(57)【要約】【課題】本発明は、電解コンデンサの半ショート状態のものをリフロー前に高速で合否の判断をする検査装置を提供することを目的とする。【解決手段】異なった定電流を出力するための切り替えスイッチ４を有した定電流電源部５と、この定電流電源部５の電流をコンデンサに通電するための接続端子７，８と、接続端子７，８を短絡または開放するスイッチング素子よりなる短絡スイッチ９と、上記接続端子７の電圧を測定する電圧回路１０と、これらを制御するシーケンサ１６等の制御部１９を含む構成からなり、上記接続端子７，８に測定するコンデンサ６を接続し、そのコンデンサ容量に応じてスイッチ４を選択して定電流電源部５から電流Ｉを流してコンデンサを充電し、電圧の上昇または電圧上昇時間によりショートの合否判定を行なう検査装置とするものである。【選択図】図１
2008305891.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンデンサに電流を流してコンデンサのショートの合否または容量を検査するコンデンサの検査装置であって、上記検査装置が異なった定電流を出力するための切り替えスイッチを有した定電流電源部と、この定電流電源部の電流を測定するコンデンサに通電するための接続端子と、接続端子を短絡または開放するスイッチング素子よりなる短絡スイッチと、上記接続端子の電圧を測定する電圧回路と、これらを制御するシーケンサ等の制御部を含む構成からなり、上記接続端子に測定するコンデンサを接続し、そのコンデンサ容量に応じてスイッチを選択して定電流電源部から電流Ｉを流してコンデンサを充電し、その電圧の上昇または電圧上昇時間によりショートの合否判定または容量検査を行なうことを特徴とするコンデンサの検査装置。
【請求項２】
電圧回路が判定用電圧源と、コンパレータとからなり、接続端子の電圧と判定用電圧源の電圧を比較するようにした請求項１に記載のコンデンサの検査装置。
【請求項３】
電圧回路がＡ／Ｄコンバータからなる請求項１に記載のコンデンサの検査装置。
【請求項４】
コンデンサに電流を流してコンデンサのショートの合否または容量を検査するコンデンサの検査装置であって、上記検査装置が異なった定電流を出力するための切り替えスイッチを有した定電流電源部と、この定電流電源部の電流を測定するコンデンサに通電するための接続端子と、接続端子を短絡または開放するスイッチング素子よりなる短絡スイッチと、上記接続端子の電圧を測定する電圧回路と、これらを制御するシーケンサ等の制御部を含む構成からなり、上記接続端子に測定するコンデンサを接続し、そのコンデンサ容量に応じてスイッチを選択して定電流電源部から電流Ｉを流してコンデンサを充電し、そのＴ時間後に電流Ｉよりも小さい電流IIを流してさらに充電し、そのＴ時間以降の電圧変動によりショートの合否判定または容量検査を行なうことを特徴とするコンデンサの検査装置。
【請求項５】
電圧回路が判定用電圧源と、コンパレータとからなり、接続端子の電圧と判定用電圧源の電圧を比較するようにした請求項４に記載のコンデンサの検査装置。
【請求項６】
電圧回路がＡ／Ｄコンバータからなる請求項４に記載のコンデンサの検査装置。
【請求項７】
定電流電源部の電流が０．１〜３０ｍＡ間で電流の異なった複数の定電流源を用いたことを特徴とする請求項１〜６のいずれか１に記載のコンデンサの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種電子機器に使用される電解コンデンサのショート検査や容量検査に用いる検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図８は、従来の電解コンデンサの抵抗検査判別装置の一部を表した回路図であり、抵抗３１と測定する電解コンデンサ３２を直列に接続し、コンパレータ３３でこれらの分圧抵抗が設定電圧３４に対し高くなれば良品、低くなれば不良品と判別していた。
【０００３】
また、従来の電解コンデンサのショート検出として利用できる可能性のあるものとして、特許文献１には電解コンデンサの検査の前に高温雰囲気中で端子をショート状態にして放置し、この後に特性検査を行なう方法が記載されている。
