(57)【要約】【課題】画像処理装置内の複数の画像処理手段の中のどの画像処理手段が画像の異常を発生させたかを、１回のテストパターンの出力で容易に特定することを可能にする。【解決手段】スキャナユニット１０１と、これから入力された画像データに処理を施す複数の画像処理ユニット１０２、１０３と、処理された画像データを出力するプリンタユニット１０５とを備える。画像処理ユニット１０２、１０３は、テストパターンを発生させるテスト用画像データ発生手段を有し、該テスト用画像データ発生手段は、前記複数の画像処理手段のそれぞれから前記テストパターンを発生させて、入力された画像にテストパターンを重ねて出力する。出力された画像のテストパターンの状況からどの画像処理手段が異常となったかを判別することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像読取手段または画像入力手段と、これらから入力された画像データに処理を施す複数の画像処理手段と、処理された画像データを出力する手段とを備えた画像処理装置のテスト方法において、
テストパターンを発生させるテスト用画像データ発生手段を有し、該テスト用画像データ発生手段は、前記複数の画像処理手段のそれぞれから前記テストパターンを発生させることを特徴とする画像処理装置のテスト方法。
【請求項２】
前記テストパターンを発生させるテスト用画像データ発生手段は、前記複数の画像処理手段の内部に設けられることを特徴とする請求項１記載の画像処理装置のテスト方法。
【請求項３】
前記画像処理手段が、集積回路として構成されていることを特徴とする請求項１または２記載の画像処理装置のテスト方法。
【請求項４】
前記複数の画像処理手段は、内部に複数の機能モジュールを備えて構成され、前記複数の機能モジュールの各機能単位に、テストパターンを発生させることを特徴とする請求項１、２または３記載の画像処理装置のテスト方法。
【請求項５】
前記複数の画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、その画像処理手段が持つ各機能モジュール単位で画像に重ねられることを特徴とする請求項１ないし４のうちいずれか１記載の画像処理装置のテスト方法。
【請求項６】
前記各機能モジュール単位で画像に重ねられたテストパターンは、それぞれのテストパターンがどの機能モジュールから発生されたものかを判別することができるテストパターンであることを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置のテスト方法。
【請求項７】
前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、主走査方向及び副走査方向にそれぞれ延びたラインであることを特徴とする請求項１ないし６のうちいずれか１記載の画像処理装置のテスト方法。
【請求項８】
前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、外部に接続されたテストパターン出力モード設定手段により制御されて発生させられることを特徴とする請求項１ないし７のうちいずれか１記載の画像処理装置のテスト方法。
【請求項９】
前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、前記複数の画像処理手段のそれぞれの内部に備えられるレジスタへのアクセスにより制御されて発生させられることを特徴とする請求項１ないし７のうちいずれか１記載の画像処理装置のテスト方法。
【請求項１０】
前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、複数のパターンを備え選択可能であることを特徴とする請求項１ないし９のうちいずれか１記載の画像処理装置のテスト方法。
【請求項１１】
画像読取手段または画像入力手段と、これらから入力された画像データに処理を施す複数の画像処理手段と、処理された画像データを出力する手段とを備えた画像処理装置において、
テストパターンを発生させるテスト用画像データ発生手段を有し、該テスト用画像データ発生手段は、前記複数の画像処理手段のそれぞれから前記テストパターンを発生させることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１２】
前記テストパターンを発生させるテスト用画像データ発生手段は、前記複数の画像処理手段の内部に設けられることを特徴とする請求項１１記載の画像処理装置。
【請求項１３】
