(57)【要約】【課題】デジタルデータの出力ポートを複数備えた電子機器において、各出力ポートからの出力が正常か否かを、コストアップを招くことなく効率よく検査できるようにする。【解決手段】Ｒ，Ｇ，Ｂの各色毎に階調データ（デジタルデータ）を出力する３つの出力ポート４、６、８を備えた検査対象機器を検査する際には、各出力ポートで同一ビットのデータを出力する３つの出力端子毎に出力電圧を合成し、その合成電圧を３回測定する。この電圧測定時には、同一ビットの３つの出力端子毎に、２つの出力がハイレベルとなり、他の出力がローレベルとなるように、各出力ポートから検査用デジタルデータを出力させる。また、この検査用デジタルデータは、３回の測定毎に、各出力端子からの出力が２回の出力でハイレベル、残りの出力でローレベルとなり、しかも、２回の出力では、隣接する出力端子と論理が反転するように、変化させる。【選択図】図１
2008045872.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ｍビットのデジタルデータの各ビットデータを出力するｍ個の出力端子からなる出力ポートを複数備えた電子機器において、ｎ個（ｎは２以上の整数）の出力ポートを構成しているｍ×ｎ個の出力端子からの出力が正常か否かを検査する検査方法であって、
前記ｎ個の出力ポートにおいて互いに同一ビットのビットデータを出力するｎ個の出力端子を検査対象端子群として、各ビット毎にｍ個の検査対象端子群を設定したとき、各検査対象端子群を構成しているｎ個の出力端子のうち、「ｎ／２」個（但し、「ｎ／２」：ｎが奇数であれば小数点以下切り上げ、以下同様）の出力端子からの出力が同論理となり、残りの出力端子からの出力が反転論理となるように、前記各出力ポートから検査用デジタルデータをｎ回出力させると共に、
該ｎ回の検査用デジタルデータの出力時には、前記各出力端子からの出力が「ｎ／２」回の出力で同論理、残りの出力で反転論理となり、しかも、ｎ回の出力のうち「ｎ／２」回の出力では、隣接する上位ビット若しくは下位ビットの出力端子からの出力との間で論理が反転するように、各出力ポートから出力される検査用デジタルデータのデータ値を変化させ、
該検査用デジタルデータが前記各出力ポートから出力される度に、前記ｍ個の検査対象端子群を構成しているｎ個の出力端子からの出力電圧の合成電圧をそれぞれ測定し、
該測定したｍ個の合成電圧値が予め設定された正常電圧範囲内にあるときに、前記ｎ個の出力ポートを構成しているｍ×ｎ個の出力端子は全て正常であると判定し、
該測定した各ビット毎の合成電圧値の何れかが前記正常電圧範囲内になければ、前記ｎ個の出力ポートを構成している出力端子の何れかが異常であると判定することを特徴とする電子機器の検査方法。
【請求項２】
前記測定した各ビット毎の合成電圧値の何れかが前記正常電圧範囲内にない場合には、該正常電圧範囲から外れた合成電圧値に対応した検査対象端子群でのｎ個の合成電圧値の測定結果の変化パターンに基づき異常箇所を特定することを特徴とする請求項１に記載の電子機器の検査方法。
【請求項３】
ｍビットのデジタルデータの各ビットデータを出力するｍ個の出力端子からなる出力ポートを複数備えた電子機器において、ｎ個（ｎは２以上の整数）の出力ポートを構成しているｍ×ｎ個の出力端子からの出力が正常か否かを検査する検査装置であって、
前記ｎ個の出力ポートにおいて互いに同一ビットのビットデータを出力するｎ個の出力端子を検査対象端子群として、各ビット毎にｍ個の検査対象端子群を設定したとき、各検査対象端子群を構成しているｎ個の出力端子のうち、「ｎ／２」個（但し、「ｎ／２」：ｎが奇数であれば小数点以下切り上げ、以下同様）の出力端子からの出力が同論理となり、残りの出力端子からの出力が反転論理となるように、前記各出力ポートから検査用デジタルデータをｎ回出力させると共に、該ｎ回の検査用デジタルデータの出力時には、前記各出力端子からの出力が「ｎ／２」回の出力で同論理、残りの出力で反転論理となり、しかも、ｎ回の出力のうち「ｎ／２」回の出力では、隣接する上位ビット若しくは下位ビットの出力端子からの出力との間で論理が反転するように、各出力ポートから出力される検査用デジタルデータのデータ値を変化させる電子機器駆動手段と、
前記ｍ個の検査対象端子群を構成しているｎ個の出力端子からの出力電圧の合成電圧をそれぞれ測定する電圧測定手段と、
