(57)【要約】【課題】ＯＰＧＷの破損箇所を精度よく推定する。【解決手段】情報処理装置は、まず、ＯＰＧＷにおける水素発生区間の弛度最下点を標定し（Ｓ５０１）、弛度最下点を探索始点として設定する（Ｓ５０２）。次に、探索方向の鉄塔の標高を配列Ｐ（ｎ）（１≦ｎ≦Ｎ、Ｎは探索する鉄塔の総数）に設定する（Ｓ５０６）。そして、ｎを変数として、鉄塔（ｎ）を探索する。鉄塔（ｎ）の標高Ｐ（ｎ）が鉄塔（ｎ−１）の標高Ｐ（ｎ−１）より大きい場合には（Ｓ５０９のＹ）、鉄塔（ｎ）がキャッシング部を持つときに（Ｓ５１０のＹ）、当該キャッシング部を破損箇所の候補として記憶する（Ｓ５１１）。弛度最下点から両方向の探索を行い、その探索が終了した場合には（Ｓ５１３のＮ）、記憶されている候補のうち、弛度最下点との標高差又は傾きがより大きいものを破損箇所として推定する（Ｓ５１８）。【選択図】図５
2008164381.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報処理装置によって、キャッシング部を備えるＯＰＧＷにおける水素発生区間の測定結果から、前記ＯＰＧＷの破損箇所を推定する方法であって、
前記情報処理装置は、記憶部と処理部とを備え、
前記記憶部は、
前記ＯＰＧＷが架設された鉄塔の位置、当該架設箇所の高度及び前記架設箇所における前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報を記憶し、
前記処理部は、
前記水素発生区間内の所定の箇所を始点として設定し、
前記記憶部に記憶された前記鉄塔の位置及び前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報に従って、前記始点から両方向にそれぞれ前記キャッシング部の探索を行い、
前記記憶部に記憶された前記架設箇所の高度が連続して増加する範囲内で前記探索を行った結果、両方向でそれぞれ初めて見つかった前記キャッシング部のうち、当該架設箇所の高度又は前記始点から見た傾きがより大きい方を破損箇所として特定し、前記記憶部に記憶する
ことを特徴とするＯＰＧＷ破損箇所推定方法。
【請求項２】
請求項１に記載のＯＰＧＷ破損箇所推定方法であって、
前記記憶部は、前記ＯＰＧＷの底部の高度をさらに記憶し、
前記所定の箇所は、前記記憶部に記憶された前記ＯＰＧＷの底部の高度のうち、前記水素発生区間内の最も低い高度の前記底部である
ことを特徴とするＯＰＧＷ破損箇所推定方法。
【請求項３】
請求項１に記載のＯＰＧＷ破損箇所推定方法であって、
前記所定の箇所は、前記水素発生区間の中間点である
ことを特徴とするＯＰＧＷ破損箇所推定方法。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のいずれか一項に記載のＯＰＧＷ破損箇所推定方法であって、
前記処理部は、
前記水素発生区間で前記キャッシング部が見つかった場合には、当該キャッシング部を破損箇所として特定し、前記記憶部に記憶する
ことを特徴とするＯＰＧＷ破損箇所推定方法。
【請求項５】
情報処理装置によって、キャッシング部を備えるＯＰＧＷにおける水素発生区間の測定結果から、前記ＯＰＧＷの破損箇所を推定する方法であって、
前記情報処理装置は、記憶部と処理部とを備え、
前記記憶部は、
前記ＯＰＧＷが架設された鉄塔の位置、当該架設箇所の高度及び前記架設箇所における前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報を記憶し、
前記処理部は、
前記水素発生区間内の所定の箇所を始点として設定し、
前記記憶部に記憶された前記鉄塔の位置及び前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報に従って、前記始点から両方向それぞれについて、直近のキャッシング部を特定し、
前記始点から当該直近のキャッシング部までの間に、前記記憶部に記憶された前記架設箇所の高度が連続して増加するか否かを判定し、連続して増加する場合には、当該キャッシング部を破損箇所の候補とし、当該候補となったキャッシング部のうち、当該架設箇所の高度又は前記始点から見た傾きがより大きい方を破損箇所として特定し、前記記憶部に記憶する
