(57)【要約】【課題】測定効率を向上し得る測定装置を提供する。【解決手段】バッテリ１００についての抵抗値Ｒを測定する測定部４と、測定部４を制御するＣＰＵ８とを備えた抵抗測定装置１であって、制御部８は、測定開始が指示されたときに、測定異常の発生がＬ（Ｌは２以上の自然数）回連続したとき、および測定部４による抵抗値Ｒの測定回数がＭ（ＭはＬ以上の自然数）回に達したときのいずれか早いときまで抵抗値Ｒの測定を測定部４に対して繰り返して行わせる測定処理を実行する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象体についてのパラメータを測定する測定部と、当該測定部を制御する制御部とを備えた測定装置であって、
前記制御部は、測定開始が指示されたときに、測定異常の発生がＬ（Ｌは２以上の自然数）回連続したとき、および前記測定部による前記パラメータの測定回数がＭ（ＭはＬ以上の自然数）回に達したときのいずれか早いときまで前記パラメータの測定を当該測定部に対して繰り返して行わせる測定処理を実行する測定装置。
【請求項２】
前記パラメータを測定するための測定用端子と前記測定対象体の被接続部との接続状態を検出する検出部を備え、
前記制御部は、前記検出部によって前記測定用端子と前記被接続部との非接続状態が検出されたときに前記測定状態の異常が発生したとする請求項１記載の測定装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記測定部によって測定された前記パラメータの測定値がＮ（ＮはＭ以下の自然数）回連続して所定の条件を満たしたときに前記測定処理を終了する請求項１または２記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象体についてのパラメータを測定する測定部と、測定部を制御する制御部とを備えた測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の測定装置として、特開平１１−２９５３６２号公報において出願人が開示した抵抗測定装置が知られている。この抵抗測定装置は、測定用電流を供給するための一対の電流供給用のプローブおよび一対の電圧検出用のプローブを備えて、四端子法によって測定対象体の抵抗値を測定可能に構成されている。また、この抵抗測定装置では、各プローブのいずれかが断線または測定対象体に未接続の状態のときに、測定状態（測定条件）が異常である旨を測定値に代えて表示部に表示させる。したがって、この抵抗測定装置では、プローブの断線や未接続に起因する誤測定を回避することが可能となっている。
【特許文献１】特開平１１−２９５３６２号公報（第２−６頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、上記の抵抗測定装置には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この抵抗測定装置を用いて測定対象体の抵抗値を測定する際には、測定開始スイッチを操作した後にプローブを測定対象体に押し当てている。この際に、プローブと測定対象体との接触不良が生じたときには、測定状態が異常である旨が表示されて測定処理が停止する。この場合、接触不良の発生を認識した使用者は、測定開始スイッチの操作や、プローブを測定対象体に押し当てる操作を再び行って測定をし直す必要がある。このため、数多くの測定対象体に対して抵抗値の測定を連続的に行うときには、プローブと測定対象体との接触不良が発生する度に上記のような再操作を行う必要があり、これに起因して測定効率が低下するおそれがある。
【０００４】
本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、測定効率を向上し得る測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載の測定装置は、測定対象体についてのパラメータを測定する測定部と、当該測定部を制御する制御部とを備えた測定装置であって、前記制御部は、測定開始が指示されたときに、測定異常の発生がＬ（Ｌは２以上の自然数）回連続したとき、並びに前記測定部による前記パラメータの測定回数がＭ（ＭはＬ以上の自然数）回に達したときのいずれか早いときまで前記パラメータの測定を当該測定部に対して繰り返して行わせる測定処理を実行する。この場合、本発明における測定異常とは、測定状態の異常、および測定部によってパラメータとして異常値が測定されたことの両者が含まれる。
