(57)【要約】【課題】ＬＤＣブロックとＢＩＳブロックに対する誤り訂正処理の効率化と精度の向上を図り得るデータ再生装置を提供する。【解決手段】イコライザ１０６から出力されるＰＲチャンネル等化波形ｙkと、ＰＲチャンネル再構成回路１１１によって再構成されたＰＲチャンネル波形ｄkとの間の絶対値差分が、誤り位置推定回路１１３によって一定期間（期間Ｎ）加算され、その加算値と閾値Ｄthを比較することにより、推定エラーマップ１１４が生成される。エラー情報解析部１１０ａは、推定エラーマップ１１４を参照して、ＬＤＣブロックとＢＩＳブロック上のエラー位置を特定する。ＢＩＳ／ＬＤＣ誤り訂正演算部１１０ｄは、特定されたエラー位置を用いてＬＤＣブロックとＢＩＳブロック上の各ラインに消失訂正を施す。【選択図】図１
2008181615.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体から読み出した１ＥＣＣクラスタ分のデータをＬＤＣ（Long Distance Code）ブロックとＢＩＳ（Burst Indicating Subcode）ブロックに分割し、これらブロック毎に誤り訂正符号に基づく誤り訂正処理を行ってデータを再生するデータ再生装置において、
前記記録媒体から読み取った信号をもとに前記ＥＣＣクラスタ上における誤り位置を推定する誤り位置推定回路と、
前記誤り位置推定回路における推定結果をもとに前記ＬＤＣブロック上における誤り位置を特定するエラー情報解析回路と、
前記エラー情報解析回路によって特定されたエラー位置を用いて前記ＬＤＣブロックの各ラインのデータに消失訂正による誤り訂正演算処理を施す誤り訂正演算回路と、
を有することを特徴とするデータ再生装置。
【請求項２】
請求項１に記載のデータ再生装置において、
前記エラー情報解析回路は、前記誤り位置推定回路における推定結果をもとに前記ＢＩＳブロック上における誤り位置をさらに特定し、
前記誤り訂正演算回路は、前記エラー情報解析回路によって特定されたＢＩＳブロック上のエラー位置を用いて前記ＢＩＳブロックの各ラインのデータに消失訂正による誤り訂正演算処理を施す、
ことを特徴とするデータ再生装置。
【請求項３】
請求項２に記載のデータ再生装置において、
前記誤り位置推定回路によって推定された誤り位置を前記ＥＣＣクラスタ上にマッピングすることにより推定エラーマップが作成され、
前記エラー情報解析回路は、前記推定エラーマップを解析して前記ＬＤＣブロックと前記ＢＩＳブロックにおける誤り位置を特定する、
ことを特徴とするデータ再生装置。
【請求項４】
請求項１ないし３の何れか一項に記載のデータ再生装置において、
前記誤り位置推定回路は、前記記録媒体から読み取った信号に基づくＰＲ（パーシャルレスポンス）等化信号と、このＰＲ等化信号の最尤復号結果から再構成したＰＲ等化信号の差分値を閾値と比較して前記誤り位置を推定する、
ことを特徴とするデータ再生装置。
【請求項５】
請求項１ないし４の何れか一項に記載のデータ再生装置において、
前記誤り位置推定回路は、異なる推定レベルで推定した誤り位置を前記ＥＣＣクラスタ上にマッピングすることにより複数の推定エラーマップを作成する機能を備え、
前記エラー情報解析回路は、これら複数の推定エラーマップのうち前記ＬＤＣブロックまたは前記ＢＩＳブロックの処理に好ましい推定エラーマップを解析して前記ＬＤＣブロックまたは前記ＢＩＳブロック上の誤り位置を特定する、
ことを特徴とするデータ再生装置。
【請求項６】
請求項５に記載のデータ再生装置において、
前記エラー情報解析回路は、前記記録媒体から取得される再生信号の品質に基づいて、前記ＬＤＣブロックまたは前記ＢＩＳブロックの処理に用いる推定エラーマップを設定する、
ことを特徴とするデータ再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ブルーレイディスク等の記録媒体からＡＶ（Audio Visual）データやコンピュータ用データ等を再生するデータ再生装置に関し、特に、誤り訂正処理の効率化を図る際に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の記録媒体において、媒体の欠陥や、ディスク面上に付着した埃または傷などに起因するエラーを訂正するために、Reed-Solomon（リードソロモン）符号などの誤り訂正符号が用いられてきた。また、近年、従来のＤＶＤよりも高密度、大容量化を目指した次世代光ディスクの商品開発が進められている。この種の光ディスクでは、記録媒体の高密度化に伴って、埃や傷などに起因するエラーや外乱によるエラー等が生じやすく、このため、これを扱う再生装置では、これらのエラーに対するより厳しい対応が求められている。
