(57)【要約】【課題】信頼性の高い半導体装置の製造装置を提供する。【解決手段】ｐＭＯＳ１１のソース領域１５およびドレイン電極１６を構成する不純物拡散層を５０ｎｍ程度の極浅に形成する。極浅の不純物拡散層は、低エネルギーでのイオン打ち込み工程の後、ＲＬＳＡプラズマを用いたアニール工程を行うことにより形成される。アニール工程では、ＲＬＳＡプラズマにより、シリコン基板１２表面近傍のシリコン原子のみが選択的に励起され、深さ方向への不純物拡散は抑制される。【選択図】図１
2008098648.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
チャンバと、
前記チャンバに所定のガスを供給するガス供給部と、
前記チャンバ内にマイクロ波を導入するための複数のスリットを有する平面アンテナと、
前記平面アンテナに対向して配置され、予め不純物がドーピングされた被処理基板を加熱する基板保持部と、
前記チャンバ内の圧力を４０Ｐａ〜０．１３ｋＰａの範囲に保持する減圧排気部と、
前記ガス供給部により前記チャンバ内に供給させた前記ガスを前記平面アンテナ部からのマイクロ波により０．７ｅＶ〜２ｅＶの電子温度を有するプラズマを生成するプラズマ生成部と、
前記プラズマ生成部で生成されたプラズマを前記被処理基板に照射して、該プラズマ中の活性種により前記被処理基板の表面を励起し、前記被処理基板にドーピングされている前記不純物を活性化して、不純物拡散層を形成させるように制御する制御部と、
を備える、ことを特徴とするプラズマ処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマ処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近時、ＩＣ（Integrated Circuit）の高集積化及び高密度化の要請から、回路素子の微細化が重要な課題となっている。特に、ＭＯＳ（Metal-Oxide Semiconductor）トランジスタでは、０．１μｍ程度以上の微細化を進めると、短チャネル効果が顕著になり、閾値電圧の低下やオフ特性の劣化等の問題が生じる。ＭＯＳの短チャネル効果を防止するには、ソースおよびドレイン領域のそれぞれを構成する不純物拡散層を浅く形成することが有効である。
【０００３】
不純物拡散層の形成は、通常、イオン化した不純物を基板の表面領域に注入するイオン注入工程と、不純物が注入された基板の表面領域を加熱し、イオン注入により発生した格子欠陥を回復させるとともに、注入した不純物を結晶格子位置に納めて、電気的に活性化させるアニール工程と、から構成される。ここで、浅い不純物拡散層の形成は、イオン注入工程において、注入エネルギーを下げて不純物を注入することにより行われる。
【０００４】
イオン注入工程後のアニール工程では、ランプ、レーザ等の光源から光を、イオン注入した基板に照射して、１０００℃程度の高温まで急速に加熱する急速熱処理法が用いられる。急速熱処理法（ＲＴＡ）では、基板表面のみを選択的に加熱することができるので、１００℃／秒程度での高速の加熱が可能となり、１０秒程度での短時間処理が可能となる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、ＲＴＡを用いて、高温、短時間のアニールを行った場合でも、不純物の拡散を完全に抑えることはできない。このような不純物の拡散は、不純物打ち込み層がある程度深ければ許容範囲である。しかし、例えば、打ち込み層の深さが５０ｎｍ程度の極浅である場合には、加熱により打ち込み層の深さよりも深く拡散する不純物の量が無視できなくなる。
【０００６】
これは、ＲＴＡを用いた場合でも、上記のような極浅の深さ以上の深さで、基板が加熱されるからである。すなわち、加熱により、打ち込み層よりも深い場所のシリコン結晶が励起され、不純物がその結晶中に移動（拡散）する。このように不純物が拡散して活性化することにより、実質的な拡散深さは有意な程度まで増大し、短チャネル効果が防止されないなど、ＭＯＳの信頼性を低下させる。
【０００７】
以上のように、極浅の不純物拡散層を形成するには、基板表面の極浅領域のシリコン結晶のみを選択的に加熱（励起）することが必要となる。しかし、このような技術は、従来無かった。
