(57)【要約】【課題】  最適パラメータ調整方法とシステムを提供する。【解決手段】最適パラメータ調整方法は、複数のパラメータからなる第一群パラメータをランダムに生成する工程と、各パラメータを装置に設定し、各パラメータに対応する適合度関数値を検出する工程と、適合度関数値に従って、パラメータを複製し、第二群パラメータを形成する工程と、第二群パラメータからパラメータペアをランダムに選択し、クロスオーバー法を実行して、パラメータペアを代替する新しいパラメータペアを生成し、第三群パラメータを形成する工程と、第三群パラメータを装置に設定して、各パラメータに対応する適合度関数値を検出し、適合度関数値に従って最適パラメータを決定する工程と、からなる。【選択図】  図１
2008072689.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
最適パラメータ調整方法であって、
（ａ）複数のパラメータからなる第一群パラメータをランダムに生成する工程と、
（ｂ）各パラメータを装置に設定し、各パラメータに対応する適合度関数値を検出する工程と、
（ｃ）前記適合度関数値に従って、前記パラメータを複製し、第二群パラメータを形成する工程と、
（ｄ）前記第二群パラメータからパラメータペアをランダムに選択し、クロスオーバー法を実行して、前記パラメータペアを代替する新しいパラメータペアを生成し、第三群パラメータを形成する工程と、
（ｅ）前記第三群パラメータを装置に設定して、各パラメータに対応する前記適合度関数値を検出し、前記適合度関数値に従って最適パラメータを決定する工程と、
からなることを特徴とする方法。
【請求項２】
前記工程（ａ）は更に、初期パラメータを前もってセットし、前記初期パラメータに近い前記第一群パラメータを生成する工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記工程（ｃ）は更に、前記適合度関数値が臨界値を超過する場合、前記適合度関数値に対応するパラメータを複製する工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記工程（ｅ）は更に、所定値を超過する前記適合度関数値に対応する前記最適パラメータを得る工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項５】
更に、前記工程（ｂ）〜（ｅ）を所定回数繰り返し、所定値を超過する前記適合度関数値に対応する最適パラメータを得る工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項６】
更に、所定の変化確率に従って、前記第一群パラメータ、前記第二群パラメータ、前記第三群パラメータの部分的パラメータを変化させる工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記装置はフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ、或いは、シグマデルタ（Σ−Δ）非線形装置であることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記適合度関数値は信号対雑音比値で、前記クロスオーバー法はワンポイント、或いは、ツーポイントクロスオーバー法であることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記第一群パラメータ、前記第二群パラメータ、及び、前記第三群パラメータの部分的パラメータは所定のパラメータにより代替されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
最適パラメータ調整方法であって、
（ａ）複数のパラメータからなる第一群パラメータをランダムに生成する工程と、
（ｂ）各パラメータを装置に設定し、各パラメータに対応する適合度関数値を検出する工程と、
（ｃ）前記適合度関数値が臨界値を超過する場合、前記適合度関数値に対応するパラメータを複製し、第二群パラメータを形成する工程と、
（ｄ）前記第二群パラメータからパラメータペアをランダムに選択して、クロスオーバー法を実行し、前記パラメータペアを代替する新しいパラメータペアを生成して、第三群パラメータを形成する工程と、
（ｅ）前記第三群パラメータを前記装置に設定して、各パラメータに対応する前記適合度関数値を検出し、前記工程（ｂ）〜（ｅ）を所定回数繰り返して、所定値を超過する前記適合度関数値に対応する最適パラメータを決定する工程と、
