(57)【要約】【課題】ＣＴ一次試験の作業性の向上が図れる試験用リード接続端子を提供する。【解決手段】試験用リード接続端子１０は、絶縁材料からなるパネル板１１と、パネル板１１の表面に形成された導電材料からなる配線部１２とを具備する。配線部１２には、手締めネジ１５が螺合するネジ穴１３1〜１３12が形成されており、アース部１２Eと接続部１２Cと第１および第２の赤相リード接続部１２R1，１２R2と第１および第２の白相試験用リード接続部１２1W，１２2Wと第１および第２の青相試験用リード接続部１２1B，１２2Bとはそれぞれ、通常はネジ穴１３1〜１３12によって電気的に分離されているが、手締めネジ１５をネジ穴１３1〜１３12に螺合することにより電気的に導通するようにされている。【選択図】図１
2008311304.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
変流器（４０R，４０W，４０B）の試験を実施する際に用いられる試験用リード接続端子（１０）であって、
絶縁材料からなるパネル板（１１）と、該パネル板の表面に形成された導電材料からなる配線部（１２）とを具備し、
手締めネジ（１５）が螺合するネジ穴（１３1〜１３12）が前記配線部に形成されており、該配線部が、通常は前記ネジ穴によって電気的に分離されているが前記手締めネジを前記ネジ穴に螺合することにより電気的に導通するようにされた部分（１２E，１２C，１２1R，１２2R，１２1W，１２2W，１２1B，１２2B）を備えている、
ことを特徴とする、試験用リード接続端子。
【請求項２】
前記部分が、
アース部（１２E）と、
該アース部と平行に形成された接続部（１２C）と、
該接続部から分岐された試験用リード接続部（１２R1，１２R2，１２1W，１２2W，１２1B，１２2B）と、
を含むことを特徴とする、請求項１記載の試験用リード接続端子。
【請求項３】
前記アース部が、アース線を接続するためのアース線接続手段を有し、
前記接続部が、接続線を接続するための接続線接続手段を有し、
前記試験用リード接続部が、試験用リードを接続するための試験用リード接続手段を有する、
ことを特徴とする、請求項２記載の試験用リード接続端子。
【請求項４】
前記試験用リード接続部が、第１および第２の赤相試験用リード接続部（１２R1，１２R2）と、第１および第２の白相試験用リード接続部（１２W1，１２W2）と、第１および第２の青相試験用リード接続部（１２B1，１２B2）とを備え、
前記第１の赤相試験用リード接続部が、前記接続部の一端側に前記アース部と反対方向に垂直に形成されており、
前記第２の赤相試験用リード接続部が、前記第１の赤相試験用リード接続部に隣接して、前記アース部から前記接続部を通って該第１の赤相試験用リード接続部と平行に形成されており、
前記第１の白相試験用リード接続部が、前記接続部の中央部に前記アース部と反対方向に垂直にかつ前記第２の赤相試験用リード接続部１２と隣接して形成されており、
前記第２の白相試験用リード接続部が、前記第１の白相試験用リード接続部に隣接して、前記アース部から前記接続部を通って該第１の白相試験用リード接続部と平行に形成されており、
前記第１の青相試験用リード接続部が、前記接続部の他端側に前記アース部と反対方向に垂直にかつ前記第２の白相試験用リード接続部と隣接して形成されており、
前記第２の青相試験用リード接続部が、前記第１の青相試験用リード接続部に隣接して、前記アース部から前記接続部を通って該第１の青相試験用リード接続部と平行に形成されている、
ことを特徴とする、請求項２または３記載の試験用リード接続端子。
【請求項５】
前記第１の赤相試験用リード接続部の中央部に、手締めネジが螺合する第１のネジ穴（１３1）が形成されており、
前記第１の白相試験用リード接続部の中央部に、手締めネジが螺合する第２のネジ穴（１３2）が形成されており、
前記第１の青相試験用リード接続部の中央部に、手締めネジが螺合する第３のネジ穴（１３3）が形成されており、
前記接続部の前記第１の赤相試験用リード接続部と前記第２の赤相試験用リード接続部との間、前記第２の赤相試験用リード接続部と前記第１の白相試験用リード接続部との間、前記第１の白相試験用リード接続部と前記第２の白相試験用リード接続部との間、前記第２の白相試験用リード接続部と前記第１の青相試験用リード接続部との間、および、前記第１の青相試験用リード接続部と前記第２の青相試験用リード接続部との間に、手締めネジが螺合する第４乃至第８のネジ穴（１３4〜１３8）がそれぞれ形成されており、
前記第２の赤相試験用リード接続部の前記接続部よりも前記アース部側の部分に、手締めネジが螺合する第９および第１０のネジ穴（１３9，１３10）が形成されており、
前記第２の白相試験用リード接続部の前記接続部よりも前記アース部側の部分に、手締めネジが螺合する第１１のネジ穴（１３11）が形成されており、
前記アース部の前記第２の赤相試験用リード接続部よりも前記第１の赤相試験用リード接続部側に、手締めネジが螺合する第１２のネジ穴（１３12）が形成されている、
ことを特徴とする、請求項４記載の試験用リード接続端子。
【請求項６】
前記第１および第２の赤相試験用リード接続部の先端部に、赤相試験用リード（２１R）をネジ締めによって接続するための第１および第２の配線用ネジ穴（１４1，１４2）がそれぞれ形成されており、
前記第１および第２の白相試験用リード接続部の先端部に、白相試験用リード（２１W）をネジ締めにより接続するための第３および第４の配線用ネジ穴（１４3，１４4）がそれぞれ形成されており、
前記第１および第２の青相試験用リード接続部の先端部に、青相試験用リード（２１B）をネジ締めにより接続するための第５および第６の配線用ネジ穴（１４5，１４6）がそれぞれ形成されており、
前記接続部の前記第１の赤相試験用リード接続部との分岐部分、前記第１の白相試験用リード接続部との分岐部分、前記第２の白相試験用リード接続部との分岐部分、前記第１の青相試験用リード接続部との分岐部分、および、前記第２の青相試験用リード接続部との分岐部分に、接続線をネジ締めにより接続するための第７乃至第１１の配線用ネジ穴（１４7〜１４11）がそれぞれ形成されており、
前記第２の赤相試験用リード接続部の前記第９のネジ穴と前記第１０のネジ穴との間に、接続線をネジ締めにより接続するための第１２の配線用ネジ穴（１４12）が形成されており、
前記アース部の前記第１２のネジ穴よりも前記第１の赤相試験用リード接続部側に、アース線をネジ締めにより接続するための第１３の配線用ネジ穴（１４13）が形成されている、
ことを特徴とする、請求項５記載の試験用リード接続端子。
【請求項７】
単相入力の変流器一次試験を実施する際には、手締めネジが前記第１乃至第３および前記第９乃至第１２のネジ穴に螺合され、
タスキがけ入力の変流器一次試験を実施する際には、手締めネジが前記第１乃至第３、第５、第７および第１２のネジ穴に螺合される、
ることを特徴とする、請求項５または６記載の試験用リード接続端子。
【請求項８】
前記試験用リード接続端子が、複数の回線の回線ごとに使用され、
該複数の回線のうちの一回線に使用される試験用リード接続端子の前記接続部と、該複数の回線のうちの他の回線に使用される他の試験用リード接続端子の前記接続部とが、接続線を介して接続され、
前記一回線に使用される前記試験用リード接続端子の前記アース部と、前記他の回線に使用される前記他の試験用リード接続端子の前記アース部とが、アース線を介して接続される、
ことを特徴とする、請求項３乃至６記載の試験用リード接続端子。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験用リード接続端子に関し、特に、送電線路などの保護および計測用に設置されている変流器の試験を実施するのに好適な試験用リード接続端子に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、送電線路などの保護および計測用に設置されている変流器（ＣＴ）の試験を実施する際には、試験対象回線を停電し、変流器の両端に試験用リードを取り付けたのち、電流発生器から変流器の一次側に試験用一次電流を印加し、変流器の二次側から出力される変流器二次電流の電流値および位相などを測定している（たとえば下記の特許文献１参照）。このような試験は、一般的に、変流器一次試験（以下、「ＣＴ一次試験」と称する。）と呼ばれている。
【０００３】
たとえば、図７に示すように、試験対象回線（３相）の赤相、白相および青相にそれぞれ設置されている赤相、白相および青相ブッシング変流器５０R，５０W，５０Bについて単相入力のＣＴ一次試験を実施する際には、屋内配電盤室において、リレー盤３１に計測器３２が接続されるとともに、計測器３２が電流発生器３３に接続される。
