(57)【要約】【課題】試験時間を短縮でき過去の試験データとの比較も容易に行え、試験データのアカウンタビリティを担保できる入力試験装置を提供することである。【解決手段】プロセス量を検出するセンサ１３が端子台１２に接続されプロセス量の検出の中継を行う中継盤１１と、端子台１２からのプロセス量を入力しプラントの制御を行う制御盤１４と、制御盤１４を介して入力したプロセス量を表示しプラントを監視する監視装置１７とを備えたプラント監視制御装置の中継盤から監視装置までの入力装置の試験を行う入力試験装置であり、端子台から入力される各センサ信号の入力仕様及び工場／前回試験データを予め記録したＩＣタグ１９と、ＩＣタグ１９に記録された入力仕様及び工場／前回試験データに基づいて入力装置への試験模擬信号を生成して端子台１２に出力する模擬処理装置２０とを備える。【選択図】  図１
2008191821.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラントのプロセス量を検出するセンサが端子台に接続されプロセス量の検出の中継を行う中継盤と、前記中継盤の端子台からのプロセス量を入力しプラントの制御を行う制御盤と、前記制御盤を介して入力したプロセス量を表示しプラントを監視する監視装置とを備えたプラント監視制御装置の前記中継盤から前記監視装置までの入力装置の試験を行う入力試験装置において、前記端子台から入力される各センサ信号の入力仕様及び工場／前回試験データを予め記録したＩＣタグと、前記ＩＣタグに記録された入力仕様及び工場／前回試験データに基づいて前記入力装置への試験模擬信号を生成して前記端子台に出力する模擬処理装置とを備えたことを特徴とする入力試験装置。
【請求項２】
前記模擬処理装置は、試験模擬信号により前記監視装置に入力される模擬結果の計測値を入力し、出力した試験模擬信号と模擬結果の計測値とを比較し、その比較結果を記録することを特徴とする請求項１記載の入力試験装置。
【請求項３】
前記模擬処理装置は、前記ＩＣタグに最新の試験結果を保存することを特徴とする請求項１記載の入力試験装置。
【請求項４】
過去の試験結果を保存処理するデータ管理装置を設け、前記模擬処理装置は、試験の度に前記データ管理装置に試験結果を出力することを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の入力試験装置。
【請求項５】
前記模擬処理装置は、プラント運転中においてセンサで検出されたセンサ信号及び前記制御盤で処理したセンサ信号を測定して比較しオンライン入力精度診断を行うとともに、前記センサ信号と切り換えてサーベイランス信号を前記制御盤に出力しオンラインサーベイランス診断を行うことを特徴とする請求項４記載の入力試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プロセス量を検出し中継する中継盤からプロセス量を監視する監視装置までのプラント監視制御装置における入力装置の試験を行う入力試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
プラント監視制御装置は、プラントのプロセス量を検出するセンサからのセンサ信号を中継盤の端子台を介して入力し、制御盤にプロセス量を入力してプラントの制御を行う。また、制御盤を介して入力したプロセス量を監視装置に表示してプラントを監視する。
【０００３】
このようなプラント監視装置の中継盤から監視装置までの入力装置は新設されたり、更新されたりすることがある。そのような場合には、入力装置の健全性を確認することが必要となる。また、プラントの定期点検時においても、プラント監視制御装置における入力装置の健全性を確認することが必要となる。その場合、入力装置に対して試験模擬信号を入力し試験を行うようにしている。
【０００４】
図１８は、従来の入力試験装置の説明図である。中継盤１１内に設置している端子台１２にはセンサ１３が接続される。また端子台１２は制御盤１４内のコントローラ１５に連結されたＩＯユニット１６に接続される。コントローラ１５からは監視装置１７へ接続される。いま、中継盤１１から監視装置１７まで間において、中継盤１１は既設であり制御盤１４が更新された場合について説明する。
