(57)【要約】【課題】  オリジナルの記述フォーマットを崩すことなくＧＵＩ編集を行うことのできるテストデータ編集装置を提供する。【解決手段】  テストデータ編集装置１において、ＧＵＩ入力部１１は、テストデータ１００をＧＵＩ表示用テストデータ２００に変換し、画面を通してユーザからの編集指示を受け取り、編集コマンド対応付け部１２は、その編集指示情報をテキスト編集用の編集コマンドに対応付けし、編集コマンドファイル生成部１３は、その編集コマンドを蓄積した編集コマンドファイル３００を生成し、テキスト編集部１４は、編集コマンドファイル３００に蓄積された編集コマンドに従ってテストデータ１００に対するテキスト編集をその書式を保持したまま行い、編集済みテストデータ４００を出力する。編集実行指示部１５は、外部からの編集実行の指示を受けて、テキスト編集部１４へ編集コマンドファイル３００の読み出しを指示する。【選択図】  図１
2008002825.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストデータ記述言語で記述されたテストデータに対する編集を行うテストデータ編集装置であって、
ＧＵＩによりユーザからの編集指示が入力されるＧＵＩ入力手段と、
前記ＧＵＩ入力手段により入力された編集指示情報をテキスト編集用の編集コマンドに対応付ける編集コマンド対応付け手段と、
前記編集コマンド対応付け手段から出力される前記編集コマンドを蓄積した編集コマンドファイルを生成する編集コマンドファイル生成手段と、
前記編集コマンドファイルを読み出したときに、前記編集コマンドファイルに蓄積された編集コマンドに従って、前記テストデータに対するテキスト編集をその書式を保持したまま一括して行うテキスト編集手段と、
外部からの編集実行の指示を受けて、前記テキスト編集手段へ前記編集コマンドファイルの読み出しを指示する編集実行指示手段と
を備えたことを特徴とするテストデータ編集装置。
【請求項２】
テストデータ記述言語で記述されたテストデータに対する編集を行うテストデータ編集装置であって、
前記テストデータに記述されているパターンデータを編集するときは前記パターンデータを波形として表示する波形表示手段と、
前記波形を変形させる操作が前記パターンデータへの編集指示として入力されるＧＵＩ入力手段と、
前記ＧＵＩ入力手段により入力された編集指示情報をテキスト編集用の編集コマンドに対応付ける編集コマンド対応付け手段と、
前記編集コマンド対応付け手段から出力される前記編集コマンドを蓄積した編集コマンドファイルを生成する編集コマンドファイル生成手段と、
前記編集コマンドファイルを読み出したときに、前記編集コマンドファイルに蓄積された編集コマンドに従って、前記テストデータに対するテキスト編集をその書式を保持したまま一括して行うテキスト編集手段と、
外部からの編集実行の指示を受けて、前記テキスト編集手段へ前記編集コマンドファイルの読み出しを指示する編集実行指示手段と
を備えたことを特徴とするテストデータ編集装置。
【請求項３】
前記ＧＵＩ入力手段により入力された編集指示情報が、変更パターン情報および変更位置情報を含むことを特徴とする請求項２に記載のテストデータ編集装置。
【請求項４】
前記テキスト編集手段により編集した箇所を他の部分と識別して表示する編集箇所識別表示手段を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のテストデータ編集装置。
【請求項５】
前記テキスト編集手段による編集を取り消して元に戻す編集取り消し手段を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のテストデータ編集装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストデータ編集装置に関し、特に半導体集積回路試験用のテストデータをＧＵＩ（Graphical  User  Interface）を用いて編集するテストデータ編集装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体集積回路試験用のテストデータは、テストデータ記述言語を用いて記述される。このテストデータ記述言語として、様々なものが用いられているが、近年は、IEEE  Std  1450-1999としてＩＥＥＥで標準化されたＳＴＩＬ（Standard  Test  Interface  Language）が広く普及している。