電流発生器３３の赤相、白相および青相試験電流出力端子が、屋内配電盤室に備えられた屋内配電盤室端子台３４の第１乃至第３の入力側端子３４I1〜３４I3と３本の接続線を介してそれぞれ接続され、また、屋内配電盤室端子台３４の第１乃至第３の入力側端子３４I1〜３４I3が、屋内配電盤室端子台３４の第１乃至第３の出力側端子３４O1〜３４O3と３本のジャンパ線を介してそれぞれ接続される。
屋内配電盤室端子台３４の第１乃至第３の出力側端子３４O1〜３４O3が、屋外開閉所に備えられた屋外開閉所端子台３５の第１乃至第３の入力側端子３５I1〜３５I3と３本の接続線を介してそれぞれ接続される。
屋外開閉所端子台３５の第１乃至第３の入力側端子３５I1〜３５I3が、屋外開閉所端子台３５の第１乃至第３の出力端子３５O1〜３５O3と３本のジャンパ線を介してそれぞれ接続される。屋外開閉所端子台３５の第５乃至第８の入力側端子３５I5〜３５I8が、４本のジャンパ線を介して接続されるとともに、第５乃至第８の出力側端子３５O5〜３５O8と４本のジャンパ線を介してそれぞれ接続される。屋外開閉所端子台３５の第８の出力側端子３５O8が、接地線を介して接地される。
試験対象回線を停電したのち、先端にアース棒（長さ３〜４ｍ）がそれぞれ取り付けられた赤相、白相および青相試験用リード２１R，２１W，２１Rの末端が屋外開閉所端子台３５の第１乃至第３の出力側端子３５O1〜３５O3にそれぞれ接続されるとともに、赤相、白相および青相導体１R，１W，１Bと屋外開閉所端子台３５の第５乃至第７の出力側端子３５O5〜３５O7とが赤相、白相および青相試験用リード２１R，２１W，２１Rを介してそれぞれ接続される。
赤相ブッシング変流器５０Rの碍子部の上側に取り付けられた導体接続部に設けられたフック５１Rに作業員がアース棒の先端に取り付けられたアースフックを接続することにより、赤相ブッシング変流器５０Rの赤相導体１R（一次側）に試験用一次電流を流す。赤相ブッシング変流器５０Rの碍子部の下側に取り付けられた変流器部に収容された鉄心の二次端子から出力される赤相変流器二次電流Ｉ2Rを計測器３２にリレー盤３１を介して取り込んで、赤相変流器二次電流Ｉ2Rの電流値および位相などを測定する。
その後、白相ブッシング変流器５０Wについて単相入力のＣＴ一次試験を同様にして実施したのち、青相ブッシング変流器５０Bについて単相入力のＣＴ一次試験を同様にして実施する。
【０００４】
また、図８に示すように、試験対象回線の赤相、白相および青相にそれぞれ設置されている赤相、白相および青相ブッシング変流器５０R，５０W，５０Bについてタスキがけ入力のＣＴ一次試験を実施する際には、屋外開閉所端子台３５の第２および第３の出力側端子３５O2，３５O3に、第２および第３の入力側端子３５I2，３５I3の代わりに第５および第６の出力側端子３５O5，３５O6が２本のジャンパ線を介してそれぞれ接続される。
試験対象回線を停電したのち、赤相ブッシング変流器５０Rのフック５１Rに作業員がアース棒の先端に取り付けられたアースフックを接続することにより、赤相ブッシング変流器５０Rの赤相導体１R（一次側）、白相導体１W（一次側）および青相導体１B（一次側）に試験用一次電流を流す。赤相、白相および青相ブッシング変流器５０R，５０W，５０Bから出力される赤相、白相および青相変流器二次電流Ｉ2R，Ｉ2W，Ｉ2Bを計測器３２にリレー盤３１を介して取り込んで、赤相、白相および青相変流器二次電流Ｉ2R，Ｉ2W，Ｉ2Bの電流値および位相などを測定する。
【特許文献１】特開２００７−３７３０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、ＣＴ一次試験を実施する際には、以下に示すような問題があった。
（１）屋外開閉所端子台３５のジャンパ線を接続してＣＴ一次試験用の配線準備をする必要があるため、配線準備作業に時間および手間がかかる。
（２）単相入力のＣＴ一次試験とタスキがけ入力のＣＴ一次試験とでは屋外開閉所端子台３５における配線が異なり、屋外開閉所端子台３５のジャンパ線を取り外したのちに接続し直して配線変更する必要があるため、配線変更作業に時間および手間がかかる。特に、複数の回線について単相入力のＣＴ一次試験およびタスキがけ入力のＣＴ一次試験を続けて実施する場合には、配線変更作業に時間および手間がかかる。
【０００６】
本発明の目的は、ＣＴ一次試験の作業性の向上が図れる試験用リード接続端子を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の試験用リード接続端子は、変流器（４０R，４０W，４０B）の試験を実施する際に用いられる試験用リード接続端子（１０）であって、絶縁材料からなるパネル板（１１）と、該パネル板の表面に形成された導電材料からなる配線部（１２）とを具備し、手締めネジ（１５）が螺合するネジ穴（１３1〜１３12）が前記配線部に形成されており、該配線部が、通常は前記ネジ穴によって電気的に分離されているが前記手締めネジを前記ネジ穴に螺合することにより電気的に導通するようにされた部分（１２E，１２C，１２1R，１２2R，１２1W，１２2W，１２1B，１２2B）を備えていることを特徴とする。
ここで、前記部分が、アース部（１２E）と、該アース部と平行に形成された接続部（１２C）と、該接続部から分岐された試験用リード接続部（１２R1，１２R2，１２1W，１２2W，１２1B，１２2B）とを含んでもよい。
前記アース部が、アース線を接続するためのアース線接続手段を有し、前記接続部が、接続線を接続するための接続線接続手段を有し、前記試験用リード接続部が、試験用リードを接続するための試験用リード接続手段を有してもよい。
前記試験用リード接続部が、第１および第２の赤相試験用リード接続部（１２R1，１２R2）と、第１および第２の白相試験用リード接続部（１２W1，１２W2）と、第１および第２の青相試験用リード接続部（１２B1，１２B2）とを備え、前記第１の赤相試験用リード接続部が、前記接続部の一端側に前記アース部と反対方向に垂直に形成されており、前記第２の赤相試験用リード接続部が、前記第１の赤相試験用リード接続部に隣接して、前記アース部から前記接続部を通って該第１の赤相試験用リード接続部と平行に形成されており、前記第１の白相試験用リード接続部が、前記接続部の中央部に前記アース部と反対方向に垂直にかつ前記第２の赤相試験用リード接続部１２と隣接して形成されており、前記第２の白相試験用リード接続部が、前記第１の白相試験用リード接続部に隣接して、前記アース部から前記接続部を通って該第１の白相試験用リード接続部と平行に形成されており、前記第１の青相試験用リード接続部が、前記接続部の他端側に前記アース部と反対方向に垂直にかつ前記第２の白相試験用リード接続部と隣接して形成されており、前記第２の青相試験用リード接続部が、前記第１の青相試験用リード接続部に隣接して、前記アース部から前記接続部を通って該第１の青相試験用リード接続部と平行に形成されていてもよい。
前記第１の赤相試験用リード接続部の中央部に、手締めネジが螺合する第１のネジ穴（１３1）が形成されており、前記第１の白相試験用リード接続部の中央部に、手締めネジが螺合する第２のネジ穴（１３2）が形成されており、前記第１の青相試験用リード接続部の中央部に、手締めネジが螺合する第３のネジ穴（１３3）が形成されており、前記接続部の前記第１の赤相試験用リード接続部と前記第２の赤相試験用リード接続部との間、前記第２の赤相試験用リード接続部と前記第１の白相試験用リード接続部との間、前記第１の白相試験用リード接続部と前記第２の白相試験用リード接続部との間、前記第２の白相試験用リード接続部と前記第１の青相試験用リード接続部との間、および、前記第１の青相試験用リード接続部と前記第２の青相試験用リード接続部との間に、手締めネジが螺合する第４乃至第８のネジ穴（１３4〜１３8）がそれぞれ形成されており、前記第２の赤相試験用リード接続部の前記接続部よりも前記アース部側の部分に、手締めネジが螺合する第９および第１０のネジ穴（１３9，１３10）が形成されており、前記第２の白相試験用リード接続部の前記接続部よりも前記アース部側の部分に、手締めネジが螺合する第１１のネジ穴（１３11）が形成されており、前記アース部の前記第２の赤相試験用リード接続部よりも前記第１の赤相試験用リード接続部側に、手締めネジが螺合する第１２のネジ穴（１３12）が形成されていてもよい。
