(57)【要約】【課題】  従来のシステム試験装置においては、故障モジュールに対し、調整、交換、修理を施し故障が解消した場合、その故障が解消したことに対して何ら考慮されないため、次に優先順位を決定する場合の精度が低くなり、実際に対処しなければならない優先順位とでは相違が発生する。【解決手段】  故障モジュールに対し、調整、交換、修理を施すことで良モジュールとなった場合、その他のモジュールの故障推定率を更新することで、次に調整等を行うモジュールの優先順位決定の精度を高めることができるシステム試験装置を提供する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
分離可能な複数のモジュールから構成される機器を複数の試験項目に基づく試験の結果によって故障診断するシステム試験装置であって、
前記試験項目ごとに、且つ前記モジュールのそれぞれについて故障予測の指標を示す故障推定率を設定する手段と、
前記故障推定率に基づいて、調整、交換、修理の少なくともいずれか一つを要する故障モジュールの優先順位を決定する手段と、
前記調整、交換、修理の少なくともいずれか一つを行うことで良モジュールとなった前記故障モジュールの前記故障推定率を、前記良モジュール以外のモジュールの前記故障推定率の比率に基づき比例配分し、前記良モジュール以外のモジュールの前記故障推定率に加算する手段と、
前記良モジュールの故障推定率を削除または数値“０”に設定する手段と、
を備えることを特徴とするシステム試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器などの各種機器の故障部位を特定して効率的に故障復旧処理を行う故障診断方法およびシステム試験装置に関するものであり、より詳細には、試験項目ごとに各種機器の故障モジュールを特定し、モジュールの優先順位に基づいて故障復旧処理を行うシステム試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電子機器などの不具合を解消するために、故障モジュール（故障部位）を特定し、その故障モジュールを調整・修理・交換などを行うという手順を踏んでいる。このとき、速やかに故障モジュールを特定するために、予め電子機器などの性能試験を行うための試験項目を列挙しておき、各試験項目に対応して不具合発生の原因となるモジュールおよび調整個所を予測し、各試験項目と不良発生部位の対照表を作成している。そして、電子機器などの性能試験を実施して不良が発生すれば、対照表に基づいて故障モジュールを推定して故障調査が行われている（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
上記特許文献１では、試験項目ごと、且つ分割されたモジュール（部位）ごとに設定された故障推定率に基づいて、不具合が発生した場合の調整項目の優先順位を決定し、電子機器などの各種機器の故障部位を特定する故障診断システムが開示されている。
【０００４】
この故障診断システムによると、予め機器をモジュール単位として分割させ、機器の試験項目ごとに、且つ分割されたモジュールのそれぞれについて故障予測の指標を示す「故障推定率（％）」を設定する。一方、機器の試験項目ごとに、且つモジュールのそれぞれについて調整可能な調整項目を設定する。設定された「故障推定率」を用いて、モジュールのそれぞれについて、「不良発生試験項目の故障推定率の和」を「全試験項目の故障推定率の合計値」で除して「推定故障指数」を算出し、「推定故障指数」が最大となるモジュールを選択する。このようにして選択されたモジュールにおいて、「故障推定率の和が最大となる調整項目」を優先的に調整するための調整優先項目として決定する。
【特許文献１】特開２００４−０９４７７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、前記特許文献１の故障診断システムにおいて、優先順位の一番高い故障モジュールを特定後、そのモジュールに対し調整、交換、修理が完了し、故障モジュールが良モジュールとなった場合で、且つ次に調整、交換、修理を必要とするモジュールを求める場合において、前記優先順位の状態は、その良モジュールとなったモジュールの故障推定率を含んだ状態での優先順位となっている。すなわち、故障モジュールが良モジュールになったということに対し、何ら考慮されていないため、故障モジュールが良モジュールとなる度に演算精度が低くなり、実際に対処しなければならないモジュールに対する優先順位と、前記故障診断システムが決定したモジュールに対する優先順位では、相違が発生してくる。
【０００６】
