(57)【要約】【課題】挿入されているディスクから情報を読み込むことなく、電源オン時から記録再生可能になるまでの時間を短縮するとともに、温度による補正後の調整値の簡単な確認動作を行うことで、温度に対応したより精度の高い自動調整値を使用可能とする。【解決手段】システムコントローラ１０は、ディスク挿入時に当該ディスク１に対して実施した自動調整動作の調整値を、温度センサ１７にて検出した温度とともにＥＥＰＲＯＭ１１に記憶し、ディスク挿入状態で電源オフ後、次の電源オン時に、ＥＥＰＲＯＭ１１に記憶されている調整値と温度とを読み出し、温度センサ１７にて検出した温度に基づいて前記調整値を補正し、自動調整値としてその後の処理に使用する。この場合、補正した調整値の妥当性を確認するための確認動作を行って所定項目の性能測定を実施し、その測定結果が基準を満たす場合にのみ、前記補正した調整値を自動調整値として使用する。【選択図】図１
2008112532.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
装置内に設けられた温度検出手段と、
ディスク挿入時に当該ディスクに対して実施した自動調整動作の調整値を、前記温度検出手段にて検出されたその調整動作時の温度とともに記憶する記憶手段と、
前記ディスク挿入状態で電源オフ後、次の電源オン時に前記記憶手段に記憶されている調整値と温度とを読み出し、前記温度検出手段にて検出された温度に基づいて前記調整値を補正し、自動調整値としてその後の処理に使用する制御手段とを備え、
前記制御手段は、電源オン時に当該装置にディスクが挿入されているか否かを確認し、ディスクが挿入されている場合には次に、前記電源オフ後、次の電源オン時までにディスクがイジェクトされたか否かを確認し、ディスクがイジェクトされていない場合にはさらに、前記電源オン時の検出温度が前記記憶手段に記憶されている温度に対して予め設定されている一定温度以上の温度差があるか否かを確認し、一定温度以上の温度差がある場合には、当該ディスクに対する自動調整動作を再度実施する一方、温度差が前記一定温度以内である場合には、前記補正した調整値の妥当性を確認するための確認動作を行って所定項目の性能測定を実施し、その測定結果が基準を満たす場合にのみ前記補正した調整値を自動調整値として使用する一方、その測定結果が基準を満たさない場合には、当該ディスクに対する自動調整動作を再度実施することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
装置内に設けられた温度検出手段と、
ディスク挿入時に当該ディスクに対して実施した自動調整動作の調整値を、前記温度検出手段にて検出されたその調整動作時の温度とともに記憶する記憶手段と、
前記ディスク挿入状態で電源オフ後、次の電源オン時に前記記憶手段に記憶されている調整値と温度とを読み出し、前記温度検出手段にて検出された温度に基づいて前記調整値を補正し、自動調整値としてその後の処理に使用する制御手段とを備え、
前記制御手段は、前記補正した調整値の妥当性を確認するための確認動作を行って所定項目の性能測定を実施し、その測定結果が基準を満たす場合にのみ前記補正した調整値を自動調整値として使用する一方、その測定結果が基準を満たさない場合には、当該ディスクに対する自動調整動作を再度実施することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御手段は、電源オン時に当該装置にディスクが挿入されているか否かを確認し、ディスクが挿入されている場合にのみ前記確認動作を実施することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御手段は、電源オン時に当該装置にディスクが挿入されているか否かを確認し、ディスクが挿入されている場合にはさらに、前記電源オフ後、次の電源オン時までにディスクがイジェクトされたか否かを確認し、ディスクがイジェクトされていない場合にのみ前記確認動作を実施することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記電源オン時の検出温度が前記記憶手段に記憶されている温度