(57)【要約】【課題】ＥＭＩ対策を実施する者は、被測定装置のノイズ源や放射源を突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をタイムリーに講じることが重要である。そのためには、どこがノイズ源でどこが放射源かをいち早くつきとめることが重要である。【解決手段】ＥＭＩ測定システムにおいて、非導電性机２は天板全体を半透明の非導電性材料で構成し、ターンテーブル３の一部に投影機の投影口２１を開け、投影口２１に投影機のレンズ２２を挿入してターンテーブル３の表面から下側の位置に非導電性机用投影機１４を設け、非導電性机用投影機１４から非導電性机２の半透明の天板に対しＥＭＩ測定器から送られた測定結果情報を投影可能に設け、電波暗室の外側には、専用スクリーン用投影機１５と非導電性机用投影機１４を切り替えて２つの投影面の切り替えを行う切替手段（モニタ分配器３０）を設けた。【選択図】図１
2008241661.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置を載せる非導電性机と、前記非導電性机を載せて回転可能なターンテーブルと、被試験装置から放射されるノイズを検出するアンテナと、専用スクリーンと、前記専用スクリーンに測定結果情報を投影する専用スクリーン用投影機を備え、
前記電波暗室の外側には、前記アンテナからの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器を備え、
前記電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムにおいて、
前記非導電性机は、天板全体を半透明の非導電性材料で構成し、前記ターンテーブルの一部に、投影機の投影口を開け、該投影口に投影機のレンズを挿入して前記ターンテーブルの表面から下側の位置に非導電性机用投影機を設け、該非導電性机用投影機から前記半透明の天板に対しＥＭＩ測定器から送られた測定結果情報を投影可能に設けると共に、
前記電波暗室の外側には、前記専用スクリーン用投影機と非導電性机用投影機を切り替えて２つの投影面の切り替えを行う切替手段を設けたことを特徴とするＥＭＩ測定システム。
【請求項２】
前記非導電性机は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部とし、該天板投影部を前記非導電性机用投影機の投影面として前記非導電性机の天板の一部に埋め込んだことを特徴とする請求項１記載のＥＭＩ測定システム。
【請求項３】
前記専用スクリーン及び非導電性机の天板には、前記ＥＭＩ測定器から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示することを特徴とする請求項１又は２記載のＥＭＩ測定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デスクトップＰＣ（ＰＣ：パーソナルコンピュータ）、ノートＰＣ、プリンタなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）等のＥＭＩ測定において、問題となるノイズ源や放射源がどの周波数帯域のノイズレベルに影響があるかを速やかに調査可能なノイズ表示方法を有するＥＭＩ測定システムに関する。
【０００２】
昨今の情報技術装置（ＩＴＥ）は、ＣＰＵクロック周波数の高速化、プリント基板の高密度実装化、装置の軽量化などによって、電波対策（ＥＭＩ対策）及び静電気対策（ＥＳＤ対策）がますます困難になってきている。
【０００３】
ノートＰＣ，プリンターなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）は、内蔵基板に存在するＩＣとそのインタフェースによって、広範囲の周波数帯域でいろいろなノイズ（広帯域ノイズ、狭帯域ノイズ）が放射される。これらのノイズをＥＭＣ規制で規定されている許容値以内に抑えないと製品としての装置（ＩＴＥ）を出荷することができない。
【０００４】
そのためには、装置出荷に影響を与えるノイズ源又は放射源に対し、ＥＭＩ対策（ＥＭＩフィルターの挿入等）や構造対策（ガスケットや導電布の貼付など）を行い、装置全体の許容値を規定値以内になるようにする。そこで、ＥＭＩ対策を実施する者は、それらのノイズ源や放射源を突き止め、ノイズ抑制効果のある対策を講じることが重要である。
【背景技術】
【０００５】
§１：従来例１の説明
図１３は従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その１）、図１４は従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その２）、図１５は従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その３）である。以下、図１３乃至１５に基づいて、従来例１を説明する。
【０００６】
(1) ：ＥＭＩ測定時のノイズ表示方法
従来、デスクトップＰＣ、ノートＰＣ、プリンタなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）のＥＭＩ測定において、図１３のような方法でＥＭＩ測定を行なっていた。この例では、電波暗室内に、ノートパソコン等の被試験装置（ＥＵＴ）１を載せてＥＭＩ測定を行うための非導電性机２と、非導電性机２を回転させるためのターンテーブル３と、被試験装置（ＥＵＴ）１から放射されるノイズを検出するためのアンテナ５と、アンテナ５の高さを変えるためのアンテナ昇降台６と、スペアナ画面等の測定結果情報を投影するための専用スクリーン８と、専用スクリーン８にスペアナ画面等の測定結果情報を投影するための専用スクリーン用プロジェクター１５と、専用スクリーン用プロジェクター１５をＥＭＩ測定器（スペアナまたはレシーバ等）へ接続するためのビデオケーブル１０等を備え、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４が、被試験装置（ＥＵＴ）１のＥＭＩ測定を行なっていた。
