(57)【要約】【課題】撮像条件によって欠陥の大きさが異なる連続点欠陥の場合であっても、欠陥点が最大になる条件で予め補正情報を取り込んでおく必要がない撮像素子の画素欠陥補正方法及び撮像素子の画素欠陥補正装置を得る。【解決手段】受光量の減少に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥を補正するに際し、基準点の位置を記憶手段１９に記憶させるとともに、点欠陥の連続方向及び受光量に応じた点欠陥の連続数を受光量が変数となる関数として記憶手段１９に記憶させておき、撮像時には、記憶手段１９から読み出した関数に検知受光量を代入して連続点欠陥を算出し、この連続点欠陥に対する周辺正常画素の撮像信号で補間を行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め撮像素子の欠陥点位置を記憶し、撮像時に該欠陥点からの撮像信号の読み出しを行わずに欠陥点周辺の正常な画素の撮像信号で補間する撮像素子の画素欠陥補正方法であって、
受光量の減少に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥を補正するに際し、
前記基準点の位置を記憶手段に記憶させるとともに、前記点欠陥の連続方向及び前記受光量に応じた前記点欠陥の連続数を前記受光量が変数となる関数として前記記憶手段に記憶させておき、
撮像時には、前記記憶手段から読み出した前記関数に検知受光量を代入して連続点欠陥を算出し、該連続点欠陥に対する周辺正常画素の撮像信号で補間を行うことを特徴とする撮像素子の画素欠陥補正方法。
【請求項２】
露光時間の増大に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥を補間するに際し、
前記基準点の位置を記憶手段に記憶させるとともに、前記点欠陥の連続方向及び前記露光時間に応じた前記点欠陥の連続数を前記露光時間が変数となる関数として前記記憶手段に記憶させておき、
撮像時には、前記記憶手段から読み出した前記関数に検知露光時間を代入して連続点欠陥を算出し、該連続点欠陥に対する周辺正常画素の撮像信号で補間を行うことを特徴とする請求項１記載の撮像素子の画素欠陥補正方法。
【請求項３】
予め撮像素子の欠陥点位置を記憶し、撮像時に該欠陥点からの撮像信号の読み出しを行わずに欠陥点周辺の正常な画素の撮像信号で補間する撮像素子の画素欠陥補正装置であって、
前記撮像素子の受光量を検知する受光量検知手段と、
前記受光量の減少に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥の前記基準点の位置を記憶するとともに、前記点欠陥の連続方向及び前記受光量に応じた前記点欠陥の連続数を前記受光量が変数となる関数として記憶する記憶手段と、
前記記憶手段から読み出した前記関数に検知受光量を代入して得た連続点欠陥に対する周辺正常画素からの撮像信号で補間処理を行う演算部と、
を具備したことを特徴とする撮像素子の画素欠陥補正装置。
【請求項４】
前記撮像素子の露光時間を検知する露光時間検知手段を備え、
前記記憶手段が、前記露光時間の増大に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥の前記基準点の位置を記憶するとともに、前記点欠陥の連続方向及び前記露光時間に応じた前記点欠陥の連続数を前記露光時間が変数となる関数として記憶し、
前記演算部が、前記記憶手段から読み出した前記関数に検知露光時間を代入して得た連続点欠陥に対する周辺正常画素からの撮像信号で補間処理を行うことを特徴とする請求項３記載の撮像素子の画素欠陥補正装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、固体撮像素子の画素欠陥に起因して発生する画素信号を補正する撮像素子の欠陥画素補正方法及び欠陥画素補正装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
