(57)【要約】【課題】ランドとグルーブではフォーカス感度が異なるために、同じゲインでフォーカス制御すると、最適なゲイン設定からずれる場合があった。フォーカス位置調整のフォーカス学習時に、フォーカスオフセットを変動させるが、ランドまたはグルーブのフォーカス感度が小さい方では、デフォーカス量が大きくなり、フォーカスサーボが不安定になる。【解決手段】ランドとグルーブでＲＦ振幅のフォーカス依存性を測定する（Ｓ１０４，Ｓ１０６）。振幅最大のフォーカス点から、振幅が所定値減少する範囲のフォーカスの幅をランドとグルーブで比較する（Ｓ１０７）。デフォーカスに対する振幅の変化度合いから、ランドとグルーブのデフォーカス量を補正する。この補正係数を利用して、ランドとグルーブのフォーカスサーボのゲイン設定に利用する（Ｓ１０８）。フォーカスサーボのゲインを直接測定するより簡便にランドとグルーブのゲイン差を測定できる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録された情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップの出力信号からデジタルデータを復調する復調回路と、前記光ピックアップの出力信号からサーボ制御を行う制御部とを備えた光ディスク装置であって、
前記制御部は、前記光ディスクの案内溝の凹部ならびに凸部においてフォーカス・トラッキング制御する際、前記凹部凸部それぞれにおいて前記光ディスクからの信号の振幅変化度合に対するフォーカスオフセットを比較することにより、前記凹部凸部それぞれでのフォーカス制御の利得差を取得することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記凹部凸部それぞれにおいて前記光ディスクからの信号の振幅変化度合に対するフォーカスオフセットを比較することにより、凹部凸部それぞれでフォーカス制御の利得を設定することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ディスクからの信号は加算信号であることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記凹部凸部それぞれで前記光ディスクよりの信号の最大振幅から一定割合を減じた振幅のフォーカスオフセットの範囲をΔＶｇ、ΔＶｌとし、凹部凸部それぞれのフォーカス制御回路の利得をＧｇ、Ｇｌすると、Ｇｇ＝Ｇｌ−２０＊ｌｏｇ（ΔＶｇ／ΔＶｌ）、に設定することを特徴とする請求項１から３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
光ディスクに記録された情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップの出力信号からデジタルデータを復調する復調回路と、前記光ピックアップの出力信号からサーボ制御を行う制御部とを備えた光ディスク装置であって、
前記制御部は、前記光ディスクの案内溝の凹部ならびに凸部においてフォーカス・トラッキング制御する際、前記案内溝の凹部ならびに凸部と前記案内溝のない平坦部それぞれにおいて前記光ディスクからの信号の振幅変化度合に対するフォーカスオフセットを比較することにより、前記凹部ならびに凸部でのフォーカス制御の利得差を取得することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
前記案内溝の凹部ならびに凸部と案内溝のない平坦部それぞれにおいて前記光ディスクからの信号の振幅変化度合に対するフォーカスオフセットを比較することにより、前記凹部ならびに凸部でのフォーカス制御回路の利得値を設定することを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記光ディスクからの信号は加算信号であることを特徴とする請求項６に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記案内溝の凹部ならびに凸部と案内溝のない平坦部それぞれにおいて前記光ディスクよりの信号の最大振幅から一定割合を減じた振幅のフォーカスオフセットの範囲をΔＶｇ、ΔＶｌ、ΔＶｍとし、前記凹部凸部平坦部それぞれのフォーカス制御回路の利得をＧｇ、Ｇｌ、Ｇｍすると、Ｇｇ＝Ｇｍ−２０＊ｌｏｇ（ΔＶｇ／ΔＶｍ）、Ｇｌ＝Ｇｍ−２０＊ｌｏｇ（ΔＶｌ／ΔＶｍ）、に設定することを特徴とする請求項５から７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
