(57)【要約】【課題】画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行うとき、画質評価演算を行う対象領域に対してシェーディング補正を効率的に行うとともに、画質評価の精度を向上させる。【解決手段】放射線画像中の画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域の周辺にある一様露光領域の画素値を用いて評価領域の画素値をシェーディング補正し、シェーディング補正した評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
１以上の画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行う方法において、
前記放射線画像中の前記画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域の周辺にある一様露光領域の画素値を用いて前記評価領域の画素値をシェーディング補正し、
シェーディング補正した前記評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行う
ことを特徴とする画質評価演算方法。
【請求項２】
前記一様露光領域は、
少なくとも前記評価領域の垂直方向の片側に、該評価領域の水平方向に少なくとも該評価領域の水平方向の幅に亘って延びた領域と、
少なくとも前記評価領域の水平方向の片側に、該評価領域の垂直方向に少なくとも該評価領域の垂直方向の幅に亘って延びた領域と
を含むものであることを特徴とする請求項１記載の画質評価演算方法。
【請求項３】
１以上の画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行う画質評価演算装置であって、
前記放射線画像中の前記画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域の周辺にある一様露光領域の画素値を用いて前記評価領域の画素値をシェーディング補正するシェーディング補正手段と、
シェーディング補正した前記評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行う画質評価演算手段と
を備えたことを特徴とする画質評価演算装置。
【請求項４】
前記一様露光領域は、
少なくとも前記評価領域の垂直方向の片側に、該評価領域の水平方向に少なくとも該評価領域の水平方向の幅に亘って延びた領域と、
少なくとも前記評価領域の水平方向の片側に、該評価領域の垂直方向に少なくとも該評価領域の垂直方向の幅に亘って延びた領域と
を含むものであることを特徴とする請求項３記載の画質評価演算装置。
【請求項５】
１以上の画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行うプログラムであって、
コンピュータに、
前記放射線画像中の前記画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域の周辺にある一様露光領域の画素値を用いて前記評価領域の画素値をシェーディング補正し、
シェーディング補正した前記評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行う
ことを実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行う画質評価演算方法および装置ならびにプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
医療診断を目的とする放射線撮影において、放射線を検出して電気信号に変換する放射線画像検出器が知られている。放射線画像検出器としては、放射線を照射するとこの放射線エネルギーの一部が蓄積され、その後可視光等の励起光を照射すると蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す蓄積性蛍光体（輝尽性蛍光体）を利用して、被写体の放射線像を一旦蓄積性蛍光体シートに記録し、この蓄積性蛍光体シートをレーザ光などの励起光で走査して輝尽発光光を生ぜしめ、その輝尽発光光を検出して上記放射線像を表す画像信号を得るＣＲ（Computed Radiography）方式の放射線画像検出器と、放射線を照射するとこの放射線エネルギーに応じた電荷を発生する固体センサーを利用して、被写体の放射線像を電荷に変換して蓄積し、その蓄積した電荷を薄膜トランジスタまたは光の照射により電荷を発生する半導体材料を利用して読み取る方式の放射線画像検出器等がある。
【０００３】
