(57)【要約】【課題】パーソナルコンピュータ、プリンタなどの情報技術装置のＥＭＩ測定方法及びＥＭＩ測定用治具に関し、迅速なＥＭＩ測定が可能となるＥＭＩ測定方法及びＥＭＩ測定用治具を提供することを課題とする。【解決手段】導体１４を回路基板（電気回路）１３に接触させて、回路基板１３の接触した箇所の電磁エネルギーを効率よく大きな電磁波に変換する。電磁波は、アンテナ１５でで受けられ、回路基板（電気回路）１３のＥＭＩ測定がなされる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
導体を電気回路に接触させて、
前記電気回路のＥＭＩ測定をすることを特徴とするＥＭＩ測定方法。
【請求項２】
長さの異なる複数の導体と、
前記複数の導体のうちの１つの線状の導体を電気回路に接触可能な使用状態とする選択手段と、
を有したことを特徴とするＥＭＩ測定用治具。
【請求項３】
前記選択手段は、
前記複数の導体を収容し、一方の端部が開放面となった筒状の筐体と、
該筐体に設けられ、前記導体を軸方向に移動可能に案内するガイド部材と、
前記各導体に取り付けられ、第１係合部、第２係合部が形成されたスライダと、
前記筐体の周面に形成され、前記スライダが移動可能に嵌合し、前記スライダを前記筐体の軸方向に案内するガイド穴と、
前記筐体に設けられ、前記スライダの第１係合部が接触可能なストッパと、
前記各スライダの第１係合部が前記ストッパに当接する方向に付勢する付勢手段と、
を有し、
前記スライダの第１係合部が前記ストッパに当接すると前記導体は、前記筐体に収容され、前記スライダの第１係合部が他のスライダの第２係合部に係合すると、前記導体が筐体から突出するように、前記第１係合部、前記第２係合部は形成されていることを特徴とする請求項２記載のＥＭＩ測定用治具。
【請求項４】
先端部が電気回路に接触する導体と、
前記導体の中間部が巻回されたドラムと、
を有したことを特徴とするＥＭＩ測定用治具。
【請求項５】
先端部が電気回路に接触可能な導体であって、
伸縮軸構造であることを特徴とするＥＭＩ測定用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
昨今のパーソナルコンピュータ、プリンタなどに代表される情報技術装置、ＣＰＵクロック周波数の高速化、プリント板の高密度実装化、装置の軽量化などによって、電波障害対策（ＥＭＩ（Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ）対策）がますます困難になってきている。
【０００２】
情報技術装置は、電気回路（内蔵基板）に存在する様々なＩＣとそのインターフェースから、広範囲の周波数帯域でいろいろなノイズ（広帯域ノイズ、狭帯域ノイズ）が放射される。これらのノイズをＥＭＣ（Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ）規制で規定されている許容値以内に抑えないと情報技術装置を出荷することはできない。
【０００３】
そのため、情報技術装置の出荷に影響を与えるノイズ源に対し、ＥＭＩフィルターの挿入などやガスケットまたは導電布の貼付などを行い、情報技術装置から放射されるノイズを規定値以内になるようにしている。このような対策を行うためには、装置のどこがノイズ源かをいち早くつきとめることが重要である。
【０００４】
本発明は、パーソナルコンピュータ、プリンタなどの情報技術装置のＥＭＩ測定方法、及び、ＥＭＩ測定用治具に関する。
【背景技術】
【０００５】
図７を用いて、従来のＥＭＩ測定法を説明する。
図に示すように、測定は、壁や天井が電磁波を吸収する構造になっており、外部から内部および内部から外部への電磁波がシールドされている部屋（以下、電波暗室１という）内で行われる。
【０００６】
そして、電波暗室１内で、測定対象である情報技術装置の回路基板３から放射されたノイズ（電磁波）をアンテナ５で受け、アンテナ５で受けたノイズをスペアナ（スペクトラムアナライザ）７で解析し、情報技術装置の回路基板３のノイズ源、放射源を特定している（例えば、特許文献１参照）。
【０００７】
又、アンテナ５だけでは粗いノイズ源の特定となるので、スペアナ７からアンテナ５を外し、図８に示すように、スペアナ７にサーチコイル（ループコイル）９をつなぎ替えて詳細な情報技術装置の回路基板３のノイズ源の特定を行うこともなされている（例えば、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００４−３１７３２２号公報（図１）
