(57)【要約】【課題】温度変化の影響によるOPC精度の低下を防ぎ，記録データの信頼性を高める。【解決手段】変調度を用いるOPCにおいて，算出上必要な乗算係数を，温度に対して変えて，OPCを実施する。【選択図】図８
2008152832.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザの最適記録パワーを求めるために必要な情報を取得する工程と，
光ディスク媒体の試し書き領域に前記取得した情報に基づいて記録パワーを段階的に変化させながらパワー校正用のデータパターンを記録する工程と，
前記データパターンを再生して得られた再生信号から記録パワーに応じた変調度を算出する工程と，
前記記録パワーに応じた変調度を用いて第１の記録パワーを決定する工程と，
前記光ディスク媒体の雰囲気温度を測定する工程と，
前記雰囲気温度に応じた乗算係数を取得する工程と，
前記第１の記録パワーに前記取得した乗算係数を乗算して最適記録パワーを求める工程と
を有することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク記録方法において，前記第１の記録パワーは記録の閾値パワーPthrであり，前記最適記録パワーPoptは乗算係数ρ及びκを用いて関係式Popt=ρ×κ×Pthrによって求められ，前記乗算係数ρ及びκの少なくとも一方が温度依存性を有することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項３】
請求項１記載の光ディスク記録方法において，前記第１の記録パワーは前記段階的に変化させた記録パワーに対する変調度の変化率のターゲットに相当する記録パワーPtargetであり，前記最適記録パワーPoptは乗算係数ρを用いて関係式Popt=ρ×Ptargetによって求められ，前記乗算係数ρが温度依存性を有することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項４】
請求項１記載の光ディスク記録方法において，前記パワー校正用のデータパターンは，使用する変調符号の最長マークとスペースとの繰り返しを含むデータパターンであることを特徴とする記録方法。
【請求項５】
レーザの最適記録パワーを求めるために必要な情報を取得する工程と，
光ディスク媒体の試し書き領域に前記取得した情報に基づいて記録パワーを段階的に変化させながらパワー校正用のデータパターンを記録する工程と，
前記データパターンを再生して得られた再生信号から記録パワーに応じた変調度とアシンメトリ相当量を算出する工程と，
前記記録パワーに応じた変調度を用いて第１の記録パワーを決定する工程と，
前記変調度とアシンメトリ相当量の関係を予め保持した標準データと照合し，標準データとの違いからその違いに応じた乗算係数を取得する工程と，
前記第１の記録パワーに前記取得した乗算係数を乗算して最適記録パワーを求める工程と
を有することを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項６】
請求項５記載の光ディスク記録方法において，前記パワー校正用のデータパターンはランダムパターンであることを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項７】
請求項５記載の光ディスク記録方法において，前記第１の記録パワーは記録の閾値パワーPthrであり，前記最適記録パワーPoptは乗算係数ρ及びκを用いて関係式Popt=ρ×κ×Pthrによって求められ，前記乗算係数ρ及びκの少なくとも一方が可変であることを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項８】
請求項５記載の光ディスク記録方法において，前記第１の記録パワーは前記段階的に変化させた記録パワーに対する変調度の変化率のターゲットに相当する記録パワーPtargetであり，前記最適記録パワーPoptは乗算係数ρを用いて関係式Popt=ρ×Ptargetによって求められ，前記乗算係数ρが可変であることを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項９】
レーザ光源，前記レーザ光源からのレーザ光を光ディスク媒体に集光する対物レンズ，及び光ディスクから反射され前記対物レンズに入射したレーザ光を検出する光検出器を備える光ヘッドと，
OPC方式の乗算係数を温度に依存する乗算係数として保持する手段と，