【０００５】
更新された制御盤１４を含めた入力装置の試験を行うに当たっては、まず、試験員は、中継盤１１の端子台１２でのセンサ１３の接続に関し対象図面で入力仕様及び接続箇所を確認した上で、本設のケーブル接続を端子台１２から取り外し、そこに試験用のケーブル又はコネクタを接続して、他端は電圧／電流発生器１８に接続する。そして、試験員は電圧／電流発生器１８から各校正点に該当する模擬値を入力設定して試験模擬信号を出力し、監視装置１７へ表示される計測値を別の試験員が確認して試験データとして手記録を行う。
【０００６】
中継盤１１内には入力点数に応じて複数の端子台１２は設置されているので、複数の入力点数があるプラントにおいては、端子台１２の数に応じて電圧／電流発生器１８から試験模擬信号を入力し、アナログ入力のループ精度確認試験を実施することになる。また、更新前後の精度管理は紙で記録して人間系で管理している。
【０００７】
ここで、被制御機器のプロセス値に基づいて、時定数を伴って被制御機器を制御する制御機器の時定数の試験を複数並行して行う制御機器の試験装置がある（例えば、特許文献１参照）。また、制御装置の出力端を試験する際に、その試験中に切り離された出力ラインに対して制御信号と同様の信号を出力し、対応する制御対象を制御するバックアップ用ＡＯ基板を備えるようにしたものがある（例えば、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開平２００２−１０８４４３号公報
【特許文献２】特開平８−２８６７０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、特許文献１のものでは試験対象のコントローラカードを取り外して試験装置に挿入しなければならず、特許文献２のものではバックアップ用ＡＯ基板を備えなければならない。また、試験データについてのデータアカウンタビリティ（改竄／加工していないデータとして説明できること）についての考慮がない。
【０００９】
また、図１８に示した従来例では、対象図面で入力仕様及び接続箇所を確認した上で、入力装置の入力確認試験時に端子台１２への接続を切り換え、その都度、電圧／電流発生器１８から試験模擬信号を入力し、アナログ入力のループ精度確認試験を実施するので、ＩＯ点数に比例して時間がかかり、模擬装置である電圧／電流発生器１８自体に試験データの記録機能はなく更新前後の試験データの精度管理が人間系での管理となっている。従って、試験データや模擬値／計測値のデータ比較に対するアカウンタビリティが完全ではない。
【００１０】
また、前回試験データとの比較が容易にできないため、点検記録データから状態監視保全として、データの傾向を捉えることができず、機器の故障が発生するまで不良箇所を検出することが煩雑である。
【００１１】
さらに、従来においては、プラントの停止中にループ精度試験による入力ループの健全性確認を実施するものであるので、プラント運転中には制御盤１４のコントローラやＩＯユニットの不良、または入力信号の上下限逸脱等による入力不良が発生するまで、入力ループの異常状態を検出することができない。
【００１２】
本発明の目的は、試験時間を短縮でき過去の試験データとの比較も容易に行え、試験データのアカウンタビリティを担保できる入力試験装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の入力試験装置は、プラントのプロセス量を検出するセンサが端子台に接続されプロセス量の検出の中継を行う中継盤と、前記中継盤の端子台からのプロセス量を入力しプラントの制御を行う制御盤と、前記制御盤を介して入力したプロセス量を表示しプラントを監視する監視装置とを備えたプラント監視制御装置の前記中継盤から前記監視装置までの入力装置の試験を行う入力試験装置において、前記端子台から入力される各センサ信号の入力仕様及び工場／前回試験データを予め記録したＩＣタグと、前記ＩＣタグに記録された入力仕様及び工場／前回試験データに基づいて前記入力装置への試験模擬信号を生成して前記端子台に出力する模擬処理装置とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、試験時間を短縮でき過去の試験データとの比較も容易に行え、試験データのアカウンタビリティを担保できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
