(57)【要約】【課題】主に被把持物の把持及び開放を容易かつ迅速に行うことができる把持治具を提供する。【解決手段】リード端子Ｔが金属球収納金具２８の底面部３２に到達し、支持パイプ部３４への押圧を解除すると、金属球収納金具２８にはコイルばね４０の弾性力が作用しているため、金属球収納金具２８は上方向に移動する。金属球収納金具２８が停止位置に到達すると、各金属球３８が開口部３６を介して傾斜壁部２６Ｂと接触して押圧力を付与する。このとき、各金属球３８には傾斜壁部２６Ｂからその反作用力が作用するため、各金属球３８の離間距離が縮まり、リード端子Ｔが各金属球３８に挟まれて把持される。一方、支持パイプ部３４を下方向に再度押圧すると、金属球収納金具２８は下方向に移動していくとともに、各金属球３８の離間距離が離れる。これにより、リード端子Ｔの把持が解除される。【選択図】      図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
筐体部と、前記筐体部の内部に形成された空間部に設けられ被把持物が挿入される挿入部と、前記挿入部の内部に設けられ前記空間部に対する任意の停止位置で前記空間部を区画形成する内壁部を押圧して前記挿入部の前記空間部の軸方向一方側への移動を阻止する複数の把持部と、前記空間部に設けられ前記挿入部を前記空間部の前記軸方向一方側に付勢する付勢部と、を有する把持治具であって、
前記挿入部が前記停止位置に移動したときに、前記内壁部を押圧した前記把持部により前記被把持物が挟まれて把持され、
前記挿入部が前記停止位置から前記空間部の軸方向他方側へ移動することにより、前記内壁部に対する前記把持部の押圧が解除され、前記被把持物が前記把持部による把持から開放されることを特徴とする把持治具。
【請求項２】
前記内壁部には、前記空間部の前記軸方向一方側に位置するに従い前記空間部の開口面積を小さくする傾斜部位が形成され、
前記挿入部は、前記傾斜部位の傾斜角度と略同じ傾斜角度の側壁部と、前記側壁部に形成され前記把持部の少なくとも一部が貫通する開口部と、を有し、
前記挿入部が前記停止位置に移動すると、前記把持部の少なくとも一部が前記開口部を貫通して前記傾斜部位に接触することを特徴とする請求項１に記載の把持治具。
【請求項３】
前記挿入部には、前記筐体の外部まで延在する中空状部が設けられ、
前記中空状部には、前記中空状部の側面側に向かって突出し押圧することにより前記挿入部を移動させる突出部が設けられていることを特徴とする請求項１又は２に記載の把持治具。
【請求項４】
前記把持部は、金属球であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の把持治具。
【請求項５】
前記筐体部は、平板状の支持部に取り付けられていることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の把持治具。
【請求項６】
前記支持部には、前記把持治具を固定するための固定部が取り付けられていることを特徴とする請求項５に記載の把持治具。
【請求項７】
前記支持部には、前記突出部の姿勢を安定させて前記突出部を前記挿入部とともに移動させるガイド部が設けられていることを特徴とする請求項５又は６に記載の把持治具。
【請求項８】
前記把持治具は、前記被把持物の引張強度を測定する引張試験機に設けられる引張試験機用治具であることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の把持治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被把持物を把持する把持治具に係り、特に、線状部材を把持する把持治具に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、引張試験機においては、試験片を把持して荷重を加えるために、種々の把持治具が用いられている。図７に示すように、把持治具１００は、内部に負荷軸Ｘに沿って入口側から奥方向に徐々に広がる空間部１０２が形成されたチャックフレーム１０４を備えている。このチャックフレーム１０４の１対の先端部の内面側には、くさび面１０６がそれぞれ形成されている。