(57)【要約】【課題】  光ディスクの面ぶれにより、直流信号に重畳する高周波電流の周波数を最適周波数に保つことができなかった。【解決手段】  高周波信号を直流信号に重畳してなる駆動信号を生成し、当該駆動信号をレーザ光の光源に印加するようにして、当該光源を駆動し、レーザ光の光ディスクにおける反射光に基づいて光ディスクの記録面に対するレーザ光のデフォーカス量に応じた信号レベルのサーボ信号を生成すると共に、当該サーボ信号の低周波成分を抽出し、抽出したサーボ信号の低周波成分に基づいて直流信号に重畳する高周波信号の周波数を制御するようにした。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定パワーのレーザ光を光ディスクの記録面上に集光し、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面における反射光に基づいて、当該光ディスクに記録された情報を再生する光ディスク装置において、
直流信号に高周波信号を重畳してなる駆動信号を生成し、当該駆動信号を前記レーザ光の光源に印加するようにして、当該光源を駆動する光源駆動部と、
前記レーザ光の前記光ディスクにおける反射光に基づいて前記光ディスクの記録面に対する前記レーザ光のデフォーカス量に応じた信号レベルのサーボ信号を生成すると共に、当該サーボ信号の低周波成分を抽出し、抽出した前記サーボ信号の低周波成分に基づいて前記光源駆動部において前記直流信号に重畳する前記高周波信号の周波数を制御するサーボ制御部と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記光源駆動部は、
前記サーボ信号の低周波成分の信号レベルに応じた周波数の前記高周波信号を発生する発振器を備え、
前記サーボ制御部は、
前記抽出した前記サーボ信号の低周波成分を前記光源駆動部の前記発振器に印加する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光源駆動部は、
前記発振器から出力される前記高周波信号の周波数を計測する周波数カウンタとを有し、
前記サーボ制御部は、
抽出した前記サーボ信号の低周波成分を増幅するゲイン調整可能な増幅器を有し、
面ぶれ量が既知の調整用光ディスクを再生したときに、前記周波数カウンタにより測定される前記高周波信号の周波数が所定範囲内に収まるように、前記サーボ制御部の前記増幅器のゲインを調整する制御部を備える
ことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記光源駆動部は、
前記発振器から出力される前記高周波信号の周波数を計測する周波数カウンタとを有し、
前記サーボ制御部は、
抽出した前記サーボ信号の低周波成分を増幅するゲイン調整可能な増幅器を有し、
面ぶれ量が既知の調整用光ディスクを再生したときに得られるであろう前記サーボ信号の低周波成分の最大電圧及び最小電圧を前記発振器に印加し、当該印加時における前記周波数カウンタにより測定される前記高周波信号の周波数が所定範囲内に収まるように、前記サーボ制御部の前記増幅器のゲインを調整する制御部を備える
ことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
所定パワーのレーザ光を光ディスクの記録面上に集光し、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面における反射光に基づいて、当該光ディスクに記録された情報を再生する再生方法において、
直流信号に高周波信号を重畳してなる駆動信号を生成し、当該駆動信号を前記レーザ光の光源に印加するようにして、当該光源を駆動する第１のステップと、
前記レーザ光の前記光ディスクにおける反射光に基づいて前記光ディスクの記録面に対する前記レーザ光のデフォーカス量に応じた信号レベルのサーボ信号を生成すると共に、当該サーボ信号の低周波成分を抽出し、抽出した前記サーボ信号の低周波成分に基づいて前記直流信号に重畳する前記高周波信号の周波数を制御する第２のステップと
を備えることを特徴とする再生方法。
【請求項６】
前記第１のステップでは、
前記サーボ信号の低周波成分の信号レベルに応じた周波数の前記高周波信号を発振器に発生させ、
前記第２のステップでは、
前記抽出した前記サーボ信号の低周波成分を前記発振器に印加する
ことを特徴とする請求項５に記載の再生方法。
【請求項７】
前記第２のステップでは、
抽出した前記サーボ信号の低周波成分を増幅して前記発振器に印加し、
前記第１のステップの前に、
面ぶれ量が既知の所定の光ディスクを再生したときの前記高周波信号の周波数が所定範囲内に収まるように、前記第２のステップにおける前記サーボ信号の低周波成分の増幅時におけるゲインを調整する
ことを特徴とする請求項６に記載の再生方法。
【請求項８】
前記第２のステップでは、
抽出した前記サーボ信号の低周波成分を増幅して前記発振器に印加し、
前記第１のステップの前に、
