(57)【要約】      （修正有）【課題】記録媒体の反射特性に関わらず、記録媒体に記録された情報を適切に処理することを可能とする。【解決手段】情報処理装置２２５は、記録媒体１００に記録された所定情報を処理する装置であって、特性判別手段２０４と処理手段２２６とを有する。特性判別手段２０４は、記録媒体１００の反射特性を判別する。処理手段２２６は、判別された反射特性に応じて、記録媒体１００に記録された所定情報を処理する。反射特性は、記録媒体１００の記録済領域で反射する光の反射率（以下、第１反射率という）が記録媒体１００の未記録領域で反射する光の反射率（以下、第２反射率という）よりも大きい第１特性、および前記第１反射率が前記第２反射率よりも小さい第２特性のうちの一方である。【選択図】図２
2008305540.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の特性を有する記録媒体、又は前記記録媒体を製造するための方法、又は前記方法を実行するためのプログラム、又は前記製造を実現するための設備であって、
前記記録媒体は、
第１の記録状態の時には透過率が１％前後で、第２の記録状態の時には透過率が１５〜２５％であるか、又は、
第１の記録状態の時には屈折率が２０〜３０％前後で、第２の記録状態の時には屈折率が３〜１０％である、
ことを特徴とする、記録媒体、又は前記記録媒体を製造するための方法、又は前記方法を実行するためのプログラム、又は前記製造を実現するための設備。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録媒体の特性情報を判別し処理する情報処理装置と、この情報処理装置を備えたアクセス装置と、このアクセス装置によりアクセスされる記録媒体と、その情報処理方法および情報処理プログラムとに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、大容量の情報が通信されている。その結果、大容量の光ディスクに関する開発が進められている。光ディスクには、例えば、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）が含まれる。
光ディスクでは、情報を示す凹凸パターン（例えば、ピット、グルーブ）が形成された透明基板に金属薄膜（例えば、アルミニウム）からなる反射膜が形成され、光の反射レベルを検出することによって、情報の再生が行われる。
記録型光ディスクには、記録膜の相変化によって反射率の異なる特性パターンが形成される。光ディスク装置は、非晶質−結晶質の反射率の変化を読み取るだけでよいため、光ディスク装置の光学系の構造を簡単にし得る。
【０００３】
光ディスク装置は複数の記録部と複数の未記録部との反射レベルを検出することによって、相変化に基づいて記録された情報を再生する。従って、光ディスクには、複数の記録部で反射する光の反射率が複数の未記録部で反射する光の反射率よりも大きい特性（ＬｔｏＨ特性）を有する光ディスクと複数の記録部で反射する光の反射率が複数の未記録部で反射する光の反射率よりも小さい特性（ＨｔｏＬ特性）を有する光ディスクとが存在し得る。
図７は、光ディスクに形成された複数の記録マークと光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。図７Ａは、ＨｔｏＬ特性を有する光ディスクに形成された複数の記録マークとＨｔｏＬ特性を有する光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。図７Ｂは、ＬｔｏＨ特性を有する光ディスクに形成された複数の記録マークとＬｔｏＨ特性を有する光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。
【０００４】
ＨｔｏＬ特性を有する光ディスク（ＨｔｏＬ型光ディスク）には、光の反射率が１％前後である非晶質部（記録部：例えば、記録マーク）が形成されている。ＨｔｏＬ型光ディスクの結晶部（未記録部：例えば、スペース）は、光の反射率が１５〜２５％である（図７Ａ参照）。ＬｔｏＨ特性を有する光ディスク（ＬｔｏＨ型光ディスク）には、光の反射率が２０〜３０％である非晶質部（記録部：例えば、記録マーク）が形成されている。ＬｔｏＨ型光ディスクの結晶部（未記録部：例えば、スペース）は、光の反射率が３〜１０％である（図７Ｂ参照）。
ＨｔｏＬ型光ディスクでは、未記録部の反射率が大きいため、フォーカシングやトラッキングが容易であるが、光の平均反射率が大きいため、ＬｔｏＨ型光ディスクに比べて、ノイズが大きくなる。
【０００５】
ＬｔｏＨ型光ディスクでは、光の平均反射率が小さいため、ＨｔｏＬ型光ディスクに比べて、ノイズが小さいが、未記録部の反射率が小さいため、フォーカシングやトラッキングが困難である。
特許文献１には、ＨｔｏＬ型光ディスクおよびＬｔｏＨ型光ディスクに関する記載がある。
【特許文献１】特開２００３−３２３７４４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、光ディスク装置が、光ディスク装置に挿入された光ディスクがＨｔｏＬ型光ディスクであるかＬｔｏＨ型光ディスクであるかを判別し得ないために、ＨｔｏＬ型光ディスクに対応した光ディスク装置にＬｔｏＨ型光ディスクが挿入された場合、またＬｔｏＨ型光ディスクに対応した光ディスク装置にＨｔｏＬ型光ディスクが挿入された場合には、以下（１）〜（４）に示す課題が生じる。