【０００７】
(2) ：測定者の視線等の説明（その１）
図１４に示したように、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、非導電性机２の上に被試験装置（ＥＵＴ）１を載せてＥＭＩ測定を行う。この場合、専用スクリーン用プロジェクター１５によりスペアナ画面等を専用スクリーン８に投影し、このプロジェクターが投影した像２３（スペアナ画面等）を見ながらＥＭＩ測定を行う。すなわち、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作しながら専用スクリーン８に投影された像２３（スペアナ画面等）を見る必要があった。
【０００８】
(3) ：測定者の視線等の説明（その２）
図１５に示したように、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、非導電性机２の上に被試験装置（ＥＵＴ）１を載せてＥＭＩ測定を行う。この場合、スペアナモニター１２に映し出されたスペアナ画面を見ながらＥＭＩ測定を行う。すなわち、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作しながらスペアナモニター１２に表示されたスペアナ画面を見る必要がある。
【０００９】
(4) ：ＥＭＩ測定時の説明
従来の技術では、デスクトップＰＣ、ノートＰＣ、プリンタなどに代表される情報技術装置（ＩＴＥ）のＥＭＩ測定において、問題となるノイズ源や放射源は、そのプリント基板のビアやコネクタに適当なストラップ線（金属ワイヤ等）を電気的に接続し、ストラップ線をアンテナにすることで、そのビアやコネクタなどがどの周波数でノイズをどの程度出しているかスペアナの画面を電波暗室内の専用スクリーンに専用スクリーン用プロジェクター１５で投影又はスペアナの画面をスペアナモニター１２に表示して調査していた。
【００１０】
同様にして、放射源となっているケーブルを挿抜し、それによってどの周波数帯域でそのＩ／Ｆケーブルがどのくらいノイズに影響しているかを、スペアナの画面を電波暗室内の専用スクリーン８に専用スクリーン用プロジェクター１５で投影またはスペアナの画面をスペアナモニター１２に表示して調査していた。
【００１１】
この場合、そのストラップ線を接続する、しないのノイズレベルの差を電波暗室内のスペアナモニター１２や専用スクリーン用プロジェクター１５で投影された像２３で確認する場合、ストラップ線を接続する、しないのノイズレベルの差を一人でチェックしようとすると、作業者の視線が位置の大きく異なるストラップ線の先端と、スペアナモニター１２や専用スクリーン用プロジェクター１５で投影された像２３の間を移動するため、手元が狂ってプリント基板をショートさせ、プリント基板を破損させる恐れがあった。
【００１２】
特に、最近のプリント基板は高密度実装化され、その危険が大きい。また、最近の情報技術装置は、コストダウンのため、装置のプリント基板の作成枚数やプリント基板の改版回数を減らす傾向が顕著である。プリント基板を破損させることは、装置のＥＭＣ規格取得の工程に大きな影響を与え、衝撃試験、熱評価等の様々な評価に必要な貴重なプリント基板を失う意味も大きい。
【００１３】
これを回避するため、作業者を２人以上準備し、ストラップ線を接続する、しないの作業をする者を別々にすればよいが、作業者が増えて人件費が多くかかる上に、お互いに声を掛けて確認しなければならない。
【００１４】
§２：従来例２（特許文献１参照）の説明
図１６は従来例２の説明図である。以下、図１６に基づいて従来例２（特許文献１参照）を説明する。
【００１５】
従来例２は、観察者に強い印象を与えることが可能なスクリーンシステムを提供するというものであり、次のような内容である。すなわち、表示面における透明度を調節することが可能なスクリーン１０と、スクリーン１０に画像を表示するために光を投射するプロジェクタ３０と、スクリーン１０の観察側の反対側に、スクリーン１０と空間を隔てて設けられ、スクリーン１０側に対して情報を表示する表示部２０と、スクリーン１０の観察側の近傍領域内に在るＩＣタグを検出するリーダ５０と、リーダ５０の検出結果に応じて、スクリーン１０の表示面の透明度を調整し、プロジェクター３０によるスクリーン１０への光の投射を制御するＰＣ７０とを備えるスクリーンシステム。
【特許文献１】特開２００６−２４３０６８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
(1) ：ＥＭＩ対策を実施する者は、被測定装置（ＥＵＴ）のノイズ源や放射源を突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をタイムリーに講じることが重要である。そのためには、どこがノイズ源でどこが放射源かをいち早くつきとめることが重要である。
【００１７】
現在、国際規格ＣＩＳＰＲ２２（３版、１９９７年度版）のＥＭＩ規制の対象となっている周波数帯域は、３０ＭＨZ から１ＧＨZ であり、この帯域でどこがノイズ源かを速やかに調査できるようにしたいが、その調査は効率良く、かつ前述のようなプリント基板の破損の問題を回避しながら行わなければならなかった。
【００１８】
(2) ：従来例２は、観察者に強い印象を与えることが可能なスクリーンシステムに関するものであり、本発明の主要な構成を含んでいない。従って、従来例２は本発明の参考程度の内容である。
