(57)【要約】【課題】液晶パネルの表面に形成されたキズ等を簡単に除去して、再生に要する時間、及び経費を大幅に削減することができるようにする。【解決手段】液晶パネル１に防塵ガラス基板３１が透明接着剤３２を介して貼付され、液晶パネル１と防塵ガラス基板３１と透明接着剤３２とが略同一の屈折率に形成されており、液晶パネル１の外表面に形成されたキズｄ１を検出すると共に修復するに際し、液晶パネル１の表示状態からキズｄ１の有無を検査し、キズｄ１が検出された場合、液晶パネル１の外表面のキズｄ１を局所的に研削して凹部２０ａを形成し、研削した液晶パネル１の外表面に透明接着剤３２を介して防塵ガラス基板３１を貼付する。すると、透明接着剤３２が凹部２０ａに充填されて表示不良の発生箇所が修復される。【選択図】図９
2008241804.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示パネルの外表面に透明基板が透明接着剤を介して貼付され、少なくとも前記表示パネルの前記透明基板側に面する基板の屈折率と前記透明接着剤の屈折率とが略同一である電気光学装置の検査修理方法であって、
前記表示パネルの外表面に形成された表示不良の原因となる不良部位を検出すると共に修復する検査修復方法であり、
前記表示パネルの表示状態から該表示パネルの外表面に不良部位が生成されているか否かを検査する検査工程と、
前記検査工程で不良部位が検出された場合、不良部位が生成されている側の前記透明基板を剥離する基板剥離工程と、
前記透明基板の剥離により露呈した前記表示パネルの外表面の前記不良部位を局所的に研削する研磨工程と、
前記研磨工程で研削した前記表示パネルの外表面に前記透明接着剤を介して前記透明基板或いは新たな透明基板を貼付する基板貼付工程と
を備えることを特徴とする電気光学装置の検査修復方法。
【請求項２】
前記研磨工程では、研削部材の先端を前記不良部位に押し当てて該不良部位を研削する
ことを特徴とする請求項１記載の電気光学装置の検査修復方法。
【請求項３】
前記研磨工程では、前記不良部位が細長い場合、前記研削部材を設定ピッチずつ移動させて研削する
ことを特徴とする請求項２記載の電気光学装置の検査修復方法。
【請求項４】
前記透明接着剤が、熱硬化樹脂又は紫外線吸収性樹脂であり、
前記検査工程では、前記透明接着剤が未硬化状態にある
ことを特徴とする請求項１記載の電気光学装置の検査修復方法。
【請求項５】
表示パネルの外表面に透明基板を透明接着剤を介して貼付し、少なくとも前記表示パネルの前記透明基板側に面する基板の屈折率と前記透明接着剤の屈折率とを略同一に設定し、生産ラインに設けた検査工程で前記表示パネルの外表面に形成された表示不良の原因となる不良部位を検出する電気光学装置の製造方法において、
前記検査工程で前記表示パネルの表示状態から該表示パネルの外表面に不良部位が生成されていることを検出した場合、該表示パネルを修復する修復工程を有し、
前記修復工程には、
前記不良部位が生成されている側の前記透明基板を剥離する基板剥離工程と、
前記透明基板の剥離により露呈した前記表示パネルの外表面の前記不良部位を局所的に研削する研磨工程と、
前記研磨工程で研削した前記表示パネルの外表面に前記透明接着剤を介して前記透明基板或いは新たな透明基板を貼付する基板貼付工程と、
前記基板貼付工程で透明基板が貼付されて再生された前記表示パネルを前記生産ラインへ戻す戻し工程と
を備えることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
【請求項６】
前記戻し工程では生産ラインへ戻した前記表示パネルを再度検査工程へ移送する
ことを特徴とする請求項５記載の電気光学装置の製造方法。
【請求項７】
前記透明接着剤が、熱硬化樹脂又は紫外線吸収性樹脂であり、
前記検査工程では、前記透明接着剤が未硬化状態にある
ことを特徴とする請求項５記載の電気光学装置の検査修復方法。
【請求項８】