【０００８】
本発明は、上記実状に鑑みてなされたもので、信頼性の高い半導体装置の製造装置に関する。
また、本発明は、極浅の拡散層を信頼性高く形成することが可能な半導体装置の製造装置に関する。
さらに、本発明は、基板表面のシリコン結晶を選択的に励起することが可能な半導体装置の製造装置に関する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、本発明の第１の観点に係るプラズマ処理装置は、
チャンバと、
前記チャンバに所定のガスを供給するガス供給部と、
前記チャンバ内にマイクロ波を導入するための複数のスリットを有する平面アンテナと、
前記平面アンテナに対向して配置され、予め不純物がドーピングされた被処理基板を加熱する基板保持部と、
前記チャンバ内の圧力を４０Ｐａ〜０．１３ｋＰａの範囲に保持する減圧排気部と、
前記ガス供給部により前記チャンバ内に供給させた前記ガスを前記平面アンテナ部からのマイクロ波により０．７ｅＶ〜２ｅＶの電子温度を有するプラズマを生成するプラズマ生成部と、
前記プラズマ生成部で生成されたプラズマを前記被処理基板に照射して、該プラズマ中の活性種により前記被処理基板の表面を励起し、前記被処理基板にドーピングされている前記不純物を活性化して、不純物拡散層を形成させるように制御する制御部と、
を備える、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、信頼性の高い半導体装置の製造装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明の実施の形態にかかる半導体装置の製造方法及び製造装置について、以下図面を参照して説明する。
【００１２】
本発明の実施の形態に係る半導体装置の製造方法によれば、例えば、ｐチャネル型のＭＯＳＦＥＴ（Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor）が製造される。図１に、本実施の形態の半導体装置の製造方法を用いて製造されるｐチャネルＭＯＳ（以下、ｐＭＯＳ）１１の構造を示す。
【００１３】
図１に示すように、ｐＭＯＳ１１は、シリコン基板１２と、ゲート絶縁膜１３と、ゲート電極１４と、から構成される。
【００１４】
シリコン基板１２は、エピタキシャル成長等により形成されたｎ型の基板である。シリコン基板１２は、ＳＯＩ（Silicon On Insulator）基板であってもよい。
【００１５】
ゲート絶縁膜１３は、シリコン基板１２上に形成されている。ゲート絶縁膜１３は、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、シリコン酸窒化膜、ならびに、これらと酸化タンタル等の高誘電率膜との積層膜等から構成される。ゲート絶縁膜１３は、例えば、２〜５ｎｍ（２０Å〜５０Å）の厚さで設けられる。
【００１６】
ゲート電極１４は、ゲート絶縁膜１３上に積層されている。ゲート電極１４は、不純物の導入されたポリシリコン、アルミニウム等から構成される。ゲート電極１４は、例えば、０．１μｍ〜０．３μｍ（１０００Å〜３０００Å）の厚さで設けられる。
【００１７】
シリコン基板１２の表面領域の、ゲート絶縁膜１３の両側には、ソース領域１５と、ドレイン領域１６と、が形成されている。ソース領域１５およびドレイン領域１６は、ｎ形のシリコン基板１２にｐ型の不純物を導入して形成された、ｐ型の不純物拡散領域である。
【００１８】
ソース領域１５およびドレイン領域１６は、それぞれ、図示しないソース電極およびドレイン電極に接続されている。ゲート電極１４に所定の電圧（ゲート電圧）が印加された際には、シリコン基板１２の表面領域に反転層、すなわち、チャネル（ｃｈ）が形成される。ソース電極およびドレイン電極に所定の電圧が印加されている場合には、チャネル（ｃｈ）を介して、ソース領域１５とドレイン領域１６との間に電流が流れる。
【００１９】
