(57)【要約】【課題】テスタによるシミュレーション結果に対して、適切な判定を下すことができるテスタシミュレーション装置および方法を提供する。【解決手段】被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の設計のためのシミュレーションから得られる第１結果データと、テスタの動作のシミュレーションから得られる第２結果データとにより検証するテスタシミュレーション装置において、前記第１結果データ、第２結果データの少なくとも一方を時間軸方向に所定量だけシフトするシフト手段と、このシフト手段によって少なくとも一方がシフトされた第１結果データと第２結果データとを比較する比較手段とを備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の設計のためのシミュレーションから得られる第１結果データと、テスタの動作のシミュレーションから得られる第２結果データとにより検証するテスタシミュレーション装置において、
前記第１結果データ、第２結果データの少なくとも一方を時間軸方向に所定量だけシフトするシフト手段と、
このシフト手段によって少なくとも一方がシフトされた第１結果データと第２結果データとを比較する比較手段と
を備えていることを特徴とするテスタシミュレーション装置。
【請求項２】
前記シフト手段は、第１結果データ、第２結果データの少なくとも一方を時間軸方向に、第１結果データと第２結果データとの所定の区間の長さの違いずつ複数回シフトし、
前記比較手段は、前記シフト手段による各シフト動作毎に、所定の区間毎の比較を行う
ことを特徴とする請求項１に記載のテスタシミュレーション装置。
【請求項３】
被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の設計のためのシミュレーションから得られる第１結果データと、テスタの動作のシミュレーションから得られる第２結果データとにより検証するテスタシミュレーション装置において、
前記第１結果データおよび第２結果データのそれぞれの中から、各データの信号変化の時間順と信号変化後の信号値の情報とを含む特徴データを抽出する特徴抽出手段と、
この特徴抽出手段が抽出した第１結果データの特徴データと第２結果データの特徴データとを比較する特徴データ比較手段と
を備えていることを特徴とするテスタシミュレーション装置。
【請求項４】
前記特徴抽出手段は、
所定の抽出条件に基づいて、前記第１結果データおよび第２結果データのそれぞれの中から、各データの信号変化の時間順と信号変化後の信号値の情報とを含む変化点情報を抽出する変化点情報抽出手段と、
この変化点情報抽出手段が抽出した変化点情報を、所定の整理条件に基づいて整理して特徴データとする変化点情報整理手段と
を有している
ことを特徴とする請求項３に記載のテスタシミュレーション装置。
【請求項５】
被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の設計のためのシミュレーションから得られる第１結果データと、テスタの動作のシミュレーションから得られる第２結果データとにより検証するテスタシミュレーション方法において、
前記第１結果データ、第２結果データの少なくとも一方を時間軸方向に所定量だけシフトするステップと、
少なくとも一方がシフトされた第１結果データと第２結果データとを比較するステップと
を有していることを特徴とするテスタシミュレーション方法。
【請求項６】
被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の設計のためのシミュレーションから得られる第１結果データと、テスタの動作のシミュレーションから得られる第２結果データとにより検証するテスタシミュレーション方法において、
前記第１結果データおよび第２結果データのそれぞれの中から、各データの信号変化の時間順と信号変化後の信号値の情報とを含む特徴データを抽出するステップと、
抽出された第１結果データの特徴データと第２結果データの特徴データとを比較するステップと
を有していることを特徴とするテスタシミュレーション方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テスタシミュレーション装置および方法に関し、特に、テスタシミュレーション結果の良否を判定する装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣテスタは、テストプログラムに基づいて、被試験対象（以下、ＤＵＴと呼ぶ）に入力パターンを与え、ＤＵＴからの出力と期待値パターンとをストローブタイミングで比較して、ＤＵＴの良否を判定するものである。
