(57)【要約】【課題】簡易な構成によりレーザダイオードの温度を精度良く検出できるようにする。【解決手段】温度測定部２０は、同一製造ロットでなる複数のレーザダイオード２について基準温度における基準電圧Ｖｆｓを平均した平均電圧Ｖｆａ、（１）式における最適な指数ｎ及び（４）式における各項の係数が予め決定された上で、工場出荷時等に、基準温度（２５［℃］）における基準電圧Ｖｆｓが測定され、指数ｎ、（２）式及び（４）式と共に記憶部２２に記憶された状態で、レーザダイオード２に測定電流を供給して順方向降下電圧Ｖｆを検出し、基準電圧Ｖｆｓとの差分である差分電圧ΔＶｆを算出し（２）式によって補正差分電圧ΔＶｆｒに補正することにより、ΔＶｆ／Ｉｆ特性におけるばらつきを抑えることができるので、補正差分電圧ΔＶｆｒを（４）式に代入することにより、他の温度検出素子を用いることなく測定温度Ｔを精度良く算出することができる。【選択図】        図１５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を出射するレーザダイオードと、
上記レーザダイオードに対し所定の測定電流を流したときの順方向降下電圧を測定する電圧測定手段と、
所定の基準温度において上記レーザダイオードに対し上記測定電流を供給したときの順方向降下電圧を基準電圧とし、当該基準電圧と上記順方向降下電圧との差分を算出して差分電圧とする差分電圧算出手段と、
上記レーザダイオードと同等の特性を有する複数の同等レーザダイオードに対し上記基準温度において上記測定電流を供給したときの同等基準電圧を基に上記差分電圧を補正する補正手段と、
上記複数の同等レーザダイオードに対し上記測定電流を供給したときの上記順方向降下電圧を基に定められた、上記レーザダイオードの温度と上記差分電圧との関係を表す関係式に対して、上記補正手段により補正された上記差分電圧を適用することにより、上記レーザダイオードの温度を算出する温度算出手段と
を具えることを特徴とする温度測定装置。
【請求項２】
上記補正手段は、
上記基準電圧を上記同等基準電圧により除算した値をｎ乗（ただしｎは実数）した補正係数によって上記差分電圧を除算することにより当該差分電圧を補正する
ことを特徴とする請求項１に記載の温度測定装置。
【請求項３】
上記補正係数における指数ｎは、
上記複数の同等レーザダイオードに対し上記測定電流を供給したときの上記順方向降下電圧と上記同等レーザダイオードそれぞれにおける上記基準電圧との差分電圧を上記補正係数によりそれぞれ除算して得られる複数の補正差分電圧におけるばらつきを抑えるよう選定されている
ことを特徴とする請求項２に記載の温度測定装置。
【請求項４】
上記関係式は、
上記複数の同等レーザダイオードの温度をそれぞれ変化させて上記測定電流を流したときの上記順方向降下電圧と上記同等レーザダイオードそれぞれにおける上記基準電圧との差分電圧を基に得られる特性曲線を近似した多項式でなる
ことを特徴とする請求項１に記載の温度測定装置。
【請求項５】
上記測定電流は、
上記複数の同等レーザダイオードに供給したときの上記順方向降下電圧と上記同等レーザダイオードそれぞれにおける上記基準電圧とのそれぞれの差分電圧におけるばらつきを抑えるよう選定されている
ことを特徴とする請求項１に記載の温度測定装置。
【請求項６】
レーザ光を出射するレーザダイオードに対し所定の測定電流を流したときの順方向降下電圧を測定する電圧測定ステップと、
所定の基準温度において上記レーザダイオードに対し所定の測定電流を供給したときの順方向降下電圧を基準電圧とし、当該基準電圧と上記順方向降下電圧との差分を算出して差分電圧とする差分電圧算出ステップと、
上記レーザダイオードと同等の特性を有する複数の同等レーザダイオードに対し上記基準温度において上記測定電流を供給したときの同等基準電圧を基に上記差分電圧を補正する補正ステップと、
上記複数の同等レーザダイオードに対し上記測定電流を供給したときの上記順方向降下電圧を基に定められた、上記レーザダイオードの温度と上記差分電圧との関係を表す関係式に対して、上記補正ステップにより補正された上記差分電圧を適用することにより、上記レーザダイオードの温度を算出する温度算出ステップと
を具えることを特徴とする温度測定方法。
【請求項７】
光ディスクに照射するための光ビームを出射するレーザダイオードと、
上記レーザダイオードに対し所定の測定電流を流したときの順方向降下電圧を測定する電圧測定手段と、
所定の基準温度において上記レーザダイオードに対し上記測定電流を供給したときの順方向降下電圧を基準電圧とし、当該基準電圧と上記順方向降下電圧との差分を算出して差分電圧とする差分電圧算出手段と、
上記レーザダイオードと同等の特性を有する複数の同等レーザダイオードに対し上記基準温度において上記測定電流を供給したときの同等基準電圧を基に上記差分電圧を補正する補正手段と、
上記複数の同等レーザダイオードに対し上記測定電流を供給したときの上記順方向降下電圧を基に定められた、上記レーザダイオードの温度と上記差分電圧との関係を表す関係式に対して、上記補正手段により補正された上記差分電圧を適用することにより、上記レーザダイオードの温度を算出する温度算出手段と、
上記レーザダイオードの温度に応じて上記光ビームの出射状態を制御する制御手段と
を具えることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、温度測定装置及び温度測定方法並びに光ディスク装置に関し、例えば光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置においては、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc、登録商標）等の種々の方式でなる光ディスクに映像データや音声データ等の種々のデータを記録し、また当該光ディスクからこれらのデータを再生し得るようになされたものが広く普及している。
【０００３】
かかる光ディスク装置では、レーザダイオード（以下ＬＤとも呼ぶ）等の光源から出射された光ビームを光ディスクに照射することにより情報を記録し、またその反射光を検出することにより情報を再生するようになされている。
【０００４】
このレーザダイオードは、光ビーム（レーザ光）の出射に伴い発熱する性質を有しているため、この発熱の影響によりレーザ光の波長や強度等を変化させてしまう可能性があり、さらには過度の発熱によりレーザダイオード自体を破壊してしまう危険性もあった。
