(57)【要約】【課題】コヒーレント光をパルス化することなく、光ファイバの各位置からのブリルアン散乱光を測定することが可能な光ファイバ特性測定装置を提供することを目的としている。【解決手段】コヒーレント光を出力する光源１と、コヒーレント光を分岐する光方向性結合器２と、光源１と光ファイバ８との間に配置されコヒーレント光の周波数を変換する光周波数変換回路４と、光ファイバ８からの戻り光と光方向性結合器２で分岐されたコヒーレント光との合波で得られる光信号を電気信号に変換する光−電気変換部１２と、電気信号に含まれる戻り光の周波数成分から光ファイバの特性を求める信号処理部１６とを備え、光周波数変換回路４は、コヒーレント光の周波数を、パルス幅に相当する区間と他の区間とで異ならせることを特徴とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバに光を出射した際の戻り光をヘテロダイン検波することにより光ファイバの諸特性を測定する光ファイバ特性測定装置において、
コヒーレント光を出力する光源と、
前記コヒーレント光を分岐する光方向性結合器と、
前記光源と光ファイバとの間に配置され前記コヒーレント光の周波数を変換する光周波数変換回路と、
光ファイバからの戻り光と前記光方向性結合器で分岐されたコヒーレント光との合波で得られる光信号を電気信号に変換する光−電気変換部と、
前記電気信号に含まれる前記戻り光の周波数成分から光ファイバの特性を求める信号処理部とを備え、
前記光周波数変換回路は、前記コヒーレント光の周波数を、パルス幅に相当する区間と他の区間とで異ならせることを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ファイバ特性測定装置において、
前記光周波数変換回路は、前記コヒーレント光の周波数を、パルス幅に相当する区間のみ周波数変換し、または他の区間のみ周波数変換することを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
【請求項３】
請求項１記載の光ファイバ特性測定装置において、
前記光周波数変換回路と光ファイバ側との間に、特定範囲の周波数の光を通しやすいフィルタを配置したことを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
【請求項４】
請求項１記載の光ファイバ特性測定装置において、
前記光方向性結合器と前記光源との間に前記光周波数変換回路を配置し、前記光方向性結合器は前記光周波数変換回路によって周波数を変換されたコヒーレント光を分岐することを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバに光を出射した際の戻り光を局部発振光と合波してヘテロダイン検波することによって、光ファイバの諸特性を測定する光ファイバ特性測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図４（ａ）は従来の技術による光ファイバ特性測定装置の構成例を示すブロック図である。光源１が出射した周波数ｆ０のコヒーレント光は光方向性結合器２で分岐され、一方のコヒーレント光は受光部１０に入力される。他方のコヒーレント光は光パルス発生回路３においてパルス光に変換され、光周波数変換回路４によって所定の周波数Δｆだけシフトさせ、周波数“ｆ０＋Δｆ”を持つパルス光とし、光増幅器５によって所定のレベルに増幅した後に被測定光ファイバ８に出射する。被測定光ファイバ８内ではその状態によって反射光や散乱光が生じ、その一部が戻り光として測定装置側に戻ってくる。戻り光は光スイッチ６を経由して受光部１０へ入力される。受光部１０では、光方向性結合器１１がコヒーレント光と戻り光とを合波し、光−電気変換部１２によって電気信号に変換し、ローパスフィルタ１４によってノイズ等の高周波成分を除去してから、信号処理部１６に入力する。信号処理部１６は入力された電気信号を基にして被測定光ファイバ８の諸特性を求めるほか、この電気信号を時間軸上で処理することによって被測定光ファイバ８の距離軸上の分布を作成する。
【０００３】