また、チャックフレーム１０４の上面には、外周面におねじを形成した筒状体１０８が設けられている。また、チャックフレーム１０４の空間部１０２には、くさび面１０６に対して上下方向に相対移動することにより相互の離間距離が変化する１対のつかみ歯１１０が設けられている。つかみ歯１１０は、筒状体１０８の内部を貫通する取付軸１１２の一端に接続されている。また、この取付軸１１２には、袋ナット１１４が回転可能に取り付けられている。この袋ナット１１４の内周面は、筒状体１０８の外周面と螺合している。また、袋ナット１１４の外周面には、袋ナット１１４を回転させるためのハンドル１１６が取り付けられている。
【０００３】
上記把持治具１００によれば、ハンドル１１６により袋ナット１１４を回転させると、チャックフレーム１０４がつかみ歯１１０に対して昇降する。すなわち、チャックフレーム１０４がつかみ歯１１０に対して上方向に移動することにより、チャックフレーム１０４のくさび面１０６から１対のつかみ歯１１０の外側面に対して圧力が作用するため、１対のつかみ歯１１０の離間距離が小さくなる。これにより、１対のつかみ歯１１０で試験片などの被把持物を強固に把持することができる。一方、チャックフレーム１０４がつかみ歯１１０に対して下方向に移動することにより、チャックフレーム１０４のくさび面１０６から１対のつかみ歯１１０の外側面に対しては圧力が作用しないため、１対のつかみ歯１１０は自在に移動でき、両者の離間距離が大きくなり得る。これにより、試験片などの被把持物を１対のつかみ歯１１０の間から容易に取り出すことができる。
【０００４】
ところで、近年では、Ｐｂを含むはんだが環境上問題になってきており、このため、Ｐｂを含まないはんだ（Ｐｂフリーはんだ）とそれに対応した電極の開発が急務となっている。そのため、電子部品のリード端子と基板上の電極とのはんだ付けの密着性を様々な条件で調べる必要があった。そのためには、電子部品のリード端子と基板上の電極間の密着強度を引張試験機で数多く測定する必要があった。
【特許文献１】特開２００２−１３９４１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記特許文献１に記載の把持治具を用いると、電子部品のリード線を把持するときにはハンドルを回す必要があり、また、リード線を取り出すときにもハンドルを回す必要があった。このため、特に、多数の引張試験を行う場合には、ハンドルを回す分だけ、リード線の付け換えに時間がかかり、リード線の付け換えに対する試験者の負担が大きくなっていた。
【０００６】
また、上記把持治具では、電子部品のリード線を１本づつ掴んで固定する方式であったために、電子部品のリード線が基板上に複数本はんだ付けされた試料の場合、引張試験を行うときに、試験をする以外のリード線が把持治具のつかみ歯やチャックフレームなどに当り邪魔をすることがある。このため、試験の対象とならないリード線を曲げておかなければならず、次のリード線の引張試験を行うときは、その曲げてあったリード線を再度伸ばして把持治具で把持して測定する方法をとらざるを得なかった。この結果、リード線の変形が避けられず、その変形と同時に電極にも力が加わるため、測定結果にバラツキが生じて測定精度に悪影響を及ぼすことになっていた。
【０００７】
そこで、本発明の第１の目的は、被把持物の把持及び開放を容易かつ迅速に行うことができる把持治具を提供することを目的とする。
【０００８】
また、本発明の第２の目的は、比較的狭い領域に被把持物が複数存在する場合でも、把持する対象とならない他の被把持物を折り曲げることなく、一の被把持物を把持することができる把持治具を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