前記第１および第２の赤相試験用リード接続部の先端部に、赤相試験用リード（２１R）をネジ締めによって接続するための第１および第２の配線用ネジ穴（１４1，１４2）がそれぞれ形成されており、前記第１および第２の白相試験用リード接続部の先端部に、白相試験用リード（２１W）をネジ締めにより接続するための第３および第４の配線用ネジ穴（１４3，１４4）がそれぞれ形成されており、前記第１および第２の青相試験用リード接続部の先端部に、青相試験用リード（２１B）をネジ締めにより接続するための第５および第６の配線用ネジ穴（１４5，１４6）がそれぞれ形成されており、前記接続部の前記第１の赤相試験用リード接続部との分岐部分、前記第１の白相試験用リード接続部との分岐部分、前記第２の白相試験用リード接続部との分岐部分、前記第１の青相試験用リード接続部との分岐部分、および、前記第２の青相試験用リード接続部との分岐部分に、接続線をネジ締めにより接続するための第７乃至第１１の配線用ネジ穴（１４7〜１４11）がそれぞれ形成されており、前記第２の赤相試験用リード接続部の前記第９のネジ穴と前記第１０のネジ穴との間に、接続線をネジ締めにより接続するための第１２の配線用ネジ穴（１４12）が形成されており、前記アース部の前記第１２のネジ穴よりも前記第１の赤相試験用リード接続部側に、アース線をネジ締めにより接続するための第１３の配線用ネジ穴（１４13）が形成されていてもよい。
単相入力の変流器一次試験を実施する際には、手締めネジが前記第１乃至第３および前記第９乃至第１２のネジ穴に螺合され、タスキがけ入力の変流器一次試験を実施する際には、手締めネジが前記第１乃至第３、第５、第７および第１２のネジ穴に螺合されてもよい。
前記試験用リード接続端子が、複数の回線の回線ごとに使用され、該複数の回線のうちの一回線に使用される試験用リード接続端子の前記接続部と、該複数の回線のうちの他の回線に使用される他の試験用リード接続端子の前記接続部とが、接続線を介して接続され、前記一回線に使用される前記試験用リード接続端子の前記アース部と、前記他の回線に使用される前記他の試験用リード接続端子の前記アース部とが、アース線を介して接続されてもよい。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の試験用リード接続端子は、以下に示す効果を奏する。
（１）手締めネジの取付箇所を変更するだけで配線変更ができるので、配線変更作業を容易に行うことができる。
（２）手締めネジの取付箇所を変更するだけで配線変更ができるので、複数の回線について単相入力のＣＴ一次試験およびタスキがけ入力のＣＴ一次試験を続けて実施する場合でも配線変更作業を容易に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
上記の目的を、手締めネジが螺合するネジ穴を配線部に形成し、通常はネジ穴によって電気的に分離されているが手締めネジをネジ穴に螺合することにより電気的に導通するようにされた部分を配線部に備えることにより実現した。
【実施例１】
【００１０】
以下、本発明の試験用リード接続端子の実施例について図面を参照して説明する。
本発明の一実施例による試験用リード接続端子１０は、図１（ａ）に示すように、直方体のパネル形状を有し、絶縁材料からなるパネル板１１と、パネル板１１の表面に形成された導電材料からなる配線部１２とを具備する。
【００１１】
ここで、配線部２は、アース部１２Eと、アース部１２Eと平行にかつ同じ長さに形成された接続部１２Cと、第１および第２の赤相試験用リード接続部１２R1，１２R2と、第１および第２の白相試験用リード接続部１２W1，１２W2と、第１および第２の青相試験用リード接続部１２B1，１２B2とを備える。
第１の赤相試験用リード接続部１２R1は、接続部１２Cの図示左端側にアース部１２Eと反対方向に垂直に形成されている。第２の赤相試験用リード接続部１２R2は、第１の赤相試験用リード接続部１２R1に隣接して、アース部１２Eから接続部１２Cを通って第１の赤相試験用リード接続部１２R1と平行に形成されている。なお、第２の赤相試験用リード接続部１２R2の上部（接続部１２Cよりもアース部１２Eと反対側の部分）は第１の赤相試験用リード接続部１２R1と同じ長さとされている。
同様に、第１の白相試験用リード接続部１２W1は、接続部１２Cの図示中央部にアース部１２Eと反対方向に垂直にかつ第２の赤相試験用リード接続部１２R2と隣接して形成されている。第２の白相試験用リード接続部１２W2は、第１の白相試験用リード接続部１２W1に隣接して、アース部１２Eから接続部１２Cを通って第１の白相試験用リード接続部１２W1と平行に形成されている。なお、第２の白相試験用リード接続部１２W2の上部（接続部１２Cよりもアース部１２Eと反対側の部分）は第１の白相試験用リード接続部１２W1と同じ長さとされている。
また、第１の青相試験用リード接続部１２B1は、接続部１２Cの図示右側にアース部１２Eと反対方向に垂直にかつ第２の白相試験用リード接続部１２W2と隣接して形成されている。第２の青相試験用リード接続部１２B2は、第１の青相試験用リード接続部１２B1に隣接して接続部１２Cの右端に、アース部１２Eから接続部１２Cを通って第１の青相試験用リード接続部１２B1と平行に形成されている。なお、第２の青相試験用リード接続部１２B2の上部（接続部１２Cよりもアース部１２Eと反対側の部分）は第１の青相試験用リード接続部１２B1と同じ長さとされている。
【００１２】
第１の赤相試験用リード接続部１２R1の中央部には、図１（ｂ）に示す手締めネジ１５（ネジ部は導電性となっている。）が螺合する第１のネジ穴１３1が形成されている。これにより、第１の赤相試験用リード接続部１２R1の上下は、通常（試験時以外）は第１のネジ穴１３1によって電気的に分離され、手締めネジ１５が第１のネジ穴１３1に螺合されることにより電気的に導通するようにされている。
同様に、第１の白相試験用リード接続部１２W1の中央部には、手締めネジ１５が螺合する第２のネジ穴１３2が形成されており、第１の白相試験用リード接続部１２W1の上下は、通常は第２のネジ穴１３2によって電気的に分離され、手締めネジ１５が第２のネジ穴１３2に螺合されることにより電気的に導通するようにされている。
また、第１の青相試験用リード接続部１２B1の中央部には、手締めネジ１５が螺合する第３のネジ穴１３3が形成されており、第１の青相試験用リード接続部１２B1の上下は、通常は第３のネジ穴１３3によって電気的に分離され、手締めネジ１５が第３のネジ穴１３3に螺合されることにより電気的に導通するようにされている。
【００１３】
接続部１２Cの第１の赤相試験用リード接続部１２R1と第２の赤相試験用リード接続部１２R2との間、第２の赤相試験用リード接続部１２R2と第１の白相試験用リード接続部１２W2との間、第１の白相試験用リード接続部１２W1と第２の白相試験用リード接続部１２W2との間、第２の白相試験用リード接続部１２W2と第１の青相試験用リード接続部１２B1との間、および、第１の青相試験用リード接続部１２B1と第２の青相試験用リード接続部１２B2との間には、手締めネジ１５が螺合する第４乃至第８のネジ穴１３4〜１３8がそれぞれ形成されている。
これにより、接続部１２Cの第１の赤相試験用リード接続部１２R1と第２の赤相試験用リード接続部１２R2との間の部分は、通常は第４のネジ穴１３4によって電気的に分離され、手締めネジ１５が第４のネジ穴１３4に螺合されることにより電気的に導通するようにされている。接続部１２Cの第２の赤相試験用リード接続部１２R2と第１の白相試験用リード接続部１２W2との間の部分、第１の白相試験用リード接続部１２W1と第２の白相試験用リード接続部１２W2との間の部分、第２の白相試験用リード接続部１２W2と第１の青相試験用リード接続部１２B1との間の部分、および、第１の青相試験用リード接続部１２B1と第２の青相試験用リード接続部１２B2との間の部分についても同様である。
【００１４】
第２の赤相試験用リード接続部１２R2の下部（接続部１２Cよりもアース部１２E側の部分）には、手締めネジ１５が螺合する第９および第１０のネジ穴１３9，１３10が形成されている。これにより、第２の赤相試験用リード接続部１２R2の下部は、通常は第９および第１０のネジ穴１３9，１３10によって上中下に電気的に分離され、手締めネジ１５が第９および第１０のネジ穴１３9，１３10に螺合されることにより電気的に導通するようにされている。
第２の白相試験用リード接続部１２W2の下部（接続部１２Cよりもアース部１２E側の部分）には、手締めネジ１５が螺合する第１１のネジ穴１３11が形成されている。これにより、第２の白相試験用リード接続部１２W2の下部は、通常は第１１のネジ穴１３11によって上下に電気的に分離され、手締めネジ１５が第１１のネジ穴１３11に螺合されることにより電気的に導通するようにされている。
【００１５】
第１および第２の赤相試験用リード接続部１２R1，１２R2の先端部には、赤相試験用リード２１R（図２参照）をネジ締めによって接続するための第１および第２の配線用ネジ穴１４1，１４2がそれぞれ形成されている。
同様に、第１および第２の白相試験用リード接続部１２W1，１２W2の先端部には、白相試験用リード２１W（図２参照）をネジ締めにより接続するための第３および第４の配線用ネジ穴１４3，１４4がそれぞれ形成されている。
