(57)【要約】【課題】導通検知ピンや半嵌合検知ピンを折損させることなく、導通検知と半嵌合検知を確実に行えるようにする。【解決手段】導通検査装置にセットされ、該導通検査装置から突出する導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンが、ヒューズ、リレーあるいは／およびコネクタの各収容部内に挿入され、該収容部内の端子の導通検査と嵌合検査とがなされる電気接続箱において、前記収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも２個のガイド穴が間隔をあけて設けられ、前記導通検査装置の検知ピンが各収容部に挿入される前に、前記検知ピンより更に突出した導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入され、導通検査装置に対して位置決めされてセットされる構成としている。【選択図】図１
2008077932.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導通検査装置にセットされ、該導通検査装置から突出する導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンが、ヒューズ、リレーあるいは／およびコネクタの各収容部内に挿入され、該収容部内の端子の導通検査と嵌合検査とがなされる電気接続箱において、
前記収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも２個のガイド穴が間隔をあけて設けられ、
前記導通検査装置の検知ピンが各収容部に挿入される前に、前記検知ピンより更に突出した導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入され、導通検査装置に対して位置決めされてセットされる構成としていることを特徴とする電気接続箱。
【請求項２】
前記各収容部の周壁には、前記端子の先端面と接触させる前記導通検知ピンをガイドする円弧状の切欠きが設けられ、前記端子が前記収容部内の正規位置に固定されている場合には前記切欠きによってガイドされる前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達して導通を検知でき、前記端子が前記収容部内の正規位置に固定されていない場合には前記切欠きによってガイドされる前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達せず、導通を検知できない構成としている請求項１に記載の電気接続箱。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気接続箱に関するものであり、詳しくは、電気接続箱のヒューズ等の収容部内に底壁から突出させている端子の導通検査および、該端子を位置決め保持するランスとの嵌合検査を導通検査装置から突出する検知ピンを前記収容部内に挿入することによって行う際、前記検知ピンを折損させることなく、導通検知と半嵌合検知を確実に行えるようにするものである。
【背景技術】
【０００２】
電気接続箱の製造工程において、内部結線に短絡、断線、配線違い等の不具合がないかを確認するため導通検査を実施している。前記導通検査方法としては、例えば、図７、図８に示すように、検知ピン１ａを保持板１ｂに所要ピッチをあけて複数取り付けた導通検知装置１に前記電気接続箱をセットし、前記検知ピン１ａを電気接続箱のヒューズ収容部２内に上方より一括挿入して、前記検知ピン１ａを前記ヒューズ収容部２の下側から挿入固定された相手方端子３に接触させることにより導通検査を行っている（特開２００５−３２６２７１号公報参照）。
【０００３】
また、電気接続箱のヒューズ収容部内にワイヤハーネスの電線端末の端子を挿入し、該ヒューズ収容部に装着されるヒューズの端子と接続させる場合には、図９に示すように、ヒューズ収容部２に一体的に設けられた樹脂ランス２ａの係止凹部２ａ−１に、挿入された電線端末の端子３の金属ランス３ａ側部の係止凸部３ａ−１を係止させ、前記端子３と樹脂ランス２ａとを嵌合させることによって、前記端子３を収容部２内の正規位置に固定している。
リレーやコネクタ収容部に挿入する電線端末の端子も同様に樹脂ランスで位置決め保持している。
