(57)【要約】【課題】光量検出器及び光量検出器の感度調整用の可変抵抗器の取付作業や交換作業が容易であり、これら部品の安定した取付状態を維持することができる光ピックアップ装置を提供すること。【解決手段】光学ベース２と、光照射器３と、複数の光学系部材と、光ビームを受光する光検出器９と、光照射器３の光量を測定する光量検出器１０と、光量検出器１０の感度調整用可変抵抗器１１と、光学ベース２の延在方向に沿って取付けられている主基板２０とを有する光ピックアップ装置１であり、光量検出器１０と可変抵抗器１１とは副基板１２に取付けられ、光学ベース２は副基板１２を着脱自在に係止するための係止手段であるスリット孔２ａを有し、副基板１２は、主基板２０と光学ベース２との間において、主基板２０から立設するように配置され、且つ、半田付けにより主基板２０に電気的に接続されると共に主基板２０に対して固定されている。【選択図】図２
2008027530.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学ベースと、
前記光学ベースに取付けられ光ビームを照射する光照射器と、
前記光照射器から照射された光ビームを光ディスクに導くと共に、前記光ディスクから反射される光ビームを所定方向に導く複数の光学系部材から構成されている光学系と、
前記光ディスクから反射されて前記光学系によって導かれる光ビームを受光する光検出器と、
前記光照射器の出射光の光量を測定する光量検出器と、
前記光量検出器の感度調整用の可変抵抗器と、
前記光学ベースの延在方向に沿って取付けられている主基板とを有する光ピックアップ装置であって、
前記光ピックアップ装置は前記光量検出器と前記可変抵抗器とを取付けるための副基板を有し、
前記光学ベースは前記副基板を着脱自在に係止するための係止手段を有し、
前記副基板は、前記主基板と前記光学ベースとの間において、前記主基板から立設するように配置され、且つ、半田付けにより前記主基板に電気的に接続されると共に前記主基板に対して固定されていることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記副基板は前記主基板側に位置する第１端部と前記光学ベース側に位置する第２端部を有し、前記第２端部は前記光学ベースの前記係止手段と着脱自在に係止されており、前記副基板は、前記第１端部側が前記主基板によって、また前記第２端部側が前記光学ベースによって、前記主基板と前記光学ベースとの間に挟まれるように配設されていることを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
光学ベースと、
前記光学ベースに取付けられ光ビームを照射する光照射器と、
前記光照射器から照射された光ビームを光ディスクに導くと共に、前記光ディスクから反射される光ビームを所定方向に導く複数の光学系部材から構成されている光学系と、
前記光ディスクから反射されて前記光学系によって導かれる光ビームを受光する光検出器と、
前記光照射器の出射光の光量を測定する光量検出器と、
前記光量検出器の感度調整用の可変抵抗器と、
前記光学ベースの延在方向に沿って取付けられている主基板とを有する光ピックアップ装置であって、
前記光ピックアップ装置は前記光量検出器と前記可変抵抗器とを取付けるための副基板を有し、
前記光学ベースは前記副基板を着脱自在に係止するための係止手段を有し、
前記副基板は、前記主基板の端面に前記副基板の表面が接触するように配置され、前記主基板の延在方向に対して垂直方向に配設されており、且つ、半田付けにより前記主基板に電気的に接続されると共に前記主基板に対して固定されていることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記副基板は前記主基板に対して垂直方向に延在する左右一組の側端部を有し、前記光学ベースの前記係止手段は前記左右一組の側端部をそれぞれスライド可能に支持する左右一組の溝部であり、前記副基板は、前記主基板の端面に接触すると共に前記左右一組の側端部のそれぞれが前記左右一組の溝部のそれぞれに支持されることにより、適正位置に位置決めされることを特徴とする請求項３記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に用いられる光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