固体撮像素子には、電荷結合素子（Charge Coupled Device : 以下、ＣＣＤと呼称する）が広く用いられている。このＣＣＤの画素の中には、ダストの付着や結晶欠陥等に基づく欠陥（画素欠陥）が含まれていることがあり、その画素からは正常な信号を出力し得ないものがある。ＣＣＤの局部的な欠陥等により、入射光に応じた撮像信号出力に所定のバイアス電圧がノイズ成分として加算されてしまう欠陥画素が生じると、この欠陥画素からの撮像信号に起因する画質劣化が生じる。
【０００３】
この画像欠陥を補正する補正回路としては、予めＣＣＤの欠陥画素の位置をメモリに記憶させておき、撮像時にはこの記憶データに示された位置の画素からの撮像信号の読み出しを行わず、同一ラインの直前の正常な画素の撮像信号で補間するようなものが実用化されている。一方、画素欠陥の中には、ＣＣＤの周囲の温度の上昇にしたがって、ノイズ成分が大きくなる温度依存性のあるものが知られている。この温度依存性のある欠陥を、上述した補間方法により補正した場合、ＣＣＤの周囲温度にかかわらず常に欠陥画素の撮像信号を補間するため、周囲温度が低くノイズが発生しない状態では不要の欠陥補正を行うことになる。
【０００４】
このような不具合を解消する技術として、特許文献１に開示される固体撮像装置用画像欠陥補正回路では、ＣＣＤ型等の固体撮像素子に含まれる欠陥画素の位置データ及びレベルデータを記憶手段に記憶させ、この記憶データを固体撮像素子からの撮像信号の出力に連動して読み出した後、固体撮像素子の温度に応じてレベルデータを補正してレベル信号化し、固体撮像素子からの出力撮像信号に、このレベル信号を重畳して欠陥補正を行い、簡単な回路構成で良好に高温動作時の画像欠陥を補正していた。すなわち、欠陥座標とレベルとを共に記憶手段に記憶し、温度を測定して得られたレベル測定信号により欠陥点のレベル補正を行っていた。
【０００５】
【特許文献１】特開平２−７６４８２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の画素欠陥補正方法は、一定の条件で欠陥を検出し、この欠陥を傷座標としてシステムＬＳＩ或いはセンサ内部のロジックに記憶させ、その情報を下に欠陥点を補正するが、ゲイン（例えばＩＳＯ感度）が変化することで欠陥の大きさが異なるような連続点欠陥には対応できない問題があった。このため、従来では欠陥点が最大になる条件で補正情報を取り込む必要があり、撮影条件によっては補正の必要のない未発生の仮想欠陥点まで補正される無駄があった。また、固体撮像素子では近年の画素数増大に伴い補正すべき欠陥点が増大する傾向にあり、メモリ容量の占有量も増大してシステムコストに少なからず影響を及ぼすようになってきた。特に、特許文献１に開示される固体撮像装置用画像欠陥補正回路にあるように、各欠陥点のレベルまでを記憶させると、欠陥点の情報量は更に肥大化した。
本発明は上記状況に鑑みてなされたもので、ゲインの変化することで欠陥の大きさが異なる連続点欠陥の場合であっても、欠陥点が最大になる条件で予め補正情報を取り込んでおく必要がない撮像素子の画素欠陥補正方法及び撮像素子の画素欠陥補正装置を提供し、もって、変動する欠陥点に応じた必要かつ十分な補正を可能にして、メモリ容量の占有量削減を図ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る上記目的は、下記構成により達成される。
（１）  予め撮像素子の欠陥点位置を記憶し、撮像時に該欠陥点からの撮像信号の読み出しを行わずに欠陥点周辺の正常な画素の撮像信号で補間する撮像素子の画素欠陥補正方法であって、
