(57)【要約】【課題】渦電流探傷における探傷精度をさらに向上できる渦電流探傷装置を提供する。【解決手段】渦電流探傷装置１９のセンサ部１６は、一対の支持棒９、一対の支持棒９にスライド可能に取り付けられるフレキシブルシャフト部１０及びフレキシブルシャフト部１０に取り付けられたプローブ８を有する。プローブ９は直径０．５ｍｍの磁性体コアを含む一対のＥＣＴコイルを有するＥＣＴセンサを備えている。蒸気タービンローターのディスク１の周方向に複数のタービン翼３が配置される。ディスクフォーク部２と翼フォーク部４がフォークピンで結合される。複数のフォークピンが引き抜かれた各ピン孔５Ｂに、プローブ８及び一対の支持棒９を挿入する。プローブ９の挿入フレキシブルシャフト部１０を動かすことによって行われる。【選択図】図１
2008089328.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一対の渦電流探傷コイルを含む渦電流探傷センサを有するプローブと、前記渦電流探傷センサからの検出信号を入力する渦電流探傷器とを備え、
それぞれの前記渦電流探傷コイルに用いられた各磁性体コアの直径を０．１ｍｍ以上０．５ｍｍ以下の範囲にすることを特徴とする渦電流探傷装置。
【請求項２】
それぞれの前記渦電流探傷コイルは、前記磁性体コアの軸心が、前記プローブの軸方向に伸びる、前記プローブの外面と交差するように配置されている請求項１に記載の渦電流探傷装置。
【請求項３】
前記プローブを回転させる回転装置を備えた請求項１または請求項２に記載の渦電流探傷装置。
【請求項４】
検査対象物に形成された孔部内に挿入され、前記プローブを支持する支持部材を備えた請求項１に記載の渦電流探傷装置。
【請求項５】
前記プローブが取り付けられるプローブ保持部材が前記支持部材にスライド可能に取り付けられる請求項４に記載の渦電流探傷装置。
【請求項６】
前記プローブ保持部材に前記プローブを回転させる回転装置を設けた請求項５に記載の渦電流探傷装置。
【請求項７】
検査対象物の探傷を行う渦電流探傷センサを有するプローブと、前記渦電流探傷センサからの検出信号を入力する渦電流探傷器と、前記検査対象物に形成された孔部内に挿入され、前記プローブを支持する支持部材を備えたことを特徴とする渦電流探傷装置。
【請求項８】
前記プローブが取り付けられるプローブ保持部材が前記支持部材にスライド可能に取り付けられる請求項７に記載の渦電流探傷装置。
【請求項９】
前記プローブ保持部材に前記プローブを回転させる回転装置を設けた請求項８に記載の渦電流探傷装置。
【請求項１０】
ディスクと、前記ディスクの周方向に配置された複数のタービン翼と、前記ディスクに形成されたディスクフォーク部と各前記タービン翼のそれぞれに形成された翼フォーク部とを結合する複数のピンとを備えたタービンローターにおいて、前記ピンが引き抜かれて前記翼フォーク部が前記ディスクフォーク部内に挿入されている状態で、前記ピンが引き抜かれることによって前記ディスクフォーク部及び前記翼フォーク部を通して形成される孔部に、渦電流探傷センサを有するプローブを挿入し、
前記プローブを用いて前記孔部の少なくとも一部の内面に対する渦電流探傷を行うことを特徴とする渦電流探傷方法。
【請求項１１】
ディスクと、前記ディスクの周方向に配置された複数のタービン翼と、前記ディスクに形成されたディスクフォーク部と各前記タービン翼のそれぞれに形成された翼フォーク部とを結合する複数のピンとを備えたタービンローターにおいて、前記ピンを前記ディスクフォーク部及び前記翼フォーク部から引き抜き、
前記ピンが引き抜かれて前記翼フォーク部が前記ディスクフォーク部内に挿入されている状態で、前記ピンが引き抜かれることによって前記ディスクフォーク部及び前記翼フォーク部を通して形成される孔部に、渦電流探傷センサを有するプローブを挿入し、
前記プローブを用いて前記孔部の少なくとも一部の内面に対する渦電流探傷を行うことを特徴とする渦電流探傷方法。
【請求項１２】
引き抜かれる前記ピンが、前記ディスクの半径方向に配置されて前記翼フォーク部を前記ディスクに結合する複数のピンのうち最も外側に位置するピンである請求項１０または請求項１１に記載の渦電流探傷方法。
【請求項１３】
ディスクと、前記ディスクの周方向に配置された複数のタービン翼と、前記ディスクに形成されたディスクフォーク部と各前記タービン翼のそれぞれに形成された翼フォーク部とを結合する複数のピンとを備えたタービンローターにおいて、第１の前記タービン翼を前記ディスクに結合している第１の前記ピンが引き抜かれることによって前記ディスクフォーク部及び前記第１のタービン翼の第１の前記翼フォーク部を通して形成される第１孔部に、渦電流探傷センサを有するプローブを挿入し、
前記周方向に位置する、前記第１のタービン翼とは別の第２の前記タービン翼を前記ディスクに結合している第２の前記ピンが引き抜かれることによって前記ディスクフォーク部及び前記第２のタービン翼の第２の前記翼フォーク部を通して形成される第２孔部に、前記プローブを支持する支持部材を挿入し、
前記プローブを用いて前記第１孔部の少なくとも一部の内面に対する渦電流探傷を行うことを特徴とする渦電流探傷方法。
【請求項１４】
ディスクと、前記ディスクの周方向に配置された複数のタービン翼と、前記ディスクに形成されたディスクフォーク部と各前記タービン翼のそれぞれに形成された翼フォーク部とを結合する複数のピンとを備えたタービンローターにおいて、第１の前記タービン翼を前記ディスクに結合している第１の前記ピンを、前記ディスクフォーク部及び前記第１のタービン翼の第１の前記翼フォーク部から引き抜き、
前記第１のタービン翼とは別の第２の前記タービン翼を前記ディスクに結合している第２の前記ピンを、前記ディスクフォーク部及び前記第２のタービン翼の第２の前記翼フォーク部から引き抜き、
前記第１のピンが引き抜かれることによって前記ディスクフォーク部及び前記第１の翼フォーク部を通して形成される第１孔部に、渦電流探傷センサを有するプローブを挿入し、
前記第２のピンが引き抜かれることによって前記ディスクフォーク部及び前記第２の翼フォーク部を通して形成される第２孔部に、前記プローブを支持する支持部材を挿入し、
前記プローブを用いて前記第１孔部の少なくとも一部の内面に対する渦電流探傷を行うことを特徴とする渦電流探傷方法。
【請求項１５】