また、第１および第２の青相試験用リード接続部１２B1，１２B2の先端部には、青相試験用リード２１B（図２参照）をネジ締めにより接続するための第５および第６の配線用ネジ穴１４5，１４6がそれぞれ形成されている。
【００１６】
接続部１２Cの第１の赤相試験用リード接続部１２R1との分岐部分、第１の白相試験用リード接続部１２W1との分岐部分、第２の白相試験用リード接続部１２W2との分岐部分、第１の青相試験用リード接続部１２B1との分岐部分、および、第２の青相試験用リード接続部１２B2との分岐部分には、接続線をネジ締めにより接続するための第７乃至第１１の配線用ネジ穴１４7〜１４11がそれぞれ形成されている。
第２の赤相試験用リード接続部１２R2の第９のネジ穴１３9と第１０のネジ穴１３10との間には、接続線をネジ締めにより接続するための第１２の配線用ネジ穴１４12が形成されている。
【００１７】
アース部１２Eの図示左端部には、アース線をネジ締めにより接続するための第１３の配線用ネジ穴１４13が形成されている。
また、アース部１２Eの第１３の配線用ネジ穴１４13と第２の赤相試験用リード接続部１２R2との間には、手締めネジ１５が螺合する第１２のネジ穴１３12が形成されている。これにより、アース部１２Eの図示左端部は、通常は第１２のネジ穴１３12によってアース部１２Eの他の部分と電気的に分離され、手締めネジ１５が第１２のネジ穴１３12に螺合されることによりアース部１２Eの他の部分と電気的に導通するようにされている。
【００１８】
次に、図７に示した屋外開閉所端子台３５の代わりに図１に示した試験用リード接続端子１０を用いて試験対象回線の赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bについて単相入力のＣＴ一次試験を実施したのちにタスキがけ入力のＣＴ一次試験を実施する方法について、図２乃至図４を参照して説明する。
【００１９】
なお、赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bは、図３（ａ），（ｂ）に示すブッシング変流器４０のように、試験用リードを外部から挿入して鉄心４１の貫通孔を通したのちに外部に出すための試験用リード貫通孔４６がブッシング変流器４０の変流器部に形成されている点で、図７および図８に示した赤相、白相および青相ブッシング変流器５０R，５０W，５０Bと異なる。
【００２０】
すなわち、ブッシング変流器４０の変流器部は、鉄製のカバー４３と、鉄製のカバー４３内に収容された鉄心４１およびブッシング４２とを備える。試験用リード貫通孔４６はブッシング４２に形成されており、試験用リードを試験用リード貫通孔４６に外部から挿入するための挿入口４４および試験用リードを試験用リード貫通孔４６から外部に排出するための排出口４５は、図３（ａ）に示すように、カバー４３の一側面の鉄心４１よりも上側および下側にそれぞれ設けられている。なお、変流器二次電流Ｉ2は、鉄心４１の二次端子から外部に出力される。
【００２１】
このように構成されたブッシング変流器４０を使用することにより、以下に示す効果が得られる。
（１）試験用リードを外部から挿入して鉄心４１の貫通孔を通したのちに外部に出すための試験用リード貫通孔４６をブッシング変流器４０の変流器部に形成することにより、ブッシング変流器４０のＣＴ一次試験を実施する際には作業員は試験用リード貫通孔４６に試験用リードを挿入するだけでよいため、アース棒を用いることによる感電のおそれをなくすことができるので、作業員の安全性を向上させることができる。
（２）ブッシング変流器４０の変流器部は碍子部の下側（低所）にあるため、作業員は試験用リード貫通孔４６に試験用リードを簡単に挿入することができるので、ＣＴ一次試験の作業性を向上させることができる。
【００２２】
まず、試験対象回線の赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bについて単相入力のＣＴ一次試験を実施するために、アース線が、図２に示すように、試験用リード接続端子１０のアース部１２Eに形成された第１３の配線用ネジ穴１４13にボルトなどを用いてネジ締めされる。
屋内配電盤室端子台３４の第１乃至第３の出力側端子３４O1〜３４O3に一端がそれぞれ接続された３本の接続線の他端が、試験用リード接続端子１０の接続部１２Cに形成された第７、第８および第１０の配線用ネジ穴１４7，１４8，１４10にボルトなどを用いてそれぞれネジ締めされる。
【００２３】
赤相試験用リード２１Rの一端が試験用リード接続端子１０の第１の赤相試験用リード接続部１２R1に形成された第１の配線用ネジ穴１４1にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、赤相試験用リード２１Rの他端が赤相ブッシング変流器４０Rの挿入口４４R（図３参照）から試験用リード貫通孔４６R（図３参照）に挿入され、赤相試験用リード２１Rが押し込まれていく。赤相試験用リード２１Rの他端が赤相ブッシング変流器４０Rの排出口４５R（図３参照）から出てくると、赤相試験用リード２１Rの他端が試験用リード接続端子１０の第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第２の配線用ネジ穴１４2にボルトなどを用いてネジ締めされる。
同様に、白相試験用リード２１Wの一端が試験用リード接続端子１０の第１の白相試験用リード接続部１２W1に形成された第３の配線用ネジ穴１４3にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、白相試験用リード２１Wの他端が白相ブッシング変流器４０Wの挿入口４４Wから試験用リード貫通孔４６Wに挿入され、白相試験用リード２１Wが押し込まれていく。白相試験用リード２１Wの他端が白相ブッシング変流器４０Wの排出口４５Wから出てくると、白相試験用リード２１Wの他端が試験用リード接続端子１０の第２の白相試験用リード接続部１２W2に形成された第４の配線用ネジ穴１４4にボルトなどを用いてネジ締めされる。
また、青相試験用リード２１Bの一端が試験用リード接続端子１０の第１の青相試験用リード接続部１２B1に形成された第５の配線用ネジ穴１４5にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、青相試験用リード２１Bの他端が青相ブッシング変流器４０Bの挿入口４４Bから試験用リード貫通孔４６Bに挿入され、青相試験用リード２１Bが押し込まれていく。青相試験用リード２１Bの他端が青相ブッシング変流器４０Bの排出口４５Bから出てくると、青相試験用リード２１Bの他端が試験用リード接続端子１０の第２の青相試験用リード接続部１２B2に形成された第６の配線用ネジ穴１４6にボルトなどを用いてネジ締めされる。
【００２４】
７個の手締めネジ１５が、試験用リード接続端子１０の第１の赤相試験用リード接続部１２R1に形成された第１のネジ穴１３1と、第１の白相試験用リード接続部１２W1に形成された第２のネジ穴１３2と、第１の青相試験用リード接続部１２B1に形成された第３のネジ穴１３3と、第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第９および第１０のネジ穴１３9，１３10と、第２の白相試験用リード接続部１２W2に形成された第１１のネジ穴１３11と、アース部１２Eに形成された第１２のネジ穴１３12とにそれぞれ螺合される。
【００２５】
これにより、以下に示す３つの電流経路が形成される。
（１）赤相試験用一次電流用の電流経路
電流発生器３３→屋内配電盤室端子台３４の第１の入力側端子３４I1→屋内配電盤室端子台３４の第１の出力側端子３４O1→試験用リード接続端子１０の第１の赤相試験用リード接続部１２R1→赤相試験用リード２１R→試験用リード接続端子１０の第２の赤相試験用リード接続部１２R2→試験用リード接続端子１０のアース部１２E→接地点。
（２）白相試験用一次電流の電流経路
電流発生器３３→屋内配電盤室端子台３４の第２の入力側端子３４I2→屋内配電盤室端子台３４の第２の出力側端子３４O2→試験用リード接続端子１０の第１の白相試験用リード接続部１２W1→白相試験用リード２１W→試験用リード接続端子１０の第２の白相試験用リード接続部１２W2→試験用リード接続端子１０のアース部１２E→接地点。
（３）青相試験用一次電流の電流経路
電流発生器３３→屋内配電盤室端子台３４の第３の入力側端子３４I3→屋内配電盤室端子台３４の第３の出力側端子３４O3→試験用リード接続端子１０の第１の青相試験用リード接続部１２B1→青相試験用リード２１B→試験用リード接続端子１０の第２の青相試験用リード接続部１２B2→試験用リード接続端子１０のアース部１２E→接地点。
【００２６】
