(57)【要約】【課題】  測定対象の発光源試料を３６０度回転させる機構を備え、受光器をＺ軸に対し一方向に±９０度のみの移動で３次元配光特性を測定可能とする省スペースの装置を提供する。【解決手段】    試料台１１と、試料台部１０と、前記試料台部１０を回転させる回転ステージ３０と、回転ステージを搭載する水平基板１００と、水平基板上に垂直に立設すると共に、回転軸受部を設けた立設板部４０と、立設板部の回転軸受部を支点として１８０度回転ができる回転板５０と、回転板の前記測定位置点側の表面上に固着させ、その測定位置点からの軸射線を前記所定径方向距離で受光し、強度を測定できる受光器６０と、発光源試料周辺を撮像する撮像カメラ７０と、を備え、発光源の測定位置点から前記所定径方向距離の球面座標（Ｚ軸方向δ＞０）及び周方向（θ）における光強度を前記回転板及び回転ステージをそれぞれ回転させ前記受光器で測定することを特徴とする。  【選択図】          図１
2008070290.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象の各種電極端子形状の発光源試料を予め定めた測定位置点に設定し、その測定位置点を球面座標系の中心とし、その座標中心から所定径方向距離における発光源試料の放射方向とその強度の関係を示す３次元配光特性を測定する装置であって、
前記発光源試料の各種電極端子に対応して把持する着脱自在及び交換自在の試料台と、その試料へ電力を供給するケーブル端を接続させる入力端子とからなる試料台部と、
前記試料台部を搭載し、上下（Ｚ軸）方向、左右（Ｘ軸）方向、前後（Ｙ軸）方向へ移動させ、それらの可動範囲内で前記測定位置中心に固定する３次元調整機構と、
前記試料台部を載せた３次元調整機構を搭載すると共に、把持されている試料の前記測定位置中心を通過するＺ軸の周りにその試料台を３６０度回転させる回転ステージと、
その回転ステージを水平に搭載する水平基板と、
その水平基板上に垂直に立設すると共に、前記測定位置中心からの垂線と交叉する位置にその垂線方向を軸とする回転軸受部を設けた立設板部と、
その立設板部の回転軸受部を支点として少なくとも１８０度回転ができる回転板と、
その回転板の前記測定位置点側の表面上に固着させ、その測定位置点からの輻射光線を前記所定径方向距離で受光し、その強度を測定できる受光器と、
その発光源試料周辺を撮像するカメラ装置と、を備え、
前記回転板を回転させて、そのカメラ装置を水平方向に向けて前記３次元調整機構でＺ軸方向を調整し、前記測定位置点の高さ位置に設定し、次にその回転板を９０度回転させ垂直方向に向けて前記カメラ装置でＸ及びＹ軸方向を調整し、前記測定位置点に合わせて設定し、
前記発光源の測定位置点から前記所定径方向距離の球面座標（Ｚ軸方向δ＞０）及びその周方向（θ）における光強度を、前記回転板及び回転ステージをそれぞれ回転させて前記受光器で測定することを特徴とする配光特性測定装置。
【請求項２】
前記発光源試料は発光ダイオード（ＬＥＤ）或いはその集合体であることを特徴とする請求項１記載の配光特性測定装置。
【請求項３】
前記発光源試料は発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、前記試料台部が、そのＬＥＤを把持する際、
（１）ＬＥＤの陽極・陰極端子がそれぞれ両面側にある場合は、前記入力端子の一方に接続する固定板と、前記入力端子の他方に接続する可動板の間に前記両側面を挟み、前記可動板に対し接触圧力を加えて接続させるサイドコンタクト型試料台を用い、
（２）ＬＥＤの陽極・陰極端子が同一側面両端にある場合は、それら両端の端子に対向して電極を配置し、それぞれが前記入力端子に接続する可動電極板に接触圧力を加えて接続させるサイドビュー型試料台を用い、
（３）ＬＥＤの陽極・陰極端子が裏面の両端にある場合は、その両端に対向して電極を配置し、それらが前記入力端子に接続する被吸着電極板に吸着用配管接続口から排気して接触圧力を加えて接続させる吸着型試料台を用い、