面ぶれ量が既知の調整用光ディスクを再生したときに得られるであろう前記サーボ信号の低周波成分の最大電圧及び最小電圧を前記発振器に印加したときの前記高周波信号の周波数が所定範囲内に収まるように、前記第２のステップにおける前記サーボ信号の低周波成分の増幅時におけるゲインを調整する
ことを特徴とする請求項６に記載の再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置及び再生方法に関し、例えばＢＤ（Blu-ray Disc）に対応した光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置の光源としてレーザダイオードが用いられており、このレーザダイオードから出射するレーザ光は可干渉性が強いことが知られている。このため光ディスク装置では、従来よりレーザダイオードからの出射光と光ディスクからの反射光との干渉により発生するレーザノイズを抑制する方法として、高周波重畳法が使用されている（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
高周波重畳法は、再生モード時、直流電流に高周波電流を重畳した駆動電流を生成し、この駆動信号に基づいてレーザダイオードを駆動する方法である。このような高周波電流の重畳により、レーザ光のスペクトルをマルチモード化させることができるため、レーザ光の可干渉性を低減させることができ、光ディスクからの反射光によるレーザノイズを低減することができる。
【０００４】
また、かかる高周波重畳法に関して、光速をｃとして、レーザ発光点及び光ディスク間の光路長Ｌと、レーザノイズが最小となる高周波電流の周波数（以下、これを最適周波数と呼ぶ）ｆとの間に次式
【数１】
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という関係があることが従来から知られている。この（１）式は、光ディスクにおける反射光がレーザダイオードに再入射している間は、レーザダイオードがオフしているようにレーザダイオードをパルス的に駆動することに対応する。
【特許文献１】特開平５−８９４６５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで光ディスク装置では、通常、光ディスクを回転駆動する際に当該光ディスクに面ぶれと呼ばれる光ディスクの軸方向の振れが生じており、これに伴ってレーザダイオードのレーザ発光点及び光ディスク間の光路長に周期的な変動が生じている。
【０００６】
しかしながら、従来の光ディスク装置では、このような光ディスクの面ぶれについては何ら考慮されておらず、直流信号に重畳する高周波電流の周波数が（１）式を満たすように設計時に決定された値に固定されていた。このため従来の光ディスク装置では、かかる高周波電流の周波数を最適周波数に保つことができないという問題があった。
【０００７】
この場合、かかる状況のもとでは、光ディスクにおける反射光がオン状態にあるレーザダイオードに再入射することとなるため、レーザダイオードからの出射光と光ディスクからの反射光とが干渉してレーザノイズが発生し、再生信号の品質が低下する問題がある。
【０００８】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、再生信号の品質低下を未然かつ有効に防止し得る光ディスク装置及び再生方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
かかる課題を解決するため本発明においては、所定パワーのレーザ光を光ディスクの記録面上に集光し、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面における反射光に基づいて、当該光ディスクに記録された情報を再生する光ディスク装置において、直流信号に高周波信号を重畳してなる駆動信号を生成し、当該駆動信号を前記レーザ光の光源に印加するようにして、当該光源を駆動する光源駆動部と、前記レーザ光の前記光ディスクにおける反射光に基づいて前記光ディスクの記録面に対する前記レーザ光のデフォーカス量に応じた信号レベルのサーボ信号を生成すると共に、当該サーボ信号の低周波成分を抽出し、抽出した前記サーボ信号の低周波成分に基づいて前記光源駆動部において前記直流信号に重畳する前記高周波信号の周波数を制御するサーボ制御部とを備えることを特徴とする。
【００１０】