前記画像処理手段が、集積回路として構成されていることを特徴とする請求項１１または１２記載の画像処理装置。
【請求項１４】
前記複数の画像処理手段は、内部に複数の機能モジュールを備えて構成され、前記複数の機能モジュールの各機能単位に、テストパターンを発生させることを特徴とする請求項１１、１２または１３記載の画像処理装置。
【請求項１５】
前記複数の画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、その画像処理手段が持つ各機能モジュール単位で画像に重ねられることを特徴とする請求項１１ないし１４のうちいずれか１記載の画像処理装置。
【請求項１６】
前記各機能モジュール単位で画像に重ねられたテストパターンは、それぞれのテストパターンがどの機能モジュールから発生されたものかを判別することができるテストパターンであることを特徴とする請求項１５に記載の画像処理装置。
【請求項１７】
前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、主走査方向及び副走査方向にそれぞれ延びたラインであることを特徴とする請求項１１ないし１６のうちいずれか１記載の画像処理装置。
【請求項１８】
前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、外部に接続されたテストパターン出力モード設定手段により制御されて発生させられることを特徴とする請求項１１ないし１７のうちいずれか１記載の画像処理装置。
【請求項１９】
前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、前記複数の画像処理手段のそれぞれの内部に備えられるレジスタへのアクセスにより制御されて発生させられることを特徴とする請求項１１ないし１７のうちいずれか１記載の画像処理装置。
【請求項２０】
前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、複数のパターンを備え選択可能であることを特徴とする請求項１１ないし１９のうちいずれか１記載の画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置のテスト方法及び画像処理装置に係り、特に、画像処理装置内の複数の画像処理手段の中のどの画像処理手段が画像の異常を発生させたかを少ない手順でより容易に特定することを可能にした画像処理装置のテスト方法及び画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像処理装置のテストに関する従来技術として、例えば、特許文献１等に記載された技術が知られている。この従来技術は、画像処理装置内のテストパターン生成手段よりテストパターンを生成出力し、このテストパターンに対して順次複数の画像処理を実行し、この画像処理が実行されたテストパターンを、外部に接続されたホストコンピュータと画像比較手段からなる画像処理解析装置とにより比較することにより、異常画像発生要因である画像処理手段を特定するというものである。すなわち、この従来技術は、複数の画像処理ユニットの上流側のスキャナユニットまたは画像処理ユニットとの間にテストパターン生成部を設け、そこでテストパターンを発生させ、各画像処理部（ＬＳＩ）の機能をＯＮ／ＯＦＦして、異常を発生させた画像処理ユニットを特定するものである。
【特許文献１】特開２００６−１１５３６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
前述した従来技術は、実際に異常画像の発生要因である画像処理手段を特定するに至るまでに、画像処理解析装置を用意し、接続しテストパターンを出力する設定、テストパターンを画像処理解析装置に出力する設定、複数ある画像処理手段のどれが異常画像を発生させたかを特定するために各画像処理手段をスルーする等の幾つかのパターンを設定し、出力された画像をそれぞれ比較する必要があり、多くの手間を要するという問題点を有している。そして、前述した従来技術は、通常の動作モードとは別にテストモードを必要とすることに加え、画像処理部（ＬＳＩ）のＯＮ／ＯＦＦ設定を行う必要があり、その制御ソフトウェア、またＯＮ／ＯＦＦの設定のユーザーインターフェースのソフトウェアも作成して機器に搭載する必要があり、また、使用時にも、１つ１つ画像処理部を切り替えてテストパターンを発生させ画像処理部毎に数回に渡り画像を出力をする必要があり、手間と時間がかかっていた。
【０００４】
