(57)【要約】【課題】磁性帯の表面に観察の障害となる皮膜が存在していても、皮膜を除去することなく、上記磁性帯の広域表面における表面性状を観察することができる観察方法及び観察装置を提供する。【解決手段】磁性帯の表面性状を観察する観察方法において、（ａ）磁極に、観察対象の磁性帯の幅Ｗ1を超えない板幅Ｗ2を有する高透磁率板を載置して、高透磁率板と磁性帯を一体的に磁化し、（ｂ）上記磁性帯の表面の磁束を検知し、表面性状を画像表示することを特徴とする磁性帯の表面性状観察方法。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁性帯の表面性状を観察する観察方法において、
（ａ）磁極に、観察対象の磁性帯の幅Ｗ1を超えない板幅Ｗ2を有する高透磁率板を載置して、高透磁率板と磁性帯を一体的に磁化し、
（ｂ）上記磁性帯の表面の磁束を検知し、表面性状を画像表示する
ことを特徴とする磁性帯の表面性状観察方法。
【請求項２】
前記高透磁率板の幅Ｗ2と、前記磁性帯の幅Ｗ1の比Ｗ2／Ｗ1が０．９以下であることを特徴とする請求項１に記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【請求項３】
前記高透磁率板を、複数の高透磁率板を磁極に沿って並べて構成することを特徴とする請求項１又は２に記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【請求項４】
前記高透磁率板を、複数の高透磁率板を積層して構成することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【請求項５】
前記高透磁率板と磁性帯を、磁性帯の圧延方向に磁化することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【請求項６】
前記高透磁率板の磁化容易軸方向を、磁性帯の圧延方向に一致させて、高透磁率板と磁性帯を一体的に磁化することを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【請求項７】
前記表面性状を、皮膜を介して画像表示することを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【請求項８】
前記表面性状が、表面歪又は表面疵であることを特徴とする請求項１〜７のいずれか１項に記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【請求項９】
磁性帯の表面性状を観察する観察装置であって、
（ａ）磁極に、観察対象の磁性帯の幅Ｗ1を超えない板幅Ｗ2を有する高透磁率板を載置し、高透磁率板と磁性帯を一体的に磁化する磁化器、及び、
（ｂ）上記磁性帯の表面の磁束を検知し、表面性状を画像表示する表示器
を備えることを特徴とする磁性帯の表面性状観察装置。
【請求項１０】
前記高透磁率板の幅Ｗ2と、前記磁性帯の幅Ｗ1の比Ｗ2／Ｗ1が０．９以下であることを特徴とする請求項９に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【請求項１１】
前記高透磁率板を、複数の高透磁率板を磁極に沿って並べて構成したものであることを特徴とする請求項９又は１０に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【請求項１２】
前記高透磁率板が、複数の高透磁率板を積層したものであることを特徴とする請求項９〜１１のいずれか１項に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【請求項１３】
前記磁化器で、高透磁率板と磁性帯を、磁性帯の圧延方向に磁化することを特徴とする請求項９〜１２のいずれか１項に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【請求項１４】
前記高透磁率板の磁化容易軸方向を、磁性帯の圧延方向に一致させて、磁化器で、高透磁率板と磁性帯を一体的に磁化することを特徴とする請求項１３に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【請求項１５】