に対して予め設定されている一定温度以上の温度差があるか否かを確認し、温度差が前記一定温度以内である場合には、前記確認動作を実施する一方、前記温度差が前記一定温度以上である場合には、当該ディスクに対する自動調整動作を再度実施することを特徴とする請求項２または請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記測定結果が基準を満たさない場合とは、測定結果が予め設定されている閾値を超えた場合であることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記制御手段は、ディスク挿入時に実施した自動調整動作の調整値に対しても前記確認動作を行ってその測定結果を比較基準値として前記記憶手段に記憶し、
前記測定結果が基準を満たさない場合とは、今回の測定結果と前記比較基準値とを比較し、今回の測定結果が前記比較基準値に対して予め設定されている許容範囲を超えた場合であることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスクに対して実施した自動調整動作の調整値を、温度検出手段にて検出された温度に基づいて補正し、自動調整値としてその後の処理に使用する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、ＯＰＵやＬＳＩなどの組み合わせによってばらつきが生じる。そのため、従来の光ディスク装置では、このばらつきに対し初期調整を行い、不揮発性メモリにその調整結果を記憶している。しかし、挿入されたディスクのばらつきに対する自動調整の調整結果は電源オフ時に消失するため、次の電源オン時に再度自動調整をやり直していた。また、従来の光ディスク装置では、一旦視聴を中止して電源をオフにしても、次回電源オン時に続きから再生できる機能を備えたものがある。しかし、続きから視聴する前に自動調整を行わなければならず、視聴できるまでに時間がかかり、使い勝手の悪いものであった。
【０００３】
そこで、このような問題を解決すべく、ディスク挿入から記録再生可能になるまでの時間を短縮した光ディスク装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
この光ディスク装置は、使用したディスク毎に、夫々のディスクを個別に識別する個別識別情報を記憶するディスク個別識別情報記憶手段と、使用したディスク毎に、夫々のディスクに個別に対応した自動調整情報を記憶する自動調整情報記憶手段と、挿入されたディスクの個別識別情報を検出する個別識別情報検出手段とを備え、挿入されたディスクに対する個別識別情報がディスク個別識別情報記憶手段に格納されている場合には、自動調整情報記憶手段から個別識別情報に対応した自動調整情報を取り出して、記録または再生を行うようになっている。そして、当該装置内の温度を検出する機内温度検出手段をさらに備えており、該機内温度手段の検出値に応じて前記自動調整情報記憶手段の記憶値を補正するようになっている。
【特許文献１】特開２００１−３３２０１０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記特許文献１の光ディスク装置によれば、ディスク挿入から記録再生可能になるまでの時間を短縮できるとともに、機内の温度検出値に応じて記憶値（自動調整値）を補正することで、温度に対応して補正した自動調整値を使用可能としたものである。
【０００６】
しかし、上記特許文献１の光ディスク装置では、この温度補正後の調整値が本当に適正な（使用して不具合の無い）調整値であるか否かの確認（検証）は全く行われていない。そのため、温度補正後の調整値を使用してもディスク再生がうまく行われない可能性があるといった問題があった。
【０００７】
さらに、上記特許文献１の光ディスク装置では、温度による調整値の補正を行う前に、ディスクから個別識別情報を読み込む必要があるため、その読み込み時間がさらに必要となり、記録再生可能になるまでの時間短縮効果が十分に得られないといった問題もあった。
【０００８】