このような放射線画像検出器によって得られる放射線画像の信頼性を保障するためには、放射線画像検出器の品質を測定する必要があり、この放射線画像検出器の品質測定に使用されるものに品質管理用ファントム等がある。
【０００４】
この品質管理用ファントムは、所定の大きさ、形状、密度、組成等を有する放射線吸収率が既知の合成樹脂や金属等の部材から形成された様々な画質評価パターンを有するもので、これらの画質評価パターンは放射線画像を評価する際に用いられる複数の画質評価項目に対応している。このようなファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて所望の画質評価項目、例えば、リニアリティ、ダイナミックレンジ、鮮鋭度、コントラスト、Ｓ/Ｎ比、縮率等について評価を行うことにより、その放射線画像検出器の品質を測定することができる（たとえば特許文献１参照）。
【０００５】
ところで、放射線源の強度ムラ、放射線画像検出器の受光面位置による感度ムラ等の各種ムラによる画像情報の検出変動、いわゆるシェーディングが生じる場合、上述したファントムを用いて所望の画質評価項目について画質評価を行う際、シェーディングによる影響が画質評価結果に上乗せされるため、正確な品質測定を行う上で障害となる。
【０００６】
このようなシェーディングによる影響を除去するため、放射線画像検出器により画像全体を一様露光、いわゆるベタ露光して得られた放射線画像からシェーディングの特性を予め求めておき、このシェーディングの特性に応じてこの放射線画像検出器から得られる放射線画像からシェーディングを除く「シェーディング補正」を行うことが知られている（たとえば特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００４−２９８６１７号公報
【特許文献２】特開２００２−２０９１０４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記従来技術では、ファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価を行う際、シェーディング補正を行うためには、同一の放射線撮像装置によりその放射線画像検出器の画面全体一様露光、いわゆるベタ露光して得られた放射線画像を新たに収録する必要があるため、作業が煩雑化し、手間がかかるという問題があった。
【０００８】
本発明は、上記事情に鑑み、シェーディング補正を効率的に行うとともに、放射線撮像装置の画質評価の精度を向上させる画質評価演算方法および装置ならびにプログラムを提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の画質評価演算方法は、１以上の画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行う方法において、放射線画像中の画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域の周辺にある一様露光領域の画素値を用いて評価領域の画素値をシェーディング補正し、シェーディング補正した評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行うことを特徴とするものである。
【００１０】
上記方法において、一様露光領域は、少なくとも評価領域の垂直方向の片側に、該評価領域の水平方向に少なくとも該評価領域の水平方向の幅に亘って延びた領域と、少なくとも評価領域の水平方向の片側に、該評価領域の垂直方向に少なくとも該評価領域の垂直方向の幅に亘って延びた領域とを含むものであることが望ましい。
【００１１】
本発明の画質評価演算装置は、１以上の画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行う画質評価演算装置であって、放射線画像中の画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域の周辺にある一様露光領域の画素値を用いて評価領域の画素値をシェーディング補正するシェーディング補正手段と、シェーディング補正した評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行う画質評価演算手段とを備えたことを特徴とするものである。
【００１２】
上記装置において、少なくとも評価領域の垂直方向の片側に、該評価領域の水平方向に少なくとも該評価領域の水平方向の幅に亘って延びた領域と、少なくとも評価領域の水平方向の片側に、該評価領域の垂直方向に少なくとも該評価領域の垂直方向の幅に亘って延びた領域とを含むものであることが望ましい。
【００１３】
