(57)【要約】【課題】容易な操作で的確にデータ処理に係るパラメータを調整することが可能なデータ処理装置、画像処理装置、パラメータの調整方法、およびプログラムを提供する。【解決手段】  画像処理に係るパラメータ値の調整を行うにあたり、目標データ作成部１４０がオペレータから結果データＤ２に対する修正指示を受け付けて目標データＤ３を作成する。続いてパラメータ調整処理部１７０が、目標データＤ３と所定の許容範囲で一致するような結果データＤ２が得られるパラメータ値を検出して、調整値に決定する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の画像処理を行う画像処理手段と、
前記画像処理の結果として作成された結果画像に対する修正指示を受け付けて、前記修正指示を前記結果画像に反映させた目標画像を作成する目標画像作成手段と、
前記画像処理の結果として作成される結果画像が前記目標画像と一致するように前記画像処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整手段と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像処理装置であって、
前記画像処理手段は、基準画像と当該基準画像を出力して得られる検査対象画像とを比較して前記検査対象画像に生じている欠陥部分を検出し、その検出された欠陥部分を非欠陥部分とは異なる表示形態にて表示した結果画像を作成する画像処理を行い、
前記画像処理に係るパラメータが、前記欠陥部分の検出感度を規定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の画像処理装置であって、
前記目標画像作成手段が、前記結果画像を表示画面上に表示して、前記表示画面上から当該結果画像に対する修正指示の入力を受け付けることを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載の画像処理装置であって、
前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの値を変化させながら、各パラメータ値の下で得られた結果画像が前記目標画像と一致するか否かを判断して、前記パラメータの調整値を、前記目標画像と一致する結果画像が得られたパラメータ値に決定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項４に記載の画像処理装置であって、
前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの調整値を、前記目標画像と一致する結果画像が得られたパラメータ値から構成される集合の中央値に決定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
請求項４に記載の画像処理装置であって、
前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの調整値を、前記目標画像と一致する結果画像が前記パラメータの値を変化させる過程で最初に得られた際のパラメータ値に決定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
請求項１から３のいずれかに記載の画像処理装置であって、
前記パラメータ調整手段が、１以上のパラメータの値の組み合わせのうちから、前記目標画像と一致する結果画像を与える組み合わせを遺伝的アルゴリズムにより抽出して、前記パラメータの調整値を、当該抽出された組み合わせを構成する各値に決定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項８】
請求項４から７のいずれかに記載の画像処理装置であって、
入力された設定値に基づいて、前記パラメータ値を変化させる範囲を特定する調整範囲特定手段、
をさらに備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項９】
請求項４から８のいずれかに記載の画像処理装置であって、
入力された設定値に基づいて、前記パラメータ値を変化させる際の変化量を特定する変化量特定手段、
をさらに備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】
請求項１から９のいずれかに記載の画像処理装置であって、
前記修正指示から取得した所定の特徴量に基づいて、前記画像処理に係るパラメータのうちから調整の対象となるパラメータを特定する調整対象パラメータ特定手段、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１１】
画像処理を行われた結果として作成された結果画像に対する修正指示をオペレータから受け付けて、前記修正指示を前記結果画像に反映させた目標画像を作成する目標画像作成工程と、
前記画像処理を行われた結果として作成される結果画像が前記目標画像と一致するように前記画像処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整工程と、
を有することを特徴とするパラメータ調整方法。
【請求項１２】
コンピュータによって実行されることにより、前記コンピュータに、
所定の画像処理を行う画像処理機能と、
前記画像処理の結果として作成された結果画像に対する修正指示を受け付けて、前記修正指示を前記結果画像に反映させた目標画像を作成する目標画像作成機能と、
前記画像処理の結果として作成される結果画像が前記目標画像と一致するように前記画像処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整機能と、
を実現することができるプログラム。
【請求項１３】
所定のデータ処理を行うデータ処理手段と、
前記データ処理の結果として取得された結果データに対する修正指示を受け付けて、前記修正指示を前記結果データに反映させた目標データを作成する目標データ作成手段と、
前記データ処理の結果として取得されるデータが前記目標データと一致するように前記データ処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整手段と、
を備えることを特徴とするデータ処理装置。
【請求項１４】
請求項１３に記載のデータ処理装置であって、
前記データ処理手段は、基準画像と当該基準画像を出力して得られる検査対象画像とを比較して前記検査対象画像に生じている欠陥部分を検出し、その検出された欠陥部分を非欠陥部分とは異なる表示形態にて表示した画像データを作成して前記結果データとして取得する画像処理を行い、
前記データ処理に係るパラメータが、前記欠陥部分の検出感度を規定することを特徴とするデータ処理装置。
【請求項１５】
請求項１３または請求項１４に記載のデータ処理装置であって、
前記目標データ作成手段が、前記結果データを表示画面上に表示して、前記表示画面上から当該結果データに対する修正指示の入力を受け付けることを特徴とするデータ処理装置。
【請求項１６】
請求項１３から１５のいずれかに記載のデータ処理装置であって、
前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの値を変化させながら、各パラメータ値の下で得られた結果データが前記目標データと一致するか否かを判断して、前記パラメータの調整値を、前記目標データと一致する結果データが得られたパラメータ値に決定することを特徴とするデータ処理装置。
【請求項１７】
請求項１６に記載のデータ処理装置であって、
前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの調整値を、前記目標データと一致する結果データが得られたパラメータ値から構成される集合の中央値に決定することを特徴とするデータ処理装置。
【請求項１８】
請求項１６に記載のデータ処理装置であって、
前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの調整値を、前記目標データと一致する結果データが前記パラメータの値を変化させる過程で最初に得られた際のパラメータ値に決定することを特徴とするデータ処理装置。
【請求項１９】
請求項１３から１５のいずれかに記載のデータ処理装置であって、
前記パラメータ調整手段が、１以上のパラメータの値の組み合わせのうちから、前記目標データと一致する結果データを与える組み合わせを遺伝的アルゴリズムにより抽出して、前記パラメータの調整値を、当該抽出された組み合わせを構成する各値に決定することを特徴とするデータ処理装置。
【請求項２０】
請求項１６から１９のいずれかに記載のデータ処理装置であって、
入力された設定値に基づいて、前記パラメータ値を変化させる範囲を特定する調整範囲特定手段、
をさらに備えることを特徴とするデータ処理装置。
【請求項２１】
請求項１６から２０のいずれかに記載のデータ処理装置であって、
入力された設定値に基づいて、前記パラメータ値を変化させる際の変化量を特定する変化量特定手段、
をさらに備えることを特徴とするデータ処理装置。
【請求項２２】
請求項１３から２１のいずれかに記載のデータ処理装置であって、
前記修正指示から取得した所定の特徴量に基づいて、前記データ処理に係るパラメータのうちから調整の対象となるパラメータを特定する調整対象パラメータ特定手段、
を備えることを特徴とするデータ処理装置。
【請求項２３】
データ処理を行われた結果として取得された結果データに対する修正指示をオペレータから受け付けて、前記修正指示を前記結果データに反映させた目標データを作成する目標データ作成工程と、
前記データ処理を行われた結果として取得されるデータが前記目標データと一致するように前記データ処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整工程と、
を有することを特徴とするパラメータ調整方法。
【請求項２４】
コンピュータによって実行されることにより、前記コンピュータに、
所定のデータ処理を行うデータ処理機能と、
前記データ処理の結果として取得された結果データに対する修正指示を受け付けて、前記修正指示を前記結果データに反映させた目標データを作成する目標データ作成機能と、
前記データ処理の結果として取得されるデータが前記目標データと一致するように前記データ処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整機能と、
を実現することができるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種のデータ処理（例えば、画像処理）に係るパラメータ（例えば、欠陥検出処理に係るパラメータ）を調整する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
印刷ワークフローにおいては、作成された製版フィルム、刷版、印刷物等に予期せぬ欠陥等が生じていないかの検査（以下において「検版／印刷物検査」という。）が行われる。この検版／印刷物検査は、検査対象となる画像（具体的には、検査の対象となる印刷物等をスキャンして取得した画像データ）を、その作成元となった基準となる画像データと比較してその相違点を欠陥として検出することによって行われる。
【０００３】
検版／印刷物検査においては、様々な処理（例えば、ぼかし処理、ゆすらせ処理、比較処理、孤立点除去処理等）を通して検査対象となる画像に生じている欠陥の検出が行われることになるが、欠陥の検出感度は各処理の環境パラメータの値によって変わってくる。つまり、適切な感度で欠陥検出を行うためには、パラメータ値を適切に調整しておく必要がある。
【０００４】
このパラメータ調整の作業は、従来においては各ユーザが経験則で修正してトライアルアンドエラー的な手法で行っていた。
【０００５】
なお、検版検査処理についての先行技術として、例えば、検版対象となる印刷データを画像特徴に応じて領域分割し、領域毎に当該画像領域の属性に応じたパラメータを用いて検版処理を行う技術が考案されている（特許文献１参照）。この場合においても、各画像領域で適正な欠陥検出を行うためには、パラメータ値を適切に調整しておく必要がある。
【０００６】
【特許文献１】特開２００４−２５８４７０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところが、検版／印刷物検査においては上述の通り様々な処理が複合的に行われ、調整すべきパラメータの種類も多い。したがって、パラメータの調整には多くの時間と労力を費やさなければならなかった。
【０００８】
また、なんとかパラメータを調整した場合であっても、欠陥の検出感度を急に変更する必要が生じた場合等には、改めてパラメータの値を調整しなおす時間的余裕がないために最終的に目視確認による検査を行わざるをえなかった。
【０００９】
この発明は、上記課題に鑑みてさなれたものであり、容易な操作で的確にデータ処理（例えば、画像処理）に係る１以上のパラメータを調整することが可能なデータ処理装置、画像処理装置、パラメータの調整方法、およびプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
請求項１の発明は、所定の画像処理を行う画像処理手段と、前記画像処理の結果として作成された結果画像に対する修正指示を受け付けて、前記修正指示を前記結果画像に反映させた目標画像を作成する目標画像作成手段と、前記画像処理の結果として作成される結果画像が前記目標画像と一致するように前記画像処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整手段と、を備える。
【００１１】
請求項２の発明は、請求項１に記載の画像処理装置であって、前記画像処理手段は、基準画像と当該基準画像を出力して得られる検査対象画像とを比較して前記検査対象画像に生じている欠陥部分を検出し、その検出された欠陥部分を非欠陥部分とは異なる表示形態にて表示した結果画像を作成する画像処理を行い、前記画像処理に係るパラメータが、前記欠陥部分の検出感度を規定する。
【００１２】
請求項３の発明は、請求項１または請求項２に記載の画像処理装置であって、前記目標画像作成手段が、前記結果画像を表示画面上に表示して、前記表示画面上から当該結果画像に対する修正指示の入力を受け付ける。
【００１３】
請求項４の発明は、請求項１から３のいずれかに記載の画像処理装置であって、前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの値を変化させながら、各パラメータ値の下で得られた結果画像が前記目標画像と一致するか否かを判断して、前記パラメータの調整値を、前記目標画像と一致する結果画像が得られたパラメータ値に決定する。
【００１４】
請求項５の発明は、請求項４に記載の画像処理装置であって、前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの調整値を、前記目標画像と一致する結果画像が得られたパラメータ値から構成される集合の中央値に決定する。
【００１５】
請求項６の発明は、請求項４に記載の画像処理装置であって、前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの調整値を、前記目標画像と一致する結果画像が前記パラメータの値を変化させる過程で最初に得られた際のパラメータ値に決定する。
【００１６】
請求項７の発明は、請求項１から３のいずれかに記載の画像処理装置であって、前記パラメータ調整手段が、１以上のパラメータの値の組み合わせのうちから、前記目標画像と一致する結果画像を与える組み合わせを遺伝的アルゴリズムにより抽出して、前記パラメータの調整値を、当該抽出された組み合わせを構成する各値に決定する。
