(57)【要約】【課題】適切なスペース形成時の記録パワーＰｓを決定する。【解決手段】本記録条件決定方法は、複数の、スペース形成時の記録パワーの各々について光ディスクに対する書き込みを行う記録ステップと、記録ステップにおける書き込みの結果を再生することによって得られる再生信号における特定符号の振幅を測定する測定ステップと、測定された特定符号の振幅を用いて、スペース形成時の記録パワーの上限値を算出する上限値設定ステップと、スペース形成時の記録パワーの上限値に基づき、スペース形成時の記録パワーの設定値を算出する設定値算出ステップとを含む。【選択図】図４
2008269705.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の、スペース形成時の記録パワーの各々について光ディスクに対する書き込みを行う記録ステップと、
前記記録ステップにおける書き込みの結果を再生することによって得られる再生信号における特定符号の振幅を測定する測定ステップと、
測定された前記特定符号の振幅を用いて、前記スペース形成時の記録パワーの上限値を算出する上限値設定ステップと、
を含む記録条件決定方法。
【請求項２】
前記スペース形成時の記録パワーの上限値に基づき、前記スペース形成時の記録パワーの設定値を算出する設定値算出ステップ
をさらに含む請求項１記載の記録条件決定方法。
【請求項３】
前記スペース形成時の記録パワーの設定値を設定した後に、マーク形成時の記録パワーの最適化処理を実施する最適化ステップ
をさらに含む請求項２記載の記録条件決定方法。
【請求項４】
前記特定符号の振幅が、スペース部を再生することによって得られる再生信号の最小振幅又は最大振幅に基づく値である
請求項１記載の記録条件決定方法。
【請求項５】
前記設定値算出ステップが、
前記スペース形成時の記録パワーの上限値に所定の係数を乗ずるステップ
を含む請求項２記載の記録条件決定方法。
【請求項６】
前記所定の係数が、１未満の所定値である
請求項５記載の記録条件決定方法。
【請求項７】
前記最適化ステップが、
前記スペース形成時の記録パワーの設定値を固定し、前記マーク形成時の記録パワーを異なる値に設定してそれぞれテスト記録を実施することによって行われる
請求項３記載の記録条件決定方法。
【請求項８】
前記上限値算出ステップが、
前記複数の、スペース形成時の記録パワー条件でそれぞれ測定された前記特定符号の振幅の変化率を、前記スペース形成時の記録パワー毎に算出するステップと、
前記特定符号の振幅の変化率が所定の条件を満たす前記スペース形成時の記録パワーを上限値として特定するステップと、
を含む請求項１記載の記録条件決定方法。
【請求項９】
複数の、スペース形成時の記録パワーの各々について光ディスクに対する書き込みを行う記録手段と、
前記記録手段による書き込みの結果を再生することによって得られる再生信号における特定符号の振幅を測定する測定手段と、
測定された前記特定符号の振幅を用いて、前記スペース形成時の記録パワーの上限値を算出する上限値設定手段と、
を有する光ディスク記録再生装置。
【請求項１０】
前記スペース形成時の記録パワーの上限値に基づき、前記スペース形成時の記録パワーの設定値を算出する設定値算出手段
をさらに有する請求項９記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１１】
前記スペース形成時の記録パワーの設定値を設定した後に、マーク形成時の記録パワーの最適化処理を実施する最適化手段
をさらに有する請求項１０記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１２】
前記特定符号の振幅が、スペース部を再生することによって得られる再生信号の最小振幅又は最大振幅に基づく値である
請求項９記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１３】
