(57)【要約】【課題】テスト端子に装着した際、盤の前面に臨む導体の充電状態を容易に視認し得るテストプラグを提供する。【解決手段】第１及び第２のテスト端子導体の間への挿入時に前記第１及び第２のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、絶縁突出部２５の上面及び下面にそれぞれ配設されるとともに、絶縁支持体２２を貫通してその前方に突出させてある第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７と、盤の前面側で接地線を接続し得るよう絶縁支持体２２に配設した接地用端子７６と、発光部が絶縁支持体２２の前面にそれぞれ臨むとともに、第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７と接地用端子７６との間にそれぞれ接続されており、第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７の荷電状態に応じて発光部が点灯乃至消灯される発光部とを有する。【選択図】図１
2008190949.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子の一方の端子である複数の第１のテスト端子導体と、これら第１のテスト端子導体に対応させて設けた前記テスト端子の他方の端子である同数の第２のテスト端子導体との間に、前記盤面の前方から挿入して前記第１のテスト端子導体及び第２のテスト端子導体に接続された前記電気機器の試験を行うためのテストプラグであって、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体からそれぞれ後方に突出させた複数の絶縁突出部と、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間への挿入時に前記第１のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面に配設されるとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第１のテストプラグ導体と、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間への挿入時に前記第２のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の下面に配設されて前記第１のテストプラグ導体と対をなすとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第２のテストプラグ導体と、
前記盤の前面側で接地線を接続し得るよう前記絶縁支持体に配設した接地用端子と、
発光面が前記絶縁支持体の前面にそれぞれ臨むとともに、前記第１及び第２のテストプラグ導体と前記接地用端子との間にそれぞれ接続されており、前記第１及び第２のテストプラグ導体の荷電状態に応じて前記発光面が点灯乃至消灯される発光部とを有することを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
【請求項２】
電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子の一方の端子である複数の第１のテスト端子導体と、これら第１のテスト端子導体に対応させて設けた前記テスト端子の他方の端子である同数の第２のテスト端子導体との間に、前記盤面の前方から挿入して前記第１のテスト端子導体及び第２のテスト端子導体に接続された前記電気機器の試験を行うためのテストプラグであって、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体からそれぞれ後方に突出させた複数の絶縁突出部と、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間への挿入時に前記第１のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面に配設されるとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第１のテストプラグ導体と、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間への挿入時に前記第２のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の下面に配設されて前記第１のテストプラグ導体と対をなすとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第２のテストプラグ導体と、
前記絶縁支持体に配設した導電性のプレートと、
前記第１及び第２のテストプラグ導体と前記プレートとの間にそれぞれ接続されて前記第１及び第２のテストプラグ導体の荷電状態を検出する検電手段と、
発光面が前記絶縁支持体の前面にそれぞれ臨むとともに、前記第１及び第２のテストプラグ導体と前記検電手段にそれぞれ接続されており、前記第１及び第２のテストプラグ導体の荷電状態に応じて前記発光面が点灯乃至消灯される発光部とを有することを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
【請求項３】
請求項２に記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記検電手段は各発光部に一対一に対応させて同数設けたことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
