(57)【要約】      （修正有）【課題】測定上の制約をシステムに入れることで露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐ。【解決手段】感光体ドラムの周囲に帯電器、表面電位計プローブ、レーザ書込装置、表面電位計プローブ（２）、除電ランプが配置され、各ユニットはドラム径方向に移動可能であり、表面電位計プローブ（２）はドラム周方向に移動可能である装置において、表面電位計プローブ（２）の配置角度（θ）（ドラム表面のレーザ入射位置と、表面電位計プローブの配置位置とがなす角度）が下記式（１）を満足するようにした感光体ドラム評価装置。2008129372.tif 000007  ここにＡは電位計プローブの電位検出範囲の直径（単位：ｍｍ）。Ｄはドラム直径（単位：ｍｍ）。【選択図】図４
2008129372.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体ドラムの周囲に少なくとも帯電器、表面電位計プローブ（１）、レーザ書込装置、表面電位計プローブ（２）、除電ランプの各ユニットがこの順に配置され、各ユニットはドラム径方向に移動可能であり、さらに表面電位計プローブ（２）はドラム周方向に移動可能である装置において、感光体ドラムに近接して配置される表面電位計プローブ（２）の配置角度（θ）（ドラム表面のレーザ入射位置とドラム中心とを結ぶ線と、表面電位計プローブ（２）の配置位置とドラム中心とを結ぶ線とがなす角度）が下記式（１）を満足するか判定するようにしたことを特徴とする感光体ドラムの評価装置。
【数１】
2008129372.tif 000006
ここにＡは電位計プローブの電位検出範囲の直径（単位：ｍｍ）で、プローブと感光体表面のギャップにより異なる。Ｄはドラム直径（単位：ｍｍ）。
【請求項２】
前記表面電位計プローブ（２）と感光体ドラム表面のギャップが近接センサーにより計測され、この値に基づき表面電位計プローブ（２）を動かし、測定毎に所定のギャップが維持される機構を持つことを特徴とする請求項１に記載の感光体ドラムの評価装置。
【請求項３】
前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）を満足しない測定条件の場合に警告を表示装置に出力するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の評価装置。
【請求項４】
前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索、表示するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の評価装置。
【請求項５】
前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索し、表面電位計プローブ（２）を適切なギャップに自動変更するようにしたことを特徴とする請求項１または２に記載の評価装置。
【請求項６】
前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索し、適切なギャップがないとき、感光体線速条件および表面電位計プローブ（２）の配置角度を変更することを表示・推奨することを特徴とする請求項１に記載の評価装置。
【請求項７】
前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）式を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索し、適切なギャップがないとき、感光体線速条件および表面電位計プローブ（２）の配置角度を自動変更して実施することを特徴とする請求項１または２に記載の評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表面電位計を使用する電子写真感光体の評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子写真プロセスで感光体の特性として要求されるのは、ある露光エネルギーを与えたとき、最初の帯電電位(V)がどれだけの露光後電位(V)になるのかということである。この露光後電位は露光されてからの時間によっても異なり、ある露光エネルギーを与えてから、露光後何秒後に測定するかは重要である。これは実機において、感光体上の露光された部位が現像部に来たときの電位の値が現像プロセスの設計に係わるからであるが、最近の実機は小型化、高速化（＝高線速化）が進み、感光体上の露光された部位が現像部の位置に来るまでの時間が早まっている。
【０００３】
５年〜１０年前では、露光から現像部位までの時間は０．１ｓ〜０．３ｓ程度であったが、現在では０．１ｓ以下、０．０５ｓも珍しくなくなっている。感光体の評価装置も、現像部位置での電位を予測する必要から、搭載予定の実機の条件に合わせて測定するが、この短縮化する時間に対して、測定時の感光体の線速を早める、露光後電位を測定する表面電位計プローブをレーザ入射位置に近づける、等で対応している。
