(57)【要約】【課題】ランドとグルーブ各々に情報が記録するピットが配置されている光ディスクを読み取る光ディスク装置において、ランドとグルーブについての読み取り性能を両立させる。【解決手段】ピックアップは、発光素子、受光素子他、発光素子から光ディスクを介して受光素子に到達するまでの光学系を備える。受光素子の分割線の方向と発光素子の光が受光素子に結像するビーム形状の長軸方向との角度Δθを０にするピックアップの配置を光学設計上で暫定的に決定する。この位置関係におけるΔθを暫定的にΔθ＝０とする。フォーカスエラーの０値を調整することによりフォーカスを外した状態を作り出して、読み取りができる最大のデフォーカス量であるデフォーカスマージン幅７２を、複数のΔθについて測定する。ランドとグルーブについて（Δθ，デフォーカスマージン幅７２）を測定し、交点７３ＣのΔθの角度をなすよう、ピックアップの配置を修正する。【選択図】図６
2008181588.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を出力する発光素子と、
受光した光の強度を信号に変換する受光素子であって、光を受光する受光面が４つに分割された受光素子と、
情報を記録するピットがランドとグルーブ各々に配置されたＤＶＤ−ＲＡＭに前記発光素子から出力された光を導いてこの光の焦点を前記ＤＶＤ−ＲＡＭ表面に合わせるフォーカス駆動系を含み、前記ＤＶＤ−ＲＡＭから反射した光を前記分割された受光面の中心に前記光を導く光学系と、
を有するピックアップを備えた光ディスク装置において、
前記ピックアップは、所定の位置関係、即ち、前記受光面を分割する２つの分割線のうちの１つと、前記受光面上で結像する光の像の長軸方向と、の角度θが、前記光学系の設計上θ＝０となる角度θ０から角度Δθ＝Δθ１×（１±５％）修正した、θ＝θ０＋Δθの位置関係になるよう形成されるものであって、前記受光素子が、前記光学系の設計上θ＝０となる前記ピックアップの位置関係から、前記分割された受光面の中心の周りに前記Δθ回転して配置されていることにより、前記修正した位置関係になるよう形成されており、
前記角度Δθ１は、以下のΔθ２である光ディスク装置。
（Ａ）前記ランドとグルーブのトラックに各々追従させて、前記ＤＶＤ−ＲＡＭのデータを読み取りできなくなる限界のデフォーカス量の上下限マージン幅Ｍを、前記受光素子の信号から算出したフォーカスエラー信号の振幅Ｘで除算した、Ｍ/Ｘを、前記θの予め定めた複数の値について各々求め、
（Ｂ）前記ランド、グルーブについて（θ−θ０，Ｍ/Ｘ）をプロットし、
（Ｃ）前記（θ−θ０，Ｍ/Ｘ）のプロットした線の交点におけるθ−θ０の値をΔθ２とする。
【請求項２】
光を出力する発光素子と、
受光した光の強度を信号に変換する受光素子であって、光を受光する受光面が４つに分割された受光素子と、
情報を記録するピットがランドとグルーブ各々に配置された光ディスクに前記発光素子から出力された光を導いてこの光の焦点を前記光ディスク表面に合わせるフォーカス駆動系を含み、前記光ディスクから反射した光を前記分割された受光面の中心に前記光を導く光学系と、
を有するピックアップを備えた光ディスク装置において、
前記ピックアップは、所定の位置関係、即ち、前記受光面を分割する２つの分割線のうちの１つと、前記受光面上で結像する光の像の長軸方向と、の角度θが、前記光学系の設計上θ＝０となる角度θ０から角度Δθ＝Δθ１×（１±５％）修正した、θ＝θ０＋Δθの位置関係になるよう形成され、
前記角度Δθ１は、以下のΔθ２である光ディスク装置。
（Ａ）前記ランドとグルーブのトラックに各々追従させて、前記光ディスクのデータを読み取りできなくなる限界のデフォーカス量の上下限マージン幅Ｍを、前記受光素子の信号から算出したフォーカスエラー信号の振幅Ｘで除算した、Ｍ/Ｘを、前記θの予め定めた複数の値について各々求め、
（Ｂ）前記ランド、グルーブについて（θ−θ０，Ｍ/Ｘ）をプロットし、
（Ｃ）前記（θ−θ０，Ｍ/Ｘ）のプロットした線の交点におけるθ−θ０の値をΔθ２とする。
【請求項３】
光を出力する発光素子と、
受光した光の強度を信号に変換する受光素子であって、光を受光する受光面が４つに分割された受光素子と、
情報を記録するピットがランドとグルーブ各々に配置された光ディスクに前記光を導いて前記光の焦点を前記光ディスク表面に合わせるフォーカス駆動系を含み、前記光ディスクから反射した光を前記分割された受光面の中心に前記光を導く光学系と、
を有するピックアップを備えた光ディスク装置において、
前記ピックアップは、所定の位置関係、即ち、前記受光面を分割する２つの分割線のうちの１つと、前記受光面上で結像する光の像の長軸方向と、の角度θが、前記光学系の設計上θ＝０となる角度θ０から角度Δθ＝Δθ３×（１±５％）修正した、θ＝θ０＋Δθの位置関係になるよう形成され、
前記角度Δθ３は、以下のΔθ４である光ディスク装置。
（Ｄ）前記受光素子の信号から算出したフォーカスエラー信号のサーボゲインの調整量Ｇを前記θの予め定めた複数の値について各々求め、
（Ｅ）前記ランド、グルーブについて（θ−θ０，Ｇ）をプロットし、
（Ｆ）これらの線の交点におけるθ−θ０の値をΔθ４とする。
【請求項４】
請求項２に記載の光ディスク装置において、
前記予め定めたΔθ１は、前記Δθ２の代わりに、前記受光素子の信号から算出したフォーカスエラー信号のサーボゲインの調整量Ｇを前記Δθの予め定めた複数の値について各々求め、前記ランド、グルーブについて（Δθ，Ｇ）をプロットし、その線の交点におけるΔθ４と、前記Δθ２とを平均した値である光ディスク装置。
【請求項５】
前記ピックアップは、
前記発光素子が、前記光学系の設計上θ＝０となる前記ピックアップの位置関係から、前記発光素子の光の出力方向の周りに前記Δθ回転して配置されて、前記ディスク表面に照射することにより、
前記修正した位置関係になるよう形成されている請求項２〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記ピックアップは、
前記受光素子が、前記光学系の設計上θ＝０となる前記ピックアップの位置関係から、前記分割された受光面の中心の周りに前記Δθ回転して配置されていることにより、
前記修正した位置関係になるよう形成されている請求項２〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記ピックアップは、
前記発光素子が、前記光学系の設計上θ＝０となる角度の前記ピックアップの位置関係から、その光の出力方向の周りに回転して配置されて、前記ディスク表面に照射すると共に、
前記受光素子が、前記光学系の設計上θ＝０となる角度の前記ピックアップの位置関係から、前記分割された受光面の中心の周りに回転して配置されていることにより、
前記修正した位置関係になるよう形成されている請求項２〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記ピックアップは、
