(57)【要約】【課題】１回の試し書きで高い精度で最適記録パワーが得られ、短時間且つ高精度の記録パワー調整方法を提供する。【解決手段】記録パワー列Ｐ（ｉ）列を選定し、記録パワーを変えながら光ディスクの試し書き領域に信号を記録し、記録パワー列Ｐ（ｉ）に対応する再生信号振幅列ｍ（ｉ）を検出する。また、記録パワー列Ｐ（ｉ）の内３点以上のＰｆ（ｊ）を中心とする設定範囲内の記録パワー列Ｐｊ（ｉ）と、記録パワー列Ｐｊ（ｉ）と対応する再生信号振幅ｍｊ（ｉ）の積Ｐｊ（ｉ）×ｍｊ（ｉ）、との関係を線形近似し、その線形近似直線の記録パワー軸との交点を記録開始パワーＰｔｈｒ（ｊ）として算出し、記録開始パワーＰｔｈｒ（ｊ）とディスク情報の係数との積により記録パワーＰｔ（ｊ）を算出する。更に、算出した３点以上のＰｔ（ｊ）に基づいて最適記録パワーＰｗoptを算出する。【選択図】図４
2008016165.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録されている記録パワー情報を基に前記光ディスクに情報を記録する記録パワーを調整する方法において、
前記光ディスクに予め記録されている情報に基づく記録パワー範囲から選定された３点以上の記録パワーＰｆ（ｊ：ｊ≧３）各々を中心とする前記記録パワー列Ｐｊ（ｉ）に基づき記録パワーを変えながら前記光ディスクの試し書き領域に信号を記録するステップと、
前記光ディスクの試し書き領域を再生し、前記記録パワー列Ｐｊ（ｉ）に対応する再生信号振幅列ｍ（ｉ）を検出するステップと、
記録パワー列Ｐｊ（ｉ）と、前記記録パワー列Ｐｊ（ｉ）と対応する再生信号振幅ｍｊ（ｉ）の積Ｐｊ（ｉ）×ｍｊ（ｉ）、との関係を線形近似し、前記線形近似直線の記録パワー軸との交点を記録開始パワーＰｔｈｒ（ｊ）として算出し、前記記録開始パワーＰｔｈｒ（ｊ）とディスク情報に含まれる係数との積により記録パワーＰｔ（ｊ）を算出するステップと、
前記算出した３点以上のＰｔ（ｊ）から直線Ｐｔ＝Ｐｆを跨ぐ複数のPt(j)を選定し、前記選定した複数のPt(j)に対する近似曲線を算出するステップと、
前記算出した近似曲線と直線Ｐｔ＝Ｐｆの交点より記録パワーＰｔ’を算出し、このＰｔ’値とディスク情報に含まれる係数を乗算することにより前記光ディスクの記録に用いる記録パワーＰｗoptを算出するステップと、
を含むことを特徴とする記録パワー調整方法。
【請求項２】
前記近似曲線を算出するステップでは、前記複数のＰｆ（ｊ）と対応するＰｔ（ｊ）との大小関係を比較して、Ｐｆ（ｋ）＜Ｐｔ（ｋ）且つＰｆ（ｋ＋１）＞Ｐｔ（ｋ＋１）を満たす”ｋ“を検出し、Ｐｔ（ｋ）とＰｔ（ｋ＋１）との２点を結ぶ直線を算出することを特徴とする請求項１に記載の記録パワー調整方法。
【請求項３】
前記近似曲線を算出するステップでは、前記選定した複数のＰｔ（ｊ）とそれに対応するＰｆ（ｊ）との関係において、Ｐｔ（ｊ）のＰｆ（ｊ）に対する変化を多項式近似し、前記多項式近似曲線を算出することを特徴とする請求項１に記載の記録パワー調整方法。
【請求項４】
前記複数のＰｔ（ｊ）の選定は、記録パワーＰt（ｊ）を算出する際に前記記録開始パワーＰthr（ｊ）と、記録パワー列Ｐｊ（ｉ）の最小値とが、記録開始パワーＰthr（ｊ）＞記録パワー列Ｐｊ（ｉ）の最小値なる関係が成り立つ場合には、当該Ｐｔ（ｊ）を除外することを特徴とする請求項３に記載の記録パワー調整方法。
【請求項５】
前記再生信号振幅値は、チャネルクロックの整数倍のクロックで再生信号を同期或いは非同期でサンプリングしたサンプルデータ群の標準偏差値に基づく値であることを特徴とする請求項１に記載の記録パワー調整方法。
【請求項６】
光ディスクに光ビームを照射して信号を記録又は再生する光ディスク装置において、
前記光ディスクに予め記録されている情報に基づく記録パワー範囲から選定された３点以上の記録パワーＰｆ（ｊ：ｊ≧３）各々を中心とする記録パワー列Ｐｊ（ｉ）に基づき記録パワーを変えながら前記光ディスクの試し書き領域に信号を記録する手段と、
前記光ディスクの試し書き領域を再生し、前記記録パワー列Ｐｊ（ｉ）に対応する再生信号振幅列ｍ（ｉ）を検出する手段と、
記録パワー列Ｐｊ（ｉ）と、前記記録パワー列Ｐｊ（ｉ）と対応する再生信号振幅ｍｊ（ｉ）の積Ｐｊ（ｉ）×ｍｊ（ｉ）、との関係を線形近似し、前記線形近似直線の記録パワー軸との交点を記録開始パワーＰｔｈｒ（ｊ）として算出し、前記記録開始パワーＰｔｈｒ（ｊ）とディスク情報に含まれる係数との積により記録パワーＰｔ（ｊ）を算出する手段と、