【００１９】
本発明は前記従来の課題を解決し、装置出荷に影響を与えるノイズ源や放射源をノイズ源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に低減又は回避しながら、広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をより効率的に講じることができるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
本発明は前記の目的を達成するため、次のように構成した。
【００２１】
(1) ：外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置を載せる非導電性机と、前記非導電性机を載せて回転可能なターンテーブルと、被試験装置から放射されるノイズを検出するアンテナと、専用スクリーンと、前記専用スクリーンに測定結果情報を投影する専用スクリーン用投影機を備え、前記電波暗室の外側には、前記アンテナからの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器を備え、前記電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムにおいて、前記非導電性机は、天板全体を半透明の非導電性材料で構成し、前記ターンテーブルの一部に、投影機の投影口を開け、該投影口に投影機のレンズを挿入して前記ターンテーブルの表面から下側の位置に非導電性机用投影機を設け、該非導電性机用投影機から前記半透明の天板に対しＥＭＩ測定器から送られた測定結果情報を投影可能に設けると共に、前記電波暗室の外側には、前記専用スクリーン用投影機と非導電性机用投影機を切り替えて２つの投影面の切り替えを行う切替手段を設けたことを特徴とする。
【００２２】
(2) ：前記(1) のＥＭＩ測定システムにおいて、前記非導電性机は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部とし、該天板投影部を前記非導電性机用投影機の投影面として前記非導電性机の天板の一部に埋め込んだことを特徴とする。
【００２３】
(3) ：前記(1) 又は(2) のＥＭＩ測定システムにおいて、前記専用スクリーン及び非導電性机の天板には、前記ＥＭＩ測定器から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示することを特徴とする。
【００２４】
（作用）
図１は本発明の原理説明図である。以下、図１を参照しながら本発明の作用を説明する。
【００２５】
(a) ：前記(1) 乃至(3) の作用
測定者は、非導電性机２の上に被試験装置（ＥＵＴ：例えば、ノートパソコン）を載せて動作状態とし、該ノートパソコンから放射するノイズの測定を行う。この場合、予め、アンテナ昇降台６を制御してアンテナ５の高さを調節し、ノートパソコンから放射されるノイズをアンテナ５により検出し易いように設定してからＥＭＩ測定を行い、アンテナ５から検出した信号を電波暗室外のＥＭＩ測定器３１へ送る。
【００２６】
そして、ＥＭＩ測定器３１で測定し分析した結果の情報（例えば、スペアナ画面等のノイズレベルが分かる情報）を非導電性机用プロジェクター１４へ送り、非導電性机２の一部に投影する。そして、測定者４は、非導電性机２に投影された机上投影像２０（プロジェクターが投影した像）を見ながら、被試験装置（ＥＵＴ）を操作することを繰り返して行うことで被試験装置（ＥＵＴ）のＥＭＩ測定を行う。
【００２７】
このようにすれば、測定者４は、同一非導電性机２上の被試験装置（ＥＵＴ）１と非導電性机用プロジェクター１４から投影された机上投影像２０を見るだけでＥＭＩ測定の作業ができるので、視線の移動が僅かで済む。
【００２８】
その結果、装置出荷に影響を与えるノイズ源や放射源をノイズ源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に低減又は回避しながら、広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をより効率的に講じることができるようにすることができる。
【発明の効果】
【００２９】
請求項１乃至３によれば次のような効果がある。
【００３０】
(1) ：装置出荷（パソコン等の製品出荷）に影響を与えるノイズ源や放射源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に回避しながら広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策を効率的に講じることが可能になる。
【００３１】
(2) ：ＥＭＩ測定者は、同一非導電性机上の被試験装置（ＥＵＴ）と非導電性机用プロジェクターから投影された机上投影像を見るだけでＥＭＩ測定の作業ができるので、視線の移動が僅かで済む。
【００３２】
その結果、装置出荷に影響を与えるノイズ源や放射源をノイズ源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に低減又は回避しながら、広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をより効率的に講じることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
§１：装置の概要説明
図１は本発明の原理説明図である。以下、図１を参照しながら本発明を実施するためのＥＭＩ測定システムの概要を説明する。
【００３４】