（４）ＬＥＤが砲弾型で、陽極・陰極端子がリード線からなる場合は、その両リード線に対応する２本のトンネル状電極に前記入力端子に接続した前記リード線を挿入し、ＬＥＤの上部から中空円板を被せることにより各リード線と前記トンネル状電極との接触圧力により接続させる砲弾型試料台を用いることを特徴とする請求項１記載の配光特性測定装置。
【請求項４】
前記３次元調整機構は、Ｚ軸方向調整用マイクロメータからなるＺ軸ステージと、Ｘ方向調整マイクロメータ及びＹ方向調整マイクロメータからなるＸＹステージとを備えることを特徴とする請求項１記載の配光特性測定装置。  
【請求項５】
前記回転ステージは、さらにそのステージを回転させるステッピングモータを前記水平基板上に設けることを特徴とする請求項１記載の配光特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象の各種電極端子形状を有する発光源試料を予め定めた測定位置点に設定し、その測定位置点を球面座標系の中心とし、その座標中心から所定径方向距離における発光源試料の光放射方向とその強度の関係を示す３次元配光特性を測定する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、発光源の配光特性を測定する装置は、光源から射出する光の強度を広い立体角範囲、例えば半球面座標系の立体角範囲の配光特性を測定する必要があった。
【０００３】
その配光特性を測定する場合、光源が点光源と見なしえる程度に、光源と測定用受光器との間の距離を大きくとる必要があった。すなわち、その光源の測定位置点から受光器までの所定径方向距離を予め設定しておく必要がある。
【０００４】
従って、３次元配光特性を測定するのに、従来は受光器を２方向に移動させなければならなかった。例えば、発光面の正面方向をＺ軸として、そのＺ軸を中心として受光器を回転させる円周（θ）方向と、Ｚ軸の方向に受光器を移動させる軸（Ｚ）方向である。
【０００５】
発光源を中心として、その点から前記所定距離を離して受光器を設置して、その受光器は発光源の周囲を３６０度回転して光強度を測定するようにしなければならないので、３次元配光特性測定装置は、大きなスペースを必要とする問題があった。
【０００６】
これらの問題を解決するものとして、発光面の正面方向のＺ軸に対して、予め異なる放射角度に対向する位置（前記所定径方向距離だけ離れた受光位置）に複数の受光部を配設した発明が特許文献１に開示されている。
【０００７】
この発明では、受光器の移動は円周方向の一方向３６０度回転のみであるが、３次元配光特性測定装置として大きなスペースを必要とする問題があった。
【０００８】
また、従来は、発光点の中心が何処にあるのかが、分かりにくかった。そのため、発光点を中心にした配光特性の測定精度は、良くなかった。さらに、ＬＥＤの配光測定を考える時に、発光面を中心にした配光特性か、或いは、樹脂先頭部（レンズ面頂部）を中心とした配光特性かと言う場合がある。目的によって必要とされた部位を中心とした、配光特性の測定が必要とされるが、従来の装置では難しい問題があった。またさらに、発光点の一部を選択して、その一部分のみから出た光の配光特性、例えば大面積で光る有機ＥＬから一部分の場所だけ選んでの配光測定が難しい問題があった。
【０００９】
【特許文献１】特開２００５−１７２６６５号公報（第２頁、第６図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は、測定対象の発光源試料を３６０度回転させる機構を備え、受光器をＺ軸に対し一方向に±９０度のみの移動で３次元配光特性を測定可能とする省スペースの装置を提供することを第１の目的とする。
【００１１】
また、発光源試料の形状、端子構造に対応して、容易に交換着脱を行える試料把持機構を提供することを第２の目的とする。
【００１２】