前記算出した３点以上のＰｔ（ｊ）から直線Ｐｔ＝Ｐｆを跨ぐ複数のPt(j)を選定し、前記選定した複数のPt(j)に対する近似曲線を算出する手段と、
前記算出した近似曲線と直線Ｐｔ＝Ｐｆの交点より記録パワーＰｔ’を算出し、このＰｔ’値とディスク情報に含まれる係数を乗算することにより前記光ディスクの記録に用いる記録パワーＰｗoptを算出する手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ディスクに情報を記録する際の記録パワー調整方法及びそれを用いた光ディスク装置、特に、光ディスクに記載された情報を利用して記録パワーを調整する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、記録可能な光ディスクにおいては、光ディスクメーカー毎の特性差や光ディスク個々の特性ばらつき等の影響により、最適記録パワーが異なっている。また、最適記録パワーはディスクの特性だけではなく、光ビームの発光タイミング（記録ストラテジ）、光ビームスポットの形状等、光ディスク装置の特性にも依存する。更に、光ディスク装置間の記録パワーの校正誤差も考慮する必要がある。
【０００３】
このため、光ディスクにデータを記録する光ディスク装置は、データ記録に先立って光ディスクに対する最適記録パワーを求めるため、所謂試し書きにより最適記録パワーを検出し、この記録パワーにより書き込み処理を実行する。
【０００４】
このような試し書きによる最適記録パワーを検出する一連の動作はＯＰＣ（Optimum Power Control）と呼ばれている。
【０００５】
以下、ＯＰＣ動作に関して説明する。光ディスク装置は光ディスクの最内周に形成された記録パラメータの記載領域より最適記録パワー設定に必要なデータを取得し、所定の試し書き領域に所定パターンの試し書きを行う。
【０００６】
ここで、記録パターンは変調則の基本クロック周期Ｔに対して、変調則に従う最短マークから最長マークをランダムに繰り返すランダムパターンが一般的である。この時、光ディスク装置は事前に取得した記録パワーの設定に必要なデータに含まれる基準記録パワーＰtargetを基準とする。この基準記録パワーＰtargetを中心にした所定範囲で記録パワーを順次段階的に切り換えてランダムパターンを記録する。
【０００７】
光ディスク装置は、このように記録パワーを順次切り換えてランダムパターンを記録した後、このランダムパターンを再生して各記録パワー毎に信号振幅ｍを測定する。信号振幅ｍは、図９に示すように前述したランダム信号再生における最大レベルと最小レベルの差として表現され、一般的には再生信号振幅のピーク検波及びボトム検波によりこの振幅値ｍを測定する。
【０００８】
そして、このように記録パワー毎に信号振幅ｍを測定し、記録パワー毎に対応する記録パワーＰと信号振幅ｍとの積（Ｐ×ｍ）を評価値として用いる方法が知られている（以下、κ法と呼ぶ）。この方法は直線近似を用いることで、精度の向上が期待できるという点において有効な方法である。
【０００９】
以下、κ法について説明する。図１０は記録パワーＰと信号振幅ｍとの関係を示す特性曲線の一例を示す。ここで、信号振幅ｍを記録パワーＰの関数として式（１）で近似する。
【００１０】
ｍ＝Ｍmax×（１−Ｐthr／Ｐ）  …式（１）
ここで、両辺にＰを乗じると式（２）となり、左辺の評価値（Ｐ×ｍ）と記録パワーＰとの間は直線で近似される。なお、Ｐthrは記録開始パワーに相当する近似直線のＰ切片を意味する。
【００１１】
Ｐ×ｍ＝Ｍmax×（Ｐ−Ｐthr）  …式（２）
図１１は記録パワーＰと評価値（Ｐ×ｍ）との関係を示す特性曲線の一例を示す。図１１に示すように記録パワーが高くなると記録パワー変化に対する信号振幅変化が小さく振幅変化感度が低くなる。ＯＰＣにとって感度は高いほうが測定精度の点で望ましいことから、所定の係数ρを導入して、
Ｐtarget＝Ｐwopt／ρ
で定義される記録パワーを定義し、この記録パワーにおいて測定することが推奨されている。またこのＰtargetとＰthrとの比を、
κ＝Ｐtarget／Ｐthr
として定義している。
【００１２】
そして、ディスク情報としてＰtarget、ρ及びκが与えられた場合のＯＰＣとしては、下記の手順が知られている。
