(57)【要約】【課題】Ｘ線撮像装置のキャリブレーションにおける宇宙線などの影響を低減する。【解決手段】参考時間内において各チャンネルごとにＤ１〜Ｄｋの投影データが収集され、全チャンネルの投影データ（Ｄ１〜Ｄｋ）に関する平均値ＡＶＲと標準偏差ＳＤＲが算出される。そして、キャリブレーション用のデータとして各チャンネルごとに次々に得られる投影データと、例えば平均値ＡＶＲが比較され、投影データと平均値ＡＶＲとの差が許容値を超えると、その投影データがミューオンの影響を受けていると判断してその投影データをキャリブレーション用のデータから除去する。これにより、キャリブレーションにおいて、ミューオンなどの影響を受け難くなり、一層正確にキャリブレーションを行うことが可能になる。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に対してＸ線を照射するＸ線発生部と、
Ｘ線を検出する複数の半導体素子からなる半導体素子アレイを備えたＸ線検出部と、
Ｘ線の検出データに基づいてＸ線画像データを形成する画像形成部と、
参考時間内において収集される検出データに関する統計データに基づいて、キャリブレーションのために得られる検出データの有効性を判断する制御部と、
を有する、
ことを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載のＸ線撮像装置において、
前記制御部は、キャリブレーションのために得られる検出データのうちの特異的なデータを無効と判断する、
ことを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項３】
請求項２に記載のＸ線撮像装置において、
前記制御部は、統計データに基づいて、半導体素子アレイの各チャンネルごとにキャリブレーションのために得られる検出データのうちの特異的なデータを除去する、
ことを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項４】
請求項３に記載のＸ線撮像装置において、
前記制御部は、半導体素子アレイの複数チャンネルに亘って収集される検出データに基づいて統計データを算出する、
ことを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項５】
請求項４に記載のＸ線撮像装置において、
前記制御部は、統計データとして算出される検出データの平均値と、キャリブレーションのために各チャンネルごとに得られる検出データを比較することにより、特異的なデータを抽出する、
ことを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項６】
請求項４に記載のＸ線撮像装置において、
前記制御部は、統計データとして算出される検出データの標準偏差と、キャリブレーションのために各チャンネルごとに得られる検出データの標準偏差を比較することにより、特異的なデータを抽出する、
ことを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項７】
請求項３に記載のＸ線撮像装置において、
前記制御部は、半導体素子アレイの各チャンネルごとに収集される検出データに基づいて各チャンネルごとに統計データを算出する、
ことを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項８】
請求項７に記載のＸ線撮像装置において、
前記制御部は、各チャンネルごとに統計データとして算出される検出データの平均値と標準偏差に基づいて閾値を設定し、各チャンネルごとにキャリブレーションのために得られる検出データと当該閾値とを比較することにより特異的なデータを抽出する、
ことを特徴とするＸ線撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線撮像装置のキャリブレーションに関する。
【背景技術】
【０００２】
動物や人間などの被検体にＸ線を照射して透過したＸ線から得られる投影データに基づいて被検体のＸ線画像を形成するＸ線撮像装置が知られている。Ｘ線画像を利用することにより、被検体の体内の様子を視覚的に診断することができるため、例えば人間に対する医療の現場においてＸ線撮像装置は欠かせない存在となっている。また、人間以外の動物に関する治療や実験などにおいてもＸ線撮像装置の利用価値は極めて高い。
【０００３】
