(57)【要約】【課題】本発明の目的は、パケット転送試験において廃棄されたパケットを確実に特定できるパケット転送試験装置とパケット転送試験方法を提供することである。【解決手段】本発明では、それぞれ固有のＩＤ番号を有する複数種類の試験用パケットを生成する生成手段と、被試験装置に前記試験用パケットを種類毎に複数個送信する送信手段と、送信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントする第１の計数手段と、前記被試験装置から前記試験用パケットを前記ＩＤ番号に基づき種類毎に受信する受信手段と、受信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントする第２の計数手段と、前記試験用パケットの送信と受信を終了したとき、前記受信した試験用パケット数のカウント値が前記送信した試験用パケット数のカウント値より小さい前記試験用パケットの種類が廃棄パケットと特定する処理手段とを備えたことを特徴とするパケット転送試験装置を用いる。【選択図】  図５
2008042410.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれ固有のＩＤ番号を有する複数種類の試験用パケットを生成する生成手段と、
被試験装置に前記試験用パケットを種類毎に複数個送信する送信手段と、
送信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントする第１の計数手段と、
前記被試験装置から前記試験用パケットを前記ＩＤ番号に基づき種類毎に受信する受信手段と、
受信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントする第２の計数手段と、
前記試験用パケットの送信と受信とを終了したとき、前記受信した試験用パケット数のカウント値が前記送信した試験用パケット数のカウント値より小さい前記試験用パケットの種類が廃棄パケットと特定する処理手段と、
を備えたことを特徴とするパケット転送試験装置。
【請求項２】
前記生成手段は、前記特定された廃棄パケットに、前記廃棄パケットの前側に配置されたパケットを１個づつ追加した複数の再試験用パケット列の生成を行い、
前記処理手段は、前記再試験用パケット列を用いたパケット再転送試験において、前記特定された廃棄パケットの廃棄が再現される前記再試験用パケット列を特定する、
ことを特徴とする請求項１記載のパケット転送試験装置。
【請求項３】
前記パケット転送試験装置は、前記被試験装置に内蔵されたことを特徴とする請求項１記載のパケット転送試験装置。
【請求項４】
前記パケット転送試験装置は、前記被試験装置の外部に設置されたことを特徴とする請求項１記載のパケット転送試験装置。
【請求項５】
それぞれ固有のＩＤ番号を有する複数種類の試験用パケットを生成するステップと、
被試験装置に前記試験用パケットを種類毎に複数個送信するステップと、
送信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントするステップと、
前記被試験装置から前記試験用パケットを前記ＩＤ番号に基づき種類毎に受信するステップと、
受信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントするステップと、
前記試験用パケットの送信と受信を終了したとき、前記受信した試験用パケット数のカウント値が前記送信した試験用パケット数のカウント値より小さい前記試験用パケットの種類が廃棄パケットと特定するステップと、
を含むパケット転送試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パケット転送試験において廃棄されたパケットを確実に特定できるパケット転送試験装置とパケット転送試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
パケット転送機能を試験する方法の一つとしてパケット転送試験があり、パケットを処理する装置の出荷試験やフィールド障害時の再現試験等で一般的に行われている。パケット転送試験では、試験プログラムを用いた試験装置の送信部から試験パケットを送信し、試験装置の受信部で受信したパケットが送信したパケットと一致した場合正しいパケット転送が行われたと判断する。
