(57)【要約】【課題】  複数の記録層を有する光ディスクにおいて、指定された記録層を高精度で検出する。【解決手段】  コントローラ６０は、対物レンズ２１を変位させて、複数の基準レベルのそれぞれに対してＳ字検出回路３７によるＳ字波形信号の検出数を求め、複数の基準レベルごとの検出数に基づいて、複数の基準レベルとＳ字波形信号の振幅値との大小関係を判別し、複数の基準レベルを用いてＳ字検出回路３７のＳ字検出レベル及び信号抽出回路４０のＳ字波形信号を検出するための２値化回路のスライスレベルを設定する。そして、コントローラ６０は、Ｓ字検出回路３７及び信号抽出回路４０によって検出されるＳ字波形信号の数をカウントし、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層に対応した値になったことを条件に、指定された記録層を検出する。【選択図】  図１
2008287776.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を出射するレーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光を光ディスクの記録層に合焦させるための対物レンズを含むとともに光ディスクの記録層からの反射光を導出する光学手段と、
前記光学手段によって導出された反射光を受光して同受光した反射光に応じた検出信号を出力するフォトディテクタと、
前記対物レンズを駆動して同対物レンズをレーザ光の光軸方向に変位させるアクチュエータとを備えた光ディスクの記録層検出装置において、
前記フォトディテクタから出力された検出信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段と、
前記対物レンズを光軸方向に変位させたとき、前記フォーカスエラー信号生成手段によって生成されたフォーカスエラー信号の瞬時値が検出レベルを越えたことを条件にフォーカスエラー信号中のＳ字波形信号を検出するＳ字検出手段と、
前記Ｓ字検出手段における検出レベルを複数の基準レベルにそれぞれ順次設定するとともに、前記アクチュエータを駆動制御して前記設定された各基準レベルごとに前記対物レンズを最下点位置から最上点位置まで変位させ又は最上点位置から最下点位置まで変位させ、前記各基準レベルごとに前記Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数を検出するレベル対応Ｓ字検出手段と、
前記レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されて前記複数の基準レベルにそれぞれ対応したＳ字波形信号の数に基づいて前記複数の基準レベルと前記Ｓ字波形信号の振幅値との大小関係を判別し、前記判別結果に応じて前記複数の基準レベルを用いて前記Ｓ字検出手段の検出レベルを設定する検出レベル設定手段と、
前記検出レベル設定手段によって前記Ｓ字検出手段の検出レベルが設定された状態で、前記アクチュエータを駆動制御して前記対物レンズを最下点位置から最上点位置に向かって変位させ又は最上点位置から最下点位置に向かって変位させながら、前記Ｓ字検出手段によって検出されるＳ字波形信号の数をカウントし、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層に対応した値になったことを条件に、指定された記録層を検出する指定記録層検出手段とを設けた光ディスクの記録層検出装置。
【請求項２】
請求項１に記載した光ディスクの記録層検出装置において、
前記検出レベル設定手段は、前記複数の基準レベルのうちの所定の一つの基準レベルに対して前記レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数よりも「１」だけ大きいとき、前記レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数よりも「１」だけ大きな最大の基準レベルよりも小さな値を前記Ｓ字検出手段の検出レベルとして設定し、かつ
前記指定記録層検出手段は、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層を示す値よりも「１」だけ大きな値になったことを条件に、指定された記録層を検出する光ディスクの記録層検出装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載した光ディスクの記録層検出装置において、
前記検出レベル設定手段は、前記レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数よりも「１」だけ大きな最大の基準レベルと、前記レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数に等しい最大の基準レベルとのレベル差が所定値以上であるとき、前記両最大の基準レベルの間の値を前記Ｓ字検出手段の検出レベルとして設定し、かつ
前記指定記録層検出手段は、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層を示す値になったことを条件に、指定された記録層を検出する光ディスクの記録層検出装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のうちのいずれか一つに記載した光ディスクの記録層検出装置において、さらに、
前記アクチュエータを駆動制御して前記対物レンズを最下点位置から最上点位置に向かって変位させ又は最上点位置から最下点位置に向かって変位させ、前記フォーカスエラー信号生成手段によって生成されたフォーカスエラー信号中に含まれるＳ字波形信号の最大振幅値又はその近傍値を検出して、同検出した最大振幅値又はその近傍値を最大基準レベルとして設定する最大基準レベル設定手段と、
前記最大基準レベル設定手段によって設定された最大基準レベルを所定の数で分割して、前記複数の基準レベルを設定する複数基準レベル設定手段とを設けた光ディスクの記録層検出装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のうちのいずれか一つに記載した光ディスクの記録層検出装置において、さらに、
前記レベル対応Ｓ字検出手段によって検出された前記複数の基準レベルに対応したＳ字波形信号の数の変化に基づいて、同複数の基準レベルに対応したＳ字波形信号の数に光ディスクのカバー層によるＳ字波形信号が含まれているかを判定し、前記判定結果に応じて光ディスクの記録層の数を検出する記録層数検出手段を設けた光ディスクの記録層検出装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のうちのいずれか一つに記載した光ディスクの記録層検出装置において、さらに、
前記フォーカスエラー信号生成手段により生成されたフォーカスエラー信号に基づいてレーザ光が光ディスクの複数の記録層のいずれかに合焦し続けるように前記アクチュエータを駆動制御するフォーカスサーボ手段と、
前記指定記録層検出手段により指定された記録層が検出されたとき、前記指定記録層検出手段による前記アクチュエータの駆動制御を停止し、前記フォーカスサーボ手段を作動させて光ディスクの前記指定された記録層にレーザ光を合焦させ続けるフォーカス引込み手段とを備えた光ディスクの記録層検出装置。
【請求項７】
請求項１乃至５のうちのいずれか一つに記載した光ディスクの記録層検出装置において、さらに、
前記指定記録層検出手段により指定された記録層が検出されたとき、同指定された記録層によるＳ字波形信号を、Ｓ字波形信号を解析するための信号解析装置に出力するＳ字波形信号出力手段を備えた光ディスクの記録層検出装置。
【請求項８】
請求項７に記載した光ディスクの記録層検出装置において、
前記Ｓ字検出手段は、対物レンズを光軸方向に変位させたとき、前記フォーカスエラー信号生成手段によって生成されたフォーカスエラー信号の瞬時値が検出レベルを越えたことを条件にフォーカスエラー信号中のＳ字波形信号を検出する第１及び第２のＳ字検出手段からなり、
前記レベル対応Ｓ字検出手段は、前記第1のＳ字検出手段における検出レベルを複数の基準レベルにそれぞれ順次設定するとともに、前記アクチュエータを駆動制御して前記設定された各基準レベルごとに前記対物レンズを最下点位置から最上点位置まで変位させ又は最上点位置から最下点位置まで変位させ、前記各基準レベルごとに前記第1のＳ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数を検出し、
前記検出レベル設定手段は、前記レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数に基づいて、前記複数の基準レベルを用いて前記第２のＳ字検出手段の検出レベルを設定し、かつ
前記指定記録層検出手段は、前記検出レベル設定手段によって前記第２のＳ字検出手段の検出レベルが設定された状態で、前記アクチュエータを駆動制御して前記対物レンズを最下点位置から最上点位置に向かって変位させ又は最上点位置から最下点位置に向かって変位させながら、前記第２のＳ字検出手段によって検出されるＳ字波形信号の数をカウントする光ディスクの記録層検出装置。
【請求項９】
レーザ光を出射するレーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光を光ディスクの記録層に合焦させるための対物レンズを含むとともに光ディスクの記録層からの反射光を導出する光学手段と、
前記光学手段によって導出された反射光を受光して同受光した反射光に応じた検出信号を出力するフォトディテクタと、
前記対物レンズを駆動して同対物レンズをレーザ光の光軸方向に変位させるアクチュエータと、
前記フォトディテクタから出力された検出信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段と、
前記対物レンズを光軸方向に変位させたとき、前記フォーカスエラー信号生成手段によって生成されたフォーカスエラー信号の瞬時値が検出レベルを越えたことを条件にフォーカスエラー信号中のＳ字波形信号を検出するＳ字検出手段と
を備えた装置に適用される光ディスクの記録層検出方法であって、
前記Ｓ字検出手段における検出レベルを複数の基準レベルにそれぞれ順次設定するとともに、前記アクチュエータを駆動制御して前記設定された各基準レベルごとに前記対物レンズを最下点位置から最上点位置まで変位させ又は最上点位置から最下点位置まで変位させ、前記各基準レベルごとに前記Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数を検出するレベル対応Ｓ字検出過程と、
前記レベル対応Ｓ字検出過程によって検出されて前記複数の基準レベルにそれぞれ対応したＳ字波形信号の数に基づいて前記複数の基準レベルと前記Ｓ字波形信号の振幅値との大小関係を判別し、前記判別結果に応じて前記複数の基準レベルを用いて前記Ｓ字検出手段の検出レベルを設定する検出レベル設定過程と、
前記検出レベル設定過程によって前記Ｓ字検出手段の検出レベルが設定された状態で、前記アクチュエータを駆動制御して前記対物レンズを最下点位置から最上点位置に向かって変位させ又は最上点位置から最下点位置に向かって変位させながら、前記Ｓ字検出手段によって検出されるＳ字波形信号の数をカウントし、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層に対応した値になったことを条件に、指定された記録層を検出する指定記録層検出過程とを有する光ディスクの記録層検出方法。
【請求項１０】
請求項９に記載した光ディスクの記録層検出方法において、
前記検出レベル設定過程は、前記複数の基準レベルのうちの所定の一つの基準レベルに対して前記レベル対応Ｓ字検出過程によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数よりも「１」だけ大きいとき、前記レベル対応Ｓ字検出過程によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数よりも「１」だけ大きな最大の基準レベルよりも小さな値を前記Ｓ字検出手段の検出レベルとして設定し、かつ
前記指定記録層検出過程は、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層を示す値よりも「１」だけ大きい値になったことを条件に、指定された記録層を検出する光ディスクの記録層検出方法。
【請求項１１】
請求項９又は１０に記載した光ディスクの記録層検出方法において、
前記検出レベル設定過程は、前記レベル対応Ｓ字検出過程によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数よりも「１」だけ大きな最大の基準レベルと、前記レベル対応Ｓ字検出過程によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数に等しい最大の基準レベルとのレベル差が所定値以上であるとき、前記両最大の基準レベルの間の値を前記Ｓ字検出手段の検出レベルとして設定し、かつ
前記指定記録層検出過程は、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層を示す値になったことを条件に、指定された記録層を検出する光ディスクの記録層検出方法。
【請求項１２】
請求項９乃至１１のうちのいずれか一つに記載した光ディスクの記録層検出方法において、さらに、
前記アクチュエータを駆動制御して前記対物レンズを最下点位置から最上点位置に向かって変位させ又は最上点位置から最下点位置に向かって変位させ、前記フォーカスエラー信号生成手段によって生成されたフォーカスエラー信号中に含まれるＳ字波形信号の最大振幅値又はその近傍値を検出して、同検出した最大振幅値又はその近傍値を最大基準レベルとして設定する最大基準レベル設定過程と、
前記最大基準レベル設定過程によって設定された最大基準レベルを所定の数で分割して、前記複数の基準レベルを設定する複数基準レベル設定過程と
を有する光ディスクの記録層検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の記録層を有する光ディスクにおいて指定された記録層を検出する光ディスクの記録層検出装置及び記録層検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、レーザ光を光ディスクの記録層に照射し、光ディスクにデータを記録し、又は光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスクの記録再生装置はよく知られている。近年、光ディスクに記録可能なデータ量を増加させるため、複数の記録層が形成された光ディスクが増加する傾向にあり、また今後形成される記録層の数も増加することが予想される。複数の記録層が形成された光ディスクにおいて、データを記録し又は再生するためには、記録又は再生の開始の段階で、レーザ光が指定された記録層に正確に合焦するようにフォーカス引込みを行う必要がある。
【０００３】
レーザ光を指定した記録層に合焦させる方法は、例えば下記特許文献１に示されているように、対物レンズをレーザ光の光軸方向に変位させ、光ディスクからの反射光に基づいて生成されたフォーカスエラー信号中のＳ字波形信号を検出してその数をカウントし、カウント値が指定した記録層に対応する値になったとき、レーザ光が指定した記録層に合焦したとしてフォーカス引込みを行う方法が使われている。具体的には、図１３(Ａ)(Ｂ)に示すように対物レンズをレーザ光の光軸方向に変位させると、図１３(Ｃ)に示すように、レーザ光の焦点位置が記録層の位置及びカバー層表面に一致したときＳ字波形信号が現れる。そして、このＳ字波形信号は、図１３(Ｃ)に示すように、Ｓ字波形信号の瞬時値が所定の検出レベルを超えた後、同所定の検出レベルを再び横切ったことにより検出される。前記所定の検出レベルは、記録層に加えてカバー層によるＳ字波形信号も検出されるレベルに設定される場合（図１３(Ｃ)の一点鎖線参照）と、カバー層によるＳ字波形信号は検出されずに記録層によるＳ字波形信号のみが検出されるレベルに設定される場合（図１３(Ｃ)の破線参照）がある。
【特許文献１】特開平８−１８５６３３号公報
【０００４】
しかしながら、記録層の数が増加するに従い、また対物レンズの開口数（ＮＡ）を上げて光スポットの径をより小さくするに従い、複数の記録層による複数のＳ字波形信号の振幅はそれぞれ異なるようになる。また、カバー層及び記録層によるＳ字波形信号の振幅は光ディスクの種類、光ピックアップの構造などにより大きく異なっている。このために、次の(１)〜(４)のような問題がある。
(１)カバー層によるＳ字波形信号が検出されないように検出レベルを高く設定しておいても、カバー層によるＳ字波形信号の振幅が大きいために、カバー層によるＳ字波形信号が検出されてしまい、指定した記録層の検出を誤る（図１７(Ａ)参照）。
(２)記録層によるＳ字波形信号の振幅が検出レベルを超えないために、記録層によるＳ字波形信号が検出されず、指定した記録層の検出を誤る（図１７(Ｂ)(Ｃ)参照）。
(３)カバー層によるＳ字波形信号が検出されるように検出レベルを低く設定しておいても、カバー層によるＳ字波形信号の振幅が検出レベルを超えないために、カバー層によるＳ字波形信号が検出されず、指定した記録層の検出を誤る（図１７(Ｄ)参照）。