【請求項４】
請求項２に記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記検電手段は、選択スイッチを介して前記第１及び第２のテストプラグ導体及び前記発光部に接続してあり、前記選択スイッチで選択した前記第１乃至第２のテストプラグの荷電状態を検出するとともに、前記選択スイッチで選択した前記第１乃至第２のテストプラグに対応する前記発光部の発光面が前記第１乃至第２のテストプラグ導体の荷電状態に応じて点灯乃至消灯されるように構成したものであることを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４の何れか一つに記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記発光部は、逆並列に接続された一対の発光ダイオードで構成したことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
【請求項６】
請求項１乃至請求項５の何れか一つに記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記発光部の発光面の発光色を正極乃至負極のそれぞれに固有のものとしたことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は荷電状態検出表示機能付きテストプラグに関し、特にリレー盤内に収納されているリレーの動作試験等を前記リレー盤の盤面に配設したテスト端子に前記テストプラグを挿入して行う場合に適用して有用なものである。
【背景技術】
【０００２】
図５は従来の変成器及び変流器をテストする場合の回路図である。同図に示すように、変成器０２は発電機（図示せず）に接続された母線０１の電圧を計測するとともに、変流器０３は母線０１の電流を計測し得るように構成してある。かかる変成器０２及び変流器０３の出力側はテスト端子１１を介して制御所の電圧・電流計０４に接続してある。ここでテスト端子１１は電源（活線）側導体である第１のテスト端子導体６及び負荷（非活線）側導体である第２のテスト端子導体７を有しており、通常時には第１及び第２のテスト端子導体６，７が接触して電気的な導通状態を保持している。一方、所定のテストを行う場合には、テストプラグ２１をテスト端子１１の第１及び第２のテスト端子導体６，７の間に挿入することにより各相における第１及び第２のテスト端子導体６，７間を絶縁するとともに、第１のテスト端子導体６にテストプラグ２１の第１のテストプラグ導体２６を接触させるとともに、第２のテスト端子導体７にテストプラグ２１の第２のテストプラグ導体２７を接触させる。
【０００３】
かかる状態で所定のテスト、例えば変成器０２乃至変流器０３のテストを行う。さらに詳言すると、変成器０２のテストを行うときには、テスト端子１１に挿入したテストプラグ２１において異なる二つの相の第１のテストプラグ導体２６間に電圧計０５を接続してその間の電圧を測定するとともに、他の全ての組み合わせにおける第１のテストプラグ導体２６間において同様の電圧の測定を繰り返す。
【０００４】
一方、変流器０３のテストを行うときには、テスト端子１１に挿入したテストプラグ２１において同一の相の第１及び第２のテストプラグ導体２７間に電流計０６を接続してその電流を測定するとともに、他の全ての各相において同様の電流の測定を繰り返す。かくして、変成器０２及び変流器０３で所定の電圧乃至電流が得られているか否かを確認する。
【０００５】
上述の如き変成器０２及び変流器０３のテストの際に用いるテスト端子１１及びテストプラグ２１は、電圧用及び電流用で基本的な構造において変るところはない。すなわち、電圧用と電流用とで区別されるテスト端子１１に間違って逆のテストプラグ２１を挿入しないように挿入時に嵌合される凹部と凸部の形状を変える等、所定の工夫はしてあるが、電気回路を構成する第１及び第２のテスト端子導体６，７や第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７の構造並びにこれらの絶縁構造は何れの場合にも共通の構造としている。
【０００６】
そこで、ここでは、電圧用及び電流用を特に区別することなくテスト端子１１及びテストプラグ２１の詳細な構造を説明する。
【０００７】
図６はテスト端子１１にテストプラグ２１を装着する前の状態（通常時の状態）を、また図７はテスト端子１１にテストプラグ２１を装着した後の状態（試験時の状態）をそれぞれ示している。
【０００８】
両図に示すように、テスト端子１１は筐体１０、電源側導体である第１のテスト端子導体６及び負荷側導体である第２のテスト端子導体７からなる。これらのうち、筐体１０は前面に開口部であるプラグ挿入口８を有して配電盤１に固定された絶縁部材である。第１のテスト端子導体６及び第２のテスト端子導体７は、可撓性を有する導電部材で形成されており、一端部が筐体１０に埋設されて外部に臨む端子３，５にそれぞれ接続されるとともに、他端部を筐体１０の内周面に当接させてある。また、第１のテスト端子導体６及び第２のテスト端子導体７の中央部は上方乃至下方に突出する一体的な凸部となっており、通常時には図６に示すように所定の弾性力で凸部同士が接触している。かくして、電源側と負荷側とが電気的に接続されている。
【０００９】
ここで、第１のテスト端子導体６、第２のテスト端子導体７及び端子３，５はＢ，Ｗ，Ｒの各相及びＮ相に対応させて同一構成のものがそれぞれ４組設けてあり、各端子３には電源側の変成器０２又は変流器０３（図５参照）が、また各端子５には負荷側である制御所の電圧・電流計０４（図５参照）がそれぞれ接続してある。
