(57)【要約】【課題】ギャップ制御において、ＳＩＬを駆動するアクチュエータ保護用のヒューズが切れたとき、ＳＩＬと光ディスクが衝突する。一般的にＳＩＬは衝撃に対して構造上脆弱であり、また前述したように光ディスクの保護膜は近接場を利用した記録再生の原理上の理由により、従来からの光ディスクより極めて薄い構造とせざるを得ないため、衝突時のダメージは零に抑えるか、あるいは衝突そのものを回避する手段の構築が必要である。【解決手段】ギャップ制御時のＳＩＬの動作位置をアクチュエータに対する機械的平衡位置より光ディスクに近接する方向にオフセットさせる。そのオフセットの大きさは光ディスクの面振れ量より大きい距離とする。【選択図】図２
2008282437.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに光学的情報の記録再生をおこなうための光ディスク装置であって、
対物レンズと前記対物レンズを駆動するためのアクチュエータと所定の光学系を備えた光ピックアップと、
前記対物レンズが前記光ディスクの面振れに追従して前記対物レンズと前記光ディスクとの距離を所定の目標値に維持するための位置制御手段を有し、
前記位置制御手段は、制御電流を前記アクチュエータに供給するための電流供給手段と、
前記電流供給手段による制御電流の過電流検出及び遮断手段を有するとともに、
前記位置制御手段は、前記対物レンズの動作中心位置が前記対物レンズの前記アクチュエータとの機械的平衡位置よりも、
前記光ディスクに対して近接する方向にオフセットさせた状態で前記光ディスクと前記対物レンズの距離を所定の目標値に維持されるように制御することを特徴とした光ディスク装置。
【請求項２】
前記オフセットの大きさは前記光ディスクの有する面振れ量より大きいことを特徴とした請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記オフセットの大きさは４０ミクロンより大きいことを特徴とした請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
光ディスクに光学的情報の記録再生をおこなうための光ディスク装置であって、
対物レンズと前記対物レンズを駆動するためのアクチュエータと所定の光学系を含んだ光ピックアップと、
制御電流を前記アクチュエータに供給するための第一の電流供給手段と、前記制御電流とは異なる電流を前記アクチュエータに供給するための第二の電流供給手段と、前記第一の電流供給手段による制御電流の過電流検出及び遮断手段を有する位置制御手段と、
前記第一の電流供給手段による制御電流と前記第二の電流供給手段による電流のいずれか一方を前記アクチュエータに供給するための選択手段とを有し、
前記位置制御手段は、前記対物レンズが前記光ディスクの面振れに追従して前記対物レンズと前記光ディスクとの距離を所定の目標値に維持するよう制御するとともに、
前記選択手段は前記過電流検出及び遮断手段の動作状態に応じて、
前記アクチュエータに供給する電流を選択することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
光ディスクに光学的情報の記録再生をおこなうための光ディスク装置であって、
対物レンズと前記対物レンズを駆動するためのアクチュエータと所定の光学系を含んだ光ピックアップを有し、
前記対物レンズが前記光ディスクの面振れに追従して前記対物レンズと前記光ディスクとの距離を所定の目標値に維持するための、
位置制御手段を有し、
前記位置制御手段は制御電流を前記アクチュエータに供給するための第一の電流供給手段と、前記制御電流とは異なる電流を前記アクチュエータに供給するための第二の電流供給手段と、前記第一の電流供給手段と前記アクチュエータとの間に過電流検出及び遮断手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