【０００５】
そこで図１に示すように、光ディスク装置内の回路基板上おけるレーザダイオード２の近傍に、サーミスタ等でなる温度検出素子３を配置し、当該温度検出素子３によりレーザダイオード２の温度を検出するようになされた光ディスク装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００５−３３９７５７公報（第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述した構成の光ディスク装置では、レーザダイオード２近傍の雰囲気温度や回路基板１を介して伝わった熱を温度検出素子３により検出することになるため、当該レーザダイオード２自体の温度を正確には測定し得ないという問題があった。さらに、温度検出素子３が必要となることから、光ディスク装置の構成が複雑になるという問題もあった。
【０００７】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、簡易な構成によりレーザダイオードの温度を精度良く検出し得る温度測定装置及び温度測定方法並びに光ディスク装置を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
かかる課題を解決するため本発明の温度測定装置及び温度測定方法においては、レーザ光を出射するレーザダイオード対し所定の測定電流を流したときの順方向降下電圧を測定し、所定の基準温度においてレーザダイオードに対し測定電流を供給したときの順方向降下電圧を基準電圧とし、当該基準電圧と順方向降下電圧との差分を算出して差分電圧とし、レーザダイオードと同等の特性を有する複数の同等レーザダイオードに対し基準温度において測定電流を供給したときの同等基準電圧を基に差分電圧を補正し、複数の同等レーザダイオードに対し測定電流を供給したときの順方向降下電圧を基に定められた、レーザダイオードの温度と差分電圧との関係を表す関係式に対して、補正された差分電圧を適用することにより、レーザダイオードの温度を算出するようにした。
【０００９】
これにより、レーザダイオード自身の順方向降下電圧を基に、差分電圧におけるばらつきを抑えるよう補正し、レーザダイオードの温度を精度良く算出することができる。
【００１０】
また本発明の光ディスク装置においては、光ディスクに照射するための光ビームを出射するレーザダイオードと、レーザダイオードに対し所定の測定電流を流したときの順方向降下電圧を測定する電圧測定手段と、所定の基準温度においてレーザダイオードに対し測定電流を供給したときの順方向降下電圧を基準電圧とし、当該基準電圧と順方向降下電圧との差分を算出して差分電圧とする差分電圧算出手段と、レーザダイオードと同等の特性を有する複数の同等レーザダイオードに対し基準温度において測定電流を供給したときの同等基準電圧を基に差分電圧を補正する補正手段と、  複数の同等レーザダイオードに対し測定電流を供給したときの順方向降下電圧を基に定められた、レーザダイオードの温度と差分電圧との関係を表す関係式に対して、補正手段により補正された差分電圧を適用することにより、レーザダイオードの温度を算出する温度算出手段と、レーザダイオードの温度に応じて光ビームの出射状態を制御する制御手段とを設けるようにした。
【００１１】
これにより、レーザダイオード自身の順方向降下電圧を基に、差分電圧におけるばらつきを抑えるよう補正し、レーザダイオードの温度を精度良く算出することができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、レーザダイオード自身の順方向降下電圧を基に、差分電圧におけるばらつきを抑えるよう補正し、レーザダイオードの温度を精度良く算出することができるので、かくして簡易な構成によりレーザダイオードの温度を精度良く検出し得る温度測定装置及び温度測定方法並びに光ディスク装置を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００１４】
（１）光ディスク装置の全体構成
図２において、光ディスク装置１０は、制御部１２を中心に構成されており、ＢＤ方式でなる光ディスク１００に対して情報を記録し、また当該光ディスク１００から当該情報を再生し得るようになされている。
【００１５】
制御部１２は、図示しないＣＰＵ(Central Processing Unit)と、各種プログラムなどが格納されるＲＯＭ(Read Only Memory)と、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ(Random Access Memory)とによって構成されており、光ディスク装置１０を統括制御するようになされている。
【００１６】
すなわち制御部１２は、駆動部１３を介してスピンドルモータ１５を回転駆動させ、ターンテーブル（図示せず）に載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。また制御部１２は、駆動部１３を介してスレッドモータ１６を駆動させることにより、光ディスク１００の径方向とほぼ平行な移動軸に沿って光ピックアップ１７を光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向であるトラッキング方向に大きく移動させる。
【００１７】
さらに制御部１２は、駆動部１３を介して２軸アクチュエータ１８を駆動制御することにより、対物レンズ１９を光ディスク１００に近接又は離隔させるフォーカス方向に移動させ、またトラッキング方向に細かく移動させる。
【００１８】
制御部１２は、信号処理部４を介してレーザダイオード２からレーザ光でなる光ビームを出射させ、光ピックアップ１７内に設けられた種々の光学部品を介して当該光ビームを光ディスク１００へ照射させる。さらに制御部１２は、当該光ビームが光ディスク１００により反射されてなる反射光を検出する。
【００１９】
このとき信号処理部１４は、反射光の検出結果を基に、光ディスク１００に形成されているトラックのうち所望のトラックと対物レンズ１９により集光される光ビームの焦点とのずれ量を表すフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を生成し、これらを駆動部１３へ供給する。
【００２０】
このとき駆動部１３は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を基に２軸アクチュエータ１８をフィードバック制御することにより、光ビームの焦点を所望トラックに合わせ、さらに追従させる。
