(57)【要約】【課題】通常光ディスク装置においては、光ディスクにデータの記録を行なう際にＯＰＣ処理を実行して最適なレーザパワーを決定する。しかしながら、ピックアップに対してレーザパワーを設定するための設定値と実際に試し書きを行なう際の実行値が、ピックアップの品質等により大きくずれてしまう場合がある。このような場合には、適切なレーザパワーはＯＰＣのサーチ範囲外となってしまう可能性がありＯＰＣを実行しただけでは適切なレーザパワーを決定することができない。【解決手段】光ディスク装置の製造時にオフセット値を検出し、あらかじめ光ディスク装置にオフセット値を記憶させておくことにより、ＯＰＣ処理の際には記憶しているオフセット値をレーザパワーのオフセット値として利用するための光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の駆動方法を提案する。【選択図】図１
2008052783.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
製造対象となる光ディスク装置の光ディスクドライブのレーザをＯＰＣ（オプティマム・パワー制御）のデフォルトのサーチ範囲を超えたパワー範囲で出力し、レーザパワー値に対応したエラーレートを取得するエラーレート取得ステップと、
取得したエラーレートが略所定のエラースレッシュ値となる二つのレーザパワー値の略中間値を最適レーザパワー値として取得する最適レーザパワー値取得ステップと、
取得した最適レーザパワー値とデフォルトレーザパワー値との差をパワーオフセット値として当該光ディスク装置に利用可能に記憶させる記憶ステップと、
を有する光ディスク装置の製造方法。
【請求項２】
前記記憶ステップは、パワーオフセット値を記憶させることに代えて、最適レーザパワー値を当該光ディスク装置に利用可能に記憶させるステップである請求項１に記載の光ディスク装置の製造方法。
【請求項３】
取得したエラーレートが全てエラースレッシュ値以下である場合には、前記最適レーザパワー値取得ステップに代えて、デフォルトレーザパワー値を最適レーザパワー値として取得するデフォルトレーザパワー値取得ステップ
を有する請求項１又は２に記載の光ディスク装置の製造方法。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置の製造方法にて製造された光ディスク装置の駆動方法であって、
記憶しているパワーオフセット値を読み出すパワーオフセット値読出ステップと、
読み出されたパワーオフセット値分ＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲をオフセットしてＯＰＣ処理を実行する第一ＯＰＣ処理実行ステップと、
を有する光ディスク装置の駆動方法。
【請求項５】
請求項２に記載の光ディスク装置の製造方法にて製造された光ディスク装置の駆動方法であって、
記憶している最適レーザパワー値を読み出す最適レーザパワー値読出ステップと、
読み出された最適レーザパワー値を中心としたサーチ範囲にてＯＰＣ処理を実行する第二ＯＰＣ処理実行ステップと、
を有する光ディスク装置の駆動方法。
【請求項６】
相関係数が所定の閾値以下か判断する第一判断ステップと、
第一ＯＰＣ処理実行ステップにて記録レーザパワーを算出するために用いられるレーザパワーとアシンメトリー値の関係を示す一次関数によってアシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワーが第一ＯＰＣ処理実行ステップにて出力されたレーザパワーの範囲外であるかを判断する第二判断ステップと、
第一判断ステップの判断結果が所定の閾値以下か、又は第二判断ステップの判断結果が前記範囲外との判断結果である場合には、前記ＯＰＣ処理の実行対象となった光ディスクから記録レーザパワー推奨値を読み出す記録レーザパワー推奨値読出ステップと、
読み出された記録レーザパワー推奨値に対して、パワーオフセット値読出ステップにて読み出されたパワーオフセット値分のオフセットをした値を記録レーザパワーとする記録レーザパワー決定ステップと、
を有する請求項４に記載の光ディスク装置の駆動方法。
【請求項７】
製造対象となる光ディスク装置の光ディスクドライブのレーザをＯＰＣ（オプティマム・パワー制御）のデフォルトのサーチ範囲を超えたパワー範囲で出力し、レーザパワー値に対応したエラーレートを取得するエラーレート取得部と、
取得したエラーレートが略所定のエラースレッシュ値となる二つのレーザパワー値の略中間値を最適レーザパワー値として取得する最適レーザパワー値取得部と、
取得した最適レーザパワー値とデフォルトレーザパワー値との差をパワーオフセット値として当該光ディスク装置に利用可能に記憶させる記憶部と、
を有する光ディスク装置の製造装置。
【請求項８】
前記記憶部は、パワーオフセット値を記憶させることに代えて、最適レーザパワー値を当該光ディスク装置に利用可能に記憶させる請求項７に記載の光ディスク装置の製造装置。
【請求項９】
取得したエラーレートが全てエラースレッシュ値以下である場合には、前記最適レーザパワー値取得部は、デフォルトレーザパワー値を最適レーザパワー値として取得する請求項７又は８に記載の光ディスク装置の製造装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の光ディスク装置の製造方法にて製造された光ディスク装置であって、
記憶しているパワーオフセット値を読み出すパワーオフセット値読出部と、
読み出されたパワーオフセット値分ＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲をオフセットしてＯＰＣ処理を実行する第一ＯＰＣ処理実行部と、
を有する光ディスク装置。
【請求項１１】
請求項２に記載の光ディスク装置の製造方法にて製造された光ディスク装置であって、
記憶している最適レーザパワー値を読み出す最適レーザパワー値読出部と、
読み出された最適レーザパワー値を中心としたサーチ範囲にてＯＰＣ処理を実行する第二ＯＰＣ処理実行部と、
を有する光ディスク装置。
【請求項１２】
相関係数が所定の閾値以下か判断する第一判断部と、
第一ＯＰＣ処理実行部にて記録レーザパワーを算出するために用いられるレーザパワーとアシンメトリー値の関係を示す一次関数によってアシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワーが第一ＯＰＣ処理実行部にて出力されたレーザパワーの範囲外であるかを判断する第二判断部と、
第一判断部の判断結果が所定の閾値以下か、又は第二判断部の判断結果が前記範囲外との判断結果である場合には、前記ＯＰＣ処理の実行対象となった光ディスクから記録レーザパワー推奨値を読み出す記録レーザパワー推奨値読出部と、
読み出された記録レーザパワー推奨値に対して、パワーオフセット値読出部にて読み出されたパワーオフセット値分のオフセットをした値を記録レーザパワーとする記録レーザパワー決定部と、
を有する請求項１０に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