光ディスクに記録された情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップの出力信号からデジタルデータを復調する復調回路と、前記ピックアップの出力信号からサーボ制御を行う制御部とを備えた光ディスク装置であって、
前記制御部は、前記光ディスクの案内溝の凹部ならびに凸部において最適なフォーカス位置に設定する際、前記凹部または凸部のフォーカス制御利得の低い方のフォーカスオフセットの調整ステップを他方に比べて小さくすることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに対する記録再生時に行なうフォーカス制御の方法に特徴を有する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１０は、一般的な光ディスク記録再生装置の構成例を示すブロック図である。図１０に示すように、レーザーユニット（以下、ＬＤＵ）１０２上の光源なるレーザーから出射した光は、コリメートレンズ１０３を経て平行光に変換され、偏光ホログラム１０４を透過後、１／４波長板１０５で直線偏光の光から円偏光の光に変換され、アクチュエータ１０７で駆動される対物レンズ１０６でスピンドルモーター１０８により回転される光ディスク１０１の盤面上に集光される。対物レンズ１０６はアクチュエータ１０７によってフォーカス方向Ｆならびにトラッキング方向（トラック横断方向）Ｔに移動可能である。光ディスク１０１より反射した光は、再度対物レンズ１０６を経て１／４波長板１０５で円偏光の光が偏光方向が偏光ホログラム１０４で１／４波長板１０５に到達した直線偏光の光の偏光方向と直交する直線偏光の光に変換され、偏光ホログラム１０４で回折された後、コリメートレンズ１０３を経て、ＬＤＵ１０２上の受光素子なるフォトディテクターに入射・受光され、フォトディテクターは入射した光に応じた検出信号をプリアンプ１２１に出力する。プリアンプ１２１は以下において詳細に説明するように検出信号からフォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号）、トラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号）、ＲＦ信号を生成する。ＦＥ信号およびＴＥ信号は、対物レンズ１０６がフォーカス方向Ｆおよびトラッキング方向Ｔにおいて、適正な位置からずれていることによって、光ディスク１０１の情報記録層上に形成されるビームスポットが所定の集光状態を示していないことや、トラッキング方向Ｔにシフトしていることを示す。ＲＦ信号は、光ディスク１０１の情報記録層にピットやマークなどの形で記録されたデータ情報と、データが記録または再生されるトラック上のアドレス情報を含んでいる。信号処理部１２２はＲＦ信号を受け取り、記録されたデータ情報と、アドレス情報をそれぞれ抽出し、再生する。サーボ部１２３はＦＥ信号やＴＥ信号を受け取り、アクチュエータ１０７を制御する制御信号を生成し、制御信号に基づいて対物レンズ１０６を制御する。同様に、スピンドルモーター１０８も制御する。レーザー駆動部１２５は記録または再生に用いるＬＤＵ１０２上のレーザーの出射パワーを制御する。信号処理部１２２で再生された情報はコントローラ１２４へ伝送される。前記サーボ部１２３及び前記レーザー駆動部１２５は前記コントローラ１２４の制御下で駆動される。
【０００３】
図８は、一般的なスポットサイズディテクション（以下、ＳＳＤ）によるＦＥ信号検出部を示している。光検出器２０１は、ＬＤＵ１０２上にある、ＦＥ信号検出用の検出器であり、この出力に基づきＦＥ信号が生成される。この図では、減算器２０４により、（ｂ＋ｃ）−（ａ＋ｄ）となるＦＥ信号を生成する。また、加算器２０５によりａ＋ｂ＋ｃ＋ｄの加算信号なるＦＳ信号が生成され、この信号よりＲＦ信号が検出される。２０２は前焦点（光検出器２０１の検出面の手前側に焦点がある状態）、２０３は後焦点（光検出器２０１の検出面の後側に焦点がある状態）の光ディスクからの検出光を集光したスポットを示している。光ディスクと対物レンズの距離が変化すると、２０２と２０３のスポットサイズは片側が大きくなれば、他方は小さくなるように変化することで、ＦＥ信号が生成される。
