(57)【要約】【課題】欠陥の検出精度を低下させることなく、印刷物を見る者に欠陥として認識されないような、比較的穏やかなインキムラに関する誤検出を防止する。【解決手段】欠陥検出装置に、第１生成部１００、粗画像生成部１０１、第２生成部１０２、拡大部１０３および欠陥検出部１０４を設ける。第１生成部１００は基準画像１３０と対象画像１３１との差分画像１３２を生成する。粗画像生成部１０１は基準画像１３０および対象画像１３１をバイリニア法によって縮小し、基準粗画像１３３および対象画像１３１をそれぞれ生成する。第２生成部１０２は基準粗画像１３３と対象粗画像１３４との差分粗画像１３５を生成する。拡大部１０３は差分粗画像１３５をバイリニア法により拡大して、差分画像１３２と同じサイズのマスク用画像１３６を生成する。欠陥検出部１０４はマスク用画像１３６により差分画像１３２をマスクしつつ、欠陥の検出を行う。【選択図】図３
2008032532.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象画像の欠陥を検出する欠陥検出装置であって、
基準画像および対象画像を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された基準画像および対象画像に基づいて、差分画像を生成する第１生成手段と、
差分粗画像を生成する第２生成手段と、
前記第２生成手段により生成された差分粗画像を、前記第１生成手段により生成された差分画像のサイズに拡大することによりマスク用画像を生成する拡大手段と、
前記拡大手段により生成されたマスク用画像により、前記第２生成手段により生成された差分画像をマスクして欠陥を検出する欠陥検出手段と、
を備えることを特徴とする欠陥検出装置。
【請求項２】
請求項１に記載の欠陥検出装置であって、
前記取得手段により取得された基準画像に基づいて基準粗画像を生成するとともに、前記取得手段により取得された対象画像に基づいて対象粗画像を生成する粗画像生成手段をさらに備え、
前記第２生成手段は、
前記粗画像生成手段により生成された基準粗画像および対象粗画像に基づいて差分粗画像を生成することを特徴とする欠陥検出装置。
【請求項３】
請求項１に記載の欠陥検出装置であって、
前記第２生成手段は、前記第１生成手段により生成された差分画像に基づいて、差分粗画像を生成することを特徴とする欠陥検出装置。
【請求項４】
請求項１ないし３のいずれかに記載の欠陥検出装置であって、
前記マスク用画像は、太らせ処理がされていることを特徴とする欠陥検出装置。
【請求項５】
対象画像の欠陥を検出する欠陥検出方法であって、
基準画像および対象画像を取得する取得工程と、
前記取得工程において取得された基準画像および対象画像に基づいて、差分画像を生成する第１生成工程と、
差分粗画像を生成する第２生成工程と、
前記第２生成工程において生成された差分粗画像を、前記第１生成工程において生成された差分画像のサイズに拡大することによりマスク用画像を生成する拡大工程と、
前記拡大工程において生成されたマスク用画像により、前記第２生成工程において生成された差分画像をマスクして欠陥を検出する欠陥検出工程と、
を備えることを特徴とする欠陥検出方法。
【請求項６】
コンピュータ読み取り可能なプログラムであって、前記プログラムの前記コンピュータによる実行は、前記コンピュータを、
基準画像および対象画像を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された基準画像および対象画像に基づいて、差分画像を生成する第１生成手段と、
差分粗画像を生成する第２生成手段と、
前記第２生成手段により生成された差分粗画像を、前記第１生成手段により生成された差分画像のサイズに拡大することによりマスク用画像を生成する拡大手段と、
前記拡大手段により生成されたマスク用画像により、前記第２生成手段により生成された差分画像をマスクして欠陥を検出する欠陥検出手段と、
を備え、
対象画像の欠陥を検出する欠陥検出装置として機能させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、印刷物の欠陥を検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、印刷物を撮像した画像（検査の対象となる対象画像）と、検査の基準となる基準画像との差分を求め、求めた差分に基づいて対象画像と基準画像との不一致の度合いを検出して、当該印刷物の欠陥を検出する技術が提案されている。このような技術が、例えば、特許文献１に記載されている。
