(57)【要約】【課題】受信用レシーバの感度テストにおける外部影響によるテスト精度の低下及びコスト上昇を抑制することができるインターフェース回路を提供すること。【解決手段】インターフェース回路１０は、基準電圧を生成する基準電圧生成回路１１と、基準電圧生成回路１１が生成した基準電圧に基づき、データ送信時に入力される送信データを１対の差動電圧信号に変換して出力する電流駆動型ドライバ１３、１４と、データ受信時に入力される１対の差動電圧信号を変換して受信データを生成する受信用レシーバ１５と、受信用レシーバ１５の感度テストを行う受信用レシーバテスト回路３０とを有する。受信用レシーバテスト回路３０は、受信用レシーバ１５の感度テストに必要な電位差の１対の差動電圧信号を発生させる抵抗回路３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂを有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、
前記基準電圧生成回路が生成した基準電圧に基づき、データ送信時に入力される送信データを１対の差動電圧信号に変換して出力する差動電圧信号生成回路と、
データ受信時に入力される１対の差動電圧信号を変換して受信データを生成する受信用レシーバと、
前記受信用レシーバの感度テストを行う受信用レシーバテスト回路とを有し、
前記受信用レシーバテスト回路は、
前記受信用レシーバの感度テストに必要な電位差の１対の差動電圧信号を発生させる抵抗回路を有するインターフェース回路。
【請求項２】
前記抵抗回路は、その電位差が前記受信用レシーバに要求される感度規格に応じた第１の値の１対の差動電圧信号を発生させる第１の抵抗回路と、その電位差が前記感度規格より小さい第２の値の１対の差動電圧信号を発生させる第２の抵抗回路とを有する
こと特徴とする請求項１記載のインターフェース回路。
【請求項３】
前記受信用レシーバテスト回路は、
その電位差が前記受信用レシーバに要求される感度規格に応じた第１の値の１対の差動電圧信号を発生させる第１の抵抗回路と、
その電位差が前記感度規格より小さい第２の値の１対の差動電圧信号を発生させる第２の抵抗回路と、
テスト時に前記第１の抵抗回路又は前記第２の抵抗回路を選択するセレクタ回路と、
前記テスト時に前記セレクタ回路を介して前記第１の抵抗回路又は前記第２の抵抗回路と前記差動電圧信号生成回路とを接続するスイッチ回路とを有する
こと特徴とする請求項１記載のインターフェース回路。
【請求項４】
前記第１の抵抗回路は、スケルチ状態の電位差の差動電圧信号を発生させ、前記第２の抵抗回路は、正常信号と判断される電位差の差動電圧信号を発生させる
こと特徴とする請求項２又は３記載のインターフェース回路。
【請求項５】
前記レシーバ回路は、
前記１対の差動電圧信号を変換して受信データを出力する受信回路と、
前記スケルチ状態を検出するスケルチ状態検出回路とを有する
こと特徴とする請求項４記載のインターフェース回路。
【請求項６】
前記レシーバ回路は、前記スケルチ状態検出回路と前記受信回路との論理和を出力するマスク回路を更に有する
こと特徴とする請求項５記載のインターフェース回路。
【請求項７】
前記抵抗回路は、抵抗値を調整可能な抵抗調整回路、又は外部から抵抗値を設定可能な可変抵抗回路からなる
ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項記載のインターフェース回路。
【請求項８】
前記差動電圧信号生成回路は、前記送信データが入力される第１の電流駆動型ドライバと、前記送信データを反転するインバータと、前記インバータにて反転された送信データが入力される第２の電流駆動型ドライバとを有する
ことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項記載のインターフェース回路。
【請求項９】
テスト用の送信データを生成する送信データ生成回路と、
前記送信データ生成回路により生成された送信データと前記レシーバ回路から出力される前記受信データとを比較し比較結果に基づき当該レシーバの良否を判断する送信データ検査回路とを有する
