(57)【要約】【課題】金型の実装時においても芯出し精度が維持されるプレス金型の芯出し装置およびそれを用いたプレス金型の芯出し方法を提供する。【解決手段】上型基板Ｐ２に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部１０と、下型基板Ｄ２に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部２０とを備え、計測部１０の第１および第２計測具１２，１３により、第１および第２計測具１２，１３に対応させて被計測部２０に配設された第１および第２被計測具２２，２３の位置ずれを計測して、下型基板Ｄ２の位置ずれを算出してその位置を修正し、下型基板Ｄ２と上型基板Ｐ２との芯出しをなす。【選択図】図１
2008238196.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
上型基板に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部と、下型基板に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部とを備え、
前記計測部は、計測側基板と、該計測側基板の計測基準線上に所定間隔を設けて配設される第１および第２計測具とを備え、
前記被計測部は、被計測側基板と、該被計測側基板の被計測基準線上に前記第１および第２計測具に対応させて配設される第１および第２被計測具とを備え、
前記計測具は、計測基準軸と、該計測基準軸に回転自在に装着される保持部材と、該保持部材に探針の角度が調整自在に保持されるダイヤルゲージとを含み、
前記被計測具は、被計測基準軸を含む
ことを特徴するプレス金型の芯出し装置。
【請求項２】
下型基板に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部と、上型基板に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部とを備え、
前記計測部は、計測側基板と、該計測側基板の計測基準線上に所定間隔を設けて配設される第１および第２計測具とを備え、
前記被計測部は、被計測側基板と、該被計測側基板の被計測基準線上に前記第１および第２計測具に対応させて配設される第１および第２被計測具とを備え、
前記計測具は、計測基準軸と、該計測基準軸に回転自在に装着される保持部材と、該保持部材に探針の角度が調整自在に保持されるダイヤルゲージとを含み、
前記被計測具は、被計測基準軸を含む
ことを特徴するプレス金型の芯出し装置。
【請求項３】
上型基板に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部と、下型基板に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部と、前記芯ずれ計測部からの計測値に基づいて芯ずれを算出する演算処理装置と、該演算処理装置の算出結果を出力する出力手段とを備え、
前記計測部は、計測側基板と、該計測側基板の計測基準線上に所定間隔を設けて配設される第１および第２計測具とを備え、
前記被計測部は、被計測側基板と、該被計測側基板の被計測基準線上に前記第１および第２計測具に対応させて配設される第１および第２被計測具とを備え、
前記計測具は、計測基準軸と、該計測基準軸に回転自在に装着される保持部材と、該保持部材に保持される非接触式変位センサとを含み、
前記被計測具は、被計測基準軸を含む
ことを特徴するプレス金型の芯出し装置。
【請求項４】
下型基板に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部と、上型基板に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部と、前記芯ずれ計測部からの計測値に基づいて芯ずれを算出する演算処理装置と、該演算処理装置の算出結果を出力する出力手段とを備え、
前記計測部は、計測側基板と、該計測側基板の計測基準線上に所定間隔を設けて配設される第１および第２計測具とを備え、
前記被計測部は、被計測側基板と、該被計測側基板の被計測基準線上に前記第１および第２計測具に対応させて配設される第１および第２被計測具とを備え、
前記計測具は、計測基準軸と、該計測基準軸に回転自在に装着される保持部材と、該保持部材に保持される非接触式変位センサとを含み、
前記被計測具は、被計測基準軸を含む
ことを特徴するプレス金型の芯出し装置。
【請求項５】
計測基準軸は一端部近傍に鍔を有し、該鍔を計測側基板に当接させて当該計測側基板に嵌合され、
被計測基準軸は一端部近傍に鍔を有し、該鍔を被計測側基板に当接させて当該被計測側基板に嵌合されてなる
