(57)【要約】【課題】受光光量が最大のときやゼロのときには正常な素子とほぼ同じ値を出力するが受光光量が中程度のときには正常な素子と大きく異なる値を出力する欠陥素子（欠陥画素タイプＢ）を複数の光電変換素子の中から精度よく発見する。【解決手段】画像読取ルーチンでは、欠陥画素タイプＢを検出するための白基準読みを行う（Ｓ１４０）。ここでは、ＬＥＤ光源によって照射される光の光量をゼロより大きく最大光量より小さい所定の欠陥素子検出用光量となるように調節し、該調節後の光が所定の基準板で反射されたあとの反射光を各画素が受光したときのセンサ出力値に基づいて各画素が欠陥画素タイプＢか否かの判定を行う。【選択図】図４
2008236631.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿に光を照射するＬＥＤ光源と、
前記照射された光が前記原稿で反射されたあとの反射光を受光し、該受光した光量に応じて電荷を発生する複数の光電変換素子を有する受光手段と、
前記光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて前記原稿上の画像の読取データを生成する読取データ生成手段と、
前記ＬＥＤ光源によって照射される光の光量をゼロより大きく最大光量より小さい所定の欠陥素子検出用光量となるように調節し、該調節後の光が所定の基準板で反射されたあとの反射光を前記受光手段が受光したときに前記複数の光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて各光電変換素子が欠陥素子か否かの判定を行う判定手段と、
を備えた画像読取装置。
【請求項２】
前記判定手段は、前記ＬＥＤ光源によって照射される光の光量を前記欠陥素子検出用光量となるように調節するにあたり、前記欠陥素子検出用光量には少なくとも第１光量と第２光量の２つの値があり、前記第１光量になるように調節した光でもって欠陥素子か否かの第１判定を行ったあと、前記第２光量になるように調整した光でもって前記第１判定で欠陥素子と判定されなかった光電変換素子につき欠陥素子か否かの第２判定を行う、
請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記判定手段は、前記ＬＥＤ光源によって照射される光の光量を前記欠陥素子検出用光量となるように調節するにあたり、前記ＬＥＤ光源の点灯時間又は前記ＬＥＤ光源の電流値を調節する、
請求項１又は２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記判定手段は、前記複数の光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて各光電変換素子が欠陥素子か否かの判定を行うにあたり、判定対象の光電変換素子で発生した電荷の量と前記複数の光電変換素子で発生した電荷の量の平均値との差分に基づいて欠陥素子か否かの判定を行う、
請求項１〜３のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記判定手段は、前記複数の光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて各光電変換素子が欠陥素子か否かの判定を行うにあたり、判定対象の光電変換素子で発生した電荷の量とその両隣の光電変換素子で発生した電荷の量との差分に基づいて欠陥素子か否かの判定を行う、
請求項１〜３のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項６】
原稿に光を照射するＬＥＤ光源と、前記照射された光が前記原稿で反射されたあとの反射光を受光し、該受光した光量に応じて電荷を発生する複数の光電変換素子を有する受光手段と、前記光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて前記原稿上の画像の読取データを生成する画像読取装置の欠陥素子判定方法であって、