こと特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項記載のインターフェース回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ送信時に送信データを１対の差動電圧信号に変換して出力し、データ受信時に受信した１対の差動電圧信号を元のデータに変換して出力するインターフェース回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、シリアル通信が普及し始め、その中には受信用レシーバに所定の受信感度を要求するものがある。例えば、シリアル通信の１つであるＵＳＢ規格では図５で示すとおり、差動電圧信号の電位差が１５０ｍＶ以上、−１５０ｍＶ以下の場合、正常信号として信号を受信することが規格として決まっている。そして、入力信号である差動電圧信号の電位差が−１００乃至＋１００ｍＶの場合は、スケルチ状態となり信号を遮断する。このようにＵＳＢ規格として要求されている受信感度は厳しいため、テストにおいて精度良く容易に受信感度を確認できることが望まれている。
【０００３】
ここで、特許文献１には、受信用レシーバの感度を評価することが可能なトランシーバ・インターフェースが開示されている。図６に示すように、この従来のトランシーバ・インターフェース２５０は、データ送信時に送信データを１対の差動電圧信号に変換して出力し、データ受信時に受信データである１対の差動電圧信号を元のデータに変換して出力することで、シリアル・バス規格によるデータ転送を実現する。
【０００４】
トランシーバ・インターフェース２５０は、基準電圧発生回路２１１を有する。基準電圧発生回路２１１は電源電圧ＶＤＤと接地電源電圧ＶＳＳを受けて基準電圧信号を発生する。さらに、インバータ２１２、１対の電流駆動型ドライバ２１３、２１４を有する。このインバータ２１２と１対の電流駆動型ドライバ２１３、２１４によって、送信データが１対の差動電圧信号に変換される。１対の差動電圧信号の電圧レベルは、後述するように基準電圧と終端抵抗によって決まる。さらに、受信用レシーバ２１５を有する。受信用レシーバ２１５は受信データである１対の差動電圧信号を元のデータに変換する。
【０００５】
さらに、送信データ入力端子２０１、電源入力端子２０２、接地電源入力端子２０３、受信データ出力端子ＲＥＣ２０４、１対の差動電圧信号入出力端子ＤＰ２０５、ＤＭ２０６を有する。１対の差動電圧信号入出力端子ＤＰ２０５、ＤＭ２０６にはシリアル・ケーブルが接続され、１対の差動電圧信号が入出力される。
【０００６】
さらに、このトランシーバ・インターフェース２５０は、外部より入力される任意の電圧レベルの電圧信号を１対の電流駆動型ドライバ２１３、２１４へ入力することができる。このため、基準電圧発生回路２１１には第１のスイッチ回路（不図示）を有し、さらに第２のスイッチ回路２１６を有している。第２のスイッチ回路２１６は、信号入力端子ＡＡＰ２０７と接続され、１対の電流駆動型ドライバ２１３、２１４に対し、外部からの任意の電圧レベルの電圧信号を入力する。基準電圧発生回路２１１は、第１のスイッチ回路により、１対の電流駆動型ドライバ２１３、２１４に対し、通常時は基準電圧信号を供給し、テスト時には基準電圧信号の供給をオフするよう制御される。
【０００７】
また、第２のスイッチ回路２１６及び第１のスイッチ回路からなる切替回路と接続された第１の制御端子２０８からの制御信号に基づき、当該切替回路が、１対の電流駆動型ドライバ２１３、２１４へ入力する電圧信号を、基準電圧発生回路２１１からの基準電圧信号又は信号入力端子ＡＡＰ２０７から入力される電圧信号のいずれかに切り替える。
【０００８】
図７は、電流駆動型ドライバの具体例を示す図である。電流駆動型ドライバ２２０は、入力端子２４１には、基準電圧発生回路２５１が発生する基準電圧信号が入力される。また、送信データを入力する送信データ入力端子２４２と、差動電圧信号を入力する差動電圧信号出力端子２４３を有する。差動電圧信号出力端子２４３は差動電圧信号入出力端子ＤＰ２０５に接続される。この電流駆動型ドライバ２２０は電流駆動型ドライバ２１３に対応する。なお、差動電圧信号入出力端子ＤＭに接続する電流駆動型ドライバについてもこれと同様の構成・動作となるので、説明を省略する。
【０００９】
電流駆動型ドライバ２２０は、オペアンプ２２１、Ｐチャネル型トランジスタ２２２〜２２５、Ｎチャネル型トランジスタ２２６〜２２８を有し、これらのトランジスタのうち、トランジスタ２２２及び２２３、２２４及び２２５、２２６及び２２７はカレントミラーを構成している。
【００１０】