一般にＸ線撮像装置は、Ｘ線発生器から被検体に対してＸ線を照射して被検体を透過したＸ線をＸ線検出器で検出し、その検出結果に基づいてＸ線画像を形成する。従って、高画質で高品質なＸ線画像を形成するためには、Ｘ線発生器から照射されるＸ線の強度やＸ線検出器におけるＸ線の検出感度などを安定させることが望ましい。
【０００４】
そこで、Ｘ線の強度やＸ線の検出感度などを安定させるために、これらを調整するキャリブレーションが行われる。例えば、Ｘ線撮像装置を利用して撮像を行う前に、Ｘ線撮像装置のキャリブレーションが行われ、Ｘ線発生器やＸ線検出器などが適宜調整される。キャリブレーションを正確に行うためには、キャリブレーション時にノイズなどの影響を受けないことが望ましい。
【０００５】
Ｘ線撮像装置による撮像時などにおける外来ノイズとして、宇宙線が知られている。宇宙線は、宇宙空間から不規則的に絶え間なく地球に飛び込み、大気中の原子と衝突してミューオンなどとして地表に飛来する。こうした宇宙線などの外来放射線がＸ線撮像装置による撮像や測定において悪影響を及ぼす場合がある。そのため、従来から、宇宙線による影響の度合いを知るための技術や宇宙線による影響を取り除くための技術がいくつか提案されている。
【０００６】
例えば、特許文献１には、撮像素子を利用して光を撮像して画像を形成し、さらに２枚の高エネルギー検出セルを利用して宇宙線の通過位置を検出し、撮像された画像と検出された宇宙線の通過位置を重ねて表示させることにより、画像中の宇宙線の通過位置における点が宇宙線によるものであることを認識させる技術が記載されている。
【０００７】
また、特許文献２には、バックグランドノイズとなる宇宙線成分を除去する体表面モニタが記載されており、特許文献３には、宇宙線および内部バックグランドに相当する検出パルスを除去して高精度の放射線検出を行う技術が記載されている。
【０００８】
【特許文献１】特開平５−３１２９５５号公報
【特許文献２】特開平１１−４４７６６号公報
【特許文献３】特開平１１−３２６５２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上記のような背景において、本願発明者らは、Ｘ線撮像装置のキャリブレーション時における宇宙線などの影響に注目して研究開発を重ねてきた。
【００１０】
本発明は、その研究開発の過程において成されたものであり、その目的は、Ｘ線撮像装置のキャリブレーションにおける宇宙線などの影響を低減することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、本発明の好適な態様のＸ線撮像装置は、被検体に対してＸ線を照射するＸ線発生部と、Ｘ線を検出する複数の半導体素子からなる半導体素子アレイを備えたＸ線検出部と、Ｘ線の検出データに基づいてＸ線画像データを形成する画像形成部と、参考時間内において収集される検出データに関する統計データに基づいて、キャリブレーションのために得られる検出データの有効性を判断する制御部と、を有することを特徴とする。
【００１２】
上記態様において、Ｘ線検出部は、例えば電荷蓄積方式の半導体Ｘ線検出器などであり、半導体素子により直接的にＸ線を検出するものが望ましい。つまり、シンチレータなどを介してＸ線を光に変換してＣＣＤなどで光を検出する間接的な検出器よりも、Ｘ線の照射によって結晶中に生じる電子などを直接的に検出する検出器が望ましい。例えば電荷蓄積方式の半導体Ｘ線検出器であれば、ＣＣＤなどで光を検出する間接的なタイプに比べて、およそ１０００倍程度の感度の向上が可能になる。但し、単にＸ線の検出感度を高めると、被検体を透過したＸ線の検出感度が高められるものの、宇宙線などに対する感度も高められ、Ｘ線の検出感度などに関するキャリブレーション時において、宇宙線などによる影響が無視できなくなる。
【００１３】
上記態様においては、キャリブレーションにおける宇宙線などによる影響を低減させるために、望ましくは宇宙線などによる影響を完全に無くすために、Ｘ線の検出データに関する統計データに基づいてキャリブレーションのために得られる検出データの有効性を判断する。例えば、キャリブレーションのために得られる検出データのうちの宇宙線の影響を受けたデータを除去する。これにより、例えばＸ線の検出動作を含んだキャリブレーションにおいて、宇宙線などの影響を受け難くなり、一層正確にキャリブレーションを行うことが可能になる。
【００１４】
