(57)【要約】【課題】光ピックアップに取り付ける回折格子の回転位置を容易に調整可能な方法を提供する。【解決手段】回折格子を回転可能に仮固定するステップ（Ｓ１１）と、光ディスクに対して光ピックアップをフォーカスオンさせるステップ（Ｓ１２）と、光ディスクに対して光ピックアップをトラッキングオフの状態で、メインビーム受光部の出力とサブビーム受光部の出力が１次関数で表される関係となるよう、回折格子の回転位置を調整するステップ（Ｓ１４）とを備える。これによれば、プッシュプル信号ＭＰＰとプッシュプル信号ＳＰＰの比例係数が最大値となったことを検出するのではなく、これらが１次関数で表される関係となったことを検出することによって回折格子の回転位置を調整していることから、回折格子の取り付け角度が正しい値となった場合、直ちにこれを判断することが可能となる。【選択図】図３
2008103022.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザーダイオードからの出力ビームをメインビームとサブビームに分離するための回折格子を光ピックアップに取り付けるための回折格子調整方法であって、
前記出力ビームの光路を軸として前記回折格子を回転可能に仮固定する第１のステップと、
光ディスクに対して前記光ピックアップをフォーカスオンさせる第２のステップと、
前記光ディスクに対して前記光ピックアップをトラッキングオフの状態で、前記光ディスクによって反射した前記メインビームを受光するためのメインビーム受光部の出力と、前記光ディスクによって反射した前記サブビームを受光するためのサブビーム受光部の出力とを監視し、これらが１次関数で表される関係となるよう、前記回折格子の回転位置を調整する第３のステップと、を備えることを特徴とする回折格子調整方法。
【請求項２】
前記第３のステップは、前記メインビーム受光部の出力をＸ座標に割り当て、前記サブビーム受光部の出力をＹ座標に割り当てた場合に得られる軌跡が楕円形から直線形に変化するよう、前記回折格子の回転位置を調整することを特徴とする請求項１に記載の回折格子調整方法。
【請求項３】
前記メインビーム受光部及び前記サブビーム受光部は複数の受光領域を含んでおり、前記メインビーム受光部の出力は前記メインビーム受光部に含まれる前記複数の受光領域の出力レベル差もしくは出力レベルの和であり、前記サブビーム受光部の出力は前記サブビーム受光部に含まれる前記複数の受光領域の出力レベル差もしくは出力レベルの和であることを特徴とする請求項１又は２に記載の回折格子調整方法。
【請求項４】
前記サブビーム受光部は、第１及び第２のサブビームをそれぞれ受光するための第１及び第２のサブビーム受光部を含んでおり、少なくとも前記第３のステップは、前記メインビーム受光部の出力と、前記第１及び第２のサブビーム受光部のいずれか一方の出力に基づいて調整を行うことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の回折格子調整方法。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか一項に記載の回折格子調整方法を用いて前記回折格子が取り付けられた光ピックアップ。
【請求項６】
請求項５に記載の光ピックアップを備える光記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は回折格子調整方法に関し、特に、光ピックアップに取り付ける回折格子の回転位置を微調整する方法に関する。また、本発明は、このようにして回折格子が取り付けられた光ピックアップ及びこれを備える光ディスク再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク再生装置に用いられる光ピックアップは、レーザーダイオードや受光素子など多数の光学部品によって構成されている。これらの光学部品の取り付けには極めて高い位置精度が要求されるため、試験用の光ディスクにレーザービームを実際に照射し、反射光を検出することによって取り付け位置の微調整が行われる。
【０００３】
図７は、光ピックアップの機能を説明するための模式図である。
【０００４】
図７に示すように、光ピックアップ１０はレーザーダイオード１１及び受光素子（フォトダイオードＩＣ）１２を備えている。レーザーダイオード１１からの出力ビームＢは、回折格子１３によってメインビームＭＢ及び２つのサブビームＳＢ１，ＳＢ２に分離され、ハーフミラー１４及び対物レンズ１５を介して光ディスク２０に照射される。これらのビームは、光ディスク２０によって反射し、対物レンズ１５及びハーフミラー１４を介して受光素子１２に入力する。対物レンズ１５は、アクチュエータ１６によって、トラッキング方向及びフォーカシング方向に微小範囲で駆動される。
