(57)【要約】【課題】ジッタの測定精度や求められた最適記録パワーがばらついても、予め定めておいた記録品質を得ることができる光ディスクの記録技術を提供する。【解決手段】異なるパワーで光ディスクに記録されたテストパターンデータを再生して位相エラーからジッタ量を検出し、最適記録パワーを求める光ディスクの記録用ＬＳＩであって、ジッタ量が予め定めた値より小さくなる記録パワーの範囲を求める有効記録パワー範囲算出回路２０と、この求めた記録パワー範囲の中心を最適記録パワーとして求める最適パワー算出回路２１とを有し、求めた範囲の中央を最適記録パワーとする。【選択図】図１
2008047171.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
異なるパワーで光ディスクに記録されたテストパターンデータを再生して位相エラーからジッタ量を検出し、最適記録パワーを求める光ディスクの記録用ＬＳＩであって、
前記ジッタ量が予め定めた値より小さくなる記録パワーの範囲を求める手段と、
前記求めた記録パワーの範囲の中心を最適記録パワーとして求める手段とを有することを特徴とする光ディスクの記録用ＬＳＩ。
【請求項２】
異なるパワーで光ディスクに記録されたテストパターンデータを再生して位相エラーからジッタ量を検出し、最適記録パワーを求める光ディスクの記録用ＬＳＩであって、
前記ジッタ量が予め定めた値より小さくなる記録パワーの範囲を求める手段と、
前記求めた記録パワーの範囲が予め定めた範囲よりも狭い場合、記録速度を下げる手段とを有することを特徴とする光ディスクの記録用ＬＳＩ。
【請求項３】
異なるパワーで光ディスクに記録されたテストパターンデータを再生して位相エラーからジッタ量を検出し、最適記録パワーを求める光ディスクの記録用ＬＳＩであって、
前記ジッタ量が予め定めた値より小さくなる記録パワーの範囲を求める手段と、
前記求めた記録パワーの範囲が予め定めた範囲よりも狭い場合、記録波形を変更する手段とを有することを特徴とする光ディスクの記録用ＬＳＩ。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の光ディスクの記録用ＬＳＩにおいて、
前記ジッタ量の検出は、ジッタ測定範囲のσを求めることを特徴とする光ディスクの記録用ＬＳＩ。
【請求項５】
請求項４記載の光ディスクの記録用ＬＳＩにおいて、
前記σの算出は、Σｎ｜Ｘｎ−平均値｜／（ｎ）、Ｘｎ；サンプル値（実数）、ｎ；母数（自然数）をもって求めることを特徴とする光ディスクの記録用ＬＳＩ。
【請求項６】
異なるパワーで光ディスクに記録されたテストパターンデータを再生して位相エラーからジッタ量を検出し、最適記録パワーを求める光ディスクの記録方法であって、
前記ジッタ量が予め定めた値より小さくなる記録パワーの範囲を求めるステップと、
前記求めた記録パワーの範囲の中心を最適記録パワーとして求めるステップとを有することを特徴とする光ディスクの記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録型光ディスクの記録技術に関し、特に、記録するレーザーパワーの最適値を求める場合に、再生信号のジッタを評価指標として用いる方法に適用して有効な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ／ＲＡＭをはじめとする光ディスクの記録を行う場合、最適な記録パワーを求めるため、異なる記録パワーで試し書きを行い、各記録パワーで試し書きを行った箇所の再生を行い、エラーレートを計ることで記録品質を判断し、最も記録品質の高い記録パワーを最適記録パワーと定めていた。ところが、記録パワーとエラーレートの関係は、品質の比較的良い範囲では殆ど変化せず、最も品質の良い記録パワーを探索することは困難であった。