本発明の目的は、画像処理装置内の複数の画像処理手段の中のどの画像処理手段が画像の異常を発生させたかを、１回のテストパターンの出力で容易に特定することを可能にした画像処理装置のテスト方法及び画像処理装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前記目的を達成するため、本発明の第１の手段は、画像読取手段または画像入力手段と、これらから入力された画像データに処理を施す複数の画像処理手段と、処理された画像データを出力する手段とを備えた画像処理装置のテスト方法において、テストパターンを発生させるテスト用画像データ発生手段を有し、該テスト用画像データ発生手段は、前記複数の画像処理手段のそれぞれから前記テストパターンを発生させることを特徴とする。
【０００６】
また、本発明の第２の手段は、第１の手段において、前記テストパターンを発生させるテスト用画像データ発生手段は、前記複数の画像処理手段の内部に設けられることを特徴とする。
【０００７】
また、本発明の第３の手段は、第１または第２の手段において、前記画像処理手段が、集積回路として構成されていることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明の第４の手段は、第１、第２または第３の手段において、前記複数の画像処理手段は、内部に複数の機能モジュールを備えて構成され、前記複数の機能モジュールの各機能単位に、テストパターンを発生させることを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の第５の手段は、第１〜第４の手段のうちいずれか１の手段において、前記複数の画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、その画像処理手段が持つ各機能モジュール単位で画像に重ねられることを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の第６の手段は、第５の手段において、前記各機能モジュール単位で画像に重ねられたテストパターンは、それぞれのテストパターンがどの機能モジュールから発生されたものかを判別することができるテストパターンであることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明の第７の手段は、第１〜第６の手段のうちいずれか１の手段において、前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、主走査方向及び副走査方向にそれぞれ延びたラインであることを特徴とする。
【００１２】
また、本発明の第８の手段は、第１〜第７の手段のうちいずれか１の手段において、前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、外部に接続されたテストパターン出力モード設定手段により制御されて発生させられることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明の第９の手段は、第１〜第７の手段のうちいずれか１の手段において、前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、前記複数の画像処理手段のそれぞれの内部に備えられるレジスタへのアクセスにより制御されて発生させられることを特徴とする。
【００１４】
また、本発明の第１０の手段は、第１〜第９の手段のうちいずれか１の手段において、前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、複数のパターンを備え選択可能であることを特徴とする。
【００１５】
また、本発明の第１１の手段は、画像読取手段または画像入力手段と、これらから入力された画像データに処理を施す複数の画像処理手段と、処理された画像データを出力する手段とを備えた画像処理装置において、テストパターンを発生させるテスト用画像データ発生手段を有し、該テスト用画像データ発生手段は、前記複数の画像処理手段のそれぞれから前記テストパターンを発生させることを特徴とする。
【００１６】
また、本発明の第１２の手段は、第１１の手段において、前記テストパターンを発生させるテスト用画像データ発生手段は、前記複数の画像処理手段の内部に設けられることを特徴とする。
【００１７】
また、本発明の第１３の手段は、第１１または第１２の手段において、前記画像処理手段が、集積回路として構成されていることを特徴とする。
【００１８】
