(57)【要約】【課題】ＨＤＤ用磁気ヘッドの磁気記録再生のパラメータが変わったことによる信号波形形状が安定しない物などを除去し、ＨＤＤの製造歩留まりを向上することのできる磁気ヘッドの検査方法を提供する。【解決手段】第１のテスト信号を書き込む工程Ｓ１００と、信号非対称比を計測する工程Ｓ１０１と、第２のテスト信号の記録電流値、第２のテスト信号の記録電流の周波数、磁気抵抗効果型ヘッド１ｂのバイアス電流値を複数回変更する工程Ｓ１０３と、前記工程Ｓ１０２と前記工程Ｓ１０３を複数回繰り返す工程Ｓ１０４を実施することにより、磁気ヘッドの出力信号の波形形状が安定しない物などを除去し、ＨＤＤの製造歩留まりを向上させ、ＨＤＤの信頼性を確保することができる。【選択図】図３
2008090968.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気記録媒体に情報を記録する記録素子と、前記磁気記録媒体の情報を読み出す再生素子をもつ磁気ヘッドにて、第１のテスト信号を、前記磁気記録媒体上に少なくとも１トラック分記録する第１の工程と、
前記トラックをｉ個の領域に分割し、第２のテスト信号を前記領域の先頭から所定の時間記録し、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を所定時間再生し、信号非対称比を測定する第２の工程と、
前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第３の工程と、
前記第２のテスト信号の記録電流を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第４の工程と、
前記第２のテスト信号周波数を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第５の工程と、
前記第２の工程、前記第３の工程、前記第４の工程、及び前記第５の工程を所定回数繰り返す第６の工程と、
前記信号非対称比よりヘッド良否判定信号を演算する第７の工程と、
前記ヘッド良否判別信号にて前記磁気ヘッドの良否判定を行う第８の工程と、
からなる磁気ヘッドの検査方法
【請求項２】
前記第２の工程は、第２のテスト信号を前記領域の先頭から所定の時間記録し、さらに所定時間が経過後、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を所定時間再生する事を特徴とする請求項１記載の磁気ヘッドの検査工程
【請求項３】
前記第１のテスト信号の周波数、及び第２のテスト信号の周波数は、少なくともどちらかが、前記磁気ヘッドが搭載されるハードディスクドライブで使用する記録周波数の最大値以上であることを特徴とする請求項１記載の磁気ヘッドの検査工程
【請求項４】
前期第１のテスト信号の記録電流値、及び前記第２のテスト信号の記録電流値は、前記磁気ヘッドが搭載されるハードディスクドライブで使用する記録電流値の範囲内であることを特徴とする請求項１記載の磁気ヘッドの検査工程
【請求項５】
前記信号非対称比ASYMrwfjは、前記磁気ヘッドから再生した信号の正側の信号電圧をVpk、前記磁気ヘッドから再生した信号の負側の信号電圧をVnk、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をfとした時、
【数１１】
2008090968.tif 000014
という式と表記されることを特徴とする請求項１記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項６】
前記磁気ヘッドの良否判定を行う工程は、前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲であれば良品とし、前記定まる範囲でなければ不良と判定する事を特徴とする請求項５記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項７】
前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲が、１４％未満であることを特徴とする請求項６記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項８】
前記ヘッド良否判定信号Asym-COVは、前記信号非対称比をASYMrwfj、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をf、前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を変更する回数をr1、前記第２のテスト信号の記録電流値を変更する回数をw1、前記第２のテスト信号周波数を変更する回数をf1、前記第６の工程における繰り返し回数をj1とした時、
【数１２】
2008090968.tif 000015
と表記されることを特徴とする請求項１記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項９】
