(57)【要約】【課題】検査用導波管の先端部を高周波部品の導波管の先端部に押し付けるだけで確実に嵌合させることが可能な高周波部品の検査装置を提供する。【解決手段】高周波部品１１１が検査装置１１の載置台１６上に載せられるときに、導波管１１２の中心軸が検査用導波管１５の中心軸からずれていたとしても、高周波部品１１１の荷重が導波管１１２の先端凹部１１２ａを通じて検査装置１１の検査用導波管１５の先端凸部１５ａに加わると、検査用導波管１５の先端凸部１５ａが導波管１１２の先端凹部１１２ａに誘い込まれて嵌合する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
高周波部品の導波管に検査用導波管を上下方向に着脱自在に接続し、この検査用導波管を通じて前記高周波部品を検査する高周波部品の検査装置において、
前記検査用導波管の先端部近傍を複数の弾性部材を介して上下方向移動可能に支持し、かつ前記検査用導波管の先端部近傍を水平方向移動可能に支持する支持手段を備えることを特徴とする高周波部品の検査装置。
【請求項２】
前記支持手段は、前記検査用導波管の先端部が前記高周波部品の導波管の先端部に接続されたときに両者の導波管の中心が一致する様に該検査用導波管を移動可能に支持することを特徴とする請求項１に記載の高周波部品の検査装置。
【請求項３】
前記支持手段は、合成樹脂製の部品を含むことを特徴とする請求項１に記載の高周波部品の検査装置。
【請求項４】
前記検査用導波管及び該検査用導波管を支持する前記支持手段は、着脱自在であることを特徴とする請求項１に記載の高周波部品の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高周波部品の導波管に検査用導波管を着脱自在に接続し、この検査用導波管を通じて高周波部品を検査する高周波部品の検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の従来の検査装置としては、図７（ａ）の正面図、（ｂ）の側面図に示す様なものがあり、また検査対象の高周波部品としては、図８（ａ）の正面図、（ｂ）の側面図に示す様な衛星放送受信用ＢＳコンバータがある。
【０００３】
図７（ａ）、（ｂ）の検査装置１０１は、ベース１０２と、ベース１０２上に突設された支柱１０３と、支柱１０３の途中に上方に向けられて固定支持された検査用導波管１０４と、支柱１０３上に水平に固定された載置台１０５とを備えている。
【０００４】
図９（ａ）、（ｂ）に示す様なＬ字型部材１０６を支柱１０３に固定し、Ｌ字型部材１０６の孔１０６ａに検査用導波管１０４を挿入して、検査用導波管１０４を固定している。検査用導波管１０４の先端は、円錐状の先端凸部１０４ａとなっている。
【０００５】
また、図８（ａ）、（ｂ）の高周波部品１１１は、導波管１１２及び同軸コネクタ１１３等を備えている。導波管１１２の先端は、すり鉢状の先端凹部１１２ａとなっている。
【０００６】
ここで、載置台１０５上に、高周波部品（衛星放送受信用ＢＳコンバータ）１１１を置いて、この高周波部品１１１の導波管１１２を下方に向け、この導波管１１２の先端凹部１１２ａを検査用導波管１０４の先端凸部１０４ａに着脱自在に嵌合接続し、その上で、高周波信号を検査用導波管１０４及び導波管１１２を通じて高周波部品１１１に入力し、高周波部品１１１の動作試験を行う。
【０００７】
この様な高周波部品１１１の検査においては、高周波部品１１１の導波管１１２と検査用導波管１０４を高精度で接続させるべく、導波管１１２の先端凹部１１２ａを検査用導波管１０４の先端凸部１０４ａに密接嵌合させることが望ましい。
【０００８】
ところが、検査用導波管１０４を高精度で加工したとしても、量産品である高周波部品１１１の導波管１１２には寸法誤差がある。特に、導波管１１２がアルミダイカストである場合には、その寸法誤差が大きい。この様な導波管１１２の寸法誤差のため、導波管１１２の先端凹部と検査用導波管１０４の先端凸部間の密接嵌合が困難なことがあり、これが高周波部品１１１の動作試験の誤判定の原因になった。
【０００９】
このため、特許文献１には、検査用導波管を１本のユニバーサルジョイントやコイルバネを介して吊り下げて支持し、検査用導波管の先端部を高周波部品の導波管の先端部に容易に合致させることを可能にしている。
