(57)【要約】【課題】半導体装置の実装領域において、リフロー時の表面絶縁樹脂層の反りを防止し得るプリント配線板を提供する。【解決手段】コア基板１１の両面に導体配線層１２，１４ａ，１４ｂと層間絶縁樹脂層１３とが交互に積層されるとともに、最表面の導体配線層上が表面絶縁樹脂層１６により覆われてなる多層プリント配線板１であって、半導体装置の実装領域１０内で、当該半導体装置の外部電極と接合される導体ランド１４ａを除いた当該半導体装置直下の領域において、上記層間絶縁樹脂層１３上に形成された表面絶縁樹脂層１６を方形状に除去して、中央に除去部１７を形成したものである。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、当該半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた当該半導体装置直下の領域において、上記層間絶縁樹脂層上または上記導体配線層上に形成された上記表面絶縁樹脂層の一部が除去されていることを特徴とするプリント配線板。
【請求項２】
コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、当該半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた当該半導体装置直下の領域において、最表面の上記導体配線層の一部が除去されていることを特徴とするプリント配線板。
【請求項３】
コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、上記層間絶縁樹脂層上または上記導体配線層上に形成された上記表面絶縁樹脂層の一部および最表面の上記導体配線層の一部が除去されていることを特徴とするプリント配線板。
【請求項４】
半導体装置直下の領域に形成された導体ランド部を除いた導体配線層は、上記導体ランド部と電気的に接続されていないダミー配線であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載のプリント配線板。
【請求項５】
導体配線層の一部が除去されている領域上に形成された表面絶縁樹脂層が凹状に形成されていることを特徴とする請求項２乃至４のいずれか一項に記載のプリント配線板。
【請求項６】
コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、スルーホールまたはビアホールが複数形成されていることを特徴とするプリント配線板。
【請求項７】
スルーホールまたはビアホールは導体ランド部と電気的に接続されていないダミー配線であることを特徴とする請求項６記載のプリント配線板。
【請求項８】
コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が第１の表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、上記第１の表面絶縁樹脂層上に第２の表面絶縁樹脂層が形成されていることを特徴とするプリント配線板。
【請求項９】
コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が第１の表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、上記第１の表面絶縁樹脂層の一部が除去されるとともに、この除去部に第２の表面絶縁樹脂層が形成されていることを特徴とするプリント配線板。
【請求項１０】
第２の表面絶縁樹脂層として、その熱膨張率が第１の表面絶縁樹脂層の熱膨張率よりも小さいものを用いたことを特徴とする請求項８または９に記載のプリント配線板。
【請求項１１】
コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記表面絶縁樹脂層を形成するとともにに上記表面絶縁樹脂層の一部を除去する工程を具備したことを特徴とするプリント配線板の製造方法。
【請求項１２】
コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、最表面の上記導体配線層を形成するとともに最表面の上記導体配線層の一部を除去する工程を具備したことを特徴とするプリント配線板の製造方法。
【請求項１３】
コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記表面絶縁樹脂層を形成するとともに上記表面絶縁樹脂層の一部を除去する工程と、最表面の上記導体配線層を形成するとともに最表面の上記導体配線層の一部を除去する工程とを具備したことを特徴とするプリント配線板の製造方法。
【請求項１４】
コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記表面絶縁樹脂層を形成する工程の前にスルーホールまたはビアホールを形成する工程を具備したことを特徴とするプリント配線板の製造方法。
【請求項１５】
コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に第１の表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記第１の表面絶縁樹脂層上に第２の表面絶縁樹脂層を形成する工程を具備したことを特徴とするプリント配線板の製造方法。
【請求項１６】
コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に第１の表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記第１の表面絶縁樹脂層を形成するとともに上記第１の表面絶縁樹脂層の一部を除去し、上記除去部に第２の表面絶縁樹脂層を形成する工程を具備したことを特徴とするプリント配線板の製造方法。
【請求項１７】
請求項１乃至１０のいずれか一項に記載のプリント配線板を搭載したことを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリント配線板及びその製造方法並びにそれを用いた電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子機器の小型・薄型化および高性能化のために、半導体装置の実装技術の高密度化が加速している。プリント配線板の小型・薄型化・多層化が進み、はんだの鉛フリー化に加え、実装ランド部（はんだ接合部）への供給はんだ高さ・量は減少する傾向にある。このため、プリント配線板の反りが実装品質・信頼性に与える影響は非常に大きくなり、プリント配線板の反り挙動によって発生する実装不具合が増加している。
【０００３】
そこで、従来技術では、プリント配線板の全体の反り量を低減するため、プリント配線板の外周部と内周部とで配線層の形成面積比率を最適化して反りバランスを向上させる（例えば、特許文献１参照）、またはプリント配線板の外周部にダミー配線層を設け、プリント配線板全体の剛性を上げるなどの対策がとられている（例えば、特許文献２参照）。
【０００４】
他の製造方法としては、ローラで圧力をかける、加熱方法を最適化するなどの対策を行っており、プリント配線板全体としての反り低減が図られている。
ここで、従来のプリント配線板における半導体装置の実装領域の構成について、図面を参照しながら説明する。
【０００５】
図１０および図１１は、ＱＦＰやＱＦＮに代表される表面実装リード型の半導体装置の実装領域１００を示したものである。コア基板１０１の両側に導体配線層（内層）１０２を備え、この上に層間絶縁樹脂層１０３を形成して覆い、さらにこの上に導体配線層（外層）１０４ｂおよび半導体装置を実装（はんだ接合等）するための導体ランド１０４ａを備え、最表面には表面絶縁樹脂層１０５を備えた４層板の例である。
【０００６】
図１０では、半導体装置の実装領域１００内で、かつ、導体ランド１０４ａを除いた半導体装置直下の領域において、表面絶縁樹脂層１０５は全面的に均一・平坦に形成されている。
【０００７】
また、図１１では、半導体装置の実装領域１００内で、かつ、導体ランド１０４ａを除いた半導体装置直下の領域において、放熱性・電気特性向上や剛性確保を目的とした導体配線層１０４ｂが全面的に形成され、さらにこの上に表面絶縁樹脂層１０５が全面的に均一・平坦に形成された状態となっている。
【０００８】
このように、従来技術では、プリント配線板全体としての反り対策は実施されているが、各半導体装置の実装領域については何も対策されていないのが現状であり、プリント配線板全体の反りを低減できれば、必然的に各半導体装置の実装領域の反りも低減できると考えられている。
【特許文献１】特開昭５９−２０２６８１号公報
【特許文献２】特開２００２−７６５３０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、プリント配線板全体の反り挙動ではなく、各半導体装置の実装領域における最表面の表面絶縁樹脂層（ソルダーレジスト）の反り挙動（膨れ）が実装不具合につながるケースが増加している。ＱＦＰ・ＳＯＰ・ＱＦＮ、または、外周部にのみ外部電極を備えるＢＧＡ・ＬＧＡ等の表面実装型のものを実装する場合、各半導体装置の直下に形成された表面絶縁樹脂層がリフロー時の加熱（２００℃以上）によって１００μｍレベルで反り（膨れ）あがり、半導体装置の裏面と接触することによって、半導体装置の浮き上がりや接続回路のオープン、または実装強度・信頼性の劣化といった実装不具合が発生するという課題があった。特に、表面絶縁樹脂層が広い面積で均一・平坦に形成された領域では顕著に発生する。
【００１０】
そこで、本発明は、プリント配線板の各半導体装置の実装領域において、リフロー時の表面絶縁樹脂層の反り（膨れ）を防止し、実装歩留りおよび実装品質・信頼性を向上させ得るプリント配線板およびその製造方法並びにそれを用いた電子機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するため、本発明の請求項１に係るプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、当該半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた当該半導体装置直下の領域において、上記層間絶縁樹脂層上または上記導体配線層上に形成された上記表面絶縁樹脂層の一部が除去されたものである。
【００１２】
また、請求項２に係るプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、当該半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた当該半導体装置直下の領域において、最表面の上記導体配線層の一部が除去されたものである。
【００１３】
また、請求項３に係るプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、上記層間絶縁樹脂層上または上記導体配線層上に形成された上記表面絶縁樹脂層の一部および最表面の上記導体配線層の一部が除去されたものである。
