(57)【要約】【課題】点検口の縁部と点検蓋の隙間から電磁波及び筐体内部のガスが漏洩しないようにしたマイクロ波処理装置を提供すること。【解決手段】処理対象物を導入する筐体１と、この筐体１の適所に配設したマイクロ波照射機構２とを備え、筐体１に点検蓋４を備えた点検口３を形成したマイクロ波処理装置において、点検口３の縁部と点検蓋４との間にシール部材５を配し、かつ、点検口３の縁部と点検蓋４とをメタルタッチ構造とする。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
処理対象物を導入する筐体と、該筐体の適所に配設したマイクロ波照射機構とを備え、筐体に点検蓋を備えた点検口を形成したマイクロ波処理装置において、点検口の縁部と点検蓋との間にシール部材を配し、かつ、点検口の縁部と点検蓋とをメタルタッチ構造としたことを特徴とするマイクロ波処理装置。
【請求項２】
点検口の縁部と点検蓋とを直接メタルタッチさせることを特徴とする請求項１記載のマイクロ波処理装置。
【請求項３】
シール部材がメタル系シール部材からなることを特徴とする請求項１又は２記載のマイクロ波処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、マイクロ波処理装置に関し、特に、マイクロ波照射機構を使用したマイクロ波処理装置の改良に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、マイクロ波照射機構を使用したマイクロ波処理装置としては、電子レンジのほか、本件出願人が先に提案した有害物質のマイクロ波処理装置（特願２００５−３５３９３６）等がある。
【０００３】
ところで、容量の大きなマイクロ波処理装置においては、筐体に点検蓋を備えた点検口を形成するようにしている。
通常、点検口と点検蓋とは、点検口の縁部と点検蓋とを直接メタルタッチさせるメタルタッチ構造を採用することにより、点検口の縁部と点検蓋の隙間から電磁波が漏洩しないようにしている。
【０００４】
しかしながら、点検口の縁部と点検蓋とをメタルタッチ構造とした場合、電磁波の漏洩は防止できる反面、本件出願人が先に提案した有害物質のマイクロ波処理装置のように、処理時に発生する蒸気等によって筐体内部の圧力が上昇するマイクロ波処理装置においては、点検口の縁部と点検蓋の微小な隙間から筐体内部のガスが漏洩しやすくなるという問題があった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、上記従来のマイクロ波処理装置の有する問題点に鑑み、点検口の縁部と点検蓋の隙間から電磁波及び筐体内部のガスが漏洩しないようにしたマイクロ波処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、本発明のマイクロ波処理装置は、処理対象物を導入する筐体と、該筐体の適所に配設したマイクロ波照射機構とを備え、筐体に点検蓋を備えた点検口を形成したマイクロ波処理装置において、点検口の縁部と点検蓋との間にシール部材を配し、かつ、点検口の縁部と点検蓋とをメタルタッチ構造としたことを特徴とする。
【０００７】
この場合において、点検口の縁部と点検蓋とを直接メタルタッチさせることができる。
【０００８】
また、シール部材にメタル系シール部材を用いることができる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明のマイクロ波処理装置によれば、処理対象物を導入する筐体と、該筐体の適所に配設したマイクロ波照射機構とを備え、筐体に点検蓋を備えた点検口を形成したマイクロ波処理装置において、点検口の縁部と点検蓋との間にシール部材を配し、かつ、点検口の縁部と点検蓋とをメタルタッチ構造としたことにより、メタルタッチ構造によって、点検口の縁部と点検蓋の隙間から電磁波が漏洩しないようにしながら、点検口の縁部と点検蓋との間に配したシール部材によって点検口の縁部と点検蓋の隙間から筐体内部のガスが漏洩しないようにすることができる。
【００１０】
また、点検口の縁部と点検蓋とを直接メタルタッチさせることにより、点検口の縁部と点検蓋の隙間から電磁波が確実に漏洩しないようにすることができる。
【００１１】
また、シール部材にメタル系シール部材を用いることにより、高温のガスに対する耐久性を向上することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明のマイクロ波処理装置の実施の形態を、図面に基づいて説明する。
【実施例１】
【００１３】
図１〜図２に、本発明のマイクロ波処理装置の一実施例を示す。
【００１４】