【０００３】
パケットが正しく転送されない例として、被試験装置内を転送中に装置の有するチェック機能によりパケットが廃棄される場合がある。この場合、廃棄されたパケットの特定は、出荷試験においては装置の合否の判定、および障害時における障害再現時間の短縮に必要であり、またフィールド障害においては原因究明と対策に必要となる。
【０００４】
従来、廃棄されたパケットを特定する方法として、転送試験される試験パケットに、各パケットを特定するシリアル番号を付加し、そのシリアル番号とパケットを対応付けたテーブルの記憶部を試験装置に持たせ、転送されたパケット受信時にこの対応テーブルを参照し廃棄パケットを判定する方法がある（特許文献１参照)。
【特許文献１】特開平７−９５２３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
先に説明した背景技術のパケット転送試験においては、特定のケースの場合に廃棄されたパケットの特定が困難であった。
【０００６】
図１を用い廃棄パターンが特定できないケースを説明する。
【０００７】
図１には、送受信のシーケンスおよび送信する試験パケットの種類の数に基づき、試験パケット転送試験を分類して示す。試験パケット転送試験において、試験パケットの送受信に関するシーケンスにより＜１＞、＜２＞に分類され、試験パケットの種類の数により、１種類＜３＞と、複数種類＜４＞に分類される。
＜１＞は、試験パケットが送信された順番で受信されるシーケンスの場合である。
【０００８】
試験装置の送信部が、被試験装置（例えばルータ）に対して試験パケットを複数個送信し、試験装置の受信部がルータの出力から、送信した順番で試験パケットを受信する場合である。
＜２＞は、試験パケットが送信された順番で受信されないシーケンスの場合である。
【０００９】
試験装置から送信された試験パケットが、被試験装置（例えばルータ）に入力した順番と同じ順序でルータから受信されることが保証されない場合で、送信パケットをルータ内で折り返して受信し、ルータで処理した後に再送信することを繰り返す試験（以下周回試験と称す）などにより検出できる。
【００１０】
より詳細には、この周回試験では、試験装置からルータに対して試験パケットを所定数送信し、ルータ内に試験用に設定されたループ経路を被試験装置の自律的な機能により周回させる。任意の時間経過後に周回パケットの回収操作を試験機能から実施し、所定数のパケットを受信する。
【００１１】
また、前記＜１＞のシーケンスにおいて、正常時には試験パケットは送信された順序で受信されるが、予定外の何らかの障害などで試験パケットの送信順序と受信順序が一致しない場合も、この＜２＞のシーケンスに分類する。
【００１２】
また、試験装置から試験パケットを送信する際に、廃棄パターンが容易に特定できるか否かに注目して、試験パケットの種類の数を、図１における＜３＞の１種類と＜４＞の複数種類に分類する。
【００１３】
図１には、シーケンス＜１＞とシーケンス＜２＞および、１種類＜３＞と複数種類＜４＞の組み合わせによる４つのケースをＣ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｃ４として分類して示す。
【００１４】
キャリアルータのようなパケットの転送容量や転送速度が非常に大きいルータを試験する場合はＣ４の方法が試験時間の短縮となり、パケットを処理する負荷が重いパケット転送を行う点でケースＣ１、Ｃ２、Ｃ３に比べて有利である。
【００１５】
しかしながら、ケースＣ４の周回試験では、周回している試験パケットを任意のタイミングで回収するため、試験装置が受信する時に、ほとんどの場合で試験パケットは送信した順番で受信できないので、廃棄されたパケットを特定する為には処理負荷が重くなる。
【００１６】
図２と図３により従来技術による問題点を説明する。
【００１７】
図２には、先に説明した背景技術のパケット転送試験において、パケットのシリアル番号により廃棄パケットを特定する試験パケット転送試験装置の構成を示す。