請求項１に記載の発明は、筐体部と、前記筐体部の内部に形成された空間部に設けられ被把持物が挿入される挿入部と、前記挿入部の内部に設けられ前記空間部に対する任意の停止位置で前記空間部を区画形成する内壁部を押圧して前記挿入部の前記空間部の軸方向一方側への移動を阻止する複数の把持部と、前記空間部に設けられ前記挿入部を前記空間部の前記軸方向一方側に付勢する付勢部と、を有する把持治具であって、前記挿入部が前記停止位置に移動したときに、前記内壁部を押圧した前記把持部により前記被把持物が挟まれて把持され、前記挿入部が前記停止位置から前記空間部の軸方向他方側へ移動することにより、前記内壁部に対する前記把持部の押圧が解除され、前記被把持物が前記把持部による把持から開放されることを特徴とする。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の把持治具において、前記内壁部には、前記空間部の前記軸方向一方側に位置するに従い前記空間部の開口面積を小さくする傾斜部位が形成され、前記挿入部は、前記傾斜部位の傾斜角度と略同じ傾斜角度の側壁部と、前記側壁部に形成され前記把持部の少なくとも一部が貫通する開口部と、を有し、前記挿入部が前記停止位置に移動すると、前記把持部の少なくとも一部が前記開口部を貫通して前記傾斜部位に接触することを特徴とする。
【００１１】
請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載の把持治具において、前記挿入部には、前記筐体の外部まで延在する中空状部が設けられ、前記中空状部には、前記中空状部の側面側に向かって突出し押圧することにより前記挿入部を移動させる突出部が設けられていることを特徴とする。
【００１２】
請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３のいずれか１項に記載の把持治具において、前記把持部は、金属球であることを特徴とする。
【００１３】
請求項５に記載の発明は、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の把持治具において、前記筐体部は、平板状の支持部に取り付けられていることを特徴とする。
【００１４】
請求項６に記載の発明は、請求項５に記載の把持治具において、前記支持部には、前記把持治具を固定するための固定部が取り付けられていることを特徴とする。
【００１５】
請求項７に記載の発明は、請求項５又は６に記載の把持治具において、前記支持部には、前記突出部の姿勢を安定させて前記突出部を前記挿入部とともに移動させるガイド部が設けられていることを特徴とする。
【００１６】
請求項８に記載の発明は、請求項１乃至７のいずれか１項に記載の把持治具において、前記把持治具は、前記被把持物の引張強度を測定する引張試験機に設けられる引張試験機用治具であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
請求項１に記載の発明によれば、挿入部を押圧して付勢部からの付勢力に対抗する形で空間部の軸方向他方側に移動させ、挿入部に被把持物を挿入する。挿入部に被把持物が挿入されると、挿入部への押圧を解除する。挿入部への押圧を解除すると、挿入部には付勢部から付勢力が作用しているため、挿入部は空間部の軸方向一方側に移動する。そして、挿入部が停止位置に移動したときに、筐体部の内壁部を押圧した把持部により被把持物が把持される。具体的には、このとき、把持部は内壁部を押圧するが、把持部にもその反作用力が作用しているため、把持部同士が中心にそれぞれ寄せ集められるように移動する。そして、被把持物は、寄せ集められた複数の把持部により各方向から挟持されるようにして把持される。
【００１８】
一方、被把持物を各把持部による把持から開放する場合には、挿入部を押圧して付勢部からの付勢力に対抗する形で空間部の軸方向他方側に移動させる。これにより、各把持部から内壁部への押圧が解除される。そして、各把持部には内壁部からの反作用力が作用しなくなるため、各把持部間の離間距離が開く。この結果、被把持物は各把持部により挟持されなくなるため、被把持物を各把持部による把持から開放することができる。
【００１９】
以上のように、従来の把持治具のようにハンドルを回すことなく、挿入部を移動させるだけで、被把持物を容易かつ確実に把持し又は開放することができる。また、挿入部を移動させるだけで足りるため、被把持物を把持治具に把持する作業と被把持物を開放する作業に伴う作業時間の時間短縮を図ることができる。
【００２０】