【００１７】
請求項８の発明は、請求項４から７のいずれかに記載の画像処理装置であって、入力された設定値に基づいて、前記パラメータ値を変化させる範囲を特定する調整範囲特定手段、をさらに備える。
【００１８】
請求項９の発明は、請求項４から８のいずれかに記載の画像処理装置であって、入力された設定値に基づいて、前記パラメータ値を変化させる際の変化量を特定する変化量特定手段、をさらに備える。
【００１９】
請求項１０の発明は、請求項１から９のいずれかに記載の画像処理装置であって、前記修正指示から取得した所定の特徴量に基づいて、前記画像処理に係るパラメータのうちから調整の対象となるパラメータを特定する調整対象パラメータ特定手段、を備える。
【００２０】
請求項１１の発明は、画像処理を行われた結果として作成された結果画像に対する修正指示をオペレータから受け付けて、前記修正指示を前記結果画像に反映させた目標画像を作成する目標画像作成工程と、前記画像処理を行われた結果として作成される結果画像が前記目標画像と一致するように前記画像処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整工程と、を有する。
【００２１】
請求項１２の発明は、コンピュータによって実行されることにより、前記コンピュータに、所定の画像処理を行う画像処理機能と、前記画像処理の結果として作成された結果画像に対する修正指示を受け付けて、前記修正指示を前記結果画像に反映させた目標画像を作成する目標画像作成機能と、前記画像処理の結果として作成される結果画像が前記目標画像と一致するように前記画像処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整機能と、を実現する。
【００２２】
請求項１３の発明は、所定のデータ処理を行うデータ処理手段と、前記データ処理の結果として取得された結果データに対する修正指示を受け付けて、前記修正指示を前記結果データに反映させた目標データを作成する目標データ作成手段と、前記データ処理の結果として取得されるデータが前記目標データと一致するように前記データ処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整手段と、を備える。
【００２３】
請求項１４の発明は、請求項１３に記載のデータ処理装置であって、前記データ処理手段は、基準画像と当該基準画像を出力して得られる検査対象画像とを比較して前記検査対象画像に生じている欠陥部分を検出し、その検出された欠陥部分を非欠陥部分とは異なる表示形態にて表示した画像データを作成して前記結果データとして取得する画像処理を行い、前記データ処理に係るパラメータが、前記欠陥部分の検出感度を規定する。
【００２４】
請求項１５の発明は、請求項１３または請求項１４に記載のデータ処理装置であって、前記目標データ作成手段が、前記結果データを表示画面上に表示して、前記表示画面上から当該結果データに対する修正指示の入力を受け付ける。
【００２５】
請求項１６の発明は、請求項１３から１５のいずれかに記載のデータ処理装置であって、前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの値を変化させながら、各パラメータ値の下で得られた結果データが前記目標データと一致するか否かを判断して、前記パラメータの調整値を、前記目標データと一致する結果データが得られたパラメータ値に決定する。
【００２６】
請求項１７の発明は、請求項１６に記載のデータ処理装置であって、前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの調整値を、前記目標データと一致する結果データが得られたパラメータ値から構成される集合の中央値に決定する。
【００２７】
請求項１８の発明は、請求項１６に記載のデータ処理装置であって、前記パラメータ調整手段が、前記パラメータの調整値を、前記目標データと一致する結果データが前記パラメータの値を変化させる過程で最初に得られた際のパラメータ値に決定する。
【００２８】
請求項１９の発明は、請求項１３から１５のいずれかに記載のデータ処理装置であって、前記パラメータ調整手段が、１以上のパラメータの値の組み合わせのうちから、前記目標データと一致する結果データを与える組み合わせを遺伝的アルゴリズムにより抽出して、前記パラメータの調整値を、当該抽出された組み合わせを構成する各値に決定する。
【００２９】
請求項２０の発明は、請求項１６から１９のいずれかに記載のデータ処理装置であって、入力された設定値に基づいて、前記パラメータ値を変化させる範囲を特定する調整範囲特定手段、をさらに備える。
【００３０】
請求項２１の発明は、請求項１６から２０のいずれかに記載のデータ処理装置であって、入力された設定値に基づいて、前記パラメータ値を変化させる際の変化量を特定する変化量特定手段、をさらに備える。
【００３１】
請求項２２の発明は、請求項１３から２１のいずれかに記載のデータ処理装置であって、前記修正指示から取得した所定の特徴量に基づいて、前記データ処理に係るパラメータのうちから調整の対象となるパラメータを特定する調整対象パラメータ特定手段、を備える。
【００３２】
請求項２３の発明は、データ処理を行われた結果として取得された結果データに対する修正指示をオペレータから受け付けて、前記修正指示を前記結果データに反映させた目標データを作成する目標データ作成工程と、前記データ処理を行われた結果として取得されるデータが前記目標データと一致するように前記データ処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整工程と、を有する。
【００３３】
請求項２４の発明は、コンピュータによって実行されることにより、前記コンピュータに、所定のデータ処理を行うデータ処理機能と、前記データ処理の結果として取得された結果データに対する修正指示を受け付けて、前記修正指示を前記結果データに反映させた目標データを作成する目標データ作成機能と、前記データ処理の結果として取得されるデータが前記目標データと一致するように前記データ処理に係るパラメータの値を調整するパラメータ調整機能と、を実現する。
【発明の効果】
【００３４】
請求項１，１１，１２に記載の発明によると、オペレータは、パラメータ値を直接入力するのではなく、結果画像に対する修正指示を与えることによってパラメータの調整を行うことが可能となる。つまり、容易な操作で画像処理に係るパラメータを調整することができる。また、画像処理の結果得られる画像が目標画像と一致するようなパラメータ値に調整するので、オペレータの所望通りの画像処理結果をもたらすパラメータ値が得られることになる。つまり、画像処理に係るパラメータを的確に調整することができる。
【００３５】
請求項２，１４に記載の発明によると、検査対象画像に生じている欠陥部分の検出感度を規定するパラメータを容易かつ的確に調整することができる。
【００３６】
請求項３に記載の発明によると、表示画面上から結果画像に対する修正指示の入力を受け付けるので、オペレータは結果画像に対する修正指示を容易かつ的確に入力することができる。その結果、パラメータ調整をより容易かつ的確に行うことが可能となる。
【００３７】
請求項４に記載の発明によると、パラメータの値を変化させながら、適正なパラメータ値（すなわち、当該パラメータ値の下で得られた結果画像が目標画像と一致するようなパラメータ値）を検出するので、適正なパラメータ値を確実に検出することができる。
【００３８】
請求項５に記載の発明によると、パラメータの調整値を、目標画像と一致する結果画像が得られたパラメータ値から構成される集合の中央値に決定するので、適正なパラメータ値の中でも最適な値をパラメータの調整値として決定することができる。
【００３９】
請求項６に記載の発明によると、パラメータの調整値を、目標画像と一致する結果画像がパラメータの値を変化させる過程で最初に得られた際のパラメータ値に決定するので、パラメータ調整を迅速に行うことが可能となる。
【００４０】
請求項７，１９に記載の発明によると、最適なパラメータ値の組み合わせを遺伝的アルゴリズムを用いて抽出するので、パラメータ調整を迅速に行うことが可能となる。
【００４１】
請求項８，２０に記載の発明によると、入力された設定値に基づいてパラメータ値を変化させる範囲を特定するので、パラメータの調整範囲を絞りこむことが可能となる。これによって、パラメータ調整を迅速に行うことが可能となる。
【００４２】
請求項９，２１に記載の発明によると、入力された設定値に基づいてパラメータ値を変化させる際の変化量を特定するので、パラメータの調整範囲において取りうるパラメータ値を絞りこむことが可能となる。これによって、パラメータ調整を迅速に行うことが可能となる。
【００４３】
請求項１０に記載の発明によると、修正指示から取得した所定の特徴量に基づいて調整対象パラメータを特定するので、目標画像と一致するような結果画像を得るために調整すべきパラメータの種類を適切に選択することができる。これによって、パラメータ調整を迅速かつ的確に行うことが可能となる。
【００４４】
請求項１３，２３，２４に記載の発明によると、オペレータは、パラメータ値を直接入力するのではなく、結果データに対する修正指示を与えることによってパラメータの調整を行うことが可能となる。つまり、容易な操作でデータ処理に係るパラメータを調整することができる。また、データ処理の結果得られるデータが目標データと一致するようなパラメータ値に調整するので、オペレータの所望通りのデータ処理結果をもたらすパラメータ値が得られることになる。つまり、データ処理に係るパラメータを的確に調整することができる。
【００４５】
請求項１５に記載の発明によると、表示画面上から結果データに対する修正指示の入力を受け付けるので、オペレータは結果データに対する修正指示を容易かつ的確に入力することができる。その結果、パラメータ調整をより容易かつ的確に行うことが可能となる。
【００４６】
請求項１６に記載の発明によると、パラメータの値を変化させながら、適正なパラメータ値（すなわち、当該パラメータ値の下で得られた結果データが目標データと一致するようなパラメータ値）を検出するので、適正なパラメータ値を確実に検出することができる。
【００４７】
請求項１７に記載の発明によると、パラメータの調整値を、目標データと一致する結果データが得られたパラメータ値から構成される集合の中央値に決定するので、適正なパラメータ値の中でも最適な値をパラメータの調整値として決定することができる。
【００４８】
請求項１８に記載の発明によると、パラメータの調整値を、目標データと一致する結果データがパラメータの値を変化させる過程で最初に得られた際のパラメータ値に決定するので、パラメータ調整を迅速に行うことが可能となる。
【００４９】
請求項２２に記載の発明によると、修正指示から取得した所定の特徴量に基づいて調整対象パラメータを特定するので、目標データと一致するような結果データを得るために調整すべきパラメータの種類を適切に選択することができる。これによって、パラメータ調整を迅速かつ的確に行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５０】
〔第１の実施の形態〕
〈１．構成〉
図１は、この発明の第１の実施の形態に係るデータ処理装置の一態様である欠陥検査装置１を含む印刷システム１００の構成を示す図である。欠陥検査装置１は、後に具体的に説明するように、作成した印刷物等に生じた欠陥を検出する装置であり、その欠陥の検出処理に係る画像処理のパラメータを調整する機能を有している。
【００５１】
〈１−１．印刷システム構成〉
印刷システム１００は、欠陥検査装置１と、印刷データ作成装置２と、製版装置３と、出力装置４と、イメージスキャナ５とが、ＬＡＮ（Local Area Network）などのネットワークＮを介して互いに電気的に接続されているシステムである。印刷システム１００においては、印刷データの作成から、製版、出力までの印刷の一連のワークフローが行われる。
【００５２】
欠陥検査装置１は、基準画像を出力して得られた印刷物や製版フィルム、刷版等に生じた欠陥を検出する検版／印刷物検査を行う装置である。なお、検版／印刷物検査の検査対象となる印刷物や製版フィルム、刷版等を、以下において、「検査対象物」と総称する。検版／印刷物検査とは、検査対象物の画像データ（以下において、「検査対象データＤ１」という。）と、当該検査対象物を作成する基準となった画像データ（以下において「基準データＤ０」という。）との差異を欠陥として検出する処理である。
【００５３】
印刷データ作成装置２は、印刷データを作成する装置である。より具体的には、印刷画像における画像配置等のレイアウト処理を行ってレイアウトデータを作成し、さらに、作成されたレイアウトデータをＲＩＰ処理（ラスタライズ処理）によって多階調の画像データに変換する。なお、ＲＩＰ処理については、印刷データ作成装置２とは別の独立した装置において行われる構成としてもよい。
【００５４】
印刷データ作成装置２は、同一のレイアウトデータから、使用する目的に応じた種々の解像度の画像データを生成することが可能である。例えば、出力用に用いられる画像データとして２４００ｄｐｉ程度の高解像度の網点化画像データを生成する一方で、検査に用いられる基準データＤ０として３００ｄｐｉ程度の粗い解像度の多階調の画像データを生成することができる。ただし、基準データＤ０の解像度は検査対象データＤ１に応じて決定されることが望ましく、この実施の形態においては、基準データＤ０の解像度は検査対象データＤ１と同じレベルに設定される。例えば、印刷物を３００ｄｐｉの解像度のデジタルカメラで撮影して検査対象データＤ１を取得する場合、印刷データ作成装置２は、レイアウトデータを３００ｄｐｉの解像度でＲＩＰ展開して基準データＤ０を作成する。作成された基準データＤ０は、ネットワークＮを介して欠陥検査装置１に送られて、検版／印刷物検査に用いられる。
【００５５】
製版装置３は、網点化画像データに基づいて刷版を出力する装置（いわゆるＣＴＰ装置）である。より具体的には、レーザ露光によって網点化画像データに基づく印刷画像を版材上に形成することによって、刷版を作成する。なお、イメージセッタにより網点化画像データに基づく製版フィルムを作成し、作成した製版フィルムを用いて刷版を作成する態様であってもよい。この場合、製版装置３にはイメージセッタを含むものとする。
【００５６】
出力装置４は、製版装置３において作成された刷版を用いて、印刷用紙に印刷を行う装置である。なお、刷版を介さずに、網点化画像データから直接に印刷用紙にデジタル出力を行う態様であってもよい。
【００５７】
イメージスキャナ５は、検版／印刷物検査の検査対象物を読み取って、検査対象データＤ１を取得する装置である。取得された検査対象データＤ１は、ネットワークＮを介して欠陥検査装置１に送られて、検版／印刷物検査に用いられる。
【００５８】
〈１−２．欠陥検査装置の構成〉
欠陥検査装置１は、コンピュータによって実現される。より具体的には、欠陥検査装置１は、ＣＰＵ１１ａ、ＲＯＭ１１ｂ、およびＲＡＭ１１ｃから構成され、後述する各機能を実現する制御部１１と、このコンピュータを欠陥検査装置１として機能させるためのプログラムＰなどを格納するための記憶部１２と、オペレータが各種の指示を入力するためのマウスやキーボードなどからなる操作部１３と、ディスプレイ等の表示部１４と、ハードディスクなどにより構成され、メディアリーダ／ライタ１５１を通じて記録媒体Ｍとの間でデータのリード／ライトを行うためのＲ／Ｗ部１５と、ネットワークＮ上の他の装置との間でデータの受け渡しを行うためのインターフェースである通信部１６とを主として備えている。
