報処理装置では、電池残量を表示する機能を備えているものも多い。
【０００３】
このような情報処理装置のユーザにとって、情報処理装置が搭載されている電池であとどれくらい使用できるかを推測する手段として、電池残量の正確な表示は、非常に重要である。電池残量を判定する方法としては、電池から流れる電流を測定する方法（例えば、特開平５−６６２５１号公報、特開平７−２６０８３９号公報参照）がある。また、電池電圧を測定する方法（例えば、特開平６−５１８７６号公報、特開平１１−５５３７２号公報参照）においても、電池から流れる電流を１つのパラメータとして用いて、電池残量を判定する方法がある。
【特許文献１】特開平５−６６２５１号公報
【特許文献２】特開平７−２６０８３９号公報
【特許文献３】特開平６−５１８７６号公報
【特許文献４】特開平１１−５５３７２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、電池から流れる電流を測定するために、複雑な回路を追加することは、回路規模の増大を招き、好ましくない。特に、小型化を図ることが重要な携帯型の情報処理装置においては、回路規模を抑制することは極めて重要な課題である。
【０００５】
そこで本発明は、前記課題に鑑みてなされたものであり、回路規模の増大を回避しつつ、できるだけ正確な電池残量が算出できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、本発明に係る情報処理装置は、
電池から電源を供給するための電源供給ラインと、
前記電源供給ラインから電源の供給を受けて動作するシステム負荷と、
前記電源供給ラインに設けられた抵抗性素子と、
前記抵抗性素子における電圧降下量を検出するための電圧降下量検出手段と、
前記電圧降下量検出手段で検出した電圧降下量を、補正係数に基づいて補正し、補正電圧降下量を算出する、補正電圧降下量算出手段と、
前記補正電圧降下量をパラメータの１つとして用いて、前記電池の電池残量を判定する電池残量判定手段と、
を備えることを特徴とする。
【０００７】
この場合、情報処理装置は、
当該情報処理装置を所定の状態に設定したテストモードで、当該情報処理装置を動作させる、テストモード実行手段と、
前記テストモードにおける前記抵抗性素子の電圧降下量の理論値と、前記テストモードで前記電圧降下量検出手段が検出した電圧降下量とに基づいて、前記補正係数を算出する、補正係数算出手段と、
をさらに備えるようにしてもよい。
【０００８】
この場合、情報処理装置は、
前記抵抗性素子が設けられている基板の基板温度を取得する、基板温度取得手段と、
前記テストモードにおいて、前記基板温度に対応した前記抵抗性素子の電圧降下量の理論値を保持する、理論値保持手段と、
をさらに備えてており、
前記補正係数算出手段は、前記テストモードで当該情報処理装置を動作させた際の前記基板温度を取得し、この取得した基板温度に対応した前記抵抗性素子の電圧降下量の理論値に基づいて、前記補正係数を算出するようにしてもよい。
【０００９】
また、前記補正係数算出手段は、前記抵抗性素子の電圧降下量の理論値と、前記テストモードで前記電圧降下量検出手段が検出した電圧降下量との乖離率を、前記補正係数として算出し、
前記補正電圧降下量算出手段は、前記電圧降下量検出手段で検出した電圧降下量に、前記補正係数を乗算することにより、前記補正電圧降下量を算出するようにしてもよい。
【００１０】
また、前記テストモードは異なる条件で複数用意されており、前記補正係数算出手段は、各テストモードで算出された補正係数の平均を、前記補正係数とするようにしてもよい。
【００１１】
また、前記抵抗性素子はトランジスタであり、アダプタから前記電源供給ラインを介して電源の供給を受けて前記システム負荷が動作する場合には、前記電池からの前記システム負荷への電源の供給を遮断するスイッチング素子の役割を有しており、
前記電圧降下量検出手段は、前記トランジスタのオン抵抗による電圧降下量を検出するようにしてもよい。
【００１２】
また、情報処理装置は、
前記電池の電池電圧を取得する、電池電圧取得手段と、
