(57)【要約】【課題】  波形のエッジ数が不定な場合におけるチャネル間のディレイを測定する波形パラメータ測定装置を提供する。【解決手段】  測定データを記憶する記憶部を備え、この記憶部に記憶されたデータに基づいて波形のパラメータを測定する波形パラメータ測定装置において、  前記記憶部に記憶されたデータのうち第１のポイントを選択すると共に、不定値からなる第２のポイントを選択するポイント設定レジスタと、  前記第１のポイントから前記第２のポイントをサーチして波形パラメータの演算を行う演算処理プロセッサと  を備える。  【選択図】                    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定データを記憶する記憶部を備え、この記憶部に記憶されたデータに基づいて波形のパラメータを測定する波形パラメータ測定装置において、
前記記憶部に記憶されたデータのうち第１のポイントを選択すると共に、不定値からなる第２のポイントを選択するポイント設定レジスタと、
前記第１のポイントから前記第２のポイントをサーチして波形パラメータの演算を行う演算処理プロセッサと
を備えたことを特徴とする波形パラメータ測定装置。
【請求項２】
前記記憶部は複数チャンネルの測定データを記憶し、前記ポイント設定レジスタは第１のチャネルの立ち上がり若しくは立ち下がりエッジを前記第１のポイントとし、エッジカウントが不定な第２のチャネルの立ち下がり若しくは立ち上がりエッジを前記第２のポイントとし、前記演算処理プロセッサは前記第１のポイントから前記第２のポイントをサーチすることにより、前記第１のポイントと前記第２のポイント間のディレイを測定することを特徴とする請求項１記載の波形パラメータ測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波形パラメータを自動的に測定する波形パラメータ測定装置に関し、特に、波形のエッジ数が不定な場合におけるチャネル間のディレイを測定する波形パラメータ測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、波形パラメータ測定装置は遅延時間、周波数等の変化を測定できるようにしたものである。例えば、波形パラメータ測定装置におけるDelay（遅延時間）の自動測定は、先ず、カーソルで測定範囲を設定し、所定のチャンネル（ＣＨ１、ＣＨ２、・・・〜ＣＨｎ）を選択し、チャネル間のDelay測定には、エッジカウント数、リファレンスCh、レベル設定と、所定の測定条件（ＤＩＳＴＡＬ(ディスタル)、ＰＲＯＸＩＭＡＬ(プロキシマル)、ＭＥＳＩＡＬ(メシアル値)）を選択することにより行われる。このような波形パラメータ測定装置の先行技術文献としては特許文献１のようなものがある。
【０００３】
【特許文献１】特開２００１―１６５９６１号公報
【０００４】
図３は従来における波形パラメータ測定装置の構成例である。Ａ／Ｄ変換器１は、測定データをＡ／Ｄ変換（アナログ・デジタル変換）する。そして、この測定データは、１次データ処理回路２で時系列的な信号変化を表す波形データに加工処理され、１次メモリ３に記憶される。
【０００５】
１次メモリ３に書かれたデータは２次データ処理回路４でアベレージング等のデータ処理が行われアクイジョンメモリ５（記憶部）に書き込まれる。アクイジョンメモリ５に書き込まれたデータは、表示処理回路６に転送され表示メモリ７に記憶されると共に、後述する様に２次データ処理回路４によってパラメータ測定にも用いられる。表示メモリ７に記憶されたデータは表示手段８で表示される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
以下、図３の波形パラメータ測定装置の問題点を図４及び図５を参照して説明する。図４はCH2波形１２０の立ち上がりエッジ１２１（トリガポイント）でトリガをかけたものである。しかし、左側にあるカーソル１３０から右側にあるカーソル１３１の方向にしか測定を行うことができないため、CH1波形１１０の立ち上がり、立下りエッジの数が測定毎に変化する場合、又は不定の場合は、CH1波形１１０のエッジカウント数が特定できず、測定箇所(A)のDelay(ディレイ）を自動的に測定することができない。
