(57)【要約】【課題】内視鏡に備えられた電子部品を熱から保護することができる内視鏡を提供すること。【解決手段】本発明の内視鏡は、電子部品２５１を備えた回路基板２５を収容し、回路基板２５との間に空間Ｃを形成するハウジング２４と、ハウジング２４を収容し、ハウジング２４との間に空間Ｂを形成するハウジング２３と、空間Ｂの圧力を変更可能な逆止弁２１とを有し、逆止弁２１は、空間Ｂの圧力を変更することにより、空間Ｂの断熱特性を変化させるように構成されている。また、逆止弁２１は、ハウジング２３の外部の圧力の低下に伴って、空間Ｂの圧力を不可逆的に低下させるように構成されている。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品を備えた回路基板を有する内視鏡であって、
前記回路基板を収容する第１のハウジングと、
陰圧状態の空間で構成された断熱層を介して前記第１のハウジングを収容する第２のハウジングとを有することを特徴とする内視鏡。
【請求項２】
電子部品を備えた回路基板を有する内視鏡であって、
前記回路基板を収容し、前記回路基板との間に第１の空間を形成する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを収容し、前記第１のハウジングとの間に第２の空間を形成する第２のハウジングと、
前記第２の空間の圧力を変更可能な圧力変更手段とを有し、
前記圧力変更手段は、前記第２の空間の圧力を変更することにより、前記第２の空間の断熱特性を変化させるように構成されていることを特徴とする内視鏡。
【請求項３】
前記圧力変更手段は、前記第２のハウジングの外部の圧力の低下に伴って、前記第２の空間の圧力を不可逆的に低下させるように構成されている請求項２に記載の内視鏡。
【請求項４】
前記圧力変更手段は、前記第２の空間と前記第２のハウジングの外部とを連通させる連通部と、該連通部に設けられ、前記第２の空間から前記第２のハウジングの外部への気体の通過を許容しつつ、前記第２のハウジングの外部から前記第２の空間への気体の通過を阻止する逆止弁とを備える請求項３に記載の内視鏡。
【請求項５】
前記圧力変更手段は、前記回路基板の使用時に前記第２の空間を大気圧状態にし得るように構成されている請求項２ないし４のいずれかに記載の内視鏡。
【請求項６】
前記第２のハウジングを収容し、前記第２のハウジングとの間に第３の空間を形成する第３のハウジングと、前記第３の空間の圧力を変更可能な他の圧力変更手段とを有し、前記他の圧力変更手段は、前記第３の空間の圧力を変更することにより、前記第３の空間の断熱特性を変化させるように構成されている請求項２ないし５のいずれかに記載の内視鏡。
【請求項７】
前記他の圧力変更手段は、前記第３のハウジングの外部の圧力の低下に伴って、前記第３の空間の圧力を不可逆的に低下させるように構成されている請求項６に記載の内視鏡。
【請求項８】
前記他の圧力変更手段は、前記第３の空間と前記第３のハウジングの外部とを連通させる他の連通部と、該他の連通部に設けられ、前記第３の空間から前記第３のハウジングの外部への気体の通過を許容しつつ、前記第３のハウジングの外部から前記第３の空間への気体の通過を阻止する他の逆止弁とを備える請求項７に記載の内視鏡。
【請求項９】
前記他の圧力変更手段は、前記回路基板の使用時に前記第３の空間を大気圧状態にし得るように構成されている請求項６ないし８のいずれかに記載の内視鏡。
【請求項１０】
前記第１のハウジングと前記第２のハウジングとの間で、前記第１のハウジングを前記第２のハウジングに対し支持し、断熱材料を主材料として構成された支持部材を有する請求項１ないし９のいずれかに記載の内視鏡。
【請求項１１】
前記第１のハウジングおよび／または前記第２のハウジングは、強磁性体を主材料として構成されている請求項１ないし１０のいずれかに記載の内視鏡。
【請求項１２】
前記第１のハウジングおよび／または前記第２のハウジングは、その表面付近に防錆処理が施されている請求項１１に記載の内視鏡。
【請求項１３】
前記回路基板と前記第１のハウジングとの間に介在し、前記回路基板から前記第１のハウジングへ伝熱させる熱伝導性部材を有する請求項１ないし１２のいずれかに記載の内視鏡。
【請求項１４】
前記第１の空間は、大気圧状態に維持された密閉空間である請求項２ないし１３のいずれかに記載の内視鏡。
【請求項１５】
前記第１のハウジングおよび前記第２のハウジングのそれぞれの一部がハーメチックコネクタで構成され、これらを介して前記回路基板を前記第２のハウジングの外部で電気的に接続するように構成されている請求項１ないし１４のいずれかに記載の内視鏡。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、内視鏡に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
