(57)【要約】【課題】放射線固体検出器（ＦＰＤ）を用いる放射線画像の撮影において、残像の強度に応じた適切な処理を行なって、正確な放射線画像を安定して撮影する。【解決手段】所定のタイミングで暗画像を読み出して強度を検出し、その強度に応じて、撮影待機、残像補正の実行、および、残像補正の非実行を判断することにより、前記課題を解決する。【選択図】図２
2008237445.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線固体検出器の残像量を所定のタイミングで検出し、放射線画像の撮影に先立ち、予め設定した第１の閾値ＴＨ１および第２の閾値ＴＨ２（但し、ＴＨ１＞ＴＨ２）と、前記残像量とを比較して、
残像量≧ＴＨ１；  の場合には、前記放射線画像の撮影を待機させ、
ＴＨ１＞残像量＞ＴＨ２；  の場合には、前記放射線画像の撮影を行ない、撮影した放射線画像に対して残像補正を行い、
ＴＨ２≧残像量；  の場合には、前記放射線画像の撮影を行ない、撮影した放射線画像に対して残像補正を行なわないことを特徴とする放射線画像撮影方法。
【請求項２】
前記第１の閾値ＴＨ１および第２の閾値ＴＨ２の両者を使用して、前記残像量との比較を行なう高画質処理と、
前記第２の閾値ＴＨ２のみを使用して、前記残像量との比較を行なう高速処理とのいずれかを選択し、
前記高速処理を選択した際には、
残像量＞ＴＨ２；  の場合には、前記放射線画像の撮影を行い、撮影した放射線画像に対して残像補正を行い、
ＴＨ２≧残像量；  の場合には、前記放射線画像の撮影を行い、撮影した放射線画像に対して残像補正を行なわない請求項１に記載の放射線画像撮影方法。
【請求項３】
前記残像量が、暗画像の強度である請求項１または２に記載の放射線画像撮影方法。
【請求項４】
放射線源と、
前記放射線源が照射した放射線を検出する放射線固体検出器と、
前記放射線固体検出器から、所定のタイミングで残像量を検出する残像検出手段と、
前記放射線固体検出器が検出した放射線画像に対して、残像補正を行なう残像補正手段と、
前記残像検出手段が検出した残像量を用い、放射線画像の撮影に先立ち、予め設定した第１の閾値ＴＨ１および第２の閾値ＴＨ２（但し、ＴＨ１＞ＴＨ２）と、前記残像量とを比較して、前記線源への曝射の指示、および、前記残像補正手段への残像補正の指示を行なう信号強度判断手段とを有し、
かつ、この信号強度判断手段は、
残像量≧ＴＨ１；  の場合には、前記線源に曝射待機の指示を出し、
ＴＨ１＞残像量＞ＴＨ２；  の場合には、前記線源に曝射許可を出し、かつ、前記残像補正手段に、前記放射線固体検出器が検出した放射線画像に対して残像補正を行うように指示を出し、
ＴＨ２≧残像量；  の場合には、前記線源に曝射許可を出し、かつ、前記残像補正手段に、撮影した放射線画像に対して残像補正を行なわないように指示を出すことを特徴とする放射線画像撮影装置。
【請求項５】
前記第１の閾値ＴＨ１および第２の閾値ＴＨ２の両者を使用して、前記残像量との比較を行って、前記線源への曝射の指示、および、前記残像補正手段への残像補正の指示を行なう処理を高画質モードとして、
前記信号強度判断手段には、この高画質モードに加え、前記第２の閾値ＴＨ２のみを使用して、前記残像量との比較を行って、前記線源への曝射の指示、および、前記残像補正手段への残像補正の指示を行なう高速モードとが設定され、さらに、前記高画質モードと高速モードとを選択する選択手段を有し、
前記信号強度判断手段は、前記高速モードにおいては、
残像量＞ＴＨ２；  の場合には、前記線源に曝射許可を出し、かつ、前記残像補正手段に、前記放射線固体検出器が検出した放射線画像に対して残像補正を行うように指示を出し、
ＴＨ２≧残像量；  の場合には、前記線源に曝射許可を出し、かつ、前記残像補正手段に、撮影した放射線画像に対して残像補正を行なわないように指示を出す請求項４に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項６】
前記残像量が、暗画像の強度である請求項４または５に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項７】
前記暗画像の強度が、暗画像の平均値である請求項６に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項８】
前記暗画像の強度が、暗画像の最大値である請求項６に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項９】
