(57)【要約】【課題】記録密度の高密度化および記録速度の高速化に対応して光ディスクに形成されるマークの品質の向上を図る上で有利な光ディスク装置を提供する。【解決手段】等価検出信号生成部５６によってドライバ部４５と光源４０と計測部４４を含む信号処理系が有するゲインおよびローパスフィルターの機能を演算によって実現することで実測検出信号Ｖｆｐｄと等価な等価検出信号Ｖｏｂｓを生成し、実測検出信号Ｖｆｐｄと等価検出信号Ｖｏｂｓとの差であるエラー信号に基づいて光源４０の出射パワーの制御を行うようにした。【選択図】図８
2008305456.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを保持して回転駆動する駆動手段と、
前記光ディスクに対し光ビームを照射する光源と、
前記光源に駆動電流を供給するドライバ部と、
前記光源から出射される光ビームの出射パワーを計測することで実測検出信号を生成する計測部と、
前記実測検出信号に基づいて前記ドライバ部を介して前記光源の出射パワーを制御するレーザー制御部とを備える光ディスク装置であって、
前記レーザー制御部は、前記ドライバ部と前記光源と前記計測部を含む信号処理系が有する利得およびローパスフィルターの機能を演算によって実現することで前記実測検出信号と等価な等価検出信号を生成する等価検出信号生成部を備え、
前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記実測検出信号と前記等価検出信号との差であるエラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記エラー信号がゼロとなるようになされる、
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記ドライバ部は、電流値が設定される複数の電流源と、前記電流源毎に設けられた複数のスイッチとを含み、
前記駆動電流は、前記各電流源からオン状態の前記スイッチを介して供給される電流が加算されることで生成され、
前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記ドライバ部に前記電流値の設定と前記スイッチのオンオフを行う制御信号を供給することでなされる、
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項４】
サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するライトパワー出射動作時の前記エラー信号をサンプルホールドする第１のサンプルホールド部と、前記サンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するリードパワー出射動作時の前記エラー信号をサンプルホールドする第２のサンプルホールド部とを備え、
前記ライトパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第１のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされ、
前記リードパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第２のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記サンプリング制御信号生成部から前記第１のサンプルホールド部に対する前記サンプリング制御信号の供給は、前記リードパワー出射動作から前記ライトパワー出射動作に遷移した時点から所定時間経過した後でなされ、
前記サンプリング制御信号生成部から前記第２のサンプルホールド部に対する前記サンプリング制御信号の供給は、前記ライトパワー出射動作から前記リードパワー出射動作に遷移した時点から所定時間経過した後でなされる、
ことを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項６】
サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するライトパワー出射動作時の前記エラー信号をサンプルホールドする第１のサンプルホールド部と、前記サンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するイレースパワー出射動作時の前記エラー信号をサンプルホールドする第２のサンプルホールド部とを備え、
前記ライトパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第１のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされ、
前記イレースパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第２のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項７】
サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して前記エラー信号をサンプルホールドする複数のサンプルホールド部を備え、
前記光ディスクに対する前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記複数のサンプルホールド部のそれぞれでホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記等価検出信号生成部はデジタルフィルターによって構成されている、
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記エラー信号に含まれる高調波を除去するためのローパスフィルターが設けられている、
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
光ディスクを保持して回転駆動する駆動手段と、
前記光ディスクに対し光ビームを照射する光源と、
前記光源に駆動電流を供給するドライバ部と、
前記光源から出射される光ビームの出射パワーを計測することで実測検出信号を生成する計測部と、
前記実測検出信号に基づいて前記ドライバ部を介して前記光源の出射パワーを制御するレーザー制御部とを備える光ディスク装置であって、
前記レーザー制御部は、前記ドライバ部と前記光源と前記計測部を含む信号処理系が有する利得およびローパスフィルターの機能を演算によって実現することで前記実測検出信号と等価な等価検出信号を生成する等価検出信号生成部と、
前記実測検出信号と前記等価検出信号との差であるエラー信号を生成する比較器と、
前記信号処理系が有するローパスフィルターの特性と逆特性のフィルターの機能を演算によって実現することで前記エラー信号から過渡応答特性を除いた特性除去エラー信号を生成する特性除去エラー信号生成部を設け、
前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記特性除去エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記特性除去エラー信号がゼロとなるようになされる、
ことを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記ドライバ部は、電流値が設定される複数の電流源と、前記電流源毎に設けられた複数のスイッチとを含み、
前記駆動電流は、前記各電流源からオン状態の前記スイッチを介して供給される電流が加算されることで生成され、
前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記ドライバ部に前記電流値の設定と前記スイッチのオンオフを行う制御信号を供給することでなされる、
ことを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するライトパワー出射動作時の前記特性除去エラー信号をサンプルホールドする第１のサンプルホールド部と、前記サンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するリードパワー出射動作時の前記特性除去エラー信号をサンプルホールドする第２のサンプルホールド部とを備え、
前記光ディスクに対するライトパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第１のサンプルホールド部でホールドされた前記特性除去エラー信号に基づいてなされ、
前記光ディスクに対するリードパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第２のサンプルホールド部でホールドされた前記特性除去エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記サンプリング制御信号生成部から前記第１のサンプルホールド部に対する前記サンプリング制御信号の供給は、前記リードパワー出射動作から前記ライトパワー出射動作に遷移するのと同時になされ、
前記サンプリング制御信号生成部から前記第２のサンプルホールド部に対する前記サンプリング制御信号の供給は、前記ライトパワー出射動作から前記リードパワー出射動作に遷移するのと同時になされる、
ことを特徴とする請求項１３記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するライトパワー出射動作時の前記特性除去エラー信号をサンプルホールドする第１のサンプルホールド部と、前記サンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するイレースパワー出射動作時の前記特性除去エラー信号をサンプルホールドする第２のサンプルホールド部とを備え、
前記光ディスクに対するライトパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第１のサンプルホールド部でホールドされた前記特性除去エラー信号に基づいてなされ、