【特許文献１】特開２００６−１３３１３４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、特許文献１の様な検査用導波管の支持構造では、検査用導波管を１本のユニバーサルジョイントやコイルバネを介して吊り下げて支持しているだけであるから、検査用導波管の向きが安定せず、このために検査用導波管を手で支えて、検査用導波管の先端部が高周波部品の導波管の先端部に合致する様に検査用導波管の位置調節を行う必要があり、手間がかかった。
【００１１】
そこで、本発明は、上記従来の問題に鑑みてなされたものであり、検査用導波管の先端部を高周波部品の導波管の先端部に押し付けるだけで確実に嵌合させることが可能な高周波部品の検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するために、本発明の高周波部品の検査装置は、高周波部品の導波管に検査用導波管を上下方向に着脱自在に接続し、この検査用導波管を通じて前記高周波部品を検査する高周波部品の検査装置において、前記検査用導波管の先端部近傍を複数の弾性部材を介して上下方向移動可能に支持し、かつ前記検査用導波管の先端部近傍を水平方向移動可能に支持する支持手段を備えている。
【００１３】
また、前記支持手段は、前記検査用導波管の先端部が前記高周波部品の導波管の先端部に接続されたときに両者の導波管の中心が一致する様に該検査用導波管を移動可能に支持している。
【００１４】
更に、前記支持手段は、合成樹脂製の部品を含んでいる。
【００１５】
また、前記検査用導波管及び該検査用導波管を支持する前記支持手段は、着脱自在である。
【発明の効果】
【００１６】
この様な本発明によれば、支持手段は、複数の弾性部材を介して検査用導波管の先端部近傍を上下方向移動可能に支持し、かつ該検査用導波管の先端部近傍を水平方向移動可能に支持している。このため、検査用導波管の先端部に高周波部品の導波管の先端部が押し付けられたときには、検査用導波管の先端部が各弾性部材の弾性力に抗して上下方向に移動し、検査用導波管の先端部が高周波部品の導波管の先端部に押し付けられて嵌合する。このとき、検査用導波管の先端部近傍が複数箇所で弾性的に支持されていることから、検査用導波管を手で支えなくても、検査用導波管の先端部の向きが略維持され続ける。また、検査用導波管の先端部が、最も安定した位置まで、つまり高周波部品の導波管の先端部に嵌合する位置まで水平方向に誘い込まれて移動する。
【００１７】
例えば、支持手段は、検査用導波管の先端部が高周波部品の導波管の先端部に接続されたときに両者の導波管の中心が一致する様に該検査用導波管を移動可能に支持している。
【００１８】
また、支持手段は、合成樹脂製の部品を含んでいる。例えば、高周波部品の導波管に接触し易い位置にある支持手段の部品が合成樹脂製にされている。これにより、高周波部品の導波管が支持手段との接触により傷つくことを防止することができる。
【００１９】
更に、検査用導波管及び該検査用導波管を支持する支持手段は、着脱自在である。高周波部品の導波管は、単数とは限らず、複数のこともある。検査用導波管及び支持手段を着脱自在にすることにより、高周波部品の導波管の個数に合わせて、検査用導波管及び支持手段を増減することができ、１つの検査装置により複数種類の高周波部品の検査が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の実施形態を添付図面を参照しつつ詳細に説明する。
【００２１】
図１（ａ）、（ｂ）は、本発明の検査装置の一実施形態を示す正面図及び側面図である。この検査装置１１は、ベース１２と、ベース１２上に突設された支柱１３と、支柱１３の略中央に設けられた支持ユニット１４と、支持ユニット１４により上方に向けられて支持された検査用導波管１５と、支柱１３上に水平に固定された載置台１６とを備えている。
【００２２】
図２（ａ）、（ｂ）に示す様に支持ユニット１４は、支柱１３に直接固定支持されたＬ字型部材１７と、検査用導波管１５の先端近傍外周に固定されたフランジ１８と、フランジ１８下側に重ねられた支持板１９と、Ｌ字型部材１７の水平板１７ａに対してフランジ１８及び支持板１９を移動可能に連結する３本のピン２１と、各ピン２１に挿入された３組の下側コイルバネ２２及び上側コイルバネ２３とを備えている。
【００２３】
検査用導波管１５は、Ｌ字型部材１７の水平板１７ａの大孔１７ｂ及び支持板１９の大孔１９ａに挿通自在に挿入されており、検査用導波管１５の先端近傍外周のフランジ１８が支持板１９に重ねられている。
