(57)【要約】【課題】第１の画像検査において、良否判定を精度良く実施できる画像検査方法を提供する。【解決手段】第１の画像検査工程Ｓ３は、信号発生器から信号線を介して光変調装置に画像信号を出力し全黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる第１画像光形成手順Ｓ３１，Ｓ３３と、各画像光の照度をそれぞれ検出する第１照度検出手順Ｓ３２，Ｓ３４と、各照度に基づいてコントラスト値を算出する第１コントラスト値算出手順Ｓ３５と、コントラスト値と第１閾値とを比較し良否を判定する第１良否判定手順Ｓ３６とを備える。第１閾値は、複数の光変調装置に対して第１の画像検査工程Ｓ３を実施することにより得られた各コントラスト値と、前記複数の光変調装置に対して第２の画像検査工程を実施することにより得られた各コントラスト値との相関関係を示す近似式を用いて第２の画像検査工程で用いられる第２閾値を補正した値である。【選択図】図４
2008241494.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源装置と、前記光源装置から射出された光束を画像信号に応じて変調して画像光を形
成する光変調装置と、前記画像光を拡大投射する投射光学装置と、前記光変調装置に画像
信号を出力して前記光変調装置に画像光を形成させる制御装置とを備えたプロジェクタの
画像検査方法であって、
前記プロジェクタ外部の信号発生器から信号線を介して前記光変調装置に画像信号を出
力し所定の画像光を形成させて前記画像光を検査する第１の画像検査工程と、前記制御装
置から前記光変調装置に画像信号を出力し所定の画像光を形成させて前記画像光を検査す
る第２の画像検査工程とを備え、
前記第１の画像検査工程は、前記信号発生器から信号線を介して前記光変調装置に画像
信号を出力し全黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる第１画像光形成手順
と、前記第１画像光形成手順にて形成させた前記全黒の画像光および前記全白の画像光の
照度をそれぞれ検出する第１照度検出手順と、前記第１照度検出手順にて検出した各前記
照度に基づいてコントラスト値を算出する第１コントラスト値算出手順と、前記第１コン
トラスト値算出手順にて算出した前記コントラスト値と第１閾値とを比較し、良否を判定
する第１良否判定手順とを備え、
前記第２の画像検査工程は、前記制御装置から前記光変調装置に画像信号を出力し全黒
の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる第２画像光形成手順と、前記第２画像
光形成手順にて形成させた前記全黒の画像光および前記全白の画像光の照度をそれぞれ検
出する第２照度検出手順と、前記第２照度検出手順にて検出した各前記照度に基づいてコ
ントラスト値を算出する第２コントラスト値算出手順と、前記第２コントラスト値算出手
順にて算出した前記コントラスト値と第２閾値とを比較し、良否を判定する第２良否判定
手順とを備え、
前記第１閾値は、複数の前記光変調装置に対して前記第１画像光形成手順、前記第１照
度検出手順、および前記第１コントラスト値算出手順を実施することにより得られた各コ
ントラスト値と、前記複数の光変調装置に対して前記第２画像光形成手順、前記第２照度
検出手順、および前記第２コントラスト値算出手順を実施することにより得られた各コン
トラスト値との相関関係を示す近似式を用いて前記第２閾値を補正した値である
ことを特徴とする画像検査方法。
【請求項２】
光源装置と、前記光源装置から射出された光束を画像信号に応じて変調して画像光を形
成する光変調装置と、前記画像光を拡大投射する投射光学装置と、前記光変調装置に画像
信号を出力して前記光変調装置に画像光を形成させる制御装置とを備えたプロジェクタの
画像検査方法であって、
前記プロジェクタ外部の信号発生器から信号線を介して前記光変調装置に画像信号を出
力し所定の画像光を形成させて前記画像光を検査する第１の画像検査工程と、前記制御装
置から前記光変調装置に画像信号を出力し所定の画像光を形成させて前記画像光を検査す
る第２の画像検査工程とを備え、
前記第１の画像検査工程は、前記信号発生器から信号線を介して前記光変調装置に画像
信号を出力し全黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる第１画像光形成手順
と、前記第１画像光形成手順にて形成させた前記全黒の画像光および前記全白の画像光の
照度をそれぞれ検出する第１照度検出手順と、前記第１照度検出手順にて検出した各前記
照度に基づいてコントラスト値を算出する第１コントラスト値算出手順と、前記第１コン
トラスト値算出手順にて算出した前記コントラスト値を所定の近似式を用いて補正して補
正コントラスト値を算出するコントラスト値補正手順と、前記コントラスト値補正手順に
て算出した補正コントラスト値と所定の閾値とを比較し、良否を判定する第１良否判定手
順とを備え、
前記第２の画像検査工程は、前記制御装置から前記光変調装置に画像信号を出力し全黒
の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる第２画像光形成手順と、前記第２画像
光形成手順にて形成させた前記全黒の画像光および前記全白の画像光の照度をそれぞれ検
出する第２照度検出手順と、前記第２照度検出手順にて検出した各前記照度に基づいてコ
ントラスト値を算出する第２コントラスト値算出手順と、前記第２コントラスト値算出手
順にて算出した前記コントラスト値と前記所定の閾値とを比較し、良否を判定する第２良
否判定手順とを備え、
前記所定の近似式は、複数の前記光変調装置に対して前記第１画像光形成手順、前記第
１照度検出手順、および前記第１コントラスト値算出手順を実施することにより得られた
各コントラスト値と、前記複数の光変調装置に対して前記第２画像光形成手順、前記第２
照度検出手順、および前記第２コントラスト値算出手順を実施することにより得られた各
コントラスト値との相関関係を示す近似式である
ことを特徴とする画像検査方法。
【請求項３】
光源装置と、前記光源装置から射出された光束を画像信号に応じて変調して画像光を形
成する光変調装置と、前記画像光を拡大投射する投射光学装置と、前記光変調装置に画像
信号を出力して前記光変調装置に画像光を形成させる制御装置とを備えたプロジェクタの
画像検査装置であって、
前記光変調装置に信号線を介して画像信号を出力し全黒の画像光および全白の画像光を
それぞれ形成させる信号発生器と、前記光変調装置にて形成された画像光の照度を検出す
る照度検出部と、前記照度検出部にて検出された照度に基づいて画像光を検査する制御部
とを備え、
前記制御部は、
前記信号発生器から信号線を介して画像信号が出力されることにより前記光変調装置に
形成された全黒の画像光および全白の画像光の各照度を前記照度検出部に検出させ、前記
各照度に基づいてコントラスト値を算出する第１コントラスト値算出手段と、