【０００４】
これらの検査方法で良品となった電解コンデンサは、充電しても正常に充電することができ、良品として扱われている。
【特許文献１】特開平１１−１１１５８０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
近年、環境負荷物質の低減に伴い鉛フリー化が推進されている。電子機器のハンダ付けでも、鉛フリーが主体となりつつありハンダ付け性改善のためリフロー炉の温度を高く設定しなければならない。そのため、電子機器に使用される電解コンデンサにおいては、ハンダ付け時の温度による内部圧力上昇が大きくなり、コンデンサ素子へのストレスが多く加わり、一度特性検査で良品となったものがショートではないが端子間の抵抗が低くなるという半ショート状態のものが増えている。
【０００６】
この半ショート状態の電解コンデンサについて、電流をフリーにして電圧を徐々に上昇した場合の電圧と電流の関係をグラフ化してみると、図９に示すように、電圧を印加した直後に電流のピーク３５が発生し、印加電圧が高くなると電流値が低く抑えられて復帰していることがわかり、電流のピーク３５は大体４０〜１２０ｍＡの範囲３６であり、この電流のピーク３５が電解コンデンサの半ショート状態にあったものと推定することができる。
【０００７】
上記図８のような抵抗検査判別装置において、例えば、２５００μＦの電解コンデンサを飽和させるためには、４τ＝４×０．００２５×２０＝０．２（秒）、１Ｖの電圧で、２０Ωの抵抗３１を使用した場合、図１０（ａ）に示すように最大５０ｍＡの電流が流れることになる。この値は、上記半ショート状態が復帰する電流４０ｍＡ以上となるため、半ショート状態であったものが良品として次工程に流れ、リフロー時に半ショート状態となる可能性が高いという課題を有している。
【０００８】
また、１ｋΩの抵抗３１を判別したい場合、図１０（ｂ）のように１Ｖで分圧した飽和電圧が約０．９８Ｖとなるが、５００Ωの判別電圧が０．９６Ｖ、２ｋΩの判別電圧が０．９９Ｖと極めて近いためショート抵抗の検出精度が極めて悪くなる。
【０００９】
そこで、精度を上げるため充電抵抗を１００Ωに大きくした場合５００Ωと１ｋΩと２ｋΩの判別電圧は、０．８３Ｖと０．９１Ｖと９．５Ｖと判別電圧の差が広がり判別しやすくなるため精度は向上するが、電解コンデンサの電圧飽和時間が、０．４ｓｅｃと４倍になるため検査時間が多くかかるためオンライン化は困難となる。
【００１０】
また、特許文献１では、半ショート状態は再現しやすくなるが、一部の電解コンデンサの半ショートを復帰させてしまう可能性が高くなるという課題を有している。
【００１１】
本発明は、このような従来の課題を解決し、電解コンデンサの半ショート状態のものをリフロー前に高速でショート検査または容量検査を行ない合否の判断をすることができる検査装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するために本発明は、コンデンサに電流を流してコンデンサのショートの合否または容量を検査するコンデンサの検査装置であって、上記検査装置が異なった定電流を出力するための切り替えスイッチを有した定電流電源部と、この定電流電源部の電流を測定するコンデンサに通電するための接続端子と、接続端子を短絡または開放するスイッチング素子よりなる短絡スイッチと、上記接続端子の電圧を測定する電圧回路と、これらを制御するシーケンサ等の制御部を含む構成からなり、上記接続端子に測定するコンデンサを接続し、そのコンデンサ容量に応じてスイッチを選択して定電流電源部から電流Ｉを流してコンデンサを充電し、その電圧の上昇または電圧上昇時間によりショートの合否判定または容量検査を行なうことを特徴とするコンデンサの検査装置とするものである。
【００１３】
また、上記接続端子に測定するコンデンサを接続し、そのコンデンサ容量に応じてスイッチを選択して定電流電源部から電流Ｉを流してコンデンサを充電し、Ｔ時間後に電流Ｉよりも小さい電流IIを流してさらに充電し、そのＴ時間以降の電圧変動によりショートの合否判定または容量検査を行なうことを特徴とするコンデンサの検査装置とするものである。