また、簡易な構造の挿入部や筐体部を小さく設定することができるため、被把持物を把持治具に把持するときに、測定対象ではない被把持物を折り曲げておく必要がないため、被把持物に曲げ変形に伴う力が作用することがない。このため、被把持物の性能（機能）が低下してしまうことを防止することができる。
【００２１】
請求項２に記載の発明によれば、挿入部が停止位置に移動すると、把持部の少なくとも一部が開口部を貫通して傾斜部位に接触し押圧する。これにより、被把持物を各把持部に把持することができると同時に、挿入部のさらなる移動を阻止することができる。
【００２２】
請求項３に記載の発明によれば、中空状部には、中空状部の側面側に向かって突出し押圧することにより挿入部を移動させる突出部が設けられているため、突出部を押圧し易くなる。これにより、挿入部を空間部の内部において容易に移動させることができる。
【００２３】
請求項４に記載の発明によれば、把持部として金属球を用いることにより、各金属球が相互に接触したときに形成される隙間で被把持物を確実に把持することができる。
【００２４】
請求項５に記載の発明によれば、筐体部は平板状の支持部に取り付けられているため、被把持物を把持するときでも、筐体部の姿勢を安定させることができる。
【００２５】
請求項６に記載の発明によれば、支持部には、把持治具を固定するための固定部が取り付けられているため、把持治具を他の装置（例えば、引張試験機など）や別の場所に容易に取り付けることができる。
【００２６】
請求項７に記載の発明によれば、支持部には突出部の姿勢を安定させて突出部を挿入部とともに移動させるガイド部が設けられているため、突出部を押圧すれば、突出部は傾斜することなくそのまま押圧方向に移動する。これにより、突出部に作用させた押圧力をそのまま挿入部に伝達することができるため、挿入部の移動を円滑かつ確実に行うことができる。
【００２７】
請求項８に記載の発明によれば、把持治具を被把持物の引張強度を測定する引張試験機に設けられる引張試験機用治具として用いることにより、被把持物を把持治具に把持する作業と被把持物を開放する作業を円滑に行うことができる。また、被把持物を把持治具に把持する作業と被把持物を開放する作業に伴う作業時間の時間短縮を図ることができる。
【００２８】
また、被把持物を把持治具に把持するときに、測定対象ではない被把持物を折り曲げておく必要がないため、被把持物に曲げ変形に伴う力が作用することがない。このため、引張試験の試験結果のバラツキを減少させて、測定精度を向上させることができる。
【００２９】
さらには、従来では測定不可能であった密着強度（例えば、電子部品のリード端子と基板上の電極との密着強度）が比較的低い被把持物に対しても、引張強度を確実に測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
次に、本発明の第１実施形態に係る把持治具について、図面を参照して説明する。本実施形態では、把持治具が、引張試験機に設けられる引張試験機用治具として機能する態様について説明する。なお、本発明の把持治具は、引張試験機に設けられる引張試験機用治具に限られるものではなく、被把持物を単に把持するためのものでもよい。また、本実施形態では、被把持物として、引張強度を測定するリード線などの線状部材を例に挙げるが、引張強度を測定する被把持物に限られるものではなく、線状部材である全てのものが適用される。
【００３１】
図１及び図２に示すように、把持治具１０は、引張試験機（図示省略）に取り付けるための固定金具１２を備えている。この固定金具１２は、略直方体状に構成されており、引張試験機の組付孔（図示省略）などに挿入される。この固定金具１２が引張試験機の組付孔に挿入されることにより、把持治具１０が引張試験機に固定される。
【００３２】
また、固定金具１２の上部には、下側支持金具１４が取り付けられている。この下側支持金具１４は、平板状に構成されている。下側支持金具１４の平面方向から見た面積は、後述の上側支持金具１６の平面方向から見た面積よりも大きくなるように設定されている。なお、固定金具１２は、ボルトなどの固定具により下側支持金具１４に取り付けられている。
【００３３】
