(57)【要約】【課題】  光ディスク上の複数の光スポットの位置を一層精度よく一致し得るレーザー光の光軸調整方法を提供すること。【解決手段】  孤立トラック領域Ｉｔ、孤立ピット領域Ｉｐを設けた光軸調整用光ディスクＤＫ０に複数のレーザー光を照射する。孤立トラック領域Ｉｔを光スポットが横断するときに発生するトラッキングエラー信号は、他のトラッキングエラー信号から区別し得るので、複数の光スポットに由来するトラッキングエラー信号の信号波形が明確に把握できる。よって、トラッキングエラー信号波形に基づき、光スポットの径方向位置ずれが調整される。また、孤立ピット領域Ｉｐを光スポットが通過するときに発生する再生信号は、他の再生信号から区別し得るので、複数の光スポットに由来する再生信号の信号波形が明確に把握できる。よって、再生信号波形に基づき、光スポットの周方向位置ずれが調整される。【選択図】  図３
2008071450.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のレーザー光を光ディスクに照射して前記光ディスク上に光スポットを形成するとともに、前記複数のレーザー光が照射された光ディスクからの反射光を受光することにより信号を生成するレーザー光照射装置に対し、前記光ディスク上に形成される複数の光スポットの位置が一致するように、前記複数のレーザー光の光軸を調整する光軸調整方法であって、
少なくとも所定の径方向領域に周方向に沿ってトラックが形成されるとともに、前記トラック内にピットが形成された光軸調整用光ディスクであって、所定のトラックまたはトラック群の径方向両側に、所定の径方向幅にわたり形成された無トラック領域と、少なくとも一つのトラック内において所定のピットまたはピット群の周方向両側に、所定の周方向長さにわたり形成された無ピット領域とを有する光ディスクを回転させながら、複数のレーザー光を前記所定のトラックまたはトラック群を横断および前記所定のピットまたはピット群を通過するように照射するレーザー光照射ステップと、
前記レーザー光照射ステップにて前記光軸調整用光ディスクに照射した前記複数のレーザー光の反射光を前記複数のレーザー光毎に検出し、前記反射光に基づく信号をそれぞれ生成する信号生成ステップと、
前記信号生成ステップにおいて前記反射光ごとに生成された信号に基づいて、前記光軸調整用光ディスク上に形成される複数の光スポットのずれを検出するずれ検出ステップと、
前記ずれ検出ステップにおいて検出された複数の光スポットのずれに基づいて、前記複数のレーザー光の光軸を調整する光軸調整ステップと、
を含むことを特徴とする、光軸調整方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光軸調整方法において、
前記ずれ検出ステップは、前記信号生成ステップにおいて前記反射光ごとに生成された信号の発生タイミングに基づいて、前記光軸調整用光ディスク上に形成される複数の光スポットのずれを検出することを特徴とする、光軸調整方法。
【請求項３】
請求項１または２に記載の光軸調整方法において、
前記信号生成ステップは、
前記複数のレーザー光の光スポットが前記所定のトラックまたはトラック群を横断するときに発生する横断信号を生成する横断信号生成ステップと、
前記複数のレーザー光の光スポットが前記所定のピットまたはピット群を通過するときに発生する通過信号を生成する通過信号生成ステップと、
を含むことを特徴とする、光軸調整方法。
【請求項４】
請求項３に記載の光軸調整方法において、
前記光軸調整ステップは、
前記横断信号に基づいて、前記光軸調整用光ディスクの径方向における前記複数の光スポットの位置が一致するように前記複数のレーザー光の光軸を調整する径方向調整ステップと、
前記通過信号に基づいて、前記光軸調整用光ディスクの周方向における前記複数の光スポットの位置が一致するように前記複数のレーザー光の光軸を調整する周方向調整ステップと、
を含むことを特徴とする、光軸調整方法。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光軸調整方法において、
前記ずれ検出ステップは、前記信号生成ステップにおいて生成された複数の信号を表示する表示ステップを含むことを特徴とする、光軸調整方法。
【請求項６】
請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光軸調整方法において、
前記ずれ検出ステップは、
前記信号生成ステップにおいて前記反射光ごとに生成された複数の信号を比較する信号比較ステップと、
前記信号比較ステップにおける比較結果に基づき、複数の光スポットのずれ量を算出するずれ量算出ステップと、
を含むことを特徴とする、光軸調整方法。
【請求項７】
請求項３または４に記載の光軸調整方法において、
前記ずれ検出ステップは、
前記横断信号生成ステップにおいて生成された複数の横断信号を比較する横断信号比較ステップと、
前記通過信号生成ステップにおいて生成した複数の通過信号を比較する通過信号比較ステップと、
前記横断信号比較ステップおよび前記通過信号比較ステップにおける比較結果に基づき、前記ずれ量を算出するずれ量算出ステップと、
を含むことを特長とする、光軸調整方法。
【請求項８】
請求項７に記載の光軸調整方法において、
前記ずれ検出ステップは、前記横断信号生成ステップにて生成した前記横断信号を２値化してパルス信号とする横断信号２値化ステップと、前記通過信号生成ステップにて生成した前記通過信号を２値化してパルス信号とする通過信号２値化ステップと、をさらに含み、
前記横断信号比較ステップにて、前記横断信号２値化ステップにて生成したパルス信号に基づいて、前記光軸調整用光ディスクの径方向における複数の光スポットのずれを示すパルス信号である横断信号評価用パルス信号を生成し、
前記通過信号比較ステップにて、前記通過信号２値化ステップにて生成したパルス信号に基づいて、前記光軸調整用光ディスクの周方向における複数の光スポットのずれを示すパルス信号である通過信号評価用パルス信号を生成し、
前記ずれ量算出ステップは、前記横断信号評価用パルス信号および前記通過信号評価用パルス信号に基づいて、前記ずれ量を算出することを特徴とする、光軸調整方法。
【請求項９】
請求項８に記載の光軸調整方法において、
前記ずれ検出ステップは、前記光軸調整用光ディスクが回転しているときに前記光軸調整用光ディスク上に形成される光スポットの前記光軸調整用光ディスクに対する線速度を特定する線速度特定ステップと、前記光スポットが前記所定のトラックまたはトラック群から隣接する所定のトラックまたはトラック群までを横断する時間を検出するトラック間横断時間検出ステップと、をさらに含み、
前記ずれ量演算ステップは、前記横断信号評価用パルス信号のパルス幅と、前記通過信号評価用パルス信号のパルス幅と、前記線速度特定ステップにて特定した線速度と、前記トラック間横断時間検出ステップにて検出したトラック間横断時間とに基づいて、前記複数の光スポットの前記光ディスク上での位置のずれ量を演算することを特徴とする、光軸調整方法。
【請求項１０】
複数のレーザー光を光ディスクに照射して前記光ディスク上に光スポットを形成するとともに、前記複数のレーザー光が照射された光ディスクからの反射光を受光することにより信号を生成するレーザー光照射装置に対し、前記光ディスク上に形成される複数の光スポットのずれを検出するずれ検出装置において、
前記光ディスク上に形成される第一の光スポットからの反射光に基づく信号が入力されるとともに入力された信号を２値化することにより第一パルス信号を生成する第一パルス信号生成手段と、
前記光ディスク上に形成される第二の光スポットからの反射光に基づく信号が入力されるとともに入力された信号を２値化することにより第二パルス信号を生成する第二パルス信号生成手段と、
前記第一パルス信号および前記第二パルス信号が入力されるとともに、前記第一パルス信号と前記第二パルス信号とが、前記第一の光スポットと前記第二の光スポットとの位置のずれを表す所定の関係であるときにハイレベルまたはローレベルとなり、前記所定の関係以外の関係であるときにローレベルまたはハイレベルとなる評価用パルス信号を生成する評価用パルス信号生成手段と、
前記評価用パルス信号のハイレベル部分のパルス幅またはローレベル部分のパルス幅を測定するパルス幅測定手段と、
を具備することを特徴とする、ずれ検出装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載のずれ検出装置において、
複数の光スポットが形成される光ディスクが回転しているときの、前記光スポットの前記光ディスクに対する線速度を特定する線速度特定手段と、
前記光ディスクが回転しているときの、前記光スポットの前記光ディスクに対する径方向速度を特定する径方向速度特定手段と、
前記パルス幅測定手段により測定したパルス幅と、前記線速度特定手段により特定した線速度と、前記系方向速度特定手段により特定した径方向速度とに基づいて、前記光ディスク上における複数の光スポットの位置のずれ量を測定する位置ずれ量測定手段と、
をさらに具備することを特徴とする、ずれ検出装置。
【請求項１２】
請求項１０または１１に記載のずれ検出装置において、
前記光ディスクは、
複数のレーザー光を光ディスクに照射して前記光ディスク上に光スポットを形成するとともに、前記複数のレーザー光が照射された光ディスクからの反射光を受光することにより信号を生成するレーザー光照射装置に対し、前記光ディスク上に形成される複数の光スポットの位置が一致するように、前記複数のレーザー光の光軸を調整するための光軸調整用光ディスクであって、
少なくとも所定の径方向領域に周方向に沿ってトラックが形成されるとともに、前記トラック内にピットが形成された光軸調整用光ディスクであって、所定のトラックまたはトラック群の径方向両側に、所定の径方向幅にわたり形成された無トラック領域と、
少なくとも一つのトラック内において所定のピットまたはピット群の周方向両側に、所定の周方向長さにわたり形成された無ピット領域と、
が形成されている光軸調整用光ディスクであることを特徴とする、ずれ検出装置。
【請求項１３】
複数のレーザー光を光ディスクに照射して前記光ディスク上に光スポットを形成するとともに、前記複数のレーザー光が照射された光ディスクからの反射光を受光することにより信号を生成するレーザー光照射装置に対し、前記光ディスク上に形成される複数の光スポットの位置が一致するように、前記複数のレーザー光の光軸を調整するための光軸調整用光ディスクであって、
少なくとも所定の径方向領域に周方向に沿ってトラックが形成されるとともに、前記トラック内にピットが形成された光軸調整用光ディスクであって、所定のトラックまたはトラック群の径方向両側に、所定の径方向幅にわたり形成された無トラック領域と、
少なくとも一つのトラック内において所定のピットまたはピット群の周方向両側に、所定の周方向長さにわたり形成された無ピット領域と、
が形成された、光軸調整用光ディスク。
【請求項１４】
請求項１乃至９のいずれか１項に記載の光軸調整方法において、
前記レーザー光照射装置は、光ディスクにデータを記録し、または光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク装置であることを特徴とする、光軸調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数のレーザー光を例えば同一の光ディスクなどの同一物体に照射し、照射したレーザー光の前記同一物体からの反射光に基づいて信号を生成するレーザー光照射装置に対し、上記同一物体に照射する複数のレーザー光の前記物体上での光スポットの位置が一致するように、複数のレーザー光の光軸を調整する方法、およびその際に使用する信号評価装置（同一物体上に形成される複数の光スポットのずれを検出するずれ検出装置）および光軸調整用光ディスクに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
レーザー光を光ディスクの記録面に照射することによって光ディスクにデータを記録する、あるいは光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク装置において、例えば、コリニア方式のホログラム記録再生装置のように複数のレーザー光を共通の対物レンズを介して光ディスクに照射し、光ディスクの同じ位置に光スポットを形成する光ディスク装置が知られている。
【０００３】
コリニア方式のホログラム記録再生装置では、記録用のレーザー光（情報レーザー光と参照レーザー光。以下、記録用レーザー光という。）または再生用のレーザー光（以下、記録用レーザー光と再生用のレーザー光をまとめて記録再生用レーザー光という）と、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボを行うためのサーボ用のレーザー光（以下、サーボ用レーザー光という。）と、を対物レンズを介して光ディスクの同じ位置に照射する。このため、光ディスク上でのそれぞれのレーザー光の光スポットの位置が一致するようにそれぞれのレーザー光の光軸を調整する必要がある。
【０００４】
複数のレーザー光の光スポットが一致するように複数のレーザー光の光軸を調整する方法は、例えば、本願出願時には未公開である特許文献１においては、記録再生用レーザー光とサーボ用レーザー光とを独立してオートコリメータに入射させ、それぞれのレーザー光がオートコリメータ内のＣＣＤの中心に集光するように調整することにより行う方法がある。
【特許文献１】特願２００５−３４３０４９号
【発明の開示】
【０００５】
上記特許文献１に記載の光軸調整方法では、オートコリメータ内のＣＣＤから出力される受光信号に基づいて表示装置に表示された画像を作業者が見て確認しながら光軸の調整を行うものであり、人手が介在するため調整の精度が高くない。このため、光ディスク上におけるそれぞれのレーザー光の光スポットの位置に僅かなズレを生じることが多い。この僅かなズレは、光ディスクの記録・再生を行うための構造が微細になるほど、記録・再生精度に及ぼす影響が大きくなる。よって、光の干渉縞を多重に利用したホログラム記録再生用光ディスクなどの高密度の記録・再生を行うことができる光ディスクにおいては、記録再生用レーザー光とサーボ用レーザー光の光スポットの僅かなズレによって、データの記録およびデータの再生の精度が劣化するという問題がある。
【０００６】
本発明は上記問題に対処するためなされたもので、その目的は、物体上における複数のレーザー光の光スポットの位置をより一層精度よく一致させることができるレーザー光の光軸調整方法を提供することにある。さらに、レーザー光の光軸の調整の際に、同一物体（光ディスク）上に形成される複数の光スポットのずれを検出するずれ検出装置および光軸調整用光ディスクを提供することにある。
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明の特徴は、
複数のレーザー光を光ディスクに照射して前記光ディスク上に光スポットを形成するとともに、前記複数のレーザー光が照射された光ディスクからの反射光を受光することにより信号を生成するレーザー光照射装置に対し、前記光ディスク上に形成される複数の光スポットの位置が一致するように、前記複数のレーザー光の光軸を調整する光軸調整方法であって、
少なくとも所定の径方向領域に周方向に沿ってトラックが形成されるとともに、前記トラック内にピットが形成された光軸調整用光ディスクであって、所定のトラックまたはトラック群の径方向両側に、所定の径方向幅にわたり形成された無トラック領域と、少なくとも一つのトラック内において所定のピットまたはピット群の周方向両側に、所定の周方向長さにわたり形成された無ピット領域とを有する光ディスクを回転させながら、複数のレーザー光を前記所定のトラックまたはトラック群を横断および前記所定のピットまたはピット群を通過するように照射するレーザー光照射ステップと、
前記レーザー光照射ステップにて前記光軸調整用光ディスクに照射した前記複数のレーザー光の反射光を前記複数のレーザー光毎に検出し、前記反射光に基づく信号をそれぞれ生成する信号生成ステップと、
前記信号生成ステップにおいて前記反射光ごとに生成された信号に基づいて、前記光軸調整用光ディスク上に形成される複数の光スポットのずれを検出するずれ検出ステップと、
前記ずれ検出ステップにおいて検出された複数の光スポットのずれに基づいて、前記複数のレーザー光の光軸を調整する光軸調整ステップと、
を含んだ光軸調整方法とすることにある。
【０００８】
この場合、前記ずれ検出ステップは、前記信号生成ステップにおいて前記反射光ごとに生成された信号の発生タイミングに基づいて、前記光軸調整用光ディスク上に形成される複数の光スポットのずれを検出するものであるとよい。また、前記信号生成ステップは、前記複数のレーザー光の光スポットが前記所定のトラックまたはトラック群を横断するときに発生する横断信号を生成する横断信号生成ステップと、前記複数のレーザー光の光スポットが前記所定のピットまたはピット群を通過するときに発生する通過信号を生成する通過信号生成ステップと、を含むものとするとよい。ここで、「光スポットのずれ」とは、光ディスクに形成される複数の光スポットの位置のずれおよび、前記位置のずれに伴うあらゆるずれを含む。「位置のずれに伴うあらゆるずれ」とは、例えば、光スポットの位置のずれにより発生するそれぞれの光スポットの反射光に基づいて生成されるトラッキングエラー信号や再生信号の時間的なずれなどを示す。