【００１３】
即ち、ディスクのＯＰＣ領域に対して、Ｐtarget付近、例えばＰtarget±１０％の範囲で記録パワーを変化させながら、所定のランダムパターンで試し書きを行う。各記録パワーＰに対応した信号振幅ｍを測定し、評価値Ｐ×ｍを計算する。
【００１４】
ＰとＰ×ｍとの関係を直線近似して、パワー軸とこの近似直線との交点からＰthrを求める。求めたＰthrにκを乗じ（Ｐtaregt＝Ｐthr×κ）、更にρを乗じてＰwopt（Ｐwopt＝Ｐtarget×ρ）を求める。
【００１５】
また、Ｐtarget付近、例えばＰtargetよりわずかに低パワー側、わずかに高パワー側を各々測定中心とする２点の測定範囲にて評価値Ｐ×ｍと記録パワーＰとの関係式を求め、所定の計算処理を行うことで精度を向上させる方法が知られている。
【００１６】
ここでの所定の処理は、Ｐtargetよりわずかに低パワー側のパワー中心をＰｆ１、わずかに高パワー側のパワー中心をＰｆ２とする。また、各パワー中心に対して、式（２）の関係式から算出される記録開始パワーＰthr1、Ｐthr2に対して所定係数κを積算した値をＰｔ１、Ｐｔ２とする。
【００１７】
更に、このＰｔ１とＰｔ２を結ぶ直線Ａと、Ｐｔ＝Ｐｆの直線Ｂの交点を求めたい真値Ｐt’とし、このＰt’に所定係数ρを積算し、最適記録パワーＰwoptを求めるものとして知られている（特許文献１）。
【特許文献１】特開２００５−２６７８０２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
光ディスクの記録膜の特性、或いは、光ディスク装置の光学特性、更には光学系の汚れ等による経時変化によっては、試し書きを行う記録パワーが本来の値と大きくずれる場合がある。
【００１９】
この場合、装置が試し書きする中心記録パワーのＰｆ１、Ｐｆ２がずれてしまうことを意味する。このようにＰｆ１とＰｆ２の２点の測定点での結果が、光ディスクに記載した情報を測った本来の点とずれてしまう。
【００２０】
更に、図１１に示すように光ディスクの評価値（Ｐ×m）の線形性が測定を行う記録パワーに対して依存性が大きい場合等は、評価値（Ｐ×m）の傾きが大きく変わってしまう。その結果、求めたＰｔがずれてしまい、その値から算出される最適記録パワーＰwoptもずれ、正しく設定できないという問題点が発生する。
【００２１】
また、光ディスク装置の光学系の汚れにより光ディスクの記録膜上で所望の記録パワーが得られていない状況で試し書きを行い、Ｐｔ１、Ｐｔ２の結果が得られた場合について図１２を用いて説明する。
【００２２】
従来例にて説明したように、Ｐtargetよりわずかに低パワー側のパワー中心をＰｆ１、わずかに高パワー側のパワー中心をＰｆ２とする。また、各パワー中心に対して、式（２）の関係式から算出される記録開始パワーＰthr1、Ｐthr2に対して所定係数κを積算し、Ｐｔ１、Ｐｔ２を求める。
【００２３】
ここで、理想的には、Ｐｔ１、Ｐｔ２は図１２中、Ｐｔ２、Ｐｔ３の関係で示すようにＰｔ＝Ｐｆを挟むデータである事が望ましく、この２点を使用した処理工程によりそれぞれの誤差が緩和されることになる。
【００２４】
しかしながら、光ディスクへの照射パワーが低下しており、結果としてＰｔ１、Ｐｔ２にはズレが発生し、本来の理想測定点であるＰｔ＝Ｐｆの直線上から離れた状態にある。従来方法によれば、このＰｔ１とＰｔ２を結ぶ直線Ａと、Ｐｔ＝Ｐｆの直線Ｂの交点を求めたい真値Ｐｔ’とし、この真値Ｐｔ’に所定係数ρを積算し、最適記録パワーＰwoptを求めることになる。
【００２５】
しかし、光ディスクの振幅測定を行った記録パワー範囲が本来のＰｔから大きくずれて測定しているために、算出されるＰｔ１、Ｐｔ２が直線Ｐｔ＝Ｐｆからずれてしまう。そのため、２点を使用した処理工程により得られるＰｔ’も補正しきれず、結果的には最適記録パワーＰwoptもずれてしまう。
【００２６】
更に、一般的には光学性能や汚れ等による記録パワーの変化は所望の記録パワーよりも光ディスク上の記録パワーが低くなる方にずれるために、図１１中Ａで示すように試し書きを行う記録パワーにおいて全く記録が行われない場合が存在する。この場合、評価値（Ｐ×m）の線形性が崩れるために、この測定点をそのまま適用して線形近似を行って得られる結果もまた大きくずれる、という問題点がある。
