(57)【要約】【課題】画像欠陥を精度良く検出できる画像検査装置、画像検査システム、画像検査プログラム、及び画像形成装置を提供する。【解決手段】自ら印刷出力した所定の画像を光学的に読取った検査画像上の検査領域を特徴付ける特徴値を算出する算出手段と、前記検査領域の大きさを変更する変更手段と、前記変更手段が変更した検査領域に含まれる画像欠陥を検査する検査手段と、前記検査手段が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした前記検査領域から算出された特徴値との対応関係を予め記憶する記憶手段とを備え、前記変更手段は、前記算出手段が算出した特徴値と前記記憶手段が記憶する対応関係とに基づいて、前記検査領域の大きさを変更する。この構成によれば、検査領域が有する画像欠陥を検出できると考えられる大きさに検査領域を変更した上で画像欠陥を検出できる。【選択図】図２
2008129866.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
自ら印刷出力した所定の画像を光学的に読取った検査画像上の検査領域を特徴付ける特徴値を算出する算出手段と、
前記検査領域の大きさを変更する変更手段と、
前記変更手段が変更した検査領域に含まれる画像欠陥を検査する検査手段と、
前記検査手段が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした前記検査領域から算出された特徴値との対応関係を予め記憶する記憶手段とを備え、
前記変更手段は、前記算出手段が算出した特徴値と前記記憶手段が記憶する対応関係とに基づいて、前記検査領域の大きさを変更することを特徴とする画像検査装置。
【請求項２】
前記特徴値は、前記検査領域の階調値の平均値、前記検査領域の階調値ヒストグラムの分散値、及び前記検査領域の周波数特性を表す値のいずれか１つ以上を含み、
前記変更手段は、前記特徴値に含まれる周波数特性を表す値、前記平均値、及び前記分散値の内で、前記検査領域に含まれる画像欠陥に影響を受けた特徴値に基づいて前記検査領域の大きさを変更することを特徴とする請求項１に記載の画像検査装置。
【請求項３】
前記記憶手段が記憶する対応関係は、前記画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、前記検査領域から算出された特徴値とを１対１で対応させる関係であることを特徴とする請求項１又は２に記載の画像検査装置。
【請求項４】
前記変更手段は、前記検査領域の大きさを縮小する場合には前記算出手段が算出対象とした検査領域を複数の領域に分割することで縮小変更し、拡大する場合には前記検査領域を全て含む領域に拡大変更することを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の画像検査装置。
【請求項５】
自ら印刷出力した所定の画像を光学的に読取った検査画像上の検査領域を特徴付ける特徴値を算出する算出手段と、
前記検査領域の大きさを変更する変更手段と、
前記変更手段が変更した検査領域に含まれる画像欠陥を検査する検査手段と、
前記検査手段が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした前記検査領域から算出された特徴値との対応関係を予め記憶する記憶手段とを備え、
前記変更手段は、前記算出手段が算出した特徴値と前記記憶手段が記憶する対応関係とに基づいて、前記検査領域の大きさを変更することを特徴とする画像検査システム。
【請求項６】
コンピュータを、
自ら印刷出力した所定の画像を光学的に読取った検査画像上の検査領域を特徴付ける特徴値を算出する算出手段と、
前記検査領域の大きさを変更する変更手段と、
前記変更手段が変更した検査領域に含まれる画像欠陥を検査する検査手段と、
前記検査手段が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした前記検査領域から算出された特徴値との対応関係を予め記憶する記憶手段として機能させ、
前記変更手段は、前記算出手段が算出した特徴値と前記記憶手段が記憶する対応関係とに基づいて、前記検査領域の大きさを変更することを特徴とする画像検査プログラム。
【請求項７】
自ら印刷出力した所定の画像を光学的に読取った検査画像上の検査領域を特徴付ける特徴値を算出する算出手段と、
前記検査領域の大きさを変更する変更手段と、
前記変更手段が変更した検査領域に含まれる画像欠陥を検査する検査手段と、
前記検査手段が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした前記検査領域から算出された特徴値との対応関係を予め記憶する記憶手段とを備え、
前記変更手段は、前記算出手段が算出した特徴値と前記記憶手段が記憶する対応関係とに基づいて、前記検査領域の大きさを変更することを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像検査装置、画像検査システム、画像検査プログラム、及び画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、テスト画像を印刷出力した画像を読取って得た検査画像を分割した分割領域と、分割領域に対応するテスト画像の領域とを比較することで検査画像の有する画像欠陥を検出する技術が知られている。
【０００３】
特に、比較対象とする分割領域の大きさを動的に変更することで、検査画像に含まれる画像欠陥の検出精度を向上できる画像検査装置が知られている（例えば、特許文献１）。
【０００４】
この画像検査装置は、分割領域から分割領域の階調値の分散値等と言った指標値を算出する指標値算出部と、分割領域の画像サイズを変更する分割画像サイズ変更部とを備え、分割画像サイズ変更部は、指標値算出部が算出した指標値が予め定められた閾値を超えるか否かを判断し、かつ超えないと判断する場合には、分割領域の画像サイズを拡大変更する処理を実行する。
【０００５】
その後、指標値算出部は、分割画像サイズ変更部がサイズを変更した分割領域から指標値を再算出し、分割画像サイズ変更部は、指標値算出部が再算出した指標値が予め定められた閾値を超えるか否かを再判断して分割領域のサイズを再変更する処理を繰り返し実行する。これにより、この画像検査装置は、算出される指標値が所定の閾値を超える分割領域を取得できる。
【０００６】
また、画像欠陥を検出する技術では無いが、書籍原稿を読取って得た読取画像に含まれる歪んだ文字画像を、黒画素が連結する黒画素ランを抽出することで検出する画像読取装置が知られている（例えば、特許文献２）。
【０００７】
この画像読取装置は、読取画像から歪みのない文字のサイズを算出するサイズ算出手段と、主走査（横）方向の黒画素が連結する黒画素ランを抽出するラン抽出手段と、サイズ算出手段が算出した歪みのない文字のサイズとラン抽出手段が抽出した主走査方向の黒画素ランとに基づいて副走査（縦）方向の文字のサイズを算出して歪みのある文字に外接する矩形領域を抽出する縦成分矩形抽出手段とを備える。
【特許文献１】特開２００４‐９４４３８
【特許文献２】特開２００６‐１９８９３
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の目的とするところは、画像欠陥を精度良く検出できる画像検査装置、画像検査システム、画像検査プログラム、及び画像形成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る画像検査装置は、自ら印刷出力した所定の画像を光学的に読取った検査画像上の検査領域を特徴付ける特徴値を算出する算出手段と、検査領域の大きさを変更する変更手段と、変更手段が変更した検査領域に含まれる画像欠陥を検査する検査手段と、検査手段が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした検査領域から算出された特徴値との対応関係を予め記憶する記憶手段とを備え、変更手段は、算出手段が算出した特徴値と記憶手段が記憶する対応関係とに基づいて、検査領域の大きさを変更することを特徴としている。
【００１０】
上記構成において、特徴値は、検査領域の階調値の平均値、及び検査領域の階調値ヒストグラムの分散値、及び検査領域の周波数特性を表す値のいずれか１つ以上を含み、変更手段は、特徴値に含まれる周波数特性を表す値、平均値、及び分散値の内で、検査領域に含まれる画像欠陥に影響を受けた特徴値に基づいて検査領域の大きさを変更する構成を採用できる。
【００１１】
上記構成において、記憶手段が記憶する対応関係は、画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検査領域から算出された特徴値とを１対１で対応させる関係である構成を採用できる。
【００１２】
上記構成において、変更手段は、検査領域の大きさを縮小する場合には算出手段が算出対象とした検査領域を複数の領域に分割することで縮小変更し、拡大する場合には検査領域を全て含む領域に拡大変更する構成を採用できる。
【００１３】
本発明に係る画像検査システムは、自ら印刷出力した所定の画像を光学的に読取った検査画像上の検査領域を特徴付ける特徴値を算出する算出手段と、検査領域の大きさを変更する変更手段と、変更手段が変更した検査領域に含まれる画像欠陥を検査する検査手段と、検査手段が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした検査領域から算出された特徴値との対応関係を予め記憶する記憶手段とを備え、変更手段は、算出手段が算出した特徴値と記憶手段が記憶する対応関係とに基づいて、検査領域の大きさを変更することを特徴としている。
【００１４】
本発明に係る画像検査プログラムは、コンピュータを、自ら印刷出力した所定の画像を光学的に読取った検査画像上の検査領域を特徴付ける特徴値を算出する算出手段と、検査領域の大きさを変更する変更手段と、変更手段が変更した検査領域に含まれる画像欠陥を検査する検査手段と、検査手段が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした検査領域から算出された特徴値との対応関係を予め記憶する記憶手段として機能させ、変更手段は、算出手段が算出した特徴値と記憶手段が記憶する対応関係とに基づいて、検査領域の大きさを変更することを特徴としている。
【００１５】
本発明に係る画像形成装置は、自ら印刷出力した所定の画像を光学的に読取った検査画像上の検査領域を特徴付ける特徴値を算出する算出手段と、検査領域の大きさを変更する変更手段と、変更手段が変更した検査領域に含まれる画像欠陥を検査する検査手段と、検査手段が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした検査領域から算出された特徴値との対応関係を予め記憶する記憶手段とを備え、変更手段は、算出手段が算出した特徴値と記憶手段が記憶する対応関係とに基づいて、検査領域の大きさを変更することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１６】
