(57)【要約】【課題】光ディスク及び光ピックアップのチルト量を高精度に調整するチルト量調整方法、光ピックアップ調整機構及び光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ピックアップ調整機構１３１は、光ディスクのデータ記録領域から受光した反射光に基づくＲＦ信号を生成し（Ｓ１０３）、生成したＲＦ信号の振幅が最大となるチルト量を求める粗調整を行い（Ｓ１０４）、粗調整により求めたチルト量を中心として予め設定されている微小範囲でチルト量を振り、ＲＦ信号の誤り数が最小となるチルト量を求める微調整を行う（Ｓ１０５）。【選択図】図５
2008034012.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整するチルト量調整方法において、
光ディスクのデータが記録されている領域から受光した反射光に基づく波形信号を生成し、
生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行い、
波形信号の誤り状況に基づいて微調整を行う
ことを特徴とするチルト量調整方法。
【請求項２】
データを記録する記録溝に沿って予めプリピットが設けられた光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整するチルト量調整方法において、
記録溝から受光した反射光に基づく波形信号を生成し、
生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行い、
プリピットを検出し、
プリピットの検出状況に基づいて微調整を行う
ことを特徴とするチルト量調整方法。
【請求項３】
光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整する光ピックアップ調整機構において、
光ディスクのデータが記録されている領域から受光した反射光に基づく波形信号を生成する手段と、
生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行う粗調整手段と、
波形信号の誤り状況に基づいて微調整を行う微調整手段と
を備えることを特徴とする光ピックアップ調整機構。
【請求項４】
前記波形信号は、ＲＦ(Radio Frequency) 信号であり、
前記粗調整手段は、波形信号の振幅が最大となるチルト量に調整する様に構成してあり、
前記微調整手段は、誤り数が最小となるチルト量に調整する様に構成してある
ことを特徴とする請求項３に記載の光ピックアップ調整機構。
【請求項５】
データを記録する記録溝に沿って予めプリピットが設けられた光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整する光ピックアップ調整機構において、
記録溝から受光した反射光に基づく波形信号を生成する手段と、
生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行う粗調整手段と、
プリピットを検出する手段と、
プリピットの検出状況に基づいて微調整を行う微調整手段と
を備えることを特徴とする光ピックアップ調整機構。
【請求項６】
前記波形信号は、ＴＥ(Tracking Error)信号であり、
前記粗調整手段は、波形信号の振幅が最大となるチルト量に調整するように構成してあり、
前記微調整手段は、プリピットの検出個数が最大となるチルト量に調整するように構成してある
ことを特徴とする請求項５に記載の光ピックアップ調整機構。
【請求項７】
データを記録する記録溝に沿って予めプリピットが設けられた光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整する光ピックアップ調整機構において、
光ディスクのデータを記録する領域から、波形信号に変換可能な反射光を受光したか否かを判定する判定手段と、
該判定手段が、波形信号に変換可能な反射光を受光したと判定した場合に、
受光した反射光に基づく波形信号を生成する手段と、
生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行う手段と、
波形信号の誤り状況に基づいて微調整を行う手段と
