(57)【要約】【課題】ＡＣ信号の測定によるＡＣ検査をＤＣ信号の測定によるＤＣ検査に置き換えることにより、回路特性の検査時間を従来よりも短縮することが可能なアナログフィルタ回路の検査回路を提供する。【解決手段】実動作回路の構成のフィルタ１００にＡＣ信号を供給して、その出力値を信号測定部１０５によってＡＣ測定してフィルタ１００の回路特性を求める。フィルタ１００内のｇｍアンプ１０１のゲインを保ったままの状態で、信号切替部１０６を切り替えて前記ｇｍアンプ１０１の一方の差動入力端子をＡＣ的に接地し、電圧信号源１０３で発生したＤＣ信号を前記ｇｍアンプ１０１の他方の差動入力端子に供給して、出力信号の電流値を信号測定部１０５によってｇｍアンプ１０１のｇｍ値をＤＣ的に測定する。上記の方法で求めたＡＣ測定によるフィルタ１００の回路特性とＤＣ測定によるｇｍアンプ１０１のｇｍ値とを用いて、回路特性を算出する。【選択図】図１
2008051545.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプを含むフィルタ部と、
前記ｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方をＡＣ的に接地するＡＣ接地部と、
前記ｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方に接続され、ＤＣ信号を発生するＤＣ信号発生部と、
前記フィルタ部から出力されたＤＣ信号の出力値を測定する信号測定部とを備えた
ことを特徴とするアナログフィルタ回路の検査回路。
【請求項２】
前記請求項１記載のアナログフィルタ回路の検査回路において、
さらに、前記ｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方を、前記ＡＣ接地部側と前記ｇｍアンプの出力端子側とに選択的に切り替える信号切替部を備えた
ことを特徴とするアナログフィルタ回路の検査回路。
【請求項３】
前記請求項１記載のアナログフィルタ回路の検査回路において、
前記ｇｍアンプの後段にはインピーダンス素子が備えられ、
前記ｇｍアンプと前記インピーダンス素子との接続を電気的に切断する信号切断部を備えた
ことを特徴とするアナログフィルタ回路の検査回路。
【請求項４】
前記請求項１記載のアナログフィルタ回路の検査回路において、
さらに、前記フィルタ部から出力されたＤＣ信号の電流値を電圧値に変換する電流電圧変換部を備え、
前記信号測定部は、前記電流電圧変換部で変換した電圧値を測定する
ことを特徴とするアナログフィルタ回路の検査回路。
【請求項５】
ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプが直列に多段接続されたアナログフィルタ回路の検査回路であって、
初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方に接続され、ＤＣ信号を発生するＤＣ信号発生部と、
前記初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方をＡＣ的に接地する第１のＡＣ接地部と、
初段以外の各段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち、その前段のｇｍアンプの出力端子とはインピーダンス的に切り離されている入力端子をＡＣ的に接地する第２のＡＣ接地部と、
最終段以外の各段ｇｍアンプの各々に対応し、前記各段のｇｍアンプの出力端子に接続され、各々のｇｍアンプから出力されたＤＣ信号の電流値を電圧値に変換する複数の電流電圧変換部と、
最終段のｇｍアンプから出力されたＤＣ信号の出力値を測定する信号測定部とを備えた
ことを特徴とするアナログフィルタ回路の検査回路。
【請求項６】
ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプが直列に多段接続されたアナログフィルタ回路の検査回路であって、
各段のｇｍアンプの何れか１つの前記差動入力端子のうち一方に接続され、ＤＣ信号を発生するＤＣ信号発生部と、
前記ＤＣ信号発生部と接続されたｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方をＡＣ的に接地するＡＣ接地部とを備え、
前記ＤＣ信号発生部と接続されたｇｍアンプの出力端子は、ＤＣ信号の出力値を測定する信号測定部に接続される
ことを特徴とするアナログフィルタ回路の検査回路。
【請求項７】
ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプが直列に多段接続されたアナログフィルタ回路の検査回路であって、
初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方に接続され、ＤＣ信号を発生するＤＣ信号発生部と、