さらに、各種の発光源試料を把持する試料台の電極端子接続機構を提供し、装着、接続を容易に行う構成を提供することを第３の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
前記課題を解決するため本発明の配光特性測定装置は、測定対象の各種電極端子形状の発光源試料を予め定めた測定位置点に設定し、その測定位置点を球面座標系の中心とし、その座標中心から所定径方向距離における発光源試料の放射方向とその強度の関係を示す３次元配光特性を測定する装置であって、
前記発光源試料の各種電極端子に対応して把持する着脱自在及び交換自在の試料台と、その試料へ電力を供給するケーブル端を接続させる入力端子とからなる試料台部と、
前記試料台部を搭載し、上下（Ｚ軸）方向、左右（Ｘ軸）方向、前後（Ｙ軸）方向へ移動させ、それらの可動範囲内で前記測定位置中心に固定する３次元調整機構と、
前記試料台部を載せた３次元調整機構を搭載すると共に、把持されている試料の前記測定位置中心を通過するＺ軸の周りにその試料台を３６０度回転させる回転ステージと、
その回転ステージを水平に搭載する水平基板と、
その水平基板上に垂直に立設すると共に、前記測定位置中心からの垂線と交叉する位置にその垂線方向を軸とする回転軸受部を設けた立設板部と、
その立設板部の回転軸受部を支点として少なくとも１８０度回転ができる回転板と、
その回転板の前記測定位置点側の表面上に固着させ、その測定位置点からの輻射光線を前記所定径方向距離で受光し、その強度を測定できる受光器と、
その発光源試料周辺を撮像するカメラ装置と、を備え、
前記回転板を回転させて、そのカメラ装置を水平方向に向けて前記３次元調整機構でＺ軸方向を調整し、前記測定位置点の高さ位置に設定し、次にその回転板を９０度回転させ垂直方向に向けて前記カメラ装置でＸ及びＹ軸方向を調整し、前記測定位置点に合わせて設定し、
前記発光源の測定位置点から前記所定径方向距離の球面座標（Ｚ軸方向δ＞０）及びその周方向（θ）における光強度を、前記回転板及び回転ステージをそれぞれ回転させて前記受光器で測定することを特徴とする。
【００１４】
また、前記発光源試料は発光ダイオード（ＬＥＤ）或いはその集合体であることを特徴とする。
【００１５】
また、前記発光源試料は発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、前記試料台部が、そのＬＥＤを把持する際、
（１）ＬＥＤの陽極・陰極端子がそれぞれ両面側にある場合は、前記入力端子の一方に接続する固定板と、前記入力端子の他方に接続する可動板の間に前記両側面を挟み、前記可動板に対し接触圧力を加えて接続させるサイドコンタクト型試料台を用い、
（２）ＬＥＤの陽極・陰極端子が同一側面両端にある場合は、それら両端の端子に対向して電極を配置し、それぞれが前記入力端子に接続する可動電極板に接触圧力を加えて接続させるサイドビュー型試料台を用い、
（３）ＬＥＤの陽極・陰極端子が裏面の両端にある場合は、その両端に対向して電極を配置し、それらが前記入力端子に接続する被吸着電極板に吸着用配管接続口から排気して接触圧力を加えて接続させる吸着型試料台を用い、
（４）ＬＥＤが砲弾型で、陽極・陰極端子がリード線からなる場合は、その両リード線に対応する２本のトンネル状電極に前記入力端子に接続した前記リード線を挿入し、ＬＥＤの上部から中空円板を被せることにより各リード線と前記トンネル状電極との接触圧力により接続させる砲弾型ＬＥＤ試料台を用いることを特徴とする。
【００１６】
また、前記３次元調整機構は、Ｚ軸方向調整用マイクロメータからなるＺ軸ステージと、Ｘ方向調整マイクロメータ及びＹ方向調整マイクロメータからなるＸＹステージとを備えることを特徴とする。  
【００１７】
