(57)【要約】【課題】画面上の全座標に対し実際にどれくらいの座標を試験しているのかという点で分かりにくいという課題があった。また、これは試験漏れに繋がることになるという課題があった。【解決手段】画面上の位置を指定して入力する入力デバイス３Ａと、入力デバイス３Ａで指定された位置の座標を検出する座標検出部１３とを有する座標入出力装置の試験方法において、入力デバイス３Ａの移動スピードによって、表示の属性を変えて軌跡を表示する座標入出力装置の試験方法。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
画面上の位置を指定して入力する入力デバイスと、
前記入力デバイスで指定された位置の座標を検出する座標検出部とを有する座標入出力装置の試験方法において、
前記入力デバイスの移動スピードによって、表示の属性を変えて軌跡を表示することを特徴とする座標入出力装置の試験方法。
【請求項２】
画面上の位置を指定して入力する入力デバイスと、
前記入力デバイスで指定された位置の座標を検出する座標検出部とを有する座標入出力装置の試験方法において、
監視サイクル毎に、前記入力デバイスで指定された座標を検出し、
検出された座標に基づいて、前記入力デバイスの軌跡を表示すると共に、
検出された複数の座標間の距離に基づいて、前記入力デバイスの移動スピードを判別し、判別された前記入力デバイスの移動スピードに応じて、前記入力デバイスの軌跡を、表示の属性を変えて表示することを特徴とする座標入出力装置の試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タブレットやマウスに接続された本体装置の座標入出力装置に対する工場出荷時の試験に利用する座標入出力装置の試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、座標入出力装置の試験方法、又は検査方法として、特許文献１、特許文献２等が知られていた。以下、これらの特許文献１、２を従来例１、２として具体的に説明する。
【０００３】
(1) ：従来例１（特許文献１）の説明
図１１は従来例１の説明図であり、Ａ図は座標入力装置、Ｂ図は電気的ブロック図である。図１１において、１は座標入力装置、２は座標一検査領域、３は治具プレート、４は第１表示部、５は第２表示部、６は入力キー、７はＣＰＵ、８はタブレット、９はＲＯＭ、１０はＲＡＭ、１１はＥＥＰＲＯＭ、１２はＩ／Ｆ部（インタフェース部）、１３はパソコンを示す。
【０００４】
この例は、座標入力装置上に設けた入力キー６で簡単に分解能が変更可能であり、その分解能をパソコン側の精度検査ソフトに送信することにより、データテーブルを変更し、座標入力装置１とパソコン１３の双方で同じ単位の分解能のやり取りで精度検査が実施可能となるというものである。
【０００５】
そこで、所定のピッチで配設されたＸ，Ｙ軸方向の複数の電極線を有するタブレット８と、該タブレット８の電極線の検査精度に対応した複数の変換テーブルを有するメモリーと、所望の検出精度に対応した分解能の前記変換テーブルを選択適用する構成とした。
【０００６】
このように、分解能変更のための入力キー６を設け、全てのデータ（情報）をＥＥＰＲＯＭ１１に登録することで、検査時間の短縮と不用品の排除によるコストダウンが可能となる。
【０００７】
(2) ：従来例２（特許文献２）の説明
図１２は従来例２の説明図（その１）であり、Ａ図はスキャン軌跡とサンプリング位置との関係を示す図、Ｂ図はサンプリングの基準点の位置を示す図、Ｃ図は精度計算に係る原理を示す図である。また、図１３は従来例２の説明図（その２）であり、Ａ図はスキャン軌跡を示す図、Ｂ図は座標のズレの発生箇所が目立たない例を示す図、Ｃ図は座標のズレの表示例を示す図、Ｄ図はＢ図の部分領域の再スキャンによる座標のズレの拡大表示例を示す図である。以下、図１２、図１３に基づいて従来例２を説明する。
【０００８】
現在、タブレット上の絶対座標を入力する装置としては、電磁誘導方式、静電方式、超音波方式、抵抗膜方式等各種のものがある。通常、工場からこれらの製品を出荷する前に、これらの製品の良否を判定するが、その中に座標検出精度のチェックがある。
【０００９】