前記磁気ヘッドの良否判定を行う工程は、前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲であれば良品とし、前記定まる範囲でなければ不良と判定する事を特徴とする請求項８記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項１０】
前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲が、５．１％未満であることを特徴とする請求項９記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項１１】
前記ヘッド良否判定信号Asym-CODは、前記信号非対称比をASYMrwfj、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をf、前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を変更する回数をr1、前記第２のテスト信号の記録電流値を変更する回数をw1、前記第２のテスト信号周波数を変更する回数をf1、前記第６の工程における繰り返し回数をj1とした時、
【数１３】
2008090968.tif 000016
と表記されることを特徴とする請求項１記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項１２】
磁気記録媒体に情報を記録する記録素子と、前記磁気記録媒体の情報を読み出す再生素子をもつ磁気ヘッドにて、第１のテスト信号を、前記磁気記録媒体上に少なくとも１トラック分記録する第１の工程と、
前記トラックをｉ個の領域に分割し、第２のテスト信号を前記領域の先頭から所定の時間記録し、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を所定時間再生し、平均電圧を測定する第２の工程と、
前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第３の工程と、
前記第２のテスト信号の記録電流を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第４の工程と、
前記第２のテスト信号周波数を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第５の工程と、
前記第２の工程、前記第３の工程、前記第４の工程、及び前記第５の工程を所定回数繰り返す第６の工程と、
前記平均電圧よりヘッド良否判定信号を演算する第７の工程と、
前記ヘッド良否判別信号にて前記磁気ヘッドの良否判定を行う第８の工程と、
からなる磁気ヘッドの検査方法
【請求項１３】
前記第２の工程は、第２のテスト信号を前記領域の先頭から所定の時間記録し、さらに所定時間が経過後、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を所定時間再生する事を特徴とする請求項１２記載の磁気ヘッドの検査工程
【請求項１４】
前記平均電圧TAArwfjは、前記磁気ヘッドから再生した信号の正側の信号電圧をVpk、前記磁気ヘッドから再生した信号の負側の信号電圧をVnk、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をfとした時、
【数１４】
2008090968.tif 000017
と表記されることを特徴とする請求項１２記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項１５】
前記ヘッド良否判定信号TAA-COVは、前記平均電圧をTAArwfj、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をf、前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を変更する回数をr1、前記第２のテスト信号の記録電流値を変更する回数をw1、前記第２のテスト信号周波数を変更する回数をf1、前記第８の工程における繰り返し回数をj1とした時、
【数１５】
2008090968.tif 000018
と表記されることを特徴とする請求項１２記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項１６】
前記磁気ヘッドの良否判定を行う工程は、前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲であれば良品とし、前記定まる範囲でなければ不良と判定する事を特徴とする請求項１２記載の磁気ヘッドの検査方法
【請求項１７】
前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲が、３．５％未満であることを特徴とする請求項１６記載の磁気ヘッドの検査方法
