(57)【要約】【課題】  トラッキング用案内溝を有する光ディスクに対する記録感度の測定精度を向上させ、記録時に記録パワーを調整することができる光ディスク記録再生装置を提供する。【解決手段】  レーザー制御部１０により所定の再生パワーＬＤ３の出力レベルを制御しているときに、スピンドルモータ７を所定の回転数となるよう動作させ、ピックアップ２を所定の移動開始位置から移動させ、移動中のトラッキングエラー（ＴＥ）信号を検出し、光ディスク１のランドとグルーブ間を横断するとき以外のＲＦ信号を測定し、光ディスクの感度測定を行うようにした。【選択図】  図１
2008130162.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
トラッキング用案内溝を有する光ディスクのグルーブ領域に記録を行うグルーブ記録方式により、あるいは、前記グルーブ領域と、前記トラッキング用案内溝以外のランド領域との両方に記録を行うランド・グルーブ記録方式により、記録マークを形成する光ディスク記録装置において、
レーザー光を出射するレーザー光源を有するピックアップを、所定の移動速度で、光ディスクの内周から外周に、または外周から内周に移動させる送り機構部と、
前記レーザー光源の出力パワーを、前記光ディスクのデータ再生を行うために必要な再生パワーとなるように制御する再生レーザー制御部と、
前記レーザー光源の出力パワーを、所定の記録パワーとなるように制御する記録レーザー制御部と、
前記光ディスクの反射波より、フォーカス誤差(ＦＥ)信号を検出するＦＥ検出部と、
前記ＴＥ信号に基づいてフォーカスサーボ制御を行うフォーカス制御部と、
前記光ディスクの反射波より、トラッキング誤差(ＴＥ)信号を検出するＴＥ検出部と、
前記光ディスクを、所定の回転数で回転させる回転制御部と、
前記レーザー光源からの出力光を前記光ディスクに照射したときの前記光ディスクからの反射波の全加算信号のレベルを、測定する反射波レベル測定部と、を備え、
前記ピックアップが前記光ディスクのランド領域とグルーブ領域間を横断するときの前記反射波の乱れを除去するための前記ＴＥ信号のしきい値レベルを設け、
前記光ディスクの再生時に、前記ＴＥ検出部により検出されたＴＥ信号が前記しきい値レベル以下のときの前記反射波の全加算信号のレベルから、記録感度の測定を行い、該記録感度の測定結果に応じて実際の記録時の記録パワーを変更するようにした、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記記録感度の測定は、レーザー光の照射位置が、ランド領域か、グルーブ領域かのいずれかにおいて行う、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の光ディスク記録装置において、
前記光ディスクの物理アドレスを取得するアドレス検出部を、さらに備え、
前記光ディスクの任意の物理アドレスの位置を前記ピックアップの移動開始位置とし、該移動開始位置から半径方向に対し前記ピックアップが所定の距離を移動する間に前記光ディスクが所定の回数を回転するよう、前記ピックアップの移動速度、および前記光ディスクの回転数を調整し、前記記録感度の測定を行う、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の光ディスク記録装置において、
前記光ディスクの物理アドレスを取得するアドレス検出部を、さらに備え、
前記光ディスクの任意の物理アドレスの位置を前記ピックアップの移動開始位置とし、前記光ディスクの中心と前記移動開始位置とを結ぶ直線とのなす角度が所定の角度となる半径方向の物理アドレス位置を、前記記録感度の測定位置とする、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の光ディスク記録装置において、
前記光ディスクの物理アドレスを取得するアドレス検出部、をさらに備え、
前記光ディスクは、複数のゾーンに分割され、各ゾーンごとに記録速度を変えて記録する記録メディアであり、
前記アドレス検出部からのアドレス情報に基づいて、前記光ディスクの各ゾーン領域の物理アドレスを把握し、該各ゾーン毎に前記記録感度の測定を行い、
前記各ゾーン毎の記録感度をそれぞれ平均化した結果に基づいて、前記記録パワーの出力レベルを変更するようにした、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項６】
請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載の光ディスク記録装置において、
前記光ディスクは、マークとスペースが混在した状態の記録メディアであり、
該光ディスクのデータ再生時に、前記レーザー光の照射位置が前記光ディスクのスペースであるときの前記反射波の全加算信号のレベルをホールドするホールド部を備え、
前記記録感度の測定は、前記ホールド部によりホールドされたレベルに基づいて行う、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録可能な情報記録媒体への光学情報の記録再生を行う光ディスク記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報記録媒体に情報、特にデジタル情報を記録再生する装置は、大容量のデータを記録再生する手段として注目されている。その中で、レーザー光を用いてデータを記録可能な光学的情報記録媒体がある。この光学的情報記録媒体には、一度だけ記録ができる追記型の光ディスクと、書き換えが可能な書き換え型の相変化光ディスクとがある。いずれも、光ディスクへの記録は、半導体レーザーの光ビームを回転する光ディスクに照射し、該ディスク上の記録膜を加熱融解させることで行う。この際、その光ビーム強度の強弱により記録膜の到達温度および冷却過程が異なり、記録膜の変化が起こる。記録されたデータの再生は、記録膜が変化しない程度の再生用の低い強度の光ビームを照射して、そのとき得られる、記録膜の反射率の違いによる反射波の強度差から、記録されたデータを読み取ることができる。
【０００３】
上述した光ディスクの記録方法では、光ディスク上にデータをマークとしてマークエッジ記録する場合に、所定のマークを記録するために、記録パワーの調整を行って最適な記録を行うようにする。
【０００４】
ところで、記録を行うための媒体である光ディスクは、該ディスク上に形成される膜や材料に違いがある。
【０００５】