戻り光の成分の一つであるブリルアン散乱光は、被測定光ファイバ８に入射されたパルス光に対して周波数がシフトしている（すなわち入射した光の色とブリルアン散乱光の色が異なる）。例えばパルス光が約１９３ＴＨｚであるとすれば、ブリルアン散乱光の周波数は約１９３ＴＨｚ±１０数ＧＨｚである。この周波数のシフト量が被測定光ファイバ８の歪みや温度に応じて変動することから、パルス光の入射に伴い、戻ってくるブリルアン散乱光を時間管理して測定することで被測定光ファイバ８の各位置における歪みや温度を知ることができる。
【０００４】
上記において光周波数変換回路４がパルス光の周波数をΔｆだけ変調しているのは、コヒーレント光（局部発振光）の周波数とブリルアン散乱光の周波数とを近づけるためである。これにより、合波して得られるビート信号の周波数（すなわち局部発振光とブリルアン散乱光の周波数差）を電気的に処理可能な範囲とすることができる。光周波数変換回路４は、光周波数シフタや、いくつかの光学部品から構成された光リング系などの光学的回路であって、常に一定の周波数変換を行うものであった。
【０００５】
これに対し特開２０００−２９８０７７（特許文献１）では、図４（ｂ）に示すように、光周波数変換回路４を排し、代わりに信号発生部２０から所定の周波数のＲＦ信号を出力し、受光部１０から出力された電気信号にミキサ２３によって混合する構成が記載されている。特許文献１では、ＲＦ信号の周波数をコヒーレント光（局部発振光）とブリルアン散乱光の周波数差の近傍に設定することにより、周波数変換を行うことなく、ビート信号を信号処理部１６で容易に処理可能な周波数とすることができるとしている。
【特許文献１】特開２０００−２９８０７７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、上記特許文献１の構成においては、受光部１０はブリルアン散乱光の周波数シフトを許容する受信帯域が要求される。例えば一般的なシングルモードファイバを１．５５μｍのパルス光で測定すると、周波数のシフト量は約１０．８ＧＨｚとなるため、受光部１０の受信帯域は１２ＧＨｚ程度は必要となる。しかしブリルアン散乱光の周波数変動は最大でも２ＧＨｚ程度であって、受信帯域が大きいと信号対雑音比（Ｓ／Ｎ比）が大きくなってしまう。また現状において受信帯域が３ＧＨｚ程度を越えると、受光部のコストが大幅に増大してしまうという問題がある。
【０００７】
また、光パルス発生回路３は一般的に強度変調器である。光ファイバ特性測定装置においてコヒーレント光をパルス化するための強度変調器は、十分な消光比の性能が要求される。これは以下の理由による。
【０００８】
被測定光ファイバ８へ入射するパルス光のパワーが０ｄＢｍ（＝１ｍＷ）、パルス幅を１μｓとすると、戻ってくるブリルアン散乱光のパワーは約−６０ｄＢｍとなる。これをパルス幅１０ｎｓ（１ｍの分解能を得るために用いるパルス幅）とすれば−８０ｄＢｍである。もし強度変調器の消光比が不十分であると、パルス光と共に強度変調器から漏れた連続光が常に光ファイバ内へ入射されることになり、必要とするブリルアン散乱光が連続光によるブリルアン散乱光に埋もれてしまう。被測定光ファイバが短ければこの影響は無視できるが、長くなるにつれて影響が顕著となる。
【０００９】
例えば、１ｋｍのシングルモード光ファイバで発生する連続光によるブリルアン散乱光は、１０μｓのパルスによって発生するブリルアン散乱光と同等であって、−５０ｄＢｍと計算される。ここで強度変調器の消光比が３５ｄＢであるとすると、連続光によるブリルアン散乱光は−８５ｄＢｍとなり、パルス幅１０ｎｓのブリルアン散乱光が埋もれることはない。しかしファイバ長が１ｋｍ以上となると、消光比は３５ｄＢでは足りなくなってくる。非線形現象における有効光ファイバ長（２０ｋｍ）で考えればパルス幅２００μｓと同等であるからブリルアン散乱光は−３７ｄＢｍとなる。従ってパルス幅１０ｎｓのパルス光のブリルアン散乱光が埋もれないためには消光比に４３ｄＢ以上必要となり、さらにＳ／Ｎ比などを考慮すると５０ｄＢ程度は必要となる。
【００１０】
