(57)【要約】【課題】低コストで、電線の圧着前に圧着刃型、圧着端子、電線芯線部、および電線被覆部のそれぞれの不具合の有無を個別に正確に判断することができる、電線圧着前の不具合検査装置および電線圧着前の不具合検査方法を提供する。【解決手段】所定の間隔で対向配置され、光を照射する発光部および発光部からの光を受光する受光部と、発光部と受光部の間に配置される圧着刃型と、圧着刃型の上に、電線に圧着される圧着端子、電線の電線芯線部、および電線の電線被覆部のうちの少なくとも一つを供給する供給手段と、圧着刃型、圧着端子、電線芯線部、および電線被覆部のうちの少なくとも一つの遮光量を特定する遮光状態特定手段と、予め記憶された基準遮光量と特定された遮光量を比較する比較手段と、比較手段に基づいて、圧着刃型、圧着端子、電線芯線部、および電線被覆部のうちの少なくとも一つの不具合の有無を判断する判断手段を備えた電線圧着前の不具合検査装置。【選択図】図１０
2008147125.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の間隔で対向配置され、光を照射する発光部および発光部からの光を受光する受光部と、
前記発光部と受光部の間に配置される圧着刃型と、
前記圧着刃型の上に、電線に圧着される圧着端子、前記電線の電線芯線部、および前記電線の電線被覆部を供給する供給手段と、
前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部のうちの少なくとも一つについて、前記発光部から前記受光部に入る光の遮光状態を特定する遮光状態特定手段と、
予め記憶された基準遮光状態と前記遮光状態を比較する比較手段と、
前記比較手段における比較結果に基づいて、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部のうちの少なくとも一つの不具合の有無を判断する判断手段とを備えた電線圧着前の不具合検査装置。
【請求項２】
前記遮光状態特定手段は、前記発光部から前記受光部に入る光の遮光量、遮光時間、遮光開始時間、遮光終了時間のいずれか少なくともひとつを前記遮光状態として特定する、
請求項１に記載の電線圧着前の不具合検査装置。
【請求項３】
前記比較手段は、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部について逐一、前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する、請求項１または請求項２に記載の電線圧着前の不具合検査装置。
【請求項４】
前記比較手段は、遮光時間の変化に対する遮光量の変化を１つの波形とみなして当該波形を、前記基準遮光状態を示す波形と比較する、請求項１または請求項２に記載の電線圧着前の不具合検査装置。
【請求項５】
前記遮光状態特定手段は、前記圧着刃型上に、前記圧着端子や前記電線が供給される前に遮光状態を特定し、
前記比較手段は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、
前記判断手段は、当該比較の結果から前記圧着刃型の不具合の有無を判断する、請求項１〜４のいずれか１項に記載の電線圧着前の不具合検査装置。
【請求項６】
前記遮光状態特定手段は、前記圧着刃型上に前記圧着端子が供給された際の遮光状態を特定し、
前記比較手段は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、
前記判断手段は、当該比較の結果から前記端子の不具合の有無を判断する、請求項１〜５のいずれか１項に記載の電線圧着前の不具合検査装置。
【請求項７】
前記遮光状態特定手段は、前記圧着刃型上に前記電線の電線芯線部と前記電線被覆部の少なくとも一方が供給された際の遮光状態を特定し、
前記比較手段は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、
前記判断手段は、当該比較の結果から前記電線の不具合の有無を判断する、請求項１〜６のいずれか１項に記載の電線圧着前の不具合検査装置。
【請求項８】
所定の間隔で対向配置された発光部から受光部に光を照射し、
前記発光部と受光部の間に配置される圧着刃型の上に、電線に圧着される端子、前記電線の電線芯線部、および前記電線の電線被覆部のうちの少なくとも一つを供給して、
前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部のうちの少なくとも一つの遮光状態を特定し、
前記遮光状態を、予め記憶された基準遮光状態と比較して、
前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部のうちの少なくとも一つの不具合の有無を判断する、
電線圧着前の不具合検査方法。
【請求項９】
前記遮光状態を特定する際には、前記発光部から前記受光部に入る光の遮光量、遮光時間、遮光開始時間、遮光終了時間のいずれか少なくともひとつを前記遮光状態として特定する、
請求項８に記載の電線圧着前の不具合検査方法。
【請求項１０】
前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部について逐一、前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する、請求項８または９に記載の電線圧着前の不具合検査方法。
【請求項１１】
前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、遮光時間の変化に対する遮光量の変化を１つの波形とみなして当該波形を、前記基準遮光状態を示す波形と比較する、請求項８または請求項９に記載の電線圧着前の不具合検査方法。
【請求項１２】
前記遮光状態を特定する際は、前記圧着刃型上に、前記圧着端子や前記電線が供給される前に遮光状態を特定し、
前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、
