(57)【要約】【課題】検査領域を柔軟に設定できる検査条件設定装置を提供する。【解決手段】電子部品実装装置において、電子部品の検査を行う場合の条件を設定する検査条件設定装置２０は、検索条件を入力させるユーザインターフェイス部２９と、検索条件に対する検査パラメータが格納されたデータベース３３と、ユーザインターフェイス３０に検索条件が入力されたときは、データベース３３を参照して、検索条件に対する検査パラメータを検索するデータベース検索部３２とを含み、データベース検索部３２で検索された検査パラメータは、ユーザインターフェイス部２９に表示される。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定装置であって、  
検査条件を表わす検査パラメータを検索するための検索条件を入力させる入力手段と、
前記検索条件と、それに対応する検査パラメータが格納されたデータベースと、
前記入力手段によって前記検索条件が入力されたときは、前記データベースを参照して、前記検索条件に対応する検査パラメータを検索する検索手段と、
前記検索手段で検索された検査パラメータを出力する出力手段とを含む、検査条件設定装置。
【請求項２】
前記検索条件は、画像を用いた検索を含む、請求項１に記載の検査条件設定装置。
【請求項３】
前記検査パラメータは、画像を検査する検査ウインドウのサイズを含む、請求項２に記載の検査条件設定装置。
【請求項４】
前記検査パラメータは、画像を検査する検査ウインドウの位置を含む、請求項２に記載の検査条件設定装置。
【請求項５】
前記検査パラメータは、所定の演算内容が規定された関数または計算式を含む、請求項１から４のいずれかに記載の検査条件設定装置。  
【請求項６】
前記検査パラメータは、検査閾値を含む、請求項１から５のいずれかに記載の検査条件設定装置。
【請求項７】
基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定装置であって、  
検査対象となる部品の画像を読取る画像読取手段と、
前記画像読取手段によって読取られた画像に対する検査パラメータが格納されたデータベースと、
前記画像読取手段によって前記画像が読取られたときは、前記データベースを参照して、前記画像に対する検査パラメータを検索する検索手段と、
前記検索手段で検索された検査パラメータを出力する出力手段とを含む、検査条件設定装置。
【請求項８】
基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定方法であって、  
検査条件を表す検査パラメータを検索するための検索条件を入力させるステップと、
検査条件が入力されたときは、検査条件とそれに対応する検査パラメータが格納されたデータベースを参照して、検索条件に対応する検査パラメータを検索するステップと、
検索された検査パラメータを出力するステップとを含む、検査条件設定方法。
【請求項９】
前記検索条件は、画像を用いた検索を含む、請求項８に記載の検査条件設定方法。
【請求項１０】
基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定方法であって、  
検査対象となる部品の画像を読取るステップと、
画像が読取られたときは、検査条件とそれに対応する検査パラメータが格納されたデータベースを参照して、画像に対する検査パラメータを検索するステップと、
検索された検査パラメータを自動的に出力するステップとを含む、検査条件設定方法。
【請求項１１】
請求項８から１０のいずれかに記載の検査条件設定方法をコンピュータに実行させる検査条件設定用プログラム。
【請求項１２】
請求項１１に記載の検査条件設定用プログラムを格納したコンピュータ読取可能記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体に関し、特に、検査条件のひとつである検査領域の設定を柔軟におこなうことのできる、検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の、表面実装装置における検査装置において基板検査領域の設定方法が、たとえば、特許第２６２９８８１号公報（特許文献１）や、特開２００４−１５１０５７号公報（特許文献２）等に開示されている。
【０００３】