高速の強度変調器の消光比は一般的に２０〜３０ｄＢ程度であり、１つの強度変調器だけでブリルアン散乱光の測定装置を実現することは困難であった。そこで従来は、複数の強度変調器を直列に接続することによって消光比を得ていた。しかし強度変調器を多段にすることによって挿入損失が大きくなり、また偏光状態を一致させるために高価な光ファイバが必要であったり、得られるパルス光のレベルが不安定となるといった問題点があった。
【００１１】
そこで本発明は、コヒーレント光をパルス化することなく、光ファイバの各位置からのブリルアン散乱光を測定することが可能な光ファイバ特性測定装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するために、本発明に係る光ファイバ特性測定装置の代表的な構成は、光ファイバに光を出射した際の戻り光をヘテロダイン検波することにより光ファイバの諸特性を測定する光ファイバ特性測定装置において、コヒーレント光を出力する光源と、コヒーレント光を分岐する光方向性結合器と、光源と光ファイバとの間に配置されコヒーレント光の周波数を変換する光周波数変換回路と、光ファイバからの戻り光と光方向性結合器で分岐されたコヒーレント光との合波で得られる光信号を電気信号に変換する光−電気変換部と、電気信号に含まれる戻り光の周波数成分から光ファイバの特性を求める信号処理部とを備え、光周波数変換回路は、コヒーレント光の周波数を、パルス幅に相当する区間と他の区間とで異ならせることを特徴とする。
【００１３】
上記構成によれば、従来の測定装置におけるパルス光のパルス幅に相当する区間だけコヒーレント光の周波数をシフト変換することにより、連続光を出射しつつも光ファイバの任意の位置からのブリルアン散乱光を測定することができる。従って高価な強度変調器（光パルス発生回路）を備える必要がなく、生産コストの低減化を図ることができる。また、シフト変換する周波数を調整することによってヘテロダイン検波の際のビート信号の周波数を制御することができるため、受光部の受光帯域を狭く設定することができ、安価な受光部品を用いつつ、Ｓ／Ｎ比を向上させて測定精度を向上させることができる。
【００１４】
光周波数変換回路は、コヒーレント光の周波数を、パルス幅に相当する区間のみ周波数変換し、または他の区間のみ周波数変換することができる。すなわち、パルス幅に相当する区間の周波数と他の区間の周波数とを異ならせればよく、いずれに変調を加えることでもよい。なお変調を加えるとコヒーレント光のパワーが約１／２になるため、他の区間に変調を加えることが望ましい。
【００１５】
また、光周波数変換回路と光ファイバ側との間に、特定範囲の周波数の光を通しやすいフィルタを配置することでもよい。これにより、パルス幅に相当する区間におけるコヒーレント光のみを効率的に光ファイバに出射することができる。
【００１６】
また、光方向性結合器と光源との間に光周波数変換回路を配置し、光方向性結合器は光周波数変換回路によって周波数を変換されたコヒーレント光を分岐してもよい。これにより、変調を加えたコヒーレント光（局部発振光）と、変調を加えてない（パワーの強い）コヒーレント光によるブリルアン散乱光とを合波させることができ、さらに測定精度を向上させることができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明に係る光ファイバ特性測定装置は、コヒーレント光をパルス化することなく、光ファイバの各位置からのブリルアン散乱光を高精度に測定することができる。従って高価な強度変調器（光パルス発生回路）を備える必要がなく、生産コストの低減化を図ることができる。また受光帯域を自由に制御することができるため、安価な受光部品を用いつつ、Ｓ／Ｎ比を向上させて測定精度を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
［実施例１］
本発明に係る光ファイバ特性測定装置の第１実施例について説明する。図１は第１実施例に係る光ファイバ特性測定装置の構成を説明する図である。図１において、図４に示したものと同等の機能を持つ構成要素については同一の符号を付してある。
【００１９】
