(57)【要約】【課題】光ディスクのディフェクトを考慮してフォーカスバイアス値の調整を適切に行う。【解決手段】光ピックアップのフォーカスサーボ制御のためフォーカスバイアス値の調整を行うフォーカスバイアス調整回路において、前記光ピックアップに周期性を有する外乱信号を印加し、光ディスクから読み出したＲＦ信号の振幅変動を計測する振幅変動計測部と、前記ＲＦ信号の振幅変動に基づき前記外乱信号に対する外乱応答の指標値を算出する外乱応答演算部と、前記指標値と所定の評価関数とに基づいて設定すべきフォーカスバイアス値を求めるフォーカスバイアス調整部と、を有し、前記外乱応答演算部は、前記光ディスクのディフェクトが検出された期間には、前記ディフェクト検出前の前記ＲＦ信号の振幅変動を維持する。【選択図】図７
2008090975.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップのフォーカスサーボ制御のためフォーカスバイアス値の調整を行うフォーカスバイアス調整回路において、
前記光ピックアップに周期性を有する外乱信号を印加し、光ディスクから読み出したＲＦ信号の振幅変動を計測する振幅変動計測部と、
前記ＲＦ信号の振幅変動に基づき前記外乱信号に対する外乱応答の指標値を算出する外乱応答演算部と、
前記指標値と所定の評価関数とに基づいて設定すべきフォーカスバイアス値を求めるフォーカスバイアス調整部と、を有し、
前記外乱応答演算部は、
前記光ディスクのディフェクトが検出された期間には、前記ディフェクト検出前の前記ＲＦ信号の振幅変動を維持すること、
を特徴とするフォーカスバイアス調整回路。
【請求項２】
請求項１に記載のフォーカスバイアス調整回路において、
前記外乱信号の周波数は、フォーカスサーボ制御が追従可能な周波数に設定されること、
を特徴とするフォーカスバイアス調整回路。
【請求項３】
請求項１に記載のフォーカスバイアス調整回路において、
前記外乱応答演算部は、
前記外乱信号と前記ＲＦ信号の振幅変動とを乗算し、前記乗算の結果を前記演算期間にわたり積分すること、
を特徴とするフォーカスバイアス調整回路。
【請求項４】
請求項３に記載のフォーカスバイアス調整回路において、
前記外乱応答演算部は、
前記ディフェクトが検出された期間には、前記外乱信号と前記ディフェクト検出前の前記ＲＦ信号の振幅変動とを乗算し、前記乗算の結果を積分すること、
を特徴とするフォーカスバイアス調整回路。
【請求項５】
請求項１に記載のフォーカスバイアス調整回路において、
前記外乱応答演算部は、
前記ＲＦ信号の上側包絡線が、第１の検出基準レベル以下となる場合、前記光ディスクの第１のディフェクトを検出すること、
を特徴とするフォーカスバイアス調整回路。
【請求項６】
請求項１に記載のフォーカスバイアス調整回路において、
前記外乱応答演算部は、
前記ＲＦ信号の下側包絡線が、第２の検出基準レベル以上となる場合、前記光ディスクの第１のディフェクトを検出すること、
を特徴とするフォーカスバイアス調整回路。
【請求項７】
請求項１に記載のフォーカスバイアス調整回路において、
前記外乱応答演算部は、
前記ＲＦ信号の上側包絡線と下側包絡線との間のレベル差が、第３の検出基準レベル以下となる場合、前記光ディスクの第２のディフェクトを検出すること、
を特徴とするフォーカスバイアス調整回路。
【請求項８】
請求項１に記載のフォーカスバイアス調整回路において、
前記ＲＦ信号の上側包絡線が第１の検出基準レベル以下となる場合、又は、前記ＲＦ信号の下側包絡線が第２の検出基準レベル以上となる場合、前記光ディスクの第１のディフェクトを検出する第１のディフェクト検出部と、
前記ＲＦ信号の上側包絡線と下側包絡線との間のレベル差が第３の検出基準レベル以下となる場合、前記光ディスクの第２のディフェクトを検出する第２のディフェクト検出部と、
前記ＲＦ信号の上側包絡線と下側包絡線との間のレベル差を求めることで前記ＲＦ信号の振幅変動を計測する振幅変動計測部と、
前記ＲＦ信号の振幅変動を直流化し、前記第１又は前記第２のディフェクトが検出された期間には駆動を停止する低域通過フィルタと、
前記第１又は前記第２のディフェクトが検出されない場合には前記ＲＦ信号の振幅変動を選択出力し、前記第１又は前記第２のディフェクトが検出された場合には直流化された前記ＲＦ信号の振幅変動を選択出力するスイッチ部と、
前記スイッチ部の選択出力と前記外乱信号とを乗算する乗算部と、
前記乗算の結果を累積加算した結果を前記指標値として出力する累積加算部と、