本発明はかかる問題点を解決すべく創案されたもので、その目的は、挿入されているディスクから何ら情報を読み込むことなく、電源オン時から記録再生可能になるまでの時間を短縮するとともに、温度による補正後の調整値の簡単な確認動作を行うことで、温度に対応したより精度の高い自動調整値を使用可能とした光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するため、本発明の光ディスク装置は、装置内に設けられた温度検出手段と、ディスク挿入時に当該ディスクに対して実施した自動調整動作の調整値を、前記温度検出手段にて検出されたその調整動作時の温度とともに記憶する記憶手段と、前記ディスク挿入状態で電源オフ後、次の電源オン時に前記記憶手段に記憶されている調整値と温度とを読み出し、前記温度検出手段にて検出された温度に基づいて前記調整値を補正し、自動調整値としてその後の処理に使用する制御手段とを備え、前記制御手段は、前記補正した調整値の妥当性を確認するための確認動作を行って所定項目の性能測定を実施し、その測定結果が基準を満たす場合にのみ前記補正した調整値を自動調整値として使用する一方、その測定結果が基準を満たさない場合には、当該ディスクに対する自動調整動作を再度実施することを特徴としている。
【００１０】
このように、本発明の光ディスク装置によれば、補正した調整値の妥当性を確認するための簡単な確認動作を行って所定項目の性能測定を実施し、その測定結果が基準を満たす場合にのみ、補正した調整値を自動調整値として使用するので、温度に対応したより精度の高い調整値の使用が可能となる。
【００１１】
ここで、所定項目の性能測定の実施とは、例えば、短距離のシーク動作と、実際にデータを読み込んだときのエラーレートの測定である。シーク動作については、例えは１００ｍｓのシーク動作を１０回繰り返し、そのときのリトライ回数を測定（カウント）する。これにより、シーク動作に要する時間が約１秒、エラーレートの測定が約０．５秒であるので、エラーレートの測定を２回行うと、全体として約２秒であり、これにディスクを回転停止の状態から回転している状態にするまでに約２秒かかるので、全体として約４秒で確認動作を終了することになる。一般に、ディスクに対応した自動調整には約３０〜４０秒かかることを考えると、本発明では、電源オン時から記録再生可能になるまでの時間を大幅に短縮することが可能となる。
【００１２】
一方、その測定結果が基準を満たさない場合には、当該ディスクに対する自動調整動作を再度実施する。これにより、確実に自動調整を行うことができる。
【００１３】
この場合、前記制御手段は、電源オン時に当該装置にディスクが挿入されているか否かを確認し、ディスクが挿入されている場合にのみ前記確認動作を実施するように構成する。これにより、電源オフから電源オンまでの間にディスクが排出されていないことが確認できる。すなわち、電源オフ時に挿入されていたディスクと同じディスクであると判断できるので、記憶手段に記憶している調整値の使用が可能となる。
【００１４】
また、前記制御手段は、電源オン時に当該装置にディスクが挿入されているか否かを確認し、ディスクが挿入されている場合にはさらに、前記電源オフ後、次の電源オン時までにディスクがイジェクトされたか否かを確認し、ディスクがイジェクトされていない場合にのみ前記確認動作を実施するように構成してもよい。電源オン時にディスクが挿入されている状態であっても、電源オン前にイジェクトされている場合には、その時点でディスクが換わっている可能性があるので、イジェクトの有無も確認することで、電源オフ時に挿入されていたディスクと同じディスクであると判断できる。
【００１５】
さらに、前記制御手段は、前記電源オン時の検出温度が前記記憶手段に記憶されている温度に対して予め設定されている一定温度以上の温度差があるか否かを確認し、温度差が前記一定温度以内である場合には、前記確認動作を実施する一方、前記温度差が前記一定温度以上である場合には、当該ディスクに対する自動調整動作を再度実施するように構成してもよい。
【００１６】
すなわち、電源オン時の温度に応じて記憶手段に記憶されている調整値を補正しても、その調整値を記憶手段に記憶したときの温度と、電源オン時の温度との差が一定温度以上の差（例えば、１５度以上の差）であった場合には、温度による補正のみで調整値を正しく補正することは難しい。従って、本発明では、このような場合に再度自動調整動作を実施することで、常に適正な調整値が得られるようになっている。