前記不具合の有無を判断する際は、当該比較の結果から前記圧着刃型の不具合の有無を判断する、請求項８〜１１のいずれか１項に記載の電線圧着前の不具合検査方法。
【請求項１３】
前記遮光状態を特定する際は、前記圧着刃型上に前記圧着端子が供給された際の遮光状態を特定し、
前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、
前記不具合の有無を判断する際は、当該比較の結果から前記端子の不具合の有無を判断する、請求項８〜１２のいずれか１項に記載の電線圧着前の不具合検査方法。
【請求項１４】
前記遮光状態を特定する際は、前記圧着刃型上に前記電線の電線芯線部と前記電線被覆部の少なくとも一方が供給された際の遮光状態を特定し、
前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、
前記不具合の有無を判断する際は、当該比較の結果から前記電線の不具合の有無を判断する、請求項８〜１３のいずれか１項に記載の電線圧着前の不具合検査方法。
【請求項１５】
請求項８〜１４のいずれか１項に記載の電線圧着前の不具合検査方法を実施し、しかる後に前記電線に対して前記圧着端子を前記圧着刃型上で圧着して、端子付き電線を製造する、端子付き電線の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電線圧着前の不具合検査装置およびその検査方法、特に、圧着前の圧着刃型、圧着端子、電線芯線部、電線被覆部等の各パーツの状態を検査する装置、検査方法、および端子付き電線の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電線端末の被覆を剥ぎ取り、圧着端子を圧着する自動電線処理装置において、電線の被覆剥ぎ取りが良好に行われたかどうか検査する装置が、特開平６−２２５４２３号公報に開示されている。特開平６−２２５４２３号公報に開示された検査装置では被覆を剥ぎ取られた電線が通過する経路の上面と下面に対面した半導体レーザの発光部と受光部を備えた検出器を配置し、電線が通過した際の遮光量に比例する出力信号をあらかじめ記憶している基準値と比較し、良否を判定する。
【０００３】
一方、圧着時の圧着端子、圧着金型の刃型異常を検出する装置が、特開昭６３−２８１０７１号公報に開示されている。特開昭６３−２８１０７１号公報に開示された装置では、圧着金型の刃型にかかる荷重を歪ゲージのような荷重検出器で検知し、あらかじめ記憶された基準値と比較し良否を判定する。
【特許文献１】特開平６−２２５４２３号公報
【特許文献２】特開昭６３−２８１０７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に開示された検査装置では、電線の通過する経路に検出器を配置しなければならず、装置が大型となり、電線の輸送距離が長くなってしまうため、生産能力が低下する。また、上記検出器を通過した後、圧着端子が、圧着される圧着金型の所定位置までの経路上で異物と衝突する等が原因で、電線に異常が発生した場合にはその異常は検出できない。
【０００５】
剥ぎ取り長さ異常を検知するためにはレーザーセンサを複数設置し、電線芯線部と被覆部の差を検知するかＣＣＤカメラなどで被覆剥ぎ取り部を撮影し、パターン認識するなどの方法が一般的に知られているが、装置が高価になってしまう。
特許文献２に開示された構成では、圧着前にたとえば圧着端子が圧着位置に移動中に異物と衝突し、曲がってしまった状態になっていても圧着を行わなければ検知できない。また、圧着金型の刃型が破損していても同様に圧着を行わなければ検知しない。
【０００６】
従って、本発明の目的は、低コストで、電線の圧着前に圧着刃型、圧着端子、電線芯線部、および電線被覆部のいずれか少なくとも１つの不具合の有無をより正確に判断することができる、電線圧着前の不具合検査装置、検査方法、および歩留まりの良い端子付き電線の製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査装置は、所定の間隔で対向配置され、光を照射する発光部および発光部からの光を受光する受光部と、
前記発光部と受光部の間に配置される圧着刃型と、前記圧着刃型の上に、電線に圧着される圧着端子、前記電線の電線芯線部、および前記電線の電線被覆部を供給する供給手段と、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部のうちの少なくとも一つについて、前記発光部から前記受光部に入る光の遮光状態を特定する遮光状態特定手段と、予め記憶された基準遮光状態と前記遮光状態を比較する比較手段と、前記比較手段における比較結果に基づいて、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部のうちの少なくとも一つの不具合の有無を判断する判断手段とを備えていることを特徴とする。
【０００８】
請求項２に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査装置は、請求項１に記載のものであって、前記遮光状態特定手段は、前記発光部から前記受光部に入る光の遮光量、遮光時間、遮光開始時間、遮光終了時間のいずれか少なくともひとつを前記遮光状態として特定することを特徴とする。
【０００９】
請求項３に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査装置は、請求項１または請求項２に記載のものであって、前記比較手段は、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部について逐一、前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較することを特徴とする。
【００１０】
請求項４に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査装置は、請求項１または請求項２に記載のものであって、前記比較手段は、遮光時間の変化に対する遮光量の変化を１つの波形とみなして当該波形を、前記基準遮光状態を示す波形と比較することを特徴とする。
