(57)【要約】【課題】ＩＣテスタ用テストプログラムのデバッグにおいて、所望の測定結果ファイルを迅速に探索可能なＩＣテストシステムを提供。【解決手段】ＩＣテストシステム１０は、中央制御部２０にて測定ツール４２Ａ、４２Ｂを実行し、テストプログラム４０Ａ、４０Ｂに記述された測定条件で被検査デバイスを測定した結果である測定結果ファイル４４Ａ、４４Ｂを、測定条件４８Ａ、４８Ｂとともに記憶部２２に出力する。記憶部２２は、各測定結果ファイル４４Ａ、４４Ｂのファイル名４６Ａ、４６Ｂと測定条件４８Ａ、４８Ｂとを対応させてデータベース５０に記憶する。ユーザは、測定条件４８Ａ、４８Ｂの全部または一部を検索キーとして入力インターフェース１８から入力し、データベース５０を利用して、その検索キーに合致するファイル名を記憶部２２から抽出する。抽出されたファイル名を有する測定結果ファイルの内容は、表示部２４に表示される。【選択図】図２
2008122213.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の測定条件で被検査デバイスを測定した結果を測定結果ファイルに出力する測定手段と、
複数の測定結果ファイルを記憶し、各測定結果ファイルのファイル名と測定条件とを対応させて記憶する記憶手段と、
測定条件の全部または一部を検索キーとして該検索キーに対応するファイル名を前記記憶手段から抽出する抽出手段と、
該抽出されたファイル名のうち選択されたファイル名を有する測定結果ファイルの内容を表示する表示手段とを含むことを特徴とするＩＣテストシステム。
【請求項２】
前記表示手段は、前記選択されたファイル名を有する測定結果ファイルの内容とともに、前記検索キーとされた測定条件を表示することを特徴とする請求項１に記載のＩＣテストシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストプログラムに基づいて被検査デバイスを測定した測定結果を、テストプログラムのデバッグに利用するＩＣテストシステムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣテストシステムによって行われる被検査デバイス（Device Under Unit; ＤＵＴ）のテストは、例えば特許文献１（特開２０００−２５８５０２号公報）に記載のように、通常、以下の手順で行われる。まず、ＩＣテストシステム本体で実行されるシュムー（Shmoo）などの測定ツールが、テストプログラムに記述されたテスト仕様に基づいて、被検査デバイスに様々な信号を与える。それに応答して被検査デバイスが出力する信号を測定ツールは検知し、測定結果ファイルとして出力したり、ＩＣテストシステムの一部である表示部に表示したりする。
【０００３】
ＩＣテストシステムの使用者にとって、過去に行った所望の測定結果に迅速にアクセスし、その内容を参照できることが望ましいことは言うまでもない。とりわけ、テストプログラムがデバッグ段階にある場合は、テストプログラムによって理想的な測定結果が得られているか否かを判定し、必要に応じてテストプログラムをデバッグする必要があるからである。
【特許文献１】特開２０００−２５８５０２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
測定ツールは、シュムー、ロジック信号の波形を取得・表示するもの、ハードウェアの取り込みデータを表示して演算するものなど、各種のものが存在する。また、各測定ツールが読み込むテストプログラムの数も、測定条件に応じた数だけ存在するため、測定結果ファイルの数は膨大であり、人間の記憶力を頼りに、所望の測定条件に対応した測定結果ファイルを探索することには、おのずと限界がある。測定者が測定中に、測定条件と測定結果ファイル名とを完全に対応させて覚えることはきわめて困難だからである。
【０００５】
また、測定結果ファイルを探索するときにも、測定条件をすべて満たすものを探索するという方法で探索が行われることは少ない。例えばあるＤＵＴに対して、電源電圧を何ボルトにしたときに得られた測定結果をすべて知りたい、など、測定条件の一部が共通している測定結果ファイルを探索するという方法が一般的である。したがって、人間が測定条件を完全に記憶しておくという行為は無理であるだけでなく、無駄である。