【０００３】
このような要望に対し、たとえば、特許文献１では、バーストエラーに対する訂正能力を向上させるための誤り訂正方法として、２種類の誤り訂正符号をインターリーブしてディスクに記録する方法が提案されており、その方法が、ブルーレイディスクの規格として採用されている。
【０００４】
図１０は、この方法を概念的に示す図である。ディスクから読み出された１ＥＣＣクラスタ分のデータ（同図（ａ）参照）は、ＢＩＳ（Burst Indicating Subcode）ブロック（同図（ｂ）参照）と、ＬＤＣ（Long Distance Code）ブロック（同図（ｃ）参照）に分割される。このうち、ＢＩＳブロックでは、３０バイトのデータ（アドレス情報およびユーザ制御データ）に対し３２バイトのパリティが付加され、ＬＤＣブロックでは、２１６バイトのユーザデータに対して３２バイトのパリティが付加されている。
【０００５】
誤り訂正処理時には、図１１（ａ）に示す如く、まず、ＢＩＳブロックにおいて、同図の矢印方向に１ラインずつ検出訂正が行われる。次に、検出された誤り位置（図中の“×”印の位置）がＥＣＣクラスタ上にマッピングされ（同図（ｂ）参照）、２つの誤り位置に挟まれたデータ区間に誤りがあると推定される。このように推定された誤り位置がＬＤＣブロック上にマッピングされ（同図（ｃ）参照）、この誤り位置を用いて同図の矢印方向に一ラインずつ消失訂正が行われる。
【０００６】
なお、検出訂正とは、誤り位置が特定されていない場合に誤り位置と誤り数値（元データからの差分）を検出してデータに誤り訂正を適用する誤り訂正方式であり、また、消失訂正とは、予め誤り位置が特定されている場合に、その位置を特定しつつデータに誤り訂正処理を適用する誤り訂正方式である。これらの訂正処理における誤り訂正能力は、パリティのバイト数に応じたものとなっている。
【特許文献１】特表２００１−５１５６４２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記特許文献１の方法によれば、２つの誤り位置に挟まれたデータ区間を誤り位置と推定するとの大雑把な判断にて、ＬＤＣブロック上に誤り位置が設定されるため、本来誤り位置でない位置が誤り位置と設定されて、ＬＤＣブロック上の各ラインに対する消失訂正が実行されることがしばしば起こり得る。その一方、ＬＤＣブロックにおける消失訂正能力は、上記の如くパリティのバイト数に応じたものとなっており、具体的には、図１０（ｃ）のデータ構成の場合、１ライン上に存在する誤り位置が３２個（バイト）以下のときに消失訂正可能となり、誤り位置の個数が３２個を越えると消失訂正不可となる。ところが、上記特許文献１の方法によれば、上記のように大雑把な判断にて誤り位置が推定されるため、１ライン上に存在する誤り位置が３２個以下であるにも拘わらず、これが３３個以上と推定される場合がしばしば起こり得る。その結果、本来消失訂正可能なラインを訂正不可とするとの事態が度々発生し、このため、誤り訂正処理の精度が損なわれるとの問題が生じる。
【０００８】
本発明は、このような問題を解消するために為されたものであり、上記特許文献１の方法によることなく、ＬＤＣブロックに対する誤り訂正処理の効率化と精度の向上を図り得るデータ再生装置を提供することを課題とする。加えて、本発明は、ＢＩＳブロックに対する誤り訂正処理の効率化と精度の向上を図り得るデータ再生装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題に鑑み本発明は、それぞれ以下の特徴を有する。
【００１０】
