(57)【要約】【課題】短い符号長から長い符号長に至るまでの広い範囲の符号長に対して、夫々の符号長のアシンメトリを適正に調整することができる光ディスク装置を提供する。【解決手段】本発明に係る光ディスク装置は、レーザ光によって所定の符号長を有するマーク及びスペースを光ディスクに形成し、光ディスクにデータを記録する記録部と、光ディスクの再生信号から、符号長毎のマーク及びスペースの夫々の波高値を取得する波高値取得部と、波高値から、符号長毎のアシンメトリを算出するアシンメトリ算出部と、レーザ光の最適記録パワーを含む最適記録パラメータを決定する記録パラメータ決定部と、を備え、記録パラメータ決定部は、符号長毎のアシンメトリと記録パワーとの間に存在する線形特性に基づいて、符号長毎のアシンメトリが所望の範囲内となる最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。【選択図】  図１
2008287789.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光によって所定の符号長を有するマーク及びスペースを光ディスクに形成し、前記光ディスクにデータを記録する記録部と、
前記光ディスクの再生信号から、前記符号長毎のマーク及びスペースの夫々の波高値を取得する波高値取得部と、
前記波高値から、前記符号長毎のアシンメトリを算出するアシンメトリ算出部と、
前記レーザ光の最適記録パワーを含む最適記録パラメータを決定する記録パラメータ決定部と、
を備え、
前記記録パラメータ決定部は、
前記符号長毎のアシンメトリと前記記録パワーとの間に存在する線形特性に基づいて、前記符号長毎のアシンメトリが所望の範囲内となる最適記録パワーを決定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記記録パラメータ決定部は、
前記アシンメトリ算出部にて算出される符号長毎のアシンメトリの中から特定の符号長のアシンメトリを選択し、
少なくとも２以上の記録パワーを前記記録部に設定することによって、記録パワーに対する前記特定の符号長のアシンメトリの線形特性の感度を決定し、
決定した前記感度に基づいて前記特定の符号長のアシンメトリが所望の範囲内となる記録パワーを前記最適パワーとして決定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記記録パラメータ決定部は、
前記符号長毎のアシンメトリの一部が前記所望の範囲外の場合は、少なくともその符号長に対応する記録パルスのパルス幅を変更することによってその符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内となるように前記記録パルス幅を調整する、
ことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記記録パラメータ決定部は、
前記アシンメトリ算出部にて算出される符号長毎のアシンメトリから、符号長に対する前記アシンメトリの変化の傾きを決定し、
少なくとも２以上の記録パワーを前記記録部に設定することによって、記録パワーに対する前記傾きの線形特性の感度を決定し、
決定した前記感度に基づいて、前記符号長に対する前記アシンメトリの変化の傾きが略ゼロとなる記録パワーを前記最適パワーとして決定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記記録パラメータ決定部は、
前記符号長毎のアシンメトリの一部が前記所望の範囲外の場合は、少なくともその符号長に対応する記録パルスのパルス幅を変更することによってその符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内となるように前記記録パルス幅を調整する、
ことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記記録パラメータ決定部は、
所定の記録パワーと、各符号長に対応する記録パルスのパルス幅とを初期記録パラメータとして前記記録部に設定し、
前記初期記録パラメータの設定時に算出される各符号長のアシンメトリのうち、ある特定の符号長以上の長い符号長のアシンメトリが、前記パルス幅の変更によって所望の範囲内に収めることができるか否かを判断し、
前記パルス幅の変更では前記所望の範囲内に収めることができないと判断される場合は、
前記特定の符号長以上の長い符号長に対して、符号長に対する前記アシンメトリの変化の傾きを決定し、少なくとも２以上の記録パワーを前記記録部に設定することによって、記録パワーに対する前記傾きの線形特性の感度を決定し、決定した前記感度に基づいて、前記符号長に対する前記アシンメトリの変化の傾きが略ゼロとなる記録パワーを前記最適記録パワーとして決定し、
決定した前記最適記録パワーの設定によってもまだ一部の符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内に収まっていない場合、少なくともその符号長に対応する記録パルスのパルス幅を変更することによってその符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内となるように前記記録パルス幅を調整する一方、
ある特定の符号長以上の長い符号長のアシンメトリに対しても記録パルスのパルス幅の変更によって所望の範囲内に収めることができると判断される場合は、総ての符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内に収まっているか否かをさらに判断し、
一部の符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内に収まっていない場合、少なくともその符号長に対応する記録パルスのパルス幅を変更することによってその符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内となるように前記パルス幅を調整する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
（ａ）レーザ光によって所定の符号長を有するマーク及びスペースを光ディスクに形成し、前記光ディスクにデータを記録し、
（ｂ）前記光ディスクの再生信号から、前記符号長毎のマーク及びスペースの夫々の波高値を取得し、
（ｃ）前記波高値から、前記符号長毎のアシンメトリを算出し、
（ｄ）前記レーザ光の最適記録パワーを含む最適記録パラメータを決定する、
ステップを備え、
ステップ（ｄ）では、
前記符号長毎のアシンメトリと前記記録パワーとの間に存在する線形特性に基づいて、前記符号長毎のアシンメトリが所望の範囲内となる最適記録パワーを決定する、
ことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項８】
ステップ（ｄ）では、
ステップ（ｃ）にて算出される符号長毎のアシンメトリの中から特定の符号長のアシンメトリを選択し、
少なくとも２以上の記録パワーを設定することによって、記録パワーに対する前記特定の符号長のアシンメトリの線形特性の感度を決定し、
決定した前記感度に基づいて前記特定の符号長のアシンメトリが所望の範囲内となる記録パワーを前記最適記録パワーとして決定する、
ことを特徴とする請求項７に記載の光ディスク記録再生方法。
【請求項９】
ステップ（ｄ）では、
前記符号長毎のアシンメトリの一部が前記所望の範囲外の場合は、少なくともその符号長に対応する記録パルスのパルス幅を変更することによってその符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内となるように前記記録パルス幅を調整する、
ことを特徴とする請求項８に記載の光ディスク記録再生方法。
【請求項１０】
ステップ（ｄ）では、
ステップ（ｃ）にて算出される符号長毎のアシンメトリから、符号長に対する前記アシンメトリの変化の傾きを決定し、
少なくとも２以上の記録パワーを設定することによって、記録パワーに対する前記傾きの線形特性の感度を決定し、
決定した前記感度に基づいて、前記符号長に対する前記アシンメトリの変化の傾きが略ゼロとなる記録パワーを前記最適パワーとして決定する、
ことを特徴とする請求項７に記載の光ディスク記録再生方法。
【請求項１１】
ステップ（ｄ）では、
前記符号長毎のアシンメトリの一部が前記所望の範囲外の場合は、少なくともその符号長に対応する記録パルスのパルス幅を変更することによってその符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内となるように前記記録パルス幅を調整する、
ことを特徴とする請求項１０に記載の光ディスク記録再生方法。
【請求項１２】
ステップ（ｄ）では、
所定の記録パワーと、各符号長に対応する記録パルスのパルス幅とを初期記録パラメータとして設定し、
前記初期記録パラメータの設定時に算出される各符号長のアシンメトリのうち、ある特定の符号長以上の長い符号長のアシンメトリが、記録パルスのパルス幅の変更によって所望の範囲内に収めることができるか否かを判断し、
パルス幅の変更では前記所望の範囲内に収めることができないと判断される場合は、
前記特定の符号長以上の長い符号長に対して、符号長に対する前記アシンメトリの変化の傾きを決定し、少なくとも２以上の記録パワーを前記記録部に設定することによって、記録パワーに対する前記傾きの線形性変化の感度を決定し、決定した前記感度に基づいて、前記符号長に対する前記アシンメトリの変化の傾きが略ゼロとなる記録パワーを前記最適記録パワーとして決定し、
決定した前記最適記録パワーの設定によってもまだ一部の符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内に収まっていない場合、少なくともその符号長に対応する記録パルスのパルス幅を変更することによってその符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内となるように前記記録パルス幅を調整する一方、
ある特定の符号長以上の長い符号長のアシンメトリに対しても記録パルスのパルス幅の変更によって所望の範囲内に収めることができると判断される場合は、総ての符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内に収まっているか否かをさらに判断し、
一部の符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内に収まっていない場合、少なくともその符号長に対応する記録パルスのパルス幅を変更することによってその符号長のアシンメトリが前記所望の範囲内となるように前記記録パルス幅を調整する、
ことを特徴とする請求項７に記載の光ディスク記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法に係り、特に、書き換え型の光ディスクに記録し再生する光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
書き換え型の光ディスクとして、例えば、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＡＭ等がある。これらの書き換え型の光ディスクでは、再生信号の品質が記録パラメータ、例えば記録時のレーザパワーや記録用信号の波形等、に依存することが知られている。このため、光ディスクを光ディスク装置に挿入した直後等の一定期間にテスト期間を設け、このテスト期間中に最適な記録パラメータを求める処理が一般的に行われている。
【０００３】
最適な記録パラメータを求めるにあたって、何を評価指標とするかが重要であり、従来から種々の評価指標が提案されている。例えば、特許文献１には、再生信号の上下対称性、所謂アシンメトリ値βを評価指標とし、アシンメトリ値βが適正範囲内に収まるように記録パルスのパルス長を調整する技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００１−１２６２５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来から一般的に用いられているアシンメトリ値βは、全符号長（ＣＤや従来型のＤＶＤの場合、３Ｔ乃至１１Ｔの符号長）の平均的なＤＣレベルの対称性を示す指標である。このため、個々の符号長の夫々のアシンメトリがゼロになるとは限らない。例えば、３Ｔ符号長のアシンメトリが正側にずれ、４Ｔ符号長のアシンメトリが負側にずれていたとしても、平均的なアシンメトリ値βがゼロとなる場合もあり得る。
【０００５】
他方、ＨＤ  ＤＶＤ等の高密度記録型の光ディスクでは、再生信号の品質に対するアシンメトリ（非対称性）の影響は従来のＣＤやＤＶＤに比べて大きくなっている。このため、アシンメトリを従来よりも細かく調整する必要がでてきている。換言すれば、従来のように全符号長の平均的なアシンメトリをゼロにするだけでなく、個々の符号長の夫々のアシンメトリをもゼロに近づけるような調整手法が必要となってきている。