【００１１】
請求項５に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査装置は、請求項１〜４のいずれか１項に記載のものであって、前記遮光状態特定手段は、前記圧着刃型上に、前記圧着端子や前記電線が供給される前に遮光状態を特定し、前記比較手段は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、前記判断手段は、当該比較の結果から前記圧着刃型の不具合の有無を判断することを特徴とする。
【００１２】
請求項６に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査装置は、請求項１〜５のいずれか１項に記載のものであって、前記遮光状態特定手段は、前記圧着刃型上に前記圧着端子が供給された際の遮光状態を特定し、前記比較手段は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、前記判断手段は、当該比較の結果から前記端子の不具合の有無を判断することを特徴とする。
【００１３】
請求項７に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査装置は、請求項１〜６のいずれか１項に記載のものであって、前記遮光状態特定手段は、前記圧着刃型上に前記電線の電線芯線部と前記電線被覆部の少なくとも一方が供給された際の遮光状態を特定し、前記比較手段は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、前記判断手段は、当該比較の結果から前記電線の不具合の有無を判断することを特徴とする。
【００１４】
請求項８に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査方法は、所定の間隔で対向配置された発光部から受光部に光を照射し、前記発光部と受光部の間に配置される圧着刃型の上に、電線に圧着される端子、前記電線の電線芯線部、および前記電線の電線被覆部のうちの少なくとも一つを供給して、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部のうちの少なくとも一つの遮光状態を特定し、前記遮光状態を、予め記憶された基準遮光状態と比較して、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部のうちの少なくとも一つの不具合の有無を判断することを特徴とする。
【００１５】
請求項９に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査方法は、請求項８に記載のものであって、前記遮光状態を特定する際には、前記発光部から前記受光部に入る光の遮光量、遮光時間、遮光開始時間、遮光終了時間のいずれか少なくともひとつを前記遮光状態として特定する特徴とする。
【００１６】
請求項１０に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査方法は、請求項８または請求項９に記載のものであって、前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部について逐一、前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較することを特徴とする。
【００１７】
請求項１１に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査方法は、請求項８または請求項９に記載のものであって、前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、遮光時間の変化に対する遮光量の変化を１つの波形とみなして当該波形を、前記基準遮光状態を示す波形と比較することを特徴とする。
【００１８】
請求項１２に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査方法は、請求項８に〜１１のいずれか１項に記載のものであって、前記遮光状態を特定する際は、前記圧着刃型上に、前記圧着端子や前記電線が供給される前に遮光状態を特定し、
前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、前記不具合の有無を判断する際は、当該比較の結果から前記圧着刃型の不具合の有無を判断することを特徴とする。
【００１９】
請求項１３に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査方法は、請求項８に〜１２のいずれか１項に記載のものであって、前記遮光状態を特定する際は、前記圧着刃型上に前記圧着端子が供給された際の遮光状態を特定し、前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、前記不具合の有無を判断する際は、当該比較の結果から前記端子の不具合の有無を判断することを特徴とする。
【００２０】
請求項１４に記載の本発明の電線圧着前の不具合検査方法は、請求項８に〜１３のいずれか１項に記載のものであって、前記遮光状態を特定する際は、前記圧着刃型上に前記電線の電線芯線部と前記電線被覆部の少なくとも一方が供給された際の遮光状態を特定し、前記遮光状態を前記基準遮光状態と比較する際は、当該遮光状態を、対応する基準遮光状態と比較し、前記不具合の有無を判断する際は、当該比較の結果から前記電線の不具合の有無を判断することを特徴とする。
【００２１】
請求項１５に記載の本発明の端子付き電線の製造方法は、請求項８〜１４のいずれか１項に記載の電線圧着前の不具合検査方法を実施し、しかる後に前記電線に対して前記圧着端子を前記圧着刃型上で圧着して、端子付き電線を製造することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２２】