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ヘッドの検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ハードディスクドライブ（以下ＨＤＤと略記する）は、パーソナルコンピュータや、民生機器など多くの機器に情報記録装置として用いられている。ＨＤＤ内部には、磁気記録媒体に磁気信号を記録する薄膜コイル型書き込み素子（インダクティブ薄膜型書き込み素子）と、磁気記録媒体に記録された磁気信号を検出する磁気抵抗効果型素子を再生素子として搭載する複合型磁気ヘッド（以下、磁気ヘッドと略記する）が使用されている。近年のＨＤＤの高記録密度化に伴い、記録情報が正常に再生できない、すなわち、ビットエラーレートが悪化するという問題が発生している。それに伴い、ＨＤＤの製造歩留まりの低下や、ＨＤＤの信頼性が確保できないという問題が発生している。その問題の原因として、ＨＤＤの高記録密度化による磁気抵抗効果型素子の磁界に対する高感度化に伴う、磁気抵抗効果型素子からの出力信号の出力電圧や波形形状が安定しない物があるということがあげられる。即ち、ＨＤＤの製造歩留まりの低下や、ＨＤＤの信頼性が確保のためには、磁気ヘッドからの出力信号の電圧値や波形形状が安定しない物を、磁気ヘッドを製造した直後に除去してやることが重要である。
【０００３】
従来の磁気ヘッドの安定性検査として次のようなものがある。任意の擬似的書き込み動作と、読み取り動作を所定の回数交互に繰り返すことによって得られる出力電圧の平均値と標準偏差を求め、磁気ヘッドの出力の安定性を検査する方法がある。（例えば、特許文献１参照。）また、任意の擬似的な書き込み動作と、オフトラックした位置での読み取り動作を所定の回数交互に繰り返すことによって得られる出力信号の信号非対称比の平均値と標準偏差を求め、磁気ヘッドの出力の安定性を検査する方法がある。（例えば、特許文献２参照。）
【特許文献１】特開平１０−２３３００１号公報
【特許文献２】特開平１０−３０２２３３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来の構成での磁気ヘッドの検査方法においては、擬似的書き込み動作時の書き込み周波数や電流値、磁気抵抗効果型素子のバイアス電流など、磁気記録再生の重要パラメータは一定の固定値で検査するので、ＨＤＤに組み込まれた状態でのそれらパラメータがかわった事による磁気ヘッドの出力信号の信号電圧や波形形状が安定しない物を除去することができないという課題を有していた。図１０は、実際に動作不良となったＨＤＤの読み取り動作時の出力波形である。磁気抵抗効果型素子のバイアス電流Irが２．５ｍＡの時（図１０（ａ）参照）には、波形の異常はみられないが、３．７ｍＡの時（図１０（ｄ）参照）は明らかなノイズが見られる。このような不良現象は、従来の磁気ヘッドの検査方法では、検出することは非常に困難であった。
【０００５】
本発明は、従来の課題を解決するもので、磁気記録再生の重要パラメータが変わった事による磁気ヘッドの出力信号の信号電圧や波形形状が安定しない物を除去し、ＨＤＤの製造歩留まりを向上させ、ＨＤＤの信頼性を確保することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記従来の課題を解決するために、本発明の磁気ヘッドの検査方法は、磁気記録媒体に情報を記録する記録素子と、前記磁気記録媒体の情報を読み出す再生素子をもつ磁気ヘッドにて、第１のテスト信号を、前記磁気記録媒体上に少なくとも１トラック分記録する第１の工程と、前記トラックをｉ個の領域に分割し、第２のテスト信号を前記領域の先頭から所定の時間記録し、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を所定時間再生し、信号非対称比を測定する第２の工程と、前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第３の工程と、前記第２のテスト信号の記録電流を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第４の工程と、前記第２のテスト信号周波数を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第５の工程と、前記第２の工程、前記第３の工程、前記第４の工程、及び前記第５の工程を所定回数繰り返す第６の工程と、前記信号非対称比よりヘッド良否判定信号を演算する第７の工程と、前記ヘッド良否判別信号にて前記磁気ヘッドの良否判定を行う第８の工程と、からなることを特徴としたものである。
【０００７】
また、本発明は、前記第２の工程は、第２のテスト信号を前記領域の先頭から所定の時間記録し、さらに所定時間が経過後、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を所定時間再生することを特徴としたものである。
