(57)【要約】【課題】製造時におけるアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数のばらつき及び経年変化を考慮して、より簡単に画質の劣化を抑制することができる画像処理装置を提供すること。【解決手段】画像処理装置１０は、カットオフ周波数を可変に制御することができるアンチエイリアスフィルタ４０と、アンチエイリアスフィルタ４０が出力するアナログ信号をデジタル信号に変換して出力するＡＤ変換器５０と、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行うフィルタ校正処理部１００を含む。フィルタ校正処理部１００は、アンチエイリアスフィルタ４０に所定のテスト画像信号が入力された時のＡＤ変換器５０の出力に基づいて、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行う。【選択図】図１
2008199591.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
カットオフ周波数を可変に制御することができるアンチエイリアスフィルタと、
前記アンチエイリアスフィルタが出力するアナログ信号をデジタル信号に変換して出力するＡＤ変換器と、
前記アンチエイリアスフィルタに所定のテスト画像信号が入力された時の前記ＡＤ変換器の出力に基づいて、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うフィルタ校正処理部と、を含むことを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記アンチエイリアスフィルタに前記所定のテスト画像信号が入力された時の前記ＡＤ変換器の出力と、前記カットオフ周波数の校正用基準データとを比較する比較処理部を含み、
前記フィルタ校正処理部は、
前記比較処理部における比較結果に基づいて、前記カットオフ周波数の校正処理を行うことを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項１又は２において、
前記フィルタ校正処理部は、
前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合には前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の設定値を変更することにより、前記カットオフ周波数の校正処理を行うことを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれかにおいて、
前記フィルタ校正処理部は、
前記カットオフ周波数の校正処理を行った後の前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の設定値を不揮発性メモリに書き込むように制御することを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれかにおいて、
前記所定のテスト画像信号は、所与の２色のみで構成され、一画素毎に当該２色が交互に繰り返される画像信号であることを特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
請求項５において、
前記テスト画像信号を構成する前記２色は、白色と黒色であることを特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
請求項１乃至６のいずれかにおいて、
所定のイベントに基づいて、通常の画像信号処理を行うための通常動作モードの設定を、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うためのフィルタ校正モードの設定に切り替える処理を行うモード切り替え処理部を含むことを特徴とする画像処理装置。
【請求項８】
請求項７において、
前記アンチエイリアスフィルタに供給する画像信号を選択するための入力選択部を含み、
前記フィルタ校正処理部は、
前記所定のテスト画像信号を生成する処理を行うテスト画像信号生成部を含み、
前記フィルタ校正モードに設定された場合には、前記入力選択部が前記テスト画像信号生成部が生成する所定のテスト画像信号を選択するように制御し、
前記通常動作モードに設定された場合には、前記入力選択部が外部から供給される画像信号を選択するように制御することを特徴とする画像処理装置。
【請求項９】
請求項７又は８において、
前記モード切り替え処理部は、
電源投入後の起動時において、所定の条件が成立した場合には、前記通常動作モードの設定を前記フィルタ校正モードの設定に切り替え、前記フィルタ校正処理部が前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を終了した後、前記フィルタ校正モードの設定を前記通常動作モードの設定に切り替える処理を行うことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】
請求項１乃至９のいずれかに記載の画像処理装置と、画像信号を入力する手段と、画像信号を表示する手段とを含むことを特徴とする電子機器。
【請求項１１】
設定値によってカットオフ周波数を可変に制御することができるアンチエイリアスフィルタの校正処理方法であって、
所定のイベントに基づいて、通常の画像信号処理を行うための通常動作モードの設定を、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うためのフィルタ校正モードの設定に切り替えるステップと、
前記アンチエイリアスフィルタに所定のテスト画像信号を入力した時の前記アンチエイリアスフィルタが出力するアナログ信号をＡＤ変換したデジタル信号に基づいて、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合には前記設定値を変更することにより、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うステップとを含むことを特徴とするアンチエイリアスフィルタの校正処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、電子機器、アンチエイリアスフィルタの校正処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
プロジェクタ等の画像表示を行う電子機器においては、表示する画像の質が重要視される。従って、これらの電子機器では、入力される画像信号にノイズを重畳させないことに十分配慮して画像処理回路を構成する必要がある。アナログ画像信号が入力された場合、表示される画像の質を劣化させないために、ＡＤ変換器によりアナログ画像信号をデジタル画像信号に変換した後に種々のデジタル画像処理が行われる。ここで、入力されるアナログ画像信号に、ＡＤ変換器におけるサンプリング周波数の１／２（ナイキスト周波数）以上の周波数成分を有するノイズが重畳されていた場合、サンプリングによる帯域内へのノイズの折り返しが原因で表示される画像の質が劣化する。サンプリングによるノイズの折り返しが一旦画像信号に重畳されると除去することができないため、アナログ画像信号がＡＤ変換器に入力される前にナイキスト周波数以上の周波数成分を有するノイズを除去しておく必要がある。このノイズを除去するために、帯域内の画像信号のみを通過させるローパス特性を有するアンチエイリアスフィルタが使用される。
【０００３】