前記透明基板の屈折率が、前記表示パネルの該透明基板側に面する基板の屈折率及び前記透明接着剤の屈折率と略同一に設定されている
ことを特徴とする請求項５〜７の何れか１項に記載の電気光学装置の製造方法。
【請求項９】
請求項５〜８の何れか１項に記載の電気光学装置の製造方法によって製造された電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示パネル表面の不良部位を検出すると共に検出された不良部位を除去して修復する電気光学装置の検査修復方法、及び電気光学装置の製造方法、並びに電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電気光学装置の代表である液晶装置はモニタ装置だけでなく、ライトバルブとして投射型表示装置等の電子機器にも多く採用されている。投射型表示装置では、液晶装置（ライトバルブ）の表面付近に塵埃等が付着すると、それが投射レンズ等により拡大されてスクリーン上に投射されてしまい、表示品質を著しく低下させることになる。これを防止するため、液晶装置の表面に防塵機能を有するガラス基板を貼付している。
【０００３】
液晶装置の表面をガラス基板で保護することにより、液晶装置の表面に対する塵埃等の付着が防止できるばかりでなく、ガラス基板の表面に塵埃等が付着した場合には、この塵埃等と液晶装置との間の距離がガラス基板の板厚分だけ長くなるため、デフォーカスされ、スクリーン上に大きくぼやけて表示されるので目立たなくすることができる。
【０００４】
ところで、液晶装置の表面をガラス基板で保護しても、製造工程において液晶装置の表面、或いはガラス基板の内面にキズが形成された場合には、表示品質を保証することが困難となる。
【０００５】
この対策として、例えば特許文献１（特開平１０−２０３０３号公報）には、一対のガラス基板間を接着する接着剤をガラス基板の屈折率と同じか、又は、似する屈折率を有するものとし、ガラス基板の表面についたキズに接着剤を充填させることで再生する技術が開示されている。
【特許文献１】特開平１０−２０３０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、上述した文献に開示されている技術では、液晶装置の表面に形成される全てのキズを修復することはできない。すなわち、液晶装置の表面に形成されるキズが鋭利な場合、或いはキズ内の表面が粗い場合、接着剤がキズ内に入り込み難く、充分に対応することができない。更に、ガラス表面に、エッチングの際に発生した細かい金属膜、絶縁膜等のカスが付着する場合があり、このような異物の付着に対しては対応することができない。
【０００７】
そのため、従来は、液晶装置の表面に形成されたキズが検出され、或いは付着した異物が発見された場合、液晶装置全体を研磨して、それらを除去していた。
【０００８】
しかし、一般的に研磨作業は、不良個数がある程度まとまってから一括して行う場合が多く、表面にキズが形成され、或いは異物が付着されている液晶装置は生産ラインから外して、待機させておくため、生産効率が低下する問題がある。更に、液晶装置全体を研磨するため、作業時間が比較的長く、修復作業のための余分な時間が要求される不都合もある。その上、研磨に際してはスラリー状の研磨剤を用いて行うため、研磨作業が終了した後、洗浄する必要があり、修復するために余分な時間と経費が必要となる不都合がある。
【０００９】