前記初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方をＡＣ的に接地する第１のＡＣ接地部と、
初段以外の各段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち、その前段のｇｍアンプの出力端子とはインピーダンス的に切り離されている入力端子をＡＣ的に接地する第２のＡＣ接地部と、
前記初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方及び、初段以外のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち前段のｇｍアンプの出力端子とはインピーダンス的に切り離されている入力端子の各々に対応し、前記ＡＣ接地部側とそのｇｍアンプ自身の出力端子側とに選択的に切り替える複数の信号切替部とを備え、
前記各段のｇｍアンプの出力端子は、ＤＣ信号の出力値を測定する信号測定部に選択的に接続される
ことを特徴とするアナログフィルタ回路の検査回路。
【請求項８】
ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプが直列に多段接続されたアナログフィルタ回路の検査回路であって、
初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方に接続され、ＤＣ電圧を発生するＤＣ電圧発生部と、
各段ｇｍアンプの各々に対応し、前記各段のｇｍアンプの出力端子に接続され、各々のｇｍアンプから出力されたＤＣ信号の電流値を電圧値に変換する複数の電流電圧変換部と、
前記各段のｇｍアンプの各々に対応し、前記電流電圧変換部で変換した電圧値を各々のｇｍアンプに入力するよう、各段のｇｍアンプは前記差動入力端子のうち、前記ＤＣ電圧発生部及び前段のｇｍアンプの出力端子とはインピーダンス的に切り離されている入力端子と、各々のｇｍアンプ自身の出力端子とを接続する信号経路と、
最終段のｇｍアンプから出力されたＤＣ信号の電圧値を測定する信号測定部とを備えた
ことを特徴とするアナログフィルタ回路の検査回路。
【請求項９】
ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプを含むフィルタ部を備えたアナログフィルタ回路の検査方法であって、
前記フィルタ部のＡＣ特性をＡＣ的に測定し、
ＡＣ的に測定を行った条件で、前記ｇｍアンプのｇｍ値をＤＣ的に測定し、
前記ＡＣ的に測定した前記フィルタ部のＡＣ特性と、前記ＤＣ的に測定した前記ｇｍアンプのｇｍ値とを用いて、当該アナログフィルタ回路を構成する回路素子のうちフィルタ部以外の回路素子の素子特性を算出し、
その後、前記ｇｍアンプのｇｍ値を調整して、そのｇｍ値をＤＣ的に測定し、
当該アナログフィルタ回路の前記フィルタ部以外の回路素子の素子特性と、前記ＤＣ的に測定したｇｍアンプのｇｍ値とを用いて、前記ｇｍアンプのｇｍ値を調整した後の前記フィルタ部のＡＣ特性を算出する
ことを特徴とするアナログフィルタ回路の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、アナログフィルタ回路に関し、特に、そのアナログフィルタ回路の回路特性の検査に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、フィルタのｇｍ値を調整することによってＡＣ特性を切り替えるアナログフィルタ回路では、そのアナログフィルタ回路の周波数特性を検査する場合や、フィルタの周波数特性のキャリブレーションを行う場合に、アナログフィルタ回路にＡＣ信号を入力して、フィルタから出力されたＡＣ信号の振幅等を測定することによって、アナログフィルタ回路の特性を測定していた。
【０００３】
また、アナログフィルタ回路の回路特性の検査において、フィルタのｇｍ値を変更した際には、再度、アナログフィルタ回路にＡＣ信号を入力して、フィルタから出力されたＡＣ信号の測定を行うことによりアナログフィルタ回路の特性を検査していた。
【０００４】
上記のようなアナログフィルタ回路の特性の測定に関連する技術として、例えば特許文献１がある。
【特許文献１】特開２００５−１０１６７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、フィルタのｇｍ値を変更する毎にＡＣ信号の測定を行う場合、ＡＣ信号の測定にはＤＣ信号の測定よりも長い測定時間がかかるので、そのＡＣ信号の測定を複数回行うと、アナログフィルタ回路の特性検査に長時間を要するという課題がある。
【０００６】