【０００６】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、短い符号長から長い符号長に至るまでの広い範囲の符号長に対して、夫々の符号長のアシンメトリを適正に調整することができる光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク装置は、請求項１に記載したように、レーザ光によって所定の符号長を有するマーク及びスペースを光ディスクに形成し、前記光ディスクにデータを記録する記録部と、前記光ディスクの再生信号から、前記符号長毎のマーク及びスペースの夫々の波高値を取得する波高値取得部と、前記波高値から、前記符号長毎のアシンメトリを算出するアシンメトリ算出部と、前記レーザ光の最適記録パワーを含む最適記録パラメータを決定する記録パラメータ決定部と、を備え、前記記録パラメータ決定部は、前記符号長毎のアシンメトリと前記記録パワーとの間に存在する線形特性に基づいて、前記符号長毎のアシンメトリが所望の範囲内となる最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。
【０００８】
上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク記録再生方法は、請求項７に記載したように、（ａ）レーザ光によって所定の符号長を有するマーク及びスペースを光ディスクに形成し、前記光ディスクにデータを記録し、（ｂ）前記光ディスクの再生信号から、前記符号長毎のマーク及びスペースの夫々の波高値を取得し、（ｃ）前記波高値から、前記符号長毎のアシンメトリを算出し、（ｄ）前記レーザ光の最適記録パワーを含む最適記録パラメータを決定する、ステップを備え、ステップ（ｄ）では、前記符号長毎のアシンメトリと前記記録パワーとの間に存在する線形特性に基づいて、前記符号長毎のアシンメトリが所望の範囲内となる最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係る光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法によれば、短い符号長から長い符号長に至るまでの広い範囲の符号長に対して、夫々の符号長のアシンメトリを適正に調整することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
本発明に係る光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法の実施形態について添付図面を参照して説明する。
【００１１】
（１）光ディスク装置の構成と全般動作
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置１の構成例を示す図である。
【００１２】
光ディスク装置１は、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書き換え型光ディスク１００に対して情報の記録及び再生を行うものである。光ディスク１００には、螺旋状に溝が刻まれており、溝の凹部をグルーブ、凸部をランドと呼び、グループ又はランドの一周をトラックと呼ぶ。ユーザデータはこのトラック（グルーブのみ又はグルーブ及びランド）に沿って、強度変調されたレーザ光を照射してデータの符号長に対応するマークとスペースを形成することで記録される。
【００１３】
データ再生は、記録時より弱いリードパワー(read power)のレーザ光をトラックに沿って照射して、トラック上にあるマーク及びスペースからの反射光の強度の変化を検出することにより行われる。記録されたデータの消去は、前記リードパワーより強いイレースパワー(erase power)のレーザ光をトラックに沿って照射し、記録層を結晶化することにより行われる。
【００１４】
光ディスク１００はスピンドルモータ２によって回転駆動される。スピンドルモータ２に設けられたロータリエンコーダ２ａからは回転角信号が提供される。回転角信号はスピンドルモータ２が１回転すると、例えば５パルス発生する。この回転角信号からスピンドルモータ２の回転角度及び回転数を判断でき、スピンドルモータ制御回路６２では、これらの情報に基づいてスピンドルモータ２の回転駆動制御を行っている。
【００１５】
光ディスク１００に対する情報の記録、再生は、光ピックアップ３によって行われる。光ピックアップ３は、送りモータ４とギア４ｂ及びスクリューシャフト４ａを介して連結されており、この送りモータ４は送りモータ制御回路５により制御される。送りモータ４が送りモータ制御回路５からの送りモータ駆動電流により回転することにより、光ピックアップ３が光ディスク１００の半径方向に移動する。
【００１６】
光ピックアップ３には、図示しないワイヤ或いは板バネによって支持された対物レンズ３０が設けられている。対物レンズ３０は駆動コイル３１の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能である。また、駆動コイル３２の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。
【００１７】
レーザ駆動回路（記録部）６は、変調部７２にてＥＴＭ（Eight  to  Twelve  Modulation）方式等で変調された記録データ基づいて、書き込み用の駆動電流をレーザダイオード（レーザ発光素子）３３に供給する。変調部７２には、パーソナルコンピュータ等のホスト装置２００からＩ／Ｆ部７１を介して記録用のデータが供給される。
【００１８】
一方、レーザ駆動回路６は情報読取り時には、書き込み用の駆動電流よりも小さな読み取り用の駆動電流をレーザダイオード３３に提供する。
【００１９】
フォトダイオード等により構成されるパワー検出部３４（フロントモニタ（ＦＭ）と呼ぶ場合もある）はレーザ発光素子３３が発生するレーザ光の一部をハーフミラー３５により一定比率だけ分岐し、光量、即ち発光パワーに比例した信号を受光信号として検出する。検出した受光信号はレーザ駆動回路６に供給される。レーザ駆動回路６はパワー検出部３４からの受光信号に基づいて、制御部７０の記録パラメータ決定部７３等で決定及び設定された記録パワー、記録パルス幅、再生時パワー、及び消去時パワーで発光するように、レーザ発光素子３３を制御する。
【００２０】
レーザ発光素子３３はレーザ駆動回路６から供給される駆動電流に応じてレーザ光を発生する。レーザ発光素子３３から発せられるレーザ光は、コリメータレンズ３６、ハーフプリズム３７、対物レンズ３０を介して光ディスク１００上に照射される。
【００２１】
一方、光ディスク１００からの反射光は、対物レンズ３０、ハーフプリズム３７、集光レンズ３８、およびシリンドリカルレンズ３９を介して、光検出器４０に導かれる。
【００２２】
光検出器４０は、例えば４分割の光検出セルから成り、これら光検出セルの検知信号は再生部６０のＲＦアンプ６４に出力される。ＲＦアンプ６４は光検知セルからの信号を処理し、ジャストフォーカスからの誤差を示すフォーカスエラー信号ＦＥ、レーザ光のビームスポット中心とトラック中心との誤差を示すトラッキングエラー信号ＴＥ、及び光検知セル信号の全加算信号である再生信号を生成する。
【００２３】