【００２１】
かくして光ディスク装置１は、光ディスク１００の所望のトラックに対して光ビームを合焦させ、さらに信号処理部１４によりレーザダイオード２から出射する光ビームの強度を適宜制御することにより、当該光ディスク１００からの情報の再生処理及び当該光ディスク１００に対する記録処理を行うようになされている。
【００２２】
（２）レーザダイオードの温度測定
（２−１）順方向降下電圧及び順方向電流の検出
ところで光ディスク装置１は、信号処理部１４によりレーザダイオード２から出射する光ビームの強度を制御することに加え、当該レーザダイオード２に印加される順方向降下電圧Ｖｆ及びこのとき当該レーザダイオード２に流れる順方向電流Ｉｆを検出し得るようになされている。
【００２３】
すなわち図２と対応する部分に同一符号を付して示す図３において、制御部１２内には、温度の測定処理を統括的に制御する測定制御部２１及び不揮発性メモリでなる記憶部２２が設けられており、また信号処理部１４内には、レーザダイオード２を駆動するためのレーザダイオード駆動部２３が設けられている。
【００２４】
測定制御部２１は、制御部１２内の統括制御部（図示せず）から順方向電流Ｉｆの値を調整する指示を受け付けると、当該指示に応じて電流制御命令ＣＩをレーザダイオード駆動部２３の電流制御部２４へ供給する。
【００２５】
電流制御部２４は、電流制御命令ＣＩに基づいた制御信号ＣＳを電流供給回路２５へ供給する。この電流供給回路２５は、トランジスタＱ１、Ｑ２、Ｑ３及びＱ４のエミッタがそれぞれミラー比抵抗Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４を介して所定の電源Ｖｃｃに接続されると共に、トランジスタＱ１のコレクタとトランジスタＱ１、Ｑ２、Ｑ３及びＱ４におけるそれぞれのベースとが接続されることにより、いわゆるカレントミラー回路を形成している。またレーザダイオード１３のアノードはトランジスタＱ４のコレクタに接続されて、当該レーザダイオード１３のカソードは接地されている。
【００２６】
かかる構成により測定制御部２１は、電流制御命令ＣＩを基に電流制御部２４から電流供給回路２５へ供給する制御信号Ｓを調整させることにより、当該電流供給回路２５からレーザダイオード２に対して当該制御信号Ｓに基づいた一定の順方向電流Ｉｆを供給させ、或いは停止させ得るようになされている。
【００２７】
またトランジスタＱ２のコレクタは測定制御部２１に接続されている。このため測定制御部２１は、順方向電流Ｉｆと同等の測定電流Ｉｍを検出することができ、当該測定電流Ｉｍを介して間接的に実際の順方向電流Ｉｆを検出することができる。
【００２８】
さらにトランジスタＱ３のコレクタはオペアンプ２６の正入力端子に接続されると共にトランジスタＱ４のコレクタにも接続されている。オペアンプ２６は、出力端子が負入力端子に接続されることによりボルテージフォロワ回路を形成するとともに、当該出力端子が測定制御部２１にも接続されている。
【００２９】
すなわちレーザダイオード２のアノードは、当該ボルテージフォロワ回路を介して測定制御部２１に接続されている。これにより測定制御部２１は、オペアンプ２６の出力に基づきレーザダイオード２の順方向降下電圧Ｖｆを検出することができる。
【００３０】
このように測定制御部２１は、レーザダイオード駆動部２３を介して、レーザダイオード２に供給する順方向電流Ｉｆを調整すると共に、測定電流Ｉｍを基に実際の順方向電流Ｉｆを間接的に検出し、さらに順方向降下電圧Ｖｆを検出するようになされている。
【００３１】
（２−２）温度測定の原理
ところでレーザダイオードは、一般に、順方向電流Ｉｆに対する順方向降下電圧Ｖｆの特性について、ツェナーダイオードと近似した特性を示すと考えられる。しかしながら、レーザダイオードは、本来の発光素子としての特性については考慮されているものの、他の用途、例えば温度測定については特に着目されてこなかった。このため、レーザダイオードの製造メーカ等からも、温度測定に関するデータシート等は特に開示されていないことが殆どであった。
【００３２】
そこで本発明では、レーザダイオードによりレーザダイオード自身の温度測定を測定することを検討した。具体的には、光ディスク装置１において、レーザダイオード２の順方向電流Ｉｆ及び順方向降下電圧Ｖｆを基に当該レーザダイオード２の温度を算出することを考慮し、種々の測定を行った。
【００３３】
ところで、上述した光ディスク装置１はＢＤ方式の光ディスク１００に対応しており、実際のレーザダイオード２は、波長が約４００［ｎｍ］でなる青色の光ビームを出射するようになされている（以下、このレーザダイオード２を青色レーザダイオード２Ｂと呼ぶ）。
【００３４】
しかしながら、一般にレーザダイオードは、出射する光ビームの波長に応じて、発光素子の構成材料や構造等が異なるため、その波長に応じて特性が変化することも考えられる。
【００３５】
そこで、従来からＣＤ方式等において広く用いられている、波長約７８０［ｎｍ］でなる赤色の光ビームを出射するレーザダイオード２（以下、このレーザダイオード２を赤色レーザダイオード２Ｒと呼ぶ）についても温度測定を検討することとした。
【００３６】
以下、説明の都合上、まず赤色レーザダイオード２Ｒの場合について述べ、次に青色レーザダイオード２Ｂの場合について述べる。また、以下では光ディスク装置１の測定制御部２１、記憶部２２及びレーザダイオード駆動部２３をまとめて温度測定部２０と呼ぶ。
【００３７】
（２−２−１）赤色レーザダイオードの温度測定
まず、赤色レーザダイオード２Ｒについて、図４（Ａ）に示すように１［ｍＳ］の時間で順方向電流Ｉｆを０［ｍＡ］から５０［ｍＡ］まで一定の割合で変化させたとき、すなわち掃引したときにおける順方向降下電圧Ｖｆを測定したところ、図５に示すような測定結果が得られた（以下、これをＶｆ／Ｉｆ特性と呼ぶ）。
【００３８】
図５には、波長７８０［ｎｍ］の赤色レーザ光を出射する赤色レーザダイオード２Ｒのうち、製品及び製造時期（いわゆる製造ロット）が異なる２種類（以下それぞれ赤色レーザダイオード２ＲＡ及び２ＲＢと呼ぶ）について、温度を２５［℃］及び５５［℃］にしたときのそれぞれの測定結果を特性曲線Ｓ１Ａ及びＳ１Ｂとして示している。
【００３９】
