(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、チルトサーボを用いることなくチルト調整する。【解決手段】予め基準ディスクの内周を用いてチルト調整値Ｓを取得しメモリに記憶しておく。起動ディスクが８ｃｍディスクの場合にはこの調整値Ｓを用いてチルト調整する。起動ディスクが１２ｃｍディスクの場合、反りが比較的小さいときには内周から中周は調整値Ｓを用い、中周から外周は調整値Ｓと外周の調整値Ｂの直線補間を用いる。反りが大きい場合には調整値Ｓ、Ｂの曲線補間を用いる。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め基準ディスクの内周を用いて得られた第１チルト調整値を記憶する記憶手段と、
記録あるいは再生すべき光ディスクの外周シーク時に外周を用いて第２チルト調整値を取得する手段と、
前記第２チルト調整値を用いて前記光ディスクの反りの程度を評価する手段と、
前記光ディスクに対してチルト調整する調整手段であって、前記光ディスクの反りの程度が比較的小さいと評価された場合に、前記光ディスクの内周から中周にわたって前記記憶手段に記憶された第１チルト調整値を用いてチルト調整するとともに前記光ディスクの中周から外周にわたって前記第１チルト調整値と第２チルト調整値の直線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整し、前記光ディスクの反りの程度が比較的大きいと評価された場合に、前記第１チルト調整値と前記第２チルト調整値の曲線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整する調整手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
予め基準ディスクの内周を用いて得られた第１チルト調整値を記憶する記憶手段と、
記録あるいは再生すべき光ディスクの外周シーク時に外周を用いて第２チルト調整値を取得する手段と、
前記第２チルト調整値を用いて前記光ディスクの反りの程度を評価する手段と、
前記光ディスクに対してチルト調整する調整手段であって、前記光ディスクの反りの程度が比較的小さいと評価された場合に、前記光ディスクの内周から中周にわたって前記記憶手段に記憶された第１チルト調整値を用いてチルト調整するとともに前記光ディスクの中周から外周にわたって前記第１チルト調整値と第２チルト調整値の直線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整し、前記光ディスクの反りの程度が比較的中程度と評価された場合に、前記第１チルト調整値と前記第２チルト調整値の曲線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整し、前記光ディスクの反りの程度が比較的大きいと評価された場合に、前記第１チルト調整値の代わりに前記光ディスクの内周を用いて得られた第３チルト調整値と前記第２チルト調整値の曲線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整する調整手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
予め基準ディスクの内周を用いて得られた第１チルト調整値を記憶する記憶手段と、
記録あるいは再生すべき光ディスクの外周シーク時に外周を用いて第２チルト調整値を取得する手段と、
前記光ディスクの内周を用いて第３チルト調整値を取得する手段と、
前記第２チルト調整値を用いて前記光ディスクの反りの程度を評価する手段と、
前記光ディスクに対してチルト調整する調整手段であって、前記光ディスクの反りの程度が比較的小さいと評価された場合に、前記光ディスクの内周から中周にわたって前記記憶手段に記憶された第１チルト調整値あるいは前記第３チルト調整値を用いてチルト調整するとともに前記光ディスクの中周から外周にわたって前記第１チルト調整値あるいは前記第３チルト調整値と第２調整値の直線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整し、前記光ディスクの反りの程度が比較的大きいと評価された場合に、前記第１調整値あるいは前記第３チルト調整値と前記第２調整値の曲線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整する調整手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の装置において、