ことを特徴とするＯＰＧＷ破損箇所推定方法。
【請求項６】
キャッシング部を備えるＯＰＧＷにおける水素発生区間の測定結果から、前記ＯＰＧＷの破損箇所を推定する情報処理装置であって、
前記ＯＰＧＷが架設された鉄塔の位置、当該架設箇所の高度及び前記架設箇所における前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報を記憶する記憶部と、
前記水素発生区間内の所定の箇所を始点として設定し、
前記記憶部に記憶された前記鉄塔の位置及び前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報に従って、前記始点から両方向にそれぞれ前記キャッシング部の探索を行い、
前記記憶部に記憶された前記架設箇所の高度が連続して増加する範囲内で前記探索を行った結果、両方向でそれぞれ初めて見つかった前記キャッシング部のうち、当該架設箇所の高度又は前記始点から見た傾きがより大きい方を破損箇所として特定し、前記記憶部に記憶する処理部と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項７】
請求項６に記載の情報処理装置であって、
前記記憶部は、前記ＯＰＧＷの底部の高度をさらに記憶し、
前記所定の箇所は、前記記憶部に記憶された前記ＯＰＧＷの底部の高度のうち、前記水素発生区間内の最も低い高度の前記底部である
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項８】
請求項６に記載の情報処理装置であって、
前記所定の箇所は、前記水素発生区間の中間点である
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項９】
請求項６ないし請求項８のいずれか一項に記載の情報処理装置であって、
前記処理部は、
前記水素発生区間で前記キャッシング部が見つかった場合には、当該キャッシング部を破損箇所として特定し、前記記憶部に記憶する
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項１０】
キャッシング部を備えるＯＰＧＷにおける水素発生区間の測定結果から、前記ＯＰＧＷの破損箇所を推定する情報処理装置であって、
前記ＯＰＧＷが架設された鉄塔の位置、当該架設箇所の高度及び前記架設箇所における前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報を記憶する記憶部と、
前記水素発生区間内の所定の箇所を始点として設定し、
前記記憶部に記憶された前記鉄塔の位置及び前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報に従って、前記始点から両方向それぞれについて、直近のキャッシング部を特定し、
前記始点から当該直近のキャッシング部までの間に、前記記憶部に記憶された前記架設箇所の高度が連続して増加するか否かを判定し、連続して増加する場合には、当該キャッシング部を破損箇所の候補とし、当該候補となったキャッシング部のうち、当該架設箇所の高度又は前記始点から見た傾きがより大きい方を破損箇所として特定し、前記記憶部に記憶する処理部と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光伝送損失及び送電線標高のデータを利用してＯＰＧＷ（Optical Ground Wire：光ファイバ複合架空地線）の破損箇所を推定する方法及び情報処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＯＰＧＷなどの構造物が破損した箇所を特定する場合には、ひび割れなどの破損箇所から水が入り、アルミ管が腐食することにより水素が発生する区間を、ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer：光パルス試験器）を用いて検出し、水素が検出された区間の構造物内にパージガス（例えば、窒素ガス）を注入して水素を一旦追い出し、再度ＯＴＤＲを用いてさらに発生する水素を検出することによって、破損箇所を特定する精度を高めていた（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００５−２５７３９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、水素の分布はＯＰＧＷなどの構造物の高低差で水が移動することによる影響を受けるため、パージガスを用いた後に水素を検出しても、破損箇所を正しく特定できないことがある。