内視鏡は、体腔内に内視鏡の細長い挿入部を挿入することによって、体腔内の臓器を観察、また必要に応じて処置具の挿通チャンネル内に挿入した処置具を用いて各種処置を行うもので医療分野等において広く利用されている。挿入部の先端には、湾曲部および先端部が設けられ、術者等は、内視鏡操作部に接続されたワイヤにより湾曲させることによって、先端部内に配設された観察光学系の対物レンズの観察方向を変更させることができる。
【０００３】
内視鏡は、感染を防止するため、使用後に洗浄・消毒あるいは滅菌される。滅菌する方法としては、高温高圧蒸気滅菌（オートクレーブ）法が知られており、かかる方法では、専用のオートクレーブ装置を用いて内視鏡の滅菌が行なわれる。オートクレーブ装置による消毒・滅菌は、ランニングコストが安価、有害物質の発生が無い等の理由から、多分野に広く浸透している。
【０００４】
また、内視鏡には、撮像のための撮像素子やこれを駆動するための電気回路などの電子部品が設けられているが、このような電子部品は熱に弱い。そのため、オートクレーブ装置での高温処理により電子部品の劣化を早めてしまうという問題があった。
【０００５】
特許文献１では、電子部品は、外装を構成するハウジングの内壁に支持された状態でハウジング内に収容されているが、前述したような高温処理にさらされると、ハウジング内の気体が高温となってしまい、その結果、電子部品も高温となってしまう。
【０００６】
【特許文献１】特許第３４９０６８７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の目的は、内視鏡に備えられた電子部品を熱から保護することができる内視鏡を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前記目的は、以下（１）〜（１５）の本発明により達成される。
（１）  電子部品を備えた回路基板を有する内視鏡であって、
前記回路基板を収容する第１のハウジングと、
陰圧状態の空間で構成された断熱層を介して前記第１のハウジングを収容する第２のハウジングとを有することを特徴とする内視鏡。
【０００９】
これにより、断熱層が第２のハウジングの外部と回路基板との間を断熱するため、電子部品を熱から保護することができる。
【００１０】
（２）  電子部品を備えた回路基板を有する内視鏡であって、
前記回路基板を収容し、前記回路基板との間に第１の空間を形成する第１のハウジングと、
前記第１のハウジングを収容し、前記第１のハウジングとの間に第２の空間を形成する第２のハウジングと、
前記第２の空間の圧力を変更可能な圧力変更手段とを有し、
前記圧力変更手段は、前記第２の空間の圧力を変更することにより、前記第２の空間の断熱特性を変化させるように構成されていることを特徴とする内視鏡。
【００１１】
これにより、オートクレーブ滅菌時などの高温時であっても、圧力変更手段が第２の空間を陰圧状態とすることにより、第２の空間が第２のハウジングの外部と回路基板との間を断熱して、電子部品を熱から保護することができる。また、内視鏡の使用時（電子部品の作動時）などには、圧力変更手段が第２の空間の陰圧状態を解除することにより、第２の空間の伝熱性を高めて、回路基板の熱を第２の空間を介して第２のハウジングの外部へ積極的に放出させることができる。そのため、電子部品の過昇温を防止して、電子部品の故障や誤作動などの不具合を防止することができる。
【００１２】
（３）  前記圧力変更手段は、前記第２のハウジングの外部の圧力の低下に伴って、前記第２の空間の圧力を不可逆的に低下させるように構成されている上記（２）に記載の内視鏡。
【００１３】
これにより、オートクレーブ滅菌の前工程での陰圧環境などを利用して、減圧用ポンプなどの手段を別途必要とすることなく、第２の空間を陰圧状態とすることができる。
【００１４】
（４）  前記圧力変更手段は、前記第２の空間と前記第２のハウジングの外部とを連通させる連通部と、該連通部に設けられ、前記第２の空間から前記第２のハウジングの外部への気体の通過を許容しつつ、前記第２のハウジングの外部から前記第２の空間への気体の通過を阻止する逆止弁とを備える上記（３）に記載の内視鏡。
【００１５】
これにより、圧力変更手段の構成を比較的簡単なものとしつつ、オートクレーブ滅菌の前工程での陰圧環境などを利用して、減圧用ポンプなどの手段を別途必要とすることなく、第２の空間を陰圧状態とすることができる。
【００１６】
（５）  前記圧力変更手段は、前記回路基板の使用時に前記第２の空間を大気圧状態にし得るように構成されている上記（２）ないし（４）のいずれかに記載の内視鏡。
【００１７】
これにより、内視鏡の使用時（電子部品の作動時）に、第２の空間の伝熱性を高めて、回路基板の熱を第２の空間を介して第２のハウジングの外部へ放出させることができる。
【００１８】
（６）  前記第２のハウジングを収容し、前記第２のハウジングとの間に第３の空間を形成する第３のハウジングと、前記第３の空間の圧力を変更可能な他の圧力変更手段とを有し、前記他の圧力変更手段は、前記第３の空間の圧力を変更することにより、前記第３の空間の断熱特性を変化させるように構成されている上記（２）ないし（５）のいずれかに記載の内視鏡。
【００１９】