受光量の減少に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥を補正するに際し、
前記基準点の位置を記憶手段に記憶させるとともに、前記点欠陥の連続方向及び前記受光量に応じた前記点欠陥の連続数を前記受光量が変数となる関数として前記記憶手段に記憶させておき、
撮像時には、前記記憶手段から読み出した前記関数に検知受光量を代入して連続点欠陥を算出し、該連続点欠陥に対する周辺正常画素の撮像信号で補間を行うことを特徴とする撮像素子の画素欠陥補正方法。
【０００８】
この撮像素子の画素欠陥補正方法によれば、例えばＩＳＯ感度を変化させることで欠陥の大きさが異なる連続点欠陥の場合、欠陥点が最大になる条件で予め補正情報を取り込んでおく必要がなくなり、撮影条件によっては必要のない補正が省略可能となる。
【０００９】
（２）  露光時間の増大に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥を補間するに際し、
前記基準点の位置を記憶手段に記憶させるとともに、前記点欠陥の連続方向及び前記露光時間に応じた前記点欠陥の連続数を前記露光時間が変数となる関数として前記記憶手段に記憶させておき、
撮像時には、前記記憶手段から読み出した前記関数に検知露光時間を代入して連続点欠陥を算出し、該連続点欠陥に対する周辺正常画素の撮像信号で補間を行うことを特徴とする（１）項記載の撮像素子の画素欠陥補正方法。
【００１０】
この撮像素子の画素欠陥補正方法によれば、連続点欠陥を有する撮像素子から出力される撮像信号が、受光量に応じて補間処理されるのに加え、露光時間に応じても補間処理され、撮像信号が受光量及び露光時間に応じた最適な画像信号へ補正される。
【００１１】
（３）  予め撮像素子の欠陥点位置を記憶し、撮像時に該欠陥点からの撮像信号の読み出しを行わずに欠陥点周辺の正常な画素の撮像信号で補間する撮像素子の画素欠陥補正装置であって、
前記撮像素子の受光量を検知する受光量検知手段と、
前記受光量の減少に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥の前記基準点の位置を記憶するとともに、前記点欠陥の連続方向及び前記受光量に応じた前記点欠陥の連続数を前記受光量が変数となる関数として記憶する記憶手段と、
前記記憶手段から読み出した前記関数に検知受光量を代入して得た連続点欠陥に対する周辺正常画素からの撮像信号で補間処理を行う演算部と、
を具備したことを特徴とする撮像素子の画素欠陥補正装置。
【００１２】
この撮像素子の画素欠陥補正装置によれば、記憶手段には連続点欠陥の基準点位置と連続点欠陥の関数とが記憶され、検知受光量に基づき演算部が基準点位置と関数とによって連続点欠陥を算出する。したがって、例えばＩＳＯ感度を変化させることで欠陥の大きさが異なる連続点欠陥の場合、欠陥点が最大になる条件で予め補正情報を取り込んでおく必要がなくなり、撮影条件によっては必要のない補正が省略可能となる。
【００１３】
（４）  前記撮像素子の露光時間を検知する露光時間検知手段を備え、
前記記憶手段が、前記露光時間の増大に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥の前記基準点の位置を記憶するとともに、前記点欠陥の連続方向及び前記露光時間に応じた前記点欠陥の連続数を前記露光時間が変数となる関数として記憶し、
前記演算部が、前記記憶手段から読み出した前記関数に検知露光時間を代入して得た連続点欠陥に対する周辺正常画素からの撮像信号で補間処理を行うことを特徴とする（３）項記載の撮像素子の画素欠陥補正装置。
【００１４】