追記型光ディスクは、基板上に、トラッキング用案内溝、記録層、反射層、保護層等が形成されてなり、記録層は、有機の色素系で形成されている。一方、書き換え型光ディスクは、基板上に、トラッキング用案内溝、誘電体層、記録層、反射層、オーバーコート層等が形成されてなり、記録層は層変化する膜で形成されている。ここで、これらの層が、光ディスク上ですべて均一で、同じ特性をもつものであれば、光ディスクの全領域に渡って、同じ記録条件で記録を行えばよい。
【０００６】
しかしながら、光ディスクの製造方法における、蒸着法やスパッタリングによる膜の生成の工程では、光ディスクの最内周や最外周において該膜の形成が不均一になりやすく、また、スピンコートにより塗布を行う工程では、光ディスクを回転させた際に生じる遠心力を用いて塗布を行うので、特に光ディスクの半径方向に対して、層の形成にばらつきが出る場合がある。
【０００７】
このような光ディスクに記録を行う場合、同じ記録パワーで記録しても、記録する位置での層の形成具合によっては、記録条件が異なることとなり、所要のマークが形成されない場合がある。
【０００８】
以上のような課題に対して、特許文献１では、記録媒体膜に相変化を起こさせないためにレーザーパワーのしきい値を設け、該しきい値以下のレーザーパワーでレーザー光照射を行ったときの反射光の測定結果より記録感度情報データを求め、この記録感度情報データに基づき、記録時に各記録部位に適切に対応したレーザ光源の出力制御を行うようにしている。これにより、半径方向位置によって記録感度が不均一である追記型光ディスクに対して記録を行う場合にも、最適な記録レーザの出力制御を行うことにより、再生時にディスク全面で均一な電気特性を得ることができる。
【特許文献１】特開平７−２９１８１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
近年の記録型光ディスクの物理的構造としては、該光ディスク上にトラッキング用の案内溝が形成されており、その案内溝であるグルーブに記録を行うグルーブ記録方式と、案内溝であるグルーブと、案内溝以外であるランドとの両方に記録を行うランド・グルーブ記録方式とが存在する。そして、光ディスクの半径方向にピックアップを移動させて反射光を取得する際には、グルーブとランド間を横断するときに反射光が乱れ、正確な測定が困難となるという問題がある。特許文献１の方法は、このように反射光が溝および溝以外の領域間を横断する場合が考慮されていないために、トラッキング用の案内溝が存在する光ディスクへのグルーブ記録、またはランド・グルーブ記録に、適切な記録レーザの出力制御を行うことができない。
【００１０】
また、ランドとグルーブとは、構造上、溝以外と、溝とであり、その高さが異なるために層の形成にも差が生じて、反射光のレベルも異なったものとなる場合がある。ランドとグルーブでまったく同一の反射光が得られるならば、特許文献１における半径方向への移動を行ってもよいが、実際には、ランドとグルーブの各領域の反射光レベルには差が生じる可能性があり、測定誤差を生じることとなる。
【００１１】
また、特許文献１においては、半径方向への移動を行っているため、レーザ出力制御を行うための記録部位の物理アドレスと、光ディスクの反射光を測定した位置との位置関係の把握を行うことができない。近年、光ディスク装置の高容量化により、上記記録部位の物理アドレスと、光ディスク上の測定を行う位置との位置関係を保ちながら測定を行う必要があるが、上記位置関係を明確に把握できないために、上記特許文献１の方法では、記録時に記録部位に対応したレーザ光源の出力制御を行うことができなかった。
【００１２】
また、特許文献１では、完全な未記録光ディスクの反射光の測定を行い、そののち記録を行うものであり、一部記録済み光ディスクに追記を行う場合には、記録された領域で反射光レベルが変化し、測定誤差を生じることとなる。
【００１３】
本発明は、上記従来の問題点を解消するためになされたものであり、記録感度の測定精度を向上させ、記録するときに所定のマークが形成されるように記録パワーを調整可能な光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
この課題を解決するため、本発明の請求項１にかかる光ディスク記録装置は、トラッキング用案内溝を有する光ディスクのグルーブ領域に記録を行うグルーブ記録方式により、あるいは、前記グルーブ領域と、前記トラッキング用案内溝以外のランド領域との両方に記録を行うランド・グルーブ記録方式により、記録マークを形成する光ディスク記録装置において、レーザー光を出射するレーザー光源を有するピックアップを、所定の移動速度で、光ディスクの内周から外周に、または外周から内周に移動させる送り機構部と、前記レーザー光源の出力パワーを、前記光ディスクのデータ再生を行うために必要な再生パワーとなるように制御する再生レーザー制御部と、前記レーザー光源の出力パワーを、所定の記録パワーとなるように制御する記録レーザー制御部と、前記光ディスクの反射波より、フォーカス誤差(ＦＥ)信号を検出するＦＥ検出部と、前記ＴＥ信号に基づいてフォーカスサーボ制御を行うフォーカス制御部と、前記光ディスクの反射波より、トラッキング誤差(ＴＥ)信号を検出するＴＥ検出部と、前記光ディスクを、所定の回転数で回転させる回転制御部と、前記レーザー光源からの出力光を前記光ディスクに照射したときの前記光ディスクからの反射波の全加算信号のレベルを、測定する反射波レベル測定部と、を備え、前記ピックアップが前記光ディスクのランド領域とグルーブ領域間を横断するときの前記反射波の乱れを除去するための前記ＴＥ信号のしきい値レベルを設け、前記光ディスクの再生時に、前記ＴＥ検出部により検出されたＴＥ信号が前記しきい値レベル以下のときの前記反射波の全加算信号のレベルから、記録感度の測定を行い、該記録感度の測定結果に応じて実際の記録時の記録パワーを変更するようにした、ことを特徴とする。
【００１５】
これにより、トラッキング用案内溝が存在する光ディスクにおいて、ピックアップがランド領域とグルーブ領域間を横断するときに生じる反射光の乱れを無くし、安定して記録感度を測定することができ、また、測定した記録感度に応じて記録パワーの出力レベルを変更することにより、光ディスクの全面にわたる記録マークの形成を安定して行うことができ、形成される記録マークの誤差を減らすことができ、記録時の記録パワーの制御を適切に行うことができる。
【００１６】
また、本発明の請求項２にかかる光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記記録感度の測定は、レーザー光の照射位置が、ランド領域か、グルーブ領域かのいずれかにおいて行う、ことを特徴とする。
【００１７】