一方、ＡＤ変換器のコストを削減するためには、サンプリング周波数は出来る限り低い方が望ましく、帯域内の最大周波数の２倍の周波数がサンプリング周波数として選択される場合も多い。そのため、アンチエイリアスフィルタは、ナイキスト周波数以下の周波数を有する信号を通過させ、ナイキスト周波数より高い周波数を有するノイズを通過させないローパス特性を有するのが理想的であり、急峻なフィルタ特性が要求される。しかし、アンチエイリアスフィルタは抵抗やコンデンサ等を含むアナログ回路で構成されるため、製造時における抵抗器の抵抗値やコンデンサの容量値のばらつきが原因でアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数もばらついてしまう。カットオフ周波数が低い方向にずれるとナイキスト周波数付近の周波数を有する画像信号が減衰し、カットオフ周波数が高い方向にずれるとナイキスト周波数付近の周波数を有するノイズが除去しきれないことになる。
【０００４】
そのため、従来、例えば、画像信号を減衰させないことを重視し、製造ばらつきによりカットオフ周波数が低い方向にずれても画像信号を減衰させないように、大きなマージンをもってターゲットのカットオフ周波数を決定していた。しかし、帯域内への折り返しノイズを除去しきれない場合には表示される画像の質が劣化することになるため、表示画像の質を保つためには出荷前の選別条件を厳しくして良品の割合を減らすことにつながり、製造コストの増大を招いていた。
【０００５】
さらに、出荷前の選別条件を厳しくして表示画像の質を確保していたとしても、抵抗器の抵抗値やコンデンサの容量値の経年変化のためにアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数が変化し、画質を劣化させる原因となっていた。
【０００６】
この問題を解決するため、特開平１１−２８４５１０号公報では、アンチエイリアスフィルタを不要とする信号処理装置の発明が開示されている。この信号処理装置では、アナログ信号を積分器に通してからＡＤ変換器に入力し、ＡＤ変換器の出力を微分する構成である。
【特許文献１】特開平１１−２８４５１０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、この信号処理装置ではアンチエイリアスフィルタは不要であるが、帯域外のノイズを十分に減衰させるためには、ＡＤ変換器のサンプリング周波数を高くしてオーバーサンプリングする必要があるため、ＡＤ変換器が、画像信号の最高周波数の２倍の周波数でサンプリングする場合には適用できない。また、積分器や微分器を必要とするので、アンチエイリアスフィルタを使用する場合よりもコストがかかる場合もある。
【０００８】
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、製造時におけるアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数のばらつき及び経年変化を考慮して、より簡単に画質の劣化を抑制することができる画像処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
（１）本発明は、カットオフ周波数を可変に制御することができるアンチエイリアスフィルタと、前記アンチエイリアスフィルタが出力するアナログ信号をデジタル信号に変換して出力するＡＤ変換器と、前記アンチエイリアスフィルタに所定のテスト画像信号が入力された時の前記ＡＤ変換器の出力に基づいて、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うフィルタ校正処理部と、を含むことを特徴とする画像処理装置である。
【００１０】
フィルタ校正処理部は、例えば、ＣＰＵがＲＯＭに格納された校正処理用のソフトウェアを実行することにより実現してもよいし、すべて専用のハードウェアで実現してもよい。
【００１１】
本発明によれば、アンチエイリアスフィルタに含まれる抵抗の抵抗値やコンデンサの容量値の製造時のばらつきに対して、本発明に係る画像処理装置の出荷前の検査において、画像処理装置毎にアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正を個別に行うことができる。従って、アンチエイリアスフィルタのフィルタ特性の仕様を満たし、良品として出荷することができる画像処理装置の割合を増加することができる。
【００１２】
また、本発明によれば、アンチエイリアスフィルタに含まれる抵抗の抵抗値やコンデンサの容量値の経年変化に対して、本発明に係る画像処理装置を修理する際に、画像処理装置毎にアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正を簡単に行うことができる。従って、アンチエイリアスフィルタを交換することなく修理することができるので、修理にかかる時間やコストを削減することができる。
【００１３】
なお、アンチエイリアスフィルタは、本発明に係る画像処理装置に含まれていてもよいし、本発明に係る画像処理装置の外部にあってもよい。また、本発明に係る画像処理装置は、１つの集積回路で実現してもよいし、複数の集積回路装置を使用して実現してもよい。
【００１４】
また、本発明によれば、ＡＤ変換器が出力するデジタル信号に基づいてアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うので、アンチエイリアスフィルタが出力するアナログ信号を検出するための専用の回路が不要である。例えば、ＣＰＵが、ＡＤ変換器が出力するデジタル信号を解析して現在の設定値におけるカットオフ周波数を計算することができるので、校正処理を簡単に行うことができる。
【００１５】
（２）本発明に係る画像処理装置は、前記アンチエイリアスフィルタに前記所定のテスト画像信号が入力された時の前記ＡＤ変換器の出力と、前記カットオフ周波数の校正用基準データとを比較する比較処理部を含み、前記フィルタ校正処理部は、前記比較処理部における比較結果に基づいて、前記カットオフ周波数の校正処理を行うようにしてもよい。
【００１６】
（３）本発明に係る画像処理装置は、前記フィルタ校正処理部は、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合には前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の設定値を変更することにより、前記カットオフ周波数の校正処理を行うようにしてもよい。
【００１７】
アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないことの判断は、例えば、ターゲットとなるカットオフ周波数付近の周波数を有するテスト画像信号をアンチエイリアスフィルタに入力し、アンチエイリアスフィルタの出力信号の減衰率から判断するようにしてもよい。また、例えば、アンチエイリアスフィルタの出力信号（アナログ信号）から減衰率を計算してもよいし、アンチエイリアスフィルタの出力信号をＡＤ変換した後のデジタル信号から減衰率を計算してもよい。
【００１８】
アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合には、例えば、最小単位で設定値を変更してもよいし、当該カットオフ周波数の差が所定の範囲内になるような設定値を計算により直接求めて設定値を変更してもよい。さらに、設定値を変更した後、再度テスト画像信号を入力して、校正処理の結果を確認するようにしてもよい。
【００１９】
（４）本発明に係る画像処理装置は、前記カットオフ周波数の校正処理を行った後の、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の設定値を不揮発性メモリに書き込むように制御するようにしてもよい。
【００２０】
本発明によれば、アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を一度行うと校正後の設定値が不揮発性メモリに記憶されるので、電源を切った後も校正後の設定値を記憶させておくことができる。従って、電源投入後に毎回校正処理を行う必要がない。
【００２１】