を有することを特徴とするフォーカスバイアス調整回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フォーカスバイアス調整回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤやＤＶＤ等の光ディスク記録再生装置では、レーザー光の焦点を光ディスクの情報面に合焦させる必要があり、対物レンズと光ディスクの情報面との距離を合焦状態に保つため、フォーカスエラー信号ＦＥに基づいたフォーカスサーボ制御を行っている。 フォーカスサーボ制御の基本的な動作は、光ピックアップ内の対物レンズをフォーカス方向（光軸に平行な方向）に駆動し、光ディスクで反射されたレーザー光を光ピックアップ内に設けた光検出器で電気信号に変換してからフォーカスエラー信号ＦＥとして取り出す。そして、このフォーカスエラー信号ＦＥの基準値（ＶＲＥＦ）となる状態を合焦点としている。
【０００３】
しかしながら、フォーカスエラー信号ＦＥの基準値（ＶＲＥＦ）となる状態であっても、デフォーカス状態となって最適な記録・再生が必ずしも行えるとは限らない。例えば、光ディスクの特性バラツキ、光ピックアップ内の光学系の特性バラツキ、対物レンズの位置が自重で自然に下がってくること等に起因して、フォーカスエラー信号ＦＥのＤＣオフセット（中心レベル）に調整が必要となるからである。そこで、光ディスク記録再生装置では、フォーカスエラー信号ＦＥに印加するフォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳを調整して、対物レンズと光ディスクの情報面の距離を任意に変化させる仕組みが一般的に設けられている。
【０００４】
フォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳを調整するための従来の仕組みとして、例えば、以下に示す特許文献１には、正弦波状のパイロット信号Ｐの制御の下で光軸に平行となる往復運動を対物レンズに与えた結果、読出し信号Ｖの包絡線上に現れる周期的な変化が観測され（図１１参照）、パイロット信号Ｐとの比較等によって得られる集束誤差信号によって、対物レンズの位置を補正する仕組みが開示されている。また、その他にも、光ディスクからの読み取ったＲＦ信号の振幅が最大となるように調整を行う仕組みや、光ディスクの再生ジッターが最小となるように調整を行う仕組み等が一般的に知られている。
【特許文献１】特開昭５０−８５３４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、フォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳを調整する従来の仕組みでは、光ディスクから光学的に読出した信号により得られる所定の指標値に基づいて最適なフォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳを探索していく手法では、傷、汚れ、ゴミや指紋の付着、といった光ディスクの各種ディフェクト（欠陥）にまで対処できていなかった。このため、従来の仕組みのままでは、光ディスクのディフェクト箇所の影響を受けて、最適なフォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳの探索が、一時的に滞ったり、あるいは、誤った方向に向かう恐れがあった。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前述した課題を解決するための主たる本発明は、光ピックアップのフォーカスサーボ制御のためフォーカスバイアス値の調整を行うフォーカスバイアス調整回路において、前記光ピックアップに周期性を有する外乱信号を印加し、光ディスクから読み出したＲＦ信号の振幅変動を計測する振幅変動計測部と、前記ＲＦ信号の振幅変動に基づき前記外乱信号に対する外乱応答の指標値を算出する外乱応答演算部と、前記指標値と所定の評価関数とに基づいて設定すべきフォーカスバイアス値を求めるフォーカスバイアス調整部と、を有し、前記外乱応答演算部は、前記光ディスクのディフェクトが検出された期間には、前記ディフェクト検出前の前記ＲＦ信号の振幅変動を維持すること、とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、光ディスクのディフェクトを考慮してフォーカスバイアス値の調整を適切に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
＜＜光ディスク装置＞＞