前記光ディスクに対するイレースパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第２のサンプルホールド部でホールドされた前記特性除去エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して前記特性除去エラー信号をサンプルホールドする複数のサンプルホールド部を備え、
前記光ディスクに対する前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記複数のサンプルホールド部のそれぞれでホールドされた前記特性除去エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
前記等価検出信号生成部および前記特性除去エラー信号生成部の一方または双方はデジタルフィルターによって構成されている、
ことを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
前記エラー信号に含まれる高調波を除去するためのローパスフィルターが設けられている、
ことを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
【請求項１９】
光ディスクを保持して回転駆動する駆動手段と、
前記光ディスクに対し光ビームを照射する光源と、
前記光源に駆動電流を供給するドライバ部と、
前記光源から出射される光ビームを受光することで前記光源の出射パワーを計測することで実測検出信号を生成する計測部と、
前記実測検出信号に基づいて前記ドライバ部を介して前記光源の出射パワーを制御するレーザー制御部とを備える光ディスク装置であって、
前記レーザー制御部は、
前記ドライバ部と前記光源と前記計測部を含む信号処理系が有する利得の機能を演算によって実現することで前記実測検出信号から過渡応答特性を除いた信号と等価な特性除去等価検出信号を生成する特性除去等価検出信号生成部と、
前記信号処理系が有するローパスフィルターの特性と逆特性のフィルターの機能を演算によって実現し前記実測検出信号を前記逆特性のフィルターの機能で処理することにより前記実測検出信号から過渡応答特性を除いた特性除去実測検出信号を生成する特性除去実測検出信号生成部とを備え、
前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記特性除去実測検出信号と前記特性除去等価検出信号との差であるエラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２０】
前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記エラー信号がゼロとなるようになされる、
ことを特徴とする請求項１９記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
前記ドライバ部は、電流値が設定される複数の電流源と、前記電流源毎に設けられた複数のスイッチとを含み、
前記駆動電流は、前記各電流源からオン状態の前記スイッチを介して供給される電流が加算されることで生成され、
前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記ドライバ部に前記電流値の設定と前記スイッチのオンオフを行う制御信号を供給することでなされる、
ことを特徴とする請求項１９記載の光ディスク装置。
【請求項２２】
サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するライトパワー出射動作時の前記エラー信号をサンプルホールドする第１のサンプルホールド部と、前記サンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するリードパワー出射動作時の前記エラー信号をサンプルホールドする第２のサンプルホールド部とを備え、
前記光ディスクに対するライトパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第１のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされ、
前記光ディスクに対するリードパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第２のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする請求項１９記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
前記サンプリング制御信号生成部から前記第１のサンプルホールド部に対する前記サンプリング制御信号の供給は、前記リードパワー出射動作から前記ライトパワー出射動作に遷移するのと同時になされ、
前記サンプリング制御信号生成部から前記第２のサンプルホールド部に対する前記サンプリング制御信号の供給は、前記ライトパワー出射動作から前記リードパワー出射動作に遷移するのと同時になされる、
ことを特徴とする請求項２２記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するライトパワー出射動作時の前記エラー信号をサンプルホールドする第１のサンプルホールド部と、前記サンプリング制御信号に同期して前記光ディスクに対するイレースパワー出射動作時の前記エラー信号をサンプルホールドする第２のサンプルホールド部とを備え、
前記光ディスクに対するライトパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第１のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされ、
前記光ディスクに対するイレースパワー出射動作中における前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記第２のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする請求項１９記載の光ディスク装置。
【請求項２５】
サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して前記エラー信号をサンプルホールドする複数のサンプルホールド部を備え、
前記光ディスクに対する前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記複数のサンプルホールド部のそれぞれでホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる、
ことを特徴とする請求項１９記載の光ディスク装置。
【請求項２６】
前記特性除去実測検出信号生成部はデジタルフィルターによって構成されている、
ことを特徴とする請求項１９記載の光ディスク装置。
【請求項２７】
前記エラー信号に含まれる高調波を除去するためのローパスフィルターが設けられている、
ことを特徴とする請求項１９記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに信号の記録を行う光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、光ディスクに光ビームを照射することで光ディスクの記録面にマーク（ピット）を形成することで信号の記録を行う光ディスク装置が提供されている。
このような光ディスク装置においては、光ディスクの再生信号の品質を確保するために、記録面に形成されるマークの形状を如何に規定の形状に近づけて正確に形成するかが重要である。
そのため、ライト動作時に光ディスクの記録面に照射される光ビームをマルチパルス化、多値レベル化して変調するとともに、光ディスクに対する出射光量を所望の光量に精密に制御することが必要となる。
従来、出射光量を制御する方法としてＡＰＣ（Automatic Power Control）が用いられている。ＡＰＣは、光源から出射される光ビームをモニタ回路でサンプリングして検出し、その検出値が所望の光量に相当する目標値となるように光源を駆動する制御である。
しかしながら、近年、記録密度の高密度化および記録速度の高速化が要請されていることから、従来のＡＰＣでは、光ディスクに照射すべき光信号の周波数に対してモニタ回路の過渡応答特性が追従しきれず、モニタ回路で検出される検出値に含まれるサンプリング誤差が増大し、光ディスクの記録面に形成されるマークの形状の品質が低下することが懸念される。
このような問題に対処するために、マークの長さに応じた補正値を予め記憶しておき、モニタ回路で検出される検出値を前記補正値で補正する技術（特許文献１参照）、ＤＣ発光時にモニタ回路で検出された検出値と、所定の光パルスを発光させた時にモニタ回路で検出された検出値との差異を用いて光源の出射光量を補正する技術（特許文献２参照）などが提案されている。
【特許文献１】特開２００４−６２９１９
【特許文献２】特開２００５−３２３００
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上述した前者の従来技術では、予め補正値を決定することから光源の個体差の影響を除去する上で不利があり、設定パワー、温度条件、経年変化に対する光源の出射光量の変化に対応できない不利がある。
また、後者の従来技術では光源の個体差の影響を除去できるものの、設定パワー、温度条件、経年変化に対する光源の出射光量の変化に対応できない点は同じである。
本発明はこのような事情に鑑みなされたもので、その目的は記録密度の高密度化および記録速度の高速化に対応して光ディスクに形成されるマークの品質の向上を図る上で有利な光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するために本発明は、光ディスクを保持して回転駆動する駆動手段と、前記光ディスクに対し光ビームを照射する光源と、前記光源に駆動電流を供給するドライバ部と、前記光源から出射される光ビームの出射パワーを計測することで実測検出信号を生成する計測部と、前記実測検出信号に基づいて前記ドライバ部を介して前記光源の出射パワーを制御するレーザー制御部とを備える光ディスク装置であって、前記レーザー制御部は、前記ドライバ部と前記光源と前記計測部を含む信号処理系が有する利得およびローパスフィルターの機能を演算によって実現することで前記実測検出信号と等価な等価検出信号を生成する等価検出信号生成部を備え、前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記実測検出信号と前記等価検出信号との差であるエラー信号に基づいてなされることを特徴とする。