【０００９】
上記発明によれば、光軸調整用光ディスク内の無トラック領域間に形成された所定のトラックあるいはトラック群（以下、孤立トラック領域）を光スポットが横断するときに発生する横断信号（例えばトラッキングエラー信号）は、孤立トラック領域の両側が無トラック領域であってトラックが形成されていないため、光スポットが孤立トラック領域以外のトラックを横断するときに発生する横断信号から区別することができる。よって、このときに発生する横断信号の発生タイミングを明確に把握することができる。したがって、複数のレーザー光が光軸調整用光ディスクに照射されていて、複数の光スポットが孤立トラック領域を横断するときに発生する複数の横断信号同士を、複数の光スポットが他のトラックを横断するときに発生する横断信号に影響されずにその発生タイミングを比較することができる。そして、その比較結果に基づいて、光スポットの径方向位置が一致するように複数のレーザー光の光軸が調整される。
【００１０】
また、光軸調整用光ディスクのトラック内の無ピット領域間に形成された所定のピットあるいはピット群（以下、孤立ピット領域）を光スポットが通過するときに発生する通過信号（例えば再生信号）は、孤立ピット領域の両側が無ピット領域であってピットが形成されていないため、光スポットが同一トラック内であって孤立ピット領域以外のピットを通過するときに発生する通過信号から区別することができる。よって、このときに発生する通過信号の発生タイミングを明確に把握することができる。したがって、複数のレーザー光が光軸調整用光ディスクに照射されていて、複数の光スポットが孤立ピット領域を通過するときに発生する複数の通過信号を、複数の光スポットが他のピットを通過するときに発生する通過信号に影響されずにその発生タイミングを比較することができる。そして、その比較結果に基づいて、光スポットの周方向位置が一致するように複数のレーザー光の光軸が調整される。
【００１１】
このように、本発明は、光ディスクに形成される複数の光スポットのずれを、径方向のずれと周方向のずれに分け、それぞれの方向のずれに対して光スポットの位置が一致するようにレーザー光の光軸を調整することができる。よって、複数のレーザー光の光スポットの位置をより一層精度よく一致させることができる。
【００１２】
上記発明において、上記所定の径方向幅および、上記所定の周方向長さは、光スポットが、孤立トラック領域を横断したときあるいは孤立ピット領域を通過したときに発生する信号が、他のトラックを横断したときあるいは他のピットを通過したときに発生する信号から区別することができる程度の幅および長さである。
【００１３】
また、前記光軸調整ステップは、前記横断信号に基づいて、前記光ディスクの径方向における前記複数の光スポットの位置が一致するように前記複数のレーザー光の光軸を調整する径方向調整ステップと、前記通過信号に基づいて、前記光ディスクの周方向における前記複数の光スポットの位置が一致するように前記複数のレーザー光の光軸を調整する周方向調整ステップと、を含むものとするとよい。これによれば、径方向調整ステップにて複数の光スポットの径方向位置のずれが調整され、周方向調整ステップにて複数の光スポットの周方向位置のずれが調整される。これにより完全に複数の光スポットの位置を一致させることができる。なお、以下において、「径方向」とは、光スポットが形成される光ディスクの径方向を示し、「周方向」とは、光スポットが形成される光ディスクの周方向を示す。
【００１４】
また、前記ずれ検出ステップは、前記信号生成ステップにおいて生成された複数の信号を表示する表示ステップを含むものとしてもよい。これによれば、表示ステップにて、信号生成ステップで生成されたそれぞれの光スポットに由来する信号が表示される。そして、表示されたそれぞれの信号の発生タイミングのずれは、それぞれの光スポットの位置のずれを表す。したがって、光軸調整ステップにおいて、作業者は、表示されたそれぞれの信号の発生タイミングが一致するようレーザー光の光軸を調整することにより、光スポットの位置が一致したかを視覚的に判断することができる。
【００１５】
また、前記ずれ検出ステップは、前記信号生成ステップにおいて前記反射光ごとに生成された複数の信号を比較する信号比較ステップと、前記信号比較ステップにおける比較結果に基づき、複数の光スポットのずれ量を算出するずれ量算出ステップとを含むものとしてもよい。これによれば、信号比較ステップにてそれぞれの光スポットに由来する信号が比較され、この比較結果に基づいて、ずれ量検出ステップにてそれぞれの光スポットのずれ量を検出することができる。
【００１６】
このとき、信号生成ステップは横断信号生成ステップと通過信号生成ステップとを含み、横断信号生成ステップにて横断信号が生成され、通過信号生成ステップにて通過信号が生成されるようにし、前記ずれ検出ステップは、前記横断信号生成ステップにて生成された複数の横断信号を比較する横断信号比較ステップと、前記通過信号生成ステップにて生成された複数の通過信号を比較する通過信号比較ステップと、前記横断信号比較ステップおよび前記通過信号比較ステップにおける比較結果に基づいて前記ずれ量を算出するずれ量算出ステップを含むようにするとよい。こうすることにより、横断信号比較ステップにおける比較結果から光軸調整用光ディスクの径方向における光スポットのずれ量が算出され、通過信号比較ステップにおける比較結果から光軸調整用光ディスクの周方向における光スポットのずれ量が算出される。さらにこの場合、上記ずれ量算出ステップは、前記横断信号比較ステップにおける比較結果に基づき、複数の光スポットの径方向におけるずれ量を算出する径方向ずれ量算出ステップと、前記通過信号比較ステップにおける比較結果に基づき、複数の光スポットの周方向におけるずれ量を算出する周方向ずれ量算出ステップとを含むものとするのがよい。これによれば、複数の光スポットの径方向におけるずれ量および周方向におけるずれ量をそれぞれ独立に調整することによって、効率的にレーザー光の光軸を調整することができる。
【００１７】
また、前記ずれ検出ステップは、前記横断信号生成ステップにて生成した前記横断信号を２値化してパルス信号とする横断信号２値化ステップと、前記通過信号生成ステップにて生成した前記通過信号を２値化してパルス信号とする通過信号２値化ステップと、を含むものとし、前記横断信号比較ステップにおいては、前記横断信号２値化ステップにて生成したパルス信号に基づいて、前記光軸調整用光ディスクの径方向における複数の光スポットの位置のずれを示すパルス信号である横断信号評価用パルス信号を生成し、前記通過信号比較ステップは、前記通過信号２値化ステップにて生成したパルス信号に基づいて、前記光軸調整用光ディスクの周方向における複数の光スポットの位置のずれを示すパルス信号である通過信号評価用パルス信号を生成し、前記ずれ量算出ステップは、前記横断信号評価用パルス信号および前記通過信号評価用パルス信号に基づいて、前記ずれ量を算出するものとするとよい。これによれば、複数の光スポットの径方向および周方向のずれを示す信号がパルス信号として出力されるので、ずれの程度を定量化（数値化）することができる。よって、ずれの程度の量的把握が可能になるとともに、ずれ量を示す数値を０とすることによってレーザー光の光軸が調整されたことを認識することができる。
【００１８】
横断信号評価用パルス信号および／または通過信号評価用パルス信号の生成にあたっては、様々なパターンのパルス信号を複数生成しておいて、その中から横断信号評価用パルス信号あるいは通過信号評価用パルス信号を選択する選択ステップを設けるようにしてもよい。評価用パルス信号は、入力される複数のパルス信号に基づき生成されるものであるので、これらのパルス信号から、複数のパターンのパルス信号を生成することができる。この中から所定の条件を課して、条件に合致するパルス信号を評価用パルス信号とすることにより、正確な評価用パルス信号を取得することができる。
【００１９】
この場合において、前記ずれ検出ステップは、前記光軸調整用光ディスクが回転しているときに前記光軸調整用光ディスク上に形成される光スポットの前記光軸調整用光ディスクに対する線速度を特定する線速度特定ステップと、前記光スポットが前記所定のトラックまたはトラック群から隣接するトラックまたはトラック群までを横断する時間を検出するトラック間横断時間検出ステップと、をさらに含み、前記ずれ量演算ステップは、前記第一評価用パルス信号のパルス幅と、前記第二評価用パルス信号のパルス幅と、前記線速度特定ステップにて特定した線速度と、前記トラック間横断時間検出ステップにて検出したトラック間横断時間と、に基づいて、前記複数の光スポットの前記光ディスク上での位置のずれ量を演算するものとするとよい。これによれば、第一評価用パルス信号および第二評価用パルス信号によって表される光スポットのずれは、時間の単位で表されたずれであることが多いので、本発明のように、上記線速度および上記トラック間横断時間を加味することにより、光スポットの位置のずれを長さの単位で算出することができる。したがって、具体的に光スポットがどの程度ずれているかを把握できる。
【００２０】
また、本発明の他の特徴は、
複数のレーザー光を光ディスクに照射して前記光ディスク上に光スポットを形成するとともに、前記複数のレーザー光が照射された光ディスクからの反射光を受光することにより信号を生成するレーザー光照射装置に対し、前記光ディスク上に形成される複数の光スポットのずれを検出するずれ検出装置において、
前記光ディスク上に形成される第一の光スポットからの反射光に基づく信号が入力されるとともに入力された信号を２値化することにより第一パルス信号を生成する第一パルス信号生成手段と、
前記光ディスク上に形成される第二の光スポットからの反射光に基づく信号が入力されるとともに入力された信号を２値化することにより第二パルス信号を生成する第二パルス信号生成手段と、
前記第一パルス信号および前記第二パルス信号が入力されるとともに、前記第一パルス信号と前記第二パルス信号とが、前記第一の光スポットと前記第二の光スポットとの位置のずれを表す所定の関係であるときにハイレベルまたはローレベルとなり、前記所定の関係以外の関係であるときにローレベルまたはハイレベルとなる評価用パルス信号を生成する評価用パルス信号生成手段と、
前記評価用パルス信号のハイレベル部分のパルス幅またはローレベル部分のパルス幅を測定するパルス幅測定手段と、
を具備するものとしてずれ検出装置を構成したことである。
【００２１】
上記発明によれば、光ディスクに形成される複数の光スポットからの反射光に基づく信号（例えば、トラッキングエラー信号や再生信号）が上記ずれ検出装置に入力されると、これらの信号が第一パルス信号生成手段および第二パルス信号生成手段により２値化されたパルス信号に変換される。変換されたパルス信号は評価用パルス信号生成手段に入力される。このとき、第一および第二パルス信号生成手段により生成された少なくとも二つのパルス信号が時間的にずれて評価用パルス信号生成手段に入力されれば、その時間ずれを示す評価用パルス信号の生成が可能となる。このずれは、入力されるパルス信号が同一波形である場合には、各パルス信号のハイレベル立ち上がり時やローレベル立下り時のタイミングから把握することもできるし、あるいは、入力されるパルス信号が時間により変化するものであれば、その形状比較から把握することもできる。このようにして、評価用パルス信号生成手段により、光スポットの位置ずれに由来するずれ量がハイレベル区間のパルス幅あるいはローレベル区間のパルス幅で表されたパルス信号が生成される。そして、パルス幅測定手段によりずれを表す部分を示すハイレベル区間のパルス幅あるいはローレベル区間のパルス幅を測定し、複数の光スポットのずれ量が測定される。この場合、上述のように評価用パルス信号のパルス幅は複数の光スポットの時間的なずれを表している場合が多い。よって、光ディスクの周方向速度や径方向速度を求め、求めた速度をパルス幅として測定された時間に掛け合わせることにより、複数の光スポットの位置ずれ量を求めることができる。このずれ検出装置は、上述した光軸調整方法での使用に適する。
【００２２】
上記において、「反射光に基づく信号」とは、光スポットが光ディスクに形成されているときに、光ディスクが回転することによって光スポットの反射光の強度などの反射光の特性が変化する信号のことである。この信号は、光スポットが光ディスクのトラックを横断するときに発生するトラッキングエラー信号、光スポットがピットやマークを通過するときに発生する再生信号とすることができる。この場合、上記「反射光に基づく信号」としてトラッキングエラー信号および再生信号の双方を用いるようにすれば、トラッキングエラー信号に基づいて光スポットの径方向のずれが検出され、再生信号に基づいて光スポットの周方向のずれが検出される。
【００２３】
また、本発明の他の特徴は、
複数のレーザー光を光ディスクに照射して前記光ディスク上に光スポットを形成するとともに、前記複数のレーザー光が照射された光ディスクからの反射光を受光することにより信号を生成するレーザー光照射装置に対し、前記光ディスク上に形成される複数の光スポットの位置が一致するように、前記複数のレーザー光の光軸を調整するための光軸調整用光ディスクであって、
少なくとも所定の径方向領域に周方向に沿ってトラックが形成されるとともに、前記トラック内にピットが形成された光軸調整用光ディスクであって、所定のトラックまたはトラック群の径方向両側に、所定の径方向幅にわたり形成された無トラック領域と、
少なくとも一つのトラック内において所定のピットまたはピット群の周方向両側に、所定の周方向長さにわたり形成された無ピット領域と、
が形成された、光軸調整用光ディスクとすることである。
【００２４】
上述した光軸調整用光ディスクは、径方向両側に無トラック領域が形成された孤立トラック領域と、周方向両側に無ピット領域が形成された孤立ピット領域とを備えている。このため、孤立トラック領域を光スポットが横断するときに生じるトラッキングエラー信号は、他のトラックを光スポットが横断するときに生じるトラッキングエラー信号から区別することができる。よって、複数の光スポットのずれを比較する際に、対象となるトラック横断時のトラッキングエラー信号のみを検出することができるため、複数の光スポットの径方向のずれを容易に検出することができる。同様に、孤立ピット領域を光スポットが通過するときに生じる再生信号は、他のピットを光スポットが通過するときに生じる再生信号から区別することができる。よって、複数の光スポットのずれを比較する際に、対象となるピット通過時の再生信号のみを検出することができ、複数の光スポットの周方向のずれを容易に検出することができる。このような光軸調整用光ディスクは、上述の光軸調整方法での使用に適する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
（第一実施形態）
以下、本発明の第一実施形態について説明する。図１は、本実施形態に係るレーザー光照射装置１に信号評価装置３００を接続した様子を示す概略図である。レーザー光照射装置１は、コリニア方式のホログラム記録再生装置のように記録再生用レーザー光、サーボ用レーザー光といった複数のレーザー光を共通の対物レンズを介して光ディスクの同一位置に照射するものである。レーザー光照射装置１は、光ディスクＤＫを回転駆動する回転駆動装置５０と、光ディスクＤＫにレーザー光を照射して同光ディスクＤＫからの反射光を受光する光ピックアップ装置ＰＵＨを備える。
【００２６】
回転駆動装置５０は、スピンドルモータ５０１およびフィードモータ５０３を備えている。スピンドルモータ５０１は、その回転により回転軸５０１ｂを回転させてターンテーブル５０５を回転させる。ターンテーブル５０５には、その上面に光ディスクＤＫが着脱可能に組み付けられるようになっている。また、スピンドルモータ５０１内には、エンコーダ５０１ａが組み込まれており、エンコーダ５０１ａは、スピンドルモータ５０１の回転を検出して同回転を表す回転検出信号をスピンドルモータ制御回路５０２に出力する。スピンドルモータ制御回路５０２は、後述するコントローラ６００によって制御されて、前記エンコーダ５０１ａから供給される回転検出信号を用いて、コントローラ６００が指示する回転速度で回転するようにスピンドルモータ５０１の回転を制御する。これにより、光ディスクＤＫは常に線速度一定で回転するように制御される。この線速度は線速度特定手段としてのコントローラ６００に記憶される。フィードモータ５０３は、その回転によりスクリューロッド５０６およびナット（図示せず）からなるねじ送り機構を介してスピンドルモータ５０１、同スピンドルモータ５０１を固定支持する支持部材５０７およびターンテーブル５０５を光ディスクＤＫの径方向に変位させる。
【００２７】