前記ＬＥＤ光源によって照射される光の光量をゼロより大きく最大光量より小さい所定の欠陥素子検出用光量となるように調節し、該調節後の光が所定の基準板で反射されたあとの反射光を前記受光手段が受光したときに前記複数の光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて各光電変換素子が欠陥素子か否かの判定を行う、
欠陥素子判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置及び欠陥素子判定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、光源から照射された光が原稿で反射されたあとの反射光を受光し該受光した光量に応じて電荷を発生する複数の光電変換素子を有するイメージセンサと、光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて原稿上の画像の読取データを生成する読取データ生成回路とを備えた画像読取装置が知られている。この種の画像読取装置において、イメージセンサが有する複数の光電変換素子の中から欠陥素子（欠陥画素ともいう）を判別するものも知られている。例えば、特許文献１には、受光光量が最大のとき（つまり原稿読取時の光量の光が高反射率の均一な反射面である白基準板で反射されたあとの反射光をイメージセンサが受光したとき）の出力値が第１所定値を下回る光電変換素子を欠陥素子として取り扱うと共に、受光光量がゼロのとき（つまり光源を消灯したとき）の出力値が第２所定値を上回る光電変換素子も欠陥素子として取り扱うことが提案されている。
【特許文献１】特開２０００−２７８４９８
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、こうした画像読取装置では、受光光量が白基準測定時のように最大のときや受光光量がゼロのときには正常な素子とほぼ同じ値を出力するが、受光光量が中程度のときには正常な素子と大きく異なる値を出力する欠陥素子が存在していた場合、その欠陥素子を発見できないことがあった。
【０００４】
本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、受光光量が最大のときやゼロのときには正常な素子とほぼ同じ値を出力するが受光光量が中程度のときには正常な素子と大きく異なる値を出力する欠陥素子を複数の光電変換素子の中から精度よく発見することのできる画像読取装置及び欠陥素子判定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、上述の目的を達成するために以下の手段を採った。
【０００６】
本発明の画像読取装置は、
原稿に光を照射するＬＥＤ光源と、
前記照射された光が前記原稿で反射されたあとの反射光を受光し、該受光光量に応じて電荷を発生する複数の光電変換素子を有する受光手段と、
前記光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて前記原稿上の画像の読取データを生成する読取データ生成手段と、
前記ＬＥＤ光源によって照射される光の光量をゼロより大きく最大光量より小さい所定の欠陥素子検出用光量となるように調節し、該調節後の光が所定の基準板で反射されたあとの反射光を前記受光手段が受光したときに前記複数の光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて各光電変換素子が欠陥素子か否かの判定を行う判定手段と、
を備えたものである。
【０００７】
この画像読取装置では、ＬＥＤ光源によって照射される光の光量をゼロより大きく最大光量より小さい所定の欠陥素子検出用光量となるように調節し、該調節後の光が所定の基準板で反射されたあとの反射光を受光手段が受光したときに複数の光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて各光電変換素子が欠陥素子か否かの判定を行う。したがって、受光光量が最大のときやゼロのときには正常な素子とほぼ同じ値を出力するが受光光量が中程度のときには正常な素子と大きく異なる値を出力する欠陥素子を複数の光電変換素子の中から精度よく発見することができる。
【０００８】