【０００３】
一方、印刷物を作成する際に、印刷機のオペレータは、全体的な色のバランスを考慮して仕上げるのが一般的である。すなわち、印刷機のオペレータの経験、好み等によって、ある特定の色を全体的に濃くしたり、薄くしたりすることはよく行われる。
【０００４】
人の目は、比較的狭い範囲における色の不一致には敏感であり、このような現象が生じていれば欠陥として認識する。しかし、緩やかなインキムラ（濃淡）のように、比較的広い範囲における色の不一致には鈍感であり、これは欠陥として認識しにくいという特性がある。すなわち、通常オペレータが意識的に与えた色の濃淡は、人の目には欠陥として認識されることはない。
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−３３５０６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところが、対象画像と基準画像との一致、不一致を所定の閾値に基づいて画素毎に単純に比較判定すると、オペレータによって意識的に与えた色の濃淡についても欠陥として判定されるという問題があった。本来、印刷物においては、人に欠陥として認識されるものだけを欠陥として検出すべきであるにもかかわらず、従来の技術では、オペレータが意識的に与えた色の濃淡であって、通常欠陥として認識されないものも、欠陥として検出してしまうという問題があった。
【０００７】
このような問題を解決するために、例えば、所定の閾値を鈍化させる調整を行うことも可能である。しかし、この場合は、本来、欠陥として検出すべき差分（不一致）も検出されなくなり、検出精度が低下するという問題が発生する。
【０００８】
本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、欠陥の検出精度を低下させることなく、印刷物を見る者に欠陥として認識されないような、比較的穏やかなインキムラに関する誤検出を防止することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題を解決するため、請求項１の発明は、対象画像の欠陥を検出する欠陥検出装置であって、基準画像および対象画像を取得する取得手段と、前記取得手段により取得された基準画像および対象画像に基づいて、差分画像を生成する第１生成手段と、差分粗画像を生成する第２生成手段と、前記第２生成手段により生成された差分粗画像を、前記第１生成手段により生成された差分画像のサイズに拡大することによりマスク用画像を生成する拡大手段と、前記拡大手段により生成されたマスク用画像により、前記第２生成手段により生成された差分画像をマスクして欠陥を検出する欠陥検出手段とを備えることを特徴とする。
【００１０】
また、請求項２の発明は、請求項１の発明に係る欠陥検出装置であって、前記取得手段により取得された基準画像に基づいて基準粗画像を生成するとともに、前記取得手段により取得された対象画像に基づいて対象粗画像を生成する粗画像生成手段をさらに備え、前記第２生成手段は、前記粗画像生成手段により生成された基準粗画像および対象粗画像に基づいて差分粗画像を生成することを特徴とする。
【００１１】
また、請求項３の発明は、請求項１の発明に係る欠陥検出装置であって、前記第２生成手段は、前記第１生成手段により生成された差分画像に基づいて、差分粗画像を生成することを特徴とする。
【００１２】
また、請求項４の発明は、請求項１ないし３のいずれかの発明に係る欠陥検出装置であって、前記マスク用画像は、太らせ処理がされていることを特徴とする。
【００１３】
また、請求項５の発明は、対象画像の欠陥を検出する欠陥検出方法であって、基準画像および対象画像を取得する取得工程と、前記取得工程において取得された基準画像および対象画像に基づいて、差分画像を生成する第１生成工程と、差分粗画像を生成する第２生成工程と、前記第２生成工程において生成された差分粗画像を、前記第１生成工程において生成された差分画像のサイズに拡大することによりマスク用画像を生成する拡大工程と、前記拡大工程において生成されたマスク用画像により、前記第２生成工程において生成された差分画像をマスクして欠陥を検出する欠陥検出工程とを備えることを特徴とする。
【００１４】
