(57)【要約】【課題】容易な方法で光記録媒体への記録条件を設定する方法を採用することで、良好な品質での記録を行なうことが可能となる光記録媒体への記録方法、光記録装置及び光記録媒体を提供すること。【解決手段】光記録媒体のテスト記録領域において、レーザー光の最適記録パワーに関連する記録関連指標を取得する工程と、取得した前記テスト記録領域の記録関連指標に基づいて、前記最適記録パワーを設定する工程と、前記光記録媒体の記録エリアを区分した各記録領域において、前記記録関連指標を取得する工程と、取得した前記各記録領域の記録関連指標に基づいて、設定した最適記録パワーを補正する工程と、補正した前記最適記録パワーで、前記各記録領域に記録を行う工程とを備えた光記録媒体への記録方法・装置。【選択図】図３
2008226391.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体のテスト記録領域において、レーザー光の最適記録パワーに関連する記録関連指標を取得する工程と、
取得した前記テスト記録領域の記録関連指標に基づいて、前記最適記録パワーを設定する工程と、
前記光記録媒体の記録エリアを区分した各記録領域において、前記記録関連指標を取得する工程と、
取得した前記各記録領域の記録関連指標に基づいて、設定した最適記録パワーを補正する工程と、
補正した前記最適記録パワーで、前記各記録領域に記録を行う工程と、
を備えたことを特徴とする光記録媒体への記録方法。
【請求項２】
前記記録関連指標が、前記レーザー光の反射光強度であることを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体への記録方法。
【請求項３】
請求項２に記載の記録方法に用いられる光記録媒体であって、その記録層の材料がレーザー光の照射により非可逆的な変化を起こす無機材料を含むことを特徴とする光記録媒体。
【請求項４】
前記レーザー光の波長が３９０〜４２０ｎｍであり、前記記録層の主成分がＢｉ及び酸素と、それに加えて、Ｍｇ、Ａｌ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｃｏ、Ｆｅ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｌｉ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｚｒ、Ｔｉ、Ｈｆ、Ｓｎ、Ｍｏ、Ｖ、Ｎｂ、Ｙ、Ｔａ、Ｔｅ、Ｓｂ、Ｉｎ、Ｇａ、Ｎｉ、Ｂのうちの少なくとも一つの元素を含有し、情報が記録された記録マーク部が、前記記録層に含有される元素の結晶、及び／又は、該含有元素の酸化物の結晶を含むことを特徴とする請求項３に記載の光記録媒体。
【請求項５】
光記録媒体にレーザー光を照射する照射手段と、
前記レーザー光の最適記録パワーに関連する記録関連指標を取得する取得手段と、
取得した記録関連指標に基づいて、前記最適記録パワーを設定する設定手段と、
設定された前記最適記録パワーに基づいて、前記照射手段を駆動する駆動手段と、を備え、
前記設定手段は、前記光記録媒体のテスト記録領域において取得された前記記録関連指標に基づいて設定した前記最適記録パワーを、前記光記録媒体の記録エリアを区分した各記録領域において取得された前記記録関連指標に基づいて補正することを特徴とする光記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体、光記録装置及び記録方法に関し、詳しくは、容易な方法で光記録媒体への記録条件を設定する方法を採用することで、良好な品質での記録を行なうことが可能となる光記録媒体、光記録装置及び記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光記録装置により光記録媒体への記録が行なわれる場合、テスト記録方法（ＯｐｔｉｍｕｍＰｏｗｅｒ
Ｃｏｎｔｒｏｌ；ＯＰＣ）により記録パワーを決定して記録が実行されることが多い。このＯＰＣが行なわれるテスト領域は、データ記録領域を外して設定されているため、通常は、ディスクの最内周部又は最外周部に設定されている（特許文献１，２参照）。
【０００３】
【特許文献１】特許第３０８１５５１号公報