【０００５】
ここで、メインビームＭＢはデータの再生（又は記録）に用いるビームであり、再生（又は記録）時は例えば図８に示すようにグルーブＧに沿って照射される。一方、サブビームＳＢ１，ＳＢ２はトラッキングサーボやフォーカスサーボに用いるビームであり、例えば図８に示すように、当該グルーブＧに隣接するランドＬ１，Ｌ２に沿ってそれぞれ照射される（特許文献１参照）。
【０００６】
光ディスク２０上におけるメインビームＭＢとサブビームＳＢ１，ＳＢ２の相対的な位置関係は、回折格子１３の取り付け角度（回転位置）によって決まる。したがって、回折格子１３の取り付け角度を正確に調整しなければ、サブビームＳＢ１，ＳＢ２がランドＬ１，Ｌ２に正しく照射されないため、正常にトラッキングオンできない。
【０００７】
図９は、受光素子１２の構成を概略的に示す平面図である。
【０００８】
図９に示すように、受光素子１２は、光ディスク２０によって反射したメインビームＭＢを受光するためのメインビーム受光部３０と、光ディスク２０によって反射したサブビームＳＢ１，ＳＢ２をそれぞれ受光するためのサブビーム受光部３１，３２を有している。これらメインビーム受光部３０及びサブビーム受光部３１，３２は、図９に示すＹ方向に配列されており、Ｘ方向における位置はほぼ一致している（Ｘ方向にずれていても構わない）。
【０００９】
メインビーム受光部３０及びサブビーム受光部３１，３２は、いずれも４つの受光領域によって構成されている。具体的には、メインビーム受光部３０は受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによって構成され、サブビーム受光部３１は受光領域Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３，Ｅ４によって構成され、サブビーム受光部３２は受光領域Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３，Ｆ４によって構成されている。
【００１０】
ここで、フォーカスオンの状態においては、光ディスク２０によって反射したメインビームＭＢはメインビーム受光部３０を構成する受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対して実質的に均等に照射される。同様に、サブビームＳＢ１はサブビーム受光部３１を構成する受光領域Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３，Ｅ４に対して実質的に均等に照射され、サブビームＳＢ２はサブビーム受光部３２を構成する受光領域Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３，Ｆ４に対して実質的に均等に照射される。
【００１１】
光ディスク２０上におけるメインビームＭＢとサブビームＳＢ１，ＳＢ２の相対的な位置関係は、メインビーム受光部３０から得られるプッシュプル信号とサブビーム受光部３１，３２から得られるプッシュプル信号との関係によって検出することができる。つまり、回折格子１３の取り付け角度（回転位置）を変化させることによって、光ディスク２０上におけるメインビームＭＢとサブビームＳＢ１，ＳＢ２の相対的な位置関係を変化させると、これらプッシュプル信号の関係は、図１０に示すように変化する。
【００１２】
図１０に示すように、メインビーム受光部３０のプッシュプル信号ＭＰＰをＸ座標に割り当て、サブビーム受光部３１，３２のプッシュプル信号ＳＰＰをＹ座標に割り当てると、これらの軌跡は常に直線形となる。ここで、メインビームＭＢのプッシュプル信号ＭＰＰは、
ＭＰＰ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）
によって定義され、サブビームＳＢ１，ＳＢ２のプッシュプル信号ＳＰＰは、
ＳＰＰ＝（Ｅ１＋Ｅ２＋Ｆ１＋Ｆ２）−（Ｅ３＋Ｅ４＋Ｆ３＋Ｆ４）
によって定義される。
【００１３】