ここで、ソース領域１５およびドレイン領域１６を形成する不純物拡散層は、それぞれ、基板の深さ（厚さ）方向に、例えば、２ｎｍ〜５０ｎｍ（２０Å〜５００Å）以下の深さで極浅に形成されている。上記極浅の不純物拡散層は、ｐ型の不純物（例えば、ホウ素）のイオン注入、プラズマドーピング等によるイオン打ち込み（不純物導入）、引き続くアニール処理と、によって形成される。アニール処理は、後述するラジアルラインスロットアンテナ（Radial Line Slot Antenna：ＲＬＳＡ）を用いたマイクロ波プラズマを用いて形成される。
【００２０】
次に、本発明の実施の形態に係る半導体装置（ｐＭＯＳ１１）の製造方法について図面を参照して説明する。
【００２１】
図２に、半導体装置の製造に用いる製造装置１００の構成を示す。
図２に示すように、製造装置１００は、カセットステーション１０１と、処理ステーション１０２と、から構成される。
【００２２】
カセットステーション１０１は、カセットステージ１０３と、搬送室１０４と、を備える。カセットステージ１０３には、所定枚数の半導体ウェハ（以下、ウェハＷ）を収容可能なカセットＣが載置される。カセットステージ１０３には、未処理のウェハＷを収容したカセットＣが載置される一方で、処理後のウェハＷを収容したカセットＣがカセットステージ１０３から搬出される。
【００２３】
搬送室１０４には、１対のローダアーム１０５、１０６が配置されている。ローダアーム１０５、１０６は、カセットＣに収容されたウェハＷを処理ステーション１０２側に搬入する一方で、処理ステーション１０２側から処理後のウェハＷを搬出し、カセットＣに収容する。搬送室１０４の内部は、清浄空気のダウンフローにより清浄に保たれている。
【００２４】
処理ステーション１０２は、真空プラットフォーム１０７と、２基のロードロックユニット１０８、１０９と、２基のドーピングユニット１１０、１１１と、２基のアニールユニット１１２、１１３と、から構成される。
【００２５】
略八角形の真空プラットフォーム１０７の周囲には、ゲートバルブを介して各ユニットが連結または遮断自在に接続されている。すなわち、処理ステーション１０２は、クラスター型のシステムを構成している。真空プラットフォーム１０７は排気機構を備え、所定の真空状態まで減圧可能となっている。また、ゲートバルブによって隔絶された各ユニットは、それぞれが排気機構を備え、その内部に真空プラットフォーム１０７とは独立した雰囲気を形成可能となっている。
【００２６】
真空プラットフォーム１０７の中央には、一対の搬送アーム１１４、１１５が設けられ、各ユニット間におけるウェハＷの搬送を行う。
【００２７】
ロードロックユニット１０８、１０９は、カセットステーション１０１の搬送室１０４に、連結または遮断自在に接続されている。ロードロックユニット１０８、１０９は、処理ステーション１０２へのウェハ搬入用ポート、および、ウェハ搬出用のポートとして機能する。ローダアーム１０５、１０６は、カセットステージ１０３上のカセットＣに収容されたウェハＷをロードロックユニット１０８、１０９内に搬入する。また、ローダアーム１０５、１０６は、ロードロックユニット１０８、１０９から、処理後のウェハＷを搬出し、カセットＣに収容する。
【００２８】
ドーピングユニット１１０、１１１は、一般的な、低エネルギーイオン注入装置、プラズマドーピング装置等から構成される。ドーピングユニット１１０、１１１において、シリコン基板１２（ウェハＷ）に選択的にｐ型の不純物を導入し、不純物打ち込み層を形成する。
【００２９】
不純物導入は、例えば、ゲート電極１４をマスクとして自己整合的に行う。不純物導入は、例えば、１×１０１３〜５×１０１５ｃｍ−２のドーズ量で、例えば、２ｎｍ〜５０ｎｍ（２０Å〜５００Å）の拡散深さで行う。ｐ型の不純物としては、ホウ素（Ｂ）、インジウム（Ｉｎ）等を用いることができる。
【００３０】
アニールユニット１１２、１１３は、ラジアルラインスロットアンテナ（Radial Line Slot Antenna：ＲＬＳＡ）型のプラズマ処理装置である。アニールユニット１１２、１１３は、マイクロ波エネルギーを用いて処理ガスのプラズマを発生させ、このプラズマにより、ドーピング後のシリコン基板１２の表面をアニールする。
【００３１】
図３に、アニールユニット１１２、１１３の断面構成を示す。図３に示すように、アニールユニット１１２、１１３は、略円筒形のチャンバ２０１を備える。チャンバ２０１は、アルミニウム等から構成されている。
