(57)【要約】【課題】軽微な欠陥の検出及び欠陥の誤検出を抑制することを可能とする円筒体検査装置及び円筒体検査方法を提供する。【解決手段】円筒体検査装置１の制御部３は、撮像部２によりロール６の１周強分の検査画像を取得して欠陥を検出する。制御部３は、設定済のマスク領域以外で検出された検出欠陥の欠陥画像を表示し、検出結果から除外してリセットする場合には、検出幅位置の全長に渡って検査画像にマスク領域を設定する。制御部３は、マスク領域における検出欠陥数がリセット数を超えない場合、当該マスク領域における欠陥画像を表示しない。制御部３は、マスク領域における検出欠陥数がリセット数を超える場合、当該マスク領域における欠陥画像を全て表示し、リセット数を超える検出欠陥を検査結果から除外してリセットする場合には、リセット数を更新する。制御部３は、マスク幅位置及びリセット数をマスクリセット情報２２として記憶部１３に保持する。【選択図】図１
2008051673.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
円筒体を撮像した画像に基づいて前記円筒体の検査を行う円筒体検査装置であって、
前記円筒体の検査画像を取得する撮像部と、
前記検査画像に基づいて欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段により検出された欠陥を検査結果から除外してリセットするリセット手段と、
前記リセットされた欠陥の検出幅位置の全長に渡って、前記検査画像にマスク領域を設定して検査領域から除外するマスク手段と、
前記マスク領域以外の検査領域で検出された欠陥を表示するマスク領域外欠陥表示手段と、
を具備することを特徴とする円筒体検査装置。
【請求項２】
前記マスク領域毎に、前記リセットされた欠陥数を示すリセット数を保持するリセット数保持手段と、
前記マスク領域において検出された欠陥数を計数する計数手段と、
前記計数手段により計数された欠陥数が前記リセット数を超える場合には前記マスク領域における欠陥を表示するマスク領域内欠陥表示手段と、
を具備することを特徴とする請求項１に記載の円筒体検査装置。
【請求項３】
前記マスク領域毎に、前記リセットされた欠陥数を示すリセット数を保持するリセット数保持手段と、
前記マスク領域において検出された欠陥数を計数する計数手段と、
前記計数手段により計数された欠陥数が前記リセット数を超えた場合には警告を行う警告手段と、
を具備することを特徴とする請求項１に記載の円筒体検査装置。
【請求項４】
前記円筒体を回転させる回転部を具備し、
前記撮像部は、前記円筒体の１周分を超える重複領域を含む検査画像を取得し、
前記計数手段は、前記重複領域において検出された欠陥数に関しては、２箇所で１箇所分として計数することを特徴とする請求項２または請求項３に記載の円筒体検査装置。
【請求項５】
前記リセット手段によるリセットを解除するリセット解除手段と、
前記マスク手段によるマスク領域の設定を解除するマスク解除手段と、
を具備することを特徴とする請求項１から請求項４までのいずれかに記載の円筒体検査装置。
【請求項６】
前記円筒体は、円筒形状のロールまたは刷版であることを特徴とする請求項１から請求項５までのいずれかに記載の円筒体検査装置。
【請求項７】
円筒体を撮像した画像に基づいて前記円筒体の検査を行う円筒体検査方法であって、
前記円筒体の検査画像を取得する撮像ステップと、
前記検査画像に基づいて欠陥を検出する欠陥検出ステップと、
前記欠陥検出ステップにより検出された欠陥を検査結果から除外してリセットするリセットステップと、
前記リセットされた欠陥の検出幅位置の全長に渡って、前記検査画像にマスク領域を設定して検査領域から除外するマスクステップと、
前記マスク領域以外の検査領域で検出された欠陥を表示するマスク領域外欠陥表示ステップと、
を具備することを特徴とする円筒体検査方法。
【請求項８】
前記マスク領域毎に、前記リセットされた欠陥数を示すリセット数を保持するリセット数保持ステップと、
前記マスク領域において検出された欠陥数を計数する計数ステップと、
