(57)【要約】【課題】印字不良品の数を低減することができるレーザマーキング装置のレーザマーキング方法及びレーザマーキングシステムを提供する。【解決手段】制御部５１は、テストマーキング手段を備えており、印字対象物２上の正式マーキング領域への正式マーキングの前に、予め設定したテストマーキング領域へのテストマーキングを行うテストマーキングステップが実行される。これにより、テストマーキングによりレーザマーキングシステムのマーキング動作の判定をすることができる。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源から出射されるレーザ光を印字対象物に照射することで該印字対象物上の所定領域にマーキング加工を行うレーザマーキングシステムのレーザマーキング方法であって、
前記所定領域への正式なマーキング加工の前に、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキングステップを備えたことを特徴とするレーザマーキング方法。
【請求項２】
請求項１に記載のレーザマーキング方法において、
前記テストマーキングステップにおけるテストマーキングの終了後にて、テストマーキングされたテストパターンの印字状態の良否を撮像による画像解析にて判定する判定ステップと、
前記判定ステップにおける印字状態の良判定に基づいて、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキングステップと
を備えたことを特徴とするレーザマーキング方法。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のレーザマーキング方法において、
前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングのパターンと同一パターンであることを特徴とするレーザマーキング方法。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載のレーザマーキング方法において、
前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物に対して１つのみマーキングされることを特徴とするレーザマーキング方法。
【請求項５】
請求項１〜３のいずれか１項に記載のレーザマーキング方法において、
前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物以外の対象物上に１つのみマーキングされることを特徴とするレーザマーキング方法。
【請求項６】
レーザ光を出射するレーザ光源と、
前記レーザ光を走査する光走査手段と、
前記レーザ光源及び前記光走査手段の作動を制御する制御手段と
を備え、印字対象物に照射する前記レーザ光を走査することで該印字対象物上の所定領域にマーキング加工を行うレーザマーキングシステムであって、
テスト印字トリガ信号の入力により、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキング手段と、
前記テストマーキング手段にてテストマーキングされたテストパターンを撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像されたテストパターンを画像解析し、テストパターンの印字状態の良否を判定する判定手段と、
前記テストマーキング手段によるテストマーキング終了後にマーキング加工を停止させる停止手段と、
前記判定手段による印字状態の良判定に基づいて、前記停止手段によるマーキング加工の停止状態を解除するとともに、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキング手段と
を備えたことを特徴とするレーザマーキングシステム。
【請求項７】
請求項６に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
前記判定手段による前記テストパターンの印字状態の良判定でない判定結果に基づいて、該判定結果を外部に報知する報知手段を備えたことを特徴とするレーザマーキングシステム。
【請求項８】
請求項６又は７に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
前記テストマーキング手段は、前記判定手段による良判定でない判定結果に基づいて、再テストマーキングを行うことを特徴とするレーザマーキングシステム。
【請求項９】
請求項６〜８のいずれか１項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
前記テストマーキング手段にてマーキングされるテストパターンは、前記正式マーキング手段にてマーキングされるパターンと同一のパターンであることを特徴とするレーザマーキングシステム。
【請求項１０】
請求項６〜９のいずれか１項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
前記テストマーキング手段は、複数の前記印字対象物に対して１つのみテストマーキングを行うことを特徴とするレーザマーキングシステム。