前記表示器で、前記表面性状を、皮膜を介して画像表示することを特徴とする請求項９〜１４のいずれか１項に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【請求項１６】
前記表面性状が、表面歪又は表面疵であることを特徴とする請求項９〜１５のいずれか１項に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁化した磁性帯の表面性状を観察する方法及びその装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
磁性帯の表面性状を観察することで、品質を管理することは重要なことである。それ故、従来から、磁性帯の表面疵を含めた表面性状を観察する方法が数多く提案されている（例えば、特許文献１〜３、参照）。
【０００３】
特許文献１には、磁性帯薄膜の表面に、強磁性体微粒子を懸濁したコロイド溶液を滴下し、強磁性微粒子が凝集して形成する磁壁像を観察するビッター法を基本とする観察方法が開示されている。特許文献２には、金属薄帯表面を走査型電子顕微鏡で観察する方法が開示されている。特許文献３には、磁性体に磁場を印加しながら、その表面をホール素子で走査し、表面を観察する方法が開示されている。
【０００４】
しかし、上記いずれの方法も、観察対象面積が極めて小さく、広域面の表面性状を迅速に観察することが求められる磁性帯の製造ラインにおいて実用化するのは困難である。
【０００５】
実用技術としては、磁性体の表面における磁化形態を観察して、表面欠陥を検出する方法が幾つか提案されている（特許文献４及び５、参照）。
【０００６】
特許文献４には、被測定物（フェライト系鉄鋼材料）の表面に、樹脂層を介して磁気テープを貼り付けて磁化し、磁気テープに記録された磁化パターンを、光学顕微鏡で観察することにより欠陥を検出、評価する非破壊検査方法が開示されている。
【０００７】
また、特許文献５には、被測定物（フェライト系鉄鋼材料）の表面に、強磁性微粒子を分散したコロイド液を塗布し、磁化し、乾燥後、レプリカフィルム材料を溶解した溶液を噴霧し、乾燥・固化してフィルム層を形成し、剥離後、フィルム層の磁化パターンを光学顕微鏡で観察することにより欠陥を検出、評価する非破壊検査方法が開示されている。
【０００８】
しかし、いずれの非破壊検査方法も、磁気テープやフィルム層の形成・剥離、その後の観察に手間がかかり、磁性帯の広域表面の磁化形態を迅速に観察することが求められる製造ラインにおいて実用化するには困難である。しかも、使用済みの磁気テープやフィルム層を再使用することはできず、上記方法はコスト高である。
【０００９】
また、磁性帯の表面に皮膜が存在する場合、皮膜を剥離しなければ、上記の各種方法を適用できないが、皮膜除去には設備が必要であるし、また、手間がかかることになる。本出願人は、磁性帯の皮膜を剥離せず、非破壊で表面性状を観察することができる観察装置を提案した（特許文献６、参照）が、該観察装置を用いても、磁性体の広域表面における表面性状を、鮮明な画像で観察することができない場合があることが判明した。
【００１０】
このように、磁性帯の製造ラインにおいて、品質管理を目的に、観察対象の磁性体の広域表面における表面性状を鮮明な画像で迅速に観察する技術の開発が求められている。
【００１１】
【特許文献１】特開平０６−０５１０４２号公報
【特許文献２】特開平１１−０１４７２４号公報
【特許文献３】特開平１１−２３１０３１号公報
【特許文献４】特開平０８−１６０００７号公報
【特許文献５】特開平０８−１６０００８号公報
【特許文献６】特願２００５−２５８６０６号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明は、上記要望に鑑み、観察対象の磁性帯の広域表面における表面性状を迅速に観察することができないとの課題を解決し、磁性帯の表面に観察の障害となる皮膜が存在していても、該皮膜を除去することなく、上記磁性帯の広域表面における表面性状を観察することができる観察方法及び観察装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明者は、観察対象の磁性帯の表面において、表面性状を鮮明な画像で表示する手法について、鋭意検討した。