請求項１の構成によれば、検査領域が有する画像欠陥を検出できると考えられる大きさに検査領域を変更した上で画像欠陥を検出できる。
【００１７】
請求項２の構成によれば、画像欠陥に影響を受けた特徴値を選択できるだけでなく、選択した特徴値に基づいて検査領域の大きさを変更できる。
【００１８】
請求項３の構成によれば、特徴値に基づいて検査領域が有する画像欠陥を検出できると考えられる大きさに検査領域を直接的に変更できる。
【００１９】
請求項４の構成によれば、縮小変更した検査領域の少なくとも１つ、又は拡大変更した検査領域は、特徴値に影響を与えた画像欠陥を含むため、精度良く画像欠陥を検出できる。
【００２０】
請求項５の構成によれば、検査領域が有する画像欠陥を検出できると考えられる大きさに検査領域を変更した上で画像欠陥を検出できる。
【００２１】
請求項６の構成によれば、検査領域が有する画像欠陥を検出できると考えられる大きさに検査領域を変更した上で画像欠陥を検出できる。
【００２２】
請求項７の構成によれば、検査領域が有する画像欠陥を検出できると考えられる大きさに検査領域を変更した上で画像欠陥を検出できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の最良の実施形態について、添付図面を参照しつつ説明する。
【実施例１】
【００２４】
図１は本発明の画像検査装置の一実施形態を示す構成図である。
画像検査装置１０００は、例えば、プリンタ機能、ファクシミリ機能（以下単に、ＦＡＸ機能と言う）、及び複製機能を有する複合機で構成される。尚、画像検査装置１０００は、画像検査装置１０００が読取った画像が欠陥を有するか否かを検査する画像検査機能をも有する。
【００２５】
画像検査装置１０００は、通信網１００に接続している。
通信網１００は、例えば、ＬＡＮ（Local Area Network ）、ＷＡＮ（Wide Area Network）、ＭＡＮ（Metropolitan Area Network）、又は公衆回線網で構成される。
【００２６】
画像検査装置１０００は、ＦＡＸ制御部１０１０、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、プリント制御部１０４０、記憶部１０５０、画像形成制御部１０６０、Ｕ／Ｉ制御部１０７０、アクチュエータ制御部１０８０、入力部１０９０、表示部１１００、及び通信部１１２０で構成される。
【００２７】
ＦＡＸ制御部１０１０、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、プリント制御部１０４０、画像形成制御部１０６０、Ｕ／Ｉ制御部１０７０、及びアクチュエータ制御部１０８０の有する各機能は、画像検査装置１０００が実行するソフトウェア制御により実現される。
【００２８】
ここで図２を参照して、ソフトウェア制御を実行するための画像検査装置１０００のハードウェア構成について説明する。図２は、このソフトウェア制御を実現するための画像検査装置１０００のハードウェアの一構成例を表す図である。
【００２９】
画像検査装置１０００は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等の演算部１００１、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read-Only Memory）又はＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）等の読み出し専用メモリであるＲＯＭ１００２（Read-Only Memory ）、ＤＲＡＭ（Dynamic  RAM）又はＳＲＡＭ（Static  RAM）等の揮発性メモリ及びＮＶＲＡＭ（Non Volatile RAM）等の不揮発性メモリで構成されるＲＡＭ１００３（Random Access Memory）、並びにハードディスク等の外部記憶装置で構成される外部記憶部１００４で構成され、演算部１００１、ＲＯＭ１００２、ＲＡＭ１００３、及び外部記憶部１００４は互いにバス１００５によって接続している。
【００３０】
ソフトウェア制御は、ＲＯＭ１００２又は外部記憶部１００４に格納したプログラムを演算部１００１が読み、読込んだプログラムに従って演算部１００１が演算を行うことにより上記各部の機能を実現する。なお、ＲＡＭ１００３には、演算結果のデータが書き込まれ、特にＮＶＲＡＭには、電源オフ時にバックアップが必要なデータが保存される。
【００３１】
ここで、図１に戻り、画像検査装置１０００の構成について引き続き説明する。
ＦＡＸ制御部１０１０は、プリント制御部１０４０に接続している。また、ＦＡＸ制御部１０１０は、通信部１１２０を介して通信網１００に接続している。
【００３２】
ＦＡＸ制御部１０１０は、後述する画像読取部１０２０で読取られた画像を画像処理部１０３０及びプリント制御部１０４０を介して取得する。次に、ＦＡＸ制御部１０１０は、取得した画像を圧縮し、圧縮したデータをＧ３又はＧ４等のプロトコルに従って送信するよう通信部１１２０を制御する。
【００３３】
また、ＦＡＸ制御部１０１０は、同様に、データをＧ３又はＧ４等のプロトコルに従って受信するよう通信部１１２０を制御し、通信部１１２０が受信した情報を伸長する。尚、ＦＡＸ制御部１０１０の伸長した情報は、プリント制御部１０４０を介して画像形成制御部１０６０に送信され、画像形成制御部１０６０が制御する画像形成部により出力画像として印刷出力される。
【００３４】
画像読取部１０２０は、例えば、スキャナ等で構成され、画像処理部１０３０及びプリント制御部１０４０に接続している。画像読取部１０２０は、プリント制御部１０４０に制御されて、読取対象とするシート状の原稿から、その原稿上に描かれた画像を光学的に読み取って原稿情報を取得し、取得した原稿情報をディジタル化した電子情報へ変換する。
【００３５】
画像読取部１０２０は、図示を省略するが、光源制御部、受光センサ部、及び画像信号補正処理部で構成されている。光源制御部は、原稿へ光を照射する光源を制御する。
【００３６】
受光センサ部は、例えば、ＣＭＯＳ（Complementary Metal-Oxide Semiconductor）イメージセンサ、又はＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサで構成され、光源制御部により制御された光源が照射した光であって、原稿に照射した光の反射光を受光する。次に、受光センサ部は、受光した反射光に基づいて電気信号を出力することで原稿情報をディジタル化する。
【００３７】
画像信号補正処理部は、受光センサ部の出力した信号を補正し、補正した信号を電子原稿として画像処理部１０３０へ出力する。
【００３８】
尚、画像読取部１０２０及び後述する画像処理部１０３０は、画像読取部１０２０及び画像処理部１０３０が実行する処理をリアルタイム処理として実現するために、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）により構成される。
【００３９】
画像処理部１０３０は、画像読取部１０２０及びプリント制御部１０４０に接続しており、画像読取部１０２０から電子原稿を取得する。画像処理部１０３０は、取得した電子原稿を画像形成部の出力特性に合わせるための処理を行なう。尚、画像形成部は、画像形成制御部１０６０により制御されて出力画像を印刷出力する等して形成する。
【００４０】
具体的には、画像処理部１０３０の実行する処理は、色を補正する処理、絵と文字とを分離する処理、下地を除去する処理、若しくは拡大又は縮小出力を実現するための拡大又は縮小処理を含む。
【００４１】
プリント制御部１０４０については後述する。
記憶部１０５０は、例えば、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read-Only Memory）等の読み出し専用メモリであるＲＯＭ（Read-Only Memory ）、又はＤＲＡＭ（Dynamic  RAM）等の揮発性メモリ及びＮＶＲＡＭ（Non Volatile RAM）等の不揮発性メモリで構成されるＲＡＭ（Random Access Memory）、若しくはハードディスク（Hard Disk）等の外部記憶装置で構成され、プリント制御部１０４０に接続している。
【００４２】
ＲＯＭ１００２は、画像検査装置１０００の有する機能を提供するためにＣＰＵ等で構成される演算部１００１が実行するファームフェアを格納する。尚、画像検査装置１０００の有する機能は、スキャン機能、複写機能、印刷（プリント）機能、ＦＡＸ機能、データ転送機能、待機機能、省電力機能、起動機能、及び画像検査機能を含む。
【００４３】
揮発性メモリ１００３は、演算部１００１がファームフェアを実行する際に使用するワーク領域を提供する。ハードディスク（Hard Disk）等の外部記憶部１００４は、複写機能、プリント機能、及びＦＡＸ機能等の提供機能を提供する際に使用される画像情報、特に、電子ソートされて複写、又はプリントされる、若しくはＦＡＸ送受信される電子原稿等の画像情報を記憶する。
【００４４】
更に、外部記憶部１００４は、例えば、過去に行った実験において、後述する検査部１０４３が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした検査領域から後述する算出部４１０２が算出した特徴値との対応関係を表す情報（以下単に、対応関係情報と言う）を記憶する。
【００４５】
画像形成制御部１０６０は、プリント制御部１０４０及びアクチュエータ制御部１０８０に接続している。画像形成制御部１０６０は、アクチュエータ制御部１０８０を介して画像形成部を制御する。
【００４６】
具体的には、画像形成制御部１０６０は、電子写真プロセス及び用紙搬送に関する制御を行う。電子写真プロセスに関する制御とは、画像形成に係わるプロセスであって、例えば、帯電、露光、現像、転写、クリーニング、及び定着プロセスを行う部材の駆動タイミングの制御、並びに画像形成に係わるプロセスで使用される各種センサが取得した情報に基づいたフィードバック制御を言う。
【００４７】
用紙搬送に関する制御とは、画像読取部１０２０の原稿、及び画像形成部の記録（印刷）用紙を搬送する部品の動作に関する制御を言い、具体的には、例えば、モータ、ソレノイド、及びクラッチ等の各アクチュエータに関するタイミング制御、及び用紙詰まりの検出制御を言う。
【００４８】
ここで、図示は省略するが、画像形成部を構成する用紙搬送部は、複数のタイミングセンサを有する。タイミングセンサは、用紙搬送のタイミングに関する情報を収集する。画像形成制御部１０６０は、タイミングセンサによって収集したタイミング情報に基づいて用紙詰まりを検出して用紙搬送に関する制御を実行する。