前記計数ステップにより計数された欠陥数が前記リセット数を超える場合には前記マスク領域における欠陥を表示するマスク領域内欠陥表示ステップと、
を具備することを特徴とする請求項７に記載の円筒体検査方法。
【請求項９】
前記マスク領域毎に、前記リセットされた欠陥数を示すリセット数を保持するリセット数保持ステップと、
前記マスク領域において検出された欠陥数を計数する計数ステップと、
前記計数ステップにより計数された欠陥数が前記リセット数を超えた場合には警告を行う警告ステップと、
を具備することを特徴とする請求項７に記載の円筒体検査方法。
【請求項１０】
前記円筒体を回転させる回転ステップを具備し、
前記撮像ステップは、前記円筒体の１周分を超える重複領域を含む検査画像を取得し、
前記計数ステップは、前記重複領域において検出された欠陥数に関しては、２箇所で１箇所分として計数することを特徴とする請求項８または請求項９に記載の円筒体検査方法。
【請求項１１】
前記リセットステップによるリセットを解除するリセット解除ステップと、
前記マスクステップによるマスク領域の設定を解除するマスク解除ステップと、
を具備することを特徴とする請求項７から請求項１０までのいずれかに記載の円筒体検査方法。
【請求項１２】
前記円筒体は、円筒形状のロールまたは刷版であることを特徴とする請求項７から請求項１１までのいずれかに記載の円筒体検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、円筒体の表面を検査する円筒体検査装置及び円筒体検査方法に関する。詳細には、印刷物生産機内における印刷工程や張り合わせ工程に用いられるロール等の円筒体の表面を検査する円筒体検査装置及び円筒体検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、印刷物生産機では、印刷工程や張り合わせ工程や印刷物の搬送経路に円筒形状の無地ロールやゴムロールが設けられる。ロールの汚れや異物付着は製品不良を誘発するので、ロールの表面検査を行う必要がある。
【０００３】
また、円筒体により支持搬送される披検査体の検査において、ブレードを用いて円筒体表面の異物を除去することにより、誤検査の防止を図る表面検査装置が提案されている（例えば、［特許文献１］参照。）。
【０００４】
また、グラビア印刷等に用いるシリンダの検査に関して、ラインカメラを用いてシリンダ面を撮像し、撮像画像内の絵柄の面付け数をカウントして面付け同士を比較し、ピンホールや傷等の不良を検出する刷版検査装置が提案されている（例えば、［特許文献２］参照。）。
【０００５】
【特許文献１】特許第３４４２１９９号公報
【特許文献２】特開２００４−１７０３９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の検査装置は、検出する必要がない軽微な欠陥を欠陥として検出したり、欠陥を誤検出することがあるという問題点がある。また、同一の検査対象について複数回の検査を行うと、検査の度に、軽微な欠陥の検出や誤検出を繰り返すという問題点がある。例えば、製品不良を誘発する虞のない異物付着や汚れについても、検査条件によっては、常時欠陥として検出されてしまうという問題点がある。
【０００７】
本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであり、軽微な欠陥の検出及び欠陥の誤検出を抑制することを可能とする円筒体検査装置及び円筒体検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前述した目的を達成するために第１の発明は、円筒体を撮像した画像に基づいて前記円筒体の検査を行う円筒体検査装置であって、前記円筒体の検査画像を取得する撮像部と、前記検査画像に基づいて欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段により検出された欠陥を検査結果から除外してリセットするリセット手段と、前記リセットされた欠陥の検出幅位置の全長に渡って、前記検査画像にマスク領域を設定して検査領域から除外するマスク手段と、前記マスク領域以外の検査領域で検出された欠陥を表示するマスク領域外欠陥表示手段と、を具備することを特徴とする円筒体検査装置である。