【００５９】
なお、欠陥検査装置１においては、操作部１３を通じた操作内容や、種々の処理についての処理状況などを表示部１４にて表示させつつ処理を行うことができる、いわゆるＧＵＩ（Graphical User Interface）１０１（図２参照）が、制御部１１、操作部１３、表示部１４の機能により実現されている。これによって、オペレータは、表示部１４に表示された画面を参照しながら操作部１３を用いて所定の操作を行うことによりコンピュータに指示を与えることができる。
【００６０】
〈１−３．パラメータの調整に関する構成〉
欠陥検査装置１は、検版／印刷物検査に係る画像処理のパラメータを調整する機能を有している。図２は、パラメータ調整機能に関する構成を説明する図である。欠陥検査装置１は、パラメータ調整に関する構成として、基準データ取得部１１０と、検査対象データ取得部１２０と、欠陥検出処理部１３０と、目標データ作成部１４０と、調整対象パラメータ特定部１５０と、調整定数決定部１６０と、パラメータ調整処理部１７０とを備えている。これら各部は、制御部１１が記憶部１２に記憶されている所定のプログラムＰを実行することにより実現される構成要素である。
【００６１】
基準データ取得部１１０は、操作部１３を介して受け付けられたオペレータの指示に従って、基準データＤ０を取得する。より具体的には、ネットワークＮを介して印刷データ作成装置２から基準データＤ０を取得する。また、図１に示されるように、可搬性の記録媒体Ｍ（例えば、ＭＯ（光磁気ディスク）やＣＤ−Ｒ／ＲＷなど）に記録された基準データＤ０を、ＭＯドライブやＣＤ−Ｒ／ＲＷドライブなどからなるメディアリーダ／ライタ１５１から読み取って基準データＤ０を取得することも可能である。基準データ取得部１１０は、取得した基準データＤ０を記憶部１２に格納する。
【００６２】
検査対象データ取得部１２０は、操作部１３を介して受け付けられたオペレータの指示に従って、検査対象データＤ１を取得する。より具体的には、ネットワークＮを介してイメージスキャナ５から検査対象データＤ１を取得する。また、デジタルカメラ等によって検査対象物を撮影して得られた検査対象データＤ１が記録された記録媒体Ｍを、メディアリーダ／ライタ１５１で読み取って検査対象データＤ１を取得することも可能である。検査対象データ取得部１２０は、取得した検査対象データＤ１を記憶部１２に格納する。
【００６３】
図３（ａ）には、基準データＤ０が例示されている。また、図３（ｂ）には、図３（ａ）に例示される基準データＤ０に基づいて作成された検査対象物の検査対象データＤ１が例示されている。上述の通り、基準データＤ０は、印刷物を作成する基準となった画像データであり、検査対象データＤ１は、検査対象物の画像データである。本来であれば、検査対象データＤ１は基準データＤ０と完全に一致することが望ましい。しかしながら、印刷工程の中で生じうる各種の要因（例えばホコリの混入や、位置のずれ）によって、図３に示されるように、検査対象データＤ１において基準データＤ０と相違する部分（欠陥）が生じる可能性がある。後述する欠陥検出処理部１３０は、後述する欠陥検出アルゴリズムを実行することによってこの欠陥を検出する。
【００６４】
欠陥検出処理部１３０は、記憶部１２に格納された基準データＤ０と当該基準データＤ０を出力して得られる検査対象データＤ１とを比較して検査対象データＤ１に生じている欠陥部分を検出し、その検出された欠陥部分を非欠陥部分とは異なる表示形態にて表示した結果データＤ２を作成する画像処理を行う。より具体的には、記憶部１２に格納された基準データＤ０と検査対象データＤ１とに対して所定の欠陥検出を実行して検査対象データＤ１に生じている欠陥を検出する。欠陥検出画像処理とは、より具体的には、ぼかし処理、ゆすらせ処理、比較処理、孤立点除去処理であり、これらの画像処理は、欠陥を検出するための一連のアルゴリズム（以下において「欠陥検出アルゴリズム」という。）の中で所定の順序で実行される。
【００６５】
欠陥検出処理部１３０は、欠陥検出画像処理を行う処理部であるぼかし処理部１３１と、ゆすらせ処理部１３２と、比較処理部１３３と、孤立点除去処理部１３４とを備えている。また、検出結果を反映させて結果データＤ２を作成する結果画像作成部１３５を備えている。
【００６６】
ぼかし処理部１３１は、ぼかし処理に係るパラメータ（ぼかしパラメータＰ１）に従ってぼかし処理を実行する。ぼかし処理とは、基準データＤ０と検査対象データＤ１とにぼかしをかける処理であり、より具体的には、処理対象の画素とその近傍にある所定数個の画素について平均値を算出し、算出された値を当該画素の出力値とすることによって行われる。ここで、ぼかしの程度は、平均値の算出において算入される画素の範囲（より具体的には、ぼかし半径）によって規定されることとなり、このぼかし半径が、ぼかしパラメータＰ１として設定される。ぼかし処理を欠陥検出アルゴリズムに組み込んで実行することによって、両画像データを同程度のぼけ具合で適正に比較することが可能となる。
【００６７】
ゆすらせ処理部１３２は、ゆすらせ処理に係るパラメータ（ゆすらせパラメータＰ２）に従ってゆすらせ処理を実行する。ゆすらせ処理とは、基準データＤ０、検査対象データＤ１のうちどちらか一方の画像データの配置位置を仮想的にずらして両画像を比較する処理であり、ゆすらせる画素の範囲（より具体的には、ゆすらせる画素範囲を規定するゆすらせ半径）が比較パラメータＰ２として設定される。ゆすらせ処理を欠陥検出アルゴリズムに組み込んで実行することによって、検査対象データＤ１における線画や絵柄の配置位置が基準データＤ０における配置位置からずれている場合（いわゆる画素ずれが生じている場合）であっても、画素ずれをキャンセルして本来の差分値を検出することが可能となる。
【００６８】
比較処理部１３３は、比較処理に係るパラメータ（比較パラメータＰ３）に従って比較処理を実行する。比較処理とは、基準データＤ０と検査対象データＤ１との間に生じた階調の差を欠陥として検出する処理である。より具体的には、基準データＤ０と検査対象データＤ１とについて、対応する画素毎に階調差の差分値を算出し、算出された差分値が所定の閾値より大きな場合に、当該画素を欠陥と判断する。欠陥として検出すべき階調差を規定する閾値（すなわち、階調マージン）が、比較パラメータＰ３として設定される。
【００６９】
孤立点除去処理部１３４は、孤立点除去処理に係るパラメータ（孤立点除去パラメータＰ４）に従って孤立点除去処理を実行する。孤立点除去処理とは、基準データＤ０と検査対象データＤ１との間において差分が生じている画素が小さな画素範囲に孤立して存在している場合に、これを不要な孤立点として除去する処理である。ここで、孤立点と判断する画素範囲（より具体的には、孤立点を形成する画素の数を規定する孤立点除去画素数）が、孤立点除去パラメータＰ４として設定される。
【００７０】
なお、この実施の形態における欠陥検出アルゴリズムは、これらの各処理部１３１〜１３４が記憶部１２から読み出された基準データＤ０、検査対象データＤ１に対して所定の画像処理を実行することによって行われるものであり、より具体的には、例えば次の流れで行われる。
【００７１】
まず、ぼかし処理部１３１が、基準データＤ０と検査対象データＤ１とに対してぼかし処理を実行する。ぼかし処理が実行されることによって、ＲＩＰ展開して得られた画像データである基準データＤ０がカメラなどで撮像されて得られた検査対象データＤ１と同程度のぼけ具合となるように補正される。
【００７２】
続いて、ゆすらせ処理部１３２が検査対象データＤ１に対してゆすらせ処理を実行し、比較処理部１３３が、ゆすらせ理が行われた検査対象データＤ１と基準データＤ０とに対して比較処理を実行する。これによって、画素ずれをキャンセルした上で、有意な階調差が検出される。
【００７３】
さらに、孤立点除去処理部１３４が、孤立点除去処理を実行して、比較処理の結果に生じている不要な孤立点を除去する。これによって、欠陥として検出すべきではないほど小さな孤立点までもが欠陥として検出されることが回避される。
【００７４】
再び図２を参照する。結果画像作成部１３５は、結果データＤ２を作成する。結果データＤ２は、検査対象データＤ１中の欠陥部分（すなわち、基準データＤ０および検査対象データＤ１に対して欠陥検出アルゴリズムが実行された結果、検査対象データＤ１において欠陥として抽出された部分）を非欠陥部分（すなわち、欠陥として抽出された部分以外の部分）とは異なる表示形態にて特徴的に表示した画像データである。
【００７５】
図４（ａ）には、図３に例示される基準データＤ０および検査対象データＤ１に対して欠陥検出アルゴリズムを実行することによって得られた結果データＤ２が例示されている。結果データＤ２は、非欠陥部分、つまり検査対象データＤ１において基準データＤ０との間に有意な差分が生じていないと判断された領域（適正領域Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３）については薄く表示され、欠陥部分、つまり基準データＤ０との間で有意な差分が生じていると判断された領域（欠陥領域Ｔ１，Ｔ２）については、太らせ処理によって太らせた上で、所定の色（例えばマゼンダ色）で表示される。
【００７６】
目標データ作成部１４０は、オペレータから結果データＤ２に対する修正指示を受け付けるとともに、当該指示内容を結果データＤ２に反映させた画像データ（以下において「目標データＤ３」という。）を作成する。
【００７７】
図４（ｂ）には、図４（ａ）に例示される結果データＤ２に対するオペレータからの修正指示を受け付けて作成した目標データＤ３が例示されている。例えば、図４（ａ）に示される結果データＤ２における欠陥領域Ｔ１，Ｔ２のうち、欠陥領域Ｔ２を適正領域に修正する指示をオペレータから受けた場合、目標データ作成部１４０は、図４（ｂ）に示されるように欠陥領域Ｔ２を適正領域に修正した目標データＤ３を作成する。より具体的には、結果データＤ２における欠陥領域Ｔ２の部分を適正領域として薄く表示された状態に修正する。なお、オペレータは、結果データＤ２に対する修正指示を、結果データＤ２が表示された画面上から与えることができる（図７参照）。これについては後にさらに具体的に説明する。
【００７８】
調整対象パラメータ特定部１５０は、欠陥検出画像処理に係るパラメータＰ１〜Ｐ４のうちから、調整の対象となる１以上のパラメータ（以下において「調整対象パラメータ」という。）を特定する。調整対象パラメータの特定は、より具体的には、オペレータから、パラメータＰ１〜Ｐ４のうちで調整を所望するパラメータの選択入力を受け付けることによって行われる。
【００７９】
調整定数決定部１６０は、各調整対象パラメータの「調整幅」と「分割数」とを決定する。調整幅および分割数の決定は、より具体的には、オペレータから調整幅および分割数の値の入力を受け付けることによって行われる。ただし、「調整幅」とは調整対象パラメータの調整範囲（すなわち、後述するパラメータ調整処理部１７０が変化させるパラメータ値の範囲）であり、パラメータ値の最小値と最大値とによって規定される。また、「分割数」とは、パラメータ値の変化幅（すなわち、パラメータ調整処理部１７０がパラメータ値を変化させる際の変化量）である。
【００８０】
例えば、ぼかしパラメータＰ１の調整幅が「最大値＝８pix」「最小値＝１pix」と設定され、分割数が「１pix」と設定された場合（図９参照）、パラメータ調整処理部１７０は、ぼかしパラメータＰ１の値を「１pix」から「８pix」まで、「１pix」毎に変化させながら、その中で最適なぼかしパラメータＰ１の値を決定する。なお、以下において、調整幅によって規定される調整範囲を分割数によって規定される変化幅で変化させた際に取りうるパラメータの値を「試行値」という。つまり、パラメータの調整値は試行値のいずれかに決定されることになる。
【００８１】
なお、最小値に「０」が設定された場合、パラメータの調整値が「０」に決定される可能性もある。この場合、パラメータ値が「０」に設定された調整処理は、欠陥検出アルゴリズムにおいて実質的には行われないことになる。
【００８２】
パラメータ調整処理部１７０は、調整対象パラメータの調整値を決定する。パラメータ調整処理部１７０は、パラメータ値適否判断部１７１と、パラメータ値決定部１７２とを備えている。
【００８３】
パラメータ値適否判断部１７１は、パラメータの値を順に変化させながら（より具体的には、パラメータの値を調整幅によって規定される調整範囲を分割数によって規定される変化幅で変化させながら（さらに換言すると、欠陥検出画像処理に係るパラメータＰ１〜Ｐ４の各値により構成されるパラメータ値群（Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４）（すなわち、パラメータＰ１〜Ｐ４の各値の組み合わせ）において、調整対象パラメータの値を順に変化させながら））、各パラメータ値の下で得られた結果データＤ２が目標データＤ３と一致するか否かを判断する。つまり、パラメータＰ１〜Ｐ４の各試行値の全通りの組み合わせについて、各組み合わせが、目標データＤ３と一致する結果データＤ２を与えるパラメータ値の組み合わせであるか否かを判断する。ただし、目標データＤ３と結果データＤ２とが一致するか否かの判断は、より具体的には、両画像データの欠陥領域の部分が一致するか否かを判断することにより行われる。なお、パラメータ値適否判断部１７１が目標データＤ３と一致すると判断した結果データＤ２が得られたパラメータ値を以下において「適正値」という。また、目標データＤ３と一致する結果データＤ２を与えるパラメータ値群を、以下において「適正パラメータ値群」という。つまり、適正パラメータ値群を構成するパラメータ値が「適正値」となる。例えば、パラメータＰ１〜Ｐ４のうちで調整対象パラメータがパラメータＰ３である場合において、調整対象パラメータＰ３の値が「ｎ」のパラメータ値群の下で欠陥検出アルゴリズムを実行したとする。そこで得られた結果データＤ２の欠陥領域の部分が目標データＤ３の欠陥領域の部分と一致する場合、このパラメータ値群は適正パラメータ値群であるといえる。また、パラメータＰ３についてパラメータ値「ｎ」は適正値であるといえる。
【００８４】
パラメータ値決定部１７２は、調整対象パラメータの調整結果として出力する値（すなわち調整値）を決定する。より具体的には、適正パラメータ値群から構成される集合の中央値に決定する。すなわち、各調整対象パラメータについての適正値から構成される集合の中央値を選択して調整値に決定する。例えば、調整対象パラメータが１種類の場合、図１１（ａ）に示されるように、適正値Ｔａから構成される集合Ｑ１の中央値である試行値Ｔａｏを選択して調整値に決定する。
【００８５】
〈２．処理〉
次に、欠陥検査装置１におけるパラメータ調整処理について説明する。
【００８６】
〈パラメータ調整処理の全体の流れ〉
図５は、欠陥検査装置１におけるパラメータ調整処理（より具体的には、欠陥検出画像処理に係るパラメータＰ１〜Ｐ４の調整処理）の全体の流れを示す図である。
【００８７】
まず、基準データ取得部１１０と検査対象データ取得部１２０とが、それぞれ基準データＤ０（図３（ａ）参照）と検査対象データＤ１（図３（ｂ）参照）とを取得して記憶部１２に格納する（ステップＳ１）。
【００８８】
続いて、欠陥検出処理部１３０が、ステップＳ１で取得された基準データＤ０と検査対象データＤ１に対して欠陥検出アルゴリズムを実行して検査対象データＤ１における欠陥を検出し、検出結果を反映させた結果データＤ２（図４（ａ）参照）を作成する（ステップＳ２）。
【００８９】