精度チェックについても各種方法があるが、例えば、抵抗膜方式を採用した座標入力装置の場合には、図１２に示す様に、有効入力座標領域内に複数の基準点を設定し、順次工業用ロボットの様な押下手段により正確に押下を行う場合がある。そして、これによって座標入力装置が検出された座標値と実際の座標値とのズレ量から精度を測定していた。
【００１０】
図１２を用いて精度チェックの概要を説明する。図示は、Ｘ軸方向の基準点ｘａ、ｘｂでの基準検出電圧Ｖｘａ，Ｖｘｂと各点でのＶｘａ、Ｖｘｂから算出される理想的な値を直線として示したものである。そして、実際に検出された座標値群の中で、この直線との差が最大の点での検出電圧と直線との電圧差Ｖｍｅを用いて、精度を次式に基づいて算出する。
【００１１】
精度＝｛Ｖｍｅ／（Ｖｘａ−Ｖｘａ）｝×１００［％］
この結果に基づいてタブレットの良否の判定を行なっていた。
【００１２】
しかしながら、前記の方法では測定点を増やさなければならなかった。しかしながら、測定点の増加は測定時間の増大を引き起し、量産を考慮すれば事実上測定は不可能であり、良否判定ができないという欠点があった。そこで、簡単にしかも短時間でもって、局所的な座標ズレの有無を検査することを可能ならしめる検査支援装置を提供する。以下、図１３に基づいてこの検査支援装置について説明する。
【００１３】
この装置では、プロッタ２００に対して、その入力ペン２０１が第１３図に示すような軌跡（パターン）を取るようなコマンドを出力する。このとき、検出回路４００は、パターン入力の速度と必要とされる分解ピッチより決定されるサンプリングスピードで座標検出を行い制御装置１００からの座標送出要求があり次第、そのデータ制御装置１００に出力するようになっている。
【００１４】
換言すれば、制御装置１００はパターン入力（スキャン）開始命令をプロッタ２００に送出後、検出回路４００に対してデータを要求していってはデータを取り込むという処理を繰り返す。そして、制御装置１００はスキャン終了の割り込み発生があった時点で、それまで取り込まれたデータをＣＲＴ上に表示する。
ところで、座標ズレが小さいとき或いは座標ズレの状態の詳細を検査するときには、上述した例だけでは困難である。そこで、前述の全体スキャンの後に、座標ズレの確認された箇所を、より細かいピッチ及び遅いスキャン速度で再スキャンし、画面上に拡大表示することで、判定を容易に行う事ができる。
【特許文献１】特開平７−２１９６９９号公報
【特許文献２】特開平２−２１３９２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
前記のような従来のものにおいては、次のような課題があった。
【００１６】
(1) ：前記従来例１（特許文献１）は、分解能切り替え方式の実現方法のみが開示されている。ここでいっている分解能の切り替えとは、検出した座標値の精度を評価するために設けた分解能切り替えキー試験装置に接続された評価用パソコンとのデータの受け渡しに関する実現方法である。
【００１７】
これに対して本発明は、
(a) ：入力デバイスの入力方向に依存する座標検出の異常（ズレ、取りこぼし等）を指摘することを可能とする技術である。
【００１８】
(b) ：入力デバイスの入力スピードに依存する座標検出の装置の異常（ズレ、取りこぼし等）を指摘することを可能とする技術である。
【００１９】
(c) ：検出した座標の座標分布をマトリクス化して座標検出力の弱い部分を指摘することを可能とする技術であるため、概念的にも実質的にも全く異なる技術である。
【００２０】
(2) ：前記従来例２（特許文献２）は、入力装置を走査し、検出できた座標点を単純に直線で連結するものであり、装置異常で座標の検出に失敗していても画面上では問題なく直線が引かれてしまうというものであり、ここでの座標の検出の失敗とは「ズレ」とは異なるものである。
【００２１】
これに対して本発明は、座標の検出に失敗した場合、その場所を明確にすることを可能にする試験方法であるため、その実現方法においても類似性はなく、概念的にも全く異なるものである。
【００２２】
(3) ：前記従来例２では、検出／出力装置の座標検出機構における壊れを検出できなかった。すなわち、従来例２では、入力デバイスを走査し、検出できた座標点を単純に直線で連結するだけのものであり、装置異常で座標の検出に失敗した場合でも画面上では問題なく表示されてしまうという課題があった。
【００２３】