【０００４】
ＤＶＤ±ＲやＤＶＤ−ＲＡＭ等の溝のあるディスクを再生する場合、溝による回折により０次光と１次光が発生する。この種の光ディスクの案内溝には、凸部（ランド）と凹部（グルーブ）とがある。図３は偏光ホログラム１０４上の光ディスクからの検出光の光量分布の模式図を示している。３０１はランド（Ｌａｎｄ）を再生している場合を示し、３０２はグルーブ（Ｇｒｏｏｖｅ）を再生している場合を示している。図３に示すように、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅ再生時では光量分布が反転する。この現象に加え、例えばフォーカス制御に利用する光を３０１や３０２に示す全円ではなくその一部、例えば図９に示すように、光検出器９０１に集光する９０２や９０３のような１／４の扇型部分を利用したり、または光検出器とスポットの位置関係によっては、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅでデフォーカスに対するＦＥ信号の振幅変化の度合いが変化する場合がある。
【０００５】
図４は、ＬａｎｄないしＧｒｏｏｖｅのトラック中心で、光ディスクと対物レンズの距離が変化した場合のＦＥ信号を示している。図中の波線部分は合焦点におけるＦＥ信号を示している。
【０００６】
図５は、ある特定のサーボ帯域の周波数について、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅで同じ回路ゲインに設定したままデフォーカスを変化させたときのフォーカスサーボの開ループ特性のグラフを示している。図４のように合焦点付近に於いてＦＥ信号に変曲点があると、図５に示すようにＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅでフォーカスのゲインが変動し、ＦＥ信号変化に対するジッタやＲＦ振幅の変化を測定すると、図６に示すようにＬａｎｄやＧｒｏｏｖｅで感度が異なる。なお、図６において、凹状の特性がジッタ特性であり、凸状の特性がＲＦ振幅特性である。
【０００７】
このようにＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅでフォーカスサーボに光学的にゲイン差が発生している場合、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅで電気的に同じ回路ゲイン設定でフォーカス制御を行うと、設定によっては、Ｌａｎｄではゲインが高いためにフォーカスサーボが発振したり、Ｇｒｏｏｖｅではゲインが低いためにフォーカス制御残差が大きくなる場合がある。そのため、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅでは個別にゲイン設定を行うのが望ましい。
【０００８】
特許文献１や特許文献２では、ランドとグルーブにおいて、フォーカス誤差信号やトラック誤差信号のゲインの切り替え手段を備えている。
【０００９】
特許文献３では、対物レンズを駆動しながらフォーカス誤差信号やトラッキング誤差信号を取り込んで感度を演算し、その値を利用してランドとグルーブのゲインを設定することが提案されている。
【００１０】
一般にサーボの開ループによるゲイン測定には、周波数特性分析器などの高価な計測器を用意するか、周波数特性分析器を利用するのと同等の機能を実現する回路を用意する必要があり、設置面積や回路規模、コストの増加につながる。
【特許文献１】特開平７−１２９９７５号公報
【特許文献２】特開平８−３２９４８４号公報
【特許文献３】特開平１０−９１９７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
この発明は、以上のような設置面積や回路規模、コストを増加させることなく、光ディスク装置でランドとグルーブのゲイン差を簡便な動作で計測し、フォーカスサーボのゲイン設定を迅速に実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するために本発明は、光ディスクに記録された情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップの出力信号からデジタルデータを復調する復調回路と、前記光ピックアップの出力信号からサーボ制御を行う制御部とを備えた光ディスク装置であって、前記制御部は、前記光ディスクの前記案内溝の凹部ならびに凸部においてフォーカス・トラッキング制御する際、前記凹部凸部それぞれにおいてフォーカスオフセットに対する前記光ディスクからの信号の振幅変化度合を比較することにより、前記凹部凸部それぞれでのフォーカス制御の利得差を取得することを特徴とする。