また、本発明の第１４の手段は、第１１、第１２または第１３の手段において、前記複数の画像処理手段は、内部に複数の機能モジュールを備えて構成され、前記複数の機能モジュールの各機能単位に、テストパターンを発生させることを特徴とする。
【００１９】
また、本発明の第１５の手段は、第１１ないし第１４の手段のうちいずれか１の手段において、前記複数の画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、その画像処理手段が持つ各機能モジュール単位で画像に重ねられることを特徴とする。
【００２０】
また、本発明の第１６の手段は、第１５の手段において、前記各機能モジュール単位で画像に重ねられたテストパターンは、それぞれのテストパターンがどの機能モジュールから発生されたものかを判別することができるテストパターンであることを特徴とする。
【００２１】
また、本発明の第１７の手段は、第１１ないし第１６の手段のうちいずれか１の手段において、前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、主走査方向及び副走査方向にそれぞれ延びたラインであることを特徴とする。
【００２２】
また、本発明の第１８の手段は、第１１ないし第１７の手段のうちいずれか１の手段において、前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、外部に接続されたテストパターン出力モード設定手段により制御されて発生させられることを特徴とする。
【００２３】
また、本発明の第１９の手段は、第１１ないし第１７の手段のうちいずれか１の手段において、前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、前記複数の画像処理手段のそれぞれの内部に備えられるレジスタへのアクセスにより制御されて発生させられることを特徴とする。
【００２４】
また、本発明の第２０の手段は、第１１ないし第１９の手段のうちいずれか１の手段において、前記画像処理手段のそれぞれが発生させるテストパターンは、複数のパターンを備え選択可能であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、複数の画像処理手段の各画像処理手段から同時に発生させたテストパターンを重ねて出力させているので、１つの異常画像からどの画像処理手段がその異常画像を発生させているかを容易に判別することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、本発明による画像処理装置のテスト方法及び画像処理装置の実施形態を図面により詳細に説明する。
【００２７】
図１９は本発明の一実施形態による画像処理装置の構成例を示すブロック図であり、まず、これについて説明する。
【００２８】
図１９示すように、画像処理装置は、ＣＰＵ１１１、ＲＯＭ１１２、ＲＡＭ１１３、ＮＶ−ＲＡＭ１１４、パネル制御部１１５、操作パネル１１６、エンジン制御部１１７、スキャン／プリントエンジン１１８、ディスクドライバ１１９、記憶装置１２０、モデム１２１、外部Ｉ／Ｆ１２２及び通信制御部１２３、画像処理部１２４を含み、これらの各部がデータバス１２５を介して接続されて構成されている。なお、ＣＰＵ１１１の制御下にＲＯＭ１１２ないし通信制御部１２３の各部が位置する。
【００２９】
前述において、ＲＯＭ１１２は、プログラムコード、フォント及びその他の静的なデータを格納している。ＲＡＭ１１３は、ＣＰＵ１１１のワークメモリとして機能すると共に、一時的な記憶場所として使用される。ＮＶ−ＲＡＭ１１４には、不揮発性を必要とするデータが格納される。パネル制御部１１５と操作パネル１１６とは、ユーザとのインタフェースを司る。制御部１１７とスキャン／プリントエンジン１１８とは、イメージデータの入出力ユニットとして紙原稿の読み取りと転写紙への印刷とを実行する。ディスクドライバ１１９とハードディスク等の記憶装置１２０とは、大量のイメージデータ等を蓄積したり、データベースを記憶する。通信制御部１２３は、イーサネット（登録商標）等のネットワークと接続され、外部機器との通信を可能とするものである。モデム１２１は、公衆回線と接続され、外部機器との通信のために使用される。外部Ｉ／Ｆ１２２は、セントロニクスやＲＳ２３２等のインタフェースを用いて通信を行うために使用され、データバス１２４は、前述した各種デバイス相互間及びＣＰＵ１１１と各デバイス間の通信に使用される。
【００３０】
以下に説明する本発明の実施形態は、本発明の実施形態での画像処理ユニットが、画像処理部１４内にハードウェアにより構成されているものとして説明するが、この画像処理ユニットは、プログラムにより構成して、ＲＡＭ３内にロードされてＣＰＵ１１１により実行されることにより必要な機能が構築されるようにしてもよい。