前記第１コントラスト値算出手段にて算出されたコントラスト値と第１閾値とを比較し
、良否を判定する第１良否判定手段と、
前記制御装置から画像信号が出力されることにより前記光変調装置に形成された全黒の
画像光および全白の画像光の各照度を前記照度検出部に検出させ、前記各照度に基づいて
コントラスト値を算出する第２コントラスト値算出手段と、
前記第２コントラスト値算出手段にて算出されたコントラスト値と第２閾値とを比較し
、良否を判定する第２良否判定手段とを備え、
前記第１閾値は、複数の前記光変調装置に対して前記第１コントラスト値算出手段にて
算出された各コントラスト値と、前記複数の光変調装置に対して前記第２コントラスト値
算出手段にて算出された各コントラスト値との相関関係を示す近似式を用いて前記第２閾
値を補正した値である
ことを特徴とする画像検査装置。
【請求項４】
光源装置と、前記光源装置から射出された光束を画像信号に応じて変調して画像光を形
成する光変調装置と、前記画像光を拡大投射する投射光学装置と、前記光変調装置に画像
信号を出力して前記光変調装置に画像光を形成させる制御装置とを備えたプロジェクタの
画像検査装置であって、
前記光変調装置に画像信号を出力し全黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成さ
せる信号発生器と、前記光変調装置にて形成された画像光の照度を検出する照度検出部と
、前記照度検出部にて検出された照度に基づいて画像光を検査する制御部とを備え、
前記制御部は、
前記信号発生器から画像信号が出力されることにより前記光変調装置に形成された全黒
の画像光および全白の画像光の各照度を前記照度検出部に検出させ、前記各照度に基づい
てコントラスト値を算出する第１コントラスト値算出手段と、
前記第１コントラスト値算出手段にて算出されたコントラスト値を所定の近似式を用い
て補正し、補正コントラスト値を算出するコントラスト値補正手段と、
前記コントラスト値補正手段にて算出された補正コントラスト値と所定の閾値とを比較
し、良否を判定する第１良否判定手段と、
前記制御装置から画像信号が出力されることにより前記光変調装置に形成された全黒の
画像光および全白の画像光の各照度を前記照度検出部に検出させ、前記各照度に基づいて
コントラスト値を算出する第２コントラスト値算出手段と、
前記第２コントラスト値算出手段にて算出されたコントラスト値と前記所定の閾値とを
比較し、良否を判定する第２良否判定手段とを備え、
前記所定の近似式は、複数の前記光変調装置に対して前記第１コントラスト値算出手段
にて算出された各コントラスト値と、前記複数の光変調装置に対して前記第２コントラス
ト値算出手段にて算出された各コントラスト値との相関関係を示す近似式である
ことを特徴とする画像検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像検査方法、および画像検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光源装置と、光源装置から射出された光束を画像情報に応じて変調する光変調装
置と、光変調装置を含む複数の光学部品を内部に収納配置する光学部品用筐体と、光変調
装置にて変調された光束を拡大投射する投射光学装置と、各構成要素に電力を供給する電
源装置と、各構成要素を制御する制御装置と、光源装置、光学部品用筐体、投射光学装置
、電源装置、および制御装置を内部に収納配置する外装筐体とを備えたプロジェクタが知
られている（例えば、特許文献１参照）。
このようなプロジェクタは、例えば、以下に示すように、組み立てられる。
先ず、外装筐体を構成するロアーケースに、光源装置、各光学部品を含む光学部品用筐
体、投射光学装置、および電源装置を収納配置するとともに、光源装置および電源装置を
電気的に接続する。
【０００３】
次に、電源装置から光源装置に電力を供給させて、光源装置を点灯し、スクリーン上に
所定の投影画像を表示させる。そして、スクリーン上の投影画像を確認しながら、光学部
品用筐体内部に収納された光学部品の姿勢調整（光軸調整、コントラスト調整）を実施す
る。
次に、以下に示すように、第１の画像検査を実施する。
プロジェクタ外部の信号発生器と光変調装置とを信号線（信号ケーブル）により電気的
に接続する。また、信号発生器から所定の画像信号を光変調装置に出力させ、光変調装置
に全黒の画像光や全白の画像光を形成させる。さらに、スクリーン上の投影画像（全黒の
画面や全白の画面）の中心位置の各照度を照度計にて測定し、各照度に基づいてコントラ
スト値を算出する。そして、算出したコントラスト値と、所定の閾値とを比較し、プロジ
ェクタ（光変調装置）の良否を判定する。ここで、不良であると判定した場合には、例え
ば、光変調装置を他の光変調装置に交換して、再度、第１の画像検査を実施する。
【０００４】
第１の画像検査にて良品であると判定された場合には、制御装置を外装筐体内部に設置
し、制御装置と光変調装置とを電気的に接続し、プロジェクタを製品の状態に組み立てる
。
次に、以下に示すように、第２の画像検査（最終検査）を実施する。
制御装置から所定の画像信号を光変調装置に出力させることで、光変調装置に全黒の画
像光や全白の画像光を形成させ、上述した第１の画像検査と略同様に、コントラスト値の
算出、およびプロジェクタ（光変調装置）の良否判定を実施する。
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−２１５７１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上述した第２の画像検査（最終検査）では、制御装置から光変調装置に画像
信号を出力させて検査を実施しているため、画像信号がノイズ等の影響を受けることがな
い。すなわち、光変調装置に良好に全黒の画像光や全白の画像光を形成させ、光変調装置
にて形成される画像光本来のコントラスト値を算出し、良否判定を精度良く実施できる。
一方、上述した第１の画像検査では、プロジェクタ外部の信号発生器から信号線を介し
て光変調装置に画像信号を出力させて検査を実施しているため、信号線の抵抗値等の影響
により、画像信号の信号レベルが低下してしまう。すなわち、光変調装置に全黒の画像光
や全白の画像光を良好に形成させることができず、光変調装置にて形成される画像光本来
のコントラスト値を算出できず、良否判定において、良品のものでも不良品として判定し
てしまう。
したがって、第１の画像検査において、良否判定を精度良く実施できる技術が要望され
ている。
【０００７】
本発明の目的は、第１の画像検査において、良否判定を精度良く実施できる画像検査方
法、および画像検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の画像検査方法は、光源装置と、前記光源装置から射出された光束を画像信号に
応じて変調して画像光を形成する光変調装置と、前記画像光を拡大投射する投射光学装置
と、前記光変調装置に画像信号を出力して前記光変調装置に画像光を形成させる制御装置
