(57)【要約】【課題】潜在部でのピンホールも顕在化させてピンホール試験の信頼性を高める。【解決手段】導線引張装置１において導線６の一端６ａを固定部３に固定し、そのままドラム４ａ，４ｂ間に複数回巻回して回転部材１０の上端に固定する。次に、操作レバー１１によって回転部材１０を左回転方向へ９０°回転させて、導線６を長さ方向へ引張して所定割合だけ伸張させる。この伸張により、絶縁被覆の傷や被膜の薄い部分等の潜在部でピンホールが発生する。その後、導線引張装置１から導線６を取り外し、加熱処理した後、フェノールフタレイン溶液を食塩水に滴下した試験液中に浸し、導線６を−極、試験液を＋極にして直流電圧を加えて絶縁被膜の外部に漏れる電流を検出する。【選択図】図１
2008170345.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁被覆を備えた導線に電圧を加え、前記絶縁被覆中のピンホールを通して前記絶縁被覆の外部に漏れる電流を検出するピンホール試験方法であって、
予め前記導線を長さ方向に引張して所定の割合で伸張させた後、電圧を加えて前記絶縁被膜の外部に漏れる電流を検出するようにしたことを特徴とするピンホール試験方法。
【請求項２】
伸張させた導線を、フェノールフタレイン溶液を滴下した食塩水からなる試験液に浸漬させ、前記導線と試験液との間に電圧を加えることで前記試験液に漏れる電流を検出することを特徴とする請求項１に記載のピンホール試験方法。
【請求項３】
導線を伸張させる割合を３％としたことを特徴とする請求項１又は２に記載のピンホール試験方法。
【請求項４】
請求項１乃至３の何れかに記載のピンホール試験方法に用いる導線引張装置であって、導線の一端を固定可能な固定部と、その固定部に固定された前記導線を巻回可能なドラムと、前記導線の他端が固定可能で、前記導線を長さ方向に引張して所定の割合で伸張可能な引張操作部とを備えたことを特徴とする導線引張装置。
【請求項５】
引張操作部は、少なくとも一部に円形部を備え、その円形部の周面に導線の他端を固定可能で、所定角度の回転により前記導線を前記円形部の周面に沿って長さ方向に引張可能な回転部材と、その回転部材を回転操作可能な操作レバーとからなることを特徴とする請求項４に記載の導線引張装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、絶縁被膜を備えた導線において絶縁被覆中のピンホールを検出するためのピンホール試験方法と、そのピンホール試験方法を実施するために用いられる導線引張装置とに関する。
【背景技術】
【０００２】
導線の絶縁被覆に穴や傷等の損傷（ピンホール）が生じると、漏電等のおそれがあるため、絶縁被覆の損傷を事前に検出する必要がある。このピンホール試験方法としては、エタノールにフェノールフタレイン３％を混入したフェノールフタレイン溶液を、０．２％濃度の食塩水に５〜１０滴下した試験液を用意し、この試験液中に、規定の温度で加熱処理した試験対象となる導線を、曲げたり伸ばしたりしないで浸漬し、導線を−極、試験液を＋極にして直流電圧を加える方法がよく知られている（ＪＩＳ規格Ｃ３００３  エナメル銅線及びエナメルアルミニウム線試験方法）。これにより、絶縁被覆にピンホールがあると、試験液中に赤紫色の筋（小さな気泡の集まり）が生じるため、ピンホールの存在を確認することができる。
一方、他の試験方法として、特許文献１には、電機子の鉄心等に導線を巻いてコイルを形成する際に、電源を備えた検電器に接続されるガイドで導線をガイドさせて、絶縁被覆が損傷して導電がガイドと導通した際に、電源、導線、ガイド、検電器からなる閉ループの形成により警報回路が作動するようにした被膜検査装置の発明が記載されている。また、特許文献２には、モータ電気巻線のコイルエンド部絶縁被膜をインピーダンス測定によって診断する絶縁診断装置の発明が記載されている。何れも導線に電圧を加えて絶縁被覆の外部に漏れる電流を検出する方法である。