前記設定値算出手段が、前記スペース形成時の記録パワーの上限値に所定の係数を乗ずる
請求項１０記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１４】
前記所定の係数が、１未満の所定値である
請求項１３記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１５】
前記最適化手段が、
前記スペース形成時の記録パワーの設定値を固定し、前記マーク形成時の記録パワーを異なる値に設定してそれぞれテスト記録を実施する
請求項１１記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１６】
前記上限値算出手段が、
前記複数の、スペース形成時の記録パワー条件でそれぞれ測定された前記特定符号の振幅の変化率を、前記スペース形成時の記録パワー毎に算出する手段と、
前記特定符号の振幅の変化率が所定の条件を満たす前記スペース形成時の記録パワーを上限値として特定する手段と、
を有する請求項９記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１７】
複数の、スペース形成時の記録パワーの各々について光ディスクに対する書き込みを行う記録ステップと、
前記記録ステップにおける書き込みの結果を再生することによって得られる再生信号における特定符号の振幅を測定する測定ステップと、
測定された前記特定符号の振幅を用いて、前記スペース形成時の記録パワーの上限値を算出する上限値設定ステップと、
をプロセッサに実行させるためのプログラム。
【請求項１８】
前記スペース形成時の記録パワーの上限値に基づき、前記スペース形成時の記録パワーの設定値を算出する設定値算出ステップ
をさらにプロセッサに実行させるための請求項１７記載のプログラム。
【請求項１９】
前記スペース形成時の記録パワーの設定値を設定した後に、マーク形成時の記録パワーの最適化処理を実施する最適化ステップ
をさらにプロセッサに実行させるための請求項１８記載のプログラム。
【請求項２０】
請求項１７乃至１９のいずれか１つ記載のプログラムをメモリに格納したプロセッサ。
【請求項２１】
スペース形成時の記録パワーの上限値が格納されているメモリを有する光ディスク記録再生装置。
【請求項２２】
スペース形成時の記録パワーの上限値が記録されている光ディスク。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに対する記録条件の決定技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、光ディスクのテスト記録エリアに対してマーク形成時の記録パワーＰｗ（メイン記録パワーとも呼ぶ）を所定の範囲で変化させて記録を行い、当該テスト記録エリアへの記録結果を再生することによって得られる再生信号から例えばβのような評価値を算出し、当該評価値が所定の条件を満たす最適な記録パワーを導出する方法が知られている。また、マーク形成時の記録パワーＰｗ以外のスペース形成時の記録パワーＰｓやマーク形成時の記録パワーより低い第２の記録パワーＰｂｗは、メイン記録パワーＰｗに対して一定の比率の値として設定されたり、所定の一定値として設定されることが一般的である。
【０００３】
また、特開２００６−３４４２５１号公報には、試し書きの時間を短縮し且つオーバーライトした時の再生品質が良好な光ディスク記録技術が開示されている。具体的には、記録パワーと消去パワーの比を固定し記録パワーを変化させてテスト信号を光ディスクの試し書き領域に記録し、再生し、パラメータγの変化曲線を用いて最適記録パワーを算出し、算出した最適記録パワーから消去パワーを算出し、算出した最適記録パワーと算出した消去パワーでテスト信号を、光ディスクの試し書き領域に記録し、次に算出した最適記録パワーを固定した記録パワーと消去パワーを変化させた消去パワーでテスト信号を、光ディスクの試し書き領域に重ね記録し、再生し、再生信号から最適消去パワーを算出し、算出した最適記録パワーと算出した最適消去パワーで実記録信号を、光ディスクの記録領域に重ね記録する。消去パワーについては考察されているが、スペース形成時の記録パワーについては考察されていない。