この図５から、赤色レーザダイオード２Ｒの製品及び製造ロットにより、Ｖｆ／Ｉｆ特性が異なる傾向を示すことがわかる。さらに、温度が２５［℃］のときの順方向降下電圧Ｖｆに対する５５［℃］のときの順方向降下電圧Ｖｆである差分電圧ΔＶｆをそれぞれ算出したところ、特性曲線Ｄ１Ａ及びＤ１Ｂに示すように、順方向電流Ｉｆがおよそ１０〜５０［ｍＡ］となる範囲において、赤色レーザダイオード２ＲＡ及び２ＲＢの双方とも、当該差分電圧ΔＶｆがほぼ一定の値となることがわかった。
【００４０】
次に、赤色レーザダイオード２ＲＡ及び２ＲＢについて温度を２５［℃］、４５［℃］及び６５［℃］に変化させたときの詳細な順方向降下電圧Ｖｆを測定したところ、Ｖｆ／Ｉｆ特性として、図６に示すような特性曲線Ｓ２Ａ２５、Ｑ２Ａ４５及びＳ２Ａ６５（これらをまとめて特性曲線Ｓ２Ａと呼ぶ）並びに特性曲線Ｓ２Ｂ２５、Ｓ２Ｂ４５及びＳ２Ｂ６５（これらをまとめて特性曲線Ｓ２Ｂと呼ぶ）が得られた。因みに図６では、図４（Ｂ）に示したように２００［μＳ］の時間で順方向電流Ｉｆを０［ｍＡ］から３０［ｍＡ］まで掃引したときの様子を表している。
【００４１】
さらに、図５と同様に、温度が２５［℃］のときの順方向降下電圧Ｖｆに対する４５［℃］及び６５［℃］のときの順方向降下電圧Ｖｆである差分電圧ΔＶｆをそれぞれ算出したところ、特性曲線Ｄ２Ａ４５及びＤ２Ａ６５並びにＤ２Ｂ４５及びＤ２Ｂ６５が得られた。
【００４２】
この特性曲線Ｓ２Ａ２５、Ｓ２Ａ４５及びＳ２Ａ６５並びに特性曲線Ｓ２Ｂ２５、Ｓ２Ｂ４５及びＳ２Ｂ６５から、赤色レーザダイオード２ＲＡについては順方向電流Ｉｆがおよそ２〜３０［ｍＡ］の範囲において、赤色レーザダイオード２ＲＢについては順方向電流Ｉｆがおよそ１０〜３０［ｍＡ］の範囲において、それぞれ差分電圧ΔＶｆがほぼ一定の値となることがわかる。
【００４３】
このように差分電圧ΔＶｆがほぼ一定の値となる範囲があれば、順方向降下電圧Ｖｆ又は差分電圧ΔＶｆと順方向電流Ｉｆとの関係を基に温度を検出できると考えられる。
【００４４】
次に、赤色レーザダイオード２ＲＢにおける個体毎の特性のばらつきを確認するべく、６個の赤色レーザダイオード２ＲＢ１〜２ＲＢ６について順方向降下電圧Ｖｆを測定したところ、図７に示すような測定結果が得られた。
【００４５】
図７は、６個の赤色レーザダイオード２ＲＢ１〜２ＲＢ６の温度を２５［℃］及び５５［℃］にしたときの、順方向降下電圧Ｖｆの測定結果を特性曲線群ＧＳ３Ｂ２５及びＧＳ３Ｂ５５として示している。この特性曲線群ＧＳ３Ｂ２５及びＧＳ３Ｂ５５から、いずれの温度においても、個体ごとにＶｆ／Ｉｆ特性がおよそ１００［ｍＶ］の範囲でばらついていることがわかる。
【００４６】
さらに図５の場合と同様に、赤色レーザダイオード２ＲＢ１〜２ＲＢ６それぞれについての差分電圧ΔＶｆを算出したところ、特性曲線群ＧＤ３Ｂが得られた。
【００４７】
この特性曲線群ＧＤ３Ｂでは、各特性曲線が個体ごとに異なり多少のばらつきを有しているものの、範囲ＳＣ１（図中一点鎖線で示す）においてばらつきが比較的小さくなっていることがわかる。この範囲ＳＣ１における差分電圧ΔＶｆは約９０［ｍＶ］と読み取ることができ、温度変化は５５−２５＝３０［℃］であることから、赤色レーザダイオード２ＲＢにおける温度当たりの差分電圧変化（以下、これを温度変化感度）を３［ｍＶ／℃］と算出することができる。
【００４８】
次に、赤色レーザダイオード２ＲＡ１〜２Ｒ６について、温度変化の範囲を−１０［℃］から６５［℃］までの範囲で１５［℃］ずつ変化させて（すなわち−１０［℃］、５［℃］、２０［℃］、３５［℃］、５０［℃］及び６５［℃］）Ｖｆ／Ｉｆ特性を測定したときの測定結果を図８に示す。図８では、例えば順方向電流Ｉｆが３０［ｍＡ］のときに、特性曲線群ＧＳ４Ａの各特性曲線によるばらつき幅Ｗ１がおよそ１５０［ｍＶ］となっている。
【００４９】
ここで、図８のＶｆ／Ｉｆ特性を基に、基準温度を２０［℃］として、このときの順方向降下電圧Ｖｆ（以下これを基準電圧Ｖｆｓと呼ぶ））と各温度の順方向降下電圧Ｖｆとの差分、すなわち差分電圧ΔＶｆをそれぞれ算出したところ、図９に示すような特性曲線群ＧＤ４Ａ−１０、ＧＤ４Ａ５、ＧＤ４Ａ３５、ＧＤ４Ａ５０及びＧＤ４Ａ６５が得られた。
【００５０】
この図９から、差分電圧ΔＶｆは、温度ごとによくまとまり、順方向電流Ｉｆが約５［ｍＡ］〜３０［ｍＡ］の範囲でほぼ一定の値をとり、さらに温度変化にほぼ比例して変化する傾向にあることがわかる。
【００５１】
ここで、赤色レーザダイオード２ＲＡ１〜２Ｒ６それぞれについて、順方向電流Ｉｆを２０［ｍＡ］に固定したところ、図１０に示すように、温度と順方向降下電圧Ｖｆとの関係を表す特性曲線群ＧＵＡが得られた。
【００５２】
図１０からわかるように、特性曲線群ＧＵＡの各特性曲線は、いずれも比較的良好な直線性を呈しており、それぞれが示す絶対値は互いに異なるものの、いずれもほぼ同様の傾きを示している。ここで、各特性曲線の２０［℃］からの相対的な変化をそれぞれプ製造ロットしたところ、図中黒丸で示すように、殆どばらつくことなくほぼ一直線上に並ぶことも確認できた。
【００５３】
すなわち、赤色レーザダイオード２ＲＡについては、順方向電流Ｉｆを２０［ｍＡ］としたとき、順方向降下電圧Ｖｆの変化に対する温度変化の割合が個体に拘わらずほぼ一定となり、順方向降下電圧Ｖｆの絶対値が個体毎にばらつく、ということが判明した。
【００５４】
このような関係を利用すると、赤色レーザダイオード２ＲＡについて、順方向降下電圧Ｖｆを基に当該赤色レーザダイオード２ＲＡの温度を測定することができると考えられる。
【００５５】
すなわち、例えばある赤色レーザダイオード２ＲＡｎについて、温度測定部２０（図３）において、順方向電流Ｉｆを２０［ｍＡ］としたとき（以下、この順方向電流Ｉｆを測定電流Ｉｍと呼ぶ）の順方向降下電圧Ｖｆの変化に対する温度変化の割合を予め係数ｋとして算出すると共に、基準となる温度（例えば２０［℃］）において測定電流Ｉｍが供給されるときの順方向降下電圧Ｖｆを基準電圧Ｖｒとして測定しておく。
【００５６】
その後、赤色レーザダイオード２ＲＡｎの温度が変化した場合、温度測定部２０において、当該赤色レーザダイオード２ＲＡｎに測定電流Ｉｍを流したときの順方向降下電圧Ｖｆを測定することにより、基準電圧Ｖｒと係数ｋとを用いて、当該赤色レーザダイオード２ＲＡｎの温度を算出することができる。
【００５７】
このように、赤色レーザダイオード２ＲＡｎについては、ΔＶｆ／Ｉｆ特性（図９）が、一定の順方向電流Ｉｆの範囲において温度に比例するようほぼ一定の値をとる傾向を有することを利用し、測定電流Ｉｍを定め、順方向降下電圧Ｖｆの変化に対する温度変化の割合及び所定の基準温度における順方向降下電圧Ｖｆを予め求めておくことにより、測定電流Ｉｍが供給されるときの順方向降下電圧Ｖｆから温度を測定することができる。