本発明は、前記の課題に着目してなされたのもであり、その目的は、アナログフィルタ回路の検査において、ＡＣ信号の測定によるＡＣ検査をＤＣ信号の測定によるＤＣ検査に置き換えることにより、アナログフィルタ回路の回路特性の検査時間を従来よりも短縮することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記の目的を達成するために、本発明では、ｇｍアンプを含むフィルタ部と、信号測定部とを備えたアナログフィルタ回路において、前記ｇｍアンプの有する一対の差動入力端子のうち一方をＡＣ接地部によってＡＣ接地すると共に、前記差動入力端子のうち他方にＤＣ信号を発生するＤＣ電圧発生部を接続し、前記フィルタ部から出力されたＤＣ信号の出力値を測定することによって、アナログフィルタ回路の回路特性を検査する構成を採用する。
【０００８】
具体的に、請求項１記載の発明のアナログフィルタ回路の検査回路は、ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプを含むフィルタ部と、前記ｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方をＡＣ的に接地するＡＣ接地部と、前記ｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方に接続され、ＤＣ信号を発生するＤＣ信号発生部と、前記フィルタ部から出力されたＤＣ信号の出力値を測定する信号測定部とを備えたことを特徴とする。
【０００９】
請求項２記載の発明は、前記請求項１記載のアナログフィルタ回路の検査回路において、さらに、前記ｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方を、前記ＡＣ接地部側と前記ｇｍアンプの出力端子側とに選択的に切り替える信号切替部を備えたことを特徴とする。
【００１０】
請求項３記載の発明は、前記請求項１記載のアナログフィルタ回路の検査回路において、前記ｇｍアンプの後段にはインピーダンス素子が備えられ、前記ｇｍアンプと前記インピーダンス素子との接続を電気的に切断する信号切断部を備えたことを特徴とする。
【００１１】
請求項４記載の発明は、前記請求項１記載のアナログフィルタ回路の検査回路において、さらに、前記フィルタ部から出力されたＤＣ信号の電流値を電圧値に変換する電流電圧変換部を備え、前記信号測定部は、前記電流電圧変換部で変換した電圧値を測定することを特徴とする。
【００１２】
請求項５記載の発明のアナログフィルタ回路の検査回路は、ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプが直列に多段接続されたアナログフィルタ回路の検査回路であって、初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方に接続され、ＤＣ信号を発生するＤＣ信号発生部と、前記初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方をＡＣ的に接地する第１のＡＣ接地部と、初段以外の各段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち、その前段のｇｍアンプの出力端子とはインピーダンス的に切り離されている入力端子をＡＣ的に接地する第２のＡＣ接地部と、最終段以外の各段ｇｍアンプの各々に対応し、前記各段のｇｍアンプの出力端子に接続され、各々のｇｍアンプから出力されたＤＣ信号の電流値を電圧値に変換する複数の電流電圧変換部と、最終段のｇｍアンプから出力されたＤＣ信号の出力値を測定する信号測定部とを備えたことを特徴とする。
【００１３】
請求項６記載の発明のアナログフィルタ回路の検査回路は、ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプが直列に多段接続されたアナログフィルタ回路の検査回路であって、各段のｇｍアンプの何れか１つの前記差動入力端子のうち一方に接続され、ＤＣ信号を発生するＤＣ信号発生部と、前記ＤＣ信号発生部と接続されたｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方をＡＣ的に接地するＡＣ接地部とを備え、前記ＤＣ信号発生部と接続されたｇｍアンプの出力端子は、ＤＣ信号の出力値を測定する信号測定部に接続されることを特徴とする。
【００１４】
請求項７記載の発明のアナログフィルタ回路の検査回路は、ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプが直列に多段接続されたアナログフィルタ回路の検査回路であって、初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方に接続され、ＤＣ信号を発生するＤＣ信号発生部と、前記初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方をＡＣ的に接地する第１のＡＣ接地部と、初段以外の各段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち、その