【０００３】
近年では、ＩＣテスタで実際にＤＵＴの試験を行う前に、ＩＣテスタおよびＤＵＴをモデル化してシミュレーションを行い、ＩＣテスタのテストプログラムの動作を確認している。このような動作確認を行うための装置は、例えば、下記特許文献１等に開示されている。
【０００４】
図１２は、ＬＳＩ設計／検証のための論理シミュレーション環境におけるＬＳＩ設計／検証のためのテストデータが、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境においてテスタ用データとして使用される過程を示している。
【０００５】
ＬＳＩ設計／検証のための論理シミュレーション環境においては、テストベンチ１０１にＬＳＩ設計データおよびテストデータを入力してシミュレーションを行い、ＬＳＩ設計データの良否を判定する。シミュレーション結果であるテストベンチ波形は、第１結果データとして記録される。
【０００６】
第１結果データは、専用の変換ツール１０２によって、指定された変換条件の下で、テストパターンおよびタイミングデータから成るテスタ用データに変換される。テスタ用データは、テスタでＬＳＩ（ＤＵＴ）をテストする際に用いられるデータであり、第１結果データとは全く異なるフォーマットを有している。
【０００７】
テスタ用データは、テスタで実際にＬＳＩをテストする際に用いられる前に、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境において、テスタシミュレータ１０３によってシミュレーションされ、検証される。シミュレーション結果であるテスタシミュレータ波形は、第２結果データとして記録される。第２結果データは、第１結果データと同一のフォーマットを有している。
【０００８】
テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境での検証結果に不具合が見つかった場合、通常は、テスタ用データに不具合があることが考えられる。そこで、まず、テスタ用データが、本来意図していたデータであったかどうかを確認する。本来意図していたデータであったかどうかを確認するには、テスタ用データを、その生成元データである第１結果データ、または、さらにその生成元データであるテストデータと比較して、これらが一致するかどうかを確認すればよい。一致するのであれば、テスタ用データが、ＬＳＩ設計／検証時に意図していたデータと同じであることが確認される。
【０００９】
しかし、いずれのデータもフォーマットが異なるため、これらのデータどうしを直接比較することはできない。そこで、代わりに、フォーマットが同一である第１結果データと第２結果データを比較する。第１結果データにはテストデータの情報が含まれており、第２結果データにはテスタ用データの情報が含まれている。
【００１０】
図１３は、第１結果データおよび第２結果データの一例の波形図である。この例では、第１結果データおよび第２結果データのそれぞれに信号Ａ，Ｂが含まれている。
【００１１】
この例は、第１結果データの波形と第２結果データの波形とが、完全には一致していないが、実質的には一致しており、従って、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境での検証結果は正しかったと判定されるべき例である。
【００１２】
第２結果データの波形は、第１結果データの波形と比べて、時間軸が引き伸ばされたような形になっている。このような違いが生じるのは、第１結果データが理想値であるのに対して、第２結果データは、テスタ等のハードウェアの精度や誤差を含む値であるためである。実際のテスタやＤＵＴには、個体毎、またはテストを実行する毎に、微妙なばらつきが発生する。
【００１３】
従って、テスタシミュレータ１０３は、テスタ等のハードウェアの精度や誤差を考慮してシミュレーションを行う。従って、テスタシミュレータ１０３に入力されるテスタ用データは理想値であっても、テスタシミュレータ１０３から出力される第２結果データは、テスタ等のハードウェアの精度や誤差の分だけ時間がずれていることがある。例えば、テスタ用データで１００ｎｓのレートを指定しても、第２結果データではレートが１００．００５ｎｓになってしまう場合もあり得る。
【００１４】
図１４は、第１結果データおよび第２結果データの別の例の波形図である。この例でも、第１結果データおよび第２結果データのそれぞれに信号Ａ，Ｂが含まれている。