【特許文献１】特開２００６−３４４２５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このように従来技術においてはスペース形成時の記録パワーＰｓについてはあまり考慮が払われていなかった。しかし、当該スペース形成時の記録パワーＰｓは、マーク形成直前の熱状態を制御するバイアスパワーとしての役割を担っており、さらに上記熱状態がマーク形成が行われない範囲に制御される必要があるというように、記録品位を定める上で重要な要素である。すなわち、メイン記録パワーＰｗに対して一定の割合になるように定めてしまって良いような単純なパラメータではない。従って、従来技術では、適切なスペース形成時の記録パワーＰｓが用いられておらず、記録品位について十分なパフォーマンスが引き出せていない。
【０００５】
従って、本発明の目的は、適切なスペース形成時の記録パワーＰｓを決定するための技術を提供することである。
【０００６】
また、本発明の他の目的は、適切なスペース形成時の記録パワーＰｓを用いて光ディスクに対する記録品位を向上させるための技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る記録条件決定方法は、複数の、スペース形成時の記録パワーの各々について光ディスクに対する書き込みを行う記録ステップと、記録ステップにおける書き込みの結果を再生することによって得られる再生信号における特定符号の振幅を測定する測定ステップと、測定された特定符号の振幅を用いて、スペース形成時の記録パワーの上限値を算出する上限値設定ステップとを含む。本発明の発明者の新規な知見によれば、上記のような測定を実施することによってスペース形成時の記録パワーＰｓの上限値を得ることができるようになる。すなわち、スペース形成時の記録パワーＰｓとしては用いるべき値の範囲について特定できるようになる。
【０００８】
また、本発明においては、スペース形成時の記録パワーの上限値に基づき、スペース形成時の記録パワーの設定値を算出する設定値算出ステップをさらに含むようにしてもよい。このように、上限値が得られれば、レーザ・ドライバ等に設定すべき値も決定できるようになる。
【０００９】
また、本発明において、スペース形成時の記録パワーの設定値を設定した後に、マーク形成時の記録パワーの最適化処理を実施する最適化ステップをさらに含むようにしてもよい。本発明の発明者の新規な知見によれば、従来技術のような、マーク形成時の記録パワーＰｗに、スペース形成時の記録パワーＰｓを依存させるような方法は好ましくなく、スペース形成時の記録パワーＰｓを適切な値に設定した後にマーク形成時の記録パワーＰｗを最適化した方が記録品位を向上させることができるようになる。
【００１０】
さらに、上で述べた特定符号の振幅が、スペース部を再生することによって得られる再生信号の最小振幅又は最大振幅に基づく値である場合もある。なお、Low-to-highタイプの光ディスクについては最小振幅に基づく値（例えば平均値や中央値など）を用い、High-to-lowタイプの光ディスクについては最大振幅に基づく値を用いる。「スペース」に対応する反射率に依存するためである。
【００１１】
また、上で述べた設定値算出ステップが、スペース形成時の記録パワーの上限値に所定の係数を乗ずるステップを含むようにしてもよい。なお、この所定の係数が、１未満の所定値である場合もある。このように上限値に対して十分マージンを持たせるようにすれば、問題が起きにくくなる。
【００１２】