また本発明においては、所定パワーのレーザ光を光ディスクの記録面上に集光し、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面における反射光に基づいて、当該光ディスクに記録された情報を再生する再生方法において、直流信号に高周波信号を重畳してなる駆動信号を生成し、当該駆動信号を前記レーザ光の光源に印加するようにして、当該光源を駆動する第１のステップと、前記レーザ光の前記光ディスクにおける反射光に基づいて前記光ディスクの記録面に対する前記レーザ光のデフォーカス量に応じた信号レベルのサーボ信号を生成すると共に、当該サーボ信号の低周波成分を抽出し、抽出した前記サーボ信号の低周波成分に基づいて前記直流信号に重畳する前記高周波信号の周波数を制御する第２のステップとを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、光ディスクに面ぶれが生じた場合においても直流信号に重畳する高周波信号の周波数を常に最適周波数に保つことができ、光源から出射したレーザ光と光ディスクからの反射光との干渉に起因するレーザノイズの発生を防止することができる。かくして再生信号の品質低下を未然かつ有効に防止し得る光ディスク装置及び再生方法を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００１３】
（１）本実施の形態による光ディスク装置の構成
図１において、１は全体として例えばＢＤに対応した本実施の形態による光ディスク装置を示す。この光ディスク装置１は、外部機器との間で通信を行うためのインタフェース部３を備えており、ホストコンピュータ２から送信される各種コマンド等をこのインタフェース部３を介して演算制御部４に入力する。
【００１４】
演算制御部４は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）及びＲＡＭ（Random Access Memory）を含むマイクロコンピュータとして構成され、ホストコンピュータ２から与えられるコマンドと、予めＲＯＭに格納されている制御プログラムとに基づいて必要な制御処理や演算処理を実行する。
【００１５】
実際上、演算制御部４は、例えばホストコンピュータ２から記録コマンドが与えられた場合、スピンドルモータ５を駆動制御することにより、装填された光ディスク６を対応する記録方式（例えばＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式、ＣＬＶ（Constant Linear Velocity）方式又はＺＣＬＶ（Zoned Constant Linear Velocity）方式等）に応じた回転状態で回転させる。
【００１６】
また演算制御部４は、このときかかる記録コマンドと共にホストコンピュータ２から送信されるライトデータに対して誤り訂正符号を付加するなどの所定の信号処理を施した後、このライトデータを変調処理部７に送信する。
【００１７】
変調処理部７は、供給されるライトデータに対して（１，７）ＲＬＬ（Run Length Limited）コード、（２，７）ＲＬＬコード又は（２，１０）ＲＬＬコードによる変調処理を施し、かくして得られた記録データを光ピックアップ８内のレーザダイオード駆動部（ＬＤＤ：Laser Diode Driver）９に送信する。
【００１８】
レーザダイオード駆動部９は、供給される記録データに基づいてレーザダイオード１０を点滅駆動する。この結果、かかる駆動信号により空間変調されたレーザ光Ｌ１がレーザダイオード１０から発射され、このレーザ光Ｌ１が光ピックアップ８内の対物レンズ１１を含む光学系を介して光ディスク６の記録面に集光される。これによりこのレーザ光Ｌ１に基づいて記録データが光ディスク６に記録される。
【００１９】
また、かかるレーザ光Ｌ１の光ディスク６における反射光Ｌ２は、光ピックアップ８内の光学系を介してフォトディテクタ１２の受光面上に集光される。そしてフォトディテクタ１２は、受光面に入射する反射光Ｌ２を光電変換し、かくして得られたＲＦ（Radio Frequency）信号をサーボ制御部１３に送信する。
【００２０】
サーボ制御部１３は、供給されるＲＦ信号に基づいて、光ディスク６の記録面に対するレーザ光Ｌ１の焦点位置のずれ量（デフォーカス量）に応じた信号レベルのフォーカスエラー信号を生成すると共に、走査対象のトラックに対するレーザ光Ｌ１の走査位置のずれ量（オフトラック量）に応じた信号レベルのトラッキングエラー信号を生成する。
【００２１】
またサーボ制御部１３は、生成したフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいてフォーカス制御信号及びトラッキング制御信号を生成し、これらを光ピックアップ８内において対物レンズ１１を保持する３軸アクチュエータ（図示せず）に送信する。
【００２２】
かくして３軸アクチュエータは、これらフォーカス制御信号及びトラッキング制御信号に基づいて、対物レンズ１１を必要に応じて光ディスク６の軸方向や径方向に移動させる。これによりレーザ光Ｌ１が光ディスク６の記録面上にジャストフォーカスし、かつレーザ光Ｌ１が対応するトラック上を走査するように、フォーカス制御及びトラッキング制御が行なわれる。
【００２３】
一方、演算制御部４は、ホストコンピュータ２から再生コマンドが与えられた場合、スピンドルモータ５を駆動することにより、装填された光ディスク６をその光ディスク６の記録方式に応じた回転状態で回転させる。
【００２４】