周知のように、光ディスク装置に用いられる光ピックアップ装置は、光照射器から出射されたレーザ光を対物レンズによって光ディスクの信号記録面に集光し、その信号記録面からの反射光を光検出器により検出して情報を読み取り、また、光照射器から出射されたレーザ光を対物レンズによって信号記録面に集光し、情報の書き込みを行う装置である。この情報の書き込みにおいて、光照射器から出射される光ビームの光量を測定する光量検出器が使用されている。この光量検出器によって測定された光量値は制御回路にフィードバックされ、光照射器の出射光の光量が常に適正値になるように制御されている。この光量検出器による光量値の制御は、特に、ＤＶＤレコーダーにおいて光ディスクにレーザ光により情報の書き込みを行う際の光照射器の正確な出射光量の制御に必要とされている。
【０００３】
従来の光ピックアップ装置における主要光学部１００を図６に示す。この主要光学部１００は光ディスクに対して移動可能に支持されている金属製の光学ベース（図示せず）に搭載されているフレキシブルプリント基板１２０上に配置された複数の光学部品及び電子部品から構成されている。主要光学部１００は、光照射器（半導体レーザ発光器）１０１と、回折格子１０２と、偏光ビームスプリッタ１０３と、球面収差補正板１０４と、コリメータレンズ１０５と、立上げミラー１０６と、光量検出器１０７と、センサレンズ１１０と、光検出器（フォトダイオード）１１１とを有する。なお、対物レンズ（図示せず）は、立上げミラー１０６の下方に位置する。
【０００４】
この主要光学部１００は、１枚のフレキシブルプリント基板１２０上に各部品が配設されているため、光照射器１０１、光量検出器１０７、及び光検出器１１１を直接フレキシブルプリント基板１２０上に半田付けすることができる。即ち、これら３つの部品を配線するために３枚の独立したフレキシブルプリント基板を必要としないという利点がある。
【０００５】
光量検出器１０７は、フレキシブルプリント基板１２０の端部を立ち上げるように折曲げ、断面コの字型に折返した折返し部１０８に半田付けされている。この折返し部１０８は、光量検出器１０７の背面側に光量検出器１０７の感度調整用の可変抵抗器１０９を配置するために折り返されている。この折返し部１０８は、その折返し形状を維持するために、光量検出器１０７側のフレキシブルプリント基板１２０の裏面１０８ａと可変抵抗器１０９側のフレキシブルプリント基板１２０の裏面１０８ｂとが両面テープ(図示せず)により貼着されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記のような主要光学部１００において、光量検出器１０７が製品の完成検査において所定の性能を有していない場合や、製品の修理のために交換する必要がある場合には、フレキシブルプリント基板１２０の全体を交換しなければならないという問題がある。この場合、正常な部品が無駄に交換されることになり、部品コストの低減を図ることができない。
【０００７】
さらに、折返し部１０８の折返し形状を維持するために使用されている両面テープを貼着する作業に時間がかかり、製造時間の短縮化を図ることができないという問題がある。また、この両面テープの貼着状態が不完全である場合には、時間の経過により両面テープが剥がれてしまい当該折返し形状を維持できないという問題がある。
【０００８】
そこで、本発明は、光量検出器及び当該光量検出器の感度調整用の可変抵抗器の取付作業及び交換作業が容易であり、これら部品の安定した取付状態を維持することができる光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る光ピックアップ装置は、光学ベースと、前記光学ベースに取付けられ光ビームを照射する光照射器と、前記光照射器から照射された光ビームを光ディスクに導くと共に、前記光ディスクから反射される光ビームを所定方向に導く複数の光学系部材から構成されている光学系と、前記光ディスクから反射されて前記光学系によって導かれる光ビームを受光する光検出器と、前記光照射器の出射光の光量を測定する光量検出器と、前記光量検出器の感度調整用の可変抵抗器と、前記光学ベースの延在方向に沿って取付けられている主基板とを有する光ピックアップ装置であって、前記光ピックアップ装置は前記光量検出器と前記可変抵抗器とを取付けるための副基板を有し、前記光学ベースは前記副基板を着脱自在に係止するための係止手段を有し、前記副基板は、前記主基板と前記光学ベースとの間において、前記主基板から立設するように配置され、且つ、半田付けにより前記主基板に電気的に接続されると共に前記主基板に対して固定されていることを特徴とする。
