(57)【要約】【課題】  走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させても、回転多面体が脱落することなく、ステーション間のビーム位置を測定することの可能な走査光学系ユニットおよび光学特性測定装置および光学特性測定方法および走査光学系ユニットの調整方法および画像形成装置を提供する。【解決手段】  本発明の走査光学系ユニットは、重力の向きにおいて下流側から上流側に向けて光ビームが出射されるように設置されることを意図して設計された形式の走査光学系ユニットであって、重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて光ビームが出射されるように設置される場合に、回転多面体の脱落を防止するための脱落防止部材が設けられている。【選択図】      図７
2008070764.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを回転多面体で走査する走査光学系ユニットにおいて、回転多面体の脱落を防止するための脱落防止部材が設けられていることを特徴とする走査光学系ユニット。
【請求項２】
請求項１記載の走査光学系ユニットにおいて、前記脱落防止部材は、前記回転多面体の回転中心延長上に設けられていることを特徴とする走査光学系ユニット。
【請求項３】
請求項１または請求項２記載の走査光学系ユニットにおいて、前記脱落防止部材は、頂点が球状の部材もしくは摺動部材であり、回転多面体と接触もしくは数ミリ以下程度離間していることを特徴とする走査光学系ユニット。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットにおいて、前記脱落防止部材は、走査光を遮ることのない位置に設置されていることを特徴とする走査光学系ユニット。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットにおいて、前記脱落防止部材は、走査光学系ユニットに着脱可能に取付けられていることを特徴とする走査光学系ユニット。
【請求項６】
請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットが、該走査光学系ユニットからの光ビームが重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて出射されるように、取付部材を介して取付けられていることを特徴とする光学特性測定装置。
【請求項７】
請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットの光学特性を光学特性測定装置によって測定する光学特性測定方法であって、前記走査光学系ユニットを、重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて光ビームが出射されるように設置して、走査光学系ユニットの光学特性を光学特性測定装置によって測定することを特徴とする光学特性測定方法。
【請求項８】
走査光学系ユニットの調整方法であって、走査光学系ユニットの光学特性を光学特性測定装置によって測定し、光学特性測定装置の測定結果に基づき、走査光学系ユニットの走査ラインに関する調整を行うことを特徴とする走査光学系ユニットの調整方法。
【請求項９】
請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットが用いられていることを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、走査光学系ユニットおよび光学特性測定装置および光学特性測定方法および走査光学系ユニットの調整方法および画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザ光束を被走査面上に光スポットとして集光させ、被走査面上を走査する走査光学系は、レーザプリンタやデジタル複写機といった各種の画像形成装置に広く用いられている。特に近年、走査光学系による走査の高密度化やマルチビーム化が意図され、光スポットによる走査位置に、より一層の高精度が要求されるようになってきている。上記光スポットは被走査面上を移動して被走査面を走査するが、その被走査面上における光スポットの理想的な移動方向を主走査方向と呼び、その主走査方向に直交する方向を副走査方向と呼ぶ。また、光スポットの軌道を主走査ラインと呼ぶ。なお、ここでいう被走査面は仮想的な平面であり、実体的には光導電性の感光体の感光面である。主走査ラインは、正確な直線であることが理想的であるが、実際には種々の要因で厳密な直線にはならず僅かな曲がりや傾きが生じる。また、レーザ光束の偏向を回転多面鏡により行う場合には、その各偏向反射面ごとの偏向による主走査ラインが、いわゆる面倒れの影響で副走査方向に微小距離変動することが考えられる。このような主走査ラインの曲がりや傾きや副走査方向の微小距離変動は、所定の許容範囲内に収める必要があるが、走査を高密度化する場合や、マルチビームで走査を行う場合の許容範囲はかなり狭い。走査光学系を実際に組み立てる際やその組み立て後に、上記主走査ラインの曲がりや副走査方向の変動を調整したり、これらが設計通りの許容幅内に収まっているかを検査したりするため、被走査面上の所望の主走査位置でその副走査方向の走査位置を測定する必要が生じる。
