(57)【要約】【課題】白傷に係る画像信号を可及的高精度に補正できるようにする。【解決手段】欠陥画素により画像信号に上乗せされた上乗値の減算処理により白傷に係る画像信号を補正する。すなわち、撮像素子の欠陥画素のアドレスを記憶しておく。そして、記憶に係る欠陥画素のアドレス、及び画像信号に基づいて、欠陥画素により画像信号に上乗せされた上乗値を算出する。欠陥画素より垂直転送先側の垂直ライン上の各画素の画像信号に対しては、上乗値を減算することにより白傷補正を行い、欠陥画素より垂直転送元側の各画素の画像信号に対しては、当該上乗値に補正係数を乗算した値を減算することにより白傷補正を行う。【選択図】図３
2008148216.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子から出力される画像信号を記憶する画像記憶手段と、
前記撮像素子の欠陥画素のアドレスを記憶するアドレス記憶手段と、
前記記憶に係る欠陥画素のアドレス、及び画像信号に基づいて、当該欠陥画素により前記画像信号に上乗せされた上乗値を算出する算出手段と、
前記記憶に係るアドレスに基づいて、前記記憶に係る画像信号の中から前記欠陥画素に係る垂直ライン上の各画素の画像信号を特定し、当該特定した各画像信号の信号値に対してそれぞれ前記上乗値を減算処理することで白傷補正を行う補正手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記算出手段は、前記撮像素子にけるオプティカルブラック領域の画像信号に基づいて前記上乗値を算出し、前記補正手段は、前記欠陥画素より垂直転送先側の各画素の画像信号に対しては、前記上乗値に基づいて白傷補正を行い、前記欠陥画素より垂直転送元側の各画素の画像信号に対しては、当該上乗値に補正係数を乗算した値に基づいて白傷補正を行うことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記算出手段は、前記欠陥画素に係る垂直ライン上のオプティカルブラック領域の各画素に係る平均値として前記上乗値を算出することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記補正係数は、前記撮像素子における垂直方向の信号電荷の転送速度に基づいて決定されることを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記補正手段は、前記欠陥画素に係る画像信号の信号値が飽和しているか否かを当該信号値を表現するビットの数で規定される閾値に基づいて判定し、飽和している場合は、前記欠陥画素に係る垂直ライン上の各画素の画像信号に対して、周囲の同色の画素の画像信号に基づいて補間処理を行うことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記補正手段は、前記周囲の同色の画素の画像信号の信号値として、前記上乗値を除いた場合に取り得る範囲内にあるものを用いることを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【請求項７】
撮像素子から出力される画像信号を記憶手段に記憶する画像記憶工程と、
前記撮像素子の欠陥画素のアドレスを記憶手段に記憶するアドレス記憶工程と、
前記記憶に係る欠陥画素のアドレス、及び画像信号に基づいて、当該欠陥画素により前記画像信号に上乗せされた上乗値を算出する算出工程と、
前記記憶に係るアドレスに基づいて、前記記憶に係る画像信号の中から前記欠陥画素に係る垂直ライン上の各画素の画像信号を特定し、当該特定した各画像信号の信号値に対してそれぞれ前記上乗値を減算処理することで白傷補正を行う補正工程と、
を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【請求項８】
撮像素子から出力される画像信号を記憶手段に記憶する画像記憶コードと、
前記撮像素子の欠陥画素のアドレスを記憶手段に記憶するアドレス記憶コードと、
前記記憶に係る欠陥画素のアドレス、及び画像信号に基づいて、当該欠陥画素により前記画像信号に上乗せされた上乗値を算出する算出手段と、
前記記憶に係るアドレスに基づいて、前記記憶に係る画像信号の中から前記欠陥画素に係る垂直ライン上の各画素の画像信号を特定し、当該特定した各画像信号の信号値に対してそれぞれ前記上乗値を減算処理することで白傷補正を行う補正コードと、