【００１７】
ここで、前記測定結果が基準を満たさない場合の具体例としては、例えば測定結果が予め設定されている閾値を超えた場合が考えられる。また、前記制御手段は、ディスク挿入時に実施した自動調整動作の調整値に対しても前記確認動作を行ってその測定結果を比較基準値として前記記憶手段に記憶するように構成されている場合には、前記測定結果が基準を満たさない場合の具体例として、今回の測定結果が前記比較基準値に対して予め設定されている許容範囲を超えた場合が考えられる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、補正した調整値の妥当性を確認するための簡単な確認動作を行って所定項目の性能測定を実施し、その測定結果が基準を満たす場合にのみ、補正した調整値を自動調整値として使用するので、温度に対応したより精度の高い調整値の使用が可能となり、かつ、電源オフ後に電源をオンした場合にも短時間でディスクを再生できる状態にすることができる。これにより、視聴を途中で中断したディスクで視聴を再開するときの待ち時間を短くすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００２０】
図１は、本発明の光ディスク装置をＤＶＤレコーダに適用した場合のシステム構成を示している。
【００２１】
挿入されたディスク１にデータを書き込むとともにディスク１からデータを読み込む光ピックアップ３の出力は、ＲＦアンプ５を介してデジタル信号処理回路７に接続されており、デジタル信号処理回路７の出力は、光ピックアップ３によるデータの書き込み時や読み込み時のレーザ出力を制御するレーザドライバ８に接続されている。また、サーボ処理回路９の出力は、光ピックアップ３をディスク１の半径方向に移動させるためのフィードモータ４とディスク１を回転駆動するスピンドルモータ２とに接続されており、これらデジタル信号処理回路７及びサーボ処理回路９は、装置全体の動作制御を行うシステムコントローラ１０と双方向に接続されている。
【００２２】
デジタル信号処理回路７には、記録動作時や再生動作時にデータを一時的に蓄積するバッファとしてのＤＲＡＭ６が双方向に接続されているとともに、デジタルデータをアナログデータに変換してＣＲＴ等の表示装置２１に出力するＤ／Ａ変換回路１２が接続されている。また、デジタル信号処理回路７には、テレビジョン放送信号を受信するチューナ回路１６が接続されている。
【００２３】
システムコントローラ１０には、ディスク１のパラメータやレーザパワーのパラメータ等の各種調整値を格納しておくためのＥＥＰＲＯＭ１１が双方向に接続されているとともに、リモコン送信機１８からの赤外線信号を受信する受信部１４、装置本体前面に設けられたキー入力部１５、及び装置本体内の温度を検出する温度センサ１７がそれぞれ接続されている。温度センサ１７は、好ましくは光ピックアップ３の近傍に配置されている。また、システムコントローラ１０には、装置本体前面に設けられたＬＣＤ等からなる表示パネル１３が接続されている。
【００２４】
デジタル信号処理回路７は、光ピックアップ３によって読み込まれたデータを処理する機能を有しており、ＥＦＭ復調や、ＡＣＩＲＣ（Advanced Cross Interleaved Reed-Solomon Code）による誤り訂正方式に従って、１６ビットの信号を８ビットづつに区切り、その８ビットを１４ビットに変換するといった処理等を行う。また、デジタル信号処理回路７は、復調したオーディオデータを音声伸長処理してＤ／Ａ変換回路１２に出力する。Ｄ／Ａ変換回路１２は、音声伸長処理されたオーディオデータをアナログ信号に変換して出力する。また、デジタル信号処理回路７は、チューナ回路１６によって受信されたデジタルのテレビジョン放送信号を、ディスク１に書き込むためのデータ圧縮等の処理を行う。
【００２５】