【特許文献２】特開平１１−２０２００９号公報（図２参照）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、アンテナ５で、粗いノイズ源の特定を行い、サーチコイル９で詳細なノイズ源の特定を行うには、スペアナ７からアンテナ５を外し、サーチコイル９をつなぎ替える手間が必要であり、測定に時間がかかる問題点がある。
【０００９】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、その課題は、迅速なＥＭＩ測定が可能となるＥＭＩ測定方法及びＥＭＩ測定用治具を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決する請求項１に係る発明は、導体を電気回路に接触させて、前記電気回路のＥＭＩ測定をすることを特徴とするＥＭＩ測定方法である。
導体を電気回路に接触させると、導体は、電気回路の接触した箇所の電磁エネルギーを空間を伝搬する電磁波に変換する。変換された電磁波を検出し、前記電気回路のＥＭＩ測定が行われる。
【００１１】
請求項２に係る発明は、長さの異なる複数の導体と、前記複数の導体のうちの１つの導体を電気回路に接触可能な使用状態とする選択手段と、を有したことを特徴とするＥＭＩ測定用治具。
【００１２】
導体を電気回路に接触させると、導体は、前記電気回路の接触した箇所の電磁エネルギーを開いた空間を伝搬する電磁波に変換する。変換された電磁波を検出し、前記電気回路のＥＭＩ測定がなされる。
【００１３】
請求項３に係る発明は、前記選択手段は、前記複数の導体を収容し、一方の端部が開放面となった筒状の筐体と、該筐体に設けられ、前記導体を軸方向に移動可能に案内するガイド部材と、前記各導体に取り付けられ、第１係合部、第２係合部が形成されたスライダと、前記筐体の周面に形成され、前記スライダが移動可能に嵌合し、前記スライダを前記筐体の軸方向に案内するガイド穴と、前記筐体に設けられ、前記スライダの第１係合部が接触可能なストッパと、前記各スライダの第１係合部が前記ストッパに当接する方向に付勢する付勢手段と、を有し、前記スライダの第１係合部が前記ストッパに当接すると前記導体は、前記筐体に収容され、前記スライダの第１係合部が他のスライダの第２係合部に係合すると、前記導体が筐体から突出するように、前記第１係合部、前記第２係合部は形成されていることを特徴とする請求項２記載のＥＭＩ測定用治具である。
【００１４】
スライダを付勢力に抗して移動させ、第１係合部が他のスライダの第２係合部に係合すると、スライダに接続された導体が筐体外へ露出し、電気回路に接触可能となる。
ここで、他のスライダを付勢力に抗して移動させると、他のスライダの第２係合部と、筐体外露出した導体に取り付けられたスライダの第１係合部との係合が解除され、付勢手段の付勢力により筐体外に露出した導体に取り付けられたスライダは、第１係合部がストッパに当接する元位置まで復帰し、導体は筐体内に収容される。更に、他のスライダを付勢力に抗して移動させると、この移動したスライダの第１係合部が他のスライダの第２係合部に係合し、移動したスライダに取り付けられた導体が筐体の外部に露出する。
【００１５】
請求項４に係る発明は、先端部が電気回路に接触する導体と、前記導体の中間部が巻回されたドラムと、を有したことを特徴とするＥＭＩ測定用治具である。
ドラムを一方の方向に回転させると、ドラムから導体が繰り出される。又、ドラムを他方の方向に回転させると、ドラムに導体が巻き取られる。
【００１６】
請求項５に係る発明は、先端部が電気回路に接触可能な導体であって、伸縮軸構造であることを特徴とするＥＭＩ測定用治具である。
導体は、伸縮する。
【発明の効果】
【００１７】
請求項１−５に係る発明によれば、導体を電気回路に接触させると、導体は、接触した箇所の電気回路の電磁エネルギーを効率よく大きな電磁波に変換する。よって、導体を電気回路に接触させるだけで、電気回路のノイズ源の詳細な特定を行うことができ、迅速なＥＭＩ測定が可能となる。
【００１８】
請求項２に係る発明によれば、長さの異なる複数の導体を有したことにより、ノイズ源の周波数に応じて、最適な長さの導体を電気回路に接触させることができる。よって、接触した箇所の電気回路の電磁エネルギーを更に効率よく電磁波に変換することができる。
【００１９】
又、前記複数の導体のうちの１つの導体を電気回路に接触可能な使用状態とする選択手段を有したことにより、測定が簡単となる。
