(57)【要約】【課題】光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する。【解決手段】光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正する光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置であって、光変調素子の全域に広がる画素値強度ムラを補正する全体領域画素値強度ムラ補正値を算出する全体領域画素値強度ムラ補正値算出部１０４と、光変調素子の全域より狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲む特定領域の画素値強度ムラを補正する特定領域画素値強度ムラ補正値を算出する特定領域画素値強度ムラ補正値算出部１０２と、特定領域画素値強度ムラ補正値を各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める特定領域重み係数を算出する特定領域重み係数算出部１０３と、全体領域画素値強度ムラ補正値を各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める全体領域重み係数を特定領域重み係数に基づいて算出する全体領域重み係数算出部１０５とを有する。【選択図】図４
2008197304.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法であって、
前記光変調素子の全域に広がる画素値強度ムラを補正するための全体領域画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、
前記光変調素子の全域より狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲むように設定された特定領域に存在する画素の画素値強度ムラを補正するための特定領域画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、
前記特定領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める特定領域重み係数を算出するステップと、
前記全体領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める全体領域重み係数を前記特定領域重み係数に基づいて算出するステップと、
前記全体領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域重み係数及び前記全体領域重み係数に基づいて前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、
を有することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項２】
請求項１に記載の画像データ処理方法において、
前記特定領域は、前記光変調素子の各画素の画素値強度を示すデータに基づいて設定され、前記特定領域の形状と、前記特定領域の前記光変調素子における位置と、前記特定領域のサイズを表すデータとを特定領域データとして有し、
前記特定領域重み係数は、前記特定領域データを用いて算出することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項３】
請求項２に記載の画像データ処理方法において、
前記特定領域が、前記特定領域の前記光変調素子における前記位置を中心に所定角度だけ回転した状態である場合には、その回転角度を前記特定領域データとして有し、
前記特定領域重み係数は、前記回転角度を考慮して算出することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項４】
請求項２又は３に記載の画像データ処理方法において、
前記特定領域の前記光変調素子における前記位置は、前記特定領域の重心とし、当該位置は、前記特定領域画素値強度ムラ補正値が最大となる位置に対応することを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項５】
請求項４に記載の画像データ処理方法において、
前記特定領域重み係数は、前記特定領域の前記光変調素子における前記位置で最大となり、前記特定領域の前記光変調素子における前記位置から当該特定領域の境界に向かうに従って減少し、少なくとも当該特定領域の外部でゼロとなるように設定され、
前記全体領域重み係数は、前記特定領域の前記光変調素子における前記位置でゼロとなり、前記特定領域の前記光変調素子における前記位置から当該特定領域の境界に向かうに従って増加し、少なくとも当該特定領域の外部で最大となるように設定されることを特徴とする画像データ処理方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の画像データ処理方法において、
前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値は、前記全体領域画素値強度ムラ補正値と前記全体領域重み係数とを乗算して得られる値と、前記特定領域画素値強度ムラ補正値と前記特定領域重み係数とを乗算して得られる値との和で表わされることを特徴とする画像デー
タ処理方法。
【請求項７】
光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置であって、
前記光変調素子の全域に広がる画素値強度ムラを補正するための全体領域画素値強度ムラ補正値を算出する全体領域画素値強度ムラ補正値算出部と、
前記光変調素子の全域より狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲むように設定された特定領域に存在する画素の画素値強度ムラを補正するための特定領域画素値強度ムラ補正値を算出する特定領域画素値強度ムラ補正値算出部と、
前記特定領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める特定領域重み係数を算出する特定領域重み係数算出部と、
前記全体領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める全体領域重み係数を前記特定領域重み係数に基づいて算出する全体領域重み係数算出部と、
前記全体領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域重み係数及び前記全体領域重み係数に基づいて前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を算出する画素値強度ムラ補正値算出部と、
を有することを特徴とする画像データ処理装置。
【請求項８】
光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置に前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値の生成処理を実行させる画像データ処理プログラムであって、
前記光変調素子の全域に広がる画素値強度ムラを補正するための全体領域画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、
前記光変調素子の全域より狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲むように設定された特定領域に存在する画素の画素値強度ムラを補正するための特定領域画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、
前記特定領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める特定領域重み係数を算出するステップと、
前記全体領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める全体領域重み係数を前記特定領域重み係数に基づいて算出するステップと
前記全体領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域重み係数及び前記全体領域重み係数に基づいて前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、
を有することを特徴とする画像データ処理プログラム。
【請求項９】
光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正方法であって、
請求項１〜６のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正することを特徴とする画像データ補正方法。
【請求項１０】
光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置であって、