【００１４】
本発明者は、「観察対象の磁性帯の裏面から同極性の強い磁場を発生させ、磁場の反発作用を利用して、磁性帯内の磁束を表面へ押し上げると、磁性帯の表面における磁束の漏れ量が増加し、この漏れ量を検知することにより、広域表面における表面性状を全面的に画像表示することができる」との発想の下に検討を進めた。
【００１５】
その結果、観察対象の磁性帯と、該磁性帯を磁化する磁化器の間に高透磁率板を挿入し、磁性帯と高透磁率板を一体的に磁化すると、磁性帯の広域表面における表面性状を鮮明な画像で表示することができることを見いだした。
【００１６】
本発明は、上記知見に基づいてなされたもので、その要旨は以下のとおりである。
【００１７】
（１）  磁性帯の表面性状を観察する観察方法において、
（ａ）磁極に、観察対象の磁性帯の幅Ｗ1を超えない板幅Ｗ2を有する高透磁率板を載置して、高透磁率板と磁性帯を一体的に磁化し、
（ｂ）上記磁性帯の表面の磁束を検知し、表面性状を画像表示する
ことを特徴とする磁性帯の表面性状観察方法。
【００１８】
（２）  前記高透磁率板の幅Ｗ2と、前記磁性帯の幅Ｗ1の比Ｗ2／Ｗ1が０．９以下であることを特徴とする前記（１）に記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【００１９】
（３）  前記高透磁率板を、複数の高透磁率板を磁極に沿って並べて構成することを特徴とする前記（１）又は（２）に記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【００２０】
（４）  前記高透磁率板を、複数の高透磁率板を積層して構成することを特徴とする前記（１）〜（３）のいずれかに記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【００２１】
（５）  前記高透磁率板と磁性帯を、磁性帯の圧延方向に磁化することを特徴とする前記（１）〜（４）のいずれかに記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【００２２】
（６）  前記高透磁率板の磁化容易軸方向を、磁性帯の圧延方向に一致させて、高透磁率板と磁性帯を一体的に磁化することを特徴とする前記（１）〜（５）のいずれかに記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【００２３】
（７）  前記表面性状を、皮膜を介して画像表示することを特徴とする前記（１）〜（６）のいずれかに記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【００２４】
（８）  前記表面性状が、表面歪又は表面疵であることを特徴とする前記（１）〜（７）のいずれかに記載の磁性帯の表面性状観察方法。
【００２５】
（９）  磁性帯の表面性状を観察する観察装置であって、
（ａ）磁極に、観察対象の磁性帯の幅Ｗ1を超えない板幅Ｗ2を有する高透磁率板を載置し、高透磁率板と磁性帯を一体的に磁化する磁化器、及び、
（ｂ）上記磁性帯の表面の磁束を検知し、表面性状を画像表示する表示器
を備えることを特徴とする磁性帯の表面性状観察装置。
【００２６】
（１０）  前記高透磁率板の幅Ｗ2と、前記磁性帯の幅Ｗ1の比Ｗ2／Ｗ1が０．９以下であることを特徴とする前記（９）に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【００２７】
（１１）  前記高透磁率板を、複数の高透磁率板を磁極に沿って並べて構成したものであることを特徴とする前記（９）又は（１０）に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【００２８】
（１２）  前記高透磁率板が、複数の高透磁率板を積層したものであることを特徴とする前記（９）〜（１１）のいずれかに記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【００２９】