フォーカスエラー信号ＦＥはフォーカス制御回路８に供給される。フォーカス制御回路８はフォーカスエラー信号ＦＥに応じてフォーカス駆動信号を生成する。フォーカス駆動信号はフォーカシング方向の駆動コイル３１に供給される。これにより、レーザ光が光ディスク１００の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなるフォーカスサーボ制御が行われる。
【００２４】
一方、トラッキングエラー信号ＴＥはトラック制御回路９に供給される。トラック制御回路９はトラッキングエラー信号ＴＥに応じてトラック駆動信号を生成する。トラック制御回路９から出力されるトラック駆動信号は、トラッキング方向の駆動コイル３２に供給される。これによりレーザ光が光ディスク１００上に形成されたトラック上を常にトレースするトラッキングサーボ制御が行われる。
【００２５】
上記フォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御が行われることで、レーザ光の焦点は、光ディスク記録面のトラック上を精度良く追従することができる。この結果、光検出器４０の各光検出セルの出力信号の全加算信号ＲＦには、記録情報に対応して光ディスク１００のトラック上に形成されたマークやスペースからの反射光の変化が正確に反映され、品質の良い再生信号を得ることができる。
【００２６】
この再生信号（全加算信号ＲＦ）は、プリアンプ／等化器６５に入力され、ここで適宜の振幅に増幅されアナログ的な波形整形が行われる。プリアンプ／等化器６５の出力は、ＡＤ変換器６６にて、ＰＬＬ制御回路６１からの再生用クロック信号によってサンプリングされ、多値のデジタルデータに変換される。
【００２７】
デジタル化された再生信号は、適応等化器６７に入力され、所定のパーシャルレスポンスの種類（クラス）に応じた波形等化処理が行われる。適応等化器６７は、例えば適応型のトランスバーサルフィルタを備えて構成される。後段のビタビ復号部８０で復号された復号データに対して理想的なパーシャルレスポンスを持つ基準データを生成し、この基準データと入力データとの誤差がゼロとるようにトランスバーサルフィルタの重み係数を適応させることによって波形等化を行っている。
【００２８】
適応等化器６７の出力である等化再生信号はビタビ復号部８０に入力される。ビタビ復号部８０では、ビダビ復号処理により、入力された等化再生信号の系列から最尤推定によって記録データを復号し、復号データを得る。
【００２９】
復号データはエラー訂正部７５に入力され、ここでエラー訂正処理が行われた後Ｉ／Ｆ部７１を介してホスト装置２００に出力される。
【００３０】
他方、波高値取得部８１には、適応等化器６７の出力である等化再生信号と、ビタビ復号部８０の出力である復号データが入力され、符号長毎の波高値（ピーク値とボトム値）が等化再生信号から抽出される。
【００３１】
波高値取得部８１で抽出された波高値は、アシンメトリ算出部８２に入力される。アシンメトリ算出部８２では、最適記録パワーや最適記録パルス幅等の最適記録パラメータを決定するための評価値として、アシンメトリ値が算出される。
【００３２】
記録パラメータ決定部７３では、アシンメトリ算出部８２で算出されたアシンメトリ値に基づいて最適記録パワーや最適記録パルス幅等の最適記録パラメータが決定され、決定された最適記録パラメータは記録部（レーザ駆動回路）６に設定される。
【００３３】
図２は、記録部６に設定される記録パラメータに基づいて生成される記録波形と、これによって光ディスク１００のトラック上に形成されるマークとスペースを模式的に示した図である。通常マークを形成するときには、図２（ａ）に例示したようなマルチパルスが用いられる。マルチパルスは、記録パワー（ピークパワー）とボトムパワーとが繰り返される複数のパルス列によって構成されている。マルチパルス全体の幅をここでは記録パルスのパルス幅、或いは単にパルス幅という。トラック上にスペースを形成するときには、記録パワーとボトムパワーの中間のパワーであるイレースパワーが用いられる。
【００３４】
記録するデータの符号長（マーク長やスペース長）の長さ（従来型ＤＶＤの場合は、主に３Ｔ〜１１Ｔ、ＨＤ  ＤＶＤの場合は、主に２Ｔ〜１１Ｔ）に応じてマルチパルスを構成するパルス列の数や各パルス列の幅が予め定められている。
【００３５】
図３は、３つの異なる符号長に対応する記録波形（図３（ａ））、トラック上に形成されるマークとスペース（図３（ｂ））、及びこれらの再生信号（図３（ｃ））を模式的に示したものである。図３（ｃ）からわかるように、短い符号長の再生信号の波高値（ピーク値或いはボトム値）は小さく、符号長が長くなるにつれて波高値は大きくなる。符号長がある長さよりも長くなると波高値は飽和し、再生信号波形の上部は平坦な形状となる。
【００３６】
次に、光ディスク装置１で行われるアシンメトリ調整の幾つかの実施形態について説明する。アシンメトリ調整は、主にアシンメトリ算出部８２と、記録パラメータ決定部７３によって行われる。
【００３７】
（２）アシンメトリ調整（第１の実施形態）
第１の実施形態に係るアシンメトリ調整について説明する前に、従来から一般的に行われているアシンメトリ調整について簡単に説明しておく。
【００３８】
従来から行われている典型的なアシンメトリ調整は、所謂アシンメトリ値βと呼ばれる評価指標を求め、このアシンメトリ値βをゼロに近づけるように記録パワーの調整（パルス幅調整による等価的な記録パワー調整を含む）を行う方法である。この記録パワー調整をＯＰＣ（Optimum  Power  Control）と呼んでいるが、本実施形態に係る記録パワー調整と区別するため、アシンメトリ値βを用いるＯＰＣを従来型ＯＰＣと呼ぶ。従来型ＯＰＣは概略次のようなものである。
【００３９】
まず、再生波形のＤＣレベルを基準にピーク検波、及びボトム検波を行い、ピーク値ＶＨとボトム値ＶＬを得る。次に、ピーク値ＶＨとボトム値ＶＬとから、再生波形の対称性を示すアシンメトリ値βを次式で求める。  
［数１］
β＝（ＶＨ＋ＶＬ）／（ＶＨ−ＶＬ）                  （式１）
そして、このアシンメトリ値βがゼロとなるように記録パワーを求める。
【００４０】
しかしながら、従来型ＯＰＣで用いられているアシンメトリ値βは、全符号長（ＣＤや従来型のＤＶＤの場合、３Ｔ乃至１１Ｔの符号長：Ｔは符号長の単位長）の平均的なＤＣレベルの対称性を示す指標であるため、個々の符号長の夫々のアシンメトリがゼロになるとは限らない。例えば、３Ｔ符号長のアシンメトリが正側にずれ、４Ｔ符号長のアシンメトリが負側にずれていたとしても、平均的なアシンメトリ値βがゼロとなる場合もあり得る。
【００４１】
他方、ＨＤ  ＤＶＤ等の高密度記録型の光ディスクでは、再生信号の品質に対するアシンメトリ（非対称性）の影響は従来のＣＤやＤＶＤに比べて大きくなっている。このため、アシンメトリを従来よりも細かく調整する必要がでてきている。換言すれば、従来のように全符号長の平均的なアシンメトリをゼロにするだけでなく、個々の符号長の夫々のアシンメトリをもゼロに近づけるような調整手法が必要となってきている。