を含むことを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＣＤ等の固体撮像素子上の画素の欠陥により発生する白傷を補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電子カメラ、ビデオカメラ、画像形成装置等では、ＣＣＤ等の固体撮像素子を用いて被写体、原稿情報等を撮像している。固体撮像素子は、その製造過程等において、異常なレベルの信号を出力する欠陥画素が現れることがある。この欠陥画素は、固体撮像素子の高解像度化に伴う画素数の増加により、その発生数も増大している。
【０００３】
欠陥画素の欠陥としては、画素を構成するフォトダイオードの光感度が無い欠陥と、フォトダイオードに過度の暗電流が重畳される欠陥とがある。一般に、前者の欠陥は、当該欠陥画素に係る画像信号が黒を示すため黒傷と呼ばれている。後者の欠陥は、当該欠陥画素に係る画像信号が白を示すため白傷と呼ばれている。
【０００４】
特に、白傷は、固体撮像素子の垂直方向の各画素の電荷を垂直転送部により転送する際に、当該垂直方向の各画素の電荷に影響を及ぼす。このため、白傷は、画像信号において直線の白傷となって現れ、目立つこととなる。
【０００５】
この白傷を補正する手法として、従来、白傷に係る欠陥画素（以下、白傷画素と称する）の画素値を隣接する画素の画素値に置換する手法が提案されている。また、白傷画素の画素値を、当該白傷画素の周囲の画素群の各画素値の多中央値や平均値で補間する手法が提案されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１０−４２２０１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、特許文献１に係る手法では、補正前の画像との対比において補正位置の画像が不連続となってしまい、文字等の画像がボケてしまう場合があった。この不具合は、例えば、白傷画素の近傍の撮像領域において、濃淡の境界が存在する場合やコントラストが急激に変化している場合に発生する。
【０００７】
本発明は、このような背景の下になされたもので、その目的は、白傷に係る画像信号を可及的高精度に補正できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するため、本発明に係る撮像装置は、撮像素子から出力される画像信号を記憶する画像記憶手段と、前記撮像素子の欠陥画素のアドレスを記憶するアドレス記憶手段と、前記記憶に係る欠陥画素のアドレス、及び画像信号に基づいて、当該欠陥画素により前記画像信号に上乗せされた上乗値を算出する算出手段と、前記記憶に係るアドレスに基づいて、前記記憶に係る画像信号の中から前記欠陥画素に係る垂直ライン上の各画素の画像信号を特定し、当該特定した各画像信号の信号値に対してそれぞれ前記上乗値を減算処理することで白傷補正を行う補正手段と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明では、置換処理や補間処理ではなく、欠陥画素により画像信号に上乗せされた上乗値の減算処理により白傷に係る画像信号を補正している。従って、本発明によれば、白傷に係る画像信号を可及的高精度に補正することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
図１は、本発明に係る撮像装置の概略構成を示す図である。この撮像装置は、デジタルカメラに係るものである。図１において、撮影光学系１は、撮影レンズ、絞り機構、ＡＥ機能、ＡＦ機能を備えている。撮影光学系１からの光学像は、ＣＣＤ２に入射される。ＣＣＤ２は、光学像を光電変換しアナログの撮像信号としてＡ／Ｄ変換部３に出力する。Ａ／Ｄ変換部３は、ナログの撮像信号をサンプリングしてデジタルの画像信号として白傷補正部４に出力する。
【００１１】
なお、ＣＣＤ２の下部、すなわち画素の電荷の垂直転送先の部分には、遮光膜等が形成されたオプティカルブラック領域（以下、ＯＢ領域と称する）２２が形成されている（図２参照）。また、ＣＣＤ２における各画素の電荷の垂直転送方式としては、インターライン転送方式を想定している。ただし、フレーム転送方式のＣＣＤに対しても、第１，第２の実施の形態に係る白傷補正を適用することが可能である。また、ＣＣＤ２の各画素を構成するフォトダイオードの上には、カラーフィルタが装着されている（図８参照）。
【００１２】
白傷補正部４は、Ａ／Ｄ変換部３からの画像信号に対して白傷補正処理を行う。この際、白傷補正部４は、上記のＯＢ領域２２の信号電荷を用いて白傷補正処理を行う。白傷補正部４は、ＣＰＵ４１、ＲＯＭ４２、ＲＡＭ４３を有している。