望ましい態様において、前記制御部は、キャリブレーションのために得られる検出データのうちの特異的なデータを無効と判断することを特徴とする。
【００１５】
望ましい態様において、前記制御部は、統計データに基づいて、半導体素子アレイの各チャンネルごとにキャリブレーションのために得られる検出データのうちの特異的なデータを除去することを特徴とする。
【００１６】
望ましい態様において、前記制御部は、半導体素子アレイの複数チャンネルに亘って収集される検出データに基づいて統計データを算出することを特徴とする。
【００１７】
望ましい態様において、前記制御部は、統計データとして算出される検出データの平均値と、キャリブレーションのために各チャンネルごとに得られる検出データを比較することにより、特異的なデータを抽出することを特徴とする。
【００１８】
望ましい態様において、前記制御部は、統計データとして算出される検出データの標準偏差と、キャリブレーションのために各チャンネルごとに得られる検出データの標準偏差を比較することにより、特異的なデータを抽出することを特徴とする。
【００１９】
望ましい態様において、前記制御部は、半導体素子アレイの各チャンネルごとに収集される検出データに基づいて各チャンネルごとに統計データを算出することを特徴とする。
【００２０】
望ましい態様において、前記制御部は、各チャンネルごとに統計データとして算出される検出データの平均値と標準偏差に基づいて閾値を設定し、各チャンネルごとにキャリブレーションのために得られる検出データと当該閾値とを比較することにより特異的なデータを抽出することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２１】
本発明により、Ｘ線撮像装置のキャリブレーションにおける宇宙線などの影響を低減することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の好適な実施形態を図面に基づいて説明する。
【００２３】
図１には、本発明に係るＸ線撮像装置の好適な実施形態が示されており、図１は、Ｘ線撮像装置の一例であるＸ線ＣＴ装置の全体構成を示す機能ブロック図である。このＸ線ＣＴ装置は、例えばマウス、ラット、モルモット、ハムスターなどの小動物の被検体９０に関するＣＴ測定に適している。なお、被検体９０は、これら例示のものに限定されない。
【００２４】
Ｘ線発生器１０は、例えば容器などに収容された被検体９０に対してＸ線を照射する。つまり、Ｘ線発生器１０は、立体的な末広形状のファンビーム１２を照射する。ファンビーム１２は、角錐形状であることが望ましい。但しファンビーム１２が円錐形状などであってもよい。
【００２５】
Ｘ線検出器２０は、被検体９０を挟んでＸ線発生器１０に対向して配置され、被検体９０を透過するファンビーム（Ｘ線）１２を検出する。Ｘ線検出器２０は、電荷蓄積方式の半導体Ｘ線検出器であり、複数の半導体素子からなる半導体素子アレイ２２を備えている。そして、Ｘ線の照射によって各半導体素子の固体中に生じる電子などを計測することによりＸ線が直接的に（Ｘ線を光などに変換することなく）検出される。
【００２６】
半導体素子アレイ２２を構成する複数の半導体素子は二次元的に配列される。例えば、図のＸ軸方向に沿って直線状に２０００個の半導体素子が並べられ、図のＹ軸方向に沿って直線状に６０個の半導体素子が並べられ、合計１２００００個の半導体素子により平板状の検出面を備えた半導体素子アレイ２２が形成される。なお、半導体素子の上記素子数はあくまでも一例であり、本発明はこの素子数に限定されない。また、半導体素子アレイ２２の検出面の大きさは、例えば小動物の被検体９０を対象とする場合には、Ｘ軸方向に沿って３０ｃｍ程度でありＹ軸方向に沿って６ｍｍ程度である。半導体素子アレイ２２の素子数や大きさは、測定対象となる被検体９０の大きさなどに応じて決定されてもよい。
【００２７】
Ｘ線検出器２０によるＸ線の検出データ、つまり被検体９０を透過するファンビーム１２から得られる投影データは、半導体素子アレイ２２の各チャンネルごとに得られる。例えば、各半導体素子を１チャンネルとして、半導体素子アレイ２２の全体で１２００００チャンネルの投影データがＸ線検出器２０から出力される。なお、いくつかの半導体素子により１つのチャンネルを形成してもよい。
【００２８】