前記電子機器駆動手段の動作によって、前記電子機器の各出力ポートから前記検査用デジタルデータが出力される度に、電圧測定手段を介して、前記ｍ個の検査対象端子群を構成しているｎ個の出力端子からの出力電圧の合成電圧をそれぞれ測定し、該測定したｍ個の合成電圧値が予め設定された正常電圧範囲内にあるときに、前記ｎ個の出力ポートを構成しているｍ×ｎ個の出力端子は全て正常であると判定し、該測定した各ビット毎の合成電圧値の何れかが前記正常電圧範囲内になければ、前記ｎ個の出力ポートを構成している出力端子の何れかが異常であると判定する判定手段と、
ことを特徴とする電子機器の検査装置。
【請求項４】
前記判定手段は、
前記測定した各ビット毎の合成電圧値の何れかが前記正常電圧範囲内にない場合に、該正常電圧範囲から外れた合成電圧値に対応した検査対象端子群でのｎ個の合成電圧値の測定結果の変化パターンに基づき異常箇所を特定する異常箇所特定手段、
を備えたことを特徴とする請求項３に記載の電子機器の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ｍビットのデジタルデータの各ビットデータを出力するｍ個の出力端子からなる出力ポートを複数備えた電子機器において、各出力ポートを構成している出力端子からの出力が正常か否かを検査するのに好適な検査方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ナビゲーション装置、ＤＶＤプレーヤー、デジタルテレビチューナ等、表示用の映像信号を出力する電子機器には、例えば、一枚の画像を構成する各画素を、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の三原色からなる表色系で規定し、各色毎に所定ビットのデジタルデータとして順次階調出力することで、映像信号をデジタルデータにて出力するように構成されたものがある。
【０００３】
そして、図５に示すように、この種の電子機器２２には、デジタル映像信号の出力端子として、Ｒ，Ｇ，Ｂの各色毎に、デジタルデータのビット長に対応したｍ個の出力端子Ｒ０，Ｒ１，…Ｒｉ、Ｇ０，Ｇ１，…Ｇｉ、Ｂ０，Ｂ１，…Ｂｉからなる３つの出力ポート２４、２６、２８が設けられている。
【０００４】
また、この種の電子機器２２において、各出力ポート２４、２６、２８からデジタルデータが正常に出力されているか否かを検査する際には、例えば、図５（ａ）に示すように、まず、各出力ポート２４、２６、２８から、隣接する出力端子間で論理（換言すればハイ／ローのレベル）が異なるデジタルデータを出力させて、各出力端子Ｒ０，Ｒ１，…Ｒｉ、Ｇ０，Ｇ１，…Ｇｉ、Ｂ０，Ｂ１，…Ｂｉからの出力電圧を電圧計３０にて測定し、次に、各出力ポート２４、２６、２８からの出力を、各ビット毎に論理を反転させたデジタルデータに変更して、再度、各出力端子Ｒ０，Ｒ１，…Ｒｉ、Ｇ０，Ｇ１，…Ｇｉ、Ｂ０，Ｂ１，…Ｂｉからの出力電圧を電圧計３０にて測定する、といった手順で、各出力端子Ｒ０，Ｒ１，…Ｒｉ、Ｇ０，Ｇ１，…Ｇｉ、Ｂ０，Ｂ１，…Ｂｉ毎に２回の電圧測定を行う。
【０００５】
そして、その２回の測定で得られた各出力端子Ｒ０，Ｒ１，…Ｒｉ、Ｇ０，Ｇ１，…Ｇｉ、Ｂ０，Ｂ１，…Ｂｉからの出力電圧が、全て、デジタルデータの各ビットデータ（０又は１）に対応した電圧レベル（ローレベル又はハイレベル）であれば、各出力ポート２４、２６、２８からのデータ出力は正常であると判断し、何れかの出力端子からの出力電圧が、その出力端子から出力させたビットデータに対応していなければ、その出力端子が異常であると判断する。
【０００６】
なお、各出力ポート２４、２６、２８から出力させるデジタルデータを、隣接する出力端子間で論理が異なるように設定するのは、各出力端子からの出力がローレベル又はハイレベルに固定されているときだけでなく、隣接する出力端子間が短絡しているときにも、その旨を正確に判断できるようにするためである。
【０００７】
一方、従来より、電子機器からのデジタルデータの出力を検査する方法として、検査対象となるデジタルデータをＤ／Ａ変換したアナログ電圧を測定する方法が知られている（例えば、特許文献１等参照）。
【０００８】
このため、上述した電子機器２２において、各出力ポート２４、２６、２８からデジタルデータが正常に出力されているか否かを検査する際にも、この方法を利用し、例えば、図５（ｂ）に示すように、各出力ポート２４、２６、２８から出力されるデジタルデータを、それぞれ、抵抗ラダー等からなるＤ／Ａ変換器３２を用いてＤ／Ａ変換するようにし、各出力ポート２４、２６、２８から出力されるデジタルデータを上記と同様に変化させて、Ｄ／Ａ変換したアナログ電圧を測定することも行われている。