光ディスク装置ごとに異なるピックアップの品質差を、光ディスク装置の製造時に補完する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤレコーダ等の光ディスク装置では、通常データを書き込む際には記録用レーザのパワーを適切なパワーに設定するために、ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）によって試し書きを行なう。例えば、特許文献１においては、記録用光ビームを所定のテストパワーに制御して試し書きを行ない、試し書きデータにて検出されたエラーレートに基づいて本番用の記録パワーを決定するための発明が開示されている。
【特許文献１】特開２００２−４２３４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、ピックアップに対してレーザパワーを設定するための設定値と実際に試し書きを行なう際の実行値が、ピックアップの品質等により大きくずれてしまう場合がある。例えば、図２０に示すように、試し書きにおけるレーザパワーの設定値として値ａから値ｂの範囲がピックアップに対して命令されたにも関わらず、実際に試し書きを行なう際の実行値が値ａ’から値ｂ’の範囲となってしまうような場合である。設定値と実行値にズレがなければ、レーザパワーとエラーレートの関係は図２０のようなグラフとなるので、エラーレートが最小になると考えられる値ｘを最適なレーザパワーとして決定すればよい。しかしながら、設定値と実行値に大きなズレがある場合には、設定値のレーザパワーとエラーレートの関係は実際の関係とはかけ離れたものになってしまうため、この設定値と実行値のズレ（オフセット値）を考慮する必要がある。例えば、ズレ量が１〜２ｍＷ程度であればＯＰＣにおけるサーチ範囲内で適切なレーザパワーが決定できるが、図２０のようにズレ量が大きくなると適切なレーザパワーはＯＰＣのサーチ範囲外となってしまう可能性がありＯＰＣを実行しただけでは本当に適切なレーザパワーを決定することができなくなってしまう。また、このようなズレ量は、光ディスク装置ごとに固体差がある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
そこで、本発明においては、光ディスク装置の製造時に上述のようなオフセット値を検出し、あらかじめ光ディスク装置にオフセット値を記憶させておくことにより、ＯＰＣ処理の際には記憶しているオフセット値をレーザパワーのオフセット値として利用するための光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の駆動方法を提案する。具体的には、第一の発明は、製造対象となる光ディスク装置の光ディスクドライブのレーザをＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲を超えたパワー範囲で出力し、レーザパワー値に対応したエラーレートを取得し、取得したエラーレートが略所定のエラースレッシュ値となる二つのレーザパワー値の略中間値を最適レーザパワー値として取得し、取得した最適レーザパワー値とデフォルトレーザパワー値との差をパワーオフセット値として当該光ディスク装置に利用可能に記憶させることを特徴とする光ディスク装置の製造方法である。第二の発明は、パワーオフセット値の代わりに最適レーザパワー値を光ディスク装置に記憶させることを特徴とする光ディスク装置の製造方法である。第三の発明は、第一の発明又は第二の発明において、取得したエラーレートが全てエラースレッシュ値以下である場合には、最適レーザパワー値に代えて、デフォルトレーザパワー値を最適レーザパワー値として取得することを特徴とする光ディスク装置の製造方法である。第四の発明は、第一の発明によって製造された光ディスク装置の駆動方法であって、記憶しているパワーオフセット値を読み出し、読み出されたパワーオフセット値分ＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲をオフセットしてＯＰＣ処理を実行することを特徴とする光ディスク装置の駆動方法である。第五の発明は、第二の発明によって製造された光ディスク装置の駆動方法であって、記憶している最適レーザパワー値を読み出し、読み出された最適レーザパワー値を中心としたサーチ範囲にてＯＰＣ処理を実行することを特徴とする光ディスク装置の駆動方法である。第六の発明は、相関係数が所定の閾値以下であるかの第一の判断を行ない、また、ＯＰＣ処理実行において記録レーザパワーを算出するために用いられるレーザパワーとアシンメトリー値の関係を示す一次関数によってアシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワーがＯＰＣ処理実行時に出力されたレーザパワーの範囲外であるかの第二の判断を行ない、第一の判断の判断結果が所定の閾値以下であるか、又は第二の判断の判断結果が前記範囲外との判断結果である場合には、前記ＯＰＣ処理の実行対象となった光ディスクから記録レーザパワー推奨値を読み出し、読み出された記録レーザパワー推奨値に対してパワーオフセット値分のオフセットをした値を記録レーザパワーとすることを特徴とする光ディスク装置の駆動方法である。第七の発明は、第一の発明における製造方法にて光ディスク装置を製造する光ディスク装置の製造装置である。第八の発明は、第二の発明における製造方法にて光ディスク装置を製造する光ディスク装置の製造装置である。第九の発明は、第三の発明における製造方法にて光ディスク装置を製造する光ディスク装置の製造装置である。第十の発明は、第四の発明における駆動方法にて駆動する光ディスク装置である。第十一の発明は、第五の発明における駆動方法にて駆動する光ディスク装置である。第十二の発明は、第六の発明における駆動方法にて駆動する光ディスク装置である。
【発明の効果】
【０００５】
本発明における光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の駆動方法によれば、ピックアップの品質等によりレーザパワーの設定値と実行値が大きくずれてしまうような場合であっても、そのオフセット値を検出し、ＯＰＣの際に検出したオフセット値を考慮してレーザパワーの調整を行なうことができる。また、パワーマージンの狭いピックアップや実行値にばらつきが大きい不安定で低品質であるが安価であるピックアップを使用することが可能となる。また、ドライブ対ピックアップの歩留まりを改善し、製造コストの低減に寄与する。さらに、粗悪な光ディスクに対する記録信頼性の向上にも寄与する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
本発明を実施するための最良の形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、本発明はこれら実施の形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施しうる。実施形態１は、主に請求項１、７などについて説明する。実施形態２は、主に請求項２、８などについて説明する。実施形態３は、主に請求項３、９などについて説明する。実施形態４は、主に請求項４、１０などについて説明する。実施形態５は、主に請求項５、１１などについて説明する。実施形態６は、主に請求項６、１２などについて説明する。
（実施形態１）
【０００７】
