(57)【要約】      （修正有）【課題】３層以上の各記録層の記録感度変化を抑制し、記録パワーを一定範囲内にしたままでも十分な記録ができる光記録媒体。【解決手段】光記録媒体は、レーザー光入射面から最も離れた側から、Ｌ０層１６、Ｌ１層１８、Ｌ２層２０、Ｌ３層２２、Ｌ４層２４の記録層を有する５層構造であり、記録層のうちのＬ０層１６に記録する時、これよりもレーザー光入射側の全ての記録層（Ｌ1〜Ｌ４層）に記録マークを形成してから、Ｌ０層１６に記録最適パワーのレーザ光を照射した時の、Ｌ０層１６に到達するレーザー光の透過率をＴａとし、且つ、レーザー光入射側の全ての記録層に記録マークが形成されていない状態で、Ｌ０層１６に記録最適パワーのレーザー光を照射した時の、Ｌ０層１６に到達するレーザー光の透過率をＴｂとし、レーザー光入射面側からの透過率変化比Ｔｂ／Ｔａが０．９３＜Ｔｂ／Ｔａ＜１．０７となるように、各記録層の材料を選択した。【選択図】図１
2008077818.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザー光入射面から最も離れた側から順次配置された、少なくともＬ０層、Ｌ１層、Ｌ２層の３層の記録層を含み、前記各記録層には、レーザー光が照射されることにより周囲のスペース部に対して反射が変化した記録マークが形成される光記録媒体であって、
前記各記録層は、前記Ｌ０層以外のすべての記録層に記録マークを形成したときにＬ０層に到達する光の透過率をＴａとし、且つ、前記Ｌ０層以外のすべての記録層に記録マークが形成されていない状態のときにＬ０層に到達する光の透過率をＴｂとし、レーザー光入射面側からの光透過率の変化比Ｔｂ／Ｔａが０．９３＜Ｔｂ／Ｔａ＜１．０７となる材料から構成されたことを特徴とする光記録媒体。
【請求項２】
レーザー光入射面から最も離れた側から順次配置された、少なくともＬ０層、Ｌ１層、Ｌ２層の３層の記録層を含み、前記各記録層には、レーザー光が照射されることにより周囲のスペース部よりも反射が変化した記録マークが形成される光記録媒体であって、
前記各記録層は、前記Ｌ０層以外のすべての記録層に記録マークを形成したときに、Ｌ０層を記録するための最適記録パワーをＰｗａとし、且つ、前記Ｌ０層以外のすべての記録層に記録マークが形成されていない状態のときにＬ０層を記録するための最適記録パワーをＰｗｂとし、レーザー光入射面側からの最適記録パワーの変化比Ｐｗａ／Ｐｗｂが０．９３＜Ｐｗａ／Ｐｗｂ＜１．０７となる材料から構成されたことを特徴とする光記録媒体。
【請求項３】
請求項１又は２において、
前記レーザー光入射面に最も近い記録層における記録膜の材料に対して、他の記録層のうち少なくともＬ１層における記録膜の材料が異なることを特徴とする光記録媒体。
【請求項４】
請求項３において、
前記レーザー光入射面に最も近い記録層における記録膜の消衰係数が０．５以下であることを特徴とする光記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、複数の記録層を備える光記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報記録媒体として、ＣＤ（Compact  Disc）、ＤＶＤ（Digital  Versatile  Disc）
等の光記録媒体が広く利用されている。更に、近年、照射光として青色又は青紫色のレーザー光を用いることにより、従来よりも大容量の情報を記録可能とした光記録媒体が注目されている。
【０００３】