請求項１の発明は、記録媒体から読み出した１ＥＣＣクラスタ分のデータをＬＤＣブロックとＢＩＳブロックに分割し、これらブロック毎に誤り訂正符号に基づく誤り訂正処理を行ってデータを再生するデータ再生装置において、前記記録媒体から読み取った信号をもとに前記ＥＣＣクラスタ上における誤り位置を推定する誤り位置推定回路と、前記誤り位置推定回路における推定結果をもとに前記ＬＤＣブロック上における誤り位置を特定するエラー情報解析回路と、前記エラー情報解析回路によって特定されたエラー位置を用いて前記ＬＤＣブロックの各ラインのデータに消失訂正による誤り訂正演算処理を施す誤り訂正演算回路とを有することを特徴とする。
【００１１】
この発明によれば、誤り位置推定回路によって推定された誤り位置を用いて、ＬＤＣブロックの各ラインのデータに対し消失訂正による誤り訂正演算処理が施される。このとき、誤り位置は、記録媒体から読み取った信号をもとに推定されるため、上記従来技術に比べ、推定精度が数段引き上げられる。したがって、この発明によれば、上記従来技術に比べ、本来消失訂正が可能なラインを消失訂正不能と判断する可能性は抑制されることとなる。よって、本発明によれば、ＬＤＣブロックに対する誤り訂正処理を精度良く且つ効率的に行うことができる。
【００１２】
請求項２の発明は、請求項１に記載のデータ再生装置において、前記エラー情報解析回路は、前記誤り位置推定回路における推定結果をもとに前記ＢＩＳブロック上における誤り位置をさらに特定し、前記誤り訂正演算回路は、前記エラー情報解析回路によって特定されたＢＩＳブロック上のエラー位置を用いて前記ＢＩＳブロックの各ラインのデータに消失訂正による誤り訂正演算処理を施すことを特徴とする。
【００１３】
この発明によれば、ＢＩＳブロックの各ラインのデータに対しても消失訂正による誤り訂正処理が適用される。ここで、消失訂正は、検出訂正よりも多くの誤りを訂正できる。よって、本発明によれば、上記従来技術に比べ、ＢＩＳブロックに対するデータ再現率を向上させることができる。よって、ＢＩＳブロックに割り当てられた各種情報（アドレス情報およびユーザ制御データ）を、より円滑に再生することができる。
【００１４】
請求項３の発明は、請求項２に記載のデータ再生装置において、前記誤り位置推定回路によって推定された誤り位置を前記ＥＣＣクラスタ上にマッピングすることにより推定エラーマップが作成され、前記エラー情報解析回路は、前記推定エラーマップを解析して前記ＬＤＣブロックと前記ＢＩＳブロックにおける誤り位置を特定することを特徴とする。
【００１５】
この発明によれば、推定エラーマップを解析することにより、ＬＤＣブロックとＢＩＳブロックにおける誤り位置が特定される。なお、請求項２の発明は、このように推定エラーマップを介在することなく、誤り位置推定回路によって推定された誤り位置から直接、ＬＤＣブロックとＢＩＳブロックにおける誤り位置を特定する形態を含むものである。同様に、請求項１の発明は、推定エラーマップを介在することなく、誤り位置推定回路によって推定された誤り位置から直接、ＬＤＣブロックにおける誤り位置を特定する形態を含むものである。
【００１６】
請求項４の発明は、請求項１ないし３の何れか一項に記載のデータ再生装置において、前記誤り位置推定回路は、前記記録媒体から読み取った信号に基づくＰＲ（パーシャルレスポンス）等化信号と、このＰＲ等化信号の最尤復号結果から再構成したＰＲ等化信号の差分値を閾値と比較して前記誤り位置を推定することを特徴とする。
【００１７】
この発明によれば、ＥＣＣクラスタ上における誤り位置を高精度に推定することができる。よって、この発明によれば、本来消失訂正が可能なラインを消失訂正不能と判断する可能性を顕著に抑制することができ、その結果、ＬＤＣブロックおよびＢＩＳブロックに対する誤り訂正処理を高精度且つ効率的に行うことができる。
【００１８】
請求項５の発明は、請求項１ないし４の何れか一項に記載のデータ再生装置において、前記誤り位置推定回路は、異なる推定レベルで推定した誤り位置を前記ＥＣＣクラスタ上にマッピングすることにより複数の推定エラーマップを作成する機能を備え、前記エラー情報解析回路は、これら複数の推定エラーマップのうち前記ＬＤＣブロックまたは前記ＢＩＳブロックの処理に好ましい推定エラーマップを解析して前記ＬＤＣブロックまたは前記ＢＩＳブロック上の誤り位置を特定することを特徴とする。
【００１９】