フィードモータ５０３内にも、エンコーダ５０３ａが組み込まれている。このエンコーダ５０３ａは、前記エンコーダ５０１ａと同様に構成されており、フィードモータ５０３の回転を検出して同回転を表す回転検出信号をフィードモータ制御回路５０４に出力する。フィードモータ制御回路５０４は、コントローラ６００からの半径位置の指示を入力して記憶し、エンコーダ５０３ａから出力される回転検出信号を用いて半径位置を計算し、フィードモータ５０３の回転を制御して、スピンドルモータ５０１、ターンテーブル５０５および支持部材５０７の光ディスクＤＫの径方向の位置、すなわち、光ディスクＤＫの最内周と最外周との範囲内における光スポットの位置を制御する。また、フィードモータ制御回路５０４は、エンコーダ５０３ａから出力される回転検出信号を用いて計算した光スポットの光ディスクＤＫにおける径方向位置を表す情報をコントローラ６００に出力する。
【００２８】
光ピックアップ装置ＰＵＨは、第一レーザー光源４０１と第二レーザー光源４０２とを備える。第一レーザー光源４０１からは、記録再生用レーザー光が出射される。本実施形態において、記録再生用レーザー光は、記録時においては記録すべき情報を含むレーザー光（情報用レーザー光）と、情報を含んでいないレーザー光（参照光）とからなる。また、再生時においては上記参照光のみのレーザー光である。実際にこれらのレーザーを使用してホログラフィック記録を行う場合には、情報用レーザー光と参照光を光ディスク上で干渉させて干渉縞を生成し、この干渉縞を光ディスクに記録させる。再生する場合には、参照光を上記干渉縞が形成された光ディスクＤＫに照射し、干渉縞からの回折によって、記録された情報を再生する。また、第二レーザー光源４０２からは、フォーカスサーボ、トラッキングサーボに用いるためのサーボ用レーザー光が出射される。
【００２９】
光ピックアップ装置ＰＵＨは、対物レンズ４０３を備える。この対物レンズ４０３は、第一レーザー光源４０１または第二レーザー光源４０２からのレーザー光を光ディスクＤＫ上に合焦するために用いられるレンズである。第一レーザー光源４０１と対物レンズ４０３との間には、第一コリメートレンズ４０４、ハーフミラー４０５およびダイクロイックミラー４０６が配置している。第一レーザー光源４０１から出射されるレーザー光は、第一コリメートレンズ４０４、ハーフミラー４０５、ダイクロイックミラー４０６および対物レンズ４０３を経て光ディスクＤＫに入射する。第二レーザー光源４０２と対物レンズ４０３との間には、第二コリメートレンズ４０７、偏光ビームスプリッタ４０８、４分の１波長板４１６およびダイクロイックミラー４０６が配置している。第二レーザー光源４０２から出射されるレーザー光は、第二コリメートレンズ４０７、偏光ビームスプリッタ４０８、４分の１波長板４１６、ダイクロイックミラー４０６および対物レンズ４０３を経て光ディスクに入射する。
【００３０】
光ディスクにて反射し、ダイクロイックミラー４０６側からハーフミラー４０５に向かうレーザー光は、このハーフミラー４０５にて一部反射し、凸レンズ４０９を通過して第一フォトディテクタ４１０に導かれ、この第一フォトディテクタ４１０に受光される。また、ダイクロイックミラー４０６側から４分の１波長板４１６を通過して偏光ビームスプリッタ４０８に向かうレーザー光は、この偏光ビームスプリッタ４０８にて反射し、凸レンズ４１１およびシリンドリカルレンズ４１２を通過して第二フォトディテクタ４１３に導かれ、この第二フォトディテクタ４１３に受光される。
【００３１】
第一フォトディテクタ４１０は、ＣＣＤなどの受光素子からなり、各画素が受光量に比例した検出信号を受光信号として出力する。第二フォトディテクタ４１３は４分割フォトディテクタであり、分割線で区切られた４つの同一正方形状の受光素子からなり、各受光素子が受光量に比例した検出信号を受光信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）として出力する。なお、第一フォトディテクタ４１０の各画素が出力する信号は、後述する第一信号増幅回路１２０において第二フォトディテクタ４１３の４分割の領域と同じ領域ごとに合計されると共に増幅され、受光信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）として出力される。よって第一フォトディテクタ４１０と第二フォトディテクタ４１３とは共に４分割フォトディテクタから受光信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）を出力するものとみなしてよい。
【００３２】
また、光ピックアップ装置ＰＵＨは、トラッキングアクチュエータ４１４およびフォーカスアクチュエータ４１５を備える。トラッキングアクチュエータ４１４は、対物レンズ４０３を光ディスクＤＫ（あるいは後述する光軸調整用光ディスクＤＫ０）の径方向に微動させて、光ディスクＤＫ上に照射されるレーザー光の光スポットを、光ディスクＤＫに形成されているトラック中心に正確に位置させるためのアクチュエータである。また、フォーカスアクチュエータ４１５は、対物レンズ４０３を光ディスクＤＫのレーザー光照射面に対して垂直方向に微動させてレーザー光を光ディスクＤＫの記録面に合焦させるためのアクチュエータである。
【００３３】
なお、光ピックアップ装置ＰＵＨには、上記したもの以外に記録再生用レーザー光を情報用レーザー光と参照光に分岐するための光学部品、情報用レーザー光と参照光との光軸を合わせるための光学部品および第一レーザー光源４０１から出射するレーザー光に情報を持たせて情報用レーザー光とするための空間光変調器(SLM : Spatial Light Modulator)などが配設されているが、本発明には直接関係しないので、図１のピックアップ装置ＰＵＨでは省略してある。
【００３４】
第一フォトディテクタ４１０から出力される受光信号は、第一信号増幅回路１２０に入力される。第一信号増幅回路１２０から出力される増幅信号は、第一トラッキングエラー信号生成回路１２２および第一再生信号生成回路１２４に入力される。また、第二フォトディテクタ４１３から出力される受光信号は、第二信号増幅回路１０２に入力される。第二信号増幅回路１０２から出力される増幅信号は、フォーカスエラー信号生成回路１０４、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０および第二再生信号生成回路１１６に入力される。第一トラッキングエラー信号生成回路１２２、第一再生信号生成回路１２４、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０および第二再生信号生成回路１１６から出力される信号は、信号評価装置３００に入力される。また、フォーカスエラー信号生成回路１０４から出力される信号はフォーカスサーボ回路１０６に入力される。このフォーカスサーボ回路１０６はフォーカスアクチュエータドライブ回路１０８を介してフォーカスアクチュエータ４１５の駆動を制御する。第二トラッキングエラー信号生成回路１１０から出力される信号は、トラッキングサーボ回路１１２にも入力される。このトラッキングサーボ回路１１２は、トラッキングアクチュエータドライブ回路１１４を介してトラッキングアクチュエータ４１４の駆動を制御する。
【００３５】
コントローラ６００は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなるマイクロコンピュータによって構成されており、キーボード、マウスなどからなる入力装置６０４からの指示に従って図５のプログラムを実行することにより光ディスクＤＫに照射するレーザー光を制御し、その制御結果を評価ＣＲＴ（または液晶ディスプレイ）、プリンタなどからなる表示装置６０２に適宜表示するとともに信号評価装置３００に出力する。また、このコントローラ６００には、フィードモータ制御回路５０４、スピンドルモータ制御回路５０２、記録再生用レーザー駆動回路２０２、サーボ用レーザー駆動回路２００が接続されている。記録再生用レーザー駆動回路２０２は、コントローラ６００からの指示により第一レーザー光源４０１からのレーザー光の出射を制御する。サーボ用レーザー駆動回路２００は、コントローラ６００からの指示により第二レーザー光源４０２からのレーザー光の出射を制御する。
【００３６】
上記構成のレーザー光照射装置１において、まず、オートコリメータ（図示省略）を用いて第一レーザー光源４０１から出射されるレーザー光と第二レーザー光源４０２から出射されるレーザー光のうちの少なくとも一つのレーザー光に対して光軸調整を行ってレーザー光の光軸を最適位置に調整する。その後、光軸調整用光ディスクＤＫ０をターンテーブル５０５上に装着し、本実施形態に係る光軸調整により複数のレーザー光の光軸を光ディスク上での光スポットの位置が一致するように調整する。このとき、オートコリメータで光軸調整したレーザー光が一つの場合は、そのレーザー光の光スポットの位置に他方のレーザー光の光スポットの位置が合うように他方のレーザー光の光軸を調整する。また、オートコリメータで両方のレーザー光の光軸を調整したときは、本実施形態に係る光軸調整によりどちらのレーザー光の光軸を調整してもよいが、どちらかのレーザー光の光軸を基準として、両方の光スポットの位置が合うようにもう一方のレーザー光の光軸を調整する。
【００３７】
本実施形態において使用する光軸調整用光ディスクＤＫ０を図２に示す。また、光ディスクＤＫ０のレーザー光照射面に形成されるトラックの形成状態およびトラック内のピットの配置状態を示した模式図を図３および図４に示す。図３および図４において、図示上下方向が光ディスクＤＫ０の径方向、図示左右方向が光ディスクＤＫ０の周方向を示す。図２に示す光軸調整用光ディスクＤＫ０は、通常の光ディスクと同じ大きさであり、通常の光ディスクと同程度の幅のトラック（溝）が周方向に沿って形成されたディスクであるが、以下の特徴を持つ。
【００３８】
・トラックＴの間隔（溝と溝との間隔）がトラックＴ（溝）の幅ＤＴより十分大きな箇所がある（図３、図４における領域Ａ部、以下、この領域を無トラック領域という。また、隣接する無トラック領域に挟まれたトラックまたはトラック群を孤立トラック領域という。）。調整作業を行いやすくするためには、トラックＴ（溝）１本〜数本ごとにこのような無トラック領域があることが望ましい。さらに、図４のようにトラックＴ（溝）１本ごとに無トラック領域が形成されているのが最も望ましい。孤立トラック領域における個々のトラックの幅は、通常の光ディスクの規格と同等とすることができる。無トラック領域の径方向幅は、例えば孤立トラック領域における個々のトラックの幅の３〜１０倍とすることができる。
・トラックＴ（溝）には、ピットＰ（またはマーク）とピットＰ（またはマーク）との間隔、または、ピット群（またはマーク群）とピット群（またはマーク群）との間隔が、ピット（またはマーク）の長さより十分広くなるように形成されている箇所がある（図３、図４における領域Ｂ部、以下、この領域を無ピット領域という。また、隣接する無ピット領域に挟まれたピットまたはピット群を孤立ピット領域という。）。調整作業を行いやすくするためには、ピット群またはマーク群は１個〜数個のピットまたはマークであることが望ましい。孤立ピット領域における個々のピットまたはマークおよびこの間の長さは通常の光ディスクの規格と同等とすることができる。無ピット領域の周方向長さは、例えば孤立ピット領域の個々のピットまたはマークの長さの３〜１０倍とすることができる。
【００３９】
なお、必ずしも必要ではないが、光軸調整用光ディスクＤＫ０に以下のような構造上の特徴を持たせるのがよい。
・トラックＴ（溝）は螺旋状ではなく、１回転すると元の位置に戻るようになっている（螺旋状であるとトラックの間隔が広い箇所でサーボ制御が不安定になる）。
・トラックＴ（溝）は光軸調整用光ディスクＤＫ０上の所定の径方向位置にのみ形成されている（径方向の全域に亘って形成されていても調整を行うことはできるが、特殊なディスクのためトラック数が多いほど光軸調整用光ディスクの製造コストが高くなる）。
【００４０】
したがって、本実施形態にて使用する光軸調整用光ディスクＤＫ０は、孤立トラック領域Ｉｔの径方向両側に、所定の径方向幅ＤＡに渡り形成された無トラック領域Ａと、少なくとも一つのトラックＴ内において孤立ピット領域Ｉｐの周方向両側に、所定の周方向長さＤＢに渡り形成された無ピット領域Ｂとを有する。
【００４１】
作業者は上記した光軸調整用光ディスクＤＫ０を図１に示すレーザー光照射装置１のターンテーブル５０５にセットした後、レーザー光照射装置１に信号評価装置３００を接続する。この信号評価装置３００は、第一再生信号生成回路１２４から入力された再生信号（第一再生信号）および第二再生信号生成回路１１６から入力された再生信号（第二再生信号）に基づいて、光軸調整用光ディスクＤＫ０のトラックに形成されているピットＰまたはマークにレーザー光が照射されたことを示す信号の発生タイミングを検出する。また、信号評価装置３００は、第一トラッキングエラー信号生成回路１２２から入力されたトラッキングエラー信号（第一トラッキングエラー信号）および第二トラッキングエラー信号生成回路１１０から入力されたトラッキングエラー信号（第二トラッキングエラー信号）に基づいて、光軸調整用光ディスクＤＫ０のトラックＴをレーザー光が横断したことを示す信号の発生タイミングを検出する。
【００４２】
本実施形態においては、信号評価装置３００としてデジタルオシロスコープを用いる。したがって、作業者はレーザー光照射装置１の再生信号生成回路（第一再生信号生成回路１２４および第二再生信号生成回路１１６）から出力される再生信号およびトラッキングエラー信号生成回路（第一トラッキングエラー信号生成回路１２２および第二トラッキングエラー信号生成回路１１０）から出力されるトラッキングエラー信号を信号評価装置３００としてのデジタルオシロスコープの所定の端子に入力する。そして、レーザー光照射装置１を起動し、入力装置６０４を操作して、図５に示す信号評価プログラムを実行する。
【００４３】
信号評価プログラムは図５のステップＳ１００にて開始され、ステップＳ１０２にてコントローラ６００はフィードモータ制御回路５０４に制御指令を出力する。この制御指令を受けて、フィードモータ制御回路５０４は第一レーザー光源４０１および第二レーザー光源４０２からのレーザー光が光軸調整用光ディスクＤＫ０の所定の径方向位置に照射されるようにフィードモータ５０３を制御してターンテーブル５０５を移動する。このとき、レーザー光照射装置１からのレーザー光が光軸調整用光ディスクＤＫ０の孤立トラック領域Ｉｔに照射される径方向位置となるようにターンテーブル５０５を移動する。次に、ステップＳ１０４にて、コントローラ６００はスピンドルモータ制御回路５０２に制御指令を出力する。この制御指令を受けて、スピンドルモータ制御回路５０２は光軸調整用光ディスクＤＫ０がターンテーブル５０５上で所定の線速度で回転するようにスピンドルモータ５０１を制御する。このときの所定の線速度はコントローラ６００に記憶されている（線速度特定ステップ）。
【００４４】
次いで、コントローラ６００は、ステップＳ１０６にてサーボ用レーザー駆動回路２００に駆動を開始する指令を出力する。これにより第二レーザー光源４０２からサーボ用レーザー光が出射される（レーザー光照射ステップ）。サーボ用レーザー光は、第二コリメートレンズ４０７を通過することにより平行光とされ、その後偏光ビームスプリッタ４０８に入射してほとんどが透過する。偏光ビームスプリッタ４０８を透過したレーザー光は４分の１波長板４１６を通過してダイクロイックミラー４０６に入射し、このダイクロイックミラー４０６にて反射する。ダイクロイックミラー４０６で反射したレーザー光は対物レンズ４０３を介して光軸調整用光ディスクＤＫ０に照射され、光軸調整用光ディスクＤＫ０上で光スポットを形成する。
【００４５】
光軸調整用光ディスクＤＫ０に照射されたサーボ用レーザー光の反射光は、対物レンズ４０３を通ってダイクロイックミラー４０６に入射し、このダイクロイックミラー４０６にて反射し、さらに４分の１波長板４１６を通過して、偏光ビームスプリッタ４０８に入射する。ダイクロイックミラー４０６側から偏光ビームスプリッタ４０８に入射した反射光は４分の１波長板４１６を二度通過したことにより偏光方向が９０度変わっているため、この偏光ビームスプリッタ４０８で反射し、反射した反射光が凸レンズ４１１、シリンドリカルレンズ４１２を経て第二フォトディテクタ４１３に受光される。
【００４６】
第二フォトディテクタ４１３は上述したように４分割フォトディテクタであり、第二フォトディテクタ４１３の各受光素子は受光量に比例した電気信号Ａ２，Ｂ２，Ｃ２，Ｄ２をそれぞれ受光信号として第二信号増幅回路１０２に出力する。第二信号増幅回路１０２は、第二フォトディテクタ４１３から出力されたサーボ用レーザー光の反射光の受光信号Ａ２〜Ｄ２をそれぞれ増幅して、フォーカスエラー信号生成回路１０４、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０、第二再生信号生成回路１１６に出力する。
【００４７】