又、光記録媒体は、データの追記や書換えができないＲＯＭ（Read  Only  Memory）型、データの書換えができるＲＷ（Rewritable）型、データを１回だけ追記できるＲ（Recordable）型に大別される。
【０００４】
ＲＷ型やＲ型の光記録媒体は、記録層にレーザー光が照射されて、周囲のスペース部よりも反射率が変化した記録マークが形成されることによりデータが記録される。一般的な光記録媒体は、記録層にレーザー光が照射されて記録マークの反射率とスペース部の反射率の差をフォトデティクタが検出することでデータが再生されるようになっている。
【０００５】
このような光記録媒体は、複数の記録層を備えることで、それに応じて記録容量を増大することが可能である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
複数の記録層を備えた多層光記録媒体の場合、光入射面から最も遠い記録層以外の記録層は、照射光の一部を透過する必要があるが、本発明者等が、ｎ層（ｎは３、５）の多層光記録媒体を試作したところ、例えば、光入射面から最も遠い記録層（Ｌ０層）に情報を記録する場合、レーザー光が透過する光入射面側の記録層（Ｌ１〜Ｌｎ−１層）に、既に記録マークが形成されているか否かで、Ｌｎ-１層からＬ１層を通過して当該Ｌ０層に到達する光量の変化が、従来予想されているよりも大幅に異なることが判明した。
【０００７】
多層になればなるほど、光透過する記録層の数だけ記録前後の透過率が大きくなることは容易に想像でき、且つ、記録層の数が２層から３層、５層に増えるときに、光透過が必要な記録層は１層から２層、４層になるが、本発明者等は記録前後の透過率変化比が２倍、４倍よりも大きくなることを発見した。このために、Ｌ１層からＬｎ-１層の記録マー
クの有無によって、想像以上に各記録層の記録条件が大きく変わるため、同じ条件で記録しようとすると、十分な記録ができないという問題が判明した。
【０００８】
又、この傾向が、３層以上の記録層をもつ記録媒体において特にＬ１層を記録したときにＬ０層への透過率変化比が顕著に変わることを見出した。
【０００９】
この発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、光入射面から最も近い記録層以外の記録層に情報を記録する場合に、レーザー光が透過する光入射面側の記録層の記録の有無に関わらず、同一の記録パワー条件にしても十分に記録が出来るようにした多層光記録媒体を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明者等は、鋭意研究の結果、レーザー光入射面から最も遠い側からＬ０層、Ｌ１層、Ｌ２層の少なくとも３層の記録層を含む多層光記録媒体において、各記録層におけるレーザー光入射面側からの透過率変化値の累積値が０．９３以上１．０７以下となるように、各記録層の材料を選択することにより、各記録層における記録前後の記録感度の変動を抑制して、同一の記録パワーの条件でも十分な記録ができることを見出した。
【００１１】
即ち、以下の各実施例により上記課題を解決するものである。
【００１２】
（１）レーザー光入射面から最も離れた側から順次配置された、少なくともＬ０層、Ｌ１層、Ｌ２層の３層の記録層を含み、前記各記録層には、レーザー光が照射されることにより周囲のスペース部に対して反射が変化した記録マークが形成される光記録媒体であって、前記各記録層は、前記Ｌ０層以外のすべての記録層に記録マークを形成したときにＬ０層に到達する光の透過率をＴａとし、且つ、前記Ｌ０層以外のすべての記録層に記録マークが形成されていない状態のときにＬ０層に到達する光の透過率をＴｂとし、レーザー光入射面側からの光透過率の変化比Ｔｂ／Ｔａが０．９３＜Ｔｂ／Ｔａ＜１．０７となる材料から構成されたことを特徴とする光記録媒体。