【００２７】
更に、Ｐｆ１＜Ｐｔ＜Ｐｆ２を満たすように試し書きを繰り返す場合、試し書き記録及びその記録信号の再生に多くの時間を費やし、光ディスク装置が使用可能になるまでの立ち上がり時間の遅い光ディスク装置になりかねなかった。
【００２８】
本発明の目的は、κ法において算出した記録パワーのずれが補償しきれず、ずれてしまう場合にも、良好にパワーレベルの最適化が可能な記録パワー調整方法及び光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
本発明は、ディスクインフォメーション（ＤＩ）を利用して記録パワーを調整する場合、以下の方法にて調整を行う。まず、光ディスクに予め記録されている情報に基づく記録パワー範囲から選定された３点以上の記録パワーＰｆ（ｊ：ｊ≧３）各々を中心とする記録パワー列Ｐｊ（ｉ）に基づき記録パワーを変えながら前記光ディスクの試し書き領域に信号を記録する。次に、光ディスクの試し書き領域を再生し、記録パワー列Ｐｊ（ｉ）に対応する再生信号振幅列ｍ（ｉ）を検出する。
【００３０】
その後、記録パワー列Ｐｊ（ｉ）と、記録パワー列Ｐｊ（ｉ）と対応する再生信号振幅ｍｊ（ｉ）の積Ｐｊ（ｉ）×ｍｊ（ｉ）、との関係を線形近似し、線形近似直線の記録パワー軸との交点を記録開始パワーＰｔｈｒ（ｊ）として算出し、記録開始パワーＰｔｈｒ（ｊ）とディスク情報に含まれる係数との積により記録パワーＰｔ（ｊ）を算出する。そして、算出した３点以上のＰｔ（ｊ）から直線Ｐｔ＝Ｐｆを跨ぐ複数のPt(j)を選定し、前記選定した複数のPt(j)に対する近似曲線を算出する。また、算出した近似曲線と直線Ｐｔ＝Ｐｆの交点より記録パワーＰｔ’を算出し、このＰｔ’値とディスク情報に含まれる係数を乗算することにより光ディスクの記録に用いる記録パワーＰｗoptを算出する。
【発明の効果】
【００３１】
本発明によれば、試し書きによる最適記録パワーの調整（ＯＰＣ）方法において、結果の良否に応じて試し書きを繰り返すことなく、１回の試し書きを行うことで、より精度の高いＯＰＣ処理の実行が可能となる。これにより、光ディスク挿入時や光ディスク装置起動時の調整時間を短縮でき、ユーザーの快適性を損なわない光ディスク装置を提供することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
次に、発明を実施するための最良の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００３３】
（第１の実施形態）
図２は本発明に用いる光ディスクの一例を示す断面図である。光ディスク１はポリカーボネートから成る基板２上に、例えば、相変化記録膜を含む情報記録層３が形成されている。光ディスク１が再生専用ディスクの場合には、相変化記録膜の代わりに反射膜による情報記録層３が形成される。
【００３４】
また、情報記録層３の上に厚さｔのカバー層（光透過層）４が形成されている。カバー層４は厚さｔのプラスチック材料であり、これが基板２上の情報記録層３上にシートとして接着或いは紫外線硬化樹脂でスピンコート形成されている。
【００３５】
図３は光ディスク１上の情報記録トラックを拡大して示す。光ディスク１の情報記録層３は螺旋状或いは同心円状の情報記録トラック５の上に形成されている。光ディスク１には、情報記録トラック５が物理的な凹凸による案内溝により形成され、凹部或いは凸部或いはその両方に情報が、例えば、相変化によるマークによって記録される。光ディスク１が再生専用ディスクの場合には、情報記録トラック５はプリピットの配列により予め形成されている。
【００３６】
図１は本発明に係る光ディスク装置の一実施形態を示すブロック図である。光学的記録媒体である光ディスク１はスピンドルモータ７により回転駆動され、光ピックアップ６から光ディスク１に光ビームを照射することで情報の記録或いは再生を行う。
【００３７】
記録或いは再生動作時には、光ピックアップ６は光ディスク１に光ビームを照射し、その反射光を受光し、これを電気信号に変換したものを、フォーカス／トラッキング処理回路８及びＲＦ信号処理回路９にそれぞれ供給する。
【００３８】
光ピックアップ６は不図示の半導体レーザ、コリメートレンズ、ビームスプリッタ、λ／４板、球面収差を補正する球面収差補正光学系、その光学系を駆動する球面収差補正光学系用駆動機構から構成されている。更に、対物レンズ、フォーカス／トラッキングアクチュエータ、集光レンズ、光検出器等から構成され、光ディスク１の情報記録層３上に適切に光ビームを集光させる。