これにより、案内溝の種類を判別しながら、記録感度の測定を行うことができるため、測定誤差が生じるのを防ぎ、測定精度を向上させることができる。
【００１８】
また、本発明の請求項３にかかる光ディスク記録装置は、請求項１または請求項２に記載の光ディスク記録装置において、前記光ディスクの物理アドレスを取得するアドレス検出部を、さらに備え、前記光ディスクの任意の物理アドレスの位置を前記ピックアップの移動開始位置とし、該移動開始位置から半径方向に対し前記ピックアップが所定の距離を移動する間に前記光ディスクが所定の回数を回転するよう、前記ピックアップの移動速度、および前記光ディスクの回転数を調整し、前記記録感度の測定を行う、ことを特徴とする。
【００１９】
これにより、光ディスクの回転数とピックアップの移動速度を連動して制御することができるため、光ディスク上におけるピックアップの位置と、記録部位の物理アドレスとの位置関係を把握しながら、高速で記録感度を測定することができ、記録時に、記録部位に対応した記録パワーの制御を行うことができる。
【００２０】
また、本発明の請求項４にかかる光ディスク記録装置は、請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の光ディスク記録装置において、前記光ディスクの物理アドレスを取得するアドレス検出部を、さらに備え、前記光ディスクの任意の物理アドレスの位置を前記ピックアップの移動開始位置とし、前記光ディスクの中心と前記移動開始位置とを結ぶ直線とのなす角度が所定の角度となる半径方向の物理アドレス位置を、前記記録感度の測定位置とする、ことを特徴とする。
【００２１】
これにより、光ディスクの中心位置から任意の半径方向に対してのみ記録感度の測定を行うため、記録感度の測定時間を短縮することができる。
【００２２】
また、本発明の請求項５にかかる光ディスク記録装置は、請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の光ディスク記録装置において、前記光ディスクの物理アドレスを取得するアドレス検出部、をさらに備え、前記光ディスクは、複数のゾーンに分割され、各ゾーンごとに記録速度を変えて記録する記録メディアであり、前記アドレス検出部からのアドレス情報に基づいて、前記光ディスクの各ゾーン領域の物理アドレスを把握し、該各ゾーン毎に前記記録感度の測定を行い、前記各ゾーン毎の記録感度をそれぞれ平均化した結果に基づいて、前記記録パワーの出力レベルを変更するようにした、ことを特徴とする。
【００２３】
これにより、光ディスクのゾーン単位で記録感度の測定を行うため、測定時間を短縮することができ、また、ピックアップの位置と記録時のゾーン領域の位置関係を把握することができるため、記録時に、記録しようとするゾーン領域に対応した記録パワーの制御を行うことができる。
【００２４】
また、本発明の請求項６にかかる光ディスク記録装置は、請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載の光ディスク記録装置において、前記光ディスクは、マークとスペースが混在した状態の記録メディアであり、該光ディスクのデータ再生時に、前記レーザー光の照射位置が前記光ディスクのスペースであるときの前記反射波の全加算信号のレベルをホールドするホールド部を備え、前記記録感度の測定は、前記ホールド部によりホールドされたレベルに基づいて行う、ことを特徴とする。
【００２５】
これにより、一部記録済み光ディスクに対する記録感度の測定精度を高めることができる。
【発明の効果】
【００２６】
本発明の光ディスク記録装置によれば、トラッキング用案内溝を有する光ディスクのグルーブ領域に記録を行うグルーブ記録方式により、あるいは、前記グルーブ領域と、前記トラッキング用案内溝以外のランド領域との両方に記録を行うランド・グルーブ記録方式により、記録マークを形成する光ディスク記録装置において、レーザー光を出射するレーザー光源を有するピックアップを、所定の移動速度で、光ディスクの内周から外周に、または外周から内周に移動させる送り機構部と、前記レーザー光源の出力パワーを、前記光ディスクのデータ再生を行うために必要な再生パワーとなるように制御する再生レーザー制御部と、前記レーザー光源の出力パワーを、所定の記録パワーとなるように制御する記録レーザー制御部と、前記光ディスクの反射波より、フォーカス誤差(ＦＥ)信号を検出するＦＥ検出部と、前記ＴＥ信号に基づいてフォーカスサーボ制御を行うフォーカス制御部と、前記光ディスクの反射波より、トラッキング誤差(ＴＥ)信号を検出するＴＥ検出部と、前記光ディスクを、所定の回転数で回転させる回転制御部と、前記レーザー光源からの出力光を前記光ディスクに照射したときの前記光ディスクからの反射波の全加算信号のレベルを、測定する反射波レベル測定部と、を備え、前記ピックアップが前記光ディスクのランド領域とグルーブ領域間を横断するときの前記反射波の乱れを除去するための前記ＴＥ信号のしきい値レベルを設け、前記光ディスクの再生時に、前記ＴＥ検出部により検出されたＴＥ信号が前記しきい値レベル以下のときの前記反射波の全加算信号のレベルから、記録感度の測定を行い、該記録感度の測定結果に応じて実際の記録時の記録パワーを変更するようにしたので、トラッキング用案内溝が存在する光ディスクにおいて、ピックアップがランド領域とグルーブ領域間を横断するときに生じる反射光の乱れを無くし、安定して記録感度を測定することができ、また、測定した記録感度に応じて記録パワーの出力レベルを変更することにより、光ディスクの全面にわたる記録マークの形成を安定して行うことができ、形成される記録マークの誤差を減らすことができ、記録時の記録パワーの制御を適切に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１による光ディスク記録装置の主要な構成を示すシステムブロック図である。
図１に示す本実施の形態１の光ディスク記録装置は、ピックアップ２、スライド送り機構部６、スピンドルモータ７、フォーカス制御部８、送り機構制御部９、レーザ制御部１０、回転制御部１１、フォーカスエラー（ＦＥ）検出部１２、トラッキングエラー（ＴＥ）検出部１３、ＲＦアンプ１４、およびシステム制御部１７を備え、光ディスク１に記録マークを形成するときに、メディアの感度によって異なる記録パワーを設定、変更して記録する。
【００２８】