(４)カバー層によるＳ字波形信号が検出されるように検出レベルを低く設定している場合に、ノイズの瞬時値が検出レベルを超えてＳ字波形信号として検出されていまい、指定した記録層の検出を誤る（図１７(Ｅ)参照）。
【０００５】
また、従来から、光ディスク及び光ピックアップの検査において、フォーカスエラー信号中のＳ字波形信号を評価することも行われている。この場合、下記特許文献２に示されているように、全てのＳ字波形信号に関するディジタルデータをコンピュータ内に取込んで、同取込んだディジタルデータを評価するようにしている。しかし、この従来の装置においては、特定の記録層のＳ字波形信号を評価したい場合でも、全てのＳ字波形信号に関するディジタルデータをコンピュータ内に取込むことになり、前記評価に多くの時間が必要となる。また、このような従来の装置においても、特定の記録層を指定しようとする場合には、前記(１)〜(４)のような問題が生じる。
【特許文献２】特開２００６−７９６９８号公報
【発明の開示】
【０００６】
本発明は上記問題に対処するためなされたもので、その目的は、複数の記録層を有する光ディスクにおいて、記録層によるＳ字波形信号の振幅及びカバー層によるＳ字波形信号の振幅の大小によらず、指定された記録層を高精度で検出できる光ディスクの記録層検出装置及び記録層検出方法を提供することにある。
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明は、レーザ光を出射するレーザ光源（２１）と、レーザ光源から出射されたレーザ光を光ディスクの記録層に合焦させるための対物レンズ（２５）を含むとともに光ディスクの記録層からの反射光を導出する光学手段（２２〜２７）と、光学手段によって導出された反射光を受光して同受光した反射光に応じた検出信号を出力するフォトディテクタ（２８）と、対物レンズを駆動して同対物レンズをレーザ光の光軸方向に変位させるアクチュエータ（２９）とを備えた光ディスクの記録層検出装置において、フォトディテクタから出力された検出信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段（３４）と、対物レンズを光軸方向に変位させたとき、フォーカスエラー信号生成手段によって生成されたフォーカスエラー信号の瞬時値が検出レベルを越えたことを条件にフォーカスエラー信号中のＳ字波形信号を検出するＳ字検出手段（３７，４１〜４５）と、Ｓ字検出手段における検出レベルを複数の基準レベルにそれぞれ順次設定するとともに、アクチュエータを駆動制御して前記設定された各基準レベルごとに対物レンズを最下点位置から最上点位置まで変位させ又は最上点位置から最下点位置まで変位させ、各基準レベルごとにＳ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数を検出するレベル対応Ｓ字検出手段（３６，Ｓ４００〜Ｓ４１７）と、レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されて複数の基準レベルにそれぞれ対応したＳ字波形信号の数に基づいて複数の基準レベルとＳ字波形信号の振幅値との大小関係を判別し、前記判別結果に応じて複数の基準レベルを用いてＳ字検出手段の検出レベルを設定する検出レベル設定手段（Ｓ６０１〜Ｓ６１９，Ｓ６４１〜Ｓ６５２，Ｓ７０１〜Ｓ７２１，Ｓ７３０〜Ｓ７４０）と、検出レベル設定手段によってＳ字検出手段の検出レベルが設定された状態で、アクチュエータを駆動制御して対物レンズを最下点位置から最上点位置に向かって変位させ又は最上点位置から最下点位置に向かって変位させながら、Ｓ字検出手段によって検出されるＳ字波形信号の数をカウントし、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層に対応した値になったことを条件に、指定された記録層を検出する指定記録層検出手段（３６，Ｓ６２１〜Ｓ６２６，Ｓ６５５〜Ｓ６６１，Ｓ８０１〜Ｓ８０９，Ｓ８２０〜Ｓ８２４）とを設けたことにある。
【０００８】
上記のように構成した本発明においては、レベル対応Ｓ字検出手段が、複数の基準レベルのそれぞれに対してＳ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数を検出し、検出レベル設定手段が、複数の基準レベルに対応したＳ字波形信号の数に基づいて複数の基準レベルを用いてＳ字検出手段の検出レベルを設定する。そして、指定記録層検出手段が、対物レンズを最下点位置から最上点位置に向かって変位させ又は最上点位置から最下点位置に向かって変位させながら、Ｓ字検出手段によって検出されるＳ字波形信号の数をカウントし、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層に対応した値になったことを条件に、指定された記録層を検出する。これにより、Ｓ字検出手段の検出レベルがカバー層及び複数の記録層によるＳ字波形信号の振幅に応じて適切な値に設定され、指定された記録層が高精度で検出される。
【０００９】
また、この場合、検出レベル設定手段は、例えば、複数の基準レベルのうちの所定の一つの基準レベルに対してレベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数よりも「１」だけ大きいとき、レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数よりも「１」だけ大きな最大の基準レベルよりも小さな値（例えば、最大の基準レベルの半分の値）をＳ字検出手段の検出レベルとして設定し、かつ指定記録層検出手段は、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層を示す値よりも「１」だけ大きな値になったことを条件に、指定された記録層を検出する。これは、カバー層及び複数の記録層によるＳ字波形信号の振幅が所定の基準レベルよりも大きい場合の検出レベルの設定に関係し、この場合、指定された記録層の検出のための検出レベルはカバー層及び複数の記録層によるＳ字波形信号の振幅よりも小さく設定されるが、この検出レベルはできる限り大きな値に設定されるので、ノイズの影響を受けることもなく、指定された記録層が確実に検出される。
【００１０】
また、検出レベル設定手段は、例えば、レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数よりも「１」だけ大きな最大の基準レベルと、レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数が光ディスクの記録層の数に等しい最大の基準レベルとのレベル差が所定値以上（例えば、２以上）であるとき、前記両最大の基準レベルの間の値（例えば、両最大の基準レベルの中間値よりも若干大きな値）をＳ字検出手段の検出レベルとして設定し、かつ指定記録層検出手段は、前記カウントされたＳ字波形信号の数が指定された記録層を示す値になったことを条件に、指定された記録層を検出する。これは、カバー層によるＳ字波形信号の振幅が複数の記録層によるＳ字波形信号の振幅に比べて小さい場合に関係し、この場合も、検出レベルはできる限り大きな値に設定されるので、カバー層及び記録層によるＳ字波形信号の振幅と検出レベルとの比較において大小を誤ることがないと同時にノイズの影響を受けることもなく、指定された記録層が確実に検出される。
【００１１】
また、前記本発明の構成に、さらに、アクチュエータを駆動制御して対物レンズを最下点位置から最上点位置に向かって変位させ又は最上点位置から最下点位置に向かって変位させ、フォーカスエラー信号生成手段によって生成されたフォーカスエラー信号中に含まれるＳ字波形信号の最大振幅値又はその近傍値を検出して、同検出した最大振幅値又はその近傍値を最大基準レベルとして設定する最大基準レベル設定手段（Ｓ２００〜Ｓ２３３）と、最大基準レベル設定手段によって設定された最大基準レベルを所定の数で分割して、複数の基準レベルを設定する複数基準レベル設定手段（Ｓ３００〜Ｓ３０６）とを設けるとよい。これによれば、複数の基準レベルを予め用意しておく必要がないと同時に、複数の基準レベルがフォーカスエラー信号中に含まれるＳ字波形信号の最大振幅値に応じて適切に設定されるようになる。
【００１２】
また、前記本発明の構成に、さらに、レベル対応Ｓ字検出手段によって検出された複数の基準レベルに対応したＳ字波形信号の数の変化に基づいて、同複数の基準レベルに対応したＳ字波形信号の数に光ディスクのカバー層によるＳ字波形信号が含まれているかを判定し、判定結果に応じて光ディスクの記録層の数を検出する記録層数検出手段（Ｓ５００〜Ｓ５１９）を設けるとよい。これによれば、ユーザが光ディスクの記録層の数を知らなくて入力できなかったり、光ディスクの識別コードに記録層の数が含まれていなかったりして、記録層の数が不明な場合でも、記録層の数が自動的に検出される。その結果、記録層の数が不明でも、指定された記録層を的確に検出できる。
【００１３】
また、前記本発明の構成に、さらに、フォーカスエラー信号生成手段により生成されたフォーカスエラー信号に基づいてレーザ光が光ディスクの複数の記録層のいずれかに合焦し続けるようにアクチュエータを駆動制御するフォーカスサーボ手段（３５）と、指定記録層検出手段により指定された記録層が検出されたとき、指定記録層検出手段によるアクチュエータの駆動制御を停止し、前記フォーカスサーボ手段を作動させて光ディスクの前記指定された記録層にレーザ光を合焦させ続けるフォーカス引込み手段（Ｓ６２７，Ｓ６２８，Ｓ６６２，Ｓ６６３）とを備えるとよい。これによれば、指定された記録層が検出された後、同記録層に自動的にフォーカス引込みがなされるので、指定された記録層へのデータの記録又は同記録層に記録されたデータの再生において、記録又は再生を行う記録層を誤ることがなくなる。
【００１４】
また、前記本発明の構成に、さらに、指定記録層検出手段により指定された記録層が検出されたとき、同指定された記録層によるＳ字波形信号を、Ｓ字波形信号を解析するための信号解析装置（５０）に出力するＳ字波形信号出力手段（４５〜４７，Ｓ８１０〜Ｓ８１２，Ｓ８２５〜Ｓ８２７）を備えるとよい。この場合、例えば、Ｓ字検出手段は、対物レンズを光軸方向に変位させたとき、フォーカスエラー信号生成手段によって生成されたフォーカスエラー信号の瞬時値が検出レベルを越えたことを条件にフォーカスエラー信号中のＳ字波形信号を検出する第１及び第２のＳ字検出手段からなり、レベル対応Ｓ字検出手段は、第1のＳ字検出手段における検出レベルを複数の基準レベルにそれぞれ順次設定するとともに、アクチュエータを駆動制御して前記設定された各基準レベルごとに対物レンズを最下点位置から最上点位置まで変位させ又は最上点位置から最下点位置まで変位させ、前記各基準レベルごとに第1のＳ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数を検出し、検出レベル設定手段は、レベル対応Ｓ字検出手段によって検出されたＳ字波形信号の数に基づいて、複数の基準レベルを用いて第２のＳ字検出手段の検出レベルを設定し、かつ指定記録層検出手段は、検出レベル設定手段によって第２のＳ字検出手段の検出レベルが設定された状態で、アクチュエータを駆動制御して対物レンズを最下点位置から最上点位置に向かって変位させ又は最上点位置から最下点位置に向かって変位させながら、第２のＳ字検出手段によって検出されるＳ字波形信号の数をカウントする。これによれば、指定された記録層が検出された後、同記録層によるＳ字波形信号が信号解析装置に自動的に入力されるので、指定された記録層によるＳ字波形信号の評価にとって便利となる。
【００１５】
さらに、本発明の実施にあたっては、光ディスクの記録層検出装置の発明に限定されることなく、光ディスクの記録層検出装置に適用される記録層検出方法及びコンピュータプログラムの発明としても実施し得るものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
本発明の一実施形態について図面を用いて説明すると、図１は、本発明の光ディスクの記録層検出装置を含む光ディスクの検査装置の全体概略図である。この検査装置は、特に複数の記録層を有する光ディスクＤＫを検査するのに適している。光ディスクＤＫは、図１２にその断面図で示すように、複数の記録層Ｎ１〜Ｎｚを有する。この光ディスクＤＫにおいては、レーザ光の入射側表面及び裏面が透明な保護層によって覆われているとともに、記録層Ｎ１〜Ｎｚの各間にも透明な保護層がそれぞれ設けられている。以下の説明では、レーザ光の入射側表面をカバー層Ｎ０とするとともに、このカバー層Ｎ０から記録層Ｎｚに向かう方向を下層側といい、その逆を上層側という。なお、本実施形態では、記録層Ｎ１〜Ｎｚの数すなわち記録層数ＬＮＯは「４」とするが、この記録層数ＬＮＯは「２」以上の整数であれば、いかなる整数でもよい。
【００１７】
ａ．構成例
以下、この光ディスクＤＫの検査装置の構成例について説明する。検査装置は、光ディスクＤＫを回転させる回転装置１０と、光ディスクＤＫにレーザ光を照射するとともに同照射による光ディスクＤＫからの反射光を受光する光ピックアップ２０とを備えている。回転装置１０は、回転軸１１ａを回転させてターンテーブル１２を回転させるスピンドルモータ１１を備えている。ターンテーブル１２には、その上面に光ディスクＤＫが着脱可能に組み付けられるようになっている。なお、この検査装置は光ディスクＤＫを径方向に駆動する径方向駆動装置も備えているが、光ディスクＤＫの径方向の移動は本発明に直接関係しないので、図1においては、径方向駆動装置及び径方向送り制御回路が省略されている。また、光ディスクＤＫの回転を制御する回転制御回路も省略されている。この場合、光ディスクＤＫは線速度一定で回転するものとする。また、レーザ光の照射位置を光ディスクＤＫの記録箇所や記録用溝に合わせるトラッキングサーボ制御のための回路、光ディスクＤＫに記録された信号を再生するための再生信号生成回路、データ復号化回路なども、本発明に直接関係しないので、省略されている。
【００１８】
光ピックアップ２０は、レーザ駆動回路３１によって駆動されるレーザ光源２１を備えている。レーザ駆動回路３１は、詳しくは後述するコントローラ６０により制御される。レーザ光源２１から出射されたレーザ光は、コリメートレンズ２２、偏光ビームスプリッタ２３、１／４波長板２４及び対物レンズ２５を介して光ディスクＤＫの記録層Ｎ１〜Ｎｚに集光される。光ディスクＤＫの記録層Ｎ１〜Ｎｚにて反射したレーザ光は、対物レンズ２５及び１／４波長板２４を介して偏光ビームスプリッタ２３に入射し、偏光ビームスプリッタ２３にて反射される。偏光ビームスプリッタ２３にて反射されたレーザ光は、集光レンズ２６及びシリンドリカルレンズ２７を介してフォトディテクタ２８に集光される。この場合、シリンドリカルレンズ２７は、透過した反射光に非点収差を生じさせる。フォトディテクタ２８は、分割線で区切られた４つの同一正方形状の受光素子からなる４分割受光素子によって構成されており、各受光素子は受光量に比例した電気信号Ａ〜Ｄをそれぞれ検出信号として信号増幅回路３２に出力する。
【００１９】
また、この光ピックアップ２０は、フォーカスアクチュエータ２９も備えている。フォーカスアクチュエータ２９は、ドライブ回路３３から出力される駆動信号により制御されて、対物レンズ２５をレーザ光の光軸方向（光ディスクＤＫの盤面の垂直方向）に駆動してレーザ光の焦点位置を光軸方向に変位させる。
【００２０】
信号増幅回路３２は、フォトディテクタ２８から出力される検出信号Ａ〜Ｄを増幅してフォーカスエラー信号生成回路３４に出力する。フォーカスエラー信号生成回路３４は、信号増幅回路３２を介したフォトディテクタ２８からの検出信号Ａ〜Ｄを用いた演算（具体的には、非点収差法の場合は(Ａ＋Ｃ)−(Ｂ＋Ｄ)の演算）により、フォーカスエラー信号を生成して、フォーカスサーボ回路３５に出力する。なお、検出信号Ａ〜Ｄは、フォトディテクタ２８において、時計回りに順に位置する４つの受光素子の受光量を表す。この場合、フォーカスエラー信号(Ａ＋Ｃ)−(Ｂ＋Ｄ)は、カバー層Ｎ０及び記録層Ｎ１〜Ｎｚに対する対物レンズ２５によるレーザ光の焦点のずれ量を表している。フォーカスサーボ回路３５は、コントローラ６０により制御されて、フォーカスエラー信号に基づくフォーカスサーボ信号を生成してドライブ回路３３に出力する。
【００２１】
ドライブ回路３３には、往復動信号発生回路３６も接続されている。往復動信号発生回路３６は、コントローラ６０により制御されて、対物レンズ２７を往復動させるための往復動信号をドライブ回路３３に出力する。往復動信号は、図１３(Ａ)に示すように、対物レンズ２５を最下点位置と最上点位置との間を往復動させる制御信号である。図１３(Ｂ)は、この往復動信号による対物レンズ２５の変位の状態を示している。ドライブ回路３３は、この往復動信号に比例した電圧をフォーカスアクチュエータ２９に印加して、対物レンズ２７を往復動させる。また、往復動信号発生回路３６は、対物レンズ２７が最下点位置及び最上点位置を通過するタイミングで、対物レンズ２７の最下点位置及び最上点位置を表す信号を信号抽出回路４０及びコントローラ６０に出力する。
【００２２】