請求項１〜６のいずれかに記載の画像データ処理方法によって生成された前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正する画素値強度ムラ補正処理部を有することを特徴とする画像データ補正装置。
【請求項１１】
光変調素子と、前記光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置とを有する画像表示装置であって、
前記画像データ補正装置として、請求項１０に記載の画像データ補正装置を用いること
を特徴とする画像表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光変調素子を構成する各画素の特性のバラツキに起因する画素値強度ムラを補正するための光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法、画像データ処理装置及び画像データ処理プログラム並びに画像データを補正する画像データ補正方法及び画像データ補正装置並びに光変調素子と画像データ補正装置とを有する画像表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像表示装置に用いられる光変調素子（液晶ライトバルブとする）では、画素の特性のバラツキに起因する画素値強度ムラが存在し、この画素値強度ムラによって表示画面に明るさムラ、輝度ムラ、色ムラなどが発生する。
【０００３】
このような画素値強度ムラを低減するために、例えば、液晶ライトバルブの区分領域ごとに設定される画素値強度ムラ補正値に応じて液晶ライトバルブを駆動する手法が実施されている。
【０００４】
この画素値強度ムラ補正値については、画素値強度ムラをきめ細かく補正しようとすれば、画素値強度ムラ補正値の設定される区分領域を多数設定する必要がある。しかしながら、画素値強度ムラ補正値のデータ量が増大するため、液晶プロジェクタのメモリ量の増大、画素値強度ムラ補正値を参照して行う画素値強度ムラ補正処理の処理量の増大といった課題が生じる。これらの課題を解決するために、画素値強度ムラ補正値をデータ量の抑制を図りながら適切に設定する手法が様々に提案されている（例えば、特許文献１〜３参照）。
【０００５】
特許文献１に開示された技術（第１従来技術という）は、入力映像信号の階調補正を行うためのルックアップテーブルと、階調ごとの画面上の不均一性を補正するためのルックアップテーブルとを設け、これらルックアップテーブルからの画素値強度ムラ補正値を合成する回路を設けて、画素値強度ムラ補正値を生成する。
【０００６】
特許文献２に開示された技術（第２従来技術という）には、医療用画像データにおいて、関心領域（画像データの注目する領域）の中心の輝度値を任意の値に設定し、関心領域外部と関心領域内部とで輝度値が連続的に変化するように関心領域内の輝度値を制御する手段を設ける。
【０００７】
特許文献３に開示された技術（第３従来技術という）は、局所的な画素値強度ムラを補正するための補正パラメータから液晶ライトバルブの画素ごとの補正係数（補正値をどの程度反映するかを調整する重み）を生成する。そして、入力信号に基づいて表示パネルの画素ごとの補正値（入力信号に対する階調を上下させる度合い）に補正係数を乗じた値を入力信号に加える。
【０００８】
【特許文献１】特開２０００−２８４７７３号公報
【特許文献２】特開２０００−３３８９４２号公報
【特許文献３】特開２００６−３０３６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上述した第１従来技術から第３従来技術は、いずれにおいても、個々の画素値強度ムラ
（関心領域）の補正値を合成して全体の補正値を生成するということを特徴の１つとしているが、個々の画素値強度ムラ（関心領域）の補正値がどの程度の範囲に対して影響を及ぼすのかが不明瞭であるため、個々の画素値強度ムラ（関心領域）に対して適切な補正値を生成できない場合がある。
【００１０】
また、第１従来技術は、全体の補正値に合成する補正値をどの程度反映させるかを調整する仕組みが無く、また、第２従来技術や第３従来技術は、画素値強度ムラ（関心領域）の補正値のみで対応するものであるため、個々の画素値強度ムラ（関心領域）の補正値を合成して得られる全体の補正値が滑らかにならない場合が生じるという課題がある。
【００１１】
本発明は、光変調素子の全体の領域に対する全体領域画素値強度ムラ補正値と、光変調素子のある特定の領域に対する特定領域画素値強度ムラ補正値とを合成して光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する際、全体領域画素値強度ムラ補正値と特定領域画素値強度ムラ補正値に不連続部分が生じることのない滑らかな画素値強度ムラ補正値を生成することができる画像データ処理方法、画像データ処理装置及び画像データ処理プログラムを提供することを目的とするとともに、入力画像データに対して適切な画素値強度ムラ補正を行うことにより、高品質な画像データを出力可能な画像データ補正方法及び画像データ補正装置を提供することを目的とする。また、光変調素子に画素値強度ムラが存在しても高品質な画像表示を可能とする画像表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
（１）本発明の画像データ処理方法は、光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法であって、前記光変調素子の全域に広がる画素値強度ムラを補正するための全体領域画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、前記光変調素子の全域よりも狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲むように設定された特定領域に存在する画素値強度ムラを補正するための特定領域画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、前記特定領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める特定領域重み係数を算出するステップと、前記全体領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める全体領域重み係数を前記特定領域重み係数に基づいて算出するステップと、前記全体領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域重み係数及び前記全体領域重み係数に基づいて前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を算出するステップとを有することを特徴とする。
【００１３】
本発明の画像データ処理方法は、光変調素子に存在する画素値強度ムラについて、光変調素子の全域を対象とする全体領域画素値強度ムラ補正値と、光変調素子の全域よりも狭い領域を対象とする画素値強度ムラを取り囲む領域（特定領域）のみに対応する特定領域画素値強度ムラ補正値とを算出する。また、特定領域画素値強度ムラ補正値を当該特定領域に含まれる画素に対してどの程度の大きさで適用するかを決める特定領域重み係数を算出するとともに、全体領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子全体の画素に対してどの程度の大きさで適用するかを決める全体領域重み係数を前記特定領域重み係数に基づいて算出するようにしている。そして、全体領域画素値強度ムラ補正値と、特定領域画素値強度ムラ補正値と、特定領域重み係数と、全体領域重み係数とに基づいて光変調素子の画素値強度ムラ補正値を算出するようにしている。
【００１４】
このようにして生成された光変調素子の画素値強度ムラ補正値は、全体領域画素値強度ムラ補正値と特定領域画素値強度ムラ補正値を重ね合わせる際に不連続部分が生じることが無く、滑らかな画素値強度ムラ補正値とすることができる。なお、光変調素子の画素値強度ムラは、表示画面に明るさムラ、輝度ムラ、色ムラなど各種のムラとして現れるが、
本発明はこれらに対応可能である。
【００１５】
（２）前記（１）に記載の画像データ処理方法においては、前記特定領域は、前記光変調素子の各画素の画素値強度を示すデータに基づいて設定され、前記特定領域の形状と、前記特定領域の前記光変調素子における位置と、前記特定領域のサイズを表すデータとを特定領域データとして有し、前記特定領域重み係数は、前記特定領域データを用いて算出することが好ましい。
【００１６】
特定領域がこのような特定領域データを有することにより、特定領域画素値強度ムラ補正値及び特定領域重み係数の算出処理を適切に行うことができる。なお、前記特定領域のサイズを表すデータは、例えば、特定領域の形状が矩形である場合には、横方向及び縦方方向の長さ、特定領域の形状が楕円である場合には、長軸及び短軸の長さ、特定領域の形状が円形である場合には半径などである。