ことを特徴とする請求項１、２、３または４記載のプレス金型の芯出し装置。
【請求項６】
被計測基準軸の長さがパスラインを超えるようにされてなることを特徴とする請求項１、２、３、４または５記載のプレス金型の芯出し装置。
【請求項７】
請求項１、５または６に記載のプレス金型の芯出し装置を用いたプレス金型の芯出し方法であって、
芯ずれ計測部を上型基板に装着する手順と、
芯ずれ被計測部を下型基板に装着する手順と、
ダイヤルゲージの探針を被計測基準軸に当接させる手順と、
保持部材を一定方向に回転させながら前記ダイヤルゲージにより、被計測基準軸の計測基準軸からのずれを計測する手順と、
前記計測結果から下型基板の位置修正量を算出する手順と、
前記算出された位置修正量に基づいて下型基板の位置を修正し、上型基板と下型基板との芯出しをなす
ことを特徴とするプレス金型の芯出し方法。
【請求項８】
請求項２、５または６に記載のプレス金型の芯出し装置を用いたプレス金型の芯出し方法であって、
芯ずれ計測部を下型基板に装着する手順と、
芯ずれ被計測部を上型基板に装着する手順と、
ダイヤルゲージの探針を被計測基準軸に当接させる手順と、
保持部材を一定方向に回転させながら前記ダイヤルゲージにより、被計測基準軸の計測基準軸からのずれを計測する手順と、
前記計測結果から上型基板の位置修正量を算出する手順と、
前記算出された位置修正量に基づいて上型基板の位置を修正し、上型と下型との芯出しをなす
ことを特徴とするプレス金型の芯出し方法。
【請求項９】
請求項３、５または６に記載のプレス金型の芯出し装置を用いたプレス金型の芯出し方法であって、
芯ずれ計測部を上型基板に装着する手順と、
芯ずれ被計測部を下型基板に装着する手順と、
保持部材を一定方向に回転させながら非接触式変位センサにより、被計測基準軸の計測基準軸からのずれを計測する手順と、
前記計測結果から下型基板の位置修正量を算出する手順と、
前記算出された位置修正量に基づいて下型基板の位置を修正し、上型基板と下型基板との芯出しをなす
ことを特徴とするプレス金型の芯出し方法。
【請求項１０】
請求項４、５または６に記載のプレス金型の芯出し装置を用いたプレス金型の芯出し方法であって、
芯ずれ計測部を下型基板に装着する手順と、
芯ずれ被計測部を上型基板に装着する手順と、
保持部材を一定方向に回転させながら非接触式変位センサにより、被計測基準軸の計測基準軸からのずれを計測する手順と、
前記計測結果から下型基板の位置修正量を算出する手順と、
前記算出された位置修正量に基づいて上型基板の位置を修正し、上型基板と下型基板との芯出しをなす
ことを特徴とするプレス金型の芯出し方法。
【請求項１１】
探針をパスラインに位置させて計測をなすことを特徴する請求項７または８記載のプレス金型の芯出し方法。
【請求項１２】
非接触式変位センサをパスラインに位置させて計測をなすことを特徴する請求項９または１０記載のプレス金型の芯出し方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はプレス金型の芯出し装置およびそれを用いたプレス金型の芯出し方法に関する。さらに詳しくは、上下金型の位置合せを精度よく、しかも簡易になし得るプレス金型の芯出し装置およびそれを用いたプレス金型の芯出し方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、プレス加工においてはプレス成形品の精度を所望精度とするため、上下金型の中心線を一致させる、いわゆる芯出しがなされている。この芯出しは、一般的に、芯出しジグを用いてなされている。図７に、パンチプレスの芯出しに用いられている芯出しジグの一例を示す。
【０００３】
芯出しジグ１００は、図７に示すように、上部フレーム１０１のジグ用孔に装着された上部ジグ１０２および下部フレーム１０３のジグ用孔に装着された下部ジグ１０４を備えてなるものとされる。また、上部ジグ１０２の中心には、芯出し用パンチ１０５が所定の公差で嵌合される一方、下部ジグ１０４には、芯出し用ダイ１０６が所定の公差で嵌合される。
【０００４】
そして、芯出しジグ１００による芯出しは、下部フレーム１０３を適宜位置に調整して芯出し用ダイ１０６の軸心Ｃ２を芯出し用パンチ１０５の軸心Ｃ１に一致させて下部フレーム１０３の位置決めをなした後、上部ジグ１０２および下部ジグ１０４を、実際のプレスに使用するパンチガイドおよびダイホルダに交換することによりなされる。
【０００５】
しかしながら、上部ジグ１０２および下部ジグ１０４は、複数種類の金型に適用できるようにされているため、個々の金型自体の公差および当該金型と、上部ジグ１０２および下部ジグ１０４との公差の組合せによって、公差が累積され実装時においてその芯出し精度が維持できないという問題がある。
【０００６】
なお、芯出しジグ１００によらないパンチプレス金型の芯出しについては、特許文献１に提案がなされている。
