(57)【要約】【課題】試験モジュールの種類に応じた機能を使用者が操作する場合の負担を軽減する。【解決手段】被試験デバイスを試験する試験モジュールを備える試験装置用のプログラムであって、試験装置を制御する制御装置上で実行され、各種の試験モジュールに共通する機能を提供する共通機能提供プログラムと、制御装置上で実行され、試験モジュールの種類に応じた機能を提供する個別機能提供プログラムをプラグインするプラグイン処理プログラムと、を備えるプログラムを提供する。【選択図】図１
2008268213.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験デバイスを試験する試験モジュールを備える試験装置用のプログラムであって、
前記試験装置を制御する制御装置上で実行され、各種の前記試験モジュールに共通する機能を提供する共通機能提供プログラムと、
前記制御装置上で実行され、前記試験モジュールの種類に応じた機能を提供する個別機能提供プログラムをプラグインするプラグイン処理プログラムと
を備えるプログラム。
【請求項２】
前記共通機能提供プログラムは、前記制御装置上で実行されて、各種の前記試験モジュールに共通する機能を、グラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）を介して提供し、
前記個別機能提供プログラムは、前記試験装置上で実行されて、前記試験モジュールの種類に応じた機能を、ＧＵＩを介して提供する
請求項１に記載のプログラム。
【請求項３】
前記個別機能提供プログラムは、前記制御装置上で実行され、前記試験モジュールの種類に応じた機能を選択させるＧＵＩを提供する請求項２に記載のプログラム。
【請求項４】
前記個別機能提供プログラムは、前記制御装置上で実行され、前記試験モジュールに対して供給するデータまたは前記試験モジュールから取得したデータを、前記共通機能提供プログラムにより表示されたウィンドウの子ウィンドウにより表示させる請求項２に記載のプログラム。
【請求項５】
前記個別機能提供プログラムは、前記制御装置上で実行され、前記試験モジュールに対して供給するデータまたは前記試験モジュールから取得したデータを、前記共通機能提供プログラムにより表示されたウィンドウの内部にグラフィック表示させる請求項２に記載のプログラム。
【請求項６】
当該プログラムは、前記制御装置上で実行されて、前記試験装置が前記被試験デバイスに対して供給するべき試験パターンおよび前記被試験デバイスの出力信号が満たすべき期待値を示す期待値パターンの少なくとも一方を表示または編集する機能を提供する請求項１に記載のプログラム。
【請求項７】
当該プログラムは、前記制御装置上で実行されて、前記被試験デバイスの出力信号を前記試験モジュールから取得して前記出力信号の波形を表示する機能を提供する請求項１に記載のプログラム。
【請求項８】
当該プログラムは、前記制御装置上で実行されて、前記被試験デバイスの動作余裕度を表示する機能を提供する請求項１に記載のプログラム。
【請求項９】
当該プログラムは、前記制御装置上で実行されて、前記被試験デバイスの試験信号の条件毎の試験結果をプロットしたシュム波形を表示する機能を提供する請求項１に記載のプログラム。
【請求項１０】
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
当該試験装置を制御する制御装置と、
前記被試験デバイスを試験する各種の試験モジュールのうち、使用者が選択した試験モジュールをそれぞれ実装可能な複数のスロットと
を備え、
前記制御装置は、前記試験装置を使用者に操作させるためのプログラムの実行において、
前記プログラムに含まれる共通機能提供プログラムを実行して、各種の前記試験モジュールに共通する機能を提供し、
前記プログラムに含まれるプラグイン処理プログラムを実行して、前記試験モジュールの種類に応じた機能を提供する個別機能提供プログラムを前記プログラムに対してプラグインし、
前記プログラムから前記個別機能提供プログラムが呼び出されたことに応じて前記個別機能提供プログラムを実行して、前記個別機能提供プログラムに対応する前記試験モジュールに応じた機能を提供する
試験装置。
【請求項１１】
前記制御装置は、
前記共通機能提供プログラムを実行して、各種の前記試験モジュールに共通する機能を、グラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）を介して提供し、
前記個別機能提供プログラムを実行して、対応する前記試験モジュールの種類に応じた機能を、ＧＵＩを介して提供する
請求項１０に記載の試験装置。
【請求項１２】
前記試験モジュールの種類毎に、機能が異なる２以上の前記個別機能提供プログラムが提供され、
前記制御装置は、機能が異なる２以上の前記個別機能提供プログラムが共通して利用する、前記試験モジュールの管理のためのインターフェイスクラスを提供し、
前記インターフェイスクラスは、前記試験モジュールの種類に応じた制御を行う前記試験モジュールに固有のプログラムによって実装され、
それぞれの前記個別機能提供プログラムは、前記インターフェイスクラスを継承する
請求項１０に記載の試験装置。
【請求項１３】
前記試験装置は、使用者が選択した複数の前記試験モジュールを実装可能であり、
前記制御装置は、当該試験装置を制御するシステム制御装置と、前記被試験デバイスに対応して設けられ、対応する前記被試験デバイスの試験を制御するサイト制御装置とを有し、
前記システム制御装置は、前記プログラムおよび前記個別機能提供プログラムを実行し、