【発明の効果】
【００１４】
以上のように本発明によれば、コンデンサの容量に応じて定電流電源部からスイッチを選択して半ショート状態を維持できるレベルの電流Ｉを流して充電し、電圧の上昇または電圧上昇時間によりショートの合否判定または容量検査を行なうことにより、合否の判別を容易に行なうことができる。
【００１５】
また、Ｔ時間後に電流Ｉよりも小さい電流IIを流してさらに充電することにより、そのＴ時間以降において良品であれば、その電流IIに応じた電圧の上昇が見られ、不良品であれば電流IIを流しても電圧が上昇せず、合否の判別を容易に行なうことができる。
【００１６】
また、半ショート状態を維持できるレベルの定電流Ｉで電解コンデンサを急速充電し、半ショート状態の検査は微小電流IIで測定することにより、判定抵抗Ｒを大きくしてもＩ２を小さくすることにより判定電圧Ｖ２（＝Ｉ２Ｒ）を小さくできるため、充電電圧Ｖ２＋αが低くなり充電時間を短縮することができ、高速化を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
（実施の形態１）
以下、本実施の形態１について、本発明の特に請求項１及び２に記載の発明について詳細に説明する。
【００１８】
図１は、本発明の実施の形態１によるコンデンサの検査装置の回路構成図である。図２は図１のタイミングチャートであり、図２（ａ）は、検査出力１５の波形を示し、図２（ｂ）（ｃ）は、端子電圧７の電圧波形を示す。
【００１９】
図１に示す検査装置は、異なった定電流を出力するための切り替えスイッチ４を有した定電流電源部５と、この定電流電源部５の電流をコンデンサに通電するための接続端子７，８と、接続端子７，８を短絡または開放するスイッチング素子よりなる短絡スイッチ９と、上記接続端子７の電圧を測定する電圧回路１０と、これらを制御するシーケンサ１６等の制御部１９を含む構成からなる。
【００２０】
そして、上記接続端子７，８に接続されたコンデンサ６の容量に応じて定電流電源部５から切り替えスイッチ４で定電流源１を選択して充電し、Ｔ時間後に定電流源１よりも小さい定電流源２を選択してさらに充電する。
【００２１】
上記定電流電源部５において、定電流源１は３０ｍＡ、定電流源２は１ｍＡ、定電流源３は０．１ｍＡの電流がそれぞれ流れるようにしている。この各定電流源の電流は測定されるコンデンサ容量に応じて設定するものである。
【００２２】
上記図１の動作について図２を用いて説明する。まず、キー入力１７によりコンデンサ容量を入力すると表示１８に入力内容が表示され、間違いなければキー入力１７からスタートを入れる。シーケンサ１６から図２（ａ）に示す電圧波形の検査出力１５により測定するコンデンサ６と並列に接続した短絡スイッチ９をオープンにすると同時に、測定するコンデンサ６の容量値に応じて、シーケンサ１６からの切り替え出力１４により切り替えスイッチ４から定電流源１（３０ｍＡ）または定電流源２（１ｍＡ）を選択して充電する。
【００２３】
図２（ｂ）（ｃ）は、接続端子７の電圧波形を示すが、図２（ｂ）の規定時間Ｔを充電すると、図１の切り替え出力１４により切り替えスイッチ４を上記充電した電流よりも小さい定電流源３（０．１ｍＡ）に切り替える。そして、ｔ（ｍｓ）後に電圧を測定する電圧回路１０（図１では判定用電圧源１１とコンパレータ１２）により、測定した接続端子７の電圧と判定用電圧源１１の電圧とを比較する。
【００２４】
図２（ｂ）に示すように判定用電圧源の電圧２０よりも測定した電圧２１が高ければ合格、図２（ｃ）に示すように判定した電圧２２が低ければ不合格の判定をする。
【００２５】
合否の結果は、図１の合否入力信号１３によりシーケンサ１６に入力され、不良品のイジェクトや表示１８の不良カウント表示アップ等の処理が施される。
【００２６】
なお、各定電流源の切り替え時間Ｔは、Ｖ２を判定電圧、Ｉ１を充電の定電流、Ｉ２を最小の定電流、Ｒを判定抵抗、Ｃをコンデンサ容量とすると、以下の（数１）より求められる。