これに対し、各記録パワーで試し書きを行った箇所の再生を行い、ジッタを測定することで、最もジッタの少ない記録パワーが明確に求めることが可能となった（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１１−２７３０７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、前記特許文献１に示される方法では、最もジッタが少ないところに最適記録パワーを求めることができるが、この特許文献１にも示されるとおり、ジッタは最もジッタの小さい記録パワーから低パワー側に記録パワーを変えると急激にジッタが悪化するのに対し、高パワー側に記録パワーを変えると緩やかにジッタは悪化している（特許文献１−図６）。これは、記録パワーが低くなるとＣ／Ｎ比が低下してこの効果でジッタがより悪くなり、記録パワーが高くなるとＣ／Ｎ比が向上して、この効果でジッタが比較的改善されるためと考えられる。また、記録パワーとジッタの関係は記録波形の影響も受ける。
【０００４】
従って、記録パワーがある範囲で変動すると、低パワー側に振れた場合には、記録品質が急速に悪化するし、測定精度が十分でなく求められた最適記録パワーのばらつきが大きいと、記録品質の悪いものが出てくる可能性がある。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、ジッタの測定精度や求められた最適記録パワーがばらついても、予め定めておいた記録品質を得ることができる光ディスクの記録技術を提供することにある。
【０００６】
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
【０００８】
本発明は、異なる記録パワーで試し書きを行い、各記録パワーで試し書きを行った箇所の再生を行いジッタを測定し、ジッタが予め決めておいた一定値以下となる記録パワーの範囲を求め、さらに、この求めた記録パワーの範囲の中心を求め、これを最適記録パワーとすることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。
【００１０】
本発明によれば、予め定めておいたジッタ値の範囲の中心が最適記録パワーとされるので、ジッタの測定精度や、異なる記録パワーでテストパターンを書き込む時のパワー制御の精度によって求められた最適記録パワーがばらついても、予め決めておいたジッタ以下とすることができ、予め定めておいた記録品質を得ることができる。また、記録パワーが変動した場合にも、予め決めておいたジッタ以下とすることができ、予め定めておいた記録品質を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【００１２】
＜光ディスク記録装置の構成および動作＞
図１は、本発明の一実施の形態の光ディスク記録装置を示すブロック図である。
【００１３】
本実施の形態の光ディスク記録装置は、光ディスク１、光ピックアップ２、プリアンプ３、ＡＤコンバータ４、位相比較器５、ループフィルタ（ＬＰＦ）６、ＤＡコンバータ７、ＶＣＯ８、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｃｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）回路９、復調回路１０、ＩＤ検出回路１１、タイミングゲート生成回路１２、位相誤差絶対値化回路１３、エッジカウント回路１４、積算回路１５、除算回路１６、閾値設定回路１７、記録パワー値入力回路１８、大小判定回路１９、有効記録パワー範囲算出回路２０、最適パワー算出回路２１などから構成される。
【００１４】
この光ディスク記録装置において、２２は、除算回路１６、閾値設定回路１７、記録パワー値入力回路１８、大小判定回路１９、有効記録パワー範囲算出回路２０、最適パワー算出回路２１をＣＰＵで構成した場合を示したもので、また、２３は、光ディスク記録装置の各要素を集積化してＬＳＩとした場合のものを示す。
【００１５】
この光ディスク記録装置では、特に、有効記録パワー範囲算出回路２０が、位相エラーから検出したジッタ量が予め定めた値より小さくなる記録パワーの範囲を求める手段として機能し、また、最適パワー算出回路２１が、有効記録パワー範囲算出回路２０で求めた記録パワー範囲の中心を最適記録パワーとして求める手段として機能する。さらに、最適パワー算出回路２１は、求めた記録パワー範囲が予め定めた範囲よりも狭い場合、記録速度を下げたり、記録波形を変更する手段としても機能する。