【請求項１１】
請求項６〜９のいずれか１項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
前記テストマーキング手段は、複数の前記印字対象物以外の対象物上に１つのみテストマーキングを行うことを特徴とするレーザマーキングシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光を印字対象物の表面に照射してマーキング加工を施すレーザマーキング装置におけるレーザマーキング方法及びレーザマーキングシステムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種のレーザマーキング装置では、レーザ光源から出射されたレーザ光を光走査手段により印字対象物の表面に走査することで、レーザマーキング装置に予め入力された所望の文字、図形、記号等（以下「マーキングパターン」）をマーキング加工するようになっている（例えば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００２−２９２４８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記のようなレーザマーキング装置では、光走査手段の作動不良やレーザ光源２１の出力不足、また、マーキングデータの切り替えミス等により所望のマーキングパターンどおりにマーキング加工がなされないことがあり、印字不良品を出してしまう虞があった。特に、大量の印字対象物に対してまとめて自動でマーキング加工を行う際には、大量の印字不良品を出してしまうこととなる。
【０００４】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、印字不良品の数を低減することができるレーザマーキング装置のレーザマーキング方法及びレーザマーキングシステムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、レーザ光源から出射されるレーザ光を印字対象物に照射することで該印字対象物上の所定領域にマーキング加工を行うレーザマーキングシステムのレーザマーキング方法であって、前記所定領域への正式なマーキング加工の前に、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキングステップを備えたことをその要旨とする。
【０００６】
この発明では、印字対象物上の所定領域への正式なマーキング加工の前に、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキングステップが備えられている。このため、テストマーキングによりマーキング動作が正常に行われているかを判定することができるので、印字不良品の数を低減することができる。
【０００７】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載のレーザマーキング方法において、前記テストマーキングステップにおけるテストマーキングの終了後にて、テストマーキングされたテストパターンの印字状態の良否を撮像による画像解析にて判定する判定ステップと、前記判定ステップにおける印字状態の良判定に基づいて、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキングステップとを備えたことをその要旨とする。
【０００８】
この発明では、テストマーキングステップにおけるテストマーキングの終了後にて、テストマーキングされたテストパターンの印字状態の良否を撮像による画像解析にて判定する判定ステップと、この判定ステップにおける印字状態の良判定に基づいて、印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキングステップとが備えられている。このため、テストパターンの印字状態の良否の判定を画像解析にて行うことで、テストマーキングから正式マーキングまでのマーキング加工の自動化が可能である。
【０００９】
請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載のレーザマーキング方法において、前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングのパターンと同一パターンであることをその要旨とする。
【００１０】
この発明では、テストマーキングによるテストパターンは、正式マーキングによる印字対象物上の所定領域へのマーキングのパターンと同一パターンである。このため、印字不良を発見することができる。
【００１１】
請求項４に記載の発明は、請求項１〜３のいずれか１項に記載のレーザマーキング方法において、前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物に対して１つのみマーキングされることをその要旨とする。
【００１２】