【０００６】
そこで、測定結果ファイルを保存するときに、測定条件そのものをファイル名とすることが考えられる。しかし、測定条件は、テスト番号、測定日時、被測定デバイスの各ピンに与えられる電流値、電圧値、電源電圧など、多くの項目によって構成されている。したがって、これらの条件をすべて記述した長大なファイル名を付けて測定結果ファイルを保存することは、煩雑になってしまう。
【０００７】
本発明はこのような課題に鑑み、ＩＣテスタ用テストプログラムのデバッグにおいて、所望の測定結果ファイルを迅速に探索可能なＩＣテストシステムを提供することを実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明によるＩＣテストシステムは、上述の課題を解決するために、所定の測定条件で被検査デバイスを測定した結果を測定結果ファイルに出力する測定手段と、複数の測定結果ファイルを記憶し、各測定結果ファイルのファイル名と測定条件とを対応させて記憶する記憶手段と、測定条件の全部または一部を検索キーとして検索キーに対応するファイル名を記憶手段から抽出する抽出手段と、抽出されたファイル名のうち選択されたファイル名を有する測定結果ファイルの内容を表示する表示手段とを含むことを特徴とする。
【０００９】
上述の表示手段は、選択されたファイル名を有する測定結果ファイルの内容とともに、検索キーとされた測定条件を表示してもよい。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、測定データ自体の管理をユーザ自身が行うことなく、測定条件を検索キーとして指定することで、簡単に参照したい測定データを参照することが可能となる。
【００１１】
また、測定データと測定条件との関連付けが簡単になり、ユーザは注目する測定条件での測定データの参照を迅速かつ簡単に行えるようになる。
【００１２】
さらにテストプログラムを用いて得られた測定結果をレポートとして作成することが容易である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
次に添付図面を参照して本発明によるＩＣテストシステムの実施形態を詳細に説明する。図中、本発明に直接関係のない要素は図示を省略する。また、同様の要素は同一の参照符号によって表示する。
【００１４】
図１は、本発明によるＩＣテストシステムの実施形態の全体構成を示すブロック図である。ＩＣテストシステム１０は、本体１２とテストヘッド１４とで構成されている。本体１２は、後述のテストヘッド１４に制御信号を与えて、被試験デバイス１６Ａ、１６Ｂの測定を行わせる装置である。
【００１５】
本体１２は、入力インターフェース１８、中央制御部２０、記憶部２２および表示部２４を含む。入力インターフェース１８は、ユーザがテスト遂行のためのコマンドその他の操作を行うためのキーボードやポインティングデバイスとしてよい。中央制御部２０は、入力インターフェース１８からの操作信号に応じて、記憶部２２から読み出したテストプログラムに基づき、本体内部およびテストヘッド１４の信号処理部２６に制御信号を与え、テスト遂行、テスト結果表示を制御する装置である。記憶部２２は、中央制御部２０からの指示に応じて、テストの結果得られる複数の測定結果ファイルを保存し、所定のデータベース５０により、測定結果ファイル名と測定条件とを対応させて記憶する記憶装置である。記憶部２２はハードディスクその他の記録媒体としてよい。
【００１６】
テストヘッド１４は、信号処理部２６と、電源２８と、出力部３０Ａ、３０Ｂと、検知部３２Ａ、３２Ｂとを含む。信号処理部２６は、本体１２の中央制御部２０からの制御信号に基づき、検査信号を生成して出力部３０Ａ、３０Ｂに与える。出力部３０Ａ、３０Ｂは、信号処理部から得られる検査信号に基づき、電源２８から電力供給を得て、被検査デバイス１６Ａ、１６Ｂに対し、検査信号波形を与える。検知部３２Ａ、３２Ｂは、検査信号波形に応答して被検査デバイス１６Ａ、１６Ｂが出力する信号を検知し、それを測定結果として信号処理部２６に返信する。信号処理部２６は、取得した測定結果を本体１２の中央制御部２０Ａに返信する。