前段のｇｍアンプの出力端子とはインピーダンス的に切り離されている入力端子をＡＣ的に接地する第２のＡＣ接地部と、前記初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち他方及び、初段以外のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち前段のｇｍアンプの出力端子とはインピーダンス的に切り離されている入力端子の各々に対応し、前記ＡＣ接地部側とそのｇｍアンプ自身の出力端子側とに選択的に切り替える複数の信号切替部とを備え、前記各段のｇｍアンプの出力端子は、ＤＣ信号の出力値を測定する信号測定部に選択的に接続されることを特徴とする。
【００１５】
請求項８記載の発明のアナログフィルタ回路の検査回路は、ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプが直列に多段接続されたアナログフィルタ回路の検査回路であって、初段のｇｍアンプの前記差動入力端子のうち一方に接続され、ＤＣ電圧を発生するＤＣ電圧発生部と、各段ｇｍアンプの各々に対応し、前記各段のｇｍアンプの出力端子に接続され、各々のｇｍアンプから出力されたＤＣ信号の電流値を電圧値に変換する複数の電流電圧変換部と、前記各段のｇｍアンプの各々に対応し、前記電流電圧変換部で変換した電圧値を各々のｇｍアンプに入力するよう、各段のｇｍアンプは前記差動入力端子のうち、前記ＤＣ電圧発生部及び前段のｇｍアンプの出力端子とはインピーダンス的に切り離されている入力端子と、各々のｇｍアンプ自身の出力端子とを接続する信号経路と、最終段のｇｍアンプから出力されたＤＣ信号の電圧値を測定する信号測定部とを備えたことを特徴とする。
【００１６】
請求項９記載の発明のアナログフィルタ回路の検査方法は、ｇｍ値が調整可能であり且つ一対の差動入力端子を有するｇｍアンプを含むフィルタ部を備えたアナログフィルタ回路の検査方法であって、前記フィルタ部のＡＣ特性をＡＣ的に測定し、ＡＣ的に測定を行った条件で、前記ｇｍアンプのｇｍ値をＤＣ的に測定し、前記ＡＣ的に測定した前記フィルタ部のＡＣ特性と、前記ＤＣ的に測定した前記ｇｍアンプのｇｍ値とを用いて、当該アナログフィルタ回路を構成する回路素子のうちフィルタ部以外の回路素子の素子特性を算出し、その後、前記ｇｍアンプのｇｍ値を調整して、そのｇｍ値をＤＣ的に測定し、当該アナログフィルタ回路の前記フィルタ部以外の回路素子の素子特性と、前記ＤＣ的に測定したｇｍアンプのｇｍ値とを用いて、前記ｇｍアンプのｇｍ値を調整した後の前記フィルタ部のＡＣ特性を算出することを特徴とする。
【００１７】
以上により、請求項１〜４記載の発明では、フィルタ部の差動入力端子の一方をＡＣ接地すると共に、前記フィルタ部の差動入力端子の他方にＤＣ信号を供給することによって、前記フィルタ部から出力される出力信号の出力値をＤＣ的に測定することが可能となる。
【００１８】
また、請求項５〜８記載の発明では、ｇｍアンプ直列に多段接続されている場合であっても、ＤＣ信号を用いたＤＣ検査を行うことが可能となる。
【００１９】
また、請求項９記載の発明では、複数回のＡＣ検査を、一度のＡＣ検査及び複数回のＤＣ検査に置き換えることが可能となる。
【発明の効果】
【００２０】
以上説明したように、請求項１〜４記載の発明のアナログフィルタ回路の検査回路によれば、ＤＣ信号を用いてフィルタ部の出力値をＤＣ的に測定するので、アナログフィルタ回路の回路特性の検査時間を従来よりも短縮することが可能となる。
【００２１】
また、請求項４〜８記載の発明のアナログフィルタ回路の検査回路によれば、ｇｍアンプが多段接続されている場合であっても、ＤＣ検査を行うことが可能であるので、ｇｍアンプが多段接続されているアナログフィルタ回路の回路特性の検査時間を従来よりも短縮することできる。
【００２２】
また、請求項９記載のアナログフィルタ回路の検査方法によれば、長い測定時間を要するＡＣ検査を、そのＡＣ検査よりも短い測定時間のＤＣ検査に置き換えるので、アナログフィルタ回路の回路特性の検査時間を従来よりも短縮することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路を図面に基づいて説明する。尚、以下の実施形態の記載は本質的に例示に過ぎず、本発明、その適用物又は用途を制限することは何ら意図されていない。
【００２４】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路の全体構成のブロック図を示す。
【００２５】
同図において、アナログフィルタ回路の検査回路は、フィルタ（フィルタ部）１００と、電圧信号源（ＤＣ信号発生部）１０３と、直流電圧源１０４と、信号測定部１０５と、信号切替部１０６とを備える。また、前記フィルタ１００の内部には、ｇｍアンプ１０１と、コンデンサ（インピーダンス素子）１０２とを備える。
【００２６】