【特許文献１】特開２００４−４５２２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、上記前者の検査方法（以下、検査方法１という）では、各出力ポート２４、２６、２８を構成している出力端子毎に出力電圧を２回測定する必要があることから、一つの出力端子毎に順番に測定を行うようにすると、その測定に全出力端子数×２回分の時間がかかり、逆に、測定時間を短くするために、各出力端子からの出力電圧を同時に測定するようにするには、多チャンネルの電圧測定を行う機器が必要になり、検査装置のコストアップを招く、という問題がある。
【００１０】
一方、上記後者の検査方法（以下、検査方法２という）では、各出力ポート２４、２６、２８毎にデジタルデータをＤ／Ａ変換するため、３つのＤ／Ａ変換器３２が必要になるものの、電圧測定は、各Ｄ／Ａ変換器３２毎にそれぞれ２回行えばよいことから、各出力端子毎に電圧測定を行う検査方法１に比べて、検査装置のコストアップを招くことなく、検査を短時間で行うことができるようになる。
【００１１】
しかしながら、この検査方法２では、測定した電圧値から、デジタルデータが正常であるか否かを判定できるようにする必要があるため、電圧計３０の測定精度を、デジタルデータの最下位ビットの変化（換言すれば１階調の電圧変化）を識別可能な測定精度にする必要がある。
【００１２】
そして、電子機器から出力されるデジタルデータのビット数が多くなる程、Ｄ／Ａ変換したアナログ電圧の１階調当たりの電圧分解能が小さくなるため、デジタルデータのビット数が多くなると、一般的な電圧計３０では電圧測定精度が不十分となり、各出力ポートの検査を正確に実行することができなくなる、という問題がある。
【００１３】
一方、この問題を防止するには、電圧計３０に電圧測定精度の高いものを使用すればよいが、電圧測定精度の高い電圧計は高価であるため、このような対策では、検査装置のコストアップを招くという問題がある。
【００１４】
またこの場合、電圧計３０の電圧測定精度を高くしても、Ｄ／Ａ変換器３２のＤ／Ａ変換精度が低いと、デジタルデータに対応したアナログ電圧が得られないので、Ｄ／Ａ変換器３２にもデジタルデータを高精度にＤ／Ａ変換することのできる高価なものを使用しなければならず、これによっても検査装置のコストアップを招くことになる。
【００１５】
本発明は、こうした問題に鑑みなされたもので、多ビットのデジタルデータを出力する出力ポートを複数備えた電子機器において、各出力ポートを構成している出力端子からの出力が正常か否かを、検査装置のコストアップを招くことなく、短時間で正確に検査できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
かかる目的を達成するためになされた請求項１に記載の検査方法によれば、検査対象となる電子機器のｎ個の出力ポートにおいて互いに同一ビットのビットデータを出力するｎ個の出力端子を検査対象端子群とすることにより、各ビット毎にｍ個の検査対象端子群を設定し、これら各検査対象端子群を構成しているｎ個の出力端子のうち、「ｎ／２」個（但し、「ｎ／２」：ｎが奇数であれば小数点以下切り上げ、以下同様）の出力端子からの出力が同論理となり、残りの出力端子からの出力が反転論理となるように、各出力ポートから検査用デジタルデータをｎ回出力させる。
【００１７】
また、このｎ回の検査用デジタルデータの出力時には、各出力端子からの出力が「ｎ／２」回の出力で同論理、残りの出力で反転論理となり、しかも、ｎ回の出力のうち「ｎ／２」回の出力では、隣接する上位ビット若しくは下位ビットの出力端子からの出力との間で論理が反転するように、各出力ポートから出力される検査用デジタルデータのデータ値を変化させる。
【００１８】
そして、その検査用デジタルデータが電子機器の各出力ポートから出力される度に、ｍ個の検査対象端子群を構成しているｎ個の出力端子からの出力電圧の合成電圧をそれぞれ測定し、その測定したｍ個の合成電圧値が予め設定された正常電圧範囲内にあるときに、ｎ個の出力ポートを構成しているｍ×ｎ個の出力端子は全て正常であると判定し、測定した各ビット毎の合成電圧値の何れかが正常電圧範囲内になければ、ｎ個の出力ポートを構成している出力端子の何れかが異常であると判定する。
【００１９】