前記第二の電流供給手段による電流値は前記対物レンズが前記光ディスクより遠ざかる方向の極性を有することを特徴とした請求項４または請求項５に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記第二の電流供給手段による電流値と前記アクチュエータの電流対偏移感度の積は４０ミクロンより大きいことを特徴とした請求項４または請求項５に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記第一の電流供給手段が前記アクチュエータに供給する電流の平均値は、前記第二の電流供給手段が前記アクチュエータに供給する電流値と異なる極性を有することを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、近接場光を利用して光記録媒体に信号を記録再生する光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクの高密度化へのアプローチとしてソリッドイマージョンレンズ（以下、ＳＩＬと記す）を用いた近接場光を利用したものが提案されている。
【０００３】
ＳＩＬを用いて光ディスクに対する記録再生を行うためには、ＳＩＬと光ディスクの信号記録再生面との距離を近接場光が生じる距離まで近接させ、さらに、この近接場光が生じるＳＩＬと光ディスクの信号記録再生面とのギャップを一定にさせるギャップ制御を行って、光ディスクの記録再生面の集光スポットを一定の大きさにする必要がある。このギャップ制御は、ＳＩＬからの戻り光量がＳＩＬと光ディスクとの距離に応じて変化する特性を利用して行われるが、このようなギャップ制御を用いた光ディスク装置の一例が特許文献１に開示されている。
【０００４】
なお、具体的なギャップ制御の方法は、前述したＳＩＬからの戻り光量を電圧に変換したものと、所望のギャップ量に相当する基準電圧とを比較増幅し、ＳＩＬと光ディスクのギャップを一定に保持するようにＳＩＬが装着されたアクチュエータを制御する一般的な制御方法である。また、前述した基準電圧を変えることにより異なるギャップ量を得ることも可能である。
【０００５】
しかしながら、前述したＳＩＬと光ディスクの信号記録再生面との間で、近接場光が生じるためには両者の距離は、例えば、２０ｎｍという極めて微小な値であり、ＳＩＬがその２０ｎｍという距離を維持した状態で回転する光ディスクの面振れに追従させる必要があるため、ＳＩＬと光ディスクとの衝突には十分な注意と対策を必要とする。
【０００６】
いうまでもなく衝突による受けるＳＩＬのダメージは当該光ディスクの記録再生性能に直接的な悪影響を及ぼし、また、近接場光を記録再生に利用するための光学的な制限から光ディスクの保護膜を４ミクロン（ブルーレイディスクに比べて１／２０程度）程度という極めて薄い構造としなければばらないことから、両者の衝突は保護膜へのダメージにとどまらず、光ディスクの記録再生面に対する直接的なダメージとなる可能性が高い。
【０００７】
そこで特許文献２にはＳＩＬの保持機構に圧力吸収体を設け、衝突時の衝撃を緩和することによりＳＩＬと光ディスクへの衝突時のダメージを少なくするための施策が提案されている。
【特許文献１】特開２００２−３１９１６０号公報
【特許文献２】特開２００６−２２８２８９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
一般に光ディスク装置には対物レンズを保持、駆動するためのアクチュエータへの電流供給ラインに過電流保護のための過電流検出及び遮断手段（例えばヒューズ）が設けられている。これはなんらかの原因によりアクチュエータに過大な電流が流れたとき、アクチュエータを構成するコイルの過電流による断線、あるいは発熱による周辺のデバイスへの悪影響を防止するという事情によるものである。
【０００９】
ＳＩＬによる近接場を利用した光ディスク装置においても、ＳＩＬをアクチュエータで駆動するという基本的な構成は前述した光ディスク装置についての一般的な事情はなんら変わることがなく、従って、アクチュエータへの電流供給ラインに過電流保護のための過電流検出及び遮断手段（以下ヒューズと記す）を設けることの必要性は極めて高いといえる。
【００１０】
しかしながら、我々はＳＩＬによる近接場を利用した光ディスク装置の構築に際し、上述したヒューズが切れたときの状況を考慮せざるを得ない。
【００１１】
即ち、前述したようにＳＩＬによる近接場を利用した光ディスク装置においては、ＳＩＬと光ディスク装置はＳＩＬと光ディスクの距離を２０ｎｍという極めて微小な距離に近接させながら、数十から数百ミクロンの大きさを有する光ディスクの面振れにＳＩＬを追従させるようにギャップ制御手段を構成し、アクチュエータを駆動しなければならない。