図１０に示す軌跡Ｔ０は、回折格子１３の取り付け角度が正しい場合、つまり、図８に示したように、トラッキングオンの状態においてサブビームＳＢ１，ＳＢ２がランドＬ１，Ｌ２に照射される場合に得られる軌跡である。軌跡Ｔ０では、プッシュプル信号ＭＰＰとプッシュプル信号ＳＰＰとが反比例の関係にあり、その比例係数は最大値をとる。一方、図１０に示す軌跡Ｔ４は、図１１に示すように、メインビームＭＢとサブビームＳＢ１−４，ＳＢ２−４が同じトラックに照射されている場合に得られる軌跡であり、回折格子１３の取り付け角度が大きくずれている場合に観測される。軌跡Ｔ４では、プッシュプル信号ＭＰＰとプッシュプル信号ＳＰＰとが正比例の関係にあり、その比例係数は最大値をとる。
【００１４】
図１０に示す他の軌跡Ｔ１〜Ｔ３は、回折格子１３のずれ応じて観測される軌跡であり、それぞれ図１１に示すサブビームＳＢ１−１，ＳＢ２−１、サブビームＳＢ１−２，ＳＢ２−２、サブビームＳＢ１−３，ＳＢ２−３に対応している。したがって、ずれの大きさは、
Ｔ３＞Ｔ２＞Ｔ１
である。
【００１５】
したがって、回折格子１３の取り付けにおいては、図１０に示す波形をモニターし、プッシュプル信号の関係がＴ０の軌跡となるよう、取り付け角度を微調整すればよい。
【００１６】
【特許文献１】特開２００４−３９１０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
しかしながら、メインビーム受光部３０から得られるプッシュプル信号とサブビーム受光部３１，３２から得られるプッシュプル信号との関係は、図１０に示すように常に直線的であることから、軌跡Ｔ０に到達したか否かの判断は容易でない。つまり、プッシュプル信号ＭＰＰとプッシュプル信号ＳＰＰの比例係数が最大値であることを確認するためには、最大値近傍で回折格子１３の回転位置を何度も変化させて収束させる必要がある。このため、回折格子１３の角度調整には時間がかかるという問題があった。
【００１８】
本発明はこのような問題を解決すべくなされたものであって、光ピックアップに取り付ける回折格子の回転位置を容易に調整可能な方法を提供することを目的とする。
【００１９】
また、本発明は、このようにして回折格子が取り付けられた光ピックアップ及びこれを備える光ディスク再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
本発明による回折格子調整方法は、レーザーダイオードからの出力ビームをメインビームとサブビームに分離するための回折格子を光ピックアップに取り付けるための回折格子調整方法であって、出力ビームの光路を軸として回折格子を回転可能に仮固定する第１のステップと、光ディスクに対して光ピックアップをフォーカスオンさせる第２のステップと、光ディスクに対して光ピックアップをトラッキングオフの状態で、光ディスクによって反射したメインビームを受光するためのメインビーム受光部の出力と、光ディスクによって反射したサブビームを受光するためのサブビーム受光部の出力とを監視し、これらが１次関数で表される関係となるよう、回折格子の回転位置を調整する第３のステップと、を備えることを特徴とする。
【００２１】
また、本発明による光ピックアップは、上述した回折格子調整方法を用いて回折格子が取り付けられたことを特徴とする。さらに、本発明による光ディスク再生装置は、上記の光ピックアップを備えることを特徴とする。
【００２２】
本発明によれば、プッシュプル信号ＭＰＰとプッシュプル信号ＳＰＰの比例係数が最大値となったことを検出するのではなく、これらが１次関数で表される関係となったことを検出することによって回折格子の回転位置を調整している。このため、回折格子の取り付け角度が正しい値となった場合、直ちにこれを判断することが可能となる。つまり、目的とする回転位置近傍で回折格子の回転位置を何度も変化させる必要がなくなる。
【００２３】
本発明における第３のステップは、メインビーム受光部の出力をＸ座標に割り当て、サブビーム受光部の出力をＹ座標に割り当てた場合に得られる軌跡が楕円形から直線形に変化するよう、回折格子の回転位置を調整する。このような軌跡を得るためには、少なくとも前記第３のステップにおける調整を、メインビーム受光部の出力と第１及び第２のサブビーム受光部のいずれか一方の出力に基づいて行えばよい。このように、第１及び第２のサブビーム受光部の両方ではなく、いずれか一方の出力を用いれば、回折格子の回転位置に応じて、上記の軌跡が楕円形から直線形に変形することから、目的とする回転位置に達した旨の判断を容易に行うことが可能となる。
【００２４】
本発明においてメインビーム受光部及びサブビーム受光部は複数の受光領域を含んでいることが好ましく、メインビーム受光部の出力はメインビーム受光部に含まれる複数の受光領域の出力レベル差もしくは出力レベルの和であり、サブビーム受光部の出力はサブビーム受光部に含まれる複数の受光領域の出力レベル差もしくは出力レベルの和であることが好ましい。
