(57)【要約】      （修正有）【課題】メーカー推奨記録パワーが記録され、かつ、前回の記録パワーが記録されている光情報記録媒体に対して、限られた条件でのテスト記録で、良好なマーク及びスペースを形成する最適記録パワーを決定する。【解決手段】光情報記録媒体１のディスク管理情報を読み、前記ディスク管理領域記載のメーカー推奨記録パワーをデコードし（Ｓ３）、前回記録時の記録パワーをデコードし（Ｓ４）、これらの記録パワーを比較し（Ｓ５）、比較結果によりテスト記録時のテスト記録パワーを算出し（Ｓ７）、テスト記録を実行し（Ｓ８）、テスト記録によって形成された信号を再生し各テスト記録パワーに対応したジッタ値を取得し（Ｓ９）、各テスト記録パワーとそれに対応したジッタ値との間の関係を示す近似式を算出し（Ｓ１０）、近似式からジッタ値が最小となる最適記録パワーを算出し（Ｓ１１）、算出した最適記録パワーをセットし（Ｓ１２）、通常のデータ記録を行う。 【選択図】図３
2008287783.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
あらかじめ光情報記録媒体メーカー推奨の第１の記録パワーが記録され、かつ、前回記録時の第２の記録パワーが記録されている前記光情報記録媒体に対してテスト記録を行い、最適記録パワーを求める記録パワー最適化方法であって、
前記光情報記録媒体に記録されている前記第１、第２の記録パワーを読み取るステップと、
前記読み取った第１、第２の記録パワーを比較するステップと、
前記第１、第２の記録パワーが等しい場合は前記第１、第２の記録パワーを前記最適記録パワーとして決定するステップと、
前記第１、第２の記録パワーが異なる場合は前記第１、第２の記録パワーを第１、第２のテスト記録パワーとするとともに、前記第１、第２の記録パワーから第３のテスト記録パワーを算出するステップと、
前記光情報記録媒体に対して、前記第１、第２、第３のテスト記録パワーでテスト記録を行うステップと、
前記光情報記録媒体に前記第１、第２、第３のテスト記録パワーでテスト記録されたエリアを再生して得られた各再生信号から、再生信号の品位を算出するのに必要な物理量を前記第１、第２、第３のテスト記録パワーごとに測定するステップと、
前記光情報記録媒体に対してテスト記録した前記第１、第２、第３のテスト記録パワーと、前記算出した前記第１、第２、第３のテスト記録パワーごとの物理量との間の関係を示す近似式を求めるステップと、
前記近似式における前記物理量が最小となる記録パワーを前記最適記録パワーとして決定するステップとを、
備えた記録パワー最適化方法。
【請求項２】
あらかじめ光情報記録媒体メーカー推奨の第１の記録パワーが記録され、かつ、前回記録時の第２の記録パワーが記録されている前記光情報記録媒体に対してテスト記録を行い、最適記録パワーを求める記録パワー最適化装置であって、
前記光情報記録媒体に記録されている前記第１、第２の記録パワーを読み取る手段と、
前記読み取った第１、第２の記録パワーを比較する手段と、
前記第１、第２の記録パワーが等しい場合は前記第１、第２の記録パワーを前記最適記録パワーとして決定する手段と、
前記第１、第２の記録パワーが異なる場合は前記第１、第２の記録パワーを第１、第２のテスト記録パワーとするとともに、前記第１、第２の記録パワーから第３のテスト記録パワーを算出する手段と、
前記光情報記録媒体に対して、前記第１、第２、第３のテスト記録パワーでテスト記録を行う手段と、
前記光情報記録媒体に前記第１、第２、第３のテスト記録パワーでテスト記録されたエリアを再生して得られた各再生信号から、再生信号の品位を算出するのに必要な物理量を前記第１、第２、第３のテスト記録パワーごとに測定する手段と、
前記光情報記録媒体に対してテスト記録した前記第１、第２、第３のテスト記録パワーと、前記算出した前記第１、第２、第３のテスト記録パワーごとの物理量との間の関係を示す近似式を求める手段と、
前記近似式における前記物理量が最小となる記録パワーを前記最適記録パワーとして決定する手段とを、
備えた記録パワー最適化装置。
【請求項３】
前記再生信号の品位を算出するのに必要な物理量とは、前記再生信号のジッタ値又はエラーレートであることを特徴とする請求項２記載の記録パワー最適化装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、あらかじめ光情報記録媒体メーカー推奨記録パワーが記録され、かつ、前回記録時の記録パワーが記録されている光情報記録媒体に対してテスト記録を行い、最適記録パワーを求める記録パワー最適化方法及び記録パワー最適化装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、データの書き換え可能な光情報録媒体として、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＭＤ、ＭＯなどがあり、更に近年は、より大容量のＢＤ−ＲＥ、ＢＤ−Ｒが開発され、これらが一般に販売されている。光情報記録媒体の高密度化を実現するために、ＢＤ−ＲＥ、ＢＤ−ＲではＤＶＤに比べ狭トラックピッチ化、記録するマーク／スペース長を線密度方向に縮め、レーザ波長の短波長化や、レーザなどの光源からの光束をより小さなスポットに集光するためレンズの開口数を大きくするなど対応している。しかし、レンズの開口数が大きくなると、光情報記録媒体の反りや傾きに対してコマ収差が発生しやすくなる。この場合には、光情報記録媒体の読み取り面におけるカバー層の厚みが薄い方がコマ収差の発生を少なくできるという点で有利である。
【０００３】
光情報記録媒体の読み取り面（記録面）を保護する透過基板は、ＤＶＤでは０．６ｍｍであるが、ＢＤ−ＲＥ、ＢＤ−Ｒではこの読み取り面のカバー厚をもっと薄い０．１ｍｍとしており、透過基板ではなく透過シートを基板に接着剤によって貼り合せたり、樹脂のスピンコートにより透過層を形成している。この場合、透過シートと接着剤とを合わせた厚さ誤差、または、スピンコートによる透過層の厚さ誤差による影響の度合いは、ＤＶＤに比べ遥かに大きく、記録感度ムラとして記録パワーや、記録パルス幅にも影響を与えてしまう。