(4) ：前記従来例２では、検出／出力装置の座標検出機構における位置的精度（ズレを含む）のみしか試験できなかった。
【００２４】
(5) ：従来例２では、全座標を試験するのは膨大な時間がかかり量産では現実的不可能であるとし、定型形の描画試験を行うというものであった。また、検出できた座標点を単純に直線で連結するだけのものであり（試験者に対して座標ズレなどの装置異常を簡単に目視確認で判定するためには線画はやむを得ない）実際には全ての座標を検出しているわけではない。
【００２５】
そのため、従来例２では、画面上の全座標に対し実際にどれくらいの座標を試験しているのかという点で分かりにくいという課題があった。また、これは試験漏れに繋がることになるという課題があった。
【００２６】
(6) ：従来例２では、描画した後、目視確認で座標のズレを確認するだけであった。
【００２７】
本発明は、このような従来の課題を解決し、従来の試験で検出できなかった座標検出部の壊れなどの装置異常部分を確実に捕らえ、表示属性の設定を意図的に変化させることで試験者に的確に指示し、装置の良否判定精度を高めると共に、装置異常状態検出時の表示切り換え機能により、座標検出部の入力スピード、入力方向に依存する障害の検出率を向上させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２８】
本発明は前記の目的を達成するため、次のように構成した。
【００２９】
すなわち、画面上の位置を指定して入力する入力デバイスと、前記入力デバイスで指定された位置の座標を検出する座標検出部とを有する座標入出力装置の試験方法において、前記入力デバイスの移動スピードによって、表示の属性を変えて軌跡を表示するようにした。
【００３０】
また、画面上の位置を指定して入力する入力デバイスと、前記入力デバイスで指定された位置の座標を検出する座標検出部とを有する座標入出力装置の試験方法において、監視サイクル毎に、前記入力デバイスで指定された座標を検出し、検出された座標に基づいて、前記入力デバイスの軌跡を表示すると共に、検出された複数の座標間の距離に基づいて、前記入力デバイス里の移動スピードを判別し、判別された前記入力デバイスの移動スピードに応じて、前記入力デバイスの軌跡を、表示の属性を変えて表示するようにした。
【００３１】
（作用）
前記構成に基づく本発明の作用を図１に基づいて説明する。以下に説明する試験は、装置本体内のＣＰＵ１９がメモリに格納されているテストプログラム１２を実行することで行う試験である。
【００３２】
前記座標入出力装置の試験方法では、入力デバイス３Ａの移動スピードによって、表示の属性を変えて軌跡を表示する。このように、入力デバイス３Ａの移動スピードと、検出座標値に着目し、入力デバイス３Ａの移動スピードの違いによる座標検出の異常を的確に捕られる。この場合、表示属性の設定を試験開始前に任意に設定し、正常表示と異常表示の範囲を変更することで試験精度を高めることが可能になる。
【発明の効果】
【００３３】
本発明は、次のような効果がある。
【００３４】
(a) ：検出／出力装置上の局所的な座標ズレ及び抜けの有無が、従来例よりも分かりやすく試験することが可能になり、従来例にはない座標検出機能の壊れ、又は入力デバイスの移動スピードによる座標検出の正当性、入力方向による座標検出の正当性などを評価することができるため、装置の良否判定の精度を高めることが可能となる。
【００３５】
(b) ：試験後の検出座標分布を用い、試験後に更に詳細な分布も可能となることで、より総合的な試験を行うことができる。
【００３６】
(c) ：検出／出力装置は、本体装置であるために、製品不良装置を早期に見極めることは、多大なコスト削減につながる。従って、本発明は、多角的に装置良否判定を行う手段を有しているため、結果としてコスト削減という面でも大きな効果がある。
【００３７】
(d) ：入力デバイスの移動スピードによって、表示の属性を変えて軌跡を表示する。このように、入力デバイスの移動スピードと、検出座標値に着目し、入力デバイスの移動スピードの違いによる座標検出の異常を的確に捕えられる。この場合、表示属性の設定を試験開始前に任意に設定し、正常表示と異常表示の範囲を変更することで試験精度を高めることが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
§１：装置例の説明