【００１８】
図２において、２０１は試験パケット転送試験装置、２０２は試験パケット生成部、２０３は試験パケット送信部、２０４は試験パケット受信部、２０５は試験パケット記憶部、２０６は被試験装置をそれぞれ示す。
【００１９】
また図３には、図２の試験パケット記憶部２０５に登録されたデータテーブルの例を示す。
【００２０】
図３において、Ｄ３０１は試験パケットＩＤ（シリアル番号）、Ｄ３０２はデータパターンＩＤ、Ｄ３０３は受信フラグをそれぞれ示す。
【００２１】
試験パケット転送試験装置２０１において、試験パケット生成部２０２は、試験パケットを特定できるパケット固有の試験パケットＩＤ（シリアル番号など）を試験パケットのデータに付加し試験パケットを生成する。
【００２２】
生成された試験パケットは、試験パケットＩＤと試験パケットのデータとの対応がとられた対応テーブルとして試験パケット記憶部２０５に登録される。
【００２３】
試験パケットは試験パケット送信部２０３を介して被試験装置２０６に送信される。
【００２４】
試験パケット受信部２０４は、被試験装置２０６から試験パケットを受信すると、試験パケット記憶部２０５の対応テーブルを参照し、廃棄パケットを判定する。
【００２５】
図３により廃棄パケットの特定方法を説明する。試験パケットを受信したときに、送信した試験パケットと受信した試験パケットのＩＤを比較しその対応を調べることで廃棄パケットを特定する。図３の例では、送信された試験パケットＤ３０１のＩＤ＝１、ＩＤ＝２に対しては、受信パケットＤ３０２はＩＤ＝１、ＩＤ＝２であり一致するため、受信フラグＤ３０３はともに１とし、正常に転送されたと判断する。しかし、送信された試験パケットＤ３０１のＩＤ＝Ｎに対しては、全ての試験パケットの受信を終了したあと、受信フラグは０のため、ＩＤ＝Ｎの試験パケットは廃棄されたと判断される。そして、ＩＤ＝ＮのデータパターンＩＤはＭであることを対応テーブルから判断することで、廃棄されたパケットのデータパターンを特定できる。
【００２６】
ただし、本方法は送信した試験パケット数に比例してテーブル容量が増えるため、試験パケット転送試験装置２０１において試験パケット記憶部２０５で使用するメモリ容量がメモリスペックを超過する場合が発生する。この場合、試験パケット転送試験装置２０１は試験パケットを処理出来なくなり試験装置自身の障害を引き起こし、廃棄されたパケットを特定出来ないという問題点がある。
【００２７】
従って本発明の目的の１つは、パケット転送試験において廃棄されたパケットを確実に特定できるパケット転送試験装置とパケット転送試験方法を提供することである。
【００２８】
尚、上記目的に限らず、後述する発明を実施するための最良の形態に示す各構成により導かれる結果であって従来の技術によっては得られない効果も、本発明の他の目的の１つとして位置付けることができる。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
（１）本発明では、それぞれ固有のＩＤ番号を有する複数種類の試験用パケットを生成する生成手段と、被試験装置に前記試験用パケットを種類毎に複数個送信する送信手段と、送信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントする第１の計数手段と、前記被試験装置から前記試験用パケットを前記ＩＤ番号に基づき種類毎に受信する受信手段と、受信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントする第２の計数手段と、前記試験用パケットの送信と受信を終了したとき、前記受信した試験用パケット数のカウント値が前記送信した試験用パケット数のカウント値より小さい前記試験用パケットの種類が廃棄パケットと特定する処理手段とを備えたことを特徴とするパケット転送試験装置を用いる。
【００３０】
好ましくは、前記生成手段は、前記特定された廃棄パケットに、前記廃棄パケットの前側に配置されたパケットを１個づつ追加した複数の再試験用パケット列の生成を行い、前記処理手段は、前記再試験用パケット列を用いたパケット再転送試験において、前記特定された廃棄パケットの廃棄が再現される前記再試験用パケット列を特定することを特徴とする請求項１記載のパケット転送試験装置を用いる。