また、請求項６の発明は、コンピュータ読み取り可能なプログラムであって、前記プログラムの前記コンピュータによる実行は、前記コンピュータを、基準画像および対象画像を取得する取得手段と、前記取得手段により取得された基準画像および対象画像に基づいて、差分画像を生成する第１生成手段と、差分粗画像を生成する第２生成手段と、前記第２生成手段により生成された差分粗画像を、前記第１生成手段により生成された差分画像のサイズに拡大することによりマスク用画像を生成する拡大手段と、前記拡大手段により生成されたマスク用画像により、前記第２生成手段により生成された差分画像をマスクして欠陥を検出する欠陥検出手段とを備え、対象画像の欠陥を検出する欠陥検出装置として機能させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
請求項１ないし６に記載の発明では、差分粗画像を、生成された差分画像のサイズに拡大することによりマスク用画像を生成し、生成されたマスク用画像により、差分画像をマスクして欠陥を検出することにより、大局的なインキムラの影響を除去しつつ検査することができる。したがって、欠陥の検出精度を低下させることなく、見る者に欠陥として認識されないような、比較的穏やかなインキムラに関する誤検出を防止することができる。
【００１６】
請求項４に記載の発明では、マスク用画像は、太らせ処理がされていることにより、大局的なインキムラの影響をより効果的に除去できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の好適な実施の形態について、添付の図面を参照しつつ、詳細に説明する。
【００１８】
＜１．  第１の実施の形態＞
図１は、本発明に係る欠陥検出装置１を示す図である。また、図２は、欠陥検出装置１の構成を示す図である。
【００１９】
欠陥検出装置１は、ＣＰＵ１０、プログラム１２０等のデータを記憶する記憶部１１、操作部１５、表示部１６、ネットワーク９１に接続するための通信部１７、メディア９２を読み取るドライブ装置１８および撮像部１９を備える。欠陥検出装置１は、一般的なコンピュータとしての機能を有している。
【００２０】
図２に示すように、ＣＰＵ１０はバス配線によって欠陥検出装置１の各種構成と接続されている。ＣＰＵ１０は、プログラム１２０に従って動作することにより、制御信号を生成し、これら各種構成を制御する。また、ＣＰＵ１０は、各種情報の演算を行う機能を有している。
【００２１】
記憶部１１は、主にプログラム１２０を記憶するデータ読み取り専用のＲＯＭ１２、ＣＰＵ１０の一時的なワーキングエリアとして使用されるＲＡＭ１３、および比較的大容量のデータを記憶するハードディスク１４を備えている。欠陥検出装置１において使用、生成される各種情報は、適宜、記憶部１１に記憶される。
【００２２】
操作部１５は、図示しないキーボードやマウス等を備え、オペレータが欠陥検出装置１に情報を入力するために操作される。
【００２３】
表示部１６は、一般的なディスプレイであって、各種情報を画像として画面に表示する。特に、表示部１６は、欠陥検出装置１の検出結果を表示する。これにより、オペレータは、欠陥検出装置１の検出結果を確認することができる。
【００２４】
通信部１７は、ネットワークインタフェースとしての機能を有しており、欠陥検出装置１をネットワーク９１に接続する。通信部１７を備えることにより、欠陥検出装置１は、ネットワーク９１を介して、図示しない外部装置との間でデータ通信が可能とされている。なお、ネットワーク９１としては、公衆回線網、インターネットあるいはＬＡＮ等が該当するが、もちろんこれに限られるものではない。
【００２５】
ドライブ装置１８は、例えば、ＦＤドライブ装置、ＣＤ−ＲＯＭドライブ装置、ＤＶＤドライブ装置等であって、可搬性の記録媒体であるメディア９２に記憶されている情報を読み取る機能を有する。ドライブ装置１８は、メディア９２から読み取った情報を主にハードディスク１４に転送する。
【００２６】
特に、本実施の形態における欠陥検出装置１では、ドライブ装置１８によって、メディア９２に記憶されている画像データ（図３：基準画像１３０）を読み取る。すなわち、ドライブ装置１８は、本発明の取得手段に相当する機能を有している。なお、基準画像１３０は、ネットワーク９１を介して通信部１７が外部装置（基準画像１３０を作成する装置）から受信することにより取得されてもよい。
【００２７】
撮像部１９は、一般的なデジタルカメラであって、図示しない光電変換素子により、印刷物９０を撮像して、画像データ（図３：対象画像１３１）を取得する。すなわち、撮像部１９は、本発明の取得手段に相当する機能を有している。なお、印刷物から対象画像１３１を取得する構成としては、例えば、スキャナ等であってもよい。
【００２８】