これにより、オートクレーブ滅菌時などの高温時であっても、他の圧力変更手段が第３の空間を陰圧状態とすることにより、第３の空間が第３のハウジングの外部と回路基板との間を断熱して、より確実に、電子部品を熱から保護することができる。また、内視鏡の使用時（電子部品の作動時）などには、他の圧力変更手段が第３の空間の陰圧状態を解除することにより、第３の空間の伝熱性を高めて、回路基板の熱を第３の空間を介して第３のハウジングの外部へ積極的に放出させることができる。そのため、より確実に、電子部品の過昇温を防止して、電子部品の故障や誤作動などの不具合を防止することができる。
【００２０】
（７）  前記他の圧力変更手段は、前記第３のハウジングの外部の圧力の低下に伴って、前記第３の空間の圧力を不可逆的に低下させるように構成されている上記（６）に記載の内視鏡。
【００２１】
これにより、オートクレーブ滅菌の前工程での陰圧環境などを利用して、減圧用ポンプなどの手段を別途必要とすることなく、第３の空間を陰圧状態とすることができる。
【００２２】
（８）  前記他の圧力変更手段は、前記第３の空間と前記第３のハウジングの外部とを連通させる他の連通部と、該他の連通部に設けられ、前記第３の空間から前記第３のハウジングの外部への気体の通過を許容しつつ、前記第３のハウジングの外部から前記第３の空間への気体の通過を阻止する他の逆止弁とを備える上記（７）に記載の内視鏡。
【００２３】
これにより、他の圧力変更手段の構成を比較的簡単なものとしつつ、オートクレーブ滅菌の前工程での陰圧環境などを利用して、減圧用ポンプなどの手段を別途必要とすることなく、第３の空間を陰圧状態とすることができる。
【００２４】
（９）  前記他の圧力変更手段は、前記回路基板の使用時に前記第３の空間を大気圧状態にし得るように構成されている上記（６）ないし（８）のいずれかに記載の内視鏡。
【００２５】
これにより、内視鏡の使用時（電子部品の作動時）に、第３の空間の伝熱性を高めて、回路基板の熱を第３の空間を介して第３のハウジングの外部へ放出させることができる。
【００２６】
（１０）  前記第１のハウジングと前記第２のハウジングとの間で、前記第１のハウジングを前記第２のハウジングに対し支持し、断熱材料を主材料として構成された支持部材を有する上記（１）ないし（９）のいずれかに記載の内視鏡。
【００２７】
これにより、第２のハウジングから第１のハウジングへの伝熱を防止しつつ、第１のハウジングを第２のハウジングに対し支持することができる。
【００２８】
（１１）  前記第１のハウジングおよび／または前記第２のハウジングは、強磁性体を主材料として構成されている上記（１）ないし（１０）のいずれかに記載の内視鏡。
【００２９】
これにより、回路基板から外部への電磁波の漏れや、外部から回路基板への電界ノイズの混入を防止することができる。
【００３０】
（１２）  前記第１のハウジングおよび／または前記第２のハウジングは、その表面付近に防錆処理が施されている上記（１１）に記載の内視鏡。
【００３１】
これにより、第１のハウジングや第２のハウジングの錆を防止しつつ、回路基板から外部への電磁波の漏れや、外部から回路基板への電界ノイズの混入を防止することができる。
【００３２】
（１３）  前記回路基板と前記第１のハウジングとの間に介在し、前記回路基板から前記第１のハウジングへ伝熱させる熱伝導性部材を有する上記（１）ないし（１２）のいずれかに記載の内視鏡。
【００３３】
これにより、回路基板から第１のハウジングへの伝熱性を優れたものとすることができる。そのため、内視鏡の使用時（電子部品の作動時）などに、回路基板の熱を第２のハウジングの外部へより効率的に放出させることができる。
【００３４】
（１４）  前記第１の空間は、大気圧状態に維持された密閉空間である上記（２）ないし（１３）のいずれかに記載の内視鏡。
【００３５】
これにより、回路基板に対する外部環境の圧力の影響を防止して、電子部品の損傷や誤作動などの不具合を防止することができる。また、回路基板から第１のハウジングへの伝熱性を優れたものとすることができる。そのため、内視鏡の使用時（電子部品の作動時）などに、回路基板の熱を第２のハウジングの外部へより効率的に放出させることができる。
【００３６】
（１５）  前記第１のハウジングおよび前記第２のハウジングのそれぞれの一部がハーメチックコネクタで構成され、これらを介して前記回路基板を前記第２のハウジングの外部で電気的に接続するように構成されている上記（１）ないし（１４）のいずれかに記載の内視鏡。
【００３７】
これにより、必要時における第１の空間や第２の空間の気密性を高いものとしつつ、回路基板に対し外部で電気的に接続することができる。
【発明の効果】
【００３８】
本発明によれば、第１のハウジングと第２のハウジングとの間の空間が第２のハウジングの外部と回路基板との間を断熱して、電子部品を熱から保護することができる。
【００３９】
