(57)【要約】【課題】電子部品移送装置及び方法の提供。【解決手段】ワークステーション、ワークステーションの一側の第１供給載置具及び第１収集載置具、もう一側の第２供給載置具と第２収集載置具、第１ピックアップ装置及び第２ピックアップ装置を包含する。第１、第２供給載置具は電子部品を載置し、第１ピックアップ装置及び第２ピックアップ装置による吸着とワークステーションへの移送に供し、該第１ピックアップ装置と第２ピックアップ装置の昇降ロッドに吸着ノズルが設けられ、スライドレールセットがワークステーション上方のフレームに設けられ、第１、第２ピックアップ装置の三軸方向のスライドが可能で、正確に電子部品をワークステーションに供給し、安定した水平度で電子装置をワークステーションに置け、作業を容易とし作業品質を向上する。【選択図】図５
2008185583.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品移送装置において、
少なくとも一つのワークステーションであって、作業を行なう電子部品が送られて、電子部品の作業を実行する、該ワークステーションと、
第１供給載置具であって、該ワークステーションの一側に位置し、並びに作業を行なう電子部品を載置する、該第１供給載置具と、
第２供給載置具であって、該ワークステーションの別側に位置し、並びに作業を行なう電子部品を載置する、該第１供給載置具と、
第１収集載置具であって、該第１供給載置具と同側に位置し、並びに作業完成した電子部品を載置する、該第１収集載置具と、
第２収集載置具であって、該第２供給載置具と同側に位置し、並びに作業完成した電子部品を載置する、該第２収集載置具と、
第１ピックアップ装置であって、スライドレールセットで該ワークステーションの上方のフレームに架設され、並びに３軸方向のスライド可能で、電子部品を移送し作業の実行に供する、該第１ピックアップ装置と、
第２ピックアップ装置であって、スライドレールセットで該ワークステーションの上方のフレームに架設され、並びに３軸方向のスライド可能で、電子部品を移送し作業の実行に供する、該第２ピックアップ装置と、
を包含したことを特徴とする、電子部品移送装置。
【請求項２】
請求項１記載の電子部品移送装置において、該第１供給載置具と該第２供給載置具は固定式或いは移動式の供給載置具とされたことを特徴とする、電子部品移送装置。
【請求項３】
請求項１記載の電子部品移送装置において、該第１収集載置具と該第２収集載置具は固定式或いは移動式の収集載置具とされたことを特徴とする、電子部品移送装置。
【請求項４】
請求項１記載の電子部品移送装置において、該第１ピックアップ装置は昇降ロッドの前端に吸着ノズルが取り付けられて、供給載置具上の電子部品を該ワークステーション及び収集載置具間で移送し、並びに電子部品を下圧し作業に供することを特徴とする、電子部品移送装置。
【請求項５】
請求項１記載の電子部品移送装置において、該第２ピックアップ装置は昇降ロッドの前端に吸着ノズルが取り付けられて、供給載置具上の電子部品を該ワークステーション及び収集載置具間で移送し、並びに電子部品を下圧し作業に供することを特徴とする、電子部品移送装置。
【請求項６】
電子部品移送方法において、
Ａ．第１ピックアップ装置が第１供給載置具部分に位置して作業を行なう電子部品のピックアップに待機し、第２ピックアップ装置がワークステーションの上方に位置して電子部品の作業実行に待機するステップ、
Ｂ．ワークステーション内の電子部品の作業完成後、第２ピックアップ装置が作業完成した電子部品を第２収集載置具に移送放置し、第１ピックアップ装置が作業する電子部品をワークステーションに移送して作業実行に供するステップ、
Ｃ．ワークステーション内の電子部品に作業を実行すると同時に、第２ピックアップ装置が第２供給載置具部分に移動し、次の一組の作業を行なう電子部品のピックアップに待機するステップ、
Ｄ．ワークステーション内の電子部品の作業完成後に、第１ピックアップ装置が作業完成した電子部品を第１収集載置具に移送放置し、第２ピックアップ装置が次の一組の作業を行なう電子部品をワークステーションに移送して作業実行に供するステップ、
Ｅ．ワークステーション内の電子部品に作業実行すると同時に、第１ピックアップ装置が第１供給載置具部分に移動して次の一組の作業を行なう電子部品にピックアップに待機するステップ、
以上のＡからＥのステップを包含したことを特徴とする、電子部品移送方法。
。
【請求項７】
請求項６記載の電子部品移送方法において、該第１ピックアップ装置が作業を行なう電子部品を吸着しワークステーションに移送し作業に供する時、電子部品を下圧して作業に供することを特徴とする、電子部品移送方法。