前記残像量の検出を、予め定めた所定領域で行なう請求項４〜８のいずれかに記載の放射線画像撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線固体検出器を用いる放射線画像撮影に関し、詳しくは、前の撮影による残像に対応して適切な処理を行い、正確な放射線画像を安定して撮影できる放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、医療用の診断画像の撮影や工業用の非破壊検査などに、被写体を透過した放射線（Ｘ線、α線、β線、γ線、電子線、紫外線等）を電気的な信号として取り出すことにより放射線画像を撮影する、放射線画像検出器が利用されている。
この放射線画像検出器としては、放射線を電気的な画像信号として取り出す放射線固体検出器（いわゆる「Flat Panel Detector」  以下、ＦＤＰとする）や、放射線像を可視像として取り出すＸ線イメージ管などがある。
【０００３】
また、ＦＰＤには、例えば放射線の入射によってアモルファスセレンなどの光導電膜が発した電子−正孔対（ｅ−ｈペア）を収集して電気信号として読み出す、いわば放射線を直接的に電気信号に変換する直接方式と、放射線の入射によって発光（蛍光）する蛍光体で形成された蛍光体層（シンチレータ層）を有し、この蛍光体層によって放射線を可視光に変換し、この可視光を光電変換素子で読み出す、いわば放射線を可視光として電気信号に変換する間接方式との、２つの方式がある。
【０００４】
このようなＦＰＤを用いる放射線画像撮影装置、特に、直接方式のＦＰＤを利用する放射線画像撮影装置において、被写体画像（被写体を撮影した放射線画像）の画質低下の一因として、先の被写体画像の撮影による残像が挙げられる。
すなわち、被写体を通してＦＰＤに放射線を曝射して被写体画像を撮影して、ＦＰＤから電気信号すなわち被写体の画像信号を読み出しても、どうしてもＦＰＤの内部には電荷が残留してしまう。この状態で被写体画像を撮影すると、この残留電荷が残像として被写体画像に乗ってしまうため、被写体画像が残像の影響を受けた画像になり、正確（高画質）な被写体画像を得ることができない。
【０００５】
そのため、放射線画像撮影装置においては、通常、被写体の撮影に先立って、放射線を曝射することなくＦＰＤを読み出して（すなわち暗画像（残像）を読み取り）、被写体画像（被写体画像信号）から、この暗画像（暗画像信号）を差し引くことで、前回の撮影の残像の悪影響を除く、いわゆる残像補正が行なわれる。
【０００６】
また、残像は経時と共に減衰する。
特許文献１には、これを利用して、ＦＰＤの暗画像を読み取り、暗画像信号が許容値を下回るまで、撮影を待機することにより、残像の悪影響の無い、高画質な被写体画像を得ることが開示されている。
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−２８１１３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、このような残像補正は、被写体画像から暗画像を差し引く補正であるため、得られる放射線画像のＳ／Ｎ比が低下してしまう。
特に、前回の撮影の曝射量が大きく、あるいはさらに、撮影からの経過時間が短い場合には、ＦＰＤの内部に大きな電荷が残ってしまい、すなわち、暗画像は非常に大きなものとなる（高強度の信号となる）。このような場合には、被写体から大きな暗画像を差し引く結果となるため、被写体画像は、Ｓ／Ｎ比が小さい画質的に劣化した画像となってしまい、すなわち、高画質な被写体画像が得られない。
【０００９】
また、前記特許文献１に開示される方法であれば、残像の影響の無い被写体画像を得ることはできるが、暗画像すなわち残像の状態に応じて、放射線画像の撮影を待機する必要がある。特に、前回の撮影の曝射量が大きい場合には、暗画像の減衰に時間がかかるため、長い時間、放射線画像の撮影を待機する必要があり、効率のよい撮影や診断ができなくなってしまう可能性もある。
【００１０】
