(57)【要約】【課題】ＬＳＩ故障により特定のビットに不具合が生じても、部品交換までの期間、故障による画像データへの影響を低減し、使用を継続可能とする。【解決手段】故障ビット特定部１１−１は、ビットｂｉｔ０〜７から故障ビットを特定する。ビット入れ替え部１２−１は、故障ビットが特定されると、各ビットを１つずつ下位にずらす。また、ビット戻し部１３−１は、各ビットを１つずつ上位にずらす。入力データは、ビット入れ替え部１２−１で、該各ビットを１つずつ下位にずらされてブロック２−１に入力され、所定の画像処理が施されて出力される。ビット戻し部１３−１は、各ビットを１つずつ上位にずらして次段に出力する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
並行に配置されたデータパスによって供給される複数のビットからなる画像データに対して画像処理を施して出力する画像処理系を有する画像形成装置において、
前記データパス中の故障ビットを特定する故障ビット特定手段と、
前記故障ビット特定手段によって故障ビットが特定されると、該故障ビットのパスを、他のビットのパスに入れ替えるビット入れ替え手段と
を具備することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記複数のビットは、優先度を有し、
前記ビット入れ替え手段は、前記故障ビット特定手段によって優先度が高いビットが故障ビットであると特定された場合、該優先度の高いビットのパスを、より優先度の低いビットのパスに入れ替えることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記複数のビットは、階調データであり、上位ビットの方が下位ビットより優先度が高いことを特徴とする請求項２記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記複数のビットは、階調データと、該階調データに対する付加情報を表すタグ情報とからなり、前記階調データを表すビットの方が前記タグ情報を表すビットより優先度が高いことを特徴とする請求項２記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記ビット入れ替え手段によって入れ替えられたビットのパスを元の状態に戻すビット戻し手段を具備することを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、大規模、かつ、多数のメモリをＬＳＩに搭載し、これらを用いて画像処理を行って印字出力する画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、半導体プロセスの微細化、高密度化に加え、多層配線などのチップ構造の複雑化により、ＬＳＩの故障が増大している。製造工程中の問題などに起因する初期故障の多くは、ＬＳＩ出荷時のスクリーニングテストで取り除かれるが、使用開始から時間が経過して発生する偶発故障など、全ての故障を取り除くことはできない。
【０００３】
ところで、複写機やプリンタなどの画像形成装置においては、１画素のデータを、階調を表す多値データで扱っているものがある。このような画像データを扱うＬＳＩの特定ビットに故障が発生すると、全体的に階調が増加または減少し、所望の画像が得られなくなる。複写機／プリンタで故障を検出した場合、システムを停止し、利用者に通知するのが一般的であるが、故障部品を交換するまでの期間、利用者は、必要な複写機／プリンタを使用できないという問題があった。
【０００４】
図９は、従来技術による画像形成装置のＬＳＩの内部構成を示すブロック図である。また、図１０は、従来技術による画像形成装置のＬＳＩに故障がある場合に発生する不具合の一例を示す概念図である。画像形成装置に用いられているＬＳＩ１には、所定の画像処理を施す、少なくとも１つ、あるいはそれ以上のブロック（画像処理系）２−１、２−２が組み込まれている。入力される画像データ（８ビットの階調データ）に対して、例えば、ブロック（画像処理系）２−１において、最上位ビットｂｉｔ７に故障が発生し、常時、１ビットが立った状態にあると、図１０（ａ）に示すような階調の画像データを入力した場合、図１０（ｂ）に示す画像データのように、全体的に階調が増加してしまう。
【０００５】
複写機／プリンタで上述したような故障を検出した場合、システムを停止して利用者に通知するのが一般的であるが、故障した部品を交換するなど、修理するまでの期間、利用者は、必要な複写機／プリンタを使用できないという問題があった。