【００１３】
ＲＯＭ４２には、図３、図７のフローチャートに係る白傷補正処理を行うためのプログラムが格納されている。また、ＲＯＭ４２には、ＣＣＤ２上の白傷画素２３のアドレスを登録したアドレステーブルＴが格納されている。ＣＰＵ４１は、ＲＯＭ４２内のこれらプログラム、アドレステーブルＴを用いて白傷補正処理を行う。この際、ＣＰＵ４１は、ＲＡＭ４１をワークエリアとして利用する。
【００１４】
白傷補正部４は、白傷補正処理を施した画像信号を信号処理回路５に出力する。信号処理回路５は、入力された画像信号に対して階調補正等の信号処理を施す。この信号処理回路５で処理された画像信号は、カメラ制御部７の制御の下に、画像データとして画像メモリ６に記録される。
【００１５】
カメラ制御部７は、マイクロコンピュータにより構成されている。カメラ制御部７は、上記の画像データの記録処理を行う他、撮影光学系１、ＣＣＤ２、Ａ／Ｄ変換部３、白傷補正部４、信号処理回路５を適宜制御する。
【００１６】
［第１の実施の形態］
図２は、白傷画素、白傷画像ライン等を説明するための図である。図２（ａ）に示したように、ＣＣＤ２は、撮像領域２１とＯＢ領域２２を有している。垂直転送方向（図中の「⇒」の方向）の各画素の信号電荷は、駆動パルスの印加により垂直転送方向、すなわちＯＢ領域２２に向かって転送される。
【００１７】
ここで、ＣＣＤ２の撮像領域２１の「×」印の位置に、白傷画素２３が存在するものとする。この場合、白傷画素２３は、ＣＣＤ２の出力画像において、ライン状の白傷を引き起こすこととなる。
【００１８】
すなわち、白傷画素２３に係る信号電荷は、非常に大容量である。このため、白傷画素２３に係る信号電荷は、ポテンシャル井戸から溢れ出してしまう。この場合、白傷画素２３に係る信号電荷は、垂直転送方向への転送の過程で、当該白傷画素２３の下流側に多く溢れ出す。また、白傷画素２３に係る信号電荷は、垂直転送方向とは逆の方向（上流側）にも少しだけ溢れ出す。従って、白傷画素２３の上流側には、細い白傷ラインＬ１が発生し、白傷画素２３の下流側には、太い白傷ラインＬ２が発生することとなる。
【００１９】
次に、第１の実施の形態における白傷補正処理を図３のフローチャートに基づいて説明する。
【００２０】
ユーザがレリーズボタンを操作すると、カメラ制御部７は本撮影処理を実行する（ステップＳ１）。この際、カメラ制御部７は、ＡＥ処理によって決定された露光量でＣＣＤ２を露光するように制御する。この露光量は、シャッタ速度と絞り量により決定される。また、本撮影処理の過程で、Ａ／Ｄ変換部３から出力された画像信号は、白傷補正部４のＲＡＭ４３に展開される。
【００２１】
そこで、カメラ制御部７は、白傷補正部４に白傷補正処理を行うように指令する。白傷補正部のＣＰＵ４１は、この指令に応答してＲＯＭ４２内のプログラムを実行することにより、ステップＳ２〜Ｓ９の白傷補正処理を行う。
【００２２】
白傷補正部のＣＰＵ４１は、ＲＯＭ４２内のアドレステーブルＴから白傷画素２３のアドレス群（Ｘｍ，Ｙｎ）を取得する（ステップＳ２）。ここで、ｍ，ｎは、それぞれ撮像領域２１の水平方向、垂直方向の画素の数を示している。ただし、白傷画素２３は、非常に少数であり、実際のｍ，ｎの値は、それぞれｍ，ｎ以下の離散的な正の整数となっている。また、画素のアドレス、すなわちＹＸ座標値は、図２の左上を原点とし、水平右方向を正のＸ軸、垂直下方向を正のＹ軸とした座標系に係るものである。
【００２３】
次に、ＣＰＵ４１は、取得した白傷画素２３のアドレス群（Ｘｍ，Ｙｎ）の中から１組のアドレスの座標値Ｘｍ，Ｙｎを選択し、それぞれ変数Ｘａｄ，  変数Ｙａｄにセットする（ステップＳ３）。この場合、ＣＰＵ４１は、Ｘ座標値の小さいものから順に１組の白傷画素２３のＸＹアドレスを選択していく。また、ＣＰＵ４１は、ステップＳ３において、変数Ｙに初期値「０」をセットする。
【００２４】
次に、ＣＰＵ４１は、変数ＸａｄのＸ座標値に係る白傷ライン上の当該白傷画素２３を起点として下流側の白傷ラインを補正するための下流側白傷値ＤｏｗｎＶａｌｕｅを算出する（ステップＳ４）。この下流側の白傷ラインは、図２の白傷ラインＬ２に相当するものである。なお、上記の白傷ラインは、白傷画素（欠陥画素）に係る垂直転送方向のラインを意味している。
【００２５】
下流側白傷値ＤｏｗｎＶａｌｕｅは、次のようにして算出される。すなわち、ＣＰＵ４１は、まず、変数ＸａｄのＸ座標値に係る白傷ラインのＯＢ領域２２における各画素の画素値を積分する。ここで、変数ＸａｄのＸ座標値に係る白傷ラインが、Ｒ及びＧ２の色に係る垂直ラインであるものとする。この場合、上記の変数ＸａｄのＸ座標値に係るＯＢ領域２２の各画素の画素値の積分値を（ＳｕｍＲＧ２＿Ｃｅｎｔｅｒ）とする。