【０００３】
【特許文献１】特開平６−３１３７８６号公報
【特許文献２】特開平９−１６３６８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、上記従来の試験方法では、何れも絶縁被膜に余計な力を加えずに、又は絶縁被覆が全く伸張していない状態で行われるため、絶縁被覆に潜在しているピンホール、すなわち傷や被膜厚みの偏り等がある箇所で将来的にピンホールが発生するおそれが高い箇所（以下この箇所を「潜在部」という。）の検出には至らない。従って、試験で合格した導線を曲げたりコイル等を形成したりした際に、潜在部でピンホールが発生することがあった。
【０００５】
そこで、本発明は、通常のピンホールは勿論、潜在部でのピンホールも顕在化させて検出でき、信頼性に優れたピンホール試験方法と、その試験方法を実施するのに好適な導線引張装置とを提供することを目的としたものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、絶縁被覆を備えた導線に電圧を加え、絶縁被覆中のピンホールを通して絶縁被覆の外部に漏れる電流を検出するピンホール試験方法であって、予め導線を長さ方向に引張して所定の割合で伸張させた後、電圧を加えて絶縁被膜の外部に漏れる電流を検出するようにしたことを特徴とするものである。
請求項２に記載の発明は、請求項１の目的に加えて、ピンホール試験を適正に行うために、伸張させた導線を、フェノールフタレイン溶液を滴下した食塩水からなる試験液に浸漬させ、導線と試験液との間に電圧を加えることで試験液に漏れる電流を検出するようにしたものである。
請求項３に記載の発明は、請求項１又は２の目的に加えて、潜在部でのピンホールを効果的に顕在化させるために、導線を伸張させる割合を３％としたものである。
【０００７】
上記目的を達成するために、請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３の何れかに記載のピンホール試験方法に用いる導線引張装置であって、導線の一端を固定可能な固定部と、その固定部に固定された導線を巻回可能なドラムと、導線の他端が固定可能で、導線を長さ方向に引張して所定の割合で伸張可能な引張操作部とを備えたことを特徴とするものである。
請求項５に記載の発明は、請求項４の目的に加えて、導線の引張操作を容易に行うために、引張操作部は、少なくとも一部に円形部を備え、その円形部の周面に導線の他端を固定可能で、所定角度の回転により導線を円形部の周面に沿って長さ方向に引張可能な回転部材と、その回転部材を回転操作可能な操作レバーとからなる構成としたものである。
【発明の効果】
【０００８】
請求項１に記載の発明によれば、通常のピンホールは勿論、潜在部でのピンホールも顕在化させて検出できるため、ピンホール試験の信頼性が向上する。
請求項２に記載の発明によれば、請求項１の効果に加えて、ピンホール試験を適正に行うことができる。
請求項３に記載の発明によれば、請求項１又は２の効果に加えて、絶縁被覆に最もストレスを与えて潜在部でのピンホールを効果的に顕在化させることができる。
請求項４に記載の発明によれば、長い導線でもスペースを取らずにコンパクトにセットでき、正確に所定の割合で伸張させることができる。また、ドラムに巻回させることで巻き癖がつくため、引張後の導線を試験液にそのまま浸漬等させることができ、ピンホール試験に係る手間の軽減にも繋がる。