【００１７】
（３）前記（２）に記載の画像データ処理方法においては、前記特定領域の前記光変調素子における前記位置を中心に所定角度だけ回転した状態である場合には、その回転角度を前記特定領域データとして有し、前記特定領域重み係数は、前記回転角度を考慮して算出することが好ましい。
【００１８】
これは、例えば、矩形や楕円の特定領域が、基準となる方向に対して傾きを有して設定される場合、当該特定領域が基準となる方向に対してどの程度の回転角度（傾き角度）を有しているかを取得するものである。このような回転角度を取得することによって、特定領域のサイズを表すデータを容易かつ適切に取得することができ、また、回転を考慮した特定領域重み係数を求めることができる。
【００１９】
（４）前記（２）又は（３）に記載の画像データ処理方法においては、前記特定領域の前記光変調素子における前記位置は、前記特定領域の重心とし、当該位置は、前記特定領域画素値強度ムラ補正値が最大となる位置に対応することが好ましい。
これにより、特定領域の重心において特定領域重み係数を最大となるようにすればよいことから、特定領域重み係数の設定を容易に行うことができる。
【００２０】
（５）前記（４）に記載の画像データ処理方法においては、前記特定領域重み係数は、前記特定領域の前記光変調素子における前記位置で最大となり、前記位置から当該特定領域の境界に向かうに従って減少し、少なくとも当該特定領域の外部でゼロとなるように設定され、前記全体領域重み係数は、前記特定領域の前記光変調素子における前記位置でゼロとなり、前記位置から当該特定領域の境界に向かうに従って増加し、少なくとも当該特定領域の外部で最大となるように設定されることが好ましい。
【００２１】
これにより、特定領域重み係数を特定領域における画素の位置に応じて適切に設定することができ、特定領域において画素値強度ムラの生じている画素に適用すべき画素値強度ムラ補正値を適切な値とすることができる。
【００２２】
（６）前記（１）〜（５）のいずれかに記載の画像データ処理方法においては、前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値は、前記全体領域画素値強度ムラ補正値と前記全体領域重み係数とを乗算して得られる値と、前記特定領域画素値強度ムラ補正値と前記特定領域重み係数とを乗算して得られる値との和で表されることが好ましい。
【００２３】
このようにして光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成することで、生成された光変調素子の画素値強度ムラ補正値は、全体領域画素値強度ムラ補正値と特定領域画素値強度ムラ補正値とを重ね合わせる際に、不連続部分が生じることがなく、滑らかな画素値強度
ムラ補正値とすることができる。
【００２４】
（７）本発明の画像データ処理装置は、光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理装置であって、前記光変調素子の全域に広がる画素値強度ムラを補正するための全体領域画素値強度ムラ補正値を算出する全体領域画素値強度ムラ補正値算出部と、前記光変調素子の全域よりも狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲むように設定された特定領域に存在する画素の画素値強度ムラを補正するための特定領域画素値強度ムラ補正値を算出する特定領域画素値強度ムラ補正値算出部と、前記特定領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める特定領域重み係数を算出する特定領域重み係数算出部と、前記全体領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める全体領域重み係数を前記特定領域重み係数に基づいて算出する全体領域重み係数算出部と、前記全体領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域重み係数及び前記全体領域重み係数に基づいて前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を算出する画素値強度ムラ補正値算出部とを有することを特徴とする。
【００２５】
本発明の画像データ処理装置によれば、前記（１）に記載の画像データ処理方法と同様の効果が得られる。なお、本発明の画像データ処理装置においても、（２）〜（６）に記載の画像データ処理方法の特徴を有することが好ましい。
【００２６】
（８）本発明の画像データ処理プログラムは、光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための光変調素子の画素値強度ムラ補正値を生成する画像データ処理方法であって、前記光変調素子の全域に広がる画素値強度ムラを補正するための全体領域画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、前記光変調素子の全域よりも狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲むように設定された特定領域に存在する画素の画素値強度ムラを補正するための特定領域画素値強度ムラ補正値を算出するステップと、前記特定領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める特定領域重み係数を算出するステップと、前記全体領域画素値強度ムラ補正値を前記光変調素子の各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決める全体領域重み係数を前記特定領域重み係数に基づいて算出するステップと、前記全体領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域画素値強度ムラ補正値、前記特定領域重み係数及び前記全体領域重み係数に基づいて前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を算出するステップとを有することを特徴とする。
【００２７】
本発明の画像データ処理プログラムを画像データ処理装置に実行させることにより、前記（１）に記載の画像データ処理方法と同様の効果が得られる。なお、本発明の画像データ処理プログラムにおいても、（２）〜（６）に記載の画像データ処理方法の特徴を有することが好ましい。
【００２８】
（９）本発明の画像データ補正方法は、光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正方法であって、前記（１）〜（６）に記載の画像データ処理方法によって生成された前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正することを特徴とする。
【００２９】
このように、本発明の画像データ補正処理方法が、前記（１）〜（６）に記載の画像データ処理方法によって生成された前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を用いて入力画像データを補正することにより、光変調素子に画素値強度ムラが存在しても画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を表示させることができる。
【００３０】
（１０）本発明の画像データ補正装置は、光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置であって、前記（１）〜（６）に記載の画像データ処理方法によって生成された前記光変調素子の画素値強度ムラ補正値を用いて前記画像データを補正する画素値強度ムラ補正処理部を有することを特徴とする。
本発明の画像データ補正装置によれば、前記（９）に記載の画像データ補正方法と同様の効果が得られる。
【００３１】
（１１）本発明の画像表示装置は、光変調素子と、前記光変調素子に入力する画像データを補正する画像データ補正装置とを有する画像表示装置であって、前記画像データ補正装置として、前記（１０）に記載の画像データ補正装置を用いることを特徴とする。
例えばプロジェクタなどの画像表示装置の画像データ補正装置として、（１０）に記載の画像データ補正装置を用いることにより、画像表示装置が有する光変調素子に画素値強度ムラが存在しても画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を表示させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下、本発明の実施形態について説明する。なお、以下に説明する実施形態においては、光変調素子は液晶ライトバルブであるとして説明する。また、液晶ライトバルブ画素の特性のバラツキに起因する画素値強度ムラによって、表示画面には明るさムラ、輝度ムラ、色ムラなど各種のムラが発生する。
【００３３】
