(57)【要約】【課題】スキャナで読み取った画像中のライン上の複数の点を正確に検出すること。【解決手段】複数のラインが所定方向に並んだパターンをスキャナにより読み取り、前記複数のラインの画像を取得するステップと、前記画像上のあるライン上に基準点を設定するステップと、前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から所定量離れた領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の点として検出するステップと、を有するライン検出方法。【選択図】図１７
2008124761.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のラインが所定方向に並んだパターンをスキャナにより読み取り、前記複数のラインの画像を取得するステップと、
前記画像上のあるライン上に基準点を設定するステップと、
前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から所定量離れた領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の点として検出するステップと、
を有するライン検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載のライン検出方法であって、
前記基準点は、前記あるラインの中央部に対応する、
ライン検出方法。
【請求項３】
請求項１に記載のライン検出方法であって、
前記基準点は、前記あるラインの端に対応し、
前記点は、前記端とは反対側の前記あるラインの端に対応する、
ライン検出方法。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載のライン検出方法であって、
前記複数のラインの長さは等しい、
ライン検出方法。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載のライン検出方法であって、
前記所定幅の間隔は、前記あるラインの隣の前記ラインと、前記あるラインとの間隔以下である、
ライン検出方法。
【請求項６】
複数のラインが所定方向に並んだパターンをスキャナにより読み取り、前記複数のラインの画像を取得するステップと、
前記画像上のあるライン上に基準点を設定するステップと、
前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から第１所定量離れた第１領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の第１点として検出するステップと、
前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から第２所定量離れた第２領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の第２点として検出するステップと、
を有するライン検出方法。
【請求項７】
請求項６に記載のライン検出方法であって、
前記基準点は前記あるラインの中央部に対応し、
前記第１点は、前記あるラインの端に対応し、
前記第２点は、前記端とは反対側の前記あるラインの端に対応する、
ライン検出方法。
【請求項８】
複数のラインが所定方向に並んだパターンをスキャナにより読み取り、前記複数のラインの画像を取得するステップと、
前記画像上のあるライン上に基準点を設定するステップと、
前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から第１所定量離れた第１領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の第１点として検出するステップと、
前記第１点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記第１点から第２所定量離れた第２領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の第２点として検出するステップと、
を有するライン検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ライン検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ヘッドが移動方向に移動し、その移動中にノズルからインクを吐出させる動作と、搬送方向に媒体を搬送させる動作とを交互に繰り返すことで印刷画像を完成させるインクジェットプリンタが知られている。  
このようなプリンタでは、媒体を搬送させる際に搬送誤差が生じると、媒体上の正しい位置にインク滴が着弾せず、画質が劣化するおそれがある。
【０００３】
そこで、媒体の搬送誤差を補正するため、測定用パターンを印刷し、この測定用パターンをスキャナで読み取った結果に基づいて算出した補正値を、搬送量に反映させる方法が提案されている。（特許文献１参照）
【特許文献１】特開平５−９６７９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
スキャナで読み取った画像中のある１本のラインについて、ライン上の複数の点を検出する際に、画像から取り出すデータの範囲によっては、別のラインの点を検出してしまうおそれがある。
【０００５】
そこで、本実施形態では、スキャナで読み取った画像中のライン上の複数の点を正確に検出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
課題を解決するための主たる発明は、複数のラインが所定方向に並んだパターンをスキャナにより読み取り、前記複数のラインの画像を取得するステップと、前記画像上のあるライン上に基準点を設定するステップと、前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から所定量離れた領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の点として検出するステップと、を有するライン検出方法。
【０００７】
本発明の他の特徴は、本明細書、及び添付図面の記載により、明らかにする。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
＝＝＝開示の概要＝＝＝
本明細書の記載、及び添付図面の記載により、少なくとも次のことが明らかとなる。
【０００９】
すなわち、複数のラインが所定方向に並んだパターンをスキャナにより読み取り、前記複数のラインの画像を取得するステップと、前記画像上のあるライン上に基準点を設定するステップと、前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から所定量離れた領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の点として検出するステップと、を有するライン検出方法であること。  
このようなライン検出方法によれば、領域内に、あるライン以外の別のラインに対応する点が含まれてしまう可能性を減らすことができ、あるラインに対応する点をあるライン上の点として検出することができる。即ち、別のラインに対応する点をあるライン上の点として検出することがなくなり、確実にあるライン上の複数の点を検出することが出来る。
【００１０】
かかるライン検出方法であって、前記基準点は、前記あるラインの中央部に対応すること。  
このようなライン検出方法によれば、所定幅を小さくしても、あるラインに対応する点が領域内に含まれやすくなる。また、所定幅を小さくすることができれば、領域内に別のラインに対応する点が含まれにくくなる。
【００１１】
かかるライン検出方法であって、前記基準点は、前記あるラインの端に対応し、前記点は、前記端とは反対側の前記あるラインの端に対応すること。  
このようなライン検出方法によれば、基準点から離れた点を算出する際にも、領域内に別のラインに対応する点が含まれにくくなる。
【００１２】
かかるライン検出方法であって、前記複数のラインの長さは等しいこと。  
このようなライン検出方法によれば、基準点から所定量離れた地点において、複数のラインが所定方向に並んでいる可能性が高くなっても、確実にあるライン上の複数の点を検出することが出来る。