本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解決することにあり、放射線固体検出器（ＦＰＤ）を用いる放射線画像撮影において、残像の状態に応じて適正な対処を行なうことができ、残像による放射線画像の悪影響を大幅に低減できると共に、必要に応じて、残像によらない迅速な放射線画像の撮影を可能にできる放射線画像撮影方法、および、この放射線画像撮影方法を実施する放射線画像撮影装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、本発明の放射線画像撮影方法は、放射線固体検出器の残像量を所定のタイミングで検出し、放射線画像の撮影に先立ち、予め設定した第１の閾値ＴＨ１および第２の閾値ＴＨ２（但し、ＴＨ１＞ＴＨ２）と、前記残像量とを比較して、残像量≧ＴＨ１；の場合には、前記放射線画像の撮影を待機させ、ＴＨ１＞残像量＞ＴＨ２；の場合には、前記放射線画像の撮影を行ない、撮影した放射線画像に対して残像補正を行い、ＴＨ２≧残像量；の場合には、前記放射線画像の撮影を行ない、撮影した放射線画像に対して残像補正を行なわないことを特徴とする放射線画像撮影方法を提供する。
【００１２】
このような本発明の放射線画像撮影方法において、前記第１の閾値ＴＨ１および第２の閾値ＴＨ２の両者を使用して、前記残像量との比較を行なう高画質処理と、前記第２の閾値ＴＨ２のみを使用して、前記残像量の比較を行なう高速処理とのいずれかを選択し、前記高速処理を選択した際には、残像量＞ＴＨ２；の場合には、前記放射線画像の撮影を行い、撮影した放射線画像に対して残像補正を行い、ＴＨ２≧残像量；の場合には、前記放射線画像の撮影を行い、撮影した放射線画像に対して残像補正を行なわないのが好ましく、また、前記残像量が、暗画像の強度であるのが好ましい。
【００１３】
また、本発明の放射線画像撮影装置は、放射線源と、前記放射線源が照射した放射線を検出する放射線固体検出器と、前記放射線固体検出器から、所定のタイミングで残像量を検出する残像検出手段と、前記放射線固体検出器が検出した放射線画像に対して、残像補正を行なう残像補正手段と、前記残像検出手段が検出した残像量を用い、放射線画像の撮影に先立ち、予め設定した第１の閾値ＴＨ１および第２の閾値ＴＨ２（但し、ＴＨ１＞ＴＨ２）と、前記残像量とを比較して、前記線源への曝射の指示、および、前記残像補正手段への残像補正の指示を行なう信号強度判断手段とを有し、かつ、この信号強度判断手段は、残像量≧ＴＨ１；の場合には、前記線源に曝射待機の指示を出し、ＴＨ１＞残像量＞ＴＨ２；の場合には、前記線源に曝射許可を出し、かつ、前記残像補正手段に、前記放射線固体検出器が検出した放射線画像に対して残像補正を行うように指示を出し、ＴＨ２≧残像量；の場合には、前記線源に曝射許可を出し、かつ、前記残像補正手段に、撮影した放射線画像に対して残像補正を行なわないように指示を出すことを特徴とする放射線画像撮影装置を提供する。
【００１４】
このような本発明の放射線画像撮影装置において、前記第１の閾値ＴＨ１および第２の閾値ＴＨ２の両者を使用して、前記残像量との比較を行って、前記線源への曝射の指示、および、前記残像補正手段への残像補正の指示を行なう処理を高画質モードとして、前記信号強度判断手段には、この高画質モードに加え、前記第２の閾値ＴＨ２のみを使用して、前記残像量との比較を行って、前記線源への曝射の指示、および、前記残残像補正手段への残像補正の指示を行なう高速モードとが設定され、さらに、前記高画質モードと高速モードとを選択する選択手段を有し、前記信号強度判断手段は、前記高速モードにおいては、残像量＞ＴＨ２；の場合には、前記線源に曝射許可を出し、かつ、前記残像補正手段に、前記放射線固体検出器が検出した放射線画像に対して残像補正を行うように指示を出し、ＴＨ２≧残像量；の場合には、前記線源に曝射許可を出し、かつ、前記残像補正手段に、撮影した放射線画像に対して残像補正を行なわないように指示を出すのが好ましく、さらに、前記残像量が暗画像の強度であるのが好ましい。
【００１５】
このような本発明の放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置において、前記暗画像の強度が、前記暗画像の平均値であるのが好ましく、もしくは、前記暗画像の強度が、暗画像の最大値であるのが好ましく、さらに、前記残像量の検出を、予め定めた暗画像の所定領域で行なうのが好ましい。
【発明の効果】
【００１６】
上記構成を有する本発明によれば、暗画像の強度（暗画像信号の強度）などの残像量に対する所定の閾値ＴＨ１および閾値ＴＨ２（但し、ＴＨ１＞ＴＨ２）を定めておき、この閾値に応じて、放射線画像撮影（曝射）の非許可、残像補正を行なう放射線画像の撮影、および、残像補正を行なわない放射線画像の撮影のいずれを行なうかを判断する。そのため、本発明によれば、残像量すなわち残像の状態に応じて、最も適正な処理を行なうことができ、残像の影響を大幅に低減した、正確（高画質）な放射線画像の撮影を、安定して行なうことができる。