を備え、
更に、前記判定手段が、波形信号に変換可能な反射光を受光していないと判定した場合に、
記録溝から受光した反射光に基づく波形信号を生成する手段と、
生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行う手段と、
プリピットを検出する手段と、
プリピットの検出状況に基づいて微調整を行う手段と
を備える
ことを特徴とする光ピックアップ調整機構。
【請求項８】
光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップと、
該光ピックアップのチルト量を調整する請求項３乃至請求項７のいずれかひとつに記載の光ピックアップ調整機構と、
前記光ピックアップが受光した反射光に基づいて光ディスクに記録されているデータを読み取る手段と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整するチルト量調整方法、該チルト量調整方法を適用した光ピックアップ調整機構、及び該光ピックアップ調整機構を備える光ディスク装置に関し、特に高精度にチルト量を調整することが可能なチルト量調整方法、光ピックアップ調整機構及び光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ(Compact Disc)、ＤＶＤ(Digital Versatile Disc)等の光ディスクに対するデータの記録及び読取を行うドライブを有するＤＶＤレコーダ、パーソナルコンピュータ等の光ディスク装置が広く普及している。この様な光ディスク装置には、光ディスクに対して光ビームを照射し、その反射光を受光する光ピックアップが設けられており、光ピックアップが受光した反射光に基づいて、光ディスク装置は光ディスクに記録されているデータを読み取る。
【０００３】
ところが例えば光ディスクの反り等の要因により、光ディスクと光ピックアップとの相対的な角度が変化し、光ディスクの情報記録面に対する光ビームが傾斜する場合がある。この様な光ビームの傾き、所謂ラジアルチルトと呼ばれるチルト量が大きい場合には、ジッタの増加等の要因により、読み取った信号のエラーの増加等の再生信号の品質劣化に繋がる。そこでチルト量を調整するチルトサーボ等の光ピックアップ調整機構が光ディスク装置に設けられている。
【０００４】
特許文献１では、データが記録されている光ディスクに対し、データが記録されている領域から受光した反射光に基づくＲＦ(Radio Frequency) 信号の振幅が最大となる様にチルト量を補正し、またデータが記録されていない光ディスクに対し、データを記録する記録溝（グルーブ）間のランドと呼ばれる領域に設けられたプリピットに基づくＬＰＰ(Land Pre-Pit)信号の振幅が最大となる様にチルト量を補正するチルト補正方法を開示している。
【特許文献１】特開２００４−９５０３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら使用する光ピックアップ、光ディスクの状態によっては、ＲＦ信号の振幅が最大となる点及びＬＰＰ信号の振幅が最大となる点が必ずしもエラーが最小となる最良点とは限らない場合がある。但し、信号の振幅が最大となる点と最良点との差異が、ジッタマージンに対して小さい場合、特に問題はないが、差異がジッタマージンに対して大きい場合には、無視することができない問題となる。
【０００６】
また光ディスクにキズ又は汚れがある場合、信号振幅の最大点のみを求める方法では、サンプリングの方法にもよるが、本来の最良点ではない位置を最良点として検出する危険性があるという問題がある。
【０００７】
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、ＲＦ信号の振幅に基づいて粗調整を行った後、ＲＦ信号の誤り状況に基づいて微調整を行い、また光ディスクの記録溝から受光した反射光に基づくＴＥ(Tracking Error)信号の振幅に基づいて粗調整を行った後、プリピットの検出状況に基づいて微調整を行うことにより、高精度にチルト量を調整することが可能なチルト量調整方法、該チルト量調整方法を適用した光ピックアップ調整機構、及び該光ピックアップ調整機構を備える光ディスク装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