【０００９】
円筒体は、円筒形状の被検査体である。円筒体は、例えば、印刷物生産機内における印刷工程や張り合わせ工程や印刷物の搬送経路に設けられる無地ロールやゴムロール、グラビア印刷等の回転式印刷に用いられる刷版である。
【００１０】
円筒体検査装置は、撮像部により円筒体の検査画像を取得し、検査画像に基づいて欠陥を検出し、軽微な欠陥や誤検出された欠陥を検査結果から除外してリセットし、リセットした欠陥の検出幅位置の全長に渡って検査画像にマスク領域を設定し、マスク領域以外の検査領域で検出された欠陥を表示する。
【００１１】
第１の発明の円筒体検査装置は、検出欠陥のうち軽微な欠陥や誤検出された欠陥については、検査結果から除外してリセットし、検出幅位置の全長に渡って検査画像にマスク領域を設定するので、次回以降の検査において、当該幅位置において連続的に無用の欠陥が検出されることを防止することができる。
【００１２】
また、円筒体検査装置は、マスク領域毎に、リセットされた欠陥数を示すリセット数を保持し、マスク領域において検出された欠陥数を計数し、計数された欠陥数がリセット数を超える場合にはマスク領域における欠陥を表示することが望ましい。
【００１３】
これにより、円筒体検査装置は、マスク領域であってもリセット数を超える場合には、当該マスク領域における欠陥画像を全て表示して改めてリセット処理を行うことができるので、マスク領域において新たな欠陥が生じた場合であっても検出漏れを防止することができる。
尚、マスク領域における欠陥画像を表示させる前に音声や表示による警告処理を行い、操作者（オペレータ）の指示を待って欠陥画像を表示するようにしてもよい。
【００１４】
また、円筒体検査装置は、円筒体を回転させて円筒体の１周分を超える重複領域を含む検査画像を取得し、重複領域において検出された欠陥数に関しては、２箇所で１箇所分として計数するようにしてもよい。
【００１５】
このように、重複領域における検出欠陥数に関しては、２箇所で１箇所分として計数することにより、円筒体の回転とは非同期で検査画像が入力される場合であっても、リセット処理（検査結果からの除外処理）及びマスク処理（検査領域からの除外処理）を適正に行うことができる。
【００１６】
また、円筒体検査装置は、リセット処理及びマスク処理を解除するようにしてもよい。円筒体検査装置は、検出欠陥をリセットする場合には、マスク領域の設定あるいはリセット数を増加させ、逆に、検出欠陥のリセットを解除する場合には、マスク領域の設定の解除あるいはリセット数を減少させる。
【００１７】
第２の発明は、円筒体を撮像した画像に基づいて前記円筒体の検査を行う円筒体検査方法であって、前記円筒体の検査画像を取得する撮像ステップと、前記検査画像に基づいて欠陥を検出する欠陥検出ステップと、前記欠陥検出ステップにより検出された欠陥を検査結果から除外してリセットするリセットステップと、前記リセットされた欠陥の検出幅位置の全長に渡って、前記検査画像にマスク領域を設定して検査領域から除外するマスクステップと、前記マスク領域以外の検査領域で検出された欠陥を表示するマスク領域外欠陥表示ステップと、を具備することを特徴とする円筒体検査方法である。
【００１８】
第２の発明は、円筒体を撮像した画像に基づいて前記円筒体の検査を行う円筒体検査方法に関する発明である。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、軽微な欠陥の検出及び欠陥の誤検出を抑制することを可能とする円筒体検査装置及び円筒体検査方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施の形態に係る円筒体検査装置の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、以下の説明及び添付図面において、略同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略することにする。