（実施形態１：概要）本実施形態は、光ディスク装置の製造時にレーザパワーの設定値と実行値との間のオフセット値を検出し、あらかじめ光ディスク装置にオフセット値を記憶させておくことが可能な光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の製造装置について説明する。
【０００８】
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法及び製造装置の概念を示す一例図である。通常、光ディスク装置において光ディスクにデータを記録する場合、信号処理機構（０１０４）にてデータが記録するための信号に変換され、光ピックアップ（０１０１）からアクチュエータ（０１０２）を通してレーザ光が出力されて光ディスク（０１０３）に記憶される。この際、レーザ出力制御機構（０１０５）によってレーザパワーが制御される。また、光ディスクからデータを読み出す場合には、光ピックアップ（０１０１）からアクチュエータ（０１０２）を通して出力されたレーザ光は、光ディスク（０１０３）で反射され、光ピックアップ（０１０１）に戻り、光ピックアップ内の光ディテクタによって取り込まれる。光ディテクタによって取り込まれた光は、信号処理機構（０１０４）によって処理される。本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法及び製造装置は、光ディスク（０１０３）に対して複数のレーザパワーにて複数回試し書きを行なった後、光ディスク（０１０３）から信号処理機構（０１０４）を介してデータを読み出す。読み出したデータからエラーレート取得部（０１０６）によって各レーザパワーに対応したエラーレートを取得し、最適レーザパワー値取得部（０１０７）によって取得したエラーレートに基づいて最適なレーザパワーを取得する。取得した最適レーザパワー値とデフォルトレーザパワー値（０１０８）との差をパワーオフセット値として記憶部（０１０９）によって光ディスク装置の所定の記憶領域（０１１０）に記憶させる。以後、光ディスク装置はＯＰＣ処理を行なう際に、所定の記憶領域（０１１０）に記憶されているパワーオフセット値を読み出して利用することができる。
【０００９】
（実施形態１：光ディスク装置の製造方法）
【００１０】
図２は、本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法は、「エラーレート取得ステップ」（Ｓ０２０１）と、「最適レーザパワー値取得ステップ」（Ｓ０２０２）と、「記憶ステップ」（Ｓ０２０３）と、を有する。
【００１１】
「エラーレート取得ステップ」（Ｓ０２０１）は、製造対象となる光ディスク装置の光ディスクドライブのレーザをＯＰＣ（オプティマム・パワー制御）のデフォルトのサーチ範囲を超えたパワー範囲で出力し、レーザパワー値に対応したエラーレートを取得するステップである。「デフォルトのサーチ範囲を超えたパワー範囲」とは、例えば図３に示すように、通常ＯＰＣを実行する際のレーザパワーが値ａから値ｂの範囲（０３０１）であるとすると、より広い範囲である値ｐから値ｑの範囲（０３０２）において出力するということである。また、「レーザパワー値に対応したエラーレートを取得する」とは、範囲０３０２において複数の異なるレーザパワー値によって光ディスクに実際に試し書きを行ない、さらに試し書きされたデータを読み出すことによってエラーレートを取得することを意味する。その結果、例えば図４に示すようにレーザパワー値に対応したエラーレートを取得することができる。図４は、「装置Ｎｏ．」で示される各光ディスク装置ごとに取得されたエラーレートを示している。空欄は測定エラーによりエラーレートが取得できなかった箇所である。また、図４の場合、試し書きは１１．０〜１７．０ｍＷの範囲にて０．５ｍＷごとに行なわれたことを示している。エラーレート取得ステップでは、図４のようなエラーレートのデータがＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域に格納されることとなる。
【００１２】
「最適レーザパワー値取得ステップ」（Ｓ０２０２）は、取得したエラーレートが略所定のエラースレッシュ値となる二つのレーザパワー値の略中間値を最適レーザパワー値として取得するステップである。「略所定のエラースレッシュ値となる二つのレーザパワー値の略中間値」とは、例えばエラースレッシュ値が‘２５’であったとすると、２５前後である二つのレーザパワー値のほぼ中間値であることを意味する。図４における装置Ｎｏ．３３５を例にとって説明すると、「略所定のエラースレッシュ値となる二つのレーザパワー値」とは、レーザパワーが１１．５ｍＷと１４．０ｍＷ（エラーレート‘２６’）が該当する。また、「略所定のエラースレッシュ値」とは、エラースレッシュ値以下（又は未満）である場合を意味していてもよい。その場合の「二つのレーザパワー値」とは、１２．０ｍＷと１３．５ｍＷ（エラーレート‘１０’と‘１１’）が該当する。また、この場合の「略中間値」とは、１２．５ｍＷ又は１３．０ｍＷが該当する。つまり、計算上では１１．５ｍＷと１４．０ｍＷ（又は１２．０ｍＷと１３．５ｍＷ）の中間は、１２．７５ｍＷになるわけであるが、図４の例のように０．５ｍＷ間隔で試し書きを行なっている場合には、１２．５ｍＷもしくは１３．０ｍＷの値しか取り得ないためいずれかの値に決定されるわけであり、このような値を含めて「略中間値」という。また、１２．５ｍＷ又は１３．０ｍＷのいずれを最適レーザパワー値として決定するかは、例えばよりエラーレートが低い方を最適レーザパワー値として決定する等となっている場合が想定される。つまり、装置Ｎｏ．３３５の例であれば１３．０ｍＷを最適レーザパワー値として決定することとなる。なお、図４において網掛けの数値は、各光ディスク装置において最適レーザパワー値として決定された値を示している。最適レーザパワー値取得ステップでは、このように決定された最適レーザパワー値がＲＡＭ等の所定の記憶領域に格納されることとなる。
【００１３】
「記憶ステップ」（Ｓ０２０３）は、取得した最適レーザパワー値とデフォルトレーザパワー値との差をパワーオフセット値として当該光ディスク装置に利用可能に記憶させるステップである。「取得した最適レーザパワー値」とは、最適レーザパワー値取得ステップ（Ｓ０２０２）にて取得した最適レーザパワー値である。また、「デフォルトレーザパワー値」とは、あらかじめ決められている値であり、光ディスク装置の製造装置又は光ディスク装置内の所定の記憶領域に格納されていることが想定される。また、この値は、例えば光ディスク装置の設計段階においてレーザパワーの出力が理想的（オフセットが無い）な光ディスク装置を用意しておき、光ディスクに対してデータの書き込みと読み出しを行ない、読み出し時にエラーレートが最低となったレーザパワーをデフォルトレーザパワー値として決定しておく場合等が想定される。「当該光ディスク装置」とは、製造対象となる光ディスク装置を指す。「当該光ディスク装置に利用可能に記憶させる」とは、光ディスク装置から読み出すことが可能な記憶領域に格納しておく場合等が該当する。主には、光ディスク装置内のＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域に格納する場合が想定される。
【００１４】