この撮像素子の画素欠陥補正装置によれば、記憶手段が受光量に応じた関数と、露光時間に応じた関数とを格納し、演算部が、受光量に応じた関数に基づき補間処理を行うとともに、露光時間に応じた関数に基づいても補間処理を行い、連続点欠陥を有する撮像素子から出力される撮像信号が受光量及び露光時間に応じた最適な画像信号へ補正される。
【発明の効果】
【００１５】
本発明に係る撮像素子の画素欠陥補正方法によれば、受光量の減少に伴って基準点から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥を補正するに際し、記憶手段から読み出した関数に検知受光量を代入して連続点欠陥を算出し、この連続点欠陥に対する周辺正常画素の撮像信号で補間を行うので、例えばＩＳＯ感度を変化させることで欠陥の大きさが異なる連続点欠陥の場合、欠陥点が最大になる条件で予め補正情報を取り込んでおく必要がなくなる。すなわち、撮影条件によっては必要のない補正を省略できる。これにより、受光量により変動する欠陥点に応じた必要かつ十分な補正を行うことができるようになり、メモリ容量の占有量を大幅に削減できる。
【００１６】
本発明に係る撮像素子の画素欠陥補正装置によれば、受光量検知手段と、連続点欠陥の基準点位置を記憶するとともに、点欠陥の連続数を受光量が変数となる関数として記憶する記憶手段と、関数によって得た連続点欠陥に対する周辺正常画素からの撮像信号で補間処理を行う演算部とを備えたので、記憶手段には連続点欠陥の基準点位置と連続点欠陥の関数とが記憶され、検知受光量に基づき演算部が基準点位置と関数とによって連続点欠陥を算出する。したがって、例えばＩＳＯ感度を変化させることで欠陥の大きさが異なる連続点欠陥の場合、欠陥点が最大になる条件で予め補正情報を取り込んでおく必要がなくなる。これにより、撮影条件によっては必要のない補正を省略し、少ないメモリ容量にて、受光量により変動する欠陥点に応じた必要かつ十分な補正を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明に係る好適な実施の形態を図面を参照して説明する。
図１は本発明に係る画素欠陥補正方法を実施するための画素欠陥補正装置の概略構成を示したブロック図、図２は連続点欠陥を説明する模式図、図３は欠陥画素情報記憶部の情報割り当て領域を表した模式図ある。
本実施の形態による画素欠陥補正装置１００は、ＣＣＤ１１を駆動する駆動回路１３と、ＣＣＤ１１からの撮像信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部１５と、デジタル信号化された撮像画像信号に対して画素欠陥を補正するための所定の処理を行う演算部１７と、画素欠陥の位置及びその他の情報を記憶する記憶手段（欠陥画素情報記憶部）１９と、上記各部を制御する制御部２１と、受光量検知手段２３とを有している。
【００１８】
画素欠陥補正装置１００は、基本動作として予めＣＣＤ１１の欠陥点位置を記憶し、撮像時にこの欠陥点からの撮像信号の読み出しを行わずに欠陥点周辺の正常な画素の撮像信号で補間する。受光量検知手段２３は、ＣＣＤ１１の受光量を受光量検知信号として検知し演算部１７へ送出する。欠陥画素情報記憶部１９は、受光量の減少に伴って図２に示した基準点Ｄ（Ｘ，Ｙ）から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥の基準点Ｄ（Ｘ，Ｙ）の位置を記憶するとともに、点欠陥の連続方向及び受光量に応じた点欠陥の連続数を受光量が変数となる関数として記憶する。
【００１９】
すなわち、欠陥画素情報記憶部１９には、ゲインにより変動する欠陥を補正するための情報を記述するに当たり、ゲインを変数とする関数によって記述する。これにより、常に必要且つ十分な欠陥補正を行うことが可能となり、また、欠陥補正用データの圧縮が可能となる。例えば飽和電子数の半分程度の十分に明るい条件１では点欠陥であるが、その半分の光量では４連続欠陥となり、更にその半分では８連続欠陥となるような欠陥がある場合、条件１のゲインを１とするゲインαと、欠陥連続点数δＹは（式１）の関数で表すことができる。