また、半導体素子アレイ２２は、ファンビーム１２の底辺の全域を検出できることが望ましい。そのため、半導体素子アレイ２２の検出面とファンビーム１２の底辺は、ほぼ同じ大きさでほぼ同じ形状であることが望ましい。半導体素子アレイ２２の検出面は、例えば平板状に形成されるが、後に説明する回転方向に沿って円弧状に反った形状であってもよい。
【００２９】
Ｘ線発生器１０とＸ線検出器２０は、回転ベース７２に搭載されており、互いの対向配置状態を維持しつつ被検体９０を中心とする円の円周に沿って回転される。回転ベース７２は回転機構７０によって回転される。なお、被検体９０は回転されない。スライド機構８０は、回転ベース７２の回転中心軸方向に沿って、被検体９０をスライド移動させる。例えば被検体９０がテーブルに載せられ、そのテーブルがスライド機構８０により図のＹ軸方向に沿って直線的に移動される。
【００３０】
被検体９０のＸ線ＣＴ画像を形成する際には、まず、スライド機構８０によって被検体９０がＹ軸方向の所定位置に移動され、移動された被検体９０を中心としてＸ線発生器１０とＸ線検出器２０が一回転される。その回転により、Ｘ線発生器１０が、被検体９０に対するファンビーム１２の照射角度を徐々に変化させて複数の照射方向からファンビーム１２を照射し、Ｘ線検出器２０が各照射方向ごとにファンビーム１２を検出する。検出された投影データは、各照射方向ごとに且つ各チャンネルごとにＸ線検出器２０から出力される。
【００３１】
Ｘ線発生器１０とＸ線検出器２０を一回転させることにより得られる投影データに基づいて被検体９０のＸ線断層画像が形成される。半導体素子アレイ２２がＹ軸方向に６０個（６０チャンネル分）の素子を備えていれば、Ｘ線発生器１０とＸ線検出器２０を一回転させることにより６０枚のＸ線断層画像を形成することができる。
【００３２】
Ｘ線発生器１０とＸ線検出器２０が一回転され、Ｘ線断層画像の形成に必要な投影データが収集されると、スライド機構８０によって被検体９０がＹ軸方向に沿って移動され、さらに、その移動された位置においてＸ線発生器１０とＸ線検出器２０が一回転されて投影データが収集される。なお、Ｘ線発生器１０とＸ線検出器２０は、Ｙ軸上のある位置において一方向に３６０°回転されて投影データを収集し、次のＹ軸上の位置において逆方向に３６０°回転されて投影データを収集する。もちろん、Ｘ線発生器１０とＸ線検出器２０が、常に一定の方向に回転される構成でもよい。
【００３３】
こうして、スライド機構８０によって被検体９０をＹ軸方向に沿って移動させてＹ軸上の各位置において投影データを収集することにより、被検体９０の全体に亘って投影データが収集され、被検体９０の全体に関するＸ線断層画像を形成することができる。もちろんＹ軸上の必要な位置におけるＸ線断層画像のみを形成するようにしてもよい。
【００３４】
Ｘ線検出器２０において各照射方向ごとに且つ各チャンネルごとに得られた投影データは、画像形成部４０へ出力される。画像形成部４０は、複数の投影データに基づいてＸ線画像データを形成する。画像形成部４０は、各照射方向ごとに且つ各チャンネルごとに得られた複数の投影データに基づいて、再構成演算処理を行うことによりＣＴ画像データ（断層画像データ）を構成する。再構成演算については公知の各種の手法を利用することが可能である。また、画像形成部４０は、構成された断層画像データを利用して被検体９０に関する診断パラメータなどを算出してもよい。こうして、画像形成部４０において被検体９０の断層画像データが形成されると、その断層画像データに対応した断層画像が表示部５０に表示される。
【００３５】
図１に示すＸ線ＣＴ装置の各構成（各機能ブロック）は、制御部６０によって集中的に制御される。なお、図１に示す構成のうちの一部がコンピュータなどによって実現されてもよい。例えば、制御部６０のうちの一部の機能と画像形成部４０と表示部５０がコンピュータによって実現され、Ｘ線発生器１０とＸ線検出器２０などを備えた測定ユニットとそのコンピュータが接続されて、図１のＸ線ＣＴ装置が実現されてもよい。ちなみに、コンピュータによって制御部６０のうちの一部の機能を実現する場合には、その機能に適したプログラム（例えば図２から図４を利用して説明するミューオンの除去処理手順を記述したプログラム）によってコンピュータを動作させ、コンピュータを制御部６０として機能させればよい。
【００３６】