【００１０】
本発明に係る光ピックアップ装置は、前記副基板が前記主基板側に位置する第１端部と前記光学ベース側に位置する第２端部を有し、前記第２端部は前記光学ベースの前記係止手段と着脱自在に係止されており、前記副基板は、前記第１端部側が前記主基板によって、また前記第２端部側が前記光学ベースによって、前記主基板と前記光学ベースとの間に挟まれるように配設されていることが好ましい。
【００１１】
本発明に係る他の光ピックアップ装置は、光学ベースと、前記光学ベースに取付けられ光ビームを照射する光照射器と、前記光照射器から照射された光ビームを光ディスクに導くと共に、前記光ディスクから反射される光ビームを所定方向に導く複数の光学系部材から構成されている光学系と、前記光ディスクから反射されて前記光学系によって導かれる光ビームを受光する光検出器と、前記光照射器の出射光の光量を測定する光量検出器と、前記光量検出器の感度調整用の可変抵抗器と、前記光学ベースの延在方向に沿って取付けられている主基板とを有する光ピックアップ装置であって、前記光ピックアップ装置は前記光量検出器と前記可変抵抗器とを取付けるための副基板を有し、前記光学ベースは前記副基板を着脱自在に係止するための係止手段を有し、前記副基板は、前記主基板の端面に前記副基板の表面が接触するように配置され、前記主基板の延在方向に対して垂直方向に配設されており、且つ、半田付けにより前記主基板に電気的に接続されると共に前記主基板に対して固定されていることを特徴とする。
【００１２】
本発明に係る他の光ピックアップ装置は、前記副基板が前記主基板に対して垂直方向に延在する左右一組の側端部を有し、前記光学ベースの前記係止手段は前記左右一組の側端部をそれぞれスライド可能に支持する左右一組の溝部であり、前記副基板は、前記主基板の端面に接触すると共に前記左右一組の側端部のそれぞれが前記左右一組の溝部のそれぞれに支持されることにより、適正位置に位置決めされることが好ましい。
【発明の効果】
【００１３】
請求項１記載の本発明によれば、光量検出器と可変抵抗器とを取付けるための副基板は、光学ベースに対して着脱自在に係止されており、一方この副基板は主基板に固定されている。光量検出器が製品の完成検査において所定の性能を有していない場合や修理のために交換する必要がある場合には、主基板を光学ベースから取り外すことにより副基板と主基板を取り外し、その後主基板から副基板を取り外すことができる。従って、光量検出器及び可変抵抗器を備えている副基板を容易に取り外して交換することができるため、主基板全体を交換する必要がなく、完成品検査による交換作業や修理作業等における部品コストの低減を図ることができる。また、折返し部を固定するための両面テープ等を用いる必要がないため、光量検出器及び可変抵抗器の安定した取付け状態を維持することができる。
【００１４】
請求項２記載の本発明によれば、副基板は主基板と光学ベースとの間に挟まれるように配設されている。従って、副基板は、主基板が光学ベースに取付けられると、主基板と光学ベースとの間に挟まれるように係止される。この状態において副基板は主基板に対して所定の位置に配置されているため、半田付けする際に副基板の位置がずれることがない。故に、副基板と主基板との半田付け作業を迅速且つ正確に行うことができる。
【００１５】
請求項３記載の本発明によれば、主基板の端面に副基板の表面が接触するように配置され、また副基板が主基板の延在方向に対して垂直方向に配設されている。従って、主基板と光学ベースとの間の距離を副基板の高さ方向の寸法よりも短くすることができ、故に、光ピックアップ装置全体の薄型化を図ることができる。
【００１６】