【０００８】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記第１のテスト信号の周波数、及び第２のテスト信号の周波数は、少なくともどちらかが、前記磁気ヘッドが搭載されるハードディスクドライブで使用する記録周波数の最大値以上であることを特徴としたものである。
【０００９】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前期第１のテスト信号の記録電流値、及び前記第２のテスト信号の記録電流値は、前記磁気ヘッドが搭載されるハードディスクドライブで使用する記録電流値の範囲内であることを特徴としたものである。
【００１０】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記信号非対称比ASYMrwfjは、前記磁気ヘッドから再生した信号の正側の信号電圧をVpk、前記磁気ヘッドから再生した信号の負側の信号電圧をVnk、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をfとした時、
【００１１】
【数１】
2008090968.tif 000003
という式と表記されることを特徴としたものである。
【００１２】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記磁気ヘッドの良否判定を行う工程は、前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲であれば良品とし、前記定まる範囲でなければ不良と判定する事を特徴としたものである。
【００１３】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲が、１４％未満であることを特徴としたものである。
【００１４】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記ヘッド良否判定信号Asym-COVは、前記信号非対称比をASYMrwfj、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をf、前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を変更する回数をr1、前記第２のテスト信号の記録電流値を変更する回数をw1、前記第２のテスト信号周波数を変更する回数をf1、前記第６の工程における繰り返し回数をj1とした時、
【００１５】
【数２】
2008090968.tif 000004
と表記されることを特徴としたものである。
【００１６】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記磁気ヘッドの良否判定を行う工程は、前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲であれば良品とし、前記定まる範囲でなければ不良と判定する事を特徴としたものである。
【００１７】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲が、５．１％未満であることを特徴としたものである。
【００１８】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記ヘッド良否判定信号Asym-CODは、前記信号非対称比をASYMrwfj、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をf、前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を変更する回数をr1、前記第２のテスト信号の記録電流値を変更する回数をw1、前記第２のテスト信号周波数を変更する回数をf1、前記第６の工程における繰り返し回数をj1とした時、
【００１９】
【数３】
2008090968.tif 000005
と表記されることを特徴としたものである。
【００２０】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、磁気記録媒体に情報を記録する記録素子と、前記磁気記録媒体の情報を読み出す再生素子をもつ磁気ヘッドにて、第１のテスト信号を、前記磁気記録媒体上に少なくとも１トラック分記録する第１の工程と、前記トラックをｉ個の領域に分割し、第２のテスト信号を前記領域の先頭から所定の時間記録し、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を所定時間再生し、平均電圧を測定する第２の工程と、前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第３の工程と、前記第２のテスト信号の記録電流を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第４の工程と、前記第２のテスト信号周波数を所定値に変更し、第２の工程を所定回数繰り返す第５の工程と、前記第２の工程、前記第３の工程、前記第４の工程、及び前記第５の工程を所定回数繰り返す第６の工程と、前記平均電圧よりヘッド良否判定信号を演算する第７の工程と、前記ヘッド良否判別信号にて前記磁気ヘッドの良否判定を行う第８の工程と、からなることを特徴としたものである。