【００４２】
このため、本実施形態では、符号長毎のアシンメトリ値を次のようにして算出している。
【００４３】
図４は、符号長毎のアシンメトリ値算出方法を説明するための図である。ＨＤ  ＤＶＤでは、符号長は２Ｔから１１Ｔの長さのマーク及びスペースによってユーザデータを記録しており、図４はこれらの各符号長からの再生信号を重ねて表示した図である。
【００４４】
図４において、Ｉ１１ＨとＩ１１Ｌは、１１Ｔの符号長のマークとスペースの夫々の波高値、Ｉ３ＨとＩ３Ｌは、３Ｔの符号長のマークとスペースの夫々の波高値、Ｉ２ＨとＩ２Ｌは、２Ｔの符号長のマークとスペースの夫々の波高値を表わしている。先に図３に例示したように、短い符号長の波高値は小さく符号長が長くなるにつれて波高値は大きくなっている。また、符号長が６Ｔ以上になると波高値はそれ程変化しないことも図４からわかる。
【００４５】
図４に示される表記を用いると、符号長２Ｔのアシンメトリ値Ａ２Ｔと符号長３Ｔのアシンメトリ値Ａ３Ｔは、夫々次の式で定義されるものである。  
［数２］
Ａ２Ｔ＝((Ｉ１１Ｈ+Ｉ１１Ｌ)/２-(Ｉ２Ｈ+Ｉ２Ｌ)/２)/(Ｉ１１Ｈ-Ｉ１１Ｌ)  (式２)
Ａ３Ｔ＝((Ｉ１１Ｈ+Ｉ１１Ｌ)/２-(Ｉ３Ｈ+Ｉ３Ｌ)/２)/(Ｉ１１Ｈ-Ｉ１１Ｌ)  (式３)
また、一般に符号長ｎＴのアシンメトリ値ＡｎＴは、次式となる。  
［数３］
ＡｎＴ＝((Ｉ１１Ｈ+Ｉ１１Ｌ)/２-(ＩｎＨ+ＩｎＬ)/２)/(Ｉ１１Ｈ-Ｉ１１Ｌ)  (式４)
【００４６】
これらの定義式からわかるように、符合長ｎＴのアシンメトリ値は、最大符号長である１１Ｔのマークとスペースの中央値と、各符号長ｎＴのマークとスペースの中央値の一致の程度を示す指標となっており、上下の対称性が完全に確保された理想的な再生信号波形では、各符号長のアシンメトリ値は総てゼロとなる。
【００４７】
実際には、光ディスク自体やこれに記録・再生する光ディスク装置の特性のばらつき等によってアシンメトリ値はゼロとはならない。そこで、本各実施形態では、（式２）〜（式４）に基づいて算出した符号長毎のアシンメトリ値（ゼロからの乖離量）を用いて記録パワーや記録パルス幅等の記録パラメータを調整し、総ての符号長においてアシンメトリ値をゼロに近づける処理を行っている。
【００４８】
このうち、第１の実施形態は、特定の符号長のアシンメトリ値がゼロに近づくように、即ちゼロ近傍の所望の範囲内に収まるように、記録パワーのみの調整を行う形態である。以下、第１の実施形態に係るアシンメトリ調整方法について説明する。
【００４９】
図５は、記録パワーをΔＰだけ変化させたときの（図５（ａ））、マーク形状（図５（ｂ））、及び再生信号波形（図５（ｃ））を模式的に示したものである。記録パワーは総ての符号長に共通であるため、記録パワーを変化させると総ての符号長の再生信号の波高値も一斉に変化することを例示している。波高値が変化することに伴って、符号長毎のアシンメトリ値も変化する。
【００５０】
図６は、記録パワーと符号長毎のアシンメトリ値の関係を測定した結果の一例を示すグラフである。グラフの横軸は符号長、縦軸はアシンメトリ値であり、各ラインは記録パワーに対応している。この測定結果から、記録パワーを変化させることにより、符号長間で感度の違いはあるものの、アシンメトリ値が一斉に上下に変化することがわかる。
【００５１】
図７は、図６の測定結果を、記録パワーとアシンメトリ値の関係にプロットしなおしたものである。横軸が記録パワー、縦軸がアシンメトリ値であり、各ラインは符号長に対応している。図７から、夫々の符号長において、記録パワーとアシンメトリ値との間には、概ね線形の関係があることがわかる。光ディスクの特性等によって、線形特性の傾き（記録パワーに対するアシンメトリ値の感度）の絶対値やアシンメトリ値がゼロをクロスするときの記録パワーの絶対値自体は異なるものの、どの光ディスクであっても記録パワーとアシンメトリ値との間には、概ね線形の関係があることがわかっている。
【００５２】
第１の実施形態に係るアシンメトリ調整方法は、この線形関係に着目したものであり、特定の符号長のアシンメトリ値がゼロとなるように記録パワーを調整する方法である。以下の記述では、第１の実施形態に係るアシンメトリ調整方法を特定符号長ＯＰＣと呼ぶ場合がある。
【００５３】
特定の符号長としては２Ｔから１１Ｔの範囲のどの符号長でも良いが、線形特性の感度が高い符号長を選択した方が精度の高い調整が期待できる。その意味で、以下の説明では、特定の符号長として２Ｔを選択したものとして説明する。
【００５４】
図８は、第１の実施形態に係るアシンメトリ調整方法（特定符号長ＯＰＣ）の処理例を示すフローチャートである。
【００５５】
まずステップＳＴ１で、光ピックアップ３を光ディスク１００のテスト記録エリアに移動させる。また、ステップＳＴ２で、記録パワー（初期値）Ｐ０を記録部６に設定する。
【００５６】
その後、記録パワーをＰ０に設定した状態で、テストデータをテスト記録エリアに記録し、記録したテストデータを再生する（ステップＳＴ３）。テストデータは、例えば、総ての符号長（２Ｔ〜１１Ｔ）を含むランダムデータである。
【００５７】
次に、等化再生信号（適応等化器６７の出力データ）を適宜のメモリに保存し、符号長毎の波高値を取得する（ステップＳＴ４）。符号長毎に波高値を分類する場合、ビタビ複合部８０から出力される復号データを用いて符号長を検出し、検出された符号長を利用してもよい。
【００５８】
次に、符号長毎のアシンメトリ値を算出する（ステップＳＴ５）。特定の符号長として２Ｔを選択している場合は、（式２）に基づいてアシンメトリ値Ａ２Ｔを算出する。他の符号長を選択する場合は、（式４）に基づいてアシンメトリ値ＡｎＴを算出する。このアシンメトリ値の算出は、設定する記録パワー毎に行うが、最初のループでは初期値Ｐ０である。
【００５９】
次に、ステップＳＴ６にて、記録パワーの変更回数を判定する。記録パワー対アシンメトリ値の線形特性のパラメータを推定するためには、少なくとも２点、好ましくは３点以上の記録パワーが必要である。このため、予め記録パワーの変更回数を設定しておき、ステップＳＴ６にて設定回数に達したか否かの判定を行っている。
【００６０】
設定回数に達していない場合には、ステップＳＴ７にて、記録パワーを他の記録パワーに変更した後、ステップＳＴ３からステップＳＴ６の処理を繰り返す。
【００６１】
設定回数に達した場合には、ステップＳＴ８へ進む。ステップＳＴ８では、設定した複数の記録パワーと、そのとき算出されたアシンメトリ値（例えば、符号長２Ｔのアシンメトリ値）とから近似直線Ｌ（図９参照）を求め、求めた近似直線から記録パワーに対するアシンメトリ値の感度α（近似直線の傾き）を算出する。