[実施形態１]
図１は液晶ライトバルブ全域に広がる画素値強度ムラと、液晶ライトバルブの全域よりも狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲む領域の一例を示す図である。図１において、太線の枠で囲まれた領域は、液晶ライトバルブの全体領域Ｇであり、破線の枠で囲まれた領域は、液晶ライトバルブの全域よりも狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲む領域（特定領域という）である。
【００３４】
なお、特定領域は、入力階調のうちでいくつかの階調を選択し、選択された各入力階調について、画素値強度ムラを取得し、図１のような液晶ライトバルブの全域よりも狭い領域に存在する画素値強度ムラを取り囲む領域を特定領域として設定するもので、図１においては、矩形の特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが設定されている。なお、これら特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおいては、当該特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの中央部（各特定領域の重心とする）に向かうほど画素値強度が減少している。
【００３５】
本発明では、入力階調のうちの選択された各階調において、液晶ライトバルブの全体領域Ｇに対して全体領域画素値強度ムラ補正値を算出するとともに、各特定領域（実施形態では特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄとしている）に対して特定領域画素値強度ムラ補正値を算出する。
【００３６】
また、算出された特定領域画素値強度ムラ補正値を液晶ライトバルブの各画素に対してどの程度の強さで適用するかを決めるための重み係数（特定領域重み係数という）を算出するとともに、全体領域画素値強度ムラ補正値を液晶ライトバルブの各画素に対してどの程度の強さで適用するかを示す重み係数（全体領域重み係数という）を特定領域重み係数に基づいて算出する。
【００３７】
図２は図１に示す特定領域Ａに対して設定される特定領域画素値強度ムラ補正値ΔＩＡ及び特定領域重み係数ＷＡの一例を示す図である。図２（ａ）は図１の特定領域Ａを取り出して示す図である。図２（ｂ）は、図２（ａ）の直線Ａ０−Ａ１上における特定領域画素値強度ムラ補正値ΔＩＡを示す図、図２（ｃ）は、図２（ａ）の直線Ａ２−Ａ３上にお
ける特定領域画素値強度ムラ補正値ΔＩＡを示す図である。図２（ｂ），（ｃ）に示すように、特定領域画素値強度ムラ補正値ΔＩＡは、特定領域Ａで画素値強度が減少する部分においては、画素値強度がより増大するように設定されている。
【００３８】
また、図２（ｄ）は、図２（ａ）の直線Ａ０−Ａ１上における特定領域重み係数を示す図、図２（ｅ）は図２（ａ）の直線Ａ２−Ａ３上における特定領域重み係数を示す図である。図２（ｄ），（ｅ）に示すように、特定領域Ａにおける特定領域重み係数ＷＡは、特定領域Ａにおける中央部で最大値（ここでは「１．０」としている）となり、特定領域Ａの中央部から特定領域Ａの境界に近づくに従って単調減少し、特定領域Ａの境界及び特定領域Ａの外側においては「０」となるように設定されている。
なお、図２（ｂ），（ｄ）における点ａ，ｂは、直線Ａ０−Ａ１上における特定領域Ａの両端の位置であり、図２（ｃ），（ｅ）における点ｃ，ｄは、直線Ａ２−Ａ３上における特定領域Ａの両端の位置である。
【００３９】
図３は図１に示す全体領域Ｇに対して設定される全体領域重み係数ＷＧの一例を示す図である。図３（ａ）は図１を縮小して示す図である。図３（ｂ）は、図３（ａ）の直線Ｇ０−Ｇ１上における全体領域重み係数ＷＧを示す図、図３（ｃ）は、図３（ａ）の直線Ｇ２−Ｇ３上における全体領域重み係数ＷＧを示す図である。
【００４０】
図３（ｂ），（ｃ）に示すように、特定領域を除く領域において、全体領域重み係数ＷＧは最大値（ここでは「１．０」としている）となり、特定領域内においては、特定領域の中央部で全体領域重み係数ＷＧが「０」となり、特定領域の中央部から特定領域の境界に近づくに従って単調増加し、特定領域の境界及び特定領域の外側で最大値（＝１．０）となる。
なお、図３（ｂ）における点ａ，ｂは、直線Ｇ０−Ｇ１上における特定領域Ａの両端の位置であり、点ｅ，ｆは、直線Ｇ０−Ｇ１上における特定領域Ｂの両端の位置である。また、図２（ｃ）における点ｇ，ｈは、直線Ｇ２−Ｇ３上における特定領域Ｃの両端の位置であり、点ｃ，ｄは、直線Ｇ２−Ｇ３上における特定領域Ａの両端の位置である。
【００４１】
図４は本発明の実施形態１に係る画像データ処理装置の構成を示す図である。本発明の画像データ処理装置は、その構成要素として、特定領域取得部１０１、特定領域画素値強度ムラ補正値算出部１０２、特定領域重み係数算出部１０３、全体領域画素値強度ムラ補正値算出部１０４、全体領域重み係数算出部１０５、液晶ライトバルブを構成する各画素に対する画素値強度ムラ補正値を算出する画素値強度ムラ補正値算出部１０６を有している。
【００４２】
また、本発明の画像データ処理装置が行うべき処理に必要なデータ及び上述の各構成要素において得られるデータとしては、画素値強度ムラデータＤ１、特定領域取得用データＤ２、特定領域データＤ３、特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４、特定領域重み係数データＤ５、全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６、全体領域重み係数データＤ７がある。
【００４３】
画素値強度ムラデータＤ１は、特定の入力階調における液晶ライトバルブの各画素の画素値強度を示すデータである。また、特定領域取得用データＤ２は、特定領域を取得する際に参照するデータ（図６参照）である。
【００４４】
特定領域取得部１０１は、画素値強度ムラデータＤ１、特定領域取得用データＤ２を用いて、液晶ライトバルブにおける局所的な画素値強度ムラが生じている領域を取り囲む領域を特定領域として取得し、取得した特定領域の特徴量などを特定領域データＤ３として記憶部（図示せず）に格納する。特定領域データＤ３は、特定領域の形状と、特定領域の
液晶ライトバルブ上における位置と、当該特定領域のサイズを表すデータとを有し、さらに、当該特定領域が特定領域の液晶ライトバルブ上における位置を中心に所定角度だけ回転した状態である場合には、その回転角度を有する（図７参照）。
【００４５】
特定領域画素値強度ムラ補正値算出部１０２は、画素値強度ムラデータＤ１と特定領域データＤ３を用いて、当該特定領域において目標とする画素値強度が出力されるのに必要な入力階調への補正量を算出して、算出した補正値を特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４として記憶部（図示せず）に格納する。
【００４６】
特定領域重み係数算出部１０３は、特定領域データＤ３を用いて、特定領域画素値強度ムラ補正値を対応する画素に対してどの程度の大きさで適用するかを決めるための重み係数を算出し、算出した重み係数を特定領域重み係数データＤ５として記憶部（図示せず）に格納する。
【００４７】
全体領域画素値強度ムラ補正値算出部１０４は、画素値強度ムラデータＤ１と特定領域データＤ３とを用いて、液晶ライトバルブ全体について目標とする画素値強度が出力されるのに必要な入力階調への補正量を算出して、算出した補正値を全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６として記憶部（図示せず）に格納する。
【００４８】
全体領域重み係数算出部１０５は、特定領域データＤ３を用いて、全体領域画素値強度ムラ補正値を対応する液晶ライトバルブの画素にどの程度の大きさで適用するかを決めるための重み係数を特定領域重み係数に基づいて算出し、算出した重み係数を全体領域重み係数データＤ７として記憶部（図示せず）に格納する。
【００４９】
画素値強度ムラ補正値算出部１０６は、特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４、特定領域重み係数データＤ５、全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６及び全体領域重み係数データＤ７に基づいて、光変調素子（実施形態では液晶ライトバルブ）を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための光変調素子の画素値強度ムラ補正値を算出する。
なお、画素値強度ムラ補正値算出部１０６で算出された液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値を用いて、入力画像データを補正することにより、液晶ライトバルブに画素値強度ムラが存在しても画素値強度ムラの抑制された高品質な画像を表示させることができる。この入力画像データの補正については後述する。