図３は、欠陥検出装置１の機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。図３に示す第１生成部１００、粗画像生成部１０１、第２生成部１０２、拡大部１０３および欠陥検出部１０４は、ＣＰＵ１０がプログラム１２０に従って動作することにより実現される機能ブロックである。
【００２９】
第１生成部１００は、基準画像１３０および対象画像１３１に基づいて、これらの差分である差分画像１３２を生成する。
【００３０】
粗画像生成部１０１は、基準画像１３０に基づいて、これを縮小した基準粗画像１３３を生成する。また、粗画像生成部１０１は、対象画像１３１に基づいて、これを縮小した対象粗画像１３４を生成する。なお、粗画像生成部１０１が基準画像１３０および対象画像１３１を縮小する手法は、単純間引きによる縮小法ではなく、いわゆるバイリニア法を用いる。
【００３１】
第２生成部１０２は、基準粗画像１３３および対象粗画像１３４に基づいて、これらの差分である差分粗画像１３５を生成する。
【００３２】
拡大部１０３は、差分粗画像１３５を、差分画像１３２のサイズに拡大して、マスク用画像１３６を生成する。なお、拡大部１０３が差分粗画像１３５を拡大する手法は、単純拡大による拡大法ではなく、バイリニア法を用いる。
【００３３】
欠陥検出部１０４は、差分画像１３２をマスク用画像１３６によってマスクしつつ、マスクされた差分画像１３２に基づいて欠陥の検出を行う。また、欠陥検出部１０４は、検出結果を表示部１６に表示させる。
【００３４】
以上が、欠陥検出装置１の構成および機能の説明である。次に、欠陥検出装置１の動作について説明する。
【００３５】
図４は、欠陥検出装置１の動作を示す流れ図である。欠陥検出装置１は、電源が投入されると、所定の初期設定を実行した後、オペレータの指示が入力されるまで待機状態となる（ステップＳ１）。
【００３６】
オペレータが操作部１５を操作して、印刷物９０の欠陥の検出を開始するように欠陥検出装置１に指示を入力すると、ＣＰＵ１０は、ステップＳ１においてＹｅｓと判定し、取得工程を実行する（ステップＳ２）。
【００３７】
取得工程では、まず、ドライブ装置１８に挿入されたメディア９２から基準画像１３０が読み取られ、記憶部１１のハードディスク１４に転送され記憶される。さらに、ハードディスク１４から基準画像１３０がＲＡＭ１３に読み出されることにより、基準画像１３０が取得される。
【００３８】
また、取得工程では、撮像部１９によって印刷物９０の撮像が行われ、印刷物９０を被写体とした対象画像１３１がＲＡＭ１３に転送される。これにより、対象画像１３１が取得される。
【００３９】
図５は、基準画像１３０を例示する図である。また、図６は、対象画像１３１を例示する図である。ここに示す例では、対象画像１３１における屋根の色は、基準画像１３０における屋根の色よりも濃い色で印刷されている。すなわち、基準画像１３０と対象画像１３１とにおいて、屋根の色に濃淡差を生じている。また、対象画像１３１には、基準画像１３０にない輪郭１３１ａが描かれている。
【００４０】
基準画像１３０および対象画像１３１が取得されると、次に、第１生成工程が実行される（ステップＳ３）。
【００４１】
第１生成工程では、第１生成部１００が、基準画像１３０と対象画像１３１とにおいてそれぞれ対応する画素（各画像内における位置が互いに等しい画素）を抽出し、抽出した２つの画素の画素値の差分を演算する。さらに、求めた画素値の差分を画素値とする差分画像１３２を生成する。
【００４２】
図７は、差分画像１３２を例示する図である。なお、図７における点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは以下の説明のために付したものである。差分画像１３２では、基準画像１３０と対象画像１３１とが一致する領域に相当する画素の画素値は「０」となる。
【００４３】
したがって、図７に示すように、ここに示す例における差分画像１３２には、輪郭１３１ａの有無に起因する不一致領域１３２ａと、屋根の色の濃淡差に起因する不一致領域１３２ｂとが表現される。
【００４４】
図８は、図７に示した差分画像１３２の点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。また、図９は、図７に示した差分画像１３２の点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。なお、ここでは、不一致領域１３２ａの画素の画素値と、不一致領域１３２ｂの画素の画素値が等しい例とする。
【００４５】