この発明によれば、推定レベルの異なる複数の推定エラーマップのうちＬＤＣブロックまたはＢＩＳブロックの処理に好ましい推定エラーマップを解析してＬＤＣブロックまたはＢＩＳブロック上の誤り位置が特定される。したがって、本発明によれば、ＬＤＣブロックまたはＢＩＳブロックにおける誤り位置の特定をより適正に行うことができ、その結果、ＬＤＣブロックまたはＢＩＳブロックに対する誤り訂正処理の円滑化を図ることができる。
【００２０】
請求項６の発明は、請求項５に記載のデータ再生装置において、前記エラー情報解析回路は、前記記録媒体から取得される再生信号の品質に基づいて、前記ＬＤＣブロックまたは前記ＢＩＳブロックの処理に用いる推定エラーマップを設定することを特徴とする。
【００２１】
この発明によれば、記録媒体から取得される再生信号の品質に基づいて、ＬＤＣブロックまたはＢＩＳブロックの処理に用いる推定エラーマップが設定される。具体的には、再生信号の品質が低いほど推定レベルの低い推定エラーマップを用いるようにする。これは、再生信号の品質低下に応じて、本来誤り位置であるべきところが誤り位置でないと判断される可能性が高まるためである。このように、推定エラーマップを適宜切り替えることにより、各ラインに対する誤り訂正処理の適正化を図ることができる。
【発明の効果】
【００２２】
以上のとおり、本発明によれば、ＬＤＣブロックに対する誤り訂正処理の効率化と精度の向上を図ることができる。加えて、本発明によれば、ＢＩＳブロックに対する誤り訂正処理の効率化と精度の向上を図ることができる。
【００２３】
本発明の特徴ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
図１に、実施の形態に係るディスク再生装置の構成を示す。
【００２５】
図示の如く、本実施の形態に係るディスク再生装置は、光ピックアップ１０１と、増幅回路１０２と、ＡＤ変換回路１０３と、オフセット調整回路１０４と、デジタルＰＬＬ１０５と、イコライザ１０６と、ビタビデコーダ１０７と、復調回路１０８と、メモリ１０９と、ＥＣＣ回路１１０と、ＰＲチャンネル再構成回路１１１と、絶対値差分計算回路１１２と、誤り位置推定回路１１３と、推定エラーマップ１１４を備えている。
【００２６】
光ピックアップ１０１は、ディスクにレーザ光を照射するとともに、ディスクからの反射光を受光してデータの読み取りを行う。増幅回路１０２は、光ピックアップ１０１から供給される再生ＲＦ信号を増幅してＡＤ変換回路１０３に出力する。ＡＤ変換回路１０３は、非同期クロックに応じたタイミングにて再生ＲＦ信号をサンプリングし、サンプル値をデジタルデータに変換してオフセット調整回路１０４に出力する。オフセット調整回路１０４は、再生ＲＦ信号に含まれるＤＣオフセットを検出してこれを除去し、オフセットのない再生ＲＦ信号（デジタルデータ）を出力する。
【００２７】
デジタルＰＬＬ１０５は、ＡＤ変換回路１０３にてサンプリングされたデータを補間して、正規のサンプリングタイミングにおけるデータを生成する。イコライザ１０６は、デジタルＰＬＬ１０５から供給されるデータに対して波形等化処理を施してビタビデコーダ１０７に出力する。ビタビデコーダ１０７は、イコライザ１０６から入力されるデジタルデータにビタビ復号処理を施して１、０の２値化データを生成出力する。復調回路１０８は、ビタビデコーダ１０７から出力される２値化データを復調して、再生データを生成する。
【００２８】
メモリ１０９は、復調回路１０８から入力されるデータを格納する。ＥＣＣ回路１１０は、メモリ１０９に格納されたデータに対し誤り訂正処理を施し、訂正後のデータをメモリ１０９に書き戻す。訂正済みのデータは、適宜、メモリ１０９から読み出され、ホストに出力される。
【００２９】
なお、ＥＣＣ回路１１０は、後述の如く、推定エラーマップ１１４を参照して、ＢＩＳブロックとＬＤＣブロックに対し誤り訂正処理を行う。
【００３０】
ＰＲチャンネル再構成回路１１１は、ビタビデコーダ１０７の出力からＰＲ（Partial Response）チャネル波形を再構成する。絶対値差分計算回路１１２は、ＰＲチャンネル再構成回路１１１によって再構成されたＰＲチャンネル波形と、イコライザ１０６から出力されるＰＲチャンネル等化波形との間の絶対値差分を算出する。誤り位置推定回路１１３は、絶対値差分計算回路１１２によって算出された絶対値差分をもとに誤り位置を推定する。推定エラーマップ１１４は、誤り位置推定回路１１３によって推定された誤り訂正位置を、これに対応する１ＥＣＣクラスタ上のデータ位置として格納する。