前記サイト制御装置は、
前記複数の試験モジュールのそれぞれに対応して、当該試験モジュールを制御するモジュールドライバをロードして実行し、
複数の前記個別機能提供プログラムのそれぞれに対応して設けられ、前記試験モジュールに対応する前記モジュールドライバを介して前記試験モジュールを制御する個別機能提供ライブラリを、前記サイト制御装置上で実行されて前記プログラムをサポートするサポートプログラムにプラグインし、
プラグインした複数の前記個別機能提供ライブラリのそれぞれを呼び出して実行し、それぞれの前記個別機能提供ライブラリが制御する前記試験モジュールの識別子を受け取り、
複数の前記モジュールドライバのそれぞれを呼び出して、それぞれの前記モジュールドライバが制御する前記試験モジュールの識別子を受け取り、
それぞれの前記試験モジュールを制御する前記モジュールドライバおよび前記個別機能提供ライブラリから受け取った前記識別子同士が一致したことを条件として、それぞれの前記試験モジュールと、当該試験モジュールに応じた機能を提供する前記個別機能提供ライブラリとを対応付ける
請求項１０に記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プログラムおよび試験装置に関する。特に本発明は、被試験デバイスを試験する試験モジュールを備える試験装置用のプログラム、および、被試験デイバスを試験する試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＵＴ（被試験デバイス）を試験する試験装置が知られている。試験装置は、試験モジュールと、試験モジュールを搭載するテストヘッドと、システム制御装置とを備える。
【０００３】
試験モジュールは、試験パターンに応じた試験信号を生成し、生成した試験信号をＤＵＴに対して出力する。また、試験モジュールは、試験信号に応じてＤＵＴから出力された出力信号を取り込み、取り込んだ出力信号と期待値とを比較する。そして、試験モジュールは、比較結果に基づき、ＤＵＴを良否判定する。
【０００４】
システム制御装置は、操作プログラムを実行し、試験パターンおよび期待値等を試験モジュールに設定等するためのグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）を使用者に対して提供する。そして、システム制御装置は、使用者による入力に応じて、テストヘッド内に搭載した各試験モジュールに対して試験パターンおよび期待値等を設定する。
【０００５】
また、試験装置は、当該試験装置の製造者以外の者（サードベンダ）が提供する試験モジュールを搭載してもよい。この場合、試験装置は、当該サードベンダから提供される操作プログラムを実行し、当該試験モジュールに対して試験パターンおよび期待値等を設定させることを目的として、使用者に対してサードベンダ独自の設定用のＧＵＩを提供する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、ベンダ毎に異なる操作プログラムが提供された場合、使用者は、それぞれの操作プログラムを使い分けなければならなく、負担が大きかった。
【０００７】
そこで本発明の１つの側面においては、上記の課題を解決することのできるプログラムおよび試験装置を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、被試験デバイスを試験する試験モジュールを備える試験装置用のプログラムであって、試験装置を制御する制御装置上で実行され、各種の試験モジュールに共通する機能を提供する共通機能提供プログラムと、制御装置上で実行され、試験モジュールの種類に応じた機能を提供する個別機能提供プログラムをプラグインするプラグイン処理プログラムとを備えるプログラムを提供する。
【０００９】
本発明の第２の形態においては、被試験デバイスを試験する試験装置であって、当該試験装置を制御する制御装置と、被試験デバイスを試験する各種の試験モジュールのうち、使用者が選択した試験モジュールをそれぞれ実装可能な複数のスロットとを備え、制御装置は、試験装置を使用者に操作させるためのプログラムの実行において、プログラムに含まれる共通機能提供プログラムを実行して、各種の試験モジュールに共通する機能を提供し、プログラムに含まれるプラグイン処理プログラムを実行して、試験モジュールの種類に応じた機能を提供する個別機能提供プログラムをプログラムに対してプラグインし、プログラムから個別機能提供プログラムが呼び出されたことに応じて個別機能提供プログラムを実行して、個別機能提供プログラムに対応する試験モジュールに応じた機能を提供する試験装置を提供する。
【００１０】
なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションも又発明となりうる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明の（一）側面を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１２】
図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成の一例を示す。試験装置１０は、半導体回路等のＤＵＴ５００を試験する装置であって、システム制御装置２０と、１以上のサイト制御装置２２（２２−１、２２−２、…）と、格納部２４と、テストヘッド２６と、ロードボード２８とを備える。
【００１３】