また、第２のハウジングの外部と回路基板との間の空間の圧力を変更可能に構成すると、オートクレーブ滅菌時などの高温時であっても、第１のハウジングと第２のハウジングとの間の空間を陰圧状態とすることにより、当該空間が第２のハウジングの外部と回路基板との間を断熱して、電子部品を熱から保護することができる。一方、内視鏡の使用時（電子部品の作動時）などには、第１のハウジングと第２のハウジングとの間の空間の陰圧状態を解除することにより、当該空間の伝熱性を高めて、回路基板の熱を当該空間を介して第２のハウジングの外部へ積極的に放出させることができる。そのため、電子部品の過昇温を防止して、電子部品の故障や誤作動などの不具合を防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４０】
以下、本発明の内視鏡を添付図面に示す好適実施形態に基づいて詳細に説明する。なお、以下では、本発明の内視鏡を、医療用内視鏡、特に、電子内視鏡（電子スコープ）に適用した場合について説明する。
【００４１】
図１は、本発明の実施形態にかかる電子内視鏡を示す全体図、図２は、図１に示す電子内視鏡が備える光源差込部を示す部分断面図、図３は、図２中のＡ−Ａ線断面図、図４は、図１に示す電子内視鏡に備えられた断熱機構を説明するための図である。以下、図１中、上側を「基端」、下側を「先端」として説明する。
【００４２】
図１に示す電子内視鏡１０（以下、「内視鏡１０」という）は、可撓性（柔軟性）を有する長尺物の挿入部可撓管１１と、挿入部可撓管１１の先端部に設けられた湾曲部１２と、挿入部可撓管１１の基端部に設けられ、術者が把持して内視鏡１０全体を操作する操作部１３と、操作部１３に接続された接続部可撓管１４と、接続部可撓管１４の先端側に設けられた光源差込部１５とを備えている。
【００４３】
挿入部可撓管１１と接続部可撓管１４は、それぞれ、中空部を有する管状の芯材の外周を外皮で被覆した内視鏡用可撓管である。
【００４４】
挿入部可撓管１１は、例えば、消化管のような生体の管腔内に挿入して使用される。また、操作部１３には、その側面に操作ノブ１６、１７が設置されている。この操作ノブ１６、１７を操作すると、挿入部可撓管１１内に配設されたワイヤ（図示せず）が牽引されて、湾曲部１２が例えば４方向に湾曲し、その方向を変えることができる。湾曲部１２の先端部には、観察部位における被写体像を撮像する図示しない撮像素子（ＣＭＯＳイメージセンサ、ＣＣＤ等の固体撮像素子）が設けられている。
【００４５】
光源差込部１５には、その先端側に光源用コネクタ１８と画像信号用コネクタ１９とが設けられ、基端側に逆止弁２０、２１が設けられている。
【００４６】
逆止弁２０、２１は、内視鏡１０の内部から外部への気体の通過を許容しつつ、内視鏡１０の外部から内部への気体の通過を許容しないように構成されている。かかる構成の逆止弁２０、２１を光源差込部１５に設けることにより、オートクレーブ装置が備える減圧滅菌室内では内視鏡１０内の空気が外部へ抜けて内圧が下げられ、かつ滅菌時や洗浄時には高圧の蒸気雰囲気になるが、内視鏡１０内への蒸気侵入が防止される。すなわち、本実施形態では、この逆止弁２０、２１により、内視鏡１０の内部と外部とが必要時に連通する連通部が構成され、オートクレーブ処理を施すに際し、内視鏡１０の内部の陰圧状態を維持することができる。なお、逆止弁２０、２１（光源差込部１５）については、後に詳述する。
【００４７】
光源用コネクタ１８は、外部装置２００に接続され、外部装置２００に備えられた光源装置（図示せず）から発せられた照明光が光源用コネクタ１８、および、光源差込部１５内、接続部可撓管１４内、操作部１３内、挿入部可撓管１１内および湾曲部１２内に連続して配設された光ファイバー束によるライトガイド（図示せず）を通り、湾曲部１２の先端部より観察部位に照射され、照明する。
【００４８】
画像信号用コネクタ１９は、外部装置２００に接続され、さらに、外部装置２００は、ケーブル２２０を介してモニタ装置２１０に接続されている。
【００４９】
前記照明光により照明された観察部位からの反射光（被写体像）は、撮像素子で撮像される。撮像素子では、撮像された被写体像に応じた画像信号が出力される。
【００５０】
この画像信号は、湾曲部１２内、挿入部可撓管１１内、操作部１３内および接続部可撓管１４内に連続して配設され、撮像素子と画像信号用コネクタ１９とを接続する画像信号ケーブル（図示せず）を介して、光源差込部１５に伝達される。
【００５１】
そして、光源差込部１５内および光源装置内で所定の処理（例えば、信号処理、画像処理等）がなされ、その後、モニタ装置２１０に入力される。モニタ装置２１０では、撮像素子で撮像された動画の内視鏡モニタ画像が表示される。
【００５２】
ここで、逆止弁２０、２１（光源差込部１５）について詳述する。
図２に示すように、光源差込部１５は、光源差込部１５の外装を構成するハウジング（第３のハウジング）２２と、ハウジング２２内に設けられたハウジング（第２のハウジング）２３と、ハウジング２３内に設けられたハウジング２４（第１のハウジング）とを有している。
【００５３】