【０００４】
光情報記録媒体には、記録時に必要となる記録パワー値や、記録パルス幅などのメーカー推奨の記録条件設定情報があらかじめ記憶されている。しかしながら、光情報記録媒体に記憶されているメーカー推奨の記録管理情報（記録条件）は、ＲＯＭ情報として基板に形成され、その後に基板上に記録媒体を積層するため、読み取り面のカバー厚や記録媒体の形成状態により、記録条件の特性にはバラツキが生じる。
【０００５】
すなわち、同じ記録パワー、同じ記録パルス幅で情報を記録した場合であっても、光情報記録媒体の構造、記録媒体の組成、周囲温度などによって記録されたマーク／スペースの大きさは変化する。特に、マーク／スペースのエッジに情報を持たせるマークエッジ記録が多く行われる高密度の光記録においては、記録されたマーク／スペース長の変化は、再生信号のジッタとなって再生されたデータの誤り率の悪化を招くことになる。このため、通常、光情報記録媒体の記録再生においては、光情報記録媒体へのテスト記録を行い、その再生信号から得た記録状態を判定し、必要に応じて記録条件の最適化を行っている。
【０００６】
この記録条件を最適化する従来技術として、例えば記録パワーの最適化については、下記の特許文献１に記載の技術がある。特許文献１によれば、記録パワーを逐次変化させながら未記録部と記録部とからなるパターンのテスト記録を行い、このテスト記録した記録パターンから情報を再生して記録パワーＰに対応した信号振幅をモニターし、規格化された傾斜ｇ（Ｐ）若しくは、規格化されたｈ（Ｐ）を求め、ｇ（Ｐ）、若しくはｈ（Ｐ）に基づき記録パワーの過不足を評価し最適記録パワーを求めている。
また、下記の特許文献２に記載の技術は、テスト記録を行うと共に、該テスト記録後のテスト領域を再生し、再生信号品質を判定し最適記録パワーを決定した後、あらかじめ光記録再生装置内のメモリ回路に記憶されている標準記録パワーと前記最適記録パワーとの比率から最適化補正率を算出し、この算出された最適化補正率でメモリ回路に記憶されている標準消去パワーを補正している。
【特許文献１】特許第３１２４７２１号公報（請求項１）
【特許文献２】特許第２６９７６５８号公報（請求項１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１に開示された技術では、高密度化のためコマ収差の発生を低減させるために、光情報記録媒体の読み取り面におけるカバー層の厚みを薄くした構造の光情報記録媒体に対しては、カバー層の厚みムラによって傾斜ｇ（Ｐ）、若しくは、ｈ（Ｐ）が精度良く取得できない場合、精度を欠いてしまう。
また、特許文献２に開示された技術では、テスト記録後再生テストを行い再生品質判定結果に基づいて最適記録パワーを決定し、前記最適記録パワーとメモリ回路に記憶されている標準記録パワーとの比率から決定される最適化補正率で、標準消去パワーを補正し最適消去パワー得ると記載されているが、最適化補正率の算出式するにあたり前記標準記録パワー及び標準消去パワー等を光記録再装置内のメモリ回路に記憶していなければならず、すべての記録型ディスクの種類に対応する標準記録パワーをメモリ回路内に記憶しておくことは現実的には難しい。
【０００８】
本発明は、あらかじめ光情報記録媒体メーカー推奨記録パワーが記録され、かつ、前回記録時の記録パワーが記録されている光情報記録媒体に対して、限られた記録パワー条件でのテスト記録で、光情報記録媒体に対して良好なマーク及びスペースを形成し再生信号品質を向上させる最適記録パワーを決定することができる記録パワー最適化方法及び装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は上記目的を達成するために、あらかじめ光情報記録媒体メーカー推奨の第１の記録パワーが記録され、かつ、前回記録時の第２の記録パワーが記録されている前記光情報記録媒体に対してテスト記録を行い、最適記録パワーを求める記録パワー最適化方法であって、
前記光情報記録媒体に記録されている前記第１、第２の記録パワーを読み取るステップと、
前記読み取った第１、第２の記録パワーを比較するステップと、
前記第１、第２の記録パワーが等しい場合は前記第１、第２の記録パワーを前記最適記録パワーとして決定するステップと、
前記第１、第２の記録パワーが異なる場合は前記第１、第２の記録パワーを第１、第２のテスト記録パワーとするとともに、前記第１、第２の記録パワーから第３のテスト記録パワーを算出するステップと、
前記光情報記録媒体に対して、前記第１、第２、第３のテスト記録パワーでテスト記録を行うステップと、
前記光情報記録媒体に前記第１、第２、第３のテスト記録パワーでテスト記録されたエリアを再生して得られた各再生信号から、再生信号の品位を算出するのに必要な物理量を前記第１、第２、第３のテスト記録パワーごとに測定するステップと、
前記光情報記録媒体に対してテスト記録した前記第１、第２、第３のテスト記録パワーと、前記算出した前記第１、第２、第３のテスト記録パワーごとの物理量との間の関係を示す近似式を求めるステップと、
前記近似式における前記物理量が最小となる記録パワーを前記最適記録パワーとして決定するステップとを、
備えた。
【００１０】
また、本発明は上記目的を達成するために、あらかじめ光情報記録媒体メーカー推奨の第１の記録パワーが記録され、かつ、前回記録時の第２の記録パワーが記録されている前記光情報記録媒体に対してテスト記録を行い、最適記録パワーを求める記録パワー最適化装置であって、
前記光情報記録媒体に記録されている前記第１、第２の記録パワーを読み取る手段と、
前記読み取った第１、第２の記録パワーを比較する手段と、
前記第１、第２の記録パワーが等しい場合は前記第１、第２の記録パワーを前記最適記録パワーとして決定する手段と、
前記第１、第２の記録パワーが異なる場合は前記第１、第２の記録パワーを第１、第２のテスト記録パワーとするとともに、前記第１、第２の記録パワーから第３のテスト記録パワーを算出する手段と、