【００３１】
図１は複合機のコピー機能により原稿を読み取り、その画像データに次々と画像処理を施して最終的にプリンタから出力するまでの構成を説明する図である。
【００３２】
一般に、例えば、マルチファンクションプリンタ等のなどの複合機といわれるシステムを用いてコピーを行う場合、まず、スキャン／プリントエンジン１１８のスキャナユニット１０１で原稿を読み取って画像データとし、その画像データに画像処理ユニット１０２、１０４により次々と画像処理を施して最終的にスキャン／プリントエンジン１１８のプリンタユニット１０５から出力画像がプリントされた印刷物が出力される。また、複合機が、プリンタとして使用される場合、ネットワークからの印刷データを、通信制御部１２３内に含まれるネットワークコントローラ１０３で受け取り、プリンタユニット１０５に出力するための画像処理を画像処理ユニット１０４が施してプリンタユニット１０５から印刷物として出力される。また、複合機が、ネットワークスキャナとして使用される場合、スキャナユニット１０１により原稿を読み取った後、設定された画像処理を画像処理ユニット１０２が施してネットワークに出力される。なお、画像処理ユニット１０２、１０４、ネットワークコントローラユニット１０３は、それぞれ、集積回路（ＬＳＩ）により構成される。
【００３３】
図２は図１に示すスキャナユニットからプリンタユニットの間の具体的な構成を示す図である。図２に示すように、画像処理ユニット１０２は、画像処理ＬＳＩ１〜画像処理ＬＳＩ３により構成され、また、画像処理ユニット１０３は、画像処理ＬＳＩ４、画像処理ＬＳＩ５により構成される。また、ネットワークコントローラユニット１０３は、コントローラＬＳＩを含んで構成されている。そして、これらの構成部品である各ＬＳＩは、その処理専用として開発されたＡＳＩＣ等である。画像処理ユニット１０２、１０４、ネットワークコントローラユニット１０３内の各ＬＳＩは、前段より入力された画像データを内部で各種の画像処理やネットワーク処理等を順次実行している。
【００３４】
図３は画像処理ＬＳＩの１つの内部構成を示す図であり、各ＬＳＩは、各処理を実施する個々の機能をモジュールという単位で行っており、機能モジュール１〜３として示すような複数の機能モジュールにより構成される順に処理を行う部品である。
【００３５】
図４は図１に示すスキャナユニットからプリンタユニットの間の具体的な構成をＬＳＩの内部構成まで含めて示す図である。
【００３６】
図４に示すように、図１に示すスキャナユニットからプリンタユニットの間の具体的な構成を、図２に示す画像処理ユニット１０２、１０４、ネットワークコントローラユニット１０３に含まれるＬＳＩ、このＬＳＩに含まれる機能モジュールを含めて示すと、図４に示すようになる。図４に示す例では、画像データに対する処理を行う順に各機能モジュールを接続しているように示しているが、実際には、複数の機能モジュール間で何回も画像データをやり取りするように構成する場合もある。この場合の構成は、画像データに対して処理を順番に行うことを考慮すれば、順番に機能モジュールが接続されている場合と等価である。
【００３７】
図４において、複合機を用いてコピーを行う場合、まず、スキャナユニット１０１で原稿を読み取って画像データとされ、その画像データが、順に各機能モジュール１〜機能モジュール７、機能モジュール１１〜機能モジュール１５による処理を受けて、プリンタユニット１０５から出力画像がプリントされた印刷物が出力されることになる。また、複合機が、ネットワークスキャナとして使用される場合、スキャナユニット１０１により読み取られた原稿が、画像処理ユニット１０２を構成する機能モジュール１〜機能モジュール７により、設定された画像処理を施された後、ネットワークコントローラユニット１０３内の機能モジュール８、機能モジュール９を介してネットワークに出力される。また、複合機が、プリンタとして使用される場合、ネットワークからの印刷データを、ネットワークコントローラユニット１０３の機能モジュール８で受け取り、機能モジュール９を介して、画像処理ユニット１０４に入力され、機能モジュール１１〜機能モジュール１５により画像処理が施された後、プリンタユニット１０５から印刷物として出力される。
【００３８】