【００６２】
次に、特定の符号長（２Ｔ）のアシンメトリ値がゼロとなるような記録パワーＰｎを次式から算出する。  
［数４］
Ｐｎ＝Ｐ０−（Ａ２Ｔ,0／α）                              （式５）
他の符号長ｎＴの場合には記録パワーＰｎを次式から算出する。  
［数５］
Ｐｎ＝Ｐ０−（ＡｎＴ,0／α）                              （式６）
ここで、Ａ２Ｔ,0やＡｎＴ,0は、記録パワーを初期値Ｐ０に設定したときに得られた符号長２Ｔ、或いはｎＴのアシンメトリ値である。
【００６３】
理論的には１回の処理でアシンメトリ値をゼロにする記録パワーを算出することが可能であるが、実際には種々の誤差要因があるため１回の処理でアシンメトリ値は必ずしもゼロとならない。このため、アシンメトリ値をさらにゼロ近傍の所望範囲に追い込む処理を設けており、この処理がステップＳＴ１０からステップＳＴ１２の処理である。
【００６４】
ステップＳＴ１０で、算出した記録パワーＰｎを記録部６に設定する。この状態でランダムデータを記録、再生し、波高値からアシンメトリ値を算出する（ステップＳＴ１１）。ステップＳＴ１１の処理は、ステップＳＴ３からステップＳＴ５までの処理と実質的に同じ処理である。
【００６５】
このとき得られるアシンメトリ値は、図９におけるアシンメトリ誤差ΔＡである。ステップＳＴ１２では、このアシンメトリ誤差ΔＡが、ゼロ近傍の所望範囲内に収まっているか否かの判定を行う。
【００６６】
所望範囲外の場合は、アシンメトリ誤差ΔＡと、先に求めている感度αを用いて新たな記録パワーＰｎを次式から算出する。  
［数６］
Ｐｎ←Ｐｎ−（ΔＡ／α）                                    （式７）
算出した新たな記録パワーＰｎを記録部６に設定し、以下、アシンメトリ誤差ΔＡが、ゼロ近傍の所望範囲内に収まるまで繰り返す。
【００６７】
アシンメトリ誤差ΔＡがゼロ近傍の所望範囲内に収まったと判断されると、その時の記録パワーＰｎを、最適記録パワーＰoptとして、記録部６に設定する。
【００６８】
以上で特定符号長ＯＰＣ処理は終了し、以降は最適記録パワーＰoptを用いて通常のユーザデータの記録処理を行う。
【００６９】
図１０は、符号長２Ｔに対して、特定符号長ＯＰＣを実施したときの結果を示す図である。図１０中、白丸が特定符号長ＯＰＣを実施する前の符号長毎のアシンメトリ値を示しており、黒丸が特定符号長ＯＰＣを実施した後の符号長毎のアシンメトリ値を示している。実施後に符号長２Ｔのアシンメトリ値がゼロ近傍に収まっているのは、処理の内容から当然の結果とも言えるが、２Ｔ以外の他の符号長のアシンメトリ値も概ねゼロ近傍に収まっている。
【００７０】
この理由は、図７において、２Ｔ符号長のアシンメトリ値をゼロにする記録パワーと、他の符号長のアシンメトリ値をゼロにする記録パワーが概ね同じ範囲（７ｍＷから７．５ｍＷの範囲）に収まっていることによる。
【００７１】
（３）アシンメトリ調整（第２の実施形態）
図６に示した符号長対アシンメトリ値特性に再度注目すると、例えば、記録パワー６ｍＷの特性は右肩下がりの特性となっており、記録パワーを上げていくと水平な特性に近づき、さらに記録パワーを上げていくと今度は右肩上がりの特性になっている。つまり、符号長対アシンメトリ値特性の傾きが記録パワーによって変化することを表わしている。
【００７２】
図１１は、符号長対アシンメトリ値特性の１つを取り出して、符号長軸の切片Iｏと、傾きθの直線でモデル化した図である。図１１は、この直線の傾きθをゼロにすれば、概ね総ての符号長に対してアシンメトリ値をゼロにできることを示唆している。
【００７３】
第２の実施形態に係るアシンメトリ調整方法は、符号長対アシンメトリ値特性の傾きθがゼロとなるように記録パワーを調整する方法であり、以下の説明では線形近似ＯＰＣと呼ぶ場合がある。
【００７４】
図１２は、記録パワーと傾きθの関係を実験的に求めたものであり、傾きθは記録パワーに対してほぼ直線的に変化することが判った。つまり、符号長対アシンメトリ値特性の傾きθと記録パワーとの間に線形特性が存在すると考えられる。第２の実施形態に係るアシンメトリ調整方法は、この線形特性を利用して傾きθがゼロになるように記録パワーを求める方法である。
【００７５】
図１３は、第２の実施形態に係るアシンメトリ調整方法（線形近似ＯＰＣ）の処理例を示すフローチャートである。
【００７６】
ステップＳＴ２１からステップＳＴ２５までの処理は第１の実施形態と同様の処理であり、記録パワー（初期値）Ｐ０における符号長毎のアシンメトリ値を求める処理である。
【００７７】
ステップＳＴ２６では、求めたアシンメトリ値を符号長に対して線形近似し、近似直線から傾きθを求める。最初のループでは記録パワー（初期値）Ｐ０に対する傾きθが得られる。
【００７８】
同様の処理を異なる複数の記録パワーに対して行い、複数の傾きθを求める（ステップＳＴ２７、ステップＳＴ２８）。
【００７９】
次に、得られた複数の傾きθと対応する記録パワーとから、記録パワーに対する傾きθの感度β（図１２参照）を算出する（ステップＳＴ２９）。
【００８０】
その後、次式から、感度βをゼロにする記録パワーＰｎを算出する（ステップＳＴ３０）。  
［数７］
Ｐｎ＝Ｐ０−（θ０／β）                                    （式８）
ここで、θ０は、記録パワー（初期値）Ｐ０のときに得られた傾きθである。
【００８１】
第２の実施形態に係るアシンメトリ調整においても、１回の調整で傾きθがゼロになるとは限らず、誤差Δθが残留することが考えられる。そこで、第１の実施形態と同様に、誤差Δθをゼロ近傍の所望範囲に納めるべく、記録パワーを微調整する処理を行っている。この処理が、ステップＳＴ３１からステップＳＴ３４のループ処理である。
【００８２】
なお、新たな記録パワーＰｎを算出する式は、
［数８］
Ｐｎ←Ｐｎ−（Δθ／β）                                    （式９）
となる。
【００８３】
ステップＳＴ３３にて、誤差Δθがゼロ近傍の所望範囲内に収まったと判定されると、その時の記録パワーＰｎが最適記録パワーＰoptとして記録部６に設定される。
【００８４】
図１４は、第２の実施形態に係るアシンメトリ調整（線形近似ＯＰＣ）を実施したときの結果の一例を示す図である。図１４中、白丸が線形近似ＯＰＣを実施する前の符号長毎のアシンメトリ値を示しており、黒丸が線形近似ＯＰＣを実施した後の符号長毎のアシンメトリ値を示している。総ての符号長に対して、アシンメトリ値が概ねゼロ近傍に近づいている様子がわかる。
【００８５】
