(57)【要約】【課題】  本発明は、ハードウェアおよびソフトウエアにより構成される論理システムのブラックボックス検証において、障害発生条件を効率的に見つける技術を提供する。【解決手段】  障害発生条件を明確化する検証装置であって、論理システムの既検証テスト項目に対する各組み合わせ障害発生確率指数、および既検証組み合せ障害発生積算値を取得し、さらに論理システムの各未検証テスト項目の組み合せ障害発生積算値の取得して、未検証テスト項目組み合せ障害発生積算値が、既検証組み合せ障害発生積算値にある比率係数を乗じたものに最も近い未検証テスト項目を次の検証対象として抽出することを特徴とする。【選択図】図１
2008197962.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
論理システムにおける障害発生条件を検証する障害検証方法であって、
前記論理システムの複数の入力因子からなるテスト項目において、既検証テスト項目の入力因子の組合せに対する既検証組合せ情報を取得するステップと、
前記既検証組合せ情報に基づいて、前記入力因子の組合せになる各テスト項目の組合せ障害発生確率指数と当該全指数の積算値を取得するステップと、
前記論理システムの未検証テスト項目の入力因子の組合せになる組合せ障害発生積算値を取得するステップと、
前記未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が、前記既検証組合せ障害発生積算値に所定の比率係数を乗じた値に最も近い未検証テスト項目を次の検証対象として抽出するステップを有することを特徴とする障害検証方法。
【請求項２】
前記組合せ障害発生確率指数は、前記テスト項目の各入力組合せに対する既検証テスト項目内における出現回数と障害発生テスト項目内における出現回数に基づいて決定されることを特徴とする請求項１に記載の障害検証方法。
【請求項３】
前記既検証組合せ障害発生積算値は、前記既検証テスト項目内の出現回数と前記障害発生テスト項目内の出現回数に基づいて決定される各組合せ障害発生確率指数を積算して算出されることを特徴とする請求項１または２に記載の障害検証方法。
【請求項４】
前記未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値は、各テスト項目の入力因子の組合せ毎の前記組合せ障害発生確率指数を積算して算出され、次の検証対象となる未検証テスト項目を抽出する際に、当該未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が、前記既検証組合せ障害発生積算値に所定の比率係数を乗じた値に最も近い未検証テスト項目が抽出されることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の障害検証方法。
【請求項５】
論理システムにおける障害発生条件を検証する障害検証装置であって、
前記論理システムの複数の入力因子からなるテスト項目において、既検証テスト項目の入力因子の組合せに対する既検証組合せ情報を取得する手段と、
前記既検証組合せ情報に基づいて、前記入力因子の組合せになる各テスト項目の組合せ障害発生確率指数と当該全指数の積算値を取得する手段と、
前記論理システムの未検証テスト項目の入力因子の組合せになる組合せ障害発生積算値を取得する手段と、
前記未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が、前記既検証組合せ障害発生積算値に所定の比率係数を乗じた値に最も近い未検証テスト項目を次の検証対象として抽出する手段を有することを特徴とする障害検証装置。
【請求項６】
論理システムにおける障害発生条件を検証する障害検証プログラムであって、
コンピュータに、
前記論理システムの複数の入力因子からなるテスト項目において、既検証テスト項目の入力因子の組合せに対する既検証組合せ情報を取得するステップと、
前記既検証組合せ情報に基づいて、前記入力因子の組合せになる各テスト項目の組合せ障害発生確率指数と当該全指数の積算値を取得するステップと、
前記論理システムの未検証テスト項目の入力因子の組合せになる組合せ障害発生積算値を取得するステップと、
前記未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が、前記既検証組合せ障害発生積算値に所定の比率係数を乗じた値に最も近い未検証テスト項目を次の検証対象として抽出するステップを実行させる障害検証プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ハードウェアおよびソフトウエアにより構成される論理システムのブラックボックス検証において、障害発生条件を効率的に見つける技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