前述で説明した画像処理を行う各機能モジュールは、通常の画像を取り扱う処理を実行する以外に画像に追跡用の画像データ発生手段であるテストパターン発生回路を有して、発生したテストパターンを画像に重ねて処理した画像を出力する機能を搭載して構成されている。このテストパターンは、各機能モジュールのテストパターン発生回路が同時に起動されて、テストパターンが出力されてもどのパターンがどの機能モジュールから出力されたかを判別することができるようなパターンとなっている。
【００３９】
図５はテストパターンの例を示す図、図６はスキャナユニットから出力される画像の例を示す図、図７は機能モジュール１が出力する画像データの例を示す図、図８は機能モジュール２が出力する画像データの例を示す図、図９は機能モジュール１５が出力する画像データの例を示す図である。図５に示すテストパターの例は、主走査方向及び副走査方向のそれぞれに延びた１本ずつのラインパターンを出力する場合の例である。いま、このテストンパターを機能モジュール１が出力するテストパターンであるとし、スキャナユニット１０１から図６に示すような画像が出力されて画像処理ＬＳＩ１の機能モジュール１に入力されたものとする。
【００４０】
この場合、機能モジュール１は、入力された図６に示すような画像に図５に示すようなテストパターンを重ね、この画像に機能モジュール１が持つ処理を施して出力する。この結果、機能モジュール１から出力される画像は図７に示すようなものとなる。機能モジュール１による処理の後、画像は、次の機能モジュール２へ送られて処理されることになるが、この機能モジュール２は、入力された画像にすでに画像に追加されているテストパターンと重ならないようにテストパターンを重ね、この画像に機能モジュール２が持つ処理を施して出力する。この結果、機能モジュール１から出力される画像は図８に示すようなものとなる。
【００４１】
前述したように、画像処理ＬＳＩ内の各機能モジュールは、次々にテストパターンを重ねながら画像を処理していく。この場合、各機能モジュールが少しずつ主走査、副走査のラインが重ならないように交差点をずらしたパターンを出力し、各機能モジュールが最終的に全て正常に処理を行って、画像を出力することができれば、機能モジュールの数と同数のテストパターンが最終的に出力されることになる。説明している例の場合、機能モジュールの数が１５であるとしているので、機能モジュール１５から出力される画像は図９に示すようなものとなる。
【００４２】
図１０はコピー機能の使用時に機能モジュール１〜機能モジュール１５の幾つかに不良があった場合の最終出力画像の例を説明する図である。
【００４３】
コピー機能使用時に図４で順に接続された機能モジュール１〜機能モジュール１５のうち、どこかを境に幾つかに不良が生じ、図１０に示すような画像の一部がずれたような異常画像が出力されたものとする。この例の場合、テストパターンの状況を見ると、４番目までのテストパターンが異常で、５番目以降のテストパターンが正常であることが判る。
【００４４】
図１１〜図１４は図１０に示すような異常画像が出力される原因となった機能モジュールを特定する考え方を説明する各機能モジュールから出力される画像の例を説明する図である。
【００４５】
いま、全ての機能モジュール１〜機能モジュール１５が正常であった場合、機能モジュール３迄の処理が終了し、機能モジュール４に入力された時点の画像は、図１１に示すようなものとなるはずである。この図１１に示す画像に、機能モジュール４がテストパターンを重ねて処理を行って出力すると、その画像は、図１２に示すようなものとなるはずである。ところで、機能モジュール１〜機能モジュール４に障害が発生していた場合、機能モジュール３が出力した画像を機能モジュール４が処理をして機能モジュール５に出力した時点の画像が、図１３に示すような画像であることが考えられる。そして、正常な機能モジュール５がテストパターンを重ねて処理を行って出力する画像は、図１４に示すようなものとなる。図１４に示すような画像となる理由は、５番目以降のテストパターンは、４番目の機能モジュール４からの画像の出力時点では画像に存在せず、機能モジュール５が重ねる５番目のテストパターンは、入力された画像が正常か異常かに関わらず特定の５番目の位置に重ねて出力されるからである。これ以降の機能モジュールが正常であれば、以降の機能モジュールからのテストパターンも異常なく出力されるので、図１０に示したような出力画像となる。
【００４６】
前述で説明したように、テストパターンを各機能モジュールが同時に、そしてそのテストパターンが機能モジュール別に識別可能位置に出力することにより、１つの異常画像出力から異常を出力した機能モジュールを容易に特定することができる。
【００４７】
