(57)【要約】【課題】本発明は、特に特殊環境や環境の変化が大きい場所での使用のとき記録環境の変化が受けやすい光ディスクであっても、記録条件を最適化し、高品質なデータ記録を可能にした光ディスク装置及びその記録方法を提供することを目的とする。【解決手段】書換型の光ディスクに情報を記録する光ピックアップと、光ピックアップの周囲温度の検出手段と、周囲温度の所定間隔毎に対応して設定される記録パルスパターンと、光ディスクへの記録中に周辺温度が所定量以上変化したら記録を中断し、中断前の第１記録パルスパターンと、変化した周辺温度に対応して選択された第２記録パルスパターンとで中断位置より外側の記録位置でデータを記録し、記録したデータの再生品質が良い記録パルスパターンを新たな記録パルスパターンに再設定する制御手段と、再設定した記録パルスパターンで中断位置から残りの情報を記録する記録制御手段と、を具備した。【選択図】図１
2008090943.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに情報を記録する光ピックアップと、
前記光ピックアップの周囲温度の検出手段と、
所定間隔毎に前記周囲温度に対応した記録パルスパターンを記憶した記憶手段と、
記録動作中に前記周辺温度が所定量変化した場合、前記記録動作を中断し、前記記録動作中に用いられた第１記録パルスパターンと前記変化した周辺温度に対応する第２記録パルスパターンとの両方でテスト記録を行い、前記テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを用いて前記記録動作を再開する制御手段とを具備した光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクに情報を記録する光ピックアップと、
前記光ピックアップの周囲温度の検出手段と、
所定間隔毎に前記周囲温度に対応した記録パルスパターンを記憶した記憶手段と、
前記光ディスクに所定量の情報を記録する毎に、記録動作を中断し、前記記録動作中に用いられた第１記録パルスパターンと前記記録動作を中断したときの周辺温度に対応する第２記録パルスパターンとの両方でテスト記録を行い、前記テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを用いて前記記録動作を再開する制御手段を具備した光ディスク装置。
【請求項３】
光ディスクに情報を記録する光ピックアップと、
前記光ピックアップの周囲温度の検出手段と、
前記光ディスクへの記録速度を切替える切替手段と、
所定間隔毎に前記記録速度及び前記周囲温度に対応した記録パルスパターンを記憶した記憶手段と、
記録速度を切替る毎に記録動作を中断し、前記記録動作中に用いられた第１記録パルスパターンと前記記録速度を切替えるときの周囲温度及び前記記録速度に対応した第２記録パルスパターンの両方でテスト記録し、前記テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを用いて前記記録動作を再開する制御手段を具備した光ディスク装置。
【請求項４】
前記光ディスクは、書換型の光ディスクであることを特徴とする請求項１乃至請求項３記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記第２記録パルスパターンとして、前記所定間隔の中で高い周辺温度に対応する記録パルスパターンと低い周囲温度に対応する記録パルスパターンとの両方の記録パルスパターンを用いることを特徴とする請求項１乃至請求項３記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記制御手段は、前記テスト記録の位置を前記光ディスクの中断位置の外側にすることを特徴とする請求項１乃至請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記制御手段は、再生信号のエラーレート又はジッタを測定することで再生品質を確認することを特徴とする請求項１乃至請求項３記載の光ディスク装置。
【請求項８】
光ディスクに情報を記録するとき、光ピックアップの周囲温度を検出し、
前記光ディスクへの記録動作中に前記周辺温度が所定量変化したら前記記録動作を中断し、
前記周囲温度の所定間隔毎に対応して設定される記録パルスパターンを記憶装置から取得し、
前記記録動作の中断前の第１記録パルスパターンと、前記変化した周辺温度に対応する第２記録パルスパターンとの両方でテスト記録し、前記テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを用いて前記記録動作を再開することを特徴とする光ディスク装置の記録方法。
【請求項９】
光ディスクへの記録動作中に所定量の情報を記録したら記録動作を中断し、
光ピックアップの周囲温度を検出し、
前記周囲温度の所定間隔毎に対応して設定される記録パルスパターンを記憶装置から取得し、
前記記録動作の中断前の第１記録パルスパターンと、前記記録動作を中断したときの温度に対応して選択された第２記録パルスパターンとでテスト記録をし、前記テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを用いて前記記録動作を再開することを特徴とする光ディスク装置の記録方法。
【請求項１０】
光ディスクへの記録動作中に記録速度を切替るとき前記記録動作を中断し、
前記記録動作中の温度に対応しかつ切替速度に対応した第１記録パルスパターンと、前記記録速度を切替えるときの周囲温度及び前記記録速度に対応した第２記録パルスパターンとでテスト記録をし、前記テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを用いて前記記録動作を再開することを特徴とする光ディスク装置の記録方法。
【請求項１１】
前記光ディスクは、書換型の光ディスクであることを特徴とする請求項８乃至請求項１０記載の光ディスク装置の記録方法。
【請求項１２】