【００３９】
球面収差補正機構駆動回路１１は、光ピックアップ６中の球面収差補正光学系用駆動機構を駆動し、光ディスク１のカバー層４厚の誤差や、記録層が２層といった複数層の記録層を有する場合に最適な球面収差補正状態に駆動／調整する。
【００４０】
フォーカス／トラッキング処理回路８は、情報記録トラック５からの反射光を光電変換した信号に基づき所定の演算処理を行うことでフォーカスエラー信号／トラッキングエラー信号を生成する。
【００４１】
フォーカス／トラッキング駆動回路１０はこのフォーカスエラー信号／トラッキングエラー信号に基づき適切に情報記録トラック５上を光スポットが追従するようにフォーカス／トラッキングアクチュエータを駆動し、フォーカス／トラッキング制御を行う。
【００４２】
ＲＦ信号処理回路９は情報記録トラック５からの反射光を光電変換した信号から再生情報信号を生成する。本例においては、特に再生信号振幅を計測する機能を持つ。再生信号振幅を測定する方法としては、ピーク／ボトム検波によりピーク値／ボトム値の検波値をサンプリングする測定が一般的である。
【００４３】
再生信号振幅値を測定する方法としては、これに限ることなく、所定周期で再生信号をサンプリングして、このサンプリング値の標準偏差値を計測し、所定の係数を乗じて再生信号振幅を得る方法もある。この測定は記録信号がサンプリング領域に対して、マーク／非マークが十分小さな範囲で周期性を持っているか、或いは、マーク／非マークがランダム性を持っていることが条件となり、このような記録信号を記録する必要がある。具体的には、モノトーン信号や、ＤＳＶ（Digital sum value）が十分低く抑えられたランダム信号が挙げられる。
【００４４】
更に説明を加える。再生信号計測対象領域において、再生信号を記録データ列のチャネルクロック或いはその整数倍のクロックで所定数のサンプリングを行う。各サンプリング値をＸiとし、サンプル数をｎとした場合、サンプリングした信号レベルの標準偏差値（ＳｔｄＶ）は以下の式により求められる。
【００４５】
ＳｔｄＶ＝1／ｎ｛ΣＸｉ２−[（ΣＸｉ）２]／ｎ｝（１／２）  …式（３）
式（３）中に表現されているように再生信号振幅値にＤＣ成分が含まれていても、サンプリング値の平均値が減算されているので、問題なく計算できる。
【００４６】
一般例として取り上げたピーク／ボトム検波の測定法においては、傷やゴミの影響による反射率異常により反射率が異常に大きい或いは小さい場合、ピーク／ボトムに追従してしまう。更に、ピーク値／ボトム値が時定数を持って通常値まで収束してくるため、この領域の振幅値が大きく測定され、正確に測ることができない場合もある。従って、この方法の最大のメリットは測定領域中の傷、ごみ、欠陥等による反射率の異常部分の影響を最小限に抑えて測定できる点にある。
【００４７】
コントローラ１２は装置内の各部を制御する制御回路であり、光ディスク１の回転、光ピックアップ６内の光源である半導体レーザの点灯等の制御を行う。更に、各動作時のパワーの制御、各サーボ系の制御を行い、後述する記録パワーの調整制御を行う。その際、試し書き処理における記録パワーの制御、試し書きのシーケンス制御、再生信号計測処理制御等を行い、最適記録パワーの調整を行う。
【００４８】
以上のような構成において、本発明の試し書きによる記録パワー調整方法を説明する。例えば、光ディスク１が光ディスク装置に装填されると、コントローラ１２の制御に基づき光ディスク１はスピンドルモータ７により線速度一定或いは回転数一定制御等により回転駆動される。
【００４９】
コントローラ１２は、光ディスク１の回転、半導体レーザ点灯等の事前処理の終了後、フォーカス処理回路８により適切な信号処理が行われた後、このフォーカスエラー信号に基づきフォーカスを引き込み、フォーカス制御を行う。
【００５０】
引き続き、コントローラ１２はフォーカスロックの確認後、トラッキング処理回路８により適切な信号処理が行われた後、このトラッキングエラー信号に基づきトラッキングを引き込み、トラッキング制御を行う。
【００５１】