(1) ：ＥＭＩ測定システムは、外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置（ＥＵＴ：例えば、ノートパソコン）を載せる非導電性机２と、非導電性机２を載せて回転可能なターンテーブル３と、被試験装置から放射されるノイズを検出するためのアンテナ（ＥＭＩ測定アンテナ）５と、専用スクリーン８と、専用スクリーン８に測定に必要な情報を投影するための専用スクリーン用プロジェクター１５を備え、電波暗室の外側には、アンテナ５からの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器３１を備え、電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムである。
【００３５】
前記ＥＭＩ測定システムにおいて、非導電性机２は、天板全体を半透明の非導電性材料（例えば、無反射ガラス）で構成し、ターンテーブル３の一部に、投影機（プロジェクター）の投影口２１を開け、該投影口２１に投影機のレンズ２２を挿入して、ターンテーブル３の表面から下側の位置に非導電性机用プロジェクター１４を設け、該非導電性机用プロジェクター１４から半透明の天板に対しＥＭＩ測定器３１から送られた測定結果情報を投影可能に設けると共に、電波暗室の外側には、専用スクリーン用投影機１５と非導電性机用プロジェクター１４を切り替えて２つの投影面の切り替えを行う切替手段（モニタ分配器３０）を設けた。
【００３６】
(2) ：前記ＥＭＩ測定システムにおいて、非導電性机２は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部２０とし、該天板投影部を非導電性机用投影機１４の投影面として非導電性机２の天板の一部に埋め込んだ。
【００３７】
(3) ：前記ＥＭＩ測定システムにおいて、専用スクリーン８及び非導電性机２の天板には、ＥＭＩ測定器３１から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示する。
【００３８】
§２：非導電性机とターンテーブルの説明
(1) ：ＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の説明
図２はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の俯瞰図、図３はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の断面図である。
【００３９】
図２、図３に示すように、ターンテーブル３は有限回転するものであり、その上に非導電性机２を載せてある。このターンテーブル３は、電波暗室の外に設置されたターンテーブルコントローラ（後述する）の制御により駆動手段（例えば、駆動用モータ、回転ローラ等）を用いて有限の角度（３６０°以内の角度）で回転駆動されるように構成されている（なお、ターンテーブル３は、３６０°以上回転するとケーブル等が絡まるため有限回転にする）。
【００４０】
また、ターンテーブル３の一部には、プロジェクター投影口２１を開け、該プロジェクター投影口２１に非導電性机用プロジェクター１４（図３参照）のレンズ２２を挿入して、ターンテーブル３の表面から下側の位置に非導電性机用プロジェクター１４を備える。また、ターンテーブル３の上側には非導電性机２を載せる。この場合、非導電性机２には４本の脚が設けてあり、これら４本の脚をターンテーブル３上に載せる。
【００４１】
非導電性机２は天板全体を半透明の非導電性材料（低誘電率材料、例えば、無反射ガラス）で構成してあるので、非導電性机用プロジェクター１４からの投影光は、レンズ２２から非導電性机２の天板の下側に向けて投影され、非導電性机２の天板の上側からプロジェクター１４が投影した机上投影像２０（スペアナ画面等）を見ることができるようになっている。また、ターンテーブル３の表面はグランド面（ＧＮＤ面）として使用できるように金属製の板（ＧＮＤ用金属板）等が設けてある。
【００４２】
(2) ：ターンテーブルの詳細構成の説明
図４はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図である。
【００４３】
図４に示すように、ターンテーブル３は上下２枚の円盤から構成されていて、上側の円盤と下側の円盤の間には、支持車輪２６が複数個設けてある。そして、これらの支持車輪２６は駆動手段（図示省略）により回転可能に構成されていて、この支持車輪２６の回転により、支持車輪２６の上に載っている上側のターンテーブル３が回転できるようになっている（３６０度以内で回転可能）。
【００４４】
また、上側のターンテーブル３には、シールドボックス２４内に収納された非導電性机用プロジェクター１４が設置されている。このシールドボックス２４は、上側の４隅でシールドボックス２４とのＦＧ（ＦＧ：ｆｒａｍｅ  ＧＮＤ）接続箇所２７により接続されている。また、非導電性机用プロジェクター１４には、ビデオケーブル１０と、プロジェクターの電源ケーブル２５により外部の機器に接続されている。
【００４５】
(3) ：ＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法の説明
(a) ：測定例１
図５はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法説明図（その１）である。図５に示した例は、プロジェクターを非導電性机用プロジェクター１４側に切り替え、非導電性机用プロジェクター１４を動作させて非導電性机２に投影することで、非導電性机２にプロジェクターが投影した机上投影像（スペアナ画面等）２０を表示させながらノイズ測定を行う例である。
【００４６】