線形近似ＯＰＣは、符号長対アシンメトリ値の特性を線形近似して、符号長全体のアシンメトリ値を平均的に（特定の符号長に着目するのではなく）ゼロに近づける方法である。従って、総ての符号長のアシンメトリ値が線形近似した直線の上にあれば、総ての符号長のアシンメトリ値をほぼ完全にゼロにすることができる。逆に各符号長のアシンメトリ値が線形近似した直線と離れて分散している場合には、アシンメトリ値の誤差が残留する。
【００８６】
（４）アシンメトリ調整（第３の実施形態）
第１の実施形態（特定符号長ＯＰＣ）、及び第２の実施形態（線形近似ＯＰＣ）は、何れも記録パワーのみを調整してアシンメトリ値をゼロに近づける調整方法である。
【００８７】
このため、例えば第１の実施形態では、２Ｔ符号長のアシンメトリ値をゼロにする記録パワーと、他の符号長のアシンメトリ値をゼロにする記録パワーが大きく異なっている場合には、記録パワーの調整のみで総ての符号長のアシンメトリ値をゼロ近傍の所望範囲に収めることが困難となる場合が生じる。
【００８８】
第３の実施形態は、このような場合に有効な調整方法であり、記録パワーとパルス幅の調整を組み合わせた調整方法である。
【００８９】
図１５は、パルス幅調整の概念を説明する図である。パルス幅調整は、記録パワーの調整と異なり、符号長毎に波高値調整することが可能である。例えば、図１５（ａ）の中央にある短い符号長のパルス幅を短くすると等価的な記録パワーが減少することになり、結果的に図１５（ｃ）に示したように再生信号の波高値は低下する。このことは、符号長毎のパルス幅の調整によって符号長毎の波高値の調整が可能であり、その結果、符号長毎のアシンメトリ値を調整することができることを意味している。
【００９０】
パルス幅調整を行うことによって、個々の符号長毎のアシンメトリ値をゼロに調整することが可能であるが、ある符号長よりも長い符号長（例えば６Ｔ以上の符号長）に対しては、アシンメトリ値の調整が難しくなるという制約がある。
【００９１】
図１６は、この理由を模式的に説明する図である。図１６の左側に示したように長い符号長の再生信号は両端を除いた中央部は平坦な波形となっており、パルス幅を調整しても波高値自体はほとんど変化しない。このことは、長い符号長に対してパルス幅を調整してもアシンメトリ値も変化せず、結果的にパルス幅を調整してもアシンメトリ調整ができないことを意味している。どの符号長の長さからパルス幅調整によるアシンメトリ調整が難しくなるかは、図４の再生信号波形から概ね類推できる。図４では、２Ｔから５Ｔまでは波高値が徐徐に大きくなっているのに対して、６Ｔ以上の再生信号の波高値は符号長の長さに関わらずほぼ一定となっている。これは、６Ｔ以上の符号長に対しては、パルス幅調整によるアシンメトリ調整は必ずしも有効でないことを意味している。
【００９２】
第３の実施形態によるアシンメトリ調整方法は、パルス幅調整による上記の制約を補いつつ、６Ｔ以上の長い符号長も含めた総ての範囲の符号長のアシンメトリ値をゼロ近傍に押さえ込むことを可能とする調整方法である。
【００９３】
図１７は、第３の実施形態によるアシンメトリ調整方法の概念を説明する図である。この調整方法では、図１７（ａ）に示したように、特定の符号長、例えば６Ｔ、に対して特定符号長ＯＰＣ（第１の実施形態に係るアシンメトリ調整方法）を実施する。この結果、調整前のアシンメトリ値（白丸）は、調整後のアシンメトリ値（黒丸）の位置に移動する。
【００９４】
パルス幅調整では調整することが難しい６Ｔ以上の符号長に対しても、記録パワーの調整（特定符号長ＯＰＣ）を適用することによってアシンメトリ値をゼロ近傍に押さえ込むことができる。
【００９５】
次に、図１７（ｂ）に示したように、パルス幅調整によってアシンメトリ調整が可能な短い符号長（この例では、２Ｔから５Ｔの符号長）に対して、パルス幅調整を行い、夫々のアシンメトリ値を個別にゼロ近傍に押さえ込む。
【００９６】
このように、第３の実施形態に係るアシンメトリ調整方法は、特定符号長ＯＰＣとパルス幅調整によるアシンメトリ調整を組み合わせた方法である。但し、特定符号長ＯＰＣで選択される符号長は、パルス幅調整では調整しきれない長い符号長、例えば６Ｔ以上の符号長の中から選択することによって第３の実施形態に係るアシンメトリ調整方法による有効性が高まる。
【００９７】
なお、ある符号長のアシンメトリ値をその符号長のパルス幅調整によってゼロ近傍に押さえ込むと、他の符号長のアシンメトリ値も影響を受ける場合がある。例えば、３Ｔ符号長のアシンメトリ値をゼロにすべく３Ｔのパルス幅を調整した場合、他の符号長、例えば２Ｔや４Ｔのアシンメトリ値も影響を受ける。このような場合には、他の符号長のパルス幅も３Ｔのパルス幅調整と同時に多少調整するようにすればよい。
【００９８】
図１８は、第３の実施形態に係るアシンメトリ調整方法（特定符号長ＯＰＣ＋パルス幅調整）の処理例を示すフローチャートである。
【００９９】
ステップＳＴ４１からステップＳＴ５２までの処理は基本的には第１の実施形態（特定符号長ＯＰＣ：図８）のステップＳＴ１からステップＳＴ１２までの処理と同じである。但し、ステップＳＴ４９で選択する特定の符号長は、例えば６Ｔ以上の符号長の中から選択することにより、第３の実施形態の有効性が高まる。
【０１００】
ステップＳＴ５２にて、特定符号長（例えば６Ｔ）のアシンメトリ値がゼロ近傍の所望範囲内に収まっていることが判定されるとステップＳＴ５４へ進む。ステップＳＴ５４では、パルス幅調整によって符号長毎のアシンメトリ値の調整が行われる。この場合、アシンメトリ調整の対象となる符号長は特定符号長（例えば６Ｔ）以外の符号長であり、より具体的には、特定符号長よりも短い符号長（例えば２Ｔ〜５Ｔ）となる。
【０１０１】
（５）アシンメトリ調整（第４の実施形態）
第４の実施形態に係るアシンメトリ調整方法は、線形近似ＯＰＣ（第２の実施形態）とパルス幅調整とを組み合わせた形態である。
【０１０２】
図１９は、第４の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の概念を説明する図である。
【０１０３】
まず、図１９（ａ）に示したように、最初に線形近似ＯＰＣを行う。この場合、線形近似の対象範囲として、パルス幅調整では十分にアシンメトリ値を調整しきれない長い符号長を対象範囲とする。例えば６Ｔ以上の符号長を線形近似の対象範囲とする。
【０１０４】
符号長全体としては線形性が低く、線形近似ＯＰＣだけでは調整しきれないような場合であっても、線形近似の対象範囲を６Ｔ以上の符号長に限定すれば線形性が確保され、線形近似ＯＰＣはより有効となる。また、６Ｔ以上の符号長に対してはパルス幅調整の効果が低いことを考えると２重の効果がある。
【０１０５】
一方、６Ｔ未満の符号長（２Ｔから５Ｔ）に対してはパルス幅調整による個別のアシンメトリ調整が可能であり、この方法によれば、図１９（ｂ）に示したように、線形性が低い場合であっても符号長毎のアシンメトリ調整によって夫々のアシンメトリ値をゼロ近傍に押さえ込むことが可能である。