【００１３】
更には、前記凹部凸部それぞれにおいてフォーカスオフセットに対する前記光ディスクからの信号の振幅変化度合を比較することにより、凹部凸部それぞれでフォーカス制御の利得を設定することを特徴とする。
【００１４】
また、前記光ディスクからの信号は加算信号であることを特徴とする。
【００１５】
または、前記凹部凸部それぞれで前記光ディスクよりの信号の最大振幅から一定割合を減じた振幅のフォーカスオフセットの範囲をΔＶｇ、ΔＶｌとし、凹部凸部それぞれのフォーカス制御回路の利得をＧｇ、Ｇｌすると、Ｇｇ＝Ｇｌ−２０＊ｌｏｇ（ΔＶｇ／ΔＶｌ）、に設定することを特徴とする。
【００１６】
また、本発明は、光ディスクに記録された情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップの出力信号からデジタルデータを復調する復調回路と、前記光ピックアップの出力信号からサーボ制御を行う制御部とを備えた光ディスク装置であって、前記制御部は、前記光ディスクの前記案内溝の凹部ならびに凸部においてフォーカス・トラッキング制御する際、前記案内溝の凹部ならびに凸部と前記案内溝のない平坦部それぞれにおいてフォーカスオフセットに対する前記光ディスクからの信号の振幅変化度合を比較することにより、前記凹部ならびに凸部でのフォーカス制御の利得値を取得することを特徴とする。
【００１７】
更には、前記案内溝の凹部ならびに凸部と案内溝のない平坦部それぞれにおいてフォーカスオフセットに対する前記光ディスクからの信号の振幅変化度合を比較することにより、前記凹部ならびに凸部でのフォーカス制御回路の利得値を設定することを特徴とする。
【００１８】
また、前記光ディスクからの信号は加算信号であることを特徴とする。
【００１９】
または、前記案内溝の凹部ならびに凸部と案内溝のない平坦部それぞれにおいて前記光ディスクよりの信号の最大振幅から一定割合を減じた振幅のフォーカスオフセットの範囲をΔＶｇ、ΔＶｌ、ΔＶｍとし、前記凹部凸部平坦部それぞれのフォーカス制御回路の利得をＧｇ、Ｇｌ、Ｇｍすると、Ｇｇ＝Ｇｍ−２０＊ｌｏｇ（ΔＶｇ／ΔＶｍ）、Ｇｌ＝Ｇｍ−２０＊ｌｏｇ（ΔＶｌ／ΔＶｍ）、に設定することを特徴とする。
【００２０】
また、本発明は、光ディスクに記録された情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップの出力信号からデジタルデータを復調する復調回路と、前記ピックアップの出力信号からサーボ制御を行う制御部とを備えた光ディスク装置であって、前記制御部は、前記光ディスクの案内溝の凹部ならびに凸部において最適なフォーカス位置に設定する際、前記凹部または凸部のフォーカス制御利得の低い方のフォーカスオフセットの調整ステップを他方に比べて小さくすることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、図３や図９で検出される差動信号であるＦＥ信号において、光検出器上の光量分布のむらが光検出器の分割線をまたぐことによって変曲点が発生する場合に、加算信号であるＲＦ信号（またはＦＳ信号）はこの影響をうけないため、光ディスクのＲＦ振幅のデフォーカスに対する振幅変動の度合いから凸部と凹部のフォーカスサーボのゲイン差を特定し、フォーカス制御回路部のゲインを設定することで、周波数特性分析器やその機能を実現する回路を用意することなく、簡単に凸部と凹部でオープンループのゲイン差を減少させ、光ディスクのフォーカス制御を安定化することができる。また、フォーカス位置学習の際に、凸部または凹部のフォーカス制御の光学的なゲインが小さい方において、フォーカスオフセットの調整ステップを小さくすることにより最適なフォーカス位置学習を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、光ピックアップ装置としての光学構成は、従来例と同じ構成であるため、説明は省略する。
【００２３】
（実施の形態１）