【０００３】
このようなテストデータ記述言語で書かれたテストデータは、一般的に、テキストファイルであるので、テキストエディタを使用することにより、その編集を行うことができる。しかし、テキストエディタによる編集は、そのテストデータ記述言語の言語仕様を十分に理解していないと容易ではない。そこで、テストデータ記述言語の言語仕様に関する知識が少なくても、専用のダイアログ画面などのＧＵＩを通じてテストデータの編集が容易に行える、ＧＵＩ編集機能を備えたテストデータ編集装置が用意されている（例えば、非特許文献１参照。）。
【０００４】
しかし、従来のＧＵＩ編集機能を用いたテストデータの編集では、編集後のテストデータがオリジナルのフォーマット通りには出力されないことがあるという問題があった。例えば、ＧＵＩ編集作業後のテストデータでは、オリジナルのテストデータに記述されていたコメントが削除されていたり、字下げして見やすく記述していたブロック記述の記述形態が崩れていたりした。
【非特許文献１】「STILBuilderTM」パンフレット、東芝マイクロエレクトロニクス株式会社、2005.09
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、本発明の目的は、オリジナルの記述フォーマットを崩すことなくＧＵＩ編集を行うことのできるテストデータ編集装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様によれば、テストデータ記述言語で記述されたテストデータに対する編集を行うテストデータ編集装置であって、ＧＵＩによりユーザからの編集指示が入力されるＧＵＩ入力手段と、前記ＧＵＩ入力手段により入力された編集指示情報をテキスト編集用の編集コマンドに対応付ける編集コマンド対応付け手段と、前記編集コマンド対応付け手段から出力される前記編集コマンドを蓄積した編集コマンドファイルを生成する編集コマンドファイル生成手段と、前記編集コマンドファイルを読み出したときに、前記編集コマンドファイルに蓄積された編集コマンドに従って、前記テストデータに対するテキスト編集をその書式を保持したまま一括して行うテキスト編集手段と、外部からの編集実行の指示を受けて、前記テキスト編集手段へ前記編集コマンドファイルの読み出しを指示する編集実行指示手段とを備えたことを特徴とするテストデータ編集装置が提供される。
【０００７】
また、本発明の別の一態様によれば、テストデータ記述言語で記述されたテストデータに対する編集を行うテストデータ編集装置であって、前記テストデータに記述されているパターンデータを編集するときは前記パターンデータを波形として表示する波形表示手段と、前記波形を変形させる操作が前記パターンデータへの編集指示として入力されるＧＵＩ入力手段と、前記ＧＵＩ入力手段により入力された編集指示情報をテキスト編集用の編集コマンドに対応付ける編集コマンド対応付け手段と、前記編集コマンド対応付け手段から出力される前記編集コマンドを蓄積した編集コマンドファイルを生成する編集コマンドファイル生成手段と、前記編集コマンドファイルを読み出したときに、前記編集コマンドファイルに蓄積された編集コマンドに従って、前記テストデータに対するテキスト編集をその書式を保持したまま一括して行うテキスト編集手段と、外部からの編集実行の指示を受けて、前記テキスト編集手段へ前記編集コマンドファイルの読み出しを指示する編集実行指示手段とを備えたことを特徴とするテストデータ編集装置が提供される。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、オリジナルの記述フォーマットを崩すことなくＧＵＩ編集を行うのでテストデータの可読性を維持することができ、テストデータの開発期間の短縮を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