請求項３に係る発明によれば、スライダを操作するだけで、前記複数の導体のうちの１つの導体を電気回路に接触可能な使用状態とすることができるので、測定が簡単となる。
【００２０】
請求項４に係る発明によれば、先端部が電気回路に接触する導体と、前記導体の中間部が巻回されたドラムとを有することにより、ドラムから導体を繰り出し、或いは、導体をドラムに巻き取ることで、ノイズ源の周波数に応じて、最適な長さの導体を電気回路に接触させることができる。よって、接触した箇所の電気回路の電磁エネルギーを更に効率よく電磁波に変換することができる。
【００２１】
請求項５に係る発明によれば、導体は、伸縮軸構造であることにより、ノイズ源の周波数に応じて、最適な長さの導体を電気回路に接触させることができる。よって、接触した箇所の電気回路の電磁エネルギーを更に効率よく電磁波に変換することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
『第１の形態例』
図１を用いて、説明する。図１は形態例のＥＭＩ測定方法を説明する構成図である。図に示すように、測定は、壁や天井が電磁波を吸収する構造になっており、外部から内部および内部から外部への電磁波がシールドされている部屋（以下、電波暗室１１１という）内で行われる。
【００２３】
そして、電波暗室１１内で、測定対象である情報技術装置の回路基板（電気回路）１３の測定しようとする箇所（例えば、プリント基板のビアやＩＣの端子）に、線状の導体１４を接触させる。
【００２４】
導体１４から放射されたノイズ（電磁波）をアンテナ１５で受け、アンテナ１５で受けたノイズをスペアナ（スペクトラムアナライザ）１７で解析すると、図２に示すような結果を得ることできる。図２において、横軸が周波数、縦軸がノイズのレベルである。
【００２５】
図２に示すような結果により、情報技術装置の回路基板１３のノイズ源、放射源を特定することが可能となる。
このような方法によれば、導体１４を回路基板１３に接触させると、導体１４は、回路基板１３の接触した箇所の電磁エネルギーを効率よく大きな電磁波に変換する。よって、導体１４を回路基板１３に接触させるだけで、回路基板１３のノイズ源の詳細な特定を行うことができ、迅速なＥＭＩ測定が可能となる。
『第２の形態例』
図３、図４を用いて説明する。図３は第２の形態例を説明する構成図、図４は図３の作動を説明する図である。
【００２６】
非導電性の材料（例えば、プラスチック）でなる筒状の筐体２１内には、長さの異なる３本の導体２３，２５，２７が配置されている。本形態例では、国際規格ＣＩＳＰＲ２２（３版、１９９７年度版）のＥＭＩ規制の対象となっている周波数帯域は３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚであり、この帯域でどこがノイズ源かを速やかに調査できるように、導体２３を３００ＭＨｚ用（導体の長さ２５０ｍｍ）とし、導体２５を６００ＭＨｚ用（導体の長さ１２５ｍｍ）とし、導体２７ＧＨｚ用（導体の長さ７５ｍｍ）とした。
【００２７】
そして、複数の導体２３，２５，２７のうちの１つの導体を筐体２１の開放面２１ａから外部に露出させ、電気回路に接触可能な使用状態とする選択手段を設けた。
以下、図３、図４を用いて選択手段を説明する。
【００２８】
図３に示すように、筐体２１内には、導体２３，２５，２７が挿通する穴が形成され、導体２３，２５，２７を軸方向に移動可能に案内するガイド３１が設けられている。
導体２３，２５，２７に、スライダ３３，３５，３７が取り付けられている。筐体２１の周面には、スライダ３３，３５，３７が移動可能に嵌合し、スライダ３３，３５，３７を筐体２１の軸方向に案内するガイド穴４３，４５，４７が形成されている。
【００２９】
次に、図４に示すように、スライダ３３のスライダ３５，３７と対向する面には、第１係合部３３ａと第２係合部３３ｂとが形成されている。スライダ３５のスライダ３３，３７と対向する面には、第１係合部３５ａと第２係合部３５ｂとが形成されている。スライダ３７のスライダ３３，３５と対向する面には、図示しない第１係合部３７ａと第２係合部３７ｂとが形成されている。
【００３０】
筐体２１は、各スライダ３３，３５，３７の第１係合部３３ａ，３５ａ，３７ａが接触可能なストッパ４１が設けられている。
一端部がガイド３１に当接し、他端部が各スライダ３３，３５，３７に当接するスプリング５３、５５，５７（スプリング５７は図示せず）により、スライダ３３，３５，３７は、第１係合部３３ａ，３５ａ，３７ａがストッパ４１に当接する方向に付勢されている。