【００１３】
（２）レーザー光入射面から最も離れた側から順次配置された、少なくともＬ０層、Ｌ１層、Ｌ２層の３層の記録層を含み、前記各記録層には、レーザー光が照射されることにより周囲のスペース部よりも反射が変化した記録マークが形成される光記録媒体であって、前記各記録層は、前記Ｌ０層以外のすべての記録層に記録マークを形成したときに、Ｌ０層を記録するための最適記録パワーをＰｗａとし、且つ、前記Ｌ０層以外のすべての記録層に記録マークが形成されていない状態のときにＬ０層を記録するための最適記録パワーをＰｗｂとし、レーザー光入射面側からの最適記録パワーの変化比Ｐｗａ／Ｐｗｂが０．９３＜Ｐｗａ／Ｐｗｂ＜１．０７となる材料から構成されたことを特徴とする光記録媒体。
【００１４】
（３）前記レーザー光入射面に最も近い記録層における記録膜の材料に対して、他の記録層のうち少なくともＬ１層における記録膜の材料が異なることを特徴とする（１）又は（２）に記載の光記録媒体。
【００１５】
（４）前記レーザー光入射面に最も近い記録層における記録膜の消衰係数が０．５以下であることを特徴とする（３）に記載の光記録媒体。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、Ｌ０層、Ｌ１層、・・・Ｌｎ−１層の記録層を有する多層光記録媒体において、Ｌ１層からＬｎ−１層に記録の有無によるＬ０層に到達する透過率変化比の累積値を７％以下にしているので、Ｌ１層からＬｎ−１層での記録の有無に関わらず、同じ記録パワーでも十分に良好な記録信号を得ることが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下本発明の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
【実施例１】
【００１８】
実施例１に係る光記録媒体１０は、基板１２上に反射膜１４を含むＬ０層１６、Ｌ１層１８、Ｌ２層２０、Ｌ３層２２、及びＬ４層２４の記録層をこの順で設けてなる５層構造となっている。
【００１９】
前記Ｌ０層１６〜Ｌ４層２４の間には各々スペーサ層１７、１９、２１、２３が配置されている。又、光記録媒体１０のレーザー光入射面側は、光透過層２６により構成されている。
【００２０】
前記基板１２は、表面にグルーブ（図示省略）が転写された厚さ１．１ｍｍのポリカーボネートからなり、Ｌ０層１６は、基板１２側に設けられた反射膜１４を含んでなり、この反射膜１４は、厚さ１００ｎｍのＡｇＰｄＣｕ合金（９８：１：１、ｍｏｌ％）から構成されている。
【００２１】
更に、Ｌ０層１６は、図１に示されるように反射膜１４及びこの上に積層された厚さ４０ｎｍのＺｎＳ・ＳｉＯ２（誘電体、８０：２０、ｍｏｌ％）／厚さ６ｎｍのＣｕ及び厚さ６ｎｍのＳｉ（記録層）／厚さ４０ｎｍのＺｎＳ・ＳｉＯ２（誘電体、８０：２０、ｍｏｌ％）から構成されている。
【００２２】
Ｌ１層１８も、Ｌ０層１６の反射膜１４を除いた部分と同様のＺｎＳ・ＳｉＯ２（８０：２０、ｍｏｌ％）／Ｃｕ／Ｓｉ／ＺｎＳ・ＳｉＯ２（８０：２０、ｍｏｌ％）からなるが、これらの厚さは、各々１１０ｎｍ、５ｎｍ、４ｎｍ、及び２７ｎｍである。
【００２３】