また本発明は、光ディスクを保持して回転駆動する駆動手段と、前記光ディスクに対し光ビームを照射する光源と、前記光源に駆動電流を供給するドライバ部と、前記光源から出射される光ビームの出射パワーを計測することで実測検出信号を生成する計測部と、前記実測検出信号に基づいて前記ドライバ部を介して前記光源の出射パワーを制御するレーザー制御部とを備える光ディスク装置であって、前記レーザー制御部は、前記ドライバ部と前記光源と前記計測部を含む信号処理系が有する利得およびローパスフィルターの機能を演算によって実現することで前記実測検出信号と等価な等価検出信号を生成する等価検出信号生成部と、前記実測検出信号と前記等価検出信号との差であるエラー信号を生成する比較器と、前記信号処理系が有するローパスフィルターの特性と逆特性のフィルターの機能を演算によって実現することで前記エラー信号から過渡応答特性を除いた特性除去エラー信号を生成する特性除去エラー信号生成部を設け、前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記特性除去エラー信号に基づいてなされることを特徴とする。
また本発明は、ディスクを保持して回転駆動する駆動手段と、前記光ディスクに対し光ビームを照射する光源と、前記光源に駆動電流を供給するドライバ部と、前記光源から出射される光ビームを受光することで前記光源の出射パワーを計測することで実測検出信号を生成する計測部と、前記実測検出信号に基づいて前記ドライバ部を介して前記光源の出射パワーを制御するレーザー制御部とを備える光ディスク装置であって、前記レーザー制御部は、前記ドライバ部と前記光源と前記計測部を含む信号処理系が有する利得の機能を演算によって実現することで前記実測検出信号から過渡応答特性を除いた信号と等価な特性除去等価検出信号を生成する特性除去等価検出信号生成部と、前記信号処理系が有するローパスフィルターの特性と逆特性のフィルターの機能を演算によって実現し前記実測検出信号を前記逆特性のフィルターの機能で処理することにより前記実測検出信号から過渡応答特性を除いた特性除去実測検出信号を生成する特性除去実測検出信号生成部とを備え、前記レーザー制御部による前記光源の出射パワーの制御は、前記特性除去実測検出信号と前記特性除去等価検出信号との差であるエラー信号に基づいてなされることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００５】
本発明によれば、実測検出信号が整定するか否かに拘わらず、エラー信号を得ることができるため、記録密度の高密度化および記録速度の高速化に対応でき、マークの品質の向上を図る上で有利となる。
また、光源の出射パワーの検出信号の補正を固定的な補正値を用いて行う場合に比較して、設定パワー、温度条件、経年変化に対する光源の出射光量の変化にも対応することができ、光ディスクに形成されるマークの品質の向上を図る上でより有利となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
（第１の実施の形態）
次に本発明の実施の形態について説明する。
まず、本発明の光ピックアップが組み込まれる光ディスク装置について説明する。
図１は、第１の実施の形態の光ディスク装置１０の構成を示すブロック図である。
図１に示すように、光ディスク装置１０は、光ディスク２を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ１２と、光ピックアップ１４と、光ピックアップ１４をその半径方向に動かす駆動手段としての送りモータ１６とを備えている。ここで、スピンドルモータ１２は、システムコントローラ１８およびサーボ制御部２０により所定の回転数で駆動制御される構成になっている。
【０００７】
信号変復調部およびＥＣＣブロック２２は、信号処理部２４から出力される信号の変調、復調およびＥＣＣ（エラー訂正符号）の付加を行う。光ピックアップ１４は、システムコントローラ１８およびサーボ制御部２０からの指令に従って回転する光ディスク２の記録面に対して光ビームを照射する。このような光照射により光ディスク２に対する光信号の記録、再生が行われる。
また、光ピックアップ１４は、光ビームを光ディスク２の記録面に出射する光源４０（レーザー光源）を含んで構成され、光ディスク２の記録面からの反射光ビームに基づいて、各種の光ビームを検出し、各光ビームに対応する信号を信号処理部２４に供給できるように構成され、また、光源４０から出射される光ビームの光量を検出し、その検出信号（以下実測検出信号という）を、レーザー制御部３６に供給できるように構成されている。
本実施の形態では、光ピックアップ１４は、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ±Ｒ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｋ）といったような記録型の光ディスク２に対して、記録および／または再生を行うように構成されている。
【０００８】
信号処理部２４は、各光ビームに対応する検出信号に基づいてサーボ制御用信号、すなわち、後述するフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号、ライト動作時における光ディスクの回転制御を行うために必要なＡＴＩＰ信号などを生成できるように構成されている。また、再生対象とされる記録媒体の種類に応じて、サーボ制御部２０、信号変調部およびＥＣＣブロック２２等により、これらの信号に基づく復調および誤り訂正処理等の所定の処理が行われる。
ここで、信号変調部およびＥＣＣブロック２２により復調された記録信号が、例えばコンピュータのデータストレージ用であれば、インタフェース２６を介して外部コンピュータ２８等に送出される。これにより、外部コンピュータ２８等は光ディスク２に記録された信号を再生信号として受け取ることができるように構成されている。
【０００９】
また、信号変調部およびＥＣＣブロック２２により復調された記録信号がオーディオ・ビジュアル用であれば、Ｄ／Ａ、Ａ／Ｄ変換器３０のＤ／Ａ変換部でデジタル／アナログ変換され、オーディオ・ビジュアル処理部３２に供給される。そして、このオーディオ・ビジュアル処理部３２でオーディオ・ビデオ信号処理が行われ、オーディオ・ビジュアル信号入出力部３４を介して外部の撮像・映写機器に伝送される。
光ピックアップ１４には送りモータ１６が接続され、送りモータ１６の回転によって光ピックアップ１４が光ディスク２上の所定の記録トラックまで移動されるように構成されている。
サーボ制御部２０は、スピンドルモータ１２、送りモータ１６の制御に加えて、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号に基づいて光ピックアップ１４の対物レンズ６０（不図示）のフォーカシング方向、トラッキング方向の制御を行い、さらに、ラジアルスキューの制御を行なう。
また、レーザー制御部３６は、信号変復調部およびＥＣＣブロック２２から供給される記録用のデータに基づいて光源４０を駆動することで記録用の光ビーム（光パルス）を光ディスク２の記録面に照射させるものであり、光源４０の出射光量の制御を光ピックアップ１４から供給される前記実測検出信号に基づいて行うものである。レーザー制御部３６の構成については後述する。
【００１０】
次に一般的なレーザー制御部の構成と動作について説明し、その後で本実施の形態のレーザー制御部について詳細に説明する。
図２は光ピックアップ１４の一部の構成と一般的なレーザー制御部３６の構成を示すブロック図である。
光ピックアップ１４は、光源４０に加えて、光学系４２、受光素子（不図示）、計測部（ＦＰＤＩＣ）４４、ドライバ部４５などを含んで構成されている。
光学系４２は対物レンズ４２Ａを含み、光源４０から出射された光ビームを対物レンズ４２Ａを介して光ディスク２に照射し、記録面で反射された反射光ビームを対物レンズ４２Ａを介して前記受光素子に導くものである。
計測部４４は、光源４０から出射された光ビームを検出して検出電流を生成する受光素子４４Ａと、受光素子４４Ａから供給される検出電流を増幅して検出電圧に変換することで実測検出信号（フロントパワーモニター信号）Ｖｆｐｄを出力するＩ／Ｖ増幅器４４Ｂとを備える。
ドライバ部４５は、後述するライトストラテジー部３６ＡおよびＡＬＰＣ部３６Ｅから供給される前記制御信号（パラメータ）に基づいて、光源４０を駆動する駆動電流Ｉｄ（駆動信号）を生成し、その駆動電流Ｉｄを光源４０に供給するものである。
【００１１】
レーザー制御部３６は、ライトストラテジー部３６Ａと、サンプルホールド部３６Ｃ、３６Ｄと、ＡＬＰＣ部（Automatic Laser Power Controller）３６Ｅとを含んで構成されている。
ライトストラテジー部３６Ａは、信号変復調部およびＥＣＣブロック２２から供給されるライトデータＤｗに基づいて、光ビームを変調してマルチパルス化および多値レベル化するための制御信号（パラメータ）を生成しドライバ部４５に供給するものである。
また、ライトストラテジー部３６Ａは、光ディスク２に対する後述するライトパワー出射動作およびリードパワー出射動作と同期したサンプリング制御信号Ｓｗをサンプルホールド部３６Ｃ、３６Ｄに供給するように構成されている。言い換えると、サンプリング制御信号Ｓｗはサンプリングウィンドウを開くための制御信号である。
サンプルホールド部３６Ｃ、３６Ｄは、ライトストラテジー部３６Ａから供給されるサンプリング制御信号Ｓｗに同期して、計測部４４から供給される実測検出信号ＶｆｐｄをサンプルホールドしＡＬＰＣ部３６Ｄに供給する。