とを備えたプロジェクタの画像検査方法であって、前記プロジェクタ外部の信号発生器か
ら信号線を介して前記光変調装置に画像信号を出力し所定の画像光を形成させて前記画像
光を検査する第１の画像検査工程と、前記制御装置から前記光変調装置に画像信号を出力
し所定の画像光を形成させて前記画像光を検査する第２の画像検査工程とを備え、前記第
１の画像検査工程は、前記信号発生器から信号線を介して前記光変調装置に画像信号を出
力し全黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる第１画像光形成手順と、前記
第１画像光形成手順にて形成させた前記全黒の画像光および前記全白の画像光の照度をそ
れぞれ検出する第１照度検出手順と、前記第１照度検出手順にて検出した各前記照度に基
づいてコントラスト値を算出する第１コントラスト値算出手順と、前記第１コントラスト
値算出手順にて算出した前記コントラスト値と第１閾値とを比較し、良否を判定する第１
良否判定手順とを備え、前記第２の画像検査工程は、前記制御装置から前記光変調装置に
画像信号を出力し全黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる第２画像光形成
手順と、前記第２画像光形成手順にて形成させた前記全黒の画像光および前記全白の画像
光の照度をそれぞれ検出する第２照度検出手順と、前記第２照度検出手順にて検出した各
前記照度に基づいてコントラスト値を算出する第２コントラスト値算出手順と、前記第２
コントラスト値算出手順にて算出した前記コントラスト値と第２閾値とを比較し、良否を
判定する第２良否判定手順とを備え、前記第１閾値は、複数の前記光変調装置に対して前
記第１画像光形成手順、前記第１照度検出手順、および前記第１コントラスト値算出手順
を実施することにより得られた各コントラスト値と、前記複数の光変調装置に対して前記
第２画像光形成手順、前記第２照度検出手順、および前記第２コントラスト値算出手順を
実施することにより得られた各コントラスト値との相関関係を示す近似式を用いて前記第
２閾値を補正した値であることを特徴とする。
【０００９】
本発明では、第１の画像検査工程を実施する前に、予め、以下に示すように、良否の判
定に用いる第１閾値を設定しておく。
すなわち、複数の光変調装置（複数台のプロジェクタ）を用いて、第１画像光形成手順
、第１照度検出手順、および第１コントラスト値算出手順を実施し、プロジェクタ外部の
信号発生器から信号線を介して光変調装置に画像信号を出力させて各コントラスト値（以
下、第１コントラスト値）を算出する。
また、前記複数の光変調装置（複数台のプロジェクタ）を用いて、第２画像光形成手順
、第２照度検出手順、および第２コントラスト値算出手順を実施し、プロジェクタ内部の
制御装置から光変調装置に画像信号を出力させて各コントラスト値（以下、第２コントラ
スト値）を算出する。
次に、各第１コントラスト値と、各第１コントラスト値に対応する各第２コントラスト
値とに基づいて、各第１コントラスト値と各第２コントラスト値との相関関係を示す近似
式を算出する。
そして、算出した近似式を用いて第２の画像検査工程（最終検査）の良否判定で用いる
第２閾値を補正した値を、第１閾値として設定する。
第１の画像検査工程では、第１良否判定手順において、上述したように設定された第１
閾値を用いて、良否の判定を実施する。
【００１０】
以上のように、各第１コントラスト値と各第２コントラスト値との相関関係を示す近似
式を算出することで、信号発生器から信号線を介して光変調装置に出力される画像信号と
、制御装置から光変調装置に出力される画像信号との信号レベルの関係を見出すことがで
きる。そして、近似式を用いて第２閾値を補正した値を第１閾値として設定することで、
第１閾値を信号線の抵抗値等の影響を相殺した合理的な閾値とすることができる。したが
って、第１の画像検査工程において、このように設定された第１閾値を用いて良否の判定
を実施することで、良否判定を精度良く実施できる。
【００１１】
本発明の画像検査方法は、光源装置と、前記光源装置から射出された光束を画像信号に
応じて変調して画像光を形成する光変調装置と、前記画像光を拡大投射する投射光学装置
と、前記光変調装置に画像信号を出力して前記光変調装置に画像光を形成させる制御装置
とを備えたプロジェクタの画像検査方法であって、前記プロジェクタ外部の信号発生器か
ら信号線を介して前記光変調装置に画像信号を出力し所定の画像光を形成させて前記画像
光を検査する第１の画像検査工程と、前記制御装置から前記光変調装置に画像信号を出力
し所定の画像光を形成させて前記画像光を検査する第２の画像検査工程とを備え、前記第
１の画像検査工程は、前記信号発生器から信号線を介して前記光変調装置に画像信号を出
力し全黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる第１画像光形成手順と、前記
第１画像光形成手順にて形成させた前記全黒の画像光および前記全白の画像光の照度をそ
れぞれ検出する第１照度検出手順と、前記第１照度検出手順にて検出した各前記照度に基
づいてコントラスト値を算出する第１コントラスト値算出手順と、前記第１コントラスト
値算出手順にて算出した前記コントラスト値を所定の近似式を用いて補正して補正コント
ラスト値を算出するコントラスト値補正手順と、前記コントラスト値補正手順にて算出し
た補正コントラスト値を所定の閾値とを比較し、良否を判定する第１良否判定手順とを備
え、前記第２の画像検査工程は、前記制御装置から前記光変調装置に画像信号を出力し全
黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる第２画像光形成手順と、前記第２画
像光形成手順にて形成させた前記全黒の画像光および前記全白の画像光の照度をそれぞれ
検出する第２照度検出手順と、前記第２照度検出手順にて検出した各前記照度に基づいて
コントラスト値を算出する第２コントラスト値算出手順と、前記第２コントラスト値算出
手順にて算出した前記コントラスト値と前記所定の閾値とを比較し、良否を判定する第２
良否判定手順とを備え、前記所定の近似式は、複数の前記光変調装置に対して前記第１画
像光形成手順、前記第１照度検出手順、および前記第１コントラスト値算出手順を実施す
ることにより得られた各コントラスト値と、前記複数の光変調装置に対して前記第２画像
光形成手順、前記第２照度検出手順、および前記第２コントラスト値算出手順を実施する
ことにより得られた各コントラスト値との相関関係を示す近似式であることを特徴とする
。
【００１２】
本発明では、第１の画像検査工程を実施する前に、予め、以下に示すように、コントラ
スト値を補正する際に用いる近似式を設定しておく。
すなわち、複数の光変調装置（複数台のプロジェクタ）を用いて、第１画像光形成手順
、第１照度検出手順、および第１コントラスト値算出手順を実施し、プロジェクタ外部の
信号発生器から信号線を介して光変調装置に画像信号を出力させて各コントラスト値（以