【００５８】
因みに、図５及び図６に示したように、赤色レーザダイオード２Ｒであっても製品及び製造ロット等によりＶｆ／Ｉｆ特性やΔＶｆ／Ｉｆ特性等が異なるため、測定電流Ｉｍや係数ｋ等については、製造ロットごとに求める必要があり、さらに基準電圧Ｖｒについては、図１０からわかるように、赤色レーザダイオード２Ｒの個体毎に測定する必要がある。
【００５９】
（２−２−２）青色レーザダイオードの温度測定
次に、波長４００［ｎｍ］の青色レーザ光を出射する青色レーザダイオード２Ｂについて、上述した赤色レーザダイオード２Ｒの場合と同様に、順方向降下電圧Ｖｆから当該青色レーザダイオード２Ｂの温度を測定することを検討する。
【００６０】
まず、青色レーザダイオード２Ｂについて、図８の場合と同様に、温度変化の範囲を−１０［℃］から６５［℃］までの範囲で１５［℃］又は２０［℃］ずつ変化させて（すなわち−１０［℃］、５［℃］、２５［℃］、４５［℃］及び６５［℃］）Ｖｆ／Ｉｆ特性を測定したときの測定結果を図１１に示す。この図１１から、特性曲線群ＧＳ４Ｃの各特性曲線がばらついていることがわかる。
【００６１】
ここで、特性曲線群ＧＳ４Ｃのうち温度が２５［℃］のときの特性曲線を抜き出し、図１２に特性曲線群ＧＳ４Ｃ２５として示す。図１９において、順方向電流Ｉｆが２０［ｍＡ］のときに順方向降下電圧Ｖｆのばらつき幅が約０．２［Ｖ］となっている。
【００６２】
次に、この青色レーザダイオード２Ｂについて、図９の場合と同様に、図１１に示したＶｆ／Ｉｆ特性を基に、基準温度を２５［度］として、このときの順方向降下電圧Ｖｆ（すなわち基準電圧Ｖｆｓ）と各温度における順方向降下電圧Ｖｆとの差分（すなわち差分電圧ΔＶｆ）をそれぞれ算出したところ、図１３に示すような特性曲線群ＧＤ４Ｃ−１０、ＧＤ４Ｃ５、ＧＤ４Ｃ４５及びＧＤ４Ｃ６５が得られた。
【００６３】
この図１３を図９と比較すればわかるように、青色レーザダイオード２Ｂの場合、差分電圧ΔＶｆの値が一定となる区間がなく、順方向電流Ｉｆがおよそ１０〜３０［ｍＡ］の範囲では、当該順方向電流Ｉｆに対して比例関係を有している。
【００６４】
例えば順方向電流Ｉｆが２０［ｍＡ］のとき、基準温度である２５［℃］からの温度差と差分電圧ΔＶｆとの関係（以下、これを温度変化感度と呼ぶ）は、低温側（−１０［℃］及び５［℃］）では約７．５［ｍＶ／℃］、高温側（４５［℃］及び６５［℃］）では約５［ｍＶ／℃］となっている。
【００６５】
また各特性曲線群は、温度ごとにある程度まとまってはいるものの、赤色レーザダイオード２Ｒの場合よりはばらつきが大きくなっている。上述した温度変化感度を用いて、各温度におけるばらつきの幅を差分電圧ΔＶｆから温度に換算すると、低温側で約１２［℃］、高温側で約８［℃］となっている。
【００６６】
すなわち、青色レーザダイオード２Ｂの場合、上述した赤色レーザダイオード２Ｒの場合と同様の手法では、順方向降下電圧Ｖｆから温度を精度良く算出し得ないことが予想される。
【００６７】
ここで、図には示していないが、青色レーザダイオード２Ｂの個体毎に、各温度ごとの特性曲線群における特性曲線の相対位置を調べたところ、低温側で差分電圧ΔＶｆの絶対値が小さい個体の場合、高温側でも差分電圧ΔＶｆの絶対値が小さく、低温側で差分電圧ΔＶｆの絶対値が大きい個体の場合、高温側でも差分電圧ΔＶｆの絶対値が大きいことがわかった。
【００６８】
またこの傾向は、２５℃における特性曲線群ＧＳ４Ｃ２５（図１２）のうち、青色レーザダイオード２Ｂの個体毎の順方向降下電圧Ｖｆにおける大小の傾向とも一致していることがわかった。このことから、順方向降下電圧Ｖｆの値を用いて何らかの補正を行うことにより、ばらつきの幅を圧縮できるものと考えられる。
【００６９】
そこで、基準温度（２５［℃］）における順方向降下電圧Ｖｆ（すなわち基準電圧Ｖｆｓ）と、複数の青色レーザダイオード２Ｂにおける基準電圧Ｖｆｓの平均値である平均電圧Ｖｆａとを用い、次式に示すような補正を行うことにより差分電圧ΔＶｆを補正した補正差分電圧ΔＶｆｒを算出することを検討した。
【００７０】
【数１】
2008269739.tif 000003
【００７１】
因みに（１）式は、基準温度において順方向降下電圧Ｖｆの値が大きくなるに連れて差分電圧ΔＶｆの絶対値も大きくなる傾向にあることを踏まえ、その分母において「基準温度における順方向降下電圧Ｖｆ（基準電圧Ｖｆｓ）を平均電圧Ｖｆａで割り（以下この値を補正係数と呼ぶ）、これをｎ乗する」演算を行うことにより、差分電圧ΔＶｆのばらつきを小さく抑え得るよう考慮されている。
【００７２】
この（１）式において、指数ｎについては、実際に補正差分電圧ΔＶｆｒのばらつきを最も良く抑えるような値に設定することが望ましい。そこで、指数ｎを−１から８までの間で変化させたときの、それぞれの補正差分電圧ΔＶｆｒを算出したところ、図１４に示すような結果が得られた。
【００７３】
ここで特性曲線群ＧＤ５Ｃ−１０、ＧＤ５Ｃ５、ＧＤ５Ｃ４５及びＧＤ５Ｃ６５は、それぞれ温度が−１０［℃］、５［℃］、４５［℃］及び６５［℃］のときにおける補正差分電圧ΔＶｆｒを表している。
【００７４】
この図１４から、各温度においてばらつきを最も良く抑えることができるのは、指数ｎ＝５とした場合であることがわかる。
【００７５】
そこで、（１）式において指数ｎ＝５とした（２）式を用いて、図１３に示した差分電圧ΔＶｆを補正したところ、図１５に示すようなΔＶｆ／Ｉｆ特性が得られた。この図１５では、図１３の場合と比較して、各温度におけるばらつきが抑えられていることがわかる。補正前と同様に、温度変化感度を算出した上で、各温度におけるばらつきの幅を補正差分電圧ΔＶｆｒから温度に換算したところ、低温側で約４［℃］、高温側で約２［℃］となった。
【００７６】
【数２】
2008269739.tif 000004
【００７７】
この補正差分電圧ΔＶｆｒと温度Ｔとの関係を青色レーザダイオード２Ｂの個体毎に表すと、図１６の特性曲線群ＧＵＣ１のようになる。この特性曲線群ＧＵＣ１の平均値を求めて多項式に近似したところ、次の（３）式が得られた。
【００７８】
【数３】
2008269739.tif 000005
【００７９】
この（３）式の関数を、補正差分電圧ΔＶｆｒを横軸とし温度Ｔを縦軸とするように表すと、図１７の特性曲線ＵＣ２を得ることができ、このときの温度Ｔを補正差分電圧ΔＶｆｒの多項式として表すと、次に示す（４）式が得られる。