【実施例１】
【００１０】
図１は、本発明の実施例１に係るテストデータ編集装置の構成の例を示すブロック図である。
【００１１】
本実施例のテストデータ編集装置１は、テストデータ１００をＧＵＩ表示用テストデータ２００に変換して画面表示し、画面を通してユーザからの編集指示を受け取るＧＵＩ入力部１１と、ＧＵＩ入力部１１により入力された編集指示情報をテキスト編集用の編集コマンドに対応付ける編集コマンド対応付け部１２と、編集コマンド対応付け部１２から出力される編集コマンドを蓄積した編集コマンドファイル３００を生成する編集コマンドファイル生成部１３と、編集コマンドファイル３００を読み出したときに、編集コマンドファイル３００に蓄積された編集コマンドに従ってテストデータ１００に対するテキスト編集をその書式を保持したまま一括して行い、編集済みテストデータ４００を出力するテキスト編集部１４と、外部からの編集実行の指示を受けて、テキスト編集部１４へ編集コマンドファイル３００の読み出しを指示する編集実行指示部１５と、を備える。
【００１２】
図２は、ＧＵＩによる編集指示に対する編集コマンド対応付け部１２による編集コマンド対応付けの例を示す図である。
【００１３】
図２（ａ）は、テストデータ１００に記載されているピンの情報をＧＵＩ入力部１１がＧＵＩ表示用テストデータ２００に変換して画面表示した例を示す。各ピンの情報は、ピン名（Ｐｉｎ  Ｎａｍｅ）とピンの属性（Ａｔｔｒｉｂｕｔｅ）を１組にして表示される。ここで、ピンの属性は、そのピンが入力ピン（Ｉｎ）であるか、出力ピン（Ｏｕｔ）であるか、入出力ピン（ＩｎＯｕｔ）であるかを示す。
【００１４】
図２（ｂ）は、テストデータ１００からピンを削除するときのＧＵＩ入力部１１に対する編集指示の例を示す。ピンを削除するときは、画面上でＰｉｎ  Ｎａｍｅ欄およびＡｔｔｒｉｂｕｔｅ欄のデータを消去する。例えば、ピン名Ｐｉｎ１をテストデータ１００から削除するときは、Ｐｉｎ  Ｎａｍｅ欄のデータＰｉｎ１と、Ａｔｔｒｉｂｕｔｅ欄のデータＩｎを消去する。
【００１５】
図２（ｃ）は、このＰｉｎ１の削除に対する編集コマンド対応付け部１２による編集コマンド対応付けの例を示す。＄Ｄｅｌｅｔｅが、削除に対する編集コマンドである。
【００１６】
図３は、ＧＵＩによる編集指示に対する編集コマンド対応付け部１２による編集コマンド対応付けの別の例を示す図である。
【００１７】
図３（ａ）は、図２（ｂ）に示したピンに対して、ピン名の変更あるいはＰｉｎの属性の変更を行うときのＧＵＩ入力部１１に対する編集指示の例を示す。
【００１８】
図３（ａ）では、ピン名Ｐｉｎ２をＰｉｎ２２２に変更し、ピン名Ｐｉｎ３の属性をＯｕｔに変更する例を示す。
【００１９】
図３（ｂ）は、ピン名の変更あるいはＰｉｎの属性の変更に対する編集コマンド対応付け部１２による編集コマンド対応付けの例を示す。＄Ｃｈａｎｇｅが、変更に対する編集コマンドである。
【００２０】
図３（ｃ）は、テストデータ１００へピンを追加するときのＧＵＩ入力部１１に対する編集指示の例を示す。ピンを追加するときは、画面上でＰｉｎ  Ｎａｍｅ欄およびＡｔｔｒｉｂｕｔｅ欄にデータを追加する。
【００２１】
図３（ｄ）は、ピンの追加に対する編集コマンド対応付け部１２による編集コマンド対応付けの例を示す。＄Ａｄｄが、追加に対する編集コマンドである。
【００２２】
図２および図３に示したテストデータ１００への編集指示が一連の編集作業の中で出された場合、この一連の編集指示により編集コマンド対応付け部１２から出力された編集コマンドは、編集コマンドファイル３００に順次蓄積される。
【００２３】
図４に、図２および図３に示した編集コマンドが蓄積された編集コマンドファイル３００の例を示す。
【００２４】
テストデータ１００に対する一連の編集指示の入力が終了すると、編集実行指示部１５に対して編集の実行指示が出される。この実行指示を受けて、編集実行指示部１５は、編集コマンドファイル３００の読み出しをテキスト編集部１４へ指示する。
【００２５】
