(57)【要約】【課題】本発明は評価対象ユニット用塵埃試験装置に関し、実際の使用状態に近い環境でディスクドライブの試験を行なうことができるようにしたディスクドライブ用塵埃試験装置を提供することを目的としている。【解決手段】仕切り壁１１を挟んで設けられた第１の槽と第２の槽よりなる塵埃槽１０と、前記仕切り壁１１に設けられた少なくとも１台の評価対象ユニット１２と、前記第１の槽の空気を塵埃槽１０の外側に吐き出すための第１のファン１３と、前記第１の槽の空気を第２の槽に流れるようにするための第２のファン１４と、前記塵埃槽１０の外気を第２の槽に取り入れるための第３のファン１５と、前記何れかの槽に設けられた、塵埃を取り入れるための塵埃投入口１６と、を有し、前記第１の槽から第２の槽への空気の流れを作るように構成される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
仕切り壁を挟んで設けられた第１の槽と第２の槽よりなる塵埃槽と、
前記仕切り壁に設けられた少なくとも１台の評価対象ユニットと、
前記第１の槽の空気を塵埃槽の外側に吐き出すための第１のファンと、
前記第１の槽の空気を第２の槽に流れるようにするための第２のファンと、
前記塵埃槽の外気を第２の槽に取り入れるための第３のファンと、
前記何れかの槽に設けられた、塵埃を取り入れるための塵埃投入口と、
を有し、
前記第１の槽から第２の槽又は第２の槽から第１の槽への空気の流れを作るように構成されたことを特徴とする評価対象ユニット用塵埃試験装置。
【請求項２】
前記動作により評価対象ユニット内に蓄積された塵埃の量を測定する塵埃測定手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の評価対象ユニット用塵埃試験装置。
【請求項３】
前記評価対象ユニットは、非動作状態又は動作状態のいずれでも試験可能とすることを特徴とする請求項１記載の評価対象ユニット用塵埃試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は評価対象ユニット用塵埃試験装置に関し、更に詳しくは例えばディスクドライブ内に蓄積された塵埃の量を実際の動作条件に近い雰囲気中で測定することができるようにした評価対象ユニット用塵埃試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
パソコン本体に搭載されている光ディスクドライブは、光でＣＤ−ＲＯＭ媒体表面に記憶されているデータを読み取るため、特に塵埃等の埃を嫌う。また、パソコン本体は、熱放出を目的としたファンを持っているものが殆どであり、パソコン本体の全面パネル等のいろいろな隙間を通じて空気が入り込み、それと同時に空気中の塵埃も装置内部及び光ディスクへ進入してくる。
【０００３】
このように、パソコン本体に搭載されている光ディスクドライブは常に塵埃にさらされる可能性があるにも拘わらず、光でＣＤ−ＲＯＭ媒体表面に記録されているデータの読み出しを行なうため、このようなパソコン本体に搭載された設置環境を擬似的に構築し、光ディスクドライブへどのように塵埃が蓄積されるのかの定量的な評価や、測定するための試験設備が必要となり、これにより、塵埃等の影響を考慮したシステム設計ができ、ディスクドライブの長期安定稼働、品質向上に役立つ。
【０００４】
次に光ディスクの塵埃チェックについて説明する。
１．塵埃影響の概略
ＣＤ−ＲＯＭメディア等に記録されているデータを読み取る際、ＬＤ（レーザダイオード）を発光しレンズを介して読み取るため、レンズに汚れが付着すると光が遮蔽され、ディスクからの読み取り光量レベルが低下して、読み取り不可となる。
２．塵埃チェック項目
試験終了後、ドライブを分解し、塵埃の入り込みやすい箇所の検出、塵埃の定量的な測定、各種信号レベルの確認（信号レベルによる塵埃の定量的な測定）を行なう。
１）フォーカスＳ字信号レベル確認
ＣＤメディアとＤＶＤメディアの判別及び２層ディスクの判別
２）ＲＦ出力レベル特性確認
アイパターン（再生信号波形）の検出
ジッタ（基準クロックとのずれ量）の検出
デジタルエラー：ＥＣＣ（エラー訂正符号）の検出
３）各種メカサーボ系出力信号レベル確認
従来のこの種の装置としては、光ディスクが収納されたディスクカートリッジをダストと共に密閉された試験容器内に収納し、ダストを含むダスト雰囲気中にディスクカートリッジを所定時間晒した後、ディスクカートリッジから光ディスクを取り出し、この光ディスクのディスク面に付着されたダストに基づいてディスクカートリッジの防塵性を判定する技術が知られている（例えば特許文献１参照）。また、試験容器に被試験物を入れ、導入される工業用エアによりカーボン粉末を空気と混合して攪拌し、カーボン粉末を含む空気流を試験容器内に吹き込む噴射部を設けた技術が知られている（例えば特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００３−１６８２７７号公報（段落００２０〜００４９、図１、図６〜図９）
