(57)【要約】【課題】  製造工程中で発生した異物による欠陥の発生を抑制し、欠陥が発生した場合にもより容易に確実に欠陥を修復することを目的とする。【解決手段】  複数の画素からなる表示領域が形成された絶縁性基板１と、絶縁性基板１と対向して配置され、絶縁性基板１と対向する面に対向電極１１が形成された対向基板６とを備えた表示装置であって、対向電極１１において、前記画素を走査する走査線または前記画素に接続される映像信号線に対応する部分に前記走査線または前記映像信号線に沿って、前記対向電極を形成しない除去部１２を有することを特徴とする。【選択図】  図１
2008176107.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素からなる表示領域が形成された絶縁性基板と、
前記絶縁性基板と対向して配置され、前記絶縁性基板と対向する面に対向電極が形成された対向基板と、
を備えた表示装置であって、
前記対向電極において、前記画素を走査する走査線または前記画素に接続される映像信号線に対応する部分に前記走査線または前記映像信号線に沿って、前記対向電極を形成しない除去部を有することを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記対向電極は、前記走査線および前記映像信号線に対応する部分に、除去部を有することを特徴とする請求項１記載の表示装置。
【請求項３】
前記対向電極は、前記走査線と前記映像信号線とが交差する部分において、除去部を有することを特徴とする請求項１または２記載の表示装置。
【請求項４】
複数の画素からなる表示領域が形成された絶縁性基板と、
前記絶縁性基板と対向して配置され、前記絶縁性基板と対向する面に対向電極が形成された対向基板と、
を備えた表示装置の欠陥修復方法であって、
前記画素を走査する走査線または前記画素に接続される映像信号線に対応する部分において、前記走査線または前記映像信号線に沿って、前記対向電極の除去部が形成され、
前記対向電極上の異物を前記除去部を利用して前記異物を取り囲むようにレーザ照射する工程を含むことを特徴とする表示装置の欠陥修復方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば液晶を用いた表示装置において、異物が液晶層に混入した場合にも欠陥画素になることを抑制し、さらに欠陥画素となった場合にも容易に修復することが可能な表示装置およびその欠陥修復方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の液晶表示装置は、互いに対向する一対の基板を有し、基板間がスペーサーによって一定に保持されており、その基板間には液晶が充填されている。１方の基板は薄膜トランジスタなどのスイッチング素子を有する複数の画素が形成されたアクティブマトリクス型の基板（以下「絶縁性基板」という）であり、他方の基板はカラーフィルターが形成された絶縁性の基板（以下「対向基板」という）である。それぞれの基板において対向する面上には透明導電膜が形成されており、互いの導電膜間において蓄えられた電荷により、液晶の駆動を制御している。透明導電膜は一般的にＩＴＯ（Indium Tin Oxide）やＩＺＯ（indium zinc oxide）などが使用されている。通常、絶縁性基板側の透明導電膜はアクティブマトリクスの各画素内における画素電極を形成する領域に形成され、配線上には形成されない。一方、対向基板側の対向電極は通常透明導電膜からなり、略全面に形成されるのが一般的である。互いの透明導電膜間には絶縁性の物質からなるスペーサーが接している場合があるが、透明導電膜間に導電性の異物が混入した場合、絶縁性基板と対向基板との電流がショートし透明導電膜間に電荷が蓄えられなくなり、当該画素が点欠陥となる。また対向基板の透明導電膜下に異物が存在する場合も絶縁性基板と対向基板との導電膜が接触し、同様に点欠陥となる。液晶表示装置に点欠陥が発生すると、品質低下や歩留まり低下の要因となる。
【０００３】
点欠陥を修復する従来の技術として、第１の基板と第２の基板との間隙に存在する異物により生じた欠陥画素に対して、画素電極の面積以下の部分をレーザー照射によって物理的に破壊し、対向電極と画素電極との電気的導通状態を解消させるというものがあった。（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
また、その他の従来の技術において、対向基板に形成されたカラーフィルタの上に、導電性異物混入に対するショート防止の絶縁膜を設けるというものもあった（例えば、特許文献２参照）。
【０００５】
【特許文献１】特開平８−２８６２０８号公報