【００２６】
次に、ＣＰＵ４１は、当該白傷ラインと同色（ここでは、Ｒ及びＧ２）の隣り合う垂直ラインのＯＢ領域２２における各画素の画素値を積分する。この場合、左側の垂直ラインの積分値を（ＳｕｍＲＧ２＿Ｌｅｆｔ）とし、右側の垂直ラインの積分値を（ＳｕｍＲＧ２＿Ｒｉｇｈｔ）とする。なお、（ＳｕｍＲＧ２＿Ｃｅｎｔｅｒ）、（ＳｕｍＲＧ２＿Ｌｅｆｔ）、（ＳｕｍＲＧ２＿Ｒｉｇｈｔ）の位置関係を図２（ｂ）に模式的に示している。
【００２７】
そして、ＣＰＵ４１は、下記の数式１により、下流側白傷値ＤｏｗｎＶａｌｕｅを算出する。
【００２８】
【数１】
2008148216.tif 000003
数式１におけるＣｎｔは、積分画素数、すなわち、ＯＢ領域２２における垂直方向の画素数を示している。従って、下流側白傷値ＤｏｗｎＶａｌｕｅは、白傷ライン上のＯＢ領域の各画素の白傷による上乗分の画素値（上乗値）の平均値を示している。
【００２９】
なお、当該白傷ラインが右端又は左端の垂直ラインである場合は、右側又は左側に同色・隣接の垂直ラインが存在しない。この場合は、存在する方の同色・隣接の垂直ラインの積分画素値に基づいて下流側白傷値ＤｏｗｎＶａｌｕｅを算出する。また、ランダムノイズの影響を排除するため、上記の積分画素数を６４画素以上とすることが好ましい。
【００３０】
次に、ＣＰＵ４１は、下記の数式２に基づいて、上流側の白傷値ＵｐＶａｌｕｅを算出する（ステップＳ５）。この上流側の白傷ラインは、図２の白傷ラインＬ１に相当するものである。
【００３１】
【数２】
2008148216.tif 000004
数式２におけるＫは、補正係数を示し、Ｋ＜１である。この補正係数Ｋは、ＣＣＤ２の垂直転送速度により決定される。すなわち、垂直転送速度が速いＣＣＤ２の場合は、補正係数Ｋの値は大きくなり、遅いＣＣＤ２の場合は、補正係数Ｋの値は大きくなる。
【００３２】
次に、ＣＰＵ４１は、変数ＸａｄのＸ座標値がステップＳ２で取得した白傷画素２３のアドレス群（Ｘｍ，Ｙｎ）の中の最大のＸ座標値Ｘｍａｘより大きくなっているか否かを判別する（ステップＳ６）。その結果、大きくなっていれば、全ての白傷画素２３に係る全ての白傷ラインの白傷補正が完了したことを意味するので、本白傷補正処理を終了する。
【００３３】
一方、変数ＸａｄのＸ座標値がＸ座標値Ｘｍａｘ以下であれば、ＣＰＵ４１は、更に、変数ＹのＹ座標値が画像領域２１における最大のＹ座標値Ｙｍａｘより大きくなっているか否かを判別する（ステップＳ７）。その結果、大きくなっていれば、画像領域２１における当該白傷ラインの全ての画素の画素値に対する白傷補正が完了したことを意味する。従って、この場合は、ＣＰＵ４１は、次の白傷ラインに対する白傷補正を行うべくステップＳ３に戻る。
【００３４】
一方、変数ＹのＹ座標値が画像領域２１における最大のＹ座標値Ｙｍａｘ以下であれば、ＣＰＵ４１は、変数ＹのＹ座標値が変数ＹａｄのＹ座標値より小さいか否かを判別する（ステップＳ８）。その結果、小さければ、補正対象の画素が当該白傷画素２３よりも上流の画素であることを意味する。従って、この場合は、ＣＰＵ４１は、当該上流の画素の画素値から上流側の白傷値ＵｐＶａｌｕｅを減算することにより、当該上流の画素に対する白傷補正を行う（ステップＳ９）。
【００３５】
一方、変数ＹのＹ座標値が変数ＹａｄのＹ座標値以上であれば、補正対象の画素が当該白傷画素２３を起点として下流の画素であることを意味する。従って、この場合は、ＣＰＵ４１は、当該下流の画素の画素値から下流側の白傷値ＤｏｗｎＶａｌｕｅを減算することにより、当該下流の画素に対する白傷補正を行う（ステップＳ１０）。
【００３６】
次に、ＣＰＵ４１は、変数Ｙの値を「１」だけインクリメントする（ステップＳ１１）。そして、ＣＰＵ４１は、当該白傷ラインの次の画素について白傷補正処理を行うべく、ステップＳ７に戻る。
【００３７】
次に、上記の白傷補正の原理を図４、図５に基づいて説明する。図４（ａ）における中央付近の２重の縦線は、白傷ラインを示したものである。また、図４（ｂ）における中央付近の白い縦線は、上流側と下流側の白傷値を示したものである。
【００３８】
さらに、図５（ａ）における中央の矩形は、白傷が有る赤色の画素の画素値の大きさを示し、左右の矩形は、白傷が無い赤色の隣接画素の画素値の大きさを示したものである。すなわち、白傷画素２３の画素値は、白傷が無い画素の画素値より大きくなっている。また、図５（ｂ）における中央の矩形は、白傷がある画素に対応する白傷値とＯＢ値を示し、左右の矩形は、白傷が無い画素に対応するＯＢ値を示している。