【００２４】
３本のピン２１は、支持板１９上の等間隔の３箇所を貫通して固定されている。各ピン２１の下側には３個の下側コイルバネ２２が通され、各ピン２１の下側がＬ字型部材１７の水平板１７ａのそれぞれの小孔１７ｃに挿通自在に通され、各ピン２１の下側留め片２１ａにより該各ピン２１からの水平板１７ａの脱落が防止されている。
【００２５】
従って、図３（ａ）に示す様にＬ字型部材１７の水平板１７ａと支持板１９間には、各ピン２１の下側に挿入されたそれぞれの下側コイルバネ２２が挟み込まれ、各下側コイルバネ２２により支持板１９が水平板１７ａから離間する上方向に付勢されて弾性的に支持されている。また、図３（ｂ）に示す様に支持板１９に下方向への荷重が作用したならば、各下側コイルバネ２２の弾性力に抗して、支持板１９及び各ピン２１が水平板１７ａへと接近する下方向に移動し、各下側コイルバネ２２が短縮する。
【００２６】
そして、支持板１９の上下方向の移動に伴い、支持板１９に重なるフランジ１８が上下方向に移動し、検査用導波管１５も上下方向に移動する。
【００２７】
すなわち、検査用導波管１５が上下方向（ｚ軸方向）に弾性的に移動可能に支持されている。
【００２８】
また、３本のピン２１は、支持板１９上側に重ねられたフランジ１８の各小孔１８ａを挿通自在に通されている。そして、各ピン２１の上側には３個の上側コイルバネ２３が通され、各ピン２１の上側留め片２１ｂにより該各ピン２１からの各上側コイルバネ２３の脱落が防止されている。
【００２９】
従って、図４（ａ）、（ｂ）に示す様に各上側コイルバネ２３によりフランジ１８が支持板１９上に押え付けられる。図３（ｂ）に示した様に支持板１９及び各ピン２１が水平板１７ａへと接近する下方向に移動しても、このときには各上側コイルバネ２３が伸長するので、各上側コイルバネ２３によりフランジ１８が支持板１９上に押え付けられ、フランジ１８がガタツクことはない。
【００３０】
更に、各ピン２１の上側の径をΦＡとすると、フランジ１８の各小孔１８ａの径がΦ（Ａ＋Ｂ）であり、各ピン２１の径がフランジ１８の各小孔１８ａの径よりも小さくされている。このため、図５（ａ）〜（ｈ）に示す様にフランジ１８の各小孔１８ａの内周が各ピン２１に当接する範囲で、フランジ１８が支持板１９上で水平方向に移動可能である。
【００３１】
そして、フランジ１８が水平方向に移動可能であることから、検査用導波管１５も水平方向に移動可能である。
【００３２】
すなわち、検査用導波管１５が水平方向（ｘ軸方向、ｙ軸方向）に移動可能に支持されている。
【００３３】
この様に検査用導波管１５がｘ軸方向、ｙ軸方向、及びｚ軸方向に移動可能に支持されている。
【００３４】
また、検査装置１１におけるフランジ１８、支持板１９、及び各ピン２１は、合成樹脂製である。このため、次に述べる様な高周波部品の検査に際し、高周波部品がフランジ１８、支持板１９、及び各ピン２１に接触しても傷付くことはない。あるいは、フランジ１８及び支持板１９の重量が軽いので、検査用導波管１５がフランジ１８及び支持板１９と共にｘ軸方向、ｙ軸方向、及びｚ軸方向に容易に移動する。
【００３５】
次に、本実施形態の検査装置１１により高周波部品を検査する手順を説明する。
【００３６】
検査対象となる高周波部品１１１は、例えば図８（ａ）、（ｂ）に示す様なものであり、導波管１１２及び同軸コネクタ１１３等を備えている。導波管１１２の先端は、すり鉢状の先端凹部１１２ａとなっている。
【００３７】
ここで、図１（ａ）、（ｂ）に示す様に高周波部品１１１の導波管１１２を下方に向けた状態で、高周波部品１１１を検査装置１１の載置台１６上に置いて、この導波管１１２の先端凹部１１２ａを載置台１６の孔１６ａを介して検査用導波管１５の先端凸部１５ａに被せる。
【００３８】
このとき、高周波部品１１１が検査装置１１の載置台１６上に載るよりも先に、高周波部品１１１の導波管１１２の先端凹部１１２ａが検査装置１１の検査用導波管１５の先端凸部１５ａに接する。このため、高周波部品１１１の荷重が該高周波部品１１１の導波管１１２の先端凹部１１２ａを通じて検査装置１１の検査用導波管１５の先端凸部１５ａに加わり、下方向への力が検査用導波管１５に作用し、更に該下方向への力が検査用導波管１５のフランジ１８及び支持板１９を通じて各下側コイルバネ２２に作用して、図３（ｂ）に示す様に各下側コイルバネ２２が短縮し、検査用導波管１５がｚ軸に沿って下方向に移動する。そして、高周波部品１１１が検査装置１１の載置台１６上に載る。
