(57)【要約】【課題】ケモメトリクスの手法に赤外線を用いて、無機物である、化粧物に含まれる粉末と、有機物である皮膚から分泌される皮脂を同時測定し、所要時間を短縮するための化粧態様の評価方法を提供する。【解決手段】（１）既知の化粧物を塗布した複数の被験者の複数の皮膚部位に対して、赤外線を照射して、該化粧物に含まれる粉末及び皮膚から分泌される皮脂の赤外線吸収率を示す赤外線スペクトルを取得し、  該赤外線を照射した部位を採取し、ガスクロマトグラフィーを用いて皮脂量を測定し、さらに蛍光エックス線を用いて化粧物に含まれる粉末量を取得し、  前記ステップから得られた該赤外線スペクトルデータ、該皮脂量及び該粉末量から、検量モデルを作成する検量モデル作成工程と、  （２）前記既知の化粧物を塗布した、前記検量モデル作成工程とは異なる、評価対象の被験者の皮膚に対して赤外線を照射して赤外線スペクトルデータを求めて、該検量モデルを用いて、該評価対象の被験者の皮膚部位の粉末量及び皮脂量を測定する測定工程とをからなる。【選択図】図７
2008224286.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
（１）既知の化粧物を塗布した複数の被験者の複数の皮膚部位に対して、赤外線を照射して、該化粧物に含まれる粉末及び皮膚から分泌される皮脂の赤外線吸収率を示す赤外線スペクトルを取得し、
該赤外線を照射した部位を採取し、ガスクロマトグラフィーを用いて皮脂量を測定し、さらに蛍光エックス線を用いて化粧物に含まれる粉末量を取得し、
前記ステップから得られた該赤外線スペクトルデータ、該皮脂量及び該粉末量から、検量モデルを作成する検量モデル作成工程と、
（２）前記既知の化粧物を塗布した、前記検量モデル作成工程とは異なる、評価対象の被験者の皮膚に対して赤外線を照射して赤外線スペクトルデータを求めて、該検量モデルを用いて、該評価対象の被験者の皮膚部位の粉末量及び皮脂量を測定する測定工程と
を有することを特徴とする化粧態様の評価方法。
【請求項２】
前記検量モデル作成工程において、偏最小自乗回帰解析法を用いて前記検量モデルを作成することを特徴とする請求項１記載の化粧態様の評価方法。
【請求項３】
前記検量モデル作成工程において、前記赤外線スペクトルデータに、使用するケモメトリクス解析ソフトによって、所定の次数の微分を施す処理ステップを含むことを特徴とする請求項１又は２記載の化粧態様の評価方法。
【請求項４】
前記粉末は酸化チタンであり、前記皮脂はトリグリセリド及びスクワレンであることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の化粧態様の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般的に、化粧態様の評価方法に関し、より詳細には、化粧態様を評価するために、皮膚上に塗布された化粧物中に含まれる粉末及び皮膚から分泌される皮脂の測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、化粧をした肌において、その後の化粧態様の状態を判断することは容易なことではなかった。特に、女性にとって、化粧後の肌の状態を判断することは、関心の高いことであるが、正確な指標を用いた評価はなく、さらに客観的な評価ができていなかった。
【０００３】
一方で、化粧後の肌の状態を含め化粧態様を定量的に検討するため、ガスクロマトグラフィーと蛍光エックス線を用いた手法を採用している。この手法では、皮膚に塗布した化粧物（例えば、ファンデーション）に含まれる主成分である粉末（例えば、酸化チタン）の状態と、皮膚から分泌される皮脂量（トリグリセリド、ワックスエステル、脂肪酸及びスクワレンなど）を測定することによって、化粧態様を評価している。
【０００４】
しかしながら、それら粉末と皮脂は、無機化合物と有機化合物であるため、それらを同時に測定することはできず、蛍光エックス線とガスクロマトグラフィーでそれぞれ個別に測定することが必要であり、さらに、その評価過程においても、相当な時間を要していた。例えば、上述した従来の手法において、例えば、４００部位から取得したサンプルを評価するには、それらサンプルの前処理から解析まで含めると１００日以上を要し、現実的な手法とは言えなかった。
【０００５】
一方、化学データから得られる化学情報量から分析、解析、検量等に用いられる手法として、ケモメトリクス（Ｃｈｅｍｏｍｅｔｒｉｃｓ）が知られている。ケモメトリクスは、環境分析、科学捜査、法医学、食品、飲料、医薬品、バイオテクノロジー、合成化学、石油化学などの分野で応用されて用いられている、周知な統計解析技術である。また、美容分野に関して言及すると、ケモメトリクスの手法に近赤外線を用いて、毛髪や皮膚に含有される水分量の測定に活用されている（例えば、特許文献１、２及び３参照。）。
【０００６】
しかしながら、化粧態様を評価する際に、ケモメトリクスを用いる手法は、いまだかつて存在していなかった。
【特許文献１】特開２００２−９０２９８号公報
【特許文献２】特開２００５−３００２４１号公報