（第１の実施の形態）
図１は本発明の第１の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図である。第１の実施の形態は、図１８に示した従来例に対し、端子台１２から入力される各センサ信号の入力仕様及び工場／前回試験データを予め記録したＩＣタグ１９を設け、電圧／電流発生器１８に代えて、ＩＣタグ１９に記録された入力仕様及び工場／前回試験データに基づいて入力装置への試験模擬信号を生成して端子台１２に出力する模擬処理装置２０を設けたものである。図１８と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００１６】
図１において、中継盤１１内にＩＣタグ１９を設け、ＩＣタグ１９に予め各センサ信号の入力仕様及び工場試験データまたは前回試験データ（工場／前回試験データ）を記録しておく。模擬処理装置２０はＩＣタグ１９に予め記録してある端子台１２から入力される各センサ信号の入力仕様及び工場または前回試験データを模擬処理装置２０で受信する。模擬処理装置２０は、受信した工場／前回試験データを模擬処理装置２０内に保存する。また、模擬処理装置２０による信号模擬時においてはＩＣタグ１９から受信した入力仕様を基に試験模擬信号ａを生成して端子台１２に出力する。
【００１７】
図２は本発明の第１の実施の形態における模擬処理装置２０の構成図である。模擬処理装置２０は試験模擬信号を生成するデータ処理機器２１と、データ処理機器２１で生成された試験模擬信号を端子台１２に出力する信号出力機器２２とから構成される。
【００１８】
ＩＣタグ１９から各種の情報は、模擬処理装置２０内のデータ処理機器２１のＩＣタグデータ受信部２３で受信される。ＩＣタグ１９からの受信データはＩＣタグデータ処理部２４で処理され、その結果は試験データ保存部２５を介して入力仕様ＤＢ２６及び前回試験データＤＢ２７に保存される。
【００１９】
入力仕様ＤＢ２６及び前回試験データＤＢ２７に保存されたデータに基づいて試験で使用する模擬データを試験模擬データ処理部２８で作成し、試験模擬データＤＢ２９に格納する。そして、試験模擬指令出力部３０は試験模擬データＤＢ２９に格納された模擬データに基づき模擬データを信号出力機器２２へ出力する。模擬データを受信した信号出力機器２２は端子台１２に対して試験模擬信号ａを出力する。
【００２０】
図３は入力仕様ＤＢ２６の詳細構成図である。図３に示すように、入力仕様ＤＢ２６は、盤Ｎｏ、端子台Ｎｏ、入力仕様、上限、下限、端子Ｎｏ、入力点番号、入力点名称、変換定数から構成される。この入力仕様ＤＢ２６はＩＣタグ１９から入力した情報をそのままＤＢ化したものであり、入力仕様ＤＢ２６により端子台１２に割り付けられた各種センサ１３に対しての入力点信号情報が規定される。
【００２１】
図４は前回試験データＤＢ２７の詳細構成図である。図４に示すように、前回試験データＤＢ２７は、試験Ｎｏ、試験日時、試験機器番号、入力点番号、入力点名称、模擬値  計測値、試験結果から構成される。この前回試験データＤＢ２７は前回の試験情報の詳細をそのまま記録したものであり、ＩＣタグ１９から入力した情報をそのままＤＢ化して、改竄防止のためデータ変更できないようセキュリティ／暗号化保存される。
【００２２】
図５は試験模擬データＤＢ２９の詳細構成図である。図５に示すように、試験模擬データＤＢ２９は、試験Ｎｏ、信号出力時間、入力点番号、入力点名称、模擬値、模擬信号値から構成される。この試験模擬データＤＢ２９は入力仕様ＤＢからの入力点情報から信号模擬可能なように信号出力時間、模擬信号値等の情報を付加して作成するものである。
【００２３】
このように、第１の実施の形態では、入力装置の試験を行うに当たり、ＩＣタグ１９から受信した入力仕様／前回試験データを活用し、模擬処理装置２０内のデータ処理機器２１を介することで自動での試験データの作成が可能となる。また、データ処理機器２１から信号出力機器２２へ試験模擬信号を出力することにより、自動での出力値設定及び信号出力も可能となる。
【００２４】