図５は、記憶ステップにおける処理の具体例を示す。まず、光ディスク装置の製造装置又は光ディスク装置内の所定の記憶領域（０５０１）に格納されているデフォルトレーザパワー値と、最適レーザパワー値取得ステップにてＲＡＭ等の所定の記憶領域（０５０２）に格納された最適レーザパワー値を読み出す。その結果、各々の値が‘１４．０ｍＷ’と‘１３．０ｍＷ’であったとすると、この場合のパワーオフセット値は‘−１．０ｍＷ’（０５０３）と算出される。算出された値は、光ディスク装置のＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域に格納される。
【００１５】
なお、図２のフロー図は、計算機に実行させるプログラムの処理フロー図とみなすことも可能である。さらに、このようなプログラムをフレキシブルディスク等の媒体に記録することも可能である。（明細書の全体を通じて同様である。）
【００１６】
（実施形態１：光ディスク装置の製造装置）
【００１７】
図６は、本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置の機能ブロックを示す図である。製造装置（０６００）は、「エラーレート取得部」（０６０１）と、「最適レーザパワー値取得部」（０６０２）と、「記憶部」（０６０３）と、を有する。
【００１８】
なお、以下に詳述する本発明の構成要素である各部は、ハードウェア、ソフトウェア、ハードウェアとソフトウェアの両方のいずれかによって構成される。例えば、図２１は一般的なコンピュータの構成を例示する図でありコンピュータが主にＣＰＵ（２１１０）、入出力インタフェース（Ｉ／Ｏ）（２１２０）、ハードディスク（ＨＤＤ）（２１３０）、ＲＡＭ（２１４０）、ＲＯＭ（２１５０）等から構成されることを示しているが、本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置は、図２１と同様の構成にて実現可能である。
【００１９】
「エラーレート取得部」（０６０１）は、製造対象となる光ディスク装置の光ディスクドライブのレーザをＯＰＣ（オプティマム・パワー制御）のデフォルトのサーチ範囲を超えたパワー範囲で出力し、レーザパワー値に対応したエラーレートを取得する機能を有する。すなわち、エラーレート取得部は、前述したエラーレート取得ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００２０】
「最適レーザパワー値取得部」（０６０２）は、取得したエラーレートが略所定のエラースレッシュ値となる二つのレーザパワー値の略中間値を最適レーザパワー値として取得する機能を有する。すなわち、最適レーザパワー値取得部は、前述した最適レーザパワー値取得ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００２１】
「記憶部」（０６０３）は、取得した最適レーザパワー値とデフォルトレーザパワー値との差をパワーオフセット値として当該光ディスク装置に利用可能に記憶させる機能を有する。すなわち、記憶部は、前述した記憶ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００２２】
（実施形態１：効果）本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の製造装置は、実際に光ディスク装置から出力されている記録用レーザの最適レーザパワー値がデフォルト値とどれだけずれているかを検出し、検出した値をパワーオフセット値として光ディスク装置が利用可能に記憶させることができる。よって、製造された光ディスク装置は、データ記録時には記憶されたパワーオフセット値を利用してより適切なＯＰＣ処理を実行することが可能となる。
（実施形態２）
【００２３】
（実施形態２：概要）本実施形態は、記憶ステップにおいて、パワーオフセット値を記憶させることに代えて、最適レーザパワー値を当該光ディスク装置に利用可能に記憶させることを特徴とする光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の製造装置について説明する。
【００２４】
（実施形態２：光ディスク装置の製造方法）
【００２５】
本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法の処理フローは、実施形態１に係る光ディスク装置の製造方法の処理フローと同様である。すなわち、本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法も、図２に示すように、「エラーレート取得ステップ」（Ｓ０２０１）と、「最適レーザパワー値取得ステップ」（Ｓ０２０２）と、「記憶ステップ」（Ｓ０２０３）と、を有する。ただし、記憶ステップ（Ｓ０２０３）において、パワーオフセット値を記憶させることに代えて、最適レーザパワー値を当該光ディスク装置に利用可能に記憶させることを特徴とする。すなわち、図５にて説明したように最適レーザパワー値とデフォルトレーザパワー値との差をとらずに、最適レーザパワー値取得ステップ（Ｓ０２０２）にて取得された最適レーザパワー値自体を光ディスク装置内のＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域などに格納する。
【００２６】
（実施形態２：光ディスク装置の製造装置）
【００２７】
本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置の機能ブロックは、実施形態１に係る光ディスク装置の製造装置の機能ブロックと同様である。すなわち、本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置も、図６に示すように、「エラーレート取得部」（０６０１）と、「最適レーザパワー値取得部」（０６０２）と、「記憶部」（０６０３）と、を有する。ただし、記憶部（０６０３）において、パワーオフセット値を記憶させることに代えて、最適レーザパワー値を当該光ディスク装置に利用可能に記憶させることを特徴とする。すなわち、図５にて説明したように最適レーザパワー値とデフォルトレーザパワー値との差をとらずに、最適レーザパワー値取得部（０６０２）にて取得された最適レーザパワー値自体を光ディスク装置内のＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域などに格納する。
【００２８】
（実施形態２：効果）本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の製造装置は、パワーオフセット値を記憶させることに代えて、最適レーザパワー値を当該光ディスク装置に利用可能に記憶させる。よって、パワーオフセット値を算出する処理を省きつつ、光ディスク装置に対してはより適切なＯＰＣ処理を実行することができるという効果をもたらすことができる。
（実施形態３）
【００２９】
（実施形態３：概要）本実施形態は、取得したエラーレートが全てエラースレッシュ値以下である場合には、最適レーザパワー値に代えて、デフォルトレーザパワー値を最適レーザパワー値として取得することを特徴とする光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の製造装置について説明する。
【００３０】
（実施形態３：光ディスク装置の製造方法）
【００３１】