そして、基準電圧入力端子２４１へ入力される電圧レベルＶｒｅｆ及びカレントミラー比によりＩ３が決定し、定常電流Ｉ３を流すドライバを実現している。差動電圧信号端子２４３に外部抵抗２３０、２３１を終端することにより、送信データの信号レベルがＨの場合、トランジスタ２２８がオンし定常電流Ｉ３が外部抵抗２３０、２３１へ流れ、差動電圧信号端子２４３の電圧レベルが決定する。すなわち、トランジスタ２２５に流れる電流Ｉ３、抵抗２３１、２３２の抵抗値Ｒｓ１、Ｒｓ２とすると、差動電圧信号出力端子２４３の電圧はＶｄｐ＝Ｉ３／（（１／Ｒｓ１）＋（１／Ｒｓ２））となる。一方、送信データの信号レベルがＬの場合、トランジスタ２２８はオフするので、定常電流Ｉ３は流れず、差動電圧信号端子２４３の電圧レベルはＧＮＤとなる。このように差動電圧信号端子の電圧レベルは基準電圧入力端子２４１へ入力される電圧レベルと外部抵抗２３０、２３１の抵抗値によって決定する。
【００１１】
この従来技術において、自身の受信用レシーバの感度テスト時は図６の差動電圧信号端子ＤＰ２０５、ＤＭ２０６に外部抵抗を終端する。制御端子２０８により信号入力端子ＡＡＰ２０７を有効にし、信号入力端子ＡＡＰ２０７から入力される電圧信号を１対の電流駆動型ドライバ２１３、２１４へ入力すると、送信データの信号レベルに応じ、入力された電圧レベルに比例した定常電流が１対の電流駆動型ドライバ２１３、２１４から出力される。この定常電流が外部抵抗へ流れ、差動電圧信号端子ＤＰ２０５、ＤＭ２０６の電圧レベルが決定及びＤＰ２０５、ＤＭ２０６に電位差を発生させる。この電位差の差動信号が受信用レシーバ２１５へ入力され、レシーバが信号を受信するか否かで感度テストを行う。
【００１２】
従って、信号入力端子ＡＡＰ２０７を使用して、外部から任意の電圧レベルを入力し、その電圧レベルに応じた電圧レベルを差動電圧信号端子ＤＰ２０５、ＤＭ２０６に発生させることで、自身の受信用レシーバの感度テストを実施している。
【特許文献１】特開２００５−２６７１２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、この従来のトランシーバ・インターフェース２５０においては、外部から任意の電圧レベルを供給するため、専用の電源ユニットが必要という問題点がある。近年ＬＳＩのＳＯＣ（System On Chip）による多機能化に伴い、ＬＳＩの多電源化が進んでいるなか、テスト時に専用の電源ユニットを使用することは現実的ではない。さらに、外部から電源供給するため、電圧供給源の精度や電圧降下などの外部影響によりテスト精度が低くなるという問題点もある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明にかかるインターフェース回路は、基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、前記基準電圧生成回路が生成した基準電圧に基づき、データ送信時に入力される送信データを１対の差動電圧信号に変換して出力する差動電圧信号生成回路と、データ受信時に入力される１対の差動電圧信号を変換して受信データを生成する受信用レシーバと、前記受信用レシーバの感度テストを行う受信用レシーバテスト回路とを有し、前記受信用レシーバテスト回路は、前記受信用レシーバの感度テストに必要な電位差の１対の差動電圧信号を発生させる抵抗回路を有するものである。
【００１５】
本発明においては、受信用レシーバの感度テストに必要な電位差の１対の差動電圧信号を発生させる抵抗回路を有することにより、差動電圧信号に所望の電圧レベルを発生させることができる。よって、受信用レシーバの感度テスト時に、外部の専用電源ユニット及び抵抗が不要となる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、受信用レシーバの感度テストにおける外部影響によるテスト精度の低下及びコスト上昇を抑制することができるインターフェース回路を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
実施の形態１．
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態１について、図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本実施の形態にかかるインターフェース回路を示す図である。本実施の形態にかかるインターフェース回路１０は、図６に示す第２のスイッチ回路２１６に替えて受信用レシーバテスト回路３０を有し、テスト用の電源ユニットを使用することなく、差動電圧信号の差電圧を所望の電圧とするものである。
【００１８】