また、この検査装置は、Ｓ字検出回路３７、信号抽出回路４０及び信号解析装置５０及びコントローラ６０を備えている。Ｓ字検出回路３７は、コントローラ６０からの指示により検出レベル及び入力信号の極性が設定され、コントローラ６０からの指示により作動開始して、フォーカスエラー信号生成回路３４から入力されるフォーカスエラー信号の瞬時値が検出レベルを越えた後、検出レベルを再び横切るときにＳ字検出信号をコントローラ６０に出力する。フォーカスエラー信号は、図１３(Ｃ)に示すように、往復動信号が増加するとき（すなわち、対物レンズ２５が下層側に変位するとき）、正から負に変化するＳ字形の波形信号（以下、正のＳ字波形信号という）となる。一方、フォーカスエラー信号は、往復動信号が減少するとき（すなわち、対物レンズ２５が上層側に変位するとき）、負から正に変化する逆Ｓ字形の波形信号（以下、負のＳ字波形信号という）となる。したがって、Ｓ字検出回路３７は、正極性に設定されている場合には、フォーカスエラー信号が検出レベルを下から上へ横切った後、検出レベルを上から下に横切るタイミングで検出信号を出力する。一方、Ｓ字検出回路３７は、負極性に設定されている場合には、フォーカスエラー信号が検出レベルを上から下へ横切った後、検出レベルを下から上に横切るタイミングで検出信号を出力する。
【００２３】
信号抽出回路４０は、入力したフォーカスエラー信号中、指定された記録層による正及び負のＳ字波形信号のみを抽出して信号解析装置５０に出力する。この信号抽出回路４０は、図２に示すように、正側２値化回路４１、負側２値化回路４２、正側取出し用信号生成回路４３、負側取出し用信号生成回路４４、取出し信号発生回路４５、出力指示回路４６及びゲート回路４７からなる。正側２値化回路４１は、コントローラ６０によって正側のスライスレベルＳＬｈが設定され、フォーカスエラー信号（図１４(Ｂ)参照）がスライスレベルＳＬｈよりも小さいときローレベルとなり、フォーカスエラー信号がスライスレベルＳＬｈ以上であるときハイレベルとなる正側２値化信号（図１４(Ｃ)参照）を出力する。負側２値化回路４２は、コントローラ６０によって負側のスライスレベルＳＬｌが設定され、フォーカスエラー信号（図１４(Ｂ)参照）がスライスレベルＳＬｌよりも大きいときローレベルとなり、フォーカスエラー信号がスライスレベルＳＬｌ以下であるときハイレベルとなる負側２値化信号（図１４(Ｄ)参照）を出力する。
【００２４】
正側取出し用信号生成回路４３は、フリップフロップ回路で構成され、正側２値化信号がローレベルからハイレベルに変化するときセットされ、負側２値化信号がハイレベルからローレベルに変化するときリセットされる。そして、正側取出し用信号生成回路４３は、フォーカスエラー信号が正側のスライスレベルＳＬｈを下から上に横切ったときから、負側スライスレベルＳＬｌを下から上に横切るまでハイレベルとなって、対物レンズ２５が上層側から下層側へ向かう際のフォーカスエラー信号中のＳ字波形信号を取出すための取出し用信号（図１４(Ｅ)参照）を生成する。負側取出し用信号生成回路４４も、フリップフロップ回路で構成され、負側２値化信号がローレベルからハイレベルに変化するときセットされ、正側２値化信号がハイレベルからローレベルに変化するときリセットされる。そして、負側取出し用信号生成回路４４は、フォーカスエラー信号が負側のスライスレベルＳＬｌを上から下に横切ったときから、正側スライスレベルＳＬｈを上から下に横切るまでハイレベルとなって、対物レンズ２５が下層側から上層側へ向かう際のフォーカスエラー信号中のＳ字波形信号を取出すための負側取出し用信号（図１４(Ｆ)参照）を生成する。また、正側及び負側取出し用信号生成回路４３，４４は、前記正側及び負側２値化信号とは無関係に、往復動信号発生回路３６から対物レンズ２７の最下点位置及び最上点位置を表す信号が入力されるとリセットされる。
【００２５】
取出し信号発生回路４５は、往復動信号発生回路３６から対物レンズ２７の最下点位置を表す信号が入力されてから、往復動信号発生回路３６から対物レンズ２７の最上点位置を表す信号が入力されるまで、正側取出し用信号生成回路４３から入力された正側取出し用信号を出力指示回路４６に出力し、前記最上点位置を表す信号が入力されてから前記最下点位置を表す信号が入力されるまで、負側取出し用信号生成回路４４から入力された負側取出し用信号を出力指示回路４６に出力する（図１４(Ｇ)参照）。また、取出し信号発生回路４５は、出力指示回路４６の指示により、指定された記録層に関する正側及び負側の取出し信号を、Ｓ字波形信号を出力するためのゲート信号（図１４(Ｈ)参照）としてゲート回路４７に出力する。出力指示回路４６は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭなどからなるコンピュータ装置を備え、コントローラ６０からの指示により後述する図１１Ａ及び図１１ＢのＳ字波形取出しプログラムを実行する。このＳ字波形取出しプログラムの実行により、出力指示回路４６は、取出し信号発生回路４５が前記ゲート信号をゲート回路４７に出力するように、取出し信号発生回路４５を制御する。
【００２６】
ゲート回路４７は、ゲート信号がハイレベルであるとき導通制御され、フォーカスエラー信号生成回路３４からのフォーカスエラー信号を信号解析装置５０に出力する。すなわち、指定された記録層に対応したＳ字波形信号（図１４(Ｉ)参照）が、信号解析装置５０に入力される。なお、図１４は、２番目の記録層Ｎ２のＳ字波形信号が抽出されて信号解析装置５０に供給される場合を示している。信号解析装置５０は、例えばオシロスコープで構成され、入力されたＳ字波形信号の解析が作業者によって行われる。なお、この信号抽出回路４０においては、正側２値化回路４１、負側２値化回路４２、正側取出し用信号生成回路４３、負側取出し用信号生成回路４４及び取出し信号発生回路４５は、Ｓ字波形信号の検出機能を有しているので、上述したＳ字検出回路３７と共に、本発明のＳ字検出手段に対応する。また、取出し信号発生回路４５、出力指示回路４６及びゲート回路４７は、指定された記録層によるＳ字波形信号を取出して出力するので、本発明のＳ字波形信号出力手段に対応する。
【００２７】
コントローラ６０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなるコンピュータによって構成されており、キーボード、マウスなどからなる入力装置６１からの指示に従って、図３〜図１０Ｂに示すメインプログラムを実行する。また、コントローラ６０には、作動指示及び作動状況を作業者に対して視覚的に知らせるための表示装置６２も接続されている。
【００２８】
ｂ．全体動作
上記のように構成した光ディスクの検査装置の作動について説明する。作業者は、光ディスクＤＫをターンテーブル１２上にセットして、検査装置の作動を開始させる。まず、作業者が図示しない電源スイッチを投入すると、コントローラ６０は、図３のステップＳ１０にてメインプログラムの実行を開始した後、ステップＳ１１にて初期化処理を実行して、ステップＳ１２以降の処理を実行する。まず、装置全体の動作を概略的に説明する。ステップＳ１２のユーザ設定処理ルーチンにおいては、入力装置６１を用いて作業者によって入力された次の情報を入力する。
(１)データを記録若しくは再生するモードか（フォーカス引込みを行うモードか）、又はＳ字波形信号を評価するモードか。
(２)光ディスクＤＫの記録層数ＬＮＯ
(３)指定記録層番号ＬＮＯ（記録層Ｎ１から数えて下層側への記録層の数）
【００２９】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１３にて、Ｓ字振幅近傍レベル設定ルーチンを実行する。このＳ字振幅近傍レベル設定ルーチンは、Ｓ字波形信号の正極性側及び負極性側の両側で、複数の記録層Ｎ１〜Ｎ４にそれぞれ対応した複数のＳ字波形信号のうちで絶対値が最大である正及び負の振幅値よりも若干量だけ絶対値の大きなレベル（正極性側では正の最大振幅値よりも若干大きなレベル値、負極性側では負の最大振幅値よりも若干小さなレベル値）を、正側のＳ字振幅近傍レベルＦ(８)及び負側のＳ字振幅近傍レベルＧ(８)としてそれぞれ設定するルーチンである。図１５(Ａ)は、正側のＳ字振幅近傍レベルＦ(８)を示している。
【００３０】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１４にて基準レベル設定ルーチンを実行する。この基準レベル設定ルーチンは、前記正側のＳ字振幅近傍レベルＦ(８)及び負側のＳ字振幅近傍レベルＧ(８)をそれぞれ８分割して、両Ｓ字振幅近傍レベルＦ(８)，Ｇ(８)を正負の最大レベルとする正負で８個ずつの基準レベルＦ(１)〜Ｆ(８)，Ｇ(１)〜Ｇ(８)をそれぞれ設定するルーチンである。図１５(Ｂ)は、正側の基準レベルＦ(１)〜Ｆ(８)を示している。
【００３１】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１５にてレベル対応Ｓ字検出数ルーチンを実行する。このレベル対応Ｓ字検出数ルーチンは、正極性及び負極性において基準レベルＦ(１)〜Ｆ(８)，Ｇ(１)〜Ｇ(８)ごとにそれぞれＳ字検出回路３７によるＳ字波形信号の検出数（Ｓ字波形信号の正負のピーク値が基準レベルＦ(１)〜Ｆ(８)，Ｇ(１)〜Ｇ(８)をそれぞれ超える数）を検出するルーチンである。そして、検出結果が、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)〜Ｈ(８)及び負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(１)〜Ｌ(８)としてそれぞれ設定される。
【００３２】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１６にて記録層数ＬＮＯが「０」よりも大きいか否かを判定する。詳しくは、後述するが、ステップＳ１２のユーザ設定ルーチンにおいて、作業者が記録層数ＬＮＯを入力したり、光ディスクＤＫのＢＣＡ（Burst Cutting Area）内に記録されているデータ（以下、ＢＣＡコードという）中の記録層数を読取りしたりすることができた場合には、記録層数ＬＮＯは「０」よりも大きな値に設定されているので、コントローラ６０は、ステップＳ１６にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ１８以降の処理を実行する。一方、前記ユーザ設定ルーチンにおいて、作業者による記録層数ＬＮＯの入力がなかったり、光ディスクＤＫのＢＣＡコード中の記録層数を読取ることができなかった場合には、記録層数ＬＮＯは「０」に設定されている。したがって、この場合には、コントローラ６０は、ステップＳ１６にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ１７にて記録層数決定ルーチンを実行する。この記録層数決定ルーチンは、前記検出した正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)〜Ｈ(８)及び負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(１)〜Ｌ(８)を用いて、これらの検出数Ｈ(１)〜Ｈ(８)，Ｌ(１)〜Ｌ(８)の変化に基づいて記録層数ＬＮＯを自動的に検出するルーチンである。
【００３３】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１８にて、前記ステップＳ１２のユーザ設定処理によりフォーカス引込みモードが選択されているかを判定する。フォーカス引込みモードが選択されていれば、コントローラ６０は、ステップＳ１９にてフォーカス引込みルーチンを実行する。フォーカス引込みルーチンは、Ｓ字検出回路３７におけるＳ字波形信号の検出レベル（Ｓ字検出レベル）を設定して、このＳ字検出レベルを用いて、前記ステップＳ１２のユーザ設定処理にてユーザにより指定された記録層ＮDLNにフォーカス引込みを行うルーチンである。このフォーカスルーチンの実行後には、図示しないプログラムの実行により、フォーカス引込みされた記録層にデータを記録し、又は前記記録層に記録されているデータを再生する。
【００３４】
一方、前記ステップＳ１２のユーザ設定処理によりＳ字波形評価モードが選択されていれば、コントローラ６０は、ステップＳ２０にてＳ字波形評価ルーチンを実行する。Ｓ字波形評価ルーチンは、信号抽出回路４０に対してフォーカスエラー信号に対する正及び負のスライスレベルを設定するとともに、これらのスライスレベルを用いてフォーカスエラー信号から抽出した指定記録層ＮDLNに関するＳ字波形信号を、信号抽出回路４０に取出させて信号解析装置５０に出力させるルーチンである。信号解析装置５０は、オシロスコープなどにＳ字波形信号を表示して、作業者にＳ字波形信号を評価させる。
次に、前記各種ルーチンについて詳しく説明する。
【００３５】
ｃ．ユーザ設定ルーチン
ユーザ設定ルーチンは図４に詳細に示されており、その実行がステップＳ１００にて開始される。この実行開始後、コントローラ６０は、ステップＳ１０１にて、データを記録若しくは再生するモードか（すなわち、フォーカス引込みモードか）、又はＳ字波形信号を評価するモードかを入力することを作業者に促す指示を表示装置６２に表示する。作業者が、この表示に従って、入力装置６１を用いていずれか一方のモードを入力すると、コントローラ６０は、同ステップＳ１０１にて、前記入力されたモードを入力して記憶する。
【００３６】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１０２にて光ディスクＤＫの記録層数を入力することを作業者に促す指示を表示装置６２に表示し、作業者による記録層数の入力を待つ。作業者が入力装置６１を用いて光ディスクＤＫの記録層数を入力した場合には、コントローラ６０は、ステップＳ１０２にて「ＹＥＳ」と判定して、ステップＳ１０３にて入力された数を記録層数ＬＮＯとして記憶する。一方、作業者が、光ディスクＤＫの記録層数を知らなくて記録層数を入力不能であることを、入力装置６１を用いて入力した場合には、コントローラ６０は、ステップＳ１０２にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ１０４にて光ディスクＤＫのＢＣＡコード内に含まれている記録層数を、図示省略した信号再生回路を介して読取る。この記録層数の読取りに成功した場合には、コントローラ６０は、ステップＳ１０５にて「ＹＥＳ」と判定して、ステップＳ１０６にて前記読取った数を記録層数ＬＮＯとして記憶する。また、ＢＣＡコードに記録層数が含まれていなかったり、記録されていても読取ることができなかった場合には、コントローラ６０は、ステップＳ１０５にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ１０７にて、記録総数ＬＮＯを「０」に設定する。
【００３７】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１０８にて、光ディスクの検査に関係した記録層を指定することを作業者に促す指示を表示装置６２に表示する。作業者が、入力装置６１を用いて前記検査に関係した記録層番号を入力すると、コントローラ６０は、同ステップＳ１０８にて入力された番号を指定記録層番号ＤＬＮとして記憶する。そして、ステップＳ１０９にて、このユーザ設定ルーチンの実行を終了する。
【００３８】
ｄ．Ｓ字振幅近傍レベル設定ルーチン
Ｓ字振幅近傍レベル設定ルーチンは図５Ａ及び図５Ｂに詳細に示されており、その実行がステップＳ２００にて開始される。この実行開始後、コントローラ６０は、ステップＳ２０１にて、Ｓ字検出回数カウント値ｐ，ｍ及びレベル変更用変数ｕ，ｄをそれぞれ「０」にクリアするとともに、正側レベル設定用フラグＵＳＦ及び負側レベル設定用フラグＤＳＦを“０”にクリアする。Ｓ字検出回数カウント値ｐは、対物レンズ２５の上方（下層側）への移動時におけるＳ字波形信号の検出回数をカウントするための変数である。Ｓ字検出回数カウント値ｍは、対物レンズ２５の下方（上層側）への移動時におけるＳ字波形信号の検出回数をカウントするための変数である。レベル変更用変数ｕは、対物レンズ２５の上方（下層側）への移動時に、Ｓ字検出レベルＡ＋ｕ・ΔＡを正の大きな値に変化させるための変数である。レベル変更用変数ｄは、対物レンズ２５の下側（上層側）への移動時に、Ｓ字検出レベル−(Ａ＋ｄ・ΔＡ)を絶対値が大きな負の値に変化させるための変数である。ここで、Ａは予め決められた適当な値であり、ΔＡは予め決められた正の小さな値である（図１５(Ａ)参照）。正側レベル設定用フラグＵＳＦは正側のＳ字振幅近傍レベルＦ(８)の設定過程で利用されるフラグであり、負側レベル設定用フラグＤＳＦは負側のＳ字振幅近傍レベルＧ(８)の設定過程で利用されるフラグである。
【００３９】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ２０２にて、往復動信号発生回路３６及びＳ字検出回路３７を作動開始させる。往復動信号発生回路３６は往復動信号をドライブ回路３３に出力し、ドライブ回路３３はフォーカスアクチュエータ２９を駆動制御して対物レンズ２５を往復動させる。前記ステップＳ２０２の処理後、コントローラ６０は、ステップＳ２０３にてＳ字検出回路３７におけるＳ字波形信号の検出極性を正極性に設定し、ステップＳ２０４にてＳ字検出回路３７におけるＳ字波形信号のＳ字検出レベルをＡ＋ｕ・ΔＡに設定する。なお、この場合、レベル変更用変数ｕは最初「０」に設定されているので、Ｓ字検出回路３７におけるＳ字波形信号のＳ字検出レベルは予め決められた値Ａに設定される。この状態では、Ｓ字検出回路３７は、Ｓ字検出レベルをＡ＋ｕ・ΔＡとして、正極性のフォーカスエラー信号におけるＳ字波形信号を検出し始める。