この場合、測定者（ＥＭＩ対策技術者）４は、非導電性机２の上に被試験装置（ＥＵＴ）１として例えば、ノートパソコンを載せて動作状態とし、該ノートパソコンから放射するノイズの測定を行う。この場合、予めアンテナ昇降台６を制御してアンテナ（ＥＭＩ測定アンテナ）５の高さを調節しておく。そして、ノートパソコンから放射されるノイズをアンテナ５により検出し、電波暗室外のＥＭＩ測定器３１へ送る。
【００４７】
そして、ＥＭＩ測定器３１で測定し分析した結果の情報（例えば、スペアナ画面）を非導電性机用プロジェクター１４へ送り、非導電性机２の天板の一部に投影し机上投影像２０とする。そして、測定者４は、非導電性机２の天板に投影された机上投影像２０（プロジェクターが投影して表示した像）を見ながら、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作することを繰り返して行うことで被試験装置（ＥＵＴ）１のＥＭＩ測定を行う。
【００４８】
このようにすれば、測定者４は、非導電性机２の天板に投影された机上投影像２０を見ながら、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作するだけで済む。すなわち、ＥＭＩ測定者は、同一非導電性机２上の被試験装置（ＥＵＴ）１と非導電性机用プロジェクター１４から投影された机上投影像２０を見るだけでＥＭＩ測定の作業ができるので、視線の移動が僅かで済む。
【００４９】
その結果、装置出荷に影響を与えるノイズ源や放射源をノイズ源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に低減又は回避しながら、広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をより効率的に講じることができる。
【００５０】
(b) ：測定例２
図６はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法説明図（その２）である。図６に示した例は、前記例１と同じようにして測定を行うだけでなく、更に、非導電性机用プロジェクター１４から専用スクリーン用プロジェクター１５への切り替えを行うことで、専用スクリーン用プロジェクター１５から専用スクリーン８（壁でも良い）にも投影しながら測定を行う例である。
【００５１】
このようにするのは、非導電性机用プロジェクター１４から非導電性机２へ投影する場合の像は、比較的小さな投影像であり、投影像の細部が見にくい場合に、専用スクリーン用プロジェクター１５から専用スクリーン８（壁でも良い）にも投影することで投影像を大きくして細部を良く観察するためである。なお、前記プロジェクターの切り替えは、ＥＭＩ測定を行う前に、予め設定しておく。
【００５２】
このようにすれば、測定例１と同じように、測定者４は、非導電性机２の天板に投影された机上投影像２０を見ながら、被試験装置（ＥＵＴ）１を操作するだけで済む。すなわち、ＥＭＩ測定者は、同一非導電性机２上の被試験装置（ＥＵＴ）１と非導電性机用プロジェクター１４から投影された机上投影像２０を見るだけでＥＭＩ測定の作業ができるので、視線の移動が僅かで済む。
【００５３】
その結果、装置出荷に影響を与えるノイズ源や放射源をノイズ源となるプリント基板やユニットそのものを破損させる危険を未然に低減又は回避しながら、広範囲の周波数帯域で速やかに突き止め、ノイズ抑制効果のある対策をより効率的に講じることができる。
【００５４】
また、投影像の細部が見にくい場合でも、専用スクリーン用プロジェクター１５から専用スクリーン８にも投影することで投影像を大きくして細部を良く観察することができる。
【００５５】
§３：ＥＭＩ測定用ノイズ表示手段の説明
図７はＥＭＩ測定用ノイズ表示手段の構成図である。以下、図７に基づいてＥＭＩ測定用ノイズ表示手段を説明する。
【００５６】
図７に示したように、ＥＭＩ測定用ノイズ表示手段としては、専用スクリーン用プロジェクター１５と、非導電性机用プロジェクター１４と、モニタ分配器３０と、ＥＭＩ測定器３１をそれぞれビデオケーブル１０により接続したものからなる。この場合、専用スクリーン用プロジェクター１５と、非導電性机用プロジェクター１４と、モニタ分配器３０は、電波暗室内に設置し、モニタ分配器３０と、ＥＭＩ測定器３１を前記電波暗室に隣接して設けたＥＭＩ測定室に設置する。
【００５７】
また、モニタ分配器３０には、２台のプロジェクター１４、１５を切り替えるために、切替スイッチ３２と切替スイッチ３３を設ける。そして、切替スイッチ３２を操作してオン状態にすれば、専用スクリーン用プロジェクター１５に投影する状態になり、切替スイッチ３３を操作してオン状態にすれば、非導電性机用プロジェクター１４に投影する状態になる。
【００５８】
§４：非導電性机の詳細な構成の説明
(1) ：例１
図８はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その１）である。例１は、図８に示したように、非導電性机２の天板２−１を半透明の非導電性材料（低誘電率の誘電体材料で、例えば、ガラス）により構成する。また、非導電性机２の四隅の脚２−２（４本）のみ木材（従来例と同じ材料）により構成する。
【００５９】
(2) ：例２
図９はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その２）、図１０はＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その３）である。
【００６０】
例２は、図９、図１０に示したように、非導電性机２の天板２−１を木材（従来例と同じ材料）により構成し、天板２−１の一部分のみ（プロジェクター投影部分）、半透明の非導電性材料（低誘電率の誘電体材料で、例えば、ガラス）により構成し、木材の天板２−１に天板投影部２９として埋め込む。また、非導電性机２の四隅の脚２−２（４本）のみ木材（従来例と同じ材料）により構成する。