前記電池の電池温度を取得する、電池温度取得手段と、
をさらに備えており、
前記電池残量判定手段は、前記補正電圧降下量とともに、前記電池電圧と前記電池温度とをパラメータとして用いて、前記電池電圧の電池残量を判定するようにしてもよい。
【００１３】
本発明に係る電池残量判定方法は、
電池から電源を供給するための電源供給ラインと、
前記電源供給ラインから電源の供給を受けて動作するシステム負荷と、
前記電源供給ラインに設けられた抵抗性素子と、
を有する情報処理装置における電池残量判定方法であって、
前記抵抗性素子における電圧降下量を検出するステップと、
前記検出した電圧降下量を、補正係数に基づいて補正し、補正電圧降下量を算出するステップと、
前記補正電圧降下量をパラメータの１つとして用いて、前記電池の電池残量を判定するステップと、
を備えることを特徴とする。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面を参照して、本発明の一実施形態を説明する。なお、以下に説明する実施形態は、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
【００１５】
図１は、本実施形態に係る情報処理装置１０の内部構成の一例を説明するための要部ブロック図である。この図１に示すように、情報処理装置１０は、電池２０とシステム負荷３０とを備えている。
【００１６】
電池２０は、本実施形態では、再充電可能な二次電池で構成されているが、再充電できない一次電池で構成されるようにしてもよい。また、電池２０は、情報処理装置１０から着脱可能に取り付けられていることもあり、情報処理装置１０から着脱できないように固定的に取り付けられていることもある。この電池２０は、電源供給ライン４０を介して、電源をシステム負荷３０に供給する。
【００１７】
システム負荷３０は、本実施形態における情報処理装置１０の負荷の総称である。例えば、このシステム負荷３０には、ＣＰＵ５０や、ＲＡＭ（Random Access Memory）６０、ＲＯＭ（Read Only Memory）７０、ハードディスクドライブ８０、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）８２などが含まれている。すなわち、これらＣＰＵ５０、ＲＡＭ６０、ＲＯＭ７０、ハードディスクドライブ８０、及び、ＬＣＤ８２は、電池２０から電源の供給を受けて動作する。ここで、ＲＡＭ６０は、本実施形態における揮発性記憶装置の一例であり、ＲＯＭ７０は、本実施形態における不揮発性記憶装置の一例であり、ハードディスクドライブ８０は、本実施形態における書き換え可能な不揮発性記憶装置の一例であり、ＬＣＤ８２は、本実施形態における表示画面の一例である。
【００１８】
電源供給ライン４０には、トランジスタ９０が設けられている。すなわち、電池２０とシステム負荷３０との間の電源供給ライン４０上には、トランジスタ９０が挿入されている。本実施形態では、システム負荷３０は、電池２０から電源の供給を受けて動作するとともに、家庭用のコンセントなどからアダプタを介して電源の供給を受けても動作するため、トランジスタ９０は、これら２つの電源供給を切り替えるスイッチング素子の役割を有している。本実施形態では、このトランジスタ９０は、ＰチャンネルのＦＥＴにより構成されている。
【００１９】
具体的には、ＡＣ／ＤＣ変換機能を有するアダプタであるＡＣアダプタ９２は、家庭用のコンセントなどからＡＣ電源の供給を受けて、ＤＣ電源を供給する。このＤＣ電源は充電ＩＣ９４を介して電池２０に供給され、電池２０の充電を行う。電池２０の充電が完了すると、充電ＩＣ９４は、電池２０へのＤＣ電源の供給を遮断する。また、ＡＣアダプタ９２からのＤＣ電源は、ダイオード９６を介して、システム負荷３０にも供給される。このため、システム負荷３０は、ＡＣアダプタ９２から供給されたＤＣ電源によって動作することができる。また、ＡＣアダプタ９２からＤＣ電源が供給されている場合には、スイッチング素子であるトランジスタ９０はオフ状態となる。すなわち、ＡＣアダプタ９２からシステム負荷３０に電源が供給されている場合には、トランジスタ９０をオフ状態とすることにより、電池２０からシステム負荷３０への電源の供給を遮断する。