続いて、目標データ作成部１４０が、オペレータから結果データＤ２に対する修正指示を受け付けるとともに、当該指示内容を結果データＤ２に反映させた目標データＤ３（図４（ｂ）参照）を作成する（ステップＳ３）。
【００９０】
続いて、調整対象パラメータ特定部１５０が、欠陥検出画像処理に係るパラメータＰ１〜Ｐ４のうちから調整対象パラメータを特定するとともに、各調整対象パラメータの調整幅と分割数とを決定する（ステップＳ４）。
【００９１】
続いて、パラメータ調整処理部１７０が、調整対象パラメータの調整値を決定する（ステップＳ５）。
【００９２】
続いて、パラメータ調整処理部１７０が、ステップＳ５で決定された調整値と、ステップＳ３で作成された目標データＤ３と、決定されたパラメータ値の下で欠陥検出アルゴリズムを実行した際に得られた結果データＤ２とを、表示部１４に表示する（ステップＳ６）。
【００９３】
ステップＳ６の表示結果をみたオペレータから、調整対象パラメータの値を表示された調整値に設定する旨の指示が受け付けられた場合（ステップＳ７でＹＥＳ）、パラメータ調整処理部１７０は、調整対象パラメータの値をステップＳ５で決定された調整値に設定する（ステップＳ８）。以上でパラメータ値の調整処理が終了する。以下において、ステップＳ３，Ｓ４，Ｓ５の各処理についてより具体的に説明する。
【００９４】
〈２−１．目標データＤ３の作成処理〉
ステップＳ３の処理についてより具体的に説明する。図６は、ステップＳ３の処理の流れを示す図である。
【００９５】
はじめに、目標データ作成部１４０は、結果データＤ２に対する修正指示の受付画面Ｇを表示部１４に表示する（ステップＳ１１）。図７は、受付画面Ｇの構成例を示す図である。受付画面Ｇは、修正の対象となる結果データＤ２の全体を表示するフィールドｇ１と、結果データＤ２のうちで修正対象となる領域を拡大して表示するフィールドｇ２と、修正内容を決定する選択パネルを表示するフィールドｇ３とから構成されている。
【００９６】
まず、目標データ作成部１４０は、フィールドｇ１において修正対象となる領域の指定を受け付ける（ステップＳ１２）。つまり、オペレータは、フィールドｇ１に表示された結果データＤ２の全体を見て結果データＤ２において修正したい部分が存在するか否かを判断し、修正したい部分が見つかった場合、マウスのドラッグ操作によって修正対象となる領域を指定する。目標データ作成部１４０は、当該領域指定を受け付ける。なお、領域指定はマウス以外の各種のポインティングデバイス（例えば、トラックボール、タッチパッド、タブレット等）によって行われてもよい。
【００９７】
フィールドｇ１において修正対象となる領域の指定を受け付けると、目標データ作成部１４０は、続いて当該指定された領域内をフィールドｇ２に拡大して表示する（ステップＳ１３）。例えば、オペレータが、図７に示されるように、フィールドｇ１に表示された結果データＤ２において領域Ｕ０を指定した場合、目標データ作成部１４０は、領域Ｕ０の指定を受け付けて、フィールドｇ２に領域Ｕ０内を拡大して表示する。
【００９８】
続いて、目標データ作成部１４０は、フィールドｇ２において修正指示を実行する領域（以下において「修正対象領域Ｕ」という。）の指定を受け付ける（ステップＳ１４）。つまり、オペレータにフィールドｇ２において結果データＤ２における修正したい部分をマウスのドラッグ操作等によってさらに細かく指定させて、目標データ作成部１４０が当該指定された領域を修正対象領域Ｕとして受け付ける。フィールドｇ２には結果データＤ２の一部領域が拡大表示されているので、オペレータはフィールドｇ１での領域指定よりもさらに細かい領域指定を行うことができる。
【００９９】
修正領域Ｕの領域指定を受け付けると、目標データ作成部１４０は、続いて修正対象領域Ｕに対して実行する修正の内容の入力を受け付ける（ステップＳ１５）。この入力操作は、より具体的には、オペレータが、フィールドｇ３に表示された選択パネルのうち、修正内容を入力するパネル「追加」「削除」のいずれかを選択してクリックすることによって行われる。
【０１００】
修正内容の入力を受け付けると、目標データ作成部１４０は、結果データＤ２に対して指示された内容の修正を実行する（ステップＳ１６）。例えば、オペレータが、「削除」のパネルを選択した場合、目標データ作成部１４０は修正対象領域Ｕ内に含まれる欠陥領域を適正領域に修正する。オペレータが、「追加」のパネルを選択した場合、目標データ作成部１４０は修正対象領域Ｕ内に含まれる適正領域を欠陥領域に修正する。以下において修正対象領域Ｕのなかで、実際に欠陥領域や適正領域に変更される対象となる領域のことを「差異領域Ｖ」という。
【０１０１】
なお、上記においては、一旦フィールドｇ２において修正対象領域Ｕの指定を受け付けて（ステップＳ１４）そこに含まれる差異領域Ｖに対して修正を実行している（ステップＳ１６）が、フィールドｇ２において直接に差異領域Ｖの指定を受け付けることも可能である。この場合、オペレータは、例えばフィールドｇ２においてに表示された適正領域や欠陥領域の一部を、欠陥領域や適正領域に修正する指示を与えることができる（例えば、図１３の修正指示Ｅ３参照）。
【０１０２】
続いて、目標データ作成部１４０は、結果データＤ２にステップＳ１５で受け付けた修正内容を反映したものをフィールドｇ１に表示する（ステップＳ１７）。つまり、差異領域Ｖの表示態様を変更してフィールドｇ１に表示する。
【０１０３】
続いて、目標データ作成部１４０は、修正完了の指示入力を待つ（ステップＳ１８）。この指示入力操作は、より具体的には、オペレータが、フィールドｇ３に表示された選択パネルのうち、修正指示を終了して、調整すべきパラメータについての詳細を設定するための画面に移行する旨の指示を入力するパネル「詳細」を選択してクリックすることによって行われる。オペレータは、フィールドｇ１に表示された画像を見てさらに修正したい部分が存在するか否かを判断し、さらに修正したい部分が見つかった場合には、「詳細」パネルを選択することなくフィールドｇ１において修正対象となる領域を再度指定する。この場合、目標データ作成部１４０は、再びステップＳ１２〜Ｓ１７の処理を行って結果データＤ２に対する修正指示を受け付ける。一方、オペレータは、すべての修正箇所についての指示入力が完了したと判断した場合には「詳細」パネルを選択して修正指示終了の指示を入力する。
【０１０４】
修正指示終了の入力を受け付けると（ステップＳ１８でＹＥＳ）、目標データ作成部１４０は目標データＤ３の作成を完了して、作成された目標データＤ３を記憶部１２に格納する（ステップＳ１９）。以上で、ステップＳ３の処理が終了する。
【０１０５】
〈２−２．調整対象パラメータの特定処理〉
ステップＳ４の処理についてより具体的に説明する。図８は、ステップＳ４の処理の流れを示す図である。
【０１０６】
ステップＳ３の処理が完了すると（すなわち、受付画面Ｇにおいて「詳細」パネルの操作が受け付けられると）、調整対象パラメータ特定部１５０は、パラメータ調整についての設定入力の受付画面Ｈを表示部１４に表示する（ステップＳ２１）。図９は、受付画面Ｈの構成例を示す図である。受付画面Ｈは、調整対象パラメータの選択入力を受け付けるフィールドｈ１と、調整幅と分割数の入力を受け付けるフィールドｈ２と、設定入力の決定、キャンセルの選択パネルを表示するフィールドｈ３とから構成されている。
【０１０７】
調整対象パラメータ特定部１５０は、はじめにフィールドｈ１において調整対象となるパラメータの選択を受け付ける（ステップＳ２２）。より具体的には、フィールドｈ１に欠陥検出画像処理に係るパラメータＰ１〜Ｐ４の種類を表示するとともに、各パラメータＰ１〜Ｐ４についてのチェックボックスを表示する。オペレータは、マウス操作によってチェックボックスにチェックを入れることによってパラメータＰ１〜Ｐ４のうちから調整を所望するパラメータを選択することができる。
【０１０８】
図９の例においては、フィールドｈ１にはぼかしパラメータＰ１を示す「ぼかし半径」の項目と、ゆすらせパラメータＰ２を示す「ゆすらせ半径」の項目と、孤立点除去パラメータＰ４を示す「孤立点除去画素数」の項目とが表示されている。また、図９においては隠れた状態にあるが、フィールドｈ１の右側部分に表示されたバーをドラッグすると、さらに比較パラメータＰ３を示す「階調マージン」の項目が表示される。オペレータは、所望のパラメータのチェックボックスＣにチェックを入れることによって調整を所望するパラメータを選択することができる。
【０１０９】
オペレータがいずれかのチェックボックスにチェックを入れてパラメータを選択した場合、調整対象パラメータ特定部１５０は、フィールドｈ２においてステップＳ２２で選択されたパラメータについての調整幅と分割数の入力を受け付ける（ステップＳ２３）。より具体的には、フィールドｈ２に調整幅（すなわち調整範囲の最大値と最小値）の入力ボックスと、分割数の入力ボックスを表示する。オペレータは、各入力ボックスに値を入力することによって、所望の調整幅と分割数とを入力することができる。
【０１１０】
例えば、図９に示されるように、オペレータが「ぼかし半径」の項目にチェックを入れてぼかしパラメータＰ１を調整対象パラメータに選択した場合、調整対象パラメータ特定部１５０は、「ぼかし半径」の表示部分を網掛けにするとともに、フィールドｈ２にぼかしパラメータＰ１の調整幅の入力ボックスと、分割数の入力ボックスを表示する。図９には、オペレータがぼかしパラメータＰ１の調整幅として最大値「８（pix）」、最小値「１（pix）」を、分割数として「１（pix）」を入力した様子が示されている。
【０１１１】
続いて、調整対象パラメータ特定部１５０は、調整対象パラメータの選択および各調整対象パラメータについての調整幅と分割数の設定入力の完了の指示入力を待つ（ステップＳ２４）。この指示入力操作は、より具体的には、オペレータが、フィールドｈ３に表示された選択パネルのうち、パラメータについての詳細設定を完了する旨の指示を入力するパネル「決定」を選択してクリックすることによって行われる。オペレータは、調整対象に加えたいパラメータがまだあると判断した場合には、「決定」パネルを選択することなく、フィールドｈ１においてパラメータをさらに選択する。この場合、調整対象パラメータ特定部１５０は、再びステップＳ２２〜Ｓ２４の処理を行ってパラメータについての詳細設定入力を受け付ける。一方、オペレータは、パラメータについての詳細設定が完了したと判断した場合には「決定」パネルを選択して詳細設定終了の指示を入力する。
【０１１２】
詳細設定終了の指示入力を受け付けると（ステップＳ２４でＹＥＳ）、調整対象パラメータ特定部１５０は、チェックボックスにチェックされたパラメータを調整対象パラメータとして読み込み（ステップＳ２５）、さらに各調整対象パラメータについて設定された調整幅と分割数を読み込む（ステップＳ２６）。
【０１１３】
なお、オペレータは、フィールドｈ３に表示されたキャンセルパネルをクリック操作すれば、パラメータの選択や調整幅と分割数の入力をやり直すことができる。キャンセルパネルが操作された場合、調整対象パラメータ特定部１５０は、先のオペレータの操作を無効とする。以上で、ステップＳ４の処理が終了する。
【０１１４】
〈２−３．調整値の決定処理〉
ステップＳ５の処理についてより具体的に説明する。図１０は、ステップＳ５の処理の流れを示す図である。
【０１１５】
ステップＳ４の処理が完了すると（すなわち受付画面Ｈにおいて「決定」パネルの操作が受け付けられると）、再び受付画面Ｇが表示部１４に表示される。受付画面Ｇにおいて「再演算」パネルの操作が受け付けられると、ステップＳ５の処理が開始される。
【０１１６】
はじめに、パラメータ調整処理部１７０は、欠陥検出画像処理に係るパラメータＰ１〜Ｐ４の初期値を設定する（ステップＳ３１）。より具体的には、パラメータＰ１〜Ｐ４のうち、調整対象パラメータの値を当該調整対象パラメータについて設定された調整幅の最小値に設定する。なお、調整対象パラメータでないパラメータについては、現在設定されている値を初期値として設定する。調整対象でないパラメータの値はこの初期値のままで固定される。パラメータＰ１〜Ｐ４の各初期値により構成されるパラメータ値群を、以下において、「初期パラメータ値群」という。
【０１１７】
続いて、欠陥検出処理部１３０が、設定されたパラメータ値（すなわち、初期パラメータ値群）を判定対象パラメータ値群とし、この判定対象パラメータ値群の下で、ステップＳ１で取得された基準データＤ０と検査対象データＤ１に対して欠陥検出アルゴリズムを実行して、検出結果を反映させた結果データＤ２を作成する（ステップＳ３２）。
【０１１８】
続いて、ステップＳ３２で作成された結果データＤ２を記憶部１２に格納する（ステップＳ３３）。
【０１１９】
続いて、パラメータ値適否判断部１７１が、ステップＳ３２において作成された結果データＤ２と、ステップＳ３で作成された目標データＤ３とを比較して、結果データＤ２の欠陥領域の部分が目標データＤ３の欠陥領域の部分と一致するか否かを判断する（ステップＳ３４）。より具体的には、結果データＤ２において欠陥領域となる部分が目標データＤ３において欠陥領域であるとともに目標データＤ３においてそれ以外の欠陥領域が存在しない場合（つまりは、結果データＤ２と目標データＤ３とに含まれる欠陥領域が完全に一致している場合）、結果データＤ２と目標データＤ３とが一致する判断し、それ以外の場合は両画像データは一致しないと判断する。
【０１２０】
ステップＳ３４で、両画像データの欠陥領域の部分が一致すると判断された場合、パラメータ値適否判断部１７１は、ステップＳ３２で実行された欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていたパラメータの値（調整対象パラメータが複数の場合には、当該欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていたパラメータの値の組み合わせ）が適正値であると判断して、当該パラメータ値（調整対象パラメータが複数の場合には、当該パラメータ値の組み合わせ）を記憶部１２に記憶する（ステップＳ３５）。換言すると、ステップＳ３２で実行された欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていた判定対象パラメータ値群が適正パラメータ値群であると判断して（すなわち、判定対象パラメータ値群を構成する調整対象パラメータの各値を適正値と判断して）、適正値と判断された調整対象パラメータの各値を記憶部１２に記憶する。
【０１２１】
一方、ステップＳ３４で、両画像データの欠陥領域の部分が一致しないと判断された場合、パラメータ値適否判断部１７１は、ステップＳ３２で実行された欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていたパラメータの値（調整対象パラメータが複数の場合には、当該欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていたパラメータの値の組み合わせ）が適正値でないと判断する（ステップＳ３６）。換言すると、ステップＳ３２で実行された欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていた判定対象パラメータ値群が適正パラメータ値群ではないと判断する。
【０１２２】
続いて、調整対象パラメータのそれぞれについて設定されている値（換言すると、判定対象パラメータ値群において、調整対象パラメータのそれぞれについて設定されている値）が当該パラメータの調整幅の最大値であるか否かを判断する（ステップＳ３７）。
【０１２３】