下、第１コントラスト値）を算出する。
また、前記複数の光変調装置（複数台のプロジェクタ）を用いて、第２画像光形成手順
、第２照度検出手順、および第２コントラスト値算出手順を実施し、プロジェクタ内部の
制御装置から光変調装置に画像信号を出力させて各コントラスト値（以下、第２コントラ
スト値）を算出する。
次に、各第１コントラスト値と、各第１コントラスト値に対応する各第２コントラスト
値とに基づいて、各第１コントラスト値と各第２コントラスト値との相関関係を示す近似
式を算出する。
そして、算出した近似式を、コントラスト値を補正する際に用いる近似式として設定す
る。
第１の画像検査工程では、コントラスト値補正手順において、上述したように設定され
た近似式を用いて、コントラスト値を補正して補正コントラスト値を算出する。そして、
第１良否判定手順において、上述したように算出された補正コントラスト値と所定の閾値
とを比較して、良否の判定を実施する。
【００１３】
以上のように、各第１コントラスト値と各第２コントラスト値との相関関係を示す近似
式を算出することで、信号発生器から信号線を介して光変調装置に出力される画像信号と
、制御装置から光変調装置に出力される画像信号との信号レベルの関係を見出すことがで
きる。そして、近似式を用いてコントラスト値を補正し補正コントラスト値を算出するこ
とで、コントラスト値を信号線の抵抗値等の影響を相殺した値（補正コントラスト値）と
することができる。したがって、第１の画像検査工程において、このように算出された補
正コントラスト値と所定の閾値とを比較して良否の判定を実施することで、良否判定を精
度良く実施できる。
【００１４】
本発明の画像検査装置は、光源装置と、前記光源装置から射出された光束を画像信号に
応じて変調して画像光を形成する光変調装置と、前記画像光を拡大投射する投射光学装置
と、前記光変調装置に画像信号を出力して前記光変調装置に画像光を形成させる制御装置
とを備えたプロジェクタの画像検査装置であって、前記光変調装置に信号線を介して画像
信号を出力し全黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる信号発生器と、前記
光変調装置にて形成された画像光の照度を検出する照度検出部と、前記照度検出部にて検
出された照度に基づいて画像光を検査する制御部とを備え、前記制御部は、前記信号発生
器から信号線を介して画像信号が出力されることにより前記光変調装置に形成された全黒
の画像光および全白の画像光の各照度を前記照度検出部に検出させ、前記各照度に基づい
てコントラスト値を算出する第１コントラスト値算出手段と、前記第１コントラスト値算
出手段にて算出されたコントラスト値と第１閾値とを比較し、良否を判定する第１良否判
定手段と、前記制御装置から画像信号が出力されることにより前記光変調装置に形成され
た全黒の画像光および全白の画像光の各照度を前記照度検出部に検出させ、前記各照度に
基づいてコントラスト値を算出する第２コントラスト値算出手段と、前記第２コントラス
ト値算出手段にて算出されたコントラスト値と第２閾値とを比較し、良否を判定する第２
良否判定手段とを備え、前記第１閾値は、複数の前記光変調装置に対して前記第１コント
ラスト値算出手段にて算出された各コントラスト値と、前記複数の光変調装置に対して前
記第２コントラスト値算出手段にて算出された各コントラスト値との相関関係を示す近似
式を用いて前記第２閾値を補正した値であることを特徴とする。
【００１５】
本発明では、画像検査装置は、信号発生器と、照度検出部と、第１コントラスト値算出
手段、第１良否判定手段、第２コントラスト値算出手段、および第２良否判定手段を有す
る制御部とを備えているので、該画像検査装置により上述した画像検査方法を実行でき、
上述した画像検査方法と同様の作用および効果を享受できる。
【００１６】
本発明の画像検査装置は、光源装置と、前記光源装置から射出された光束を画像信号に
応じて変調して画像光を形成する光変調装置と、前記画像光を拡大投射する投射光学装置
と、前記光変調装置に画像信号を出力して前記光変調装置に画像光を形成させる制御装置
とを備えたプロジェクタの画像検査装置であって、前記光変調装置に画像信号を出力し全
黒の画像光および全白の画像光をそれぞれ形成させる信号発生器と、前記光変調装置にて
形成された画像光の照度を検出する照度検出部と、前記照度検出部にて検出された照度に
基づいて画像光を検査する制御部とを備え、前記制御部は、前記信号発生器から画像信号
が出力されることにより前記光変調装置に形成された全黒の画像光および全白の画像光の
各照度を前記照度検出部に検出させ、前記各照度に基づいてコントラスト値を算出する第
１コントラスト値算出手段と、前記第１コントラスト値算出手段にて算出されたコントラ
スト値を所定の近似式を用いて補正し、補正コントラスト値を算出するコントラスト値補
正手段と、前記コントラスト値補正手段にて算出された補正コントラスト値と所定の閾値
とを比較し、良否を判定する第１良否判定手段と、前記制御装置から画像信号が出力され
ることにより前記光変調装置に形成された全黒の画像光および全白の画像光の各照度を前
記照度検出部に検出させ、前記各照度に基づいてコントラスト値を算出する第２コントラ
スト値算出手段と、前記第２コントラスト値算出手段にて算出されたコントラスト値と前
記所定の閾値とを比較し、良否を判定する第２良否判定手段とを備え、前記所定の近似式
は、複数の前記光変調装置に対して前記第１コントラスト値算出手段にて算出された各コ
ントラスト値と、前記複数の光変調装置に対して前記第２コントラスト値算出手段にて算
出された各コントラスト値との相関関係を示す近似式であることを特徴とする。
【００１７】
本発明では、画像検査装置は、信号発生器と、照度検出部と、第１コントラスト値算出
手段、コントラスト値補正手段、第１良否判定手段、第２コントラスト値算出手段、およ
び第２良否判定手段を有する制御部とを備えているので、該画像検査装置により上述した
画像検査方法を実行でき、上述した画像検査方法と同様の作用および効果を享受できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
［第１実施形態］
以下、本発明の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
〔プロジェクタの構成〕
図１は、検査対象とされるプロジェクタ１００の構成を模式的に示す図である。
プロジェクタ１００は、光源から射出される光束を画像情報に応じて変調してカラー画
像（画像光）を形成し、このカラー画像をスクリーンＳｃ（図２参照）上に拡大投射する
ものである。このプロジェクタ１００は、図１に示すように、略直方体状の外装筐体１０
０Ａと、投射光学装置としての投射レンズ１００Ｂと、光学ユニット１００Ｃと、電源装
置１００Ｄ等を備える。
なお、図１において、具体的な図示は省略したが、外装筐体１００Ａ内において、投射
レンズ１００Ｂ、光学ユニット１００Ｃ、および電源装置１００Ｄ以外の空間には、プロ