【００４９】
Ｕ／Ｉ制御部１０７０については後に説明する。
アクチュエータ制御部１０８０は、画像形成制御部１０６０及び画像形成部を構成するアクチュエータに接続している。アクチュエータ制御部１０８０は、画像形成制御部１０６０により出力される各アクチュエータを制御する制御信号を、各アクチュエータ固有の制御信号に変換する。その後、アクチュエータ制御部１０８０は、変換した制御信号を用いて各アクチュエータを制御する。
【００５０】
Ｕ／Ｉ制御部１０７０は、プリント制御部１０４０、入力部１０９０、及び表示部１１００に接続している。Ｕ／Ｉ制御部１０７０は、表示部１１００の表示を制御し、入力部１０９０により入力された信号に基づいてプリント制御部１０４０へ各種命令を出力する。
【００５１】
入力部１０９０は、例えば、タッチパネル、キーボード、又はマウスで構成され、Ｕ／Ｉ制御部１０７０に接続している。入力部１０９０は、ユーザに操作されて複写機能、プリント機能、ＦＡＸ機能、及び欠陥検査機能等の機能を選択し、選択した機能の提供を指示する信号を入力する。
【００５２】
表示部１１００は、例えば、液晶ディスプレイ又はＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイで構成され、Ｕ／Ｉ制御部１０７０に接続している。表示部１１００は、Ｕ／Ｉ制御部１０７０に制御されて、各種の情報を表示する。尚、各種の情報は、検出された画像欠陥の有無に関する情報、及び画像欠陥の位置に関する情報を含む。
【００５３】
通信部１１２０は、例えば、ネットワーク・アダプタ、又はＦＡＸモデム等で構成され、通信網１００、ＦＡＸ制御部１０１０、及びプリント制御部１０４０に接続している。通信部１１２０は、ＦＡＸ制御部１０１０に制御されて、電子原稿をＧ３又はＧ４等のプロトコルに従って送受信する
【００５４】
プリント制御部１０４０は、ＦＡＸ制御部１０１０、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、記憶部１０５０、画像形成制御部１０６０、及びＵ／Ｉ制御部１０７０に接続している。
【００５５】
プリント制御部１０４０は、記憶部１０５０に記憶されたファームウェアを実行して、ＦＡＸ制御部１０１０、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、及び画像形成制御部１０６０を制御して、画像検査機能を含む各種の機能を提供する。
【００５６】
ここで、プリント制御部１０４０について説明する前に、プリント制御部１０４０が画像検査機能を提供する際に、検査対象とする検査画像等について説明する。
【００５７】
検査画像とは、画像検査のために用いられる所定の画像（以下単に、検査チャートと言う）を画像形成部が印刷出力した出力画像に対して、画像読取部１０２０が読取って得た画像であって、かつ画像処理部１０３０が画像処理を施した画像である。
【００５８】
尚、検査チャートは、記憶部１０５０が記憶している。また、プリント制御部１０４０は、画像処理部１０３０が処理した検査画像を記憶部１０５０等に記憶させる。
【００５９】
ここで、図３を参照して、検査チャートについて説明する。図３は、検査チャートの一例について説明するための図である。
図３に示す検査チャートＩＴは、検査チャートＩＴの全面を構成する画素の画素値が全て同じ画素値を有する。つまり、検査チャートＩＴの濃度は均一であり、主走査方向ＤＭ及び副走査方向ＤＳの双方の階調値投影波形は、それぞれ主走査方向の座標軸ＡＭ及び副走査方向の座標軸ＡＳと平行な線分の形となり、それぞれの階調値はそれぞれ同じ値となる。尚、座標軸ＡＭと座標軸ＡＳとが交わる点を原点Ｏとする。
【００６０】
具体的には、検査チャートは白紙画像である構成を採用できるが、これに限定される訳ではなく、例えば、べた塗り（黒紙画像）、白及び黒色以外の単色画像、若しくは地模様画像である構成を採用できる。
【００６１】
次に、図４を参照して、欠陥を有する検査画像の一例について説明する。図４は、欠陥を有する検査画像の一例を説明するための図である。
図４に示す検査画像ＩＩＤは、局所的に濃度が不均一な背景ムラＵＤ１及びＵＤ３、並びに微細な点状の欠陥ＵＤ２を有している。
【００６２】
尚、説明の便宜のために、図４に示す検査画像ＩＩＤに対して、図３に示す検査チャートＩＴと同様に、主走査方向の座標軸ＡＭ及び副走査方向の座標軸ＡＳを設定し、座標軸ＡＭと座標軸ＡＳとが交わる点を原点Ｏとする。
【００６３】
ここで、図５を参照してプリント制御部１０４０の構成を説明する。図５は、プリント制御部１０４０の一実施形態を表す図である。
【００６４】
プリント制御部１０４０は、領域設定部１０４１、検査特徴値算出部１０４２、及び検査部１０４３で構成される。
【００６５】
領域設定部１０４１は、検査部１０４３が画像欠陥を検出するために実行する処理（以下単に、画像検査処理と言う）の処理対象とする検査画像ＩＩＤ上の領域（以下単に、検査領域と言う）を設定する。
【００６６】
ここで図６を参照して、領域設定部１０４１の構成について説明する。図６は、領域設定部１０４１の一構成例を説明するための図である。領域設定部１０４１は、領域初期設定部４１０１、算出部４１０２、特徴値選択部４６１１、及び領域変更部４６１２で構成される。
【００６７】
領域初期設定部４１０１は、算出部４１０２に接続している。領域初期設定部４１０１は、検査領域の大きさを初期設定する。
【００６８】
算出部４１０２は、領域初期設定部４１０１及び特徴値選択部４６１１に接続し、特徴値算出部４１０３及び規格値算出部４６０７で構成される。
【００６９】
特徴値算出部４１０３は、領域初期設定部４１０１が設定した検査領域を特徴付ける値（以下単に、特徴値と言う）を算出する。
【００７０】
ここで、特徴値は、検査領域の階調値の平均値、検査領域の階調値ヒストグラムの分散値、検査領域の周波数特性に関する値を含む。検査領域の周波数特性に関する値は、低周波成分値と高周波成分値とを含む。
【００７１】
低周波成分値とは、検査領域に対してＦＦＴ（Fast Fourier Transform）を施すことにより得られる周波成分の係数、又は所定範囲の周波数に関する周波成分の強度の積分値であって、点状の欠陥が検査領域に存在する場合に得られる係数又は強度が大きくなると実験的又は経験的に判断された周波成分の係数又は周波成分の強度の積分値を言う。
【００７２】
また、高周波成分値とは、検査領域に対してＦＦＴ（Fast Fourier Transform）を施すことにより得られる周波成分の係数、又は所定範囲の周波数に関する周波成分の強度の積分値であって、波状の欠陥が検査領域に存在する場合に得られる係数又は強度が大きくなると実験的又は経験的に判断された周波成分の係数又は周波成分の強度の積分値を言う。
【００７３】
特徴値算出部４１０３は、平均値算出部４１０４、分散値算出部４１０５、及び周波数特性算出部４１０６で構成される。平均値算出部４１０４は、領域初期設定部４１０１及び平均値規格値算出部４１０８に接続している。
【００７４】
平均値算出部４１０４は、領域初期設定部４１０１が設定した検査領域に対して階調値の平均値を算出し、算出した平均値を平均値規格値算出部４１０８へ出力する。
【００７５】
分散値算出部４１０５は、領域初期設定部４１０１が設定した検査領域に対して階調値ヒストグラムの分散値を算出し、算出した分散値を分散値規格値算出部４１０９へ出力する。
【００７６】
周波数特性算出部４１０６は、領域初期設定部４１０１が設定した検査領域に対して周波数特性に関する値を算出し、算出した周波数特性に関する値を周波数特性規格値算出部４１１０へ出力する。
【００７７】
規格値算出部４６０７は、特徴値算出部４１０３が算出した特徴値を規格化する。尚、特徴値を規格化する処理については後述する。規格値算出部４６０７は、平均値規格値算出部４１０８、分散値規格値算出部４１０９、及び周波数特性規格値算出部４１１０で構成される。
【００７８】
平均値規格値算出部４１０８は、平均値算出部４１０４及び特徴値選択部４６１１に接続している。平均値規格値算出部４１０８は、平均値算出部４１０４が算出した平均値を取得し、取得した平均値を下記数式（１）に従って規格化し、規格化した平均値を特徴値選択部４６１１へ出力する。
【００７９】
【数１】
2008129866.tif 000003
【００８０】
尚、平均値の最小値ａｖｅｍｉｎ、及び平均値の最大値ａｖｅｍａｘは、検査領域の階調値の平均値が取り得る値の最小値及び最大値である。具体的には、８ビットで検査領域の階調値を表す場合には、平均値の最小値ａｖｅｍｉｎは０であり、最大値ａｖｅｍａｘは２５６となる。また、これに限定される訳ではなく、繰り返された実験により取得した検査領域の階調値平均の最小値及び最大値とする構成を採用できる。
【００８１】
分散値規格値算出部４１０９は、分散値算出部４１０５及び特徴値選択部４６１１に接続している。分散値規格値算出部４１０９は、分散値算出部４１０５が算出した分散値を取得し、取得した分散値を下記数式（２）に従って規格化し、規格化した分散値を特徴値選択部４６１１へ出力する。
【００８２】
【数２】
2008129866.tif 000004
【００８３】
尚、分散値の最小値ｖａｒｍｉｎ、及び分散値の最大値ｖａｒｍａｘは、分散値が取り得る値の最小値及び最大値である。具体的には、繰り返された実験により取得した分散の最小値及び最大値とする構成を採用する。
【００８４】
周波数特性規格値算出部４１１０は、周波数特性算出部４１０６及び特徴値選択部４６１１に接続している。周波数特性規格値算出部４１１０は、周波数特性算出部４１０６が算出した周波数特性に関する値を取得し、取得した値を下記数式（３）に従って規格化し、規格化した周波数特性に関する値を特徴値選択部４６１１へ出力する。
【００８５】
【数３】
2008129866.tif 000005
【００８６】
尚、周波数特性に関する値の最小値ｆｒｅｑｍｉｎ、及び周波数特性に関する値の最大値ｆｒｅｑｍａｘは、の周波数特性に関する値が取り得る値の最小値及び最大値である。具体的には、繰り返された実験により取得した周波数特性に関する値の最小値及び最大値とする構成を採用する。
【００８７】
特徴値選択部４６１１は、算出部４１０２及び領域変更部４６１２に接続している。特徴値選択部４６１１は、算出部４１０２から規格化された特徴値を取得する。次に、特徴値選択部４６１１は、取得した特徴値の内で、検査領域に含まれる画像欠陥に影響を受けた特徴値を選択し、選択した特徴値を領域変更部４６１２へ出力する。
【００８８】
領域変更部４６１２は、特徴値選択部４６１１及び図示を省略するが、記憶部１０５０に接続している。領域変更部４６１２は、特徴値選択部４６１１が選択した特徴値を取得し、取得した特徴値に関する対応関係情報を記憶部１０５０から取得する。次に、領域変更部４６１２は、取得した特徴値と対応関係情報とに基づいて、検査領域の大きさを変更する。
【００８９】