図７は、本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る光ディスク装置の製造方法は、「エラーレート取得ステップ」（Ｓ０７０１）と、「デフォルトレーザパワー値取得ステップ」（Ｓ０７０３）と、「最適レーザパワー値取得ステップ」（Ｓ０７０４）と、「記憶ステップ」（Ｓ０７０５）と、を有する。また、ステップＳ０７０２において、エラーレート取得ステップ（Ｓ０７０１）において取得したエラーレートが全てエラースレッシュ値以下であるか判断する。ここでの判断結果が全てエラースレッシュ値以下であるとの判断であった場合には、デフォルトレーザパワー値取得ステップ（Ｓ０７０３）に移行し、ここでの判断結果が全てエラースレッシュ値以下ではないとの判断であった場合には、最適レーザパワー値取得ステップ（Ｓ０７０４）に移行する。なお、「デフォルトレーザパワー値取得ステップ」（Ｓ０７０３）以外のステップについては、実施形態１又は２におけるステップと同様であるので、ここでの説明は省略する。
【００３２】
「デフォルトレーザパワー値取得ステップ」（Ｓ０７０３）は、取得したエラーレートが全てエラースレッシュ値以下である場合には、前記最適レーザパワー値取得ステップ（Ｓ０７０４）に代えて、デフォルトレーザパワー値を最適レーザパワー値として取得するステップである。例えば図４において、エラースレッシュ値が‘２５’であり、デフォルトレーザパワー値が‘１４．０ｍＷ’であったとすると、取得したエラーレートが全てエラースレッシュ値以下である場合としては装置Ｎｏ．４８４の場合が該当する。このような場合には、デフォルトレーザパワー値である１４．０ｍＷを最適レーザパワー値として取得する。また、取得された最適レーザパワー値は、記憶ステップ（Ｓ０７０５）において当該光ディスク装置に利用可能に記憶されるようになっていてもよいし、すでに記憶されているデフォルトレーザパワー値をそのまま利用してもよい。
【００３３】
（実施形態３：光ディスク装置の製造装置）
【００３４】
本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置の機能ブロックは、実施形態１又は２に係る光ディスク装置の製造装置の機能ブロックと同様である。すなわち、本実施形態に係る光ディスク装置の製造装置も、図６に示すように、「エラーレート取得部」（０６０１）と、「最適レーザパワー値取得部」（０６０２）と、「記憶部」（０６０３）と、を有する。ただし、取得したエラーレートが全てエラースレッシュ値以下である場合には、前記最適レーザパワー値取得部（０６０２）は、デフォルトレーザパワー値を最適レーザパワー値として取得することを特徴とする。この処理は、前述したデフォルトレーザパワー値取得ステップにおける処理と同様の処理であるので、ここでの説明は省略する。
【００３５】
（実施形態３：効果）実施形態に係る光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の製造装置は、取得したエラーレートが全てエラースレッシュ以下である場合、すなわち、オフセットが微小であると思われ、実際のＯＰＣ処理が適当なレーザパワーの範囲にて行なわれると判断される場合には、最適レーザパワー値を算出することなくデフォルトレーザパワー値を最適レーザパワー値として取得する。よって、最適レーザパワー値を決定するための処理が軽減されるという効果がある。
（実施形態４）
【００３６】
（実施形態４：概要）本実施形態は、実施形態１に係る光ディスク装置の製造方法によって製造された光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置であって、記憶しているパワーオフセット値を読み出し、読み出されたパワーオフセット値分ＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲をオフセットしてＯＰＣ処理を実行することを特徴とする光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置について説明する。
【００３７】
図８は、本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置の概念を示す一例図である。通常、光ディスク装置において光ディスクにデータを記録する場合、信号処理機構（０８０４）にてデータが記録するための信号に変換され、光ピックアップ（０８０１）からアクチュエータ（０８０２）を通してレーザ光が出力されて光ディスク（０８０３）に記憶される。この際、レーザ出力制御機構（０８０５）によってレーザパワーが制御される。また、光ディスクからデータを読み出す場合には、光ピックアップ（０８０１）からアクチュエータ（０８０２）を通して出力されたレーザ光は、光ディスク（０８０３）で反射され、光ピックアップ（０８０１）に戻り、光ピックアップ内の光ディテクタによって取り込まれる。光ディテクタによって取り込まれた光は、信号処理機構（０８０４）によって処理される。本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置は、ＯＰＣ処理を実行する際には、実施形態１に係る光ディスク装置の製造方法によって所定の記憶領域に記憶されたパワーオフセット値（０８０７）を、パワーオフセット値読出部（０８０６）によって読み出し、第一ＯＰＣ処理実行部（０８０８）にてＯＰＣ処理を実行する際にパワーオフセット値分ＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲をオフセットしてＯＰＣ処理を実行する。このようにしてＯＰＣ処理を実行することにより、最適なレーザパワー範囲にてＯＰＣ処理を実行することが可能となる。
【００３８】
（実施形態４：光ディスク装置の駆動方法）
【００３９】
図９は、本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法は、「パワーオフセット値読出ステップ」（Ｓ０９０１）と、「第一ＯＰＣ処理実行ステップ」（Ｓ０９０２）と、を有する。
【００４０】
「パワーオフセット値読出ステップ」（Ｓ０９０１）は、記憶しているパワーオフセット値を読み出すステップである。「記憶しているパワーオフセット値」とは、実施形態１に係る光ディスク装置の製造方法によって、光ディスク装置内のＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域に格納されているパワーオフセット値を指す。すなわち、パワーオフセット値読出ステップは、ＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域に格納されているパワーオフセット値を読み出し、メインメモリへ格納する処理等を実行する。
【００４１】
「第一ＯＰＣ処理実行ステップ」（Ｓ０９０２）は、読み出されたパワーオフセット値分ＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲をオフセットしてＯＰＣ処理を実行するステップである。「読み出されたパワーオフセット値」とは、パワーオフセット値読出ステップ（Ｓ０９０１）において読み出されたパワーオフセット値を指す。「デフォルトのサーチ範囲」とは、光ディスク装置がＯＰＣを行なう際に、通常レーザパワーを振る範囲であって、光ディスク装置のＦＲＯＭ等の所定の記憶領域に格納されていることが想定される。