（１）ＨｔｏＬ型光ディスクとＬｔｏＨ型光ディスクとは、記録マークで反射した反射光の極性およびスペースで反射した反射光の極性が反対であるため、ＨｔｏＬ型光ディスクとＬｔｏＨ型光ディスクとでは、エッジ検出、アシンメトリ検出またはβ値検出における検出値の極性（正負）が反対になる。
（２）光ディスクの欠陥部分（例えば、光ディスクに付着したゴミ、汚れなどに起因して光が殆んど反射しない部分）を適切に検出できない。
（３）ＨｔｏＬ型光ディスク対応の変調度測定方法では、ＬｔｏＨ型光ディスクを対象として、変調度を適切に測定できない。
（４）ＨｔｏＬ型光ディスクに対応した装置にＬｔｏＨ型光ディスクが挿入された場合に、装置のＬＳＩのダイナミックレンジの上限を超える場合がある。これは、ＬｔｏＨ型光ディスクでの光の反射レベルはＨｔｏＬ型光ディスクでの光の反射レベルよりも大きいからである。
【０００７】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、記録媒体の反射特性（ＨｔｏＬ型であるか、ＬｔｏＨ型であるかという特性）に関わらず、記録媒体に記録された情報を適切に処理することを可能とする情報処理装置と、この情報処理装置を備えたアクセス装置と、このアクセス装置によりアクセスされる記録媒体と、その情報処理方法および情報処理プログラムとを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の情報処理装置は、記録媒体に記録された所定情報を処理する情報処理装置であって、特性判別手段と処理手段とを備える。特性判別手段は、記録媒体の反射特性を判別する。処理手段は、判別された反射特性に応じて所定情報を処理する。ここで、反射特性とは、記録媒体の記録済領域で反射する光の反射率（以下、第１反射率という）が記録媒体の未記録領域で反射する光の反射率（以下、第２反射率という）よりも大きい第１特性、および第１反射率が第２反射率よりも小さい第２特性のうちの一方である。
情報処理装置は、記録媒体の反射特性を判別し、その反射特性に応じて記録媒体に記録された所定情報を処理する。このため、記録媒体の反射特性に関わらず、記録媒体に記録された情報を適切に処理することが可能となる。
なお、上記および後述する所定情報とは、例えば、音声や映像、その他のデータなどのユーザ情報や、特定の情報を一時的に記録し記録学習を行うためのためし書き情報を含む。
【０００９】
特性判別手段は、記録媒体に記録された、第１特性および第２特性のうちの少なくとも一方を示す情報である特性情報に基づき、反射特性を判別してもよい。
また、記録媒体は、複数の記録層を有しており、複数の記録層のそれぞれの反射特性に対応する特性情報を記録していてもよい。
或いは、特性判別手段は、記録媒体で反射する光の反射レベルに基づき、反射特性を判別してもよい。
処理手段は、判別された反射特性に応じて、所定情報の極性を反転する極性反転手段を含んでもよい。
処理手段は、判別された反射特性に応じて、所定情報の変調度を計算する変調度演算手段を含んでもよい。
【００１０】
処理手段は、判別された反射特性と記録媒体で反射する光の反射レベルとに基づき、反射レベルに対するしきい値であって記録媒体の欠陥部分を検出するためのしきい値を変更するしきい値変更手段を含んでもよい。
さらに情報処理装置は、反射レベル検出手段と欠陥部分検出手段とを備えていてもよい。反射レベル検出手段は、反射レベルを検出する。欠陥部分検出手段は、しきい値変更手段により変更されたしきい値と、反射レベル検出手段により検出された反射レベルとに基づき、記録媒体の欠陥部分を検出する。
処理手段は、判別された反射特性に応じて、照射された光の反射レベルを調整する反射レベル調整手段を含んでいてもよい。
本発明のアクセス装置は、記録媒体に記録された所定情報を読み取る読み取り手段と、読み取られた所定情報を処理する上記情報処理装置とを備える。これにより、上記目的が達成される。
【００１１】
本発明の記録媒体は、記録領域を有し、記録領域は、記録媒体の特性を示す特性情報を記録するための領域である。特性情報は、記録媒体の記録済領域で反射する光の反射率（第１反射率）が記録媒体の未記録領域で反射する光の反射率（第２反射率）よりも大きい第１特性、および第１反射率が第２反射率よりも小さい第２特性のうちの少なくとも一方を示す情報である。
記録媒体は、特性情報を記録するための領域を有している。このため、例えば、記録媒体に記録された情報を処理するための装置に対して、特性情報を提供し、特性情報に応じた処理を行わせることが可能となる。すなわち、記録媒体の特性情報が示す反射特性に関わらず、記録媒体に記録された情報を適切に処理させることが可能となる。
記録媒体は、複数の記録層を備え、記録領域は、複数の記録層のそれぞれに対応する特性情報を記録していてもよい。
【００１２】
本発明の情報処理方法は、記録媒体に記録された所定情報を処理する情報処理方法であって、特性判別ステップと処理ステップとを備える。特性判別ステップは、記録媒体の反射特性を判別する。処理ステップは、判別された反射特性に応じて、所定情報を処理する。ここで、反射特性とは、記録媒体の記録済領域で反射する光の反射率（第１反射率）が記録媒体の未記録領域で反射する光の反射率（第２反射率）よりも大きい第１特性、および第１反射率が第２反射率よりも小さい第２特性のうちの一方である。これにより、上記目的が達成される。