（５）本発明に係る画像処理装置は、前記所定のテスト画像信号は、所与の２色のみで構成され、一画素毎に当該２色が交互に繰り返される画像信号であってもよい。
【００２２】
本発明によれば、テスト画像信号は、一画素毎に２色が交互に繰り返されるので、最も高い周波数成分のみを有する画像信号である。従って、アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数に最も近い周波数のみを有する画像信号を使用するので、校正処理を容易に行うことができる。
【００２３】
（６）本発明に係る画像処理装置は、前記テスト画像信号を構成する前記２色は、白色と黒色であってもよい。
【００２４】
本発明によれば、テスト画像信号は、一画素毎に白色と黒色が交互に繰り返されるので、最も高い周波数成分のみを有し、かつ、最も振幅の大きい画像信号である。従って、アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数に最も近い周波数のみを有し、かつ、最も振幅の大きい画像信号を使用するので、校正処理を高精度かつ容易に行うことができる。
【００２５】
（７）本発明に係る画像処理装置は、所定のイベントに基づいて、通常の画像信号処理を行うための通常動作モードの設定を、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うためのフィルタ校正モードの設定に切り替える処理を行うモード切り替え処理部を含むようにしてもよい。
【００２６】
（８）本発明に係る画像処理装置は、前記アンチエイリアスフィルタに供給する画像信号を選択するための入力選択部を含み、前記フィルタ校正処理部は、前記所定のテスト画像信号を生成する処理を行うテスト画像信号生成部を含み、前記フィルタ校正モードに設定された場合には、前記入力選択部が前記テスト画像信号生成部が生成する所定のテスト画像信号を選択するように制御し、前記通常動作モードに設定された場合には、前記入力選択部が外部から供給される画像信号を選択するように制御するようにしてもよい。
【００２７】
本発明によれば、フィルタ校正モードにおいては、本発明に係る画像処理装置の内部で生成したテスト画像信号を使用して校正処理を行うことができる。従って、外部からテスト画像信号を供給する必要がないので、本発明に係る画像処理装置は、例えば、電源投入後の起動時等の所定のタイミングにおいて、自動的に校正処理を行うことができる。そのため、経年変化によりアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数が変化する場合でも、修理の機会を設けなくても自動的に校正処理を行うようにすることも可能である。
【００２８】
（９）本発明に係る画像処理装置は、前記モード切り替え処理部は、電源投入後の起動時において、所定の条件が成立した場合には、前記通常動作モードの設定を前記フィルタ校正モードの設定に切り替え、前記フィルタ校正処理部が前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を終了した後、前記フィルタ校正モードの設定を前記通常動作モードの設定に切り替える処理を行うようにしてもよい。
【００２９】
本発明によれば、電源投入後の起動時において、所定の条件が成立した場合には、自動的にフィルタ校正モードに設定される。従って、所定の条件が成立した場合のみフィルタ校正処理を行うようにすることができるので、起動時に毎回校正処理を行う必要がない。例えば、本発明に係る画像処理装置を使用し始めてから所定の時間が経過する毎に校正処理行うようにしてもよいし、起動回数のカウント値を不揮発性メモリに記憶しておき所定のカウント値になる毎に校正処理を行うようにしてもよい。また、電源投入後の起動時に校正処理を行うので、起動に時間がかかるような機器に本発明に係る画像処理装置を組み込む場合には、起動時間を有効に利用して校正処理を行うことができる。
【００３０】
（１０）本発明は、上記のいずれかに記載された画像処理装置と、画像信号を入力する手段と、画像信号を表示する手段とを含むことを特徴とする電子機器である。
【００３１】
本発明に係る電子機器は、起動後、安定動作に移るまでの時間を有効に利用してアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うことができる。また、使用時間等を計測する仕組みを備えている電子機器においては、使用時間等が所定の値になる毎に校正処理を行うようにすることができる。例えば、プロジェクタの場合は、起動後のランプ点灯に要する時間を有効に利用して校正処理を行うようにしてもよいし、ランプ使用時間が所定の値になる毎に校正処理を行うようにしてもよい。
【００３２】
（１１）本発明は、設定値によってカットオフ周波数を可変に制御することができるアンチエイリアスフィルタの校正処理方法であって、所定のイベントに基づいて、通常の画像信号処理を行うための通常動作モードの設定を、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うためのフィルタ校正モードの設定に切り替えるステップと、前記アンチエイリアスフィルタに所定のテスト画像信号を入力した時の前記アンチエイリアスフィルタが出力するアナログ信号をＡＤ変換したデジタル信号に基づいて、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合には前記設定値を変更することにより、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うステップとを含むことを特徴とするアンチエイリアスフィルタの校正処理方法である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
本実施の形態に係る画像処理装置は、外部から供給される画像信号に所定の処理を施し、外部の表示装置に表示させる画像信号を生成する画像処理装置であって、設定値によってカットオフ周波数を可変に制御することができるアンチエイリアスフィルタに所定のテスト画像信号が入力された時の前記アンチエイリアスフィルタの出力信号に基づいて、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合には前記設定値を変更することにより、前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行うフィルタ校正処理部を含むようにしてもよい。
【００３４】
本実施の形態に係る画像処理装置は、前記フィルタ校正処理部は、前記アンチエイリアスフィルタが出力するアナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換器の出力信号に基づいて前記アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正処理を行い、所定のタイミングで前記設定値を不揮発性メモリに書き込むように制御するようにしてもよい。
【００３５】
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
【００３６】
１．画像処理装置、アンチエイリアスフィルタの校正処理方法