【特許文献２】特許第３１２４７２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、光記録媒体は、各層の膜厚や記録層の光学特性が均一であるとは限らず、これらに面内変動（半径位置による違い）が生じているものが多い。各層の膜厚の面内変動は、例えば、各層をスパッタ成膜する場合に、外周部で膜厚が薄くなる傾向があることに起因するものである。また、記録層の光学特性の面内変動は、例えば、記録層の外周部では、酸素が飽和状態になることで透過率が上昇する傾向にあることに起因するものである。
このように、各層の膜厚や記録層の光学特性に面内変動が生じていると、最内周部又は最外周部に設定されたテスト記録領域に対する最適記録パワーと、記録エリアに対する最適記録パワーとが異なることになる。この場合、テスト記録領域で行ったＯＰＣにより設定された最適記録パワーは、記録エリアに対しては「最適」記録パワーではないため、記録エリアに対して適切に記録を行なうことができない。その結果、記録後に読み取り再生ができないような品質での記録がなされてしまうことがあった。
本発明は前記問題点に鑑みてなされたものであり、その課題は、テスト記録領域に対する最適記録パワーと、記録エリアに対する最適記録パワーとが異なる場合にも、記録エリアに対して良好な品質での記録を行なうことが可能となる光記録媒体への記録方法、光記録装置及び光記録媒体を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の課題は下記の手段（１）〜（５）によって解決される。
（１）光記録媒体のテスト記録領域において、レーザー光の最適記録パワーに関連する記録関連指標を取得する工程と、取得した前記テスト記録領域の記録関連指標に基づいて、前記最適記録パワーを設定する工程と、前記光記録媒体の記録エリアを区分した各記録領域において、前記記録関連指標を取得する工程と、取得した前記各記録領域の記録関連指標に基づいて、設定した最適記録パワーを補正する工程と、補正した前記最適記録パワーで、前記各記録領域に記録を行う工程と、を備えたことを特徴とする光記録媒体への記録方法。
（２）前記記録関連指標が、前記レーザー光の反射光強度であることを特徴とする前記（１）に記載の光記録媒体への記録方法。
（３）前記（２）に記載の記録方法に用いられる光記録媒体であって、その記録層の材料がレーザー光の照射により非可逆的な変化を起こす無機材料を含むことを特徴とする光記録媒体。
（４）前記レーザー光の波長が３９０〜４２０ｎｍであり、前記記録層の主成分がＢｉ及び酸素と、それに加えて、Ｍｇ、Ａｌ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｃｏ、Ｆｅ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｌｉ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｚｒ、Ｔｉ、Ｈｆ、Ｓｎ、Ｍｏ、Ｖ、Ｎｂ、Ｙ、Ｔａ、Ｔｅ、Ｓｂ、Ｉｎ、Ｇａ、Ｎｉ、Ｂのうちの少なくとも一つの元素を含有し、情報が記録された記録マーク部が、前記記録層に含有される元素の結晶、及び／又は、該含有元素の酸化物の結晶を含むことを特徴とする前記（３）に記載の光記録媒体。
（５）光記録媒体にレーザー光を照射する照射手段と、前記レーザー光の最適記録パワーに関連する記録関連指標を取得する取得手段と、取得した記録関連指標に基づいて、前記最適記録パワーを設定する設定手段と、設定された前記最適記録パワーに基づいて、前記照射手段を駆動する駆動手段とを備え、前記設定手段は、前記光記録媒体のテスト記録領域において取得された前記記録関連指標に基づいて設定した前記最適記録パワーを、前記光記録媒体の記録エリアを区分した各記録領域において取得された前記記録関連指標に基づいて補正することを特徴とする光記録装置。
【発明の効果】
【０００６】
本発明の記録方法によれば、テスト記録領域において取得した記録関連指標に基づいて設定した最適記録パワーを、各記録領域において取得した記録関連指標に基づいて補正し、補正した最適記録パワーで各記録領域に対して記録が行なわれる。このため、テスト記録領域に対する最適記録パワーと、各記録領域（記録エリア）に対する最適記録パワーとが異なる場合にも、その違いを考慮して各記録領域に対する最適記録パワーを補正することができる。したがって、各記録領域に対し、適切に記録を行なうことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下に、本発明を実施するための最良の形態を図面に基づいて説明する。なお、いわゆる当業者は特許請求の範囲内における本発明を変更・修正をして他の実施形態をなすことは容易であり、これらの変更・修正はこの特許請求の範囲に含まれるものである。以下の説明は本発明における最良の形態の例であって、この特許請求の範囲を限定するものではない。