光ディスク１は、記録型の光ディスクである。なお、記録型光ディスクとしては、レーザー光の強度により、記録層を変形させて記録マークを生成する、光記録膜がシアニン系などの有色素膜で形成されているものや、レーザー光の強度により、結晶層と非結晶層を可逆的に相変化が生じて、反射光の違いを利用して記録マークを生成する、光記録膜が相変化膜で形成されているものがある。また、記録型光ディスクには、あらかじめトラッキング用の案内溝が形成されており、記録方式としては、案内溝のグルーブ領域に記録するグルーブ記録方式、および、案内溝のグルーブ領域と案内溝以外のランド領域に記録するランド・グルーブ記録方式がある。いずれの記録方式であっても、光ディスクのトラッキング用案内溝には、ウオブルが形成され、アドレス情報が含まれる。
【００２９】
ピックアップ２は、光ディスク１にレーザーを出射し、光ディスク１に対する情報の書き込み及び読み出しを行う。このピックアップ２は、レーザー光を出射するレーザーダイオード（ＬＤ）３と、光ディスク１の記録面にフォーカスを合わせるためのレンズ１９ａと、レンズ１９ａを上下に駆動させてフォーカスを合わせるアクチュエータ４と、光ディスク１からの反射光を受光するフォトディテクタ（ＰＤ）５と、ＬＤ３からの出射光を透過してレンズ１９ａに導き、また、光ディスク１からの反射光をＰＤ５に導く偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１９ｂを有する。
【００３０】
スライド送り機構部６は、ピックアップ２を、光ディスク１の内周から外周方向に、または、外周から内周方向に移動させる。
【００３１】
スピンドルモーター７は、光ディスク１を回転させる。
【００３２】
フォーカス制御部８は、ＦＥ検出部１２から出力されるＦＥ信号に基づいて、光ディスク１の記録面にフォーカスが合うようにアクチュエータ４を動作させる。
【００３３】
送り機構制御部９は、スライド送り機構部６に対し、ピックアップ２を光ディスク１の半径方向に所定の移動速度でスライド送りさせるように制御を行う。
【００３４】
レーザー制御部１０は、ＬＤ３の出力パワーを、データの再生を行うために必要な再生パワーとなるように制御する再生レーザー制御部（図示せず）と、ＬＤ３の出力パワーを、所定の記録パワーとなるように制御する記録レーザー制御部（図示せず）と、を有し、ＬＤ３の出力が所定のパワーとなるように制御を行う。
【００３５】
回転制御部１１は、スピンドルモータ７を動作させて、光ディスク１が所定の回転数となるように制御を行う。
【００３６】
ＦＥ検出部１２は、フォーカスエラー（ＦＥ）を検出し、ＦＥ信号を生成する。
【００３７】
ＴＥ検出部１３は、トラッキングエラー（ＴＥ）を検出し、ＴＥ信号を生成する。
【００３８】
ＲＦアンプ部１４は、ＰＤ５で受光した反射光の全加算信号のレベルを増幅してＲＦ信号を生成する。
【００３９】
システム制御部１７は、ＴＥ検出部１３およびＲＦアンプ部１４の出力に基づいて、送り機構制御部９、レーザー制御部１０、回転制御部１１を制御する。
【００４０】
また、システム制御部１７は、フォーカス制御部８に対して、フォーカス制御の開始と停止のタイミングの設定を行う。
【００４１】
また、システム制御部１７は、送り機構制御部９に対して、ピックアップ２の移動速度の設定、移動開始位置の設定、内周方向あるいは外周方向へのピックアップ２の移動開始、および移動停止のタイミングの設定を行う。本実施の形態では、ピックアップ２の移動開始位置を、光ディスク１の最内周の位置とする。
【００４２】
また、システム制御部１７は、レーザー制御部１０に対して、所定のＬＤ３出力となるように、ＬＤ３の出力レベルの設定、ＬＤ３の出力開始および停止のタイミングの設定を行う。なお、ＬＤ３の出力レベルの設定は、ＴＥ検出部１３の出力およびＲＦアンプ部１４の出力に基づいて変更することができる。
【００４３】
さらに、システム制御部１７は、回転制御部１１に対して、光ディスク１の回転数の設定、光ディスク１の回転開始および回転停止のタイミングの設定を行う。なお、光ディスク１の回転数の設定は、ＴＥ検出部１３の出力およびＲＦアンプ部１４の出力に基づいて変更することができる。
【００４４】
また、システム制御部１７は、各種測定データを保持しておく手段（図示せず）を有し、この保持する手段としては、書き換え可能な不揮発メモリや、揮発メモリでもよい。
【００４５】
以上のように構成された光ディスク記録装置の動作について説明する。
まず、ピックアップ２を、移動開始位置である光ディスク１の最内周の位置に移動させる。そして、所定の回転数で光ディスク１を回転させながら、光ディスク１のデータ再生を開始する。このとき、光ディスク１の記録膜が変化しない再生パワーのレベルとなるようＬＤ３を電流制御して、レーザー光を出力させる。
【００４６】
ＬＤ３から出力されたレーザー光は、光ディスク１の記録面に照射され、その記録面からの反射光がＰＤ５で受光される。ＰＤ５により受光した信号からＦＥ信号を検出すると、アクチュエータ４を制御して、光ディスク１の記録面にフォーカスが合うようにフォーカス制御を行う。
【００４７】
フォーカス制御中に、ピックアップ２を、移動開始位置から最外周に向かって所定の移動速度で移動させる。
【００４８】
ここで、光ディスク１の回転方向と、ピックアップ２の移動方向との位置関係について、図２を用いて説明する。図２において、２１は、図１の光ディスク１を上から見たもの、２２は、光ディスク２１の回転方向、２３は、図１のピックアップ２の移動方向、２４は、光ディスク２１の記録面上を走査する軌跡を示す。
【００４９】
光ディスク２１は、回転制御部１１の制御により、所定の回転数で回転方向２２に回転している。このとき、ピックアップ２が光ディスク２１の最内周から最外周に向けて移動すると、フォーカス制御されたレーザー光は、軌跡２４に示すように、光ディスク２１の記録面上を走査する。図２では、光ディスク２１の回転がちょうど５回転したときに、ピックアップ２が移動方向２３に対して移動したことになる。ただし、図２は５回転した場合を図示しているが、任意の回転でもよい。
【００５０】
また、図３に、フォーカス制御されたレーザー光が、光ディスク２１の表面を走査する状態を拡大した図を示す。図３において、３１は、光ディスク２１の一部分を３次元的に拡大したもの、３２は、ピックアップ２を３次元的に拡大したもの、３３は、トラッキング用の案内溝以外の領域ランド、３４は、トラッキング用の案内溝であるグルーブである。３５は、光ディスク３１の回転方向を示す。３６は、ピックアップ２の移動方向を示す。３７は、レーザー光の照射方向を示す。
【００５１】
光ディスク３１の記録面にフォーカス制御されたレーザー光は、照射方向３７に示すように、光ディスク３１の記録面上のランド３３とグルーブ３４間を横断する。このとき、物理的にはランド３３とグルーブ３４の高さが異なるので、照射領域（ランド３３、またはグルーブ３４）に応じて、レーザー光のフォーカスが合うようにフォーカス制御部８により、制御される。