本発明の請求項１、請求項８、請求項１５によると、発光部と受光部の間に圧着刃型を配置したことで、装置が小型となり、電線の輸送距離を短くすることができるため、生産能力を高くすることができる。また発光部と受光部の間に圧着刃型を配置したことで、電線圧着直前に圧着刃型、圧着端子、電線の不具合を判断することができるので、異物との衝突などによる電線の異常を正確に検出できる。よって低コストで、電線の圧着前に圧着刃型、圧着端子、電線芯線部、および電線被覆部のいずれか少なくとも１つの不具合の有無をより正確に判断することができる電線圧着前の不具合検査装置、検査方法、および歩留まりの良い端子付き電線の製造方法を提供することができる。
【００２３】
とくに請求項２、請求項９に記載の発明によると、遮光量、遮光時間、遮光開始時間、遮光終了時間のいずれか少なくとも１つを遮光状態の特定対象とするので、正確な数値データを取得し易く、そのデータ処理も容易なため、より正確な比較・判断ができる。
とくに請求項３、請求項１０に記載の発明によると、前記比較手段は、前記圧着刃型、前記端子、前記電線芯線部、および前記電線被覆部について不具合の有無を判別できるため、異常原因の特定（切り分け）が容易となる。
【００２４】
よってなんらかの異常が発生した時点で設備を止めて、不具合に対する対処を施すことが出来るので、圧着不良をする無駄を前倒しに低減することができる。
【００２５】
とくに請求項４、請求項１１に記載の発明によると、遮光状態と基準遮光状態の比較が一括して行えるので、当該比較を行う側（装置もしくは作業者）の負荷を低減することができる。
【００２６】
とくに請求項５、請求項１２に記載の発明によると、圧着刃型の不具合の有無を正確に判断することができるので、圧着端子や電線の供給前に前倒しに圧着刃型の交換などの不具合対処を施すことができる。
【００２７】
とくに請求項６、請求項１３に記載の発明によると、圧着端子の不具合の有無を正確に判断することができるので、少なくとも電線圧着の前、場合によっては電線の供給前に、前倒しに圧着端子の交換などの不具合対処を施すことができる。
【００２８】
とくに請求項７、請求項１４に記載の発明によると、電線の不具合の有無を正確に判断することができるので、少なくとも電線圧着の前、場合によっては圧着端子の供給前に、前倒しに電線の交換などの不具合対処を施すことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
本発明の実施形態となる電線圧着前の不具合検査装置、検査方法および端子付き電線の製造方法を、図面を参照しながら説明する。
図１は、本実施形態例の電線圧着前の不具合検査装置（以下、単に不具合検査装置と称する）を説明する概略図である。
尚、ここでは圧着端子１は、図１に示すごとく、圧着端子１ａと圧着端子１ｂのように、互いに連鎖端子として結合されている例を示している。
【００３０】
図１に示すように、この実施形態例の不具合検査装置１０は、所定の間隔で対向配置された光を照射するファイバセンサ発光部４ａと、前記光を受光するファイバセンサ受光部４ｂと、ファイバセンサ発光部４ａとファイバセンサ受光部４ｂの間に配置される圧着刃型３と、圧着刃型３の上に圧着端子１、電線２の電線芯線部２ａおよび電線被覆部２ｂを供給する供給手段５と、遮光量を特定する遮光状態特定手段１４ａ（図２（ｂ）参照）と、予め記憶された基準遮光量と特定された遮光量を比較する比較手段１４ｂ（図２（ｂ）参照）と、比較手段における比較結果に基づいて、圧着刃型３、圧着端子１、電線芯線部２ａ、および電線被覆部２ｂの不具合の有無を判断する判断手段１４ｃ（図２（ｂ）参照）を備えている。
【００３１】
上述の圧着時不具合検査装置１０において、ファイバセンサ発光部４ａはいわゆる発光素子（例えばＬＥＤ）を備えており、ファイバセンサ受光部４ｂはいわゆる受光素子（例えばフォトダイオード）を備えている。
【００３２】
ファイバセンサ発光部４ａおよびファイバセンサ受光部４ｂは、圧着端子１の供給線上に位置するため、当該供給線上から退避できるよう、上下に駆動可能に構成されている。
圧着刃型３は、圧着端子１のワイヤーバレル部を電線芯線部２ａに対して加締めて圧着固定する芯線加締め用圧着刃型３ａと、圧着端子１のインシュレーションバレル部を電線被覆部２ｂに対して加締めて圧着固定する被覆部加締め用圧着刃型３ｂとからなり、ファイバセンサ発光部４ａからファイバセンサ受光部４ｂに向かって照射された際に光路の中に位置するように配置されている。
【００３３】
供給手段５は、連鎖端子などで構成される圧着端子１を順次圧着刃型３上に送り出すサプライヤーや、電線２を前記圧着刃型３上に供給する周知の電線送り用ハンドによって構成されている。
【００３４】
供給手段５は、ファイバセンサ発光部４ａとファイバセンサ受光部４ｂとを結ぶ方向に略平行に圧着端子１を供給し、そして、ファイバセンサ発光部４ａとファイバセンサ受光部４ｂとを結ぶ方向に略垂直に電線芯線部２ａおよび電線被覆部２ｂを供給する。
遮光状態特定手段１４ａ、比較手段１４ｂ、判断手段１４ｃについては図２（ａ）、（ｂ）を参照して説明する。
【００３５】
図２（ａ）は本発明の一実施形態例となる電線圧着前の不具合検査装置１０の制御機構を説明するブロック図であり、図２（ｂ）はその中からＣＰＵ１４の部分だけ抜き出し、詳細に説明するものである。
【００３６】
図２（ａ）に示すように、不具合検査装置１０は制御回路２０を有しており、制御回路２０には、この制御回路２０全般を制御する制御中枢として機能するＣＰＵ１４が備えられている。ＣＰＵ１４は、図２（ｂ）に示すように、遮光状態特定手段１４ａ、比較手段１４ｂ、判断手段１４ｃとしての機能を備えている。
【００３７】
制御回路２０には、さらにＣＰＵ１４内部の各回路間で処理の同期をとるクロック１３、動作プログラム等が格納された記憶部（ＥＰＲＯＭ）１７、および、圧着刃型３のみ、圧着刃型３＋圧着端子１、圧着刃型３＋圧着端子１＋電線芯線部２ａ、および圧着刃型３＋圧着端子１＋電線芯線部２ａ＋電線被覆部２ｂのそれぞれの基準遮光量がデータとして記憶された記憶部（ＥＥＰＲＯＭ）１８が設けられて、ＣＰＵ１４に接続されている。更に、供給手段５が圧着刃型３の上に圧着端子１、電線芯線部２ａ、電線被覆部２ｂを供給するごとに供給手段５から信号を受け取り、ＣＰＵ１４に信号を送る動作入力回路１９、動作入力回路１９からの信号を受け取り、ファイバセンサ発光部４ａ及び受光部４ｂの上下方向の駆動を制御するセンサ駆動制御部１５が設けられて、ＣＰＵ１４に接続されている。