【０００８】
本発明に係る光記録媒体の層構成の一実施形態を図１に示す。
この光記録媒体の基本的な構成は、案内溝（図示せず）を有する基板１上に、下部保護層２、記録層３、上部保護層４、反射層６、有機樹脂材料を用いた保護層（オーバーコート層）７を有する。
上記層構成は一例であり、必要に応じて、下部保護層２及び上部保護層４のどちらか一層を形成しなかったり、Ａｇ系反射層を使用する場合には上部保護層との間にバリア層５（硫化防止層、又は、酸化防止層）を設けたり、基板の鏡面側（案内溝が形成されている面の反対側）へのハードコート層８を設けたり、オーバーコート層７上には印刷層９を設けたりしてもよい。また、上記の単板ディスクを、接着層１０を介して貼り合わせ構造としてもよい。その際，オーバーコート層７は形成せず，その機能を接着層１０で兼ねてもよい．貼り合わせる反対面のディスクは、同様の単板ディスクでも、透明基板のみでもよい。また、単板ディスクに印刷層９を形成せずに貼り合わせ、貼り合わせ後に反対面側に印刷層９’を形成してもよい。
【０００９】
基板１に用いる材料は、通常ガラス、セラミックス或いは樹脂であり、樹脂基板が成形性、コストの点で好適である。樹脂の例としては、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコーン系樹脂、フッ素系樹脂、ＡＢＳ樹脂、ウレタン樹脂などが挙げられるが、成形性、光学特性、コストの点で優れるポリカーボネート樹脂、アクリル系樹脂が好ましい。
また、本発明の光記録媒体をＨＤ  ＤＶＤ−Ｒディスク（高密度記録可能なＤＶＤ−Ｒディスク）、又は、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷディスクに応用する場合には、以下のような特定の条件が付与されることが望ましい。すなわち、基板１に形成される案内溝の幅が０．１〜０．３μｍ、好適には０．１７〜０．２３μｍ、案内溝の深さが１８〜４０ｎｍ、好適には２３〜３３ｎｍとなっていることである。案内溝の蛇行の周期は、１周期が９．５μｍとなる。基板１の厚さは０．５７〜０．６３ｍｍが好適であり、貼り合わせ後のディスクの厚さは、１．１〜１．３ｍｍが好適である。これらの基板溝によって、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＯＭドライブでの再生互換性が向上する。
【００１０】
記録層３には、例えば、無機材料からなる追記型光記録媒体に使用する記録材料が使用される。
無機材料を記録層の材料とした追記型光記録媒体としては、特開２００３−１４５９３４号公報に記載されているように、レーザー光照射により媒体にピット（穴）をあけて情報を記録する方法、或いは相変化や合金化等による構造変化を生じさせ反射率を変化させて情報を記録する方法が提案されている。しかしながら、ピット方式の場合は、記録密度の向上に伴って均一なピットを得ることが困難となり、これにより信号特性と記録感度が劣化するため、あまり望ましくない。また、相変化記録方式の場合、結晶と非晶の間の相転移を利用するものにおいて、場合により記録マークが消去される危険性があり、合金化方式の場合、レーザー照射による反射率の変動、即ち、記録マークの再生信号のコントラストが小さいという問題を有するが、記録マークの大きさを制御するためには、構造変化を利用するこれらの方式が望ましい。
【００１１】
特に本発明で使用される記録材料としては、ＤＶＤで用いられる赤色レーザー波長領域（およそ６３０ｎｍ〜６７０ｎｍ）のレーザー光を使用する光記録媒体や、ＣＤで用いられる赤外色レーザー波長領域（およそ７６０ｎｍ〜８３０ｎｍ）のレーザー光を使用する光記録媒体に用いる場合は、照射されたレーザー光を吸収し、昇温するための金属又は半金属材料と、変形を抑制するための酸化物、硫化物、炭化物等のセラミック又はそれに類する材料の混合物が望ましい。
