(57)【要約】      （修正有）【課題】記録方式を探索する前にフォーカス学習を先に実行することで、初期フォーカス位置の依存性によって記録方式探索時にエラーが発生することを防止でき、短時間に最適の記録条件を探索して記録再生性能の向上及びディスク対応力の強化をもたらす光ディスクのデータ記録再生装置及び方法を提供する。【解決手段】光ディスク１０にデータを記録し、光ディスクのデータを再生する装置において、前記光ディスクの再生時に生成されたＲＦ信号から記録データパターンのマーク及びスペースの各エッジの長さ誤差及びジッタを測定するマトリックスジッタ測定部３３と、前記ＲＦ信号、ジッタ及びエラー比率のうち少なくとも一つ以上のデータを抽出してフォーカスバイアスを制御した後、レーザーの最適パワーを探索するための記録方式探索学習を実行するＣＰＵ３４と、を含んで光ディスクのデータ記録再生装置を構成する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにデータを記録し、光ディスクのデータを再生する装置において、
前記光ディスクからのデータ再生時に生成されたＲＦ信号から記録データパターンのマーク及びスペースの各エッジの長さ誤差及びジッタを測定するマトリックスジッタ測定部と、
前記ＲＦ信号、ジッタ及びエラー比率のうち少なくとも一つ以上のデータを抽出し、抽出された少なくとも一つのＲＦ信号、ジッタ及びエラー比率に基づいてフォーカスバイアスを制御した後、レーザーの最適パワーを探索するための記録方式探索学習を実行するＣＰＵと、を含むことを特徴とする光ディスクのデータ記録再生装置。
【請求項２】
前記記録方式探索学習は、フレーム単位またはセクター単位のうち何れか一つの単位で可変的に記録することを特徴とする請求項１に記載の光ディスクのデータ記録再生装置。
【請求項３】
前記ＣＰＵは、前記マーク及びスペースの各エッジの長さ誤差及びジッタが最小になるように、スペースラストパルス周期ＴＳＬＰ、最大パルス周期Ｔｔｏｐ、記録補償パラメータＴｌｄ、長さＬｔｒ、中間パルス周期Ｔｍｐ及び最後のパルス周期Ｔｌｐのうち少なくとも一つ以上の記録パルスを可変的に調整することを特徴とする請求項１に記載の光ディスクのデータ記録再生装置。
【請求項４】
前記光ディスクの再生時に生成されたＲＦ信号を制御し、制御されたＲＦ信号を前記マトリックスジッタ測定部に伝送するＰＬＬ部をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクのデータ記録再生装置。
【請求項５】
光ディスクの記録条件を設定する方法において、
前記光ディスクにおいてフォーカス学習を実施した後で記録方式探索学習を実施し、
臨時最適パワーを探索して前記記録方式探索学習を制御し、
バイトエラー比率をチェックした後でデータ記録領域にデータを記録することを特徴とする光ディスクのデータ再生記録方法。
【請求項６】
前記記録方式探索は、
前記データ記録のための地点をシークしてテストデータを記録し、
前記記録データ再生時に生成されたＲＦ信号、ジッタ及びエラー比率を測定し、
前記ＲＦ信号、ジッタ及びエラー比率のうち少なくとも一つのデータを抽出してフォーカスバイアスを調整することを特徴とする請求項５に記載の光ディスクのデータ再生記録方法。
【請求項７】
前記記録方式探索学習は、
多数の記録方式を設定した後、各記録方式に対する臨時最適パワーを探索してテストデータを記録し、
前記データ再生時のＲＦ信号によるジッタを測定した後、バイトエラー比率を測定し、
前記各記録方式に対する結果を比較して最適記録パワーを設定することを特徴とする請求項５に記載の光ディスクのデータ再生記録方法。
【請求項８】
前記記録方式探索学習の制御は、臨時最適パワーを探索した後、探索された最適パワーで記録されたマークを形成する複数の記録パルスをそれぞれ可変的に調整し、各マーク及びスペースの長さを予め設定された基準長さにすることを特徴とする請求項５に記載の光ディスクのデータ再生記録方法。
【請求項９】
光ディスクのレーザー記録条件を設定する方法において、
前記光ディスクから反射された再生信号をプロセシングし、
前記プロセシングされた再生信号から光ディスクの記録データパターンの各マーク及びスペースのフォーリングエッジの長さ誤差及びライジングエッジの長さ誤差を測定し、