請求項４記載の本発明によれば、副基板は左右一組の側端部を有し、この側端部が光学ベースの左右一組の溝部のそれぞれに支持されることにより、適正位置に位置決めされる。従って、副基板と主基板の固定作業を容易且つ正確に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、図１ないし図３を参照しつつ本発明の第１実施形態について詳細に説明する。本実施形態の光ピックアップ装置１は、光学ベース２と、光学ベース２に取付けられ光ビームを照射する光照射器（半導体レーザ発光器）３と、光照射器３から照射された光ビームを光ディスク（図示せず）に導くと共に、当該光ディスクから反射される光ビームを所定方向に導く複数の光学系部材である回折格子４、偏光ビームスプリッタ５、コリメータレンズ６、立上げミラー７、対物レンズ（図示せず）、及びセンサレンズ８とから構成されている光学系と、当該光ディスクから反射されて当該光学系によって導かれる光ビームを受光する光検出器９と、光照射器３の出射光の光量を測定する光量検出器１０と、光量検出器１０の感度調整用の可変抵抗器１１と、光学ベース２の延在方向に沿って取付けられている主基板２０とを有する光ピックアップ装置であって、光量検出器１０と可変抵抗器１１とを取付けるための副基板１２を有し、光学ベース２は副基板１２を着脱自在に係止するための係止手段であるスリット孔２ａを有し、副基板１２は、主基板２０と光学ベース２との間において、主基板２０から立設するように配置され、且つ、半田付けにより主基板２０に電気的に接続されると共に主基板２０に対して固定されていることを特徴とする。
【００１８】
図１に示すように、光ピックアップ装置１の光照射器３、光検出器９、及び光ピックアップ装置１の光学系を構成する各光学系部材は、ガラスエポキシ製の主基板２０の表面に直接立設されているものではなく、図１おいて図示されていない光学ベース２の表面に立設するように配設されている。即ち、図１において光学ベース２は主基板２０と各光学系部材との間に配設されているが、この光学ベース２を図面に表示すると各光学系部材間の関連性が不明確になるため図１において光学ベース２が省略されている。
【００１９】
光学ベース２はアルミニウム等の金属製の鋳造部材であり、光ピックアップ装置１を構成する複数の部材が取付けられている。
【００２０】
光ピックアップ装置１の光照射器３は半導体レーザ発光器であり、光学ベース２の表面にホルダ３ａを介して立設されており、また光学ベース２の下方に延在している主基板２０にフレキシブルプリント基板３ｂにより電気的に接続されている。
【００２１】
光ピックアップ装置１の光学系は、光照射器３から照射された光ビームを光ディスク（図示せず）に導くと共に、当該光ディスクから反射される光ビームを所定方向に導くために設けられており、回折格子４、偏光ビームスプリッタ５、コリメータレンズ６、立上げミラー７、対物レンズ（図示せず）、及びセンサレンズ８とから構成されている。これら光学系を構成する各光学系部材は、光学ベース２に形成されている溝状の係合部分に接着又は固定されている。
【００２２】
光照射器３から照射された光ビームが回折格子４により主レーザ光と副レーザ光に分離され、偏光ビームスプリッタ５により反射され、コリメータレンズ６により略平行光にされる。そして略平行光とされたレーザ光は、立上げミラー７の反射面で反射されることにより直角に折り曲げられ（図１において主基板２０の裏面側方向へ折り曲げられる）、１／４波長板（図示せず）で直線偏光から円偏光とされ、対物レンズを介して光ディスクの信号記録面へ集光（照射）される。
【００２３】
光ディスクの信号記録面からの反射光（戻り光）は、対物レンズを再び通過し、１／４波長板で偏光方向が往路の偏光方向に対して９０°曲げられ、立上げミラー７の反射面で反射されることにより直角に折り曲げられ、コリメータレンズ６を通過し、偏光ビームスプリッタ５を透過し、センサレンズ８を通して光検出器９で検出される。
【００２４】
光ディスクから反射されて光学系によって導かれる光ビームを受光する光検出器９はフォトダイオードであり、ホルダ９ａを介して光学ベース２の端面に位置調整可能な状態で固定されており、また光学ベース２の下方に延在している主基板２０にフレキシブルプリント基板９ｂにより電気的に接続されている。
【００２５】
光量検出器１０はフォトダイオードであり、光照射器３から出射される光ビームの光量を測定している。光量検出器１０により測定される光ビームは、光照射器３から出射された光ビームの内、偏光ビームスプリッタ５により反射されず当該偏光ビームスプリッタ５を透過した透過光である。この光量検出器１０は、特に、ＤＶＤレコーダーにおいて光ディスクにレーザ光により情報の書き込みを行う際の光照射器３の正確な出射光量の制御に用いられる。即ち、光量検出器１０により検出された光照射器３の出射光量値が制御回路（図示せず）にフィードバックされることにより光照射器３の出射光の光量が常に適正値になるように制御されている。
