(57)【要約】【課題】ＤＵＴＩＦユニットにＤＵＴＩＦカバーを一体として取付けた状態でも位置あわせが容易であり、組立工数を削減可能なＬＳＩテスタの位置決め機構を提供する。【解決手段】テストヘッドと、テンプレートと、ＤＩＦボードと、ＤＵＴＩＦユニットと、このＤＵＴＩＦユニットを覆って配置されたカバーを具備するＬＳＩテスタの位置決め機構において、ＤＵＴＩＦユニットにラフガイドピンを設けるとともにテンプレートにラフガイドピンと係合する位置決め部を設けた。【選択図】      図１
2008261715.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＴＨカードが格納され第１ガイド穴を有するテストヘッドと、
該テストヘッド上に前記ＴＨカードを覆って配置され、一方の側に前記第１ガイド穴に挿入される第１ガイドピンを有するテンプレートと、
該テンプレートを覆って配置され、該テンプレートの他方の側に配置された第２ガイドピンが貫通する第２ガイド穴を有するＤＩＦボードと、
該ＤＩＦボード上に配置され、該ＤＩＦボードを貫通した第２ガイドピンが貫通する第３ガイド穴を有するＤＵＴＩＦユニットと、該ＤＵＴＩＦユニットを覆って配置されたカバーを具備するＬＳＩテスタの位置決め機構において、前記ＤＵＴＩＦユニットにラフガイドピンを設けるとともに前記テンプレートに前記ラフガイドピンと係合する位置決め部を設けたことを特徴とするＬＳＩテスタの位置決め機構。
【請求項２】
前記ラフガイドピンはＤＵＴＩＦユニットの外周部であって少なくとも３本設けたことを特徴とする請求項１に記載のＬＳＩテスタの位置決め機構。
【請求項３】
前記ラフガイドピンは前記ＤＵＴＩＦユニットを取外して床面に載置したときに前記ラフガイドピンで前記ＤＵＴＩＦユニットを支持可能な程度の長さを有することを特徴とする請求項１または２に記載のＬＳＩテスタの位置決め機構。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストヘッドとＤＵＴＩＦユニットを有するＬＳＩテスタの位置決め機構に関し、ＤＵＴＩＦユニットとこのＤＵＴＩＦユニットを覆うカバーを一体化して組付け工数の簡素化をはかったＬＳＩテスタの位置決め機構に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＬＳＩテスタを構成するテストヘッドに関する位置決め機構としては下記の先行技術文献がある。
【０００３】
【特許文献１】実開平０５−０６２８７２号公報
【特許文献２】特開平０５−３１２９００号公報
【０００４】
図２はＬＳＩテスタのＴＨ（テストヘッド）カードを交換するために先立って行われるテストヘッドとＤＵＴＩＦユニットの要部分解工程を示す図である。
図において、ＴＨカードの交換に際しては、
工程１において、ＤＵＴＩＦユニット１１に取付けられたケーブル側のＤＵＴＩＦカバー１１ａおよびスイッチボックス側に取り付けられたＤＵＴＩＦカバー１１ｂを取り外す。
【０００５】
工程２において、ＤＵＴＩＦユニット１１を取り外す。
工程３において、ＤＩＦボード１２を取り外す。
工程４において、ＴＨカバー１４ａおよび１４ｂを取り外す。
工程５において、テンプレート１３を取り外す。
このようにテストヘッド上に取り付けられた上記部品を全て取り外した後ＴＨカード１５を交換することが可能となる。
【０００６】
ＴＨカード１５を交換した後は前述の工程を逆に辿って組立てを行う。
即ち、テンプレート１３の一方の面に突き出して取り付けられた２本の第１ガイドピン１３ａをテストヘッド１４に形成された第１ガイド穴１４ｃに挿入し、ＴＨカード１５を覆う。
【０００７】
次にＴＨカバー１４ａおよび１４ｂを取りつける。
次にＤＩＦボード１２の２箇所に形成された第２ガイド穴１２ａにテンプレート１３の他方の側に突出して取付けられた第２ガイドピン１３ｂを挿入してテンプレート１３を覆う。
【０００８】
次にＤＵＴＩＦユニット１１に形成された第３ガイド穴１１ｃにＤＩＦボード１２を貫通した第２ガイドピン１３ｂを挿入し、その後ＤＵＴＩＦカバー１１ａおよびＤＵＴＩＦカバー１１ｂを取り付ける。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで、上述の従来のＬＳＩテスタの位置決め機構では、ＴＨカード１５を交換するたびに前述の取付け取外しの作業が発生し、多くの工数がかかる。その対策としてＤＵＴＩＦユニット１１にＤＵＴＩＦカバー１１ａおよびＤＵＴＩＦカバー１１ｂを一体として取り付けることにより取付け取外しの作業を簡素化することが考えられる。