【０００４】
本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、その主たる目的は、ＯＰＧＷの破損箇所を精度よく推定することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決するために、本発明は、情報処理装置によって、キャッシング部を備えるＯＰＧＷにおける水素発生区間の測定結果から、前記ＯＰＧＷの破損箇所を推定する方法であって、前記情報処理装置が、記憶部と処理部とを備え、前記記憶部が、前記ＯＰＧＷが架設された鉄塔の位置、当該架設箇所の高度及び前記架設箇所における前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報を記憶し、前記処理部が、前記水素発生区間内の所定の箇所を始点として設定し、前記記憶部に記憶された前記鉄塔の位置及び前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報に従って、前記始点から両方向にそれぞれ前記キャッシング部の探索を行い、前記記憶部に記憶された前記架設箇所の高度が連続して増加する範囲内で前記探索を行った結果、両方向でそれぞれ初めて見つかった前記キャッシング部のうち、当該架設箇所の高度又は前記始点から見た傾きがより大きい方を破損箇所として特定し、前記記憶部に記憶することを特徴とする。
【０００６】
この方法によれば、破損箇所である可能性が高いキャッシング部のうち、破損箇所があった場合に浸水しやすいと考えられる、高度又は傾きがより大きいものを、破損箇所として推定することができる。また、両方向についてそれぞれキャッシング部を探索していく間に、一旦高度が減少したときには探索を終了するので、水素発生区間に関係のない箇所を無用に探索することを回避することができる。
【０００７】
また、本発明は、ＯＰＧＷ破損箇所推定方法であって、前記記憶部が、前記ＯＰＧＷの底部の高度をさらに記憶し、前記所定の箇所が、前記記憶部に記憶された前記ＯＰＧＷの底部の高度のうち、前記水素発生区間内の最も低い高度の前記底部であることを特徴とする。  
この方法によれば、水素発生区間のうち、最も水が溜まりやすいと考えられる、最も高度の低いＯＰＧＷの底部を探索始点として設定することになるので、水素発生区間が長い距離に亘っていたとしても、適切な箇所を始点とすることができ、破損箇所推定の精度を上げることができる。
【０００８】
また、本発明は、ＯＰＧＷ破損箇所推定方法であって、前記所定の箇所が、前記水素発生区間の中間点であることを特徴とする。  
この方法によれば、簡易に探索の始点を設定することができる。
【０００９】
また、本発明は、ＯＰＧＷ破損箇所推定方法であって、前記処理部が、前記水素発生区間で前記キャッシング部が見つかった場合には、当該キャッシング部を破損箇所として特定し、前記記憶部に記憶することを特徴とする。  
この方法によれば、浸水の可能性が高い所を破損箇所として推定することができる。
【００１０】
また、本発明は、情報処理装置によって、キャッシング部を備えるＯＰＧＷにおける水素発生区間の測定結果から、前記ＯＰＧＷの破損箇所を推定する方法であって、前記情報処理装置が、記憶部と処理部とを備え、前記記憶部が、前記ＯＰＧＷが架設された鉄塔の位置、当該架設箇所の高度及び前記架設箇所における前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報を記憶し、前記処理部が、前記水素発生区間内の所定の箇所を始点として設定し、前記記憶部に記憶された前記鉄塔の位置及び前記キャッシング部が設けられた鉄塔を示す情報に従って、前記始点から両方向それぞれについて、直近のキャッシング部を特定し、前記始点から当該直近のキャッシング部までの間に、前記記憶部に記憶された前記架設箇所の高度が連続して増加するか否かを判定し、連続して増加する場合には、当該キャッシング部を破損箇所の候補とし、当該候補となったキャッシング部のうち、当該架設箇所の高度又は前記始点から見た傾きがより大きい方を破損箇所として特定し、前記記憶部に記憶することを特徴とする。