前記受光素子の前記分割線が、前記光学系の設計上θ＝０となる前記ピックアップの位置関係から、Δθ傾けて配置されていることにより、
前記修正した位置関係になるよう形成されている請求項２〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ランドとグルーブ各々に情報が記録するピットが配置されている光ディスクを読み取る光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、光ディスクに記録されたデータを読み取る光学ピックアップを有する光ディスク装置が実用化されている。光ディスクには、円周方向に沿ってトラックが刻まれており、このトラックが半径方向に並んでいる。このピックアップは、レーザ光を光ディスクに照射するための発光素子と、レーザ光を光ディスクに集光するレンズを備えている。また、光ディスクに前記光を導いて前記光の焦点を前記光ディスク表面に合わせるフォーカス駆動系等を含む、前記光ディスクから反射した光を受光素子に導く光学系を備えている。また、光ディスクに反射した反射光を信号に変換する受光素子等を備えている。
【０００３】
発光素子は、半導体レーザで構成される。この半導体レーザから出力される光は楕円形状である。これに対応して、ピックアップの光学系は、光ディスクに照射するとき、この楕円形状の光の長軸方向を前記トラックに沿わせるように、位置関係が形成されている。これにより、トラック両側の状態が対称となるようにすることができる。受光素子の受光面は、交差する２つの線（以下、分割線という。）により４つに分割されている。この光学系は、光ディスクから戻ってきた反射光をこの４つに分割された受光面の中央に導く。また、楕円形状の長軸方向を分割線の方向に合うように、ピックアップの発光素子、受光素子、光学系の配置が配置されている。これにより、４つに分割された受光面から検出された信号に基づいてフォーカスエラー信号を算出でき、これに基づいて焦点を光ディスクに合わせることができる。
【０００４】
特許文献１〜５には、ビームの光軸と、分割線の方向とを調整する方法等が記載されている。
【０００５】
また、ＤＶＤ−ＲＡＭには、凸部のランドと溝部のグルーブ各々に情報が記録するピットが配置されている。ランドとグルーブ間では、理論的には特性の差がないとされている。
【特許文献１】特開昭６２−２５７６４２号公報
【特許文献２】特開平５−２１７１７４号公報
【特許文献３】特開平１１−１７５９８８号公報
【特許文献４】特開平７−５００１８号公報
【特許文献５】特開平４−１１３５３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、凸部のランドと溝部のグルーブでは、光の光路の長さが異なるため、受光した光の位相がランドとグルーブで互いに異なる。それゆえ、光ディスクのデータを読み取りできなくなる限界のデフォーカス量の上下限マージン幅の特性や、フォーカスサーボゲインの調整量が異なる問題があった。
【０００７】
以下、より具体的に説明する。前述のとおり、一般に、楕円形状の長軸方向を分割線の方向に合うように、ピックアップの発光素子、受光素子、光学系の配置が配置されている。しかし、楕円形状の長軸方向と分割線の方向との角度（以下、この角度をΔθという。）をつけた方が、デフォーカス量の上下限マージン幅が広がるので、好ましい場合があった。しかしながら、この好ましい方向となる角度Δθ０は、ランドとグルーブで、Δθが逆方向になる問題があった。このΔθをランドとグルーブの読み取り時に変更することは、容易でなく、コストアップにもなる。
【０００８】
そこで、本発明は、ランドとグルーブ各々に情報が記録するピットが配置されている光ディスクを読み取る光ディスク装置において、ランドとグルーブいずれについても読み取り性能を両立した光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、以下のように構成している。
【００１０】
（１）  光を出力する発光素子と、
受光した光の強度を信号に変換する受光素子であって、光を受光する受光面が４つに分割された受光素子と、
情報を記録するピットがランドとグルーブ各々に配置された光ディスクに前記発光素子から出力された光を導いてこの光の焦点を前記光ディスク表面に合わせるフォーカス駆動系を含み、前記光ディスクから反射した光を前記分割された受光面の中心に前記光を導く光学系と、
を有するピックアップを備えた光ディスク装置において、
前記ピックアップは、所定の位置関係、即ち、前記受光面を分割する２つの分割線のうちの１つと、前記受光面上で結像する光の像の長軸方向と、の角度θが、前記光学系の設計上θ＝０となる角度θ０から角度Δθ＝Δθ１×（１±５％）修正した、θ＝θ０＋Δθの位置関係になるよう形成され、
前記角度Δθ１は、以下のΔθ２である光ディスク装置である。
（Ａ）前記ランドとグルーブのトラックに各々追従させて、前記光ディスクのデータを読み取りできなくなる限界のデフォーカス量の上下限マージン幅Ｍを、前記受光素子の信号から算出したフォーカスエラー信号の振幅Ｘで除算した、Ｍ/Ｘを、前記θの予め定めた複数の値について各々求め、
（Ｂ）前記ランド、グルーブについて（θ−θ０，Ｍ/Ｘ）をプロットし、
（Ｃ）前記（θ−θ０，Ｍ/Ｘ）のプロットした線の交点におけるθ−θ０の値をΔθ２とする。
【００１１】
この構成では、ピックアップは、角度Δθが、光学系の設計上θ＝０となる角度から、所定の予め決定された角度Δθ０×（１±５％）修正された位置関係になるよう形成されている。
【００１２】
ここで、ランドとグルーブの段差がない場合には、受光面上で結像する光の像の長軸方向と、分割線とを沿わせる方が望ましく、設計上では、Δθ＝０とする野が良いとされる。この点を説明すると、まず、４分割の受光素子を時計回りにＡ、Ｂ，Ｃ、Ｄとすれば、フォーカスエラーＦＥはＦＥ＝Ａ＋Ｃ−（Ｂ＋Ｄ）により求められる。受光面上で結像する光の像は楕円であるから、Δθ＝０とすれば、Ａ＋Ｃ−（Ｂ＋Ｄ）のバランスが良く、この値を０に合わせたときに焦点が合うようにすることができる。
【００１３】
この構成では、θ０をΔθにより修正しているから、対角のＡ＋ＣまたはＢ＋Ｄのバランスが移動し、焦点距離の目標値が本来の焦点位置から、移動することになる。即ちΔθを振ることで駆動系に所定の修正がかかる。特に、ランドとグルーブの段差がある場合には、光路差、アクチュエータの影響を受け、場合により好ましい方向になる。
【００１４】
たとえば、以下の影響が考えられる。アクチュエータがランドとグルーブの段差の中央の厚みの位置に電圧０で保持され、電圧に応じて移動するようにする構成にしていれば、中央部では動きやすいが、両端では、常に中央の厚みの位置への焦点が移動するよう圧力がかかるなどの不均衡が生じやすい。一方、フーカス誤差に応じてアクチュエータを移動させていた場合には、焦点の位置を目標にしていても、焦点の位置の周囲の力学的な状態は対称でない。したがって、この圧力により、焦点を合わす動作の信頼性に影響する。そして、このΔθの修正により、（Δθ，Ｍ/Ｘ）の好ましい方向の特性が逆になる（例えば、後述図６参照。）。