【００１４】
また、請求項４に係るプリント配線板は、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の配線板において、半導体装置直下の領域に形成された導体ランド部を除いた導体配線層を、上記導体ランド部と電気的に接続されていないダミー配線としたものである。
【００１５】
また、請求項５に係るプリント配線板は、請求項２乃至４のいずれか一項に記載の配線板において、導体配線層の一部が除去されている領域上に形成された表面絶縁樹脂層を凹状に形成したものである。
【００１６】
また、請求項６に係るプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、スルーホールまたはビアホールが複数形成されたものである。
【００１７】
また、請求項７に係るプリント配線板は、請求項６に記載の配線板におけるスルーホールまたはビアホールを、導体ランド部と電気的に接続されていないダミー配線としたものである。
【００１８】
また、請求項８に記載のプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が第１の表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、上記第１の表面絶縁樹脂層上に第２の表面絶縁樹脂層が形成されたものである。
【００１９】
また、請求項９に係るプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が第１の表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、上記第１の表面絶縁樹脂層の一部が除去されるとともに、この除去部に第２の表面絶縁樹脂層が形成されたものである。
【００２０】
また、請求項１０に係るプリント配線板は、請求項８または９に記載の配線板において、第２の表面絶縁樹脂層として、その熱膨張率が第１の表面絶縁樹脂層の熱膨張率よりも小さいものを用いたものである。
【００２１】
また、請求項１１に係るプリント配線板の製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記表面絶縁樹脂層を形成するとともに上記表面絶縁樹脂層の一部を除去する工程を具備した方法である。
【００２２】
また、請求項１２に係るプリント配線板の製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、最表面の上記導体配線層を形成するとともに最表面の上記導体配線層の一部を除去する工程を具備した方法である。
【００２３】
また、請求項１３に係るプリント配線板の製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記表面絶縁樹脂層を形成するとともに上記表面絶縁樹脂層の一部を除去する工程と、最表面の上記導体配線層を形成するとともに最表面の上記導体配線層の一部を除去する工程とを具備した方法である。
【００２４】
また、請求項１４に係るプリント配線板の製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記表面絶縁樹脂層を形成する工程の前にスルーホールまたはビアホールを形成する工程を具備した方法である。
【００２５】
また、請求項１５に係るプリント配線板の製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に第１の表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記第１の表面絶縁樹脂層上に第２の表面絶縁樹脂層を形成する工程を具備した方法である。
【００２６】
また、請求項１６に係るプリント配線板の製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に第１の表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、
半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記第１の表面絶縁樹脂層を形成するとともに上記第１の表面絶縁樹脂層の一部を除去し、上記除去部に第２の表面絶縁樹脂層を形成する工程を具備した方法である。
【００２７】
さらに、請求項１７に係る電子機器は、上述した請求項１乃至１０のいずれか一項に記載のプリント配線板を搭載したものである。
【発明の効果】
【００２８】
上述した各プリント配線板およびその製造方法並びにそれを用いた電子機器によると、各半導体装置の実装領域において、表面絶縁樹脂層の面積を小さく若しくは分割したので、または最表面の導体配線層の面積を小さくしてこの上に配置される表面絶縁樹脂層に凹状部を形成することにより表面絶縁樹脂層自体を分割したのと同じ作用を得るようにしたので、リフロー加熱時の各部での表面絶縁樹脂層の膨れ量を小さく抑えることができ、実装歩留りおよび実装品質・信頼性を向上させることができる。
【００２９】
また、スルーホールまたはビアホールを形成する場合、および第１の表面絶縁樹脂層上に熱膨張率の小さい第２の表面絶縁樹脂層を形成する場合でも同様の作用が、すなわちリフロー加熱時の各部での表面絶縁樹脂層の膨れ量を小さく抑えることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明に係るプリント配線板およびその製造方法並びにそれを用いた電子機器の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
