(57)【要約】【課題】電子部品が実装された回路基板上の接点と接触するプローブピンを複数備えた回路基板検査装置において交換対象となるプローブピンを極めて容易に特定する。【解決手段】回路基板検査装置２を制御する制御プログラムは、回路基板２０の検査の結果、不良と判定すると、当該回路基板２０の識別番号と、不良となった検査項目の検査に用いたプローブピン１９の番号とをコンピュータ装置３の記憶手段３ｃに記憶させる。この回路基板２０を再度検査した結果、良品となった場合には、プローブピン１９の劣化による接触不良と判断できるので、ディスプレイ装置５に、プローブピン１９の交換を促すメッセージ及び、交換対象となるプローブピン番号を表示する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品が実装された回路基板上の接点と接触するプローブピンを複数備え、前記プローブピンを介して前記回路基板の検査を行う回路基板検査システムであって、
前記回路基板の検査に係る情報を表示するディスプレイと、
前記回路基板の識別番号を入力する為の識別番号入力手段と、
記憶手段と、
前記識別番号入力手段により入力された前記識別番号を有する前記回路基板に対し実行した少なくとも一以上の検査項目の検査結果をもとにして前記回路基板の良否を判定する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、
（１）前記回路基板が不良と判定した場合、少なくとも前記回路基板の識別番号及び、検査不良となった検査項目の検査に用いた前記プローブピンの番号を、前記記憶手段に記憶させ、
（２）前記回路基板が良と判定した場合、入力された前記回路基板の識別番号が、前記記憶手段に記憶されているか否かを照会し、
前記識別番号が前記記憶手段に記憶されている場合、前記プローブピンの交換を促すメッセージ及び、前記記憶手段に記憶された、前記識別番号に対応する前記プローブピンの番号を、前記ディスプレイに表示する、回路基板検査システム。
【請求項２】
電子部品が実装された回路基板上の接点と接触するプローブピンを複数備え、前記プローブピンを介して前記回路基板の検査を行う回路基板検査システムであって、
前記回路基板の検査に係る情報を表示するディスプレイと、
前記回路基板の識別番号を入力する為の識別番号入力手段と、
記憶手段と、
前記識別番号入力手段により入力された前記識別番号を有する前記回路基板に対し実行した少なくとも一以上の検査項目の検査結果をもとにして前記回路基板の良否を判定する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、実行した検査項目の検査結果が不良であると判定した場合、少なくとも前記回路基板の識別番号及び、不良と判定した該検査項目の検査に用いた前記プローブピンの番号を、前記記憶手段に記憶させ、
（１）該不良判定時の検査項目を再検査した結果、再び不良と判定した場合、該回路基板が不良であることを前記ディスプレイに表示し、
（２）前記再検査の結果、良と判定した場合、前記プローブピンの交換を促すメッセージ及び、前記記憶手段に記憶された、前記識別番号に対応する前記プローブピンの番号を、前記ディスプレイに表示する、回路基板検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品が実装された回路基板の検査を行う回路基板検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品が実装された回路基板を検査する装置（「インサーキットテスタ」、「ボードテスタ」などとも呼ばれる）としては、例えば特許文献１に示される回路基板検査治具がある。この回路基板検査治具は、上下動可能な基台（上部基台）及び固定状態に設けられる基台（下部基台）の各々にプローブピンを設け、上部基台と下部基台の間に検査対象としての回路基板を配置し、上部基台を下部基台側に移動させることによって、上下各々のプローブピンを回路基板上の接点（スルーホール）と接触させて、回路基板上の電圧や信号の状態等を計測するようになっている。
【特許文献１】特開２００５−１４０７２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで上記プローブピンは、回路基板上の接点に対して接触と離間を繰り返す為、性能が劣化し使用不可となる。このため従来、検査工程において作業者は、同一の検査項目において検査エラーが多発した際にプローブピンの寿命であると判断し、プローブピンを交換する様にしていた。
【０００４】
しかしながら対象となるプローブピンの特定に際しては、エラーが発生した検査項目に用いられるプローブピン番号を、作業者が仕様書等をもとにして特定していたため、交換を要するプローブピン番号の特定に時間と手間を要していた。
【０００５】