特許文献１によれば、基板検査装置において、部品実装位置の画像を生成し、この画像に対して所定の手順で検査領域が設定される。特許文献２によれば、予め部品の検査データを作成しておき、サンプルとなる部品の画像と一緒にライブラリに保存しておく。そして、新たな基板用の検査プログラムの作成時に、ＣＡＤデータを利用して部品の画像を取得し、検査データライブラリに保存されているデータの中から最も近いデータを画像マッチングにより検出し、そのときの検査条件を適用して検査を行っているため、検査条件を容易に決定することができた。
【特許文献１】特許第２６２９８８１号公報（請求項１）
【特許文献１】特開２００４−１５１０５７号公報（要約）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の電子部品実装装置における基板の検査条件設定方法は上記のように行われていた。特許文献１によれば、処理は自動で行われるが、決まった形式で検査領域が指定されるため、条件に応じて検査領域等を調整しなおす必要があった。また、特許文献２においては、過去に同じ部品を同じ条件で撮影したデータ等があれば、そのデータが利用できるが、そのような場合は滅多になく、通常は検査条件を最初から検討する必要があり、適切な検査条件の設定に時間がかかるという問題があった。
【０００５】
この発明は、上記のような問題点に着目してなされたもので、容易に適切な検査条件を設定できる検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体を提供することを目的とする。
【０００６】
この発明の他の目的は、検査用閾値を容易に設定できる検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明に係る、基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定装置は、検査条件を表わす検査パラメータを検索するための検索条件を入力させる入力手段と、検索条件と、それに対応する検査パラメータが格納されたデータベースと、入力手段によって検索条件が入力されたときは、データベースを参照して、検索条件に対応する検査パラメータを検索する検索手段と、検索手段で検索された検査パラメータを出力する出力手段とを含む。
【０００８】
入力された検索条件に基づいて、検査に必要なパラメータを検索できるデータベースを作成したため、検索条件を入力すれば、適切な検査パラメータを検索できる。
【０００９】
その結果、誰もが容易に適切な検査条件を設定できる検査条件設定装置を提供できる。この検査条件設定装置で設定された検査条件を使用することにより、適切な検査条件での検査が可能になる。
【００１０】
好ましくは、検索条件は、画像を用いた検索を含む。
【００１１】
なお、検査パラメータは、画像を検査する検査ウインドウのサイズを含んでもよいし、画像を検査する検査ウインドウの位置を含んでもよい。
【００１２】
また、検査パラメータは、所定の演算内容が規定された関数または計算式を含んでもよい。  
【００１３】
さらに、検査パラメータは、検査閾値を含んでもよい。
【００１４】
この発明の他の局面によれば、基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定装置は、検査対象となる部品の画像を読取る画像読取手段と、画像読取手段によって読取られた画像に対する検査パラメータが格納されたデータベースと、画像読取手段によって画像が読取られたときは、データベースを参照して、画像に対する検査パラメータを検索する検索手段と、検索手段で検索された検査パラメータを出力する出力手段とを含む。
【００１５】
この発明のさらに他の局面においては、基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定方法は、検査条件を表す検査パラメータを検索するための検索条件を入力させるステップと、検査条件が入力されたときは、検査条件とそれに対応する検査パラメータが格納されたデータベースを参照して、検索条件に対応する検査パラメータを検索するステップと、検索された検査パラメータを出力するステップとを含む。
【００１６】
好ましくは、検索条件は、画像を用いた検索を含む。
【００１７】