テキスト編集部１４は、編集実行指示部１５からの指示を受けて、編集コマンドファイル３００を読み出し、編集コマンドファイル３００に蓄積された編集コマンドに従ってテストデータ１００に対するテキスト編集を一括して行う。そのとき、テキスト編集部１４はテストデータ１００の書式を保持したまま編集を行う。テキスト編集部１４は編集結果を編集済みテストデータ４００として出力する。
【００２６】
図５に、テキスト編集部１４によるテキスト編集の例を示す。
【００２７】
図５（a）は、編集前のテストデータ１００の記述の例であり、使用する信号ピンの名称および属性を記述した部分を示す。なお、ここに示す記述の例は、テストデータ記述言語としてＳＴＩＬを用いている。ただし、テストデータ記述言語はＳＴＩＬに限るものでなく、他のテストデータ記述言語を用いてもよい。
【００２８】
図５（a）に示すテストデータ１００に対して、テキスト編集部１４が、図４に示した編集コマンドファイル３００の例に記述された一連の編集コマンドに従ったテキスト編集を行ったものとする。
【００２９】
図５（b）は、そのテキスト編集の結果、テキスト編集部１４から出力された編集済みテストデータ４００の例を示す。
【００３０】
図５（b）に示す編集済みテストデータ４００では、テストデータ１００に記述されたピン名および属性の記述に対して、編集コマンドファイル３００に記述されたピン名や属性の削除、変更および追加が行われている。このとき、その記述位置や記述形式は、元のテストデータ１００の書式を保持している。
【００３１】
このような本実施例によれば、ＧＵＩによるテストデータの編集を行っても、オリジナルの書式を保持した編集済みのテストデータを得ることができる。そのため、編集結果のチェックを行うときに、元のテストデータとの比較対照が容易であり、チェックミスを防止することができる。これにより、テストデータの開発効率を向上させることができる。
【実施例２】
【００３２】
テストデータの編集を行う場合、テストパターンの編集を行うことも多い。テストデータの記述では、一般に、テストパターンは、‘１’、‘０’、‘Ｘ’、‘Ｚ’などのキャラクタを用いて表され、テストステップごとのテストパターンがこれらのキャラクタの羅列によって表される。そのため、これらのキャラクタを直接編集して、テストパターンの変更を行おうとすると、その修正位置の検出などに時間がかかり、また、編集ミスを起こしやすい。これに対して、テストパターンを波形で表示すると、編集を容易に行うことができる。
【００３３】
そこで、本実施例では、テストデータ中にキャラクタで記述されたテストパターンを波形表示に変換し、この波形を操作することによりテストパターンを編集することのできるテストデータ編集装置を提供する。
【００３４】
図６は、本発明の実施例２に係るテストデータ編集装置の構成の例を示すブロック図である。
【００３５】
本実施例のテストデータ編集装置２は、図１に示した実施例１のテストデータ編集装置１に、テストデータ１００に記述されているパターンデータを編集するときはそのパターンデータを波形として表示する波形表示部２１を追加し、表示された波形を変形させる波形表示部２１への操作が、パターンデータへの編集指示としてＧＵＩ入力部１１へ入力されるようにしたものである。そこで、図６において、図１に示したブロックと同一の機能を有するブロックには図１と同じ符号を付し、ここではその詳細な説明を省略する。
【００３６】
波形表示部２１は、入力されたテストデータ１００を波形表示用テストデータ５００に変換し、テストデータ１００に記述されているテストパターンを波形として画面表示する。ユーザは、この表示された波形を画面上で変形させることにより、所望の波形へと修正する。この波形操作がテストデータ１００に記述されているテストパターンのパターンデータへの編集指示としてＧＵＩ入力部１１へ入力される。
【００３７】
ＧＵＩ入力部１１は、この編集指示の情報を編集コマンド対応付け部１２へ出力し、編集コマンド対応付け部１２は、入力された編集指示情報をテキスト編集用の編集コマンドに対応付ける。
【００３８】
図７および図８に、本実施例におけるテストパターンの編集の例を示す。
【００３９】