【００５２】
図４に、ピックアップ２を移動方向２３に向かって移動させた場合の測定感度を示した。図４において、縦軸は、測定感度を示し、横軸は、光ディスク２１の半径方向の記録位置を示す。
【００５３】
光ディスク２１の記録感度が内周から外周まで均一である場合、内周で測定した測定感度で一定となる。また、内周から外周までトラッキング用の案内溝がない場合、ランド３３とグルーブ３４間を横断することがないため、常に同じ領域を測定することになり、安定した測定感度となる。そのために、光ディスク２１の測定感度は、破線４１で示しように、内周から外周まで一定感度となる。
【００５４】
しかし、実際には、記録感度が内周から外周に向けてずれてくる場合があり、実線４２に示すように右肩上がりとなる。これは、外周に向けて感度が高くなっていることを示す。なお、図４では右肩上がりとなっているが、下がる場合や、上下する場合もある。
【００５５】
一方、高速で光ディスク２１の測定を行うために、ピックアップ２をスライド送り機構部６により、所定の移動速度で移動させているために、ランド３３とグルーブ３４間を横断する箇所で反射光に乱れが生じる。そのために、実線４２に示すように、測定結果に細かな変動が表れている。
【００５６】
このような細かな変動がでないように、ランド３３とグルーブ３４間を横断しないで、トラッキング用の案内溝に対しトラッキング制御を行うようにすれば、すべて同じ領域を走査することになり細かな変動を防ぐことができるが、すべての領域を走査するため、非常に時間がかかるという問題が生じる。
【００５７】
そこで、本実施の形態では、以下のようにして、細かな変動が出ないようにしている。
まず、ランド３３とグルーブ３４間を横断し、トラッキングエラー信号が変化する場合を、図５を例に説明する。
【００５８】
図５において、横軸は、時間を示し、縦軸は、トラッキングエラーＴＥ信号のレベルを示す。５１は、ランド３３とグルーブ３４間を横断する場合のＴＥ信号の波形、５２は、ランド３３とグルーブ３４の形状を示している。
【００５９】
図５に示すように、ＴＥ信号５１は、フォーカス制御されたレーザー光の照射位置が、トラッキング用の案内溝の中心であるとき、ＴＥ信号は、誤差がないため、中心位置にあることを示すゼロレベルを示す。ところが、レーザー光の照射位置が、トラッキング用の案内溝と案内溝以外の境界部分であるとき、最も誤差が大きくなる。つまり、ランド３３からグルーブ３４に移動するときは、最大値ＴＥ1となり、グルーブ３４からランド３３に移動するこきは最小値ＴＥ2となる。
【００６０】
このような誤差を取り除くため、システム制御部１７により、ピックアップ２が光ディスク２１のランド３３とグルーブ３４間を横断するときの反射波の乱れを除去するための該ＴＥ信号のしきい値レベル５３を設定する。そして、ＴＥ検出部１３により検出されたＴＥ信号が前記しきい値レベル５３以下のときの、反射波の全加算信号となるＲＦアンプ部１４の出力ＲＦ信号から記録感度の測定を行う。ここでは、範囲５４に示すように、しきい値レベル５３以下で、かつ、照射位置がグルーブ３４にあるときに、記録感度の測定を行うこととした。この測定結果を、図６に示す。
【００６１】
図６において、縦軸は、測定感度を示し、横軸は、光ディスク２１の半径方向の記録位置を示す。
【００６２】
破線６１は、内周から外周まで一定感度となる場合の測定感度を示す。例えば、光ディスク２１の記録感度が内周から外周まで均一である場合、内周で測定した測定感度で一定となる。また、内周から外周までトラッキング用の案内溝がない場合、ランド３３とグルーブ３４間を横断することがないため、常に同じ領域を測定することになり、安定した測定感度、つまり、内周から外周まで一定感度となる。
【００６３】
実線６２は、ＴＥ信号が設定されたしきい値レベル以下で、レーザー光の照射位置がグルーブ３４のときの記録感度を示す。
【００６４】
この図６から分かるように、照射位置が、ランド３３領域にあるときのＲＦ信号、および、ランド３３とグルーブ３４間を横断するときの反射光の乱れを除去し、照射位置がグルーブ３４領域にある時のみの記録感度の測定を行うことができる。これにより、記録感度の細かな変動を除去することができる。
【００６５】
図７に、図６の測定結果から記録パワー比率に置き換えを行った例を示す。
図７において、縦軸は、記録パワー比率を示し、横軸は、光ディスクの半径方向の記録位置を示す。
【００６６】
破線７１は、記録感度が均一の場合を示す。
実線７２は、測定した感度から逆算した記録パワー比率を示す。
【００６７】
図６の場合は外周になるほど記録感度が高くなっているため、図７の実線７２に示したように、外周では記録パワーを下げる処理をシステム制御部１７がレーザー制御部１０に対して設定すればよい。
【００６８】
このように、記録感度が記録位置によって異なる場合は、その記録位置に応じて記録用レーザーパワーを変更すればよい。
【００６９】
なお、本実施の形態では、ＴＥ信号が設定しきい値レベル以下で、かつ、照射位置がグルーブ３４であるときの、反射波の全加算信号のレベルを測定する場合について説明したが、ＴＥ信号が所定のしきい値レベル以下で、かつ、照射位置がランド３３領域にあるときに記録感度を測定するようにしてもよい。これにより、案内溝の種別を判別しながら、記録感度の測定を行うことができるため、測定精度をより向上させることができる。
【００７０】
また、システム制御部１７により、記録しようとする領域（ランド領域、グルーブ領域、またはランド・グルーブ領域）を切り替えて記録感度の測定を行い、該測定結果を各領域ごとに分類してシステム制御部１７に保持させるようにしてもよい。
【００７１】
このような本実施の形態１に係る光ディスク記録装置によれば、検出されたＴＥ信号が設定したしきい値レベル以下のときの反射波の全加算信号レベルから、記録感度の測定を行い、該記録感度の測定結果に応じて実際の記録時の記録パワーを変更するようにしたので、トラッキング用案内溝が存在する光ディスクにおいて、ピックアップがランド領域とグルーブ領域間を横断するときに生じる反射光の乱れを無くし、安定して記録感度を測定することができ、また、測定した記録感度に応じて記録パワーの出力レベルを変更することにより、光ディスクの全面にわたる記録マークの形成を安定して行うことができ、形成される記録マークの誤差を減らすことができ、記録時の記録パワーの制御を適切に行うことができる。
【００７２】