本発明の画質評価演算プログラムは、１以上の画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行うプログラムであって、コンピュータに、放射線画像中の画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域の周辺にある一様露光領域の画素値を用いて評価領域の画素値をシェーディング補正し、シェーディング補正した評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行うことを実行させるためのものである。
【００１４】
なお、ここで一様露光領域というのは、ファントム中の画質評価用パターンが形成されてない部分が撮影された領域、いかなる被写体も撮影されていない領域、および被写体が撮影されていても、被写体が均一な組成および厚さを有することにより、放射線画像検出器に対して一様な露光がなされる領域等を含むものである。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の画質評価演算方法および装置ならびにプログラムによれば、１以上の画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行う方法において、放射線画像中の画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域の周辺にある一様露光領域の画素値を用いて評価領域の画素値をシェーディング補正し、シェーディング補正した評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行うので、ファントムを撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行うとともに、シェーディング補正を行うことも可能であり、シェーディング補正のために改めて撮影を行い、別途の画像を収録する必要がある従来技術に比べ、シェーディング補正をより効率的に行うことができる。
【００１６】
上記方法において、一様露光領域が、少なくとも評価領域の垂直方向の片側に、該評価領域の水平方向に少なくとも評価領域の水平方向の幅に亘って延びた領域と、少なくとも評価領域の水平方向の片側に、該評価領域の垂直方向に少なくとも評価領域の垂直方向の幅に亘って延びた領域とを含むものである場合、上記評価領域の水平方向の幅に亘って延びた領域から評価領域に存在する水平方向のシェーディングの特性を検出し、上記評価領域の垂直方向の幅に亘って延びた領域から評価領域の垂直方向に存在するシェーディングの特性を検出することが可能であり、検出したシェーディングの特性を用いて、評価領域の水平方向および垂直方向に対してシェーディング補正を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、図面を参照して本発明の画質評価演算装置の実施の形態について説明する。なお、図１に示す本発明の一実施形態である画質評価演算装置１は、補助記憶装置に読み込まれた画像処理プログラムをコンピュータ（たとえばパーソナルコンピュータ等）上で実行することにより実現される。このとき、この画質評価演算プログラムは、ＣＤ−ＲＯＭ等の情報記憶媒体に記憶され、もしくはインターネット等のネットワークを介して配布され、コンピュータにインストールされる。
【００１８】
図１に示す実施の形態は、放射線を射出する放射線源３０、放射線画像の品質管理に用いられる１個以上の画質評価用パターンが形成されたファントム４０、放射線源３０から射出され、ファントム４０を透過した放射線の照射を受けることによりファントム４０の放射線画像Ｉを検出する放射線画像検出器５０、および画質評価演算装置１から構成され、画質評価演算装置１は、放射線画像Ｉ中の画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域Ｓの周辺にある一様露光領域Ｒの画素値を用いて評価領域Ｓの画素値をシェーディング補正するシェーディング補正手段１０と、シェーディング補正した評価領域Ｓの画素値を用いて画質評価演算を行う画質評価演算手段２０を備えている。
【００１９】
ファントム４０は、所定の大きさ、形状、密度、組成等を有する放射線吸収率が既知の合成樹脂や金属等の部材から形成された様々な画質評価用パターンが形成されたものであり、これらの画質評価用パターンは放射線画像の品質管理に用いられる複数の画質評価項目、例えば、リニアリティ、ダイナミックレンジ、鮮鋭度（解像度）、コントラスト、Ｓ/Ｎ比、縮率等に対応している。このようなファントム４０を放射線画像検出器５０により撮影して得られた放射線画像Ｉにおける上記画質評価用パターンが撮影された領域Ｐｎ（ｎ＝１、２、、）の画素値を用いて所望の画質評価項目について評価を行い、放射線画像検出器５０の品質を測定することができる。