この発明のさらに他の局面においては、基板上に実装された部品の実装状態の検査における検査条件を設定する検査条件設定方法は、検査対象となる部品の画像を読取るステップと、画像が読取られたときは、検査条件とそれに対応する検査パラメータが格納されたデータベースを参照して、画像に対する検査パラメータを検索するステップと、検索された検査パラメータを自動的に出力するステップとを含む。
【００１８】
この発明のさらに他の局面においては、検査条件設定用プログラムは、上記に記載の検査条件設定方法をコンピュータに実行させる。
【００１９】
検査条件設定用プログラムはコンピュータ読取可能記録媒体に格納されてもよい。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、この発明の一実施の形態を図面を参照して説明する。図１はこの発明に係る検査条件設定装置が適用される、電子部品実装装置周りの構成を示す図である。図１を参照して、電子部品実装装置１０は、電子部品が実装される基板の流れる上流側から下流側に向かって配列された印刷工程と、マウント工程と、リフロー工程とを含む。各工程間は、コンベヤ、ロボット、その他の搬送装置によって連結されている。各工程には、その工程の処理を行なうための装置が設けられている。
【００２１】
印刷工程には、基板にランドを印刷するための印刷機１１と、印刷後の検査を行なう印刷後検査機１２とが設けられる。マウント工程には、基板に部品をマウントするためのマウンタ１３と、マウント後の検査を行なうマウント後検査機１４とが設けられる。リフロー工程には、部品の端子をランドにハンダ付けをするためのリフロー炉１５とハンダ付け後の検査を行なうリフロー後検査機１６とが設けられる。印刷後検査機１２、マウント後検査機１４、リフロー後検査機１６をまとめて、検査機、あるいは検査装置とも呼ぶ。
【００２２】
印刷後検査機１２、マウント後検査機１４およびリフロー後検査機１６は、それぞれ、ネットワーク１７を介して検査条件設定装置２０に接続されている。
【００２３】
印刷後検査機１２からは、印刷後検査結果を示すデータが、マウント後検査機１４からは、マウント後検査結果を示すデータが、リフロー後検査機１６からは、リフロー後検査結果を示すデータが、それぞれ検査条件設定装置２０に入力される。これらの検査結果を示すデータは、画像データを含む。
【００２４】
次に、検査条件設定装置２０の構成について説明する。図２は、検査条件設定装置２０の具体的な構成を示すブロック図（Ａ）と、その機能を表す機能ブロック図（Ｂ）である。機能ブロック図においては、検査領域の設定等の検査条件の設定に関連する部分以外については図示を省略している。
【００２５】
図２（Ａ）を参照して、検査条件設定装置２０は、基本的にはパーソナルコンピュータ（以下「パソコン」という）と同様であり、検査条件設定装置２０全体を制御するＣＰＵ２１と、ＣＰＵ２１に対してインターフェイス２２を介して接続された、表示装置２３、ハードディスク２４、キーボード２５、マウス２６、ネットワーク接続装置２７等を含む。
【００２６】
図２（Ｂ）を参照して、検査条件設定装置２０は、表示装置２３、キーボード２５、マウス２６等を含むユーザインターフェイス部２９と、ユーザインターフェイス部２９を介して入力された検索条件に基づいて対応する検査パラメータを検索する検索条件設定部３０とを含む。検索条件設定部３０は、計算部３１と、データベース３３と、データベース３３を検索するためのデータベース検索部３２とを含む。ＣＰＵ２１が計算部３１とデータベース検索部３２として機能し、データベース３３はハードディスク２４に格納されている。
【００２７】
この実施の形態においては、予め、後に説明するような構成を有するデータベース３３が作成され、それが、ハードディスク２４に格納されているものとする。具体的なデータベース３３の構成については後述する。
【００２８】
次に、検査条件設定装置２０における検査条件設定時の動作について説明する。図３は検査条件設定装置２０の動作を示すフローチャートであり、ＣＰＵ２１が行う動作を示す図である。図３を参照して、ユーザに検査条件設定装置２０において検索条件を入力させる（ステップＳ１、以下、ステップを省略する）。この入力は、ユーザインターフェイス部２９を用いて行う。次に入力された検索条件に基づいて、データベース３３が検索され（Ｓ３２）、検査パラメータが取得される（Ｓ３３）。検索結果の中に関数や計算式が含まれている場合には、その演算が行われて（Ｓ３４）、演算結果がユーザインターフェイス部２９に出力される（Ｓ３５）。複数のパラメータがある場合は、それらについて順次処理し、全ての検査パラメータの処理が終われば（Ｓ３６でＹＥＳ）、処理を終了する。