なお、光電変換素子で発生した電荷の量は、電荷の量そのものを用いてもよいが、その電荷の量に依存するパラメータを用いてもよい。そのようなパラメータとしては、例えば、その電荷の量に対応するアナログ電圧信号、そのアナログ電圧信号をＡ／Ｄ変換したあとのデジタル信号、そのデジタル信号を基に生成される階調値データ（例えば８ビットや１２ビットの階調値データ）などが挙げられる。また、所定の基準板とは、反射率の均一な反射面を持つものであればよく、例えば一般的な画像読取装置に装着されている白基準測定用の白基準板を利用してもよい。
【０００９】
本発明の画像読取装置において、前記判定手段は、前記ＬＥＤ光源によって照射される光の光量を前記欠陥素子検出用光量となるように調節するにあたり、前記欠陥素子検出用光量には少なくとも第１光量と第２光量の２つの値があり、前記第１光量になるように調節した光でもって欠陥素子か否かの第１判定を行ったあと、前記第２光量になるように調整した光でもって前記第１判定で欠陥素子と判定されなかった光電変換素子につき欠陥素子か否かの第２判定を行ってもよい。こうすれば、受光光量が最大のときやゼロのときには正常な素子とほぼ同じ値を出力するが受光光量が中程度のときには正常な素子と大きく異なる値を出力する欠陥素子を発見するにあたり、より精度よく発見することができる。
【００１０】
本発明の画像読取装置において、前記判定手段は、前記ＬＥＤ光源によって照射される光の光量を前記欠陥素子検出用光量となるように調節するにあたり、前記ＬＥＤ光源の点灯時間又は前記ＬＥＤ光源の電流値を調節してもよい。こうすれば、光電変換素子が受光する光量を簡易且つ正確に調節することができる。
【００１１】
本発明の画像処理装置において、前記判定手段は、前記複数の光電変換素子の各々で発生した電荷の量に基づいて欠陥素子か否かの判定を行うにあたり、判定対象の光電変換素子で発生した電荷の量と前記複数の光電変換素子で発生した電荷の量の平均値との差分に基づいて欠陥素子か否かの判定を行ってもよい。例えば、複数の光電変換素子で発生した電荷の量の平均値と各々の電荷の量との差分の絶対値が所定の許容範囲を超えたときに欠陥素子であると判定してもよい。あるいは、前記判定手段は、前記複数の光電変換素子の各々で発生した電荷の量に基づいて欠陥素子か否かの判定を行うにあたり、判定対象の光電変換素子で発生した電荷の量とその両隣の光電変換素子で発生した電荷の量との差分に基づいて欠陥素子か否かの判定を行ってもよい。
【００１２】
本発明の欠陥素子判定方法は、
原稿に光を照射するＬＥＤ光源と、前記照射された光が前記原稿で反射されたあとの反射光を受光し、該受光光量に応じて電荷を発生する複数の光電変換素子を有する受光手段と、前記光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて前記原稿上の画像の読取データを生成する画像読取装置の欠陥素子判定方法であって、
前記ＬＥＤ光源によって照射される光の光量をゼロより大きく最大光量より小さい所定の欠陥素子検出用光量となるように調節し、該調節後の光が所定の基準板で反射されたあとの反射光を前記受光手段が受光したときに前記複数の光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて各光電変換素子が欠陥素子か否かの判定を行うものである。
【００１３】
この欠陥素子判定方法では、ＬＥＤ光源によって照射される光の光量をゼロより大きく最大光量より小さい所定の欠陥素子検出用光量となるように調節し、該調節後の光が所定の基準板で反射されたあとの反射光を受光手段が受光したときに複数の光電変換素子で発生した電荷の量に基づいて各光電変換素子が欠陥素子か否かの判定を行う。したがって、受光光量が最大のときやゼロのときには正常な素子とほぼ同じ値を出力するが受光光量が中程度のときには正常な素子と大きく異なる値を出力する欠陥素子を複数の光電変換素子の中から精度よく発見することができる。なお、本発明の欠陥素子判定方法において、上述したいずれかの画像読取装置の機能を実現するステップを追加してもよい。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