【００８０】
【数４】
2008269739.tif 000006
【００８１】
ここで、（４）式の有効性を確認するべく検証を行った。ある青色レーザダイオード２Ｂ１について、２５℃における順方向降下電圧Ｖｆ（すなわち基準電圧Ｖｆｓ）は−３．９４４８４［Ｖ］であった。また青色レーザダイオード２Ｂ１と同一製造ロットの青色レーザダイオード２Ｂ２〜２Ｂ１０における基準電圧Ｖｆｓの平均値（すなわち平均電圧Ｖｆａ）は−３．９７９３１［Ｖ］であった。
【００８２】
この青色レーザダイオード２Ｂ１を６５［℃］にしたところ、順方向降下電圧Ｖｆ６５は−３．７６０５６［Ｖ］となった。この基準電圧Ｖｆｓ及び順方向降下電圧Ｖｆ６５から、差分電圧ΔＶｆは、−３．９４４８４−（−３．７６０５６）＝−０．１８４２８［Ｖ］となる。この差分電圧ΔＶｆを（２）式に代入することにより、補正差分電圧ΔＶｆｒは０．１９１０４となる。この補正差分電圧ΔＶｆｒを（４）式に代入したところ、温度Ｔ＝６１．３４［℃］となった。実際の温度が６５［℃］であるので、このときの誤差は−３．５［℃］となる。
【００８３】
これと同様に、１０個の青色レーザダイオード２Ｂ１〜２Ｂ１０について、基準電圧Ｖｆｓをそれぞれ測定しておき、実際の温度を変化させながら順方向降下電圧Ｖｆを測定して、（２）式及び（４）式から温度Ｔを算出した。このときの、実際の温度（以下、これを実温度と呼ぶ）に対する算出した温度Ｔ（以下、これを測定温度Ｔと呼ぶ）の関係をグラフ化したところ、図１８に示すような特性曲線群ＧＥが得られた。
【００８４】
この図１８から、青色レーザダイオード２Ｂ１〜２Ｂ１０の個体毎に多少のばらつきがあるものの、実温度に対する誤差が比較的小さく、各特性曲線Ｅが良好な直線性を示しており、測定温度Ｔを精度良く得られることがわかる。
【００８５】
このように、青色レーザダイオード２Ｂの場合、ΔＶｆ／Ｉｆ特性を表す特性曲線（図１３）のばらつきが大きいため、（２）式に従い平均電圧Ｖｆａ及び指数ｎを用いて差分電圧ΔＶｆを補正し補正差分電圧ΔＶｆｒとすることにより、ΔＶｆ／Ｉｆ特性を表す特性曲線を補正してばらつきを収束させることができ（図１５）、この補正差分電圧ΔＶｆｒを（４）式に代入することにより、精度良く測定温度Ｔを得ることができる。
【００８６】
（３）温度測定部による温度測定
温度測定部２０（図３）は、上述した温度測定の原理に従い、レーザダイオード２の順方向降下電圧Ｖｆを基に測定温度Ｔを得るようになされている。
【００８７】
（３−１）指数及び測定温度計算式の設定
実際上、温度測定部２０は、初期の設定処理として、工場出荷時等に、基準温度（２５［℃］）における基準電圧Ｖｆｓが測定され、指数ｎ、電圧補正式（すなわち（２）式）及び測定温度計算式（すなわち（４）式）と共に記憶部２２に記憶されるようになされている。
【００８８】
なお、事前準備として、温度測定部２０と同等の機能を有すると共に所定の演算処理機能を有する温度測定準備装置（図示せず）等により、レーザダイオード２と同一製造ロットでなる複数のレーザダイオード２について基準温度における順方向降下電圧Ｖｆ（すなわち基準電圧Ｖｆｓ）の平均値（すなわち平均電圧Ｖｆａ）が予め算出される。
【００８９】
また、当該温度測定準備装置により、図１１〜図１４を用いて説明したような手順によって（１）式における最適な指数ｎが予め決定され、さらに図１６及び図１７を用いて説明したような手順によって（４）式における各項の係数も予め決定されている。
【００９０】
実際上、光ディスク装置１０（図２）は、恒温槽内等に設置されることにより、装置全体の温度が２５［℃］となるよう調整される。この状態で温度測定部２０の測定制御部２１は、図示しない指示装置からの指示に基づき、図１９に示す指数及び測定温度計算式の設定処理手順ＲＴ１を開始して、ステップＳＰ１へ移る。
【００９１】
ステップＳＰ１において測定制御部２１は、レーザダイオード駆動部２３を介してレーザダイオード２に測定電流（すなわち順方向電流Ｉｆ＝２０ｍＡ）を供給し、次のステップＳＰ２へ移る。ステップＳＰ２において測定制御部２１は、順方向降下電圧Ｖｆを検出し、次のステップＳＰ３へ移る。
【００９２】
ステップＳＰ３において測定制御部２１は、検出した順方向降下電圧Ｖｆを基準電圧Ｖｆｓとして記憶部２２に記憶させ、次のステップＳＰ４へ移る。ステップＳＰ４において測定制御部２１は、レーザダイオード２に対する測定電流の供給を停止し、次のステップＳＰ５へ移る。
【００９３】
ステップＳＰ５において測定制御部２１は、予め測定された平均電圧Ｖｆａ、指数ｎ、電圧補正式（すなわち（２）式）及び測定温度計算式（すなわち（４）式）を記憶部２２に記憶させ、次のステップＳＰ６へ移って指数及び測定温度計算式の設定処理手順ＲＴ１を終了する。
【００９４】
（３−２）測定温度の算出
その後、温度測定部２０は、例えば光ディスク装置１０（図２）により光ディスク１００に情報を書き込む前などのタイミングにおいて、順方向降下電圧Ｖｆを基に測定温度Ｔを算出する。
【００９５】
すなわち温度測定部２０の測定制御部２１は、統括制御部（図示せず）から温度測定指示を受け付けると、図２０に示す測定温度算出処理手順ＲＴ２を開始し、ステップＳＰ１１へ移る。
【００９６】
ステップＳＰ１１において測定制御部２１は、レーザダイオード駆動部２３を介してレーザダイオード２に測定電流（すなわち順方向電流Ｉｆ＝２０ｍＡ）を供給し、次のステップＳＰ１２へ移る。ステップＳＰ１２において測定制御部２１は、順方向降下電圧Ｖｆを検出し、次のステップＳＰ１３へ移る。
【００９７】
ステップＳＰ１３において測定制御部２１は、レーザダイオード２に対する測定電流の供給を停止し、次のステップＳＰ１４へ移る。ステップＳＰ１４において測定制御部２１は、順方向降下電圧Ｖｆから基準電圧Ｖｆｓを差し引くことにより差分電圧ΔＶｆを算出し、次のステップＳＰ１５へ移る。
【００９８】
ステップＳＰ１５において測定制御部２１は、（２）式に従って差分電圧ΔＶｆを補正することにより補正差分電圧ΔＶｆｒを算出し、次のステップＳＰ１６へ移る。ステップＳＰ１６において測定制御部２１は、（４）式に補正差分電圧ΔＶｆｒを代入することにより測定温度Ｔを算出し、これを統括制御部（図示せず）へ供給した後、次のステップＳＰ１７へ移って測定温度算出処理手順ＲＴ２を終了する。
【００９９】