【００３１】
なお、誤り位置推定回路１１３は、たとえば、絶対値差分計算回路１１２によって算出された絶対値差分を一定期間加算し、その値が一定の閾値以上と判定したとき、当該加算期間に対応するバイト分のデータ範囲を誤り位置と推定する。具体的には、ＰＲチャネル等化波形をｙk、この等化波形に対するビタビデコーダ１０７のデコード結果をｖk、ｖkから再構成されるＰＲチャネル波形をｄk、加算期間をＮ、一定の閾値をＤthとしたとき、
【００３２】
【数１】
2008181615.tif 000003
【００３３】
を満足するような数列｛ｖk，ｖk+1，…，ｖk+N-1｝(ｖj ∈ {0，1}, j = k, k+1, … , k+N-1)には誤りが含まれていると判定する。
【００３４】
図２は、誤り位置検出処理時の処理フローチャートである。上記の如く、誤り位置の検出処理時には、イコライザ１０６から出力されるＰＲチャンネル等化波形ｙk（Ｓ１０１）と、ＰＲチャンネル再構成回路１１１によって再構成されたＰＲチャンネル波形ｄk（Ｓ１０２）との間の絶対値差分が算出され（Ｓ１０３、Ｓ１０４）、この差分データが一定期間Ｎの間加算される（Ｓ１０５、Ｓ１０６）。そして、その加算結果が閾値Ｄthを越えるときは、当該ｄkからｄk+N-1までの範囲に対応するデータ位置に誤りがあると推定され、加算結果が閾値Ｄth以下のときは、当該ｄkからｄk+N-1までの範囲に対応するデータ位置には誤りはないと推定される。
【００３５】
ここで、閾値Ｄthは、たとえば、次のようにして決定される。図３を参照して、まず、ＩＥＣＣクラスタ分のデータを用いて、上記差分データを一定期間加算して求めたＤtの値をＥＣＣクラスタのマップ形式に変換してＭvalを構成する（同図（ａ）参照）。また、これに並行して、ＥＣＣ回路１１０における実際の誤り訂正結果から、当該ＥＣＣクラスタにおける実際のエラー位置をマップ化したエラーマップＭerrを作成する（同図（ｂ）参照）。さらに、閾値Ｄthをイニシャル値に設定し、この閾値Ｄthと、Ｍval中の値ｍij（i＝1，２，…，Ｎrow； j＝1，２，…，Ｎcol）とを比較して、ｍij≧Ｄthとなるデータ位置をエラー位置と推定する。ここで、Ｎrow、Ｎcolは、それぞれＥＣＣマップの行数および列数を表す。この操作を１ＥＣＣクラスタ分に渡って行い、当該ＥＣＣスラスタにおける推定エラー位置をマップ化した推定エラーマップＭprepを作成する（同図（ｃ）参照）。そして、ＭerrとＭprepを比較し、両マップ間におけるエラー位置の一致率ｒhitを求める（同図（ｄ）参照）。
【００３６】
同図（ｃ）（ｄ）の処理を、閾値Ｄthの値を変えながら、ｒhitを最大化するＤthが得られるまで実行する（同図（ｅ）参照）。そして、そのときの値を、誤り位置の検出処理に用いる閾値Ｄthとして設定する。
【００３７】
図４は、閾値Ｄthの設定処理時の処理フローチャートである。上記の如く、閾値Ｄthの設定処理時には、まず、ＩＥＣＣクラスタ分のデータを用いて、上記差分データを一定期間加算して求めたＤtの値をＥＣＣクラスタのマップ形式に変換したＭvalが構成される（Ｓ２０１）。次に、所定の閾値Ｄthと、Ｍval中の値ｍijとが比較され、ｍij≧Ｄthとなるデータ位置がエラー位置と推定される（Ｓ２０２）。この推定処理が１ＥＣＣクラスタ分に渡って行われ、当該ＥＣＣクラスタにおける推定エラー位置をマップ化した推定エラーマップＭprepが生成される（Ｓ２０３）。そして、当該ＥＣＣクラスタに対する実際の誤り訂正結果からエラーマップＭerrが生成され（Ｓ２０４）、このエラーマップと、Ｓ２０３にて生成された推定エラーマップＭprepが比較され、両マップ間におけるエラー位置の一致率ｒhitが求められる（Ｓ２０５）。Ｓ２０２からＳ２０５の処理は、閾値Ｄthの値を変えながら、ｒhitを最大化するＤthが得られるまで実行される（Ｓ２０６、２０７）。そして、ｒhitを最大化するＤthが得られると（Ｓ２０６：ＹＥＳ）、その値が、誤り位置の検出処理に用いる閾値Ｄthとして設定される（Ｓ２０８）。
【００３８】