図８から明らかなように、差分画像１３２では、対象画像１３１における輪郭１３１ａに相当する画素のみ画素値が高くなっている。また、図９から明らかなように、差分画像１３２では、基準画像１３０（および対象画像１３１）における「屋根」に相当する画素のみ画素値が高くなっている。
【００４６】
差分画像１３２が生成されると、欠陥検出装置１は、粗画像生成工程を実行する（ステップＳ４）。
【００４７】
粗画像生成工程では、まず、粗画像生成部１０１が、基準画像１３０に対してバイリニア法による縮小処理を行い、基準粗画像１３３を生成する。また、粗画像生成部１０１は、同様に対象画像１３１に対してバイリニア法による縮小処理を行い、対象粗画像１３４を生成する。なお、基準粗画像１３３および対象粗画像１３４を生成する際の縮小率は、どの程度の不一致領域を欠陥として検出したいかに応じて予め設定され、記憶されている。
【００４８】
基準粗画像１３３および対象粗画像１３４が生成されると、次に、第２生成工程が実行される（ステップＳ５）。
【００４９】
第２生成工程では、第２生成部１０２が、基準粗画像１３３および対象粗画像１３４に基づいて、差分粗画像１３５を生成する。このとき、第２生成部１０２は、所定のサイズのぼかしマスクを用いて、いわゆる「ぼかし処理」を行いつつ、差分粗画像１３５を生成する。
【００５０】
このように、第２生成部１０２が、差分粗画像１３５を生成する際に、ぼかし処理を行うことによって、基準粗画像１３３と対象粗画像１３４との不一致領域（すなわち、基準画像１３０と対象画像１３１との不一致領域）のうち比較的小さい領域の画素について、画素値をさらに低下させることができる。
【００５１】
図１０は、差分粗画像１３５を例示する図である。バイリニア法による縮小処理と、ぼかし処理とによって、差分粗画像１３５では、基準画像１３０と対象画像１３１との不一致領域のうち比較的小さい領域に相当する画素の画素値（差分値）は低い値となる（「０」に近似する）。
【００５２】
差分粗画像１３５が生成されると、欠陥検出装置１は、拡大工程を実行する（ステップＳ６）。
【００５３】
拡大工程では、拡大部１０３が、差分粗画像１３５をバイリニア法によって拡大処理し、マスク用画像１３６を生成する。この拡大工程により、差分粗画像１３５は、差分画像１３２と同じサイズとなる。
【００５４】
図１１は、マスク用画像１３６を例示する図である。図１２は、図１１に示すマスク用画像１３６において、図７に示す点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。また、図１３は、図１１に示すマスク用画像１３６において、図７に示す点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。
【００５５】
図１１では認識できないが、図１２に示すように、対象画像１３１における輪郭１３１ａに起因する不一致領域についても、マスク用画像１３６の画素値は「０」とはならない。ただし、図８と図１２とを比較すると明らかなように、マスク用画像１３６では、対象画像１３１における輪郭１３１ａに起因する不一致領域の画素値は大きく低下している。
【００５６】
一方、図１１から明らかなように、屋根の色の濃淡差に起因する不一致領域１３６ａの周囲は多少ぼやけた状態（すなわち、差分値が低下した状態）となる。ただし、図９と図１３とを比較すると明らかなように、不一致領域１３６ａの内部領域については、不一致領域１３２ｂに比べて画素値は低下していない。
【００５７】
マスク用画像１３６が生成されると、欠陥検出装置１は、欠陥検出工程を実行する（ステップＳ７）。
【００５８】
欠陥検出工程では、まず、欠陥検出部１０４が、マスク用画像１３６を用いて、差分画像１３２をマスクする。すなわち、差分画像１３２の各画素の画素値から、対応するマスク用画像１３６の画素の画素値を減算（負値は「０」とする）して、検査用の画像を生成する。
【００５９】
図１４は、検査用の画像を例示する図である。図１５は、図１４に示す検査用の画像において、図７に示す点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。また、図１６は、図１４に示す検査用の画像において、図７に示す点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。
【００６０】
検査用の画像が生成されると、欠陥検出部１０４は、当該画像の画素値と所定の閾値とを比較して、許容範囲以上の画素値（差分値）となっている領域を「欠陥」として検出する。
【００６１】