【００１５】
この構成では、上下限マージン幅Ｍをフォーカスエラー信号の振幅Ｘで除算した、Ｍ/Ｘを基に、ランド、グルーブについて（Δθ，Ｍ/Ｘ）をプロットした交点の値を用いて、θ０を修正している。ここで、Ｍ/Ｘは、読み取り時に光ディスクに焦点を合わせる観点から見た信頼性の指標の意義を持つ。
【００１６】
このようにランド、グルーブの特性についての交点の値を用いているので、この構成では、ランド、グルーブの特性が逆になっても、これらのバランスを取ることができ、いずれか一方が、フォーカスが外れやすくなるといった問題を解消できる。
【００１７】
（２）  光を出力する発光素子と、
受光した光の強度を信号に変換する受光素子であって、光を受光する受光面が４つに分割された受光素子と、
情報を記録するピットがランドとグルーブ各々に配置された光ディスクに前記光を導いて前記光の焦点を前記光ディスク表面に合わせるフォーカス駆動系を含み、前記光ディスクから反射した光を前記分割された受光面の中心に前記光を導く光学系と、
を有するピックアップを備えた光ディスク装置において、
前記ピックアップは、所定の位置関係、即ち、前記受光面を分割する２つの分割線のうちの１つと、前記受光面上で結像する光の像の長軸方向と、の角度θが、前記光学系の設計上θ＝０となる角度θ０から角度Δθ＝Δθ３×（１±５％）修正した、θ＝θ０＋Δθの位置関係になるよう形成され、
前記角度Δθ３は、以下のΔθ４である光ディスク装置である。
（Ｄ）前記受光素子の信号から算出したフォーカスエラー信号のサーボゲインの調整量Ｇを前記θの予め定めた複数の値について各々求め、
（Ｅ）前記ランド、グルーブについて（θ−θ０，Ｇ）をプロットし、
（Ｆ）これらの線の交点におけるθ−θ０の値をΔθ４とする。
【００１８】
この構成では、ピックアップは、角度Δθが、前記光学系の設計上Δθ＝０となる角度から、角度Δθ０×（１±５％）修正した位置関係になるよう形成されている。そして、この修正するΔθ０は、フォーカスエラー信号のサーボゲインの調整量Ｇとして、ランド、グルーブについて（Δθ，Ｇ）をプロットした交点におけるθ−θ０の値としている。このように、（Δθ，Ｇ）がランド、グルーブで均衡するように、ピックアップの位置関係を調整すれば、フォーカスエラー信号のサーボゲインの調整をしたときに、ランド、グルーブの差がでにくい。
【００１９】
したがって、ランド、グルーブの特性が逆になってもこれらのバランスを取ることができる。また、ランド、グルーブのいずれか一方の情報の読み取り時に、フォーカスが外れやすくなるといった問題を解消できる。
【００２０】
（３）  前記（１）に記載の光ディスク装置において、
前記予め定めたΔθ１は、前記Δθ２の代わりに、前記受光素子の信号から算出したフォーカスエラー信号のサーボゲインの調整量Ｇを前記Δθの予め定めた複数の値について各々求め、前記ランド、グルーブについて（Δθ，Ｇ）をプロットし、その線の交点におけるΔθ４と、前記Δθ２とを平均した値である。
【００２１】
この構成では、（１）の設計指標と、（２）の設計指標を平均している。この方法によっても、ランド、グルーブの特性が逆になってもこれらのバランスを取ることができ、いずれか一方が、フォーカスが外れやすくなるといった問題を解消できる。
【００２２】
（４）  前記ピックアップは、
前記発光素子が、前記光学系の設計上θ＝０となる前記ピックアップの位置関係から、前記発光素子の光の出力方向の周りに前記Δθ回転して配置されて、前記ディスク表面に照射することにより、
前記修正した位置関係になるよう形成されている。
【００２３】
この構成では、前記発光素子を回転することによって相対的にΔθを修正することができる。
【００２４】
（５）  前記ピックアップは、
前記受光素子が、前記光学系の設計上θ＝０となる前記ピックアップの位置関係から、前記分割された受光面の中心の周りに前記Δθ回転して配置されていることにより、
前記修正した位置関係になるよう形成されている。
【００２５】
この構成では、前記受光素子を回転することによっても相対的にΔθを修正することができる。
【００２６】
（６）  前記ピックアップは、
前記発光素子が、前記光学系の設計上θ＝０となる角度の前記ピックアップの位置関係から、その光の出力方向の周りに回転して配置されて、前記ディスク表面に照射すると共に、
前記受光素子が、前記光学系の設計上θ＝０となる角度の前記ピックアップの位置関係から、前記分割された受光面の中心の周りに回転して配置されていることにより、
前記修正した位置関係になるよう形成されている。
【００２７】
この構成では、（４）、（５）の修正方法の両方を組み合わせて使っている。これの方法によっても、前記修正された位置関係になるよう形成することができる。
【００２８】
（７）  前記ピックアップは、
前記受光素子の前記分割線が、前記光学系の設計上θ＝０となる前記ピックアップの位置関係から、Δθ傾けて配置されていることにより、
前記修正した位置関係になるよう形成されている。
【００２９】
この構成では、分割線が、この受光素子に結像する光の楕円形状の長軸方向に対し、傾けて配置されている。この構成によっても、前記修正された位置関係になるよう形成することができる。
【発明の効果】
【００３０】
本発明によれば、ランドとグルーブ各々に情報が記録するピットが配置されている光ディスクを読み取る光ディスク装置において、ランドとグルーブいずれの部分についての読み取り性能を両立させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下、本発明の実施形態である光ディスク装置について説明する。
【００３２】
図１は、本発明の第１実施形態である光ディスク装置の主要部の構成を示すブロック図である。この実施形態の光ディスク装置１はＤＶＤプレーヤであり、光ディスク１００としてＤＶＤ−ＲＡＭを読み出す構成を備えている。ＤＶＤ−ＲＡＭには、情報を記録するピットがランドとグルーブ各々に配置されている。
【００３３】
なお、以下では、断りなき限り、光ディスク１００はＤＶＤ−ＲＡＭを指すものとする。
【００３４】
光ディスク装置１は、装置本体にセットされている光ディスク１００にレーザ光を照射し、その反射光を検出するピックアップ２と、光ディスク１００を回転させるスピンドルモータ２１と、ピックアップ２をディスク上の所定の半径位置に移動させるスレッドモータ２２と、この反射光に基づいてＲＦ信号を生成するＲＦアンプ４３と、該反射光に基づいてエラー信号を生成するエラー信号生成部４１と、エラー信号に基づいて駆動信号を生成するサーボ回路４４と、駆動信号に基づいてサーボ制御を行うドライバ回路４５と、再生信号を出力する再生部４７と、操作部６と、制御部５とを備えている。
【００３５】
ピックアップ２は、光ディスク１００に記録されている情報を光学的に読み出す。詳細は後述する。
【００３６】