本インターフェース回路１０は、データ送信時に送信データを１対の差動電圧信号に変換して出力し、データ受信時に受信データである１対の差動電圧信号を元のデータに変換して出力することで、シリアル・バス規格によるデータ転送を実現する。
【００１９】
図１に示すように、このインターフェース回路１０は、基準電圧発生回路１１を有する。基準電圧発生回路１１は電源入力端子１０２から供給される電源電圧ＶＤＤと接地電源入力端子１０３から供給される接地電源電圧ＶＳＳを受けて基準電圧信号を発生する。さらに、インバータ１２、１対の電流駆動型ドライバ１３、１４を有する。インバータ１２と１対の電流駆動型ドライバ１３、１４によって、データ送信時に送信データ入力端子１０１から入力される送信データを１対の差動電圧信号に変換して出力する差動電圧信号生成回路を構成し、送信データが１対の差動電圧信号に変換される。１対の差動電圧信号の電圧レベルは、詳細は後述するが、通常動作時には基準電圧と終端抵抗によって決定する。テスト時には、基準電圧と受信用レシーバテスト回路３０により決定される。なお、電流駆動型ドライバ１３、１４に基準電流を入力した場合、電流駆動型ドライバより出力される定常電流の電流値はシリアル・バスの規格により決定されている。
【００２０】
インターフェース回路１０は、更に、受信用レシーバ１５を有する。受信用レシーバ１５は、データ受信時に差動電圧信号入出力端子ＤＰ１０５、ＤＭ１０６から入力される１対の差動電圧信号（ＤＰ）、（ＤＭ）を変換して受信データを生成するもので、受信データである１対の差動電圧信号を元のデータに変換し、受信データ出力端子ＲＥＣ１０４から出力する。１対の差動電圧信号入出力端子ＤＰ１０５、ＤＭ１０６にはシリアル・ケーブルが接続され、１対の差動電圧信号が入出力される。
【００２１】
さらに、本実施の形態にかかるインターフェース回路１０は、受信用レシーバ１５の感度テストを行う受信用レシーバテスト回路３０を備える。この受信用レシーバテスト回路３０は、受信用レシーバ１５の感度テストに必要な電位差の１対の差動電圧信号を発生させる抵抗回路を内蔵する。
【００２２】
すなわち、受信用レシーバテスト回路３０は、電流駆動型ドライバ１３、１４に対応して、第１の抵抗回路３１ａ、３１ｂ、第２の抵抗回路３２ａ、３２ｂ、セレクタ回路３３ａ、３３ｂ、及びスイッチ回路３４ａ、３４ｂを有する。第１の抵抗回路３１ａ、３１ｂは、その電位差が受信用レシーバに要求される感度規格に応じた第１の値の１対の差動電圧信号を発生させる。第２の抵抗回路３２ａ、３２ｂは、その電位差が受信用レシーバに要求される感度規格より小さい第２の値の１対の差動電圧信号を発生させる。抵抗回路３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂは、ＧＮＤに終端される。
【００２３】
セレクタ回路３３ａ、３３ｂは、テスト時には、抵抗制御端子１３２からのセレクタ制御信号により、抵抗回路３１ａ若しくは３２ａを選択し、抵抗回路３１ｂ若しくは３２ｂを選択するよう制御される。スイッチ回路３４ａ、３４ｂは、スイッチ制御端子１３１からのスイッチ制御信号によりそのオン・オフが制御され、テスト時にオンになり、それぞれセレクタ回路３３ａ、３３ｂを介してそれぞれ抵抗回路３１ａ、３１ｂ又は抵抗回路３２ａ、３２ｂと電流駆動型ドライバ１３、１４とを接続する。
【００２４】
ここで、抵抗回路３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂには受信用レシーバに要求される感度規格の電位差の差動信号を発生できる抵抗値の抵抗回路を組み込んでおく。ここでは、抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂが、受信用レシーバが第２の値としてノイズ信号とし遮断する電位差の差動信号を発生させる抵抗値を有し、抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂが、第１の値として正常信号として受信する電位差の差動信号を発生させる抵抗値を有するものとする。
【００２５】
例えば、ＵＳＢ規格では、入力信号である差動電圧信号の電位差が±１００ｍＶの場合スケルチ状態となり信号を遮断する。また、差動電圧信号の電位差が１５０ｍＶ以上、−１５０ｍＶ以下の場合正常信号とする。従って、第２の抵抗回路３２ａ、３２ｂの抵抗値は、電流駆動型ドライバで構成されたＵＳＢトランシーバの差動出力の出力電位差の絶対値が１００ｍＶとなるような抵抗値となるよう構成し、第１の抵抗回路３１ａ、３１ｂの抵抗値は、電流駆動型ドライバで構成されたＵＳＢトランシーバの差動出力の出力電位差の絶対値１５０ｍＶとなるような抵抗値に構成される。なお、具体的な抵抗値の決め方については後述する。また、その他の規格等に応じ、適宜必要な電位差を生ずるよう抵抗回路を構成することができることは勿論である。