また、本実施の形態１に係る光ディスク記録装置によれば、記録感度の測定を、ＴＥ信号が設定したしきい値以下であり、かつ、レーザー光の照射位置がグルーブ領域であると判断したときに行うようにしたので、記録感度の測定精度をより向上させることができる。
【００７３】
（実施の形態２）
以下、本発明の実施の形態２に係る光ディスク記録装置について説明する。
上記実施の形態１と異なる点は、回転している光ディスク１とピックアップ２の位置関係を把握しながら記録感度の測定を行うようにした点である。
【００７４】
図８は、本実施の形態２による光ディスク記録装置の概略構成を示す図である。図８において、図１と同一構成要素については同一符号を用い、その説明を省略する。
【００７５】
図８に示す光ディスク記録装置は、図１に示す光ディスク記録装置の構成に加え、さらに、アドレス検出部２０１を備えたものである。
【００７６】
アドレス検出部２０１は、光ディスク１のウォブルに記録されているアドレス情報を検出し、光ディスク１の物理アドレスを取得する。本実施の形態では、光ディスク１の最内周の物理アドレスの位置をピックアップ２の移動開始位置とする。
【００７７】
以下、本実施の形態２の光ディスク記録装置の動作について説明する。
まず、移動開始位置にピックアップ２を移動させ、所定の回転数で光ディスク１を回転させる。そして、光ディスクのデータ再生を開始し、ピックアップ２を所定の移動速度ｖ［ｍ／ｓ］で移動させる。
【００７８】
ここで、ピックアップ２が、図２に示すように、移動開始位置から任意の半径方向２３に対し所定の距離Ｌ［ｍ］を移動するものとする。また、光ディスク１の回転数をｒ［ｒｐｍ］とし、ピックアップ２が距離Ｌ［ｍ］を移動する間の光ディスクがＮ回転するとした場合、光ディスク１がＮ回転するのにかかる回転時間は、ｔＮ［ｓ］＝６０／ｒ×Ｎ、ピックアップ２が距離Ｌを移動するのにかかる移動時間は、ｔＬ［ｓ］＝Ｌ／ｖ、となる。本実施の形態では、ｔＮ＝ｔＬの時間関係を満たすよう、つまり、ピックアップ２が距離Ｌを移動する間に光ディスクがＮ回転するよう、前記ピックアップ２の移動速度ｖ［ｍ／ｓ］、および光ディスクの回転数ｒ［ｒｐｍ］を調整する。
【００７９】
そして、上記実施の形態１のように、ＴＥ信号がしきい値レベル以下のときの反射波の全加算信号レベルから記録感度の測定を行い、記録感度の測定結果に応じて実際の記録時の記録パワーを変更する。
【００８０】
次に、ピックアップの移動速度および光ディスクの回転数の調整方法について詳細に説明する。
【００８１】
たとえば、光ディスク１が１回転する間に、ピックアップ２が移動開始位置から距離Ｌを移動する設定の場合、ｔＮ＝ｔＬの時間関係を満たすには、６０／ｒ×１＝Ｌ／ｖなので、移動速度ｖ［ｍ／ｓ］＝Ｌ／（６０／ｒ）でピックアップ２を移動させればよい。この場合、移動時間は、ｔＬ［ｓ］＝６０／ｒとなる。また、光ディスク１が２回転する間に、ピックアップ２が移動開始位置から距離Ｌを移動する設定の場合、ｔＮ＝ｔＬの時間関係を満たすには、６０／ｒ×２＝Ｌ／ｖなので、移動速度ｖ［ｍ／ｓ］＝Ｌ／（６０／ｒ）×１／２でピックアップ２を移動させればよい。この場合、移動時間は、ｔＬ［ｓ］＝６０／ｒ×２となる。また、光ディスク１がＮ回転する間に、ピックアップ２が移動開始位置から距離Ｌを移動する設定の場合、移動速度ｖ［ｍ／ｓ］＝Ｌ／（６０／ｒ）×１／Ｎでピックアップを移動させればよい。この場合、移動時間は、ｔＬ［ｓ］＝６０／ｒ×Ｎとなる。
【００８２】
一方、光ディスク１を１回転するのにかかる移動時間ｖ［ｍ／ｓ］と同じ時間で、光ディスクを２回転させたい場合は、回転数を２倍に設定すればよい。
【００８３】
このように、光ディスクの回転数が一定である場合、移動時間は回転回数に比例し、ピックアップの移動時間が一定である場合、回転数は回転回数に比例することとなる。したがって、ピックアップが距離Ｌを移動する間に光ディスクがＮ回転する場合、光ディスクの回転数、ピックアップの移動時間を調整することで、常に同じ位置での記録感度の測定が可能となる。つまり、光ディスクの回転数、回転回数、ピックアップの移動時間から、記録感度の測定位置と記録部位の物理アドレスの位置関係を把握することができる。
【００８４】
なお、光ディスクが回転する回転回数を調整することで、走査する距離を増やして、測定箇所、つまりサンプリングデータの数を増加させることが可能である。例えば、測定精度を上げたい場合には、回転回数を大きくしてサンプリングデータの数を増加させればよいし、測定時間を短縮したい場合には、回転回数を小さくしてサンプリングデータの数を減少させればよい。
【００８５】
このような本実施の形態２に係る光ディスク記録装置によれば、ピックアップの移動開始位置を基準にして、光ディスクがＮ回転中にピックアップが所定の距離Ｌを移動するように、光ディスクの回転数と、ピックアップの移動速度を調整するようにしたので、光ディスクの回転数とピックアップの移動速度を連動して制御することができるため、光ディスク上におけるピックアップの位置と、記録部位の物理アドレスとの位置関係を把握しながら、高速で記録感度を測定することができ、記録時に、記録部位に対応した記録パワーの制御を行うことができる。
【００８６】
（実施の形態３）
以下、本発明の実施の形態３に係る光ディスク記録装置について説明する。
上記実施の形態１および２では、らせん状に測定を行っているが、本実施の形態３では、任意の半径方向に対してのみ記録感度の測定を行うようにしている。
【００８７】
図９は、本実施の形態３による光ディスク記録装置の概略構成図を示す。図９において、図１と同一構成要素については同一符号を用い、その説明を省略する。
【００８８】
図９に示す光ディスク記録装置は、図１に示す光ディスク記録装置の構成に加え、さらに、アドレス検出部３０１およびタイマー３０２を備えた。
【００８９】
アドレス検出部３０１は、光ディスク１のウォブルに記録されているアドレス情報を検出し、光ディスク１の物理アドレスを取得する。本実施の形態では、光ディスク１の最内周の物理アドレスの位置を、ピックアップ２の移動開始位置とする。
【００９０】
タイマー３０２は、設定された所定の時間ごとにシステム制御部１７に通知処理を行う。
【００９１】
次に、本実施の形態３の光ディスク記録装置の動作について説明する。
まず、移動開始位置にピックアップ２を移動させ、所定の回転数で光ディスク１を回転させる。そして、光ディスク１のデータ再生を開始し、所定の移動速度でピックアップ２を移動させる。タイマー部３０２から設定した時間ごとにシステム制御部１７に通知処理を行い、この通知をシステム制御部１７が受け取る度に記録感度の測定を行う。これにより、光ディスク１のある半径方向に対してのみ、記録感度の測定が行われることになる。