前記光ディスクの半径をＬとした場合に、前記中周はＬ／２であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１〜３のいずれかに記載の装置において、
前記調整手段は、前記光ディスクが８ｃｍディスクの場合には、全周にわたって前記第１調整値を用いてチルト調整する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置、特にチルト制御に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、光ディスク装置においてディスクの反りに対応するためのチルト制御が知られている。
【０００３】
下記の特許文献１には、光ディスク装置の製造時に、反りの小さいディスクの最内周の近傍で、チルト角を調整し、その調整結果をメモリに記憶しておき、再生対象のディスクについて記憶されているチルト角調整値を中心にして光ピックアップのチルト角を調整することが開示されており、ディスク最内周と最外周の中間位置でチルト角調整を行うことが開示されている。
【０００４】
また、特許文献２には、光学式ピックアップを光ディスク記録再生装置に組み込んだ製造時において、調整用の基準ディスクに対する対物レンズの角度ずれを補正するために測定されたオフセット値を記憶しておき、チルト調整信号にオフセット値を加算した値をチルト補正に用いることが開示されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−２６３７６４号公報
【特許文献２】特開２００５−３２２３２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
予めチルト角を調整して得られた結果をメモリに記憶しておき、記録再生対象のディスクについて記憶されているチルト角調整値を用いてチルト制御することは効果的であるが、ディスクの反りの構成要素には内周反りと外周反りの２種類存在し、外周のチルト成分が急激に変化するようなディスクでは特に外周でのチルト制御が困難となる。
【０００７】
本発明は、チルトサーボ機構を用いることなく、かつ、可能な限り少ない測定回数でチルト調整を行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の光ディスク装置は、予め基準ディスクの内周を用いて得られた第１チルト調整値を記憶する記憶手段と、記録あるいは再生すべき光ディスクの外周シーク時に外周を用いて第２チルト調整値を取得する手段と、前記第２チルト調整値を用いて前記光ディスクの反りの程度を評価する手段と、前記光ディスクに対してチルト調整する調整手段であって、前記光ディスクの反りの程度が比較的小さいと評価された場合に、前記光ディスクの内周から中周にわたって前記記憶手段に記憶された第１チルト調整値を用いてチルト調整するとともに前記光ディスクの中周から外周にわたって前記第１チルト調整値と第２チルト調整値の直線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整し、前記光ディスクの反りの程度が比較的大きいと評価された場合に、前記第１チルト調整値と前記第２チルト調整値の曲線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整する調整手段とを有することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の光ディスク装置は、予め基準ディスクの内周を用いて得られた第１チルト調整値を記憶する記憶手段と、記録あるいは再生すべき光ディスクの外周シーク時に外周を用いて第２チルト調整値を取得する手段と、前記第２チルト調整値を用いて前記光ディスクの反りの程度を評価する手段と、前記光ディスクに対してチルト調整する調整手段であって、前記光ディスクの反りの程度が比較的小さいと評価された場合に、前記光ディスクの内周から中周にわたって前記記憶手段に記憶された第１チルト調整値を用いてチルト調整するとともに前記光ディスクの中周から外周にわたって前記第１チルト調整値と第２チルト調整値の直線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整し、前記光ディスクの反りの程度が比較的中程度と評価された場合に、前記第１チルト調整値と前記第２チルト調整値の曲線