本実施の形態では、光ディスクのＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅでのフォーカスサーボのゲイン差を測定、および、ゲインを設定するのに光ディスクからのＲＦ信号やＦＳ信号の振幅を利用する。ＲＦ信号を用いた制御手順を以下、図１のフローチャートを参照しながら説明する。
【００２４】
まずは、光ディスクに対するフォーカス制御を開始（ＯＮ）する（ステップＳ１０１）。
【００２５】
次に光ディスクのＬａｎｄへトラッキング制御を開始（ＯＮ）する（ステップＳ１０２）。ここでは便宜上、Ｌａｎｄに対するトラッキングを先に実施したが、Ｇｒｏｏｖｅが先でもよい。
【００２６】
Ｌａｎｄのフォーカス制御ゲインを、規定値ないし、フォーカス制御残差が許容量以下になるように設定する（ステップＳ１０３）。
【００２７】
次に図７に示すように、ＲＦ信号が最大振幅となるフォーカス点からＲＦ信号がある一定の割合で減少する範囲のフォーカスオフセットの範囲を求める（ステップＳ１０４）。より具体的には、ＲＦ信号を再生し、振幅が最大となるフォーカス点を探し、そこから例えばＲＦ信号が最大振幅の９０％になるプラス側およびマイナス側フォーカスオフセットを求め、そのオフセットの幅（以下、ΔＶｌ）を記録する。
【００２８】
次にＧｒｏｏｖｅに対するトラッキング制御を開始（ＯＮ）する（ステップＳ１０５）。
【００２９】
次にステップＳ１０４で求めたのと同様にＧｒｏｏｖｅにおいてもＲＦ信号振幅がある一定の割合で減少する範囲のフォーカスオフセットの範囲（以下、ΔＶｇ）を求める（ステップＳ１０６）。
【００３０】
以上により、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの光学的なフォーカスゲイン差を２０＊ｌｏｇ（ΔＶｌ／ΔＶｇ）として求まる（ステップＳ１０７）。例えば、図５のフォーカスオフセットの異なるａ点とｂ点では、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのゲイン差が異なっているため、周波数特性分析器やその機能を実現する回路でＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの平均的なゲイン差を決定するには、多数の測定点で測定する必要があるが、本測定法によると、Ｌａｎｄ、Ｇｒｏｏｖｅそれぞれにおいて、ＲＦ信号の振幅を測定するだけで、測定範囲における平均的なゲイン差が簡単に求まる。
【００３１】
さらに、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのゲインを設定する（ステップＳ１０８）。具体的にはフォーカス制御回路部（ここでは、図１０中のサーボ部１２３及びコントローラ１２４の一機能とする）のＬａｎｄにおけるゲインをＧｌ、ＧｒｏｏｖｅにおけるゲインをＧｇとすると、光学的ゲイン差をキャンセルするように、（式１）に設定する。
【００３２】
Ｇｇ＝Ｇｌ−２０＊ｌｏｇ（ΔＶｇ／ΔＶｌ）          （式１）
以上のように、ゲインを設定すれば、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅでフォーカスエラー信号によって発生するゲイン差をフォーカス制御回路部で補正でき、結果としてＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのピックアップと回路を含めたフォーカスサーボ制御のゲインをそろえることができる。この方法によれば、特別にフォーカスサーボの開ループ特性を測定する回路を別途準備する必要はなく、さらに、ＲＦ振幅のデフォーカスに対する振幅変動の度合いをＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅで測定するという簡単な動作でゲイン補正を行うことができる。なお、（式１）はＧｇとＧｌの相対的な関係しか示していないため、フォーカス制御残差が所定量以下であり、発振しない範囲内で最適なＧｇ(またはＧｌ)になるように別途調整しなければならない。
【００３３】
（実施の形態２）