前記第２記録パルスパターンは、前記所定間隔の中で高い周辺温度に対応する記録パルスパターンと低い周囲温度に対応する記録パルスパターンとの両方の記録パルスパターンとしたことを特徴とする請求項８乃至請求項１０記載の光ディスク装置の記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、書換可能な光ディスクに情報を高品位に記録する光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録再生装置の記録方法に関し、特に記録のときに温度変化が大きい環境下で光ディスクに情報を高品質で記録することができる光ディスク装置及びその記録方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスク記録再生装置が各種開発されている。例えばＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＢＤ−ＲＥなど記録可能な光ディスクに記録を行なうコンピュータの外部記録再生装置等として応用されたものが広く普及してきている。
【０００３】
光ディスク記録再生装置では、光ピックアップから記録可能型光ディスクの記録層へレーザ光を照射し、レーザ光を照射された光ディスクは、記録層の照射された部分が変質し、その記録層の光学的反射率（以下、光反射率という）が変化する。従って、例えば追記型の光ディスクにおいて、この作用によってレーザ光のパワーを二値的に変化させながら光ディスク記録層に照射し、記録層の光反射率を場所に依存して実質上二値的に変化させている。すなわち記録層の光反射率の低い部分（記録マーク）と、光反射率の高い部分（記録スペース）とに変化させている。このように二値化することでデータが記録マークと記録スペースとの順列として光ディスクへ記録されている。
【０００４】
記録可能型光ディスクには、追記型光ディスクと書換型光ディスクとに分類される。
【０００５】
追記型光ディスクとは、データを一回のみ記録可能な光ディスクであり、ＣＤ−ＲやＤＶＤ±Ｒなどがある。追記型光ディスクの記録マークは、記録層に対しレーザ光を所定のパワーで照射するとき、記録層部の有機色素が分解し、その光反射率が低下し、レーザ光を照射された記録層の部分が記録マークとなる。
【０００６】
書換型光ディスクとしては、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ±ＲＷ等がある。
【０００７】
書換型光ディスクの内、相変化記録方式によるものは、記録層が結晶相とアモルファス相との二種類の固相を有する合金を含んでいる。記録層の光反射率は結晶相では高く、アモルファス相では低いので、記録層の内アモルファス相の部分が記録マークとなる。記録時には、記録層に対し、比較的高いパワーのレーザ光をパルス照射し、記録層の狭い範囲が融点以上の温度まで瞬間的に加熱され、その後ガラス化点以下の温度まで急冷される。
【０００８】
その結果、記録層のその狭い範囲がアモルファス相へ転移する。書換型光ディスクの記録マークの消去には、記録マークの範囲でアモルファス相を結晶相へ転移させれば良いので、回転中の書換型光ディスクの記録層に対し、比較的低いパワーのレーザ光を比較的長時間照射すると、記録層の広い範囲が、ガラス化点より高く融点を超えない程度の温度まで加熱され、その後比較的ゆっくりと冷える。その結果、記録層の広い範囲が結晶相へ転移する。相変化記録方式による書換型光ディスクへの実際のデータ記録では、レーザ光を上記の高いパワーのパルスと低いパワーのパルスとの間で切り換えながら照射することで記録マークの消去と作成とを交互に実行し、データを光ディスクに上書きできる。
【０００９】
これらのパルスは、光ディスクによって各々異なっており、光ディスクに合った記録マークを形成するために、光ディスク装置には予め光ディスクの種類に合ったライトストラテジと呼ばれる記録パルスパターン（パルス信号の幅、間隔及びレベル）を準備しており、記録開始前にこのライトストラテジデータを読込んで設定するようにしている（例えば、特許文献１）。
【００１０】
また、光ピックアップのレーザパワーは、光ピックアップの周辺温度及びレーザダイオードの劣化により照射されるパワー効率が変化するので、記録パワーを補正するのに予め光ピックアップの周辺温度と記録パワーの変化量との関係を有し、記録パワーを補正する技術があった（例えば、特許文献２）。
【００１１】
図８は、従来の記録処理のフローチャートである。
【００１２】
図８において、光ディスクを光ディスク装置に装着し記録が開始されると（Ｓ８０１）、光ディスクのトラッキングサーボ、フォーカスサーボなどの初期設定を行い（Ｓ８０２）、光ピックアップの周囲温度を検出し（Ｓ８０３）、光ディスクの判別を行い（Ｓ８０４）、光ディスクの種類に応じかつ光ピックアップの周囲温度に応じた記録パルスパターンを設定する（Ｓ８０５）。
【００１３】
取得した情報を基に光ディスクの内周側で試書き（ＯＰＣ：Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｒｉｂｒａｔｉｏｎ）を実施し（Ｓ８０６）、記録品質を確認し（Ｓ８０７）、記録品質が所定値よりいいかどうか判定し（Ｓ８０８）、記録品質が悪ければ記録パワーを変更して（Ｓ８０９）、ＯＰＣを続ける。記録品質がよければ、情報記録を実行し（Ｓ８１０）、ランニングＯＰＣを実施し（Ｓ８１１）、記録終了かどうか判定し（Ｓ８１２）、終了するときは処理を終了する（Ｓ８１３）。情報記録を続けるときは（Ｓ８１０）に戻り記録を続ける。
【特許文献１】特開２００５−２９３６７３号公報
【特許文献２】特開２００３−３１７２４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
前記従来の構成では、記録にあたり記録前にライトストラテジである記録パルスパターンを最適にして記録したり、光ピックアップの周囲温度と記録パワーの関係を有して周囲温度の変化で記録パワーを補正するものである。
【００１５】
しかしながら、光ディスクに記録するときの記録マークの実際の形は、記録パルスパターンと記録パワーとだけでは一意には決まらない。例えば、光ディスクの記録層の冷却速度は環境温度に依存するので、環境温度の変動はアモルファス相へ転移する範囲を変動させる。更に、半導体レーザではレーザ光の波長が温度変動に実質的に比例して変動し、かつ製品ごとに規格値の周辺でばらつく。
【００１６】