【請求項８】
請求項６記載の電子部品移送方法において、該第２ピックアップ装置が作業を行なう電子部品を吸着しワークステーションに移送し作業に供する時、電子部品を下圧して作業に供することを特徴とする、電子部品移送方法。
【請求項９】
請求項６記載の電子部品移送方法において、該第１供給載置具と該第２供給載置具上の作業を行なう電子部品は供給側輸送機構により移送放置されることを特徴とする、電子部品移送方法。
【請求項１０】
請求項６記載の電子部品移送方法において、該第１収集載置具と該第２収集載置具上の作業完成した電子部品は送出側輸送機構により収集機構に移送され分類放置されることを特徴とする、電子部品移送方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はワークステーションの上方に架設され並びに三軸方向にスライド可能な第１ピックアップ装置と第２ピックアップ装置を提供し、電子部品をワークステーションに輪転式に移送し、安定した水平度で電子部品をワークステーションに置いて作業を実行させ、製造を容易とし作業品質アップを達成する、電子部品移送装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１、２、３は特許文献１に係る発明を示し、その試験装置は試験台１０と、第１、２ピックアップ機構２０、３０、及び供給、送出機構４０、５０を包含する。そのうち、該試験台１０の両側に、第１、２ピックアップ機構２０、３０が設けられ、各ピックアップ機構はそれぞれ、相互に組み合わされた横移動構造及び昇降構造を有する。各横移動構造はフレームに設けられた横向きスライドレール２１、３１及び横向きスクリュー２２、３２を包含し、横向きスクリュー２２、３２はモータ２３、３３により駆動され、スクリュースリーブ２４１、３４１と横向きスライドシート２４２、３４２を包含するスライド装置２４、３４が、横向きスライドレール２１、３１及び横向きスクリュー２２、３２にスライド可能に且つ螺合方式で設置され、並びに別面に縦向きスライドシート２４３、３４３が設けられ、昇降構造は底面に吸着ノズルを具えたピックアップ装置２５、３５の側面に縦向きスライドレール２５１、３５１を具え、スライド装置２４、３４の縦向きスライドシート２４３、３４３中にスライド自在に組み合わされる。該横移動構造はまた、ピックアップ装置２５、３５の上面に横向きスライドシート２５２、３５２を具え、サポートフレーム２６、３６の横向きスライドレール２６１、３６１にスライド自在に組み合わされる。昇降構造は並びに該サポートフレーム２６、３６の別面に二つの縦向きスライドシート２６２、３６２及びスクリュースリーブ２６３、３６３を具え、それぞれフレームの縦向きスライドレール２７、３７及び縦向きスクリュー２８、３８に組み合わされ、縦向きスクリュー２８、３８はモータ２９、３９により駆動され、これにより各横移動構造のモータ２３、３３が横向きスクリュー２２、３２を駆動する時、スライド装置２４、３４の横向きスライドシート２４２、３４２及びピックアップ装置２５、３５の横向きスライドシート２５２、３５２が駆動され、フレームの横向きスライドレール２１、３１及びサポートフレーム２６、３６の横向きスライドレール２６１、３６１上でＸ方向の往復移動を形成する。各昇降構造のモータ２９、３９が縦向きスクリュー２８、３８を駆動する時、サポートフレーム２６、３６の縦向きスライドシート２６２、３６２及びピックアップ装置２５、３５の縦向きスライドレール２５１、３５１が駆動されて、フレームの縦向きスライドレール２７、３７及びスライド装置２４、３４の縦向きスライドシート２４３、３４３上でＺ方向の往復移動を形成する。また、該供給機構４０及び送出機構５０はそれぞれ試験台１０の前方、後方に設けられ、それぞれが載置台４１、５１を具えた載置台構造を具え、ＩＣの移送を行ない、また、吸着ノズル４２、５２を具えたピックアップ構造を具え、ＩＣのピックアップと放置を行なう。該供給機構４０の吸着ノズル４２は試験されるＩＣを載置台４１の上に置き、載置台４１は第１供給機構２０のピックアップ装置２５の下方にそれを送り、該第１ピックアップ機構２０はピックアップ装置２５の吸着ノズルに載置台４１上のＩＣを吸着させ、並びにそれを試験台１０に置かせて試験を行なわせる。載置台４１は更に反対方向に移動してもとの位置に戻り、次のＩＣを載置する。