請求項５に記載の発明によれば、請求項４の効果に加えて、導線の引張を簡単な操作で行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図１は、本発明のピンホール試験方法に用いる導線引張装置（以下単に「引張装置」という。）の一例を示す説明図で、引張装置１は、試験台２上に、固定部３と、一対のドラム４ａ，４ｂと、引張操作部５とを設けてなる。ここではＪＩＳ規格と同じ５ｍ長さの導線６が試験対象となっている。
まず固定部３は、試験台２上に立設され、ドラム４ａ，４ｂに上から接する水平な接線と同じ高さで導線６の一端６ａが固定される棒体で、ドラム４ａ，４ｂは、互いに同径の円形軸状を呈し、試験台２上に立設された支持棒７によって、軸心が互いに平行となる姿勢で前後方向（図１（Ａ）の右側を前方とする）へ所定間隔をおいて試験台２と非接触で支持されている。また、ドラム４ａ，４ｂの周面には、図１（Ｂ）に示すように、軸方向へ等間隔でフランジ８，８・・が周設されて、各フランジ８，８間に、導線６を巻回する際のガイド溝９，９・・を形成している。
【００１０】
そして、引張操作部５は、固定部３の後方でドラム４ａ，４ｂの軸心と平行な軸を中心として試験台２に回転可能に軸着され、半円状の円形部の端部に導線６の他端６ｂを固定可能な回転部材１０と、その回転部材１０の回転中心側の平面に固定された操作レバー１１とを有する。回転部材１０は、試験台２側との図示しないストッパ同士の係合により、操作レバー１１が鉛直方向に向く図１（Ａ）の実線位置と、同図で左回転方向へ９０°回転した二点鎖線の位置との間で回転可能となっている。但し、回転部材１０における円形部の中心には、錘１２が結合されて回転部材１０の前方側から下方へ垂下していることから、回転部材１０は、錘１２により、常態では操作レバー１１が鉛直方向となる実線位置に付勢される。
ここで、回転部材１０は、円周面の周方向長さの半分が導線６の長さ（５ｍ）の３％（１５ｃｍ）となる径で形成されている。
【００１１】
以上の如く構成された引張装置１を用いてピンホール試験を行う方法について説明する。まず、導線６の一端６ａを固定部３に固定し、そのままドラム４ａ，４ｂ上で前方へ水平に引き回した後、導線６を前方側のドラム４ｂの周面に巻いて後方へ折り返し、ドラム４ｂ，４ａの下面を通して後方側のドラム４ａの周面に巻いて前方へ折り返す。この両ドラム４ａ，４ｂ間での導線６の巻回を各ガイド溝９ごとに複数回繰り返した後、最後にドラム４ｂから後方へ折り返した導線６の他端６ｂを回転部材１０の上端に固定する。よって、導線６を伸張や弛みがない状態でドラム４ａ，４ｂを介して固定部３と回転部材１０との間に張設することができる。導線６のエナメル皮膜は、多少の擦れではダメージを受けることがないため、このようにドラム４ａ，４ｂに巻回してもピンホールが生じるおそれはない。
【００１２】
次に、引張操作部５において、操作レバー１１によって回転部材１０を図１の左回転方向へ９０°回転させる。すると、図１（Ａ）の二点鎖線に示すように、導線６が回転部材１０の半周分（１５ｃｍ）だけ長さ方向へ引っ張られて全体的に伸張することになる。この３％の伸張が、絶縁被覆であるエナメルに最もストレス（分子結合間の歪みが最大になる領域）を与えるもので、この導線６の伸張により、絶縁被覆の傷や被膜の薄い部分等の潜在部でピンホールが発生する。
【００１３】
その後、引張操作部５で操作レバー１１を元の鉛直位置に戻して回転部材１０を図１の位置に復帰させ、導線６の伸張を解除して導線６を固定部３及び回転部材１０から取り外す。後は先述したＪＩＳ規格Ｃ３００３の試験方法に則り、導線６を加熱処理した後、フェノールフタレイン溶液を食塩水に滴下した試験液中に浸し、導線６を−極、試験液を＋極にして直流電圧を加え、絶縁被膜の外部に漏れる電流を検出する方法でピンホールを検出すればよい。これにより、元々絶縁被膜に存在していたピンホールは勿論、引張装置１での伸張によって潜在部に生じたピンホールも検出可能となる。なお、ピンホール試験結果の評価については、ピンホール発生個数（赤紫色の筋の発生個数）で判断されるが、品種やサイズ等によって「０個」や「３個以下」等要求されるレベルは異なる。