【０００７】
そのため、従来は図５で示すとおり手動測定用カーソル１４０、１４１を手動で調整して測定を行わざるを得なかった。すなわち、手動測定用カーソル１４０を、表示手段８を見ながらＣＨ１波形１１０の立下りエッジに合わせると共に、手動測定用カーソル１４１をＣＨ２波形１２０の立ち上がりエッジ１２１に合わせ、両者の差を求めることが必要とされた。
【０００８】
具体的な問題点につて、USB（Universal Serial Bus）のタイミング評価を例に説明する。図６において、CH1はD-波形１５０、CH2はD+波形１６０を表しており、リセットコマンド発行後最後のパケットからD+波形１６０がHレベルになるまでの時間を測定することを目的とする。ここで、USB信号のD+波形１６０とD-波形１５０は擬似差動信号である。パケット信号は125us毎に発行され、最後のパケットからD+波形１６０がHレベルになるまでに数msかかる。
【０００９】
また、図６は上段と下段に分類され、下段は上段の拡大図であり、さらに図６の左右で次の通り分類される。すなわち、下段の左側は最後のパケットを含む波形１７０の拡大波形であり、下段の右側はトリガポイントを含む波形１７１の拡大波形である。測定箇所(B)は、D-波形の拡大波形１５１の最後の立下りからD+波形の拡大波形１６１の立ち上がりまでの時間である。この波形においてもパケット数及びエッジ数が不確定のためDelay測定はできない。
【００１０】
本発明は、これらの問題点に鑑みてなされたものであり、波形のエッジ数が不定な場合におけるチャネル間のディレイを測定する波形パラメータ測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
このような課題を達成するために請求項１記載の発明は、
測定データを記憶する記憶部を備え、この記憶部に記憶されたデータに基づいて波形のパラメータを測定する波形パラメータ測定装置において、
前記記憶部に記憶されたデータのうち第１のポイントを選択すると共に、不定値からなる第２のポイントを選択するポイント設定レジスタと、
前記第１のポイントから前記第２のポイントをサーチして波形パラメータの演算を行う演算処理プロセッサと
を備える。
【００１２】
また、請求項２記載の発明は、請求項１記載の波形パラメータ測定装置において、
前記記憶部は複数チャネルの測定データを記憶し、前記ポイント設定レジスタは第１のチャネルの立ち上がり若しくは立ち下がりエッジを前記第１のポイントとし、エッジカウントが不定な第２のチャネルの立ち下がり若しくは立ち上がりエッジを前記第２のポイントとし、前記演算処理プロセッサは前記第１のポイントから前記第２のポイントをサーチすることにより、前記第１のポイントと前記第２のポイント間のディレイを測定する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明では、次のような効果がある。
記憶部に記憶されたデータのうち第１のポイントを選択すると共に、不定値からなる第２のポイントを選択するポイント設定レジスタと、第１のポイントから第２のポイントをサーチして波形パラメータの演算を行う演算処理プロセッサとを設けたので、波形のエッジ数が不定な場合におけるチャネル間のディレイを測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の波形パラメータ測定装置の構成例について図１を参照して説明するが、図３と同一の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
【００１５】
２次データ処理回路４０は、演算処理プロセッサ４１、ポイント設定レジスタ４２、演算結果格納レジスタ４３で構成される。演算処理プロセッサ４１は、アクイジョンメモリ５からデータをサーチし、設定された条件に従いパラメータの演算処理を行う。ポイント設定レジスタ４２はアクイジョンメモリ５に格納されている波形データの測定範囲、測定開始、及び終了ポイントを設定する。演算結果格納レジスタ４３は、演算処理プロセッサ４１で演算処理されたパラメータ値を格納する。
【００１６】