【００１１】
この方法によれば、破損箇所である可能性が高いキャッシング部のうち、破損箇所があった場合に浸水しやすいと考えられる、高度又は傾きがより大きいものを、破損箇所として推定することができる。また、両方向について始点から直近のキャッシング部までの間に、一旦高度が減少したときには当該直近のキャッシング部を破損箇所の候補としないので、水素発生区間に関係のない箇所を無用にチェックすることを回避することができる。
【００１２】
なお、本発明は、情報処理装置を含む。その他、本願が開示する課題及びその解決方法は、発明を実施するための最良の形態の欄、及び図面により明らかにされる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、ＯＰＧＷの破損箇所を精度よく推定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、図面を参照しながら、本発明を実施するための最良の形態を説明する。本発明の実施の形態に係る構造物破損箇所検出方法は、鉄塔間の送電線より上方に架線されたＯＰＧＷが浸水状態になった場合に、水素吸収波長光を用いたＯＴＤＲによる測定を行って特定した光の減衰区間（水素発生区間）から、鉄塔の標高差やキャッシング部の有無に基づいて破損箇所を推定するものである。なお、この破損箇所の推定は、水の溜まった始点との標高差又は傾きが大きい箇所が破損している可能性が高いこと及び破損箇所はキャッシング部である可能性が高いことを前提とする。
【００１５】
≪浸水検出原理≫
ＯＰＧＷのアルミ管に何らかの原因（例えば、破損箇所に降雨があったなど）により浸水状態が存在すると、アルミニウム及び水による化学反応で水素が定常的に発生する。水素は、金属類を容易に拡散しやすく、ＯＰＧＷのアルミ管内に挿通された光ファイバ中にも拡散していく。拡散した水素の影響により、光ファイバ内を通る光が減衰するということがある。この場合、光減衰が顕著に現れる波長が１．２４μｍである。従って、１．２４μｍの波長光の減衰が大であれば、浸水状態にあると予想される。
【００１６】
≪全体の構成≫
図１は、ＯＰＧＷのアルミ管に浸水があった場合に、光の減衰区間を特定するための構成を示す図である。鉄塔１が所定の間隔で設置され、複数の鉄塔１間に設けられた送電線（図示せず）より上方にＯＰＧＷ８１が架線される。また、一部の鉄塔１には、ＯＰＧＷ用光接続箱２ｓ、２ａ、２ｂ、・・・が設けられ、ＯＴＤＲ５を接続して光の伝送損失を測定したり、パージガスボンベ４１を接続し、窒素ガスを注入して水素ガスをパージしたりするのに用いられる。隣接するＯＰＧＷ用光接続箱２の間が、特定される光の減衰区間の最小単位となる。通信局舎３は、光配線盤４及びＯＴＤＲ５を備えている。光配線盤４は、鉄塔１の光接続箱２ｓと、ＯＴＤＲ５とを中継する。ＯＴＤＲ５は、光配線盤４及び光接続箱２ｓを介して、ＯＰＧＷ８１の光ファイバ内に測定光（例えば、１．２４μｍの波長光）を送信し、その後方散乱光の受光レベルを測定する。
【００１７】
ＯＰＧＷ８１は、複数の鉄塔１に亘って架線されるが、各鉄塔１がＯＰＧＷ８１を架設する箇所は、通過型とキャッシング型に分類される。通過型は、当該鉄塔１がＯＰＧＷ８１を支持しているだけのものである。キャッシング型は、ＯＰＧＷ８１の架設箇所にキャッシング部を設けるものである。キャッシング部は、鉄塔におけるＯＰＧＷ８１の引込み箇所である。ＯＰＧＷ８１が架線された隣接する鉄塔の間を鉄塔径間といい、１又は連続する２以上の鉄塔径間を区間という。
【００１８】
図２（ａ）は、鉄塔のキャッシング部を示す図である。ＯＰＧＷ８１がキャッシング６によって固定されているが、固定箇所７１、７２がＯＰＧＷ８１の振動による応力の集中を受けて破損しやすい部分になっている。また、図２（ｂ）は、鉄塔を上から見た図である。鉄塔１の両側にＯＰＧＷ８１が架設され、鉄塔１と、ＯＰＧＷ８１との交わった部分がキャッシング部６１になる。
【００１９】