第１発明に係るチルト量調整方法は、光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整するチルト量調整方法において、光ディスクのデータが記録されている領域から受光した反射光に基づく波形信号を生成し、生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行い、波形信号の誤り状況に基づいて微調整を行うことを特徴とする。
【０００９】
本発明では、ＲＦ信号等の波形信号の振幅に基づいて粗調整を行った後、誤り状況に基づいて微調整を行うことにより、波形信号の振幅に基づき決定される位置が、信号の誤り（エラー）が最小となる位置ではない場合でも、誤り状況に基づいて微調整が施されるので、高精度にチルト量を調整することが可能である。しかも光ディスクのキズ又は汚れによる影響を受け難い。
【００１０】
第２発明に係るチルト量調整方法は、データを記録する記録溝に沿って予めプリピットが設けられた光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整するチルト量調整方法において、記録溝から受光した反射光に基づく波形信号を生成し、生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行い、プリピットを検出し、プリピットの検出状況に基づいて微調整を行うことを特徴とする。
【００１１】
本発明では、ＴＥ信号等の波形信号に基づいて粗調整を行った後、プリピットの検出状況に基づいて微調整を行うことにより、波形信号の振幅に基づき決定される位置が、信号の誤りが最小となる位置ではない場合でも、プリピット信号に基づく微調整が施されるので、高精度にチルト量を調整することが可能である。しかも光ディスクのキズ又は汚れによる影響を受け難い。
【００１２】
第３発明に係る光ピックアップ調整機構は、光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整する光ピックアップ調整機構において、光ディスクのデータが記録されている領域から受光した反射光に基づく波形信号を生成する手段と、生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行う粗調整手段と、波形信号の誤り状況に基づいて微調整を行う微調整手段とを備えることを特徴とする。
【００１３】
本発明では、ＲＦ信号等の波形信号の振幅に基づいて粗調整を行った後、誤り状況に基づいて微調整を行うことにより、波形信号の振幅に基づき決定される位置が、信号の誤りが最小となる位置ではない場合でも、誤り状況に基づいて微調整が施されるので、高精度にチルト量を調整することが可能である。しかも光ディスクのキズ又は汚れによる影響を受け難い。
【００１４】
第４発明に係る光ピックアップ調整機構は、第３発明において、前記波形信号は、ＲＦ(Radio Frequency) 信号であり、前記粗調整手段は、波形信号の振幅が最大となるチルト量に調整する様に構成してあり、前記微調整手段は、誤り数が最小となるチルト量に調整する様に構成してあることを特徴とする。
【００１５】
本発明では、振幅が最大となるチルト量に調整することにより、Ｓ／Ｎ比が良く誤りが発生しがたい位置を検出することが可能であり、更に検出した位置を含む微小範囲で誤り数が最小となる位置のチルト量を検出することにより、波形信号の振幅に基づき決定される位置が、信号の誤りが最小となる位置ではない場合でも、高精度にチルト量を調整することが可能である。しかも光ディスクのキズ又は汚れによる振幅変動によりチルト量を誤調整してしまう危険性を防止することが可能である。
【００１６】
第５発明に係る光ピックアップ調整機構は、データを記録する記録溝に沿って予めプリピットが設けられた光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整する光ピックアップ調整機構において、記録溝から受光した反射光に基づく波形信号を生成する手段と、生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行う粗調整手段と、プリピットを検出する手段と、プリピットの検出状況に基づいて微調整を行う微調整手段とを備えることを特徴とする。