【０００６】
請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記パラメータを測定するための測定用端子と前記測定対象体の被接続部との接続状態を検出する検出部を備え、前記制御部は、前記検出部によって前記測定用端子と前記被接続部との非接続状態が検出されたときに前記測定状態の異常が発生したとする。
【０００７】
請求項３記載の測定装置は、請求項１または２記載の測定装置において、前記制御部は、前記測定部によって測定された前記パラメータの測定値がＮ（ＮはＭ以下の自然数）回連続して所定の条件を満たしたときに前記測定処理を終了する。
【発明の効果】
【０００８】
請求項１記載の測定装置では、制御部が、測定開始が指示されたときに、測定異常の発生がＬ回連続したとき、および測定部によるパラメータの測定回数がＭ回に達したときのいずれか早いときまでパラメータの測定を測定部に対して繰り返して行わせる測定処理を実行する。このため、この測定装置によれば、測定対象体に対するプローブの押し付けが一時的に不十分となっただけで測定が停止される従来の測定装置とは異なり、測定を再実行するための測定開始スイッチの操作やプローブユニットを測定対象体の被接続部に押し当てる操作の繰り返しを回避することができる。したがって、例えば、数多くの測定対象体のパラメータを連続して測定する際の測定効率を十分に向上させることができる。
【０００９】
また、請求項２記載の測定装置によれば、制御部が検出部によって測定用端子と被接続部との非接続状態が検出されたときに測定状態の異常が発生したとすることにより、測定異常の原因として通常最も多い測定用端子と測定対象体の被接続部との非接触を確実に検出することができる。
【００１０】
また、請求項３記載の測定装置によれば、制御部が、測定部によって測定されたパラメータの測定値がＮ（ＮはＭ以下の自然数）回連続して所定の条件を満たしたときに測定処理を終了することにより、非接続状態が検出されず、かつ測定されたパラメータの変動が少ないときには測定回数がＭ回に達する以前に測定処理を終了させることができるため、測定効率をさらに向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明に係る測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１２】
最初に、抵抗測定装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１３】
図１，２に示す抵抗測定装置１は、本発明に係る測定装置の一例であって、バッテリ１００（本発明における測定対象体の一例）の内部抵抗（本発明におけるパラメータの一例）を四端子法によって測定可能に構成されている。また、抵抗測定装置１は、測定開始操作がされたとき（本発明における測定開始の指示がされたとき）に複数回の測定（以下、１回の測定開始操作に対して行う複数回の測定を「一連の測定」ともいう）を実行可能に構成されている。具体的には、抵抗測定装置１は、図１に示すように、第１電源部２ａ、第２電源部２ｂ（以下、両電源部２ａ，２ｂを区別しないときには「電源部２」ともいう）、第１検出回路３ａ、第２検出回路３ｂ（以下、両検出回路３ａ，３ｂを区別しないときには「検出回路３」ともいう）、測定部４、ＲＡＭ５、操作部６、表示部７およびＣＰＵ８を備えて構成されている。
【００１４】