【００２１】
（１．円筒体検査装置１の構成）
最初に、図１を参照しながら、円筒体検査装置１の構成について説明する。
図１は、円筒体検査装置１の構成図である。
【００２２】
円筒体検査装置１は、撮像部２、制御部３、移動部４、支持部５、回転部７、支持部８から構成される。尚、図１の円筒体検査装置１の構成は一例であり、様々な構成を採ることが可能である。
【００２３】
円筒体検査装置１は、ロール６を検査する装置である。
ロール６は、回転部７を介して回転可能に支持部８に取り付けられる。ロール６は、印刷物生産機内における印刷工程や張り合わせ工程や印刷物の搬送経路に設けられる円筒形状の無地ロールやゴムロールである。
【００２４】
撮像部２は、移動部４を介して支持部５に設けられる。撮像部２は、移動部４に沿ってロール６の幅方向に移動可能である。
撮像部２は、ロール６の画像を取得する装置である。撮像部２は、例えば、受光素子（画素）を配列したＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）等の光センサ、駆動回路、結像光学系等からなるカメラである。撮像部２として、カラーラインセンサカメラを用いることができる。また、少なくとも１台の撮像部２を移動部４に沿って移動させて、ロール６の画像を取得するようにしてもよいし、複数台の撮像部２を固定して、ロール６全体の画像を取得するようにしてもよい。
【００２５】
制御部３は、円筒体検査装置１の各部の動作制御や演算処理及び画像処理を行う装置である。制御部３は、ＣＰＵ１１、メモリ１２、記憶部１３、表示部１４、入力部１５、出力部１６、通信部１７がシステムバス１８を介して接続されて構成される。
【００２６】
制御部３は、撮像部２の撮像タイミングや移動部４及び回転部７の動作を制御する。また、制御部３は、ロール６の画像に対して画像処理を行い、欠陥検出やリセット処理（検査結果からの除外処理）やマスク処理（検査領域からの除外処理）を行う。
制御部３は、撮像部２によりロール６の画像を取得し、ＣＰＵ１１によりロール６の画像に基づいて良否を判定し、表示部１４に判定結果を表示する。制御部３は、記憶部１３やＲＯＭや記録媒体に格納されるプログラム（アプリケーションプログラム、ＯＳのプログラム等）をメモリ１２のＲＡＭにロードしてＣＰＵ１１の制御の下に、各種処理を実行する。
【００２７】
ＣＰＵ１１（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）は、演算処理（四則演算や比較演算等）やハードウェアやソフトウェアの動作制御を行う装置である。
【００２８】
メモリ１２は、ＲＡＭ及びＲＯＭ等のメモリである。ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）や記憶部１３から読み出されたＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）のプログラム、アプリケーションプログラム等を記憶する。ＲＡＭは、ＣＰＵ１１の主メモリやワークエリアとして機能する。
【００２９】
記憶部１３は、各種データを記憶する装置であり、例えば、ハードディスクである。記憶部１３は、ＣＰＵ１１が実行するプログラム、プログラム実行に必要なデータ、ＯＳ、各種データベース等が格納される。記憶部１３は、マスクリセット情報２２を保持する。
制御部３は、ロール６の画像に基づいて欠陥検出処理を行う。尚、マスクリセット情報２２については後述する。
【００３０】
表示部１４は、表示装置であり、例えば、ＣＲＴモニタ、液晶パネルである。表示部１４は、コンピュータのビデオ機能を実現するための論理回路（ビデオアダプタ等）を有する。
【００３１】
入力部１５は、各種データの入力装置であり、例えば、キーボード、マウスである。出力部１６は、各種データの出力装置であり、例えば、プリンタである。各種メディアとのデータ入出力を行うドライブ装置を入力部１５及び出力部１６として用いることもできる。
通信部１７は、走行部２０等の外部装置と接続・通信する通信制御装置である。