【特許文献２】特開２００４−１９１３４２号公報（段落００１７〜００２８、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の耐塵埃試験機は、チャンバー等の囲われた一室で、中央に粉塵を置き、その粉塵をファン等で拡散し、室内の粉塵濃度を一定に保っ状態で評価対象の光ディスクドライブをある一定時間連続して動作させ、動作不能の可否で判定を行なうものである。従来の試験方法では、パソコン本体に搭載されたファンにより生み出される空気流路、搭載された光ディスクドライブの全面からの塵埃の進入経路等の擬似的な想定がなされておらず、パソコン本体搭載による塵埃影響に対する影響度確認が行えていない。
【０００６】
本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであって、実際の使用状態に近い環境で評価対象ユニットの試験を行なうことができるようにした評価対象ユニット用塵埃試験装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
（１）請求項１記載の発明は、仕切り壁を挟んで設けられた第１の槽と第２の槽よりなる塵埃槽と、前記仕切り壁に設けられた少なくとも１台の評価対象ユニットと、前記第１の槽の空気を塵埃槽の外側に吐き出すための第１のファンと、前記第１の槽の空気を第２の槽に流れるようにするための第２のファンと、前記塵埃槽の外気を第２の槽に取り入れるための第３のファンと、前記何れかの槽に設けられた、塵埃を取り入れるための塵埃投入口と、を有し、前記第１の槽から第２の槽又は第２の槽から第１の槽への空気の流れを作るように構成されたことを特徴とする。
（２）請求項２記載の発明は、前記動作によりディスクドライブ内に蓄積された塵埃の量を測定する塵埃測定手段を設けたことを特徴とする請求項１記載のディスクドライブ用塵埃試験装置。
（３）請求項３記載の発明は、前記評価対象ユニットは、非動作状態又は動作状態のいずれでも試験可能とすることを特徴とする。
４．この発明において、前記仕切り壁を評価対象毎に交換可能に構成されることを特徴とする。
５．また、この発明において、前記塵埃槽に取り付けられているファンの回転数を可変することができるようなファン回転数可変手段が設けられていることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
（１）請求項１記載の発明によれば、試験対象となるドライブをパソコン本体に搭載された時と同じ状態の設置環境を擬似的に構築した塵埃試験機において、ドライブの前面ベゼルから空気が流れるようにすることで、ベゼル及び筐体の隙間等から入り込む塵埃による影響度確認が可能となる。なお、試験終了後、ディスクドライブを分解し、塵埃の進入経路の検出・確認・分解時の各箇所における入り込んだ塵埃量を測定することで、定量的な測定が可能となる。
（２）請求項２記載の発明によれば、ディスクドライブ内に蓄積された塵埃量を測定することができる。
（３）請求項３記載の発明によれば、評価対象ユニットが非動作状態（オフの場合）の場合と動作状態（オフの場合）の場合との両状態における塵埃量の測定を行なうことができる。
４．この場合において、前記仕切り壁を評価対象毎に交換可能に構成されることにより、評価対象ユニットに応じた最適の試験環境を提供することができる。
５．また、この場合において、前記塵埃槽に取り付けられているファンの回転数を可変することができるようなファン回転数可変手段が設けることで、パソコン本体に取り付けられているファンの大きさを加味した試験を行なうことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明の一実施の形態を示す構成図である。図において、１０は塵埃槽、１１は該塵埃槽１０をＡ槽とＢ槽の二つに分ける仕切り壁、１２は仕切り壁１１と当接して設けられた評価対象ユニットの一つである評価対象ドライブである。１２ａは評価対象ドライブ１２の塵埃進入経路、１２ｂはドライブユニットのユニットベゼル前面側、１２ｃはインタフェース（Ｉ／Ｆ）後面側である。Ｉ／Ｆ後面側とは、はパソコンのインタフェースと接続される面のことである。塵埃槽１０の大きさとしては、例えば１．５ｍ四方のものが用いられる。
【００１０】
１３は第１の槽（Ａ槽）に設けられ、Ａ槽の空気を塵埃槽１０の外側に吐き出すための第１のファン（ファンＢ）、１４は第１の槽（Ａ槽）の空気を第２の槽（Ｂ槽）に流れるようにするための第２のファン（ファンＣ）、１５は塵埃槽１０の外気を第２の槽（Ｂ槽）に取り入れるための第３のファン（ファンＡ）である。１６は塵埃を塵埃槽１０内に取り入れるための塵埃投入口である。このように構成された装置の動作を説明すれば、以下の通りである。