【００１６】
本実施の形態の光ディスク記録装置では、光ディスク１に対し、光ピックアップ２を所望の位置に移動させ、目的の信号を電気信号に変換する。電気信号に変えられた入力信号はプリアンプ３で等価が行われる。ＡＤコンバータ４では再生されたチャネルクロックでサンプリングを行う。ＡＤコンバータ４でサンプリングされた信号は位相比較器５に入力され、ゼロクロス点の前後のサンプル値の誤差によって位相比較を行う。ループフィルタ６は位相比較器５の出力をフィルタリングする。ループフィルタ６の出力は、ＤＡコンバータ７でアナログ電圧に変換され、ＶＣＯ８に入力される。ＶＣＯ８の発振出力はＡＤコンバータ４のサンプリングクロックをはじめとして各所で用いられる。また、ＡＤコンバータ４、位相比較器５、ループフィルタ６、ＤＡコンバータ７、ＶＣＯ８は従来からのディジタルＰＬＬを構成する。
【００１７】
ＡＤコンバータ４の出力は、ＰＲＭＬ回路９に入力され、２値化処理が行われる。２値化されたＰＲＭＬ回路９の出力は、復調回路１０に入力される、復調回路１０ではディスクフォーマットに従って変調されて記録された信号を復調する。変調された信号をＩＤ検出回路１１に入力して光ディスク１上のアドレスを再生し、光ディスク１上の位置を検出する。光ディスク１上には、アドレスごとに記録パワーを変化させて、テストパターンが記録されており、アドレス検出タイミングを基準に再生品質を測定することで、各記録パワーに対応した品質を評価することができる。タイミングゲート生成回路１２はＩＤ検出回路１１のアドレス検出タイミングを基準に再生品質を評価する期間をあらわすタイミングゲートを生成する。
【００１８】
位相誤差絶対値化回路１３は、位相比較器５で検出された位相誤差の絶対値を算出する。この算出の際には簡単に、Σｎ｜Ｘｎ−平均値｜／（ｎ）、Ｘｎ；サンプル値（実数）、ｎ；母数（自然数）により、ジッタ測定範囲のσを求める。なお、これはジッタのσを求めるのが目的なので、一般的な位相誤差の２乗を算出する式を用いることがより好ましい。算出された各エッジ毎の位相誤差の誤差は、タイミングゲート生成回路１２のタイミングゲートの立ち上がりより積算を開始し、立下りで積算を終了する。一方、エッジカウント回路１４は、タイミングゲート生成回路１２のタイミングゲートの立ち上がりから立下りまでの期間エッジ数をカウントする。タイミングゲート生成回路１２のタイミングゲート信号の立下り後、除算回路１６で積算回路１５の位相誤差絶対値の積算値をエッジカウント回路１４のカウントエッジ数で除算する。除算回路１６では、位相誤差絶対値化回路１３で位相誤差の二乗を求めた場合は、積算回路１５の積算値の出力の√をエッジカウント回路１４のカウントエッジ数で除算する。
【００１９】
閾値設定回路１７は、光ディスク１の記録品質をジッタσの何％以下に抑えたいかで予め設定しておいた値を保持しておく。光ディスク１の種類によってはディスクの規格として記録品質が定められているものがあり、その場合はマージンを考慮して規格値以下に設定する。大小判定回路１９は、除算回路１６で得られたジッタσが閾値設定回路１７の閾値より低いか判定を行う。記録パワー値入力回路１８はＩＤ検出回路１１で検出されたアドレス情報からテストパターンを記録したパワーを求める。有効記録パワー範囲算出回路２０は、記録パワー値入力回路１８から入力される各記録パワーで、ジッタσが閾値以下かどうかの判定から、ジッタσが閾値以下となる記録パワーの範囲を求める。最適パワー算出回路２１は有効記録パワー範囲算出回路２０で求められた記録パワーの範囲の中央を最適パワーとする。
【００２０】
図２は、アドレス毎に変更した記録パワー（Ｐｏｗｅｒ）を横軸にとり、縦軸にそのアドレスのデータを再生した時のジッタσをとったものである。図２においては、ジッタσの閾値を１０％とおいた場合の最適値の算出過程を示す。水平に引かれた２本の両矢印はジッタσ１０％以下となるパワーの範囲を示している。この中央となる２５３Ｗを最適パワーとして求めている。図２においては、この点はジッタ最小となる点（２３２Ｗ）と異なる点となる。これは、図２において低パワー側ではＣＮの悪化によって急激にジッタが悪化し、高パワー側ではＣＮの向上によりジッタの悪化が低減されるからと考えられる。また、記録パワー対ジッタのグラフの形状は記録パルスの波形によっても異なってくる。仮に記録パワーが±２８Ｗ変動したとすると最適パワーを２３２Ｗとしているとジッタσは１０％を超えてしまう。しかし、２５３Ｗを最適パワーとしていると±２８Ｗ変動してもジッタσは１０％を超えることは無く、記録パワーの変動に対しても余裕度のある調整が可能となる。
