(57)【要約】【課題】  プローブを使用する際の測定や基板の検証において、プローブの先端の形状に関わらず、プローブの先端を安定した状態で固定しやすくて、プローブの先端を変形させたり壊したりせず、更に、基板に穴を形成する必要がなく、また、ジャンパー線の経路変更の際にボンド付けしないことで基板上の部品名等の情報が見えなくなることを防ぐ。【解決手段】  ジャンパー線２が断面略楕円形に形成されていると共にジャンパー線２の表面に２ｍｍ間隔毎に切込み３が形成され、更に、ジャンパー線２にΩ型の部品４が半田付けによって取付けられており、ジャンパー線２は任意の箇所で切込み３によって折り曲げ可能とされ、基板１上のジャンパー線２に取付けられたΩ型の部品４にプローブ５のカギ型の先端８又は針型の先端７を差し込むか又はワニ型の先端６でΩ型の部品４を掴むことにより測定や検証を行うように構成した。【選択図】  図１
2008064487.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に取付配置されたジャンパー線にプローブ先端のカギ型の先端や針型の先端及びワニ型の先端を接触することにより測定や検証を行うようにした基板の検証構造において、前記ジャンパー線が断面略楕円形に形成されていると共に前記ジャンパー線の表面に２ｍｍ間隔毎に切込みが形成され、更に、前記ジャンパー線にΩ型の部品が半田付けによって取付けられており、前記ジャンパー線は任意の箇所で前記切込みによって折り曲げ可能とされ、前記基板上のジャンパー線に取付けられた前記Ω型の部品に前記プローブのカギ型の先端又は針型の先端を差し込むか又は前記ワニ型の先端で前記Ω型の部品を掴むことにより測定や検証を行うように構成したことを特徴とする基板の検証構造。
【請求項２】
基板上に取付配置されたジャンパー線をプローブ先端のカギ型の先端や針型の先端及びワニ型の先端を接触することにより測定や検証を行うにした基板の検証構造において、前記ジャンパー線の表面に所定間隔毎に切込みが形成され、前記ジャンパー線に挿入用開口を有する部品が半田付けによって取付けられており、前記ジャンパー線は任意の箇所で前記切込みによって折り曲げ可能とされ、前記基板上のジャンパー線に取付けられた前記部品の挿入用開口に前記プローブのカギ型の先端又は針型の先端を差し込むか又は前記ワニ型の先端で前記部品を掴むことにより測定や検証を行うように構成したことを特徴とする基板の検証構造。
【請求項３】
前記挿入用開口を有する部品が両側に腕部を有する縦向きコ字形に形成されている請求項２に記載の基板の検証構造。
【請求項４】
前記挿入用開口を有する部品が両側に腕部を有する逆向きＶ字形に形成されている請求項２に記載の基板の検証構造。
【請求項５】
前記挿入用開口を有する部品が両側に腕部を有する逆向きＵ字形に形成されている請求項２に記載の基板の検証構造。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板上に取付配置されたジャンパー線にプローブ先端のカギ型の先端や針型の先端及びワニ型の先端を接触することにより測定や検証を行うようにした基板の検証構造に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の基板の検証構造は、例えば、図６（ａ）（ｂ）に示すように、基板１０１に取付配置され、測定が必要とされる箇所のジャンパー線１０２の下側に基板１０１を加工して穴１０３を開けて対応していた。また、図７に示すように、基板１０１に取付配置されたジャンパー線１０２にプローブ１０４の先端を当てて測定していたが、プローブ１０４の先端とジャンパー線１０２の測定ポイントの接点が不安定であると、プローブ１０４の固定のために手を使用するので、両手を測定器の操作や記録するためには使用できないという問題があった。更に、測定ポイントを変えて測定データを比較したいときは、プローブ１０４の固定条件が一致しないために、手でプローブ１０４を固定したことによるデータの変化が解り難くて正しく比較できないという問題があった。また、経路変更の際のボンド付けによって、基板１０１の表面に記載された部品名などの情報がボンドによって見えなくなるという問題があった。
【０００３】