【０００６】
そこで、故障を検出した場合であっても、修理するまでの期間、画像形成装置を使用可能とする技術がいくつか提案されている。例えば、複数色を用いて画像を形成するカラー画像形成装置で黒色制御系が故障したときに、他色で黒色を合成／代替する技術や（例えば、特許文献１参照）、マルチビームによる画像形成装置において、故障したビーム以外を使用して印字する技術が提案されている（例えば、特許文献２参照）。
【０００７】
【特許文献１】特開平５−３０３２４３号公報
【特許文献２】特開平１１−４８５２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述した従来技術（特許文献１）では、カラー機、かつ、黒色が故障したときのみしか対応できないという問題がある。また、上述した従来技術（特許文献２）では、あくまでレーザダイオードの故障に関するものであり、ＬＳＩなどの回路の故障が生じた場合には、対処することができないという問題があった。
【０００９】
そこで本発明は、ＬＳＩ故障により特定のビットに不具合が生じても、部品交換までの期間、故障による画像データへの影響を低減することができるとともに、使用を継続することができる画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的達成のため、請求項１記載の発明による画像形成装置は、並行に配置されたデータパスによって供給される複数のビットからなる画像データに対して画像処理を施して出力する画像処理系を有する画像形成装置において、前記データパス中の故障ビットを特定する故障ビット特定手段と、前記故障ビット特定手段によって故障ビットが特定されると、該故障ビットのパスを、他のビットのパスに入れ替えるビット入れ替え手段とを具備することを特徴とする。
【００１１】
また、好ましい態様として、例えば請求項２記載のように、請求項１記載の画像形成装置において、前記複数のビットは、優先度を有し、前記ビット入れ替え手段は、前記故障ビット特定手段によって優先度が高いビットが故障ビットであると特定された場合、該優先度の高いビットのパスを、より優先度の低いビットのパスに入れ替えることを特徴とする。
【００１２】
また、好ましい態様として、例えば請求項３記載のように、請求項２記載の画像形成装置において、前記複数のビットは、階調データであり、上位ビットの方が下位ビットより優先度が高いことを特徴とする。
【００１３】
また、好ましい態様として、例えば請求項４記載のように、請求項２記載の画像形成装置において、前記複数のビットは、階調データと、該階調データに対する付加情報を表すタグ情報とからなり、前記階調データを表すビットの方が前記タグ情報を表すビットより優先度が高いことを特徴とする。
【００１４】
また、好ましい態様として、例えば請求項５記載のように、請求項１記載の画像形成装置において、前記ビット入れ替え手段によって入れ替えられたビットのパスを元の状態に戻すビット戻し手段を具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
この発明によれば、故障ビット特定手段により、データパス中の故障ビットを特定し、故障ビットが特定されると、ビット入れ替え手段により、該故障ビットのパスを、他のビットのパスに入れ替えるようにしたので、ＬＳＩ故障により階調データの上位ビットに不具合が生じても、部品交換までの期間においても、故障による階調への影響を低減することができるという利点が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
Ａ．第１実施形態
Ａ−１．第１実施形態の構成
図１は、本発明の第１実施形態による画像形成装置の構成を示すブロック図である。図において、画像形成装置は、複数のブロック２−１、２−２、故障ビット特定部１１−１、１１−２、ビット入れ替え部１２−１、１２−２、ビット戻し部１３−１、１３−２を備えている。これら複数のブロック２−１、２−２、故障ビット特定部１１−１、１１−２、ビット入れ替え部１２−１、１２−２、ビット戻し部１３−１、１３−２は、１つのＬＳＩ１０に内蔵されている。
【００１７】
複数のブロック２−１、２―２は、入力データ（階調データ）に対して所定の画像処理（画像カット、画像シフト、ＬＵＴなど）を施し、次段に出力する画像処理系である。故障ビット特定部１１−１、１１−２は、各々、電源オン時や、ジョブが実行されていないときなどに、対応するブロック２−１、２−２に対して所定のデータを入力し、該入力データとブロック２−１、２−２からの出力データとを比較して故障ビットを特定する。故障ビットの特定方法については後述する。