この発明では、テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物に対して１つのみマーキングされる。このため、マーキング加工を効率よく行うことができる。
【００１３】
請求項５に記載の発明は、請求項１〜３のいずれか１項に記載のレーザマーキング方法において、前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物以外の対象物上に１つのみマーキングされることをその要旨とする。
【００１４】
この発明では、テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物以外の対象物上に１つのみマーキングされる。このため、マーキング加工を効率よく行うことができる。
【００１５】
請求項６に記載の発明は、レーザ光を出射するレーザ光源と、前記レーザ光を走査する光走査手段と、前記レーザ光源及び前記光走査手段の作動を制御する制御手段とを備え、印字対象物に照射する前記レーザ光を走査することで該印字対象物上の所定領域にマーキング加工を行うレーザマーキングシステムであって、テスト印字トリガ信号の入力により、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキング手段と、前記テストマーキング手段にてテストマーキングされたテストパターンを撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像されたテストパターンを画像解析し、テストパターンの印字状態の良否を判定する判定手段と、前記テストマーキング手段によるテストマーキング終了後にマーキング加工を停止させる停止手段と、前記判定手段による印字状態の良判定に基づいて、前記停止手段によるマーキング加工の停止状態を解除するとともに、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキング手段とを備えたことをその要旨とする。
【００１６】
この発明では、テスト印字トリガ信号の入力により、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキング手段が備えられる。また、テストマーキング手段にてテストマーキングされたテストパターンを撮像する撮像手段と、撮像手段により撮像されたテストパターンを画像解析し、テストパターンの印字状態の良否を判定する判定手段とが備えられる。また、テストマーキング手段によるテストマーキング終了後にマーキング加工を停止させる停止手段と、判定手段による印字状態の良判定に基づいて、停止手段によるマーキング加工の停止状態を解除するとともに、印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキング手段とが備えられる。このため、テストマーキングから、そのテストパターンの判定、更に正式マーキングまでのマーキング加工を自動で行うことができ、印字不良品の数を低減することができる。
【００１７】
請求項７に記載の発明は、請求項６に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記判定手段による前記テストパターンの印字状態の良判定でない判定結果に基づいて、該判定結果を外部に報知する報知手段を備えたことをその要旨とする。
【００１８】
この発明では、判定手段によるテストパターンの印字状態の良判定でない判定結果を報知手段が外部に報知するため、該判定結果を確認することができる。
請求項８に記載の発明は、請求項６又は７に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記テストマーキング手段は、前記判定手段による良判定でない判定結果に基づいて、再テストマーキングを行うことをその要旨とする。
【００１９】
この発明では、テストマーキング手段は、判定手段による良判定でない判定結果に基づいて、再テストマーキングを行うため、テストマーキングによるマーキング動作が正常に行われているかの判定の確実性を向上させることができる。
【００２０】
請求項９に記載の発明は、請求項６〜８のいずれか１項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記テストマーキング手段にてマーキングされるテストパターンは、前記正式マーキング手段にてマーキングされるパターンと同一のパターンであることをその要旨とする。
【００２１】
この発明では、テストマーキング手段にてマーキングされるテストパターンは、正式マーキング手段にてマーキングされるパターンと同一パターンである。このため、印字不良を発見することができる。
【００２２】
請求項１０に記載の発明は、請求項６〜９のいずれか１項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記テストマーキング手段は、複数の前記印字対象物に対して１つのみテストマーキングを行うことをその要旨とする。
【００２３】
この発明では、テストマーキング手段は、複数の印字対象物に対して１つのみテストマーキングを行うため、テストマーキングを効率よく行うことができる。