【００２９】
したがって、ユーザインターフェイス部２９を構成する表示装置２３、マウス２６等は入力手段、および出力手段として機能し、ＣＰＵ２１は検索手段として機能する。
【００３０】
次にデータベース３３の構成について説明する。図４は、データベース３３の構成を示す模式図である。図４を参照して、データベース３３は、検索条件となる検索項目４１と、それに対応した検査パラメータ４２とを含む。検索項目は、検索項目１から検索項目３のように複数あってもよい。検査パラメータ４２も複数あってもよい。検査パラメータ４２は、図に示すように、単なる数値だけでなく、予め演算内容が定義された関数を含んでもよいし、関数や数値を含んだ計算式として定義してもよい。
【００３１】
また、たとえば、検査パラメータ１に関連する検索条件と、検査パラメータ２に関連する検索条件とが相互に異なる場合には、データベース３３は、異なる検索条件ごとに分かれていてもよいし、検索条件の組み合わせが複数ある場合は、テーブルを分けてもよい。
【００３２】
図５は、検査条件設定装置２０の表示装置２３に表示される画面を示す図である。ここでは、基板の画像検査を行うときに、検査ウインドウのサイズ、位置を「基板色」、「影の有無」などの条件で変更する場合の例を示している。
【００３３】
図５（Ａ）は検索条件を変更（設定）する前の表示例を示し、図５（Ｂ）は変更（設定）後の表示例を示す。図５（Ａ）を参照して、そこには、検査ウインドウ５１と、この場合におけるウインドウサイズを設定する検索条件欄５２が設けられている。検索条件欄５２は、選択式になっており、所望の条件を選択できる。なお、この検索条件欄５２は、選択式ではなく、検索条件を直接入力できるようになっていてもよい。検索条件欄５２で所望の条件を選択すると、その条件に基づいて、ＣＰＵ２１はデータベース３３を参照してその条件に合った検査ウインドウのサイズおよびその中心位置を計算する。計算結果によって、自動的に検査ウインドウサイズ５１やその中心が表示装置２３に出力されて、図５（Ｂ）に示すように変更される。
【００３４】
次にデータベース３３の内容について説明する。図６はデータベース３３の具体例を示す図である。図６を参照して、データベース３３は、検索項目としての「部品種」、「部品サイズ」、「影」、「基板色」等と、パラメータとしての「ウインドウ名」、「縦サイズ」、「横サイズ」、「中心Ｘ座標」、「中心Ｙ座標」、「角度」等を含む。
【００３５】
ここで、それぞれの検索項目およびパラメータは、以下の意味である。すなわち、部品種とは、抵抗、コンデンサ等の部品の種類を表し、部品サイズとは、部品のサイズを表す。通常は長手方向寸法と短い方向の寸法で表す。
【００３６】
検査装置においては、明瞭な撮影画像を取得するために、基板を照射する照明が通常１個または複数個設置されているが、撮影したい部品の近傍に背の高い他の部品が実装されていたりすると、撮影したい部品に直接照明が当たらないことがある。このような場合を「影がある」といい、これを表す検索項目が「影」である。
【００３７】
基板色とは、基板の色を表す。また、図６等に示すように、通常は１個の部品の検査に複数のウインドウが利用される。これらのウインドウを表す名称を「ウインドウ名」という。
【００３８】
縦サイズ、横サイズとは、ウインドウの縦のサイズと横のサイズをいう。中心Ｘ座標、中心Ｙ座標とは、ウインドウの中心点のＸ座標とＹ座標とを表す。角度とは、ウインドウがＸ軸（またはＹ軸）に対して傾いている角度を表す。
【００３９】
なお、Ｘ軸およびＹ軸は基板に対して決められる。たとえば、基板の長手方向をＹ軸、短い方向をＸ軸と決めることができる。Ｘ軸とＹ軸の交点を原点とし、この原点に対して中心Ｘ座標、中心Ｙ座標が決められる。
【００４０】
縦サイズ、横サイズは、各ウインドウに対して決められる。たとえば、ウインドウの長手方向を縦、短い方向を横と決めることができる。
【００４１】
また、検索項目およびパラメータは、ここに例示したものに限定されない。必要に応じて追加または削除可能である。