【００２０】
放射線画像検出器５０は、放射線源３０から射出され、複数の画質評価用パターンが形成されたファントム４０を透過した放射線を検出することにより、ファントム４０の放射線画像Ｉを取得し、取得した放射線画像Ｉを画質評価演算装置１のシェーディング補正手段１０に出力するものである。この放射線画像検出器５０としては、放射線を照射するとこの放射線エネルギーの一部が蓄積され、その後可視光等の励起光を照射すると蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す蓄積性蛍光体（輝尽性蛍光体）を利用して、被写体の放射線像を一旦蓄積性蛍光体シートに記録し、この蓄積性蛍光体シートをレーザ光などの励起光で走査して輝尽発光光を生ぜしめ、その輝尽発光光を検出して上記放射線像を表す画像信号を得るＣＲ方式の放射線画像検出器、または放射線を照射するとこの放射線エネルギーに応じた電荷を発生する固体センサーを利用して、被写体の放射線像を電荷に変換して蓄積し、その蓄積した電荷を薄膜トランジスタまたは光の照射により電荷を発生する半導体材料を利用して読み取る方式の放射線画像検出器等を使用することができる。
【００２１】
シェーディング補正手段１０は、放射線画像検出器５０により得られた放射線画像Ｉにおいて、ファントム４０の複数の画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域Ｓの画素値を、その評価領域Ｓの周辺にある一様露光領域Ｒを用いてシェーディング補正するものである。ここで、放射線画像Ｉは、この放射線画像Ｉにおける画素値を予め対数変換することにより、ファントム４０を透過した放射線の強度比が差として表現された空間へ変換されたものを用いる。
【００２２】
シェーディング補正手段１０は、具体的には、図２に示すように、ファントム４０の画質評価用パターンのうち１つがが撮影された放射線画像Ｉ中の領域Ｐ１を含む水平方向Ｗ画素×垂直方向Ｈ画素の矩形の領域である評価領域Ｓを決定し、この評価領域Ｓの垂直方向の片側（下側）に、評価領域Ｓの水平方向に評価領域Ｓの水平方向の幅に亘って伸びた水平方向Ｗ画素×垂直方向ｈ画素の矩形の一様露光領域を参照領域Ｒ１とし、評価領域Ｓの水平方向の片側（右側）に、評価領域Ｓの垂直方向に評価領域Ｓの垂直方向の幅に亘って伸びた水平方向ｗ画素×垂直方向Ｈ画素の矩形の一様露光領域を参照領域Ｒ２とする。
【００２３】
ここで、参照領域Ｒ１は、評価領域Ｓの周辺にある一様露光領域Ｒのうち、評価領域Ｓの垂直方向の片側（下側）に、評価領域Ｓの水平方向の幅に亘って伸びた領域であり、この参照領域Ｒ１から評価領域Ｓの水平方向のシェーディング特性を取得することができる。また、参照領域Ｒ２は、評価領域Ｓの周辺にある一様露光領域Ｒのうち、評価領域Ｓの水平方向の片側（右側）に、評価領域Ｓの垂直方向の幅に亘って伸びた領域であり、この参照領域Ｒ２から評価領域Ｓの垂直方向のシェーディング特性を取得することができる。
【００２４】
以下、参照領域Ｒ１と参照領域Ｒ２を用いて評価領域Ｓの垂直方向及び水平方向に対してシェーディング補正を行う一方法について説明する。
【００２５】
まず、水平方向Ｗ画素×垂直方向ｈ画素の矩形の領域である参照領域Ｒ１において、水平方向にＷ画素分並ぶ、垂直方向に並ぶｈ個の画素毎にそれらのｈ個の画素の画素値の平均値を求め、求められた全ての平均値を構成要素とする１次元データＤ１（ｘ）、（ｘ＝１、２、・・・、Ｗ）を作成する。さらに、１次元データＤ１（ｘ）の構成要素であるＷ個の平均値をさらに平均した値を基準平均値Ａ１とする。
【００２６】
次に、下記の式（１）に示すように、評価領域Ｓの各画素Ｓ（ｘ、ｙ）の画素値から、その画素の水平方向の座標ｘに対応する１次元データＤ１（ｘ）の構成要素である各平均値を減算し、さらに基準平均値Ａ１を加算する。これにより評価領域Ｓの各画素値Ｓ（ｘ、ｙ）を水平方向に対してシェーディング補正した画素値Ｓ′（ｘ、ｙ）を算出することができる。
【００２７】
Ｓ′（ｘ、０）＝Ｓ（ｘ、０）−Ｄ１（ｘ）＋Ａ１
Ｓ′（ｘ、１）＝Ｓ（ｘ、１）−Ｄ１（ｘ）＋Ａ１
・・・                                                      （１）
Ｓ′（ｘ、Ｈ）＝Ｓ（ｘ、Ｈ）−Ｄ１（ｘ）＋Ａ１
（ｘ＝１，２、、Ｗ）
同様に、水平方向ｗ画素×垂直方向Ｈ画素の矩形の領域である参照領域Ｒ２において、垂直方向にｈ画素分並ぶ、垂直方向に並ぶｗ個の画素毎にそれらのｗ個の画素の画素値の平均値を求め、求められた全ての平均値を構成要素とする１次元データＤ２（ｙ）、（ｙ＝１、２、・・・、Ｈ）を作成する。さらに、１次元データＤ２（ｙ）の構成要素であるＨ個の平均値をさらに平均した値を基準平均値Ａ２とする。