さらに、上で述べた最適化ステップが、スペース形成時の記録パワーの設定値を固定し、マーク形成時の記録パワーを異なる値に設定してそれぞれテスト記録を実施することによって行われる場合もある。例えば、従来のＯＰＣ技術に従ってマーク形成時の記録パワーＰｗを最適化すればよい。
【００１３】
さらに、上で述べた上限値算出ステップが、特定符号の振幅の変化率を、スペース形成時の記録パワー毎に算出するステップと、特定符号の振幅の変化率が所定の条件を満たすスペース形成時の記録パワーを上限値として特定するステップとを含むようにしてもよい。本発明の発明者の新規な知見によれば、スペース形成時の記録パワーＰｓの上限値を超えると大幅に振幅の変化率が上昇するため、記録品位の劣化が生ずることが分かっており、この点を検出するためである。
【００１４】
また、本発明に係る光ディスク記録再生装置は、複数の、スペース形成時の記録パワーの各々について光ディスクに対する書き込みを行う記録手段と、記録手段による書き込みの結果を再生することによって得られる再生信号における特定符号の振幅を測定する測定ステップと、測定された特定符号の振幅を用いて、スペース形成時の記録パワーの上限値を算出する上限値設定手段とを有する。
【００１５】
さらに、スペース形成時の記録パワーの上限値が格納されているメモリを有する光ディスク記録再生装置を用いれば、スペース形成時の記録パワーを書き込み対象の光ディスクに対して調整しやすくなる。同様に、スペース形成時の記録パワーの上限値が記録されている光ディスクを用いれば、スペース形成時の記録パワーを光ディスク記録再生装置に対して調整しやすくなる。
【００１６】
本発明の記録条件決定方法をプロセッサに実行させるためのプログラムを作成することができ、当該プログラムは、例えばフレキシブル・ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなどの光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリ、ハードディスク等の記憶媒体又は記憶装置若しくはプロセッサの不揮発性メモリに格納される。また、ネットワークを介してディジタル信号にて頒布される場合もある。なお、処理途中のデータについては、プロセッサのメモリ等の記憶装置に一時保管される。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、適切なスペース形成時の記録パワーＰｓを決定することができるようになる。
【００１８】
また、本発明の他の側面によれば、適切なスペース形成時の記録パワーＰｓを用いて光ディスクに対する記録品位を向上させることができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の実施の形態におけるドライブ・システムの機能ブロック図を図１を用いて説明する。本発明の実施の形態に係るドライブ・システムは、光情報記録再生装置１００と、テレビ受像器などの表示部とリモートコントローラなどの操作部とを含む入出力システム（図示せず）とを含む。
【００２０】
光情報記録再生装置１００は、処理途中のデータ、処理結果のデータ、処理における参照データなどを格納するメモリ１２７と、以下で説明する処理を行わせるためのプログラムが記録されるメモリ回路１２６を含むＣＰＵ（中央演算装置：Central Processing Unit）などから構成される制御回路１２５と、入出力システムとのインターフェースであるインターフェース部（Ｉ／Ｆ）１２８と、再生信号であるＲＦ信号の最大振幅レベル又は最小振幅レベル等を検出する特性値検出部１２４と、再生信号であるＲＦ信号から２Ｔ乃至８Ｔ符号（例えばＢｌｕ-ｒａｙ規格の場合。Ｂｌｕ-ｒａｙ規格の場合同期符号の９Ｔも識別する。また、ＨＤ−ＤＶＤ規格の場合、２Ｔ乃至１１Ｔ符号と同期符号の１３Ｔを識別する。）のいずれが読み出されたかを復号するための処理などを行うデータ復調回路１２３と、ピックアップ部１１０と、制御回路１２５から出力される記録すべきデータに対して所定の変調を行い、レーザ・ダイオード（ＬＤ）ドライバ１２１に出力するデータ変調回路１２９と、ＬＤドライバ１２１と、光ディスク１５０の回転制御部及びモータ並びにピックアップ部１１０用のサーボ制御部（図示せず）等を含む。