システムコントローラ１０は、図示は省略しているがＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等から構成されており、ディスク１の挿入時に当該ディスク１に対する自動調整動作を実施し、その調整値を、温度センサ１７によって検出されたその調整動作時の温度とともにＥＥＰＲＯＭ１１に記憶する処理を実施する。また、システムコントローラ１０は、ディスク１の挿入状態で電源オフ後、次の電源オン時に、ＥＥＰＲＯＭ１１に記憶されている調整値と温度とを読み出し、温度センサ１７によって検出された電源オン時の温度に基づいて前記調整値を補正し、自動調整値としてその後の処理（記録動作や再生動作）に使用する。すなわち、本実施形態では、電源オン後、ディスク１から何ら情報を読み込むことなく、温度補正という簡単な演算処理のみで適正な調整値を取得する点に特徴を有している。この場合、システムコントローラ１０は、補正した調整値の妥当性を確認するための確認動作を行って所定項目の性能測定を実施し、その測定結果が基準を満たす場合にのみ、補正した調整値を自動調整値として使用するようになっている。一方、その測定結果が基準を満たさない場合には、挿入されているディスク１に対する自動調整動作を再度実施する。
【００２６】
次に、システムコントローラ１０で実施さるディスク起動時（電源オン時）の処理について、以下、具体的に実施例を挙げて説明する。
【実施例１】
【００２７】
本実施例１は、ディスク起動時の最も基本的な処理動作である。以下、図２に示すフローチャートを参照して説明する。
【００２８】
例えばリモコン１８の電源ボタン１８ａが操作されて装置の電源がオンされると、システムコントローラ１０は、本装置にディスクが挿入されている状態になっているか否かを確認する（ステップＳ１）。その結果、電源オン時にディスクが挿入されていない場合（ステップＳ１でＮｏと判断された場合）には、ステップＳ１４へと動作を進め、ＥＥＰＲＯＭ１１にすでに退避されている調整値と温度とが記憶されている場合には、その調整値と温度とをクリアして、ディスクの起動処理を終了する。
【００２９】
一方、ディスク１が挿入されている場合（ステップＳ１でＹｅｓと判断された場合）には、そのディスク１は前回の電源オフ時に挿入されていたディスクと同じディスクであると判断できるので、次に、ＥＥＰＲＯＭ１１にすでに調整値と温度とが記憶（退避）されているか否かを確認する（ステップＳ２）。その結果、調整値と温度とが記憶（退避）されていない場合（ステップＳ２でＮｏと判断された場合）には、退避した調整値を使用するストアフラグ（Ｓｔｏｅｒ−Ｆｌａｇ）をＦＡＬＳＥにして（ステップＳ３）、次のステップＳ６に進む。
【００３０】
一方、退避されている調整値と温度とがＥＥＰＲＯＭ１１に記憶されている場合（ステップＳ２でＹｅｓと判断された場合）には、電源オン時の温度センサ１７による検出温度が、ＥＥＰＲＯＭ１１に記憶されている温度に対して予め設定されている一定温度（例えば、１５度）以上の温度差があるか否かを確認する（ステップＳ４）。その結果、温度差が一定温度を超えている場合（ステップＳ４でＹｅｓと判断された場合）には、退避した調整値を使用するストアフラグ（Ｓｔｏｅｒ−Ｆｌａｇ）をＦＡＬＳＥにして（ステップＳ３）、次のステップＳ６に進む。
【００３１】
一方、温度差が一定温度以内である場合（ステップＳ４でＮｏと判断された場合）には、退避した調整値を使用するストアフラグ（Ｓｔｏｅｒ−Ｆｌａｇ）をＴＲＵＥにして（ステップＳ５）、次のステップＳ６に進む。
【００３２】
次に、システムコントローラ１０は、ステップＳ６において実行する調整項目の一つをセットして、調整処理を実施し（ステップＳ７）、次の調整項目がある場合（ステップＳ８でＹｅｓと判断された場合）にはステップＳ６に戻り、次の調整項目をセットして、調整処理を実施する（ステップＳ７）。調整項目としては、大別するとデータ信号系の振幅調整と、サーボ信号系の振幅調整とがあり、これ以外にもフォーカスバランスやチルトの角度調整などがある。
【００３３】
ここで、ステップＳ７の調整処理について、図３に示すフローチャートを参照して説明する。
【００３４】