前記光ディスクの記録データパターンの各マーク及びスペースのフォーリングエッジのジッタ及びライジングエッジのジッタを測定し、
前記測定された結果によってレーザーのフォーカスバイアスを調節することを特徴とする光ディスクのデータ記録再生方法。
【請求項１０】
前記フォーカスバイアス調節は、前記エラー比率の最小値、ＲＦ信号の最大値及びジッタの最大値で行われることを特徴とする請求項９に記載の光ディスクのデータ記録再生方法。
【請求項１１】
前記フォーカスバイアス調節は、レーザーパワーマージンの中心値によって行われることを特徴とする請求項９に記載の光ディスクのデータ記録再生方法。
【請求項１２】
前記光ディスクのフォーカスバイアスを調節した後、記録方式を探索し、
予め設定された最適パワー調整を遂行し、記録方式の探索を制御し、
バイトエラー比率をチェックし、データ記録領域にデータを記録することをさらに含むことを特徴とする請求項９に記載の光ディスクのデータ記録再生方法。
【請求項１３】
調整されたフォーカスバイアスを用いて、光ディスクに対する対物レンズのフォーカス位置を最適化することを特徴とする請求項９に記載の光ディスクのデータ記録再生方法。
【請求項１４】
前記再生信号は、光ディスクのテスト領域から反射されたことを特徴とする請求項９に記載の光ディスクのデータ記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクのデータ記録再生装置及び方法に関するもので、より具体的には、データ記録時の記録条件を設定するために、テスト領域においてフォーカス学習を実施した後で記録方式を学習することで、記録方式学習時のエラー発生を防止でき、短時間に最適の記録条件を探索できる光ディスクのデータ記録再生装置及び方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、光ディスクには、多様な種類のフォーマット及び多様な倍速のディスクが存在し、ディスクの特性は、同一のフォーマット及び倍速であってもディスクメーカーによって異なる。このような多様なディスクを安定的に記録及び再生するために、次のような方法を実施している。
第一に、ディスク情報からディスクメーカーなどを認識し、ＣＰＵに予め保存されたファームウェアに準備された記録条件で記録再生を実施したり、第二に、事前に記録条件テーブルを準備できない未詳のディスクでは、記録方式学習による記録条件を探索して記録再生を実施したりしている。
【０００３】
以下、上記のように構成された光ディスク再生記録装置の動作を説明する。
まず、ディスク情報からディスクメーカーなどの情報であるＭＩＤ情報の認識を実行（Ｓ１）する。次に、認識されたＭＩＤ情報がＣＰＵに登録されているＭＩＤ情報と一致（Ｓ２）すると、事前に登録されている記録方式の記録パルスを生成（Ｓ３）し、記録パワー探索学習によって最適のパワーを探索（Ｓ１３）した後、ディスクに記録動作を実施（Ｓ１４）する。
一方、ディスク情報（ＭＩＤ情報）が事前に準備されたディスク情報と一致しない場合、記録パルス情報を有していないディスクと判断（Ｓ４）し、最適の記録方式を探索する。以下、最適の記録方式を探索する方法を説明する。
【０００４】
まず、ディスク情報を有していないディスクと認識（Ｓ４）された場合、ディスクの一般的な記録方式による記録パルスを生成（Ｓ５）し、記録方式学習を実施するために臨時記録パワーを探索（Ｓ６）する。
ここで、記録パワー探索（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ：ＯＰＣ）は、パワーを可変した記録部分の再生信号において、不均衡度、変調度及びエラー比率などによって所定の値になるパワーを探索することである。
その後、臨時最適パワー探索によって探索された最適のパワーで記録方式を可変的に記録（Ｓ７）し、再生信号から得られた平均ジッタが最小になる記録方式を探索（Ｓ９）する。ここでは、３Ｔｔｏｐパルスの可変探索を実施している。このように記録方式を可変すると、ターゲットとなる不均衡度が変化するので、記録方式を可変（Ｓ７）するときごとに臨時最適パワー探索（Ｓ８）を実施しなければならない。
【０００５】