【００１２】
従って、上述した過電流によるヒューズの断線は、ギャップ制御が不能な状態になることを意味し、ＳＩＬは光ディスクの面振れ（数十から数百ミクロンの大きさを有する）に追従することが不可能であり、しかもヒューズが切れる直前はＳＩＬと光ディスクの距離は２０ｎｍに近接しているため、ヒューズが切れた瞬間にＳＩＬと光ディスクが衝突するという危険性に直面することになり、しかもその衝突は確実に発生する。
【００１３】
従って、アクチュエータへの過電流保護を目的としたヒューズの設置はＳＩＬと光ディスクの衝突防止という観点から利害が相反する事柄といえる。
【００１４】
しかも、先に掲げた特許文献２は衝突による衝撃を吸収することにより、ＳＩＬ及び光ディスクに与えるダメージを緩和するためのものであり、実際に両者が衝突したときの各々に対するダメージは零であるとはいえない。
【００１５】
一般的にＳＩＬは衝撃に対して構造上脆弱であり、また前述したように光ディスクの保護膜は近接場を利用した記録再生の原理上の理由により、従来からの光ディスクより極めて薄い構造とせざるを得ないため、衝突時のダメージは零に抑えるか、あるいは衝突そのものを回避する手段の構築が必要である。
【００１６】
本発明はかかる状況に鑑みてなされたものであって、アクチュエータへの過電流保護を目的としたヒューズの設置とＳＩＬと光ディスクとの衝突防止という利害が相反する要求事項を両立可能な光ディスク装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明による光ディスク装置は、対物レンズと前記対物レンズを駆動するためのアクチュエータと所定の光学系を備えた光ピックアップを有し、前記対物レンズが前記光ディスクの面振れに追従して前記対物レンズと前記光ディスクとの距離を所定の目標値に維持するための位置制御手段を有し、前記位置制御手段は、制御電流を前記アクチュエータに供給するための電流供給手段を有し、前記電流供給手段による制御電流の過電流検出及び遮断手段を有し前記位置制御手段は、前記対物レンズの動作中心位置が前記対物レンズの前記アクチュエータとの機械的平衡位置よりも、前記光ディスクに対して近接する方向にオフセットさせた状態で前記光ディスクと前記対物レンズの距離を所定の目標値に維持されるように構成されている。
【００１８】
また、本発明による光ディスク装置は、対物レンズと前記対物レンズを駆動するためのアクチュエータと所定の光学系を含んだ光ピックアップを有し、前記対物レンズが前記光ディスクの面振れに追従して前記対物レンズと前記光ディスクとの距離を所定の目標値に維持するための、位置制御手段を有し、前記位置制御手段は制御電流を前記アクチュエータに供給するための第一の電流供給手段と、前記制御電流とは異なる電流を前記アクチュエータに供給するための第二の電流供給手段と、前記第一の電流供給手段による制御電流の過電流検出及び遮断手段を有し、前記第一の電流供給手段による制御電流と前記第二の電流供給手段による電流のいずれか一方を前記アクチュエータに供給するための選択手段を有し、前記選択手段は前記過電流検出及び遮断手段の動作状態に応じて、前記アクチュエータに供給する電流を選択する構成としている。
【００１９】
また、本発明による光ディスク装置は、対物レンズと前記対物レンズを駆動するためのアクチュエータと所定の光学系を含んだ光ピックアップを有し、前記対物レンズが前記光ディスクの面振れに追従して前記対物レンズと前記光ディスクとの距離を所定の目標値に維持するための、位置制御手段を有し、前記位置制御手段は制御電流を前記アクチュエータに供給するための第一の電流供給手段と、前記制御電流とは異なる電流を前記アクチュエータに供給するための第二の電流供給手段と、前記第一の電流供給手段と前記アクチュエータとの間に過電流検出及び遮断手段を有した構成としている。
【００２０】
なお、第二の電流供給手段は対物レンズが光ディスクから遠ざかる方向に移動するための電流を供給する。
【発明の効果】
【００２１】