【０００３】
また主走査ラインは、正確な等速で走査されることが理想的であるが、実際には種々の要因で厳密な等速にはならず、僅かな速度変化が生じる。この速度変化は、倍率誤差やリニアリティなどと呼ばれ、特にカラー出力機では色ずれの要因となるため、被走査面上の所望の主走査位置でその主走査方向のリニアリティを測定する必要が生じる。
【０００４】
またカラーでは、各色毎に異なったステーションからの走査により、書込みを行うタンデム方式の場合、各ステーション間のビーム位置間隔のずれが、副走査方向の色ずれとなるため、ステーション間のビーム位置間隔を正確に調整する必要がある。また各ステーションの走査ラインは、それぞれに曲がりや傾きが異なっているため、像高によってステーション間のビーム位置間隔にも差が生じてしまう。従って、この差が小さくなるように調整し、全走査範囲にわたって副走査方向の色ずれを低減させるためにも、ステーション間のビーム位置間隔を正確に測定することが必要になる。
【０００５】
被走査面上の所望の主走査位置でその副走査方向の走査位置を測定する装置としては、例えば特許文献１に示されているように、一台のＣＣＤカメラを移動ステージにより所望の主走査位置まで移動して、その副走査方向の走査位置を測定する測定装置が知られている。
【０００６】
また、本願の発明者によって、ＣＣＤカメラを平面内で移動可能とし、複数のステーションを有するタンデム方式走査光学系の、ステーション間のビーム位置間隔を測定可能な測定装置も提案されている。
【特許文献１】特開２０００−３９５７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、ステーション間のビーム位置間隔を測定可能な測定装置の場合、受光部は測定範囲の平面を移動可能となっており、受光部を移動させる移動手段にはＸＹステージが用いられる。一般的にステ−ジは、載積部が上方を向いており、反転させての使用は想定されていない。従って受光部は上方に向けて設置するため、走査ライン（光ビーム）は上方から下方に向けて（重力の向きにおいて、上流側から下流側に向けて）の出射である必要がある。ところが走査光学系ユニットは、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に向けて（重力の向きにおいて下流側から上流側に向けて）出射するタイプのものが多い。このような走査光学系ユニットを上下反転させた場合、回転多面体（具体的には、例えば、回転多面鏡;ポリゴンミラー）のローター部が抜き差し自在のタイプでは、ローター部が脱落してしまい、測定不可能となる。また回転中に脱落すると、測定装置や光学ユニットに大きなダメージを与え、安全上も問題である。
【０００８】
本発明は、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させても、回転多面体が脱落することなく、ステーション間のビーム位置を測定することの可能な走査光学系ユニットおよび光学特性測定装置および光学特性測定方法および走査光学系ユニットの調整方法および画像形成装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、請求項１記載の発明は、光ビームを回転多面体で走査する走査光学系ユニットにおいて、回転多面体の脱落を防止するための脱落防止部材が設けられていることを特徴としている。
【００１０】
また、請求項２記載の発明は、請求項１記載の走査光学系ユニットにおいて、前記脱落防止部材は、前記回転多面体の回転中心延長上に設けられていることを特徴としている。
【００１１】
また、請求項３記載の発明は、請求項１または請求項２記載の走査光学系ユニットにおいて、前記脱落防止部材は、頂点が球状の部材もしくは摺動部材であり、回転多面体と接触もしくは数ミリ以下程度離間していることを特徴としている。
【００１２】
また、請求項４記載の発明は、請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットにおいて、前記脱落防止部材は、走査光を遮ることのない位置に設置されていることを特徴としている。
【００１３】
また、請求項５記載の発明は、請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットにおいて、前記脱落防止部材は、走査光学系ユニットに着脱可能に取付けられていることを特徴としている。
【００１４】