【特許文献１】特開平１０−８５８６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明はかかる従来技術の課題に鑑みなされたものであって、金型の実装時においても芯出し精度が維持されるプレス金型の芯出し装置およびそれを用いたプレス金型の芯出し方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のプレス金型の芯出し装置の第１形態は、上型基板に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部と、下型基板に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部とを備え、  前記計測部は、計測側基板と、該計測側基板の計測基準線上に所定間隔を設けて配設される第１および第２計測具とを備え、前記被計測部は、被計測側基板と、該被計測側基板の被計測基準線上に前記第１および第２計測具に対応させて配設される第１および第２被計測具とを備え、前記計測具は、計測基準軸と、該計測基準軸に回転自在に装着される保持部材と、該保持部材に探針の角度が調整自在に保持されるダイヤルゲージとを含み、前記被計測具は、被計測基準軸を含むことを特徴する。
【０００９】
本発明のプレス金型の芯出し装置の第２形態は、下型基板に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部と、上型基板に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部とを備え、  前記計測部は、計測側基板と、該計測側基板の計測基準線上に所定間隔を設けて配設される第１および第２計測具とを備え、前記被計測部は、被計測側基板と、該被計測側基板の被計測基準線上に前記第１および第２計測具に対応させて配設される第１および第２被計測具とを備え、前記計測具は、計測基準軸と、該計測基準軸に回転自在に装着される保持部材と、該保持部材に探針の角度が調整自在に保持されるダイヤルゲージとを含み、前記被計測具は、被計測基準軸を含むことを特徴する。
【００１０】
本発明のプレス金型の芯出し装置の第３形態は、上型基板に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部と、下型基板に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部と、前記芯ずれ計測部からの計測値に基づいて芯ずれを算出する演算処理装置と、該演算処理装置の算出結果を出力する出力手段とを備え、前記計測部は、計測側基板と、該計測側基板の計測基準線上に所定間隔を設けて配設される第１および第２計測具とを備え、前記被計測部は、被計測側基板と、該被計測側基板の被計測基準線上に前記第１および第２計測具に対応させて配設される第１および第２被計測具とを備え、前記計測具は、計測基準軸と、該計測基準軸に回転自在に装着される保持部材と、該保持部材に保持される非接触式変位センサとを含み、前記被計測具は、被計測基準軸を含むことを特徴する。
【００１１】
本発明のプレス金型の芯出し装置の第４形態は、下型基板に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部と、上型基板に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部と、前記芯ずれ計測部からの計測値に基づいて芯ずれを算出する演算処理装置と、該演算処理装置の算出結果を出力する出力手段とを備え、前記計測部は、計測側基板と、該計測側基板の計測基準線上に所定間隔を設けて配設される第１および第２計測具とを備え、前記被計測部は、被計測側基板と、該被計測側基板の被計測基準線上に前記第１および第２計測具に対応させて配設される第１および第２被計測具とを備え、前記計測具は、計測基準軸と、該計測基準軸に回転自在に装着される保持部材と、該保持部材に保持される非接触式変位センサとを含み、前記被計測具は、被計測基準軸を含むことを特徴する。
【００１２】
本発明のプレス金型の芯出し装置においては、計測基準軸は一端部近傍に鍔を有し、該鍔を計測側基板に当接させて当該計測側基板に嵌合され、被計測基準軸は一端部近傍に鍔を有し、該鍔を被計測側基板に当接させて当該被計測側基板に嵌合されてなるのが好ましい。
【００１３】
また、本発明のプレス金型の芯出し装置においては、被計測基準軸の長さがパスラインを超えるようにされてなるのが好ましい。
【００１４】