本発明の第１の実施の形態によれば、予めセンサ入力の入力仕様及び工場／前回試験データを保存したＩＣタグ１９を設け、模擬処理装置２０を端子台１２に接続し、ＩＣタグ１９の情報を受信してその情報を活用するので、自動で信号模擬することが可能となる。これにより、各盤／端子台／入力点単位で図面を確認しながら試験を実施する必要がなくなり、試験の省力化と模擬箇所の確認ミスによる後戻り試験がなくなる。
【００２５】
また、人間系で設定した試験模擬信号ではないので、模擬入力ミス、計測値の転記ミスをなくすことができる。さらに、前回試験データを信号模擬のインプットファイルとして活用することにより、新たに改造した場合においても、差分の抽出信号のみ入力仕様をインプットする作業となるため、試験として人間系の管理する部分が最小化することで期間短縮が可能となる。
【００２６】
また、試験対象盤付近に模擬処理装置２０を設置すると、ＩＣタグ１９から前回データの情報を直ぐに入手して参照することが可能である。また、模擬値がファイルとして残るため、試験データそのままの模擬値を信頼性のある試験エビデンスとして残すことが可能となり、試験データのアカウンタビリティの提供が可能となる。
【００２７】
（第２の実施の形態）
図６は本発明の第２の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図である。第２の実施の形態は、図１に示した第１の実施の形態に対し、制御盤１４のコントローラ１５で入力処理された模擬結果の計測値ｂを模擬処理装置２０に入力する試験用伝送バス３１を敷設し、模擬処理装置２０は、試験模擬信号により監視装置１７に入力される模擬結果の計測値ｂを入力し、出力した試験模擬信号ａと模擬結果の計測値ｂとを比較し、その比較結果を記録するようにしたものである。図１と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００２８】
図６において、制御盤１４から模擬処理装置２０に接続するための試験用伝送バス３１が敷設されている。制御盤１４のコントローラ１５は、試験模擬信号ａを中継盤１１の端子台１２を介して入力し、その試験模擬信号ａを処理して模擬結果の計測値ｂを監視装置１７に出力するとともに模擬処理装置２０に出力する。模擬処理装置２０は制御盤１４のコントローラ１５で入力処理された模擬結果の計測値ｂを入力し、出力した試験模擬信号ａと模擬結果の計測値ｂとを比較し、その比較結果を記録する。
【００２９】
図７は本発明の第２の実施の形態における模擬処理装置２０の構成図である。図２に示した第１の実施の形態の模擬処理装置２０に対し、試験用伝送バス３１から計測値ｂを受信する計測値受信部３２、計測値受信部３２で受信した計測値ｂを処理する計測値処理部３３、計測値処理部３３で処理された計測値を格納する計測値データＤＢ３４、試験模擬データＤＢ２９に格納された試験模擬信号と計測値データＤＢ３４で格納された計測値とを比較処理する比較処理部３５、比較処理部３５での比較結果を格納する比較結果ファイル３６とが追加して設けられている。図２と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００３０】
図７において、試験用伝送バス３１を介して模擬処理装置２０に送信された計測値（模擬結果）ｂは計測値受信部３２を介して、計測値処理部３３に入力されて計測値データＤＢ３４に格納される。計測値データＤＢ３４に格納された計測値ｂと試験模擬データＤＢ２９に格納された試験模擬信号ａとを比較処理部３５で比較して、その比較結果を比較結果ファイル３６として内部保存する。
【００３１】
このように、模擬処理装置２０では試験データを模擬して試験模擬信号ａを出力するとともに、制御盤１４のコントローラ１５と接続された試験用伝送バス３１経由で伝送される計測値（模擬結果）ｂを入力する。そして、試験模擬信号ａと計測値ｂとをデータ処理機器２１の比較処理部３５で比較処理して、その比較結果を比較結果ファイル３６に保存する。
【００３２】
本発明の第２の実施の形態によれば、第１の実施の形態の効果に加え、模擬処理装置２０で試験模擬信号ａと計測値ｂとを比較し、その比較結果を保存するので、試験模擬と結果確認とを別々の２箇所で実施する必要がなくなり、１箇所で試験模擬と試験結果との確認が可能となる。また、自動での比較処理を実施することができるので、入力試験の省力化により試験時間の短縮に繋がる。