なお、以下の説明に用いる図面は、プリント配線板の要部、すなわち半導体装置を実装するための実装領域を示している。
［実施の形態１］
以下、本発明の実施の形態１に係るプリント配線板およびその製造方法について説明する（請求項１および請求項１１に対応する）。
【００３１】
まず、プリント配線板の構成を図１に基づき説明する。
本実施の形態１に係るプリント配線板１の実装領域１０は、コア基板１１の両側に導体配線層（内層）１２を備え、この上に層間絶縁樹脂層１３を形成して覆い、さらにこの上に導体配線層（外層）１４ｂおよび半導体装置を実装（はんだ接合等）するための複数の導体ランド（導体ランド部）１４ａを備え、最表面には表面絶縁樹脂層１６を備えた４層構造（４層板）にされている。これらの導体ランド１４ａは、実装領域１０の周囲（周縁部）に配置されている。図１には、ＱＦＰやＱＦＮに代表される表面実装リード型の半導体装置の実装領域１０が示されている。
【００３２】
なお、プリント配線板１の全体の厚さは、主に０．４〜１．６ｍｍの範囲にされており、また層数は単層〜１０層に、またはそれ以上とされる（制限はなく、図１では、４層の場合を示している）。
【００３３】
上記コア基板１１および層間絶縁樹脂層１３には、紙基材やガラス基材、ガラス不織布基材、アラミド不織布といった補強用の基材に、フェノール樹脂やエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂等を含浸させたものが多く用いられている。
【００３４】
上述した導体配線層（内層）１２、導体配線層（外層）１４ｂおよび導体ランド１４ａには一般的にＣｕ材が使用され、大きくはＣｕ箔をエッチングによって配線を形成する方法とＣｕめっきにより配線を形成する方法とがある。なお、その厚さは約１０〜４０μｍの範囲とされ、一般的に、内層の方が外層よりも薄く設定されている。
【００３５】
上記導体ランド１４ａの表面処理には耐熱プリフラックス、またはＮｉ、Ｐｄ、Ａｕめっき等が施され、はんだ付け性が向上されており、また表面絶縁樹脂層１６には、ソルダーレジストと呼ばれる感光性樹脂が多く用いられており、その厚さは約１０〜４０μｍの範囲とされている。
【００３６】
図示していないが、導体配線層（内層）１２、導体配線層（外層）１４ｂおよび導体ランド１４ａは、それぞれスルーホール、ビアホールなどを介して、互いに接続されて、所定（所望）の回路が形成されている。
【００３７】
そして、さらに、プリント配線板１の実装領域１０内で、かつ、周縁部に配置された導体ランド１４ａを除いた半導体装置直下の領域（中央部分）においては、表面絶縁樹脂層１６が方形状（例えば、正方形）に除去されて、すなわち方形状の除去部１７が形成されて下層の層間絶縁樹脂層１３が露出されている。
【００３８】
ここで、このプリント配線板１の製造方法を一般的な形で記載しておく。
すなわち、この製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記表面絶縁樹脂層を形成するとともに上記表面絶縁樹脂層の一部を選択的に除去する工程を具備した方法である。
【００３９】
なお、この製造方法では、単層の場合も含めて記載したが、プリント配線板の構成についても、単層（この場合、上述した繰り返す所定回数は１回となる）であっても適用し得るものである（この単層の適用については、以下に示す各実施の形態についても同様に当てはまるものである）。
【００４０】
このプリント配線板およびその製造方法によると、表面絶縁樹脂層１６の中央部分が方形状に除去されているため、表面絶縁樹脂層１６が膨れ上がる領域が極めて小さくなり、半導体装置を実装する際のリフロー加熱時において、配線板の表面が半導体装置裏面に接触するという不具合を防止することができる。
【００４１】
なお、図１では、除去部１７の形状を正方形としたが、この形状は長方形や多角形、または円形でもよく、要するに、表面絶縁樹脂層１６が膨れ上がる領域を除去すればよい。
［実施の形態２］
以下、本発明の実施の形態２に係るプリント配線板およびその製造方法を、図２に基づき説明する（請求項１および請求項１１に対応する）。
【００４２】
上述した実施の形態１においては、層間絶縁樹脂層１３の上方の表面絶縁樹脂層１６を方形状に除去したが、本実施の形態２においては、スリット状に除去するようにしたもので、他の構成部分については、実施の形態１と同じであるため、この部分に着目して説明するとともに、実施の形態１と同じ構成部材については、同一番号を用いてその説明を省略する。
【００４３】
図２に示すように、このプリント配線板１の実装領域１０内で、かつ、周縁部に複数配置された導体ランド（導体ランド部）１４ａを除いた半導体装置直下の領域（中央部分）においては、表面絶縁樹脂層１６がスリット状（短冊状ともいえる）に除去されて、すなわちスリット状の除去部１７が複数形成されて、下層の層間絶縁樹脂層１３が露出されている。
【００４４】
この構成によると、表面絶縁樹脂層１６が膨れ上がる領域を細分化し、それぞれの膨れ上がり量を低減させることによって、半導体装置を実装する際のリフロー加熱時において、配線板の表面すなわち表面絶縁樹脂層１６が半導体装置裏面に接触するという不具合を防止することができる。
【００４５】
