(57)【要約】【課題】本発明の目的は、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上とを両立することのできる旋光度測定方法を提供することにある。【解決手段】試料温度制御手段１６による試料温度の規定温度への変温過程において、旋光度測定装置１０による試料の旋光度測定を開始し、該変温過程での試料の温度データと共に旋光度データを経過時に得る旋光度データ取得工程（Ｓ１０）と、該試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、該旋光度データ取得工程（Ｓ１０）で得られた温度データと旋光度データとの直線関係を求めるデータ処理工程（Ｓ１２）とを備え、規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、該試料の規定温度における旋光度ないし該試料の温度依存性を求めることを特徴とする旋光度測定方法。【選択図】図１
2008203170.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料温度を規定温度へ制御する試料温度制御手段を備えた旋光度測定装置を用いて、規定温度での試料の旋光度を求める旋光度測定方法において、
前記試料温度制御手段による試料温度の規定温度への変温過程において、前記旋光度測定装置による試料の旋光度測定を開始し、該試料の変温過程での温度データと共に旋光度データを経過時に得る旋光度データ取得工程と、
前記試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、前記旋光度データ取得工程で得られた旋光度データと温度データとの直線関係を求めるデータ処理工程と、
を備え、前記規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、該試料の規定温度における旋光度ないし該試料の温度依存性を求めることを特徴とする旋光度測定方法。
【請求項２】
請求項１記載の旋光度測定方法において、
前記データ処理工程は、前記直線関係として、前記旋光度データ取得工程で得られた温度データと旋光度データとの回帰直線を求めることを特徴とする旋光度測定方法。
【請求項３】
請求項１又は２記載の旋光度測定方法において、
前記データ処理工程は、前記直線関係を、前記規定温度の許容範囲にある変温過程での温度データと旋光度データとを用いて求めることを特徴とする旋光度測定方法。
【請求項４】
請求項３記載の旋光度測定方法において、
前記データ処理工程は、前記規定温度の許容範囲として、前記試料の温度依存性に基づき定められたものを用いることを特徴とする旋光度測定方法。
【請求項５】
試料温度を規定温度へ制御する試料温度制御手段を備えた旋光度測定装置を用いて、規定温度での試料の旋光度を求める旋光度測定装置において、
前記試料温度制御手段は、試料温度を規定温度へ制御しながら試料セルを保持する温調セルホルダを含み、
また、前記試料温度制御手段による試料温度の規定温度への変温過程において、前記旋光度測定装置による試料の旋光度測定を開始し、該試料の変温過程での温度データと共に旋光度データを経過時に得る旋光度データ取得手段と、
前記試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、前記旋光度データ取得手段で得られた温度データと旋光度データとの直線関係を求めるデータ処理手段と、
を備え、規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、該試料の規定温度における旋光度ないし該試料の温度依存性を求めることを特徴とする旋光度測定装置。
【請求項６】
請求項５記載の旋光度測定装置において、
前記温調セルホルダは、前記試料セル内の試料の温度を調節するためのペルチェ素子を備えたことを特徴とする旋光度測定装置。
【請求項７】
請求項５又は６記載の旋光度測定装置において、
前記温調セルホルダは、前記旋光度測定装置の所定光路上に前記試料セル中心の測定軸が位置するように、該温調セルホルダの位置出しをするための位置出し手段を備えたことを特徴とする旋光度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は旋光度測定方法及びその装置、特にその測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上との両立に関する。
【背景技術】
【０００２】
各種有機物質は直線偏光の偏光面を回転させる性質をもっており、この旋光度を測定することにより、物質の同定あるいは光学異性体の識別等を行うことができる。