【発明の効果】
【００２５】
このように、本発明によれば、プッシュプル信号ＭＰＰとプッシュプル信号ＳＰＰの比例係数が最大値となったことを検出するのではなく、これらが１次関数で表される関係となったことを検出することによって回折格子の回転位置を調整している。このため、従来に比べて、目的とする回転位置に達した旨の判断を容易に行うことが可能となることから、回折格子の取り付け位置を容易且つ正確に確定させることが可能となる。これにより、光ピックアップ及びこれを備える光ディスク再生装置の製造コストを低減させることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態について詳細に説明する。尚、本実施形態において回折格子が取り付けられる光ピックアップ１０の構成は、図７に示したとおりであることから、重複する説明は省略する。
【００２７】
図１は、本実施形態において調整の対象となる回折格子１３の構造を示す図であり、（ａ）は断面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は背面図である。
【００２８】
図１に示すように、回折格子１３は、回折格子本体１３ａとホルダ１３ｂによって構成される。回折格子本体１３ａは板状部材であり、ホルダ１３ｂの一方の面に取り付けられている。ホルダ１３ｂは、径の異なる２つの円板（円柱）が同軸に重ねられた形状を有しており、大径部には切り欠き１３ｃが設けられている。この切り欠き１３ｃは、回折格子１３の回転位置を調整するためのツマミの役割を果たす。また、後述するように、ホルダ１３ｂの小径部（突起部）１３ｄは、光ピックアップ１０への取り付けに際しての位置決め部としての役割を果たす。さらに、ホルダ１３ｂにはレーザービームが通過する貫通孔１３ｅが設けられている。このような構造により、ホルダ１３ｂは、回折格子本体１３ａをレーザービームの光路上に保持することができる。
【００２９】
図２は、受光素子１２の主要な入出力信号を説明するための図である。
【００３０】
受光素子１２の構成については、図９に示したとおりである。つまり、メインビーム受光部３０及びサブビーム受光部３１，３２を備えており、メインビーム受光部３０は受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄによって構成され、サブビーム受光部３１は受光領域Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３，Ｅ４によって構成され、サブビーム受光部３２は受光領域Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３，Ｆ４によって構成されている。
【００３１】
図２に示すように、受光素子１２の主要な出力信号は、メインビーム受光部３０からの出力信号であるＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つと、サブビーム受光部３１，３２からの出力信号であるＥＦ１／Ｅ１，ＥＦ２／Ｅ２，ＥＦ３／Ｅ３，ＥＦ４／Ｅ４の４つである。このうち、出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、それぞれメインビーム受光部３０を構成する受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄからの出力信号である。
【００３２】
また、出力信号ＥＦ１は、サブビーム受光部３１を構成する受光領域Ｅ１とサブビーム受光部３２を構成する受光領域Ｆ１の合成信号である。同様に、出力信号ＥＦ２は受光領域Ｅ２，Ｆ２の合成信号であり、出力信号ＥＦ３は受光領域Ｅ３，Ｆ３の合成信号であり、出力信号ＥＦ４は受光領域Ｅ４，Ｆ４の合成信号である。さらに、出力信号Ｅ１〜Ｅ４は、それぞれサブビーム受光部３１を構成する受光領域Ｅ１〜Ｅ４からの出力信号である。
【００３３】
図２に示すように、出力信号ＥＦ１とＥ１、出力信号ＥＦ２とＥ２、出力信号ＥＦ３とＥ３、出力信号ＥＦ４とＥ４は、それぞれ同一の端子から出力される信号であり、その切り替えは、テスト端子ＴＥＳＴを介して行う。具体的には、テスト端子ＴＥＳＴにローレベルの信号（例えばグランドレベル）を入力すると、これら端子からは合成信号であるＥＦ１，ＥＦ２，ＥＦ３，ＥＦ４が出力され、テスト端子ＴＥＳＴにハイレベルの信号（例えば５Ｖ）を入力すると、これら端子からは非合成信号であるＥ１，Ｅ２，Ｅ３，Ｅ４が出力される。