また、好ましい態様として、前記高画質な放射線画像の撮影が可能な高画質モードと、残像量によらず撮影を許可する高速モードとを有し、高速モードでも、残像の状態に応じて残像補正の有無を判断する。そのため、本発明によれば、緊急時や多数の放射線画像の撮影を連続して行なう必要がある場合でも、迅速に、かつ、残像の悪影響を最大限に排除した放射線画像の撮影を行なうことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置について、添付の図面に示される好適実施例を基に、詳細に説明する。
【００１８】
図１に、本発明の放射線画像撮影方法を実施する、本発明の放射線画像撮影装置の一例を概念的に示す。
図１に示す放射線画像撮影装置１０（以下、撮影装置１０とする）は、被写体Ｈ（被検者）の放射線画像（診断画像）を撮影する放射線画像診断装置であって、放射線画像を撮影する撮影部１２と、撮影部１２が撮影した被写体画像を処理する画像処理部１４と、モニタ１６と、プリンタ１８とを有して構成させる。また、撮影装置１０は、公知の通信ネットワークによって、管理システムや画像サーバなどの外部の装置やシステム等に接続されてもよい。
【００１９】
撮影部１２は、被写体Ｈの放射線画像（以下、被写体画像とする）を撮影する部位であり、曝射制御手段２０と、放射線源２２と、撮影台２４と、撮影手段２６とを有して構成される。
曝射制御手段２０は、放射線源２２から放射線を照射するための高圧電源を有し、放射線源２２を駆動して、設定された強度の放射線を設定された時間だけ照射させる、公知の放射線源２２の制御手段である。放射線源２２も、各種の放射線画像撮影装置に設置される通常の放射線源である。
撮影台２４も、各種の放射線画像撮影装置で利用される通常の撮影台である。なお、撮影装置１０は、必要に応じて、放射線源２２の移動手段、撮影台２４の昇降手段や水平方向への移動手段、撮影台２４を傾ける傾斜手段等を有してもよい。
【００２０】
撮影手段２６は、放射線固定検出器３０（以下、ＦＰＤ３０とする）によって、被写体画像を撮影するものである。
撮影装置１０は、通常の放射線画像撮影装置１０と同様に、放射線源２２が照射し、被写体Ｈを透過した放射線をＦＰＤ３０の受光面で受光し、ＦＰＤ３０で放射線を光電変換することにより、被写体画像を撮影する。
【００２１】
本発明において、ＦＰＤ３０は、放射線画像撮影装置に利用される通常のＦＰＤ（Flat Panel Detector(フラットパネル検出器)）である。
本発明において、ＦＰＤ３０は各種のものが全て利用可能である。従って、アモルファスセレン等の光導電膜とＴＦＴ(Thin Film Transistor)等を用い、放射線の入射によって光導電膜が発した電子−正孔対（ｅ−ｈペア）を収集してＴＦＴによって電化信号として読み出す、いわゆる直接方式のＦＰＤでも、「ＣｓＩ：Ｔｌ」などの放射線の入射によって発光（蛍光）する蛍光体で形成されたシンチレータ層とフォトダイオードとＴＦＴ等を用い、放射線の入射によるシンチレータ層の発光をフォトダイオードで光電変換して、ＴＦＴによって電気信号として読み出す、いわゆる間接方式のＦＰＤでもよい。
なお、残像、すなわち先に撮影した被写体画像の残留電荷の影響を受け易く、本発明の効果を、より好適に得ることができる等の点で、直接方式のＦＰＤが特に好適である。
【００２２】
また、撮影手段２６は、ＦＰＤ３０以外にも、散乱放射線がＦＰＤ３０に入射する散乱放射線を遮蔽するためのグリッド、グリッドの移動手段等、公知の放射線画像撮影装置が有する各種の部材を有してもよいのは、もちろんである。
【００２３】
撮影手段２６（ＦＰＤ３０）が撮影した放射線画像の出力信号は、画像処理部１４に出力される。
画像処理部１４は、ＦＰＤ３０が出力した出力信号を処理して、モニタ１６による表示や、プリンタ１８でのプリント出力、さらには、ネットワークや記録媒体を用いた放射線画像（データ）の出力に対応する被写体画像（画像信号（画像データ））とするものである。図示例の撮影装置１０において、画像処理部１４は、データ処理手段３２と、画像処理手段３４と、暗画像取得手段３６と、放射線強度判断手段３８とを有する。
画像処理部１４は、一例として、１台もしくは複数台のコンピュータやワークステーションで構成されるものであり、図示した部位以外にも、各種の操作や指示の入力等をするためのキーボードやマウス等を有している。
【００２４】