本発明の情報処理プログラムは、記録媒体に記録された所定情報を処理する情報処理装置に情報処理を実行させるための情報処理プログラムであって、特性判別ステップと処理ステップとを備える。特性判別ステップは、記録媒体の反射特性を判別する。処理ステップは、判別された反射特性に応じて、所定情報を処理する。ここで、反射特性とは、記録媒体の記録済領域で反射する光の反射率（第１反射率）が記録媒体の未記録領域で反射する光の反射率（第２反射率）よりも大きい第１特性、および第１反射率が第２反射率よりも小さい第２特性のうちの一方である。これにより、上記目的が達成される。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の情報処理装置によれば、記録媒体の反射特性を判別する特性判別手段と、判別された前記反射特性に応じて、記録媒体に記録された所定情報を処理する処理手段とを備える。その結果、記録媒体の反射特性に関わらず、記録媒体に記録されている所定情報を適切に処理することができる。
同様に、本発明のアクセス装置、情報処理方法、情報処理プログラムによれば、本発明の記録媒体の反射特性を判別して、その反射特性に応じて所定情報を処理することができるため、記録媒体に記録されている情報を適切に処理することができる。
また、本発明の記録媒体によれば、第１特性および第２特性のうちの少なくとも一方を示す特性情報が記録されており、第１特性は、前記記録媒体の記録済領域で反射する光の反射率（第１反射率）が前記記録媒体の未記録領域で反射する光の反射率（第２反射率）よりも大きい特性であり、第２特性は、第１反射率が第２反射率よりも小さい特性である。従って、記録媒体に記録された特性情報によって、記録媒体の特性が第１特性を有するか第２特性を有するかを判別できる。その結果、記録媒体の特性に応じて、記録媒体に記録されている情報を処理することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。
はじめに、本発明の記録媒体を説明し（「１．記録媒体」参照）、次に、記録媒体にアクセスするアクセス装置を説明する（「２．アクセス装置」参照）。最後に、アクセス装置によって実行されるアクセス処理手順を説明する（「３．アクセス方法」参照）。
１．記録媒体
図１は、本発明の実施の形態の記録媒体１００の構造を示す。記録媒体１００は、記録層を含む。記録層に記録マークを形成することによって、記録媒体１００に情報が記録される。
記録媒体１００は、Ｌｅａｄ−ｉｎ領域１０１と、データ領域１０２と、Ｌｅａｄ−ｏｕｔ領域１０３とを含む。
【００１５】
データ領域１０２には、ユーザ情報が記録される。ユーザ情報は、例えば、音声情報および映像情報、その他のデータなどである。
Ｌｅａｄ−ｉｎ領域１０１およびＬｅａｄ−ｏｕｔ領域１０３には、記録媒体１００の管理情報や欠陥管理のためのデータが記録される。
Ｌｅａｄ−ｉｎ領域１０１は、ＰＩＣ（Ｐｅｒｍａｎｅｎｔ  Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  ａｎｄ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ｄａｔａ）領域１０４とＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）領域１０５とＤｒｉｖｅ領域１０６とＤＭＡ領域１０７とを含む。
ＰＩＣ領域１０４には、例えば、データ領域１０２の最大アドレスおよび記録パルス制御パラメータが記録されている。記録パルス制御パラメータは、例えば、記録媒体１００に複数の記録マークを形成／消去するためのレーザパワーに関するパラメータ、および複数の記録マークを記録するための記録パルス幅に関するパラメータである。
【００１６】
ＰＩＣ領域１０４には、特性情報がさらに記録されている。特性情報は、記録媒体１００の反射特性であるＬｔｏＨ特性およびＨｔｏＬ特性のうちの一方を示す。
ＨｔｏＬ特性は、複数の記録部（例えば、複数の記録マーク）で反射する光の反射率が複数の未記録部（例えば、複数のスペース）で反射する光の反射率よりも小さい反射特性である。ＬｔｏＨ特性は、複数の記録部（例えば、複数の記録マーク）で反射する光の反射率が複数の未記録部（例えば、複数のスペース）で反射する光の反射率よりも大きい反射特性である。記録媒体１００がＨｔｏＬ特性を有する場合には、特性情報として、値‘０’が記録される。記録媒体１００がＬｔｏＨ特性を有する場合には、特性情報として、値‘１’が記録媒体１００に記録される。
なお、記録媒体１００がＬｔｏＨ特性を有することを示す情報が、値‘１’によって示され、記録媒体１００がＨｔｏＬ特性を有することを示す情報が、値‘０’によって示されることに限定されない。所定の装置が記録媒体１００の反射特性（ＬｔｏＨ特性を有するかＨｔｏＬ特性を有するか）を判別し得る限りは、示される値は任意である。
【００１７】
例えば、所定の装置が記録媒体１００の反射特性（ＬｔｏＨ特性を有するかＨｔｏＬ特性を有するか）を判別し得る限りは、少なくとも１つの記録マークおよび少なくとも１つのスペースのうちの少なくとも１つによって示される。
なお、特性情報が少なくとも１つの記録マークおよび少なくとも１つのスペースのうちの少なくとも１つによって示される形態に限定されない。特性情報に基づいて、所定の装置が記録媒体１００の反射特性（ＬｔｏＨ特性を有するかＨｔｏＬ特性を有するか）を判別し得る限りは、トラックのうねり（ウォブル）によって特性情報が記録されてもよい。
さらに、記録媒体１００には、トラックが同心円状に形成されているが、記録媒体１００に特性情報を記録し得る限りは、トラックの形成された形状はスパイラル状でもよい。