【００２６】
また、抵抗回路３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂは抵抗調整回路又は可変抵抗器などで構成することも可能である。抵抗調整回路とは、抵抗値が所望の値から外れた場合でも回路を適切に動作させるために抵抗値を調整する調整回路を内蔵し、抵抗値を調整することができる回路である。抵抗調整回路により抵抗回路を構成すると、所望の抵抗値に合わせることができるため抵抗値の値を精度よく設定することができる。また、抵抗回路を可変抵抗器で構成すると、外部から任意の抵抗値に可変に設定することができる。よって、差動信号の電位差も任意に可変とすることができるため、より正確に受信用レシーバの感度評価をすることが可能となる。
【００２７】
次に、レシーバ１５は、正常信号とする電位差の差動信号が入力されると、入力された送信データに応じたデータをＲＥＣ端子１０４に出力する受信回路５１のみからなるものとすることも可能であるが、本実施の形態においては、スケルチ状態を示す電位差の差動信号が入力されるとＲＥＣ端子１０４にＬレベルを出力するよう構成される。具体的には、レシーバ１５は図１に示すように、１対の差動電圧信号を変換して受信データを出力する受信回路５１に加え、スケルチ状態を検出するスケルチ検出回路５２と、スケルチ検出回路５２と受信回路５１との論理和を出力するマスク回路５３を有するものとすることができる。スケルチ検出回路５２はスケルチ状態となる電位差の差動信号が入力されるとスケルチ判定端子１５１にＬレベルを出力し、正常信号となる電位差の差動信号が入力されるとスケルチ判定端子１５１にＨレベルを出力する。これにより、スケルチ判定端子１５１に出力される信号レベルを確認することでスケルチ状態の判定を容易にテストすることが可能となる。また、マスク回路５３は、受信回路５１とスケルチ検出回路５２の論理をとる構成とすることで、受信回路５１にスケルチ状態となる電位差の差動信号が入力された場合、受信回路５１のデータをマスクすることができ、データ出力を遮断することが可能となる。
【００２８】
次に本実施の形態の受信用レシーバテスト回路の動作について説明する。図１において、テスト時にスイッチ回路３４ａ、３４ｂがオンとなり、抵抗制御端子１３２からセレクタ制御信号により抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂ又は抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂがそれぞれ電流駆動型ドライバ１３、１４に終端される。データ送信の信号レベルがＨの場合、電流駆動型ドライバ１３から定常電流が抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂもしくは抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂへ流れ、差動電圧信号（ＤＰ）の電圧レベルが決定する。一方、電流駆動型ドライバ１４にはインバータ１２により信号レベルＬが入力されるため、電流駆動型ドライバ１４には定常電流は流れず、差動電圧信号（ＤＭ）の電圧レベルはＧＮＤとなる。これにより、差動電圧信号入出力端子ＤＰ＞差動電圧信号入出力端子ＤＭの関係を満たす電位差の差動信号を得ることができる。
【００２９】
逆にデータ送信の信号レベルがＬの場合、差動電圧信号（ＤＰ）の電圧レベルはＧＮＤとなり、電流駆動型ドライバ１４には定電流が流れて、終端抵抗となる抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂ又は抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂへこの定電流が流れ、差動電圧信号（ＤＭ）の電圧レベルが決定する。この場合、差動電圧信号入出力端子ＤＭ＞差動電圧信号入出力端子ＤＰの関係を満たす電位差の差動信号を得ることができる。
【００３０】
具体的に説明する。例えば、ＵＳＢの場合、仕様により電流駆動型ドライバ１３、１４は１７．７８ｍＡの定常電流を流すことが決まっている。予め、抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂに抵抗値８．４４Ωの抵抗を組み込んでおくことで、データ送信の信号レベルがＨの場合、
