(57)【要約】【課題】マルチプロセッサ検査装置により検査の初期段階で行われる電源のＯＦＦ／ＯＮ繰り返し試験において、ある任意の１個のプロセッサがＯＳを立ち上げる間、そのプロセッサが立ち上げ処理のメイン制御を行うことにより、そのプロセッサのみが高負荷状態となることを利用して、プロセッサの故障を早期に検出する。【解決手段】マルチプロセッサ検査装置は、複数のプロセッサから、検査するプロセッサを選択する起動確認プロセッサ制御部を備える。起動確認プロセッサ制御部は、オペレーティングシステムの起動を行う第１のプロセッサを設定する検査対象特定設定手段と、オペレーションシステムが起動する度に第１のプロセッサ以外の複数のプロセッサに対し、立上げ処理を制御する立上げ制御手段と、複数のプロセッサが全て立上りオペレーティングシステムの起動が完了すると、当該オペレーティングシステムの立下げ処理を制御する立下げ制御手段とを備える。【選択図】図１
2008197794.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のプロセッサを備えるマルチプロセッサシステムにおいて、個々のプロセッサを検査するマルチプロセッサ検査装置であって、
検査する前記プロセッサを選択可能に制御する起動確認プロセッサ制御部を備え、
前記起動確認プロセッサ制御部は、
前記複数のプロセッサのうち、電源投入によりオペレーティングシステムの起動を行う第１のプロセッサを特定可能に設定する検査対象特定設定手段と、
前記検査対象特定設定手段によって特定された前記第１のプロセッサに対し、前記電源投入を行うと共に、前記オペレーションシステムが起動する度に当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、立上げ処理を制御する立上げ制御手段と、
前記立上げ処理によって前記第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサが全て立上ると共に、前記オペレーティングシステムの起動が完了すると、当該オペレーティングシステムの立下げ処理を制御する立下げ制御手段と、
を備えることを特徴とするマルチプロセッサ検査装置。
【請求項２】
前記検査対象特定設定手段は、
前記立下げ制御手段によって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、割り当てられた順番に基づいて第２のプロセッサを設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行う
ことを特徴とする請求項１記載のマルチプロセッサ検査装置。
【請求項３】
前記検査対象特定設定手段は、
前記複数のプロセッサの中から特定可能に設定される前記第１のプロセッサを、無作為に設定すると共に、
前記立下げ制御手段によって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、前記第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、無作為に第２のプロセッサを設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行う
ことを特徴とする請求項１記載のマルチプロセッサ検査装置。
【請求項４】
前記検査対象特定設定手段は、
前記立下げ制御手段によって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、当該第１のプロセッサに対し再び検査するプロセッサとして設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行う
ことを特徴とする請求項１記載のマルチプロセッサ検査装置。
【請求項５】
前記無作為に設定される前記第１のプロセッサが、当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサと比較して設定される回数が少ない場合には、設定された回数の少ないプロセッサを優先的に当該第１のプロセッサとして設定する
ことを特徴とする請求項３記載のマルチプロセッサ検査装置。
【請求項６】
複数のプロセッサを備えるマルチプロセッサシステムにおいて、個々のプロセッサを検査するマルチプロセッサ検査装置におけるマルチプロセッサ検査方法であって、
検査する前記プロセッサを選択可能に制御する起動確認プロセッサ制御部を備え、
前記起動確認プロセッサ制御部は、
前記複数のプロセッサのうち、電源投入によりオペレーティングシステムの起動を行う第１のプロセッサを特定可能に設定する検査対象特定設定ステップと、
前記検査対象特定設定ステップによって特定された前記第１のプロセッサに対し、前記電源投入を行うと共に、前記オペレーションシステムが起動する度に当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、立上げ処理を制御する立上げ制御ステップと、
