(57)【要約】【課題】  短時間で起動処理を行うことができる、着脱可能な記録媒体の情報記録再生装置を提供する。【解決手段】  着脱可能な光ディスクに記録された欠陥情報があるときには欠陥情報有無フラグを「ＯＮ」に、欠陥情報がないときには「ＯＦＦ」に設定し、さらに欠陥情報があり不揮発性メモリにすべて記録可能であるときには欠陥情報有効フラグを「ＯＮ」に、すべて記録可能でないときには「ＯＦＦ」に設定してこれらのフラグ情報を不揮発性メモリ２１に保持させるフラグ設定部１８８と、この光ディスク１１を挿入したままの状態で電源が切断され再度投入されたときに保持されたフラグ情報を取得し、欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグが「ＯＮ」のときは不揮発性メモリ２１に保持された欠陥情報を取得し、欠陥情報有無フラグが「ＯＦＦ」のときは欠陥情報の取得を行わずに起動処理を行うフラグ情報取得部１８２を有する。【選択図】  図１
2008251099.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体上における欠陥の存在位置を示す欠陥情報に基づいて、着脱可能な前記記録媒体へのデータの記録、再生を行う情報記録再生装置において、
前記記録媒体が装着されたときに、予め前記記録媒体に記録されている前記欠陥情報を取得して、本装置が備える揮発性メモリに記憶させる第１欠陥情報取得部と、
外部から電源切断指示が供給されたとき、電源を切断する前に、前記揮発性メモリに前記欠陥情報が記憶されているか否かを判断し、その結果、
前記欠陥情報が記憶されていると判断したときには、欠陥情報の有無を示すための欠陥情報有無フラグに有を示す情報を設定するとともに、本装置が備える不揮発性メモリに、前記欠陥情報のすべてを記憶可能であるか否かを判断し、その結果、すべてを記憶可能であると判断したときには、前記欠陥情報が有効であるか無効であるかを示すための欠陥情報有効フラグに有効を示す情報を設定する一方、すべてを記憶できないと判断したときには、前記欠陥情報有効フラグに無効を示す情報を設定し、
前記欠陥情報が記憶されていないと判断したときには、前記欠陥情報有無フラグに無を示す情報を設定し、
設定された前記欠陥情報有無フラグおよび前記欠陥情報有効フラグを前記不揮発性メモリに記憶させるフラグ設定部と、
前記欠陥情報有無フラグに有を示す情報が設定され、かつ、前記欠陥情報有効フラグに有効を示す情報が設定されていたときは、前記揮発性メモリに記憶されている前記欠陥情報を読み出し、この読み出した欠陥情報を前記不揮発性メモリに記憶させる欠陥情報記録制御部と、
前記記録媒体が装着された状態で、本装置の電源が切断され、その後、再度電源が投入されたときに、前記不揮発性メモリから前記欠陥情報有無フラグおよび前記欠陥情報有効フラグを取得するフラグ情報取得部と、
取得した前記欠陥情報有無フラグに有を示す情報が設定されており、かつ、取得した前記欠陥情報有効フラグに有効を示す情報が設定されていたときは、前記不揮発性メモリに記憶されている欠陥情報を取得し、取得した前記欠陥情報有無フラグに有を示す情報が設定されており、かつ、取得した前記欠陥情報有効フラグに無効を示す情報が設定されていたときは、前記記録媒体に記録されている前記欠陥情報を取得し、この取得した欠陥情報を前記揮発性メモリに記録させる第２欠陥情報取得部と、
前記揮発性メモリに保持された欠陥情報に基づいて、前記記録媒体へのデータの記録、再生を行う記録再生部と、
を備えることを特徴とする情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、着脱可能な記録媒体の欠陥情報の書き込みおよび読み出しを行う情報記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク等の着脱可能な記録媒体には、欠陥のあるセクタに関する欠陥情報を所定の欠陥情報記録領域に記録しておき、この記録媒体への情報の書き込みおよび読み出しを行う際は、情報記録再生装置においてこの欠陥情報を参照して欠陥のあるセクタは使用せずに代替セクタに代替する処理が行われる。
【０００３】
光ディスクにおいては、フォーマット時に発見される初期欠陥が初期欠陥リスト（ＰＤＬ：Primary Defect List）に記録され、使用開始後に発見された二次欠陥が二次欠陥リスト（ＳＤＬ：Second Defect List）に記録され、これらのリストが光ディスク上の複数箇所にある欠陥情報記録領域に書き込まれることにより欠陥情報が記録される。