δＹ＝２α−１・・・（式１）
但し、α≧１とする。
【００２０】
したがって、このときの基準点座標をＤ（Ｘ，Ｙ）とすると、補正すべき欠陥点群｛Ｐ｝は（式２）で表すことができる。
｛Ｐ｝＝｛Ｄ（Ｘ，Ｙ＋ｉ−１）：ただし、ｉ＝１〜δＹ｝  ・・・（式２）
式２において、δＹの値の数だけ、Ｄ（Ｘ，Ｙ＋ｉ−１）の項が増加し、
δＹ＝１（α＝１）のときは、｛Ｐ｝＝｛Ｄ（Ｘ，Ｙ）｝
δＹ＝７（α＝４）のときは、｛Ｐ｝＝｛Ｄ（Ｘ，Ｙ），Ｄ（Ｘ，Ｙ＋１），Ｄ（Ｘ，Ｙ＋２），Ｄ（Ｘ，Ｙ＋３），Ｄ（Ｘ，Ｙ＋４），Ｄ（Ｘ，Ｙ＋５），Ｄ（Ｘ，Ｙ＋６），Ｄ（Ｘ，Ｙ＋７）｝となる。
つまり、４倍ゲインのときに基準点Ｄ（Ｘ，Ｙ）を含み８連続欠陥とすべき欠陥も、１倍ゲイン時は基準点Ｄ（Ｘ，Ｙ）のみの点欠陥補正だけでよいことになる。
【００２１】
この場合、８点分の座標情報でなく、大幅なデータ量の圧縮が可能となる。例えば図３に示したＸ，Ｙそれぞれの１６ビットデータの上位４ビットで、データ種類と拡大方向を指定し、上位４ビットで係数αを記述すれば、１点分の欠陥座標情報で表すことが可能となる。勿論、情報量そのものを圧縮したことが本実施の形態の特徴とするところであるが、これを更に圧縮することは可能であり、その組合せは自由である。ここで、欠陥種としては、アナログゲインによって変動するもの、後述する露光時間によって変動するもの、或いは露光時温度によって変動するもの等が挙げられ、線傷や集合傷の識別等に使用できる。
【００２２】
演算部１７は、欠陥画素情報記憶部１９から読み出した上記の関数に検知受光量を代入して得た連続点欠陥に対する周辺正常画素からの撮像信号で補間処理を行う。
【００２３】
上記の構成を有する画素欠陥補正装置１００による画素欠陥補正方法について説明する。
図４はゲインが受光量である場合の画素欠陥補正方法の処理手順を説明する流れ図である。
先ず、欠陥画素情報記憶部１９には連続点欠陥の基準点Ｄ（Ｘ，Ｙ）の位置を予め記憶させておく。また、欠陥画素情報記憶部１９には点欠陥の連続方向及び受光量に応じた点欠陥の連続数を受光量が変数となる上記の関数を記憶させておく。
【００２４】
ＣＣＤ１１による撮像が開始されると（Ｓ１）、ＣＣＤ１１の入射光を受光量検知手段２３によって検知して（Ｓ２）演算部１７へと送出する（Ｓ３）。演算部１７は、欠陥画素情報記憶部１９から読み出した関数に検知受光量を代入して連続点欠陥を算出し（Ｓ４）、この連続点欠陥に対する周辺正常画素の撮像信号で補間を行う（Ｓ５）。すなわち、ＣＣＤ１１が出力する撮像信号は、演算部１７に読み出される。演算部１７は、出力中の画素位置をカウントし、このカウント位置が欠陥画素情報記憶部１９に格納された位置データと一致したときに、関数に検知受光量を代入して連続点欠陥を算出する。
【００２５】
演算部１７は、受光量検知手段２３が検出したＣＣＤの受光量に応じて供給される各ビットの補正用信号によって、連続点欠陥の連続数を算出する。演算部１７は、この連続点欠陥データに示された位置の画素からの撮像信号の読み出しを行わず、連続点欠陥周辺の正常な画素の撮像信号で補間処理を行う。画素欠陥補正装置１００から出力されるＣＣＤの撮像信号は、受光量により変動する欠陥点に応じた必要かつ十分な補正がなされたものとして出力される。
【００２６】