【００４０】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ２０５にて往復動信号発生回路３６から最下点位置を表す信号の入力を待ち、同信号が入力されると、ステップＳ２０６〜Ｓ２０８の循環処理を実行し始める。ステップＳ２０６〜Ｓ２０８の循環処理は、往復動信号発生回路３６から最上点位置を表す信号が入力されるまで繰り返し実行され、Ｓ字検出回路３７によりＳ字波形信号が検出されるごとに、Ｓ字検出回数カウント値ｐを「１」ずつ増加させる処理である。このステップＳ２０６〜Ｓ２０８の処理により、対物レンズ２５が最下点位置から最上点位置に達するまで、Ｓ字検出レベルＡ＋ｕ・ΔＡを超える正のＳ字波形信号の数がカウントされる。すなわち、Ｓ字検出レベルＡ＋ｕ・ΔＡを超える正側の振幅を有するＳ字波形信号の数がカウントされる。
【００４１】
前記ステップＳ２０６〜Ｓ２０８の処理後、コントローラＳ６０は、ステップＳ２０９にてＳ字検出回路３７におけるＳ字波形信号の検出極性を負極性に設定し、ステップＳ２１０にてＳ字検出回路３７におけるＳ字波形信号のＳ字検出レベルを−(Ａ＋ｄ・ΔＡ)に設定する。なお、この場合も、レベル変更用変数ｕは最初「０」に設定されているので、Ｓ字検出回路３７におけるＳ字波形信号のＳ字検出レベルは予め決められた値−Ａに設定される。この状態では、Ｓ字検出回路３７は、Ｓ字検出レベルを−(Ａ＋ｄ・ΔＡ)として、負極性のフォーカスエラー信号におけるＳ字波形信号（逆Ｓ字波形信号）を検出し始める。そして、コントローラ６０は、前述したステップＳ２０６〜２０８の処理に対応したステップＳ２１１〜Ｓ２１３の循環処理により、対物レンズ２５が最上点位置から最下点位置に達するまで、Ｓ字検出レベル−(Ａ＋ｄ・ΔＡ)を超える負のＳ字波形信号の数がカウント値ｍとしてカウントされる。すなわち、Ｓ字検出レベル−(Ａ＋ｄ・ΔＡ)を超える負側の振幅を有するＳ字波形信号の数がカウントされる。
【００４２】
前記ステップＳ２１１〜Ｓ２１３の処理後、コントローラ６０は、図５ＢのステップＳ２１４にて、正側レベル設定用フラグＵＳＦが“２”であるかを判定する。この正側レベル設定用フラグＵＳＦは、前記ステップＳ２０１の処理によって最初“０”に設定されているので、この場合、コントローラ６０は、ステップＳ２１４にて「Ｎｏ」と判定してプログラムをステップＳ２１５に進める。ステップＳ２１５においては、正極性側（すなわち対物レンズ２５の上方（下層側）への移動時）のＳ字検出回数カウント値ｐが「０」よりも大きいか否かを判定する。対物レンズ２５の上方（下層側）への移動時に、Ｓ字波形信号が一つでも検出されていれば、コントローラ６０は、ステップＳ２１５にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ２１６，Ｓ２１７の処理を実行する。ステップＳ２１６においては正側レベル設定用フラグＵＳＦが“１”に設定され、ステップＳ２１７においてはレベル変更用変数ｕが「１」だけカウントアップされる。次に、ステップＳ２２２〜Ｓ２２５の処理、ステップＳ２２２，Ｓ２２３，Ｓ２２６〜Ｓ２２８，Ｓ２３２の処理、ステップＳ２２２，Ｓ２２３，Ｓ２２６，Ｓ２２９の処理又はステップＳ２２２，Ｓ２３２の処理後、コントローラ６０は、ステップＳ２３０にて正側でのＳ字検出回数カウント値ｐを「０」にクリアし、ステップＳ２３１の処理を経てプログラムを図５ＡのステップＳ２０３に戻す。
【００４３】
そして、コントローラ６０は、前述したステップＳ２０３〜Ｓ２０８の処理により、Ｓ字検出レベルＡを所定値ΔＡだけ増加させ、対物レンズ２５を最下点位置から最上点位置まで移動させて、Ｓ字検出レベルＡ＋ｕ・ΔＡを超える正側でのＳ字検出回数カウント値ｐを再度検出する。これらのステップＳ２０３〜２０８の処理後、コントローラ６０は、前述したステップＳ２０９〜Ｓ２１３の処理を経て、図５ＢのステップＳ２１４以降の処理を再び実行し始める。この場合、正側レベル設定用フラグＵＳＦは“１”に設定されており、コントローラ６０は、ステップＳ２１４にて「Ｎｏ」と判定するので、ステップＳ２１５の判定処理が実行される。そして、Ｓ字検出回数カウント値ｐが「０」よりも大きい限り、前述したステップＳ２１６，Ｓ２１７，Ｓ２３０，Ｓ２０３〜Ｓ２０８の処理を繰り返し実行して、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルＡを所定値ΔＡだけ増加させては、Ｓ字検出回数カウント値ｐを検出し続ける。
【００４４】
Ｓ字検出回数カウント値ｐが「０」になると、コントローラ６０は、ステップＳ２１５にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ２１８にて正側レベル設定用フラグＵＳＦが“１”であるかを判定する。この場合、正側レベル設定用フラグＵＳＦは前記ステップＳ２１６の処理により“１”に設定されているので、コントローラ６０は、ステップＳ２１８にて「Ｙｅｓ」と判定し、ステップＳ２１９にて正側のＳ字振幅近傍レベルＦ(８)を、Ｓ字検出レベルＡ＋ｕ・ΔＡに設定する。このＳ字検出レベルＡ＋ｕ・ΔＡは、図１５(Ａ)に示すように、Ｓ字検出レベルを増加させた結果、Ｓ字波形信号が初めて検出されなくなったレベル、すなわちＳ字波形信号の正のピーク値よりも僅かに大きなレベル値である。
【００４５】
次に、予め決めた所定値Ａが大きすぎて、正側のＳ字波形信号のピーク値が一度もＳ字検出レベルＡ＋ｕ・ΔＡを超えない場合について説明する。この場合、正側レベル設定用フラグＵＳＦが“０”に設定されている状態で、図５ＡのステップＳ２０３〜Ｓ２０８の処理によって検出される正極性のＳ字検出回数カウント値ｐは「０」を表すので、コントローラ６０は、図５ＢのステップＳ２１４，Ｓ２１５，Ｓ２１８にてそれぞれ「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ２２１にてレベル変更用変数ｕから「１」を減算する。そして、このステップＳ２２１の処理後、前述した図５ＡのステップＳ２０３〜Ｓ２０８の処理により、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルを所定値ΔＡだけ減少させて、Ｓ字検出回数カウント値ｐを検出する。この場合、Ｓ字検出回数カウント値ｐが「０」より大きくなるまで、ステップＳ２２１の処理により、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルが所定値ΔＡずつ順次下げられ続ける。そして、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルを下げた結果、Ｓ字検出回数カウント値ｐが「０」より大きくなれば、前述した処理により、正側のＳ字振幅近傍レベルＦ(８)が設定される。
【００４６】
一方、図５ＢのステップＳ２２２〜Ｓ２２９，Ｓ２３１の処理は、負側のＳ字振幅近傍レベルＧ(８)を設定するための、前述した図５ＢのステップＳ２１４〜Ｓ２２１，２３０の処理に対応した処理である。この場合、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルを所定値ΔＡだけ減少させながら、Ｓ字波形信号が初めて検出されなくなったレベル、すなわちＳ字波形信号の負のピーク値よりも僅かに小さなレベル値が検出される。そして、この検出された負の値が、負側のＳ字振幅近傍レベルＧ(８)として設定される。
【００４７】
このようなステップＳ２１４〜Ｓ２２１，Ｓ２３０からなる正側のＳ字振幅近傍レベルＦ(８)の設定処理、及びステップＳ２２２〜Ｓ２２９，Ｓ２３１からなる負側のＳ字振幅近傍レベルＧ(８)の設定処理は、Ｓ字振幅近傍レベルＦ(８)及びＳ字振幅近傍レベルＧ(８)がそれぞれ設定されるまで行われる。そして、両近傍レベルＦ(８)，Ｇ(８)の設定が共に完了して、正側及び負側レベル設定用フラグＵＳＦ，ＤＳＦが共に“２”に設定されると、コントローラ６０は、ステップＳ２１４，Ｓ２２２，Ｓ２３２にてそれぞれ「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ２３３にてこのＳ字振幅近傍レベル設定ルーチンの実行を終了する。
【００４８】
ｅ．基準レベル設定ルーチン
基準レベル設定ルーチンは図６に詳細に示されており、その実行がステップＳ３００にて開始される。この実行開始後、コントローラ６０は、ステップＳ３０１，Ｓ３０４，Ｓ３０５の処理により、変数ｎを「１」から「７」まで順次増加させながら、ステップＳ３０２，Ｓ３０３の処理を繰り返し実行して基準レベルＦ(１)〜Ｆ(７)，Ｇ(１)〜Ｇ(７)をそれぞれ設定する。ステップＳ３０２においては、値ｎ・(Ｆ(８)／８)が基準レベルＦ(ｎ)として設定される。ステップＳ３０３においては、値ｎ・(Ｇ(８)／８)が基準レベルＧ(ｎ)として設定される。
【００４９】
これにより、正側のＳ字振幅近傍レベルＦ(８)を８分割して、Ｓ字振幅近傍レベルＦ(８)を含む正側の８個の基準レベルＦ(１)〜Ｆ(８)が設定される（図１５(Ｂ)参照）。また、負側のＳ字振幅近傍レベルＧ(８)を８分割して、Ｓ字振幅近傍レベルＧ(８)を含む負側の８個の基準レベルＧ(１)〜Ｇ(８)が設定される。そして、基準レベルＦ(１)〜Ｆ(８)，Ｇ(１)〜Ｇ(８)の設定処理が完了すると、コントローラ６０は、ステップＳ３０４にて「Ｙｅｓ」すなわち変数ｎが「７」以上であると判定して、ステップＳ３０６にて基準レベル設定ルーチンの実行を終了する。
【００５０】
ｆ．レベル対応Ｓ字検出数ルーチン
レベル対応Ｓ字検出数ルーチンは図７に詳細に示されており、その実行がステップＳ４００にて開始される。この実行開始後、コントローラ６０は、ステップＳ４０１にて、変数ｎを「１」に初期セットするとともに、変数ｐ，ｍを「０」に初期セットする。変数ｎは、正極性及び負極性における基準レベルＦ(１)〜Ｆ(８)，Ｇ(１)〜Ｇ(８)ごとの正側及び負側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(ｎ)，Ｌ(ｎ)（ｎ＝１〜８）を指定するものである。変数ｐ，ｍは、正側及び負側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(ｎ)，Ｌ(ｎ)のカウントのために用いられるカウント値である。
【００５１】
前記ステップＳ４０１の初期設定後、コントローラ６０は、ステップＳ４０２にてＳ字検出回路３７におけるＳ字波形信号の検出極性を正極性に設定し、ステップＳ４０３にてＳ字検出回路３７のＳ字検出レベルを基準レベルＦ(ｎ)に設定する。なお、変数ｎは最初「１」であり、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルは基準レベルＦ(１)に設定される。次に、コントローラ６０は、ステップＳ４０６にて往復動信号発生回路３６から最上点位置を表す信号を入力するまで、ステップＳ４０４にてＳ字検出回路３７からのＳ字検出信号の入力を検出するごとに、ステップＳ４０５にてカウント値ｐを「１」ずつカウントアップする。この場合、前述した図５Ａ及び図５ＢのＳ字振幅近傍レベル設定ルーチン及び図６の基準レベル設定ルーチンの終了時には、往復動信号は最下点位置の近傍位置を表している、すなわち対物レンズ２５は最下点位置の近傍にある。したがって、ステップＳ４０４〜Ｓ４０６の処理においては、対物レンズ２５を最下点位置から最上点位置まで上昇させながら、基準レベルＦ(ｎ)を正側に超えるＳ字波形信号の数をカウント値ｐとして検出することになる。
【００５２】
次に、コントローラ６０は、前述したステップＳ４０２〜Ｓ４０６に対応するとともに、基準レベルＧ(ｎ)を負側に超える負のＳ字波形信号（逆Ｓ字波形信号）の数を検出するためのステップＳ４０７〜４１１の処理を実行する。この場合、前記ステップＳ４０６の最上点位置の検出直後であるので、ステップＳ４０７〜Ｓ４１１の処理においては、対物レンズ２５を最上点位置から最下点位置まで下降させながら、基準レベルＧ(ｎ)を負側に超えるＳ字波形信号の数をカウント値ｍとして検出することになる。そして、ステップＳ４０７〜Ｓ４１１の処理を終了すると、コントローラ６０は、ステップＳ４１２，Ｓ４１３にて、変数ｎによって指定される正側及び負側のレベル対応Ｓ字検出数Ｈ(ｎ)，Ｌ(ｎ)に前記Ｓ字波形信号の検出数を表すカウント値ｐ，ｍをそれぞれ設定する。
【００５３】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ４１４にて変数ｎが「８」以上であるかを判定する。変数ｎが「８」未満であれば、コントローラ６０は、ステップＳ４１４にて「Ｎｏ」と判定し、ステップＳ４１５にてＳ字波形信号の検出数をカウントするためのカウント値ｐ，ｍを「０」にそれぞれクリアするとともに、ステップＳ４１６にて基準レベルＦ(ｎ)，Ｇ(ｎ)を指定するための変数ｎに「１」を加算して、前述したステップＳ４０２〜Ｓ４１４の処理を繰り返し実行する。そして、変数ｎが「８」に達すると、コントローラ６０はステップＳ４１４にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ４１７にてレベル対応Ｓ字検出数ルーチンの実行を終了する。この状態では、正側及び負側の基準レベルＦ(１)〜Ｆ(８)，Ｇ(１)〜Ｇ(８)ごとに、Ｓ字検出回路３７によって検出されたＳ字波形信号の数が正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(ｎ)及び負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(ｎ)として設定されている。
【００５４】
ｇ．記録層数決定ルーチン
記録層数決定ルーチンは図８に詳細に示されており、その実行がステップＳ５００にて開始される。なお、この記録層数決定ルーチン、並びに後述するフォーカス引込みルーチン及びＳ字波形評価ルーチンの処理においては、Ｓ字波形信号及びノイズに関し、次の条件１〜３を前提としている。なお、これらの条件１〜３においては、通常の多層光ディスクにおいて充分に満足される条件である。
（条件１）記録層Ｎ１〜Ｎｚに関するＳ字波形信号の振幅レベルの絶対値は、基準レベルＦ(３)、Ｇ(３)の絶対値よりも大きい。言い換えれば、正側及び負側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)，Ｌ(３)はそれぞれ記録層数ＬＮＯ以上である。
（条件２）カバー層Ｎ０に関するＳ字波形信号の振幅レベルの絶対値は、基準レベルＦ(１)、Ｇ(１)の絶対値よりも大きい。言い換えれば、正側及び負側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)，Ｌ(１)はそれぞれ記録層数ＬＮＯに「１」を加算した値ＬＮＯ＋１以上である。
（条件３）ノイズの絶対値は、基準レベルＦ(１)，Ｆ(２)の中間値（＝{Ｆ(１)＋Ｆ(２)}／２）及び基準レベルＧ(１)，Ｇ(２)の中間値（＝{Ｇ(１)＋Ｇ(２)}／２）の絶対値未満である。
【００５５】
前記ステップＳ５００の実行開始後、コントローラ６０は、ステップＳ５０１にて、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)から正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)を減算した値Ｈ(２)−Ｈ(３)が「１」以上であるか否かを判定する。減算値Ｈ(２)−Ｈ(３)が「１」以上（実際には、「１」）であれば、コントローラ６０は、ステップＳ５０１にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ５０２にて記録層数ＬＮＯを正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)に設定する。これは、次の理由による。減算値Ｈ(２)−Ｈ(３)が「１」以上であるということは、前記条件３から正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)にノイズの影響はないので、カバー層Ｎ０による正側のＳ字波形信号の振幅レベルは基準レベルＨ(２)と基準レベルＨ(３)にあることになる。したがって、光ディスクＤＫの記録層数ＬＮＯは正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)に等しいということである。
【００５６】