【０００４】
これらのリストは、記録再生装置から光ディスクを取り出す際、または、光ディスクが挿入された記録再生装置の電源を切る際に光ディスクに書き込まれ、次回この光ディスクが記録再生装置に挿入される際、または、この光ディスクが挿入された記録再生装置の電源が投入される際に光ディスクから読み出され、代替セクタへの代替処理が行われる。
【０００５】
この光ディスクに記録された欠陥情報を利用する技術として、特許文献１に記載の技術がある。
【０００６】
特許文献１には、記録媒体に記録された欠陥情報を更新する際に欠陥情報の新旧を判断するための更新情報を付加し、データを再生する際はこの更新情報を用いることにより最新の欠陥情報を参照する技術が記載されている。
【０００７】
この技術を利用することにより、内容が異なる複数の欠陥情報がありデータが古いために無効な欠陥情報が存在しても、確実に最新の正確な欠陥情報を用いて記録媒体のデータを再生させることができる。
【特許文献１】特開平８−２９３１８８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、特許文献１のような従来の方法で欠陥情報の書き込みおよび読み出しを行うと、記録媒体が情報記録再生装置に挿入される際、または、この記録媒体が挿入された情報記録再生装置の電源が投入される際に、複数箇所の欠陥情報記録領域に記録された欠陥情報を毎回取得する必要があり、情報記録再生装置の起動時間を長くする要因となるという問題があった。
【０００９】
情報記録再生装置では、消費電力を削減するために未使用時は電源をOFFにする必要があり、これにより電源のON・OFFを行う頻度が増すこともあり、装置の起動時間を短くすることが望まれる。
【００１０】
よって本発明は、短時間で起動処理を行うことができる、着脱可能な記録媒体の情報記録再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するための本発明の情報記録再生装置（１）は、記録媒体上における欠陥の存在位置を示す欠陥情報に基づいて、着脱可能な前記記録媒体へのデータの記録、再生を行うものであり、前記記録媒体が装着されたときに、予め前記記録媒体に記録されている前記欠陥情報を取得して、本装置が備える揮発性メモリ（１６）に記憶させる第１欠陥情報取得部（１８１）と、外部から電源切断指示が供給されたとき、電源を切断する前に、前記揮発性メモリ（１６）に前記欠陥情報が記憶されているか否かを判断し、その結果、前記欠陥情報が記憶されていると判断したときには、欠陥情報の有無を示すための欠陥情報有無フラグに有を示す情報を設定するとともに、本装置が備える不揮発性メモリ（２１）に、前記欠陥情報のすべてを記憶可能であるか否かを判断し、その結果、すべてを記憶可能であると判断したときには、前記欠陥情報が有効であるか無効であるかを示すための欠陥情報有効フラグに有効を示す情報を設定する一方、すべてを記憶できないと判断したときには、前記欠陥情報有効フラグに無効を示す情報を設定し、前記欠陥情報が記憶されていないと判断したときには、前記欠陥情報有無フラグに無を示す情報を設定し、設定された前記欠陥情報有無フラグおよび前記欠陥情報有効フラグを前記不揮発性メモリ（２１）に記憶させるフラグ設定部（１８８）と、前記欠陥情報有無フラグに有を示す情報が設定され、かつ、前記欠陥情報有効フラグに有効を示す情報が設定されていたときは、前記揮発性メモリ（１６）に記憶されている前記欠陥情報を読み出し、この読み出した欠陥情報を前記不揮発性メモリ（２１）に記憶させる欠陥情報記録制御部（１８９）と、前記記録媒体が装着された状態で、本装置の電源が切断され、その後、再度電源が投入されたときに、前記不揮発性メモリ（２１）から前記欠陥情報有無フラグおよび前記欠陥情報有効フラグを取得するフラグ情報取得部（１８２）と、取得した前記欠陥情報有無フラグに有を示す情報が設定されており、かつ、取得した前記欠陥情報有効フラグに有効を示す情報が設定されていたときは、前記不揮発性メモリ（２１）に記憶されている欠陥情報を取得し、取得した前記欠陥情報有無フラグに有を示す情報が設定されており、かつ、取得した前記欠陥情報有効フラグに無効を示す情報が設定されていたときは、前記記録媒体に記録されている前記欠陥情報を取得し、この取得した欠陥情報を前記揮発性メモリ（１６）に記録させる第２欠陥情報取得部（１８３）と、前記揮発性メモリ（１６）に保持された欠陥情報に基づいて、前記記録媒体へのデータの記録、再生を行う記録再生部（１８５、１８６）とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の情報記録再生装置によれば、着脱可能な記録媒体を挿入した状態で電源を切断した後、再度電源を投入したときに起動時間を短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