ステップＳ３７で、当該パラメータの調整幅の最大値に設定されていない調整対象パラメータが少なくとも１以上あると判断された場合には、パラメータ値（すなわち、判定対象パラメータ値群を構成するパラメータの値）の設定変更を行う（ステップＳ３８）。この処理はより具体的には、次のように行われる。
【０１２４】
調整対象パラメータが１種類の場合は、当該調整対象パラメータについて現在設定されている値を、当該調整対象パラメータの分割数だけ増加させた値に設定変更して、新たな判定対象パラメータ値群として取得する。
【０１２５】
ただし、調整対象パラメータについて設定されている値が当該パラメータの調整幅の最大値に設定されると、当該パラメータ値の下での欠陥検出アルゴリズムが完了した時点において、全試行値についての適否判断が終了したと判断され（すなわち、ステップＳ３７でＹＥＳ）、それ以上のパラメータの設定変更が行われることなくステップＳ３９の処理に移行することになる。
【０１２６】
調整対象パラメータが２種類の場合は、調整対象パラメータのうちの一方のパラメータ値（第２の調整対象パラメータとする）を固定したままで、他方の調整対象パラメータ（第１の調整対象パラメータとする）について現在設定されている値を、当該調整対象パラメータの分割数だけ増加させた値に設定変更して、新たな判定対象パラメータ値群として取得する。
【０１２７】
第１の調整対象パラメータについて設定されている値が当該調整対象パラメータの調整幅の最大値である場合には、第２の調整対象パラメータについて現在設定されている値を、当該調整対象パラメータの分割数だけ増加させた値に設定変更するとともに、第１の調整対象パラメータの値を、再び当該調整対象パラメータの調整幅の最小値に設定して、新たな判定対象パラメータ値群として取得する。
【０１２８】
ただし、第１、第２の各調整対象パラメータについて設定されている値がいずれも当該パラメータの調整幅の最大値に設定されると、当該パラメータ値の下での欠陥検出アルゴリズムが完了した時点において、調整対象パラメータの試行値の全通りの組み合わせについて適否判断が終了したと判断され（すなわち、ステップＳ３７でＹＥＳ）、それ以上のパラメータの設定変更が行われることなくステップＳ３９の処理に移行することになる。
【０１２９】
調整対象パラメータが３種類以上の場合も、調整対象パラメータが２種類の場合と同様に、調整対象パラメータの試行値の全通りの組み合わせについて適否判断が実行されるまでパラメータ値を順に設定変更する。
【０１３０】
再び図１０を参照する。ステップＳ３７で、調整対象パラメータのすべてについて設定されている値が当該パラメータの調整幅の最大値であると判断された場合（つまり、調整対象パラメータの試行値の全通りの組み合わせ（すなわち、とりうる全てのパラメータ値群）について欠陥検出アルゴリズムが実行された場合）、続いてパラメータ値決定部１７２が、調整対象パラメータの調整値を決定する。この処理はより具体的には、次のように行われる。
【０１３１】
まず、適正値であると判断されたパラメータ値（調整対象パラメータが複数の場合は、適正値であると判断されたパラメータ値の組み合わせ）があるか否かを判断する（ステップＳ３９）。より具体的には、記憶部１２に、適正値であると判断されたパラメータ値が格納されているか否かを判断する。
【０１３２】
適正値と判断されたパラメータ値が記憶部１２に記憶されていない場合、パラメータ値適否判断部１７１は、適正なパラメータ値が見つからなかった旨をオペレータに通知する（ステップＳ４０）。例えば、「パラメータ調整に失敗しました」とのメッセージを表示部１４に表示する。
【０１３３】
適正値と判断されたパラメータ値が記憶部１２に記憶されている場合、パラメータ値適否判断部１７１は、適正値のうちで最適なパラメータ値（調整対象パラメータが複数の場合には、最適なパラメータ値の組み合わせ）を調整値に選択する（ステップＳ４１）。より具体的には、適正値と判断された試行値の中央値を調整値として選択する。
【０１３４】
この処理は、具体的には次のように行われる。調整対象パラメータが１種類の場合は、図１１（ａ）に示すように、当該調整対象パラメータの試行値Ｔのうちで適正値と判断された試行値Ｔａから構成される集合Ｑ１の中央値Ｔａｏを選択して調整値に決定する。
【０１３５】
調整対象パラメータが２種類の場合は、図１１（ｂ）に示すように、第１の調整対象パラメータと第２の調整対象パラメータの試行値の組み合わせＴのうちで適正と判断されたパラメータ値の組み合わせＴａから構成される集合Ｑ２の中央値Ｔａｏを選択して調整値に決定する。
【０１３６】
調整対象パラメータが３種類以上の場合も、調整対象パラメータが２種類の場合と同様に、調整対象パラメータの試行値の組み合わせのうちで適正値と判断されたパラメータ値の組み合わせから構成される集合の中央値を選択して調整値に決定する。以上で、ステップＳ５の処理が終了する。
【０１３７】
〈３．効果〉
この発明の第１の実施の形態に係る欠陥検査装置１においては、画像処理に係るパラメータ値の調整を行うにあたり、目標データ作成部１４０がオペレータから結果データＤ２に対する修正指示を受け付けて目標データＤ３を作成し、パラメータ調整処理部１７０が目標データＤ３と一致するような結果データＤ２が得られるパラメータ値を調整値に決定する。これによりオペレータは、パラメータ値を直接に設定入力しなくとも（すなわち、トライアルアンドエラー的な手法で所望のパラメータ値を探して設定入力しなくとも）、結果データＤ２に対する修正指示を与えるだけで容易に所望のパラメータ値を得ることができる。また、パラメータ調整処理部１７０が、調整値を目標データＤ３と一致する結果データＤ２が得られる値に決定するので、パラメータの調整を的確に行うことができる。
【０１３８】
また、容易に適切なパラメータ調整を行うことが可能となるので、従来であればサービスマンタスクで行われることが多かったパラメータ調整をユーザタスクに変更することができる。これによって、メンテナンス費用を削減することが可能となる。
【０１３９】
特に、欠陥検査装置１においては、欠陥の検出感度を規定するパラメータＰ１〜Ｐ４を容易かつ的確に調整することができるので、欠陥検査装置１においてオペレータが所望する検出感度で欠陥を検出することが可能となる。
【０１４０】
特に、目標データ作成部１４０が、検査対象データＤ１を表示部１４に表示して、表示画面上から結果データＤ２に対する修正指示の入力を受け付けるので、オペレータは結果データＤ２に対する修正指示を容易かつ的確に入力することが可能となる。その結果、パラメータ調整をさらに容易かつ的確に行うことが可能となる。
【０１４１】
特に、パラメータ値適否判断部１７１が、調整対象パラメータの値を順に変化させながらパラメータ値が適正値であるか否かを判断し（より具体的には、各パラメータ値の下で得られた結果データＤ２が目標データＤ３と一致するか否かを判断することによって、当該パラメータ値が適正値であるか否かを判断し）、パラメータ値決定部１７２が、調整対象パラメータの調整値を適正値に決定するので、目標データＤ３と一致するような結果データＤ２が得られるパラメータ値を確実に検出することが可能となる。
【０１４２】
特に、パラメータ値決定部１７２が、調整対象パラメータの調整値を、適正値と判断されたパラメータ値から構成される集合の中央値を選択して調整値に決定するので、適正値の中でも最適な値（つまりは、目標データＤ３と一致するような結果データＤ２が最も確実に得られるパラメータ値）をパラメータの調整値として決定することが可能となる。
【０１４３】
特に、調整定数決定部１６０が、オペレータからの入力に基づいて調整対象パラメータの調整幅を規定するので、パラメータの調整範囲を絞りこむことが可能となる。これによって、パラメータ調整を迅速に行うことが可能となる。
【０１４４】
また、調整定数決定部１６０が、オペレータからの入力に基づいて調整対象パラメータの分割数を規定するので、調整範囲において取りうるパラメータ値を絞りこむことが可能となる。これによって、パラメータ調整をさらに迅速に行うことが可能となる。
【０１４５】
特に、調整対象パラメータ特定部１５０が、オペレータからの入力に基づいて欠陥検出画像処理に係るパラメータのうちから調整の対象となるパラメータを特定するので、調整対象となるパラメータの種類を絞りこむことが可能となる。これによって、パラメータ調整を迅速に行うことが可能となる。
【０１４６】
〔第２の実施の形態〕
〈１．構成〉
この発明の第２の実施の形態に係るデータ処理装置の一態様である欠陥検査装置は、第１の実施の形態において説明した欠陥検査装置１と同様の装置構成において実現されるのでその説明を省略する。また、以下においては、第２の実施の形態に係る欠陥検査装置の構成要素を示すにあたって、第１の実施の形態に係る欠陥検査装置１と同じ構成要素については、第１の実施の形態の説明に用いた参照符号を用いる。
【０１４７】
〈１−１．パラメータの調整に関する構成〉
この実施の形態に係る欠陥検査装置は、検版／印刷物検査に係る画像処理のパラメータを調整する機能を有している。図１２は、パラメータ調整機能に関する構成を説明する図である。
【０１４８】
この実施の形態に係る欠陥検査装置は、調整対象パラメータ特定部１５０に換えて、調整対象パラメータ判定部２５０を備えている点が第１の実施の形態に係る欠陥検査装置１と相違する。以下においては、第１の実施の形態に係る欠陥検査装置１と相違する点のみを説明し、相違しない点については説明を省略する。また、同じ構成要素については、同じ符号を付して示すことにする。
【０１４９】
調整対象パラメータ判定部２５０は、調整対象パラメータ特定部１５０と同様、欠陥検出画像処理に係るパラメータＰ１〜Ｐ４のうちから調整対象パラメータを特定する。ただし調整対象パラメータ判定部２５０は、オペレータからの選択入力を受け付けることによって調整対象パラメータを特定するのではなく、目標データ作成部１４０において受け付けられたオペレータからの結果データＤ２に対する修正指示に基づいて調整対象パラメータを特定する。
【０１５０】
調整対象パラメータ判定部２５０は、特徴量取得部２５１と、相応パラメータ判定部２５２と、調整対象パラメータ決定部２５３とを備えている。
【０１５１】
特徴量取得部２５１は、目標データ作成部１４０において受け付けられたオペレータからの結果データＤ２に対する修正指示（以下において単に「修正指示」という。）のそれぞれから所定の特徴量を取得する。
【０１５２】
ここで特徴量について図１３〜図１５を参照しながらより具体的に説明する。ただし、図１３（ａ）には結果データＤ２が例示されており、図１３（ｂ）には図３（ａ）に例示される結果データＤ２に対するオペレータからの修正指示Ｅ１〜Ｅ３を受け付けて作成した目標データＤ３が例示されている。
【０１５３】
ここで、修正指示Ｅ１は、修正対象領域Ｕ１内にある１つの孤立点（差異領域Ｖ１）を適正領域から欠陥領域に修正する指示であるとする。また、修正指示Ｅ２は、修正対象領域Ｕ２内にある複数個の孤立点（差異領域Ｖ２ａ，Ｖ２ｂ，Ｖ２ｃ，Ｖ２ｄ）を適正領域から欠陥領域に修正する指示であるとする。また、修正指示Ｅ３は、差異領域Ｖ３を適正領域から欠陥領域に修正する指示であるとする。
【０１５４】
修正指示の特徴量とは、当該修正指示内容に応じた結果データＤ２が作成されるために調整するべきパラメータの種類を特定するための判断要素となる値である。特徴量取得部２５１は各修正指示から、面積Ｓ、個数Ａ、明度分布Ｈの３つの情報を特徴量として取得する。
【０１５５】
面積Ｓは、１つの修正指示に係る差異領域Ｖの総面積である。例えば、修正指示Ｅ２から取得される面積Ｓは、修正対象領域Ｕ２に含まれる各差異領域Ｖ２ａ〜Ｖ２ｄの面積の総和である。また例えば、修正指示Ｅ３から取得される面積Ｓは、差異領域Ｖ３の面積となる。
【０１５６】
個数Ａは、１つの修正指示に係る差異領域Ｖの個数である。例えば、修正指示Ｅ２のように、修正対象領域Ｕ２内に、独立した４個の差異領域Ｖ１ａ〜Ｖ２ｄがある場合は、個数Ａは「４」となる。一方、修正指示Ｅ１のように、修正対象領域Ｕ１内に、独立した１個の差異領域Ｖ１しかない場合は、個数Ａは「１」となる。また、修正指示Ｅ３のように、直接に差異領域Ｖが指定された場合には、個数Ａは「１」となる。
【０１５７】
明度分布Ｈは、検査対象データＤ１の所定領域（すなわち、差異領域Ｖの中心から所定範囲を占める領域であり、以下において「明度量取得領域Ｗ」という。）の明度分布である。
【０１５８】
ここで、明度分布Ｈの取得についてより具体的に説明する。明度分布Ｈを取得するにあたって、調整対象パラメータ判定部２５０は、まず、明度量取得領域Ｗを特定する。より具体的には、まず、差異領域Ｖの中心Ｖｏ（１つの修正指示に係る差異領域Ｖが複数ある場合には、全差異領域Ｖの中心）を特定し、特定された中心Ｖｏを中心とする明度量取得領域Ｗを規定する。
【０１５９】
続いて、調整対象パラメータ判定部２５０は、検査対象データＤ１における明度量取得領域Ｗの明度分布を取得する。例えば修正指示Ｅ１の場合、明度量取得領域Ｗ１の中心は差異領域Ｖ１の中心Ｖｏと一致する（図１４（ａ）参照）。ここで、検査対象データＤ１において、差異領域Ｖ１が図１４（ａ）に示されるように白い背景中に存在する点であるとすると、明度量取得領域Ｗの明度分布として、例えば図１５（ａ）のようなヒストグラムが取得される。
【０１６０】
また、例えば修正指示Ｅ３の場合、明度量取得領域Ｗの中心は差異領域Ｖ３の中心Ｖｏと一致する（図１４（ｂ）参照）。ここで、差異領域Ｖ３が検査対象データＤ１において、図１４（ｂ）に示されるように絵柄と背景の境界部分にある場合、明度量取得領域Ｗの明度分布として、例えば図１５（ｂ）のようなヒストグラムが取得される。
【０１６１】
一方、差異領域Ｖ３が検査対象データＤ１において、図１４（ｃ）に示されるようにグラデーションに変化する領域部分にある場合、明度量取得領域Ｗの明度分布として、例えば図１５（ｃ）のようなヒストグラムが取得される。
【０１６２】
再び図１２を参照する。相応パラメータ判定部２５２は、特徴量取得部２５１が取得した各特徴量に基づいて、調整すべきパラメータの種類を判定する。
【０１６３】
ここで判定方法についてより具体的に説明する。面積Ｓに基づく判定は、次のように行われる。まず、面積Ｓの値が所定値ｓ１よりも大きいか否かを判断する。ここで、面積Ｓの値が所定値ｓ１よりも大きいと判断された場合には、比較パラメータＰ３を調整すべきと判定される。
【０１６４】
面積Ｓの値が所定値ｓ１よりも大きくないと判断された場合には、続いて、面積Ｓの値が所定値ｓ２（ただし、ｓ１＞ｓ２）よりも大きいか否かを判断する。ここで、面積Ｓの値が所定値ｓ２よりも大きいと判断された場合には、ぼかしパラメータＰ１を調整すべきと判定される。一方、面積Ｓの値が所定値ｓ２よりも大きくないと判断された場合には、孤立点除去パラメータＰ４を調整すべきと判定される。
【０１６５】
個数Ａに基づく判定は、次のように行われる。まず、個数Ａの値が所定値ｎ１よりも大きいか否かを判断する。ここで、個数Ａが所定値ｎ１よりも大きい場合には、ゆすらせパラメータＰ２を調整すべきと判定される。一方、個数Ａが所定値ｎ１よりも大きくない場合には、孤立点除去パラメータＰ４を調整すべきと判定される。
【０１６６】
明度分布Ｈに基づく判定は、次のように行われる。まず、調整対象パラメータ判定部２５０は、取得した明度情報のヒストグラム形状が、「第１分布形状ｈ１」「第２分布形状ｈ２」「第３分布形状ｈ３」のいずれであるかを判定する。
【０１６７】
その結果、ヒストグラム形状が、第１分布形状ｈ１と判定された場合には孤立点除去パラメータＰ４を、第２分布形状ｈ２と判定された場合にはぼかしパラメータＰ１を、第３分布形状ｈ３と判定された場合には比較パラメータＰ３を、それぞれ調整すべきと判定される。
【０１６８】