【００９２】
ここで、本実施の形態３の記録感度の測定位置の決め方について説明する。
光ディスク１の回転数ｒ［ｒｐｍ］時の回転周期をＴ、１秒間当たりの角度変化量を示す角速度ωとすると、
Ｔ［ｓ］＝６０／ｒ、
ω［ｒａｄ／ｓ］＝２π／Ｔ＝２π（ｒ／６０）となる。
【００９３】
そして、光ディスク１の中心に対し、移動開始位置から時間変化ｄｔ［ｓ］後のピックアップの移動位置への角度変化をｄθとすると、ｄθ［ｒａｄ］＝ωｄｔの関係を満たすときの位置を測定位置とする。
【００９４】
したがって、システム制御部１７は、光ディスク１の所定の半径方向においてのみ記録感度の測定を行いたい場合、光ディスク１の回転数から回転周期を求めて、その回転周期をタイマー部３０２に設定すると、タイマー部３０２は、設定された回転周期の時間が経過するごとに、システム制御部１７に通知を行う。これにより、システム制御部１７は、その通知を受けた時点で、記録感度の測定を行うため、光ディスクの所定の半径方向においてのみ記録感度の測定を行うになる。なお、タイマー部３０２からシステム制御部１７に通知するタイミングを変化させることで、角度ｄθを任意の角度に設定することができる。
【００９５】
以上のことから、ピックアップ２は、移動開始位置から外周に向けて移動速度ｖ［ｍ／ｓ］で移動しているため、記録感度の測定は、回転周期Ｔ［ｓ］ごとに回転回数分行うことになる。なお、記録感度の測定は、上記実施の形態１のように、ＴＥ信号が所定のしきい値以下となる反射波の全加算信号レベルから行い、該測定結果に応じて実際の記録時の記録パワーを変更する。
【００９６】
所定の半径方向に対してのみ記録感度の測定を行う場合の測定位置を、図１０に示している。図１０において、８１は、光ディスク１を上から見た図であり、８２は、光ディスク１の回転方向を示している。
【００９７】
本実施の形態の記録感度の測定は、光ディスク８１の中心位置とピックアップ２の移動開始位置８３とを結ぶ直線（ｘ軸と呼ぶ。）とのなす角度がθとなる半径方向８４に対して、行う。つまり、黒丸印で示したように、ｘ軸とのなす角度がθである直線８４上にピックアップ２が移動したときに、測定が行われる。
【００９８】
このような本実施の形態３に係る光ディスク記録装置によれば、光ディスクの中心とピックアップの移動開始位置とを結ぶ直線とのなす角度が所定の角度となる半径方向の物理アドレス位置を、前記記録感度の測定位置としたので、光ディスクの中心位置から任意の半径方向に対してのみ記録感度の測定を行い、記録感度の測定時間を短縮することができる。
【００９９】
（実施の形態４）
以下、本発明の実施の形態４に係る光ディスク記録装置について説明する。
上記実施の形態１と異なる点は、その基板表面が内周から外周に向けて複数のゾーンに分割された光ディスクに対し、ゾーン単位で記録感度を測定するようにした点である。
【０１００】
図１１は、本実施の形態４による光ディスク記録装置の概略構成を示す図である。図１１において、図１と同一構成要素については同一符号を用い、その説明を省略する。
【０１０１】
図１１に示す光ディスク記録装置は、図１に示す光ディスク記録装置の構成に加え、さらに、アドレス検出部４０１を備えた。
【０１０２】
アドレス検出部４０１は、光ディスク１のウォブルに記録されているアドレス情報を検出し、光ディスクの物理アドレスを取得する。
【０１０３】
本実施の形態では、光ディスク１は、図１２（ａ）に示すように、例えば、３つのゾーンに分割され、各ゾーン毎に記録速度を変えて記録される記録メディア９１である。
【０１０４】
図１２において、光ディスク９１は、光ディスク１を上から見たものであり、３つのゾーン９２〜９４に分割されている。これらの分割された領域はそれぞれ内周側から、ゾーンＡ、ゾーンＢ、ゾーンＣとした。なお、ここでは、光ディスク９１が３つの領域に分割されている例を示したが、分割数は任意である。
【０１０５】
システム制御部１７では、アドレス検出部４０１からのアドレス情報に基づいて、各ゾーン領域の位置関係を把握することができる。
【０１０６】
次に、本実施の形態４の光ディスク記録装置の動作について説明する。
まず、移動開始位置にピックアップ２を移動させ、所定の回転数で光ディスク９１を回転させる。そして、光ディスク９１のデータ再生を開始し、所定の移動速度でピックアップ２を移動させ、ゾーン毎の記録感度の測定を行う。このとき、記録感度の測定は、上記実施の形態１のように、ＴＥ信号が所定のしきい値レベル以下のときの反射波の全加算信号レベルから、行う。
【０１０７】
そして、ゾーンＡ９２、ゾーンＢ９３、およびゾーンＣ９４で測定された、反射波のＲＦアンプ部１４出力の全加算信号レベルをそれぞれ平均化し、該平均化した測定結果に応じて、実際の記録時の記録パワーをゾーン単位で変更する。
【０１０８】
図１２（ｂ）に、光ディスク９１の各ゾーン毎の、平均化後の記録感度を示す。図において、縦軸は測定感度を示し、横軸は光ディスクの半径方向の位置を示す。
【０１０９】
各ゾーン毎の平均化記録感度は、図１２（ｂ）の実線９５に示すようなものとなる。なお、点線９６は、記録感度が全領域で均一の場合を示す。
【０１１０】
この図から分かるように、各ゾーン毎に測定感度を平均化しているため、同じゾーンエリア内では測定感度が一律となる。
【０１１１】
図１３に、光ディスク９１のゾーン毎の記録パワー比率と位置関係を示す。図１３において、縦軸は記録パワー比率を示し、横軸は光ディスクの半径方向の位置を示す。破線１０１は、記録感度が均一の場合を示す。
【０１１２】
図１２に示す、各ゾーン毎の平均化記録感度から算出した記録パワー比率は、実線１０２に示すようになる。これは、ゾーン単位で記録パワー比率を一律に変更し、同じゾーン領域内での記録パワーを一定にして記録することを示している。
【０１１３】
以上のように、同じゾーンエリア内での記録感度を一律に取得することで、同じゾーンエリア内では同じ記録パワーで一律に記録を行うことができる。
【０１１４】
このような本実施の形態４に係る光ディスク記録装置によれば、その基板表面が複数のゾーンに分割された光ディスクに対し、ピックアップの位置と、光ディスクの各ゾーン領域の物理アドレスとの位置関係を把握し、該各ゾーン毎に前記記録感度の測定を行ってそれぞれを平均化した結果に基づいて、記録時の記録パワーの出力レベルを変更するようにしたので、ゾーン単位で記録感度の測定を行い、測定時間を短縮することができ、また、ピックアップの位置と記録時のゾーン領域の位置関係を把握することができるため、記録時に、記録しようとするゾーン領域に対応した記録パワーの制御を行うことができる。