図８と図９とを比較すれば明らかなように、差分画像１３２においては、輪郭１３１ａに起因する不一致領域１３２ａと、屋根の色の濃淡差に起因する不一致領域１３２ｂとは、画素値が等しいために、どのように閾値を設定したとしても、不一致領域１３２ａのみを欠陥として検出することはできなかった。
【００６２】
すなわち、前述のように、不一致領域１３２ａのような領域を欠陥として検出しようと閾値を設定すれば、同時に不一致領域１３２ｂのような領域（例えばオペレータによって意識的に付与された濃淡差が生じている領域）も欠陥として誤検出することとなる。また、不一致領域１３２ｂを誤検出しないように閾値を設定すれば、不一致領域１３２ａのような領域を見落とすこととなり、検出精度が低下する。
【００６３】
しかし、図１５と図１６とを比較すれば明らかなように、欠陥検出装置１において欠陥検出に用いる検査用の画像では、輪郭１３１ａに起因する不一致領域１３７ａの画素値が、屋根の色の濃淡差に起因する不一致領域の画素値に比べて高い値となっている。
【００６４】
したがって、適当な閾値を設定することにより、欠陥検出部１０４は、不一致領域１３７ａを欠陥として検出する一方で、屋根の色の濃淡差等の対局的なインキムラに起因する不一致領域を欠陥として誤検出することを抑制することができる。
【００６５】
さらに、欠陥検出部１０４は、検出結果を表示部１６に表示する。検出結果としては、例えば、図１４に示した検査用の画像を、所定の閾値で２値化した画像を表示部１６に表示する。
【００６６】
欠陥検出工程が終了すると、さらに検出処理を終了するか否かを判定する（ステップＳ８）。さらに検出処理を続ける場合は、ステップＳ１に戻って処理を継続し、検出処理を終了する場合は、処理を終了する。
【００６７】
以上のように、本実施の形態における欠陥検出装置１は、基準画像１３０および対象画像１３１に基づいて差分画像１３２を生成し、基準粗画像１３３および対象粗画像１３４に基づいて差分粗画像１３５を生成し、生成した差分粗画像１３５を差分画像１３２のサイズに拡大したマスク用画像１３６を生成し、生成したマスク用画像１３６により、差分画像１３２をマスクして欠陥を検出することにより、大局的なインキムラの影響を除去しつつ検査することができる。したがって、欠陥の検出精度を低下させることなく、見る者に欠陥として認識されないような、比較的穏やかなインキムラに関する誤検出を防止することができる。
【００６８】
＜２．  第２の実施の形態＞
第１の実施の形態では、差分粗画像を生成するために、基準画像を縮小した基準粗画像と、対象画像を縮小した対象粗画像とを生成した。しかし、差分粗画像を生成する手法はこれに限定されるものではない。
【００６９】
図１７は、第２の実施の形態における欠陥検出装置１の機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。
【００７０】
第２の実施の形態における欠陥検出装置１は、第１の実施の形態における欠陥検出装置１の粗画像生成部１０１に相当する機能ブロックを備えていない。また、第１の実施の形態における欠陥検出装置１の第２生成部１０２に類似する構成として、第２生成部１０２ａを備えている。
【００７１】
なお、第２の実施の形態における欠陥検出装置１において、第１の実施の形態における欠陥検出装置１とほぼ同様の機能を有する構成については、同一の符号を付し、適宜説明を省略する。以下の実施の形態においても同様である。
【００７２】
第２の実施の形態における第２生成部１０２ａは、第１生成部１００によって生成された差分画像１３２を、バイリニア法によって縮小することにより、差分粗画像１３５を生成する点が、第１の実施の形態における第２生成部１０２と異なる。すなわち、第２の実施の形態における欠陥検出装置１では、基準粗画像１３３および対象粗画像１３４に相当するデータは生成されない。
【００７３】
第２の実施の形態における欠陥検出装置１の動作について説明すると、第２の実施の形態における欠陥検出装置１では、第１の実施の形態における粗画像生成工程（ステップＳ４）に相当する工程は実行されない。
【００７４】
すなわち、第１生成工程（ステップＳ３）が実行された後、第２生成工程（ステップＳ５）が実行される。ただし、第２の実施の形態における第２生成工程では、第２生成部１０２ａが、差分画像１３２に基づいて、差分粗画像１３５を生成する。
【００７５】
他の工程については、第１の実施の形態における欠陥検出装置１の動作と同様であるので以下説明を省略する。
【００７６】
以上のように、第２の実施の形態における欠陥検出装置１は、差分画像１３２に基づいて差分粗画像１３５を生成することにより、第１の実施の形態における欠陥検出装置１と同様の効果を得ることができる。