フィルタ１００は、その内部に備えたｇｍアンプ１０１のｇｍ値（トランスコンダクタンス値）を調整することによってＡＣ特性を切り替えることが可能である。前記ｇｍアンプ１０１は一対の差動入力端子を有し、その一方（−端子）は前記信号切替部１０６及び前記直流電圧源１０４を介して接地されており、この接続関係により、前記ｇｍアンプ１０１の−端子をＡＣ的に接地するＡＣ接地部１０７を構成する。前記フィルタ１００の実動作回路は、前記信号切替部１０６によって、前記ｇｍアンプ１０１の出力信号をそのｇｍアンプ１０１の−端子にフィードバックすることによって実現される。
【００２７】
アナログフィルタ回路の検査回路における回路特性の検査手順について、以下に説明する。
【００２８】
まず、信号切替部１０６によって、フィルタ１００を実動作回路の構成、つまり、前記ｇｍアンプ１０１の出力端子とそのｇｍアンプ１０１の一方の差動入力端子（−端子）とを接続する。そして、電圧信号源１０３で発生したＡＣ信号を前記ｇｍアンプ１０１の他方の差動入力端子（＋端子）に供給し、前記フィルタ１００から出力されたＡＣ信号の振幅等を信号測定部１０５によって測定してフィルタ１００の回路特性を求める。
【００２９】
次に、前記ｇｍアンプ１０１のゲインを保ったままの状態で、前記信号切替部１０６を切り替えて、前記ｇｍアンプ１０１の一方の差動入力端子を直流電圧源１０４を介してＡＣ的に接地し、前記ｇｍアンプ１０１に直流電圧源１０４のＤＣバイアス電圧を加える。一方、電圧信号源１０３で発生したＤＣ信号を前記ｇｍアンプ１０１の他方の差動入力端子に供給する。この状態で、前記フィルタ１００から出力されたＤＣ信号の電流値を信号測定部１０５によって測定して、ｇｍアンプ１０１のｇｍ値をＤＣ測定する。
【００３０】
上記の方法で求めたＡＣ測定によるフィルタ１００の回路特性とＤＣ測定によるｇｍアンプ１０１のｇｍ値を用いて、コンデンサ１０２の容量値が算出できる。
【００３１】
その後、前記ｇｍアンプ１０１のｇｍ値を変更して、前記電圧信号源１０３で発生したＤＣ信号を前記ｇｍアンプ１０１の他方の差動入力端子に供給して、フィルタ１００から出力されたＤＣ信号のｇｍ値をＤＣ測定する。この処理を繰り返し行うことによって、ｇｍ値を調整した際のフィルタ１００の回路特性を求めることが可能となる。
【００３２】
上記のように、本実施形態では、実動作回路と同じ構成のフィルタ１００でＡＣ信号の処理を１度だけ行って、ＡＣ信号を用いた回路特性を求め、その後にｇｍアンプ１０１のｇｍ値を調整した際には、前記フィルタ１００でＤＣ信号の処理を行って、そのＤＣ測定の結果を用いてフィルタ１００の回路特性の検査を行うので、長い測定時間を要するＡＣ検査が１度で済み、アナログフィルタ回路の回路特性の検査時間を従来よりも短縮することが可能となる。
【００３３】
本実施形態の効果は、例えば、ｇｍ値を調整可能なｇｍアンプをｎ段備え、ＡＣ検査の検査時間がＤＣ検査の検査時間のａ倍であった場合には、最大で「｛ａ＋（ｎ−１）｝／（ｎ×ａ）」倍だけ検査時間を短縮することが可能となる。
【００３４】
尚、本実施形態では、フィルタ１００の内部にコンデンサ１０２を備え、ｇｍアンプ１０１の出力と前記コンデンサ１０２とを接続した構成としたが、コンデンサ１０２に限らず、フィルタの実動作回路を構成する実動作回路構成素子を用いてもよいのは勿論である。
【００３５】
（第２の実施形態）
図２は、本発明の第２の実施形態のアナログフィルタ回路の全体構成のブロック図を示す。
【００３６】
同図に示したアナログフィルタ回路の検査回路が第１の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路（図１）と異なる点は、信号切断部２０１を新たに設け、ｇｍアンプ１０１とコンデンサ１０２との接続の電気的に切断する点のみである。その他の構成は図１と同様であるので、その説明は省略する。
【００３７】
本実施形態において、通常動作時には、ｇｍアンプ１０１とコンデンサ１０２とが接続されて導通状態となり、前記コンデンサ１０２はフィルタ１００を構成する素子として動作する。一方、検査時には、信号切断部２０１によって前記ｇｍアンプ１０１と前記コンデンサ１０２との接続を切断して非導通状態とし、前記ｇｍアンプ１０１の出力負荷インピーダンスを無限大にする。
【００３８】
上記のように、本実施形態では、アナログフィルタ回路の検査回路における検査時に、ｇｍアンプ１０１とコンデンサ１０２との接続を切断して非導通状態とするので、前記ｇｍアンプ１０１からの出力電流の全てが信号測定部１０５に流れることとなり、ＤＣ信号によるＤＣ検査時に精度良くｇｍアンプ１０１のｇｍ値を測定することが可能となる。
【００３９】
（第３の実施形態）
図３は、本発明の第３の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路の全体構成のブロック図を示す。
【００４０】