また、ピックアップ２は、公知の光ディスク装置と同様に、光ディスク１００の半径方向に沿って移動自在に取り付けられており、ピックアップ２に貫通するねじが取り付けられている。
【００３７】
スレッドモータ２１は、ピックアップ２に貫通しているねじを回転させ、ピックアップ２を光ディスク１００の半径方向に移動させる。スレッドモータ２１には、正逆いずれについてもパルス電圧が供給でき、駆動力が付加される。スピンドルモータ２２は、サーボ回路４４の駆動により、光ディスク１００を回転させる。
【００３８】
エラー信号生成部４１は、フォトディテクタ１１を構成する複数の受光素子Ａ〜Ｄ（後述の図２参照）で出力した信号に基づいて、フォーカスエラー信号（以下、「ＦＥ」と称する。）を生成し、これをサーボ回路４４に出力する。また、エラー信号生成部４１は、この複数の受光素子Ａ〜Ｄで出力した信号に基づいてトラッキングエラー信号を生成し、これをサーボ回路４４に出力する。
【００３９】
ＲＦアンプ４３は、この複数の受光素子Ａ〜Ｄで出力した信号に基づいて全加算信号のＲＦ信号を生成し、これを増幅等して再生部４７に出力する。ＲＦ信号は、光ディスク１００に記録されているデータの読取信号である。
【００４０】
サーボ回路４４は、エラー信号生成部４１が出力したＦＥ信号、ＴＥ信号に基づいて、ＦＥ信号の値を０（基準レベル）にするためのフォーカシング駆動信号、およびＴＥ信号の値を０（基準レベル）にするためのトラッキング駆動信号を生成し、これらをドライバ回路４５に出力する。
【００４１】
ドライバ回路４５は、フォーカシング駆動信号を増幅してアクチュエータに与える。また、ドライバ回路４５は、ピックアップ２の対物レンズを光ディスク１００に対して光軸方向に移動するための駆動電圧を供給する。これにより、光ディスク１００の記録面にレーザ光を合焦させるフォーカスサーボ制御がなされる。また、ドライバ回路４５は、トラッキング駆動信号を増幅した駆動電圧をアクチュエータおよびスレッドモータ２１、スピンドルモータ２２に与える。これにより、ピックアップ２の対物レンズを光ディスク１００の半径方向に移動し、光ディスク１００のトラックの中心にレーザ光を照射させることができる。
【００４２】
再生部４７は、ＲＦ信号を復調等して映像と音声のデータを取り出し、エラー（誤り）訂正し、これをデコードして再生信号を生成し、外部に出力する。
【００４３】
制御部５は、例えばマイクロコンピュータである。制御部５は、ＲＯＭに制御データ、制御プログラムを記憶している。制御部５は、これらのプログラムを呼び出して、実行させることにより各部を制御する。
【００４４】
操作部６は、ユーザが光ディスク装置１に対して各種の命令（コマンド）を入力するためのものである。操作部６には、再生キーや特殊再生キーや停止キー等が設けられている。光ディスク装置１に対してユーザが入力したコマンドが制御部１０に入力される。
【００４５】
図２を用いてピックアップの構成について説明する。図２（Ａ）はピックアップ２の全体図、図２（Ｂ）〜（Ｅ）は、その詳細図である。
図２（Ａ）に示すように、ピックアップ２は、発光素子２３、ハーフミラー２４、立ち上げミラー２５、レンズ２６、基板２７、受光素子２８を備える。
ピックアップ２の発光素子２３は、半導体レーザで構成し、レーザ光（以下単に「光」という。）を出力する。
ハーフミラー２４は、光の一部を反射し、その他の光を通す。ハーフミラー２４は、このハーフミラー２４で反射した光を、立ち上げミラー２５に導く位置に配置されている。ハーフミラー２４と発光素子２３との間に、発光素子２３の光を平行光に変換するコリメータレンズを挿入してもよい。
立ち上げミラー２５は、ハーフミラー２４で反射した光を全反射する。立ち上げミラー２５は、レンズ２６に光を導く位置に配置されている。立ち上げミラー２５は、本発明のを実施するうえで必ずしも必要がない。ただし、立ち上げミラー２５で反射することにより、光ディスク１００のスピンドル軸方向の距離を抑えることができる。立ち上げミラー２５を備えることにより、光ディスク装置１をコンパクトにまとめることができる。
【００４６】
レンズ２６は、立ち上げミラー２５で反射した光を光ディスク１００表面に集光する。レンズ２６は、図示しないアクチュエータにより駆動されて、焦点が調整される。このアクチュエータは、受光素子２８から出力される信号から生成したフォーカスエラー信号に基づいて、フォーカスエラーを０にするように光ディスク１００との焦点距離を調整する。
【００４７】
レンズ２６で光ディスク１００表面に集光された光は、光ディスク１００で反射する。そして、レンズ２６で平行光に変換され、立ち上げミラー２５で反射する。立ち上げミラー２５の反射光の一部は、ハーフミラー２４を透過して、受光素子２８に届く。
【００４８】
なお、図２（Ａ）で示した構成のうち、発光素子２３、受光素子２８以外の構成を適宜光学系ということにする。この光学系は、本発明の「光学系」に相当する。光学系（２４〜２６）は、発光素子２３の光を光ディスク１００に導くように、配置されている。また、光学系（２４〜２６）は、光ディスク１００で反射した光を受光素子２９に導くように、配置されている。
【００４９】
受光素子２８は、基板２７に取り付けられている。受光素子２８は、１つのパッケージに収められたＩＣで構成する。受光素子２８は、分割されたシリコンの受光面を有している。受光素子２８は、光ディスク１００からの反射光を検出（光電変換）する。
【００５０】
ピックアップ２は、再生時において、光ディスク１００に対して読取パワーのレーザ光を照射し、光ディスク１００からの反射光をフォトディテクタで検出する。
【００５１】
これにより、ピックアップ２の対物レンズは、光ディスク１００に対するレーザ光の照射位置を調節する。２軸のアクチュエータは、対物レンズを光ディスク１００に接離する方向、および光ディスク１００の半径方向に移動させる。
【００５２】
図２（Ｂ）は、図２（Ａ）のＡ−Ａ矢視図である。図２（Ｂ）に示すように、発光素子２３は、光ディスク１００に対し平行な方向に光を出力しているので、光ディスク１００に垂直な方向（以下「スピンドル軸方向」という。）の距離を縮小できる。
【００５３】
図２（Ｃ）は、発光素子２３の出力方向へ向いて見た場合の、発光素子２３から出力される光のビーム形状２３０を表している。ここで、スピンドル軸方向１０１は、前述した光ディスク１００の回転軸の方向である。また、方向１０２は、光ディスク１００に沿った方向である（ただし、光ディスク１００の面ブレがないと仮定した場合の方向とする。）。発光素子２３は、前述のとおり半導体レーザである。そのビーム形状２３０は、一般に楕円の形状である。なお、この図２（Ｂ）は、その形状を大きく拡大すると共に特徴を誇張している（以下楕円形状を示すときは同様である。）。長軸の形状をビーム形状２３０の長軸方向は、スピンドル軸方向１０１、方向１０２間で約４５[ｄｅｇ]傾いた方向である。
【００５４】