【００１３】
かかるライン検出方法であって、前記所定幅の間隔は、前記あるラインの隣の前記ラインと、前記あるラインとの間隔以下であること。  
このようなライン検出方法によれば、領域内に別のラインに対応する点が含まれにくくなる。
【００１４】
また、複数のラインが所定方向に並んだパターンをスキャナにより読み取り、前記複数のラインの画像を取得するステップと、前記画像上のあるライン上に基準点を設定するステップと、前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から第１所定量離れた第１領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の第１点として検出するステップと、前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から第２所定量離れた第２領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の第２点として検出するステップと、を有するライン検出方法であること。  
このようなライン検出方法によれば、あるラインに対応する点を第１点及び第２点として検出することができる。
【００１５】
かかるライン検出方法であって、前記基準点は前記あるラインの中央部に対応し、前記第１点は、前記あるラインの端に対応し、前記第２点は、前記端とは反対側の前記あるラインの端に対応すること。  
このようなライン検出方法によれば、基準点から離れた点を算出する際にも、領域内に別のラインに対応する点が含まれにくくなる。
【００１６】
また、複数のラインが所定方向に並んだパターンをスキャナにより読み取り、前記複数のラインの画像を取得するステップと、前記画像上のあるライン上に基準点を設定するステップと、前記基準点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記基準点から第１所定量離れた第１領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の第１点として検出するステップと、前記第１点を中心に前記所定方向に所定幅であり、且つ、前記第１点から第２所定量離れた第２領域内から、前記ラインに対応する点を前記あるライン上の第２点として検出するステップと、を有するライン検出方法であること。  
このようなライン検出方法によれば、あるラインに対応する点をあるライン上の点として検出することができる。また、所定幅を小さくすることもでき、領域内に別のラインに対応する点が含まれにくくなる。
【００１７】
＝＝＝本実施形態のシステム構成＝＝＝
〈インクジェットプリンタの構成〉
図１は、本実施形態のプリンタ１の全体構成ブロック図である。図２Ａは、プリンタ１の全体構成の概略図である。図２Ｂは、プリンタ１の全体構成の断面図である。図３は、搬送ユニット１０の構成の説明図である。外部装置であるコンピュータ６０から印刷データを受信したプリンタ１は、コントローラ５０により、各ユニット（搬送ユニット１０、キャリッジユニット２０、ヘッドユニット３０）を制御し、媒体Ｓ（以下、紙Ｓとする）に画像を形成する。また、プリンタ１内の状況を検出器群４０が監視し、その検出結果に基づいて、コントローラ５０は各ユニットを制御する。
【００１８】
コントローラ５０は、プリンタ１の制御を行うための制御ユニットである。インターフェース部５１は、外部装置であるコンピュータ６０とプリンタ１との間でデータの送受信を行う。ＣＰＵ５２は、プリンタ１全体の制御を行うための演算処理装置である。メモリ５３は、ＣＰＵ５２のプログラムを格納する領域や作業領域等を確保する。ＣＰＵ５２は、メモリ５３に格納されているプログラムに従ったユニット制御回路５４により、各ユニットを制御する。
【００１９】
搬送ユニット１０は、紙Ｓを印刷可能な位置に送り込み、印刷時、搬送方向（所定方向）に所定の搬送量で紙Ｓを搬送させるためのものであり、給紙ローラ１１と、搬送モータ１２と、搬送ローラ１３と、プラテン１４と、排紙ローラ１５とを有する。  
ヘッドユニット３０は、紙Ｓにインクを吐出するためのものであり、ヘッド３１を有する。ヘッド３１は、インク吐出部であるノズルを複数有する。そして、各ノズルには、各ノズルを駆動してインクを吐出させるための駆動素子であるピエゾ素子ＰＺＴとインクが入った圧力室（不図示）が設けられている。  
キャリッジユニット２０は、ヘッド３１を移動方向に移動させるためのものであり、キャリッジ２１と、キャリッジモータ２２とを有する。  
検出器群４０には、リニア式エンコーダ４１、ロータリー式エンコーダ４２、紙検出センサ４３、および光学センサ４４等が含まれる。
【００２０】
図４は、ヘッド３１の下面（ノズル面）におけるノズルの配列を示す説明図である。ヘッド３１の下面には、イエローインクノズル列Ｙと、ブラックインクノズル列Ｋと、シアンインクノズル列Ｃと、マゼンタインクノズル列Ｍとが形成されている。各ノズル列は、各色のインクを吐出するための吐出口であるノズルを９０個備えている。９０個のノズルのうち、下流側のノズルほど若い番号が付されている（＃ｉ＝＃１〜＃９０）。また、各ノズル列のノズルは搬送方向（交差方向）に沿って一定の間隔Ｄ（ノズルピッチ）でそれぞれ整列している。本実施形態では、ノズル列長は１インチ、間隔Ｄを９０ｄｐｉとする。
【００２１】
〈印刷手順〉
まず、コントローラ５０は、コンピュータ６０から印刷命令及び印刷データを受信する（印刷命令受信）。コントローラ５０は、印刷データに含まれる各種コマンドの内容を解析し、各ユニットを用いて、以下の処理を行う。
【００２２】
次に、コントローラ５０は、給紙ローラ１１を回転させ、印刷すべき紙Ｓを搬送ローラ１３まで送る（給紙処理）。紙検出センサ４３が、給紙ローラ１１から送られてきた紙Ｓの先端の位置を検出すると、コントローラ５０は搬送ローラ１３を回転させ、紙Ｓを印刷開始位置（頭出し位置）に位置決めする。紙Ｓが印刷開始位置に位置決めされたとき、ヘッド３１の少なくとも一部のノズルは、紙Ｓと対向している。
【００２３】
そして、コントローラ５０は、キャリッジモータ２２を駆動し、キャリッジ２１を移動方向に移動させる。ヘッド３１は、キャリッジ２１に設けられているため、ヘッド３１もキャリッジ２１と共に移動方向に移動する。キャリッジ２１の移動方向への１回の移動をパスという。そして、コントローラ５０は、キャリッジ２１の移動中に、印刷データに基づいてノズルからインクを吐出させる。ノズルから吐出されたインク滴が紙Ｓ上に着弾すれば、紙Ｓ上にドットが形成される（形成動作）。移動するヘッド３１からインクが断続的に吐出されるので、紙Ｓ上には移動方向に沿ったドット列（ラスタライン）が形成される。なお、キャリッジ２１の移動方向の位置をリニア式エンコーダ４１が検出し、キャリッジ２１（ヘッド３１）に取り付けられている光学センサ４４が紙Ｓの端部の位置を検出する。
【００２４】
その後、コントローラ５０は、搬送モータ１２を駆動し、搬送ローラ１３を回転させて、紙Ｓを搬送方向に所定の搬送量分だけ搬送する（搬送動作）。これにより、ヘッド３１は、先ほどのドット形成処理によって形成されたドットの位置とは異なる位置に、ドットを形成することが可能になる。紙Ｓの搬送量は、搬送ローラ１３の回転量に応じて定まり、搬送ローラ１３の回転量はロータリー式エンコーダ４２によって検出される。なお、印刷中の紙Ｓはプラテン１４によって支持される。
【００２５】
ロータリー式エンコーダ４２は、スケール４２１と検出部４２２とを有する。スケール４２１は、所定の間隔毎に設けられた多数のスリットを有する。このスケール４２１は、搬送ローラ１３に設けられている。つまり、スケール４２１は、搬送ローラ１３が回転すると、一緒に回転する。そして、搬送ローラ１３が回転すると、スケール４２１の各スリットが検出部４２２を順次通過する。検出部４２２は、スケール４２１と対向して設けられており、プリンタ本体側に固定されている。ロータリー式エンコーダ４２は、スケール４２１に設けられたスリットが検出部４２２を通過する毎に、パルス信号を出力する。搬送ローラ１３の回転量に応じてスケール４２１に設けられたスリットが順次検出部４２２を通過するので、ロータリー式エンコーダ４２の出力に基づいて、搬送ローラ１３の回転量が検出される。
【００２６】