調整処理を開始すると、システムコントローラ１０は、ストアフラグの状態を確認する（ステップＳ７−１）。その結果、ストアフラグがＦＡＬＳＥに設定されている場合（ステップＳ７−１でＮｏと判断された場合）には、選択された調整項目について自動調整を実施し（ステップＳ７−２）、その調整結果を、この後の再生動作や記録動作での制御値として内部に設定し（ステップＳ７−４）、処理を終了する。
【００３５】
一方、ストアフラグの状態がＴＲＵＥに設定されている場合（ステップＳ７−１でＹｅｓと判断された場合）には、ＥＥＰＲＯＭ１１に記憶されている調整値と温度とを読み出し、温度センサ１７で検出した温度との温度差に基づき、テーブルを用いて調整値を補正する（ステップＳ７−３）。そして、補正した調整値を、この後の再生動作や記録動作での制御値として内部に設定し（ステップＳ７−４）、処理を終了する。すなわち、ストアフラグの状態がＴＲＵＥに設定されている場合には、自動調整を実施せず、ＥＥＰＲＯＭ１１に記憶されている前回の調整値に温度による補正を行うといった簡単な演算処理のみを行うので、極めて短時間に処理を終了することが可能となる。ここで、使用するテーブルは、図示は省略しているが、実際に温度と調整値との関係を測定しておき、これをテーブル化したものを使用する。
【００３６】
図２のフロー図に戻って、システムコントローラ１０は、このようなステップＳ６及びステップＳ７の処理を、全ての調整項目について繰り返し実施すると（ステップＳ８でＮｏと判断されると）、次に、ストアフラグの状態を確認する（ステップＳ９）。
【００３７】
その結果、ストアフラグがＦＡＬＳＥに設定されている場合（ステップＳ９でＮｏと判断された場合）には、ＥＥＰＲＯＭ１１に前回の調整値が記憶されていない、または記憶されている前回の調整値が使えないため、今回、ステップＳ７で実施した自動調整処理の結果である調整値を、温度センサ１７により検出した温度とともにＥＥＰＲＯＭ１１に記憶（退避）する（ステップＳ１０）。この場合、ＥＥＰＲＯＭ１１に前回の調整値と温度とが記憶されている場合には、これらの値を消去して、今回の調整値と温度とを記憶する。
【００３８】
一方、ストアフラグがＴＲＵＥに設定されている場合（ステップＳ９でＹｅｓと判断された場合）には、ステップＳ７−３において温度による調整値の補正を行っているので、補正した調整値の妥当性を確認するための確認動作を行う。すなわち、所定項目の性能測定を実施する（ステップＳ１１）。
【００３９】
ここで、ステップＳ１１の確認動作処理である所定項目の性能測定処理について、図４に示すフローチャートを参照して説明する。
【００４０】
確認動作を開始すると、システムコントローラ１０は、まず、短距離のシーク動作（ここでは、１００ｍｓのシーク動作）を１０回繰り返し、そのときのリトライ回数を測定する（ステップＳ１１−１）。次に、ディスク１から実際のデータの読み出しを行い、そのときのエラーレートを測定する（ステップＳ１１−２）。エラーレートの測定は２回行う。
【００４１】
これにより、シーク動作に要する時間が約１秒、エラーレートの測定が約０．５秒であるので、エラーレートの測定を２回行うと、全体として約２秒である。これに、ディスク１を回転停止の状態から回転している状態にするまでに約２秒かかるので、確認動作に要する時間は、全体で約４秒である。一般に、ディスクに対応した自動調整には約３０〜４０秒かかることを考えると、確認動作の４秒は非常に短い時間と言える。
【００４２】
図２のフロー図に戻って、システムコントローラ１０は、このようなステップＳ１１の確認動作を行うと、次に、その確認動作による測定結果が基準を満たすか否かを確認する（ステップＳ１２）。ここで、基準とは、本実施例１では、トリライ回数とエラーレートにそれぞれ閾値を設けておき、リトライ回数かエラーレートのいずれか一方が閾値を超えた場合に基準を満たさないと判定する。リトライ回数の閾値としては、１０回のシーク動作に対して例えば１回か２回程度に設定する。また、ラエーレートについては、例えば０．５〜１％程度に設定する。
【００４３】
その結果、基準を満たす場合（ステップＳ１２でＮｏと判断された場合）には、ディスク起動処理を終了する。すなわち、システムコントローラ１０には、ステップＳ７−３で補正した各項目の調整値が設定されていることになる。
【００４４】