具体的には、金属又は半金属として、Ｓ、Ｓｅ、Ｔｅ、Ｓｂ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｂｉ、Ｇａ、Ｉｎの少なくとも一つの元素が用いられ、セラミック材料としては、ＣａＯ、ＳｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、Ｆｅ２Ｏ３、Ｂｉ２Ｏ３、ＣｕＯ、ＰｂＯ、ＢａＯ、ＴｉＯ２、Ｓｂ２Ｏ３、ＣｅＯ２、ＺｎＯ、ＣｄＯ、Ｉｎ２Ｏ３、ＳｎＯ２、Ｔａ２Ｏ５、Ｎｂ２Ｏ５、Ｖ２Ｏ５、ＭｇＯ、ＢｅＯ、ＺｒＯ２、ＭｏＯ３、ＷＯ３、ＮｉＯ、ＣｏＯ２、ＴｅＯ２、ＭｎＯなどの酸化物や、ＺｎＳ、ＣｄＳ、ＭｏＳ２などの硫化物；Ｓｉ３Ｎ４、ＡｌＮ、ＢＮ、ＴｉＮなどの窒化物や、ＳｉＣ、Ｂ４Ｃ、ＴｉＣ、ＷＣ、アモルファス炭素、黒鉛、ダイヤモンド等の炭素化物などを用いることができる。特に、エネルギーバンドギャップの小さいセラミックを用いる方が、光吸収を補助できるため、より望ましい。
【００１２】
また、ＨＤ  ＤＶＤやＢＤで用いられる青色レーザー波長領域（およそ３９０ｎｍ〜４２０ｎｍ）のレーザー光を使用する光記録媒体の場合には、特開２００６−１１６９４８号公報に開示されているような、Ｂｉ及びＯに加えて、Ｍｇ、Ａｌ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｃｏ、Ｆｅ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｌｉ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｚｒ、Ｔｉ、Ｈｆ、Ｓｎ、Ｍｏ、Ｖ、Ｎｂ、Ｙ、Ｔａのうちの少なくとも一つの元素を含有し、情報が記録された記録マーク部が、記録層に含有される元素の結晶、及び／又は、該元素の酸化物の結晶を含む記録材料などを利用することができる。また、Ｂｉ及びＯに一つ以上の元素を加えた記録材料については、添加する元素として、Ｔｅ、Ｓｂ、Ｉｎ、Ｇａ、Ｎｉ、Ｂを用いることもできる。
【００１３】
記録層３の厚さについては、使用される光情報記録媒体の条件によって最適な値は異なるが、およそ１０〜２５ｎｍの範囲にあることが望ましい。膜厚が１０ｎｍより薄くなると記録マークの変調度が小さくなるため、また、２５ｎｍを超えると記録時における記録マークの形成精度が下がるため、いずれも記録信号の特性が良好でなくなるので、望ましくない。
【００１４】
記録層３の上層もしくは下層の少なくとも一方には、記録層３を保護するための無機保護層（上部保護層４、下部保護層２）を形成される。具体的には、ＳｉＯ、ＳｉＯ２、ＺｎＯ、ＳｎＯ２、Ａｌ２Ｏ３、ＴｉＯ２、Ｉｎ２Ｏ３、ＭｇＯ、ＺｒＯ２、Ｔａ２Ｏ５、Ｎｂ２Ｏ５などの酸化物；Ｓｉ３Ｎ４、ＡｌＮ、ＴｉＮ、ＢＮ、ＺｒＮなどの窒化物やＺｎＳ、ＴａＳ４などの硫化物やＳｉＣ、ＴａＣ、Ｂ４Ｃ、ＷＣ、ＴｉＣ、ＺｒＣなどの炭化物やダイヤモンド状カーボン、あるいはそれらの混合物が用いられる。
また、反射層材料にＡｇのように硫黄を反応して硫化物を生成してしまうような材料を使用する場合には，上部保護層４を２層以上の構成として、反射層６と接する側に硫化物を含まない層をバリア層５として形成することがある．
無機保護層（上部保護層４、下部保護層２）の膜厚については、記録感度、反射率等の記録・再生信号が良好となる範囲を設定すればよいが、記録層３を保護する機能が要求される場合においては、少なくとも４ｎｍ以上の膜厚が必要とされる。
【００１５】
反射層６の材料としては、レーザー光波長に対する反射率の高い物質が好ましく、その例としては、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｎｄ、Ｍｇ、Ｐｄ、Ｚｒ、Ｐｔ、Ｔａ、Ｗ、Ｓｉ、Ｚｎ、Ｉｎの少なくとも１種の金属及び半金属を挙げることができる。中でも、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕの何れかを主成分とし、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｎｄ、Ｍｇ、Ｐｄ、Ｚｒ、Ｐｔ、Ｔａ、Ｗ、Ｓｉ、Ｚｎ、Ｉｎから選ばれた少なくとも１種を０．１重量％〜１０重量％程度添加した合金が好ましく、特にＩｎが好ましい（合金であるから、当然ながらＡｕとＡｕ、ＡｇとＡｇ、ＣｕとＣｕの組合せは除く）。上記金属若しくは半金属を０．１重量％以上添加することにより、結晶粒が微細化し耐蝕性に優れた薄膜が得られる。