【０００４】
したがって、電気接続箱のヒューズ等の収容部内に端子を樹脂ランスによって位置決め保持している場合には、従来より、前記導通検査と共に、前記樹脂ランスと端子との嵌合不良（半嵌合）を検知するための嵌合検査を行っており、図１０に示すような導通検知ピン１ａ−１と半嵌合検知ピン１ａ−２からなる検知ピン１ａを複数取り付けた導電検査装置１を用いている。
図１１に示すように、端子３と樹脂ランス２ａとが半嵌合状態で、樹脂ランス２ａが内側に倒れ込んでいる場合には、ヒューズ収容部２に上方から挿入された半嵌合検知ピン１ａ−２が内側に倒れ込んだ樹脂ランス２ａに当接することによって、半嵌合が検知される。また、半嵌合検知ピン１ａ−２が２本の樹脂ランス２ａ間の隙間に入っていくことができないため、導通検知ピン１ａ−１は金属ランス３ａ上面３ａ−２まで到達することができず、導通検知は不可能となる。
【０００５】
一方、図１２に示すように、端子３の金属ランス３ａの係止凸部３ａ−１が樹脂ランス２ａの係止凹部２ａ−１に係止し、端子３と樹脂ランス２ａとが嵌合状態にある場合には、樹脂ランス２ａは内側へ倒れることなくまっすぐな姿勢が保たれているため、上方から挿入された半嵌合検知ピン１ａ−２は２本の樹脂ランス２ａ間の隙間に入っていき、その結果、導通検知ピン１ａ−１が端子３の金属ランス３ａ上面３ａ−２に当接して導通検知が可能となる。
即ち、導通検知ピン１ａ−１によって導通が検知されれば、端子３と樹脂ランス２ａとが嵌合状態にあると判断される。
【０００６】
一方、検知ピン１ａを構成する２本のピン（導通検知ピン１ａ−１と半嵌合検知ピン１ａ−２）を複数組突出させた導通検査装置に電気接続箱をセットする際には、図１３に示すように、導通検査装置１の内壁面１ｂに電気接続箱４の外壁面４ａを沿わせながら、作業者の手作業によって電気接続箱４を矢印Ａ方向に挿入していき、電気接続箱４が導通検査装置１の奥まで完全に挿入されたときに導通検査装置１の両側に設けられた扉１ｃが内側に閉まるようになっている。
しかしながら、前記したように、導通検査装置１への電気接続箱４のセットは手作業によって行うため、セット時に電気接続箱が斜め方向に挿入される場合がある。このような場合、導通検査装置１より突出させた導通検知ピン１ａ−１や半嵌合検知ピン１ａ−２がヒューズ等の収容部２に斜め方向に挿入されて折損するおそれがある。特に、導通検査装置１より突出させる導通検知ピン１ａ−１や半嵌合検知ピン１ａ−２の本数が多くなるほど前記検知ピンが折損しやすくなるため、変形した場合には、結果的に正確な嵌合検査や導通検査ができなくなるという問題がある。
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−３２６２７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は前記問題に鑑みてなされたものであり、検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンを突出させた導通検知装置に電気接続箱をセットし、前記導通検知ピンおよび半嵌合検知ピンを電気接続箱のヒューズ等の収容部に上方より挿入させて、前記収容部に挿入固定される端子の導通検査および嵌合検査を行う際に、前記導通検知ピンや半嵌合検知ピンを折損させることなく、半嵌合検知および導通検知を確実に行える電気接続箱を提供することを課題としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するため、本発明は、導通検査装置にセットされ、該導通検査装置から突出する導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンが、ヒューズ、リレーあるいは／およびコネクタの各収容部内に挿入され、該収容部内の端子の導通検査と嵌合検査とがなされる電気接続箱において、
前記収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも２個のガイド穴が間隔をあけて設けられ、
前記導通検査装置の検知ピンが各収容部に挿入される前に、前記検知ピンより更に突出した導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入され、導通検査装置に対して位置決めされてセットされる構成としていることを特徴とする電気接続箱を提供している。