本発明は、上記事情に鑑み、表示パネルの外表面に形成されたキズ及び異物の付着を、表示パネル全体を研磨することなく、簡単に除去することができると共に、除去後の洗浄作業が不要で、しかも不良個数に係わらず個別に修復することができ、その結果、再生に要する時間、及び経費を大幅に削減できる電気光学装置の検査修復方法、及び電気光学装置の製造方法、並びに電子機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため本発明による第１の電気光学装置の検査修復方法は、表示パネルの外表面に透明基板が透明接着剤を介して貼付され、少なくとも前記表示パネルの前記透明基板側に面する基板の屈折率と前記透明接着剤の屈折率とが略同一である電気光学装置の検査修理方法であって、前記表示パネルの外表面に形成された表示不良の原因となる不良部位を検出すると共に修復する検査修復方法であり、前記表示パネルの表示状態から該表示パネルの外表面に不良部位が生成されているか否かを検査する検査工程と、前記検査工程で不良部位が検出された場合、不良部位が生成されている側の前記透明基板を剥離する基板剥離工程と、前記透明基板の剥離により露呈した前記表示パネルの外表面の前記不良部位を局所的に研削する研磨工程と、前記研磨工程で研削した前記表示パネルの外表面に前記透明接着剤を介して前記透明基板或いは新たな透明基板を貼付する基板貼付工程とを備えることを特徴とする。
【００１１】
このような構成では、表示パネルの外表面に不良部位が検出された場合、当該不良部位を局所的に研削し、当該部位に透明接着剤が充填されるようにしたので、表示パネルの外表面に形成されたキズ及び異物の付着により表示不良が発生しても、表示パネル全体を研磨することなく、不良部位を簡単に除去することができる。その結果、短時間で研削を完了させることができるため、温度上昇が抑制され、従って、研削面に研磨剤を供給する必要が無く、その分、研削後の洗浄工程が不要となり、再生に要する時間、及び経費を大幅に削減することができる。又、不良個数に係わらず個別に修復することができるので、生産効率の低下を大幅に抑制することができる。ここで、「略同一の屈折率」とは、修復された不良部位跡に透明接着剤が充填された場合、当該透明接着剤と、この透明接着剤が充填された不良部位跡との界面において光の進行方向が変化せず、研削後の不良部位が認識できないような屈折率であり、この略同一の屈折率には、透明基板側に面する基板の屈折率と同一或いは近似する屈折率が含まれる。
【００１２】
第２の電気光学装置の検査修復方法は、第１の電気光学装置の検査修復方法において、前記研磨工程では、研削部材の先端を前記不良部位に押し当てて該不良部位を研削することを特徴とする。
【００１３】
このような構成では、研削部材の先端を不良部位に押し当てて不良部位を研削するようにしたので無理な衝撃が表示パネルに加わらず、表示パネルを破損から有効に保護することができる。
【００１４】
第３の電気光学装置の検査修復方法は、第２の電気光学装置の検査修復方法において、前記研磨工程では、前記不良部位が細長い場合、前記研削部材を設定ピッチずつ移動させて研削することを特徴とする。
【００１５】
このような構成では、不良部位が細長い場合、前記研削部材を設定ピッチずつ移動させて研削するようにしたので、不良部位が細長い場合であっても無理な衝撃が表示パネルに加わらず、表示パネルを破損から有効に保護することができる。
【００１６】
第４の電気光学装置の検査修復方法は、第１の電気光学装置の検査修復方法において、前記透明接着剤が、熱硬化樹脂又は紫外線吸収性樹脂であり、前記検査工程では、前記透明接着剤が未硬化状態にあることを特徴とする。
【００１７】
このような構成では、検査工程では、透明接着剤が未硬化状態にあるため、表示パネルの外表面に不良部位が検出された場合、透明基板を簡単に取り外して修復することができ、作業性がよい。
【００１８】
又、本発明による第１の電気光学装置の製造方法は、表示パネルの外表面に透明基板を透明接着剤を介して貼付し、少なくとも前記表示パネルの前記透明基板側に面する基板の屈折率と前記透明接着剤の屈折率とを略同一に形成し、生産ラインに設けた検査工程で前記表示パネルの外表面に形成された表示不良の原因となる不良部位を検出する電気光学装置の製造方法において、前記検査工程で前記表示パネルの表示状態から該表示パネルの外表面に不良部位が生成されていることを検出した場合、該表示パネルを修復する修復工程を有し、前記修復工程には、前記不良部位が生成されている側の前記透明基板を剥離する基板剥離工程と、前記透明基板の剥離により露呈した前記表示パネルの外表面の前記不良部位を局所的に研削する研磨工程と、前記研磨工程で研削した前記表示パネルの外表面に前記透明接着剤を介して前記透明基板或いは新たな透明基板を貼付する基板貼付工程と、前記基板貼付工程で透明基板が貼付されて再生された前記表示パネルを前記生産ラインへ戻す戻し工程とを備えることを特徴とする。