差動電圧信号（ＤＰ）はＶ＝Ｉ×Ｒ＝１７．７８ｍＡ×８．４４Ω＝１５０ｍＶ（ＶＤ＋）
差動電圧信号（ＤＭ）はＶ＝Ｉ×Ｒ＝０ｍＡ×８．４４Ω＝０ｍＶ（ＶＤ−）
の電圧レベルとなり、（ＶＤ＋）−（ＶＤ−）＝１５０ｍＶ（ＤＰ＞ＤＭ）の電位差の差動信号を得ることができる。
【００３１】
一方データ送信の送信レベルがLの場合、（ＶＤ−）−（ＶＤ＋）＝１５０ｍＶ（ＤＭ＞ＤＰ）の電位差の差動信号を得ることができ、受信用レシーバに入力することが可能となり、正常信号とする受信感度のテストが可能となる。また、予め、抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂに抵抗値５．６３Ωの抵抗を組み込んでおくことで、データ送信の信号レベルがＨの場合、
差動電圧信号（ＤＰ）はＶ＝Ｉ×Ｒ＝１７．７８ｍＡ×５．６３Ω＝１００ｍＶ（ＶＤ＋）
差動電圧信号（ＤＭ）はＶ＝Ｉ×Ｒ＝０ｍＡ×５．６３Ω＝０ｍＶ（ＶＤ−）
の電圧レベルとなり、（ＶＤ＋）−（ＶＤ−）＝１００ｍＶ（ＤＰ＞ＤＭ）の電位差の差動信号を得ることができる。一方データ送信の送信レベルがＬの場合、（ＶＤ−）−（ＶＤ＋）＝１００ｍＶ（ＤＭ＞ＤＰ）の電位差の差動信号を得ることができ、受信用レシーバに入力することが可能となり、スケルチ状態とする受信感度のテストが可能となる。
【００３２】
次に本実施の形態にかかるインターフェース回路における受信用レシーバの感度テスト方法について説明する。図２は、受信用レシーバの感度テスト方法を示すフローチャートである。先ず、スイッチ制御端子１３１からのスイッチ制御信号によりスイッチ回路３４ａ、３４ｂをＯＮする（ステップＳ１）。次に、抵抗制御端子１３２からのセレクタ制御信号により、抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂ側を選択し、電流駆動型ドライバ１３、１４にそれぞれ抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂを終端する（ステップＳ２）。この状態で、送信データ入力端子１０１から送信データを入力する（ステップＳ３）。ここでは例えば"Ｈ"のデータを入力する。そして、ＲＥＣ端子１０４から出力される、ステップＳ３にて入力したデータを観測する（ステップＳ４）。この場合、レシーバ１５がデータ受信しなかった場合、すなわちＲＥＣ端子１０４からデータが出力されない場合は、失敗と判断する。
【００３３】
ここで、本実施の形態においては、抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂを終端することにより発生する電位差の差動信号は、電位差＋１５０ｍＡ以上又は−１５０ｍＡ以下であり、レシーバが正常信号としてデータ受信するものである。よって、送信データとＲＥＣ端子１０４の出力データが一致すれば良判定、不一致であれば否判定と判断できる。こうして受信用レシーバ１５の感度テストを実行することができる。次に、送信データを反転させ（ステップＳ５）、ステップＳ３からの処理を繰り返し、送信データが"Ｌ"であっても受信可能であるか確認する。
【００３４】
次に、抵抗制御端子１３２からのセレクタ制御信号により、抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂ側を選択し、電流駆動型ドライバ１３、１４にそれぞれ抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂを終端する（ステップＳ６）。この状態で、送信データ入力端子１０１から送信データを入力する（ステップＳ７）。ここでは例えば"Ｈ"のデータを入力する。そして、ＲＥＣ端子１０４から出力される、ステップＳ７にて入力したデータを観測する（ステップＳ８）。ここで、抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂを終端することにより発生する電位差の差動信号は、電位差−１００乃至＋１００ｍＶであり、レシーバがノイズ信号としてデータ遮断するものである。したがって、ＲＥＣ端子１０４の出力データがＬレベルであれば良判定、ＲＥＣ端子１０４の出力データがＨレベル出力であれば否判定とすることができる。こうして受信用レシーバ１５の感度テストを実行することができる。次に、送信データを反転させ（ステップＳ９）、ステップＳ７からの処理を繰り返し、送信データが"Ｌ"であってもＬレベルが出力されるかを確認する。