ここで図５に戻りプリント制御部１０４０の構成について引き続き説明する。
検査特徴値算出部１０４２は、領域設定部１０４１及び検査部１０４３に接続している。検査特徴値算出部１０４２は、領域設定部１０４１が設定した検査領域を特徴付ける値であって、検査部１０４３が検査領域を検査するために用いる特徴値（以下単に、検査領域の検査特徴値と言う）を算出する。
【００９０】
また、検査特徴値算出部１０４２は、所定の画像ＩＴ上の領域であって、検査領域に対応する領域（以下単に、基本領域と言う）を特徴付ける値であって、検査部１０４３が検査領域を検査するために用いる特徴値（以下単に、基本領域の検査特徴値と言う）を算出する。
【００９１】
ここで、検査領域に対応する基本領域の具体例について説明する。検査領域が、検査画像ＩＩＤ上のｎ画素の正方形状の領域であり、かつ最も原点Ｏに近い頂点が原点Ｏに重なる場合には、基本領域は、検査チャートＩＴ上のｎ画素の正方形状の領域であり、かつ最も原点Ｏに近い頂点が原点Ｏに重なる領域とする。尚、本実施例では、検査チャートＩＴと検査画像ＩＩＤとは、それぞれの画像の大きさが一致するよう画像処理部１０３０によって拡大又は縮小される構成を採用できる。
【００９２】
検査領域及び基本領域の検査特徴値は、例えば、検査領域及び基本領域の階調値の平均値、階調値のヒストグラムの分散値、周波数特性に関する値、及び階調値投影波形に関する値等を含む。
【００９３】
検査部１０４３は、検査特徴値算出部１０４２、及び図示を省略するがＵ／Ｉ制御部１０７０に接続している。検査部１０４３は、検査特徴値算出部１０４２から基本領域の検査特徴値と検査領域の検査特徴値とを取得し、取得した検査特徴値に基づいて検査領域から画像欠陥を検出する。その後、検査部１０４３は、検査領域が画像欠陥を有するか否か、及び画像欠陥を有する検査画像ＩＩＤの位置をＵ／Ｉ制御部１０７０を介して表示部１１００に表示する。
【００９４】
画像欠陥を検出する処理の具体例としては、検査部１０４３は、基本領域の検査特徴値と検査領域の検査特徴値との差分を算出し、算出した差分が所定値を超えるか否かを判断し、差分が所定値を超える場合には検査領域から欠陥を検出したと判断する。そうでない場合には欠陥を検出しないと判断する。
【００９５】
また、他の具体例としては、検査部１０４３は、基本領域の階調値投影波形と検査領域の階調値投影波形との正規化相関係数を算出し、算出した正規相関係数が所定値を超える場合には検査領域から欠陥を検出しないと判断し、そうでない場合には欠陥を検出したと判断する。
【００９６】
次に、図７を参照してプリント制御部１０４０が実行する欠陥検出処理について説明する。図７は、プリント制御部１０４０が実行する欠陥検出処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【００９７】
先ず、プリント制御部１０４０は、検査チャートＩＴを出力するよう画像形成制御部１０６０を制御する（ステップＳＴ００１）。次に、プリント制御部１０４０は、出力した検査チャートＩＴを読取って検査画像ＩＩＤを取得するよう画像読取部１０２０を制御する（ステップＳＴ００２）。
【００９８】
その後、プリント制御部１０４０は、ステップＳＴ００２で取得した検査画像ＩＩＤの全領域に対してステップＳＴ００４の処理により検査領域を設定したか否かを判断する（ステップＳＴ００３）。プリント制御部１０４０は、全領域に対して検査領域を指定したと判断する場合にはステップＳＴ００５の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ００４の処理を実行する。
【００９９】
ステップＳＴ００３において、プリント制御部１０４０は、検査領域の全領域に対して検査領域を指定していないと判断した場合には、検査領域を設定する処理（以下単に、領域設定処理と言う）を実行する（ステップＳＴ００４）。
【０１００】
尚、領域設定処理は、プリント制御部１０４０を構成する領域設定部１０４１が実行する。また、領域設定処理については後述する。次に、プリント制御部１０４０は、上記ステップＳＴ００３に戻り上記処理を繰り返す。
【０１０１】
ステップＳＴ００３において、プリント制御部１０４０は、検査領域の全領域に対して検査領域を指定したと判断した場合には、ステップＳＴ００４で指定した全検査領域についてステップＳＴ００６及び００７の処理を実行したか否かを判断する（ステップＳＴ００５）。プリント制御部１０４０は、全検査領域について処理を実行したと判断する場合には処理を終了し、そうでない場合にはステップＳＴ００６の処理を実行する。
【０１０２】
ステップＳＴ００５において、プリント制御部１０４０は、全検査領域について処理を実行していないと判断する場合には、ステップＳＴ００６及び００７の処理対処としていない検査領域の内の１つを処理対象とし、処理対象とした検査領域（以下単に、処理対象検査領域と言う）から検査特徴値を算出する（ステップＳＴ００６）。尚、検査特徴値は、基本領域の検査特徴値、及び処理対象検査領域の検査特徴値の双方を含む。また、検査特徴値は、プリント制御部１０４０を構成する検査特徴値算出部１０４２が算出する。
【０１０３】
次に、プリント制御部１０４０は、処理対象検査領域を検査して欠陥を含むか否かを判断する（ステップＳＴ００７）。尚、処理対象検査領域の検査は、プリント制御部１０４０を構成する検査部１０４３が行う。その後、ステップＳＴ００５へ戻り上記処理を繰り返す。
【０１０４】
次に、図８を参照して領域設定部１０４１が実行する検査領域設定処理について説明する。図８は、領域設定部１０４１が実行する検査領域設定処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【０１０５】
領域設定部１０４１は、検査画像ＩＩＤ上の領域であって、未だ検査領域として設定していない領域（以下単に、未設定領域と言う）において、所定の大きさを持つ検査領域（以下単に、初期領域と言う）を１つ設定する（ステップＳＴ１０１）。尚、ステップＳＴ１０１の処理は、領域設定部１０４１を構成する領域初期設定部４１０１が実行する。
【０１０６】
ここで図９を参照して、領域設定部１０４１が設定する初期領域の一例について説明する。図９は、領域設定部１０４１が設定する初期領域の一例について説明するための図である。
【０１０７】
図９に表す検査画像ＩＩＤは、方形の画像である。領域設定部１０４１は、検査画像ＩＩＤ上の領域に検査領域を設定していないため、全ての領域を未設定領域であると判断する。
【０１０８】
次に、領域設定部１０４１は、図９に示すように、一辺が所定の大きさ（本実施例では、ｎ画素とする）の正方形状である初期領域ＴＡ１を、初期領域ＴＡ１の頂点の内で最も原点に近い頂点の副走査方向軸ＡＳの座標が最も小さくなるよう、次に主走査方向軸ＡＭの座標が最も小さくなるよう、かつ最も原点に近い頂点が未設定領域に接するよう初期領域ＴＡ１を設定する。
【０１０９】
次に図１０を参照して、領域設定部１０４１が設定する初期領域の他例について説明する。図１０は、領域設定部１０４１が設定する初期領域の他例について説明するための図である。
【０１１０】
尚、領域設定部１０４１が初期領域を設定するために実行する処理については、図９を参照して説明したため、以下相違点について主に説明する。
【０１１１】
先ず、領域設定部１０４１は、図１０に示す検査画像ＩＩＤ上の領域に検査領域ＡＡ１を設定しているため、検査領域ＡＡ１を除いた検査画像ＩＩＤ上の領域を未設定領域であると判断する。その後、領域設定部１０４１は、図９を参照して説明した処理と同様の処理により初期領域ＴＡ２を設定する。
【０１１２】
次に図１１を参照して、領域設定部１０４１が設定する初期領域の他例について説明する。
【０１１３】
先ず、領域設定部１０４１は、図１１に示す検査画像ＩＩＤ上の領域に検査領域ＡＡ１、ＡＡ２１から２９、及びＡＡ３を設定しているため、検査領域ＡＡ１、ＡＡ２１〜２９、及びＡＡ３を除いた検査画像ＩＩＤ上の領域を未設定領域であると判断する。その後、領域設定部１０４１は、図９を参照して説明した処理と同様の処理により初期領域ＴＡ４を設定する。
【０１１４】
尚、領域設定部１０４１が設定した初期領域ＴＡ４の一部領域ＯＡ４は、検査画像ＩＩＤ上の領域に重ならずに検査画像ＩＩＤからはみ出している。
【０１１５】
次に図１２を参照して、領域設定部１０４１が設定する初期領域の他例について説明する。
先ず、領域設定部１０４１は、図１２に示す検査画像ＩＩＤ上の領域に検査領域ＡＡ１、ＡＡ２１から２９、及びＡＡ３から７を設定しているため、検査領域ＡＡ１、ＡＡ２１〜２９、及びＡＡ３から７を除いた検査画像ＩＩＤ上の領域を未設定領域であると判断する。その後、領域設定部１０４１は、図９を参照して説明した処理と同様の処理により初期領域ＴＡ８を設定する。
【０１１６】
尚、領域設定部１０４１が設定した初期領域ＴＡ８の一部領域ＤＡ８は、検査領域ＡＡ５と重なっている。
【０１１７】
ここで図８に戻り引き続き検査領域設定処理について説明する。
領域設定部１０４１は、ステップＳＴ１０１で設定した初期領域が検査画像ＩＩＤの内部に収まるか否かを判断する（ステップＳＴ１０２）。領域設定部１０４１は、初期領域が検査画像ＩＩＤの内部に収まると判断する場合にはステップＳＴ１０３の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ１０７の処理を実行する。
【０１１８】
尚、領域設定部１０４１は、図９、１０、及び１２で例示した初期領域ＴＡ１、ＴＡ２、及びＴＡ８については検査画像ＩＩＤの内部に収まると判断し、図１１で例示した初期領域ＴＡ４については、初期領域ＴＡ４の一部領域ＯＡ４が検査画像ＩＩＤの内部に収まらないと判断する。
【０１１９】
ステップＳＴ１０２において、領域設定部１０４１は、ステップＳＴ１０１で設定した初期領域が検査画像ＩＩＤの内部に収まると判断した場合には、初期領域が既に設定した検査領域（以下単に、設定済領域と言う）と重なるか否かを判断する（ステップＳＴ１０３）。領域設定部１０４１は、初期領域が設定済領域と重なると判断する場合にはステップＳＴ１０８の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ１０４の処理を実行する。
【０１２０】
ステップＳＴ１０３において、領域設定部１０４１は、ステップＳＴ１０１で設定した初期領域が設定済領域と重ならないと判断した場合には、初期領域の大きさを変更する処理（以下単に、初期領域変更処理と言う）を実行する（ステップＳＴ１０４）。
【０１２１】
その後、領域設定部１０４１は、大きさを変更された初期領域が検査画像ＩＩＤの内部に収まるか否かを判断する（ステップＳＴ１０５）。領域設定部１０４１は、変更された初期領域が検査画像ＩＩＤの内部に収まると判断する場合にはステップＳＴ１０６の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ１０７の処理を実行する。
【０１２２】