第１の従来技術を図８（ａ）（ｂ）に示す。この従来の高機能ＩＣソケットは、図８（ａ）に示すように、下部ソケット２０１と上部ソケット２０２を連結支柱２０３で接続して上下二段に重ね、各ソケット２０１、２０２の端子２０５、２０６間を着脱自在なジャンパー線２０４で接続している。更に、図９（ｂ）に示すように、一方側のジャンパー線２０４の途中に分岐線２１０を付け、この分岐線２１０の端部にプローブ用端子２１１を取り付けている。（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
ところが、これにおいては、基板に関するものではなく、ＩＣのパッケージに関するものであって、更に、プローブ用端子２１１は、プローブの先端がワニ型のもののみに対応できるだけであり、先端がカギ型や針型のプローブではプローブ用端子２１１が不安定であるために測定がし難く、外れやすいという問題があった。
【特許文献１】特開平８−２２２３３４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、上記従来の問題に鑑みてなされたものであって、プローブを使用する際の測定や基板の検証において、プローブの先端の形状に関わらず、プローブの先端を安定した状態で固定しやすくて、プローブの先端を変形させたり壊したりせず、更に、基板に穴を形成する必要がなく、また、ジャンパー線の経路変更の際にボンド付けしないことで基板上の部品名等の情報が見えなくなることを防ぐことができる基板の検証構造を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上記課題を解決するために提案されたものであって、請求項１に記載の発明は、基板上に取付配置されたジャンパー線にプローブ先端のカギ型の先端や針型の先端及びワニ型の先端を接触することにより測定や検証を行うようにした基板の検証構造において、前記ジャンパー線が断面略楕円形に形成されていると共に前記ジャンパー線の表面に２ｍｍ間隔毎に切込みが形成され、更に、前記ジャンパー線にΩ型の部品が半田付けによって取付けられており、前記ジャンパー線は任意の箇所で前記切込みによって折り曲げ可能とされ、前記基板上のジャンパー線に取付けられた前記Ω型の部品に前記プローブのカギ型の先端又は針型の先端を差し込むか又は前記ワニ型の先端で前記Ω型の部品を掴むことにより測定や検証を行うように構成したことを特徴としている。
【０００７】
請求項２に記載の発明は、基板上に取付配置されたジャンパー線をプローブ先端のカギ型の先端や針型の先端及びワニ型の先端を接触することにより測定や検証を行うにした基板の検証構造において、前記ジャンパー線の表面に所定間隔毎に切込みが形成され、前記ジャンパー線に挿入用開口を有する部品が半田付けによって取付けられており、前記ジャンパー線は任意の箇所で前記切込みによって折り曲げ可能とされ、前記基板上のジャンパー線に取付けられた前記部品の挿入用開口に前記プローブのカギ型の先端又は針型の先端を差し込むか又は前記ワニ型の先端で前記部品を掴むことにより測定や検証を行うように構成したことを特徴としている。
【０００８】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、前記挿入用開口を有する部品が両側に腕部を有する縦向きコ字形に形成されている。
【０００９】
請求項４に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、前記挿入用開口を有する部品が両側に腕部を有する逆向きＶ字形に形成されている。
【００１０】
請求項５に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、前記挿入用開口を有する部品が両側に腕部を有する逆向きＵ字形に形成されている
【発明の効果】
【００１１】