図２（Ｄ）は、Ｂ−Ｂ矢視図である。ただし、光ディスク１００全体も合わせて表している。図２（Ｄ）に示すように、発光素子２３とレンズ２６までの光学系は、ビーム形状２３５の長軸方向が、半径方向１００Ｒに垂直なトラック方向１００Ｔに合うよう調整されている。これにより、光ディスク１００上の読み取り時にトラック両側の状態が対称となるようにすることができる。
【００５５】
なお、ビーム形状２３５の長軸方向が、半径方向１００Ｒに垂直に形成されたトラック方向１００Ｔと一致しなくても、所定の許容範囲内であれば、光ディスク１００のデータを読み取ることができる。本実施形態のうちの後述する図８で示す実施例では、正確には、ビーム形状２３５をトラック方向１００Ｔに対して０〜数度傾ける調整をしている。ここでは、説明の容易のため、ビーム形状２３５の長軸方向とトラック方向１００Ｔとが一致した状態を示している。
【００５６】
図２（Ｅ）は、Ｃ−Ｃ矢視図である。スピンドル軸方向１０３は、スピンドル軸方向１０１と平行な方向である。方向１０４は、方向１０２と垂直な方向である。受光素子２８の受光部２８０は、受光面２８１〜２８３を有する。受光面２８１は、受光面２８ａ〜２８ｄの４つに分割されている。なお、受光面を分割する線を分割線という。
【００５７】
受光面２８ａ〜２８ｄが出力する信号について、
ＦＥ＝(受光面２８ａの信号）＋（受光面２８ｃの信号）
−（（受光面２８ｂの信号）＋（受光面２８ｄの信号））
の演算をすることにより、フォーカスエラー信号を出力できる。なお、このフォーカスエラー信号の出力方法は、以下の実施例、実施形態も同様である。
【００５８】
発光素子２３の光をピックアップ２の光学系を通すと、光ディスク１００からの反射光もビーム形状８に示すように楕円形状になる。ビーム形状８の長軸方向８０は、方向１０４に対して４５[ｄｅｇ]傾いた状態で受光素子２８に入射する。これに対応して、受光部２８０は、分割線の方向２８４がビーム形状８の長軸方向８０に合うように傾けられている。
【００５９】
なお、受光部２８０を分割線の方向２８４がビーム形状８の長軸方向８０に合うように傾けているのは設計から求めた概算である。本実施形態のピックアップ２は、正確には、受光部２８０の分割線の方向２８４と、ビーム形状８の長軸方向８０との間を０から数度傾ける修正を行うよう位置関係を調整する。その角度の求め方については後述する。ここでは、説明の容易のため、一致した状態を示している。
【００６０】
受光面２８２、２８３は、３ビーム法により半径方向１００Ｒ方向の誤差を検出するためにトラッキングエラーを出力するのに用いる。発光素子２３の前に設けた図示しない回折格子により３分割されたビームを通して、図２（Ａ）の光学系により、光ディスク１００に照射する。そして、光ディスク１００から反射した３つの光は、受光面２８１〜２８３の中央にそれぞれ結像する。ただし、本発明により、フォーカスエラー信号を生成する上では、受光面２８２、２８３は必須の構成ではない。
【００６１】
次に、図３を用いて、受光部２８０を傾けるための実施例１、２について説明する。図３（Ａ）は、実施例１の受光素子２８Ｋを表している。図３（Ｂ）は実施例２の受光素子２８Ｌを表している。また、図３（Ａ）、（Ｂ）は、基板２７に取り付けた状態の位置関係を示している。
【００６２】
図３（Ａ）、（Ｂ）に示す受光素子２８Ｋ，２８Ｌは、いずれもＰＤＩＣ（フォトダイオードＩＣ）で構成されている。ＰＤＩＣの中央部には、シリコンの受光面２８０が形成されている。図３（Ａ）の例では、分割線の方向２８４は、受光素子２８Ｋのパッケージに対し、平行または直角に配置されている。また、受光素子２８全体が図３（Ｅ）の方向１０４に対して４５[ｄｅｇ]傾いた状態で取り付けられている。図３（Ｂ）の例では、分割線の方向２８４は、受光素子２８Ｋのパッケージに対し、４５[ｄｅｇ]傾いた状態で配置されている。また、受光素子２８全体は、図３（Ｅ）の方向１０４に対して平行に配置されている。このように配置することにより、いずれの実施例１、２についても、受光部２８０を方向１０４に対し４５[ｄｅｇ]傾いた状態で取り付けることができる。
【００６３】
ここで、図２、図３では、説明の容易のため、分割線の方向２８４と、受光素子２８に結像するビーム形状８の長軸方向８０とを一致させた構成を示した。しかし、ビーム形状８の長軸方向８０と分割線の方向２８４とを数度傾けた方が、デフォーカス性能が向上する場合がある。そこで、本実施形態では、分割線の方向２８４と長軸方向８０とが０であると設計上概算した位置から、Δθ傾ける修正を行ったものを設計値とする。しかしながら、このようにビーム形状８の長軸方向８０と分割線の方向２８４とをΔθ傾ける場合、ＤＶＤ−ＲＡＭについては、このデフォーカス性能がよくなる角度の傾向が、ランド、グルーブで逆になる。したがって、この特性をバランスさせるようなΔθを求めることが必要となる。
【００６４】
図４を用いて、ランド、グルーブの特性差が生じる理由を説明する。図４は、ＤＶＤ−ＲＡＭのトラック形状の概要について説明する。前述のように、図４に示すように、光ディスク１００（ＤＶＤ−ＲＡＭ）を拡大すると、凸部のランド１００Ｌと、その間の溝のグルーブ１００Ｇが形成されている。また、ランド１００Ｌ、グルーブ１００Ｇのいずれにもピット１００Ｐが形成されている。ランド１００Ｌとグルーブ１００Ｇとでは高さが異なる。したがって、このランド１００Ｌ、グルーブ１００Ｇのいずれを読み取るかで、発光素子２３から光ディスク１００で反射して受光素子２８に至るまでの光路の距離が異なる。したがって、レンズ２６を駆動するためのフォーカス誤差信号の検出の状態に影響を与える。
【００６５】
図５〜図１１を用いて、デフォーカス性能をランド１００Ｌと、グルーブ１００Ｇとでバランスさせる方法について説明する。図５は、受光部２８０（受光部２８０Ｋ、Ｌの実施例を含む。）を表す図である。図６、図７は、長軸方向８０と分割線の方向２８４とを傾ける角度Δθを求める方法の実施例１，２を表している。図８〜図１１は、角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例１〜３を示している。
【００６６】
図５は、受光素子２８の受光部２８０と受光部２８０で結像するビーム形状８の長軸方向８０の角度θ傾けている状態を表している。前述した設計でθ＝０にした値は、測定した値でなく設計値である。これをθ＝θ０（≒０）とする。以下では、この角度θ０に対し、修正するための最適な角度Δθを求める方法を説明する。さらに、この角度が生じるようにピックアップ２の位置関係を構成する例を説明する。
【００６７】
なお、Δθは、その最適値の算出によっては、−側に移動する場合もある。この場合には、長軸方向８０は、図５の分割線の方向２８４に関して、反転した位置になる。
【００６８】