システム制御装置２０は、当該試験装置１０を制御する。システム制御装置２０は、格納部２４に格納されたプログラムを例えばバス３０等を介して取得する。そして、システム制御装置２０は、取得したプログラムを実行することにより当該試験装置１０を制御する。
【００１４】
各サイト制御装置２２は、ＤＵＴ５００に対応して設けられ、対応するＤＵＴ５００の試験を制御する。各サイト制御装置２２は、格納部２４からプログラムを例えばバス３０等を介して取得する。そして、各サイト制御装置２２は、取得したプログラムを実行することにより、対応するＤＵＴ５００の試験を制御する。各サイト制御装置２２は、一例として、対応するＤＵＴ５００に供給すべき試験信号の試験パターンを表すパターンデータを、テストヘッド２６内に実装された対応する試験モジュール３２に格納する。
【００１５】
格納部２４は、システム制御装置２０およびサイト制御装置２２により実行される、当該試験装置１０用のプログラムを格納する。格納部２４は、バス３０を介してシステム制御装置２０およびサイト制御装置２２に接続される。格納部２４は、一例として、当該試験装置１０の外部に設けられてもよい。この場合、格納部２４は、ネットワークを介して当該試験装置１０と接続される。また、格納部２４は、一例として、システム制御装置２０またはサイト制御装置２２の内部に設けられてもよい。
【００１６】
テストヘッド２６は、１以上の試験モジュール３２を有する。試験モジュール３２は、例えばテストヘッド２６の内部に設けられたスロット３４に接続されることにより、当該テストヘッド２６に実装される。各試験モジュール３２は、いずれかのＤＵＴ５００に対応して設けられる。各試験モジュール３２は、対応するサイト制御装置２２と接続される。各試験モジュール３２は、対応するサイト制御装置２２から与えられたパターンデータを格納する。
【００１７】
各試験モジュール３２は、格納しているパターンデータに応じた波形の試験信号を生成し、生成した試験信号を対応するＤＵＴ５００の対応するピンに供給する。更に、各試験モジュール３２は、与えられた試験信号に応じた出力信号を対応するＤＵＴ５００の対応するピンから取得する。そして、各試験モジュール３２は、取得した出力信号と、パターンデータに応じた期待値と比較し、比較結果を対応するサイト制御装置２２に送信する。
【００１８】
ロードボード２８は、テストヘッド２６の例えば上部に装着され、１以上のＤＵＴ５００を載置する。ロードボード２８は、テストヘッド２６に装着された状態において、載置した各ＤＵＴ５００の各ピンと、対応する試験モジュール３２との間を接続する。
【００１９】
このような試験装置１０は、使用者により選択された種類の試験モジュール３２を、テストヘッド２６内における使用者により選択された位置のスロット３４に実装することができる。すなわち、テストヘッド２６内の各スロット３４は、ＤＵＴ５００を試験する各種の試験モジュール３２のうち、使用者が選択した試験モジュール３２をそれぞれ実装可能となっている。これにより、試験装置１０によれば、各ＤＵＴ５００に対して、使用者により選択された種類の試験をすることができる。また、試験装置１０のテストヘッド２６に実装される試験モジュール３２は、当該試験装置１０の製造者により製造されたものであってもよいし、サードベンダにより製造されたものであってもよい。
【００２０】
図２は、本実施形態に係る格納部２４内に格納されたプログラムを示す。格納部２４は、試験装置１０を使用者に操作させるための操作プログラム１１０と、１以上の個別機能提供プログラム１４０（１４０−１、１４０−２、…）とを格納する。
【００２１】
操作プログラム１１０は、共通機能プログラム１２０と、プラグイン処理プログラム１３０とを含む。共通機能プログラム１２０は、当該試験装置１０を制御する制御装置（本実施形態においてはシステム制御装置２０）上で実行され、各種の試験モジュール３２に共通する機能を提供する。共通機能プログラム１２０は、一例として、システム制御装置２０上で実行され、各種の試験モジュール３２に共通する機能を、グラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）を介して提供してよい。共通機能プログラム１２０は、一例として、各種の試験モジュール３２に対して共通する、試験パターン及び期待値パターンの設定機能および試験結果の表示機能等を、システム制御装置２０により実現されるＧＵＩを介して使用者に提供してよい。
【００２２】
プラグイン処理プログラム１３０は、制御装置（本実施形態においてはシステム制御装置２０）上で実行され、個別機能提供プログラム１４０を当該操作プログラム１１０にプラグインする。プラグイン処理プログラム１３０は、一例として、複数の個別機能提供プログラム１４０のうち、当該試験装置１０に備えられた試験モジュール３２に対応する個別機能提供プログラム１４０を、操作プログラム１１０にプラグインする。操作プログラム１１０にプラグインされた個別機能提供プログラム１４０は、当該操作プログラム１１０に関連して（例えば、操作プログラム１１０の一部として）、システム制御装置２０に実行される。
【００２３】
１以上の個別機能提供プログラム１４０のそれぞれは、当該試験装置１０に実装可能な試験モジュール３２の種類に対応する。各個別機能提供プログラム１４０は、操作プログラム１１０にプラグインされて制御装置（本実施形態においてはシステム制御装置２０）上で実行され、当該試験モジュール３２の種類に応じた機能を提供する。
【００２４】