本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、故障モジュールに対し、調整、交換、修理をすることで良モジュールとなった場合、次に調整、交換、修理を行うモジュールの優先順位決定の精度を高めることができるシステム試験装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述した課題を解決するため、本発明は、分離可能な複数のモジュールから構成される機器を複数の試験項目に基づく試験の結果によって故障診断するシステム試験装置であって、前記試験項目ごとに、且つ前記モジュールのそれぞれについて故障予測の指標を示す故障推定率を設定する手段と、前記故障推定率に基づいて、調整、交換、修理の少なくともいずれか一つを要する故障モジュールの優先順位を決定する手段と、前記調整、交換、修理の少なくともいずれか一つを行うことで良モジュールとなった前記故障モジュールの前記故障推定率を、前記良モジュール以外のモジュールの前記故障推定率の比率に基づき比例配分し、前記良モジュール以外のモジュールの前記故障推定率に加算する手段と、前記良モジュールの故障推定率を削除または数値“０”に設定する手段とを備えることを特徴とするシステム試験装置である。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、試験項目ごと、且つ分割されたモジュールごとに設定された「故障推定率」に基づいて、不具合が発生した場合のモジュールの優先順位を決定し、電子機器などの各種機器の故障モジュールを特定するシステム試験装置において、故障モジュールの切り分けを重ねるごとに優先順位予測の精度を向上させることができる。これによって、作業者の経験に依存することなく効率的に故障モジュールの特定を行うことができ、且つ、機器の故障探求処理を短時間且つ的確に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態を、図面を用いて詳細に説明する。
【００１０】
まず、本発明の故障診断方法を実現するためのシステム試験装置について説明する。図１は、本発明におけるシステム試験装置の構成図である。システム試験装置１は、故障モジュール設定手段２、試験項目設定手段３、故障推定率設定手段４、演算手段５、優先モジュール決定手段６、故障推定率更新手段７とを備える。
【００１１】
システム試験装置１においては、故障モジュール設定手段２が、予め機器の試験によって故障が生じたときに分離可能な部位を「モジュール」として設定する。試験項目設定手段３は、調整可能な「試験項目」および良否を判定するための「要求基準」を設定する。故障推定率設定手段４は、機器の試験項目ごとに、且つ分割されたモジュールのそれぞれについて故障予測の指標を示す「故障推定率」を設定する。演算手段５が、分割されたモジュールのそれぞれについて、「不良発生試験項目の故障推定率の和」を「不良発生試験項目数」で除して「合成故障推定率」を演算し、優先モジュール決定手段６は、演算された「合成故障推定率」が最大となるモジュールを選択して、優先的に調整、交換、修理するためのモジュールを決定する。さらに、このようにして導き出されたモジュールに対し、調整、交換、修理した結果良モジュールとなった場合、故障推定率更新手段７は良モジュール以外のモジュールの「故障推定率」を更新し、次回の故障診断時における優先順位決定の精度を高める。
【００１２】
次に、システム試験装置１で用いられるデータおよび処理の流れを説明する。図２は、故障モジュール設定手段２、試験項目設定手段３および故障推定率設定手段４にて設定される、各種機器における各試験項目ごとの故障部位推定表の一例を示す図である。図２において、まず試験対象となる機器について、調整可能な「試験項目」を「試験項目１」、「試験項目２」、「試験項目３」と列挙する。そして、「試験項目」ごとに、機器における各モジュールの良否を判定するための「要求基準」を設ける。例えば、「試験項目１」の「要求基準」は、試験結果の判定において「良好」であること、「試験項目２」の「要求基準」は、試験結果の判定において電力が「１０.０〜１２.０Ｗ」の範囲にあること、「試験項目３」の「要求基準」は、試験結果の判定において効率が「５０％以上」であるとするよう設ける。
【００１３】
さらに、「試験項目」ごとに、その試験によって故障が生じたときに分離可能な部位を「モジュール」として表示する。つまり、列挙された「試験項目１」、「試験項目２」、「試験項目３」に対応して、分離可能な部位を「モジュール１」、「モジュール２」、「モジュール３」として表示する。尚、本実施の形態においては、試験項目数を３、モジュール数を３としているが、数を限定するものではない。