【００１５】
この例も、第１結果データの波形と第２結果データの波形とが、完全には一致していないが、実質的には一致しており、従って、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境での検証結果は正しかったと判定されるべき例である。
【００１６】
第２結果データの信号Ｂの変化タイミングは、第１結果データの信号Ｂの変化タイミングとずれている。このようなずれが生じるのは、第２結果データの生成元データであるテスタ用データが持っている信号のタイミング情報と、第１結果データの生成元データであるテストデータが持っている信号のタイミング情報とが一般に異なるからである。例えば、テストデータは、信号の変化タイミングに制限がないので、信号変化は任意のタイミングで起きる。これに対して、テスタ用データは、一般にテスタ制約と呼ばれる制限のため、信号変化のタイミングが数種類に制限される。逆に言えば、変換ツール１０２は、このような制限を満たすように変換条件を指定して、データ変換を行う。
【００１７】
以上のような、完全には一致していない結果データの波形どうしを比較して、適切な判定を下すために、従来は、結果データの中に含まれている特定の信号を基準信号に決めて、この基準信号のエッジで各信号の値をサンプリングし、このサンプリング結果どうしを比較していた。例えば、図１３および図１４の例では、信号Ａを基準信号に決めて、この信号Ａの立ち上がりおよび立ち下がりで信号Ｂの値をサンプリングし、このサンプリング結果どうしを比較し、第１結果データと第２結果データは実質的に一致していると判定していた。
【特許文献１】特開２００３−２５６４９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
上記の従来の比較方法の問題点は、結果データの中に含まれている特定の信号を基準信号に決める必要があったという点である。すなわち、結果データの中に、基準信号として使用するのに適した信号が含まれていなかった場合には、比較を行うことができなかった。
【００１９】
また、基準信号に決めた信号自体は、比較を行うことができなかった。
【００２０】
また、基準信号によって決まるサンプリングタイミング以外のタイミングで、信号値に違いがあっても、この違いを検出することはできなかった。
【００２１】
本発明の目的は、結果データどうしが完全には一致していなくても、実質的に一致しているかどうかを判定でき、従って、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境での検証結果に対して、適切な判定を下すことができるテスタシミュレーション装置および方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の設計のためのシミュレーションから得られる第１結果データと、テスタの動作のシミュレーションから得られる第２結果データとにより検証するテスタシミュレーション装置において、前記第１結果データ、第２結果データの少なくとも一方を時間軸方向に所定量だけシフトするシフト手段と、このシフト手段によって少なくとも一方がシフトされた第１結果データと第２結果データとを比較する比較手段とを備えていることを特徴とする。
【００２３】
前記シフト手段は、第１結果データ、第２結果データの少なくとも一方を時間軸方向に、第１結果データと第２結果データとの所定の区間の長さの違いずつ複数回シフトし、前記比較手段は、前記シフト手段による各シフト動作毎に、所定の区間毎の比較を行ってもよい。
【００２４】
また、本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の設計のためのシミュレーションから得られる第１結果データと、テスタの動作のシミュレーションから得られる第２結果データとにより検証するテスタシミュレーション装置において、前記第１結果データおよび第２結果データのそれぞれの中から、各データの信号変化の時間順と信号変化後の信号値の情報とを含む特徴データを抽出する特徴抽出手段と、この特徴抽出手段が抽出した第１結果データの特徴データと第２結果データの特徴データとを比較する特徴データ比較手段とを備えていることを特徴とする。
【００２５】
前記特徴抽出手段は、所定の抽出条件に基づいて、前記第１結果データおよび第２結果データのそれぞれの中から、各データの信号変化の時間順と信号変化後の信号値の情報とを含む変化点情報を抽出する変化点情報抽出手段と、この変化点情報抽出手段が抽出した変化点情報を、所定の整理条件に基づいて整理して特徴データとする変化点情報整理手段とを有していてもよい。