ハードウェアおよびソフトウエアにより構成される論理システムに対して、検証対象の外部入出力仕様のみを用いて検証を行うブラックボックス検証において障害が見つかった場合、障害が発生する外部条件（障害要因）を明確化することが、より詳細な内部的障害原因の追求を開始するための必須作業である。従来は、障害が発生するテスト項目の入力値の単純な論理積をとることによりこれを行っていた（例えば、非特許文献１参照）。
【非特許文献１】山本、秋山“直交表を利用したＳＷ製品評価（ＨＡＹＳＴ法の開発）”、第１１回品質工学、研究発表大会発表資料、ｐｐ１４６−１４９（２００３年）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上述の従来技術では、第一に、テスト項目の評価検証順序が明示されていないため試行錯誤的に評価を行わざるを得ず、一般的に障害発生条件の探索には長い時間を必要とするという問題があった。また、第二に、障害発生テスト項目の入力値間の単純論理積により障害発生条件を決定する方法では、多数の入力値の組み合せにより障害が発生するような複雑な障害発生条件の場合には、障害発生条件候補が全く存在しない、すなわち、空集合となってしまう可能性があるという問題があった。
【０００４】
本発明の第一の目的は、障害発生条件の絞込みを効率化し、少ないテスト項目評価で短時間に障害発生条件を明確化するテスト項目の評価検証順序の指摘機能を提供することである。
【０００５】
また、本発明の第二の目的は、多数の入力値の組み合せにより障害が発生する複雑な障害発生条件においても障害発生条件に関する情報が皆無となることなく、検証実施者による総合的判断に有益な情報出力機能を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
第一の発明は、論理システムにおける障害発生条件を検証する障害検証方法であって、前記論理システムの複数の入力因子からなるテスト項目において、既検証テスト項目の入力因子の組合せに対する既検証組合せ情報を取得するステップと、前記既検証組合せ情報に基づいて、前記入力因子の組合せになる各テスト項目の組合せ障害発生確率指数と当該全指数の積算値を取得するステップと、前記論理システムの未検証テスト項目の入力因子の組合せになる組合せ障害発生積算値を取得するステップと、前記未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が、前記既検証組合せ障害発生積算値に所定の比率係数を乗じた値に最も近い未検証テスト項目を次の検証対象として抽出するステップを有することを特徴とする障害検証方法に関する。
【０００７】
すなわち、第一の発明によれば、論理システムを検証する際の、障害が発生する入力の組み合せ条件を明確化する検証方法であって、既検証組合せ情報を取得するステップにおいて、論理システムの既検証テスト項目に対する、テスト項目内の複数の入力因子の各組み合わせ障害発生確率指数を取得し、当該全指数の積算値を取得するステップにおいて、既検証組み合せ障害発生積算値を取得し、未検証テスト項目の入力因子の各組合せになる組合せ障害発生積算値を取得し、次の検証対象として抽出するステップにおいて、論理システムの各未検証テスト項目の組み合せ障害発生積算値の取得し、当該未検証テスト項目の組み合せ障害発生積算値が、既検証組み合せ障害発生積算値に所定の比率係数を乗じたものに最も近い未検証テスト項目を次の検証対象として抽出する構成とすることによって障害発生条件の絞込みを効率化し、少ないテスト項目評価で短時間に障害発生条件を明確化するテスト項目の評価検証順序の指摘機能が実現される。
【０００８】
第二の発明は、前記組合せ障害発生確率指数は、前記テスト項目の各入力組合せに対する既検証テスト項目内における出現回数と障害発生テスト項目内における出現回数に基づいて決定されることを特徴とする上記第一の発明に記載の障害検証方法に関する。
【０００９】
すなわち、第二の発明によれば、組合せ障害発生確率指数が、テスト項目の各入力組合せに対する既検証テスト項目内における出現回数と障害発生テスト項目内における出現回数に基づいて決定され、上記論理システムの既検証テスト項目に対する各組み合わせ障害発生確率指数を用いることによって、多数の入力値の組み合せにより障害が発生する複雑な障害発生条件においても障害発生条件に関する情報の出力が可能となる。
【００１０】