最後に、コントローラ５０は、印刷中の紙Ｓの排紙の判断を行う（排紙処理）。印刷中の紙Ｓに印刷すべきデータが残っていれば、排紙は行われず、印刷すべきデータがなくなるまで、ドット形成処理と搬送処理とを交互に繰り返し、画像を完成させる。印刷中の紙Ｓに印刷すべきデータがなくなったところで、排紙ローラ１５の回転により紙Ｓは排紙される。
【００２７】
＝＝＝搬送誤差について＝＝＝
ロータリー式エンコーダ４２は搬送ローラ１３の回転量を検出する。そして、コントローラ５０は、搬送ローラ１３の回転量に応じて、紙Ｓがどれ位搬送されたかを判断している。逆に言うと、コントローラ５０は、紙Ｓを所定搬送量Ｆで搬送させるため、所定搬送量Ｆに応じた搬送ローラ１３の回転量分だけ搬送ローラ１３を回転させる。しかし、所定搬送量Ｆと搬送ローラ１３の回転量の関係が、設計上（理論上）と実際の装置上で異なった場合、紙Ｓは所定搬送量Ｆで搬送されない。つまり、搬送誤差が生じる。搬送誤差が生じると、紙Ｓ上の正しい位置にドットが形成されなくなり、印刷された画像にスジが生じ、画像劣化が生じる。
【００２８】
図５Ａは、設計上の搬送ローラ１３の断面図である。搬送ローラ１３の半径を半径ｒ、搬送ローラ１３の回転中心を中心Ｏ、中心角θに対応する搬送ローラ１３の円周を円弧ＡＢと円弧ＣＤとする。中心Ｏから搬送ローラ１３の円周までの距離が必ず半径ｒであるならば、円弧ＡＢと円弧ＣＤの長さは等しい。つまり、搬送ローラ１３を角度θ（中心角θ）回転させれば、搬送ローラ１３の円周上の位置に関係なく紙Ｓは円弧ＡＢ（円弧ＣＤ）の長さを搬送される。この中心角θと円弧ＡＢの長さの関係が、設計上における搬送ローラ１３の回転量と紙Ｓの搬送量の関係となる。しかし、実際の搬送ローラ１３は製造誤差等によって、中心Ｏから搬送ローラ１３の円周までの距離が必ずしも半径ｒであるわけではない。以下、ＡＣ成分の搬送誤差とＤＣ成分の搬送誤差の２種類の搬送誤差について説明する。
【００２９】
〈ＡＣ成分の搬送誤差〉
図５Ｂは、搬送ローラ１３がつぶれて、断面が楕円形状になってしまった搬送ローラ１３１の断面図である。搬送ローラ１３１の中心Ｏ１から円周までの距離が、搬送ローラ１３１の円周上の位置によって異なる。中心Ｏ１から円周までの距離ｒ１が設計上の半径ｒよりも短い場合、その地点における中心角θに対応する円弧Ａ１Ｂ１は、図５Ａの円弧ＡＢよりも短くなる（なお、図５Ａから図５Ｄに示す角度θの大きさは全て等しいとする）。つまり、設計上の搬送ローラ１３の半径ｒよりも装置上の搬送ローラ１３１の半径ｒ１が短い場合、設計上での紙Ｓの搬送量よりも装置上の紙Ｓの搬送量の方が少なくなる。逆に、中心Ｏ１から円周までの距離ｒ２が設計上の半径ｒよりも長い場合、その地点における中心角θに対応する円弧Ｃ１Ｄ１は、図５Ａの円弧ＡＢよりも長くなる。つまり、設計上の搬送ローラ１３の半径ｒよりも装置上の搬送ローラ１３１の半径ｒ２が長い場合、設計上での紙Ｓの搬送量よりも装置上での紙Ｓの搬送量の方が多くなる。
【００３０】
図５Ｃは、搬送ローラの回転中心が円の中心Ｏからずれてしまった搬送ローラ１３２の断面図である。この場合も図５Ｂと同様に、搬送ローラ１３２の中心Ｏ２から円周までの距離が、搬送ローラ１３２の円周上の位置によって異なる。中心Ｏ２から円周までの距離ｒ３が設計上の半径ｒよりも短い場合、設計上の紙Ｓの搬送量（円弧ＡＢ）よりも装置上の紙Ｓの搬送量（円弧Ａ２Ｂ２）の方が少なくなる。そして、中心Ｏ２から円周までの距離ｒ４が設計上の半径ｒよりも長い場合、設計上の紙Ｓの搬送量よりも装置上での紙Ｓの搬送量（円弧Ｃ２Ｄ２）の方が多くなる。  
つまり、搬送ローラ１３の回転中心から搬送ローラ１３の円周までの距離が、設計上と実際の装置上とで異なった場合に生じる搬送誤差がＡＣ成分の搬送誤差である。
【００３１】
また、搬送ローラ１３の回転中心と、ロータリー式エンコーダ４２のスケール４２１の回転中心がずれた場合にも、搬送誤差が生じる。図５Ｃを用いて説明すると、搬送ローラ１３の回転中心を中心Ｏとし、スケール４２１の回転中心を中心Ｏ２とする。搬送ローラ１３が中心Ｏを回転中心として角度θ回転すると、紙Ｓは円弧ＡＢの長さ分だけ搬送される。しかし、スケール４２１は、中心Ｏ２を回転中心として角度θ回転するので、紙Ｓが円弧ＡＢよりも短い円弧Ａ２Ｂ２の長さだけしか搬送されていないと検出してしまう。その結果、コントローラ５０は必要以上に搬送ローラ１３を回転させてしまい、搬送誤差が生じる。この搬送誤差もＡＣ成分の搬送誤差である。
【００３２】
以上をまとめると、ＡＣ成分の搬送誤差は、搬送ローラ１３の円周上のどの位置で紙Ｓを搬送するかによって、搬送誤差量が異なってくる。また、搬送ローラ１３の円周の長さに関する搬送誤差（後述のＤＣ成分の搬送誤差）は、ＡＣ成分の搬送誤差には含まれない。つまり、搬送ローラ１３の円周の長さを設計上と実際の装置上とで等しいと考えられるため、搬送ローラ１３が１回転すれば、ＡＣ成分の搬送誤差はゼロとなる。
【００３３】
〈ＤＣ成分の搬送誤差〉
ＤＣ成分の搬送誤差とは、製造誤差等により搬送ローラ１３の円周の長さが設計上と実際の装置上とで異なる場合に発生する搬送誤差のことである。
【００３４】
図５Ｄは、設計上の搬送ローラ１３と、設計上の搬送ローラ１３よりも１回り大きい搬送ローラ１３３の断面図である。中心Ｏから装置上の搬送ローラ１３３までの距離ｒ５の方が、中心Ｏから設計上の搬送ローラ１３の円周までの距離ｒよりも長い。そして、装置上の搬送ローラ１３３の円周の長さは、設計上の搬送ローラ１３の円周の長さよりも長い。この場合、同じ中心角θに対応する各搬送ローラの円弧の長さに関して、装置上の搬送ローラ１３３の円弧Ａ３Ｂ３の方が、設計上の搬送ローラ１３の円弧ＡＢよりも長くなる。つまり、設計上の搬送ローラ１３よりも円周が長い搬送ローラ１３３を角度θ回転させた場合、設計上の紙Ｓの搬送量（円弧ＡＢ）よりも装置上の紙Ｓの搬送量（円弧Ａ３Ｂ３）の方が多くなる。逆に、設計上の搬送ローラ１３よりも円周が短い搬送ローラ（不図示）を角度θ回転させた場合は、設計上の紙Ｓの搬送量よりも装置上の紙Ｓの搬送量の方が少なくなる。
【００３５】
以上をまとめると、ＤＣ成分の搬送誤差は、搬送ローラ１３の円周上の位置に関わらず、紙Ｓの搬送量が増加すれば搬送誤差も増加する。即ち、紙Ｓの搬送量が増加すると、コントローラ５０が指示した搬送量よりも多く（または少なく）搬送されてしまう度合いが増すということである。ＤＣ成分の搬送誤差は、搬送ローラ１３の円周の長さに関係する誤差であるため、ＡＣ成分の搬送誤差のように搬送ローラ１３が１回転しても誤差はゼロにはならない。
【００３６】
＝＝＝本実施形態の搬送誤差の補正について＝＝＝
搬送誤差にはＡＣ成分の搬送誤差とＤＣ成分の搬送誤差の２種類ある。ＡＣ成分の搬送誤差は搬送ローラ１３の位置によって搬送誤差量が変わってくる。そのため、ＡＣ成分の搬送誤差を補正するには、原点センサにより搬送ローラ１３の回転開始位置を把握する必要がある。しかし、原点センサを設けるとコストアップとなってしまうため、本実施形態ではＤＣ成分の搬送誤差のみを補正する。  
ＤＣ成分の搬送誤差の原因は、製造誤差等による搬送ローラ１３の円周の長さの誤差であり、個々のプリンタによって生じる誤差の特性が異なる。そのため、個々のプリンタ毎に補正量を求める必要がある。
【００３７】
図６は、搬送誤差補正のフロー図である。図７は、搬送誤差補正を行う時のシステム構成図である。プリンタ製造工場の検査工程にて、完成したプリンタ１とスキャナ７０をコンピュータ６０に接続する。プリンタ１は、テストシートＴＳに測定用パターンとして複数のラインを印刷する（Ｓ１０１）。この複数のラインは所定間隔おきに搬送方向に並んでいる。テストシートＴＳに印刷された測定用パターンと、基準シートＳＳに印刷された基準パターン（パターン、詳細は後述）をスキャナ７０に読み取らせる（Ｓ１０２）。測定用パターンのラインの間隔と、コンピュータ６０が印刷の際に指示したラインの間隔との差が搬送誤差となる。そして、コンピュータ６０は搬送誤差に対する補正値を算出する（Ｓ１０３）。その後、コンピュータ６０は、算出した補正値をプリンタ１内のメモリ５３に記憶させる（Ｓ１０４）。以下に、ＤＣ成分の搬送誤差に対する補正方法について詳しく説明する。
【００３８】
＝＝＝測定用パターンの印刷（Ｓ１０１）＝＝＝