図１は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示した図である。
【０００９】
光ディスク１０は、ＣＤ、ＤＶＤ又はＨＤ−ＤＶＤ等の光ディスク規格に準拠した媒体であり、スピンドルモータ３００によって回転駆動する。
【００１０】
光ピックアップ４００は、半導体レーザー（不図示）から出射するレーザー光を光ディスク１０上に光スポットとして集光させるための対物レンズ４１０やその他の光学レンズ、光ディスク１０からの反射光を受光する８分割ダイオード等の光検出器４２０、フォーカス／トラッキングサーボ用のサーボ機構４３０を有する。
【００１１】
尚、サーボ機構４３０は、対物レンズ４１０を保持するレンズホルダー、レンズホルダーをサスペンションワイヤーで弾性支持する基板、レンズホルダーに設ける駆動コイル、駆動コイルを駆動することで磁気作用が働くマグネット、ヨーク等の磁気部材、等によって構成される。即ち、駆動コイルを駆動することで、磁気作用によって、対物レンズ４１０がフォーカス方向（光軸に平行な方向）やトラッキング方向（光軸と直交する方向）へと駆動する。
【００１２】
アナログ信号処理回路２００は、ＲＦ生成回路２１０、ＦＥ生成回路２２０、ＴＥ生成回路２３０、ディフェクト判定回路２４０を有する。
【００１３】
ＲＦ生成回路２１０は、光検出器４２０において検出された光ディスク１０からの反射光に基づいてアナログ量のＲＦ信号を生成する。尚、ＲＦ生成回路２１０は、二値化回路とピークホールド・ボトムホールド回路を有しており、デジタル信号処理回路１００に対して、ＲＦ信号を二値化した信号とＲＦ信号のピークレベルＰＨ及びボトムレベルＢＨを供給する。
【００１４】
ＦＥ生成回路２２０は、光検出器４２０において受光された光ディスク１０からの反射光に基づいて、フォーカスエラー信号ＦＥを生成する。例えば、フォーカスエラー信号ＦＥは、非点収差法やフーコー法に従って、光ディスク１０から得られる。
【００１５】
ＴＥ生成回路２３０は、光検出器４２０において受光された光ディスク１０からの反射光に基づいて、トラッキングサーボ用のトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。例えば、トラッキングエラー信号ＴＥは、３ビーム法、差動プッシュプル法又はＤＰＤ（Differential Phase Detection）法に従って、光ディスク１０から得られる。
【００１６】
ディフェクト判定回路２４０は、傷、汚れ、ゴミや指紋の付着等といった光ディスク１０上のディフェクト（欠陥）を検出した旨を示すディフェクト信号を生成する。尚、ディフェクト判定回路２４０は、ディフェクト信号として、暗欠陥を検出した旨を示す暗ディフェクト信号Ｄ１と、明欠陥を検出した旨を示す明ディフェクト信号Ｄ２と、を生成する。
【００１７】
図２は、暗欠陥が検出される仕組みを説明する図である。図２（ａ）に示すように、ＲＦ信号の包絡線は、最大ピークレベルＰＨ_ＭＡＸから最小ボトムレベルＢＨ_ＭＩＮまでの間を振幅する波形となるが、例えば光ディスク１０の表面に傷が付くと、光ディスク１０の情報面からの反射光強度が低下する。この結果、ＲＦ信号の上側包絡線が、第１の検出基準レベルＶｔｈ１以下となったときに暗欠陥であると判定し、図２（ｂ）に示すように、暗欠陥箇所がＨレベルの暗ディフェクト信号Ｄ１が生成される。
【００１８】
図３は、明欠陥が検出される仕組みを説明する図である。図３（ａ）に示すように、ＲＦ信号の包絡線は、最大ピークレベルＰＨ_ＭＡＸから最小ボトムレベルＢＨ_ＭＩＮまでの間を振幅する波形となるが、例えば光ディスク１０のレーベル内に傷が存在すると、光ディスク１０の情報面からの反射光強度は増加する。この結果、ＲＦ信号の下側包絡線が、第２の検出基準レベルＶｔｈ２以上となったときに明欠陥であると判定し、図３（ｂ）に示すように、明欠陥箇所がＨレベルの明ディフェクト信号Ｄ２が生成される。
【００１９】
デジタル信号処理回路１００は、スピンドルサーボ制御回路１１０、フォーカスサーボ制御回路１２０、トラッキングサーボ制御回路１３０、エンコーダ／デコーダ１４０を有する。尚、デジタル信号処理回路１００は、アナログ信号処理回路２００を含めて集積化したアナログ・デジタル混載ＬＳＩの場合としてもよい。
【００２０】
スピンドルサーボ制御回路１１０は、ＲＦ生成回路２１０で生成された二値化ＲＦ信号に基づいて光ディスク１０の回転速度に比例した周波数を有したビットクロック信号を生成する。そして、スピンドルサーボ制御回路１１０は、このビットクロック信号をスピンドルモータ３００の規定回転速度に対応した基準クロック信号と比較した結果に基づいて、スピンドルモータ３００の回転速度が規定回転速度となるように制御を行う。