【特許文献２】特開平８−１７９２９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１記載の従来技術の場合、導電性異物が絶縁性基板の配線下に存在する場合、液晶パネルの外側から異物に照射すると異物ばかりではなく、配線を傷つける原因となる。また、絶縁性基板上の配線上と重なる領域の対向基板側には、絶縁性基板上の配線付近の配向ドメインを遮蔽するブラックマトリクスが形成されており、対向基板側から異物を確認するのが極めて困難であり、仮に確認できたとしてもレーザー照射時にブラックマトリクスを傷つけることとなってしまう。導電性異物が配線下でなく画素内にある場合においても、異物の周辺の導電膜を四方から切断する必要があるため、導電膜片が周辺に飛び散る危険性も高く、その場合も品質を悪化させてしまうという問題点があった。
【０００７】
また、特許文献２記載の従来技術においては、カラーフィルタの表面に絶縁膜を形成すると、基板間の電荷が溜まりにくく、液晶駆動にはより多くの電圧をかける必要がある。更に長時間連続駆動した場合、階調表示の電圧値がずれるという現象が起こる。このため、導電異物による短絡が防げても、表示特性の性能に問題が生じるという問題点もあった。
【０００８】
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、製造工程中で発生した異物による欠陥画素を確実に修復することが可能な表示装置および表示装置の修復方法を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、複数の画素からなる表示領域が形成された絶縁性基板と、前記絶縁性基板と対向して配置され、前記絶縁性基板と対向する面に対向電極が形成された対向基板とを備えた表示装置であって、前記対向電極において、前記画素を走査する走査線または前記画素に接続される映像信号線に対応する部分に前記走査線または前記映像信号線に沿って、前記対向電極を形成しない除去部を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、製造工程中で発生した異物による欠陥画素を確実に修復することが可能な表示装置および表示装置の修復方法を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
実施の形態１．
本発明の実施の形態１を図１〜図４により説明する。図１は本発明の実施の形態１における表示装置の対向基板の平面図であり、図２は図１の対向基板と絶縁性基板とを貼り合わせた後のＡ−Ａ部分の断面図、図３は図２における異物発生時のＡ−Ａ断面図、図４は本発明の実施の形態１におけるその他表示装置の対向基板の平面図である。
【００１２】
図１〜図２において、絶縁性基板１上に表示領域を構成する画素を走査する走査線または画素に接続される映像信号線などの配線２が形成され、該配線を覆うように窒化膜または酸化膜などからなる絶縁膜３が形成されている。さらに該絶縁膜３上に画素電極を形成する透明導電膜４が形成され、その後配向膜５が形成される。対向基板６は前記絶縁性基板１と液晶層７を介して対向して配置され、両基板間は図示せぬスペーサ（ビーズ上のものを散布するタイプと柱状のものを最初から一方の基板に作成しておくもの等がある）により、所定の間隙を保持されている。対向基板６の前記絶縁性基板１と対向する面側にはＲ、Ｇ、Ｂからなる色材（カラーフィルタ）８が形成されており、それぞれの色材１つが１つの絵素（ドット）を構成するものである。当該色材と隣接する色材との間には、光を遮蔽するブラックマトリックス９が形成されており、不要な光モレを防止している。さらに色材８とブラックマトリックス９の上には、有機膜などからなるオーバーコート層１０が形成されている。このオーバーコート層１０については、必要に応じて省略してもよい。次にオーバーコート層１０の上に、透明導電膜などからなる対向電極１１を形成する。この対向電極１１は対向基板の略全面にまず形成され、その後絶縁性基板上に形成された走査線または映像信号線と対応する位置の一部を、マスクなどを用いてパターニングすることで除去し、図１に示すように除去部１２を形成している。さらにその上に配向膜５が形成されている。
【００１３】
図３は、本実施の形態における導電性の異物が配線２上に発生した場合のＡ−Ａ部分の断面図を示している。上記のように絶縁性基板上の配線２と対応する位置には、対向電極１１は除去部１２が形成されているため、絶縁性基板１と対向基板６との間において短絡することはない。従って、レーザ加工を行う必要もなく、極めて容易に欠陥を回避することが可能となる。なお、図２および図３のように、絶縁性基板１に形成された配線２の上には、通常透明導電膜４は形成されないことが多いが、配線２上に透明導電膜４が形成される場合であっても、本実施の形態のように配線と対応する位置に対向電極の除去部を形成することで、絶縁性基板と対向基板との短絡を抑制することが可能となる。