そこで本発明はこのような状況に鑑みなされたものであり、その目的は、電子部品が実装された回路基板上の接点と接触するプローブピンを複数備えた回路基板検査装置において交換対象となるプローブピンを極めて容易に特定することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明の第１の態様に係る回路基板検査システムは、電子部品が実装された回路基板上の接点と接触するプローブピンを複数備え、前記プローブピンを介して前記回路基板の検査を行う回路基板検査システムであって、前記回路基板の検査に係る情報を表示するディスプレイと、前記回路基板の識別番号を入力する為の識別番号入力手段と、記憶手段と、前記識別番号入力手段により入力された前記識別番号を有する前記回路基板に対し実行した少なくとも一以上の検査項目の検査結果をもとにして前記回路基板の良否を判定する制御手段と、を備え、前記制御手段は、（１）前記回路基板が不良と判定した場合、少なくとも前記回路基板の識別番号及び、検査不良となった検査項目の検査に用いた前記プローブピンの番号を、前記記憶手段に記憶させ、（２）前記回路基板が良と判定した場合、入力された前記回路基板の識別番号が、前記記憶手段に記憶されているか否かを照会し、前記識別番号が前記記憶手段に記憶されている場合、前記プローブピンの交換を促すメッセージ及び、前記記憶手段に記憶された、前記識別番号に対応する前記プローブピンの番号を、前記ディスプレイに表示することを特徴とする。
【０００７】
本態様によれば、回路基板の検査の結果、仮に不良と判定されると、当該回路基板の識別番号と、不良となった検査項目の検査に用いたプローブピンの番号とを記憶手段に記憶させる。次に、この回路基板を再度検査した結果、良と判定された場合には、プローブピンの劣化による接触不良と判断できるので、このような場合にはディスプレイに、プローブピンの交換を促すメッセージ及び、交換対象となるプローブピン番号を表示させる。従って作業者は、交換対象となるプローブピン番号を、ディスプレイの表示により極めて容易に知ることができ、プローブピンの交換作業を極めて容易に行うことが可能となる。
【０００８】
本発明の第２の態様に係る回路基板検査システムは、電子部品が実装された回路基板上の接点と接触するプローブピンを複数備え、前記プローブピンを介して前記回路基板の検査を行う回路基板検査システムであって、前記回路基板の検査に係る情報を表示するディスプレイと、前記回路基板の識別番号を入力する為の識別番号入力手段と、記憶手段と、前記識別番号入力手段により入力された前記識別番号を有する前記回路基板に対し実行した少なくとも一以上の検査項目の検査結果をもとにして前記回路基板の良否を判定する制御手段と、を備え、前記制御手段は、実行した検査項目の検査結果が不良であると判定した場合、少なくとも前記回路基板の識別番号及び、不良と判定した該検査項目の検査に用いた前記プローブピンの番号を、前記記憶手段に記憶させ、（１）該不良判定時の検査項目を再検査した結果、再び不良と判定した場合、該回路基板が不良であることを前記ディスプレイに表示し、（２）前記再検査の結果、良と判定した場合、前記プローブピンの交換を促すメッセージ及び、前記記憶手段に記憶された、前記識別番号に対応する前記プローブピンの番号を、前記ディスプレイに表示することを特徴とする。
【０００９】
本態様によれば、回路基板の検査の結果、仮に不良と判定されると、当該回路基板の識別番号と、不良となった検査項目の検査に用いたプローブピンの番号とを記憶手段に記憶させる。そして不良と判定された回路基板について、不良と判定された検査項目を再度検査した結果、良と判定された場合には、プローブピンの劣化による接触不良と判断できるので、このような場合にはディスプレイ装置に、プローブピンの交換を促すメッセージ及び、交換対象となるプローブピン番号を表示させる。従って作業者は、交換対象となるプローブピン番号を、ディスプレイ装置の表示により極めて容易に知ることができ、プローブピンの交換作業を極めて容易に行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図１乃至図３を参照しながら本発明の一実施形態について説明する。ここで図１は本発明に係る回路基板検査システム（以下「検査システム」と略称する）１を構成する回路基板検査装置（以下「検査装置」と略称する）２の概略構成を示す模式図、図２は検査システム１の構成を示すブロック図、図３はコンピュータ装置３が備える制御プログラムが実行する各ステップの内容を示すフローチャートである。
【００１１】
図２に示す様に、本実施形態に係る検査システム１は、検査装置２と、コンピュータ装置３と、識別番号入力装置（以下「入力装置」と略称する）４と、ディスプレイ装置５と、を備えて構成されている。
【００１２】
図１に示すように検査装置１は、ベース１０と、ベース１０上に配置された基板設置ボード１１と、ベース１０の背面に立設された支柱１２と、支柱１２の上端にオーバハング状に配置された上部固定ブロック１３と、上部固定ブロック１３の下部において、４本のガイド軸１４により昇降可能にガイドされ、基板設置ボード１１に対して接離可能に設けられたピンボード１５と、当該ピンボード１５を昇降させる、図示しない昇降機構などを備えている。
【００１３】
ベース１０には電源ボタン、ピンボード１５の操作ボタンなどから成る操作部１６が配置されており、基板設置ボード１１上には検査対象となる回路基板２０が、複数の位置決めピン１７を介して位置決めされた状態でセット可能となっている。
【００１４】
ピンボード１５には複数のプローブピン１９が基板設置ボード１１に向かって突出するように設けられており、操作部１６の操作によってピンボード１５が基板設置ボード１１に向かって下降すると、各々のプローブピン１９が、対応する回路基板２０における接点としてのスルーホール１８に接触できるようになっている。