さらに、光ディスクの記録位置によっても、例えば光ディスクの内周側を記録するときと外周側を記録するときとでも、環境の影響を受ける条件が異なり、同一の記録パルスパターンで記録しても、記録品質が異なる課題があった。
【００１７】
本発明は、記録中に光ピックアップの発熱で光ピックアップの温度条件が変化して光ピックアップのレーザパワーのパワー効率が変化したり、記録中の光ピックアップの周辺温度が変化しても、さらには光ディスクの構造の種類やばらつき等で記録環境の変化が受けやすい光ディスクであっても、記録条件を最適化し、高品質なデータ記録を可能にした光ディスク装置及びその記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
かかる課題を解決するため、本発明は、光ディスクに情報を記録する光ピックアップと、光ピックアップの周囲温度の検出手段と、所定間隔毎に周囲温度に対応した記録パルスパターンを記憶した記憶手段と、記録中に周辺温度が所定量変化した場合、記録動作を中断し、記録中に用いられた第１記録パルスパターンと変化した周辺温度に対応する第２記録パルスパターンとの両方でテスト記録を行い、テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを用いて記録動作を再開する制御手段とを具備したものである。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、光ピックアップの周囲温度が所定量以上変化したら、記録を中断して、記録パルスパターンを変えてテスト記録し、テスト記録したデータを再生して再生品質を確認することにより、光ディスクに情報を記録中に光ピックアップの温度上昇や光ピックアップ周囲の温度上昇で光ピックアップの発光パワーが劣化して記録品質の劣化が生じても、変化した光ピックアップの周囲温度に対応した最良の記録パルスパターンを再設定して残りの情報の記録を再開するので、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
請求項１記載の発明は、光ディスクに情報を記録する光ピックアップと、光ピックアップの周囲温度の検出手段と、所定間隔毎に周囲温度に対応した記録パルスパターンを記憶した記憶手段と、記録中に周辺温度が所定量変化した場合、記録動作を中断し、記録中に用いられた第１記録パルスパターンと変化した周辺温度に対応する第２記録パルスパターンとの両方でテスト記録を行い、テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを用いて記録動作を再開する制御手段とを具備したものである。
【００２１】
この構成によれば、光ピックアップの周囲温度が所定量以上変化したら、記録を中断して、記録パルスパターンを変えてテスト記録し、テスト記録したデータを再生して再生品質を確認することにより、光ディスクに情報を記録中に光ピックアップの温度上昇や光ピックアップ周囲の温度上昇で光ピックアップの発光パワーが劣化して記録品質の劣化が生じても、変化した光ピックアップの周囲温度に対応した最良の記録パルスパターンを再設定して残りの情報の記録を再開するので、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。
【００２２】
請求項２記載の発明は、光ディスクに情報を記録する光ピックアップと、光ピックアップの周囲温度の検出手段と、所定間隔毎に周囲温度に対応した記録パルスパターンを記憶した記憶手段と、光ディスクに所定量の情報を記録する毎に、記録動作を中断し、記録中に用いられた第１記録パルスパターンと記録動作を中断したときの周辺温度に対応する第２記録パルスパターンとの両方でテスト記録を行い、テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを用いて記録動作を再開する制御手段を具備したものである。
【００２３】
この構成によれば、光ディスクへ所定量記録するごとに記録を中断して、記録中の第１記録パルスパターンと、記録を中断したときの温度に対応する第２記録パルスパターンと
でテスト記録を行いテスト記録したデータを再生して再生品質を確認することにより、光ディスクに情報を記録中に光ピックアップの温度上昇や光ピックアップ周囲の温度上昇で光ピックアップの発光パワーが劣化して記録品質の劣化が生じても、変化した光ピックアップの周囲温度に対応した最良の記録パルスパターンを再設定して残りの情報の記録を再開するので、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。
【００２４】
請求項３記載の発明は、光ディスクに情報を記録する光ピックアップと、光ピックアップの周囲温度の検出手段と、光ディスクへの記録速度を切替える切替手段と、所定間隔毎に記録速度及び周囲温度に対応した記録パルスパターンを記憶した記憶手段と、記録速度を切替る毎に記録動作を中断し、記録動作中に用いられた第１記録パルスパターンと記録速度を切替えるときの周囲温度及び記録速度に対応した第２記録パルスパターンの両方でテスト記録し、テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンをを用いて記録動作を再開する制御手段を具備したものである。
【００２５】
この構成によれば、光ディスクへの記録速度を切替る毎に記録動作を中断し、記録動作中に用いられた第１記録パルスパターンと記録速度を切替るときの周囲温度及び記録速度に対応した第２記録パルスパターンの両方でテスト記録し、テスト記録の再生品質が良い記録パルスパターンを設定することにより、光ディスクに情報を記録中に光ピックアップの温度上昇や光ピックアップ周囲の温度上昇で光ピックアップの発光パワーが劣化して記録品質の劣化が生じても、変化した光ピックアップの周囲温度に対応した最良の記録パルスパターンで記録速度に応じた記録パルスパターンを設定して残りの情報の記録を再開するので、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。特に光ディスクの半径方向をいくつかのゾーンに分割して、ゾーン毎に記録速度を切替るときに有用である。
【００２６】