本発明の光ディスク装置によれば、上記した手段によって、対物レンズ（本発明ではＳＩＬ）の光ディスクに対する位置制御の動作中心位置が、ＳＩＬのアクチュエータに対する機械的平衡位置より光ディスクの方向に近接するように位置制御がなされるため、アクチュエータに供給される制御電流が過電流となって、その過電流によるアクチュエータコイルの断線に対する保護、あるいは過電流による発熱がアクチュエータ周辺のデバイスに及ぼす悪影響に対する保護を目的としたヒューズが切れた場合でも、その切れた瞬間にアクチュエータへの電流供給が遮断されるため、ＳＩＬはアクチュエータに対する機械的平衡位置に降下するため、ＳＩＬと光ディスクの衝突を回避することが可能である。
【００２２】
また、本発明の光ディスク装置によれば、上記した手段によって、アクチュエータに供給される制御電流が過電流となって、その過電流によるアクチュエータコイルの断線に対する保護、あるいは過電流による発熱がアクチュエータ周辺のデバイスに及ぼす悪影響に対する保護を目的としたヒューズが切れた場合でも、直ちに、アクチュエータに供給される電流がＳＩＬと光ディスクを遠ざかる方向に移動する電流のみとなるためＳＩＬと光ディスクの衝突を回避することが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００２４】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１における光ディスク装置の構成を示しており、図１において、１０は記録再生の対象としての光ディスク、１１はＳＩＬ、１２はＳＩＬ１１を駆動するためのアクチュエータ、１３は光ディスク１０に照射する光ビーム１４を光学的に処理する光学系であり、ＳＩＬ１１、アクチュエータ１２、光学系１３は光ピックアップ９を構成する。
【００２５】
また、１５はＳＩＬ１１と光ディスク１０との距離を示すギャップであり、それは、光ディスク１０に対するＳＩＬ１１の位置を示している。
【００２６】
また、１６はギャップ１５のギャップ検出信号であり、ギャップ１５の大きさを光学的に検出し、その結果を電気的に変換し、ギャップ検出信号１６とする手段は光学系１３、即ち光ピックアップ９に含まれている。
【００２７】
なお、ギャップ１５の光学的な検出手段とその結果を電気信号であるギャップ検出信号１６とする手段の図示は省略した。
【００２８】
さて、前述したギャップ検出信号１６は、光ディスク１０に対するＳＩＬ１１の位置制御手段としてのギャップ制御手段１７に入力され、所定の処理を施されてアクチュエータ１２への供給電流５０となってアクチュエータ１２に供給され、ギャップ制御が成立する。
【００２９】
また、図１に示したギャップ制御手段１７の詳細を図２に示す。
【００３０】
図２において、１６は図１の説明と同様のギャップ検出信号であり、２０は図１に示すギャップ１５の大きさに相当する基準電圧であって、基準電圧２０とギャップ検出信号１６は差動増幅器２１により比較増幅され、位相補償回路２２により適宜位相補償を施されて制御信号２３となり、さらにオフセット電圧２４と制御信号２３が加算器２５によって加算されて、アクチュエータ１２に対する電流供給手段としての電流増幅器２６に供給され、その出力電流である制御電流１９が過電流検出及び電流遮断手段としてのヒューズ１８を介して、図１にて説明したアクチュエータ１２への供給電流５０となってギャップ制御が成立することとなる。
【００３１】
従って、図１に示すギャップ１５の大きさが図２に示す基準電圧２０の大きさに相当し、かつ、オフセット電圧２４の働きにより、ＳＩＬ１１はＳＩＬ１１を駆動するアクチュエータ１２に対する機械的平衡位置に対してオフセットした状態で制御されることとなる。
【００３２】
本発明の実施の形態１における特徴は、図２において説明したように制御信号２３がオフセット電圧２４に加算された状態でギャップ１５の大きさが制御される、即ちギャップ制御が成立するということであって、図３にギャップ制御の成立時における光ディスク１０、ＳＩＬ１１（実線で示す）、アクチュエータ１２の位置関係を示す。
【００３３】
即ち、図３に示すオフセット１０１は、図２に示したオフセット電圧２４を制御電流１９に加算したことによるものであり、ＳＩＬ１１（実線）はアクチュエータ１２に対する機械的平衡位置（そのときのＳＩＬ１１を点線で示す）より１０１で示すオフセットの大きさだけ光ディスク１０に近接してギャップ１５が所定の量（図２で基準電圧２０に相当した量）になるように制御される。