なお、本実施の形態２に係るプリント配線板１の製造方法については、実施の形態１と同一であるため、その説明を省略する。
［実施の形態３］
以下、本発明の実施の形態３に係るプリント配線板およびその製造方法を、図３に基づき説明する（請求項１および請求項１１に対応する）。
【００４６】
上述した実施の形態１においては、層間絶縁樹脂層１３の上方の表面絶縁樹脂層１６を方形状に除去したが、本実施の形態３においては、格子状に除去するようにしたもので、他の構成部分については、実施の形態１と同じであるため、この部分に着目して説明するとともに、実施の形態１と同じ構成部材については、同一番号を用いてその説明を省略する。
【００４７】
図３に示すように、このプリント配線板１の実装領域１０内で、かつ、周縁部に複数配置された導体ランド（導体ランド部）１４ａを除いた半導体装置直下の領域（中央部分）においては、表面絶縁樹脂層１６が所定幅の溝により格子状に除去されて、すなわち格子状の除去部（溝部ともいえる）１７が形成されて、下層の層間絶縁樹脂層１３が露出されている。
【００４８】
この構成によると、上述した実施の形態２と同様に、表面絶縁樹脂層１６が膨れ上がる領域を細分化し、それぞれの膨れ上がり量を低減させることによって、半導体装置を実装する際のリフロー加熱時において、配線板の表面すなわち表面絶縁樹脂層１６が半導体装置裏面に接触するという不具合を防止することができる。
【００４９】
なお、本実施の形態３に係るプリント配線板１の製造方法についても、実施の形態１と同一であるため、その説明を省略する。
ところで、実施の形態２または実施の形態３においては、除去部を縦方向のスリット状または格子状にしたが、この形状は横方向や斜め方向のスリットでもよく、また斜めのメッシュ状でもよい。さらに、各スリットや格子・メッシュの寸法・角度は統一されている必要もない。
【００５０】
これら実施の形態２または実施の形態３に係る構成は、プリント配線板の吸湿特性・信頼性に悪影響があり、実施の形態１の構成が適用できない場合に有効である。
［実施の形態４］
以下、本発明の実施の形態４に係るプリント配線板およびその製造方法を、図４に基づき説明する（請求項２、請求項５および請求項１２に対応する）。
【００５１】
上述した実施の形態１においては、層間絶縁樹脂層１３の上方の表面絶縁樹脂層１６を方形状に除去したが、本実施の形態４においては、表面絶縁樹脂層１６下に形成された導体配線層１４ｂの一部を除去したもので、他の構成部分については、実施の形態１と同じであるため、この部分に着目して説明するとともに、実施の形態１と同じ構成部材については、同一番号を用いてその説明を省略する。
【００５２】
図４に示すように、このプリント配線板１の実装領域１０内で、かつ、周縁部に複数配置された導体ランド（導体ランド部）１４ａを除いた半導体装置直下の領域（中央部分）における表面絶縁樹脂層１６下に形成された導体配線層（外層）１４ｂが所定幅の溝でもって格子状に除去されている。すなわち、導体配線層１４ｂに、格子状に除去部１５が形成されて、複数個（図面上では、３×３＝９個）の孤立した例えば正方形をした導体配線層１４ｂが形成されたことになる（分割された形状にされている）。
【００５３】
この構成により、導体配線層（外層）１４ｂ上の表面絶縁樹脂層１６は均一・平坦ではなく、除去部１５によって凹状にされ（凹状部が形成され）、導体配線層（外層）１４ｂと同様に表面絶縁樹脂層１６も擬似的に分割された状態にされている。
【００５４】
このため、表面絶縁樹脂層１６が膨れ上がる領域が細分化され、それぞれの膨れ上がり量が低減し、したがって半導体装置を実装する際のリフロー加熱時において、配線板の表面すなわち表面絶縁樹脂層１６が半導体装置裏面に接触するという不具合を防止することができる。
【００５５】
ここで、上記プリント配線板１の構成および製造方法を、一般的な形で記載しておく。
すなわち、このプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、半導体装置を実装する領域内で、かつ、当該半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた当該半導体装置直下の領域において、最表面の上記導体配線層の一部が選択的に除去されて、当該除去された領域（除去部）上に形成された表面絶縁樹脂層が凹状に形成されたものである。
【００５６】
また、その製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、最表面の上記導体配線層を形成するとともに最表面の上記導体配線層の一部を選択的に除去する工程を具備した方法である。
［実施の形態５］
以下、本発明の実施の形態５に係るプリント配線板およびその製造方法を、図５に基づき説明する（請求項２、請求項５および請求項１２に対応する）。
【００５７】
上述した実施の形態４においては、層間絶縁樹脂層１３の上方の導体配線層１４ｂを所定幅の溝でもって格子状に除去したが、本実施の形態５においては、逆に、表面絶縁樹脂層１６下に形成された導体配線層１４ｂを格子状に形成したもので、他の構成部分については、実施の形態４と同じであるため、この部分に着目して説明するとともに、実施の形態４（つまり、実施の形態１）と同じ構成部材については、同一番号を用いてその説明を省略する。
【００５８】
図５に示すように、このプリント配線板１の実装領域１０内で、かつ、周縁部に複数配置された導体ランド（導体ランド部）１４ａを除いた半導体装置直下の領域（中央部分）における表面絶縁樹脂層１６下に形成された導体配線層（外層）１４ｂを格子状に形成したものである。言い換えれば、導体配線層１４ｂに、縦横に複数個ずつ除去部１５が形成されたことになる（図面では、５×５＝２５個形成されている）。