【００２１】
また、ピックアップ部１１０は、対物レンズ１１４と、ビームスプリッタ１１６と、検出レンズ１１５と、コリメートレンズ１１３と、ＬＤ１１１と、フォトディテクタ（ＰＤ）１１２とを含む。ピックアップ部１１０では、図示しないサーボ制御部の制御に応じて図示しないアクチュエータが動作し、フォーカス及びトラッキングが行われる。
【００２２】
制御回路１２５は、メモリ１２７、特性値検出部１２４、Ｉ／Ｆ１２８、ＬＤドライバ１２１、データ変調回路１２９、図示しない回転制御部及びサーボ制御部などに接続されている。また、特性値検出部１２４は、ＰＤ１１２、制御回路１２５などに接続されている。ＬＤドライバ１２１は、データ変調回路１２９、制御回路１２５及びＬＤ１１１に接続されている。制御回路１２５は、Ｉ／Ｆ１２８を介して入出力システムにも接続されている。
【００２３】
次に、光ディスク１５０に対してデータを記録する場合における処理の概要を説明する。まず、制御回路１２５は、データ変調回路１２９に、光ディスク１５０に記録すべきデータに対して所定の変調処理を実施させ、データ変調回路１２９は変調処理後のデータをＬＤドライバ１２１に出力する。ＬＤドライバ１２１は、指定の記録条件に従って、受信したデータでＬＤ１１１を駆動してレーザ光を出力させる。レーザ光は、コリメートレンズ１１３、ビームスプリッタ１１６、対物レンズ１１４を介してディスク１５０に照射され、光ディスク１５０にマークとスペースを形成する。
【００２４】
また、光ディスク１５０に記録されたデータを再生する場合における処理の概要を説明する。制御回路１２５からの指示に従ってＬＤドライバ１２１は、ＬＤ１１１を駆動してレーザ光を出力させる。レーザ光は、コリメートレンズ１１３、ビームスプリッタ１１６、対物レンズ１１４を介して光ディスク１５０に照射される。光ディスク１５０からの反射光は、対物レンズ１１４、ビームスプリッタ１１６、検出レンズ１１５を介してＰＤ１１２に入力される。ＰＤ１１２は、ディスク１５０からの反射光を電気信号に変換し、特性値検出部１２４等に出力する。データ復調回路１２３等は、出力された再生信号に対して所定の復号処理を行い、復号されたデータを制御回路１２５及びＩ／Ｆ１２８を介して、入出力システムの表示部に出力して、再生データを表示させる。特性値検出部１２４は、通常の再生では用いられないので、その動作については以下で説明する。
【００２５】
なお、以下では、Ｂｌｕ-ｒａｙ規格に従ったシステムにおいて用いられる記録パルス形状を前提として説明する。図２（ａ）に、マルチパルスを採用した場合の各種記録パラメータを示しているが、記録パワーに関するパラメータには、マーク形成時の記録パワーＰｗ、スペース形成時の記録パワーＰｓの他に、Ｐｃ及びＰｂｗなどもある。また、タイミングに関するパラメータには、ｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｓなどがある。また、図２（ｂ）に、ノンマルチパルスを採用した場合の各種記録パラメータを示しているが、この場合にも、記録パワーに関するパラメータには、マーク形成時の記録パワーＰｗ、スペース形成時の記録パワーＰｓが含まれ、さらに他のパラメータとしてＰｍやＰｃなどがある。さらに、タイミングに関するパラメータには、ｄＴｔｏｐ、ＬＤＨ、Ｄｕｔｙ、ＴＢＳＴ、ｄＴｌａｓｔ，ｄＴｓなどがある。このようにマルチパルスを採用しても、ノンマルチパルスを採用しても、マーク形成時の記録パワーＰｗ及びスペース形成時の記録パワーＰｓは、適切に設定する必要がある。なお、図示しないが他の規格においても、マーク形成時の記録パワーＰｗ及びスペース形成時の記録パワーＰｓは、重要なパラメータである。
【００２６】