また、減算値Ｈ(２)−Ｈ(３)が「１」以上でなく、言い換えれば減算値Ｈ(２)−Ｈ(３)が「０」であれば、コントローラ６０は、ステップＳ５０１にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ５０３にて、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)から正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)を減算した値Ｈ(１)−Ｈ(２)が「１」以上であるか否かを判定する。減算値Ｈ(１)−Ｈ(２)が「１」以上でなければ（実際には、「０」）であれば、コントローラ６０は、ステップＳ５０３にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ５０４にて記録層数ＬＮＯを正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)より「１」だけ小さな値Ｈ(３)−１に設定する。これは、次の理由による。減算値Ｈ(２)−Ｈ(３)が「０」であり、かつ減算値Ｈ(１)−Ｈ(２)が「０」であるということは、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)，Ｈ(２)，Ｈ(３)が全て等しいことを意味し、前記条件２から正側レベル対応検出数Ｈ(１)にはカバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の検出分が含まれ、かつ前記条件３からノイズの影響はないので、カバー層Ｎ０による正側のＳ字振幅レベルは基準レベルＨ(３)以上であることになる。したがって、光ディスクＤＫの記録層数ＬＮＯは、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の検出分である「１」を正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)から減算した値Ｈ(３)−１に等しいということである。
【００５７】
また、減算値Ｈ(２)−Ｈ(３)が「０」であり、かつ減算値Ｈ(１)−Ｈ(２)が「１」以上であれば、コントローラ６０は、ステップＳ５０１にて「Ｎｏ」と判定し、ステップＳ５０３にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ５０５以降の処理を実行する。これは、前記条件２及び条件３により、減算値Ｈ(１)−Ｈ(２)が「１」以上であることの原因が、カバー層Ｎ０のＳ字波形信号の正側振幅値が基準レベルＦ(１)とＦ(２)との間にあることによるものか、カバー層Ｎ０のＳ字波形信号の正側振幅値は基準レベルＦ(３)以上であって、ノイズの影響によるものかのどちらかであるかが確定できないからである。そして、カバー層Ｎ０によるものであれば、記録層の数は正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)になるはずである。一方、ノイズの影響によるものであれば、記録層の数は正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)から「１」を減算した値Ｈ(３)−１になるはずである。そして、この記録層数ＬＮＯの決定においては、減算値Ｈ(１)−Ｈ(２)が「１」以上であることの原因がノイズの影響による場合には、減算値Ｈ(１)−Ｈ(２)は常に「１」以上なることはないという点に着目して、基準レベルＦ(１)に対する複数回のＳ字波形信号の検出結果により前記記録層数ＬＮＯの決定を行うようにしている。
【００５８】
このために、前記ステップＳ５０３の「Ｙｅｓ」との判定処理後、コントローラ６０は、ステップＳ５０５にて、Ｓ字波形信号が基準レベルＦ(１)を正側に超える数を検出するための複数回の検査回数を表す変数ｎを「１」に初期セットし、ステップＳ５０６にてＳ字検出回路３７におけるＳ字波形信号の検出極性を正極性に設定し、ステップＳ５０７にてＳ字検出回路３７のＳ字検出レベルを基準レベルＦ(１)に設定する。次に、コントローラ６０は、ステップＳ５０８にて基準レベルＦ(１)を正側に超えるＳ字波形信号の検出数をカウントするためのカウント値ｐを「０」に初期セットする。そして、コントローラ６０は、ステップＳ５１１にて往復動信号発生回路３６から最上点位置又は最下点位置を表す信号を入力するまで、ステップＳ５０９にてＳ字検出回路３７からのＳ字検出信号の入力を検出するごとに、ステップＳ５１０にてカウント値ｐを「１」ずつカウントアップする。この場合、前述した図７のレベル対応Ｓ字検出数ルーチンの終了時には、往復動信号は最下点位置の近傍位置を表している、すなわち対物レンズ２５は最下点位置の近傍にある。したがって、ステップＳ５０９〜Ｓ５１１の処理においては、最初、対物レンズ２５を最下点位置から最上点位置まで上昇させながら、基準レベルＦ(１)を正側に超えるＳ字波形信号の数をカウント値ｐとして検出することになる。そして、往復動信号発生回路３６から最上点位置を表す信号が入力されると、コントローラ６０は、ステップＳ５１１にて「Ｙｅｓ」と判定し、ステップＳ５１２にて、カウント値ｐを第１回目の検査におけるＳ字波形信号の検出回数Ｊ(ｎ)（＝Ｊ(１)）として設定する。
【００５９】
前記ステップＳ５１２の処理後、コントローラ６０は、ステップＳ５１３にて変数ｎが「６」以上であるかを判定する。変数ｎが「６」以上でなければ、コントローラ６０は、ステップＳ５１３にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ５１４にて変数ｎに「１」を加算して、前述したステップＳ５０８〜Ｓ５１２の処理を実行する。この場合、変数ｎが「１」から「２」に切換えられた状態は、対物レンズ２５が最上点位置に達した状態であり、２回目の検査においては、往復動信号発生回路３６の制御により、対物レンズ２５は最上点位置から最下点位置まで下降する。そして、この下降中に、基準レベルＦ(１)に対するＳ字波形信号（逆Ｓ字波形信号）の検出回数ｐが検出されて、対物レンズ２５が最下点位置に達すると、ステップＳ５１２にて２回目の検査におけるＳ字波形信号の検出回数Ｊ(２)として設定される。そして、対物レンズ２５は再び最下点位置から上昇するとともに、ステップＳ５１３，Ｓ５１４の処理により、変数ｎが更新されてステップＳ５０８〜Ｓ５１２の処理が実行される。
【００６０】
前記ステップＳ５０８〜Ｓ５１４からなる循環処理が６回行われると、変数ｎは「６」になり、コントローラ６０は、ステップＳ５１３にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ５１５にて６回分の検出回数Ｊ(ｎ)（ｎ＝１〜６）の平均値Ｊave（＝｛J(１)＋J(２)＋・・・＋J(６)｝／６）を計算する。これにより、対物レンズ２５を３往復させて、基準レベルＦ(１)に対する６回分の検出回数Ｊ(ｎ)の平均値Ｊaveが計算される。なお、本実施形態では検査回数を６回としたが、他の回数を行うようにしてもよい。
【００６１】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ５１６にて、前記計算した平均値Ｊaveから正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)を減算した減算値Ｊave−Ｈ(２)が「１」以上であるか否かを判定する。減算値Ｊave−Ｈ(２)が「１」以上であることは、前記６回の検査における検出回数J(１)〜J(６)の全てが正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)よりも大きく、この場合には、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の正側振幅値は基準レベルＦ(１)と基準レベルＦ(２)との間にあると考えられる。したがって、この場合には、コントローラ６０は、ステップＳ５１６にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ５１７にて記録層数ＬＮＯを正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)に設定する。
【００６２】
一方、減算値Ｊave−Ｈ(２)が「１」未満である場合は、前記６回の検査における検出回数J(１)〜J(６)の一部のみが正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)と同じであり、この場合には、ノイズの影響が正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)に現れ、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の正側振幅値は、基準レベルＦ(３)を超えていると考えられる。したがって、この場合には、コントローラ６０は、ステップＳ５１６にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ５１８にて記録層数ＬＮＯを正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)より「１」だけ小さな値Ｈ(３)−１に設定する。このような記録層数決定ルーチンの処理により、光ディスクＤＫの記録層数が入力されず、かつＢＣＡコード内の記録層数を読取ることができない場合でも、光ディスクＤＫの記録層数が自動的に推定される。
【００６３】
ｈ．フォーカス引込みルーチン
フォーカス引込みルーチンは図９Ａ〜図９Ｃに詳細に示されており、その実行がステップＳ６００にて開始される。この実行開始後、コントローラ６０は、ステップＳ６０１にて、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯよりも「１」以上大きいか（Ｈ(３)≧ＬＮＯ＋１）を判定する。正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯよりも「１」以上大きければ、コントローラ６０は、ステップＳ６０１にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ６０２〜Ｓ６０５の処理を実行する。なお、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯよりも「１」以上大きいということは、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅が基準レベルＦ(３)よりも大きいということを意味する。これらのステップＳ６０２〜Ｓ６０５の処理においては、ステップＳ６０２，Ｓ６０４の処理により正側レベル対応検出数Ｈ(１)〜Ｈ(８)のいずれかを指定するための変数ｎを「４」から「１」ずつ順次増加させて、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(ｎ)が記録層数ＬＮＯよりも「１」以上である限り、変数ｎが最大の基準レベルＨ(８)の指定を終了するまで、ステップＳ６０５にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ６０３〜Ｓ６０５の循環処理を繰り返し実行する。そして、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(ｎ)が記録層数ＬＮＯよりも「１」以上でなくなると、コントローラ６０は、ステップＳ６０３にて「Ｎｏ」と判定してプログラムをステップＳ６０６に進める。また、変数ｎが「９」以上になれば、コントローラ６０は、ステップＳ６０５にて「Ｙｅｓ」と判定してプログラムをステップＳ６０６に進める。
【００６４】
ステップＳ６０６にておいては、コントローラ６０は、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルを基準レベルＦ(ｎ−１)の半分の値Ｆ(ｎ−１)／２に設定する。この基準レベルＦ(ｎ−１)は、基準レベルＦ(３)〜Ｆ(８)のうちで、記録層数ＬＮＯよりも「１」だけ大きな数のＳ字波形信号が検出される最大の基準レベルである。Ｓ字波形信号が図１６(Ａ)のようになる場合は、変数ｎが「５」であり、カバー層Ｎ０及び記録層Ｎ１〜Ｎ４によるＳ字波形信号の振幅が基準レベルＦ(４)よりも大きくかつ１つ以上のＳ字波形信号が基準レベルＦ(５)以下の場合を示している。この場合、図示太い破線で示すように、基準レベルＦ(４)の半分である基準レベルＦ(２)がＳ字検出レベルとして設定される。そして、前記ステップＳ６０１〜Ｓ６０６の処理によって設定されるＳ字検出レベルは、必ず基準レベルＦ(１)，Ｆ(２)の中間値以上の値に設定され、前記条件３によるノイズの影響を受けることはない。
【００６５】
前記ステップＳ６０６の処理後、コントローラ６０は、ステップＳ６０７にて指定記録層ＮDLNの検出のために用いる変数ｋを指定記録層番号ＤＬＮよりも「１」だけ大きな値ＤＬＮ＋１に設定する。これは、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅が大きいために、後述する指定記録層ＮDLNの検出にカバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の検出も利用されるためである。
【００６６】
一方、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯに「１」を加算した値ＬＮＯ＋１以上でなければ、コントローラ６０は、ステップＳ６０１にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ６０８の判定処理を実行する。なお、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯに「１」を加算した値ＬＮＯ＋１以上でないということは、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅が基準レベルＦ(３)以下であるということを意味する。ステップＳ６０８においては、コントローラ６０は、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯ以上であるかを判定する。正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯ以上であれば、コントローラ６０は、ステップＳ６０８にて「Ｙｅｓ」と判定し、ステップＳ６０９にて正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(４)が記録層数ＬＮＯ以上であるかを判定する。正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(４)が記録層数ＬＮＯ以上であれば、コントローラ６０は、ステップＳ６０９にて「Ｙｅｓ」と判定し、ステップＳ６１０〜Ｓ６１３の処理を実行する。これらのステップＳ６１０〜Ｓ６１３の処理においては、ステップＳ６１０，Ｓ６１２の処理により基準レベルＨ(１)〜Ｈ(８)のいずれかを指定するための変数ｎを「５」から「１」ずつ順次増加させて、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(ｎ)が記録層数ＬＮＯ以上である限り、変数ｎが最大の基準レベルＨ(８)の指定を終了するまで、ステップＳ６１３にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ６１１〜Ｓ６１３の循環処理を繰り返し実行する。そして、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(ｎ)が記録層数ＬＮＯ以上でなくなれば、コントローラ６０は、ステップＳ６１１にて「Ｎｏ」と判定してプログラムをステップＳ６１４に進める。また、変数ｎが「９」以上になれば、コントローラ６０は、ステップＳ６１３にて「Ｙｅｓ」と判定してプログラムをステップＳ６１４に進める。
【００６７】
ステップＳ６１４においては、コントローラ６０は、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯよりも大きいか否かを判定する。カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅が基準レベルＦ(２)よりも大きくて、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯよりも大きければ、コントローラ６０は、ステップＳ６１４にて「Ｙｅｓ」と判定してプログラムをステップＳ６１５に進める。ステップＳ６１５においては、コントローラ６０は、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルを基準レベルＦ(ｎ)と基準レベルＦ(２)との中間値{Ｆ(ｎ)＋Ｆ(２)｝／２に設定する。なお、この場合、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅値は、基準レベルＦ(２)と基準レベルＦ(３)との間にある。
【００６８】
また、前記ステップＳ６１４にて「Ｎｏ」すなわち正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯよりも大きくないと判定された場合、コントローラ６０は、ステップＳ６１６にてＳ字検出回路３７のＳ字検出レベルを基準レベルＦ(ｎ)と基準レベルＦ(１)との中間値{Ｆ(ｎ)＋Ｆ(１)｝／２に設定する。なお、この場合、前記条件２である「カバー層Ｎ０に関するＳ字振幅レベルの絶対値は、基準レベルＦ(１)、Ｇ(１)の絶対値よりも大きい」との前提に基づき、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅値は基準レベルＦ(１)と基準レベルＦ(２)との間にある。
【００６９】