【００３５】
以上により、受信用レシーバ１５の感度テストが可能となる。なお、抵抗回路を可変抵抗器で構成した場合、外部からの抵抗値を可変させステップＳ７、Ｓ８を繰り返し良否判定の切り替わる差動信号の電位差を確認することで、受信用レシーバの感度評価が可能となる。
【００３６】
本実施の形態においては、差動電圧信号端子ＤＰ１０５、ＤＭ１０６に所望の電圧レベルを発生できるよう抵抗回路３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂを備えているため、外部に専用電源ユニットと抵抗が必要なくなる。よって、多電源のＬＳＩにおいてテスト時に専用の電源ユニットが必要なくなり、安価なテスタが活用できる。さらには、外部機器や部品が必要なくなるため、外部影響なく高精度なテストが実施でき、コストを低減することができる。
【００３７】
さらに、本実施の形態においては、テスト時には、電流駆動型ドライバ１３、１４を抵抗回路３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂに接続することにより電流駆動型ドライバ１３、１４を終端する。このため、差動電圧信号入出力端子ＤＰ、ＤＭに外部抵抗を接続して電圧レベルを発生させる必要がない。したがって、外部の抵抗精度の影響によるテスト精度の低下及びコスト上昇を防止することができる。なお、特に問題がない場合は、抵抗回路３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂに加えて外部抵抗を並列接続し、所望の抵抗値を得るようにしてもよい。
【００３８】
実施の形態２．
次に、本発明の実施の形態２について説明する。本実施の形態にかかるインターフェー
ス回路は、送信データ生成回路及び受信データ検査回路を備える。そして、テスト制御端子１４１からの起動信号に応じて当該送信データ生成回路及び受信データ検出回路を起動し、テスト判定端子１４２から、受信データ検査回路においてレシーバ１５の良否を判定した良否判定結果を出力するものである。
【００３９】
図３は、本実施の形態にかかるインターフェース回路を示す図である。なお、図３に示す本実施の形態にかかるインターフェース回路において、図１に示す実施の形態１と同一の構成要素には同一の符号を付しその詳細な説明は省略する。図３に示すように、送信データ生成回路＆受信データ検査回路（以下、データ生成／検査回路という。）４１を有している。データ生成／検査回路４１は、テスト時には、テスト制御端子１４１から起動信号が入力されてＯＮする。そして、送信データを生成し、この送信データを電流駆動型ドライバ１３には直接、電流駆動型ドライバ１４にはインバータ１２を介して入力する。また、レシーバ１５にて変換された受信データが入力される。データ生成／検査回路４１は、この受信データを自身が生成した送信データと比較し、テスト判定端子１４２からその良否を出力する。なお、本実施の形態においては、データ生成／検査回路は、送信データ生成回路と受信データ検査回路のいずれの機能も有する一の回路として説明するが、個別に具備するものとしてもよいことは勿論である。
【００４０】
次に、このデータ生成／検査回路４１を含む本実施の形態にかかるインターフェース回路のテスト時の動作について説明する。図４は、テスト時の動作方法を示すフローチャートである。先ず、スイッチ制御端子１３１からのスイッチ制御信号によりスイッチ回路３４ａ、３４ｂをＯＮする（ステップＳ１１）。次に、抵抗制御端子１３２からのセレクタ制御信号により、抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂ側を選択し、電流駆動型ドライバ１３、１４にそれぞれ抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂを終端する（ステップＳ１２）。
【００４１】