【特許文献３】特開２００３−３４４２７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
したがって、本発明は、上述に鑑みてなされたものであり、ケモメトリクスの手法に赤外線を用いて、無機物である、化粧物に含まれる粉末と、有機物である皮膚から分泌される皮脂を同時測定し、所要時間を短縮するための化粧態様の評価方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明者らは、ケモメトリクスの手法に、赤外線を用いることによって、酸化チタンと皮脂が同時定量でき、これによって、作業効率が大幅に改善され、ひいては時間短縮ができることを見出し、本発明を開発するに到った。
【０００９】
本発明に係る化粧態様の評価方法は、（１）既知の化粧物を塗布した複数の被験者の複数の皮膚部位に対して、赤外線を照射して、該化粧物に含まれる粉末及び皮膚から分泌される皮脂の赤外線吸収率を示す赤外線スペクトルを取得し、
該赤外線を照射した部位を採取し、ガスクロマトグラフィーを用いて皮脂量を測定し、さらに蛍光エックス線を用いて化粧物に含まれる粉末量を取得し、
前記ステップから得られた該赤外線スペクトルデータ、該皮脂量及び該粉末量から、検量モデルを作成する検量モデル作成工程と、
（２）前記既知の化粧物を塗布した、前記検量モデル作成工程とは異なる、評価対象の被験者の皮膚に対して赤外線を照射して赤外線スペクトルデータを求めて、該検量モデルを用いて、該評価対象の被験者の皮膚部位の粉末量及び皮脂量を測定する測定工程と
を有することを特徴とする。
【００１０】
ここで、前記検量モデル作成工程において、偏最小自乗回帰解析法を用いて前記検量モデルを作成する。
【００１１】
前記検量モデル作成工程において、前記赤外線スペクトルデータに、使用するケモメトリクス解析ソフトによって、所定の次数の微分を施す処理ステップを含む。
【００１２】
前記粉末は酸化チタンであり、前記皮脂はトリグリセリド及びスクワレンである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、化粧態様の評価方法において、ケモメトリクスの手法に、赤外線を用いることによって、皮膚に塗布した化粧料に含有される酸化チタンと皮膚から分泌される皮脂を同時定量することができ、これによって、従来の手法に比べて作業効率が大幅に改善され、ひいては時間短縮ができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
本発明に係る化粧態様の評価方法の好適な実施の形態について、以下に添付図を参照しながら詳細に説明する。
【００１５】
本発明の化粧態様の評価方法は、（１）既知の化粧物を塗布した複数の被験者の複数の皮膚部位に対して、赤外線を照射して、該化粧物に含まれる粉末及び皮脂の赤外線吸収率を示す赤外線スペクトルを取得し、該赤外線を照射した部位を採取し、ガスクロマトグラフィーを用いて皮脂量を測定し、さらに蛍光エックス線を用いて化粧物に含まれる粉末量を取得し、前記ステップから得られた該赤外線スペクトルデータ、該皮脂量及び該粉末量から、検量モデルを作成する検量モデル作成工程と、（２）前記既知の化粧物を塗布した、前記検量モデル作成工程とは異なる、評価対象の被験者の皮膚に対して赤外線を照射して赤外線スペクトルデータを求めて、該検量モデルを用いて、該評価対象の被験者の皮膚部位の粉末量及び皮脂量を測定する測定工程とからなる。
【００１６】
まず、検量モデル作成工程を説明する。
【００１７】
４名の男女の被験者は、洗顔後、同一の化粧水、乳液及びファンデーションを顔面に塗布した（図１参照。）。
【００１８】
以下に、本発明で使用した化粧水、乳液及びファンデーションの組成を以下の表１、２及び３にそれぞれ示す。
【００１９】
【表１】
2008224286.tif 000003
【００２０】
【表２】
2008224286.tif 000004
【００２１】
【表３】
2008224286.tif 000005
塗布直後または数時間後に、顔面１ヵ所につき、赤外線測定装置にＡＴＲアクセサリーを用いて、赤外線測定を行い、赤外線スペクトルを取得した。ＡＴＲアクセサリーは、ＡＴＲ結晶から照射される赤外線を、被験者の皮膚に当て、約１分間で測定を行った。なお、各被験者において、測定した部位数は、３６であり、測定した総部位数は７２である（図２左図参照。）。
【００２２】
また、本発明で使用した装置は、市販の、例えば、マグナ５６０（ニコレー製）の赤外分光装置にＡＴＲアクセサリー（ＨＩＧＨ  ＴＥＣＨ  ＰＨＯＴＯＮＩＣＳ製）を用いて、測定領域：１８００〜６５０ｃｍ−１、分解能：４ｃｍ−１、積算回数：３２回として行った。また、ＡＴＲアクセサリーは、非侵襲測定が可能であり、赤外線をＡＴＲ結晶から測定する対象に対して照射させて、その照射した赤外線の吸収率を測定する機器である。したがって、本発明では、赤外線を吸収した物質の吸収率から、その物質量を導くことができる。また、特許文献１、２及び３で採用している近赤外線とは異なり、数μｍまでの測定が可能で、これはファンデーションを塗布した厚さに相当するため、好ましく使用することができる。また、図３にしめすように、ＡＴＲアクセサリーのＡＴＲ結晶を皮膚に対して、１分間ほど当てるだけで赤外線スペクトルを取得することができるため、短時間に何箇所の赤外線スペクトルを取得することができる。