【００２６】
また、本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の設計のためのシミュレーションから得られる第１結果データと、テスタの動作のシミュレーションから得られる第２結果データとにより検証するテスタシミュレーション方法において、前記第１結果データ、第２結果データの少なくとも一方を時間軸方向に所定量だけシフトするステップと、少なくとも一方がシフトされた第１結果データと第２結果データとを比較するステップとを有していることを特徴とする。
【００２７】
また、本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の設計のためのシミュレーションから得られる第１結果データと、テスタの動作のシミュレーションから得られる第２結果データとにより検証するテスタシミュレーション方法において、前記第１結果データおよび第２結果データのそれぞれの中から、各データの信号変化の時間順と信号変化後の信号値の情報とを含む特徴データを抽出するステップと、抽出された第１結果データの特徴データと第２結果データの特徴データとを比較するステップとを有していることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２８】
本発明によれば、結果データどうしが完全には一致していなくても、実質的に一致しているかどうかを判定でき、従って、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境での検証結果に対して、適切な判定を下すことができる。
【００２９】
このとき、結果データの中の特定の信号を基準信号に決める必要はない。従って、比較を行うことができない信号はない。また、検出タイミングが制限されることもない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
図１は、本発明の第１実施形態に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。このテスタシミュレーション装置は、シミュレーション結果データ記憶部１と、シフト手段２と、比較手段３と、比較結果記憶部４とを備えている。
【００３１】
シミュレーション結果データ記憶部１は、図１２に示した、ＬＳＩ設計／検証のための論理シミュレーション環境における第１結果データ（テストベンチ波形）と、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境における第２結果データ（テスタシミュレータ波形）とを受け取り、記憶する。シフト手段２は、シミュレーション結果データ記憶部１から、テストベンチ波形とテスタシミュレータ波形とを受け取り、テストベンチ波形、テスタシミュレータ波形の少なくとも一方を時間軸方向に所定量だけシフトする。すなわち、テストベンチ波形とテスタシミュレータ波形とは、時間軸方向に相対的にシフトされる。そして、少なくとも一方がシフトされたテストベンチ波形とテスタシミュレータ波形とを出力する。比較手段３は、シフト手段２から、少なくとも一方がシフトされたテストベンチ波形とテスタシミュレータ波形とを受け取り、これらの波形どうしを比較し、比較結果を出力する。比較結果記憶部４は、比較手段３から比較結果を受け取り、記憶する。
【００３２】
なお、シミュレーション結果データ記憶部１、比較結果記憶部４は、ハードディスク、光ディスク、メモリ等によって構成されてもよい。また、シフト手段２、比較手段３は、コンピュータのＣＰＵ（Central Processing Unit）およびＲＡＭ（Random Access Memory）によって構成され、ＲＡＭにロードされるコンピュータ・プログラムをＣＰＵが実行することによって、その機能を実現させるものであってもよいし、専用のハードウェアによって実現されるものであってもよい。
【００３３】
図２は、本実施形態の動作を示すフローチャートである。まず、シフト手段２は、レート数を示す変数ｎを１に設定する（ステップＳ１）。なお、変数ｎは、今後変化したとしても、自然数のみをとる。
【００３４】