従って、本発明の検査方法によれば、検査対象となる出力ポートの個数「ｎ」と、各出力ポートを構成している出力端子の数（換言すれば各出力ポートから出力されるデジタルデータのビット数）「ｍ」とで決まる、ｎ×ｍ個の電圧測定結果から、ｎ個の出力ポートからの出力が正常か否かを検査することができるようになり、各出力端子毎に２回電圧測定を行う従来の検査方法１に比べて、電圧測定の回数を半分にして、検査時間を短縮することができる。
【００２０】
また、本発明の検査方法において、ｎ回の電圧測定を各合成電圧毎に同時に行うようにするには、電圧測定用の機器をｍ個準備すればよく、従来の検査方法１にて電圧測定を同時に行うようにした場合に比べて、電圧測定用の機器の数を１／ｎにすることができることから、検査方法１に比べて検査装置の構成を簡単にし、そのコストを低減できることになる。
【００２１】
一方、本発明の検査方法では、ｎ個の出力ポートを検査するのに、ｎ×ｍ個の電圧を測定する必要があるため、従来の検査方法２に比べて、異常判定に用いる電圧の測定結果は多くなり、その判定には時間がかかることになる。
【００２２】
しかし、本発明では、各出力ポートの異常判定時には、各出力ポートの同一ビットの出力端子からの出力電圧を合成した合成電圧が正常電圧範囲内にあるか否かを判断すればよく、各出力ポートから出力されるデジタルデータのビット数が多くなっても、合成電圧の分解能は変化しないことから、従来の検査方法２に比べて、電圧の測定精度を低くすることができる。
【００２３】
つまり、本発明の検査方法において、例えば、検査対象となる出力ポートが３個（ｎ＝３）で、検査の際には、各出力ポートで同一ビットのビットデータを出力する３個の出力端子のうち、２個の出力端子から論理「１」のハイレベルの電圧を出力し、残りの１個の出力端子から論理「０」のローレベルの電圧を出力するようにした場合、その合成電圧は、各出力端子が正常であれば、電源電圧Ｖｄの２／３の電圧（Ｖｄ・２／３）となり、出力端子に何等かの異常が生じている場合には、ｎ回（３回）の電圧測定で得られる合成電圧値の何れかが、電源電圧Ｖｄ、電源電圧Ｖｄの１／３の電圧（Ｖｄ・１／３）、若しくはグランド電圧（０Ｖ）となることから、例えば、電圧の測定誤差が±Ｖｄ／６あっても、正常電圧範囲をＶｄ・２／３±Ｖｄ／６とすることにより、その測定結果から各出力ポートの異常判定を行うことができることになり、この判定条件は、各出力ポートから出力されるデジタルデータのビット数が変化しても一定である。
【００２４】
このため、本発明の検査方法によれば、従来の検査方法２に比べて、電圧の測定精度は要求されず、検査装置のコストダウンを図ることができる。
なお、本発明では、電子機器の出力ポートから検査用デジタルデータを出力させる際には、各出力端子からの出力が、ｎ回の出力のうち、「ｎ／２」回の出力で同論理、残りの出力で反転論理となり、しかも、ｎ回の出力のうち、「ｎ／２」回の出力では、隣接する上位ビット若しくは下位ビットの出力端子からの出力との間で論理が反転するように、検査用デジタルデータを設定するが、これは、各検査対象端子群毎に合成電圧をｎ回測定することにより、各出力端子からの出力がローレベル又はハイレベルに固定されているときだけでなく、隣接する出力端子間が短絡しているときにも、その旨を正確に判定できるようにするためである。
【００２５】
そして、このように、各出力ポートから検査用デジタルデータを出力させるに当たっては、電子機器に検査用デジタルデータを記憶させておき、各出力ポートの検査時には、各出力ポートからその検査用デジタルデータを出力するように電子機器に指令を出すようにすればよい。
【００２６】
また、例えば、電子機器がデジタル映像信号を出力する画像処理装置であり、検査対象となる出力ポートが、図５に示したようなデジタル映像出力端子であれば、電子機器に入力された各種映像入力端子から、各出力ポートから出力されるデジタルデータが検査用デジタルデータとなるように設定した映像信号を入力するようにしてもよい。
【００２７】
一方、本発明の検査方法では、各検査対象端子群毎に、検査対象端子群を構成しているｎ個の出力端子からの出力の合成電圧がｎ回測定され、その測定結果が全て正常電圧範囲内にあれば、これらｎ個の出力端子は正常であると判定できるが、出力端子がハイレベル又はローレベルに固定されている場合や、出力端子が隣接する他の検査対象端子群の出力端子と短絡している場合には、ｎ個の測定結果の何れかが正常電圧範囲から外れるだけでなく、ｎ個の測定結果の変化パターンから、その異常箇所を特定することもできる（詳細は後述の実施形態にて説明する）。
【００２８】
