(57)【要約】【課題】モード変更用に用意されたモード端子をポート端子に切り替えることで利用者が利用できるポート端子の総数を増やせる半導体集積装置を提供する。【解決手段】半導体集積装置の試験をするときには試験モードに設定され、試験が完了したのちはユーザーモードに設定さる切り替え用ポート端子から書込まれる切り替え情報を記録する不揮発性メモリにより構成されるキーレジスタと、キーレジスタの切り替え情報に基づいてモードレジスタ部に記録されている試験モードのときに用いる設定値または前記ユーザーモードのときに用いる設定値を選択するモード切り替え部と、を具備する半導体集積装置である。【選択図】図１
2008241485.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体集積装置の試験をするときには試験モードに設定され、前記試験が完了したのちはユーザーモードに設定される切り替え用ポート端子と、
前記切り換え用ポート端子から書込まれる切り替え情報を記録するキーレジスタと、
前記キーレジスタの切り替え情報に基づいて前記試験モードのときに用いる設定値または前記ユーザーモードのときに用いる設定値を選択するモード切り替え部と、
を具備することを特徴とする半導体集積装置。
【請求項２】
前記試験モードから前記ユーザーモードに移行するために前記切り替え用ポート端子から予め決められたユーザーモード切り替えコードを入力して前記キーレジスタの切り替え情報を書き換えるコード解析部を備えることを特徴とする請求項１に記載の半導体集積装置。
【請求項３】
前記コード解析部は、リセット端子から入力されるリセット信号を検出するとともに、前記切り替え用ポート端子から入力される試験モード切り替えコードを検出したときに、前記ユーザーモードから前記試験モードに移行するために前記キーレジスタの切り替え情報を試験モードの設定に書き換えることを特徴とする請求項２に記載の半導体集積装置。
【請求項４】
半導体集積装置の試験をするときには試験モードに設定され、前記試験が完了したのちはユーザーモードに設定される切り替え用ポート端子から書込まれる切り替え情報をキーレジスタに記録し、
前記キーレジスタの切り替え情報に基づいて前記試験モードのときに用いる設定値または前記ユーザーモードのときに用いる設定値を選択してモード切り替えをする、
ことを特徴とする半導体集積装置のモード設定方法。
【請求項５】
前記試験モードから前記ユーザーモードに移行するために前記切り替え用ポート端子から予め決められたユーザーモード切り替えコードを入力して前記キーレジスタの切り替え情報を書き換えることを特徴とする請求項４に記載の半導体集積装置のモード設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体集積装置におけるモード端子の削減方法の技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、システムや装置などの制御を行う場合には、マイクロプロセッサやシングルチップマイコンなどの半導体集積装置を用いて制御を行うことが知られている。
図４に示す図は一般的なシングルチップマイコン４１のパッケージと内部ブロックを示した図である。図４（Ａ）は８ピンシングルチップマイコン４１の上面図を示している。実際のシングルチップマイコン４１は図４（Ａ）に示したような単純な構造ではないが、本例では説明のため簡単な構造を示す。本シングルチップマイコン４１はリセット端子（１ピン）、モード端子（２ピン）、ポート端子Ｂ（３ピン）、Ｖｃｃ端子（４ピン）、Ｖｓｓ端子（５ピン）、ポート端子Ｅ（６ピン）、ポート端子Ｄ（７ピン）、ポート端子Ｃ（８ピン）を備えている。リセット端子（１ピン）はシングルチップマイコンをハードリセットするときに用いる端子である。モード端子（２ピン）は試験モードとユーザーモードを切り替えるために用いる端子である。Ｖｃｃ端子（４ピン）とＶｓｓ端子（５ピン）は電源用の端子である。ポート端子Ｂ〜Ｅ端子（３ピン、８〜６ピン）は入力または出力ようのポート端子である。また、ポート端子はアドレス、データ用の端子として使用することができる。
【０００３】
図４（Ｂ）は図４（Ａ）の内部ブロックを示す図である。
シングルチップマイコン４１には、ＣＰＵ４２、メモリ４３（例えば、ＦＲＡＭ）、モード制御部４４などから構成され、それらはバス４７により接続されている。
【０００４】
ＣＰＵ４２は演算処理を実行し、メモリ４３はプログラム（ソースコード）やデータを記録している。ＣＰＵ４２は必要に応じてメモリ４３にアクセスして演算処理を実行する。