しかし、上記金属若しくは半金属を、１０重量％を超えて添加すると反射率が低下するため好ましくない。母材としては成膜速度を速くすることが出来るＡｇが最も好ましく、添加物としては屈折率ｎが小さく吸収係数ｋが大きいＡｕ、Ｃｕ、Ｍｇ、Ｉｎが特に好ましい。
反射層６の膜厚は、３０ｎｍ〜２００ｎｍ、好適には３５〜１６０ｎｍとするのがよい。また、反射層を多層化することも可能である。多層化した場合でも、多層化膜の合計膜厚を一層のときと同様の範囲とするのがよい。膜厚が３０ｎｍより薄くなると、反射率の確保が困難となる。２００ｎｍより厚くすると、製膜時間がかかりすぎてしまうため、製膜時の基板への応力による変形が起こる。また、製造効率も低くなる。
【００１６】
本発明の光記録媒体における記録層３、下部保護層２及び上部保護層４、反射層６の形成方法としては、プラズマＣＶＤ、プラズマ処理、イオンプレーティング、光ＣＶＤなど成膜法が利用できるが、光記録媒体の製造で汎用されているスパッタリング成膜法が有効である。その代表的な成膜条件は、圧力１０−２ｈＰａ〜１０−４ｈＰａ、スパッタリング電力０．１ｋＷ／２００ｍｍφ〜５．０ｋＷ／２００ｍｍφ、成膜速度０．１ｎｍ／ｓ〜５０ｎｍ／ｓである。
【００１７】
反射層６の上層には，反射層６に接して、有機樹脂によるオーバーコート層７が形成される。オーバーコート層７の形成方法は、均一な膜を形成するために、スピンコート法で作製することが好適である。
オーバーコート層７の材料には、使用する反射層材料への腐食性成分が含有していないこと、未硬化となり難い硬化性の高い材料であることなどに配慮して、材料を選択する必要がある。そのような材料として、紫外線硬化型樹脂やシリコーン系樹脂などの嫌気性硬化型樹脂などが挙げられるが、放置時間を取ることなく硬化することができる紫外線硬化型樹脂が、生産性向上の利点からしても、より好適である。材料の選択や、オーバーコート層７の構成条件、作製条件については、反射層６との密着力についても、考慮する必要がある。また、貼合せ型の光記録媒体の場合は、オーバーコート層７を形成せずに、接着層１０でオーバーコート層７の機能を兼ねることも可能である。
オーバーコート層７の厚さは、３〜１５μｍが適当である。３μｍより薄いと、オーバーコート層７上に印刷層９を設ける場合にエラーの増大が認められることがある。また、保存劣化を生じ、保護層としての役割を果たせなくなることがある。一方、１５μｍより厚くすると、内部応力が大きくなってしまい、ディスクの機械特性に大きく影響してしまう。
【００１８】
ハードコート層８を設ける場合には、スピンコート法で作製した紫外線硬化型樹脂層が一般的である。その厚さは、２〜６μｍが適当である。２μｍより薄くすると、充分な耐擦傷性が得られない。６μｍより厚くすると、内部応力が大きくなってしまい、ディスクの機械特性に大きく影響してしまう。その硬度は、布で擦っても大きな傷が付かない鉛筆硬度Ｈ以上とする必要がある。必要に応じて導電性の材料を混入させ、帯電防止を図って埃等の付着を防止することも効果的である。
【００１９】
印刷層９、９’は、耐擦傷性の確保、ブランド名などのレーベル印刷、インクジェットプリンタに対するインク受容層の形成などを目的としており、紫外線硬化型樹脂をスクリーン印刷法で形成するのが好適である。その厚さは、３〜５０μｍが適当である。３μｍより薄いと、層形成時にムラが生じてしまうし、５０μｍより厚くすると、内部応力が大きくなってしまい、ディスクの機械特性に大きく影響してしまう。
【００２０】
接着層１０には、紫外線硬化型樹脂、ホットメルト接着剤、シリコーン樹脂などの接着剤を用いることができる。これらの材料は、樹脂保護層又は印刷層９上に、材料に応じてスピンコート、ロールコート、スクリーン印刷法などの方法により塗布し、紫外線照射、加熱、加圧等の処理を行なって反対面のディスクと貼り合わせる。反対面のディスクは、同様の単板ディスクでも透明基板のみでも良く、反対面ディスクの貼り合わせ面については、接着層の材料を塗布してもしなくてもよい。また、接着層１０としては、粘着シートを用いることもできる。
接着層１０の膜厚は特に制限されるものではないが、材料の塗布性、硬化性、ディスクの機械特性の影響を考慮すると、５〜１００μｍ、好適には７〜８０μｍである。接着面の範囲は特に制限されるものではないが、ＤＶＤ及び／又はＨＤ  ＤＶＤ互換が可能な書き換え型ディスクに応用する場合、高速記録を可能とするには、接着強度を確保するために、内周端の位置がφ１５〜４０ｍｍ、好適にはφ１５〜３０ｍｍであることが望ましい。