【００１１】
ファンＡ〜ファンＣを取り付けたことで、Ａ槽とＢ槽との間に空気の循環を行わせることができる。ファンＡが外気をＢ槽内に取り入れ、ファンＢがＡ槽内の空気を塵埃槽１０の外側に吐き出し、ファンＣがＡ槽からＢ槽へ空気を流すようにすることで、Ａ槽とＢ槽間には、図中矢印で示すような空気の循環が起こる。この場合において、塵埃投入口１６よりカーボン等の塵埃を投入することで、塵埃は空気の流れと共にＡ槽とＢ槽内を循環する。特に、Ａ槽からＢ槽への空気の流れを作ることで、評価対象ドライブ１２の前面ベゼル及び筐体の隙間等からの塵埃進入経路１２ａからドライブ内部へ塵埃を含んだ空気が進入する。そして、Ｉ／Ｆ後面側より空気排出となるドライブ内部における空気の循環が行える。この場合において、評価対象ドライブ１２はオンでもオフでもかまわない。即ち、動作状態でも非動作状態でも試験を行なうことができる。
【００１２】
このような空気の循環を行なっている間に、評価対象ドライブ１２内には塵埃が蓄積されていく。所定時間の空気の循環を行ったら、空気の循環を止めて、評価対象ドライブ２を取り外し、分解して塵埃の蓄積の様子を目視検査する。或いは、評価対象ドライブ１２に蓄積された塵埃の量を塵埃測定手段により測定する。この時の、評価対象ドライブ１２内に蓄積された塵埃の量を所定の閾値と比較することにより、評価対象ドライブのＧＯ／ＮＧを判定することができる。
【００１３】
このように、本発明によれば、ベゼル及び筐体の隙間等から入り込む塵埃による影響度確認が可能となり、またディスクドライブ内に蓄積された塵埃量を測定することができる。  上述の実施の形態では、評価対象ドライブ１２が１個用いられている場合を例にとったが、本発明はこれに限るものではなく、２個以上の評価対象ドライブを試験することもできる。たとえば仕切り壁１１に沿って取り付ければよい。具体的には、評価対象ドライブ１２を２個用いる場合には、図１に示す評価対象ドライブ１２に続けて２個目を取り付けることが考えられる。
【００１４】
また、上述の実施の形態では、評価対象としてディスクドライブを用いた場合を例にとったが、本発明はこれに限るものではなく、パソコン本体内に搭載可能な全てのドライブユニット及びその他のユニットに適用することができる。
【００１５】
また、前記仕切り壁１１を評価対象毎に交換可能に構成されることにより、評価対象ユニットに応じた最適の試験環境を提供することができる。
また、前記塵埃槽に取り付けられているファンの回転数を可変することができるようなファン回転数可変手段が設けることで、パソコン本体に取り付けられているファンの大きさを加味した試験を行なうことができる。
【００１６】
また、上述の実施の形態では、塵埃槽内の空気の流れを時計方向に流れるようにした場合を例にとったが、本発明はこれに限るものではなく、反時計方向の流れとなるようにしてもよい。
【００１７】
（付記１）
仕切り壁を挟んで設けられた第１の槽と第２の槽よりなる塵埃槽と、
前記仕切り壁に設けられた少なくとも１台の評価対象ユニットと、
前記第１の槽の空気を塵埃槽の外側に吐き出すための第１のファンと、
前記第１の槽の空気を第２の槽に流れるようにするための第２のファンと、
前記塵埃槽の外気を第２の槽に取り入れるための第３のファンと、
前記何れかの槽に設けられた、塵埃を取り入れるための塵埃投入口と、
を有し、
前記第１の槽から第２の槽への空気の流れを作るように構成されたことを特徴とする評価対象ユニット用塵埃試験装置。
【００１８】
（付記２）
前記動作により評価対象ユニット内に蓄積された塵埃の量を測定する塵埃測定手段を設けたことを特徴とする付記１記載の評価対象ユニット用塵埃試験装置。
【００１９】
（付記３）
前記評価対象ユニットは、非動作状態及び／又は動作状態のいずれでも可能とすることを特徴とする付記１記載の評価対象ユニット用塵埃試験装置。
【００２０】
（付記４）
前記仕切り壁を評価対象毎に交換可能に構成されることを特徴とする付記１記載の評価対象ユニット用塵埃試験装置。
【００２１】
（付記５）
前記塵埃槽に取り付けられているファンの回転数を可変することができるようなファン回転数可変手段が設けられていることを特徴とする付記１記載の評価対象ユニット用塵埃試験装置。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の一実施の形態を示す構成図である。
【符号の説明】
【００２３】
１０    塵埃槽
１１    仕切り壁
１２    評価対象ドライブ
１２ａ  塵埃進入経路
１２ｂ  ユニットベゼル前面側
１２ｃ  Ｉ／Ｆ後面側
１３    ファン
１４    ファン
１５    ファン
１６    塵埃投入口
【図１】
2008262646.tif 000003