図６を用いて、Δθの最適値を求める方法の実施例１について説明する。図６（Ａ）のグラフは、所定のΔθについて、レンズ２６が光ディスク１００に焦点から外れた場合のデフォーカス（横軸）の値とジッタ（縦軸）との関係を表したものである。横軸のデフォーカスは、光ディスク１００に焦点が合った状態からのずれ量を表している。具体的には、デフォーカス量をＦＥの０値を最適値からずらしてＦＥを検出した場合のずれ量をＦＥの振幅で割った値を[％]で表している。このように焦点からずらしたアンバランスの状態でサーボ制御することで、フォーカスを外した状態を作り出すことができる。このずれ量をＦＥの振幅で割った値を「デフォーカス」[％]ということにする。焦点が合った状態から外れても直ちに光ディスク１００が読めなくなったり、ジッタが増加したりするのではない。この例では、デフォーカス[％]が±６％までは緩やかで、デフォーカス[％]とほとんど変わらないが、その範囲を超えると急増することが分かる。即ち所定の範囲については焦点がずれてもよい許容範囲がある。このように測定して、光ディスク１００を読み取ることができる許容範囲のデフォーカス[％]をデフォーカスマージン幅７２ということにする。この幅は、読み取り時に光ディスク１００に焦点を合わせる観点から見た信頼性の指標の意義を持つ。
【００６９】
図６（Ｂ）は、ランド１００Ｌ、グルーブ１００Ｇについてトラックに追従して、それぞれあらかじめ定めた複数のΔθ＝θ−θ０（図５の説明参照）で、デフォーカスマージン幅７２を測定し、グラフ化したものである。四角（■）がランド１００Ｌについてプロットしたものである。ひし形（◆）がグルーブ１００Ｇについてプロットしたものである。図６（Ｂ）に示すように、Δθとデフォーカスマージン幅７２との関係はランド１００Ｌとグルーブ１００Ｇとの間で逆になっている。即ち、Δθを−側に傾けると、グラフ７３Ｌに示すように、ランド１００Ｌのデフォーカスマージン幅７２は、広くなり改善される。Δθを−側に傾けると、グルーブ１００Ｇのデフォーカスマージン幅７２は、狭くなり、少しの面ブレでデータが読めなくなる可能性が高くなる。Δθを＋側に傾けると、グラフ７３Ｌに示すように、ランド１００Ｌのデフォーカスマージン幅７２は、狭くなり少しの面ブレでデータが読めなくなる可能性が高くなる。Δθを＋側に傾けると、グルーブ１００Ｇのデフォーカスマージン幅７２は、広くなり改善される。
【００７０】
以下、このような現象が生じる理由について考察する。分割線に対し、Δθ回転してずれることにより、ＦＥの２８ａ＋２８ｃと２８ｂ＋２８ｄとのバランスが移動し、ＦＥ信号の値がゼロとなる位置が上下にずれることになる。即ち、フォーカスの目標位置が本来の焦点からずれることになる。しかし、図４に示すようにランド１００Ｌと、グルーブ１００Ｇでは、段差があり、光路差があり、一定の距離を読み出す場合に考えられている常識とは異なっている。また、アクチュエータの状態は、各点で常に均質ではない。このようなことを考慮すると、必ずしもΔθが０の場合に最適になるのではない。却って、本来あるべき方向に是正されていると考えられる。さらに、Δθが−か＋かで、前述したフォーカスの目標位置が本来の焦点の目標位置からずれる方向が異なってくる。したがって、グラフ７３Ｌ、７３Ｇの傾きが逆になると考えられる。
【００７１】
次に、図５で示したΔθの最適値を求める方法について説明する。まず、Δθをランド１００Ｌ、グルーブ１００Ｇとで切り換えることは、容易でない。また、Δθの値を切り換える構成を付加するとコストアップになる。そこで、固定のΔθでランド１００Ｌ、グルーブ１００Ｇの特性をバランスさせるため、図６（Ｂ）のようにして求めたグラフ７３Ｌ、７３Ｇの交点７３ＣのΔθの値（Δθ＝−１．２、本発明のΔθ２に相当する。）を図５のΔθの最適値とする。このようにしてΔθを求めてピックアップ２を形成すれば、ランド１００Ｌ、グルーブ１００Ｇのデータを読み取ったときに、一方だけがフォーカス誤差が大きく、ジッタが大きいというような不具合を解消できる。
【００７２】
図７は、Δθの最適値を求める方法の実施例２を示している。図７の横軸は、Δθ[ｄｅｇ]である。縦軸は、レンズ２６を駆動する図示しないフォーカス駆動系のサーボゲインのバランス調整量[ｄＢ]を示している。即ち、フォーカスエラー信号ＦＥの振幅が、０値をはさんで±両側のゲイン量が異なると、フォーカス駆動系は、レンズ２６の焦点を正しく光ディスク１００に合わすことができない。そこで光ディスク装置１は、フォーカスサーボのゲイン調整を行っている。その調整ゲイン[ｄＢ]がサーボゲインのバランス調整量である。この図７に示すように、サーボゲインのバランス調整量とΔθとの関係は、ランド１００Ｌとグルーブ１００Ｇとの間で逆になっている。即ち、一方の特性に合わせると、他方の特性は外れてしまい、焦点を合わせる性能が劣化することになる。即ち、ジッタが増加したり、読み取れるディスクの面ぶれの許容度が劣化する虞がある。そこで、第２の実施例では、ランド１００Ｌ、グルーブ１００Ｇで特性を合わせるため、グラフ７４Ｌ、７４Ｇの交点７４ＣのΔθの値（Δθ４＝０．２５、本発明のΔθ４に相当する。）とする。
【００７３】
なお、Δθの値を図６、図７の第１、第２実施例で求めたΔθ１、Δθ２の値を単純に平均した値（−０．７２５）をΔθの最適値としてもよい。また、Δθ１、Δθ２の値を重み付けて平均した値でもよい。例えば、Δθ１を３、Δθ２を１の割合で重み付けて、（−１．２×３−０．２５）／４をΔθの最適値としてもよい。
【００７４】
図８〜図１１は、設計でθを０にするようにしたピックアップ２の位置関係（図５のθ＝θ０）から、角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例１〜３を示している。なお、以下の実施例では、説明の容易のためθ０≒０として説明する。θ０＝０でなくても、調整した結果は、現状の位置からΔθ修正した位置になるものであり、修正方法は変わらない。
【００７５】
図８を用いて、角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例１を示す。図８の実施例１は、発光素子２３を傾ける方法を示している。図８（Ａ）の位置関係は、図２（Ｃ）に対応しており、図８（Ｂ）の位置関係は、図２（Ｅ）に対応している。実施例１では、発光素子２３の出力方向１０２に対し４５＋Δθ[ｄｅｇ]傾ける。また、図８（Ｂ）に示すように、受光素子２８の受光部２８０の分割線の方向２８４は、方向１０４に対し４５[ｄｅｇ]のままとする。
【００７６】
このとき、光ディスク１００上の焦点のビーム形状２３５（図２（Ｄ）参照）は、トラック方向１００Ｔに対してΔθ傾いた状態になる。これにより、図８（Ｂ）に示すように、受光素子２８上で結像するビーム形状８を、分割線の方向２８４に対してΔθ傾いた状態にすることができる。
【００７７】
なお、光ディスク１００上の焦点のビーム形状２３５（図２（Ｄ）参照）は、トラック方向１００Ｔに対してΔθ傾いているが、前述のとおり、所定の許容範囲内であれば、光ディスク１００のデータを読み取ることができる。この実施例では、１[ｄｅｇ]程度以内なので、データの読み取り上、問題が生じない。
【００７８】