〈一実施形態による光ディスク記録再生装置１の構成〉
本発明の一実施形態においては、情報記録再生装置が光ディスク記録再生装置であり、挿入する記録媒体が光ディスクである場合について説明する。
【００１４】
本実施形態による光ディスク記録再生装置１の構成を、図１を参照して説明する。
【００１５】
本実施形態による光ディスク記録再生装置１は、光ディスク１１と、光ピックアップ１２と、データ処理部１３と、復調部１４と、バッファ制御部１５と、揮発性メモリ１６と、入出力インタフェース１７と、制御部１８と、エンコード部１９と、変調部２０と、不揮発性メモリ２１とを有する。
【００１６】
光ディスク１１は、再生処理対象または記録処理対象のコンテンツデータを記録し、光ディスク記録再生装置１に挿入されている。
【００１７】
光ピックアップ１２は、再生処理対象の光ディスク１１からの再生対象のコンテンツデータの読み出し処理と、記録処理対象の光ディスク１１への記録対象のコンテンツデータの書き込み処理と、再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１からの欠陥情報の読み出し処理および欠陥情報の書き込み処理とを行う。
【００１８】
また、光ピックアップ１２は、記録対象の光ディスク１１への記録対象のコンテンツデータの書き込み処理時に新たな欠陥情報を検出したときには、この情報をデータ処理部１３に送出する。
【００１９】
データ処理部１３は、光ピックアップ１２で読み出された再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１の欠陥情報、再生対象のコンテンツデータ、および記録対象のコンテンツデータの書き込み処理時に新たに検出された欠陥情報を取得し、これらの情報の２値化を行う。
【００２０】
復調部１４は、データ処理部１３で２値化された光ディスク１１の変調された欠陥情報、再生対象のコンテンツデータ、および新たに検出された欠陥情報を復調する。
【００２１】
バッファ制御部１５は、揮発性メモリ１６および不揮発性メモリ２１へのデータの入出力の制御を行う。
【００２２】
揮発性メモリ１６は、電源を切ると記憶内容が失われるＲＡＭなどの半導体メモリであり、光ディスク１１が挿入された時に、復調部１４で取得され復調された再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１の欠陥情報または不揮発性メモリ２１で保持されていた欠陥情報をバッファ制御部１５の制御により取得し、光ディスク記録再生装置１の電源が継続して起動している状態であり且つ再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１が継続して挿入されている間保持する。
【００２３】
また、揮発性メモリ１６は、記録対象のコンテンツデータの書き込み処理時に新たに検出された記録処理対象の光ディスク１１の欠陥情報をバッファ制御部１５の制御により取得し、光ディスク記録再生装置１の電源が継続して起動している状態であり且つ再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１が継続して挿入されている間保持する。
【００２４】
入出力インタフェース１７は、外部からの電源投入指示、データ再生指示、データ記録指示、電源切断指示等を入力するとともに、再生対象のコンテンツデータを外部に出力する。
【００２５】
制御部１８は、第１欠陥情報取得部１８１と、フラグ情報取得部１８２と、第２欠陥情報取得部１８３と、データ再生制御部１８４と、再生データ出力制御部１８５と、データ記録制御部１８６と、欠陥情報更新部１８７と、フラグ設定部１８８と、欠陥情報記録制御部１８９とを有する。
【００２６】
第１欠陥情報取得部１８１は、再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１が挿入されたことを検出し、この光ディスク１１に記録された欠陥情報を読み取る指示を光ピックアップ１２に送出する。
【００２７】