続いて、コントローラ１２は光ピックアップ６をリードインエリアに移動させ、光ディスク１のリードインエリアに記録された各種データを光ディスク１から読み出し、図示しないメモリに格納する。ここで取得するデータは光ディスク１のＩＤ情報等に加えて、最適記録パワーの設定に必要な情報である。
【００５２】
次に、最適記録パワーの調整方法について図４のフローに基づき詳細に説明する。以下の調整はコントローラ１２の制御により行う。前述したように光ディスクのリードインエリアを再生し、情報の取得後、ホスト（図示せず）からの試し書きによる最適記録パワーの処理動作の実行コマンドが入力されると、まず、光ピックアップ６の光スポットを試し書き領域に移動させる。
【００５３】
この時、隣接トラックからのクロストークの影響による振幅測定への影響を考慮して、書換え可能な光ディスクにおいては測定トラックと両隣接トラックを消去する（Ｓ１）。ライトワンスメディアの場合には、試し書き領域は両隣接トラックが未記録状態のトラックを使用することが望ましい。
【００５４】
次に、上述のようにリードインエリアにおいて取得したデータに基づき記録パワーを設定する。また、試し書きを行う場合、光ディスクの試し書き領域を複数に分割し、各分割領域において記録パワーを変更しながら記録を行う（Ｓ２）。試し書きに用いる記録パターンは、従来技術の説明と同様とする。
【００５５】
ここで、ディスク情報から取得した、試し書きを行う中心パワー情報：Ｐtarget、ディスク情報に記載のＰtargetと記録開始パワーの比：κ、Ｐtargetと最適記録パワーとの比：ρから、Ｐthr（＝Ｐtarget／κ）及びＰwopt（＝ρ×Ｐtarget）を算出する。そして、それに基づき記録パワーの分割範囲及び分割刻みを選定し、試し書きを行う際の記録パワーの列であるＰ（ｉ）列を決定する。この記録パワーの分割状態に対応させて試し書き領域を分割する。
【００５６】
ここでは、記録パワーの分割範囲をＰthrからＰwoptの範囲とし、その範囲を複数に分割して記録パワー列を設定する。また、記録パワー分割の低パワー側の下限値は、この限りではない。通常、光ディスク装置における光学性能、汚れ等による記録パワーの変化は照射パワーが低下する方向であるため、このことを考慮して低パワー側の範囲を決定すればよい。
【００５７】
更に、中心パワー情報Ｐtargetの±１０％の範囲に試し書き記録パワーは５ポイント以上含まれることが望ましい。換言すれば、Ｐtarget／κからＰtarget×ρの記録パワー範囲を、（１．１×Ｐtarget−０．９×Ｐtarget）／５以下の変更値で記録パワーを変更、設定していくことが望ましい。本実施形態では、この計算式のように記録パワー列Ｐ（ｉ）列を設定している。
【００５８】
また、試し書きに使用する領域は、試し書きに要する時間を短縮する観点から光ディスクのトラック１周以内が望ましく、上記分割状態と併せて考えると必然的にトラック１周内の分割数が決定される。一例として概ね２５分割／1周程度となる。
【００５９】
次いで、上述のような記録パワーを設定、変更しながらの記録処理に引き続き、光ディスクの試し書き領域に記録された記録信号の再生を行い、記録パワー列Ｐ（ｉ）に対応する再生信号振幅ｍ（ｉ）を測定する（Ｓ３）。ＲＦ信号振幅は、上述のようにＲＦ信号処理回路９にて測定する。
【００６０】
ここで、振幅測定の方法は限定されるものではないが、本例では上述した振幅サンプリング値の標準偏差に対して所定係数を積算することで振幅計測する手法を例に取り説明する。
【００６１】
この振幅測定手法において、振幅測定に際し再生信号をサンプリングクロックでサンプリングするが、本願発明者の事前の検討によれば、サンプリングクロックは記録信号に同期している必要はない。
【００６２】
このクロックで1分割領域内の再生信号をサンプリングしながら式（３）の計算を行い、振幅レベルの標準偏差を算出する。被対象信号がサイン波の場合は算出結果はサイン波の実効値となるために、２√２倍することで振幅が求まる。
【００６３】
ランダム信号の場合には符号間干渉により振幅値が低下している信号が有るために２√２ではピーク／ボトム検波による振幅測定値に一致しない。しかしながら、一例として本願発明者が用いた、光学系、線密度、ランダム記録パターンによれば、更に１．５倍、即ち、１．５ｘ２√２倍することでピーク／ボトム検波と同等の値が得られた。
【００６４】