データ処理手段３２は、ＦＰＤ３０の出力信号に、Ａ／Ｄ変換やｌｏｇ変換等の処理を施して、被写体画像の画像信号（画像データ）に変換し、暗画像取得手段３６（暗画像）や画像処理手段３４（被写体画像）に供給するものである。
【００２５】
暗画像取得手段３６は、ＦＰＤ３０の暗画像を読み出すものである。
すなわち、暗画像取得手段３６は、放射線源２２から放射線が照射されていない状態、すなわちＦＰＤ３０に放射線が曝射されていない状態で、ＦＰＤ３０の出力信号を読み出し、この出力信号をデータ処理手段３２で処理をさせて、ＦＰＤ３０の暗画像（暗画像信号）を読み出す。さらに、暗画像取得手段３６は、読み出した暗画像を、画像処理手段３４および放射線強度判断案手段３８に供給する。
【００２６】
図示例の撮影装置１０は、通常の放射線画像撮影装置と同様に、起動時に、キャリブレーションを行なう。本例においては、一例として、キャリブレーションによって、オフセット補正用のオフセット画像の読み取り、ゲイン補正（シェーディング補正）用の放射線画像撮影、および、画素欠陥補正のための画素欠陥マップの作成を行なう。
暗画像取得手段３６は、起動時に暗画像を読み取り、オフセット補正用のオフセット画像として、画像処理手段３４に供給する。
【００２７】
また、図示例の撮影装置１０においては、曝射の許可／待機や、残像補正の要／不要を判断するための残像量として、ＦＰＤ３０の暗画像の強度Ｓｄを用いる。暗画像取得手段３６は、これに対応して、撮影装置１０が起動した後は、所定のタイミングで暗画像を読み取り、残像量検出用および残像補正用の暗画像（残像）として、放射線強度判断手段３８および画像処理手段３４に供給する。
【００２８】
この暗画像の読み出しタイミングには、特に限定はなく、被写体画像の撮影前（例えば、被写体の撮影準備時）、撮影後０．５〜５分程度毎などの撮影後の所定周期での読み出し等、撮影装置１０による被写体画像の撮影間隔や撮影頻度等に応じて、適宜、設定すればよい。
なお、通常の放射線画像撮影装置では、先に撮影した被写体画像の撮影メニューは既知であり、また、撮影メニューから、撮影部位や曝射量を知見できる。これを利用して、撮影後に暗画像を周期的に読み出す場合には、前回の撮影の際の放射線の曝射量や撮影部位に応じて、周期を変更してもよい。
また、一般的な放射線源２２では、放射線の曝射スイッチを１段（１回あるいは曝射準備スイッチ）押圧するとレディ（曝射準備）となり、２段目（二回目あるいは曝射スイッチ）までの押圧によって曝射（放射線の照射）となる場合が多い。これを利用して、スイッチが１段押された時点で、暗画像を読み取る用にしてもよい。
【００２９】
放射線強度判定手段３８（以下、強度判定手段３８とする）は、暗画像取得手段３６が読み出した暗画像から、残像量として暗画像の強度Ｓｄ（暗画像信号の信号強度Ｓｄ）を検出して、予め設定されている閾値ＴＨ１および閾値ＴＨ２（但し、ＴＨ１＞ＴＨ２）と、暗画像の強度Ｓｄとを比較して、その比較結果に応じて、前記曝射制御手段２０に曝射許可もしくは曝射待機の指示を出し、また、画像処理手段３４（後述する残像補正手段４２）に、残像補正の要／不要の指示を出す。
【００３０】
具体的には、図２（Ａ）に模式的に示すように、暗画像の強度Ｓｄが、（第１の）閾値ＴＨ１以上［Ｓｄ≧ＴＨ１］である場合には、暗画像すなわち残像が大きい（暗画像の信号強度が高い）。
従って、この場合には、被写体画像を撮影して残像補正を行なっても、Ｓ／Ｎ比が小さい、画質的に劣化した被写体画像しか得ることができないので、強度判定手段３８は、曝射制御手段２０に、曝射待機（被写体画像の撮影待機）の指示を出す。すなわち、この際には、曝射スイッチの押圧などによって技師等より撮影指示が出されても、撮影装置１０は、被写体画像の撮影を行なわない。また、好ましくは、撮影装置１０は、モニタ１６への表示や警告音の発生で、残像が大きい旨を知らせるのが好ましい。さらに、この場合には、強度判定手段３８は、画像処理手段３４に、この暗画像を廃棄するように、指示を出す。
なお、前記曝射スイッチの押圧を利用して暗画像取得手段３６が暗画像を読み出す場合には、［Ｓｄ≧ＴＨ１］であったら、曝射スイッチを２段目まで押圧できないようにロックするようにするのも好ましい。
【００３１】
なお、［Ｓｄ≧ＴＨ１］で曝射待機を出した場合には、強度判定手段３８は、所定時間を経過した後、好ましくは強度Ｓｄに応じた所定時間を経過した後に曝射制御手段２０に曝射許可の指示を出して、撮影装置１０が、被写体画像の撮影を行なう。