次に、シフト手段２は、テストベンチ波形を（ｎ−１）Δだけ時間軸方向にシフトする（ステップＳ２）。ここで、Δは、テストベンチ波形とテスタシミュレータ波形との１レートの長さの違いである。なお、ここでは、一例として、テストベンチ波形をシフトするものとしたが、テスタシミュレータ波形の方を逆方向に（ｎ−１）Δだけシフトしてもよいし、テストベンチ波形およびテスタシミュレータ波形の両方をシフトして、相互に（ｎ−１）Δだけシフトされるようにしてもよい。要は、テストベンチ波形とテスタシミュレータ波形とが相対的に（ｎ−１）Δだけシフトされればよい。ただし、ここでは、ｎ＝１なので、（ｎ−１）Δ＝０となり、シフトは行わない。次に、比較手段３は、シフトしたテストベンチ波形と、テスタシミュレータ波形との第ｎレート（波形の先頭からｎ番目のレート）どうしを比較する（ステップＳ３）。ただし、ここではｎ＝１であり、かつシフトは行っていないので、元のテストベンチ波形と、テスタシミュレータ波形との第１レートどうしを比較する。また、このとき、そのレートにおけるテストベンチ波形とテスタシミュレータ波形との変化タイミングの差がΔ以内であれば、そのレートにおける波形どうしは一致しているものとみなす。次に、シフト手段２は、ｎに設定されている値が、最終レート数であるか否かを判断し（ステップＳ４）、最終レート数であれば（ＹＥＳ）、処理を終了する。最終レート数でなければ（ＮＯ）、ｎに１を加える（ステップＳ５）。すなわち、ここではｎ＝２になる。そして、ステップＳ２に戻る。
【００３５】
ステップＳ２では、今度はｎ＝２になっているので、テストベンチ波形を（ｎ−１）Δ＝Δだけ時間軸方向にシフトする。なお、ここでも、上記のｎ＝１の場合と同様に、テスタシミュレータ波形の方を逆方向に（ｎ−１）Δだけシフトしてもよいし、テストベンチ波形およびテスタシミュレータ波形の両方をシフトしてもよい。そして、ステップＳ３では、シフトしたテストベンチ波形と、テスタシミュレータ波形との第ｎレート＝第２レートどうしを比較する。比較方法はｎ＝１のときと同様である。そして、ステップＳ４で、ｎに設定されている値が、最終レート数であるか否かを判断し、最終レート数であれば（ＹＥＳ）、処理を終了する。最終レート数でなければ（ＮＯ）、ｎに１を加える（ステップＳ５）。すなわち、ここではｎ＝３になる。そして、ステップＳ２に戻る。以上の動作を、ｎが最終レート数に達するまで繰り返す。
【００３６】
図３は、本実施形態におけるシフト手段２および比較手段３の動作を示すタイミングチャートである。まず、本実施形態におけるテストベンチ波形およびテスタシミュレータ波形は、一定のレートから成る波形であるものとする。また、テストベンチ波形とテスタシミュレータ波形とでは、１レートの長さがΔだけ違うものとする。すなわち、テスタシミュレータ波形は、テストベンチ波形と比べて、１レート当たりΔずつ時間軸が引き伸ばされたような形になっている。従って、テスタシミュレータ波形とテストベンチ波形との波形の変化タイミングのずれは、レート数が大きくなるほど蓄積されて大きくなっている。
【００３７】
第１レート内では、テスタシミュレータ波形と、元のテストベンチ波形との変化タイミングどうしを比較する。第２レート内では、テスタシミュレータ波形と、Δだけ時間軸をシフトしたテストベンチ波形とを比較する。なお、ここでも、一例として、テストベンチ波形をシフトするものとしたが、テスタシミュレータ波形の方を逆方向にΔだけシフトしてもよいし、テストベンチ波形およびテスタシミュレータ波形の両方をシフトしてもよい。すなわち、テスタシミュレータ波形とテストベンチ波形との第２レートの先頭が一致するようにシフトする。第ｎレート内では、テスタシミュレータ波形と、（ｎ−１）Δだけ時間軸をシフトしたテストベンチ波形とを比較する。なお、ここでも、上記の第２レート内の場合と同様に、テスタシミュレータ波形の方を逆方向に（ｎ−１）Δだけシフトしてもよいし、テストベンチ波形およびテスタシミュレータ波形の両方をシフトしてもよい。すなわち、テスタシミュレータ波形とテストベンチ波形との第ｎレートの先頭が一致するようにシフトする。
【００３８】
このようにシフトすれば、波形どうしが実質的に一致している場合、各レート内での波形の変化タイミングのずれはΔ以内に収まる。そこで、比較の際に、Δ以内のずれは許容するようにすれば、波形が実質的に一致していることを検出することができる。
【００３９】
なお、波形をシフトしないで、各レートの開始時刻と終了時刻を指定してレートを特定し、特定したレートどうしを比較してもよい。
【００４０】
また、比較する区間を、レートではなく、別のものにしてもよい。例えば、比較の区間を、レートの１０倍の長さにして、１０Δのずれを許容するようにしてもよい。比較の区間を長くすれば、シフトの回数が減り、処理時間を短くすることができる。