また、前記回転ステージは、さらにそのステージを回転させるステッピングモータを前記水平基板上に設けることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明は、以下に示す効果を奏する。すなわち、発光源試料を把持した試料台側を３６０度回転可能とする回転ステージを配設することにより、受光器は一方向の移動（発光源試料の発光面の正面方向のＺ軸に対して±９０度の放射角範囲の移動）のみとして、３次元配光特性測定を行えるため、従来の１／２のスペースの装置とすることができる。
【００１９】
また、回転ステージに載せた試料台は、試料を把持した状態で交換自在の機構を備えるため、発光源試料を入れ替えてそれぞれの試料の配光特性を効率よく測定することができる。特に試料の電極端子の配置・構造が異なる場合でも、その試料に対応する各種試料台を提供できるため、交換を容易に行うことができる。
【００２０】
また、発光源試料（ＬＥＤ）を各種電極端子に対応する試料台にセットするに際して、その電極端子（陽極端子、陰極端子）と、試料台の入力端子との間の接続が着脱自在であり、同時にその試料台を搭載する３次元調整機構に交換自在となるので、測定作業が効率的に行うことができる。すなわち従来のような半田付け電極接続、取り外しなどの手数がかからない。
【００２１】
また、測定対象の発光源試料、特にＬＥＤを把持する試料台をその台を搭載した３次元調整機構によりその測定位置点を測定前に任意に設定することができる。発光源試料（ＬＥＤ）を各種電極端子に対応する試料台にセットした場合、そのセットされた毎に発光体の測定位置点を微細に調整することができる。このため、異なる形状及び電極配置の発光源試料（ＬＥＤ）を容易に効率的に測定することができる。
【００２２】
また、受光器と並行して撮像カメラを備えているため、発光源試料（ＬＥＤ）の画像データと共に、配光特性測定値データを同時に取得することができるため、画像データと配光特性測定データを合成して表示するデータを得ることができる。
【００２３】
さらに、撮像カメラを備えていることにより、カメラでの映像と、検出器が覗いている部分の印を画面上で同時に表示して、測定したい部位に印を合わせる事で、正確に測定部位に合わせる事が出来る様になり、発光点の中心が何処にあるのかが正確に分かり発光点を中心にした配光特性の測定が高い精度で行えるようになった。例えば、発光面を中心にした配光特性か、或いは、樹脂先頭部（レンズ面頂部）を中心とした配光特性か、目的によって必要とされた部位を中心とした配光特性の測定が出来る。
【００２４】
またさらに、受光器先端（試料台を向いている方向）についているレンズユニットを交換する事で、発光点の一部を選択して、その一部分のみから出た光の配光特性を計ることができる。例えば、大面積で光る有機ＥＬから、一部分の場所だけ選んでの配光測定が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下図に基づいて本発明の実施形態を詳細に説明する。図１は、本発明の配光特性測定装置の一実施例の斜視図を示し、図２（ａ）はその正面図、（ｂ）は側面図を示す。いずれも水平基板１００の上に搭載されている。
【００２６】
図において、１は発光源試料、具体的には発光ダイオード（ＬＥＤ）などである。１０は試料台部を示し、１１は試料台（ワンタッチ交換型試料台）、試料台１１は試料へ電力を供給するケーブル端を接続する入力端子１１ａ、１１ｂを備える。
【００２７】
１２は試料台１１をワンタッチで受けて固定できる試料台部ワンタッチ受部である。
【００２８】
２０は３次元調整機構（ＸＹＺステージ）であり、その上に試料台１１を載せた試料台部ワンタッチ受部１２がある。
【００２９】
３次元調整機構２０は、Ｚステージ、Ｘステージ、Ｙステージからなり、それぞれマイクロメータ２１ａ、２２ａ、２３ａによって各ステージをＺ軸方向、Ｘ−Ｙ軸方向へ移動させることができる。
【００３０】
３０は回転ステージであり、その上に３次元調整機構２０を搭載してＺ軸を中心として３６０度回転可能である。従って試料台１１も３６０度回転される。
【００３１】