【００１８】
故障ビット特定部１１−１、１１−２は、最上位ビットに故障を検出した場合、ビット入れ替え部１２−１、１２−２に対して、ビット入れ替えを指示するとともに、ビット戻し部１３−１、１３−２にビット戻しを指示する。
【００１９】
ビット入れ替え部１２−１、１２−２は、故障ビット特定部１１−１、１１−２によって最上位ビットに故障が検出された場合、上位ビットがより下位ビットになるように、バスラインをビット単位で入れ替える。例えば、上位ビットが「１」に固定されている故障であった場合には、各ビットを１つずつ下位にずらす。また、上位ビットが「０」に固定されている故障であった場合には、最上位ビットを最下位ビットに移動させる。ただしこれは一具体例であり、「１」固定、「０」固定ともこれには限定されない。
【００２０】
ビット戻し部１３−１、１３−２は、故障ビット特定部１１−１、１１−２によって最上位ビットに故障が検出された場合、ビット入れ替え部１２−１、１２−２によって入れ替えられたビットを元に戻して次段に出力するようになっている。
【００２１】
なお、入力される画像データ（階調データ）は、図示しないスキャナで読み込んだ画像データでも、図示しないネットワークを介して他の装置から転送されてくる画像データであってもよい。
【００２２】
次に、上述した故障ビット特定方法について説明する。
図２は、本実施形態による画像形成装置でのＬＳＩの故障ビット特定方法を説明するための概念図である。故障ビット特定部１１−１、１１−２は、各々、図２（ａ）に示すように、ブロック２−１、２−２に対して、所定のデータ「０ｘ５５」、「０ｘＡＡ」を流し、ブロック２−１、２−２の出力と比較する。最上位ビットｂｉｔ７が正常ならば、入力したデータがそのまま出力される。
【００２３】
これに対して、最上位ビットｂｉｔ７が「１」に固定された故障である場合には、データ「０ｘ５５」のとき、出力が「０ｘＤ５」となり、最上位ビットｂｉｔ７が「０」に固定された故障である場合には、データ「０ｘＡＡ」のとき、出力が「０ｘ２Ａ」となる。このように、出力が「０ｘＤ５」または「０ｘ２Ａ」となった場合には、最上位ビットｂｉｔ７に故障ありと判定する。
【００２４】
また、ブロック２−１、２−２がメモリ（例えば、階調補正を行うためのＬＵＴ：ルックアップテーブル）であった場合には、図２（ｂ）に示すように、全アドレスに対して、所定のデータ「０ｘ５５、０ｘＡＡ」を書き込むとともに、同アドレスからデータを読み出し、書き込んだデータと読み出したデータが同じであるかをチェックする。そして、書き込んだデータと読み出したデータが同じである場合には、故障なし（ＯＫ）と判定し、書き込んだデータと読み出したデータが異なる場合には、故障あり（ＮＧ）と判定する。最上位ビットｂｉｔ７が「１」に固定されているか、「０」に固定されているかの判定は、上述した通りである。
【００２５】
このようにして、故障ありと判定されたアドレスが故障位置となる。なお、ＬＵＴの場合には、入力する階調データのビット位置を移動することで、元の値と異なる階調データがＬＵＴに入力されることになる。このため、ビット移動しても、ＬＵＴから正しいデータが出力されるように、ＬＵＴのデータを適宜切り替える必要がある。
【００２６】
ビット入れ替え部１２−１、１２−２は、上述したように、故障ビット特定部１１−１、１１−２によって最上位ビットｂｉｔ７が「１」に固定されている故障が検出された場合には、各ビットを１つずつ下位にずらし、最上位ビットｂｉｔ７が「０」に固定されている故障であった場合には、最上位ビットを最下位ビットに移動させる。ただしこれは一具体例であり、「１」固定、「０」固定ともこれには限定されない。また、ビット戻し部１３−１、１３−２は、故障ビット特定部１１−１、１１−２によって最上位ビットに故障が検出された場合、ビット入れ替え部１２−１、１２−２によって入れ替えられたビットを元に戻して次段に出力するようになっている。この結果、階調を表すデータの上位ビットが故障した場合、より下位のビットを使用して後段モジュールに上位ビットのデータを受け渡すことで、部品交換までの期間、故障による階調への影響を最小限に抑えることが可能となる。
【００２７】
Ｂ．実施形態の動作
次に、本実施形態の動作について説明する。