あるいは、暗画像取得手段３６による暗画像の強度Ｓｄが所定値以下（ＴＨ１以下、もしくはＴＨ２以下）となった時点で、曝射制御手段２０に曝射許可の指示を出して、撮影装置１０が、被写体画像の撮影を行なう。
この際において、残像補正の有無は、以下に示す判断に準じればよい。
【００３２】
図２（Ｂ）に模式的に示すように、暗画像の強度Ｓｄが、閾値ＴＨ１と（第２の）閾値ＴＨ２との間［ＴＨ１＞Ｓｄ＞ＴＨ２］である場合には、ある程度の残像は残っているが、残像補正を行なうことで、正確（高画質）な被写体画像が得られる。
従って、この場合には、強度判定手段３８は、曝射制御手段２０に曝射許可（被写体画像の撮影許可）を出し、さらに、画像処理手段３４（残像補正手段４２）に、撮影した被写体画像に対して、この暗画像（強度Ｓｄを検出した暗画像）を用いた残像補正を行なうように指示を出す。すなわち、この際には、撮影装置１０は、技師等による撮影指示に応じて被写体画像の撮影を行い、この暗画像を用いた残像補正を行なった被写体画像を出力する（オフセット画像によるオフセット補正は行なわない）。
【００３３】
図２（Ｃ）に模式的に示すように、暗画像の強度Ｓｄが、閾値ＴＨ２以下［ＴＨ２≧Ｓｄ］である場合には、残像の量は十分に小さく、残像補正は不要である。
従って、この場合には、強度判定手段３８は、曝射制御手段２０に曝射許可を出し、さらに、画像処理手段３４に、この暗画像を用いた残像補正を行なわないように、指示を出す。すなわち、この際には、撮影装置１０は、技師等による撮影指示に応じて被写体画像の撮影を行い、この暗画像による残像補正は行なわずに、オフセット画像によるオフセット補正を行なった被写体画像を出力する。
【００３４】
本発明において、暗画像の強度Ｓｄには特に限定はなく、各種の信号強度が利用可能である。一例として、暗画像の平均値（暗画像信号（画像データ）の平均値）、暗画像の最大値、暗画像の最低値、暗画像の中間値、暗画像の信号値ヒストグラムの所定累積％点などが例示され、中でも特に、暗画像の平均値および暗画像の最大値（最高値）が好適に利用される。
【００３５】
閾値ＴＨ１および閾値ＴＨ２にも、特に限定はなく、被写体画像に要求される画質、撮影装置１０に要求される処理能力（単位時間当たりの撮影枚数など）、主たる撮影部位などの撮影装置の用途、撮影頻度や緊急撮影の頻度等に応じて、適宜、設定すればよい。
また、例えば、今回（これから行なう撮影）の撮影で曝射量が大きい場合には両閾値を若干高くする、今回の撮影で曝射量が小さい場合には両閾値を若干低くする、など、閾値ＴＨ１および／または閾値ＴＨ２は、撮影条件（撮影部位や放射線曝射量など）に応じて、適宜、変更してもよい。この際においては、前の撮影条件のみを考慮して閾値を変更してもよく、今回の撮影条件のみを考慮して閾値を変更してもよく、前および今回の撮影条件の両方を考慮して閾値を変更してもよい。このような閾値の変更は、例えば、予め作成した撮影条件と閾値との関係を示すテーブル（ＬＵＴ）等を用いて行なえばよい。
【００３６】
暗画像の強度Ｓｄ（残像量）を検出する暗画像（ＦＰＤ３０の受光面）の領域にも特に限定はなく、暗画像の全面であってもよく、あるいは、暗画像の中央の所定領域など、予め設定した暗画像中の所定領域であってもよい。
なお、暗画像の所定領域で強度Ｓｄを検出する場合には、領域は、撮影装置１０が主に撮影する部位等に応じて、適宜、設定すればよい。
【００３７】
また、前述のように、通常の放射線画像撮影装置では、先に撮影した被写体画像の撮影メニューは既知であり、また、撮影メニューから、撮影部位や曝射量を知見できる。
これを利用して、暗画像の所定領域で強度Ｓｄを検出する場合には、先に撮影した被写体画像に応じて、強度Ｓｄを検出する領域の位置を変更してもよい。この場合には、先の撮影部位に応じて、例えば、最も暗画像が大きい（暗画像信号の強度が高い）と予測される領域、あるいは、暗画像が平均的であると予測される領域、あるいは、最も暗画像が小さいと予測される領域などに、暗画像を読み取る領域を変更する。
さらに、暗画像の強度Ｓｄを検出する領域の位置を変更する場合には、先に撮影した被写体画像に応じて、強度Ｓｄの検出領域の大きさを変更してもよい。
【００３８】
ここで、図示例の撮影装置１０は、好ましい態様として、強度判断手段３８に、高画質モードと、高速モードとが設定されており、さらに、撮影装置１０は、モードの選択手段が設けられている。なお、モードの選択手段は、ＧＵＩ(Graphical User Interface)等を用いた公知の手段で実現すればよい。