前記光情報記録媒体に対して、前記第１、第２、第３のテスト記録パワーでテスト記録を行う手段と、
前記光情報記録媒体に前記第１、第２、第３のテスト記録パワーでテスト記録されたエリアを再生して得られた各再生信号から、再生信号の品位を算出するのに必要な物理量を前記第１、第２、第３のテスト記録パワーごとに測定する手段と、
前記光情報記録媒体に対してテスト記録した前記第１、第２、第３のテスト記録パワーと、前記算出した前記第１、第２、第３のテスト記録パワーごとの物理量との間の関係を示す近似式を求める手段と、
前記近似式における前記物理量が最小となる記録パワーを前記最適記録パワーとして決定する手段とを、
備えた。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、限られた数種類の記録パワー条件でのテスト記録で済むため限られたテスト記録領域を使用してテスト記録を行う場合に有利であり、特に追記型の光情報記録媒体で有効であり、またテスト記録が短く済むためテスト記録の処理時間も短縮できる。また、光情報記録媒体に対して最適な記録パワーを決定することができるので、良好に情報の書き込みを行い、再生信号品質を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面と共に説明する。
＜第１の実施の形態＞
図１は本発明に係る記録パワー最適化方法及び装置を実現する光記録再生装置の第１の実施の形態を示すブロック図、図２は記録時のレーザ発光波形を示す説明図、図３は本発明に係る記録パワー最適化方法の第１の実施の形態のテスト記録処理を説明するためのフローチャート、図４から図１０は本発明に係る記録パワー最適化方法及び装置の第１の実施の形態のテスト記録処理を行ったときの記録パワーとジッタ値の関係を示す図である。
【００１３】
まず、本発明に係る記録パワー最適化方法及び装置を実現する光記録再生装置の第１の実施の形態について、図１に示す光記録再生装置のブロック図を用いて説明する。図１に示す光記録再生装置においては、情報を繰り返し記録再生可能な相変化型の光情報記録媒体１をスピンドルモータ２により回転駆動して、前記光情報記録媒体１の記録トラックを光ピックアップ１０（光ＰＵ）から出射するレーザ光で走査することにより、所定のデータフォーマットのデジタルデータ（ここでは、ライトクロック周期：１Ｔに対して、マーク長／スペース長が２Ｔ、３Ｔ〜８Ｔとシンクデータに含まれる９Ｔを含むデータ等）を光学的に記録及び再生する。ここでは、相変化型の光情報記録媒体１を記録再生可能な光記録再生装置を例として説明するが、光磁気型または色素系の記録媒体を使った光情報記録媒体を記録再生可能な光記録再生装置を使用しても実現は可能である。
【００１４】
光ピックアップ１０においては、レーザ光源である半導体レーザ１１からのレーザ光がコリメートレンズ１２で平行光ビームとされ、ビームスプリッタ１３を通過し、対物レンズ１４により光情報記録媒体１上の信号記録面に集光されるように照射される。光情報記録媒体１の信号記録面に投射されて反射されたレーザ光の反射光ビーム（戻りレーザ光）は、対物レンズ１４により集光され、次いでビームスプリッタ１３で反射され、シリンドリカル（集光）レンズ１５により、受光素子であるフォトディテクタ１６に導かれるようになっている。
【００１５】
フォトディテクタ１６は、例えば受光部が４分割された構造を有し、これらの各受光部からの光検出信号がプリアンプ２０を介してマトリクス回路２１に供給されることにより、これらの信号の和や差がとられて、いわゆるＲＦ信号（アナログ状態の信号）や、不図示のフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などとして取り出される。ここでは、フォトディテクタ１６とプリアンプ２０を分けて説明したが、プリアンプ機能内蔵のフォトディテクタであってもよい。また、ここでは受光部が４分割された構造のフォトディテクタを一例にあげ説明したが、他の構造のフォトディテクタであってもよい。
【００１６】
不図示のフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は、位相補償回路（図示せず）を介し、更にサーボ駆動回路（図示せず）を介して、対物レンズ１４の２軸駆動装置の各駆動コイル（図示せず）にそれぞれ送られることにより、フォーカスサーボ、及びトラッキングサーボが行われる。また、ＲＦ信号は、各受光部からの出力信号の和信号であり、ＥＱ（イコライザ）２２に供給される。
【００１７】
マトリクス回路２１から出力されたＲＦ信号はＥＱ２２で整形され、次の二値化回路２３は、このＥＱ２２により整形されたＲＦ信号を所定の閾値と比較し、その閾値を境に二値化する。それにより、ＥＱ２２で整形されたＲＦ信号は二値化回路２３でデジタル信号へ変換される。ＰＬＬ（フェーズロックループ回路）２４は、デジタル信号と基準となるクロック信号とを同期させるものである。
【００１８】
起動時、若しくは、記録動作の直前において、光情報記録媒体１のディスク管理領域にあらかじめ記憶されている領域の情報（Disc Information：以後、ＤＩ）と、前回記録時の記録条件が記録された領域の情報（Drive Specific Information：以後、ＤＳＩ）を読み込み、上記経路を経て得られたデジタル信号の内、記録パワー情報は記録パワー情報復調部２５で復調され、記録パルス情報は記録パルス情報復調部２６で復調される。それぞれ復調された記録パワー情報は記録パワー決定部２７へ、記録パルス情報は記録パルス決定部２８へと送られる。
【００１９】
次に、上記ＤＩに記載の記録パワー情報、記録パルス情報について、図２に示す記録時のレーザ発光波形の例を使って説明する。ここで、図２はマーク長／スペース長＝４Ｔを記録する場合のレーザ発光波形を示し、このレーザ発光波形は、先頭パルス（パルス幅Ｔtop）と、２つの後続パルス（パルス幅Ｔmp）と、クーリングパルス（パワーＰco）と消去パルス（前端位置ｄＴe）などを含むマルチパルスで構成されている。この例においては、光情報記録媒体１にあらかじめ記憶されているＤＩに記載の記録パワー情報、記録パルス情報以外にＯＰＣのための情報も含んだ形で説明を行う。ＤＩに記載の情報には、次に示すパラメータが記録されている。