【００１９】
このような構成では、表示パネルの外表面に不良部位が検出された場合、当該不良部位を局所的に研削し、当該部位に透明接着剤が充填されるようにしたので、表示パネルの外表面に形成されたキズ及び異物の付着により表示不良が発生しても、表示パネル全体を研磨することなく、不良部位を簡単に除去することができる。その結果、短時間で研削を完了させることができるため、温度上昇が抑制され、従って、研削面に研磨剤を供給する必要が無く、その分、研削後の洗浄工程が不要となり、再生に要する時間、及び経費を大幅に削減することができる。又、不良個数に係わらず個別に修復することができるので、生産効率の低下を大幅に抑制することができる。更に、再生された表示パネルを生産ラインへ戻して、通常の生産ラインを継続させるようにしたので、再生された液晶装置の管理が容易となり、再生コストを大幅に削減することができる。
【００２０】
第２の電気光学装置の製造方法は、第１の電気光学装置の製造方法において、前記戻し工程では生産ラインへ戻した前記表示パネルを再度検査工程へ移送することを特徴とする。
【００２１】
このような構成では、再生した表示パネルを再度検査工程へ移送するようにしたので、製品の品質をより高めることができる。
【００２２】
第３の電気光学装置の製造方法は、第１の電気光学装置の製造方法において、前記透明基板の屈折率が、前記表示パネルの該透明基板側に面する基板の屈折率及び前記透明接着剤の屈折率と略同一に設定されていることを特徴とする。
【００２３】
このような構成では、透明基板の屈折率を、表示パネルの透明基板側に面する基板の屈折率及び透明接着剤の屈折率と略同一に設定したので、表示パネルの外表面の修復された不良部位跡に透明接着剤が充填された場合、当該透明接着剤と、この透明接着剤が充填された不良部位跡、及び透明基板の界面との界面において光の進行方向が変化せず、研削後の不良部位を認識することができなくなる。
【００２４】
第４の電気光学装置の製造方法は、第１の電気光学装置の製造方法において、前記透明接着剤が、熱硬化樹脂又は紫外線吸収性樹脂であり、前記検査工程では、前記透明接着剤が未硬化状態にあることを特徴とする。
【００２５】
このような構成では、検査工程では、透明接着剤が未硬化状態にあるため、表示パネルの外表面に不良部位が検出された場合、透明基板を簡単に取り外して修復することができ、作業性がよい。
【００２６】
又、本発明による電子機器は、第１〜第４の何れか１つの電気光学装置の製造方法によって製造された電気光学装置を備えているので、電気光学装置を製造する際の再生コストが大幅に削減され、その分、製品コストを低下させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、図面に基づいて本発明の一実施形態を説明する。尚、以下においては液晶装置の一例として駆動回路内蔵型のＴＦＴ（Thin Film Transistor）アクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を例示して説明する。
【００２８】
（液晶装置の構成）
先ず、図１〜図３を参照して、本実施形態で採用する液晶装置の全体構成について説明する。図１は液晶装置をその上に形成された各構成要素とともに対向基板の側からみた平面図、図２は、図１のＨ−Ｈ’断面図、図３は液晶装置の斜視図である。
【００２９】