このため、従来より、これらの物質の旋光度測定が行われている（例えば非特許文献１）。
ところで、旋光度測定において、検出されるべき信号は、極めて微量なので、一般的な測定に比較し、Ｓ／Ｎ比の改善が求められている。これに応えるため、従来の旋光度測定では、試料温度が規定温度になるまでしばらく待って、試料温度が規定温度で安定した後に、測定を開始していた（例えば特許文献１）。
【非特許文献１】ＪＩＳ  Ｋ  ００６３（ｐ６６９−ｐ６７３）
【特許文献１】特開２０００−４６７３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、Ｓ／Ｎ比の改善のため、試料温度が規定温度になるまで待ってから測定を開始していたのでは、時間がかかってしまう。
このため、旋光度測定の分野では、Ｓ／Ｎ比の向上と測定の迅速化とを両立することのできる技術の開発が強く望まれていたが、従来は、これを解決することのできる適切な技術が存在しなかった。
本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされたものであり、その目的は、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上とを両立することのできる旋光度測定方法及びその装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明者らが旋光度測定について鋭意検討を進めた結果、試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることに着目し、規定温度への変温過程での試料の旋光度データを積極的に利用することにより、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上とを確実に両立することができることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００５】
すなわち、前記目的を達成するために本発明にかかる旋光度測定方法は、試料温度制御手段を備えた旋光度測定装置を用いて、規定温度での試料の旋光度を求める旋光度測定方法において、旋光度データ取得工程と、データ処理工程と、を備えることを特徴とする。
ここで、前記旋光度データ取得工程は、前記試料温度制御手段による試料温度の規定温度への変温過程において、前記旋光度測定装置による試料の旋光度測定を開始し、該変温過程での試料の温度データと共に旋光度データを経過時に得る。
また、前記データ処理工程は、前記試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、前記旋光度データ取得工程で得られた温度データと旋光度データとの直線関係を求める。
そして、本発明においては、規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、該試料の規定温度における旋光度ないし該試料の温度依存性を求める。
【０００６】
なお、本発明においては、前記データ処理工程が、前記直線関係として、前記旋光度データ取得工程で得られた温度データと旋光度データとの回帰直線を求めることが好適である。
【０００７】
また、本発明においては、前記データ処理工程が、前記直線関係を、前記規定温度の許容範囲にある変温過程での試料の温度データと旋光度データとを用いて求めることが好適である。
本発明においては、前記データ処理工程が、前記規定温度の許容範囲として、前記試料の温度依存性に基づき定められたものを用いることが好適である。
【０００８】
また、前記目的を達成するために本発明にかかる旋光度測定装置は、試料温度を規定温度へ制御する試料温度制御手段を備えた旋光度測定装置を用いて、規定温度での試料の旋光度を求める旋光度測定装置において、
前記試料温度制御手段が、温調セルホルダを含み、
また、旋光度データ取得手段と、データ処理手段と、を備えることを特徴とする。
ここで、前記温調セルホルダは、試料温度を規定温度へ制御しながら試料セルを保持するためのものとする。
また、前記旋光度データ取得手段は、前記試料温度制御手段による試料温度の規定温度への変温過程において、前記旋光度測定装置による試料の旋光度測定を開始し、該試料の変温過程での温度データと共に旋光度データを経過時に得る。
前記データ処理手段は、前記試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、前記旋光度データ取得手段で得られた温度データと旋光度データとの直線関係を求める。
そして、本発明においては、規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、該試料の規定温度における旋光度ないし該試料の温度依存性を求める。