【００３８】
制御回路２０には更に、電源回路１１が備えられ、ＣＰＵ１４に接続されている。電源回路１１にはファイバセンサ発光部４ａが接続されて、電源回路１１から供給される電力によってファイバセンサ発光部４ａが発光する。更に、Ａ／Ｄコンバータ１２が設けられ、ＣＰＵ１４に接続されている。光を受光するファイバセンサ受光部４ｂからの受光量はＡ／Ｄコンバータ１２でＡＤ変換されてＣＰＵ１４に与えられる。ＣＰＵ１４は、Ａ／Ｄコンバータ１２から引き渡されたデジタル出力値をもとに、遮光状態特定手段１４ａ、比較手段１４ｂ、および、判断手段１４ｃとして機能し、電線２への端子１の不具合検査を実行する。
【００３９】
遮光状態特定手段１４ａとしてのＣＰＵ１４は、ファイバセンサ受光部４ｂが受光した受光量に基づいて遮光量を特定する。即ち、ＣＰＵ１４において、ファイバセンサ受光部４ｂが受光した受光量のアナログ出力値を、Ａ／Ｄコンバータ１２でＡＤ変換し、予め記憶部（ＥＥＰＲＯＭ）１８に記憶されている、遮光が無い場合の電圧値と遮光が生じた場合の電圧値との差分をとったものを遮光量、すなわち遮光状態と特定する。
【００４０】
比較手段１４ｂとしてのＣＰＵ１４は、予め記憶部（ＥＥＰＲＯＭ）１８に記憶された圧着刃型３、圧着端子１、電線芯線部２ａ、および電線被覆部２ｂの基準遮光量と、遮光状態特定手段１４ａにより特定された遮光状態とを比較する。
判断手段１４ｃとしてのＣＰＵ１４は、比較手段１４ｂによる比較結果から圧着刃型３、圧着端子１、電線芯線部２ａ、および電線被覆部２ｂの良否を判断する。
【００４１】
次に、このような電線圧着前の不具合検査装置１０を用いた不具合検査方法と端子付き電線の製造方法について、図３から図９を参照して説明する。
最初に、圧着端子１を電線２に圧着するまでのおおまかな流れを図１〜図８を参照して説明し、その後改めて図９を用いて不具合検査方法について説明することとする。
【００４２】
図３〜図７は、その手順における圧着時不具合検査装置１０の全体の動作を説明する、圧着刃型３近傍を示す摸式図である。
まず図３に示すように、圧着端子１、および、供給手段５により電線２が圧着刃型3の上部に供給される以前は、ファイバセンサ発光部４ａ、ファイバセンサ受光部４ｂの間には圧着刃型3のみがあり、圧着刃型３には光が照射されている状態とされている。
【００４３】
次に図４、図５に示すように、圧着端子１が圧着刃型３上に供給される。
すなわち図４に示すように、圧着端子１ａがファイバセンサ発光部４ａ、ファイバセンサ受光部４ｂの間に入ってきて、図５に示すように、圧着端子１ａが圧着刃型３上に配置される。これにより圧着刃型３および圧着端子１ａに光が照射された状態となる。
【００４４】
ここでファイバセンサ発光部４ａ、ファイバセンサ受光部４ｂは圧着端子１の供給線上にある。よって圧着端子１を圧着刃型３上に供給する時には、ファイバセンサ発光部４ａは、圧着前の圧着端子１を回避するため移動し、ファイバセンサ受光部４ｂは電線２に圧着された圧着端子１を回避するために移動する。より具体的には、供給手段５からの信号を受け取る動作入力回路１９から得られた信号をＣＰＵ１４が処理し、センサ駆動制御部１５に駆動指令を出力することで、ファイバセンサ発光部４ａ及びファイバセンサ受光部４ｂを（エアシリンダー、モーター、ソレノイド等によって）タイミング良く鉛直方向下方に駆動し、圧着端子１の供給の妨げとならないよう退避する。圧着端子１を圧着刃型３上に供給した後は、ファイバセンサ発光部４ａおよびファイバセンサ発光部４ｂは再び上昇し、圧着端子１が圧着刃型３上に位置した状態で再びファイバセンサ発光部４ａからファイバセンサ受光部４ｂに向けて発光する。
【００４５】
次に図６（ａ）、（ｂ）に示すように、供給手段５の一例となるハンドにより把持された電線２が圧着刃型３上に配置された圧着端子１ａ上に矢印Ｘ１（図６（ｂ）参照）のように前進してくる。これにより圧着刃型３、圧着端子１ａおよび電線の芯線部２ａに光が照射された状態となる。
尚、このとき、図６（ｂ）に示すように、電線芯線部２ａだけが圧着端子１ａの上に進んできており、電線被覆部２ｂはまだ光が照射されない位置にある。
【００４６】
次に図７（ａ）、（ｂ）に示すように、電線２が矢印Ｘ２（図７（ｂ）参照）のように圧着刃型３上にさらに前進してくることで、圧着端子１ａを圧着できる正規の位置にまで電線２が到達する。これにより圧着刃型３、圧着端子１ａ、電線芯線部２ａおよび電線被覆部２ｂに光が照射された状態となる。
【００４７】
このような状態で、圧着刃型３、圧着端子１ａ、電線芯線部２ａ、電線被覆部２ｂに異常が見られなければ、図８に示すように、圧着端子１ａが電線２に対して圧着固定され、端子付き電線が製造される。
【００４８】
このような図３〜図７に示した一連の端子圧着の流れにおいて、適宜、図９（ａ），（ｂ）のように、制御回路２０において不具合検査処理が行われる。
図９（ａ）は不具合検査処理の全体を示すメイン処理のフローチャートであり、図９（ｂ）は判定処理（遮光量特定処理、比較処理、判断処理）を示すサブ処理のフローチャートである。
【００４９】
まず図３に示す状態では、図９（ａ）に示すように、電源回路１１から電力が供給されたファイバセンサ発光部４ａがファイバセンサ受光部４ｂに向かって発光する（ステップＳ１）。ファイバセンサ発光部４ａがファイバセンサ受光部４ｂとの間には圧着刃型３のみが存在する。よって、圧着刃型３の判定処理に進む（ステップＳ２）。
【００５０】
ステップＳ２では、ＣＰＵ１４が、遮光状態特定手段１４ａによる遮光量特定処理と、比較手段１４ｂによる比較処理と、判断手段１４ｃによる判断処理を、図９（ｂ）に示すように順次行う。
【００５１】