【０００４】
しかしながら、後者において、表面電位計プローブをレーザ入射側に近づけたとき、条件によっては、プローブの検出範囲（=測定範囲）により、レーザが入射する前の帯電電位がその検出範囲に入り、露光後電位の測定に影響を与えることが分かった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従って、本発明は上記の課題を解決することを目的とする。すなわち、本発明は、感光体ドラムの周囲に少なくとも帯電器、帯電電位計測用表面電位計プローブ（１）、レーザ書込装置、露光後電位計測用表面電位計プローブ（２）、除電ランプ の各ユニットがこの順に配置され、各ユニットはドラム径方向に移動可能であり、さらに表面電位計プローブ（２）はドラム周方向に移動可能である装置において、感光体ドラムに近接して配置される表面電位計プローブ（２）の配置角度（θ）（ドラム表面のレーザ入射位置とドラム中心とを結ぶ線と、表面電位計プローブ（２）の配置位置とドラム中心とを結ぶ線がなす角度）が、「θ≧ tan-1(A/D)・・・式（１）」（ここにAは電位計プローブ（２）の電位検出範囲の直径（単位：mm）で、プローブと感光体表面のギャップにより異なり、Dはドラム直径（単位：mm））を満足するか判定することにより、すなわち、測定上の制約をシステムに入れることで、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことを目的とする。
【０００６】
また、前記表面電位計プローブ（２）と感光体ドラム表面のギャップが、近接センサーにより計測され、この値に基づき該表面電位計プローブ（２）を動かし、測定毎に所定のギャップが維持される機構をもたせることにより、該プローブが離れすぎて電位検出範囲が広くなり、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことを目的とする。
【０００７】
さらに、前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が前記式（１）を満足しない測定条件の場合に警告を表示装置に出力するようにしたことで、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことを目的とする。
【０００８】
さらに、前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、該表面電位計プローブ（２）の位置が前記式（１）を満足しない測定条件の場合に警告を表示装置に出力するようにしたことで、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことを目的とする。
【０００９】
さらに、前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、該表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索、表示し、あるいは適切なギャップに条件を自動変更するようにしたことで、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことを目的とする。
【００１０】
さらにまた、前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、該表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索し、適切なギャップが無いとき、感光体線速条件および表面電位計プローブ（２）の配置角度を変更することを表示・推奨するか、あるいは自動変更して実施することで、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題は、以下の本発明により達成される。
（１）感光体ドラムの周囲に少なくとも帯電器、表面電位計プローブ（１）、レーザ書込装置、表面電位計プローブ（２）、除電ランプの各ユニットがこの順に配置され、各ユニットはドラム径方向に移動可能であり、さらに表面電位計プローブ（２）はドラム周方向に移動可能である装置において、感光体ドラムに近接して配置される表面電位計プローブ（２）の配置角度（θ）（ドラム表面のレーザ入射位置とドラム中心とを結ぶ線と、表面電位計プローブ（２）の配置位置とドラム中心とを結ぶ線とがなす角度）が下記式（１）を満足するか判定するようにしたことを特徴とする感光体ドラムの評価装置；
【００１２】
【数１】
2008129372.tif 000003
ここにＡは電位計プローブ（２）の電位検出範囲の直径（単位：ｍｍ）で、プローブと感光体表面のギャップにより異なる。Ｄはドラム直径（単位：ｍｍ）。
【００１３】
（２）前記表面電位計プローブ（２）と感光体ドラム表面のギャップが近接センサーにより計測され、この値に基づき表面電位計プローブ（２）を動かし、測定毎に所定のギャップが維持される機構を持つことを特徴とする前記第（１）項に記載の感光体ドラムの評価装置。