前記立上げ処理によって前記第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサが全て立上ると共に、前記オペレーティングシステムの起動が完了すると、当該オペレーティングシステムの立下げ処理を制御する立下げ制御ステップと、
を備えることを特徴とするマルチプロセッサ検査方法。
【請求項７】
前記検査対象特定設定ステップは、
前記立下げ制御ステップによって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、割り当てられた順番に基づいて第２のプロセッサを設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行う
ことを特徴とする請求項６記載のマルチプロセッサ検査方法。
【請求項８】
前記検査対象特定設定ステップは、
前記複数のプロセッサの中から特定可能に設定される前記第１のプロセッサを、無作為に設定すると共に、
前記立下げ制御ステップによって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、前記第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、無作為に第２のプロセッサを設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行う
ことを特徴とする請求項６記載のマルチプロセッサ検査方法。
【請求項９】
前記検査対象特定設定ステップは、
前記立下げ制御ステップによって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、当該第１のプロセッサに対し再び検査するプロセッサとして設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行う
ことを特徴とする請求項６記載のマルチプロセッサ検査方法。
【請求項１０】
前記無作為に設定される前記第１のプロセッサが、当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサと比較して設定される回数が少ない場合には、設定された回数の少ないプロセッサを優先的に当該第１のプロセッサとして設定する
ことを特徴とする請求項８記載のマルチプロセッサ検査方法。
【請求項１１】
複数のプロセッサを備えるマルチプロセッサシステムにおいて、個々のプロセッサを検査するマルチプロセッサ検査装置におけるマルチプロセッサ検査プログラムであって、
検査する前記プロセッサを選択可能に制御する起動確認プロセッサ制御部を備え、
前記起動確認プロセッサ制御部は、
前記複数のプロセッサのうち、電源投入によりオペレーティングシステムの起動を行う第１のプロセッサを特定可能に設定する検査対象特定設定手順と、
前記検査対象特定設定手順によって特定された前記第１のプロセッサに対し、前記電源投入を行うと共に、前記オペレーションシステムが起動する度に当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、立上げ処理を制御する立上げ制御手順と、
前記立上げ処理によって前記第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサが全て立上ると共に、前記オペレーティングシステムの起動が完了すると、当該オペレーティングシステムの立下げ処理を制御する立下げ制御手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするマルチプロセッサ検査プログラム。
【請求項１２】
前記検査対象特定設定手順は、
前記立下げ制御手順によって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、割り当てられた順番に基づいて第２のプロセッサを設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行う
ことをコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１１記載のマルチプロセッサ検査プログラム。
【請求項１３】
前記検査対象特定設定手順は、
前記複数のプロセッサの中から特定可能に設定される前記第１のプロセッサを、無作為に設定すると共に、
前記立下げ制御手順によって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、前記第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、無作為に第２のプロセッサを設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行う
ことをコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１１記載のマルチプロセッサ検査プログラム。
【請求項１４】
前記検査対象特定設定手順は、
前記立下げ制御手順によって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、当該第１のプロセッサに対し再び検査するプロセッサとして設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行う
ことをコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１１記載のマルチプロセッサ検査プログラム。
【請求項１５】
前記無作為に設定される前記第１のプロセッサが、当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサと比較して設定される回数が少ない場合には、設定された回数の少ないプロセッサを優先的に当該第１のプロセッサとして設定する
ことをコンピュータに実行させることを特徴とする請求項１３記載のマルチプロセッサ検査プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、マルチプロセッサ検査装置、マルチプロセッサ検査方法及びマルチプロセッサ検査プログラムに関し、特に、複数のプロセッサを備えると共に、各プロセッサを高負荷状態にして負荷試験を行うマルチプロセッサ検査装置、マルチプロセッサ検査方法及びマルチプロセッサ検査プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、複数のプロセッサを検査するマルチプロセッサ検査装置として、次のようなマルチプロセッサ検査装置が知られている。
【０００３】
このマルチプロセッサ検査装置の構成を図６に記載すると、図６の記載されたマルチプロセッサ検査装置は、プロセッサ２１と、プロセッサ２２と、プロセッサ２３と、プロセッサ２４と、操作部２５と、試験実行制御部２６と、信号線であるシステムバス２００とを備えている。
【０００４】
プロセッサ２１、プロセッサ２２、プロセッサ２３、プロセッサ２４は、このマルチプロセッサ検査装置によって各プロセッサの動作を確認する検査対象となっている。
【０００５】
操作部２５は、プロセッサ２１、プロセッサ２２、プロセッサ２３、プロセッサ２４の中から、１個のプロセッサを選択して、これにブートストラップ動作を行わせる。
【０００６】
ここで、ブートストラップ動作とは、コンピュータシステムの電源を入れたときに、オペレーティングシステムを起動するまでの処理の流れを指す。
【０００７】
試験実行制御部２６は、試験実行の手順及び試験実行のためのデータ等が記載されている。
【０００８】
次に、このマルチプロセッサ検査装置の概略動作を説明する。
【０００９】
まず、操作部２５は、試験を行う１個のプロセッサ２１を選択する。すると、試験実行制御部２６は、操作部２５が選択したプロセッサ２１のみの構成でマルチプロセッサ検査装置を起動すると共に、検査用プログラムによってプロセッサ２１を検査し、検査が終了すると、そのマルチプロセッサ検査装置を立ち下げる。
【００１０】
そして、マルチプロセッサ検査装置が立ち下がると、再度、操作部２５は、次のプロセッサ２２を選択する。
【００１１】
次に選択されたプロセッサ２２のみの構成で検査装置を起動し、同様に検査用プログラムによってプロセッサ２２を検査し、この動作を、順次、プロセッサ毎に繰り返す。
【００１２】
このようなマルチプロセッサ検査装置に関するものが、特許文献１に記載されている。
【特許文献１】特開平２−２７８３６４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、特許文献１に記載されたものでは、１個ずつプロセッサを立ち上げて検査しているので、立ち上げ時に他のプロセッサに対し、立ち上げ指示及び各プロセッサからの立ち上げ終了の情報収集を行う回路部分が動作しておらず、他のプロセッサに対する接続部分（すなわち、インターフェース部分）の検査ができていないという問題があった。
【００１４】
また、プロセッサの検査を行うまでに、マルチプロセッサ検査装置に接続された他の構成要素の動作確認が終了しないと、プロセッサが制御すべき他の構成要素の制御部分の検査ができないので、通常、マルチプロセッサ検査装置による最終段階で行われるプロセッサ検査と同等な検査内容が必要となり、検査を実施する時期が検査の最終段階となってしまうという問題があった。