図１は、本実施の形態の画像処理装置の機能ブロック図である。アンチエイリアスフィルタ４０は、入力される画像信号に含まれ、ＡＤ変換器５０におけるサンプリングにより帯域内への折り返しノイズ（エイリアス）を発生させるナイキスト周波数よりも高い周波数を持つ信号をあらかじめ除去する機能を果たす。ＡＤ変換器５０におけるサンプリング周波数は入力される画像信号に含まれる信号成分の最高周波数の２倍以上となるように選択する必要があるが、画像信号に含まれる信号成分の最高周波数は画像信号の規格により異なる。例えば、４８０ｉ、４８０ｐ、７２０ｐ、１０８０ｉ、１０８０ｐ等の規格が存在するが、画像信号に含まれる信号成分の最高周波数はそれぞれ異なる。そのため、入力される画像信号の規格に対応して、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数を変更する必要がある。例えば、４８０ｉでは画像信号に含まれる信号成分の最高周波数は６．７５ＭＨｚなので、ＡＤ変換器５０におけるサンプリング周波数を１３．５ＭＨｚ（６．７５ＭＨｚの２倍）とすると、アンチエイリアスフィルタ４０は、６．７５ＭＨｚまでの信号を通過させ、６．７５ＭＨｚよりもわずかに高い周波数がカットオフ周波数となるような急峻なフィルタ特性を有することが望ましい。また、４８０ｐでは画像信号に含まれる信号成分の最高周波数は１３．５ＭＨｚなので、ＡＤ変換器５０におけるサンプリング周波数を２７ＭＨｚ（１３．５ＭＨｚの２倍）とすると、アンチエイリアスフィルタ４０は、１３．５ＭＨｚまでの信号を通過させ、１３．５ＭＨｚよりもわずかに高い周波数がカットオフ周波数となるような急峻なフィルタ特性を有することが望ましい。従って、例えば、複数の規格に対応する画像処理装置においては、入力される画像信号の規格に対応して、アンチエイリアスフィルタ４０の設定を行い、カットオフ周波数が所望の周波数になるように変更する必要がある。なお、アンチエイリアスフィルタ４０は、画像処理装置１０に含まれるようにしてもよいし、画像処理装置１０の外部にあってもよい。
【００３７】
画像処理装置１０は、ＡＤ変換器５０を含んでもよい。ＡＤ変換器５０は、アンチエイリアスフィルタ４０が出力するアナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換器として機能する。例えば、ＡＤ変換器５０が８ビットＡＤ変換器である場合は、アンチエイリアスフィルタ４０が出力するアナログ信号を、サンプリング周期毎に０〜２５５の８ビットデジタル信号に変換する。
【００３８】
画像処理装置１０は、スケーラ６０、ＬＣＤコントローラ７０、ＬＣＤドライバ８０を含んでもよい。スケーラ６０は、ＣＰＵ１１０の指示に従ってＡＤ変換器５０の出力信号に対して画像のサイズを調整する処理等を行う。ＬＣＤコントローラ７０は、ＣＰＵ１１０の指示に従ってスケーラ６０の出力信号に対して補正等の処理を行いＬＣＤドライバ８０に画像信号を供給する。ＬＣＤドライバ８０は、ＬＣＤコントローラ７０より供給された画像信号に対応する画像を表示させるように表示デバイス３０（液晶パネル等）を駆動する処理を行う。
【００３９】
画像処理装置１０は、フィルタ校正処理部１００を含む。フィルタ校正処理部１００は、設定値によってカットオフ周波数を可変に制御することができるアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行う。より具体的には、フィルタ校正処理部１００は、例えば、ファンクションジェネレータ２０により、アンチエイリアスフィルタ４０に所定のテスト画像信号２２が入力された時のアンチエイリアスフィルタ４０の出力信号に基づいて、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合には設定値を変更することにより、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行う。例えば、フィルタ校正処理部１００は、アンチエイリアスフィルタ４０にテスト画像信号２２が入力された時のＡＤ変換器５０の出力に基づいて、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行うようにしてもよい。
【００４０】
フィルタ校正処理部１００は、例えば、ＣＰＵ１１０、ＲＯＭ１２０及びＲＡＭ１３０を含んでもよい。ＲＯＭ１２０には、通常の画像処理用のプログラムとともにフィルタ校正処理を行うための専用プログラムが格納されている。通常の画像信号処理を行うための通常動作モードに設定された場合には、ＣＰＵ１１０は、ＲＯＭ１２０から通常の画像処理用のプログラムを読み込んで実行する。一方、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行うためのフィルタ校正モードに設定された場合には、ＣＰＵ１１０は、ＲＯＭ１２０からフィルタ校正用のプログラムを読み込んで実行する。
【００４１】
ＣＰＵ１１０は、また、アンチエイリアスフィルタ４０にテスト画像信号２２が入力された時のＡＤ変換器５０の出力と、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正用基準データとを比較する比較処理部としても機能するようにしてもよい。そして、フィルタ校正処理部１００は、ＣＰＵ１１０（比較処理部）における比較結果に基づいて、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行うようにしてもよい。
【００４２】
例えば、４８０ｉ、４８０ｐ、７２０ｐ、１０８０ｉ、１０８０ｐ等の規格に対する各テスト画像信号がアンチエイリアスフィルタ４０に入力された時のＡＤ変換器５０の出力の振幅レベルの最大値や実効値等の期待値を各規格に対する校正用基準データとしてあらかじめＲＯＭ１２０等に格納しておき、フィルタ校正モードに設定された場合には、ＣＰＵ１１０は該当する校正用基準データを所定のタイミングでＲＯＭ１２０等から読み出し、ＡＤ変換器５０の出力の振幅レベルの最大値や実効値等と当該校正用基準データとを比較するようにしてもよい。そして、フィルタ校正処理部１００（ＣＰＵ１１０）は、例えば、ＡＤ変換器５０の出力の振幅レベルの最大値や実効値等が当該校正用基準データよりも小さい場合にはアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数を上げるように設定値を変更し、ＡＤ変換器５０の出力の振幅レベルの最大値や実効値等が当該校正用基準データよりも大きい場合にはアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数を下げるように設定値を変更することによりアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行うようにしてもよい。
【００４３】
ＣＰＵ１１０は、また、所定のイベントに基づいて、通常動作モードの設定をフィルタ校正モードの設定に切り替える処理を行うモード切り替え処理部としても機能するようにしてもよい。ここで、外部からのコマンド入力や外部端子の設定を所定のイベントとして、フィルタ校正モードに設定されるようにしてもよいし、電源投入時等に自動的にフィルタ校正モードに設定されるようにしてもよい。
【００４４】
アンチエイリアスフィルタ４０には、通常動作モードに設定された場合は通常の画像信号２４が入力され、フィルタ校正モードに設定された場合はファンクションジェネレータ２０が出力するテスト画像信号２２が入力されるように外部で入力信号が切り換えられる。フィルタ校正モードに設定された場合、アンチエイリアスフィルタ４０にテスト画像信号２２が入力され、アンチエイリアスフィルタ４０の出力信号がＡＤ変換器５０によりデジタル信号に変換される。デジタル信号に変換されたテスト画像信号は、ＲＡＭ１３０の記憶領域中のフレームバッファに書き込まれる。ＣＰＵ１１０は、フィルタ校正用のプログラムに従い、所定のタイミングでフレームバッファに書き込まれたテスト画像信号を読み込み、現在の設定値におけるカットオフ周波数を判断し、現在のカットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合には設定値を変更する。設定値の変更は、種々の方法により行うことができる。例えば、カットオフ周波数が校正ターゲット値よりも低い場合には高くなる方向に設定値を１だけ変更し、カットオフ周波数が校正ターゲット値よりも高い場合には低くなる方向に設定値を１だけ変更することを繰り返すようにしてもよい。また、現在の設定値におけるカットオフ周波数を判断して、カットオフ周波数が校正ターゲット値と一致するような設定値を直接計算により求めてもよい。