【００１０】
一方、テストプラグ２１は、絶縁支持体２２から各相毎に後方に突出した絶縁突出部２５と、各絶縁突出部２５の上面及び下面に相対向して配設された各一対の活線側導体である第１のテストプラグ導体２６及び非活線側導体である第２のテストプラグ導体２７を有している。各第１のテストプラグ導体２６及び第２のテストプラグ導体２７は、相互間の絶縁状態を維持しつつ絶縁支持体２２を貫通してその前方に突出させてあり、それぞれが同軸状に形成された４個の端子部２３となっている。すなわち、第１のテストプラグ導体２６の先端部は円筒状の接続部位３１となっており、第２のテストプラグ導体２７の先端部は接続部位３１を貫通してさらに前方に突出するロッド状の接続部位３２となっている。ここで、接続部位３１にはナット３３を、また接続部位３２にはナット３５を螺合させてある。また、ナット３４はナット３３の抜け止めを行うべく第１のテストプラグ導体２６の先端に固定してある。
【００１１】
図８はテストプラグ２１をその前方から見た斜視図である。同図に示すように、隣接する相間の第１のテストプラグ導体２６及び第２のテストプラグ導体２７は各相の絶縁突出部２５間に介在させた絶縁部材２４で絶縁されている。なお、図８中、図６及び図７と同一部分には同一番号を付してある。
【００１２】
上述の如きテストプラグ２１は、図７に示すように、所定の試験時等にテスト端子１１に装着される。具体的には、テスト端子１１のプラグ挿入口８から第１のテスト端子導体６及び第２のテスト端子導体７の間に第１のテストプラグ導体２６及び第２のテストプラグ導体２７を挿入する。この結果、第１のテスト端子導体６及び第２のテスト端子導体７が弾性変形して第１のテスト端子導体６と第１のテストプラグ導体２６とが接触するとともに第２のテスト端子導体７と第２のテストプラグ導体２７とが接触する。かくして、第１のテスト端子導体６と第２のテスト端子導体７との間が絶縁され、電源側と負荷側）とが電気的に遮断される。
【００１３】
かかる状態において、例えば変成器０２乃至変流器０３（図５参照）のテストの際には、電圧計０５（図５参照）を第１のテストプラグ導体２６の接続部位３１間に接続するとともに、電流計０６（図５参照）を第１のテストプラグ導体２６の接続部位３１と第２のテストプラグ導体２７の同相の接続部位３２に接続して電圧乃至電流を検出する。
【００１４】
図６乃至図８に示すテストプラグ２１は、図５に示す変成器０２及び変流器０３をテストする際のテストプラグ等としてのみならず、電気機器の一種である、例えばシーケンス制御回路の各種のリレーの動作試験をする場合にも適用されている。さらに詳言すると、多種類の前記リレーは他の電気機器とともにリレー盤内に収納されて直流回路である所定のシーケンス制御回路等を形成しているが、その総合動作試験用のテスト端子は、前記テスト端子１１とほぼ同様に構成してあり、同様に前記リレー盤の前面に臨んで配設してある。ただ、前記総合動作試験用のテスト端子は、第１及び第２のテスト端子導体の構成が若干異なる。すなわち、上述の電圧用乃至電流用のテスト端子１１の第１及び第２のテスト端子導体６，７とは異なり、両者は接触することなく離れている。そして、前記総合動作試験用のテスト端子では、第１及び第２のテスト端子導体が前記シーケンス回路を構成する任意の接点等に接続される。この結果、総合動作試験用のテスト端子における第１及び第２のテスト端子の充電状態は何れも不明であり、正電位、負電位乃至大地電位の何れであるかを外部から認識することはできない。
【００１５】
なお、この種のテストプラグを開示する従来技術として特許文献１を挙げることができる。
【００１６】
【特許文献１】特開平０９−１８４８６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
上述の如く、従来技術に係るテストプラグ２１においては、これをテスト端子１１等に挿入した際、各テストプラグ導体２６，２７の充電状態を外部から認識することはできない。ただ、図５に示すテスト回路におけるテストプラグ２１の場合、これをテスト端子１１に挿入することにより第１のテストプラグ導体２６は充電部となり、テストプラグ導体２７は非充電部となるのが通常の状態であるので、それぞれの充電状態を予測することはできる。
【００１８】
これに対し、リレー盤内に収納されたシーケンス制御回路等におけるテストプラグ２１の場合、回路図等で別途確認しない限りテストプラグ２１をリレー盤のテスト端子に挿入した状態で第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７の充電状態を知ることは不可能である。
【００１９】
この結果、テストプラグ２１を用いて、リレー等の総合動作試験を行う場合には特に、リレー盤の前面側で、第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７のうちの充電部を非充電部と間違えて導体を接触させたり、間違った結線をして地絡等の事故を生起する虞があった。
【００２０】
また、前記変成器０２及び変流器０３のテスト回路等の場合でも、テストプラグ２１をテスト端子１１に挿入した状態で、第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７の充電状態を盤の前面から確認することができれば注意を喚起する意味でも有効である。
【００２１】
本発明は、上記従来技術に鑑み、テスト端子に装着した際、盤の前面に臨む導体の充電状態を容易に視認し得るテストプラグを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