【００２１】
図２に示すように，光記録装置は、光記録媒体をスピンドルモーターからなる駆動手段で回転駆動する駆動部と、光記録媒体にレーザー光を照射するピックアップ（照射手段）と、レーザー光の反射光強度を検出する検出部（取得手段）と、検出された反射光強度に基づいてレーザー光の最適記録パワーを設定する設定部と、設定された最適記録パワーに基づいてピックアップを駆動するレーザー駆動回路とを備えている。そして、記録・再生用ピックアップのレーザー駆動回路により半導体レーザー光源を駆動し，光学系を介して光記録媒体に図３に示したようなフロントパルス部，マルチパルス部，エンドパルス部を有するパルスパターンのレーザー光を照射して該光記録媒体の記録層に光学的な変化を生じさせ，光情報記録媒体からの反射光を記録・再生用ピックアップで受光し，光記録媒体に対する情報の記録や再生を行なうものである．
記録手段は，本発明の光情報記録媒体の記録層に対してマークの幅として信号を記録する，いわゆるＰＷＭ記録（マークエッジ記録）方式を使用している。この場合、例えば信号幅がｎＴ（ｎは所定の値，Ｔはクロック時間：信号の変調に用いるクロックの周期に相当する時間）である信号の記録には、図３に示したような、高いパワーレベルＰｗと低いパワーレベルＰｂを含むパルスパターンが用いられている。
また、本発明の光記録媒体への記録・再生には、上述した光記録媒体の種類に応じた波長のレーザー光が照射される。
【００２２】
ところで、同一の光記録媒体内であっても、適正な記録パワーが半径位置によって異なる場合、ＯＰＣを行なった領域から離れた位置に記録を行なうときに、ＯＰＣで設定した記録パワーで記録を行なうと、良好な品質での記録が出来ないことがある。
このような場合、記録する領域に合わせて記録パワーを補正して最適記録パワーで記録する必要がある。最適記録パワーは、ジッター、ＰＲＳＮＲ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｓｉｇｎａｌ  ｔｏ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）、データエラーのように、極大値、極小値を目標とするもののほか、変調度、βのように、ある特定値を目標とするものもある。
【００２３】
記録パワーＰｗの設定方法には，前記したＯＰＣ等の手法が用いられるが、ここでは、記録関連指標として反射光強度を選択した場合について説明する。
記録領域によって、反射光強度が異なる（外周部において反射光強度が上昇する）のは、各層の膜厚の面内変動（半径位置による違い）と、記録層の光学特性の面内変動とに起因する。各層の膜圧の面内変動とは、スパッタ成膜の場合、外周部で膜厚が薄くなる傾向があり、実施例記載の光記録媒体では、反射層以外の層において膜厚が薄くなると、反射光強度が上がる傾向がある。また、記録層の光学特性の面内変動とは、記録層の組成が、半径位置により異なることによるもので、より具体的には、外周部では、酸素が飽和状態になりやすく、それによって透過率が上昇（光記録媒体として反射率強度が上昇）するものと考えられる（図５参照）。
【００２４】
本発明の光記録媒体においては、最適記録パワーと反射光強度（未記録部）に、ほぼ比例関係となる相関関係があることが見出されている（図４参照）。そこで、本発明の記録方法は、（a工程）光記体のテスト記録領域について、レーザー光の最適記録パワーに関連する記録関連指標を取得する工程と、（b工程）a工程で取得したテスト記録領域の記録関連指標に基づいて、前記最適記録パワーを設定する工程と、（c工程）光記録媒体の記録エリアを区分した各記録領域について、a工程の記録関連指標を取得する工程と、（d工程）取得した前記各記録領域の記録関連指標に基づいて、設定した前記最適記録パワーを補正する工程と、（e工程）補正した前記最適記録パワーで、前記各記録領域に記録を行う工程とを経ることによって、記録エリアにおける最適な記録パワーを推定することができる。
【００２５】
ここにいう「記録関連指標」とは、記録前の指標としては、例えば、反射光強度、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ウォブルエラー信号、アドレスエラー信号であり、記録後の指標としては、例えば、β（アシンメトリー）、変調度、ジッタ−、データエラー信号である。