ジェクタ１００内部の各構成部材を冷却する冷却ファン等を備えた冷却ユニット、および
プロジェクタ１００内部の各構成部材を制御する制御装置１００Ｅ（図２参照）が配置さ
れるものとする。
【００１９】
外装筐体１００Ａは、射出成型等による合成樹脂製品であり、プロジェクタ１００の天
面、前面、背面、および側面をそれぞれ構成するアッパーケース、およびプロジェクタ１
００の底面、前面、背面、および側面をそれぞれ構成するロアーケース等で構成される。
そして、各ケースは、互いにねじ等で固定されている。
投射レンズ１００Ｂは、複数のレンズを組み合わせた組レンズとして構成され、光学ユ
ニット１００Ｃにて形成されたカラー画像をスクリーンＳｃ上に拡大投射する。
【００２０】
光学ユニット１００Ｃは、制御装置１００Ｅによる制御の下、光源から射出された光束
を光学的に処理して画像信号に対応したカラー画像を形成するユニットである。この光学
ユニット１００Ｃは、図１に示すように、光源ランプ１１１やリフレクタ１１２等を有す
る光源装置１１０と、レンズアレイ１２１，１２２、偏光変換素子１２３、および重畳レ
ンズ１２４等を有する照明光学装置１２０と、ダイクロイックミラー１３１，１３２、お
よび反射ミラー１３３等を有する色分離光学装置１３０と、入射側レンズ１４１、リレー
レンズ１４２、および反射ミラー１４３，１４４等を有するリレー光学装置１４０と、光
変調装置としての３つの液晶パネル１５１、３つの入射側偏光板１５２、３つの射出側偏
光板１５３、および色合成光学装置としてのクロスダイクロイックプリズム１５４等を有
する光学装置１５０と、これら各光学部品１１０〜１５０を内部に設定された照明光軸Ａ
に対する所定位置に配置する光学部品用筐体１６０とを備える。
なお、各光学部品１１０〜１５０は、種々の一般的なプロジェクタの光学系として利用
されているものであり、具体的な説明については省略する。
【００２１】
ここで、光学装置１５０を構成する各部材１５１〜１５４のうち、３つの液晶パネル１
５１、３つの射出側偏光板１５３、およびクロスダイクロイックプリズム１５４は、一体
化して光学装置本体１５０Ａ（図１）として構成されている。
また、上述した各光学部品１１０〜１５０のうち、例えば、各レンズアレイ１２１，１
２２、および重畳レンズ１２４は、照明光軸Ａに対する姿勢（照明光軸Ａに対する各光学
部品１２１，１２２，１２４の各レンズ光軸の配置状態）を変更することにより、各液晶
パネル１５１に照明される照明光の照明位置を調整（光軸調整）可能に構成されている。
また、例えば、反射ミラー１３３は、照明光軸Ａに対する姿勢（照明光軸Ａに対する反
射ミラー１３３における反射面の法線方向の配置状態）を変更することにより、３つの液
晶パネル１５１のうち一の液晶パネル１５１に照明される照明光の照明位置を調整（光軸
調整）可能に構成されている。
さらに、例えば、３つの入射側偏光板１５２は、照明光軸Ａに対する姿勢（照明光軸Ａ
を中心とする回転方向の配置状態）を変更することにより、プロジェクタ１００からの投
影画像のコントラストを調整（コントラスト調整）可能に構成されている。
【００２２】
電源装置１００Ｄは、プロジェクタ１００を構成する各構成要素に電力を供給する部分
である。この電源装置１００Ｄは、具体的な図示は省略したが、外部から電源ケーブルを
介して供給された交流電力を各種電圧値の直流電力に変換して各構成要素（例えば、光源
駆動ブロックや制御装置１００Ｅ等）に供給する電源ブロックと、電源ブロックからの直
流電力に基づいて、光源ランプ１１１を点灯駆動させる光源駆動ブロックとを備える。
【００２３】
制御装置１００Ｅは、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等の回路素子が実装された
回路基板として構成され、光学ユニット１００Ｃ（液晶パネル１５１等）、電源装置１０
０Ｄ、前記冷却ユニット（冷却ファン等）を駆動制御する。
例えば、制御装置１００Ｅは、液晶パネル１５１に画像信号を出力することで、液晶パ
ネル１５１に光源装置１１０から射出された光束を変調させ前記画像信号に応じた画像光
を形成させる。
【００２４】
〔検査装置の構成〕
図２は、プロジェクタ１００の製造時に用いられる画像検査装置１の構造を模式的に示
すブロック図である。なお、図２では、プロジェクタ１００として、主要な構成のみを図
示し、その他を省略している。
画像検査装置１は、図２に示すように、信号発生器１０と、照度検出部としての照度計
２０と、表示部３０と、操作部４０と、検査装置本体５０等を備えて構成される。
信号発生器１０は、信号線Ｓｉを介してプロジェクタ１００を構成する各液晶パネル１
５１と電気的に接続可能に構成され、信号線Ｓｉを介して各液晶パネル１５１に画像信号
を出力することで各液晶パネル１５１に前記画像信号に応じた画像光を形成させる。
【００２５】
照度計２０は、プロジェクタ１００から拡大投射され、スクリーンＳｃ上に投影された
画像光（投影画像）の略中心位置Ｏ（図２）の照度を検出する。そして、照度計２０は、
検出した照度に応じた信号を検査装置本体５０に出力する。
表示部３０は、検査装置本体５０に制御され、所定の画像を表示する。例えば、検査装
置本体５０にて処理された画像の表示、または、操作部４０の入力操作により、検査装置
本体５０の後述するメモリに格納する情報を設定入力、または更新する際、検査装置本体
５０から出力されるメモリ内のデータを適宜表示させる。この表示部３０は、例えば、液
晶や有機ＥＬ（Electro Luminescence）、ＰＤＰ（Plasma Display Panel）、ＣＲＴ（Ca
thode-Ray Tube）等が用いられる。
【００２６】
操作部４０は、例えば、キーボードやマウス等で入力操作される図示しない各種操作ボ
タンを有している。この操作ボタン等の入力操作を実施することにより、検査装置本体５
０を適宜動作させるとともに、例えば、表示部３０に表示される情報に対して、検査装置
本体５０の動作内容の設定等が実施される。そして、作業者による操作部４０の入力操作
により、操作部４０から適宜所定の操作信号を検査装置本体５０に出力する。
なお、この操作部４０としては、操作ボタンの入力操作に限らず、例えば、タッチパネ
ルによる入力操作や、音声による入力操作等により、各種条件を設定入力する構成として
もできる。
【００２７】
検査装置本体５０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等を含んで構成され、操作
部４０からの操作信号の入力に応じて、所定のプログラムを実行し、画像検査装置１全体
を制御する。この検査装置本体５０は、図２に示すように、制御部５１と、メモリ５２と
を備える。
メモリ５２は、所定の制御プログラム、機種データ、および、制御部５１にて処理され
た情報等を格納する。なお、機種データとしては、プロジェクタ１００の機種毎に設定さ
れた情報であり、例えば、近似式に関するデータや、第１閾値および第２閾値に関するデ
ータ等がある。
【００２８】