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整し、前記光ディスクの反りの程度が比較的大きいと評価された場合に、前記第１チルト調整値の代わりに前記光ディスクの内周を用いて得られた第３チルト調整値と前記第２調整値の曲線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整する調整手段とを有することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の光ディスク装置は、予め基準ディスクの内周を用いて得られた第１チルト調整値を記憶する記憶手段と、記録あるいは再生すべき光ディスクの外周シーク時に外周を用いて第２チルト調整値を取得する手段と、前記光ディスクの内周を用いて第３チルト調整値を取得する手段と、前記第２チルト調整値を用いて前記光ディスクの反りの程度を評価する手段と、前記光ディスクに対してチルト調整する調整手段であって、前記光ディスクの反りの程度が比較的小さいと評価された場合に、前記光ディスクの内周から中周にわたって前記記憶手段に記憶された第１チルト調整値あるいは前記第３チルト調整値を用いてチルト調整するとともに前記光ディスクの中周から外周にわたって前記第１チルト調整値あるいは前記第３チルト調整値と第２調整値の直線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整し、前記光ディスクの反りの程度が比較的大きいと評価された場合に、前記第１調整値あるいは前記第３チルト調整値と前記第２調整値の曲線補間で得られるチルト調整値を用いてチルト調整する調整手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、チルトサーボ機能を用いることなく、最小の測定回数でチルト補正を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１３】
図１に、本実施形態における光ディスク装置の全体構成を示す。光ディスク１０はスピンドルモータ（ＳＰＭ）１２により駆動される。ＳＰＭ１２は、ドライバ１４で駆動され、ドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
【００１４】
光ピックアップ１６は、レーザ光を光ディスク１０に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）や光ディスク１０からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ（ＰＤ）を含み、光ディスク１０に対向配置される。光ピックアップ１６はステッピングモータで構成されるスレッドモータ１８により光ディスク１０の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はドライバ２０で駆動される。ドライバ２０は、ドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のＬＤはドライバ２２により駆動され、ドライバ２２は、オートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により、駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４及びドライバ２２は、システムコントローラ３２からの指令によりＬＤの発光量を制御する。図ではドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、ドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。
【００１５】
光ディスク１０に記録されたデータを再生する際には、光ピックアップ１６のＬＤから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がＰＤで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ１６からの再生信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８はアドレス信号から光ディスク１０のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。また、ＲＦ回路２６は、再生ＲＦ信号を２値化回路３４に供給する。２値化回路３４は、再生信号を２値化し、得られた信号をエンコード／デコード回路３６に供給する。エンコード／デコード回路３６では、２値化信号を復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをインタフェースＩ／Ｆ４０を介してパーソナルコンピュータなどのホスト装置に出力する。なお、再生データをホスト装置に出力する際には、エンコード／デコード回路３６はバッファメモリ３８に再生データを一旦蓄積した後に出力する。