システムバス１８は、各装置間の制御信号、データ信号等の授受を媒介する経路である。
【００３２】
（２．マスクリセット情報２２）
次に、図２を参照しながら、マスクリセット情報２２について説明する。
図２は、マスクリセット情報２２の一態様を示す図である。
マスクリセット情報２２は、マスク幅位置３１及びリセット数３２の各フィールドを有する。
マスク幅位置３１には、マスク処理（検査領域からの除外処理）を行う領域の幅位置が格納される。マスク幅位置３１は、例えば、「Ｘ１」である。
リセット数３２には、リセット処理（検査結果からの除外処理）が行われた検出欠陥数が格納される。リセット数３２は、例えば、「１」である。
【００３３】
（３．検査画像４１）
次に、図３を参照しながら、検査画像４１について説明する。
図３は、検査対象のロール６を撮像した検査画像４１を示す図である。
【００３４】
検査画像４１は、ロール６の１周強分（非ラップ領域４３及びラップ領域４４及びラップ領域４５）を撮像した画像である。
検査領域４２は、検査対象とするロール６の幅領域を示す。
非ラップ領域４３＋ラップ領域４４、あるいは、非ラップ領域４３＋ラップ領域４５は、ロール６の１周分に相当する領域である。
ラップ領域４４及びラップ領域４５は、重複領域である。ラップ領域４４及びラップ領域４５は、非ラップ領域４３の両側に設定される。ラップ領域４４とラップ領域４５では、略同一の画像が取得される。
【００３５】
マスク領域５１及びマスク領域５２及びマスク領域５３は、検査領域から除外する領域である。マスク領域５１及びマスク領域５２及びマスク領域５３は、マスク幅位置の全長に相当する領域（Ｙ方向帯領域）である。マスク領域５１のマスク幅位置は「Ｘ１」であり、マスク領域５２のマスク幅位置は「Ｘ２」であり、マスク領域５３のマスク幅位置は「Ｘ３」である。
【００３６】
検出欠陥６１及び検出欠陥６２及び検出欠陥６３及び検出欠陥６６は、それぞれ、非ラップ領域４３において検出された欠陥である。検出欠陥６４及び検出欠陥６５は、それぞれ、ラップ領域４４及びラップ領域４５において検出された欠陥である。
欠陥画像７１〜欠陥画像７６は、検出欠陥６１〜検出欠陥６６を示す画像である。尚、リセット処理（検査結果からの除外処理）された検出欠陥については、欠陥画像は表示されない。
【００３７】
（４．円筒体検査装置１の動作）
次に、図４〜図９を参照しながら、円筒体検査装置１の動作について説明する。
【００３８】
（４−１．円筒体検査装置１の全体動作）
図４は、円筒体検査装置１の全体動作を示すフローチャートである。
【００３９】
円筒体検査装置１の回転部７に検査対象のロール６が取り付けられる（ステップ１０１）。
制御部３は、回転部７によりロール６を回転させ、撮像部２によりロール６の撮像を行う（ステップ１０２）。制御部３は、ロール６の１周強分（非ラップ領域４３及びラップ領域４４及びラップ領域４５）の検査画像４１を取得する。尚、制御部３は、ロール６の回転とは非同期で検査画像４１を取得する。従って、検査画像４１における非ラップ領域４３及びラップ領域４４及びラップ領域４５は、ロール６の所定領域と直接対応する訳ではない。
【００４０】
制御部３は、検査画像４１に基づいてロール６表面の欠陥を検出する（ステップ１０３）。
【００４１】
制御部３は、記憶部５からマスクリセット情報２２を読み出す。制御部３は、マスクリセット情報２２のマスク幅位置３１を参照して、検出欠陥がマスク領域から検出した欠陥であるか否かを判定する（ステップ１０４）。
検出欠陥が設定済のマスク領域から検出した欠陥である場合（ステップ１０４のＹＥＳ）、制御部３は、マスク領域毎（マスク幅位置毎）に検出欠陥数を計数する（ステップ１０５）。
【００４２】
尚、ラップ領域４４及びラップ領域４５における検出欠陥数に関しては、制御部３は、２箇所で１箇所分として計数する。すなわち、（検出欠陥数）＝（非ラップ領域４３における検出欠陥数）＋（ラップ領域４４あるいはラップ領域４５における検出欠陥数）／２、である。
【００４３】