本実施例において被測定光ファイバを一般的なシングルモードファイバとし、測定に用いる光の周波数を１９３ＴＨｚ（波長１．５５μｍ）とする。このときブリルアン散乱光においてシフトする周波数は約１０．８ＧＨｚである。ただしこれらの数値、および以下の実施例に示す数値は発明の理解を容易とするための例示に過ぎず、特に断る場合を除き、本発明を限定するものではない。
【００２０】
図１（ａ）において、光源１は狭線幅のコヒーレント光１ａを発光する１．５５μｍ帯のＭＱＷ−ＤＦＢ（多重量子井戸−分布帰還型）半導体レーザ等である。光方向性結合器２は入射ポート１つと出射ポート２つを有する１×２の光方向性結合器であって、入射ポートに入射したコヒーレント光１ａを２つの出射ポートに分割し、光源から被測定光ファイバ８へと続く第１の光路にコヒーレント光２ａを、光方向性結合器２から受光部１０へと続く第２の光路にコヒーレント光２ｂを出射する。
【００２１】
光周波数変換回路３０は入射されたコヒーレント光の周波数を変換することにより、パルス幅に相当する区間の周波数と、他の区間の周波数とを異ならせる。パルス幅は、例えば数ｎｓ〜数μｓ程度に設定することができる。変調を加える間隔（パルス光の間隔に相当する）は被測定光ファイバ８の長さ（即ち、距離レンジ）に依存しており、例えば１０ｋｍの距離レンジであればその発生周期は２００μ秒であり、１ｋｍの距離レンジであればその発生周期は２０μ秒である。光周波数変換回路３０としては、ＬＮ変調器（位相変調器）やＦＳＫ変調器（周波数シフトキーイング変調器）、音響光学シフタを用いることができる。特にＦＳＫ変調器はキャリア光の周波数をシフトできるために好適である。
【００２２】
光増幅器５はＥｒ（エルビウム）ドープファイバを用いた光ファイバ増幅器などであって、入射する変調光３ａ（正確にはコヒーレント光２ａを部分的に変調したもの）を所定のレベルにまで増幅して出射する。光スイッチ６は光サーキュレータ等であって、入射ポート６ｉに入射した変調光５ａを変調光６ａとして出射／入射ポート６ｉｏから光コネクタ７に出射する。光コネクタ７は測定装置と被測定光ファイバ８を接続する部材であって、これを介して変調光７ａが被測定光ファイバ８に出射される。被測定光ファイバ８内で発生した散乱光の一部は戻り光８ａとなり、光コネクタ７を介して光スイッチ６の出射／入射ポート６ｉｏに入射し、出射ポート６ｏから戻り光６ｂとして受光部１０に出射される。
【００２３】
受光部１０において、光方向性結合器１１は光方向性結合器２から出射されたコヒーレント光２ｂ（局部発振光）と戻り光６ｂを合波する。この合波によって生じる光信号１１ａの周波数差を光−電気変換部１２によってバランス受光して（ヘテロダイン検波）、電気信号１２ａ（ビート信号）に変換する。増幅部１３は電気信号１２ａを増幅した電気信号１３ａを出力する。
【００２４】
ローパスフィルタ１４は、受光部１０から出力された電気信号１３ａに含まれるノイズ等の高周波成分を除去してＳ／Ｎ比（信号／ノイズ比）を向上させるための回路である。増幅部１５はローパスフィルタ１４から出力される電気信号を信号処理部１６の処理に適したレベルまで増幅する。信号処理部１６は増幅部１５から出力される電気信号を加算するなど、戻り光の周波数成分から光ファイバの特性を求めるための各種の信号処理を実行するための機能を有している。こうした機能を用いることで、信号処理部１６は入力された電気信号に平均化処理を施して被測定光ファイバ８の歪みや損失、温度を求めるほか、時間軸上で戻り光を検出して歪み特性や光損失特性、温度特性の距離分布を求める。
【００２５】
次に図１（ｂ）を用いて、上記構成の光ファイバ特性測定装置における出射した光と散乱光の周波数について説明する。まず、光源１が発光するコヒーレント光１ａの周波数を周波数ｆ０（例えば１９３ＴＨｚ）とする。コヒーレント光２ａおよびコヒーレント光２ｂも同様に周波数ｆ０である。光周波数変換回路３０が変調させる周波数差を周波数Δｆと称し、本実施例では例えば１０．７ＧＨｚとする。また本実施例においては、コヒーレント光２ａに対し、パルス幅に相当する区間においてのみ変調を加えている。
【００２６】