電気光学装置の一例である液晶装置１００は、表示パネルとしての液晶パネル１と、この液晶パネル１の両外表面に各々密着された状態で貼り付けられている透明基板としての防塵ガラス基板３０，３１とを有している。尚、両基板１０，２０、及び防塵ガラス基板３０，３１は、石英ガラス基板等の同一の材質からなる透明ガラス基板で形成されている。
【００３０】
液晶パネル１は、ＴＦＴ基板１０と、これに対向配置される対向基板２０とを有し、両基板１０，２０の対向面間の画像表示領域１０ａの周囲に設けたシール領域が、シール材５２を介して貼り合わされている。更に、この両基板１０，２０の対向面間とシール材５２とで囲まれた領域内に液晶５０が挟持されている。
【００３１】
図１において、シール材５２が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域１０ａの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜５３が、対向基板２０側に設けられている。又、周辺領域のうち、シール材５２が配置されたシール領域の外側に位置する領域に、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２がＴＦＴ基板１０の一辺に沿って設けられている。この一辺に沿ったシール領域よりも内側に、サンプリング回路７が額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。又、走査線駆動回路１０４は、この一辺に隣接する２辺に沿ったシール領域の内側に、額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。又、ＴＦＴ基板１０上には、対向基板２０の４つのコーナー部に対向する領域に、両基板間を上下導通材１０７で接続するための上下導通端子１０６が配置されている。これらにより、ＴＦＴ基板１０と対向基板２０との間で電気的な導通をとることができる。
【００３２】
図２に示すように、ＴＦＴ基板１０上には、駆動素子である画素スイッチング用のＴＦＴ（Thin Film Transistor）や走査線、データ線等の配線が作り込まれた薄膜が積層された状態で形成されている。尚、この薄膜の積層構造は従来と同様であるため説明を省略する。又、積層された薄膜の最上層に画素電極９ａが、画素毎に所定のパターンで島状に形成されている。更に、画素電極９ａ上に配向膜１６が設けられている。又、このＴＦＴ基板１０に対向配設されている対向基板２０の対向面に対向電極２１が複数の画素電極９ａと対向して形成されている。又、この対向電極２１上に配向膜２２が形成されている。更に、外部回路接続端子１０２には、図示しないフレキシブル配線基板（ＦＰＣ）が接続され、このフレキシブル基板から外部回路接続端子１０２を介して供給される画像信号に基づいて画像表示領域１０ａに画像が表示される。
【００３３】
又、防塵ガラス基板３０，３１は、ＴＦＴ基板１０と対向基板２０との外表面に対し、各基板１０，２０，３０，３１と略同一の屈折率に調整されたシリコン系接着剤やアクリル系接着剤等の熱硬化樹脂或いは紫外線吸収性樹脂からなる透明接着剤３２を用いて接着されている。ここで、「略同一の屈折率」とは、後述する液晶パネル１の外表面に形成された不良部位を修復した跡に透明接着剤３２が充填された場合、当該透明接着剤３２と、この透明接着剤３２が充填された部位との界面において光の進行方向が変化せず、当該部位が認識できないような屈折率を言う。
【００３４】
尚、図３に示すように、液晶パネル１のＴＦＴ基板１０は矩形状に形成されており、又、対向基板２０はＴＦＴ基板１０よりもやや小さい矩形状に形成されている。更に、両基板１０，２０の外表面に貼付されている防塵ガラス基板３０、３１が、両基板１０，２０とほぼ同じ大きさを有している。
【００３５】
図４に示すように、所定に完成された液晶装置１００は、生産ライン５００に設けた検査工程へ搬送され、この検査工程に設けられている検査装置５１０にて点灯検査が行われる。尚、検査工程に搬送された液晶装置１００の、ＴＦＴ基板１０と対向基板２０とを接着する透明接着剤３２は未硬化状態にあり、少なくとも検査工程が終了するまでは硬化されることはない。