【００３９】
前述のように、白傷画素２３の画素値から白傷値を減算すると、図５（ｃ）に示したようになる。すなわち、白傷画素２３の画素値は、白傷が無い画素の画素値と同一の値となり、画素単位での白傷補正が適正に行われることとなる。このような白傷補正を画像領域の白傷ラインの全ての画素に対して実行すると、図４（ａ）に示したライン状の白傷が図４（ｃ）に示したように消失することとなる。
【００４０】
この場合、白傷画素２３の画素値を隣接画素の画素値で置換等することなく、白傷ライン上の着目画素の画素値から白傷画素による上乗値を減算することにより、白傷を補正している。
【００４１】
従って、第１の実施の形態では、白傷画素の近傍の撮像領域において濃淡の境界等が存在する場合であっても、補正位置の画像が不連続となってしまい、文字等の画像がボケてしまうことはない。また、白傷画素２３に係る画像信号は、演算処理によらず、アドレス管理テーブルに基づいて特定しているので、迅速に白傷補正を行うことが可能となる。
【００４２】
［第２の実施の形態］
第１の実施の形態では、画像信号、特に白傷画素２３の画素値が飽和している場合は、その白傷を補正することができない。この画像信号の飽和は、画素値が所定数のビットで表現されることに起因して生じる。
【００４３】
すなわち、白傷画素２３の本来の画素値が非常に大きい場合は、その画素値を所定数のビットでは表現し切れない。このため、白傷画素２３の本来の大きな画素値は、それより小さい値であるところの所定数のビットで表現し得る最大値で表現せざるを得なくなる。すなわち、白傷画素２３の画素値が飽和している場合は、白傷画素２３の本来の画素値を特定することができない。
【００４４】
この結果、第１の実施の形態の手法では、白傷画素２３の本来の大きな画素値から白傷による上乗値を減算する場合よりも、当該上乗値が過剰に減算されることとなる。この現象を示したのが図７（ｃ）の中央の矩形である。これにより、図６（ｃ）に示したように、白傷補正後の画像において白傷画素２３に係る垂直ラインの部分が黒い縦線となってしまう。
【００４５】
次に、上記の問題点を解消した第２の実施の形態における白傷補正処理を、図８のフローチャートに基づいて説明する。なお、図８において、第１の実施の形態に係る図３と同一の処理については、同一のステップ番号を付し、その説明を省略する。
【００４６】
ＣＰＵ４１は、図８のステップＳ１２では、ステップＳ３で選択した白傷画素２３の画素値が飽和しているか否かを判別する。この判別処理は、当該白傷画素２３の画素値が、画素値を表現するビットのビット数で示し得る最大値Ｍａｘと等しいか否かを判別することにより行う。その結果、飽和していなければ、第１の実施の形態と同様の白傷補正処理等を行う（ステップＳ８〜Ｓ１１）。
【００４７】
一方、白傷画素２３の画素値が飽和していれば、ＣＰＵ４１は、飽和している画素の画素値が、白傷画素２３に係る上乗値が重畳される前の真の画素値として取り得る値の範囲を、下記の数式３により算出する（ステップＳ１３）。
【００４８】
【数３】
2008148216.tif 000005
数式３におけるＭａｘは、前述のＭａｘであり、例えば１０ビットの場合のＭａｘは、「１０２３」である。
【００４９】
数式３における白傷値としては、変数Ｙ＜変数Ｙａｄ、すなわち、着目画素（補正対象の画素）が上流側の場合は上流の白傷値ＵｐＶａｌｕｅを用いる。また、変数Ｙ≧変数Ｙａｄ、すなわち、着目画素（補正対象の画素）が下流側の場合は、数式３における白傷値としては、下流の白傷値ＤｏｗｎＶａｌｕｅを用いる。
【００５０】
次に、ＣＰＵ４１は、ステップＳ３で選択した白傷画素２３の水平方向の同色の２つの隣接する画素の画素値の少なくとも一方が、数式３の上記の範囲に入っているか否かを判別する（ステップＳ１４）。その結果、両方とも数式３の範囲に入っていない場合は、第１の実施の形態と同様の白傷補正処理等を行う（ステップＳ８〜Ｓ１１）。
【００５１】
一方、少なくも一方が数式３の範囲に入っている場合は、ＣＰＵ４１は、白傷ライン上の着目画素の画素値について、当該直目画素の周囲の同色の画素の画素値により線形補間を行う（ステップＳ１５、図９参照）。
【００５２】