したがって、上記の撮像素子の画素欠陥補正方法によれば、受光量の減少に伴って基準点Ｄ（Ｘ，Ｙ）から点欠陥が連続して増大する連続点欠陥を補正するに際し、欠陥画素情報記憶部１９から読み出した関数に検知受光量を代入して連続点欠陥を算出し、この連続点欠陥に対する周辺正常画素の撮像信号で補間を行うので、例えばＩＳＯ感度を変化させることで欠陥の大きさが異なる連続点欠陥の場合、欠陥点が最大になる条件で予め補正情報を取り込んでおく必要がなくなる。すなわち、撮影条件によっては必要のない補正を省略できる。これにより、受光量により変動する欠陥点に応じた必要かつ十分な補正を行うことができるようになり、メモリ容量の占有量を大幅に削減できる。
【００２７】
また、上記の撮像素子の画素欠陥補正装置１００によれば、受光量検知手段２３と、連続点欠陥の基準点位置を記憶するとともに、点欠陥の連続数を受光量が変数となる関数として記憶する欠陥画素情報記憶部１９と、関数によって得た連続点欠陥に対する周辺正常画素からの撮像信号で補間処理を行う演算部１７とを備えたので、欠陥画素情報記憶部１９には連続点欠陥の基準点位置と連続点欠陥の関数とが記憶され、検知受光量に基づき演算部１７が基準点位置と関数とによって連続点欠陥を算出する。したがって、例えばＩＳＯ感度を変化させることで欠陥の大きさが異なる連続点欠陥の場合、欠陥点が最大になる条件で予め補正情報を取り込んでおく必要がなくなる。これにより、撮影条件によっては必要のない補正を省略し、少ないメモリ容量にて、受光量により変動する欠陥点に応じた必要かつ十分な補正を行うことができる。
【００２８】
次に、本発明に係る撮像素子の画素欠陥補正方法及び撮像素子の画素欠陥補正装置の他の実施の形態を説明する。
図５は本発明に係る他の実施の形態による画素欠陥補正装置の概略構成を示したブロック図、図６は欠陥が露光が長い場合にのみ発生する欠陥画素情報記憶部の情報割り当て領域を表した模式図ある。
本実施の形態による画素欠陥補正装置２００は、ＣＣＤ１１を駆動する駆動回路１３と、ＣＣＤ１１からの撮像信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部１５と、デジタル信号化された撮像画像信号に対して画素欠陥を補正するための所定の処理を行う演算部１７と、画素欠陥の位置及びその他の情報を記憶する記憶手段（欠陥画素情報記憶部）１９と、上記各部を制御する制御部２１と、露光時間検知手段３１とを有している。
【００２９】
画素欠陥補正装置１００は、基本動作として予めＣＣＤ１１の欠陥点位置を記憶し、撮像時にこの欠陥点からの撮像信号の読み出しを行わずに欠陥点周辺の正常な画素の撮像信号で補間する。露光時間検知手段３１は、ＣＣＤ１１の露光時間を露光時間検知信号として検知し演算部１７へ送出する。欠陥画素情報記憶部１９は、露光時間の増大に伴って図２に示した基準点Ｅ（Ｘ，Ｙ）を点欠陥として位置を記憶するとともに、点欠陥として補正すべき最短露光時間をエンコードした値を記憶する。つまり、欠陥画素情報記憶部１９には、補正を要する最短の露光時間が記憶される。
【００３０】
例えば蓄積時間（露光時間）を上げることで欠陥のレベルが変動する場合がある。このことは、露光時間が長くなると、短い露光時間では補正の必要もないという可能性を示唆している。こうした欠陥についても本発明により必要に応じた補正が可能となる。
【００３１】
ここで、本実施形態における欠陥種は露光時間変動型を示し、Ｘ，Ｙ方向への広がりが無いため、図６における欠陥種βは、補正レベル係数を示す。４ビットで１６段階を示しており、補正が必要な最短の露光時間の段数（最短が１／１０００″のシステムで、１／５００″，１／２５０″，１／１００″，１／６０″，１／３０″，１／１０″，１／５″，１／３″，１″，２″，５″，１０″，１５″，３０″，６０″の１６段階のシャツタースピードを選択することが可能なシステムと仮定する。ある欠陥点が５″露光より長い場合に補正が必要であるとすると、β＝１１（０ｂ１０１１）となる。もちろん、記述法は一例に過ぎず、且つ欠陥種の選択法も限定するものではない。また、欠陥種の種類が複合されていても良い。これらのファクターが欠陥座標と別に定義されても良い。