次に、スペース形成時の記録パワーＰｓ及びマーク形成時の記録パワーＰｗの設定を行う際の処理について図３乃至図７を用いて説明する。まず、制御回路１２５は、テスト記録を行う位置情報や記録速度等の基本条件をサーボ制御部他に設定する（ステップＳ１）。なお、スペース形成時の記録パワーＰｓ以外の各種記録パラメータについても予め定められた初期値を、ＬＤドライバ１２１に設定させる。そして、制御回路１２５は、Ｐｓ最適化処理を実施する（ステップＳ３）。このＰｓ最適化処理については、図４乃至図７を用いて説明する。
【００２７】
制御回路１２５は、Ｐｓの初期値をＬＤドライバ１２１に設定する（ステップＳ１１）。なお、以下では、Ｐｓの値を増加させる例を示すが、Ｐｓの値を減少させるようにしてもよい。そして、カウンタｎを１に初期化する（ステップＳ１３）。その後、制御回路１２５は、ＬＤドライバ１２１等に対して、設定されている条件の下、テスト記録エリアに所定のデータのデータ記録を実施させる（ステップＳ１５）。そして、制御回路１２５は、ピックアップ部１１０等に対して、ステップＳ１５で行ったデータ記録の記録結果の再生を行わせると共に、その際特性値検出部１２４に対して、スペース部を再生した際に得られる信号の振幅の最小レベルを測定させ、制御回路１２５に出力させる（ステップＳ１７）。
【００２８】
ここではＢｌｕ-ｒａｙ規格に準じた記録型光ディスク（Low-to-highタイプ（マーク形成により反射光レベルが高くなる））を前提としている。具体的には、このような光ディスクの場合、記録するデータ符号は２Ｔ乃至８Ｔ（データ基準クロック周期を１Ｔとする）であり、図５（縦軸が電圧を表し、横軸が時間を表す図）に示すように、最も大きい８Ｔマークが最大レベル（Ｉ８Ｈ）となり、８Ｔスペースが最小レベル（Ｉ８Ｌ）となる。実際には、上記符号長と照射レーザのスポット有効径との関係から、４Ｔ（又は５Ｔ）以上の符号データが最大レベルとなる。このように、特性値検出部１２４では、スペース部を再生した際に得られる信号振幅が最小となる電圧レベル（Ｉ８Ｌ）を測定するようにする。
【００２９】
なお、High-to-Lowタイプの記録型光ディスクの場合には、マーク部とスペース部の信号レベル位置関係が反転するため、この場合特性値検出部１２４は、スペース部を再生した際に得られる信号振幅が最大となる電圧レベル（Ｉ８Ｈ）を測定するようにする。
【００３０】
次に、制御回路１２５は、ｎ＝１であるか判断する（ステップＳ１９）。ｎ＝１であれば、ｎを１インクリメントし（ステップＳ２１）、Ｐｓを所定量（例えば０．１ｍＷ）増加させてＬＤドライバ１２１等に設定する（ステップＳ２３）。そしてステップＳ１５に戻る。すなわち、最低でも１回はＰｓの値を変更して振幅レベルの測定を実施する。
【００３１】
ｎが２以上であれば、制御回路１２５は、振幅レベルの変化率を算出する（ステップＳ２５）。すなわち、振幅レベルの差（＝今回の振幅レベル−前回の振幅レベル）／Ｐｓの増加量（例えば０．１ｍＷ）で変化率を算出する。なお、反射率レベルを測定して、当該反射率レベルの変化率を算出するようにしても良い。
【００３２】
そして、制御回路１２５は、振幅レベルの変化率が所定の閾値以上であるか判断する（ステップＳ２７）。所定の閾値については、例えばメモリ１２７に予め格納しておく。変化率が所定の閾値未満である場合にはステップＳ２１に移行する。このような処理を実施するのは、Ｐｓと測定される振幅レベルとの関係が例えば図６に示すようなものであるためである。図６において縦軸はＩ８Ｌの振幅レベルを表し、横軸はＰｓ（ｍＷ）を表している。このように、Ｐｓを上昇させると、ある一定値（図６の例では１．３ｍＷ）を境に変化率が大幅に上昇する。図６の例では１．３ｍＷ未満であれば、上下することはあっても変化率は正の大きな値にはならないが、１．３ｍＷ以上となると、変化率は正の大きな値となる。このような変化率の変化を検出できない場合にはステップＳ２１に戻る。変化率が所定の閾値未満である場合に、際限なくステップＳ２１乃至Ｓ２７を実施するのは適切ではない場合もあるので、例えば繰り返しの回数に制限を設けたり、スペース形成時の記録パワーＰｓの設定範囲を設けておき、その範囲においてＰｓを変化させるようにする。なお、Ｐｓを減少させてゆく場合には、振幅レベルの変化率が閾値未満となれば、上限値に達したと判断できる。