【０００９】
なお、本発明においては、前記温調セルホルダが、ペルチェ素子ないし位置出し手段を備えることが好適である。
ここで、前記ペルチェ素子は、前記試料セル内の試料の温度を調節するためのものとする。
また、前記位置出し手段は、前記旋光度測定装置の所定光路中に前記試料セル中心の測定軸が位置するように、該温調セルホルダの位置出しをするためのものとする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明にかかる旋光度測定方法及びその装置によれば、規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、試料の規定温度における旋光度ないし温度依存性を求めることとした。この結果、本発明によれば、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上とを、確実に両立することができる。
本発明においては、前記直線関係として回帰直線を求めることにより、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上との両立を、より確実に実現することができる。
【００１１】
また、本発明においては、前記直線関係を、前記規定温度の許容範囲にある変温過程での温度データと旋光度データとを用いて求めることにより、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上との両立を、より確実に実現することができる。
本発明においては、前記規定温度の許容範囲として、前記試料の温度依存性に基づき定められたものを用いることにより、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上との両立を、より確実に実現することができる。
【００１２】
また、本発明にかかる旋光度測定装置によれば、前記温調セルホルダが前記ペルチェ素子ないし前記位置出し手段を備えることにより、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上との両立を、より確実に実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図面に基づき本発明の好適な一実施形態について説明する。
図1には本発明の一実施形態にかかる旋光度測定方法を行うための旋光度測定装置の概略構成が示されている。
同図に示す旋光度測定装置１０は、旋光度データ取得手段１２と、データ処理手段１４とを備える。
ここで、旋光度データ取得手段１２は、例えば旋光度測定装置本体よりなり、本発明の旋光度データ取得工程（Ｓ１０）を行う。
すなわち、旋光度データ取得手段１２は、試料温度制御手段１６による試料温度の規定温度への変温過程において、旋光度測定装置１０による試料の旋光度測定を開始し、該変温過程での試料の温度データと共に旋光度データを所定の時間間隔ごとに得る。
また、データ処理手段１４は、例えばコンピュータよりなり、本発明のデータ処理工程（Ｓ１２）を行う。
すなわち、データ処理手段１４は、試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、旋光度データ取得手段１２で得られた温度データと旋光度データとの回帰直線（直線関係）を求める。
そして、データ処理手段１４は、前記回帰直線を用いて、試料の規定温度（例えば２０℃）における旋光度を求める。
【００１４】
次に本実施形態の旋光度データ取得手段１２について、より具体的に説明する。
同図に示す旋光度データ取得手段１２は、測定光照射部２０と、試料部２２と、旋光度測定部２４とを備える。
ここで、測定光照射部２０は、例えば光源、偏光子、変調器等を含み、試料セル２５内の試料に測定光２６を照射する。
また、試料セル部２２は、例えば試料セル２５等を含み、試料が入れられ、測定光照射部２０からの測定光２６が試料を通過するように配置されている。
旋光度測定部２４は、例えば検光子、検出器等を含み、試料を通過した光２８から、該試料の旋光度データを得ている。
【００１５】
次に本実施形態の試料部２２について、より具体的に説明する。
同図に示す試料部２２は、試料セル２５と、試料温度センサー１８と、試料温度制御手段１６とを備える。
ここで、試料セル２５は、旋光度を測定したい試料を保持し、測定光束２６が透過する窓３０，３２を持つ。
また、試料温度センサー１８は、試料セル２５内の試料の温度を検出する。
また、試料温度制御手段１６は、例えば電子冷熱方式、恒温循環槽式等よりなり、予め設定された測定温度に試料セル２５内の試料の温度を制御する。
【００１６】
次に本実施形態のデータ処理手段１４について、より具体的に説明する。