又、Ｌ２層２０〜Ｌ４層２４はそれぞれ、ＴｉＯ２（誘電体）／Ｂｉ−Ｇｅ−Ｏ（記録膜）／ＴｉＯ２（誘電体）から構成されている。
【００２４】
これらＴｉＯ２／Ｂｉ−Ｇｅ−Ｏ／ＴｉＯ２の、Ｌ２層２０〜Ｌ４層２４における厚さ及びＢｉ−Ｇｅ−Ｏ（記録膜）の組成は、表１に示されるようになっている。
【００２５】
【表１】
2008077818.tif 000003
【００２６】
又、スペーサ層１７、１９、２１、２３は、透光性を有するアクリル系紫外線硬化性樹脂、エポキシ系紫外線硬化性樹脂等のエネルギ基線硬化性樹脂を用いることができ、各々の厚さは、１５μｍ、２１μｍ、１３μｍ、１５μｍとした。
【００２７】
更に、光透過層２６は、厚さ４０μｍの、前記スペーサ層と同様の透光性を有するアクリル系あるいはエポキシ系紫外線硬化性樹脂等のエネルギ（図示省略）線硬化性樹脂を用いることができる。
【００２８】
なお、基板１２には、グルーブが凹凸パターンとして形成されていて、この上に形成されたＬ０層１６〜Ｌ４層２４は、基板１２と同様の凹凸パターンとなっている。
【００２９】
光記録媒体１０におけるそれぞれの記録層を積層しない状態での反射率を測定するために、それぞれのポリカーボネート基板に成膜した上に１００μｍの光透過層を塗布した光記録媒体を作製した。この光記録媒体を光ディスク評価機（ＯＤＵ−１０００、パルステック工業社製、波長＝４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．８５）にて反射率Ｒ’を評価したところ、
積層前における反射率Ｒ’は表２の右端に示されるようになっていた。
【００３０】
【表２】
2008077818.tif 000004
【００３１】
又、Ｌ４層２４の記録膜をグルーブの無い基板に成膜し、消衰係数をＥＴＡ―ＲＴ（ＳＴＥＡＧ  ＥＴＡ−Ｏｐｔｉｃｋ社製）を用いて測定したところＬ４層２４のＢｉ−Ｇｅ−Ｏ記録膜の消衰係数は０．０８であった。
【００３２】
上記のような、実施例１に係る光記録媒体１０における、対象記録層（記録・再生しようとする記録層）よりもレーザー光入射面側の全ての記録層に記録した時に、対象記録層に情報を記録し、再生時のＪｉｔｔｅｒが最小になる最適記録パワーをＰｗａとし、このときにレーザー光の入射面から対象記録層の直前まで透過する光量の割合をＴａとする。対象記録層よりもレーザー光入射面側の全ての記録層が未記録状態で、対象記録層に情報を記録したときの、再生時のＪｉｔｔｅｒが最小になる最適記録パワーをＰｗｂとし、このときにレーザー光入射面から対象記録層の直前まで透過する光量の割合をＴｂとする。
【００３３】
Ｔｂ／Ｔａは対象記録層よりもレーザー光の入射光側にあるすべての記録層に情報を記録したとき、または全く記録しなかったときの累積された透過率変化を示すことになる。一方、対象記録層よりも一つレーザー光入射面側の記録層を記録済とした際に、その記録層を通過する光の割合をＴａ’とし、対象記録層よりも一つレーザー光入射面側の記録層が未記録とした際に、その記録層を通過する光の割合をＴｂ’とすると、Ｔｂ’／Ｔａ’は対象記録層よりも一つレーザー光入射面側にある記録層のみについて情報を記録したとき、又は、対象記録層よりもレーザー光の入射面側のみについて記録層に情報を全く記録しなかったときの該記録層のみの透過率変化を示している。
【００３４】
前記表２に、各記録層におけるＰｗａ、Ｐｗｂ、Ｔｂ／Ｔａ、Ｔｂ’／Ｔａ’、Ｒ’を示す。このときのＰｗａ、Ｐｗｂは光ディスク評価機（ＯＤＵ−１０００）にて求めた。各記録層ごとに記録ストラテジーは最適化を行い、記録信号はランダム信号を用い、記録パワーは３値で行い、基底パワーは０．５ｍＷとした。