【００１４】
（３）前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）式を満足しない測定条件の場合に警告を表示装置に出力するようにしたことを特徴とする前記第（１）項に記載の評価装置。
【００１５】
（４）前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索、表示するようにしたことを特徴とする前記第（１）項に記載の評価装置。
【００１６】
（５）前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が前記式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索し、表面電位計プローブ（２）を適切なギャップに自動変更するようにしたことを特徴とする前記第（１）項または第（２）項に記載の評価装置。
【００１７】
（６）前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索し、適切なギャップがないとき、感光体線速条件および表面電位計プローブ（２）の配置角度を変更することを表示・推奨することを特徴とする前記第（１）項に記載の評価装置。
【００１８】
（７）前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、表面電位計プローブ（２）の位置が該式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索し、適切なギャップがないとき、感光体線速条件および表面電位計プローブ（２）の配置角度を自動変更して実施することを特徴とする前記第（１）項または第（２）項に記載の評価装置。
【発明の効果】
【００１９】
以下の詳細かつ具体的な説明から明らかなように、本発明は、感光体ドラムの周囲に少なくとも帯電器、帯電電位計測用表面電位計プローブ（１）、レーザ書込装置、露光後電位計測用表面電位計プローブ（２）、除電ランプの各ユニットがこの順に配置され、各ユニットはドラム径方向に移動可能であり、さらに表面電位計プローブ（２）はドラム周方向に移動可能である装置において、感光体ドラムに近接して配置される表面電位計プローブ（２）の配置角度（θ）（ドラム表面のレーザ入射位置とドラム中心とを結ぶ線と、表面電位計プローブ（２）の配置位置とドラム中心とを結ぶ線とがなす角度）が、「θ≧ tan-1(A/D)・・・式（１）」（ここにAは電位計プローブの電位検出範囲の直径（単位：mm）で、プローブと感光体表面のギャップにより異なる、Dはドラム直径（単位：mm））を満足するか判定するようにしたので、すなわち、表面電位計プローブの配置確度に関する測定上の制約をシステムに組み入れることで、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを確実に防ぐことができるという極めて優れた効果を奏する。
また、前記表面電位計プローブ（２）と感光体ドラム表面のギャップが、近接センサーにより計測され、この値に基づき該表面電位計プローブ（２）を動かし、測定毎に所定のギャップが維持される機構をもつため、プローブが離れすぎて電位検出範囲が広がり、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことができるという極めて優れた効果を奏する。
また、前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、該表面電位計プローブ（２）の位置が前記式（１）を満足しない測定条件の場合に警告を表示装置に出力するようにしたことで、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことができるという極めて優れた効果を奏する。
また、前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、該表面電位計プローブ（２）の位置が前記式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索、表示し、あるいは適切なギャップに条件を自動変更するようにしたことで、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことができるという極めて優れた効果を奏する。
さらにまた、前記表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップに対する電位計検出範囲の直径データをあらかじめ記憶装置に保持し、入力されたギャップの値、したがって検出範囲の直径データと測定対象ドラムの直径データとから演算装置が前記式（１）の計算をし、該表面電位計プローブ（２）の位置が前記式（１）を満足しない測定条件の場合に適切なギャップを検索し、適切なギャップが無いとき、感光体線速条件および表面電位計プローブ（２）の配置角度を変更することを表示・推奨するか、あるいは自動変更して実施することで、露光後電位の測定に露光前の電位の影響が入るのを防ぐことができるという極めて優れた効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