このマイクロ波処理装置は、有機ハロゲン化合物等の有害物質の処理を行うためのもので、有機ハロゲン化合物等の有害物質が付着・吸着した固体（例えば、集塵灰等の粉体、汚染土壌、川底の底質等）を導入する密閉容器として構成した筐体１と、この筐体１内に導入した有害物質が付着・吸着した固体にマイクロ波を照射する、筐体１の適所に配設したマイクロ波照射機構２とを備え、筐体１の適所に点検蓋４を備えた点検口３を形成するようにしている。
【００１５】
この場合において、図２に示すように、点検口３の縁部、本実施例においては、点検口３のフランジ部３１と点検蓋４との間にシール部材５を配し、かつ、点検口３のフランジ部３１と点検蓋４とをメタルタッチ構造となるようにしている。
【００１６】
このため、本実施例においては、点検口３のフランジ部３１（及び／又はフランジ部３１と対向する点検蓋４）に、周溝状のシール部材５の嵌入溝３２を形成し、シール部材５をこの嵌入溝３２に嵌入した状態で、任意の締結部材６を介して、点検口３のフランジ部３１に点検蓋４を装着したとき、シール部材５が嵌入溝３２に完全に入り込んで、点検口３のフランジ部３１と点検蓋４とが直接メタルタッチするようにし、これにより、点検口３のフランジ部３１と点検蓋４の隙間から電磁波が漏洩しないようにしている。
この場合、嵌入溝３２に完全に入り込んだシール部材５によって、点検口３のフランジ部３１と点検蓋４の隙間からのガスの漏洩を確実に防止できるように、嵌入溝３２とシール部材５の寸法及び形状を決定するようにする。
【００１７】
また、シール部材には、Ｏリング等の汎用のシール部材を用いることもできるが、高温のガスに対する耐久性を有するメタル系、シリコン樹脂系、フッ素樹脂系等のシール部材を好適に用いることができる。
特に、ステンレススチール製、インコネル製等のメタル系のシール部材、例えば、メタル中空Ｏリング（ニチアス社製）を用いることにより、高温のガスに対する耐久性を向上することができることに加え、点検口３のフランジ部３１と点検蓋４とが直接メタルタッチしない場合でも、シール部材自体が電磁波の漏洩を防止する機能を有しているため、点検口３のフランジ部３１と点検蓋４との、シール部材を介した、間接的なメタルタッチ構造を実現することができる。
【００１８】
なお、本実施例においては、点検口３を筐体１の下部に形成するようにしたが、点検口３を形成する位置は、点検口３の用途等に応じて、適宜変更することができる。
また、点検口３の形状は、本実施例の円形に限定されず、矩形等、任意の形状とすることができる。
【００１９】
また、点検蓋４は、本実施例においては、点検口３のフランジ部３１とメタルタッチするように、ステンレススチール製等の金属製のものを用いているが、例えば、ガラス板とパンチングメタル等の多孔金属板とを積層配置することにより電磁波の漏洩防止機能と透視機能とを備えた部材を用いることによって、点検蓋４に点検窓の機能を持たせることもでき、本発明はこれを排除しないものである。
【００２０】
このマイクロ波処理装置は、処理対象物を導入する筐体１と、この筐体１の適所に配設したマイクロ波照射機構２とを備え、筐体１に点検蓋４を備えた点検口３を形成したマイクロ波処理装置において、点検口３の縁部と点検蓋４との間にシール部材５を配し、かつ、点検口３の縁部と点検蓋４とをメタルタッチ構造とすることによって、点検口３の縁部と点検蓋４の隙間から電磁波が漏洩しないようにしながら、点検口３の縁部と点検蓋４との間に配したシール部材５によって点検口３の縁部と点検蓋４の隙間から筐体１内部のガスが漏洩しないようにすることができ、安全性の高いマイクロ波処理装置とすることができる。
【００２１】
以上、本発明のマイクロ波処理装置について、その実施例に基づいて説明したが、本発明は上記実施例に記載した構成に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において適宜その構成を変更することができるものである。
【産業上の利用可能性】
【００２２】
本発明のマイクロ波処理装置は、点検口の縁部と点検蓋の隙間から電磁波及び筐体内部のガスが漏洩しないようにすることができる特性を有していることから、有機ハロゲン化合物等の有害物質の処理を行うためのものを始めとするマイクロ波処理装置に広く用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明のマイクロ波処理装置の一実施例を示し、（ａ）は正面図、（ｂ）は平面図である。
【図２】点検蓋を備えた点検口を示す断面図で、（ａ）は全体の断面図、（ｂ）は要部の断面図である。
【符号の説明】
【００２４】
１  筐体
２  マイクロ波照射機構
３  点検口
３１  点検口のフランジ部（点検口の縁部）
４  点検蓋
５  シール部材
【図１】
2008282765.tif 000003
【図２】
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