【００１７】
本発明では、ＴＥ信号等の波形信号に基づいて粗調整を行った後、プリピットの検出状況に基づいて微調整を行うことにより、波形信号の振幅に基づき決定される位置が、信号の誤りが最小となる位置ではない場合でも、プリピット信号に基づく微調整が施されるので、高精度にチルト量を調整することが可能である。しかも光ディスクのキズ又は汚れによる影響を受け難い。
【００１８】
第６発明に係る光ピックアップ調整機構は、第５発明において、前記波形信号は、ＴＥ(Tracking Error)信号であり、前記粗調整手段は、波形信号の振幅が最大となるチルト量に調整するように構成してあり、前記微調整手段は、プリピットの検出個数が最大となるチルト量に調整するように構成してあることを特徴とする。
【００１９】
本発明では、振幅が最大となるチルト量に調整することにより、Ｓ／Ｎ比が良く誤りが発生しがたい位置を検出することが可能であり、更にプリピット信号の検出個数に基づいて微調整を行うことにより、高精度にチルト量を調整することが可能である。
【００２０】
第７発明に係る光ピックアップ調整機構は、データを記録する記録溝に沿って予めプリピットが設けられた光ディスクと、該光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップとのチルト量を調整する光ピックアップ調整機構において、光ディスクのデータを記録する領域から、波形信号に変換可能な反射光を受光したか否かを判定する判定手段と、該判定手段が、波形信号に変換可能な反射光を受光したと判定した場合に、受光した反射光に基づく波形信号を生成する手段と、生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行う手段と、波形信号の誤り状況に基づいて微調整を行う手段とを備え、更に、前記判定手段が、波形信号に変換可能な反射光を受光していないと判定した場合に、記録溝から受光した反射光に基づく波形信号を生成する手段と、生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行う手段と、プリピットを検出する手段と、プリピットの検出状況に基づいて微調整を行う手段とを備えることを特徴とする。
【００２１】
本発明では、光ディスクのデータの記録状況に関わらず高精度にチルト量を調整することが可能である。
【００２２】
第８発明に係る光ディスク装置は、光ディスクに対して照射した光の反射光を受光する光ピックアップと、該光ピックアップのチルト量を調整する第３発明乃至第７発明のいずれかひとつに記載の光ピックアップ調整機構と、前記光ピックアップが受光した反射光に基づいて光ディスクに記録されているデータを読み取る手段とを備えることを特徴とする。
【００２３】
本発明では、高精度にチルト量を調整し、データの読取誤りの発生量を抑制することが可能である。
【発明の効果】
【００２４】
本発明のチルト量調整方法、光ピックアップ調整機構及び光ディスク装置は、光ディスクのデータが記録されている領域から、ＲＦ信号等の波形信号に変換可能な反射光を受光したか否かを判定し、波形信号に変換可能な反射光を受光したと判定した場合に、受光した反射光に基づいて波形信号を生成し、生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行い、粗調整の後、波形信号の誤り状況に基づいて微調整を行う。また波形信号に変換可能な反射光を受光していないと判定した場合に、記録溝から受光した反射光に基づいてＴＥ信号等の波形信号を生成し、生成した波形信号の振幅に基づいて粗調整を行い、粗調整の後、プリピットの検出状況に基づいて微調整を行う。
【００２５】
この構成により、データが記録されている光ディスクに対し、記録しているデータによるＲＦ信号に基づいて高精度にチルト量を調整することが可能である。特にＲＦ信号の振幅が最大となるチルト量に調整することにより、Ｓ／Ｎ比が良く誤りが発生しがたい位置を検出することが可能であり、更に検出した位置を含む微小範囲で誤り数が最小となる位置のチルト量を検出することにより、波形信号の振幅に基づき決定される位置が、信号の誤りが最小となる位置ではない場合でも、高精度にチルト量を調整することが可能である等、優れた効果を奏する。しかも光ディスクのキズ又は汚れによる振幅を原因としてチルト量の誤調整を防止することが可能である等、優れた効果を奏する。