【０１０６】
図２０は、第４の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の処理例を示すフローチャートである。
【０１０７】
ステップＳＴ６１からステップＳＴ７４までの処理は基本的には第２の実施形態（線形近似ＯＰＣ：図１３）のステップＳＴ２１からステップＳＴ３４までの処理と同じである。但し、ステップＳＴ６６で線形近似式の傾きθを算出する場合、所定の符号長以上、例えば６Ｔ以上の符号長を対象範囲とすることにより、第４の実施形態の有効性が高まる。
【０１０８】
ステップＳＴ７３にて、傾きθがゼロ近傍の所望範囲内に収まっていることが判定されるとステップＳＴ７５へ進む。ステップＳＴ７５では、パルス幅調整によって符号長毎のアシンメトリ値の調整が行われる。この場合、アシンメトリ調整の対象となる符号長は所定の符号長（例えば６Ｔ）未満の符号長であり、例えば２Ｔ〜５Ｔとなる。
【０１０９】
（６）アシンメトリ調整（第５の実施形態）
図２１は、第５の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の処理例を示すフローチャートである。
【０１１０】
第５の実施形態に係るアシンメトリ調整方法は、パルス幅調整によるアシンメトリ調整を主体とし、パルス幅調整ではアシンメトリ値を十分調整しきれない場合に限り記録パワーの調整（この場合、線形近似ＯＰＣ）を行う形態である。
【０１１１】
ステップＳＴ８１からステップＳＴ８５までの処理は、記録パワーを初期値Ｐ０に設定して符号長毎のアシンメトリ値を算出する処理であり、他の実施形態と同様の処理である。
【０１１２】
ステップＳＴ８６にて、得られた符号長毎のアシンメトリ値に基づいて、所定の符号長以上（例えば６Ｔ以上）の符号長に対してパルス幅調整を行った場合、ゼロ近傍の所望の範囲内に収まり得るか否かを判断する。
【０１１３】
収まらないと判断した場合、ステップＳＴ８７へ進み、所定の符号長以上（例えば６Ｔ以上）の符号長に対して線形近似ＯＰＣを実施する。線形近似ＯＰＣの実施後、ステップＳＴ８８へ進む。
【０１１４】
一方、ステップＳＴ８６にて、パルス幅調整を行えば所定の符号長以上（例えば６Ｔ以上）の符号長であってもゼロ近傍の所望の範囲内に収まり得ると判断した場合にもステップＳＴ８８へ進む。
【０１１５】
ステップＳＴ８８では、各符号長のアシンメトリ値が総てゼロ近傍の所望範囲内に収まっているか否かを判定する。アシンメトリ値が所望範囲に収まっていない符号長があればその符号長のアシンメトリ値が所望範囲に収まるべくパルス幅調整を行う（ステップＳＴ８９）。これを総ての符号長のアシンメトリ値が所望範囲に収まるまで繰り返す。
【０１１６】
総ての符号長のアシンメトリ値が所望範囲に収まると、最後にステップＳＴ９０にて、調整したパスル幅と記録パワーをそれぞれ最適パルス幅と最適記録パワーとして、記録部６に設定する。
【０１１７】
以上説明してきたように、上記各実施形態に係るアシンメトリ調整方法を実施する光ディスク装置１及び光ディスク記録再生方法によれば、短い符号長から長い符号長に至るまでの広い範囲の符号長に対して、夫々の符号長のアシンメトリを適正に調整することができる。
【０１１８】
なお、本発明は上記の各実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記各実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の実施形態の発明を形成できる。例えば、各実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１１９】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成例を示す図。
【図２】記録パラメータと光ディスクに形成されるマークとスペースとの対応関係を模式的に説明する図。
【図３】記録波形、光ディスクに形成されるマークとスペース、及びマークとスペースの再生信号の関係を模式的に説明する図。
【図４】アシンメトリ値の算出式を補足説明する図。
【図５】記録パワーの調整と波高値の変化の様子を模式的に説明する図。
【図６】記録パワーをパラメータとした、符号長とアシンメトリ値の関係を測定した結果の一例を示す図。
【図７】符号長をパラメータとした、記録パワーとアシンメトリ値の関係を測定した結果の一例を示す図。
【図８】第１の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の処理例を示すフローチャート。
【図９】第１の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の補足説明図。
【図１０】第１の実施形態に係るアシンメトリ調整の実施前と実施後における符号長毎のアシンメトリ値の一例を示す図。
【図１１】第２の実施形態に係るアシンメトリ調整方法における線形近似の概要説明図。
【図１２】記録パワーに対する線形近似式の傾きθの特性例を示す図。
【図１３】第２の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の処理例を示すフローチャート。
【図１４】第２の実施形態に係るアシンメトリ調整の実施前と実施後における符号長毎のアシンメトリ値の一例を示す図。
【図１５】パルス幅調整による符号長毎のアシンメトリ調整方法の概念図。
【図１６】パルス幅調整によるアシンメトリ調整方法の制約を説明する図。
【図１７】第３の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の概念説明図。
【図１８】第３の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の処理例を示すフローチャート。
【図１９】第４の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の概念説明図。
【図２０】第４の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の処理例を示すフローチャート。
【図２１】第４の実施形態に係るアシンメトリ調整方法の処理例を示すフローチャート。
【符号の説明】
【０１２０】
１  光ディスク装置
６  記録部（レーザ駆動回路）
６０  再生部
６４  ＲＦアンプ
６６  ＡＤ変換器
６７  適応等化器
７３  記録パラメータ決定部
８０  ビタビ復号部
８１  波高値取得部
８２  アシンメトリ値算出部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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