【００３５】
Ｐｗａ、Ｐｗｂを求める際の最適記録パワーの測定では、同一の記録ストラテジーを用い、中間記録パワー／記録パワーの比は、一定にして測定を行った。このときの記録および再生時の線速は４．９ｍ／ｓの条件で行った。
【００３６】
ここでＰｗａとＰｗｂの最適記録パワーの違いは記録層に到達する光量の違いによって生じている。該記録層への光の透過率が１００％としたときの最適記録パワーをＰｗとすると、Ｔｂ／Ｔａは次のことから求めることが出来る。
【００３７】
Ｐｗ＝Ｐｗａ＊Ｔａ、  Ｐｗ＝Ｐｗｂ＊Ｔｂ
Ｔｂ／Ｔａ＝Ｐｗａ／Ｐｗｂ
【００３８】
Ｌ０層におけるＴａをＴａ０、ＴｂをＴｂ０とし、ＰｗａをＰｗａ０、ＰｗｂをＰｗｂ０とすると、Ｔｂ０／Ｔａ０は、Ｔｂ０／Ｔａ０＝Ｐｗａ０／Ｐｗｂ０と示すことが出来る。同様にＬ１層におけるＴｂ１／Ｔａ１の比率はＴｂ１／Ｔａ１＝Ｐｗａ１／Ｐｗｂ１になる。５層の記録膜を持つ媒体については、Ｔａ２からＴａ４、Ｔｂ２からＴｂ４についても同様に示すことが出来る。ただし、Ｔａ４、Ｔｂ４、Ｔａ４’およびＴｂ４’については、Ｌ４層よりも光入射面側に位置する記録層が存在しないことから１（＝透過率１００％）となる。
【００３９】
また、Ｔａ０、Ｔｂ０はレーザー光の入射面からＬ０層の直前まで透過する光量の割合であることから、記録層が５層の場合は次式で示すことが出来る。このときＬ０・・Ｌ４層におけるＴａ’をＴａ０’・・Ｔａ４’とそれぞれ示し、Ｔｂ’も同様にＴｂ０’・・Ｔｂ４’と示す。
【００４０】
Ｔａ０＝Ｔａ０’＊Ｔａ１’・・＊Ｔａ４’
Ｔｂ０＝Ｔｂ０’＊Ｔｂ１’・・＊Ｔｂ４’
Ｔｂ１、Ｔａ１についても同様に、
Ｔａ１＝Ｔａ２’＊Ｔａ２’・・＊Ｔａ４’
Ｔｂ１＝Ｔｂ２’＊Ｔｂ２’・・＊Ｔｂ４’
となる。
【００４１】
Ｔｂ２からＴｂ４、Ｔａ２からＴａ４についても同様に示すことが出来る。これらの式を展開すると、
Ｔｂ０’／Ｔａ０’＝（Ｔｂ０／Ｔａ０）／（Ｔｂ１／Ｔａ１）
になり、Ｔｂ０／Ｔａ０および、Ｔｂ１／Ｔａ１は、それぞれＰｗａ０／Ｐｗｂ０、Ｐｗａ１／Ｐｗｂ１となることから各最適記録パワーからＴｂ０’／Ｔａ０’を導くことが出来る。
【００４２】
Ｌ０層以外の記録層のＴｂ’／Ｔａ’についても同様に求めることが出来る。上記に示すようにＴｂ／Ｔａ＝Ｐｗａ／Ｐｗｂで算出することが出来るため、最適記録パワーを測定することにより各記録層の透過率変化比を容易に求めることが出来る。
【００４３】
このようにして透過率変化比をもとめたところＬ２層〜Ｌ４層まで記録をした場合には、Ｌ０層について、大きな透過率変化は起きなかった。しかし、Ｌ１〜Ｌ４層まで記録をした場合には、Ｌ０層について、大きな透過率変化が発生した。表２に、各記録層におけるＰｗａ、Ｐｗｂ、Ｔｂ／Ｔａ、Ｔｂ’／Ｔａ’を示す。Ｌ４層は、レーザー光の入射面から最も近い側に配置されており、透過したレーザー光が照射されることはないため、ＰｗａはＰｗｂと同等とし、Ｔｂ／Ｔａ、Ｔｂ’／Ｔａ’については「１．００」で示す。
【００４４】
この実施例１に係る光記録媒体１０では、累積される透過率変化比が、Ｌ１層１８では０．９５（５％）、Ｌ０層１６では０．９６（４％）と抑制することができた。
【００４５】
一般的に、多層光記録媒体、例えば２層のＤＶＤにおいては、透過率変化比は７％以下、好ましくは５％以下が許容される。
【００４６】