光ディスク媒体の試し書き領域に前記レーザ光源の記録パワーを段階的に変化させながらパワー校正用のデータパターンを記録する手段と，
前記データパターンの再生信号から記録パワーに応じた変調度を算出する手段と，
前記記録パワーに応じた変調度を用いて前記OPC方式に特有の第１の記録パワーを決定する手段と，
前記光ディスク媒体の雰囲気温度を測定する手段と，
測定された雰囲気温度に応じた乗算係数を前記第１の記録パワーに乗算して最適記録パワーを求める手段と
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
請求項９記載の光ディスク装置において，前記第１の記録パワーは記録の閾値パワーPthrであり，前記最適記録パワーPoptは乗算係数ρ及びκを用いて関係式Popt=ρ×κ×Pthrによって求められ，前記乗算係数ρ及びκの少なくとも一方が温度依存性を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
請求項９記載の光ディスク装置において，前記第１の記録パワーは前記段階的に変化させた記録パワーに対する変調度の変化率のターゲットに相当する記録パワーPtargetであり，前記最適記録パワーPoptは乗算係数ρを用いて関係式Popt=ρ×Ptargetによって求められ，前記乗算係数ρが温度依存性を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
レーザ光源，前記レーザ光源からのレーザ光を光ディスク媒体に集光する対物レンズ，及び光ディスクから反射され前記対物レンズに入射したレーザ光を検出する光検出器を備える光ヘッドと，
標準的な変調度とアシンメトリ相当量の関係を標準データとして保持するとともに，前記標準データからの違いとOPC方式の乗算係数の値との関係を保持する手段と，
光ディスク媒体の試し書き領域に前記レーザ光源の記録パワーを段階的に変化させながらパワー校正用のデータパターンを記録する手段と，
前記データパターンを再生して得られた再生信号から記録パワーに応じた変調度とアシンメトリ相当量を算出する手段と，
前記記録パワーに応じた変調度を用いて前記OPC方式に特有の第１の記録パワーを決定する手段と，
前記変調度とアシンメトリ相当量の関係を前記標準データと照合し，標準データとの違いからその違いに応じた乗算係数を取得する手段と，
前記第１の記録パワーに前記取得した乗算係数を乗算して最適記録パワーを求める手段と
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１３】
請求項１２記載の光ディスク装置において，前記第１の記録パワーは記録の閾値パワーPthrであり，前記最適記録パワーPoptは乗算係数ρ及びκを用いて関係式Popt=ρ×κ×Pthrによって求められ，前記乗算係数ρ及びκの少なくとも一方が可変であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１４】
請求項１２記載の光ディスク装置において，前記第１の記録パワーは前記段階的に変化させた記録パワーに対する変調度の変化率のターゲットに相当する記録パワーPtargetであり，前記最適記録パワーPoptは乗算係数ρを用いて関係式Popt=ρ×Ptargetによって求められ，前記乗算係数ρが可変であることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，情報記録媒体に対する情報記録の際に光変調波形を駆動・制御する光記録方法及び光ディスクドライブ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
記録型の光ディスクとしてはCD-R/RW，DVD-RAM，DVD±R/RW，Blu-ray Disc（BD）-R/RE，HD DVD等多くのものが製品化され，広く一般に普及している。記録型の光ディスク装置では，温度，光源の波長，媒体の製造バラツキ等の変動要因に対して，常に適正な記録パワーでユーザデータの記録を実施するためにOptimum Power Control (OPC)と呼ばれる方法で各媒体に対して記録パワーの校正を実施している。
【０００３】
OPC方式には，次のようなものが知られている。
(1) 主にライトワンス型ディスク用のOPC方式