【００３１】
好ましくは、前記パケット転送試験装置は、前記被試験装置に内蔵されたことを特徴とする請求項１記載のパケット転送試験装置を用いる。
【００３２】
好ましくは、前記パケット転送試験装置は、前記被試験装置の外部に設置されたことを特徴とする請求項１記載のパケット転送試験装置を用いる。
（２）本発明では、それぞれ固有のＩＤ番号を有する複数種類の試験用パケットを生成するステップと、被試験装置に前記試験用パケットを種類毎に複数個送信するステップと、
送信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントするステップと、前記被試験装置から前記試験用パケットを前記ＩＤ番号に基づき種類毎に受信するステップと、受信した試験用パケット数を前記種類毎にカウントするステップと、前記試験用パケットの送信と受信を終了したとき、前記受信した試験用パケット数のカウント値が前記送信した試験用パケット数のカウント値より小さい前記試験用パケットの種類が廃棄パケットと特定するステップとを含むパケット転送試験方法を用いる。
【発明の効果】
【００３３】
本発明により、試験パケット転送試験において廃棄されたパケットを確実に特定できるパケット転送試験装置とパケット転送試験方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下、図面を参照することにより本発明の実施の形態について説明する。
（実施例１）
実施例１においては、被試験装置が試験パケット転送試験機能を内蔵し、自装置の試験パケット転送試験を行い廃棄パケットの特定を行う。
【００３５】
実施例１における試験パケット転送試験の構成を図４に、試験パケット転送試験部の詳細構成を図５にそれぞれ示す。
【００３６】
また、図６および図７に試験パケットのカウント状況、図８に試験パケットのデータ構成例、図９に試験パケット転送試験のフローをそれぞれ示す。
【００３７】
図４において、４０１は被試験装置、４０２は機能ボード３、４０２１はデバイス４、４０３は機能ボード２、４０３１はデバイス３、４０３２はデバイス２、４０３３はパケット廃棄箇所、４０４は機能ボード１、４０４１はデバイス１、４０４２は試験パケット転送試験部、４０５はネットワークをそれぞれ示す。
【００３８】
図５において、図４とおなじものは同一の番号を付してあり、５０１は試験パケット受信部、５０２は試験パケット記憶部、５０３は試験パケット生成部、５０４は試験パケット送信部をそれぞれ示す。
【００３９】
図６において、Ｄ６０１はデータパターンＩＤ、Ｄ６０２は送信カウンター、Ｄ６０３は受信カウンター、Ｄ６０４はＤ６０２とＤ６０３の差分をそれぞれ示す。
【００４０】
図７において、Ｄ７０１はデータパターンＩＤ、Ｄ７０２は送信カウンター、Ｄ７０３は受信カウンター、Ｄ７０４はＤ７０２とＤ７０３の差分をそれぞれ示す。
【００４１】
図８において、Ｄ８０１は試験パケットに実装されたデータパターンの種類（以下パターンと称す）を特定するＩＤ、Ｄ８０２はパターンの実装部を示す。
【００４２】
図９において、Ｓ９０１は試験パケット転送試験を開始するステップ、Ｓ９０２は送信および受信のカウンターを０にリセットするステップ、Ｓ９０３は試験パケットをＮ種類生成し試験パケット記憶部５０２の試験パケットテーブルに登録するステップ、Ｓ９０４はデータパターン（Ｄ８０２）のフィールドに実装し送信するステップ、Ｓ９０５は送信したパターンに対応する送信カウンターを＋１カウントアップするステップ、Ｓ９０６は全試験パケットの送信が完了したかどうかを判断するステップ、Ｓ９０７は所定の時間経過後に周回した試験パケットを回収して受信するステップ、Ｓ９０８は受信したパターンに対応する受信カウンターを＋１カウントアップするステップ、Ｓ９０９は全試験パケットの受信が完了したかどうかを判断するステップ、Ｓ９１０は廃棄された試験パケット内に実装されたパターンを特定するステップ、Ｓ９１１は試験パケット転送試験を終了するステップをそれぞれ示す。
【００４３】