請求項４記載の発明は、請求項１乃至請求項３記載の発明において、光ディスクは、書換型の光ディスクであることを特徴とするものである。
【００２７】
この構成によれば、光ディスクを書換型の光ディスクとすることにより、記録を中断した位置でテスト記録を行うことができるので、光ピックアップを内周側のテスト記録領域や外周側のテスト記録領域でテスト記録しなくても、記録再開位置でテスト記録ができるので、光ピックアップの移動に伴う周辺温度の変化の影響を受けず、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。
【００２８】
請求項５記載の発明は、請求項１乃至請求項３記載の発明において、制御手段は、第２記録パルスパターンとして、所定間隔の中で高い周辺温度に対応する記録パルスパターンと低い周囲温度に対応する記録パルスパターンとの両方の記録パルスパターンを用いるものである。
【００２９】
この構成によれば、第２の記録パルスパターンを前記周囲温度に高い方の記録パルスパターンと低い方の記録パルスパターンの２つの記録パルスパターンとしたことにより、記憶装置に格納された温度に対応する記録パルスと合致するデータがなくても、周囲温度の高い方に近い記録パルスパターンと、周囲温度の低い方に近い方の記録パルスパターンの両者を選択してデータを記録して再生品質が良い記録パルスパターンを選択できるようになるので、記録装置に準備するデータの量を少なくできるとともに、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。
【００３０】
請求項６記載の発明は、請求項１乃至請求項４記載の発明において、制御手段は、テスト記録位置を光ディスクの中断位置の外側に記録するものである。
【００３１】
この構成によれば、テスト記録位置を実際に記録を再開する位置である中断位置の外側で記録するので、光ディスクに情報を記録中に光ピックアップの温度上昇や光ピックアップ周囲の温度上昇で光ピックアップの発光パワーが劣化して記録品質の劣化が生じても、変化した光ピックアップの周囲温度に対応した最良の記録パルスパターンを実際に記録する位置で再設定して残りの情報の記録を再開するので、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。
【００３２】
請求項７記載の発明は、請求項１乃至請求項３記載の発明において、制御手段は、再生信号のエラーレート又はジッタを測定することで再生品質を判断するものである。
【００３３】
この構成によれば、中断前の第１記録パルスパターンと、変化した周辺温度に対応して選択された第２記録パルスパターンとで中断位置より外側の記録位置でデータを記録し、記録したデータの再生品質をエラーレート又はジッタを基に判断するので、高記録品質の光ディスク装置を提供できるようになる。
【００３４】
請求項８記載の発明は、光ディスクに情報を記録するとき、光ピックアップの周囲温度を検出し、光ディスクへの記録中に周辺温度が所定量以上変化したら記録を中断し、周囲温度の所定間隔毎に対応して設定される記録パルスパターンを記憶装置から取得し、中断前の第１記録パルスパターンと、変化した周辺温度に対応して選択された第２記録パルスパターンと、で中断位置より外側の記録位置でデータを記録し、記録したデータの再生品質が良い記録パルスパターンを新たな記録パルスパターンし、再設定した記録パルスパターンで中断位置から残りの情報を記録するものである。
【００３５】
この方法によれば、光ディスクに情報を記録中に光ピックアップの温度上昇や光ピックアップ周囲の温度上昇により、光ピックアップの発光パワーが劣化して記録品質の劣化が生じても、光ピックアップの周囲温度が所定量以上変化したら、記録を中断して、中断位置の外側でデータを記録し、記録したデータを再生して再生品質を確認することにより、記録位置での周囲温度に合わせた記録パルスパターンを再設定し残りの情報を記録するので、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。
【００３６】
請求項９記載の発明は、光ディスクへの記録中に所定量の情報を記録したら記録を中断し、光ピックアップの周囲温度を検出し、前記周囲温度の所定間隔毎に対応して設定される記録パルスパターンを記憶装置から取得し、記録中断前の第１記録パルスパターンと、前記記録を中断したときの温度に対応して選択された第２記録パルスパターンとで中断位置より外側位置でデータを記録し、前記記録したデータの再生品質が良い記録パルスパターンを新たな記録パルスパターンに再設定し、前記再設定した記録パルスパターンで前記中断位置から残りの情報を記録するものである。
【００３７】
この方法によれば、光ディスクへ所定量記録するごとに記録を中断して、記録中の第１記録パルスパターンと、記録を中断したときの温度に対応する第２記録パルスパターンとで中断位置より外側位置で任意の情報を記録し記録品質のよい記録パルスパターンを再設定することにより、記録に伴う光ピックアップの温度上昇の影響によるレーザ発光パワー劣化の影響を再設定できるので、記録品質のよい光ディスク装置を提供できる。
【００３８】
請求項１０記載の発明は、光ディスクへの記録中に記録速度を切替るとき記録を中断し、記録中の温度に対応しかつ切替速度に対応して選択された第１記録パルスパターンと、記録速度を切替えるときの周囲温度及び前記記録速度に対応して選択された第２記録パルスパターンと、で中断位置より外側位置でデータを記録し、前記記録したデータの再生品質が良い記録パルスパターンを新たな記録パルスパターンに再設定し、前記再設定した記録パルスパターンで前記中断位置から残りの情報を記録するものである。
【００３９】
この方法によれば、記録速度を切替るときに、記録速度を切替る位置で周辺温度を測定して、記録速度及び周囲温度の所定間隔毎に対応して設定される記録パルスパターンで試書きして記録したデータの再生品質を確認して、記録品質のよい記録パルスパターンで、記録速度を切替えて記録開始するので、記録品質のよい光ディスク装置を提供できる。
【００４０】
請求項１１記載の発明は、請求項８乃至請求項１０の発明において、光ディスクは、書換型の光ディスクとしたものである。
【００４１】