引き抜かれる前記第１のピンが、前記ディスクの半径方向に配置されて前記第１の翼フォーク部を前記ディスクに結合する複数のピンのうち最も外側に位置するピンである請求項１３または請求項１４に記載の渦電流探傷方法。
【請求項１６】
引き抜かれる前記第２のピンが、前記ディスクの半径方向に配置されて前記第２の翼フォーク部を前記ディスクに結合する複数のピンのうち最も外側に位置するピンである請求項１３ないし請求項１５のいずれか１項に記載の渦電流探傷方法。
【請求項１７】
前記プローブの前記第１孔部への挿入は、前記プローブが取り付けられたプローブ保持部材を前記支持部材によって案内することにより行われる請求項１３ないし請求項１６のいずれか１項に記載の渦電流探傷方法。
【請求項１８】
前記支持部材を前記第２孔部に挿入し、その後、前記プローブを前記第１孔部に挿入する請求項１３ないし請求項１７のいずれか１項に記載の渦電流探傷方法。
【請求項１９】
前記周方向に位置して、前記第２のタービン翼と共に、前記第１のタービン翼を間に挟む第３の前記タービン翼を前記ディスクに結合している第３の前記ピンが引き抜かれることによって前記ディスクフォーク部及び前記第３のタービン翼の第３の前記翼フォーク部を通して形成される第３孔部に、前記プローブを支持する別の前記支持部材を挿入する請求項１３ないし請求項１６のいずれか１項に記載の渦電流探傷方法。
【請求項２０】
引き抜かれる前記第３のピンが、前記ディスクの半径方向に配置されて前記第３の翼フォーク部を前記ディスクに結合する複数のピンのうち最も外側に位置するピンである請求項１９に記載の渦電流探傷方法。
【請求項２１】
ディスクと、前記ディスクの周方向に配置された複数のタービン翼と、前記ディスクに形成されたディスクフォーク部と各前記タービン翼のそれぞれに形成された翼フォーク部とを結合する複数のピンとを備え、それぞれの前記翼フォーク部が前記ディスクの半径方向に配置された複数の前記ピンによって前記ディスクに結合されるタービンローターにおいて、それぞれの前記翼フォーク部ごとに前記半径方向に配置された前記複数のピンのうち最も外側に位置するそれぞれの前記ピンを、前記ディスクフォーク部及び各前記翼フォーク部から引き抜き、
前記各ピンが引き抜かれてそれぞれの前記翼フォーク部が前記ディスクフォーク部に結合されている状態で、前記各ピンが引き抜かれることによって前記ディスクフォーク部及び該当するそれぞれの前記翼フォーク部を通して形成される複数の孔部に、渦電流探傷センサを有するプローブを、順次、挿入し、
前記プローブを用いて該当する前記孔部の少なくとも一部の内面に対する渦電流探傷を行うことを特徴とする渦電流探傷方法。
【請求項２２】
ある前記翼フォーク部を通る前記孔部の少なくとも一部の内面にき裂が生じているとき、前記ある翼フォーク部を前記ディスクに結合している、半径方向に配置された前記複数のピンのうち前記引き抜かれたピンよりも内側に位置する他の前記ピンを引き抜き、
このピンの引抜によって前記ディスクフォーク部及び前記ある翼フォーク部を通して形成される他の孔部に、前記プローブを挿入する請求項２１に記載の渦電流探傷方法。
【請求項２３】
前記プローブとして、直径が０．１ｍｍ以上０．５ｍｍ以下の範囲にある磁性体コアを含む渦電流センサを有するプローブを用いる請求項１０ないし請求項２２のいずれか１項に記載の渦電流探傷方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、渦電流探傷装置及び渦電流探傷方法に係り、特に、蒸気タービンのローターにおけるタービン翼の翼フォーク部に形成されたフォークピン孔内面の検査に適用するのに好適な渦電流探傷装置及び渦電流探傷方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
発電プラントに用いられる蒸気タービンは、製作性及び整備性の向上のため、回転軸とタービン翼を別々に製作して組み合わせている。具体的には、蒸気タービンの回転軸に設けられたディスクに形成されたディスクフォーク部とタービン翼に形成された翼フォーク部を組み合わせ、両フォーク部に形成されたフォークピン孔にピンを挿入することによってタービン翼をディスクに固定している（特許文献１の図２参照）。蒸気タービンの回転に伴い、翼フォーク部のフォークピン孔付近で、タービン翼の構造材に応力がかかる。このため、タービン翼のフォークピン孔付近にき裂が生じることがある。
【０００３】
タービン翼のフォークピン孔付近でのき裂の検査は、従来、タービン翼をディスクから取り外し、磁粉探傷（Magnetic  particle  Testing；以下、ＭＴと称する）を適用することによって行われる。ＭＴは、検査対象物に磁場をかけた際に欠陥から漏洩する磁束を検出する手法である。このＭＴによる検査を検査対象物であるタービン翼に適用する場合には以下のように行う。タービン翼の翼フォーク部に磁場を掛けた状態で、翼フォーク部の表面に、欠陥の漏洩磁束に集積される蛍光物質を塗布した磁性金属粉をまぶし、翼フォーク部に紫外線を照射する。その磁性金属粉は、例えば、フォークピン孔内の欠陥に集積される。紫外線を照射しているので、磁性金属粉の集積の有無を蛍光の発光として観察することで欠陥を検出する。ＭＴによる欠陥検査では、ディスクのフォーク部とタービン翼のフォーク部を結合しているピンを抜くだけでなく、更にディスクからタービン翼を取り外す必要がある。このため、タービン翼を対象とした、ＭＴによる欠陥検査には長時間を要する。さらに、検査終了後に、タービン翼をディスクにはめ込み、相互を、ピンで結合する作業を行わなければならない。
【０００４】
一方、検査対象物の表面き裂の検査方法としては、渦電流探傷（Eddy Current Testing；ＥＣＴという）がよく用いられる。特に、伝熱管など管状物体の内面に対するＥＣＴ検査は、ＥＣＴプローブを管内で迅速に移動できて、ＥＣＴの高速検査に適する機能を十分に活かすことができるため、広く用いられている。この一例が特許文献２に説明されている。特許文献２に記載されたＥＣＴ検査は、ＥＣＴセンサを搭載した探傷プローブを管内に挿入し、管の減肉腐食状態を探知するものである。
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−１２２０８号公報