因みに光ディスク装置１０の制御部１２（図２）は、光ディスク１００に対する情報の記録処理又は当該光ディスク１００からの情報の再生処理を行う際に、測定制御部２１から供給される測定温度Ｔを基に、レーザダイオード２を保護する観点から、当該レーザダイオード２からレーザ光を出射させるか否か、すなわち記録処理又は再生処理を実際に行うか否かを決定するようになされている。
【０１００】
（４）動作及び効果
以上の構成において、光ディスク装置１０の温度測定部２０は、レーザダイオード２と同一製造ロットでなる複数のレーザダイオード２について基準温度における測定電流供給時の基準電圧Ｖｆｓを平均した平均電圧Ｖｆａが予め算出され、さらに（１）式における最適な指数ｎ及び（４）式における各項の係数が予め決定された上で、工場出荷時等に、基準温度（２５［℃］）における基準電圧Ｖｆｓが測定され、指数ｎ、電圧補正式（すなわち（２）式）及び測定温度計算式（すなわち（４）式）と共に記憶部２２に記憶される。
【０１０１】
その後、温度測定部２０は、統括制御部（図示せず）等の指示に基づき、レーザダイオード２に測定電流を供給して順方向降下電圧Ｖｆを検出し、基準電圧Ｖｆｓとの差分である差分電圧ΔＶｆを算出して（２）式により補正差分電圧ΔＶｆｒに補正し、これを（４）式に代入して測定温度Ｔを算出する。
【０１０２】
従って光ディスク装置１０の温度測定部２０は、温度検出素子３（図１）等を別途設けることなく、レーザダイオード２自身の順方向降下電圧Ｖｆを基に測定温度Ｔを算出することができる。
【０１０３】
また温度測定部２０は、レーザダイオード２自身で温度を測定することができるため、レーザダイオード２と温度検出素子３との距離等により温度差が生じ正しい温度を測定し得ないといった問題を生じることなく、精度良く温度を測定することができる。
【０１０４】
また光ディスク装置１０では、光ピックアップ１７（図２）内に温度検出素子３等を別途設ける必要がないことから、当該光ピックアップ１７の構成を簡素化し得ると共に小型化及び軽量化にもつながり、移動時における応答特性の向上を図ることも期待できる。
【０１０５】
このとき温度測定部２０は、図１３に示したように当該レーザダイオード２の個体差によってΔＶｆ／Ｉｆ特性にばらつきがあるために、レーザダイオード２における「ダイオードとして温度と抵抗値との間に線形性がある」という特性を単純には利用しえない場合であっても、（２）式の補正を行うことにより、図１５に示したようにばらつきをある程度抑えることができるので、測定温度Ｔを精度良く得ることができる。
【０１０６】
さらに温度測定部２０は、レーザダイオード２について、その種類及び製造ロット等により各種特性が異なる可能性があるものの同一製造ロット内では比較的近似した各種特性を有することを踏まえ、図１４に示した手法により製造ロットごとに決定された指数ｎ及び製造ロットごとの平均電圧Ｖｆａを用いて（１）式の補正（すなわち（２）式の補正）を行うことにより、差分電圧ΔＶｆを適切に補正することができ、さらに種類及び製造ロットごとに係数が決定された（４）式を用いることにより、測定温度Ｔの精度を一段と向上させることができる。
【０１０７】
このとき温度測定部２０は、（１）式において「基準電圧Ｖｆｓを平均電圧Ｖｆａで割った補正係数をｎ乗した値によって差分電圧ΔＶｆを割る」という補正を行い、このときの指数ｎが図１４に示したように製造ロットごとに実測結果を基に決定されていることにより、当該差分電圧ΔＶｆをロットごとにきめ細かく補正することができる。
【０１０８】
以上の構成によれば、光ディスク装置１０の温度測定部２０は、同一製造ロットでなる複数のレーザダイオード２について基準温度における基準電圧Ｖｆｓを平均した平均電圧Ｖｆａ、（１）式における最適な指数ｎ及び（４）式における各項の係数が予め決定された上で、工場出荷時等に、基準温度（２５［℃］）における基準電圧Ｖｆｓが測定され、指数ｎ、（２）式及び（４）式と共に記憶部２２に記憶された状態で、レーザダイオード２に測定電流を供給して順方向降下電圧Ｖｆを検出し、基準電圧Ｖｆｓとの差分である差分電圧ΔＶｆを算出し（２）式によって補正差分電圧ΔＶｆｒに補正することにより、ΔＶｆ／Ｉｆ特性におけるばらつきを抑えることができるので、補正差分電圧ΔＶｆｒを（４）式に代入することにより、他の温度検出素子を用いることなく測定温度Ｔを精度良く算出することができる。
【０１０９】
（５）他の実施の形態
なお上述した実施の形態においては、（１）式の指数ｎを５とした（２）式を用いて差分電圧ΔＶｆを補正するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、当該指数ｎを２や６等の整数、或いは４．３等の小数としても良く、要は図１４に示した特性曲線群ＧＤ５Ｃ−１０〜ＧＤ５Ｃ６５のばらつきを最も良く抑えるような指数ｎを定めれば良い。
【０１１０】
また指数ｎについては、製品や製造ロットが異なってもほとんど変化が見られないような場合には、当該製造ロットごとに変更せず、製品ごとに変更するようにし、或いは固定的な値を用いるようにしても良い。
【０１１１】
さらに上述した実施の形態においては、２次の多項式でなる（４）式により補正差分電圧ΔＶｆｒから測定温度Ｔを算出するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、１次式や３次以上の多項式、或いは他の関数を用いて補正差分電圧ΔＶｆｒから測定温度Ｔを算出するようにしても良い。具体的には、図１６及び図１７を用いて説明した近似の際にこれらの関数を用いれば良い。
【０１１２】
この（４）式（すなわち測定温度計算式）についても、製品や製造ロットが異なっても係数にほとんど変化が見られないような場合には、当該係数を当該製造ロットごとに変更せず、製品ごとに変更するようにし、或いは固定的な値を用いるようにしても良い。
【０１１３】
さらに上述した実施の形態においては、測定電流を２０［ｍＡ］とするようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、他の値とするようにしても良い。この場合、図１３に示したΔＶｆ／Ｉｆ特性を基に適宜定めれば良い。
【０１１４】
さらに上述した実施の形態においては、波長が約４００［ｎｍ］でなるレーザダイオード２（すなわち青色レーザダイオード２Ｂ）の温度を測定する際に本発明を適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、他の波長でなるレーザダイオード２に本発明を適用するようにしても良い。