【００１７】
なお、図１には被検査デバイスとして、デバイス１６Ａ、１６Ｂの２つしか示していないが、それ以上の数存在してもよく、被検査デバイスの数に応じて出力部・検知部の数も増減させてよいことは言うまでもない。
【００１８】
図２は図１の本体１２の詳細を示すブロック図である。中央制御部２０は、テストプログラム４０Ａ、４０Ｂに記述された所定の測定条件で被検査デバイスを測定する、測定ツール４２Ａ、４２Ｂを実行する。測定ツール４２Ａ、４２Ｂは、シュムー、ロジック信号の波形を取得・表示するもの、ハードウェアの取り込みデータを表示して演算するものなど、テストプログラムのデバッグツールであり、アプリケーションソフトウェアとして実装してよい。なお、図２では測定ツール・テストプログラムとも、それぞれ２つずつしか示していないが、これらより多くしてよいことは言うまでもない。また、各測定ツール４２Ａ、４２Ｂが参照するテストプログラムの数は１つとは限らず、各測定ツールは、被検査デバイスに応じた、様々な測定条件を記述した複数のテストプログラムに従って、測定を行うことが可能である。
【００１９】
なお、本実施形態におけるテストプログラム４０Ａ、４０Ｂも測定ツール４２Ａ、４２Ｂも、もともと、記憶部２２に記録されているソフトウェアやファイルであるが、図２では便宜上、既に中央制御部２０に読み込まれた状態を示している。測定ツール４２Ａ、４２Ｂはハードウェアとして実装してもよい。
【００２０】
測定ツール４２Ａ、４２Ｂは、入力インターフェース１８から中央制御部２０を経由して得られる、ユーザからの測定結果保存指示に応じて、テストヘッド１４から得られた、被検査デバイス１６Ａ、１６Ｂを測定した結果である測定結果ファイル４４Ａ、４４Ｂを、記憶部２２に対して出力する。これら測定結果ファイルのファイル名４６Ａ、４６Ｂは、重複しないよう、測定ツール４２Ａ、４２Ｂが自動的に定める。例えば、測定ツールであるシュムーの名称と測定日時とを用いて、「shmootoolname_date_time」といった簡易な名称を付けてよい。測定ツール４２Ａ、４２Ｂは、測定結果ファイル４４Ａ、４４Ｂとともに、テストプログラム４０Ａ、４０Ｂに記述されている測定条件４８Ａ、４８Ｂも、記憶部２２に対して出力する。
【００２１】
記憶部２２は、複数の測定結果ファイル４４Ａ、４４Ｂを記憶し、各測定結果ファイルのファイル名４６Ａ、４６Ｂと測定条件４８Ａ、４８Ｂとを、図２に示すように一対一に対応させて記憶する。本実施形態では、一対一に対応している測定結果ファイル名４６Ａ、４６Ｂと測定条件４８Ａ、４８Ｂとは、データベース５０を用いて記憶されているが、対応関係が保持される方式であれば、いかなるデータ構造で記憶されていてもよい。例えば、測定結果ファイルのファイル名と、測定条件ファイルのファイル名とを対応づけるルックアップテーブルを設けてもよいし、測定結果ファイル内に、測定条件を記録して、測定条件・測定結果を1つのファイルとして保存してもよい。
【００２２】
データベース５０は検索機能を有し、入力インターフェース１８を用いてユーザが入力する測定条件に合致する測定結果ファイル名を抽出可能である。すなわち、ユーザは、検索キーとして、測定番号や電源電圧の大きさなど、測定条件の一部を入力インターフェース１８から中央制御部２０を介してデータベース５０に入力可能であり、かかる測定条件にて測定された測定結果ファイル名を、すべて抽出可能である。
【００２３】
このようにデータベース５０にて抽出されたファイル名は、測定ツール４２Ａ、４２Ｂへ返信され、測定ツール４２Ａ、４２Ｂは、得られたファイル名を有する測定結果ファイルを参照し、それらのなかからユーザに選択されたファイル名を有する測定ファイルの内容を表示部２４に表示する。これにより、ユーザは、所望の測定条件を共通に有する測定結果ファイル名を一覧の形で、表示部２４にて確認でき、さらにそれらのファイル名を入力インターフェース１８を用いて自由に選択することによって、選択したファイルの内容を、表示部２４に表示可能である。
【００２４】