制御部３は、記憶部５からマスクリセット情報２２を読み出し、マスク領域毎（マスク幅位置毎）に検出欠陥数とリセット数３２とを比較する（ステップ１０６）。
検出欠陥数がリセット数３２以下である場合（ステップ１０６のＮＯ）、制御部３は、当該マスク領域については検出欠陥の画像を表示しない。
検出欠陥数がリセット数３２より大きい場合（ステップ１０６のＹＥＳ）あるいは検出欠陥が設定済のマスク領域から検出した欠陥でない場合（ステップ１０４のＮＯ）、制御部３は、検査画像４１と共に検出欠陥の画像を表示部１４に表示する（ステップ１０７）。制御部３は、リセット処理を行う（ステップ１０８）。尚、リセット処理については、図５を用いて後述する。
【００４４】
制御部３は、全ての検出欠陥について、ステップ１０４〜ステップ１０８の処理を終了すると検査を停止する。制御部３は、次回のロール６の検査を開始すると、ステップ１０１からの処理を繰り返す。
【００４５】
（４−２．リセット処理）
図５は、円筒体検査装置１のリセット処理（図４のステップ１０８）を示すフローチャートである。
【００４６】
円筒体検査装置１の操作者（オペレータ）は、検出欠陥の画像を確認し、検出欠陥をそのまま欠陥として扱うか、検出結果から除外してリセットするかを判定する（ステップ２０１）。
検出欠陥を検出結果から除外してリセットする場合（ステップ２０２のＹＥＳ）、制御部３は、当該検出欠陥の検出幅位置の全長をマスク領域として検査領域から除外する（ステップ２０３）。
【００４７】
制御部３は、当該マスク領域が元々設定されていなかった場合には、マスク幅位置３１を追加してリセット数３２を「１」とした上で、マスクリセット情報２２を記憶部５に保持する（ステップ２０４）。
制御部３は、当該マスク領域が設定済である場合には、リセット数３２を１増加させて更新した上で、マスクリセット情報２２を記憶部５に保持する（ステップ２０４）。
【００４８】
（４−３．検査画像４１ａ）
図６は、検査画像４１ａ及びマスクリセット情報２２ａを示す図である。
制御部３は、検査画像４１ａを取得して検出欠陥６１を検出する（ステップ１０３）。
制御部３は、検出欠陥６１が設定済のマスク領域から検出された欠陥ではない場合（ステップ１０４のＮＯ）、欠陥画像７１を表示部１４に表示する（ステップ１０７）。
制御部３は、検出欠陥６１を検査結果から除外してリセットする場合（ステップ２０２のＹＥＳ）、マスク幅位置「Ｘ１」でマスク領域５１を設定する（ステップ２０３）。制御部３は、マスク幅位置３１「Ｘ１」及びリセット数３２「１」を追加してマスクリセット情報２２ａを更新する（ステップ２０４）。
【００４９】
（４−４．検査画像４１ｂ）
図７は、検査画像４１ｂ及びマスクリセット情報２２ｂを示す図である。
制御部３は、検査画像４１ｂを取得し、設定済のマスク領域５１において検出欠陥６１及び検出欠陥６２を検出する（ステップ１０３、ステップ１０４のＹＥＳ）。
制御部３は、検出欠陥数（「２」）がリセット数３２（「１」）を超えるので（ステップ１０６のＹＥＳ）、欠陥画像７１及び欠陥画像７２を共に表示部１４に表示する（ステップ１０７）。
【００５０】
制御部３は、検出欠陥６１及び検出欠陥６２を共に検査結果から除外してリセットする場合（ステップ２０２のＹＥＳ）、マスク領域５１（マスク幅位置３１「Ｘ１」）におけるリセット数３２を「１」から「２」に増加させてマスクリセット情報２２ｂを更新する（ステップ２０４）。
【００５１】
（４−５．検査画像４１ｃ）
図８は、検査画像４１ｃ及びマスクリセット情報２２ｃを示す図である。
制御部３は、検査画像４１ｃを取得し、設定済のマスク領域５２において検出欠陥６３を検出する（ステップ１０３、ステップ１０４のＹＥＳ）。
制御部３は、検出欠陥数（「１」）がリセット数３２（「１」）を超えないので（ステップ１０６のＮＯ）、欠陥画像７３を表示部１４に表示しない。
【００５２】
（４−６．検査画像４１ｄ）
図９は、検査画像４１ｄ及びマスクリセット情報２２ｄを示す図である。
制御部３は、検査画像４１ｄを取得し、設定済のマスク領域５３において検出欠陥６４及び検出欠陥６５及び検出欠陥６５を検出する（ステップ１０３）。