次に、本発明を実施するための最良の形態を図面を用いて説明する。図１は、本発明の一実施形態であるスキャナ装置１０の構成の概略を示す構成図、図２はスキャナ装置１０の構成の概略を示す断面図である。本実施形態のスキャナ装置１０は、いわゆるフラットベッド型であり、図１に示すように、矩形のガラス板等の透明板で形成された原稿台１２と、原稿台１２の表面に載置された原稿の画像を読み取るキャリッジ３０と、装置全体の制御を司る制御ユニット２０と、を備えている。
【００１５】
原稿台１２は、矩形のガラス等の透明板で形成されており、図２に示すように、その周囲には矩形枠状の原稿ガイド１３が接合されている。この原稿ガイド１３は、スキャナ装置１０の筐体１４に取り付けられている。筐体１４の上面には、原稿カバー１５が開閉自在に軸支されている。この原稿カバー１５のうち原稿台１２に対向する面には、原稿台１２に載置された読取原稿を押さえる原稿マット１６が設けられている。原稿台１２のうち原稿ガイド１３と重なった部分には、反射率の高い均一な反射面である白基準板１７が主走査方向に沿って設けられている。
【００１６】
キャリッジ３０は、原稿台１２の表面に載置された原稿に光を照射する光源ユニット３２と、原稿で反射した光を受けるコンタクトイメージセンサ（ＣＩＳ）３６とを備えている。光源ユニット３２は、図１に示すように、赤色に点灯する赤ＬＥＤ３４Ｒ、緑色に点灯する緑ＬＥＤ３４Ｇ、青色に点灯する青ＬＥＤ３４Ｂをその内部に備えており、これらはいずれも原稿台１２の主走査方向の幅全域に光を照射可能な形状に形成されている。また、赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ，青ＬＥＤ３４Ｂは、所定周期ごとに順番に点灯されて光を照射部３３から原稿台１２へ照射するようになっている。ＣＩＳ３６は、複数の撮像素子３７ａを主走査方向に直列に配設したＣＣＤチップ３７が複数個、接続されている。撮像素子３７ａは、画素に対応する光電変換素子であり露光されたときの光を電荷に変換して蓄積するフォトダイオードと、各フォトダイオードごとに形成されフォトダイオードから受け取った電荷を転送可能なＣＣＤとを備えている。この撮像素子３７ａは、所定周期で入射する赤、緑、青の反射光をフォトダイオードで受け、受光した赤、緑、青の３色の光量に応じて発生した電荷の量を表すアナログ電気信号を出力する。本実施形態では、ＣＩＳ３６は１５個のＣＣＤチップ３７を備え、このＣＣＤチップ３７は６８８個の撮像素子３７ａを備えることにより、Ａ４サイズの原稿がダイレクトに読取可能に構成されている。このキャリッジ３０は、スキャナ装置１０の筐体の一端に取り付けられた駆動モータ３９と筐体の他端側に取り付けられた従動ローラ３８ａとの間に架設されたキャリッジベルト３８が駆動モータ３９によって駆動されるのに伴ってキャリッジ移動方向（副走査方向）へ移動する。なお、ここではＣＩＳ３６としてＣＣＤイメージセンサを例示したが、ＣＭＯＳ型のイメージセンサを採用してもよい。
【００１７】
制御ユニット２０は、装置全体の制御を司るメインコントローラ２１と、ＣＩＳ３６を駆動制御するＣＩＳコントローラ２５と、ＣＩＳ３６の種々の動作の開始タイミングなどをＣＩＳ３６に出力するタイミングジェネレータ（ＴＧ）２６と、ＣＩＳ３６から出力されたアナログ電気信号をデジタル信号に変換するアナログフロントエンド（ＡＦＥ）２７と、ＡＦＥ２７から入力した信号からデジタル画像データ（赤、緑、青の階調値データ）を作成する画像処理回路２８と、を備えている。メインコントローラ２１は、ＣＰＵ２２を中心とするマイクロプロセッサとして構成されており、処理プログラムや各種テーブルを記憶するＲＯＭ２３と、データを一時的に記憶するＲＡＭ２４と、ユーザパソコン（ＰＣ）５０などの外部機器と接続可能なインタフェース（Ｉ／Ｆ）２９と、図示しない入出力ポートとを備えている。メインコントローラ２１には、Ｉ／Ｆ２９からの読取指令など各種の信号や画像処理回路２８からのデジタル画像データの信号などが入力される。また、メインコントローラ２１からは、光源ユニット３２への点灯信号や、駆動モータ３９への駆動信号、Ｉ／Ｆ２９へのデジタル画像データの信号、ＣＩＳコントローラ２５へのメインクロック及び読取指令の信号などが出力される。