この方法によれば、光ディスクを書換型の光ディスクとすることにより、記録を中断した位置でテスト記録を行うことができるので、光ピックアップを内周側のテスト記録領域や外周側のテスト記録領域でテスト記録しなくても、記録再開位置でテスト記録ができるので、光ピックアップの移動に伴う周辺温度の変化の影響を受けず、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。
【００４２】
請求項１２記載の発明は、請求項８乃至請求項１０記載の発明において、第２記録パルスパターンは、所定間隔の中で高い周辺温度に対応する記録パルスパターンと低い周囲温度に対応する記録パルスパターンとの両方の記録パルスパターンとしたものである。
【００４３】
この方法によれば、第２の記録パルスパターンを前記周囲温度に高い方の記録パルスパターンと低い方の記録パルスパターンの２つの記録パルスパターンとしたことにより、記憶装置に格納された温度に対応する記録パルスと合致するデータがなくても、周囲温度の高い方に近い記録パルスパターンと、周囲温度の低い方に近い方の記録パルスパターンの両者を選択してデータを記録して再生品質が良い記録パルスパターンを選択できるようになるので、記録装置に準備するデータの量を少なくできるとともに、記録品質のよい光ディスク装置を提供できるようになる。
【００４４】
以下、本発明の実施の形態１について、図１〜図６を参照しながら説明する。
【００４５】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図である。
【００４６】
図１に示すように、光ディスク装置１は、光ピックアップ１２、スピンドルモータ１３、フィードモータ１４、サーボモジュール１５、信号制御手段１６、ＣＰＵ１７、記憶手段１８、インターフェース２０、温度検出手段２４から構成されている。
【００４７】
信号制御手段１６には、記録制御手段１９、記録パルスパターン選択手段２２、ブロックエラーレート検出手段２３を備えている。
【００４８】
そして、パーソナルコンピュータ１１１に接続され、光ディスク１１に記録されたデータをパーソナルコンピュータ１１１に出力したり、パーソナルコンピュータ１１１からのデータを光ディスク１１に記録したりできる構成としている。
【００４９】
光ピックアップ手段である光ピックアップ１２は、レーザ発光素子（図示せず）を有し、光ディスク１１へのデータの記録、再生時にレーザ光を照射して、所望の情報を記録及び再生を行う。スピンドルモータ１３は、光ディスク１１のマウントのときやデータの記録及び再生時に光ディスク１１の回転を行う。
【００５０】
光ピックアップ１２の移動手段であるフィードモータ１４は、光ピックアップ１２をスピンドルモータ１３に近づいたり離れたりして光ディスク１１の半径方向に移動させる。サーボモジュール１５は、フィードモータ１４の移動制御及びスピンドルモータ１３の回転速度を制御する回転速度制御手段である。パーソナルコンピュータ１１１と光ディスク装置１の接続手段であるインターフェース２０は、パーソナルコンピュータ１１１とのデータ信号の送信及び受信を行う。ＣＰＵ１７は記憶手段である記憶手段１８を備え、記憶手段１８に記録されたプログラム（ファームウェア）により、サーボモジュール１５の制御と信号制御手段１６の制御及びパーソナルコンピュータ１１１とのインターフェース２０の制御を行ない光ディスク１１の情報再生や、光ディスク１１への情報記録を行う。また、記憶手段１８には、光ディスク１１への記録マークを形成するための記録パルスパターンが記憶されており、光ディスク１１の種類毎に周囲温度や記録速度に応じて記憶されている。この記録パルスパターンの設定温度は、所定の温度毎に、例えば１０度ごとに、記憶されている。また、記録速度は、基準記録速度に対応する記録倍速毎に設定し記憶されている。
【００５１】
パーソナルコンピュータ１１１と光ディスク装置１とは、インターフェース２０を介して接続されており、パーソナルコンピュータ１１１からの制御信号たとえばＡＴＡＰＩパケットコマンドを基に光ディスク装置１はパーソナルコンピュータ１１１に応答し、光ディスク装置１から情報を読み込んだり、光ディスク装置１に情報を転送したりする。
【００５２】
パーソナルコンピュータ１１１は、ＡＴＡＰＩパケットコマンドと記録するデータ、書込み速度などを光ディスク装置１に転送し、入力手段であるインターフェース２０を介して記録するデータ、書込み速度などを受信し、光ディスク装置１はパーソナルコンピュータ１１１からの受信した書込み速度で受信した情報を光ディスク１１に記録する。パーソナルコンピュータ１１１と光ディスク装置１はインターフェース２０を介して、ケーブル１１２で接続されている。また、前記インターフェース２０は、ＳＣＳＩインターフェースや、ＩＤＥインターフェース等である。
【００５３】
温度検出手段２４は、光ピックアップ１２の近くに配置され、光ピックアップの周辺温度を測定する。
【００５４】
ＣＰＵ１７は、温度検出手段２４によって所定値以上光ピックアップ１２の周囲温度が変化すると、記録を中断し、信号制御手段１６の記録パルスパターン選択手段２２及びエラーレート検出手段２３によって、再生品質のよい記録パルスパターンを決定して、新たな記録パルスパターンとして再設定したのち、記録を再開する。
【００５５】
また、ＣＰＵ１７は、記録制御手段１９によって所定値を光ディスク１１へ記録すると、記録を中断し、中断したときの光ピックアップ１２の周辺温度を測定し、信号制御手段１６の記録パルスパターン選択手段２２及びエラーレート検出手段２３によって、再生品質のよい記録パルスパターンを決定して、新たな記録パルスパターンとして再設定したのち、記録を再開してもよい。
【００５６】
また、ＣＰＵ１７は、記録制御手段１９によって記録速度を変更するとき、記録を中断し、中断したときの光ピックアップ１２の周辺温度を測定し、信号制御手段１６の記録パルスパターン選択手段２２及びエラーレート検出手段２３によって、再生品質のよい記録パルスパターンを決定して、新たな記録パルスパターンとして再設定したのち、記録を再開してもよい。
【００５７】
図２は、本発明の実施の形態１に係わる光ディスクへ情報を記録する記録パルスパターンに関する説明図である。
【００５８】
図２では、書換型の光ディスクへ記録する記録パルスパターンを例に述べる。