【特許文献２】特開平８−１４５９５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、蒸気タービンのフォークピン孔内面のき裂の検査に、これまでＥＣＴが用いられたことはなかった。また、上記したフォークピン孔内面に生じたき裂を精度良く検知するには、後述するように、従来のＥＣＴプローブでは十分ではなかった。
【０００７】
本発明の目的は、渦電流探傷における探傷精度をさらに向上できる渦電流探傷装置及び渦電流探傷方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記した本発明の目的を達成する本発明の特徴は、渦電流探傷センサに含まれる渦電流探傷コイルに用いられた磁性体コアの直径を０．１ｍｍ以上０．５ｍｍ以下の範囲にすることにある。このような本発明によれば、タービンローターのディスクの周方向に配置された複数のタービン翼のそれぞれに形成された翼フォーク部とディスクに形成されたディスクフォーク部を、それぞれピンを用いて結合する構造において、このピンを引き抜くことによってディスクフォーク部及び翼フォーク部を通して形成される孔部の少なくとも一部の内面に生じるき裂を精度良く検出することができる。特に、本発明は、その孔部の少なくとも一部の内面である、隣り合う翼フォーク部のそれぞれに含まれて対向する２つのフォークの対向面に形成される溝部の内面で、それらのフォークの合せ目近傍に生じる微小なき裂を検出することができる。
【０００９】
磁性体コアの直径を０．１ｍｍ以上０．５ｍｍ以下の範囲にすることは、後述するように、発明者らが見出した新たな知見である。
【００１０】
上記したピンが引き抜かれて翼フォーク部がディスクフォーク部内に挿入されている状態で、ピンが引き抜かれることによってディスクフォーク部及び翼フォーク部を通して形成される孔部に、渦電流探傷センサを有するプローブを挿入して、その孔部の少なくとも一部の内面に対する渦電流探傷を実施することは、他の特徴である。この特徴により、タービン翼をディスクから取り外す必要がないので、渦電流探傷に要する時間を著しく短縮することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、渦電流探傷における探傷精度をさらに向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明の実施例を以下に説明する。
【実施例１】
【００１３】
本発明の好適な一実施例である渦電流探傷装置は、蒸気タービンのローターに設けられたタービン翼に形成された翼フォーク部及びディスクに形成されたディスクフォーク部を検査する。具体的には、渦電流探傷装置は、翼フォーク部及びディスクフォーク部にそれぞれ形成されたフォークピン孔内面に、き裂が生じているかを検査する。
【００１４】
本実施例の渦電流探傷装置を説明する前に、まず、検査対象物であるタービン翼及びディスクをそれぞれ有する、蒸気タービンのローターの概略構成を、図１、図７及び図８を用いて説明する。蒸気タービンは、タービン動翼であるタービン翼３を複数段備えたローター（図示せず）をタービンケーシング（図示せず）内に回転可能に設置している。ローターは、回転軸にはディスク１が形成されており、ディスク１の周方向に配置した多数のタービン翼３をディスク１に着脱可能に取り付けている。一段のタービン翼配列に含まれる複数のタービン翼３は、それらの先端部がシュラウド７によって連結されている。
【００１５】
ディスク１とタービン翼３との結合構造を具体的に説明する。ディスクフォーク部２がディスク１の外周部に形成され、翼フォーク部４がタービン翼３の根元に形成される。翼フォーク部４は翼植込部である。ディスクフォーク部２は、ローターの軸方向において所定の間隔を置いて並列に配置された複数のディスク溝２２を形成することによって形作られる。ディスクフォーク部２は、隣り合うディスク溝２２の相互間にフォーク２３を形成しており、例えば、タービン翼３一本当り６本のフォーク２３を有する。翼フォーク部４は、タービン翼３の根元に所定の間隔を置いて配置された複数のフォーク溝２４を形成することによって形作られる。翼フォーク部４は、隣り合うフォーク溝２４間にフォーク２５を形成している。例えば、翼フォーク部４は５本のフォーク２５を有する。フォーク２３，２５の本数は、各段のタービン翼によって異なる。
【００１６】
ディスク１の各フォーク２３には、多数のフォークピン孔（以下、単にピン孔という）５Ｂが形成されている。ピン孔５Ｂは円形の貫通孔である。これらのピン孔５Ｂは、各フォーク２３に、周方向において所定の間隔でディスク１の周囲に配置されるタービン翼３の数だけそれぞれ設けられる。また、ディスク１の半径方向においても、等間隔に配置された複数のピン孔５Ｂが配置されている。本実施例では、その半径方向において、タービン翼３一本当り３個のピン孔５Ｂが設けられる。この半径方向に設けられた各ピン孔５Ｂは同心円状に配置される。
【００１７】
一つのタービン翼３に設けられた翼フォーク部４の各フォーク２５のうち中央に位置する３本のフォーク２５Ｂには、それぞれ、円形の貫通孔である複数のピン孔５Ａが形成される。本実施例では、各フォーク２５Ｂにフォーク２５Ｂの長手方向において３個のピン孔５Ａが等間隔で配置される。その長手方向における３個のピン孔５Ａのそれぞれの位置は、フォーク２３において半径方向に設けられた３個のピン孔５Ｂの位置と一致している。翼フォーク部４の各フォーク２５のうち翼フォーク部４の両側に位置する各フォーク２５Ａは、ピン孔５Ａを半割りにした形状の複数の溝（半円溝という）５Ｃを、ディスク１の周方向を向いている、フォーク２５Ａの両端面に形成している。半円溝５Ｃは、フォーク２５Ａの長手方向においてその両端面に３個ずつ形成される。一方の端面に形成される各半円溝５Ｃは、フォーク２５の長手方向において、フォーク２５Ｂに形成されたピン孔５Ａと一致する位置に形成される。他方の端面に形成される各半円溝５Ｃは、ディスク１の周方向においてそのタービン翼３に隣接する他のタービン翼３のフォーク２５Ｂに形成される各ピン孔５Ａの位置と一致する。ピン孔５Ａ，５Ｂ及び半円溝５Ｃの半径は同じである。
【００１８】