そこで、本発明の検査方法は、更に請求項２に記載のように、測定した各ビット毎の合成電圧値の何れかが前記正常電圧範囲内にない場合には、正常電圧範囲から外れた合成電圧値に対応した検査対象端子群でのｎ個の合成電圧値の測定結果の変化パターンから、異常箇所を特定するようにしてもよい。
【００２９】
そして、このようにすれば、電子機器に設けられた出力ポートの異常を判定できるだけでなく、異常箇所を特定することができることから、電子機器の修理を簡単に行うことができるようになり、従来の検査方法に比べて検査を効率よく行うことが可能となる。
【００３０】
つまり、従来の検査方法１では、出力ポートを構成している各出力端子毎に出力電圧を測定することから、電圧の測定結果から、異常箇所を特定することはできるが、従来の検査方法２では、各出力ポートから出力されるデジタルデータをＤ／Ａ変換したアナログ電圧を測定することで、各出力ポートからの出力が正常か否かを判定するため、各出力ポートの異常は判定できてもその異常箇所を特定することはできない。
【００３１】
このため、従来の検査方法で各出力ポートの異常箇所を特定できるようにするには、各出力端子毎に出力電圧を測定するしかなく、その測定時間が長くなるか、或いは、検査装置のコストアップを招くことになる。
【００３２】
しかし、請求項２に記載の検査方法によれば、ｎ×ｍ個の測定結果に基づき、電子機器の出力ポートの異常箇所を特定できることから、検査装置のコストアップを招くことなく、短時間で異常箇所を特定できることになり、従来の検査方法に比べて、検査効率を向上することができるようになるのである。
【００３３】
次に、請求項３に記載の検査装置においては、電子機器駆動手段が、検査対象となる電子機器のｎ個の出力ポートから上述した検査用デジタルデータを順次出力させ、判定手段が、電子機器駆動手段の動作によって電子機器の各出力ポートから検査用デジタルデータが出力される度に、電圧測定手段を介して、ｍ個の検査対象端子群を構成しているｎ個の出力端子からの出力電圧の合成電圧をそれぞれ測定し、その測定したｍ個の合成電圧値から、電子機器に設けられたｎ個の出力ポートが正常であるか異常であるかを判定する。
【００３４】
従って、請求項３に記載の検査装置によれば、請求項１に記載の検査方法に従い、電子機器に設けられた複数の出力ポートの正常／異常を判定することができるようになり、従来の検査装置に比べて、低コストで効率よく電子機器を検査することのできる検査装置を実現できることになる。
【００３５】
また次に、請求項４に記載の検査装置においては、判定手段に、各検査対象端子群毎に測定したｎ個の合成電圧値の変化パターンから異常箇所を特定する異常箇所特定手段が設けられている。
【００３６】
従って、請求項４に記載の検査装置によれば、請求項２に記載の検査方法に従い電子機器の複数の出力ポートの正常／異常を判定して、異常判定時にはその異常箇所を特定することができるようになり、請求項２と同様の効果が得られることになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
以下に本発明の実施形態を図面と共に説明する。
図１は、本発明が適用された実施形態の検査装置１０の全体構成を表すブロック図である。
【００３８】
図１に示すように、本実施形態の検査装置１０は、図５に示した電子機器２２と同様、デジタル映像信号を出力するためにＲ、Ｇ、Ｂの各色毎に３つの出力ポート４、６、８が設けられた電子機器（又は回路基板）を検査対象機器（又は検査対象回路基板）２として、その検査対象機器２の各出力ポート４、６、８からの出力が正常か否かを検査するためのものであり、各出力ポート４、６、８を構成している複数（ｍ個：本実施形態では６個）の出力端子Ｒ０，Ｒ１，…Ｒ５、Ｇ０，Ｇ１，…Ｇ５、Ｂ０，Ｂ１，…Ｂ５からの出力電圧をそれぞれ取り込むために、一端が各出力端子Ｒ０，Ｒ１，…Ｒ５、Ｇ０，Ｇ１，…Ｇ５、Ｂ０，Ｂ１，…Ｂ５に接続される、合計１８個（＝３×６個＝ｎ×ｍ個）の入力抵抗ｒが設けられている。なお、この入力抵抗ｒの抵抗値は全て同じである。
【００３９】
また、検査装置１０内では、各入力抵抗ｒの他端が、各出力ポート４、６、８において同一ビットのビットデータを出力する検査対象端子群「Ｒ０，Ｇ０，Ｂ０」、「Ｒ１，Ｇ１，Ｂ１」、…、「Ｒ５，Ｇ５，Ｂ５」毎に互いに接続されている。
【００４０】