【００２６】
また光ディスクにデータが記録されていない場合であっても、ＴＥ信号の振幅が最大となるチルト量に調整することにより、Ｓ／Ｎ比が良く誤りが発生しがたい位置を検出することが可能であり、更にプリピット信号の検出個数に基づいて微調整を行うことにより、高精度にチルト量を調整することが可能である等、優れた効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて詳述する。図１は、本発明の光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。図１中１は、ＤＶＤレコーダ、パーソナルコンピュータ等の光ディスク装置であり、光ディスク装置１は、装置全体を制御するＣＰＵ等の制御部１０と、制御部１０の制御により実行されるプログラム及びデータ等の各種情報を記録するＲＯＭ等の記録部１１と、制御部１０の制御によるプログラムの実行時に発生するデータを一時的に記憶するＲＡＭ等の記憶部１２とを備えている。
【００２８】
また光ディスク装置１は、ＣＤ、ＤＶＤ等の光ディスク２にアクセスして、データの記録及び読取を行うディスクドライブ等の記録／読取部１３を備えており、記録／読取部１３は、光ディスク２に対して光ビームを照射し、照射した光の反射光を受光する光ピックアップ１３０と、光ピックアップ１３０のチルト量を調整するチルトサーボ等の光ピックアップ調整機構１３１と、反射光に基づくデータの読取及び光ディスク２にデータを記録すべく信号を出力する記録／読取機構１３２とを備えている。
【００２９】
さらに光ディスク装置１は、操作者の操作を受け付ける押釦、リモコン操作信号受光回路等の入力部１４と、モニタ等の表示装置（図示せず）、その他外部の装置（図示せず）へデータを出力する出力部１５とを備えている。
【００３０】
図２は、本発明の光ディスク装置１の記録／読取部１３の構成例を模式的に示すブロック図である。記録／読取部１３が備える光ピックアップ１３０は、光源となる半導体レーザ１３００を有し、半導体レーザ１３００から出射した光ビームは、コリメータレンズ１３０１により平行光に変換され、ビームスプリッタ１３０２を透過して対物レンズ１３０３にて集光され、光ディスク２の記録面に照射される。光ディスク２に対して照射した光の反射光は、対物レンズ１３０３にて平行光に変換され、ビームスプリッタ１３０２にて屈折し、集光レンズ１３０４にて集光され、光検出器１３０５へ入射する。
【００３１】
光検出器１３０５の検出面は、入射する反射光の光軸を交点として直交する２本の線分により、４つの検出面Ａ〜Ｄに４分割されており、４分割された各検出面Ａ〜Ｄには、夫々受光素子が配設されている。そして４分割された検出面Ａ〜Ｄに入射した光は、受光素子にて光電変換され、光ピックアップ調整機構１３１及び記録／読取機構１３２へ出力される。
【００３２】
光ピックアップ調整機構１３１は、反射光を光電変換した電気信号に基づき波形信号を生成する波形信号生成回路１３１０と、生成された波形信号に基づいてチルト量の調整量の演算及び制御を行う制御回路１３１１と、制御回路１３１１から出力される制御信号に基づいてチルト量を調整するチルト量調整回路１３１２とを備えている。そして光ピックアップ調整機構１３１は、チルト量調整回路１３１２へ制御信号を出力してチルト量を調整することにより、光ディスク２と光ピックアップ１３０との相対的な角度を調整し、光ディスク２に照射する光ビームの角度を調整する。
【００３３】
波形信号生成回路１３１０は、ＲＦ(Radio Frequency) 信号を生成するＲＦ信号生成手段１３１０ａ、ＴＥ(Tracking Error)信号を生成するＴＥ信号生成手段１３１０ｂ及びＬＰＰ(Land Pre-Pit)信号を生成するＬＰＰ信号生成手段１３１０ｃを備えている。波形信号生成回路１３１０にて生成されるＲＦ信号、ＴＥ信号及びＬＰＰ信号は、いずれも光ディスク２に照射した光ビームの反射光に基づいて生成される信号であるが、光ディスク２上の反射位置及び信号生成のための演算方法が異なる。