【０００５】
モード制御部４４は、モードレジスタ部４５、ポート制御部４６から構成されている。
モードレジスタ部４５はモード端子（２ピン）から入力されるモード信号に基づいてユーザーモード信号と試験モード信号の出力を制御してＣＰＵ４２、メモリ４３などの各回路の設定を切り替えてシングルチップマイコンの状態を切り替える。
【０００６】
ユーザーモードのときはポート端子Ｂ〜Ｅが使用可能となり、このポート端子が入出力可能端子になる。また、試験モードに設定されるとシングルチップマイコンは試験モードとなり検査（出荷前検査など）を行う際、テストプログラムを用いて検査を行うことが可能になる。
ポート制御部４６は、ポート端子Ｂ〜Ｅから入力される入力信号を制御して、各回路にバス４７を介して転送する。
【０００７】
特許文献１によれば、ＬＳＩテストモードを設定するテストモード・レジスタと、電気的消去可能なプログラマブルＲＯＭと、該電気的消去可能なプログラマブルＲＯＭにＬＳＩ外部より所定のデータを書き込む手段と、該電気的消去可能なプログラマブルＲＯＭ書き込みデータをシステム・リセット時に読み出し前記テストモード・レジスタの設定を行う手段と、該テストモード・レジスタにより内蔵ＲＯＭによるマイクロコンピュータの動作状態を内部バス介して汎用端子に選択して出力する手段とを有するテスト回路が提案されている。
【０００８】
特許文献２によれば、シリアルバスに適合した入出力インターフェイス回路を介して入出力される信号に対応した回路動作を行う内部回路を持つ半導体装置に、識別情報を格納させる不揮発性記憶回路を設け、かかる不揮発性記憶回路に格納された内部識別情報と、上記シリアルバスを介して供給される入力信号に含まれる外部識別情報とを比較回路により比較し、その一致検出信号により上記シリアルバスを介して引き続き供給される入力信号に応答する回路動作を行う制御回路により上記不揮発性記憶回路の内部情報の変更も含ませることによりデバイスアドレスの設定が可能な半導体装置と情報処理システムが提案されている。
【０００９】
しかしながら、特許文献１または２に記載されている提案や図４に示すようなシングルチップマイコンを用いて制御を行う場合、システムやシステムを構成する装置に備えられた各回路から送られてくる複数の制御信号をシングルチップマイコンに取り込み演算処理を実行し制御をする。そのため制御信号が多くなると一度に全ての制御信号をシングルチップマイコンに取り込むことができなくなる。入出力ポート端子が少ない場合、制御信号を取り込むために周辺回路を設けなければならなくなり、直接シングルチップマイコンに全ての制御信号を取り込むことができなくなるという問題がある。また、一般的に利用者は入出力用のポート端子を多く使用したいため、ユーザーモード時に無関係なモード端子などをポート端子として使用したいという要望がある。さらに、周辺回路などを備えると回路面積が大きくなるという問題がある。
【特許文献１】特開平４−２３７３３９号公報
【特許文献２】特開２００２−２３６６１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は上記のような実情に鑑みてなされたものであり、モード変更用に用意されたモード端子をポート端子に切り替えることで利用者が利用できるポート端子の総数を増やせる半導体集積装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の態様のひとつである半導体集積装置の試験をするときには試験モードに設定され、前記試験が完了したのちはユーザーモードに設定さる切り替え用ポート端子から書込まれる切り替え情報を記録するキーレジスタと、前記キーレジスタの切り替え情報に基づいて前記試験モードのときに用いる設定値または前記ユーザーモードのときに用いる設定値を選択するモード切り替え部と、を具備する。
【００１２】
好ましくは、前記試験モードから前記ユーザーモードに移行するために前記切り替え用ポート端子から予め決められたユーザーモード切り替えコードを入力して前記キーレジスタの切り替え情報を書き換えるコード解析部を備えてもよい。
【００１３】
好ましくは、前記コード解析部は、リセット端子から入力されるリセット信号を検出するとともに、前記切り替え用ポート端子から入力される試験モード切り替えコードを検出したときに、前記ユーザーモードから前記試験モードに移行するために前記キーレジスタの切り替え情報を試験モードの設定に書き換えてもよい。