第１電源部２ａは、測定用の交流電流Ｉｍを生成可能に構成されている。この場合、第１電源部２ａには、第１端子１１ａ，１１ｂ（図１参照：以下、区別しないときには「第１端子１１」ともいう）が接続され、この第１端子１１ａ，１１ｂを介して交流電流Ｉｍがバッテリ１００における一対の電極１０１ａ，１０１ｂ（本発明における被接続部に相当する：以下、電極１０１ａ，１０１ｂを区別しないときには「電極１０１」ともいう）間に出力される。第２電源部２ｂは、後述する一対の第２端子１２ａ，１２ｂ（以下、区別しないときには「第２端子１２」ともいう）の接触／非接触検出用の交流電流Ｉｃを生成可能に構成されている。また、第２電源部２ｂには、上記の第２端子１２ａ，１２ｂが接続され、この第２端子１２ａ，１２ｂを介して交流電流Ｉｃがバッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂ間に出力される。この場合、第１端子１１ａおよび第２端子１２ａは、図２に示すプローブユニット１０ａの先端部に互いに絶縁された状態で配設され、第１端子１１ｂおよび第２端子１２ｂは、プローブユニット１０ｂ（以下、プローブユニット１０ａ，１０ｂを区別しないときには「プローブユニット１０」ともいう）の先端部に互いに絶縁された状態で配設されている。なお、第１端子１１ａ，１１ｂおよび第２端子１２ａ，１２ｂが、本発明における測定用端子に相当する。
【００１５】
第１検出回路３ａは、一例として、第１電源部２ａと第１端子１１ｂとの間に接続されている検出用抵抗Ｒｄ１（図１参照）の両端間の電圧値を測定することによって交流電流Ｉｍの導通状態（導通および非導通）を検出する。具体的には、第１検出回路３ａは、検出用抵抗Ｒｄ１の両端間の電圧値が所定電圧以上のときには、交流電流Ｉｍが導通状態と検出し、所定電圧未満のときには、交流電流Ｉｍが非導通状態と検出する。この場合、第１検出回路３ａは、一例として、交流電流Ｉｍの導通状態を検出したとき、つまりバッテリ１００の電極１０１と第１端子１１との接続状態を検出したときに検出信号Ｓｄ１をＣＰＵ８に出力する。
【００１６】
第２検出回路３ｂは、一例として、第２電源部２ｂと第２端子１２ｂとの間に接続されている検出用抵抗Ｒｄ２（図１参照）の両端間の電圧値を測定することによって交流電流Ｉｃの導通状態を検出する。つまり、第２検出回路３ｂは、検出用抵抗Ｒｄ２の両端間の電圧値が所定電圧以上のときには、交流電流Ｉｃが導通状態と検出し、所定電圧未満のときには、交流電流Ｉｃが非導通状態と検出する。この場合、第２検出回路３ｂは、一例として、交流電流Ｉｃの導通状態を検出したとき、つまりバッテリ１００の電極１０１と第２端子１２との接続状態を検出したときに検出信号Ｓｄ２（以下、上記した検出信号Ｓｄ１と区別しないときには「検出信号Ｓｄ」ともいう）をＣＰＵ８に出力する。なお、第１検出回路３ａおよび第２検出回路３ｂによって本発明における検出部が構成される。
【００１７】
測定部４は、Ａ／Ｄ変換回路（図示せず）等を備えて構成され、ＣＰＵ８の制御に従い、バッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂに交流電流Ｉｍが出力されたときに生じる電極１０１ａ，１０１ｂ間の電圧を第２端子１２ａ，１２ｂを介して検出して、電圧データＤｖを出力する。
【００１８】
ＲＡＭ５は、ＣＰＵ８によって算出される抵抗値Ｒ（本発明におけるパラメータの測定値）を記憶する。また、ＲＡＭ５は、抵抗値Ｒの許容範囲を示す基準範囲Ｒｒを記憶すると共に、ＣＰＵ８によって実行される測定処理２０（図４参照）においてＣＰＵ８によって設定されるカウント値Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３を記憶する。この場合、カウント値Ｃ１は、一連の測定において第１端子１１および第２端子１２のいずれかとバッテリ１００の電極１０１との非接続状態（本発明における測定状態の異常：以下、単に「非接続状態」ともいう）が連続して検出された回数を示し、カウント値Ｃ２は、一連の測定における抵抗値Ｒの測定回数を示す。また、カウント値Ｃ３は、一連の測定において算出された抵抗値Ｒが連続して基準範囲Ｒｒ内に収まった回数を示す。
【００１９】
また、ＲＡＭ５は、測定処理２０において用いられる回数Ｌ，Ｍ，Ｎを記憶する。この場合、回数Ｌは、一連の測定を途中で停止して非接続状態が生じている旨を表示（エラー表示）するか否かを判別する際の基準となる数値であって、上記したカウント値Ｃ１が回数Ｌに達したときに測定停止およびエラー表示が行われる。また、回数Ｍは、一連の測定において行う測定回数の上限を示す数値であって、上記したカウント値Ｃ２が回数Ｍに達したときに抵抗値Ｒの測定が終了する。さらに、回数Ｎは、一連の測定を途中で停止して抵抗値Ｒ（抵抗値Ｒの平均値Ｒａ）を表示するか否かを判別する際の基準となる数値であって、上記したカウント値Ｃ３が回数Ｎに達したときに測定停止および抵抗値Ｒの表示が行われる。