【００２８】
次に、下記の式（２）に示すように、上述した評価領域Ｓの水平方向に対してシェーディング補正した各画素値Ｓ′（ｘ、ｙ）から、その画素の垂直方向の座標ｙに対応する１次元データＤ２（ｙ）の各平均値を減算し、さらに平均値Ａ２を加算する。これにより評価領域Ｓの水平方向に対してシェーディング補正した各画素値Ｓ′（ｘ、ｙ）を垂直方向に対してさらにシェーディング補正した画素値Ｓ″（ｘ、ｙ）を算出することができる。
【００２９】
Ｓ″（０、ｙ）＝Ｓ（０、ｙ）−Ｄ２（ｙ）＋Ａ２
Ｓ″（１、ｙ）＝Ｓ（１、ｙ）−Ｄ２（ｙ）＋Ａ２
・・・                                                      （２）
Ｓ″（Ｗ、ｙ）＝Ｓ（Ｗ、ｙ）−Ｄ２（ｙ）＋Ａ２
（ｙ＝１，２、、Ｈ）
以上の演算により、評価領域Ｓを垂直方向及び水平方向に対してシェーディング補正して得られた評価領域Ｓの画素値Ｓ″（ｘ、ｙ）は、画質評価演算手段１２に出力される。
【００３０】
なお、評価領域Ｓ、参照領域Ｒ１、および参照領域Ｒ２は、予め取得したファントム４０の形状および配置位置等の情報からそれらの領域の位置を決定したものであってもよいし、放射線画像Ｉから自動認識した画質評価用パターンが撮影された領域のうち、少なくとも１つの画質評価用パターンが撮影された領域を含むように評価領域Ｓを決定し、その評価領域Ｓの周辺にある、上記自動認識において画質評価用パターンが撮影された領域ではない領域から参照領域Ｒ１および参照領域Ｒ２を決定するようにしてもよい。
【００３１】
また、参照領域Ｒ１および参照領域Ｒ２は、画質評価用パターンが撮影された領域と所定画素以上離れた領域とすることにより、画質評価用パターンにより画素値に影響を受ける領域を除外することができる。
【００３２】
画質評価演算手段１２は、シェーディング補正手段１０によりシェーディング補正された評価領域Ｓの画素値Ｓ″（ｘ、ｙ）を用いて画質評価演算を行うものであり、ファントム４０の画質評価用パターンに対応する所望の画質評価項目、例えば、リニアリティ、ダイナミックレンジ、鮮鋭度（解像度）、コントラスト、Ｓ/Ｎ比、縮率等の評価項目毎にその評価項目に対応する評価演算を行うようになっている。例えば、図２に示す、領域Ｐ１は、複数の周波数の矩形波パターンを有する試験用部材から構成される放射線画像Ｉの鮮鋭度を測定するための画質評価用パターンが撮影された領域であり、シェーディング補正手段１０によりシェーディング補正された評価領域Ｓ中のこの領域Ｐ１の画素値を用いてＣＴＦ（Contrast Transfer Function）を計算し、これに基づいて算出した放射線画像Ｉの鮮鋭度の評価値を出力する。これにより、放射線画像検出器５０の鮮鋭度に関する品質を測定することができる。同様に、シェーディング補正手段１０によりシェーディング補正された、他の画質評価項目に対応する画質評価用パターンが撮影された領域に対しても、各領域の画素値を用いて、各画質評価項目に対応する公知の画質評価用演算方法により画質評価演算を行い、各評価項目に対する評価値を出力することができる。
【００３３】
上記構成により、放射線画像検出器５０の画質評価を行う際には、１個以上の画質評価用パターンが形成されたファントム４０を放射線画像検出器５０に配置し、放射線源３０から放射線を射出させ、放射線画像検出器５０によりファントム４０を透過した放射線を検出し、ファントム４０の放射線画像Ｉを取得する。この取得した放射線画像Ｉ中の画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域Ｓをシェーディング補正手段１０により、その評価領域Ｓの周辺にある一様露光領域のうち、評価領域Ｓの垂直方向の片側に、評価領域Ｓの水平方向に評価領域Ｓの水平方向の幅に亘って伸びた参照領域Ｒ１と、評価領域Ｓの水平方向の片側に、評価領域Ｓの垂直方向に評価領域Ｓの垂直方向の幅に亘って伸びた参照領域Ｒ２を決定し、これらの参照領域Ｒ１および参照領域Ｒ２の画素値を用いて、その評価領域Ｓの垂直方向及び水平方向に対してシェーディング補正を行う。最後にシェーディング補正した評価領域Ｓの画素値を用いて、画質評価演算手段１２により各画質評価用パターンに対応した画質評価演算を行う。
【００３４】