以上のようにして単相入力のＣＴ一次試験用の配線準備作業が完了すると、赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bが設置された試験対象回線を停電したのち、赤相試験用一次電流を出力するように制御する制御信号が計測器３２から電流発生器３３に出力されて、赤相試験用一次電流が上記（１）の電流経路を流れる。これにより、赤相変流器二次電流Ｉ2Rが赤相ブッシング変流器４０Rから出力される。赤相変流器二次電流Ｉ2Rがリレー盤３１を介して計測器３２に入力されて、赤相変流器二次電流Ｉ2Rの電流値および位相などが測定される。
続いて、白相試験用一次電流を出力するように制御する制御信号が計測器３２から電流発生器３３に出力されて、白相試験用一次電流が上記（２）の電流経路を流れる。これにより、白相変流器二次電流Ｉ2Wが白相ブッシング変流器４０Wから出力される。白相変流器二次電流Ｉ2Wがリレー盤３１を介して計測器３２に入力されて、白相変流器二次電流Ｉ2Wの電流値および位相などが測定される。
続いて、青相試験用一次電流を出力するように制御する制御信号が計測器３２から電流発生器３３に出力されて、青相試験用一次電流が上記（３）の電流経路を流れる。これにより、青相変流器二次電流Ｉ2Bが青相ブッシング変流器４０Bから出力される。青相変流器二次電流Ｉ2Bがリレー盤３１を介して計測器３２に入力されて、青相変流器二次電流Ｉ2Bの電流値および位相などが測定される。
【００２７】
このようにして試験対象回線の赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bについて単相入力のＣＴ一次試験が終了すると、タスキがけ入力のＣＴ一次試験を実施するための配線変更作業が以下のようにして行われる。
【００２８】
図４に示すように、屋内配電盤室端子台３４の第２および第３の出力側端子３４O2，３４O3と試験用リード接続端子１０の接続部１２Cに形成された第８および第１０の配線用ネジ穴１４8，１４10とをそれぞれ接続していた２本の接続線が取り外される。
また、第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第９および第１０のネジ穴１３9，１３10と第２の白相試験用リード接続部１２W2に形成された第１１のネジ穴１３11とにそれぞれ螺合されていた３個の手締めネジ１５が外されたのち、２個の手締めネジ１５が、試験用リード接続端子１０の第２の赤相試験用リード接続部１２R2および第１の白相試験用リード接続部１２W1の間に形成された第５のネジ穴１３5と、第２の白相試験用リード接続部１２W2および第１の青相試験用リード接続部１２B1の間に形成された第７のネジ穴１３7とにそれぞれ螺合される。
【００２９】
これにより、電流発生器３３→屋内配電盤室端子台３４の第１の入力側端子３４I1→屋内配電盤室端子台３４の第１の出力側端子３４O1→試験用リード接続端子１０の第１の赤相試験用リード接続部１２R1→赤相試験用リード２１R→試験用リード接続端子１０の第２の赤相試験用リード接続部１２R2→試験用リード接続端子１０の接続部１２C→試験用リード接続端子１０の第１の白相試験用リード接続部１２W1→白相試験用リード２１W→試験用リード接続端子１０の第２の白相試験用リード接続部１２W2→試験用リード接続端子１０の接続部１２C→試験用リード接続端子１０の第１の青相試験用リード接続部１２B1→青相試験用リード２１B→試験用リード接続端子１０の第２の青相試験用リード接続部１２B2→試験用リード接続端子１０のアース部１２E→接地点という電流経路が形成される。
【００３０】
このようにして配線変更作業が完了すると、赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bが設置された試験対象回線を停電したのち、タスキがけ入力試験用一次電流を出力するように制御する制御信号が計測器３２から電流発生器３３に出力される。タスキがけ入力試験用一次電流が上記の電流経路を流れることにより、赤相、白相および青相変流器二次電流Ｉ2R，Ｉ2W，Ｉ2Bが赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bからそれぞれ出力される。赤相、白相および青相変流器二次電流Ｉ2R，Ｉ2W，Ｉ2Bがリレー盤３１を介して計測器３２に入力されて、赤相、白相および青相変流器二次電流Ｉ2R，Ｉ2W，Ｉ2Bの電流値および位相などが測定される。
【００３１】
次に、図１に示した試験用リード接続端子１０を３個用いて、Ａ線、Ｂ線およびＣ線のうちＡ線およびＢ線を試験対象回線としてＡ線用赤相、Ａ線用白相およびＡ線用青相ブッシング変流器とＢ線用赤相、Ｂ線用白相およびＢ線用青相ブッシング変流器とについて単相入力のＣＴ一次試験を実施したのちにＡ線およびＣ線を試験対象回線としてＡ線用赤相、Ａ線用白相およびＡ線用青相ブッシング変流器とＣ線用赤相、Ｃ線用白相およびＣ線用青相ブッシング変流器とについてタスキがけ入力のＣＴ一次試験を実施する方法について、図５および図６を参照して説明する。
なお、図５および図６には図示していないが、Ａ線用赤相、Ａ線用白相およびＡ線用青相ブッシング変流器とＢ線用赤相、Ｂ線用白相およびＢ線用青相ブッシング変流器とＣ線用赤相、Ｃ線用白相およびＣ線用青相ブッシング変流器とは図３に示したブッシング変流器４０と同じ構成を有するものである。
【００３２】
まず、単相入力のＣＴ一次試験を実施するために、アース線が、図５に示すように、Ａ線試験用、Ｂ線試験用およびＣ線試験用リード接続端子１０A，１０B，１０Cのアース部１２Eに形成された第１３の配線用ネジ穴１４13にボルトなどを用いてネジ締めされる。
屋内配電盤室端子台３４の第１乃至第３の出力側端子３４O1〜３４O3に一端がそれぞれ接続された３本の接続線の他端が、Ａ線試験用リード接続端子１０Aの接続部１２Cに形成された第７、第８および第１０の配線用ネジ穴１４7，１４8，１４10にボルトなどを用いてそれぞれネジ締めされる。
【００３３】
接続線の一端がＡ線試験用リード接続端子１０Aの第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第１２の配線用ネジ穴１４12にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、この接続線の他端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの接続部１２Cに形成された第７の配線用ネジ穴１４7にボルトなどを用いてネジ締めされる。
接続線の一端がＡ線試験用リード接続端子１０Aの接続部１２Cに形成された第９の配線用ネジ穴１４9にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、この接続線の他端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの接続部１２Cに形成された第８の配線用ネジ穴１４8にボルトなどを用いてネジ締めされる。
接続線の一端がＡ線試験用リード接続端子１０Aの接続部１２Cに形成された第１１の配線用ネジ穴１４11にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、この接続線の他端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの接続部１２Cに形成された第１０の配線用ネジ穴１４10にボルトなどを用いてネジ締めされる。
【００３４】
接続線の一端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第１２の配線用ネジ穴１４12にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、この接続線の他端がＣ線試験用リード接続端子１０Cの接続部１２Cに形成された第７の配線用ネジ穴１４7にボルトなどを用いてネジ締めされる。
接続線の一端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの接続部１２Cに形成された第９の配線用ネジ穴１４9にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、この接続線の他端がＣ線試験用リード接続端子１０Cの接続部１２Cに形成された第８の配線用ネジ穴１４8にボルトなどを用いてネジ締めされる。
接続線の一端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの接続部１２Cに形成された第１１の配線用ネジ穴１４11にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、この接続線の他端がＣ線試験用リード接続端子１０Cの接続部１２Cに形成された第１０の配線用ネジ穴１４10にボルトなどを用いてネジ締めされる。
【００３５】