【００３６】
この検査装置５１０では、液晶パネル１の製造工程或いは組み立て工程において、形成された細かいキズ、或いはエッチング工程の際に発生した細かい金属膜、絶縁膜等の異物が付着しているか否かを調べる。
【００３７】
図５に示すように検査装置５１０は、液晶装置１００の光束入射面側に照明光を照射するバックライト５１１、このバックライト５１１を点灯駆動させるバックライト駆動装置（電源）５１２、液晶装置１００を構成する液晶パネル１に、検査用パターンの画像信号を出力するパネル駆動装置５１３、及び液晶装置１００から出射される検査用パターンを表示させる検査用スクリーン５１４を備えている。
【００３８】
このような検査装置５１０を用いた表示検査工程では、図６に示すルーチンに従い表示不良の有無を検査する。
【００３９】
すなわち、先ず、検査装置５１０に搬入された液晶装置１００を、検査位置に所定にセットし、この液晶パネル１の外部回路接続端子１０２にパネル駆動装置５１３を接続する。尚、バックライト５１１はバックライト駆動装置５１２から駆動信号が常時出力されて点灯された状態にある。
【００４０】
そして、図示しない検査開始スイッチをＯＮすると、ステップＳ１で、パネル駆動装置５１３から出力される検査用パターンの画像信号が液晶装置１００に出力され、液晶パネル１の画像表示領域１０ａ（図１参照）に検査用パターンが表示される。すると、ステップＳ２において、この画像表示領域１０ａに表示された検査用パターンが、バックライト５１１からの照明光にて検査用スクリーン５１４上に拡大投影される。
【００４１】
その後、ステップＳ３にて検査用スクリーン５１４上に拡大投影された検査用パターンを認識して、図８に示すような、液晶パネル１の外表面に形成されたピンホール状の細かいキズｄ１、或いは付着した異物ｄ２、又はスクラッチ状の細長いキズｄ３等の、液晶パネル１の外表面に形成された不良部位により、表示不良が発生しているか否かを調べる。尚、このステップＳ３で行われる表示不良の有無の検査は、目視或いはビデオカメラを用いて行う。ビデオカメラで表示不良を検査する場合は、検査用スクリーン５１４に表示された検査用パターンを撮像し、その輝度差などから表示状態を解析し、表示状態を自動的に検出する。
【００４２】
そして、上述したキズｄ１等の不良部位が原因で表示不良が発生している場合は、ステップＳ４へ進み、当該液晶装置１００を修復工程へ搬送する。又、表示不良が検出されなかった場合は、検査工程を終了し、当該液晶装置１００を次の工程へ送り出す。尚、液晶パネル１の外表面に各種のキズが生成されていても、このキズが透明接着剤３２により埋め込まれている場合は、表示不良が発生していないため、この場合も検査工程を修了し、液晶装置１００を次の工程へ送り出す。又、ＴＦＴ基板１０と対向基板２０とを接着する透明接着剤３２は、検査終了後に、加熱或いは紫外線照射により硬化される。
【００４３】
図４に示すように、修復工程には、研磨装置５２０が配設されている。この研磨装置５２０に、図示しない研磨モータの回転により回転（或いは回転揺動）する研削部材としての研削棒５２１が設けられており、この研削棒５２１の先端に研削砥石５２２が固設されている。研削砥石５２２は先端面５２２ａが略球面状に形成されており、又、この研削砥石５２２に酸化セリウム等からなる砥粒が研磨剤として含有されている。
【００４４】
修復工程に移送された液晶装置１００は、図７に示すルーチンに従って、キズｄ１等の不良部位が発生している箇所を研磨する。尚、以下においては、便宜的に液晶パネル１の対向基板２０の外表面にピンホール状のキズｄ１が発生している場合を例に掲げて説明する。
【００４５】