【００３４】
ここで光ディスク２の記録面について説明する。図３は、本発明の光ディスク装置１にて読取可能な光ディスク２の記録面の構造を模式的に示す説明図である。図３では、光ディスク２及び光ディスク２の記録面の一部を拡大した斜視図を模式的に示している。光ディスク２の記録面上には、データを記録するグルーブと呼ばれる記録溝２０が螺旋状に刻設されており、相隣る記録溝２０間には、記録溝２０に沿って凸部であるランド２１が設けられている。
【００３５】
記録溝２０は、光ディスク２におけるデータの記録領域であり、記録溝２０内に、周囲と反射率の異なるデータピット２０ａ，２０ａ，…を設けることにより、データを記録することができる。またランド２１上には、所定の規則に沿ってランドプリピット(Land Pre-Pit:LPP)２１ａ，２１ａ，…が予め設けられている。
【００３６】
ＲＦ信号とは、記録領域にデータが記録されている場合、即ち記録溝２０にデータピット２０ａ，２０ａ，…が設けられている場合に、データピット２０ａ，２０ａ，…を含む記録溝２０にて反射した反射光に基づき生成される信号である。なおデータが記録されていない光ディスク２では、プリライトされている一部の領域以外の領域からの反射光ではＲＦ信号を生成することができない。即ちＲＦ信号でチルト量を調整する場合には、記録されているデータに係る信号そのもので調整するため、高精度での調整が可能である。
【００３７】
ＴＥ信号とは、トラッキングの誤差を検出するための信号であり、記録溝２０を横切る光ビームに対する記録溝２０等の領域からの反射光に基づき生成される信号である。なおＴＥ信号は、光ディスク２にデータが記録されている場合でも、また記録されていない場合でも記録溝２０の反射光から生成することができる。即ちＴＥ信号でチルト量を調整する場合には、ＲＦ信号程の精度は得られないが、データが記録されていない記録溝２０の反射光に基づき調整することも可能である。
【００３８】
ＬＰＰ信号とは、ランド２１に設けられたランドプリピット(Land Pre-Pit:LPP)２１ａ，２１ａ，…の反射光に基づく信号である。
【００３９】
図３に示す各領域で反射した反射光に基づき波形信号生成回路１３１０が生成する各信号の生成のための演算方法の例について説明する。図４は、本発明の光ディスク装置１が生成する各種信号の演算回路の例を示す模式図である。図４（ａ）は、波形信号生成回路１３１０のＲＦ信号生成手段１３１０ａを示している。前述した様にＲＦ信号生成手段１３１０ａは、光検出器１３０５が４分割された検出面Ａ〜Ｄにて受光した光を光電変換した電気信号の入力を受け付ける。ここで検出面Ａが受光した光に基づく電気信号を信号Ａ、検出面Ｂが受光した光に基づく電気信号を信号Ｂ、検出面Ｃが受光した光に基づく電気信号を信号Ｃ、そして検出面Ｄが受光した光に基づく電気信号を信号Ｄとする。図４（ａ）からも明らかな様にＲＦ信号は、信号Ａ〜信号Ｄを用いた下記の式１の演算式に基づいて生成される。
【００４０】
ＲＦ信号＝（信号Ａ＋信号Ｄ）＋（信号Ｂ＋信号Ｃ）  …式１
【００４１】
図４（ｂ）は、波形信号生成回路１３１０のＴＥ信号生成手段１３１０ｂを示している。図４（ｂ）からも明らかな様にＴＥ信号は、信号Ａ〜信号Ｄを用いた下記の式２の演算式に基づいて生成される。式２として示す演算式は、ＴＥ信号を生成する演算式の一例であり、対角出力の和（信号Ａ＋信号Ｃ）と（信号Ｂ＋信号Ｄ）との間に位相差が現れることを利用している。
【００４２】
ＴＥ信号＝（信号Ａ＋信号Ｃ）−（信号Ｂ＋信号Ｄ）  …式２
【００４３】
図４（ｃ）は、波形信号生成回路１３１０のＬＰＰ信号生成手段１３１０ｃを示している。図４（ｃ）からも明らかな様にＬＰＰ信号は、信号Ａ〜信号Ｄを用いた下記の式３の演算式に基づいて生成される。
【００４４】
ＬＰＰ信号＝（信号Ａ＋信号Ｄ）−（信号Ｂ＋信号Ｃ）  …式３
【００４５】
式１〜式３は、各信号を生成する演算式の一例であり、光ピックアップ１３０及び光ピックアップ調整機構１３１の構成に応じて適宜設定することが可能である。
【００４６】