ここで、ヒストグラム形状が、いずれの分布形状ｈ１〜ｈ３であるかを判定する方法について、図１５、図１６を参照しながら説明する。ただし、図１６は、ヒストグラム形状の種類を判定する流れを示す図である。
【０１６９】
まず、ヒストグラム分布のうちで、最も大きい明度の値（最大値Ｍ）を取得する（ステップＳ１０１）。
【０１７０】
続いて、基準値Ｎを算出する（ステップＳ１０２）。ただし、基準値Ｎは最大値Ｍの半分の値（Ｎ＝Ｍ／２）である。
【０１７１】
続いて、明度値が基準値Ｎであるところの分布幅が、所定値よりも大きいか否かを判断する（ステップＳ１０３）。ただし、図１５（ｂ）のように、明度値が基準値Ｎであるところに２以上の独立した分布領域が現れている場合、最も広い分布幅が所定値よりも大きいか否かを判断する。
【０１７２】
ステップＳ１０３で、分布幅が所定値よりも大きいと判断された場合（すなわち、所定幅よりも大きい分布幅が存在する場合）、ヒストグラム分布は第３分布形状ｈ３であると判定する（ステップＳ１０４）。
【０１７３】
ステップＳ１０３で、分布幅が所定値よりも大きくないと判断された場合（すなわち、所定幅よりも大きい分布幅が存在しない場合）、続いて２以上の分布領域が現れているか否かを判断する（ステップＳ１０５）。
【０１７４】
ステップＳ１０６で、２以上の分布形状が現れていると判断された場合、ヒストグラム分布は第２分布形状ｈ２であると判定する（ステップＳ１０６）。
【０１７５】
ステップＳ１０６で、２以上の分布領域が現れていると判断されない場合、ヒストグラム分布は第１分布形状ｈ１であると判定する（ステップＳ１０７）。
【０１７６】
例えば、図１５（ａ）〜（ｃ）のヒストグラム形状について上記の判定処理を行った場合、図１５（ａ）のヒストグラムは第１分布形状ｈ１であり孤立点除去パラメータＰ４を調整すべきと判定される。また、図１５（ｂ）のヒストグラムは第２分布形状ｈ２でありぼかしパラメータＰ１を調整すべきと判定される。また、図１５（ｃ）のヒストグラムは第３分布形状ｈ３であり比較パラメータＰ３を調整すべきと判定される。
【０１７７】
再び図１２を参照する。調整対象パラメータ決定部２５３は、相応パラメータ判定部２５２が出力した判定結果を総合して、最終的に調整対象パラメータを特定する。より具体的には、蓄積された判定結果のなかで各パラメータの占める割合を算出し、割合の高い順に２つのパラメータを調整対象パラメータに決定する。
【０１７８】
〈２．処理〉
第２の実施の形態に係る欠陥検査装置１におけるパラメータ調整処理について説明する。パラメータ調整処理の全体の流れは図５に示される通りである。ただし、この実施の形態においては、調整対象パラメータの特定処理（すなわち、ステップＳ４に相当する処理）が次のように行われる。
【０１７９】
〈２−１．調整対象パラメータの特定処理〉
図１７は、この実施の形態において実行される調整対象パラメータの特定処理の流れを示す図である。
【０１８０】
はじめに、特徴量取得部２５１が、ステップＳ３で目標データ作成部１４０が受け付けた結果データＤ２に対する修正指示のそれぞれから、所定の特徴量（すなわち、面積Ｓ、個数Ａ、明度分布Ｈ）を取得する（ステップＳ１１１）。
【０１８１】
例えば目標データＤ３の作成にあたって、図１３に示されるように、３つの修正指示Ｅ１〜Ｅ３が受け付けられていた場合、特徴量取得部２５１は各修正指示Ｅ１〜Ｅ３のそれぞれについて、面積Ｓ、個数Ａ、明度分布Ｈを取得する。
【０１８２】
続いて、相応パラメータ判定部２５２が、ステップＳ１１１で取得した特徴量のそれぞれに基づいて調整すべきパラメータの種類を判定する（ステップＳ１１２）。なお、判定結果は順に相応パラメータ判定部２５２から調整対象パラメータ決定部２５３へと送られ、調整対象パラメータ決定部２５３は判定結果を蓄積していく。
【０１８３】
相応パラメータ判定部２５２が取得された特徴量のすべてについての判定を完了し、調整対象パラメータ決定部２５３が全特徴量についての判定結果を取得したと判断されると（ステップＳ１１３でＹＥＳ）、調整対象パラメータ決定部２５３が、蓄積された判定結果を総合して調整対象となるパラメータを特定する（ステップＳ１１４）。より具体的には、蓄積された判定結果のなかで各パラメータの占める割合を算出し、割合の高い順に２つのパラメータを調整対象パラメータに決定する。
【０１８４】
例えば、ステップＳ１１１において特徴量取得部２５１が修正指示Ｅ１〜Ｅ３のそれぞれについて面積Ｓ、個数Ａ、明度分布Ｈを取得した場合、ステップＳ１１２において相応パラメータ判定部２５２は、取得された９つの特徴量のそれぞれに基づいて調整すべきパラメータの種類を順に判定していく。この判定結果は調整対象パラメータ決定部２５３に送られて、調整対象パラメータ決定部２５３は、図１８に示されるように９つの判定結果を蓄積することになる。図１８の例においては、調整対象パラメータ決定部２５３は、蓄積された判定結果のなかで最も多い割合を占めるパラメータである孤立点除去パラメータＰ４と、次に割合の多いぼかしパラメータＰ１とを調整対象パラメータに決定する。
【０１８５】
再び図１７を参照する。ステップＳ１１４で、２つの調整対象パラメータが決定されると、調整対象パラメータ判定部２５０は、パラメータ調整についての設定入力の受付画面Ｈ（図９参照）を表示部１４に表示する（ステップＳ１１５）。なお、この実施の形態においては、受付画面Ｈにおけるフィールドｈ１は、調整対象パラメータの選択入力を受け付けるためのフィールドではなく、調整対象パラメータの決定結果を表示するためのフィールドとして機能する。すなわち、調整対象パラメータ判定部２５０は、ここで、フィールドｈ１に表示されるチェックボックスのうちで、ステップＳ１１４で調整対象パラメータに決定されたパラメータについてのチェックボックスにチェックが入った状態の受付画面Ｈを表示する。フィールドｈ２、フィールドｈ３については、第１の実施と同じである。
【０１８６】
続いて、調整対象パラメータ判定部２５０は、調整対象パラメータのそれぞれについての調整幅と分割数の入力を受け付ける（ステップＳ１１６）。この処理は、先に説明したステップＳ２３（図８）の処理と同じである。
【０１８７】
続いて、各調整対象パラメータについて調整幅と分割数が入力完了して、決定パネルの操作が受け付けられた場合（ステップＳ１１７でＹＥＳ）、調整対象パラメータ判定部２５０は、各調整対象パラメータについて設定された調整幅と分割数を読み込む（ステップＳ１１８）。以上で、調整対象パラメータの特定処理が終了する。
【０１８８】
〈３．効果〉
この発明の第２の実施の形態に係る欠陥検査装置においては、特に、調整対象パラメータ判定部２５０が、オペレータからの修正指示に基づいて欠陥検出画像処理に係るパラメータのうちから調整の対象となるパラメータを決定するので、目標データＤ３と一致するような結果データＤ２が得られるために調整すべきパラメータの種類を適切に選択することが可能となる。これによって、パラメータ調整を迅速かつ的確に行うことが可能となる。
【０１８９】
〔第３の実施の形態〕
〈１．構成〉
この発明の第３の実施の形態に係るデータ処理装置の一態様である欠陥検査装置は、第１の実施の形態において説明した欠陥検査装置１と同様の装置構成において実現されるのでその説明を省略する。また、以下においては、第３の実施の形態に係る欠陥検査装置の構成要素を示すにあたって、第１の実施の形態の説明に用いた参照符号を用いる。
【０１９０】
この実施の形態に係る欠陥検査装置は、第１の実施の形態に係る欠陥検査装置１と同様、調整定数決定部１７０を備えている。ただし、この実施の形態においては調整定数決定部１７０は、適正値から構成される集合の中央値を選択することによって調整値を決定するのではなく、はじめに検出された適正値を調整値に決定する。
【０１９１】
〈２．処理〉
第３の実施の形態に係る欠陥検査装置１におけるパラメータ調整処理について説明する。パラメータ調整処理の全体の流れは図５に示される通りである。ただし、この実施の形態においては、パラメータの調整値の決定処理（すなわち、ステップＳ５に相当する処理）が次のように行われる。
【０１９２】
〈２−１．調整値の決定処理〉
図１９は、この実施の形態において実行される調整対象パラメータの調整値の決定処理の流れを示す図である。
【０１９３】
まず、先に説明したステップＳ３１〜ステップＳ３４（図１０）と同様の処理が行われる（ステップＳ２１１〜ステップＳ２１４）。
【０１９４】
ステップＳ２１４で、両画像データの欠陥領域の部分が一致すると判断された場合、パラメータ値適否判断部１７１は、ステップＳ２１２で実行された欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていたパラメータの値（調整対象パラメータが複数の場合には、当該欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていたパラメータの値の組み合わせ）が適正値であると判断する。この場合、当該適正値と判断されたパラメータ値を調整対象パラメータの調整値に決定する（ステップＳ２１５）。つまり、第１の実施の形態のように各調整対象パラメータの試行値の全通りの組み合わせについて欠陥検出アルゴリズムを実行するまでもなく、適正なパラメータ値が見つかった時点で、当該パラメータ値を調整値に決定する。つまり、はじめに検出された適正値を調整値に決定する。
【０１９５】
一方、ステップＳ２１４で、両画像データの欠陥領域の部分が一致しないと判断された場合、パラメータ値適否判断部１７１は、ステップＳ２１２で実行された欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていたパラメータの値（調整対象パラメータが複数の場合には、当該欠陥検出アルゴリズムにおいて採用されていたパラメータの値の組み合わせ）が適正値でないと判断する（ステップＳ２１６）。
【０１９６】
この場合、続いて、調整対象パラメータのそれぞれについて設定されている値が当該パラメータの調整幅の最大値であるか否かを判断する（ステップＳ２１７）。
【０１９７】
ステップＳ２１７で、当該パラメータの調整幅の最大値に設定されていない調整対象パラメータが少なくとも１以上あると判断された場合には、パラメータ値の設定変更を行う（ステップＳ２１８）。この処理は、先に説明したステップＳ３８（図１０）の処理と同様である。
【０１９８】
ステップＳ２１７で、調整対象パラメータのすべてついて設定されている値が当該パラメータの調整幅の最大値であると判断された場合（つまり、調整対象パラメータの試行値の全通りの組み合わせについて欠陥検出アルゴリズムが実行された場合）、パラメータ値適否判断部１７１は、適正なパラメータ値が見つからなかった旨をオペレータに通知する（ステップＳ２１９）。つまり、各調整対象パラメータの試行値の全通りの組み合わせについて欠陥検出アルゴリズムを実行しても、適正なパラメータ値が見つからなかった場合には、ステップＳ２１９の処理が行われる。以上で、調整対象パラメータの調整値の決定処理が終了する。
【０１９９】
〈３．効果〉
この発明の第３の実施の形態に係る欠陥検査装置においては、調整対象パラメータの調整値を、はじめに適正値と判断されたパラメータ値を調整値に決定するので、パラメータ調整を迅速に行うことが可能となる。
【０２００】
〔第４の実施の形態〕
〈１．構成〉
この発明の第４の実施の形態に係るデータ処理装置の一態様である欠陥検査装置は、第１の実施の形態において説明した欠陥検査装置１と同様の装置構成において実現されるのでその説明を省略する。また、以下においては、第４の実施の形態に係る欠陥検査装置の構成要素を示すにあたって、第１の実施の形態の説明に用いた参照符号を用いる。
【０２０１】
〈１−１．パラメータの調整に関する構成〉
この実施の形態に係る欠陥検査装置は、検版／印刷物検査に係る画像処理のパラメータを調整する機能を有している。図２０は、パラメータ調整機能に関する構成を説明する図である。
【０２０２】
この実施の形態に係る欠陥検査装置は、パラメータの調整値を決定する態様が第１の実施の形態に係る欠陥検査装置１と相違する。以下においては、第１の実施の形態に係る欠陥検査装置１と相違する点のみを説明し、相違しない点については説明を省略する。また、同じ構成要素については、同じ符号を付して示すことにする。
【０２０３】
この実施の形態に係る欠陥検査装置は、検版／印刷物検査に係る画像処理のパラメータを調整する機能を有している。図２０は、パラメータ調整機能に関する構成を説明する図である。なお、以下においては、図２１、図２２を適宜参照する。図２１、図２２は、遺伝的アルゴリズムを用いた調整値の決定態様を説明する概念図である。
【０２０４】
この実施の形態に係る欠陥検査装置は、パラメータ調整処理部４７０を備えている。パラメータ調整処理部４７０は、調整対象パラメータの調整値を遺伝的アルゴリズムを用いて決定する。より具体的には、調整対象パラメータの各試行値の全通りの組み合わせに対応する複数のパラメータ値群のうちから、目標データＤ３と一致する結果データＤ２を与えるパラメータ値群を遺伝的アルゴリズムにより抽出する。そして、抽出したパラメータ値群を構成する値を、調整対象パラメータの調整値に決定する。
【０２０５】
パラメータ調整処理部４７０は、図２０に示すように、第１世代固体群生成部４７１と、適応値取得部４７２と、ペア生成部４７３と、交叉処理部４７４と、突然変異実行部４７５と、最適パラメータ値決定部４７６とを備えている。
【０２０６】
第１世代固体群生成部４７１は、所定数Ｎ個（ただし、Ｎは所定の自然数であり、その値は任意に設定することができる。また、図２１の例ではＮ＝４である。）の固体群を生成して、第１世代の固体群として取得する。各固体は、Ｍ個の遺伝子により構成される染色体を有する。ただし、遺伝子とは、より具体的には、０．０〜１．０の範囲のいずれかの数値であり、第１世代の各個体が有する遺伝子の数値はそれぞれランダムに選択される。また、染色体に含まれる遺伝子の個数Ｍ（図２１の例では、Ｍ＝７）は、欠陥検出画像処理に係るパラメータの個数と一致しており、図２２に示すように、各遺伝子１，２，…７は欠陥検出画像処理に係るパラメータのいずれかと対応している。すなわち、各染色体はパラメータ値群と対応している。
【０２０７】
なお、欠陥検出画像処理に係るパラメータのうちから選択した１以上のパラメータを調整対象パラメータとする場合、各遺伝子を調整対象パラメータのいずれかと対応させる。つまりこの場合、遺伝子の個数は調整対象パラメータの個数と一致することになる。
【０２０８】
適応値取得部４７２は、個体の適応値を取得する。適応値取得部４７２は、各世代を構成するＮ個の固体のそれぞれについて後述する処理を行うことによって、Ｎ個の個体のそれぞれの適応値を取得する。そして、取得した適応値を、各個体と対応づけて記憶部１２に記憶する。
【０２０９】
適応値を取得する処理について、図２２を参照しながら説明する。適応値を取得するにあたっては、まず、固体に含まれるＭ個（図２２の例では、Ｍ＝７）の遺伝子のそれぞれを解釈して、Ｍ個のパラメータ値を取得する。すなわち、１個の染色体から１個のパラメータ値群を取得する。遺伝子を解釈してパラメータの値を取得する処理は、次の（式１）に示される演算処理を実行することによって行われる。ただし（式１）中、「Ｇｉ」は遺伝子の値であり、「Ｐｉ」は当該遺伝子と対応付けられるパラメータの値である（ｉ＝１，２，…，Ｍ）。また、「min」および「max」は、それぞれ、当該パラメータについて設定された調整幅の最小値および最大値である。また、「div」は、当該パラメータについて設定された分割数である。また、「int｛｝」は、小数点以下の値を切り捨てる演算処理を示す。
【０２１０】