高画質モードとは、上述した、２つの閾値ＴＨ１および閾値ＴＨ２を用いて暗画像の強度Ｓｄの強度とを比較して、［Ｓｄ≧ＴＨ１］か、［ＴＨ１＞Ｓｄ＞ＴＨ２］か、［ＴＨ２≧Ｓｄ］かに応じて、曝射許可／待機、および、残像補正の要／不要を判断するモードである。
他方、高速モードとは、常に曝射を許可し、前記閾値ＴＨ２のみを用いて、残像補正の要／不要のみを判断するモードである。
【００３９】
具体的には、高速モードでは、図２（Ｄ）に模式的に示すように、暗画像の強度Ｓｄが、閾値ＴＨ２以上［Ｓｄ＞ＴＨ２］である場合には、強度判定手段３８は、曝射制御手段２０に曝射許可を出し、さらに、画像処理手段３４に、撮影した被写体画像に対して、この暗画像を用いた残像補正を行なうように指示を出す。
また、図２（Ｅ）に模式的に示すように、暗画像の強度Ｓｄが、閾値ＴＨ２以下［ＴＨ２≧Ｓｄ］である場合には、高速モードと同様に、強度判定手段３８は、曝射制御手段２０に曝射許可を出し、さらに、画像処理手段３４に、この暗画像を用いた残像補正を行なわないように、指示を出す。
なお、高速モードの場合には、強度判定手段３８が曝射許可を指示するのではなく、撮影装置１０が常時曝射許可の状態となるようにしてもよい。
【００４０】
すなわち、高速モードにおいては、暗画像（残像）の状態によらず曝射許可を出すことにより、緊急時や多数の被写体画像を連続的に撮影する必要が有る場合などに、曝射待機の無い迅速な被写体画像の撮影を可能にすると共に、暗画像が大きい場合には、残像補正を行なって残像の影響を出来るだけ少なくした被写体画像を出力し、また、暗画像が十分に小さい場合には、残像補正を行なわずに画像を出力する。
【００４１】
以上の説明より明らかなように、本発明によれば、残像量（残像の大きさ）に応じて、正確な被写体画像が得られない場合には曝射を待機させ、残像補正によって正確な被写体画像が得られる場合には残像補正を行い、さらに、残像が十分に小さい場合にはＳ／Ｎ比低下の原因となる残像補正を行なわないので、残像の状態に応じて、正確（高画質）な被写体画像を安定して得ることができる。
さらに、好ましくは、高速モードを有することにより、緊急時や多数の放射線画像の撮影を連続して行なう必要がある場合でも、迅速に被写体画像の撮影を行なうことができ、かつ、残像量に応じて、残像補正の要／不要を判断して、残像補正を行なうので、残像の悪影響を最大限に排除した被写体画像を得ることができる。
【００４２】
ＦＰＤ３０で撮影され、データ処理手段３２で処理された被写体画像は、画像処理手段３４に供給される。
画像処理手段３４は、データ処理部３２が処理した被写体画像に所定の画像処理を施して、モニタ１６などによる画像表示、プリンタ１８によるプリント（ハードコピー）の出力、ネットワークや記憶媒体への出力に対応する被写体画像（画像信号（画像データ））とするものである。
また、本発明において、画像処理手段３４は、暗画像取得手段３６が読み出したオフセット画像および暗画像を用いて、前述の強度判断手段３８による判断に応じて、オフセット補正および残像補正の何れかを行なう、残像補正手段４２を有する。
【００４３】
なお、画像処理手段３４が実施する画像処理は、残像補正手段４２が行なうオフセット補正および残像補正に限定はされない。
画像処理手段３４が実施する画像処理は、例えば、オフセット補正と共にキャリブレーションに応じて行なわれる画素欠陥補正やゲイン補正（シェーディング補正）、階調補正や濃度補正、さらには、モニタ表示用やプリント出力用のデータに画像データを変換するデータ変換など、各種の放射線画像撮影装置で行なわれている画像処理が、全て実施可能である。
【００４４】
残像補正手段４２は、被写体画像（撮影した被写体Ｈの放射線画像）に、オフセット補正、あるいは、残像補正を行なうものである。
オフセット補正および残像補正の方法には、特に限定はなく、公知の放射線画像撮影装置で行なわれている、オフセット画像および暗画像を用いる各種の方法が、全て利用可能である。
一例として、オフセット補正は、被写体画像から、暗画像取得手段３６によるオフセット画像（撮影装置１０の起動時に読み出した暗画像）を差し引く方法が例示される。また、暗画像補正は、被写体画像（被写体画像信号）から、暗画像取得手段３６による暗画像すなわち残像（暗画像信号（残像信号））を差し引く方法が例示される。
【００４５】
残像補正手段４２は、前記強度判断手段からの指示に応じて、残像補正を行なわない指示を受けた場合には、被写体画像にオフセット補正を施して残像補正は行なわず、残像補正を行なう指示を受けた場合には、被写体画像に残像補正を施してオフセット補正は行なわない。