【００１５】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、マルチプロセッサ検査装置により、検査の初期段階で行われる電源のＯＦＦ／ＯＮ繰り返し試験において、ある任意の１個のプロセッサがＯＳ（operating system）を立ち上げる間、そのプロセッサが立ち上げ処理のメイン制御を行うことにより、そのプロセッサのみが高負荷状態となることを利用して、プロセッサの故障を早期に検出するマルチプロセッサ検査装置、マルチプロセッサ検査方法及びマルチプロセッサ検査プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
本発明に係るマルチプロセッサ検査装置は、複数のプロセッサを備えるマルチプロセッサシステムにおいて、個々のプロセッサを検査するマルチプロセッサ検査装置であって、検査する前記プロセッサを選択可能に制御する起動確認プロセッサ制御部を備え、前記起動確認プロセッサ制御部は、前記複数のプロセッサのうち、電源投入によりオペレーティングシステムの起動を行う第１のプロセッサを特定可能に設定する検査対象特定設定手段と、前記検査対象特定設定手段によって特定された前記第１のプロセッサに対し、前記電源投入を行うと共に、前記オペレーションシステムが起動する度に当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、立上げ処理を制御する立上げ制御手段と、前記立上げ処理によって前記第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサが全て立上ると共に、前記オペレーティングシステムの起動が完了すると、当該オペレーティングシステムの立下げ処理を制御する立下げ制御手段と、を備えることを特徴とする。
【００１７】
また本発明に係るマルチプロセッサ検査装置は、前記検査対象特定設定手段が、前記立下げ制御手段によって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、割り当てられた順番に基づいて第２のプロセッサを設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行うようにしても良い。
【００１８】
また本発明に係るマルチプロセッサ検査装置は、前記検査対象特定設定手段が、前記複数のプロセッサの中から特定可能に設定される前記第１のプロセッサを、無作為に設定すると共に、前記立下げ制御手段によって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、前記第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサに対し、無作為に第２のプロセッサを設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行うようにしても良い。
【００１９】
また本発明に係るマルチプロセッサ検査装置は、前記検査対象特定設定手段が、前記立下げ制御手段によって前記第１のプロセッサが前記オペレーションシステムを立下げた後、当該第１のプロセッサに対し再び検査するプロセッサとして設定し、前記立上げ処理と前記立下げ処理とを繰り返し行うようにしても良い。
【００２０】
また本発明に係るマルチプロセッサ検査装置は、前記無作為に設定される前記第１のプロセッサが、当該第１のプロセッサ以外の前記複数のプロセッサと比較して設定される回数が少ない場合には、設定された回数の少ないプロセッサを優先的に当該第１のプロセッサとして設定するようにしても良い。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、電源のＯＦＦ／ＯＮ繰り返し試験は、マルチプロセッサ検査装置により、検査の初期段階に行われ、且つ、立ち上げ毎に立上げ処理を行うプロセッサを任意に設定できるので、その立上げ処理を行うことになったプロセッサは、立ち上げ処理時に高負荷状態となる。
【００２２】
従って、電源のＯＦＦ／ＯＮ繰り返し試験を利用して、立上げ処理を制御するプロセッサを任意に設定することにより、そのプロセッサだけ高負荷状態にさせることができるので、早期にプロセッサの故障を検出することができる。かくして、プロセッサの故障を早期に検出するマルチプロセッサ検査装置、マルチプロセッサ検査方法及びマルチプロセッサ検査プログラムを実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
次に、本発明の実施の形態の構成について図面を参照して詳細に説明する。
（第１の実施の形態）
（１）第１の実施の形態によるマルチプロセッサ検査装置の構成
図１を参照すると、第１の実施の形態によるマルチプロセッサ検査装置は、プロセッサ１と、プロセッサ２と、プロセッサ３と、プロセッサ４と、システムバス制御部５と、ブートストラッププロセッサ制御部６と、信号線であるシステムバス１００とを備えている。
【００２４】