このため、これら各検査対象端子群「Ｒ０，Ｇ０，Ｂ０」、「Ｒ１，Ｇ１，Ｂ１」、…、「Ｒ５，Ｇ５，Ｂ５」毎の入力抵抗ｒの接続点の電圧Ｖ０，Ｖ１，…Ｖ５は、各検査対象端子群を構成している３つの出力端子からの出力電圧を合成した合成電圧となり、例えば、各検査対象端子群を構成している３つの出力端子のうち、２つの出力端子からハイレベルの信号（電源電圧Ｖｄ）が出力され、他の出力端子からローレベルの信号（グランド電圧：０Ｖ）が出力されている場合には、入力抵抗ｒの接続点に、電源電圧Ｖｄの２／３の電圧（Ｖｄ・２／３）が生じることになる。
【００４１】
また、検査装置１０には、入力抵抗ｒの他端を各検査対象端子群「Ｒ０，Ｇ０，Ｂ０」、「Ｒ１，Ｇ１，Ｂ１」、…、「Ｒ５、Ｇ５，Ｂ５」毎に接続することにより得られる各検査対象端子群毎の合成電圧Ｖ０，Ｖ１，…Ｖ５を選択的に取り込むためのセレクタ１２と、このセレクタ１２を介して選択的に入力される合成電圧Ｖ０，Ｖ１，…Ｖ５の電圧値を検出する電圧検出部１４と、検査対象機器２に設けられた映像信号の入力端子に対応した検査用の映像信号（例えば、コンポジット、Ｓ映像等のアナログ映像信号）を発生し、これを検査対象機器２に入力することで、検査対象機器２の各出力ポート４，６，８から検査用デジタルデータを出力させる映像信号発生部１６と、この映像信号発生部１６を制御することにより検査対象機器２の各出力ポート４，６，８から検査用デジタルデータを出力させ、そのとき入力抵抗ｒの接続点にそれぞれ発生する合成電圧Ｖ０，Ｖ１，…Ｖ５をセレクタ１２から電圧検出部１４に順次入力させることにより、電圧検出部１４を介して各合成電圧Ｖ０，Ｖ１，…Ｖ５を測定し、その測定結果から検査対象機器２の出力ポート４、６、８が正常か否かを判定する判定部２０と、この判定部２０による判定結果を表示する表示部１８と、が設けられている。
【００４２】
判定部２０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等を中心とするコンピュータにて構成されており、図２に示すフローチャートに沿って上記各部を制御することにより、検査対象機器２の出力ポート４、６、８を検査する。以下、このように判定部２０にて実行される検査処理について説明する。
【００４３】
図２に示す検査処理は、図示しない操作部若しくは通信線を介して判定部２０に検査の開始指令が入力されたときに、判定部２０にて実行される処理であり、この処理が開始されると、まずＳ１１０（Ｓはステップ）にて、合成電圧Ｖ０，Ｖ１，…Ｖ５の測定回数を表すカウンタＣに初期値「１」を設定する。
【００４４】
そして、続くＳ１２０では、カウンタＣの値で特定されるＣ回目の検査用映像信号を映像信号発生部１６から発生させることで、検査対象機器２の各出力ポート４、６、８からＣ回目の検査用デジタルデータを出力させる。
【００４５】
このＳ１２０の処理は、本発明の電子機器駆動手段に相当する処理であり、本実施形態では、カウンタＣの値で特定される合成電圧Ｖ０〜Ｖ５の測定回数に応じて、検査対象機器２の各出力ポート４、６、８を構成する出力端子Ｒ０，Ｒ１，…Ｒ５、Ｇ０，Ｇ１，…Ｇ５、Ｂ０，Ｂ１，…Ｂ５からの出力を、図３（ａ）に示す出力パターンで変化させるようにされている。
【００４６】
つまり、本実施形態では、検査対象となる出力ポート４、６、８が３個（ｎ＝３）であることから、同一ビットのビットデータを出力する検査対象端子群が３個の出力端子で構成されている。そして、各検査対象端子群を構成する３個の出力端子から出力させる信号レベルは、図３（ａ）に示すように、３個の出力端子のうち、２個（３／２の小数点以下を切り上げた整数）の出力端子からの出力が同論理（ハイレベル）となり、残りの出力端子からの出力が反転論理（ローレベル）となるように設定される。
【００４７】
また、本実施形態では、各出力ポート４、６、８から検査用デジタルデータを出力させる回数が、出力ポート４、６、８の数に対応して３回に設定されており、その３回の検査用デジタルデータの出力時には、図３（ａ）に示すように、各出力端子からの出力が２回（３／２の小数点以下を切り上げた整数）の出力で同論理（ハイレベル）、残りの出力で反転論理（ローレベル）となり、しかも、３回の出力のうち２回の出力では、隣接する上位ビット若しくは下位ビットの出力端子からの出力との間で論理が反転するように、各出力ポートから出力される検査用デジタルデータのデータ値を変化させる。
【００４８】
次に、Ｓ１２０の処理によって、検査対象機器２の各出力ポート４、６、８からＣ回目の検査用デジタルデータが出力されると、続くＳ１３０にて、セレクタ１２が選択する合成電圧を電圧Ｖ０からＶ５へと順に切り換え、その切換毎に電圧検出部１４にて測定される電圧値を取り込むことで、各検査対象端子群「Ｒ０，Ｇ０，Ｂ０」、「Ｒ１，Ｇ１，Ｂ１」、…、「Ｒ５、Ｇ５，Ｂ５」毎の合成電圧Ｖ０，Ｖ１，…Ｖ５を測定し、Ｓ１４０にて、その測定結果をＲＡＭ等のメモリに記憶する。