【００２０】
このＡＣアダプタ９２は、一般に、情報処理装置１０とは別体に構成されている。このため、ＡＣアダプタ９２が情報処理装置１０に接続されていない場合には、情報処理装置１０は、電池２０から電源の供給を受けて動作する。
【００２１】
電池２０からの電源供給を受けてシステム負荷３０が動作する場合には、トランジスタ９０はオン状態となる。但し、トランジスタ９０がオン状態であっても、トランジスタ９０自体にオン抵抗が存在する。このため、電源供給ライン４０に新たに抵抗素子を挿入しなくても、トランジスタ９０におけるオン抵抗による電圧降下量を検出することが可能である。そこで、本実施形態では、このトランジスタ９０における電圧降下量を、電圧降下量検出部１００で検出する。
【００２２】
電圧降下量検出部１００には、トランジスタ９０の上流側の電圧と、下流側の電圧とが入力される。トランジスタ９０を電流が流れる際には、トランジスタ９０のオン抵抗に応じて電圧降下が生じるので、トランジスタ９０の前後の電圧を取得することにより、電圧降下量検出部１００はトランジスタ９０における電圧降下量を検出することができる。電圧降下量検出部１００が動作するのに必要な電源も、電源供給ライン４０から供給される。電圧降下量検出部１００で検出された電圧降下量は、増幅されて、電圧降下量信号として、ＣＰＵ５０に出力される。
【００２３】
ＣＰＵ５０には、アナログデジタルコンバータ５２が設けられており、電圧降下量検出部１００から出力された電圧降下量信号は、このアナログデジタルコンバータ５２に入力される。アナログデジタルコンバータ５２では、入力されたアナログ信号の電圧降下量信号をデジタル信号に変換して、ＣＰＵ５０に取り込む。
【００２４】
さらに、このアナログデジタルコンバータ５２には、電池２０から出力されたアナログ信号の電池電圧信号と電池温度信号とが入力される。すなわち、電池２０には、電池電圧検出部２２と電池温度検出部２４とが設けられている。電池電圧検出部２２は、電池２０の出力電圧を検出して、電池電圧信号としてＣＰＵ５０に出力する。電池温度検出部２４は、電池２０の温度を検出して、電池温度信号としてＣＰＵ５０に出力する。
【００２５】
また、情報処理装置１０は、基板温度検出部１１０を備えている。この基板温度検出部１１０は、トランジスタ９０が設けられている基板の温度を測定し、アナログの基板温度信号として、ＣＰＵ５０のアナログデジタルコンバータ５２に出力する。アナログデジタルコンバータ５２は、この基板温度信号をデジタル信号に変換して、ＣＰＵ５０に取り込む。
【００２６】
ところで、上述した電圧降下量検出部１００が検出する電圧降下量には、様々な誤差が含まれている。特に、トランジスタ９０のオン抵抗は個体バラツキが大きい。また、電圧降下量検出部１００における電圧増幅値の誤差や、アナログデジタルコンバータ５２の読み取り誤差なども存在する。そこで、本実施形態では、このような誤差を補正するために、補正係数を算出して、予め登録しておく。そして、電池残量を判定する際には、この補正係数を加味した上でトランジスタ９０における電圧降下量を算出し、電池残量を判定するようにしている。
【００２７】
図２は、この補正係数を算出するための補正係数算出処理の内容を説明するフローチャートを示す図である。この補正係数算出処理は、ＲＯＭ７０又はハードディスクドライブ８０に格納されている補正係数算出処理プログラムをＣＰＵ５０が読み込んで実行することにより実現される処理である。また、この補正係数算出処理は、情報処理装置１０の製造工程において、その製造工程に従事する者が情報処理装置１０に指示することにより実行される処理である。換言すれば、この補正係数算出処理は、予め、一度だけ実行される書である。
【００２８】
図２に示すように、この補正係数算出処理では、まず、情報処理装置１０は、基板温度を測定し、取得する（ステップＳ１００）。すなわち、ＣＰＵ５０は、基板温度検出部１１０からの基板温度信号に基づいて基板温度を取得する。