【００５０】
図５は画素値強度ムラデータＤ１について説明する図である。図５（ａ）は液晶ライトバルブの全体領域Ｇにおける画素配列を示す図、図５（ｂ）は各画素における画素値強度ムラデータであり、図５においては、液晶ライトバルブの画素数は、横方向に４０画素、縦方向に３０画素の合計１２００画素であるとしている。そして、液晶ライトバルブの各画素の横方向の位置を「０」〜「３９」、縦方向の位置を「０」〜「２９」で表している。また、各画素のインデクス（画素インデクス）をラスタスキャン方向に沿って、「０」〜「１１９９」で表し、「０」〜「１１９９」のインデクスが与えられた各画素の所定の入力階調における明るさが示されている。
【００５１】
図６は特定領域取得用データＤ２の一例を示す図である。図６において、インデクスは特定領域の形状に対応して設定されるもので、インデクス「０」は特定領域の形状が矩形であることを示し、インデクス「１」は特定領域の形状が楕円であることを示している。図６では図示していないが、これら以外にも、例えば、インデクス「２」は特定領域の形状が円形、インデクス「３」は特定領域の形状が三角形というように、特定領域の形状に対応させて設定することができる。
【００５２】
また、図６に示す特徴量α取得処理、特徴量β取得処理など様々な特徴量取得処理は、
特定領域の形状に応じた特定領域の特徴量を取得する処理を示し、それぞれの特徴量取得処理結果とその特徴量取得処理結果に対応する特徴量が記述されている。
【００５３】
例えば、特徴量α取得処理は、特定領域の傾き角度を表す回転角度を取得する処理であり、これは、特定領域の形状が矩形である場合と楕円である場合とで共通の処理である。この特徴量α取得処理は、特定領域がある方向（水平方向とする）に対して何度回転（時計方向を「＋」、反時計方向を「−」とする）した状態であるかを処理結果Φαとして取得し、取得した処理結果Φαをそのまま特徴量αとする。例えば、ある特定領域が水平方向に対して反時計方向に３０度回転した状態であるとすれば、当該特定領域における特徴量αは「−３０度」となる。
【００５４】
特徴量β取得処理は、矩形形状を有する特定領域の横方向長さを取得する処理であり、処理結果（Φβ≦０，・・・，８＜Φβ≦１０，１０＜Φβ≦１２，・・・など）の範囲に対して設定される代表値（「０」，・・・，「１１」，「１３」，・・・）を特徴量βとする。例えば、Φβが１０＜Φβ≦１２の範囲である場合には、それよりも少し余裕を持たせた「１３」を当該特定領域の横方向長さとして設定する。
【００５５】
特徴量γ取得処理は、矩形形状を有する特定領域の縦方向長さを取得する処理であり、処理結果（Φγ≦０，・・・，２＜Φγ≦４，４＜Φγ≦６，・・・など）の範囲に対して設定される代表値（「０」，・・・，「５」，「７」，・・・）を特徴量γとする。例えば、Φγが４＜Φγ≦６の範囲である場合には、それよりも少し余裕を持たせた「７」を当該特定領域の縦方向長さとして設定する。
【００５６】
特徴量δ取得処理は、楕円形状を有する特定領域の楕円の長軸長さを取得する処理であり、処理結果（Φδ≦０，・・・，７＜Φδ≦１０，１０＜Φδ≦１３，・・・など）の範囲に対して設定される代表値（「０」，・・・，「１１」，「１４」，・・・）を特徴量δとする。この場合も、例えば、Φδが１０＜Φδ≦１３の範囲である場合には、それよりも少し余裕を持たせた「１４」を当該特定領域の縦方向長さとして設定する。
【００５７】
特徴量ε取得処理は、楕円形状を有する特定領域の楕円の短軸長さを取得する処理であり、処理結果（Φε≦０，・・・，３＜Φε≦５，５＜Φε≦７，・・・など）の範囲に対して設定される代表値（「０」，・・・，「６」，「８」，・・・）を特徴量εとする。この場合も、例えば、Φεが５＜Φε≦７の範囲である場合には、それよりも少し余裕を持たせた「８」を当該特定領域の縦方向長さとして設定する。
【００５８】
図７は図１に示す特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに設定された特定領域データＤ３の一例を示す図である。特定領域データＤ３は、特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表すインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと各特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量から構成されている。なお、特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特徴量としては、図６に示した特徴量α（回転角度）、特徴量β（横方向長さ）、特徴量γ（縦方向長さ）、特徴量δ（長軸長さ）、特徴量ε（短軸長さ）などの他に、特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの形状や特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの液晶ライトバルブ上の位置（横方向及び縦方向の位置）もこれら特定領域の特徴量とする。
【００５９】
また、各特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの液晶ライトバルブ上の位置は、各特定領域の重心の位置（重心位置という）で表される。また、特定領域の位置の横方向「１２」、縦方向「６」などの数値は、図１に示すように、液晶ライトバルブの全体領域Ｇの縦横それぞれの位置（画素数）であり、その位置が各特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの重心位置に対応する。
【００６０】
図８は特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４について説明する図である。図８（ａ）はある特定領域（特定領域Ａとする）を取り出して示す図であり、図８（ｂ）は特定領
域Ａに対応する特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４を示す図である。特定領域Ａの形状は矩形であり、そのサイズは、図７に示すように、横方向長さが「１７」、縦方向長さが「５」である。したがって、特定領域Ａにおける画素数は「８５」であり、各画素に与えられる画素インデクスは「０」〜「８４」である。
【００６１】
特定領域Ａは図１に示すように中央部（重心）で画素値強度が減少している。したがって、特定領域Ａに対する特定領域画素値強度ムラ補正値は、中央部とその周辺の画素（画素インデクス「４１」、「４２」、「４３」など）に対してはそれぞれ「＋７」が設定されている。また、特定領域Ａの端部に存在する画素に対しては、特定領域画素値強度ムラ補正値は「０」が設定されている。なお、図８（ｂ）に示す画素位置は、図８（ｂ）においては、特定領域Ａにおける画素位置を表しているが、液晶ライトバルブの全体領域Ｇにおける画素位置で表すようにしてもよい。
【００６２】
図９は特定領域重み係数データＤ５について説明する図である。図９（ａ）はある特定領域（特定領域Ａとする）を取り出して示す図であり、図９（ｂ）は特定領域Ａに対応する特定領域重み係数データＤ５を示す図である。
【００６３】
特定領域Ａに対する特定領域重み係数は、中央部とその周辺の画素（画素インデクス「４１」、「４２」、「４３」など）のうち、画素インデクス「４１」、「４３」の画素に対してはそれぞれ「０．８８」、画素インデクス「４２」の画素に対しては「１．０」が設定されている。また、特定領域Ａの端部に存在する画素に対して「０．０」が設定されている。なお、図９（ｂ）に示す画素位置は、図９（ｂ）においては、特定領域Ａにおける画素位置を表しているが、液晶ライトバルブの全体領域Ｇにおける画素位置で表すようにしてもよい。
【００６４】
図１０は全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６について説明する図である。図１０（ａ）は液晶ライトバルブの全体領域Ｇを示す図であり、図１０（ｂ）は全体領域画素値強度ムラ補正値の一例を示す図である。図１０（ｂ）に示すように、全体領域Ｇの横方向及び縦方向において一定間隔ごと（５画素ごととしている）に全体領域画素値強度ムラ補正値を設定する。
【００６５】
全体領域Ｇは横方向の４０画素、縦方向に３０画素を有するので、全体領域画素値強度ムラ補正値を５画素ごとに設定すると、横方向においては９個の画素、縦方向においては７個の画素において全体領域画素値強度ムラ補正値が設定される。したがって、図１０（ｂ）に示すように、全体領域画素値強度ムラ補正値の設定される画素に対する画素インデクス「０」〜「６２」に対応して全体領域画素値強度ムラ補正値が設定される。なお、全体領域画素値強度ムラ補正値の設定されていない画素については、全体領域画素値強度ムラ補正値の設定されている画素の画素値強度ムラ補正値を用いて補間処理によって求めることができる。