【００４９】
このように検査対象機器２の各出力ポート４、６、８から検査用デジタルデータを出力させて、各ビットデータ毎（換言すれば各階調毎）の合成電圧Ｖ０〜Ｖ５を測定すると、Ｓ１５０に移行して、その測定回数を表すカウンタＣの値が、出力ポートの数ｎに対応した値（本実施形態ではｎ＝３）以上であるか否かを判断することにより、上述した合成電圧Ｖ０〜Ｖ５の測定をｎ回（本実施形態では３回）行ったか否かを判断する。
【００５０】
そして、カウンタＣの値が「３」以上でなければ、Ｓ１６０にて、カウンタＣの値をインクリメント（＋１）した後、再度Ｓ１２０に移行することにより、検査対象機器２の各出力ポート４、６、８からＣ回目の検査用デジタルデータを出力させて、合成電圧Ｖ０〜Ｖ５を測定する処理を再度実行し、カウンタＣの値が「３」以上であれば、Ｓ１７０に移行して、メモリに記憶された３回分の合成電圧Ｖ０〜Ｖ５の測定結果と予め設定された正常電圧範囲とを比較する。
【００５１】
なお、本実施形態では、各検査対象端子群「Ｒ０，Ｇ０，Ｂ０」、「Ｒ１，Ｇ１，Ｂ１」、…、「Ｒ５，Ｇ５，Ｂ５」毎に、２個の出力端子からの出力がハイレベルとなり、残りの出力端子からの出力がローレベルとなるように、各出力ポート４、６、８からの出力データが設定されることから、各出力端子が正常であれば、合成電圧Ｖ０〜Ｖ５は電源電圧Ｖｄの２／３の電圧（Ｖｄ・２／３）となる。このため、Ｓ１７０にて各合成電圧Ｖ０〜Ｖ５と比較する正常電圧範囲には、この電圧値Ｖｄ・２／３を中心として電圧検出部１４の許容検出誤差を加えた電圧範囲が設定されている。
【００５２】
次に、続くＳ１８０では、Ｓ１７０での測定電圧の比較結果に基づき、全ての測定電圧は正常電圧範囲内にあるか否かを判断することにより、検査対象機器２の各出力ポート４、６、８は正常であるか否かを判断する。そして、Ｓ１８０にて、検査対象機器２の各出力ポート４、６、８は正常であると判断されると、Ｓ１９０にて、検査結果はＯＫである旨を表示部１８に表示し、当該処理を終了する。
【００５３】
一方、Ｓ１８０にて、３回の電圧測定で得られた合計１８個の合成電圧Ｖ０〜Ｖ５のうち、一つでも正常電圧範囲内から外れていると判断された場合には、Ｓ２００に移行して、その正常電圧範囲から外れた合成電圧Ｖｘの変化パターンから、この合成電圧Ｖｘに対応した検査対象端子群を構成している３つの出力端子のうちの何れに異常があるのかを特定する、異常箇所特定手段としての処理を実行し、続くＳ２１０にて、Ｓ２００にて特定した異常箇所を表示部１８に表示して、当該処理を終了する。
【００５４】
なお、この異常箇所の特定には、図３（ｂ）に示す異常判定マップが使用される。
この異常判定マップは、電圧値が正常電圧範囲内にある（ＯＫ）、正常電圧範囲よりも電圧値が高い（Ｈ）、正常電圧範囲よりも電圧値が低い（Ｌ）といった、各合成電圧Ｖ０〜Ｖ５と正常電圧範囲との比較結果の各測定回数毎の変化パターンから、異常箇所を特定するためのものであり、以下のように設定されている。
【００５５】
つまり、例えば、最下位ビットの合成電圧Ｖ０のうち、１回目の測定結果が正常電圧範囲よりも高く（Ｌ）、２回目、３回目の測定結果が正常（ＯＫ）であれば、１回目の出力がローレベルに設定されている出力端子Ｒ０がハイレベルに固定されていると判断でき、最下位ビットの合成電圧Ｖ０のうち、１回目の測定結果が正常（ＯＫ）であり、２回目、３回目の測定結果が正常電圧範囲よりも低い（Ｌ）場合には、２回目と３回目の出力がハイレベルに設定されている出力端子Ｒ０がローレベルに固定されていると判断できる。また、最下位ビットの合成電圧Ｖ０のうち、１回目の測定結果が正常電圧範囲よりも高く（Ｈ）、２回目の測定結果が正常（ＯＫ）で、３回目の測定結果が正常電圧範囲よりも低い（Ｌ）場合には、出力端子Ｒ０が隣接する出力端子Ｒ１と短絡していると判断できる。
【００５６】
そこで、本実施形態では、このような判断条件に従い、図３（ｂ）に示す異常判定マップを作成して、判定部２０内のメモリに記憶させておくことにより、各検査対象端子毎の合成電圧Ｖ０〜Ｖ５の３回の測定結果から、異常箇所を特定できるようにしているのである。
【００５７】