【００６１】
§５：ＥＭＩ測定用ノイズ探索治具による探査の説明
図１１はＥＭＩ測定用ノイズ探索治具による探査の説明図である。以下、図１１に基づいてＥＭＩ測定用ノイズ探索治具による探査を説明する。
【００６２】
図１１に示したように、ＥＭＩ測定を行う場合、例えば、被試験装置（ＥＵＴ）１のプリント基板３４がＥＭＩ測定の対象であった場合、細い金属ワイヤー等からなるストラップ線３５（導体）を利用する。この場合、ＥＭＩ測定用ノイズ探索治具として、前記ストラップ線３５を利用する。
【００６３】
このストラップ線３５（ＥＭＩ測定用ノイズ探索治具）を測定者４（図５参照）が手に持ち、プリント基板３４上のＬＳＩ等の端子に当て、その位置を変化させる。このように、放射される電磁波の周波数は、ストラップ線３５の長さで変化し、ストラップ線３５により電波放射が大になる。このような操作を用いてＥＭＩ測定を行う。
【００６４】
§６：ＥＭＩ測定用電波暗室例の説明
図１２はＥＭＩ測定用電波暗室例の説明図である。以下、図１２に基づいて、ＥＭＩ測定用電波暗室例を説明する。
【００６５】
図１２に示したように、外界からの電波を遮断した電波暗室と、前記電波暗室の外に設けたＥＭＩ測定室からなり、電波暗室には、被試験装置を載せる非導電性机２と、非導電性机２を載せて回転可能なターンテーブル３と、被試験装置（ＥＵＴ）から放射されるノイズを検出するためのアンテナ（ＥＭＩ測定アンテナ）５と、アンテナ昇降台６と、専用スクリーン（図示省略）と、専用スクリーンに測定に必要な情報を投影するための専用スクリーン用プロジェクター１５と、非導電性机用プロジェクター１４等を設置する。
【００６６】
また、ＥＭＩ測定室には、ターンテーブル３の回転制御を行うテーブルコントローラ１７と、昇降台コントローラ１８と、測定用ＰＣ（パーソナルコンピュータ）１９と、ＥＭＩ測定器３１（例えば、スペクトルアナライザ）を設置する。
【００６７】
また、前記電波暗室は、周囲をシールド壁３８により構成し、その内側には電波吸収体４０を設置する。更に電波暗室とＥＭＩ測定室とを人が出入りするための開閉扉３７が設けてある。そして、アンテナ５とＥＭＩ測定器３１との間、及び昇降台コントローラ１８とアンテナ昇降台６との間を同軸ケーブル１１により接続する。また、ターンテーブル３とテーブルコントローラ１７との間をケーブルで接続する。また、電波暗室内の２台のプロジェクターである非導電性机用プロジェクター１４と専用スクリーン用プロジェクター１５の間をビデオケーブル１０により接続する。
【００６８】
§７：ＥＭＩ測定時の詳細な説明
(1) ：ＥＭＩ測定を行う場合、作業者の視線が大きく変わらないよう、ターンテーブル３上に、スペアナ画面等のノイズレベルが分かる表示（プロジェクターによる投影）ができるようにすることがポイントである。これによって、作業者の手元が狂ってプリント基板を破損させる恐れを回避でき、また作業者の視線が大きく変わらないようにして、作業者自身の負担（疲れなど）を軽減できるようにする。
【００６９】
(2) ：ターンテーブル３上の非導電性机２の天板もしくはその一部分をプロジェクターの投影が可能な半透明の非導電性材料（例えば、誘電率＝５以下の低誘電率を有する誘電体材料）で作製する。この非導電性机２に、グランド下からプロジェクターの反転画像を照射（投影）し、ノイズレベルを非導電性机２上で確認できるようにする。材料としては、無反射ガラスがある。このガラステーブル上にスペアナ画像などを投影する。（なお、一般に、机は木製で、木材（水分による）の誘電率は、２．０〜６．０、ガラスは３．７〜１００である。
【００７０】
(3) ：プロジェクターを２個用意し、ターンテーブル３上の非導電性机２と、電波暗室内の専用スクリーンのいずれにも投影できるようにし、ＥＭＩ測定器３１で測定した結果のノイズレベルの変化をどちらの投影図でも確認できるようにする。
【００７１】
このとき、プロジェクターが電波暗室内の専用スクリーン８（又は壁面）へ投影し表示する場合は、正面からの投影通りに表示し、ターンテーブル３上の非導電性机２へ投影し表示する場合は、プロジェクターの画像反転機能を用いて画像を反転して表示する（半透明スクリーン背面から投影する場合と同じ）。
【００７２】
また、ターンテーブル３上の非導電性机２へスクリーン表示する非導電性机用プロジェクター１４は、そのプロジェクター自身が放射しているノイズを電波暗室内へ極力放射しないように、プロジェクターのレンズ２２（図２参照）の端面を、ターンテーブル３のグランド面と同一平面上になるように設置する。
【００７３】
そして、このようにグランド直下に設置された非導電性机用プロジェクター１４自身を、非導電性机用プロジェクター１４自身が放射しているノイズを電波暗室内へ入らないように、銅網のようなシールド材でシールドするか、そのプロジェクターをシールドするための専用シールドボックス２４（図４参照）に格納する。
【００７４】
シールドするときは、プロジェクターの筐体のＦＧ（frame Grouns :筐体のＧＮＤ）と専用シールドボックス２４のＦＧを適当な間隔で接続する。また、ビデオケーブル１０は、通常コア付きケーブルを使用するが、ない場合は、ビデオケーブル１０からの放射ノイズを抑制するため、コアを追加しても良い。追加したコアによる影響は、ノイズを表示させる目的のためだから問題はない。プロジェクターの電源ケーブルについても同様で、電源ケーブルからの放射ノイズを抑制するため、コアを追加しても良い。
【００７５】