図８は、テストシートＴＳとヘッド３１の位置関係を示している。複数のラインのうち、紙の上端側のラインほど若い番号が付されている（Ｌ１〜Ｌ２０、Ｌｂ１、Ｌｂ２）。また、複数のラインのうち、テストシートＴＳの一番上端側のラインＬ１と、下端側のラインＬｂ２は、スキャナ７０で読み込んだ画像の傾きを検出するために使用されるので、他のラインよりも移動方向に長く伸びている。なお、ｎ回目のキャリッジ２１の移動方向への移動をパスｎとする。そして、図８では説明の都合上、ヘッド３１がテストシートＴＳに対して移動しているように描かれているが、実際にはテストシートＴＳがヘッド３１に対して搬送方向に搬送される。
【００３９】
また、テストシートＴＳ（媒体）が搬送ローラ１３と従動ローラ１６に挟まれている状態のことをＮＩＰ状態という。逆に、非ＮＩＰ状態とは、テストシートＴＳが搬送ローラ１３と従動ローラ１６の間を外れた状態のことをいう。非ＮＩＰ状態では、排紙ローラ１５と従動ローラ１７だけでテストシートＴＳが搬送される。即ち、ＮＩＰ状態と非ＮＩＰ状態では、搬送の特性が異なる。そのため、ＮＩＰ状態で生じる搬送誤差と非ＮＩＰ状態で生じる搬送誤差を分けて補正する必要がある。なお、テストシートＴＳがＮＩＰ状態のときに印刷されるテストシートＴＳの領域を通常領域とし、テストシートＴＳが非ＮＩＰ状態のときに印刷されるテストシートＴＳの領域を下端領域とする。また、テストシートＴＳが搬送ローラ１３と従動ローラ１６の間から外れたとき、ノズル＃９０と対向しているテストシートＴＳの位置をＮＩＰラインとし、図８に示す。
【００４０】
〈通常領域での印刷〉
測定用パターンをテストシートＴＳに印刷するにあたり、まず、プリンタ１にセットされたテストシートＴＳが印刷開始位置まで搬送される。その後、キャリッジ２１が移動方向に移動しながら最初のライン（Ｌ１）が印刷される。１回のパスで、１本のラインが印刷される。ラインＬ１はマゼンタインク用ノズル列Ｍのノズル＃９０を用いて印刷される。できる限り多くのラインが通常領域に印刷されるように、一番上流側のノズル＃９０が用いられる。
【００４１】
そして、ラインＬ１の印刷後、コントローラ５０はテストシートＴＳを所定搬送量Ｆ分だけ搬送する。その後、パス２においてラインＬ２が印刷される。この所定搬送量Ｆと実際の搬送量との差が搬送誤差である。ところで、ロータリー式エンコーダ４２は直接的にテストシートＴＳの搬送量を検知していない。そのため、実際の搬送量は、実際に印刷されたラインＬ１とラインＬ２の間隔を計測して求め、搬送誤差を求める。
【００４２】
このように、ラインが印刷される動作と、テストシートＴＳが所定搬送量Ｆ分だけ搬送される動作が交互に繰り返されることにより、テストシートＴＳの通常領域に複数のライン（Ｌ１からＬ２０）が印刷される。本実施形態では、搬送ローラ１３の円周の長さの４等分を所定搬送量Ｆとする。搬送ローラ１３の円周の長さは１インチであるので、テストシートＴＳは１／４インチずつ搬送される。即ち、設計上では、搬送方向に隣り合うラインの間隔は１／４インチとなる。こうして、テストシートＴＳが１／４インチ搬送されたときに生じる搬送誤差を求めることができる。また、ノズルの特性の違いが影響しないように、通常領域のラインは全て同じノズルによって印刷される。即ち、ラインＬ１からラインＬ２０の全てが、マゼンタインク用ノズル列Ｍのノズル＃９０によって、印刷される。
【００４３】
〈下端領域での印刷〉
テストシートＴＳが非ＮＩＰ状態になると、コントローラ５０は、マゼンタインク用ノズル＃９０で最初のラインＬｂ１を印刷する。その後、コントローラ５０は、排紙ローラ１５を１回転させることにより、テストシートＴＳを１インチ搬送する。そして、マゼンタインク用ノズル＃３でラインＬｂ２を印刷する。このラインＬｂ１とラインＬｂ２の間隔は、設計上では３／９０インチとなる。下端領域の搬送誤差も、同じノズル（マゼンタインク用ノズル＃９０）で印刷された２本のラインの間隔から求めることが理想的である。しかし、排紙ローラ１５によるＡＣ成分の搬送誤差の影響が無くなるように、排紙ローラ１５を１回転させると、テストシートＴＳの下端はノズル＃９０の下を通り過ぎてしまう。そこで、本実施形態では、ラインＬｂ１を印刷し、排紙ローラ１５を１回転させた後でも、テストシートＴＳと対向している下流側のノズルのうち、ラインＬｂ１とラインＬｂ２の間隔が適度に開き、ラインＬｂ２がスキャナ７０の読み取り範囲内に印刷されるようなノズル（ノズル＃３）を用いてラインＬｂ２を印刷する。
【００４４】
＝＝＝測定用パターンと基準パターンの読み取り（Ｓ１０２）＝＝＝
〈スキャナ７０の構成〉
まず、測定用パターンの読み取りに用いられるスキャナ７０の構成について説明する。図９Ａは、スキャナ７０の縦断面図である。図９Ｂは、上蓋７１を外した状態のスキャナ７０の上面図である。
【００４５】
スキャナ７０は、上蓋７１と、原稿７２が置かれる原稿台ガラス７３と、この原稿台ガラス７３を介して原稿７２と対面しつつ副走査方向に移動する読取キャリッジ７４と、読取キャリッジ７４を副走査方向に案内する案内部７５と、読取キャリッジ７４を移動させるための移動機構７６と、スキャナ７０内の各部を制御するスキャナコントローラ（不図示）とを備えている。読取キャリッジ７４には、原稿７２に光を照射する露光ランプ７７と、副走査方向と垂直な方向である主走査方向のラインの像を検出するラインセンサ７８と、原稿７２からの反射光をラインセンサ７８へ導くための光学系７９とが設けられている。図中の読取キャリッジ７４の内部の破線は、光の軌跡を示している。
【００４６】
原稿７２の画像を読み取るとき、操作者は、上蓋７１を開いて原稿７２を原稿台ガラス７３に置き、上蓋７１を閉じる。そして、スキャナコントローラが、露光ランプ７７を発光させた状態で読取キャリッジ７４を副走査方向に沿って移動させ、ラインセンサ７８により原稿７２の表面の画像を読み取る。スキャナコントローラは、読み取った画像データをコンピュータ６０のスキャナドライバへ送信し、これにより、コンピュータ６０は、原稿７２の画像データを取得する。
【００４７】
〈測定用パターンと基準パターンの読み取り〉
ところで、スキャナ７０がテストシートＴＳの画像を読み取る際に、読み取り誤差が発生してしまう。読み取り誤差とは、実際の画像の位置と読み取った画像の位置との差のことである。例えば、読取キャリッジ７４を読み取り開始位置から１インチ移動させたとき、読み取り開始位置から実際には１インチ離れた画像を、読み取り開始位置から１インチと６０μｍ離れた位置に画像があると読み取ってしまうことなどがある。そのため、スキャナ７０で読み取ったテストシートＴＳのラインの間隔には、プリンタ１による搬送誤差とスキャナ７０による読み取り誤差が含まれることになる。
【００４８】
そこで、本実施形態では、テストシートＴＳと基準シートＳＳも一緒にスキャナ７０で読み取らせる。図１０Ａは、基準シートＳＳの説明図である。基準シートＳＳには、３６０ｄｐｉ間隔に多数のラインＳが形成されており、予めスマートスコープ等の測定機器によりその間隔が正確であると確認されている。つまり、スキャナ７０で読みとった基準シートＳＳのラインＳの間隔には、スキャナ７０による読み取り誤差のみしか含まれていない。ゆえに、基準シートＳＳもテストシートＴＳと一緒にスキャナ７０で読み取ることで、テストシートＴＳのラインＬの間隔に含まれたスキャナ７０の読み取り誤差を補正することができる。
【００４９】
図１０Ｂは、原稿台ガラス７３にテストシートＴＳと基準シートＳＳをセットした様子を上から見た図である。基準シートＳＳの各ラインＳとテストシートＴＳの各ラインＬが、スキャナ７０の主走査方向に平行になるように、基準シートＳＳとテストシートＴＳがセットされている。また、基準シートＳＳとテストシートＴＳをセットする際に、この２枚のシートの反りを抑え、２枚のシートが原稿台ガラス７３の所定の位置にセットされるような治具（不図示）を用いても良い。また、基準シートＳＳは、多数のプリンタの検査に対して使用されるので、紙ではなくＰＥＴフィルムなどの丈夫な素材で構成されている。
【００５０】
そして、スキャナ７０がテストシートＴＳと基準シートＳＳの画像を読み取った後、画像データがコンピュータ６０に伝送される。
【００５１】
＝＝＝補正値の算出（Ｓ１０３）＝＝＝
図１１は、補正値算出処理のフロー図である。補正値取得プログラムは、各処理をコンピュータ６０に実行させるためのコードを有する。そして、コンピュータ６０はそのコードに従って各処理を実行し、補正値を算出する。
【００５２】
＝＝＝画像の分割（Ｓ１３１）＝＝＝
図１２Ａは、スキャナ７０から取得した画像データの示す画像が描かれている。図１２Ｂは、分割された画像が描かれている。  