【００３３】
一方、このような変化率の変化を検出した場合、すなわち変化率が所定の閾値以上であると判断された場合には、制御回路１２５は、１回前のＰｓの値を上限値として特定し、例えばメモリ１２７に格納する（ステップＳ２９）。そして、制御回路１２７は、ステップＳ２９で特定されたＰｓの上限値に、所定係数を乗じてＰｓの最適値を算出し、ＬＤドライバ１２１等に設定する（ステップＳ３１）。所定係数は、例えば０．９等の１未満の値であり、予め実験などで上限値から十分なマージンを取るように決定される。但し、場合によっては１が設定されることもある。所定係数は、例えばメモリ１２７に予め格納しておく。なお、このようにステップＳ３１で算出されるＰｓの最適値は、絶対的な最適値ではなく、より好ましい値として設定される。また、上では所定係数を乗ずる例を示したが、場合によっては所定係数減ずるような演算を実施するような場合もある。そして元の処理に戻る。
【００３４】
なお、上で述べたＩ８Ｌは、そのデータ長が、照射されるレーザのスポット有効径に対して十分長いスペース部から得られるものであるため、隣接マークの出来不出来に影響されるものではない。従って、上限値より大きいＰｓでレーザ光を照射した場合には、スペース形成時の記録パワーＰｓによってスペース部に蓄えられた熱量により、スペース部がマーク部のようになってしまったものと考えられる。
【００３５】
例えば、図７に、異なるＰｓ条件（１．１ｍＷ、１．３ｍＷ及び１．５ｍＷ）において、メイン記録パワーＰｗを変化させて記録した場合におけるＤＣＪ（Data Clock Jitter）の測定結果を示す。図７において縦軸はＤＣＪ［％］を表し、横軸はＰｗ［ｍＷ］を表す。図７において、Ｐｓ上限値である１．３ｍＷの場合とＰｓ上限値を超える１．５ｍＷの場合とを比較すると、明らかに１．５ｍＷの場合の方が、ＤＣＪが増加しており、例えばＤＣＪが８％未満となるＰｗの幅も減少している。このように記録品位が劣化しており、パワーマージンも減少しているため、上限値を超えるようなＰｓは好ましくないことが分かる。また、Ｐｓ上限値である１．３ｍＷの場合と１．１ｍＷの場合とを比較すると、ＤＣＪの最低値は１．３ｍＷの場合の方がよいが、例えばＤＣＪが８％未満となるＰｗの幅は１．１ｍＷの場合の方がよい。１．１ｍＷの場合の方が、Ｐｗの変動に強いことが分かる。
【００３６】
このようにＰｓに応じて記録特性が変化するため、例えば上で述べたように実験的に十分なマージンが得られる適切な係数を算出しておき、上限値に対して乗算を行うことによって、最適値を得るものとする。
【００３７】
このようなＰｓに応じた記録特性の変化は、Ｐｓがメイン記録パワーＰｗによるマーク形成直前の蓄熱状態を決定するバイアス制御の役割をも担っていることに起因すると考えられる。従って、上記のように適切な係数を算出しておけば、適切な記録特性を得ることができるようになる。
【００３８】
また、Ｐｓは、膜厚等の光ディスクの特性、レーザのスポット有効径やＬＤドライバ等のハードウエア特性、記録速度や温度等よっても変化するため、光ディスクを交換する毎に実施することが好ましい。
【００３９】
図３の説明に戻って、制御回路１２５は、Ｐｓ最適化処理が終了すると、マーク形成時における記録パワーＰｗの最適化処理を実施する（ステップＳ５）。本ステップでは従来から行われてきたＯＰＣを実施すればよい。すなわち、Ｐｓをその最適値に固定して、異なるメイン記録パワーＰｗでテスト記録エリアに対してデータ記録を行って、当該データ記録を再生することによって再生信号を取得し、当該再生信号から所定の評価指標を算出する。このような処理をメイン記録パワーＰｗを変更して実施することによって最も良い評価指標を得られるメイン記録パワーＰｗを最適値として特定する。そして、当該メイン記録パワーＰｗをＬＤドライバ１２１等に設定する。評価指標は、例えばβ、アシンメトリ値（Asymmetry）、変調度、ジッタ、エラーなどである。