第三の発明は、前記既検証組合せ障害発生積算値は、前記既検証テスト項目内の出現回数と前記障害発生テスト項目内の出現回数に基づいて決定される各組合せ障害発生確率指数を積算して算出されることを特徴とする上記第一または第二の発明に記載の障害検証方法に関する。
【００１１】
すなわち、第三の発明によれば、既検証テスト項目の複数の入力因子の組合せになる既検証組合せ障害発生積算値が、既検証テスト項目内の出現回数と障害発生テスト項目内の出現回数に基づいて決定される各組合せ毎の障害発生確率指数を積算して算出された値とすることによって、次のテスト項目抽出に対する評価基準を与えるものとなる。
【００１２】
第四の発明は、前記未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値は、各テスト項目の入力因子の組合せ毎の前記組合せ障害発生確率指数を積算して算出され、次の検証対象となる未検証テスト項目を抽出する際に、当該未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が、前記既検証組合せ障害発生積算値に所定の比率係数を乗じた値に最も近い未検証テスト項目が抽出されることを特徴とする上記第一乃至第三の発明のいずれかに記載の障害検証方法に関する。
【００１３】
すなわち、第四の発明によれば、次の検証対象となる未検証テスト項目を抽出する際に、未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が、各テスト項目の入力因子の組合せ毎の組合せ障害発生確率指数を積算して算出し、当該未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が、前記既検証組合せ障害発生積算値に所定の比率係数を乗じた値に最も近い未検証テスト項目が抽出する構成とすることによって、多数の入力値の組み合せにより障害が発生する複雑な障害発生条件においても、膨大なテスト項目の組合せの中から障害発生条件を素早く効率的に見出すことができる。
【発明の効果】
【００１４】
上記したように、本発明によれば、障害発生条件の絞込みを効率化し、少ないテスト項目評価で短時間に障害発生条件を明確化することが可能となる。さらに、多数の入力値の組み合せにより障害が発生するような複雑な障害発生条件においても障害発生条件に関する情報が皆無となることなく、検証実施者による総合的判断に有益な情報出力機能を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、図面にもとづいて本発明の実施形態を説明する。
【００１６】
図１は、本発明の実施の形態になるシステム検証の基本構成を示す。ハードウェアおよびソフトウエアから構成される論理システムの障害条件を検証する障害検証装置１００は、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）、ワークステーション（ＷＳ）等で代表される、メモリ、ＣＰＵ（Central Processing Unit)を有するコンピュータ装置であり、内蔵する障害検証プログラムによって、（１）論理システムを障害条件を絞り込むための入力すべきテスト項目が抽出され、（２）抽出されたテスト項目が、サーバ、プリンタ、ソフトウエアモジュール等の検証対象２００に適用され、（３）検証対象２００に対する評価が実行され、（３）その評価結果がフィードバックされて、次のテスト項目が抽出される、というサイクルが繰り返される。
【００１７】
本発明では、ハードウェアおよびソフトウエアにより構成される論理システムに対して、検証対象の外部入出力仕様のみを用いて検証を行うブラックボックス検証において障害が見つかった場合、障害が発生する外部条件（障害要因）を明確化するために、より詳細な内部的障害原因の追求を、従来のように障害が発生するテスト項目の入力値の単純な論理積をとるのではなく、障害発生条件の絞込みを効率化し、少ないテスト項目評価で短時間に障害発生条件を明確化するテスト項目の評価検証順序の指摘機能を提供する。
【００１８】
図２は、本発明の実施の形態になるシステム検証におけるテスト計画表の構成例を示す。ここで、図中の各テスト項目は、論理システムの動作を制御する設定パラメータ（以下では、入力因子、または単に因子と表現。) と、それに対する設定値から構成される。一般的に、各因子に対する設定値は、論理システムの動作に適当と考えられる有限の種類の値の中から選択されて各テスト項目に設定される。ここで、図中のＡ（１）、Ａ（２）、Ａ（３）、・・・、Ａ（ｎ）には因子Ａの設定値Ａ１、Ａ２、・・・、ＡｍＡのうち何れかの値が設定される。なお、ｍＡはＡの設定値の種類数である。その他の因子Ｂ、Ｃ、・・・についても同様である。
【００１９】