【００３４】
なお、図３に示したオフセット１０１の大きさはオフセット電圧２４の大きさと電流増幅器２６の電圧電流変換係数とアクチュエータ１２の電流対偏移感度の積となる。
【００３５】
従って、図３に示したような状態でギャップ制御が成立しているとき、制御電流１９が何らかの原因により（例えば光ディスク１０の面振れが過大なときには制御電流１９も過大となる）ヒューズ１８に対して過電流となったときは、当然のことながらヒューズ１８は切断され、アクチュエータ１２に対する供給電流５０の供給は遮断され、ＳＩＬ１１は自重により、光ディスク１０より遠ざかる方向に、アクチュエータ１２に対する機械的平衡位置にまで、即ち、図３において、実線で示されたＳＩＬ１１の位置から点線で示されたＳＩＬ１１の位置まで移動することとなる。
【００３６】
従って、ギャップ１５の大きさが２０ｎｍという極めて微小な値であり、光ディスク１０に限りなく近接している場合でも、図３に示すオフセット１０１を光ディスク１０の面振れ量より大きくしておけば過大な制御電流１９によるヒューズ１８の断線時においても光ディスク１０とＳＩＬ１１は衝突することはない。
【００３７】
なお、オフセット１０１を光ディスク１０の面振れ量より大きくするためには前述したように電流増幅器２６の電圧電流変換係数とアクチュエータ１２の電流対偏移感度を考慮に入れてオフセット１０１が光ディスク１０の面振れ量より大きくなるようにオフセット電圧２４を設定しておけばよい。
【００３８】
なお、実施の形態１ではオフセット１０１を４０μｍより大きいものとした。その理由は、現在商品化されているブルーレイディスクの面振れ量が、実力値として４０μｍ以下に抑えられているという事実に基づくものであり、従って、近接場を利用してさらに高密度化された光ディスクにおいても、ブルーレイディスクの面振れ量と同様の面振れ量に抑えることが可能であるという技術的判断によるものである。
【００３９】
（実施の形態２）
次に、本発明の実施の形態２について説明する。
【００４０】
実施の形態２が実施の形態１と異なる点は、図１に示したギャップ制御手段１７の構成であり、従って、図１およびその構成要素については、適宜引用しながら説明する。
【００４１】
図４は本発明の実施の形態２における、図１に示したギャップ制御手段１７の内部構成を示したものである。
【００４２】
図４において、ギャップ検出信号１６、基準電圧２０、差動増幅器２１、位相補償回路２２、制御信号２３は実施の形態１にて説明したものと同様である。
【００４３】
また、制御信号２３は電流増幅器２６に直接入力され、その出力である制御電流１９はヒューズ１８を介してスイッチ３２の一方の入力に入力されている。
【００４４】
また、３１はアクチュエータ１２への第二の電流供給手段としての定電流源であり、その出力電流は定電流３５であって、スイッチ３２のもう一方の入力に入力されている。なお、定電流源３１は任意の電流値が設定可能であり、その定電流３５はＳＩＬ１１が光ディスク１０から遠ざかる方向に移動する極性を有する。
【００４５】
なお、スイッチ３２の出力電流は、図１にて説明したアクチュエータ１２への供給電流５０となる。
【００４６】
一方、３０は電流検出器であって、ヒューズ１８に制御電流１９が流れているか否かを検出する。また、電流検出器３０の出力信号３３はスイッチ３２の切換え信号となっており、ヒューズ１８に制御電流１９が流れていれば、スイッチ３２の出力信号（アクチュエータ１２への供給電流５０）が制御電流１９となるような状態となり、ヒューズ１８に制御電流１９が流れていなければ、スイッチ３２の出力信号（アクチュエータ１２への供給電流５０）が定電流源３１の出力電流である定電流３５となるような状態となる。
【００４７】
さて、図５はそのギャップ制御の成立時、即ち、ヒューズ１８が断線状態になく、制御電流１９がスイッチ３２によって選択され、その出力電流がアクチュエータ１２への供給電流５０となっているときにおける光ディスク１０、ＳＩＬ１１（実線で示す）、アクチュエータ１２の位置関係を示したものである。
【００４８】