【００４５】
前述の通り、複数の規格に対応する画像処理装置においては、入力される画像信号の規格に対応して、アンチエイリアスフィルタ４０の設定を行い、カットオフ周波数が所望の周波数になるように変更する必要がある。そのため、入力される画像信号の規格毎にアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行う必要がある。ＡＤ変換器５０のサンプリング周波数とアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の関係に線形性が確保されている場合は、１つの規格において最大周波数成分を含むテスト画像信号を入力して校正処理を行い、当該校正処理の結果から他の規格における校正後の設定値を直接計算により求めてもよい。また、ＡＤ変換器５０のサンプリング周波数とアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の関係に線形性が確保されていない場合は、各規格について個別に校正処理を行って設定値を決定してもよい。
【００４６】
また、前述の通り、ＡＤ変換器５０が画像信号の最高周波数の２倍のサンプリング周波数でＡＤ変換を行う場合、アンチエイリアスフィルタ４０はできるだけ急峻なフィルタ特性を有することが望ましい。しかし、急峻なフィルタ特性を有するフィルタの設計にはコストがかるため、少しなだらかなフィルタ特性を有するフィルタが設計される場合もある。例えば、４８０ｉの画像信号の場合、最高周波数成分は６．７５ＭＨｚなのでカットオフ周波数が６．７５ＭＨｚよりも少し高い周波数となるように設計される。その結果、６．７５ＭＨｚ以上のノイズ成分を十分に減衰させることができずアンチエイリアスフィルタとしての機能を十分に果たせない場合もある。そのような場合には、通過域の上限を６．７５ＭＨｚよりも低くしてカットオフ周波数が６．７５ＭＨｚ付近になるようにローパスフィルタを設計してもよい。その場合、６．７５ＭＨｚ付近の周波数成分を持つ画像信号を減衰させることになるが、６．７５ＭＨｚ以上のノイズ成分は十分に減衰させることができる。従って、ターゲットとなるカットオフ周波数は、画像信号を減衰させないことと折り返しノイズの除去のどちらを優先させるかのトレードオフにより画像処理装置ごとに決定される。例えば、画像信号の最高周波数成分が０．１ｄＢだけ減衰するようにターゲットとなるカットオフ周波数を決定してもよい。
【００４７】
フラッシュメモリ１４０は、不揮発性メモリとして機能する。ＣＰＵ１１０は、フィルタ校正用のプログラムに従って校正処理を行い、所定のタイミングでフラッシュメモリ１４０の所定の記憶領域に設定値を書き込む。校正処理が終了した時に１回のみ校正後の設定値を書き込むようにしてもよいし、設定値を変更する度に書き込むようにしてもよい。以後、通常動作モードに設定された場合には、フラッシュメモリ１４０に書き込まれた設定値によってアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数が制御される。例えば、電源が投入される度に、ＣＰＵ１１０が、起動処理用プログラムに従い、フラッシュメモリ１４０の所定の記憶領域から校正後の設定値を読み込み、アンチエイリアスフィルタ４０の設定を行うようにしてもよい。
【００４８】
テスト画像信号２２は、フィルタ校正モードにおいて、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数を判断することができるような画像信号であればよい。例えば、白色と黒色の２色のみで構成され、一画素毎に当該２色が交互に繰り返されるテスト画像信号であってもよい。当該テスト画像信号は、最高周波数成分のみからなる画像信号であるので、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数を判断することができる画像信号である。例えば、画像信号の最高周波数成分が０．１ｄＢだけ減衰するようなアンチエイリアスフィルタの場合、当該テスト画像信号がアンチエイリアスフィルタ４０を通過すると白のレベルが０．１ｄＢだけ減衰する。アンチエイリアスフィルタ４０の出力を８ビットのＡＤ変換器でデジタル値に変換する場合、減衰がない場合の黒のレベルを０、白のレベルを２５５とすると、アンチエイリアスフィルタ４０の通過後の当該テスト画像信号をＡＤ変換すると黒のレベルは０のままであり、白のレベルは２５２程度に減衰する。フィルタ特性の減衰曲線は、アンチエイリアスフィルタ４０の構成により一意に決まるため、白のレベルからカットオフ周波数を判断することができる。カットオフ周波数の判断は、フレームバッファ中の一部の画素に対応する信号レベルのみで判断してもよいし、１画面分の画素に対応する信号レベルの平均をとって判断してもよい。従って、例えば、画像信号の最高周波数成分が０．１ｄＢだけ減衰するようなカットオフ周波数がターゲットである場合には、直接的にカットオフ周波数を計算せずに、当該テスト画像信号を入力した時のＡＤ変換後の白のレベルが２５２になるように、アンチエイリアスフィルタ４０の設定値を変更すればよい。
【００４９】
図２は、本実施の形態の画像処理装置の機能ブロック図の他の例である。図１と同じ構成には同じ番号を付しており説明を省略する。画像処理装置１２は、アンチエイリアスフィルタ４０に供給する画像信号を選択するための入力選択部９０を含む。フィルタ校正処理部１００は、所定のテスト画像信号１５２を生成する処理を行うテスト画像信号生成部１５０を含む。テスト画像信号１５２は、図１のテスト画像信号２２と同様に、フィルタ校正モードにおいて、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数を判断することができるような画像信号であればよい。例えば、白色と黒色の２色のみで構成され、一画素毎に当該２色が交互に繰り返されるテスト画像信号であってもよい。
【００５０】
フィルタ校正処理部１００は、フィルタ校正モードに設定された場合には、入力選択部９０がテスト画像信号生成部１５０が生成する所定のテスト画像信号１５２を選択するように制御する。また、フィルタ校正処理部１００は、通常動作モードに設定された場合には、入力選択部９０が外部から入力される画像信号２４を選択するように制御する。従って、画像処理装置１２は、フィルタ校正モードに設定されると、テスト画像信号１５２を使用してアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行うので、ファンクションジェネレータを外部に接続する必要がない。そのため、アンチエイリアスフィルタ４０に含まれる抵抗の抵抗値やコンデンサの容量値が経年変化することにより、カットオフ周波数が変化するような場合であっても、画像処理装置１２は、自己診断を行いフィルタ校正処理を行うことが可能である。例えば、画像処理装置１２の内部又は外部にタイマを用意し、画像処理装置１２が所定の時間の経過を検出した場合にはフィルタ校正モードに設定する処理を起動処理用プログラム中に記述しておいてもよいし、フラッシュメモリ１４０に起動回数を記憶しておき、所定の起動回数に達する毎にフィルタ校正モードに設定する処理を起動処理用プログラム中に記述しておいてもよい。
【００５１】