また演算制御部４は、これと併せて光ピックアップ８のレーザダイオード駆動部９を制御することにより、所定レベルの直流電流に高周波電流を重畳してなる駆動信号を生成させ、これをレーザダイオード１０に印加させる。この結果、このレーザダイオード１０から所定パワーのレーザ光Ｌ１が発射され、このレーザ光Ｌ１が対物レンズ１１を含む光ピックアップ８内の光学系を介して光ディスク６の記録面上に集光される。
【００２５】
このレーザ光Ｌ１の光ディスク６における反射光Ｌ２は、光ピックアップ８内の光学系を介して上述のフォトディテクタ１２の受光面に入射し、当該フォトディテクタ１２において光電変換される。そして、この光電変換により得られたＲＦ信号がサーボ制御部１３及び再生処理部１４に与えられる。
【００２６】
サーボ制御部１３は、記録モード時と同様に、かかるＲＦ信号に基づいてフォーカス制御信号及びトラッキング制御信号を生成し、これを光ピックアップ８内の上述の３軸アクチュエータに送出する。かくして、これらフォーカス制御信号及びトラッキング制御信号に基づいて、記録モード時と同様のフォーカス制御及びトラッキング制御が行なわれる。
【００２７】
また再生処理部１４は、供給されるＲＦ信号に対して、信号振幅を一定に保持するための自動利得制御処理、光学的な空間周波数劣化を補正するための波形等化処理、低域制限処理及び二値化処理等の所定の再生処理を施し、得られた二値化データを復調処理部１５に送出する。
【００２８】
復調処理部１５は、供給される二値化データに対して（１，７）ＲＬＬコード、（２，７）ＲＬＬコード又は（２，１０）ＲＬＬコードに対する復調処理を施し、得られた復調データを演算制御部４に送出する。
【００２９】
演算制御部４は、供給される復調データに対して当該復調データ中の誤り訂正符号を用いた誤り訂正処理を必要に応じて施す。そして演算制御部４は、かくして得られたリードデータを、インタフェース部３を介してホストコンピュータ２に送出する。
【００３０】
（２）本実施の形態による高周波重畳方式
次に、かかる光ディスク装置１に採用された本実施の形態による高周波重畳方式について説明する。
【００３１】
上述のように高周波重畳方式では、レーザダイオード１０のレーザ発光点から光ディスク６までの光路長に依存して再生モード時に直流信号に重畳する高周波電流の最適周波数が一意に決まる。図２に、このような直流電流に重畳する高周波電流の最適周波数と光路長との関係の一例を示す。また、上述のような光路長と最適周波数との関係に伴い、光ディスク６の面ぶれによっても最適周波数が周期的に変動する。図３に、図２の光路長が60〔mm〕であるときの面ぶれ量（光ディスク６の記録面の軸方向における基準位置からの変位量）と最適周波数との関係を示す。
【００３２】
本実施の形態による光ディスク装置１では、このような光ディスクの面ぶれに起因するレーザダイオード１０のレーザ発光点から光ディスク６までの光路長の変動に対応するため、再生モード時、光ディスク６の面ぶれ量の情報を含むフォーカス制御信号の低周波成分をサーボ制御部１３において抽出し、この抽出したフォーカス制御信号の低周波成分に基づいてレーザダイオード駆動部９において直流電流に重畳する高周波電流の周波数を変動させる点を特徴の１つとしている。
【００３３】
図４は、このような光ディスク装置１におけるサーボ制御部１３の具体的な構成を示している。この図４に示すように、サーボ制御部１３は、光ピックアップ８のフォトディテクタ１２から出力されるＲＦ信号をサーボ信号生成回路２０に入力する。そしてサーボ信号生成回路２０は、再生モード時に光ピックアップ８のフォトディテクタ１２から与えられるＲＦ信号に基づいて上述のフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を生成し、これらを位相補償回路２１に送出する。
【００３４】
位相補償回路２１は、供給されるフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に対してサーボ系の安定を図るための所定の位相補償処理を施し、得られた位相補償処理後のフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をそれぞれ位相補償フォーカスエラー信号及び位相補償トラッキングエラー信号として駆動回路２２に送出する。
【００３５】
駆動回路２２は、供給される位相補償フォーカスエラー信号に基づいてフォーカス制御信号を生成すると共に、位相補償トラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御信号を生成し、これらを上述のように光ピックアップ８内の３軸アクチュエータに送出する。また、駆動回路２２は、フォーカス制御信号についてはローパスフィルタ回路２３にも送出する。
【００３６】
ローパスフィルタ回路２３は、供給されるフォーカス制御信号から、光ディスク６の基本回転周波数成分が含まれる低周波成分を抽出し、これをフォーカス低周波成分信号としてゲインコントロール増幅器（ＧＣＡ：Gain Control Amplifier）２４に送出する。
【００３７】