【００２１】
フォーカスサーボ制御回路１２０は、ＦＥ生成回路２２０において生成されたフォーカスエラー信号ＦＥに基づいて、サーボ機構４３０におけるフォーカスサーボ制御用の駆動コイルを駆動させる駆動電圧を生成し、光スポットのフォーカスを合焦させるフォーカスサーボ制御を行う。
【００２２】
また、フォーカスサーボ制御回路１２０は、フォーカスエラー信号ＦＥのＤＣオフセットの調整、換言すると、フォーカスエラー信号ＦＥに印加するフォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳの調整を行うフォーカスバイアス調整回路１２５を有する。尚、フォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳの調整は、光ディスク１０の特性バラツキ、光ピックアップ４００内の光学系の特性バラツキ毎に必要である。さらに、フォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳの調整は、対物レンズ４１０の位置が自重で自然に下がってくること等を理由として、様々な種別の光ディスク１０を記録・再生する毎、記録・再生に係る倍速を途中で変更する毎、又は記録・再生の状態が悪いのでリトライする毎に必要となる。
【００２３】
トラッキングサーボ制御回路１３０は、ＴＥ生成回路２２０において生成されたトラッキングエラー信号ＴＥに基づいて、サーボ機構４３０におけるトラッキングサーボ制御用の駆動コイルを駆動させる駆動電圧を生成し、光スポットＳを目的走査トラックに追従させるトラッキングサーボ制御を行う。
【００２４】
エンコーダ／デコーダ１４０は、光ディスク１０の規格に応じたエンコード処理又はデコード処理を行う。例えば、光ディスク１０がＤＶＤの場合、エンコード処理は、ホストコンピュータ６００から送信されたライトデータに対してスクランブル処理、誤り訂正符号や誤り検出符号の生成付与並びにＥＦＭ＋変調処理等を含む。また、デコード処理は、光ディスク１０から読み出したリードデータ（二値化ＲＦ信号）に対してＥＦＭ＋復調処理、誤り訂正や誤り検出並びにデスクランブル処理等を含む。
【００２５】
マイクロコンピュータ５００は、デジタル信号処理回路１００、アナログ信号処理回路２００、光ピックアップ４００等、光ディスク装置全体の制御を司るシステムコントローラである。
【００２６】
ホストコンピュータ６００は、例えば、光ディスク装置を搭載したパーソナルコンピュータ等の外部機器であり、光ディスク装置に対して記録命令や再生命令を行い、エンコード処理前のライトデータの送信や、デコード処理後のリードデータの受信を行う。
【００２７】
＜＜フォーカスバイアス調整回路＞＞
＝＝＝  調整原理  ＝＝＝
フォーカスバイアス調整回路１２５によるフォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳの調整原理について、図４、図５を適宜参照しつつ、図６に示すフローチャートを用いて説明する。尚、以下の主体は、特に断らない限り、フォーカスバイアス調整回路１２５とする。
【００２８】
まず、フォーカスバイアス調整回路１２５は、フォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳの初期値ＦＢ＿ＩＮＩ（外乱信号ＸのＤＣオフセットである中心レベルＦＯＦＦに相当する）を設定した上で（Ｓ６００）、図４（ａ）に示すように、中心レベルＦＯＦＦを基準として振幅する正弦波の外乱信号Ｘをフォーカスサーボループ中に印加してフォーカスサーボ制御を行っていく演算期間中、ＲＦ信号の振幅変動Ｙを計測していく（Ｓ６０１）。
【００２９】
即ち、演算期間中において、対物レンズ４１０を外乱信号Ｘによってフォーカス方向に振動させて、その際の光検出器４２０で検出された光ディスク１０からの反射光に基づいてＲＦ信号の振幅変動Ｙを計測していく。
【００３０】
そして、フォーカスバイアス調整回路１２５は、図４（ｂ）に示すように、外乱信号ＸとＲＦ信号の振幅変動Ｙとの乗算を行い、さらに、その乗算値（＝Ｘ・Ｙ）を演算期間中にわたって積分することで、外乱信号Ｘに対する外乱応答の指標値Ｗ（＝Ｅ（Ｘ・Ｙ））を演算していく（Ｓ６０２）。尚、前述した指標値Ｗに限らず、外乱信号Ｘの中心レベルＦＯＦＦ毎に対応した外乱応答を検証できる指標値であれば何でもよい。
【００３１】