フラグ情報取得部１８２は、再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１が挿入された状態で光ディスク記録再生装置１の電源が入出力インタフェース１７からの指示により切断され再度電源投入指示を取得したときに、不揮発性メモリ２１から欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグの情報を取得して第２欠陥情報取得部１８３に送出する。
【００２８】
第２欠陥情報取得部１８３は、フラグ情報取得部１８２から欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグの情報を取得したときに、欠陥情報有無フラグが「ＯＮ」であり且つ欠陥情報有効フラグが「ＯＮ」のときは不揮発性メモリ２１に保持されている欠陥情報を揮発性メモリ１６に展開させる指示をバッファ制御部１５に送出し、欠陥情報有無フラグが「ＯＮ」である且つ欠陥情報有効フラグが「ＯＦＦ」のときは挿入された光ディスク１１に記録された欠陥情報を読み取る指示を光ピックアップ１２に送出し、欠陥情報有無フラグが「ＯＦＦ」であるときは欠陥情報を取得する処理は行わず待機状態となる。
【００２９】
データ再生制御部１８４は、入出力インタフェース１７から入力されたデータ再生指示を取得したときに、再生処理対象の光ディスク１１に記録された再生対象のコンテンツデータを、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報に基づいて読み出す指示を光ピックアップ１２に送出する。
【００３０】
再生データ出力制御部１８５は、データ再生制御部１８４の指示により再生処理対象の光ディスク１１から読み出された再生対象のコンテンツデータを、入出力インタフェース１７を介して外部に送出する。
【００３１】
データ記録制御部１８６は、入出力インタフェース１７から入力された記録対象のコンテンツデータおよびこのコンテンツデータを記録するためのデータ記録指示を取得したときに、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報に基づいて記録処理対象の光ディスク１１に記録対象のコンテンツデータを記録する指示と記録対象のコンテンツデータとをバッファ制御部１５に送出する。
【００３２】
欠陥情報更新部１８７は、復調部１４で復調された新たに検出された欠陥情報を揮発性メモリ１６に送出して、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報を更新する指示をバッファ制御部１５に送出する。
【００３３】
フラグ設定部１８８は、入出力インタフェース１７から入力された電源切断指示を取得したときに、電源を切断する前に揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報があるか否かを判断し、揮発性メモリ１６に欠陥情報があるときには現在挿入されている光ディスク１１の欠陥情報があるか否かを判断するための欠陥情報有無フラグを「ＯＮ」に設定するとともに欠陥情報記録制御部１８９に送出し、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報がないときには欠陥情報有無フラグを「ＯＦＦ」に設定し、これらの設定した欠陥情報有無フラグの情報を不揮発性メモリ２１に送出する。
【００３４】
また、フラグ設定部１８８は、欠陥情報有無フラグを「ＯＮ」に設定したときに揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報のすべてを不揮発性メモリ２１に記録可能であるか否かを判断し、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報のすべてを不揮発性メモリ２１に記録可能であると判断したときには不揮発性メモリ２１に記録された欠陥情報が有効であるか否かを判断するための欠陥情報有効フラグを「ＯＮ」に設定し、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報のすべてを不揮発性メモリ２１に記録可能ではないと判断したときには欠陥情報有効フラグを「ＯＦＦ」に設定し、これらの設定した欠陥情報有効フラグの情報を不揮発性メモリ２１に送出する。
【００３５】
欠陥情報記録制御部１８９は、フラグ設定部１８８で欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグが「ＯＮ」に設定されたときに、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報を読み出して不揮発性メモリ２１に保持させる制御を行う。