まず、コンピュータ６０はスキャナ７０からの画像データを、基準パターンの画像と測定用パターンの画像に分割する。これは、基準シートＳＳとテストシートＴＳが個々に傾いてスキャナ７０にセットされたおそれがあるので、それぞれ別々に傾きを補正するためである。
【００５３】
＝＝＝各画像の傾きの検出（Ｓ１３２）及び傾きの補正（Ｓ１３３）＝＝＝
次に、補正値取得プログラムは、測定用パターンの画像の傾きθｔと基準パターンの画像の傾きθｓを算出する（Ｓ１３２）。そして、算出した傾きθｔ・θｓに応じて、各画像の傾きが別々に補正される（Ｓ１３３）。以下、測定用パターンの傾き検出方法と基準パターンの傾き検出方法について、詳しく説明する。
【００５４】
〈測定用パターンの傾き検出方法〉
図１３Ａは、測定用パターンの画像から取り出す第１画素領域と第２画素領域の範囲を示す図である。ここで、画像上の位置を特定するために、スキャナ座標系（ｘ方向・ｙ方向）を定める。また、各画像の左上を基準（原点Ｏ）とする。
【００５５】
テストシートＴＳをスキャナ７０にセットした際に、傾きθｔの大きさで右上がりにテストシートＴＳが傾いたとする。そうすると、画像上のラインＬも、ｘ方向に対して傾きθｔの大きさで右上がりに傾く。そこで、画像上の１本のライン（基準ライン）の左端と右端の座標（ｘ方向とｙ方向の位置）を基に、傾きθｔを算出する。測定用パターンの傾き検出方法では、ラインＬ１を基準ラインとする。
【００５６】
まず、補正値取得プログラムは、測定用パターンの画像の中から複数の画素で構成される画素領域を取り出す。測定用パターンの傾き検出方法では、第１画素領域と第２画素領域を同時に取り出す。第１画素領域は、ｘ方向のｘａからＡ個の画素であり、ｙ方向のｙａからＢ個の画素である。第２画素領域は、ｘ方向のｘｂからＡ個の画素であり、ｙ方向のｙａからＢ個の画素である。
【００５７】
基準ラインＬ１の左端と右端の座標を基に傾きθｔを算出すると前述しているが、画像上のラインＬ１の両端の位置を正確に特定することは難しい。そのため、第１画素領域の中には基準ラインＬ１の左端近傍に対応する単位領域が含まれ、第２画素領域の中には基準ラインＬ１の右端近傍に対応する単位領域が含まれるように、各パラメータ（ｘａ、ｘｂ、ｙａ、Ａ、Ｂ）が設定されている。即ち、基準ラインの左端近傍と右端近傍の座標を基に、画像の傾きが算出される。
【００５８】
また、基準ラインＬ１は、他のラインＬ２からＬ２０に比べて長いため、ラインＬ１の左端近傍に位置する第１画素領域と、ラインＬ１の右端近傍に位置する第２画素領域には、他のライン（Ｌ２からＬ２０）に対応する単位領域が含まれることはない。なお、最も下方向に位置するラインＬｂ２はラインＬ１と同様の長さであるため、第１画素領域と第２画素領域にラインＬｂ２に対応する単位領域が含まれないように、ｙ方向の画素数Ｂ個を設定する。
【００５９】
図１３Ｂは、単位領域ごとの平均階調値を示す図である。ここで、単位領域とは、画素領域内において、ｘ方向に並ぶＡ個の画素を合わせた領域のことをいう。即ち、第１画素領域と第２画素領域では、ｙ方向にＢ個の単位領域が並んでいることになる。測定用パターンの画像の中から第１画素領域と第２画素領域を取り出した後、補正値取得プログラムは、単位領域内の画素（Ａ個）の階調値の平均値を単位領域ごとに算出する。この平均値を単位領域の平均階調値とする。
【００６０】
図１３Ｂに示すように、ラインＬ１に対応する単位領域は平均階調値が大きくなり、テストシートＴＳの余白部分に対応する単位領域は平均階調値が小さくなる。そこで、平均階調値が閾値Ｎ以上となる単位領域をラインＬ１に対応する単位領域とする。例えば、第１画素領域において、ラインＬ１の左端近傍に対応する単位領域は、平均階調値が閾値Ｎ以上となる単位領域ｙ１からｙ２とする。
【００６１】
次に、基準ラインＬ１の左端近傍の座標を、第１画素領域内のラインＬ１に対応する単位領域を基に算出する。ラインＬ１に対応する単位領域ｙ１からｙ２を演算範囲として、重心位置ｙ３を算出する。この重心位置ｙ３を、基準ラインＬ１の左端近傍のｙ方向の位置とする。基準ラインＬ１の左端近傍のｘ方向の位置は、第１画素領域のｘ方向の中心位置ｘ１とする。即ち、基準ラインＬ１の左端近傍の座標は、（ｘ１，ｙ３）となる。
【００６２】
同様にして、第２画素領域内のラインＬ１に対応する単位領域ｙ４からｙ５の重心位置ｙ６を、基準ラインＬ１の右端近傍のｙ方向の位置とする。基準ラインＬ１の右端近傍のｘ方向の位置は、第２画素領域のｘ方向の中心位置ｘ２とする。即ち、基準ラインＬ２の右端近傍の座標は、（ｘ２，ｙ６）となる。
【００６３】
最後に、基準ラインＬ１の左端近傍の座標（ｘ１,ｙ３）と基準ラインＬ１の右端近傍の座標（ｘ２,ｙ６）に基づいて、測定用パターンの画像の傾きθｔが算出される。  
θｔ＝ｔａｎ−１｛（ｙ６−ｙ３）／（ｘ２−ｘ１）｝
測定用パターンの画像上の１本のラインＬ１の左右端近傍の座標から算出された傾きθｔは、測定用パターンの画像の傾きである。この傾きθｔにより、測定用パターンの画像の傾きを正確に補正することができる。
【００６４】
以下、基準パターンの傾き検出方法について、比較例の検出方法を説明した後に、本実施形態の検出方法（使用例１、使用例２）を説明する。
【００６５】
〈基準パターンの傾き検出方法：比較例〉
図１４Ａは、基準パターンの画像から取り出す第３画素領域と第４画素領域の範囲を示す図である。測定用パターンの傾き検出方法と同様に、画像上の１本のライン（基準ライン）の左端近傍の座標と右端近傍の座標を基に、傾きθｓを算出する。
【００６６】
まず、補正値取得プログラムは、基準パターンの画像の中から第３画素領域と第４画素領域を取り出す。第３画素領域は、ｘ方向のｘａからＡ個の画素であり、ｙ方向のｙｂからＤ個の画素である。第４画素領域は、ｘ方向のｘｃからＡ個の画素であり、ｙ方向のｙｂからＤ個の画素である。取り出した画素領域の中に測定用パターンの複数のラインＳに対応する単位領域が含まれるように、各パラメータ（ｘａ、ｘｃ、ｙｂ、Ａ、Ｄ）が設定されている。
【００６７】
図１４Ｂは、単位領域ごとの平均階調値を示す図である。基準パターンの画像の中から第３画素領域と第４画素領域を取り出した後、補正値取得プログラムは各単位領域の平均階調値を算出する。そして、算出した平均階調値を基に、基準ラインの左端近傍の座標と右端近傍の座標を算出する。
【００６８】
第３画素領域には、ラインＳ１からラインＳ７の左端近傍に対応する単位領域が含まれる。補正値取得プログラムは、第３画素領域内の複数のラインＳのうちの最も上方向に位置するラインＳ１を基準ラインとする。そして、ラインＳ１に対応する単位領域であるｙ７からｙ８を演算範囲として、重心位置ｙ９を算出する。この重心位置ｙ９を、基準ラインＳ１の左端近傍のｙ方向の位置とする。そして、基準ラインＳ１の左端近傍のｘ方向の位置は、第３画素領域のｘ方向の中心位置ｘ１とする。即ち、基準ラインＳ１の左端近傍の座標は、（ｘ１，ｙ９）となる。
【００６９】
同様にして、補正値取得プログラムは、基準ラインの右端近傍の座標を、第４画素領域内のラインＳに対応する単位領域を基に算出する。補正値取得プログラムは、画素領域内最も上方向に位置するラインを基準ラインとするため、第３画素領域ではラインＳ１を基準ラインとしていた。しかし、第４画素領域内にはラインＳ１に対応する単位領域が含まれず、第４画素領域内で最も上方向に位置するラインＳはラインＳ２である。そのため、補正値取得プログラムは、ラインＳ１の左端近傍の座標とラインＳ２の右端近傍の座標を、誤って、同一のライン（基準ライン）の左右端近傍の座標であると判断してしまう。
【００７０】
つまり、第４画素領域内のラインＳ２に対応する単位領域であるｙ１０からｙ１１の重心位置ｙ１２が基準ラインの右端近傍のｙ方向の位置とされ、第４画素領域のｘ方向の中心位置ｘ３が基準ラインの右端近傍のｘ方向の位置とされる。即ち、ラインＳ２の座標（ｘ３，ｙ１２）が基準ラインの右端近傍の座標として判断されてしまう。
【００７１】
図１５は、比較例において、間違って算出された傾きθｓ´を示す図である。図中には、実際の基準パターンのラインＳを点線で示し、間違った傾きθｓ´を算出するために用いられたラインＳ´を実線で示す。この比較例では、補正値取得プログラムは、ラインＳ１の左端近傍の座標（ｘ１,ｙ９）と、ラインＳ２の右端近傍の座標（ｘ３,ｙ１２）を結んだラインＳ´を基準ラインとし、間違った傾きθｓ´を算出してしまう。  