≪障害線路の測定方法≫
ここで、ＯＴＤＲ５は、１．２４μｍと１．５５μｍの光源を実装する。測定可能範囲は、ＯＴＤＲ５の光受信レベル（３２．５ｄＢ）に依存する。なお、ＳＭ（Single Mode）ファイバにおける１．２４μｍ波長光の減衰量は、約０．４５ｄＢ／ｋｍである。また、浸水箇所における減衰量は、約８．９ｄＢ／ｋｍであるが、水素の発生量や温度によって変動する。従って、特に長距離の光ファイバについて測定する場合には、距離による減衰を考慮する必要があり、例えば、光ファイバの両端にある光接続箱２から測定するなどの工夫を行う。
【００２０】
図３は、ＯＴＤＲを用いた光減衰量の測定手順を示すフローチャートである。これは、ＯＰＧＷ８１における伝送障害の発生をトリガにして、光ファイバ内の光減衰量を測定し、その測定値に応じて減衰区間を特定する手順を示すものであり、オペレータが実施してもよいし、情報処理装置が行ってもよいし、両者が分担してもよい。
【００２１】
まず、ＯＴＤＲ５を用いて、１．２４μｍ波長光をＯＰＧＷ８１内に送信し、その後方散乱光の受光レベルを測定することによって、光減衰量を測定する（Ｓ３０１）。このとき、光減衰量の測定値をＬ［ｄＢ／ｋｍ］とする。
【００２２】
測定値Ｌが０．５ｄＢ／ｋｍより大きいか否かを判定する（Ｓ３０２）。０．５ｄＢ／ｋｍは、１．２４μｍ波長光の平常時の光減衰量である。従って、測定値Ｌが０．５ｄＢ／ｋｍ以下の場合には（Ｓ３０２のＮ）、水素による光減衰が発生していないと考えられるので、コスト低減の観点から所定の周期による監視的な測定は不要であり、他の作業に伴って適宜測定を継続する（Ｓ３０５）。
【００２３】
測定値Ｌが０．５ｄＢ／ｋｍより大きい場合には（Ｓ３０２のＹ）、水素による光減衰が発生していると考えられる。そこで、さらに測定値Ｌが８．９ｄＢ／ｋｍ以上か否かを判定する（Ｓ３０３）。８．９ｄＢ／ｋｍは、異常値であり、線路が破損し、浸水状態にあると考えられる値である。従って、測定値Ｌが８．９ｄＢ／ｋｍ以上の場合には（Ｓ３０３のＹ）、光減衰量を再度測定するなどして減衰区間を特定する（Ｓ３０４）。
【００２４】
測定値Ｌが８．９ｄＢ／ｋｍ未満の場合には（Ｓ３０３のＮ）、測定周期を例えば７５日とする（Ｓ３０６）。そして、測定周期の期間が経過した後に光減衰量を測定し、測定区間のロス増加（顕著な光減衰）があったか否かを判定する（Ｓ３０７）。ロス増加があった場合には（Ｓ３０７のＹ）、当該区間を減衰区間として特定する（Ｓ３０９）。この場合、光受信レベルの距離分布に局所的な光減衰の現れた部分が浸水箇所、かつ、破損箇所であると特定することができる。ロス増加がなかった場合には（Ｓ３０７のＮ）、降雨（梅雨や台風通過など）があった後に測定することを予定する（Ｓ３０８）。そして、実際に降雨があった後に測定して、ロス増加があったか否かを再度判定する（Ｓ３０７）。
【００２５】
なお、常時監視する場合には、監視用に光ファイバの１芯を占有する。測定は、ＯＰＧＷ８１の両端にある光接続箱２それぞれにＯＴＤＲ５を接続して行うものとする。
【００２６】
さらに、ＯＴＤＲ５による測定距離は、光ファイバの撚りによる距離の誤差を見込んだものであるが、設備台帳に登録されている電線の架設距離とは必ずしも一致しない。また、浸水が発生していれば、１．２４μｍ以外の波長光にも減衰の影響がある。そこで、１．２４μｍ以外の波長光（１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長光）による測定を含めて行ってもよい。
【００２７】
図４は、ＯＤＴＲで測定した光受信レベルの距離分布を示す図である。横軸は、ＯＤＴＲ５が備える光源からの距離［ｋｍ］を示す。縦軸は、ＯＴＤＲ５が受信した後方散乱光のレベル［ｄＢ］を示す。また、接続点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３は、光接続箱２が設置された箇所を示す。図４に示す３つのグラフについて、浸水状況を説明する。
【００２８】