【００３２】
したがって、上記例において５″露光以下の場合には、点欠陥座標が記載されていても元データをそのまま用いることができ、画像劣化を最小限することが可能である。
【００３３】
演算部１７は、欠陥画素情報記憶部１９から読み出した補正を要する最短露光時間と検知露光時間を比較して、補正の必要がある場合のみ欠陥に対する周辺正常画素からの撮像信号で補間処理を行う。
【００３４】
上記の構成を有する画素欠陥補正装置２００による画素欠陥補正方法について説明する。
図７は露光時間依存性のある画素欠陥補正方法の処理手順を説明する流れ図である。
先ず、欠陥画素情報記憶部１９には連続点欠陥の基準点Ｅ（Ｘ，Ｙ）の位置を予め記憶させておく。また、欠陥画素情報記憶部１９には点欠陥の補正を要する最短露光時間を記憶させておく。
【００３５】
ＣＣＤ１１による撮像が開始されると（Ｓ６）、ＣＣＤ１１の入射光を露光時間検知手段３１によって検知して（Ｓ７）演算部１７へと送出する（Ｓ８）。演算部１７は、欠陥画素情報記憶部１９から読み出した最短露光時間と検知露光時間を比較して欠陥補正有無を判断し（Ｓ９）、この連続点欠陥に対する周辺正常画素の撮像信号で補間を行う（Ｓ１０）。すなわち、ＣＣＤ１１が出力する撮像信号は、演算部１７に読み出される。演算部１７は、出力中の画素位置をカウントし、このカウント位置が欠陥画素情報記憶部１９に格納された位置データと一致したときに、関数に検知露光時間を代入して欠陥かどうかを判断する。
【００３６】
演算部１７は、露光時間検知手段３１により連続点欠陥とすべきか判断する。演算部１７は、この連続点欠陥データに示された位置の画素からの撮像信号の読み出しを行わず、連続点欠陥周辺の正常な画素の撮像信号で補間処理を行う。画素欠陥補正装置２００から出力されるＣＣＤの撮像信号は、露光時間により変動する欠陥点に応じた必要かつ十分な補正がなされたものとして出力される。
【００３７】
なお、上述の各実施の形態では、ゲインをパラメータとする関数又は露光による補正の必要性を判断する場合を例に説明したが、本発明に係る撮像素子の画素欠陥補正方法及び撮像素子の画素欠陥補正装置は、受光量及び露光時間が組み合わされたものであってもよい。また、温度等、他のパラメータを用いるものであってもよい。この場合、欠陥画素情報記憶部１９は、欠陥種で定められた関数と、パラメータを格納し、演算部１７が、その情報に基づき補間処理を行う。すなわち、連続点欠陥を含む欠陥を有するＣＣＤ１１から出力される撮像信号が、少ない情報で最適な画像信号へ補正される。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明に係る画素欠陥補正方法を実施するための画素欠陥補正装置の概略構成を示したブロック図である。
【図２】連続点欠陥を説明する模式図である。
【図３】欠陥画素情報記憶部の情報割り当て領域を表した模式図ある。
【図４】ゲインが受光量である場合の画素欠陥補正方法の処理手順を説明する流れ図である。
【図５】本発明に係る他の実施の形態による画素欠陥補正装置の概略構成を示したブロック図である。
【図６】露光時間によって補正の必要性が変わる場合の欠陥画素情報記憶部の情報割り当て領域を表した模式図ある。
【図７】露光時間によって補正の必要性が変わる場合の画素欠陥補正方法の処理手順を説明する流れ図である。
【符号の説明】
【００３９】
１１  ＣＣＤ（撮像素子）
１７  演算部
１９  欠陥画素情報記憶部（記憶手段）
２３  受光量検知手段
３１  露光時間検知手段
１００，２００  撮像素子の画素欠陥補正装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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