検出欠陥６４及び検出欠陥６５は、ラップ領域４４及びラップ領域４５において検出された欠陥であるので、２箇所で１箇所分の検出欠陥とする。制御部３は、検出欠陥数（「２」＝１＋２／２）がリセット数３２（「２」）を超えないので（ステップ１０６のＮＯ）、欠陥画像７４及び欠陥画像７５及び欠陥画像７６を表示部１４に表示しない。
【００５３】
（４−７．）
以上の過程を経て、円筒体検査装置１は、撮像部２によりロール６の１周強分の検査画像４１を取得し基準画像２１と比較して欠陥を検出する。円筒体検査装置１は、設定済のマスク領域以外で検出された欠陥の画像を表示し、検出結果から除外してリセットする場合には、検出幅位置の全長に渡って検査画像にマスク領域を設定する。円筒体検査装置１は、設定済のマスク領域で検出された検出欠陥数がリセット数を超えない場合は、当該マスク領域における欠陥画像を表示せず欠陥として扱わない。円筒体検査装置１は、設定済のマスク領域で検出された検出欠陥数がリセット数を超える場合は、当該マスク領域における欠陥画像を全て表示し、リセット数を超える検出欠陥を検査結果から除外してリセットする場合には、リセット数を更新する。
【００５４】
尚、検出欠陥数は、（検出欠陥数）＝（非ラップ領域における検出欠陥数）＋（ラップ領域における検出欠陥数）／２、である。また、円筒体検査装置１は、マスク幅位置３１とリセット数３２とを対応付けてマスクリセット情報２２として記憶部１３に保持する。
【００５５】
（５．効果及び変形例）
以上詳細に説明したように、本発明の実施の形態によれば、円筒体検査装置は、検出欠陥のうち軽微な欠陥や誤検出された欠陥については、検査結果から除外してリセットし、検出幅位置の全長に渡って検査画像にマスク領域を設定するので、次回以降の検査において、当該幅位置において連続的に無用の欠陥が検出されることを防止することができる。
【００５６】
また、円筒体検査装置は、マスク領域であってもリセット数を超える場合には、当該マスク領域における欠陥画像を全て表示して改めてリセット処理を行うことができるので、マスク領域において新たな欠陥が生じた場合であっても検出漏れを防止することができる。
【００５７】
また、ラップ領域における検出欠陥数に関しては、２箇所で１箇所分として計数することにより、円筒体の回転とは非同期で検査画像が入力される場合であっても、リセット処理（検査結果からの除外処理）及びマスク処理（検査領域からの除外処理）を適正に行うことができる。
【００５８】
また、上述の実施の形態では、検出欠陥数がマスク領域のリセット数を超えた場合には、当該マスク領域における検出欠陥の欠陥画像を全て表示するものとして説明したが、音声や表示による警告処理を行い、操作者（オペレータ）の指示を待って欠陥画像を表示するようにしてもよい。
【００５９】
また、上述の実施の形態では、検出欠陥を検査結果から除外してリセットする場合について説明したが、逆に、検出欠陥のリセットを解除することもできる。円筒体検査装置は、検出欠陥をリセットする場合には、マスク領域の設定あるいはリセット数を増加させ、一方、検出欠陥のリセットを解除する場合には、マスク領域の設定の解除あるいはリセット数の減少させる。
【００６０】
図１０は、他の実施の形態に係る円筒体検査装置８１の構成図である。
先述の実施の形態では、円筒体検査装置は、印刷物生産機内に設けられる無地ロール等のロールを検査するものとして説明したが、グラビア印刷に用いるシリンダ等の刷版の検査に適用することもできる。
【００６１】
円筒体検査装置８１は、シリンダ８２を検査する装置である。
シリンダ８２は、グラビア印刷等に用いる刷版である。シリンダ８２は、表面に凹彫部８３を有する。凹彫部８３は、グラビア印刷の画像に応じた凹部（セル）である。凹彫部８３にインクを充填し、当該インクを紙や樹脂フィルムに転写することによりグラビア印刷が行われる。尚、１つのシリンダ８３に同一の凹彫部９を複数設けて多面付けとしてもよい。
【００６２】
記憶部１３は、マスクリセット情報２２と共に、基準画像８４を保持する。基準画像８４は、検査基準となるシリンダ８２の画像であり、凹彫部８３の画像を含む。