制御部５１は、ＣＰＵ等で構成され、メモリ５２に格納された制御プログラムにしたが
って、各種処理を実行する部分であり、光源点灯手段５１１と、画像光形成手段５１２と
、第１コントラスト値算出手段５１３と、第１良否判定手段５１４と、第２コントラスト
値算出手段５１５と、第２良否判定手段５１６と、近似式／閾値算出手段５１７等として
機能する。
光源点灯手段５１１は、作業者により操作部４０に所定の入力操作（例えば、「光源を
点灯させる」旨や「光源を消灯させる」旨の入力操作）が実施された場合に、プロジェク
タ１００の電源装置１００Ｄに制御指令を出力し、電源装置１００Ｄから光源ランプ１１
１に電力を供給あるいは停止させて光源ランプ１１１の点灯および消灯を実施させる。
【００２９】
画像光形成手段５１２は、作業者により操作部４０に所定の入力操作（例えば、「光軸
調整、コントラスト調整を実施する」旨の入力操作、「所定機種の第１の画像検査を実施
する」旨の入力操作、「所定機種の第２の画像検査を実施する」旨の入力操作）が実施さ
れた場合に、信号発生器１０やプロジェクタ１００の制御装置１００Ｅに制御指令を出力
し、各液晶パネル１５１に全黒や全白の画像光を形成させる。そして、投射レンズ１００
Ｂにより光学装置本体１５０Ａにて形成された全黒や全白の画像光がスクリーンＳｃに拡
大投射され、スクリーンＳｃ上に全黒や全白の投影画像が表示される。
【００３０】
第１コントラスト値算出手段５１３は、信号発生器１０から画像信号が出力されること
によりスクリーンＳｃ上に表示された全黒や全白の投影画像の各照度を照度計２０に検出
させ、各照度に基づいてコントラスト値（以下、第１コントラスト値）を算出する。具体
的に、第１コントラスト値算出手段５１３は、全白の投影画像の照度を全黒の投影画像の
照度で除算した値を第１コントラスト値として算出する。そして、第１コントラスト値算
出手段５１３は、算出した第１コントラスト値を検査対象とするプロジェクタ１００の識
別番号（例えば、製造番号）および機種を識別する情報に関連付けてメモリ５２等に記憶
させる。
【００３１】
第１良否判定手段５１４は、検査対象とするプロジェクタ１００の機種に応じた第１閾
値をメモリ５２から読み出し、第１コントラスト値算出手段５１３にて算出された第１コ
ントラスト値と、第１閾値とを比較し、検査対象とするプロジェクタ１００の良否を判定
する。
【００３２】
第２コントラスト値算出手段５１５は、上述した第１コントラスト値算出手段５１３と
略同様に、制御装置１００Ｅから画像信号が出力されることによりスクリーンＳｃ上に表
示された全黒や全白の投影画像の各照度を照度計２０に検出させ、各照度に基づいてコン
トラスト値（以下、第２コントラスト値）を算出する。そして、第２コントラスト値算出
手段５１５は、算出した第２コントラスト値を検査対象とするプロジェクタ１００の識別
番号（例えば、製造番号）および機種を識別する情報に関連付けてメモリ５２等に記憶さ
せる。
【００３３】
第２良否判定手段５１６は、上述した第１良否判定手段５１４と略同様に、検査対象と
するプロジェクタ１００の機種に応じた第２閾値をメモリ５２から読み出し、第２コント
ラスト値算出手段５１５にて算出された第２コントラスト値と、第２閾値とを比較し、検
査対象とするプロジェクタ１００の良否を判定する。
近似式／閾値算出手段５１７は、作業者により操作部４０に所定の入力操作（例えば、
「所定機種の第１閾値を設定する」旨の入力操作）が実施された場合に、第１閾値を算出
し、メモリ５２に記憶させる。
【００３４】
〔プロジェクタの製造方法〕
次に、上述したプロジェクタ１００の製造方法（検査方法を含む）を図面に基づいて説
明する。
図３は、プロジェクタ１００の製造方法を説明するフローチャートである。
先ず、作業者は、外装筐体１００Ａを構成するロアーケースに対して、投射レンズ１０
０Ｂ、光学ユニット１００Ｃ、および電源装置１００Ｄ等を設置する。また、作業者は、
電源装置１００Ｄと光学ユニット１００Ｃを構成する光源ランプ１１１とを電気的に接続
する（ステップＳ１）。
【００３５】
ステップＳ１の後、作業者は、図示しないケーブルを介して電源装置１００Ｄと画像検
査装置１を構成する検査装置本体５０とを電気的に接続するとともに、信号線Ｓｉを介し
て光学ユニット１００Ｃ内に設置された各液晶パネル１５１と画像検査装置１を構成する
信号発生器１０とを電気的に接続する。そして、作業者は、以下に示すように、光軸調整
およびコントラスト調整を実施する（ステップＳ２）。
先ず、作業者は、操作部４０に「光源を点灯させる」旨の入力操作を実施する。そして
、光源点灯手段５１１は、操作部４０への上記入力操作に応じて、電源装置１００Ｄに制
御指令を出力し、光源ランプ１１１を点灯させる。
次に、作業者は、操作部４０に「光軸調整、コントラスト調整を実施する」旨の入力操
作を実施する。そして、画像光形成手段５１２は、操作部４０への上記入力操作に応じて
、信号発生器１０に制御指令を出力し、各液晶パネル１５１に全白の画像光を形成させる
。
【００３６】
そして、作業者は、スクリーンＳｃに表示された投影画像を確認しながら、図示しない
調整治具を用いて、各レンズアレイ１２１，１２２、重畳レンズ１２４、および反射ミラ
ー１３３等の照明光軸Ａに対する姿勢を調整する（光軸調整）。また、作業者は、スクリ
ーンＳｃに表示された投影画像を確認しながら、各入射側偏光板１５２の照明光軸Ａに対
する姿勢を調整する（コントラスト調整）。そして、作業者は、光軸調整およびコントラ
スト調整の後、各光学部品１２１，１２２，１２４，１３３，１５２を光学部品用筐体１
６０に対して固定する。なお、各光学部品１２１，１２２，１２４，１３３，１５２以外
の各光学部品は、予め光学部品用筐体１６０に対して固定されている。
【００３７】
ステップＳ２の後、作業者は、操作部４０に「所定機種の第１の画像検査を実施する」
旨の入力操作を実施する。そして、制御部５１は、メモリ５２に格納された制御プログラ
ムを読み出し、以下に示す処理を実行する（ステップＳ３：第１の画像検査工程）。
図４は、第１の画像検査工程Ｓ３を説明するフローチャートである。
先ず、画像光形成手段５１２は、信号発生器１０に制御指令を出力し、各液晶パネル１
５１に全白の画像光を形成させる（ステップＳ３１）。
ステップＳ３１の後、第１コントラスト値算出手段５１３は、照度計２０に照度を検出
させる（ステップＳ３２）。
【００３８】
ステップＳ３２の後、画像光形成手段５１２は、信号発生器１０に制御指令を出力し、
各液晶パネル１５１に全黒の画像光を形成させる（ステップＳ３３）。
ステップＳ３３の後、第１コントラスト値算出手段５１３は、照度計２０に照度を検出
させる（ステップＳ３４）。
以上説明したステップＳ３１，Ｓ３３が本発明に係る第１画像光形成手順に相当する。
また、ステップＳ３２，Ｓ３４が本発明に係る第１照度検出手順に相当する。
【００３９】
ステップＳ３４の後、第１コントラスト値算出手段５１３は、各ステップＳ３２，Ｓ３
４にて検出させた各照度に基づいて、第１コントラスト値を算出する（ステップＳ３５：