【００４１】
図４は、第１実施形態の変形例の動作を示すタイミングチャートである。この変形例は、１レートの長さの違いが一定ではない例である。この場合のテストベンチ波形のシフト量の求め方を以下に述べる。
【００４２】
テスタシミュレータ波形には、タイミングセットと呼ばれる信号が含まれている。タイミングセットは、レートやエッジのタイミングなどのまとまりに関連付けられた番号である。この番号を知れば、そのときのレートのプログラム上での長さ（理想値）と、テスタシミュレータ１０３から出力された長さ（テスタ等のばらつきを含む値）との両方を知ることができる。これらの長さの差が、各レートの長さの違いになる。同じ番号のタイミングセット内では「１レートの長さの違い」は同じであるが、異なる番号のタイミングセットにおいては「１レートの長さの違い」も異なる。
【００４３】
テスタシミュレータ波形には、レートの区切りを示す信号も含まれている。この信号を使って、タイミングセット内にいくつレートが入っているかを知ることができる。なお、タイミングセットの長さをレートの長さで割って、タイミングセットにいくつレートが入っているかを求めてもよい。
【００４４】
図４において、第１タイミングセットにおける「１レートの長さの違い」をΔ１、第２タイミングセットにおける「１レートの長さの違い」をΔ２とする。このとき、第４レートの先頭を揃えるためのシフト量は、第１レートから、第４レートの直前の第３レートまでの各「１レートの長さの違い」の和なので、Δ１＋Δ１＋Δ２となる。
【００４５】
図５は、本発明の第２実施形態に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。このテスタシミュレーション装置は、シミュレーション結果データ記憶部１１と、特徴抽出手段１２と、抽出条件記憶部１５と、整理条件記憶部１６と、特徴データ記憶部１７と、特徴データ比較手段１８と、比較結果記憶部１９とを備えている。特徴抽出手段１２は、変化点情報抽出手段１３と、変化点情報整理手段１４とを有している。
【００４６】
シミュレーション結果データ記憶部１１は、図１２に示した、ＬＳＩ設計／検証のための論理シミュレーション環境における第１結果データと、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境における第２結果データとを受け取り、記憶する。特徴抽出手段１２は、シミュレーション結果データ記憶部１１からシミュレーション結果データを受け取り、このデータの中から「特徴データ」を抽出する。「特徴データ」については後述する。
【００４７】
特徴抽出手段１２内の変化点情報抽出手段１３は、抽出条件記憶部１５に記憶された抽出条件に基づいて、シミュレーション結果データの中から変化点情報を抽出する。変化点情報整理手段１４は、変化点情報抽出手段１３から変化点情報を受け取り、整理条件記憶部１６に記憶された整理条件に基づいて、この変化点情報を「整理」する。「整理」についても後述する。
【００４８】
特徴データ記憶部１７は、変化点情報整理手段１４から、整理された変化点情報を、特徴データとして受け取り、記憶する。特徴データ比較手段１８は、特徴データ記憶部１７から、２つの特徴データを受け取り、両者を比較する。具体的には、第１結果データ由来の特徴データと、第２結果データ由来の特徴データとを比較する。比較結果記憶部１９は、特徴データ比較手段１８による比較結果を記憶する。
【００４９】
なお、シミュレーション結果データ記憶部１１、抽出条件記憶部１５、整理条件記憶部１６、特徴データ記憶部１７、比較結果記憶部１９は、ハードディスク、光ディスク、メモリ等によって構成されてもよい。また、特徴抽出手段１２、変化点情報抽出手段１３、変化点情報整理手段１４、特徴データ比較手段１８は、コンピュータのＣＰＵ（Central Processing Unit）およびＲＡＭ（Random Access Memory）によって構成され、ＲＡＭにロードされるコンピュータ・プログラムをＣＰＵが実行することによって、その機能を実現させるものであってもよいし、専用のハードウェアによって実現されるものであってもよい。
【００５０】
図６は、本実施形態の動作を示すフローチャートである。まず、シミュレーション結果データ記憶部１１に記憶された第１結果データが、特徴抽出手段１２内の変化点情報抽出手段１３に入力される。変化点情報抽出手段１３は、さらに、抽出条件記憶部１５から抽出条件を受け取る。抽出条件とは、変化点を抽出する際の条件である。そして、変化点情報抽出手段１３は、抽出条件に基づいて、変化点情報を抽出する（ステップＳ１１）。