プロセッサ１から４は、任意に選択された１個のブートストラッププロセッサと、３個のアプリケーションプロセッサとに入れ替わる構成である。
【００２５】
システムバス制御部５は、システムバス１００を制御し、マルチプロセッサ検査装置で実行される命令を出力すると共に、検査するプロセッサを選択する制御部である。
【００２６】
ブートストラッププロセッサ制御部６は、プロセッサ１から４のうち、任意に選択された１個のプロセッサをブートストラッププロセッサとして設定する。
【００２７】
ここで、ブートストラッププロセッサ制御部６は、立ち上げ毎に若番から老番へ順次ブートストラッププロセッサを変更する順次設定部６０と、立ち上げ毎にランダムでブートストラッププロセッサを変更するランダム設定部６１と、最若番のプロセッサをブートストラッププロセッサに固定できる固定設定部６２とを備えている。
【００２８】
なお、ランダム設定部６１は、ランダムで設定する場合に選択される回数が他のプロセッサより極端に少ないプロセッサがある場合には、次のブートプロセッサを立ち上げる立ち上げ時に、優先的にブートストラッププロセッサに設定する優先指示部６３を更に備えている。
（２）マルチプロセッサ検査装置における順次設定処理手順
次に、図１のブロック図と、図２のフローチャートを参照して、第１の実施の形態によるマルチプロセッサ検査装置の順次設定処理手順について、詳細に説明する。
【００２９】
第１の実施の形態の順次設定処理手順では、ブートストラッププロセッサの設定方法として、立ち上げ毎に若番から老番へ順次ブートストラッププロセッサを変更する方法が、選択されている場合について以下に説明する。
【００３０】
まず、ブートストラッププロセッサ制御部６は、オペレータから設定される情報により順次設定部６０の有する機能が選択され、プロセッサ１から４のうち、プロセッサ１をブートストラッププロセッサと設定する（ステップＳ０１）。
【００３１】
そして、ブートストラッププロセッサ制御部６は、順次設定部６０によって順次ブートストラッププロセッサを変更する機能を有効と認識し、プロセッサ１をブートストラッププロセッサとして、マルチプロセッサ検査装置と、プロセッサ２から４とに認識させる（ステップＳ０２）。
【００３２】
そして、ブートストラッププロセッサ制御部６は、マルチプロセッサ検査装置の検査として、電源（図中では、ＤＣと記載する。）のＯＦＦ／ＯＮ繰り返し試験を開始すると共に、アプリケーションプロセッサの立ち上げ処理を開始する（ステップＳ０３）。
【００３３】
具体的には、プロセッサ１は、マルチプロセッサ検査装置の立ち上げ中に、プロセッサ２から４のアプリケーションプロセッサに対して、立ち上げ指示をシステムバス制御部５経由で送出する。
【００３４】
そして、ブートストラッププロセッサであるプロセッサ１からの指示を受けたプロセッサ２から４は、各自身の立ち上げ処理が終了すると、立ち上げ処理終了の報告をシステムバス制御部５経由で、ブートストラッププロセッサであるプロセッサ１へ送出しアイドル状態（処理待ち状態）に入る。
【００３５】
そして、プロセッサ１は、全てのプロセッサ２乃至４から立ち上げ終了報告を受付けると共に、ＯＳの起動が完了するのを待ち、マルチプロセッサ検査装置としての立ち上げの終了までを制御する。
【００３６】
マルチプロセッサ検査装置を立ち上げ時、ブートストラッププロセッサ（この場合、プロセッサ１）は、立ち上げ処理のメイン制御を行う為、他のアプリケーションプロセッサよりも高負荷状態となる（ステップＳ０４）。
【００３７】
そして、ブートストラッププロセッサがＯＳの起動までマルチプロセッサ検査装置の立ち上げが完了すると、ブートストラッププロセッサ制御部６は、マルチプロセッサ検査装置を立ち下げ状態に移行する（ステップＳ０５）。
【００３８】
マルチプロセッサ検査装置の立ち下げが完了すると電源がＯＦＦ状態になり、ブートストラッププロセッサ制御部６は、オペレータによって設定された情報によって、新規にプロセッサ２をブートストラッププロセッサとして選択すると共に、マルチプロセッサ検査装置と、プロセッサ１と、プロセッサ３と、プロセッサ４とに認識されると（ステップＳ０６）、ステップＳ０３に戻る。
【００３９】
そして、ブートストラッププロセッサ制御部６は、マルチプロセッサ検査装置の電源をＯＮさせて、プロセッサ２をブートストラッププロセッサとして、マルチプロセッサ検査装置の立ち上げ状態へ移行する。
【００４０】
これに対し、ステップＳ０６において、マルチプロセッサ検査装置の立ち下げ処理が完了した場合であって、ブートストラッププロセッサに異常が発見された場合には、ステップＳ０７へ移動し、終了する。
【００４１】
この図２のフローチャートの動作について、プロセッサの最老番がブートストラッププロセッサとなるまで繰り返し、更に、最老番まで行った次は、最若番に戻り、マルチプロセッサ検査装置の立ち上げ処理を繰り返す。
【００４２】