タービン翼３の各フォーク２５は各ディスク溝２２内に挿入される。換言すれば、ディスク１の各フォーク２３がタービン翼３の各フォーク溝２４内に挿入される。このような状態で、複数のタービン翼３がディスク１の外周部にその周方向に一列に並んで配置される。このように配置されたタービン翼３は複数のフォークピン６によってディスク１に取り付けられる。これらのフォークピン６は、ローターの軸方向に一直線に並んだ各フォーク２３に形成された各ピン孔５Ｂ、各フォーク２５Ｂに形成されたピン孔５Ａ及び半円溝５Ｃ内に挿入される（図８参照）。一つのタービン翼３の各フォーク２５には、３本のフォークピン６が挿入される。これらのフォークピン６は、外フォークピン６Ａ，中フォークピン６Ｂ及び内フォークピン６Ｃである。ディスク１の半径方向に配置された３本のフォークピン６において、外フォークピン６Ａは最も外側に位置し、内フォークピン６Ｃは最も内側に位置し、中フォークピン６Ｂは真ん中に位置している。
【００１９】
複数のタービン翼３が、ディスク１の周方向においてタービン翼３ａ，３ｂ，３ｃのように並んでいるとする（図１参照）。隣り合うタービン翼３ａとタービン翼３ｂのそれぞれのフォーク２５Ａの互いに向き合う端面に存在する各半円溝５Ｃによって、ピン孔５Ａと同様な一つのピン孔が、それらのフォーク２５Ａに跨って形成される（図４参照）。互いに向き合うそれらのフォーク２５Ａの間には、合わせ目Ｘ，Ｙが形成される。合わせ目Ｙは合わせ目Ｘと１８０°反対側に位置している。
【００２０】
本発明の好適な一実施例である渦電流探傷装置を、図１、図２及び図３を用いて詳細に説明する。本実施例の渦電流探傷装置１９は、図２に示すように、センサ部１６、渦電流探傷器１７及びコンピュータ１８を備えている。センサ部１６は、プローブ８、一対の支持棒９、フレキシブルシャフト部１０、サポート部１３及び位置決め装置１４を有する。一対の支持棒９がサポート部１３に固定される。連結部材３６が一対の支持棒９の先端部を連結している。一対の支持棒９がフレキシブルシャフト部１０のケーシング１０Ａを貫通しており、フレキシブルシャフト部１０は支持棒９に沿って支持棒９の軸方向に移動可能である。プローブ８は、ケーシング１０Ａに取り付けられ、一対の支持棒９の間に配置される。プローブ８及び支持棒９の先端部は、流線型をしており、ピン孔内に挿入しやすい形状となっている。プローブ８及び支持棒９の外径はピン孔５Ａ，５Ｂの内径と一致している。なお、支持棒９の先端部及びプローブ８は、ディスク１等に形成されるピン孔の内径に応じて交換できるようにしてもよい。図１は位置決め装置１４を省略している。
【００２１】
プローブ８は、図３(ａ)、図３(ｂ)に示すように、プローブ本体８ａにＥＣＴセンサ１２を搭載している。ＥＣＴセンサ１２は、ＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂを含んでおり、プローブ本体８ａの先端部に配置される。ＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂは、プローブ本体８ａの外面からプローブ本体８ａの軸心に向かうように、プローブ本体８ａ内に並んで配置される。さらに、ＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂは、プローブ本体８ａの周方向において相互間に間隔を形成するように配置されている（図３(ｂ)参照）。ＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂは、共に、磁性体コア１５の周囲にコイル２９を巻き付けた構成を有する（図３(ｃ)参照）。磁性体コア１５はフェライト等の磁性材で構成される。励磁コイル１３及び検出コイル１４は、共に、直径０．５ｍｍの磁性体コア１５を用いている。ＥＣＴセンサ１２は、自己誘導、自己比較方式のＥＣＴセンサであり、ＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂは、共に、電流による励磁を行って、検出信号を出力する。なお、本実施例で記した自己誘導、自己比較方式のＥＣＴセンサは、測定対象である金属部材が磁性材で磁気ノイズを持つ場合に、磁気ノイズの影響を２つのＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂの信号の差を見ることでキャンセルしやすい特徴を有する。磁気ノイズの影響が少ない場合は、２つのＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂの一方を励磁、もう一方を検出とする相互相関方式や、単一コイルで行う自己誘導方式も適用できる。
【００２２】
フレキシブルシャフト部１０は、ケーシング１０Ａを有し、さらに、ケーシング１０Ａに回転可能に取り付けたハンドル１１、及びケーシング１０Ａ内に設置した回転力伝達機構（図示せず）を有する。回転力伝達機構は、ハンドル１１の回転力をプローブ８に伝える回転軸及び傘歯車等を含んでいる。ハンドル１１を回転させることによって、プローブ８が回転する。ケーシング１０Ａ内に位置する、プローブ本体８ａの一端に、角度計（図示せず）が取り付けられる。この角度計はブローブ８の回転角度を検出する。他のハンドル及び伝達機構（図示せず）をサポート部１３内に設置し、一対の支持棒９をプローブ８の左右の方向で移動できるように設置してもよい。他のハンドルを回転することによって各支持棒を左右に移動させ、後述するようにピン孔５Ｂの間隔に応じて支持棒９相互の間隔を調節することが可能になる。一対の支持棒９の左右への移動を可能にするため、ケーシング１０Ａに形成されるそれぞれの支持棒９に対する貫通孔は、左右に拡がる孔形状にする必要がある。
【００２３】
位置決め装置１４は、板状の位置設定部材３２及びストッパー部材３４を有する。位置設定部材３２はサポート部１３及び一方の支持棒９に取り付けられる。位置設定部材３２は、支持棒９と並行でフレキシブルシャフト部１０の外側に配置される。フレキシブルシャフト部１０の支持棒９の軸方向への移動が、位置設定部材３２によって制限されない。位置設定部材３２には、複数の位置決め用孔３３がピン孔５Ｂ、半円溝５Ｃ及びピン孔５Ａの位置関係と対応して形成されている。ストッパー部材３４が、ケーシング１０Ａの側面に取り付けられ、位置設定部材３２の方に伸びている。ストッパー部材３４は、位置決め用孔３３に出し入れが可能なストッパー部３５を有する。ストッパー部３５は、例えば、円筒部材内でその軸方向に移動可能な金属ボールをコイルバネによって下方に押圧する構成を有する。金属ボールは円筒部材からは落下しない。