【００１０】
前記のように、電気接続箱の前記各収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも２個のガイド穴を設けて、導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンより更に突出させた導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入されることで、導通検査装置に対して電気接続箱が位置決めされてセットされる構成としている。即ち、前記ガイドピンが前記ガイド穴を貫通したときにすべての検知ピンが前記各収容部の正規挿入位置に挿入されるように、前記ガイド穴をケースの表面壁に少なくとも２つ穿設しておくことにより、前記ガイドピンをガイド穴に挿入、貫通させるだけで、すべての検知ピンは斜め挿入されることなく、前記各収容部の正規挿入位置に挿入されることとなる。このように、電気接続箱が導通検査装置に対して位置決めされてセットされるため、検知ピンの折損を効果的に防止して、半嵌合検知および導通検知を確実に行なうことができる。
【００１１】
前記ガイド穴に貫通される導通検査装置のガイドピンの突出量としては、前記導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンが前記各収容部に挿入される際に、既にガイド穴を貫通している程度の長さとしている。
【００１２】
ケースの表面壁に穿設される前記ガイド穴の大きさは、ガイドピンのスムーズな貫通を可能としながら、貫通によってガタが生じず検知ピンの挿入位置がおのずと決定される程度のクリアランスを有していることが好ましい。
また、前記ガイド穴はケース表面壁の離れた位置で、電気接続箱側の配線に影響がない空きスペースに少なくとも２つ設け、これらガイド穴にガイドピンを挿入すると、導通検査装置と電気接続箱とが互いに正規位置にセットできるようにしている。
なお、ガイド穴の個数は２個とすることが好ましい。
【００１３】
また、前記各収容部の周壁には、前記端子の先端面と接触させる前記導通検知ピンをガイドする円弧状の切欠きが設けられ、前記端子が前記収容部内の正規位置に固定されている場合には前記切欠きによってガイドされる前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達して導通を検知でき、前記端子が前記収容部内の正規位置に固定されていない場合には前記切欠きによってガイドされる前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達せず、導通を検知できない構成としていることが好ましい。
【００１４】
前記したように、従来においては、導通検知ピン１ａ−１は端子３の金属ランス３ａに当接することで導通を検知できるようにしていたので、図１４に示すように、端子３と樹脂ランス２ａとが正規位置で嵌合せず、樹脂ランス２ａの係止凹部２ａ−１の下部に端子３の金属ランス３ａが引っ掛かった状態であっても、樹脂ランス２ａが内側に大きく倒れない程度の端子の傾きであると、半嵌合検知ピン１ａ−２は２本の樹脂ランス２ａ間の隙間に入り込み、導通検知ピン１ａ−１は、本来導通をチェックすべき金属ランス３ａではなく、端子３の若干の傾きによって端子３そのものの側面３ｂに接触して導通が検知されてしまう場合があった。即ち、端子３と樹脂ランス２ａとが半嵌合状態であるにもかかわらず、嵌合、導通検査で合格と判断されてしまうおそれがあった。
【００１５】
そこで、前記のように、各収容部の周壁に、導通検知ピンをガイドする円弧状の切欠きを設け、該切欠きによってガイドされる導通検知ピンが端子の先端面で導通検知できるようにすることにより、端子の金属ランスが樹脂ランスの係止凹部の下部に位置する半嵌合状態の端子では、その先端面に導通検知ピンが到達することはなく、また、導通検知ピンが端子側面に接触することもないので、導通が検知されることはない。したがって、半嵌合であるにもかかわらず、誤って合格と判断されることを防止することができる。即ち、前記構成により、端子が正規位置に固定されている場合のみ、前記切欠きによってガイドされた前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達して導通検知が可能となる。