【００２９】
次に、情報処理装置１０は、第１のテストモードとして定められている設定条件で動作して、電圧降下量を測定し、取得する（ステップＳ１１０）。すなわち、ＣＰＵ５０は、電圧降下量検出部１００からの電圧降下量信号に基づいて電圧降下量を取得する。本実施形態においては、第１のテストモードでは、例えば、ＬＣＤ８２の輝度を最も暗くした状態で、情報処理装置１０が所定の動作をする。
【００３０】
次に、情報処理装置１０は、第２のテストモードとして定められている設定条件で動作して、電圧降下量を測定し、取得する（ステップＳ１２０）。すなわち、ＣＰＵ５０は、電圧降下量検出部１００からの電圧降下量信号に基づいて電圧降下量を取得する。本実施形態では、第２のテストモードでは、例えば、ＬＣＤ８２の輝度を最も明るくした状態で、情報処理装置１０が所定の動作をする。
【００３１】
次に、情報処理装置１０は、ステップＳ１００で取得した基板温度に基づいて、第１のテストモードと第２のテストモードにおける電圧降下量の理論値である予測理論値を算出する（ステップＳ１３０）。
【００３２】
図３は、トランジスタ９０のオン抵抗のスペック値の一例を表にして示す図である。この図３に示すように、本実施形態に係るトランジスタ９０では、各個体におけるオン抵抗の標準値は０．０３オームであり、最大値は０．０３７オームである。このため、電流１アンペアあたりの電圧降下量は、標準値で０．０３Ｖになり、最大値で０．３７Ｖになる。これを３０倍に増幅した場合、電圧降下量は、標準値で０．９Ｖになり、最大値で１．１１Ｖになる。
【００３３】
このようなオン抵抗に関するスペック値を有するトランジスタ９０を用いる場合、図４に示すような補正係数算出テーブルＴＢ１０を、情報処理装置１０に予め用意して保持させておく。例えば、本実施形態では、この補正係数算出テーブルＴＢ１０を、ＲＯＭ７０又はハードディスクドライブ８０に予め格納しておく。
【００３４】
この補正係数算出テーブルＴＢ１０では、第１のテストモード及び第２のテストモードにおける、基板温度と電圧降下量の予測理論値との対応関係が保持されている。例えば、第１のテストモードにおいて基板温度が１０℃の場合、トランジスタ９０における電圧降下量の理論値である予測理論値は、０．９１２Ｖであり、基板温度が２０℃の場合、トランジスタ９０における電圧降下量の理論値である予測理論値は、０．９６０Ｖである。これらの予測理論値は、図３に示したトランジスタ９０の標準値と、電源供給ライン４０を流れるべき電流量とに基づいて、予め算出しておくことができる。
【００３５】
ステップＳ１００で取得した基板温度が、この補正係数算出テーブルＴＢ１０にある場合には、ステップＳ１３０では、これに対応する電圧降下量の予測理論値をそのまま使うことができる。一方、ステップＳ１００で取得した基板温度が、この補正係数算出テーブルＴＢ１０にない場合には、ステップＳ１３０では、補間法により、電圧降下量の予測理論値を算出する。
【００３６】
例えば、ステップＳ１００で取得した基板温度が１５℃であった場合には、第１のテストモードでは、０．９１２＋（０．９６０−０．９１２）×（１５℃−１０℃）／（２０℃−１０℃）＝０．９３６Ｖと予測理論値を算出する。第２のテストモードでは、１．７７７＋（１．８７０−１．７７７）×（１５℃−１０℃）／（２０℃−１０℃）＝１．８２３５Ｖと予測理論値を算出する。なお、以下の説明では、ステップＳ１００で取得した基板温度が、例えば２０℃であったと仮定する。
【００３７】
次に、図２に示すように、情報処理装置１０は、電圧降下量の予測理論値と、実際に測定した電圧降下量とに基づいて、補正係数を算出する（ステップＳ１４０）。本実施形態では、第１のテストモードと第２のテストモードの２つのモードで、電圧降下量を測定しているので、２つのモードで算出された補正係数の平均により、登録する補正係数を決定する。
【００３８】