また、再生信号には当然ノイズ成分が含まれており、このノイズのみでも振幅値が測定される。従って、記録を行わない分割領域を用意し、この領域での振幅測定結果を振幅測定値のオフセット値として、各測定値から減算することが望ましい。
【００６５】
以上説明した手法により、図１０に示すように各記録パワーＰ（ｉ）に対応した再生信号振幅値ｍ（ｉ）が得られる。この結果から、更にＰ（ｉ）×ｍ（ｉ） ｖ.ｓ.Ｐ（ｉ）の関係をプロットすると図１１に示すような関係が得られる（Ｓ４）。
更に、試し書きを行う中心パワー情報Ｐtargetの１０％刻みで、記録パワー範囲（ここではＰthrからＰwoptの範囲）を分割し、各中心パワーをＰf（ｊ）とする。即ち、上述の記録パワー列Ｐ（ｉ）のうち複数の記録パワーを選定し、その各中心パワーをＰf（ｊ）とする。選定する記録パワーは３点以上が好ましい。なお、これは記録パワー範囲に対して３点以上の複数点の中心パワーＰｆを選定することを意味する。
【００６６】
次いで、例えば、各Ｐf（ｊ）の±１０％範囲或いは中心Ｐf（ｊ）に対してＰtargetの±１０％範囲の記録パワー範囲をＰｊ（ｉ）列とし、このＰｊ（ｉ）と対応する振幅情報ｍｊ（ｉ）からｍｊ（ｉ）×Ｐｊ（ｉ）を算出する（Ｓ３のＰ（ｉ）とｍ（ｉ）との関係をもとに算出）。また、この記録パワー列Ｐｊ（ｉ）列と、記録パワー列Ｐｊ（ｉ）列に対応するｍｊ（ｉ）×Ｐｊ（ｉ）との関係を線形近似する（Ｐｊ（ｉ）を横軸、ｍｊ（ｉ）×Ｐｊ（ｉ）を縦軸とする）。
【００６７】
なお、上記説明では記録パワー列Ｐ（ｉ）列を設定後、中心パワーＰｆ（ｊ）を選定しているが、中心パワーＰｆ（ｊ）を中心とする記録パワーの設定範囲が全体の記録パワー範囲（ここではＰｔｈｒからPwoptの範囲）内に位置するように中心パワーPf(j)を設定した後、記録パワー列P(i)列を選定するようにしても良い。
【００６８】
次に、この線形近似直線の記録パワー軸との交点をPthr（ｊ）として求める。このようにして、図５に示すように各Ｐf（ｊ）に対してＰthr（ｊ）の関係が得られる。更に、Ｐthr（ｊ）にκをかけたＰｔ（ｊ）を求めると図６に示すような関係が得られる（Ｓ５）。
【００６９】
ここで、Ｐthr（ｊ）の算出において使用したＰｊ（ｉ）の最小値ＰｊminとＰthr（ｊ）との関係において、Ｐthr（ｊ）＞Ｐｊminなる関係が成立する場合、このＰthr（ｊ）の値はそれ以後のデータ処理の対象外とする。
【００７０】
即ち、算出したＰthr（ｊ）が算出に使用したパワー範囲の下限値よりも大きい場合は、算出に使用したパワー範囲の振幅データに記録パワーが低すぎて記録出来ていない振幅情報が含まれている可能性がある。そのため、Ｐthr（ｊ）の算出に用いた線形近似の線形性に問題が有ると考えられる。
【００７１】
このため、このＰthr（ｊ）は以後のデータ処理から除外することにより、より正確なＯＰＣ処理が可能となる。例えば、図５の算出Ｐthr（ｊ）を見ると、Ｐthr（Ｏ）は０．９×Ｐｆ（Ｏ）より高くなっていることが図中より判断できる（図５に破線で示す直線は、０．９×Ｐｆ（Ｏ）のラインを示す）。
【００７２】
即ち、Ｐthr（Ｏ）を算出するために使用した記録パワー範囲の−１０％である下限値よりも高いＰthrが検出されており、前述した除外要件を満たすことになる。従って、図６中の点Ｐｔ（Ｏ）はこの条件を満たすために以後のデータ処理から除外する（Ｓ６）。
【００７３】
引き続き、算出された（Ｐｆ（ｊ）、Ｐｔ（ｊ））に対して、Ｐｆ（ｋ）＜Ｐｔ（ｋ）、且つ、Ｐｆ（ｋ＋１）＞Ｐｔ（ｋ＋１）を満たす”ｋ”を検出する。この処理により、Ｐｔ＝Ｐｆの直線を挟む２点を検出する（Ｓ７）。
【００７４】
ここで、Ｐｔ＝Ｐｆの直線が意味する事に関して説明を加える。ディスク情報に記載されているＯＰＣに関連するメディア情報は、メディアメーカーがそのメディアにおいて計測した情報である。メディアメーカーは評価テスターを使用し、記録パワーＰtargetを挟むパワー範囲において振幅依存性を測り、前述したようにＰ×ｍ ｖ.ｓ. Ｐの線形近似により、記録パワー軸切片となるＰthrを求める。そして、このＰthrとＰｔとの比（Ｐｔ／Ｐthr）をκとし表現している。
【００７５】
この時、一般的にはＰv.s.Ｐ×ｍは完全な線形直線にはならず、図１１に示すように線形近似を行う記録パワー中心値に依存して、傾き／パワー軸との切片が異なる関係となる。換言すれば、仮にこのディスクを使用する光ディスク装置が、振幅変化特性上、このＰtargetと同じ意味を持つ記録パワーを用いて同測定／処理を行い、Ｐthrを求めた場合には、κを乗じて求めたＰｔ’は試し書きの中心パワーＰtargetに一致する。