【００６６】
図１１は全体領域重み係数データＤ７を説明する図である。全体領域重み係数データＤ７は、図３に示したように、特定領域以外の領域においては全体領域重み係数はすべて１．０であり、特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおいてのみ、当該特定領域の位置に応じた重み係数（１．０未満）が設定されるため、全体領域重み係数データＤ７としては、図１１に示すように、特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおける全体領域重み係数を格納しておけばよい。
【００６７】
図１１における画素インデクスは、全体領域重み係数が１．０未満となる領域すなわち特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの境界に位置する画素を除く特定領域に存在する画素のインデクスを表し、また、位置は当該画素インデクスに対応する画素位置（横方向位置及び縦方向位置）であり、これらの位置に対応する全体領域重み係数が、特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに
係わる全体領域重み係数として設定される。なお、全体領域重み係数は、例えば、「全体領域重み係数＝１．０−（特定領域重み係数）」により求めることができる。
【００６８】
図１２は図４に示す特定領域取得部１０１の処理手順を示すフローチャートである。特定領域取得部１０１は、図１２に示すように、画素値強度ムラデータＤ１（図５参照）を取得するとともに特定領域取得用データ（図６参照）を取得し（ステップＳ１，Ｓ２）、ｉ＝０を設定し（ステップＳ３）、設定されたｉ番目の特定領域取得処理を行う（ステップＳ４）。ここで、ｉは図６のインデクスに対応し、インデクス「０」から順に処理を行う。
【００６９】
そして、特定領域取得処理を全て行ったか否かを判定し（ステップＳ５）、特定領域取得処理を全て行っていれば、処理を終了するが、特定領域取得処理を全て行っていなければ、ｉ＝ｉ＋１を行って（ステップＳ６）、ステップＳ４に戻る。このような処理を行うことにより、特定領域データ（図７参照）が得られる。
【００７０】
図１３は特定領域の特徴量を取得する処理を説明するフローチャートである。また、図１４は図１３に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図である。なお、図１３及び図１４は図１に示す特定領域Ｃを取得する処理について説明する図である。
【００７１】
図１３及び図１４において、まず、画素値強度ムラデータに対して二値化処理及びラベリング処理（図１３のステップＳ１１，Ｓ１２、図１４（ａ），（ｂ））を行うことで、画素値強度ムラの生じていると考えられる領域と画素値強度ムラの生じていないと考えられる領域とを分けることにより、局所的に広がる画素値強度ムラの領域を取得する。
【００７２】
そして、局所的に広がる画素値強度ムラの領域で計算できる重心を取得し（図１４（ｃ））、取得した重心位置Ｐを特定領域の位置とする(図１３のステップＳ１３)。ここでは、重心位置は、液晶ライトバルブにおける全体領域Ｇの左端から１２画素、上端から１８画素の位置として取得される。
【００７３】
続いて、下記（１）式に示すような回転検出処理によって、画素値強度ムラ領域の基準位置（水平方向）に対する回転角度を特徴量αとして取得する（図１３のステップＳ１４、図１４（ｄ））。
【数１】
2008197304.tif 000003
【００７４】
なお、（１）式は分布の広がりを回転角度として取得することができる計算式であり、（１）式によって求められた「θ」を特徴量αとする。ここでは特定領域Ｃについて考えているので、特定領域Ｃの水平方向に対する回転角度θを得るもので、θ＝３０度と求められたとする。なお、反時計方向を「−」としているので、特定領域Ｃの回転角度θは−３０度である。
【００７５】
さらに、下記（２）式で表される回転処理をステップＳ１１，Ｓ１２で得られた画素値強度ムラ領域に適用し、画素値強度ムラ領域の回転を打ち消す処理を行う。このように、
（２）式で表される回転処理をステップＳ１１，Ｓ１２で得られた画素値強度ムラ領域に適用することによって、図１４（ｄ）に示すように、−３０度回転した状態の特定領域Ｃの回転を打ち消すことができ、図１４（ｅ）のようにすることができる。
【数２】
2008197304.tif 000004
【００７６】
その後に、下記（３）式および（４）式のように、回転の打ち消された画素値強度ムラ領域において、その重心位置Ｐ（その座標を（ｘ０、ｙ０）とする）から最も遠い位置ΔｘｍａｘとΔｙｍａｘとを取得して、取得したΔｘｍａｘとΔｙｍａｘとに基づいて特徴量β及び特徴量γを取得する（図１３のステップＳ１５，Ｓ１６、図１４（ｅ），（ｆ））。
【数３】
2008197304.tif 000005
【００７７】
図１５は特定領域重み係数算出部１０３の処理手順を示す図である。図１５において、特定領域データＤ３（図７参照）を取得して（ステップＳ２１）、ｉ＝０を設定する（ステップＳ２２）。ここで、ｉは図７のインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応し、ｉ＝０は特定領域Ａ、ｉ＝１は特定領域Ｂ、ｉ＝２は特定領域Ｃ、ｉ＝３は特定領域Ｄに対応する。
【００７８】
そして、設定されたｉ番目の特定領域に対応する特徴量を取得し（ステップＳ２３）、ｉ番目の特定領域に対応する特定領域重み係数を算出する（ステップＳ２４）。そして、すべての特定領域について特定領域重み係数を算出したか否かを判定し（ステップＳ２５）、すべての特定領域について特定領域重み係数の算出を行っていれば、処理を終了するが、すべての特定領域について特定領域重み係数の算出を行っていなければ、ｉ＝ｉ＋１を行って（ステップＳ２６）、ステップＳ２３に戻る。
【００７９】
なお、特定領域重み係数を算出する一例として、図１６（ａ）に示すような一般的な四辺形の場合を（５）式に示す。
【数４】
2008197304.tif 000006
【００８０】
（５）式において、Ｗｌｏｃａｌ（ｘ、ｙ）は、四辺形を４つの三角形（三角形ｏａｂ、三角形ｏｂｄ、三角形ｏｄｃ、三角形ｏｃａ）に分けたときの各三角形内のある位置（ｘ，ｙ）における特定領域重み係数である。なお、（５）式において、三角形ｏａｂの領域内においてはｉ＝ａ，ｊ＝ｂ、三角形ｏｂｄの領域内においてはｉ＝ｂ，ｊ＝ｄ、三角形ｏｄｃの領域内においてはｉ＝ｄ，ｊ＝ｃ、三角形ｏｃａの領域内においてはｉ＝ｃ，ｊ＝ａである。
【００８１】
ここで、四辺形が図１６（ｂ）に示すような矩形である場合の重み係数について考える。なお、図１６（ｂ）に示す矩形における点ａの座標を（０，ｈｙ）、点ｂ座標を（０，０）、点ｃの座標を（ｈｘ，ｈｙ）、点ｄの座標を（ｈｘ，０）とする。
【００８２】
図１６（ｂ）に示す矩形を構成する４つの三角形のうち、三角形ｏａｂの領域内においては、
【数５】
2008197304.tif 000007
と表すことができる。なお、この場合、ｉ＝ａ，ｊ＝ｂである。
【００８３】
また、図１６（ｂ）に示す矩形を構成する４つの三角形のうち、三角形ｏｂｄの領域内においては、
【数６】
2008197304.tif 000008
と表すことができる。なお、この場合、ｉ＝ｂ，ｊ＝ｄである。
【００８４】
同様に、図１６（ｂ）に示す矩形を構成する４つの三角形のうち、三角形ｏｃａの領域内においては、
【数７】
2008197304.tif 000009
と表すことができる。なお、この場合、ｉ＝ｃ，ｊ＝ａである。
【００８５】
同様に、図１６（ｂ）に示す矩形を構成する４つの三角形のうち、三角形ｏｄｃの領域内においては、
【数８】
2008197304.tif 000010
と表すことができる。なお、この場合、ｉ＝ｄ，ｊ＝ｃである。
【００８６】
これら（６）〜(９)式においては、矩形の重心位置（図６においては、重心位置を「ｏ」としている）においてそれぞれ求められる特定領域重み係数が「１．０」となり、矩形の各辺つまりは特定領域の境界に近づくに従って特定領域重み係数の値が単調減少し、四辺形の各辺つまりは特定領域の境界においては特定領域重み係数が０．０となる。
【００８７】
一方、特定領域が図１６（ｃ）に示すような楕円の場合の特定領域重み係数は、（１０）式のように表すことができる。
【数９】
2008197304.tif 000011
（１０）式において、Ｗｌｏｃａｌ（ｘ、ｙ）は、図１６（ｃ）に示す楕円の中心をｘ，ｙ座標の原点としたときの楕円内のある位置（ｘ，ｙ）における重み係数である。
【００８８】
図１７は特定領域重み係数を算出するための処理手順を示すフローチャートである。図１７において、まず、特定領域データＤ３から特徴量を取得する(ステップＳ３１)。そして、取得した特徴量から特定領域重み係数の算出方法を決定し(ステップＳ３２)、特定領域重み係数の算出を行い（ステップＳ３３）、算出した特定領域重み係数を格納する（ステップＳ３４）。