Ａ線赤相試験用リード２１ARの一端がＡ線試験用リード接続端子１０Aの第１の赤相試験用リード接続部１２R1に形成された第１の配線用ネジ穴１４1にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、Ａ線赤相試験用リード２１ARの他端がＡ線赤相ブッシング変流器の挿入口から試験用リード貫通孔に挿入され、Ａ線赤相試験用リード２１ARが押し込まれていく。Ａ線赤相試験用リード２１ARの他端がＡ線赤相ブッシング変流器の排出口から出てくると、Ａ線赤相試験用リード２１ARの他端がＡ線試験用リード接続端子１０Aの第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第２の配線用ネジ穴１４2にボルトなどを用いてネジ締めされる。
また、Ａ線白相試験用リード２１AWの一端がＡ線試験用リード接続端子１０Aの第１の白相試験用リード接続部１２W1に形成された第３の配線用ネジ穴１４3にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、Ａ線白相試験用リード２１AWの他端がＡ線白相ブッシング変流器の挿入口から試験用リード貫通孔に挿入され、Ａ線白相試験用リード２１AWが押し込まれていく。Ａ線白相試験用リード２１AWの他端がＡ線白相ブッシング変流器の排出口から出てくると、Ａ線白相試験用リード２１AWの他端がＡ線試験用リード接続端子１０Aの第２の白相試験用リード接続部１２W2に形成された第４の配線用ネジ穴１４4にボルトなどを用いてネジ締めされる。
さらに、Ａ線青相試験用リード２１ABの一端がＡ線試験用リード接続端子１０Aの第１の青相試験用リード接続部１２B1に形成された第５の配線用ネジ穴１４5にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、Ａ線青相試験用リード２１ABの他端がＡ線青相ブッシング変流器の挿入口から試験用リード貫通孔に挿入され、Ａ線青相試験用リード２１ABが押し込まれていく。Ａ線青相試験用リード２１ABの他端がＡ線青相ブッシング変流器の排出口から出てくると、Ａ線青相試験用リード２１ABの他端がＡ線試験用リード接続端子１０Aの第２の青相試験用リード接続部１２B2に形成された第６の配線用ネジ穴１４6にボルトなどを用いてネジ締めされる。
【００３６】
同様に、Ｂ線赤相試験用リード２１BRの一端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの第１の赤相試験用リード接続部１２R1に形成された第１の配線用ネジ穴１４1にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、Ｂ線赤相試験用リード２１BRの他端がＢ線赤相ブッシング変流器の挿入口から試験用リード貫通孔に挿入され、Ｂ線赤相試験用リード２１BRが押し込まれていく。Ｂ線赤相試験用リード２１BRの他端がＢ線赤相ブッシング変流器の排出口から出てくると、Ｂ線赤相試験用リード２１BRの他端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第２の配線用ネジ穴１４2にボルトなどを用いてネジ締めされる。
また、Ｂ線白相試験用リード２１BWの一端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの第１の白相試験用リード接続部１２W1に形成された第３の配線用ネジ穴１４3にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、Ｂ線白相試験用リード２１BWの他端がＢ線白相ブッシング変流器の挿入口から試験用リード貫通孔に挿入され、Ｂ線白相試験用リード２１BWが押し込まれていく。Ｂ線白相試験用リード２１BWの他端がＢ線白相ブッシング変流器の排出口から出てくると、Ｂ線白相試験用リード２１BWの他端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの第２の白相試験用リード接続部１２W2に形成された第４の配線用ネジ穴１４4にボルトなどを用いてネジ締めされる。
さらに、Ｂ線青相試験用リード２１BBの一端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの第１の青相試験用リード接続部１２B1に形成された第５の配線用ネジ穴１４5にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、Ｂ線青相試験用リード２１BBの他端がＢ線青相ブッシング変流器の挿入口から試験用リード貫通孔に挿入され、Ｂ線青相試験用リード２１BBが押し込まれていく。Ｂ線青相試験用リード２１BBの他端がＢ線青相ブッシング変流器の排出口から出てくると、Ｂ線青相試験用リード２１BBの他端がＢ線試験用リード接続端子１０Bの第２の青相試験用リード接続部１２B2に形成された第６の配線用ネジ穴１４6にボルトなどを用いてネジ締めされる。
【００３７】
同様に、Ｃ線赤相試験用リード２１CRの一端がＣ線試験用リード接続端子１０Cの第１の赤相試験用リード接続部１２R1に形成された第１の配線用ネジ穴１４1にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、Ｃ線赤相試験用リード２１CRの他端がＣ線赤相ブッシング変流器の挿入口から試験用リード貫通孔に挿入され、Ｃ線赤相試験用リード２１CRが押し込まれていく。Ｃ線赤相試験用リード２１CRの他端がＣ線赤相ブッシング変流器の排出口から出てくると、Ｃ線赤相試験用リード２１CRの他端がＣ線試験用リード接続端子１０Cの第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第２の配線用ネジ穴１４2にボルトなどを用いてネジ締めされる。
また、Ｃ線青相試験用リード２１CWの一端がＣ線試験用リード接続端子１０Cの第１の青相試験用リード接続部１２W1に形成された第３の配線用ネジ穴１４3にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、Ｃ線青相試験用リード２１CWの他端がＣ線青相ブッシング変流器の挿入口から試験用リード貫通孔に挿入され、Ｃ線青相試験用リード２１CWが押し込まれていく。Ｃ線青相試験用リード２１CWの他端がＣ線青相ブッシング変流器の排出口から出てくると、Ｃ線青相試験用リード２１CWの他端がＣ線試験用リード接続端子１０Cの第２の青相試験用リード接続部１２W2に形成された第４の配線用ネジ穴１４4にボルトなどを用いてネジ締めされる。
さらに、Ｃ線青相試験用リード２１CBの一端がＣ線試験用リード接続端子１０Cの第１の青相試験用リード接続部１２C1に形成された第５の配線用ネジ穴１４5にボルトなどを用いてネジ締めされたのち、Ｃ線青相試験用リード２１CBの他端がＣ線青相ブッシング変流器の挿入口から試験用リード貫通孔に挿入され、Ｃ線青相試験用リード２１CBが押し込まれていく。Ｃ線青相試験用リード２１CBの他端がＣ線青相ブッシング変流器の排出口から出てくると、Ｃ線青相試験用リード２１CBの他端がＣ線試験用リード接続端子１０Cの第２の青相試験用リード接続部１２C2に形成された第６の配線用ネジ穴１４6にボルトなどを用いてネジ締めされる。
【００３８】
４個の手締めネジ１５が、Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第１の赤相試験用リード接続部１２R1に形成された第１のネジ穴１３1と、第１の白相試験用リード接続部１２W1に形成された第２のネジ穴１３2と、第１の青相試験用リード接続部１２B1に形成された第３のネジ穴１３3と、第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第９のネジ穴１３9とにそれぞれ螺合される。
また、７個の手締めネジ１５が、Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第１の赤相試験用リード接続部１２R1に形成された第１のネジ穴１３1と、第１の白相試験用リード接続部１２W1に形成された第２のネジ穴１３2と、第１の青相試験用リード接続部１２B1に形成された第３のネジ穴１３3と、第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第９および第１０のネジ穴１３9，１３10と、第２の白相試験用リード接続部１２W2に形成された第１１のネジ穴１３11と、アース部１２Eに形成された第１２のネジ穴１３12とにそれぞれ螺合される。