【００３６】
エンコード部１９は、バッファ制御部１５でデータ記録制御部１８６を介して入出力インタフェース１７から取得された記録対象のコンテンツデータを光ディスク１１に記録するために符号化する。
【００３７】
また、エンコード部１９は、バッファ制御部１５で欠陥情報記録制御部１８９の指示により揮発性メモリ１６から読み出された欠陥情報を光ディスク１１に記録するために符号化する。
【００３８】
変調部２０は、エンコード部１９で符号化された記録対象のコンテンツデータまたは欠陥情報を、光ディスク１１に記録するために変調する。
【００３９】
不揮発性メモリ２１は、電源を切っても記憶内容を保持することができるフラッシュメモリなどの半導体メモリであり、欠陥情報記録制御部１８９の指示により揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報を取得し、再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１が継続して挿入されている間保持する。
【００４０】
また、不揮発性メモリ２１はフラグ設定部１８８で設定された欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグの情報を取得し、再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１が継続して挿入されている間保持する。
【００４１】
〈一実施形態による光ディスク記録再生装置１の動作〉
次に、本実施形態による光ディスク記録再生装置１の動作について、図２のフローチャートを参照して説明する。
【００４２】
まず、再生処理対象または記録処理対象の光ディスク１１が挿入されると（Ｓ１）と、制御部１８の第１欠陥情報取得部１８１においてこの光ディスク１１に記録された欠陥情報を読み取る指示が光ピックアップ１２に送出される。
【００４３】
光ピックアップ１２では、欠陥情報を読み取る指示が取得されると、挿入された光ディスク１１から欠陥情報を検出する処理が行われる（Ｓ２）。
【００４４】
挿入された光ディスク１１から欠陥情報が検出されたときは（Ｓ３の「YES」）光ピックアップ１２によりこの欠陥情報が読み出され、データ処理部１３において２値化処理が行われた後復調部１４で復調され、バッファ制御部１５の制御により揮発性メモリ１６に展開され保持される（Ｓ４）。
【００４５】
ステップＳ３において、光ディスク１１から欠陥情報が検出されなかったときには（Ｓ３の「NO」）、ステップＳ５の処理に移る。
【００４６】
以上のステップＳ１〜Ｓ４により、光ディスク１１が挿入されたときの起動処理が行われる。
【００４７】
次に、入出力インタフェース１７からデータ再生指示が入力されるとステップＳ５に移り、再生処理対象の光ディスク１１に記録された再生対象のコンテンツデータを揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報に基づいて読み出す指示が、データ再生制御部１８４から光ピックアップ１２に送出される。
【００４８】
光ピックアップでは、再生処理対象の光ディスク１１から再生対象のコンテンツデータを読み出す指示が取得されると、このコンテンツデータの読み出し処理が行われる（Ｓ５）。
【００４９】
またステップＳ５において、入出力インタフェース１７からデータ記録指示および記録対象のコンテンツデータが入力されると、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報に基づいて挿入されている光ディスク１１に記録対象のコンテンツデータを記録するための指示と記録対象のコンテンツデータとがデータ記録制御部１８６からバッファ制御部１５に送出される。
【００５０】
バッファ制御部１５で、記録対象のコンテンツデータを記録するための指示と記録対象のコンテンツデータとが取得されると、記録対象のコンテンツデータがエンコード部１９で符号化された後変調部２０で変調され、光ピックアップ１２により記録処理対象の光ディスク１１に書き込まれる（Ｓ５）。
【００５１】
ステップＳ５において記録処理対象の光ディスク１１への書き込み処理が行われたときに、光ピックアップ１２により光ディスク１１に新たな欠陥が検出されたときは（Ｓ６の「YES」）、この新たな欠陥の情報がデータ処理部１３において２値化処理が行われた後復調部１４で復調され、バッファ制御部１５を介して欠陥情報更新部１８７の制御により揮発性メモリ１６に追加され保持される（Ｓ７）。