θｓ´＝ｔａｎ−１｛（ｙ１２−ｙ９）／（ｘ３−ｘ１）｝
実際のラインＳの傾きθｓと比べて、ラインＳ´の傾きθｓ´は、大きさと傾く方向が異なっている。そのため、補正値取得プログラムは、傾きθｓ´により、基準パターンの画像が右下がりに傾いていると判断し、基準パターンの画像を右上がりの方向に補正する。そのため、傾きθｓ´を基に画像の傾きが補正されると、実際には傾きθｓの大きさで右上がりに傾いている基準パターンの画像が、更に右上がり方向に傾いてしまう。即ち、画像の傾きが補正されず、傾きが悪化してしまう。
【００７２】
基準パターンの画像から取り出した第３画素領域と第４画素領域のｙ方向の位置（ｙｂからＤ個の画素）は等しかった。しかし、画像上において、ラインＳが右上がりに傾いているため、第３画素領域にはラインＳ１に対応する単位領域が含まれたが、第４画素領域にはラインＳ１に対応する単位領域が含まれなかった。そのため、補正値取得プログラムは、ラインＳ１の左端近傍の座標を基準ラインＳ´の左端近傍の座標とし、ラインＳ２の右端近傍の座標を基準ラインＳ ´の右端近傍の座標とし、異なるラインの左右端近傍の座標を結ぶ基準ラインＳ´から間違った傾きθｓ´を算出してしまった。
【００７３】
また、測定用パターンの基準ラインＬ１は他のラインＬに比べて長く、基準ラインＬ１左右端近傍では、搬送方向にラインが並んでいなかったため、画素領域内に基準ライン以外のラインに対応する単位領域が含まれることはなかった。しかし、基準パターンのラインＳの長さは等しく、画素領域の範囲の設定によっては、この比較例のように、画素領域内に基準ライン以外のラインに対応する単位領域が含まれてしまう。
【００７４】
つまり、比較例の傾き検出方法では、画像の傾き具合や画素領域の範囲の設定によって、同一のラインの左端（近傍）の座標と右端（近傍）の座標を算出できないおそれがある。そうすると、画像の正しい傾きθｓを算出できず、画像の傾きを正確に補正することが出来ない。
【００７５】
〈基準パターンの傾き検出方法：使用例１〉
図１６Ａは、基準パターンの画像から始めに取り出す第５画像領域の範囲を示す図である。図１６Ｂは、第５画素領域内の単位領域ごとの平均階調値を示す図である。前述の比較例と同様に、本実施形態でも、画像上の１本のライン（基準ライン）の左端近傍と右端近傍の座標を基に傾きθｓが算出される。
【００７６】
まず、補正値取得プログラムは、基準パターンの画像の中から第５画素領域を取り出す。第５画素領域は、ｘ方向のｘｄからＡ個の画素であり、ｙ方向のｙｂからＤ個の画素である。第５画素領域内に、複数の基準パターンのラインＳの中央部に対応する単位領域が含まれるように、パラメータ（ｘｄ、ｙｂ、Ａ、Ｄ）が設定されている。
【００７７】
補正値取得プログラムは、第５画素領域内の最も上方向に位置するラインＳ２を基準ラインとする。そして、平均階調値が閾値Ｎ以上であり、ラインＳ２の中央部に対応する単位領域であるｙ１３からｙ１４を演算範囲として、重心位置ｙ１５を算出する。この重心位置ｙ１５が基準ラインＳ２の中央部のｙ方向の位置となり、第５画素領域のｘ方向の中心位置ｘ４が基準ラインＳ２の中央部のｘ方向の位置となる。即ち、基準ラインＳ２の中央部の座標（基準点）は、（ｘ４，ｙ１５）となる。
【００７８】
測定用パターンの傾き検出方法では、第１画素領域と第２画素領域を同時に取り出し、基準ラインＬ１の左端近傍の座標と右端近傍の座標を同時に算出している。これに対して、使用例１では、基準パターンの画像の中から始めに第５画素領域だけを取り出す。そして、基準ラインＳ２の中央部の座標を算出する。
【００７９】
図１７Ａは、基準パターンの画像から第５画素領域の次に取り出す第６画素領域と第７画素領域の範囲を示す図である。第６画素領域は、ｘ方向のｘｅからＡ個の画素であり、基準ラインＳ２の中央部のｙ方向の位置であるｙ１５より上方向にＣ／２個（所定幅）の画素である領域と、ｘｅからＡ個の画素であり、ｙ１５より下方向にＣ／２個の画素である領域からなる。ｘｅは、基準ラインＳ２の左端近傍に位置するため、第６画素領域には基準ラインＳ２の左端近傍に対応する単位領域が含まれる。第７画素領域は、ｘ方向のｘｆからＡ個の画素であり、ｙ方向のｙ１５より上方向にＣ／２個の画素である領域と、ｘｆからＡ個の画素であり、ｙ１５より下方向にＣ／２個の画素である領域からなる。ｘｆは、基準ラインＳ２の右端近傍に位置するため、第７画素領域には基準ラインＳ２の右端近傍に対応する単位領域が含まれる。
【００８０】
この使用例１では、第６画素領域と第７画素領域に、基準ラインＳ２以外の別のラインＳに対応する単位領域が含まれないように、基準ラインＳ２の中央部のｙ方向の位置ｙ１５を基準に、第５画素領域と第６画素領域のｙ方向の画素数Ｃ個が設定されている。
【００８１】
例えば、基準ラインの間隔は１／３６インチであり、１つの画素のｙ方向の大きさは１／７２０インチであるため、基準ラインＳの間には２０個の画素が含まれる。そのため、基準ラインＳ２の中央部に対するラインの両端のｙ方向の傾きの大きさが、基準ラインの中央部ｙ１５に対してｙ方向に上下１０画素以内に収まるとすると、Ｃは２０個と設定すればよい。即ち、Ｃ個（所定幅）はラインの間隔（１／３６インチ）以下になるように設定されている。
【００８２】
そのため、基準ラインＳ２の中央部ｙ１５から、基準ラインＳ２がｙ１５よりも右上がり又は右下がり（左上がり又は左下がり）に傾いていたとしても、第６画素領域と第７画素領域にラインＳ２の左右端近傍に対応する単位領域が含まれる。もし、画素領域内に、２本以上のラインに対応する単位領域が検出されたり、ラインに対応する単位領域が検出されなかったりした場合は、エラーとなる。
【００８３】
図１７Ｂは、第６画素領域と第７画素領域の単位領域ごとの平均階調値を示す図である。第６画素領域内において、基準ラインＳ２に対応する単位領域ｙ１６からｙ１７の重心位置ｙ１８が、基準ラインＳ２の左端近傍のｙ方向の位置となる。そして、第６画素領域のｘ方向の中心位置ｘ５が、基準ラインＳ２の左端近傍のｘ方向の位置となる。即ち、基準ラインＳ２の左端の座標（第１点）は、（ｘ５，ｙ１８）となる。
【００８４】
同様に、第７画素領域内において、基準ラインＳ２に対応する単位領域ｙ１９からｙ２０の重心位置ｙ２１が、基準ラインＳ２の右端近傍のｙ方向の位置となる。そして、第７画素領域のｘ方向の中心位置ｘ６が、基準ラインＳ２の右端近傍のｘ方向の位置となる。即ち、基準ラインＳ２の右端の座標（第２点）は、（ｘ６，ｙ２１）となる。このようにして、使用例１では、基準ラインＳ２の中央部の座標をもとに、基準ラインＳ２上の点を検出することが出来る。
【００８５】
最後に、補正値取得プログラムは、基準ラインＳ２の左端近傍の座標（ｘ５，ｙ１８）と基準ラインＳ２の右端近傍の座標（ｘ６，ｙ２１）に基づいて、基準パターンの画像の傾きθｓを算出する。  
θｓ＝ｔａｎ−１｛（ｙ２１−ｙ１８）／（ｘ６−ｘ５）｝
画像上の１本のラインＳ２の左右端近傍の座標から算出された傾きθｓは、基準パターンの画像の傾きである。そのため、基準パターンの画像の傾きは正確に補正される。
【００８６】
比較例では、同時に取り出した２つの画素領域から基準ラインの左右端の座標を算出しようとしていた。これに対して、使用例１では、基準ラインＳ２の中央の座標ｙ１５を算出してから、その座標ｙ１５を基に、基準ラインの両端（近傍）の座標を算出するための画素領域を設定している。そのため、各画素領域には、確実に基準ラインＳ２の左端（近傍）または右端（近傍）に対応する単位領域が含まれ、基準ラインＳ２以外のラインＳに対応する単位領域は含まれない。その結果、使用例１では、補正値取得プログラムが、画像上のあるラインの左端の座標と別のラインの右端の座標を同一のラインの左右端の座標と判断してしまうことがなくなる。つまり、使用例１では、画像上の１本のラインの左端の座標と右端の座標を算出することができ、画像の正しい傾きθｓを算出することができる。
【００８７】
〈基準パターンの傾き検出方法：使用例２〉
図１８Ａは、基準パターンの画像から始めに取り出す第３画素領域の範囲を示す図である。図１８Ｂは、第３画素領域内の単位領域ごとの平均階調値を示す図である。使用例２においても、使用例１と同様に、画像上の１本のライン（基準ライン）の左端近傍の座標と右端近傍の座標を基に、傾きθｓを算出する。
【００８８】