これらのステップＳ６１５，Ｓ６１６の処理は、図１６(Ｂ)に示すように、記録層数ＬＮＯに等しい数のＳ字波形信号の検出される最大の基準レベルＦ(ｎ−１)を基準レベルＡとするとともに、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の検出される最大の基準レベルＦ(２)又はＦ(１)（すなわち正側レベル対応Ｓ字検出数が記録層数ＬＮＯに「１」を加えた値ＬＮＯ＋１以上である最大の基準レベルＦ(２)又はＦ(１)）を基準レベルＢとすると、Ｓ字検出レベルは基準レベルＡよりも「１」だけ上の基準レベルＡ＋１と基準レベルＢの中間値(Ａ＋１＋Ｂ)／２に設定されることを意味する。なお、図１６(Ｂ)は、記録層数ＬＮＯに等しい数のＳ字波形信号の検出される最大の基準レベルが基準レベルＦ(５)であり、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の検出される最大の基準レベルが基準レベルＦ(２)である場合を示している。そして、前記ステップＳ６０８〜Ｓ６１６の処理によって設定されるＳ字検出レベルは、必ず基準レベルＦ(３)以上の値に設定され、前記条件３によるノイズの影響を受けることはない。また、基準レベルＡと基準レベルＢとの間には、「２」以上のレベル差があり、Ｓ字検出レベルは基準レベルＡ＋１と基準レベルＢの中間値(Ａ＋１＋Ｂ)／２に設定されるので、Ｓ字検出レベルと基準レベルＡ及び基準レベルＢとの各間には少なくとも基準レベルの間隔の半分よりも大きな差が生ずることになるので、カバー層Ｎ０及び記録層Ｎ１〜Ｎ４によるＳ字波形信号の振幅とＳ字検出レベルとの比較において誤ることがなくなる。
【００７０】
また、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯ以上であり、かつ正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(４)が記録層数ＬＮＯ未満である場合には、コントローラ６０は、前記ステップＳ６０８，Ｓ６０９にて「Ｙｅｓ」、「Ｎｏ」とそれぞれ判定して、プログラムをステップＳ６１７に進める。ステップＳ６１７においては、コントローラ６０は、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯ以下であるか否かを判定する。カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅が基準レベルＦ(２)以下で、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯ以下（実際には、記録層数ＬＮＯに等しい）であれば、コントローラ６０は、ステップＳ６１７にて「Ｙｅｓ」と判定し、ステップＳ６１８にてＳ字検出回路３７のＳ字検出レベルを基準レベルＦ(３)と基準レベルＦ(２)との中間値{Ｆ(３)＋Ｆ(２)｝／２に設定する。この場合も、前記条件２である「カバー層Ｎ０に関するＳ字振幅レベルの絶対値は、基準レベルＦ(１)、Ｇ(１)の絶対値よりも大きい」との前提に基づき、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅値は基準レベルＦ(１)と基準レベルＦ(２)との間にある。また、記録層Ｎ１〜Ｎ４のＳ字波形信号の全ての振幅値が超える最大の基準レベルは基準レベルＦ(３)である。
【００７１】
前記のように、Ｓ字基準レベルが値{Ｆ(３)＋Ｆ(２)｝／２に設定される結果、前記条件３によるノイズの影響を受けることはない。また、Ｓ字検出レベルと、基準レベルＦ(３)及び基準レベルＦ(２)との各間には少なくとも基準レベルの間隔の半分の差が生ずることになるので、カバー層Ｎ０及び記録層Ｎ１〜Ｎ４によるＳ字波形信号の振幅とＳ字検出レベルとの比較において誤ることがなくなる。
【００７２】
前記ステップＳ６１５，Ｓ６１６，Ｓ６１８の処理後、コントローラ６０は、ステップＳ６１９にて指定記録層ＮDLNの検出のために用いる変数ｋを指定記録層番号ＤＬＮに設定する。これは、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅が小さいために、後述する指定記録層ＮDLNの検出にカバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の検出が利用されないためである。
【００７３】
さらに、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯよりも小さい場合、すなわち記録層Ｎ１〜Ｎ４による全てのＳ字波形信号の振幅が超える最大の基準レベルが基準レベルＦ(３)以下である場合、コントローラ６０は、前記ステップＳ６０１，Ｓ６０８にてそれぞれ「Ｎｏ」と判定して、プログラムを図９ＣのステップＳ６４０以降に進める。また、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯ以上であり、かつ正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(４)が記録層数ＬＮＯよりも小さく（すなわち記録層Ｎ１〜Ｎ４による全てのＳ字波形信号の振幅が超える最大の基準レベルがＦ(３)であり)、かつ正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯよりも大きい（すなわち、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅が基準レベルＦ(２)よりも大きい）とき、コントローラ６０は、前記ステップＳ６０１，Ｓ６０８，Ｓ６０９，Ｓ６１７にて、「Ｎｏ」、「Ｙｅｓ」、「Ｎｏ」、「Ｎｏ」とそれぞれ判定して、プログラムを図９ＣのステップＳ６４０以降に進める。図９ＣのステップＳ６４０以降の処理は、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)〜Ｈ(８)を用いてＳ字検出レベルを決定すると指定記録層の検出を誤る可能性がある場合であり、これについては詳しく後述する。
【００７４】
前記ステップＳ６０７，Ｓ６１９の処理後、コントローラ６０は、図９ＢのステップＳ６２０以降の処理を実行する。ステップＳ６２０においては、フォーカス引込みを失敗した場合の回数をカウントするためのエラーカウント値ＥＣＴを「０」に設定する。次に、コントローラ６０は、ステップＳ６２１にてＳ字検出回数をカウントするためのカウント値ｐを「０」にクリアし、ステップＳ６２２にてＳ字検出回路３７におけるＳ字波形信号の検出極性を正極性に設定して、ステップＳ６２３〜Ｓ６２６の循環処理を実行する。この循環処理においては、コントローラ６０は、ステップＳ６２６にてカウント値ｐが前記設定した変数ｋに等しいことが検出されるか、又はステップＳ６２４にて往復動信号発生回路３６からの最上点位置を表す信号の入力が検出されるまで、ステップＳ６２３にてＳ字検出回路３７からのＳ字検出信号の入力を検出するごとに、ステップＳ６２５にてカウント値ｐを「１」ずつカウントアップする。なお、この場合、前述した図８の記録層数決定ルーチンの終了時の直後であり、往復動信号は最下点位置の近傍位置を表している、すなわち対物レンズ２５は最下点位置の近傍にある。したがって、ステップＳ６２３〜Ｓ６２６の循環処理においては、対物レンズ２５を最下点位置から最上点位置まで上昇させながら、前記設定したＳ字検出レベルを正側に超えるＳ字波形信号の数をカウント値ｐとして検出することになる。
【００７５】
前記ステップＳ６２３〜Ｓ６２６の循環処理中、カウント値ｐが変数ｋに等しくなると、コントローラ６０は、ステップＳ６２６にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ６２７，Ｓ６２８の処理を実行して、ステップＳ６７０にてフォーカス引込みルーチンの実行を終了する。ステップＳ６２７においては、コントローラ６０は、往復動信号発生回路３６及びＳ字検出回路３７の作動を停止させる。ステップＳ６２８においては、コントローラ６０は、フォーカスサーボ回路３５の作動を開始させる。これらのステップＳ６２７，Ｓ６２８の処理により、ドライブ回路３３は、往復動信号発生回路３６からの往復動信号に代えてフォーカスサーボ回路３５からのフォーカスサーボ信号を用いてフォーカスアクチュエータ２９を駆動し始める。これにより、検出記録層にレーザ光が合焦され続ける。すなわち、前記検出記録層にフォーカス引込みされる。このフォーカス引込み後には、前述のように、図示しないプログラムの実行により、フォーカス引込みされた記録層にデータが記録され、又は前記記録層に記録されているデータが再生される。
【００７６】
一方、前記ステップＳ６２３〜Ｓ６２６からなる循環処理中、カウント値ｐが変数ｋに等しくなる前に、往復動信号発生回路３６から最上点位置を表す信号が入力されると、コントローラ６０は、ステップＳ６２４にて「Ｙｅｓ」と判定してプログラムをステップＳ６２９に進める。ステップＳ６２９においては、コントローラ６０は、エラーカウント値ＥＣＴに「１」を加算する。次に、コントローラ６０は、ステップＳ６３０にてエラーカウント値ＥＣＴが「３」以上であるかを判定し、「３」以上でなければ、ステップＳ６３１にて往復動信号発生回路３６から最下点位置を表す信号の入力を待つ。この最下点位置を表す信号を待つ間、対物レンズ２５は往復動信号により制御されて、最上点位置から最下点位置に向かって移動する。そして、対物レンズ２５が最下点位置に達して、往復動信号発生回路３６から最下点位置を表す信号がコントローラ６０に入力されると、コントローラ６０は、ステップＳ６３１にて「Ｙｅｓ」と判定して、前述したステップＳ６２１〜Ｓ６２６の処理を実行して、変数ｋに対応した記録層を再び検出し始める。そして、変数ｋに対応した記録層が検出されると、すなわち変数ｋとカウント値ｐとが等しくなると、前述したステップＳ６２７，Ｓ６２８のフォーカス引込みが実行される。
【００７７】
このようなフォーカス引込みにおいては、前述した図９ＡのステップＳ６０１〜Ｓ６１９の処理により、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルが的確に設定されているとともに、指定記録層ＮDLNを検出するために用いる変数ｋも的確に設定されている。したがって、図９ＢのステップＳ６２０〜Ｓ６３１の処理により、指定記録層ＮDLNにフォーカス引込み制御が的確に行われるようになる。
【００７８】
また、エラーカウント値ＥＣＴが「３」以上になった場合には、コントローラ６０は、ステップＳ６３０にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ６３２，Ｓ６３３の処理を実行する。ステップＳ６３２においては、コントローラ６０は、表示装置６２にエラー表示して、作業者にフォーカス引込みの失敗を伝える。ステップＳ６３３においては、コントローラ６０は、装置全体の作動を停止させる。そして、この場合には、コントローラ６０は、ステップＳ６７１にてプログラムの実行を停止する。
【００７９】
次に、図９Ｃの処理について説明する。この処理は、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)〜Ｈ(８)を用いてＳ字検出回路３７に正側のＳ字検出レベルを設定すると、指定記録層ＮDLNの検出を誤る可能性がある場合に、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(１)〜Ｌ(８)を用いてＳ字検出回路３７に負側のＳ字検出レベルを設定するとともに、前記設定されたＳ字検出レベルを用いてフォーカス引込み処理を実行するための処理である。
【００８０】
この場合、コントローラ６０は、ステップＳ６４０にてエラーカウント値ＥＣＴを「０」にクリアし、ステップＳ６４１〜Ｓ６５２のＳ字検出レベルの設定処理を実行する。ステップＳ６４１〜Ｓ６４６の処理は図９ＡのステップＳ６０１〜Ｓ６０６の処理に対応するもので、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯよりも「１」だけ大きな値ＬＮＯ＋１以上であるとき、コントローラ６０は、ステップＳ６４１〜Ｓ６４６の処理により、Ｓ字検出回路３７のＳ字検出レベルを、負側の基準レベルＧ(３)〜Ｇ(８)のうちで、記録層数ＬＮＯよりも「１」だけ大きな数のＳ字波形信号が検出される最小基準レベル（絶対値が最大となる基準レベル）Ｇ(ｎ−１)の半分の値Ｇ(ｎ−１)／２に設定する。また、ステップＳ６４７の処理は、図９ＡのステップＳ６０７に対応するもので、コントローラ６０は、ステップＳ６４７にて、指定記録層ＮDLNの検出のために用いる変数ｋを、記録層数ＬＮＯに「１」を加えた値から指定記録層番号ＤＬＮを減算した値ＬＮＯ＋１−ＤＬＮに設定する。これは、図９Ｂの場合とは逆に、後述するフォーカス引込みの行われるＳ字検出回数のカウントをレーザ光の焦点を下層側から上層側（カバー層Ｎ０側）に移動させて最下の記録層からカウントを行うためである。
【００８１】
また、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が前記値ＬＮＯ＋１以上でなければ、コントローラ６０は、ステップＳ６４１にて「Ｎｏ」と判定して、プログラムをステップＳ６４８に進める。ステップＳ６４８においては、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯ以上であるかを判定する。負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯ以上であれば、コントローラ６０は、ステップＳ６４８にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ６４９〜Ｓ６５２の処理を実行する。このステップＳ６４９〜Ｓ６５２の処理は、図９ＡのステップＳ６１０〜Ｓ６１３の処理に対応するもので、コントローラ６０は、このステップＳ６４９〜Ｓ６５２の循環処理により、負側の基準レベルＧ(４)〜Ｇ(８)のうちで、記録層数ＬＮＯのＳ字波形信号が検出されなくなった最初の基準レベルＧ(ｎ)を検出、すなわち記録層数ＬＮＯのＳ字波形信号が検出される最小基準レベル（絶対値が最大となる負の基準レベル）Ｇ(ｎ−１)よりも「１」だけ小さな基準レベルＧ(ｎ)が検出される。そして、前述したステップＳ６４６の処理により、Ｓ字検出レベルは最小基準レベルＧ(ｎ−１)の半分の値Ｇ(ｎ−１)／２に設定される。また、前述したステップＳ６４７の処理により、変数ｋも、前述した場合と同様な値ＬＮＯ＋１−ＤＬＮに設定される。同様な値に設定されるのは、図９Ｂの場合とは逆に、後述するフォーカス引込みの行われるＳ字検出回数のカウントをレーザ光の焦点を下層側から上層側（カバー層Ｎ０側）に移動させながら行うため、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の検出が最初に行われないためである。
【００８２】
さらに、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯよりも小さい場合には、コントローラ６０は、ステップＳ６４８にて「Ｎｏ」と判定して、前述した図９ＢのステップＳ６３２と同様なステップＳ６５３のエラー表示処理、前述した図９ＢのステップＳ６３３と同様なステップＳ６５４の装置全体の作動停止処理を実行して、ステップＳ６７１にてプログラムの実行を停止する。これは、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯよりも小さいことは、前記条件１の「記録層Ｎ１〜Ｎ４に関するＳ字振幅レベルの絶対値は、基準レベルＦ(３)、Ｇ(３)の絶対値よりも大きい」に該当しない何らかの異常が発生したと判断するためである。
【００８３】
前述したＳ字検出レベル及び変数ｋの設定が完了すると、コントローラ６０は、ステップＳ６５５にて負側のＳ字検出回数をカウントするためのカウント値ｍを「０」にクリアし、ステップＳ６５６にて往復動信号発生回路３６からの最上点位置を表す信号の入力を待つ。対物レンズ２５が最上点位置に達して、往復動信号発生回路３６からの最上点位置を表す信号がコントローラ６０に入力されると、コントローラ６０は、ステップＳ６５６にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ６５７にてＳ字検出回路３７におけるＳ字波形信号の検出極性を負極性に設定して、ステップＳ６５８〜Ｓ６６１の循環処理を実行する。この循環処理は、前述した図９ＢのステップＳ６２３〜Ｓ６２６の循環処理に対応するもので、カウント値ｍを用いている点、及び往復動信号発生回路４６からの最下点位置を表す信号が入力されるまで循環処理が実行される点において、図９ＢのステップＳ６２３〜Ｓ６２６の循環処理とは異なる。このステップＳ６５８〜Ｓ６６１の処理により、対物レンズ２５を最上点位置から最下点位置まで下降させながら、前記設定したＳ字検出レベルを負側に超えるＳ字波形信号（逆Ｓ字波形信号）の数を表すカウント値ｍが前記設定した変数ｋに等しくなることを条件に、指定記録層ＮDLNにレーザ光を合焦させる。
【００８４】
そして、レーザ光が指定記録層ＮDLNに合焦した時点で、コントローラ６０は、前記ステップＳ６２７と同様なステップＳ６６２の処理により往復動信号発生回路３６及びＳ字検出回路３７の作動を停止させるとともに、前記ステップＳ６２８と同様なステップＳ６６３の処理によりフォーカスサーボ回路３５の作動を開始させ、ステップＳ６７０にてこのフォーカス引込みルーチンの実行を終了する。したがって、この場合も、前述した場合と同様に、指定記録層ＮDLNにフォーカス引込みされる。このフォーカス引込み後にも、前記と同様に、図示しないプログラムの実行により、フォーカス引込みされた記録層にデータが記録され、又は前記記録層に記録されているデータが再生される。
【００８５】