実施例１では、図４に示す試験パケット転送試験部４０４２を被試験装置４０１内に備えており試験パケット転送試験を行う。試験パケットは試験パケット転送試験部４０４２から送信され、４０４１のデバイス１、４０３２のデバイス２、４０３１のデバイス３、４０２１のデバイス４で各々の機能により処理され転送される。試験パケットは、４０２１のデバイス４のネットワーク４０５側出力において折り返され、４０２１のデバイス４の入力となり、４０３１のデバイス３、４０３２のデバイス２、４０４１のデバイス１で各々の機能により処理される。
【００４４】
次に試験パケットは、４０４１のデバイス１において折り返され、再び前記の経路で４０２１のデバイス４まで転送される。これを繰り返すことにより、試験パケットは被試験装置４０１内を周回する。試験パケットは予め設定された時間だけ周回すると、試験パケット転送試験部４０４２において回収して受信される。
【００４５】
実施例１の試験パケット転送試験方法について、図５、図６、図７、図８および図９の試験フローを用いて詳細に説明する。
【００４６】
Ｓ９０１で試験パケット転送試験を開始し、ステップＳ９０２では、試験パケット送信部５０４および試験パケット受信部が備えたカウンターを０にリセットする。ステップＳ９０３では、試験パケット生成部５０３がＮ種類の異なった試験パケットを生成し、試験パケット記憶部５０２に備えられた試験パケットテーブルに登録する。ステップＳ９０４では、試験パケット送信部５０４が試験パケット記憶部５０２に登録されたＮ種類の試験パケットを１個ずつ順番にフィールドに実装し、Ｎ種類の試験パケットを送信する。
【００４７】
試験パケットのデータは、Ｎ種類の試験パケットの各々について、図８の試験パケットのフィールドにＤ８０２として実装される。
【００４８】
また試験パケットを識別する試験パケットＩＤは、Ｎ種類の試験パケットの各々について、図８のデータパターンＩＤのフィールドにＤ８０１として実装される。このフィールド位置はＩＰデータ部の中では任意の位置でよく、またフィールド長もデータ長に合わせて任意に設定できる。
【００４９】
ステップＳ９０５では、試験パケット送信部５０４に備えられた送信カウンターが、Ｎ種類の各試験パケットが１回送られるごとに試験パケット種類に対応した送信カウンターを＋１カウントアップし、カウント値を試験パケット記憶部５０２に通知する。ここで、試験パケット種類とは、データパターンの種類と同じ意味である。
【００５０】
ステップＳ９０６では、試験パケット記憶部５０２が前記通知された送信カウンターの値に基づき、Ｎ種類の試験パケットすべてについて所定のカウント値（実施例１ではデータパターン毎に１００回と設定したが任意の値に設定できる）に達したかどうかにより、全部の試験パケットの送信が完了したかどうかを判断する。
【００５１】
ステップＳ９０６でＮｏの場合は、ステップＳ９０４にもどり、再び試験パケット送信部５０４が試験パケット記憶部５０２に登録されたＮ種類の試験パケットを１個ずつ順番にフィールドに実装し、Ｎ種類の試験パケットを送信する。ステップＳ９０４、Ｓ９０５、Ｓ９０６の繰り返しループにより、試験パケット送信部５０４はＮ種類の試験パケットを所定の回数（実施例１ではデータパターン毎に１００回）時間軸上に並べて送信することが出来る。この結果、被試験装置４０１内を周回する試験パケットの総数は（Ｎ×１００）個となる。
【００５２】
図６に、全部の試験パケットの送信が完了した時の、試験パケット記憶部５０２における試験パケットのテーブルを示す。送信カウンターの値Ｄ６０２はＮ種類すべての試験パケットについて１００個に達しており、一方受信カウンターの値Ｄ６０３は、まだ受信していないのでこの時点ではＮ種類すべてについて０個である。
【００５３】
ステップＳ９０６でＹｅｓの場合は、次のステップＳ９０７に移行する。
【００５４】
ステップＳ９０７では、試験パケットを全部送信完了後の予め設定された時間経過後（例えば１０分と設定することが出来る）に、被試験装置４０１内を周回した試験パケットは、試験パケット受信部５０１により回収され受信される。
【００５５】
ステップＳ９０８では、試験パケット受信部５０１に備えられた受信カウンターがＮ種類の試験パケットのそれぞれを１回受信するごとに試験パケット種類に対応したカウンタを＋１カウントアップし、カウント値を試験パケット記憶部５０２に通知する。