すなわち、この修復工程では、先ずステップＳ１１で、移送されてきた液晶装置１００の表示不良が発生している側の基板（本実施形態では対向基板２０）に貼付されている防塵ガラス基板３１を剥離する。尚、研磨作業は、表示不良の原因となるキズｄ１等を除去するために行うので、ＴＦＴ基板１０側の外表面に表示不良の原因となるキズｄ１等が形成されていない場合は、ＴＦＴ基板１０側に貼付されている防塵ガラス基板３１を剥離する必要はない。
【００４６】
次いで、ステップＳ１２へ進み、対向基板２０の外表面に形成されているキズｄ１を確認すると共に、液晶パネル１を研磨台にセットする。
【００４７】
その後、ステップＳ１３へ進み、研磨モータによって回転されている研削棒５２１にてキズｄ１の形成されている部位を研磨する。図９（ａ）〜（ｄ）を参照して研磨作業の手順について説明する。
【００４８】
作業（ａ）：研磨装置５２０に液晶パネル１をセットし、対向基板２０の外表面に形成されているキズｄ１を研削棒５２１側へ指向させる。
【００４９】
作業（ｂ）：回転駆動されている研削棒５２１の先端に設けられている研削砥石５２２をキズｄ１に近接させる。
【００５０】
作業（ｃ）：キズｄ１に近接された研削棒５２１の先端に固設されている研削砥石５２２の先端面５２２ａを、キズｄ１が形成されている部位に、対向基板２０が割れない程度の圧力で押し当てて、キズｄ１をゆっくりと研削する。この作業は、キズｄ１を局所的に研削するものであるため、１〜２分程度でキズｄ１を除去することができる。従って、研削面に研磨剤を供給する必要が無く、又、研磨剤を使用しないため研削終了後に洗浄する必要もない。尚、純水を研磨剤の代わりに供給することは可能である。この研削作業は、対向基板２０の表面に、細かい金属膜、絶縁膜等の異物ｄ２が付着している場合も同様に行う。
【００５１】
又、スクラッチ状の細長いキズｄ３の修復に際しては、図１０（ａ）に一点鎖線で示すように、研削棒５２１を、予め設定したピッチずつ移動させ、移動させた位置で上述した研削作業を行う。その結果、同図（ｂ）に示すように、キズｄ３全体を除去した細長の凹部２０ａが形成される。
【００５２】
作業（ｄ）：キズｄ１を所定に研削した後、研削棒５２１を退避させる。すると、キズｄ１が除去された部分に、研削砥石５２２の略球面状に形成されている先端面５２２ａにて滑らかな凹部２０ａが形成される。上述したように、キズｄ１を研削する作業に際しては、研削面に研磨剤を供給していないため、研削終了後に洗浄する必要が無く、凹部２０ａを拭き取る、或いは乾燥ガスを吹き付ける等の簡単な作業で研磨作業時に発生した異物を除去することができる。又、洗浄工程が省略できるため、その後の乾燥工程も不要となる。
【００５３】
そして、研磨作業が所定に終了した後、ステップＳ１４へ進み、対向基板２０の外表面に透明接着剤３２を介して、新たな防塵ガラス基板３１を貼り合わせる。尚、剥離した防塵ガラス基板３１が再利用できる場合は、当該防塵ガラス基板３１を貼り合わせる。
【００５４】
すると、図９（ｅ）に示すように、凹部２０ａに透明接着剤３２が充填されて埋められる。凹部２０ａは滑らかに研削されているため、透明接着剤３２をすき間なく充填させることができる。この透明接着剤３２は、防塵ガラス基板３１及び対向基板２０と略同一の屈折率に調整されているため、凹部２０ａが透明接着剤３２にてすき間無く埋められることで、表示不良を有効に回避することができる。
【００５５】
その後、ステップＳ１５において、再生した液晶装置１００を再度、検査装置５１０へ戻す。検査装置５１０では、再生した液晶装置１００の点灯検査を行い、表示不良の有無を再度検査する。このように、再度検査することで製品の品質をより高めることができる。尚、この場合、修復後に表示不良の発生する確率が低い場合は、再生した液晶装置１００を生産ライン５００へ戻し、次の工程へ搬送させるようにしても良い。
【００５６】
このように、本実施形態では、検査工程で液晶装置１００に表示不良が検出された場合、表示不良の検出された液晶装置１００を研磨工程へ送り、ここで、キズ等の表示不良の発生している部位を局所的に修復するようにしたので、従来のように、表示不良の検出された液晶装置を、ある程度の個数に達するまでプールしておく必要が無ないので、生産効率の低下を大幅に抑制することができる。