ゲインコントロール増幅器２４は、供給されるフォーカス低周波成分信号を後述するＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習機能により学習した増幅率で増幅した後、これを発振周波数制御信号として光ピックアップのレーザダイオード駆動部９に送出する。
【００３８】
レーザダイオード駆動部９は、例えば図５に示すような構成を有し、記録モード時、変調処理部７から与えられる記録データと、演算制御部４から与えられる制御信号とを駆動回路３５に入力する。
【００３９】
駆動回路３５は、例えば100〜200倍のゲインを有する電流‐電流変換回路から構成され、供給される記録データを制御信号の電流値に応じたゲインで増幅してなる駆動信号を生成し、これを加算回路３６を介してレーザダイオード１０に印加する。これによりこの駆動信号に基づいてレーザダイオード１０が点滅駆動され、記録データが光ディスク６に光記録される。
【００４０】
一方、レーザダイオード駆動部９は、再生モード時、サーボ制御部１３から送信される発振周波数制御信号を高周波電流発生源である電圧制御発信回路（ＶＣＯ：Voltage Controlled Oscillator）３０に入力する。
【００４１】
電圧制御発振器３０は、例えば図６に示すような発振特性を有し、供給される発振周波数制御信号の電圧レベルに応じた周波数の高周波電流を発生する。これにより電圧制御発信回路３０からは光ディスク６のそのときの面ぶれ量に応じた周波数の高周波電流が発生されることとなる。そして電圧制御発振器３０は、この高周波電流を二値化回路３１及び加算回路３６に送出する。
【００４２】
二値化回路３１は、供給される高周波電流を二値化し、かくして得られた高周波ディジタル電流を分周回路３２に送出する。また分周回路３２は、高周波ディジタル信号を分周することにより比較的周波数が低いパルス状のモニタ信号を生成し、これを周波数カウンタ回路３３に送出する。
【００４３】
周波数カウンタ回路３３は、変調処理部７（図１）から与えられる基準クロックＣＬＫに基づいて動作し、供給されるモニタ信号の周波数を測定する。具体的には、周波数カウンタ回路３３は、基準クロックＣＬＫの１周期の間に分周回路３２から入力されるパルス数（モニタ信号を形成するパルスのパルス数）を積算する。そして周波数カウンタ回路３３は、このようにして得られたパルス数の積算結果を、レジスタ３４に格納する。なお、かかる積算結果は少なくとも光ディスクの１回転周期分だけレジスタ３４において保存され、後述のＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習機能に利用される。
【００４４】
一方、加算回路３６には、再生モード時、演算制御部４から温度補償制御された一定電圧の直流電流（ＩＡＰＣ）が増幅器３７を介して与えられる。そして加算回路３６は、この直流電流と電圧制御発振器３０から与えられる高周波電流とを加算（重畳）し、かくして得られた駆動信号を上述のようにレーザダイオード１０に印加する。これによりこの駆動信号に基づいてレーザダイオード１０が点灯駆動されて一定パワーのレーザ光が光ディスク６に照射される。
【００４５】
（３）ＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習機能
次に、光ディスク装置１に搭載されたＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習機能について説明する。
【００４６】
上述のように本実施の形態による高周波重畳方式では、フォーカス制御信号の低周波成分に基づいて直流電流に重畳する高周波電流の周波数を変動させる。従って、このような高周波重畳方式を採用した本実施の形態による光ディスク装置１では、光ディスク６の面ぶれ量の変動に追随して電圧制御発信回路３０がそのときの面ぶれ量に応じた周波数の高周波電流を出力する必要がある。
【００４７】
しかしながら、ゲインコントロール増幅器２４（図４）の感度は製品によってばらつきがあり、光ディスク６の面ぶれ量に対してすべての製品において電圧制御発信回路３０から同じ周波数の高周波電流が出力されるとは限らない。
【００４８】
そこで、本実施の形態による光ディスク装置１においては、図７に示すように、面ぶれ幅（光ディスク６の軸方向の振れ幅）が既知の光ディスク（以下、これをゲイン調整用光ディスクと呼ぶ）６の面ぶれに対して電圧制御発振器３０の発振周波数ｆが所定範囲内（ＨＦ1≦ｆ≦ＨＦ２）に収まるようにゲインコントロール増幅器２４のゲインを自動調整するＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習機能が搭載されている。
【００４９】
なお図７において、ＨＦ１は、かかるゲイン調整用光ディスク６を再生する場合に期待する電圧制御発信器３０の最小発振周波数であり、ＨＦ２は、かかる場合に期待する電圧制御発信器３０の最大発振周波数である。具体的には、ゲイン調整用光ディスク６の面ぶれ量が±0.25〔mm〕である場合、電圧制御発振器３０に期待する発振周波数は1.25〔GHz〕±５〔MHz〕であるため、このときのＨＦ１は1.245〔GHz〕、ＨＦ２は1.255〔GHz〕となる。