Ａの場合は、接続点Ｐ２とＰ３の間で局所的に光減衰が発生していて、浸水量が減少又は増加する過程であり、光減衰箇所が時間経過により変化することがある。これは、浸水の初期又は末期と考えられ、図３のＳ３０９の場合である。Ｂの場合は、光減衰量が約８．９ｄＢ／ｋｍを示し、接続点Ｐ２とＰ３の間で水素が飽和している。時間が経過しても減衰箇所、減衰量ともにほとんど変化がない。Ｃの場合は、接続点Ｐ１とＰ３の間で光減衰が発生していて、光接続箱２の気密性が高いとき、光接続箱２の先にあるＯＰＧＷ管内に水素が移行する可能性がある。また、進入水は、蒸発によるものを除けば、光接続箱２の先にある鉄塔径間は移動しないと考えられる。なお、Ｂ及びＣは、浸水状態が恒常化していると考えられ、図３のＳ３０４の場合である。
【００２９】
≪破損箇所の推定方法≫
図４のグラフＡ、Ｂ又はＣが示す減衰区間のキャッシング部及び鉄塔径間途中に破損の可能性がある。そこで、鉄塔の位置、標高及びＯＰＧＷ把持方法（通過型、キャッシング型）及びＯＰＧＷの架線の底部の標高に基づいて、破損箇所を推定する。なお、ＯＰＧＷは鉄塔の電圧階級の種別に関係なく施設されているが、電圧階級が２２０ｋＶの鉄塔におけるＯＰＧＷ亀裂発生箇所のほとんどがキャッシング部であること、電圧階級が２２０ｋＶ以上の鉄塔に対するＯＰＧＷの架設方法は同じであることを考慮し、破損箇所はキャッシング部である可能性が高いことを前提とする。ここで、キャッシング部が実際に破損する原因には、ギャロッピング（着氷又は着雪した架線が風で大きく振れること）や強風による振動があげられる。また、冬季に発生するマイクロベンディング（浸水凍結による水の体積膨張により光ファイバの中心軸が圧力を受け、ミクロン単位で屈曲すること）も破損の原因として知られている。
【００３０】
破損箇所の推定は、情報処理装置において、記憶部が鉄塔や架線に関するデータを記憶し、処理部が記憶部に記憶されたデータを読み出し、処理し、判断することによって行われる。なお、記憶部は、ハードディスク装置やフラッシュメモリなどの不揮発性記憶装置によって実現される。また、処理部は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）が所定のメモリに格納されたプログラムを実行することによって実現される。
【００３１】
図５は、情報処理装置が破損箇所を推定する処理を示すフローチャートである。この処理を行う前に、情報処理装置の記憶部は、管轄対象となる区間にある鉄塔の位置と架線順序、鉄塔にＯＰＧＷが架設された箇所の標高、その架設箇所におけるキャッシング部の有無、管轄対象となる区間にある鉄塔間に亘るＯＰＧＷの架線のうち底部の標高を含むデータを記憶する。
【００３２】
情報処理装置の処理部は、まず、ＯＰＧＷの弛度最下点を標定する（Ｓ５０１）。ここで、弛度最下点とは、減衰区間（水素発生区間）内のＯＰＧＷの架線のうち、最も標高が低い箇所である。標定とは、各種測定データに基づいて特定することをいう。減衰区間内の弛度最下点を標定するのは、弛度最下点に水が溜まる可能性が高いので、その箇所から標高の高い方向へ探索すれば、浸水が発生した破損箇所に辿り着けると考えられるからである。具体的には、記憶部に記憶された架線の底部の標高のうち、減衰区間に含まれる中で最も低い標高の底部をＯＰＧＷの弛度最下点とする。例えば、図６（ａ）及び（ｂ）によれば、鉄塔Ｔ３〜Ｔ５の間が減衰区間として特定されているので、最も低い標高の底部を弛度最下点ＬＰとして標定する。なお、簡易な方法として、弛度最下点の代わりに、減衰区間の中間点を標定するようにしてもよい。
【００３３】
次に、処理部は、標定した弛度最下点を探索の始点として設定する（Ｓ５０２）。例えば、図６（ａ）及び（ｂ）によれば、弛度最下点ＬＰが鉄塔Ｔ３とＴ４の間にあるが、その弛度最下点ＬＰを始点とする。ここで、弛度最下点の両端にある鉄塔の標高（記憶部に記憶されたＯＰＧＷの架設箇所の標高。以下同様）が同じか否かを判定する（Ｓ５０３）。同じ標高の場合（Ｓ５０３のＹ）、両端の鉄塔をまとめて１つの探索の始点として設定する。例えば、図６（ｂ）によれば、鉄塔Ｔ３とＴ４の標高は同じなので、その２つをまとめて始点とする。同じ標高でない場合（Ｓ５０３のＮ）、Ｓ５０４の処理をスキップする。従って、例えば、図６（ａ）によれば、鉄塔Ｔ４が鉄塔Ｔ３より高いので、Ｓ５０４の処理がスキップされ、Ｓ５０２の設定がそのまま変わることなく、弛度最下点ＬＰが始点となる。
【００３４】