ステップＳＴ１０５において、領域設定部１０４１は、大きさを変更された初期領域が検査画像ＩＩＤの内部に収まると判断する場合には、初期領域が設定済領域と重なるか否かを判断する（ステップＳＴ１０６）。領域設定部１０４１は、初期領域が設定済領域と重なると判断する場合にはステップＳＴ１０８の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ１０９の処理を実行する。
【０１２３】
ステップＳＴ１０２において、領域設定部１０４１は、ステップＳＴ１０１で設定した初期領域が検査画像ＩＩＤの内部に収まらないと判断した場合、又はステップＳＴ１０５において、大きさを変更された初期領域が検査画像ＩＩＤの内部に収まらないと判断した場合には、検査画像ＩＩＤの内部に収まらないと判断した一部領域を初期領域から削除する（ステップＳＴ１０７）。その後、ステップＳＴ１０９の処理を実行する
【０１２４】
具体例を挙げると、領域設定部１０４１は、図１１で説明した初期領域ＴＡ４の一部領域ＯＡ４を初期領域ＴＡ４から削除する。
【０１２５】
ステップＳＴ１０３において、領域設定部１０４１は、ステップＳＴ１０１で設定した初期領域が設定済領域と重なると判断した場合、又はステップＳＴ１０６において、大きさを変更された初期領域が設定済領域と重なると判断した場合には、設定済領域と重なると判断した初期領域の部分領域を、初期領域から削除する（ステップＳＴ１０８）。その後、ステップＳＴ１０９の処理を実行する
【０１２６】
具体例を挙げると、領域設定部１０４１は、図１２で説明した初期領域ＴＡ８の重複領域ＤＡ８を初期領域ＴＡ８から削除する。
【０１２７】
ステップＳＴ１０６において、領域設定部１０４１は、初期領域が設定済領域と重ならないと判断した場合、ステップＳＴ１０７を実行した後、及びステップＳＴ１０８を実行した後には、初期領域を検査領域と最終決定する（ステップＳＴ１０１）。その後、領域設定部１０４１は、検査領域設定処理を終了する。
【０１２８】
ここで図１３及び１４を参照して、大きさを変更された初期領域について説明する。図１３は、図９に示した初期領域の大きさを変更した後の領域を説明するための図であり、図１４は、図１０に示した初期領域の大きさを変更した後の領域を説明するための図である。
【０１２９】
図１３に示す初期領域は、図９に示した１辺が「ｎ画素」の初期領域を、最も原点に近い頂点の位置を変更することなく、１辺が「ｍ画素」（ｍ  ＞  ｎ）の大きさに変更した初期領域を表す。
【０１３０】
図１４に示す初期領域は、図１０に示した１辺が「ｎ画素」の初期領域を、９個の同じ形状を有する領域に分割することで縮小変更した初期領域を表す。尚、分割された初期領域の形状は、１辺が「ｎ／３画素」の正方形となる。
【０１３１】
次に図１５を参照して、領域設定部１０４１が実行する検査領域変更処理について説明する。図１５は、領域設定部１０４１が実行する検査領域変更処理の一例を表すフローチャートである。
【０１３２】
先ず、領域設定部１０４１は、検査領域から特徴値を算出する処理（以下単に、特徴値算出処理と言う）を実行する（ステップＳＴ２０１）。次に、領域設定部１０４１は、特徴値を規格化する処理（以下単に、特徴値規格化処理と言う）を実行する（ステップＳＴ２０２）。
【０１３３】
尚、特徴値算出処理は領域設定部１０４１を構成する特徴値算出部４１０３が実行し、特徴値規格化処理は領域設定部１０４１を構成する規格値算出部４６０７が実行する。
【０１３４】
次に、領域設定部１０４１は、ステップＳＴ２０１で算出した特徴値の内で、検査領域に含まれる画像欠陥の影響を受けたと考えられる特徴値を選択する処理（以下単に、特徴値選択処理と言う）を実行する（ステップＳＴ２０３）。
【０１３５】
尚、特徴値選択処理は領域設定部１０４１を構成する特徴値選択部４６１１が実行する。
【０１３６】
次に、領域設定部１０４１は、記憶部１０５０が記憶する対応関係情報を取得する（ステップＳＴ２０４）。その後、領域設定部１０４１は、ステップＳＴ２０３で選択した特徴値とステップＳＴ２０４で取得した対応関係情報が表す対応関係とに基づいて検査領域の大きさとを変更する（ステップＳＴ２０５）。その後、領域設定部１０４１は、検査領域変更処理を終了する。
【０１３７】
ここで、図１６を参照して、記憶部１０５０が記憶する対応関係情報について説明する。図１６は、記憶部１０５０が記憶する対応関係情報が表す関係の一例を説明するための図である。
【０１３８】
図１６（ａ）は、例えば、過去に行った実験において、検査部１０４３が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさと、検出対象とした検査領域から算出部４１０２が算出した検査領域の階調値の平均値との対応関係を表す図である。
【０１３９】
図１６（ｂ）は、同様に、検査領域の大きさと検査領域の階調値ヒストグラムの分散値との対応関係を表す図であり、図１６（ｃ）は検査領域の大きさと検査領域の高周波成分値との対応関係を表す図であり、図１６（ｄ）は検査領域の大きさと検査領域の低周波成分値との対応関係を表す図である。尚、それぞれの特徴値と検査領域の大きさとは１対１に対応している。
【０１４０】
領域設定部１０４１は、ステップＳＴ２０３で選択した特徴値が検査領域の階調値の平均値であると判断する場合には図１６（ａ）に表す対応関係に基づいて、階調値ヒストグラムの分散値であると判断する場合には図１６（ｂ）に表す対応関係に基づいて、高周波成分値であると判断する場合には図１６（ｃ）に表す対応関係に基づいて、低周波成分値であると判断する場合には図１６（ｄ）に表す対応関係に基づいて、検査領域の大きさとを変更する。
【０１４１】
具体例としては、領域設定部１０４１は、ステップＳＴ２０３で選択した特徴値が平均値であり、かつその値がａｖｅ１であると判断する場合には、ｎ画素であった検査領域の１辺の大きさを、図１６（ａ）において平均値「ａｖｅ１」に対応する大きさ「２ｎ画素」へと拡大変更する。
【０１４２】
また、平均値がａｖｅ２である場合には検査領域の１辺の大きさを平均値がａｖｅ２に対応するｎ／２画素に変更する。この際、変更前における検査領域の１辺の大きさ「ｎ画素」よりも小さい画素数に変更する場合には、図１４で説明したように、変更前における検査領域を２つの領域に分割することで１辺の大きさが「ｎ／２画素」である領域に縮小変更する。
【０１４３】
尚、選択した特徴値が分散値である場合、高周波成分値、及び低周波成分値である場合も同様であるため説明を省略する。また、変更前における検査領域の１辺の大きさ（以下単に、所定のサイズと言う）「ｎ画素」に対応するそれぞれの特徴値の値を所定の閾値といい、それぞれｖａｒｔｈ、ｈｆｒｅｑｔｈ、及びｌｆｒｅｑで表す。
【０１４４】
尚、上記実施例では、対応関係は、検査領域から算出部４１０２が算出した特徴値が増加すると過去に検査部１０４３が画像欠陥を検出できた検査領域の大きさも増加する関係を有するとして説明したが、これに限定される訳ではなく、過去に行った実験の実験結果に基づいて得られる他の関係を採用できる。
【０１４５】
具体的には、検査チャートが黒紙画像である場合において、平均値ａｖｅが所定の閾値ａｖｅｔｈよりも小さい場合には特徴値が増加すると画像欠陥を検出できた検査領域の大きさが減少し、そうでない場合には特徴値が増加すると画像欠陥を検出できた検査領域の大きさが増加する実験結果から得られる対応関係を採用できる。
【０１４６】
尚、ステップＳＴ２０４及びＳＴ２０５の処理は、領域設定部１０４１を構成する領域変更部４６１２が実行する。
【０１４７】
ここで、図１７を参照して、特徴値算出部４１０３が実行する特徴値算出処理について説明する。図１７は、特徴値算出部４１０３が実行する特徴値算出処理の一例を表すフローチャートである。
【０１４８】
先ず、特徴値算出部４１０３は、検査領域の階調値の平均値 ａｖｅを算出する（ステップＳＴ３０１）。次に、検査領域の階調値ヒストグラム分散値ｖａｒを算出する（ステップＳＴ３０２）。
【０１４９】
尚、ステップＳＴ３０１の処理は特徴値算出部４１０３を構成する平均値算出部４１０４が実行し、ステップＳＴ３０２の処理は特徴値算出部４１０３を構成する分散値算出部４１０５が実行する。
【０１５０】
次に、特徴値算出部４１０３は、低周波成分値ｌｆｒｅｑを算出する（ステップＳＴ３０３）。その後、特徴値算出部４１０３は、高周波成分値ｈｆｒｅｑを算出する（ステップＳＴ３０４）。
【０１５１】
尚、厳密には、ステップＳＴ３０３、及びステップＳＴ３０４の処理は、特徴値算出部４１０３を構成する周波数特性規格値算出部４１１０が実行する。また、特徴値に含まれる周波数特性に関する値は、低周波成分値ｌｆｒｅｑ及び高周波成分値ｈｆｒｅｑを含む。
【０１５２】
ここで、図１８を参照して、規格値算出部４６０７が実行する規格値算出処理について説明する。図１８は、規格値算出部４６０７が実行する規格値算出処理の一例を表すフローチャートである。
【０１５３】
先ず、規格値算出部４６０７は、検査領域の階調値の平均値 ａｖｅを上記数式（１）に従って規格化し、規格化された平均値Ｎａｖｅを算出する（ステップＳＴ４０１）。尚、ステップＳＴ４０１の処理は規格値算出部４６０７を構成する平均値規格値算出部４１０８が実行する。
【０１５４】
次に、規格値算出部４６０７は、検査領域の階調値ヒストグラムの分散値 ｖａｒを上記数式（２）に従って規格化し、規格化された分散値Ｎｖａｒを算出する（ステップＳＴ４０２）。尚、ステップＳＴ４０２の処理は規格値算出部４６０７を構成する分散値規格値算出部４１０９が実行する。
【０１５５】
その後、規格値算出部４６０７は、低周波成分値ｌｆｒｅｑを上記数式（３）に従って規格化し、規格化された低周波成分値ｌｆｒｅｑを算出する（ステップＳＴ４０３）。
【０１５６】
その後、規格値算出部４６０７は、高周波成分値ｈｆｒｅｑを上記数式（３）に従って規格化し、規格化された高周波成分値ｈｆｒｅｑを算出する（ステップＳＴ４０４）。尚、ステップＳＴ４０３及び４０４の処理は規格値算出部４６０７を構成する周波数特性規格値算出部４１１０が実行する。
【０１５７】
ここで、図１９を参照して、特徴値選択部４６１１が実行する特徴値選択処理について説明する。図１９は、特徴値選択部４６１１が実行する特徴値選択処理の一例を表すフローチャートである。
【０１５８】
先ず、特徴値選択部４６１１は、規格化された平均値Ｎａｖｅが所定の閾値Ｎａｖｅｔｈを超えたか否かを判断する（ステップＳＴ５０１）。特徴値選択部４６１１は、規格化された平均値Ｎａｖｅが所定の閾値Ｎａｖｅｔｈを超えたと判断する場合にはステップＳＴ５０５の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ５０２の処理を実行する。
【０１５９】