【００５０】
図８は、このようなＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習機能に関する演算制御部４の具体的な処理内容を示す。演算制御部４は、ユーザ操作に応じてホストコンピュータ２からＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習処理を実行すべき旨のコマンド（以下、これをＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習実行コマンドと呼ぶ）が与えられると、動作モードをＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習モードに遷移させてＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習処理を開始し、まず、装填されたゲイン調整用光ディスク６からデータを再生する再生処理を実行する（ＳＰ１）。
【００５１】
続いて演算制御部４は、このときレーザダイオード駆動部９のレジスタ３４（図５）に格納された高周波電流の周波数の最大値（以下、これを実測最大周波数と呼ぶ）及び最小値（以下、これを実測最小周波数と呼ぶ）を検索し、これらを読み出す（ＳＰ２）。
【００５２】
続いて演算制御部４は、ステップＳＰ２においてレジスタ３４から読み出した実測最大周波数及び実測最小周波数の範囲（以下、これを実測発振周波数範囲と呼ぶ）が、図７のＨＦ１及びＨＦ２の双方を含むように予め設定された、電圧制御発振器３０の発振周波数として許容できる範囲（以下、これを許容発振周波数範囲と呼ぶ）内に入っているか否かを判断する（ＳＰ３）。
【００５３】
演算制御部４は、この判断において否定結果を得ると、実測発振周波数範囲が許容発振周波数範囲よりも大きいほうにずれているか否か（すなわち実測最大周波数が許容発振周波数範囲の最大値よりも大きいか否か）を判断する（ＳＰ４）。そして演算制御部４は、この判断において否定結果を得たときにはサーボ制御部１３のゲインコントロール増幅器２４のゲインを上げさせ（ＳＰ５）、これに対して肯定結果を得たときには当該ゲインを下げさせるように（ＳＰ６）、当該ゲインコントロール増幅器２４を制御する。
【００５４】
この後演算制御部６は、同様の処理を繰り返し（ＳＰ１〜ＳＰ６−ＳＰ１）、やがてステップＳＰ３の判断において肯定結果を得ると、このＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習処理を終了する。
【００５５】
（４）本実施の形態の効果
以上のように本実施の形態による光ディスク装置１では、トラッキングエラー信号（トラッキング制御信号）の低周波成分に基づいてレーザダイオード駆動部９の電圧制御発振器３０の発振周波数を制御するため、光ディスク６の面ぶれに伴って変動するレーザダイオード１０の発光点及び光ディスク６間の距離に対して常に最適周波数の高周波電流を直流電流に重畳することができる。かくするにつき、レーザダイオード１０からの出射光と光ディスク６からの反射光との干渉に起因するレーザノイズの発生を防止することができ、かくして再生信号の品質低下を未然かつ有効に防止することができる。
【００５６】
（５）他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、本発明をＢＤに対応した光ディスク装置１に適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ＢＤ以外の種類の光ディスクに対応したこの他種々の光ディスク装置に広く適用することができる。
【００５７】
また上述の実施の形態においては、ＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習モード時に、ゲインコントロール増幅器２４の出力を電圧制御発振器３０に印加し、このときの電圧制御発振器３０の発振周波数に基づいてゲインコントロール増幅器２４のゲインを調整するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ゲインコントロール増幅器２４のゲインの調整方法としては、この他種々の調整方法を適用することができる。
【００５８】
例えば上述のゲイン調整用光ディスク６を再生したときのゲインコントロール増幅器２４の出力を直接電圧制御発振器３０に印加せず、このときのゲインコントロール増幅器２４の出力の最大値及び最小値をゲインコントロール増幅器２４において記憶しておき、これらゲインコントロール増幅器２４の出力の最大値及び最小値のみを電圧制御発振器３０に印加し、このときの電圧制御発振器３０の発振周波数に基づいてゲインコントロール増幅器２４のゲインを調整するようにしても良い。
【００５９】
さらに上述の実施の形態においては、サーボ制御部１３を図４のように構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、かかるサーボ制御部１３を例えば図４との対応部分に同一符号を付した図９のように構成するようにしても良い。