ＣＩＳコントローラ２５は、情報を記憶可能でありバッテリバックアップされたメモリ２５ａと、ＣＩＳ３６の読取時に用いる画素カウンタ２５ｂとを備えている。このＣＩＳコントローラ２５は、メインコントローラ２１から入力したメインクロックに基づいて作成したＣＩＳ３６の読取タイミングに相当する駆動クロックをＴＧ２６へ出力したりする。メモリ２５ａには、ＣＩＳ３６の読取タイミングに関する情報であるタイミング情報が記憶されている。画素カウンタ２５ｂは、現在原稿の読み取り動作をしている撮像素子３７ａを画素番号に置き換える。なお、本明細書では、説明の便宜のため、撮像素子３７ａを画素と称したり撮像素子３７ａの位置を画素番号で示すことがある。ＴＧ２６は、読取解像度として１２００，６００，３００ｄｐｉとなるＣＩＳ３６の駆動パルスを生成する。
【００１８】
次に、欠陥画素について説明する。欠陥画素には、欠陥画素タイプＡと欠陥画素タイプＢがある。図３は、ＣＩＳ３６の各画素に対応する画素番号とそのセンサ出力値（階調値データ）との関係を表すグラフである。ここでは、ＣＩＳ３６の各画素に対応して画素番号が値１〜Ｎまで付されているものとし、そのうち画素番号ｎ２，ｎ４，ｎ５の画素が欠陥画素タイプＡ、画素番号ｎ１，ｎ３の画素が欠陥画素タイプＢ、そのほかの画素番号の画素が正常な画素であるとする。画素の受光光量がゼロのとき、図３（ａ）に示すように、正常な画素のセンサ出力値はゼロより僅かに大きい値Ｄ１（色が８ビットで表される場合、値４とか値５）となる。このとき、欠陥画素タイプＡのセンサ出力値は正常時に比べて極端に大きな値となるが、欠陥画素タイプＢのセンサ出力値は正常時とほとんど変わらない値となる。画素の受光光量が最大受光光量（後述するシェーディング補正時の白基準データを測定するときの光量）のとき、図３（ｃ）に示すように、正常な画素のセンサ出力値は値Ｄ３（色が８ビットで表される場合、値２３０とか値２４０）となる。このとき、欠陥画素タイプＡのセンサ出力値は正常時に比べて正方向又は負方向に大きくずれることがあるが、欠陥画素タイプＢのセンサ出力値は正常時とほとんど変わらない値となる。画素の受光光量がゼロより大きく最大受光光量より小さい中程度（例えば最大受光光量の４分の１とか５分の１）のとき、図３（ｂ）に示すように、正常な画素のセンサ出力値は値Ｄ２（色が８ビットで表される場合、値５０とか値６０）となる。このとき、欠陥画素タイプＢのセンサ出力値は正常時に比べて正方向又は負方向に大きくずれる。一方、欠陥画素タイプＡのセンサ出力値は図３（ｂ）では正常時とほとんど変わらないものを例示したが、センサ出力値が正常時に比べて正方向又は負方向に大きくずれるものもある。
【００１９】
次に、こうして構成された本実施形態のスキャナ装置１０の動作、特に画像を読み取る動作について説明する。図４は、メインコントローラ２１のＣＰＵ２２がユーザＰＣ５０からの読取指令をＩ／Ｆ２９を介して受信したときに実行する画像読取ルーチンの一例を表すフローチャートである。なお、ユーザは、読取指令をユーザＰＣ５０から送信する前に原稿台１２に読取原稿を載置して原稿カバー１５を閉じているものとする。また、ＣＰＵ２２は、ＣＩＳコントローラ２５へメインクロック及び読取指令の信号を適宜出力してＣＩＳコントローラ２５と協同して画像読取ルーチンを実行する。
【００２０】
この画像読取ルーチンが開始されると、ＣＰＵ２２は、まず、赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ及び青ＬＥＤ３４Ｂのウォームアップを実行し（ステップＳ１１０）、ＡＦＥ２７でＣＩＳ３６からのアナログ電気信号をＡ／Ｄ変換するときのアンプゲイン値と原稿台１２に載置された原稿を読み取るときの原稿読取時間Ｔａとを設定するために、ＡＦＥキャリブレーションを実行する（ステップＳ１２０）。ＡＦＥキャリブレーションでは、白基準板１７の下にキャリッジ３０を位置決めした状態で、赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ及び青ＬＥＤ３４Ｂをフル点灯時間で順次点灯して白基準板１７に光を照射し、その反射光をＣＩＳ３６の各画素が受光したときのセンサ出力値が所定の高値（例えば各色が８ビットつまり値０〜２５５で表される場合には値２４０とか値２３０）になるようにし、その結果に基づいてアンプゲイン値や原稿読取時間Ｔａを設定する。なお、このとき設定される原稿読取時間Ｔａだけ各ＬＥＤを点灯したときの光量が、各ＬＥＤの最大光量となる。