フォーカスエラー信号生成回路１０４は増幅された受光信号Ａ２〜Ｄ２を用いて非点収差法によりフォーカスエラー信号（（Ａ２＋Ｂ２）−（Ｃ２＋Ｄ２））を生成し、生成したフォーカスエラー信号をフォーカスサーボ回路１０６に出力する。第二トラッキングエラー信号生成回路１１０は増幅された受光信号Ａ２〜Ｄ２を用いてプッシュプル法の場合の演算によりトラッキングエラー信号（（Ａ２＋Ｃ２）−（Ｂ２＋Ｄ２））を生成し（信号生成ステップ、横断信号生成ステップ）、生成したトラッキングエラー信号をトラッキングサーボ回路１１２に出力する。第二再生信号生成回路１１６は増幅された受光信号Ａ２〜Ｄ２を総計する演算により再生信号（ＳＵＭ信号：Ａ２＋Ｂ２＋Ｃ２＋Ｄ２）を生成し（信号生成ステップ、通過信号生成ステップ）、生成した再生信号を信号評価装置３００に出力する。
【００４８】
続いて、コントローラ６００は、ステップＳ１０８にて記録再生用レーザー駆動回路２０２に駆動を開始する指令を出力する。これにより第一レーザー光源４０１から記録再生用レーザー光が出射される（レーザー光照射ステップ）。記録再生用レーザー光は、第一コリメートレンズ４０４を通過することにより平行光とされ、その後ハーフミラー４０５に入射して一部透過する。ハーフミラー４０５を一部透過したレーザー光はダイクロイックミラー４０６に入射し、このダイクロイックミラー４０６を透過する。ダイクロイックミラー４０６を透過したレーザー光は対物レンズ４０３を介して光軸調整用光ディスクＤＫ０に照射され、光軸調整用光ディスクＤＫ０上で光スポットを形成する。
【００４９】
光軸調整用光ディスクＤＫ０に照射された記録再生用レーザー光の反射光は、対物レンズ４０３を通ってダイクロイックミラー４０６に入射し、このダイクロイックミラー４０６を透過する。ダイクロイックミラー４０６を透過した反射光はさらにハーフミラー４０５に入射し、このハーフミラー４０５にて一部反射する。ハーフミラー４０５にて一部反射した反射光は、凸レンズ４０９を経て第一フォトディテクタ４１０に受光される。
【００５０】
第一フォトディテクタ４１０はＣＣＤなどの受光素子からなるフォトディテクタであるが、上述したように第一信号増幅回路１２０にて第一フォトディテクタ４１０の４分割領域ごとに各画素が出力する信号が合計され、増幅されて受光信号Ａ１，Ｂ１，Ｃ１，Ｄ１となって第一トラッキングエラー信号生成回路１２２および第一再生信号生成回路１２４に出力する。
【００５１】
第一トラッキングエラー信号生成回路１２２は増幅された受光信号Ａ１〜Ｄ１を用いてプッシュプル法の場合の演算によりトラッキングエラー信号（（Ａ１＋Ｃ１）−（Ｂ１＋Ｄ１））を生成し（信号生成ステップ、横断信号生成ステップ）、生成したトラッキングエラー信号を信号評価装置３００としてのデジタルオシロスコープに出力する。第一再生信号生成回路１２４は増幅された受光信号Ａ１〜Ｄ１を総計する演算により再生信号（ＳＵＭ信号：Ａ１＋Ｂ１＋Ｃ１＋Ｄ１）を生成し（信号生成ステップ、通過信号生成ステップ）、生成した再生信号を信号評価装置３００に出力する。
【００５２】
次に、コントローラ６００は、ステップＳ１１０にてフォーカスサーボを開始してフォーカス引き込みを行う。このステップＳ１１０によって、フォーカスサーボ回路１０６がフォーカスエラー信号生成回路１０４から入力されたフォーカスエラー信号に基づいてフォーカスアクチュエータドライブ回路１０８にフォーカスアクチュエータ４１５の制御信号を出力する。このため、フォーカスアクチュエータドライブ回路１０８は、記録再生用レーザー光およびサーボ用レーザー光が光軸調整用光ディスクＤＫ０の記録面上で合焦するようにフォーカスアクチュエータ４１５を駆動制御して対物レンズ４０３のディスクＤＫ０に垂直な方向についての位置制御が行われる。
【００５３】
続いて、コントローラ６００は、ステップＳ１１２にて、表示装置６０２に調整方向の入力要求を表示させる。この入力要求は、実行しようとする光軸調整が、光ディスクＤＫ０の径方向における光軸調整であるか、周方向における光軸調整であるか、あるいは調整を終了するかを作業者の選択に委ねるべく、「径方向」、「周方向」、「終了」なる用語あるいは図柄を表示装置に表示させて、作業者からの指示を仰ぐものである。作業者は、表示装置６０２に表示された入力要求に対し、光軸調整を光軸調整用光ディスクＤＫ０の径方向について行うか、周方向について行うか、終了するかを選択し、入力装置６０４を通じて入力する。次に、コントローラ６００は、ステップＳ１１４にて、ステップＳ１１２における入力要求によって作業者から入力される調整方向が「径方向」であるかを判定する。「径方向」である場合はステップＳ１１６に進み、「径方向」でない場合はステップＳ１２０に進む。
【００５４】
ステップＳ１１４における判定結果がＹｅｓ（作業者が径方向の光軸調整を選択）であるとしてステップＳ１１６に進んだ場合、このステップＳ１１６にて、コントローラ６００は、信号評価装置３００としてのデジタルオシロスコープに第一トラッキングエラー信号生成回路１２２にて生成されたトラッキングエラー信号および第二トラッキングエラー信号生成回路１１０にて生成されたトラッキングエラー信号を表示させる。このとき、トラッキングサーボ制御は行われていない状態であるので、記録再生用レーザー光およびサーボ用レーザー光は光軸調整用光ディスクＤＫ０の偏心の影響を受け、光軸調整用光ディスクＤＫ０に対して径方向に相対変位する。なお、上述したように、両レーザー光の光スポットは、光軸調整用光ディスクＤＫ０に形成された孤立トラック領域Ｉｔを通過するように径方向位置がフィードモータ制御回路５０４により調整されている。
【００５５】
このとき、光スポットが孤立トラック領域Ｉｔを横切るときに、第一トラッキングエラー信号生成回路１２２にて生成された記録再生用レーザー光の光スポットのトラッキングエラー信号ＴＥ１、および、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０にて生成したサーボ用レーザー光の光スポットのトラッキングエラー信号ＴＥ２が発生する。また、両光スポットの位置が光軸調整用光ディスクＤＫ０の径方向にずれている場合、これらのトラッキングエラー信号ＴＥ１とＴＥ２の発生タイミングにもずれを生じる。両トラッキングエラー信号ＴＥ１，ＴＥ２の発生タイミングを一致させることができれば、両レーザー光の径方向における位置ずれを修正することができる。
【００５６】
この場合、光ディスクに形成されたトラックの間隔が狭いと、トラッキングエラー信号が連続的に発生してしまい、どのトラッキングエラー信号波形が所定のトラックを横切ったときの波形であるか判別が難しい。したがって、従来の光ディスクを用いた場合には、トラッキングエラー信号の判別をすることができなかった。
【００５７】
これに対し、本実施形態の光軸調整用光ディスクＤＫ０には孤立トラック領域Ｉｔが設けられており、この孤立トラック領域Ｉｔの径方向両側は無トラック領域となっている。このため、光スポットが孤立トラック領域Ｉｔを横断するときに発生するトラッキングエラー信号は、他のトラッキングエラー信号から区別することができる。また、図３のように孤立トラック領域Ｉｔが複数本のトラックで形成されている場合であっても、孤立トラック領域Ｉｔの径方向両側が無トラック領域になっていれば、複数本のトラックにより形成される孤立トラック領域Ｉｔを光スポットが横断するときに発生するトラッキングエラー信号は、他のトラッキングエラー信号から区別することができ、孤立トラック領域Ｉｔにおけるそれぞれのトラックに相当するトラッキングエラー信号も信号の数をカウントすることにより判別することができる。
【００５８】
よって、信号評価装置３００としてのデジタルオシロスコープには、記録再生用レーザー光の光スポットが孤立トラック領域Ｉｔを横断するときに発生するトラッキングエラー信号ＴＥ１と、サーボ用レーザー光の光スポットが上記孤立トラック領域と同一の孤立トラック領域Ｉｔを横断するときに発生するトラッキングエラー信号ＴＥ２のみを表示することができる（表示ステップ、ずれ検出ステップ）。光スポットが径方向にずれている場合は、両トラッキングエラー信号の発生タイミングがずれるため、両トラッキングエラー信号がずれて表示される。よって、トラッキングエラー信号の発生タイミングに基づき、この発生タイミングを一致させることによって、光スポットの径方向位置を一致させることが可能となる。
【００５９】
特に、図４に示すように、光軸調整用光ディスクＤＫ０上に孤立トラック領域Ｉｔが一本のトラックで形成されている場合には、光スポットが一方の無トラック領域（領域Ａ部）から孤立トラックＩｔを横断して他方の無トラック領域（領域Ａ部）に入るときに、図６に示すように、記録再生用レーザー光の光スポットの一つのトラッキングエラー信号ＴＥ１とサーボ用レーザー光の光スポットの一つのトラッキングエラー信号ＴＥ２とがデジタルオシロスコープに映し出される。よって、両トラッキングエラー信号ＴＥ１，ＴＥ２を比較する上で便宜である。
【００６０】
デジタルオシロスコープに映し出されたトラッキングエラー信号が図６の状態である場合には、作業者は、第一レーザー光源４０１から出射されるレーザー光と第二レーザー光源４０２から出射されるレーザー光とのどちらか一方のレーザー光の光軸を調整して、両トラッキングエラー信号ＴＥ１，ＴＥ２のゼロクロス点が一致するようにする（光軸調整ステップ、径方向調整ステップ）。この調整作業によって、記録再生用レーザー光とサーボ用レーザー光の光スポットの径方向位置を一致させることができる。なお、後述する周方向の調整によって、両光スポットの径方向位置が再びずれることもあるが、何度も調整することによって、両スポットの径方向位置をほぼ完全に一致させることができる。また、上記調整においては、図６に示すように、トラッキングエラー信号波形のゼロクロス点に縦方向のカーソルＣｕｒを合わせて調整を行うと、ずれの度合いがわかり、調整を行いやすい。
【００６１】
コントローラ６００は、ステップＳ１１６にてデジタルオシロスコープに第一トラッキングエラー信号ＴＥ１および第二トラッキングエラー信号ＴＥ２を表示させた後、ステップＳ１１８にて作業者による光軸調整が終了した旨の入力操作があったかを判定する。作業者は、両光スポットの径方向位置を一致させるための光軸調整が終了した場合、光軸調整が終了した旨の入力操作を入力装置６０４にて行う。すると、コントローラ６００はステップＳ１１２に戻り、表示装置６０２に調整方向の入力要求を再度表示する。光軸調整用光ディスクＤＫ０の径方向における光軸調整は上記のように一旦終了したので、作業者は、次に、光軸調整用光ディスクＤＫ０の周方向に光スポットを一致させるための光軸調整を行うため、調整を行う方向が「周方向」である旨を入力装置６０４を介してコントローラ６００に入力する。すると、次のステップＳ１１４における判定はＮｏとなり、ステップＳ１２０に進み、このステップＳ１２０にて、調整を「終了」する旨の入力があったかを判定する。「周方向」の入力を行った場合にはこのステップにおける判定はＮｏとなり、ステップＳ１２２に進む。
【００６２】
ステップＳ１２２においては、コントローラ６００はトラッキングサーボ制御を開始する指令を出力する。これによりトラッキングサーボ回路１１２は、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０にて生成された第二トラッキングエラー信号に基づいてトラッキングアクチュエータドライブ回路１１４を介してトラッキングアクチュエータ４１４を駆動制御する。このため、サーボ用レーザー光の光スポットが、光軸調整用光ディスクＤＫ０に形成されたトラックＴを辿るように対物レンズ４０３が微動する。このとき、記録再生用レーザー光の光スポットの径方向位置がサーボ用レーザー光の光スポットの径方向位置に一致している場合は、記録再生用レーザー光の光スポットもサーボ用レーザー光の光スポットとともに、トラックＴを辿る。
【００６３】
次に、コントローラ６００は、ステップＳ１２４にて、デジタルオシロスコープに第一再生信号生成回路１２４にて生成された再生信号および第二再生信号生成回路１１６にて生成された再生信号を表示させる（表示ステップ、ずれ検出ステップ）。この場合において、ステップＳ１２２にてトラッキングサーボ制御が行われているので、記録再生用レーザー光およびサーボ用レーザー光はトラックを辿るように光ディスクＤＫ０上に照射される。
【００６４】
光スポットが孤立ピット領域Ｉｐを通過するときには、第一再生信号生成回路１２４にて第一再生信号ＲＳ１が、第二再生信号生成回路１１６にて第二再生信号ＲＳ２が生成される。また、記録再生用レーザー光の光スポットの位置とサーボ用レーザー光の光スポットの位置が光軸調整用光ディスクＤＫ０の周方向にずれている場合、上記第一再生信号ＲＳ１と第二再生信号ＲＳ２の発生タイミングにもずれを生じる。両再生信号ＲＳ１，ＲＳ２の発生タイミングを一致させることができれば、両レーザー光の周方向における位置ずれを修正することができる。
【００６５】
この場合、光ディスクのトラックに形成されたピットの間隔が狭いと、再生信号が連続的に発生してしまい、どの再生信号波形が所定のピットを通過したときの波形であるか判別が難しい。したがって、従来の光ディスクを用いた場合には、再生信号の判別をすることができなかった。
【００６６】
これに対し、本実施形態の光軸調整用光ディスクＤＫ０には孤立ピット領域Ｉｐが設けられており、この孤立ピット領域Ｉｐの周方向両側は無ピット領域となっている。このため、光スポットが孤立ピット領域Ｉｐを通過するときに発生する再生信号は、他の再生信号から区別することができる。また、図３のように孤立ピット領域Ｉｐが複数個のピットで形成されている場合であっても、孤立ピット領域Ｉｐの周方向両側が無ピット領域になっていれば、複数個のピットにより形成される孤立ピット領域Ｉｐを光スポットが通過するときに発生する再生信号は、他の再生信号から区別することができ、孤立ピット領域Ｉｐにおけるそれぞれのピットに相当する再生信号も信号の数をカウントすることにより判別することができる。
【００６７】
よって、デジタルオシロスコープには、記録再生用レーザー光の光スポットが孤立ピット領域Ｉｐを通過するときに発生する再生信号ＲＳ１と、サーボ用レーザー光の光スポットが上記孤立ピット領域と同一の孤立ピット領域Ｉｐを通過するときに発生する再生信号ＲＳ２のみを表示することができる（表示ステップ、ずれ検出ステップ）。光スポットが周方向にずれている場合は、両再生信号の発生タイミングがずれるため、両再生信号がずれて表示される。よって、再生信号の発生タイミングに基づき、この発生タイミングを一致させることによって、光スポットの周方向位置を一致させることが可能となる。
【００６８】
特に、図４に示すように、光軸調整用光ディスクＤＫ上に孤立ピット領域Ｉｐが一個のピットで形成されている場合には、光スポットが一方の無ピット領域（領域Ｂ部）から孤立ピットＩｐを通過して他方の無ピット領域（領域Ｂ部）に入るときに、図７に示すように、記録再生用レーザー光の光スポットの一つの再生信号ＲＳ１とサーボ用レーザー光の光スポットの一つの再生信号ＲＳ２とがデジタルオシロスコープに映し出される。よって、両再生信号ＲＳ１，ＲＳ２を比較する上で便宜である。
【００６９】
デジタルオシロスコープに映し出されたトラッキングエラー信号が図７の状態である場合には、作業者は、第一レーザー光源４０１から出射されるレーザー光と第二レーザー光源４０２から出射されるレーザー光とのどちらか一方のレーザー光の光軸を調整して、両再生信号ＲＳ１、ＲＳ２の図に示すピーク形状のうちの図示左半部分における中間ラインと交錯する点が一致するようにする（光軸調整ステップ、周方向調整ステップ）。ここで、中間ラインとは、再生信号のピーク値の二分の一の値を示すラインであり、再生信号のピーク値が異なれば異なる値を採る。この調整作業によって、記録再生用レーザー光とサーボ用レーザー光の光スポットの周方向位置を一致させることができる。なお、上記調整においては、図７のように再生信号の中間ラインと波形とが交錯する点に縦方向のカーソルＣｕｒを合わせて調整を行うと、ずれの度合いがわかり、調整を行いやすい。
【００７０】
コントローラ６００は、ステップＳ１２４にてデジタルオシロスコープに第一再生信号ＲＳ１および第二再生信号ＲＳ２を表示させた後、ステップＳ１２６にて作業者による光軸調整が終了した旨の入力操作があったかを判定する。作業者は、両光スポットの周方向位置を一致させるための光軸調整が終了した場合、光軸調整が終了した旨の入力操作を行う。すると、コントローラ６００はステップＳ１２８に進み、このステップＳ１２８にて、トラッキングサーボ制御を停止する。その後ステップＳ１１２に戻る。
【００７１】
そして、このステップＳ１１２にて、コントローラ６００は表示装置６０２に調整方向の入力要求を表示する。再度光スポットの径方向位置を一致させる調整作業を行う場合には、作業者は表示装置６０２に表示された入力要求に対して「径方向」についての光軸調整を行う旨の入力を行う。すると、デジタルオシロスコープにトラッキングエラー信号が映し出される（Ｓ１１６）。作業者はこのトラッキングエラー信号に基づいて、再度径方向における光スポットの位置が一致するように調整を行う。一方、周方向についての光軸調整を再度行う場合には、作業者は「周方向」についての光軸調整を行う旨の入力を行う。すると、デジタルオシロスコープに再生信号が映し出される（Ｓ１２４）。作業者はこの再生信号に基づいて、再度周方向における光スポットの位置が一致するように調整を行う。