【００４２】
それぞれのデータ例として、影の有無と基板色を検索項目とした場合のパラメータや、部品種として「Ｃ（コンデンサ）」を選択した場合のパラメータが記載されている。
【００４３】
ここで、部品サイズを示す数値は、上記したように、部品サイズをその長手方向寸法と短い方向の寸法とを並べて表したもので、たとえば、「０４０２」という表示は、長手方向寸法が０．４ｍｍで短い方の寸法が０．２ｍｍであることを示している。
【００４４】
上記したように、この実施の形態においては、図６に示すようなデータベース３３が予め作成されている。このデータベース３３の作成にあたっては、過去の経験則を反映するのが好ましい。たとえば、検査対象となる基板の撮影画像として、「基板色」や「影の有無」を検索条件とする。これは、基板の色が「青」であり、「影」がある場合は、画像が暗くなり、検査精度が下がるという経験から、検査の範囲を小さくした方がよいためである。一方で、画像が明るい、「影なし」や「基板色が緑」の場合は、ノイズが入りにくいため、検査の範囲を大きくできるためである。
【００４５】
このように、この実施の形態によれば、過去の経験則に基づいてデータベースを作成し、それに基づいて検査内容を定めるパラメータを検索可能にしたため、誰が検査条件を設定しても、適切な検査条件の設定ができる。
【００４６】
次にデータベース３３の具体的な内容について説明する。図６に示したデータベース３３の上から２番目のデータを参照して、「影」が「無」で、「基板色」が「緑」とされている画像が明るい場合に検査パラメータとして、次の記載がある。すなわち、ウインドウ名としては「自動抽出[角チップ・リフロー]」となっており、画像検査のための縦サイズとして、外接：部品本体[単画面]＆ランド[角チップ・リフロー]＿縦サイズ＋（部品本体[単画面]横サイズ／４＜４０００）＊２と記載されている。また、横サイズとしては、外接：部品本体[単画面]＆ランド[角チップ・リフロー]＿横サイズ＋（部品本体[単画面]＿横サイズ／２＜８０００）＊２と記載されている。
【００４７】
「外接」というのは関数として定義されているもので、その後ろに記載されている、「部品本体[単画面]＆ランド[角チップ・リフロー] 」で定義される。
【００４８】
一方で、画像が暗い、「影」が「有」で、「基板色」が「緑」とされている場合には、検査パラメータとして外接：部品本体[単画面]＆ランド[角チップ・リフロー]＿縦サイズ＋１０００と記載されている。ここで、数値の単位は、０．１μである。したがって、数値１０００は１００μを意味する。
【００４９】
図７は、ここで用いられている関数の定義を説明するための図である。図７（Ｂ）は検査条件を変更（設定）する前のウインドウを表す図であり、図７（Ａ）は画像が明るい場合の変更（設定）例であり、図７（Ｃ）は画像が暗い場合の変更（設定）例である。
【００５０】
部品本体[単画面]というのは、図７（Ｂ）において、一点鎖線で示す部品本体を示す符号６１で示す矩形部分をいう。ランド[角チップ・リフロー]は、部品種ごとに定められた印刷ランドを示し、図７（Ｂ）において、符号６２ａ，６２ｂで示す、それぞれの矩形部分をいう。したがって、外接：部品本体[単画面]＆ランド[角チップ・リフロー]は、符号６１，６２ａ，６２ｂで構成される領域に外接する矩形６３を意味する。
【００５１】
これに続く「縦サイズ」というのは、矩形６３の長い方の寸法（図７（Ｂ）においてａ１で示す寸法）をいい、「横サイズ」というのは、矩形６３の短い方の寸法（図７（Ｂ）においてｂで示す寸法）をいう。したがって、「外接：部品本体[単画面]＆ランド[角チップ・リフロー] ＿縦サイズ」というのは、上記したａ１で示す寸法であり、基準となるサイズである。
【００５２】
画像が明るい場合は、その後に「＋（部品本体[単画面]横サイズ／４＜４０００）＊２」と記載されている。これは、画像が明るい場合はより広い検査ウインドウを設定するためである。具体的には、部品本体[単画面]横サイズとして上記したｂを代入し、ｂ／４を求め、その寸法を上記した基準となるサイズａ１の両側に加えて画像が明るい場合の検査ウインドウａ２＝ａ１＋ｂ／４を設定することを意味する。具体的な例を図７（Ａ）に示す。
【００５３】
一方で、画像が暗い場合は、基準となるサイズａ１に一定値（１０００）を加えるだけであるので、図７（Ｃ）に示すようになる。