また、請求項６記載の発明は、請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットが、該走査光学系ユニットからの光ビームが重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて出射されるように、取付部材を介して取付けられていることを特徴とする光学特性測定装置である。
【００１５】
また、請求項７記載の発明は、請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットの光学特性を光学特性測定装置によって測定する光学特性測定方法であって、前記走査光学系ユニットを、重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて光ビームが出射されるように設置して、走査光学系ユニットの光学特性を光学特性測定装置によって測定することを特徴としている。
【００１６】
また、請求項８記載の発明は、走査光学系ユニットの調整方法であって、走査光学系ユニットの光学特性を光学特性測定装置によって測定し、光学特性測定装置の測定結果に基づき、走査光学系ユニットの走査ラインに関する調整を行うことを特徴としている。
【００１７】
また、請求項９記載の発明は、請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットが用いられていることを特徴とする画像形成装置である。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１乃至請求項５，請求項７記載の発明によれば、光ビームを回転多面体で走査する走査光学系ユニットにおいて、回転多面体の脱落を防止するための脱落防止部材が設けられているので、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させても、回転多面体が脱落することなく、光学特性測定装置によって走査光学系ユニットの光学特性（具体的には、例えば、走査光学系ユニットの、被走査面上における光ビームの主走査方向位置，副走査方向位置、さらには、ステーション間のビーム位置間隔）を測定することが可能となる。
【００１９】
特に、請求項３記載の発明では、脱落防止部材は、頂点が球状の部材もしくは摺動部材であり、回転多面体と接触もしくは数ミリ以下程度離間していることにより、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させても、回転多面体の回転を妨げることなく、回転多面体の脱落を防止できる。
【００２０】
また、請求項４記載の発明では、脱落防止部材は、走査光を遮ることのない位置に設置されていることにより、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させても、回転多面体が脱落することなく、光学特性測定装置によって、走査の全領域にわたって、走査光学系ユニットの光学特性を測定することが可能となる。
【００２１】
また、請求項５記載の発明では、脱落防止部材は、走査光学系ユニットに着脱可能に取付けられていることにより、回転多面体には何の細工をせずとも、脱落防止部材を取付けることができる。
【００２２】
また、請求項６記載の発明では、請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットが、該走査光学系ユニットからの光ビームが重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて出射されるように、取付部材を介して取付けられていることを特徴とする光学特性測定装置であるので、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットの光学特性（具体的には、例えば、走査光学系ユニットの、被走査面上における光ビームの主走査方向位置，副走査方向位置、さらには、ステーション間のビーム位置間隔）を測定することが可能となる。
【００２３】
また、請求項８記載の発明では、走査光学系ユニットの調整方法であって、走査光学系ユニットの光学特性を光学特性測定装置によって測定し、光学特性測定装置の測定結果に基づき、走査光学系ユニットの走査ラインに関する調整を行うので、色ずれの少ない走査光学系ユニットを得ることが可能となる。
【００２４】
また、請求項９記載の発明では、請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の走査光学系ユニットが用いられていることを特徴とする画像形成装置であるので、色ずれを低減した画像出力が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００２６】
本発明は、光ビームを回転多面体で走査する走査光学系ユニットにおいて、回転多面体の脱落を防止するための脱落防止部材が設けられていることを特徴としている。
【００２７】
より具体的に、光ビームを回転多面体で走査する走査光学系ユニットにおいて、回転多面体の脱落を防止するための脱落防止部材が前記回転多面体の回転中心延長上に設けられていることを特徴としている。