【００２０】
操作部６は、図２に示すように、抵抗測定装置１の正面パネルに配設された電源スイッチ６１、および測定開始スイッチ６２等の各種のスイッチを備えて構成されて、各スイッチの操作に対応する操作信号ＳｏをＣＰＵ８に出力する。表示部７は、同図に示すように、抵抗測定装置１の正面パネルに配設された表示パネルを備えて構成されて、図３，５に示すように、ＣＰＵ８の制御に従って抵抗値Ｒの表示やエラー表示を行う。
【００２１】
ＣＰＵ８は、操作部６から出力される操作信号Ｓｏに従って抵抗測定装置１を構成する各部を制御する。また、ＣＰＵ８は、測定開始スイッチ６２に対応する操作信号Ｓｏが操作部６から出力されたときには、図４に示す測定処理２０を実行する。
【００２２】
次に、抵抗測定装置１を用いてバッテリ１００の抵抗値Ｒを測定する方法およびその際の抵抗測定装置１の動作について、図面を参照して説明する。
【００２３】
まず、操作部６の電源スイッチ６１を操作する。この際に、ＣＰＵ８が、ＲＡＭ５を初期化してＲＡＭ５に保存されている各データを消去させると共に、カウント値Ｃ１〜Ｃ３をクリア（０に設定）する。次いで、操作部６を操作して、回数Ｌ、回数Ｍおよび回数Ｎをそれぞれ５回、１０回および５回に設定すると共に、基準範囲Ｒｒを示す上限値および下限値を設定する。この際に、ＣＰＵ８が、操作部６から出力される操作信号Ｓｏに従い、設定された回数Ｌ、回数Ｍ、回数Ｎおよび基準範囲ＲｒをＲＡＭ５に記憶させる。続いて、測定開始スイッチ６２を操作する。この際に、ＣＰＵ８は、測定開始スイッチ６２に対応する操作信号Ｓｏに従って図４に示す測定処理２０を実行する。この測定処理２０では、ＣＰＵ８は、まず、第１電源部２ａを制御して交流電流Ｉｍを生成させると共に、第２電源部２ｂを制御して交流電流Ｉｃを生成させる。また、ＣＰＵ８は、測定開始スイッチ６２に対応する操作信号Ｓｏが出力されてから所定時間を経過した時点で、第１検出回路３ａを制御して交流電流Ｉｍの導通状態の検出を開始させると共に、第２検出回路３ｂを制御して交流電流Ｉｃの導通状態の検出を開始させる（ステップ２１）。
【００２４】
次いで、バッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂにプローブユニット１０ａ，１０ｂの先端部をそれぞれ押し付ける。この場合、押し付けが十分なときには、プローブユニット１０ａの先端部に配設されている第１端子１１ａおよび第２端子１２ａが電極１０１ａに接続されると共に、プローブユニット１０ｂの先端部に配設されている第１端子１１ｂおよび第２端子１２ｂが電極１０１ｂに接続される。これにより、第１端子１１ａ，１１ｂを介して第１電源部２ａからの交流電流Ｉｍがバッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂ間に出力されると共に、第２端子１２ａ，１２ｂを介して第２電源部２ｂからの交流電流Ｉｃが電極１０１ａ，１０１ｂ間に出力される。このため、第１検出回路３ａおよび第２検出回路３ｂは、検出信号Ｓｄ１，Ｓｄ２をそれぞれを出力する。
【００２５】
続いて、測定部４が、交流電流Ｉｍの出力によって電極１０１ａ，１０１ｂ間に生じる電圧値Ｖを検出して電圧データＤｖを出力し、ＣＰＵ８が、電圧データＤｖに基づいてバッテリ１００の抵抗値Ｒを測定（算出）する（ステップ２２）。次いで、ＣＰＵ８は、抵抗値Ｒを測定した後に予め規定された所定時間を経過した時点において、検出回路３からの検出信号Ｓｄの出力が停止されているか否か、つまり非接続状態が検出されたか否かを判別する（ステップ２３）。この場合、上記したように押し付けが十分なときには、検出回路３から検出信号Ｓｄが出力されるため、ＣＰＵ８は、抵抗値ＲをＲＡＭ５に記憶させる（ステップ２４）。
【００２６】