さらに、記録媒体１００は、書き換え型または追記型に限らない。特性情報を記録し得る限りは、再生専用記録媒体でもよい。記録媒体１００は、例えば、ＣＤ、ＢＤ−ＲＥ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ  Ｆｏｒｍａｔ）、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）またはＤＶＤ−ＲＷ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）である。
【００１８】
さらに、記録媒体１００の記録層が１層であることに限定されない。記録媒体１００の記録層は、複数であり得る。例えば、記録媒体１００が第１記録層と第２記録層とを含む場合には、第１記録層または第２記録層のうちの一方に特性情報が記録されることがあり得る。この場合には、特性情報は、第１記録層および第２記録層がＨｔｏＬ特性（または、ＬｔｏＨ特性）を有することを示し得る。さらに、記録媒体１００が第１記録層と第２記録層とを含む場合には、第１記録層に第１特性情報が記録され、第２記録層に第２特性情報が記録されることがあり得る。この場合には、第１特性情報は、第１記録層がＨｔｏＬ特性（または、ＬｔｏＨ特性）を有することを示し、第２特性情報は、第２記録層がＨｔｏＬ特性（または、ＬｔｏＨ特性）を有することを示し得る。なお、第１記録層と第２記録層とが同じ特性を有することに限定されない。第１記録層と第２記録層とが異なった特性を有することがあり得る。例えば、第１記録層に記録された第１特性情報は第１記録層がＨｔｏＬ特性（または、ＬｔｏＨ特性）を有することを示し、第２記録層に記録された第２特性情報は第２記録層がＬｔｏＨ特性（または、ＨｔｏＬ特性）を有することを示し得る。
【００１９】
また、複数層のいずれかが、他の層の特性情報を記録することがあり得る。例えば、第１記録層が、第１記録層の反射特性を示す第１特性情報と第２記録層の反射特性を示す第２特性情報とを格納していてもよい。さらに、複数層のいずれもが、各層の特性情報を記録することがあり得る。例えば、第１記録層と第２記録層とのいずれもが、第１特性情報および第２特性情報を格納していてもよい。
すなわち、複数層を有する記録媒体１００では、複数層のそれぞれに対応する反射特性を示す情報がいずれかの層に記録されていればよい。
さらに、特性情報が記録される領域は、ＰＩＣ領域１０４に限定されない。特性情報が記録可能であり、所定の装置が特性情報を読み取ることができる限りは、記録される記録媒体の位置は限定されない。例えば、特性情報は、Ｌｅａｄ−ｏｕｔ領域１０３に記録され得る。或いは、特性情報は、データ領域１０２に記録されてもよい。
【００２０】
特性情報は、記録媒体１００が製造されるときに記録媒体製造者によって記録される。記録媒体１００が再生専用記録媒体である場合には、既にデータが記録された状態で出荷される。記録媒体製造業者は、ＰＩＣ領域に特性情報を記録した後に記録媒体を出荷する。また、記録媒体１００が書き込み型記録媒体または追記型記録媒体である場合（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ）でも、記録媒体製造業者は、記録媒体製造時に記録媒体に関する情報を記録領域（例えば、ＰＩＣ領域）に記録する。
なお、記録媒体１００への特性情報の記録は、記録媒体１００の製造時に限定されない。例えば、記録媒体１００にユーザ情報を記録する際に、またはユーザ情報を再生する際に、特性情報がユーザによって記録されることがあり得る。所定の装置は、記録媒体１００にアクセスする際（例えば、記録媒体１００にユーザ情報を記録する際に、またはユーザ情報を再生する際）に、特性情報を読み取る。
【００２１】
２．アクセス装置
図２は、本発明の実施の形態のアクセス装置（光ディスク装置）２００の構成を示す。
アクセス装置２００は、記録媒体１００が挿入され得るように構成されている。記録媒体１００は、特性情報が記録される特性情報領域を含み、特性情報領域には、特性情報が記録されている。
アクセス装置２００は、記録媒体１００に記録された所定情報を読み取る光ヘッド部２０２と、読み取られた所定情報を処理する情報処理装置２２５とから主に構成される。情報処理装置２２５は、記録媒体１００の反射特性を判別する特性判別手段２０４と、判別された反射特性に応じて、所定情報を処理する処理手段２２６とを備える。処理手段２２６は、信号極性反転手段２０６と、信号処理手段２０８と、変調度演算手段２１６と、しきい値変更手段２１７と、欠陥部分検出手段２１８と、光ディスクコントローラ２１９と、反射レベル調整手段２２０とを備える。
【００２２】
光ヘッド部２０２は、記録媒体１００にアクセスし、記録媒体１００の記録領域から記録された情報を示す信号を読み取る読み取り手段として機能する。情報には、特性情報とユーザ情報とが含まれる。ユーザ情報は、例えば、音声情報、映像情報、その他のデータなどである。
特性判別手段２０４は、光ヘッド部２０２が読み取った信号から特性情報を検出し、検出された特性情報に基づいて、記録媒体１００の特性（記録媒体１００がＨｔｏＬ型光ディスクであるかＬｔｏＨ型光ディスクであるか）を判別する。
信号極性反転手段２０６は、光ヘッド部２０２によって読み取られた特性情報に基づいて、ユーザ情報を示す信号の極性を反転する。
例えば、記録媒体１００がＨｔｏＬ型である場合には、記録マークに対応する信号の極性を負から正に反転し、スペースに対応する信号の極性を正から負に反転する。一方、記録媒体１００がＬｔｏＨ型光ディスクである場合には、記録マークに対応する信号の極性を正に維持し、スペースに対応する信号の極性を負に維持する。