図９は、角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例２を示す。図９の実施例２は、受光素子２８を傾ける方法を示している。図９（Ａ）は、図２（Ｃ）と同じであり、図８（Ｂ）の位置関係は、図２（Ｅ）に対応している。実施例１では、図２（Ｃ）と同じく、発光素子２３の出力方向１０２に対し、４５[ｄｅｇ]傾けたままとする。また、図８（Ｂ）に示すように、受光素子２８の受光部２８０の分割線の方向２８４を、方向１０４に対し４５＋Δθ[ｄｅｇ]に変更する。このとき、光ディスク１００上の焦点のビーム形状は、図２（Ｃ）と同じくトラック方向１００Ｔに沿った状態になる。これにより、図８（Ｂ）に示すように、受光素子２８上で結像するビーム形状８は、方向１０４に対して４５度傾いた状態にすることができる。そして、分割線の方向２８４を、方向１０４に対し４５＋Δθ[ｄｅｇ]に変更したから、この実施例２でも、分割線の方向２８４と長軸方向８０の角度をΔθにすることができる。
【００７９】
なお、図８（Ｂ）、図９（Ｂ）で受光部２８０を傾けるための受光素子２８のＰＤＩＣの配置等は、図３（Ａ）、（Ｂ）の実施例１，２を適用することができる。この場合において、図９の実施例２については、図３（Ａ）、（Ｂ）の実施例１，２を、分割線の方向２８４と方向１０４との角度を４５＋Δθ[ｄｅｇ]にして適用することができる。また、図３（Ｂ）の実施例２の受光素子２８Ｌ全体をΔθ[ｄｅｇ]回転させるものでもよい。
【００８０】
図１０は、角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例３を示す。図１０の実施例３の受光素子２８Ｍは、ＰＤＩＣで構成する。図１０（Ａ）に示すように、そのＰＤＩＣの分割線の方向２８５をＰＤＩＣのパッケージに平行な方向２８６に対して、受光面２８Ｍａと受光面２８Ｍｄの間の分割線をΔθ傾けている。また、２８Ｍａと２８Ｍｂとの間の分割線は、受光面２８Ｍａと受光面２８Ｍｄの間の分割線と直行している。図１０（Ｂ）に示すように、受光素子２８Ｍは、方向１０４に対して４５[ｄｅｇ]の角度で、基板２７に取り付けられている。
【００８１】
図１０（Ｃ）は、受光部２８０Ｎの詳細図である。図１０（Ｃ）に示すように、受光素子２８Ｍを取り付けると、受光素子２８Ｍのパッケージの方向２８６は、方向１０４に対して４５[ｄｅｇ]の角度になる。また、このパッケージの方向２８６は、受光素子２８に結像するビーム形状８の長軸方向８０と一致する。受光素子２８に結像するビーム形状８の長軸方向８０（受光素子２８Ｍのパッケージの方向２８６）に対し、分割線の方向２８５をΔθ傾いた状態にすることができる。
【００８２】
図１１は、角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例４を示す。図１１（Ａ）は、この実施例４の受光素子２８Ｎの構成図である。受光素子２８Ｎは、ＰＤＩＣで構成する。受光素子２８Ｎは、図２（Ｅ）で示した受光部２８０と異なり、受光面の分割線画が角度Δθ斜めに分割されている。また、受光部２８０Ｎは、全体として、受光素子２８Ｎのパッケージに対して４５[ｄｅｇ]傾いている。
【００８３】
したがって、受光素子２８Ｎのパッケージを方向１０４に沿って基板２７に取り付けると、受光部２８０Ｎの長手方向２８７は、方向１０４に対して４５[ｄｅｇ]傾くことになる。この受光部２８０Ｎの長手方向２８７は、受光素子２８に結像するビーム形状８の長軸方向８０と一致する。また、そのＰＤＩＣの分割線の方向２８５は、受光素子２８Ｎのパッケージに対して４５＋Δθ[ｄｅｇ]傾いている。また、受光面２８Ｍａと受光面２８Ｍｂとの間の分割線は、受光面２８Ｍａと受光面２８Ｍｄの間の分割線と直行している。これら４つの受光面の面積を等しくするためである。
【００８４】
図１１（Ｂ）は、受光部２８０Ｎの拡大図である。図１１（Ａ）のように配置した場合に、受光素子２８に結像するビーム形状８の長軸方向８０と、分割線の方向２８５との角度をΔθにすることができる。
【００８５】
次に、図１２〜図１８を用いて、第１の実施形態の応用に係る第２の実施形態の光ディスク装置について説明する。この実施形態では、発光素子２３の代わりに、２波長のレーザ（以下、２波長レーザという。）を出力できる発光素子２３Ａと、これを受光するための受光素子２９を用いている。これにより、ＤＶＤ−ＲＡＭ以外の光ディスクについても、データを読み取ることができる。
【００８６】
図１２は、第２の実施形態の光ディスク装置の構成を示している。この実施形態でも第１実施形態の図６、図７で示したΔθを求める方法を適用する。図１４は、第２実施形態のピックアップ２Ａについて、分割線の方向２８４と長軸方向８０とでΔθ傾けたときの位置関係を表している。
【００８７】
図１２（Ａ）〜（Ｅ）の図の位置関係は、図２（Ａ）〜（Ｅ）と対応している。
【００８８】
図１２（Ａ）、（Ｂ）は、第２実施形態のピックアップ２Ａの構成を表している。発光素子２３Ａ、受光素子２９以外は、第１実施形態と同じ構成なので、第１実施形態の説明を準用する。発光素子２３Ａ、受光素子２９の構成については、図１２（Ｃ）以下を用いて説明する。
【００８９】
図１２（Ｃ）は、発光素子２３Ａのビーム形状を表している。発光素子２３Ａのビーム形状は、図２で示したビーム形状２３０の光のほかにビーム形状２３６の光を出力する。
図１２（Ｄ）に示すように、発光素子２３Ａを出力すると、レンズ２６を駆動することにより、光ディスク１００には、ビーム形状２３５のビームのほかに、ビーム形状２３７の光が焦点を結ぶ。
また、図１２（Ｅ）に示すように、光ディスク１００で反射したビーム形状２３７の光を受光
するため、図２で示した受光部２８０（受光面２８１、２８２、２８３）のほかに受光面２９１、２９２、２９３を有する受光部２９０を備えている。ここで、ピックアップ２Ａの光学系をピックアップ２Ａのうち発光素子２３Ａ、受光素子２９以外の構成とする。この光学系は、受光素子２９に結像するビーム形状８（以下第１のビーム形状８という。）の長軸方向８０と、分割線の方向２８４を第１の実施形態と同様、図６、図７で示した方法で角度を修正した場合に、受光面２９１の受光面の分割線の交点に第２のビーム形状８５が結像するようにピックアップ２を設計する。
【００９０】
次に、図１３を用いて、受光素子２９の実施例１，２について説明する。受光素子２９の実施例１，２の受光素子２９Ｋ、２９Ｌは、それぞれＰＤＩＣで構成する。この実施例１，２の受光素子２９Ｋ、２９Ｌは、図３の２８Ｋ、２８Ｌに対し、受光部２８０Ｋ、２８０Ｌのそれぞれの横に２９０Ｋ、２９０Ｌを並べて設けたものである。２９０Ｋ、２９０Ｌは、受光部２８０と同様の構成を備える。受光部２９０Ｋ、２９０Ｌは、図１２で示した受光部２９０と同じ形状である。その他の点は、図３と同様であり、図３の説明を準用する。図１３のように受光素子２８Ｋ、２９Ｌを構成すれば、図１２（Ｅ）の受光部２８０、２９０を構成できる。
【００９１】