ステップＳＴ５０１において、特徴値選択部４６１１は、規格化された平均値Ｎａｖｅが所定の閾値Ｎａｖｅｔｈを超えないと判断した場合には、規格化された分散値Ｎｖａｒが所定の閾値Ｎｖａｒｔｈを超えたか否かを判断する（ステップＳＴ５０２）。特徴値選択部４６１１は、規格化された分散値Ｎｖａｒが所定の閾値Ｎｖａｒｔｈを超えたと判断する場合にはステップＳＴ５０５の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ５０３の処理を実行する。
【０１６０】
ステップＳＴ５０２において、特徴値選択部４６１１は、規格化された分散値Ｎｖａｒが所定の閾値Ｎｖａｒｔｈを超えないと判断した場合には、規格化された低周波成分値Ｎｌｆｒｅｑが所定の閾値Ｎｌｆｒｅｑｔｈを超えたか否かを判断する（ステップＳＴ５０３）。特徴値選択部４６１１は、規格化された低周波成分値Ｎｌｆｒｅｑが所定の閾値Ｎｌｆｒｅｑｔｈを超えたと判断する場合にはステップＳＴ５０５の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ５０４の処理を実行する。
【０１６１】
ステップＳＴ５０３において、特徴値選択部４６１１は、規格化された低周波成分値Ｎｌｆｒｅｑが所定の閾値Ｎｌｆｒｅｑｔｈを超えないと判断した場合には、規格化された高周波成分値Ｎｈｆｒｅｑが所定の閾値Ｎｈｆｒｅｑｔｈを超えたか否かを判断する（ステップＳＴ５０４）。特徴値選択部４６１１は、規格化された高周波成分値Ｎｈｆｒｅｑが所定の閾値Ｎｈｆｒｅｑｔｈを超えたと判断する場合にはステップＳＴ５０５の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ５１０の処理を実行する。
【０１６２】
ステップＳＴ５０１において、特徴値選択部４６１１は、規格化された平均値Ｎａｖｅが所定の閾値Ｎａｖｅｔｈを超えたと判断した場合、ステップＳＴ５０２において、規格化された分散値Ｎｖａｒが所定の閾値Ｎｖａｒｔｈを超えたと判断した場合、ステップＳＴ５０３において、規格化された低周波成分値Ｎｌｆｒｅｑが所定の閾値Ｎｌｆｒｅｑｔｈを超えたと判断した場合、又はステップＳＴ５０４において、規格化された高周波成分値Ｎｈｆｒｅｑが所定の閾値Ｎｈｆｒｅｑｔｈを超えたと判断した場合には、規格化された平均値Ｎａｖｅから所定の閾値Ｎａｖｅｔｈを減算する（ステップＳＴ５０５）。
【０１６３】
次に、特徴値選択部４６１１は、規格化された分散値Ｎｖａｒから所定の閾値Ｎｖａｒｔｈを減算し（ステップＳＴ５０６）、規格化された低周波成分値Ｎｌｆｒｅｑから所定の閾値Ｎｌｆｒｅｑｔｈをを減算し（ステップＳＴ５０７）、規格化された高周波成分値Ｎｈｆｒｅｑから所定の閾値Ｎｈｆｒｅｑｔｈを減算する（ステップＳＴ５０８）。
【０１６４】
次に、特徴値選択部４６１１は、ステップＳＴ５０５から５０８において算出した値が最大となる特徴値を選択する（ステップＳＴ５０９）。その後、特徴値選択部４６１１は、特徴値選択処理を終了する。
【０１６５】
ステップＳＴ５０４において、規格化された高周波成分値Ｎｈｆｒｅｑが所定の閾値Ｎｈｆｒｅｑｔｈを超えないと判断した場合には、所定の閾値Ｎａｖｅｔｈから規格化された平均値Ｎａｖｅを減算する（ステップＳＴ５１０）。
【０１６６】
次に、特徴値選択部４６１１は、所定の閾値Ｎｖａｒｔｈから規格化された分散値Ｎｖａｒを減算し（ステップＳＴ５１１）、所定の閾値Ｎｌｆｒｅｑｔｈから規格化された低周波成分値Ｎｌｆｒｅｑを減算し（ステップＳＴ５１２）、所定の閾値Ｎｈｆｒｅｑｔｈから規格化された高周波成分値Ｎｈｆｒｅｑを減算する（ステップＳＴ５１３）。
【０１６７】
次に、特徴値選択部４６１１は、ステップＳＴ５１０から５１３において算出した値が最大となる特徴値を選択する（ステップＳＴ５１４）。その後、特徴値選択部４６１１は、特徴値選択処理を終了する。
【０１６８】
本実施例においては、検査部１０４３が検査手段に相当し、記憶部１０５０が記憶手段に相当し、算出部４１０２が算出手段に相当し、領域変更部４６１２が変更手段に相当する。
【０１６９】
以下、本発明の第２の実施形態について説明する。
第２の実施例においては、実施例１で説明した検査領域設定処理の他例について説明する。
【実施例２】
【０１７０】
実施例２における画像検査措置は、実施例１における画像検査装置１０００とほぼ同一の構成、及び機能を有するため、相違点について主に説明する。
【０１７１】
先ず、図２０を参照して、領域設定部１０４１が実施例２において実行する検査領域設定処理の一例について説明する。図２０は、領域設定部１０４１が実施例２において実行する検査領域設定処理の一例を表すフローチャートである。
【０１７２】
先ず、領域設定部１０４１は、所定の閾値を超えた特徴値を、検査領域に含まれる欠陥に影響を受けた特徴値として選択する処理（第１の特徴値選択処理と言う）を実行する（ステップＳＴ６０１）。尚、第１の特徴値選択処理については後述する。
【０１７３】
次に、領域設定部１０４１は、ステップＳＴ６０１で実行した処理において、特徴値を選択したか否かを判断する（ステップＳＴ６０２）。領域設定部１０４１は、特徴値を選択したと判断する場合にはステップＳＴ６０６の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ６０３の処理を実行する。
【０１７４】
ステップＳＴ６０２において、領域設定部１０４１は、特徴値を選択しなかったと判断した場合には、所定の閾値との差分が最も大きい特徴値を、検査領域に含まれる欠陥に影響を受けた特徴値として選択する処理（第２の特徴値選択処理と言う）を実行する（ステップＳＴ６０３）。
【０１７５】
その後、領域変更部４６１２は、ステップＳＴ６０３において選択した特徴値に関する対応関係情報を記憶部１０５０から取得する（ステップＳＴ６０４）。次に、領域変更部４６１２は、取得した特徴値と対応関係情報とに基づいて、検査領域の大きさを変更する（ステップＳＴ６０５）。その後、領域変更部４６１２は、検査領域設定処理を終了する。
【０１７６】
ステップＳＴ６０２において、領域設定部１０４１は、特徴値を選択したと判断した場合には、ステップＳＴ６０１において選択した特徴値に関する対応関係情報を記憶部１０５０から取得する（ステップＳＴ６０６）。次に、領域変更部４６１２は、取得した特徴値と対応関係情報とに基づいて、検査領域の大きさを変更する（ステップＳＴ６０７）。その後、領域変更部４６１２は、検査領域設定処理を終了する。
【０１７７】
次に、図２１を参照して、領域設定部１０４１を構成する特徴値選択部４６１１が実行する第１の特徴値選択処理について説明する。図２１は、特徴値選択部４６１１が実行する第１の特徴値選択処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【０１７８】
特徴値選択部４６１１は、平均値 ａｖｅ を平均値算出部４１０４から取得する（ステップＳＴ７０１）。次に、特徴値選択部４６１１は、ステップＳＴ７０１で取得した平均値ａｖｅが所定の閾値 ａｖｅｔｈよりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ７０２）。特徴値選択部４６１１は、平均値ａｖｅが平均値の所定の閾値 ａｖｅｔｈよりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ７０９の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ７０３の処理を実行する。
【０１７９】
ステップＳＴ７０２において、特徴値選択部４６１１は、平均値ａｖｅが所定の閾値 ａｖｅｔｈよりも大きくないと判断した場合には、分散値 ｖａｒ を分散値算出部４１０５から取得する（ステップＳＴ７０３）。
【０１８０】
次に、特徴値選択部４６１１は、ステップＳＴ７０３で取得した分散値 ｖａｒ が所定の閾値 ｖａｒｔｈ よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ７０４）。特徴値選択部４６１１は、分散値 ｖａｒ が所定の閾値 ｖａｒｔｈ よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ７１０の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ７０５の処理を実行する。
【０１８１】
ステップＳＴ７０５において、特徴値選択部４６１１は、分散値 ｖａｒが所定の閾値 ｖａｒｔｈよりも大きくないと判断した場合には、低周波成分値 ｌｆｒｅｑ を周波数特性算出部４１０６から取得する（ステップＳＴ７０５）。
【０１８２】
次に、特徴値選択部４６１１は、ステップＳＴ７０５で取得した低周波成分値 ｌｆｒｅｑが所定の閾値 ｌｆｒｅｑｔｈ よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ７０６）。特徴値選択部４６１１は、低周波成分値 ｌｆｒｅｑが所定の閾値 ｌｆｒｅｑｔｈ よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ７１１の処理を、そうでない場合にはステップＳＴ７０７の処理を実行する。
【０１８３】
ステップＳＴ７０６において、特徴値選択部４６１１は、低周波成分値 ｌｆｒｅｑが所定の閾値 ｌｆｒｅｑｔｈよりも大きくないと判断した場合には、高周波成分値 ｈｆｒｅｑ を周波数特性算出部４１０６から取得する（ステップＳＴ７０７）。
【０１８４】
次に、特徴値選択部４６１１は、ステップＳＴ７０７で取得した高周波成分値 ｈｆｒｅｑが所定の閾値 ｈｆｒｅｑｔｈ よりも大きいか否かを判断する（ステップＳＴ７０８）。特徴値選択部４６１１は、高周波成分値 ｈｆｒｅｑが所定の閾値 ｈｆｒｅｑｔｈ よりも大きいと判断する場合にはステップＳＴ７１２の処理を、そうでない場合には第１の特徴値選択処理を終了する。
【０１８５】
ステップＳＴ７０２において、特徴値選択部４６１１は、平均値ａｖｅが所定の閾値 ａｖｅｔｈよりも大きくないと判断した場合には、平均値ａｖｅを検査画像に含まれる画像欠陥に影響を受けた値として選択する（ステップＳＴ７０９）。その後、特徴値選択部４６１１は、第１の特徴値選択処理を終了する。
【０１８６】
ステップＳＴ７０５において、特徴値選択部４６１１は、分散値 ｖａｒが所定の閾値 ｖａｒｔｈよりも大きくないと判断した場合には、分散値 ｖａｒを検査画像に含まれる画像欠陥に影響を受けた値として選択する（ステップＳＴ７０９）。その後、特徴値選択部４６１１は、第１の特徴値選択処理を終了する。
【０１８７】
ステップＳＴ７０６において、特徴値選択部４６１１は、低周波成分値 ｌｆｒｅｑが所定の閾値 ｌｆｒｅｑｔｈよりも大きくないと判断した場合には、低周波成分値 ｌｆｒｅｑを検査画像に含まれる画像欠陥に影響を受けた値として選択する（ステップＳＴ７１１）。その後、特徴値選択部４６１１は、第１の特徴値選択処理を終了する。
【０１８８】