【００２３】
信号処理手段２０８は、エッジシフト検出手段２１０と、アシンメトリ検出手段２１２と、β値検出手段２１４とを含む。信号処理手段２０８に含まれたこれらの手段によって、入力された信号が処理される。例えば、エッジシフト検出手段２１０は、入力された信号に基づいて、エッジシフト量を検出する。アシンメトリ検出手段２１２は、入力された信号に基づいて、信号のアシンメトリを検出する。β値検出手段２１４は、入力された信号に基づいて、信号のβ値を検出する。
信号極性反転手段２０６が、ユーザ情報を示す信号のうち記録マークに対応する信号の極性が正になるように、ユーザ情報を示す信号のうちスペースに対応する信号の極性が負になるように、信号の極性を制御する。極性が制御された信号は、信号処理手段２０８に入力される。従って、信号処理手段２０８は、アクセス装置２００に装着された記録媒体１００がＨｔｏＬ型光ディスクであるかＬｔｏＨ型光ディスクであるかに関らず、記録マークに対応する信号の極性が正でありスペースに対応する信号の極性が負であることを前提として、入力された信号を処理し得る。その結果、システムコントローラの開発負担が削減され、デバッグ効率を向上することができる。
【００２４】
変調度演算手段２１６は、特性情報に応じて、ユーザ情報を示す信号の変調度を計算する。なお、変調度演算手段２１６の機能の詳細は、後述する。
欠陥部分検出手段２１８は、光ヘッド部２０２によって検出された反射光の反射レベルと所定のしきい値とに基づいて、少なくとも1つの欠陥部分を検出する。例えば、記録媒体１００の記録領域には、異物（ゴミ、指紋など）が付着していることがある。異物が付着した領域に光が照射された場合には、異物の付着に起因して、反射光が散乱する。従って、異物が付着した領域からは反射光の反射レベルを殆んど検出することができない。欠陥部分検出手段２１８は、反射光を殆んど検出することができない領域を欠陥部分として検出する。
しきい値変更手段２１７は、特性情報に応じて、検出された反射レベルと所定のしきい値との差分を調整するために、所定のしきい値を変更する。例えば、しきい値変更手段２１７は、検出された反射レベルと所定のしきい値との差分を調整することによって検出された反射レベルの異常を検出し得るように、特性情報に応じて所定のしきい値を変更する。
【００２５】
なお、しきい値変更手段２１７と欠陥部分検出手段２１８との機能の詳細は、後述する。
光ディスクコントローラ２１９は、信号処理手段２０８、変調度演算手段２１６および欠陥部分検出手段２１８のうちの少なくとも１つの手段から出力された信号に基づいて、記録媒体１００に情報を記録するための光の照射レベルを調整する。例えば、調整される光の照射レベルは、書き込みパワー、消去パワー、ボトムパワーのうちの少なくとも１つを示す。
反射レベル調整手段２２０は、特性情報および光ディスクコントローラ２１９で生成された信号に基づいて、記録媒体１００から情報を再生するための光の反射レベルを調整する。反射レベル調整手段２２０は、光ヘッド部２０２が記録媒体１００に照射する光の照射レベルを調整することによって、光の反射レベルを調整する。例えば、特性情報が、記録媒体１００がＬｔｏＨ型であることを示す場合には、反射レベル調整手段２２０は、光ヘッド部２０２が照射する光の強度を弱めることによって、光の反射レベルを低下させる。従って、ＬｔｏＨ型光ディスクで反射する光の強度を弱めることができる。その結果、ＬＳＩのダイナミックレンジを効率よく使用できる。
【００２６】
以下、変調度演算手段２１６の機能の詳細を説明する。
変調度演算手段２１６は、光ヘッド部２０２によって検出された光の反射レベルと特性情報とに基づいて、所定情報の変調度を計算する。具体的には、変調度演算手段２１６は、光ヘッド部２０２によって検出された光の反射レベルから未記録領域（スペース）で反射した光の反射レベルと記録部（記録マーク）で反射した光の反射レベルとを検出し、検出された２つのレベルに基づいて、所定情報の変調度を計算する。ここで、光ヘッド部２０２によって検出された光の反射レベルは、所定情報を示す。
図３Ａおよび図３Ｂは、光ディスクに照射した光の照射レベルと光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。図３ＡはＨｔｏＬ型光ディスクに照射した光の照射レベルとＨｔｏＬ型光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。横軸はＨｔｏＬ型光ディスクに照射した光の照射レベルを示す。縦軸はＨｔｏＬ型光ディスクで反射した光の反射レベルを示す。
【００２７】
特性情報によって示された特性がＨｔｏＬ特性である場合には、変調度Ｍｏｄは（式１）によって定義される。
（式１）
Ｍｏｄ＝（Ａ−Ｂ）／Ａ
ここで、‘Ａ’は、未記録領域（スペース）で反射した光の反射レベルを示し、‘Ｂ’は、記録部（記録マーク）で反射した光の反射レベルを示す。
図３Ｂは、ＬｔｏＨ型光ディスクに照射した光の照射レベルとＬｔｏＨ型光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。横軸はＬｔｏＨ型光ディスクに照射した光の照射レベルを示す。縦軸はＬｔｏＨ型光ディスクで反射した光の反射レベルを示す。
特性情報によって示された特性がＬｔｏＨ特性である場合には、変調度Ｍｏｄは（式２）によって定義される。
【００２８】
（式２）
Ｍｏｄ＝（Ｂ−Ａ）／Ｂ