【００２１】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記第２の工程は、第２のテスト信号を前記領域の先頭から所定の時間記録し、さらに所定時間が経過後、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を所定時間再生する事を特徴としたものである。
【００２２】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記平均電圧TAArwfjは、前記磁気ヘッドから再生した信号の正側の信号電圧をVpk、前記磁気ヘッドから再生した信号の負側の信号電圧をVnk、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をfとした時、
【００２３】
【数４】
2008090968.tif 000006
と表記されることを特徴としたものである。
【００２４】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記ヘッド良否判定信号TAA-COVは、前記平均電圧をTAArwfj、前記再生素子にて前記第１のテスト信号を再生する時間をtrd、前記第１のテスト信号周波数をf、前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を変更する回数をr1、前記第２のテスト信号の記録電流値を変更する回数をw1、前記第２のテスト信号周波数を変更する回数をf1、前記第８の工程における繰り返し回数をj1とした時、
【００２５】
【数５】
2008090968.tif 000007
と表記されることを特徴としたものである。
【００２６】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記磁気ヘッドの良否判定を行う工程は、前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲であれば良品とし、前記定まる範囲でなければ不良と判定する事を特徴としたものである。
【００２７】
さらに、磁気ヘッドの検査方法において、前記ヘッド良否判定信号で定まる範囲が、３．５％未満であることを特徴としたものである。
【発明の効果】
【００２８】
以上のように、本発明の磁気ヘッドの検査方法によれば、磁気記録再生の重要パラメータを複数回変更し、磁気ヘッドの信号非対称比や出力信号の電圧値を測定し、その結果をもとに良否判定を行うことによって磁気ヘッドの出力信号の信号電圧や波形形状が安定しない物を除去し、ＨＤＤの製造歩留まりの向上や、ＨＤＤの信頼性を確保することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下に、本発明の磁気ヘッドの検査方法の実施の形態を図面とともに詳細に説明する。
【実施例１】
【００３０】
図１は、本発明による磁気ヘッドの検査方法の実施例１におけるブロック構成を示すものである。
【００３１】
図１において、磁気ヘッド１は、信号の記録素子としてインダクティブ薄膜ヘッド１ａと信号の再生素子として磁気抵抗効果型ヘッド１ｂとから構成されている。
【００３２】
インダクティブ薄膜ヘッド１ａは、記録再生アンプ２を介して信号発生器３からの信号を受け、磁気記録媒体４の所定の検査トラックにテスト信号を記録する。制御装置５は、信号発生器３の記録信号の周波数の制御や、テスト信号制御信号の制御を行なう。
【００３３】
磁気抵抗効果型ヘッド１ｂは、所定の検査トラックに記録されたテスト信号を再生する。図２は、一般的な磁気ヘッドの再生信号の概念図を示すものである。
【００３４】
再生された信号は、記録再生アンプ２により増幅され、ピーク検出器６にて信号の正のピーク値Ｖｐｋ、及び負のピーク値Ｖｎｋを検出する。そのピーク値Ｖｐｋ、及びＶｎｋはＡ／Ｄ変換器７を経由し、制御装置５は、制御装置５内部のメモリ８に取り込まれる。
【００３５】
磁気記録媒体４は、スピンドルモータ９によって回転される。スピンドルモータ９は、制御装置５により、スピンドルモータドライバ１０を通じて制御される。
【００３６】
ヘッド駆動機構１１は、磁気記録媒体４上のトラックへの磁気ヘッド１を移動させるキャリッジ等の位置決めをする機構である。ヘッド駆動機構１１は、制御装置５にて制御される。
【００３７】
図３は、本発明の実施例１における磁気ヘッドの検査方法の処理手順のフローチャートを示すものである。図４は、実施例１における第１、第２テスト信号の記録動作、及び再生動作のタイミングを示すものである。