【００２１】
続いて、黒基準読みを行う（ステップＳ１３０）。すなわち、赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ及び青ＬＥＤ３４Ｂをすべて消灯してＣＩＳ３６の受光光量をゼロとしたときのＣＩＳ３６の各画素からのセンサ出力値を黒基準値としてＲＡＭ２４に格納する。例えば、各色が８ビットで表される場合には値４とか値５になる。この黒基準読みを行ったあと、各画素につきセンサ出力値が予め定めた第１のしきい値（例えば各色が８ビットで表される場合に値１０とか値１５）を超えるか否かを判定し、センサ出力値が第１のしきい値を超えないときにはその画素は正常な画素であると判定し、センサ出力値が第１のしきい値を超えたときにはその画素は欠陥画素タイプＡであると判定し、ＲＡＭ２４にその画素番号を記憶する。欠陥画素タイプＡは、既に説明したとおり、受光光量がゼロのときに正常な画素に比べてセンサ出力値が極端に大きな値となる画素である。このため、黒基準読みで受光光量をゼロとしたときにセンサ出力値が第１のしきい値を超えるものつまりセンサ出力値が正常時に比べて極端に大きな値となるものは欠陥画素タイプＡであると判定することが可能となる。そして、欠陥画素タイプＡと判定された画素番号の画素は、原稿読取時、隣（左右いずれか）の画素のセンサ出力値がその画素の出力値であるとして処理される。
【００２２】
続いて、欠陥画素タイプＢを検出するための白基準読みを行う（ステップＳ１４０）。すなわち、点灯時間Ｔを欠陥画素タイプＢを検出するのに適するタイプＢ検出時間Ｔｂ（ここでは原稿読取時間Ｔａの４分の１とする）に設定し、赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ及び青ＬＥＤ３４ＢをタイプＢ検出時間Ｔｂで順次点灯して白基準板１７に光を照射し、その反射光をＣＩＳ３６の各画素が受光したときのセンサ出力値をＲＡＭ２４に記憶する。なお、各ＬＥＤ３４Ｒ，３４Ｇ，３４ＢがタイプＢ検出時間Ｔｂだけ点灯したときに各ＬＥＤ３４Ｒ，３４Ｇ，３４Ｂから照射される光の光量は、ゼロより大きく最大光量より小さい量となる。その後、画素番号ｎの画素を判定対象とし、その画素番号ｎの画素のセンサ出力値をＤnとし、その両隣つまり画素番号（ｎ−１），（ｎ＋１）の画素のセンサ出力値をＤn-1，Ｄn+1としたときに、下記式（１）が成立するか否かを判定する。なお、式（１）中、Ｄｔｈは予め定められた第２のしきい値である。
｜Ｄn-1−Ｄn｜＋｜Ｄn+1−Ｄn｜−｜Ｄn+1−Ｄn-1｜＞Ｄｔｈ  …（１）
【００２３】
そして、式（１）が成立しないときには画素番号ｎの画素は正常な画素であると判定し、式（１）が成立するときには画素番号ｎの画素は欠陥画素タイプＢであると判定し、ＲＡＭ２４にその画素番号ｎを記憶する。この処理を各色ごとに全画素つまり画素番号１〜Ｎの画素について行う。但し、式（１）は、連続する３つの画素の中に２つ以上欠陥画素タイプＢの画素が存在する可能性がないことを前提としている。また、画素番号１，Ｎの画素についてはＤ0，ＤN+1が存在しないから、画素番号１の画素については、画素番号２が欠陥画素タイプＢのときには正常な画素であると判定し、画素番号２が正常な画素のときにはＤ0をＤ2として式（１）に基づいて判定する。また、画素番号Ｎの画素については、画素番号（Ｎ−１）が欠陥画素タイプＢのときには正常な画素であると判定し、画素番号（Ｎ−１）が正常な画素のときにはＤN+1をＤN-1として式（１）に基づいて判定する。欠陥画素タイプＢは、既に説明したとおり、受光光量が最大受光光量のときやゼロのときには正常な画素と比べてセンサ出力値がほとんど変わらないが、受光光量がゼロから最大受光光量までの間のときには正常な画素と比べてセンサ出力値が大きく異なる値となる画素である。このため、受光光量を最大受光光量の４分の１として白基準読みを行ったときにセンサ出力値が式（１）を満たす、つまり両隣の画素に比べてセンサ出力値が大きくずれている画素は欠陥画素タイプＢであると判定することが可能となる。欠陥画素タイプＢと判定された画素番号の画素は、原稿読取時、隣（左右いずれか）の画素のセンサ出力値がその画素の出力値であるとして処理される。