【００１６】
光ディスク１０にデータを記録する際には、ホスト装置からの記録すべきデータはインターフェースＩ／Ｆ４０を介してエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、記録すべきデータをバッファメモリ３８に格納し、当該記録すべきデータをエンコードして変調データとしてライトストラテジ回路４２に供給する。ライトストラテジ回路４２は、変調データを所定の記録ストラテジに従ってマルチパルス（パルストレーン）に変換し、記録データとしてドライバ２２に供給する。記録データによりパワー変調されたレーザ光は光ピックアップ１６のＬＤから照射されて光ディスク１０にデータが記録される。データを記録した後、光ピックアップ１６は再生パワーのレーザ光を照射して当該記録データを再生し、ＲＦ回路２６に供給する。ＲＦ回路２６は再生信号を２値化回路３４に供給し、２値化されたデータはエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、変調データをデコードし、バッファメモリ３８に格納されている記録データと照合する（ベリファイ）。ベリファイの結果はシステムコントローラ３２に供給される。システムコントローラ３２はベリファイの結果に応じて引き続きデータを記録するか、あるいは交替処理を実行するかを決定する。システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御し、サーボプロセッサ３０を介してスレッドモータ１８を駆動し、光ピックアップ１６の位置を制御する。
【００１７】
ここで、光ディスク装置は組立誤差等のため、反りの無い理想的な光ディスクが装着された場合であっても、光ピックアップ１６の該光ディスクに対するレーザ光の照射角度が設計により定められた所定角度からずれてしまう（傾角ずれ）。そこで、このような構成において、予め偏芯、面振れ、チルト成分の少ない基準ディスクを用意して、反りの影響の少ない内周でチルト調整値Ｓを測定し、測定結果をシステムコントローラ３２のメモリに記憶しておく。そして、記録再生対象の光ディスク（起動ディスク）１０が装着された場合に、システムコントローラ３２はメモリに記憶された調整値Ｓを読み出して光ピックアップ１６のチルト角を補正する。すなわち、フォーカス制御やトラッキング制御に先立って、チルト調整値を光ピックアップ１６に印加してチルト調整しておく。これにより、光ディスク装置が有する傾角ずれを記録再生対象の光ディスクの装着時点、すなわち該光ディスクの起動前に予め補正することができる。
【００１８】
既述したように、ディスクの反りの構成要素は、内周反り成分と外周反り成分の２種類存在し、内周近傍は一定の反り角であるものの中周から外周に向けて急激に反りが増大する場合が多い。したがって、内周近傍ではメモリに予め記憶された調整値Ｓを用いて調整することで記録再生が可能であったとしても（内周は回転速度が比較的小さいため反りの影響も小さい）、内周から外周部にかけて調整値Ｓでは調整不足となり記録再生ができないおそれがある。
【００１９】
そこで、本実施形態では、光ディスク装置の起動時に、トラックピッチの検出や外周エラーレートの検出等で光ピックアップ１６を外周に向けてシークする必要があることを考慮し、トラップピッチの検出や外周エラーレートの検出時に光ピックアップ１６を外周にシークさせる際に、同時に、光ディスク１０の外周部においてチルト調整値Ｂを測定してシステムコントローラ３２のメモリに記憶しておく。そして、メモリに記憶した調整値Ｓと調整値Ｂとを用いて、光ディスク１０の内周から外周にわたってチルト角を調整する。
【００２０】
図２に、本実施形態の処理フローチャートを示す。まず、システムコントローラ３２は予めメモリに記憶されている調整値Ｓ、つまり基準ディスクの内周で測定して得られたチルト角調整値を読み出して光ピックアップ１６のチルト角に印加する（Ｓ１０１）。次に、ディスクが起動されると（Ｓ１０２）、起動されたディスク（光ディスク１０）が８ｃｍディスクであるか１２ｃｍディスクであるかを判定する（Ｓ１０３）。起動されたディスクが８ｃｍディスクである場合、ディスクの反りは殆どないものとみなし、基準ディスクの内周における調整値Ｓをそのまま８ｃｍディスクの全周にわたって適用してチルト補正する（Ｓ１０４）。調整値Ｓを印加することによるチルト補正はディスクがイジェクトされるまで継続して実行される（Ｓ１０５）。