【発明の効果】
【００１６】
前述したように、本発明によれば、電気接続箱の前記各収容部が設けられたケースの表面壁に、少なくとも２個のガイド穴を設けて、導通検知ピンと半嵌合検知ピンとからなる検知ピンより更に突出させた導通検査装置のガイドピンが前記ガイド穴に挿入されるようにすることにより、前記ガイドピンをガイド穴に挿入、貫通させるだけで、すべての検知ピンは斜め挿入されることなく、前記各収容部の正規位置に挿入されることとなり、検知ピンの折損を効果的に防止して、導通検知、半嵌合検知を確実に行なうことができる。
【００１７】
また、前記のように、各収容部の周壁に、導通検知ピンをガイドする円弧状の切欠きを設け、該切欠きによってガイドされる導通検知ピンが端子の先端面で導通検知できるようにすることにより、端子の金属ランスが樹脂ランスの係止凹部の下部に位置する半嵌合状態の端子では、その先端面に導通検知ピンが到達することはなく、また、導通検知ピンが端子側面に接触することもないので、導通が検知されることはない。したがって、半嵌合であるにもかかわらず、誤って合格と判断されることを防止することができる。即ち、前記構成により、端子が収容部内の正規位置に固定されている場合にのみ、前記切欠きによってガイドされた前記導通検知ピンが前記端子の先端面まで到達して導通検知が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
図１乃至図６は、本発明の実施形態を示している。図１に示すように、電気接続箱１０のケース１１上面壁１１ａに、ヒューズ収容部１２、リレー収容部１３、コネクタ収容部１４を設け、これらの収容部１２、１３、１４にヒューズ、リレー、コネクタ（図示せず）を装着する。これらの収容部１２、１３、１４のうち、ヒューズ収容部１２内に、ケース１１内部に収容されたワイヤハーネスの電線端末の端子１５を下側から挿入固定し、装着されるヒューズの端子と接続する。端子１５は、図２に示すように、ヒューズ収容部１２に一体的に設けられた樹脂ランス１２ａの係止凹部１２ａ−１に端子１５の金属ランス１５ａの係止凸部１５ａ−１を係止させることにより、樹脂ランス１２ａと嵌合している。
【００１９】
前記のようにして、ヒューズ収容部１２内に挿入され該収容部１２内に嵌合固定される端子１５の嵌合検査および導通検査は、図３に示すように、導通検査装置２０に電気接続箱１０をセットして行う。導通検査装置２０には、嵌合・導通検査をする必要のあるヒューズ収容部１２内の端子の数と同数の検知ピン２１を突出させている。
【００２０】
前記検知ピン２１は、図４に示すように、導通検知ピン２１ａと半嵌合検知ピン２１ｂとから構成される。さらに、導通検査装置２０には前記検知ピン２１より更に突出した２本のガイドピン２２、２３を設けている。
【００２１】
電気接続箱１０のケース１１の上面壁１１ａには、図１に示すように、離れた位置の空きスペースに前記ガイドピン２２、２３を挿入させる２個のガイド穴１６、１７を設けている。ガイド穴１６、１７は、ガイドピン２２、２３をガイド穴１６、１７にそれぞれ挿入させたときに各検知ピン２１が各ヒューズ収容部１２の正規位置に挿入されるように穿設しており、検知ピン２１がヒューズ収容部１２内に挿入されるときにはガイドピン２２、２３がガイド穴１６、１７を貫通した状態となっている。また、本実施形態においては、ガイド穴１６、１７のガイドピン２２、２３外周面とのクリアランスを０．２ｍｍとしている。
【００２２】
さらに、図５および図６に示すように、各ヒューズ収容部１２の周壁の内面には、円弧状の切欠き１８を先端側より設け、前記端子１５の先端面１５ｂと接触させる導通検知ピン２１ａの外周面と摺接させてガイドするようにしている。
なお、ヒューズ収容部１２内の入力側と出力側の端子を同時に導通および半嵌合検査する場合には、前記切欠き１８は周壁の対称位置に２個設けている。
【００２３】
以下、ヒューズ収容部１２内に固定された端子１５の嵌合検査および導通検査について説明する。