【００２７】
【数１】
2008305891.tif 000003
【００２８】
上記（数１）によると、コンデンサ容量ＣによりＴの時間が異なるため、キー入力１７による容量値でシーケンサ１６により各定電流源の切り替え時間Ｔの時間を変更する必要がある。
【００２９】
ここで、Ｃ＝２５００μＦ、Ｉ１＝３０ｍＡ、Ｉ２＝０．１ｍＡ、判定抵抗Ｒ＝１０００Ωとして、充電時間を計算してみると、
【００３０】
【数２】
2008305891.tif 000004
【００３１】
【数３】
2008305891.tif 000005
【００３２】
この（数２）（数３）より、＋αを含めて約９ｍｓｅｃの充電時間で良いことがわかる。
【００３３】
このように、本実施の形態１によるコンデンサの検査装置は、３０ｍＡの低い電流で充電するので、半ショート状態のコンデンサは電圧が上がらなくなり、不良品と判別することができ、短い充電時間で検査することができる。
【００３４】
（実施の形態２）
以下、実施の形態２を用いて、本発明の特に請求項３に記載の発明について図３により詳細に説明する。
【００３５】
上記実施の形態１において、電圧を測定する電圧回路１０を構成するコンパレータ１２をＡ／Ｄコンバータ２３に置き換えたものである。その検査装置の回路構成図を図３に示す。なお、Ａ／Ｄコンバータ２３以外は同一なので同一符号を付与している。また、その詳細な説明は異なる部分についてのみ説明する。
【００３６】
図３において、ｔ（ｍｓ）後の電圧はＡ／Ｄコンバータ２３により、シーケンサ１６の合否入力に入力される。一方予めコンデンサ容量と電流値からＴ時間後の充電したときの計算電圧値データＴ＝ＣＶ２／Ｉを求め、図３の接続端子７，８に接続されたコンデンサ６の容量に応じて定電流電源部５から切り替えスイッチ４で定電流源１（３０ｍＡ）を選択して充電し、Ｔ時間後に定電流源１（３０ｍＡ）よりも小さい定電流源２（１ｍＡ）を選択してさらに充電する。そして、ｔ時間後に判定電圧Ｖ２≦Ｖであれば合格、それ未満の電圧は不合格の判定をする。
【００３７】
このように、本実施の形態２によるコンデンサの検査装置の電圧回路１０をＡ／Ｄコンバータ２３で構成することによって、半ショート状態のコンデンサは判定電圧Ｖ２まで電圧が上がらなくなり、不良品と判別することができ、短い充電時間で検査することができる。また、Ａ／Ｄコンバータ２３のデータをシーケンサ１６で演算分析することにより、抵抗のレベルのバラツキを把握できる効果を有する。
【００３８】
（実施の形態３）
以下、本実施の形態３について、本発明の特に請求項４及び５に記載の発明について詳細に説明する。
【００３９】
本実施の形態３の検査装置の回路構成は上記実施の形態１の検査装置の回路構成（図１）と同じであるので、上記実施の形態１と異なる検査方法について説明する。
【００４０】
上記図１の動作について図４を用いて説明する。まず、キー入力１７によりコンデンサ容量を入力すると表示１８に入力内容が表示され、間違いなければキー入力１７からスタートを入れる。シーケンサ１６から図４（ａ）に示す電圧波形の検査出力１５により測定するコンデンサ６と並列に接続した短絡スイッチ９をオープンにすると同時に、測定するコンデンサ６の容量値に応じて、シーケンサ１６からの切り替え出力１４により切り替えスイッチ４から定電流源１（３０ｍＡ）または定電流源２（１ｍＡ）を選択して充電する。
【００４１】
図４（ｂ）（ｃ）は、接続端子７の電圧波形を示すが、図４（ｂ）の判定電圧２０を超えると切り替え出力１４により切り替えスイッチ４を上記充電した電流よりも小さい定電流源３（０．１ｍＡ）に切り替える。そして、ｔ（ｍｓ）後に再度電圧を測定する電圧回路１０（図１では判定用電圧源１１とコンパレータ１２）により、接続端子７の電圧と判定用電圧源１１の電圧とを比較する。
【００４２】
図４（ｂ）に示すように判定用電圧源１１の電圧２０よりも測定した電圧２１が高ければ合格、図４（ｃ）に示すように測定した電圧２２が低ければ不合格の判定をする。
【００４３】
合否の結果は、合否入力１３によりシーケンサ１６に入力され、不良品のイジェクトや表示１８の不良カウント表示アップ等の処理が施される。