まず、補正値取得プログラムは、基準パターンの画像の中から、ｘ方向のｘａからＡ個の画素であり、ｙ方向のｙｂからＤ個の画素である第３画素領域を取り出す。そして、補正値取得プログラムは、第３画素領域内の最も上方向に位置するラインＳ１を基準ラインとする。基準ラインＳ１に対応する単位領域ｙ７からｙ８の重心位置ｙ９が基準ラインＳ１の左端近傍のｙ方向の位置となる。そして、第３画素領域のｘ方向の中心位置ｘ１が基準ラインＳ１の左端近傍のｘ方向の位置となる。即ち、基準ラインＳ１の左端近傍の座標（基準点）は、（ｘ１，ｙ９）となる。
【００８９】
図１９Ａは、基準パターンの画像から第３画素領域の次に取り出す第８画素領域の範囲を示す図である。図１９Ｂは、第８画素領域内の単位領域ごとの平均階調値を示す図である。基準ラインＳ１の左端近傍の座標を算出した後、補正値取得プログラムは、基準ラインＳ１の右側近傍の座標を算出するために、基準パターンの画像から第８画素領域を取り出す。
【００９０】
第８画素領域は、ｘ方向のｘｇからＡ個の画素であり、ｙ方向のｙ９から上方向にＣ／２個の画素である領域と、ｘｇからＡ個の画素であり、ｙ９から下方向にＣ／２個の画素である領域からなる。ｘｇは基準ラインＳ１の右端近傍に位置する。なお、第８画素領域内に基準ラインＳ１以外の別のラインＳに対応する単位領域が含まれていたら、エラーとなる。
【００９１】
次に、補正値取得プログラムは、第８画素領域内において、基準ラインＳ２に対応する単位領域ｙ２２からｙ２３の重心位置ｙ２４を算出する。この重心位置ｙ２４が、基準ラインＳ１の右端近傍のｙ方向の位置となる。そして、第８画素領域のｘ方向の中心位置ｘ７が基準ラインＳ１の右端近傍のｘ方向の位置とする。即ち、基準ラインＳ１の右側近傍の座標は、（ｘ７，ｙ２４）となる。
【００９２】
そして、基準ラインＳ１の左端近傍の座標（ｘ１,ｙ９）と基準ラインＳ１の右端近傍の座標（ｘ７,ｙ２４）に基づいて、基準パターンの画像の傾きθｓが算出される。  
θｔ＝ｔａｎ−１｛（ｙ２４−ｙ９）／（ｘ７−ｘ１）｝
画像上の１本のラインＳ１の左右端近傍の座標から算出された傾きθｓは、基準パターンの画像の傾きである。この傾きθｓにより、基準パターンの画像の傾きは正確に補正される。
【００９３】
この使用例２では、基準ラインＳ１の左端近傍の座標ｙ９を算出してから、その座標ｙ９を基に、基準ラインＳ１の右端近傍の座標を算出するための第８画素領域を設定している。そのため、第８画素領域には確実に基準ラインＳ１に対応する単位領域が含まれ、基準ラインＳ１以外のラインＳに対応する単位領域は含まれない。その結果、補正値取得プログラムは、画像上の１本のラインの左右端の座標を算出することができ、画像の正しい傾きθｓを算出することができる。
【００９４】
〈使用例１と使用例２の傾き検出方法について〉
図２０は、使用例１と使用例２の基準パターンの傾き検出方法の概略を示す図である。以下、図２０を用いて説明する。使用例２では、Ａ画素領域により基準ラインＳ２の左端近傍の座標ｙｃを算出した後に、ｙｃを基準に基準ラインＳ２の右端近傍の座標を算出するためのＣ画素領域の範囲を設定する。これに対して、使用例１では、Ｂ画素領域により基準ラインＳ４の中央部の座標ｙｄを算出した後、基準ラインＳの右端（左端は不図示）近傍の座標を算出するためのＤ画素領域の範囲を設定する。
【００９５】
図２０より、基準ラインＳ４の中央部の座標ｙｄに対する基準ラインＳ４の右端の傾き量ｙｆの方が、基準ラインＳ２の左端近傍の座標ｙｃに対する基準ラインＳ４の右端の傾き量ｙｅよりも小さいことが分かる（なお、ラインＳ２とＳ４の傾きは等しいとする）。なぜなら、ｘ方向の長さに対するｙ方向の傾き量は、ｘ方向の長さが長いほど大きくなるからである。そのため、使用例１のＤ画素領域の画素数Ｇ個を、使用例２のＣ画素領域の画素数Ｆ個よりも少なくしても、Ｄ画素領域内に基準ラインＳ４に対応する単位領域が含まれる。
【００９６】
基準パターンのように、隣り合うラインＳの間隔が狭い場合、基準ラインの両端の座標を算出するための画素領域のｙ方向の画素数（Ｆ個やＧ個）を増やすと、基準ライン以外のラインに対応する単位領域も画素領域内に含まれるおそれがある（エラー）。そのため、出来る限り画素領域のｙ方向の画素数（Ｆ個やＧ個）を少なくしたい。そこで、使用例１のように、始めに基準ラインＳ４の中央部の座標ｙｄを算出してから、ｙｄを基準に、基準ラインＳ４の左右端近傍の座標を算出するための画素領域を設定する。そうすることで、使用例２よりも、画素領域のｙ方向の画素数を少なくすることができる。つまり、前述の使用例１と使用例２では、基準ラインの両端の座標を算出するための画素領域のｙ方向の画素数（Ｃ個）を同じにしていたが、使用例１の方が使用例２よりも画素領域のｙ方向の画素数を減らすことができる。
【００９７】
但し、使用例１のようにラインの中央部の座標を算出してからラインの左右端の座標を算出するよりも、使用例２のようにラインの左端の座標を算出してから右端の座標を算出する方が、算出する座標数が少ないため、画像の傾きを早く算出することができる。そのため、基準パターンのライン間隔よりも広い間隔でラインがｙ方向に並んでいて、画素領域内に基準ライン以外のラインに対応する単位領域が含まれるおそれがない場合には、使用例２の検出方法が有効である。
【００９８】
また、基準ラインＳの傾きθｓは、基準ラインＳの中央部の座標を算出した後、左端または右端のどちらかの座標を算出し、中央部の座標と左端（または右端）の座標の２つの座標から算出することもできる。しかし、使用例１では、基準ラインＳの中央部の座標と、基準ラインの左右端の座標の３つの座標を算出する。そして、基準ラインＳの左右端の座標から画像の傾きθｓを算出している。使用例２でも基準ラインＳの左右端の座標から算出している。
【００９９】
なぜなら、画像データには、ｙ方向に読み取り誤差が含まれているおそれがあるからである。この読み取り誤差とは、スキャナ７０の読取キャリッジ７４の位置精度の問題や、基準ラインの座標が画素ごとの離散的な値で算出されることにより発生する。そこで、本実施形態のように、基準ラインの左右端の座標から傾きを算出する方が、基準ラインの中央部の座標と左端（右端）の座標から傾きを算出するよりも、ｘ方向の長さに対するｙ方向の読み取り誤差の影響度が少なくなり、より正確な傾きを算出することができる。
【０１００】
＝＝＝印刷時の傾きの検出（Ｓ１３４）＝＝＝
次に、コンピュータ６０は、測定用パターンの印刷時の傾き（スキュー）を検出する。測定用パターンを印刷するときにテストシートＴＳの下端が搬送ローラ１３から外れると、テストシートＴＳの下端がヘッド３１に接触し、テストシートＴＳが動くことがある。このようなことが起こると、その測定用パターンにより算出された補正値が不適切なものになる。そこで、測定用パターンの印刷時の傾きを検出することにより、テストシートの下端がヘッド３１に接触したか否かを検出し、接触した場合にはエラーとする。
【０１０１】
図２１は、測定用パターンの印刷時の傾き検出の様子の説明図である。まず、コンピュータ６０は、ラインＬ１とラインＬｂ２（テストシートＴＳの下端が搬送ローラ１３を通過した後に形成されるライン）における左側の間隔ＹＬと、右側の間隔ＹＲとを検出する。そして、コンピュータ６０は、間隔ＹＬと間隔ＹＲの差を算出し、この差が所定範囲内であれば次の処理（Ｓ１３５）へ進み、この差が所定範囲外であればエラーとする。
【０１０２】
＝＝＝余白量の算出（Ｓ１３５）＝＝＝
図２２は、余白量Ｘの説明図である。図中の実線の四角形（外側の四角形）は、Ｓ１３３の回転補正後の画像を示している。図中の点線の四角形（内側の斜めの四角形）は、回転補正前の画像を示している。回転補正後の画像を長方形状にするため、Ｓ１３３の回転補正処理が行われる際に、回転後の画像の四隅に直角三角形状の余白が付加される。
【０１０３】
回転補正し、余白が付加された測定用パターンの画像データのｘ方向の中央の地点から測定用パターンの各ラインまでの距離を各ラインの絶対位置とする。この場合、図２２に示す余白量Ｘもラインの絶対位置に含まれることになる。基準シートＳＳとテストシートＴＳの傾きとは別々に傾きを補正しているため、基準シートＳＳとテストシートＴＳの余白量Ｘが異なる可能性がある。そうすると、基準パターンと測定用パターンの余白量Ｘが異なってしまう。そして、スキャナ７０にセットした際の基準パターンと測定用パターンの相対的な位置関係がずれてしまう。
【０１０４】