図３は、図２に示した本実施の形態の画像処理装置の機能ブロック図の詳細図である。画像処理装置１４は、Ｒ用、Ｇ用、Ｂ用の画像信号に対してそれぞれ独立に画像処理を行うための３つの画像処理部２００Ｒ、２００Ｇ、２００Ｂを含むように構成してもよい。画像処理部２００Ｒ、２００Ｇ、２００Ｂは、それぞれアンチエイリアスフィルタ４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂに供給する画像信号を選択するための入力選択部９０Ｒ、９０Ｇ、９０Ｂを含む。画像処理部２００Ｒ、２００Ｇ、２００Ｂにそれぞれ含まれるアンチエイリアスフィルタ（４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂ）、ＡＤ変換器（５０Ｒ、５０Ｇ、５０Ｂ）、スケーラ（６０Ｒ、６０Ｇ、６０Ｂ）、ＬＣＤコントローラ（７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂ）、ＬＣＤドライバ（８０Ｒ、８０Ｇ、８０Ｂ）、表示デバイス（３０Ｒ、３０Ｇ、３０Ｂ）は、図２のアンチエイリアスフィルタ４０、ＡＤ変換器５０、スケーラ６０、ＬＣＤコントローラ７０、ＬＣＤドライバ８０、表示デバイス３０と同じ構成であり説明を省略する。
【００５２】
フィルタ校正処理部１００は、所定のテスト画像信号１５２を生成する処理を行うテスト画像信号生成部１５０を含む。テスト画像信号生成部１５０は、テスト画像信号１５２Ｒ、１５２Ｇ、１５２Ｂを生成する。テスト画像信号１５２Ｒ、１５２Ｇ、１５２Ｂは、フィルタ校正モードにおいて、アンチエイリアスフィルタ４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂのカットオフ周波数を判断することができるような画像信号であればよい。例えば、最高輝度と最低輝度の２色のみで構成され、一画素毎に当該２色が交互に繰り返されるようなテスト画像信号であってもよい。この場合、フィルタ校正モードにおいて、アンチエイリアスフィルタ４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂに入力される画像信号は最高周波数かつ最大振幅を有する画像信号になり、カットオフ周波数を判断するために最も適した画像信号である。
【００５３】
フィルタ校正処理部１００は、フィルタ校正モードに設定された場合には、入力選択部９０Ｒ、９０Ｇ、９０Ｂがテスト画像信号生成部１５０が生成する所定のテスト画像信号１５２Ｒ、１５２Ｇ、１５２Ｂをそれぞれ選択するように制御する。また、フィルタ校正処理部１００は、通常動作モードに設定された場合には、入力選択部９０Ｒ、９０Ｇ、９０Ｂが外部から入力される画像信号２４Ｒ、２４Ｇ、２４Ｂをそれぞれ選択するように制御する。従って、画像処理装置１４は、フィルタ校正モードに設定されると、テスト画像信号１５２Ｒ、１５２Ｇ、１５２Ｂを使用してそれぞれアンチエイリアスフィルタ４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂのカットオフ周波数の校正処理を行うので、ファンクションジェネレータを外部に接続する必要がない。そのため、アンチエイリアスフィルタ４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂに含まれる抵抗の抵抗値やコンデンサの容量値が経年変化することにより、カットオフ周波数が変化するような場合であっても、画像処理装置１４は、自己診断を行いフィルタ校正処理を行うことが可能である。例えば、画像処理装置１４の内部又は外部にタイマを用意し、画像処理装置１４が所定の時間の経過を検出した場合にはフィルタ校正モードに設定する処理を起動処理用プログラム中に記述しておいてもよいし、フラッシュメモリ１４０に起動回数を記憶しておき、所定の起動回数に達する毎にフィルタ校正モードに設定する処理を起動処理用プログラム中に記述しておいてもよい。
【００５４】
図４（Ａ）は、カットオフ周波数を可変に制御可能することができるアンチエイリアスフィルタ（ローパスフィルタ）の構成例を説明するための図である。
【００５５】
図４（Ａ）に示すアンチエイリアフィルタ４０（４０Ｒ，４０Ｇ，４０Ｂ）は、可変抵抗器３００とコンデンサ３０２を含む。可変抵抗器３００（抵抗値Ｒ）の一端は外部入力端子Ｉ１に接続され、他端はコンデンサ３０２（容量値Ｃ）の一端及び出力端子Ｏ１に接続される。コンデンサ３０２の他端は接地される。可変抵抗器３００の抵抗値Ｒは、外部入力端子Ｉ２から供給される信号に応じて可変に制御することができる。アンチエイリアスフィルタ４０（４０Ｒ，４０Ｇ，４０Ｂ）は、カットオフ周波数が１／（２πＲＣ）のローパフィルタとして機能し、可変抵抗器３００の抵抗値Ｒを変更することによりカットオフ周波数を変更することができる。すなわち、可変抵抗器３００の抵抗値Ｒを大きくすればカットオフ周波数は低くなり、可変抵抗器３００の抵抗値Ｒを小さくすればカットオフ周波数は高くなる。可変抵抗器３００は、設定値によってカットオフ周波数を可変に制御することができればよく、例えば、入力端子Ｉ２から供給される信号の電圧値を設定値とし、電圧値によって連続的に抵抗値Ｒを変更することができるものでもよいし、入力端子Ｉ２から供給される選択信号を設定値とし、設定値によっていくつかの抵抗値から１つの抵抗値Ｒを選択することができるものであってもよい。例えば、可変抵抗器３００としてＩ２Ｃバスインターフェース対応の２５６ポジションのデジタル・ポテンショメータを使用し、図１に示したＣＰＵ１１０がＩ２Ｃバスを介して可変抵抗器３００（デジタル・ポテンショメータ）に対して８ビットの選択信号を設定値として送信することにより、２５６ポジションから任意の抵抗値Ｒを選択して設定することができるようにしてもよい。なお、図４（Ａ）に示すようにカットオフ周波数を変更するためには可変抵抗器３００の抵抗値Ｒを変更させるのが一般的であるが、抵抗値Ｒは固定のままコンデンサ３０２の容量値Ｃのみを変更させてもよいし、抵抗値Ｒと容量値Ｃをともに変更させるようにしてもよい。
【００５６】
図４（Ｂ）は、カットオフ周波数を可変に制御可能することができるアンチエイリアスフィルタ（ローパスフィルタ）の他の構成例を説明するための図である。図４（Ｂ）に示すアンチエイリアフィルタ４０（４０Ｒ，４０Ｇ，４０Ｂ）は、可変抵抗器３１０、３１２、コンデンサ３１４、３１６、演算増幅器３１８を含む。可変抵抗器３１０（抵抗値Ｒ１）の一端は外部入力端子Ｉ３に接続され、他端は可変抵抗器３１２（抵抗値Ｒ２）の一端及びコンデンサ３１４（容量値Ｃ１）の一端に接続される。可変抵抗器３１２の他端は、コンデンサ３１６（容量値Ｃ２）の一端及び演算増幅器３１８の＋入力端子に接続される。コンデンサ３１４の他端は、演算増幅器３１８の−入力端子及び出力端子に接続される。コンデンサ３１６の他端は接地される。演算増幅器３１８の出力端子は、−入力端子及び外部出力端子Ｏ３に接続される。可変抵抗器３１０の抵抗値Ｒ１及び可変抵抗器３１２の抵抗値Ｒ２は、それぞれ外部入力端子Ｉ４及びＩ５から供給される信号に応じて可変に制御することができる。
【００５７】
図４（Ａ）のローパスフィルタでは、急峻なフィルタ特性を実現することができないため、図１のＡＤ変換器５０が画像信号の最高周波数の２倍のサンプリング周波数でＡＤ変換を行う場合、信号成分を減衰させないためにはカットオフ周波数を高くする必要がある。その結果、帯域外のノイズを十分に減衰させることができず、アンチエイリアスフィルタとして十分な特性を実現することが困難な場合もある。一方、図４（Ｂ）のローパスフィルタは、正帰還型アクティブローパスフィルタ又はサレン・キー回路と呼ばれる２次バタワース特性を有するローパスフィルタであり、少ない部品点数で比較的急峻なフィルタ特性を実現することができる。そのため、カットオフ周波数を低くしても、通過域にある信号成分を減衰させることなく、通過域にない不要な高周波信号成分を十分に減衰させることができるので、アンチエイリアスフィルタとして十分な特性を実現することができる。アンチエイリアス４０（４０Ｒ，４０Ｇ，４０Ｂ）は、例えば、Ｒ１＝Ｒ２（＝Ｒｆ）、Ｃ１＝２ＱＣｆ、Ｃ２＝Ｃｆ／２Ｑ（Ｑは共振周波数におけるゲイン）となるように抵抗値Ｒ１、Ｒ２及び容量値Ｃ１、Ｃ２を選択すると、カットオフ周波数が１／（２πＲｆＣｆ）のローパフィルタとして機能する。従って、抵抗３１０、３１２の抵抗値Ｒ１、Ｒ２を変更することによりカットオフ周波数を自由に変更することができる。なお、図４（Ｂ）に示すようにカットオフ周波数を変更するためには可変抵抗器３１０、３１２の抵抗値Ｒ１、Ｒ２を変更させるのが一般的であるが、抵抗値Ｒ１、Ｒ２は固定のままコンデンサ３１４、３１６の容量値Ｃ１、Ｃ２のみを変更させてもよいし、抵抗値Ｒ１、Ｒ２、容量値Ｃ１、Ｃ２をすべて変更させるようにしてもよい。