第１コントラスト値算出手順）。そして、第１コントラスト値算出手段５１３は、算出し
た第１コントラスト値を検査対象とするプロジェクタ１００の識別番号および機種を識別
する情報に関連付けてメモリ５２等に記憶させる。
【００４０】
ステップＳ３５の後、第１良否判定手段５１４は、近似式／閾値算出手段５１７により
算出されメモリ５２に予め記憶された第１閾値のうち、検査対象とするプロジェクタ１０
０の機種に応じた第１閾値を読み出す。なお、近似式／閾値算出手段５１７による第１閾
値の算出方法については、後述する。そして、第１良否判定手段５１４は、ステップＳ３
５にて算出された第１コントラスト値と、読み出した第１閾値とを比較し、プロジェクタ
１００（光学装置本体１５０Ａ）の良否を判定する（ステップＳ３６：第１良否判定手順
）。例えば、第１良否判定手段５１４は、第１コントラスト値が第１閾値以上である場合
に良品であると判定し、良品である旨の情報を表示部３０に表示させる。また、例えば、
第１良否判定手段５１４は、第１コントラスト値が第１閾値未満である場合に不良品であ
ると判定し、不良品である旨の情報を表示部３０に表示させる。そして、作業者は、表示
部３０に表示された情報に基づいて、良品であることを確認した場合には、次の工程に移
行する。一方、作業者は、不良品であることを確認した場合には、光学装置本体１５０Ａ
を光学部品用筐体１６０から取り外して交換する。そして、再度、上述したステップＳ３
１〜Ｓ３６を実行する。
【００４１】
ステップＳ３の後、作業者は、信号線Ｓｉを各液晶パネル１５１から取り外すとともに
、制御装置１００Ｅ等のその他の各部材を設置し、プロジェクタ１００を製品の状態に組
み立てる（ステップＳ４）。
ステップＳ４の後、作業者は、図示しないケーブルを介して制御装置１００Ｅと検査装
置本体５０とを電気的に接続する。そして、作業者は、操作部４０に「所定機種の第２の
画像検査を実施する」旨の入力操作を実施する。そして、制御部５１は、メモリ５２に格
納された制御プログラムを読み出し、以下に示す処理を実行する（ステップＳ５：第２の
画像検査工程）。
図５は、第２の画像検査工程Ｓ５を説明するフローチャートである。
なお、第２の画像検査工程Ｓ５は、図５に示すように、上述した第１の画像検査工程Ｓ
３と略同様に実施されるものである。第２の画像検査工程Ｓ５が第１の画像検査工程Ｓ３
と異なる点は、以下の通りである。
【００４２】
ステップＳ５１，Ｓ５３（第２画像光形成手順）において、画像光形成手段５１２は、
制御装置１００Ｅに制御指令を出力することで各液晶パネル１５１に全白の画像光や全黒
の画像光を形成させている。
ステップＳ５２，Ｓ５４（第２照度検出手順）、ステップＳ５５（第２コントラスト値
算出手順）において、第２コントラスト値算出手段５１５が照度計２０に照度を検出させ
るとともに、第２コントラスト値を算出している。
ステップＳ５６（第２良否判定手順）において、第２良否判定手段５１６がプロジェク
タ１００（光学装置本体１５０Ａ）の良否を判定している。ここで、第２良否判定手段５
１６は、メモリ５２に記憶された第２閾値のうち、検査対象とするプロジェクタ１００の
機種に応じた第２閾値を読み出す。そして、第２良否判定手段５１６は、ステップＳ５５
にて算出された第２コントラスト値と、読み出した第２閾値とを比較し、プロジェクタ１
００の良否を判定している。なお、良否の判定および表示部３０への表示は、上述した第
１良否判定手段５１４による処理と同様の処理を実施するものとする。
【００４３】
次に、近似式／閾値算出手段５１７による第１閾値の算出方法について、説明する。
図６は、近似式／閾値算出手段５１７による第１閾値の算出方法を説明するための図で
ある。
先ず、作業者は、同一機種の複数台（本実施形態では、１００台）のプロジェクタ１０
０を用いて、画像検査装置１に上述した第１の画像検査工程Ｓ３を実行させ、１００台分
の各第１コントラスト値をメモリ５２等に記憶させておく。
また、作業者は、前記１００台のプロジェクタ１００を用いて、画像検査装置１に上述
した第２の画像検査工程Ｓ５を実行させ、１００台分の各第２コントラスト値をメモリ５
２等に記憶させておく。
【００４４】
そして、作業者は、操作部４０に「所定機種の第１閾値を設定する」旨の入力操作を実
施する。
近似式／閾値算出手段５１７は、操作部４０への上記入力操作に応じて、メモリ５２等
に記憶された前記１００台分の各第１コントラスト値と各第１コントラスト値に対応した
各第２コントラスト値とを読み出し、図６に示すように、各第１コントラスト値と各第２
コントラスト値との相関関係を示す１次の近似式Ａｐを算出する。
次に、近似式／閾値算出手段５１７は、所定機種の第２閾値をメモリ５２から読み出し
、前記所定機種に応じた近似式により第２閾値を補正した値を第１閾値として算出する。
そして、近似式／閾値算出手段５１７は、算出した第１閾値を、機種を識別する情報に関
連付けてメモリ５２に記憶させる。
【００４５】
上述した本実施形態によれば、以下の効果がある。
本実施形態では、第１の画像検査工程Ｓ３において用いる第１閾値を設定する際、各第
１コントラスト値と各第２コントラスト値との相関関係を示す近似式Ａｐを算出すること
で、信号発生器１０から信号線Ｓｉを介して各液晶パネル１５１に出力される画像信号と
、制御装置１００Ｅから各液晶パネル１５１に出力される画像信号との信号レベルの関係
を見出すことができる。そして、近似式Ａｐを用いて第２の画像検査工程Ｓ５において用
いる第２閾値を補正した値を第１閾値として設定することで、第１閾値を信号線Ｓｉの抵
抗値等の影響を相殺した合理的な閾値とすることができる。したがって、第１良否判定手
順Ｓ３６において、上述したように設定された第１閾値を用いて良否の判定を実施するこ
とで、良否判定を精度良く実施でき、プロジェクタ１００の製造効率を向上できる。
【００４６】
［第２実施形態］
次に、本発明の第２実施形態を図面に基づいて説明する。
以下の説明では、前記第１実施形態と同様の構造および同一部材には同一符号を付して
、その詳細な説明は省略または簡略化する。
図７は、第２実施形態における画像検査装置１'の構造を模式的に示すブロック図であ
る。
前記第１実施形態では、第１の画像検査工程Ｓ３において、第１良否判定手段５１４は
、近似式／閾値算出手段５１７により第１コントラスト値と第２コントラスト値との相関
関係を示す近似式を用いて第２閾値が補正された第１閾値に基づいて、良否を判定してい
る。
これに対して第２実施形態では、制御部５１'は、図７に示すように、前記第１実施形
態で説明した近似式／閾値算出手段５１７が省略され、前記第１実施形態で説明した近似
式を算出する近似式算出手段５１７'と、第１コントラスト値算出手段５１３にて算出さ
れた第１コントラスト値を前記近似式を用いて補正し、補正コントラスト値を算出するコ
ントラスト値補正手段５１８とを備える。そして、第１良否判定手段５１４'は、補正コ
ントラスト値と、メモリ５２に記憶され検査対象とするプロジェクタ１００の機種に応じ