図２は、本発明の実施の形態になるテスト計画表に対する検証結果例を示す。本発明が目的とする障害発生入力組み合せ条件の明確化は、各テスト項目に対する検証結果がエラーとなる入力条件、すなわち、入力因子と設定値の対の組み合せの最小集合を見つけることを意味する。
【００２０】
以下では、便宜上、2 つの入力因子と設定値の対について説明を行うが、本発明は、２つ以下の組み合せに限定されるものではなく、３つ以上の組み合せについても同様に適用可能である。
【００２１】
既検証組み合せ情報は、各組み合せの全既検証テスト項目内の出現回数と、障害発生テスト項目内の出現回数から構成される。ここで、図２を用いて、各組み合わせの全既検証テスト項目内の出現回数と障害発生テスト項目内の出現回数を説明する。
【００２２】
全既検証テスト項目（この場合は、３テスト項目) 内の出現回数は、
Ａ１−Ｂ１：１回、Ａ１−Ｂ２：１回、Ａ２−Ｂ１：１回、Ａ１−Ｃ１：２回、Ａ２−Ｃ２：１回、Ｂ１−Ｃ１：１回、Ｂ２−Ｃ１：１回、Ｂ１−Ｃ２：１回となり、
障害発生テスト項目内の出現回数は、
Ａ１−Ｂ１：０回、Ａ１−Ｂ２：１回、Ａ２−Ｂ１：０回、Ａ１−Ｃ１：１回、Ａ２−Ｃ２：０回、Ｂ１−Ｃ１：０回、Ｂ２−Ｃ１：１回、Ｂ１−Ｃ２：０回
となる。
【００２３】
上記したように、組み合せ障害発生確率指数は、一例を挙げると、各組み合せに対する（全既検証テスト項目内の出現回数，障害発生テスト項目内の出現回数) が、（１，１）＝１００００、（２，１）＝１０、（１，０）＝０、（２，０）＝０のように、障害発生組み合せ条件の確からしさを表す指標となるように定義される。
【００２４】
また、既検証組み合せ障害発生積算値は、組み合せ障害発生確率指数を全組み合せについて積算したものである。
【００２５】
さらに、未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値は、各未検証テスト項目毎にそのテスト項目中に存在する組み合せについて組み合せ障害発生確率指数を積算することにより算出される。
【００２６】
つぎに、未検証テスト項目の組み合せ障害発生積算値が、既検証組み合せ障害発生積算値にある比率係数を乗じたものに最も近い未検証テスト項目を次に推奨すべき検証対象テスト項目として出力して、組み合せ条件明確化の１回の検証サイクルが完了する。
【００２７】
そして、さらに必要ならば、次の検証サイクルを繰り返す。ここで前述の比率係数値としては０以上、１以下の任意の値が選択可能であるが、２分岐探索法的な効果が得られると考えられる０．５付近の値が一例として適用される。
【００２８】
図４は、本発明の実施の形態になる未検証テスト項目中から次検証対象テスト項目を決定する方法を表す概念図を示す。図４では、既検証組み合せ障害発生積算値に対する比率＝０．５と仮定した場合、未検証テスト項目１〜３の内、未検証テスト項目３の未検証組み合せ障害発生積算値が、所望の値に最も近いと考えられるので、未検証テスト項目３が、次の検証対象テスト項目として推奨されることを示している。
【００２９】
図５は、本発明の実施の形態になる障害発生の組合せ条件絞り込みの処理フローを示す。まず、ステップＳ１１において、既検証テスト項目に対して既検証組合せ情報を取得する。つぎに、ステップＳ１２において、組合せ障害発生確率指数と、既検証組合せ障害発生積算値を算出し、組合せ障害発生確率指数の大きい順に入力組合せを表示する。
【００３０】
そして、ステップＳ１３において、障害発生条件が十分絞込まれたか否かを判定する。十分な絞り込みがなされていれば、本処理を終了する。
【００３１】
絞り込みが十分でないならば、ステップＳ１４において、組合せ障害発生確率指数を積算した未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値を算出する。
【００３２】
さらに、ステップＳ１５において、既検証組合せ障害発生積算値にある比率係数を乗じた値に最も近い未検証テスト項目を次の検証対象として選択する。これにて、１サイクルのテスト項目の評価を終了し、必要に応じ、ステップＳ１１に戻って次のサイクルを繰り返す。
【００３３】
図６は、本発明の実施の形態になる障害発生条件を明確化するテスト計画表に対する検証結果例を示す。
【００３４】
図６に対応する検証対象の障害発生条件は、Ａ２、Ｂ３、Ｃ１の３因子の組み合せであると仮定する。しかし、検証システムが２因子の組み合せを障害発生条件として仮定した場合、テスト項目２の検証結果がエラーとなることにより、Ａ２−Ｂ３、Ａ２−Ｃ１、Ｂ３−Ｃ１の組み合せが障害発生条件の候補としてリストされるが、テスト項目１に、Ａ２−Ｂ３、テスト項目３に、Ａ２−Ｃ１、テスト項目４に、Ｂ３−Ｃ１の２因子組み合せが存在し、かつ、それらのテスト項目の検証結果が正常であるため、単純な論理積をとっただけでは、障害発生条件の候補が空集合となってしまい、情報が全く得られない結果となる。