（１３）  前記磁化器で、高透磁率板と磁性帯を、磁性帯の圧延方向に磁化することを特徴とする前記（９）〜（１２）のいずれかに記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【００３０】
（１４）  前記高透磁率板の磁化容易軸方向を、磁性帯の圧延方向に一致させて、磁化器で、高透磁率板と磁性帯を一体的に磁化することを特徴とする前記（１３）に記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【００３１】
（１５）  前記表示器で、前記表面性状を、皮膜を介して画像表示することを特徴とする前記（９）〜（１４）のいずれかに記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【００３２】
（１６）  前記表面性状が、表面歪又は表面疵であることを特徴とする前記（９）〜（１５）のいずれかに記載の磁性帯の表面性状観察装置。
【発明の効果】
【００３３】
本発明によれば、磁性帯の表面に、観察の障害となる皮膜が存在していても、該皮膜を除去することなく、磁性帯の広域表面における表面性状を鮮明な画像で観察することができる。その結果、磁性帯の製造ラインにおいて、多額の設備費や設備維持費が不要になり、磁性帯の表面品質管理を、安全にかつ短時間で判定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
本発明者は、まず、偏平な磁性帯の表面全面に、けがき針で数本の疵（以下、「表面疵」という。）を与え、磁場を、(a)磁性帯の平面に垂直な方向、(b)該平面内の水平Ｃ方向（圧延方向に直角の方向）、及び、(c)同じく水平Ｌ方向（圧延方向）に印加し、磁性帯の表面における表面性状を観察した。
【００３５】
磁性帯の磁化は、コイルを用いて行い、表面性状は、磁性粉を混合した磁性流体層を、透明表面層と裏面シート層で挟んで構成した観察装置（特許文献６、参照）を用いて画像化して観察した。
【００３６】
その結果、磁場を垂直方向に印加した場合と水平Ｃ方向に印加した場合（(a)と(b)の場合）、磁性帯の表面の全域にわたり不鮮明な表面性状を観察することができるが、磁場を水平Ｌ方向に印加した場合（(c)の場合）、磁性帯の端部付近と中央付近において、中央付近では、表面疵は見えないが、端部付近では、表面疵を鮮明な画像で観察することができることが判明した。
【００３７】
本発明者は、磁性体の端部付近と中央付近において表面疵の見え方が異なる現象に着目し、（ｉ）磁性帯の端部付近では、エッジ効果で表面付近から斜めに磁性体に侵入した磁束が表面に漏れ、また、（ii）磁性帯の中央付近では、磁性帯に侵入した磁束が表面へ漏れないか、又は、漏れても、その量が端部に比べ少ない（不足している）ことに原因があるのではないかと考えた。
【００３８】
この考えに従えば、観察対象の磁性帯の表面全域において、表面疵を鮮明な像で観察するためには、磁性帯の表面全域にわたり、磁束を表面の外に漏れさせることが必要になるところ、本発明者は、この手法について検討した。
【００３９】
本発明者は、磁性帯の裏面に同極性の強い磁場を発生させ、磁場の反発作用を利用して、磁性帯内の磁束を押し上げれば、磁性帯の表面から漏れる磁束量が増加して、表面全域において、一つの表面性状を鮮明な画像で観察することができるとの結論に至り、磁化器の磁極の上に、高透磁率板を載置した。
【００４０】
即ち、本発明は、磁極の上に高透磁率板を載置した磁化器で、高透磁率板と、観察対象の磁性帯を一体的に磁化し、高透磁率板の磁場で、該磁性帯内の磁束を押し上げることを特徴とするものである。
【００４１】
ここで、図１に、従来の磁化器を用いる観察態様を模式的に示す。図１（ａ）は、磁極２、磁性帯１、及び、表示器３の平面位置関係を示し、図１（ｂ）は、それらの側面位置関係を示す。
【００４２】
図２に、本発明の磁化器を用いる観察態様を模式的に示す。図２（ａ）は、磁極２、高透磁率板４、磁性帯１、及び、表示器３の平面位置関係を示し、図２（ｂ）は、それらの側面位置関係を示す。
【００４３】