ここで、光ディスク装置の標準機を用いて、光ディスク１０の種別毎や倍速毎、又は、光ピックアップ４００の機種毎に、複数の中心レベルＦＯＦＦに対する外乱応答の参考値Ｗ’を予め求めておく。そして、複数の中心レベルＦＯＦＦに対する外乱応答の参考値Ｗ’を統計処理することで、例えば、図４（ｃ）に示すような、フォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳ（中心レベルＦＯＦＦ）と外乱応答の参考値Ｗ’とを対応づけた評価関数（Ｗ＝Ｆ（ＦＢＩＡＳ））を、光ディスク１０の種別毎や倍速毎等に予め求めておく。また、評価関数Ｆ（）において参考値Ｗ’が「０」となるときのフォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳを最適値ＦＢ_ＢＥＳＴとして求めておく。
【００３２】
フォーカスバイアス調整回路１２５は、かかる評価関数Ｆ（）並びに最適値ＦＢ_ＢＥＳＴを基にして、つぎのようなフォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳの調整を行う。即ち、図５に示すように、まず、外乱応答の指標値Ｗについて今回求まった演算値Ｗｔを、評価関数Ｆ（）に当てはめることで、フォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳの参考値Ｆ＾｛−１｝（Ｗｔ）を求める（Ｓ６０３）。
【００３３】
さらに、求まった参考値Ｆ＾｛−１｝（Ｗｔ）と最適値ＦＢ_ＢＥＳＴとの間のズレ量ΔＦＢを求める（Ｓ６０４）。フォーカスバイアス調整回路１２５は、この求まったズレ量ΔＦＢ分、現状のフォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳを調整することになる（Ｓ６０５）。尚、外乱応答の指標値Ｗが規定外の値を示す場合も考えられるので、所定の収束条件、例えば、外乱応答の指標値Ｗが所定の規定範囲内となるまで（Ｓ６０６：ＹＥＳ）、前述した処理（Ｓ６００〜Ｓ６０５）を繰り返し行うことが好ましい。
【００３４】
＝＝＝  回路構成  ＝＝＝
図７は、本発明の一実施形態に係るフォーカスサーボ制御回路１２０及びその周辺回路の構成を示す図である。フォーカスサーボ制御回路１２０の周辺回路は、ＲＦ信号のピークレベルＰＨ及びボトムレベルＢＨの供給元であるＲＦ生成回路２１０、フォーカスエラー信号ＦＥの供給元であるＦＥ生成回路２２０、暗ディフェクト信号Ｄ１及び明ディフェクト信号Ｄ２の供給元であるディフェクト判定回路２４０、サーボ機構４３０のフォーカスサーボ用の駆動コイルを駆動するためのフォーカス駆動信号を生成するフォーカス駆動信号生成回路４３５がある。
【００３５】
尚、フォーカスサーボ制御ループは、光ピックアップ４００、ＦＥ生成回路２２０、フォーカスサーボ制御回路１２０、フォーカス駆動信号生成回路４３５によって主に形成される。
【００３６】
フォーカスバイアス調整回路１２５は、前述した調整原理を実現すべく、図７に示すように、外乱生成部１２５１、外乱応答演算部１２５２、評価関数設定部１２５３、ＦＢＩＡＳ調整部１２５４、ＦＢＩＡＳ設定部１２５５、スイッチ部１２５６、ＦＯＦＦ設定部１２５７、加算部１２５８、を有する。
【００３７】
外乱生成部１２５１は、外乱信号Ｘを生成して、スイッチ部１２５６の一方の入力端子並びに外乱応答演算部１２５２へと供給する。尚、外乱信号Ｘは、正弦波信号、三角波信号、矩形波信号等といった周期性を有した信号であり、フォーカスサーボ制御回路１２０によるフォーカスサーボ制御が追従可能な周波数を有する必要がある。また、外乱信号Ｘは、フォーカスサーボ制御回路１２０のサーボゲインに影響を与えないゲインに設定する必要がある。
【００３８】
外乱応答演算部１２５２は、外乱信号Ｘをフォーカスサーボ制御ループ中に印加してフォーカスサーボ制御を行っていく演算期間中、外乱信号Ｘに対する外乱応答の指標値Ｗを演算していく。尚、指標値Ｗの演算は、ＲＦ信号のピークレベルＰＨ並びにボトムレベルＢＨの差によってＲＦ信号の振幅変動ΔＲを計測していくとともに、計測されたＲＦ信号の振幅変動ΔＲに対して所定の演算を実施することで行われる。また、ＲＦ信号の振幅変動ΔＲの計測の偏りを防ぐために、外乱応答演算部１２５２は、前述した演算期間とし、光ディスク１０の所定周分（例えば、ディスク１周分）にわたった期間とすることが好ましい。
【００３９】
さらに、外乱応答演算部１２５２は、ディフェクト判定回路２４０からの暗ディフェクト信号Ｄ１並びに明ディフェクト信号Ｄ２等を用いて、外乱応答の指標値Ｗを演算していく際に、光ディスク１０のディフェクトが検出された期間には、ディフェクトの検出前に計測されたＲＦ信号の振幅変動ΔＲを維持する処理を行う。
