(57)【要約】【課題】端子台より電線を取り外すことなく、試験などを行うことができる端子台を提供する。【解決手段】制御盤に取付けられ、制御盤からの第１の電線１９と制御盤に接続されるべき外部機器２１からの第２の電線２０とを中継する端子台１０は、第１の電線１９が接続される第１の電極板１１と、第２の電線２０が接続される第２の電極板１２と、第１の電極板１１と第２の電極板１２との間に設けられた導電体からなる中継板１５と、第１の電極板１１及び第２の電極板１２と中継板１５とが夫々導電する導電状態と、第１の電極１１及び中継板１５とが夫々電気的に遮断された遮断状態とを切替可能な第１及び第２の導通片１３、１４と、中継板１５に取付けられ、外部からの電線を接続するためのジャック１６と、を備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の電線と、第２の電線とを中継する端子台であって、
前記第１の電線が接続される第１の電極と、
前記第２の電線が接続される第２の電極と、
前記第１の電極と前記第２の電極との間に設けられた導電体からなる中継板と、
前記第１の電極と前記中継板とが導通する導通状態と、前記第１の電極と前記中継板とが電気的に遮断された遮断状態とを切替可能な第１の切替手段と、
前記第２の電極と前記中継板とが導通する導通状態と、前記第２の電極と前記中継板とが電気的に遮断された遮断状態とを切替可能な第２の切替手段と、
前記中継板に取付けられ、外部からの電線を接続するための接続部と、を備えることを特徴とする端子台。
【請求項２】
請求項１記載の端子台であって、
前記第１の切替手段は、
前記第１の電極及び前記中継板の対向する端部の近傍に夫々設けられた第１の凹部と、前記第１の凹部に夫々嵌合する凸部を備えた第１の金具とからなり、前記第１の金具の凸部が前記第１の電極及び前記中継板の凹部に嵌合することにより前記第１の電極と前記中継板とを導通状態とし、前記第１の金具の凸部が前記第１の凹部の少なくとも何れかから離脱することにより前記第１の電極と前記中継板とを遮断状態とし、
前記第２の切替手段は、
前記第２の電極及び前記中継板の夫々の対向する端部の近傍に設けられた第２の凹部と、前記第２の凹部に夫々嵌合する凸部を備えた第２の金具とからなり、前記第２の金具の凸部が前記第２の凹部に嵌合することにより前記第２の電極と前記中継板とを導通状態とし、前記第２の金具の凸部が前記第２の凹部の少なくとも何れかから離脱することにより前記第２の電極と前記中継板とを遮断状態とすることを特徴とする端子台。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の端子台であって、
制御盤に取り付けて用いられ、前記第１の電線は、前記制御盤内からの電線であり、前記第２の電線は、前記制御盤に接続されるべき外部機器からの電線であることを特徴とする端子台。
【請求項４】
請求項３記載の端子台が取り付けられた制御盤。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一対の電極間の導通状態と遮断状態とを切り替えることのできる端子台に関し、特に、端子台に接続された電線を取り外すことなく制御盤やこれに接続された機器などの検査をすることのできる端子台に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、制御盤の端子台は制御盤の内側と外側に対応して設けられた電極対に、制御盤内からの電線と外部機器からの電線が夫々接続され、それら電極の中間に設けられたロックスイッチにより電線の間を電気的に遮断する構成を持つものが広く用いられている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−２５１９７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
このような端子台を備えた制御盤の試験を行う場合には、制御盤に接続された外部機器への影響を防止するため、外部機器からの電線を端子台から取り外して試験を行っている。同様に、制御盤に接続された外部機器の試験を行う場合には、制御盤内への影響を防止するため、制御盤内からの電線を端子台から取り外して試験を行っている。しかしながら、試験終了後に再び電線を端子台に接続する際に、誤った電極に接続してしまったり、電線の接続を失念してしまったりすることがある。また、通常、制御盤には多くの電線が接続されているため、電線の取り外し・取り付けの作業に手間がかかるという問題がある。
【０００４】
本発明は、上記の問題に鑑みなされたものであり、制御盤やこれに接続された外部機器の試験などを行う場合に電線を取り外すことを不要とする端子台を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の端子台は、第１の電線と、第２の電線とを中継する端子台であって、
前記第１の電線が接続される第１の電極と、
前記第２の電線が接続される第２の電極と、
前記第１の電極と前記第２の電極との間に設けられた導電体からなる中継板と、