請求項１１に記載の発明では、請求項６〜９のいずれか１項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記テストマーキング手段は、複数の前記印字対象物以外の対象物上に１つのみテストマーキングを行うことをその要旨とする。
【００２４】
この発明では、テストマーキング手段は、複数の印字対象物以外の対象物上に１つのみテストマーキングを行うため、テストマーキングを効率よく行うことができる。
【発明の効果】
【００２５】
従って、上記記載の発明によれば、印字不良品の数を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、本発明を具体化した一実施形態を図面に従って説明する。
図１及び図２に、本実施形態のレーザマーキングシステム１の構成を示す。レーザマーキングシステム１は、印字対象物２上にマーキング加工を行うレーザマーキング装置３と、該レーザマーキング装置３と接続された撮像装置４とからなる。
【００２７】
レーザマーキング装置３は、ヘッド部１１と、該ヘッド部１１に接続されたコントローラ部１２とからなる。ヘッド部１１は、加工用のレーザ光Ｌを出射するレーザ光源２１を備えている。レーザ光源２１は、レーザ発振器からなり、コントローラ部１２に備えられた制御部５１にてその発振が制御されている。
【００２８】
レーザ光Ｌの光路途中には、レーザ光源２１側から順に光走査手段としての一対のガルバノミラー２２ｘ，２２ｙと収束レンズ２３とが配設されている。各ガルバノミラー２２ｘ，２２ｙは、制御部５１の制御に基づく駆動装置２４ｘ，２４ｙの駆動により角度制御されており、これらガルバノミラー２２ｘ，２２ｙによりレーザ光Ｌが２次元的に走査される。
【００２９】
各ガルバノミラー２２ｘ，２２ｙによって走査されたレーザ光Ｌは、前記収束レンズ２３に入射される。収束レンズ２３は、該収束レンズ２３に入射したレーザ光Ｌを印字対象物２の表面において所定のスポット径となるまで収束させ、マーキング加工に適したエネルギー密度まで高める。このように収束した状態で印字対象物２の表面に照射するレーザ光Ｌは、前記ガルバノミラー２２ｘ，２２ｙにより印字対象物２の表面を２次元的に走査され、所望のマーキングパターンをマーキングするようになっている。
【００３０】
図１に示すように、コントローラ部１２は、テーブル制御部３１と電気的に接続されている。テーブル制御部３１は、コントローラ部１２の制御部５１からの入力信号に基づいてアクチュエータ３２の作動を制御している。アクチュエータ３２の作動により、スライドテーブル３３は２次元的（図１のＸ方向及びＹ方向）にスライドするようになっている。スライドテーブル３３上には、マーキング加工される印字対象物２が配置される。
【００３１】
コントローラ部１２は、撮像装置４と電気的に接続されている。撮像装置４は、判定手段としての処理部４１と、撮像手段としてのイメージセンサ４２とからなる。イメージセンサ４２は、その撮像面が前記スライドテーブル３３の上面に対向するように設けられており、イメージセンサ４２の撮像領域は該スライドテーブル３３上になるように設定されている。そして、スライドテーブル３３が２次元的にスライドすることにより、印字対象物２上の任意の領域の画像を撮像することができるようになっている。
【００３２】
図２は、本実施形態のレーザマーキングシステム１の電気的構成を示すブロック図である。
ヘッド部１１とコントローラ部１２とは電気的に接続されている。コントローラ部１２は、制御手段、テストマーキング手段、停止手段及び正式マーキング手段としての制御部５１と、マーキングパターン設定手段、マーキング位置設定手段及び入力手段としての入出力装置５２と、記憶手段としてのメモリ５３とからなる。
【００３３】
制御部５１は、入出力装置５２から入力されるマーキングパターン及びマーキング位置等のデータに基づいて、マーキングするために必要な座標データを生成する。尚、制御部５１にて生成された座標データは、メモリ５３に記憶される。制御部５１は、生成した座標データに基づき前記レーザ光源２１と前記ガルバノミラー２２ｘ，２２ｙを駆動する駆動装置２４ｘ，２４ｙとを制御して、テストマーキング及び正式マーキングを実行する。
【００３４】
正式マーキングは、印字対象物２上への所望のマーキングパターンのマーキング加工である。本実施形態では、図３に示すように、正式マーキングを実行する正式マーキング領域６１は、印字対象物２上において３×３行列に正方に分割された領域である。この行列のそれぞれに正式マーキングを実行して、９つの正式パターン６１ａがマーキングされる（図３（ｂ）参照）。尚、９つすべてが正式パターン６１ａであるが、便宜上１つの正式パターン６１ａのみに符号を付した。
【００３５】
一方、テストマーキングを実行するテストマーキング領域６２は、印字対象物２上における正式マーキング領域６１の隣に位置する例えば長方形の領域であり、このテストマーキング領域６２内にテストパターン６２ａがマーキングされる。尚、このテストマーキング領域６２は、印字対象物２上における正式マーキング領域６１以外のテストマーキングが可能な領域に設定されている。
【００３６】