すなわち図９（ｂ）に示すように、遮光量特定処理では、ファイバセンサ受光部４ｂが受光した受光量のアナログ出力値を、Ａ／Ｄコンバータ１２でＡＤ変換し、予め記憶部（ＥＥＰＲＯＭ）１８に記憶されている、遮光が無い場合の電圧値と遮光が生じた場合の電圧値との差分をとったものを遮光量と特定する（ステップＳ１６）。
【００５２】
次に比較処理は、予め記憶部（ＥＥＰＲＯＭ）１８に記憶された圧着刃型、圧着端子、電線芯線部、および電線被覆部の基準遮光状態と、遮光状態特定手段により特定された遮光状態とを比較する（ステップＳ１７）。
【００５３】
さらに判断処理は、比較手段による比較結果から圧着刃型３、圧着端子１ａ、電線芯線部２ａ、および電線被覆部２ｂの不具合の有無を判断する（ステップＳ１８）。
【００５４】
もしも判断処理の結果、不具合があると判断され、良否判定出力回路１６でＮＧ信号が出力されると、不具合検査装置１０がインターロック作動して停止する。作業者は、不具合検査装置１０の、図示しないモニター出力から不具合の原因を圧着刃型３であると特定し、圧着刃型３を交換する等、適切な対処を施し、検査を最初からやり直す。
またＮＧ信号が出力されない場合は、そのまま図９（ａ）のメイン処理に戻り、ステップＳ３に進む。
【００５５】
ステップＳ３では、図４に示すように、供給手段５により圧着端子１ａが供給される（ステップＳ３）。動作入力回路１９はＣＰＵ１４に前記圧着端子１の供給を示す信号を送り（ステップＳ４）、ＣＰＵ１４はセンサ駆動制御部１５に駆動指令を出力する（ステップＳ５）。これにしたがって、ファイバセンサ発光部４ａ及びファイバセンサ受光部４ｂが下方に駆動し、圧着端子１ａが圧着刃型３の上に供給され、ファイバセンサ発光部４ａ及びファイバセンサ受光部４ｂが上方に駆動して元の高さに戻る。
【００５６】
圧着端子１ａが圧着刃型３上に供給されると、記憶部（ＥＰＲＯＭ）１７に記憶されている動作プログラムにしたがって、比較処理における基準遮光量を、圧着刃型＋圧着端子の場合に切り替える、切替処理を行う（ステップＳ６）。そして上述のステップＳ２の場合と同様に、圧着端子１ａの判定処理を行う（ステップＳ７）。ここでも基準遮光量が異なるだけでステップＳ２の場合と同様の図９（ｂ）のステップＳ１６〜Ｓ１８によるサブ処理が行われる。
【００５７】
以下同様に、図６（ａ）、（ｂ）に示す状態では電線芯線部２ａについて判断処理（ステップＳ８〜１１）を行い、図７（ａ）、（ｂ）に示す状態では電線被覆部２ｂについて判断処理（ステップＳ１２〜１５）を行い、それぞれ不具合の有無を検査する。
【００５８】
このような不具合検査処理を、圧着端子１毎に、所定の個数の端子圧着処理が完了するまで、繰り返す。
なお圧着端子１、電線芯線部２ａ、電線被覆部２ｂが供給されるごとに遮光量判定処理を行い、最終的に電線被覆部２ｂが供給された後に一括して比較処理、判断処理を行うことも可能である。
【００５９】
次に図９（ｂ）に示すサブ処理において不具合の有無を判断する方法の具体例について説明する。
【００６０】
図１０は、電線２に圧着端子１が正常に圧着された時の、当該圧着前の状態における時間と遮光量の関係を示すグラフである。
【００６１】
図１０において、（１）の領域（時間０〜６秒）におけるグラフは、ファイバセンサ発光部４ａ、ファイバセンサ受光部４ｂの間に圧着刃型３のみが存在して光が照射されている状態を示す。（２）の領域（時間６〜１２秒）におけるグラフは圧着端子１が供給された状態を示す。（３）の領域（時間１２秒〜１８秒）におけるグラフは、電線２の電線芯線部２ａまで供給された状態を示す。（４）の領域（時間１８秒〜）におけるグラフは、電線２の電線被覆部２ｂまで供給された状態を示している。
【００６２】
ここで正常圧着時のグラフから各（１）〜（４）の領域における基準遮光状態を読み取る。
例えば、圧着刃型３のみがファイバセンサ発光部４ａ・ファイバセンサ受光部４ｂ間に存在して光が照射されている（１）の領域では、１０Ｖの遮光量が６秒間続き、（２）の領域では、圧着端子１の供給によって１秒間の間に遮光量が１０Ｖから１５Ｖに移行し（即ち、圧着端子１そのものの遮光量が５Ｖである）、遮光量１５Ｖが５秒間続く。次いで、（３）の領域では、圧着端子１の上に電線芯線部２ａの供給によって、１秒間の間に遮光量が１５Ｖから２０Ｖに移行し（即ち、芯線部２ａそのものの遮光量が５Ｖである）、遮光量２０Ｖが６秒間続く。次いで、（４）の領域では、圧着端子１の上に電線被覆部２ｂの供給によって、１秒間の間に遮光量が２０Ｖから２３Ｖに移行し（即ち、被覆部２ｂそのものの遮光量が３Ｖである）、遮光量２３Ｖが３秒間続く。上述した時間経過に応ずる遮光量の変化が全て正常な状態として、異常の場合の判断の基準になる。
以下に示すように、不具合の種類によって、使用する基準遮光状態は、遮光量であったり、遮光時間であったり、遮光時間の開始時間や終了時間であったり、さまざまである。
【００６３】
例えば、まず圧着刃型３の欠損などの不具合の場合は、（１）の領域において、遮光状態特定手段１４ａで実際の遮光量を特定し、これを（１）の領域における正常時の遮光量１０Ｖを基準遮光量として比較手段１４ｂで比較することで、判断手段１４ｃにおいてその差の有無から圧着刃型３の不具合の有無が判断される。
【００６４】
次に図１１（ａ）、（ｂ）は、圧着端子１の位置異常時の圧着端子１の様子を示すものである。すなわちここでは図１１（ａ）に示すように、連鎖端子において圧着端子１が基端部から矢印のように位置変形したり、図１１（ｂ）に示すように連鎖端子において圧着端子１が基端部から矢印のように回転変形したりする場合を想定している。このように圧着端子１が正規の状態にない場合、ファイバセンサ発光部４ａから出た光が正常な状態より多く遮ったり、逆に遮る量が少なくなる。
【００６５】
図１２はこのような圧着端子１位置異常の状態における遮光量と時間の関係の一例を示す。この場合、（２）の領域（図５に示すように、圧着刃型３の上に圧着端子１が供給されたとき）において、遮光量が１０Ｖから１７Ｖへと移行している。即ち、正常な場合の遮光量の変化が１０Ｖから１５Ｖへの移行であるのに対して、遮光量が２Ｖだけ余分に増加している。このことは図１１（ｂ）に示すように圧着端子１が傾斜して光を遮る部分が増加していることを意味している。その他の状態、即ち、電線芯線部２ａの供給・電線被覆部２ｂの供給に関しては、時間・遮光量の変化が正常であることが示されている。