このように、シールドされた非導電性机用プロジェクター１４を有限回転モードを持つターンテーブル３と一体化させて作製する。ここで、プロジェクター投影口２１は、ターンテーブル３の中央でも良いし、中心からずれても構わない。見易い位置に設置すれば良い。どちらか一方又は両方にプロジェクターを使用するかどうかは、ＥＭＩ測定者が判断して好きな方のプロジェクターの電源を投入すれば見ることができる。
【００７６】
(4) ：以上の手法により、電波暗室内に投影したプロジェクターが不要と判断できるとき（例えば、被測定装置が小型のものばかりでターンテーブル３上のプロジェクター投影のみで充分の場合）は、これを削除しても良い。この場合、電波暗室内に投影するプロジェクター用の専用スクリーン、その投影壁面に対する配慮（スクリーン設置用に場所をとる等）などが不要になる。場合によっては、スペアナモニターも不要になり、設備としてコストダウンが図れる。
【００７７】
(5) ：また、前記の表示方法を使用すれば、従来の表示方法と比較して、スペアナなどの測定設備（ＥＭＩ測定器３１）からの距離が短くて済むため、ケーブルが外部のノイズを拾う可能性が低くなり、より正当なノイズレベルを表示できるというメリットがある。更に、電波暗室内にスペアナモニター１２（図１５参照）やプロジェクターを設置しないため、それらが反射物となって、ノイズレベルに影響を与える可能性も低くて済む。
【００７８】
更に、プロジェクターの切り替えスイッチは、ＥＭＩ測定室（電波暗室の横に設置）にあるモニタ分配器３０で行うが、ＥＭＩ測定者が電波暗室内に入室する前に写したい方のプロジェクターの電源を投入し、モニタ分配器３０の切替スイッチ１４、１５（図７参照）を切り替えておけば、電波暗室内で特別な作業は一切不要である。
【００７９】
更に、このときのターンテーブル３は有限回転モードを有するターンテーブル３を使用する。無限回転モードでターンテーブル３を使用すると、プロジェクターをターンテーブル３に取り付けているため、プロジェクターに接続しているビデオケーブル１０やプロジェクター本体のＡＣケーブルの処理に困るからである。すなわち、ケーブルが巻き付く、外れるなどが発生する。
【００８０】
§８：ＥＭＩ測定用ノイズ探査治具の具体的例と、その他の説明
(1) ：ＥＭＩ測定用ノイズ探査治具は、図１１に示したストラップ線３５を用いるが、それ以外に、例えば、本出願人の出願に係る特願２００６−２７３９９２（ＥＭＩ測定方法及びＥＭＩ測定用治具）に示された「ノイズ探索治具」を用いると、更に効率良くノイズ源や放射源を突き止めることが可能になる。
【００８１】
(2) ：前記ＥＭＩ測定用治具例としては次の通りである。
【００８２】
長さの異なる複数の導体と、前記複数の導体のうちの１つの線状の導体を電気回路に接触可能な使用状態とする選択手段を有し、前記選択手段は、前記複数の導体を収容し、一方の端部が開放面となった筒状の筐体と、該筐体に設けられ、前記導体を軸方向に移動可能に案内するガイド部材と、前記各導体に取り付けられ、第１係合部、第２係合部が形成されたスライダと、前記筐体の周囲に形成され、前記スライダが移動可能に嵌合し、前記スライダを前記筐体の軸方向に案内するガイド穴と、前記筐体に設けられ、前記スライダの第１係合部が接触可能なストッパと、前記各スライダの第１係合部が前記ストッパに当接する方向に付勢する付勢手段とを有し、前記スライダの第１係合部が前記ストッパに当接すると前記導体は前記筐体に収納され、前記スライダの第１係合部が他のスライダの第２係合部に係合すると、前記導体が筐体から突出するように、前記第１係合部、第２係合部は形成されていることを特徴とする。
【００８３】
(3) ：本発明で使用する電波暗室は図１２に示したが、この電波暗室において、１０ｍ電波暗室だけでなく、３ｍ電波暗室や簡易小型電波暗室など、いずれも使用可能である。大型の電波暗室ほど、ノイズレベルの差を一人でチェックする場合、作業者の視線の位置が異なることや、視力が要求されるため、その効果は大きい。
【００８４】
§９：付記
前記の説明に対し、次の構成を付記する。
【００８５】
（付記１）
外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置を載せる非導電性机と、前記非導電性机を載せて回転可能なターンテーブルと、被試験装置から放射されるノイズを検出するアンテナと、専用スクリーンと、前記専用スクリーンに測定結果情報を投影する専用スクリーン用投影機を備え、
前記電波暗室の外側には、前記アンテナからの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器を備え、
前記電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムにおいて、
前記非導電性机は、天板全体を半透明の非導電性材料で構成し、前記ターンテーブルの一部に、投影機の投影口を開け、該投影口に投影機のレンズを挿入して前記ターンテーブルの表面から下側の位置に非導電性机用投影機を設け、該非導電性机用投影機から前記半透明の天板に対しＥＭＩ測定器から送られた測定結果情報を投影可能に設けると共に、
前記電波暗室の外側には、前記専用スクリーン用投影機と非導電性机用投影機を切り替えて２つの投影面の切り替えを行う切替手段を設けたことを特徴とするＥＭＩ測定システム。
【００８６】
（付記２）
前記非導電性机は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部とし、該天板投影部を前記非導電性机用投影機の投影面として前記非導電性机の天板の一部に埋め込んだことを特徴とする付記１記載のＥＭＩ測定システム。
【００８７】
（付記３）
前記専用スクリーン及び非導電性机の天板には、前記ＥＭＩ測定器から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示することを特徴とする付記１又は２記載のＥＭＩ測定システム。