戻り光６ｂに含まれる光信号のうち、ブリルアン散乱光の周波数は、被測定光ファイバ８に入射されたパルス光に対して、高周波側と低周波側に周波数ｆｓ（約１０．８ＧＨｚ、変動幅として約９〜１２ＧＨｚ）程度シフトする。変調光３ａに含まれる光のうち、周波数ｆ０の光によるブリルアン散乱光の周波数は（ｆ０±ｆｓ）、光周波数変換回路３０において変調したｆ０＋Δｆの光によるブリルアン散乱光の周波数は（ｆ０＋Δｆ±ｆｓ）となる。
【００２７】
受光部１０において、コヒーレント光２ｂ（周波数ｆ０）と変調した光によるブリルアン散乱光（周波数ｆ０＋Δｆ±ｆｓ）を合波すると、その周波数差は｜Δｆ±ｆｓ｜となり、絶対値の小さい方の周波数帯域を光−電気変換部１２によって電気信号１２ａに変換する。ここで本実施例のように、周波数ｆｓが約１０．８ＧＨｚ程度であるとき、Δｆを１０．７ＧＨｚと設定することにより、受光部１０の受信可能帯域を１００ＭＨｚ程度とすることができる。
【００２８】
従来は、パルス光を用いて測定を行う場合には、パルス光によるブリルアン散乱光が連続光によるブリルアン散乱光に埋もれてしまうことを防止するために、５０ｄＢ以上の大きな消光比が必要であった。しかし上記説明したように、パルス幅の光の周波数をシフト変換することにより、コヒーレント光２ａ（連続光）によるブリルアン散乱光に邪魔されることなく、パルス幅の光によるブリルアン散乱光を分離して検知および測定することができる。したがって消光比が不要となり、高価な強度変調器（光パルス発生回路）を備えることなく光ファイバの任意の位置からのブリルアン散乱光を測定することができ、生産コストの低減化を図ることができる。
【００２９】
また、シフト変換する周波数を調整することによってヘテロダイン検波の際のビート信号の周波数を制御することができるため、受光部の受光帯域を狭く設定することができ、安価な受光部品を用いつつ、Ｓ／Ｎ比を向上させて測定精度を向上させることができる。同様に信号処理部１６における周波数帯域も狭く設定することができるため、電気回路においても容易に処理可能な周波数帯域となり、生産コストの低減と測定精度の向上を図ることができる。
【００３０】
［実施例２］
本発明に係る光ファイバ特性測定装置の第２実施例について説明する。図２は第２実施例に係る光ファイバ特性測定装置の構成を説明する図であって、上記第1実施例と説明の重複する部分については同一の符号を付して説明を省略する。
【００３１】
図２に示すように、本実施例では、光周波数変換回路３０の被測定光ファイバ８側に、特定範囲の周波数の光を通しやすいフィルタ３１を配置している。特定範囲の周波数とはパルス幅の光の周波数であって、実施例１のようにパルス幅に相当する区間において変調を加えた場合にはｆ０＋Δｆ近傍、後述する実施例３のようにパルス幅以外の区間において変調を加える場合にはｆ０近傍である。フィルタとしては、例えばエタロンフィルタやＦＰ（Ｆａｂｒｙ−Ｐｅｒｏｔ）干渉フィルタを用いることができる。
【００３２】
本実施例の構成によれば、上記のようにフィルタを設けることにより、連続光のパワーを小さくすることができる。これにより光増幅器５に入力される連続光が小さくなり、相対的にパルス幅の光の増幅度を向上させることができる。したがって、より長距離の被測定光ファイバ８の測定が可能となる。
【００３３】
［実施例３］
本発明に係る光ファイバ特性測定装置の第３実施例について説明する。図３は第３実施例に係る光ファイバ特性測定装置の構成を説明する図であって、上記第１実施例と説明の重複する部分については同一の符号を付して説明を省略する。
【００３４】
上記第１実施例においては、光周波数変換回路３０はパルス幅に相当する区間においてのみ変調を加えるよう説明した。ここでコヒーレント光に対して変調を加える区間は、パルス幅に相当する区間においてのみ変調を加える他に、他の区間においてのみ変調を加えることでもよく、すなわちパルス幅に相当する区間の周波数と他の区間の周波数とを異ならせればよい。そして変調を加えると光のエネルギーは約１／２となるため、パルス幅以外の区間において変調を加えることにより、パルス幅の光のエネルギーを相対的に大きくすることができる。
【００３５】