【００３４】
テスト端子ＴＥＳＴに入力する信号は、回折格子１３の取り付け作業を行う際にハイレベルとすべき信号であり、光ピックアップ１０を実際に使用する際にはローレベルに保たれる。
【００３５】
図３は、本実施形態による回折格子調整方法を説明するためのフローチャートである。以下、図３に示すフローチャートに沿って、本実施形態による回折格子調整方法について説明する。
【００３６】
まず、回折格子１３を光ピックアップ１０に仮固定する（ステップＳ１１）。仮固定の段階では、レーザーダイオード１１の出力ビームＢの光路を軸として、回転可能な状態とする。
【００３７】
図４は、光ピックアップ１０に対して回折格子１３を回転可能に仮固定した状態を示す部分断面図である。
【００３８】
図４に示すように、光ピックアップ１０の筐体には、図示しないレーザーダイオード１１からの出力ビームＢが通過する空洞１０ａが設けられており、この空洞１０ａに回折格子１３を構成するホルダ１３ｂの突起部１３ｄを嵌合させる。この状態で、回折格子１３を光ピックアップ１０の筐体に押しつける留め金１９を装着する。留め金１９は、出力ビームＢを遮らないよう、回折格子１３の両端部を押さえつける構造を有していることが好ましい。これにより、回折格子１３に入射した出力ビームＢは、メインビームＭＢと２つのサブビームＳＢ１，ＳＢ２に分離する。
【００３９】
次に、光ピックアップ１０を光ディスク２０に対してフォーカスオンさせる（ステップＳ１２）。この動作は、アクチュエータ１６を用いて対物レンズ１５と光ディスク２０との距離を周期的に変化させながら（振動させながら）、メインビーム受光部３０の出力である（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）と、（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）もしくは受光素子１２のＲＦ出力端子（図示せず）からの出力をモニターし、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）がゼロで且つ（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）もしくは受光素子１２のＲＦ出力が最大となるポイントに対物レンズ１５を保持することにより行うことができる。
【００４０】
この時、サブビーム受光部３１，３２からも出力が得られるが、光ディスク２０上におけるメインビームＭＢとサブビームＳＢ１，ＳＢ２の相対的な位置関係は未調整である。
【００４１】
次に、受光素子１２のテスト端子にハイレベルの信号を入力する（ステップＳ１３）。これにより、サブビーム受光部３１，３２の出力は合成されることなく、サブビーム受光部３１を構成する受光領域Ｅ１〜Ｅ４からの信号が出力される状態となる。これに基づいて、回折格子１３を出力ビームＢの光路を軸として回転させる。これにより、回折格子１３の取り付け角度（回転位置）を調整する（ステップＳ１４）。
【００４２】
回転位置の調整は、光ディスク２０に対して光ピックアップ１０をトラッキングオフさせた状態で、メインビームＭＢのプッシュプル信号ＭＰＰと、サブビームＳＢ１のプッシュプル信号ＳＰＰを監視することにより行う。本実施形態において、メインビームＭＢのプッシュプル信号ＭＰＰは、
ＭＰＰ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）
によって定義され、サブビームＳＢ１のプッシュプル信号ＳＰＰは、
ＳＰＰ＝（Ｅ１＋Ｅ２）−（Ｅ３＋Ｅ４）
によって定義される。
【００４３】
図５は、メインビーム受光部３０の出力であるプッシュプル信号ＭＰＰをＸ座標に割り当て、サブビーム受光部３１の出力であるプッシュプル信号ＳＰＰをＹ座標に割り当てた場合に得られる軌跡を示す模式的なグラフである。
【００４４】
図５に示す軌跡Ｔ０は、回折格子１３の取り付け角度が正しい場合、つまり、図８に示したように、トラッキングオンの状態でサブビームＳＢ１，ＳＢ２がランドＬ１，Ｌ２に照射される場合に得られる軌跡である。軌跡Ｔ０は、プッシュプル信号ＭＰＰとプッシュプル信号ＳＰＰとが反比例の関係にあり、その比例係数は最大値をとる。つまり、この軌跡Ｔ０は、図１０に示した軌跡Ｔ０と同じであり、直線形である。つまり、１次関数で表すことができる。
【００４５】