３０ａは回転ステージ３０を回転させるステッピングモータである。４０は水平基板１００の上に立設された板状の立設板部である。
【００３２】
図２（ｂ）の側面図に示されるように回転軸受部４０ａが立設板部４０に設けられている。
【００３３】
５０は回転板であり、回転軸５０ａを支点として回転する。回転角度は垂直方向を０度として垂直方向となす角度±９０度以上回転する。±１１０度程度回転できるものが望ましい。  
【００３４】
６０は受光器であり測定位置点の光線を分光器付きラインセンサーなどで検出する。７０は撮像カメラであり、後述する発光源試料１の測定位置点の位置合わせに使用する。
【００３５】
受光器６０及び撮像カメラ７０は回転板５０に搭載して固定する。
【００３６】
次に、測定位置点について以下に詳しく説明する。
【００３７】
ＬＥＤなどの発光源試料１を載せた試料台１１は、３次元調整機構２０を介して回転ステージ３０に搭載し、水平基板１００の上に水平に固定されている。
【００３８】
この構造で、回転ステージ３０を垂直方向のＺ軸に対して３６０度θ方向に回転したとき、発光源試料１の測定したい発光点が移動しないようにＸステージ２２とＹステージ２３によりＸ、Ｙ方向を調整して発光源試料１を水平方向に移動させる必要がある（図３参照）。以上がＸ、Ｙ方向の測定位置点の位置合わせである。
【００３９】
さらに、この構造で、回転板５０を前述のように少なくとも±１１０度回転して水平方向に撮像カメラ７０を発光源試料１に向けたとき、発光源試料１の測定したい発光点が丁度水平位置になるようにＺステージ２１によりＺ方向を調整する（図４参照）。
【００４０】
Ｘステージ２２、Ｙステージ２３による水平面方向の移動により、発光源試料１のＸＹ面座標における測定位置点が定まり、さらにＺステージ２１による垂直方向の調整によりＺ軸座標における測定位置点が定まる。
【００４１】
すなわち、測定位置点はＸＹＺの３ステージを有する３次元調整機構２０により測定前に予め設定することができる。
【００４２】
図３は、撮像カメラ７０上面から発光源試料１をセットした試料台部１０、３次元調整機構２０、回転ステージ３０を見た図である。回転ステージ３０の回転軸（Ｚ軸）を３６０度θ方向に回転させても発光点の中心が回転するように、発光点をＺ軸に合わせるようにＸステージ、Ｙステージを調整する。
【００４３】
図４は、撮像カメラ７０で発光源試料１をセットした試料台部１０の高さを側面から見た図である。
【００４４】
立設板部４０の回転軸受部４０ａに入る回転軸５０ａを支点として回転板５０が回転し、撮像カメラ７０が水平方向を向いた状態を示している。この状態でＺステージで試料台部１０の高さを調整する。この調整により水平基板からの発光点の高さは回転軸受部４０ａの高さと同一となり、図４に示すように回転軸受部４０ａの中心部の孔の中心に発光点の位置が重なるように見える。
【００４５】
図３及び図４に示した３次元調整機構２０による発光源試料１の発光点の位置調整を行い、測定位置点に設定されたときは、その発光点から回転板５０への垂線は、回転軸受部４０ａの中心を通る。
【００４６】
なお、図５（ａ）は、発光源試料１（ＬＥＤ）をＸＹ方向調整時の回転板５０及び撮像カメラ７０と発光源試料１（ＬＥＤ）の関係を示す。撮像カメラ７０の中心軸は発光源試料１（ＬＥＤ）を通る垂直な回転軸（Ｚ軸）と一致する。
【００４７】
また、図５（ｂ）は、発光源試料１（ＬＥＤ）をＺ方向調整時の回転板５０及び撮像カメラ７０と発光源試料１（ＬＥＤ）の関係を示す。撮像カメラ７０の中心軸は水平線となり発光源試料１（ＬＥＤ）の発光面を通る。
【００４８】
次に、発光源試料１（ＬＥＤ）の各種の電極端子に対応した把持構造を有する試料台１１において、発光源試料１を次々に替えて測定する場合の操作を説明する。
【００４９】
なお、発光源試料１（ＬＥＤ）などの各種の電極端子の具体的な構造については後述する。いずれにしても、試料台１１は試料台部ワンタッチ受部１２に着脱自在であり、発光源試料１の交換も半田付けなしで交換自在の構造としている。
