(57)【要約】【課題】装置解体後でも論理部品の通電時間及び消費電力及び平均温度の情報を保持・管理し、この情報を元に論理部品に対して柔軟な制御方式を提供すること。【解決手段】ファームウェア（２０）が装置（１０）に搭載された複数の論理部品毎（４０・５０・６０）に通電時間及び消費電力及び部品温度を認識し、その値を累計通電時間及び累計消費電力及び平均温度として各論理部品上に搭載した個々の不揮発性メモリ（４１・５１・６１）に逐一加算記憶し、装置解体後及び再搭載後でも論理部品毎（４０・５０・６０）の累計通電時間及び累計消費電力及び平均温度の確実な保持及び管理を可能にし、この結果を元に論理部品に対して柔軟な制御を行うことを可能にし、一般的な製品出荷時の品質保証及びリユース時の品質保証、稼動状況管理、耐久性診断、保守業務の効率向上を図る。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
論理部品毎の稼動状況を認識できるプログラムを具備し、不揮発性メモリへの読み書き
を可能とする制御用論理回路とプログラムを具備し、不揮発性メモリに記憶された稼動状
況を参照し論理部品の動作を制御することが出来るプログラムを具備する装置及びファー
ムウェアを用いることで論理部品の管理と制御を行う方式。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の論理部品で構成される装置において、各論理部品の情報を各論理部品
上に搭載された不揮発性メモリに記憶する機能を有するファームウェア及び論理部品に関
する。
【背景技術】
【０００２】
近年、装置の経年劣化による事故が後を絶たない。中でも中古品に関係する事故原因の
多くは、製造後長期間経過によるもの、長期間の使用により性能が劣化したもので、最悪
の場合火災を引き起こすものもある。その原因が工場内での製造条件の変化による不良、
すなわちロット不良の場合、トレーサビリティシステム（特許文献１）を用いて出荷先、
ユーザを特定することは実現されており、その問題意識は高い。しかし、出荷後にユーザ
が装置を使用していく中での経年劣化を逐一企業が把握していくことは難しい。動的に変
化するユーザの利用頻度、利用時間等を把握することは困難である為である。この為、ユ
ーザに即刻使用停止を求めたい場合、経年劣化したものは危険なので使用するなと企業は
マスメディアや取扱説明書を通じて呼びかけることしか出来ないのが実情である。しかし
、ユーザはこのような使用制限を自ら実施する場合は少なく、この結果重大事故を招く危
険性がないとは言い切れない。事実、（特許文献２）に示されるような、情報処理装置の
保守管理回路を設け、動的な部品情報からユーザに的確に警告を行い、交換時期の表示を
行うという方式も考えられている。但しこれはユーザへの警告を行うに留まっている。
【０００３】
【特許文献１】特開昭６２−２９８８４５号公報
【特許文献２】特開昭６１−１０３２５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
今回、ユーザの利用頻度の程度によっては使用制限を設ける必要がある論理部品を搭載
している装置を考える。ここで各論理部品の利用頻度を通電時間、消費電力、温度より求
めた結果、経年劣化に値し即刻使用制限をかけなくてはならない場合を想定する。従来の
技術では、前記背景技術に示したようにこれら部品情報から情報処理装置の保守管理回路
などが動作し、ユーザへの警告を行いユーザへその部品交換や使用制限を促すことに留ま
っていた。当然、ユーザがこれに従い部品交換や使用制限を行えば問題は起こらない。し
かし、警告に気付かない場合や交換作業を行うことが出来ないユーザの場合、この経年劣
化を有し危険な論理部品を放置することになる。結果、重大事故を招く危険性がある。本
発明において解決しようとする課題は、前記の困難を克服し装置内の経年劣化に値し即刻
使用制限を行う必要がある論理部品を選択的に停止または縮退動作させる方式を提供する
ことである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明では、ファームウェアが装置に搭載された複数の論理部品の稼動状況を逐次認識
し、各論理部品上に搭載した個々の不揮発性メモリに記憶された過去のその値とを加算し
累計値として各論理部品上に搭載した個々の不揮発性メモリに記憶し、装置解体後論理部
品がリユースされた場合であってもその累計値を確実に保持することを可能にし、この結
果を元に論理部品に対して選択的に停止または縮退動作させることを可能にする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明により、ユーザが装置を使用していく中で論理部品単位での稼動状況をファーム
ウェアは認識し、装置内の個々の論理部品上に搭載された不揮発性メモリに記憶された累
計された部品情報をファームウェアは参照し、製品寿命を過ぎて使用上問題がある場合や
経年劣化に値し即刻使用制限をかけなくてはならない場合、それを自動的に検知しファー
ムウェアがその論理部品を選択的に停止または縮退動作させることを可能にする。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、本発明の一実施例について図面を用いて具体的に説明する。