また、下側支持金具１４の上方には、上側支持金具１６が設けられている。この上側支持金具１６は、平板状に構成されている。上側支持金具１６は、ボルトやナットなどの固定具１８により下側支持金具１４に取り付けられている。
【００３４】
また、上側支持金具１６の上面には、円筒状の筐体部材２０が取り付けられている。この筐体部材２０は、金属で構成されている。この筐体部材２０の下部には、支持片２２が取り付けられている。この支持片２２は、ボルトやナットなどの固定具２４により上側支持金具１６に取り付けられている。
【００３５】
また、図３に示すように、筐体部材２０の内部には、空間部Ｍが形成されている。この空間部Ｍは、第１空間部Ｍ１と、第２空間部Ｍ２と、で構成されている。すなわち、各空間部Ｍ１、Ｍ２は、筐体部材２０内部に形成された内壁部２６により区画形成されている。内壁部２６は、筐体部材２０の軸方向に対して平行方向（上下方向）に延び第１空間部Ｍ１の開口面積を比較的大きなものにする垂直壁部２６Ａと、第２空間部Ｍ２の開口面積を比較的小さなものにするように傾斜した傾斜壁部２６Ｂと、で構成されている。このため、垂直壁部２６Ａで区画形成される第１空間部Ｍ１の開口面積は、傾斜壁部２６Ｂで区画形成される第２空間部Ｍ２の開口面積と比較して大きくなる。
【００３６】
また、第２空間部Ｍ２には、金属球収納金具２８が配置されている。金属球収納金具２８は、略円錐形状に形成されている。この金属球収納金具２８は、傾斜壁部２６Ｂの傾斜角度と略同じ傾斜角度を有する側壁部３０と、水平面状の底面部３２と、側壁部３０に接続され先端部が筐体部材２２の外部に露出する円筒状の支持パイプ部３４と、で構成されている。金属球収納金具２８の内部には、空間部Ｎが形成されている。支持パイプ部３４に被把持物である電子部品のリード線が挿入されると、そのリード線が底面部３２まで到達できるようになっている。
【００３７】
また、金属球収納金具２８の側壁部３０の所定の部位には、側壁部３０を厚み方向に貫通した３つの開口部３６が形成されている。また、金属球収納金具２８の内部には、３個の金属球３８がそれぞれ収納されている。なお、この実施形態では、金属球収納金具２８の内部に３個の金属球３８が収納されており、それに合わせて金属球収納金具２８の側壁部３０に３つの開口部３６が形成されているが、後述する作用を奏するものであれば、金属球の個数及び開口部の数は３に限られず、任意の数とすることができる。
【００３８】
金属球収納金具２８が上方向（図３中矢印Ａ方向）に移動して任意の停止位置に到達すると、各金属球３８の一部が各開口部３６を貫通して内壁部２６の傾斜壁部２６Ｂに接触し傾斜壁部２６Ｂに対して押圧力を作用させる。そして、各金属球３８には傾斜壁部２６Ｂから押圧力の反作用力が作用して、金属球３８同士の離間距離が小さくなる。これにより、金属球収納金具２８は、停止位置から上方にさらに移動することが不可能になる。
【００３９】
なお、金属球収納金具２８には、金属球３８が収納されているが、球状部材に限られるものではなく、例えば、多角形状のものでもよい。また、金属に限られるものでもなく、例えば、ゴムやプラスチックのような材質でもよい。
【００４０】
また、第１空間部Ｍ１には、コイルばね４０が配置されている。このコイルばね４０の一方の端部は、金属球収納金具２８の底面部３２に接続されている。この底面部３２には、金属球収納金具２８を押し上げる方向に、コイルばね４０の弾性力が常に作用している。このため、金属球収納金具２８を停止位置から下方向（図３中矢印Ｂ方向）に移動させる場合には、コイルばね４０の弾性力に対抗する形で、金属球収納金具２８を押し下げる。金属球収納金具２８を下方向に移動させると、各金属球３８から傾斜壁部２６Ｂに対して押圧力が作用しなくなるため、金属球３８同士の離間距離が大きくなる。
【００４１】
次に、第１実施形態の把持治具１０の作用について説明する。
【００４２】
図１乃至図３に示すように、基板上の電極と接続された電子部品のリード端子Ｔを把持治具１０で把持する場合には、支持パイプ部３４を下方向に押圧する。支持パイプ部３４を下方向に押圧すると、金属球収納金具２８は、コイルばね４０の弾性力に対抗する形で下方向に移動する。このとき、各金属球３８は筐体部材２０の傾斜壁部２６Ｂを押圧しておらず、各金属球３８には傾斜壁部２６Ｂからの反作用力が作用していないため、各金属球３８は独自に移動できるようになっている。このため、図４に示すように、各金属球３８は、相互の離間距離が開いた状態となっている。