従って、この実施例１に係る光記録媒体においては、最大の累積される透過率変化比Ｔｂ／Ｔａが０．９６（４％）であり、５層光記録媒体であっても、ほとんどＪｉｔｔｅｒを悪化させることなく、記録することができる。
【実施例２】
【００４７】
実施例２に係る光記録媒体３０は、図２に示されるように、基板１２上にＬ０層３６、Ｌ１層３８、Ｌ２層４０をそれぞれスペーサ３７、３９を間にして配置したものである。各層の膜構成厚み及び記録膜の組成は、表３に示されるようになっている。
【００４８】
【表３】
2008077818.tif 000005
【００４９】
この実施例２に係る光記録媒体３０における、それぞれの記録層の積層しない状態での反射率を測定するために、それぞれをポリカーボネート基板に成膜した上に１００μｍの光透過層を塗布した光記録媒体を作製した。この光記録媒体を光ディスク評価機にて反射率Ｒ’を評価したところ、積層前における反射率は表４の右端に示されるようになっていた。又、表２と同様に各記録層のＰｗａ、Ｐｗｂ、Ｔｂ／Ｔａ、Ｔｂ’／Ｔａ’、Ｒ’を示す。実施例１と同様の方法でＬ２層のＢｉ−Ｇｅ−Ｏ記録膜の消衰係数を求めたところ０．１３であった。
【００５０】
【表４】
2008077818.tif 000006
【００５１】
この実施例２においても、Ｌ０層３６とＬ１層３８における累積された透過率変化比が最大でそれぞれ０．９８となり、許容される透過率変化比が７％以下又は５％以下の範囲となった。
【００５２】
［比較例１］
実施例１の光記録媒体１０と同様の５層の記録層を有する比較例の光記録媒体を作製し
た。この比較例１では、実施例１の光記録媒体１０に対して、Ｌ１層の構成のみが異なり、Ｌ２層〜Ｌ４層は同様の構成とした。この比較例２の光記録媒体における各層の厚さ、記録膜の組成は、表５に示されるようになっている。
【００５３】
【表５】
2008077818.tif 000007
【００５４】
又、この比較例１に係る光記録媒体について、表２と同様に各記録層のＰｗａ、Ｐｗｂ、Ｔｂ／Ｔａ、Ｔｂ’／Ｔａ’、Ｒ’は、表６に示されるようになった。
【００５５】
【表６】
2008077818.tif 000008
【００５６】
この比較例においては、Ｌ０層における累積される透過率変化比が０．９となり、（即ち、記録感度が１０％変化し）Ｌ０層よりも入射光側にあるＬ１層からＬ４層のすべての記録層に情報が未記録のときに最適な記録パワーで、Ｌ１層からＬ４層のすべての記録層に情報が記録された場合に記録すると、十分な記録ができないことが分かる。このときのＬ０層よりも入射光側にあるＬ１層からＬ４層のすべての記録層に情報が未記録のときに最適な記録パワー１０．２ｍＷの記録パワーで記録した際に、すべての記録層に情報が
未記録の場合、６％のＪｉｔｔｅｒが得られた。一方、Ｌ１層からＬ４層のすべての記録層に情報が記録された場合に、１０．２ｍＷの記録パワーで記録した場合には８．５％のＪｉｔｔｅｒになった。Ｂｌｕ−ｒａｙディスクでは６．５％以下のＪｉｔｔｅｒが求められており、８．５％のＪｉｔｔｅｒでは十分な信号が得られないことがわかる。
【００５７】
［比較例２］
比較例２に係る光記録媒体は、表７に示されるように、Ｌ０層、Ｌ１層、Ｌ２層の３層構造であって、基本的には、図２に示される実施例２に係る光記録媒体３０と同様の構成であるが、実施例２に対して、Ｌ１層の構成が異なり、Ｌ２層の構成はほぼ同一となっている。
【００５８】
【表７】
2008077818.tif 000009
【００５９】