【００２８】
ここで、上記脱落防止部材は、頂点が球状の部材もしくは摺動部材であり、（例えば、回転多面体の回転中心延長上に）、回転多面体と接触もしくは数ミリ以下程度離間しているのが好ましい。
【００２９】
また、上記脱落防止部材は、走査光を遮ることのない位置に設置されているのが好ましい。
【００３０】
また、上記脱落防止部材は、走査光学系ユニットに着脱可能に取付けられているのが好ましい。
【００３１】
本発明によれば、光ビームを回転多面体で走査する走査光学系ユニットにおいて、回転多面体の脱落を防止するための脱落防止部材が設けられているので、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させても、回転多面体が脱落することなく、光学特性測定装置によって走査光学系ユニットの光学特性（具体的には、例えば、走査光学系ユニットの、被走査面上における光ビームの主走査方向位置，副走査方向位置、さらには、ステーション間のビーム位置間隔）を測定することが可能となる。
【００３２】
特に、脱落防止部材が、頂点が球状の部材もしくは摺動部材であり、（例えば、回転多面体の回転中心延長上に）、回転多面体と接触もしくは数ミリ以下程度離間している場合には、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させても、回転多面体の回転を妨げることなく、回転多面体の脱落を防止できる。
【００３３】
また、脱落防止部材が、走査光を遮ることのない位置に設置されている場合には、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させても、回転多面体が脱落することなく、光学特性測定装置によって、走査の全領域にわたって、走査光学系ユニットの光学特性を測定することが可能となる。
【００３４】
また、脱落防止部材が、走査光学系ユニットに着脱可能に取付けられている場合には、回転多面体には何の細工をせずとも、回転多面体の脱落を防止する脱落防止部材を取付けることができる。
【００３５】
また、本発明では、回転多面体の脱落を防止するための脱落防止部材が設けられている上記走査光学系ユニットが、該走査光学系ユニットからの光ビームが重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて出射されるように、取付部材を介して光学特性測定装置に取付けられているので、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットの光学特性（具体的には、例えば、走査光学系ユニットの、被走査面上における光ビームの主走査方向位置，副走査方向位置、さらには、ステーション間のビーム位置間隔）を光学特性測定装置によって測定することが可能となる。
【００３６】
また、本発明では、走査光学系ユニットの光学特性を光学特性測定装置によって測定し、光学特性測定装置の測定結果に基づき、走査光学系ユニットの走査ラインに関する調整を行うようになっている。
【００３７】
このように、光学特性測定装置の測定結果に基づき、走査光学系ユニットの走査ラインに関する調整を行うことにより、色ずれの少ない走査光学系ユニットを得ることが可能となる。
【００３８】
また、本発明では、画像形成装置に上述した本発明の走査光学系ユニットが用いられているので、色ずれを低減した画像出力が可能となる。
【００３９】
次に、本発明をより具体的に説明する。
【００４０】
本発明の光学特性測定装置は、光ビームを回転多面体（例えば、回転多面鏡；ポリゴンミラー）で走査して書込みあるいは読取りを行う走査光学系ユニットの光学特性（具体的に、例えば、ビーム主副位置（主走査方向位置，副走査方向位置）や光ビームプロファイル（光強度分布パターン）や、走査ステーション間のビーム位置間隔）を測定する機能を有しているものである。
【００４１】
図１は、本発明の光学特性測定装置による測定の全体構成を示す図である。書込みあるいは読取りを行う走査光学系ユニット内には、光源である半導体レーザが設置されている。半導体レーザから放出された光ビーム（レーザビーム）は、コリメータレンズ及びシリドリカルレンズによって、回転多面体（例えば、回転多面鏡；ポリゴンミラー）の鏡面に集光される。ポリゴンミラーに集光された光ビームは、鏡面で反射してｆθレンズを通過し、被走査面（像面）上に光スポットとして結像し、主走査方向に走査される。カラー用の走査光学系ユニットでは、図５及び図１に示すように、ＣＭＹＫの４ステーションがあり、それぞれのステーションから光ビームが照射される。走査される光ビームは、被走査面上で光スポットの軌道上に配置された光学特性測定装置の受光部を照射する。
【００４２】