本発明のプレス金型の芯出し方法の第１形態は、前記第１形態のプレス金型の芯出し装置を用いたプレス金型の芯出し方法であって、芯ずれ計測部を上型基板に装着する手順と、  芯ずれ被計測部を下型基板に装着する手順と、ダイヤルゲージの探針を被計測基準軸に当接させる手順と、保持部材を一定方向に回転させながら前記ダイヤルゲージにより、被計測基準軸の計測基準軸からのずれを計測する手順と、前記計測結果から下型基板の位置修正量を算出する手順と、前記算出された位置修正量に基づいて下型基板の位置を修正し、上型基板と下型基板との芯出しをなすことを特徴とする。
【００１５】
本発明のプレス金型の芯出し方法の第２形態は、前記第２形態のプレス金型の芯出し装置を用いたプレス金型の芯出し方法であって、芯ずれ計測部を下型基板に装着する手順と、  芯ずれ被計測部を上型基板に装着する手順と、ダイヤルゲージの探針を被計測基準軸に当接させる手順と、保持部材を一定方向に回転させながら前記ダイヤルゲージにより、被計測基準軸の計測基準軸からのずれを計測する手順と、前記計測結果から上型基板の位置修正量を算出する手順と、前記算出された位置修正量に基づいて上型基板の位置を修正し、上型と下型との芯出しをなすことを特徴とする。
【００１６】
本発明のプレス金型の芯出し方法の第３形態は、前記第３形態のプレス金型の芯出し装置を用いたプレス金型の芯出し方法であって、芯ずれ計測部を上型基板に装着する手順と、  芯ずれ被計測部を下型基板に装着する手順と、保持部材を一定方向に回転させながら非接触式変位センサにより、被計測基準軸の計測基準軸からのずれを計測する手順と、前記計測結果から下型基板の位置修正量を算出する手順と、前記算出された位置修正量に基づいて下型基板の位置を修正し、上型基板と下型基板との芯出しをなすことを特徴とする。
【００１７】
本発明のプレス金型の芯出し方法の第４形態は、前記第４形態のプレス金型の芯出し装置を用いたプレス金型の芯出し方法であって、芯ずれ計測部を下型基板に装着する手順と、  芯ずれ被計測部を上型基板に装着する手順と、保持部材を一定方向に回転させながら非接触式変位センサにより、被計測基準軸の計測基準軸からのずれを計測する手順と、前記計測結果から下型基板の位置修正量を算出する手順と、前記算出された位置修正量に基づいて上型基板の位置を修正し、上型基板と下型基板との芯出しをなすことを特徴とする。
【００１８】
本発明のプレス金型の芯出し方法の第１および第２形態においては、探針をパスラインに位置させて計測をなすのが好ましい。
【００１９】
本発明のプレス金型の芯出し方法の第３および第４形態においては、非接触式変位センサをパスラインに位置させて計測をなすのが好ましい。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、上型基板と下型基板との芯出しを精度よくしかも簡易になし得るという優れた効果が得られる。また、上型基板と下型基板との芯出しがなされているので、上金型および下金型が交換されても、そのつど芯出しをなす必要がなくなりリードタイムを著しく短縮できるという優れた効果も得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、添付図面を参照しながら本発明を実施形態に基づいて説明するが、本発明はかかる実施形態のみに限定されるものではない。
【００２２】
実施形態１
本発明の実施形態１に係るプレス金型の芯出し装置を、図１および図２に示す。図１は正面概略図を示し、図２はその拡大側面図を示す。
【００２３】
プレス金型の芯出し装置（以下、単に芯出し装置という）Ａは、図１および図２に示すように、上型ホルダＰ１上の上型基板Ｐ２に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部（以下、単に計測部という）１０と、下型ホルダＤ１上の下型基板Ｄ２に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部（以下、単に被計測部という）２０とを備えてなるものとされる。
【００２４】
計測部１０は、計測側基板１１と、計測側基板１１の計測基準線（例えば中心線）上に所定間隔を設けて配設される同一構造とされた第１計測具１２（３０）および第２計測具１３（３０）とを備えてなるものとされる。
【００２５】
計測具３０は、計測側基板１１に装着される側の端部つまり上端部近傍に鍔３２が形成された計測基準軸３１と、計測基準軸３１の他端部つまり下端部近傍に回転自在に装着された保持部材３３と、保持部材３３の外周部に探針３４ａを内側下方に向け、適宜手段を介して傾斜角調整自在に保持されたダイヤルゲージ３４とを備えてなるものとされる。
【００２６】
ここで、計測基準軸３１の上端部の鍔３２上面からの突出長さは、計測側基板１１の厚みより短くされている。そのため、計測基準軸３１を計測側基板１１に垂設した際に、計測基準軸３１の上端が計測側基板１１から突出することはない。また、計測基準軸３１の長さは、ダイヤルゲージ３４の探針３４ａ先端がパスラインＬに位置できるに足り、かつその下端が後述する被計測軸の先端、つまり上端と干渉しないように調整されている。