最終的に、平均ジッタが最小になる記録方式によって記録再生して得られたＢＥＲ（Ｂｙｔｅ  Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）をチェック（Ｓ１０）し、探索結果によって記録が可能であるかどうかを確認し、記録が可能（Ｓ１１）であると、フォーカス学習（Ｓ１２）、最適パワー探索を実行（Ｓ１３）し、記録動作を履行（Ｓ１４）する。
一方、臨時最適パワー探索、記録エラー発生、ＢＥＲチェック、ジッタ測定などでパワーが予め設定された判断基準を越える場合、エラーが発生した場合、または、アルゴリズムが正常に終了しない場合は、該当のディスクに対する記録条件探索エラーによって記録動作を行うことができない。
【０００６】
しかしながら、上記のような未詳のディスクにおけるフォーカス学習は、記録方式の探索後、該当の記録方式による記録再生時にジッタで実施しているので、初期フォーカス位置の依存性によって記録方式探索エラーが発生し、記録対応できないディスクが発生する。
また、一般的な記録方式を適用して未詳のディスクにおいて学習を実施すると、臨時最適パワー探索結果がハイパワーに設定され、レーザーパワーの上限を越えることで、記録対応できないディスクが発生する。
また、ジッタ測定は、平均ジッタに制限されているので、ジッタ測定機で観測可能な記録パルスの一部分（３Ｔｔｏｐなど）のみを探索するしかない。すなわち、記録方式探索が限定的であるので、結果的に、記録特性の悪化（ジッタロス（ｌｏｓｓ））によってＢＥＲチェックが確実に行われず、記録対応できないディスクが発生する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、記録方式を探索する前にフォーカス学習を先に実行することで、初期フォーカス位置の依存性によって記録方式探索時にエラーが発生することを防止でき、短時間に最適の記録条件を探索して記録再生性能の向上及びディスク対応力の強化をもたらす光ディスクのデータ記録再生装置及び方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、フォーカスを先に学習する記録方式において、消費セクターを減少できる光ディスクのデータ記録再生装置及び方法を提供することにある。
本発明の更に他の目的は、レーザーダイオードの出力限界を考慮した上で、最適パワー探索時のパワー出力マージンを確保できる光ディスクのデータ記録再生装置及び方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の目的を達成するための本発明に係る技術的な手段は、光ディスクにデータを記録し、光ディスクのデータを再生する装置において、前記光ディスクの再生時に生成されたＲＦ信号から記録データパターンのマーク及びスペースの各エッジの長さ誤差及びジッタを測定するマトリックスジッタ測定部と、前記ＲＦ信号、ジッタ及びエラー比率のうち少なくとも一つ以上のデータを抽出してフォーカスバイアスを制御した後、レーザーの最適パワーを探索するための記録方式探索学習を実行するＣＰＵと、を含んで構成される。
【０００９】
上記の目的を達成するための本発明に係る技術的な方法は、光ディスクの記録条件を設定する方法において、前記光ディスクにおいてフォーカス学習を実施した後で記録方式探索学習を実施し、臨時最適パワーを探索して前記記録方式探索学習を制御し、バイトエラー比率をチェックした後でデータ記録領域にデータを記録する過程を遂行する。
本発明によると、記録方式探索時にフォーカス学習を実行した後で最適記録方式を探索し、記録方式探索時に初期フォーカス依存性によるエラーを防止することで、安定した状態で記録方式学習を実施できるとともに、短時間に最適の記録条件を探索することで、ディスクに対する記録再生性能の向上及びディスク対応力の強化をもたらすことができる。
また、レーザーダイオードの出力限界を考慮した上で、最適パワー探索時のパワー出力マージンを確保することができる。
【００１０】
上記の目的を達成するための、本発明の他の実施態様に係る技術的方法は、光ディスクのレーザー記録条件を設定する方法において、光ディスクから反射された再生信号をプロセシングし、プロセシングされた再生信号から光ディスクの記録データパターンの各マーク及びスペースのフォーリングエッジの長さ誤差及びライジングエッジの長さ誤差を測定し、光ディスクの記録データパターンの各マーク及びスペースのフォーリングエッジのジッタ及びライジングエッジのジッタを測定し、測定された結果によってレーザーのフォーカスバイアスを調節することを特徴とする。