同図に示すデータ処理手段１４は、旋光度測定部２４で得られた旋光度データから、試料の旋光度を求めている。このためにデータ処理手段１４は、直線回帰部３４と、目的情報取得部３６とを備えている。
ここで、直線回帰部３４は、旋光度データ取得手段１２で得られた温度データと旋光度データの回帰直線（傾き、切片）を求めている。
また、目的情報取得部３６は、直線回帰部３４で求められた回帰直線（傾き、切片）を用いて、規定温度（例えば２０℃）における試料の旋光度を求めている。
【００１７】
本実施形態にかかる旋光度測定方法を行うための旋光度測定装置１０は概略以上のように構成され、以下にその作用について説明する。
本実施形態においては、試料セル２５に試料を入れ、試料温度制御手段１６による試料温度の規定温度への制御を開始すると、旋光度データ取得手段１２が直ぐに試料セル２５内の試料の旋光度測定を開始する。
すなわち、旋光度データ取得工程（Ｓ１０）では、試料温度制御手段１６による試料温度の規定温度への変温過程において、旋光度データ取得手段１２による試料の旋光度測定を開始し、該変温過程での試料温度を試料温度センサー１８でモニタしながら、旋光度データを所定の時間間隔ごとに得ている。
前記規定温度への変温過程での温度データ及び旋光度データの取得後、データ処理工程（Ｓ１２）を行う。
すなわち、データ処理工程（Ｓ１２）では、試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、旋光度データ取得手段１２で得られた温度データと旋光度データとの回帰直線を求める。
前記回帰直線を求めた後、データ処理手段１４は、求められた回帰直線を用いて、試料の規定温度における旋光度を求める。
【００１８】
このように本実施形態によれば、従来、捨てていた規定温度に至るまでの旋光度データを積極的に使うことにより、ノイズが低減されるので、測定精度が上がる。
しかも、本実施形態によれば、従来、捨てていた規定温度に至るまでの旋光度データから試料の旋光度を得ることができるので、試料温度が規定温度になるのを待たずに旋光度測定を開始することができる。これにより、本実施形態においては、測定の迅速化を図ることもできる。
【００１９】
次に本実施形態の作用について、より具体的に説明する。
試料温度制御手段１６は、予め設定された温度に試料セル２５内の試料温度を制御するものである。しかしながら、一般に試料をセットして試料温度制御手段１６による温調を開始しても、直ぐには試料温度と室温とは一致せず、しばらくは試料温度と試料温度制御手段１６での設定温度とは異なる、いわゆる変温過程にある。
規定温度と測定温度との誤差は、測定誤差となり得るので、例えば２０±２℃、さらに好適には２０±０．２℃として測定することが求められる。このために従来は、以下のようにして測定を行っていた。
（１）測定者が試料温度を読んで要求された温度精度になるのを待って、旋光度を装置メモリや記録紙に記録する。
（２）装置が、試料温度を読んで要求された温度精度になるのを待って、旋光度を有効な値として記録する。
【００２０】
図２はＮａ（ナトリウム）Ｄ線における５％サッカロースの水溶液の測定例である。同図より明らかなように試料を入れてから（例えば同図中、０秒時から）、試料温度は３０秒程度でほぼ安定している。このときの時間データと旋光度データとをプロットしたものを図３に示す。
【００２１】
従来は、例えば試料を入れてから４０秒後から測定を開始し、４０秒後から２０秒間の平均を測定値としていた。
しかしながら、Ｓ／Ｎ比向上のため、試料温度を読んで要求された温度精度になるのを待っていたのでは、実際に測定を開始するまでに時間がかかってしまう。この試料を入れてから測定までのタイムラグは、経過時間とともに化学変化が起こり、旋光度が変化する物質では、正しい旋光度が得られないので、より深刻な問題となる。
また、従来は、試料を入れてから温度一定までの信号は、捨てるので、Ｓ／Ｎ比に寄与せず、測定が効率的でない。
【００２２】
一方、従来においても、Ｓ／Ｎ比改善よりも急いで測定をしたい場合には、試料温度が規定温度になるまで待たずに、温度が２０±２℃のように数度の許容範囲であれば、測定を開始することも考えられる。
しかしながら、単にこれだけでは、試料温度が許容範囲にあっても、温度係数の大きな試料では、測定誤差の要因となってしまうこともある。
【００２３】
これに対し、本実施形態では、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上とを確実に両立するため、