請求項１に記載の発明によれば、ジャンパー線が断面略楕円形に形成されていると共にジャンパー線の表面に２ｍｍ間隔毎に切込みが形成されているから、ジャンパー線を任意の箇所で折り曲げることができ、基板に取り付けられるジャンパー線の長さを自由に変更することができる。このとき、ジャンパー線にΩ型の部品を取り付けたときに、Ω型の部品分高さが高くなっても基板上の周辺回路上には一般にコンデンサ等の高さがある部品が取り付けられているから、Ω型の部品が干渉することがない。また、切込みが２ｍｍ毎に形成されているから、精密な長さでジャンパー線を折り曲げることができる。また、ジャンパー線が断面略楕円形に形成されているから、このジャンパー線をより一層曲げ易い利点がある。更に、Ω型の部品をジャンパー線に半田付けで取り付けるから、プローブの先端がワニ型の場合にはこのΩ型の部品を掴み、プローブの先端がカギ型や針型の場合にはこのΩ型の部品の孔部分に挿入してプローブの先端を固定することができるから、プローブによる測定や検証を手でプローブを持つ必要がなく、両手を測定器や記録のために使用することができると共に、プローブの先端を変形させたり壊したりすることがない。また、Ω型の部品を半田付けで固定するから、ボンドを使用する必要がなく、基板上の部品名等の情報が見えなくなることを防ぐことができる。更に、Ω型の部品をジャンパー線のどの位置でも測定用や経路変更用として取り付け可能であり、ボンドを使用しないから、経路変更の際に基板上の部品名等の情報が見えなくなることがない。
【００１２】
請求項２に記載の発明によれば、ジャンパー線に所定間隔毎に切込みが形成されているから、ジャンパー線を任意の箇所で折り曲げることができ、基板に取り付けられるジャンパー線の長さを自由に変更することができる。このとき、ジャンパー線に挿入用開口を有する部品を取り付けたときに、この部品分高さが高くなっても基板上周辺回路上には一般にコンデンサ等の高さがある部品が取り付けられているから、この部品が干渉することがない。更に、挿入用開口を有する部品が半田付けによってジャンパー線に取り付けるから、プローブの先端がワニ型であってもカギ型や針型であってもこの部品にプローブの先端を固定することができるから、プローブによる測定や検証を手でプローブを持つ必要がなく、両手を測定器や記録のために使用することができると共に、プローブの先端を変形させたり壊したりすることがない。また、挿入用開口を有する部品を半田付けで固定するから、ボンドを使用する必要がなく、基板上の部品名等の情報が見えなくなることを防ぐことができる。更に、挿入用開口を有する部品をジャンパー線のどの位置でも測定用や経路変更用として取り付け可能であり、ボンドを使用しないから、経路変更の際に基板上の部品名等の情報が見えなくなることがない。
【００１３】
請求項３に記載の発明によれば、挿入用開口を有する部品が両側に腕部を有する縦向きコ字形に形成されているから、この部品を簡単に加工することができる。更に、プローブの先端がワニ型の場合はこの部品を掴み、プローブの先端がカギ型や針型の場合には、挿入用開口にプローブの先端を挿入して安定した状態でこの部品にプローブの先端を固定することができる。
【００１４】
請求項４に記載の発明によれば、挿入用開口を有する部品が両側に腕部を有する逆向きＶ字形に形成されているから、この部品を簡単に加工することができる。更に、プローブの先端がワニ型の場合はこの部品を掴み、プローブの先端がカギ型や針型の場合には、挿入用開口にプローブの先端を挿入して安定した状態でこの部品にプローブの先端を固定することができる。
【００１５】
請求項５に記載の発明によれば、挿入用開口を有する部品が両側に腕部を有する逆向きＵ字形に形成されているから、この部品を簡単に加工することができる。更に、プローブの先端がワニ型の場合はこの部品を掴み、プローブの先端がカギ型や針型の場合には、挿入用開口にプローブの先端を挿入して安定した状態でこの部品にプローブの先端を固定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明に係る基板の検証構造の実施の形態について、図を参照しつつ説明する。
【００１７】
図１は本発明の基板の検証構造の第１実施形態を示し、（ａ）はジャンパー線にΩ型の部品を取り付ける際の斜視図、（ｂ）はジャンパー線にΩ型の部品を半田付けして取り付けた状態の斜視図、（ｃ）は（ｂ）の正面図である。
【００１８】
この第１実施形態の基板の検証構造は、図１（ａ）に示すように、基板１に取り付けられるジャンパー線２が断面略楕円形に形成され（図３参照）、２ｍｍ毎に切込み３が形成されている。このジャンパー線２は所望の間隔でその両側を切込み３から折り曲げられるようになっている。このジャンパー線２には図１（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すようにΩ型の部品４が半田付けによって所望の箇所に取り付けられるようになっている。
【００１９】