【００１１】
ここで、フォーカスバイアス調節は、エラー比率の最小値、ＲＦ信号の最大値及びジッタの最大値で行われる。
また、フォーカスバイアス調節は、レーザーパワーマージンの中心値によって行われる。
また、光ディスクのフォーカスバイアスを調節した後、記録方式を探索し、予め設定された最適パワー調整を遂行し、記録方式の探索を制御し、バイトエラー比率をチェックし、データ記録領域にデータを記録することをさらに含む。
【発明の効果】
【００１２】
本発明は、記録方式探索時にフォーカス学習を実行した後で最適記録方式を探索し、記録方式探索時に初期フォーカス依存性によるエラーを防止することで、安定した状態で記録方式学習を実施できるとともに、短時間に最適の記録条件を探索することで、ディスクに対する記録再生性能の向上及びディスク対応力の強化をもたらすことができる。
また、レーザーダイオードの出力限界を考慮した上で、最適パワー探索時のパワー出力マージンを確保することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、添付の図面に基づいて、本発明の好適な実施形態を詳細に説明する。
図２は、本発明の実施形態に係る情報記録再生装置の構成図である。図示したように、本発明の実施形態に係る情報記録再生装置は、光ディスク１０、光ピックアップ２０、及び光ドライバ３０を含んで構成される。
【００１４】
光ディスク１０は、モーターによって回転駆動されるもので、モーターは、ＣＰＵから発生する駆動信号によって制御されて光ディスクを回転させる。
ここで、光ディスクとしては、ＣＤ―Ｒ、ＣＤ―ＲＷ、ＤＶＤ―Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ―ＲＡＭ、ＨＤ  ＤＶＤ―ＲＷ、ＨＤ  ＤＶＤ―Ｒ、ＢＤ（Ｂｌｕｅ―ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）―ＲＥまたはＢＤ―Ｒのうち何れか一つの光ディスクを使用し、これら光ディスクは、少なくとも１回のデータ記録が可能な光ディスクである。これらのうち、Ｒタイプは１回のデータ記録が可能で、ＲＷ、ＲＥ及びＲＡＭタイプは２回以上（約数千〜数十万回）のデータ再記録が可能である。
これらのうち、ＤＶＤ±Ｒ／Ｄｕａｌ／ＲＷ／ＲＡＭ、ＢＤ及びＨＤ―ＤＶＤなどを使用することが好ましく、ｘ１／ｘ４／ｘ８／ｘ１６などの多様な倍速のディスクも全て適用可能である。
【００１５】
光ピックアップ２０は、レーザーダイオード２１及びこのレーザーダイオード２１を駆動するレーザー駆動部２２を備えており、レーザーダイオード２１を介して記録パワーに準ずるパワーのレーザーを光ディスク１０の記録面に照射することで、外部システムから伝送されたデータを光ディスク１０に記録し、再生パワーに準ずるパワーのレーザーを光ディスク１０に照射することで、光ディスク１０に記録されているデータを再生（判読）する。
光ディスク１０に記録されているデータを再生するとき、光ディスク１０のデータ記録面に照射されたレーザーが光ディスク１０のデータ記録面から反射されることを検出部２３で検出した後、反射された光をアンプ２４によって増幅させて光ドライバ３０のＲＦ信号処理部３１に伝送する。
【００１６】
また、光ピックアップ２０は、光ディスク１０に対する記録条件を検査するために最適パワー探索（ＯＰＣ）のためのテスト領域に移動する。このとき、レーザーダイオード２１のレーザーを光ディスク１０に照射し、光ディスク１０から反射される光をフォトダイオードを介して受けた後でＲＦ信号処理部３１に出力する。
【００１７】
光ドライバ３０は、光ピックアップ２０から反射された再生信号を処理し、ＲＦ信号を生成し、ＲＦ信号を２進（Ｂｉｎａｒｙ）信号に変換するＲＦ信号処理部３１と、ＲＦ信号処理部から出力された出力信号の周波数を常に一定に維持させるＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）部３２と、ＰＬＬ部３２によって得られるＰＬＬ誤差信号からジッタを測定するマトリックスジッタ測定部３３と、複数個のファームウェアが保存されたもので、光ディスクに相応するファームウェアを検索し、検索されたファームウェアによって記録パルスを制御するＣＰＵ３４と、ＣＰＵ３４の指示によって記録パルスを生成する記録パルス発生部３６とを含んで構成される。