このように、本発明によれば、ユーザは、所望の測定結果を参照したいときに、測定条件を検索キーとして入力することによって、迅速に測定結果ファイルを参照することができる。例えば、「テスト１０００番の、電源電圧を３．５Ｖでテストしたときのシュムーデータ」などの内容を検索キーとして入力可能である。そして、かかる測定条件に合致している測定結果ファイルがすべて抽出できる。さらに、時刻等の検索キーを用いて、さらに絞り込んだ抽出もできる。
【００２５】
以上のように、測定条件（テスト仕様）の一部を入力するだけで、その測定条件を共通に有するすべての測定結果ファイルの内容を確認可能であるため、ユーザは測定結果ファイル名を覚える必要はないし、測定条件を完全に覚える必要もない。かかる検索機能は、テストプログラムのデバッグを行ううえで、迅速なテスト結果の参照に寄与し、デバッグ作業の一層の効率化が図られる。
【００２６】
また、表示部２４手段には、抽出されたファイル名を有する測定結果ファイルの内容とともに、検索キーとして入力された測定条件を表示してもよい。これによりユーザは、測定条件と、その測定条件下で得られた測定結果ファイルの内容とを対比して参照可能である。かかる表示機能も、テストプログラムのデバッグ作業の効率化に大きく寄与する。
【００２７】
さらに、アプリケーションエンジニアは、測定ツールやテストプログラムなどを製品として納入する顧客に対して、得られた様々な測定条件・測定結果を、レポートとして提出する必要があるところ、本発明にて表示された測定条件と測定データとをプリントアウトすることにより、そのままレポートとして使用できる。
【００２８】
なお、本実施形態では、測定結果ファイル名と、測定条件とをデータベースに一対一に対応させて記憶しているが、測定条件は、測定結果ファイル内に記憶してもよい。その場合は、測定結果ファイルの、例えばヘッダ部分に、測定条件を記憶してよい。この場合、データベースなどの検索機能を有するツールにより、測定結果ファイルの内容を検索することにより、所望の測定条件を有する測定結果ファイルを抽出することが可能である。
【００２９】
図３は本発明の実施形態との比較例を表すブロック図であり、図２の本体１２に対比される図である。図３において、図２と共通する要素は、同一の参照符号によって表示している。図３に示す本体６０は、記憶部２２に、図２に示すデータベース５０がない点で、本発明の実施形態における本体１２と異なる。かかる本体６０を使用する場合、ユーザは、測定結果ファイル名を頼りに測定結果を探索する必要があるため、測定結果ファイル名を、あらかじめ、測定条件の一部を用いて記述するか、あるいは、測定時にメモをとるなどして、測定条件と測定結果ファイル名との対応関係を把握しておく必要がある。このように、図３に示す比較例では、ユーザは、所望の測定結果ファイルを探索するのに時間がかかるし、測定時にメモをとるなどの作業も必要となるため、図２に示す本発明の実施形態と比較すると、テストプログラムのデバッグ作業が著しく非効率となってしまう。
【００３０】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【産業上の利用可能性】
【００３１】
本発明は、テストプログラムに基づいて被検査デバイスを測定した測定結果を、テストプログラムのデバッグに利用するＩＣテストシステムに適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明によるＩＣテストシステムの実施形態の全体構成を示すブロック図である。
【図２】図１の本体の詳細を示すブロック図である。
【図３】図２に示す本発明の実施形態との比較例を表すブロック図である。
【符号の説明】
【００３３】
１０  ＩＣテストシステム
１２  本体
１８  入力インターフェース
２０  中央制御部
２２  記憶部
２４  表示部
４０Ａ、４０Ｂ  テストプログラム
４２Ａ、４２Ｂ  測定ツール
４４Ａ、４４Ｂ  測定結果ファイル
４６Ａ、４６Ｂ  測定結果ファイル名
４８Ａ、４８Ｂ  測定条件
５０  データベース
【図１】
2008122213.tif 000003
【図２】
2008122213.tif 000004
【図３】
2008122213.tif 000005