従来は、図１（ｂ）に示すように、磁極２を有する磁化器の上に、観察対象の磁性帯１を載置し、その上に、表面性状を画像化して表示する表示器３を置き、磁性帯１の表面における表面性状を画像化する。しかし、磁性帯１の表面全域において、一つの表面性状を、鮮明な画像で観察することができなかった。この理由については後述する。
【００４４】
これに対し、本発明においては、図２に示すように、磁極２の上に高透磁率板４を載置して構成した磁化器で、観察対象の磁性帯１を磁化し、その表面における表面性状を表示器３で画像表示する。
【００４５】
観察対象の磁性帯１と高透磁率板４を一体的に磁化すると、高透磁率板４の磁界が、磁性帯１内の磁束を押し上げ、磁性帯１の表面から漏れでる磁束量が増加する。この漏れでる磁束量を検知することにより、磁性帯１の表面全域における表面性状を、表示器３で、鮮明な画像として表示することができる。
【００４６】
この理由について説明する。
【００４７】
図３に、磁性帯を磁化した時の磁束の態様を模式的に示す。図３（ａ）は、図１に示す従来の磁化器で磁性帯１を磁化した場合における磁束の態様を示し、図３（ｂ）は、図２に示す本発明の磁化器で磁性帯１を磁化した場合における磁束の態様を示す。
【００４８】
図３（ａ）に示すように、従来の磁化器で磁化した場合、磁性帯の中央付近において、磁束６は内部にとどまるので、歪又は欠陥５のところで、磁束６が外に漏れないか、又は、漏れても、その量は少なく、その結果、表示器で表面性状を画像化して表示することができない。
【００４９】
一方、磁性帯１の端部付近では、エッジ効果で表面付近から斜めに磁性体１に侵入した磁束が表面に漏れ、表面に存在する歪又は欠陥５のところで、磁束６が外に漏れでるので、この漏れ磁束を検知して、表面の表面性状を画像化することができる。
【００５０】
このように、高透磁率板４を使用しない従来の磁化器で磁化した場合、磁性帯１の表面に存在する歪又は欠陥５については、中央付近と端部付近とで、観察できる部分とできない部分が生じ、結局、観察対象の磁性帯１の表面全域における表面性状を、鮮明な画像で表示することができない。
【００５１】
一方、図３（ｂ）に示すように、観察対象の磁性帯１の下に高透磁率板４を置き、磁性帯１と高透磁率板４を一体的に磁化した場合、高透磁率板４の磁束６により、中央付近内部の磁束６が押し上げられ、表面に存在する歪又は欠陥５のところで、磁束６が外に漏れでることになるので、この漏れ磁束を検知することにより、表面の表面性状を画像化して表示することができる。
【００５２】
したがって、図２（ｂ）に示すように、磁極２に高透磁率板４を載置し、高透磁率板４と観察対象の磁性帯１を一体的に磁化すると、図３（ｂ）に示すように、観察対象の磁性帯１の中央付近であっても、高透磁率板４の磁束８が、表面に存在する歪又は欠陥５のところで磁束６が漏れでるので、この漏れ磁束を検知して、観察対象の磁性帯１の表面全域における表面性状を鮮明な画像で表示することができる。
【００５３】
図２に示す、本発明の磁化器について、さらに説明する。
【００５４】
磁極に載置する高透磁率板４としては、観察対象の磁性帯１内の磁束を押し上げるため、透磁率の良い高透磁率板を使用する。好ましくは、透磁率が、観察対象の磁性体の透磁率と同等か、又は、それ以上の透磁率を有する磁性板を使用する。
【００５５】
高透磁率板として、鉄板、珪素鋼板、方向性珪素鋼板、フェライト、パーマロイ、アモルファスなどを使用することができるが、観察対象の磁性帯に応じて、高透磁率板を選択する必要がある。
【００５６】
高透磁率板４の磁場印加方向と直角方向の長さＬ2は、磁性帯１の長さＬ1を超えてもよいが（図２（ａ）参照）、高透磁率板４の磁場印加方向の長さＷ2（幅）は、磁性帯１の幅Ｗ1を超えないものとする。
【００５７】
ただし、Ｗ2／Ｗ1≒１であると、高透磁率板４の磁束押上げ作用が弱い場合があるので、Ｗ2／Ｗ1は０．９０以下が好ましく、０．６５以下がより好ましい。
【００５８】
例えば、Ｗ1が８０ｍｍの場合、Ｗ2≦７０ｍｍ（＜８０×０．９０）が好ましく、Ｗ2≦５０ｍｍ（＜８０×０．６５）がより好ましい。
【００５９】