次に本発明の光ディスク装置１が備える光ピックアップ調整機構１３１の処理について説明する。図５は、本発明の光ピックアップ調整機構１３１の第１調整処理を示すフローチャートである。光ディスク装置１が備える光ピックアップ調整機構１３１は、光ピックアップ１３０の位置決めを行う（Ｓ１０１）。チルト量の調整は、例えば光ディスク２の反り等の要因により生じる光ディスク２と光ピックアップ１３０との相対的な角度を補正するために行う。ただし、光ディスク２は、半径方向の中心付近から縁部まで一様に反っているとは限らない。そこで光ディスク２の半径方向において、中心付近である記録面の内側から縁部付近の外側まで数点の位置で夫々調整すべきチルト量を求める必要が生じる。ステップＳ１０１の位置決めとは、チルト量を求めるべき位置へ光ピックアップ１３０を移動させることを示す。
【００４７】
光ディスク装置１が備える光ピックアップ調整機構１３１は、光ディスク２のデータ記録領域から、ＲＦ信号に変換可能な反射光を受光したか否かを判定する（Ｓ１０２）。ステップＳ１０２では、位置決め後、光ディスク２のデータ記録領域に光ビームを照射する。そしてデータ記録領域にデータが記録されている場合、即ち記録溝２０にデータピット２０ａ，２０ａ，…が設けられている場合に、ＲＦ信号に変換可能な反射光を受光したと判定する。
【００４８】
ステップＳ１０２において、ＲＦ信号に変換可能な反射光を受光したと判定した場合（Ｓ１０２：ＹＥＳ）、光ピックアップ調整機構１３１は、受光した反射光に基づくＲＦ信号をＲＦ信号生成手段１３１０ａにて生成し（Ｓ１０３）、生成したＲＦ信号の振幅が最大となるチルト量を求める粗調整を行う（Ｓ１０４）。
【００４９】
粗調整後、光ピックアップ調整機構１３１は、粗調整により求めたチルト量を中心として予め設定されている微小範囲でチルト量を振り、ＲＦ信号の誤り数が最小となるチルト量を求める微調整を行う（Ｓ１０５）。ステップＳ１０４の粗調整により、通常は最適なチルト量が求められるが、光ディスク２、光ピックアップ１３０、又はこれらの組合せによっては、ＲＦ信号の振幅が最大となるチルト量が必ずしも誤りの少ないチルト量とは限らない。そこでステップＳ１０５の微調整を行うことにより、最適なチルト量を高精度に調整することが可能となる。
【００５０】
そして光ピックアップ調整機構１３１は、位置決めした光ピックアップ１３０の位置に対するチルト量を、制御回路１３１１が備えるメモリに記録する（Ｓ１０６）。
【００５１】
ステップＳ１０２において、ＲＦ信号に変換可能な反射光を受光していないと判定した場合（Ｓ１０２：ＮＯ）、光ピックアップ調整機構１３１は、記録溝２０から受光した反射光に基づくＴＥ信号をＴＥ信号生成手段１３１０ｂにて生成し（Ｓ１０７）、生成したＴＥ信号の振幅が最大となるチルト量を求める粗調整を行う（Ｓ１０８）。
【００５２】
粗調整後、光ピックアップ調整機構１３１は、粗調整により求めたチルト量を中心として予め設定されている微小範囲でチルト量を振り、ランド２１から受光した反射光に基づくＬＰＰ信号をＬＰＰ信号生成手段１３１０ｃにて生成し（Ｓ１０９）、生成したＬＰＰ信号に基づいてランドプリピット２１ａ，２１ａ，…を検出し（Ｓ１１０）、予め設定されている検出時間内に検出したランドプリピット２１ａ，２１ａ，…の個数が最大となるチルト量を求める微調整を行う（Ｓ１１１）。ステップＳ１０８の粗調整により、通常は最適なチルト量が求められるが、光ディスク２、光ピックアップ１３０、又はこれらの組合せによっては、ＴＥ信号の振幅が最大となるチルト量が必ずしも誤りの少ないチルト量とは限らない。そこでステップＳ１０９〜Ｓ１１１の微調整を行うことにより、最適なチルト量を高精度に調整することが可能となる。
【００５３】
そして光ピックアップ調整機構１３１は、ステップＳ１０６へ進み、位置決めした光ピックアップ１３０の位置に対するチルト量を、制御回路１３１１が備えるメモリに記録する（Ｓ１０６）。
【００５４】
そして光ピックアップ調整機構１３１は、未調整の位置の有無を判定し（Ｓ１１２）、未調整の位置が有ると判定した場合（Ｓ１１２：ＹＥＳ）、ステップＳ１０１へ戻り、未調整の位置に光ピックアップ１３０を移動させ、チルト量の調整を行う。
【００５５】
ステップＳ１１２において、未調整の位置が無いと判定した場合（Ｓ１１２：ＮＯ）、第１調整処理を終了する。この様に第１調整処理は、粗調整及び微調整の２段階でチルト量を調整することにより、高精度にチルト量を調整することが可能である。しかもデータが記録されている記録領域に対しては、振幅の大きいＲＦ信号に基づく高精度な調整を行うことが可能であり、またデータが記録されていない記録領域に対しても調整を行うことが可能である。