Pi＝min＋（max−min）*int{Gi*div}/div                        ・・・（式１）
続いて、取得されたパラメータ値群の下で欠陥検出アルゴリズムを実行して、結果データＤ３を取得する。そして、取得された結果データＤ２を目標データＤ３と比較して、個体の適応値を算出する。ただし、この「適応値」とは、結果データＤ２と目標画像データＤ３とが一致する部分の面積率（画像全体の面積に対する一致部分の面積の比率）である。つまり、個体の適応値は、当該固体（染色体）と対応するパラメータ値群が与える結果データＤ２が目標データＤ３と一致する度合いを示す値であり、その値が大きいほど優れた個体（目標データＤ３と高度に一致する結果データＤ２を与えるパラメータ値群と対応する個体）であることがわかる。ただし、適応値は０〜１の範囲の数値を取りうる。例えば、適応値が「１」の個体は、目標データＤ３と完全に一致する結果データＤ３を与えるパラメータ値群に対応する最も優れた個体であるといえる。
【０２１１】
ペア生成部４７３は、同世代のＮ個の固体から、〔（Ｎ／２）−１〕組（ただし、Ｎが偶数の場合。Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）／２組）のペアを生成する。より具体的には、まず、同世代のＮ個の固体群のうちから、適応値を用いた自然淘汰の原理によって、（Ｎ−２）個（Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）個）の固体を選択する。ここで選択された個体が次世代の個体を生成する親の個体となる。自然淘汰の原理とは、優秀な個体（すなわちここでは、適応値の高い個体）の遺伝子を優先的に次世代に引き継がせていく原理であり、同世代のＮ個の個体のうちで、優秀な個体ほど親の個体として選択される確率を高くすることによって実現される。例えば、適応値を親の個体として選択される選択確率とする。また、適応値が大きな順に個体を順位付けして、高順位の個体から順に高い値の選択確率を割り当てていく構成としてもよい。ペア生成部４７３は、上記の原理にしたがって選択された（Ｎ−２）個（Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）個）の固体から、互いに異なる２つの固体をペアにして、〔（Ｎ／２）−１〕組（Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）／２組）のペアを生成する。
【０２１２】
なお、後述する交叉・突然変異を行うことによって、次世代の個体を生成するのであるが、生成される次世代の個体数が前の世代の個体数と同数となるように（すなわち、世代を経ても個体数が変化しないように）、個体数の調整を行う。上記の場合、交叉に使用される個体の数（すなわち、後述するように、交叉により生成される個体の数）は、Ｎが偶数の場合は（Ｎ−２）個、Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）個であるので、このままでは生成される次世代の個体数が減少してしまう。したがって、この不足分を補充する調整処理を行う。
【０２１３】
Ｎが偶数の場合は２個の個体が不足している。この場合、例えば、エリート戦略（適応値の高い個体をそのまま次世代の個体として残す方法）によって個体を１個補充するとともに、ランダムに選択した遺伝子を備える個体を１個補充する。一方、Ｎが奇数の場合は１個の個体が不足している。この場合、例えば、エリート戦略によって個体を１個補充する。
【０２１４】
なお、ここで生成するペアの数を、（Ｎ／２）組（ただし、Ｎが偶数の場合。Ｎが奇数の場合は〔（Ｎ＋１）／２〕組）としてもよい。この場合、交叉に使用される個体の数は、Ｎが偶数の場合はＮ個、Ｎが奇数の場合は（Ｎ＋１）個であるので、Ｎが奇数の場合には生成される次世代の個体数が増加してしまう。したがって、この場合、Ｎが奇数の場合には、交叉処理後に、生成された次世代の個体から１個の個体をランダムに選択して削除して、個体数の調整を行う。
【０２１５】
交叉処理部４７４は、ペアとされた２つの固体を交叉させて、次世代の固体を生成する。より具体的には、図２１に示すように、所定の交叉位置Ｑ（ただし、交叉位置は、染色体上からランダムに選択された位置とする）よりも後半部分にある遺伝子を入れ替えて、新たな固体を生成する。これにより、各ペアから次世代の固体が２つ生成されることになる。図２１に示すように、前世代から選択された優秀な親個体の交叉により新たに生成された個体の適応値は、親の適応値よりもさらに良好なものとなっている可能性が高い。つまり、世代が進むにつれて、適応値の低い固体が自然淘汰されていき、適応値の高い優秀な固体が生まれる可能性が高くなる。ただし、図２１において網掛けで示されている遺伝子は、適応値に対応する遺伝子を意味している。ここでは、第２世代において、適応値が「０．５」の個体２’が生成される様子が例示されている。
【０２１６】
なお、上述した通り、ここで、生成される次世代の個体数が前の世代の個体数と同数となるように、個体数の調整を行う。すなわち、交叉に使用される個体の数が、（Ｎ−２）個の場合には、生成される固体の数がＮ個になるように、不足分の固体をエリート戦略およびランダムな遺伝子選択によって１個ずつ補充する。また、交叉に使用される個体の数が、（Ｎ−１）個の場合には、不足分の固体をエリート戦略によって１個補充する。さらにまた、交叉に使用される固体の数が、（Ｎ＋１）個の場合には、生成された次世代の個体から１個の個体をランダムに選択して削除する。
【０２１７】
突然変異実行部４７５は、交叉により新たな個体群が生成された際に、当該生成された新たな個体群の遺伝子に所定の確率で突然変異を起こす。突然変異とは、新たに生成されたＮ個の個体の遺伝子の値の変更である。所定の確率で遺伝子を突然変異させる（すなわち、所定の確率で遺伝子の値をランダムに変更する）ことによって、遺伝子の値の偏りが解消され、最適化処理においてローカルミニマムに陥る危険を回避することができる。
【０２１８】
最適パラメータ値決定部４７６は、調整対象パラメータの調整値（調整結果として出力する値）を決定する。より具体的には、所定の世代（例えば第Ｔ世代（ただし、Ｔは任意に設定された２以上の自然数））の個体が生成されると、当該世代の個体のうちで最も高い適応値を有する個体を最適個体として抽出する。そして、抽出した最適個体の染色体に対応するパラメータ値群を最適なパラメータ値群と判断し、この最適なパラメータ値群を構成するＭ個のパラメータ値を各パラメータの調整値に決定する。換言すると、最適個体の染色体に含まれるＭ個の遺伝子を解釈して取得されるＭ個のパラメータ値を、各パラメータの調整値に決定する。なお、世代数に関係なく、所定の値よりも高い適応値を有する個体が生まれた時点で、当該個体を最適個体として抽出する構成としてもよい。
【０２１９】
〈２．処理〉
第４の実施の形態に係る欠陥検査装置におけるパラメータ調整処理について説明する。パラメータ調整処理の全体の流れは図５に示される通りである。ただし、この実施の形態においては、調整値の決定処理（すなわち、ステップＳ５に相当する処理）が次のように行われる。
【０２２０】
〈２−１．調整値の決定処理〉
図２３は、この実施の形態において実行される調整値の決定処理の流れを示す図である。なお、以下においても、図２１、図２２を適宜参照する。
【０２２１】
ステップＳ４（図５）の処理が完了すると、再び受付画面Ｇが表示部１４に表示される。受付画面Ｇにおいて「再演算」パネルの操作が受け付けられると、ステップＳ５の処理が開始される。
【０２２２】
はじめに、第１世代固体群生成部４７１が、第１世代を構成するＮ個の個体（図２１の例においては、個体１，２，３，４）を生成する（ステップＳ３１１）。ここで生成された各個体は、上述の通り、ランダムに選択されたＭ個の遺伝子により構成される染色体を有している。
【０２２３】
続いて、適応値取得部４７２が、第１世代を構成するＮ個の個体のそれぞれの適応値を取得し、取得した適応値を各個体と対応づけて記憶部１２に記憶する（ステップＳ３１２）。
【０２２４】
続いて、ペア生成部４７３が、第１世代のＮ個の個体から、〔（Ｎ／２）−１〕組（Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）／２組）のペアを生成する（ステップＳ３１３）。より具体的には、第１世代のＮ個の固体群のうちから、適応値を用いた自然淘汰の原理によって、（Ｎ−２）個（Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）個））の固体を選択し、選択された（Ｎ−２）個（Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）個）の固体から、互いに異なる２つの固体をペアとして、〔（Ｎ／２）−１〕組（Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）／２組）のペアを生成する。
【０２２５】
続いて、交叉処理部４７４が、ステップＳ３１３で生成されたペアのそれぞれについて、ペアになった２つの固体を交叉させて、新たな固体を生成する（ステップＳ３１４）。より具体的には、図２１に示すように、染色体上からランダムに選択された所定の交叉位置よりも後半部分にある遺伝子を入れ替えて、（Ｎ−２）個（Ｎが奇数の場合は（Ｎ−１）個）の個体を新たに生成する。さらにここで、生成される次世代の個体数が前の世代の個体数と同数となるように、個体数の調整を行う。すなわち、生成された個体数が（Ｎ−２）個の場合、エリート戦略によって１個の個体を補充するとともに、ランダムに選択した遺伝子を備える個体を１個補充する。一方、生成された個体数が（Ｎ−１）個の場合、エリート戦略によって１個の個体を補充する。
【０２２６】
続いて、突然変異実行部４７５が、ステップＳ３１４で生成された新たな固体に、所定の確率で遺伝子の突然変異を起こす（ステップＳ３１５）。
【０２２７】
ステップＳ３１４〜ステップＳ３１５の処理によって、Ｎ個の個体が新たに生成され、ここで生成されたＮ個の個体（図２１の例においては、個体１’，２’，３’，４’）が、第２世代を構成する固体群となる。
【０２２８】
続いて、最適パラメータ値決定部４７６が、所定の世代（第Ｔ世代（ただし、Ｔは任意に設定された自然数））の固体が生成されたか否かを判断する（ステップＳ３１６）。換言すると、ステップＳ３１２からステップＳ３１５までの処理が所定回数（Ｔ−１回）だけ実行されたか否かを判断する。
【０２２９】
ステップＳ３１６において、第Ｔ世代の固体が生成されていないと判断された場合、再びステップＳ３１２の処理に戻る。例えばＴ＝３の場合、ステップＳ３１５の処理において第２世代の個体群が生成されているとすると、再びステップＳ３１２の処理に戻る。この場合、第２世代の個体群に対してステップＳ３１２〜ステップＳ３１５の処理が実行されることによって、第３世代を構成する個体群が生成されることになる。
【０２３０】
ステップＳ３１６において、第Ｔ世代の固体が生成されたと判断された場合、適応値取得部４７２が、第Ｔ世代を構成するＮ個の個体のそれぞれの適応値を取得し、最適パラメータ値決定部４７６が、第Ｔ世代の個体のうちで最も高い適応値を有する個体を最適個体として抽出する（ステップＳ３１７）。例えばＴ＝３の場合、ステップＳ３１５の処理において第３世代の個体群が生成されているとすると、最適パラメータ値決定部４７６は、第３世代の個体のうちで最も高い適応値を有する個体を最適個体として抽出する。
【０２３１】
なお、ステップＳ３１６の判断処理に変えて、ステップＳ３１２の処理の後（すなわち、各個体の適応値が取得された後）に、所定値よりも高い適応値を有する個体が存在するか否かを判定する処理を実行してもよい。この場合、そのような固体が存在すると判断された時点で、当該個体を最適個体として抽出する。
【０２３２】
続いて、最適パラメータ値決定部４７６は、ステップＳ３１７で抽出された最適個体の染色体に含まれるＭ個の遺伝子を解釈してＭ個のパラメータ値を取得し、当該取得された値を各パラメータの調整値に決定する（ステップＳ３１８）。以上で、ステップＳ５（図５）の処理が終了する。
【０２３３】
なお、上記においては、次世代の個体は、適応値を用いた自然淘汰の原理によって選択された個体からペアを作り、そのペアを交叉させて生成する構成としているが、次世代の個体の生成方法はこれに限らない。例えば、適応値の高い個体をそのまま次世代の個体として残す方法（エリート戦略）を採用してもよい。また、ランダムに次世代の個体を生成する方法を採用してもよい。
【０２３４】
〈３．効果〉
この発明の第４の実施の形態に係る欠陥検査装置においては、調整対象パラメータの調整値を、遺伝的アルゴリズムを用いて取得するので、最適なパラメータ値を迅速に取得することができる。
【０２３５】
また、この実施の形態に係る欠陥検査装置においては、各種のパラメータを染色体に含まれる複数の遺伝子のそれぞれと対応付けて（すなわち、各個体を、各パラメータ値の組み合わせに対応付けて）、適応値の高い優秀な個体（すなわち、目標データＤ３を与える最適な調整値の組み合わせ）を遺伝的アルゴリズムを用いて取得する。したがって、調整対象パラメータの種類が多くなっても迅速に最適な調整値を得ることができる。
【０２３６】
〔変形例〕
〈第１の変形例〉
上記の各実施の形態においては、欠陥検出アルゴリズムにおいて、ぼかし処理、ゆすらせ処理、比較処理、孤立点除去処理が所定順で実行されるとしていたが、欠陥検査装置１において実行される欠陥検出アルゴリズムはこの態様に限らない。例えば、上記の各画像処理に換えてもしくは併せて、カーネル指定ぼかし処理や、太らせ処理を欠陥検出アルゴリズムに組み込むことができる。そして、組み込まれた各種の処理において必要とされるパラメータを上記の態様により調整することができる。つまり、上記の実施の形態においては、欠陥検出画像処理に係る複数のパラメータとして、ぼかしパラメータＰ１，ゆすらせパラメータＰ２，比較パラメータＰ３，孤立点除去パラメータＰ４を挙げているが、欠陥検出画像処理に係るパラメータはこれに限らない。
【０２３７】
例えば、フィルタ処理におけるフィルタ半径値、特定の色範囲の抽出処理において抽出すべき色範囲（例えば、Ｌａｂ色空間におけるＬ値、ａ値およびｂ値の各範囲）、太らせ処理における太らせ幅、細らせ処理における細らせ幅、エッジ成分の検出処理におけるフィルタ半径値およびフィルタＩＤ値、マスク合成処理や比較処理等の各種の処理を実行するか否かを規定するフラグ値、面積判定処理における面積範囲（最小面積値および最大面積値の各値）、特徴量抽出処理における最大輪郭長の値等といった各種のパラメータを調整対象パラメータとすることができる。
【０２３８】
また、欠陥検出画像処理に係るパラメータだけでなく、検査対象データＤ１を取得する際の各種パラメータ（例えば、イメージスキャナ５の照明角度、光源色、光学倍率、画像読取やノイズの除去等の処理に係る各種の調整変数等）を調整対象パラメータに含めてもよい。
【０２３９】
また、欠陥検出アルゴリズム処理を実行するか否か（アルゴリズム処理機能自体のＯＮ／ＯＦＦ）を、調整対象パラメータの１つとして含めることもできる。
【０２４０】
〈第２の変形例〉
上記の各実施の形態においては、データ処理装置の一態様である欠陥検査装置１において欠陥検出画像処理に係るパラメータの調整を行う場合について説明しているが、欠陥検出画像処理に限らず各種の画像処理（例えば、画像の変形処理、ノイズ除去処理、画像変換処理、コントラスト調整処理など）を行う装置に上記の態様を適用して、装置にて実行される画像処理に係るパラメータの値を調整することができる。一例として、液晶パターンに生じているムラを検査する装置（ムラ検査装置）に上記の態様を適用する場合について説明する。ただし、液晶パターンの「ムラ」とは、例えば、液晶の表示部となるカラーフィルタにおいて、全面にわたり均一の濃度とされるべきＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青紫）の各色に生じてしまう濃度の不均一部分を指す。