レーザスキャナ露光装置を搭載したデジタル複写機、デジタルプリンターにおける感光体は従来のアナログ複写機と比較して、同じ程度の露光エネルギーを受ける際に、露光パワー、露光時間がそれぞれ、106〜７、10-6〜-7程度異なり、そのため相反則不軌ともいえる特性を示す。
【００２１】
このような従来とはスケールが大きく異なる条件で使用される感光体のデジタル機における特性を正しく予測するには、デジタル機と同じスケールのパワー、時間で露光し、評価する必要がある。そのようなスケールの露光が可能な光学系はデジタル機と同じレーザスキャナ露光装置しかないのが実状である。単純なランプ光源とメカニカルなシャッターの組み合わせでは不可能である。そのため、デジタル機に搭載される感光体の評価はデジタル機に搭載して行うことになる。しかしながらデジタル機は複写機、プリンター装置として最適化され作られているため、感光体の評価機として使うには限界がある。
【００２２】
この意味は評価装置として、種々の感光体ドラム径に対応する、種々のデジタル機の線速に対応する、種々の書込解像度に対応する、種々の露光後電位計測時間（＝露光から現像までの時間）に対応する、等で評価装置に求められる汎用性がないことを意味する。そこで本発明者は先に評価装置として汎用性のあるものを、そして露光条件を自動で設定する装置を既に提案しているが(特開２０００−２７５８５２号公報)、そのような評価装置であっても、最近の装置の小型化（従って感光体の小径化）、高速化（線速の高速化、従って露光から現像までの時間の短縮化）は、実際に感光体の評価を行う上で制約になることがある。
【００２３】
その一例を挙げると、30mmφドラムを160mm/Sの線速で動かし、露光から現像までの時間が0.04sとすると、露光のレーザビームが感光体表面の入射位置とドラム中心を結ぶ線と、現像部の位置とドラム中心を結ぶ線とのなす角度は２４．４５°になる。レーザ入射位置から現像部まで周方向で6.4mmの距離になる。現像部の位置に市販の表面電位計プローブを置くとプローブと感光体表面のギャップを3mmにとると20mmφ程度の検出範囲（＝測定面積）となる。検出範囲の片側をとると10mmあり、6.4mmを超えてしまう。
すなわち、レーザが入射する前の感光体表面の帯電電位も電位計プローブの検出範囲に入ることになり、レーザ露光後の電位測定が正確でなくなることになる。レーザ入射位置から周方向に10mm以上離れた位置に配置すれば問題なく、このときの角度はtan-1 (20/2／30/2)＝tan-1 (20/30)＝33.7°と計算される（図４も参照）。
【００２４】
このように小型化、高速化の進展で、感光体の実機内特性を評価するために、露光後の電位を測定するまでの時間は短縮化しており、従って表面電位計プローブの配置位置がレーザ入射位置に近づき、上記のような、露光前の帯電電位が表面電位計プローブの検出範囲に入ってしまう場合が出てきた。
【００２５】
これを解決するための具体的手段として、感光体ドラムの周囲に少なくとも帯電器、表面電位計プローブ（１）、レーザ書込装置、表面電位計プローブ（２）、除電ランプの各ユニットがこの順に配置され、各ユニットはドラム径方向に移動可能であり、さらに表面電位計プローブ（２）はドラム周方向に移動可能である装置において、感光体ドラムに近接して配置される表面電位計プローブ（２）の配置角度（θ）（ドラム表面のレーザ入射位置とドラム中心とを結ぶ線と表面電位計プローブ（２）の配置位置とドラム中心とを結ぶ線がなす角度）が下記式（１）を満足するか判定するようにし、測定の制約条件として評価装置に組み込むことで、いつでも露光前の帯電電位が露光後電位の測定に影響するのを防ぐことが可能になる（図４を参照）。
【００２６】
【数２】
2008129372.tif 000004
ここにＡは電位計プローブ（２）の電位検出範囲の直径（単位：ｍｍ）で、プローブと感光体表面のギャップにより異なる。Ｄはドラム直径（単位：ｍｍ）
【００２７】
表面電位計プローブ（２）と感光体表面のギャップが適切でないと判定されたとき、そのことを測定者に警告するような測定システムであれば、利便性の向上が見込まれる。そして自動でギャップを適切な距離に変更できれば、更に良い。このとき、表面電位計プローブ（２）をドラム径方向に移動する方法としては、パルスモータをつかい、機械原点（あるいはホームポジション）とドラム中心位置との距離をあらかじめ調べておき、機械原点（あるいはホームポジション）から、（ドラムの半径＋設定するギャップ）の位置まで移動するのに必要なパルスを送り、動かすことになる。
【００２８】