【００４０】
その後、制御回路１２５は、通常どおりにユーザデータの記録を実施させる（ステップＳ７）。
【００４１】
以上のような処理を実施することによって、記録品位を向上させ、適切な記録を記録型光ディスクに行うことができるようになる。
【００４２】
なお、場合によっては、光情報記録再生装置１００のメモリ１２７に、Ｐｓの上限値を格納しておくようにしても良い。
【００４３】
さらに、光ディスク１５０に、Ｐｓの上限値、最適なＰｓを算出するための係数又はその両方を記録しておくようにしても良い。光ディスク１５０に保持させる場合には、図８に示すようなＬｅａｄ−ｉｎ領域の中に保持しておく。Ｌｅａｄ−ｉｎ領域は、システムＬｅａｄ−ｉｎ領域と、コネクション領域と、データＬｅａｄ−ｉｎ領域とに大きく分かれており、システムＬｅａｄ−ｉｎ領域は、イニシャル・ゾーン、バッファ・ゾーン、コントロールデータ・ゾーン、バッファ・ゾーンを含む。また、コネクション領域は、コネクション・ゾーンを含む。さらに、データＬｅａｄ−ｉｎ領域は、ガードトラック・ゾーン、ディスクテスト・ゾーン、ドライブテスト・ゾーン、ガードトラック・ゾーン、ＲＭＤデュープリケーション・ゾーン、レコーディングマネジメント・ゾーン、Ｒ−フィジカルフォーマットインフォメーション・ゾーン、リファレンスコード・ゾーンを含む。  本実施の形態では、システムＬｅａｄ−ｉｎ領域のコントロールデータ・ゾーンに、レコーディングコンディションデータ・ゾーン１７０を含むようにする。
【００４４】
以上本発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、図１の機能ブロック図は、実施の形態を説明するために示したもので、必ずしも実際の回路やモジュール構成と一致しない場合もある。また、処理フローについても処理結果が同じであれば処理順番を入れ替えたり、並列に実行するようにしても良い。例えば、図４において、全てのＰｓについてデータ記録を行った後にデータ再生及び測定をまとめて行って、その後変化率の算出もまとめて行うようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本発明の実施の形態に係る機能ブロック図である。
【図２】（ａ）はマルチパルスの場合の各種記録パラメータを表し、（ｂ）はノンマルチパルスの場合の各種記録パラメータを表す図である。
【図３】本発明の実施の形態におけるメインの処理フローを示す図である。
【図４】Ｐｓ最適化処理の処理フローを示す図である。
【図５】測定すべき振幅レベルを説明するための図である。
【図６】ＰｓとＩ８Ｌの関係を表す図である。
【図７】Ｐｓを変動させた場合における、ＰｗとＤＣＪとの関係を表す図である。
【図８】光ディスクに格納されるデータ構造を示す図である。
【符号の説明】
【００４６】
１００  光情報記録再生装置
１１０  ピックアップ部    １１１  ＬＤ  
１１２  ＰＤ    １１３  コリメートレンズ
１１４  対物レンズ    １１５  検出レンズ
１１６  ビームスプリッタ    １２１  ＬＤドライバ
１２３  データ復調回路    １２４  特性性値検出部
１２５  制御回路    １２６  メモリ回路
１２７  メモリ    １２８  Ｉ／Ｆ    １２９  データ変調回路
１５０  光ディスク
【図１】
2008269705.tif 000003
【図２】
2008269705.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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