【００４２】
図１０は、第一ＯＰＣ処理実行ステップにおける処理の具体例を示す。まず、光ディスク装置のＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域（１００１）に格納されているパワーオフセット値と、光ディスク装置のＦＲＯＭ等の所定の記憶領域（１００２）に格納されているデフォルトサーチ範囲を読み出す。その結果、各々の値が‘−１．０ｍＷ’と‘１２．５〜１５．５ｍＷ’であったとすると、ＯＰＣ処理範囲としては‘１１．５〜１４．５ｍＷ’（１００３）と算出される。算出された値は、光ディスク装置のＲＡＭ等の所定の記憶領域に格納され、ＯＰＣ処理を実行する際にはＲＡＭ等から読み出されて‘１１．５〜１４．５ｍＷ’のレーザパワー範囲にてＯＰＣ処理が実行されることとなる。
【００４３】
（実施形態４：光ディスク装置）
【００４４】
図１１は、本実施形態に係る光ディスク装置の機能ブロックを示す図である。光ディスク装置（１１００）は、「パワーオフセット値読出部」（１１０１）と、「第一ＯＰＣ処理実行部」（１１０２）と、を有する。
【００４５】
なお、以下に詳述する本発明の構成要素である各部は、ハードウェア、ソフトウェア、ハードウェアとソフトウェアの両方のいずれかによって構成される。例えば、図２１は一般的なコンピュータの構成を例示する図でありコンピュータが主にＣＰＵ（２１１０）、入出力インタフェース（Ｉ／Ｏ）（２１２０）、ハードディスク（ＨＤＤ）（２１３０）、ＲＡＭ（２１４０）、ＲＯＭ（２１５０）等から構成されることを示しているが、本実施形態に係る光ディスク装置は、図２１と同様の構成にて実現可能である。
【００４６】
「パワーオフセット値読出部」（１１０１）は、記憶しているパワーオフセット値を読み出す機能を有する。すなわち、パワーオフセット値読出部は、前述したパワーオフセット値読出ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００４７】
「第一ＯＰＣ処理実行部」（１１０２）は、読み出されたパワーオフセット値分ＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲をオフセットしてＯＰＣ処理を実行する機能を有する。すなわち、第一ＯＰＣ処理実行部は、前述した第一ＯＰＣ処理実行ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００４８】
（実施形態４：効果）本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置は、ＯＰＣ処理を実行する際に記憶されているパワーオフセット値を読み出して、パワーオフセット値分ＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲をオフセットしてＯＰＣ処理を実行するので、より適切なレーザパワー範囲でＯＰＣ処理を実行することができる。
（実施形態５）
【００４９】
（実施形態５：概要）本実施形態は、実施形態２に係る光ディスク装置の製造方法によって製造された光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置であって、記憶している最適レーザパワー値を読み出し、読み出された最適レーザパワー値を中心としたサーチ範囲にてＯＰＣ処理を実行することを特徴とする光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置について説明する。
【００５０】
（実施形態５：光ディスク装置の駆動方法）
【００５１】
図１２は、本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法は、「最適レーザパワー値読出ステップ」（Ｓ１２０１）と、「第二ＯＰＣ処理実行ステップ」（Ｓ１２０２）と、を有する。
【００５２】
「最適レーザパワー値読出ステップ」（Ｓ１２０１）は、記憶している最適レーザパワー値を読み出すステップである。「記憶している最適レーザパワー値」とは、実施形態２に係る光ディスク装置の製造方法によって、パワーオフセット値に代えて、光ディスク装置内のＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域に格納されている最適レーザパワー値を指す。すなわち、最適レーザパワー値読出ステップは、ＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域に格納されている最適レーザパワー値読出を読み出し、メインメモリへ格納する処理等を実行する。
【００５３】
「第二ＯＰＣ処理実行ステップ」（Ｓ１２０２）は、読み出された最適レーザパワー値を中心としたサーチ範囲にてＯＰＣ処理を実行するステップである。「読み出された最適レーザパワー値」とは、最適レーザパワー値読出ステップ（Ｓ１２０１）において読み出された最適レーザパワー値を指す。「最適レーザパワー値を中心としたサーチ範囲」とは、例えば最適レーザパワー値が‘１３．０ｍＷ’であれば、光ディスク装置がＯＰＣを行なう際にレーザパワーを振る範囲の中心が１３．０ｍＷとなるように決定したサーチ範囲である。
【００５４】
図１３は、第二ＯＰＣ処理実行ステップにおける処理の具体例を示す。まず、光ディスク装置のＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域（１３０１）に格納されている最適レーザパワー値と、光ディスク装置のＥＥＰＲＯＭ等の所定の記憶領域（１３０２）に格納されているＯＰＣデフォルトサーチ範囲を読み出す。その結果、各々の値が‘１３．０ｍＷ’と‘幅３．０ｍＷ’であったとすると、ＯＰＣ処理範囲としては１３．０ｍＷを中心として上下１．５ｍＷの範囲となる‘１１．５〜１４．５ｍＷ’（１３０３）と算出される。算出された値は、光ディスク装置のＲＡＭ等の所定の記憶領域に格納され、ＯＰＣ処理を実行する際にはＲＡＭ等から読み出されて‘１１．５〜１４．５ｍＷ’のレーザパワー範囲にてＯＰＣ処理が実行されることとなる。
【００５５】
（実施形態５：光ディスク装置）
【００５６】
図１４は、本実施形態に係る光ディスク装置の機能ブロックを示す図である。光ディスク装置（１４００）は、「最適レーザパワー値読出部」（１４０１）と、「第二ＯＰＣ処理実行部」（１４０２）と、を有する。
【００５７】
「最適レーザパワー値読出部」（１４０１）は、記憶している最適レーザパワー値を読み出す機能を有する。すなわち、最適レーザパワー値読出部は、前述した最適レーザパワー値読出ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００５８】
「第二ＯＰＣ処理実行部」（１４０２）は、読み出された最適レーザパワー値を中心としたサーチ範囲にてＯＰＣ処理を実行する機能を有する。すなわち、第二ＯＰＣ処理実行部は、前述した第二ＯＰＣ処理実行ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００５９】
（実施形態５：効果）本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置は、ＯＰＣ処理を実行する際に記憶されている最適レーザパワー値を読み出して、最適レーザパワー値を中心としたサーチ範囲にてＯＰＣ処理を実行するので、より適切なレーザパワー範囲でＯＰＣ処理を実行することができる。