続いて、処理部は、設定された始点の両端にある鉄塔の標高のうち、始点との標高差が大きい方を探索方向とする（Ｓ５０５）。これは、標高差が大きい方が、浸水の可能性が高いからである。そして、探索方向の鉄塔を（１）〜（Ｎ）とし、鉄塔ｎの標高を配列Ｐ（ｎ）（１≦ｎ≦Ｎ）に設定する（Ｓ５０６）。また、Ｐ（０）に０又は始点の標高を設定しておく。配列Ｐ（ｎ）は、情報処理装置内の所定のメモリに格納する。Ｎは、探索する鉄塔の総数である。鉄塔（Ｎ）は、管轄対象となる区間のうち、探索方向にある最後の鉄塔である。例えば、図６（ａ）によれば、弛度最下点ＬＰからみて鉄塔Ｔ４がＴ３より標高が高いので、鉄塔Ｔ４の方向を探索する。そこで、鉄塔Ｔ４を（１）、鉄塔Ｔ５を（２）、鉄塔Ｔ６を（３）、鉄塔Ｔ７を（４）とし、配列Ｐ（ｎ）（１≦ｎ≦４）に各鉄塔の標高を設定する。また、図６（ｂ）によれば、始点である鉄塔Ｔ３及びＴ４からみて鉄塔Ｔ５がＴ２より高いので、鉄塔Ｔ５の方向を探索する。そこで、鉄塔Ｔ５を（１）、鉄塔Ｔ６を（２）、鉄塔Ｔ７を（３）とし、配列Ｐ（ｎ）（１≦ｎ≦３）に各鉄塔の標高を設定する。
【００３５】
そして、処理部は、破損箇所の探索を開始する。まず、初期値として変数ｎに１を設定する（Ｓ５０７）。変数ｎは、情報処理装置内の所定のメモリに格納する。次に、変数ｎが総数Ｎ以下か否かを判定する（Ｓ５０８）。これは、変数ｎが総数Ｎより大きくなった時点で探索対象となる区間を超えるので、当該方向の探索を終了するためである。変数ｎが総数Ｎ以下の場合には（Ｓ５０８のＹ）、鉄塔（ｎ）の標高Ｐ（ｎ）が鉄塔（ｎ−１）の標高Ｐ（ｎ−１）より大きいか否かを判定する（Ｓ５０９）。これは、探索する方向に鉄塔（ｎ）の標高Ｐ（ｎ）が上昇し続ければよいが、一旦下降したときには、その箇所以降に破損箇所があったとしても、弛度最下点ＬＰに水が溜まる原因にはなり得ないので、当該方向の探索を終了するためである。すなわち、鉄塔１（キャッシング部）の標高が連続して増加する範囲内で当該方向の探索を行うものである。Ｐ（ｎ）がＰ（ｎ−１）より大きい場合には（Ｓ５０９のＹ）、記憶部のデータを参照して、鉄塔（ｎ）がキャッシング部を持つか否かを判定する（Ｓ５１０）。キャッシング部を持つ場合には（Ｓ５１０のＹ）、当該方向の探索で初めてキャッシング部が見つかったということであり、当該キャッシング部を破損箇所の候補として記憶部に記憶し（Ｓ５１１）、当該方向の探索を終了し、Ｓ５１３の判定を行う。水がキャッシング部を通過することはないので、最初に見つかったキャッシング部が破損箇所の候補となる。キャッシング部を持たない場合には（Ｓ５１０のＮ）、変数ｎに１を加算し（Ｓ５１２）、Ｓ５０８の判定に戻る。
【００３６】
処理部は、変数ｎが総数Ｎを超えた場合（Ｓ５０８のＮ）又はＰ（ｎ）がＰ（ｎ−１）以下の場合（Ｐ４０９のＮ）には、当該方向の探索が終了したことになる。例えば、図６（ｂ）によれば、Ｎ＝３なので、ｎ＝４のときに、ｎ＞Ｎとなり、最下点ＬＰから右方向の探索が終了する。また、図６（ａ）によれば、ｎ＝４のときに、鉄塔（４）の標高Ｐ（４）＜鉄塔（３）の標高Ｐ（３）となり、最下点ＬＰから右方向の探索が終了する。そこで、未探索の方向があるか否かを判定する（Ｓ５１３）。
【００３７】
未探索の方向があれば（Ｓ５１３のＹ）、Ｓ５０６の処理から再度実行する。未探索の方向がなければ（Ｓ５１３のＮ）、弛度最下点ＬＰの両端の鉄塔が同じ標高か否かを判定する（Ｓ５１４）。これは、Ｓ５０３と同じ判定である。同じ標高の場合（Ｓ５１４のＹ）、記憶部のデータを参照して、それらの鉄塔がキャッシング部を持つか否かを判定する（Ｓ５１５）。少なくとも１つの鉄塔がキャッシング部を持つ場合には（Ｓ５１５のＹ）、当該キャッシング部を破損箇所の候補として記憶部に記憶する（Ｓ５１６）。同じ標高でない場合（Ｓ５１４のＮ）又はキャッシング部を持たない場合（Ｓ５１５のＮ）には、Ｓ５１６の処理をスキップする。
【００３８】