ステップＳＴ７０８において、特徴値選択部４６１１は、高周波成分値 ｈｆｒｅｑが所定の閾値 ｈｆｒｅｑｔｈよりも大きくないと判断した場合には、高周波成分値 ｈｆｒｅｑを検査画像に含まれる画像欠陥に影響を受けた値として選択する（ステップＳＴ７１２）。その後、特徴値選択部４６１１は、第１の特徴値選択処理を終了する。
【０１８９】
次に、図２２を参照して、領域設定部１０４１を構成する特徴値選択部４６１１が実行する第２の特徴値選択処理について説明する。図２２は、特徴値選択部４６１１が実行する第２の特徴値選択処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【０１９０】
先ず、特徴値選択部４６１１は、規格化された平均値Ｎａｖｅを所定の閾値Ｎａｖｅｔｈからを減算する（ステップＳＴ８０１）。次に、特徴値選択部４６１１は、規格化された分散値Ｎｖａｒを所定の閾値Ｎｖａｒｔｈから減算し（ステップＳＴ８０２）、規格化された低周波成分値Ｎｌｆｒｅｑを所定の閾値Ｎｌｆｒｅｑｔｈから減算し（ステップＳＴ８０３）、規格化された高周波成分値Ｎｈｆｒｅｑを所定の閾値Ｎｈｆｒｅｑｔｈから減算する（ステップＳＴ８０４）。
【０１９１】
次に、特徴値選択部４６１１は、ステップＳＴ８０１から８０４において算出した値が最大となる特徴値を選択する（ステップＳＴ８０５）。その後、特徴値選択部４６１１は、第２の特徴値選択処理を終了する。
【０１９２】
以下、本発明の第３の実施形態について説明する。
第３の実施例においては、本発明に係る画像形成システムの実施形態について説明する。
【実施例３】
【０１９３】
図２３を参照して、本発明に係る画像検査システムの構成について説明する。図２３は、本発明の画像検査システムの一実施形態を示す構成図である。
【０１９４】
画像検査システム１０は、通信網１００、画像出力装置２０００、画像読取装置３０００、及び画像検査装置５０００で構成されている。
【０１９５】
通信網１００は、実施例１で既に説明したため説明を省略する。画像出力装置２０００は、例えば、プリンタで構成され、通信網１００を介して画像検査装置５０００に接続している。
【０１９６】
画像出力装置２０００は、画像検査装置５０００から画像検査装置５０００が記憶する検査チャート及び検査チャートの出力要求を取得し、取得した要求に応じて検査チャートを印刷出力する。
【０１９７】
画像出力装置２０００は、通信部２１２０、制御部２０４０、画像形成制御部２０６０、アクチュエータ制御部２０８０、及び図示を省略するが画像形成部で構成される。
【０１９８】
尚、通信部２１２０、制御部２０４０、画像形成制御部２０６０、及びアクチュエータ制御部２０８０等の有する各機能は、画像出力装置２０００が実行するソフトウェア制御により実現される。また、ソフトウェア制御を実行するための画像出力装置２０００のハードウェア構成については、実施例１で説明した画像検査装置１０００の構成と同様であるため説明を省略する。
【０１９９】
画像出力装置２０００が有する通信部２１２０は、例えば、ネットワークアダプタで構成される。通信部２１２０は、通信網１００及び制御部２０４０に接続している。
【０２００】
通信部２１２０は、画像検査装置５０００から出力する検査チャート及び検査チャートの出力要求を取得し、取得した検査チャート及び出力要求を制御部２０４０に出力する。
【０２０１】
制御部２０４０は、通信部２１２０及び画像形成制御部２０６０に接続している。制御部２０４０は、通信部２１２０から検査チャート及び出力要求を取得し、取得した出力要求に応じて検査チャートを出力するよう画像形成制御部２０６０を制御する。
【０２０２】
画像形成制御部２０６０の構成、接続、及び機能は、実施例１で説明した画像形成制御部１０６０の構成、接続、及び機能と同様であるため、以下相違点について主に説明する。
【０２０３】
画像形成制御部２０６０は、プリント制御部１０４０ではなく、制御部２０４０に接続している。画像形成制御部２０６０は、制御部２０４０に制御され、アクチュエータ制御部１０８０を介して画像形成部を制御する。
【０２０４】
アクチュエータ制御部２０８０の構成、接続、及び機能は、実施例１で説明したアクチュエータ制御部２０８０構成、接続、及び機能と同様であるので説明を省略する。
【０２０５】
画像読取装置３０００は、例えば、スキャナで構成される。画像読取装置３０００は、通信網１００を介して画像検査装置５０００に接続している。
【０２０６】
画像読取装置３０００は、画像検査装置５０００から画像の読取要求を取得し、取得した要求に従って画像を読取る。画像読取装置３０００は、画像読取部３０２０、画像処理部３０３０、制御部３０４０、及び通信部３１２０で構成される。
【０２０７】
尚、画像読取部３０２０、画像処理部３０３０、制御部３０４０、及び通信部３１２０の有する各機能は、画像読取装置３０００が実行するソフトウェア制御により実現される。また、ソフトウェア制御を実行するための画像読取装置３０００のハードウェア構成については、実施例１で説明した画像検査装置１０００の構成と同様であるため説明を省略する。
【０２０８】
画像読取部３０２０、及び画像処理部３０３０の構成、接続、及び機能は、実施例１で説明した画像読取部１０２０、及び画像処理部１０３０の構成、接続、及び機能と同様であるので以下、重に相違点について説明する。
【０２０９】
画像読取部３０２０、及び画像処理部３０３０は、プリント制御部１０４０ではなく、制御部２０４０に接続している。画像読取部３０２０は、制御部２０４０に制御されて、画像出力装置２０００が出力した検査チャートを読み取って検査画像を取得し、取得した画像を画像処理部３０３０へ出力する。
【０２１０】
画像処理部３０３０は、制御部２０４０に制御されて、画像読取部３０２０から取得した画像に対して実施例１で説明した処理を実行する。その後、画像処理部３０３０は、処理を施した画像を、制御部３０４０へ出力する。
【０２１１】
制御部３０４０は、画像読取部３０２０、画像処理部３０３０、及び通信部３１２０に接続している。制御部３０４０は、通信部３１２０から読取要求を取得し、取得した要求に従って画像を読取るよう画像読取装置３０００を制御する。
【０２１２】
また、制御部３０４０は、画像読取装置３０００が取得した画像を処理するよう画像読取部３０２０を制御し、画像読取装置３０００が処理した画像を取得する。
【０２１３】
通信部３１２０は、例えば、ネットワーク・アダプタで構成され、通信網１００を介して画像検査装置５０００に接続している。通信部３１２０は、画像検査装置５０００から読取要求を取得し、取得した要求を制御部３０４０へ出力する。
【０２１４】
また、通信部３１２０は、制御部３０４０から検査画像を取得し、制御部３０４０に制御されて取得した検査画像を画像検査装置５０００へ送信する。
【０２１５】
画像検査装置５０００は、例えば、パーソナル・コンピュータで構成される。画像検査装置５０００は、通信網１００を介して画像出力装置２０００、及び画像読取装置３０００に接続している。
【０２１６】
画像検査装置５０００は、画像出力装置２０００に対して、画像検査装置５０００が記憶する検査チャート及び検査チャートを出力する要求を送信する。
【０２１７】
次に、画像検査装置５０００は、画像読取装置３０００に対して、画像の読取要求を送信する。その後、画像検査装置５０００は、画像読取装置３０００から、画像読取装置３０００が読取った検査画像を取得する。
【０２１８】
画像検査装置５０００は、ＦＡＸ制御部５０１０、プリント制御部５０４０、記憶部５０５０、Ｕ／Ｉ制御部５０７０、入力部５０９０、表示部５１００、及び通信部５１２０で構成される。
【０２１９】
ＦＡＸ制御部５０１０、プリント制御部５０４０、記憶部５０５０、Ｕ／Ｉ制御部５０７０、入力部５０９０、表示部５１００、及び通信部５１２０の構成、接続、及び機能は、ＦＡＸ制御部１０１０、プリント制御部１０４０、記憶部１０５０、Ｕ／Ｉ制御部１０７０、入力部１０９０、表示部１１００、及び通信部１１２０の構成、接続、及び機能と同様であるので、以下相違点について主に説明を行う。
【０２２０】
尚、ＦＡＸ制御部５０１０、プリント制御部５０４０、記憶部５０５０、Ｕ／Ｉ制御部５０７０、入力部５０９０、表示部５１００、及び通信部５１２０の有する各機能は、画像検査装置５０００が実行するソフトウェア制御により実現される。また、ソフトウェア制御を実行するための画像検査装置５０００のハードウェア構成については、実施例１で説明した画像検査装置１０００の構成と同様であるため説明を省略する。
【０２２１】
プリント制御部５０４０は、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、及び画像形成制御部１０６０に接続しない点で実施例１と異なる。また、プリント制御部５０４０は、通信部１１２０が受信した検査画像に対して欠陥検出処理を実行する点で実施例１と異なる。
【０２２２】
ここで図２４を参照して、実施例３におけるプリント制御部５０４０の構成について説明する。図２４は、実施例３におけるプリント制御部５０４０の実施形態を表す図である。
【０２２３】
プリント制御部５０４０は、領域設定部５０４１、検査特徴値算出部５０４２、及び検査部５０４３で構成される。領域設定部５０４１、検査特徴値算出部５０４２、及び検査部５０４３は、実施例１で説明した領域設定部１０４１、検査特徴値算出部１０４２、及び検査部１０４３と同様であるため説明を省略する。
【０２２４】
次に図２５を参照して、実施例３における領域設定部５０４１の構成について説明する。図２５は、実施例３における領域設定部５０４１の実施形態を表す図である。
【０２２５】
領域設定部５０４１は、領域初期設定部５１０１、算出部５１０２、特徴値選択部５６１１、及び領域変更部５６１２で構成される。領域初期設定部５１０１、算出部５１０２、特徴値選択部５６１１、及び領域変更部５６１２は、実施例１で説明した領域初期設定部４１０１、算出部４１０２、特徴値選択部４６１１、及び領域変更部４６１２と同様であるため説明を省略する。
【０２２６】
ここで、図２６を参照して、実施例３においてプリント制御部５０４０が実行する欠陥検出処理について説明する。図２６は、実施例３においてプリント制御部５０４０が実行する欠陥検出処理の一例を表すフローチャートである。
【０２２７】
先ず、プリント制御部５０４０は、検査チャートの出力要求及び検査チャートを画像出力装置２０００に送信するよう通信部５１２０を制御する（ステップＳＴ９０１）。
【０２２８】
次に、プリント制御部５０４０は、画像出力装置２０００が出力した検査チャートを読取ることを求める要求を画像読取装置３０００に送信するよう通信部１１２０を制御する（ステップＳＴ９０２）。
【０２２９】
その後、プリント制御部５０４０は、ステップＳＴ９０３からステップＳＴ９０７の処理を実行する（ステップＳＴ９０３からステップＳＴ９０７）。尚、ステップＳＴ９０３からステップＳＴ９０７の処理は、実施例１で説明したステップＳＴ００３からステップＳＴ００７の処理と同様であるため、説明を省略する。
【０２３０】