そして、ハウジング２２とハウジング２３との間には、逆止弁２０により圧力を変更可能な空間（第３の空間）Ａが形成され、ハウジング２３とハウジング２４との間には、逆止弁２１により圧力を変更可能な空間（第２の空間）Ｂが形成され、ハウジング２４内には、電子部品２５１を備えた回路基板２５が収容され、ハウジング２４と回路基板２５との間には、ほぼ一定圧力に維持される空間（第１の空間）Ｃが形成されている。
【００５４】
以下、光源差込部１５を構成する各部を説明する。
ハウジング２２は、ハウジング２３を収容し、ハウジング２３との間に第３の空間たる空間Ａを形成するものである。このようなハウジング（第３のハウジング）２２には、接続部可撓管１４と光源用コネクタ１８と画像信号用コネクタ１９のそれぞれの一端が固定されている。
【００５５】
また、ハウジング２２には、前述した逆止弁２０、２１がハウジング２２の外壁面から突出するようにして取り付けられている。
【００５６】
本実施形態では、ハウジング２２には、その内外を貫通する貫通孔２２１が形成され、この貫通孔２２１に逆止弁２０が配設されている。そして、逆止弁２０とハウジング２２との間は、気密的にシールされている。ここで、貫通孔２２１は、空間Ａとハウジング２２の外部とを連通させる連通部（他の連通部）として機能する。
【００５７】
この逆止弁２０は、空間Ａからハウジング２２の外部への気体の通過を許容しつつ、ハウジング２２の外部から空間Ａへの気体の通過を阻止するように構成されている。このように気体の流通方向を一方向に制限するように構成された逆止弁２０は、ハウジング２２の外部の圧力が所定値以下（所定圧力以下の陰圧状態）であるとき開状態となり、ハウジング２２の外部の圧力が前記所定値以上であるとき閉状態となる。したがって、逆止弁２０は、ハウジング２２の外部の圧力の低下に伴って、空間Ａの圧力を不可逆的に低下させることができる。
【００５８】
ここで、逆止弁２０は、第３の空間たる空間Ａの圧力を変更する他の圧力変更手段を構成している。かかる他の圧力変更手段が空間Ａの圧力を変更することにより、空間Ａの断熱特性を変化させることができる。
【００５９】
また、逆止弁（他の圧力変更手段）２０は、回路基板２５の使用時などの所望時に、前述したような気体の流通方向の制限を解除して、空間Ａを大気圧状態にし得るように構成されている。
【００６０】
また、ハウジング２２には、その内外を貫通する貫通孔２２２が形成され、また、ハウジング２３には、その内外を貫通する貫通孔２３１が形成され、これら貫通孔２２２、２３１に跨るようにして逆止弁２１が配設されている。そして、逆止弁２１とハウジング２２との間、および、逆止弁２１とハウジング２３との間は、それぞれ、気密的にシールされている。ここで、貫通孔２３１は、空間Ｂとハウジング２２の外部（ハウジング２３の外部）とを連通させる連通部として機能する。
【００６１】
この逆止弁２１は、前述した逆止弁２０と同様の構成を有しており、空間Ｂからハウジング２２の外部への気体の通過を許容しつつ、ハウジング２２の外部から空間Ｂへの気体の通過を阻止するように構成されている。このように気体の流通方向を一方向に制限するように構成された逆止弁２１は、ハウジング２２の外部の圧力が所定値以下（所定圧力以下の陰圧状態）であるとき開状態となり、ハウジング２２の外部の圧力が前記所定値以上であるとき閉状態となる。したがって、逆止弁２１は、ハウジング２２の外部の圧力の低下に伴って、空間Ｂの圧力を不可逆的に低下させることができる。
【００６２】
ここで、逆止弁２１は、第２の空間たる空間Ｂの圧力を変更する圧力変更手段を構成している。かかる圧力変更手段が空間Ｂの圧力を変更することにより、空間Ｂの断熱特性を変化させることができる。
【００６３】
また、逆止弁（圧力変更手段）２１は、回路基板２５の使用時などの所望時に、前述したような気体の流通方向の制限を解除して、空間Ｂを大気圧状態にし得るように構成されている。
【００６４】
このような逆止弁２０、２１が設けられたハウジング２２は、例えば、優れた耐熱性および機械的強度を有するＰＰＳ、ＬＣＰ、ＰＥＥＫ、ＰＳＵ、ＰＰＳＵ、ＰＥＩ、フッ素樹脂（ＰＦＡ、ＦＥＰ、ＰＴＦＥ、ＥＴＦＥ）等の樹脂を主材料として構成されている。なお、ハウジング２２の構成材料は、前述したものに限定されない。
【００６５】
また、ハウジング２３は、ハウジング２４を収容し、ハウジング２４との間に第２の空間たる空間Ｂを形成するものである。このようなハウジング２３は、図３に示すように、図３にて上方に開口する箱体２３４と、この箱体２３４の開口を覆うように設けられた蓋体２３５とを有し、これらが複数のネジ２３７によって固定されている。また、箱体２３４と蓋体２３５との間には、フッ素系ゴムなどで構成されたＯリング２３６が介在しており、箱体２３４と蓋体２３５との間は、気密的にシールされている。このようなハウジング２３は、使用時に空間Ｂの気密性を確保しつつ、所望時に蓋体２３５を取り外すことによりハウジング２３の内部へアクセスすることができる。
【００６６】