図１５はテストパターンの他の例を示す図、図１６はテストパターンのさらに他の例を示す図である。図１５に示すテストパターンの例は、画像処理ＬＳＩ単位で最初の機能モジュールのテストパターンのラインを太いテストパターンとした例である。このようにすると、どの画像処理ＬＳＩの機能モジュールに障害が生じたかの判別をより容易に行うことが可能となる。また、テストパターンは、異常画像の出力状況によっては見にくくなってしまうことがある。例えば、通常の画像出力手順で画像移動を伴うような場合、図５に示したテストパターンは、画像移動により他のテストパターンと重なる可能性がある。このため、例えば、図１６に示すような別のテストパターンを用意し、状況によりテストパターン同士が重ならないように適宜種々のテストパターンを選択できるようにすることもできる。図１６に示す例は、テストパターンを画像に対して４５度傾けた例であるが、傾ける角度の異なる複数を用意しておくこともでき、あるいは、主副の一方だけを傾けたものとすることもできる。
【００４８】
図１７は画像処理ＬＳＩ内に設けられるテストパターンモード設定部の構成を示す図、図１８は画像処理ＬＳＩ内にテストパターンモード設定部を設けた場合の全体の構成を示すブロック図である。
【００４９】
前述までに説明したように、画像処理ＬＳＩ内部の各機能モジュールは、テストパターンを発生させているが、このテストパターンを発生させるためには、各画像処理ＬＳＩの内部レジスタ等に、テストパターン出力モードを設定する必要がある。これは、通常の画像処理装置の動作では用いられないためであり、このため、画像処理ＬＳＩに、特別にこの設定を組み込む必要がある。この場合、この設定を組み込む対象がシステムのソフトウェアであると、通常使用されないモードを組み込むことになるため、ソフトウェアに組み込むための時間が必要になる等の負担が増大することになり、また、この特別なソフトウェアを組み込むことにより、異常画像の出力状態が変わってしまう可能性もある。
【００５０】
このような問題を回避するため、各画像処理ＬＳＩの内部に、テストパターン選択レジスタ１７１、テストを行うか否かのモードを設定する内部モード設定レジスタ１７２、外部モード設定レジスタ１７３を設け、スイッチＳＷにより外部モード設定レジスタ１７３をモード設定端子を介して設定することができるようにしている。テストパターン選択レジスタ１７１には、複数のテストパターンのどれを選択するかを指示する情報が格納され、画像処理ＬＳＩ内の図示しないテストパターン発生回路を選択するために使用される。モード設定レジスタ１７２は、内部的にテストを行うか否かを示すモードオフ、モードオンのデータが格納され、また、モード設定レジスタ１７３は、外部に設けられるスイッチＳＷからテストを行うか否かを示すモードオフ、モードオンのデータが格納される。２つのレジスタの何れか一方がモードオンとしての“０”に設定されていれば、アンドゲートからの出力が“０”となって、テストを行う指示が画像処理ＬＳＩに与えられることになる。
【００５１】
図１７に示す画像処理ＬＳＩにモード選択端子を介して接続されているスイッチＳＷからの信号は、図１８に示すように、全ての画像処理ＬＳＩに接続されているため、スイッチＳＷを切り替えるだけで全ての画像処理ＬＳＩでのテストモードのオン、オフを制御することができる。このため、システムのソフトウェアに手を加えることなく容易にテストモードの変更が可能となり、異常画像を出力したモジュールを特定する上で、異常現象の変化にソフトウェアの変更という変数を含ませないために重要である。
【００５２】
前述した本発明の実施形態は、画像処理を行う全ての機能モジュールにテストパターン発生回路を設けるとして説明したが、本発明は、例えば、機能モジュールの２つうち１つにテストパターン発生回路を設けてもよい。この場合、異常を生じさせたのがどちらのモジュールかを絞り込む必要が生じるが、ハード量、ソフトウェア量を低減して、コストダウンを図ることができる。
【００５３】
前述したような本発明の実施形態によれば、各画像処理手段から同時にテストパターンを発生させているので、１つの異常画像からどの画像処理手段がその異常画像を発生させているかを容易に判別することができる。
【００５４】
また、本発明の実施形態によれば、テストパターン発生手段が集積回路内に設けられているため、テストパターン発生手段を別途用意する必要がなく、また、集積回路内の複数の画像処理機能それぞれからテストパターンを発生させることができる。
【００５５】