【００３２】
チャンバ２０１内部の中央には、被処理体であるウェハＷの載置台２０２が配置されている。載置台２０２には、図示しない温調部が内蔵されており、温調部により、ウェハＷは所定温度、例えば、室温〜６００℃に加熱される。
【００３３】
また、載置台５４は、所定の電圧を印加するための回路を有し、この回路により、プラズマ中のイオンを加速するためのバイアス電圧（例えば、−５０Ｖ〜０Ｖ程度、好ましくは、−２０Ｖ〜０Ｖ）をウェハＷに印加する。
【００３４】
チャンバ２０１の側壁には、載置台２０２の上面とほぼ同じ高さに、搬入出口２０３が設けられている。搬入出口２０３は、ゲートバルブ２０４を介して真空プラットフォーム１０７と接続している。ゲートバルブ２０４の開放時には、搬入出口２０３を介して、ウェハＷの搬入出が行われる。
【００３５】
チャンバ２０１の底部には、排気管２０５の一端が接続されており、他端は、真空ポンプ等の排気装置２０６に接続されている。排気装置２０６等により、処理時のチャンバ２０１の内部は、４０Ｐａ〜０．１３ｋＰａ（３０ｍＴｏｒｒ〜１Ｔｏｒｒ）とされる。
【００３６】
チャンバ２０１の側部上方には、ガス供給管２０７が設けられている。ガス供給管２０７は、アルゴン（Ａｒ）ガス源２０８および窒素（Ｎ２）ガス源２０９に接続されている。ガス供給管２０７は、チャンバ２０１の側壁の周方向に沿って、例えば、１６カ所に均等に配置されている。このように配置されることにより、ガス供給管２０７から供給されるガスは、載置台２０２上のウェハＷの上方に均等に供給される。
【００３７】
チャンバ２０１の上部には、開口２１０が設けられている。開口２１０の内側には、窓２１１が設けられている。窓２１１は、透過性材料、例えば、石英、ＳｉＯ２系のガラス、Ｓｉ３Ｎ４、ＮａＣｌ、ＫＣｌ、ＬｉＦ、ＣａＦ２、ＢａＦ２、Ａｌ２Ｏ３、ＡｌＮ、ＭｇＯなどの無機物、また、ポリエチレン、ポリエステル、ポリカーボネート、セルロースアセテート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド、ポリイミドなどの有機物のフィルム、シート、から構成されている。
【００３８】
窓２１１の上には、例えば、ラジアルラインスロットアンテナ（以下、ＲＬＳＡ）２１２が設けられている。ＲＬＳＡ２１２の上には、高周波電源部２１３に接続された導波路２１４が設けられている。導波路２１４は、ＲＬＳＡ２１２に下端が接続された扁平な円形導波管２１５と、円形導波管２１５の上面に一端が接続された円筒型導波管２１６と、円筒型導波管２１６の上面に接続された同軸導波変換器２１７と、同軸導波変換器２１７の側面に直角に一端が接続され、他端が高周波電源部２１３に接続された矩形導波管２１８と、から構成されている。ＲＬＳＡ２１２および導波路２１４は、銅板から構成されている。
【００３９】
円筒型導波管２１６の内部には、同軸導波管２１９が配置されている。同軸導波管２１９は、導電性材料よりなる軸部材からなり、その一端がＲＬＳＡ２１２の上面のほぼ中央に接続され、他端が円筒型導波管２１６の上面に同軸状に接続されている。
【００４０】
図４にＲＬＳＡ２１２の平面図を示す。図４に示すように、ＲＬＳＡ２１２は、同心円上に設けられた複数のスロット２１２ａ，６２ａ，…を表面に備える。各スロット２１２ａは略方形の貫通した溝であり、隣接するスロット２１２ａどうしは互いに直交して略Ｔの文字を形成するように配設されている。スロット２１２ａの長さや配列間隔は、高周波電源部２１３より発生した高周波の波長に応じて決定されている。
【００４１】
高周波電源部２１３は、例えば、２．４５ＧＨｚのマイクロ波を、５００Ｗ〜５ｋＷの出力で発生する。高周波電源部２１３から発生したマイクロ波は、矩形導波管２１８内を矩形モードで伝送される。さらに、マイクロ波は、同軸導波変換器２１７にて矩形モードから円形モードに変換され、円形モードで円筒型導波管２１６に伝送される。マイクロ波は、さらに、円形導波管２１５にて拡げられた状態で伝送され、ＲＬＳＡ２１２のスロット２１２ａより放射される。放射されたマイクロ波は、窓２１１を透過してチャンバ２０１に導入される。
【００４２】