【００５７】
又、液晶パネル１の外表面全体を研磨することなく、キズなどを簡単に除去することができるので、修復作業に要する時間を短縮することができる。更に、修復作業が局所的に行われ、しかも短時間で完了するので、温度上昇が抑制されるため研磨剤などの供給が不要となり、その結果、研削完了後の洗浄工程、及び乾燥工程を省略することができ、修復に要する時間、及び経費を大幅に削減することができる。更に、再生した液晶装置１００は、１品ずつ製造ラインへ戻して、通常の生産ラインを継続させているので、再生された液晶装置１００の管理が容易となり、再生コストを大幅に削減することができる。
【００５８】
尚、本実施形態では、液晶パネル１の外表面に、透明基板としての防塵ガラス基板３０，３１が透明接着剤３２を介して貼付されている態様について示したが、液晶パネル１の外表面に偏光板が貼付されている場合は、この偏光板が透明基板となる。
【００５９】
［電子機器の実施形態］
次に、図１１を参照して、上述した液晶装置１００をライトバルブとして用いた電子機器の一例である投射型表示装置の実施形態について、その全体構成、特に光学的な構成について説明する。
【００６０】
本実施形態における投射型表示装置の一例である液晶プロジェクタ１１００は、駆動回路がＴＦＴ基板１０上に搭載されたライトバルブを含む液晶モジュールを３個用意し、夫々ＲＧＢ用のライトバルブ１００Ｒ，１００Ｇ，１００Ｂとして用いたプロジェクタとして構成されている。
【００６１】
液晶プロジェクタ１１００では、メタルハライドランプ等の白色光源のランプユニット１１０２から投射光が発せられると、３枚のミラー１１０６及び２枚のダイクロイックミラー１１０８によって、ＲＧＢの３原色に対応する光成分Ｒ、Ｇ、Ｂに分けられ、各色に対応するライトバルブ１００Ｒ，１００Ｇ及び１００Ｂに夫々導かれる。その際、特にＢ光は、長い光路による光損失を防ぐために、入射レンズ１１２２、リレーレンズ１１２３及び出射レンズ１１２４からなるリレーレンズ系１１２１を介して導かれる。そして、ライトバルブ１００Ｒ，１００Ｇ及び１００Ｂにより夫々変調された３原色に対応する光成分は、ダイクロイックプリズム１１１２により再度合成された後、投射レンズ１１１４を介してスクリーン１１２０にカラー画像として投射される。
【産業上の利用可能性】
【００６２】
本発明における電気光学装置は、ＴＦＴアクティブマトリクス駆動方式の液晶パネル以外に、パッシブマトリックス型の液晶パネル、ＴＦＤ（薄型ダイオード）をスイッチング素子として備えた液晶パネルであっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】液晶装置をその上に形成された各構成要素とともに対向基板の側からみた平面図
【図２】図１のＨ−Ｈ’断面図
【図３】液晶装置の斜視図
【図４】検査工程と研磨工程とを説明する説明図
【図５】検査装置の概略構成図
【図６】表示検査工程の作業ルーチンを示すフローチャート
【図７】研磨工程の作業ルーチンを示すフローチャート
【図８】表示不良の発生している液晶装置の斜視図
【図９】研磨作業の手順を示す説明図
【図１０】（ａ）は細長いキズを修復する作業の説明図、（ｂ）は修復後の説明図
【図１１】投射型カラー表示装置の図式的断面図
【符号の説明】
【００６４】
１…液晶パネル 、１０…ＴＦＴ基板 、２０…対向基板 、２０ａ…凹部 、３０，３１…防塵ガラス基板 、３２…透明接着剤 、１００…液晶装置 、５００…生産ライン 、５１０…検査装置 、５２０…研磨装置 、５２１…研削棒 、５２２…研削砥石 、ｄ１，ｄ２…キズ 、ｄ２…異物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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