まず、図３に示すように電気接続箱１０を矢印Ａ方向に移動させて、導電検査装置２０にセットするために、ガイドピン２２をガイド穴１６に、ガイドピン２３をガイド穴１７にそれぞれ挿入、貫通させる。これにより、各検知ピン２１が各ヒューズ収容部１２の正規挿入位置に挿入され、電気接続箱１０が導通検査装置２０に位置決めセットされる。
このとき、導通検知ピン２１ａは切欠き１８に接触しながらヒューズ収容部１２内に挿入される。
【００２４】
このようにして、端子１５の金属ランス１５ａの係止凸部１５ａ−１が樹脂ランス１２ａの係止凹部１２ａ−１に係止して、端子１５と樹脂ランス１２ａとが正規位置で嵌合している場合にのみ、半嵌合検知ピン２１ｂが２本の樹脂ランス１２ａ間の隙間に入り込むと共に、導通検知ピン２１ａが端子１５の先端面１５ｂに到達し、導通検知が可能となる。
【００２５】
前記のように、電気接続箱１０のヒューズ収容部１２が設けられたケース１１の表面壁に、少なくとも２個のガイド穴１６、１７を設けて、導通検知ピン２１ａと半嵌合検知ピン２１ｂとからなる検知ピン２１より更に突出させた導通検査装置２０のガイドピン２２、２３が前記ガイド穴１６、１７に挿入されるようにすることにより、ガイドピン２２、２３をガイド穴１６、１７に挿入、貫通させるだけで、すべての検知ピン２１（２１ａ、２１ｂ）は斜め挿入されることなく、各ヒューズ収容部１２の正規挿入位置に挿入されることとなり、検知ピン２１（２１ａ、２１ｂ）の折損を効果的に防止して、半嵌合検知、導通検知を確実に行なうことができる。
【００２６】
また、前記のように、各ヒューズ収容部１２の周壁に、導通検知ピン２１ａをガイドする円弧状の切欠き１８を設け、該切欠き１８によってガイドされる導通検知ピン２１ａが端子１５の先端面１５ｂで導通検知できるようにすることにより、端子１５の金属ランス１５ａが樹脂ランス１２ａの係止凹部１２ａ−１の下部に位置する半嵌合状態の端子１５では、その先端面１５ｂに導通検知ピン２１ａが到達することはなく、また、導通検知ピン２１ａが端子１５側面に接触することもないので、導通が検知されることがない。したがって、半嵌合であるにもかかわらず、誤って合格と判断されることを防止することができる。即ち、前記構成により、端子１５が収容部１２内の正規位置に固定されている場合にのみ、前記切欠き１８によってガイドされた導通検知ピン２１ａが端子１５の先端面１５ｂまで到達して導通検知が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本実施形態における電気接続箱を示す概略平面図である。
【図２】ヒューズ収容部内の端子とランスの嵌合状態を示す図である。
【図３】導通検査装置に電気接続箱をセットする過程を示す概略図である。
【図４】検知ピンの拡大図である。
【図５】ヒューズ収容部内に検知ピンが挿入している状態を示す図である。
【図６】ヒューズ収容部の平面図である。
【図７】従来例を示す図である。
【図８】従来例を示す図である。
【図９】従来例を示す図である。
【図１０】従来例を示す図である。
【図１１】従来例を示す図である。
【図１２】従来例を示す図である。
【図１３】従来例を示す図である。
【図１４】従来例を示す図である。
【符号の説明】
【００２８】
１０  電気接続箱
１１  ケース
１２  ヒューズ収容部
１２ａ  樹脂ランス
１２ａ−１  係止凹部
１３  リレー収容部
１４  コネクタ収容部
１５  端子
１５ａ  金属ランス
１５ａ−１  係止凸部
１５ｂ  先端面
１６、１７  ガイド穴
１８  切欠き
２０  導通検査装置
２１  検知ピン
２１ａ  導通検知ピン
２１ｂ  半嵌合検知ピン
２２、２３  ガイドピン
【図１】
2008077932.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2008077932.tif 000010
【図９】
2008077932.tif 000011
【図１０】
2008077932.tif 000012
【図１１】
2008077932.tif 000013
【図１２】
2008077932.tif 000014
【図１３】
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【図１４】
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