上記目的を達成する本発明の第１の態様は、
電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子の一方の端子である複数の第１のテスト端子導体と、これら第１のテスト端子導体に対応させて設けた前記テスト端子の他方の端子である同数の第２のテスト端子導体との間に、前記盤面の前方から挿入して前記第１のテスト端子導体及び第２のテスト端子導体に接続された前記電気機器の試験を行うためのテストプラグであって、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体からそれぞれ後方に突出させた複数の絶縁突出部と、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間への挿入時に前記第１のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面に配設されるとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第１のテストプラグ導体と、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間への挿入時に前記第２のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の下面に配設されて前記第１のテストプラグ導体と対をなすとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第２のテストプラグ導体と、
前記盤の前面側で接地線を接続し得るよう前記絶縁支持体に配設した接地用端子と、
発光面が前記絶縁支持体の前面にそれぞれ臨むとともに、前記第１及び第２のテストプラグ導体と前記接地用端子との間にそれぞれ接続されており、前記第１及び第２のテストプラグ導体の荷電状態に応じて前記発光面が点灯乃至消灯される発光部とを有することを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
【００２３】
本発明の第２の態様は、
電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子の一方の端子である複数の第１のテスト端子導体と、これら第１のテスト端子導体に対応させて設けた前記テスト端子の他方の端子である同数の第２のテスト端子導体との間に、前記盤面の前方から挿入して前記第１のテスト端子導体及び第２のテスト端子導体に接続された前記電気機器の試験を行うためのテストプラグであって、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体からそれぞれ後方に突出させた複数の絶縁突出部と、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間への挿入時に前記第１のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面に配設されるとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第１のテストプラグ導体と、
前記第１のテスト端子導体と前記第２のテスト端子導体との間への挿入時に前記第２のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の下面に配設されて前記第１のテストプラグ導体と対をなすとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第２のテストプラグ導体と、
前記絶縁支持体に配設した導電性のプレートと、
前記第１及び第２のテストプラグ導体と前記プレートとの間にそれぞれ接続されて前記第１及び第２のテストプラグ導体の荷電状態を検出する検電手段と、
発光面が前記絶縁支持体の前面にそれぞれ臨むとともに、前記第１及び第２のテストプラグ導体と前記検電手段にそれぞれ接続されており、前記第１及び第２のテストプラグ導体の荷電状態に応じて前記発光面が点灯乃至消灯される発光部とを有することを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
【００２４】
本発明の第３の態様は、
請求項２に記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記検電手段は各発光部に一対一に対応させて同数設けたことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
【００２５】
本発明の第４の態様は、
上記第２の態様に記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記検電手段は、選択スイッチを介して前記第１及び第２のテストプラグ導体及び前記発光部に接続してあり、前記選択スイッチで選択した前記第１乃至第２のテストプラグの荷電状態を検出するとともに、前記選択スイッチで選択した前記第１乃至第２のテストプラグに対応する前記発光部の発光面が前記第１乃至第２のテストプラグ導体の荷電状態に応じて点灯乃至消灯されるように構成したものであることを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
【００２６】
本発明の第５の態様は、
上記第１乃至第４の態様の何れか一つに記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記発光部は、逆並列に接続された一対の発光ダイオードで構成したことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