受光部としては、ラインＣＣＤまたはエリアＣＣＤのように、照射された光スポットの位置が特定可能となるものが用いられ、移動手段としてのＸステージとＹステージにより、受光部を主走査幅以上，ステーション間隔以上の平面内の任意の位置に移動可能となっている。そして、受光部は、光スポットが照射可能なように、その移動平面に対してほぼ垂直な向きに設置されている。図３はラインＣＣＤに光ビーム（レーザビーム）を照射した時の出力強度を示す図であり、ラインＣＣＤの場合、出力強度の重心位置を求めることで、光スポットの副走査方向位置が求められる。図４はエリアＣＣＤに光ビーム（レーザビーム）を照射した時の出力強度を示す図であり、エリアＣＣＤの場合、出力強度の重心位置を求めることで、光スポットの主走査方向位置及び副走査方向位置が求められる。なおこの場合には、任意の位置でパルス点灯させる制御が必要となる。
【００４３】
図２は、複数の受光部を主走査方向に並べた方式を示す図であり、複数の受光部を主走査方向に並べた方式では、ステーション毎の光スポット位置を短時間で測定できるため、測定精度の向上が望める。
【００４４】
図５は、走査光学系ユニットの構成例を示す図であり、図５の構成例では、回転多面鏡により４ステーションを走査可能となっている。
【００４５】
図６は、図５の走査光学系ユニットを用いた画像形成装置を示す図であり、走査光学系ユニットの上方に位置する感光体１６Ｋ，１６Ｃ，１６Ｍ，１６Ｙを走査光学系ユニットからの光ビームによって照射するようになっている。
【００４６】
図９には、図５，図６の走査光学系ユニットで用いられている回転多面鏡が示されており、この回転多面鏡は、反射鏡を含んだローター部と、基板に固定された、コイル及び軸受部（ラジアル軸受，スラスト軸受）とから構成されている。図１１は、図９の状態から回転多面鏡を引き抜いた状態を示す図である。この回転多面鏡は、通常は重力と、マグネットが基板に対して発生する磁力により、中心軸がスラスト軸受に接する位置で、回転可能に保持されている。しかし完全に固定されているわけではないので、ローター部を上方に引っ張ったり、全体を逆さにして、振動を与えたりすれば、ローター部は抜けてしまう。
【００４７】
図１の光学特性測定装置では、受光部が走査光学系ユニットの下方（重力の向きにおいて、下流側）にあるため、図５のように光ビームの出射方向が上方に向いた（重力の向きにおいて、下流側から上流側に向いた）走査光学系ユニットの測定は不可能である。光学特性測定装置全体をひっくり返せば使えそうであるが、一般的にステージは逆転しての使用を想定しておらず、ステージの積載部を逆向きに引っ張るような力が加わる事は好ましくない。そこで、走査光学系ユニットをひっくり返せばよいのだが、そのままでは回転多面鏡のローター部が抜け落ちてしまう恐れがある。
【００４８】
このような問題を解決するため、本発明の走査光学系ユニットは、重力の向きにおいて下流側から上流側に向けて光ビームが出射されるように設置されることを意図して設計された形式の走査光学系ユニットであって、重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて光ビームが出射されるように設置される場合に、回転多面体（いまの例では、回転多面鏡）の脱落を防止するための脱落防止部材が設けられている（例えば回転多面体の回転中心延長上に設けられている）ことを特徴としている。
【００４９】
図９には、重力の向きにおいて下流側から上流側に向けて光ビームが出射されるように設置されることを意図して設計された形式の走査光学系ユニットであって、重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて光ビームが出射されるように設置される場合に（走査光学系ユニットをひっくり返したときに）、回転多面体（いまの例では、回転多面鏡）の脱落（回転多面体のローター部の脱落）を防止するための脱落防止部材の構成例が示されている。図９の例では、脱落防止部材は、ブラケットと受けとにより、ボール状（球状）の部材が回動自在に支持されており、ブラケットを走査光学系ユニットの基板（より具体的には、回転多面鏡の基板）に取付けると（図９の例では、ブラケットは、基板にネジ等によって着脱可能に取付けられる）、ボールの先端が、ローター部のごく近傍に位置するようになっている。この状態で、走査光学系ユニットをひっくり返し、回転多面鏡を駆動した場合、脱落防止部材は、回転の妨げにならないため、測定精度には何ら影響しない。仮にローター部が脱落しても、完全に抜け落ちて事故となることはなく、また脱落防止部材の負荷は小さいため、光線が反射鏡の有効範囲から外れなければ、そのまま測定を継続できる。例えば、ローター部と脱落防止部材との間の距離を０．１ｍｍ程度にしておけば、脱落してもそのまま測定を継続できる。脱落したら測定を中止するようにしたい場合は、ローター部と脱落防止部材との間の距離を数ミリ程度離しておけば、光線が反射鏡から外れるため、必然的に測定不能となる。また、最初からローター部と脱落防止部材を、軽く接触させておけば、脱落は完全に防止できる。この場合は、測定精度に影響ないよう、ごく軽い負荷での接触が好ましい。
【００５０】