図２は装置例の外観図であり、Ａ図は装置例１、Ｂ図は装置例２、Ｃ図は装置例３である。本発明で適用する装置としては図２に示した各装置例がある。
【００３９】
図２のＡ図に示した装置例１は、ＰＤＡ型コンピュータの例であり、装置本体１上に表示用の画面２が設けてある。この場合、装置本体１内には座標入出力装置を構成する構成部品が設けてあり（詳細は後述する）、該座標入出力装置の上面側に画面２が設けてある。
【００４０】
そして、使用者等が画面２上に手書き入力ペン３で文字や図形を描くと、その手書きされた文字や図形は座標入出力装置の装置本体１側で検出され、認識された後、その文字や図形等を画面２上に表示するようになっている。
【００４１】
図２のＢ図に示した装置例２は、ラップトップ型コンピュータの例であり、装置本体１には蓋が開閉自在に設けてあり、その蓋の内側に表示用の画面２が設けてある。また、装置本体１側にはキーボード４が設けてある。この場合、装置本体１内には座標入出力装置を構成する構成部品が設けてあり、該座標入出力装置の蓋の一部に画面２が設けてある。
【００４２】
そして、使用者が画面２上に手書き入力ペン３で図形データを描くと、その手書きされた図形データは座標入出力装置により検出され認識された後、その図形データを画面２上に表示するようになっている。
【００４３】
図２のＣ図に示した例は、ディスクトップ型コンピュータの例であり、装置本体１と、キーボード４と、画面２を有する表示装置により構成されている。この場合、装置本体１内には座標入出力装置を構成する構成部品が設けてあり、前記表示装置に画面２が設けてある。
【００４４】
そして、使用者等が画面２上に手書き入力ペン３で文字や図形を描くと、その手書きされた文字や図形は座標入出力装置により検出され認識された後、その文字や図形を画面２上に表示するようになっている。
【００４５】
なお、前記の例に限らず、同様の機能を有する座標入出力装置に適用可能である。また、前記座標入出力装置には、タブレットやマウスなどの種類があるが、以下の実施の形態における説明では、座標入出力装置として、手書き入力ペン３と装置本体１側のタブレット本体を用いたタブレットの例について説明する。
【００４６】
§２：座標入出力装置の構成の説明
図３は座標入出力装置の構成説明図であり、Ａ図は平面図、Ｂ図はＡ図のＸ−Ｙ線断面図である。
【００４７】
図３に示したように、座標入出力装置を構成するタブレットは外側に保護フィルム８があり、その下側に表示画面２があり、更にその下側に入力電極面１１がある。この場合、表示画面２の端部には、画面に情報を表示するための表示回路９があり、前記入力電極面１１の端部には、画面上で指定して入力された位置の電極に対応する信号を検出するための検出回路１０が設けてある。
【００４８】
また、入力電極面１１の下側（装置の内部）には、座標検出部１３、制御部１４、試験用のプログラム（これを「テストプログラム」とも記す）を格納したＲＡＭ１２、ＯＳ（オペレーティングシステム）１６、ＲＡＭ１７、ハードディスク装置（「ＨＤＤ」とも記す）１５等が設けてある。
【００４９】
そして、座標検出部１３は制御部１４を介して検出回路１０に接続し、検出回路１０からの検出信号を制御部１４を介して座標検出部１３が受け取り、座標検出処理を行うようになっている。また、表示回路９はグラフィックコントローラ１８に接続し表示データを表示回路９へ送るようになっている。
【００５０】
この場合、前記ＲＡＭ１７は制御部１４がワーク用として使用するものであり、該ＲＡＭ１７の格納したデータは、保存する際にはハードディスク装置（ＨＤＤ）１５に格納しておく。
【００５１】
なお、座標入出力装置（タブレット）の試験は、前記メモリ内のテストプログラム１２をＣＰＵ１９が実行することで行う。また、前記テストプログラム１２は、試験実施の際には装置本体１内のメモリ内におき、試験が終了し、製品の工場出荷時までには取り除いておく。すなわち、出荷された製品には、前記テストプログラム１２は取り外された状態にする。
【００５２】
§３：タブレットの試験の概要
タブレットの試験の概要は、次の通りである。
【００５３】
(1) ：試験例１
試験例１では、座標検出ができなかった装置異常部分を捕らえ、表示属性の設定を意図的に変化させることで、試験者に的確に指示し、装置の良否判定精度を高める。
【００５４】
(2) ：試験例２