【００７６】
逆に、振幅変化特性上、このＰtargetと異なる意味となる記録パワーを用いて同測定／処理を行いＰthrを求めた場合には、κを乗じて求めたＰt’と試し書きの中心パワーＰtargetとは一致しない結果となる。
【００７７】
一例として、図６中のＰｔ（５）の測定点を見ると、明らかに、Ｐｔ＝Ｐｆの関係から外れた点を示している。
【００７８】
また、この様な各点の検出誤差を補正するために、Ｐｆの２点測定による直線近似直線とＰｔ＝Ｐｆとの交点を利用する方法が考えられる。その場合、図６中に示すように（Ｐｔ（１）,Ｐｔ（２））、（Ｐｔ（４）,Ｐｔ（５））等のＰｔ＝Ｐｆの直線を挟まない２点を使用した場合と、Ｐｔ＝Ｐｆの直線を挟む２点（Ｐｔ（２）,Ｐｔ（３））を使用した場合とのＰｔ＝Ｐｆの交点とは違いがあることが解る。
【００７９】
従って、上述したように、Ｐｔ＝Ｐｆの直線を挟む２点を検出し（図６中のＰｔ（２）とＰｔ（３））、Ｐｔ＝Ｐｆとの交点を求めることでより精度の高いＯＰＣが可能となる（Ｓ８）。図６にはＰｔ（２）とＰｔ（３）を結ぶ直線とＰｔ＝Ｐｆの直線との交点をＰｔとして示す。
【００８０】
最終的に求めたＰｔに対してＤＩ情報から読み取ったρを乗じることで、最終的に記録パワーＰｗoptが求まる（Ｓ９）。
【００８１】
光ディスク装置のコントローラ１２は、このＰｗoptを設定し、以後の情報の記録に使用する。或いは、光ディスク装置によっては、この検出したＰｗoptをもとに更に記録パワーに関する詳細な調整を行う場合もある。
【００８２】
（第２の実施形態）
第１の実施形態ではＰｔ＝Ｐｆを挟む２点を検出し、Ｐt＝Ｐfとの交点を求めることで、Ｐwoptを算出したが、直線Ｐt＝Ｐfとの交点を求める方法としてＰt（ｉ） v.s.Ｐf（ｉ）の多項式近似を用いる形態の処理フローを図７に示す。図７において図４との違いはＳ７’、Ｓ８’であり、その他は図４と同様である。
【００８３】
また、Ｐt（ｉ）とＰf（ｉ）との関係に３次近似（ここでは３次近似）を施した場合の近似曲線の様子を図８に示す。
【００８４】
図７に示すように、Ｓ６により除外したＰf(i)列に対して多項式近似を行い（Ｓ７’）、Ｐｔ＝Ｐｆとの交点を求めることで記録パワーＰｔ’が得られる（Ｓ８’）。そうすることで、上述した方法と同様の精度でＰwoptの算出が可能である。多項式近似を用いる点以外は、図４の処理フローと同じであるため説明は割愛する。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本発明に係る光ディスク装置を示すブロック図である。
【図２】本発明に用いる光ディスクの一例を示す断面図である。
【図３】光ディスクの情報記録トラックを拡大して示す斜視図である。
【図４】本発明に係る記録パワー調整方法の第１の実施形態を説明するフローチャートである。
【図５】各分割領域の中心パワーＰｆ（ｊ）に対する線形直線近似直線の記録パワー軸との交点Ｐｔｈｒ（ｊ）の関係を示す図である。
【図６】Ｐｆ（ｊ）とＰｔｈｒ（ｊ）にκをかけたＰｔ（ｊ）との関係を示す図である。
【図７】本発明に係る記録パワー調整方法の第２の実施形態を説明するフローチャートである。
【図８】第２の実施形態におけるＰtとＰfとの関係の多項式近似例を示す図である。
【図９】再生信号振幅の測定を説明する図である。
【図１０】再生信号振幅の記録パワー依存性を示す図である。
【図１１】記録パワーＰと評価値Ｐ×ｍとの関係を示す図である。
【図１２】試し書き中心パワーＰｆとＰｔとの関係を示す図である。
【符号の説明】
【００８６】
１  光ディスク
２  基板
３  情報記録層
４  カバー層
５  情報記録トラック
６  光ピックアップ
７  スピンドルモータ
８  フォーカス／トラッキング処理回路
９  ＲＦ再生信号処理回路
１０  フォーカス／トラッキング駆動回路
１１  球面収差補正機構駆動回路
１２  コントローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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