【０２４１】
ムラ検査装置においては、所定のムラ検出処理を実行することによって、カラーフィルタ等の検査対象物に生じている有意なムラ部分を特定する。ただし、ムラ検出処理は、例えば次のように実行される。まず、検査対象物の画像データをデータ解析して検査対象物に生じているムラを抽出する（例えばこの処理は、濃度分析、フィルタ処理、コントラスト強調処理、高速フーリエ変換（Fast Fourier Transform, FFT）および２値化処理等が組み込まれたムラ抽出アルゴリズムを実行することにより行われる）。そして、抽出されたムラ部分を評価して有意なムラ部分を検出する（例えばこの処理は、太らせ処理、細らせ処理、画像の縦横比、面積、位置等の理論値との比較判定判定処理等が組み込まれたムラ判定アルゴリズムを実行することにより行われる）。ここで、ムラの抽出精度や、ムラの検出感度は、各処理に係るパラメータにより規定される。したがって、適切な精度でムラを抽出し、さらに適切な（すなわちユーザの所望する通りの）感度でムラを検出するためには、処理に係るパラメータ値を適切に調整しておく必要がある。
【０２４２】
この変形例に係るムラ検査装置は、欠陥検出処理部１３０（図２）に相当する機能部としてムラ検出処理を実行する処理部を備える。当該処理部は、検査対象物の画像データに対して所定のムラ検出処理を実行することによって、当該画像データに生じているムラ部分を検出し、その検出されたムラ部分を特徴的に表示したデータ（すなわち、結果データＤ２）を作成する画像処理を行う。
【０２４３】
パラメータ調整に関するその他の機能部については、上記の実施の形態と同様であり（図２参照）、目標データ作成部１４０が、オペレータからこの結果データＤ２に対する修正指示を受け付けるとともに当該指示内容を結果データＤ２に反映させた画像データ（目標データＤ３）を作成し、さらにパラメータ調整処理部１７０が調整対象パラメータの調整値を決定する。これによって、ムラ検出処理に係るパラメータを調整することができる。
【０２４４】
〈第３の変形例〉
上記の各実施の形態においては、画像処理に係るパラメータの調整を行う場合について説明しているが、画像データ以外のデータ（例えばベクトルデータ）に対する各種の処理に係るパラメータの調整を行うこともできる。ベクトルデータに対する処理に係るパラメータの調整を行う場合の例として、ノイズを含む測定データから、被測定物を正確に特定するデータを試行錯誤により取得する作業に上記の態様を適用する場合について説明する。
【０２４５】
例えば、測定データが、基板の膜厚測定データ（その表面に溝（パターン）が形成された基板の膜厚を、分光式膜厚計によって測定することによって取得されたデータ）であるとする。通常、測定データにはノイズが含まれる。この膜厚測定データもやはりノイズの影響を含んでおり、実際の溝の幅や深さを測定データから直接に読み取ることは難しい。そこで、次のようなシミュレーションを用いた手法により溝の幅や深さを推定する作業が行われる。
【０２４６】
まず、適当な幅と深さを規定するベクトルデータ（すなわち、溝形状を表現するベクトルデータ）を生成し、当該ベクトルデータに対して分光シミュレーションを行う。すなわち、当該ベクトルデータにより表現される溝を分光式膜厚計によって測定した場合に得られる測定データを仮想的に生成する（以下においてこれを「仮想データ」という）。この仮想データが、測定データからノイズを除いた状態と一致していれば、当該仮想データを与えるベクトルデータこそが溝の幅や深さを正しくを表現しているデータであるといえる。そこで、オペレータは、このような仮想データを与えるベクトルデータを、試行錯誤によって探していく（より具体的には、得られた仮想データを測定データと比較した上で、両データ間に生じている相違部分をなくすようにベクトルデータの形状に変更を加える。そして、変更後のベクトルデータから再び仮想データを生成し、得られた仮想データを測定データと比較する、といった作業を繰り返しながら探していく）のである。
【０２４７】
この作業に、上記のパラメータの調整機能を適用することができる。この変形例においては、欠陥検出処理部１３０（図２）に相当する機能部としてベクトルデータの生成処理を実行する処理部（ベクトルデータ生成処理部）を備える。当該処理部は、所定の幅と深さをもつ溝を表現するベクトルデータを生成する。ただし、表現される溝の幅や深さは、当該ベクトルデータの生成処理部に与えられるパラメータの値によって規定されることになり、この変形例においては、当該パラメータを調整対象パラメータとする。ベクトルデータ生成処理部が生成したベクトルデータに対して所定の分光シミュレーションを行うことによって、仮想データが取得される。この変形例においては、ここで得られる仮想データが結果データＤ２となる。
【０２４８】
パラメータ調整に関するその他の機能部については、上記の実施の形態と同様である（図２参照）。すなわち、目標データ作成部１４０が、オペレータから結果データＤ２に対する修正指示を受け付けるとともに当該指示内容を結果データＤ２に反映させたデータ（目標データＤ３）を作成する。この変形例においては、オペレータは、作成される目標データＤ３が測定データからノイズを除いた状態と一致したものとなるように結果データＤ２に対する修正を加える。
【０２４９】
そして、パラメータ調整処理部１７０が、目標データＤ３と一致するような結果データＤ２を与えることができるパラメータの値を調整値として取得する。つまり、パラメータ調整処理部１７０によって、適切なベクトルデータ（すなわち、測定データからノイズを除いた状態と一致する仮想データを与えることができるベクトルデータ）を生成可能なパラメータ値が取得されることになる。このパラメータ値を用いて生成されたベクトルデータは、溝の幅や深さを正しくを表現しているデータとなる。このように、パラメータの調整機能を用いることによって、測定データから実際の溝の幅や深さを推定する作業を容易かつ適確に行うことが可能となる。
【０２５０】
〈第４の変形例〉
上記の各実施の形態は、第３の変形例としても説明したとおり、シミュレーションが使われる分野において有効な技術である。例えば、各種の物品製造工程においては、加工前の素材の形状から加工後の形状をシミュレーションにより生成して、加工後の形状が目標とする形状となるかを確認する作業が行われることがある。
【０２５１】
この作業に、上記のパラメータの調整機能を適用することができる。この変形例においては、欠陥検出処理部１３０（図２）に相当する機能部として加工前の素材形状を示す形状データの生成処理を実行する処理部（素材形状生成処理部）を備える。当該処理部は、所定の素材形状を表現する形状データを生成する。ただし、表現される形状は、当該素材形状生成処理部に与えられるパラメータの値によって規定されることになり、この変形例においては、当該パラメータを調整対象パラメータとする。特に、形状を表現するメッシュの粗密状態も、調整対象パラメータの１つとすることができる。素材形状生成処理部が生成した形状データに対して所定の加工作業のシミュレーションを行うことによって、当該素材形状を加工した後の形状を示す形状データが取得される。この変形例においては、ここで得られるデータが結果データＤ２となる。
【０２５２】
パラメータ調整に関するその他の機能部については、上記の実施の形態と同様である（図２参照）。すなわち、目標データ作成部１４０が、オペレータから結果データＤ２に対する修正指示を受け付けるとともに当該指示内容を結果データＤ２に反映させたデータ（目標データＤ３）を作成する。この変形例においては、オペレータは、作成される目標データＤ３が自らが所望する加工後の形状を示すものとなるように結果データＤ２に対する修正を加える。
【０２５３】
そして、パラメータ調整処理部１７０が、目標データＤ３と一致するような結果データＤ２を与えることができるパラメータの値を調整値として取得する。つまり、適切な素材形状（すなわち、オペレータが所望する加工形状を与えることができる素材形状）を示すデータを生成可能なパラメータ値が取得されることになる。このように、パラメータの調整機能を用いることによって、所望の加工形状を得るための素材形状を容易かつ適確に推定することができる。
【０２５４】
〈第５の変形例〉
上記の各実施の形態において説明したパラメータを調整する機能部として、取得された調整値を評価する構成（パラメータ評価部（図示省略））をさらに設けてもよい。
【０２５５】
パラメータ評価部は、パラメータ調整処理部１７０（図２）が決定した調整対象パラメータの調整値が適正な値か否かを評価する。例えば、決定された調整値の下で欠陥検出アルゴリズムを実行して得られるデータ（最終結果データ）と目標データＤ３とを比較して、両データの一致部分の面積率を算出し、当該値を調整値の評価値として取得する。つまり、評価値が高いほど、得られた調整値の下で得られるデータが目標データＤ３と一致する度合いが高いといえる。得られた評価値は、例えば表示部１４に表示してオペレータに知得させてもよい。また、評価値が所定値よりも低い場合には、パラメータ値を最終的に微調整する構成をさらに設けてもよいし、パラメータ調整処理部１７０に再度調整値の算出処理を実行させるとしてもよい。
【０２５６】
〈その他の変形例〉
上記の各実施の形態においては、検査対象データＤ１においては、欠陥領域Ｔ１，Ｔ２をマゼンダ色で表示するものとし、これによって欠陥領域が特徴的に表示される態様を採用しているが、欠陥領域を特徴的に表示する態様はこれに限らない。例えば、欠陥領域を適正領域よりも濃く表示する態様、欠陥領域を明滅表示する態様、適正領域を所定の色（例えば薄いグレー）で表示する態様、等を採用してもよい。
【０２５７】
また、上記の各実施の形態においては、結果データＤ２の欠陥領域の部分が目標データＤ３の欠陥領域の部分と完全に一致する場合に限って、当該結果データＤ２を作成するにあたって採用されていた試行値が調整対象パラメータの適正値であると判断していたが、結果データＤ２の欠陥領域の部分と目標データＤ３の欠陥領域の部分とが完全に一致していなくとも、不一致の程度が所定の許容範囲内にある場合には両データが一致するとみなして、当該結果データＤ２を作成するにあたって採用されていた試行値が調整対象パラメータの適正値であると判断してもよい。例えば、両データにおいて一致しない欠陥領域の面積が所定値よりも小さい場合には、両データが一致するものとみなして、当該試行値が調整対象パラメータの適正値であると判断してもよい。
【０２５８】
また、上記の各実施の形態においては、調整値の決定処理においてパラメータ調整処理部１７０がパラメータの値を変化させるにあたり、パラメータの値を調整幅によって規定される調整範囲を最小値から順に増加させる構成としていたが（図１０のステップＳ３１）、パラメータの値を変化させる態様はこれに限らない。例えば、調整範囲の最大値から順に減少させてもよいし、調整範囲の中央値から分割数づつ増減させながら変化させてもよい。また、調整前に設定されている値を初期値として変化させてもよい。
【０２５９】
また、第１の各実施の形態においては、パラメータ値適否判断部１７１が適正値と判断された試行値の中央値を調整値として選択するとしていたが（図１０のステップＳ４１）、適正値から中央値を決定する態様はこれに限らない。例えば、適正値と判断された試行値（調整対象パラメータが複数の場合は適正値と判断されたパラメータ値の組み合わせ））を表示部１４に一覧表示して、オペレータにいずれかの適正値を選択させてもよい。
【０２６０】
また、第２の実施の形態においては、特徴量として３つの情報（面積Ｓ、個数Ａ、明度分布Ｈ）を取得しているが、これら特徴量の少なくとも１つを特徴量として取得する構成としてもよい。また、特徴量として取得する情報はこれに限らない。例えば、オペレータが修正対象領域Ｕを指定した際のドラッグ領域を特徴量として取得してもよい。また、調整対象パラメータ決定部２５３が、蓄積された判定結果を総合して調整対象となるパラメータを特定するにあたって、特定の特徴量から得られた判定結果については重み付けをして各パラメータの占める割合を算出してもよい。
【０２６１】
また、第２の実施の形態においては、第１の実施の形態に係る欠陥検査装置１が備えていた調整対象パラメータ特定部１５０に換えて調整対象パラメータ判定部２５０を備える構成としているが、調整対象パラメータ特定部１５０と調整対象パラメータ判定部２５０とを併せて備える構成としてもよい。この場合、調整対象パラメータの特定を調整対象パラメータ判定部２５０によって自動に行うか、調整対象パラメータ特定部１５０がオペレータの選択入力を受け付けることによって行うかを、オペレータが選択可能な構成としてもよい。
【０２６２】
また、第２の実施の形態においては、調整対象パラメータ決定部２５３が、判定結果のなかで占める割合の高いパラメータから順に２つのパラメータを調整対象パラメータに決定していたが、占める割合の高い順に、１つもしくは２以上のパラメータを選択して調整対象パラメータに決定してもよい。
【図面の簡単な説明】
【０２６３】
【図１】この発明の第１の実施の形態に係る画像処理装置の一態様である欠陥検査装置１を含む印刷システム１００の構成を示す図である。
【図２】パラメータ調整機能に関する構成を説明する図である。
【図３】基準データＤ０と検査対象データＤ１を例示する図である。
【図４】結果データＤ２と目標データＤ３を例示する図である。
【図５】欠陥検査装置１におけるパラメータ調整処理の全体の流れを示す図である。
【図６】目標データＤ３の作成処理の流れを示す図である。
【図７】受付画面Ｇの構成例を示す図である。
【図８】調整対象パラメータの特定処理の流れを示す図である。
【図９】受付画面Ｈの構成例を示す図である。
【図１０】パラメータ値の決定処理の流れを示す図である。
【図１１】適正値と判断された試行値の中央値を調整値に選択することを説明するための図である。
【図１２】パラメータ調整機能に関する構成を説明する図である。
【図１３】結果データＤ２と目標データＤ３を例示する図である。
【図１４】明度量取得領域を例示する図である。
【図１５】明度分布のヒストグラム形状を例示する図である。
【図１６】ヒストグラム形状の種類を判定する流れを示す図である。
【図１７】調整対象パラメータの特定処理の流れを示す図である。
【図１８】調整対象パラメータ決定部２５３に蓄積された判定結果を例示する図である。
【図１９】パラメータ値の決定処理の流れを示す図である。
【図２０】パラメータ調整機能に関する構成を説明する図である。
【図２１】遺伝的アルゴリズムを用いた調整値の決定態様を説明する概念図である。
【図２２】遺伝的アルゴリズムを用いた調整値の決定態様を説明する概念図である。
【図２３】調整値の決定処理の流れを示す図である。
【符号の説明】
【０２６４】
１  欠陥検査装置
１３０  欠陥検出処理部
１４０  目標データ作成部
１５０  調整対象パラメータ特定部
１６０  調整定数決定部
１７０  パラメータ調整処理部
２５０  調整対象パラメータ判定部
Ｄ０  基準データ
Ｄ１  検査対象データ
Ｄ２  結果データ
Ｄ３  目標データ
Ｐ  プログラム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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