【００３９】
ここで、仮に高周波部品１１１の導波管１１２の中心軸が検査用導波管１５の中心軸に一致していたならば、導波管１１２の先端凹部１１２ａが検査用導波管１５の先端凸部１５ａに正確に嵌合する。
【００４０】
また、仮に高周波部品１１１の導波管１１２の中心軸が検査用導波管１５の中心軸からずれていたならば、導波管１１２の先端凹部１１２ａのすり鉢状周面の一部が検査用導波管１５の先端凸部１５ａの円錐状周面の一部に当接し、つまりそれぞれの周面が当接し、これらの周面に水平方向の力が相互作用する。この水平方向の力により、検査用導波管１５の先端凸部１５ａが水平方向（ｘ軸方向、ｙ軸方向）に移動し導波管１１２の先端凹部１１２ａに誘い込まれて嵌合する。
【００４１】
従って、高周波部品１１１が検査装置１１の載置台１６上に載せられるときに、導波管１１２の中心軸が検査用導波管１５の中心軸からずれていたとしても、高周波部品１１１の荷重が導波管１１２の先端凹部１１２ａを通じて検査装置１１の検査用導波管１５の先端凸部１５ａに加わると、検査用導波管１５の先端凸部１５ａが導波管１１２の先端凹部１１２ａに誘い込まれて嵌合する。
【００４２】
このため、検査用導波管１５を手で支えなくても、導波管１１２の先端凹部１１２ａを検査用導波管１５の先端凸部１５ａに高精度で接続させることができる。また、導波管１１２がアルミダイカストであって、その寸法誤差が大きくても、検査用導波管１５の先端凸部１５ａが導波管１１２の先端凹部１１２ａに誘い込まれて嵌合するので、高周波部品１１１の動作試験を正確に行うことができる。
【００４３】
尚、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、多様に変形することができる。例えば、１本の支柱１３に対して複数組の検査用導波管１５及び支持ユニット１４を着脱自在に設けることが可能な構成としても良い。高周波部品は、１つの導波管１１２を有するとは限らず、図６（ａ）、（ｂ）に示す様に複数の導波管１１２を有することもある。複数組の検査用導波管１５及び支持ユニット１４を着脱自在にすることにより、高周波部品の導波管の個数に合わせて、検査用導波管１５及び支持ユニット１４を増減することができ、１つの検査装置により複数種類の高周波部品の検査が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】（ａ）、（ｂ）は、本発明の検査装置の一実施形態を示す正面図及び側面図である。
【図２】（ａ）、（ｂ）は、図１の検査装置における支持ユニットを示す正面図及び側面図である。
【図３】（ａ）、（ｂ）は、図２の支持ユニットにおけるＬ字型部材の水平板、支持板、ピン、及び下側コイルバネを示す正面図及び側面図である。
【図４】（ａ）、（ｂ）は、図２の支持ユニットにおける支持板、フランジ、ピン、及び上側コイルバネを示す正面図及び側面図である。
【図５】（ａ）〜（ｈ）は、図２の支持ユニットにおけるフランジの小孔内のピンの移動を示す図である。
【図６】（ａ）、（ｂ）は、複数の導波管を有する高周波部品を示す正面図及び側面図である。
【図７】（ａ）、（ｂ）は、従来の検査装置を示す正面図及び側面図である。
【図８】（ａ）、（ｂ）は、１つの導波管を有する高周波部品を示す正面図及び側面図である。
【図９】（ａ）、（ｂ）は、図７の検査装置における検査用導波管の周辺を示す正面図及び側面図である。
【符号の説明】
【００４５】
１１  検査装置
１２  ベース
１３  支柱
１４  支持ユニット
１５  検査用導波管
１７  Ｌ字型部材
１８  フランジ
１９  支持板
２１  ピン
２２  下側コイルバネ
２３  上側コイルバネ
１１１  高周波部品
１１２  導波管
１１３  同軸コネクタ
【図１】
2008147872.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2008147872.tif 000008
【図７】
2008147872.tif 000009
【図８】
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【図９】
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