【００２３】
なお、赤外分光装置及びＡＴＲアクセサリーは、周知の機器であるため、ここではこれ以上の説明はしない。
【００２４】
その後、赤外線スペクトルを測定した同じ部位に対して、テープストリッピング（３〜５回）を行い、塗布物を回収した。ここで、テープストリッピングに使用したテープは、Ｄ−ＳＱＵＡＭＥ（ＣＵＤＥＲＭ  ＣＯＲＰＯＲＡＴＩＯＮ製）のテープを３〜５枚使用した。（図２右図参照。）
塗布物を回収したテープは、酸化チタン定量のための「蛍光エックス線用」と皮脂（トリグリセリド及びスクワレン）定量のための「ガスクロマトグラフ用」に分けて、それぞれの分析を蛍光エックス線、ガスクロマトグラフィーの定法に従って行った。
【００２５】
このようにして得られた赤外線スペクトル、酸化チタン量、トリグリセリド量及びスクワレン量をケモメトリックス解析用ソフト（シリウス、ＰＡＴＴＥＲＮ  ＲＥＣＯＧＮＩＴＩＯＮ  ＳＹＳＴＥＭＳ製）に取り込み、偏最小自乗回帰解析法（ＰＬＳ）処理にて各成分ごとに検量モデルを作成した。（図４参照。）
なお、各成分の量は、１ヵ所につき、３〜５枚のテープにて回収されていることから、３〜５枚分を合算した数値を用いた。また、赤外線スペクトルは、ケモメトリックス解析ソフトにて二次微分を行ったものを用いた。
【００２６】
上記によって作成された、酸化チタン、トリグリセリド及びスクワレンのそれぞれの検量モデルの一例を図５に示す。また、このとき、作成した検量モデルは、上記で取得したデータの半分を用いて作成し、残りの半分を用いて作成した検量モデルを検証した。例えば、計１００のデータで検量モデルの作成を行う場合、実際には、半分の５０のデータを用いて検量モデルを作成し、残りの５０のデータを用いて、作成した検量モデルの検証を行うことができる。また、この図５において、ＳＥＰは標準偏差、つまりデータのバラツキを示しており、ＳＥＰが小さいと検量モデルがより正確であることを意味する。
【００２７】
以上の工程によって、検量モデルを作成することができる。
【００２８】
その後、評価したい被験者に対して、図３に示すように、ＡＴＲアクセサリーを当てて赤外線スペクトルデータを取得し、取得した赤外線スペクトルデータを、上述にて作成した検量モデルに計算させて、評価したい被験者の化粧料中に残存する酸化チタン量及び皮膚から分泌される各皮脂量（トリグリセリド量及びスクワレン量）を測定した。その結果を図６に示す。図６の棒グラフは、評価した２０名の被験者のうちの一人の化粧後の皮膚（４ヶ所）の単位面積当たりのトリグリセリド量（ＴＧ）、スクワレン量（ＳＱ）及びファンデーション量（ＦＤ）、つまり酸化チタン量を示したものである。
【００２９】
また、図７は、２０名の評価対象の被験者の４００部位の測定において、従来法と本発明の評価方法とで測定工程における手順とその所要時間を示したものである。この図から分かるように、従来では少なくとも１２０日以上かかっていた作業が、本発明の評価方法では１２日まで短縮できる。
【００３０】
したがって、本発明は、化粧後の化粧態様を評価するために、赤外線を照射するＡＴＲアクセサリーを用いて、評価したい部位の赤外線スペクトルデータを取得することによって、塗布した化粧料に残存する酸化チタン量と皮膚から分泌される皮脂量を同時に測定することができ、しかも、解析の時間を大幅に短縮することができる。
【００３１】
本発明によると、検量モデルは一度すれば、後にデータを追加・検証することで、他の処方に適用できる。
【００３２】
また、本発明による化粧態様の評価方法は、簡便な工程であり、その処理作業において廃液等がほとんどでないために、環境にも配慮した手法である。
【００３３】
以上本発明の好ましい実施例について詳述したが、本発明はかかる特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】検量モデル作成工程前の化粧手順を示す図である。
【図２】検量モデル作成工程の赤外線スペクトル取得ステップ及び赤外線照射部位の取得ステップを示す図である。
【図３】本発明で使用するＡＴＲアクセサリーを示す図である。
【図４】本発明の検量モデル作成をイメージで説明する図である。
【図５】本発明で作成した検量モデルを示す図である。
【図６】本発明の評価方法における測定の結果を示す図である。
【図７】従来法及び本発明の評価方法における測定工程の作業手順及び所要時間を比較した図である。
【図１】
2008224286.tif 000006
【図２】
2008224286.tif 000007
【図４】
2008224286.tif 000008
【図５】
2008224286.tif 000009
【図７】
2008224286.tif 000010
【図３】
2008224286.tif 000011
【図６】
2008224286.tif 000012