【００５０】
試料台１１において、セットされている発光源試料１を他の発光源試料１に交換する場合、その発光源試料１の測定位置点が機械的な精度誤差で異なる場合があっても、図５に示したような測定位置点の設定により正しい位置に移動させる。
【００５１】
発光源試料１（ＬＥＤ）の電極構造（配置）などに対応して試料台１１を変えて、セットされた他の試料台１１にワンタッチ交換する場合は、その発光源試料１（ＬＥＤ）の測定位置点が当然異なるので、それに合わせて図５に示したような測定位置点の設定を行う必要がある。
【００５２】
次に、図６に基づいて発光源試料１（ＬＥＤ）を測定位置点に設定したときの測定動作を説明する。
【００５３】
図６において、Ｚ軸は測定位置点を通過する垂直方向である。このＺ軸は最初、受光器６０の受光軸に一致させて、その光の強度を測定する（この場合回転ステージ３０を回転させても当然変化しない）。
【００５４】
次に、発光源試料１の発光点を球面座標の中心として、受光器６０をＺ軸から角度δ離れた位置に回転させて測定する。少なくとも９０度或いはそれ以上回転させて、予め定めた角度毎に受光器６０で光の強度を測定する。その際、各角度毎に回転ステージ３０をθ方向に３６０度回転させて、予め定めた角度θ毎に受光器６０で光の強度を測定する。
【００５５】
光の強度Ｉはその中心から所定径方向距離Ｒにおける（δ、θ）で定まる座標パラメータによる関数で表される。
Ｉ＝ｆ（Ｒ、δ、θ）
【００５６】
図７から図１０に基づき、各種電極端子に対応した発光源試料１を把持する機構を備えた試料台１１について説明する。
【００５７】
図７は、陽極と陰極の電極端子が立方体状の両側面それぞれ設けてあるＬＥＤ１の試料台１１−１（サイドコンタクト型試料台）を示す。図７において、（ａ）は両側面に陽極（アノード）端子１ａ、陰極（カソード）端子１ｂを設けたＬＥＤ１を示し、（ｂ）はそのＬＥＤ１をセットした試料台１１−１の斜視図、（ｃ）は（ｂ）の、Ｚ軸に沿うＡ−Ａ´断面図を示す。
【００５８】
図７（ｃ）において、１１ｘは固定側端子板、１１ｙは可動側端子板、１１ｃは圧縮バネ，１１ｄは開放ピストンである。開放ピストン１１ｄを内部に押すと可動側端子板１１ｙは左側へ移動し、ＬＥＤ１の陽極端子１ａ、陰極端子１ｂから固定側端子板１１ｘ、可動側端子１１ｙが離れてＬＥＤ１の取り出しができる。
【００５９】
開放ピストン１１ｄの押圧を離した自然の状態では、それぞれ圧縮バネ１１ｃにより自動的に可動側端子板１１ｙが狭まり，ＬＥＤ１の電極端子１ａ、１ｂへ接触する機構である。
【００６０】
なお、１１ａ、１１ｂは電力供給ケーブルと接続する入力端子であり内部でそれぞれ１１ｘ、１１ｙと接続されている。この構造により、ＬＥＤ１の取替え測定にあたり半田付けが不要でることから作業効率が向上する。
【００６１】
図８は、同側面の両辺側にそれぞれ陽極端子１ａ、陰極端子１ｂが設けてあるＬＥＤ１の試料台１１−２（サイドビュー型試料台）を示す。図８（ａ）は、電極端子１ａ、１ｂの中間部に発光部があるＬＥＤ１を示す。
【００６２】
図８（ｂ）は、そのＬＥＤ１をセットした試料台１１−２の斜視図である。１１ｙ、１１ｚは自然状態で同時にＬＥＤ１の電極端子１ａ、１ｂを押さえて接触する可動電極である。ＬＥＤ１を取り替えるときは開放ピストン１１ｄを押して開放する。
【００６３】
図８（ｃ）は、入力端子１１ａ、１１ｂを示す。これらは内部で可動側端子板１１ｙ、１１ｚとそれぞれ接続されている。試料台１１−２も試料台１１−１と同様な効果を奏する。
【００６４】
図９は、発光面の反対側に電極端子を設けた裏面電極型のＬＥＤの試料台１１−３（吸着型試料台）を示す。（ａ）はそのＬＥＤ１の構造を示す。
【００６５】
図９（ｂ）は、試料台１１−３の斜視図である。１１ｅは吸着配管接続口の吸着穴である。裏面電極型のＬＥＤ１は上部中心付近にセットする。