本実施の形態では、光ディスクのＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅおよび案内溝のない平坦部でのフォーカスサーボのゲイン差を測定、および、ゲインを設定するのに光ディスクからのＲＦ信号やＦＳ信号の振幅を利用する。本実施形態によれば、光ディスクドライブが所持しているＤＶＤ-ＲＯＭ等の案内溝のないディスクを再生する際のフォーカスサーボのゲイン設定を基準として、ＤＶＤ-ＲＡＭなどの案内溝のあるディスクの平坦部、凹部、凸部におけるＲＦ信号等の振幅変化の度合いに対するフォーカスオフセット量から、凹部、凸部のゲイン設定が迅速に求まる。ＲＦ信号を用いた制御手順を以下図２のフローチャートを参照しながら説明する。
【００３４】
まずは光ディスクへフォーカス制御を開始（ＯＮ）する（ステップＳ２０１）。
【００３５】
次に光ピックアップ（ＯＰＵ）を、フィードモーターを使って半径位置方向に駆動し（図示せず）、案内溝のない半径位置に移動する（ステップＳ２０２）。ＤＶＤ−ＲＡＭ等には、未記録ディスクであっても最内周部の案内溝のない平坦部にプリピットによるＲＦ信号が存在するため、この信号を利用するとよい。ＤＶＤ−ＲＯＭの場合と同様に位相差（以下、ＤＰＤ）でトラッキング制御をかける。
【００３６】
次に平坦部のフォーカス制御ゲインを、規定値ないし、フォーカス制御残差が許容量以下になるように設定する（ステップＳ２０３）。
【００３７】
次に、図示しないが、図７に示したＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの例と同じように、ＲＦ信号が最大振幅となるフォーカス点からＲＦ信号がある一定の割合で減少する範囲のフォーカスオフセットの範囲を求める。より具体的には、ＲＦ信号を再生し、振幅が最大となるフォーカス点を探し、そこから例えばＲＦ信号が最大振幅の９０％になるプラス側およびマイナス側フォーカスオフセットを求め、そのオフセットの幅（以下、ΔＶｍ）を記録する（ステップＳ２０４）。
【００３８】
次に、フィードモーターにより光ピックアップを案内溝のある半径位置に移動する（ステップＳ２０５）。
【００３９】
次にＬａｎｄへトラッキング制御を開始（ＯＮ）する（ステップＳ２０６）。
【００４０】
次にステップＳ２０４と同様に、図７に示すように、ＲＦ信号が最大振幅となるフォーカス点からＲＦ信号がある一定の割合で減少する範囲のフォーカスオフセットの範囲（以下、ΔＶｌ）を求める（ステップＳ２０７）。
【００４１】
次にＧｒｏｏｖｅにトラッキング制御を開始（ＯＮ）する（ステップＳ２０８）。
【００４２】
次にステップＳ２０４で求めたのと同様に、図７に示すように、ＧｒｏｏｖｅにおいてもＲＦ信号振幅がある一定の割合で減少する範囲のフォーカスオフセットの範囲（以下、ΔＶｇ）を求める（ステップＳ２０９）。
【００４３】
以上により、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの案内溝のない平坦部に対する光学的なフォーカスゲイン差が、２０＊ｌｏｇ（ΔＶｌ／ΔＶｍ）と２０＊ｌｏｇ（ΔＶｇ／ΔＶｍ）から求まる（ステップＳ２１０）。例えば、図５のフォーカスオフセットの異なるａ点とｂ点ではＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのゲイン差が異なっているため、周波数特性分析器やその機能を実現する回路でＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの平均的なゲイン差を決定するには、多数の測定点で測定する必要があるが、本測定法によると、ＲＦ信号の振幅を測定するだけで、測定範囲における平均的なゲイン差が簡単に求まる。
【００４４】
求まったゲイン差より、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅにおけるフォーカス制御回路のゲインを設定する(ステップＳ２１１)。具体的にはフォーカス制御回路部のＬａｎｄ、Ｇｒｏｏｖｅ、溝のない平坦部におけるゲインをそれぞれＧｌ、Ｇｇ、Ｇｍとすると、光学的ゲイン差をキャンセルするように、
Ｇｇ＝Ｇｍ−２０＊ｌｏｇ（ΔＶｇ／ΔＶｍ）          （式２）
Ｇｌ＝Ｇｍ−２０＊ｌｏｇ（ΔＶｌ／ΔＶｍ）          （式３）
に設定する。
【００４５】