このように、（２）の領域における遮光量を、対応する基準遮光量と比較することで、圧着端子１の位置異常による不具合を検査することができる。
【００６６】
図１３は、電線芯線部２ａで導体の何本かが切れて電線芯線部２ａ全体が細くなっている不具合の状態（芯線切れ）を示す。このような状態では、（３）の領域における遮光量が減少する。
【００６７】
図１４はそのような芯線切れの状態における遮光量と時間の関係の一例を示す。図１４に示すように、（１）、（２）の領域（図３〜図５に示すように、圧着刃型３のみがある状態から圧着刃型３の上に圧着端子１を供給するまで）では、図１０に示す正常な状態と同一である。次いで、（３）の領域（図６に示すように、電線２の電線芯線部２ａを圧着刃型３上に供給するとき）において、遮光量が１５Ｖから１７Ｖへと移行している。これは正常な場合は遮光量が１５Ｖから２０Ｖへ移行しているのに対して、遮光量が３Ｖだけ低下している。このことは電線芯線部２ａが細くなって光を遮る部分が減少していることを意味している。その他の状態、即ち、電線被覆部２ｂの供給に関しては、時間経過・遮光量の変化が正常であることが示されている。
【００６８】
図１５は、電線芯線部２ａが短くなっている不具合の状態（電線被覆部２ｂの剥ぎ取り長さ不足）を示す。この場合、電線被覆部２ｂが正常時よりも早く光を遮ることになる。
【００６９】
図１６はそのような電線被覆部２ｂの剥ぎ取り長さ不足の状態における遮光量と時間の関係の一例を示す。図１６に示すように、（１）（２）の領域において圧着刃型３、圧着刃型３の上に圧着端子１の供給までは、遮光量、遮光時間とも図１０に示す正常な状態と同一である。次いで、（３）の領域において、圧着端子１の上に芯線部２ａが供給されたときに、遮光量が１５Ｖから２０Ｖへと移行しているものの、この状態が続く時間が４秒と短い。すなわち遮光量そのものは正常な場合と同一であるが、経過時間が４秒であり、正常な場合の６秒よりも２秒少ない。言い換えると（３）の領域における遮光終了時間が短くなっており、（４）の領域における遮光開始時間が早くなっている。このことは芯線部２ａが短くなって光を遮る時間が減少していることを意味している。それに伴って、被覆部２ｂの供給に関しては、遮光量は正常な場合と同一であるが、時間経過が長くなっており、芯線部分２ａが短いことを裏付けている。
このように、（３）の領域における遮光時間を、対応する基準遮光時間と比較することで、電線被覆部２ｂの剥ぎ取り長さ不足という異常による不具合を検査することができる。
【００７０】
図１７は、電線芯線部２ａが曲がっている不具合の状態（電線曲がり）を示す。このような状態では、電線芯線部２ａが曲がっている分、その部分で遮光量が多くなったり、電線芯線部２ａが遮光を始めるタイミングが遅くなり、その分、圧着刃型３と圧着端子１だけによる遮光時間が長くなる。
【００７１】
図１８はそのような電線曲がりの状態における遮光量と時間の関係の一例を示す。図１８に示すように、（１）の領域において、遮光量、遮光時間とも図１０に示す正常な状態と同一である。次いで、（２）の領域（圧着刃型３の上に圧着端子１が供給されたとき）では、遮光量は１０Ｖから１５Ｖに移行しており、遮光量そのものは正常な状態と同一である。しかし、時間が７秒と正常な場合よりも２秒長くなっている。言い換えると、（２）の領域における遮光終了時間が遅くなり、（３）の領域の遮光開始時間が遅くなっている。
【００７２】
即ち、芯線部２ａが圧着端子１の上に供給されるまでの時間が長くなっていて、何らかの異常が生じていることを示している。次いで、圧着端子１の上に電線芯線部２ａが供給されたときに、遮光量が１５Ｖから２２Ｖへと移行している。正常な場合は遮光量が１５Ｖから２０Ｖへ移行しているのに対して、遮光量が２Ｖだけ増加している。即ち、芯線部２ａが供給されるまでの経過時間が長くなり、遮光量の増加している。従って、芯線部２ａの供給遅れと芯線部２ａの光を遮る部分の増加から、芯線部２ａが曲がっていることを意味している。その他の状態、即ち、被覆部２ｂの供給に関しては、時間経過・遮光量の変化が正常であることが示されている。
このように、（２）の領域における遮光時間を、対応する基準遮光時間と比較するとともに、（３）の領域における遮光量を、対応する基準遮光量と比較することで、電線曲がりの異常による不具合を検査することができる。
【００７３】
図１９は、電線芯線部２ａが正常時よりも長い場合（電線被覆部２ｂの剥ぎ取り長さ超過）を示す。この場合、電線芯線部２ａによる遮光時間が長くなり、電線被覆部２ｂの遮光開始時間が遅れる。
【００７４】
図２０はそのような電線被覆部２ｂの剥ぎ取り長さ超過の状態における遮光量と時間の関係を示す。図２０に示すように、（１）（２）の領域では遮光量、遮光時間とも図１０に示す正常な状態と同一である。
【００７５】
しかし、（３）の領域で１秒間の間に遮光量が１５Ｖから２０Ｖに移行して、遮光量２０Ｖが８秒間も続いて、（４）の領域に入る。即ち、圧着端子１の上に芯線部２ａが供給される時間は正しいのに、正常時より長く（３）の領域で時間が経過している。このことは芯線部２ａの先端位置は同じなのに芯線部２ａが長すぎる、電線被覆部２ｂの剥ぎ取り長さ超過の異常であることを意味している。その他の状態、即ち、被覆部２ｂの供給に関しては、時間経過・遮光量の変化が正常であることが示されている。
このように、（３）の領域における遮光時間を、対応する基準遮光時間と比較するとともに、（４）の領域における遮光開始時間を、対応する基準遮光開始時間と比較することで、電線曲がりの異常による不具合を検査することができる。
【００７６】
以上のように、ＣＰＵ１４において適宜、遮光時間、遮光開始時間や遮光終了時間、遮光量などの遮光状態を、対応する正常時の基準遮光状態と比較することで、圧着刃型３、圧着端子１、電線２の各種不具合を検査することができ、適切な不具合対処を適切な時点で施すことができる。よって図８のように製造される端子付き電線は、圧着端子１の圧着回数に対して歩留まりが良くなる。