本実施の形態では、一方のサンプルホールド部３６Ｃはリードパワー出射動作時の実測検出信号Ｖｆｐｄをサンプルホールドするものであり、他方のサンプルホールド部３６Ｄはライトパワー出射動作時の実測検出信号Ｖｆｐｄをサンプルホールドするものである。
【００１２】
ＡＬＰＣ部３６Ｅは、マルチプレクサ部３６Ｆと、比較器３６Ｇ、３６Ｈとを含んで構成されている。
マルチプレクサ部３６Ｆは、ドライバ部４５に前記制御信号を供給するものである。
一方の比較器３６Ｇは、レーザー制御部３６の一部を構成する上位制御部からライトパワー出射動作時に供給されるライトパワー用基準値と、サンプルホールド部３６Ｃから供給される実測検出信号Ｖｆｐｄとを比較し、両者の差分であるエラー信号を生成し、そのエラー信号をマルチプレクサ部３６Ｆに供給するものである。
他方の比較器３６Ｇは、レーザー制御部３６の一部を構成する上位制御部からリードパワー出射動作時に供給されるライトパワー用基準値と、サンプルホールド部３６Ｄから供給される実測検出信号Ｖｆｐｄとを比較し、両者の差分であるエラー信号を生成し、そのエラー信号をマルチプレクサ部３６Ｆに供給するものである。
すなわち、前記ライトパワー用設定値は、ライトパワー出射動作時において、光源４０から出射されるべき所望の光量が計測部４４に受光された際の実測検出信号Ｖｆｐｄの目標値である。
また、前記リードパワー用設定値は、リードパワー出射動作時において、光源４０から出射されるべき所望の光量が計測部４４に受光された際の実測検出信号Ｖｆｐｄの目標値である。
マルチプレクサ部３６Ｆは、ライトパワー出射動作時およびリードパワー出射動作時において比較器３６Ｇ、３６Ｈから供給されるエラー信号がゼロとなるような駆動電流Ｉｄがドライバ部４５から光源４０に供給されるように、ドライバ部４５に制御信号を供給して駆動電流Ｉｄの調整を行う。
【００１３】
ＣＤ−ＲやＤＶＤ±ＲやＢｌｕ−Ｒａｙなどの光ディスク２に対して記録を行う場合、記録マークを形成するときには強いパワー（ライトパワー）で光源４０を発光させ、記録マークと記録マークとの間のブランクでは弱いパワー（リードパワー）で光源４０を発光させる。
言い換えると、ライトパワーとは、光ディスク２に対して信号を記録するライト動作期間において、光ディスク２の記録面に対してマークを形成するために照射される光ビームの光パワーをいう。
また、リードパワーとは、光ディスク２に対して信号を記録するライト動作期間において、光ディスク２の記録面に対してマークとマークとの間のブラックを形成するために照射される光ビームの光パワー（ライトパワーよりも低いパワー）をいう。このリードパワーは、光ディスク２の記録面から信号を再生するリード動作期間において光ディスク２の記録面に対してマークとマークとの間のブラックを形成するために照射される光ビームの光パワーに相当する。
また、ライトパワー出射動作とは、ライト動作期間においてライトパワーを出射する動作をいい、リードパワー出射動作とは、ライト動作期間においてリードパワーを出射する動作をいう。
したがって、レーザー制御部３６の制御方法は、ライトパワー出射動作時には、実測検出信号Ｖｆｐｄをサンプリングしてライトパワー用基準値と比較して光源４０の駆動制御を行い、また、リードパワー出射動作時には、実測検出信号Ｖｆｐｄをサンプリングしてリードパワー用基準値と比較して光源４０の駆動制御を行うものとなっており、このような制御方法が一般的に使用されている。
【００１４】
図３（Ａ）はライトデータの一例を示す波形図、（Ｂ）は（Ａ）のライトデータに対応して光源４０から出射される出射光量（光パワー）を示す波形図である。
図３（Ｂ）に示すように、レーザー制御部３６によって短いマークを記録する際には、光源４０の出射パワー（ライトパワー）を一定の高いパワーとなるように制御している。
また、長いマークを記録する際には、マークの先頭と最後のパワーを高くするオーバードライブとし、記録マークの途中のパワーをやや下げるようにしている。
また、マークを記録した直後には、クーリングパルス（Cooling Pulse）と呼ばれるリードパワーより低いパワーの領域を経てからリードパワーに至るように制御している。これはエッジをより正確な形状で形成するためになされる。
一般的に、ライトパワーとさらに上乗せしたオーバードライブのパワーとは光源４０に供給する電流を等比の関係で制御することで実現している。
また、クーリングパルスのパワーは、リードパワーから一定値を下げた電流を光源４０に供給することで実現している。
【００１５】
図４はドライバ部４５、光源４０、計測部４４の原理図である。
ドライバ部４５は、電流源Ｉ１乃至Ｉ４、発振源ＯＳＣ、スイッチＳＷ１乃至ＳＷ５を含んで構成されている。
電流源Ｉ１乃至Ｉ４は、マルチプレクサ部３６Ｆからから供給される制御信号ＩＩＮ１乃至ＩＩ３、ＩＩＲによって出力電流値ＩＩＮ１乃至ＩＩ３、ＩＩＲが設定されるものであり、後述するように電流源Ｉ１乃至Ｉ４の出力電流値が組み合わされた電流が駆動電流Ｉｄとして光源４０に供給されることで光源４０が駆動される。
なお、出力電流値ＩＩＮ１乃至ＩＩ３は、ライトパワー出射動作時において光源４０から光ディスク２の記録面に照射される光ビームのライトパワーを規定するものであり、出力信号値ＩＩＲは、リードパワー出射動作時において光源４０から光ディスク２の記録面に照射される光ビームのリードパワーを規定するものである。
発信源ＯＳＣは、光源４０に供給される駆動電流Ｉｄに重畳される高周波信号を生成するものであり、この高周波信号が駆動電流Ｉｄに重畳されることでリードパワー出射動作時に光源４０に入射する戻り光によって発生する戻り光雑音の抑制が図られている。
スイッチＳＷ１乃至ＳＷ５は、各電流源Ｉ１乃至Ｉ４、発信源ＯＳＣと光源４０との間にそれぞれ直列に接続され、ライトストラテジー部３６Ａから供給される制御信号ＷＥＮ１乃至ＷＥＮ３、ＲＥＮ、ＯＳＣＥＮによってオン、オフが制御されることで、各電流源Ｉ１乃至Ｉ４からの出力電流、発信源ＯＳＣからの高周波信号を組み合わせて駆動電流Ｉｄを生成しこの駆動電流Ｉｄを光源４０に供給するものである。
すなわち、スイッチＳＷ１乃至ＳＷ５によってオンされた各電流源の出力電流および発信源ＯＳＣの高周波信号の合計電流が駆動電流Ｉｄとして光源４０に供給される。
光源４０は、供給された駆動電流Ｉｄに対して光出力Ｐを発生させるものであり、本実施の形態ではレーザーダイオードで構成されている。
光源４０の光出力Ｐの大部分は、対物レンズ４２Ａを介して光ディスク２の記録面（盤面）に至り、光出力Ｐの残りは、FPDIC４４の受光素子４４Ａで受光され、受光素子４４Ａから光出力Ｐの大きさに対応する検出電流がＩ／Ｖ増幅器４４Ｂに供給され、これにＩ／Ｖ増幅器４４Ｂから実測検出信号Ｖｆｐｄがサンプルホールド部３６Ｃ、３６Ｄ（図２）に供給される。
【００１６】
図５はドライバ部４５、光源４０、計測部４４の等価モデル図である。
Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３、Ｋｒは各電流源Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３、Ｉｒのゲイン（利得）を示し、Ｋｍは発信器ＯＳＣの高周波信号の振幅のゲインを示す。
Ａは、各出力電流Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３、Ｉｒ、高周波信号ＯＳＣを合計して駆動電流Ｉｄを出力する加算器を示す。
これら各ゲインＫ１、Ｋ２、Ｋ３、Ｋｒ、Ｋｍと加算器Ａとによってドライバ部４５の等価モデルが示されている。
【００１７】
Ｋｌｄは光源４０のレーザー変換ゲイン（係数）であり、このレーザー変換ゲインＫｌｄによって光源４０の等価モデルが示されている。
すなわち、光源４０はレーザーダイオードで構成されているため、特性線図Ｂに示すように、光源４０に入力される駆動電流Ｉｄが閾値未満である場合には光出力Ｐがゼロであり、駆動電流Ｉｄが閾値以上となると光出力Ｐが発生する特性を有しているが、この特性がレーザー変換ゲインＫｌｄで示されている。
Ｋｐｄは受光素子４４ＡのＰＤ変換ゲイン（係数）であり、ＫｉｖはＩ／Ｖ増幅器４４ＢのＩ／Ｖ変換ゲイン（トランスインピーダンス）である。
これらＰＤ変換ゲインＫｐｄとＩ／Ｖ変換ゲインとによって計測部４４の等価モデルが示されている。
そして、周波数特性線図Ｃに示すように、計測部４４はそれに入力される光ビームの周波数に対応してゲインと位相が変化する周波数特性（応答遅延）を有している。
計測部４４において受光素子４４ＡとＩ／Ｖ増幅器４４Ｂとのそれぞれに多少の応答遅延があるが、特に受光素子４４Ａによる周波数制限が支配的であり、この周波数制限によって計測部４４の高速応答性が制限されることになる。
言い換えると、ドライバ部４５と光源４０と計測部４４を含む信号処理系は、各電流源のゲインＫ１、Ｋ２、Ｋ３、Ｋｒ、発信器ＯＳＣのゲインＫｍ、レーザー変換ゲインＫｌｄ、ＰＤ変換ゲイン、Ｉ／Ｖ変換ゲインを含むゲインと、前記周波数特性で示されるローパスフィルターの機能とを有していることになる。
【００１８】
図６はドライバ部４５がライトパワー出射動作からリードパワー出射動作に切り換った際の過渡応答特性を示す波形図であり、（Ａ）はライトデータＤｗの波形図、（Ｂ）は光源４０から出射される光パワーＰの波形図、（Ｃ）は実測検出信号Ｖｆｐｄの波形図、（Ｄ）はサンプリング制御信号Ｓｗの波形図である。
図７はドライバ部４５がリードパワー出射動作からライトパワー出射動作に切り換った際の過渡応答特性を示す波形図であり、（Ａ）はライトデータＤｗの波形図、（Ｂ）は光源４０から出射される光パワーＰの波形図、（Ｃ）は実測検出信号Ｖｆｐｄの波形図、（Ｄ）はサンプリング制御信号Ｓｗの波形図である。
なお、本実施の形態では、図６（Ｃ）、図７（Ｃ）に示す実測検出信号Ｖｆｐｄは負極性出力、すなわち、検出される光量が増大するにつれて信号値が減少する形態で生成される場合について説明する。実測検出信号Ｖｆｐｄはこのような負極性出力で生成される他、検出される光量が増大するにつれて信号値が増大する正極性出力で生成されてもよいし、あるいは、実測検出信号Ｖｆｐｄをその正極性出力と負極性出力との差分（差電圧）によって生成する差動方式で生成してもよく、実測検出信号Ｖｆｐｄの生成方式は従来公知のさまざまな方式が採用可能である。
【００１９】