次に、図１のＸ線ＣＴ装置のキャリブレーションにおいてミューオンなどの宇宙線の影響を低減する方法について説明する。キャリブレーションは、Ｘ線ＣＴ装置を電気的または機械的に調整する作業であり、Ｘ線ＣＴ装置を利用して撮影などを行う前に、例えば一日に一度だけ実施される。キャリブレーションでは、例えば、Ｘ線を実際に照射検出して実施されるＸ線の強度やＸ線の検出感度に関する調整や、回転機構７０の回転動作に関する機械的な調整や、スライド機構８０のスライド動作に関する機械的な調整などが行われる。本実施形態では、Ｘ線を実際に照射検出して行われるキャリブレーションにおいて、例えば、チャンネル間補正、欠陥素子の除外処理、ビームハードニング補正などにおいて、ミューオンの影響が低減される。
【００３７】
ミューオンは、例えば数分から数十分に１度程度の頻度でＸ線検出器２０に飛来する。ミューオンは比較的高エネルギーであるため、ミューオンが電荷蓄積方式のＸ線検出器２０に入射すると、それを検出した半導体素子の投影データは特異的な値となる。例えばＸ線発生器１０から照射されて被検体９０を透過したＸ線の投影データの値に対して、ミューオンを検出した際の投影データの値は、数十倍から数百倍程度の大きな値となる。そのため、Ｘ線の検出動作を含んだキャリブレーションにおいて、ミューオンの影響が無視できない。
【００３８】
そこで、本実施形態においては、Ｘ線検出器２０の半導体素子アレイ２２を介して得られた複数の検出データ、つまり複数の投影データに関する統計データに基づいて、キャリブレーションのために得られる投影データの有効性を判断する。
【００３９】
図２は、複数チャンネルに亘って全体的に算出される統計データを説明するための図である。半導体素子アレイ２２は、二次元的に配列された複数の半導体素子によって形成されており、例えば各半導体素子が１チャンネルに対応する。図２において、半導体素子アレイ２２はｃｈ１からｃｈＮまでのＮチャンネル（Ｎ素子）を有している。
【００４０】
制御部（図１の符号６０）は、Ｘ線発生器やＸ線検出器などを制御してＸ線を照射検出することにより、参考時間ＴＲ内において投影データを収集する。参考時間ＴＲは例えば５分間であり、参考時間ＴＲ内において各チャンネルごとにＤ１〜Ｄｋの投影データが収集される。そして、制御部は、参考時間ＴＲ内において半導体素子アレイ２２の全チャンネルに亘って収集される投影データに基づいて統計データを算出する。例えば、統計データとして、全チャンネルの投影データ（Ｄ１〜Ｄｋ）に関する平均値ＡＶＲと標準偏差ＳＤＲを算出する。
【００４１】
参考時間ＴＲ内においてミューオンが半導体素子アレイ２２に飛来すると、ミューオンの影響を受けた素子から特異的な投影データが得られる。しかし、ミューオンは、例えば数分から数十分に１度程度の頻度で半導体素子アレイ２２に飛来する程度である。つまり、参考時間ＴＲ（例えば５分間）内にミューオンが飛来する回数は、例えば０から数回程度である。そのため、全チャンネルの投影データ（Ｄ１〜Ｄｋ）のデータ数が多ければ、平均値ＡＶＲと標準偏差ＳＤＲにおいて、ミューオンの影響を受けた投影データは、もはや支配的ではなくなり、ミューオンによる影響を実質的に無視できる。そこで、本実施形態では、統計データとして算出される平均値ＡＶＲと標準偏差ＳＤＲをリファレンスデータとして利用し、キャリブレーションのために得られる投影データの有効性を判断する。
【００４２】
例えば、キャリブレーションとしてチャンネル間補正を行う場合には、リファレンスデータとして平均値ＡＶＲを利用する。つまり、キャリブレーション用のデータとして各チャンネルごとに次々に得られる投影データと平均値ＡＶＲを比較し、例えば投影データと平均値ＡＶＲとの差が許容値を超えると、その投影データがミューオンの影響を受けていると判断してその投影データをキャリブレーション用のデータから除去する。そして、キャリブレーション用のデータとして各チャンネルごとに次々に得られる投影データのうちの除去されずに残された投影データを利用してチャンネル間補正を行う。これにより、チャンネル間補正におけるミューオンの影響を低減することができ、より正確にチャンネル間補正を行うことが可能になる。
【００４３】
また、キャリブレーションとしてビームハードニング補正を行う場合にも、リファレンスデータとして平均値ＡＶＲを利用する。そして、キャリブレーション用のデータとして各チャンネルごとに次々に得られる投影データと平均値ＡＶＲを比較し、例えば投影データと平均値ＡＶＲとの差が許容値を超えると、その投影データがミューオンの影響を受けていると判断してその投影データをキャリブレーション用のデータから除去する。これにより、ミューオンの影響を低減することができ、より正確にビームハードニング補正を行うことが可能になる。