【００７２】
また、全ての調整を終了するときは、表示装置６０２に表示された入力要求に対して調整を「終了」する旨の入力を行う。すると、ステップＳ１２０における判定がＹｅｓとなり、ステップＳ１３０に進む。このステップＳ１３０にて、コントローラ６００は第一レーザー光源４０１および第二レーザー光源４０２からのレーザーの出射を停止し、このプログラムの実行により作動した諸々の回路および装置を停止し、ステップＳ１３２にてこのプログラムの実行が終了される。
【００７３】
以上のように、本例によれば、所定のトラックまたはトラック群（孤立トラック領域Ｉｔ）の径方向両側に、所定の径方向幅にわたり形成された無トラック領域（領域Ａ部）と、少なくとも一つのトラック内において所定のピットまたはピット群（孤立ピット領域Ｉｐ）の周方向両側に、所定の周方向長さにわたり形成された無ピット領域（領域Ｂ部）とを有する光ディスクＤＫ０を回転させながら、複数のレーザー光を孤立トラック領域または孤立ピット領域を通過するようにレーザー光を照射し、光ディスクＤＫ０からの反射光を複数のレーザー光毎に検出して、この反射光に基づいてトラッキングエラー信号および再生信号を生成し、生成した各光スポットのトラッキングエラー信号および再生信号の発生タイミングに基づいて、光ディスクＤＫ０上に形成される複数の光スポットの位置ずれを検出し、検出された複数の光スポットの位置ずれに基づいて、前記複数のレーザー光の光軸を調整している。孤立トラック領域を光スポットが横断するときに発生するトラッキングエラー信号や、孤立ピット領域を光スポットが通過するときに発生する再生信号は、他の信号から区別することができるため、複数の光スポットに由来する信号が明確に把握できる。よって、これらの信号の比較結果に基づいて、光スポットの径方向位置が一致するように複数のレーザー光の光軸を調整することができる。
【００７４】
また、光スポットの位置ずれは、複数の光スポットに由来する信号をデジタルオシロスコープにより表示させ、作業者がこのデジタルオシロスコープに映し出された波形に基づいて、光軸調整を行っている。このため、作業者は、デジタルオシロスコープに映し出された波形を見ながら光軸を調整することにより、光軸調整がなされたかを視覚的に判断することができる。
【００７５】
なお、本実施形態は、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では径方向の光軸調整にトラッキングエラー信号を用いたが、再生信号（ＳＵＭ信号）を用いてもよい。この場合は、光スポットが一つのトラックを横断した際、２つの山がある波形が生じるので、２つの山の谷間の最下点の箇所が一致するようにレーザー光の光軸調整を行えばよい。
【００７６】
（第二実施形態）
次に、本発明の第二実施形態について説明するが、本実施形態は、信号評価装置３００以外の構成は上記第一実施形態と同一である。本実施形態において用いる信号評価装置３００は、２つの光スポットのずれ量を数値で表示するものであり、いわば、光ディスク上に形成される複数の光のスポットの位置のずれを検出するずれ検出装置である。したがって、上記第一実施形態で用いたデジタルオシロスコープのような機器の操作は必要ないため、調整作業をより効率よく行うことができる。なお、本実施形態に係る信号評価装置３００を用いる場合には、光軸調整用光ディスクＤＫ０は、図４に示すように、トラックが所定の半径位置のみに形成され、全てのトラック間隔が広くなっており、ピット群またはマーク群においてピットまたはマークが１個であるものを用いるのがよい。さらに、光ディスクＤＫ０のトラック内のピットまたはマークの大きさが信号長の単位であるＴの整数倍となる１つの大きさに統一されていれば、光ディスクＤＫ０を規格の線速度で回転させたときに、後述する２値化回路にて再生信号を２値化する場合におけるスライスレベルの設定が容易になされるので、より好ましい。
【００７７】
本実施形態にて使用する信号評価装置３００の回路構成を図８に示す。図に示すように、本例の信号評価装置３００は、４つの２値化回路３０２，３０４，３０６，３０８と、トラック間横断時間検出回路３２０と、２つの切り替え回路３１０，３１２と、パルス幅測定装置３１８を有する。
【００７８】
４つの２値化回路のうち、第一２値化回路３０２は第一再生信号生成回路１２４にて生成した再生信号が入力され、第二２値化回路３０４は第二再生信号生成回路１１６にて生成した再生信号が入力され、第三２値化回路３０６は第一トラッキングエラー信号生成回路１２２にて生成したトラッキングエラー信号が入力され、第四２値化回路３０８は第二トラッキングエラー信号生成回路１１０にて生成したトラッキングエラー信号が入力される。
【００７９】
第一２値化回路３０２および第二２値化回路３０４は、所定のスライスレベル（閾値）を基準として再生信号をハイレベルとローレベルのパルス信号に変換する回路である。第三２値化回路３０６および第四２値化回路３０８は、所定のスライスレベル（閾値）または所定の信号の検出によりトラッキングエラー信号をハイレベルとローレベルのパルス信号に変換する回路である。なお、光ディスクＤＫ０のトラックに形成されたピットまたはマークに相当する部分が信号長の単位であるＴの整数倍となる１つの長さに統一されている場合には、光ディスクＤＫ０を規格の線速度で回転させて再生信号を発生させ、２値化回路３０２，３０４が出力するパルス信号を後述するパルス幅測定装置３１８に入力してパルス幅を測定したときのパルス幅が所定の値または所望の値になるように、２値化回路３０２，３０４のスライスレベルが設定される。
【００８０】
図９は、第三２値化回路３０６および第四２値化回路３０８の回路構成を示す図である。図に示すように、第三２値化回路３０６および第四２値化回路３０８は、ゼロクロス点検出回路１０と、トラック横断終了検出回路１２と、マスク信号発生回路１６と、２値化信号発生回路１４とを有する。
【００８１】
ゼロクロス点検出回路１０は、トラッキングエラー信号の波形を示す図１１に示すように、第一および第二トラッキングエラー信号生成回路１１０，１２２から入力されるトラッキングエラー信号ＴＥが所定の正の波高値Ａよりも大きくなった後にゼロ点とクロスする点（ゼロクロス点）を検出し、ゼロクロス検出信号を２値化信号発生回路１４に出力する。ゼロクロス検出信号は、光スポットがトラックの径方向中央部に到達したときに出力される。トラック横断終了検出回路１２は、トラッキングエラー信号ＴＥが所定の負の波高値Ｂ１よりも小さくなった後に、ゼロ点よりもやや低い値に設定したレベル値Ｂ２とクロスする点を検出し、トラック横断検出信号を２値化信号発生回路１４に出力する。トラック横断検出信号は、光スポットがトラックの横断をほぼ完了したときに出力される。
【００８２】
マスク信号発生回路１６は、トラッキングエラー信号ＴＥが所定の負の波高値Ｃよりも小さくなった後、ゼロ点にクロスしたときに、所定のパルス幅の信号（マスク信号）をゼロクロス点検出回路１０およびトラック横断終了検出回路１２に出力する。マスク信号発生回路１６からマスク信号がゼロクロス点検出回路１０およびトラック横断終了検出回路１２に出力されている間は、ゼロクロス点検出回路１０およびトラック横断終了検出回路１２は検出信号（ゼロクロス点検出信号、トラック横断検出信号）を２値化信号発生回路１４に出力することはない。このマスク信号発生回路１６は、光軸調整用光ディスクＤＫ０に照射された光スポットがトラックを径方向外方から内方に横断する場合と径方向内方から外方に横断する場合との２通りあり、それぞれにおいて発生する信号の形状が異なるため、最初に正レベルに変化するトラッキングエラー信号のみを２値化処理の対象とするための回路である。つまり、図１１に示す波形のトラッキングエラー信号である場合は、マスク信号は、ゼロクロス点検出信号およびトラック横断検出信号が出力された後に出力されるため、ゼロクロス点およびトラック横断の検出をすることができるが、図１２に示す波形のトラッキングエラー信号が出力された場合（つまり、図１１に示すトラッキングエラー信号が生成される方向とは逆の方向から光スポットがトラックを横断する場合）には、最初にマスク信号が出力されるため、ゼロクロス点検出信号およびトラック横断検出信号は出力されない。なお、２値化信号発生回路３０２，３０４，３０６，３０８はフリップフロップ回路である。第一２値化回路３０２および第二２値化回路３０４は、再生信号の値が所定のスライスレベル以下であるときにローレベルとなり、所定のスライスレベルを越えたときにハイレベルとなるパルス信号を出力する。第三２値化回路３０６および第四２値化回路３０８は、ゼロクロス点検出回路から信号が入力されたときにハイレベルとなり、トラック横断終了検出回路から信号が入力されたときのローレベルとなるパルス信号を出力する。
【００８３】
第一信号切り替え回路３１０はコントローラ６００からの指示により作動して、第一２値化回路３０２から入力される２値化された再生信号（第一再生パルス信号）と第三２値化回路３０６から入力される２値化されたトラッキングエラー信号（第一トラッキングエラーパルス信号）とを選択的に第一評価用信号生成回路３１４および第二評価用信号生成回路３１６に出力する。第二信号切り替え回路３１２はコントローラ６００からの指示により作動して、第二２値化回路３０４から入力される２値化された再生信号（第二再生パルス信号）と第四２値化回路３０８から入力される２値化されたトラッキングエラー信号（第二トラッキングエラーパルス信号）とを選択的に第一評価用信号生成回路３１４および第二評価用信号生成回路３１６に出力する。
【００８４】
第一評価用信号生成回路３１４はフリップフロップ回路であり、入力される第一再生パルス信号または第一トラッキングエラーパルス信号がハイレベルとなったときにハイレベルに変化し、入力される第二再生パルス信号または第二トラッキングエラーパルス信号がハイレベルになったときにローレベルに変化するパルス信号（第一評価用パルス信号）を生成し、生成した第一評価用パルス信号をパルス幅測定装置３１８に出力する。第二評価用信号生成回路３１６もフリップフロップ回路であり、入力される第一再生パルス信号または第一トラッキングエラーパルス信号がハイレベルとなったときにローレベルに変化し、入力される第二再生パルス信号または第二トラッキングエラーパルス信号がハイレベルになったときにハイレベルに変化するパルス信号（第二評価用パルス信号）を生成し、生成した第二評価用パルス信号をパルス幅測定装置３１８に出力する。
【００８５】
パルス幅測定装置３１８は例えばタイムインターバルアナライザのように、入力された第一評価用パルス信号および第二評価用パルス信号のパルス幅を測定し、その平均値および、標準偏差などのばらつきを表す数値を出力する。パルス幅測定装置３１８はコントローラ６００からの指示に従い、入力される２つの評価用信号のうちの一つの評価用信号のパルス幅を測定し、測定結果（パルス幅の平均値）をコントローラ６００に出力する。
【００８６】
図１０は、トラック間横断時間検出回路３２０の回路構成を示す図である。図に示すように、トラック間横断時間検出回路３２０は、ゼロクロス点検出回路２０、マスク信号発生回路２６、時間計測回路２２、平均値計算回路２４を有する。ゼロクロス点検出回路２０は、上記説明したゼロクロス点検出回路１０と同一の機能を有する。マスク信号発生回路２６も、上記説明したマスク信号発生回路１６と同一の機能を有する。時間計測回路２２は、基準クロックを内蔵する回路であり、コントローラ６００の指示により作動を開始する。時間計測回路２２はゼロクロス点検出回路２０からのゼロクロス点検出信号が入力されると時間計測を開始し、次のゼロクロス点検出信号が入力されると時間計測を終了し、計測した時間を平均値計算回路に出力する。これにより、光スポットが一つのトラックまたはトラック群（孤立トラック領域）を横断したときから、隣接する次のトラックまたはトラック群（孤立トラック領域）を横断するときまでの時間が計測される。ここで、本実施形態においては、孤立トラック領域Ｉｔの径方向両側には無トラック領域が形成されているため、時間計測回路２２は、無トラック領域を光スポットが横断する時間を検出することになる。
【００８７】
時間計測回路２２による時間計測は繰り返し行われ、平均値計算回路２４から停止信号が入力されると時間計測を停止する。平均値計算回路２４は、コントローラ６００の指示により作動を開始する。平均値計算回路２４はメモリを内蔵しており、作動開始後、時間計測回路２２から入力された時間データをこのメモリに記憶する。記憶した時間データが所定数になるとメモリによる記憶を停止し、停止信号を時間計測回路２２に出力するとともに、記憶された時間データの平均値を計算して、計算結果をコントローラ６００に出力する。そして、記憶したデータを全てリセットし、作動を停止する。
【００８８】
本実施形態で用いる信号評価装置３００は上記の構成である。レーザー光照射装置の構成は、上記第一実施形態にて説明したレーザー光照射装置と同一であるので、本実施形態でも図１のレーザー光照射装置１を援用し、その具体的説明は省略する。
【００８９】
本実施形態においては、作業者は、上記構成の信号評価装置３００をレーザー光照射装置１に接続する。接続構成は、上記第一実施形態と同様である。そして、レーザー光照射装置１を起動し、入力装置６０４を操作して、図１３〜図１５に示す信号評価プログラムを実行する。
【００９０】
本実施形態の信号評価プログラムは図１３のステップＳ２００にて開始され、ステップＳ２０２にてコントローラ６００はフィードモータ制御回路５０４に作動を開始する指令を出力する。これによりフィードモータ制御回路５０４はフィードモータ５０３の駆動を制御して、第一レーザー光源４０１および第二レーザー光源４０２からのレーザー光が光軸調整用光ディスクＤＫ０の所定の径方向位置に照射されるようにターンテーブル５０５の位置が調整される。次に、ステップＳ２０４にて、コントローラ６００はスピンドルモータ制御回路５０２に作動を開始する指令を出力する。これによりスピンドルモータ制御回路５０２がスピンドルモータ５０１の駆動を制御して、光軸調整用光ディスクＤＫ０がターンテーブル５０５上で所定の線速度で回転するようにされる。この線速度は予め決められている規格値とされる。また、この線速度はコントローラ６００に記憶されている（線速度特定ステップ）。
【００９１】
次いで、ステップＳ２０６にてコントローラ６００はサーボ用レーザー駆動回路２００に駆動を開始する指令を出力する。これにより第二レーザー光源４０２からサーボ用レーザー光が出射される（レーザー光照射ステップ）。続いて、ステップＳ２０８にて記録再生用レーザー駆動回路２０２に駆動を開始する指令を出力する。これにより第一レーザー光源４０１から記録再生用レーザー光が出射される（レーザー光照射ステップ）。ステップＳ２０６およびＳ２０８の処理により、サーボ用レーザー光および記録再生用レーザー光は所定の経路を辿って光軸調整用光ディスクＤＫ０に入射し、光軸調整用光ディスクＤＫ０上に光スポットが形成される。また、光軸調整用光ディスクＤＫ０からの反射光が第一フォトディテクタ４１０および第二フォトディテクタ４１３に受光され、この受光信号を基に、フォーカスエラー信号生成回路１０４にてフォーカスエラー信号が、第一トラッキングエラー信号生成回路１２２にて第一トラッキングエラー信号（横断信号）が、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０にて第二トラッキングエラー信号（横断信号）が、第一再生信号生成回路１２４にて第一再生信号（通過信号）が、第二再生信号生成回路１１６にて第二再生信号（通過信号）が、それぞれ生成される（信号生成ステップ）。
【００９２】
第一再生信号生成回路１２４にて生成された第一再生信号は、信号評価装置３００の第一２値化回路３０２に入力され、この第一２値化回路３０２にて所定のスライスレベルで２値化されたパルス信号に変換され（通過信号２値化ステップ）、第一再生パルス信号として第一信号切り替え回路３１０に出力される。第二再生信号生成回路１１６にて生成された第二再生信号は、信号評価装置３００の第二２値化回路３０４に入力され、この第二２値化回路３０４にて、所定のスライスレベルで２値化されたパルス信号に変換され（通過信号２値化ステップ）、第二再生パルス信号として第二信号切り替え回路３１２に出力される。
【００９３】
第一トラッキングエラー信号生成回路１２２にて生成された第一トラッキングエラー信号は、信号評価装置３００の第三２値化回路３０６に入力され、この第三２値化回路３０６にて２値化されたパルス信号に変換され（横断信号２値化ステップ）、第一トラッキングエラーパルス信号として第一信号切り替え回路３１０に出力される。第二トラッキングエラー信号生成回路１１０にて生成された第二トラッキングエラー信号は、信号評価装置３００の第四２値化回路３０８に入力され、この第四２値化回路３０８にて２値化されたパルス信号に変換され（横断信号２値化ステップ）、第二トラッキングエラーパルス信号として第二信号切り替え回路３１２に出力される。