【００６６】
図９（ｃ）、（ｄ）は上部中心付近の拡大図である。図９（ｃ）はＬＥＤセット前の図、（ｄ）はＬＥＤセット時を示す図である。（ｃ）において中心部には吸着穴１１ｅ、その両端には電極パット１１ｆ、１１ｇがある。
【００６７】
図９（ｄ）は、ＬＥＤ１がセットされたときで、ＬＥＤ１の裏面中央が吸着穴１１ｅにより吸着され、それぞれの電極端子１ａ、１ｂが電極パット１１ｆ、１１ｇに接触接続される。
【００６８】
その電極パット１１ｆ、１１ｇは試料台１１−３（吸着型試料台）の内部で入力端子に接続されている（図示省略）。
【００６９】
図１０は、ＬＥＤ１が砲弾型の試料台１１−４（砲弾型ＬＥＤ試料台）を示す。
【００７０】
図１０（ａ）は、その砲弾型ＬＥＤ１を示す。１ａ、１ｂは電極端子である。
【００７１】
図１０（ｂ）は、このＬＥＤ１がセットされた試料台１１−４（砲弾型ＬＥＤ試料台）の斜視図である。１１ｈは圧力ネジであり、これを回転することによって砲弾型のＬＥＤ１の両電極端子１ａ、１ｂに圧力を加え試料台１１−４（砲弾型ＬＥＤ試料台）にある入力端子に接触接続させる（図示省略）。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】本発明の配光特性測定装置の一実施例の斜視図である。
【図２】本発明の配光特性測定装置を示し，（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。
【図３】測定位置点を設定するとき上面から見た状態を示す図である。
【図４】測定一点を設定するとき水平方向の側面から見た状態を示す図である。
【図５】（ａ）は、ＬＥＤのＸＹ方向調整時の位置関係を示す図、（ｂ）は、ＬＥＤのＺ方向調整時の位置関係を示す図である。
【図６】測定動作時の受光器の移動位置を示す図である。
【図７】サイドコンタクト型試料台の構造を説明する図で、（ａ）はＬＥＤ、（ｂ）は試料台の斜視図、（ｃ）は（ｂ）のＡ−Ａ´断面図である。
【図８】サイドビュー型試料台の構造を説明する図で、（ａ）はＬＥＤ、（ｂ）は試料台の斜視図、（ｃ）は入力端子を示す断面図である。
【図９】吸着型試料台の構造を説明する図で、（ａ）はＬＥＤ、（ｂ）は試料台の斜視図、（ｃ）は上部拡大図、（ｄ）は、ＬＥＤを搭載した上部拡大図である。
【図１０】砲弾型ＬＥＤ試料台の構造を説明する図で、（ａ）はＬＥＤ、（ｂ）は、試料台の斜視図である。
【符号の説明】
【００７３】
１    発光源試料、ＬＥＤ
１ａ  陽極端子（電極端子）
１ｂ  陰極端子（電極端子）
１０    試料台部
１１    試料台、ワンタッチ交換型試料台
１１−１  試料台、サイドコンタクト型試料台（両側面電極型）
１１−２  試料台、サイドビュー型試料台（同側面電極型）
１１−３  試料台、吸着型試料台（裏面電極型）
１１−４  試料台、砲弾型ＬＥＤ試料台
１１ａ  入力端子（電力供給端子）
１１ｂ  入力端子（電力供給端子）
１１ｃ  圧縮バネ
１１ｄ  開放ピストン
１１ｅ  吸着穴（吸着配管接続口）
１１ｆ  電極パット
１１ｇ  電極パット
１１ｘ  固定側端子板
１１ｙ  可動側端子板
１１ｚ  可動側端子板
１２    試料台部ワンタッチ受部
２０    ３次元調整機構（ＸＹＺステージ）
２１    Ｚステージ
２１ａ  マイクロメータ
２２    Ｘステージ
２２ａ  マイクロメータ
２３    Ｙステージ
２３ａ  マイクロメータ
３０    回転ステージ
３０ａ  ステッピングモータ
４０    立設板部
４０ａ  回転軸受部
５０    回転板
５０ａ  回転軸
６０    受光器
７０    撮像カメラ（カメラ装置）
１００    水平基板
１００ａ  水平調節ネジ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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