【００３５】
これに対して、本発明による方法では、Ａ２−Ｂ３、Ａ２−Ｃ１、Ｂ３−Ｃ１の３つの２因子の組み合せについて全既検証テスト項目内の出現回数が２、障害発生テスト項目内の出現回数が１となり、各組み合せに対する組み合せ障害発生確率指数を（全既検証テスト項目内の出現回数，障害発生テスト項目内の出現回数) の対に対応して、例えば、（２，１）＝１０、（１，０）＝０、（２，０）＝０のように決めることにより、それ以外の組み合わせ（組み合せ障害発生確率指数＝０) よりも障害発生条件として可能性がより高いことが容易に判る。
【００３６】
上記した本発明により、多数の入力値の組み合せで障害が発生する複雑な障害発生条件において、エラーが発生するテスト項目の入力値の単純な論理積をとる従来の方法では障害発生条件に関する情報が皆無となる場合においても、障害発生条件に関する情報を得ることが可能となる。
【００３７】
さらに、上記発明における障害発生条件を絞り込むプロセスについて、表１〜７を用いて以下に説明する。
【００３８】
表１は、テスト項目を構成する入力因子を示すもので、因子名としてＡ、Ｂ、Ｃの３因子があり、因子ＡはＡ１、Ａ２の２水準、因子ＢはＢ１、Ｂ２、Ｂ３の３水準、因子ＣはＣ１、Ｃ２の２水準の設定値をそれぞれ有していることを示している。
【００３９】
【表１】
2008197962.tif 000003
表１の入力因子表にしたがって、以下に、テスト項目１、２、３評価時点における組合せ障害発生確率指数および当該確率指数の重み付け（比率係数）について、表２を用いて説明する。表２は、「テスト項目番号」、「対象テスト項目」（入力因子Ａ、Ｂ、Ｃ）、○×による「評価結果」、２因子の組合せによる「網羅組合せ」、および「未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値」のフィールド項目から構成されている。
【００４０】
例えば、「テスト項目番号」４では、「対象テスト項目」入力因子Ａ、Ｂ、Ｃの設定値は、Ａ２、Ｂ１、Ｃ２であり、「網羅組合せ」は、Ａ２−Ｂ１、Ａ２−Ｃ２、Ｂ２−Ｃ２、および「未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値」は０となっている。また、「テスト項目番号」５では、「対象テスト項目」入力因子Ａ、Ｂ、Ｃの設定値は、Ａ１、Ｂ１、Ｃ１であり、「網羅組合せ」は、Ａ１−Ｂ１、Ａ１−Ｃ１、Ｂ１−Ｃ１、および「未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値」は、１００００となっている。なお、障害を発生させる入力因子の組合せは、Ｂ２−Ｃ１（網掛け部分）と仮定している。
【００４１】
【表２】
2008197962.tif 000004
さらに、表３に未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が示される。表３は、未検証の「組合せテスト項目」、「既検証テスト項目内出現回数」、「障害発生テスト項目内出現回数」、および「組合せ障害発生確率指数」のフィールド項目が示されている。例えば、Ａ１−Ｂ２の「組合せテスト項目」では、「既検証テスト項目内出現回数」は１回、「障害発生テスト項目内出現回数」は１回、および「組合せ障害発生確率指数」は１００００が示されている。未検証テスト項目組合せ障害発生積算値は３００００である。
【００４２】
組合せ障害発生確率指数は、各因子組合せが障害発生テスト項目に現れる回数と確率により重み付け計算され、確率が１００％以下では急激に減少させ、例えば、１／２＝５０％では重み付け値＝１０とする。また確率１００％でも、評価結果が不具合（×) となる全体の障害発生テスト項目数よりも、その因子組合せの既検証テスト項目内出現回数が少ない場合、例えば、全体の障害発生テスト項目数＝２、その因子組合せの既検証テスト項目内出現回数＝１の場合も小さな重み付け値となる。
【００４３】
「組合せ障害発生確率指数」を積算した目標テスト項目の組合わせ障害発生積算値＝３００００＊α（例：０．４）＝１２０００となり、表２の例では、テスト項目５、７、８が、未検証テスト項目の組合わせ障害発生積算値が何れも１００００なので、１番先頭のテスト項目５を選択することになる。
【００４４】
【表３】
2008197962.tif 000005
つぎに、表４に、テスト項目５評価時点における組合せ障害発生確率指数および当該確率指数の重み付け（比率係数）について説明する。表４は、表２と同一のフィールド項目から構成されている。
【００４５】