【００９４】
次に、コントローラ６００は、ステップＳ２１０にてフォーカスサーボ制御を開始してフォーカス引き込みを行う。このステップＳ２１０によって、フォーカスサーボ回路１０６がフォーカスエラー信号生成回路１０４から入力されたフォーカスエラー信号に基づいてフォーカスアクチュエータドライブ回路１０８にフォーカスアクチュエータ４１５の制御信号を出力し、これにより光スポットが光ディスクＤＫ０の記録面上で合焦するように対物レンズ４０３の位置が制御される。次いで、コントローラ６００は、ステップＳ２１２にて、表示装置６０２に調整方向の入力要求を表示する。作業者は、表示装置６０２に表示された入力要求に対し、光スポットの位置の調整を、光軸調整用光ディスクＤＫ０の径方向について行うか、周方向について行うか、あるいは調整を終了するかを選択する。続いて、コントローラ６００は、ステップＳ２１４にて、ステップＳ２１２における入力要求によって作業者から入力される調整方向が「径方向」であるかを判定する。径方向である場合はステップＳ２１６（図１４）に進む。「径方向」でない場合はステップＳ２４４に進む。
【００９５】
ステップＳ２１４における判定結果が「Ｙｅｓ」であるとしてステップＳ２１６に進んだ場合、このステップＳ２１６にて、コントローラ６００は、第一信号切り替え回路３１０および第二信号切り替え回路３１２からトラッキングエラー信号が出力されるように、信号切り替え回路３１０，３１２の切り替え制御を行う。これにより、第一トラッキングエラーパルス信号が第一信号切り替え回路３１０を介して第一評価用信号生成回路３１４および第二評価用信号生成回路３１６に入力されるとともに、第二トラッキングエラーパルス信号が第二信号切り替え回路３１２を介して第一評価用信号生成回路３１４および第二評価用信号生成回路３１６に入力される。第一評価用信号生成回路３１４は、上述のように、入力された第一トラッキングエラーパルス信号がハイレベルになったときにハイレベルとなり、入力された第二トラッキングエラーパルス信号がハイレベルになったときにローレベルとなる第一評価用パルス信号（横断信号評価用パルス信号）を生成する（横断信号比較ステップ）。生成された第一評価用パルス信号は、パルス幅測定装置３１８に入力される。第二評価用信号生成回路３１６は、上述のように、入力された第一トラッキングエラーパルス信号がハイレベルになったときにローレベルとなり、入力された第二トラッキングエラー信号がハイレベルになったときにハイレベルとなる第二評価用パルス信号（横断信号評価用パルス信号）を生成する（横断信号比較ステップ）。生成された第二評価用パルス信号は、パルス幅測定装置３１８に入力される。
【００９６】
次に、コントローラ６００は、ステップＳ２１８にて、トラック間横断時間検出回路３２０内の時間計測回路２２の作動を開始させる。これにより、トラック間横断時間検出回路３２０の作動が開始し、トラック間横断時間検出回路３２０にて検出した時間（記録再生用レーザー光の光スポットが無トラック領域を横断する時間）がコントローラ６００に入力される（トラック間横断時間検出ステップ）。コントローラ６００は入力されたトラック間横断時間を記憶する。
【００９７】
次いで、ステップＳ２２０にて、パルス幅測定装置３１８に入力された第一評価用パルス信号のパルス幅が測定される。ここで、図１６は、両信号切り替え回路３１０，３１２がトラッキングエラーパルス信号を出力している場合において、記録再生用レーザー光の光スポットとサーボ用レーザー光の光スポットの位置関係（ケース１、ケース２）に応じ、第一トラッキングエラー信号生成回路１２２、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０、第三２値化回路３０６、第四２値化回路３０８、第一評価用信号生成回路３１４、および第二評価用信号生成回路３１６にて生成される信号波形を示した図である。図１６のケース１の（Ａ）図に示すように、記録再生用レーザー光の光スポットが先に孤立トラック領域Ｉｔを横断し、サーボ用レーザー光の光スポットが後に孤立トラック領域Ｉｔを横断する場合には、第一トラッキングエラー信号生成回路１２２にて生成される第一トラッキングエラー信号ＴＥ１（図１６のケース１の（ａ）図）は、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０にて生成される第二トラッキングエラー信号ＴＥ２（図１６のケース１の（ｂ）図）よりも先行する。したがって、第三２値化回路３０６にて生成される第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１（図１６のケース１の（ｃ）図）も、第四２値化回路３０８にて生成される第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２（図１６のケース１の（ｄ）図）に先行する。よって、第一評価用信号生成回路３１４にて生成される第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１（図１６のケース１の（ｅ）図）は、第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１がハイレベルになったときから第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２がハイレベルになるまでの短い区間のみがハイレベルとなり、その他の区間はローレベルとなる（つまりハイレベル区間が短い）パルス信号となり、このような第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１をパルス幅測定装置３１８に出力する。図１６のケース１の場合（記録再生用レーザー光の光スポットがサーボ用レーザー光の光スポットに先行する場合）において、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のハイレベル区間の幅（以下、ハイレベル区間の幅をパルス幅という）は、それぞれの光スポットが孤立トラック領域Ｉｔを横断するときのタイミング、つまりそれぞれの光スポットに由来するトラッキングエラー信号の発生タイミングのずれ量を時間の単位で表し、このタイミングのずれ量は、両光スポットの径方向の位置ずれ量を間接的に示す。
【００９８】
一方、第二評価用信号生成回路３１６にて生成される第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２（図１６のケース１の（ｆ）図）は、第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２がハイレベルになるまではローレベルであり、第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２がハイレベルとなったときハイレベルとなる。そして、第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１がハイレベルになるとローレベルとなる。ケース１の場合、第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１に対応する記録再生用レーザー光の光スポットが、第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２に対応するサーボ用レーザー光の光スポットに先行しているため、一つの孤立トラック領域Ｉｔを両光スポットが横断する過程で、第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２がハイレベルになった後に第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１がハイレベルになることはない。したがって、第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２は、一旦ハイレベルになった場合、両光スポットが無トラック領域を通過し、次の孤立トラック領域Ｉｔを記録再生用レーザー光の光スポットが横断するまでずっとハイレベルが維持され、次の孤立トラック領域を記録再生用レーザー光の光スポットが横断するときにローレベルに変化する。よって、ＰＳＥＶ２のパルス幅はＰＳＥＶ１のパルス幅に比べて非常に長い。第二評価用信号生成回路３１６はこのような第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２をパルス幅測定装置３１８に出力する。
【００９９】
また、図１６のケース２の（Ａ）図に示すように、サーボ用レーザー光の光スポットが先に孤立トラック領域Ｉｔを横断し、記録再生用レーザー光の光スポットが後に孤立トラック領域Ｉｔを横断する場合、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０にて生成される第二トラッキングエラー信号ＴＥ２（図１６のケース２の（ｂ）図）は、第一トラッキングエラー信号生成回路１２２にて生成される第一トラッキングエラー信号ＴＥ１（図１６のケース２の（ａ）図）よりも先行する。したがって、第四２値化回路３０８にて生成される第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２（図１６のケース２の（ｄ）図）も、第三２値化回路３０６にて生成される第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１（図１６のケース２の（ｃ）図）に先行する。よって、第二評価用信号生成回路３１６にて生成される第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２（図１６のケース２の（ｆ）図）は、第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２がハイレベルになったときから第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１がハイレベルになるまでの短い区間のみがハイレベルとなり、その他の区間はローレベルとなる（つまりハイレベル区間が短い）パルス信号となり、このような第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２をパルス幅測定装置３１８に出力する。図１６のケース２の場合（サーボ用レーザー光の光スポットが記録再生用レーザー光の光スポットに先行する場合）において、この第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅は、それぞれの光スポットが孤立トラック領域Ｉｔを横断するときのタイミング、つまりそれぞれの光スポットに由来するトラッキングエラー信号の発生タイミングのずれ量を時間の単位で表し、このタイミングのずれ量は、両光スポットの径方向の位置ずれ量を間接的に示す。
【０１００】
一方、第一評価用信号生成回路３１４にて生成される第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１（図１６のケース２の（ｅ）図）は、第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１がハイレベルになるまではローレベルであり、第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１がハイレベルとなったときにハイレベルとなる。そして、第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２がハイレベルになるとローレベルとなる。ケース２の場合、第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２に対応するサーボ用レーザー光の光スポットが、第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１に対応する記録再生用レーザー光の光スポットに先行しているため、一つの孤立トラック領域Ｉｔを両光スポットが横断する過程で、第一トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ１がハイレベルになった後に第二トラッキングエラーパルス信号ＰＳＴＥ２がハイレベルになることはない。したがって、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１は、一旦ハイレベルになった場合、両光スポットが無トラック領域を通過し、次の孤立トラック領域Ｉｔをサーボ用レーザー光の光スポットが横断するまでずっとハイレベルが維持され、次の孤立トラック領域Ｉｔをサーボ用レーザー光の光スポットが横断するときにローレベルに変化する。よって、ＰＳＥＶ１のパルス幅はＰＳＥＶ２のパルス幅に比べて非常に長い。第一評価用信号生成回路３１４はこのような第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１をパルス幅測定装置３１８に出力する。
【０１０１】
ステップＳ２２０において、パルス幅測定装置３１８は、第一評価用信号生成回路３１４から入力される第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅を測定し、コントローラ６００に出力する。そして、ステップＳ２２２において、入力されたパルス幅が所定のパルス幅Δ１以下であるかを判定する。ここで、上述したように、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１が記録再生用レーザー光の光スポットとサーボ用レーザー光の光スポットとが孤立トラック領域Ｉｔを横断するときのタイミングのずれ量を表すものである場合には、パルス幅は、図１６のケース１の（ｅ）図のようにずれ量に応じた比較的短いものとなり、そうでない場合には、図１６のケース１の（ｆ）図のように長いものとなる。よって、所定のパルス幅Δ１は、比較対象である第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅が上記ずれ量を表すものであるかが識別できる程度の長さ（時間）に設定される。
【０１０２】
ステップＳ２２２にて第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅がΔ１以下であると判定した場合には、記録再生用レーザー光の光スポットがサーボ用のレーザー光の光スポットに先行していて、かつ両光スポットの径方向の位置ずれが第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅により表されていることがわかる。この場合、ステップＳ２２４に進む。そうでない場合はステップＳ２３２に進む。
【０１０３】
ステップＳ２２２からステップＳ２２４に進んだ場合は、このステップＳ２２４にて記録用レーザー光の光スポットとサーボ用レーザー光の光スポットとの実際の径方向位置ずれ量を計算する（ずれ量算出ステップ）。上述のように、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅は、それぞれの光スポットが孤立トラック領域Ｉｔを横断するときのタイミングのずれを表したものであり、単位は時間であるので、実際の位置のずれ量を算出するには、パルス幅から求めたタイミングのずれ量を長さの単位に換算する必要がある。ここで、トラック間横断時間検出回路３２０が検出する時間がコントローラ６００に出力されており、この検出時間は光スポットが無トラック領域を横断する時間である。また、無トラック領域の径方向幅は光軸調整用光ディスクＤＫ０から知ることができるため、無トラック領域の径方向幅（既知）を検出時間で除すことにより、光スポットが光ディスクＤＫ０の径方向に移動する速度を算出することができる。この速度に第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅を掛け合わせることにより、両光スポットのタイミングのずれ分の移動距離が算出される。この移動距離は両光スポットの径方向における位置ずれ量を表す。ステップＳ２２４ではこのようにして両光スポットの位置ずれ量が計算される（ずれ量算出ステップ）。
【０１０４】
ステップＳ２２４にて両光スポットの径方向における位置ずれ量を計算した後は、コントローラ６００は、ステップＳ２２６にて、計算された径方向位置ずれ量、および、サーボ用レーザー光の光スポットの記録再生用レーザー光の光スポットに対するずれ方向を、表示装置６０２に表示する。ここで、ずれ方向は、例えば記録用レーザー光の光スポットに対してサーボ用レーザー光の光スポットが径方向のうちの外方にずれているか内方にずれているかを示すものである。なお、このずれ方向は第一フォトディテクタ４１０、第二フォトディテクタ４１３における受光信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）に相当する領域および位置をどのように定めるかによって変わってくるので、予めＰＳＥＶ１が両光スポットの位置ずれを表す場合は、ずれ方向が径方向内方であるか外方であるかを定めておく必要がある。