図７（ａ）は、波形表示されたパターンデータに対して波形操作を行った例を示したものである。図７（ａ）のテストパターン編集操作では、マウスなどの入力装置を用いてパターン変更箇所をクリックし、変更できるパターンリストを表示する。そこで、そのパターンリストの中からマウスなどの入力装置を用いて１つを選択し、そのテストパターンに対する編集操作を行う。なお、パターンの編集操作には様々な方法があり、本発明の編集操作の方法も上述のマウスによる方法だけに限定されるものではない。
【００４０】
このテストパターンの編集操作に対して、ＧＵＩ入力部１１から出力される編集指示情報には、テストパターンの変更内容を示すピン名と、編集前と編集後のテストパターンを示す変更パターン情報、およびテストパターンがどの時刻位置で変更されたかを示す変更位置情報が含まれる。
【００４１】
変更位置情報は、図６に示した波形表示部２１において、事前にそのテストパターンでの実行時間を表示しておくことで、編集を行ったテストパターンに対する編集位置情報を容易に得ることができる。なお、波形表示部２１において実行時間が表示されていない場合、編集が行われたテストパターンが何番目に実行されるテストパターンであるかを取得し、最初のテストパターンから数えた個々のテストパターンに対するサイクル値を累算することで実行時間を取得することができる。
【００４２】
図７（ｂ）は、編集コマンドファイル３００に記述された編集コマンドの例を示したものである。本実施例の編集コマンドでは、どのピンに対して、どの実行時間において、テストパターンがどのようなパターンへ変更されたかを示したものである。
【００４３】
ここで、「どの実行時間に」については、ＳＴＡＲＴ時刻とＳＴＯＰ時刻で示されている。ＳＴＡＲＴ時刻とＳＴＯＰ時刻は、変更が行われたパターンに対応付けられる時刻が分かれば、どのような時刻値であってもかまわない。例えば、1つのパターンは、特定の時刻幅をサイクル値として持っているが、サイクル値が１００ｎｓであった場合、先頭のサイクルにおけるパターンの実行時刻は０ｎｓであっても９９ｎｓであっても1つ目のサイクルに対するテストパターンであることを導き出すことができる。したがって、１ｎｓと書いたり、５０ｎｓと書いたりすることができる。
【００４４】
また、ＳＴＡＲＴ時刻とＳＴＯＰ時刻が示すものは、1つのサイクルにおけるパターン編集情報だけでなく、複数のサイクルに渡って同じテストパターンへ編集することを指示することもできる。
【００４５】
本実施例では、ＳＴＡＲＴ時刻値とＳＴＯＰ時刻値が同じ場合（例えば、図７（ｂ）の編集コマンドファイル３００の２つ目のコマンドと３つ目のコマンド）は、１つのテストパターンを編集したことを表し、ＳＴＡＲＴ時刻値とＳＴＯＰ時刻値が異なっている場合（図７（ｂ）の編集コマンドファイル３００の１つ目のコマンド）は、連続するパターンを同じパターン値へ編集したことを表わしている。ただし、上述した方法は、一つの例として示しているものであり、パターンの記述位置が分かるような時刻値を表示していれば、どのような記述方法であってもかまわない。
【００４６】
次に、テキスト編集部１４におけるテストパターンの編集について説明する。ここで、編集前のテストデータ１００の例を図８（ａ）に示す。
【００４７】
テストパターンの編集は、まず、編集コマンドファイル３００に示された１つ目の編集位置情報から編集が行なわれたテストパターンを、テストデータ１００の中で検索することから開始する。
【００４８】
次に、テストデータ１００のパターンブロックに記述された最初のベクター文に対するサイクル値より時刻値を求める。求めた時刻値が編集コマンドのＳＴＡＲＴ時刻（またはＳＴＯＰ時刻）より大きければ編集コマンドに記述された編集位置情報はそのベクター文に対するテストパターンを表わしていることになる。
【００４９】
続いて、ピン名に相当するパターンの検索を行う。そして、求められたテストデータ１００の何行目の何カラム目を変更パターン情報へ置き換えればよいかを求める。これにより、１つ目の編集コマンドの実行は完了する。ただし、求めた時刻値がＳＴＯＰ時刻より小さい場合は、次のベクター文に対しても継続してテストパターンの編集が必要になる。
【００５０】