【００１４】
また、図１においては、走査線方向と映像信号線方向の両方向において、１画素における略中央部の一部を除去した例について示しているが、これに限定されることなく走査線方向と映像信号線の両方向において特に異物による影響を受け易い配線にのみ除去部を設けてもよいし、さらに除去部は略中央部でなくともよく、全ての画素に形成せず、特に異物による欠陥が発生しやすい領域の画素にのみ除去部を設けてもよい。または、図１とは異なり、走査線と映像信号線との交差部を含まないように該除去部が形成されてもよい。さらに、例えば必要に応じて、図４のように隣接する対向電極１１をジグザグ形状に接続するような形状としてもよい。
【００１５】
以上、本実施の形態により、製造工程中で発生した異物による欠陥画素を確実に修復することが可能となる。
【００１６】
実施の形態２．
本発明の実施の形態２を図５により説明する。図５は本発明の実施の形態２における表示装置の対向基板の略１画素の平面図である。図５において、図１〜図４と同じ構成部分については同一の符号を付し、上記実施の形態１との相違点について説明する。
【００１７】
上記実施の形態１においては、導電性の異物が配線２上に発生した場合について説明したが、本実施の形態においては導電性の異物１３が対向電極１１上に発生した場合についての欠陥の修復方法について説明する。図５に示すように、導電性の異物１３が１画素における対向電極１１の形成領域に発生した場合、異物１３と近接する対向電極の除去部１２の例えば２辺を用いて、当該異物１３を４辺にて取り囲むようにレーザ照射する。図５においては１４の領域がレーザ照射する領域となり、４辺のうち２辺のみをレーザ照射することで、欠陥が発生した部分を隔離することが可能となり、絶縁性基板と対向基板との短絡を解消し、欠陥を修復することが可能となる。レーザ光は、ＹＡＧレーザまたはエキシマレーザであること、さらに該レーザ光の波長は０．１〜１．０６μｍであることが好ましい。またレーザ光の照射強度は、出力密度１×１０２〜１×１０４Ｊ／ｍ２の範囲であることが好ましい。
【００１８】
以上のような構成とすることによって、１画素において対向電極上に導電性の異物が発生した場合にも、対向電極の除去部を有効に利用し、レーザ照射を行う領域を減らすことで、レーザ照射による飛散物による付随的に生じる欠陥も抑制し、欠陥の修復が可能となる。また、上記では２辺をレーザ照射する場合について説明したが、異物の発生場所に応じて、４辺のうちの３辺をレーザ照射してもよい（この場合、対向電極の除去部を１辺として利用）し、異物の状態によっては、除去部を利用して三角形状に異物を切り離してもよい。三角形状に異物を隔離する場合、除去部を利用すると、レーザ照射する部分は１辺または２辺ですむこととなり、効率的且つ確実に欠陥を修復可能である。
【００１９】
以上、上記実施の形態１、２では、例として液晶を用いた表示装置について説明を行ったが、それに限定されることなく、配向を用いて表示を行い、欠陥画素をレーザ照射の気泡にて修復するあらゆる表示装置に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の実施の形態１における表示装置の対向基板の平面図である。
【図２】図１の対向基板と絶縁性基板とを貼り合わせた後のＡ−Ａ部分の断面図である。
【図３】図２における異物発生時のＡ−Ａ断面図である。
【図４】本発明の実施の形態１におけるその他表示装置の対向基板の平面図である。
【図５】本発明の実施の形態２における表示装置の対向基板の略１画素の平面図である。
【符号の説明】
【００２１】
１  絶縁性基板、２  配線、３  絶縁膜、４  透明導電膜、５  配向膜、６  対向基板、７  液晶層、８  色材、９  ブラックマトリックス、１０  オーバーコート層、１１  対向電極、１２  対向電極の除去部、１３  異物、１４  レーザ照射部
【図１】
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【図２】
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【図３】
2008176107.tif 000005
【図４】
2008176107.tif 000006
【図５】
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