【００５１】
次に、抽出された変化点情報が、変化点情報整理手段１４に送られる。変化点情報整理手段１４は、さらに、整理条件記憶部１６から整理条件を受け取る。そして、変化点情報整理手段１４は、整理条件に基づいて、変化点情報を整理する。この整理された変化点情報が、第１結果データの特徴データとして、特徴データ記憶部１７に記憶される（ステップＳ１２）。
【００５２】
次に、シミュレーション結果データ記憶部１１に記憶された第２結果データが、特徴抽出手段１２内の変化点情報抽出手段１３に入力される。変化点情報抽出手段１３は、さらに、抽出条件記憶部１５から抽出条件を受け取る。抽出条件とは、変化点を抽出する際の条件である。そして、変化点情報抽出手段１３は、抽出条件に基づいて、変化点情報を抽出する（ステップＳ１３）。
【００５３】
次に、抽出された変化点情報が、変化点情報整理手段１４に送られる。変化点情報整理手段１４は、さらに、整理条件記憶部１６から整理条件を受け取る。そして、変化点情報整理手段１４は、整理条件に基づいて、変化点情報を整理する。この整理された変化点情報が、第２結果データの特徴データとして、特徴データ記憶部１７に記憶される（ステップＳ１４）。
【００５４】
そして、特徴データ比較手段１８が、第１結果データの特徴データと、第２結果データの特徴データとを比較する（ステップＳ１５）。比較結果は、比較結果記憶部１９に記憶される。
【００５５】
図７は、変化点情報抽出手段１３の動作を示す図である。この図における例は、第１結果データと第２結果データとは完全には一致しないが、実質的には一致するものであり、従って、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境での検証結果は正しかったと判定されるべき例を示している。この場合、結果データの波形どうしは完全には一致しないが、特徴データ（変化点情報）どうしは完全に一致する。
【００５６】
図７の右側に示したのは、第１結果データおよび第２結果データの特徴データ（変化点情報）の一例である。この特徴データには、信号変化の時間順と、信号変化後の値の情報とが記述されている。例えば、ＣＬＫ＝０（以下、このような行を信号変化情報と呼ぶ）は、信号ＣＬＫの値が０に変化したことを示している。その後、次の信号変化情報が発生するまで、信号ＣＬＫは同じ値を保つ。
【００５７】
信号変化の時間順は、＃で始まる行によって規定される。複数の信号変化情報が、＃で始まる行をはさまず、連続して記述されていれば、これらの信号変化は同じ時刻に起きたことを示している。＃で始まる行をはさんでいれば、＃の前の信号変化と、＃の後の信号変化との間に、時間順があることを示している。すなわち、＃の前に記述された信号変化が生じた後に、０ではない時間が経過してから、＃の後に記述された信号変化が生じたことを示している。
なお、特徴データは、上記の例に限られるわけではなく、信号変化の時間順と、信号変化後の値の情報とを含んだデータであれば、どのようなフォーマット、データ構造、データ種類のものであってもよい。
【００５８】
図８は、変化点情報整理手段１４から出力される、第１結果データおよび第２結果データの、整理された特徴データ（変化点情報）の一例である。なお、この例では、第１結果データの整理された特徴データと、第２結果データの整理された特徴データとが完全に一致するので、１つのみ記してある。変化点情報抽出手段３から出力される特徴データ（変化点情報）に、整理条件記憶部１６から出力される整理条件を与えると、このような整理された特徴データ（変化点情報）が得られる。この場合の整理条件とは、同一レート内ではＣＬＫとＩＮ１の信号変化の前後関係を無視することである。すなわち、同一レート内でのＣＬＫの信号変化情報とＩＮ１の信号変化情報との間の＃の行を削除することによって、両者の前後関係の情報を消す。さらに、＃の行と次の＃の行との間にある信号変化情報の記述の順番を、所定の信号名順（例えば、アルファベット順）に並べ替える。このように並べ替えることによって、後の比較処理が容易になる。
【００５９】
すなわち、変化点情報整理手段１４は、ＣＬＫとＩＮ１のレート内での信号変化の前後関係が、テスト用のデータとして見た場合に意味のないものであれば、その情報を削除する。このようにすることにより、特徴データどうしは、より完全に一致する。
なお、整理された特徴データも、上記の例に限られるわけではなく、信号変化の時間順と、信号変化後の値の情報とを含んだデータであれば、どのようなフォーマット、データ構造、データ種類のものであってもよい。