【００１４】
さらに、各試験項目について、その不具合の原因となり得るモジュールを予測し、そのモジュールにおける故障指数を「故障推定率（％）」として設定し、その「故障推定率」を各モジュールの項に表示する。例えば、「試験項目１」について、「モジュール１」では「故障推定率」として“６０”を付与し、「モジュール２」では「故障推定率」として“２０”を付与し、「モジュール３」では「故障推定率」として“２０”を付与する。同様に「試験項目２」、「試験項目３」と全試験項目に対して、モジュールごとに「故障推定率」を付与していく。尚、このように作成された故障部位推定表は、システム試験装置１内の図示しないハードディスクドライブに記憶させ、またデータベース化して管理してもよい。また、各種数値は、ＧＵＩ（グラフィカルユーザインターフェース）等の入力画面を用いてシステム試験装置１内の図示しない入力装置より収集される。
【００１５】
次に、図２のように作成された故障部位推定表におけるモジュールの優先順位の推定方法について説明する。図３は、演算手段５および優先モジュール決定手段６での処理を表したものであり、故障モジュール推定の処理の流れを示すフローチャートである。まず図２のように区分された各モジュールに対して、「不良発生試験項目数」、「不良発生試験項目の故障推定率の和」を求める。以下、図３のフローチャートに従ってこれらの値の求め方を詳細に説明する。尚、演算および必要なデータの保存、読み出しは、システム試験装置１内の図示しないＣＰＵ（中央演算処理装置）およびメモリ、ハードディスクドライブ等の記憶装置を用いて行われる。また演算結果は、ＧＵＩ画面上に表示される。
【００１６】
図３において、まず、該当する「試験項目」の試験結果は良好であったか否かを判定する。例えば、「試験項目１」については「要求基準」が「良好」であるか否かというように、各試験結果の良否の判定を行う（ステップＳ１）。この判定結果が不良であった場合は、不良発生試験項目数に数値“１”を加算する（ステップＳ２）。次に、各試験項目ごと及び各モジュールごとに「故障推定率」が０より大きいか否か（故障推定率＞０）を判定する（ステップＳ３）。ここで、故障推定率＞０であれば（ステップＳ３でＹｅｓの場合）、該当する試験項目における該当するモジュールの「故障推定率」を、「不良発生試験項目の故障推定率の和」に加える（ステップＳ４）。例えば、「試験項目１」において、「要求基準」である「良好」の基準を満たさず、試験結果が不良と判定された場合は、「試験項目１」における「モジュール１」の「故障推定率」“６０”を「不良発生試験項目の故障推定率の和」に加える。
【００１７】
尚、該当する試験項目の試験結果が良好である場合（ステップＳ１で良好の場合）や、該当する試験項目の該当するモジュールにおいて故障推定率＞０でない場合、つまり、「故障推定率」が０の場合（ステップＳ３でＮｏの場合）は、何れも数値計算等は行わない。このようにして、上述のステップＳ１〜ステップＳ４の処理を、各試験項目ごと（「試験項目１」、「試験項目２」、「試験項目３」）及び各モジュールごと（「モジュール１」、「モジュール２」、「モジュール３」）について順次行う。
【００１８】
そして、モジュール１〜３について、「不良発生試験項目の故障推定率の和」を「不良発生試験項目数」で除した値を求める(ステップＳ５)。つまり、「要求基準」を満足しない試験項目について各モジュールごとに求めた「故障推定率」の合計値を、「要求基準」を満足しない試験項目の数で除算し、各モジュールごとの「合成故障推定率」として求める。そして、各モジュールごとに求めた、「合成故障推定率」が最大値となるモジュールを求める（ステップＳ６）。
【００１９】
次に、図２の故障部位推定表において、「試験項目１」および「試験項目２」が不良であった場合の例を図４に示す。図３のフローチャートに基づいて、各モジュールごとの「合成故障推定率」を算出すると、まず、本実施の形態の例においては、不良であった試験が「試験項目１」および「試験項目２」の２つであるため、不良発生試験項目数が“２” となる。「モジュール1」においては、「試験項目１」の「故障推定率」が“６０”であり、「試験項目２」の「故障推定率」が“０”のため、「合成故障推定率」は（６０＋０）÷２＝３０となる。「モジュール２」においては、「試験項目１」の「故障推定率」が“２０”で、「試験項目２」の「故障推定率」が“１０”であるため、「合成故障推定率」は（２０＋１０）÷２＝１５となる。「モジュール３」の「合成故障推定率」も同様に、（２０＋９０）÷２＝５５となる。このように算出した各「合成故障推定率」の大きな値順に「優先順位」を導き出すと、「モジュール３」の優先順位が一番高く、次いで「モジュール１」、「モジュール２」の順となる。よって、最優先に調整、交換、修理するモジュールは、「モジュール３」と予測される。