【００１４】
好ましくは、前記キーレジスタは、データメモリまたはプログラムメモリ上のアドレスに割り付けてもよい。
好ましくは、前記キーレジスタは、Ｉ／Ｏメモリ上のアドレスに割り付けてもよい。
【００１５】
上記構成により、モード端子としてしか利用者が使用できなかった端子をポート端子として利用者が使える端子とすることができる。
また、本発明である半導体集積装置の試験をするときには試験モードに設定され、前記試験が完了したのちはユーザーモードに設定される切り替え用ポート端子から書込まれる切り替え情報をキーレジスタに記録し、前記キーレジスタの切り替え情報に基づいて前記試験モードのときに用いる設定値または前記ユーザーモードのときに用いる設定値を選択してモード切り替えをする。
【００１６】
好ましくは、前記試験モードから前記ユーザーモードに移行するために前記切り替え用ポート端子から予め決められたユーザーモード切り替えコードを入力して前記キーレジスタの切り替え情報を書き換えてもよい。
【００１７】
好ましくは、リセット端子から入力されるリセット信号を検出するとともに、前記切り替え用ポート端子から入力される試験モード切り替えコードを検出したときに、前記ユーザーモードから前記試験モードに移行するために前記キーレジスタの切り替え情報を試験モードの設定に書き換えてもよい。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、モード変更用に用意されたモード端子をポート端子に切り替えることで利用者が利用できるポートの総数を増やすことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下図面に基づいて、本発明の実施形態について詳細を説明する。
（実施例１）
図１に示す図は一般的なシングルチップマイコン１（半導体集積装置）のパッケージと内部ブロックを示した図である。図１（Ａ）は８ピンシングルチップマイコン１の上面図を示している。実際のシングルチップマイコン１は図１（Ｂ）に示したような単純な構造ではないが、本例では説明のため簡単な構造を示す。
【００２０】
シングルチップマイコン１はリセット端子（１ピン）、ポートＡ端子（２ピン）、ポート端子Ｂ（３ピン）、Ｖｃｃ端子（４ピン）、Ｖｓｓ端子（５ピン）、ポート端子Ｅ（６ピン）、ポート端子Ｄ（７ピン）、ポート端子Ｃ（８ピン）を備えている。リセット端子（１ピン）はシングルチップマイコンをハードリセットするときに用いる端子である。図１ではモード制御部４にしか接続されていないが実際にはシングルチップマイコンのリセット信号を必要とする各回路に接続されている。Ｖｃｃ端子（４ピン）とＶｓｓ端子（５ピン）は電源用の端子である。ポート端子Ａ〜Ｅ端子（２、３ピン、８〜６ピン）は入力または出力用のポート端子である。また、ポート端子はアドレス、データ用の端子として使用することができる。
ポート端子Ａは、試験モードとユーザーモードで用途が変更され切り替え用ポート端子である。
【００２１】
図１（Ｂ）は図１（Ａ）の内部ブロックを示す図である。
シングルチップマイコン１には、ＣＰＵ２、メモリ３（例えば、ＦＲＡＭ）、モード制御部４などから構成され、それらはバス７により接続されている。
ＣＰＵ２は、演算処理を実行し、メモリ３に記録されているプログラム（ソースコード）やデータに必要に応じてアクセスして演算処理を実行する。
【００２２】
モード制御部４は、モードレジスタ部５、ポート制御部６、モード切り替え部８、キーレジスタ９などから構成されている。
モードレジスタ部５は、ユーザーモード用と試験モード用の各回路で必要な設定値を記録している。
【００２３】
ポート制御部６は、ユーザーモード時はポート端子Ａ〜Ｅから入力される入力信号を制御して、各回路にバス７を介して転送するとともに、各回路からシングルチップマイコン１の外部へ出力信号を出力する制御する。また、試験時はポート端子Ｂ〜Ｅの信号を制御する。
【００２４】
キーレジスタ９はメモリ（不揮発性メモリなど）により構成される。そのメモリには切り替え用ポート端子から書込まれる切り替え情報が記録されている。切り替え情報はシングルチップマイコンの試験をするときには試験モードに設定され、試験が完了したのちはユーザーモードに設定される。
【００２５】
モード切り替え部８は、キーレジスタ９の切り替え情報に基づいてモードレジスタ部５に記録されている試験モードのときに用いる設定値またはユーザーモードのときに用いる設定値を選択する。
【００２６】
次にシングルチップマイコン１の動作について説明する。