【００３８】
まず、ステップＳ１００では、ヘッド駆動機構１１を制御して、磁気記録媒体４上の検査トラックに磁気ヘッド１を位置決めして、所定の検査トラック上に、第１のテスト信号を記録する（図４（ａ）参照）。本実施例の所定の検査トラックは、磁気記録媒体４の半径１４．３２ｍｍに位置するトラックとする。第１のテスト信号の記録電流値は４５ｍＡ、第一のテスト信号の記録電流の周波数fは１３５．５ＭＨｚを用いる。
【００３９】
次に、ステップＳ１０１では、１トラックの１周分の間、磁気記録媒体４上に第２のテスト信号を記録する動作と、再生動作を繰り返し行ない、信号非対称比ＡＳＹＭｒｗｆｊを得る。
【００４０】
図４（ｂ）は、第２のテスト信号を記録する動作を行なうタイミングと、再生動作を行なうタイミングを示すものである。１トラックの１周をｉ個に分割する。そして、それぞれ分割された領域にて、Ｔｗ２の間第２のテスト信号を記録し、ある一定時間（Ｔｗａｉｔ）経過後、Ｔｒの間再生動作を行い、
磁気記録媒体４上に記録された信号の正のピーク値Ｖｐｋ、及び負のピーク値Ｖｎｋを読み取る。
【００４１】
本実施例においては、本実施例では、表１に示すように、ｉ＝３９、Ｔｗ２＝５０μｓｅｃ、
Ｔｗａｉｔ＝０．５μｓｅｃ、Ｔｒ＝７０μｓｅｃを用いた。
【００４２】
【表１】
2008090968.tif 000008
次に、信号非対称比を算出する。本実施例においては、信号非対称比ＡＳＹＭrwfjとして、
【００４３】
【数６】
2008090968.tif 000009
という演算を行う。
【００４４】
ステップＳ１０２では、第２のテスト信号の記録電流値（Ｉｗ２）、第２のテスト信号の記録電流の周波数（ｆｗ２）、磁気抵抗効果型ヘッド１ｂのバイアス電流値（Ｉｒ）を１つの項目ごとに、所定の回数変更して、それぞれの条件において、ステップＳ１０１を繰り返し、信号非対称比ＡＳＹＭrwfjを測定する。本実施例においては、表１に示すように、Ｉｗ２は４０、４５、５０ｍＡ、ｆｗ２は１３５．５ＭＨｚ、Ｉｒは３．５、４．０、４．５ｍＡを用いる。
【００４５】
ステップＳ１０３では、ステップＳ１０１、Ｓ１０２をｊ２回繰り返す。この繰り返し回数は多ければ多いほど、データの信頼性が大きくなるが、検査時間が長くなってしまうという欠点がある。よって、この繰り返し回数は適度に決定される。尚、本実施例においては、ｊ２は５０を用いる。
本実施例においては、表１に示すように、w２＝３、f２＝１、r1＝３回、ｊ２＝５０であるから、w２ｘｆ２ｘｒ２ｘｊ２＝４５０個の信号電圧比ＡＳＹＭrwfjを得る。
【００４６】
ステップＳ１０４では、制御装置５において、ヘッド良否判定信号の演算を行なう。本実施例においては、ヘッド良否判定信号として、ＡｓｙｍＣＯＶを演算する。
【００４７】
ＡｓｙｍＣＯＶを、
【００４８】
【数７】
2008090968.tif 000010
という式（２）によって演算し、ヘッド良否判定信号を出力する。
【００４９】
ステップＳ１０５では、このヘッド良否判定信号によって、磁気ヘッドの良否判定を行う。本実施例においては、ヘッド良否判定信号を演算した同様に、制御装置５にて磁気ヘッドの良否判定を行う。
【００５０】
図５は、本実施例の磁気ヘッドの検査方法にて測定したＡｓｙｍＣＯＶと、その測定後、ＨＤＤに組み立てた後にビットエラーレートを測定した結果の相関図を示すものである。本実施例１では、ビットエラーレート規格の最大１．９７ｘ１０−３、及び図５中に示している近似線を用いて、ヘッド良否判定信号が、最大１４％という範囲内では、検査される磁気ヘッドを良品とし、範囲外では、不良品と判定する。
【００５１】
こうすることにより、磁気ヘッドの良否判定ができる。
【００５２】
尚、本実施例１では制御装置５内部のディスプレイ１２上に、良品の場合は「Ｐａｓｓ」、不良品の場合は「Ｆａｉｌ」と表示させ、作業者が被検査された磁気ヘッドを分別できるようにしてある。
【００５３】
また、本実施例では、ヘッド良否判定信号の演算と被検査用磁気ヘッドの良否判定は同一の装置（制御装置５）で行なったが、それぞれ別の装置で行なってもよい。
【００５４】
以上の様に、本実施例においては、磁気記録再生の重要パラメータを複数回変更し、磁気ヘッドの信号非対称比を測定し、その結果をもとに良否判定を行うことにより、磁気ヘッドの出力信号の波形形状が安定しない物を除去し、ＨＤＤの製造歩留まりの向上や、ＨＤＤの信頼性を確保することができる。
【実施例２】
【００５５】
図６は、本発明の実施例２における磁気ヘッドの検査方法の処理手順のフローチャートを示す。
【００５６】
実施例１の処理手順と異なるところは、ヘッド良否判定信号がＡｓｙｍＣＯＤという演算にて得られる点である。（省略 以下、実施例１の記載方法と同様とする。）
そのヘッド良否判定信号によって、磁気ヘッドの良否判定を行う点である。実施例２において、ヘッド良否判定信号であるＡｓｙｍＣＯＤの演算は、
【００５７】
【数８】
2008090968.tif 000011