図１０は、ボール（球状部材）の代わりに、摺動部材としてスラスト軸受を設けた例を示す図であり、ボールタイプと全く同じ効果が期待できるが、スラスト軸受の方が、構造は単純である。
【００５１】
このように、図９，図１０の例では、脱落防止部材は、走査光学系ユニットの基板（回転多面鏡の基板）に着脱可能に取付けられていることにより、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させても、走査光学系ユニット自体を何ら改造することなく、また、回転多面体には何の細工をせずとも、回転多面体の脱落を防止でき、走査光学系ユニットの光学特性（具体的には、例えば、走査光学系ユニットの、被走査面上における光ビームの主走査方向位置，副走査方向位置、さらには、ステーション間のビーム位置間隔）を測定することが可能となる。
【００５２】
図９，図１０のいずれのタイプも、ブラケットは走査光学系ユニットに取付けられるが、図１２に示すように、点線で囲まれた走査範囲を避けて取付けることで、全走査領域での（走査の全領域にわたっての）測定が可能となる。
【００５３】
また図１３は、脱落防止部材を回転多面鏡の全体カバーの蓋に取付けた例を示す図である。一般に高速機では回転多面鏡にカバーが設けられていることが多い。このようなカバーが設けられているタイプでは、走査光学系ユニットの光学特性の測定時に、脱落防止部材が取付けられていない蓋を脱落防止部材が取付けられている蓋（なお、図１３の例では、脱落防止部材は、蓋にネジ等によって着脱可能に取付けられている）と交換するだけで、測定可能となる。すなわち、この例では、走査ライン（光ビーム）を下方から上方に（重力の向きにおいて、下流側から上流側に）向けて出射するタイプの走査光学系ユニットを上下反転させるときに、蓋の交換という簡単な作業だけで、回転多面体の脱落を防止でき、走査光学系ユニットの光学特性（具体的には、例えば、走査光学系ユニットの、被走査面上における光ビームの主走査方向位置，副走査方向位置、さらには、ステーション間のビーム位置間隔）を測定することが可能となる。なお、この場合には、前記脱落防止部材が取付けられている蓋は、前記脱落防止部材が取付けられていない純正の蓋と、取付部に互換性があることが必要である。
【００５４】
図９，図１３の例では、脱落防止部材は、走査光学系ユニットに着脱可能に取付けられるものとなっており（具体的には、走査光学系ユニットの所定の構造体（図９の例では基板、図１３の例では回転多面体の全体カバーの蓋）に着脱可能に取付けられるものとなっており）、この場合には、脱落防止部材を走査光学系ユニットの光学特性の測定時に走査光学系ユニットに取付ける必要があるが、この状態を純正の状態として、脱落防止部材を最初から走査光学系ユニットに取付けてあってもよい。この場合、脱落防止部材は、測定時以外は不要であるが、書込み走査時に邪魔にはならず、測定時の取付け忘れも防止できる。
【００５５】
図７には、脱落防止部材が取付けられている走査光学系ユニットをひっくり返した状態が示されている。
【００５６】
図８は、図７のようにひっくり返した走査光学系ユニットを光学特性測定装置に取付けた状態を示す図である。図８を参照すると、走査光学系ユニットは、出射光が重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて（すなわち、図において下方に）出射されるよう、光学特性測定装置に取付部材を介して取付けられている。より詳細に、取付部材は、例えば光学特性測定装置に設けられており、この取付部材には結合ピンがあり、この取付部材の結合ピンが走査光学系ユニットに設けられた結合穴と嵌合して、走査光学系ユニットの光学特性測定装置に対する位置関係が決まり、走査光学系ユニットが光学特性測定装置に取付けられる。
【００５７】
図８のように設定された光学特性測定装置では、ステージで正確に位置決めされた受光部で、走査光学系ユニットの走査位置を測定することができ、これにより、走査線の傾き、曲り、リニアリティが正確にわかる。走査光学系ユニットとしては、傾きや曲りやリニアリティが小さいか、もしくは各ステーション間で、その差が小さいことが望ましい。
【００５８】
従って、走査光学系ユニット側では、光学特性測定装置の測定結果に基づき、所定の調整手段によって、例えば、図１４に示すように、走査レンズの傾き調整で走査線の傾きを調整したり、走査レンズの中央付近を加圧して変形させ、走査線の曲りを調整したり、図１５に示すように、電気的な書込みタイミングを制御して、リニアリティを調整したりすることで、色ずれの少ない走査光学系ユニットを得ることができる。すなわち、走査光学系ユニットは、走査ラインの傾き、曲り、走査開始位置などの走査ラインに関する調整を行なう調整手段を備え、調整手段は、光学特性測定装置の測定結果に基づき、走査ラインに関する調整を行うことができる。
【００５９】