同図に示したアナログフィルタ回路が第１の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路（図１）と異なる点は、信号切断部３０１と電流電圧変換部３０２とを新たに設けている点のみである。その他の構成は図１と同様であるので、その説明は省略する。
【００４１】
本実施形態において、通常動作時には、信号切断部３０１によって電流電圧変換部３０２を電気的に切り離し、通常動作時の回路特性に影響を与えないように非導通状態にする。
【００４２】
一方、検査時には、前記信号切断部３０１は前記電流電圧変換部３０２を導通状態にする。導通状態にすることにより、前記電流電圧変換部３０２にｇｍアンプ１０１から出力された出力電流を流し、その電流値を電圧値に変換する。変換した電圧値を信号測定部１０５によって測定して、ｇｍアンプ１０１のｇｍ値をＤＣ的に測定する。
【００４３】
上記のように、本実施形態では、ｇｍアンプ１０１の出力信号の電流値ではなく電圧値を用いて回路特性を検査するので、同一半導体上に配置されたＡ／Ｄ変換器を用いてｇｍアンプ１０１のｇｍ値をＤＣ測定することが可能であり、電流値を測定する信号測定部を別途設けることが不要となるので回路面積の増大を防ぐことができる。
【００４４】
（第４の実施形態）
図４は、本発明の第４の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路の全体構成のブロック図を示す。
【００４５】
同図において、ｇｍアンプ４０６、４０７、４０８は直列に多段接続されており、前記ｇｍアンプ４０６〜４０８の各々の一方の差動入力端子（−端子）は、信号切替部４０２、４０３によって、実動作回路への切り替えとＡＣ的に接地する切り替えとが選択的に可能である。また、前記ｇｍアンプ４０６、４０７の出力端子には、信号切断部４１０、４１１を介して電流電圧変換部４０４、４０５が接続されている。
【００４６】
本実施形態において、検査時には、前記ｇｍアンプ４０６〜４０８の各々の一方の差動入力端子をＡＣ的に接地するように信号切替部４０２、４０３を切り替えると共に、前記ｇｍアンプ４０６、４０７の出力端子と電流電圧変換部４０４、４０５とを接続する。
【００４７】
その後は、上記の第１の実施形態と同様に、電圧信号源（ＤＣ信号発生部）４０１において生成したＡＣ信号やＤＣ信号をアナログフィルタ回路の検査回路に供給して、信号測定部４０６で出力信号の出力値を測定することによって、アナログフィルタ回路の回路特性を検査する。
【００４８】
本実施形態では、上記の構成によって、信号測定部４０９において測定する電流値は、各々のｇｍアンプ４０６〜４０８のゲインの積と等しくなり、前記各々のｇｍアンプ４０６〜４０８のゲインを変更して、それらの比を計算することによって、各ｇｍアンプ４０６〜４０８のｇｍ値を調整したときのアナログフィルタ回路の回路特性を検査することが可能となる。
【００４９】
（第５の実施形態）
図５は、本発明の第５の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路の全体構成のブロック図を示す。
【００５０】
同図に示したアナログフィルタ回路の検査回路において、上記の第４の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路（図４）と同じ構成の要素には同一の符号を付して、その説明は省略する。
【００５１】
図５において、デマルチプレクサ５０１は、各々のｇｍアンプ４０６〜４０８の非反転入力端子と接続されており、前記デマルチプレクサ５０１を切り替えることによって、電圧信号源４０１で発生したＤＣ信号を前記ｇｍアンプ４０６〜４０８の何れか１つに入力する。また、マルチプレクサ５０２は、各々のｇｍアンプ４０６〜４０８の出力端子と接続されており、前記マルチプレクサ５０２を切り替えることによって、前記ｇｍアンプ４０６〜４０８の出力信号の何れか一つの信号を信号測定部４０９に入力する。
【００５２】
本実施形態において、通常動作時には、デマルチプレクサ５０１及びマルチプレクサ５０２は非導通状態、つまり電圧信号源４０１で発生した信号がｇｍアンプ４０６に入力され、ｇｍアンプ４０８の出力信号が信号測定部４０９に入力される状態にする。また、信号切替部４０２、４０３は、アナログフィルタ回路が実動作回路を構成するように切り替えて接続する。
【００５３】
一方、検査時には、信号切替部４０２、４０３によって各々のｇｍアンプ４０６〜４０８の反転入力端子がＡＣ接地するように接続し、デマルチプレクサ５０１によって電圧信号源４０１で発生したＤＣ信号をｇｍアンプ４０６〜４０８のうちの測定対象のｇｍアンプの非反転入力に印可する。このとき、マルチプレクサ５０２は、前記デマルチプレクサ５０１におけるｇｍアンプの切り替えに対応して、ＤＣ信号が入力されるｇｍアンプからの出力信号を信号測定部４０９に入力するように切り替える。