【００２１】
以上、本実施の形態の光ディスク記録装置によれば、記録パワー対再生ジッタの関係が放物線上にならなくても、すなわち、ジッタ最小となるパワーを中心に低パワー側と高パワー側で対称にならないような場合でも、記録中の記録パワーの変動に対して余裕を持った最適記録パワーを求めることができる。また、記録品質に対して、高パワー側も低パワー側も余裕を持った最適記録パワーが求められるため、テストパターンを試し書きするときのパワー精度や、ジッタの測定精度に余裕を持つことができる。また、記録パワー対再生ジッタのグラフ形状に依存せずに、最適記録パワーが求まるため、記録パルスの波形が変わっても精度良く最適記録パワーを求めることができる。
【００２２】
＜第１の光ディスクの記録方法＞
図３は、本実施の形態の光ディスク記録装置において、第１の光ディスクの記録方法を示すフローチャートである。
【００２３】
第１の光ディスクの記録方法は、記録パワーのスキャンを実行し（ステップ３００）、まずタイミングゲートが開いているか否かを判定する（ステップ３０１）。この判定の結果、開いていない場合には判定に戻り、開いている場合は位相エラーの絶対値を積算する（ステップ３０２）。さらに、エッジ数をカウントし（ステップ３０３）、タイミングゲートが閉じているか否かを判定する（ステップ３０４）。この判定の結果、閉じていない場合にはステップ３０２に戻り、閉じている場合は位相エラーの絶対値の積算値をエッジ数で除算する（ステップ３０５）。
【００２４】
続いて、除算結果が閾値より低い場合に対応する記録パワー値を保持しておき（ステップ３０６）、以上の処理が記録パワー変更範囲の全てに対して処理が終了しているか否かを判定する（ステップ３０７）。この判定の結果、終了していない場合にはステップ３０１に戻り、終了している場合は記録パワー値の有効範囲を算定する（ステップ３０８）。そして、記録パワー値の有効範囲の中央を求め（ステップ３０９）、これを最適記録パワーとする。
【００２５】
すなわち、ステップ３０１とステップ３０４は、図１のタイミングゲート生成回路１２によってアドレス毎に記録パワーを変化させてテストパターンをライトした光ディスク１を再生する時に、各アドレスごとに開閉するタイミングゲート信号の開閉を判断し、ゲート開の間に、ステップ３０２とステップ３０３を実行させる。ステップ３０４によってステップ３０２とステップ３０３が停止させられた後、ステップ３０５を実行させ、ジッタのσを求めさせる。ステップ３０６ではステップ３０５で求められたσが予め定められた閾値より小さいか否かを判定し、小さいと判定された場合は当該アドレスの記録パワー値を保持しておく。
【００２６】
ステップ３０１からステップ３０６の処理を各アドレスについて繰り返して、記録パワーを変化させて記録した全範囲について処理が終わったか否かをステップ３０７で確認し、終了していたら、ステップ３０６で保持された記録パワー値の集合体から、ジッタが閾値以下となる記録パワーの範囲をステップ３０８で求める。最後に、ステップ３０９でステップ３０８で求めた有効記録パワーの範囲の中心を求める。
【００２７】
なお、この記録方法ではステップ３０６で閾値以下となるパワー値のみを保持しておくようにしたが、各アドレスに対するステップ３０５の結果をテストパターンをライトした全ての範囲に対して残しておき、ステップ３０８で残しておいた全アドレスに対するステップ３０５の結果からステップ３０８で有効記録パワーの範囲を求めても良い。
【００２８】
以上により、この第１の光ディスクの記録方法によれば、記録中の記録パワーの変動に対して余裕を持った最適記録パワーを求める記録方法が提供できる。また、テストパターンを試し書きするときのパワー精度や、ジッタの測定精度に余裕を持った記録方法が提供できる。また、記録パルスの波形が変わっても精度良く最適記録パワーを求めることができる。