例えば、「テスト項目番号」６では、「対象テスト項目」入力因子Ａ、Ｂ、Ｃの設定値は、Ａ２、Ｂ２、Ｃ２であり、「網羅組合せ」は、Ａ２−Ｂ１、Ａ２−Ｃ２、Ｂ２−Ｃ２、および「未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値」は０となっている。また、「テスト項目番号」７では、「対象テスト項目」入力因子Ａ、Ｂ、Ｃの設定値は、Ａ２、Ｂ２、Ｃ１であり、「網羅組合せ」は、Ａ２−Ｂ２、Ａ２−Ｃ１、Ｂ２−Ｃ１、および「未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値」は、１００００となっている。
【００４６】
【表４】
2008197962.tif 000006
さらに、表５に未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が示される。表５は、表３と同一のフィールド項目で構成されている。例えば、Ａ１−Ｃ１の「組合せテスト項目」では、「既検証テスト項目内出現回数」は２回、「障害発生テスト項目内出現回数」は１回、および「組合せ障害発生確率指数」は１０であり、「組合せ障害発生確率指数」を積算した未検証テスト項目組合せ障害発生積算値は、２００１０であることを示している。
【００４７】
目標テスト項目組合せ障害発生積算値＝２００１０＊α（例：０．４）＝８００４となり、テスト項目7 、8 は、未検証テスト項目組合せ障害発生積算値が何れも１００００なので、1 番先頭のテスト項目７を選択することになる。
【００４８】
【表５】
2008197962.tif 000007
つぎに、表６に、テスト項目７評価時点における組合せ障害発生確率指数および当該確率指数の重み付け（比率係数）について説明する。表６は、表２と同一のフィールド項目から構成されている。
【００４９】
例えば、「テスト項目番号」８では、「対象テスト項目」入力因子Ａ、Ｂ、Ｃの設定値は、Ａ２、Ｂ２、Ｃ２であり、「網羅組合せ」は、Ａ２−Ｂ１、Ａ２−Ｃ２、Ｂ２−Ｃ２、および「未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値」は０となっている。また、「テスト項目番号」７では、「対象テスト項目」入力因子Ａ、Ｂ、Ｃの設定値は、Ａ１、Ｂ２、Ｃ２であり、「網羅組合せ」は、Ａ１−Ｂ２、Ａ１−Ｃ２、Ｂ２−Ｃ２、および「未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値」は、２０となっている。
【００５０】
【表６】
2008197962.tif 000008
つぎに、表７に未検証テスト項目の組合せ障害発生積算値が示される。表７は、表３と同一のフィールド項目で構成されている。例えば、Ｂ２−Ｃ１の「組合せテスト項目」では、「既検証テスト項目内出現回数」は２回、「障害発生テスト項目内出現回数」は２回、および「組合せ障害発生確率指数」は１００００であり、「組合せ障害発生確率指数」を積算した未検証テスト項目組合せ障害発生積算値は、１０１１０であることを示している。
【００５１】
表７に示すように、組合わせ「Ｂ２−Ｃ１」だけが、障害発生テスト項目内出現回数＝２（既検証テスト項目内出現回数に対する確率＝１００％）なので、この組み合わせ「Ｂ２−Ｃ１」が、障害を発生させる入力の組合せ条件と判断して操作を終了する。
【００５２】
【表７】
2008197962.tif 000009
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】本発明の実施の形態になるシステム検証の基本構成を示す図である。
【図２】本発明の実施の形態になるシステム検証におけるテスト計画表の構成例を示す図である。
【図３】発明の実施の形態になるテスト計画表に対する検証結果例を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態になる未検証テスト項目中から次検証対象テスト項目を決定する方法を表す概念図である。
【図５】本発明の実施の形態になる障害発生の組合せ条件絞り込みの処理フローを示す図である。
【図６】本発明の実施の形態になる障害発生条件を明確化するテスト計画表に対する検証結果例を示す図である。
【符号の説明】
【００５４】
１００  障害検証装置（ＰＣ、ＷＳ等コンピュータ装置）
２００  検証対象（サーバ、プリンタ、ソフトウエアモジュール等）
【図１】
2008197962.tif 000010
【図２】
2008197962.tif 000011
【図３】
2008197962.tif 000012
【図４】
2008197962.tif 000013
【図５】
2008197962.tif 000014
【図６】
2008197962.tif 000015