一方、測定結果が基準を満たさない場合（ステップＳ１２でＹｅｓと判断された場合）には、システムコントローラ１０は、退避した調整値を使用するストアフラグ（Ｓｔｏｅｒ−Ｆｌａｇ）をＦＡＬＳＥにして（ステップＳ１３）、ステップＳ６に戻る。すなわち、この場合には、ステップＳ７での処理が、図３に示すフロー図のステップＳ７−１、ステップＳ７−２、ステップＳ７−４の処理となる。すなわち、挿入されているディスク１に対する自動調整動作を再度実施することになる。
【実施例２】
【００４５】
上記したように、本実施形態では、電源オン後、ディスク１から何ら情報を読み込むことなく、温度補正という簡単な演算処理のみで、挿入されているディスク１の適正な調整値を取得する点に特徴を有している。そのためには、電源オフ時に挿入されていたディスクと、次の電源オン時に挿入されているディスクとが同じディスクであることが重要である。本実施例２は、この点に着目し、ディスクの同一性の確認をより重視した実施例である。以下、図５に示すフローチャートを参照して本実施例２の処理動作を説明するが、本実施例２の処理動作は、上記実施例１の処理動作に一つの判断手順を追加しただけであるので、本実施例２では、この部分のみ説明する。
【００４６】
例えばリモコン１８の電源ボタン１８ａが操作されて装置の電源がオンされると、システムコントローラ１０は、本装置にディスクが挿入されている状態になっているか否かを確認する（ステップＳ１）。その結果、電源オン時にディスクが挿入されていない場合（ステップＳ１でＮｏと判断された場合）には、ステップＳ１４へと処理を進め、ＥＥＰＲＯＭ１１にすでに退避されている調整値と温度とが記憶されている場合には、その調整値と温度とをクリアして、ディスクの起動処理を終了する。
【００４７】
一方、ディスク１が挿入されている場合（ステップＳ１でＹｅｓと判断された場合）には、次に、電源オフ後、次の電源オン時までにディスクがイジェクトされたか否かを確認する（ステップＳ１−１）。その結果、ディスク１が挿入されていても、電源オン前にディスクがイジェクトされていた場合（ステップＳ１−１でＹｅｓと判断された場合）には、その時点でディスクが入れ替わっている可能性があるので、この場合にはステップＳ３へと処理を進め、退避した調整値を使用するストアフラグ（Ｓｔｏｅｒ−Ｆｌａｇ）をＦＡＬＳＥに設定し、ステップＳ６以降の処理へと移行していく。
【００４８】
一方、電源オン前にディスク１がイジェクトされていない場合（ステップＳ１−１でＮｏと判断された場合）には、そのディスク１は前回の電源オフ時に挿入されていたディスクと同じディスクであると判断できるので、次のステップＳ２へと処理を進め、ＥＥＰＲＯＭ１１にすでに調整値と温度とが記憶（退避）されているか否かを確認して、ステップＳ３以降の処理へと移行していく。
【実施例３】
【００４９】
上記実施例１では、ステップＳ１２での測定結果が基準を満たすか否かの確認を、測定したトリライ回数及びエラーレートをそれぞれに設定した閾値と比較することで行っているが、本実施例３では、この確認を前回の測定結果との比較によって行っている。以下、図６に示すフローチャートを参照して本実施例３の処理動作を説明するが、上記実施例１または上記実施例２のステップＳ１からステップＳ８までの処理は、本実施例３においても同様であるので、ここでは、上記実施例１または上記実施例２のステップＳ８以降の処理について説明する。ただし、必要に応じて、ステップＳ１〜ステップＳ８の処理を適宜参照する。
【００５０】
システムコントローラ１０は、ステップＳ６及びステップＳ７の処理を、全ての調整項目について繰り返し実施すると、ステップＳ８からステップＳ２１へと処理を進め、ステップＳ２１においてストアフラグの状態を確認する。
【００５１】
その結果、ストアフラグがＦＡＬＳＥに設定されている場合（ステップＳ２１でＮｏと判断された場合）には、ＥＥＰＲＯＭ１１に前回の調整値が記憶されていないため、今回、ステップＳ７で実施した自動調整処理の結果である調整値を、温度センサ１７により検出した温度とともにＥＥＰＲＯＭ１１に記憶（退避）して（ステップＳ２２）、ステップＳ２３に進む。
【００５２】