【００５９】
図２において、図２（ａ）は光ディスクの記録層に形成された記録マークと記録スペース、図２（ｂ）は記録マークと記録スペースをに対応する記録信号、図２（ｃ）は記録マークと記録スペースを形成する記録パルスパターン（ライトストラテジとも呼ぶ）である。記録信号は光ディスクへ記録するための記録マークと記録スペースの並びを示す矩形状のパルス列である。記録信号は、パルス幅が記録マーク長、一つのパルス後端から次のパルス前端までの間隔が記録スペース長である。
【００６０】
光ディスク装置１は、記録対象データに応じて図２（ａ）の記録マークと記録スペースを決定する。
【００６１】
図２（ａ）において、記録マークと記録スペースが、４Ｔの記録マークＭ１に続けて３Ｔの記録スペースＳ１、１１Ｔの記録マークＭ２、４ＴのスペースＳ２、３Ｔの記録マークＭ３の順に記録する一例で示している。
【００６２】
ここで、単位長１Ｔはクロック周期である。従って１１Ｔは、クロック周期の１１倍を表す。光ディスク１１に記録マークＭや記録スペースＳを記録するのに記録する際のレーザ光による熱がレーザ光の照射範囲を超えて拡散するため、実際に形成される記録マークＭが記録スペースＳの対応部分より長くなる。これを回避する目的で、図２（ｃ）の実線で示すように所定の記録パターンに対応する記録パルスパターンに変換してこの記録パルスパターンで光ディスク１１に記録する。
【００６３】
図２（ｃ）に示すように、１１Ｔの記録パターンＰ２に対応する記録パルスは、フロントパルスＦＰとマルチパルスＭＰと、エンドパルスＥＰで形成する。
【００６４】
動作使用温度の上限近傍の高温などの環境や、動作使用温度の下限近傍の低温などの環境など特殊環境でも、たとえば記録開始のときの温度で記録パルスパターンや記録レーザパワーをファームウェアから読込み記録開始するが、記録開始するレーザ光による熱がレーザ光の照射範囲を超えて拡散するため、実際に光ディスク１１に形成される記録マークが記録パターンの対応部分よりさらに長くなることがある。例えば、図２（ａ）のマークＭ２１。
【００６５】
このため、図２（ｃ）の破線で示すように、記録マークと記録パルスとの組合せである記録パルスパターンを変化させて、光ディスク１１上に記録される記録マークと記録スペースを所望の大きさに設定するように記録パルスパターンを選択する。
【００６６】
これらの記録パルスパターンは、光ディスク装置１の記憶手段１８に、記録速度や光ピックアップ１２の周辺温度条件に対応して格納している。
【００６７】
図３は、本発明の実施の形態１に係わる記録パルスパターンを示した表の一例を示す図である。
【００６８】
図３では、記録マーク生成の記録パターン３Ｔ〜１１Ｔに対して、直前の記録スペース長に依存した記録マークのスタート位置のずれ、記録マークのパルス幅などを表している。
【００６９】
たとえば、記録スペース３Ｔに続く３Ｔの記録マークを生成する記録パルスパターンのパラメータは、図３の表から、０ｘ０４と選択され、０ｘ０４のパラメータで記録パルスのスタート位置を決定する。３Ｔの記録マークの時のフロントパルス幅のパラメータは０ｘ２０として設定できる。また、フロントパルス位置、フロントパルス幅、マルチパルス位置、マルチパルス幅、などが設定されている。
【００７０】
このれらの記録パルスパターンは、光ディスク１１の種類に応じて、記録温度や記録速度毎に記録装置内の記憶手段１８に格納されている。
【００７１】
図３（ａ）と図３（ｂ）はそれぞれ異なる温度に対しての記録パルスパターンのパラメータを示しており、一部パラメータが異なっており、動作環境が変わったら、この記録パルスパターンのパラメータを基に最適の記録条件を求めるようにしている。
【００７２】
本発明の実施の形態では、例えば記録使用可能な温度の上限や下限近傍で使用する際に、記録する前に設定した記録パワーや記録パルスパターンで記録開始し、記録途中での記録環境が変わっても、記録中に記録条件をテストしながら高品位に記録できる光ディスク装置１としており、データ記録が開始されると、記録パルスパターンを複数変えながら各々記録データを最初から少量記録し、記録した複数のデータのエラーレートを測定し、エラーレートの一番小さい記録パルスパターンで残りのデータを記録するようにしている。ここで、エラーレートとしてブロックエラーレートを使用する。ブロックエラーレートとは、記録データを再生し、再生時の所定期間（例えば、１秒間）内におけるエラー訂正回数である。
【００７３】
図４は、本発明の実施の形態１に係わる記録処理のフローチャートである。
【００７４】
図４において、書換可能な光ディスク１１を光ディスク装置１に装着し、記録が開始されると（Ｓ４０１）、光ディスク１１のトラッキングサーボ、フォーカスサーボなどの初期設定を行い（Ｓ４０２）、光ピックアップ１２の周囲温度を検出し（Ｓ４０３）、光ディスク１１の判別を行い（Ｓ４０４）、光ディスク１１の種類に応じかつ光ピックアップ１２の周囲温度に応じた記録パルスパターンを設定する（Ｓ４０５）。
【００７５】
設定した記録パルスパターンを用いて光ディスク１１の試書領域で試書を実施し（Ｓ４０６）、試書きデータの再生品質を確認し（Ｓ４０７）、記録品質が所定値より小さいかどうか判別し（Ｓ４０８）、所定値より小さくなかったら、記録パワーを変更し（Ｓ４０９）、試書（Ｓ４０６）に戻る。
【００７６】
記録品質が所定値より小さくなったら、情報の記録をし（Ｓ４１０）、ランニングＯＰＣで記録パワーの更新をし（Ｓ４１１）、光ピックアップ１２の周囲温度の変化を検出し（Ｓ４１２）、周囲温度の変化が閾値以上であるかどうか判断する（Ｓ４１３）。
【００７７】
光ピックアップ１２の周囲温度の変化が閾値より小さかったら、記録を終了するかどうか判断し（Ｓ４１４）、記録を終了するときは、記録終了処理を行う（Ｓ４１５）。情報記録を続けるときは（Ｓ４１０）に戻り処理を続ける。
【００７８】
光ピックアップ１２の周囲温度が閾値以上となったら、光ディスク１１への記録中断処理を行い（Ｓ４１６）、中断位置の外側即ち中断位置に続いて、ランダムデータなどのテストデータを記録し（Ｓ４１７）、記録したデータを再生して記録品質を確認する（Ｓ４１８）。記録品質は、ブロックエラーレートの測定や、ジッタの測定などで確認を行う。