【００２４】
励磁電流を供給する電源（図示せず）とＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂのそれぞれのコイル２９は別々の配線で接続されており、これらの配線にそれぞれ開閉器（図示せず）が設けられている。これらの開閉器はケーシング１０Ａ内に設置されている。ＥＣＴコイル１２ａのコイル２９に接続される開閉器を第１開閉器という。ＥＣＴコイル１２ｂのコイル２９に接続される開閉器を第２開閉器という。
【００２５】
渦電流探傷器１７に接続された多芯ケーブル２１がフレキシブルシャフト部１０のケーシング１０Ａ内に達している。例えば、多芯ケーブル２１に含まれる１本の配線はＥＣＴコイル１２ａのコイル２９に接続され、ＥＣＴコイル１２ａの検出信号を伝える信号線である。他の１本の配線はＥＣＴコイル１２ｂのコイル２９に接続され、ＥＣＴコイル１２ｂの検出信号を伝える信号線である。他の１本の配線２１は、第１開閉器及び第２開閉器に、渦電流探傷器１７からの開閉指令を伝えるものである。また、他の１本の配線は上記した角度計に接続される。渦電流探傷器１７はケーブル２８によってコンピュータ１８に接続される。コンピュータ１８は、制御指令（例えば、後述の検査開始指令及び検査終了指令等）を出力する機能、及びＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂからの検出信号等に基づいた渦電流探傷器１７の出力であるＥＣＴ信号を処理する信号処理機能を有する。したがって、コンピュータ１８は、実質的に、制御指令を出力する制御装置、及びそのＥＣＴ信号を処理する信号処理装置を含んでいる。
【００２６】
渦電流探傷装置１９を用いた、蒸気タービンのローターのディスクフォーク部２及び翼フォーク部４のＥＣＴ検査を、図５に示す手順（ステップ４０〜４５）に基づいて詳細に説明する。まず、タービンケーシングを分解し、複数のタービン翼３を設置したローターをタービンケーシングから取り出す。取り出したローターは、床面に設置された一対の支持台上に回転可能に置かれる。その後、ディスク１からフォークピン６を取り外す（ステップ４０）。このフォークピン６の取り外しに際しては、一段のタービン翼配列に対して、最も外側に配置された外フォークピン６Ａを全て取り外す。そのタービン翼配列に含まれる全タービン翼３は中フォークピン６Ｂ及び内フォークピン６Ｃによってディスク１に結合されているので、下向きになっているタービン翼３は落下することはない。
【００２７】
センサ部１６を検査箇所に設置する（ステップ４１）。センサ部１６のサポート部１３が、床面上に置かれた支持装置（図示せず）に支持棒９の軸方向にスライド可能に設置されている。この支持装置は検査対象のピン孔の位置に対応して高さが調節できるようになっている。ＥＣＴ検査の対象は、外フォークピン６Ａが挿入されていたピン孔５Ａ，５Ｂ及び半円溝５Ｃの内面である。一つの外フォークピン６Ａが挿入されていたピン孔５Ｂ，及び一つのタービン翼３のピン孔５Ａ及び半円溝５Ｃの内面に対して、ＥＣＴ検査を実施する。この検査が終了した後、ディスク１の周方向でその外フォークピン６Ａの隣に位置していた他の外フォークピン６Ａが挿入されていたピン孔５Ｂ，及び他のタービン翼３のピン孔５Ａ及び半円溝５Ｃの内面に対し、ＥＣＴ検査が実施される。例えば、ＥＣＴ検査の最初の対象となるピン孔の内面が、タービン翼３ｂの翼フォーク部４ｂに形成されて外フォークピン６Ａが挿入されていたピン孔５Ａ、及びこのピン孔５Ａの軸心の延長線上にあるピン孔５Ｂ及び半円溝５Ｃのそれぞれの内面であるとする。これらのピン孔５Ａ，５Ｂ及び半円溝５Ｃを、以下、検査対象ピン孔という。検査対象ピン孔には後述するようにプローブ８が挿入される。一対の支持棒９は、タービン翼３ｂと周方向で隣接しているタービン翼３ａ，３ｃの翼フォーク部４ａ，４ｃにそれぞれ形成されて各外フォークピン６Ａがそれぞれ挿入されていたピン孔５Ａ、及びこのピン孔５Ａの軸心の延長線上にあるピン孔５Ｂ及び半円溝５Ｃに、それぞれ挿入される。支持棒９が挿入されるこれらのピン孔５Ａ，５Ｂ及び半円溝５Ｃを、以下、支持用ピン孔という。図１は、一対の支持棒９の先端部を、それらを挿入する、タービン翼３ａ，３ｃに対する２つの支持用ピン孔に合わせた状態を示している。一対の支持棒９の該当する支持用ピン孔への挿入は、作業員が手動でサポート部３０を支持装置に対してスライドさせることによって行われる。一対の支持棒９が該当する支持用ピン孔にそれぞれ挿入されることにより、検査箇所にセンサ部１６が設置される。これらの支持棒９は、ＥＣＴ検査を行っている間、支持装置に設置されたサポート部３０とそれらの支持用ピン孔によって保持される。なお、支持装置にモータを設置し、このモータの駆動により、サポート部３０をディスクフォーク部２に向かって移動させる構成を採用することも可能である。
【００２８】
次に、検査対象のピン孔内にプローブを挿入する（ステップ４２）。作業員が手動で、フレキシブルシャフト部１０を、支持棒９をガイドにしてディスクフォーク部２に向かって移動させる。この移動により、プローブ８の先端部が、タービン翼３ｂの翼フォーク部４に形成されたピン孔５Ａを含む検査対象ピン孔に挿入される。プローブ８に設けられたＥＣＴセンサ１２の検査対象ピン孔内での位置決めは、位置決め装置１４によって行われる。すなわち、ストッパー部材３４のストッパー部３５を位置設定部材３２に形成された所定位置の位置決め用孔３３に挿入することによって行われる。フレキシブルシャフト部１０を移動させるときには、金属ボールがコイルバネを押し上げるので、ストッパー部３５が位置決め用孔３３から容易に抜け出し、フレキシブルシャフト部１０の移動が可能になる。上記の位置決めにより、ＥＣＴセンサ１２は、所定位置、例えば、隣り合うタービン翼３ｂ、３ａの各フォーク２５Ａにそれぞれ形成されて互いに向かい合っている２つの半円溝５Ｃの角部に位置決めされる。
【００２９】