この比較例２の光記録媒体について、表４と同様に各層のＰｗａ、Ｐｗｂ、Ｔｂ／Ｔａ、Ｔｂ’／Ｔａ’、Ｒ’を示す。実施例１と同様の方法でＬ２層のＢｉ−Ｇｅ−Ｏ記録膜の消衰係数を求めたところ０．１３であった。
【００６０】
【表８】
2008077818.tif 000010
【００６１】
表８からは、Ｌ０層における累積される透過率変化比が０．９３となり、Ｌ０層よりも入射光側にあるＬ１層からＬ２層のすべての記録層に情報が未記録のときに最適な記録パワーを用いて、Ｌ１層からＬ２層のすべての記録層に情報が記録された場合に記録すると、十分な記録ができないことが分かる。
【００６２】
［比較例３］
次に、図３を参照して、比較例３に係る光記録媒体１００について説明する。
【００６３】
この光記録媒体１００は、実施例１の多層光記録媒体１０におけるＬ３層、Ｌ４層と同様の構成のＬ０層１０２及びＬ１層１０４の２層の記録層を備える構成である。他の構成については、実施例１と同一符号を用いることとして説明を適宜省略することとする。
【００６４】
この比較例３の光記録媒体１００における各層の厚さ、記録膜の組成は、表９に示されるようになっている。又、この比較例３に係る光記録媒体１００の、各記録層における、Ｐｗａ、Ｐｗｂ、Ｔｂ／Ｔａ、Ｔｂ’／Ｔａ’を表１０に示す。
【００６５】
【表９】
2008077818.tif 000011
【００６６】
【表１０】
2008077818.tif 000012
【００６７】
表１０からは、Ｌ０層１０２に累積される透過率変化が非常に小さいことがわかる。
【００６８】
本発明者等は、３層以上の多層光記録媒体において、何故上記のように累積される透過率変化比が許容値を超えてしまうという問題が発生するのかを、次のように見出した。
【００６９】
まず、記録層において、記録前後の透過率変化比が無い状態とは、「記録前後の反射量差」＝「記録前後の光吸収量差」となることを意味する。
【００７０】
多層光記録媒体では、記録層の積層後に、各記録層における反射率をほぼ同一に設計することが好ましい。このため、表２に示すように基板／該記録層／光透過層のみで構成したときの反射率は、光入射面側から遠い記録層ほど高くなることが必要になる。、又、記録マークの変調度（記録層マーク部分の反射率の変化量／スペース部分の反射率）は未記録部分の５０％以上になることが求められるため、基板側の記録層（光入射面から遠い記録層）ほど記録前後の反射率差を大きくする必要がある。
【００７１】
光を透過する複数の記録膜に同一の記録膜材料を用いて設計する場合、反射率の調整は誘電体の材料や厚さを変えることで可能であるが、記録後の吸収量の変化は記録膜材料に大きく依存する。
【００７２】
例えば、比較例１で示すようにＢｉ−Ｇｅ−Ｏ記録膜を用いる場合、２〜４％程度の反射率であるＬ４層ならびにＬ３層は記録前後の透過率差は非常に小さいが、４％を超えるＬ２層、Ｌ１層では、記録後の透過率が非常に大きくなっている。一方で実施例１、実施例２にてＬ１層に用いているＳｉ／Ｃｕ系の記録層のＴｂ’／Ｔａ’は、１．０１または１．００であるが、この記録層のレーザー光入射光側の誘電体の厚さを調整し反射率を２％に設計するとＴｂ’／Ｔａ’は１．０４になった。Ｂｉ−Ｇｅ−Ｏ系記録膜を使っている実施例１のＬ４、Ｌ３層よりも記録後の透過率差が生じることがわかっている。
【００７３】