このように、本発明では、重力の向きにおいて下流側から上流側に向けて光ビームが出射されるように設置されることを意図して設計された形式の走査光学系ユニットの光学特性を光学特性測定装置によって測定するために（具体的には、例えば、走査光学系ユニットの、被走査面上における光ビームの主走査方向位置，副走査方向位置や光ビームプロファイル（光強度分布パターン）などを、受光部によって測定するために）、上記走査光学系ユニットが重力の向きにおいて上流側から下流側に向けて光ビームが出射されるように設置される場合に（走査光学系ユニットをひっくり返したときに）、回転多面体（いまの例では、回転多面鏡）の脱落（回転多面体のローター部の脱落）を防止することができる。
【００６０】
図６は、本発明の走査光学系ユニットを用いた画像形成装置の一例を示す図である。図６の画像形成装置は、ドラム状の感光体からなる像担持体１６Ｙ，１６Ｍ，１６Ｃ，１６Ｋの周囲に、像担持体１６Ｙ，１６Ｍ，１６Ｃ，１６Ｋの表面を一様に帯電する帯電ユニット１７Ｙ，１７Ｍ，１７Ｃ，１７Ｋ、像担持体１６Ｙ，１６Ｍ，１６Ｃ，１６Ｋの帯電部分に光を照射して静電潜像を形成する走査光学系ユニット１、像担持体１６Ｙ，１６Ｍ，１６Ｃ，１６Ｋ上の静電潜像をトナーによって現像する現像ユニット１８Ｙ，１８Ｍ，１８Ｃ，１８Ｋ、像担持体１６Ｙ，１６Ｍ，１６Ｃ，１６Ｋ上のトナーによる現像画像を用紙に転写する転写ユニット１９Ｙ，１９Ｍ，１９Ｃ，１９Ｋ、像担持体１６Ｙ，１６Ｍ，１６Ｃ，１６Ｋ上の残存トナーを払拭するクリーニングユニット２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋなどが配列されている。転写ユニット１９と剥離部（の分離ローラ）２６は、用紙搬送ベルトが設けられた用紙搬送路中に配列され、用紙搬送方向における用紙搬送ベルトの下流側には定着部２４が配置され、転写ユニット１９の上流側にはレジストローラ２７が配置されている。像担持体１６の下方には給紙カセット１１とこの給紙カセット１１内の用紙を一枚ずつ給紙する給紙ローラ２５が設けられ、給紙ローラ２５とレジストローラ２７との間には給紙通路が設けられている。このような画像形成装置では、像担持体１６を中心に、周知のＹ（帯電→露光→現像→転写）→Ｍ（帯電→露光→現像→転写）→Ｃ（帯電→露光→現像→転写）→Ｋ（帯電→露光→現像→転写）→定着、という電子写真プロセスを実行することによって転写用紙に画像を形成することができる。
【００６１】
ここで、本発明では、画像形成装置に上述した本発明の走査光学系ユニット（光学特性測定装置の測定結果に基づき、走査ラインに関する調整が行なわれるようになっている走査光学系ユニット）を使用することにより、色ずれを低減した画像出力が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明の光学特性測定装置による測定の全体構成を示す図である。
【図２】複数の受光部を主走査方向に並べた方式を示す図である。
【図３】ラインＣＣＤに光ビーム（レーザビーム）を照射した時の出力強度を示す図である。
【図４】エリアＣＣＤに光ビーム（レーザビーム）を照射した時の出力強度を示す図である。
【図５】走査光学系ユニットの構成例を示す図である。
【図６】図５の走査光学系ユニットを用いた画像形成装置を示す図である。
【図７】脱落防止部材が取付けられている走査光学系ユニットをひっくり返した状態を示す図である。
【図８】図７のようにひっくり返した走査光学系ユニットを光学特性測定装置に取付けた状態を示す図である。
【図９】図５，図６の走査光学系ユニットで用いられている回転多面鏡を示す図である。
【図１０】摺動部材としてスラスト軸受を設けた例を示す図である。
【図１１】図９の状態から回転多面鏡を引き抜いた状態を示す図である。
【図１２】全走査領域での（走査の全領域にわたっての）測定が可能となるブラケットの取付けを示す図である。
【図１３】脱落防止部材を回転多面鏡の全体カバーの蓋に取付けた例を示す図である。
【図１４】走査レンズの傾き調整で走査線の傾きを調整したり、走査レンズの中央付近を加圧して変形させ、走査線の曲りを調整する様子を示す図である。
【図１５】電気的な書込みタイミングを制御して、リニアリティを調整する様子を示す図である。
【符号の説明】
【００６３】
１          走査光学系ユニット
【図１】
2008070764.tif 000003
【図２】
2008070764.tif 000004
【図３】
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【図４】
2008070764.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
2008070764.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
2008070764.tif 000012
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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