という式（３）によって演算し、ヘッド良否判定信号を出力する。
【００５８】
図７は、本実施例の磁気ヘッドの検査方法にて測定したＡｓｙｍＣＯＤと、その測定後、ＨＤＤに組み立てた後にビットエラーレートを測定した結果の相関図を示すものである。
【００５９】
本発明の実施例２では、ビットエラーレート規格の最大１．９７ｘ１０−３、及び図７中に示している近似線を用いて、ヘッド良否判定信号が、最大５．１％という範囲内では、被検査される磁気ヘッドを良品とし、範囲外では、不良品と判定する。
【００６０】
以上の様に、本実施例においては、磁気記録再生の重要パラメータを複数回変更し、磁気ヘッドの信号非対称比を測定し、その結果をもとに良否判定を行うことにより、磁気ヘッドの出力信号の波形形状が安定しない物を除去し、ＨＤＤの製造歩留まりの向上や、ＨＤＤの信頼性を確保することができる。
【実施例３】
【００６１】
図８は、本発明の実施例３における磁気ヘッドの検査方法の処理手順のフローチャートを示す。
【００６２】
実施例１の処理手順と異なるところは、信号非対称比ＡＳＹＭrwfjを測定するのに代わって、平均信号電圧ＴＡＡrwfjを測定することと、ヘッド良否判定信号がＴＡＡＣＯＶという演算で得られる点と、そのヘッド良否判定信号によって、磁気ヘッドの良否判定を行う点である。（省略 以下、実施例１の記載方法と同様とする。）
実施例３において、平均信号電圧ＴＡＡrwfjは
【００６３】
【数９】
2008090968.tif 000012
という演算を行う。
【００６４】
ヘッド良否判定信号として、ＴＡＡ−ＣＯＶの演算は、
【００６５】
【数１０】
2008090968.tif 000013
という式（５）によって演算し、ヘッド良否判定信号を出力する。
【００６６】
図９は、本実施例の磁気ヘッドの検査方法にて測定したＴＡＡＣＯＶと、その測定後、ＨＤＤに組み立てた後にビットエラーレートを測定した結果の相関図を示すものである。
【００６７】
本発明の実施例３では、ビットエラーレート規格の最大１．９７ｘ１０−３、及び図９中に示している近似線を用いて、ヘッド良否判定信号が、最大３．５％という範囲内では、被検査される磁気ヘッドを良品とし、範囲外では、不良品と判定する。
【００６８】
以上の様に、本実施例においては、磁気記録再生の重要パラメータを複数回変更し、磁気ヘッドの出力信号の電圧値を測定し、その結果をもとに良否判定を行うことにより、磁気ヘッドの出力信号の波形形状が安定しない物を除去し、ＨＤＤの製造歩留まりの向上や、ＨＤＤの信頼性を確保することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６９】
本発明にかかる磁気ヘッドの検査方法は、磁気ヘッドの正確な出力信号の信号電圧の安定性や波形形状の安定性を測定し、それをもとにヘッド良否判定信号を演算し、その結果より磁気ヘッドの良否判定を行うことによって、ＨＤＤの製造歩止まりの向上や、ＨＤＤの信頼性が確保することができ、磁気ヘッドの検査方法として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】本発明の実施例１における磁気ヘッドの測定方法を実施するためのブロック構成図
【図２】一般的な磁気ヘッドの再生信号の概念図
【図３】本発明の実施例１における磁気ヘッドの検査方法の処理手順のフローチャート
【図４】本発明の実施例１における第１、第２テスト信号の記録動作、及び再生動作のタイミング図
【図５】本発明の実施例１での磁気ヘッドの検査方法において測定されたＡｓｙｍＣＯＶとその磁気ヘッドのＨＤＤへの組み込み後測定されたビットエラーレートとの相関図
【図６】本発明の実施例２における磁気ヘッドの検査方法の処理手順のフローチャート
【図７】本発明の実施例２での磁気ヘッドの検査方法において測定されたＡｓｙｍＣＯＤとその磁気ヘッドのＨＤＤへの組み込み後測定されたビットエラーレートとの相関図
【図８】本発明の実施例３における磁気ヘッドの検査方法の処理手順のフローチャート
【図９】本発明の実施例３での磁気ヘッドの検査方法において測定されたＴＡＡＣＯＶとその磁気ヘッドのＨＤＤへの組み込み後測定されたビットエラーレートとの相関図
【図１０】実際に動作不良となったＨＤＤの読み取り動作時の出力波形図
【符号の説明】
【００７１】
１    磁気ヘッド
１ａ  インダクティブ薄膜ヘッド
１ｂ  磁気抵抗効果型ヘッド
２    記録再生アンプ
３    信号発生器
４    磁気記録媒体
５    制御装置
６    ピーク検出器
７    Ａ／Ｄ変換器
８    メモリ
９    スピンドルモータ
１０  スピンドルモータドライバ
１１  ヘッド駆動機構
１２  ディスプレイ
【図１】
2008090968.tif 000019
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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