からなることを特徴とする方法。
【請求項１１】
更に、所定の変化確率に従って、前記第一群パラメータ、前記第二群パラメータ、前記第三群パラメータの部分的パラメータを変化させる工程を含むことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記装置はフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ、或いは、シグマデルタ（Σ−Δ）非線形装置であることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
前記適合度関数値は信号対雑音比値で、前記クロスオーバー法はワンポイント、或いは、ツーポイントクロスオーバー法であることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１４】
前記第一群パラメータ、前記第二群パラメータ、及び、前記第三群パラメータの部分的パラメータは所定のパラメータにより代替されることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１５】
最適パラメータ調整システムであって、
複数のパラメータと入力信号に従って、出力信号を生成する装置と、
前記出力信号と前記入力信号を検出し、適合度関数値を生成する検出装置と、
前記パラメータと前記入力信号を生成し、前記適合度関数値を受信するパラメータ調整装置と、からなり、
前記パラメータ調整装置は、複数のパラメータからなる第一群パラメータをランダムに生成し、各パラメータを装置に設定し、前記検出装置は各パラメータに対応する適合度関数値を検出し、前記適合度関数値をパラメータ調整装置に伝送し、前記適合度関数値が臨界値を超過する場合、前記パラメータ調整装置は、前記適合度関数値に対応する前記パラメータを複製し、第二群パラメータを形成し、前記パラメータ調整装置は、前記第二群パラメータからパラメータペアをランダムに選択し、クロスオーバー法を実行して、前記パラメータペアを代替する新しいパラメータペアを生成し、第三群パラメータを形成し、前記パラメータ調整装置は、前記第三群パラメータを装置に設定し、前記検出装置は、各パラメータに対応する適合度関数値を検出し、所定値を超過する前記適合度関数値に対応する最適パラメータを決定することを特徴とするシステム。
【請求項１６】
前記装置はフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ、或いは、シグマデルタ（Σ−Δ）非線形装置であることを特徴とする請求項１５に記載のシステム。
【請求項１７】
前記適合度関数値は信号対雑音比値で、前記クロスオーバー法はワンポイント、或いは、ツーポイントクロスオーバー法であることを特徴とする請求項１５に記載のシステム。
【請求項１８】
前記パラメータ調整装置は、更に、初期パラメータを前もってセットし、前記初期パラメータに近い前記第一群パラメータを生成することを特徴とする請求項１５に記載のシステム。
【請求項１９】
前記パラメータ調整装置は、所定の変化確率に従って、前記第一群パラメータ、前記第二群パラメータ、前記第三群パラメータの部分的パラメータを変化させることを特徴とする請求項１５に記載のシステム。
【請求項２０】
前記パラメータ調整装置は、所定のパラメータにより、前記第一群パラメータ、前記第二群パラメータ、及び、前記第三群パラメータの部分的パラメータを代替することを特徴とする請求項１５に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パラメータ調整に関し、特に、非線形装置の最適パラメータ調整方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
公知の回路解析は回路の伝達関数により求められる。ラプラスの伝達ドメイン、或いはＺ伝達ドメインにおいて、出力信号は入力信号と伝達関数の乗数である。回路の入力信号と伝達関数が提供される場合、回路の出力信号が得られる。この他、回路設計は伝達関数の各パラメータを調整し、特定規格に符合する回路を設計することができる。
【０００３】