【００５２】
ステップＳ６において、光ディスク１１に新たな欠陥情報が検出されなかったときには（Ｓ６の「NO」）、ステップＳ８の処理に移る。
【００５３】
次に、入出力インタフェース１７から電源切断指示が入力されるとステップＳ８に移り、ステップＳ４またはステップＳ６の少なくとも一方で揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報があるか否かがフラグ設定部１８８において判断される（Ｓ８）。
【００５４】
フラグ設定部１８８において揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報があると判断されたときは（Ｓ８の「YES」）、現在挿入されている光ディスク１１の欠陥情報があるか否かを判断するための欠陥情報有無フラグが「ＯＮ」に設定され（Ｓ９）、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報がないと判断されたときには欠陥情報有無フラグが「ＯＦＦ」に設定される（Ｓ１０）。
【００５５】
ステップＳ９において欠陥情報有無フラグが「ＯＮ」に設定されたときは、さらに揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報が不揮発性メモリ２１すべて記録可能であるか否かが判断され（Ｓ１１）、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報が不揮発性メモリ２１にすべて記録可能であるときには不揮発性メモリ２１に記録された欠陥情報が有効であるか否かを判断するための欠陥情報有効フラグが「ＯＮ」に設定され（Ｓ１２）、揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報が不揮発性メモリ２１にすべて記録可能ではないときには欠陥情報有効フラグが「ＯＦＦ」に設定される（Ｓ１３）。
【００５６】
ここで、フラグ設定部１８８において欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグが共に「ＯＮ」に設定されたときには、欠陥情報記録制御部１８９の制御により揮発性メモリ１６に保持されている欠陥情報が不揮発性メモリ２１に保持される（Ｓ１４）。
【００５７】
上述したステップＳ９、Ｓ１０、Ｓ１２、またはＳ１３でフラグ設定部１８８により設定されたフラグの情報は、バッファ制御部１５の制御により不揮発性メモリ２１に保持される（Ｓ１５）。
【００５８】
不揮発性メモリ２１に保持された欠陥情報有無フラグ、欠陥情報有効フラグ、および欠陥情報の構成例を、図３に示す。
【００５９】
不揮発性メモリ２１には、メモリアドレスごとに第１セクタ「０」〜第１６セクタ「１５」の１６バイトで構成された情報が格納される。
【００６０】
図３においては、メモリアドレス「０」番地の第１セクタ「０」に欠陥情報有無フラグの情報を示す「d_exist」が格納され、「d_exist=1」であれば欠陥情報有無フラグが「ＯＮ」であることを示し、「d_exist=0」であれば欠陥情報有無フラグが「ＯＦＦ」であることを示す。
【００６１】
また、メモリアドレス「０」番地の第２セクタ「１」に欠陥情報有効フラグの情報を示す「d_enbl」が格納され、「d_enbl=1」であれば欠陥情報有効フラグが「ＯＮ」であることを示し、「d_enbl=0」であれば欠陥情報有効フラグが「ＯＦＦ」であることを示す。
【００６２】
欠陥情報有無フラグを示す情報が「d_exist=1」であり、且つ欠陥情報有効フラグを示す情報が「d_enbl=1」であるときは、図３に示すように、ｎ個の各欠陥情報がメモリアドレス「１」番地〜「ｎ」番地に１６バイトの情報で格納される。
【００６３】
ステップＳ８〜Ｓ１５の処理が行われると、入力された電源切断指示により、光ディスク１１が挿入されたままの状態で電源が切断される（Ｓ１６）。
【００６４】
その後、ステップＳ１６で電源が切断されたときに挿入されていた光ディスク１１が挿入されたままの状態で入出力インタフェース１７から電源投入指示が入力されると（Ｓ１７の「YES」）、フラグ情報取得部１８２において不揮発性メモリ２１から欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグの情報がバッファ制御部１５の制御により取得されて第２欠陥情報取得部１８３に送出される。
【００６５】