【００８８】
（付記４）
外界からの電波を遮断した電波暗室内に、被試験装置を載せる非導電性机と、前記非導電性机を載せて回転可能なターンテーブルと、被試験装置から放射されるノイズを検出するアンテナと、専用スクリーンと、前記専用スクリーンに測定結果情報を投影する専用スクリーン用投影機を備え、
前記電波暗室の外側には、前記アンテナからの信号を基にＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定器を備え、
前記電波暗室の内外の機器の必要とする部分を電気的に接続してＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定システムの前記電波暗室において、
前記非導電性机は、天板全体を半透明の非導電性材料で構成し、前記ターンテーブルの一部に、投影機の投影口を開け、該投影口に投影機のレンズを挿入して前記ターンテーブルの表面から下側の位置に非導電性机用投影機を設け、
該非導電性机用投影機から前記半透明の天板に対し、前記ＥＭＩ測定器からの測定結果情報を投影可能に設けたことを特徴とする電波暗室。
【００８９】
（付記５）
前記非導電性机は、天板の一部のみを半透明の非導電性材料で構成した天板投影部とし、該天板投影部を前記非導電性机用投影機の投影面として前記非導電性机の天板の一部に埋め込んだことを特徴とする付記４記載の電波暗室。
【００９０】
（付記６）
前記専用スクリーン及び非導電性机の天板には、前記ＥＭＩ測定器から送られた測定結果のノイズレベルが分かる情報を投影し表示することを特徴とする付記４又は５記載の電波暗室。
【図面の簡単な説明】
【００９１】
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の俯瞰図である。
【図３】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の断面図である。
【図４】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図である。
【図５】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法説明図（その１）である。
【図６】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の測定方法説明図（その２）である。
【図７】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示手段の構成図である。
【図８】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その１）である。
【図９】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その２）である。
【図１０】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ表示装置の一部拡大図（その３）である。
【図１１】実施の形態におけるＥＭＩ測定用ノイズ探索治具による探査の説明図である。
【図１２】実施の形態におけるＥＭＩ測定用電波暗室例である。
【図１３】従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その１）である。
【図１４】従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その２）である。
【図１５】従来例１のＥＭＩ測定時のノイズ表示方法説明図（その３）である。
【図１６】従来例２の説明図である。
【符号の説明】
【００９２】
１  被試験装置（ＥＵＴ）
２  非導電性机
３  ターンテーブル
４  測定者（ＥＭＩ対策技術者）
５  アンテナ（ＥＭＩ測定アンテナ）
６  アンテナ昇降台
８  専用スクリーン
１０  ビデオケーブル
１１  同軸ケーブル
１２  スペアナモニター
１４  非導電性机用プロジェクター
１５  専用スクリーン用プロジェクター
１７  テーブルコントローラ
１８  昇降台コントローラ
１９  測定用ＰＣ（測定用パーソナルコンピュータ）
２０  机上投影像
２１  プロジェクター投影口
２２  プロジェクターレンズ
２３  プロジェクターが投影した像
２４  シールドボックス
２５  プロジェクターの電源ケーブル
２６  支持車輪
２７  シールドボックスとのＦＧ接続箇所
２９  天板投影部
３０  モニタ分配器
３１  ＥＭＩ測定器
３７  開閉扉
３８  シールド壁
３９  ＧＰＩＢケーブル
４０  電波吸収体
【図１】
2008241661.tif 000003
【図２】
2008241661.tif 000004
【図３】
2008241661.tif 000005
【図４】
2008241661.tif 000006
【図５】
2008241661.tif 000007
【図６】
2008241661.tif 000008
【図７】
2008241661.tif 000009
【図８】
2008241661.tif 000010
【図９】
2008241661.tif 000011
【図１０】
2008241661.tif 000012
【図１１】
2008241661.tif 000013
【図１２】
2008241661.tif 000014
【図１３】
2008241661.tif 000015
【図１４】
2008241661.tif 000016
【図１５】
2008241661.tif 000017
【図１６】
2008241661.tif 000018