隣り合う翼フォーク部の各フォークの合わせ目以外の部分で、ＥＣＴセンサ１２の零点調整を行う（ステップ４３）。角度計の検出信号がケーブル２１を介して渦電流探傷器１７に入力され、さらに、ケーブル２８を介してコンピュータ１８に入力される。コンピュータ１８、すなわち、信号処理装置はその角度計で検出したプローブ８の回転角度の情報を表示装置２０に出力する。作業員は表示された回転角度情報を見て、ＥＣＴセンサ１２が合わせ目Ｘ，Ｙ以外の部分（健全部）を向いているかを判断する。ＥＣＴセンサ１２が合わせ目の一つ（ＸまたはＹ）の方を向いている場合には、作業員はハンドル１１を回転させてプローブ８を回転させ、ＥＣＴセンサ１２が合わせ目Ｘと合わせ目Ｙとの間で半円溝５Ｃの内面の部分（好ましくは、き裂が存在しない部分）を向くようにする。この状態で、作業員は、制御装置に接続される入力装置（例えば、キーボード）から検査開始信号を入力する。制御装置（コンピュータ１８）は、この検査開始信号に基づいて検査開始指令を渦電流探傷器１７に出力する。検査開始指令を入力した渦電流検出器１７は、開閉指令を第１開閉器及び第２開閉器に出力し、これらの開閉器を閉じる。ＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂの各コイル２９に電源から励磁電流が供給される。このとき、半円溝５Ｃの表面部分で渦電流が発生し、この渦電流によって誘起された電流が各コイル２９に発生する。各コイル２９で発生した各電流がＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂのそれぞれの検出信号となってケーブル２１により渦電流検出器１７に入力される。渦電流検出器１７は、内部に設けられた回路構成によってそれらの検出信号の差分を取り、得られたＥＣＴ信号を信号処理装置（コンピュータ１８）に出力する。このＥＣＴ信号は、信号処理装置から表示装置２０に出力され、表示装置２０に表示される。そのＥＣＴ信号が零である場合には、ＥＣＴセンサ１２が零点調整されていることになる。そのＥＣＴ信号が零でない場合には、渦電流探傷器１７内部に有しているブリッジ回路（またはその相当回路）のバランスを調節してそのＥＣＴ信号を零になるようにバランスを調節する。以上により、ＥＣＴセンサ１２の零点調整が終了する。
【００３０】
零点調整が終了後、プローブを回転走査する（ステップ４４）。作業員は、ハンドル１１を走査してプローブ８を検査対象ピン孔内で一回転させる。この回転走査により、ＥＣＴセンサ１２は、その一対の半円溝５Ｃのそれぞれの内面に沿って回転する。検査対象ピン孔に含まれる、向き合った一対の半円溝５Ｃの各内面に対するＥＣＴ検査が実施される。ＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂに励磁電流が供給されているので、前述したようにＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂから出力されるそれぞれの検出信号が渦電流検出器１７に入力される。渦電流検出器１７は、両検出信号に基づいて得られた差分信号であるＥＣＴ信号を出力する。このＥＣＴ信号は、信号処理装置に入力されてここで処理される。信号処理装置は、例えば、入力したＥＣＴ信号、及び角度計から入力されたプローブ８の回転角度情報を用いて、ＥＣＴ信号の振幅と回転角度との関係を示す画像情報を作成する。この画像情報は、例えば、その振幅のＸ方向成分と回転角度との関係を示す画像情報、及びその振幅のＹ方向成分と回転角度との関係を示す画像情報を含んでいる。信号処理装置が表示装置２０にそれらの画像情報を出力するので、それらの画像情報が表示装置に表示される。上記した角度計をセンサ部１６に設置しない場合は、信号処理装置は、ＥＣＴ信号の振幅と時間との関係を示す画像情報を作成する。
【００３１】
上記した一対の半円溝５Ｃの内面を対象にしたＥＣＴ検査により、ＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂのそれぞれの検出信号を入力した渦電流検出器１７から出力されたＥＣＴ信号の一例を図６に示す。両半円溝５Ｃの内面にき裂が存在しない健全な状態でも、合わせ目Ｘ，Ｙの合わせ面の形状に対応した大きなＥＣＴ信号Ｃ１が合わせ目Ｘ，Ｙの位置で発生する（図６(Ａ)参照）。合わせ目Ｘ，Ｙ以外の位置では、ＥＣＴ信号は零となる。半円溝５Ｃの内面で合わせ目近傍に、検査対象ピン孔の軸方向に伸びるき裂２７（図７参照）がある場合には、渦電流検出器１７から出力されたＥＣＴ信号は、例えば、図６(Ｂ)に示すようになる。そのＥＣＴ信号は、合わせ目Ｘ，Ｙ近傍で発生するＥＣＴ信号Ｃ１以外に、き裂の位置で発生する零よりも大きなＥＣＴ信号が含まれている。合わせ目Ｘ近傍で翼フォーク部４ａの半円溝５Ｃの内面にき裂２７が存在する場合のＥＣＴ信号は、そのき裂２７の位置で零点よりも大きいＥＣＴ信号Ｃ２を含む。合わせ目Ｙ近傍で翼フォーク部４ｂの半円溝５Ｃの内面にき裂２７が存在する場合には、ＥＣＴ信号は零点よりも大きいＥＣＴ信号Ｃ３を含んでいる。半円溝５Ｃの内面で発生するき裂２７は小さいので、ＥＣＴ信号Ｃ２，Ｃ３の大きさはＥＣＴ信号Ｃ１に比べて著しく小さい。
【００３２】
従来のＥＣＴセンサは、合わせ目Ｘまたは合わせ目Ｙ近傍にき裂２７が発生した場合には、その合わせ目のＥＣＴ信号Ｃ１の影響を受けるので、大きさが著しく小さいそのき裂２７のＥＣＴ信号を合わせ目で発生するＥＣＴ信号から分離できなかった。このため、従来のＥＣＴセンサは、その合わせ目の近傍に発生したき裂２７を検出することができなかった。発明者らは、半円溝５Ｃの内面でその合わせ目近傍に発生しているき裂２７をＥＣＴ信号Ｃ１の影響を受けないで検出できる方法を種々検討した。その結果、ＥＣＴセンサの磁性体コアの直径を０．５ｍｍ以下にすることによって、ＥＣＴセンサの空間分解能を向上させることができ、半円溝５Ｃの内面でその合わせ目近傍に発生しているき裂２７によるＥＣＴ信号が合わせ目のＥＣＴ信号から分離できることを、発明者らが実験により新たに見出した。しかしながら、磁性体コアの直径を０．１ｍｍよりも小さくすると、ＥＣＴコイルの製作が困難になる。このため、ＥＣＴセンサの磁性体コアの直径を０．１ｍｍ以上０．５ｍｍ以下の範囲にすることによって、半円溝５Ｃの内面で合わせ目近傍に生じたき裂２７を検出することができるのである。
【００３３】
本実施例は、磁性体コア１５の直径が０．５ｍｍであるため、合わせ目Ｘ（または合わせ目Ｙ）近傍で半円溝５Ｃの内面に発生したき裂２７を検出することができる。
【００３４】