アシンメトリを用いるOPC方式の例として，特開平6-139574号公報に，最短マークとスペースの繰り返し信号のアシンメトリと最長マークとスペースの繰り返し信号のアシンメトリを等しくする方式のOPC技術が開示されている。
【０００４】
(2) 主に書換え型ディスク用のOPC方式
信号変調度（または反射率）を用いるOPC方式の例として，特開2000-306241 号公報に，記録パワーの変化に対して反射率の変化が最大となるパワーに係数を乗じて記録パワーを求める方式のOPC技術が開示されている。さらに特開2003-067925 号公報には，記録パワーに対する変調度の変化の傾き自体，あるいはγ値の変化の傾きを用いて記録パワーを決定する方式のOPC技術が開示されている。
【０００５】
図１は，γ方式を説明する概略図である。ここでγ値とは，変調度の変化率と記録パワーの変化率で規格化した値である。図１において，実線は変調度，破線はその微分値を表す曲線である。パワーの上昇とともに変調度は増加するが，マークの形成とともに急速に変調度が増加するパワーPtargetがある。この付近のパワーから係数倍のパワーがマージンの最大点となることから，Ptargetをρ倍して最適パワーＰWOを求める方式である。この方式は，記録パワーの設定オフセットに対して耐性のある指標である。
【０００６】
同種の指標としていわゆるκ方式がある。特開2002-298357号公報には，BDの規格書で推奨されるκ方式が説明されている。κ方式を用いた記録パワー調節方法は，試し書きにより得られる記録パワーとその信号の再生信号振幅から得られる変調度の関係特性と，予め光ディスクに設定されているPtaget，Mind，κ，及びρ値に基づいて，最適記録パワーを調節するものである。
【０００７】
図２は，κ方式を説明する概略図である。まず，試し書きの際に設定した複数種類の記録パワーPwmと，各Pwmで記録した信号の再生信号振幅から変調度Mmの関係特性のうち，当該光ディスクにおける指定変調度Mindに対応する指定記録パワーPtarget近傍の範囲において評価値Sm=Mm×Pwmを求め，かかる範囲においてPwmとSmの関係特性を直線近似したときに変調度が零となる記録パワーPthrを求め，そのPthrと当該光ディスクのパラメータκ，ρからPopt=κ×ρ×Pthrの演算を行うことによって，最適記録パワーPoptを求めるものである。
【０００８】
【特許文献１】特開平6-139574号公報
【特許文献２】特開2000-306241号公報
【特許文献３】特開2003-67925号公報
【特許文献４】特開2002-298357号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
記録型の光ディスクは有機色素材料等を記録層とするライトワンス型，相変化記録材料等を記録層とする書換え型に大別される。さらに，書き換え型光ディスクにはROMディスクとの互換性を重要視したものと，セクター構造を持ちランダムアクセス性能を重要視したものとがある。ここでは，BD-REとBD-Rディスクを用いて記録材料によるOPC方式の違いについて説明する。
【００１０】
図３は，BD-REディスクの記録パワーと各評価指標の関係についての実験結果を示す図である。図３（ａ）は記録パワーとジッタの関係，図３（ｂ）は記録パワーと変調度の関係，図３（ｃ）は記録パワーとアシンメトリの関係をそれぞれ示す。記録パワーに関しては，適正な記録パワーを１００％として規格化して示している。
【００１１】
図４は，BD-Rディスクの記録パワーと各評価指標の関係についての同様な実験結果を示す図である。図３（ｃ）と図４（ｃ）に示す記録パワーの変化に対するアシンメトリの変化率について比較すると，書換え型であるBD-REはその変化率が相対的に小さく，ライトワンス型であるBD-Rはその変化率が相対的に大きいことが判る。これは記録材料の特性の違いによって生じるものである。書換え型であるBD-REでは，データの記録と同時に消去も発生する。このため，記録パワーを大きくして大きなマークを形成しようとすると，同時に余剰な記録パワー（あるいは消去パワー）がマークを小さく（消去）する効果も発生して，結果として記録パワーの変化に対する記録マークの大きさの変化が小さくなる。これが，記録パワーに対するアシンメトリの変化率が相対的に小さい理由である。一方，ライトワンス型であるBD-Rでは，記録したマークを消去することができないため，記録パワーを大きくするとその熱エネルギーの増加に従って形成される記録マークも大きくなる。これが，記録パワーに対するアシンメトリの変化率が相対的に大きい理由である。