また、「各記録領域について記録関連指標を取得する方法」としては、実際にレーザー光を照射して反射光強度等を測定するようにしてもよいし、光ディスクに記録された媒体情報（メーカー名、メディアタイプ等）を読み取って、媒体情報と各記録領域の記録関連指標とを関連付けた情報（予め装置に記録しておく）を参照するようにしてもよい。
【００２６】
模式的な例で説明すると、テスト記録領域（ｒ＝２３．８ｍｍ）の最適記録パワーの設定では、ＰＲＳＮＲが極小値となる記録パワーを選択する。この模式的な例では、記録エリアを半径１ｍｍ毎に区分けし、ｒ＝２４．０ｍｍ（テスト記録領域）において最適記録パワーを補正し、補正した最適記録パワーで、ｒ＝２４．０〜２４．９９９・・・ｍｍの記録領域において記録し、またｒ＝２５ｍｍにおいて最適記録パワーを補正し、補正した最適記録パワーで、ｒ＝２５．０〜２５．９９９・・・ｍｍの記録領域において補正する、ということを繰り返し行う。
【００２７】
したがって、本発明においては、テスト記録領域（ｒ＝２３．８ｍｍ）のＯＰＣにより反射光強度を取得し（a工程）、この反射光強度に基づいてテスト記録領域の最適記録パワーが設定される（b工程）。一方、上記区分された各記録領域における反射光強度を取得し（c工程）、この各記録領域の反射光強度とa工程における反射光強度との比の値にテスト記録領域の最適記録パワーの値をかけることで、上記区分された各記録領域の最適記録パワーが補正される（d工程）。そして、このd工程において補正された最適記録パワーで各記録エリアに記録が行われる（e工程）.つまり、光記録装置では、設定部が、テスト記録領域において検出された反射光強度に基づいて設定した最適記録パワーを、各記録領域において検出された反射光強度に基づいて補正する。そして、駆動部が、補正された最適記録パワーに基づいてピックアップを駆動する。このため、適切に補正された最適記録パワーのレーザー光が、ピックアップから照射される。
この方法により、ＯＰＣを行なった領域から離れた位置に記録を行なう場合であっても、良好な特性で記録することが可能となる。また、この方法であれば、記録エリアで実際にテスト記録を行なうことなく適正なパワーを設定することが出来るため、データ領域を損なうことがないことからも、好ましい手法と言える。また、本発明の記録方法によれば、例えば、ＤＶＤレコーダーでのファイナライズのように、記録容量の大部分を使用した後に、間を空けてから最外周部の記録を行なうような場合でも、良好な品質での記録を行なうことが出来る．
【００２８】
上記は、反射光強度を記録関連指標として記録エリアにおける最適記録パワーを求めたが、反射光強度に代えて、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ウォブルエラー信号、アドレスエラー信号などの強度を記録前の記録関連指標として採用し、β、変調度、ジッタ−、データエラー信号などの強度を記録後の記録関連指標として採用して、反射光強度の場合と同様にして記録エリアにおける最適記録パワーを求めることもできる。
【実施例】
【００２９】
以下に実施例を挙げて本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。なお、ここでの部は重量部である。
【００３０】
（実施例１）
深さ約２５ｎｍ、溝幅約０．２０μｍ、トラックピッチ０．４０μｍの案内溝からなる直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート基板上に、スパッタリング法により、下部保護層として厚さ約６０ｎｍのＺｎＳ−ＳｉＯ２（８０：２０モル％）、記録層として厚さ約１５ｎｍのＢｉ２Ｏ３−Ｆｅ２Ｏ３（７０：３０モル％）、上部保護層として厚さ約２０ｎｍのＺｎＳ−ＳｉＯ２（８０：２０モル％）、反射層として厚さ約４０ｎｍのＡｌ−Ｔｉ（９９：１重量％）を順次積層して形成した。
上記反射層上に、紫外線硬化型樹脂材料（三菱レイヨン株式会社製、ダイヤビームＭＨ−７６１７Ｎ）をスピンコートして平均膜厚６μｍの樹脂保護層を形成し、次いで、樹脂保護層上に，スピンコートにより形成した平均膜厚５０μｍの紫外線硬化型樹脂材料（日本化薬株式会社製ＫＡＹＡＲＡＤＤＶＤ−８０２）で構成された接着層を介して、０．６ｍｍ厚のポリカーボネート基板を貼り合わせて約１．２ｍｍの貼り合わせディスクを形成し、１Ｘ−ＳＰＥＥＤ  ＨＤ  ＤＶＤ−Ｒ規格（ＤＶＤ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ  ｆｏｒ  Ｈｉｇｈ  Ｄｅｎｓｉｔｙ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ  Ｄｉｓｃ  ｐａｒｔ  １（Ｖｅｒ．１．０））準拠の光記録媒体（ディスクＡ）を作製した。