【０１１５】
さらに上述した実施の形態においては、測定制御部２１から供給される測定温度Ｔを基に、制御部１２がレーザダイオード２からレーザ光を出射させるか否かを決定するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばレーザダイオード２から出射するレーザ光の光量を制御するようにし、或いは当該測定温度Ｔを所定の表示部に表示してユーザに通知するようにし、さらには当該測定温度Ｔを基に使用可能時間を設定する等、種々の制御を行うようにしても良い。
【０１１６】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１０の光ピックアップ１７内に設けられるレーザダイオード２の温度を測定するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば光通信装置に設けられるレーザダイオードやレーザ光発光装置に設けられるレーザダイオード等、種々の電子機器に用いられるレーザダイオードの温度を測定するようにしても良い。
【０１１７】
さらに上述した実施の形態においては、レーザダイオードとしてのレーザダイオード２と、電圧測定手段としての測定制御部２１及びレーザダイオード駆動部２３と、差分電圧算出手段、補正手段及び温度算出手段としての測定制御部２１とによって温度測定装置としての温度測定部２０を構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の回路構成でなるレーザダイオードと、電圧測定手段と、差分電圧算出手段と、補正手段と、温度算出手段とによって温度測定装置を構成するようにしても良い。
【０１１８】
さらに上述した実施の形態においては、レーザダイオードとしてのレーザダイオード２と、電圧測定手段としての測定制御部２１及びレーザダイオード駆動部２３と、差分電圧算出手段、補正手段及び温度算出手段としての測定制御部２１と、制御手段としての制御部１２とによって光ディスク装置としての光ディスク装置１０を構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の回路構成でなるレーザダイオードと、電圧測定手段と、差分電圧算出手段と、補正手段と、温度算出手段と、制御手段とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。
【産業上の利用可能性】
【０１１９】
本発明は、光ディスクに対して光ビームを照射する光ディスク装置以外にも、レーザダイオードを用いる種々の電子機器でも利用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１２０】
【図１】従来の温度検出方法の説明に供する略線的斜視図である。
【図２】光ディスク装置の全体構成を示す略線的ブロック図である。
【図３】温度測定部の構成を示す略線図である。
【図４】電流の掃引の説明に供する略線図である。
【図５】赤色レーザダイオードにおけるＶｆ／Ｉｆ特性（１）を示す略線図である。
【図６】赤色レーザダイオードにおけるＶｆ／Ｉｆ特性（２）を示す略線図である。
【図７】赤色レーザダイオードにおけるＶｆ／Ｉｆ特性（３）を示す略線図である。
【図８】赤色レーザダイオードにおけるＶｆ／Ｉｆ特性（４）を示す略線図である。
【図９】赤色レーザダイオードにおけるΔＶｆ／Ｉｆ特性を示す略線図である。
【図１０】赤色レーザダイオードにおけるＶｆ／温度特性を示す略線図である。
【図１１】青色レーザダイオードにおけるＶｆ／Ｉｆ特性（１）を示す略線図である。
【図１２】青色レーザダイオードにおけるＶｆ／Ｉｆ特性（２）を示す略線図である。
【図１３】青色レーザダイオードにおけるΔＶｆ／Ｉｆ特性を示す略線図である。
【図１４】指数ｎと補正差分電圧ΔＶｆｒとの関係を示す略線図である。
【図１５】青色レーザダイオードにおける補正後のΔＶｆ／Ｉｆ特性を示す略線図である。
【図１６】温度Ｔと補正差分電圧ΔＶｆｒとの関係を示す略線図である。
【図１７】補正差分電圧ΔＶｆｒと温度Ｔとの関係を示す略線図である。
【図１８】実温度と測定温度Ｔとの関係を示す略線図である。
【図１９】指数及び測定温度計算式の設定処理手順を示すフローチャートである。
【図２０】測定温度算出処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１２１】
２……レーザダイオード、２Ｂ……青色レーザダイオード、２Ｒ……赤色レーザダイオード、１０……光ディスク装置、１２……制御部、１４……信号処理部、１７……光ピックアップ、１９……対物レンズ、２０……温度測定部、２１……測定制御部、２２……記憶部、２３……レーザダイオード駆動部、２４……電流制御部、２５……電流供給回路、Ｉｆ……順方向電流、Ｖｆ……順方向降下電圧、Ｖｆｓ……基準電圧、ΔＶｆ……差分電圧、ΔＶｆｒ……補正差分電圧、ｎ……指数、Ｔ……測定温度。
【図１】
2008269739.tif 000007
【図２】
2008269739.tif 000008
【図３】
2008269739.tif 000009
【図４】
2008269739.tif 000010
【図５】
2008269739.tif 000011
【図６】
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【図７】
2008269739.tif 000013
【図８】
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【図９】
2008269739.tif 000015
【図１０】
2008269739.tif 000016
【図１１】
2008269739.tif 000017
【図１２】
2008269739.tif 000018
【図１３】
2008269739.tif 000019
【図１４】
2008269739.tif 000020
【図１５】
2008269739.tif 000021
【図１６】
2008269739.tif 000022
【図１７】
2008269739.tif 000023
【図１８】
2008269739.tif 000024
【図１９】
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【図２０】
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