前記第１の電極と前記中継板とが導通する導通状態と、前記第１の電極と前記中継板とが電気的に遮断された遮断状態とを切替可能な第１の切替手段と、
前記第２の電極と前記中継板とが導通する導通状態と、前記第２の電極と前記中継板とが電気的に遮断された遮断状態とを切替可能な第２の切替手段と、
前記中継板に取付けられ、外部からの電線を接続するための接続部と、を備えることを特徴とする。
【０００６】
また、上記の端子台において、前記第１の切替手段は、前記第１の電極及び前記中継板の対向する端部の近傍に夫々設けられた第１の凹部と、前記第１の凹部に夫々嵌合する凸部を備えた第１の金具とからなり、前記第１の金具の凸部が前記第１の電極及び前記中継板の凹部に嵌合することにより前記第１の電極と前記中継板とを導通状態とし、前記第１の金具の凸部が前記第１の凹部の少なくとも何れかから離脱することにより前記第１の電極と前記中継板とを遮断状態とし、
前記第２の切替手段は、前記第２の電極及び前記中継板の夫々の対向する端部の近傍に設けられた第２の凹部と、前記第２の凹部に夫々嵌合する凸部を備えた第２の金具とからなり、前記第２の金具の凸部が前記第２の凹部に嵌合することにより前記第２の電極と前記中継板とを導通状態とし、前記第２の金具の凸部が前記第２の凹部の少なくとも何れかから離脱することにより前記第２の電極と前記中継板とを遮断状態とすることとしてもよい。
【０００７】
また、上記端子台は、制御盤に取り付けて用いられ、前記第１の電線は、前記制御盤内からの電線であり、前記第２の電線は、前記制御盤に接続されるべき外部機器からの電線であることとしてもよい。
また、本発明は、上記端子台が取り付けられた制御盤を含むものとする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、電線を取り外さなくても、第１の切替手段又は第２の切替手段の一方を遮断状態とし、中継板の接続手段に試験装置などを接続することにより、第１の電線又は第２の電線の一方を電気的に切り離した状態で試験などを行うことができる。このため、端子台が制御盤内の電線と外部機器の電線とを中継する場合、電線を取り外すことなく、制御盤又は外部機器の試験などを行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の端子台の一実施形態について図面を参照しながら説明する。
図１は、本実施形態の端子台１０の平面図であり、図２は、本実施形態の端子台１０の導電時の状態を示す断面図である。なお、本実施形態において、端子台１０は制御盤１
に取り付けられ、制御盤１内からの電線と、制御盤１に接続されるべき外部機器からの電線とを中継するものとする。図３は制御盤１内の試験を行う際の端子台１０を示す図であり、図４は制御盤１に接続された外部機器２１の試験を行う際の端子台１０を示す図である。
図１及び図２に示すように、端子台１０は複数組の電極板１１，１２が並んで取付けられており、電極板１１，１２は、制御盤１内からの第１の電線１９と、外部機器２１からの第２の電線２０とを中継している。
【００１０】
図２に示すように、端子台１０は、ビス１７により第１の電線１９が接続された第１の電極板１１と、ビス１８により第２の電線２０が接続された第２の電極板１２と、プラグを差し込むためのジャック１６を備えた中継板１５と、第１の導通片１３と、第２の導通片１４とを備える。第１の電極板１１及び中継板１５には、それらが対向する側の端部近傍に、夫々、凹部１１Ａ、１５Ａが設けられている。また、第２の電極板１２及び中継板１５には、それらが対向する側の端部近傍に、凹部１２Ａ、１５Ｂが設けられている。
【００１１】
第１の導通片１３は、中継板１５及び第１の電極板１１の凹部１５Ａ、１１Ａに夫々嵌合する脚部１３Ｃ，１３Ｄを有する金具１３Ａと、金具１３Ａの上部に設けられた取手１３Ｂとを備えている。図２に示すように、第１の導通片１３の取手１３Ｂを押し込んで、金具１３Ａの脚部１３Ｃ、１３Ｄを夫々中継板１５及び第１の電極板１１の凹部１５Ａ、１１Ａに嵌合させることにより、第１の電極板１１と中継板１５とが金具１３Ａを介して電気的に導通する導通状態とすることができる。この際、第１の導通片１３の金具１３Ａの脚部１３Ｃ，１３Ｄが弾性変形した状態で凹部１５Ａ，１１Ａと嵌合するように金具１３Ａを構成することにより、第１の導通片１３が凹部１５Ａ，１１Ａから容易に外れてしまうのを防止できる。また、取手１３Ｂを上方に引いて、図４に示すように、第１の導通片１３の金具１３Ａを中継板１５から離間させることにより、第１の電極板１１と中継板１５とが電気的に遮断された遮断状態とすることができる。
【００１２】