一方、前記ステップＳ６５８〜Ｓ６６１からなる循環処理中、カウント値ｍが変数ｋに等しくなる前に、往復動信号発生回路３６から最下点位置を表す信号が入力されると、コントローラ６０は、ステップＳ６５９にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ６６４〜Ｓ６６７，Ｓ６７１の処理を実行する。これらのステップＳ６６４〜Ｓ６６７，Ｓ６７１の処理は前記図９ＢのステップＳ６２９，Ｓ６３０，Ｓ６３２，Ｓ６３３、Ｓ６７１の処理と同じであり、前記最下点位置を表す信号の入力ごとにカウントアップされるエラーカウント値ＥＣＴが「３」になると、コントローラ６０は、ステップＳ６６６，Ｓ６６７，Ｓ６７１の処理により、エラー表示処理及び装置全体の作動停止処理を実行して、プログラムの実行を停止する。なお、エラーカウント値ＥＣＴが「３」に達するまでは、コントローラ６０は、ステップＳ６６５にて「Ｎｏ」と判定して、前述したステップＳ６５６の処理により対物レンズ２５が最上点位置に達して降下を始めた時点で、前記ステップＳ６５８〜Ｓ６６１の循環処理を実行する。
【００８６】
ｉ．Ｓ字波形評価ルーチン
Ｓ字波形評価ルーチンは図１０Ａ及び図１０Ｂに詳細に示されており、その実行がステップＳ７００にて開始される。この実行開始後、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯよりも「１」以上大きい場合（Ｈ(３)≧ＬＮＯ＋１）、コントローラ６０は、ステップＳ７０１〜Ｓ７０６の処理により、信号抽出回路４０内の正側２値化回路４１のスライスレベルを設定する。これらのステップＳ７０１〜Ｓ７０６の処理は、図９ＡのステップＳ６０１〜Ｓ６０６と同様な処理であり、ステップＳ７０６の処理が、ステップＳ６０６の処理によるＳ字検出回路３７のＳ字検出レベルの設定に代えて、正側２値化回路４１のスライスレベル（Ｓ字検出レベルに相当）を設定する点で異なるのみである。これにより、正側２値化回路４１のスライスレベルは、基準レベルＦ(３)〜Ｆ(８)のうちで、記録層数ＬＮＯよりも「１」だけ大きな数のＳ字波形信号が検出される最大の基準レベルの半分の値Ｆ(ｎ−１)／２に設定される。前記ステップＳ７０６の処理後、コントローラ６０は、ステップＳ７０７にて、信号抽出回路４０の出力指示回路４６に対して、Ｓ字波形信号の検出カウント値にカバー層Ｎ０によるＳ字波形信号を含むことを表す指示情報を出力する。出力指示回路４６は、この出力された指示情報を記憶する。
【００８７】
一方、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅が基準レベルＦ(３)以下であり、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(４)が記録層数ＬＮＯ以上であれば、コントローラ６０は、ステップＳ７０１，Ｓ７０８〜Ｓ７１６の処理により、信号抽出回路４０内の正側２値化回路４１のスライスレベルを設定する。これらのステップＳ７０１，Ｓ７０８〜Ｓ７１６の処理は、図９ＡのステップＳ６０１，Ｓ６０８〜Ｓ６１６と同様な処理であり、ステップＳ７１５，Ｓ７１６の処理が、ステップＳ６１５，Ｓ６１６の処理によるＳ字検出回路３７のＳ字検出レベルの設定に代えて、正側２値化回路４１のスライスレベルを設定する点で異なるのみである。したがって、前述した図９Ａのフォーカス引込みルーチンの場合と同様に、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯよりも大きければ、正側２値化回路４１のスライスレベルは、記録層数ＬＮＯに等しい数のＳ字波形信号の検出される最大の基準レベルＦ(ｎ−１)よりも１つ上の基準レベルＦ(ｎ)と、基準レベルＦ(２)との中間値{Ｆ(ｎ)＋Ｆ(２)｝／２に設定される。また、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯよりも大きくなければ、前記基準レベルＦ(ｎ)と、基準レベルＦ(１)との中間値{Ｆ(ｎ)＋Ｆ(１)｝／２に設定される。そして、前記ステップＳ７１５，Ｓ７１６の処理後、コントローラ６０は、ステップＳ７１９にて、信号抽出回路４０の出力指示回路４６に対して、Ｓ字波形信号の検出カウント値にカバー層Ｎ０によるＳ字波形信号を含めないことを表す指示情報を出力する。出力指示回路４６は、この出力された指示情報を記憶する。
【００８８】
さらに、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅が基準レベルＦ(３)以下であり、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯ以上、かつ正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(４)が記録層数ＬＮＯ以上でなければ、コントローラ６０は、ステップＳ７０１，Ｓ７０８，Ｓ７０９，Ｓ７１７，Ｓ７１８，Ｓ７２０の処理により、信号抽出回路４０内の正側２値化回路４１のスライスレベルを設定する。ステップＳ７２０を除くステップＳ７０１，Ｓ７０８，Ｓ７０９，Ｓ７１７，Ｓ７１８の処理は、図９ＡのステップＳ６０１，Ｓ６０８，Ｓ６０９，Ｓ６１７，Ｓ６１８と同様な処理であり、ステップＳ７１８の処理が、ステップＳ６１８の処理によるＳ字検出回路３７のＳ字検出レベルの設定に代えて、正側２値化回路４１のスライスレベルを設定する点で異なるのみである。したがって、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯ以下であれば、上記フォーカス引込みの場合と同様に、正側２値化回路４１のスライスレベルは基準レベルＦ(３)と基準レベルＦ(２)との中間値{Ｆ(３)＋Ｆ(２)｝／２に設定される。そして、前記ステップＳ７１８の処理後、コントローラ６０は、前記ステップＳ７１９にて、信号抽出回路４０の出力指示回路４６に対して、Ｓ字波形信号の検出カウント値にカバー層Ｎ０によるＳ字波形信号を含めないことを表す指示情報を出力する。出力指示回路４６は、この出力された指示情報を記憶する。
【００８９】
また、前記正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(４)が記録層数ＬＮＯ以上でない場合でも、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(２)が記録層数ＬＮＯ以下でなければ、コントローラ６０は、ステップＳ７１７にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ７２０の処理を実行する。このステップＳ７２０においては、正側２値化回路４１のスライスレベルが、基準レベルＦ(２)と基準レベルＦ(１)との中間値{Ｆ(２)＋Ｆ(１)｝／２に設定される。これは、Ｓ字波形信号の評価の場合には、前記フォーカス引込みの場合とは異なり、ノイズの影響よりもＳ字波形信号の取出しを優先するためである。この状態は、図１６(Ｃ)に示すように、記録層数ＬＮＯに等しい数のＳ字波形信号の検出される最大の基準レベルＡが基準レベルＦ(３)であり、かつカバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の検出される最大の基準レベルＢが基準レベルＦ(２)の場合であり、太い破線で示すように、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の振幅値はスライスレベルとして設定される値{Ｆ(２)＋Ｆ(１)｝／２を超える。したがって、この場合には、コントローラ６０は、ステップＳ７２１にて、信号抽出回路４０の出力指示回路４６に対して、Ｓ字波形信号の検出カウント値にカバー層Ｎ０によるＳ字波形信号を含むことを表す指示情報を出力する。出力指示回路４６は、この出力された指示情報を記憶する。
【００９０】
また、このＳ字波形評価ルーチンにおいては、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯよりも小さい場合には、コントローラ６０は、ステップＳ７０８にて「Ｎｏ」と判定して、前述した図９ＢのステップＳ６３２と同様なステップＳ７２２のエラー表示処理、前述した図９ＢのステップＳ６３３と同様なステップＳ７２３の装置全体の作動停止処理を実行して、ステップＳ７５１にてプログラムの実行を停止する。これは、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯよりも小さいことは、前記条件１の「記録層Ｎ１〜Ｎ４に関するＳ字振幅レベルの絶対値は、基準レベルＦ(３)、Ｇ(３)の絶対値よりも大きい」に該当せず、何らかの異常が発生したと判断するためである。
【００９１】
前記ステップＳ７０７，Ｓ７１９，Ｓ７２１の処理後、コントローラ６０は、図１０ＢのステップＳ７３０以降の処理を実行する。負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯよりも「１」以上大きい場合（Ｌ(３)≧ＬＮＯ＋１）、コントローラ６０は、ステップＳ７３０〜Ｓ７３５の処理により、信号抽出回路４０内の負側２値化回路４２のスライスレベルを設定する。これらのステップＳ７３０〜Ｓ７３５の処理は、図９ＣのステップＳ６４１〜Ｓ６４６と同様な処理であり、ステップＳ７３５の処理が、ステップＳ６４６の処理によるＳ字検出回路３７のＳ字検出レベルの設定に代えて、負側２値化回路４２のスライスレベルを設定する点で異なるのみである。これにより、負側２値化回路４２のスライスレベルは、基準レベルＧ(３)〜Ｇ(８)のうちで、記録層数ＬＮＯよりも「１」だけ大きな数のＳ字波形信号が検出される最小（絶対値が最大）の基準レベルの半分の値Ｇ(ｎ−１)／２となる。
【００９２】
また、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯよりも「１」以上大きくなく、かつ負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯ以上であれば、コントローラ６０は、ステップＳ７３０，Ｓ７３６〜Ｓ７４０，Ｓ７３５の処理により、信号抽出回路４０内の負側２値化回路４２のスライスレベルを設定する。これらのステップＳＳ７３０，Ｓ７３６〜Ｓ７４０，Ｓ７３５の処理は、図９ＣのステップＳ６４１，Ｓ６４８〜Ｓ６５２，Ｓ６４６と同様な処理であり、ステップＳ７３５の処理が、ステップＳ６４６の処理によるＳ字検出回路３７のＳ字検出レベルの設定に代えて、負側２値化回路４２のスライスレベルを設定する点で異なるのみである。これにより、負側２値化回路４２のスライスレベルは、基準レベルＧ(３)〜Ｇ(８)のうちで、記録層数ＬＮＯに等しい数のＳ字波形信号が検出される最小（絶対値が最大）の基準レベルの半分の値Ｇ(ｎ−１)／２となる。
【００９３】
なお、この場合には、信号抽出回路４０の出力指示回路４６に対して、Ｓ字波形信号の検出カウント値にカバー層Ｎ０によるＳ字波形信号を含める否かを表す指示情報を出力することはない。これは、対物レンズ２５を最下層Ｎ４側から最上層Ｎ１側（すなわちカバー層Ｎ０側）に移動させながら指定記録層ＮDLNを検出する場合には、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号はすべてのＳ字波形信号において最後に発生するために問題にならないからである。
【００９４】
また、この図１０ＢのＳ字波形評価ルーチンにおいては、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯよりも小さい場合には、コントローラ６０は、ステップＳ７３６にて「Ｎｏ」と判定して、前述した図９ＢのステップＳ６３２と同様なステップＳ７４１のエラー表示処理、前述した図９ＢのステップＳ６３３と同様なステップＳ７４２の装置全体の作動停止処理を実行して、ステップＳ７５１にてプログラムの実行を停止する。これは、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(３)が記録層数ＬＮＯよりも小さいことは、前記条件１の「記録層Ｎ１〜Ｎ４に関するＳ字振幅レベルの絶対値は、基準レベルＦ(３)、Ｇ(３)の絶対値よりも大きい」に該当せず、何らかの異常が発生したと判断するためである。
【００９５】
前記ステップＳ７３５の処理後、コントローラ６０は、ステップＳ７４３にてＳ字検出回路３７の作動を停止させ、ステップＳ７４４にて出力指示回路４６に指定記録層番号ＤＬＮ及び記録層数ＬＮＯを出力する。出力指示回路４６は、出力された指定記録層番号ＤＬＮ及び記録層数ＬＮＯを記憶する。次に、コントローラ６０は、ステップＳ７４５にて出力指示回路４６に作動開始を指示し、ステップＳ７４６にて信号解析装置５０に信号の取込みを指示して、ステップＳ７５０にてＳ字波形信号評価ルーチンの実行を終了する。
【００９６】
ｇ．Ｓ字波形取出しプログラム
出力指示回路４６は、前記コントローラ６０からの作動指示により、図１１Ａ及び図１１Ｂに示すＳ字波形信号取出しプログラムの実行を開始する。この実行開始後、出力指示回路４６は、ステップＳ８０１にて、前記記憶した指示情報がＳ字波形信号の検出カウント値にカバー層Ｎ０を含むことを表すか否かを判定する。前記判定が肯定であれば、出力指示回路４６は、ステップＳ８０１にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ８０２にて変数ｍを「１」に設定する。前記判定が否定であれば、出力指示回路４６は、ステップＳ８０１にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ８０３にてカウント値ｍを「０」に設定する。すなわち、対物レンズ２５を最下点位置から上方へ移動している際に、正側２値化回路４１にてカバー層Ｎ０によるＳ字信波形信号が前記設定されたスライスレベルを超える場合、変数ｍは「１」に設定され、そうでな場合に「０」に設定される。前記ステップＳ８０２，Ｓ８０３の処理後、出力指示回路４６は、ステップＳ８０４にて往復動している対物レンズ２５が最下点位置まで達するまで待つ。
【００９７】
対物レンズ２５が最下点位置に達して往復動信号発生回路３６から最下点位置を表す信号が出力指示回路４６に入力されると、出力指示回路４６は、ステップＳ８０４にて「Ｙｅｓ」と判定し、ステップＳ８０５にてカウント値ｎを「０」にクリアする。カウント値ｎは、対物レンズ２５を最下点位置から上方へ移動している際に、正側２値化回路４１にて前記設定されたスライスレベルを超えたＳ字波形信号の数、すなわち取出し信号発生回路４５から出力される正パルスの数をカウントするためのカウント値である。
【００９８】
前記ステップＳ８０５の処理後、出力指示回路４６は、ステップＳ８０６〜Ｓ８０９の循環処理を実行する。この循環処理においては、出力指示回路４６は、ステップＳ８０９にてカウント値ｎが指定記録層番号ＤＬＮに変数ｍを加算した値ＤＬＮ＋ｍに等しいことが検出されるか、又はステップＳ８０７にて往復動信号発生回路３６からの最上点位置を表す信号の入力を検出するまで、ステップＳ８０６にて取出し信号発生回路４５から入力される正側取出し用信号のローレベルからハイレベルへの変化を検出するごとに、ステップＳ８０８にてカウント値ｎを「１」ずつカウントアップする。なお、この正側取出し用信号のローレベルからハイレベルへの変化は、対物レンズ２５を上層側から下層側へ移動させている際のＳ字波形信号の検出に対応する。したがって、ステップＳ８０６〜Ｓ８０９の循環処理においては、対物レンズ２５を最下点位置から最上点位置まで上昇させながら、前記設定したスライスレベルを正側に超えるＳ字波形信号の数をカウント値ｎとして検出することになる。
【００９９】
前記ステップＳ８０６〜Ｓ８０９の循環処理中、カウント値ｎが値ＤＬＮ＋ｍに等しくなると、出力指示回路４６は、ステップＳ８０９にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ８１０以降にプログラムを進める。なお、カウント値ｎが値ＤＬＮ＋ｍに等しいことは、指定記録層ＮDLNによるＳ字波形信号が出力中であることを意味する。出力指示回路４６は、ステップＳ８１０にて取出し信号発生回路４５に対して正側取出し用信号の発生開始を指示し、ステップＳ８１１にて取出し信号発生回路４５から入力される正側取出し用信号のハイレベルからローレベルへの変化を待つ。そして、前記変化があると、出力指示回路４６は、ステップＳ８１１にて「Ｙｅｓ」と判定し、ステップＳ８１２にて取出し信号発生回路４５に対する正側取出し用信号の発生終了を指示する。これにより、取出し信号発生回路４５は図１４(Ｈ)の左側に示すゲート信号をゲート回路４７に出力し、ゲート回路４７はフォーカスエラー信号生成回路３４からのフォーカスエラー信号すなわち指定記録層ＮDLNによるＳ字波形信号を信号解析装置５０に出力する。
【０１００】
前記ステップＳ８１２の処理後、出力指示回路４６は、ステップＳ８１３にて、対物レンズ２５が最上点位置に達して往復動信号発生回路３６から最上点位置を表す信号が出力指示回路４６に供給されるまで待つ。この場合、対物レンズ２５は上層側から下層側へ移動中であり、次の処理では、対物レンズ２５を下層側から上層側へ移動させながら指定記録層ＮDLNを検出するためである。そして、往復動信号発生回路３６から最上点位置を表す信号が出力指示回路４６に供給されると、出力指示回路４６は、ステップＳ８１３にて「Ｙｅｓ」と判定して、プログラムを図１１ＢのステップＳ８２０に進める。また、前記ステップＳ８０６〜Ｓ８０９の循環処理中、往復動信号発生回路３６から最上点位置を表す検出信号が入力されると、出力指示回路４６は、ステップＳ８０７にて「Ｙｅｓ」と判定して、プログラムを図１１ＢのステップＳ８２０に進める。この場合、取出し信号発生回路４５からゲート回路４７へゲート信号は出力されず、前記フォーカスエラー信号すなわちＳ字波形信号は信号解析装置５０には出力されない。