変調度演算手段２１６は、（式１）を演算するための第１演算器と（式２）を演算するための第２演算器とを含む。変調度演算手段２１６は、特性情報に応じて、これらの２つの演算器を切り替えることによって、所定情報の変調度を計算し得る。
従来では、異なる反射特性を有する光ディスクであっても、同一の式により変調度を計算していたため、例えばＬｔｏＨ型光ディスクに対して上記（式１）で変調度を測定すると、変調の感度が悪くなるという不具合があった。しかし、本実施の形態のごとく、光ディスクの反射特性に応じて、（式１）を演算するための第１演算器と（式２）を演算するための第２演算器を切り替えて変調度を求めることにより、変調の感度を同等にできる。
【００２９】
本実施の形態において変調度測定の精度を向上させることにより、例えば最適な記録パワーをより正確に決定できる。この最適な記録パワーの決定方法について図４Ａおよび図４Ｂを参照して以下の通り説明する。
図４Ａは、記録部の再生振幅が減少するＨｔｏＬ型ディスクに関し、８Ｔスペース（８Ｔｓ）、８Ｔマーク（８Ｔｍ）の単一パターンの繰り返し記録部および未記録部を再生した図である。縦軸は、記録部、未記録部を再生したときの再生振幅レベルを示し、横軸は、トラック方向（時間軸方向）を示す。Ａｔｏｐは、図４Ａで示すように再生信号の反射レベルの最大値を示し、Ａｂｔｍは、再生信号の反射レベルの最小値を示す。ＡｔｏｐおよびＡｂｔｍは、ある基準レベルからの振幅レベルである。ここで、基準レベルは、例えば再生のためのレーザパワーを切った時（レーザ消灯時）に検出されるレベルとしてもよい。また、基準レベルは、再生振幅を検出する回路における所定のレベルでもよい。本実施の形態では、変調度を求めるために８Ｔの繰り返し信号を用いているが、本発明はこれに限定されない。
【００３０】
図４Ｂに示すように、最適な記録パワーＰｗｏを決定するために、記録パワーＰｗを変化させて（高いパワーから低いパワーまで）変調度Ｍｏｄを測定する。図４Ｂは、縦軸が記録パワーを変化させて記録したトラックを再生したときの変調度Ｍｏｄであり、横軸は記録パワーＰｗの変化を示している。記録パワーＰｗが低いときには、再生信号の振幅が小さいので変調度Ｍｏｄは小さくなる。記録パワーＰｗが大きくなるに従って、再生信号の振幅が大きくなるので変調度Ｍｏｄは大きくなる。ディスクごとに記録パワーを決定するためのパラメータが用意されている。これらのパラメータは、予めディスク上に記載されているか、または記録再生装置がディスクごとに保持している。その一例として、ある記録パワー（Ｐｔｇ）の時に得られる変調度（Ｍｔｇ）と、記録が開始される（レーザーをディスクに照射すると反射量が変化始めるときの記録パワー）Ｐｔｈと、ＰｔｈとＰｔｇの比例関係パラメータｋｋと、ＰｔｇとＰｗｏの比例関係パラメータｒｒがある。それらは、Ｐｔｇ＝Ｐｔｈ×ｋｋおよびＰｗｏ＝Ｐｔｇ×ｒｒの関係がある。Ｐｔｈは、Ｐｔｇ付近の記録パワーで記録したときの変調度曲線の接線から得られる。最適記録パワー決定手順は、まず、Ｐｔｇ付近の数パワーで、変調度を測定して、図４Ｂに示すように変調度曲線を得る。Ｍｔｇ付近の変調度を用いて接線を求め、Ｘ軸との交点であるＰｔｈを求める。Ｐｔｈに、ｋｋとｒｒを乗算して、最適な記録パワーＰｗｏを算出する。
【００３１】
以上のように、最適な記録パワーＰｗｏの算出において、変調度が用いられる。このため、最適な記録パワーＰｗｏを算出するためには、適切な変調度が求められる必要がある。本実施の形態では、光ディスクの反射特性に応じて、（式１）を演算するための第１演算器と（式２）を演算するための第２演算器を切り替えて変調度を求める。このため、適切な変調度を算出することが可能となり、ひいては、最適な記録パワーＰｗｏを算出することが可能となる。
以下、しきい値変更手段２１７と欠陥部分検出手段２１８との機能の詳細を説明する。
図５は、検出された光の反射レベルとしきい値とグランドレベルと検出信号とを示す。
欠陥部分は、光の反射レベルとしきい値とに基づいて検出される。ＬｔｏＨ型光ディスクのスペース（未記録部）で反射した光の反射レベルＢとグランドレベルとの差分は、ＨｔｏＬ型光ディスクのスペース（未記録部）で反射した光の反射レベルＡとグランドレベルとの差分よりも小さい。従って、ＬｔｏＨ型光ディスクの場合、欠陥部分の検出のためのしきい値Ｂを反射レベルＢとグランドレベルとの間に正確に設定する必要がある。例えば、ＬｔｏＨ型光ディスクに対してしきい値Ａが設定された場合には、しきい値Ａのレベルと反射レベルＢとが近いため、未記録部（スペース）が欠陥部分であると誤検出され得る。
【００３２】
特性判別手段２０４が、特性情報に基づいて光ディスクの特性がＬｔｏＨ特性であると判別した場合には、しきい値変更手段２１７は、検出された反射レベルの異常を検出し得るように、しきい値を変更する。例えば、光の反射レベルＢとグランドレベルＢとの差分を大きくするためにしきい値Ｂを小さくするように、しきい値Ｂを変更する。しきい値変更手段２１７は、小さくされたしきい値（しきい値Ｂ）を示す信号を欠陥部分検出手段２１８に出力する。
欠陥部分検出手段２１８は、信号によって示されたしきい値Ｂと反射レベルとを比較して、欠陥部分を示す検出信号Ｂを生成する。
このように、検出された反射レベルの異常を検出し得るようにしきい値を変更することによって、光の反射レベルＢとしきい値Ｂとに基づいて、正確に欠陥部分を検出できる。アクセス装置２００は、欠陥部分検出期間は、制御動作をホールドする。欠陥部分を正確に検出することによって、アクセス装置２００は、制御動作をホールドする必要のある期間を正確に認識できる。この場合、アクセス装置２００は、検出された欠陥部分の領域を記録しておき、制御時にその記録された領域については制御動作を行わないようにしてもよい。