【００２０】
記録パワー情報として、
「最適記録ピークパワーＰwoを得るための指標となる記録ピークパワーＰind」、
「乗数ρ（Ｐwo＝ρ×Ｐind）」、
「記録ピークパワーＰindで記載された記録パワーで記録したときの変調度ｍind」、
「最適記録バイアスパワーＰbwoを得るためのバイアスパワー／記録ピークパワー比率εbw（Ｐbwo＝Ｐwo×εbw）」、
「最適記録クーリングパワーＰcoを得るためのクーリングパワー／記録ピークパワー比率εc（Ｐco＝Ｐwo×εc）」、
「最適消去パワーＰe1を得るための消去パワー１／記録ピークパワー比率εe1（Ｐe1＝Ｐwo×εe1）」、
「最適消去パワーＰe2を得るための消去パワー２／記録ピークパワー比率εe2（Ｐe2＝Ｐwo×εe2）」、
「ＯＰＣが実行される変調度カーブ上のポイントを示す記録ピークパワーＰwと記録閾値ピークパワーＰthrの目標比率κ（κ＝Ｐw／Ｐthr）」である。
【００２１】
また、記録パルス情報としては、次に示すパラメータが記録されている。
「先頭パルス幅Ｔtop」、
「先頭パルス前端位置情報ｄＴtop」、
「後続パルス幅Ｔmp」、
「消去パルス前端位置情報ｄＴe」
（場合によっては各マーク長にスペース長に応じて設定されている）。
これらの組み合わせによって、図２に示すようにマーク長（及びスペース長）に対するレーザ発光波形を実現する。
【００２２】
次に、図１に戻り、記録パワー決定部２７は、記録パワー情報復調部２５で復調された記録パワー情報、若しくはＣＰＵ２９を介して得られるメモリ３０に記憶された記録パワー情報を選択してテスト記録パワーや最適記録パワーの設定値を決定するもので、この出力信号は、レーザ駆動回路３１へと送られ、半導体レーザ１１の点灯時の目標値となる。メモリ３０は、例えばシステムの動作プログラムやデータなどを格納するＲＯＭなどの不揮発性メモリと、光ピックアップ１０が光情報記録媒体１から読み出した情報及び必要な制御プログラムを一時的に格納するＲＡＭなどの揮発性メモリとを含む。
【００２３】
記録パルス決定部２８では、記録パルス情報復調部２６からの記録パルス情報からの記録データを基に光変調用のパルス出力をレーザ駆動回路３１へと送る。記録パワー決定部２７からの記録パワー情報と記録パルス決定部２８からの記録時のパルス信号との組み合わせによって半導体レーザ１１をレーザ駆動回路３１によってパルス駆動し、光情報記録媒体１に対して記録を行えるようにしている。
【００２４】
ジッタ計測部３２は、光情報記録媒体１に対してテスト記録することによって得られた記録信号を上述のように再生して、ＰＬＬ２４からの前記記録信号に対してジッタの計測を行う。計測結果はＣＰＵ２９へと送られ、各テスト記録パワーとそれに対応したジッタ値との間に近似式を算出し、前記近似式においてジッタ値が最小となる記録パワーを最適記録パワーとして求めるために使われる。
【００２５】
本実施の形態は、上記ＤＩに記載のディスクメーカー推奨の記録パワー情報（ＤＩ値）と上記ＤＳＩに記載の前回記録時の記録パワー情報（ＤＳＩ値）と、これらＤＩ値及びＤＳＩ値から算出したテスト記録パワーでテスト記録し、これらの再生信号のジッタ値を取得し、各テスト記録パワーとそれに対応したジッタ値との間の関係を示す近似式を算出し、近似式でジッタ値が最小となる記録パワーを最適記録パワーとして算出することによって良好な情報の書き込みを行い、再生信号品質を向上させることが可能な最適記録パワーを得るためのものである。
【００２６】
以下、図３のフローチャートに沿ってステップＳ１〜Ｓ１２について詳細な説明を行う。
初めに、テスト記録の命令に従い、スピンドルモータ２を回転制御し、半導体レーザ１１を点灯（ＬＤ  ＯＮ）し、フォーカスサーボ、及び、トラッキングサーボをＯＮする（ステップＳ１）。ステップＳ１の動作を行うまでにサーボ定数のキャリブレーションが行われていない場合はここで行う。続いて光ピックアップ１０を光情報記録媒体１のディスク管理領域の所定アドレスにシークし、スピンドルサーボ系、フォーカスサーボ系、トラッキングサーボ系の順で各サーボ系を駆動する（ステップＳ２）。
【００２７】
次に、上記ＤＩに記載のディスクメーカー推奨の記録パワー情報を読み取り、上述の説明の如く記録パワー情報復調部２５でデコードしてＣＰＵ２９へ送り（ステップＳ３）、次いで上記ＤＳＩに記載の前回記録時の記録パワー情報を読み取り上述の説明の如く記録パワー情報復調部２５でデコードしてＣＰＵ２９へ送る（ステップＳ４）。ステップＳ３とステップＳ４の順番はどちらが先でも支障はない。また、テスト記録前に上記ＤＩ及びＤＳＩを読み取り、メモリ３０にこれらを記憶している場合はメモリ３０から読み出しＣＰＵ２９へ送る。
【００２８】
ＣＰＵ２９では、ＤＩに記載のディスクメーカー推奨の記録パワー情報（DI Power：以下、ＤＩ値）と、ＤＳＩに記載の前回記録時の記録パワー情報（DSI Power：以下、ＤＳＩ値）を比較し（ステップＳ５）、比較の結果、ＤＩ値とＤＳＩ値が等しい場合（図３中の「Ｙｅｓ」）、ＤＩ値＝ＤＳＩ値を通常のデータ記録で使用するための最適記録パワーとして記録パワー決定部２７へと送る（ステップＳ６）。ステップＳ５における比較の結果、ＤＩ値とＤＳＩ値が異なる場合（図３中の「Ｎｏ」）、ＤＩ値とＤＳＩ値の差分に応じて、ＤＩ値とＤＳＩ値、これらから求めたテスト記録パワー１、２を含む３種類以上のテスト記録パワーを算出する（ステップＳ７）。テスト記録パワー１、２の算出方法について図４から図１０を使って説明する。
【００２９】