【００４０】
即ち、ディフェクトが生じた場合、ＲＦ信号の振幅変動ΔＲは無意味なデータとなるので、外乱応答の指標値Ｗは正しい演算が行われない。
【００４１】
評価関数設定部１２５３は、光ディスク１０の種別や光ピックアップ４００の機種毎に、フォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳ対外乱応答の指標値Ｗの評価関数Ｆ（）を設定する。また、本実施形態では、評価関数Ｆ（）は、その後の演算が容易であり近似できる一次関数を採用するが、二次以上の多次関数を採用してもよい。
【００４２】
ＦＢＩＡＳ調整部１２５４は、外乱応答演算部１２５２において演算された外乱応答の指標値Ｗを、評価関数設定部１２５３において設定された評価関数Ｆ（）に当てはめることで、フォーカスバイアス最適値ＦＢ_ＢＥＳＴを求める。
【００４３】
ＦＢＩＡＳ設定部１２５５は、マイクロコンピュータ５００から設定されるフォーカスバイアス初期値ＦＢ＿ＩＮＩや、ＦＢＩＡＳ調整部１２５４において求められたフォーカスバイアス最適値ＦＢ_ＢＥＳＴを設定しつつ、スイッチ部１２５６の他方の入力端子へと供給する。
【００４４】
スイッチ部１２５６は、外乱生成部１２５１から供給された外乱信号Ｘ又はＦＢＩＡＳ設定部１２５５から供給されるフォーカスバイアス初期値ＦＢ＿ＩＮＩ若しくはフォーカスバイアス最適値ＦＢ_ＢＥＳＴを選択して加算部１２５８へと出力する。
【００４５】
ＦＯＦＦ設定部１２５７は、外乱信号Ｘの中心レベルＦＯＦＦを設定する。尚、かかる中心レベルＦＯＦＦは、マイクロコンピュータ５００によって複数の外乱応答の指標値Ｗを求める度に変更される。
【００４６】
加算部１２５８は、ＦＥ生成回路２２０から供給されたフォーカスエラー信号ＦＥに対して、スイッチ部１２５６の選択出力とＦＯＦＦ設定部１２５７において設定された基準値ＯＦＦとの差を重畳させて出力する。尚、加算部１２５８の出力ＦＥ’によって、フォーカス駆動信号ＦＤが、フォーカス駆動信号生成回路４３５において生成される。
【００４７】
＜＜ディフェクトに対処した外乱応答演算回路＞＞
図８は、本発明の一実施形態に係る外乱応答演算回路１２５２の構成を示す図である。
【００４８】
外乱応答演算回路１２５２は、振幅変動計測部１５０、ＬＰＦ１６０、第１のディフェクト検出部１７０、第２のディフェクト検出部１８０、論理和演算部１９０、スイッチ部２００、乗算部２１０、加算部２１１、遅延部２１２を有する。
【００４９】
振幅変動計測部１５０は、ＲＦ信号の上側包絡線におけるピークレベルＰＨとＲＦ信号の下側包絡線におけるボトムレベルＢＨとの間のレベル差、すなわちＲＦ信号の振幅変動ΔＲ（＝ＰＨ−ＢＨ）を計測していく加算部である。
【００５０】
ＬＰＦ（Low Pass Filter）１６０は、振幅変動計測部１５０より出力されたＲＦ信号の振幅変動ΔＲを重み付け移動平均によって直流化し、その結果として、ＲＦ信号の振幅変動ΔＲの直流成分Ｅ（ΔＲ）を求める。尚、本実施形態のＬＰＦ１６０は、ＲＦ信号の振幅変動ΔＲをフィルタ係数ａ１で乗算する乗算部１６１と、ＲＦ信号の振幅変動ΔＲを単位時間遅延させる遅延部１６２と、遅延部１６２の出力をフィルタ係数ａ２で乗算する乗算部１６３と、加算部１６６の出力を単位時間遅延させる遅延部１６４と、遅延部１６４の出力をフィルタ計数ｂ１で乗算する乗算部１６５と、乗算部１６１、１６３、１６５の各出力を加算する加算部１６６と、加算部１６６と遅延部１６４との間に設けるスイッチ部１６７と、によるＩＩＲ（Infinite Impulse Response）フィルタによって構成される。
【００５１】
尚、スイッチ部１６７は、後述の論理和演算部１９０から出力される切替信号ＳＷに基づいてオン・オフする。スイッチ部１６７がオンするとＬＰＦ１６０による振幅変動ΔＲの直流化が継続して行われるが、スイッチ部１６７がオフするとＬＰＦ１６０による振幅変動ΔＲの直流化が停止することになる。本実施形態では、切替信号ＳＷが「０」の場合にはスイッチ部１６７はオン、切替信号ＳＷが「１」の場合にはスイッチ部１６７はオフする場合とする。
【００５２】
第１のディフェクト検出部１７０は、光ディスク１０の表面の切り傷やゴミの付着、レーベル内の傷等によって、ディフェクト判定部２４０において生成された暗ディフェクト信号Ｄ１及び明ディフェクト信号Ｄ２に基づいて、暗欠陥又は明欠陥（以下、「第１のディフェクト」と称する。）が生じた旨を検出する。
【００５３】