【００１０】
しかしながら、ＤＵＴＩＦユニット１１にＤＵＴＩＦカバー１１ａおよびＤＵＴＩＦカバー１１ｂを一体として取り付けて、ＤＵＴＩＦユニット１１に形成された第３ガイド穴を第２ガイドピン１３ｂに入れようとした場合、カバー１１ａ，１１ｂによって第３ガイド穴１１ｃが隠されてしまい、目視による確認ができないので第２ガイドピン１３ｂと第３ガイド穴の位置合わせが難しく更に工数がかかるという問題があった。ＤＵＴＩＦカバーに目視のための穴を形成することも考えられるがデザイン上好ましくない。
【００１１】
ちなみに、ＤＵＴＩＦユニット１１は例えば２５ｋｇ程度の重量があり、取付け取外しに際してはＤＵＴＩＦユニット１１に形成された把手１６を持って４人程度で抱えながら行う。その結果、位置合わせに長い時間がかかり疲労に伴う危険が伴うという問題があった。
【００１２】
本発明は、従来技術の問題点を解決するためになされたもので、ＤＵＴＩＦユニット１１にＤＵＴＩＦカバー１１ａおよびＤＵＴＩＦカバー１１ｂを一体として取付けた状態でも位置合わせが容易であり、組立工数を削減可能なＬＳＩテスタの位置決め機構を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
このような課題を達成するための本発明のＬＳＩテスタの位置決め機構は、請求項１においては、
ＴＨカードが格納され第１ガイド穴を有するテストヘッドと、
該テストヘッド上に前記ＴＨカードを覆って配置され、一方の側に前記第１ガイド穴に挿入される第１ガイドピンを有するテンプレートと、
該テンプレートを覆って配置され、該テンプレートの他方の側に配置された第２ガイドピンが貫通する第２ガイド穴を有するＤＩＦボードと、
該ＤＩＦボード上に配置され、該ＤＩＦボードを貫通した第２ガイドピンが貫通する第３ガイド穴を有するＤＵＴＩＦユニットと、該ＤＵＴＩＦユニットを覆って配置されたカバーを具備するＬＳＩテスタの位置決め機構において、前記ＤＵＴＩＦユニットにラフガイドピンを設けるとともに前記テンプレートに前記ラフガイドピンと係合する位置決め部を設けたことを特徴とする。
【００１４】
請求項２においては、請求項１に記載のＬＳＩテスタの位置決め機構において、
前記ラフガイドピンはＤＵＴＩＦユニットの外周部であって少なくとも３本設けたことを特徴とする。
【００１５】
請求項３においては、請求項１または２に記載のＬＳＩテスタの位置決め機構において、
前記ラフガイドピンは前記ＤＵＴＩＦユニットを取外して床面に載置したときに前記ラフガイドピンで前記ＤＵＴＩＦユニットを支持可能な程度の長さを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
以上説明したことから明らかなように本発明の請求項１によれば、次のような効果がある。
請求項１，２においては、ＤＵＴＩＦユニットにラフガイドピンを設けるとともに前記テンプレートに前記ラフガイドピンと係合する位置決め部を設け、ラフガイドピンはＤＵＴＩＦユニットの外周部であって少なくとも３本設けたので、ラフガイドピンが位置決め部に係合する位置と第２ガイドピンと第３ガイド穴の位置を合わせておくことで、目視による位置あわせが可能となり、短時間での組立てが可能となる。
【００１７】
請求項３においては、ラフガイドピンは前記ＤＵＴＩＦユニットを取外して床面に載置したときに前記ラフガイドピンで前記ＤＵＴＩＦユニットを支持可能な程度の長さを有しているので、ＤＵＴＩＦユニットの置き場所の選択に自由度を持たせることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
図１は本発明の一実施例を示すＬＳＩテスタの位置決め機構の要部分解工程を示す図である。
図１において、図２の従来例に示した部品とは同一形状であるが、本図においては簡略して示している。
１はカバー一体型ＤＵＴＩＦユニットであり、図２に示すＤＵＴＩＦユニット１１とケーブル側のＤＵＴＩＦカバー１１ａおよびスイッチボックス側に取り付けられたＤＵＴＩＦカバー１１ｂが一体として形成されている。