【００１５】
回路基板２０の検査は、少なくとも一以上の検査項目により構成され、例えばプローブピン１９がスルーホール１８に接触した状態で、検査に用いるプローブピン間に電圧が印加されて回路基板１８への通電がなされ、レギュレータ電圧・クロック周波数の検査、メモリ検査、Ｉ／Ｏ（入出力）検査、などが実行される。
【００１６】
図２においてコンピュータ装置３は汎用コンピュータであり、ＣＰＵ３ａ、揮発性メモリ３ｂ、記憶装置（例えばハードディスク装置）３ｃを備え、揮発性メモリ３ｂには、検査装置１を制御する為の制御プログラムが、記憶装置３ｃからロードされ、実行される。
【００１７】
入力装置４は、検査対象となる回路基板２０の、固有の識別番号（例えば、製造番号など）を入力する為の装置であり、例えば番号を手入力する為のキーボードや、或いは回路基板２０に付されたバーコードを読み取るバーコードリーダである。ディスプレイ装置５には、回路基板２０の検査に係る情報、例えば、現在実行中の検査内容、検査結果（例えば測定電圧）、良品判定の結果、次の操作を作業者に促すメッセージ、などが表示される。
【００１８】
検査装置２を制御する制御プログラムは、図３に示す各ステップを実行する。先ず、入力装置４から回路基板２０の識別番号を読み取り（ステップＳ１０１）、検査項目の数を示す変数Ｎを１にセットし（ステップＳ１０２）、各検査項目Ｎの実行と（ステップＳ１０３）、検査結果のディスプレイ装置５への表示と（ステップＳ１０４）、変数Ｎのインクリメントと（ステップＳ１０５）、を全検査項目が終了するまで実行する（ステップＳ１０６）。
【００１９】
全検査項目が終了すると（ステップＳ１０６の肯定枝）、各検査項目の検査結果をもとにして、回路基板２０の良否判定と、その結果のディスプレイ装置５への表示を行う（ステップＳ１０７）。
【００２０】
ここで、回路基板２０が不良と判定された場合（ステップＳ１０８の否定枝）、入力された回路基板２０の識別番号と、不良（エラー）と判定された検査項目及びその検査結果（測定電圧等）と、エラーとなった検査項目の検査に用いたプローブピン１９の番号を、コンピュータ装置３の記憶手段３ｃに記憶させる。
【００２１】
一方、回路基板２０が良品と判定された場合（ステップＳ１０８の肯定枝）、ステップＳ１０１において入力された回路基板２０の識別番号が、コンピュータ装置３の記憶手段３ｃに記憶されているか否かを照会する（ステップＳ１０９）。
【００２２】
その結果、入力された回路基板２０の識別番号がコンピュータ装置３の記憶手段３ｃに記憶されている場合（ステップＳ１１０の肯定枝）、識別番号に関連付けて記憶されたプローブピン番号（ステップＳ１１３で記憶されたプローブピン番号）を読み出し（ステップＳ１１１）、プローブピン１９の交換を作業者に促すメッセージと、ステップＳ１１１で読み出されたプローブピン１９の番号を、ディスプレイ装置５に表示する（ステップＳ１１２）。
【００２３】
即ち、回路基板２０の検査の結果、不良と判定されると、当該回路基板２０の識別番号と、不良となった検査項目の検査に用いたプローブピン１９の番号とをコンピュータ装置３の記憶手段３ｃに記憶させる。次に、この回路基板２０を再度検査した結果、合格となった場合には、プローブピン１９の劣化による接触不良と判断できるので、このような場合にはディスプレイ装置５に、該当するプローブピン１９の交換を促すメッセージ及び、交換対象となるプローブピン番号を表示させる。
【００２４】
これにより作業者は、交換対象となるプローブピン番号を、ディスプレイ装置５の表示により極めて容易に知ることができ、プローブピン１９の交換作業を極めて容易に行うことが可能となる。また、交換対象時期を管理する必要が無いので、プローブピン１９の交換時期管理が極めて容易となる。
【００２５】
尚、上記実施形態のほか、異なる実施形態として、回路基板２０について不良判定時の検査項目を再検査した結果、再び不良と判定した場合、回路基板２０が不良であることをディスプレイ装置５に表示し、前記再検査の結果、良と判定した場合、プローブピン１９の交換を促すメッセージ及び、記憶手段３ｃに記憶された、回路基板２０の識別番号に対応するプローブピン１９の番号を、ディスプレイ装置５に表示することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】回路基板検査装置の概略構成を示す模式図。
【図２】回路基板検査システムの構成を示すブロック図。
【図３】制御プログラムが実行する各ステップの内容を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００２７】
１  回路基板検査システム、２  回路基板検査装置、３  コンピュータ装置、４  回路基板識別番号入力装置、５  ディスプレイ装置、１１  基板設置ボード、１２  支柱、１３  上部固定ブロック、１４  ガイド軸、１５  ピンボード、１６  操作部、１７  位置決めピン、１８  スルーホール、１９  プローブピン、２０  回路基板
【図１】
2008241568.tif 000003
【図２】
2008241568.tif 000004
【図３】
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