【００６０】
図９は、第２実施形態の一変形例に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。このように、特徴抽出手段１２内に特徴データ比較手段１８を含めた構成にしてもよい。この場合の処理の手順は、図６に示した手順と同様に、初めに第１結果データを処理して特徴データを生成し、次に第２結果データを処理して特徴データを生成してもよいし、結果データを区間に分けて、区間毎に処理してもよい。ここで、区間とは、例えば、レートや時間や出現した信号変化点の数などで特定できる区間のことである。
【００６１】
図１０は、第２実施形態の別の変形例に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。このように、比較するための一方の特徴データ（第１結果データの特徴データ）を予め算出しておいて、これをシミュレーション結果データ記憶部１１を介して変化点情報整理手段１４に入力してもよい。
【００６２】
図１１は、第２実施形態の更に別の変形例に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。このように、変化点情報整理手段１４内に、変化点発生状態チェック手段２０を設け、ここにチェック条件記憶部２１からチェック条件を与えてもよい。チェック条件とは、例えば、信号の前後関係や、そのときの値である。変化点発生状態チェック手段２０は、変化点情報を整理する際に、チェック条件に合わない情報があれば、警告メッセージを発する。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明は、テスタシミュレーション結果の良否を判定する装置および方法に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本発明の第１実施形態に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。
【図２】第１実施形態の動作を示すフローチャートである。
【図３】第１実施形態におけるシフト手段２および比較手段３の動作を示すタイミングチャートである。
【図４】第１実施形態の変形例の動作を示すタイミングチャートである。
【図５】本発明の第２実施形態に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。
【図６】第２実施形態の動作を示すフローチャートである。
【図７】第２実施形態における変化点情報抽出手段１３の動作を示す図である。
【図８】第２実施形態において、変化点情報整理手段１４から出力される、第１結果データおよび第２結果データの、整理された特徴データ（変化点情報）を示す図である。
【図９】第２実施形態の一変形例に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。
【図１０】第２実施形態の別の変形例に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。
【図１１】第２実施形態の更に別の変形例に係るテスタシミュレーション装置の構成図である。
【図１２】ＬＳＩ設計／検証のための論理シミュレーション環境におけるＬＳＩ設計／検証のためのテストデータが、テスタによるＬＳＩテストの論理シミュレーション環境においてテスタ用データとして使用される過程を示す図である。
【図１３】第１結果データおよび第２結果データの一例の波形図である。
【図１４】第１結果データおよび第２結果データの別の例の波形図である。
【符号の説明】
【００６５】
１，１１  シミュレーション結果データ記憶部
２  シフト手段
３  比較手段
４，１９  比較結果記憶部
１２  特徴抽出手段
１３  変化点情報抽出手段
１４  変化点情報整理手段
１５  抽出条件記憶部
１６  整理条件記憶部
１７  特徴データ記憶部
１８  特徴データ比較手段
【図１】
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【図２】
2008008717.tif 000004
【図３】
2008008717.tif 000005
【図４】
2008008717.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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