【００４３】
この状態で、支持パイプ部３４の開口部からリード端子Ｔを挿入すると、リード端子Ｔは、やがて、金属球収納金具２８の底面部３２に到達する。リード端子Ｔが金属球収納金具２８の底面部３２に到達すると、支持パイプ部３４に対する押圧を解除する。支持パイプ部３４に対する押圧を解除すると、金属球収納金具２８にはコイルばね４０の弾性力が作用しているため、金属球収納金具２８は上方向（図３中矢印Ａ方向）に移動していく。
【００４４】
金属球収納金具２８は、上方向（図３中矢印Ａ方向）に移動していくと、やがて停止位置に到達する。金属球収納金具２８が停止位置に到達すると、内部に収納された各金属球３８の一部が開口部３６を介して内壁部２６を構成する傾斜壁部２６Ｂと接触して押圧力を付与する。このとき、図５に示すように、各金属球３８には傾斜壁部２６Ｂからその反作用力が作用するため、各金属球３８の離間距離が縮まる。そして、各金属球３８の離間距離が縮まると、リード端子Ｔは、各金属球３８に挟まれる。これにより、リード端子Ｔは、把持される。リード端子Ｔが把持治具１０に把持されると、引張試験機によりその引張強度が測定される。なお、引張試験機による引張強度の測定結果については、後述する。
【００４５】
一方、引張試験機による測定が終了すると、リード端子Ｔは把持されている状態なので、支持パイプ部３４を下方向に再度押圧する。支持パイプ部３４を下方向に押圧すると、図４に示すように、金属球収納金具２８は下方向（図３中矢印Ｂ方向）に移動していき、内部の各金属球３８の離間距離が離れる。これにより、各金属球３８からリード端子Ｔへの挟持が解除され、リード端子Ｔは把持から開放される。
【００４６】
以上のように、支持パイプ部３４を下方向に押圧するだけで、金属球収納金具２８が移動するため、従来の把持治具（図７参照）のようにハンドル１１６を回すことなく、リード端子Ｔを容易かつ確実に把持し又はそれを開放することができる。また、支持パイプ部３４を下方向に押圧するだけで足りるため、リード端子Ｔを把持治具１０に把持する作業とリード端子Ｔを開放する作業に伴う作業時間の時間短縮を図ることができる。
【００４７】
また、簡易な構造の支持パイプ部３４及び筒状部材２０を小さく設定することができるため、リード端子Ｔを把持治具１０に把持するときに、測定対象ではない別のリード端子（図示省略）を折り曲げておく必要がない。このため、リード端子に曲げ変形に伴う力が作用することがない。これにより、リード端子Ｔの機能（性能）が低下してしまうことを防止することができる。この結果、引張試験の試験結果のバラツキを減少させて、測定精度を向上させることができる。
【００４８】
さらには、従来では測定不可能であった密着強度（例えば、電子部品のリード端子と基板上の電極との密着強度）が比較的低いリード端子Ｔに対しても、引張強度を確実に測定することができる。
【００４９】
特に、金属球収納金具２８が停止位置に移動すると、金属球３８の少なくとも一部が開口部３６を貫通して傾斜壁部２６Ｂに接触し押圧する。これにより、リード端子Ｔを各金属球３８に把持することができると同時に、金属球収納金具２８のさらなる上方向への移動を阻止することができる。
【００５０】
また、把持部として金属球３８を用いることにより、各金属球３８が相互に接触したときに形成される隙間でリード端子を確実に把持することができる。
【００５１】
また、筐体部材２０は、平板状の上側支持金具１６に取り付けられているため、リード端子Ｔを把持するときでも、筐体部材２０の姿勢を安定させることができる。
【００５２】
さらに、下側支持金具１４には、把持治具１０を固定するための固定金具１２が取り付けられているため、把持治具１０を他の装置（例えば、引張試験機など）や別の場所に容易に取り付けることができる。
【００５３】
次に、本発明の第２実施形態の把持治具について説明する。
なお、第２実施形態の把持治具と同様の構成については同符号を付し、その説明を適宜省略する。
【００５４】