【００２７】
また、保持部材３３によるダイヤルゲージ３４の保持は、例えば、ダイヤルゲージ３４の後部に角度調整自在に設けられた被保持部材３４ｂを、保持部材３３の外周部に設けられた保持孔３３ａに嵌合させることによりなされる。
【００２８】
なお、図中の符号３５は、保持部材３３を計測基準軸３１の周りで回転自在とするための軸受を示す。
【００２９】
しかして、計測基準軸３１は、鍔３２から突出している上端部が計測側基板１１に設けられている装着孔１１ａに嵌合され、かつ鍔３２が計測側基板１１にボルト留めされて計測側基板１１に垂設され、それにより計測具３０が計測側基板１１の基準線上に配設される。
【００３０】
被計測部２０は、被計測側基板２１と、被計測側基板２１の被計測基準線（例えば中心線）上に前記所定間隔を設けて配設される同一構造とされた第１被計測具２２（４０）および第２被計測具２３（４０）とを備えてなるものとされる。
【００３１】
被計測具４０は、具体的には下端部近傍に鍔４２が形成された被計測軸４１とされる。
【００３２】
ここで、被計測軸４１の被計測側基板２１に装着される側の端部つまり下端部の鍔４２下面からの突出長さは、被計測側基板２１の厚みより短くされている。そのため、被計測軸４１を被計測側基板２１に垂設した際に、被計測軸４１の下端が被計測側基板２１から突出することはない。また、被計測軸４１の長さは、その上端がパスラインＬを超えるよう調整されている。
【００３３】
しかして、被計測軸４１が、鍔４２から突出している下端部が被計測側基板２１に設けられている装着孔２１ａに嵌合され、かつ鍔４２が被計測側基板２１にボルト留めされて被計測側基板２１に垂設され、それにより被計測具４０が被計測側基板２１の基準軸上に配設される。
【００３４】
次に、かかる構成とされた芯出し装置Ａによる芯出しについて説明する。
【００３５】
手順１：計測部１０を、第１被計測具１２および第２被計測具１３を下方に向けて上型基板Ｐ２に装着する一方、被計測部２０を第１被計測具２２および第２被計測具２３をそれぞれ第１計測具１２および第２計測具１３に対応させた状態で下型基板Ｄ２に装着する。
【００３６】
手順２：第１計測具１２および第２計測具１３のそれぞれのダイヤルゲージ３４の探針３４ａをパスラインＬに位置させた状態で、第１被計測具２２および第２被計測具２３に当接させる。
【００３７】
手順３：第１計測具１２および第２計測具１３のそれぞれのダイヤルゲージ３４の探針３４ａを第１被計測具２２および第２被計測具２３に当接させた状態で、保持部材３３，３３を一定方向、例えば時計回り方向に回転させて第１被計測具２２および第２被計測具２３のそれぞれの芯ずれを数点計測する。例えば、９０度あるいは１２０度間隔で計測する。
【００３８】
手順４：計測結果から、例えば第１被計測軸４１の第１計測基準軸３１からの位置ずれ、および被計測基準線の計測基準線からのずれを算出する。これらの算出は、公知の演算処理方法により簡単になされる。
【００３９】
手順５：第１被計測軸４１の第１計測基準軸３１からの位置ずれ、および被計測基準線の計測基準線からのずれに基づいて、下型基板Ｄ２の位置修正量を算出する。この算出も公知の演算処理方法により簡単になされる。
【００４０】
手順６：前記位置修正量に基づいて、下型基板Ｄ２の位置を修正する。つまり、上型基板Ｐ２と下型基板Ｄ２との芯出しをなす。
【００４１】
このように、この実施形態１においては、上金型つまりパンチが実装される上型基板Ｐ２と、下金型つまりダイが実装される下型基板Ｄ２との芯出しがなされているので、上金型および下金型が交換されても、そのつど芯出しをなす必要がなくなりリードタイムを著しく短縮できる。
【００４２】
実施形態２
本発明の実施形態２に係るプレス金型の芯出し装置を、図３〜図５に示す。図３は概略図を示し、図４は計測部の拡大側面図を示し、図５にブロック図で示す。なお、図３〜図５において、図１および図２と同一の符号は、同一または類似の構成要素を示す。
【００４３】
プレス金型の芯出し装置（以下、単に芯出し装置という）Ａ１は、図３〜図５に示すように、上型ホルダＰ１上の上型基板Ｐ２に装着されて芯ずれを計測する芯ずれ計測部（以下、単に計測部という）１０Ａと、下型ホルダＤ１上の下型基板Ｄ２に装着されて芯ずれが計測される芯ずれ被計測部（以下、単に被計測部という）２０と、計測部１０Ａからの計測値を演算処理して芯ずれを算出する演算処理装置５０と、演算処理装置５０からの算出値を出力する出力装置６０とを備えてなるものとされる。
【００４４】
計測部１０Ａは、計測側基板１１と、計測側基板１１の計測基準線（例えば中心線）上に所定間隔を設けて配設される同一構造とされた第１計測具１６（７０）および第２計測具１７（７０）とを備えてなるものとされる。