【００５６】
ステップＳ９０９では、試験パケット受信部５０１の受信パケット選択機能により、所定個数のＮ種類の試験パケットすべての受信が完了したかどうかを判断する。
【００５７】
ステップＳ９０９でＮｏの場合は、ステップＳ９０７にもどり、ステップＳ９０７では、被試験装置４０１内を周回したＮ種類の試験パケットが、試験パケット受信部５０１により回収され受信される。ステップＳ９０７、Ｓ９０８、Ｓ９０９の繰り返しループにより、試験パケット受信部５０１はＮ種類の試験パケットを所定の回数（実施例１ではデータパターン毎に１００回）受信することが出来る。この結果、すべての試験パケットが廃棄されないで転送された場合は、被試験装置４０１内を周回する試験パケット総数の（Ｎ×１００）個が受信できる。
【００５８】
ステップＳ９０９でＹｅｓの場合は、ステップＳ９１０に移行し廃棄された試験パケットと特定する。
【００５９】
図７に、全部の試験パケットの受信が完了した時、ステップＳ９１０にて使用する試験パケット記憶部５０２における試験パケットのテーブルの例を示す。送信カウンターの値Ｄ７０２はＮ種類すべての試験パケットは１００個であり、受信カウンターの値Ｄ７０３は、試験パケットＩＤ＝１およびＩＤ＝Ｎでは１００個であり、Ｄ７０４の差分は０であるから送信された試験パケットがすべて正しく受信されたことを示す。
【００６０】
試験パケットＩＤ＝２において受信カウンターの値Ｄ７０３は９９個でありＤ７０４の差分は１であるから，送信されたＩＤ＝２の試験パケット１００個のうち１個が廃棄されたことを示す。
【００６１】
ステップＳ９１０により、廃棄された試験パケットは試験パケットＩＤ＝２であると特定される。
【００６２】
なお前記説明では、図４において試験パケット転送試験部４０４２は被試験装置４０１に内蔵するとしたが、試験パケット転送試験部４０４２を外部装置として、被試験装置４０１を試験する構成としてもよい。この場合の構成を図１０に示す。
【００６３】
図１０において、被試験装置１００１は図４における４０２の機能ボード３、４０３の機能ボード２、４０４１のデバイス１から構成され、試験パケット転送試験装置１００２は図４における試験パケット転送試験部と同じである。このように試験パケット転送試験装置１００２を、被試験装置１００１と別に設置することにより、試験パケット転送試験装置１００２を他の被試験装置の試験にも使用することが出来るので、効率的な場合がある。
（実施例２）
実施例２では、実施例１で説明した試験パケット転送試験により特定された廃棄試験パケットを使ってさらに試験パケット再転送試験を行う。
【００６４】
実施例２における試験パケット再転送試験の目的は、廃棄試験パケットに対し先行パケットの数量を変えることにより、パケットが廃棄された原因究明と対策に必要な情報を得ることである。
【００６５】
図１１、図１２および図１３により、実施例２における試験パケット転送試験および試験パケット再転送試験の方法を説明する。
【００６６】
図１１において、Ｓ１１０１は試験パケット転送試験を開始するステップ、Ｓ１１０２は送信、受信のカウンターおよびＬのカウンターを０にリセットするステップ、Ｓ１１０３は試験パケットをＮ種類生成し試験パケット記憶部５０２の試験パケットテーブルに登録するステップ、Ｓ１１０４は試験パケット転送試験のステップで図９のＳ９０４〜Ｓ９１０と同じステップ、Ｓ１１０５はＬ＝０における試験パケットの有無を判断するステップ、Ｓ１１０６はＬの値と廃棄された試験パケットＩＤを登録するステップ、Ｓ１１０７はＬが所定値を超えたかどうかを判断するステップ、Ｓ１１０８はＬのカウンターを＋１カウントアップするステップ、Ｓ１１０９はＬが２以上かどうかを判断するステップ、Ｓ１１１０は廃棄された試験パケットから（Ｌ−１）前の試験パケットをテーブル２に追加するステップ、Ｓ１１１１は廃棄された試験パケットをテーブル２に登録するステップ、Ｓ１１１２は試験パケット転送試験と試験パケット再転送試験を終了するステップをそれぞれ示す。
【００６７】
図１２において、Ｄ１２０１は送信した試験パケット、Ｄ１２０２は受信した試験パケットをそれぞれ示す。
【００６８】