【００２７】
本発明の第６の態様は、
上記第１の態様乃至第５の態様の何れか一つに記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記発光部の発光面の発光色を正極乃至負極のそれぞれに固有のものとしたことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
【発明の効果】
【００２８】
上記構成の本発明によれば、荷電状態検出表示機能付きテストプラグをテスト端子に装着した際、第１乃至第２のテストプラグ導体が荷電状態であれば、第１乃至第２のテストプラグ導体に対応させて設けた発光部が点灯されて光る。この結果、テストプラグ導体の荷電状態を容易に視認して把握することができ、荷電部分に接触することによる短絡、感電等の事故を未然に防止することができる。ここで、発光面の位置乃至発行色を正極乃至負極によって区別することにより、同時に充電部の極性も検出し得る。
【００２９】
さらに、荷電されていることを意識し、テーピングやカバーを付ける等、必要な措置を事前に実施する際の手助けともなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。なお、従来技術と同一乃至各実施の形態間で同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。
【００３１】
＜第１の実施の形態＞
図１は本発明の第１の実施の形態に係るテストプラグを示す図で、（ａ）はその斜視図、（ｂ）はその正面図である。当該テストプラグはリレー等の総合動作試験を行う場合に適用するものである。そこで、対象とするのが直流電圧の場合である。
【００３２】
図１に示すように、本形態に係るテストプラグ７１は、従来技術に係るテストプラグ２１に発光面７２ａ，７２ｂ，７３ａ，７３ｂ，７４ａ，７４ｂ，７５ａ，７５ｂ、接地用端子７６及びこれらに関連する回路を追加したもので、その他の構成は全く同様である。すなわち、テストプラグ７１はリレー等の電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子に挿入され、その一方の端子である複数の第１のテスト端子導体乃至他方の端子である同数の第２のテスト端子導体に接触する。かくして、前記テスト端子の第１及び第２のテスト端子導体を介してリレー等の電気機器の試験を行うことができるようになっている。ここで、第１及び第２のテスト端子導体を介して接続される接点等は、正電位、負電位乃至接地電位の何れかとなっている。
【００３３】
一方、各発光面（７２ａ，７２ｂ）乃至（７５ａ，７５ｂ）は、第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７の各対に対応して絶縁支持体２２の前面に臨んで、各端子部２３の周囲にそれぞれ配設されている。同様に、接地用端子７６も大地に接地するための接地線７７を接続し得るよう絶縁支持体２２の前面に配設されている。
【００３４】
図２は図１に示すテストプラグ７１の等価回路を示す回路図である。同図に示すように、発光部Ａ，Ｂは４組の第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７に対応させてそれぞれ設けてあり、第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７と接地用端子７６との間に抵抗Ｒ１，Ｒ１を介してそれぞれ接続してある。ここで、各発光部Ａ，Ｂは逆並列に接続した発光ダイオードＤ１，Ｄ２をそれぞれ有しており、発光ダイオードＤ１，Ｄ２の発光面が各発光部Ａ，Ｂの発光面（７２ａ，７２ｂ）乃至（７５ａ，７５ｂ）となっている。
【００３５】
リレー盤８１の内部には多種類のリレー等の電気機器が収納してあり、そのシーケンス制御回路を構成する接点等が第１及び第２のテスト端子導体８６，８７に接続してある。したがって、リレー盤８１の前面に臨んで配設してある第１及び第２のテスト端子導体８６，８７は前記接点等を介して正電位、負電位乃至接地電位の何れかの電位となっている。そこで、テストプラグ７１を挿入することにより第１及び第２のテスト端子導体８６，８７に第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７をそれぞれ接触させた場合、第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７の電位は第１及び第２のテスト端子導体８６，８７の電位を反映したものとなる。
【００３６】
したがって、接地用端子７６を介して接地線７７により接地した状態で、テストプラグ７１の第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７を第１及び第２のテスト端子導体８６，８７に接触させた場合、第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７の充電状態は発光部Ａ，Ｂの点灯乃至消灯状態として反映される。すなわち、第１のテスト端子導体８６が正電位の場合には、発光部Ａの発光ダイオードＤ１が点灯し、負電位の場合には発光部Ａの発光ダイオードＤ２が点灯する。同様に、第２のテスト端子導体８７が正電位の場合には、発光部Ｂの発光ダイオードＤ１が点灯し、負電位の場合には発光部Ｂの発光ダイオードＤ２が点灯する。さらに、接地電位となっているときには発光部Ａ，Ｂの発光ダイオードＤ１，Ｄ２は何れも消灯されたままとなる。ここで、発光ダイオードＤ１，Ｄ２の発光色を、例えば一方を赤、他方を緑としておけば充電の有無のみならず、正負何れの極性であるかを容易に視認し得る。