図６、図７では、記録するマークの長さが短いＴである場合からマークの長さが長いＴである場合までを複数段階、重ね書きで示している。言い換えると、マークとマークとの間に形成されるブランクの長さが長いＴである場合からブランクの長さが短いＴである場合までを複数段階、重ね書きで示している。
まず、ライトパワー出射動作時について説明すると、図６に示すように、実測検出信号Ｖｆｐｄは高速応答が制限されていることから、光源４０から出射される光パルスが長いパルス幅では、実測検出信号Ｖｆｐｄは整定レベルに到達しており、正しい光出力Ｐを検出することができるのに対し、短いパルス幅では、実測検出信号Ｖｆｐｄは未だ整定レベルに到達しておらず、正しい光出力Ｐを検出することができないことがわかる。
したがって、ライトストラテジー部３６Ａからサンプルホールド部３６Ｃに対するサンプリング制御信号Ｓｗの供給は、実測検出信号Ｖｆｐｄが整定レベルに到達するに足る長さの光パルスを照射する長さのマークが記録される場合にのみ行っている。
【００２０】
次に、リードパワー出射動作時について説明すると、図７に示すように、実測検出信号Ｖｆｐｄは高速応答が制限されていることから、光源４０から出射される光パルスがゼロになってから経過する時間が長いと、言い換えると、ブランクが長いＴであると、実測検出信号Ｖｆｐｄは整定レベルに到達しており、正しい光出力Ｐを検出することができるのに対し、光源４０から出射される光パルスがゼロになってから経過する時間が短いと、言い換えると、ブランクが短いＴであると、実測検出信号Ｖｆｐｄは未だ整定レベルに到達しておらず、正しい光出力Ｐを検出することができないことがわかる。
したがって、ライトストラテジー部３６Ａからサンプルホールド部３６Ｃに対するサンプリング制御信号Ｓｗの供給は、実測検出信号Ｖｆｐｄが整定レベルに到達するに足る長さのブランクが形成される場合にのみ行っている。
言い換えると、ライトパワー出射動作の際には、記録するマークが長いＴのときに得られる実測検出信号Ｖｆｐｄの後部をのみとりこむようにサンプリング制御信号Ｓｗ（Sampling Pulse）を生成することで、光源４０の光パワーＰをサンプリングして検出し、その検出値を使ってＡＰＣ（Automatic Power Control）を行っている。
また、リードパワー出射動作の際には、ブランクが長いＴのときに得られる実測検出信号Ｖｆｐｄの後部をのみとりこむようにサンプリング制御信号Ｓｗ（Sampling Pulse）を生成することで、光源４０の光パワーＰをサンプリングして検出し、その検出値を使ってＡＰＣを行っており、このような手法がサンプリングＡＰＣとして確立している。
なお、光源４０から出射される光パルスが前述のように多値パルスである場合であっても、上述と同様の手法によってＡＰＣがなされている。
このような手法を用いた場合、光ディスク２に対するさらなる記録密度の高密度化および記録速度の高速化が図られ、光パルスのパルス幅がさらに短パルス化すると、長いＴのマークあるいはブランクが形成される場合であっても、実測検出信号Ｖｆｐｄが十分な整定状態に達することが困難となり、したがって、サンプリング誤差の発生が避けられなくなる。
すなわち、記録密度の高密度化および記録速度の高速化に伴ってサンプリング誤差が発生する原因は、そもそも動的に変化し過渡応答特性を含む（過渡現象を含む）実測検出信号Ｖｆｐｄと、固定的に設定されるライトパワー用基準値およびリードパワー用基準値との差分をエラー信号とし、このエラー信号がゼロとなるようにフィードバック制御をかけることに起因しているのである。
また、先に述べたように、光源４０の光量の検出誤差を補正する従来技術が種々提案されているものの、設定パワー、温度条件、経年変化に対する光源の出射光量の変化に対応することはできないものである。
【００２１】
そこで、本発明は、上述したような過渡応答特性を含む実測検出信号Ｖｆｐｄと、固定的に設定される基準値との差分に基づいてフィードバック制御をかけるのではなく、ドライバ部４５、光源４０、計測部４４を含む信号処理系を等価的に実現する手段を設け、この手段によって実測検出信号Ｖｆｐｄと等価で過渡応答特性を含む等価検出信号Ｖｏｂｓを演算によって生成し、実測検出信号Ｖｆｐｄと等価検出信号Ｖｏｂｓとの差分からなるエラー信号がゼロとなるようにフィードバック制御をかけることで、記録密度の高密度化および記録速度の高速化に対応し、かつ、設定パワー、温度条件、経年変化に対する光源の出射光量の変化にも対応できるようにしたものである。
【００２２】
（第１の実施の形態）
次に本実施の形態の光ディスク装置１０におけるレーザー制御部５０について詳細に説明する。
図８は第１の実施の形態におけるレーザー制御部５０の構成を示すブロック図、図９は等価検出信号生成部５６を実現するデジタルフィルターの構成例を示す図である。
図１０は等価検出信号生成部５６の動作を説明するための波形図であり、（Ａ）はライトデータＤｗの波形図、（Ｂ）は（Ａ）のライトデータＤｗに対応して光源４０から出射されるべき出射光量（光パワー）を示す演算光出力信号Ｐｉの波形図、（Ｃ）は（Ｂ）の信号に基づいて等価検出信号生成部５６から出力される等価検出信号Ｖｏｂｓの波形図である。
なお、図８以降の図面において、図１乃至図７と同一の部材、箇所には同一の符号を付して簡単に説明する。
【００２３】
図８に示すように、光ピックアップ１４は前述と同様の光源４０、光学系４２、計測部４４を備えている。
レーザー制御部５０は、ライトストラテジー部３６Ａ、ドライバ部４５、ＡＬＰＣ部５２などを含んで構成されており、ライトストラテジー部３６Ａ、ドライバ部４５の構成は前述と同様である。
ＡＬＰＣ部５２は、マルチプレクサ部５４、等価検出信号生成部５６、比較器５８、第１、第２のサンプルホールド部６０、６２、第１の加算器６４、第２の加算器６６などを含んで構成されている。
マルチプレクサ部５４は、ライトストラテジー部３６Ａと共にドライバ部４５に対して制御信号（パラメータ）を供給することで、ドライバ部４５から光源４０に供給される駆動電流Ｉｄを制御するものである。
すなわち、マルチプレクサ部５４は、後述する第１、第２の加算器６４、６６を介してレーザー制御部３６の一部を構成する上位制御部から供給されるライトパワー用基準値とリードパワー用基準値とに基づいて、図４に示すドライバ部４５の電流源Ｉ１乃至Ｉ４の出力電流値ＩＩＮ１乃至ＩＩ３、ＩＩＲを設定するものである。
【００２４】
等価検出信号生成部５６は、レーザー制御部５０のうちドライバ部４５、光源４０、計測部４４を含む信号処理系の機能を演算によって実現するものである。
すなわち、等価検出信号生成部５６は、ライトストラテジー部３６Ａおよびマルチプレクサ部５４から供給される制御信号を演算処理することで、実測検出信号Ｖｆｐｄと等価な等価検出信号Ｖｏｂｓを出力するものである。
等価検出信号生成部５６は、光源４０、計測部４４を含む信号処理系の全体のゲイン積（図５に示す各電流源のゲインＫ１、Ｋ２、Ｋ３、Ｋｒ、発信器ＯＳＣのゲインＫｍ、係数Ｋｌｄ、Ｋｐｄ、Ｋｉｖと、主に計測部４４の周波数特性によるローパスフィルター特性（図５に示す線図Ｃ）とを含んで構成される。
本実施の形態では、等価検出信号生成部５６は、図８に示すライトストラテジー部３６Ａおよびマルチプレクサ部５４から供給される制御信号に基づいて図１０（Ｂ）に示す演算光出力信号Ｐｉを生成する光出力信号生成用演算ユニット（不図示）と、演算光出力信号Ｐｉに対してローパスフィルターとして機能するデジタルフィルター７０（図９）とを含んで構成されている。
図９に示すように、デジタルフィルター７０は、複数の遅延要素７０Ａが直列に接続されるディレイラインと、各遅延要素７０Ａからの出力に係数Ｃを乗算する複数の乗算器７０Ｂと、各乗算器７０Ｂからの出力を加算する加算器７０Ｃとを含んで構成されるいわゆるＦＩＲフィルター（Finite Impulse Responseフィルター：非巡回型デジタルフィルター）で構成される。
ライトデータＤｗ（図１０（Ａ））に対応する演算光出力信号Ｐｉ（図１０（Ｂ））がデジタルフィルター７０に入力されると、遅延要素７０Ａによって遅れた演算光出力信号Ｐｉが乗算器７０Ｂで増幅され加算器７０Ｃで加算され、これによりローパスフィルターの機能が実現されることになり、デジタルフィルター７０から等価検出信号Ｖｏｂｓ（図１０（Ｃ））が出力される。
なお、ドライバ部４５、光源４０、計測部４４を構成する部品が同じ特性であれば、光ピックアップ１４を含む光ディスク装置１０による固体差は実質的に無視できるものであり、したがって、ドライバ部４５、光源４０、計測部４４を構成する部品が同じ光ディスク装置１０であれば、等価検出信号生成部５６として同一の構成のものを使用することができる。
【００２５】
比較器５８は、等価検出信号Ｖｏｂｓと実測検出信号Ｖｆｐｄとの差分（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）からなるエラー信号を生成するものである。
第１、第２のサンプルホールド部６０、６２は、ライトパワー出射動作時のエラー信号と、リードパワー出射動作時のエラー信号とをそれぞれサンプルホールドするものであり、ライトストラテジー部３６Ａから供給されるサンプリング制御信号Ｓｗに基づいてサンプリング動作を行う。本実施の形態では、ライトストラテジー部３６Ａによってサンプリング制御信号生成部が構成されている。
第１の加算器６４は、レーザー制御部５０の一部を構成する上位制御部からライトパワー出射動作時に供給されるライトパワー用基準値と、第１のサンプルホールド部６０から供給される前記エラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）とを加算することで、ライトパワー用基準値を補正し、補正したライトパワー用基準値をマルチプレクサ部５４に供給するものである。
第２の加算器６６は、レーザー制御部５０の一部を構成する上位制御部からリードパワー出射動作時に供給されるリードパワー用基準値と、第２のサンプルホールド部６２から供給される前記エラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）とを加算することで、リードパワー用基準値を補正し、補正したリードパワー用基準値をマルチプレクサ部５４に供給するものである。