第２欠陥情報取得部１８３において、フラグ情報取得部１８２から欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグの情報が取得されたときに、欠陥情報有無フラグが「ＯＮ」であり且つ欠陥情報有効フラグが「ＯＮ」のときは（Ｓ１８の「YES」）、不揮発性メモリ２１に保持されている欠陥情報を揮発性メモリ１６に展開させる指示がバッファ制御部１５に送出される（Ｓ１９）。
【００６６】
バッファ制御部１５で不揮発性メモリ２１に保持されている欠陥情報を揮発性メモリ１６に展開させる指示が取得されるとステップＳ４に戻り、欠陥情報が揮発性メモリ１６に展開されることにより光ディスク記録再生装置１が起動され、この欠陥情報に基づいて記録処理または再生処理が行われる。
【００６７】
また、第２欠陥情報取得部１８３において、フラグ情報取得部１８２から欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグの情報が取得されたときに、欠陥情報有無フラグが「ＯＮ」であり且つ欠陥情報有効フラグが「ＯＦＦ」のときは（Ｓ１８の「NO」、Ｓ２０の「YES」）、ステップＳ２に戻り、挿入された光ディスク１１に記録された欠陥情報を読み取る指示が光ピックアップ１２に送出される。
【００６８】
光ディスク１１から欠陥情報が読み取られると、この欠陥情報が揮発性メモリ１６に展開されることにより光ディスク記録再生装置１が起動され、この欠陥情報に基づいて記録処理または再生処理が行われる。
【００６９】
また、第２欠陥情報取得部１８３において、フラグ情報取得部１８２から欠陥情報有無フラグおよび欠陥情報有効フラグの情報が取得されたときに、欠陥情報有無フラグが「ＯＦＦ」（欠陥情報有効フラグなし）のときは（Ｓ２０の「NO」）、現在挿入されている光ディスク１１の欠陥情報はないと判断され、欠陥情報の取得処理は行われずに光ディスク記録再生装置１が起動され、ステップＳ５に戻り外部からの指示に従って記録処理または再生処理が行われる。
【００７０】
ステップＳ１７において、電源が切断されたときに挿入されていた光ディスク１１が取り出されたときは、処理は終了される。
【００７１】
以上の本実施形態によれば、光ディスクの欠陥情報を不揮発性メモリに保持しこの光ディスクを挿入したままの状態で光ディスク記録再生装置の電源を切断し再度電源を投入したときに、光ディスクに記録された欠陥情報ではなく不揮発性メモリに保持した欠陥情報を揮発性メモリに展開できるため、起動時間を大きく短縮させることができる。
【００７２】
また、光ディスクの欠陥情報がないことを示す情報を不揮発性メモリに保持しこの光ディスクを挿入したままの状態で光ディスク記録再生装置の電源を切断し再度電源を投入したときに、光ディスクの欠陥情報を検出する処理を行うことなく起動処理を行うことができるため、起動時間を大きく短縮させることができる。
【００７３】
本実施形態においては、記録媒体を光ディスクとして説明したがこれには限定されず、着脱可能であれば他の記録媒体を用いてもよい。
【００７４】
また、上記の実施形態の光ディスク記録再生装置の機能構成をプログラム化してコンピュータに組み込むことにより、当該コンピュータを光ディスク記録再生装置として機能させる光ディスク記録再生用プログラムを構築することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】本発明の一実施形態による情報記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態による情報記録再生装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】本発明の一実施形態による情報記録再生装置の不揮発性メモリに保持される情報の一例を示す構成図である。
【符号の説明】
【００７６】
１…光ディスク記録再生装置
１１…光ディスク
１２…光ピックアップ
１３…データ処理部
１４…復調部
１５…バッファ制御部
１６…揮発性メモリ
１７…入出力インタフェース
１８…制御部
１９…エンコード部
２０…変調部
２１…不揮発性メモリ
１８１…第１欠陥情報取得部
１８２…フラグ情報取得部
１８３…第２欠陥情報取得部
１８４…データ再生制御部
１８５…再生データ出力制御部
１８６…データ記録制御部
１８７…欠陥情報更新部
１８８…フラグ設定部
１８９…欠陥情報記録制御部
【図１】
2008251099.tif 000003
【図２】
2008251099.tif 000004
【図３】
2008251099.tif 000005