（実施形態６）
【００６０】
（実施形態６：概要）本実施形態は、相関係数が所定の閾値以下であるかの第一の判断を行ない、ＯＰＣ処理実行において記録レーザパワーを算出するために用いられるレーザパワーとアシンメトリー値の関係を示す一次関数によってアシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワーがＯＰＣ処理実行時に出力されたレーザパワーの範囲外であるかの第二の判断を行ない、第一の判断の判断結果が所定の閾値以下か、又は第二の判断の判断結果が前記範囲外との判断結果である場合には、前記ＯＰＣ処理の実行対象となった光ディスクから記録レーザパワー推奨値を読み出し、読み出された記録レーザパワー推奨値に対してパワーオフセット値分のオフセットをした値を記録レーザパワーとすることを特徴とする光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置について説明する。
【００６１】
（実施形態６：光ディスク装置の製造方法）
【００６２】
図１５は、本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法の処理フローを示す図である。本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法は、「パワーオフセット値読出ステップ」（Ｓ１５０１）と、「第一ＯＰＣ処理実行ステップ」（Ｓ１５０２）と、「第一判断ステップ」（Ｓ１５０３）と、「第二判断ステップ」（Ｓ１５０４）と、「記録レーザパワー推奨値読出ステップ」（Ｓ１５０５）と、「記録レーザパワー決定ステップ」（Ｓ１５０６）と、を有する。また、ステップＳ１５０３とステップＳ１５０４の判断結果が双方とも「ＮＯ」である場合には、ＯＰＣ処理に基づいて記録レーザパワーを決定する（Ｓ１５０７）。なお、「第一判断ステップ」（Ｓ１５０３）と「第二判断ステップ」（Ｓ１５０４）と「記録レーザパワー推奨値読出ステップ」（Ｓ１５０５）と「記録レーザパワー決定ステップ」（Ｓ１５０６）以外のステップについては、実施形態４におけるステップと同様であるので、ここでの説明は省略する。
【００６３】
「第一判断ステップ」（Ｓ１５０３）は、相関係数が所定の閾値以下か判断するステップである。「相関係数」とは、第一ＯＰＣ処理実行ステップ（Ｓ１５０２）にてＯＰＣ処理を行なった結果、ＯＰＣ処理実行時の各レーザパワー値とアシンメトリー値の相関係数を指す。各レーザパワー値とアシンメトリー値の相関係数は、レーザパワーとアシンメトリーの相関の強さを示すものであり、図１６に例示するように、横軸にレーザパワー、縦軸にアシンメトリーをとった場合に、各測定値がより直線に近い範囲（１６０１）に集まれば、より両者の相関が強いことを意味する。また、各レーザパワー値とアシンメトリー値の相関係数ρは、レーザパワー値をｘ、エラーレートをｙ、とすると、以下のような式で表される。
【数１】
2008052783.tif 000003
ここで、Εは平均、Ｖは分散である。また、Ｖ（ｘ）とＶ（ｙ）のいずれか一方が０の場合、相関係数ρは０である。また、「所定の閾値」とは、０．８程度の値を想定しているが、他の値であってもよい。第一判断ステップは、数１のような式により各レーザパワー値とアシンメトリー値の相関係数を算出し、算出した値が所定の閾値以下であるかどうかの判断結果をＲＡＭ等の所定の記憶領域に格納する。
【００６４】
「第二判断ステップ」（Ｓ１５０４）は、第一ＯＰＣ処理実行ステップ（Ｓ１５０２）にて記録レーザパワーを算出するために用いられるレーザパワーとアシンメトリー値の関係を示す一次関数によってアシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワーが第一ＯＰＣ処理実行ステップ（Ｓ１５０２）にて出力されたレーザパワーの範囲外であるかを判断するステップである。「第一ＯＰＣ処理実行ステップにて記録レーザパワーを算出するために用いられるレーザパワーとアシンメトリー値の関係を示す一次関数」とは、図１７に例示するように、各レーザパワー値に対するアシンメトリー値をグラフ上にプロットし、プロットしたアシンメトリー値を直線近似した一次関数（１７０１）を意味する。「アシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワー」とは、図１７においてレーザパワー値Ｒが該当する。すなわち、「アシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワーが第一ＯＰＣ処理実行ステップにて出力されたレーザパワーの範囲外」とは、第一ＯＰＣ処理実行ステップにてＯＰＣ処理を実行した際のレーザパワーが値ｐから値ｑの範囲（１７０３）であったような場合である。また、レーザパワーの範囲外ではない場合とは、第一ＯＰＣ処理実行ステップにてＯＰＣ処理を実行した際のレーザパワーが値ａから値ｂの範囲（１７０２）であったような場合である。第二判断ステップは、各レーザパワー値とアシンメトリー値により算出される一次関数に基づいて、アシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワーが第一ＯＰＣ処理実行ステップにて出力されたレーザパワーの範囲外であるかどうかの判断結果をＲＡＭ等の所定の記憶領域に格納する。
【００６５】
「記録レーザパワー推奨値読出ステップ」（Ｓ１５０５）は、第一判断ステップ（Ｓ１５０３）の判断結果が所定の閾値以下か、又は第二判断ステップ（Ｓ１５０４）の判断結果が前記範囲外との判断結果である場合には、前記ＯＰＣ処理の実行対象となった光ディスクから記録レーザパワー推奨値を読み出すステップである。「前記範囲外」とは、アシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワーが第一ＯＰＣ処理実行ステップ（Ｓ１５０２）にて出力されたレーザパワーの範囲外であることを意味する。「光ディスクから記録レーザパワー推奨値を読み出す」とは、書き込みをしようとしている光ディスクにあらかじめ記録されている記録レーザパワー推奨値を読み出すということである。なお、図１５においては、第一判断ステップ（Ｓ１５０３）での判断結果が所定の閾値以下でない場合のみ第二判断ステップ（Ｓ１５０４）を実行するような処理フローとなっているが、第一判断ステップ（Ｓ１５０３）と第二判断ステップ（Ｓ１５０４）での判断をそれぞれ行ない、両者の判断結果により記録レーザパワー推奨値読出ステップを実行するか否かを決定するようになっていてもよい。記録レーザパワー推奨値読出ステップは、ＲＡＭ等の所定の記憶領域から、第一判断ステップでの判断結果と、第二判断ステップでの判断結果を読出し、読出した第一判断ステップの判断結果が所定の閾値以下であるとの判断結果を表しているか、もしくは第二判断ステップの判断結果が前記範囲外との判断結果を表している場合には、光ディスクから記録レーザパワー推奨値を読み出し、ＲＡＭ等の所定の記憶領域に格納する。
【００６６】