【００５４】
上記のように、本実施形態では、デマルチプレクサ５０１及びマルチプレクサ５０２を用いて電圧信号源４０１、ｇｍアンプ４０６〜４０８、及び信号測定部４０９の接続を切り替えてＤＣ検査を行うので、多段のｇｍアンプが接続されている場合であっても、各々のｇｍアンプ４０６〜４０８のうち１つにＤＣ信号を入力した際のｇｍ値をＤＣ測定することが可能となる。
【００５５】
尚、本実施形態において、検査時に、ｇｍアンプの非反転入力端子の接続と反転入力端子の接続とが逆であった場合でも、上記と同様に各ｇｍアンプのｇｍ値を測定することが可能である。
【００５６】
（第６の実施形態）
図６は、本発明の第６の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路の全体構成のブロック図を示す。
【００５７】
同図に示したアナログフィルタ回路の検査回路において、上記の第４及び第５の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路（図４、５）と同じ構成の要素には同一の符号を付して、その説明は省略する。
【００５８】
図６において、信号切替部６０１は、ｇｍアンプ４０７の差動入力端子のうち一方（−端子）を、前記ｇｍアンプ４０７の出力端子側と、後段のｇｍアンプ４０８の出力端子側とに選択的に切り替える。前記信号切替部６０１において、前記ｇｍアンプ４０７の出力端子側に接続を切り替えた構成が実動作回路の構成となる。
【００５９】
本実施形態において、通常動作時には、第５の実施形態と同様に、信号切替部４０２、４０３、６０１を切り替えて、実動作回路の構成になるように接続を切り替えると共に、マルチプレクサ５０２を非導通状態、つまりｇｍアンプ４０８の出力端子を信号測定部４０９に接続する状態にする。
【００６０】
一方、検査時にｇｍアンプ４０７のｇｍ値をＤＣ測定する場合には、ｇｍアンプ４０６の出力端子とそのｇｍアンプ４０６の反転入力端子とを接続するように信号切替部４０２切り替えて、前記ｇｍアンプ４０６をボルテージフォロア構成とする。ボルテージフォロア構成にすることによって、電圧信号源４０１からの入力電圧とｇｍアンプ４０６の出力電圧とがほぼ同一となり、ｇｍアンプ４０７に前記電圧信号源４０１の入力電圧を直接的に入力した構成と同等となる。この状態で、信号切替部４０３、６０１によって、前記ｇｍアンプ４０７の反転入力をＡＣ的に接地すると共に、マルチプレクサ５０２によって、前記ｇｍアンプ４０７の出力端子と信号測定部４０９とを接続して、前記ｇｍアンプ４０７のｇｍ値をＤＣ的に測定する。
【００６１】
また、ｇｍアンプ４０６のｇｍ値をＤＣ測定する場合には、マルチプレクサ５０２によって、ｇｍアンプ４０６の出力端子と信号測定部４０９とを接続するように切り替えて、前記ｇｍアンプ４０６のｇｍ値をＤＣ的に測定する。
【００６２】
さらに、ｇｍアンプ４０８のｇｍ値をＤＣ測定する場合には、信号切替部４０２、６０１によって、ｇｍアンプ４０６、４０７の反転入力端子を実動作回路の接続にして前記ｇｍアンプ４０６、４０７をボルテージフォロア構成にして、電圧信号源４０１の入力電圧をｇｍアンプ４０８の非反転入力にバッファする。また、信号切替部４０３によって、ｇｍアンプ４０８の反転入力端子をＡＣ的に接地すると共に、マルチプレクサ５０２によって、前記ｇｍアンプ４０８の出力端子と信号測定部４０９とを接続して、前記ｇｍアンプ４０８のｇｍ値をＤＣ的に測定する。
【００６３】
上記のように、本実施形態では、デマルチプレクサを用いることなく、各々のｇｍアンプ４０６〜４０８に電圧信号源４０１からの入力電圧と同等の電圧を供給することが可能であるので、より単純にアナログフィルタ回路の検査回路を設計することが可能となる。
【００６４】
（第７の実施形態）
図７は、本発明の第７の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路の全体構成のブロック図を示す。
【００６５】
同図に示したアナログフィルタ回路の検査回路において、上記の第４の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路（図４）と同じ構成の要素には同一の符号を付して、その説明は省略する。
【００６６】
図７において、７０２、７０５、７０７は電流値を電圧値に変換する電流電圧変換部であって、各々が対応するｇｍアンプ４０６〜４０８の出力信号の電流値を電圧値に変換する。前記ｇｍアンプ４０６〜４０８と前記電流電圧変換部７０２、７０５、７０７との接続は、信号切断部７０１、７０４、７０６によってその接続を電気的に切断して非導通状態をすることが可能である。
【００６７】
本実施形態において、通常動作時には、信号切替部４０２、４０３、７０３によって、ｇｍアンプ４０６〜４０８の各々の出力端子と、そのｇｍアンプ４０６〜４０８の各々の反転入力端子とを接続して実動作回路の構成にすると共に、信号切断部７０１、７０４、７０６によって、前記ｇｍアンプ４０６〜４０８の出力端子と電流電圧変換部７０２、７０５、７０７との接続を電気的に切り離す。