次に、図１４を用いて、Δθ修正した状態について説明する。図１４は、受光素子２９の受光部２８０、２９０を表している。また、図１４は、受光素子２８の受光部２８０と受光部２８０で結像するビーム形状８の長軸方向８０の角度θ傾けている状態を表している。第１実施形態と同様、設計でθ＝０にしたθの値は、測定した値でなく設計値である。これをθ＝θ０（≒０）とする。以下では、図６、図７で求めたΔθを用いて、この位置からΔθ修正し、θ＝θ０＋Δθにする。
【００９２】
また、この実施形態では、さらに、第２のビーム形状８５が受光部２８０の分割線の交点に来るよう受光部２８０、受光部２９１の位置関係を設計する。場合により、受光部２９１の位置を受光部２８０に対してずらした位置に設けてもよい。
【００９３】
なお、最終的には、第２のビーム形状８５が受光部２８０の分割線の交点に来るよう受光部２８０、受光部２９１の位置関係を組立工程で調整するが、その調整量はごくわずかで、Δθの設計を乱さない程度であるものとする。具体的には図６、図７を用いて調整したΔθの量の１桁以上小さいものとする。
【００９４】
次に、図１５〜図１８を用いて、図６で求めたΔθの調整の実現する実施例について説明する。図１５〜図１８は、図８〜図１１に対応しており、いずれの実施例についても、受光面２８１についての調整方法は、図８〜図１１と同様である。また、この実施形態でも説明の容易のためθ０≒０として説明する。また、第２のビーム形状８５が結像する位置については、図１５〜図１８のいずれの受光面２９０、２９０Ｍ、２９０Ｎについても、分割線の中央に来るように設計する。
【００９５】
なお、以上で説明した、図６、図７による修正は、修正した後の光学系の長軸方向８０と、分割線の方向２８４とが一致することを排除するものではない。即ち、図２で、長軸方向８０と、分割線の方向２８４とが一致すると設計したピックアップ２の発光素子２３、受光素子２８、その他光学系の位置は、暫定的なものである。それから図６、図７で求めたΔθの値により修正している。したがって、その結果０になっても、問題は生じない。図６、図７の方法でこの暫定的な位置を修正していればよい。ただし、図６の説明で上述したとおり、ランド１００Ｌ、グルーブ１００Ｇによる光路差を考慮すると、修正した後の光学系の長軸方向８０と、分割線の方向２８４とを必ずしも一致させる必要はない。
【００９６】
また、以上では、スピンドル軸方向１０３との角度の初期値を４５度にすることにより設計上θ＝０となる角度（θ＝θ０）にしている。それから図６、図７の方法で修正している。しかし、この４５度は、１例である。この４５度は、ピックアップ２の光学系の設計（例えば、ハーフミラー２４、立ち上げミラー２５の配置方向）により変わるものであり、４５度以上であっても４５度未満であってもよい。
【００９７】
また、以上では光ディスク１００をＤＶＤ−ＲＡＭとして説明したが、ランドとグルーブを有する光ディスクであれば、本発明の実施形態として適用できる。
【符号の説明】
【００９８】
１−光ディスク装置、  ２−ピックアップ、
２１−スレッドモータ、  ２２−スピンドルモータ、
２３−発光素子、  ２３０−ビーム形状、  ２３１−長軸方向、
２３５−ビーム形状、  ２４−ハーフミラー、
２５−立ち上げミラー、  ２６−レンズ、  ２７−基板、
２８−受光素子、  ２８Ｋ，２８Ｌ−受光素子、  ２９−受光素子、
２８０−受光部、  ２８ａ〜ｄ−受光面、
２８Ｍａ〜ｄ−受光面、２９０Ｋ−第２受光部、
２８１〜２８３−受光面、  ２８４−分割線の方向、
２８５−分割線の方向、２８６−方向、
４１−エラー信号生成部、  ４３−ＲＦアンプ、
４５−ドラバ回路、  ４７−再生部、
６−操作部、  １００−光ディスク、  ７１−グラフ、
７２−デフォーカスマージン幅、  ７３Ｇ、７３Ｌ−グラフ、
７３Ｃ−交点、  ７４Ｇ、７４Ｌ−グラフ、  ７４Ｃ−交点、
８−ビーム形状、  ８０−長軸方向、  ２８４−分割線の方向、
１００Ｔ−トラック方向、  １００Ｒ−半径方向、
１００Ｌ−ランド、１００Ｇ−グルーブ、  １０１−スピンドル軸方向、
１０２−方向、  １０３−スピンドル軸方向、  １０４−方向
【図面の簡単な説明】
【００９９】
【図１】本発明の第１実施形態である光ディスク装置の主要部の構成を示すブロック図
【図２】第１実施形態である光ディスク装置のピックアップの構成を示すブロック図
【図３】受光部を傾けるための実施例を表す図
【図４】光ディスク（ＤＶＤ−ＲＡＭ）のトラック形状の概要を表す図
【図５】第１実施形態の受光部に結像するビーム形状の長軸方向と分割線との方向を示す図
【図６】第１実施形態の受光部に結像するビーム形状の長軸方向と分割線との角度Δθを求める方法を示す実施例１を表す図
【図７】第１実施形態の受光部に結像するビーム形状の長軸方向と分割線との角度Δθを求める方法を示す実施例２を表す図
【図８】第１実施形態の角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例１を表す図
【図９】第１実施形態の角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例２を表す図
【図１０】第１実施形態の角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例３を表す図
【図１１】第１実施形態の角度Δθの修正を実現するためのピックアップ２の各要素の配置の実施例４を表す図
【図１２】第２実施形態である光ディスク装置のピックアップの構成を示すブロック図
【図１３】第２の実施形態の光ディスク装置の受光素子の形状を表す図
【図１４】第１実施形態の受光部に結像するビーム形状の長軸方向と分割線との方向を示す図
【図１５】角度Δθの修正を実現するためのピックアップの各要素の配置の実施例１を表す図
【図１６】角度Δθの修正を実現するためのピックアップの各要素の配置の実施例２を表す図
【図１７】角度Δθの修正を実現するためのピックアップの各要素の配置の実施例３を表す図
【図１８】角度Δθの修正を実現するためのピックアップの各要素の配置の実施例４を表す図
【図１】
2008181588.tif 000003
【図２】
2008181588.tif 000004
【図３】
2008181588.tif 000005
【図４】
2008181588.tif 000006
【図５】
2008181588.tif 000007
【図６】
2008181588.tif 000008
【図７】
2008181588.tif 000009
【図８】
2008181588.tif 000010
【図９】
2008181588.tif 000011
【図１０】
2008181588.tif 000012
【図１１】
2008181588.tif 000013
【図１２】
2008181588.tif 000014
【図１３】
2008181588.tif 000015
【図１４】
2008181588.tif 000016
【図１５】
2008181588.tif 000017
【図１６】
2008181588.tif 000018
【図１７】
2008181588.tif 000019
【図１８】
2008181588.tif 000020