まず、図４から図６では、ＤＩ値とＤＳＩ値と、これらＤＩ値及びＤＳＩ値から算出したテスト記録パワー１を含む３種類のテスト記録パワー（ＤＩ値、ＤＳＩ値、テスト記録パワー１）を用いる場合について説明する。ここでいう、記録パワーとは図２で説明した「最適記録ピークパワＰwo」を指し、その他の記録パワーの光強度はＤＩに記載の比率（ε）などを使用するものとする。図４は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的大きく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、３種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとジッタ値の関係を示す。この場合、テスト記録パワー１として、ＤＩ値とＤＳＩ値の間の値を算出することとし、中点を選択することが望ましい。
テスト記録パワー１＝（ＤＳＩ＋ＤＩ）／２
図４ではＤＩ値＜ＤＳＩ値として記載しているが、ＤＩ値＞ＤＳＩ値であっても差が比較的大きい場合は同様の方法でＤＩ値とＤＳＩ値の関係を入れ替えて算出を行う。
【００３０】
図５は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的小さく、ＤＩ値＞ＤＳＩ値、かつ、３種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとジッタ値の関係を示す。この場合、テスト記録パワー１としてＤＳＩ値より小さい記録パワーを算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＳＩ値−（ＤＩ値−ＤＳＩ）
となるように選択することが望ましい。
【００３１】
図６は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的小さく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、３種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとジッタ値の関係を示す。この場合、テスト記録パワー１としてＤＳＩ値より大きい記録パワーを算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＳＩ値＋（ＤＳＩ値−ＤＩ値）
となるように選択することが望ましい。
【００３２】
次に、図７から図１０を参照して、ＤＩ値とＤＳＩ値からテスト記録パワー１、２を算出して４種類のテスト記録パワー（ＤＩ値、ＤＳＩ値、テスト記録パワー１、２）を用いる場合について説明する。図７はＤＩ値とＤＳＩ値の差が大きく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、４種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとジッタ値の関係を示す。この場合、ＤＩ値とＤＳＩ値の中間値２点をテスト記録パワー１、２として算出することとし、記録パワーをＤＩ値とＤＳＩ値との中間値２点を算出することとし、テスト記録パワー１、２としてＤＳＩ値とＤＩ値の差分を等間隔に分けるような値を選択することが望ましい。
テスト記録パワー１＝ＤＩ値＋（ＤＳＩ値-ＤＩ値）／３
テスト記録パワー２＝ＤＳＩ値−（ＤＳＩ値-ＤＩ値）／３
図７ではＤＩ値＜ＤＳＩ値として記載しているが、ＤＩ値＞ＤＳＩ値であっても差が大きい場合は同様の方法でＤＩ値とＤＳＩ値の関係を入れ替えて算出を行う。
【００３３】
図８は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的小さく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、４種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとジッタ値の関係を示す。この場合、ＤＩ値とＤＳＩ値の間のテスト記録パワー１と、ＤＳＩ値より大きいテスト記録パワー２を算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＳＩ値−（ＤＳＩ値−ＤＩ値）／２
テスト記録パワー２＝ＤＳＩ値＋（ＤＳＩ値−ＤＩ値）／２
となるように選択することが望ましい。
【００３４】
図９は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的小さく、ＤＩ値＞ＤＳＩ値、かつ、４種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとジッタ値の関係を示す。この場合、ＤＳＩ値より小さいテスト記録パワー１と、ＤＩ値とＤＳＩ値の間のテスト記録パワー２を算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＳＩ値−（ＤＩ値−ＤＳＩ値）／２
テスト記録パワー２＝ＤＳＩ値＋（ＤＩ値−ＤＳＩ値）／２
となるように選択することが望ましい。
【００３５】
図１０は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が小さく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、４種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとジッタ値の関係を示す。この場合、ＤＩ値以下のテスト記録パワー１と、ＤＳＩ値以上のテスト記録パワー２を算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＩ値−（ＤＳＩ値−ＤＩ値）
テスト記録パワー２＝ＤＳＩ値＋（ＤＳＩ値−ＤＩ値）
となるように選択することが望ましい。図１０ではＤＩ値＜ＤＳＩ値として記載しているが、ＤＩ値＞ＤＳＩ値であっても差が小さい場合は同様の方法でＤＩ値とＤＳＩ値の関係を入れ替えて算出を行う。
【００３６】
ここまでテスト記録でのテスト記録パワー１、２の算出方法の一例を第１の実施形態を使って説明してきたが、上述以外の算出方法で記録パワーを求めても本発明に適応できることはいうまでもない。
【００３７】