【００１４】
このように、上記形態のピンホール試験方法によれば、予め導線６を長さ方向に引張して所定の割合で伸張させた後、電圧を加えて絶縁被膜の外部に漏れる電流を検出するようにしたことで、通常のピンホールは勿論、潜在部でのピンホールも顕在化させて検出できるため、ピンホール試験の信頼性が向上する。
特に、伸張させた導線６を、フェノールフタレイン溶液を滴下した食塩水からなる試験液に浸漬させ、導線６と試験液との間に電圧を加えることで試験液に漏れる電流を検出することで、ピンホール試験を適正に行うことができる。
また、導線６を伸張させる割合を３％としたことで、絶縁被覆に最もストレスを与えて潜在部でのピンホールを効果的に顕在化させることができる。
【００１５】
そして、上記ピンホール試験方法に、導線６の一端６ａを固定可能な固定部３と、その固定部３に固定された導線６を巻回可能なドラム４ａ，４ｂと、導線６の他端６ｂが固定可能で、導線６を長さ方向に引張して所定の割合で伸張可能な引張操作部５とを備えた引張装置１を用いたことで、長い導線６でもスペースを取らずにコンパクトにセットでき、正確に３％伸張させることができる。また、ドラム４ａ，４ｂに巻回させることで巻き癖がつくため、引張後の導線を試験液にそのまま浸漬させることができ、ピンホール試験に係る手間の軽減にも繋がる。
特にここでは、引張操作部５を、円形部の端部に導線６の他端６ｂを固定可能で、９０°回転により導線６を円形部の周面に沿って長さ方向に引張可能な回転部材１０と、その回転部材１０を回転操作可能な操作レバー１１とから構成したことで、導線６の引張を簡単な操作で行うことができる。
【００１６】
なお、上記形態では、導線の伸張を３％としているが、この割合に限定するものではなく、エナメルの種類等によっては５％等の他の割合を採用してもよい。また、導線の長さも適宜変更可能である。
よって、引張操作部の回転部材の回転角度も伸張の割合に合わせて変更すればよいし、その径も任意に変更可能である。また、回転部材は半円状に限らず円盤状でも差し支えなく、回転付勢も、錘に代えてトーションスプリング等の他の付勢手段を用いたり、付勢手段を省略したりしてもよい。さらに、引張操作部は固定部と同じ側に配置する必要はなく、ドラムを挟んで固定部と反対側に配置することもできる。
【００１７】
一方、ドラムの径も導線の長さに応じて適宜変更可能で、勿論２つに限らず、円形や長円形の１つのドラムのみ用いて導線を巻回させることもできる。また、２つの場合は巻回部分のみ有する半円形としても差し支えない。さらに、円形のドラムは導線への影響を最小限とするために回転可能に支持することも考えられる。
そして、導線を伸張や弛みなく正確に張設するために、固定部とドラムと引張操作部との少なくとも何れか一つを、支持台と長孔とでネジ止めしたり、ネジ送り機構を採用したりすることで、試験台の前後方向で固定位置を調整可能としてもよい。
【００１８】
その他、ピンホール試験方法としては、上記形態のようなフェノールフタレイン溶液を滴下した食塩水からなる試験液に浸漬する形態に限らず、先の背景技術で提示したような他の診断、検査装置を用いることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】導線引張装置の説明図で、（Ａ）が側面を、（Ｂ）が正面を夫々示す。
【符号の説明】
【００２０】
１・・導線引張装置、２・・試験台、３・・固定部、４ａ，４ｂ・・ドラム、５・・引張操作部、６・・導線、９・・ガイド溝、１０・・固定部材、１１・・操作レバー。
【図１】
2008170345.tif 000003