このように、順次、ブートストラッププロセッサをマルチプロセッサ検査装置の立ち上げ毎に変更していくことにより、各プロセッサが立ち上げ処理に高負荷状態と成り得るので、プロセッサの故障を早期に検出することが可能となる。
【００４３】
更に、ブートストラッププロセッサを設定する他の方法については、後述する他の実施の形態に記載する。
（３）マルチプロセッサ検査装置の順次設定処理手順の効果
本実施の形態によれば、電源のＯＦＦ／ＯＮ繰り返し試験は、マルチプロセッサ検査装置において行われる検査の初期段階に行われ、且つ、マルチプロセッサ検査装置の立ち上げ処理毎にブートストラッププロセッサを任意に設定することにより、ブートストラッププロセッサとなったプロセッサは、立ち上げ処理において高負荷状態になる。
【００４４】
これにより、マルチプロセッサ検査装置の検査において行われる電源のＯＦＦ／ＯＮ繰り返し試験を利用して、ブートストラッププロセッサを任意に設定することにより、早期にプロセッサの故障を検出することができる。
（他の実施の形態）
（４）マルチプロセッサ検査装置のランダム設定処理手順
次に、マルチプロセッサ検査装置のランダム設定処理手順について、図３に示すフローチャートによって説明を行う。
【００４５】
但し、図２で示した順次設定処理手順と同一の処理を行う箇所には同一のステップを付すことにし、その説明は省略する。
【００４６】
図３に示すランダム設定処理手順が図２に示した順次設定処理手順と異なる点は、ステップＳ１１のブートストラッププロセッサの設定と、ステップＳ１２のランダム設定を有効化する設定と、ステップＳ１３の次にランダムでプロセッサを変更し認識されたか？の３つのステップが異なっている。
【００４７】
まず、ステップＳ１１において、ブートストラッププロセッサ制御部６は、オペレータから設定される情報によりランダム設定部６１の有する機能が選択され、プロセッサ１から４のうち、何れか１つのプロセッサをブートストラッププロセッサとしてランダムに設定する。
【００４８】
次に、ステップＳ１２において、ブートストラッププロセッサ制御部６は、ランダム設定部６１によってランダムにブートストラッププロセッサを変更する機能を有効と認識し、例えば、プロセッサ３をブートストラッププロセッサとして、マルチプロセッサ検査装置と、プロセッサ１と、プロセッサ２と、プロセッサ４とに、認識させる。
【００４９】
これにより、ブートストラッププロセッサ制御部６は、プロセッサ３をブートストラッププロセッサとして、ステップＳ０３以降の処理を実施することができる。
【００５０】
また、ステップＳ１３においてブートストラッププロセッサ制御部６は、ステップＳ０５において実施されたマルチプロセッサ検査装置の立ち下げ処理が完了し、且つ、電源がＯＦＦとなったことを確認すると、次にブートストラッププロセッサとなるプロセッサをランダムに変更する。
【００５１】
次に検査するプロセッサが選択されると、マルチプロセッサ検査装置と、他のプロセッサに認識された後、ステップＳ０３に戻る。
【００５２】
これにより、ブートストラッププロセッサ制御部６は、ランダム設定部６１が設定されることによって、ステップＳ１３において次にブートストラッププロセッサとなるプロセッサをランダムに変更することができるので、高負荷試験にバリエーションを持たせることができ、プロセッサの故障検出率を高めることができる。
（５）マルチプロセッサ検査装置の固定設定処理手順
次に、マルチプロセッサ検査装置の固定設定処理手順について、図４に示すフローチャートによって説明を行う。
【００５３】
但し、図２で示した順次設定処理手順と同一の処理を行う箇所には同一のステップを付すことにし、その説明は省略する。
【００５４】
図４に示す固定設定処理手順が図２に示した順次設定処理手順と異なる点は、ステップＳ２１のブートストラッププロセッサの設定と、ステップＳ２２の最若番の固定設定を有効化する設定と、ステップＳ２３の最若番のプロセッサであると確認し認識されたか？の３つのステップが異なっている。
【００５５】
まず、ステップＳ２１において、ブートストラッププロセッサ制御部６は、オペレータから設定される情報により固定設定部６２の有する機能が選択され、プロセッサ１から４のうち、最若番のプロセッサ１をブートストラッププロセッサとして設定する。
【００５６】
次に、ステップＳ２２において、ブートストラッププロセッサ制御部６は、固定設定部６２によって最若番のプロセッサを常にブートストラッププロセッサとして設定する機能を有効と認識し、例えば、プロセッサ１をブートストラッププロセッサとして、マルチプロセッサ検査装置と、プロセッサ２と、プロセッサ３と、プロセッサ４とに認識させる。
【００５７】
これにより、ブートストラッププロセッサ制御部６は、プロセッサ１をブートストラッププロセッサとして、ステップＳ０３以降の処理を実施することができる。
【００５８】