また、図５に示す軌跡Ｔ４は、図１１に示したように、メインビームＭＢとサブビームＳＢ１−４，ＳＢ２−４が同じトラックに照射されている場合に得られる軌跡であり、回折格子１３の取り付け角度が大きくずれている場合に観測される。軌跡Ｔ４は、プッシュプル信号ＭＰＰとプッシュプル信号ＳＰＰとが正比例の関係にあり、その比例係数は最大値をとる。つまり、この軌跡Ｔ４も、図１０に示した軌跡Ｔ４と同じであり、直線形である。
【００４６】
一方、サブビームＳＢ１，ＳＢ２の位置がこれらの中間にある場合には、図５に示すように、楕円形の軌跡を取る。具体的には、図１１に示すサブビームＳＢ１−１，ＳＢ２−１の位置にある場合には、Ｔ０の延在方向を長径とし、Ｔ４の延在方向を短径とする楕円形となる。また、図１１に示すサブビームＳＢ１−３，ＳＢ２−３の位置にある場合には、Ｔ４の延在方向を長径とし、Ｔ０の延在方向を短径とする楕円形となる。さらにこれらの中間であるＳＢ１−２，ＳＢ２−２の位置にある場合には、ほぼ円形となる。
【００４７】
本実施形態では、回折格子１３の回転位置によってこのような軌跡の変化が生じるため、目的とする回転位置を特定することは容易である。つまり、回折格子１３の回転位置を変化させながら図５に示す軌跡を監視し、これが直線形となったところで固定すればよい。このため、従来のように、目的とする回転位置近傍で回折格子１３の角度を何度も変化させて収束させるといった作業が不要であり、多くの場合、１回の操作で目的とする回転位置を特定することが可能となる。
【００４８】
回折格子１３の回転位置調整は、調整治具と駆動装置を用いて自動的に行うことが可能である。この場合、調整治具を回折格子１３の切り欠き１３ｃに差し込めば、簡単に回転位置を変化させることができる。
【００４９】
以上により、回折格子１３の回転位置が正しく調整され、トラッキングオンの状態でサブビームＳＢ１，ＳＢ２がランドＬ１，Ｌ２に正しく照射されることになる。
【００５０】
このように、本実施形態による回折格子調整方法においては、受光素子１２のテスト端子にハイレベルの信号を入力することにより、合成されていない信号Ｅ１〜Ｅ４を出力させ、これに基づいてプッシュプル信号ＭＰＰ，ＳＰＰの関係を監視していることから、回折格子１３の回転位置を容易に確定させることが可能となる。これにより、光ピックアップ及びこれを備える光ディスク再生装置の製造コストを低減させることが可能となる。
【００５１】
また、本実施形態による回折格子調整方法によれば、プッシュプル信号ＭＰＰ，ＳＰＰの位相差を数値で制御することができる。つまり、図５に示した軌跡Ｔ０，Ｔ２，Ｔ４は、それぞれプッシュプル信号ＭＰＰ，ＳＰＰの位相差が１８０度、９０度、０度であることを示している。また、軌跡Ｔ０〜Ｔ２の間は、回折格子１３の回転位置に応じて位相差が１８０度から９０度の間で変化し、軌跡Ｔ２〜Ｔ４の間は、回折格子１３の回転位置に応じて位相差が９０度から０度の間で変化する。このように、図５に示す軌跡は、回折格子１３の回転位置に応じてリニアに変化するため、調整機によって位相差を数値表示することが可能となる。これに対し、サブビーム受光部３１，３２からの合成信号ＥＦ１〜ＥＦ４を用いると、位相差は１８０度もしくは０度としかならない。このため、合成信号ＥＦ１〜ＥＦ４を用いると、回折格子１３の回転位置を正しく調整することは困難である。
【００５２】
尚、上記の例では、出力差を示すプッシュプル信号ＭＰＰ，ＳＰＰを用いているが、和信号用いることも可能である。つまり、メインビームＭＢの和信号をＭｓｕｍ、サブビームＳＢ１の和信号をＳｓｕｍとすると、
Ｍｓｕｍ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）
Ｓｓｕｍ＝（Ｅ１＋Ｅ２＋Ｅ３＋Ｅ４）
と定義し、メインビームＭＢの和信号Ｍｓｕｍを横軸に割り当て、サブビームＳＢ１の和信号Ｓｓｕｍを縦軸に割り当てても構わない。この場合も、差信号同士を比較したときと同様、回折格子１３の回転位置に応じて軌跡が楕円形から直線形に変化する。
【００５３】
図６は、本実施形態の方法によって回折格子１３が取り付けられた光ピックアップ１０を備える光ディスク再生装置１００の構成を概略的に示すブロック図である。
【００５４】
図６に示す光ディスク再生装置１００は、光ディスク２０を回転させるためのスピンドルモータ１０２と、光ディスク２０にレーザービームを照射するとともにその反射光を受光する光ピックアップ１０と、スピンドルモータ１０２及び光ピックアップ１０の動作を制御するコントローラ１０４と、光ピックアップ１０にレーザ駆動信号を供給するレーザ駆動回路１０５と、光ピックアップ１０にレンズ駆動信号を供給するレンズ駆動回路１０６とを備えている。