図６に示すように、本実施形態の把持治具５０では、支持パイプ部３４の先端部に、支持パイプ部３４の径方向外側に突出した押圧片５２が取り付けられている。また、上側支持金具１６には、第１ボルト５４が取り付けられている。第１ボルト５４は、押圧片５２を貫通するように設けられている。押圧片５２は、第１ボルト５４に対して摺動可能となっている。また、上側支持金具１６上には、第２ボルト５６が配置されている。第２ボルト５６は、押圧片５２を貫通するように設けられている。また、第２ボルト５６には、押圧片５２を下方から受ける受け部材５８が取り付けられている。これにより、押圧片５２は、第２ボルト５６のヘッド部５６Ａと受け部材５８との間に挟まれた状態となっている。また、上側支持金具１６には、図示しない貫通孔が形成されている。この貫通孔に、第２ボルト５６が挿入できるようになっている。さらに、第２ボルト５６の外周には、スプリング６０が配置されている。このスプリング６０の一方の端部は受け部材５８の底面に当接しており、他方の端部は上側支持金具１６の上面に当接している。以上のように、把持治具５０は、押圧片５２とヘッド部５６Ａと受け部材５８と第２ボルト５６とが一体となって上下方向に移動可能に構成されている。なお、第２ボルト５６に外力が作用していない状態では、第２ボルト５６は、スプリング６０の弾性力により支持される形で上側支持金具１６の上面上に位置している。また、第２ボルト５６にスプリング６０の弾性力よりも大きな外力が下方向に作用すると、第２ボルト５６は、上側支持金具１６に形成された貫通孔（図示省略）に進入していき、下方向に移動する。
【００５５】
本実施形態によれば、把持治具５０に電子部品のリード端子を把持するときには、押圧片５２を押し下げる。これにより、金属球収納金具２８は下方向（図６中矢印Ｂ方向）に移動し、リード端子の挿入後、金属球収納金具２８が上方向（図６中矢印Ａ方向）に移動して金属球３８によりリード端子が把持される。このように、押圧面積が比較的広い押圧片５２を支持パイプ部３４に設けることにより、金属球収納金具２８を容易に移動させることができる。
【００５６】
また、押圧片５２は、上述の通り、第２ボルト５６とともに、第１ボルト５４の軸方向に沿って移動することになる。これにより、押圧片５２を傾斜させることなく、押圧片５２の姿勢を安定させた状態で、押圧片５２を移動させることができる。この結果、押圧片５２に作用させた押圧力をそのまま金属球収納金具２８に伝達することができるため、金属球収納金具２８の移動を円滑かつ確実に行うことができる。特に、第２ボルト５６の外周にはスプリング６０が設けられているため、その弾性力を押圧片５２に常に作用させることにより、押圧片５２を初期位置に容易に戻すことができる。この結果、押圧片５２の初期（待機）位置が安定し、押圧片５２を円滑に操作することが可能になる。
【００５７】
次に、第１実施形態の把持治具１０を用いた各試験例についてそれぞれ説明する。
【００５８】
（試験例１）
試験例１では、第１実施形態の把持治具（図１参照）と従来技術の把持治具（図７参照）を用いて、引張試験機を用いた引張試験における作業時間を比較した。試験例１では、基板上の電極に接着されている５本のリード線のうち、１本のリード線に対して行った。この試験例１の試験結果は、下記の表１のようになった。
【００５９】
【表１】
2008070144.tif 000003
（Ｎ＝１０）
【００６０】
上記表１に示す通り、本発明の把持治具を用いた場合には、従来の把持治具を用いた場合と比較して、３５秒も時間短縮を図ることができた。上記表１では、この３５秒の差は、リード線を把持する時間と開放する時間の差であり、本発明の把持治具を用いれば、確実に時間短縮を図れることが判明した。
【００６１】
（試験例２）
試験例２では、第１実施形態の把持治具（図１参照）と従来技術の把持治具（図７参照）を用いて、引張試験機を用いた引張試験における測定結果を比較した。試験例２の条件では、基板として、一辺の寸法が２ｍｍ角の、Ｃｕ電極パッドが５個印刷されているアルミナ基板を用いた。電極ペーストとして、ＰｂフリーＣｕペーストを用いた。また、電極ペーストの焼成条件として、６００℃、Ｎ２中焼成、ベルト式炉を使用した。また、リード線として、０．５ｍｍ径のめっき線を使用した。はんだ付けは、Ｐｂフリーはんだ：Ｓｎ−Ａｇ−Ｎｉ系を用いた。はんだ浸漬温度を２４５±５℃として、３秒間保持するようにした。また、リード線はんだ付け温度は、２８５±５℃として、５秒以内に設定した。さらに、引張試験機の引張速度を、２０ｍｍ／分に設定した。この試験例２の試験結果は、下記の表２のようになった。