なお、設定された閾値Ｄthは、その後に処理されるＥＣＣクラスタに対して一様に使用するようにしても良い。あるいは、各々のＥＣＣクラスタを用いて順次閾値Ｄthを求め、処理対象とされるＥＣＣクラスタに対して、その一つ前のＥＣＣクラスタにて求めた閾値Ｄthを適用するようにしても良い。
【００３９】
このようにして設定された閾値Ｄthを用いて誤り位置を推定し、推定した誤り位置をＥＣＣクラスタ上のデータ位置にマッピングすることにより、推定エラーマップ１１４が生成される。
【００４０】
本実施の形態では、生成された推定エラーマップ１１４を利用して、後述の如く、ＢＩＳブロックおよびＬＤＣブロックに対する誤り訂正処理が、ＥＣＣ回路１１０において実行される。なお、推定エラーマップ１１４を解析することにより、当該ＥＣＣクラスタに対する誤り訂正が不能となることを、誤り訂正処理を行う前に判定することもできる。この場合、当該ＥＣＣクラスタに対するリードのリトライを、当該ＥＣＣクラスタに対する誤り訂正処理を行うことなく、直ちに実行することができる。
【００４１】
なお、推定エラーマップ１１４は、メモリ、バッファ、レジスタ等のいずれの記憶手段に蓄えても良い。たとえば、推定エラーマップ１１４をＳＤＲＡＭに格納し、後からこれをリードして、処理に使用しても良い。
【００４２】
図１に戻り、ＥＣＣ回路１１０は、エラー情報解析部１１０ａと、ＢＩＳ／ＬＤＣ誤り訂正演算部１１０ｂから構成されている。エラー情報解析部１１０ａは、推定エラーマップ１１４をリードし、誤り訂正処理の対象とされるＥＣＣクラスタのエラー分布を解析する。ＢＩＳ／ＬＤＣ誤り訂正演算部１１０ｂは、エラー情報解析部１１０ａにおける解析結果に応じて、メモリ１０９に格納された当該ＥＣＣクラスタのデータに対し、誤り訂正処理を実行する。
【００４３】
次に、ＥＣＣ回路１１０における処理について説明する。
【００４４】
図５は、ＥＣＣ処理の概要を示す図である。ＥＣＣ処理の際には、上記の如くして生成された推定エラーマップ（同図（ｂ）参照）をもとに、当該ＥＣＣクラスタにおけるエラー分布が解析される。同図（ｂ）では、“×”印が付された位置がエラー位置である。そして、検出されたエラー位置が、ＢＩＳブロックにマッピングされ（同図（ａ）参照）、このエラー位置をもとに、ＢＩＳブロック上の各ラインに対して消失訂正が行われる。同様に、検出されたエラー位置がＬＤＣブロックにマッピングされ（同図（ｃ）参照）、このエラー位置をもとに、ＬＤＣブロック上における各ラインに対して消失訂正が行われる。
【００４５】
図６に、ＢＩＳブロックとＬＤＣブロックに対する誤り訂正処理時の処理フローを示す。なお、同図の処理フローは、ＢＩＳブロックとＬＤＣブロックに対して同様に適用される。ただし、ＢＩＳブロックとＬＤＣブロックは互いにライン数が相違するため、両ブロックに対する処理の際には、同図のＳ３０６における最終ライン数が、適宜、各ブロックのライン数に応じた数に設定される。
【００４６】
各ブロックに対する誤り訂正処理が開始されると、エラー情報解析部１１０ａによって当該ＥＣＣクラスタに対する推定エラーマップがリードされ（Ｓ３０１）、当該ＥＣＣクラスタ上におけるエラー分布が解析される。そして、その解析結果に応じて、各ブロック上におけるエラー位置が特定される（Ｓ３０２）。しかる後、変数ｎに１がセットされ、Ｓ３０２にて特定されたエラー位置をもとに、当該ブロックの１ライン目に存在するエラー数が消失訂正における限界訂正エラー数である３２個以下であるかが判別される（Ｓ３０３）。ここで、この判別がＹＥＳなら（Ｓ３０３：ＹＥＳ）、特定されたエラー位置をもとに、１ライン目のデータに対し消失訂正が行われる（Ｓ３０４）。一方、Ｓ３０３における判別がＮＯならば、誤り訂正は不能であるとして、当該当該ラインに対する誤り訂正処理がスキップされる（Ｓ３０５）。
【００４７】
このようにして当該ブロックの１ライン目に対する処理が終了すると、変数ｎが当該ブロックの最終ライン数に等しいかが判別される（Ｓ３０６）。ここで、この判別がＮＯならば（Ｓ３０６：ＮＯ）、変数ｎに１が加算され、当該ブロックの次のラインに対し、Ｓ３０３以降の処理が行われる。つまり、２ライン目に存在するエラー数が訂正限界エラー数（３２個）以下であれば（Ｓ３０３：ＹＥＳ）、２ライン目のデータに対して消失訂正が行われ（Ｓ３０４）、訂正限界エラー数（３２個）を超えていれば（Ｓ３０３：ＮＯ）、２ライン目のデータに対する誤り訂正処理がスキップされる（Ｓ３０５）。