ステップＳ２３では、ステップＳ２２で記憶した調整値の妥当性を確認するための確認動作を行う。すなわち、所定項目の性能測定を実施する。このステップＳ２３の処理は、図４に示したステップＳ１１−１〜ステップＳ１１−２の処理と同じである。そして、確認動作の結果であるシーク動作のリトライ回数とエラーレートとを、前記調整値及び温度とともに、ＥＥＰＲＯＭ１１に記憶して（ステップＳ２４）、ディスク起動時の処理を終了する。
【００５３】
一方、ステップＳ２１において、ストアフラグがＴＲＵＥに設定されている場合（ステップＳ２１でＹｅｓと判断された場合）には、ステップＳ７−３において温度による調整値の補正を行っているので、補正した調整値の妥当性を確認するための確認動作を行う。すなわち、所定項目の性能測定を実施する（ステップＳ２５）。このステップＳ２３の処理は、図４に示したステップＳ１１−１〜ステップＳ１１−２の処理と同じである。そして、確認動作の結果であるシーク動作のリトライ回数とエラーレートとを測定すると、次に、その測定結果が基準を満たすか否かを確認する（ステップＳ２６）。
【００５４】
ここで、基準を満たすか否かの確認は、今回測定したリトライ回数及びエラーレートと、ＥＥＰＲＯＭ１１に記憶されている（ステップＳ２４で処理した）、前回測定したリトライ回数及びエラーレートとをそれぞれ比較することで行う。そして、今回測定したリトライ回数及びエラーレートの両方が、前回測定したリトライ回数及びエラーレートから一定割合の増加（例えば、１割程度の増加）に留まっている場合には、基準を満たすと判断する。一方、今回測定したリトライ回数及びエラーレートのいずれか一方が、前回測定したリトライ回数及びエラーレートから一定割合以上増加している場合には、基準を満たさないと判断する。
【００５５】
その結果、基準を満たす場合（ステップＳ２６でＯＫと判断された場合）には、ディスク起動処理を終了する。すなわち、システムコントローラ１０には、ステップＳ７−３で補正した各項目の調整値が設定されていることになる。一方、基準を満たさない場合（ステップＳ２６でＮＧと判断された場合）には、退避した調整値を使用するストアフラグ（Ｓｔｏｅｒ−Ｆｌａｇ）をＦＡＬＳＥにして（ステップＳ２７）、ステップＳ６に戻る。すなわち、この場合には、ステップＳ７での処理が、図３に示すフロー図のステップＳ７−１、ステップＳ７−２、ステップＳ７−４の処理となる。すなわち、挿入されているディスク１に対する自動調整動作を再度実施することになる。そして、この場合には、ステップＳ２１からステップＳ２４の処理を実施して、調整値のＥＥＰＲＯＭ１１への記憶、及び確認動作後のシーク動作のリトライ回数及びエラーレートの測定値のＥＥＰＲＯＭへの記憶を行うことになる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の光ディスク装置をＤＶＤレコーダに適用した場合のシステム構成図である。
【図２】システムコントローラによる実施例１の処理動作を示すフローチャートである。
【図３】図２のステップＳ７の調整処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】図２のステップＳ１１の確認動作の流れを示すフローチャートである。
【図５】システムコントローラによる実施例２の処理動作を示すフローチャートである。
【図６】システムコントローラによる実施例３の処理動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５７】
１  ディスク
２  スピンドルモータ
３  光ピックアップ
４  フィードモータ
５  ＲＦアンプ
６  ＤＲＡＭ（メモリバッファ）
７  デジタル信号処理回路
８  レーザドライバ
９  サーボ処理回路
１０  システムコントローラ
１１  ＥＥＰＲＯＭ（メモリ）
１２  Ｄ／Ａ変換回路
１３  表示パネル
１４  受信部
１５  キー入力部
１６  チューナ回路
１７  温度センサ
１８  リモコン送信機
２１  表示装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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