【００１２】
このように，記録パワーに対するアシンメトリ，すなわち形成される記録マークの大きさの変化率の違いは，両者のジッタの振る舞いにも現れる。図３（ａ）と図４（ａ）を比較すれば明らかなように，記録パワーに対する記録マークの大きさの変化率が小さいBD-REのパワーマージンの方が広い。
【００１３】
したがって，記録パワーに対するアシンメトリの変化率が小さいBD-REのOPC方法としては，アシンメトリを用いずに変調度から記録のためのしきい値パワーＰthrを求めて，これに所定の係数を乗じて適正な記録パワーを求める方式が適する。また，記録パワーに対するアシンメトリの変化率が大きいBD-RのOPC方式としては，アシンメトリが所定の値となる記録パワーを求める方式により直接的に適正な記録パワーを求める方式が一般的に用いられているが，BD-REと同様に変調度に基づいて適正な記録パワーを求めることも可能である。
【００１４】
図５は，記録材料の違いに応じて適するOPC方式をまとめたものである。上に述べたように，従来のOPC方式としては変調度，アシンメトリを用いるものが開示されている。その中で変調度を用いたOPC方式には以下の２つの特徴がある。
1) 長マークの形成のみを表す変調度を基準にする。
2) 最適パワーより小さいパワースキャンの結果から最適記録パワーを求める。
【００１５】
つまり，外乱の影響を受けにくい長マークを基準として，また最適パワー近傍の状況は考慮しない。
【００１６】
媒体の温度特性を考えると，たとえばκ方式ではPthrから最適パワーを求めるための乗算係数(κ,ρ)が異なる可能性がある。最適パワーを求めるための乗算係数が異なると，目標とする記録パワーがパワーマージンのどこに位置するかが変わることになる。この最適パワーはシステムマージンから決めるものであり，高すぎても低すぎてもシステムマージンを小さくしてしまう。
【００１７】
図６は，κ方式を用いて求めたライトパワーを100％として，BD-REディスクのパワーマージンを温度毎に測定した結果を示す模式図である。κ方式では，常温のOPCに対して，低温では高いパワーを求め，高温では低いパワーを求める傾向がある。その結果，低温の時にはハイパワー側のパワーマージンが小さくなり，高温の時にはローパワー側のパワーマージンが小さくなってしまう。
【００１８】
本発明の目的は，上記従来の技術の問題点を解決し，温度変化に対応して常に適正な記録パワーを決定可能なOPC方式及びそれを用いた光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
前述のように，書換え型光ディスクでは，記録パワーの変化に対するアシンメトリの変化率が小さいため，変調度に基づいてOPCを実施して記録パワーを決定する。しかしながら，変調度を用いるOPC方式（κ方式，γ方式）では温度変化に対して乗算係数κやρが一定ではOPCで求めるパワーが最適なパワーからずれることがある。
【００２０】
そこで本発明では，OPC方式の乗算係数を温度に依存する乗算係数として保持する。そして，光ディスク媒体の雰囲気温度を測定し，その温度に対応する乗算係数を用いて最適記録パワーを求めるようにした。
【００２１】
あるいは，標準的な変調度とアシンメトリ相当量の関係を標準データとして保持するとともに，その標準データからのずれとOPC方式の乗算係数の値との関係を保持する。そして，実際に光ディスク媒体にパワー校正用のデータパターンを記録・再生して変調度とアシンメトリ相当量の関係を求め，それと標準データとのずれに基づいて取得した修正されたOPC方式の乗算係数を用いて最適記録パワーを求めるようにした。
【００２２】
本発明により，温度変化に対応して，適正な記録パワーを決定するOPC方式を提供することができ，信頼性の高い記録方法と光ディスク装置を提供することができる。なお，本発明は書換え型だけでなくライトワンス型の光ディスクに対しても有用である。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によると，周囲温度に変化があった場合においても変調度を用いたOPCの精度を確保でき，高い信頼性を確保することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下本発明の詳細を，実施例を用いて説明する。
【実施例１】
【００２５】