試験例２では、入力デバイスの移動スピードと、検出座標値に着目し、入力デバイス移動スピードの違いによる座標検出の異常を的確に捕らえる。また、試験器具（自動で入力デバイスを移動させる器具）不在の場合、試験者操作による試験となるが、この時、入力スピードはまちまちである。本発明では、入力スピードの違いなど、試験手順の不均一をスピードによる表示属性変更（例えば、表示の色を変える）などの手段を用い、均等化することも可能ならしめる。
【００５５】
また、その表示属性の設定を試験開始前に任意に設定し、正常表示と異常表示の範囲を変更することで試験精度を高めることが可能になる。
【００５６】
(3) ：試験例３
試験例３では、試験中、検出した座標を複数に分割した領域に位置情報として保存しつつ検出済み（試験済み）領域として表示し、また、検出座標密度（検出された座標点が多いか少ないか）によってその表示属性を変えて表示することで、試験漏れの部分を明確にすることが可能であり、試験漏れを防ぐことにつながるものである。
【００５７】
(4) ：試験例４
試験例４では、試験中座標検出した結果を、例えば、ＲＡＭ１７又はハードディスク装置（ＨＤＤ１５）へ格納して保存する。そして、試験終了時に、検出座標分布を入力デバイスの移動スピードの違い、入力方向などに基づき集計処理して表示する機能を有することで、多角的に分析することを可能ならしめる。
【００５８】
(5) ：試験例５
試験例５では、試験機にマスタとなる試験制御用マスタコンピュータを介在させることにより、プログラム的にエラー情報を収集し、エラー頻度の高い領域を明示的に表示する。そのため、リアルタイムなエラー発生状況を提供できる。
【００５９】
§４：試験実施時の試験方法の説明
図４はテストプログラムによるタブレットの処理フローチャート（その１）、図５はテストプログラムによるタブレットの処理フローチャート（その２）である。以下、図４、５に基づいて、テストプログラムによるタブレットの処理を説明する。なお、図４、５において、Ｓ１〜Ｓ１７は各処理ステップを示す。
【００６０】
(1) ：試験処理の説明
以下に説明する処理は、試験対象となる座標入出力装置をWindows （登録商標）環境下において実現している。また、以下に説明する試験は、メモリ内のテストプログラム１２をＣＰＵ１９が実行することで実現する。
【００６１】
先ず、試験を開始した直後に、手書き入力ペン３の移動の軌跡を線画する為の開始点となる開始時座標を獲得し、保持する（Ｓ１）。次に、手書き入力ペン３の監視サイクルを設定する（Ｓ２）。この場合、例えば、タイマイベントの設定を行う。この設定は例えば、タイマイベント＝１５μSec のように時間情報を設定する。その後、ウィンドウズ（Windows ）のコールバックルーチンを生成する（Ｓ３）。
【００６２】
次に、手書き入力ペン３により座標入力中か否かを判定し（Ｓ４）、入力中でなければ、入力されるのを待ち、入力中であれば、現座標の獲得処理を行う（Ｓ５）。そして、座標は獲得できたか否かを判断し（Ｓ６）、座標の獲得ができなかった場合は、失敗フラグ（ＦＬＡＧ１）を立て（Ｓ７）、前記Ｓ４の処理へ移行する。
【００６３】
また、前記Ｓ６の処理で、座標の獲得ができた場合は、座標値増減より、描画スピードを算出する（Ｓ８）。この場合、テストプログラムは、以前にハードディスク装置１５に格納しておいた該当する位置の座標値を読み出し、その座標値と前記獲得できた座標値等のデータを基に、座標値増減を判断し、描画スピードを算出する。なお、この場合に使用する時間情報は、前記Ｓ２で設定した１５μSec の値を使用し、移動した距離は前記２つの座標値から求める。
【００６４】
次に、失敗フラグ（ＦＬＡＧ１）は立っているかを判断し（Ｓ９）、失敗フラグ（ＦＬＡＧ１）が立っていなければ、描画スピードによる表示属性の設定を行い（Ｓ１０）、Ｓ１３の処理へ移行する。しかし、Ｓ９の処理で、失敗フラグ（ＦＬＡＧ１）が立っていたら、表示属性（色又はパターン）の設定を行い（Ｓ１１）、現座標値と前回獲得した座標値を表示し（Ｓ１２）、Ｓ１３の処理へ移行する。
【００６５】
次に、前回獲得座標と現座標間を線画し、画面に表示し（Ｓ１３）、現座標を次回の線画開始として保持（例えば、ＨＤＤ１５に保持）する（Ｓ１４）。次に、失敗フラグ（ＦＬＡＧ１）の０初期化を行い（Ｓ１５）、試験終了か否かを判断し（Ｓ１６）、試験終了でなければＳ４の処理へ移行し、試験終了ならば、検出座標値の集計処理を行い（Ｓ１７）、この処理結果のデータを画面に表示してこの処理を終了する。