【００１８】
ここで、マトリックスジッタ測定部３３は、ディスクから反射されたＲＦ再生信号を制御するＰＬＬ部３２から伝送された信号から各記録データパターンのマーク及びスペースのライズエッジ（Ｒｉｓｅ  Ｅｄｇｅ）部分の長さ誤差を測定し、フォールエッジ（ｆａｌｌ  Ｅｄｇｅ）部分の長さ誤差を測定し、各記録データパターンのマーク及びスペースのライズエッジ部分のジッタを測定し、フォールエッジ部分のジッタを測定し、全てのマーク及び全てのスペースごとにライズジッタ及びフォールジッタを測定し、測定データをデジタル信号処理部を介してＣＰＵ３４に伝送する。その結果、図６の記録方式構造に示されるＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｄ、Ｔｌｐなどの記録パルスの記録特性変化を測定することができる。
【００１９】
ＣＰＵ３４は、光ディスクに対する対物レンズのフォーカス位置を最適化するためにフォーカスバイアスを調整するようになる。すなわち、ＣＰＵ３４は、マトリックスジッタ測定部３３で測定されたデータの伝送を受けた後、図４Ａに示すように、光ディスクの再生時における再生データのエラー比率を検出し、エラー比率が最小になる地点及び再生データからのジッタ量を測定し、ジッタ量が最小になる地点でフォーカスバイアスを調整するように制御する。
【００２０】
また、ＣＰＵ３４は、図４Ｂに示すように、ＲＦ信号の最大値及びジッタの最小値の地点でフォーカスバイアスを調整するように制御したり、または、レーザー電力マージンの中心値でフォーカスバイアスを調整するように制御したりする。
したがって、ＣＰＵがフォーカスバイアスを調整することで、適正なフォーカス駆動電圧が光ピックアップ内部の対物レンズに印加されるようになる。
【００２１】
また、ＣＰＵ３４は、光ディスクにデータを記録するときにフォーカスバイアスを調整した後、レーザーダイオードの特性のために光出力信号に対応するレーザーの出力特性を探すための最適パワー探索（ＯＰＣ）を実行し、最適記録方式を探すための記録方式学習を実行する。
【００２２】
ここで、ＣＰＵ３４は、マトリックスジッタ測定部３３から伝送されたデータを用いて最適の記録方式で制御するために、図６の記録方式構造に示されたＴＳＬＰ、Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｄ、Ｔｌｐ、Ｌｔｒなどの記録パルスのうち少なくとも一つ以上の記録パルスを可変的に制御する。
複数の記録データパターンのうち特定のパターンのマーク及びスペースの各エッジの長さ誤差及びジッタが最小になるように、複数の記録パルスを可変的に制御する。
併せて、記録方式探索学習は、フレーム単位またはセクター単位のうち何れか一つの単位で可変的に記録することができる。
【００２３】
デジタル信号処理部３５は、ＲＦ信号処理部３１で生成されたＲＦ信号をデジタル変換してデータを復調したり、記録時にデータを変調したりする。
また、デジタル信号処理部３５のＲＦ信号はサーボ（図示せず）にも供給されるが、サーボでは、このＲＦ信号からトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号を生成し、トラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号を参照して光ピックアップ２０のトラッキング及びフォーカスを制御する。
【００２４】
図３は、本発明の実施形態に係る情報記録再生方法のフローチャートで、これを図４Ａ〜図９を参照して説明する。
まず、ディスク情報であるＭＩＤ情報の認識を実行する。
ここで、ＭＩＤ情報は、再生記録装置自体でサポートする光ディスクの製造会社によって製造された光ディスクフォーマット及びトラック情報が保存された情報である。
このとき、ディスク情報（ＭＩＤ情報）がＣＰＵに予め保存された複数のファームウェアのディスク情報と一致しない場合、ディスク情報を有していないディスクと判断（Ｓ１０１）し、光ピックアップの位置、レーザーの初期パワー及び記録パルスを設定して記録条件をセッティング（Ｓ１０２）する。
【００２５】
