(57)【要約】【課題】  測定中にプローブが傾き始めたことが判るようにしてプローブの傾きを修正でき、振動と温度を正確に測定できる振動及び温度測定器を提供する。【解決手段】  振動センサ６と温度センサ４がプローブ１に内蔵され、振動センサ６の被測定対象物へ押し当てられる振動検出針７の一端がプローブ１から突出せしめられ、温度センサ４の被測定対象物へ押し当てられる熱電対５の一端がプローブ１から突出せしめられ、振動センサ６の振動検出針７の一端と温度センサ４の熱電対５の一端を被測定対象物に押し当てることにより被測定対象物の振動と温度を測定するものにおいて、プローブ１に水準器３０を外部から視認可能に設ける。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
振動センサと温度センサがプローブに内蔵され、振動センサと温度センサの被測定対象物へ押し当てられる一端がそれぞれプローブから突出せしめられ、振動センサと温度センサのそれぞれの一端を被測定対象物に押し当てることにより被測定対象物の振動と温度を測定するものにおいて、プローブに水準器を外部から視認可能に設けたことを特徴とする振動及び温度測定器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はコンプレッサーやタービンやポンプ、あるいは、ベアリングや歯車等の各種回転機械、及び、内部を流体が通過する弁やスチームトラップ等の作動に伴う振動及び温度を検出して、作動の良否を確認するときに用いる振動及び温度測定器に関する。
【背景技術】
【０００２】
工場やプラントにおける生産現場においては各種の回転機械や弁が数多く取り付けられており、これらの機械や弁は、最少の消費エネルギーで最大の生産量を得ると共に最高の生産品質を維持するために、絶えず又は定期的にその作動状況がチェックされている。従来の振動及び温度測定器としては、例えば、特開平７−５０２７号公報に示されたものがある。これは、振動センサと温度センサがプローブに内蔵され、振動センサと温度センサの被測定対象物へ押し当てられる一端がそれぞれプローブから突出せしめられ、振動センサと温度センサのそれぞれの一端を被測定対象物に押し当てることにより被測定対象物の振動と温度を測定するものである。
【０００３】
上記従来のものは、測定中にプローブが傾くと振動センサと温度センサの被測定対象物への押し当て角度が変化するために振動と温度を正確に測定できなくなる。そのため、測定中にプローブが傾かないように保持しなければならないが、プローブが傾き始めたか否かが判らないために振動と温度を正確に測定できたか否かが判らない問題点があった。
【特許文献１】特開平７−５０２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
解決しようとする課題は、測定中にプローブが傾き始めたことが判るようにしてプローブの傾きを修正でき、振動と温度を正確に測定できる振動及び温度測定器を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、振動センサと温度センサがプローブに内蔵され、振動センサと温度センサの被測定対象物へ押し当てられる一端がそれぞれプローブから突出せしめられ、振動センサと温度センサのそれぞれの一端を被測定対象物に押し当てることにより被測定対象物の振動と温度を測定するものにおいて、プローブに水準器を外部から視認可能に設けたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明は、プローブに水準器を外部から視認可能に設けることにより、測定中にプローブが傾き始めたことを水準器が視認可能に表示するので、傾きを修正することにより、振動と温度を正確に測定できるという優れた効果を生じる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
本発明の振動及び温度測定器は、プローブに水準器を外部から視認可能に設けたものである。そのため、測定中にプローブが傾き始めると傾き始めたことを水準器が視認可能に表示する。そのため、傾きを修正することにより、振動と温度を正確に測定できる。
【実施例１】
【０００８】
上記の技術的手段の具体例を示す実施例を説明する（図１乃至図３参照）。図１に本発明の振動及び温度測定器の正面図（イ）と底面図（ロ）を示す。プローブ１の上端からビス２ａ，２ｂによって固定された保護管３が突出し、保護管３の上端から温度センサ４の熱電対５の上端が僅かに突出し、熱電対５の中心から振動センサ６の振動検出針７の先端が僅かに突出している。プローブ１のほぼ中央部には振動及び温度の測定値を表示する表示部８が設けられている。表示部８は測定値をデジタル８ａ及びバーグラフ８ｂで表示する。表示部８の下に電源及び所望の測定結果をシフトして表示させるためのキー９が設けられている。プローブ１の側面にはイヤホン１０が連結される。プローブ１の下端部には水準器３０が外部から視認可能に設けられている。