供給機構４０の載置台４１が更にもう一つのＩＣを試験台１０の側方に移送する時、第２ピックアップ機構３０のピックアップ装置３５がＸ方向に移動し、ピックアップ装置３５を供給機構４０の載置台４１上に位置させてＩＣを吸着させる。第１ピックアップ機構２０のＩＣ試験が完了後、ピックアップ装置２５を駆動して横向きに移動させて送出機構５０の載置台５１上方に至らせ、並びにピックアップ装置２５を下降させてＩＣを載置台５１上にのせて送出させ、これと同時に、第２ピックアップ機構３０のピックアップ装置３５がＸ−Ｚ方向に移動し、ピックアップ装置３５がもう一つのＩＣを試験台１０に置き試験を行なわせる。第２ピックアップ機構３０のＩＣが試験される時、第１ピックアップ機構２０のピックアップ装置２５は反対方向に移動し、再度供給機構４０の載置台４１上のＩＣを吸着する。第２ピックアップ機構３０のピックアップ装置３５は試験完了したＩＣを送出機構５０の載置台５１上に乗せて送出させ、このとき第１ピックアップ機構２０は新たに試験するＩＣを試験台１０に置いて試験に供し、こうして第１、２ピックアップ機構２０、３０が順に迅速にＩＣを移送して試験作業に供する。
【０００３】
【特許文献１】台湾特許出願第０９３１１０７８３号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述の特許文献１記載の発明において、該第１、第２ピックアップ機構２０、３０の吸着ノズルを具えたピックアップ装置２５、３５は僅かにＸ−Ｚの２軸方向の移動しか行なえず、ピックアップ装置２５、３５は各ピックアップ位置及び放置位置でＸ−Ｙ−Ｚの３軸方向の位置の微調整を行なえず、このため、載置台４１、５１の試験台１０に対する移動の定位位置、及び、ピックアップ装置２５、３５の試験台１０、載置台４１、５１に対する移動の定位位置は、組立、設計のいずれにおいても絶対の正確度を具備しなければならず、そうでなければ、ピックアップ装置２５、３５がＸ−Ｚの２軸方向の移動制限の下で、正確にＩＣを移送し試験作業を行なうことができなくなり、このような高精度の製造要求は、製造の難しさと大幅な製造コストアップの問題を有する。このほか、ピックアップ装置２５、３５はＬ形アームの形態で試験台１０の両側に架設されて、吸着ノズル２５３、３５３を下圧して試験するＩＣに押しつけるが、そのときの水平度が悪くなり、試験品質に影響が生じる。
【０００５】
ゆえに、本発明は一種の３軸方向にスライド可能な移送ピックアップ装置を提供し、移動を微調整する方式で各相対位置間の誤差を補償し、これにより製造を容易とし、安定して作業の実行を行なえるようにする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１の発明は、電子部品移送装置において、
少なくとも一つのワークステーションであって、作業を行なう電子部品が送られて、電子部品の作業を実行する、該ワークステーションと、
第１供給載置具であって、該ワークステーションの一側に位置し、並びに作業を行なう電子部品を載置する、該第１供給載置具と、
第２供給載置具であって、該ワークステーションの別側に位置し、並びに作業を行なう電子部品を載置する、該第１供給載置具と、
第１収集載置具であって、該第１供給載置具と同側に位置し、並びに作業完成した電子部品を載置する、該第１収集載置具と、
第２収集載置具であって、該第２供給載置具と同側に位置し、並びに作業完成した電子部品を載置する、該第２収集載置具と、
第１ピックアップ装置であって、スライドレールセットで該ワークステーションの上方のフレームに架設され、並びに３軸方向のスライド可能で、電子部品を移送し作業の実行に供する、該第１ピックアップ装置と、
第２ピックアップ装置であって、スライドレールセットで該ワークステーションの上方のフレームに架設され、並びに３軸方向のスライド可能で、電子部品を移送し作業の実行に供する、該第２ピックアップ装置と、
を包含したことを特徴とする、電子部品移送装置としている。
請求項２の発明は、請求項１記載の電子部品移送装置において、該第１供給載置具と該第２供給載置具は固定式或いは移動式の供給載置具とされたことを特徴とする、電子部品移送装置としている。
請求項３の発明は、請求項１記載の電子部品移送装置において、該第１収集載置具と該第２収集載置具は固定式或いは移動式の収集載置具とされたことを特徴とする、電子部品移送装置としている。
請求項４の発明は、請求項１記載の電子部品移送装置において、該第１ピックアップ装置は昇降ロッドの前端に吸着ノズルが取り付けられて、供給載置具上の電子部品を該ワークステーション及び収集載置具間で移送し、並びに電子部品を下圧し作業に供することを特徴とする、電子部品移送装置としている。