【００３３】
（第３の実施の形態）
図８は本発明の第３の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図である。第３の実施の形態は、図６に示した第２の実施の形態に対し、模擬処理装置２０は、ＩＣタグ１９に記録された入力仕様及び工場／前回試験データを入力するだけでなく、ＩＣタグ１９に最新の試験結果を保存するようにしたものである。図６と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００３４】
図８において、第２の実施の形態では、模擬処理装置２０から模擬入力した試験模擬信号と試験用伝送バス３１を介して模擬処理装置２０に送信された計測値（模擬結果）、さらには、その試験結果等についてはＩＣタグ１９へ記録処理していないが、第３の実施の形態では、模擬処理装置２０からのＩＣタグ１９への書き込み処理を追加する。これにより、毎試験完了後に最新の試験結果または試験手順をＩＣタグ１９に記録保存することが可能となる。
【００３５】
図９は本発明の第３の実施の形態における模擬処理装置２０の構成図である。図７に示した第２の実施の形態の模擬処理装置２０に対し、ＩＣタグ１９に記録保存するためのＩＣタグ保存処理部３７が追加して設けられている。図７と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００３６】
試験模擬データ処理部２８で処理され試験模擬データＤＢ２９に格納された試験模擬信号と計測値データＤＢ３４に格納された計測値とは比較処理部３５で比較され、比較結果ファイル３６に内部保存される。ＩＣタグ保存処理部３７は、比較結果ファイル３６に格納された比較結果だけでなく、入力仕様ＤＢ２６、前回試験データＤＢ２７、試験模擬データＤＢ２９、計測値データＤＢ３４に格納された各種データについても、ＩＣタグ１９に対して書き込む処理を行う。この場合、ＩＣタグ１９は再書き込み可能なＩＣタグが使用されることはもちろんである。
【００３７】
このように、模擬処理装置２０では毎試験の結果をＩＣタグ保存処理部３７でＩＣタグ１９に書き込む。これにより、次回試験時においては、ＩＣタグ１９から最新の試験データを直ぐに入手することができる。なお、データ保存時においては試験員以外が容易に書き込むことができないようにセキュリティ認証によるデータ管理を行う。
【００３８】
本発明の第３の実施の形態によれば、ＩＣタグ１９に対して模擬処理装置２０内にＩＣタグ書込み処理部３７を追加することで、最新の試験データをＩＣタグ１９に保存するので、端子台１２単位で最新試験データを管理することが可能となる。また試験データと一緒に前回の試験手順等も保存することで、前回試験データと相違があった場合には試験手順の相違についても確認することができる。また、試験データの保存処理はセキュリティ認証等によりデータとしての信頼性を確保する。
【００３９】
（第４の実施の形態）
図１０は本発明の第４の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図である。第４の実施の形態は、図８に示した第３の実施の形態に対し、過去の試験結果を保存処理するデータ管理装置３８を設け、模擬処理装置２０は試験の度にデータ管理装置３８に試験結果を出力し保存するようにしたものである。図８と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００４０】
図１０において、第３の実施の形態では、模擬処理装置２０から模擬入力した試験模擬信号と試験用伝送バス３１を介して模擬処理装置２０に送信された計測値（模擬結果）及び、その試験結果等については、ＩＣタグ１９へ記録処理するが、ＩＣタグ１９に記録可能なデータ容量は限られていることから、第４の実施の形態では、データ管理装置３８を設け、このデータ管理装置３８に毎試験のデータ履歴を常時保存する。
【００４１】