【００４５】
計測具７０は、計測側基板１１に装着される側の端部つまり上端部近傍に鍔７２が形成された計測基準軸７１と、計測基準軸７１の他端部つまり下端部近傍に回転自在に装着された保持部材７３と、保持部材７３の外周部に適宜手段を介して傾斜角調整自在に保持された非接触式変位センサ７４とを備えてなるものとされる。
【００４６】
ここで、計測基準軸７１の上端部の鍔７２上面からの突出長さは、計測側基板１１の厚みより短くされている。そのため、計測基準軸７１を計測側基板１１に垂設した際に、計測基準軸７１の上端が計測側基板１１から突出することはない。また、計測基準軸７１の長さは、非接触式変位センサ７４がパスラインＬに位置できるに足り、かつその下端が後述する被計測軸の先端、つまり上端と干渉しないように調整されている。
【００４７】
保持部材７３による非接触式変位センサ７４の保持は、例えば、非接触式変位センサ７４の後部に角度調整自在に設けられた被保持部材７４ｂを、保持部材７３の外周部に設けられた保持孔７３ａに嵌合させることによりなされる。
【００４８】
非接触式変位センサ７４は、検出値をレーザ信号として出力する機能を有するものとされる。
【００４９】
ここで、図中の符号７６は、保持部材７３を計測基準軸７１の周りで回転自在とするための軸受を示す。
【００５０】
しかして、計測基準軸７１は、鍔７２から突出している上端部が計測側基板１１に設けられている装着孔１１ａに嵌合され、かつ鍔７２が計測側基板１１にボルト留めされて計測側基板１１に垂設され、それにより計測具７０が計測側基板１１の基準線上に配設される。
【００５１】
演算処理装置５０は、図６に示すように、非接触式変位センサ７４からのレーザ信号をデジタル信号に変換するデータデジタル変換器５１と、データデジタル変換器５１からの信号を増幅して収集するデータ収集器５２と、データ収集器５２により収集されたデータを演算処理する演算処理器５３とを備え、芯ずれ量およびその方向などを算出するものとされる。なお、かかる機能を有する演算処理装置５０は、具体的には、パソコンを中心に構成される。
【００５２】
出力装置６０は、例えば液晶表示装置やプリンタなどとされ、演算処理装置５０により算出された芯ずれ量およびその方向を画像表示したり、プリントアウトしたりするものとされる。
【００５３】
しかして、この実施形態２の芯出し装置Ａ１による芯出しは、実施形態１の芯出し装置Ａと同様にしてなされるが、計測部１０Ａの計測と同時に芯ずれ量およびそのずれ方向が算出されるので、実施形態１に比して芯出しが迅速になされる。
【００５４】
以上、本発明を実施形態に基づいて説明してきたが、本発明はかかる実施形態のみに限定されるものではなく、種々改変が可能である。例えば、実施形態では、計測部が上型基板に装着され、被計測部が下型基板に装着されているが、その逆に、計測部が下型基板に装着され、被計測部が上型基板に装着されてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００５５】
本発明は、プレス金型の芯出しに適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の実施形態１に係る芯出し装置の正面概略図である。
【図２】同装置の拡大側面図である。
【図３】本発明の実施形態２に係る芯出し装置の概略図である。
【図４】同芯出し装置の拡大側面図である。
【図５】同芯出し装置のブロック図である。
【図６】同芯出し装置の演算処理装置のブロック図である。
【図７】従来の芯出しジグの一例の断面図である。
【符号の説明】
【００５７】
１０          芯ずれ計測部
１１          計測側基板
１２，１６    第１計測具
１３，１７    第２計測具
２０          芯ずれ被計測部
２１          被計測側基板
２２          第１被計測具
２３          第２被計測具
３０，７０    計測具
３１，７１    計測基準軸
３３，７３    保持部材
３４          ダイヤルゲージ
４０          被計測具
４１          被計測軸
５０          演算処理装置
５１          データデジタル変換器
５２          データ収集器
５３          演算処理器
６０          出力装置
７４          非接触式変位センサ
Ａ          芯出し装置
Ｌ          パスライン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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