【００６８】
一方、検査時にｇｍアンプ４０６のｇｍ値をＤＣ的に測定する場合には、信号切替部４０２によって、前記ｇｍアンプ４０６の反転入力端子をＡＣ的に接地すると共に、前記ｇｍアンプ４０６からの出力信号の電流値を前記電流電圧変換部７０２によって電圧値に変換する。ここで、ｇｍアンプ４０７、４０８の反転入力端子と、各々の出力端子とを直接的に接続してボルテージフォロア構成とすることにより、ｇｍアンプ４０６の出力信号の電圧値をｇｍアンプ４０７、４０８によってバッファして信号測定部４０９に入力する。その後、前記信号測定部４０９において、前記ｇｍアンプ４０６の出力信号の電圧値を測定することにより、前記ｇｍアンプ４０６のｇｍ値をＤＣ的に算出する。
【００６９】
また、ｇｍアンプ４０７のｇｍ値をＤＣ的に測定する場合には、信号切替部４０２、４０３によって、ｇｍアンプ４０６、４０８の各々をボルテージフォロア構成にする。この構成によって、電圧信号源４０１の入力電圧を前記ｇｍアンプ４０６によってバッファしてｇｍアンプ４０７の非反転入力に入力することで、間接的に、前記電圧信号源４０１に入力電圧が前記ｇｍアンプ４０７に入力されるようにする。その後、前記ｇｍアンプ４０７の出力信号は電流電圧変換部７０５において、電流値が電圧値に変換される。このｇｍアンプ４０７の出力信号の電圧値は、ボルテージフォロア構成を成すｇｍアンプ４０８によってバッファされ、信号測定部４０９に供給される。前記信号測定部４０９において、前記ｇｍアンプ４０７の出力信号の電圧値を測定することで、前記ｇｍアンプ４０７のｇｍ値をＤＣ的に算出する。
【００７０】
上記のように、本実施形態では、デマルチプレクサやマルチプレクサを用いることなく、所望のｇｍアンプのｇｍ値をＤＣ的に測定して、回路特性を検査することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００７１】
以上説明したように、本発明は、ＤＣ信号を用いてフィルタの出力値をＤＣ的に測定して、回路特性の検査時間を短縮することが可能であるので、特に、アナログフィルタ回路の検査回路等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】本発明の第１の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路における全体構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路における全体構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の第３の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路における全体構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の第４の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路における全体構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の第５の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路における全体構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の第６の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路における全体構成を示すブロック図である。
【図７】本発明の第７の実施形態のアナログフィルタ回路の検査回路における全体構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００７３】
１００    フィルタ（フィルタ部）
１０１、４０６、４０７、４０８    ｇｍアンプ
１０２、４１５、４１６、４１７    コンデンサ（インピーダンス素子）
１０３、４０１    電圧信号源（ＤＣ信号発生部）
１０４    直流電圧源
１０５、４０９    信号測定部
１０６、４０２、４０３、６０１、７０３    信号切替部
１０７    ＡＣ接地部
２０１、３０１、４１０、４１１、７０１、７０４、７０６    信号切断部
３０２、４０４、４０５、７０２、７０５、７０７    電流電圧変換部
５０１    デマルチプレクサ
５０２    マルチプレクサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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