【０１０５】
一方、ステップＳ２２２にてパルス幅がΔ１よりも大きいと判定した場合は、両光スポットは、図１６のケース１の（Ａ）図に示したような位置ずれの関係になく、図１６のケース２の（Ａ）図に示したような位置ずれの関係にあることが予測される。よって、この場合はステップＳ２３２に進み、このステップＳ２３２にて、第二評価用信号生成回路３１６にて生成された第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅を測定する。そして、次のステップＳ２３４にて、測定したパルス幅が所定の幅Δ２以下であるかを判定する。この幅Δ２は、Δ１と同様にして設定される。
【０１０６】
ステップＳ２３４にて第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅がΔ２以下と判定した場合には、サーボ用レーザー光の光スポットが記録再生用レーザー光の光スポットに先行していて、かつ両光スポットの径方向の位置ずれが第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅により表されていることがわかる。この場合、ステップＳ２３６に進む。そうでない場合はステップＳ２４０に進む。
【０１０７】
ステップＳ２４０に進むということは、ステップＳ２２２における判定が「Ｎｏ］であり、且つ、ステップＳ２３４における判定も「Ｎｏ」であったということである。これは、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅も、第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅も、所定のパルス幅よりも大きいことを意味し、光スポットが光ディスクＤＫ０の孤立トラックＩｔを横断するときに発生するトラッキングエラー信号が適正に入力されなかったことが想定される。よって、この場合は装置に何らかの異常が発生したと考えられるので、このステップＳ２４０にて異常を表示装置６０２に表示し、ステップＳ２４２にてこのプログラムの実行を終了する。
【０１０８】
ステップＳ２３４にてパルス幅がΔ２以下であると判定し、ステップＳ２３６に進んだ場合、このステップＳ２３６にてサーボ用レーザー光の光スポットと記録再生用レーザー光の光スポットの実際の径方向位置ずれ量を測定する（ずれ量算出ステップ）。この径方向位置ずれ量の測定は、上述のステップＳ２２４で示した方法と同様の方法により行われる。
【０１０９】
ステップＳ２３６にて両光スポットの径方向位置ずれ量を計算した後は、コントローラ６００は、ステップＳ２３８にて、計算された径方向位置ずれ量、および、サーボ用レーザー光の光スポットの記録再生用レーザー光の光スポットに対するずれ方向を、表示装置６０２に表示する。ここで、ずれ方向は、例えば記録再生用レーザー光の光スポットに対してサーボ用レーザー光の光スポットが径方向のうちの外方にずれているか内方にずれているかを示すものである。なお、ＰＳＥＶ２が両光スポットの位置ずれを表す場合も、ＰＳＥＶ１の場合と同様、ずれ方向が径方向内方であるか外方であるかを定めておく必要がある。
【０１１０】
ステップＳ２２６、あるいはステップＳ２３８にて光スポットの径方向位置ずれ量および位置ずれ方向を表示装置６０２に表示した後、コントローラ６００はステップＳ２２８にて所定時間が経過したかを判定する。作業者は、この間にレーザー光照射装置１の第一レーザー光源４０１または第二レーザー光源４０２を操作し、表示されている径方向の位置ずれ量が０となるように、レーザー光の光軸を調整する（光軸調整ステップ、径方向調整ステップ）。所定時間経過後、コントローラ６００はステップＳ２３０に進み、径方向の調整終了を示す入力が作業者から入力されているかを判定する。作業者は、径方向における光軸調整を終了するときは、入力装置６０４を介して「終了」を示す入力操作を行う。一方、再度径方向における光軸調整を行うときは、そのまま何もしない。コントローラ６００は、作業者から「終了」を示す入力操作が行われたと判断したとき（ステップＳ２３０：Ｙｅｓ）はステップＳ２１２に戻る。また、「終了」を示す入力操作が行われていないと判断したとき（ステップＳ２３０：Ｎｏ）は、ステップＳ２２０に戻り、ステップＳ２２２〜Ｓ２２８および／または、ステップＳ２３２〜Ｓ２３８の操作を繰り返す。
【０１１１】
ステップＳ２３０にて「終了」を示す入力操作が行われたと判断して（ステップＳ２３０：Ｙｅｓ）ステップＳ２１２に戻った場合、このステップＳ２１２にて、表示装置６０２に調整方向の入力要求を表示する。作業者は、表示装置６０２に表示された入力要求に対し、光スポットの位置の調整を、光軸調整用光ディスクＤＫ０の「径方向」について行うか、「周方向」について行うか、あるいは調整を「終了」するかを選択する。続いて、コントローラ６００は、ステップＳ２１４にて、ステップＳ２１２における入力要求によって作業者から入力される調整方向が「径方向」であるかを判定する。「径方向」である場合はステップＳ２１６に進む。「径方向」でない場合はステップＳ２４４に進む。
【０１１２】
ステップＳ２１４からステップＳ２１６に進んだ場合は、上述したようにトラッキングエラー信号に基づいて両光スポットの径方向における位置ずれ量を計算する。一方、ステップＳ２１４からステップＳ２４４に進んだ場合は、ステップＳ２１２における入力要求によって作業者から調整を「終了」する旨の入力があったかを判定する。調整を「終了」する入力要求があった（Ｓ２４４：Ｙｅｓ）場合はステップＳ２７６に進む。そうでない場合、つまり調整方向が「周方向」である場合はステップＳ２４６に進む。
【０１１３】
ステップＳ２１２における入力要求によって作業者から入力される調整方向が「周方向」である場合は、ステップＳ２４４を経てステップＳ２４６に進み、このステップＳ２４６にてトラッキングサーボが開始される。これにより、トラッキングサーボ回路１１２は、第二トラッキングエラー信号生成回路１１０にて生成された第二トラッキングエラー信号に基づいてトラッキングアクチュエータドライブ回路１１４を介してトラッキングアクチュエータ４１４を制御する。このため、サーボ用レーザー光の光スポットが、光軸調整用光ディスクＤＫ０に形成されたトラックＴを辿るように対物レンズ４０３が微動する。このとき、記録再生用レーザー光の光スポットの径方向位置がサーボ用レーザー光の光スポットの径方向位置に一致している場合は、記録再生用レーザー光の光スポットもサーボ用レーザー光の光スポットとともに、トラックＴを辿る。なお、本実施形態においては光軸調整用光ディスクＤＫ０はトラックが所定の半径位置のみに形成されているため、通常のトラッキングサーボの引き込みのようにトラッキングエラー信号におけるＳ字信号（トラックを横切るときの信号）の波長が最も長くなった時点でトラッキングサーボ制御を開始する方法は使用できない。この場合は、光ディスクの回転数を落として、トラッキングエラー信号がゼロクロスした時点からトラッキングサーボ制御を開始し、光ディスクの回転数を次第に上げて元の回転数に戻すといった方法でトラッキングサーボの引き込みを行う。
【０１１４】
次いで、コントローラ６００は、ステップＳ２４８にて、第一信号切り替え回路３１０および第二信号切り替え回路３１２から再生信号が出力されるように、信号切り替え回路３１０，３１２の切り替え制御を行う。これにより、第一再生信号が第一２値化回路３０２にて所定のスライスレベルで２値化されて生成された第一再生パルス信号が第一信号切り替え回路３１０を介して第一評価用信号生成回路３１４および第二評価用信号生成回路３１６に入力されるとともに、第二再生信号が第二２値化回路３０４にて所定のスライスレベルで２値化されて生成された第二再生パルス信号が第二信号切り替え回路３１２を介して第一評価用信号生成回路３１４および第二評価用信号生成回路３１６に入力される。第一評価用信号生成回路３１４は、入力された第一再生パルス信号がハイレベルになったときにハイレベルとなり、入力された第二再生パルス信号がハイレベルになったときにローレベルとなる第一評価用パルス信号を生成する（通過信号比較ステップ）。生成された第一評価用パルス信号は、パルス幅測定装置３１８に入力される。第二評価用信号生成回路３１６は、入力された第一再生パルス信号がハイレベルになったときにローレベルとなり、入力された第二再生パルス信号がハイレベルになったときにハイレベルとなる第二評価用パルス信号を生成する（通過信号比較ステップ）。生成された第二評価用パルス信号は、パルス幅測定装置３１８に入力される。
【０１１５】
次に、ステップＳ２５０に進み、パルス幅測定装置３１８にて、入力された第一評価用パルス信号のパルス幅が測定され、その測定結果がコントローラ６００に入力される。ここで、図１７は、両信号切り替え回路３１０，３１２が再生パルス信号を出力している場合において、記録再生用レーザー光の光スポットとサーボ用レーザー光の光スポットの位置関係（ケース１、ケース２）に応じ、第一再生信号生成回路１２４、第二再生信号生成回路１１６、第一２値化回路３０２、第二２値化回路３０４、第一評価用信号生成回路３１４、および第二評価用信号生成回路３１６にて生成される信号波形を示した図である。図１７のケース１の（Ａ）図に示すように、記録再生用レーザー光の光スポットが先に孤立ピット領域Ｉｐを通過し、サーボ用レーザー光の光スポットが後に孤立ピット領域Ｉｐを通過する場合には、第一再生信号生成回路１２４にて生成される第一再生信号ＲＳ１（図１７のケース１の（ａ）図）は、第二再生信号生成回路１１６にて生成される第二再生信号ＲＳ２（図１７のケース１の（ｂ）図）よりも先行する。したがって、第一２値化回路３０２にて生成される第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１（図１７のケース１の（ｃ）図）も、第二２値化回路３０４にて生成される第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２（図１７のケース１の（ｄ）図）に先行する。よって、第一評価用信号生成回路３１４にて生成される第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１（図１７のケース１の（ｅ）図）は、第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１がハイレベルになったときから第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２がハイレベルになるまでの短い区間のみがハイレベルとなり、その他の期間はローレベルとなる（つまりハイレベル期間が短い）パルス信号となり、このような第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１をパルス幅測定装置３１８に出力する。図１７のケース１の場合（記録再生用レーザー光の光スポットがサーボ用レーザー光の光スポットに先行する場合）において、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅は、それぞれの光スポットが孤立ピット領域ＩＰを通過するときのタイミング、つまりそれぞれの光スポットに由来する再生信号の発生タイミングのずれ量を時間の単位で表し、このタイミングのずれ量は、両光スポットの周方向の位置ずれ量を間接的に示す。
【０１１６】
一方、第二評価用信号生成回路３１６にて生成される第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２（図１７のケース１の（ｆ）図）は、第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２がハイレベルになるまではローレベルであり、第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２がハイレベルとなったときハイレベルとなる。そして、第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１がハイレベルになるとローレベルとなる。ケース１の場合、第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１に対応する記録再生用レーザー光の光スポットが、第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２に対応するサーボ用レーザー光の光スポットに先行しているため、ひとつの孤立ピット領域Ｉｐを両光スポットが通過する過程で、第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２がハイレベルになった後に第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１がハイレベルになることはない。したがって、第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２は、一旦ハイレベルになった場合、両光スポットが無ピット領域を通過して、次の孤立ピット領域Ｉｐを記録再生用レーザー光の光スポットが通過するまでずっとハイレベルが維持され、次の孤立ピット領域Ｉｐを記録再生用レーザー光の光スポットが通過するときにローレベルに変化する。よって、ＰＳＥＶ２のパルス幅はＰＳＥＶ１のパルス幅に比べて非常に長い。第二評価用信号生成回路３１６はこのような第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２をパルス幅測定装置３１８に出力する。
【０１１７】
また、図１７のケース２の（Ａ）図に示すように、サーボ用レーザー光の光スポットが先に孤立ピット領域Ｉｐを通過し、記録再生用レーザー光の光スポットが後に孤立ピット領域Ｉｐを通過する場合、第二再生信号生成回路１１６にて生成される第二再生信号ＲＳ２（図１７のケース２の（ｂ）図）は、第一再生信号生成回路１２４にて生成される第一再生信号ＲＳ１（図１７のケース２の（ａ）図）よりも先行する。したがって、第二２値化回路３０４にて生成される第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２（図１７のケース２の（ｄ）図）も、第一２値化回路３０２にて生成される第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１（図１７のケース２の（ｃ）図）に先行する。よって、第二評価用信号生成回路３１６にて生成される第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２（図１７のケース２の（ｆ）図）は、第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２がハイレベルになったときから第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１がハイレベルになるまでの短い区間のみがハイレベルとなり、その他の区間はローレベルとなる（つまりハイレベル区間が短い）パルス信号となり、このような第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２をパルス幅測定装置３１８に出力する。図１７のケース２の場合（サーボ用レーザー光の光スポットが記録再生用レーザー光の光スポットに先行する場合）において、この第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅は、それぞれの光スポットが孤立ピット領域Ｉｐを通過するときのタイミング、つまりそれぞれの光スポットに由来する再生信号の発生タイミングのずれ量を時間の単位で表し、このタイミングのずれ量は、両光スポットの周方向の位置ずれ量を間接的に示す。
【０１１８】