【００４８】
Ｓ３０３以降の処理は、当該ブロックの最終ラインまで繰り返し実行される（Ｓ３０６：ＹＥＳ）。そして、最終ラインまで処理が終了すると、当該ブロックに対する誤り訂正処理が終了する。
【００４９】
以上、本実施の形態によれば、推定エラーマップをもとにＬＤＣブロック上のエラー位置が特定されるため、上記従来技術のように大雑把にエラー位置を推定する場合に比べ、ＬＤＣブロック上におけるエラー位置を精度良く特定することができる。よって、本来消失訂正が可能なラインを消失訂正不能と判断する可能性を低減させることができ、その結果、ＬＤＣブロックに対する誤り訂正処理を精度良く且つ効率的に行うことができる。
【００５０】
また、本実施の形態によれば、推定エラーマップをもとにＢＩＳブロック上の誤り位置が特定されるため、ＢＩＳブロックのデータに対しても消失訂正を適用することができる。ここで、消失訂正は、検出訂正よりも多くの誤りを訂正できる。よって、本実施の形態によれば、上記従来技術に比べ、ＢＩＳブロックに対するデータ再現率を向上させることができ、ＢＩＳブロックに割り当てられている各種情報（アドレス情報およびユーザ制御データ）をより円滑に取得することができる。
【００５１】
なお、本発明は、上記実施の形態に何ら制限されるものではない。また、本発明の実施形態は上記の他にも種々の変更が可能である。
【００５２】
たとえば、上記実施の形態における図６のフローチャートでは、処理対象のラインに存在するエラーの数が限界訂正エラー数（３２個）を超える場合には、そのラインに対する誤り訂正処理をスキップして次のラインの誤り訂正処理に移行するようにしたが、図７に示す如く、処理対象のラインに存在するエラーの数が限界訂正エラー数（３２個）を超える場合には（Ｓ３０３：ＮＯ）、即座に、当該ブロックに対する誤り訂正処理を終了するようにしても良い。この場合、当該ＥＣＣクラスタに対するデータ読み出しがリトライされ、これにより取得されたＥＣＣクラスタに対し、誤り訂正が中断されたブロックに対する処理が再度行われる。
【００５３】
なお、図７の処理フローは、たとえば、コンピュータデータ等、データ再生率を高く維持する必要のあるデータの誤り訂正処理に適用される。一方、図６の処理フローは、オーディオデータ等、データストリームの一部が抜けても再生が許容されるデータの誤り訂正処理に適用され得る。
【００５４】
また、上記実施の形態では、１種類の推定エラーマップを用いて誤り訂正処理を行うようにしたが、たとえば、上記推定エラーマップ（以下、「ノーマル用エラーマップ」という）と、これよりも推定レベルの低い推定エラーマップ（以下、「群分布用エラーマップ」という）を準備し、これら２つのエラーマップのうち何れか一方を適宜選択して、誤り訂正処理に用いるようにしても良い。ここで、群分布用エラーマップは、たとえば、ノーマル用エラーマップ上において、ディスクからの読み出し方向に並ぶ２つのエラー位置が所定のデータ間隔以下の範囲内にあるときに、これら２つのエラー位置に挟まれるデータ位置をエラー位置としてさらに特定することによって生成される。
【００５５】
図８（ｂ）は、群分布エラーマップの生成例を示す図である。図中、“×”印は、ノーマルエラーマップ上におけるエラー位置を示しており、ハッチングされた部分が、これらエラー位置をもとにさらに特定されたエラー位置である。
【００５６】
群分布エラーマップを用いて誤り訂正処理が行われる場合、当該群分布エラーマップ上において特定されたエラー位置が、ＢＩＳブロックにマッピングされ（同図（ａ）参照）、このエラー位置をもとに、ＢＩＳブロック上の各ラインに対して消失訂正が行われる。同様に、特定されたエラー位置がＬＤＣブロックにマッピングされ（同図（ｃ）参照）、このエラー位置をもとに、ＬＤＣブロック上における各ラインに対して消失訂正が行われる。なお、各ブロックに対する処理フローは、上記図６および図７と同様にして行われる。つまり、この場合には、参照されるエラーマップが、ノーマル用エラーマップから群分布用エラーマップに切り替えられるのみである。
【００５７】