この場合、上記の２つの隣接する画素の両方が数式３の範囲に入っているときは、この２つの画素の画素値に基づいて２点補間を行う。上記の２つの隣接する画素の一方が数式３の範囲に入っているときは、この画素の画素値と、数式３の範囲に入っている周囲の同色の他の画素の画素値うち、当該着目画素に最も近い画素の画素値とを用いて２点補間を行う。なお、これらの場合、４点補間、８点補間等を行うことも可能である。
【００５３】
このように、第２の実施の形態では、白傷画素２３の画素値が飽和したとしても、過剰補正による弊害を回避して適正に白傷補正を行うことができる。
【００５４】
なお、本発明は、上記の第１，第２の実施の形態に限定されることはない。例えば、デジタルカメラ以外の画像形成装置に係る撮像装置（画像読取装置）に、上記の第１，第２の実施の形態に係る技術思想を適用することも可能である。
【００５５】
また、本発明の目的は、以下の処理を実行することによって達成される。即ち、上述した実施の形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、システム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出す処理である。
【００５６】
この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施の形態の機能を実現することになり、そのプログラムコード及び該プログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
【００５７】
また、プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、次のものを用いることができる。例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等である。または、プログラムコードをネットワークを介してダウンロードしてもよい。
【００５８】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、上記実施の形態の機能が実現される場合も本発明に含まれる。加えて、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳ（オペレーティングシステム）等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施の形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００５９】
更に、前述した実施の形態の機能が以下の処理によって実現される場合も本発明に含まれる。即ち、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれる。その後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行う場合である。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明に係る撮像装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態における白傷補正を説明するための概念図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態における白傷補正処理を示すフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施の形態における白傷補正の原理を示す概念図である。
【図５】本発明の第１の実施の形態における白傷補正の原理を示す他の概念図である。
【図６】白傷画素の画素値の飽和による弊害を説明するための概念図である。
【図７】白傷画素の画素値の飽和による弊害を説明するための他の概念図である。
【図８】上記の弊害を回避した本発明の第２の実施の形態における白傷補正処理を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第２の実施の形態における白傷補正処理の一部として行う水平補間を示す概念図である。
【符号の説明】
【００６１】
１…撮像光学系
２…ＣＣＤ
４…白傷補正部
２１…撮像領域
２２…オプティカルブラック領域
２３…白傷画素
４１…ＣＰＵ
４２…ＲＯＭ
Ｌ１，Ｌ２…白傷ライン
Ｔ…アドレステーブル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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