具体的には、第１のディフェクト検出部１７０は、暗ディフェクト信号Ｄ１と第３のイネーブル信号ＥＮＢ３の論理積を演算する論理積演算部１７１と、明ディフェクト信号Ｄ２と第４のイネーブル信号ＥＮＢ４の論理積を演算する論理積演算部１７２と、論理積演算部１７１の出力と論理積演算部１７２の出力の論理和を演算する論理和演算部１７３と、論理和演算部１７３の出力と第１のイネーブル信号ＥＮＢ１との論理積を演算して、その演算結果を第１のエラー信号ＥＲＲ１として出力する論理積演算部１７４と、を有する。本実施形態では、第１のエラー信号ＥＲＲ１が「１」となる場合とは、第１のディフェクトの検出が有効であるとともに、第１のディフェクトが検出された場合である。
【００５４】
第２のディフェクト検出部１８０は、光ディスク１０の表面に付着した指紋等によって、ディフェクト判定部２４０や第１のディフェクト検出部１７０では検出困難である微小なディフェクト（以下、「第２のディフェクト」と称する）が生じた旨を検出する。即ち、図９に示すように、光ディスク１０の表面に指紋等が付着した場合、ＲＦ信号の包絡線には微小な振幅変動ΔＲが出現するが、ＲＦ信号の上側包絡線は第１の検出基準レベルＶｔｈ１まで落ち込まず、また、ＲＦ信号の下側包絡線は第２の検出基準レベルＶｔｈ２まで上昇しない。そこで、第２のディフェクト検出部１８０は、第１のディフェクト検出部１７０の補完的役割で、前述したようなＲＦ信号の微小な振幅変動を第２のディフェクトとして検出する。
【００５５】
具体的には、第２のディフェクト検出部１８０は、第３の検出基準レベルＶｔｈ３を設定する検出基準レベル設定部１８１と、第２のイネーブル信号ＥＮＢ２に基づき、検出基準レベル設定部１８１において設定された第３の検出基準レベルＶｔｈ３と振幅変動計測部１５０より出力されるＲＦ信号の振幅変動ΔＲとを比較して両者の大小関係を検出する比較部１８２と、比較部１８２の出力のエッジを検出した旨を示す第２のエラー信号ＥＲＲ２を出力するエッジ検出部１８３と、を有する。本実施形態では、第２のエラー信号ＥＲＲ２が「１」となる場合とは、第２のディフェクトの検出が有効であるとともに、第２のディフェクトが検出された場合である。
【００５６】
論理和演算部１９０は、第１のエラー信号ＥＲＲ１と第２のエラー信号ＥＲＲ２の論理和を演算して、その演算結果を切替信号ＳＷとしてスイッチ部２００へと出力する。本実施形態では、切替信号ＳＷが「１」となる場合とは、第１のエラー信号ＥＲＲ１又は第２のエラー信号ＥＲＲ２が「１」となった場合である。
【００５７】
スイッチ部２００は、一方の入力端子ａに振幅変動計測部１５０より出力されるＲＦ信号の振幅変動ΔＲが入力され、他方の入力端子ｂにＬＰＦ１６０より出力される振幅変動ΔＲの直流成分Ｅ（ΔＲ）が入力され、論理和演算部１９０からの切替信号ＳＷによって、入力端子ａ又はｂのうちいずれか一方が選択される。本実施形態では、切変信号ＳＷが「０」の場合には入力端子ａに入力されたＲＦ信号の振幅変動ΔＲが選択され、切替信号ＳＷが「１」の場合には入力端子ｂに入力された振幅変動ΔＲの直流成分Ｅ（ΔＲ）が選択される。
【００５８】
乗算部２１０は、スイッチ部２００の選択出力と外乱信号Ｘとの乗算を行う。
【００５９】
加算部２１１と遅延部２１２によって構成される累積加算部は、乗算部２１０の出力を累積加算（積分）していく。累積加算の結果が、外乱信号Ｘに対する外乱応答の指標値Ｗであって、遅延部２１２から取り出すことができる。
【００６０】
かかる構成により、外乱応答演算回路１２５２は、図１０のフローチャートに示した動作を行う。
【００６１】
即ち、外乱応答演算回路１２５２は、第１のディフェクト及び第２のディフェクトがともに検出されない場合（Ｓ１００：ＮＯ、Ｓ１０１：ＮＯ）、切替信号ＳＷが「０」となるので、スイッチ部２００の入力端子ａが選択されるとともに、ＬＰＦ１６０のスイッチ部１６７がオンする（Ｓ１０２、Ｓ１０３）。この場合、乗算部２１０は、ＲＦ信号の振幅変動ΔＲと外乱信号Ｘとの乗算を行い、また、かかる乗算結果を用いて、加算部２１１と遅延部２１２における累積加算が行われ（Ｓ１０４）、所定の収束条件となるまで（Ｓ１０５：ＹＥＳ）外乱応答の指標値Ｗの演算が継続して行われる。
【００６２】
一方、第１のディフェクト又は第２のディフェクトのうちいずれか一方が検出された場合（Ｓ１００：ＹＥＳ、Ｓ１０１：ＹＥＳ）、切替信号ＳＷが「１」となるので、スイッチ部２００の入力端子ｂが選択されるとともに、ＬＰＦ１６０のスイッチ部１６７がオフする（Ｓ１０６、Ｓ１０７）。この場合、乗算部２１０は、第１のディフェクト又は第２のディフェクトの検出直前のＬＰＦ１６０の出力（振幅変動ΔＲの直流成分Ｅ（ΔＲ））と外乱信号Ｘとの乗算を行い、また、かかる乗算結果を用いて、加算部２１１と遅延部２１２における累積加算が行われる（Ｓ１０８）。