各個別機能提供プログラム１４０は、一例として、システム制御装置２０上で実行され、試験モジュール３２の種類に応じた機能を、ＧＵＩを介して提供してよい。各個別機能提供プログラム１４０は、一例として、対応する種類の試験モジュール３２に特有の設定機能および表示機能等を、システム制御装置２０により実現されるＧＵＩを介して使用者に提供してよい。また、各個別機能提供プログラム１４０は、一例として、試験モジュール３２の種類に応じた機能を選択させるＧＵＩを提供してもよい。より具体的には、各個別機能提供プログラム１４０は、試験モジュール３２の種類に応じた機能を選択させるためのメニュー、ツールバー、コンボボックスおよびタブウィンドウ等のＧＵＩを提供してよい。
【００２５】
更に、格納部２４は、１以上のモジュールドライバ２１０（２１０−１、２１０−２、…）と、サポートプログラム２２０と、１以上の個別機能提供ライブラリ２３０（２３０−１、２３０−２、…）とを格納する。１以上のモジュールドライバ２１０のそれぞれは、当該試験装置１０に実装可能な試験モジュール３２の種類に対応する。各モジュールドライバ２１０は、対応する種類の試験モジュール３２と接続するサイト制御装置２２上で実行され、当該試験モジュール３２を制御する。すなわち、各モジュールドライバ２１０は、サイト制御装置２２により実行されることにより、当該サイト制御装置２２を、対応する試験モジュール３２を制御するデバイスドライバとして機能させる。
【００２６】
サポートプログラム２２０は、試験モジュール３２と接続するサイト制御装置２２上で実行され、システム制御装置２０上で実行される共通機能プログラム１２０の機能をサポートする。サポートプログラム２２０は、一例として、共通機能プログラム１２０により提供された機能（例えば、設定機能）に応じて生成された設定データをシステム制御装置２０から入力し、入力した設定データを対応する試験モジュール３２に与える。また、サポートプログラム２２０は、一例として、対応する試験モジュール３２から試験結果を取得し、取得した試験結果をシステム制御装置２０に送信し、共通機能プログラム１２０により提供された機能（例えば、表示機能）を介して試験結果を使用者に提示させる。
【００２７】
１以上の個別機能提供ライブラリ２３０のそれぞれは、当該試験装置１０に実装可能な試験モジュール３２の種類に対応する。各個別機能提供ライブラリ２３０は、対応する種類の試験モジュール３２と接続するサイト制御装置２２上で実行されたサポートプログラム２２０に、プラグインされる。各個別機能提供ライブラリ２３０は、サポートプログラム２２０にプラグインされた状態で、対応する種類の試験モジュール３２と接続するサイト制御装置２２上で実行され、システム制御装置２０上で実行される対応する個別機能提供プログラム１４０の機能をサポートする。
【００２８】
サポートプログラム２２０は、一例として、対応する個別機能提供プログラム１４０により提供された機能（例えば、設定機能）に応じて生成された設定データをシステム制御装置２０から入力し、入力した設定データを対応する試験モジュール３２に与える。また、サポートプログラム２２０は、一例として、対応する試験モジュール３２から試験結果を取得し、取得した試験結果をシステム制御装置２０に送信し、対応する個別機能提供プログラム１４０により提供された機能（例えば、表示機能）を介して試験結果を使用者に提示させる。
【００２９】
図３は、本実施形態に係るシステム制御装置２０およびサイト制御装置２２の機能構成を、格納部２４、入力装置４２および表示装置４４とともに示す。システム制御装置２０は、一例として、入力装置４２と、表示装置４４とが接続される。入力装置４２は、使用者がシステム制御装置２０に対して情報を入力するためのインターフェイスである。表示装置４４は、システム制御装置２０が使用者に対して情報を表示するためのインターフェイスである。入力装置４２および表示装置４４によれば、システム制御装置２０が実現するＧＵＩを使用者に提供することができる。
【００３０】
システム制御装置２０は、格納部２４により格納された操作プログラム１１０をロードして実行することにより、共通機能提供部５２と、プラグイン処理部５４として機能する。より詳しくは、システム制御装置２０は、共通機能プログラム１２０を実行することにより共通機能提供部５２として機能し、プラグイン処理プログラム１３０を実行することによりプラグイン処理部５４として機能する。
【００３１】
共通機能提供部５２は、各種の試験モジュール３２に共通する機能を提供する。共通機能提供部５２は、一例として、各種の試験モジュール３２に共通する機能を、入力装置４２および表示装置４４により実現されるＧＵＩを介して提供してよい。共通機能提供部５２は、一例として、各種の試験モジュール３２に対して共通する設定機能および表示機能等を、ＧＵＩを介して使用者に提供してよい。
【００３２】
プラグイン処理部５４は、当該試験装置１０が備える試験モジュール３２の種類に対応する個別機能提供プログラム１４０を格納部２４から呼び出して、操作プログラム１１０にプラグインする。システム制御装置２０は、プラグイン処理部５４により呼び出され、操作プログラム１１０にプラグインされた個別機能提供プログラム１４０を実行することにより、個別機能提供部５６として機能する。個別機能提供部５６は、対応する試験モジュール３２の種類に応じた機能を提供する。各個別機能提供部５６は、一例として、試験モジュール３２の種類に応じた機能を、入力装置４２および表示装置４４により実現されるＧＵＩを介して提供してよい。各個別機能提供部５６は、一例として、対応する種類の試験モジュール３２に固有の設定機能および表示機能等を、ＧＵＩを介して使用者に提供してよい。