一方、第一評価用信号生成回路３１４にて生成される第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１（図１７のケース２の（ｅ）図）は、第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１がハイレベルになるまではローレベルであり、第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１がハイレベルとなったときにハイレベルとなる。そして、第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２がハイレベルになるとローレベルとなる。ケース２の場合、第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２に対応するサーボ用レーザー光の光スポットが、第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１に対応する記録再生用レーザー光の光スポットに先行しているため、一つの孤立ピット領域Ｉｐを両光スポットが通過する過程で、第一再生パルス信号ＰＳＲＳ１がハイレベルになった後に第二再生パルス信号ＰＳＲＳ２がハイレベルになることはない。したがって、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１は、一旦ハイレベルになった場合、光スポットが無ピット領域を通過し、次の孤立ピット領域Ｉｐをサーボ用レーザー光の光スポットが横断するまでずっとハイレベルが維持され、次の孤立ピット領域Ｉｐをサーボ用レーザー光が通過するときにローレベルに変化する。よって、ＰＳＥＶ１のパルス幅は、ＰＳＥＶ２のパルス幅に比べて非常に長い。第一評価用信号生成回路３１４はこのような第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１をパルス幅測定装置３１８に出力する。
【０１１９】
ステップＳ２５０において、パルス幅測定装置３１８は、第一評価用信号生成回路３１４から入力される第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅を測定し、コントローラ６００に出力する。そして、ステップＳ２５２において、入力されたパルス幅が所定のパルス幅Δ３以下であるかを判定する。ここで、上述したように、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１が記録再生用レーザー光の光スポットとサーボ用レーザー光の光スポットとが孤立ピット領域Ｉｐを通過するときのタイミングのずれ量を表すものである場合には、パルス幅は、図１７のケース１の（ｅ）図のようにずれ量に応じた比較的短いものとなり、そうでない場合には、図１７のケース１の（ｆ）図のように長いものとなる。よって、所定のパルス幅Δ３は、比較対象である第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅が上記ずれ量を表すものであるかが識別できる程度の長さ（時間）に設定される。
【０１２０】
ステップＳ２５２にて第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅がΔ３以下であると判定した場合には、記録再生用レーザー光の光スポットがサーボ用のレーザー光の光スポットに先行していて、かつ両光スポットの周方向の位置ずれが第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅により表されていることがわかる。この場合、ステップＳ２５４に進む。そうでない場合はステップＳ２６２に進む。
【０１２１】
ステップＳ２５２からステップＳ２５４に進んだ場合は、このステップＳ２５４にて記録再生用レーザー光の光スポットとサーボ用レーザー光の光スポットとの実際の周方向位置ずれ量を計算する（ずれ量算出ステップ）。ここで、上述のように、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅は、それぞれの光スポットが孤立ピット領域Ｉｐを通過するときのタイミングのずれを表したものであり、単位は時間であるので、これを長さの単位に換算する必要がある。よって、測定されたパルス幅に光ディスクＤＫ０の線速度を掛け合わせることにより、両光スポットのタイミングのずれ分の移動距離が算出される。この移動距離は両光スポットの周方向における位置ずれ量を示す。ステップＳ２５４ではこのようにして両光スポットの位置ずれ量が計算される。
【０１２２】
ステップＳ２５４にて両光スポットの周方向における位置ずれ量を計算した後は、コントローラ６００は、ステップＳ２５６にて、計算された位置ずれ量、および、サーボ用レーザー光の光スポットの記録再生用レーザー光の光スポットに対するずれ方向を、表示装置６０２に表示する。ここで、ずれ方向は、例えば記録再生用レーザー光の光スポットに対してサーボ用レーザー光の光スポットが周方向のうちの先行する方向にずれているか後行する方向にずれているかを示すものであり、この場合（図１７のケース１の場合）は後行する方向にずれていることを示す表示がなされる。
【０１２３】
一方、ステップＳ２５２にてパルス幅がΔ３よりも大きいと判定した場合は、両光スポットは、図１７のケース１の（Ａ）図に示したような位置ずれの関係になく、図１７のケース２の（Ａ）図に示したような位置ずれの関係にあることが予測される。よって、この場合はステップＳ２６２に進み、このステップＳ２６２にて、第二評価用信号生成回路３１６にて生成された第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅を測定する。そして、次のステップＳ２６４にて、測定したパルス幅が所定の幅Δ４以下であるかを判定する。この幅Δ４はΔ３と同様にして設定される。
【０１２４】
ステップＳ２６４にて第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅がΔ４以下と判定した場合には、サーボ用レーザー光の光スポットが記録再生用レーザー光の光スポットに先行していて、かつ両光スポットの周方向の位置ずれが第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅により表されていることがわかる。この場合、ステップＳ２６６に進む。そうでない場合はステップＳ２７０に進む。
【０１２５】
ステップＳ２７０に進むということは、ステップＳ２５２における判定が「Ｎｏ］であり、且つ、ステップＳ２６４における判定も「Ｎｏ」であったということである。これは、第一評価用パルス信号ＰＳＥＶ１のパルス幅も、第二評価用パルス信号ＰＳＥＶ２のパルス幅も、所定のパルス幅よりも大きいことを意味し、光スポットが光ディスクＤＫ０の孤立ピット領域Ｉｐを横断するときに発生する再生信号が適正に入力されなかったことが想定される。よって、この場合は装置に何らかの異常が発生したと考えられるので、このステップＳ２７０にて異常を表示装置６０２に表示し、ステップＳ２７２にてこのプログラムの実行を終了する。
【０１２６】
ステップＳ２６４にてパルス幅がΔ４以下であると判定し、ステップＳ２６６に進んだ場合、このステップＳ２６６にてサーボ用レーザー光の光スポットと記録再生用レーザー光の光スポットの実際の周方向位置ずれ量を測定する（ずれ量算出ステップ）。この周方向位置ずれ量の測定は、上述のステップＳ２５４で示した方法と同様の方法により行われる。
【０１２７】
ステップＳ２６６にて両光スポットの位置ずれ量を計算した後は、コントローラ６００は、ステップＳ２６８にて、計算された位置ずれ量、および、サーボ用レーザー光の光スポットの記録再生用レーザー光の光スポットに対するずれ方向を、表示装置６０２に表示する。ここで、ずれ方向は、例えば記録再生用レーザー光の光スポットに対してサーボ用レーザー光の光スポットが周方向のうちの先行方向にずれているか後行方向にずれているかを示すものであり、この場合（図１７のケース２の場合）は先行方向にずれていることを示す表示がなされる。
【０１２８】
ステップＳ２５６、あるいはステップＳ２６８にて光スポットの位置ずれ量および位置ずれ方向を表示装置６０２に表示した後、コントローラ６００はステップＳ２５８にて所定時間が経過したかを判定する。作業者は、この間にレーザー光照射装置１の第一レーザー光源４０１または第二レーザー光源４０２を操作し、表示されている周方向の位置ずれ量が０となるように、両レーザー光の光軸を調整する（光軸調整ステップ、周方向調整ステップ）。所定時間経過後、コントローラ６００はステップＳ２６０に進み、周方向の調整終了を示す入力が作業者から入力されているかを判定する。作業者は、周方向における光軸調整を終了するときは、入力装置６０４を介して「終了」を示す入力操作を行う。一方、再度周方向における光軸調整を行うときは、そのまま何もしない。コントローラ６００は、作業者から「終了」を示す入力操作が行われたと判断したとき（ステップＳ２６０：Ｙｅｓ）はステップＳ２１２に戻る。また、「終了」を示す入力操作が行われていないと判断したとき（ステップＳ２６０：Ｎｏ）は、ステップＳ２５０に戻り、ステップＳ２５２〜Ｓ２５８および／または、ステップＳ２６２〜Ｓ２６８の操作を繰り返す。
【０１２９】
ステップＳ２６０にて「終了」を示す入力操作が行われたと判断して（ステップＳ２６０：Ｙｅｓ）ステップＳ２１２に戻った場合、このステップＳ２１２にて、表示装置６０２に調整方向の入力要求を表示する。作業者は、表示装置６０２に表示された入力要求に対し、光スポットの位置の調整を、光軸調整用光ディスクＤＫ０の「径方向」について行うか、「周方向」について行うか、あるいは調整を「終了」するかを選択する。続いて、コントローラ６００は、ステップＳ２１４にて、ステップＳ２１２における入力要求によって作業者から入力される調整方向が「径方向」であるかを判定する。「径方向」である場合はステップＳ２１６に進む。「径方向」でない場合はステップＳ２４４に進む。
【０１３０】
ステップＳ２１４からステップＳ２１６に進んだ場合は、トラッキングエラー信号に基づいて両光スポットの径方向における位置ずれ量を計算する。一方、ステップＳ２１４からステップＳ２４４に進んだ場合は、ステップＳ２１２における入力要求によって作業者から調整を「終了」する旨の入力があったかを判定する。調整を「終了」する旨の入力がない場合（Ｓ２４４：Ｎｏ）は、再度周方向における光軸調整を行う必要があるとみなして、ステップＳ２４６に進み、周方向における光軸調整を行う。調整を「終了」する旨の入力があった（Ｓ２４４：Ｙｅｓ）場合はステップＳ２７６に進む。この場合は、径方向および周方向における光軸調整が終了したとみなし、このステップＳ２７６にてコントローラ６００は第一レーザー光源４０１および第二レーザー光源４０２からのレーザーの出射を停止し、このプログラムの実行により作動した諸々の回路および装置を停止する。そして、ステップＳ２７８にてこのプログラムの実行が終了される。
【０１３１】
以上のように、本実施形態によれば、上記第一実施形態と同様に、所定のトラック（孤立トラック領域Ｉｔ）の径方向両側に、所定の径方向幅に亘り形成された無トラック領域（領域Ａ部）と、少なくとも一つのトラック内において所定のピット（孤立ピット領域Ｉｐ）の周方向両側に、所定の周方向長さに亘り形成された無ピット領域（領域Ｂ部）とを有する光ディスクＤＫ０を回転させながら、複数のレーザー光を孤立トラック領域または孤立ピット領域を通過するようにレーザー光を照射し、光ディスクＤＫ０からの反射光を複数のレーザー光毎に検出して、この反射光に基づいてトラッキングエラー信号および再生信号を生成し、生成した各光スポットのトラッキングエラー信号および再生信号に基づいて、光ディスクＤＫ０上に形成される複数の光スポットの位置ずれを検出し、検出された複数の光スポットの位置ずれに基づいて、前記複数のレーザー光の光軸を調整している。この調整方法によれば、孤立トラック領域を光スポットが横断するときに発生するトラッキングエラー信号や、孤立ピット領域を光スポットが通過するときに発生する再生信号は、他の信号から区別することができるため、複数の光スポットに由来する信号が明確に把握できる。よって、これらの信号の比較結果に基づいて、光スポットの径方向位置が一致するように複数のレーザー光の光軸を調整することにより、精度のよい光軸調整を行うことができる。
【０１３２】
また、トラッキングエラー信号を２値化してトラッキングエラーパルス信号を生成する（横断信号２値化ステップ）とともに、再生信号を２値化して再生パルス信号を生成し（通過信号２値化ステップ）、複数の光スポットに由来して生成されるトラッキングエラーパルス信号を比較することによって、光軸調整用光ディスクＤＫ０の径方向における複数の光スポットの位置のずれを示すパルス信号である第一評価用パルス信号を生成し、また複数の光スポットに由来して生成される再生パルス信号を比較することによって、光軸調整用光ディスクＤＫ０の周方向における複数の光スポットの位置のずれを示すパルス信号である第二評価用パルス信号を生成し、これらの第一評価用パルス信号および第二評価用パルス信号に基づいて、複数の光スポットのずれ量を定量的に算出している。このため、ずれ量の程度の量的把握が可能になるとともに、ずれ量を示す数値を０とすることによって光軸が調整されたことを認識することができる。
【０１３３】
なお、本実施形態においても、種々の変形が可能である。上記実施形態ではトラック間横断時間検出回路３２０により、光スポットが孤立トラック領域Ｉｔから孤立トラック領域Ｉｔまで移動する時間を検出したが、トラック間横断時間検出回路３２０を省略し、第一評価用信号生成回路３１４と第二評価用信号生成回路３１６が出力するパルス幅により、光スポットのずれに採用しなかったほうのパルス幅を光スポットが孤立トラック領域Ｉｔから孤立トラック領域Ｉｔまでに移動する時間としてもよい。これによっても上記実施形態と同様の効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【０１３４】
【図１】本発明の実施形態におけるレーザー光照射装置に信号評価装置を接続した状態を示す概略図である。
【図２】本発明の実施形態で用いる光軸調整用光ディスクの概略正面図である。
【図３】光軸調整用光ディスクのレーザー光照射面に形成されたトラックの形成状態およびピットの配置状態を示した模式図である。
【図４】光軸調整用光ディスクのレーザー光照射面に形成されたトラックの形成状態およびピットの配置状態の他の例を示した模式図である。
【図５】本発明の第一実施形態における信号評価プログラムのフローチャートである。
【図６】本発明の第一実施形態において、デジタルオシロスコープに映し出される第一トラッキングエラー信号ＴＥ１と第二トラッキングエラー信号ＴＥ２の形状を示す図である。
【図７】本発明の第一実施形態において、デジタルオシロスコープに映し出される第一再生信号ＲＳ１と第二再生信号ＲＳ２の形状を示す図である。
【図８】本発明の第二実施形態に係る信号評価装置の回路構成を示す図である。
【図９】本発明の第二実施形態に係る第三２値化回路および第四２値化回路の回路構成を示す図である。
【図１０】本発明の第二実施形態に係るトラック間横断時間検出回路の回路構成を示す図である。
【図１１】ゼロクロス点検出信号、トラック横断検出信号、マスク信号が出力されるトラッキングエラー信号の波形を示す図である。
【図１２】マスク信号が先に出力されて、ゼロクロス点検出信号およびトラック横断検出信号が出力されないトラッキングエラー信号の波形を示す図である。
【図１３】本発明の第二実施形態に係る信号評価プログラムのフローチャートである。
【図１４】本発明の第二実施形態に係る信号評価プログラムのフローチャートである。
【図１５】本発明の第二実施形態に係る信号評価プログラムのフローチャートである。
【図１６】光スポットの位置関係（ケース１、ケース２）に応じて出力される、トラッキングエラー信号、トラッキングエラーパルス信号、評価用パルス信号の信号波形を示す図である。
【図１７】光スポットの位置関係（ケース１、ケース２）に応じて出力される、再生信号、再生パルス信号、評価用パルス信号の信号波形を示す図である。
【符号の説明】
【０１３５】
１…レーザー光照射装置、１１０…第二トラッキングエラー信号生成回路、１１６…第二再生信号生成回路、１２２…第一トラッキングエラー信号生成回路、１２４…第一再生信号生成回路、３００…信号評価装置、３０２…第一２値化回路（第一パルス信号生成手段）
３０４…第二２値化回路（第二パルス信号生成手段）、３０６…第三２値化回路（第一パルス信号生成手段）、３０８…第四２値化回路（第二パルス信号生成手段）、３１４…第一評価用信号生成回路（評価用パルス信号生成手段）、３１６…第二評価用信号生成回路（評価用パルス信号生成手段）、３１８…パルス幅測定装置（パルス幅測定手段）、３２０…トラック間横断時間検出回路（径方向速度特定手段）、４０１…第一レーザー光源、４０２…第二レーザー光源、４１０…第一フォトディテクタ、４１３…第二フォトディテクタ、６００…コントローラ、Ａ…無トラック領域、Ｂ…無ピット領域、ＤＫ０…光軸調整用光ディスク、Ｉｐ…孤立ピット領域、Ｉｔ…孤立トラック領域、ＲＳ１…第一再生信号、ＲＳ２…第二再生信号、ＴＥ１…第一トラッキングエラー信号、ＴＥ２…第二トラッキングエラー信号、ＰＳＲＳ１…第一再生パルス信号、ＰＳＲＳ２…第二再生パルス信号、ＰＳＴＥ１…第一トラッキングエラーパルス信号、ＰＳＴＥ２…第二トラッキングエラーパルス信号、ＰＳＥＶ１…第一評価用パルス信号、ＰＳＥＶ２…第二評価用パルス信号、ＰＵＨ…光ピックアップ装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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