ポート端子Ａ（２ピン：切り替え用ポート端子）から入力される切り替え信号の内容に基づいてキーレジスタ９にモード設定をする。そのキーレジスタ９の設定内容によってモード切り替え部８の経路を切り替えユーザーモード信号と試験モード信号の出力を制御してＣＰＵ２、メモリ３などの各回路の設定を切り替えてシングルチップマイコンの状態を切り替える。
【００２７】
ユーザーモードのときはポート端子Ａ〜Ｅが使用可能となり、ポート端子Ａ〜Ｅが入出力可能端子になる。また、試験モードに設定されるとシングルチップマイコンは試験モードとなり検査（出荷前検査など）を行う際、テストプログラムを用いて検査を行うことが可能になる。
【００２８】
図１に示したシングルチップマイコン１の場合、製造された直後キーレジスタ９には何も書込みがされていない状態であり、試験モードの状態である。また、モード切り替え部８も試験モード信号（設定値）を選択する状態になっている。この状態において、テストプログラムなどを用いて検査を行う。
【００２９】
また、試験時、ポート端子Ａ（切り替え用ポート端子）はモード端子として使用するためポート端子Ｂ〜Ｅを用いて試験を行う。
試験が完了するとテストプログラムに従いポート端子Ａからキーレジスタ９にモード切り替えを行うための信号が送信される。キーレジスタ９の内容が試験モードの設定からユーザーモードに変更されると、モード切り替え部８もユーザーモード側に切り替えられる。その結果、モードレジスタ部５からユーザーモードの設定値が選択され各回路にユーザーモード信号が送られる。ユーザーモード信号を受信した各回路はユーザーモード設定になる。
【００３０】
上記のように構成することにより、モード変更用に用意されたモード端子をポート端子に切り替えることで利用者が利用できるポート端子の総数を増やすことができる。
また、ポート端子は入力専用ポートでもよいし、入出力ポートとして使用してもよい。
【００３１】
また、キーレジスタ９はメモリ３（データメモリまたはプログラムメモリ上）にアドレスを割り当てもよいし、Ｉ／Ｏメモリなどを利用してもよい。この場合、切り替え情報を記録しているメモリにユーザーが簡単にアクセスできないようにしておく必要がある。
【００３２】
（実施例２）
図２は図１（Ａ）（Ｂ）に示したシングルチップマイコン１にコード解析部１０を設けた場合の内部ブロックを示す図である。
図２に示すマイクロシングルチップマイコン１はリセット端子（１ピン）、ポートＡ端子（２ピン）、ポート端子Ｂ（３ピン）、Ｖｃｃ端子（４ピン）、Ｖｓｓ端子（５ピン）、ポート端子Ｅ（６ピン）、ポート端子Ｄ（７ピン）、ポート端子Ｃ（８ピン）を備えている。リセット端子（１ピン）、Ｖｃｃ端子（４ピン）、Ｖｓｓ端子（５ピン）、ポート端子Ｂ〜Ｅ端子（３ピン、８〜６ピン）は実施例１と同じ機能である。
【００３３】
ポート端子Ａは、試験モードとユーザーモードで用途が変更され切り替え用ポート端子であるとともに、さらに試験終了後、ユーザーモードから再度試験モードにする場合にキーレジスタの内容を書き換える機能を備えている。
【００３４】
シングルチップマイコン１の構成は実施例１同様、ＣＰＵ２、メモリ３（例えば、ＦＲＡＭ）、モード制御部４などから構成され、それらはバス７により接続されている。
ＣＰＵ２は、演算処理を実行し、メモリ３に記録されているプログラム（ソースコード）やデータに必要に応じてアクセスして演算処理を実行する。
【００３５】
モード制御部４は、モードレジスタ部５、ポート制御部６、モード切り替え部８、キーレジスタ９、コード解析部１０などから構成されている。
モードレジスタ部５は、ユーザーモード用と試験モード用の各回路で必要な設定値を記録している。
【００３６】
ポート制御部６は、ポート端子Ａ〜Ｅの入力端子から入力される入力信号を制御して、各回路にバス７を介して転送するとともに、各回路からシングルチップマイコン１の外部へ出力信号を出力端子から出力する制御を行う。実施例２の場合は、ユーザーモードでも試験モードでもポート端子Ａ〜Ｅが使用可能となり、ポート端子Ａ〜Ｅが入出力可能な端子になる。
【００３７】
キーレジスタ９は、メモリ（不揮発性メモリなど）により構成され、シングルチップマイコン１の試験をするときには試験モードに設定され、試験が完了したのちはユーザーモードに設定される切り替え用ポート端子（ポート端子Ａ）からコード解析部１０を介して切り替えコードが入力され、そのコードに基づいて切り替え情報が書き換えられる。
【００３８】