図２は同基板の検証構造におけるΩ型の部品にプローブの先端を固定する状態を示し、（ａ）はプローブの先端がワニ型である場合の斜視図、（ｂ）はプローブの先端が針型である場合の斜視図、（ｃ）はプローブの先端がカギ型である場合の斜視図である。
【００２０】
図２（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように、ジャンパー線２に取り付けられたΩ型の部品４はプローブ５のワニ型の先端６で掴むかもしくはプローブ５のピン状の先端７又はカギ状の先端８を孔部分４ａに差し込むかして測定や検証を行うようにして使用される。
【００２１】
図３は同基板の検証構造におけるジャンパー線の形状と折り曲げ長さを示し、（ａ）は１の長いジャンパー線を所望の長さに切断して所定の箇所を切断する状態を示す斜視図、（ｂ）はジャンパー線が長い寸法で切断されてその両端部を折り曲げて基板に半田付けした際の正面図、（ｃ）はジャンパー線の水平部分が短い寸法で切断されてその両端部を折り曲げて基板に半田付けした際の正面図である。
【００２２】
図３（ａ）に示すように、ジャンパー線２は断面略楕円形に形成され、２ｍｍ間隔毎に切込み３が形成され、所望の箇所で切断されてその両端部が折り曲げられるようになっている。図３（ｂ）ではジャンパー線２が、長めの寸法で切断されてその水平部分が長めの寸法ｈ１で折り曲げられてからその端部が基板１に半田付けで取り付けられ、図３（ｃ）ではジャンパー線２が、短めの寸法で切断されてその水平部分が短めの寸法ｈ２で折り曲げられてからその端部が基板１に半田付けで取り付けられている。例えば、ジャンパー線２の長さが１．２ｍｍであれば、ｈ１の長さが１５ｍｍ、ｈ２の長さが１０ｍｍであれば、ｈ１の長さのジャンパー線２とｈ２の長さのジャンパー線２が約４０本作ることができる。即ち、基板１の穴に通して折り曲げて半田付けするときに、折り曲げ長さが７．５ｍｍ必要ならば、１０ｍｍのジャンパー線２も１５ｍｍのジャンパー線２も全長が約３０ｍｍ必要であり、切断前のジャンパー線２が１．２ｍならば、１２００ｍｍ÷３０ｍｍ＝４０となり、約４０本のジャンパー線２が作れることになる。このとき、ｈ２が１０ｍｍのジャンパー線２とｈ１が１５ｍｍのジャンパー線の組み合わせは自由である。また、ジャンパー線２を基板１上に取り付けるための穴が基板１に開いているから、ジャンパー線２の折り曲げた部分をこの穴に通して基板１の裏面で半田付けをする。
【００２３】
従って、この第１実施形態によれば、ジャンパー線２が断面略楕円形に形成されていると共にジャンパー線２の表面に２ｍｍ間隔毎に切込み３が形成されているから、ジャンパー線２を任意の箇所で折り曲げることができ、基板１に取り付けられるジャンパー線２の水平部分の長さを自由に変更することができる。このとき、ジャンパー線２にΩ型の部品４を取り付けた際にこのΩ型の部品４分高さが高くなっても、基板１上の周辺回路上には一般にコンデンサ等の高さがある部品（図示略）が取り付けられているから、Ω型の部品４が干渉することがない。また、切込み３が２ｍｍ毎に形成されているから、精密な長さでジャンパー線２を折り曲げることができる。また、ジャンパー線２が断面略楕円形に形成されているから、このジャンパー線２をより一層曲げ易い利点がある。また、従来のジャンパー線は各長さ毎のジャンパー線が存在するが、本実施形態では、１本の長いジャンパー線２を所望の長さに切断して各長さのジャンパー線２を得ることができる。
【００２４】
更に、Ω型の部品４をジャンパー線２に半田付けで取り付けるから、プローブ５の先端がワニ型の場合にはこのΩ型の部品４を掴み、プローブ５の先端がカギ型や針型の場合にはこのΩ型の部品４の孔部分４ａに挿入してプローブ５の先端を固定することができるから、プローブ５による測定や検証を手でプローブ５を持つ必要がなく、両手をオシロスコープ等の測定器や記録のために使用することができると共に、プローブ５の先端を変形させたり壊したりすることがない。また、Ω型の部品４を半田付けで固定するから、ボンドを使用する必要がなく、基板１上の部品名等の情報が見えなくなることを防ぐことができる。更に、Ω型の部品４をジャンパー線２のどの位置でも測定用や経路変更用として取り付け可能であり、ボンドを使用しないから、経路変更の際に基板１上の部品名等の情報が見えなくなることがない。
【００２５】
