(57)【要約】【課題】試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの出力変化時特性の試験が行えるＩＣテスタ及び試験方法を実現することを目的にする。【解決手段】本発明は、薄型ディスプレイドライバの試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。本装置は、薄型ディスプレイドライバの階調出力に基づく、電圧を入力する逐次比較型Ａ／Ｄコンバータと、この逐次比較型Ａ／Ｄコンバータに、薄型ディスプレイドライバの出力の静定測定時より、薄型ディスプレイドライバの出力の変化測定時のサンプリングクロックの周期を短くして与えるクロック発生部とを備えたことを特徴とする装置である。【選択図】図１
2008076091.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
薄型ディスプレイドライバの試験を行うＩＣテスタにおいて、
前記薄型ディスプレイドライバの階調出力に基づく、電圧を入力する逐次比較型Ａ／Ｄコンバータと、
この逐次比較型Ａ／Ｄコンバータに、前記薄型ディスプレイドライバの出力の静定測定時より、薄型ディスプレイドライバの出力の変化測定時のサンプリングクロックの周期を短くして与えるクロック発生部と
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
【請求項２】
薄型ディスプレイドライバの出力と期待値との差電圧を出力し、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータに出力する差電圧発生部を設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタ。
【請求項３】
薄型ディスプレイドライバは、多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバであることを特徴とする請求項１または２記載のＩＣテスタ。
【請求項４】
薄型ディスプレイドライバの出力電流を電圧に変換し、逐次比較型Ａ／Ｄ変換器に出力するＩ／Ｖ変換器を設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタ。
【請求項５】
薄型ディスプレイドライバは、多階調電流を出力する有機ＥＬドライバであることを特徴とする請求項１，２，４のいずれかに記載のＩＣテスタ。
【請求項６】
薄型ディスプレイドライバを逐次比較型Ａ／Ｄコンバータを用いて試験する試験方法であって、
前記薄型ディスプレイドライバの出力の変化測定時に、前記逐次比較型Ａ／Ｄコンバータのサンプリングクロックの周期を短くすると共に、前記薄型ディスプレイドライバの出力の静定測定時に、前記逐次比較型Ａ／Ｄコンバータのサンプリングクロックの周期を長くすることを特徴とする試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、薄型ディスレプイドライバ、例えば、液晶駆動ドライバ、有機ＥＬ（electroluminescence）ドライバ等の試験を行うＩＣテスタ及び試験方法に関し、試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの出力変化時特性の試験が行えるＩＣテスタ及び試験方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶駆動ドライバは、複数ピンから多段階（多階調）電圧を出力し、液晶ディスプレイを駆動している。このような液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタは、例えば、特許文献１等に記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−６９９７０号公報
【０００４】
このような装置では、液晶駆動ドライバの出力階調電圧が静定した後、Ａ／Ｄコンバータが電圧を測定する。そして、測定結果であるデジタルデータにより、液晶駆動ドライバの各ピンの出力電圧の絶対値の大きさ、ピン間の出力電圧のバラツキの大きさ、最大値、最小値などを求めていた。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
近年、液晶ディプレイの大型化、高速化に伴い、画面のちらつき等を抑制するために、液晶駆動ドライバの出力の立ち上がり、立ち下がり特性が問題になってきた。
【０００６】
しかし、出力の立ち上がり、立ち下がり（変化時）特性を試験するためには、液晶駆動ドライバの出力変化時をサンプリングしなければならないが、高速に変化する波形のため、図５に示すように、液晶駆動ドライバに同じ波形を３回繰り返し出力させ、異なるタイミングでサンプリングを行い、立ち上がり、立ち下がり特性の試験を行う必要がある。このため、試験時間がかかってしまうという問題点があった。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの出力変化時特性の試験が行えるＩＣテスタ及び試験方法を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