【０００８】
図１は、本発明の一実施例の装置に関するブロック図である。図２は、本発明の一実施
例である装置に関する部品情報管理方式の考え方を示すフローチャートである。なお、図
２は一つの論理部品におけるフローチャートである。本実施例の装置（１０）は、各種プ
ログラム（２１・２２・２３・２４・２５）により構成されるファームウェア（２０）と
不揮発性メモリ制御論理回路（３０）と複数の論理部品（４０・５０・６０）を有する。
ここでの例では論理部品は３枚で構成されているが、本発明では論理部品の搭載数で制限
されない。またこの論理部品（４０・５０・６０）にはそれぞれ不揮発性メモリ（４１・
５１・６１）が実装されていることを特徴としている。図２の部品情報管理方式の考え方
を示すフローチャート中の各部品情報の監視フェーズＡについて説明する。最初に経年劣
化判定材料の一つである累計通電時間に関して述べる。装置出荷後、ユーザが装置の使用
を始めると、ファームウェア（２０）の不揮発性メモリ読み書き制御プログラム（２５）
は、論理部品（４０・５０・６０）上に搭載された不揮発性メモリ（４１・５１・６１）
から累計通電時間を読み出す（２１０）。なお、装置出荷直後でも不揮発性メモリ（４１
・５１・６１）には、工場内での装置確認時に通電した各情報が記憶されている。その後
、今回電源を入れてから現在までの通電時間を算出し（２１１）、既に読み出した累計通
電時間とを和算し（２１２）、不揮発性メモリ読み書き制御プログラム（２５）は和算し
た結果を不揮発性メモリ（４１・５１・６１）に書き込む（２１３）。次に累計消費電力
について述べる。前記同様に装置出荷後、ユーザが装置の使用を始めると、ファームウェ
ア（２０）の不揮発性メモリ読み書き制御プログラム（２５）は、論理部品（４０・５０
・６０）上に搭載された不揮発性メモリ（４１・５１・６１）から累計消費電力を読み出
す（２２０）。その後、今回電源を入れてから現在までの消費電力を算出し（２２１）、
既に読み出した累計消費電力とを和算し（２２２）、不揮発性メモリ読み書き制御プログ
ラム（２５）は和算した結果を不揮発性メモリ（４１・５１・６１）に書き込む（２２３
）。最後に平均温度について述べる。前記同様に装置出荷後、ユーザが装置の使用を始め
ると、ファームウェア（２０）の不揮発性メモリ読み書き制御プログラム（２５）は、論
理部品（４０・５０・６０）上に搭載された不揮発性メモリ（４１・５１・６１）から平
均温度を読み出す（２３０）。その後、今回電源を入れてから現在までの平均温度を算出
し（２３１）、既に読み出した平均温度とを稼働時間を考慮した加重平均し（２３２）、
不揮発性メモリ読み書き制御プログラム（２５）は算出した結果を不揮発性メモリ（４１
・５１・６１）に書き込む（２３３）。（２１２）で算出した累計通電時間及び（２２２
）で算出した累計消費電力及び（２３２）で算出した平均温度を元に、論理部品制御プロ
グラム（２４）にて経年劣化を総合的に判断する。劣化なしと判断した場合（２４６）、
一定時間待機後（２４７）各部品情報の監視フェーズＡに戻る。劣化ありと判断した場合
（２４１）、論理部品制御プログラム（２４）で判断された経年劣化の程度に従い、論理
部品制御プログラム（２４）は周波数制御（２４２）または電圧制御（２４３）を行うこ
とで経年劣化を緩和し使用することが出来る。この後、一定時間待機後（２４５）各部品
情報監視フェーズＡに戻る。また論理部品制御プログラム（２４）で判断された経年劣化
の程度が劣悪な場合で使用するに耐えない場合、論理部品制御プログラム（２４）は論理
部品を停止（２４４）することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の一実施例の装置に関する要部ブロック図。
【図２】本発明の一実施例の装置に関する部品情報管理方式の考え方を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００１０】
１０…装置、２０…ファームウェア、２１…通電時間算出プログラム、２２…電力測定プ
ログラム、２３…温度測定プログラム、２４…論理部品制御プログラム、２５…不揮発性
メモリ読み書きプログラム、３０…不揮発性メモリ制御論理回路、４０…論理部品Ａ、４
１…不揮発性メモリ、５０…論理部品Ｂ、５１…不揮発性メモリ、６０…論理部品Ｃ、６
１…不揮発性メモリ、２１０…累計通電時間読み出し、２１１…現在通電時間算出、２１
２…累計通電時間算出、２１３…累計通電時間書き込み、２２０…累計消費電力読み出し
、２２１…現在消費電力測定、２２２…累計消費電力算出、２２３…累計消費電力書き込
み、２３０…平均温度読み出し、２３１…現在温度測定、２３２…平均温度算出、２３３
…平均温度書き込み、２４０…劣化判定、２４１…分岐（劣化あり）、２４２…周波数制
御、２４３…電圧制御、２４４…論理部品停止、２４５…一定時間待機、２４６…分岐（
劣化なし）、２４７…一定時間待機。
【図１】
2008171160.tif 000003
【図２】
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