【００８９】
図１８は図１７のフローチャートの処理を具体的に説明する図である。なお、図１８は図１に示す特定領域Ｃを取得する処理について説明する図である。図１８（ａ）は取得した特徴量の一例を示すもので、図７に示す特定領域データＤ３からは、特定領域Ｃの形状として「矩形」、「特徴量α（回転角度θ）＝−３０度」、「特徴量β（横方向長さ）＝１９」、「特徴量γ（縦方向長さ）＝５」が取得される。
【００９０】
次に、取得した特徴量に基づいて特定領域重み係数の算出を行う。すなわち、「特徴量β＝１９」、「特徴量γ＝５」を用いて、（５）式によって特定領域重み係数を算出し、算出された値について、特定領域の重心周りで時計方向に−３０°回転させたものが特定領域Ｃでの特定領域重み係数となる（図１８（ｂ），（ｃ）参照）。なお、図１８（ｃ）における特定領域Ｃ内のグレー階調の濃淡の変化は、特定領域Ｃにおける特定領域重み係数の大きさの変化を表し、色が薄く白色になるほど重み係数は「１．０」に近づく。つまり、特定領域Ｃの重心では重み係数が最大値（この場合「１．０」）となり、端部で「０．０」）となっている。
【００９１】
図１９は全体領域重み係数算出部１０５の処理手順を示す図である。全体領域重み係数を算出する単純な方法としては、「全体領域重み係数＝１．０−（特定領域重み係数）」が挙げられる。
【００９２】
図１９において、まず、特定領域データＤ３（図７参照）を取得して（ステップＳ４１）、ｉ＝０を設定する（ステップＳ４２）。ここで、ｉは図７のインデクスＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応し、ｉ＝０は特定領域Ａ、ｉ＝１は特定領域Ｂ、ｉ＝２は特定領域Ｃ、ｉ＝３は特定領域Ｄに対応する。そして、設定されたｉ番目の特定領域データの特徴量を取得し（ステップＳ４３）、ｉ番目の全体領域データ重み係数を算出する（ステップＳ４４）。なお、ｉ番目の全体領域データ重み係数は、下記（１１）式によって算出することができる。
【数１０】
2008197304.tif 000012
（１１）式におけるＷｇｌｏｂａｌ（ｘ、ｙ）は全体領域重み係数、Ｗｌｏｃａｌ（ｘ、ｙ）は特定領域重み係数である。
【００９３】
そして、すべての特定領域について全体領域重み係数を算出したか否かを判定し（ステップＳ４５）、すべての特定領域について全体領域重み係数の算出を行っていれば、処理を終了するが、すべての特定領域について全体領域重み係数の算出を行っていなければ、ｉ＝ｉ＋１を行って（ステップＳ４６）、ステップＳ４３に戻る。
【００９４】
図２０はある特定領域における全体領域重み係数を算出するための処理手順を示すフローチャートである。図２０において、まず、特定領域データＤ３から処理対象となる特定領域の特徴量を取得する(ステップＳ５１)。そして、取得した特徴量から特定領域重み係数の算出方法を決定し(ステップＳ５２)、当該特定領域に対する特定領域重み係数の算出を行い（ステップＳ５３）、算出した特定領域重み係数を用いて、（１１）式により全体領域重み係数を算出し、算出した全体領域重み係数を格納する（ステップＳ５４）。
【００９５】
図２１は図２０のフローチャートの処理を具体的に説明する図である。なお、図２１は図１に示す特定領域Ｃを取得する処理について説明する場合である。図２１（ａ），（ｂ）は図１８（ａ），（ｂ）と同じ処理であり、これにより算出された特定領域重み係数を用いて、特定領域Ｃに係わる全体領域重み係数を（１１）式により算出する（図２１（ｃ））。
【００９６】
すなわち、図２１（ｄ）に示すように、まずは、「特徴量β（横方向長さ）＝１９」、「特徴量γ（縦方向長さ）＝５」を用いて、（５）式によって特定領域重み係数を算出し、算出された値について、特定領域の重心周りで時計方向に−３０°回転させたものが特
定領域Ｃにおける特定領域重み係数となり、その特定領域Ｃにおける特定領域重み係数を（１１）式に適用することで特定領域Ｃに係わる全体領域重み係数を求める。
【００９７】
なお、図２１（ｄ）における特定領域Ｃ内のグレー階調の濃淡の変化は、全体領域重み係数の大きさの変化を表し、色が薄く白色になるほど重み係数は「１．０」に近づく。つまり、特定領域Ｃ内における全体領域重み係数は、特定領域Ｃの重心では重み係数が「０．０」となり、端部で最大（この場合「１．０」）となっている。
【００９８】
以上説明したような処理によって、特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４、特定領域重み係数データＤ５、全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６、全体領域重み係数データＤ７を算出することができる。
【００９９】
そして、図４に示す画素値強度ムラ補正値算出部１０６では、これら特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４、特定領域重み係数データＤ５、全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６、全体領域重み係数データＤ７を用いて、光変調素子を構成する各画素の画素値強度ムラを補正するための光変調素子の画素値強度ムラ補正値を算出する。下記に示す（１２）式は、液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値を算出するための式である。
【数１１】
2008197304.tif 000013
上記（１２）式において、ΔＩ（ｘ、ｙ）は液晶ライトバルブのある位置（ｘ，ｙ）における画素値強度ムラ補正値である。また、Ｗｇｌｏｂａｌ（ｘ、ｙ）は全体領域重み係数、ΔＩｇｌｏｂａｌ（ｘ、ｙ）は全体領域画素値強度ムラ補正値、Ｗｌｏｃａｌ（ｘ、ｙ）は特定領域重み係数、ΔＩｌｏｃａｌ（ｘ、ｙ）は特定領域画素値強度ムラ補正値である。
【０１００】
これによって求められる液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値は、全体領域画素値強度ムラ補正値と特定領域画素値強度ムラ補正値を重ね合わせる際に不連続部分が生じることがなく、滑らかな画素値強度ムラ補正値となる。このような画素値強度ムラ補正を用いて、入力画像に対して画素値強度ムラ補正を行うことにより、高品質な画素値強度ムラ補正を行うことができる。
【０１０１】
[実施形態２]
図２２は本発明の実施形態２に係る画像データ補正装置の構成を示す図である。本発明の実施形態２に係る画像データ補正装置２００は、図２２に示すように、図４に示した画素値強度ムラ補正値算出部と、この画素値強度ムラ補正値算出部１０６で算出された画素値強度ムラ補正値を用いて、入力画像データＤ１０に対して画素値強度ムラ補正を行い、画素値強度ムラ補正済み入力画像データＤ１１を出力する画素値強度ムラ補正処理部２０１を有している。
【０１０２】
なお、画素値強度ムラ補正値算出部１０６は、図４に示した特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４、特定領域重み係数データＤ５、全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６、全体領域重み係数データＤ７を用いて、（１２）式により、液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値を算出するものである。なお、特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４、特定領域重み係数データＤ５、全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６、全体領域重み係数データＤ７の算出処理、液晶ライトバルブを構成する各画素に対する画素値強度ムラ補正値の算出処理などについては、図１〜図２１により説明したのでここではその説
明は省略する。
【０１０３】
図２３は画像データ補正装置２００が行う画像データ補正処理の手順を示すフローチャートである。図２３において、まず、特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４、特定領域重み係数データＤ５、全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６、全体領域重み係数データＤ７を取得する（ステップＳ６１〜Ｓ６４）。
【０１０４】
次に、ステップＳ６１〜Ｓ６４により取得した各データＤ４〜Ｄ７を用いて、（１２）式により、液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値を作成する（ステップＳ６５）。そして、補正処理すべき画像データ（入力画像データＤ１０）が存在するか否かを判定し（ステップＳ６６）、補正処理すべき画像データが存在しなければ、処理を終了するが、補正処理すべき画像データが存在すれば、補正処理すべき画像データを取得して（ステップＳ６７）、ステップＳ６５によって作成された液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値を用いて当該画像データの画素値強度ムラ補正処理を行い（ステップＳ６８）、画素値強度ムラ補正済み画像データＤ１１の転送を行う（ステップＳ６９）。