誤り訂正処理時に何れのエラーマップを参照するかは、たとえば、ディスクから取得される再生信号の品質レベルに応じて設定される。具体的には、再生信号の品質が所定の閾値以下のときは群分布用エラーマップが選択され、再生信号の品質が所定の閾値よりも高いときはノーマル用エラーマップが選択される。ここで、前者の場合に群分布用エラーマップが選択されるのは、再生信号の品質低下に応じて、本来誤り位置であるべきところが誤り位置でないと判断される可能性が高まるためである。なお、再生信号の品質は、たとえば、再生信号上のジッタをモニタすることにより検出される。
【００５８】
図９は、ノーマル用エラーマップと群分布用エラーマップを適宜選択する場合の構成例である。図において、誤り位置推定回路１２０は、上記実施の形態に示す如くして誤り位置を推定し、その推定結果をノーマル用エラーマップとして推定エラーマップ１２１に格納する。さらに、誤り位置推定回路１２０は、このように生成したノーマル用エラーマップをもとに、上記の如くして、群分布用エラーマップを生成し、これを、推定エラーマップ１２１に格納する。
【００５９】
エラー情報解析部１１０ａは、オフセット調整後の再生信号をもとに当該再生信号の品質を検出し、検出した品質が、所定の閾値レベルよりも高いか否かを判別する。そして、検出した品質が、所定の閾値レベルよりも高い場合には、上記実施の形態と同様、ノーマル用エラーマップを推定エラーマップ１２１からリードし、これをもとに、図６または図７の処理フローに従う誤り訂正処理を実行する。一方、検出した品質が、所定の閾値レベル以下の場合には、群分布用エラーマップを推定エラーマップ１２１からリードし、これをもとに、図６または図７の処理フローに従う誤り訂正処理を実行する。
【００６０】
なお、群分布用エラーマップは、上記方法の他に、たとえば、上記図２の処理において、閾値Ｄthを一定値Δｄだけ小さく設定することにより生成され得る。この場合、閾値ＤthをΔｄだけ低く設定することにより、エラー位置と推定される範囲が、閾値をＤthとする場合に比べ拡張され、その結果、エラーが生じた可能性のある範囲がある程度の幅を持つエラー群として特定される。
【００６１】
この他、本発明は、光ディスク装置以外のデータ再生装置にも適宜適用可能である。
【００６２】
推定マップ１１４はブロック単位で更新されるため、ブロック単位の推定エラーマップ情報を推定し終えたら、誤り訂正回路１１０に前記推定エラーマップ情報を渡す必要がある。推定エラーマップ情報をエラー情報解析部１１０ａに渡すときには、推定エラーマップ１１４とエラー情報解析部１１０ａにバッファを配置し、このバッファに推定エラーマップ情報を書き込むようにして、誤り訂正回路１１０に推定エラーマップ情報を渡しても良い。または、推定エラーマップ情報をメモリ１０９に格納して、誤り訂正回路１１０に渡すようにしても良い。
【００６３】
この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図
【図２】実施の形態に係る推定エラーマップ生成時の処理フローを示す図
【図３】実施の形態に係る閾値Ｄthの設定方法を説明する概念図
【図４】実施の形態に係る閾値Ｄthの設定方法を示すフローチャート
【図５】実施の形態に係る誤り訂正処理を概念的に示す図
【図６】実施の形態に係る誤り訂正処理時のフローチャート
【図７】実施の形態に係る誤り訂正処理時のフローチャートの変更例
【図８】実施の形態に係る誤り訂正処理の変更例を概念的に示す図
【図９】実施の形態に係る光ディスク装置の構成の変更例を示す図
【図１０】従来例に係る誤り訂正処理を説明する図
【図１１】従来例に係る誤り訂正処理を説明する図
【符号の説明】
【００６５】
１１０    ＥＣＣ回路
１１０ａ  エラー情報解析部
１１０ｂ  ＢＩＳ／ＬＤＣ誤り訂正演算部
１１１    ＰＲチャンネル再構成回路
１１２    絶対値差分計算回路
１１３    誤り位置推定回路
１１４    推定エラーマップ
１２０    誤り位置推定回路
１２１    推定エラーマップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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