【００２６】
次に等価検出信号Ｖｏｂｓと実測検出信号Ｖｆｐｄとの差分（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）からなるエラー信号の生成について説明する。
図１１（Ａ）は演算光出力信号Ｐｉの波形図、（Ｂ）は等価検出信号Ｖｏｂｓと実測検出信号Ｖｆｐｄの波形図、（Ｃ）は等価検出信号Ｖｏｂｓと実測検出信号Ｖｆｐｄとの差であるエラー信号の波形図である。
図１２はエラー信号を生成する回路の原理図である。
図１２に示すように、ライトストラテジー部３６Ａ（図８）およびマルチプレクサ部５４（図８）から等価検出信号生成部５６に制御信号（パラメータ）が供給されると、等価検出信号生成部５６内部の前記光出力信号生成用演算ユニットによって演算光出力信号Ｐｉが生成され（図１１（Ａ））、この演算光出力信号Ｐｉがデジタルフィルター７０（図９）によって処理されることで等価検出信号Ｖｏｂｓが生成され（図１１（Ｂ））、この等価検出信号Ｖｏｂｓが比較器５８（図８）に供給される。
また、計測部４４からの実測検出信号Ｖｆｐｄが比較器５８に供給される（図１１（Ｂ））。
この結果、比較器５８からは、エラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）が出力される（図１１（Ｃ））。
なお、エラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）の生成について詳細に説明すると、等価検出信号生成部５６を構成するデジタルフィルター７０（ＦＩＲフィルター）はクロックにて制御させるので、図１０（Ｃ）、図１１（Ｂ）に示すように、等価検出信号Ｖｏｂｓは離散的な値をとる信号となる。
そして、前記クロックに基づいて比較器５８でエラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）を生成すると、エラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）も図１１（Ｃ）に示すように離散的な値をとる信号となる。
このような離散的な値をとる信号には、レーザー制御部５０の動作の安定性を阻害する高調波が含まれるため、本実施の形態では、図１２に示すように、比較器５８から出力されたエラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）を高調波除去用のローパスフィルター６８を介して第１、第２のサンプルホールド部６０、６２（図８）に供給するようにしている。
なお、実測検出信号Ｖｆｐｄ、等価検出信号Ｖｏｂｓ、エラー信号をアナログ信号として処理するか、デジタル信号として処理するかは任意である。
【００２７】
ところで、エラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）は、ライトパワー出射動作時におけるエラー信号とリードパワー出射動作時におけるエラー信号との畳み込みによって生成されているので、ライトパワー出射動作時におけるエラー信号とリードパワー出射動作時におけるエラー信号とを分離をする必要がある。言い換えると、ライトパワー出射動作時のエラー信号がリードパワー出射動作時のエラー信号に与える影響およびリードパワー出射動作時のエラー信号がライトパワー出射動作時のエラー信号に与える影響を除去する必要がある。
図１３は第１の実施の形態におけるレーザー制御部５０の要部の構成を示す図である。
図１３に示すように、比較器５８から出力されるエラー信号のうちライトパワー時のエラー信号を選択する第１のスイッチＳＷＷ１と、比較器５８から出力されるエラー信号のうちリードパワー時のエラー信号を選択する第２のスイッチＳＷＲ１とが比較器５８の出力端に並列に接続されている。
また、本例では、実測検出信号Ｖｆｐｄをデジタル化して比較器５８に供給するＡ／Ｄ変換器７２が設けられており、したがって、等価検出信号Ｖｏｂｓと実測検出信号Ｖｆｐｄとの双方がデジタル信号として（離散的な値をとる信号として）比較器７２に供給され、比較器７２からデジタル信号としてのエラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）が出力されることになる。
そして、第１、第２のスイッチＳＷＷ１、ＳＷＲ１の出力端に高調波除去用のローパスフィルター６８Ａ、６８Ｂがそれぞれ接続され、第１、第２のスイッチＳＷＷ１、ＳＷＲ１がオン、オフされることで、ライトパワー出射動作時におけるエラー信号とリードパワー出射動作時におけるエラー信号とがローパスフィルター６８Ａ、６８Ｂを介して第１、第２のサンプルホールド部６０、６２（図８）にそれぞれ供給されるように構成されている。
第１、第２のスイッチＳＷＷ１、ＳＷＲ１のオン、オフ制御は、例えば、ライトストラテジー部３６Ａから供給される制御信号によってライトパワー出射動作およびリードパワー出射動作に同期してなされる。
本実施の形態では、各ローパスフィルター６８Ａ、６８Ｂの入力端にデータ保持用のコンデンサ７０Ａ、７０Ｂが接続されており、第１、第２のスイッチＳＷＷ１、ＳＷＲ１がオフしている期間においてローパスフィルター６８Ａ、６８Ｂの入力端における信号レベルを保持するように構成されている。言い換えると、第１、第２のスイッチＳＷＷ１、ＳＷＲ１がオンしてから次にオンするまでの間、ローパスフィルター６８Ａ、６８Ｂの入力端における信号レベルを保持するように構成されている。
ここで、エラー信号の生成過程において、新しい事象に比較して古い事象の方が重み付けが低いことに注目すると、図１１（Ｄ）に示すように、第１、第２のスイッチＳＷＷ１、ＳＷＲ１を、演算光出力信号Ｐｉのパルスの立ち上がり（立ち下がり）のタイミングから多少遅延させてオンすることで、新しい事象の重みを古い事象の重みよりも相対的に減らすことが考えられる。
このようにすることで、ライトパワー出射動作からリードパワー出射動作に切り替わった場合には、ライトパワー出射動作時のエラー信号がリードパワー出射動作時のエラー信号に与える影響を取り除くことができ、また、リードパワー出射動作からライトパワー出射動作に切り替わった場合には、リードパワー出射動作時のエラー信号がライド動作時のエラー信号に与える影響を取り除くことができるため、ライトパワー出射動作時およびリードパワー出射動作時の双方において正確なエラー信号を得る上で有利となる。
【００２８】
以上説明したように本実施の形態によれば、等価検出信号生成部５６によってドライバ部４５と光源４０と計測部４４を含む信号処理系が有するゲインおよびローパスフィルターの機能を演算によって実現することで実測検出信号Ｖｆｐｄと等価な等価検出信号Ｖｏｂｓを生成し、実測検出信号Ｖｆｐｄと等価検出信号Ｖｏｂｓとの差であるエラー信号に基づいて光源４０の出射パワーの制御を行うようにしたので、実測検出信号Ｖｆｐｄが整定されるか否かに拘わらず、実測検出信号Ｖｆｐｄと等価検出信号Ｖｏｂｓとの差であるエラー信号を常時得ることができるため、記録密度の高密度化および記録速度の高速化に対応でき、光ディスク２に形成されるマークの品質の向上を図る上で有利となる。
言い換えると、整定特性を超える短パルス動作においても、誤差の少ないＡＰＣ動作を実現する上で有利となる。
また、従来は、記録密度の高密度化および記録速度の高速化に伴い、光源からの出射パワーに対応する検出信号が整定した後の期間が短く、したがって、検出信号のサンプリング時間が短く（サンプリングウィンドウが狭く）なった場合には、ノイズやリークといった問題が顕著となるのに対して、本実施の形態では、整定時間には拘わらずエラー信号を得ることができるため、そのような問題を回避する上で有利となる。
また、実測検出信号Ｖｆｐｄと等価検出信号Ｖｏｂｓとの差であるエラー信号に基づいて光源４０の出射パワーの制御を行うので、光源の出射パワーの検出信号の補正を固定的な補正値を用いて行う場合に比較して、設定パワー、温度条件、経年変化に対する光源の出射光量の変化にも対応することができ、光ディスク２に形成されるマークの品質の向上を図る上でより有利となる。
なお、図８に示すように、比較器５８から出力されたエラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）を等価検出信号生成部５６に入力させ、そのエラー信号の成分のうち、時間経過と共に変動する成分と、時間経過と共に変化しない定常的な成分とを分離し、時間経過と共に変化しない定常的な成分をキャンセルするように等価検出信号生成部５６の調整を行う手段を設けるようにしてもよく、その場合には、エラー信号の精度を確保する上でより一層有利となる。
【００２９】
なお、第１の実施の形態では、記録型の光ディスク２として、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ±Ｒ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｋ）といった追記型の光ディスクを用いた場合について説明したが、本発明は、ＤＶＤ−ＲＷなどのような書き換え可能な光ディスクに対して記録を行う光ディスク装置についても無論適用可能である。
書き換え可能な光ディスクに対して記録を行う場合には、ライト動作期間中に、マークを形成するために照射される光ビームの光パワーはライトパワーであり、マークとマークとの間にブランクを形成するために照射される光ビームの光パワーはリードパワーの代わりにイレースパワーとなる。
したがって、書き換え可能な光ディスクに対して記録を行う光ディスク装置の場合には、光ディスク装置は次のように構成されていればよい。
すなわち、サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して光ディスクに対するライトパワー出射動作時のエラー信号をサンプルホールドする第１のサンプルホールド部と、サンプリング制御信号に同期して光ディスクに対するイレースパワー出射動作時のエラー信号をサンプルホールドする第２のサンプルホールド部とを備える。
光ディスクに対するライトパワー出射動作中におけるレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、第１のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる。