【００６３】
尚、第１のディフェクト又は第２のディフェクトの検出が終了した場合には、再び、切替信号ＳＷが「０」となるので、スイッチ部２００の入力端子ａが選択されるとともに、ＬＰＦ１６０のスイッチ部１６７がオンし（Ｓ１０２、Ｓ１０３）、通常の外乱応答の指標値Ｗの演算へと移行する。
【００６４】
以上のように、光ディスク１０のディフェクトを考慮した外乱応答の指標値Ｗが演算され、演算された指標値Ｗに基づいてフォーカスバイアス値ＦＢＩＡＳの調整を適切に行うことが可能となる。
【００６５】
以上、本発明の実施形態について説明したが、前述した実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更／改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る暗欠陥が検出される仕組みを説明する図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る明欠陥が検出される仕組みを説明する図である。
【図４】（ａ）は本発明の一実施形態に係る外乱信号に対する外乱応答を説明する図であり、（ｂ）は本発明の一実施形態に係る外乱応答の指標値の演算を説明する図であり、（ｃ）は本発明の一実施形態に係る評価関数を説明する図である。
【図５】本発明の一実施形態に係る評価関数を用いたフォーカスバイアス値の調整を説明する図である。
【図６】本発明の一実施形態に係るフォーカスバイアス調整回路の調整原理を説明するフローチャートである。
【図７】本発明の一実施形態に係るフォーカスサーボ制御回路及びその周辺回路の構成を示す図である。
【図８】本発明の一実施形態に係る外乱応答演算部の構成を示す図である。
【図９】本発明の一実施形態に係る第２のディフェクトが検出される仕組みを説明する図である。
【図１０】本発明の一実施形態に係る外乱応答演算部の動作を説明するフローチャートである。
【図１１】従来のフォーカスバイアス値を調整する仕組みについて説明する図である。
【符号の説明】
【００６７】
１０  光ディスク                        ２０  スピンドルモータ
１００  デジタル信号処理回路            １１０  スピンドルサーボ制御回路
１２０  フォーカスサーボ制御回路        １２５  フォーカスバイアス調整回路
１２５１  外乱生成部                    １２５２  外乱応答演算部
１３０  トラッキングサーボ制御回路      １４０  エンコーダ／デコーダ
１５０  振幅変動計測部                  １６０  ＬＰＦ
１６１、１６３、１６５  乗算部          １６２、１６４  遅延部
１６６  加算部                          １６７  スイッチ部
１７０  第１のディフェクト検出部        １７３  論理和演算部
１７１、１７２、１７４  論理積演算部    １８０  第２のディフェクト検出部
１８１  検出基準レベル設定部            １８２  比較部
１８３  エッジ検出部                    １９０  論理和演算部
２００  スイッチ部                      ２１０  乗算部
２１１  加算部                          ２１２  遅延部
１２５３  評価関数設定部                １２５４  ＦＢＩＡＳ調整部
１２５５  ＦＢＩＡＳ設定部              １２５６  スイッチ部
１２５７  ＦＯＦＦ設定部                １２５８  加算部
２００  アナログ信号処理回路            ２１０  ＲＦ生成回路
２２０  ＦＥ生成回路                    ２３０  ＴＥ生成回路
２４０  ディフェクト判定回路            ４００  光ピックアップ
４１０  対物レンズ                      ４２０  光検出器
４３０  サーボ機構                      ５００  マイクロコンピュータ
６００  ホストコンピュータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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