チャンバ２０１内は、所定の真空圧力にされており、ガス供給管２０７から、ＡｒおよびＮ２の混合ガスが、例えば、Ａｒ／Ｎ２＝２０００（ｓｃｃｍ）：２００（ｓｃｃｍ）で、チャンバ２０１内に供給される。ここで、流量比は、Ａｒ／Ｎ２＝２０００：２０、１０００／１００としてもよい。
【００４３】
窓２１１を透過したマイクロ波により、チャンバ２０１内の混合ガスに高周波エネルギーが伝達され、高周波プラズマが発生する。この際、マイクロ波をＲＬＳＡ２１２の多数のスロット２１２ａから放射しているので、高密度のプラズマが生成される。ここで、ＲＬＳＡ２１２を用いて形成されるプラズマ中の活性種は、０．７〜２ｅＶ程度の電子温度を有する。このように、ＲＬＳＡ２１２によれば、活性の比較的穏やかなプラズマ活性種が生成される。
【００４４】
生成された高密度プラズマへの曝露により、ウェハＷ表面のアニールが行われる。すなわち、生成したプラズマ中の活性種、特に、Ａｒイオンが、ウェハＷ表面のシリコン原子に接触、衝突して、基板表面のシリコン原子にエネルギーを与える。与えられたエネルギーは、シリコン基板１２表面のシリコン原子から、より深い位置にあるシリコン原子へと伝達される。このようなエネルギー伝達により、所定深さのシリコン原子（結晶）が励起する。
【００４５】
不純物打ち込み層においても同様に、シリコン結晶の励起が生じる。励起により、打ち込み（ドーピング）により乱されたシリコン結晶の再配列（再結晶化）が起こる。これにより、打ち込み層の格子欠陥が低減または消失する。
【００４６】
このとき、結晶格子の再配列と同時に、ドーピングにより導入された不純物（Ｂ等）のうち、所定の結晶格子位置に配置されていなかったものも、結晶格子位置に納まり、ドーパントとして活性化される。これにより、所望の電気的特性を安定に備える不純物拡散層（ソース領域１５およびドレイン領域１６）が得られる。
【００４７】
ここで、上述したように、ＲＬＳＡを用いて生成されたプラズマ活性種は、比較的低いエネルギーを有する。このため、シリコン基板１２表面へのダメージは避けられる。また、活性種によってシリコン結晶に付与されるエネルギーは、伝達過程においてシリコン結晶の再配列等で消費され、表面から所定深さ以上の深さにあるシリコン原子には伝達されない。
【００４８】
このことから、プラズマの生成条件を適当に調節して、打ち込み層の深さ（５０ｎｍ程度）のシリコン原子を選択的に励起させる一方、それ以上の深さの原子は励起させない程度のエネルギーを有する活性種を生成することにより、打ち込み層以上の深さにおける不純物の拡散を抑えることができる。
【００４９】
以下、本実施の形態にかかる半導体装置の製造方法について、図２を参照して説明する。
【００５０】
まず、所定枚数のウェハＷを収容したカセットＣがカセットステージ１０３上に載置される。ウェハＷには、シリコン基板１２上にゲート絶縁膜１３とゲート電極１４とが積層されて形成されている。ローダアーム１０５、１０６は、カセットＣからウェハＷを取り出し、ロードロックユニット１０８、１０９に搬入する。
【００５１】
搬入後、ロードロックユニット１０８、１０９の内部は、気密とされ、真空プラットフォーム１０７の内部に近い圧力とされる。その後、ロードロックユニット１０８、１０９は、真空プラットフォーム側に開放される。次いで、搬送アーム１１４、１１５は、ロードロックユニット１０８、１０９からウェハＷを搬出する。
【００５２】
搬送アーム１１４、１１５は、ウェハＷをドーピングユニット１１０、１１１に搬入する。搬入後、ゲートバルブが閉鎖され、ドーピングユニット１１０、１１１内は、所定の圧力とされる。その後、ウェハＷに対してゲート電極１４をマスクとして自己整合的に不純物導入が行われる。これにより、ゲート電極１４の近傍にソース領域１５およびドレイン領域１６が形成される。ドーピングの終了後、ドーピングユニット１１０、１１１内は元の圧力とされ、ゲートバルブが開放される。搬送アーム１１４、１１５は、処理後のウェハＷを搬出する。
【００５３】
次いで、ウェハＷは、アニールユニット１１２、１１３内へ搬入される。搬入後、ゲートバルブが閉鎖され、アニールユニット１１２、１１３内は所定の圧力とされる。アニールユニット１１２、１１３にて、ＲＬＳＡプラズマによるアニール処理がウェハＷに施される。これにより、不純物の拡散が抑えられ、不純物拡散層の深さを極浅に保持した状態で、ウェハＷの表面領域は安定化される。アニール処理の終了後、アニールユニット１１２、１１３内は元の圧力とされ、ゲートバルブが開放される。搬送アーム１１４、１１５は、処理後のウェハＷを搬出する。