【００６２】
【表２】
2008070144.tif 000004
（単位：Ｎ／４ｍｍ２）（Ｎ＝１０）
【００６３】
上記表２に示す通り、従来の把持治具を用いた場合では、リード線を把持するときに、他のリード線の曲げ伸ばしが必要になるので、電極に力が加わり、試験結果にバラツキ（表２中のＲ）が出ることになる。しかしながら、本発明の把持治具を用いてれば、試験結果にバラツキ（表２中のＲ）がほとんど出ることがなく、再現性良く測定できるようになった。
【００６４】
（試験例３）
試験例３では、第１実施形態の把持治具（図１参照）と従来技術の把持治具（図７参照）を用いて、引張試験機を用いた引張試験における測定結果を比較した。試験例３の条件では、基板として、一辺の寸法が２ｍｍ角の、Ｃｕ電極パッドが５個印刷されているアルミナ基板を用いた。電極ペーストとして、ＰｂフリーＣｕペーストを用いた。また、電極ペーストの焼成条件として、５５０℃、Ｎ２中焼成、ベルト式炉を使用した。また、リード線として、０．５ｍｍ径のめっき線を使用した。はんだ付けは、Ｐｂフリーはんだ：Ｓｎ−Ａｇ−Ｎｉ系を用いた。はんだ浸漬温度を２４５±５℃として、３秒間保持するようにした。また、リード線はんだ付け温度は、２８５±５℃として、５秒以内に設定した。さらに、引張試験機の引張速度を、２０ｍｍ／分に設定した。この試験例３の試験結果は、下記の表３のようになった。
【００６５】
【表３】
2008070144.tif 000005
（単位：Ｎ／４ｍｍ２）（Ｎ＝１０）
【００６６】
上記表３に示す通り、電極ペーストの焼成条件が変わると、電子部品のリード端子と基板上の電極間の密着強度が極端に下がることになり、従来の把持治具を用いた場合には引張強度の測定が不可能となっていたが、本発明の把持治具を用いると、密着強度が低いものでも、引張強度の測定が可能となった。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明の第１実施形態に係る把持治具の側面図である。
【図２】本発明の第１実施形態に係る把持治具の平面図である。
【図３】本発明の第１実施形態に係る把持治具の要部の構成図である。
【図４】本発明の第１実施形態に係る把持治具で被把持物を開放したときの把持部と被把持物との位置関係を示した図である。
【図５】本発明の第１実施形態に係る把持治具で被把持物を把持したときの把持部と被把持物との位置関係を示した図である。
【図６】本発明の第２実施形態に係る把持治具の斜視図である。
【図７】従来の把持治具の構成図である。
【符号の説明】
【００６８】
１０      把持治具
１２      固定金具（固定部）
１４      下側支持金具（支持部）
１６      上側支持金具（支持部）
２０      筐体部材（筐体部）
２６      内壁部
２６Ｂ    傾斜壁部（傾斜部位）
２８      金属球収納金具（挿入部）
３４      支持パイプ部（中空状部）
３６      開口部
３８      金属球（把持部）
４０      コイルばね（付勢部）
５２      押圧片（突出部）
５４      第１ボルト（ガイド部）
５６      第２ボルト（ガイド部）
５８      受け部材（ガイド部）
６０      スプリング（ガイド部）
Ｍ        空間部
Ｔ        リード端子（被把持物）
【図１】
2008070144.tif 000006
【図２】
2008070144.tif 000007
【図３】
2008070144.tif 000008
【図４】
2008070144.tif 000009
【図５】
2008070144.tif 000010
【図６】
2008070144.tif 000011
【図７】
2008070144.tif 000012