【００２１】
一方、起動されたディスクが１２ｃｍディスクの場合、トラックピッチ検出やエラーレート検出のために光ピックアップ１６を外周にシークさせるが、このシーク時に同時に外周での調整値Ｂを測定してメモリに記憶する（Ｓ１０６）。外周における調整値Ｂを測定してメモリに記憶した後、システムコントローラ３２はチルト調整値Ｂを所定値と大小比較する（Ｓ１０７）。この大小比較は、定性的には、起動したディスクが外周において特に顕著に反りが生じているディスクであるか否かを判定するための処理である。調整値Ｂを所定値と比較するのではなく、基準ディスクの内周における調整値Ｓと起動ディスクの外周における調整値Ｂとの差分の大きさ｜調整値Ｓ−調整値Ｂ｜を所定値と大小比較してもよい。
【００２２】
大小比較の結果、調整値Ｂが所定値より小さい場合、つまり起動ディスクの外周における反りが比較的小さい場合には、ディスクの内周から中周までは調整値Ｓを用いてチルト補正し、ディスクの中周から外周までは調整値Ｓと調整値Ｂの間を直線補間してチルト補正する。すなわち、ディスクの半径をＬとし、中周をＬ／２とすると、シークポジションがディスクの０〜Ｌ／２にあるか否かを判定し（Ｓ１０８）、シークポジションがこの範囲内である場合には調整値Ｓのままでチルト補正を実行する（Ｓ１０９）。また、シークポジションがこの範囲内でない、つまり、シークポジションがＬ／２〜Ｌの範囲内にある場合には、調整値Ｓ、Ｂに基づいてシークポジションにおけるチルト調整値を直線補間で算出し（Ｓ１１１）、算出した調整値でチルト補正を実行する（Ｓ１１２）。以上の処理はディスクイジェクトまで継続して実行される（Ｓ１１０）。
【００２３】
また、調整値Ｂが所定値以上である場合、つまり起動ディスクの外周における反りが比較的大きい場合には、直線補間を用いると特に中周部における誤差が大きくなることに鑑み（本来的に反りの要素は曲線であり、反り自体が小さい場合には直線補間でも問題ないが、反り自体が大きい場合にはその誤差が顕在化してしまう）、調整値Ｓ、Ｂに基づいてシークポジションにおけるチルト調整値を曲線補間で算出し（Ｓ１１３）、算出した調整値でチルト補正を実行する（Ｓ１１４）。曲線は２次近似でよいが、より高次の近似式を用いてもよい。以上の処理はディスクイジェクトまで継続して実行される（Ｓ１１５）。
【００２４】
図３に、シークポジション毎のチルト補正の様子を示す。図において横軸はシークポジションであり、縦軸はチルト調整値である。８ｃｍディスクの場合には０〜Ｌの全周にわたって同一のチルト調整値Ｓを用いてチルト補正を行う。１２ｃｍディスクの場合には処理が２つに大別される。反りが小さい（つまり調整値Ｂが所定値より小さい）１２ｃｍディスクではＬ／２までは調整値Ｓを用いてチルト調整し、Ｌ／２〜Ｌまでは調整値Ｓと調整値Ｂを直線補間して得られる調整値を用いてチルト調整する。反りが大きい１２ｃｍディスクでは０〜Ｌの全周において調整値Ｓと調整値Ｂを曲線補間（図では２次近似）して得られる調整値を用いてチルト調整する。
【００２５】
このように、本実施形態では、外周部における測定の１回のみでディスクの全周にわたってチルト調整することができる。しかも、外周における調整値は、トラックピッチやエラーレートを検出するために外周にシークさせるタイミングで測定するので、調整値を取得するための余分なシークを必要としない。
【００２６】
図４に、他の実施形態の処理フローチャートを示す。起動ディスクが８ｃｍディスクの場合の処理は同一なのでその説明は省略する。起動ディスクが１２ｃｍディスクの場合、トラックピッチ検出やエラーレート検出のために外周にシークする際に外周チルト調整値Ｂを測定してメモリに記憶する（Ｓ２０６）。そして、メモリに記憶した調整値Ｂを第１所定値Ｔ１と大小比較する（Ｓ２０７）。
【００２７】
調整値Ｂが第１所定値Ｔ１より小さい場合には、調整値Ｓを調整値Ｃに置換し（Ｓ２０８）、さらに調整値Ｂを第２所定値Ｔ２（Ｔ２＜Ｔ１）と大小比較する（Ｓ２０９）。調整値Ｂが第２所定値Ｔ２よりも小さい場合には、起動ディスクの反りは比較的小さいと判定し、調整値Ｂが第１所定値Ｔ１より小さいものの第２調整値Ｔ２以上である場合には、起動ディスクの反りは比較的中程度であると判定する。