【００５４】
アニール処理後のウェハＷは、ロードロックユニット１０８、１０９内に搬送される。その後、ウェハＷは、ロードロックユニット１０８、１０９への搬入時と逆の工程に従って、カセット７４に収容される。処理後のウェハＷを所定枚数収容したカセットＣは、半導体製造装置１００から搬出される。処理後のウェハＷに対しては、次いで、絶縁膜の形成、ゲート・ドレイン電極の形成処理が施される。以上のようにして、ｐＭＯＳ１１の製造工程は終了する。
【００５５】
以上説明したように、本発明の実施の形態においては、ＲＬＳＡ２１２を用いて生成したプラズマ活性種をシリコン基板１２の表面に接触させて不純物拡散層をアニールしている。生成した活性種のエネルギーは、シリコン基板１２表面にダメージを与えることなく、かつ、不純物拡散層の深さよりわずかに深い程度のシリコン原子のみを選択的に励起する程度のエネルギーである。
【００５６】
以上のように、ＲＬＳＡプラズマを用いた不純物拡散層のアニールでは、基板表面から所定深さのシリコン結晶を選択的に励起させ、不純物の拡散を低く抑えることができる。従って、極浅の不純物拡散層においても、その深さは浅く保持され、短チャネル効果の防止された、信頼性の高いｐＭＯＳ１１が得られる。
【００５７】
本発明は、上記実施の形態の説明に限定されず、その応用及び変形等は任意である。
【００５８】
上記実施の形態では、ｐＭＯＳを例として説明したが、ｎチャネル型のＭＯＳであっても良い。この場合には、ドーパントとしてｎ型不純物、例えば、砒素、燐、アンチモン等を使用すれば、極浅にｎ型の不純物拡散層を形成することができる。また、ＭＩＳ（Metal Insulator Semiconductor）ＦＥＴ、または、ＣＭＯＳ（Complementary MOS）ＦＥＴ等であっても良い。
【００５９】
上記実施の形態では、半導体製造装置１００は、ドーピングユニット１１０、１１１と、プラズマアニールユニット１１２、１１３とを、それぞれ２つの備えるとした。しかし、半導体製造装置１００を構成するユニットの数及び配置は任意である。
【００６０】
上記実施の形態では、アニールユニット１１２、１１３におけるアニール処理では、ＡｒとＮ２の混合ガスを用いるものとした。しかし、Ａｒの代わりに、クリプトン（Ｋｒ）、キセノン（Ｘｅ）等を、単独で、あるいは、混合して用いてもよい。
また、Ｎ２の代わりにＯ２を用いてもよい。また、Ｈ２、Ｏ２等を添加してもよい。特に、Ｈ２を添加した場合、Ｈ２から発生するＨラジカルは、Ｓｉのダングリングボンドと結合し、形成されるシリコン酸化膜を安定化させ、膜質を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明の実施の形態に係る半導体装置の製造方法により製造される半導体装置の断面図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る半導体装置の製造装置の構成を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態に係るアニールユニットの構造を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態に係る平面アンテナ部材（ＲＬＳＡ）の構造を示す図である。
【符号の説明】
【００６２】
１１    ｐＭＯＳ
１２    シリコン基板
１３    ゲート絶縁膜
１４    ゲート電極
１５    ソース領域
１６    ドレイン領域
１００  製造装置
１０１  カセットステーション
１０２  処理ステーション
１１１、１１１  ドーピングユニット
１１２、１１３  アニールユニット
２１２  ＲＬＳＡ
【図１】
2008098648.tif 000003
【図２】
2008098648.tif 000004
【図３】
2008098648.tif 000005
【図４】
2008098648.tif 000006