図１１は本発明の第４の実施の形態における模擬処理装置２０及びデータ管理装置３８の構成図である。第４の実施の形態における模擬処理装置２０は、図９に示した第３の実施の形態の模擬処理装置２０に対し、データ管理装置出力部３９、蓄積データ要求処理部４０、蓄積データ受信処理部４１、蓄積抽出データファイル４２が追加して設けられている。図９と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００４２】
データ管理装置出力部３９は、比較結果ファイル３６に格納された試験模擬信号と計測値との比較結果、入力仕様ＤＢ２６、前回試験データＤＢ２７、試験模擬データＤＢ２９、計測値データＤＢ３４に格納された各種データをデータ管理装置３８に出力する。
【００４３】
データ管理装置３８では、データ管理装置出力部３９から受信したデータを管理データ受信部４３で受信処理し、データ蓄積部４４で処理して蓄積ＤＢ４５に保存する。そして、蓄積データ表示処理部４６は蓄積ＤＢ４５から各画面仕様に応じた情報を抽出して表示部４７に表示出力する。また、模擬処理装置２０の蓄積データ要求処理部４０からのデータ取得要求により、データ管理装置３８の蓄積データ送受信部４８は、蓄積ＤＢ４５から該当期間（該当試験）のデータを抽出して模擬処理装置２０内の蓄積データ受信処理部４１へ送信する。蓄積データ受信処理部４１では受信データを蓄積抽出データファイル４２に保存する。
【００４４】
図１２はデータ管理装置３８の蓄積ＤＢ４５の構成図である。図１２に示すように、蓄積ＤＢ４５は、試験Ｎｏ、試験時刻、入力点番号、入力点名称、模擬値、計測値、誤差、判定精度、試験結果から構成されている。試験履歴は常時本フォーマットで保存され、各試験情報によりデータ抽出が可能となる。
【００４５】
図１３はデータ管理装置３８に接続された表示部４７に表示される画面の一例の平面図であり、図１３では過去の試験履歴データにより入力点毎の精度誤差の推移傾向や全体平均からの偏差の画面を示している。また、図１４はデータ管理装置３８に接続された表示部４７に表示される画面の他の一例の平面図であり、図１４では自動入力された試験成績書の画面を示している。表示部４７に表示された画面は必要に応じて印刷可能となっている。
【００４６】
このように、第４の実施の形態では、模擬処理装置２０から計測した試験情報をデータ管理装置３８に常時保存することによって、端子台１２単位に付属しているＩＣタグ１９上では容量の制限があるために入力仕様と最新の試験結果のみに特化して保存し、データ管理装置３８では過去の試験履歴データを継続して保存することが可能となる。また、模擬処理装置２０から過去データとの比較のため、蓄積データを取得要求することにより、データ管理装置３８から指定期間や指定入力点等のデータを抽出することも可能である。なお、データ管理装置３８内の保存データから過去の試験データを用意にデータ入手可能となるが、保存データについてはセキュリティ認証及び暗号化によりデータの透明性を確保する。
【００４７】
本発明の第４の実施の形態によれば、模擬処理装置２０から入力した試験模擬信号、制御盤１４のコントローラ１５経由で受信した測定値、及び試験結果をデータ管理装置３８にセキュリティ蓄積保存し、ユーザの要求によりトレンド表示するので、過去の精度傾向を見ることが可能となり異常状態の早期発見に寄与できる。また、試験データの改竄防止のための認証／暗号化処理により未加工のそのままのデータを保存可能とすることで信頼性のあるデータ一元管理システムが構築可能となる。試験履歴を常に保存することにより、再試験時においても試験のやり直し前の試験履歴を見ることが可能になり試験としての透明性も確保できる。
【００４８】
さらに、過去の試験履歴やデータを一旦試験装置に保存して活用することで、試験模擬用のデータ作成による試験効率の向上に繋がる。またデータ管理装置３８の蓄積データ表示処理部４６に搭載された入力試験成績書の自動作成機能及び表示／印刷機能を使用することで、人間系の作業極小化による試験効率化の効果と試験としてワンスルーしたデータとしてのアカウンタビリティが担保可能となる。
【００４９】
（第５の実施の形態）