高透磁率板は、透磁率が良く、幅Ｗ2が狭い（Ｗ2＜Ｗ1）ものほど、磁気回路抵抗が小さくなって、強い内部磁場が得られ、かつ、磁場（磁力線）の曲率が大きくなる（中央が凸になる）ので、観察対象の磁性帯の磁束を、裏面から押し上げ易くなる。
【００６０】
高透磁率板の幅Ｗ2の下限は、特にないが、狭すぎると、磁化器の構成が難しくなり、また、磁性帯の表面全域での観察が困難となるので、観察対象の磁性帯の幅Ｗ1に応じて適宜設定するが、Ｗ1／４≦Ｗ2が好ましい。
【００６１】
高透磁率板の幅Ｗ2は、１０ｍｍ≦Ｗ2≦７０ｍｍが好ましく、２０ｍｍ≦Ｗ2≦５０ｍｍがより好ましい。高透磁率板の幅Ｗ2が７０ｍｍを超えると、中央付近の磁場の押し上げ作用が弱くなり、中央付近の画像の鮮明度が低下し、一方、１０ｍｍ未満になると、視野幅が狭くなり、観察し難くなる。
【００６２】
高透磁率板４の厚さｔ2は、観察対象の磁性帯１の厚さｔ1との関係で特に制限がない。観察対象の磁性帯の磁束を押し上げるに充分な強さの磁界を保持できる厚さであればよい。図４に示すように、高透磁率板を複数枚積層（図では、高透磁率板４ａ、４ｂ、４ｃを積層）して一体化して用いてもよい。積層枚数が多いほど、磁極２と磁性帯１の距離が離れるので、磁性帯１の内部磁場が弱くなり、裏面から磁性帯１内の磁束を押し上げ易くなる。
【００６３】
ただし、高透磁率板の積層厚ｔ3を厚くし過ぎると、観察対象の磁性帯と積層高透磁率板を一体的に磁化するのに強い磁化力が必要となり、磁化器を大きくせざるを得ず、経済的でなくなるので、高透磁率板の一枚の厚さｔ2又は積層厚t3は、０．３ｍｍ以上１．６ｍｍ以下が好ましく、０．６ｍｍ以上１．２ｍｍ以下がより好ましい。
【００６４】
なお、高透磁率板を複数枚積層する場合も、Ｗ2／Ｗ1は、０．９０以下が好ましく、０．６５以下がより好ましい。
【００６５】
以上の態様を適宜採用すると、磁性帯の表面から漏れ出る磁束の量が多くなり、磁性帯の表面全域において、表面性状を鮮明な画像で観察することができる。
【００６６】
さらに、高透磁率板４として、方向性珪素鋼板のように磁化容易軸方向を有する材料を、一枚又は複数枚積層して用いる場合、高透磁率板の磁化容易軸方向を磁場印加方向に合致させると、高透磁率板の磁場による磁束押上げ効果をより顕著に得ることができ、表面性状を、磁性帯の表面全域において、より鮮明な画像で観察することができる。
【００６７】
高透磁率板４は、図５に示すように、高透磁率板４ａ、４ｂ、４ｃを、適宜間隔をあけるか、又は、接触して並べて構成してもよい。この方法は、良好な透磁率を有する一枚の高透磁率板が得られ難い時、又は、磁化容易軸が揃った一枚の高透磁率板が得られ難い時に有効である。
【実施例】
【００６８】
次に、本発明の実施例について説明するが、実施例の条件は、本発明の実施可能性及び効果を確認するために採用した一条件例であり、本発明は、この一条件例に限定されるものではない。本発明は、本発明の要旨を逸脱せず、本発明の目的を達成する限りにおいて、種々の条件を採用し得るものである。
【００６９】
（実施例１）
図２又は図４に示す磁化態様で、Ｗ1：８０ｍｍ×Ｌ1：２００ｍｍ×ｔ1：０．２３ｍｍの鉄板の表面全面に、けがき針で数本の表面疵を発生させ、その表面疵を観察した。
【００７０】
高透磁率板として、（ａ）Ｗ2：７０ｍｍ×Ｌ2：２５０ｍｍ×ｔ2：０．２３ｍｍの方向性珪素鋼板、又は、（ｂ）Ｗ2：５０ｍｍ×Ｌ2：２５０ｍｍ×ｔ2：０．２３ｍｍの方向性珪素鋼板を、１〜３枚、フェライト磁石の上に載置して磁化器を構成した。
【００７１】
磁性帯の上に、幅Ｗ：８０ｍｍ×長さＬ：２００ｍｍ×厚さ：６ｍｍの表示器を乗せ、磁化器を電流１０Ａで磁化し、表示器に表示された表面疵の画像を観察し、画像全域において表面疵を観察できるか否かを評価した。
【００７２】
具体的には、Ａ：画像全域において、鮮明な画像で表面疵を観察することができる、Ｂ：一部不鮮明であるが、画像全域において表面疵を観察することができる、Ｃ：不鮮明であるが画像全域において表面疵を観察することができる、及び、Ｄ：画像全域において表面疵を観察することができない、の４段階で評価した。評価結果を、表１に示す。
【００７３】