図４によれば制御電流１９の生成にあたってオフセット電圧を加える要素がないため、ＳＩＬ１１（実線で示す）はアクチュエータ１２に対する機械的平衡位置を中心に動作する。従って、図５における実線で示したＳＩＬ１１の位置はアクチュエータ１２に対する機械的平衡位置を示していることになる。
【００４９】
ここで、制御電流１９が過電流状態となり、ヒューズ１８が断線したとすれば、前述したように、スイッチ３２の出力電流（アクチュエータ１２への供給電流５０）は、ＳＩＬ１１が光ディスク１０から遠ざかる方向に移動する極性を有する定電流源３１の定電流３５となるため、実線で示したＳＩＬ１１が点線で示したＳＩＬ１１の位置まで強制的に光ディスク１０から遠ざかることとなる（そのときの移動距離を１０３として示した）。
【００５０】
従って、ギャップ１５の大きさが２０ｎｍという極めて微小な値であり、光ディスク１０に限りなく近接している場合でも、図５に示すＳＩＬ１１（実線で示す）がヒューズ１８の断線時に強制的に光ディスク１０から遠ざかる距離１０３、即ち、前述した定電流源３１の出力電流３５の有する電流値とアクチュエータ１２の電流対偏移感度との積が光ディスク１０の面振れ量より大きくなるように定電流源３１の定電流３５の電流値を設定しておけば、過大な制御電流１９によるヒューズ１８の断線時においても光ディスク１０とＳＩＬ１１は衝突することはない。
【００５１】
しかも前述したようにギャップ制御の成立時においては、図４に示すように制御電流１９の生成にあたってオフセット電圧を加える要素が必要ない。従って、図５に示すようにＳＩＬ１１（実線で示す）はアクチュエータ１２に対する機械的平衡位置を中心に動作するため、アクチュエータ１２に対して余分な電流を流す必要がない。
【００５２】
なお、実施の形態２ではヒューズ１８が断線したとき、図５に示したＳＩＬ１１が強制的に光ディスク１０から遠ざかるときの移動距離１０３を４０μｍより大きくなるようにアクチュエータ１２の電流対偏移感度を考慮にいれて定電流源３１の定電流３５の有する電流値を設定している。
【００５３】
移動距離１０３を４０μｍより大きくした理由は、現在商品化されているブルーレイディスクの面振れ量が、実力値として４０μｍ以下に抑えられているという事実に基づくものであり、従って、近接場を利用してさらに高密度化された光ディスクにおいても、ブルーレイディスクの面振れ量と同様の面振れ量に抑えることが可能であるという技術的判断によるものである。
【００５４】
（実施の形態３）
次に、本発明の実施の形態３について説明する。
【００５５】
実施の形態３が実施の形態１と異なる点は、図１に示したギャップ制御手段１７の構成であり、従って、図１およびその構成要素については、適宜引用しながら説明する。
【００５６】
図６は本発明の実施の形態２における、図１に示したギャップ制御手段１７の内部構成を示したものである。
【００５７】
図６において、ギャップ検出信号１６、基準電圧２０、差動増幅器２１、位相補償回路２２、制御信号２３、オフセット電圧２４、加算器２５については実施の形態１にて説明したものと同様であり、加算器２５の出力は電流増幅器２６に入力され、制御電流１９が生成される。
【００５８】
なお、オフセット電圧２４の値は、ＳＩＬ１１が光ディスク１０に近接する方向に所定の量だけ移動するように、電流増幅器２６の電圧電流変換係数とアクチュエータ１２の電流対偏移感度を考慮して設定されている。
【００５９】
また、定電流源３１とその出力である定電流３５は実施の形態２で説明したものと同様であり、定電流３５の値はＳＩＬ１１が光ディスク１０から遠ざかる方向に所定の量だけ移動するようにアクチュエータ１２の電流対偏移感度を考慮して設定されている。
【００６０】
一方、ヒューズ１８を介した制御電流１９は電流加算点４５にて定電流３５と加算され、その結果がアクチュエータ１２への供給電流５０となる。
【００６１】
従って、制御信号２３を除いたオフセット電圧２４のみによる電流増幅器２６の出力電流の大きさと、定電流源３１の出力である定電流３５の値を等しくしておけば、あるいはそのような結果になるようにオフセット電圧２４の値を設定しておけば、電流加算点４５では、両方の電流が相殺されることになり、アクチュエータ１２に供給される電流５０の値に寄与するのは制御信号２３による電流増幅器２６の出力電流のみとなる。
【００６２】