図２に示すように、コンソール等からなる入出力装置５２は、正式パターン６１ａ及びテストパターン６２ａとその各マーキング位置とを設定し、これらのデータを制御部５１に出力する。尚、入出力装置５２には、ディスプレイ等の報知手段としての表示部（図示略）が備えられており、設定した正式パターン６１ａ及びテストパターン６２ａとその各マーキング位置とを該表示部上で確認することができる。
【００３７】
制御部５１は、正式パターン６１ａのデータを撮像装置４の処理部４１に出力する。処理部４１は、この正式パターン６１ａのデータを画像データに変換するとともに、この正式パターン６１ａの画像データと、撮像したテストパターン６２ａの画像データとのパターンマッチングを行うようになっている。
【００３８】
次に、本実施形態のレーザマーキングシステム１のレーザマーキング方法について説明する。本実施形態の制御部５１は、時系列順にテストマーキングステップ、判定ステップ及び正式マーキングステップを実行する。
【００３９】
制御部５１に対して、入出力装置５２やレーザマーキングシステム１外部に設けたシーケンサ（図示略）等からテスト印字トリガ信号が入力されると、レーザマーキング装置３は、入出力装置５２にて予め設定されていたテストマーキング位置に、同じく予め設定されていたテストパターン６２ａをマーキングする。尚、テストマーキング位置は、テストマーキング領域６２内に設定される。本実施形態では、図３（ａ）に示すように、テストパターン６２ａは正式パターン６１ａと同一に設定されており、共に「Ａ」である。
【００４０】
テストマーキングが終了すると、制御部５１がマーキング加工を停止させるとともに、判定ステップが実行される。判定ステップでは、コントローラ部１２の制御部５１が、テストマーキング位置等のデータをテーブル制御部３１に出力する。テーブル制御部３１は、アクチュエータ３２を制御して、撮像装置４のイメージセンサ４２の撮像範囲内にテストパターン６２ａを配置すべくスライドテーブル３３をスライドさせる。そして、イメージセンサ４２によりテストパターン６２ａが撮像される。イメージセンサ４２は、テストパターン６２ａの画像データを処理部４１に出力する。一方、コントローラ部１２の制御部５１は、正式パターン６１ａを処理部４１に出力する。そして、上記したように、処理部４１は、イメージセンサ４２によって撮像されたテストパターン６２ａの画像データと、正式パターン６１ａの画像データとのパターンマッチングを行い、テストパターン６２ａの良否を判定する。処理部４１は、テストパターン６２ａの画像データと、正式パターン６１ａの画像データとが略一致する場合に判断結果を「良」とし、それ以外を「否」とする。尚、制御部５１によりマーキング加工が停止されているため、イメージセンサ４２による撮像中又は処理部４１による判定中等に、印字対象物２に対して誤ってマーキング加工されることはない。
【００４１】
ここで、処理部４１は「否」の判断結果を下すと、正式マーキングは実行されず、前記入出力装置５２の表示部に「否」の判定結果を示す表示がなされる。処理部４１が「否」の判断を下すのは、レーザ光源２１の出力不足等によるテストパターン６２ａのかすれや、ガルバノミラー２２ｘ，２２ｙの作動不良等によるテストパターン６２ａのつぶれ等が発生した場合である。尚、例えばコントローラ部１２及び撮像装置４に対して外部から又はメモリ５３と撮像装置４に設けたメモリ（図示略）等とから別々にマーキングデータが入力される構成にしたときにおいて、マーキングデータの切り替えミス等により正式パターン６１ａの「Ａ」に対して例えば「Ｂ」とテストマーキングされた場合も、処理部４１は「否」の判断結果を下すようになっている。尚、この場合は、テストパターン６２ａと正式パターン６１ａとが同一に設定されているため、処理部４１は良否判断を下すことができる。
【００４２】
判定ステップにおける処理部４１にて「良」の判断結果が下されると、制御部５１が前記マーキング加工の停止状態を解除するとともに、正式マーキングステップが実行される。この「良」の判断結果に基づいて、処理部４１は、正式マーキングトリガ信号を制御部５１に出力する。そして、正式マーキングトリガ信号が制御部５１に入力されることにより、図３（ｂ）に示すように、レーザマーキング装置３は、生成した座標データに基づいて正式マーキングを行うようになっている。
【００４３】
次に、本実施形態の特徴的な作用効果を記載する。
（１）制御部５１は、テストマーキング手段を備えており、印字対象物２上の正式マーキング領域６１への正式マーキングの前に、予め設定したテストマーキング領域６２にテストマーキングを行うテストマーキングステップが実行される。このため、テストマーキングによりレーザマーキングシステム１のマーキング動作が正常に行われているかを判定することができるので、印字不良品の数を低減することができる。
【００４４】