さらに、４個の手締めネジ１５が、Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの接続部１２Cの第１および第２の赤相試験用リード接続部１２R1，１２R2の間に形成された第４のネジ穴１３4と、接続部１２Cの第１および第２の白相試験用リード接続部１２W1，１２W2の間に形成された第６のネジ穴１３6と、接続部１２Cの第１および第２の青相試験用リード接続部１２B1，１２B2の間に形成された第８のネジ穴１３8と、第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第９のネジ穴１３9とにそれぞれ螺合される。
【００３９】
これにより、単相入力のＣＴ一次試験の試験対象回線であるＡ線およびＢ線に以下に示す３つの電流経路が形成される。
（１）赤相試験用一次電流用の電流経路
電流発生器３３→屋内配電盤室端子台３４の第１の入力側端子３４I1→屋内配電盤室端子台３４の第１の出力側端子３４O1→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第１の赤相試験用リード接続部１２R1→Ａ線赤相試験用リード２１AR→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第２の赤相試験用リード接続部１２R2→接続線→Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第１の赤相試験用リード接続部１２R1→Ｂ線赤相試験用リード２１BR→Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第２の赤相試験用リード接続部１２R2→Ｂ線試験用リード接続端子１０Bのアース部１２E→接地点。
（２）白相試験用一次電流の電流経路
電流発生器３３→屋内配電盤室端子台３４の第２の入力側端子３４I2→屋内配電盤室端子台３４の第２の出力側端子３４O2→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第１の白相試験用リード接続部１２W1→Ａ線白相試験用リード２１AW→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第２の白相試験用リード接続部１２W2→接続線→Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第１の白相試験用リード接続部１２W1→Ｂ線白相試験用リード２１BW→Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第２の白相試験用リード接続部１２W2→Ｂ線試験用リード接続端子１０Bのアース部１２E→接地点。
（３）青相試験用一次電流の電流経路
電流発生器３３→屋内配電盤室端子台３４の第３の入力側端子３４I3→屋内配電盤室端子台３４の第３の出力側端子３４O3→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第１の青相試験用リード接続部１２B1→Ａ線青相試験用リード２１AB→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第２の青相試験用リード接続部１２B2→接続線→Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第１の青相試験用リード接続部１２B1→Ｂ線青相試験用リード２１BB→Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第２の青相試験用リード接続部１２B2→Ｂ線試験用リード接続端子１０Bのアース部１２E→接地点。
【００４０】
なお、Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの第１の赤相試験用リード接続部１２R1、第１の白相試験用リード接続部１２W1および第１の青相試験用リード接続部１２B1は、Ｃ線試験用リード接続端子１０Bの第１乃至第３のネジ穴１３1〜１３3によって上下に電気的に分離されているため、Ｃ線赤相、Ｃ線白相およびＣ線青相試験用リード２１CR，２１CW，２１CBを経路の一部とする電流経路は形成されない。
【００４１】
以上のようにして単相入力のＣＴ一次試験用の配線準備作業が完了すると、試験対象回線であるＡ線およびＢ線を停電したのち、赤相試験用一次電流を出力するように制御する制御信号が計測器３２から電流発生器３３に出力されて、赤相試験用一次電流が上記（１）の電流経路を流れる。これにより、Ａ線赤相変流器二次電流およびＢ線赤相変流器二次電流がＡ線赤相ブッシング変流器およびＢ線赤相ブッシング変流器からそれぞれ出力される。Ａ線赤相変流器二次電流およびＢ線赤相変流器二次電流がリレー盤３１を介して計測器３２に入力されて、Ａ線赤相変流器二次電流およびＢ線赤相変流器二次電流の電流値および位相などが測定される。
続いて、白相試験用一次電流を出力するように制御する制御信号が計測器３２から電流発生器３３に出力されて、白相試験用一次電流が上記（２）の電流経路を流れる。これにより、Ａ線白相変流器二次電流およびＢ線白相変流器二次電流がＡ線白相ブッシング変流器およびＢ線白相ブッシング変流器から出力される。Ａ線白相変流器二次電流およびＢ線白相変流器二次電流がリレー盤３１を介して計測器３２に入力されて、Ａ線白相変流器二次電流およびＢ線白相変流器二次電流の電流値および位相などが測定される。
続いて、青相試験用一次電流を出力するように制御する制御信号が計測器３２から電流発生器３３に出力されて、青相試験用一次電流が上記（３）の電流経路を流れる。これにより、Ａ線青相変流器二次電流およびＢ線青相変流器二次電流がＡ線青相ブッシング変流器およびＢ線青相ブッシング変流器から出力される。Ａ線青相変流器二次電流およびＢ線青相変流器二次電流がリレー盤３１を介して計測器３２に入力されて、Ａ線青相変流器二次電流およびＢ線青相変流器二次電流の電流値および位相などが測定される。
【００４２】
このようにしてＡ線およびＢ線を試験対象回線としてＡ線用赤相、Ａ線用白相およびＡ線用青相ブッシング変流器とＢ線用赤相、Ｂ線用白相およびＢ線用青相ブッシング変流器とについて単相入力のＣＴ一次試験が終了すると、Ａ線およびＣ線を試験対象回線としてＡ線用赤相、Ａ線用白相およびＡ線用青相ブッシング変流器とＣ線用赤相、Ｃ線用白相およびＣ線用青相ブッシング変流器とについてタスキがけ入力のＣＴ一次試験を実施するための配線変更作業が以下のようにして行われる。
【００４３】
図４に示したように、屋内配電盤室端子台３４の第２および第３の出力側端子３４O2，３４O3とＡ線試験用リード接続端子１０Aの接続部１２Cに形成された第８および第１０の配線用ネジ穴１４8，１４10とをそれぞれ接続していた２本の接続線が外される。
【００４４】
図６に示すように、Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第９のネジ穴１３9に螺合されていた１個の手締めネジ１５が外されたのち、３個の手締めネジ１５が、Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第２の赤相試験用リード接続部１２R2および第１の白相試験用リード接続部１２W1の間に形成された第５のネジ穴１３5と、第２の白相試験用リード接続部１２W2および第１の青相試験用リード接続部１２B1の間に形成された第７のネジ穴１３7と、第２の赤相試験用リード接続部１２R2に形成された第１０のネジ穴１３10にそれぞれ螺合される。
また、Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第１乃至第３および第１０乃至第１２のネジ穴１３1〜１３3，１３10〜１３12にそれぞれ螺合されていた６個の手締めネジ１５が外されたのち、１個の手締めネジ１５が、Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第１の赤相試験用リード接続部１２R1および第２の赤相試験用リード接続部１２R2の間に形成された第４のネジ穴１３4に螺合される。
さらに、Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの第４、第６、第８および第９のネジ穴１３4，１３6，１３8，１３9にそれぞれ螺合されていた４個の手締めネジ１５が外されたのち、６個の手締めネジ１５が、Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの第１乃至第３、第５、第７および第１２のネジ穴１３1〜１３3，１３5，１３7，１３12にそれぞれ螺合される。
【００４５】