【００４４】
なお、測定した電圧２２が判定電圧２０に到達しない場合は、最大公差の容量にした場合の待ち時間まで待って不良判定とする。定電流源の不良判定時間ＴＦは、Ｖ２を判定電圧、Ｉ１を充電の定電流、Ｃｍを最大公差コンデンサ容量とすると、以下の（数４）より求められる。
【００４５】
【数４】
2008305891.tif 000006
【００４６】
この判定レベルは、検査実態に合わせて、変更して良いことは言うまでもない。
【００４７】
また、連続生産の場合は、接続端子７，８を可動式にして、順次コンデンサのリードを取り替えて挟むか押さえることにより連続測定することができる。
【００４８】
このように、本実施の形態３によるコンデンサの検査装置は、３０ｍＡの低い電流で充電し、その後さらに低い電流で充電することにより、半ショート状態のコンデンサを的確に判別することができる。
【００４９】
（実施の形態４）
以下、実施の形態４を用いて、本発明の特に請求項６に記載の発明について詳細に説明する。
【００５０】
本実施の形態４の検査装置の回路構成は上記実施の形態２の検査装置の回路構成（図３）と同じであるので、上記実施の形態２と異なる検査方法について説明する。
【００５１】
図３において、ｔ（ｍｓ）後の電圧はＡ／Ｄコンバータ２３により、シーケンサ１６の合否入力に入力される。一方予めコンデンサ容量と電流値からＴ＋ｔ時間後の充電したときの計算電圧値を求めておき、Ａ／Ｄコンバータ２３の電圧データと計算電圧値を比較し、計算電圧値よりも測定した電圧が高ければ合格、測定した電圧が低ければ不合格の判定をする。
【００５２】
上記計算電圧値の求め方は、Ｖ1≦（１＋ａ）Ｉｔ、Ｖ2≧（１−ａ）Ｉｔ（ａは誤差で通常は０．２）より求め、Ａ／Ｄコンバータ２３の電圧データＶと計算電圧値Ｖ1，Ｖ2とを比較して、Ｖ1≦Ｖ≦Ｖ2であれば合格、それ以外の電圧は不合格の判定をする。
【００５３】
このように、本実施の形態４によるコンデンサの検査装置を用いることにより、一定の時間に上昇した電圧Ｖを計算電圧値Ｖ1，Ｖ2とで合否判定を行なうことにより、電圧上昇の大きな小さい容量値の電解コンデンサと電圧上昇の小さな大きい容量値の電解コンデンサも、一定の時間で容量の合否判定を実施することができる。
【００５４】
なお、上記ａ＝０．２は、通常電解コンデンサの容量誤差が、±２０％なので０．２としている。
【００５５】
（実施の形態５）
以下、実施の形態５を用いて、本発明の特に請求項４〜６に記載の発明について詳細に説明する。
【００５６】
本発明の実施の形態５は、上記実施の形態１において、電圧を測定する電圧回路１０にＡ／Ｄコンバータ（アナログ→デジタル変換）２３とシーケンサ１６にＡ／Ｄ入力部を付加したものである。その検査装置の回路構成を図５に示す。
【００５７】
なお、上記実施の形態１と同一部分には同一符号を付与して、その詳細な説明は異なる部分についてのみ説明する。
【００５８】
以下、図５の動作について図６を用いて説明する。まず、キー入力１７によりコンデンサ容量を入力すると表示１８に入力内容が表示され、間違いなければキー入力１７からスタートを入れる。シーケンサ１６から図６（ａ）に示す電圧波形の検査出力１５により測定するコンデンサ６と並列に接続した短絡スイッチ９をオープンにすると同時に、測定するコンデンサ６の容量値に応じて、シーケンサ１６からの切り替え出力１４により切り替えスイッチ４から定電流源１（３０ｍＡ）または定電流源２（１ｍＡ）を選択して充電する。
【００５９】
図６（ｂ）（ｃ）は、接続端子７の電圧波形を示すが、シーケンサの充電スタートが入り、図６（ｂ）の電圧波形がコンパレータ１２により規定電圧２６と比較して規定電圧２６を超えると充電時間のカウントがスタートし、時間Ｔを充電して切り替え出力１４により切り替えスイッチ４を上記充電した電流よりも小さい定電流源３（０．１ｍＡ）に切り替える。そして、ｔ（ｍｓ）後にＡ／Ｄコンバータ２３により、シーケンサ１６の合否入力に入力される。一方予めコンデンサ容量と電流値からＴ時間後の充電したときの計算電圧値を求めておき、Ａ／Ｄコンバータ２３の電圧データと計算電圧値を比較し、計算電圧値よりも測定した電圧が高ければ合格、測定した電圧が低ければ不合格の判定をする。