【００５９】
この構成によると、実施の形態４と同様の効果を得ることができる。
ところで、実施の形態４（図４）においては、導体配線層（外層）１４ｂの形状を正方形としたが、長方形や多角形、円形でもよい。
【００６０】
また、実施の形態５（図５）においては、導体配線層（外層）１４ｂを格子状に形成したが、このスリット状でも斜めのメッシュ状であってよく、または各スリットや格子・メッシュなどの寸法・角度については、統一されていなくてもよい。また、導体配線層（外層）１４ｂは半導体装置にすなわち導体ランド１４ａに電気的に接続されないダミー配線であってもよい（請求項４に対応）。
【００６１】
これら実施の形態４および実施の形態５については、例えば実施の形態１〜実施の形態３の場合よりも、放熱性や電気特性の向上を図りたい場合に有効である。
［実施の形態６］
以下、本発明の実施の形態６に係るプリント配線板およびその製造方法を、図６に基づき説明する（請求項３および請求項１３に対応）。
【００６２】
上述した実施の形態４においては、層間絶縁樹脂層１３の上方の表面絶縁樹脂層１６下に形成された導体配線層１４ｂを格子状に除去したが、本実施の形態６においては、さらに格子状の内側に複数形成された各導体配線層１４ｂの上方の表面絶縁樹脂層１６の一部を除去したもので、他の構成部分については、実施の形態４と同じであるため、この部分に着目して説明するとともに、実施の形態４と同じ構成部材については、同一番号を用いてその説明を省略する。
【００６３】
図６に示すように、このプリント配線板１の実装領域１０内で、かつ、周縁部に配置された導体ランド（導体ランド部）１４ａを除いた半導体装置直下の領域（中央部分）における表面絶縁樹脂層１６下に形成された導体配線層（外層）１４ｂを所定幅でもって格子状に除去するとともに、この内側に複数個形成された例えば正方形の各導体配線部１４ｂの上方の表面絶縁樹脂層１６がそれぞれ正方形（勿論、正方形以外のものでもよい、つまり方形状でよい）に除去されている。すなわち、導体配線層１４ｂに格子状の除去部（溝部）１５が形成されるとともに、この除去部１５の内側の導体配線層１４ｂ上の表面絶縁樹脂層１６にも、正方形（方形状）の除去部１７が形成されている。
【００６４】
この構成により、導体配線層１４ｂ上の表面絶縁樹脂層１６の面積が極小となるため、上述した実施の形態４よりも、さらに膨れ上がり量を低減させることができ、半導体装置を実装する際のリフロー加熱時において、配線板の表面が半導体装置裏面に接触するという不具合を防止することができる。また、導体配線層（外層）１４ｂは半導体装置すなわち導体ランド１４ａと電気的に接続されないダミー配線であってもよい（請求項４に対応）。
【００６５】
ここで、上記プリント配線板１の構成および製造方法を、一般的な形で記載しておく。
すなわち、このプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、上記層間絶縁樹脂層上または上記導体配線層上に形成された上記表面絶縁樹脂層の一部および最表面の上記導体配線層の一部が選択的に除去されたものである。
【００６６】
また、その製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記表面絶縁樹脂層を形成するとともに上記表面絶縁樹脂層の一部を選択的に除去する工程と、最表面の上記導体配線層を形成するとともに最表面の上記導体配線層の一部を選択的に除去する工程とを具備した方法である。
【００６７】
なお、本実施の形態６に係るプリント配線板の製造方法については、後で、詳しく説明する。
［実施の形態７］
以下、本発明の実施の形態７に係るプリント配線板およびその製造方法を、図７に基づき説明する（請求項６および請求項１４に対応）。
【００６８】
上述した実施の形態１においては、層間絶縁樹脂層１３の上方の表面絶縁樹脂層１６を方形状に除去したが、本実施の形態７においては、導体ランドの内側にスルーホールまたはビアホールを形成したもので、他の構成部分については、実施の形態１と同じであるため、この部分に着目して説明するとともに、実施の形態１と同じ構成部材については、同一番号を用いてその説明を省略する。
【００６９】
図７に示すように、このプリント配線板１の実装領域１０内で、かつ、周縁部に複数配置された導体ランド（導体ランド部）１４ａを除いた半導体装置直下の領域（中央部分）においては、格子状の格子点位置で、配線同士を接続するためのスルーホール１８が複数形成されている。
【００７０】
この構成により、各スルーホール１８上には表面絶縁樹脂層１６が形成されていないため、表面絶縁樹脂層１６が膨れ上がる領域が分割され、膨れ上がり量を低減させることができる。
【００７１】
なお、スルーホール１８は半導体装置と電気的に接続されないダミー配線であってもよく、またスルーホールではなくビアホールであってもよい（請求項７に対応）。
ここで、上記プリント配線板１の構成および製造方法を、一般的な形で記載しておく。
【００７２】
すなわち、このプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、スルーホールまたはビアホールが複数形成されたものである。
【００７３】
また、その製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記表面絶縁樹脂層を形成する工程の前にスルーホールまたはビアホールを形成する工程を具備した方法である。