以上、詳細に説明したように、１以上の画質評価用パターンが形成されたファントム４０を放射線画像検出器５０により撮影して得られた放射線画像Ｉを用いて画質評価演算を行う方法において、放射線画像Ｉ中の画質評価用パターンのうち少なくとも１つが撮影された評価領域Ｓの周辺にある一様露光領域Ｒの画素値を用いて評価領域の画素値をシェーディング補正し、シェーディング補正した評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行うので、シェーディング補正のために改めて撮影を行い、別途の画像を収録する必要がある従来技術に比べ、ファントムを撮影して得られた放射線画像１枚でシェーディング補正と画質評価演算が可能であり、処理を効率的に行うことができる。また、シェーディングを除くシェーディング補正を施した画像から画質評価演算を行うことにより、放射線画像検出器の所望の画質評価項目について、より高精度な画質評価を行うことができる。
【００３５】
さらに、一様露光領域Ｒが、少なくとも評価領域Ｓの垂直方向の片側に、該評価領域Ｓの水平方向に少なくとも該評価領域Ｓの水平方向の幅に亘って延びた領域Ｒ１と、少なくとも評価領域Ｓの水平方向の片側に、該評価領域Ｓの垂直方向に少なくとも該評価領域Ｓの垂直方向の幅に亘って延びた領域Ｒ２とを含むものであるので、領域Ｒ１から評価領域Ｓに存在する水平方向のシェーディングの特性を検出し、領域Ｒ２から評価領域Ｓの垂直方向に存在するシェーディングの特性を検出することが可能であり、検出したシェーディングの特性を用いて、評価領域Ｓの水平方向および垂直方向に対してシェーディング補正を行うことができる。
【００３６】
なお、上記実施の形態では、評価領域Ｓが１個の画質評価用パターンが撮影された領域を含む領域である場合について例示しているが、複数の画質評価用パターンを含む領域であってもよい。
【００３７】
また、評価領域Ｓ、参照領域Ｒ１、および参照領域Ｒ２が矩形の領域である場合について例示しているが、これらの領域は円形、楕円形等の領域であってもよい。
【００３８】
また、上記実施の形態では、シェーディング補正手段１１が評価領域Ｓの垂直方向の片側にある領域Ｒ１および評価領域Ｓの水平方向の片側にある領域Ｒ２を用いて評価領域Ｓのシェーディング補正を行う方法について説明したが、図４に示すように、評価領域Ｓの垂直方向の両側に、それぞれ評価領域Ｓの水平方向に評価領域Ｓの水平方向の幅に亘って伸びた参照領域Ｒ３および参照領域Ｒ４と、評価領域Ｓの水平方向の両側に、それぞれ評価領域Ｓの垂直方向に評価領域Ｓの垂直方向の幅に亘って伸びた参照領域Ｒ５および参照領域Ｒ６を決定し、これらの４つの参照領域の画素値を用いて評価領域Ｓのシェーディング補正を行うようにしてもよい。
【００３９】
具体的には、水平方向ｗ１画素×垂直方向Ｈ画素の矩形の領域である参照領域Ｒ３がと、水平方向ｗ２画素×垂直方向Ｈ画素の矩形の領域である参照領域Ｒ４を水平方向に接続した水平方向ｗ画素（ｗ＝ｗ１+ｗ２）×垂直方向Ｈ画素の矩形の領域を上記実施の形態における参照領域Ｒ１とする。また、水平方向Ｗ画素×垂直方向ｈ１画素の矩形の領域である参照領域Ｒ５と、水平方向Ｗ画素×垂直方向ｈ２画素の矩形の領域である参照領域Ｒ６を垂直方向に接続した水平方向Ｗ画素×垂直方向ｈ画素（ｈ＝ｈ１+ｈ２）の矩形の領域を上記実施の形態における参照領域Ｒ２とする。そして、それらの参照領域Ｒ１及びＲ２を用いて、上記実施の形態と同様のシェーディング補正処理を行うことができる。
【００４０】
また、上記シェーディング補正手段１１によるシェーディング補正の前に参照領域Ｒ１及び参照領域Ｒ２に対して領域内の各画素周辺に一定の大きさ、例えば３×３画素、または５×５画素の画像領域（ウィンドウ）を設定し，各画素の画素値をウィンドウ内の全データの中央値に置き換える処理を行うメディアンフィルタを用いたメディアン処理を行うことにより、画像中のノイズを除去するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の画質評価演算装置の一実施形態を示す概略構成図
【図２】図１のシェーディング補正手段によるシェーディング補正処理を説明するための図
【図３】図１のシェーディング補正手段におけるシェーディング補正処理を説明するための図
【図４】シェーディング補正手段におけるシェーディング補正処理の他の実施の形態について説明するための図
【符号の説明】
【００４２】
１      画質評価演算装置
１０    シェーディング補正手段
２０    画質評価演算手段
３０    放射線源
４０    ファントム
５０    放射線画像検出器
Ｓ      評価領域
Ｒ      一様露光領域
Ｒ１、Ｒ２    参照領域
Ｐ１、Ｐ２    画像評価用パターンが撮影された領域
【図１】
2008131981.tif 000003
【図２】
2008131981.tif 000004
【図３】
2008131981.tif 000005
【図４】
2008131981.tif 000006