【００７７】
上述したように、本実施形態例の電線圧着前の不具合検査装置、検査方法、端子付き電線の製造方法においては、ファイバセンサ発光部４ａとファイバセンサ受光部４ｂの間に圧着刃型３を配置したことで、装置１０が小型となり、電線２の輸送距離を短くすることができるため、生産能力を高くすることができる。また同様にファイバセンサ発光部４ａとファイバセンサ受光部４ｂの間に圧着刃型３を配置したことで、電線２圧着直前に圧着刃型３、圧着端子１、電線２の不具合を判断することができるので、異物との衝突などによる電線２の異常も正確に検出できる。よって低コストで、電線２の圧着前に圧着刃型３、圧着端子１、電線芯線部２ａ、および電線被覆部２ｂのいずれか少なくとも１つの不具合の有無をより正確に判断することができる。
【００７８】
また遮光開始時間、遮光終了時間、遮光時間、遮光量を遮光状態特定手段１４ａにおける遮光状態の特定対象としたので、正確な数値データを取得し易く、そのデータ処理も容易なため、より正確な比較・判断ができる。
【００７９】
また比較手段１４ｂは、上述のように圧着刃型３、圧着端子１、電線芯線部２ａ、および電線被覆部２ｂについて不具合の有無をそれぞれ判別するため、異常原因の特定（切り分け）が容易となる。よってなんらかの異常が発生した時点で設備を止めて、不具合に対する対処を施すことが出来るので、圧着不良をする無駄を前倒しに低減することができる。
【００８０】
またたとえば図１０に示した正常時のグラフの波形全体を基準遮光状態として、実際の圧着時のグラフの波形全体を一括して比較する場合には、当該比較を行う装置もしくは作業者の作業負荷を低減することができる。
【００８１】
また圧着刃型３以外に圧着端子１や電線２がファイバセンサ発光部４ａとファイバセンサ受光部４ｂの光路内に無い状態で遮光状態を調べることで、圧着刃型３の不具合の有無を正確に判断することができるので、圧着端子１や電線２の供給前に前倒しに圧着刃型３の交換などの不具合対処を施すことができる。
【００８２】
また同様に、圧着端子１が圧着刃型３上に供給された状態で圧着端子１による遮光状態を調べることで、圧着刃型３の不具合の有無を正確に判断することができるので、少なくとも電線２圧着の前、場合によっては電線２の供給前に、前倒しに圧着端子１の交換などの不具合対処を施すことができる。
【００８３】
また同様に、電線２が圧着刃型３上に供給された状態で電線２による遮光状態を調べることで、電線２の不具合の有無を正確に判断することができるので、少なくとも電線２圧着の前、場合によっては圧着端子１の供給前に、前倒しに電線の交換などの不具合対処を施すことができる。
【００８４】
以上説明したように、本発明によると、低コストで、電線の圧着前に圧着刃型、圧着端子、電線芯線部、および電線被覆部のいずれか少なくとも１つの不具合の有無をより正確に判断することができる電線圧着前の不具合検査装置、検査方法、および歩留まりの良い端子付き電線の製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本発明の一実施形態例となる電線圧着前の不具合検査装置を説明する概略図である。
【図２】本発明の一実施形態例となる電線圧着前の不具合検査装置を説明するブロック図を示し、（ａ）は全体図、（ｂ）はＣＰＵの概念図を示す。
【図３】本発明の一実施形態例となる電線圧着前の不具合検査装置の圧着刃型近傍を示し、かつ圧着刃型のみがある状態を示す模式図である。
【図４】図３の状態からファイバセンサ発光部が下降し、圧着刃型上に圧着端子が供給された状態を示す模式図である。
【図５】図４の状態からファイバセンサ発光部が上昇して元に戻った状態を示す模式図である。
【図６】図５の状態から電線の電線芯線部までが圧着刃型上に供給された状態を示す模式図である。
【図７】図６の状態から電線の電線被覆部までが圧着刃型上に供給された状態を示す模式図である。
【図８】本発明の一実施形態例となる端子付き電線の製造方法により製造された端子付き電線を示す側面模式図である。
【図９】圧着時不具合検査装置の操作のフローチャートを示し、（ａ）はメイン処理を示し、（ｂ）はサブ処理を示す。
【図１０】正常圧着前の状態における遮光量と時間の関係を示すグラフである。
【図１１】圧着端子位置異常の状態における圧着端子の例を示す側面図である。
【図１２】図１１の圧着端子位置異常の状態における遮光量と時間の関係の一例を示すグラフである。
【図１３】芯線切れの状態の電線の例を示す側面図である。
【図１４】図１３の芯線切れの状態における遮光量と時間の関係の一例を示すグラフである。
【図１５】電線被覆部剥ぎ取り長さ不足の状態の電線を示す側面図である。
【図１６】図１５の電線被覆部剥ぎ取り長さ不足の状態における遮光量と時間の関係を示すグラフである。
【図１７】電線曲がりの状態における電線と圧着刃型を示す上面図である。
【図１８】図１７の電線曲がりの状態における遮光量と時間の関係を示すグラフである。
【図１９】電線被覆部剥ぎ取り長さ超過における電線を示す側面図である。
【図２０】図１９の電線被覆部剥ぎ取り長さ超過の状態における遮光量と時間の関係を示すグラフである。
【符号の説明】
【００８６】
１  圧着端子
２  電線
３  圧着刃型
４  ファイバセンサ受光部
５  供給手段
１０  検査装置
１１  電源回路
１２  Ａ／Ｄコンバータ
１３  クロック
１４  ＣＰＵ
１５  センサ駆動制御部
１６  良否判定出力回路
１７  記憶部（ＥＰＲＯＭ）
１８  記憶部（ＥＥＰＲＯＭ）
１９  動作入力回路
２０  制御回路
【図１】
2008147125.tif 000003
【図２】
2008147125.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2008147125.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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