図１３において、Ｄ１３０１はＬ＝１の試験パケット、Ｄ１３０２はＬ＝２の試験パケット、Ｄ１３０３はＬ＝３の試験パケット、Ｄ１３０ＮはＬ＝Ｎの試験パケットをそれぞれ示す。
【００６９】
実施例２における試験パケット転送試験および試験パケット再転送試験の構成は、図４および図５と同じである。
【００７０】
図１２には、試験パケット転送試験により試験パケットが廃棄された例を示す。
【００７１】
図１２のＤ１２０１は、試験パケット転送試験部４０４２より送信したＮ種の試験パケットであり、データパターン１、データパターン２、データパターン３、データパターン４、・・・、データパターンＮ、・・・の試験パケットより成る。データパターンはこの並びで所定回数（例えば１００回）繰り返して送信される。Ｄ１２０１の試験パケットは、被試験装置４０１内を所定の時間（例えば１０分）周回した後、試験パケット転送試験部４０４２にて受信され、データパターン３が廃棄された場合、図１２のＤ１２０２となる。
【００７２】
なお廃棄された試験パケットがデータパターン３であることの特定は、実施例１におけるステップＳ９１０において、図７を用いて説明した方法と同じである。
【００７３】
図１３により、廃棄された試験パケットのデータパターン３を使用した試験パケット再転送試験を説明する。
【００７４】
試験パケット転送試験により廃棄された試験パケットがデータパターン３と特定されると、最初の試験パケット再転送試験はＬ＝１とし、図１３のＤ１３０１に示すデータパターン３のみを所定回数（例えば１００回）繰り返し、被試験装置４０１内に送信する。次の試験パケット再転送試験はＬ＝２とし、Ｄ１３０２に示すように、廃棄されたデータパターン３の前側にデータパターン２を追加して試験パケットを構成し、各データパターンを所定回数（例えば１００回）繰り返し被試験装置４０１内に送信する。次のＬ＝３では、Ｄ１３０３に示すように、廃棄されたデータパターン３、データパターン２の前側にデータパターン１を追加して試験パケットを構成し、各データパターンを所定回数（例えば１００回）繰り返し被試験装置４０１内に送信する。
【００７５】
以下Ｌを増加させ、Ｌ＝Ｎまでの試験パケットを構成し、各データパターンを所定回数（例えば１００回）繰り返し被試験装置４０１内に送信する。
【００７６】
なお、Ｎ個の試験パケットのデータパターンは、被試験装置４０１のバッファメモリなどの容量制限などにより、被試験装置４０１の処理可能な試験パケット数以下に設定される。
【００７７】
このように、最初の試験パケット転送試験において廃棄された試験パケットの後に、転送試験時と同じ順の試験パケットを、１つづつ追加して試験パケット再転送試験を行うことにより、廃棄された試験パケット（データパターン３）の前側に配置された試験パケットの影響を調べることが出来る。影響の有無は、廃棄パケットの増減で判定が可能である。すなわち、影響が大きいほど廃棄パケットが多くなる傾向があるためである。
【００７８】
図４、図５の試験構成および、図１１の試験フローおよび図１２、図１３を用いて、実施例２における試験パケット転送試験とパケット再転送試験を組み合わせた試験方法を詳細に説明する。
【００７９】
ステップＳ１１０１で試験パケット転送試験を開始し、ステップＳ１１０２では、試験パケット送信部５０４および試験パケット受信部が備えたカウンターと、試験パケット転送試験部４０４２が備えた再転送試験の順番を示すＬのカウンターを０にリセットする。
【００８０】
ステップＳ１１０３では、試験パケット生成部５０３がＮ種類の異なった試験パケットを生成し、試験パケット記憶部５０２が備えた試験パケットテーブル１に登録する。
【００８１】
ステップＳ１１０４は、実施例１を示す図９におけるステップＳ９０４からステップＳ９１０までのステップと同じであり、試験パケットを転送し、廃棄された試験パケットを特定するステップである。
【００８２】
ステップＳ１１０５では試験パケットの廃棄の有無を判断し、Ｙｅｓの場合にステップＳ１１０６に移り再転送試験を継続する。Ｌ＝０で試験パケットの廃棄が無い場合はＮｏとなり、試験パケット転送試験のみで廃棄パケットが無かった場合であるからステップＳ１１１２に移り試験を終了する。Ｌ≧１の場合は廃棄パケットが有っても無くてもＹｅｓとなり、次のＬでのパケット再転送試験を行うためステップＳ１１０６に移る。