【００２０】
また、前述のように導き出した優先順位（図４の優先順位）では、「モジュール３」の次に対処を必要とするモジュールは「モジュール１」と予測されているが、「モジュール３」に対して、調整、修理、交換を行い、その結果、良モジュールとなった場合において、このままの優先順位では、考慮しなくてもよい数値（ここでの「モジュール３」の故障推定率）を含んだ状態での優先順位となっている。そのため、実際に対処しなければならない優先順位との間に相違が生じている。このように優先順位予測が正しくなかった場合は、故障推定率更新手段７において、「モジュール３」は良モジュールとなったという情報を基に、図４における各「故障推定率」を図５のように更新する。すなわち、試験項目ごとに「モジュール１」および「モジュール２」の「故障推定率」の比率に従い、「モジュール３」が持っている「故障推定率」を比例配分し、「モジュール１」、「モジュール２」の「故障推定率」に分け与える。これによりモジュールの「故障推定率」を更新し、モジュールの調整、交換、修理の優先順位を再調整し、故障モジュール予測の制度を向上させる。
【００２１】
各モジュールの、各試験項目に対する「故障推定率」の更新は、『（該当モジュールの故障推定率）÷（良モジュール以外のモジュールの故障推定率の和）×（良モジュールの故障推定率）＋（該当モジュールの故障推定率）』の数式にて行う。この数式に基づいて各「故障推定率」を更新すると図５のとおりとなり、「モジュール１」における「試験項目１」の更新後の「故障推定率」は、（６０÷（６０＋２０））×２０＋６０＝７５となり、「モジュール１」における「試験項目２」の更新後の「故障推定率」は、（０÷（０＋１０））×９０＋０＝０となる。同様に「モジュール２」においては、「試験項目１」の更新後の「故障推定率」は（２０÷（６０＋２０））×２０＋２０＝２５となり、「試験項目２」の更新後の「故障推定率」は（１０÷（０＋１０））×９０＋１０＝１００となる。
【００２２】
このように更新した「故障推定率」を基に、「合成故障推定率」を再算出すると、図５のとおりとなる。不良であった試験が「試験項目１」および「試験項目２」であるため、不良発生試験項目数は“２”となる。よって「モジュール１」における「合成故障推定率」は（７５＋０）÷２＝３７．５となり、「モジュール２」の「合成故障推定率」は、（２５＋１００）÷２＝６２．５となる。再算出後の「合成故障推定率」に基づいたモジュールの優先順位は、従来「モジュール１」、「モジュール２」の順であったのに対し（図４参照）、「モジュール２」、「モジュール１」の順となり、故障モジュールの予測の精度が向上する。尚、演算には、システム試験装置１内の図示しないＣＰＵ（中央演算処理装置）およびメモリ、ハードディスクドライブ等の記憶装置を用いて行われる。また、良モジュールとなったモジュールの「故障推定率」のデータ削除（または数値“０”に設定）は、ＧＵＩ等の入力画面を用いて、システム試験装置１内の図示しない入力装置より行われる。
【００２３】
このようなシステム診断装置１における演算やデータの保管手段は、アプリケーションソフトウェアとして作業者へ提供されてもよい。また、システム診断装置１は、複数のコンピュータ（電子計算機）にて負荷分散させ、処理を行わせてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明によるシステム試験装置の構成図である。
【図２】本発明のシステム試験装置における、各モジュールにおける各試験項目ごとの故障部位推定表の一例を示す図である。
【図３】本発明のシステム試験装置における、故障モジュール推定の処理を示すフローチャートである。
【図４】本発明の実施の形態における、試験項目１および試験項目２が不良であった場合の優先順位決定を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態における、故障モジュール解消による故障推定率更新後の優先順位決定を示す図である。
【符号の説明】
【００２５】
１  システム試験装置、２  故障モジュール設定手段、３  試験項目設定手段、４  故障推定率設定手段、５  演算手段、６  優先モジュール決定手段６、７  故障推定率更新手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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