また、本発明の実施形態によれば、同時に発生させるテストパターンが、各機能単位で前段の機能から出力された画像に重ねられて出力されるので、前段の機能から出力された画像データを後段の機能で維持して出力することができる（上書きにより前段出力画像を消さない）ので、１つの異常画像によりどの機能からその異常画像が発生しているかを判別することができる。
【００５６】
また、本発明の実施形態によれば、同時に発生させるテストパターンが、各機能から同時に発生させて重ねても、それぞれがどの機能から発生されたものかを判別することができるようなテストパターンであるので、１つの異常画像によりどの機能からその異常画像が発生しているかを判別することができる。
【００５７】
また、本発明の実施形態によれば、同時に発生させるテストパターンが主副走査方向にそれぞれ延びたラインであるので、画像全面をカバーすることができる。
【００５８】
また、本発明の実施形態によれば、同時に発生させるテストパターンを外部に接続されたテストパターン出力モード設定手段により出力させるか否かを設定しているので、システムの制御を変更することなく容易にテストパターンを発生、出力することができ、かつ、各画像処理手段内のレジスタアクセスによりテストパターンを発生させることができるので、外部から操作せずにテストパターンを発生、出力させることができる。
【００５９】
また、本発明の実施形態によれば、同時に発生させるテストパターンとして、複数のテストパターンから選択することができるので、異常画像の出力状況により判別が容易なテストパターンを発生、出力させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】複合機のコピー機能により原稿を読み取り、その画像データに次々と画像処理を施して最終的にプリンタから出力するまでの構成を説明する図である。
【図２】図１に示すスキャナユニットからプリンタユニットの間の具体的な構成を示す図である。
【図３】画像処理ＬＳＩの１つの内部構成を示す図である。
【図４】図１に示すスキャナユニットからプリンタユニットの間の具体的な構成をＬＳＩの内部構成まで含めて示す図である。
【図５】テストパターンの例を示す図である。
【図６】スキャナユニットから出力される画像の例を示す図である。
【図７】機能モジュール１が出力する画像データの例を示す図である。
【図８】機能モジュール２が出力する画像データの例を示す図である。
【図９】機能モジュール１５が出力する画像データの例を示す図である。
【図１０】コピー機能の使用時に機能モジュール１〜機能モジュール１５の幾つかに不良があった場合の最終出力画像の例を説明する図である。
【図１１】図１０に示すような異常画像が出力される原因となった機能モジュールを特定する考え方を説明する各機能モジュールから出力される画像の例を説明する図（その１）である。
【図１２】図１０に示すような異常画像が出力される原因となった機能モジュールを特定する考え方を説明する各機能モジュールから出力される画像の例を説明する図（その２）である。
【図１３】図１０に示すような異常画像が出力される原因となった機能モジュールを特定する考え方を説明する各機能モジュールから出力される画像の例を説明する図（その３）である。
【図１４】図１０に示すような異常画像が出力される原因となった機能モジュールを特定する考え方を説明する各機能モジュールから出力される画像の例を説明する図（その４）である。
【図１５】テストパターンの他の例を示す図である。
【図１６】テストパターンのさらに他の例を示す図である。
【図１７】画像処理ＬＳＩ内に設けられるテストパターンモード設定部の構成を示す図である。
【図１８】画像処理ＬＳＩ内にテストパターンモード設定部を設けた場合の全体の構成を示すブロック図である。
【図１９】本発明の一実施形態による画像処理装置の構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００６１】
１１１  ＣＰＵ
１１２  ＲＯＭ
１１３  ＲＡＭ
１１４  ＮＶ−ＲＡＭ
１１５  パネル制御部
１１６  操作パネル
１１７  エンジン制御部
１１８  スキャン／プリントエンジン
１１９  ディスクドライバ
１２０  記憶装置
１２１  モデム
１２２  外部Ｉ／Ｆ
１２３  通信制御部
１２４  画像出力部
１２５  データバス
１０１  スキャナユニット
１０２、１０４  画像処理ユニット
１０３  ネットワークコントローラユニット
１０５  データバス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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