【００７９】
次に、中断のときの光ピックアップ１２の周囲温度に近い記録パルスパターンの温度が高い方に近い記録パルスパターンを記憶手段１８から読み出して設定し（Ｓ４１９）、その記録パルスパターンで記録品質を確認し（Ｓ４２０）、さらに中断のときの光ピックアップ１２の周囲温度に近い記録パルスパターンの温度が低い方に近い記録パルスパターンを記憶手段１８から読み出して設定し（Ｓ４２１）、その記録パルスパターンで記録品質を確認し（Ｓ４２２）、確認した３つの記録品質のうち記録品質のよい記録パルスパターンを中断位置以降の新たな記録パルスパターンに設定し（Ｓ４２３）、記録位置を中断位置に設定し（Ｓ４２４）、記録再開処理を行い（Ｓ４２５）、（Ｓ４１０）の情報記録に戻って記録処理を続ける。
【００８０】
（実施の形態２）
本発明に係わる実施の形態２について、フローチャートを参照しながら説明する。
【００８１】
なお、本実施の形態２の説明においては、実施の形態１と共通するものは、重複して述べることをしていない。
【００８２】
図５は、本発明の実施の形態２に係わる記録処理のフローチャートである。
【００８３】
図５において、書換可能な光ディスク１１を光ディスク装置１に装着し、記録が開始されると（Ｓ５０１）、光ディスク１１のトラッキングサーボ、フォーカスサーボなどの初期設定を行い（Ｓ５０２）、光ピックアップ１２の周囲温度を検出し（Ｓ５０３）、光ディスク１１の判別を行い（Ｓ５０４）、光ディスク１１の種類に応じかつ光ピックアップ１２の周囲温度に応じた記録パルスパターンを設定する（Ｓ５０５）。
【００８４】
設定した記録パルスパターンを用いて光ディスク１１の試書領域で試書を実施し（Ｓ５０６）、試書きデータの再生品質を確認し（Ｓ５０７）、記録品質が所定値より小さいかどうか判別し（Ｓ５０８）、所定値より小さくなかったら、記録パワーを変更し（Ｓ５０９）、試書き処理（Ｓ５０６）に戻る。
【００８５】
記録品質が所定値より小さくなったら、情報の記録をし（Ｓ５１０）、ランニングＯＰＣで記録パワーの更新をし（Ｓ５１１）、光ピックアップ１２の記録を始めてからの記録時間を検出し（Ｓ５１２）、記録時間が所定時間記録したかどうか判断する（Ｓ５１３）。
【００８６】
記録時間が閾値より小さかったら、記録を終了するかどうか判断し（Ｓ５１４）、記録を終了するときは、記録終了処理を行う（Ｓ５１５）。情報記録を続けるときは（Ｓ５１０）に戻り処理を続ける。
【００８７】
記録時間が所定時間以上となったら、光ディスク１１への記録中断処理を行い（Ｓ５１６）、中断位置の外側即ち中断位置に続いて、ランダムデータなどのテストデータを記録し（Ｓ５１７）、記録したデータを再生して記録品質を確認する（Ｓ５１８）。記録品質は、ブロックエラーレートの測定や、ジッタの測定などで確認を行う。
【００８８】
次に、中断位置で光ピックアップの周囲温度を検出し（Ｓ５１９）、中断のときの光ピックアップ１２の周囲温度に近い記録パルスパターンの温度が高い方に近い記録パルスパターンを記憶手段１８から読み出して設定し（Ｓ５２０）、その記録パルスパターンで記録品質を確認し（Ｓ５２１）、さらに中断のときの光ピックアップ１２の周囲温度に近い記録パルスパターンの温度が低い方に近い記録パルスパターンを記憶手段１８から読み出して設定し（Ｓ５２２）、その記録パルスパターンで記録品質を確認し（Ｓ５２３）、確認した３つの記録品質のうち記録品質のよい記録パルスパターンを中断位置以降の新たな記録パルスパターンに設定し（Ｓ５２４）、記録位置を中断位置に設定し（Ｓ５２５）、記録再開処理を行い（Ｓ４２６）、（Ｓ５１０）の情報記録に戻って記録処理を続ける。
【００８９】
（実施の形態３）
本発明に係わる実施の形態３について、フローチャートを参照しながら説明する。
【００９０】
なお、本実施の形態３の説明においては、実施の形態１と共通するものは、重複して述べることをしていない。
【００９１】
図６は、本発明の実施の形態３に係わる記録処理のフローチャートである。
【００９２】
図６において、書換可能な光ディスク１１を光ディスク装置１に装着し、記録が開始されると（Ｓ６０１）、光ディスク１１のトラッキングサーボ、フォーカスサーボなどの初期設定を行い（Ｓ６０２）、光ピックアップ１２の周囲温度を検出し（Ｓ６０３）、光ディスク１１の判別を行い（Ｓ６０４）、光ディスク１１の種類に応じかつ光ピックアップ１２の周囲温度に応じた記録パルスパターンを設定する（Ｓ６０５）。
【００９３】
設定した記録パルスパターンを用いて光ディスク１１の試書領域で試書を実施し（Ｓ６０６）、試書きデータの再生品質を確認し（Ｓ６０７）、記録品質が所定値より小さいかどうか判別し（Ｓ６０８）、所定値より小さくなかったら、記録パワーを変更し（Ｓ６０９）、試書き処理（Ｓ６０６）に戻る。
【００９４】
記録品質が所定値より小さくなったら、情報の記録をし（Ｓ６１０）、ランニングＯＰＣで記録パワーの更新をし（Ｓ６１１）、光ピックアップ１２の記録を始めてからの記録量を検出し（Ｓ６１２）、記録量が所定量記録したかどうか判断する（Ｓ６１３）。
【００９５】
記録量が所定量より小さかったら、記録を終了するかどうか判断し（Ｓ６１４）、記録を終了するときは、記録終了処理を行う（Ｓ６１５）。情報記録を続けるときは（Ｓ６１０）に戻り処理を続ける。
【００９６】
記録時量が所定量以上となったら、光ディスク１１への記録中断処理を行い（Ｓ６１６）、中断位置の外側即ち中断位置に続いて、ランダムデータなどのテストデータを記録し（Ｓ６１７）、記録したデータを再生して記録品質を確認する（Ｓ６１８）。記録品質は、ブロックエラーレートの測定や、ジッタの測定などで確認を行う。
【００９７】
次に、中断位置で光ピックアップ１２の周囲温度を検出し（Ｓ６１９）、中断のときの光ピックアップ１２の周囲温度に近い記録パルスパターンの温度が高い方に近い記録パルスパターンを記憶手段１８から読み出して設定し（Ｓ６２０）、その記録パルスパターンで記録品質を確認し（Ｓ６２１）、さらに中断のときの光ピックアップ１２の周囲温度に近い記録パルスパターンの温度が低い方に近い記録パルスパターンを記憶手段１８から読み出して設定し（Ｓ６２２）、その記録パルスパターンで記録品質を確認し（Ｓ６２３）、確認した３つの記録品質のうち記録品質のよい記録パルスパターンを中断位置以降の新たな記録パルスパターンに設定し（Ｓ６２４）、記録位置を中断位置に設定し（Ｓ６２５）、記録再開処理を行い（Ｓ６２６）、（Ｓ６１０）の情報記録に戻って記録処理を続ける。