次に、テストデータが入力されるテストトラックに移動し、再生または記録のためのシーク（ＳＥＥＫ）を実行（Ｓ１０３）し、光ピックアップ２０内部の対物レンズのフォーカス位置を最適化するためにフォーカスバイアスをセッティング（Ｓ１０４）する。すなわち、フォーカスバイアスを調整するためのステップ当たりのフォーカスバイアス調整値をセッティングする。
【００２６】
次に、光ディスクのテスト領域にテスト記録を実行（Ｓ１０５）し、テストデータを記録した後、再生時のＲＦ信号並びにＲＦ信号によるジッタ及びエラー比率を測定（Ｓ１０６）する。
【００２７】
次に、ＲＦ信号、ジッタ及びエラー比率によるフォーカスセッティング値をチェック（Ｓ１０７）し、フォーカスセッティング値を他の値に変化（Ｓ１０８）させ、テストデータ再生時のＲＦ信号並びにＲＦ信号によるジッタ及びエラー比率を再び測定する。
すなわち、テストデータ再生時にフォーカスセッティング値を変化（Ｓ１０８）させながら、再生時に発生するジッタ、ＲＦ振幅及びエラー比率を測定（Ｓ１０７）する。
【００２８】
上記のように複数のフォーカスバイアス値をチェックした後、フォーカスバイアスを推定（Ｓ１０９）する。
すなわち、図４Ａに示すようにジッタ及びエラー比率が良いときは、ジッタ及びエラー比率の結果を用いてフォーカスバイアスを調整し、図４Ｂに示すようにジッタ及びエラー比率が良くないときは、ＲＦ振幅を用いてフォーカスバイアスを調整する。
このとき、レーザー電力マージンの中心値、ジッタの最小値またはＲＦ振幅の最大値でフォーカスバイアスを調整する。
【００２９】
次に、フォーカスバイアスを調整した後、記録方式を選択（Ｓ１１０）する学習を実施し、臨時最適パワー探索を実行（Ｓ１１１）した後、記録方式を制御（Ｓ１１２）し、ＢＥＲをチェック（Ｓ１１３）した後、ＢＥＲがチェック（Ｓ１１４）されると、光ディスクの記録領域に情報を記録（Ｓ１１５）する。ここで、ＢＥＲがチェックされない場合、光ディスクの記録領域に情報を記録できない状態で記録過程を終了する。
【００３０】
上記のように記録方式学習前にフォーカス学習を実施することで、図９に示すように、従来に比べて安定した状態で記録方式学習を実施することができる。
ここでの記録方式（Ｓ１１０）学習を、図５を参照して一層詳細に説明する。
まず、記録方式をセッティング（Ｓ１１０―１）する。例えば、ロングパルス記録方式の場合、記録データパターン３Ｔの周期を２．５２５Ｔにセッティングし、基準パルス記録方式の場合、３Ｔの周期を１．９５Ｔにセッティングし、ショートパルス記録方式の場合、３Ｔの周期を１．５Ｔにセッティングする。
【００３１】
次に、各記録方式ごとに臨時最適パワーを探索（Ｓ１１０―２）し、光ディスクのテスト領域にテスト記録を実行（Ｓ１１０―３）した後、テストデータ再生時のＲＦ信号によるジッタを測定（Ｓ１１０―４）し、ジッタによるＢＥＲを測定（Ｓ１１０―５）する。
このとき、ジッタ及びＢＥＲ測定時にエラーが発生した場合、テスト記録から再び実行（Ｓ１１０―６）し、エラーが発生しなかった場合、各記録方式によるジッタ値を比較（Ｓ１１０―７）した後、最低値を有するジッタに相応する記録パワーをチェック（Ｓ１１０―８）する。
例えば、ＤＶＤ―Ｒ（Ｘ２）にデータを記録するとき、記録パワーが２４ｍＷ以上で、ジッタが１３％以下であると、他の記録方式に変化させて記録方式を再び探索する。
【００３２】
併せて、記録方式が予め設定されていない場合は、任意の記録方式によってジッタ値を測定し、このうち最も良いジッタ値を有する方式に基づいてＴｔｏｐを可変させて再試行することもできる。
上記のような記録方式で各記録方式ごとに臨時最適パワー探索を実施して記録し、再生信号から得られるジッタ測定結果（すなわち、マーク及びスペースの平均ジッタ）と臨時最適パワー探索（Ｐｒｅ―ＯＰＣ）から得られるパワーによって最適の方式を選択することができる。
【００３３】
以下、臨時最適パワー探索を実行（Ｓ１１１）した後、記録方式を制御（Ｓ１１２）する方法を、図７Ａ、図７Ｂ、図７Ｃ及び図８を参照して詳細に説明する。
記録方式学習を介して選択された記録方式で、図６に示したグラフで各マークを形成する重要な要素であるスペースラストパルス周期ＴＳＬＰ、最大パルス周期Ｔｔｏｐ、中間パルス周期Ｔｍｐ、最後のパルス周期Ｔｌｄ、長さＬｔｒを調節して最適化を実施する。