図１５は本発明の第５の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図である。この第５の実施の形態は、図１０に示した第４の実施の形態に対し、模擬処理装置２０は、試験模擬信号を出力することに代えて、プラント運転中においてセンサで検出されたセンサ信号及び制御盤１４で処理したセンサ信号を測定して比較し、オンライン入力精度診断を行うとともに、センサ信号と切り換えてサーベイランス信号を制御盤に出力しオンラインサーベイランス診断を行うようにしたものである。図１０と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００５０】
図１５において、第４の実施の形態では、定期検査において模擬処理装置２０からの信号入力のためにセンサ１３と端子台１２の接続を切り換えて入力試験を実施するものであるが、第５の実施の形態では、プラント稼動時／停止時を選ばず、センサ１３から入力された信号をセンサ信号測定ケーブル４９を介して模擬処理装置２０に入力して電圧／電流レベル等を測定し、コントローラ１５、試験用伝送バス３１を介して模擬処理装置２０に送信された計測値（模擬結果）と比較することで、オンラインでの診断を行う。また、ＩＯユニット１６の試験用コネクタにサーベイランス用ケーブル５０を敷設することで、基板単位でのオンライン診断を行う。
【００５１】
図１６は本発明の第５の実施の形態における模擬処理装置２０の構成図である。図１１に示した第４の実施の形態と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。オンライン入力精度診断機能においては、端子台１２に接続された電圧測定機器５１でセンサ１３からの電圧レベルを測定して、データ処理機器２１内の測定データ入力部５２へ入力する。入力処理されたデータは測定データ処理部５３でＩＣタグ１９から受信した変換定数等の仕様を入力仕様ＤＢ２６から抽出して計算処理を実施し、電圧測定結果データＤＢ５４に保存する。
【００５２】
オンライン比較処理部５５は、試験用伝送バス３１経由で入力された計測値ｂを計測値データＤＢ３４から抽出して、電圧測定結果データＤＢ５４に保存された電圧レベルと比較し、比較結果をオンライン比較結果ファイル５６に内部保存する。オンライン比較結果ファイル５６は、常時、データ管理装置出力部３９からデータ管理装置３８に出力される。さらに、必要時にＩＣタグ保存処理部３７にてＩＣタグ１９に保存する。
【００５３】
また、オンラインサーベイランス診断機能においては、サーベイランス試験処理部５７内のサーベイランス用信号出力処理部５８において、サーベイランス用信号を作成し、サーベイランス用信号出力部５９を介してＩＯユニット１６に出力される。ＩＯユニット１６では試験用コネクタ６０を設けており、流動的にＩＯユニット１６の信号を試験用コネクタ６０側に切り換える。コントローラ１５で処理された信号処理結果はＩＯユニット１６、試験用コネクタ６０経由で模擬処理装置２０のサーベイランス試験処理部５７のサーベイランス用信号入力部６１に入力される。入力された信号はサーベイランス用信号レベル測定部６２へ入力され、オンライン比較処理部６３で信号出力信号と比較処理を実施した後、オンライン比較結果ファイル６４に保存される。
【００５４】
図１７はオンライン入力精度診断機能において保存処理される電圧測定結果データＤＢ５４の構成図である。電圧測定結果データＤＢ５４は、記録時刻、入力点番号、入力点名称、電圧値、計算値から構成されており、この記録時刻の計算値と試験用伝送バス３１経由で入力されるデータ内の当該タイムスタンプに相当する計測値データを比較する。
【００５５】
このように、第５の実施の形態では、端子台１２に入力された電圧レベルに対して、模擬処理装置２０内の電圧測定機器５１により測定した電圧レベルをデータ処理機器２１に入力する。入力された電圧データは入力点定数によりデータ変換されて電圧測定結果データＤＢ５４として内部保存する。一方、試験用伝送バス３１経由で入力された計測データと同じタイムスタンプのデータ比較を行い、結果についてはオンライン比較結果ファイル５６に保存される。これにより、オンラインで入力診断可能となる。また、上位系の指令等により模擬処理装置２０内のサーベイランス試験処理部５７からサーベイランス用信号を定期的に出力することが可能である。
【００５６】