続いて、上述のテスト記録パワー（ＤＩ、ＤＳＩ、テスト記録パワー１（更には２））を用いてテスト記録を行い（ステップＳ８）、テスト記録によって形成された記録信号を再生し、各テスト記録パワー（ＤＩ、ＤＳＩ、テスト記録パワー１（更には２））に対応したジッタ値を取得し（ステップＳ９）、テスト記録パワー（ＤＩ、ＤＳＩ、テスト記録パワー１（更には２））とそれに対応した上述のジッタ値との間の関係を示す近似式を算出する（ステップＳ１０）。ここで、近似式については、図４〜図１０での説明の如くテスト記録パワーが３種類の場合は２次の多項式を利用した最小二乗法を用い、テスト記録パワーが４種類の場合は３次の多項式を利用した最小二乗法を用いるとよい。また、テスト記録パワーが５種類以上の場合は３次以上の多項式を利用した最小二乗法を用いるとよい。
【００３８】
図３に戻り、近似式算出後、上記近似式からジッタ値が最小となる記録パワー（図４〜図１０における「算出値」）を算出する（ステップＳ１１）。ステップＳ１１で算出した記録パワーを通常のデータ記録で使用するための最適記録パワーとして記録パワー決定部２７へセットし送る（ステップＳ１２）。これにより通常のデータ記録時の最適記録を行うための記録パワーを使用することが可能となる。
【００３９】
ここで求めた最適記録パワー（算出値）は、光情報記録媒体１のディスク管理領域内のＤＳＩ領域等に記録し、次回記録時に用いることが出来る。また、光記録再生装置内のメモリ３０にディスク種別等と共に格納すると、次回、前記光情報記録媒体１に対して記録を行う場合の記録パワーに役立てることも出来る。これらの記録パワー最適化方法行われるタイミングは、通常のデータ記録前に行うものとし、起動時や、記録直前に行ってもよい。テスト記録でのテスト記録パワー１、２の算出方法の一例を第２の実施形態を使って説明してきたが、上述以外の算出方法で記録パワーを求めても本発明に適応できることはいうまでもない。
【００４０】
＜第２の実施の形態＞
図１１は本発明に係る記録パワー最適化方法及び装置を実現する光記録再生装置の第２の実施の形態を示すブロック図、図１２は本発明に係る記録パワー最適化方法の第２の実施の形態のテスト記録処理を説明するためのフローチャート、図１３から図１９は本発明に係る記録パワー最適化方法及び装置の第２の実施の形態のテスト記録処理を行ったときの記録パワーとエラーレートの関係を示す図である。
【００４１】
まず、本発明に係る記録パワー最適化方法及び装置を実現する光記録再生装置の第２の実施の形態について、図１１に示す光記録再生装置のブロック図を用いて説明する。動作的には、図１に示す光記録再生装置のブロック図と同様であるが、下記に異なる点を中心に説明する。
【００４２】
エラーレート計測部３３は、光情報記録媒体１に対してテスト記録することによって得られた記録信号を上述のように再生して、ＰＬＬ２４からの前記記録信号に対してエラーレートの計測を行う。計測結果はＣＰＵ２９へと送られ、テスト記録時の各テスト記録パワーとそれに対応したエラーレートとの間の関係を示す近似式を算出し、前記近似式においてエラーレートが最小となる記録パワーを最適記録パワーとして求めるために使われる。
【００４３】
本実施の形態は、上記ＤＩに記載のディスクメーカー推奨の記録パワー情報（ＤＩ値）と上記ＤＳＩに記載の前回記録時の記録パワー情報（ＤＳＩ値）と、これらＤＩ値及びＤＳＩ値から算出したテスト記録パワーでテスト記録し、これらの再生信号のエラーレートを取得し、各テスト記録パワーとそれに対応したエラーレートとの間の関係を示す近似式を算出し、近似式でエラーレートが最小となる記録パワーを最適記録パワーとして算出することによって良好な情報の書き込みを行い、再生信号品質を向上させることが可能な最適記録パワーを得るためのものである。
【００４４】
以下、図１２のフローチャートに沿ってステップＳ２１〜Ｓ３２について詳細な説明を行う。まず、ステップＳ２１〜Ｓ２７の処理は、図３に示すステップＳ１〜Ｓ７と同じであるので、説明を省略する。そして、第２の実施の形態では、ステップＳ２５における比較の結果、ＤＩ値とＤＳＩ値が等しい場合（図１２中の「Ｙｅｓ」）、ＤＩ値＝ＤＳＩ値を通常のデータ記録で使用するための最適記録パワーとして記録パワー決定部２７へと送る（ステップＳ２６）。ステップＳ２５における比較の結果、ＤＩ値とＤＳＩ値が異なる場合（図１２中の「Ｎｏ」）、ＤＩ値とＤＳＩ値の差分に応じて、ＤＩ値とＤＳＩ値、これらから求めたテスト記録パワー１、２を含む３種類以上のテスト記録パワーを算出する（ステップＳ２７）。テスト記録パワー１、２の算出方法について図１３から図１９を使って説明する。
【００４５】
まず、図１３から図１５では、ＤＩ値とＤＳＩ値と、これらＤＩ値及びＤＳＩ値から算出したテスト記録パワー１を含む３種類のテスト記録パワー（ＤＩ値、ＤＳＩ値、テスト記録パワー１）を用いる場合について説明する。ここでいう、記録パワーとは図２で説明した「最適記録ピークパワＰwo」を指し、その他の記録パワーの光強度はＤＩに記載の比率（ε）などを使用するものとする。図１３は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的大きく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、３種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとエラーレートの関係を示す。この場合、テスト記録パワー１として、ＤＩ値とＤＳＩ値の間の値を算出することとし、中点を選択することが望ましい。
テスト記録パワー１＝（ＤＳＩ＋ＤＩ）／２
図１３ではＤＩ値＜ＤＳＩ値として記載しているが、ＤＩ値＞ＤＳＩ値であっても差が比較的大きい場合は同様の方法でＤＩ値とＤＳＩ値の関係を入れ替えて算出を行う。
【００４６】