以上のように設定すれば、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅでフォーカスエラー信号によって発生するゲイン差をフォーカス制御回路部で補正でき、結果としてＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのピックアップと回路を含めたフォーカスサーボ制御のゲインをそろえることができる。また、この方法によれば、特別にフォーカスサーボの開ループ特性を測定する回路を別途準備する必要はなく、さらに、ＲＦ振幅のデフォーカスに対する振幅変動の度合いをＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅで測定するという簡単な動作でゲイン補正を行うことができる。さらには、ＬａｎｄおよびＧｒｏｏｖｅのゲイン設定値は溝のない平坦部でのゲイン設定値Ｇｍが基準となっている。ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのゲインは再生する光ディスクの案内溝の幅や深さで変化するが、平坦部では溝がなく、すなわち±１次回折光がないため大きな変動がなく、例えば、前もって別の光ディスクの鏡面部などでフォーカス制御回路のゲイン設定値Ｇｍを最適値に設定した後に光ディスク装置内のメモリー（図示せず）に保持しておけば、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのフォーカス制御回路のゲイン設定値ＧｌやＧｇを迅速に決定することができる。
【００４６】
（実施の形態３）
本実施形態では、光ディスクのＬａｎｄまたはＧｒｏｏｖｅで最適なフォーカス位置学習をするために、フォーカスオフセットを変化させて光ディスクからの信号振幅（ＲＦ信号やＦＳ信号等）や、信号品質（ＲＦ信号やアドレス信号のジッタやエラーレート）を測定する。その際に、光学的にフォーカスのゲインが低い方でフォーカスオフセットの調整ステップを他方に比べて小さくする。図６の場合には、ＦＥ信号に対するＲＦ振幅やジッタの変動が、Ｇｒｏｏｖｅの方が急峻なため、Ｇｒｏｏｖｅでのフォーカスオフセットの調整ステップを小さくすれば、Ｇｒｏｏｖｅ、Ｌａｎｄともに学習誤差を小さくし、最適なフォーカス位置学習を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【００４７】
本発明にかかる光ディスク装置は、周波数特性分析のための機器や回路を用いることなく、フォーカス制御のゲイン設定を行うことができ、フォーカス制御を安定化することができるという効果を有し、光ディスクを記録再生するディスクドライブ装置等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の実施の形態１による光ディスク装置の動作を示すフローチャート
【図２】同実施の形態２による光ディスク装置の動作を示すフローチャート
【図３】光ディスクからの検出光の光量分布を示す模式図
【図４】ＬａｎｄないしＧｒｏｏｖｅのトラック中心で、光ディスクと対物レンズの距離が変化した場合のＦＥ信号の特性図
【図５】特定周波数についてデフォーカスを変化させたときのフォーカスサーボの開ループ特性を示す特性図
【図６】ＦＥ信号の変化に対するジッタ及びＲＦ振幅の変化を示す特性図
【図７】ＲＦ信号が最大振幅となるフォーカス点からＲＦ信号がある一定の割合で減少する範囲のフォーカスオフセットの範囲を示す特性図
【図８】従来のＳＳＤによるＦＥ信号検出部の構成を示す概念図
【図９】開口の一部を利用したＳＳＤによるＦＥ信号検出部の概念図
【図１０】一般的な光ディスク記録再生装置の構成例を示す概念図
【符号の説明】
【００４９】
１０１    光ディスク
１０２    ＬＤＵ
１０３    コリメートレンズ
１０４    偏光ホログラム
１０５    １／４波長板
１０６    対物レンズ
１０７    アクチュエータ
１０８    スピンドルモーター
１２１    プリアンプ
１２２    信号処理部
１２３    サーボ部
１２４    コントローラ
１２５    レーザー駆動部
２０１、９０１    光検出器
２０２、９０２    前焦点のスポット
２０３、９０３    後ろ焦点のスポット
２０４    減算器
２０５    加算器
３０１    Ｌａｎｄ再生中の光量分布
３０２    Ｇｒｏｏｖｅ再生中の光量分布
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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