【００３３】
以上、図２〜図５を参照して、本発明の実施の形態のアクセス装置２００を説明した。
例えば、図２を参照して説明した例では、光ヘッド部２０２が「記録媒体に記録された所定情報を読み取る読み取り手段」として機能し、特性判別手段２０４と、信号極性反転手段２０６と、信号処理手段２０８と、変調度演算手段２１６と、しきい値変更手段２１７と、欠陥部分検出手段２１８と、光ディスクコントローラ２１９と、反射レベル調整手段２２０とが「読み取られた前記所定情報を処理する請求項１に記載の情報処理装置」として機能する。しかし、本発明のアクセス装置２００は、図２に示されるものに限定されるわけではない。上述した各手段の機能が達成される限りは、任意の構成を有する装置が本発明の範囲内に含まれ得る。
例えば、信号極性反転手段２０６は、記録媒体１００がＨｔｏＬ型である場合には、記録マークに対応する信号の極性を負に維持し、スペースに対応する信号の極性を正に維持することができ、さらに、信号極性反転手段２０６は、記録媒体１００がＬｔｏＨ型光ディスクである場合には、記録マークに対応する信号の極性を正から負に反転し、スペースに対応する信号の極性を負から正に反転させることができる。従って、信号処理手段２０８は、アクセス装置２００に装着された記録媒体１００がＨｔｏＬ型光ディスクであるかＬｔｏＨ型光ディスクであるかに関らず、記録マークに対応する信号の極性が負でありスペースに対応する信号の極性が正であることを前提として、入力された信号を処理し得る。その結果、システムコントローラの開発負担が削減され、デバッグ効率を向上することができる。
【００３４】
さらに、反射レベル調整手段２２０が、光ヘッド部２０２が照射する光の強度を弱めることによって、光ヘッド部２０２が検出する光の反射レベルを低下することに限定されない。例えば、特性情報が、記録媒体１００がＬｔｏＨ型であることを示す場合には、反射レベル調整手段２２０が、光ヘッド部２０２の反射光検出能力を弱めることによって、光ヘッド部２０２が検出する光の反射レベルを低下させ得る。従って、ＬｔｏＨ型光ディスクで反射する光の強度を弱めることができる。その結果、ＬＳＩのダイナミックレンジを効率よく使用できる。
なお、特性判別手段２０４は、光ディスクに特性情報が記録されていない場合でも、光ディスクの特性を判別し得る。例えば、光ヘッド部２０２は、特性情報が記録されていない光ディスクの未記録領域に光を照射する。光ヘッド部２０２は、未記録領域で反射した光の反射レベルを検出し、未記録領域で反射した光の反射レベルを示す信号を特性判別手段２０４に送る。特性判別手段２０４は、この信号によって示された光の反射レベルが所定の値より大きいか否かに基づいて、この光ディスクがＨｔｏＬ型であるか、ＬｔｏＨ型であるかを判別し得る。
【００３５】
このような特性の判別は、特性情報を記録した記録媒体１００に対して行われてもよい。このとき、特性判別手段２０４が光の反射レベルから判別した反射特性と、特性判別手段２０４が特性情報から判別した反射特性とが矛盾した場合は、特性判別手段２０４は、再度光ディスクの反射レベルを検出して特性を判別する、特性判別手段２０４は、特性情報を優先させてその後の処理を行う、あるいは、特性判別手段２０４は、光ディスクコントローラ２１９を動作させ、光ディスクへの書き込みを禁止する、などの対処が可能である。
３．アクセス方法
図６は、本発明の実施の形態のアクセス処理手順を示す。
以下、図１、図２および図６を参照して、本発明の実施の形態のアクセス処理手順をステップごとに説明する。アクセス処理手順はアクセス装置２００によって実行される。アクセス装置２００には、記録媒体１００が挿入されている。
【００３６】
ステップ３０２：アクセス装置２００が起動される。
ステップ３０４：アクセス装置２００の起動に伴って、光ヘッド部２０２が記録媒体１００のＰＩＣ領域１０４にアクセスし、光ヘッド部２０２がＰＩＣ領域１０４から特性情報を読み取る。
ステップ３０６：特性判別手段２０４は、読み取られた特性情報に基づいて、記録媒体１００がＨｔｏＬ型光ディスクであるかＬｔｏＨ型光ディスクであるかを判別する。
ステップ３０８：記録媒体１００がＨｔｏＬ型光ディスクであると判別された場合には、特性判別手段２０４は、信号極性反転手段２０６、しきい値変更手段２１７、変調度演算手段２１６および反射レベル調整手段２２０に対して、ＨｔｏＬ型光ディスクから読み取られた情報を処理するための設定を行う。
【００３７】
記録媒体１００がＬｔｏＨ型光ディスクであると判別された場合には、特性判別手段２０４は、信号極性反転手段２０６、しきい値変更手段２１７、変調度演算手段２１６および反射レベル調整手段２２０に対して、ＬｔｏＨ型光ディスクから読み取られた情報を処理するための設定を行う。
光ディスクから読み取られた情報を処理するための設定が完了した後、処理はステップ３１０に進む。
ステップ３１０：光ヘッド部２０２が記録媒体１００のデータ領域１０２にアクセスし、光ヘッド部２０２がデータ領域１０２からユーザ情報を読み取る。
ステップ３１２：アクセス装置２００は、読み取られたユーザ情報を処理する。
以上、図１、図２および図５を参照して、本発明の実施の形態のアクセス処理手順を説明した。
【００３８】
なお、本発明のアクセス処理手順が図６に示される手順に限定されるわけではない。上述した各手順が実行される限りは、任意の手順を有する方法が本発明の範囲内に含まれ得る。