同様に２つ目、３つ目の編集コマンドに対するテキスト編集を行い、最後に、編集済みテストデータ４００を出力する。
【００５１】
図８（ｂ）に、このようにして編集した編集済みテストデータ４００の例を示す。
【００５２】
このような本実施例によれば、テストデータに記述されているテストパターンの編集を波形表示された波形上で行えるため、編集作業を簡単に短時間で行うことができる。また、編集内容の把握が容易であるため、編集時の作業ミスを防止することができる。
【実施例３】
【００５３】
図９は、本発明の実施例３に係るテストデータ編集装置の構成の例の要部を示すブロック図である。
【００５４】
本実施例のテストデータ編集装置３は、実施例１あるいは実施例２に示したテストデータ編集装置に、テキスト編集部１４により編集した箇所を他の部分と識別して表示する編集箇所識別表示部３１を追加したものである。図９には、この編集箇所識別表示部３１の動作に関連の深いブロックのみを示し、他のブロックの図示は省略している。
【００５５】
編集箇所識別表示部３１は、編集実行指示部１５の指示によりテキスト編集部１４がテストデータ１００の編集を行ったときに、その編集箇所を、網掛け表示や文字色の変更など、表示形式を変えることにより、編集対象外の部分と識別して表示する。
【００５６】
図１０に、編集箇所識別表示部３１による画面表示の例を示す。図１０において、網掛け表示された部分が、テキスト編集部１４により編集された箇所を示す。
【００５７】
このような本実施例によれば、テストデータの編集箇所が他の部分と区別して表示されるので、編集結果のチェックを容易に行うことができる。
【実施例４】
【００５８】
図１１は、本発明の実施例４に係るテストデータ編集装置の構成の例の要部を示すブロック図である。
【００５９】
本実施例のテストデータ編集装置４は、実施例１乃至実施例３に示したテストデータ編集装置に、テキスト編集部１４による編集を取り消して元に戻す編集取り消し部４１を追加したものである。図１１には、この編集取り消し部４１の動作に関連の深いブロックのみを示し、他のブロックの図示は省略している。
【００６０】
編集取り消し部４１は、取り消し指示入力があったときに、その直前にテキスト編集部１４で行われたテストデータ１００への編集を取り消して、テストデータ１００を元の状態に戻す。
【００６１】
このような本実施例によれば、一旦編集を行った後に編集内容を変更したくなったときなどに、元のテストデータに対する編集を行った方が編集が簡単な場合には、直前の編集を取り消して新たな編集を行うことができる。これにより、テストデータの編集作業の効率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明の実施例１に係るテストデータ編集装置の構成の例を示すブロック図。
【図２】本発明の実施例のＧＵＩによる編集指示と編集コマンド対応付けの例を示す図。
【図３】本発明の実施例のＧＵＩによる編集指示と編集コマンド対応付けの例を示す図。
【図４】本発明の実施例における編集コマンドファイルの例を示す図。
【図５】本発明の実施例による編集結果の例を示す図。
【図６】本発明の実施例２に係るテストデータ編集装置の構成の例を示すブロック図。
【図７】本発明の実施例２による編集の例を示す図。
【図８】本発明の実施例２による編集結果の例を示す図。
【図９】本発明の実施例３に係るテストデータ編集装置の構成の例の要部を示すブロック図。
【図１０】本発明の実施例３における画面表示の例を示す図。
【図１１】本発明の実施例４に係るテストデータ編集装置の構成の例の要部を示すブロック図。
【符号の説明】
【００６３】
１、２、３、４  テストデータ編集装置
１１  ＧＵＩ入力部
１２  編集コマンド対応付け部
１３  編集コマンドファイル生成部
１４  テキスト編集部
１５  編集実行指示部
２１  波形非表示部
３１  編集箇所識別表示部
４１  編集取り消し部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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