【００３３】
また、個別機能提供部５６は、一例として、試験モジュール３２の種類に応じた機能を選択させるＧＵＩを提供してもよい。より具体的には、各個別機能提供プログラム１４０は、試験モジュール３２の種類に応じた機能を選択させるためのメニュー、ツールバー、コンボボックスおよびタブウィンドウ等のＧＵＩを提供してよい。
【００３４】
サイト制御装置２２は、当該サイト制御装置２２に接続された試験モジュール３２に対応するモジュールドライバ２１０をロードして実行することにより、モジュールドライブ部６２として機能する。モジュールドライブ部６２は、当該サイト制御装置２２に接続された試験モジュール３２を制御する。なお、サイト制御装置２２は、当該サイト制御装置２２に複数の試験モジュール３２が接続されている場合には、対応する複数のモジュールドライバ２１０をロードして実行することにより、複数のモジュールドライブ部６２として機能してよい。
【００３５】
サイト制御装置２２は、サポートプログラム２２０をロードして実行することにより、共通機能サポート部６４として機能する。共通機能サポート部６４は、共通機能提供部５２の機能をサポートする。共通機能サポート部６４は、一例として、共通機能提供部５２により提供された機能（例えば、設定機能）に応じて生成された設定データを当該共通機能提供部５２から入力し、入力した設定データをモジュールドライブ部６２を介して対応する試験モジュール３２に与える機能を提供する。また、共通機能サポート部６４は、一例として、対応する試験モジュール３２からモジュールドライブ部６２を介して試験結果を取得し、取得した試験結果を共通機能提供部５２に送信し、共通機能提供部５２により提供された機能（例えば、表示機能）を介して試験結果を使用者に提示させる。なお、サイト制御装置２２は、当該サイト制御装置２２に複数の試験モジュール３２が接続されている場合には、対応する複数のサポートプログラム２２０をロードして実行することにより、複数の共通機能サポート部６４として機能してよい。
【００３６】
サイト制御装置２２は、当該サイト制御装置２２に接続された試験モジュール３２に対応する個別機能提供ライブラリ２３０を呼び出して、サポートプログラム２２０にプラグインする。サイト制御装置２２は、サポートプログラム２２０にプラグインした個別機能提供ライブラリ２３０を実行することにより、個別機能サポート部６６として機能する。個別機能サポート部６６は、当該サイト制御装置２２に接続された試験モジュール３２に対応する個別機能提供部５６の機能をサポートする。個別機能サポート部６６は、一例として、個別機能提供部５６により提供された機能（例えば、設定機能）に応じて生成された設定データを当該個別機能提供部５６から入力し、入力した設定データをモジュールドライブ部６２を介して対応する試験モジュール３２に与える機能を提供する。また、個別機能サポート部６６は、一例として、対応する試験モジュール３２からモジュールドライブ部６２を介して試験結果を取得し、取得した試験結果を個別機能提供部５６に送信し、個別機能提供部５６により提供された機能（例えば、表示機能）を介して試験結果を使用者に提示させる。
【００３７】
以上のようなシステム制御装置２０およびサイト制御装置２２によれば、試験モジュール３２の種類に応じた機能を使用者が操作する場合の負担を軽減することができる。例えば、システム制御装置２０およびサイト制御装置２２によれば、ベンダ毎に異なる操作プログラムが提供された場合であっても、使用者がそれぞれの操作プログラムを使い分けなくてもよい。
【００３８】
図４は、本実施形態に係る個別機能提供プログラム１４０および試験モジュール３２の種類毎の固有のプログラム３５０のモジュール構成を示す。試験モジュール３２の種類毎に、機能が異なる２以上の個別機能提供プログラム１４０が提供されている場合、制御装置（本実施形態においてシステム制御装置２０）は、機能が異なる２以上の個別機能提供プログラム１４０が共通して利用する、試験モジュール３２の管理のためのインターフェイスクラス３６０を提供する。このインターフェイスクラス３６０は、試験モジュール３２の種類に応じた制御を行う試験モジュール３２に固有のプログラム３５０に実装される。
【００３９】
そして、それぞれの個別機能提供プログラム１４０は、インターフェイスクラス３６０を継承する。このように試験モジュール３２の種類毎の固有のプログラム３５０に対して、共通のインターフェイスクラス３６０を実装させることにより、システム制御装置２０によれば、個別機能提供プログラム１４０が実行されて実現された機能ブロックと、固有のプログラム３５０が実行されて実現された機能ブロックとの間においてのデータのやり取りを保証することができる。
【００４０】
図５は、システム制御装置２０の処理フローを示す。試験装置１０を使用者に操作させるための操作プログラム１１０の実行において、まず、システム制御装置２０は、操作プログラム１１０に含まれる共通機能プログラム１２０を実行して、各種の試験モジュール３２に共通する機能を提供する（Ｓ１００１）。次に、システム制御装置２０は、操作プログラム１１０に含まれるプラグイン処理プログラム１３０を実行して、個別機能提供プログラム１４０を操作プログラム１１０に対してプラグインする（Ｓ１００２）。
【００４１】