これにより、電流発生器３３→屋内配電盤室端子台３４の第１の入力側端子３４I1→屋内配電盤室端子台３４の第１の出力側端子３４O1→Ａ試験用リード接続端子１０Aの第１の赤相試験用リード接続部１２R1→Ａ線赤相試験用リード２１AR→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第２の赤相試験用リード接続部１２R2→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの接続部１２C→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第１の白相試験用リード接続部１２W1→Ａ線白相試験用リード２１AW→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第２の白相試験用リード接続部１２W2→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの接続部１２C→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第１の青相試験用リード接続部１２B1→Ａ線青相試験用リード２１AB→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第２の青相試験用リード接続部１２B2→Ａ試験用リード接続端子１０Aのアース部１２E→Ａ線試験用リード接続端子１０Aの第２の赤相試験用リード接続部１２R2→接続線→Ｂ試験用リード接続端子１０Bの接続部１２C→Ｂ試験用リード接続端子１０Bの第２の赤相試験用リード接続部１２R2→接続線→Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの第１の赤相試験用リード接続部１２R1→Ｃ線赤相試験用リード２１CR→Ｃ線試験用リード接続端子１０Aの第２の赤相試験用リード接続部１２R2→Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの接続部１２C→Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの第１の白相試験用リード接続部１２W1→Ｃ線白相試験用リード２１CW→Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの第２の白相試験用リード接続部１２W2→Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの接続部１２C→Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの第１の青相試験用リード接続部１２B1→Ｃ線青相試験用リード２１CB→Ｃ線試験用リード接続端子１０Cの第２の青相試験用リード接続部１２B2→Ｃ線試験用リード接続端子１０Aのアース部１２E→接地点という電流経路が形成される。
【００４６】
なお、Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第１の赤相試験用リード接続部１２R1、第１の白相試験用リード接続部１２W1および第１の青相試験用リード接続部１２B1は、Ｂ線試験用リード接続端子１０Bの第１乃至第３のネジ穴１３1〜１３3によって上下に電気的に分離されているため、Ｂ線赤相、Ｂ線白相およびＢ線青相試験用リード２１BR，２１BW，２１BBを経路の一部とする電流経路は形成されない。
【００４７】
このようにして配線変更作業が完了すると、試験対象回線であるＡ線およびＣ線を停電したのち、タスキがけ入力試験用一次電流を出力するように制御する制御信号が計測器３２から電流発生器３３に出力される。タスキがけ入力試験用一次電流が上記の電流経路を流れることにより、Ａ線赤相変流器二次電流、Ａ線白相変流器二次電流、Ａ線青相変流器二次電流、Ｃ線赤相変流器二次電流、Ｃ線白相変流器二次電流およびＣ線青相変流器二次電流がＡ線用赤相ブッシング変流器、Ａ線用白相ブッシング変流器、Ａ線用青相ブッシング変流器、Ｃ線用赤相ブッシング変流器、Ｃ線用白相ブッシング変流器およびＣ線用青相ブッシング変流器からそれぞれ出力される。Ａ線赤相変流器二次電流、Ａ線白相変流器二次電流、Ａ線青相変流器二次電流、Ｃ線赤相変流器二次電流、Ｃ線白相変流器二次電流およびＣ線青相変流器二次電流がリレー盤３１を介して計測器３２に入力されて、Ａ線赤相変流器二次電流、Ａ線白相変流器二次電流、Ａ線青相変流器二次電流、Ｃ線赤相変流器二次電流、Ｃ線白相変流器二次電流およびＣ線青相変流器二次電流の電流値および位相などが測定される。
【００４８】
以上説明したように、本発明による試験用リード接続端子を用いることにより、複数の回線について単相入力のＣＴ一次試験およびタスキがけ入力のＣＴ一次試験を続けて実施する場合でも、手締めネジ１５の取り付け箇所を変更するだけでよいので、配線変更作業を容易に行うことができる。
【００４９】
なお、以上の説明では、ブッシング変流器として図３に示したブッシング変流器４０を使用したが、図７に示した赤相ブッシング変流器５０Rなどを使用してもよい。
【００５０】
また、アース線を接続するためのアース線接続手段、接続線を接続するための接続線接続手段および試験用リードを接続するための試験用リード接続手段として、配線用ネジ穴を用いたが、クリップや圧着端子を用いてもよい。
また、図１に示したパネル板１１と同じ大きさおよび形状の別のパネル板を用意しておき、試験時にこの別のパネル板に試験用リード接続端子１０を取り付けることにより、試験時以外にはすべての手締めネジ１５を試験用リード接続端子１０の第１乃至第１２のネジ穴１３1〜１３12のうち任意のネジ穴に螺合させて保管するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の一実施例による試験用リード接続端子１０の構成を示す図であり、（ａ）は試験用リード接続端子１０の正面図であり、（ｂ）は手締めネジ１５の斜視図である。
【図２】図１に示した試験用リード接続端子１０を用いて赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bについて単相入力のＣＴ一次試験を実施する方法を説明するための図である。
【図３】図２に示した赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bの構成を説明するための図である。
【図４】図１に示した試験用リード接続端子１０を用いて赤相、白相および青相ブッシング変流器４０R，４０W，４０Bについてタスキがけ入力のＣＴ一次試験を実施する方法を説明するための図である。
【図５】Ａ線、Ｂ線およびＣ線のうちＡ線およびＢ線を試験対象回線として図１に示した試験用リード接続端子１０を用いてブッシング変流器について単相入力のＣＴ一次試験を実施する方法を説明するための図である。
【図６】Ａ線、Ｂ線およびＣ線のうちＡ線およびＣ線を試験対象回線として図１に示した試験用リード接続端子１０を用いてブッシング変流器についてタスキがけ入力のＣＴ一次試験を実施する方法を説明するための図である。
【図７】従来のブッシング変流器について単相入力のＣＴ一次試験を実施する方法を説明するための図である。
【図８】従来のブッシング変流器についてタスキがけ入力のＣＴ一次試験を実施する方法を説明するための図である。
【符号の説明】
【００５２】
１  導体
１R，１W，１B  赤相、白相および青相導体
１０  試験用リード接続端子
１０A，１０B，１０C  Ａ線試験用、Ｂ線試験用リード接続端子
１１  パネル板
１２  配線部
１２E  アース部
１２C  接続部
１２R1，１２R2  第１および第２の赤相試験用リード接続部
１２W1，１２W2  第１および第２の白相試験用リード接続部
１２B1，１２B2  第１および第２の青相試験用リード接続部
１３1〜１３12  第１乃至第１２のネジ穴
１４1〜１４13  第１乃至第１３の配線用ネジ穴
１５  手締めネジ
２１R，２１W，２１B  赤相、白相および青相試験用リード
３１  リレー盤
３２  計測器
３３  電流発生器
３４  屋内配電盤室端子台
３４I1〜３４I4  第１乃至第４の入力側端子
３４O1〜３４O4  第１乃至第４の出力側端子
３５  屋外開閉所端子台
３５I1〜３５I8  第１乃至第８の入力側端子
３５O1〜３５O8  第１乃至第８の出力側端子
４０  ブッシング変流器
４０R，４０W，４０B，５０R，５０W，５０B  赤相、白相および青相ブッシング変流器
４１  鉄心
４２  ブッシング
４３  カバー
４４，４４R，４４W，４４B  挿入口
４５，４５R，４５W，４５B  排出口
４６，４６R，４６W，４６B  試験用リード貫通孔
５１R，５１W，５１B  フック
Ｉ2R，Ｉ2W，Ｉ2B  赤相、白相および青相変流器二次電流
Ｉ2  変流器二次電流
【図１】
2008311304.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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