【０１０５】
以上説明したように、図２２に示す画像データ補正装置２００によれば、図４に示した特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４、特定領域重み係数データＤ５、全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６、全体領域重み係数データＤ７を用いて、画素値強度ムラ補正値算出部１０６が（１２）式により、液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値を算出する。そして、画素値強度ムラ補正処理部２０１は、画素値強度ムラ補正値算出部１０６で算出された光変調素子補正値を用いて、入力画像データＤ１０に対して画素値強度ムラ補正を行う。
【０１０６】
実施形態２に係る画像データ補正装置２００が用いる液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値、すなわち、画素値強度ムラ補正値算出部１０６によって算出される液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値は、全体領域画素値強度ムラ補正値と特定領域画素値強度ムラ補正値が滑らかに合成されたものとなり、このような画素値強度ムラ補正値を用いて画素値強度ムラ補正を行うことにより、高品質な画素値強度ムラ補正を行うことができる。
【０１０７】
なお、実施形態２に係る画像データ補正装置２００は、図２２に示したように、画素値強度ムラ補正値算出部１０６と、画素値強度ムラ補正処理部２０１とを有する構成としたが、画像データ補正装置２００は、画素値強度ムラ補正値算出部１０６を有しない構成とし、他の処理装置で生成された液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値（（１２）式によって算出される液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値）を取得して、取得した液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値を用いて入力画像の補正を行うというような構成とすることも可能である。
【０１０８】
例えば、図４に示す画像データ処理装置で生成された液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値、すなわち、図４の画素値強度ムラ補正値算出部１０６で生成された液晶ライトバルブの画素値強度ムラ補正値を、画像データ補正装置２００の画素値強度ムラ補正処理部２０１が入力するような構成とすることも可能である。
【０１０９】
[実施形態３]
図２４は本発明の実施形態３に係る画像表示装置の構成を概略的に示す図である。本発明の実施形態３に係る画像表示装置は、画像データ補正装置として、図２２及び図２３で説明した画像データ補正装置２００を用いる。本発明の実施形態３に係る画像表示装置が例えばプロジェクタであるとすれば、図２４に示すように、液晶ライトバルブなどの光変調素子３０１、光変調素子を駆動する光変調素子駆動部３０２、光変調素子３０１に光を
投射するための照明光学系（光源を含む）３０３、画像をスクリーンＳＣＲなどに投射する投射光学系３０４、図２２及び図２３で説明した画像データ補正装置２００を有する。
【０１１０】
実施形態３に係る画像表示装置の有する画像データ補正装置として、図２２及び図２３で説明した画像データ補正装置２００を用いることにより、光変調素子３０１に画素値強度ムラが存在していても、画素値強度ムラを適切に補正することができ、スクリーンＳＣＲに表示される画像を高品質なものとすることができる。
【０１１１】
なお、本発明は前述の各実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能となるものである。例えば、前述の各実施形態では、特定領域重み係数及び全体領域重み係数は、値が直線的に変化する例（図２及び図３参照）で説明したが、曲線的に変化するような設定とすることもできる。
【０１１２】
また、前述の各実施形態において説明した画素値強度ムラ補正値の作成を行うための画像データ処理を画像データ処理装置に実行させるための画像データ処理プログラムを作成することが可能であり、また、作成した画像データ処理プログラムを各種の記録媒体に記録させておくことも可能である。
したがって、本発明は、これら画像データ処理プログラムとその画像データ処理プログラムを記録した記録媒体をも含むものである。また、画像データ処理プログラムはネットワークから取得するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１１３】
【図１】液晶ライトバルブの全体領域に存在する画素値強度ムラと局所的に存在する画素値強度ムラを取り囲む領域の一例を示す図。
【図２】図１に示す特定領域Ａに対して設定される特定領域画素値強度ムラ補正値ΔＩＡ及び特定領域重み係数ＷＡの一例を示す図。
【図３】図１に示す全体領域Ｇに対して設定される全体領域重み係数ＷＧの一例を示す図。
【図４】本発明の実施形態１に係る画像データ処理装置の構成を示す図。
【図５】画素値強度ムラデータＤ１について説明する図。
【図６】特定領域取得用データＤ２の一例を示す図。
【図７】図１に示す特定領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに設定された特定領域データＤ３の一例を示す図。
【図８】特定領域画素値強度ムラ補正値データＤ４について説明する図。
【図９】特定領域重み係数データＤ５について説明する図。
【図１０】全体領域画素値強度ムラ補正値データＤ６について説明する図。
【図１１】全体領域重み係数データＤ７を説明する図。
【図１２】図４に示す特定領域取得部１０１の処理手順を示すフローチャート。
【図１３】特定領域の特徴量を取得する処理を説明するフローチャート。
【図１４】図１３に示すフローチャートの処理を具体的に説明する図。
【図１５】特定領域重み係数算出部１０３の処理手順を示す図。
【図１６】特定領域重み係数の算出について説明するための図である。
【図１７】特定領域重み係数を算出するための処理手順を示すフローチャート。
【図１８】図１７のフローチャートの処理を具体的に説明する図。
【図１９】全体領域重み係数算出部１０５の処理手順を示す図。
【図２０】ある特定領域における全体領域重み係数を算出するための処理手順を示すフローチャート。
【図２１】図２０のフローチャートの処理を具体的に説明する図。
【図２２】本発明の実施形態２に係る画像データ補正装置の構成を示す図。
【図２３】画像データ補正装置２００が行う画像データ補正処理の手順を示すフローチャート。
【図２４】本発明の実施形態３に係る画像表示装置の構成を概略的に示す図である。
【符号の説明】
【０１１４】
１０１・・・特定領域取得部、１０２・・・特定領域画素値強度ムラ補正値算出部、１０３・・・特定領域重み係数算出部、１０４・・・全体領域画素値強度ムラ補正値算出部、１０５・・・全体領域重み係数算出部、１０６・・・画素値強度ムラ補正値算出部、２００・・・画像データ補正装置、２０１・・・画素値強度ムラ補正処理部、３００・・画像表示装置、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ・・・特定領域、Ｇ・・・全体領域、Ｄ１・・・画素値強度ムラデータ、Ｄ２・・・特定領域取得用データ、Ｄ３・・・特定領域データ、Ｄ４・・・特定領域画素値強度ムラ補正値データ、Ｄ５・・・特定領域重み係数データ、Ｄ６・・・全体領域画素値強度ムラ補正値
【図４】
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【図６】
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【図７】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図５】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１４】
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【図１８】
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【図２１】
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