また、ステップＳ２３において、ブートストラッププロセッサ制御部６は、ステップＳ０５において実施されたマルチプロセッサ検査装置の立ち下げ処理が完了し、且つ、電源がＯＦＦとなったことを確認すると、再び最若番のプロセッサがブートストラッププロセッサとして選択されているか確認し、マルチプロセッサ検査装置と、他のプロセッサとに認識された後、ステップＳ０３に戻る。
【００５９】
これにより、ブートストラッププロセッサ制御部６は、固定設定部６２が設定されることによって、ステップＳ２３において、ブートストラッププロセッサとなる最若番のプロセッサが固定して選択され設定されることにより、高負荷試験を実施すると共に耐久性試験も兼ねることができるので、プロセッサの耐久性による故障も検出することができる。
（６）マルチプロセッサ検査装置の優先指示処理手順
次に、マルチプロセッサ検査装置の優先指示処理手順について、図５に示すフローチャートによって説明を行う。
【００６０】
また本実施の形態では、図１に示したマルチプロセッサ検査装置のランダム設定部６１を監視する優先指示部６３を更に備えている。
【００６１】
なお、本実施の形態による優先指示処理手順（図５）は、前述のランダム設定処理手順（図３）に適用して更に好適なものである。
【００６２】
具体的には、図５に示すフローチャートのステップＳ３３では、図３のステップＳ１３においてランダムに各プロセッサをブートストラッププロセッサとして変更する場合であって、優先指示部６３によって処理状況を監視し、ある特定のプロセッサの選択回数が他のプロセッサと比較して高負荷試験が実施される回数に差が開き、極端に少ないなどの偏りがある場合には、優先指示部６３が、ブートストラッププロセッサとして選択された回数が最小のプロセッサを、次に立ち上げるブートストラッププロセッサとして選択指示するものである。
【００６３】
なお、図５に示すフローチャートのステップＳ３４は、優先指示部６３によって選択指示されたプロセッサを設定し、マルチプロセッサ検査装置と他のプロセッサに認識されたか判断する。
【００６４】
これにより、ブートストラッププロセッサ制御部６がランダム設定部６１のランダム設定処理手順によって、プロセッサがブートストラッププロセッサとしてランダムに設定される場合であって優先指示部６３によって処理状況を監視することにより、各プロセッサの高負荷試験が実施される回数の平均化を図ることができるので、プロセッサの故障を検出する故障検出率の安定化を図ることができる。
【００６５】
なお、本発明の第１の実施の形態等に示したブートストラッププロセッサ制御部６は、図示しない操作部を設け、順次設定部６０と、ランダム設定部６１と、固定設定部６２とを選択するようにしてもよく、また或いは、予めプログラムによって何れかの処理手順が設定されており、プロセッサ１、プロセッサ２、プロセッサ３、プロセッサ４が載置されることにより、図示しないスタートボタンを押下操作によって高負荷試験を実施するようにしても良い。
【００６６】
また更に、各処理手順に示した処理方法の他に、カウンタを組み合わせた実施の形態であって、例えば、高負荷試験を実施した処理回数に基づいて、他のプロセッサを選択するようにしても良く、また或いは、高負荷試験を実施したプロセッサが所定の回数を超えた場合には、ステップＳ０７へ進み、終了するようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明における第１の実施の形態のマルチプロセッサ検査装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明における第１の実施の形態の順次設定処理手順を表すフローチャートである。
【図３】本発明における他の実施の形態のランダム設定処理手順を表すフローチャートである。
【図４】本発明における他の実施の形態の固定設定処理手順を表すフローチャートである。
【図５】本発明における他の実施の形態の優先指示処理手順を表すフローチャートである。
【図６】従来技術におけるマルチプロセッサ検査装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００６８】
１、２、３、４  プロセッサ
５  システムバス制御部
６  ブートストラッププロセッサ制御部
２１、２２、２３、２４  プロセッサ
２５  操作部
２６  試験実行制御部２６
６０  順次設定部
６１  ランダム設定部
６２  固定設定部
６３  優先指示部
１００、２００  システムバス
【図１】
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【図２】
2008197794.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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