回路には、線形回路と非線形回路の二種類ある。回路が線形の場合、回路設計は線形システム分析により線形回路の伝達関数を得てパラメータを調節する。しかし、回路が非線形の場合、回路設計は単一の伝達関数で表示することができず、よって、線形システム分析はパラメータの調整に用いることができない。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述の問題を解決するため、本発明は、非線形装置の最適パラメータ調整方法とシステムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、最適パラメータ調整方法を提供し、複数のパラメータからなる第一群パラメータをランダムに生成する工程と、各パラメータを装置に設定し、各パラメータに対応する適合度関数値を検出する工程と、適合度関数値に従って、パラメータを複製し、第二群パラメータを形成する工程と、第二群パラメータからパラメータペアをランダムに選択し、クロスオーバー法を実行して、パラメータペアを代替する新しいパラメータペアを生成し、第三群パラメータを形成する工程と、第三群パラメータを装置に設定して、各パラメータに対応する適合度関数値を検出し、適合度関数値に従って最適パラメータを決定する工程と、からなる。
【０００６】
更に、本発明は、もう一つの最適パラメータ調整方法を提供し、複数のパラメータからなる第一群パラメータをランダムに生成する工程と、各パラメータを装置に設定し、各パラメータに対応する適合度関数値を検出する工程と、適合度関数値が臨界値を超過する場合、適合度関数値に対応するパラメータを複製し、第二群パラメータを形成する工程と、第二群パラメータからパラメータペアをランダムに選択して、クロスオーバー法を実行し、パラメータペアを代替する新しいパラメータペアを生成して、第三群パラメータを形成する工程と、第三群パラメータを装置に設定して、各パラメータに対応する適合度関数値を検出し、上述の工程を所定回数繰り返して、所定値を超過する適合度関数値に対応する最適パラメータを決定する工程と、からなる。
【０００７】
更に、本発明は、最適パラメータ調整システムを提供し、複数のパラメータと入力信号に従って、出力信号を生成する装置と、出力信号と入力信号を検出し、適合度関数値を生成する検出装置と、パラメータと入力信号を生成し、適合度関数値を受信するパラメータ調整装置と、からなる。パラメータ調整装置は、複数のパラメータからなる第一群パラメータをランダムに生成し、各パラメータを装置に設定する。検出装置は各パラメータに対応する適合度関数値を検出し、適合度関数値をパラメータ調整装置に伝送する。適合度関数値が臨界値を超過する場合、パラメータ調整装置は、適合度関数値に対応するパラメータを複製し、第二群パラメータを形成する。パラメータ調整装置は、第二群パラメータからパラメータペアをランダムに選択し、クロスオーバー法を実行して、パラメータペアを代替する新しいパラメータペアを生成し、第三群パラメータを形成する。パラメータ調整装置は、第三群パラメータを装置に設定する。検出装置は、各パラメータに対応する適合度関数値を検出し、所定値を超過する適合度関数値に対応する最適パラメータを決定する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明により、非線形装置の最適パラメータ調整方法とシステムが提供され、公知の問題を改善することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
図１は本発明の具体例による最適パラメータ調整システム１００を示す図で、パラメータ調整装置１１０と、検出装置１２０、及び、ＦＰＧＡ（フィールドプログラマブルゲートアレイ）１３０、からなる。ＦＰＧＡ１３０は線形、或いは、非線形である。パラメータ調整装置１１０はパラメータ１０１と入力信号１０２をＦＰＧＡ１３０に提供する。検出装置１２０は入力信号１０２と出力信号１０３を検出し、適合度関数値１０４を生成する。本発明の具体例において、ＦＰＧＡ１３０はシグマデルタ（Σ−Δ）非線形装置としてプログラム化され、適合度関数値１０４は信号対雑音比（Ｓ／Ｎ比、ＳＮＲ）値である。検出装置１２０は入力信号１０２と出力信号１０３を検出してＳＮＲ値を生成する。
【００１０】
図２は、本発明の具体例によるシグマデルタ非線形装置２００を示す図である。シグマデルタ非線形装置２００は積分器（２１１〜２１５）、増幅器（ａ１〜ａ１８）、加算器（２２１〜２２８）、量子化器２３１、及び、ユニットディレイヤー２３２、からなる。量子化器２３１は非線形装置なので、回路設計は線形システム分析方法によりシグマデルタ非線形装置２００の伝達関数（出力／入力）を得ることができない。しかし、回路設計は本発明の最適パラメータ調整方法を使用して、シグマデルタ非線形装置２００の最適パラメータを得ることができる。