次に、システム制御装置２０は、試験モジュール３２の種類の応じた機能を選択する所定の操作を入力に応じて、個別機能提供プログラム１４０を呼び出す（Ｓ１００３）。次に、システム制御装置２０は、Ｓ１００３において操作プログラム１１０から個別機能提供プログラム１４０が呼び出されたことに応じて個別機能提供プログラム１４０を実行して、個別機能提供プログラム１４０に対応する試験モジュール３２に応じた機能を提供する（Ｓ１００４）。これによりシステム制御装置２０によれば、個別機能提供プログラム１４０をプラグインした操作プログラム１１０を実行して、共通機能プログラム１２０および個別機能提供プログラム１４０により提供される機能を実行することができる。
【００４２】
図６は、サイト制御装置２２の処理フローを示す。まず、サイト制御装置２２は、操作プログラム１１０をサポートするサポートプログラム２２０を格納部２４から読み出してロードし、実行する（Ｓ１０１０）。次に、サイト制御装置２２は、複数の試験モジュール３２のそれぞれに対応して、当該試験モジュール３２を制御するモジュールドライバ２１０を格納部２４から読み出してロードし、実行する（Ｓ１０１１）。
【００４３】
次に、サイト制御装置２２は、複数の個別機能提供プログラム１４０のそれぞれに対応して設けられ、試験モジュール３２に対応するモジュールドライバ２１０を介して試験モジュール３２を制御する個別機能提供ライブラリ２３０を、サポートプログラム２２０にプラグインする（Ｓ１０１２）。
【００４４】
次に、サイト制御装置２２は、プラグインした複数の個別機能提供ライブラリ２３０のそれぞれを呼び出して実行する。ここで、試験装置１０に実装可能な複数の試験モジュール３２のそれぞれには、固有の識別子が割り当てられている。各モジュールドライバ２１０および個別機能提供ライブラリ２３０は、対応する試験モジュール３２の識別子を格納している。サイト制御装置２２は、それぞれの個別機能提供ライブラリ２３０が制御する試験モジュール３２の識別子を受け取る（Ｓ１０１３）。
【００４５】
次に、サイト制御装置２２は、複数のモジュールドライバ２１０のそれぞれを呼び出して、それぞれのモジュールドライバ２１０が制御する試験モジュール３２の識別子を受け取る（Ｓ１０１４）。次に、サイト制御装置２２は、それぞれの試験モジュール３２を制御するモジュールドライバ２１０および個別機能提供ライブラリ２３０から受け取った識別子同士が一致したことを条件として、それぞれの試験モジュール３２と、当該試験モジュール３２に応じた機能を提供する個別機能提供ライブラリ２３０とを対応付ける（Ｓ１０１５）。
【００４６】
次に、システム制御装置２０により実行されている個別機能提供プログラム１４０は、試験モジュール３２に対するデータのアクセスまたは制御を行う場合において当該試験モジュール３２の識別子を指定してサイト制御装置２２上で実行されるサポートプログラム２２０を呼び出す。サイト制御装置２２は、個別機能提供プログラム１４０から識別子を指定して呼び出しを受けると、指定された識別子に対応する試験モジュール３２に対応付けられた個別機能提供ライブラリ２３０を選択し、呼び出す（Ｓ１０１６）。これによりサイト制御装置２２によれば、個別機能提供ライブラリ２３０をサポートプログラム２２０にプラグインして、共通機能プログラム１２０および個別機能提供プログラム１４０により提供される機能をサポートすることができる。
【００４７】
図７は、本実施形態に係る表示装置４４上に表示されるＧＵＩの第１例を示す。第１例において、操作プログラム１１０に含まれる共通機能プログラム１２０は、システム制御装置２０により実行され、各種の試験モジュール３２に共通する機能（例えば設定機能および表示機能等）をＧＵＩにより提供するウィンドウ３１０を表示させる。
【００４８】
更に、本例において、操作プログラム１１０にプラグインされた個別機能提供プログラム１４０は、システム制御装置２０により実行され、ウィンドウ３１０の子ウィンドウ３２０を表示させる。子ウィンドウ３２０は、試験装置１０に実装された試験モジュール３２の種類の応じた機能（例えば設定機能および表示機能等）をＧＵＩにより提供する。個別機能提供プログラム１４０は、子ウィンドウ３２０上に、試験モジュール３２に対して供給するデータまたは試験モジュール３２から取得したデータを表示させる。
【００４９】
図８は、図７のウィンドウ３１０および子ウィンドウ３２０の第１表示例を示す。第１のウィンドウ３１０−１は、一例として、複数の試験モジュール３２に対して共通の操作を実行させるコンボボックス４１０−１、ボタン４２０−１、４２０−２、操作用アイコン４３０−１を表示する。
【００５０】
さらに、第１のウィンドウ３１０−１内には、試験装置１０に実装された所定の試験モジュール３２に対応する第１の子ウィンドウ３２０−１が表示される。第１の子ウィンドウ３２０−１は、対応する試験モジュール３２がＤＵＴ５００に対して供給するべき試験パターンを表示する。より具体的には、第１の子ウィンドウ３２０−１は、試験パターンを表す命令列およびパターンデータ等を表示する。
【００５１】
また、このような第１の子ウィンドウ３２０−１に対して、使用者は、入力装置４２および表示装置４４を利用して、試験パターンの編集をすることもできる。第１の子ウィンドウ３２０−１に対する編集が完了すると、個別機能提供プログラム１４０は、サイト制御装置２２により実行されている対応する個別機能提供ライブラリ２３０を呼び出して、編集された試験パターンを対応する試験モジュール３２に格納する。
【００５２】
図９は、図７のウィンドウ３１０および子ウィンドウ３２０の第２表示例を示す。第２のウィンドウ３１０−２は、一例として、複数の試験モジュール３２に対して共通の操作を実行させる操作用アイコン４３０−２を表示する。
【００５３】