図１４は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的小さく、ＤＩ値＞ＤＳＩ値、かつ、３種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとエラーレートの関係を示す。この場合、テスト記録パワー１としてＤＳＩ値より小さい記録パワーを算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＳＩ値−（ＤＩ値−ＤＳＩ値）
となるように選択することが望ましい。
【００４７】
図１５は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的小さく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、３種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとエラーレートの関係を示す。この場合、テスト記録パワー１としてＤＳＩ値より大きい記録パワーを算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＳＩ値＋（ＤＳＩ値−ＤＩ値）
となるように選択することが望ましい。
【００４８】
次に、図１６から図１９を参照して、ＤＩ値とＤＳＩ値からテスト記録パワー１、２を算出して４種類のテスト記録パワー（ＤＩ値、ＤＳＩ値、テスト記録パワー１、２）を用いる場合について説明する。図１６はＤＩ値とＤＳＩ値の差が大きく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、４種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとエラーレートの関係を示す。この場合、ＤＩ値とＤＳＩ値の中間値２点をテスト記録パワー１、２として算出することとし、記録パワーをＤＩ値とＤＳＩ値との中間値２点を算出することとし、テスト記録パワー１、２としてＤＳＩ値とＤＩ値の差分を等間隔に分けるような値を選択することが望ましい。
テスト記録パワー１＝ＤＩ値＋（ＤＳＩ値-ＤＩ値）／３
テスト記録パワー２＝ＤＳＩ値−（ＤＳＩ値-ＤＩ値）／３
図１６ではＤＩ値＜ＤＳＩ値として記載しているが、ＤＩ値＞ＤＳＩ値であっても差が大きい場合は同様の方法でＤＩ値とＤＳＩ値の関係を入れ替えて算出を行う。
【００４９】
図１７は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的小さく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、４種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとエラーレートの関係を示す。この場合、ＤＩ値とＤＳＩ値の間のテスト記録パワー１と、ＤＳＩ値より大きいテスト記録パワー２を算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＳＩ値−（ＤＳＩ値−ＤＩ値）／２
テスト記録パワー２＝ＤＳＩ値＋（ＤＳＩ値−ＤＩ値）／２
となるように選択することが望ましい。
【００５０】
図１８は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が比較的小さく、ＤＩ値＞ＤＳＩ値、かつ、４種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとエラーレートの関係を示す。この場合、ＤＳＩ値より小さいテスト記録パワー１と、ＤＩ値とＤＳＩ値の間のテスト記録パワー２を算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＳＩ値−（ＤＩ値−ＤＳＩ値）／２
テスト記録パワー２＝ＤＳＩ値＋（ＤＩ値−ＤＳＩ値）／２
となるように選択することが望ましい。
【００５１】
図１９は、ＤＩ値とＤＳＩ値の差が小さく、ＤＩ値＜ＤＳＩ値、かつ、４種類のテスト記録パワーでテスト記録を行う場合の記録パワーとエラーレートの関係を示す。この場合、ＤＩ値以下のテスト記録パワー１と、ＤＳＩ値以上のテスト記録パワー２を算出することとし、
テスト記録パワー１＝ＤＩ値−（ＤＳＩ値−ＤＩ値）
テスト記録パワー２＝ＤＳＩ値＋（ＤＳＩ値−ＤＩ値）
となるように選択することが望ましい。図１９ではＤＩ値＜ＤＳＩ値として記載しているが、ＤＩ値＞ＤＳＩ値であっても差が小さい場合は同様の方法でＤＩ値とＤＳＩ値の関係を入れ替えて算出を行う。
【００５２】
続いて、上述のテスト記録パワー（ＤＩ、ＤＳＩ、テスト記録パワー１（更には２））を用いてテスト記録を行い（ステップＳ２８）、テスト記録によって形成された記録信号を再生し、各テスト記録パワー（ＤＩ、ＤＳＩ、テスト記録パワー１（更には２））に対応したエラーレートを取得し（ステップＳ２９）、テスト記録パワー（ＤＩ、ＤＳＩ、テスト記録パワー１（更には２））とそれに対応した上述のエラーレートとの間の関係を示す近似式を算出する（ステップＳ３０）。ここで、近似式については、図１３〜図１９での説明の如くテスト記録パワーが３種類の場合は２次の多項式を利用した最小二乗法を用い、テスト記録パワーが４種類の場合は３次の多項式を利用した最小二乗法を用いるとよい。また、テスト記録パワーが５種類以上の場合は３次以上の多項式を利用した最小二乗法を用いるとよい。
【００５３】
図１２に戻り、近似式算出後、上記近似式からエラーレートが最小となる記録パワー（図１３〜図１９における「算出値」）を算出する（ステップＳ３１）。ステップＳ３１で算出した記録パワーを通常のデータ記録で使用するための最適記録パワーとして記録パワー決定部２７へセットし送る（ステップＳ３２）。これにより通常のデータ記録時の最適記録を行うための記録パワーを使用することが可能となる。
【００５４】
ここで求めた最適記録パワー（算出値）は、光情報記録媒体１のディスク管理領域内のＤＳＩ領域等に記録し、次回記録時に用いることが出来る。また、光記録再生装置内のメモリ３０にディスク種別等と共に格納すると、次回、前記光情報記録媒体１に対して記録を行う場合の記録パワーに役立てることも出来る。これらの記録パワー最適化方法行われるタイミングは、通常のデータ記録前に行うものとし、起動時や、記録直前に行ってもよい。テスト記録でのテスト記録パワー１、２の算出方法の一例を第２の実施形態を使って説明してきたが、上述以外の算出方法で記録パワーを求めても本発明に適応できることはいうまでもない。