【００３１】
このようにして得た光情報記録媒体に対して，ＨＤ  ＤＶＤに対応した記録再生評価装置（パルステック工業株式会社製ＯＤＵ−１０００／ピックアップレーザー光波長４０５ｎｍ、ＮＡ０．６５）により、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＯＭの１倍速相当（６．６１ｍ／ｓ）の線速度での記録及び再生信号評価を実施した。
記録・再生評価は，半径位置半径位置２３．８ｍｍ（テスト記録領域），４０ｍｍ，５５ｍｍ，５７ｍｍ，５８ｍｍにて行なった．この半径位置における最適記録パワーは図５に示す通りである。なお、記録する際のパワーは、半径２３．８ｍｍ（テスト記録領域）での最適記録パワーの値に、当該半径位置の反射光強度と半径２３．８ｍｍでの反射光強度との比を掛けて補正したパワーにて記録を実行している．
結果は表１及び図６，図７に示す通りであり、何れの評価位置においても、充分に良好な記録特性での記録が行なわれていることが確認された。なお、表１に記載のＳｂＥＲは、Ｓｉｍｕｌａｔｅｄ  ｂｉｔ  Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅの略である（表２も同じ）。
【００３２】
（比較例１）
実施例１と同様にして作製した光記録媒体に対して、記録パワーを半径２３．８ｍｍ（テスト記録領域）での最適記録パワーの値として、この最適記録パワーの値で、半径位置２３．８ｍｍ，４０ｍｍ，５５ｍｍ，５７ｍｍ，５８ｍｍにて記録を行ない、実施例１と同様の再生評価を実施した。
結果は表１及び図６，図７に示す通りであり、外周部の半径５７ｍｍ、５８ｍｍの評価において、記録特性が規格外となっており、良好な特性での記録が出来ていないことが確認された。
【００３３】
【表１】
2008226391.tif 000003
【００３４】
（実施例２）
実施例１と同様の方法で光記録媒体を作製する際に、記録層、上部保護層、下部保護層の各膜厚の径方向分布を変更させるようにスパッタリング条件を調整して作製し、実施例１の光記録媒体とは記録感度の径方向分布を変更させた１Ｘ−ＳＰＥＥＤ  ＨＤ  ＤＶＤ−Ｒ規格準拠の光記録媒体（ディスクＢ）を作製した。この光記録媒体の最適記録パワーの径方向変動は，図５に示す通りである。このようにして得た光記録媒体に対し、実施例１と同様に記録・再生評価を実施した．結果は表２及び図６、図７に示す通りであり、何れの評価位置においても、充分に良好な記録特性での記録が行なわれていることが確認された。
【００３５】
（比較例２）
実施例２と同様にして作製した光記録媒体に対して、比較例１と同様の記録・再生評価を実施した。結果は表２及び図６、図７に示す通りであり、外周部の半径５５ｍｍの評価において、記録特性が規格外となっており、良好な特性での記録が出来ていないことが確認された。
【００３６】
【表２】
2008226391.tif 000004
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の光記録媒体の層構成を示す図である。
【図２】光記録媒体に記録・再生を行って様子を示す図である。
【図３】本発明の光記録媒体の記録時の、パルスパターンを示す図である。
【図４】最適記録パワーと反射光強度との相関を示す図である。
【図５】最適記録パワーの径方向変動を示す図である。
【図６】実施例及び比較例のＰＲＳＮＲの結果を示す図である。
【図７】実施例及び比較例のＳｂＥＲの結果を示す図である。
【符号の説明】
【００３８】
１    基板
２    下部保護層
３    記録層
４    上部保護層
５    バリア層
６    反射層
７    オーバーコート層
８    ハードコート層
９    印刷層
９’  印刷層
１０  接着層
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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