【００２４】
続いて、シェーディング補正を行うための白基準読みを行う（ステップＳ１５０）。シェーディング補正とは、主走査方向における光量分布のバラツキや各画素のセンサ出力値のバラツキをなくすために行われる補正のことをいう。ここでは、点灯時間Ｔを原稿読取時間Ｔａに設定し、赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ及び青ＬＥＤ３４Ｂを原稿読取時間Ｔａで順次点灯して白基準板１７に光を照射し、その反射光をＣＩＳ３６の各画素が受光したときのセンサ出力値を各画素の白基準データとしてＲＡＭ２４に記憶する。そして、センサ出力値の最大値（各色が８ビットで表される場合には値２５５）を各画素の白基準値と黒基準値との差で除した値を各画素の補正係数とし、各画素の補正係数をＲＡＭ２４に記憶する。
【００２５】
続いて、原稿台１２に載置された原稿の読み取りを実行する（ステップＳ１６０）。読取キャリッジ３０をスタート位置（原稿台１２の白基準板１７側の位置）からエンド位置（原稿台１２の白基準板１７とは反対側の位置）に向かって副走査方向に移動させながら、原稿の１ラインごとに赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ及び青ＬＥＤ３４Ｂを順次原稿読取時間Ｔａずつ点灯したときのＣＩＳ３６の各画素のセンサ出力値を取り込み、各画素ごとにセンサ出力値と黒基準値との差にその画素の補正係数を乗じることにより補正後のデジタル画像データを算出し、ＲＡＭ２４に記憶する。このデジタル画像データは、Ｉ／Ｆ２９を介してユーザＰＣ５０へ送信される。最後に、エンド位置に至ったキャリッジ３０をスタート位置に戻し（ステップＳ１７０）、画像読取ルーチンを終了する。
【００２６】
ここで、本実施形態の構成要素と本発明の構成要素との対応関係を明らかにする。本実施形態のスキャナ装置１０が本発明の画像読取装置に相当し、赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ，青ＬＥＤ３４ＢがＬＥＤ光源に相当し、ＣＩＳ３６が受光手段に相当し、ＡＦＥ２７及び画像処理回路２８が読取データ生成手段に相当し、メインコントローラ２１及びＣＩＳコントローラ２５が判定手段に相当する。なお、本実施形態では、スキャナ装置１０の動作を説明することにより本発明の欠陥素子判定方法の一例も明らかにしている。
【００２７】
以上詳述した本実施形態のスキャナ装置１０によれば、受光光量が最大のときやゼロのときには正常な画素とほぼ同じ値を出力するが受光光量が中程度（ゼロから最大受光光量までの間の光量）のときには正常な画素と大きく異なる値を出力する欠陥画素タイプＢの画素を複数の画素の中から精度よく発見することができる。また、欠陥画素タイプＢを検出する際の画素の受光光量を赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ及び青ＬＥＤ３４Ｂの点灯時間Ｔによって制御するため、簡易且つ正確に画素の受光光量を調節することができる。更に、判定対象の画素のセンサ出力値とその両隣の画素のセンサ出力値との差分に基づいて欠陥画素タイプＢか否かの判定を行うため、例えばすべての画素のセンサ出力値の平均値と判定対象の画素のセンサ出力値との差分に基づいて欠陥画素タイプＢか否かの判定を行う場合に比べて、精度よく判定することができる。すなわち、平均値を用いる場合には欠陥画素の数が多いと平均値もその影響を受けて変動してしまうのに対して、上述した式（１）はそのような影響を受けにくいため、精度よく判定することができる。
【００２８】
なお、本発明は上述した実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の態様で実施し得ることはいうまでもない。
【００２９】