［実施の形態８］
以下、本発明の実施の形態８に係るプリント配線板およびその製造方法を、図８に基づき説明する（請求項８および請求項１５に対応）。
【００７４】
上述した実施の形態１においては、層間絶縁樹脂層１３の上方の表面絶縁樹脂層１６を方形状に除去したが、本実施の形態８においては、表面絶縁樹脂層の上方にさらに他の表面絶縁樹脂層を形成したもので、他の構成部分については、実施の形態１と同じであるため、この部分に着目して説明するとともに、実施の形態１と同じ構成部材については、同一番号を用いてその説明を省略する。
【００７５】
図８に示すように、このプリント配線板１の実装領域１０内で、かつ、周縁部に複数配置された導体ランド（導体ランド部）１４ａを除いた半導体装置直下の領域（中央部分）においては、第１の表面絶縁樹脂層１６の上方にさらに第２の表面絶縁樹脂層１９が形成されている。
【００７６】
そして、この第２の表面絶縁樹脂層１９としては、その熱膨張率が下方の第１の表面絶縁樹脂層１６の熱膨張率よりも小さいものが用いられている。第１の表面樹脂層１６にはソルダーレジストと呼ばれる感光性樹脂が多く用いられており、第２の表面樹脂層１９は第１の表面樹脂層１６と同様にソルダーレジスト（熱膨張率の小さい）、またはフィラーを含有した熱硬化性樹脂、金属薄膜等が用いられる。
【００７７】
このように、第１の表面絶縁樹脂層１６の上方に熱膨張率が小さい第２の表面絶縁樹脂層１９を形成したので、下方の表面絶縁樹脂層１６の膨れ上がり量を低減させることができ、したがって半導体装置を実装する際のリフロー加熱時において、配線板の表面が半導体装置裏面に接触するという不具合を防止することができる。
【００７８】
ここで、上記プリント配線板１の構成および製造方法を、一般的な形で記載しておく。
すなわち、このプリント配線板は、コア基板の少なくとも片面に導体配線層と層間絶縁樹脂層が積層されまたは交互に積層されるとともに、最表面の上記導体配線層上が表面絶縁樹脂層により覆われてなる単層または多層プリント配線板であって、半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域において、上記第１の表面絶縁樹脂層上に第２の表面絶縁樹脂層が形成されたものであり、またこの第２の表面絶縁樹脂層として、その熱膨張率が第１の表面絶縁樹脂層のそれよりも小さいものを用いたものである。
【００７９】
また、その製造方法は、コア基板の少なくとも片面に設けられた導体層に配線パターンを形成して導体配線層を得る工程と、上記導体配線層上を覆うように層間絶縁樹脂層を形成する工程および上記層間絶縁樹脂層上に導体配線層を形成する工程を所定回数繰り返し行った後、最表面の上記導体配線層上に第１の表面絶縁樹脂層を形成する工程とを具備して単層または多層プリント配線板を製造する方法において、半導体装置を実装する領域内で、かつ、上記半導体装置の外部電極と接合される導体ランド部を除いた上記半導体装置直下の領域で、上記第１の表面絶縁樹脂層上に第２の表面絶縁樹脂層を形成する工程を具備した方法であり、またこの第２の表面絶縁樹脂層として、その熱膨張率が第１の表面絶縁樹脂層のそれよりも小さいものを用いた方法である。
【００８０】
ところで、上記実施の形態８（図８）においては、第１の表面絶縁樹脂層１６上に第２の表面絶縁樹脂層１９を形成したが、上述した実施の形態１〜実施の形態３で説明した除去部１７，１５に形成してもよい（請求項９および請求項１６に対応）。
【００８１】
最後に、上述した実施の形態６に係るプリント配線板の製造方法を、図９に基づき、詳しく説明しておく。
まず、図９（ａ）に示すように、コア基板１１の両側に導体層（内層）２０を貼り付け、熱プレスにより密着・硬化させる。ここで、コア基板１１には紙基材やガラス基材、ガラス不織布基材、アラミド不織布といった補強用の基材にフェノール樹脂やエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂等を含浸させてから乾燥・半硬化させたものが多く用いられる。また、導体層（内層）２０には一般的に厚み約１０〜４０μｍのＣｕ箔が使用される。導体層（内層）２０は導体配線が必要な面にのみ貼り付けられるため、例えば単層基板の場合には、コア基板１１の片面にのみ貼り付けられ、多層基板の場合には、両面に貼り付けられる。
【００８２】
次に、図９（ｂ）に示すように、導体層（内層）２０の表面にエッチング用レジストを塗布して、露光・現像によりパターン形成後、導体層（内層）２０をエッチングすることによって、導体配線層（内層）１２を形成する。
【００８３】
次に、図９（ｃ）に示すように、導体配線層（内層）１２を両面に形成したコア基板１１に、層間絶縁樹脂層１３および導体層（外層）２１を両面に配置し、重ね合わせて熱プレスにより圧着する。ここで、層間絶縁樹脂層１３にはコア基板１１と同様に紙基材やガラス基材、ガラス不織布基材、アラミド不織布といった補強用の基材にフェノール樹脂やエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂等を含浸させたものが多く用いられる。また、導体層（外層）２１には導体層（内層）２０と同様に厚み約１０〜４０μｍのＣｕ箔が使用される。
【００８４】