光ディスクに対するイレースパワー出射動作中におけるレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、第２のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる。
言い換えると、光ディスクに対するレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、ライトパワーとリードパワー、あるいは、ライトパワーとイレースパワーの２つの出射パワーの制御に限定されるものではなく、３以上の出射パワーを制御するようにしてもよいことは無論である。
すなわち、光ディスク装置は、サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期してエラー信号をサンプルホールドする複数のサンプルホールド部を備える。
そして、光ディスクに対するレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、複数のサンプルホールド部のそれぞれから出力されるエラー信号に基づいてなされるように構成されていればよい。
【００３０】
（第２の実施の形態）
次に第２の実施の形態について説明する。
第１の実施の形態では、図１１（Ｄ）に示すように、エラー信号のサンプリングのタイミングを遅らせることによって、ライトパワー出射動作時におけるエラー信号とリードパワー出射動作時におけるエラー信号とが互いに及ぼす影響を低減していることから、ライトパワー出射動作時のエラー信号のサンプリング時間は、ライトパワー出射動作の全期間よりも短時間であり、また、リードパワー出射動作時のエラー信号のサンプリング時間は、リードパワー出射動作の全期間よりも短時間となるため、第１、第２のエラー信号をより正確に得る上で改善の余地がある。
そこで、第２の実施の形態では、各エラー信号を完全に分離しつつ、ライトパワー出射動作時におけるエラー信号のサンプリング時間を、ライトパワー出射動作の全期間とし、リードパワー出射動作時のサンプリング時間をリードパワー出射動作の全期間とするようにしている。
図１４は第２の実施の形態におけるレーザー制御部５０の要部の構成を示すブロック図である。
なお、以下の実施の形態では、第１の実施の形態と同様の部分、部材については同一の符号を付してその説明を省略し、第１の実施の形態と異なる部分について説明する。
図１４に示すように、第２の実施の形態では、比較器５８の後段に等価検出信号生成部５６の前記ローパスフィルター特性と逆特性を有するフィルターからなる特性除去エラー信号生成部７４を設け、比較器５８から出力されるエラー信号に含まれる前記ローパスフィルターの特性を相殺する（除去する）ことで、エラー信号の遅延をなくすようにしている点が第１の実施の形態と異なり、それ以外の構成は第１の実施の形態と同様である。
そして、遅延がないエラー信号を、第１、第２のスイッチＳＷＷ２、ＳＷＲ２を介してローパスフィルター６８Ａ、６８Ｂに供給するようにしている。ローパスフィルター６８Ａ、６８Ｂから出力されるエラー信号は、第１の実施の形態と同様に第１、第２のサンプルホールド部６０、６２（図８）にそれぞれ供給されるように構成されている。
言い換えると、ドライバ部４５、光源４０、計測部４４を含む信号処理系が有するローパスフィルターの特性と逆特性のフィルターの機能を演算によって実現する特性除去エラー信号生成部７４を設け、この特性除去エラー信号生成部７４によってエラー信号から過渡応答特性を除いた特性除去エラー信号を生成し、光源４０の出射パワーの制御を特性除去エラー信号に基づいて行うようにした。
特性除去エラー信号生成部７４は、例えば、デジタルフィルターで構成でき、このようなデジタルフィルターとしてはＦＩＲフィルターが採用可能である。
したがって、図１１（Ｅ）に示すように、ライトパワー出射動作の全期間において第１のスイッチＳＷＷ２をオンしてエラー信号をサンプリングし、かつ、リードパワー出射動作の全期間において第２のスイッチＳＷＲ２をオンしてエラー信号をサンプリングすることができる。
なお、実測検出信号Ｖｆｐｄ、等価検出信号Ｖｏｂｓ、エラー信号、特性除去エラー信号をアナログ信号として処理するか、デジタル信号として処理するかは任意である。
【００３１】
第２の実施の形態によれば、第１の実施の形態と同様の効果が奏されることは無論のこと、エラー信号のサンプリング時間を、ライトパワー出射動作の全期間およびリードパワー出射動作の全期間とすることができるため、エラー信号の品質を確保する上でより有利となり、したがって、光源４０の出射パワーの制御をより精密に行う上で有利となる。
【００３２】
なお、第２の実施の形態においても、記録型の光ディスク２として、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ±Ｒ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｋ）といった追記型の光ディスクを用いた場合について説明したが、本発明は、ＤＶＤ−ＲＷなどのような書き換え可能な光ディスクに対して記録を行う光ディスク装置についても無論適用可能である。
書き換え可能な光ディスクに対して記録を行う光ディスク装置の場合には、光ディスク装置は次のように構成されていればよい。
すなわち、サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して光ディスクに対するライトパワー出射動作時の特性除去エラー信号をサンプルホールドする第１のサンプルホールド部と、サンプリング制御信号に同期して光ディスクに対するイレースパワー出射動作時の特性除去エラー信号をサンプルホールドする第２のサンプルホールド部とを備える。
そして、光ディスクに対するライトパワー出射動作中におけるレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、第１のサンプルホールド部でホールドされた前記特性除去エラー信号に基づいてなされる。
光ディスクに対するイレースパワー出射動作中におけるレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、第２のサンプルホールド部でホールドされた前記特性除去エラー信号に基づいてなされる。
言い換えると、光ディスクに対するレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、ライトパワーとリードパワー、あるいは、ライトパワーとイレースパワーの２つの出射パワーの制御に限定されるものではなく、３以上の出射パワーを制御するようにしてもよいことは無論である。
すなわち、光ディスク装置は、サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して特性除去エラー信号をサンプルホールドする複数のサンプルホールド部を備える。
そして、光ディスクに対するレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、複数のサンプルホールド部のそれぞれでホールドされた前記特性除去エラー信号に基づいてなされるように構成されていればよい。
【００３３】
（第３の実施の形態）
次に第３の実施の形態について説明する。
上述の第１、第２の実施の形態では、レーザー制御部５０のうちドライバ部４５、光源４０、計測部４４が有するローパスフィルター特性を付与した等価検出信号Ｖｏｂｓと、実測検出信号Ｖｆｐｄとの差分によってエラー信号（Ｖｏｂｓ−Ｖｆｐｄ）を得たが、第３の実施の形態では、このようなローパスフィルター特性を用いることなく、ドライバ部４５、光源４０、計測部４４が有する光源４０、計測部４４を含む信号処理系の全体のゲイン積（図５に示す各電流源のゲインＫ１、Ｋ２、Ｋ３、Ｋｒ、発信器ＯＳＣのゲインＫｍ、係数Ｋｌｄ、Ｋｐｄ、Ｋｉｖ）のみを用いてエラー信号を求める。
図１５は第３の実施の形態におけるレーザー制御部５０の要部の構成を示すブロック図である。
第３の実施の形態では、Ａ／Ｄ変換器７２の後段に、ドライバ部４５、光源４０、計測部４４を含む信号処理系が有するローパスフィルター特性と逆特性を有するフィルターを含む特性除去実測検出信号生成部７６を設けている。
また、第１の実施の形態における等価検出信号生成部５６を設ける代わりにマルチプレクサを含む特性除去等価検出信号生成部７８を設け、この特性除去等価検出信号生成部７８に対してライトストラテジー部３６Ａ、マルチプレサ部５４から供給される制御信号（パラメータ）を与えることで、特性除去等価検出信号生成部７８によって、ドライバ部４５、光源４０、計測部４４が有する全体のゲイン積のみを実現するようにしている。
そして、特性除去実測検出信号生成部７６を介してローパスフィルター特性が除去された特性除去実測検出信号Ｖｆｐｄ１と、特性除去等価検出信号生成部７８で生成された特性除去等価検出信号Ｖｍｐｘとを比較器５８で比較し、その差分をエラー信号（Ｖｍｐｘ−Ｖｆｐｄ）として第１、第２のスイッチＳＷＷ２、ＳＷＲ２を介してローパスフィルター６８Ａ、６８Ｂに供給している。ローパスフィルター６８Ａ、６８Ｂから出力されるエラー信号は、第１の実施の形態と同様に第１、第２のサンプルホールド部６０、６２（図８）にそれぞれ供給されるように構成されている。
言い換えると、前記の信号処理系が有するローパスフィルターの特性と逆特性のフィルターの機能を演算によって実現し実測検出信号Ｖｆｐｄを逆特性のフィルターの機能で処理することにより実測検出信号Ｖｆｐｄから過渡応答特性を除いた特性除去実測検出信号Ｖｆｐｄ１を生成する特性除去実測検出信号生成部７６を設けた。
また、ドライバ部４５と光源４０と計測部４４を含む信号処理系が有するゲインの機能を演算によって実現することで実測検出信号Ｖｆｐｄから過渡応答特性を除いた信号と等価な特性除去等価検出信号Ｖｍｐｘを生成する特性除去等価検出信号生成部７８を設けた。
そして、光源４０の出射パワーの制御を、特性除去実測検出信号Ｖｐｆｄ１と特性除去等価検出信号Ｖｍｐｘとの差であるエラー信号に基づいて行ったものである。