即ち、上記に記載したように記録前後の透過率差が小さいのは記録前後で生じる反射率変化が記録後の吸収率変化とつりあっているからに過ぎない。３層以上の多層媒体のように透過率の異なる複数の記録層を持つ場合、各記録層で異なる反射率が必要になることから、各記録層で異なる反射率差が生じる。このため、各記録層で記録前後の透過率差を無くすためには、各記録層で異なる吸収率差を持つ必要が生じるが、各記録層の吸収率の変化は記録膜材料に依存するため、３層やそれ以上の多層光記録媒体のように全く異なる反射率に合わせて各記録層の記録後の吸収率差を調整することは不可能である。このため２層の記録層をもつ光記録媒体のときに記録前後の透過率差が、ほとんど問題にならなくても３層以上の記録層になると透過率差の問題が顕著に現れるのはこのためである。
【００７４】
本発明者等は、種々試行錯誤の結果、実施例１、２のように、累積透過率変化比が０．９３以上１．０７以下となるようにするためには、レーザー光入射面に最も近い記録層（実施例１においてはＬ４層、実施例２においてはＬ２層）における記録膜の材料に対して、他の記録層のうち少なくともＬ１層における記録膜の材料が異なるようにすると、容易に達成できることが分かった。
【００７５】
これは、実施例１および実施例２で用いたＬ１層用の記録膜材料が、基板、該記録層、光透過層の順序で作製したときの反射率が６％付近になった場合に記録前後の透過率差が最も小さくなるためである。特にＬ１層の積層前の反射率と、最もレーザー光入射面側の記録層の反射率が大きく異なっていることから、最もレーザー光入射面側の記録層の記録膜材料に対してＬ１層の記録膜材料を変えることは非常に効果的である。又、この場合、実施例１におけるＬ４層又は実施例２におけるＬ２層の記録膜の消衰係数を０．５以下とすると、高い透過率を有するために、積層後の状態でも反射率の低下が少なくなる。このため各層の望まれる反射率が下がるために、多層の積層が容易になることが分かった。
【００７６】
上記実施例１において、光記録媒体１０は、５層の記録層１６、１８、２０、２２、および２４がスペーサ層１７、１９、２１、２３と交互に形成された５層記録媒体であるが、４層の記録媒体や、６層以上の多層記録式の光記録媒体についても本発明は同等の効果を有する。
【００７７】
又、上記実施例１、実施例２において、光記録媒体１０、３０は片面のみに情報を記録可能である片面記録式とされているが、両面に記録層が形成された両面記録式の光記録媒体に対しても本発明は適用可能である。
【００７８】
又、上記実施例１、実施例２において、光記録媒体１０、３０は、基板１２よりも光透過層２６が薄い構成であるが、ＤＶＤのように基板と、光透過層とが等しい厚さを有する光記録媒体に対しても本発明は適用可能である。
【００７９】
更に、上記実施例１、実施例２において、光記録媒体１０、３０は、ＮＡ＝０．８５、波長＝４０５ｎｍのＢｌｕ−ｒａｙ（商標）ディスクシステムを用いて評価を行ったが、これらと異なる波長や異なるＮＡに対しても本発明は適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８０】
【図１】本発明の実施例１に係る光記録媒体を模式的に示す断面図
【図２】同実施例２に係る光記録媒体を模式的に示す断面図
【図３】比較例３に係る光記録媒体を模式的に示す断面図
【符号の説明】
【００８１】
１０、３０…光記録媒体
１２…基板
１６、３６…Ｌ０層
１８、３８…Ｌ１層
２０、４０…Ｌ２層
２２…Ｌ３層
２４…Ｌ４層
２６…光透過層（光入射面）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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