上記した一対の半円溝５Ｃに対するＥＣＴ検査が終了した後、作業員がフレキシブルシャフト部１０を手動で動かして、翼フォーク部４ｂに対応する上記の検査対象ピン孔内でプローブ８を移動させ、ＥＣＴセンサ１２を他のピン孔５Ｂ，５Ａの位置に順次位置決めする。それぞれの位置において前述したようにプローブ８を回転させ、それらの位置でのＥＣＴ検査を実施する。それぞれのＥＣＴ検査でＥＣＴセンサ１２から出力された各検出信号は、渦電流検出器１７に入力されてＥＣＴ信号になる。これらのＥＣＴ信号は信号処理装置に入力されて処理される。
【００３５】
き裂の存在を判定する（ステップ４５）。信号処理装置におけるＥＣＴ信号の処理で得られた情報（表示装置２０に表示）に基づいて、作業員はＥＣＴ検査を行った半円溝５Ｃの内面にき裂が発生しているかを判断する。
【００３６】
検査対象ピン孔に含まれるピン孔５Ａ，５Ｂ及び半円溝５Ｃのいずれの内面にもき裂が発生していない場合には、手動でフレキシブルシャフト部１０を動かしてプローブ８をその検査対象ピン孔から引き抜く。さらに、手動でサポート部３０を動かして一対の支持棒９をそれぞれの支持用ピン孔から引き抜く。次の検査対象ピン孔は、タービン翼３ｂに隣接するタービン翼３ｃをディスク１に結合する外フォークピン６Ａが挿入されていたピン孔５Ａ，５Ｂ及び半円溝５Ｃとなる。センサ部１６の高さ方向等の位置を調節し、プローブ８が次の検査対象ピン孔の前面に位置するようにする。前述したように、この検査対象ピン孔の両隣りに位置する各支持用ピン孔内にそれぞれの支持棒９を挿入し、検査対象ピン孔内にプローブ８を挿入する。この検査対象ピン孔に含まれる各ピン孔等の内面に対してそれぞれＥＣＴ検査が実施される。このようにして、一段のタービン翼配列対しディスク１に取り付けられていた全外フォークピン６Ａが挿入されていた全検査対象ピン孔の内面に対するＥＣＴ検査が実施される。
【００３７】
外フォークピン６Ａが挿入されていたある検査対象ピン孔、例えば、翼フォーク部４ｂの最も外側のピン孔５Ａを含む検査対象ピン孔の半円溝５Ｃでき裂が発見された場合には、タービン翼３ｂに対する中フォークピン６Ｂをディスク１から引き抜く。この中フォークピン６Ｂが挿入されていたピン孔等を含む検査対象ピン孔内で、き裂が発見された上記の半円溝５Ｃよりも内側に位置する半円溝５Ｃの内面に対するＥＣＴ検査が、前述したように行われる。この半円溝５Ｃにもき裂２７が発見された場合には、内側に位置する内フォークピン６Ｃをさらに引き抜く。そして、この内フォークピン６Ｃが挿入されていた検査対象ピン孔に含まれる半円溝５Ｃの内面に対するＥＣＴ検査が実施される。これらの中フォークピン６Ｂ及び内フォークピン６Ｃは、それらに対する検査対象ピン孔のＥＣＴ検査が終了した後、該当するピン孔内に挿入される。これは、支持装置での高さ調節が不可能な場合に、他の外フォークピン６Ａに対する検査対象ピン孔のＥＣＴ検査を実施する前にプローブ８との位置合せのためにローターを一対の支持台上で回転させたときに、タービン翼３ｂが落下することを防止するためである。
【００３８】
上記した全外フォークピン６Ａに対する全ての検査対象ピン孔でのＥＣＴ検査が終了した後、別途準備した新品の外フォークピン６Ａが、ディスク１等に形成された該当するピン孔内に挿入される。
【００３９】
検査対象ピン孔に含まれる、各フォークに形成されるピン孔５Ａ，５Ｂ及び半円溝５Ｃのうち、プローブ８を挿入する方法で最も手前に位置する一対の半円溝５Ｃの内面、及び最も奥に位置する一対の半円溝５Ｃの内面だけに対し、ＥＣＴ検査を実施してもよい。
【００４０】
本実施例は、前述したように、直径０．５ｍｍの磁性体コア１５を有するＥＣＴセンサ１２を用いるので、き裂の検出精度が向上する。特に、隣り合う翼フォーク部４ａ，４ｂの各フォーク２５Ａの合せ目Ｘ（または合せ目Ｙ）近傍で半円溝５Ｃの内面に発生した小さなき裂２７も検出することができる。本実施例は、ＥＣＴセンサ１２の各ＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂが、各コイルの軸心をプローブ本体８ａの外面を向くように配置しているため、ピン孔５Ａ，５Ｂ及び半円溝５Ｃの内面でピン孔の軸方向に伸びるき裂を容易に検出することができる。また、プローブ８を回転させるので、ピン孔等の内面の全面に対してき裂の発生を確認することができる。
【００４１】
本実施例は、プローブ８の回転角度も検出しているので、この回転角度とＥＣＴ信号を考慮することによって、図６(Ｂ)に示すように、き裂２７が、隣り合うタービン翼３ａ，３ｂのいずれの翼フォーク部４に形成された半円溝５Ｃの内面に生じているかを作業員が認識することができる。また、回転角度情報とＥＣＴ信号を一緒に表示することによって、上記の認識は勿論のこと、き裂２７が生じている周方向の位置も把握することができる。
【００４２】
ＥＣＴ検査においては、ＥＣＴセンサと検査対象箇所の表面との距離（この距離をリフトオフと呼ぶ）が変化する場合には出力される検出信号が変化する。このため、き裂を精度良く測定するためには、リフトオフに起因する検出信号の変化をなくする必要がある。これを達成するためには、プローブ８を確実に支持しなければならない。しかしながら、本実施例でＥＣＴ検査を行うディスクフォーク部２の周辺は狭隘部となっており、プローブ８をいかにして支持するかは非常に困難な課題であった。発明者らは、ディスクフォーク部２及び翼フォーク部４の検査対象ピン孔内面へのＥＣＴ検査を行う際にリフトオフの要因を排除する対策案を執拗に検討した。この結果、ディスク１等に形成された、フォークピン６を挿入するピン孔を、プローブ８を支持する支持部材の保持に使用するという新たな発想に至った。そこで、センサ部１６に一対の支持棒９を設け、これらの支持棒９を検査対象ピン孔付近でディスク１等に存在する２つの支持用ピン孔（好ましくは、調査対象ピン孔の隣りに位置する支持用ピン孔）に挿入させることで、支持棒９によるプローブ８の保持を実現した。本実施例は、このように、ディスク１等に形成されてフォークピン６が挿入される支持用ピン孔に挿入した支持棒９によってプローブ８を保持するため、プローブ８を精度良く確実に保持できる。従って、リフトオフの変化を著しく低減できるので、リフトオフに起因したＥＣＴコイル１２ａ，１２ｂからの各検出信号の変化を著しく抑制でき、き裂の検出精度が向上する。支持棒９は、フレキシブルシャフト部１０に取り付けられたプローブ８の保持部材及びガイド部材として機能する。１本の支持棒を支持用ピン孔に挿入してプローブを支持することも可能である。しかしながら、本実施例のように、２本の支持棒９を２つの支持用ピン孔に挿入することによって、プローブ８の支持がより強固なものとなり、リフトオフの変化をより小さくすることができる。