【００６０】
合否の結果により、不良品のイジェクトや表示１８の不良カウント表示アップ等の処理が施される。なお、規定電圧２６は、低い方が好ましく通常５０ｍＶ以下が良い。
【００６１】
このように実施の形態５の検査装置は、コンパレータ１２の出力により時間Ｔのカウントをスタートするため、検査出力１５とのタイミングを比較することにより、コンデンサ内部に残留電圧があった場合や接続端子とコンデンサのリードの接触不良の場合は、異常として検知できる。
【００６２】
また、Ａ／Ｄコンバータ２３のデータをシーケンサ１６で演算分析することにより、不良レベルのバラツキを把握できる効果を有する。
【００６３】
なお、上記検査装置において、容量別に同じ定電流源を使用して、これらの飽和電圧を測定して半ショート検査を実施しても良いことは言うまでもない。また、良品判定品においては、Ａ／Ｄコンバータ２３の電圧データＶまたは時間データＴにより容量測定を行なっても良い。
【００６４】
この場合、Ｃ＝ＩＴ／Ｖ  の関係式にて容量の演算ができる。
【００６５】
図７は、定電流電源部５の定電流源の切り替えの例で、１０ｍＡ、１ｍＡ、１００μＡの定電流での１００ｍｓ後の充電電圧を容量と電流別に表示したものである。この電圧が、定電流で各抵抗別飽和電圧の電圧値以上になっていれば、表中の判別抵抗値での判別が可能である。
【００６６】
なお、定電流源において、その最大電流値は［発明が解決しようとする課題］で説明した半ショート状態の電圧−電流特性からのピーク値を超えて設定してはならない。
【産業上の利用可能性】
【００６７】
本発明は、コンデンサの半ショート状態のものをリフロー前に高速でショート検査または容量検査を行ない、合否の判断をすることができる検査装置を提供することができ、電子機器等に使用される電解コンデンサに利用される。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】本発明の実施の形態１および実施の形態３による検査装置の回路構成図
【図２】同実施の形態１の構成のタイミングチャート
【図３】本発明の実施の形態２および実施の形態４による検査装置の回路構成図
【図４】本発明の実施の形態３によるタイミングチャート
【図５】本発明の実施の形態５による検査装置の回路構成図
【図６】同実施の形態５の構成のタイミングチャート
【図７】本発明の定電流源の切り替え例を示す図
【図８】従来の電解コンデンサの検査装置の部分検出回路図
【図９】半ショート状態の電解コンデンサにおける電圧−電流グラフ
【図１０】（ａ）従来の電解コンデンサの検査装置における時間−電流グラフ、（ｂ）時間−電圧グラフ
【符号の説明】
【００６９】
１  ３０ｍＡの定電流源
２  １ｍＡの定電流源
３  ０．１ｍＡの定電流源
４  切り替えスイッチ
５  定電流電源部
６  測定するコンデンサ
７  接続端子（＋）
８  接続端子（−）
９  短絡スイッチ
１０  電圧を測定する電圧回路
１１  判定用電圧源
１２  コンパレータ
１３  合否入力信号
１４  切り替え出力
１５  検査出力
１６  シーケンサ
１７  キー入力
１８  表示
１９  制御部
【図１】
2008305891.tif 000007
【図２】
2008305891.tif 000008
【図３】
2008305891.tif 000009
【図４】
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【図５】
2008305891.tif 000011
【図６】
2008305891.tif 000012
【図７】
2008305891.tif 000013
【図８】
2008305891.tif 000014
【図９】
2008305891.tif 000015
【図１０】
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