このようなハウジング２３の箱体２３４の底面上には、断熱材料を主材料として構成された支持部材２３８が設けられ、この支持部材２３８上にハウジング２４が固定されている。すなわち、ハウジング２４は、断熱性に優れた支持部材２３８を介してハウジング２３に支持されている。これにより、ハウジング２３からハウジング２４への伝熱を防止しつつ、ハウジング２４をハウジング２３に対し支持することができる。
【００６７】
このような支持部材２３８の構成材料、すなわち、前記断熱材料としては、ハウジング２４をハウジング２３に対し支持し、かつ、優れた断熱性を有するものであれば、特に限定されず、ＰＰＳ、ＬＣＰ、ＰＥＥＫ、ＰＳＵ、ＰＰＳＵ、ＰＥＩ、フッ素樹脂（ＰＦＡ、ＦＥＰ、ＰＴＦＥ、ＥＴＦＥ）等を用いることができる。
【００６８】
また、ハウジング２３の一部がハーメチックコネクタ２３２、２３３で構成されている。これにより、ハウジング２３内（空間Ｂ）の気密性を確保しつつ、ハウジング２３の内外での電気的接続を行うことができる。
【００６９】
ハウジング２４は、回路基板２５を収容し、回路基板２５との間に第１の空間たる空間Ｃを形成するものである。このようなハウジング２４は、図３にて上方に開口する箱体２４４と、この箱体２４４の開口を覆うように設けられた蓋体２４５とを有し、これらが複数のネジ２４７によって固定されている。また、箱体２４４と蓋体２４５との間には、フッ素系ゴムなどで構成されたＯリング２４６が介在しており、箱体２４４と蓋体２４５との間は、気密的にシールされている。このようなハウジング２４は、使用時に空間Ｃの気密性を確保しつつ、所望時に蓋体２４５を取り外すことによりハウジング２４の内部へアクセスすること（具体的には回路基板２５の修理や交換等のメンテナンスを行うこと）ができる。
【００７０】
また、ハウジング２４の一部がハーメチックコネクタ２４２、２４３で構成されている。これにより、ハウジング２４内（空間Ｃ）の気密性を確保しつつ、ハウジング２４の内外での電気的接続を行うことができる。本実施形態では、ハーメチックコネクタ２４２、２４３を介して回路基板２５とハーメチックコネクタ２３２、２３３とが電気的に接続されている。すなわち、ハウジング２３、２４は、ハーメチックコネクタ２３２、２３３、２４２、２４３を介して回路基板２５をハウジング２３の外部で電気的に接続するように構成されている。これにより、必要時における空間Ｃや空間Ｂの気密性を高いものとしつつ、回路基板２５に対し外部で電気的に接続することができる。
【００７１】
また、本実施形態では、回路基板２５とハウジング２４との間に、回路基板２５からのハウジング２４へ伝熱させる熱伝導性部材２４８が介在している。これにより、回路基板２５からハウジング２４への伝熱性を優れたものとすることができる。そのため、内視鏡１０の使用時（電子部品の作動時）などに、回路基板２５の熱をハウジング２３の外部へより効率的に放出させることができる。
【００７２】
このような熱伝導性部材２４８の構成材料としては、特に限定されないが、例えば、Ａｌ、Ｃｕ、グラファイト、セラミックスなどが好適に用いられる。または、熱伝導性の高いシリコン（接着剤、シート、ゲルタイプ）でもよい。
【００７３】
また、回路基板２５は、支持部材２４１を介してハウジング２４の箱体２４４に支持されている。この支持部材２４１は、前述した熱伝導性部材２４８と同様に、熱伝導性、電気伝導性に優れた材料で構成されているのが好ましい。これにより、回路基板２５からハウジング２４への伝熱性を優れたものとすることができ、また、回路基板のグランドにすることにより回路の動作安定を図ることができる。
【００７４】
また、ハウジング２４は、その内部空間である空間Ｃが大気圧状態に維持された密閉空間となるように構成されている。これにより、回路基板２５に対する外部環境の圧力の影響を防止（圧力による負荷を低減）して、電子部品２５１の損傷や誤作動などの不具合を防止することができる。また、回路基板２５からハウジング２４への伝熱性を優れたものとすることができる。そのため、内視鏡１０の使用時（電子部品の作動時）などに、回路基板２５の熱をハウジング２３の外部へより効率的に放出させることができる。
【００７５】
ハウジング２３および／またはハウジング２４の構成材料は、特に限定されず、各種樹脂材料や各種金属材料などを用いることができるが、ハウジング２３および／またはハウジング２４は、各種硬磁性体や各種軟磁性体などの強磁性体を主材料として構成されているのが好ましい。これにより、回路基板２５から外部への電磁波の漏れや、外部から回路基板２５への電界ノイズの混入を防止することができる。
【００７６】
特に、ハウジング２３および／またはハウジング２４を構成する強磁性体は、Ｆｅ、各種Ｆｅ合金（ケイ素鉄、パーマロイ、アモルファス、センダストなど）、軟磁性フェライト等の軟磁性体であるのが好ましい。これにより、回路基板２５から外部への電磁波の漏れや、外部から回路基板２５への電界ノイズの混入をより確実に防止することができる。
【００７７】