続いて、ＣＰＵ８は、非接続状態の連続発生回数を示すカウント値Ｃ１がＲＡＭ５に記憶されているときには、このカウント値Ｃ１をクリアする（ステップ２５）。この場合、この時点では非接続状態が発生していないため、カウント値Ｃ１は０に維持される。次いで、ＣＰＵ８は、測定回数を示すカウント値Ｃ２をカウントアップする（ステップ２６）。この場合、上記した抵抗値Ｒの測定が一連の測定における最初の測定であるため、カウント値Ｃ２が「１」にカウントアップされる。
【００２７】
続いて、ＣＰＵ８は、ステップ２２において算出した抵抗値Ｒが基準範囲Ｒｒ内に収まっているか否かを判別する（ステップ２７）。この際に、ＣＰＵ８は、抵抗値Ｒが基準範囲Ｒｒ内に収まっているときには、抵抗値Ｒが連続して基準範囲Ｒｒ内に収まった回数を示すカウント値Ｃ３をカウントアップする（ステップ２８）。この場合、この抵抗値Ｒが一連の測定において基準範囲Ｒｒ内に収まった最初の抵抗値Ｒであるため、カウント値Ｃ３が「１」にカウントアップされる。
【００２８】
次いで、ＣＰＵ８は、カウント値Ｃ３がＮ回（この例では５回）に達したか否かを判別する（ステップ２９）。この場合、この時点では、カウント値Ｃ３が１であるため、ＣＰＵ８は、カウント値Ｃ２がＭ回（この例では１０回）に達したか否かを判別する（ステップ３０）。この場合、カウント値Ｃ２が１であるため、ＣＰＵ８は、上記したステップ２２を実行する。
【００２９】
ここで、バッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂに対するプローブユニット１０ａ，１０ｂの十分な押し付けが継続され、かつ抵抗値Ｒが連続して基準範囲Ｒｒ内に収まっているときには、カウント値Ｃ１のクリア（ステップ２５）、カウント値Ｃ２のカウントアップ（ステップ２６）、およびカウント値Ｃ３のカウントアップ（ステップ２８）が繰り返される。この場合、カウント値Ｃ３がＮ回に達したときには、ＣＰＵ８は、ステップ２９においてその旨を判別して、ＲＡＭ５に記憶されている抵抗値Ｒを平均して平均値Ｒａを算する（ステップ３１）。続いて、ＣＰＵ８は、表示用の信号を表示部７に出力する。これにより、図３に示すように、表示部７に平均値Ｒａが表示される（ステップ３２）。
【００３０】
ここで、ステップ２７において、抵抗値Ｒが基準範囲Ｒｒ内に収まっていないときには、ＣＰＵ８は、カウント値Ｃ３をクリアして（ステップ３３）、ステップ３０を実行する。この場合、カウント値Ｃ２がＭ回に達したときには、ＣＰＵ８は、その旨を判別して上記したステップ３１，３２を実行する。
【００３１】
一方、バッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂに対するプローブユニット１０ａ，１０ｂの押し付けが不十分のときには、検出回路３が非接続状態を検出して、検出信号Ｓｄの出力を停止する。この際には、ＣＰＵ８は、上記したステップ２３において、非接続状態が発生したと判別して、カウント値Ｃ１をカウントアップする（ステップ３４）。次いで、ＣＰＵ８は、カウント値Ｃ１がＬ回に達したか否かを判別する（ステップ３５）。この場合、カウント値Ｃ１がＬ回に達していないときには、ＣＰＵ８は、上記したステップ３０を実行する。一方、カウント値Ｃ１がＬ回に達したときには、ＣＰＵ８は、第１端子１１または第２端子１２とバッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂとが非接続状態である旨を表示させる信号を表示部７に出力する。これにより、図５に示すように、非接続状態である旨を示す「エラー」の文字が表示部７に表示される（ステップ３６）。
【００３２】
以下、他のバッテリ１００の抵抗値Ｒの測定を行う際には、上記の操作を繰り返す。この場合、この抵抗測定装置１では、上記したように第１端子１１または第２端子１２とバッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂとが一時的に非接続状態となったとしても、カウント値Ｃ２がＭ回に達するまで、またはカウント値Ｃ１がＬ回に達するまで、ＣＰＵ８によって測定が自動的に繰り返される。このため、電極１０１ａ，１０１ｂに対するプローブユニット１０ａ，１０ｂの押し付けが一時的に不十分となっただけで測定が停止される従来の測定装置とは異なり、測定を再実行するための測定開始スイッチ６２の操作や、プローブユニット１０ａ，１０ｂをバッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂに押し当てる操作の省略が可能となっている。このため、例えば、数多くのバッテリ１００の抵抗値Ｒを連続して測定する際の測定効率が十分に向上される。