【００９８】
（実施の形態４）
本発明に係わる実施の形態４について、フローチャートを参照しながら説明する。
【００９９】
なお、本実施の形態４の説明においては、実施の形態１と共通するものは、重複して述べることをしていない。
【０１００】
図７は、本発明の実施の形態４に係わる記録処理のフローチャートである。
【０１０１】
図７において、書換可能な光ディスク１１を光ディスク装置１に装着し、記録が開始されると（Ｓ７０１）、光ディスク１１のトラッキングサーボ、フォーカスサーボなどの初期設定を行い（Ｓ７０２）、光ピックアップ１２の周囲温度を検出し（Ｓ７０３）、光ディスク１１の判別を行い（Ｓ７０４）、光ディスク１１の種類に応じかつ光ピックアップ１２の周囲温度に応じた記録パルスパターンを設定する（Ｓ７０５）。
【０１０２】
設定した記録パルスパターンを用いて光ディスク１１の試書領域で試書を実施し（Ｓ７０６）、試書きデータの再生品質を確認し（Ｓ７０７）、記録品質が所定値より小さいかどうか判別し（Ｓ７０８）、所定値より小さくなかったら、記録パワーを変更し（Ｓ７０９）、試書き処理（Ｓ７０６）に戻る。
【０１０３】
記録品質が所定値より小さくなったら、情報の記録をし（Ｓ７１０）、ランニングＯＰＣで記録パワーの更新をし（Ｓ７１１）、光ディスクの記録位置を検出して（Ｓ７１２）、光ディスク１１の記録位置より記録速度を変更するかどうか判断する（Ｓ７１３）。
【０１０４】
記録速度を変更する位置でなかったら、記録を終了するかどうか判断し（Ｓ７１４）、記録を終了するときは、記録終了処理を行う（Ｓ７１５）。情報記録を続けるときは（Ｓ７１０）に戻り処理を続ける。
【０１０５】
記録速度を変えるときは、光ディスク１１への記録中断処理を行い（Ｓ７１６）、変更する記録速度に対応する記録パルスパターンを取得し（Ｓ７１７）、中断位置の外側即ち中断位置に続いてランダムデータなどのテストデータを記録し（Ｓ７１８）、記録したデータを再生して記録品質を確認する（Ｓ７１９）。記録品質は、ブロックエラーレートの測定や、ジッタの測定などで確認を行う。
【０１０６】
次に、中断位置で光ピックアップ１２の周囲温度を検出し（Ｓ７２０）、中断のときの光ピックアップ１２の周囲温度に近い記録パルスパターンの温度が高い方に近い記録パルスパターンを記憶手段１８から読み出して設定し（Ｓ７２１）、その記録パルスパターンで記録品質を確認し（Ｓ７２２）、さらに中断のときの光ピックアップ１２の周囲温度に近い記録パルスパターンの温度が低い方に近い記録パルスパターンを記憶手段１８から読み出して設定し（Ｓ７２３）、その記録パルスパターンで記録品質を確認し（Ｓ７２４）、確認した３つの記録品質のうち記録品質のよい記録パルスパターンを中断位置以降の新たな記録パルスパターンに設定し（Ｓ７２５）、記録位置を中断位置に設定し（Ｓ７２６）、記録再開処理を行い（Ｓ７２７）、（Ｓ７１０）の情報記録に戻って記録処理を続ける。
【０１０７】
なお、本発明では、通常の使用のとき光ピックアップ１２の周囲温度が所定値以上変化したら、記録品質を確認して記録条件を最適化して記録品位の優れた光ディスク装置１を提供する構成で述べたが、特殊環境である高温や低温など環境下での光ディスク１１に記録する条件下で使用してもよい。特殊環境で使用することにより、温度変化により記録品位が低下するときでも高品位の記録ができるようになる。
【０１０８】
また、記録パルスパターンは、標準の記録パルスパターンと光ピックアップ１２の周囲温度の上、下の両方の温度における記録パルスパターンで説明したが、周囲温度の上の温度、周囲温度の下の温度のそれぞれ複数の温度での記録パルスパターンを選択し、それぞれの記録パルスパターンにて記録し記録品質の最適化を行えば、さらに光ディスク１１への情報の書込みの高品質化を図ることができる。
【産業上の利用可能性】
【０１０９】
本発明にかかる光ディスク装置及びその記録方法は、光ピックアップの周囲温度の変化に応じて記録条件を最適化できるので、例えば高温や低温などの特殊環境下で光ディスクに情報を高品質で記録することができるようになり、屋外や温度変化の大きい場所（環境試験室等）などで連続してデータを収集し、収集したデータを記録する光ディスク装置などに適応可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１１０】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図
【図２】本発明の実施の形態１に係わる光ディスクへ情報を記録する記録パルスパターンに関する説明図
【図３】本発明の実施の形態１に係わる記録パルスパターンを示した表の一例を示す図
【図４】本発明の実施の形態１に係わる記録処理のフローチャート
【図５】本発明の実施の形態２に係わる記録処理のフローチャート
【図６】本発明の実施の形態３に係わる記録処理のフローチャート
【図７】本発明の実施の形態４に係わる記録処理のフローチャート
【図８】従来の記録処理のフローチャート
【符号の説明】
【０１１１】
１    光ディスク装置
１１    光ディスク
１２    光ピックアップ
１３    スピンドルモータ
１４    フィードモータ
１５    サーボモジュール
１６    信号制御手段
１７    ＣＰＵ
１８    記憶手段
１９    記録制御手段
２０    インターフェース
２２    記録パルスパターン選択手段
２３    エラーレート検出手段
２４    温度検出手段
１１１    パーソナルコンピュータ
１１２    ケーブル
【図１】
2008090943.tif 000003
【図２】
2008090943.tif 000004
【図３】
2008090943.tif 000005
【図４】
2008090943.tif 000006
【図５】
2008090943.tif 000007
【図６】
2008090943.tif 000008
【図７】
2008090943.tif 000009
【図８】
2008090943.tif 000010