しかし、一度位置決めされたあと、その位置から相対的な移動距離（例えば３ｍｍギャップを２ｍｍギャップに変更する場合は１ｍｍ移動することになる）を割り出し移動させる場合、これを何度も繰り返すとギャップの正確度が保たれなくなる。
【００２９】
これを防ぐために、その都度機械原点に戻し、そこから一気に移動させる方法が一般的にとられる。しかし、これは移動距離が長い場合、そして移動速度が遅い場合は時間がかかり、作業性が悪い。そのため、表面電位計プローブ（２）と並立して近接センサーを設置し、ギャップをモニターするようにし、所定のギャップからはずれた場合は、近接サンサーの測定する値に基づき、パルスモータを動かし、ギャップを修正するようにすると作業時間は短く、かつ格段に距離の正確度が高まる。
【００３０】
またこのようにするもうひとつの利点は、感光体ドラムの出し入れ時にドラムがぶつかる等の何らかの理由で表面電位計プローブがこれを保持する治具に対して径方向で位置がずれることがある。このようなときに近接センサーでギャップが測定できると容易に異常を見つけやすい。さらに、感光体ドラムの中心とドラムの周囲に配置されるユニット（同心円状に配置）の中心がずれていた場合、表面電位計プローブのように配置角度を変更できるものは、配置角度が変わる度に、中心との距離が変わることになる。これも近接センサーでギャップを毎回モニターできると異常が見つけやすい。
【００３１】
ギャップを最初から最小にしておけば、前記式（１）を満足せず、不適切と判定されたときにもギャップ修正の作業は必要なく、測定は単に不可能となるだけで終わりとなる。しかし、ギャップがあまり小さいと表面電位信号にノイズが乗りやすいことや、また感光体ドラムの回転にフレの問題が生じたとき感光体とプローブがぶつかり、プローブ破損のおそれなどがある。また、ギャップを大きくすると、表面電位の測定データの確度に問題が生じるため、測定に推奨されるギャップは１ｍｍ〜４ｍｍであり、好ましくは２ｍｍ〜３ｍｍである。
【実施例】
【００３２】
以下、実施例で本発明を具体的に説明する。
・全ての実施例で共通に使用した装置、および測定条件について：
使用した測定機システムは自社製作の評価装置である。
評価装置の仕様：概略を図１〜図３に示す。
１．測定機本体：
帯電器：スコロトロン方式  Max±8kV
高圧電源−  トレック・ジャパン（株）製  モデル 610D
光源：ＬＤ書き込み装置搭載のもの。
ＬＤ波長：６５５ｎｍ、ダブルビーム搭載（シングルビームでの測定も可）
測定対象ドラムの径：２４ｍｍφ〜１２０ｍｍφ
表面電位計プローブ（１），（２）：（１）は帯電電位測定用、（２）は露光後電位測定用。
プローブ（１）は周方向の動き固定、プローブ（２）の周方向可動範囲１０．５°〜１４０°（レーザ入射位置を起点（０°）として）
表面電位計：トレック・ジャパン（株）製  モデル344＋表面電位形プローブ  モデル555P-4
プローブ555-P4のギャップと検出範囲のデータはメーカ公表のデータ（プローブ555P-1）を使用した（図５参照）。
グラフデータから近似式を求め、その式を評価装置のPCシステムに組み込んでいる。
２．インターフェース
表面電位信号集録装置：横河電機（株）製 デジタルスコープ DL708
３．情報処理装置（帯電電位、露光後電位読み取り）：市販ノートＰＣ＋本発明者による処理プログラム
４．２と３の接続インターフェースGP-IB：日本ナショナルインスツルメンツ（株）製  PCMCIA GP-IBカード 
指定した測定条件は次の通りである。
ドラム径=30mmφ
ドラム長=340mm
（感光体ドラムはリコー製 OPCドラム  負極性）
線速=70mm/s 〜 300ｍm/s
用紙長=210mm
給紙カウンタ=2 （同じ条件で繰り返し２回測定の意味）
画素密度=400、600、1200dpi
露光から現像位置までの時間=0.5〜0.01ｓ（「現像位置」で露光後電位を計測）
ビームサイズ=40x50，50x60，70x85μｍ
スコロトロングリッド電圧=-600(V) （帯電電位 -600Ｖ狙い）
【００３３】
測定される表面電位データは負極性であるが、断りのない限り、絶対値にして表記している。
一つの露光エネルギーで２回測定を繰り返し、次に、露光エネルギーを変えて同じ測定を繰り返す。これを20通り前後の露光エネルギーについて順次自動実行する。表面電位計からアナログ出力された露光後電位は集録装置に取り込まれ、記憶される。一続きの測定が終了した後、ＰＣに転送し、帯電電位、露光後電位の読み取りを行う。
【００３４】
比較例１（請求項１および３に関連）
感光体ドラム径：30mmφ
感光体ドラム線速：125mm/s
露光後測定時間：0.05ｓ
感光体と表面電位計プローブ（２）のギャップ：3mm（図５のデータより検出範囲は20mmになる）
の条件を評価装置に入力した。表面電位計プローブ（２）の配置すべき角度（θ）を24°と計算し、この位置に表面電位計プローブ（２）を配置するように動作した。
【００３５】
実施例１（請求項１および３に関連）