本実施例においては、検査部５０４３が検査手段に相当し、記憶部５０５０が記憶手段に相当し、算出部５１０２が算出手段に相当し、領域変更部５６１２が変更手段に相当する。
【０２３１】
以下、本発明の第４の実施形態について説明する。
第４の実施例においては、本発明に係る画像形成装置の実施形態について説明する。
【実施例４】
【０２３２】
図２７を参照して、本発明に係る画像形成装置の構成について説明する。図２７は、本発明の画像形成装置の一実施形態を示す構成図である。
【０２３３】
実施例４における画像形成装置９０００は、実施例１における画像検査装置１０００と同様に、ＦＡＸ制御部９０１０、画像読取部９０２０、画像処理部９０３０、プリント制御部９０４０、記憶部９０５０、画像形成制御部９０６０、Ｕ／Ｉ制御部９０７０、アクチュエータ制御部９０８０、入力部９０９０、表示部９１００、及び通信部９１２０で構成される。
【０２３４】
画像形成装置９０００を構成するＦＡＸ制御部９０１０、画像読取部９０２０、画像処理部９０３０、プリント制御部９０４０、記憶部９０５０、画像形成制御部９０６０、Ｕ／Ｉ制御部９０７０、アクチュエータ制御部９０８０、入力部９０９０、表示部９１００、及び通信部９１２０は、画像検査装置１０００を構成するＦＡＸ制御部１０１０、画像読取部１０２０、画像処理部１０３０、プリント制御部１０４０、記憶部１０５０、画像形成制御部１０６０、Ｕ／Ｉ制御部１０７０、アクチュエータ制御部１０８０、入力部１０９０、表示部１１００、及び通信部１１２０は、とほぼ同一の構成、及び機能を有するため、説明を省略する。
【０２３５】
尚、ＦＡＸ制御部９０１０、画像読取部９０２０、画像処理部９０３０、プリント制御部９０４０、記憶部９０５０、画像形成制御部９０６０、Ｕ／Ｉ制御部９０７０、アクチュエータ制御部９０８０、入力部９０９０、表示部９１００、及び通信部９１２０の有する各機能は、画像形成装置９０００が実行するソフトウェア制御により実現される。また、ソフトウェア制御を実行するための画像形成装置９０００のハードウェア構成については、実施例１で説明した画像検査装置１０００の構成と同様であるため説明を省略する。
【０２３６】
次に図２８を参照して、実施例４におけるプリント制御部９０４０の構成について説明する。図２８は、実施例４におけるプリント制御部９０４０の実施形態を表す図である。
【０２３７】
プリント制御部９０４０は、領域設定部９０４１、検査特徴値算出部９０４２、及び検査部９０４３で構成される。領域設定部９０４１、検査特徴値算出部９０４２、及び検査部９０４３は、実施例１で説明した領域設定部１０４１、検査特徴値算出部１０４２、及び検査部１０４３と同様であるため説明を省略する。
【０２３８】
次に図２９を参照して、実施例４における領域設定部９０４１の構成について説明する。図２９は、実施例４における領域設定部９０４１の実施形態を表す図である。
【０２３９】
領域設定部９０４１は、領域初期設定部９１０１、算出部９１０２、特徴値選択部９６１１、及び領域変更部９６１２で構成される。領域初期設定部９１０１、算出部９１０２、特徴値選択部９６１１、及び領域変更部９６１２は、実施例１で説明した領域初期設定部４１０１、算出部４１０２、特徴値選択部４６１１、及び領域変更部４６１２と同様であるため説明を省略する。
【０２４０】
本実施例においては、検査部９０４３が検査手段に相当し、記憶部９０５０が記憶手段に相当し、算出部９１０２が算出手段に相当し、領域変更部９６１２が変更手段に相当する。
【０２４１】
画像検査装置１０００及び画像形成装置９０００は、機能的には、演算部１００１がＲＯＭ１００２、ＲＡＭ１００３、外部記憶部１００４の少なくともひとつに格納されたプログラムを実行することにより実現できる。また、このプログラムは、磁気ディスクや光ディスク、半導体メモリ、その他の記録媒体に格納して配布したり、ネットワークを介して配信したりすることにより提供できる。
【０２４２】
以上本発明の好ましい実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形、変更が可能である。
【０２４３】
上記実施形態では、外部記憶装置はハードディスク（Hard Disk）で構成されるとして説明したが、これに限定されるわけではなく、例えば、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital Versatile Disk Read Only Memory）、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Digital Versatile Disk Random Access Memory）、ＭＯ（magneto-optic）、及び、フラッシュメモリ（flash memory）で構成される実施形式を採用できる。
【図面の簡単な説明】
【０２４４】
【図１】本発明の画像検査装置の一実施形態を示す構成図である。
【図２】画像検査装置のハードウェアの一構成例を表す図である。
【図３】検査チャートの一例について説明するための図である。
【図４】欠陥を有する検査画像の一例を説明するための図である。
【図５】実施例１におけるプリント制御部の一実施形態を表す図である。
【図６】実施例１における領域設定部の一構成例を説明するための図である。
【図７】プリント制御部が実行する欠陥検出処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図８】実施例１において領域設定部が実行する検査領域設定処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図９】領域設定部が設定する初期領域の一例について説明するための図である。
【図１０】領域設定部が設定する初期領域の他例について説明するための図である。
【図１１】領域設定部が設定する初期領域の他例について説明するための図である。
【図１２】領域設定部が設定する初期領域の他例について説明するための図である。
【図１３】図９に示した初期領域の大きさを変更した後の領域を説明するための図である。
【図１４】図１０に示した初期領域の大きさを変更した後の領域を説明するための図である。
【図１５】領域設定部が実行する検査領域変更処理の一例を表すフローチャートである。
【図１６】記憶部が記憶する対応関係情報が表す関係の一例を説明するための図である。
【図１７】特徴値算出部が実行する特徴値算出処理の一例を表すフローチャートである。
【図１８】規格値算出部が実行する規格値算出処理の一例を表すフローチャートである。
【図１９】特徴値選択部が実行する特徴値選択処理の一例を表すフローチャートである。
【図２０】実施例２において領域設定部が実行する検査領域設定処理の一例を表すフローチャートである。
【図２１】特徴値選択部が実行する第１の特徴値選択処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図２２】特徴値選択部が実行する第２の特徴値選択処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図２３】本発明の画像検査システムの一実施形態を示す構成図である。
【図２４】実施例３におけるプリント制御部の一実施形態を表す図である。
【図２５】実施例３における領域設定部の一構成例を説明するための図である。
【図２６】実施例３においてプリント制御部が実行する欠陥検出処理の一例を表すフローチャートである。
【図２７】本発明の画像形成装置の一実施形態を示す構成図である。
【図２８】実施例４におけるプリント制御部の一実施形態を表す図である。
【図２９】実施例４におけるプリント領域設定部の一構成例を説明するための図である。
【符号の説明】
【０２４５】
１０…画像検査システム
１００…通信網
１０００…画像検査装置
１００１…演算部
１００２…ＲＯＭ
１００３…ＲＡＭ
１００４…外部記憶部
１００５…バス
１０１０…ＦＡＸ制御部
１０２０…画像読取部
１０３０…画像処理部
１０４０…プリント制御部
１０４０…プリント制御部
１０４１…領域設定部
１０４２…検査特徴値算出部
１０４３…検査部（検査手段）
１０５０…記憶部（記憶手段）
１０６０…画像形成制御部
１０７０…Ｕ／Ｉ制御部
１０８０…アクチュエータ制御部
１０９０…入力部
１１００…表示部
１１２０…通信部
２０００…画像出力装置
２０４０…制御部
２０６０…画像形成制御部
２０８０…アクチュエータ制御部
２１２０…通信部
３０００…画像読取装置
３０２０…画像読取部
３０３０…画像処理部
３０４０…制御部
３１２０…通信部
４１０１…領域初期設定部
４１０２…算出部（算出手段）
４１０３…特徴値算出部
４１０４…平均値算出部
４１０５…分散値算出部
４１０６…高周波数特性算出部
４１０８…平均値規格値算出部
４１０９…分散値規格値算出部
４１１０…周波数特性規格値算出部
４６０７…規格値算出部
４６１１…特徴値選択部
４６１２…仮領域変更部（変更手段）
５０００…画像検査装置
５０１０…ＦＡＸ制御部
５０４０…プリント制御部
５０４１…領域設定部
５０４２…検査特徴値算出部
５０４３…検査部（検査手段）
５０５０…記憶部（記憶手段）
５０７０…Ｕ／Ｉ制御部
５０９０…入力部
５１００…表示部
５１０１…領域初期設定部
５１０２…算出部（算出手段）
５１０３…特徴値算出部
５１０４…平均値算出部
５１０５…分散値算出部
５１０６…高周波数特性算出部
５１０８…平均値規格値算出部
５１０９…分散値規格値算出部
５１１０…周波数特性規格値算出部
５１２０…通信部
５６０７…規格値算出部
５６１１…特徴値選択部
５６１２…仮領域変更部（変更手段）
９０００…画像形成装置
９０１０…ＦＡＸ制御部
９０２０…画像読取部
９０３０…画像処理部
９０４０…プリント制御部
９０４１…領域設定部
９０４２…検査特徴値算出部
９０４３…検査部（検査手段）
９０５０…記憶部（記憶手段）
９０６０…画像形成制御部
９０７０…Ｕ／Ｉ制御部
９０８０…アクチュエータ制御部
９０９０…入力部
９１００…表示部
９１０１…領域初期設定部
９１０２…算出部（算出手段）
９１０３…特徴値算出部
９１０４…平均値算出部
９１０５…分散値算出部
９１０６…高周波数特性算出部
９１０８…平均値規格値算出部
９１０９…分散値規格値算出部
９１１０…周波数特性規格値算出部
９１２０…通信部
９６０７…規格値算出部
９６１１…特徴値選択部
９６１２…仮領域変更部（変更手段）
ＡＡ１，２１〜２９，３〜７…検査領域
ＡＧ…階調値軸
ＡＭ…主走査方向座標軸
ＡＳ…副走査方向座標軸
ＤＡ８…重複領域
ＤＣ１…地汚れ
ＤＦ１〜３…画像欠陥
ＤＭ…主走査方向
ＩＩＤ…検査画像
ＩＴ…所定の画像
Ｏ…原点
ＯＡ４…はみ出し領域
ＴＡ１，２，４，８…初期領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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