【０１１５】
（実施の形態５）
以下、本発明の実施の形態５に係る光ディスク記録装置ついて説明する。
上記実施の形態１から実施の形態４と異なる点は、マークとスペースが混在した状態の一部記録済み光ディスクに対しても、高精度の記録感度を実現できるようにした点である。
【０１１６】
図１４は、本実施の形態５による光ディスク記録装置の概略構成を示す図である。図１４において、図１と同一構成要素については同一符号を用い、その説明を省略する。
【０１１７】
図１４に示す光ディスク記録装置は、図１に示す光ディスク記録装置の構成に加え、さらに、ホールド部５０１を備えた。
【０１１８】
ホールド部５０１は、反射波のＲＦ信号のピークレベル、またはボトムレベルを検波し、保持する。ピークレベルまたはボトムレベルのどちらを検波するかは、システム制御部１７が、切り替えを行う。記録メディアの記録膜やＰＤ５の特性により、記録マークが存在する箇所の反射光レベルが高くなる場合は、記録マークが存在しない箇所の反射光レベルは低く得られるので、ボトムレベルを検波するようにする。逆に、記録マークが存在する箇所の反射光レベルが低くなる場合は、記録マークが存在しない箇所の反射光レベルは高く得られるので、ピークレベルを検波するようにする。
【０１１９】
次に、本実施の形態５の光ディスク記録装置の動作について説明する。
まず、移動開始位置にピックアップ２を移動させ、所定の回転数で光ディスク１を回転させる。そして、光ディスク１のデータ再生を開始し、所定の移動速度でピックアップ２を移動させる。このときの反射光の波形を図１５に示す。
【０１２０】
図１５において、記録マークが存在する場合の反射光の波形１１１は、例えば、方向１１２が示すように、記録マークが存在する箇所の反射光レベルが高くなり、方向１１３が示すように、記録マークが存在しない箇所（スペース）の反射光レベルは低くなる。
【０１２１】
方向１１３が示すように、記録マークが存在しない箇所、つまり、スペース部での反射光レベルは低くなるため、ホールド部５０１により、反射光の波形１１１のボトムレベル１１４を検波し、その値をホールドする。
【０１２２】
そして、上記実施の形態１のように、ＴＥ信号が所定のしきい値レベル以下の、前記ホールドされている反射光の全加算信号のボトムレベルから、記録感度を測定し、該記録感度に応じて、実際の記録時の記録パワーを変更するようにした。
【０１２３】
このような本実施の形態５に係る光ディスク記録装置によれば、光ディスクがマークとスペースが混在した状態の記録メディアである場合、該光ディスクのデータ再生時に、レーザー光の照射位置が前記光ディスクのスペースであるときの前記反射波の全加算信号のレベルをホールドし、該ホールドしたレベルに基づいて記録感度の測定を行うようにしたので、一部記録済み光ディスクに対する記録感度の測定精度を高めることができる。
【産業上の利用可能性】
【０１２４】
本発明にかかる光ディスク記録装置は、記録を行う前に光ディスクの感度を高速で測定する手段を有し、記録品質を向上させる等として有用である。また、未記録の光ディスクの検査等の用途にも応用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１２５】
【図１】本発明の実施の形態１による光ディスク記録装置の概略構成図である。
【図２】光ディスクの回転とピックアップの移動方向の位置関係を示す図である。
【図３】光ディスクの表面上をレーザー光が移動する位置関係を示す拡大図である。
【図４】光ディスクの半径方向の位置と測定感度との関係を示す図である。
【図５】光ディスクの表面上をレーザー光が移動したときに検出されるＴＥ信号を示す図である。
【図６】ＴＥ信号が所定のしきい値レベル以下となる反射波の全加算信号レベルから記録感度を測定した場合の光ディスクの半径方向の位置と測定感度との関係を示す図である。
【図７】上記実施の形態１における、記録時の記録パワー比率と位置関係を示す図である。
【図８】本発明の実施の形態２による光ディスク記録装置の概略構成図である。
【図９】本発明の実施の形態３による光ディスク記録装置の概略構成図である。
【図１０】光ディスクの半径一方向の位置関係を示す図である。
【図１１】本発明の実施の形態４による光ディスク記録装置の概略構成図である。
【図１２】光ディスクのゾーン単位における測定感度を示す図である。
【図１３】ゾーン単位における記録時の記録パワー比率と位置関係を示す図である。
【図１４】本発明の実施の形態５による光ディスク記録装置の概略構成図である。
【図１５】記録マークが存在するときの反射光の波形を示す図である。
【符号の説明】
【０１２６】
１  光ディスク
２  ピックアップ
３  レーザーダイオード（ＬＤ）
４  アクチュエータ
５  フォトディテクタ（ＰＤ）
６  スライド送り機構部
７  スピンドルモーター
８  フォーカス制御部
９  送り機構制御部
１０  レーザー制御部
１１  回転制御部
１２  フォーカスエラー（ＦＥ）検出部
１３  トラッキングエラー（ＴＥ）検出部
１４  ＲＦアンプ部
１７  システム制御部
２１  光ディスク
２２  回転方向
２３  ピックアップの移動方向
２４  軌跡
３１  光ディスク
３２  ピックアップ
３３  ランド
３４  グルーブ
３５  回転方向
３６  ピックアップの移動方向
３７  レーザー光の照射方向
８１  光ディスク
８２  回転方向
８３  移動開始位置
８４  記録感度の測定方向
９１  光ディスク
９２  ゾーンＡ
９３  ゾーンＢ
９４  ゾーンＣ
２０１，３０１，４０１  アドレス検出部
３０２  タイマー部
５０１  ホールド部
【図１】
2008130162.tif 000003
【図２】
2008130162.tif 000004
【図３】
2008130162.tif 000005
【図４】
2008130162.tif 000006
【図５】
2008130162.tif 000007
【図６】
2008130162.tif 000008
【図７】
2008130162.tif 000009
【図８】
2008130162.tif 000010
【図９】
2008130162.tif 000011
【図１０】
2008130162.tif 000012
【図１１】
2008130162.tif 000013
【図１２】
2008130162.tif 000014
【図１３】
2008130162.tif 000015
【図１４】
2008130162.tif 000016
【図１５】
2008130162.tif 000017