図７は，本発明による光ディスク装置の構成例を示す模式図である。光ディスク媒体100はモータ160により回転される。CPU140は，温度センサ170によって光ディスク媒体100の雰囲気温度を検出している。メモリ180は，図８に示すようなテーブルを保持し，CPU140はこのテーブルに格納された係数κ及びρを用いてOPCを計算する。すなわち，本実施例では，κ方式の係数κ及びρに温度依存性をもたせた。図８の例では，２５℃のときのκ値であるκ＝κ0及び２５℃のときのρ値であるρ＝ρ0を基準にし，それより低温である０℃のときにはρ＝0.95×ρ0とし，高温である５０℃のときにはκ＝1.05×κ0，ρ＝1.05×ρ0とした。０℃及び５０℃以外の温度に対しても，同様に温度依存性を持たせた係数κ及びρを定めておけばよい。
【００２６】
光ディスク100の再生時には，CPU140によって指令された光強度になるように，レーザパワー／パルス制御器120が光ヘッド110内の半導体レーザ112に流す電流を制御してレーザ光114を発生させる。レーザ光114は対物レンズ111によって集光され，光スポット101を光ディスク媒体100上に形成する。この光スポット101からの反射光115は，対物レンズ111を介して光検出器113で検出される。光検出器は，複数に分割された光検出素子から構成されている。再生信号処理回路130は，光ヘッド110で検出された信号を用いて，光ディスク媒体100上に記録された情報を再生する。
【００２７】
光ディスク100への記録時には，レーザパワー／パルス制御器120は，所定の記録データを所定の記録パルス電流に変換して，パルス光が半導体レーザ112から出射されるように制御する。本実施例では，γ方式のOPCに倣って記録パワーを設定するが，そのときの係数κ及びρとして，図８に示したような温度依存性を有する係数を用いる。
【００２８】
本実施例における記録パワー決定方法を，図９のフローチャートを用いて説明する。図９に示したシーケンスは，メモリ180内にプログラムとして保持されている。CPU140はメモリ180内の保持されたプログラム，テーブル及び温度センサ170の出力を用いて図９に示されたシーケンスを実行する。
【００２９】
まず，OPCを始めるために，そのディスクに対する記録開始パワー，記録終了パワーなどのOPCパラメータ及びパワースキャン情報，ストラレジ情報などの記録パラメータを取得する（Ｓ１０１）。次に，複数種類の記録パワーPWmを所定の条件に従って設定し，光ディスクの試し書き領域に各PWmを用いて所定の信号パターンを記録，例えば，所定の長さの孤立８Tマークを記録する（Ｓ１０２）。
【００３０】
複数種類の記録パワーPWmは，例えば，予め光記録再生装置に記憶させてある当該ディスクにおける平均最適記録パワーを読み出し，又は予め当該光ディスクの情報制御領域に記録してある平均最適記録パワーを再生して読み出し，その平均最適記録パワーを基にして設定する。一例として，予め光記録再生装置に記憶させてある複数種類の記録パワー設定値Dm（mは整数，例えばm=1,2,3…16）を読み出し，各Dmを用いて式PWm=（平均最適記録パワー）＊Dmにより複数種類の記録パワーPWmを設定する。
【００３１】
次に，試し書きを行った領域を再生することで，各PWmに対応した再生信号のハイエンベロープ（Henv）及びローエンベロープ（Lenv）を測定し，式Mm=（Henv-Lenv）/Henvで定義される変調度Mmを算出する（Ｓ１０３）。変調度Mmと対応する記録パワーPWmの関係は，例えば図２や図３（ｂ）のようになる。
【００３２】
次いで，図２にあるようにκ方式での評価値Smn=Mm×Pwmを算出し，補正記録パワーPwmと評価値Smnの関係特性をMind（ディスク推奨の変調度）近辺で直線近似して，変調度が零，すなわち評価値が零となる記録閾値パワーPthrを算出する（Ｓ１０４）。次に，OPCを行っているドライブの温度センサ値を参考に，その温度に応じたκ，ρ値を図８のテーブルから取得する（Ｓ１０５）。
【００３３】
算出した記録パワー閾値Pthrと図８のテーブルから取得した乗算係数を用いて，式Popt=κ×ρ×Pthrの演算を行うことで，最適記録パワーPoptを算出する（Ｓ１０６）。そして，このようにして決定された最適記録パワーPoptを用いて，記録ディスクへの記録を行う。
【００３４】