【００４６】
以下、撮影装置１０の作用を説明する。
撮影装置１０が起動されると、装置が所定状態に安定した時点で、キャリブレーションが行なわれ、暗画像取得手段３６がＦＰＤ３０から暗画像を読み出す。
すなわち、暗画像取得手段３６は、放射線が曝射されていない状態でＦＰＤ３０の出力信号を読み出し、データ処理手段３２で処理させて、暗画像（暗画像信号）を読み出し、この暗画像をオフセット画像として、画像処理手段３４（残像補正手段４２）に送る。
【００４７】
撮影装置１０が起動して、被写体画像が撮影可能な状態になると、暗画像取得手段３６は、前述のように、所定のタイミングでＦＰＤ３０の暗画像を読み出し、読み出した暗画像を、強度判断手段３８および画像処理手段３４（残像補正手段４２）に送る。
強度判断手段３８は、暗画像取得手段３６から暗画像が供給されると、暗画像の強度Ｓｄを検出し、高画質モードの場合には、閾値ＴＨ１および閾値ＴＨ２と比較して、前述のように、［Ｓｄ≧ＴＨ１］か、［ＴＨ１＞Ｓｄ＞ＴＨ２］か、［ＴＨ２≧Ｓｄ］かに応じて、曝射制御手段２０に曝射待機／許可の指示を出し、また、残像補正手段４２に残像補正の要／不要の指示を出す。
また、高速モードの場合には、前述のように、［Ｓｄ≧ＴＨ２］か、［ＴＨ２＞Ｓｄ］かに応じて、残像補正手段４２に残像補正の要／不要の指示を出す。なお、高速モードの場合には、常時、曝射許可であるのは、前述のとおりである。
【００４８】
このような状態で、被写体Ｈが撮影台２４に乗り、被写体画像の撮影準備が完了して、技師などから被写体画像の撮影指示（曝射スイッチの押圧など）が出されると、曝射制御手段２０に放射線の曝射指示が出される。ここで、曝射制御手段２０は、強度判断手段３８から曝射待機（撮影待機）の指示が出ている場合には、放射線源２２を駆動（放射線出射）せず、撮影装置１０は、被写体画像の撮影を行なわない（撮影待機）。
【００４９】
これに対し、強度判断手段３８から曝射許可（撮影許可）の指示が出ている場合には、撮影指示に応じて、曝射制御手段２０は、放射線源２２を駆動して、撮影装置１０は被写体画像の撮影を行なう。
放射線源２２から照射されて、被写体Ｈを透過した放射線は、ＦＰＤ３０に入射して、被写体画像が撮影される。ＦＰＤ３０の出力信号は、データ処理部３２に出力される。データ処理部３２は、ＦＰＤ３０からの出力信号にＡ／Ｄ変換やｌｏｇ変換等の処理を施して、被写体画像（被写体画像信号（画像データ））として画像処理部３４に出力する。
【００５０】
画像処理部３４は、撮影された被写体画像に、画素欠陥補正、ゲイン補正、階調変換等の所定の処理を施し、出力用の被写体画像として、モニタ１６やプリンタ１８、あるいは、撮影装置１０が接続されているネットワーク等に出力する。
ここで、画像処理部３４の残像補正部４２は、強度判断手段３８からの指示に応じて、残像補正を行なう指示が出されている場合には、オフセット補正は行なわず、先に暗画像取得手段３６から供給された暗画像（残像）を被写体画像から差し引いて、残像補正を行なう。他方、残像補正部４２は、強度判断手段３８から残像補正を行なわない指示が出ている場合には、残像補正は行なわず、キャリブレーションの際に暗画像取得手段３６から供給されたオフセット画像を被写体画像から差し引いて、オフセット補正を行なう。
【００５１】
以上、本発明の放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置について詳細に説明したが、本発明は、上記実施例に限定はされず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変更を行なってもよいのは、もちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の放射線画像撮影装置に一例を概念的に示すブロック図である。
【図２】（Ａ），（Ｂ），（Ｃ），（Ｄ）および（Ｅ）は、本発明の放射線画像撮影装置における暗画像の強度判断を説明するための概念図である。
【符号の説明】
【００５３】
１０  （放射線画像）撮影装置
１２  撮影部
１４  画像処理部
１６  モニタ
１８  プリンタ
２０  曝射制御手段
２２  放射線源
２４  撮影台
２６  撮影手段
３０  ＦＰＤ（放射線固体検出器）
３２  データ処理手段
３４  画像処理手段
３６  暗画像取得手段
３８  （暗画像）強度判断手段
４２  残像補正手段
【図１】
2008237445.tif 000003
【図２】
2008237445.tif 000004