【０１０１】
次に、図１１Ｂの処理について説明する。この場合、対物レンズ２５を下層側から上層側へ移動しながらＳ字波形信号の検出数をカウントするので、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の検出の有無が指定記録層ＮDLNの検出には関係せず、前述した図１１ＡのステップＳ８０１〜Ｓ８０３の変数ｍの設定処理は必要ない。まず、出力指示回路４６は、ステップＳ８２０にてカウント値ｎを「０」にクリアする。この場合のカウント値ｎは、対物レンズ２５を最上点位置から下方へ移動している際に、負側２値化回路４２にて前記設定されたスライスレベルを超えたＳ字波形信号の数、すなわち取出し信号発生回路４５から出力される正パルスの数をカウントするためのカウント値である。
【０１０２】
前記ステップＳ８２０の処理後、出力指示回路４６は、ステップＳ８２１〜Ｓ８２４の循環処理を実行する。この循環処理においては、出力指示回路４６は、ステップＳ８２４にてカウント値ｎが記録層数ＮＬＯに「１」を加算した値から指定記録層番号ＤＬＮを減算した値ＬＮＯ＋１−ＤＬＮに等しいことが検出されるか、又はステップＳ８２２にて往復動信号発生回路３６からの最下点位置を表す信号の入力を検出するまで、ステップＳ８２１にて取出し信号発生回路４５から入力される負側取出し用信号のローレベルからハイレベルへの変化を検出するごとに、ステップＳ８２３にてカウント値ｎを「１」ずつカウントアップする。なお、この負側取出し用信号のローレベルからハイレベルへの変化は、対物レンズ２５を下層側から上層側へ移動させている際のＳ字波形信号の検出に対応する。したがって、ステップＳ８２１〜Ｓ８２４の循環処理においては、対物レンズ２５を最上点位置から最下点位置まで下降させながら、前記設定したスライスレベルを負側に超えるＳ字波形信号の数をカウント値ｎとして検出することになる。
【０１０３】
前記ステップＳ８２１〜Ｓ８２４の循環処理中、カウント値ｎが値ＬＮＯ＋１−ＤＬＮに等しくなると、出力指示回路４６は、ステップＳ８２４にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ８２５以降にプログラムを進める。なお、カウント値ｎが値ＬＮＯ＋１−ＤＬＮに等しいことは、指定記録層ＮDLNによるＳ字波形信号が出力中であることを意味する。出力指示回路４６は、ステップＳ８２５にて取出し信号発生回路４５に対して負側取出し信号の発生開始を指示し、ステップＳ８２６にて取出し信号発生回路４５から入力される負側取出し用信号のハイレベルからローレベルへの変化を待つ。そして、前記変化があると、出力指示回路４６は、ステップＳ８２６にて「Ｙｅｓ」と判定し、ステップＳ８２７にて取出し信号発生回路４５に対する負側取出し信号の発生終了を指示する。これにより、取出し信号発生回路４５は図１４(Ｈ)の右側に示すゲート信号をゲート回路４７に出力し、ゲート回路４７はフォーカスエラー信号生成回路３４からのフォーカスエラー信号すなわち指定記録層ＮDLNによるＳ字波形信号を信号解析装置５０に出力する。
【０１０４】
前記ステップＳ８２７の処理後、出力指示回路４６は、ステップＳ８２８にて、対物レンズ２５が最下点位置に達して往復動信号発生回路３６から最下点位置を表す信号が出力指示回路４６に供給されるまで待つ。そして、往復動信号発生回路３６から最下点位置を表す信号が出力指示回路４６に供給されると、出力指示回路４６は、ステップＳ８２８にて「Ｙｅｓ」と判定して、プログラムをステップＳ８２９に進める。また、前記ステップＳ８２１〜Ｓ８２４の循環処理中、往復動信号発生回路３６からの最下点位置を表す信号の入力が検出されると、出力指示回路４６は、ステップＳ８２２にて「Ｙｅｓ」と判定して、プログラムをステップＳ８２９に進める。この場合、取出し信号発生回路４５からゲート回路４７へゲート信号は出力されず、前記フォーカスエラー信号すなわちＳ字波形信号は信号解析装置５０には出力されない。
【０１０５】
ステップＳ８２９においては、出力指示回路４６が、ユーザによるＳ字波形信号の評価終了の指示があったかを判定する。この指示は、ユーザが入力装置６１を用いて行うもので、コントローラ６０から供給される。Ｓ字波形信号の評価終了の指示がなければ、出力指示回路４６は、ステップＳ８２９にて「Ｎｏ」と判定して、プログラムを図１１ＡのステップＳ８０５に戻す。これにより、フォーカスエラー信号中から指定記録層ＮDLNに関する正側及び負側のＳ字波形信号が再び取出されて、信号解析装置５０に供給される。
【０１０６】
ユーザがＳ字波形信号の評価終了を指示すると、出力指示回路４６は、取出し信号発生回路４５によるＳ字波形信号の取出しを終了する。前記のようにして信号解析装置５０に供給されたＳ字波形信号は、前述のようにオシロスコープなどを用いた評価に利用される。この場合、指定記録層ＮDLNの指定が的確に行われるので、指定記録層ＮDLNに関するＳ字波形信号の評価も的確に行われる。
【０１０７】
ｈ．変形例
さらに、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【０１０８】
上記実施形態においては、正側及び負側のＳ字振幅近傍レベル（最大及び最小基準レベル）Ｆ(８)，Ｌ(８)の決定においては、図５Ａ及び図５ＢのＳ字振幅近傍レベル設定ルーチンにおいて、Ｓ字検出レベルを変化させながら、検出されたＳ字波形信号の数が「１」から「０」に変化したときのＳ字検出レベルを最大及び最小基準レベルＦ(８)，Ｌ(８)とした。しかし、これに代えて、図１に破線で示すように、フォーカスエラー信号生成回路３４からのフォーカスエラー信号の正側及び負側の最大ピーク値（最大及び最小瞬時値）をそれぞれ検出する最大振幅測定回路７１をフォーカスエラー信号生成回路３４とコントローラ６０との間に接続し、この最大振幅測定回路７１によって検出された正側及び負側の最大ピーク値を最大及び最小基準レベルＦ(８)，Ｌ(８)としてもよい。
【０１０９】
この場合、最大振幅測定回路７１は、例えば、オペアンプ、抵抗、ダイオード、コンデンサなどからなる一般的なピークホールド回路と、Ａ／Ｄ変換回路とにより構成される。最大振幅測定回路７１は、コントローラ６０によって入力信号の極性が正極性に設定されるとともに、その作動が開始制御され、対物レンズ２５を最下点位置から最上点位置まで（又は最上点位置から最下点位置）まで変化させた後に、ピークホールド回路に保持されている電圧（すなわち正側の最大ピーク値）をＡ／Ｄ変換してコントローラ６０に供給する。次に、最大振幅測定回路７１は、コントローラ６０によって入力信号の極性が負極性に設定され、対物レンズ２５を最上点位置から最下点位置まで（又は最下点位置から最上点位置）まで変化させた後に、ピークホールド回路に保持されている電圧（すなわち負側の最大ピーク値）をＡ／Ｄ変換してコントローラ６０に供給する。そして、コントローラ６０は、これらの供給された正側及び負側の最大ピーク値をそれぞれ最大及び最小基準レベルＦ(８)，Ｌ(８)として設定すればよい。これによれば、対物レンズ２５を１往復させるだけで最大及び最小基準レベルＦ(８)，Ｌ(８)が設定され、最大及び最小基準レベルＦ(８)，Ｌ(８)を短時間で設定することができる。
【０１１０】
また、上記実施形態では、図５Ａ及び図５ＢのＳ字振幅近傍レベル設定ルーチンの処理により、全てのＳ字波形信号の最大振幅値よりも若干大きな値（すなわち、Ｓ字振幅近傍レベル）を最大及び最小基準レベルＦ(８)，Ｌ(８)として設定し、その後に、図６の基準レベル設定ルーチンの処理により、最大及び最小基準レベルＦ(８)，Ｌ(８)を複数に分割して基準レベルＦ(１)〜Ｆ(７)，Ｌ(１)〜Ｌ(７)を設定するようにした。しかし、これらの処理を省略し、予め所定間隔を有する複数の基準レベルを用意しておくようにしてもよい。この場合、図７のレベル対応Ｓ字検出数ルーチン、図８の記録層数決定ルーチン、図９Ａ〜図９Ｃのフォーカス引込みルーチン及び図１０Ａ，図１０ＢのＳ字波形評価ルーチンにおいて、基準レベルＦ(１)〜Ｆ(８)，Ｌ(１)〜Ｌ(８)に代えて、予め用意しておいた複数の基準レベルを用いるとよい。
【０１１１】
また、上記実施形態では、基準レベルＦ(３)によるＳ字波形信号の検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯであるとき、図９ＡのステップＳ６０８〜Ｓ６１８の処理により、記録層数ＬＮＯに等しい数のＳ字波形信号が検出される基準レベルと、記録層数ＬＮＯよりも「１」だけ大きい数のＳ字波形信号が検出される基準レベルとのレベル差が「１」以下である場合に、図９ＣのステップＳ６４１〜Ｓ６６３による負側のＳ字波形信号の検出によるフォーカス引込みを行うようにした。しかし、これに代え、負側のＳ字波形信号の検出によるフォーカス引込みの条件を緩和し、記録層数ＬＮＯに等しい数のＳ字波形信号が検出される基準レベルと、記録層数ＬＮＯよりも「１」だけ大きい数のＳ字波形信号が検出される基準レベルとのレベル差が「２」以下である場合、及び／又は基準レベルＦ(３)によるＳ字波形信号の検出数Ｈ(３)が記録層数ＬＮＯであるとき、図９ＣのステップＳ６４１〜Ｓ６６３による負側のＳ字波形信号の検出によるフォーカス引込みを行うようにしてもよい。これによれば、カバー層Ｎ０によるＳ字波形信号の誤検出の可能性を少なくすることができ、より正確なフォーカス引込みを行うことができる。
【０１１２】
また、上記実施形態では、図７のレベル対応Ｓ字検出数ルーチンの処理により、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)〜Ｈ(ｎ)を決定するとともに負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(１)〜Ｌ(８)を決定し、図９Ａ及び図９Ｂのフォーカス引込みルーチンの処理により、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)〜Ｈ(ｎ)を用いてＳ字検出レベルを決定して指定記録層ＮDLNへのフォーカス引込みを行うようにした。そして、図９Ａ及び図９Ｂの処理によりフォーカス引込みが不能な場合に、負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(１)〜Ｌ(ｎ)を用いてＳ字検出レベルを決定して指定記録層ＮDLNへのフォーカス引込みを行うようにした。しかし、光ディスクＤＫが限定されたものであり、正側レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)〜Ｈ(ｎ)及び負側レベル対応Ｓ字検出数Ｌ(１)〜Ｌ(８)のいずれか一方のレベル対応検出数を用いたフォーカス引込みで充分である場合には、正側及び負側のいずれか一方のレベル対応Ｓ字検出数のみを検出して、前記一方のレベル対応Ｓ字検出数のみを用いてフォーカス引込みを行うようにしてもよい。これによれば、Ｓ字振幅近傍レベル（最大及び最小基準レベル）Ｆ(８)，Ｌ(８)の設定、レベル対応Ｓ字検出数Ｈ(１)〜Ｈ(ｎ)，Ｌ(１)〜Ｌ(８)の検出、及びフォーカス引込みにおいて、対物レンズ２５の往復動の回数を半分に減らすことができ、フォーカス引込みまでの時間を短縮できる。
【０１１３】
また、上記実施形態においては、Ｓ字振幅近傍レベル（最大及び最小基準レベル）Ｆ(８)，Ｌ(８)を等分することにより基準レベルＦ(１)〜Ｆ(ｎ)，Ｇ(１)〜Ｇ(ｎ)を計算するようにしたが、必ずしも等分する必要はない。例えば、Ｓ字振幅近傍レベル（最大及び最小基準レベル）Ｆ(８)，Ｇ(８)側の間隔を広く、基準レベルＦ(１)，Ｇ(１)に向かうに従って狭くするようにしてもよい。また、これらの基準レベルの数も「８」に限らず、光ディスクＤＫの種類に応じて、「８」よりも大きくても、小さくてもよい。
【０１１４】
また、上記実施形態においては、図９Ａ〜図９Ｃのフォーカス引込みルーチン及び図１０Ａ，図１０ＢのＳ字波形評価ルーチンにおいて、Ｓ字検出レベル及びスライスレベルを、特定の１つの基準レベルの半分の値に設定したり、特定の２つの基準レベルの中間値に設定したりした。しかし、これらの半分の値又は中間値に代えて、前記半分の値又は中間値から所定の範囲内の適当な値に設定するようにしてもよい。
【０１１５】
また、上記実施形態においては、コントローラ６０は、Ｓ字検出回路３７によるＳ字波形信号の検出を利用して、図５Ａ，図５ＢのＳ字振幅近傍レベル設定ルーチン、図７のレベル対応Ｓ字検出数ルーチン、図８の記録層数決定ルーチン及び図９Ａ〜図９Ｃのフォーカス引込みルーチンの処理を実行するようにした。また、信号抽出回路４０（正側２値化回路４１、負側２値化回路４２、正側取出し用信号生成回路４３、負側取出し用信号生成回路４４及び取出し信号発生回路４５）によるＳ字波形信号の検出を利用して、コントローラ６０は、図１０Ａ，図１０ＢのＳ字波形評価ルーチンの処理を実行するようにした。しかし、これに代えて、図５Ａ，図５ＢのＳ字振幅近傍レベル設定ルーチン、図７のレベル対応Ｓ字検出数ルーチン、図８の記録層数決定ルーチン及び図９Ａ〜図９Ｃのフォーカス引込みルーチンの処理に、信号抽出回路４０（正側２値化回路４１、負側２値化回路４２、正側取出し用信号生成回路４３、負側取出し用信号生成回路４４及び取出し信号発生回路４５）によるＳ字波形信号の検出を利用するようにしてもよい。また、図１０Ａ，図１０ＢのＳ字波形評価ルーチンの処理に、Ｓ字検出回路３７によるＳ字波形信号の検出を利用してもよい。
【０１１６】
さらに、上記実施形態においては、多層光ディスクＤＫの各記録層Ｎ１〜Ｎｚをそれぞれ検査する装置に本発明を適用した例について説明した。しかし、本発明は、前記検査装置以外においても、光ピックアップ２０を検査する検査装置にも適用できる。また、フォーカス引き込み処理に関しては、通常の光ディスク装置において多層光ディスクＤＫの指定された記録層へのデータの書込み又は指定された記録層からのデータの読み出しの際に、指定された記録層にレーザ光を合焦させる場合にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１１７】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスクの検査装置の全体を概略的に示すブロック図である。
【図２】図１の信号抽出回路の詳細を示すブロック図である。
【図３】図１のコントローラによって実行されるメインプログラムを示すフローチャートである。
【図４】図３のユーザ設定ルーチンを示すフローチャートである。
【図５Ａ】図３のＳ字振幅近傍レベル設定ルーチンの前半部分を示すフローチャートである。
【図５Ｂ】前記Ｓ字振幅近傍レベル設定ルーチンの後半部分を示すフローチャートである。
【図６】図３の基準レベル設定ルーチンを示すフローチャートである。
【図７】図３のレベル対応Ｓ字検出数ルーチンを示すフローチャートである。
【図８】図３の記録層数決定ルーチンを示すフローチャートである。
【図９Ａ】図３のフォーカス引込みルーチンの前部分を示すフローチャートである。
【図９Ｂ】前記フォーカス引込みルーチンの中間部分を示すフローチャートである。
【図９Ｃ】前記フォーカス引込みルーチンの後部分を示すフローチャートである。
【図１０Ａ】図３のＳ字波形評価ルーチンの前半部分を示すフローチャートである。
【図１０Ｂ】前記Ｓ字波形評価ルーチンの後半部分を示すフローチャートである。
【図１１Ａ】図２の出力指示回路によって実行されるＳ字波形取出しプログラムの前半部分を示すフローチャートである。
【図１１Ｂ】前記Ｓ字波形取出しプログラムの後半部分を示すフローチャートである。
【図１２】多層光ディスクの概略断面図である。
【図１３】対物レンズの往復運動とフォーカスエラー信号の関係を説明するための図である。
【図１４】信号抽出回路の作動を説明するための信号波形図である。
【図１５】Ｓ字振幅近傍レベル（最大基準レベルＦ(８)）の設定動作を説明するためのフォーカスエラー信号の波形図である。
【図１６】基準レベルの設定動作を説明するためのフォーカスエラー信号の波形図である。
【図１７】従来の問題点を説明するためのフォーカスエラー信号と検出レベルとの関係を示す波形図である。
【符号の説明】
【０１１８】
ＤＫ…光ディスク、１０…回転装置、２０…光ピックアップ、３４…フォーカスエラー信号生成回路、３５…フォーカスサーボ回路、３６…往復動信号発生回路、３７…Ｓ字検出回路、４０…信号抽出回路、５０…信号解析装置、６０…コントローラ、７１…最大振幅測定回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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【図９Ｃ】
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【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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