以上説明したように、本実施形態の検査装置によれば、検査対象となる出力ポートの数「３」と、各出力ポートを構成している出力端子の数（換言すれば各出力ポートから出力されるデジタルデータのビット数）「６」とで決まる、合計１８個の合成電圧の測定結果から、検査対象機器２に設けられた３つの出力ポート４、６、８からの出力が正常か否かを検査することができる。よって、本実施形態によれば、従来の検査方法１に比べて、電圧測定の回数を半分にして、検査時間を短縮することができる。
【００５８】
また、各出力ポート４、６、８からの出力が正常であるか否かを判定する際には、各検査対象端子群毎に測定した合成電圧Ｖ０〜Ｖ５が正常電圧範囲内にあるか否かを判断すればよく、各出力ポートから出力されるデジタルデータのビット数が多くなっても、合成電圧の分解能は変化しないことから、電圧検出部１４による電圧測定精度を高くする必要はない。よって、本実施形態によれば、従来の検査方法２のように、電圧検出部１４を高精度な電圧測定特性が得られる高価なものにする必要がなく、しかも、電圧測定にＤ／Ａ変換器を用いる必要がないため、検査装置のコストダウンを図ることができる。
【００５９】
また更に、本実施形態では、合成電圧Ｖ０〜Ｖ５の３回の測定結果と異常判定マップとを用いて、異常箇所を特定することができることから、検査対象機器２の修理を簡単に行うことができるようになり、従来の検査方法に比べて検査を効率よく行うことが可能となる。
【００６０】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内にて、種々の態様をとることができる。
例えば、上記実施形態では、Ｒ，Ｇ，Ｂの各色毎に画像を形成する画素の階調データ（デジタルデータ）を出力するための３つの出力ポートが設けられた検査対象機器を検査する検査装置について説明したが、本発明によれば、デジタルデータの出力ポートを、２個、或いは４個以上備えた検査対象機器であっても、これら各出力ポートからの出力を検査することができる。
【００６１】
具体的には、８ビットのデジタルデータを出力する出力ポートを４個備えた検査対象機器を検査する場合には、各出力ポートＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄから、図４（ａ）に示す出力パターンで検査用デジタルデータを４回出力させ、その４回の出力毎に、上記実施形態と同様の手順で、各出力ポート間で同一ビットのビットデータを出力する検査対象端子群毎に出力電圧を合成して、その合成電圧Ｖ０〜Ｖ７を測定し、その測定した合成電圧Ｖ０〜Ｖ７が正常電圧範囲（この場合、電源電圧Ｖｄの１／２の電圧を中心とする電圧範囲）から外れているか否かを判断することにより、各出力ポートが正常か否かを判断することができる。また、この場合、測定した合成電圧Ｖ０〜Ｖ７の一つでも正常電圧範囲から外れていれば、その合成電圧Ｖｘの変化パターンから、図４（ｂ）に示す異常判定マップを用いて異常箇所を特定することができる。
【００６２】
一方、上記実施形態では、検査対象端子群毎に合成電圧Ｖ０〜Ｖ５を測定する際、その合成電圧Ｖ０〜Ｖ５を、セレクタ１２を介して順に電圧検出部１４に入力するものとして説明したが、測定すべき合成電圧Ｖ０〜Ｖ５毎に、電圧検出部１４を設け、各合成電圧Ｖ０〜Ｖ５を同時に測定するようにしてもよい。そして、このようにすれば、合成電圧Ｖ０〜Ｖ５の測定をより短時間で行うことができるようになる。
【００６３】
また、上記実施形態では、検査結果を表示部１８に表示するものとして説明したが、検査結果は音で通知するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】実施形態の検査装置と検査対象機器の構成を表すブロック図である。
【図２】検査装置の判定部にて実行される検査処理を表すフローチャートである。
【図３】検査対象機器の検査に用いられる検査用映像出力パターン及び異常判定マップを表す説明図である。
【図４】４個の出力ポートの検査を行う際に用いられる検査用映像出力パターン及び異常判定マップを表す説明図である。
【図５】従来の検査方法を説明する説明図である。
【符号の説明】
【００６５】
２…検査対象機器（検査対象回路基板）、４，６，８，２４，２６，２８…出力ポート、Ｒ０〜Ｒ５，Ｇ０〜Ｇ５，Ｂ０〜Ｂ５…出力端子、ｒ…入力抵抗、１０…検査装置、１２…セレクタ、１４…電圧検出部、１６…映像信号発生部、１８…表示部、２０…判定部、２２…電子機器、３０…電圧計、３２…Ｄ／Ａ変換器。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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