さらに、第２のウィンドウ３１０−２内には、第２の子ウィンドウ３２０−２が表示される。第２の子ウィンドウ３２０−２は、対応する試験モジュール３２がＤＵＴ５００の出力信号が満たすべき期待値を示す期待値パターンを表示する。より具体的には、第２の子ウィンドウ３２０−２は、期待値パターンを表す命令列およびパターンデータ等を表示する。
【００５４】
また、このような第２の子ウィンドウ３２０−２に対して、使用者は、入力装置４２および表示装置４４を利用して、期待値パターンの編集をすることもできる。第２の子ウィンドウ３２０−２に対する編集が完了すると、個別機能提供プログラム１４０は、サイト制御装置２２により実行されている対応する個別機能提供ライブラリ２３０を呼び出して、編集された期待値パターンを対応する試験モジュール３２に格納する。
【００５５】
また、操作プログラム１１０にプラグインされた個別機能提供プログラム１４０は、一例として、第２の子ウィンドウ３２０−２を表示するためのウィンドウ表示アイコン４３２を第２のウィンドウ３１０−２上に表示してもよい。個別機能提供プログラム１４０は、ウィンドウ表示アイコン４３２が使用者によりクリックされたことを条件として、第２の子ウィンドウ３２０−２を呼び出して、表示する。また、個別機能提供プログラム１４０は、一例として、第２の子ウィンドウ３２０−２を表示させるためのメニューを、第２のウィンドウ３１０−２上のメニューバー４３４により表示してもよい。
【００５６】
図１０は、本実施形態に係る表示装置４４上に表示されるＧＵＩの第２例を示す。第２例において、共通機能プログラム１２０は、ウィンドウ３１０を表示させる。更に、本例において、操作プログラム１１０にプラグインされた個別機能提供プログラム１４０は、システム制御装置２０により実行され、グラフィック領域３３０を含む子ウィンドウ３２０を表示させる。個別機能提供プログラム１４０は、グラフィック領域３３０上に、試験モジュール３２に対して供給するデータまたは試験モジュール３２から取得したデータをグラフィック表示させる。個別機能提供プログラム１４０は、一例として、ＤＵＴ５００の出力信号を試験モジュール３２から取得して、グラフィック領域３３０上に当該出力信号の波形を表示してよい。
【００５７】
図１１は、図１０のグラフィック領域３３０の表示例を示す。第３のウィンドウ３１０−３内に表示された第３の第３の子ウィンドウ３２０−３は、第１のグラフィック領域３３０−１内にＤＵＴ５００の出力信号の波形を表示する。第３の子ウィンドウ３２０−３は、時間に対する電圧レベルを表した単純波形を表示してもよいし、これ以外の波形を表示してもよい。また、操作プログラム１１０にプラグインされた個別機能提供プログラム１４０は、一例として、第１のグラフィック領域３３０−１に表示される波形のサンプリング周期等を設定するダイアログを表示させる操作用アイコン４３０−３を表示してよい。
【００５８】
図１２は、本実施形態に係る表示装置４４上に表示されるＧＵＩの第３例を示す。第３例において、共通機能プログラム１２０は、ウィンドウ３１０を表示させる。更に、本例において、共通機能プログラム１２０は、テキスト領域３４０を含む子ウィンドウ３２０を表示させる。
【００５９】
ここで、本例においては、操作プログラム１１０は、個別機能提供プログラム１４０がプラグインされていなくてよい。この場合、共通機能プログラム１２０は、個別機能提供プログラム１４０に代わって、試験モジュール３２に対して供給するデータまたは試験モジュール３２から取得したデータを、テキスト領域３４０内に表示してよい。これにより、操作プログラム１１０によれば、個別機能提供プログラム１４０をプラグインした場合のようにＧＵＩを表示することはできないが、少なくともテキストデータによる表示をすることができる。
【００６０】
図１３は、図１２のテキスト領域３４０の表示例を示す。第４のウィンドウ３１０−４内に表示された第４の子ウィンドウ３２０−４は、ＤＵＴ５００の動作余裕度（マージン）を表示する第１のテキスト領域３４０を含む。第１のテキスト領域３４０は、一例として、ＤＵＴ５００の動作ピン毎に、フェイルからパスへの切替点、パスからフェイルへの切替点、または、切替点間の距離等を表すデータを、テキストにより表示する。
【００６１】
図１４は、図１０のグラフィック領域３３０および図１２のテキスト領域３４０の表示例を示す。第５のウィンドウ３１０−５内に表示された第５の子ウィンドウ３２０−５は、ＤＵＴ５００の試験信号の条件毎の試験結果をプロットしたシュム波形を表示する第２のグラフィック領域３３０−２、および、ＤＵＴ５００の動作条件が表示された第２のテキスト領域３４０−２を含んでよい。シュム波形は、一例として、横軸を位相または時刻とし、縦軸を試験信号の電圧として表された領域に、ＤＵＴ５００の試験結果をプロットした波形である。
【００６２】
図１５は、本実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、及び表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、及びＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部とを備える。
【００６３】
ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００及びグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０及びＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