【００２９】
＜第２の光ディスクの記録方法＞
図４は、本実施の形態の光ディスク記録装置において、第２の光ディスクの記録方法を示すフローチャートである。
【００３０】
第２の光ディスクの記録方法は、ステップ３００からステップ３０９は図３と同じ処理内容の構成である。また、ステップ３０８で有効記録パワーを求めるまでの処理は図３と同一である。
【００３１】
ステップ４１０は、ステップ３０８で求めた有効記録パワーが予め決めておいた大きさに満たない場合、ステップ４１１で回転速度を下げるとともに、ステップ４１２で記録パワーを変えてテストパターンを記録する際の記録パワーを変更するレンジを変更し、記録パルスの波形も変更する回転速度に合わせて変更して試し書きを実行する。即ち、記録速度を変更してもう一度試し書きを行い、ステップ３０１からステップ３０９の記録品質の判定を再度行い直す。
【００３２】
以上により、この第２の光ディスクの記録方法では、記録品質の判定の際に、データを記録した際のジッタが予想できるため、基準に達しない場合は記録速度を下げることで、記録品質を損なうことなく、高速での記録が実現できる。
【００３３】
＜第３の光ディスクの記録方法＞
図５は、本実施の形態の光ディスク記録装置において、第３の光ディスクの記録方法を示すフローチャートである。
【００３４】
第３の光ディスクの記録方法は、ステップ３００からステップ３０９と、ステップ４１０からステップ４１２は図４と同じ処理内容の構成である。
【００３５】
ステップ５１３は、回転速度を既に下げきっておりこれ以上下げれない場合に、ステップ５１４を実行して記録パルスの波形の変更を行う。
【００３６】
以上により、この第３の光ディスクの記録方法では、記録品質が基準に達しないと想定される場合に、記録波形の変更を行うので、記録波形の調整が無駄なく行うことができる。従って、試し書き領域が限定されるＤＶＤ−Ｒなどのライトワンスディスクにおいて、有効に、記録パワー調整、記録波形調整を行うことができる。
【００３７】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００３８】
本発明は、記録型光ディスクの記録技術に関し、特に、記録するレーザーパワーの最適値を求める場合に、再生信号のジッタを評価指標として用いる方法に利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の一実施の形態の光ディスク記録装置を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施の形態の光ディスク記録装置において、最適記録パワー算出法を説明するための記録パワーとジッタとの関係を示す図である。
【図３】本発明の一実施の形態の光ディスク記録装置において、第１の光ディスクの記録方法を示すフローチャートである。
【図４】本発明の一実施の形態の光ディスク記録装置において、第２の光ディスクの記録方法を示すフローチャートである。
【図５】本発明の一実施の形態の光ディスク記録装置において、第３の光ディスクの記録方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４０】
１…光ディスク、２…光ピックアップ、３…プリアンプ、４…ＡＤコンバータ、５…位相比較器、６…ループフィルタ、７…ＤＡコンバータ、８…ＶＣＯ、９…ＰＲＭＬ回路、１０…復調回路、１１…ＩＤ検出回路、１２…タイミングゲート生成回路、１３…位相誤差絶対値化回路、１４…エッジカウント回路、１５…積算回路、１６…除算回路、１７…閾値設定回路、１８…記録パワー値入力回路、１９…大小判定回路、２０…有効記録パワー範囲算出回路、２１…最適パワー算出回路、２２…ＣＰＵ、２３…ＬＳＩ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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