円筒体検査装置８１の制御部３は、記憶部５から基準画像８４を読み出し、基準画像８４とシリンダ８２を撮像した検査画像とを比較して欠陥を検出する。
リセット処理及びマスク処理等の他の処理に関しては、円筒体検査装置８１は、先述の実施の形態の円筒体検査装置１と同様の処理を行う。
【００６３】
図１１は、他の実施の形態に係る印刷物生産機９１の構成図である。
先述の実施の形態では、検査対象の円筒体を円筒体検査装置に取り付けて検査を行うものとして説明したが、印刷物生産機等に円筒体を実装したまま検査を行ってもよい。すなわち、印刷工程や張り合わせ工程に用いられるロール等の円筒体の表面を印刷物生産機内で直接検査してもよい。
【００６４】
印刷物生産機９１は、印刷物を生産する装置である。巻出ロール９４から巻き出された用紙９５は、ロール９２−１〜ロール９２−５を経て巻取ロール９６に巻き取られる。用紙９５が巻出ロール９４から巻取ロール９６に走行する間に、用紙９５に対して印刷工程や張り合わせ工程等が行われる。
印刷物生産機９１は、ロール９２−１〜ロール９２−５毎に撮像部９３−１〜撮像部９３−５が設けられる。撮像部９３−１〜撮像部９３−５は、それぞれ、ロール９２−１〜ロール９２−５の表面の画像を撮像して検査を行う。リセット処理及びマスク処理等の他の処理に関しては、印刷物生産機９１は、先述の実施の形態の円筒体検査装置１と同様の処理を行う。
【００６５】
このように、印刷工程や張り合わせ工程に用いられるロール等の円筒体の表面を印刷物生産機内で直接検査することにより、インラインで迅速かつリアルタイムに検査を行うことができる。また、検査時にロール等の円筒体の取り外し及び取り付けに係る作業負担を軽減することができる。
【００６６】
以上、添付図面を参照しながら、本発明にかかる円筒体検査装置及び円筒体検査方法の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】円筒体検査装置１の構成図
【図２】マスクリセット情報２２の一態様を示す図
【図３】検査対象のロール６を撮像した検査画像４１を示す図
【図４】円筒体検査装置１の全体動作を示すフローチャート
【図５】円筒体検査装置１のリセット処理（図４のステップ１０８）を示すフローチャート
【図６】検査画像４１ａ及びマスクリセット情報２２ａを示す図
【図７】検査画像４１ｂ及びマスクリセット情報２２ｂを示す図
【図８】検査画像４１ｃ及びマスクリセット情報２２ｃを示す図
【図９】検査画像４１ｄ及びマスクリセット情報２２ｄを示す図
【図１０】円筒体検査装置８１の構成図
【図１１】印刷物生産機９１の構成図
【符号の説明】
【００６８】
１………円筒体検査装置
２………撮像部
３………制御部
４………移動部
６………ロール
７………回転部
１１………ＣＰＵ
１２………メモリ
１３………記憶部
１４………表示部
２２、２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、２２ｄ………マスクリセット情報
３１………マスク幅位置
３２………リセット数
４１、４１ａ、４１ｂ、４１ｃ、４１ｄ………検査画像
４２………検査領域
４３………非ラップ領域
４４、４５………ラップ領域
５１〜５３………マスク領域
６１〜６６………検出欠陥
７１〜７６………欠陥画像
８１………円筒体検査装置
８２………シリンダ
８３………凹彫部
８４………基準画像
９１………印刷物生産機
９２………ロール
９３………撮像部
【図１】
2008051673.tif 000003
【図２】
2008051673.tif 000004
【図３】
2008051673.tif 000005
【図４】
2008051673.tif 000006
【図５】
2008051673.tif 000007
【図６】
2008051673.tif 000008
【図７】
2008051673.tif 000009
【図８】
2008051673.tif 000010
【図９】
2008051673.tif 000011
【図１０】
2008051673.tif 000012
【図１１】
2008051673.tif 000013