請求項５の発明は、請求項１記載の電子部品移送装置において、該第２ピックアップ装置は昇降ロッドの前端に吸着ノズルが取り付けられて、供給載置具上の電子部品を該ワークステーション及び収集載置具間で移送し、並びに電子部品を下圧し作業に供することを特徴とする、電子部品移送装置としている。
請求項６の発明は、電子部品移送方法において、
Ａ．第１ピックアップ装置が第１供給載置具部分に位置して作業を行なう電子部品のピックアップに待機し、第２ピックアップ装置がワークステーションの上方に位置して電子部品の作業実行に待機するステップ、
Ｂ．ワークステーション内の電子部品の作業完成後、第２ピックアップ装置が作業完成した電子部品を第２収集載置具に移送放置し、第１ピックアップ装置が作業する電子部品をワークステーションに移送して作業実行に供するステップ、
Ｃ．ワークステーション内の電子部品に作業を実行すると同時に、第２ピックアップ装置が第２供給載置具部分に移動し、次の一組の作業を行なう電子部品のピックアップに待機するステップ、
Ｄ．ワークステーション内の電子部品の作業完成後に、第１ピックアップ装置が作業完成した電子部品を第１収集載置具に移送放置し、第２ピックアップ装置が次の一組の作業を行なう電子部品をワークステーションに移送して作業実行に供するステップ、
Ｅ．ワークステーション内の電子部品に作業実行すると同時に、第１ピックアップ装置が第１供給載置具部分に移動して次の一組の作業を行なう電子部品にピックアップに待機するステップ、
以上のＡからＥのステップを包含したことを特徴とする、電子部品移送方法としている。
請求項７の発明は、請求項６記載の電子部品移送方法において、該第１ピックアップ装置が作業を行なう電子部品を吸着しワークステーションに移送し作業に供する時、電子部品を下圧して作業に供することを特徴とする、電子部品移送方法としている。
請求項８の発明は、請求項６記載の電子部品移送方法において、該第２ピックアップ装置が作業を行なう電子部品を吸着しワークステーションに移送し作業に供する時、電子部品を下圧して作業に供することを特徴とする、電子部品移送方法としている。
請求項９の発明は、請求項６記載の電子部品移送方法において、該第１供給載置具と該第２供給載置具上の作業を行なう電子部品は供給側輸送機構により移送放置されることを特徴とする、電子部品移送方法としている。
請求項１０の発明は、請求項６記載の電子部品移送方法において、該第１収集載置具と該第２収集載置具上の作業完成した電子部品は送出側輸送機構により収集機構に移送され分類放置されることを特徴とする、電子部品移送装置としている。
【発明の効果】
【０００７】
本発明は一種の電子部品移送装置及び方法を提供し、それは、ワークステーション、ワークステーションの一側の第１供給載置具及び第１収集載置具、もう一側の第２供給載置具と第２収集載置具、第１ピックアップ装置及び第２ピックアップ装置を包含する。そのうち、該第１ピックアップ装置及び第２ピックアップ装置の昇降ロッドの前端には吸着ノズルが設けられ、昇降ロッドはスライドレールセットでそれぞれワークステーション上方のフレームに架設され、それぞれ３軸方向のスライド可能で、作業実行時に、第１ピックアップ装置及び第２ピックアップ装置が３軸方向スライド可能で、微調整移動の方式で、ワークステーション、第１、２供給載置具、第１、２収集載置具間の誤差を補償し、製造を容易とし、製造コストを下げる目的を達成する。
【０００８】
本発明はまた、電子部品移送装置及び方法を提供し、そのうち、該第１ピックアップ装置及び第２ピックアップ装置の昇降ロッドはそれぞれスライドレールセットでワークステーション上方のフレームに架設され、それぞれ３軸方向のスライド可能で、作業実行時に、昇降ロッドは吸着ノズルを駆動して正確にワークステーションの上方において電子部品を置かせ、並びに良好な水平度で安定して電子部品を押圧させ作業を実行し、作業品質を高める。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
図４を参照されたい。本発明は試験分類機に配置され使用される時、該試験分類機は供給機構６０、供給側輸送機構７０、ワークエリア８０、送出側輸送機構９０、及び収集機構１００を包含する。供給側輸送機構７０は供給機構６０上で試験待ちの電子部品をワークエリア８０内の第１、第２供給載置具８１、８２に送り、ワークエリア８０内の第１、第２収集載置具８３、８４上の試験完了した電子部品は、試験結果により送出側輸送機構９０により収集機構１００に送られて分類収集される。