このような強磁性体をハウジング２３および／またはハウジング２４の構成材料とした場合には、ハウジング２３および／またはハウジング２４の表面付近に防錆処理が施されているのが好ましい。これにより、ハウジング２３やハウジング２４の錆を防止しつつ、回路基板２５から外部への電磁波の漏れや、外部から回路基板２５への電界ノイズの混入を防止することができる。
【００７８】
以上説明したような構成を有する内視鏡１０は、オートクレーブ処理等の際に、高温高圧状態に所定の時間（例えば、１３７℃  ２０分）晒されても、回路基板２５を熱から保護することができる。また、何らかの要因により内視鏡の気密性が破壊されたとしても、回路基板２５がオートクレーブの蒸気に曝されることなく、回路基板２５を含む電気回路の動作を確実に行うことができる。
【００７９】
以下、内視鏡１０の作用を内視鏡１０がオートクレーブ処理される際を例に説明する。
［１］外部装置からの取り外し
まず、術者等は、検査終了後に、外部装置２００から光源差込部１５を取り外す。これにより、内視鏡１０は外部装置２００から脱離される。かかる状態で、内視鏡１０は、オートクレーブ処理のために一時保管される。
【００８０】
このとき、逆止弁２０、２１は、閉状態にあり、空間Ａ、Ｂ、Ｃのそれぞれの圧力は大気圧となっている。
【００８１】
［２］オートクレーブ処理
次に、内視鏡１０にオートクレーブ処理を施す。
【００８２】
このオートクレーブ処理は、オートクレーブ装置が備える滅菌室内に内視鏡１０を収容した後、この滅菌室内を減圧状態にする減圧工程と、この減圧状態の滅菌室内に高圧高温蒸気を送り込んで滅菌を行う滅菌工程とを有する。
【００８３】
減圧工程は、後の滅菌工程の際に、内視鏡１０の細部にまで高圧高温蒸気を行き渡らせるための工程であり、この減圧工程の後に滅菌工程を行う構成とすることにより、内視鏡１０の滅菌を確実に行うことができる。
【００８４】
減圧工程では、内視鏡１０自体が陰圧の環境下におかれ、図４（ａ）に示すように、逆止弁２０、２１は、開状態となる。これにより、逆止弁（連通部）２０を介して空間Ａの気体（空気）が排出される。また、逆止弁２１を介して空間Ｂの気体（空気）が排出される。したがって、空間Ａ、Ｂは、それぞれ、滅菌室内と同様に減圧され、陰圧状態となる。なお、空間Ｃの圧力は、大気圧とほぼ同等に維持されている。
【００８５】
逆止弁２０は空間Ａへの気体の流通（進入）を阻止し、また、逆止弁２１は空間Ｂへの気体の流通（進入）を阻止するため、前述したような陰圧状態が解除されても、空間Ａ、Ｂを前記陰圧状態に維持する。
【００８６】
したがって、その後の滅菌工程においても、図４（ｂ）に示すように、逆止弁２０が空間Ａへの高圧高温蒸気の進入を阻止して、空間Ａを陰圧状態に維持するとともに、逆止弁２１が空間Ｂへの高圧高温蒸気の進入を阻止して、空間Ｂを陰圧状態に維持する。なお、空間Ｃの圧力は、大気圧とほぼ同等に維持されている。
【００８７】
そのため、各空間Ａ、Ｂは断熱層として機能し、滅菌工程における高温から回路基板２５を保護することができる。
【００８８】
［３］オートクレーブ処理後
次に、オートクレーブ処理が施された内視鏡１０を、滅菌室内から取り出す。
【００８９】
空間Ａ、Ｂは、滅菌室内から取り出した後（滅菌処理後）も逆止弁２０、２１の作用により、陰圧状態が保たれているが、術者等が逆止弁２０、２１を操作することにより陰圧状態から開放される。すなわち、この操作により、各空間Ａ、Ｂと内視鏡１０の外部とが連通して、各空間Ａ、Ｂが大気圧（常圧）に復帰する。
【００９０】
このような操作を行うことにより、各空間Ａ、Ｂの断熱性を低下させること（すなわち伝熱性を高めること）ができる。そのため、オートクレーブ処理後に再び内視鏡１０を使用する際に、回路基板２５（電子部品２５１）の放熱を積極的に行うことができる。これにより、電子部品２５１の過昇温を防止して、電子部品２５１の故障や誤作動などの不具合を防止することができる。
【００９１】
以上説明したような内視鏡１０は、空間Ｂが断熱層として機能して、ハウジング２３の外部と回路基板２５との間を断熱するため、電子部品２５１を熱から保護することができる。
【００９２】
特に、内視鏡１０は、逆止弁２１が空間Ｂの圧力を変更することにより、空間Ｂの断熱特性を変化させるように構成されているため、電子部品２５１の過昇温を確実に防止することができる。
【００９３】
例えば、前述したようなオートクレーブ滅菌時などの高温時であっても、逆止弁２１が空間を陰圧状態とすることにより、空間Ｂがハウジング２３の外部と回路基板２５との間を断熱して、電子部品２５１を熱から保護することができる。一方、内視鏡１０の使用時（電子部品２５１の作動時）などには、逆止弁２１が空間Ｂの前記陰圧状態を解除することにより、空間Ｂの伝熱性を高めて、回路基板２５の熱を空間Ｂを介してハウジング２３の外部へ放出させることができる。そのため、電子部品２５１の過昇温を防止して、電子部品２５１の故障や誤作動などの不具合を防止することができる。
【００９４】
また、逆止弁２１がハウジング２３の外部（本実施形態ではハウジング２２の外部）の圧力の低下に伴って空間Ｂの圧力を不可逆的に低下させるため、オートクレーブ滅菌の前工程（前述した減圧工程）での陰圧環境などを利用して、減圧用ポンプなどの手段を別途必要とすることなく、空間Ｂを陰圧状態とすることができる。