図４は第２実施形態の基板の検証構造の斜視図である。
【００２６】
この第２実施形態の基板の検証構造は、図４に示すように、両側に腕部４ｂを有する縦向きコ字形の部品４Ａを、基板１に取り付けられたジャンパー線２に半田付けで取り付けている。従って、この第２実施形態によれば、部品４Ａが両側に腕部４ｂを有する縦向きコ字形に形成されているから、この部品４Ａを簡単に加工することができる。更に、プローブ５の先端がワニ型の場合はこの部品を掴み、プローブ５の先端がカギ型や針型の場合には、挿入用開口４ｃにプローブ５の先端を挿入して安定した状態でこの部品４Ａにプローブ５の先端を固定することができる。
【００２７】
図５は第３実施形態の基板の検証構造の斜視図である。
【００２８】
この第３実施形態の基板の検証構造は、図５に示すように、両側に腕部４ｂを有する断面逆向きＶ字形の部品４Ｂを、基板１に取り付けられたジャンパー線２に半田付けで取り付けている。従って、この第３実施形態によれば、部品４Ｂが両側に腕部４ｂを有する逆向きＶ字形に形成されているから、この部品４Ｂを簡単に加工することができる。更に、プローブ５の先端がワニ型の場合はこの部品４Ｂを掴み、プローブ５の先端がカギ型や針型の場合には、挿入用開口４ｄにプローブ５の先端を挿入して安定した状態でこの部品４Ｂにプローブ５の先端を固定することができる。
【００２９】
尚、ジャンパー線２に取り付けられる挿入用開口を有する部品は、上記した各実施形態に限らず、例えば、両側に腕部を有する逆向きＵ字形等の他の形状も適用できることは勿論である。また、上記実施形態では、ジャンパー線２が断面略楕円形に形成されたものについて説明したが、これに限らず、断面略円形状等のものも適用できる。更に、上記実施形態では、ジャンパー線２に２ｍｍ間隔毎の切込み３を形成したものについて説明したが、１．５ｍｍ毎の切込みや２．５ｍｍ毎の切込みであってもよく、所定間隔毎に切込みが設けられていればよいものである。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の基板の検証構造の第１実施形態を示し、（ａ）はジャンパー線にΩ型の部品を取り付ける際の斜視図、（ｂ）はジャンパー線にΩ型の部品を半田付けして取り付けた状態の斜視図、（ｃ）は（ｂ）の正面図である。
【図２】同基板の検証構造におけるΩ型の部品にプローブの先端を固定する状態を示し、（ａ）はプローブの先端がワニ型である場合の斜視図、（ｂ）はプローブの先端が針型である場合の斜視図、（ｃ）はプローブの先端がカギ型である場合の斜視図である。
【図３】同基板の検証構造におけるジャンパー線の形状と折り曲げ長さを示し、（ａ）は１の長いジャンパー線を所望の長さに切断して所定の箇所を切断する状態を示す斜視図、（ｂ）はジャンパー線が長い寸法で切断されてその両端部を折り曲げて基板に半田付けした際の正面図、（ｃ）はジャンパー線の水平部分が短い寸法で切断されてその両端部を折り曲げて基板に半田付けした際の正面図である。
【図４】第２実施形態の基板の検証構造の斜視図である。
【図５】第３実施形態の基板の検証構造の斜視図である。
【図６】従来の基板の検証構造の第１例を示し、（ａ）はその斜視図、（ｂ）はその正面断面図である。
【図７】従来の基板の検証構造の第２例を示す斜視図である。
【図８】従来の高機能ソケットを示し、（ａ）はその正面図、（ｂ）はその片方のジャンパー線と他方の分岐線付きジャンパー線とを示す斜視図である。
【符号の説明】
【００３１】
１      基板
２      ジャンパー線
３      切込み
４      Ω型の部品
４Ａ    縦向きコ字形の部品
４Ｂ    逆向きコ字形の部品
４ａ    孔部分
４ｂ    腕部
４ｃ    挿入用開口
４ｄ    挿入用開口
５      プローブ
６      ワニ型の先端
７      ピン状の先端
８      カギ状の先端
【図１】
2008064487.tif 000003
【図２】
2008064487.tif 000004
【図３】
2008064487.tif 000005
【図４】
2008064487.tif 000006
【図５】
2008064487.tif 000007
【図６】
2008064487.tif 000008
【図７】
2008064487.tif 000009
【図８】
2008064487.tif 000010