モード切り替え部８は、実施例１と同様キーレジスタ９の切り替え情報に基づいてモードレジスタ部５に記録されている試験モードのときに用いる設定値またはユーザーモードのときに用いる設定値を選択してシングルチップマイコンのモード状態を切り替える。
【００３９】
コード解析部１０は、試験モードからユーザーモードに切り替えるために切り替え用ポート端子から予め決められたユーザーモード切り替えコードを入力し、そのモード切り替えコードに基づきキーレジスタ９の切り替え情報を書き換える。
【００４０】
また、コード解析部１０は、リセット端子から入力されるリセット信号を検出するとともに、切り替え用ポート端子から入力される試験モード切り替えコードを検出したときに、ユーザーモードから試験モードに移行するためにキーレジスタ９の切り替え情報を試験モードの設定に書き換える。
【００４１】
なお、試験モードからユーザーモードに移行する場合に、ユーザーモード切り替えコードを用意しておき、リセット端子から入力されるリセット信号を検出するとともに、切り替え用ポート端子から入力されるユーザーモード切り替えコードを検出したときに移行してもよい。
【００４２】
上記構成により、ポート端子Ａ（２ピン：切り替え用ポート端子）から入力される切り替えコードの内容に基づいてモード設定されたキーレジスタ９の設定内容によってモード切り替え部８に経路を切り替えユーザーモード信号と試験モード信号を制御してＣＰＵ２、メモリ３などの各回路の設定を切り替えてシングルチップマイコン１のモード状態を切り替える。
【００４３】
図３に示すタイムチャートにより動作を説明する。
図３に示すタイムチャートは、上から（１）リセット端子の信号波形、（２）切り替え用ポート端子の入力波形、（３）キーレジスタ９の切り替え情報、（４）モード切り替え部８の状態を示す波形を示している。
【００４４】
Ｔ１の期間は、ユーザーモードで運用されている期間である。本シングルチップマイコンのリセットはローアクティブである。よって、運用時はリセット端子には「Ｈ」（Ｈはハイレベルの信号を示す）の信号が入力されている。（２）切り替え用ポート端子の波形は「Ｌ」（Ｌはローレベルの信号を示す）の信号が入力されている状態である。この例では「Ｌ」であるが「Ｈ」の信号が入力されていてもよい。（３）キーレジスタの切り替え情報は、製造後、電源投入時には試験モードになり「００００００００」が書き込まれる。試験モードからユーザーモードへ書き換えが完了すると切り替え情報は「０００００００１」が書き込まれている。上記のようにユーザーモードを定義しているので、運用時は、「０００００００１」が書込まれた状態となっている。（４）モード切り替え部の状態はユーザーモードを選択している（「Ｌ」がユーザーモード、「Ｈ」が試験モード）。
【００４５】
Ｔ２の期間では、コード解析部１０がリセット信号を検出する。（１）リセット端子の信号波形が「Ｈ」から「Ｌ」に変化する。
Ｔ３の期間では、リセット信号を検出してかつ、切り替え用ポートから所定のコードが検出される。（２）切り替え用ポート端子の入力波形に試験モード用の切り替えコードが連続してコード解析部１０へ入力される。このとき、リセット信号の時間も予め設定しておき、その時間以上のリセット信号が入力されないと検出を無効としてもよい。
【００４６】
Ｔ４の期間では、試験モード切り替えコードがコード解析部１０で解析され、所定のコードであることが判定され、キーレジスタ９の切り替え情報をユーザーモードから試験モードに書き換える。それにともない（４）モード切り替え部の状態は試験モードが選択される（「Ｈ」が試験モード）。
【００４７】
Ｔ５の期間では（１）リセット端子の信号波形が「Ｌ」から「Ｈ」に変化する。
このようにコード解析部１０を設けることで、出荷時はユーザーモードにしかならなくなり、再試験や返却された場合でも試験モードに戻すことができるため再検査が可能となる。
【００４８】
なお、実施例２ではリセット信号の検出をしているが、リセット信号以外でも使用できる信号があれば特に限定するものではない。
また、切り替え用ポート端子はトーと端子Ａのみで説明したが、複数個用意してもかまわない。さらに、複数のポート端子からパラレルに切り替えコードを入力してもかまわない。
【００４９】
また、キーレジスタ９は、メモリ３（データメモリまたはプログラムメモリ上）にアドレスを割り付けてもよい。また、キーレジスタ９は、Ｉ／Ｏメモリ上のアドレスに割り付けることができる。
また、本発明は、上記実施の形態に限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない
範囲内で種々の改良、変更が可能である。
【００５０】
（付記１）
半導体集積装置の試験をするときには試験モードに設定され、前記試験が完了したのちはユーザーモードに設定される切り替え用ポート端子と、
前記切り替え用ポート端子から書込まれる切り替え情報を記録するキーレジスタと、
前記キーレジスタの切り替え情報に基づいて前記試験モードのときに用いる設定値または前記ユーザーモードのときに用いる設定値を選択するモード切り替え部と、
を具備することを特徴とする半導体集積装置。
【００５１】
（付記２）
前記試験モードから前記ユーザーモードに移行するために前記切り替え用ポート端子から予め決められたユーザーモード切り替えコードを入力して前記キーレジスタの切り替え情報を書き換えるコード解析部を備えることを特徴とする付記１に記載の半導体集積装置。
【００５２】
（付記３）
前記コード解析部は、リセット端子から入力されるリセット信号を検出するとともに、前記切り替え用ポート端子から入力される試験モード切り替えコードを検出したときに、前記ユーザーモードから前記試験モードに移行するために前記キーレジスタの切り替え情報を試験モードの設定に書き換えることを特徴とする付記２に記載の半導体集積装置。
【００５３】
（付記４）
半導体集積装置の試験をするときには試験モードに設定され、前記試験が完了したのちはユーザーモードに設定される切り替え用ポート端子から書込まれる切り替え情報をキーレジスタに記録し、
前記キーレジスタの切り替え情報に基づいて前記試験モードのときに用いる設定値または前記ユーザーモードのときに用いる設定値を選択してモード切り替えをする、
ことを特徴とする半導体集積装置のモード設定方法。
【００５４】
（付記５）
前記試験モードから前記ユーザーモードに移行するために前記切り替え用ポート端子から予め決められたユーザーモード切り替えコードを入力して前記キーレジスタの切り替え情報を書き換えることを特徴とする付記４に記載の半導体集積装置のモード設定方法。
【００５５】
（付記６）
前記キーレジスタは、データメモリ上のアドレスに割り付けることを特徴とする付記１〜３のいずれか１項に記載の半導体集積装置。
【００５６】
（付記７）
前記キーレジスタは、プログラムメモリ上のアドレスに割り付けることを特徴とする付記１〜３のいずれか１項に記載の半導体集積装置。
【００５７】
（付記８）
リセット端子から入力されるリセット信号を検出するとともに、前記切り替え用ポート端子から入力される試験モード切り替えコードを検出したときに、前記ユーザーモードから前記試験モードに移行するために前記キーレジスタの切り替え情報を試験モードの設定に書き換えることを特徴とする付記７に記載の半導体集積装置のモード設定方法。
【００５８】
（付記９）
前記キーレジスタは、Ｉ／Ｏメモリ上のアドレスに割り付けることを特徴とする付記１
〜３のいずれか１項に記載の半導体集積装置。
【００５９】
（付記１０）
前記キーレジスタは不揮発性メモリにより構成されることを特徴とする付記１〜３のいずれか１項に記載の半導体集積装置。
【００６０】
（付記１１）
前記試験モードのときに用いる設定値または前記ユーザーモードのときに用いる設定値をモードレジスタ部に記録することを特徴とする付記１〜３のいずれか１項に記載の半導体集積装置。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】実施例１の８ピンシングルチップマイコン（半導体集積装置）の上面図とブロック図を示す図である。
【図２】実施例２の８ピンシングルチップマイコン（半導体集積装置）のブロック図を示す図である。
【図３】実施例２のタイムチャートを示す図である。
【図４】従来の８ピンシングルチップマイコン（半導体集積装置）の上面図とブロック図を示す図である。
【符号の説明】
【００６２】
１  シングルチップマイコン（半導体集積装置）
２  ＣＰＵ
３  メモリ
４  モード制御部
５  モードレジスタ部
６  ポート制御部
７  バス
８  モード切り替え部
９  キーレジスタ
１０  コード解析部
４１  シングルチップマイコン（半導体集積装置）
４２  ＣＰＵ
４３  メモリ
４４  モード制御部
４５  モードレジスタ部
４６  ポート制御部
４７  バス
【図１】
2008241485.tif 000003
【図２】
2008241485.tif 000004
【図３】
2008241485.tif 000005
【図４】
2008241485.tif 000006