【００９５】
このような逆止弁２１を用いることで、空間Ｂの圧力を変更する圧力変更手段の構成を比較的簡単なものとすることができる。
【００９６】
また、逆止弁２１が回路基板２５の使用時に空間Ｂを大気圧状態にし得るように構成されているため、内視鏡１０の使用時（電子部品の作動時）に、空間Ｂの伝熱性を高めて、回路基板２５の熱を空間Ｂを介してハウジング２３の外部へ放出させることができる。
【００９７】
さらに、本実施形態では、前述したように、回路基板２５が３つのハウジング２２、２３、２４により覆われていて、回路基板２５と内視鏡１０の外部との間に３つの空間Ａ、Ｂ、Ｃが介在している。そして、逆止弁２０が空間Ａの圧力を変更することにより、空間Ａの断熱特性も変化させるように構成されている。これにより、オートクレーブ滅菌時などの高温時であっても、逆止弁２０が空間Ａを陰圧状態とすることにより、空間Ａがハウジング２２の外部と回路基板２５との間を断熱して、より確実に電子部品２５１を熱から保護することができる。一方、内視鏡１０の使用時（電子部品２５１の作動時）などには、逆止弁２０が空間Ａの陰圧状態を解除することにより、空間Ａの伝熱性を高めて、回路基板２５の熱を空間Ａを介してハウジング２２の外部へ放出させることができる。そのため、より確実に、電子部品２５１の過昇温を防止して、電子部品２５１の故障や誤作動などの不具合を防止することができる。
【００９８】
また、逆止弁２０がハウジング２２の外部の圧力の低下に伴って空間Ａの圧力を不可逆的に低下させるように構成されているため、オートクレーブ滅菌の前工程での陰圧環境などを利用して、減圧用ポンプなどの手段を別途必要とすることなく、空間Ａを陰圧状態とすることができる。
【００９９】
このような逆止弁２０を用いることで、空間Ａの圧力を変更する他の圧力変更手段の構成を比較的簡単なものとすることができる。
【０１００】
また、逆止弁２０が回路基板２５の使用時に空間Ａを大気圧状態にし得るように構成されているため、内視鏡１０の使用時（電子部品の作動時）に、空間Ａの伝熱性を高めて、回路基板２５の熱を空間Ａを介してハウジング２２の外部へ放出させることができる。
【０１０１】
以上、本発明の内視鏡および内視鏡管理システムを図示の各実施形態について説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、各部材（各部）の構成は、同様の機能を有する任意のものに置換すること、もしくは、任意の構成を付加することもできる。
【０１０２】
また、本発明の内視鏡は、電子内視鏡（電子スコープ）の適用に限定されず、光学内視鏡（ファイバースコープタイプの内視鏡）に適用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【０１０３】
【図１】本発明の実施形態にかかる電子内視鏡を示す全体図である。
【図２】図１に示す電子内視鏡が備える光源差込部を示すの部分断面図である。
【図３】図２中のＡ−Ａ線断面図である。
【図４】図１に示す電子内視鏡に備えられた断熱機構を説明するための図である。
【符号の説明】
【０１０４】
１０          電子内視鏡
１１          挿入部可撓管
１２          湾曲部
１３          操作部
１４          接続部可撓管
１５          光源差込部
１６、１７    操作ノブ
１８          光源用コネクタ
１９          画像信号用コネクタ
２０          逆止弁
２１          逆止弁
２２          ハウジング（第３のハウジング）
２２１        貫通孔（他の連通部）
２２２        貫通孔
２３          ハウジング（第２のハウジング）
２３１        貫通孔（連通部）
２３２、２３３  ハーメチックコネクタ
２３４        箱体
２３５        蓋体
２３６        Ｏリング
２３７        ネジ
２３８        支持部材
２４          ハウジング（第１のハウジング）
２４１        支持部材（熱伝導部材）
２４２、２４３  ハーメチックコネクタ
２４４        箱体
２４５        蓋体
２４６        Ｏリング
２４７        ネジ
２４８        熱伝導性部材
２５          回路基板
２５１        電子部品
２００        外部装置
２１０        モニタ装置
２２０        ケーブル
Ａ            空間（第３の空間）
Ｂ            空間（第２の空間）
Ｃ            空間（第１の空間）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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