試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることに着目し、規定温度への変温過程での試料の旋光度データを積極的に利用するため、試料をセットしてから測定開始を命じると、変温過程での試料の温度データと旋光度データを経時的に取得する。この結果、例えば図４に示されるような温度データと旋光度データとの関係が得られる。
【００２４】
そして、本実施形態では、図４に示されるような温度データと旋光度データとの関係において、測定開始から１０秒、２０秒、３０秒の時間における試料温度と旋光度との関係に着目し、旋光度と試料温度とが直線関係にあることを利用して温度に対する傾きと切片を直線回帰で求め、そこから規定温度における旋光度を求める。
規定温度における旋光度は、旋光度αを温度の関数とし、０℃の旋光度α０、１℃あたりの変化量をｋとし、温度をｔとすれば、下記の数式で表すことができる。
【００２５】
【数１】
2008203170.tif 000003
【００２６】
本実施形態として、上記のデータから、α０、ｋを求め、その値から、２０℃における旋光度α２０と比旋光度を算出した。また、従来法として、４０秒から６０秒までの測定値の平均を求めた。これらの結果を下記の表１に示した。
【００２７】
【表１】
2008203170.tif 000004
【００２８】
ＪＩＳ  Ｋ  ００６３化学製品の旋光度測定方法によれば、５ｇ／１００ｍｌのサッカロースの比旋光度は＋６６．５００であり、サッカロースの温度依存性を下記の数式２で表した場合の温度係数は−０．０００３７である。
同表より明らかなように本実施形態によれば、従来法に比較し、短時間の測定で、２０℃における旋光度、温度係数が精度良く求められていることが理解される。
【００２９】
【数２】
2008203170.tif 000005
【００３０】
以上のように本実施形態によれば、試料温度の規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの回帰直線に基づいて、試料の規定温度における旋光度を求めることとしたので、測定の迅速化とＳ／Ｎ比の向上とを、確実に両立することができる。
【００３１】
測定の更なる高精度化
＜利用温度範囲＞
ところで、本実施形態においては、測定精度の更なる向上のため、回帰直線を求めるのに利用する旋光度データの温度範囲を考慮することも好ましい。
すなわち、本実施形態において、旋光度は狭い温度範囲で温度との比例関係が得られることを利用しており、極端に規定温度から離れている温度での旋光度データを使えば、正しい旋光度を得ることができないこともある。これは、温度依存性の高い物質では、より深刻な問題となる。
【００３２】
そこで、本実施形態は、変温過程ではあるが、その利用温度範囲を設定することも好ましい。
このために本実施形態は、図５（Ａ）に示されるように利用温度範囲として、規定温度（２０℃）に、試料の温度依存性に基づき定められた許容範囲（+２℃）を設定している。  回帰直線を求める際は、同図（Ｂ）に示されるように温度データが規定温度の許容範囲にある旋光度データをプロットしている。同図では、例えば温度データが２０+２℃の範囲にある旋光度データをプロットし、回帰直線を求めている。
本実施形態は、このようにして求められた回帰直線から、規定温度（２０℃）における旋光度を求めている。
本実施形態によれば、回帰直線を求めるのに利用する旋光度データの利用温度範囲を、試料の温度依存性に基づいて考慮することにより、このような考慮のないものに比較し、ノイズを低減することができるので、測定精度を上げることができる。
【００３３】
測定の更なる迅速化
＜温調セルホルダ＞
従来は、ウォータージャケット付きセルに、恒温バスから供給される恒温水を流して温調していたが、配管、試料の注入や廃棄が煩雑である。
これに対し、本実施形態においては、測定の更なる迅速化のため、下記の温調セルホルダ、つまりコンパクトで、簡便に温調、位置出し可能なものを用いることも好適である。
【００３４】
図６には温調セルホルダの概略構成が示されている。
同図に示す円筒セル用温調セルホルダ（温調セルホルダ）５０は、ペルチェ素子５２と、位置出しピン（位置出し手段）５４とを備える。
ここで、ペルチェ素子５２は、試料セル２５内の試料温度を調節するためのものとする。
また、位置出しピン５４は、旋光度測定装置本体の所定光路中に試料セル２５の中心（測定軸線）を位置出しするためのものとする。
そして、本実施形態の円筒セル用温調セルホルダ５０は、位置出しピン５４で位置出しされ、強制空冷されるペルチェ素子５２を制御し、熱浴ブロックに設置される温度センサー１８を用いて、試料セル２５内の試料を温調している。
【００３５】
次に、本実施形態の円筒セル用温調セルホルダ５０について、より具体的に説明する。