【００６０】
この図９に示すサーボ制御部４０は、ゲインコントロール増幅器２４に代えて、ゲインコントロール増幅器２４及びスイッチ回路４１からなるゲインコントロール増幅部４０が設けられている点が図４のサーボ制御部１３と異なる。そして、このようにサーボ制御部を構成することによって、スイッチ回路４１の接続先を第１の切替え端４１Ａに接続することで上述の実施の形態と同様のＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習処理を行うことができ、またスイッチ回路４１の接続先を第２の切替え端４１Ｂに切り替えると共に、ゲイン調整用光ディスク６の再生時に得られるであろう発振周波数制御信号の最大値及び最小値のみを演算制御部４から第２の切替え端に印加することで、ゲイン調整用光ディスク６を使用することなく、上述の実施の形態と同様のＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習処理を行うことができる。
【００６１】
さらに上述の実施の形態においては、光源駆動部としてのレーザダイオード駆動部９を、図５のように構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、かかるレーザダイオード駆動部９を例えば図５との対応部分に同一符号を付した図１０のように構成するようにしても良い。
【００６２】
この図１０に示すレーザダイオード駆動部５０は、駆動回路３５（図５）に代えてライトストラテジ回路５１及びインタフェース回路５２が設けられている点が図５について上述したレーザダイオード駆動部９と異なる。
【００６３】
ライトストラテジ回路５１は、変調処理部７から与えられる記録データを当該変調処理部７から与えられるクロックに基づいてマルチパルス変調処理を行う回路である。またインタフェース回路５２は、演算制御部４との間のインタフェース機能のほか、データを記憶しておくレジスタとしての機能をも有する回路であり、ストラテジ回路５１において行なわれるマルチパルス変調処理の際のストラテジ発生用時間情報やパワー情報が格納される。さらにインタフェース回路５２は、ディジタル／アナログ変換回路を内蔵しており、ゲイン調整用光ディスク６の再生時に得られるであろう発振周波数制御信号を演算制御部４がインタフェース回路５２を経由して電圧制御発振器３０に印加することができる。このようにレーザダイオード駆動部５０を構成することによって、サーボ制御部１３からの発振周波数制御信号が得られない場合にも上述と同様のＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習処理を行うことができるため、例えば製品出荷後のＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習処理を光ディスク装置１に光ディスク装置１の電源投入時などの所定のタイミングで自動的に実行させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本実施の形態による光ディスク装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】光路長と最適周波数との関係を示す特性曲線図である。
【図３】光ディスクの面ぶれ量と最適周波数との関係を示す特性曲線図である。
【図４】サーボ制御部の具体的構成を示すブロック図である。
【図５】レーザダイオード駆動部の具体的構成を示すブロック図である。
【図６】ＶＣＯ制御電圧と高周波電流の周波数との関係を示す特性曲線図である。
【図７】発振周波数制御信号と高周波電流の周波数との関係を示す特性曲線図である。
【図８】ＬＤＤ／ＶＣＯ特性学習処理の説明に供するフローチャートである。
【図９】他の実施の形態によるサーボ制御部の構成を示すブロック図である。
【図１０】他の実施の形態によるレーザダイオード駆動部の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００６５】
１……光ディスク装置、２……ホストコンピュータ、４……演算制御部、６……光ディスク、８……光ピックアップ、９，５０……レーザダイオード駆動部、１０……レーザダイオード、１１……対物レンズ、１３，４０……サーボ制御部、２０……サーボ信号生成回路、２２……駆動回路、２３……ローパスフィルタ回路、２４……ゲインコントロール増幅器、３０……電圧制御発振器、３１……二値化回路、３２……分周回路、３３……周波数カウンタ回路、３４……レジスタ、３５……レーザダイオード駆動回路、３６……加算回路、４０……ゲインコントロール増幅部、４１……スイッチ回路、５１……ライトストラテジ回路、５２……インタフェース回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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