薄型ディスプレイドライバの試験を行うＩＣテスタにおいて、
前記薄型ディスプレイドライバの階調出力に基づく、電圧を入力する逐次比較型Ａ／Ｄコンバータと、
この逐次比較型Ａ／Ｄコンバータに、前記薄型ディスプレイドライバの出力の静定測定時より、薄型ディスプレイドライバの出力の変化測定時のサンプリングクロックの周期を短くして与えるクロック発生部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
薄型ディスプレイドライバの出力と期待値との差電圧を出力し、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータに出力する差電圧発生部を設けたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明であって、
薄型ディスプレイドライバは、多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバであることを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
薄型ディスプレイドライバの出力電流を電圧に変換し、逐次比較型Ａ／Ｄ変換器に出力するＩ／Ｖ変換器を設けたことを特徴とする。
請求項５記載の発明は、請求項１，２，４のいずれかに記載の発明であって、
薄型ディスプレイドライバは、多階調電流を出力する有機ＥＬドライバであることを特徴とするものである。
請求項６記載の発明は、
薄型ディスプレイドライバを逐次比較型Ａ／Ｄコンバータを用いて試験する試験方法であって、
前記薄型ディスプレイドライバの出力の変化測定時に、前記逐次比較型Ａ／Ｄコンバータのサンプリングクロックの周期を短くすると共に、前記薄型ディスプレイドライバの出力の静定測定時に、前記逐次比較型Ａ／Ｄコンバータのサンプリングクロックの周期を長くすることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータのサンプリングクロックの周期を変化させ、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータが薄型ディスプレイドライバの出力を測定するので、薄型ディスプレイドライバの出力の変化測定時は、高速にデータを取得でき、静定測定時に高精度にデータを取得できる。従って、試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの変化時特性試験が行えると共に、静定時試験も行える。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の第１の実施例を示した構成図である。
【００１１】
図１において、液晶駆動ドライバ１は薄型ディスプレイドライバで、複数ピンから多階調電圧を出力する。逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２は、液晶駆動ドライバ１の多階調電圧の出力ピンごとに設けられ、液晶駆動ドライバ１の出力をデジタルデータに変換する。逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２は、例えば、サンプリング周期が１０μｓのときは、分解能が１６ビットだが、サンプリング周期が５μｓのときは、分解能が８ビットで動作する。演算部３は、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２の出力を入力し、演算処理を行う。クロック発生部４は、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２のサンプリングクロックを変化させて、液晶駆動ドライバ１の出力の静定測定時より、液晶駆動ドライバ１の出力の変化測定時のサンプリングクロックの周期を短くして与える。
【００１２】
このような装置の動作を以下に説明する。図２は、図１に示す装置の動作を説明する図である。図２の横軸は時間、縦軸は出力電圧、矢印はサンプリングクロックのタイミングである。
【００１３】
液晶駆動ドライバ１が、図２に示すように電圧を出力する。クロック発生部４が、液晶駆動ドライバ１の立ち上がり時のサンプリングクロックの周期（ｔ１）を短くし、静定時にサンプリングクロックの周期（ｔ２）を長くして、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２に出力する。逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２は、液晶駆動ドライバ１の出力電圧を、クロック発生部４からのクロックにより、デジタルデータに変換する。このとき、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２は、サンプリングクロックの周期が短いとき、逐次比較動作が完了せず、測定結果の分解能が小さく、サンプリングクロックの周期が長いとき、逐次比較動作が完了し、測定結果の分解能が大きくなる。そして、演算部３は、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２の出力により、液晶駆動ドライバ１の出力変化時特性試験や各ピンの出力電圧の絶対値の大きさ、ピン間バラツキの試験等を行う。