図１０及び図１１に，本実施例のOPCによって求めた記録パワーを用いて記録し，記録品質の代表的な指標であるジッタ，SER（Symbol Error Rate）とパワーマージンの関係を０℃，２５℃，５０℃で測定した結果を示す。図８のテーブルを導入することにより，各温度におけるパワーマージンがジッタ，SERとも一致するように改善されているのがわかる。つまり，乗算係数κ及びρに温度依存性を持たせることにより，温度に対するマージンを広くできる。この効果は他のディスクでも確認できた。また，この乗算係数を温度に応じて変化させる効果は同じ変調度を用いるγ方式に対しても有効であり，Ｐopt＝ρ×Ptargetのρ値を図１２に示すように温度に応じて変化させることにより，周囲温度が異なっても記録の際のパワーマージンを同じにすることができる。
【実施例２】
【００３５】
温度に対する乗算係数を，温度に対して固定にするのではなく，アシンメトリと変調度を参考にして可変にする実施例について説明する。本実施例では，温度センサからの情報を必要としない。
【００３６】
図１３は，アシンメトリと変調度の関係を，０℃，２５℃，５０℃で測定した結果を示す図である。例えば，アシンメトリが−５％のところでは，それぞれの温度で変調度が異なっている。本実施例では，この関係を用いて温度の違い，記録状態の違いなどを感知し，係数κやρを変えて最適パワーを求める。
【００３７】
そこで，例えば基準ドライブ装置で測定したアシンメトリが−５％と０％の場合の変調度の値を標準値変調度として基準データベースにテーブル化して，制御ソフトウェアのメモリ領域内に蓄えておく。量産のドライブ装置では，基準データベースを参照して，図１４に示すようにκやρを変更する。
【００３８】
図１４の例では，基準データベースには，アシンメトリが−５％の時の変調度M0と０％の時の変調度M1が登録されている。いま，注目しているドライブ装置でアシンメトリが−５％の時と０％の時の変調度の変調度を測定したところMm0とMm1であった。測定された変調度Mm0が0.98×M0≦Mm0≦1.02×M0を満たしていれば，κ方式のOPCに用いるκ値及びρ値として，標準値であるκ0及びρ0を用いる。測定された変調度Mm0が0.98×M0未満であれば，κ値及びρ値として標準値をα倍した値を用い，測定された変調度Mm0が1.02×M0を超えていれば，κ値及びρ値として標準値をβ倍した値を用いる。αやβの値は実験的に求めることができる。Mm1はMm0と同様のことを行い，単純平均化，重み平均などしてα，βの数値の精度を上げるために用いる。
【００３９】
ここでは，アシンメトリが−５％と０％の場合の変調度の値を基準データベースに保持する例を示したが，これは記録パワーに対するアシンメトリ及び変調度の変化率が小さい条件，すなわち記録パワーが大きい条件であればよい。
【００４０】
図１５は，本実施例における記録パワー決定方法を説明するフローチャートである。図１５に示したシーケンス及び図１６に示した標準データベースは，図７に示した光ディスク装置のメモリ180内にプログラムとして保持されている。CPU140はメモリ180内の保持されたプログラム，テーブルを用いて図１５に示されたシーケンスを実行する。
【００４１】
まず，OPCを始めるために，そのディスクに対する記録開始パワー，記録終了パワーなどのOPCパラメータ及びパワースキャン情報，ストラレジ情報などの記録パラメータを取得する（Ｓ２０１）。次に，複数種類の記録パワーPWmを所定の条件に従って設定し，光ディスクの試し書き領域に各PWmを用いて所定の信号パターンを記録する（Ｓ２０２）。本実施例では，のちにアシンメトリ相当量（アシンメトリ，ベータ）を取得するため，記録する信号パターンは，ランダムパターンもしくは長マークと短マークが混在したパターンである必要がある。
【００４２】
次に，試し書きを行った領域を再生することで，各PWmに対応した再生信号のハイエンベロープ（Henv）及びローエンベロープ（Lenv）を測定し，式Mm=（Henv-Lenv）/Henvで定義される変調度Mmを算出する（Ｓ２０３）。次に，図２にあるようにκでの評価値Smn=Mm×Pwmを算出し，補正記録パワーPwmと評価値Smnの関係特性をMind（ディスク推奨の変調度）近辺で直線近似して，変調度が零，すなわち評価値が零となる記録閾値パワーPthrを算出する（Ｓ２０４）。
【００４３】
次に，実施例1の場合のように温度センサによる温度を基準にではなく，記録状態からOPC算出時の乗算係数を決めるため，アシンメトリ相当量ASYm（mは整数）と変調度Mmと同時に取得する。この測定したASYｍとMmの関係から，予め保持した標準データとの差分を割り出し，κやρの値を図１４のようなテーブルを参照して取得する（Ｓ２０５）。次に，算出した記録パワー閾値Pthrと取得したκ値及びρ値を用いて，式Popt=κ×ρ×Pthrの演算を行うことで，最適記録パワーPoptを算出する（Ｓ１０６）。そして，このようにして決定された最適記録パワーPoptを用いて，記録ディスクへの記録を行う。