そして、処理部は、記憶部に破損箇所の候補が記憶されているか否かを判定する（Ｓ５１７）。候補が記憶されていれば（Ｓ５１７のＹ）、そのうち、弛度最下点ＬＰとの標高差が最大の候補を破損箇所として推定する（Ｓ５１８）。続いて、破損箇所として推定された旨を示すフラグを当該キャッシング部に付加したデータを記憶部に記憶する。この場合、破損箇所の候補を弛度最下点ＬＰとの標高差の大きい順に並べて、候補の順位を示すデータとして記憶部に記憶してもよい。また、破損箇所の候補の順位をディスプレイに表示したり、印刷したりしてもよい。なお、破損箇所の推定（Ｓ５１８）の際に、弛度最下点ＬＰとの標高差ではなく、標高を比較するようにしてもよい。一方、候補が記憶されていなければ（Ｓ５１７のＮ）、破損箇所を推定できなかったことになる。
【００３９】
以上説明した本発明の実施の形態によれば、破損箇所の可能性が高いキャッシング部のうち、破損箇所があった場合に浸水しやすいと考えられる、弛度最下点ＬＰの標高との差が最も大きいものを、破損箇所として推定することができる。
【００４０】
また、破損箇所を含むと考えられる減衰区間の弛度最下点ＬＰを始点とし、両方向についてそれぞれ鉄塔を探索していく間に、一旦弛度最下点ＬＰとの標高差が減少したときには探索を終了するので、弛度最下点ＬＰに溜まると考えられる水に関係のない箇所を無用に探索することを回避することができる。
【００４１】
≪その他の実施の形態≫
以上、本発明を実施するための最良の形態について説明したが、上記実施の形態は本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明はその趣旨を逸脱することなく変更、改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。例えば、以下のような実施の形態が考えられる。
【００４２】
（１）Ｓ５０５及びＳ５１８の処理では、弛度最下点ＬＰとの標高差を比較することとしたが、弛度最下点ＬＰとキャッシング部の傾き（例えば、標高差／水平距離）を用いるようにしてもよい。これによれば、標高差を比較しなくても、傾きが大きい方が水は流れ落ちやすいので、より適切なキャッシング部を破損箇所として推定することができる。
【００４３】
（２）前記破損箇所の推定方法では、弛度最下点ＬＰから両方向に鉄塔１のキャッシング部を探索することとしたが、減衰区間でキャッシング部が見つかった場合には、当該キャッシング部を破損箇所として推定してもよい。当該キャッシング部から浸水した結果、その周辺に水素が拡散している可能性が高いからである。
【００４４】
（３）前記破損箇所の推定方法では、弛度最下点ＬＰから両方向それぞれについて、鉄塔１の標高が連続して増加する範囲内でキャッシング部を探索することとしたが、以下の変形例が考えられる。すなわち、弛度最下点ＬＰから両方向それぞれについて、先に直近のキャッシング部を特定し、弛度最下点ＬＰから直近のキャッシング部までの間に、鉄塔１の標高が連続して増加するか否かを判定し、連続して増加した場合に、当該キャッシング部を破損箇所の候補とする。なお、求めた候補の結果は、前記破損箇所の推定方法と同じになる。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】光の減衰区間を特定するための構成を示す図である。
【図２】キャッシング部の関連図であり、（ａ）は鉄塔のキャッシング部を示し、（ｂ）は鉄塔を上から見た図を示す。
【図３】ＯＴＤＲを用いた光減衰量の測定手順を示すフローチャートである。
【図４】ＯＤＴＲで測定した光受信レベルの距離分布を示す図である。
【図５】情報処理装置が破損箇所を推定する処理を示すフローチャートである。
【図６】鉄塔及びＯＰＧＷの架設構成の具体例を示す図であり、（ａ）は弛度最下点の両端にある鉄塔の標高が異なる場合を示し、（ｂ）は弛度最下点の両端にある鉄塔の標高が同じ場合を示す。
【符号の説明】
【００４６】
１、Ｔｎ、（ｎ）  鉄塔
２      ＯＰＧＷ用光接続箱
３      通信局舎
４      光配線盤
５      ＯＴＤＲ
４１    パージガスボンベ
６      キャッシング
６１    キャッシング部
７１、７２  固定箇所
８１    ＯＰＧＷ
【図１】
2008164381.tif 000003
【図３】
2008164381.tif 000004
【図４】
2008164381.tif 000005
【図５】
2008164381.tif 000006
【図６】
2008164381.tif 000007
【図２】
2008164381.tif 000008