次に、図１の動作を図２のフローチャートを参照して説明する。ただし、１次データ処理回路２を介して２次データ処理回路４０へ測定データが入力されるまで、及び２次データ処理回路４０から表示処理回路６に演算処理の結果が出力された後の動作については図３と同様なので説明を省略し、２次データ処理回路４０における動作を説明する。
【００１７】
ユーザーまず、波形パラメータの自動測定に先立ち、波形パラメータ測定装置の測定アイテム（Ｖｐｐ、Ｍａｘ、Ｍｉｎ、Ｒｉｓｅ、Ｆａｌｌ、Ｆｒｅｑ・・・)、対象チャネル（ＣＨ１、ＣＨ２、・・・）、その他測定条件 (ディスタル、プロキシマル、メシアル・・・) を設定する（ステップ１）。また、チャネル間のDelay測定を行う場合には、エッジカウント数、リファレンスCh、レベル設定も行う。
【００１８】
例えば図４の測定箇所（Ａ）を測定する場合には、ユーザーは、ポイント設定レジスタ４２を用いて、波形データの測定範囲、測定開始、及び終了ポイントを設定すると共に、左側のカーソルを測定開始ポイントとし右側のカーソルへ向けてサーチするものとするか（条件Ａ）、右側カーソルを測定開始ポイントとし左側のカーソルへ向けてサーチするものとするか（条件Ｂ）選択する（ステップ２）。ここで、例えば図４の測定箇所（Ａ）の場合、エッジカウント数が不明で分からない場合には上記の条件Ｂを選択すると共に、エッジカウント数については最初のエッジを測定するので「１」とする。
【００１９】
演算処理プロセッサ４１は、ステップ２で設定した測定開始ポイントから測定終了ポイントへ向けてアクイジョンメモリ５に記憶されている波形データをサーチし（ステップ３）、設定された条件に従いパラメータの演算処理を行う（ステップ４）。演算処理プロセッサ４１で演算処理されたパラメータ値は、演算結果格納レジスタ４３に格納され、表示処理回路６に出力される。
【００２０】
このように、アクイジョンメモリ５に記憶されたデータのうち第１のポイントを選択すると共に、不定値からなる第２のポイントを選択するポイント設定レジスタ４２と、第１のポイントから第２のポイントをサーチして波形パラメータの演算を行う演算処理プロセッサ４１とを設けたので、波形のエッジ数が不定な場合におけるチャネル間のディレイを測定することができる。
【００２１】
なお、波形パラメータ測定装置にはデータのサーチ機能が備えられており、例えば次の２種類の機能が挙げられる。第１の機能は、自動測定した波形パラメータの値が指定した範囲に入っているか入っていないか検索するものである。この場合、測定項目（上限値／下限値の設定）の設定を行って、その値が設定範囲内か否かを検索する。
【００２２】
また、第２の機能は、自動測定した波形パラメータの値がポリゴン図形の範囲内に入っているか否か検索するものである。この場合、対象波形がサーチゾーンに入っているか否かを検索する。
【００２３】
これら第１、第２いずれの機能を用いて波形パラメータ測定装置のデータ測定を行った場合でも、左側のカーソルを測定開始ポイントとし右側のカーソルへ向けてサーチするものとするか、右側カーソルを測定開始ポイントとし左側のカーソルへ向けてサーチするものとするか選択することができ、データのサーチが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明による波形パラメータ測定装置の構成例である。
【図２】図１のフローチャートである。
【図３】従来における波形パラメータ測定装置の構成例である。
【図４】CH2波形の立ち上がりエッジ（トリガポイント）でトリガをかけた波形図である。
【図５】手動測定用カーソル１４０、１４１を用いて測定箇所（Ａ）を測定する図面である。
【図６】USBのタイミング評価の説明図である。
【符号の説明】
【００２５】
５            アクイジョンメモリ
４０          ２次データ処理回路
４１          演算処理プロセッサ
４２          ポイント設定レジスタ
４３          演算結果格納レジスタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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