例えば、上述した実施形態では、欠陥画素タイプＢを検出するにあたって点灯時間ＴをタイプＢ検出時間Ｔｂに設定したが、点灯時間Ｔを第１のタイプＢ検出時間Ｔｂ１と第２のタイプＢ検出時間Ｔｂ２（０＜Ｔｂ１＜Ｔｂ２＜Ｔａ）の２種類としてもよい。この場合、ステップＳ１４０では、まず第１のタイプＢ検出時間Ｔｂ１で赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ，青ＬＥＤ３４Ｂを順次点灯したときの各画素のセンサ出力値を求め、各画素ごとに算出式（１）を満たすか否かの第１判定を行い、算出式（１）を満たすものを欠陥画素タイプＢと判定する。続いて、第２のタイプＢ検出時間Ｔｂ２で赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ，青ＬＥＤ３４Ｂを順次点灯したときの各画素のセンサ出力値を求め、第１判定で欠陥画素タイプＢと判定されなかった画素につき算出式（１）を満たすか否かの第２判定を行う。こうすることにより、欠陥画素タイプＢをより精度よく発見することができる。なお、タイプＢ検出時間を３種類以上とし、判定処理を３回以上繰り返してもよい。
【００３０】
上述した実施形態では、各画素につき、赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ，青ＬＥＤ３４Ｂの３色を順次点灯して各色ごとに欠陥画素タイプＢの判定を行うとしたが、各画素につき一つのＬＥＤ（例えば緑ＬＥＤ３４Ｇ）のみを点灯して欠陥画素タイプＢの判定を行うとしてもよい。
【００３１】
上述した実施形態では、３色のＬＥＤ（赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ，青ＬＥＤ３４Ｂ）と一つのＣＩＳ３６を用いて原稿を読み取るようにしたが、１色のＬＥＤ（白色ＬＥＤ）と赤、緑、青の３色のイメージセンサを用いて原稿を読み取るようにしてもよい。この場合には、各色のイメージセンサの画素につき、欠陥画素タイプＢの判定を行うことになる。
【００３２】
上述した実施形態では、式（１）を満たすか否かによって欠陥画素タイプＢか否かの判定を行ったが、判定対象の画素のセンサ出力値と全画素のセンサ出力値の平均値との差分の絶対値が所定の許容範囲を超えたときに欠陥画素タイプＢであると判定してもよい。
【００３３】
上述した実施形態では、赤ＬＥＤ３４Ｒ，緑ＬＥＤ３４Ｇ，青ＬＥＤ３４Ｂの発光光量を調節するに当たり、点灯時間Ｔを調節したが、各ＬＥＤに流す電流値を調節してもよい。
【００３４】
上述した実施形態では、本発明の画像処理装置をスキャナ装置１０として説明したが、スキャナ装置と印刷装置の両方を備えたマルチファンクションプリンタとしてもよいし、ＦＡＸ装置としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】スキャナ装置１０の構成の概略を示す構成図。
【図２】スキャナ装置１０の構成の概略を示す断面図。
【図３】各画素に対応する画素番号とそのセンサ出力値との関係を表すグラフ。
【図４】画像読取ルーチンの一例を表すフローチャート。
【符号の説明】
【００３６】
１０  スキャナ装置、１２  原稿台、１３  原稿ガイド、１４  筐体、１５  原稿カバー、１６  原稿マット、１７  白基準板、２０  制御ユニット、２１  コントローラ、２２  ＣＰＵ、２３  ＲＯＭ、２４  ＲＡＭ、２５  ＣＩＳコントローラ、２５ａ  メモリ、２５ｂ  画素カウンタ、２６  タイミングジェネレータ（ＴＧ）、２７  アナログフロントエンド（ＡＦＥ）、２８  画像処理回路、２９  インタフェース（Ｉ／Ｆ）、３０  キャリッジ、３２  光源ユニット、３３  照射部、３４Ｒ  赤ＬＥＤ、３４Ｇ  緑ＬＥＤ、３４Ｂ  青ＬＥＤ、３６  コンタクトイメージセンサ（ＣＩＳ）、３７  ＣＣＤチップ、３７ａ  撮像素子、３８  キャリッジベルト、３８ａ  従動ローラ、３９  駆動モータ、５０  ユーザパソコン（ＰＣ）。
【図１】
2008236631.tif 000003
【図２】
2008236631.tif 000004
【図３】
2008236631.tif 000005
【図４】
2008236631.tif 000006