例えば、ステップＳ１１０で取得した第１のテストモードにおける電圧降下量が０．９２９Ｖであり、ステップＳ１２０で取得した第２のテストモードにおける電圧降下量が１．８２３Ｖであったとする。ステップＳ１００で取得した基板温度が２０℃であるので、電圧降下量の予測理論値は０．９６０Ｖである。第１のテストモードから算出される補正係数は、０．９２９Ｖ／０．９６０Ｖ≒０．９６８となる。また、第２のテストモードから算出される補正係数は、１．８２３Ｖ／１．８７０Ｖ≒０．９７５Ｖとなる。すなわち、電圧降下量の予測理論値と、実際に測定した電圧降下量との乖離率を、補正係数として算出する。これら第１のテストモードにおける補正係数と第２のテストモードにおける補正係数の平均をとると、０．９７２となり、これをこの情報処理装置１０の補正係数とする。
【００３９】
次に、情報処理装置１０は、ステップＳ１４０で算出された補正係数を、情報処理装置１０内に格納し、保持する（ステップＳ１５０）。この補正係数は、図５に示すような補正係数格納部２００に、格納される。この補正係数格納部２００は、ハードディスクドライブ８０に形成するようにしてもよいし、ＲＯＭ７０がＥＥＰＲＯＭなどの書き込み可能なＲＯＭで構成されている場合には、ＲＯＭ７０に形成するようにしてもよい。
【００４０】
このステップＳ１５０により、本実施形態に係る補正係数算出処理は終了する。
【００４１】
次に、この補正係数を用いて、情報処理装置１０で実行される電池残量算出処理について説明する。図６は、情報処理装置１０で実行される電池残量算出処理の内容を説明するフローチャートを示す図である。この電池残量算出処理は、ＲＯＭ７０又はハードディスクドライブ８０に格納されている電池残量算出処理プログラムをＣＰＵ５０が読み込んで実行することにより、実現される処理である。また、この電池残量算出処理は、情報処理装置１０の電源が投入された後は、所定の周期で定期的に起動されて、実行される処理である。
【００４２】
この図６に示すように、情報処理装置１０は、まず、電池電圧を取得する（ステップＳ２００）。すなわち、電池電圧検出部２２から出力された電池電圧信号に基づいて、ＣＰＵ５０が、この時点の電池電圧を取得する。
【００４３】
次に、情報処理装置１０は、電池温度を取得する（ステップＳ２１０）。すなわち、電池温度検出部２４から出力された電池温度信号に基づいて、ＣＰＵ５０が、この時点の電池温度を取得する。
【００４４】
次に、情報処理装置１０は、トランジスタ９０の電圧降下量を取得する（ステップＳ２２０）。すなわち、電圧降下量検出部１００から出力された電圧降下量信号に基づいて、ＣＰＵ５０が、トランジスタ９０におけるこの時点の電圧降下量を取得する。
【００４５】
次に、情報処理装置１０は、補正係数格納部２００から補正係数を読み出して取得する（ステップＳ２３０）。すなわち、ＲＯＭ７０又はハードディスクドライブ８０に形成された補正係数格納部２００から補正係数を読み出す。
【００４６】
次に、情報処理装置１０は、電圧降下量×補正係数を算出することにより、補正後の電圧降下量である補正電圧降下量を算出する（ステップＳ２４０）。例えば、ステップＳ２２０で取得した補正電圧降下量が１．３４Ｖであったと仮定すると、ステップＳ２３０で取得した補正係数が０．９７２であるので、補正電圧降下量は、１．３４Ｖ×０．９７２≒１．３０Ｖになる。
【００４７】
次に、情報処理装置１０は、補正電圧降下量に対応した電池残量算出テーブルを生成する（ステップＳ２５０）。図７は、本実施形態に係る電池残量算出テーブルＴＢ２０の構成の一例を示す図である。この電池残量算出テーブルＴＢ２０は、本実施形態では、ＲＯＭ７０又はハードディスクドライブ８０に予め格納されている。
【００４８】
ステップＳ２５０では、図７の電池残量算出テーブルＴＢ２０に基づいて、補正電圧降下量に対応した電池残量算出テーブルを生成する。この電池残量算出テーブルＴＢ２０においては、上段が、電池残量表示をフル（Full）からハーフ（Half）に切り替えるしきい値を示しており、中段が、電池残量表示をハーフ（Half）からロー（Low）に切り替えるしきい値を示しており、下段が、電池残量表示をロー（Low）からエンプティ（Empty）に切り替えるしきい値を示している。本実施形態では、フルは電池残量が５０％以上であることを意味しており、ハーフは電池残量が５０％から２５％の間であることを意味しており、ローは電池残量が２５％から１０％の間であることを意味しており、エンプティは電池残量が１０％以下であることを意味しているものとする。