（２）撮像装置４は、撮像手段としてのイメージセンサ４２と、判断手段としての処理部４１とを備え、制御部５１は正式マーキング手段及び停止手段を備えている。そして、テストマーキング終了後にて、テストパターン６２ａの印字状態の良否を処理部４１によるパターンマッチングにて判定する判定ステップと、この判定ステップにおける印字状態の良判定に基づいて、印字対象物２上の正式マーキング領域６１へのマーキングを行う正式マーキングステップとが実行される。このため、テストパターン６２ａの印字状態の良否を撮像装置４の処理部４１によるパターンマッチングにて行うことで、テストマーキングから正式マーキングまでのマーキング加工の自動化が可能である。
【００４５】
（３）テストパターン６２ａは、正式パターン６１ａと同一に設定されているため、印字不良を発見することができる。
（４）処理部４１により「否」の判定が下された場合、入出力装置５２の表示部に「否」の判定結果を示す表示がなされるため、「否」の判定結果を確認することができる。
【００４６】
尚、本発明の実施形態は、以下のように変更してもよい。
・上記実施形態では、テストマーキングは、印字対象物２上に行われたが、印字対象物２以外の対象物上に行ってもよい。例えば、印字対象物２をトレイ等に載せ、テストマーキングをそのトレイ上に行ってもよい。
【００４７】
・上記実施形態では、印字対象物２は１つのみ設けたが、テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の印字対象物に対して１つのみマーキングされる構成としてもよい。また、複数の印字対象物以外の例えばトレイ上に１つのみマーキングされる構成としてもよい。これらの構成により、マーキング加工を効率よく行うことができる。
【００４８】
・上記実施形態では、スライドテーブル３３がスライドすることにより、撮像装置４のイメージセンサ４２の撮像範囲内にテストパターン６２ａが配置されたが、撮像装置４が移動する構成としてもよい。この場合、印字対象物２は、スライドしない固定テーブルに配置される構成としてもよい。また、予めイメージセンサ４２の撮像範囲内にテストパターン６２ａがマーキングされる位置を配置すべく撮像装置４を斜めに配置して、イメージセンサ４２により撮像された画像データを正方補正した後、パターンマッチングを行う構成としてもよい。
【００４９】
・上記実施形態では、テストパターン６２ａは正式パターン６１ａと同一に設定されたが、テストパターン６２ａはそれ以外の文字、図形、記号等としてもよい。
・上記実施形態では、テストマーキングステップの終了後に判定ステップ及び正式マーキングステップが実行されたが、テストマーキングステップのみを実行する構成として撮像装置４を省略し、人が良否判定してもよい。
【００５０】
・上記実施形態では、テストマーキング領域６２は、正式マーキング領域６１とは別な領域であるが、テストマーキング領域６２を正式マーキング領域６１内のテストマーキングが可能な位置に設けてもよい。この場合、正式パターンにてテストパターンを塗りつぶしてもよい。
【００５１】
・上記実施形態では、正式マーキング領域６１は、３×３の行列に分割されたが、特にこれに限定するものではなく、例えば４×４等の行列や、行と列との数が異なる行列に分割してもよい。また、正式マーキング領域６１を分割されていない領域としてもよい。
【００５２】
・上記実施形態では、９つすべての正式パターン６１ａの正式マーキングに対して１回しか行われなかったが、これ以外にも、例えば正式パターン６１ａの１列毎や１行毎にテストマーキングを行ってもよい。また、任意の数の正式パターン６１ａがマーキングされた後にテストマーキングを行ってもよい。
【００５３】
・上記実施形態では、処理部４１により「否」の判定が下された場合、入出力装置５２の表示部に「否」の判定結果を示す表示がなされたが、それ以外にも、例えば入出力装置５２から警告音が発生してもよい。
【００５４】
・上記実施形態以外に、処理部４１によるテストパターン６２ａの「否」の判定後、再テストマーキングを行ってもよい。この構成により、テストマーキングによるマーキング動作が正常に行われているかの判定の確実性を向上させることができる。尚、再テストマーキングする位置は、１回目のテストマーキングと同じ位置としても、異なる位置としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本実施形態におけるレーザマーキングシステムの構成図である。
【図２】レーザマーキングシステムの電気的構成を示すブロック図である。
【図３】（ａ），（ｂ）は、印字対象物へのマーキングを示す図である。
【符号の説明】
【００５６】
Ｌ…レーザ光、１…レーザマーキングシステム、２…印字対象物、４…撮像装置、２１…レーザ光源、２２ｘ，２２ｙ…光走査手段としてのガルバノミラー、４１…判定手段としての処理部、４２…撮像手段としてのイメージセンサ、５１…制御手段、テストマーキング手段、正式マーキング手段及び停止手段としての制御部、５２…報知手段としての入出力装置、６１…正式マーキング領域、６１ａ…正式パターン、６２…テストマーキング領域、６２ａ…テストパターン。
【図１】
2008055480.tif 000003
【図２】
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【図３】
2008055480.tif 000005