【００２６】
光量検出器１０はガラスエポキシ製の副基板１２の表面に取付けられている。この副基板１２の背面には光量検出器１０の感度調整用の２個の可変抵抗器１１、１１が取付けられており、これら可変抵抗器１１、１１はそれぞれ半田付けにより副基板１２に電気的に接続されていると共に固定されている。これら可変抵抗器１１、１１は調整用のドライバにより回転させて感度調整を行うための操作部１１ａをそれぞれ備えている。
【００２７】
図２に示すように、副基板１２は主基板２０から立設するように配置されており、副基板１２の複数の電極１２ｂのそれぞれを主基板２０の複数の電極２０ａのそれぞれに半田付けすることにより、副基板１２は主基板２０に電気的に接続されると共に、主基板２０に対して固定されている。
【００２８】
図２及び図３に示すように、副基板１２は主基板２０側に位置する第１端部（図２及び図３における下端）に上記複数の電極１２ｂを有し、また光学ベース２側に位置する第２端部（図２及び図３における上端）に凸部１２ａが形成されている。この凸部１２ａは光学ベース２の係止手段であるスリット孔２ａに挿脱自在に係止されている。
【００２９】
光学ベース２のスリット孔２ａの内壁面には、副基板１２の挿入方向に延在する３つの突起２ｃが形成されている。この３つの突起２ｃは、光学ベース２のスリット孔２ａに副基板１２の凸部１２ａが挿入された際に、当該凸部１２ａを挟み込むように係止するためのものであり、光学ベース２に対して副基板１２をしっかりと係止することができる。
【００３０】
さらに、副基板１２の凸部１２ａの両側方の２箇所には段部１２ｅが形成されている。この段部１２ｅは、光学ベース２のスリット孔２ａに副基板１２の凸部１２ａが挿入された際に、光学ベース２の裏面に突き当てられ、副基板１２の挿入方向における適正位置の位置決めを容易に行うためのものである。
【００３１】
副基板１２を主基板２０に半田付けする場合には、最初に副基板１２の凸部１２ａを光学ベース２のスリット孔２ａに差し込み、次に主基板２０を光学ベース２に取付けネジ（図示せず）によって取付ける。この状態において副基板１２は主基板２０と光学ベース２との間に挟まれるように係止されている。最後に副基板１２の複数の電極１２ｂのそれぞれを主基板２０の複数の電極２０ａのそれぞれに半田付けし、副基板１２を主基板２０に固定する。
【００３２】
副基板１２を主基板２０から取り外す場合には、最初に主基板２０を光学ベース２に取付けている上記取付けネジを取り外し、次に主基板２０を図２の下方方向へ移動し光学ベース２０から取り外す。主基板２０が光学ベース２から取り外される際に副基板１２の凸部１２ａがスリット孔２ａから離脱し、副基板１２は主基板２０と一体となって取り外される。最後に副基板１２の複数の電極１２ｂと、主基板２０の複数の電極２０ａとの半田を除去し、副基板１２を主基板２０から取り外す。
【００３３】
以下、本実施形態の作用効果について説明する。
本実施形態によれば、光量検出器１０と可変抵抗器１１とを取付けるための副基板１２は、光学ベース２に対して着脱自在に係止されており、一方この副基板１２は主基板２０に固定されている。光量検出器１０が製品の完成検査において所定の性能を有していない場合や修理のために交換する必要がある場合には、主基板２０を光学ベース２から取り外すことにより副基板１２と主基板２０を取り外し、その後主基板２０から副基板１２を取り外すことができる。従って、光量検出器１０及び可変抵抗器１１を備えている副基板１２を容易に取り外して交換することができるため、主基板２０全体を交換する必要がなく、完成品検査による交換作業や修理作業等における部品コストの低減を図ることができる。
【００３４】
さらに、本実施形態によれば、副基板１２は主基板２０と光学ベース２との間に挟まれるように配設されている。従って、副基板１２は、主基板２０が光学ベース２に取付けられると、主基板２０と光学ベースとの間に挟まれるように係止される。この状態において副基板１２は主基板２０に対して所定の位置に配置されているため、半田付けする際に副基板１２の位置がずれることがない。故に、副基板１２と主基板２０との半田付け作業を迅速且つ正確に行うことができる。
【００３５】