【００５４】
なお、「部品本体[単画面]横サイズ／４＜４０００」というのは、部品本体[単画面]横サイズ／４の値としては、最大で４０００とする、という意味である。
【００５５】
以上のように、本実施例においては、検査の精度を確保するため、画像が暗いときには縦サイズの計算式を変えて、縦サイズが常に小さくなるような制約をしているが、照明等の条件によっては、このような制約はなくてもよい。
【００５６】
次に具体的な検索例について説明する。図８は、具体的な検索例を示す図である。図８（Ａ）は表示部２３に表示される検索条件に、データを入力した場合の一例を示し、図８（Ｂ）はそれに基づいて検索されたデータベース３３の該当する箇所を示す図である。図８（Ａ）および（Ｂ）を参照して、今、部品種として「Ｃ（コンデンサ）」、部品サイズとして「０４０２」、影「有」、基板色として「青」が入力されたとする。
【００５７】
この条件が入力されると、ＣＰＵ２１はデータベース３３を参照して、図８（Ｂ）に示す箇所を検索する。その結果、該当する部品種、部品サイズから部品本体［単画面］の縦サイズ、および、横サイズとして、「３７５０」および「１８００」を得、それを、その上に記載された「影有」、「基板色青」における縦サイズ、横サイズに記載された関数に含まれる式に代入して、検査ウインドウの縦サイズおよび横サイズが演算されて、図７（Ａ）や、（Ｃ）のような検査ウインドウの範囲が出力される。
【００５８】
なお、この出力は検査ウインドウの表示に限らず、検査ウインドウの縦サイズ、横サイズ等の寸法を表示してもよい。
【００５９】
なお、ここで、ウインドウの中心座標としても、それぞれ、外接：ランド[角チップ・リフロー]＿中心Ｘ（またはＹ）座標として表される。この内容も、上記と同様に、角チップ・リフローで表される矩形の中心座標を、ＸまたはＹ座標とすることを意味している。
【００６０】
図９は、図８に示した、縦サイズの演算に含まれる関数を用いた具体的な演算方法を示すフローチャートであり、図１０はその場合の具体的な処理内容を示す図である。図９および図１０を参照して、ＣＰＵ２１は、まず演算子の有無を判断する（Ｓ２１）。図１０（Ａ）に示すようにここでは演算子「＋」が存在するため、演算子で式を分割して被演算子を取り出す（Ｓ２２）。具体的には図１０（Ｂ）に示すように、「＋」の両側の式および数値「１０００」を個別に取り出す。次に、式の内部に関数があるか否かを判断する（Ｓ２３）。ここでは図１０（Ｂ）に示すように関数「外接」が存在するため、この外接寸法を演算する（Ｓ２４）。その後、演算子による演算を行う（図１０（Ｃ）、Ｓ２５）。具体的には、図１０（Ｄ）に示すように関数から得られた値（４５６００）と当初から存在する数値（１０００）をと加算して、検査ウインドウの寸法を決定する。その結果、図７（Ｂ）から図７（Ｃ）に示すように、検査ウインドウのサイズを変更する。
【００６１】
次に、この発明の他の実施の形態について説明する。図１１は、この発明の他の実施の形態を示す図である。この実施の形態においては、ウインドウのサイズではなく、検査閾値を自動的にユーザに示す。ここでは、一例としてフィレットの長さの検査用閾値を求める場合について説明する。
【００６２】
図１１は、印刷工程における、ＣＡＤのランドのデータを示す図であり、ＣＡＤのランドのデータの縦サイズｂと実際のフィレットｃの長さとを示す図である。（Ａ）および（Ｂ）は、それぞれ、ＣＡＤのランドデータの縦サイズｂの寸法が０．６ｍｍと０．９ｍｍの場合とを示している。
【００６３】
経験的に、フィレット寸法は、ＣＡＤのランドデータの縦サイズの３分の１が好ましいとされている。すなわち、ここに示した例では、それぞれ、０．２ｍｍと０．３ｍｍとを閾値とするのが好ましい。
【００６４】
そこで、この実施の形態では、ＣＡＤのランドデータ縦サイズの１／３を自動的に検査用の閾値として出力する。具体的には、フィレットの長さはランドのサイズによって変化するため、ＣＡＤから、対応するランドデータの縦サイズを読出し、検査用の閾値をそれぞれ作成する。
【００６５】
このように、経験則に基づいて検査用の閾値が自動的に出力されるため、誰が検査条件の設定を行っても適切な検査条件が設定できる検査条件設定装置を提供できる。
【００６６】