【００６４】
入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラム及びデータを格納する。ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０は、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。
【００６５】
また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラム及び／又はコンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び／又は例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。
【００６６】
ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５、又はＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。
【００６７】
このような構成のコンピュータ１９００は、試験装置１０におけるシステム制御装置２０およびサイト制御装置２２として機能する。
【００６８】
コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００をシステム制御装置２０として機能させるプログラムは、操作プログラム１１０と、１以上の個別機能提供プログラム１４０とを備える。また、コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００をサイト制御装置２２として機能させるプログラムは、１以上のモジュールドライバ２１０と、サポートプログラム２２０と、１以上の個別機能提供ライブラリ２３０とを備える。これらのプログラム又はモジュールは、ＣＰＵ２０００等に働きかけて、コンピュータ１９００を、システム制御装置２０およびサイト制御装置２２としてそれぞれ機能させる。
【００６９】
以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤ又はＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワーク又はインターネット等に接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。
【００７０】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】図１は、本発明の実施形態に係る試験装置１０の構成の一例を示す。
【図２】図２は、本発明の実施形態に係る格納部２４内に格納されたプログラムを示す。
【図３】図３は、本発明の実施形態に係るシステム制御装置２０およびサイト制御装置２２の機能構成を、格納部２４、入力装置４２および表示装置４４とともに示す。
【図４】図４は、本発明の実施形態に係る個別機能提供プログラム１４０および試験モジュール３２の種類毎の固有のプログラム３５０のモジュール構成を示す。
【図５】図５は、システム制御装置２０の処理フローを示す。
【図６】図６は、サイト制御装置２２の処理フローを示す。
【図７】図７は、本発明の実施形態に係る表示装置４４上に表示されるＧＵＩの第１例を示す。
【図８】図８は、図７のウィンドウ３１０および子ウィンドウ３２０の第１表示例を示す。
【図９】図９は、図７のウィンドウ３１０および子ウィンドウ３２０の第２表示例を示す。
【図１０】図１０は、本発明の実施形態に係る表示装置４４上に表示されるＧＵＩの第２例を示す。
【図１１】図１１は、図１０のグラフィック領域３３０の表示例を示す。
【図１２】図１２は、本発明の実施形態に係る表示装置４４上に表示されるＧＵＩの第３例を示す。
【図１３】図１３は、図１２のテキスト領域３４０の表示例を示す。
【図１４】図１４は、図１０のグラフィック領域３３０および図１２のテキスト領域３４０の表示例を示す。
【図１５】図１５は、本発明の実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。
【符号の説明】
【００７２】
１０  試験装置
２０  システム制御装置
２２  サイト制御装置
２４  格納部
２６  テストヘッド
２８  ロードボード
２１０  モジュールドライバ
２２０  サポートプログラム
２３０  個別機能提供ライブラリ
５００  ＤＵＴ
【図１】
2008268213.tif 000003
【図２】
2008268213.tif 000004
【図３】
2008268213.tif 000005
【図４】
2008268213.tif 000006
【図５】
2008268213.tif 000007
【図６】
2008268213.tif 000008
【図７】
2008268213.tif 000009
【図８】
2008268213.tif 000010
【図９】
2008268213.tif 000011
【図１０】
2008268213.tif 000012
【図１１】
2008268213.tif 000013
【図１２】
2008268213.tif 000014
【図１３】
2008268213.tif 000015
【図１４】
2008268213.tif 000016
【図１５】
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