なお、特性除去実測検出信号生成部７６は、例えば、デジタルフィルターで構成でき、このようなデジタルフィルターとしてはＦＩＲフィルターが採用可能である。
また、特性除去等価検出信号生成部７８は、例えば、ライトストラテジー部３６Ａ（図８）およびマルチプレクサ部５４（図８）から供給される制御信号に基づいて特性除去等価検出信号Ｖｍｐｘを生成できればよく、特性除去等価検出信号生成部７８としてマルチプレクサなど従来公知のさまざまな回路が採用可能である。
なお、実測検出信号Ｖｆｐｄ、特性除去実測検出信号Ｖｐｆｄ１、特性除去等価検出信号Ｖｍｐｘ、エラー信号をアナログ信号として処理するか、デジタル信号として処理するかは任意である。
【００３４】
第３の実施の形態によれば、特性除去実測検出信号Ｖｐｆｄ１と演算により生成された特性除去等価検出信号Ｖｍｐｘとの差分からエラー信号を求め、エラー信号に基づいて光源４０の出射パワーの制御を行うようにしたので、実測検出信号Ｖｆｐｄが整定されるか否かに拘わらず、エラー信号を常時得ることができるため、記録密度の高密度化および記録速度の高速化に対応でき、マークの品質の向上を図る上で有利となる。
言い換えると、整定特性を超える短パルス動作においても、誤差の少ないＡＰＣ動作を実現する上で有利となる。
また、本実施の形態では、整定時間に拘わらずエラー信号を得ることができるため、従来発生していた、記録密度の高密度化および記録速度の高速化に伴い、検出信号のサンプリング時間が短く（サンプリングウィンドウが狭く）なりノイズやリークといった問題を回避する上で有利となる。
また、特性除去実測検出信号Ｖｐｆｄ１と、演算により生成された特性除去等価検出信号Ｖｍｐｘとの差分から得られたエラー信号に基づいて光源４０の出射パワーの制御を行うので、光源の出射パワーの検出信号の補正を固定的な補正値を用いて行う場合に比較して、設定パワー、温度条件、経年変化に対する光源の出射光量の変化にも対応することができ、光ディスクに形成されるマークの品質の向上を図る上でより有利となる。
また、特性除去実測検出信号Ｖｐｆｄ１と特性除去等価検出信号Ｖｍｐｘとの双方から過渡応答特性が除去されているので、エラー信号からも過渡応答性が除去されており、したがって、エラー信号のサンプリング時間を、ライトパワー出射動作の全期間およびリードパワー出射動作の全期間とすることができるとともにエラー信号の品質を確保することができ、光源４０の出射パワーの制御をより精密に行う上で有利となる。
【００３５】
なお、第３の実施の形態においても、記録型の光ディスク２として、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ±Ｒ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｋ）といった追記型の光ディスクを用いた場合について説明したが、本発明は、ＤＶＤ−ＲＷなどのような書き換え可能な光ディスクに対して記録を行う光ディスク装置についても無論適用可能である。
書き換え可能な光ディスクに対して記録を行う光ディスク装置の場合には、光ディスク装置は次のように構成されていればよい。
すなわち、サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期して光ディスクに対するライトパワー出射動作時のエラー信号をサンプルホールドする第１のサンプルホールド部と、サンプリング制御信号に同期して光ディスクに対するイレースパワー出射動作時のエラー信号をサンプルホールドする第２のサンプルホールド部とを備える。
そして、光ディスクに対するライトパワー出射動作中におけるレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、第１のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる。
光ディスクに対するイレースパワー出射動作中におけるレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、第２のサンプルホールド部でホールドされた前記エラー信号に基づいてなされる。
言い換えると、光ディスクに対するレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、ライトパワーとリードパワー、あるいは、ライトパワーとイレースパワーの２つの出射パワーの制御に限定されるものではなく、３以上の出射パワーを制御するようにしてもよいことは無論である。
すなわち、光ディスク装置は、サンプリング制御信号生成部から供給されるサンプリング制御信号に同期してエラー信号をサンプルホールドする複数のサンプルホールド部を備える。
光ディスクに対するレーザー制御部による光源の出射パワーの制御は、複数のサンプルホールド部のそれぞれでホールドされた前記エラー信号に基づいてなされるように構成されていればよい。
【００３６】
なお、第１、第２の実施の形態における等価検出信号生成部５６、第２の実施の形態における特性除去エラー信号生成部７４、第３の実施の形態における特性除去実測検出信号生成部７６はデジタルフィルターによって構成することができる。
したがって、それらデジタルフィルターのパラメータを調整可能に構成しておけば、例えば、光ディスク装置１０を工場で組み立てたとき、光源４０の出射パワーを確認しながらデジタルフィルターのパラメータを調整してゲイン調整をしたり、過渡応答を観測しながらデジタルフィルターのパラメータを調整して周波数特性を設定することができる。
また、光ディスク装置１０の実動作状態においても、エラーのＤＣ値をみながらデジタルフィルターのパラメータを調整してゲイン調整をしたり、応答特性誤差を低減するようにデジタルフィルターのパラメータを調整して周波数特性を変更することができる。
そして、このようなデジタルフィルターのパラメータの調整によって、得られるエラー信号の精度を上げ、これにより、光ディスクに形成されるマークの品質の向上を図ることができることは無論である。
【００３７】
また、第１、第２の実施の形態における等価検出信号生成部５６、第２の実施の形態における特性除去エラー信号生成部７４、第３の実施の形態における特性除去等価実測信号生成部７６は、それぞれデジタルフィルターであるＦＩＲフィルターによって構成したが、このようなデジタルフィルターとしてＩＩＲフィルター（Infinite Impulse Responseフィルター：巡回型デジタルフィルター）を用いてもよいし、アナログフィルター、あるいは、スイッチドキャパシタフィルターなど従来公知のさまざまなフィルターを用いてもよいことは無論である。
【００３８】
なお、実施の形態では、光ディスク装置１０が光ディスク２に信号の記録および再生を行うものである場合について説明したが、本発明は光ディスク２に信号の記録のみを行う光ディスク装置に適用可能であることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】第１の実施の形態の光ディスク装置１０の構成を示すブロック図である。
【図２】光ピックアップ１４の一部の構成と一般的なレーザー制御部３６の構成を示すブロック図である。
【図３】（Ａ）はライトデータの一例を示す波形図、（Ｂ）は（Ａ）のライトデータに対応して光源４０から出射される出射光量（光パワー）を示す波形図である。
【図４】ドライバ部４５、光源４０、計測部４４の原理図である。
【図５】ドライバ部４５、光源４０、計測部４４の等価モデル図である。
【図６】ドライバ部４５がライトパワー出射動作からリードパワー出射動作に切り換った際の過渡応答特性を示す波形図であり、（Ａ）はライトデータＤｗの波形図、（Ｂ）は光源４０から出射される光パワーＰの波形図、（Ｃ）は実測検出信号Ｖｆｐｄの波形図、（Ｄ）はサンプリング制御信号Ｓｗの波形図である。
【図７】ドライバ部４５がリードパワー出射動作からライトパワー出射動作に切り換った際の過渡応答特性を示す波形図であり、（Ａ）はライトデータＤｗの波形図、（Ｂ）は光源４０から出射される光パワーＰの波形図、（Ｃ）は実測検出信号Ｖｆｐｄの波形図、（Ｄ）はサンプリング制御信号Ｓｗの波形図である。
【図８】第１の実施の形態におけるレーザー制御部５０の構成を示すブロック図である。
【図９】等価検出信号生成部５６を実現するデジタルフィルターの構成例を示す図である。
【図１０】等価検出信号生成部５６の動作を説明するための波形図であり、（Ａ）はライトデータＤｗの波形図、（Ｂ）は（Ａ）のライトデータＤｗに対応して光源４０から出射されるべき出射光量（光パワー）を示す演算光出力信号Ｐｉの波形図、（Ｃ）は（Ｂ）の信号に基づいて等価検出信号生成部５６から出力される等価検出信号Ｖｏｂｓの波形図である。
【図１１】演算光出力信号Ｐｉの波形図、（Ｂ）は等価検出信号Ｖｏｂｓと実測検出信号Ｖｆｐｄの波形図、（Ｃ）は等価検出信号Ｖｏｂｓと実測検出信号Ｖｆｐｄとの差であるエラー信号の波形図である。
【図１２】エラー信号を生成する回路の原理図である。
【図１３】第１の実施の形態におけるレーザー制御部５０の要部の構成を示すブロック図である。
【図１４】第２の実施の形態におけるレーザー制御部５０の要部の構成を示すブロック図である。
【図１５】第３の実施の形態におけるレーザー制御部５０のレーザー制御部５０の要部の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００４０】
２……光ディスク、１０……光ディスク装置、４０……光源、４４……計測部、４５……ドライバ部、５０……レーザー制御部、５６……等価検出信号生成部、７４……特性除去エラー信号生成部、７６……特性除去実測検出信号生成部、７８……特性除去等価検出信号生成部、Ｖｆｐｄ……実測検出信号、Ｖｏｂ……等価検出信号、Ｖｐｆｄ１……特性除去実測検出信号、Ｖｍｐｘ……特性除去等価検出信号。
【図１】
2008305456.tif 000003
【図２】
2008305456.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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