次に、テスト制御端子１４１から起動信号を入力してデータ生成／検査回路４１を起動する（ステップＳ１３）。そして、データ生成／検査回路４１により、通常動作タイミング（At-Speed）で送信データを送信する（ステップＳ１４）。次いで、データ生成／検査回路４１は自身が送信した送信データと、当該送信データをレシーバ１５が受信して出力した受信データとを比較する。ここで、本実施の形態においては、抵抗回路ＲＨ３１ａ、３１ｂを終端することにより発生する電位差の信号は、レシーバ１５が正常信号として受信するものである。このため、データ生成／検査回路４１で送信データと受信データを比較し、一致すれば良判定、不一致であれば否判定と判断できる。したがって、比較結果が一致すれば良判定として例えばＨレベルを、不一致あれば否判定としてＬレベルをテスト判定端子１４２に出力する（ステップＳ１５）。これより、ループバックテストを実現することができる。なお、詳細は省略するが、ステップＳ１４、Ｓ１５では、"Ｈ"のデータと、"Ｌ"のデータのいずれの送信データも送信し、そのテスト判定端子を観測して良否判定を行なう。
【００４２】
次に、抵抗制御端子１３２からのセレクタ制御信号により、抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂ側を選択し、電流駆動型ドライバ１３、１４をそれぞれ抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂで終端する（ステップＳ１６）。そして、この状態で、データ生成／検査回路４１から送信データを送信し（ステップＳ１７）。テスト判定端子１４２を観測する（ステップＳ１８）。上述したように、抵抗回路ＲＬ３２ａ、３２ｂを終端することにより発生する電位差の差動信号はレシーバがノイズ信号として遮断するものである。したがって、データ生成／検査回路４１は、送信データとしてＨレベルであってもＬレベルであっても、受信データがＨであれ否判定、Ｌレベル出力であれば良判定と判断できる。データ生成／検査回路４１は、この結果をテスト判定端子１４２から出力する。したがって、テスト判定端子１４２を観測することにより、受信用レシーバ１５の良否を判定することができる。
【００４３】
本実施の形態においては、実施の形態１と同様の効果を奏する他、データ生成／検査回路４１を備えることにより、ループバックテストによる実動作速度（At-Speed）での受信用レシーバ１５の感度テストが可能となる。
【００４４】
なお、本発明は上述した実施の形態のみに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることは勿論である。例えば、上述の実施の形態に拘わらず、電流駆動型ドライバと抵抗素子からなるトランシーバの受信用レシーバであれば受信感度テストを行うことができる。具体的には、シリアルＡＴＡやＩＥＥＥ１３９４などのトランシーバにおいて、これらの受信感度規格に応じた電圧レベルの電位差を発生することができる抵抗値の抵抗回路を適宜組み込んでおけば、同様に感度テストをすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本発明の実施の形態１にかかるインターフェース回路を示す図である。
【図２】本発明の実施の形態１にかかるインターフェース回路における受信用レシーバの感度テスト方法を示すフローチャートである。
【図３】本発明の実施の形態２にかかるインターフェース回路を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態２にかかるインターフェース回路における受信用レシーバの感度テスト方法を示すフローチャートである。
【図５】シリアル通信の１つであるＵＳＢ規格の受信感度を説明する図である。
【図６】特許文献１に記載のトランシーバ・インターフェースである
【図７】特許文献１に記載のトランシーバ・インターフェースにおける電流駆動型ドライバの具体例を示す図である。
【符号の説明】
【００４６】
１１  基準電圧発生回路
１２  インバータ
１３、１４  電流駆動型ドライバ
１５  レシーバ
３０  受信用レシーバテスト回路
３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ  抵抗回路
３３ａ、３２ｂ  セレクタ回路
３４ａ  スイッチ回路
４１  データ生成／検査回路
５１  受信回路
５２  スケルチ検出回路
５３  マスク回路
１０１  送信データ入力端子
１０２  電源入力端子
１０３  接地電源入力端子
１０４  ＲＥＣ端子
１３１  スイッチ制御端子
１３２  抵抗制御端子
１４１  テスト制御端子
１４２  テスト判定端子
１５１  スケルチ判定端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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