しかし、パルス幅以外の区間において変調を加えると、受光部１０の周波数帯域を大きくする必要がある。図３（ｃ）は、図２の装置構成においてパルス幅以外の区間に変調を加えた場合の出射光と散乱光の周波数について説明する図である。図３（ｃ）に示すように、パルス幅に相当する区間の光は変調を加えないために光源と同じ周波数ｆ０となり、他の区間は変調を加えるために周波数ｆ０＋Δｆとなる。すると連続光によるブリルアン散乱光の周波数がｆ０＋Δｆ±ｆｓとなり、パルス幅の光のブリルアン散乱光の周波数はｆ０±ｆｓとなる。そして合波する局部発振光の周波数がｆ０であるから、受光部１０はブリルアン散乱光のシフト周波数ｆｓ（変動幅として約９〜１２ＧＨｚ）をカバーするために１２ＧＨｚの周波数帯域が必要となってしまう。このように高周波の受光部１０は高価であり、またＳ／Ｎ比が低下するという問題がある。
【００３６】
そこで本実施例では、図３（ａ）に示すように、光方向性結合器２より光源１側に光周波数変換回路３０を配置している。従って光方向性結合器２には部分的に変調された変調光３ｂが入射され、分岐された変調光２ｃ、２ｄがそれぞれフィルタ３１および受光部１０へと入射される。すると図３（ｂ）に示すように、ヘテロダイン検波のための局部発振光（変調光２ｄ）の周波数がｆ０＋Δｆとなることから、変調光２ｄと変調していないパルス幅の光によるブリルアン散乱光（周波数ｆ０±ｆｓ）の周波数差は｜Δｆ±ｆｓ｜となる。
【００３７】
具体例としては実施例１と同様に、ブリルアン散乱光のシフト周波数ｆｓが約１０．８ＧＨｚ程度であるとき、変調する周波数Δｆを１０．７ＧＨｚと設定することにより、周波数差（受光部１０の受信可能帯域）を１００ＭＨｚ程度とすることができる。これにより受光部１０は非常に狭い帯域による受光が可能となり、帯域が１２ＧＨｚの場合より雑音電圧が４１ｄＢ低下するため、Ｓ／Ｎ比を大幅に向上させることができる。
【００３８】
なお、本構成にあっては局部発振光に矩形波が出ることになるが、局部発振光と被測定光ファイバ８から戻ってきたブリルアン散乱光とでは光路差が大きいため、矩形波と散乱光が重畳することはない。
【００３９】
本実施例の構成によれば、パルス幅に相当する区間の光に変調を加えず、他の区間に変調を加えるよう構成したことにより、パルス幅の光のエネルギーを相対的に大きくすることができ、より長距離の被測定光ファイバ８の測定が可能となる。また光方向性結合器２より光源１側に光周波数変換回路３０を配置することにより、上記効果を得つつも受光部１０および信号処理部１６の周波数帯域を狭く設定することができるため、容易に処理可能な周波数帯域となり、生産コストの低減と測定精度の向上を図ることができる。
【産業上の利用可能性】
【００４０】
本発明は、光ファイバに光を出射した際の戻り光を局部発振光と合波してヘテロダイン検波することによって、光ファイバの諸特性を測定する光ファイバ特性測定装置として利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】第１実施例に係る光ファイバ特性測定装置の構成を説明する図である。
【図２】第２実施例に係る光ファイバ特性測定装置の構成を説明する図である。
【図３】第３実施例に係る光ファイバ特性測定装置の構成を説明する図である。
【図４】従来の光ファイバ特性測定装置の構成を説明する図である。
【符号の説明】
【００４２】
１ …光源
１ａ …コヒーレント光
２ …光方向性結合器
２ａ、２ｂ …コヒーレント光
２ｃ、２ｄ …変調光
３ …光パルス発生回路
３ａ、３ｂ …変調光
４ …光周波数変換回路
５ …光増幅器
５ａ …変調光
６ …光スイッチ
６ａ …変調光
６ｂ …戻り光
６ｉ …入射ポート
６ｉｏ …出射／入射ポート
６ｏ …出射ポート
７ …光コネクタ
７ａ …変調光
８ …被測定光ファイバ
８ａ …戻り光
１０ …受光部
１１ …光方向性結合器
１１ａ …光信号
１２ …光−電気変換部
１２ａ …電気信号
１３ …増幅部
１３ａ …電気信号
１４ …ローパスフィルタ
１５ …増幅部
１６ …信号処理部
２０ …信号発生部
２３ …ミキサ
３０ …光周波数変換回路
３１ …フィルタ
【図１】
2008051622.tif 000003
【図２】
2008051622.tif 000004
【図３】
2008051622.tif 000005
【図４】
2008051622.tif 000006