なお、上記実施の形態においては、検索条件が画像における基板色や影の有無等である場合について説明したが、これに限らず、任意の検索条件に対して、その場合に考慮すべき点を検査パラメータとして含めてもよい。
【００６７】
また、上記実施の形態においては、所定の処理内容が規定された関数の例として、「外接」を例にあげて説明したが、これに限らず、任意の関数をその演算内容を規定することによって使用してもよいし、三角関数のような一般の関数を含んでもよい。
【００６８】
また、計算式としては、四則演算以外の特殊な計算を含めてもよく、アプリケーションに特有のパラメータを含めた関数を定義したり、それらの含むプログラムを作成してもよい。また、プラグイン方式などを採用して、必要な機能を必要に応じて組み込むようにしてもよい。
【００６９】
また、上記実施の形態においては、検査対象となる基板の画像をユーザが見て、その色や影の有無等の検索条件をユーザが入力する例について説明したが、これに限らず、カメラのような画像読取手段を設けて、自動的に画像を読取って判断するようにしてもよい。この画像読取手段は、検査機のものを利用してもよい。
また、上記実施の形態においては、閾値を自動設定する場合に、フィレットの寸法を例にあげて説明したが、これに限らず、任意の検索条件の検査用の閾値として、経験則に応じて設定してもよい。
【００７０】
また、上記実施の形態においては、検査条件や検査用閾値を表示装置等のユーザインタフェース部に出力（表示）する場合について説明したが、これに限らず、通信線等を介して、直接検査装置に設定するようにしてもよいし、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等の記録媒体に記録して、それを検査装置で読み込んで設定するようにしてもよい。
【００７１】
また、上記実施の形態においては、検査条件設定装置がその専用装置である場合について説明したが、これに限らず、検査条件設定装置を汎用のパソコンとし、上記の動作を全て検査条件設定用プログラムとして、パソコンをそのプログラムで作動させるようにしてもよい。この場合、この検査条件設定用プログラムは、光ディスクやハードディスクのような記録媒体で提供してもよいし、ネットワークを介して、ネット上のサーバからダウンロードするようにしてもよい。
【００７２】
以上、図面を参照してこの発明の実施形態を説明したが、この発明は、図示した実施形態のものに限定されない。図示された実施形態に対して、この発明と同一の範囲内において、あるいは均等の範囲内において、種々の修正や変形を加えることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】電子部品実装装置の全体構成を示す図である。
【図２】検査条件設定装置の構成を示すブロック図である。
【図３】検査条件設定装置のＣＰＵが行なう動作を示すフローチャートである。
【図４】データベースの基本的構成を示す図である。
【図５】検査条件設定装置におけるユーザの入力画面を示す図である。
【図６】データベースの具体例を示す図である。
【図７】各用語の定義を説明するための図である。
【図８】データベースの具体例を示す図である。
【図９】縦サイズの演算に含まれる関数を用いた具体的な演算方法を示すフローチャートである。
【図１０】図９の処理における具体的な処理内容を示す図である。
【図１１】この発明の他の実施の形態を示す図である。
【符号の説明】
【００７４】
１０  電子部品実装装置、１１  印刷機、１２  印刷後検査機、１３  マウンタ、１４  マウント後検査機、１５  リフロー炉、１６  リフロー後検査機、１７  ネットワーク、２０  検査条件設定装置、２１  ＣＰＵ、２２  インターフェイス、２３  表示装置、２４  ハードディスク、２５  キーボード、２６  マウス、２７  ネットワーク通信装置、２９  ユーザインターフェイス部、３０  検索条件設定部、３１  計算部、３２  データベース検索部、３３  データベース。
【図１】
2008051717.tif 000003
【図２】
2008051717.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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