以下、図４及び図５を参照しつつ本発明の第２実施形態について詳細に説明する。なお、第２実施形態において、上記第１実施形態における各部材と同一又は類似の機能を有する部材に関しては上記第１実施形態の説明において用いた同一の符号を用いて説明する。
【００３６】
本実施形態における光ピックアップ装置１ａは上記第１実施形態の光ピックアップ装置１と略同様の構成を有しているが、主基板２０の端面２０ｂに副基板１２の表面１２ｃが接触するように配置され、また主基板２０の延在方向に対して垂直方向に配設されている点で上記第１実施形態と異なる。即ち、上記第１実施形態では副基板１２の第１端部が主基板２０の表面に接触した状態で固定されているが、本実施形態においては主基板２０の端面２０ｂが副基板１２の表面に接触した状態で固定されている。
【００３７】
上記第１実施形態においては、副基板１２が主基板２０と光学ベース２との間に挟まれるように配置されているため、副基板１２の高さ方向の寸法（図３において矢印Ａによって示されている寸法）により主基板２０と光学ベース２との間の距離が決定されていた。しかし、本実施形態においては、主基板２０と光学ベース２との間の距離を副基板１２の高さ方向の寸法よりも短くすることができるという特徴がある。従って、光ピックアップ装置全体の薄型化を図ることができる。
【００３８】
上記第1実施形態においては、副基板１２が主基板２０と光学ベース２との間に挟まれるように配置され、且つ、副基板１２の凸部１２ａが光学ベース２のスリット孔２ａに差し込まれているため、副基板１２は、その半田付け作業の際にしっかりと支持されている。一方、本実施形態においては、副基板１２は主基板２０と光学ベース２との間に挟まれるように配置されていない。本実施形態においては、副基板１２はその両側に左右一組の端部１２ｄを有し、また、光学ベース２に左右一組の溝部２ｂが形成されている（図５参照）。そして、図４に示すように、副基板１２の端部１２ｄが光学ベース２の溝部２ｂに係止され、且つ、主基板２０の端面２０ｂが副基板１２の表面１２ｃに接触した状態になると、副基板１２はしっかりと支持された状態になる。この状態において副基板１２は適正位置に支持されているため、副基板１２の複数の電極１２ｂと主基板２０の複数の電極２０ａとの半田付け作業が容易且つ正確に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の第１実施形態に係る光ピックアップ装置１の光学系部材の配置状態を示す部分斜視図である。なお、図面が不明確になるため光学ベース２は省略されている。
【図２】図１に示す光ピックアップ装置１の副基板１２の取付け状態を示す部分斜視図である。
【図３】図１に示す光ピックアップ装置１の副基板１２、光学ベース２、及び主基板２０との配置関係を示す分解斜視図である。
【図４】本発明の第１実施形態に係る光ピックアップ装置１ａの副基板１２の取付け状態を示す部分斜視図である。
【図５】図４に示す光ピックアップ装置１ａの副基板１２、光学ベース２、及び主基板２０との配置関係を示す分解斜視図である。
【図６】従来の光ピックアップ装置における主要光学部１００を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００４０】
１、１ａ  光ピックアップ装置
２  光学ベース
２ａ  スリット孔
２ｂ  溝部
２ｃ  突起
３、１０１  光照射器
３ａ、９ａ  ホルダ
３ｂ、９ｂ、１２０  フレキシブルプリント基板
４、１０２  回折格子
５、１０３  偏光ビームスプリッタ
６  コリメータレンズ
７、１０６  立ち上げミラー
８、１１０  センサレンズ
９、１１１  光検出器
１０、１０７  光量検出器
１１、１０９  可変抵抗器
１１ａ  操作部
１２  副基板
１２ａ  凸部
１２ｂ、２０ａ  電極
１２ｃ  表面
１２ｄ  端部
１２ｅ  段部
２０  主基板
２０ｂ  端面
１００  主要光学部
１０４  球面収差補正板
１０５  コリメータレンズ
１０８  折返し部
１０８ａ、１０８ｂ  裏面
【図１】
2008027530.tif 000003
【図２】
2008027530.tif 000004
【図３】
2008027530.tif 000005
【図４】
2008027530.tif 000006
【図５】
2008027530.tif 000007
【図６】
2008027530.tif 000008