【００５５】
本発明によれば、上述の如く限られた数種類のテスト記録パワー条件でのテスト記録で済むため限られたテスト記録領域を使用したテスト記録を行う場合に有利であり、特に追記型の光情報記録媒体に対して有利であり、またテスト記録が短く済むためテスト記録処理時間も短縮できる。また、光情報記録媒体に対して最適な記録パワーを決定することができ、良好に情報の書き込みを行うことによって再生信号品質を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明に係る記録パワー最適化方法を実現する光記録再生装置の第１の実施の形態を示すブロック図である。
【図２】記録時のレーザ発光波形を示す説明図である。
【図３】本発明に係る記録パワー最適化方法の第１の実施の形態での処理を説明するためのフローチャートである。
【図４】本発明に係る記録パワー最適化方法の第１の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとジッタ値の関係を示すグラフの一例ある。
【図５】本発明に係る記録パワー最適化方法の第１の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとジッタ値の関係を示すグラフの一例ある。
【図６】本発明に係る記録パワー最適化方法の第１の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとジッタ値の関係を示すグラフの一例ある。
【図７】本発明に係る記録パワー最適化方法の第１の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとジッタ値の関係を示すグラフの一例ある。
【図８】本発明に係る記録パワー最適化方法の第１の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとジッタ値の関係を示すグラフの一例ある。
【図９】本発明に係る記録パワー最適化方法の第１の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとジッタ値の関係を示すグラフの一例ある。
【図１０】本発明に係る記録パワー最適化方法の第１の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとジッタ値の関係を示すグラフの一例ある。
【図１１】本発明に係る記録パワー最適化方法を実現する光記録再生装置の第２の実施の形態を示すブロック図である。
【図１２】本発明に係る記録パワー最適化方法の第２の実施の形態での処理を説明するためのフローチャートである。
【図１３】本発明に係る記録パワー最適化方法の第２の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとエラーレート値の関係を示すグラフの一例ある。
【図１４】本発明に係る記録パワー最適化方法の第２の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとエラーレート値の関係を示すグラフの一例ある。
【図１５】本発明に係る記録パワー最適化方法の第２の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとエラーレート値の関係を示すグラフの一例ある。
【図１６】本発明に係る記録パワー最適化方法の第２の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとエラーレート値の関係を示すグラフの一例ある。
【図１７】本発明に係る記録パワー最適化方法の第２の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとエラーレート値の関係を示すグラフの一例ある。
【図１８】本発明に係る記録パワー最適化方法の第２の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとエラーレート値の関係を示すグラフの一例ある。
【図１９】本発明に係る記録パワー最適化方法の第２の実施の形態でテスト記録を行った場合の記録パワーとエラーレート値の関係を示すグラフの一例ある。
【符号の説明】
【００５７】
１    光情報記録媒体
２    スピンドルモータ
１０    光ピックアップ
１１    半導体レーザ
１２    コリメートレンズ
１３    ビームスプリッタ
１４    対物レンズ
１５    シリンドリカル（集光）レンズ
１６    フォトディテクタ
２０    プリアンプ
２１    マトリクス回路
２２    ＥＱ（イコライザ）
２３    二値化回路
２４    ＰＬＬ（フェーズロックループ）
２５    記録パワー情報復調部
２６    記録パルス情報復調部
２７    記録パワー決定部
２８    記録パルス決定部
２９    ＣＰＵ
３０    メモリ
３１    レーザ駆動回路
３２    ジッタ計測部
３３    エラーレート計測部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
2008287783.tif 000015
【図１４】
2008287783.tif 000016
【図１５】
2008287783.tif 000017
【図１６】
2008287783.tif 000018
【図１７】
2008287783.tif 000019
【図１８】
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【図１９】
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