【００４３】
本実施例は、ＥＣＴ検査を実施する領域に存在するフォークピン６をディスク１等から引き抜けばよいので、タービン翼３をディスク１に取り付けた状態で検査対象ピン孔内面へのＥＣＴ検査を行うことができる。このため、フォーク部に対するＥＣＴ検査のために、タービン翼３をディスク１から取り外す必要がないので、ディスクフォーク部２及び翼フォーク部４に対するＥＣＴ検査に要する時間を著しく短縮することができる。さらに、ディスク１にタービン３を取り付けた状態で検査対象ピン孔の内面に対するＥＣＴ検査を実施するため、ディスクフォーク部２及び翼フォーク部４に形成された各ピン孔、及び翼フォーク部４に形成された各半円溝５Ｃの内面に対するＥＣＴ検査を、プローブ８をその検査対象ピン孔に挿入した状態で継続して実施することができる。これも、ＥＣＴ検査に要する時間のさらなる短縮に貢献する。以上に述べたＥＣＴ検査時間の短縮が可能になった一つの要因は、支持棒９を支持用ピン孔に挿入するように構成したことである。
【００４４】
また、本実施例は、ディスク１の半径方向において最も外側に位置する外フォークピン６Ａを引き抜き、その外フォークピン６Ａが挿入されていた検査対象ピン孔に対するＥＣＴ検査を実施する。一つのタービン翼３は、その半径方向に配置された中フォークピン６Ｂ及び内フォークピン６Ｃによってディスク１に結合されている。このため、一段のタービン翼配列に対してディスク１の周方向に配置された外フォークピン６Ａを全て外してＥＣＴ検査を行っても、タービン翼３がディスク１から落下することはない。本実施例は、まず、外フォークピン６Ａが挿入されていた検査対象ピン孔を対象にＥＣＴ検査を実施する。もし、その検査対象ピン孔の内面でき裂が発見されたとき、外フォークピン６Ａの内側に位置する中フォークピン６Ｂが挿入されていた検査対象ピン孔に対するＥＣＴ検査を実施する。このようなＥＣＴ検査を行う本実施例は、ディスク１から引き抜くフォークピン６の本数を著しく低減できるので、ＥＣＴ検査に要する時間をさらに短縮することができる。ＥＣＴ検査終了後に、ディスク１に取り付けるフォークピン６の数も少なくなり、フォークピン６の取り付けに要する作業時間も著しく短くなる。外フォークピン６Ａが挿入されていた検査対象ピン孔の周囲に存在するフォークの部分には、蒸気タービンの運転時に、中フォークピン６Ｂ及び内フォークピン６Ｃが挿入されていた各検査対象ピン孔の周囲に存在するそれぞれのフォークの部分よりも大きな応力が発生する。したがって、外フォークピン６Ａが挿入されていた検査対象ピン孔の内面にき裂が発生していない場合には、中フォークピン６Ｂ及び内フォークピン６Ｃが挿入されていた各検査対象ピン孔の各内面にはき裂が発生していない。
【００４５】
本実施例は、ディスク１に取り付けられている複数のフォークピン６のうち最外周に位置する全ての外フォークピン６Ａを取り外してＥＣＴ検査を実施している。これに対し、ディスク１の軸心から上方に向かって例えば１２０°の範囲でディスク１に取り付けられている全ての外フォークピン６Ａ、中フォークピン６Ｂ及び内フォークピン６Ｃを取り外し、それらのフォークピンが挿入されていた全検査対象ピン孔に対して渦電流探傷装置１９を用いたＥＣＴ検査を実施することも可能である。このような検査においては、その範囲でのＥＣＴ検査が終了した後、取り外した全フォークピン６をディスク１に取り付け、そして、他の１２０°の範囲が上方に向くように、ローターを回転させる。この１２０°の範囲に位置する全フォークピン６をディスク１から引き抜き、ＥＣＴ検査を実施する。このようなＥＣＴ検査を１２０°の範囲ごとに繰り返し実施する。
【００４６】
以上述べたＥＣＴ検査によっても、タービン翼３のディスク１からの落下を防止でき、タービン翼３をディスク１から取り外す必要がない。すなわち、翼フォーク部４をディスクフォーク部２に挿入した状態で、プローブ８を用いて検査対象ピン孔の内面に対するＥＣＴ検査を実施することができる。このようなＥＣＴ検査は、前述した実施例よりもその検査に要する時間が長くなるが、タービン翼３をディスク１から取り外す従来の翼フォーク部に対するき裂を確認する検査よりも検査に要する時間が短縮される。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】図２に示す渦電流探傷装置の支持棒をディスクに形成されたフォークピン孔に位置合わせした状態を示す説明図である。
【図２】本発明の好適な一実施例であれる渦電流探傷装置の構成図である。
【図３】図２に示すプローブ構成を示し、（ａ）はＥＣＴセンサを有するプローブの側面図、（ｂ）はＥＣＴセンサの設置位置でのプローブの断面図、（ｃ）はＥＣＴセンサに含まれる一対のＥＣＴコイルの斜視図である。
【図４】ディスクの周方向で隣り合う翼フォーク部４ａのフォークと翼フォーク部４ｂのフォークの合わせ目の構造、及びプローブの走査を示す説明図である。
【図５】図２に示す渦電流探傷装置を用いたＥＣＴ検査の手順を示すフローチャートである。
【図６】図２に示す渦電流検出器から出力されるＥＣＴ信号の例を示す説明図である。
【図７】ＥＣＴ検査の対象となるタービン翼の翼フォーク部の拡大斜視図である。
【図８】ディスクフォーク部と翼フォーク部との結合状態を示すそれらの結合部の構成図である。
【符号の説明】
【００４８】
１…ディスク、２…ディスクフォーク部、３，３ａ，３ｂ，３ｃ…タービン翼、４，４ａ，４ｂ，４ｃ…翼フォーク部、５Ａ，５Ｂ…フォークピン孔、５Ｃ…半円溝、６…フォークピン、６Ａ…外フォークピン、６Ｂ…中フォークピン、６Ｃ…内フォークピン、８…プローブ、９…支持棒、１０…フレキシブルシャフト部、１１…回転ハンドル、１２…ＥＣＴセンサ、１２ａ，１２ｂ…ＥＣＴコイル、１３…サポート部、１４…位置決め装置、１５…磁性体コア、１６…センサ部、１７…渦電流探傷器、１８…コンピュータ、１９…渦電流探傷装置、２３，２５，２５Ａ，２５Ｂ…フォーク、２９…コイル。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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