【００１０】
図５、６を参照されたい。本発明のワークエリア８０はワークステーション８５、ワークステーション８５の一側に位置する第１供給載置具８１及び第１収集載置具８３、ワークステーション８５の別側に位置する第２供給載置具８２及び第２収集載置具８４、第１ピックアップ装置８６及び第２ピックアップ装置８７を包含する。第１、２供給載置具８１、８２は試験待ちの電子部品を載置し、第１、２収集載置具８３、８４は試験完了した電子部品を載置する。該第１、２供給載置具８１、８２及び第１、２収集載置具８３、８４は固定された方式でワークステーション８５の関係位置に位置決めされ、第１、２ピックアップ装置８６、８７及び供給側輸送機構及び送出側輸送機構による供給、収集作業に供されるか、或いはそれぞれが独立して左右に往復スライド可能な方式で、対応するワークステーション８５の関係位置に位置決めされ、第１、２ピックアップ装置８６、８７及び供給側輸送機構、送出側輸送機構による供給、収集作業に供される。第１ピックアップ装置８６及び第２ピックアップ装置８７はそれぞれスライドレールセット８６１、８７１でワークステーション８５上方のフレームに架設され、並びにそれぞれ３軸方向（Ｘ−Ｙ−Ｚ）のスライドを行なえる。該第１ピックアップ装置８６及び第２ピックアップ装置８７の昇降ロッド８６２、８７２の前端は横向き面板８６３、８７３で二つの吸着ノズル８６４、８７４が取り付けられ、これによりスライドレールセット８６１、８７１、昇降ロッド８６２、８７２及び横向き面板８６３、８７３で吸着ノズル８６４、８７４を駆動して３軸方向（Ｘ−Ｙ−Ｚ）にスライドさせられ、これにより電子部品をワークステーションに移送して試験を実行することができる。
【００１１】
図７を参照されたい。本発明の電子部品移送方法によると、ワークエリア８０で試験作業実行時に、その第２ピックアップ装置８７はワークステーション８５の上方に位置して電子部品１１０を押さえて試験作業の実行に供し、第１ピックアップ装置８６は第１供給載置具８１部分に位置して試験を行なう電子部品１１１のピックアップに待機する。図８を参照されたい。電子部品１１０の試験完成後、第２ピックアップ装置８７は試験完成した電子部品１１０を第２収集載置具８４に移送して放置し、送出側輸送機構が試験結果により収集機構に分類放置するのに供する。また第１ピックアップ装置８６は試験を行なう電子部品１１１を吸着してワークステーション８５上に移送し、並びに電子部品１１１を押圧し試験作業に供する。図９に示されるように、電子部品１１１の試験作業を実行すると同時に、第２ピックアップ装置８７は試験完成した電子部品１１０の放置を完成した後、第２供給載置具８２部分に平行移動し、供給側輸送機構によりすでに第２供給載置具８２に移送された電子部品１１２を、該第２ピックアップ装置８７がピックアップする準備する。図１０に示されるように、続いて、電子部品１１１の試験完成後に、第１ピックアップ装置８６が試験完成した電子部品１１１を第１収集載置具８３に移送して放置し、送出側輸送機構が試験結果により収集機構に分類放置するのに供する。同時に第２ピックアップ装置８７が試験する電子部品１１２を吸着してワークステーション８５上に移送し、並びに電子部品１１２を押さえて試験作業に供する。図１１に示されるように、電子部品１１２に試験作業を実行すると同時に、第１ピックアップ装置８６が試験完成した電子部品１１１を放置完成した後、平行に第１供給載置具８１部分まで移動し、供給側輸送機構によりすでに試験する電子部品１１３が第１供給載置具８１上に移送されているため、第１ピックアップ装置８６が第１供給載置具８１上で次の試験を行なう電子部品１１３のピックアップに待機し、これにより第１ピックアップ装置８６及び第２ピックアップ装置８７がそれぞれワークステーション８５の両側で交互に輪転式に電子部品の移送を行なう。
【００１２】
本発明の第１ピックアップ装置８６及び第２ピックアップ装置８７は３軸方向のスライド可能で、これにより、微調整移動の方式で作業点、固定式供給載置具、固定式収集載置具の各相対位置間の誤差を補償でき、これにより製造が容易で及び製造コストを減らせる効果を達成する。
【００１３】
図１２を参照されたい。本発明の第１ピックアップ装置８６及び第２ピックアップ装置８７は３軸方向のスライド可能で、試験作業実行時に、その昇降ロッド８６２、８７２の前端の吸着ノズル８６４、８７４が正確にワークステーション８５の真上から電子部品を放置でき、並びに良好な水平度を以て、平均した下圧力を提供し、安定して電子部品を押さえて試験作業の実行に供し、これにより作業品質を向上する目的を達成する。