【００１１】
図３は本発明の具体例による最適パラメータ調整方法のフローチャートである。図１と図２を同時に参照すると、ＦＰＧＡ１３０がシグマデルタ非線形装置２００としてプログラム化される。まず、パラメータ調整装置１１０が複数のパラメータをランダムに生成して第一群パラメータを形成する（工程３１０）。パラメータ調整装置１１０は、更に、初期パラメータを前もってセットし、初期パラメータに近い第一群パラメータのパラメータを生成する。次に、パラメータ調整装置１１０は各パラメータをシグマデルタ非線形装置２００に設定する。検出装置１２０はＦＰＧＡ１３０を検出し、各パラメータに対応する適合度関数値１０４を得て、適合度関数値１０４をパラメータ調整装置１１０に伝送する（工程３２０）。適合度関数値１０４が臨界値を超過する場合、パラメータ調整装置１１０は適合度関数値１０４に対応するパラメータを複製し、第二群パラメータを形成する。第二群パラメータは複製パラメータとオリジナルパラメータからなる（工程３３０）。次に、パラメータ調整装置１１０は第二群パラメータからパラメータペアをランダムに選択し、クロスオーバー法を実行し、前に選択されたパラメータペアを代替する新しいパラメータペアを生成して、第三群パラメータを形成する。第三群パラメータは、新しいパラメータペアとオリジナルパラメータからなり、前に選択されたパラメータペアは含まれない（工程３４０）。クロスオーバー法は、ワンポイントクロスオーバー、或いは、ツーポイントクロスオーバー法である。ワンポイントクロスオーバー法が使用される場合、パラメータＰは００１０１１１１で、パラメータｑは１１０１０００１、クロスポイントは４の場合、新しいパラメータＰ’は００１００００１、新しいパラメータｑ’は１１０１１１１１である。ツーポイントクロスオーバー法の場合、パラメータＡが１０１０１０１０１、パラメータＢが０００００１１１１、クロスオーバーポイントが３と６の場合、新しいパラメータＡ’は００００１０１１１と新しいパラメータＢ’は１０１００１１０１である。パラメータ調整装置１１０は第三パラメータをシグマデルタ非線形装置２００に設定する。検出装置１２０は、各パラメータに対応する適合度関数値を検出し（工程３５０）、工程が所定回数を超過する、或いは、適合度関数値が所定値を超過するか判断し（工程３６０）、超過する場合は、パラメータ調整装置１１０は最適パラメータを決定する（工程３７０）。そうでない場合、工程３１０が繰り返される。
【００１２】
更に、工程３１０〜工程３５０中、パラメータ調整装置１１０は、所定の変化確率に従って、第一群パラメータ、第二群パラメータ、第三群パラメータの部分的パラメータを変化させる。更に、工程３１０〜工程３５０中、第一群パラメータ、第二群パラメータ、及び、第三群パラメータの部分的、或いは、全てのパラメータは所定のパラメータにより代替される。
【００１３】
本発明では好ましい実施例を前述の通り開示したが、これらは決して本発明に限定するものではなく、当該技術を熟知する者なら誰でも、本発明の精神と領域を脱しない範囲内で各種の変動や潤色を加えることができ、従って本発明の保護範囲は、特許請求の範囲で指定した内容を基準とする。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の具体例による最適パラメータ調整システム１００を示す図である。
【図２】本発明の具体例によるシグマデルタ非線形装置２００を示す図である。
【図３】本発明の具体例による最適パラメータ調整方法のフローチャートである。
【符号の説明】
【００１５】
１００        最適パラメータ調整システム
１０１        パラメータ
１０２        入力信号
１０３        出力信号
１０４        適合度関数値
１１０        パラメータ調整装置
１２０        検出装置
１３０        ＦＰＧＡ
２００        （Σ−Δ）非線形装置
２１１、２１２、２１３、２１４、２１５  積分器
２２１、２２２、２２３、２２４、２２５、２２６、２２７、２２８  加算器
２３１        量子化器
２３２        ユニットディレイヤー
ａ１〜ａ１８  増幅器
Ｉｎｐｕｔ    入力
Ｏｕｔｐｕｔ  出力
【図１】
2008072689.tif 000003
【図２】
2008072689.tif 000004
【図３】
2008072689.tif 000005