同様に、第２の導通片１４は、中継板１５及び第２の電極板１２の凹部１５Ｂ、１２Ａに夫々嵌合する脚部１４Ｃ、１４Ｄを有する金具１４Ａと、金具１４Ａの上部に設けられた取手１４Ｂとを備えている。図２に示すように、第２の導通片１４の取手１４Ｂを押し込んで、金具１４Ｂの脚部１４Ｃ，１４Ｄを夫々中継板１５及び第２の電極板１２の凹部１５Ｂ、１２Ａに嵌合させることにより、第２の電極板１２と中継板１５とが金具１４Ａを介して電気的に接続された導通状態とすることができる。この際、第２の導通片１４の金具１４Ａの脚部１４Ｃ，１４Ｄが弾性変形した状態で凹部１５Ｂ，１２Ａと嵌合するように金具１４Ａを構成することにより、第２の導通片１４が凹部１５Ｂ、１２Ａから容易に外れてしまうのを防止できる。また、取手部１４Ｂを上方に引いて、図３に示すように、第２の導通片１４を中継板１５から離間させることで、第２の電極板１２と中継板１５とが電気的に遮断された遮断状態とすることができる。
【００１３】
なお、図３、図４に示す例において、遮断状態を実現する場合に、第１及び第２の導通片１３、１４を完全に引き抜いてしまうこととしてもよい。また、図３、図４では、中継板１５側の脚部１３Ｃ、１４Ｃが、反対側の脚部１３Ｄ、１４Ｄよりも短く、導通片１３、１４を引き上げたときに、脚部１３Ｃ、１４Ｃが先に凹部から離脱する構成となっているが、これとは逆に、脚部１３Ｄ、１４Ｄの方が短い構成としてもよいし、同じ長さとしてもよい。
【００１４】
ところで、上述したように、従来、制御盤内の試験を行う場合には、制御盤に接続された外部機器への影響を防止するため、外部機器からの電線を端子台から取り外すことにより外部機器側を電気的に遮断して試験を行っていた。また、制御盤に接続された外部機器の試験を行う場合には、制御盤への影響を防止するため、制御盤内からの電線を端子台から取り外すことにより制御盤側を電気的に遮断して試験を行っていた。
【００１５】
これに対して、本実施形態の端子台１０によれば、制御盤内の試験を行う際には、図３に示すように、第２の導通片１４を引抜き、中継板１５のジャック１６に試験装置２３から延びる電線２４に接続されたプラグ２２を差込めばよい。これにより、中継板１５と第２の電極板１２との間が電気的に遮断されるとともに、試験装置２３からの電線２４と第１の電極板１１に接続された第１の電線１９とが電気的に接続されるため、第２の電極板１２から第２の電線２０を取り外すことなく、制御盤内の試験を行うことができる。
【００１６】
同様に、制御盤に接続された外部機器２１の装置の試験を行う場合には、図４に示すように、第１の導通片１３を引抜き、中継板１５のジャック１６に試験装置２３からの電線２４に接続されたプラグ２２を差し込めばよい。これにより、中継板１５と、第１の電極板１１との間が電気的に遮断されるとともに、試験装置２３から延びる電線２４と第２の電極板１２に接続された第２の電線２０とが電気的に接続されるため、第１の電極板１１から第１の電線１９を取り外すことなく、外部機器２１の試験を行うことができる。
【００１７】
以上説明したように、本実施形態の端子台１０によれば、制御盤内の試験を行う場合には第２の導通片１４を引抜くだけで、また、制御盤にされた外部機器２１の試験を行う場合には、第１の導通片１３を引抜くだけで、夫々、第２の電線２０及び第１の電線１９を取り外すことなく試験を行うことができる。これにより、作業の手間を減らすことができるとともに、試験終了後に電線を接続し忘れることや、電線を誤った位置に接続してしまい、ショートを起こすことを防止することができる。
【００１８】
なお、上記の実施形態では、本発明の第１の切替手段を、中継板１５及び第１の電極板１１に設けられた凹部１１Ａ、１５Ａと、これらの凹部に嵌合する脚部１３Ｃ，１３Ｄを備えた第１の導通片１３とにより構成したが、本発明はこれに限定されるものではなく、第１の電極板１１と中継板１５との間の導通状態と遮断状態とを切替可能なものであればよい。また、第２の切替手段についても同様に、第２の電極板１２と中継板１５との間の導通状態と遮断状態とを切替可能なものであればよい。
【００１９】
また、上記の実施形態では、本発明に係る端子台１０を制御盤に取り付けた場合について説明したが、これに限らず、配電盤等にも用いることができる。
なお、上記の実施形態では、金具１３Ａ、１４Ａの脚部１３Ｃ、１３Ｄ、１４Ｃ、１４Ｄが本発明の「凸部」に相当し、また、ジャック１６が本発明の「接続部」に相当する。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本実施形態の制御盤に取付けられた端子台を示す図である。
【図２】本実施形態の制御盤内と制御盤外とが電気的に接続された状態の端子台を示す断面図である。
【図３】制御盤内の試験を行う際の端子台を示す図である。
【図４】制御盤外に接続された装置の試験を行う際の端子台を示す図である。
【符号の説明】
【００２１】
１  制御盤
１０  端子台
１１  第１の電極板
１１Ａ  凹部
１２  第２の電極板
１２Ａ  凹部
１３  第１の導通片
１３Ｃ、１３Ｄ  脚部
１４  第２の導通片
１４Ｃ、１４Ｄ  脚部
１５  中継板
１５Ａ、１５Ｂ  凹部
１６  ジャック
１９  第１の電線
２０  第２の電線
２１  外部機器
２２  プラグ
２３  試験装置
２４  電線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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