【００３１】
そして、図４（ａ）に示すように、スライダ３３，３５の第１係合部３３ａ，３５ａがストッパ４１に当接すると導体２３，２５は、筐体２１に収容されるようにスライダ３３，３５の第１係合部３３ａ，３５ａは設定されている。尚、図示していないが、スライダ３７の第１係合部３７ａもストッパ４１に当接すると導体２７は、筐体２１に収容されるようにスライダ３７の第１係合部３７ａは設定されている。
【００３２】
図４（ｂ）に示すように、スライダ３３の第１係合部３３ａが他のスライダであるスライダ３５，３７の第２係合部３５ｂ，３７ｂに係合すると、導体２３が筐体２１から突出するように、スライダ３３の第２係合部３３ｂは形成されている。同様に、スライダ３５の第１係合部３５ａが他のスライダであるスライダ３３，３７の第２係合部３３ｂ，３７ｂに係合すると、導体２５が筐体２１から突出するように、スライダ３５の第２係合部３５ｂは形成されている。スライダ３７の第１係合部３７ａが他のスライダであるスライダ３３，３５の第２係合部３３ｂ，３５ｂに係合すると、導体２７が筐体２１から突出するように、スライダ３７の第２係合部３７ｂは形成されている。
【００３３】
ここで、上記構成の作動を説明する。
例えば図４（ａ）に示すように、導体２３が筐体２１内に収容されている状態のスライダ３３をスプリング５３の付勢力に抗して移動させ、図４（ｂ）に示すように、スライダ３３の第１係合部３３ａが他のスライダであるスライダ３５，３７の第２係合部３５ｂ，３７ｂに係合すると、スライダ３３に接続された導体２３が筐体２１外へ露出し、電気回路に接触可能となる。
【００３４】
次に、スライダ３５をスプリング５５の付勢力に抗して移動させると、スライダ３５，スライダ３７の第２係合部３５ｂ，第２係合部３７ｂと、スライダ３３の第１係合部３３ａとの係合が解除され、スプリング５３の付勢力によりスライダ３３は、第１係合部３３ａがストッパ４１に当接する元位置まで復帰し、導体２３は筐体２１内に収容される。更に、スライダ３５をスプリング５５の付勢力に抗して移動させると、スライダ３５の第１係合部３５ａがスライダ３３，３７の第２係合部３３ｂ，３７ｂに係合し、スライダ３５に取り付けられた導体２５が筐体２１の外部に露出する。尚、スライダ３５の代わりにスライダ３７を移動させてもスライダ３３に取り付けられた導体２３は筐体２１内に収容される。そして、スライダ３７を更に移動させれば、スライダ３７に取り付けられた導体２７が筐体２１の外部に露出する。
【００３５】
このような構成によれば、以下のような効果を得ることができる。
（１）導体２３，２５，２７を回路基板に接触させるだけで、回路基板のノイズ源の詳細な特定を行うことができ、迅速なＥＭＩ測定が可能となる。
（２）長さの異なる複数の導体２３，２５，２７を有することにより、ノイズ源の周波数に応じて、最適な長さの導体を電気回路に接触させることができる。よって、接触した箇所の電気回路の電磁エネルギーを更に効率よく電磁波に変換することができる。
（３）スライダ３３，３５，３７を操作するだけで、複数の導体２３，２５，２７のうちの１つの導体を電気回路に接触可能な使用状態とすることができるので、測定が簡単となる。
『第３の形態例』
図５に示すように、非導電性の材料（例えば、プラスチック）でなり、一方の端部側には開口１０１ａが形成された筒状の筐体１０１の周面には、穴１０１ｂが形成されている。筐体１０１内には、非導電性の材料（例えば、プラスチック）でなるドラム１０３が回転可能に設けられている。そして、ドラム１０３の一部は、穴１０１ｂを介して筐体１０１の外部に露出している。
【００３６】
筐体１０１内には、一端部が開口１０１ａを介して外部に露出し、他端部がドラム１０３に取り付けられた第１導線（線状の導体）１０５が設けられている。ドラム１０３には、第２導線（線状の導体）１０７が巻回されている。この第２導線１０７の一方の端部と、第１導線１０５とは電気的に接続され、実質１本の導線（線状の導体）となっている。更に、第２導線１０７は表面も導電性を有している。
【００３７】
ドラム１０３には、周方向に沿って複数の凹部１０３ａが形成されている。又、筐体１０１内には、ドラム１０３の凹部１０３ａに係脱可能な弾性爪１０９が設けられている。
次に上記構成の作動を説明する。
【００３８】
通常、弾性爪１０９がドラム１０３の凹部１０３ａに係合している限り、ドラム１０３が回転することはない。