【００２８】
起動ディスクの反りが比較的小さい場合、シークポジションが０〜Ｌ／２であれば調整値Ｃ、つまり調整値Ｓを用いてチルト補正する（Ｓ２１０、Ｓ２１１）。また、シークポジションがＬ／２〜Ｌであれば調整値Ｃ、Ｂに基づいてシークポジションにおけるチルト調整値を直線補間して算出し（Ｓ２１３）、算出した調整値でチルト調整する（Ｓ２１４）。
【００２９】
起動ディスクの反りが中程度である場合、全周にわたって調整値Ｃ、Ｂに基づいてシークポジションにおけるチルト調整値を曲線補間して算出し（Ｓ２１７）、算出した調整値でチルト補正する（Ｓ２１８）。
【００３０】
一方、調整値Ｂが第１所定値Ｔ１より大きい場合には、起動ディスクの反りは比較的大きいと判定する。起動ディスクの反りが比較的大きい場合、調整値Ｓをそのまま用いるのは適当ではないので、起動ディスクにおける内周チルト値Ａを改めて測定してメモリに記憶する（Ｓ２１５）。そして、調整値Ａを調整値Ｃに置換し、全周にわたって調整値Ｃ、Ｂに基づいてシークポジションにおけるチルト調整値を曲線補間して算出し（Ｓ２１７）、算出した調整値でチルト補正する（Ｓ２１８）。以上の処理はディスクイジェクトされるまで継続して実行される（Ｓ２１２、Ｓ２１９）。
【００３１】
図５に、シークポジション毎のチルト補正の様子を示す。図において横軸はシークポジションであり、縦軸はチルト調整値である。８ｃｍディスクの場合には０〜Ｌの全周にわたって同一のチルト調整値Ｓを用いてチルト補正を行う。１２ｃｍディスクの場合には処理が３つに大別される。反りが小さい（つまり調整値Ｂが第２所定値Ｔ２より小さい）１２ｃｍディスクではＬ／２までは調整値Ｓを用いてチルト調整し、Ｌ／２〜Ｌまでは調整値Ｓと調整値Ｂを直線補間して得られる調整値を用いてチルト調整する。反りが中程度（つまり調整値Ｂが第２所定値以上で第１所定値より小さい）の１２ｃｍディスクでは０〜Ｌの全周において調整値Ｓと調整値Ｂを曲線補間（図では２次近似）して得られる調整値を用いてチルト調整する。反りが大きい（つまり調整値Ｂが第１所定値Ｔ１より大きい）場合には、調整値Ａと調整値Ｂを曲線補間（図では２次近似）して得られる調整値を用いてチルト調整する。
【００３２】
このように、本実施形態では、反りが比較的小さい場合、あるいは中程度の場合には外周部における測定の１回のみでディスクの全周にわたってチルト調整することができる。しかも、外周における調整値は、トラックピッチやエラーレートを検出するために外周にシークさせるタイミングで測定するので、調整値を取得するための余分なシークを必要としない。また、反りが比較的大きい場合には内周における調整値を再測定するので、精度のよいチルト補正が可能である。
【００３３】
本実施形態では、起動ディスクを０〜Ｌ／２とＬ／２〜Ｌに大別しており、中周をＬ／２としているが、中周をＬ／２±δ（δは定数）の範囲で適宜設定してもよいのは言うまでもない。
【００３４】
また、本実施形態では、基本的には基準ディスクの内周で測定して得られた調整値Ｓを用いて起動ディスクの内周における調整値としているが、例えば図２において、起動ディスクの内周で測定して得られた調整値Ａを用いてＳ１０９の処理を実行し、あるいはＳ１１３の処理を実行してもよい。すなわち、調整値Ｂに応じて、あるいは調整値Ｂと調整値Ａの差分の絶対値に応じて反りの程度を評価し、反りが比較的小さい場合には内周から中周にわたって調整値Ａを用いてチルト調整するとともに中周から外周にわたって調整値Ａと調整値Ｂの直線補間を用いてチルト調整し、反りが比較的大きい場合には調整値Ａと調整値Ｂを曲線補間してチルト調整する。但し、この場合には起動ディスクにおいて常に内周側と外周側においてチルト調整値を測定して取得する必要がある。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】実施形態における光ディスク装置の構成図である。
【図２】実施形態の処理フローチャートである。
【図３】実施形態におけるシークポジション毎のチルト調整値説明図である。
【図４】他の実施形態の処理フローチャートである。
【図５】他の実施形態におけるシークポジション毎のチルト調整値説明図である。
【符号の説明】
【００３６】
１０  光ディスク、１６  光ピックアップ、３２  システムコントローラ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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