【００４４】
また、キャリブレーションとして不安定素子検出を行う場合には、例えばリファレンスデータとして標準偏差ＳＤＲを利用してもよい。そして、キャリブレーション用のデータとして各チャンネルごとに次々に得られる投影データ（例えば５秒間に得られる投影データ）から算出される各チャンネルの標準偏差と予め算出されている標準偏差ＳＤＲを比較し、各チャンネルから得られる投影データの有効性を判断してもよい。
【００４５】
図２においては、複数チャンネルに亘って全体的に算出される平均値ＡＶＲと標準偏差ＳＤＲを利用して投影データの有効性を判断しているが、各チャンネルごとに算出される平均値と標準偏差を利用して投影データの有効性を判断してもよい。
【００４６】
図３は、各チャンネルごとに算出される統計データを説明するための図である。図３においても、半導体素子アレイ２２はｃｈ１からｃｈＮまでのＮチャンネル（Ｎ素子）を有している。
【００４７】
制御部（図１の符号６０）は、Ｘ線発生器やＸ線検出器などを制御してＸ線を照射検出することにより、各チャンネルごとに投影データ（Ｄ１〜Ｄｋ）を収集する。そして、各チャンネルごとに、参考時間ＴＲ内の投影データつまり先頭から５０個の投影データに基づいて平均値と標準偏差を算出する。例えば、チャンネルｃｈｎに関して、平均値ＡＶｎと標準偏差ＳＤｎが算出される。但し、平均値ＡＶｎと標準偏差ＳＤｎを算出する際に、チャンネルｃｈｎの５０個の投影データ（Ｄ１〜Ｄ５０）のうちの最大値から４番目までの大きさの投影データは計算対象から除外される。なお、参考時間ＴＲ内の投影データの個数は５０以外であってもよい。また、計算対象から除外する投影データの個数が４以外であってもよい。
【００４８】
次に、制御部は、各チャンネルごとに全収集データの平均値を算出する。例えば、チャンネルｃｈｎに関して、全ての投影データ（Ｄ１〜Ｄｋ）の平均値を算出する。但し、先に算出された平均値ＡＶｎと標準偏差ＳＤｎに基づいて設定される閾値「ＡＶｎ＋Ｍｎ×ＳＤｎ」を超える投影データは計算対象から除外される。なお、Ｍｎは予め装置に設定されているデータであり、例えばデフォルト値「８」が設定されている。Ｍｎの値をユーザが適宜調整できるようにしてもよい。
【００４９】
図４は、投影データが除外される様子を示す図であり、横軸を時間軸として縦軸に投影データの値（検出値）を示したグラフが示されている。グラフ内の複数の黒点が投影データであり、図４には、チャンネルｃｈｎにおいて各時刻ごとに得られる複数の投影データが示されている。
【００５０】
図４において、閾値「ＡＶｎ＋Ｍｎ×ＳＤｎ」が破線で示されている。つまり、この破線を超える投影データが全収集データの平均値の算出対象から除外される。図４においては、３つの投影データが除外される。これら３つの投影データは、特異的でありミューオンなどの影響を受けている可能性が高い。これら特異的な投影データが除外されて全収集データの平均値が算出される。こうして各チャンネルごとに算出される平均値を利用してキャリブレーションを行うことにより、キャリブレーションにおけるミューオンの影響を低減することができる。
【００５１】
以上、本発明の好適な実施形態を説明したが、上述した実施形態は、あらゆる点で単なる例示にすぎず、本発明の範囲を限定するものではない。本発明は、その本質を逸脱しない範囲で各種の変形形態を包含する。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明に係るＸ線ＣＴ装置の全体構成を示す機能ブロック図である。
【図２】複数チャンネルに亘る全体的な統計データを説明するための図である。
【図３】各チャンネルごとに算出される統計データを説明するための図である。
【図４】投影データが除外される様子を示す図である。
【符号の説明】
【００５３】
１０  Ｘ線発生器、２０  Ｘ線検出器、４０  画像形成部、６０  制御部。
【図１】
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【図２】
2008302067.tif 000004
【図３】
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【図４】
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