【００１９】
この状態において、ＤＵＴＩＦユニット１ａに形成された第３ガイド穴１ｃはカバー１ｂの下に隠れている。６はＤＵＴＩＦユニット１ａの外周のＢで示す４箇所に形成されたラフガイドピンであり、このラフガイドピンの長さはＤＵＴＩＦユニット１ａに一体として取付けられたカバー１ｂの厚さよりも長く形成されていて、この４本のラフガイドピン６でカバー一体型ＤＵＴＩＦユニット１を床面に支持できるようになっている。
【００２０】
２は図２に示すＤＩＦボード１２と同様のＤＩＦボードであり、対向する２辺の中央縁部に２つの第２ガイド穴２ａが形成されている。
３はテンプレートで、図２に示すテンプレート１３と同様であるが、対向する辺の４箇所にラフガイドピン６の位置にあわせてＡで示す半円状の切欠き７が形成されている。
【００２１】
ここで、４本のラフガイドピン６を切欠き７に係合させた状態で、テンプレート３の表面に形成した第２ガイドピン３ｂの先端がカバー一体型ＤＵＴＩＦユニットに形成した第３ガイド穴に挿入されるようになっている。
【００２２】
上述の構成において、ＴＨカードの交換に際しては、
工程１において、カバー一体型ＤＵＴＩＦユニット１を取り外す。
工程２において、ＤＩＦボード２を取り外す。
工程３において、テンプレート３を取り外す。
工程４において、図１では省略してあるが図２と同様にＴＨカバーを取り外す。
工程５において、テンプレート３を取り外す。
このようにしてテストヘッド上に取り付けられた上記部品を全て取り外した後ＴＨカード５を交換する。
【００２３】
ＴＨカード５を交換した後は前述の工程を逆に辿って組立てを行う。
即ち、テンプレート３の一方の面に突き出して取り付けられた２本の第１ガイドピン３ａ（図示省略）をテストヘッド４に形成された第１ガイド穴４ｃに挿入し、ＴＨカード５を覆う。
【００２４】
次にＴＨカバーを取りつける（図２参照）。
次にＤＩＦボード２の２箇所に形成された第２ガイド穴２ａにテンプレート３の他方の側に突出して取付けられた第２ガイドピン３ｂを挿入してテンプレート３を覆う。
【００２５】
次にラフガイドピン６とテンプレート３に形成されたＡで示す切欠き７を視認しながら、一体型ＤＵＴＩＦユニット１を降下させてラフガイドピン６を係合させる。これにより第２ガイドピン３ｂが第３ガイド穴１ｃに挿入されて組立て工程が完了する。
【００２６】
上述の組立て工程によれば、第２ガイドピン３ｂと第３ガイド穴１ｃが見えなくてもガイドピン３ｂが第３ガイド穴１ｃに挿入可能である。
また、ラフガイドピン６がカバー１ｂの厚さより長く形成されているのでカバー一体型ＤＵＴＩＦユニット１を床に降ろすときの自由度が大きくなり、コスト的にも有利である。
【００２７】
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。例えばラフガイドピンと半円状の切欠きは３個ずつであってもよく、要はカバーをＤＵＴＩＦユニットと一体にしたために視認しずらくなったものが容易に挿入できればよい。また、テンプレートに形成するラフガイドピンとの係合の切欠きは半円状としたが穴であっても良い。また、第１,第２ガイドピンはテンプレートを貫通する１本のピンであっても良い。
従って本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明を適用したＬＳＩテスタの位置決め機構の要部構成図である。
【図２】従来のＬＳＩテスタの位置決め機構の要部構成図である。
【符号の説明】
【００２９】
１            カバー一体型ＤＵＴＩＦユニット
１ａ，１１    ＤＵＴＩＦユニット
１ｂ          カバ―
１ｃ          第３ガイド穴
２，１２      ＤＩＦボード
２ａ          第２ガイド穴
３，１３      テンプレート
３ａ          第１ガイドピン
３ｂ          第２ガイドピン
４，１４      テストヘッド
４ｃ          第１ガイド穴
５，１５      ＴＨカード
６            ラフガイドピン
７            半円状切欠き
１１ａ，１１ｂ  ＤＵＴＩＦカバー
１６          把手
【図１】
2008261715.tif 000003
【図２】
2008261715.tif 000004