【００３３】
このように、この抵抗測定装置１によれば、カウント値Ｃ１がＬ回に達したとき、およびカウント値Ｃ２がＭ回に達したときのいずれか早いときまで抵抗値Ｒの測定を繰り返して測定部４に対して行わせる測定処理２０をＣＰＵ８が実行することにより、測定対象体に対するプローブの押し付けが一時的に不十分となっただけで測定が停止される従来の測定装置とは異なり、測定を再実行するための測定開始スイッチ６２の操作やプローブユニット１０を電極１０１に押し当てる操作の繰り返しを回避することができる。したがって、例えば、数多くのバッテリ１００の抵抗値Ｒを連続して測定する際の測定効率を十分に向上させることができる。
【００３４】
また、この抵抗測定装置１によれば、ＣＰＵ８が第１端子１１または第２端子１２とバッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂとの接続状態を検出する検出回路３によって両者の非接続状態が検出されたときに測定状態の異常が発生したと判別することにより、測定異常の原因として通常最も多い第１端子１１および第２端子１２と測定対象体の被接続部（本例ではバッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂ）との非接触を確実に検出することができる。
【００３５】
また、この抵抗測定装置１によれば、抵抗値Ｒが基準範囲Ｒｒ内に連続してＮ回収まったとき（本発明における所定の条件を満たしたとき）に、ＣＰＵ８が測定処理２０を終了することにより、非接続状態が検出されず、かつ抵抗値Ｒの変動が少ないときにはカウント値Ｃ２がＭに達する以前に測定処理２０を終了させることができる。したがって、測定効率をさらに向上させることができる。
【００３６】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、抵抗値Ｒを測定する抵抗測定装置１に適用した例について上記したが、電圧、電流および温度等の各種のパラメータを測定可能な測定装置に適用することができる。また、これらの各種パラメータを２種類以上測定可能な測定装置に適用することもできる。また、四端子法で抵抗値Ｒを測定する抵抗測定装置１を例に挙げて説明したが、２端子法で各種のパラメータを測定する測定装置に適用することもできる。また、上記の実施の形態では、本発明における測定異常として、第１端子１１および第２端子１２とバッテリ１００の電極１０１ａ，１０１ｂとの非接触状態を例に挙げて説明したが、これに限らず、パラメータについて例えば無限大の測定値が測定されたときなど、異常値が測定されたことを測定異常とすることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】抵抗測定装置１の構成を示す構成図である。
【図２】抵抗測定装置１の正面図である。
【図３】表示部７に平均値Ｒａを表示させている状態の表示画面図である。
【図４】測定処理２０のフローチャートである。
【図５】表示部７にエラー表示をさせている状態の表示画面図である。
【符号の説明】
【００３８】
１  抵抗測定装置
４  測定部
３ａ  第１検出回路
３ｂ  第２検出回路
８  ＣＰＵ
１１ａ，１１ｂ  第１端子
１２ａ，１２ｂ  第２端子
２０  測定処理
６２  測定開始スイッチ
１００  バッテリ
Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３  カウント値
Ｒ  抵抗値
Ｒｒ  基準範囲
【図１】
2008151554.tif 000003
【図２】
2008151554.tif 000004
【図３】
2008151554.tif 000005
【図４】
2008151554.tif 000006
【図５】
2008151554.tif 000007