図３は、本実施形態による画像形成装置の動作を説明するためのフローチャートである。故障ビット特定部１１−１、１１−２は、各々、電源オン時や、ジョブが実行されていないときなどに、ブロック２−１、２−２に対して、所定のデータ「０ｘ５５」、「０ｘＡＡ」を流し、ブロック２−１、２−２の出力と比較する（Ｓ１０）。次に、故障ビットが特定されたか否かを判断する（Ｓ１２）。最上位ビットｂｉｔ７が正常ならば、入力したデータがそのまま出力される。そして、故障なしと判定した場合には、当該処理を終了し、所定のメインルーチンに戻る。
【００２８】
これに対して、最上位ビットｂｉｔ７が「１」に固定された故障である場合には、データ「０ｘ５５」のとき、出力が「０ｘＤ５」となり、最上位ビットｂｉｔ７が「０」に固定された故障である場合には、データ「０ｘＡＡ」のとき、出力が「０ｘ２Ａ」となる。このように、出力が「０ｘＤ５」または「０ｘ２Ａ」となった場合には、最上位ビットｂｉｔ７に故障ありと判定する。
【００２９】
そして、最上位ビットｂｉｔ７に故障ありと判定された場合には、故障ビット特定部１１−１、１１−２は、ビット入れ替え部１２−１、１２−２に対して、ビット入れ替えを指示するとともに、ビット戻し部１３−１、１３−２にビット戻しを指示する（Ｓ１４）。その後、当該処理を終了して所定のメインルーチンに戻る。
【００３０】
ここで、図４は、本実施形態による画像形成装置の一動作例を示すブロック図である。図４に示す動作例では、ブロック２−１の最上位ビットが故障（「１」に固定）であった場合の各部の動作を示している。故障ビット特定部１１−１によって最上位ビットｂｉｔ７が「１」に固定されている故障が検出されると、ビット入れ替え部１２−１は、各ビットを１つずつ下位にずらす。また、ビット戻し部１３−１は、各ビットを１つずつ上位にずらす。
【００３１】
入力データは、ビット入れ替え部１２−１で、該各ビットを１つずつ下位にずらされてブロック２−１に入力される。該ブロック２−１で所定の画像処理が施された後、ビット戻し部１３−１において、各ビットを１つずつ上位にずらされて次段に出力される。なお、最下位ビットｂｉｔ０は、「１」固定とする。該データは、ビット入れ替え部１２−２をそのまま通ってブロック２−２に入力され、所定の画像処理が施された後、ビット戻し部１３−２をそのまま通って出力される。
【００３２】
次に、図５は、本実施形態による画像形成装置の他の動作例を示すブロック図である。図５に示す他の動作例では、ブロック２−１の最上位ビットが故障（「０」に固定）であった場合の各部の動作を示している。故障ビット特定部１１−１によって最上位ビットｂｉｔ７が「０」に固定されている故障が検出されると、ビット入れ替え部１２−１は、最上位ビットｂｉｔ７を最下位ビットｂｉｔ０に入れ替える。また、ビット戻し部１３−１は、最下位ビットｂｉｔ０を最上位ビットｂｉｔ７に入れ替える。また、ブロック２−２には、故障がないので、前述したように、ビット入れ替え部１２−２、ビット戻し部１３−２では、ビットを入れ替えない。
【００３３】
入力データは、ビット入れ替え部１２−１で、最上位ビットｂｉｔ７が最下位ビットｂｉｔ０となって、ブロック２−１に入力され、該ブロック２−１で所定の画像処理が施された後、ビット戻し部１３−１で、最下位ビットｂｉｔ０が最上位ビットｂｉｔ７に戻されて次段に出力される。なお、最下位ビットｂｉｔ０は、「１」固定とする。該データは、ビット入れ替え部１２−２をそのまま通ってブロック２−２に入力され、所定の画像処理が施された後、ビット戻し部１３−２をそのまま通って出力される。
【００３４】
次に、図６は、本実施形態による画像形成装置の他の動作例を示すブロック図である。図６に示す例は、後段のブロック２−２の最上位ビットが故障（「１」に固定）であった場合の各部の動作を示している。故障ビット特定部１１−２によって最上位ビットｂｉｔ７が「１」に固定されている故障が検出されると、ビット入れ替え部１２−２は、各ビットを１つずつ下位にずらす。また、ビット戻し部１３−２は、各ビットを１つずつ上位にずらす。また、ブロック２−１には故障がないので、ビット入れ替え部１２−１、ビット戻し部１３−１では、ビットを入れ替えない。
【００３５】
入力データは、まず、ビット入れ替え部１２−１をそのまま通ってブロック２−１に入力され、該ブロック２−１で所定の画像処理が施された後、ビット戻し部１３−１をそのまま通って次段に出力される。ビット入れ替え部１２−２では、該入力データの各ビットを１つずつ下位にずらしてブロック２−２に入力される。該ブロック２−２で所定の画像処理が施された後、ビット戻し部１３−２において、各ビットを１つずつ上位に戻されて出力される。なお、最下位ビットｂｉｔ０は、「１」固定とする。