【００６６】
§５：試験処理中状態の説明
(1) ：試験例１の説明
図６は試験処理中状態の説明図であり、Ａ図は表示例１、Ｂ図は表示例２である。
【００６７】
図４、５において、Ｓ４の座標入力中かつＳ５の現座標の獲得に失敗した場合（判定はＳ６で実施）、Ｓ７にて失敗ＦＬＡＧ１を立て、Ｓ４に処理を戻す。Ｓ５にて現座標を獲得し、獲得できた場合はＳ９のＦＬＡＧ１判定を行う。この時先のＳ７でＦＬＡＧ１を立てているため、Ｓ１１にて表示色及び表示パターンなどの表示属性を設定する。その後、Ｓ１３で前回獲得した座標と、現座標を線画する。また、Ｓ１５でＦＬＡＧ１を０初期化し、Ｓ４に戻り処理を続ける。
【００６８】
前記図４、５の処理において、試験中状態は、画面２上に図６のＡ図、Ｂ図のような表示を行う。図６のＡ図の表示例１では、画面上に検出座標の軌跡表示が行なわれている状態を示している（表示例１の符号２０を参照）。そして、正常時は黒色（例）で線画する（表示例２の符号３０を参照）。また、異常時は、赤色（例）で線画する（表示例２の符号３１を参照）。なお、この場合、点線部分が異常な範囲とすると点線の区間が赤で線画される。
【００６９】
◎：試験例１の補足説明
図７は座標検出処理の説明図である。以下、図７により前記例１の補足説明を行う。図７において、５２はタイマで設定した間隔毎に呼び出される処理（図４のＳ２、Ｓ３、Ｓ５の処理に対応する）、この時、入力デバイスからの位置座標を獲得している（図７の符号４０を参照）。この結果、座標獲得に成功した場合（４８、４９）は、ＦＬＡＧ１の状態（４２）はＯＦＦの状態なので表示色は黒色とし、座標４４、４５間を描画する。
【００７０】
それに反して、意図座標の獲得に失敗した場合（５０）は、その時点で線画は行なわず（この時の座標値は不定である為）ＦＬＡＧ１をＯＮ状態（４１）にする。次に、座標獲得に成功した５１の時に線画を行うが、ＦＬＡＧ１はＯＮ状態である為、表示属性を変更し、座標４５、４６間を線画する。また、前記図６のＢ図の表示例２は、前記処理による表示状態（座標検出失敗した場合の表示状態）を示している。
【００７１】
(2) ：試験例２の説明
図８は座標獲得処理の説明図である。以下、図８を参照しながら試験例２を説明する。
【００７２】
図４、５の処理において、Ｓ４で座標入力中、かつＳ５で座標の獲得に成功した場合（判定はＳ６で実施）、Ｓ８で獲得座標と現獲得座標の増減量（５２）と座標値獲得時間（５１）から移動速度を求める。Ｓ１０においてＳ８で求めた移動速度（描画スピード）に対応する表示属性の設定を行う。
【００７３】
この移動速度に対応する表示属性は外部から試験者が任意に変更できるような処理となっている（画面にメニューを表示し、試験者が設定変更可能）。また、Ｓ１０で表示属性の設定を行なった後にＳ１３にて線画を行う。このように、図８は前記処理による試験処理中状態を示している。
【００７４】
また、５３と５４では入力デバイスの移動スピードが異なる為、軌跡の表示を５３：点線、５４：実線としている。また、５４では同一座標上を５３と同じく移動しているにもかかわらず、入力デバイスの移動スピードの違いで座標ズレが発生している状態を示している。
【００７５】
(3) ：例３の説明
図９は表示属性を変えて表示した例である。図９において、６１に示す通り、先ず予め画面を複数の領域に分割しておく。前記図４、５の処理において、Ｓ５で現座標を獲得するが、この獲得した座標が前記領域のどの部分にあたるかをチェックする。該当する領域に対し、領域毎に用意したカウンタをインクリメントする。座標密度により表示属性を変えて画面上に表示する（６２）。
【００７６】
前記表示属性は、外部から試験者によって設定が可能である（過去の実績から障害の多い領域は、特に座標密度が高くないと表示変化しないようにといった設定もできる）。また、試験終了後、Ｓ１７で今まで獲得した座標を集計し、各要件における座標分布図を表示する。なお、前記要件とは、入力デバイスの移動スピード、入力方向など）である。
【００７７】
§６：他の試験例の説明
図１０は他の例の試験方法の説明図である。以下、図１０に基づいて、他の例の試験方法を説明する。
【００７８】