【００１４】
ここで、階調電圧の立ち上がり時に測定動作を説明したが、立ち下がり時も同様な動作なので説明を省略する。また、液晶駆動ドライバ１の出力の変化時は、測定データの精度は要求されない。一方、静定時は、測定データの精度は要求される。つまり、変化時に、測定結果の分解能が小さくても、精度が要求されていないので、変化時特性試験には十分である。
【００１５】
このように、クロック発生部４が、サンプリングクロックを変化させ、このサンプリングクロックにより、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２が液晶駆動ドライバ１の出力を測定するので、液晶駆動ドライバ１の出力の変化測定時は、高速にデータを取得でき、静定測定時は、高精度にデータを取得できる。従って、試験時間を抑制しつつ、液晶駆動ドライバ１の変化時特性試験が行える。
【００１６】
次に、第２の実施例を、図３を用いて説明する。ここで、図１と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００１７】
図３において、有機ＥＬドライバ５は薄型ディスプレイドライバで、液晶駆動ドライバ１の代わりに設けられ、複数のピンから多階調電流を出力する。Ｉ／Ｖ変換器６は、有機ＥＬドライバ５の多階調電流出力ピンごとに設けられ、有機ＥＬドライバ５の多段階電流を電圧に変換し、逐次比較型Ａ／Ｄ変換器２に出力する。
【００１８】
このような装置は、液晶駆動ドライバ１が有機ＥＬドライバ５に代わっただけで、有機ＥＬドライバ５が電流出力のため、Ｉ／Ｖ変換器６が設けられている。その他の動作は、図１に示す装置と同様なので、説明を省略する。
【００１９】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、図２に示すように、液晶駆動ドライバ１の出力の変化時と静定時の測定を、サンプリングクロックの周期を変更して、同時に行う例を示したが、同時に行わなくともよい。つまり、図２に示すすべての区間で一定のサンプリングクロックの周期で測定を行う。すなわち、液晶駆動ドライバ１の階調電圧出力に対して、一定のサンプリングクロックで測定し、同じ試験条件の階調電圧出力で、サンプリングクロックの周期を変えて、一定のサンプリングクロックで測定を行う構成でもよい。
【００２０】
また、図１に示す装置の液晶ディスプレイ１と逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２との間に、図４に示すように、期待値電圧を液晶駆動ドライバ１の出力から減算する構成にしてもよい。つまり、Ｄ／Ａコンバータ７が、期待値電圧を発生する。そして、減算器８は、液晶駆動ドライバ１の出力とＤ／Ａコンバータ７の期待値電圧との差電圧を出力し、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２に出力する。ここで、Ｄ／Ａコンバータ７と減算器８とが、差電圧発生部を構成する。もちろん、減算器８の代わりに加算器を用いてもよい。この場合、Ｄ／Ａコンバータ７が負の電圧を出力することはいうまでもない。
【００２１】
また、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２を液晶駆動ドライバ１のピンごとに設けた構成を示したが、マルチプレクサで液晶駆動ドライバ１のピンを選択し、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２に接続する構成でもよい。
【００２２】
また、図３に示す装置のＩ／Ｖ変換器６と逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２との間に、期待値電圧を発生するＤ／Ａコンバータ、このＤ／Ａコンバータの出力とＩ／Ｖ変換器６の出力とを減算し、逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ２に出力する減算器の構成を設けてもよい。この場合、Ｉ／Ｖ変換器６とＤ／Ａコンバータと減算器とが、差電圧発生部を構成する。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の第１の実施例を示した構成図である。
【図２】図１の装置の動作を説明する図である。
【図３】本発明の第２の実施例を示した構成図である。
【図４】本発明の第３の実施例を示した構成図である。
【図５】従来のＩＣテスタの動作を説明する図である。
【符号の説明】
【００２４】
１  液晶駆動ドライバ
２  逐次比較型Ａ／Ｄコンバータ
３  演算部
４  クロック発生部
５  有機ＥＬドライバ
６  Ｉ／Ｖ変換器
７  Ｄ／Ａコンバータ
８  減算器
【図１】
2008076091.tif 000003
【図２】
2008076091.tif 000004
【図３】
2008076091.tif 000005
【図４】
2008076091.tif 000006
【図５】
2008076091.tif 000007