【００４４】
本実施例は，温度センサにばらつきがある場合や，温度変化に対してドライブによるばらつきなどにも対応できる。
【００４５】
以上では，アシンメトリを基準として変調度の変化を検出し，演算値を変える方法を説明した。別の方法として，変調度を基準としてアシンメトリの変化を測定し，演算値を変える方法も考えられる。この場合には，図１４に代えて図１６に示したような基準データベースと，κ値やρ値の換算テーブルを用いればよい。
【００４６】
図１６に示した例は，基準ドライブ装置で測定した変調度が３５％と４０％の場合のアシンメトリの値ASY0とASY1を標準値アシンメトリとして基準データベースにテーブル化している。量産のドライブ装置では，基準データベースと測定された変調度とアシンメトリの関係を参照して，図１６に示すようにκやρを変更する。すなわち，注目しているドライブ装置では，変調度が３５％の時のアシンメトリがASYm0であり，変調度が４０％の時のアシメトリがASYｍ1であったとして，ASYm0が0.98×ASY0≦ASYm0≦1.02×ASY0を満たしていれば，κ方式のOPCに用いるκ値及びρ値として，標準値であるκ0及びρ0を用いる。測定されたアシンメトリASYm0が0.98×ASY0未満であれば，κ値及びρ値として標準値をα倍した値を用い，測定されたアシンメトリASYm0が1.02×ASY0を超えていれば，κ値及びρ値として標準値をβ倍した値を用いる。αやβの値は実験的に求めることができる。ASYm1はASYm0と同様のことを行い，単純平均化，重み平均などしてα，βの数値の精度を上げるために用いる。
【００４７】
本実施例のアシンメトリを基準として変調度の変化を検出し演算値を変える方法，あるいは変調度を基準としてアシンメトリの変化を測定し演算値を変える方法は，γ方式に対しても有効であり，Ｐopt＝ρ×Ptargetのρ値を図１４や図１６と同様に変化させることにより，周囲温度が異なっても記録の際のパワーマージンを同じにすることができる。
【産業上の利用可能性】
【００４８】
本発明は，記録層をもつ光ディスクに対応した大容量光ディスク装置に用いられる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】γ-OPC方式の説明図。
【図２】κ-OPC方式の説明図。
【図３】BD-REディスクの記録パワーと各評価指標の関係についての実験結果を示す図。
【図４】BD-Rディスクの記録パワーと各評価指標の関係についての実験結果を示す図。
【図５】記録材料の違いに応じて適するOPC方式をまとめた図。
【図６】κ方式を用いて求めたライトパワーを100％として，BD-REディスクのパワーマージンを温度毎に測定した結果の模式図。
【図７】本発明による光ディスク装置の構成例を示す模式図。
【図８】本発明のκ方式の乗算係数を温度ごとにもつテーブルの一例を示す図。
【図９】本発明による記録パワー決定方法の一例を示すフローチャート。
【図１０】ジッタとパワーマージンの関係を示す図。
【図１１】SER(Symbol Error Rate)とパワーマージンの関係を示す図。
【図１２】本発明のγ方式の乗算係数を温度ごとにもつテーブルの一例を示す図。
【図１３】アシンメトリと変調度の関係を０℃，２５℃，５０℃で測定した結果を示す図。
【図１４】κ方式の乗算係数をアシンメトリと変調度の関係から変更するテーブルの例を示す図。
【図１５】本発明による記録パワー決定方法の一例を示すフローチャート。
【図１６】κ方式の乗算係数をアシンメトリと変調度の関係から変更するテーブルの例を示す図。
【符号の説明】
【００５０】
１００ 光ディスク
１０１ 光スポット
１１０ 光ヘッド
１１１ 対物レンズ
１１２ 半導体レーザ
１１３ 光検出器
１２０ レーザパワー／パルス制御器
１３０ 再生信号処理器
１４０ ＣＰＵ
１５０ サーボ制御器
１６０ スピンドルモータ
１７０ 温度センサ
１８０ メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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