「記録レーザパワー決定ステップ」（Ｓ１５０６）は、読み出された記録レーザパワー推奨値に対して、パワーオフセット値読出ステップ（Ｓ１５０１）にて読み出されたパワーオフセット値分のオフセットをした値を記録レーザパワーとするステップである。「読み出された記録レーザパワー推奨値」とは、記録レーザパワー推奨値読出ステップ（Ｓ１５０５）にて読み出された記録レーザパワー推奨値を指す。「記録レーザパワー」とは、光ディスクへデータの書き込みを行なう際のレーザパワーである。
【００６７】
図１８は、記録レーザパワー決定ステップにおける処理の具体例を示す。まず、光ディスク装置の所定の記憶領域（１８０１）に格納されている記録レーザパワー推奨値と、光ディスク装置の所定の記憶領域（１８０２）に格納されているパワーオフセット値を読み出す。その結果、各々の値が‘１５．５ｍＷ’と‘−1．０ｍＷ’であったとすると、記録レーザパワー値は、‘１４．５ｍＷ’（１８０３）と算出される。算出された値は、光ディスク装置のＲＡＭ等の所定の記憶領域に格納され、データを光ディスクへ記録する際にはＲＡＭ等から読み出されて‘１４．５ｍＷ’のレーザパワーにてデータの記録が実行されることとなる。
【００６８】
（実施形態６：光ディスク装置の製造装置）
【００６９】
図１９は、本実施形態に係る光ディスク装置の機能ブロックを示す図である。光ディスク装置（１９００）は、「パワーオフセット値読出部」（１９０１）と、「第一ＯＰＣ処理実行部」（１９０２）と、「第一判断部」（１９０３）と、「第二判断部」（１９０４）と、「記録レーザパワー推奨値読出部」（１９０５）と、「記録レーザパワー決定部」（１９０６）と、を有する。「第一判断部」（１９０３）と「第二判断部」（１９０４）と「記録レーザパワー推奨値読出部」（１９０５）と「記録レーザパワー決定部」（１９０６）と以外の構成については、実施形態４における構成と同様であるので、ここでの説明は省略する。
【００７０】
「第一判断部」（１９０３）は、相関係数が所定の閾値以下か判断する機能を有する。すなわち、第一判断部は、前述した第一判断ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００７１】
「第二判断部」（１９０４）は、第一ＯＰＣ処理実行部（１９０２）にて記録レーザパワーを算出するために用いられるレーザパワーとアシンメトリー値の関係を示す一次関数によってアシンメトリー値が略ゼロの時のレーザパワーが第一ＯＰＣ処理実行部（１９０２）にて出力されたレーザパワーの範囲外であるかを判断する機能を有する。すなわち、第二判断部は、前述した第二判断ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００７２】
「記録レーザパワー推奨値読出部」（１９０５）は、第一判断部（１９０３）の判断結果が所定の閾値以下か、又は第二判断部（１９０４）の判断結果が前記範囲外との判断結果である場合には、前記ＯＰＣ処理の実行対象となった光ディスクから記録レーザパワー推奨値を読み出す機能を有する。すなわち、記録レーザパワー推奨値読出部は、前述した記録レーザパワー推奨値読出ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００７３】
「記録レーザパワー決定部」（１９０６）は、読み出された記録レーザパワー推奨値に対して、パワーオフセット値読出部（１９０１）にて読み出されたパワーオフセット値分のオフセットをした値を記録レーザパワーとする機能を有する。すなわち、記録レーザパワー決定部は、前述した記録レーザパワー決定ステップにおける処理と同様の処理を実行する。
【００７４】
（実施形態６：効果）本実施形態に係る光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置は、記録しているパワーオフセット値を利用してＯＰＣのデフォルトのサーチ範囲をパワーオフセット値分オフセットしてＯＰＣ処理を実行しても最適なＯＰＣ処理が実行できないような場合には、光ディスクにあらかじめ記録されている記録レーザパワー推奨値にオフセットをかけることにより適切なＯＰＣ処理を実行することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】実施形態１に係る光ディスク装置の製造方法及び光ディスク装置の製造装置の概念図
【図２】実施形態１に係る光ディスク装置の製造方法の処理フロー図
【図３】実施形態１に係る光ディスク装置の製造方法におけるレーザパワー範囲を説明する図
【図４】取得されたエラーレート値の一例図
【図５】記憶ステップにおける処理の一例図
【図６】実施形態１に係る光ディスク装置の製造装置の機能ブロック図
【図７】実施形態３に係る光ディスク装置の製造方法の処理フロー図
【図８】実施形態４に係る光ディスク装置の駆動方法及び光ディスク装置の概念図
【図９】実施形態４に係る光ディスク装置の駆動方法の処理フロー図
【図１０】第一ＯＰＣ処理実行ステップにおける処理の一例図
【図１１】実施形態４に係る光ディスク装置の機能ブロック図
【図１２】実施形態５に係る光ディスク装置の駆動方法の処理フロー図
【図１３】第二ＯＰＣ処理実行ステップにおける処理の一例図
【図１４】実施形態５に係る光ディスク装置の機能ブロック図
【図１５】実施形態６に係る光ディスク装置の駆動方法の処理フロー図
【図１６】レーザパワー値とアシンメトリー値の相関係数について説明する図
【図１７】レーザパワーとアシンメトリー値の関係を示す一次関数の一例図
【図１８】記録レーザパワー決定ステップにおける処理の一例図
【図１９】実施形態６に係る光ディスク装置の機能ブロック図
【図２０】従来技術における課題を説明する図
【図２１】一般的なコンピュータの構成の一例図
【符号の説明】
【００７６】
０１０１  光ピックアップ
０１０２  アクチュエータ
０１０３  光ディスク
０１０４  信号処理機構
０１０５  レーザ出力機構
０１０６  エラーレート取得部
０１０７  最適レーザパワー値取得部
０１０８  デフォルトレーザパワー値を記憶している記憶領域
０１０９  記憶部
０１１０  パワーオフセット値を記憶する記憶領域
【図１】
2008052783.tif 000004
【図２】
2008052783.tif 000005
【図３】
2008052783.tif 000006
【図４】
2008052783.tif 000007
【図５】
2008052783.tif 000008
【図６】
2008052783.tif 000009
【図７】
2008052783.tif 000010
【図８】
2008052783.tif 000011
【図９】
2008052783.tif 000012
【図１０】
2008052783.tif 000013
【図１１】
2008052783.tif 000014
【図１２】
2008052783.tif 000015
【図１３】
2008052783.tif 000016
【図１４】
2008052783.tif 000017
【図１５】
2008052783.tif 000018
【図１６】
2008052783.tif 000019
【図１７】
2008052783.tif 000020
【図１８】
2008052783.tif 000021
【図１９】
2008052783.tif 000022
【図２０】
2008052783.tif 000023
【図２１】
2008052783.tif 000024