この試験方法は、試験中に発生したエラー座標情報を、試験対象の座標入出力装置から試験制御用マスタパーソナルコンピュータ（「試験制御用マスターＰＣ」とも記す）７１に送信して蓄積し、試験制御用マスターＰＣ７１から蓄積したデータの取り出しを行うことで、エラー発生頻度の集計データを座標入出力装置の画面上に表示する例である。
【００７９】
図１０に示す通り、試験制御用マスターＰＣ７１と、試験対象機７６とを接続し、ファイル共有サービス（米国のMicrosoft 社製のサービス）が使用可能な環境を構築する（ＬＡＮ接続、ＵＳＢ接続、シリアル接続等）。そして、試験制御用マスターＰＣ７１は、エラー情報ファイル７２（試験対象機がエラーした際のエラー座標値を保持しておく為のファイル）を持つ。
【００８０】
試験開始前（７４）、先ず試験対象機７６の試験プログラム（テストプログラム）７９は、マイクロソフトファイル共有サービスを用い、エラー情報ファイル７２が存在するかをチェックし、ファイルが存在した場合は、ファイルの読み込み（７７）を行う。
【００８１】
試験対象機７６の試験プログラム（テストプログラム）７９は、該ファイルを読み込み、ファイルに蓄積されているエラー座標値を抽出する。抽出した座標は、試験プログラム（テストプログラム）７９が予め分割した領域に分布の度合いによって属性を変え画面に表示する（７１０）。試験終了時（７５）、試験プログラム（テストプログラム）７９は、試験中に発生したエラー座標情報をマイクロソフト社のファイル共有サービスを用い、エラー情報ファイル７２に書き込み（７８）、エラー情報の蓄積を行う。
【００８２】
そして、試験制御用マスタＰＣ７１から蓄積したデータの取り出しを行うことで、エラー発生頻度の集計データを座標入出力装置の画面上に表示する。
【００８３】
なお、前記の例はタブレットの例であるが、マウスのような座標入出力装置についても前記と同様に実施可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８４】
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】本発明の実施の形態における装置例の外観図であり、Ａ図は装置例１、Ｂ図は装置例２、Ｃ図は装置例３を示す。
【図３】本発明の実施の形態における座標入出力装置の構成説明図であり、Ａ図は平面図、Ｂ図はＡ図のＸ−Ｙ線断面図である。
【図４】本発明の実施の形態におけるテストプログラムによるタブレットの処理フローチャート（その１）である。
【図５】本発明の実施の形態におけるテストプログラムによるタブレットの処理フローチャート（その２）である。
【図６】本発明の実施の形態における試験中処理状態の説明図であり、Ａ図は表示例１、Ｂ図は表示例２である。
【図７】本発明の実施の形態における座標検出処理の説明図である。
【図８】本発明の実施の形態における座標獲得処理の説明図である。
【図９】本発明の実施の形態における表示属性を変えて表示した例である。
【図１０】本発明の実施の形態における他の例の試験方法説明図である。
【図１１】従来例１の説明図であり、Ａ図は座標入力装置、Ｂ図は電気的ブロック図である。
【図１２】従来例２の説明図（その１）であり、Ａ図はスキャン軌跡とサンプリング位置との関係を示す図、Ｂ図はサンプリングの基準点の位置を示す図、Ｃ図は精度計算に係る原理を示す図である。
【図１３】従来例２の説明図（その２）であり、Ａ図はスキャン軌跡を示す図、Ｂ図は座標のズレの発生箇所が目立たない例を示す図、Ｃ図は座標ズレの表示例を示す図、Ｄ図はＢ図の部分領域の再スキャンによる座標のズレの拡大表示例を示す図である。
【符号の説明】
【００８５】
１  装置本体
２  表示画面
３  手書き入力ペン
３Ａ  入力デバイス
８  保護フィルム
９  表示回路
１０  検出回路
１１  入力電極面
１２  テストプログラム
１３  座標検出部
１４  制御部
１５  ハードディスク装置（ＨＤＤ）
１５Ａ  記憶部
１６  ＯＳ（オペレーティングシステム）
１７  ＲＡＭ
１７Ａ  記憶部
１８  グラフィックコントローラ
１９  ＣＰＵ（中央演算処理装置）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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