【００１４】
これにより、本発明は製造を容易とし製造コストを減らす目的を達成できるのみならず、効果的に試験作業品質を向上することができ、実用性と進歩性を具えた発明であり、同じ或いは類似の製品はその出願前に公開されておらず、特許の要件を具備している。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】特許文献１のＩＣ試験装置の配置表示図である。
【図２】特許文献１のＩＣ試験装置の第１ピックアップ装置の表示図である。
【図３】特許文献１のＩＣ試験装置の第２ピックアップ装置の表示図である。
【図４】本発明を試験分類機に配置した配置表示図である。
【図５】本発明の構造図である。
【図６】本発明のピックアップ装置の表示図である。
【図７】本発明のピックアップ動作表示図（一）である。
【図８】本発明のピックアップ動作表示図（二）である。
【図９】本発明のピックアップ動作表示図（三）である。
【図１０】本発明のピックアップ動作表示図（四）である。
【図１１】本発明のピックアップ動作表示図（五）である。
【図１２】本発明のピックアップ装置が電子部品を下圧して試験作業実行に供する状態表示図である。
【符号の説明】
【００１６】
１０  試験台
２０  第１ピックアップ機構
２１  横向きスライドレール      ２２  横向きスクリュー    ２３  モータ
２４  スライド装置              ２４１  スクリュースリーブ
２４２  横向きスライドシート    ２４３  縦向きスライドシート
２５  ピックアップ装置          ２５１  縦向きスライドレール
２５２  横向きスライドシート    ２５３  吸着ノズル
２６  サポートフレーム          ２６１  横向きスライドレール
２６２  縦向きスライドシート    ２６３  スクリュースリーブ
２７  縦向きスライドレール      ２８  縦向きスクリュー  ２９  モータ
３０  第２ピックアップ機構      ３１  横向きスライドレール
３２  横向きスクリュー          ３３  モータ    ３４  スライド装置
３４１  スクリュースリーブ      ３４２  横向きスライドシート
３４３  縦向きスライドシート    ３５  ピックアップ装置
３５１  縦向きスライドレール    ３５２  横向きスライドシート
３５３  吸着ノズル              ３６  サポートフレーム
３６１  横向きスライドレール    ３６２  縦向きスライドシート
３６３  スクリュースリーブ      ３７  縦向きスライドレール
３８  縦向きスクリュー          ３９  モータ
４０  供給機構                  ４１  載置台          ４２  吸着ノズル
５０  送出機構                  ５１  載置台          ５２  吸着ノズル
６０  供給機構                  ７０  供給側輸送機構
８０  ワークエリア              ８１  第１供給載置具
８２  第２供給載置具            ８３  第１収集載置具
８４  第２収集載置具            ８５  ワークステーション
８６  第１ピックアップ装置      ８６１  スライドレールセット
８６２  昇降ロッド              ８６３  横向き面板
８６４  吸着ノズル              ８７  第２ピックアップ装置
８７１  スライドレールセット    ８７２  昇降ロッド
８７３  横向き面板              ８７４  吸着ノズル
９０  送出側輸送機構            １００  収集機構
１１０、１１１、１１２、１１３  電子部品
【図１】
2008185583.tif 000003
【図２】
2008185583.tif 000004
【図３】
2008185583.tif 000005
【図４】
2008185583.tif 000006
【図５】
2008185583.tif 000007
【図６】
2008185583.tif 000008
【図７】
2008185583.tif 000009
【図８】
2008185583.tif 000010
【図９】
2008185583.tif 000011
【図１０】
2008185583.tif 000012
【図１１】
2008185583.tif 000013
【図１２】
2008185583.tif 000014