【００４９】
上述したように、ステップＳ２４０で算出した補正電圧降下量が１．３０Ｖであるので、このステップＳ２５０では、図７の電池残量算出テーブルＴＢ２０に基づいて、補間法により、図８に示すような補正電圧降下量に対応した電池残量算出テーブルＴＢ３０を生成する。
【００５０】
すなわち、補正電圧降下量が１．０Ｖのカラムと、補正電圧降下量が１．５Ｖのカラムとの間を補間することにより、補正電圧降下量が１．３０Ｖの電池残量算出テーブルＴＢ３０を生成する。具体的には、電池温度が０度の場合に、フルからハーフに切り替える電池電圧は、３．５６７Ｖ−（３．５６７−３．４２３）×（１．３０Ｖ−１．０Ｖ）／（１．５Ｖ−１．０Ｖ）≒３．４８１Ｖとなる。このような補間法による電池電圧の計算を、上段、中段、下段のそれぞれの温度について行うことにより、１．３０Ｖに対応した電池残量算出テーブルＴＢ３０が生成される。このステップＳ２５０で生成された補正電圧降下量に対応した電池残量算出テーブルＴＢ３０は、ＲＡＭ６０又はハードディスクドライブ８０に一時的に格納される。
【００５１】
次に、図６に示すように、情報処理装置１０は、ステップＳ２５０で生成した補正電圧降下量に対応した電池残量算出テーブルＴＢ３０に基づいて、電池温度に対応した補正係数算出テーブルを生成する（ステップＳ２６０）。
【００５２】
図９は、ステップＳ２１０で取得した電池温度が３０℃の場合における、電池温度に対応した電池残量算出テーブルＴＢ４０の構成の一例を示す図である。この図９から分かるように、図８の電池残量算出テーブルＴＢ３０に基づいて、補間法により、電池温度３０℃に対応した電池残量算出テーブルＴＢ４０が生成される。
【００５３】
すなわち、電池温度が３０℃の場合における表示切り替えのしきい値は、電池温度が２５℃の電池電圧の値と、電池温度が３５℃の電池電圧の値とを、補間することにより、算出する。具体的には、電池残量をフルからハーフに切り替える電池電圧のしきい値は、３．５７９Ｖ＋（３．５９３Ｖ−３．５７９Ｖ）×（３０℃−２５℃）／（３５℃−２５℃）＝３．５８６Ｖとなる。このような補間法による電池電圧の計算を、ハーフからローに切り替える場合と、ローからエンプティに切り替える場合も同様に行うことにより、図９に示す電池温度に対応した電池残量算出テーブルＴＢ４０が生成される。このステップＳ２６０で生成された電池温度に対応した電池残量算出テーブルＴＢ４０は、ＲＡＭ６０又はハードディスクドライブ８０に一時的に格納される。
【００５４】
次に、図６に示すように、情報処理装置１０は、ステップＳ２６０で生成した電池温度に対応した電池残量算出テーブルＴＢ４０に基づいて、電池残量を判定する（ステップＳ２７０）。すなわち、ステップＳ２００で取得した電池電圧に基づいて、図９の電池温度に対応した電池残量算出テーブルＴＢ４０を検索し、電池電圧に対応する電池残量を判定する。例えば、ステップＳ２００で取得した電池電圧が３．５６Ｖであったとすると、３．５６Ｖという電池電圧は、ハーフからローに表示を切り替えるしきい値３．４９７Ｖよりも大きく、フルからハーフに表示を切り替えるしきい値３．５８６Ｖよりも小さいことから、電池残量は、ハーフであると判定される。
【００５５】
次に、図６に示すように、情報処理装置１０は、ステップＳ２７０の判定結果に基づいて、電池残量を表示する（ステップＳ２８０）。図１０は、本実施形態に係る情報処理装置１０の電池残量表示部２１０の構成の一例を示す図である。この電池残量表示部２１０は、例えば、ＬＣＤ８２の一部の領域に形成されてもよいし、情報処理装置１０に別の小型液晶表示部を設け、この小型液晶表示部に形成するようにしてもよい。
【００５６】