た第２閾値とを比較し、プロジェクタ１００（光学装置本体１５０Ａ）の良否を判定して
いる。すなわち、メモリ５２'は、前記第１実施形態で説明した第１閾値に関するデータ
が格納されていない。なお、その他の構成については、前記第１実施形態と同様のもので
ある。
【００４７】
ここで、近似式算出手段５１７'は、前記第１実施形態で説明した近似式／閾値算出手
段５１７による第１閾値の算出方法と同様の方法で近似式Ａｐを算出するものである。そ
して、近似式算出手段５１７'は、算出した近似式Ａｐを、機種を識別する情報に関連付
けてメモリ５２'に記憶させる。
【００４８】
次に、第２実施形態におけるプロジェクタ１００の製造方法を図面に基づいて説明する
。
なお、本実施形態の製造方法は、前記第１実施形態で説明した製造方法に対して、第１
の画像検査工程のみが異なるため、第１の画像検査工程Ｓ３'のみを説明する。
図８は、第２実施形態における第１の画像検査工程Ｓ３'を説明するフローチャートで
ある。
制御部５１'は、操作部４０への「所定機種の第１の画像検査を実施する」旨の入力操
作に応じて、前記第１実施形態と同様に、ステップＳ３１〜Ｓ３５を実施する。
ステップＳ３５の後、コントラスト値補正手段５１８は、近似式算出手段５１７'によ
り算出されメモリ５２に予め記憶された近似式のうち、検査対象とするプロジェクタ１０
０の機種に応じた近似式を読み出す。そして、コントラスト値補正手段５１８は、ステッ
プＳ３５にて算出された第１コントラスト値を、読み出した近似式を用いて補正し、補正
コントラスト値を算出する（ステップＳ３７：コントラスト値補正手順）。
ステップＳ３７の後、第１良否判定手段５１４'は、メモリ５２'に記憶された第２閾値
のうち、検査対象とするプロジェクタ１００の機種に応じた第２閾値を読み出す。そして
、第１良否判定手段５１４'は、ステップＳ３７にて算出された補正コントラスト値と、
読み出した第２閾値とを比較し、プロジェクタ１００（光学装置本体１５０Ａ）の良否を
判定する（ステップＳ３８：第１良否判定手順）。なお、良否の判定および表示部３０へ
の表示は、前記第１実施形態で説明した第１良否判定手段５１４による処理と同様の処理
を実施するものとする。
【００４９】
上述した第２実施形態においては、以下の効果がある。
本実施形態では、第１の画像検査工程Ｓ３'のコントラスト値補正手順Ｓ３７において
、近似式Ａｐを用いて第１コントラスト値を補正し補正コントラスト値を算出することで
、第１コントラスト値を信号線Ｓｉの抵抗値等の影響を相殺した値（補正コントラスト値
）とすることができる。したがって、第１良否判定手順Ｓ３８において、上述したように
算出された補正コントラスト値と第２閾値とを比較して良否の判定を実施することで、良
否判定を精度良く実施でき、プロジェクタ１００の製造効率を向上できる。
【００５０】
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる
範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
前記各実施形態では、制御部５１，５１'が第１の画像検査工程Ｓ３，Ｓ３'および第２
の画像検査工程Ｓ５を実施する構成としたが、これに限らず、作業者が照度計２０の値を
確認しながら実施する構成としても構わない。
前記各実施形態において、図３ないし図５、図８に示すフローは、これに限らず、適宜
、工程の順序を変更しても構わない。
【００５１】
前記各実施形態において、プロジェクタ１００の構成は、前記各実施形態で説明した構
成に限らない。
例えば、光源装置１１０は、放電発光型の光源装置で構成していたが、これに限らず、
レーザダイオード、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）、有機ＥＬ素子、シリコン発光素子
等の各種固体発光素子を採用してもよい。
また、光源装置１１０を１つのみ用い色分離光学装置１３０にて３つの色光に分離して
いたが、色分離光学装置１３０を省略し、３つの色光をそれぞれ射出する３つの前記固体
発光素子を光源装置として構成してもよい。
さらに、プロジェクタ１００は、液晶パネル１５１を３つ備える三板式のプロジェクタ
で構成していたが、これに限らず、液晶パネルを１つ備える単板式のプロジェクタで構成
しても構わない。また、液晶パネルを２つ備えるプロジェクタや、液晶パネルを４つ以上
備えるプロジェクタとして構成しても構わない。
また、光入射面と光射出面とが異なる透過型の液晶パネルを用いていたが、光入射面と
光射出面とが同一となる反射型の液晶パネルを用いてもよい。
さらに、光変調装置として液晶パネルを用いていたが、マイクロミラーを用いたデバイ
スなど、液晶以外の光変調装置を用いてもよい。この場合は、光束入射側および光束射出
側の入射側偏光板１５２，射出側偏光板１５３は省略できる。
【産業上の利用可能性】
【００５２】
本発明は、第１の画像検査において、良否判定を精度良く実施できるため、プレゼンテ
ーションやホームシアタ等に用いられるプロジェクタの画像検査方法に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】第１実施形態における検査対象とされるプロジェクタの構成を模式的に示す図。
【図２】前記実施形態におけるプロジェクタの製造時に用いられる画像検査装置の構造を模式的に示すブロック図。
【図３】前記実施形態におけるプロジェクタの製造方法を説明するフローチャート。
【図４】前記実施形態における第１の画像検査工程を説明するフローチャート。
【図５】前記実施形態における第２の画像検査工程を説明するフローチャート。
【図６】前記実施形態における近似式／閾値算出手段による第１閾値の算出方法を説明するための図。
【図７】第２実施形態における画像検査装置の構造を模式的に示すブロック図。
【図８】前記実施形態における第１の画像検査工程を説明するフローチャート。
【符号の説明】
【００５４】
１，１'…画像検査装置、１０…信号発生器、２０…照度計（照度検出部）、５１…制
御部、１００…プロジェクタ、１００Ｂ…投射レンズ（投射光学装置）、１００Ｅ…制御
装置、１１０…光源装置、１５１…液晶パネル（光変調装置）、５１３…第１コントラス
ト値算出手段、５１４…第１良否判定手段、５１５…第２コントラスト値算出手段、５１
６…第２良否判定手段、５１８…コントラスト値補正手段、Ｓ３，Ｓ３'…第１の画像検
査工程、Ｓ５…第２の画像検査工程、Ｓ３１，Ｓ３３…第１画像光形成手順、Ｓ３２，Ｓ
３４…第１照度検出手順、Ｓ３５…第１コントラスト値算出手順、Ｓ３６，Ｓ３８…第１
良否判定手順、Ｓ５１，Ｓ５３…第２画像光形成手順、Ｓ５２，Ｓ５４…第２照度検出手
順、Ｓ５５…第２コントラスト値算出手順、Ｓ５６…第２良否判定手順。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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