【００７７】
＜３．  第３の実施の形態＞
上記実施の形態では、例えば、図１６に示したように、大局的なインキムラであっても、検査用の画像において画素値の比較的高い画素が出現する。この場合であっても、前述のように、適切な閾値を決めれば、欠陥であるか否かの判定は可能である。しかし、欠陥として検出したくない現象に起因して、画素値の比較的高い画素が出現してしまうとすると、予め設定しておく閾値の適切な範囲が狭くなる。すなわち、適切な閾値の設定が困難になるという問題がある。本発明は、このような問題についても解決策を提供する。
【００７８】
図１８は、第３の実施の形態における欠陥検出装置１の機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。
【００７９】
第３の実施の形態における欠陥検出装置１は、第２の実施の形態における欠陥検出装置１の拡大部１０３に類似する機能ブロックが太らせ処理部１０５を有する拡大部１０３ａとなっている点が、第２の実施の形態における欠陥検出装置１と異なっている。
【００８０】
拡大部１０３ａは、第２の実施の形態における拡大部１０３と同様に、差分粗画像１３５に基づいて、第２の実施の形態におけるマスク用画像１３６に相当する画像（図示せず）を生成する。さらに、このようにして生成した画像に対して太らせ処理部１０５により太らせ処理を実行してマスク用画像１３８を生成する。
【００８１】
なお、太らせ処理とは、隣接する所定個数の画素（例えば、３×３個の画素）の最大画素値を求め、これら所定個数の画素の画素値をすべて求めた最大画素値とする処理である。
【００８２】
図１９は、マスク用画像１３８を例示する図である。なお、図１９に示すマスク用画像１３８は、太らせ処理部１０５が、図１１に例示したマスク用画像１３６と同じ画像に対して太らせ処理を実行することにより生成したものである。
【００８３】
また、図２０は、図１９に示すマスク用画像１３８において、図７に示す点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。なお、図２０に示す破線は、図１２に示した画素値を示す。すなわち、図２０に示す破線は、太らせ処理を行わない場合の画素値を示す。
【００８４】
さらに、図２１は、図１９に示すマスク用画像１３８において、図７に示す点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。なお、図２１に示す破線は、図１３に示した画素値を示す。すなわち、図２１に示す破線は、太らせ処理を行わない場合の画素値を示す。
【００８５】
図２０および図２１から明らかなように、太らせ処理を行うと、不一致領域における画素値の最大値は変化しないが、実際の不一致領域の周囲が広がった状態の画像となる。
【００８６】
第２の実施の形態における欠陥検出部１０４は、ステップＳ６に相当する欠陥検出工程において、拡大部１０３ａによって生成された太らせ処理済みマスク用画像１３８によって差分画像１３２をマスクしつつ、欠陥の検出を行う。
【００８７】
図２２は、第３の実施の形態における検査用の画像において、図７に示す点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。また、図２３は、第３の実施の形態における検査用の画像において、図７に示す点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。
【００８８】
図２２と図２３とを比較すれば明らかなように、輪郭１３１ａに起因する不一致領域の画素値は、屋根の色の濃淡差に起因する不一致領域の画素値に比べて充分に高い値となっている。言い換えれば、図１６と図２３とを比較すれば明らかなように、屋根の色の濃淡差に起因する不一致領域の画素値はほぼ「０」となっている。すなわち、大局的なインキムラに起因する不一致を効果的に排除できているので、欠陥検出部１０４において、容易に閾値を設定することができる。
【００８９】
なお、本実施の形態では、第２の実施の形態における欠陥検出装置１に太らせ処理部１０５を設ける例で説明したが、第１の実施の形態における欠陥検出装置１に太らせ処理部１０５を設けてもよい。
【００９０】
また、本実施の形態では、拡大差分粗画像に対して太らせ処理を行うと説明したが、太らせ処理は、例えば、差分画像１３２や差分粗画像１３５に対して行ってもよい。
【００９１】