この図１０に示す例では、電池残量表示部２１０は、電池表示部２２０ａ、２２０ｂ、２２０ｃにより構成されている。そして、電池残量の判定結果がフルである場合には、電池表示部２２０ａ、２２０ｂ、２２０ｃが点灯する。電池残量の判定結果がハーフである場合には、電池表示部２２０ａは消灯し、電池表示部２２０ｂ、２２０ｃが点灯する。電池残量の判定結果がローである場合には、電池表示部２２０ａ、２２０ｂは消灯し、電池表示部２２０ｃが点灯する。電池残量の判定結果がエンプティである場合には、電池表示部２２０ａ、２２０ｂ、２２０ｃが一定の周期で点滅表示される。
【００５７】
このステップＳ２８０の処理により、本実施形態に係る電池残量算出処理は終了する。
【００５８】
以上のように本実施形態に係る情報処理装置１０によれば、抵抗性素子であるトランジスタ９０のオン抵抗の個体バラツキを反映した補正係数を予め算出して、情報処理装置１０に登録しておくこととし、電圧降下量検出部１００から得られた電圧降下量を、この補正係数を用いて補正することとした。そして、補正後の電圧降下量を用いて、電池残量を算出し、判定することとしたので、抵抗性素子の抵抗値の個体バラツキの影響を抑制し、正確な電池残量の表示をすることができる。
【００５９】
さらに、本実施形態では、電源供給ライン４０に通常設けられているスイッチング素子であるトランジスタ９０のオン抵抗を用いて、電圧降下量を測定することとしたので、部品点数や回路素子数の増加を回避しつつ、正確な電池残量表示を行うことができる。
【００６０】
また、補正係数を算出する際には、複数のテストモードでトランジスタ９０における電圧降下量を測定し、電圧降下量の理論値との乖離率に基づいて、複数の補正係数を算出した上で、平均を求めることにより、情報処理装置１０に登録する補正係数を決定することとした。このため、精度の高い補正係数を算出することが可能となる。
【００６１】
また、補正係数を算出する際には、トランジスタ９０が設けられている基板の基板温度を取得し、この基板温度に基づいて、補正を加えた電圧降下量の理論値に基づいて、補正係数を算出したので、精度の高い補正係数を算出することが可能となる。但し、基板温度が安定しているような場合等には、この基板温度による補正を加味せずに、電圧降下量の理論値を求めるようにすることもできる。
【００６２】
なお、本発明は上記実施形態に限定されず種々に変形可能である。例えば、上述した実施形態では、図２の補正係数算出処理は、情報処理装置１０の製造工程において実行されることとしたが、この情報処理装置１０を購入したユーザが実行するようにしてもよい。例えば、情報処理装置１０に初期設定実行ボタンを用意し、この初期設定実行ボタンが押下された場合には、図２の補正係数算出処理が自動的に実行されるようにしてもよい。
【００６３】
また、図２の補正係数算出処理では、２つのテストモードで補正係数を算出することとした、３つ、４つなど、任意の数のテストモードを用意して補正係数を算出し、補正係数の精度を向上させることが可能である。また、必ずしも複数のテストモードを用意する必要はなく、１つのテストモードを用意して、このテストモードで算出された補正係数を、そのまま情報処理装置１０に登録するようにしてもよい。
【００６４】
また、上述した実施形態では、個体バラツキの大きな抵抗性素子として、トランジスタ９０のオン抵抗を用いた例を説明したが、抵抗性素子はトランジスタのオン抵抗に限られるものではなく、ポリシリコンを用いた抵抗など、様々な抵抗性素子を用いて、本発明を実現することができる。
【００６５】
さらに、上述した実施形態では、電池残量算出テーブルＴＢ２０を予め用意し、この電池残量算出テーブルＴＢ２０に基づいて、電池残量を算出し判定することとしたが、このようなテーブルを用いるのではなく、所定の数式を用いて、電池残量を判定するようにしてもよい。
【００６６】
また、上述した実施形態では、電池残量を判定する際に、パラメータとして、電池電圧と電池温度と電圧降下量とを用いることとしたが、電圧降下量と組み合わせるパラメータは任意に選択可能である。例えば、電池電圧と電圧降下量の２つのパラメータに基づいて、電池残量を判定するようにしてもよい。更には、トランジスタ９０の電圧降下量のみに基づいて、電池残量を判定するようにしてもよい。