次に、図９（ｄ）に示すように、導体層（外層）２１の表面にエッチング用レジストを塗布、露光・現像してパターン形成後、導体層（外層）２１をエッチングすることによって、半導体装置を実装・接合するための導体ランド１４ａおよび導体配線層（外層）１４ｂを形成する。このとき、半導体装置の実装領域１０内で、かつ、導体ランド１４ａを除いた半導体装置直下の領域において、導体層（外層）２１が所定幅でもって格子状に除去され、この除去部１５により、複数の導体配線層（外層）１４ｂに分割される。
【００８５】
次に、図９（ｅ）に示すように、両面の導体ランド１４ａおよび導体配線層１４ｂ上の全面に、ロールコータまたはスピンコータにより表面絶縁樹脂層１６を塗布し、乾燥させる。なお、単層基板の場合は、カーテンコートにより片面のみに表面絶縁樹脂層１６を塗布してもよい。
【００８６】
次に、図９（ｆ）に示すように、フォトマスクを用いて表面絶縁樹脂層１６を露光・現像により、導体ランド１４ａ上に開口部を形成する。このとき、半導体装置の実装領域１０内で、かつ、導体ランド１４ａを除いた半導体装置直下の領域において、導体配線層（外層）１４ｂ上の表面絶縁樹脂層１６を一部除去（除去部１７）する。
【００８７】
この製造方法により、半導体装置の実装領域１０内で、かつ、導体ランド１４ａを除いた半導体装置直下の領域において、導体配線層（外層）１４ｂを格子状に除去（除去部１５）して分割でき、導体配線層（外層）１４ｂ上の表面絶縁樹脂層１６は均一・平坦ではなく、除去部１５によって凹状部１６ａが形成されるため、導体配線層（外層）１４ｂと同様に表面絶縁樹脂層１６も擬似的に分割された状態となる。また、導体配線層１４ｂ上の表面絶縁樹脂層１６の面積も極小となるため、表面絶縁樹脂層１６の膨れ上がり量を低減させ、半導体装置を実装する際のリフロー加熱時において、配線板の表面が半導体装置裏面に接触するという不具合を防止し、実装歩留りおよび実装品質・信頼性を向上させることができる。なお、上記の製造方法は積層基板を例にとって説明したが、この他にもビルドアップ基板等の多種のプリント基板に適用することができる。
【００８８】
さらに、上述した各実施の形態にて製造されたプリント配線板を、一つまたは複数搭載した電子機器についても本発明に係るものとすることができ、すなわち実装品質・信頼性が向上した電子機器が得られる（請求項１７に対応）。
【産業上の利用可能性】
【００８９】
本発明のプリント配線板およびその製造方法は、高密度実装における実装品質・信頼性向上を可能にするため、情報通信機器や事務用電子機器等の小型・薄型化および高機能化に好適である。
【図面の簡単な説明】
【００９０】
【図１】本発明の実施の形態１に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ断面図である。
【図２】本発明の実施の形態２に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＢ−Ｂ断面図である。
【図３】本発明の実施の形態３に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＣ−Ｃ断面図である。
【図４】本発明の実施の形態４に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＤ−Ｄ断面図である。
【図５】本発明の実施の形態５に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＥ−Ｅ断面図である。
【図６】本発明の実施の形態６に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＦ−Ｆ断面図である。
【図７】本発明の実施の形態７に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＧ−Ｇ断面図である。
【図８】本発明の実施の形態８に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＨ−Ｈ断面図である。
【図９】本発明の実施の形態６に係るプリント配線板の製造方法を示す断面図である。
【図１０】従来例に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＩ−Ｉ断面図である。
【図１１】従来例に係るプリント配線板を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）のＪ−Ｊ断面図である。
【符号の説明】
【００９１】
１      プリント配線板
１０      半導体装置の実装領域
１１      コア基板
１２      導体配線層（内層）
１３      層間絶縁樹脂層
１４ａ    導体ランド
１４ｂ    導体配線層（外層）
１５      除去部
１６      表面絶縁樹脂層（第１の表面絶縁樹脂層）
１７      除去部
１８      スルーホール
１９      第２の表面絶縁樹脂層
【図１】
2008016630.tif 000003
【図２】
2008016630.tif 000004
【図３】
2008016630.tif 000005
【図４】
2008016630.tif 000006
【図５】
2008016630.tif 000007
【図６】
2008016630.tif 000008
【図７】
2008016630.tif 000009
【図８】
2008016630.tif 000010
【図９】
2008016630.tif 000011
【図１０】
2008016630.tif 000012
【図１１】
2008016630.tif 000013