【００８３】
ステップＳ１１０６では、再転送試験の順番を示すＬと廃棄された試験パケットＩＤを、試験パケット記憶部５０２が備えた試験パケットテーブル２に登録する。
【００８４】
ステップＳ１１０７では、Ｌの値が所定値を超えたかどうかを判断し、Ｎｏの場合はステップＳ１１０８に移りパケット再転送試験を継続する。Ｙｅｓの場合は、パケット再転送試験が所定の種類の試験パケットに対するパケット再転送試験が終了したことを示すので、ステップＳ１１１２に移り試験を終了する。
【００８５】
ステップＳ１１０８ではＬのカウント値を＋１増加させ、ステップＳ１１０９ではＬが２以上かどうかを判断する。Ｎｏの場合はステップＳ１１１１に移り、Ｌ＝１でありパケット再転送試験の最初であるから、廃棄された試験パケットのみを試験パケット記憶部５０２が備えた試験パケットテーブル２に登録し、次のＬによるパケット再転送試験のためステップＳ１１０４に帰る。Ｙｅｓの場合は、ステップＳ１１１０に移り廃棄された試験パケット（データパターン３）の（Ｌ−１）個前の試験パケットを試験パケット記憶部５０２が備えた試験パケットテーブル２に追加し、次のＬによるパケット再転送試験のためステップＳ１１０４に帰る。
【００８６】
なお前記説明では、図４において試験パケット転送試験部４０４２は被試験装置４０１に内蔵するとしたが、試験パケット転送試験部４０４２を外部装置として、被試験装置４０１を試験する構成としてもよい。この場合の構成を図１０に示す。
【００８７】
図１０において、被試験装置１００１は図４における４０２の機能ボード３、４０３の機能ボード２、４０４１のデバイス１から構成され、試験パケット転送試験装置１００２は図４における試験パケット転送試験部と同じである。このように試験パケット転送試験装置１００２を、被試験装置１００１と別に設置することにより、試験パケット転送試験装置１００２を他の被試験装置の試験にも使用することが出来るので、効率的な場合がある。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】試験パケット転送試験におけるケースの分類を示す図である。
【図２】試験パケット転送試験装置の構成（従来例）を示す図である。
【図３】試験パケットのテーブル（従来例）を示す図である。
【図４】試験パケット転送試験装置の構成（実施例１、２）を示す図である。
【図５】試験パケット転送試験部の構成（実施例１、２）を示す図である。
【図６】試験パケット送信後のテーブル（実施例１、２）を示す図である。
【図７】試験パケット受信後のテーブル（実施例１、２）を示す図である。
【図８】試験パケットのデータ構成例（ＩＰｖ４、ＵＤＰの場合）を示す図である。
【図９】試験パケット転送試験のフロー（実施例１）を示す図である。
【図１０】試験パケット転送試験装置の構成（実施例１、２）を示す図である。
【図１１】試験パケットの転送試験および再転送試験のフロー（実施例２）を示す図である。
【図１２】試験パケット廃棄の例を示す図である。
【図１３】試験パケット再転送試験のデータ配置例（実施例２）を示す図である。
【符号の説明】
【００８９】
２０１  試験パケット転送試験装置
２０２  試験パケット生成部
２０３  試験パケット送信部
２０４  試験パケット受信部
２０５  試験パケット記憶部
２０６  被試験装置
４０１  被試験装置
４０２  機能ボード３
４０２１  デバイス４
４０３  機能ボード３
４０３１  デバイス３
４０３２  デバイス２
４０３３  パケット廃棄箇所
４０４  機能ボード１
４０４１  デバイス１
４０４２  試験パケット転送試験部
４０５  ネットワーク
５０１  試験パケット受信部
５０２  試験パケット記憶部
５０３  試験パケット生成部
５０４  試験パケット送信部
１００１  被試験装置
１００２  試験パケット転送試験装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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