【００３６】
次に、図７は、本実施形態による画像形成装置の他の動作例を示すブロック図である。図７に示す例は、前段のブロック２−１の最上位ビットが故障（「０」に固定）で、かつ、後段のブロック２−２の最上位ビットが故障（「１」に固定）であった場合の各部の動作を示している。故障ビット特定部１１−１によって最上位ビットｂｉｔ７が「０」に固定されている故障が検出されると、ビット入れ替え部１２−１は、最上位ビットｂｉｔ７を最下位ビットｂｉｔ０に入れ替える。また、ビット戻し部１３−１は、最下位ビットｂｉｔ０を最上位ビットｂｉｔ７に入れ替える。さらに、故障ビット特定部１１−２によってブロック２−２の最上位ビットｂｉｔ７が「１」に固定されている故障が検出されると、ビット入れ替え部１２−２は、各ビットを１つずつ下位にずらす。また、ビット戻し部１３−１は、各ビットを１つずつ上位にずらす。
【００３７】
入力データは、ビット入れ替え部１２−１で、最上位ビットｂｉｔ７が最下位ビットｂｉｔ０となって、ブロック２−１に入力され、該ブロック２−１で所定の画像処理が施された後、ビット戻し部１３−１で、最下位ビットｂｉｔ０が最上位ビットｂｉｔ７に戻されて次段に出力される。なお、最下位ビットｂｉｔ０は、「１」固定とする。次に、該データは、ビット入れ替え部１２−２で、各ビットを１つずつ下位にずらされてブロック２−２に入力される。該ブロック２−２で所定の画像処理が施された後、ビット戻し部１３−２において、各ビットを１つずつ上位に戻されて出力される。なお、最下位ビットｂｉｔ０は、「１」固定とする。
【００３８】
上述した実施形態によれば、階調を表すデータの上位ビットが故障した場合であっても、より下位のビットを使用して後段モジュールに上位ビットのデータを受け渡すことで、部品交換までの期間においても、図８（ａ）に示すような階調の画像データを入力した場合、図８（ｂ）に示すように、故障による階調への影響を最小限に抑えることが可能となる。
【００３９】
なお、上述した実施形態においては、最上位ビットの故障についてのみ説明したが、これに限らず、優先度の高いビットについて故障検出を行い、該優先度の高いビットに故障が検出された場合には、より優先度の低いビットと入れ替えるようにしてもよい。また、上述した実施形態では、取り扱うデータを階調データとしたが、これに限らず、階調データに対する付加情報を表すタグ情報であってもよく、さらに、階調データビットの方がタグ情報のビットより優先度が高いとしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の実施形態による画像形成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施形態による画像形成装置での故障ビット特定方法を説明するための概念図である。
【図３】実施形態による画像形成装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図４】実施形態による画像形成装置の一動作例を示すブロック図である。
【図５】実施形態による画像形成装置の他の動作例を示すブロック図である。
【図６】実施形態による画像形成装置の他の動作例を示すブロック図である。
【図７】実施形態による画像形成装置の他の動作例を示すブロック図である。
【図８】実施形態による画像形成装置のビット故障時における階調への影響を説明するための模式図である。
【図９】従来技術による画像形成装置のビット故障時における動作を説明するためのブロック図である。
【図１０】従来技術による画像形成装置のビット故障時における階調への影響を説明するための模式図である。
【符号の説明】
【００４１】
２−１、２−２  ブロック（画像処理系）
１０  ＬＳＩ
１１−１、１１−２  故障ビット特定部（故障ビット特定手段）
１２−１、１２−２  ビット入れ替え部（ビット入れ替え手段）
１３−１、１３−２  ビット戻し部（ビット戻し手段）
【図１】
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【図２】
2008044120.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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