本発明の第５の実施の形態によれば、模擬処理装置２０に電圧測定機器５１を追加してセンサ１３からの電圧信号を測定し、測定情報を模擬処理装置２０に取り込むことで、制御盤１４のコントローラ１５で処理された計測データとの比較処理によりオンラインで精度診断することが可能となる。また、上位系の監視装置１７からの指令等により接続切替を実施してオンラインかつ自動でのI／Oサーベイランス試験が可能となる。
【００５７】
これにより、定期検査を待たずにオンラインでの試験が実現でき、基板等の異常兆候を掴むことが可能となる。また入力試験装置を常設し、全端子台１２に接続することができれば接続切替えも不要となり、全入力点自動でのオンライン確認試験が可能となる。これにより、人間系を介さない信頼性のある試験及び試験方法の完全自動化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図。
【図２】本発明の第１の実施の形態における模擬処理装置の構成図。
【図３】本発明の第１の実施の形態における入力仕様ＤＢの詳細構成図。
【図４】本発明の第１の実施の形態における前回試験データＤＢの詳細構成図。
【図５】本発明の第１の実施の形態における試験模擬データＤＢの詳細構成図。
【図６】本発明の第２の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図。
【図７】本発明の第２の実施の形態における模擬処理装置の構成図。
【図８】本発明の第３の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図。
【図９】本発明の第３の実施の形態における模擬処理装置の構成図。
【図１０】本発明の第４の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図。
【図１１】本発明の第４の実施の形態における模擬処理装置及びデータ管理装置の構成図。
【図１２】本発明の第４の実施の形態におけるデータ管理装置の蓄積ＤＢの構成図。
【図１３】本発明の第４の実施の形態におけるデータ管理装置に接続された表示部に表示される画面の一例の平面図。
【図１４】本発明の第４の実施の形態におけるデータ管理装置に接続された表示部に表示される画面の他の一例の平面図。
【図１５】本発明の第５の実施の形態に係わる入力試験装置の構成図。
【図１６】本発明の第５の実施の形態における模擬処理装置の構成図。
【図１７】本発明の第５の実施の形態におけるオンライン入力精度診断機能において保存処理される電圧測定結果データＤＢの構成図。
【図１８】従来の入力試験装置の説明図。
【符号の説明】
【００５９】
１１…中継盤、１２…端子台、１３…センサ、１４…制御盤、１５…コントローラ、１６…ＩＯユニット、１７…監視装置、１８…電圧／電流発生器、１９…ＩＣタグ、２０…模擬処理装置、２１…データ処理機器、２２…信号出力機器、２３…ＩＣタグデータ受信部、２４…ＩＣタグデータ処理部、２５…試験データ保存部、２６…入力仕様ＤＢ、２７…前回試験データＤＢ、２８…試験模擬データ処理部、２９…試験模擬データＤＢ、３０…試験模擬指令出力部、３１…試験用伝送バス、３２…計測値受信部、３３…計測値処理部、３４…計測値データＤＢ、３５…比較処理部、３６…比較結果ファイル、３７…ＩＣタグ保存処理部、３８…データ管理装置、３９…データ管理装置出力部、４０…蓄積データ要求処理部、４１…蓄積データ受信処理部、４２…蓄積抽出データファイル、４３…管理データ受信部、４４…データ蓄積部、４５…蓄積ＤＢ、４６…蓄積データ表示処理部、４７…表示部、４８…蓄積データ送受信部、４９…センサ信号測定ケーブル、５０…サーベイランス用ケーブル、５１…電圧測定機器、５２…測定データ入力部、５３…測定データ処理部、５４…電圧測定結果データＤＢ、５５…オンライン比較処理部、５６…オンライン比較結果ファイル、５７…サーベイランス試験処理部、５８…サーベイランス用信号出力処理部、５９…サーベイランス用信号出力部、６０…試験用コネクタ、６１…サーベイランス用信号入力部、６２…サーベイランス用信号レベル測定部、６３…オンライン比較処理部、６４…オンライン比較結果ファイル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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