すなわち、各要素に対して臨時最適パワー探索を実行し、臨時最適パワー探索時に得られた最適パワーで各要素を調節して記録し、記録時に各セクター単位またはフレーム単位で記録を実施する。
【００３４】
例えば、臨時最適パワーを探索した後でスペースラストパルス周期ＴＳＬＰを調整し、臨時最適パワー探索を実行した後で記録データパターンのうち３Ｔの最大パルス周期３Ｔｔｏｐを調節し、臨時最適パワー探索を実行した後で記録データパターンのうち４Ｔの最大パルス周期４Ｔｔｏｐを調節し、臨時最適パワー探索を実行した後で、図７Ａに示すように、３ｍ列及び３ｓ列の記録補償パラメータＴｌｄ及び長さＬｔｒパラメータを調節し、臨時最適パワー探索を実行した後で、図７Ｂに示すように、３ｍ列及び３ｓ列を除いた部分の記録補償パラメータＴｌｄを調節し、臨時最適パワー探索を実行した後で、図７Ｃに示すように、３ｍ列及び３ｓ列を除いた部分の長さＬｔｒパラメータを調節する。
【００３５】
ここで、記録データパターンは、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマーク及びスペースで構成され、ディスクに対する記録マーク形成においては各マークの記録パルス位置及び長さが重要な要素になり、最適の記録パルス探索学習としては主に３Ｔｔｏｐパルスに対する探索を実施している。
併せて、記録領域においては、再生時のＲＦ信号でのマークの記録パルス位置及び長さを調整する。これを図８に基づいて説明すると、（＋）サイドデータが入力されるときにカーブａを調整し、（−）サイドデータが入力されるときにカーブｂを調整することで、二つのカーブのクロスポイントｃを推定してパルス幅を調整する。
【００３６】
本発明は、上記の実施形態に限定されるものでなく、特許請求の範囲で請求する本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば、当該発明の属する分野で通常の知識を有する者によって多様な変更実施が可能であろう。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】従来技術に係る情報記録再生方法のフローチャートである。
【図２】本発明の実施形態に係る情報記録再生装置の構成図である。
【図３】本発明の実施形態に係る情報記録再生方法のフローチャートである。
【図４Ａ】本発明の実施形態に係るフォーカスバイアス調整方法の例示図である。
【図４Ｂ】本発明の実施形態に係るフォーカスバイアス調整方法の例示図である。
【図５】本発明の実施形態に係る記録方式学習方法のフローチャートである。
【図６】本発明の実施形態に係る記録方式構造のグラフである。
【図７Ａ】本発明の実施形態に係る記録方式学習方法を制御するためのパラメータの例示図である。
【図７Ｂ】本発明の実施形態に係る記録方式学習方法を制御するためのパラメータの例示図である。
【図７Ｃ】本発明の実施形態に係る記録方式学習方法を制御するためのパラメータの例示図である。
【図８】本発明の実施形態に係る記録方式学習方法の制御時におけるマークのパルス幅調整方法の例示図である。
【図９】従来技術と本発明の実施形態に係るジッタの改善効果の例示図である。
【符号の説明】
【００３８】
１０  光ディスク
２０  光ピックアップ
２１  レーザーダイオード
２２  レーザー駆動部
２３  検出部
２４  アンプ
３０  光ドライバ
３１  ＲＦ信号処理部
３２  ＰＬＬ部
３３  マトリックスジッタ測定部
３４  ＣＰＵ
３５  デジタル信号処理部
３６  記録パルス発生部
【図１】
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【図２】
2008198347.tif 000004
【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
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【図７Ｃ】
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【図８】
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【図９】
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