また、図６に、上記鉄板の表面疵７を観察した場合の、評価Ａの画像の一例（ａ）と、評価Ｂの画像の一例（ｂ）を示す。図において、実線は、鮮明な表面疵観察を示し、点線は、不鮮明な表面疵観察を示す。
【００７４】
（実施例２）
図２又は図４に示す磁化態様で、Ｗ1：８０ｍｍ×Ｌ1：２００ｍｍ×ｔ1：０．２３ｍｍの鉄板の表面全面に、けがき針で数本の表面疵を発生させ、その上に、メッキ皮膜などを摸擬して、厚さ５０μｍ程度のテフロン（登録商標）シートを被せ、その上から表面疵を観察した。
【００７５】
高透磁率板として、（ａ）Ｗ2：７０ｍｍ×Ｌ2：２５０ｍｍ×ｔ2：０．２３ｍｍの方向性珪素鋼板、又は、（ｂ）Ｗ2：５０ｍｍ×Ｌ2：２５０ｍｍ×ｔ2：０．２３ｍｍの方向性珪素鋼板を、１〜３枚、フェライト磁石の上に載置して磁化器を構成した。
【００７６】
磁性帯の上に、幅Ｗ：８０ｍｍ×長さＬ：２００ｍｍ×厚さ：６ｍｍの表示器を乗せ、磁化器を電流１０Ａで磁化し、表示器で表示された表面疵の画像を観察し、画像全域において表面疵を観察できるか否かを評価した。
【００７７】
具体的には、Ａ：画像全域において、鮮明な画像で表面疵を観察することができる、Ｂ：一部不鮮明であるが、画像全域において表面疵を観察することができる、Ｃ：不鮮明であるが画像全域において表面疵を観察することができる、及び、Ｄ：画像全域において表面疵を観察することができない、の４段階で評価した。評価結果を、表１に併せて示す。
【００７８】
【表１】
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【００７９】
実施例２の結果からも、観察の障害となる皮膜が存在していても、皮膜を除去することなく表面疵を観察することができることが理解できる。
【００８０】
磁性帯に関しては、鉄板に限定されるものではなく、高透磁率板に類似する種類の素材にも適用することができる。また、珪素鋼板に関しては、皮膜の上から結晶構造などを観察することも可能である。
【００８１】
（比較例）
比較例として、Ｗ1：８０ｍｍ×Ｌ1：２００ｍｍ×ｔ1：０．２３ｍｍの鉄板を、従来の磁化器（図１、参照）で磁化し、実施例と同様に、表面疵を観察して評価した。評価結はＤであった。
【産業上の利用可能性】
【００８２】
前述したように、本発明によれば、磁性体の表面に観察の障害となる皮膜が存在していても、該皮膜を除去することなく、磁性帯の表面全域における表面性状を鮮明な画像で表示することができる。その結果、磁性帯の製造ラインにおいて、多額の設備費及び設備維持費が不要になり、磁性帯の品質を、安全にかつ短時間で判定することができる。したがって、本発明は、磁性帯の工業的生産ラインにおいて利用可能性が大きいものである。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】従来の磁化器を用いる観察態様を模式的に示す図である。（ａ）は、磁極、磁性帯、及び、表示器の平面位置関係を示し、（ｂ）は、それらの側面位置関係を示す。
【図２】本発明の磁化器を用いる観察態様を模式的に示す図である。（ａ）は、磁極、高透磁率板、磁性帯、及び、表示器の平面位置関係を示し、（ｂ）は、それらの側面位置関係を示す。
【図３】磁性帯を磁化した時の磁束の態様を模式的に示す図である。（ａ）は、図１に示す従来の磁化器で磁性帯を磁化した場合における磁束の態様を示し、（ｂ）は、図２に示す本発明の磁化器で磁性帯を磁化した場合における磁束の態様を示す。
【図４】本発明の磁化器において、高透磁率板を、複数枚積層した態様を示す図である。
【図５】本発明の磁化器において、三枚の高透磁率板を並べて、一体の高透磁率板を構成した態様を示す図である。
【図６】磁化形態の画像の一例を示す図である。（ａ）は、評価Ａの画像を示し、（ｂ）は、評価Bの画像を示す。
【符号の説明】
【００８４】
１    磁性帯
２    磁極
３    表示器
４、４ａ、４ｂ、４ｃ    高透磁率板
５    歪又は欠陥
６    磁束
７    表面疵
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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