【０００９】
図２に上記プローブ１の上部のみの断面を示す。振動検出針７の下部には小径の雄ねじが形成され、雌ねじが形成された振動伝達板１１がねじ結合されて、大径部下面に振動伝達板１１の上面が当接している。また振動伝達板１１の下側には電極板１２と圧電素子１３と電極板１４とウエイト１５とが順次挿入され、ナット１６で夫々接触せしめられて振動検出針７に固定されている。振動検出針７と振動伝達板１１はステンレス鋼で形成され、ウエイト１５はジルコニアセラミックで形成される。振動検出針７と振動伝達板１１と電極板１２と圧電素子１３と電極板１４とウエイト１５とから振動センサ６のユニットが形成される。そして振動伝達板１１の上面とウエイト１５の下面がプローブ１に固定されたスイッチ金具１７に挟まれている。スイッチ金具１７は上壁と、上壁から下方に延びた両側の２つの側壁と、上壁の向う側の端から下方へ更に手前側へ延びた二股のばね部とから形成され、側壁によってプローブ１に固定される。またばね部によって振動センサ６が上方へ付勢され、上壁下面に振動伝達板１１の上面が当接されている。また上壁には手前から向う側へ切込みが設けられていて、振動検出針７が手前側から差込まれる。電極板１２，１４からの導線（図示せず）は信号処理回路１８の端子１９，２０へ結線される。
【００１０】
熱電対５はクロメルとアルメルの長い薄板５ａ，５ｂの上端を夫々内側へ曲げ、曲げた部分の上下に中央に孔を有する円板状で周囲を下方に曲げた形状の接触板２１と中央に孔を有する円板状の保護板２２を溶接して固定することによって形成される。熱電対５の薄板５ａ，５ｂの下部は断熱管２３の下部の大径孔に巻込まれ、断熱管２３の大径孔に圧入されたリング２４によって固定されている。熱電対５の保護板２２の下面と断熱管２３の上面との間には僅かな隙間が設けられている。断熱管２３の両側には二つの窓２５ａ，２５ｂが設けられている。断熱管２３の外側に保護管３が挿入されている。熱電対５と断熱管２３とリング２４と保護管３とから温度センサ４のユニットが形成される。熱電対５の薄板５ａ，５ｂは夫々熱電対接点２６ａ，２６ｂを介して信号処理回路１８の端子２７，２８に結線される。リング２４と断熱管２３及び熱電対５を貫通して振動検出針７の先端が僅かに突出している。
【００１１】
図３のブロック図に本発明の振動及び温度測定表示器の電気的回路を示す。図２に示したプローブ１に内蔵の振動センサ６は同じくプローブ１に内蔵の信号処理回路１８の増幅回路３１に連結され、検波回路３２に連結され、更に中央演算処理回路３３を通して、同じくプローブ１に設けた表示部８に連結される。また増幅回路３１からプローブ１に連結されたイヤホン１０に連結される。図２に示したプローブ１に内蔵の温度センサ４は信号処理回路１８の増幅回路３４に連結され、中央演算処理回路３３を通して、表示部８に連結される。
【００１２】
被測定対象物の作動状態を測定する場合、プローブ１を手で握って、振動検出針７の先端を被測定対象物の表面に押し当て、スイッチ金具１７のばね部の弾性力に抗して熱電対５の接触板２１の上面まで押し込むことによって、熱電対５も被測定対象物に押し当てる。更に熱電対５の薄板５ａ，５ｂを撓めて振動検出針７の先端と接触板２１の上面を保護管３の上面まで押し込む。被測定対象物の機械的振動が振動検出針７を通して振動伝達板１１に伝わり、圧力変動として圧電素子１３に作用する。これに応じて圧電素子１３に電圧変動が生じる。この電圧変動は電極板１２，１４から導線を介して信号処理回路１８の端子１９，２０に送られ、増幅回路で３１で増幅され、イヤホン１０に送られて振動音が発せられる。また増幅回路３１から検波回路３２を通して中央演算処理回路３３に送られ、平均値やピーク値等を表示部８にデジタル８ａやバーグラフ８ｂ表示される。一方被測定対象物の温度信号が熱電対５によって検出され、熱電対接点２６ａ，２６ｂを介して信号処理回路１８の端子２７，２８に送られ、増幅回路３４を通して中央演算処理回路３３に送られ、表示部８にデジタル８ａ表示される。測定中にプローブ１が傾き始めると傾き始めたことを水準器３０が視認可能に表示するので、傾きを修正することにより、振動と温度を正確に測定できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の振動及び温度測定表示器の実施例を示す正面図（イ）と底面図（ロ）である。
【図２】図１の上部のみの断面図である。
【図３】本発明の振動及び温度測定表示器の実施例の電気回路のブロック図である。
【符号の説明】
【００１４】
１  プローブ
４  温度センサ
５  熱電対
６  振動センサ
７  振動検出針
１３  圧電素子
１８  信号処理回路
３０  水準器
３１，３４  増幅回路
３２  検波回路
３３  中央演算処理回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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