弾性爪１０９の係合力に抗してドラム１０３を一方の方向に回転させると、ドラム１０３から第２の導線１０７が繰り出される。又、ドラムを１０３他方の方向に回転させると、ドラム１０３に第２の導線１０７が巻き取られる。
【００３９】
このような構成によれば、第１の導線１０７を回路基板に接触させるだけで、回路基板のノイズ源の詳細な特定を行うことができ、迅速なＥＭＩ測定が可能となる。
又、ドラム１０３を回転させることにより、実質１本の導線となった第１の導線１０５、第２の導線１０７の導線長（Ｌ）を変えることができる。よって、ノイズ源の周波数に応じて、最適な長さの導線を電気回路に接触させることができ、接触した箇所の電気回路の電磁エネルギーを更に効率よく電磁波に変換することができる。
『第４の形態例』
図６を用いて説明する。図において、本形態例の導体２０１は、３段の伸縮軸構造を有するロッドアンテナ状となっており、導体長を変えることができる。
【００４０】
尚、本形態例では、１段の場合は、導体長７５ｍｍとなり１ＧＨｚ用、２段の場合は、導体長が１２５ｍｍとなり６００ＭＨｚ用、３段の場合導体長が２５０ｍｍとなり９００ＭＨｚ用となるようにした。
【００４１】
このような構成によれば、導体２０１を回路基板に接触させるだけで、回路基板のノイズ源の詳細な特定を行うことができ、迅速なＥＭＩ測定が可能となる。
導体２０１は、伸縮軸構造であることにより、ノイズ源の周波数に応じて、最適な長さの導体を電気回路に接触させることができる。よって、接触した箇所の電気回路の電磁エネルギーを更に効率よく電磁波に変換することができる。
付記
（付記１）
線状の導体を電気回路に接触させて、
前記電気回路のＥＭＩ測定をすることを特徴とするＥＭＩ測定方法。
【００４２】
（付記２）
長さの異なる複数の線状の導体と、
前記複数の線状の導体のうちの１つの線状の導体を電気回路に接触可能な使用状態とする選択手段と、
を有したことを特徴とするＥＭＩ測定用治具。
【００４３】
（付記３）
前記選択手段は、
前記複数の導体を収容し、一方の端部が開放面となった筒状の筐体と、
該筐体に設けられ、前記導体を軸方向に移動可能に案内するガイド部材と、
前記各導体に取り付けられ、第１係合部、第２係合部が形成されたスライダと、
前記筐体の周面に形成され、前記スライダが移動可能に嵌合し、前記スライダを前記筐体の軸方向に案内するガイド穴と、
前記筐体に設けられ、前記スライダの第１係合部が接触可能なストッパと、
前記各スライダの第１係合部が前記ストッパに当接する方向に付勢する付勢手段と、
を有し、
前記スライダの第１係合部が前記ストッパに当接すると前記導体は、前記筐体に収容され、前記スライダの第１係合部が他のスライダの第２係合部に係合すると、前記導体が筐体から突出するように、前記第１係合部、前記第２係合部は形成されていることを特徴とする付記２記載のＥＭＩ測定用治具。
【００４４】
（付記４）
先端部が電気回路に接触する線状の導体と、
前記線状の導体の中間部が巻回されたドラムと、
を有したことを特徴とするＥＭＩ測定用治具。
【００４５】
（付記５）
前記ドラムに周方向に沿って形成された複数の凹部と、
該凹部に係脱可能な弾性爪と、
を有したことを特徴とする付記４記載のＥＭＩ測定治具。
【００４６】
（付記６）
先端部が電気回路に接触可能な導体であって、
伸縮軸構造であることを特徴とするＥＭＩ測定用治具。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】形態例のＥＭＩ測定方法を説明する構成図である。
【図２】周波数におけるノイズレベルの一例を示す図である。
【図３】第２の形態例を説明する図である。
【図４】図３の作動を説明する図である。
【図５】第３の形態例を説明する図である。
【図６】第４の形態例を説明する図である。
【図７】従来のＥＭＩ測定方法を説明する図である。
【図８】従来のＥＭＩ測定方法を説明する図である。
【符号の説明】
【００４８】
１３  回路基板
１４  導体
【図１】
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【図３】
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【図４】
2008089547.tif 000005
【図５】
2008089547.tif 000006
【図６】
2008089547.tif 000007
【図７】
2008089547.tif 000008
【図８】
2008089547.tif 000009
【図２】
2008089547.tif 000010