＜４．  変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく様々な変形が可能である。
【００９２】
例えば、上記実施の形態では、画像を拡大・縮小する処理は、バイリニア法を用いると説明したが、これに限られるものではなく、バイキュービック法であってもよい。すなわち、単純間引きによる縮小、あるいは単純複製による拡大でなければ本発明における画像の拡大・縮小処理に適用可能である。
【００９３】
また、上記実施の形態に示した各工程は例示であって、これに限定されるものではない。すなわち、同様の効果が得られるならば、動作順序および動作内容が適宜変更されてもよい。
【００９４】
また、上記実施の形態において、各機能ブロックはプログラム１２０によってソフトウェア的に実現されると説明したが、これらの機能ブロックの一部または全部を専用の回路を用いてハードウェア的に実現してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００９５】
【図１】図１は、本発明に係る欠陥検出装置を示す図である。
【図２】欠陥検出装置の構成を示す図である。
【図３】第１の実施の形態における欠陥検出装置の機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。
【図４】第１の実施の形態における欠陥検出装置の動作を示す流れ図である。
【図５】基準画像を例示する図である。
【図６】対象画像を例示する図である。
【図７】差分画像を例示する図である。
【図８】図７に示した差分画像の点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。
【図９】図７に示した差分画像の点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。
【図１０】差分粗画像を例示する図である。
【図１１】マスク用画像を例示する図である。
【図１２】図１１に示すマスク用画像において、図７に示す点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。
【図１３】図１１に示すマスク用画像において、図７に示す点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。
【図１４】検査用の画像を例示する図である。
【図１５】図１４に示す検査用の画像において、図７に示す点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。
【図１６】図１４に示す検査用の画像において、図７に示す点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。
【図１７】第２の実施の形態における欠陥検出装置の機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。
【図１８】第３の実施の形態における欠陥検出装置の機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。
【図１９】マスク用画像を例示する図である。
【図２０】図１９に示すマスク用画像において、図７に示す点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。
【図２１】図１９に示すマスク用画像において、図７に示す点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。
【図２２】第３の実施の形態における検査用の画像において、図７に示す点Ａから点Ｂまでの画素の画素値を示す図である。
【図２３】第３の実施の形態における検査用の画像において、図７に示す点Ｃから点Ｄまでの画素の画素値を示す図である。
【符号の説明】
【００９６】
１  欠陥検出装置
１０  ＣＰＵ
１００  第１生成部
１０１  粗画像生成部
１０２，１０２ａ  第２生成部
１０３，１０３ａ  拡大部
１０４  欠陥検出部
１０５  太らせ処理部
１１  記憶部
１２０  プログラム
１３０  基準画像
１３１  対象画像
１３２  差分画像
１３３  基準粗画像
１３４  対象粗画像
１３５  差分粗画像
１３６，１３８  マスク用画像
１８  ドライブ装置（取得手段）
１９  撮像部（取得手段）
９０  印刷物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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