【００５５】
コントローラ１０４にはフォーカスサーボ追従回路１０７、トラッキングサーボ追従回路１０８及びレーザコントロール回路１０９が含まれている。フォーカスサーボ追従回路１０７が活性化すると、回転している光ディスク２０の記録面にフォーカスがかかった状態となり、トラッキングサーボ追従回路１０８が活性化すると、光ディスク２０の偏芯している信号トラックに対して、レーザービームのスポットが自動追従状態となる。
【００５６】
フォーカスサーボ追従回路１０７及びトラッキングサーボ追従回路１０８には、フォーカスゲインを自動調整するためのオートゲインコントロール機能及びトラッキングゲインを自動調整するためのオートゲインコントロール機能がそれぞれ備えられている。また、レーザコントロール回路１０９は、レーザ駆動回路１０５により供給されるレーザ駆動信号を生成する回路であり、再生出力を一定に保つために、適切なレーザ駆動信号の生成を行う。
【００５７】
これらフォーカスサーボ追従回路１０７、トラッキングサーボ追従回路１０８及びレーザコントロール回路１０９については、コントローラ１０４内に組み込まれた回路である必要はなく、コントローラ１０４と別個の部品であっても構わない。さらに、これらは物理的な回路である必要はなく、コントローラ１０４内で実行されるソフトウェアであっても構わない。なお、光ディスク再生装置１００は、記録機能を備えていても構わないし、あるいは記録機能を有していない再生専用の装置であっても構わない。
【００５８】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の好ましい実施形態において調整の対象となる回折格子１３の構造を示す図であり、（ａ）は断面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は背面図である。
【図２】受光素子１２の主要な入出力信号を説明するための図である。
【図３】本発明の好ましい実施形態による回折格子調整方法を説明するためのフローチャートである。
【図４】光ピックアップ１０に対して回折格子１３を回転可能に仮固定した状態を示す部分断面図である。
【図５】メインビーム受光部３０の出力であるプッシュプル信号ＭＰＰをＸ座標に割り当て、サブビーム受光部３１の出力であるプッシュプル信号ＳＰＰをＹ座標に割り当てた場合に得られる軌跡を示す模式的なグラフである。
【図６】光ディスク再生装置１００の構成を概略的に示すブロック図である。
【図７】光ピックアップの機能を説明するための模式図である。
【図８】光ディスク２０上における各ビームＭＢ，ＳＢ１，ＳＢ２の照射位置を示す略平面図である。
【図９】受光素子１２の構成を概略的に示す平面図である。
【図１０】メインビーム受光部３０の出力であるプッシュプル信号ＭＰＰをＸ座標に割り当て、サブビーム受光部３１，３２の出力であるプッシュプル信号ＳＰＰをＹ座標に割り当てた場合に得られる軌跡を示す模式的なグラフである。
【図１１】光ディスク２０上における各ビームＭＢ，ＳＢ１，ＳＢ２の照射位置を示す略平面図である。
【符号の説明】
【００６０】
１０      光ピックアップ
１０ａ    空洞
１１      レーザーダイオード
１２      受光素子
１３      回折格子
１３ａ    回折格子本体
１３ｂ    ホルダ
１３ｃ    切り欠き
１３ｄ    小径部（突起部）
１３ｅ    貫通孔
１４      ハーフミラー
１５      対物レンズ
１９      留め金
２０      光ディスク
３０      メインビーム受光部
３１，３２    サブビーム受光部
１００    光ディスク再生装置
１０２    スピンドルモータ
１０４    コントローラ
１０５    レーザ駆動回路
１０６    レンズ駆動回路
１０７    フォーカスサーボ追従回路
１０８    トラッキングサーボ追従回路
１０９    レーザコントロール回路
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ１〜Ｅ４，Ｆ１〜Ｆ４    受光領域／出力信号
ＥＦ１〜ＥＦ４    合成信号
ＭＢ      メインビーム
ＳＢ１，ＳＢ２    サブビーム
ＴＥＳＴ    テスト端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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