【００５８】
図５は、出荷時におけるアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正フローの一例を説明するための図である。以下、図１を参照しながら説明する。
【００５９】
まず、アンチエイリアスフィルタ４０に対して、カットオフ周波数が最小となるような設定値を設定する（ステップＳ１２）。例えば、図４（Ａ）において抵抗器３００の抵抗値Ｒが最大となるような設定値を選択する。
【００６０】
次に、フィルタ校正モードに設定し（ステップＳ１４）、テスト画像信号２２の入力を開始する（ステップＳ１６）。例えば、外部端子の設定によってフィルタ校正モードに設定してもよいし、電源投入時等に自動的にフィルタ校正モードに設定されるようにしてもよい。以後、校正処理が終了するまで継続してテスト画像信号２２の入力が行われる。テスト画像信号２２はアンチエイリアスフィルタ４０及びＡＤ変換器５０を通過し、デジタル信号に変換されたテスト画像信号がＲＡＭ１３０の記憶領域中のフレームバッファに順次書き込まれる。
【００６１】
次に、ＣＰＵ１１０は、ＲＯＭ１２０に格納されたフィルタ校正用プログラムに従い、所定のタイミングでフレームバッファに書き込まれたテスト画像信号を読み出し、現在の設定値によるカットオフ周波数を判断する（ステップＳ１８）。具体的には、最高周波数成分を有するテスト画像信号（例えば、各画素に対応して白色と黒色が交互に繰り返される画像信号）を入力した時にフレームバッファに書き込まれるデジタル値からカットオフ周波数を判断するのが容易である。
【００６２】
カットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にあると判断した場合（ステップＳ２０のＹＥＳの場合）は、現在の設定値をフラッシュメモリに保存して（ステップＳ２４）校正処理を終了する。一方、カットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合（ステップＳ２０のＮＯの場合）は、カットオフ周波数を高くする方向に現在の設定値を変更し（ステップＳ２２）、カットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内になるまで校正処理を続行する。ターゲットとなるカットオフ周波数は、フィルタの種類、信号の減衰とノイズの除去のトレードオフ等により画像処理装置ごとに決定される。
【００６３】
なお、図５ではステップＳ１２において、カットオフ周波数が最小となるような設定値を初期値として選択しているが、他の値を選択してもよい。例えば、カットオフ周波数が最大となるような設定値を初期値として選択し、ステップＳ２２の処理の代わりに、カットオフ周波数を低くする方向に設定値を変更するようにしてもよい。また、校正処理の時間を短縮するために、製造時における抵抗値や容量値のばらつきにより抵抗値及び容量値が最小となる場合（カットオフ周波数が最大になる場合）に、ターゲットのカットオフ周波数と一致するような設定値を初期値として選んでもよい。また、設計上のターゲットとなる設定値を初期値として設定し、ステップＳ２２の処理の代わりに、カットオフ周波数が校正ターゲット値よりも低い場合にはカットオフ周波数を高くする方向に設定値を変更し、カットオフ周波数が校正ターゲット値よりも高い場合にはカットオフ周波数を低くする方向に設定値を変更するようにしてもよい。さらに、ステップＳ１８において判断した現在の設定値におけるカットオフ周波数に基づいて、カットオフ周波数が校正ターゲット値と一致するような設定値を計算により直接的に求めてもよい。
【００６４】
図６は、アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数を校正した後に再度校正を行う場合の校正フローの一例を説明するための図である。以下、図１を参照しながら説明する。
【００６５】
まず、フィルタ校正モードに設定し（ステップＳ３４）、テスト画像信号２２の入力を開始する（ステップＳ３６）。以後、校正処理が終了するまで継続してテスト画像信号２２の入力が行われる。テスト画像信号２２はアンチエイリアスフィルタ４０及びＡＤ変換器５０を通過し、デジタル信号に変換されたテスト画像信号がＲＡＭ１３０の記憶領域中のフレームバッファに順次書き込まれる。
【００６６】
次に、ＣＰＵ１１０は、ＲＯＭ１２０に格納されたフィルタ校正用プログラムに従い、所定のタイミングでフレームバッファに書き込まれたテスト画像信号を読み出し、現在の設定値によるカットオフ周波数を判断する（ステップＳ３８）。
【００６７】
カットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にあると判断した場合（ステップＳ４０のＹＥＳの場合）は、現在の設定値をフラッシュメモリに保存して（ステップＳ４８）校正処理を終了する。一方、カットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合（ステップＳ４０のＮＯの場合）は、カットオフ周波数がターゲットとなるカットオフ周波数よりも低い場合（ステップＳ４２のＮＯの場合）には、カットオフ周波数を高くする方向に現在の設定値を変更する（ステップＳ４４）。一方、カットオフ周波数がターゲットとなるカットオフ周波数よりも高い場合（ステップＳ４２のＹＥＳの場合）にはカットオフ周波数を低くする方向に現在の設定値を変更する（ステップＳ４６）。以後、カットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内になるまで校正処理を続行する。
【００６８】
図７は、本実施の形態の画像処理装置がテスト画像信号生成部を含む場合におけるアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正フローの一例を説明するための図である。以下、図２を参照しながら説明する。
【００６９】
まず、フィルタ校正モードに設定する（ステップＳ５４）。フィルタ校正モードに設定されると、ＣＰＵ１１０は、フィルタ校正用の制御信号１１２を出力する。制御信号１１２により、テスト画像信号生成部１５０はテスト画像信号１５２の生成を開始し、入力選択部９０はテスト画像信号１５２を選択してアンチエイリアスフィルタ４０への供給を開始する。以後、校正処理が終了するまで継続してテスト画像信号１５２の生成及びアンチエイリアスフィルタ４０への供給が行われる。テスト画像信号１５２はアンチエイリアスフィルタ４０及びＡＤ変換器５０を通過し、デジタル信号に変換されたテスト画像信号がＲＡＭ１３０の記憶領域中のフレームバッファに順次書き込まれる。
【００７０】
次に、ＣＰＵ１１０は、ＲＯＭ１２０に格納されたフィルタ校正用プログラムに従い、所定のタイミングでフレームバッファに書き込まれたテスト画像信号を読み出し、現在の設定値によるカットオフ周波数を判断する（ステップＳ５６）。
【００７１】
カットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にあると判断した場合（ステップＳ５８のＹＥＳの場合）は、現在の設定値をフラッシュメモリに保存して（ステップＳ６６）校正処理を終了する。一方、カットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内にないと判断した場合（ステップＳ５８のＮＯの場合）は、カットオフ周波数がターゲットとなるカットオフ周波数よりも低い場合（ステップＳ６０のＮＯの場合）には、カットオフ周波数を高くする方向に現在の設定値を変更する（ステップＳ６２）。一方、カットオフ周波数がターゲットとなるカットオフ周波数よりも高い場合（ステップＳ６０のＹＥＳの場合）にはカットオフ周波数を低くする方向に現在の設定値を変更する（ステップＳ６４）。以後、カットオフ周波数とターゲットとなるカットオフ周波数の差が所定の範囲内になるまで校正処理を続行する。
【００７２】
２．電子機器
図８に、本実施の形態の電子機器の一例であるプロジェクタの構成例を示す。プロジェクタ４００は、画像処理装置１４、画像信号変換部４１０、電源供給装置４２０、バラスト回路４３０、ランプ４４０、ミラー群４５０、液晶パネル４６０Ｒ、４６０Ｇ、４６０Ｂを含む。画像信号変換部４１０は、外部から入力された画像信号４０２（輝度−色差信号やデジタルＲＧＢ信号など）をアナログのＲＧＢ信号に変換して画像信号２４Ｒ、２４Ｇ、２４Ｂを生成し、画像処理装置１４に供給する。画像処理装置１４は、３つの画像信号２４Ｒ、２４Ｇ、２４Ｂに対してそれぞれ画像処理を行い、液晶パネル４６０Ｒ、４６０Ｇ、４６０Ｂをそれぞれ駆動するための駆動信号８０Ｒ、８０Ｇ、８０Ｂを出力する。
【００７３】
電源供給装置４２０は、外部の交流電源５００から供給される交流電圧を一定の直流電圧に変換し、トランス（図示しないが、電源供給装置４２０に含まれる）の２次側にある画像処理装置１４、画像信号変換部４１０及びトランスの１次側にあるバラスト回路４３０に直流電圧を供給する。バラスト回路４３０は、起動時にランプ４４０の端子間に高電圧を発生して絶縁破壊させて放電路を形成し、以後ランプ４４０が放電を維持するためのランプ電流を供給する。ランプ４４０が発する光線は、ミラー群４５０に含まれる２つのダイクロイックミラーを通してそれぞれＲ、Ｇ、Ｂのみの３つの光線に分離され、その他のミラーで反射されて、それぞれ液晶パネル４６０Ｒ、４６０Ｇ、４６０Ｂに透過される。液晶パネル４６０Ｒ、４６０Ｇ、４６０Ｂには、それぞれ駆動信号８０Ｒ、８０Ｇ、８０Ｂによる画像が表示されており、それぞれＲ、Ｇ、Ｂのみの３つの光線が透過された後プリズムで合成された画像がスクリーン６００に表示される。
【００７４】
なお、本実施形態を利用できる電子機器としては、図８に示すプロジェクタ以外にも、画像処理装置においてアンチエイリアスフィルタを含むすべての電子機器を考えることができる。例えば、プラズマテレビ、液晶テレビ、リアプロジェクションテレビ等の電子機器が考えられる。
【００７５】
なお、本発明は本実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
【００７６】
例えば、図９及び図１０に示すように、それぞれ図１及び図２に示した画像処理装置が、比較処理部として機能する比較回路１６０（専用ハードウェア）を含むようにしてもよい。比較回路１６０は、アンチエイリアスフィルタ４０にテスト画像信号２２又は１５２が入力された時のＡＤ変換器５０の出力５２と、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正用基準データ１１４とを比較する。そして、フィルタ校正処理部１００（ＣＰＵ１１０）は、比較回路１６０における比較結果１６２に基づいて、アンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行うようにしてもよい。
【００７７】
例えば、４８０ｉ、４８０ｐ、７２０ｐ、１０８０ｉ、１０８０ｐ等の規格に対する各テスト画像信号がアンチエイリアスフィルタ４０に入力された時のＡＤ変換器５０の出力５２の振幅レベルの最大値や実効値等の期待値を各規格に対する校正用基準データとしてあらかじめＲＯＭ１２０等に格納しておき、フィルタ校正モードに設定された場合には、ＣＰＵ１１０が該当する校正用基準データ１１４を所定のタイミングでＲＯＭ１２０等から読み出し、比較回路１６０がＡＤ変換器５０の出力５２の振幅レベルの最大値や実効値等と校正用基準データ１１４とを比較するようにしてもよい。そして、フィルタ校正処理部１００（ＣＰＵ１１０）は、比較回路１６０における比較結果１６２に基づいて、例えば、ＡＤ変換器５０の出力５２の振幅レベルの最大値や実効値等が当該校正用基準データよりも小さい場合にはアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数を上げるように設定値を変更し、ＡＤ変換器５０の出力５２の振幅レベルの最大値や実効値等が当該校正用基準データよりも大きい場合にはアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数を下げるように設定値を変更することによりアンチエイリアスフィルタ４０のカットオフ周波数の校正処理を行うようにしてもよい。このように、画像処理装置１０又は１２が比較回路１６０を含むことにより、フィルタ校正処理におけるＣＰＵ１１０の負荷を軽減することができる。
【００７８】
本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本実施の形態の画像処理装置の機能ブロック図。
【図２】本実施の形態の画像処理装置の機能ブロック図の他の例。
【図３】本実施の形態の画像処理装置の機能ブロック図の他の例。
【図４】図４（Ａ）は、カットオフ周波数を可変に制御可能することができるアンチエイリアスフィルタ（ローパスフィルタ）の構成例を説明するための図であり、図４（Ｂ）は、カットオフ周波数を可変に制御可能することができるアンチエイリアスフィルタ（ローパスフィルタ）の他の構成例を説明するための図である。
【図５】出荷時におけるアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正フローの一例を説明するための図。
【図６】アンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数を校正した後に再度校正を行う場合の校正フローの一例を説明するための図。
【図７】本実施の形態の画像処理装置がテスト画像信号生成部を含む場合におけるアンチエイリアスフィルタのカットオフ周波数の校正フローの一例を説明するための図。
【図８】本実施の形態の電子機器の一例であるプロジェクタの構成例を示す図。
【図９】本実施の形態の画像処理装置の機能ブロック図の他の例。
【図１０】本実施の形態の画像処理装置の機能ブロック図の他の例。
【符号の説明】
【００８０】
１０  画像処理装置、１２  画像処理装置、１４  画像処理装置、２０  ファンクションジェネレータ、２２  テスト画像信号、２４  画像信号、３０  表示デバイス、４０  アンチエイリアスフィルタ、５０  ＡＤ変換器、６０  スケーラ、７０  ＬＣＤコントローラ、８０  ＬＣＤドライバ、９０  入力センタ悪部、１００  フィルタ校正処理部、１１０  ＣＰＵ、１１２  制御信号、１１４  校正用基準データ、１２０  ＲＯＭ、１３０  ＲＡＭ、１４０  フラッシュメモリ、１５０  テスト画像信号生成部、１５２  テスト画像信号、１６０  比較回路、１６２  比較結果、３００  可変抵抗器、３０２  コンデンサ、３１０  可変抵抗器、３１２  可変抵抗器、３１４  コンデンサ、３１６  コンデンサ、３１８  演算増幅器、４００  プロジェクタ、４０２  画像信号、４１０  画像信号変換部、４２０  電源供給装置、４３０  バラスト回路、４４０  ランプ、４５０  ミラー群、４６０Ｒ  液晶パネル、４６０Ｇ  液晶パネル、４６０Ｂ  液晶パネル、５００  交流電源、６００  スクリーン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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