以上、図１〜図６を参照して、本発明の実施の形態を説明した。
例えば、図２に示される実施の形態で説明した各手段は、ハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアによって実現されてもよいし、ハードウェアとソフトウェアとによって実現されてもよい。ハードウェアによって実現される場合でも、ソフトウェアによって実現される場合でも、ハードウェアとソフトウェアとによって実現される場合でも、本発明のアクセス処理手順が実行され得る限り、任意の手順を有し得る。
例えば、本発明のアクセス装置には、アクセス処理を実行させるためのアクセス処理プログラムが格納されている。
【００３９】
アクセス処理プログラムは、コンピュータの出荷時に、アクセス装置に含まれる格納手段に予め格納されていてもよい。あるいは、コンピュータの出荷後に、アクセス処理プログラムを格納手段に格納するようにしてもよい。例えば、ユーザがインターネット上の特定のウェブサイトからアクセス処理プログラムを有料または無料でダウンロードし、そのダウンロードされたプログラムをコンピュータにインストールするようにしてもよい。アクセス処理プログラムがフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されている場合には、入力装置（例えば、ディスクドライブ装置）を用いてアクセス処理プログラムをコンピュータにインストールするようにしてもよい。インストールされたアクセス処理プログラムは、格納手段に格納される。
【００４０】
さらに、情報処理装置２２５（図２参照：例えば、特性判別手段２０４と、信号極性反転手段２０６と、信号処理手段２０８と、変調度演算手段２１６と、しきい値変更手段２１７と、欠陥部分検出手段２１８と、光ディスクコントローラ２１９と、反射レベル調整手段２２０とを含む）は、１チップ化されたＬＳＩ（半導体集積回路）またはその一部として製造され得る。情報処理装置２２５が、１チップ化されたＬＳＩとして製造される場合には、アクセス装置の製造工程を容易にすることができる。なお、情報処理装置２２５を構成する各部が独立にＬＳＩとして製造されてもよいし、情報処理装置２２５を構成する一部が独立にＬＳＩとして製造されてもよい。
また、アクセス装置２００では、特性情報が記録された記録媒体１００から特性情報を読み取る例について説明したが、特性情報の取得経路はこれに限らない。例えば、アクセス装置２００が図示しない記憶部などに予め特性情報を複数格納しており、アクセス装置２００に搭載された光ディスクに応じた特性情報を記憶部から読み出して用いるものであってもよい。また、アクセス装置２００は、特性情報を外部、例えば、インターネット上の特定のウェブサイトから取得してもよい。
【００４１】
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【００４２】
本発明は、記録媒体の反射特性に関わらず、記録媒体に記録された情報を適切に処理することを可能とし、情報処理装置、この情報処理装置を備えたアクセス装置、このアクセス装置によりアクセスされる記録媒体、その情報処理方法および情報処理プログラムとして有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明の実施の形態の記録媒体１００の構造を示す。
【図２】本発明の実施の形態のアクセス装置２００の構成を示す。
【図３Ａ】第２特性（ＨｔｏＬ特性）を有する光ディスクに照射した光の照射レベルと同光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。
【図３Ｂ】第１特性（ＬｔｏＨ特性）を有する光ディスクに照射した光の照射レベルと同光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。
【図４Ａ】光ディスクの記録部および未記録部を再生したときの、トラック方向と再生振幅との関係を示す。
【図４Ｂ】光ディスクの記録パワーと変調度との関係を示す。
【図５】検出された光の反射レベルとしきい値とグランドレベルと検出信号とを示す。
【図６】本発明の実施の形態のアクセス処理手順を示す。
【図７Ａ】第２特性（ＨｔｏＬ特性）を有する光ディスクに形成された複数の記録マークと同光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。
【図７Ｂ】第１特性（ＬｔｏＨ特性）を有する光ディスクに形成された複数の記録マークと同光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。
【符号の説明】
【００４４】
１００  記録媒体
１０１  Ｌｅａｄ−ｉｎ領域
１０２  データ領域
１０３  Ｌｅａｄ−ｏｕｔ領域
１０４  ＰＩＣ領域
１０５  ＯＰＣ領域
１０６  Ｄｒｉｖｅ領域
１０７  ＤＭＡ領域
２００  アクセス装置
２０２  光ヘッド部
２０４  特性判別手段
２０６  信号極性反転手段
２０８  信号処理手段
２１０  エッジシフト検出手段
２１２  アシンメトリ検出手段
２１４  β値検出手段
２１６  変調度演算手段
２１７  しきい値変更手段
２１８  欠陥部分検出手段
２１９  光ディスクコントローラ
２２０  反射レベル調整手段
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
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