【００５６】
図６は、本発明の光ピックアップ調整機構１３１の第２調整処理を示すフローチャートである。第２調整処理は、第１調整処理において、ＲＦ信号を用いないでチルト量を調整する方法であり、ＲＦ信号を用いないため、データが記録されていない光ディスク２に対して有効である。光ディスク装置１が備える光ピックアップ調整機構１３１は、光ピックアップ１３０の位置決めを行う（Ｓ２０１）。
【００５７】
光ピックアップ調整機構１３１は、記録溝２０から受光した反射光に基づくＴＥ信号をＴＥ信号生成手段１３１０ｂにて生成し（Ｓ２０２）、生成したＴＥ信号の振幅が最大となるチルト量を求める粗調整を行う（Ｓ２０３）。
【００５８】
粗調整後、光ピックアップ調整機構１３１は、粗調整により求めたチルト量を中心として予め設定されている微小範囲でチルト量を振り、ランド２１から受光した反射光に基づくＬＰＰ信号をＬＰＰ信号生成手段１３１０ｃにて生成し（Ｓ２０４）、生成したＬＰＰ信号に基づいてランドプリピット２１ａ，２１ａ，…を検出し（Ｓ２０５）、予め設定されている検出時間内に検出したランドプリピット２１ａ，２１ａ，…の個数が最大となるチルト量を求める微調整を行う（Ｓ２０６）。
【００５９】
そして光ピックアップ調整機構１３１は、位置決めした光ピックアップ１３０の位置に対するチルト量を、制御回路１３１１が備えるメモリに記録する（Ｓ２０７）。
【００６０】
そして光ピックアップ調整機構１３１は、未調整の位置の有無を判定し（Ｓ２０８）、未調整の位置が有ると判定した場合（Ｓ２０８：ＹＥＳ）、ステップＳ２０１へ戻り、未調整の位置に光ピックアップ１３０を移動させ、チルト量の調整を行う。
【００６１】
ステップＳ２０７において、未調整の位置が無いと判定した場合（Ｓ２０８：ＮＯ）、第２調整処理を終了する。
【００６２】
なお光ピックアップ調整機構１３１は、上述した第１調整処理及び第２調整処理のいずれの処理でチルト量を調整しても良く、また両方の処理を実施する様にしても良い。実施する調整処理は、光ディスク２の種類、データの記録時、データの読取時等の要因に応じて選択される。
【００６３】
そして光ピックアップ調整機構１３１は、光ディスク２からデータを読み取る場合、又は光ディスク２にデータを記録する場合に、読取又は記録を行う光ディスク２の位置に光ピックアップ１３０を移動する位置決めを行い、位置に対応付けて記録しているチルト量をメモリから読み出し、読み出したチルト量に基づき光ピックアップ１３０を調整する。
【００６４】
前記実施の形態では、光ピックアップを駆動してチルト量を調整する形態を示したが、本発明はこれに限らず、光ディスクのモータを傾けてチルト量を調整する等、様々な形態に展開することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明の光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】本発明の光ディスク装置の記録／読取部の構成例を模式的に示すブロック図である。
【図３】本発明の光ディスク装置にて読取可能な光ディスクの記録面の構造を模式的に示す説明図である。
【図４】本発明の光ディスク装置が生成する各種信号の演算回路の例を示す模式図である。
【図５】本発明の光ピックアップ調整機構の第１調整処理を示すフローチャートである。
【図６】本発明の光ピックアップ調整機構の第２調整処理を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００６６】
１  光ディスク装置
１３  記録／読取部
１３０  光ピックアップ
１３０４  光検出器
１３１  光ピックアップ調整機構
１３１０  波形信号生成回路
１３１１  制御回路
１３１２  チルト量調整回路
１３２  記録／読取機構
２  光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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