【００６７】
また、上述の実施形態で説明した補正係数算出処理及び電池残量算出処理については、これら各処理を実行するためのプログラムをフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc-Read Only Memory）、ＲＯＭ、メモリカード等の記録媒体に記録して、記録媒体の形で頒布することが可能である。この場合、このプログラムが記録された記録媒体を情報処理装置１０に読み込ませ、実行させることにより、上述した実施形態を実現することができる。
【００６８】
また、情報処理装置１０は、オペレーティングシステムや別のアプリケーションプログラム等の他のプログラムを備える場合がある。この場合、情報処理装置１０の備える他のプログラムを活用し、記録媒体にはその情報処理装置１０が備えるプログラムの中から、上述した実施形態と同等の処理を実現するプログラムを呼び出すような命令を記録するようにしてもよい。
【００６９】
さらに、このようなプログラムは、記録媒体の形ではなく、ネットワークを通じて搬送波として頒布することも可能である。ネットワーク上を搬送波の形で伝送されたプログラムは、情報処理装置１０に取り込まれて、このプログラムを実行することにより上述した実施形態を実現することができる。
【００７０】
また、記録媒体にプログラムを記録する際や、ネットワーク上を搬送波として伝送される際に、プログラムの暗号化や圧縮化がなされている場合がある。この場合には、これら記録媒体や搬送波からプログラムを読み込んだ情報処理装置１０は、そのプログラムの復号や伸張化を行った上で、実行する必要がある。
【００７１】
さらに、上述した実施形態では、補正係数算出処理及び電池残量算出処理はＣＰＵ５０で実行されるソフトウェアにより実現される場合を説明したが、これらの処理をＡＳＩＣ（Application Specific IC）などのハードウェアにより実現するようにしてもよく、或いは、ソフトウェアとハードウェアが協働して実現するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】図１は、本実施形態に係る情報処理装置の内部構成の一例を説明するための要部ブロック図である。
【図２】図２は、図１の情報処理装置で実行される補正係数算出処理の一例を説明するためのフローチャートを示す図である。
【図３】図３は、図１の情報処理装置の電源供給ラインに設けられているトランジスタのオン抵抗に関するスペック表の一例を示す図。
【図４】図４は、図１の情報処理装置が保持する補正係数算出テーブルの構成の一例を示す図である。
【図５】図５は、図１の情報処理装置が有する補正係数格納部の構成の一例を示す図である。
【図６】図６は、図１の情報処理装置で実行される電池残量算出処理の一例を説明するためのフローチャートを示す図である。
【図７】図７は、図１の情報処理装置が保持する電池残量算出テーブルの構成の一例を示す図である。
【図８】図８は、図７の電池残量算出テーブルから生成された、補正後の電圧降下量が１．３０Ｖの場合に対応する電池残量算出テーブルを示す図である。
【図９】図９は、図８の電池残量算出テーブルから生成された、電池温度が３０℃の場合に対応する電池残量算出テーブルを示す図である。
【図１０】図１０は、図１の情報処理装置に形成された電池残量表示部の構成の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００７３】
１０  情報処理装置
２０  電池
３０  システム負荷
４０  電源供給ライン
５０  ＣＰＵ
６０  ＲＡＭ
７０  ＲＯＭ
８０  ハードディスクドライブ
８２  ＬＣＤ
９０  トランジスタ
１００  電圧降下量検出部
１１０  基板温度検出部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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