同図においては、ベース板５６と、放熱板６２と、空冷ファン６４と、ペルチェ素子５２と、ピン付き熱浴ブロック６６と、溝付セル台７０と、上カバー７２と、センサー設置監視用マイクロスイッチ７４と、過熱防止センサー７６と、ホルダセンサー７７と、付属品認識ＩＣ７８とを備える。
【００３６】
ここで、ベース板５６は、旋光度測定装置本体ベース上に円筒セル用温調セルホルダ５０を設けるためのものとする。また、ベース板５６は、位置決め孔５８と、付属品認識コネクタ６０とを備える。位置決め孔５８は、位置出しピン５４を位置決めするためのものであり、位置決め孔５８に位置出しピン５４を位置決めすることで、旋光度測定装置本体の所定位置に円筒セル用温調セルホルダ５０を設けることができる。付属品認識コネクタ６０は、付属品認識ＩＣ７８に記憶されている付属品認識情報を認識する。
また、放熱板６２は、ペルチェ素子５２の放熱をする。
空冷ファン６４は、放熱板６２に設けられ、ペルチェ素子５２を直接、放熱板６２を介して強制空冷する。
ペルチェ素子５２は、試料の温度制御を、ペルチェ素子５２に供給する直流電流の向きと大きさに依って行っている。
ピン付き熱浴ブロック６６は、試料セル２５とペルチェ素子５２との間に設けられ、ペルチェ素子５２からの温度調節が、試料セル２５に対して行われる。なお、熱浴ブロック６６にはホルダセンサー７７が接続されており、該ホルダセンサー７７はデータ処理手段１４に接続されている。
溝付セル台は、溝６８に試料セル２５を保持する。
上カバー７２は、ピン付き熱浴ブロック６６に上方から被せられる。上カバー７２により、試料温度の調整がしやすくなる。
センサー設置監視用マイクロスイッチ７４は、温度センサー１８の設置を監視する。センサー設置監視用マイクロスイッチ７４により、温度センサー１８の設置忘れ、設置異常等を監視することができるので、正しい温度データを得ることができる。
過熱防止センサー７６は、円筒セル用温調セルホルダ５０の異常な過熱を防止する。
付属品認識ＩＣ７８は、付属品認識情報が記憶されている。付属品認識コネクタ６０との組合せにより、付属品の情報を容易に把握することができる。
【００３７】
このように本実施形態は、ペルチェ素子５２による温度制御により、試料の温度設定が容易に行えるので、必要な熱平衡までの温度の時間変化も容易に得られる。これにより、本実施形態は、一般的なウォータージャケット付きセルを用いたものに比較し、測定の更なる迅速化が図られる。
また、本実施形態は、位置だしピン５４による試料セル２５の位置出しにより、試料セル２５の外形に対してセル中心を容易に一致させることができるので、内径の異なる複数の円筒セルの位置出しも容易に行える。これにより、本実施形態は、ウォータージャケット付きセルを用いたものに比較し、測定の更なる迅速化が図られる。
試料セル２５は溝付セル台の溝６８にセットするだけでよいので、従来方式、つまり試料セル２５の着脱のたびにウォータージャケットの着脱が必要なものに比較し、配管、試料の注入や廃棄が容易となるので、測定の更なる迅速化が図られる。
【００３８】
なお、本実施形態においては、少なくとも変温過程での旋光度データを用いるものであれば、回帰直線を用いて実際の測定時間外での旋光度を予測すること、さらに規定温度での熱平衡時の旋光度データを用いることもできる。
また、本実施形態においては、前記回帰直線を用いれば、規定温度での旋光度だけでなく、試料の旋光度の温度依存性を求めることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の一実施形態にかかる旋光度測定方法を行うための旋光度測定装置の概略構成の説明図である。
【図２】ＮａＤ線における５％サッカロースの水溶液の測定例である。
【図３】測定開始後の旋光度の時間変化である。
【図４】測定開始から４０秒後までの試料温度と旋光度との関係である。
【図５】本実施形態にかかる偏光度測定において好適な利用温度範囲の説明図である。
【図６】本実施形態にかかる偏光度測定において好適な温調セルホルダの説明図である。
【符号の説明】
【００４０】
１０  旋光度測定装置
１２  旋光度データ取得手段
１４  データ処理手段
１６  試料温度制御手段
１８  試料温度センサー
３４  直線回帰部（データ処理手段）
３６  目的情報取得部（データ処理手段）
５０  円筒セル用温調セルホルダ（温調セルホルダ，試料温度制御手段）
５２  ペルチェ素子（試料温度制御手段）
５４  位置出しピン（試料温度制御手段）
【図１】
2008203170.tif 000006
【図２】
2008203170.tif 000007
【図３】
2008203170.tif 000008
【図４】
2008203170.tif 000009
【図５】
2008203170.tif 000010
【図６】
2008203170.tif 000011