【００３７】
＜第２の実施の形態＞
図３は本発明の第２の実施の形態に係るテストプラグを示す斜視図である。本形態も直流電圧の検出を目的とするリレー等の総合動作試験を行う場合に適用するテストプラグである。
【００３８】
図３に示すように、本形態に係るテストプラグ９１は、絶縁支持体２２の側面に導電性のプレート９２を配設してある。このプレート９２は当該テストプラグ９１をテスト端子に挿入する際に作業者が容易に掴み得るような位置に配設してある。その他の外形的な構成は図１に示す第１の実施の形態と同様である。
【００３９】
図４は図３に示すテストプラグ９１の等価回路を示す回路図である。同図に示すように、４組の第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７とプレート９２との間には４組の検電回路９３，９４が静電容量Ｃ１，Ｃ２を介してそれぞれ接続してあり、各発光部Ａ，Ｂは対応する各検電回路９３，９４にそれぞれ接続してある。ここで、検電回路９３，９４は作業者９５がプレート９２を掴むことにより大地との間で静電容量Ｃ１，Ｃ２及び人体を介して静電結合される第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７の充電状態を検出するもので、交流電圧のみならず直流電圧の検電も可能な構造となっている。
【００４０】
したがって、作業者がプレート９２を掴んだ状態でテストプラグ９１をテスト端子に挿入して第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７を第１及び第２のテスト端子導体８６，８７に接触させた場合、第１及び第２のテストプラグ導体２６，２７の充電状態は発光部Ａ，Ｂの点灯乃至消灯状態として反映される。すなわち、第１のテスト端子導体８６が正電位の場合には、発光部Ａの発光ダイオードＤ１が点灯し、負電位の場合には発光部Ａの発光ダイオードＤ２が点灯する。同様に、第２のテスト端子導体８７が正電位の場合には、発光部Ｂの発光ダイオードＤ１が点灯し、負電位の場合には発光部Ｂの発光ダイオードＤ２が点灯する。さらに、接地電位となっているときには発光部Ａ，Ｂの発光ダイオードＤ１，Ｄ２は何れも消灯されたままとなる。ここで、発光ダイオードＤ１，Ｄ２の発光色を、例えば一方を赤、他方を緑としておけば充電の有無のみならず、正負何れの極性であるかを容易に視認し得る。
【００４１】
なお、本形態に係るテストプラグ９１は交流電圧の検電も可能であるので、例えば図５に示すような変成器０２乃至変流器０３のテスト回路に適用するものとしても利用することができる。すなわち、従来技術に係るテストプラグ２１の代わりにテスト端子１１に挿入することにより、荷電状態を視認し得るので、感電、短絡に関する作業者９５の意識レベルが上がり、その分ヒューマンエラーを有効に防止し得る。
【００４２】
＜他の実施の形態＞
第２の実施の形態においては検電回路９３，９４を各テストプラグ導体２６，２７に対して各１個づつ対応させて設けたが、これは各テストプラグ導体２６，２７とプレート９２との間に一組の検電回路９３，９４を配設するとともに、検電回路９３，９４に接続するテストプラグ導体２６，２７及び発光部Ａ，Ｂを選択スイッチにより順次切替えるように構成することで同様の機能を実現できる。この場合には、選択スイッチが新たに必要になるが、検電回路９３，９４は一組用意すれば足りる。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
本発明は電力設備の保安に関する技術乃至これらの機器の製造・販売に関連する産業分野で有効に利用し得る。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るテストプラグを示す図で、（ａ）はその斜視図、（ｂ）はその正面図である。
【図２】図１の等価回路を示す回路図である。
【図３】本発明の第２の実施の形態に係るテストプラグを示す斜視図である。
【図４】図３の等価回路を示す回路図である。
【図５】挿入式のテストプラグ及びテスト端子を有する変成器及び変流器のテスト回路を示す回路図である。
【図６】従来技術に係るテストプラグをテスト端子に装着する前の状態（通常時の状態）で示す断面図である。
【図７】従来技術に係るテストプラグをテスト端子に装着した後の状態（通常時の状態）で示す断面図である。
【図８】従来技術に係るテストプラグを示す斜視図である。
【符号の説明】
【００４５】
Ｄ１，Ｄ２                発光ダイオード
Ａ，Ｂ                    発光部
２２                    絶縁支持体
２５                    絶縁突出部
２６，２７                テストプラグ導体
７１，９１                テストプラグ
７２ａ乃至７５ｂ    発光面
７６                    接地用端子
７７                    接地線
８１                    リレー盤
８６，８７                テスト端子導体
９２                    プレート
９３，９４                検電回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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