本発明における前記角度（θ）に関する制約条件を組み込んだ評価プログラムを使用した。比較例１と同じ測定条件に対し、表面電位計プローブ（２）の配置すべき角度（θ）を24°と計算したが、本発明における前記式（１）の右辺を計算し、tan-1（20/30）＝33.7°となり、θ＝24＜33.7で該式（１）はなりたたず、警告が発せられた。
【００３６】
実施例２（請求項１および４、５に関連）
比較例１に示す条件で測定を実施した。また、実施例１の評価装置では、警告が発せられ、ギャップ2mmが推奨されたため、感光体と表面電位計プローブのギャップを2mmに変え、システムに入力した。
ギャップが2mmのときは図５のデータより検出範囲は11.5mmになり、tan-1(11.5/30)＝21°となり、θ＝24＞21で前記式（１）は成立し、警告はでなかった。そこでギャップ2mmで測定を実施した。どちらも表面電位計プローブ（２）の配置角度（θ）は24°である。この結果を図６に示す。ギャップが異なる「露光エネルギーに対する露光後表面電位データ」にはちがいがあり、ギャップ3mmの場合は露光前の帯電電位の影響を受けていると理解された。
【００３７】
実施例３（請求項１および６、７に関連）
感光体ドラム径：30mmφ
感光体ドラム線速：160mm/s
露光後測定時間：0.01ｓ
感光体と表面電位計プローブのギャップ：3mm（図５のデータより検出範囲は20mmになる）
の条件を評価装置に入力した。表面電位計プローブ（２）の配置角度（θ）を6.1°と計算したが、
本発明の（θ）に関する制約条件を組み込んだ評価プログラムは、本発明における前記式（１）の右辺を計算し、tan-1（20/30）＝33.7°となり、θ＝6.1＜33.7で該式（１）は成り立たず、警告が表示された。評価装置の機械的制約で10.5°より小さい配置にはできないため、この理由でも設定は不可能である。ギャップ1mm（（図５のデータより検出範囲は6mmになる）にしても、tan-1（6/30）＝11.3°で適切なギャップになり得ず、さらにギャップ0.8mm（（図５のデータより検出範囲は5mmになる）にしても、tan-1（5/30）＝9.5°で適切なギャップになり得ないため、システムは感光体の線速を275mm/sに、プローブの配置角度（θ）を10.5°にすることを推奨した。この条件であらためてシステムの判定はギャップ0.8mmを推奨（θ＝10.5＞9.5で条件は成立）したので採用の応答をしたところ、ギャップは自動で再設定され測定が実行された。
【００３８】
実施例４（請求項２に関連）
ここで使用している評価装置においては表面電位計プローブのドラム径方向の移動は移動量に相当するパルス数を送ることで実行される。原点検出は電源ON時に１回行われ、以後は行われず、移動命令が来る毎にその時点の位置を起点に移動する（相対移動）。表面電位計プローブ（２）に並立して近接センサー（キーエンス（株） ANALOG SENSOR MODEL AS-440-SO  AH-416）を取り付けた。センサー出力はデジタルマルチメータ（FLUKE 社  FLUKE 45）につなぎ、表示した。電圧の表示値がそのままギャップ（ｍｍ）になる。マルチメータにはGP-IBインターフェースがあり、これをPCにつないだ。センサー取り付け時、センサー先端（平面）と表面電位計プローブ先端（平面）の高さを合わせた。
評価装置に３０ｍｍφドラムをセットし、表面電位計プローブ（２）をギャップ3mmにした。次にギャップ2mm（1mm移動）、ギャップ1mm（1mm移動）、ギャップ3mm(-2mm移動)し、この動作を繰り返した。実験は１０項目あり、項目の数がそのまま上記の動作繰り返し回数になる。各回、所定の繰り返し数だけ動作させ、設定ギャップと近接センサーの表示値が異なるときはその差分だけ表面電位計プローブ（２）を動かし、ギャップが修正されるようにプログラムは作られている。あらためて結果を表１に示す。
【００３９】
【表１】
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近接センサーでギャップの不正確さを検出でき、ギャップ修正も容易であることが分かる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】感光体ドラムの評価装置のレイアウトを示した図である。
【図２】評価装置の測定タイミングチャートの例を示した図である。
【図３】評価装置から出力される表面電位データの例（太字のラインが露光後電位のデータ）を示した図である。
【図４】ギャップと表面電位計プローブ（２）の検出範囲の関係の説明、及び本発明における式（１）の説明図である。
【図５】表面電位計プローブの測定ギャップと検出範囲の関係の例（出典：トレックジャパン製品カタログより）である。
【図６】表面電位計プローブと感光体表面のギャップによる電位減衰データの差を示した図である。
【図７】評価装置の測定フロー概略図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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