従って、ギャップ制御の成立時においては、光ディスク１０、ＳＩＬ１１、アクチュエータ１２の位置関係は実施の形態２で説明した図５の状況がそのまま適用できる。なお、そのときのＳＩＬ１１は実線で示してある。
【００６３】
即ち、ＳＩＬ１１はアクチュエータ１２に対する機械的平衡位置で動作するギャップ制御が成立することとなる。
【００６４】
ここで、制御電流１９が過電流状態となり、ヒューズ１８が断線したとすれば、電流加算点４５に流れ込む電流は定電流源３１の出力である定電流３５のみとなり、即ち、それはアクチュエータ１２への供給電流５０となる。
【００６５】
定電流源３１の出力である定電流３５は、前述したようにＳＩＬ１１が光ディスク１０から遠ざかる方向に設定されているため、図５において実線で示したＳＩＬ１１が点線で示したＳＩＬ１１の位置まで強制的に光ディスク１０から遠ざかることとなる（そのときの移動距離を１０３として示した）。
【００６６】
従って、ギャップ１５の大きさが２０ｎｍという極めて微小な値であり、光ディスク１０に限りなく近接している場合でも、図５に実線で示すＳＩＬ１１がヒューズ１８の断線時に強制的に光ディスク１０から遠ざかる距離１０３、即ち、前述した定電流源３１の定電流３５の有する電流値とアクチュエータ１２の電流対偏移感度との積が光ディスク１０の面振れ量より大きくなるように定電流源３１の定電流３５の電流値を設定しておけば、過大な制御電流１９によるヒューズ１８の断線時においても光ディスク１０とＳＩＬ１１は衝突することはない。
【００６７】
しかも前述したようにギャップ制御の成立時においては、オフセット電圧２４のみによる電流増幅器２６の出力電流の大きさと、定電流源３１の出力である定電流３５の値を等しくしておけば、あるいはそのような結果になるようにオフセット電圧２４の値を設定しておけば、図５に示すようにＳＩＬ１１（実線で示す）はアクチュエータ１２に対する機械的平衡位置を中心に動作することになり、アクチュエータ１２に対して余分な電流を流す必要がない。
【００６８】
なお、実施の形態３ではヒューズ１８が断線したとき、ＳＩＬ１１が強制的に光ディスク１０から遠ざかるときの移動距離１０３（図５に示す）を４０μｍより大きくなるようにアクチュエータ１２の電流対偏移感度を考慮にいれて定電流源３１の定電流３５の有する電流値を設定している。
【００６９】
移動距離１０３を４０μｍより大きくした理由は、現在商品化されているブルーレイディスクの面振れ量が、実力値として４０μｍ以下に抑えられているという事実に基づくものであり、従って、近接場を利用してさらに高密度化された光ディスクにおいても、ブルーレイディスクの面振れ量と同様の面振れ量に抑えることが可能であるという技術的判断によるものである。
【産業上の利用可能性】
【００７０】
本発明による光ディスク装置は、ＳＩＬと光ディスクの間隙を均一に保つギャップ制御が破綻したとしても、ＳＩＬと光ディスクの衝突を防止することができ、近接場光を利用して光記録媒体に信号を記録再生する光ディスク装置として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明の実施の形態１の構成図
【図２】本発明の実施の形態１の構成図
【図３】本発明の実施の形態１の動作説明図
【図４】本発明の実施の形態２の構成図
【図５】本発明の実施の形態２の動作説明図
【図６】本発明の実施の形態３の構成図
【符号の説明】
【００７２】
９    光ピックアップ
１０    光ディスク
１１    ソリッドイマージョンレンズ（ＳＩＬ）
１２    アクチュエータ
１３    光学系
１４    光ビーム
１５    ギャップ
１６    ギャップ検出信号
１７    ギャップ制御手段
１８    ヒューズ
１９    制御電流
２０    基準電圧
２３    制御信号
２４    オフセット電圧
２５    加算器
２６    電流増幅器
３０    電流検出器
３１    定電流源
３２    スイッチ
３５    定電流
４５    電流加算点
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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