本実施形態では、基準パターンと測定用パターンの相対的な位置関係より、スキャナ７０による読み取り誤差を補正する（後述）。そのため、基準パターンと測定用パターンの相対的な位置関係が余白量Ｘの差によってずれてしまわないように、余白量Ｘを差し引いて、各ラインの絶対位置を算出する。余白量Ｘは以下のように求める。  
Ｘ＝（ｗ ｃｏｓθ−ｗ´／２）×ｔａｎθ
【０１０５】
＝＝＝スキャナ座標系での各ラインの重心位置の算出（Ｓ１３６）＝＝＝
次に、コンピュータ６０は、スキャナ座標系での基準パターンと測定用パターンの各ラインの重心位置を算出する。なお、各画像における左上の画素の位置を、スキャナ座標系の原点とする。
【０１０６】
図２３Ａは、測定用パターンのラインＬの重心位置を算出する際に用いられる画像の範囲の説明図である。図中の点線で示す範囲の画像の画像データが、各ラインＬの重心位置を算出する際に用いられる。図２３Ｂは、測定用パターンのラインＬの重心位置の算出の説明図である。横軸は、画素のｙ方向の位置を示している。縦軸は、画素の階調値を示している。画像の傾きを補正したとき（Ｓ１３２）と同様に、測定用パターンと基準パターンの各ラインＬの重心位置を求める。そして、各ラインの重心位置からＳ１３５で求めた余白量Ｘを差し引く。
【０１０７】
＝＝＝測定用パターンの各ラインの絶対位置の算出（Ｓ１３７）＝＝＝
次に、Ｓ１３６において求めた測定用パターンと基準パターンの重心位置（余白量Ｘを差し引いた値）より、コンピュータ６０は、測定用パターンの各ラインの絶対位置を算出する。
【０１０８】
測定用パターンのｎ番目のラインの重心位置Ｌ（ｎ）とｎ＋１番目のラインの重心位置Ｌ（ｎ＋１）の間隔は、所定搬送量Ｆ（１／４インチ）にプリンタ１による搬送量誤差とスキャナ７０による読み取り誤差が加わった値となる。ゆえに、搬送誤差を補正する補正値を求めるため、読み取り誤差が含まれないラインの絶対位置を算出する必要がある。そのために、読み取り誤差のみが含まれている基準パターンのラインと、測定用パターンのラインの相対的な位置関係により、ラインの絶対位置を算出する。
【０１０９】
図２４は、基準パターンのラインと測定用パターンのラインの位置関係を示している。以下に、測定用パターンのｎ番目のラインＬ（ｎ）の絶対位置の求め方について説明する。ラインＬ（ｎ）は、基準パターンのｉ番目のラインＫ（ｉ）とｉ＋１番目のラインＫ（ｉ＋１）の間に位置する。また、ラインＫ（ｉ）とラインＫ（ｉ＋１）の間隔をＳとし、ラインＫ（ｉ）とラインＬ（ｎ）の間隔をＳ（ｍ）とする。
【０１１０】
ところで、基準パターンと測定用パターンは同時にスキャナ７０に読み取られている。つまり、スキャナ７０の読み取り開始位置からラインＫ（ｉ）までの間隔が有する読み取り誤差量と、読み取り開始位置からラインＬ（ｎ）までの間隔が有する読み取り誤差量は、ほぼ等しい。（但し、厳密に言えば、ラインＫ（ｉ）とラインＬ（ｎ）の間隔Ｓ（ｍ）を読取キャリッジ７４が移動する間にも読み取り誤差ｅは生じている。しかし、この誤差ｅは、プリンタ１による搬送誤差に比べたら大変微小であるため、誤差ｅはゼロとする。）ゆえに、基準パターンのラインＫ（ｉ）及びラインＫ（ｉ＋１）と測定用パターンのラインＬ（ｎ）の位置関係は、スキャナ７０にセットした時と読み取った画像とで変わらない。そこで、まず、間隔Ｓに対するラインＬ（ｎ）の比率Ｈを求める。  
Ｈ＝Ｓ（ｍ）／Ｓ
＝｛Ｌ（ｎ）−Ｋ（ｉ）｝／｛Ｋ（ｉ＋１）−Ｋ（ｉ）｝
【０１１１】
そして、ラインＫ（ｉ）とラインＫ（ｉ＋１）の重心位置から求めた間隔Ｓには読み取り誤差が含まれている可能性があるが、実際の基準パターンのライン間隔は１／３６インチである。そこで、間隔Ｓを１／３６インチとすることで、ラインＫ（ｉ）に対するラインＬ（ｎ）の絶対位置を求めることができる。ラインＫ（ｉ）の絶対位置Ｋａ（ｉ）を基準とし、ラインＬ（ｎ）の絶対位置Ｌａ（ｎ）を求める。  
Ｌａ（ｎ）＝｛Ｋａ（ｉ＋１）−Ｋａ（ｉ）｝×Ｈ＋Ｋａ（ｉ）
＝１／３６インチ×Ｈ＋Ｋａ（ｉ）
ここで、仮にラインＫ（ｉ−１）を基準として、ラインＫ（ｉ−１）の絶対位置Ｋａ（ｉ−１）をゼロとする。そうすると、ラインＫ（ｉ−１）とラインＫ（ｉ）の実際の間隔は１／３６インチであるので、ラインＫ（ｉ）の絶対位置Ｋａ（ｉ）は、１／３６となる。こうすることで、ある基準に対するラインＬ（ｎ）の絶対位置を求めることができる。本実施形態では、基準パターンの１番目のラインをゼロ（基準）として、測定用パターンの各ラインの絶対位置を求める。
【０１１２】
＝＝＝補正値の算出（Ｓ１３８）＝＝＝
次に、Ｓ１３７で求めた測定用パターンのラインの絶対位置Ｌａ（ｎ）により補正値を求める。補正値は、理論上のライン間隔と実際のライン間隔との差に基づいて算出する。パスｎとパスｎ＋１との間で行われた搬送動作の搬送誤差を補正する値をＣ（ｎ）として、以下のように求める。  
Ｃ（ｎ）＝理論上のライン間隔（１／４インチ）−（Ｌａ（ｎ＋１）−Ｌａ（ｎ））
このようにして補正値Ｃ（１）〜補正値Ｃ（１９）を算出する。  
但し、下端領域にあるラインＬｂ１及びＬｂ２を用いて補正値Ｃｂを算出する場合、ラインＬｂ１とラインＬｂ２の理論上のライン間隔は３／９０インチとして計算する。
【０１１３】
＝＝＝補正値の平均化（Ｓ１３９）＝＝＝
さて、Ｓ１３８において求めた補正値Ｃ（ｎ）には、ＤＣ成分の搬送誤差だけでなく、ＡＣ成分の搬送誤差も含まれている。ＡＣ成分の搬送誤差は搬送ローラ１３の位置によって異なるが、本実施形態では原点センサなどで搬送ローラ１３の位置を管理していない。そのため、補正値Ｃ（ｎ）を基に実際に搬送誤差の補正をする際に、補正値Ｃ（ｎ）を求めた時の搬送ローラ１３の位置と、実際に搬送誤差を補正する際の搬送ローラ１３の位置が異なってしまった場合、搬送誤差を正しく補正することができない。そこで、ＡＣ成分の搬送誤差を含まない、ＤＣ成分の搬送誤差のみを補正する補正値が必要となる。
【０１１４】
ところで、搬送ローラ１３が１回転したときには、ＡＣ成分の搬送誤差は生じない。言い換えると、搬送ローラ１３が１回転したときに生じる搬送誤差には、ＡＣ成分の搬送誤差は含まれず、ＤＣ成分の搬送誤差のみを含むこととなる。そこで、実際に搬送誤差を補正する際、補正値Ｃ（ｎ）ではなく、搬送ローラ１３が１回転する間に生じた４個の補正値Ｃ（ｎ）を平均値化した補正値Ｃａ（ｎ）を用いる。  
Ｃａ（ｎ）＝｛Ｃ（ｎ−１）＋Ｃ（ｎ）＋Ｃ（ｎ＋１）＋Ｃ（ｎ＋２）｝／４
＝［１インチ−｛Ｌａ（ｎ＋３）−Ｌａ（ｎ−１）｝］／４
【０１１５】
図２５は、測定用パターンのラインと補正値Ｃａとの関係の説明図である。具体例を挙げると、補正値Ｃａ（２）は以下のよう求めることができる。  
Ｃａ（２）＝｛Ｃ（１）＋Ｃ（２）＋Ｃ（３）＋Ｃ（４）｝／４
＝［１インチ−｛Ｌａ（５）−Ｌａ（１）｝］／４
【０１１６】
ラインＬ１が印刷された後、搬送ローラ１３が１回転して、ラインＬ５が印刷される。つまり、ラインＬ１とラインＬ５の間隔には、ＤＣ成分の搬送誤差のみが含まれるので、平均値化した補正値Ｃａ（２）にはＡＣ成分の搬送誤差が含まれていないことになる。このように、搬送ローラ１３が１回転したときの搬送誤差を求めることで、ＡＣ成分の搬送誤差が含まれていないＤＣ成分のみの搬送誤差が求められる。そのために、所定搬送量Ｆは、搬送ローラ１３の円周の長さをｎ等分した長さに設定する。
【０１１７】
そして、平均値化した補正値Ｃａ（２）は、ラインＬ１とラインＬ５の間隔の中央付近の搬送誤差を補正するために用いられる。即ち、補正値Ｃａ（２）は、ラインＬ２とラインＬ３の間隔の搬送誤差を補正するために用いられる。そして、本実施形態では、測定用パターンのラインを１／４インチごとに印刷し、補正値Ｃ（ｎ）を求めるため、１インチごとではなく１／４インチの細かい範囲で搬送誤差を補正することができる。
【０１１８】
また、平均値化した補正値Ｃａ（ｎ）を算出する際にｎ−１がゼロ以下になる場合、補正値Ｃ（ｎ−１）は補正値Ｃ（１）を適用する。例えば、平均値化した補正値Ｃａ（１）は次式のように求める。  
Ｃａ（１）＝｛Ｃ（１）＋Ｃ（１）＋Ｃ（２）＋Ｃ（３）｝／４
【０１１９】
平均値化した補正値Ｃａ（ｎ）を算出する際にｎ＋１が２０以上になる場合、補正値Ｃ（ｎ＋１）は補正値Ｃ（１９）を適用する。例えば、平均値化した補正値Ｃａ（１９）は次式のように求める。  
Ｃａ（１９）＝｛Ｃ（１８）＋Ｃ（１９）＋Ｃ（１９）＋Ｃ（１９）｝／４
【０１２０】
コンピュータ６０は、このようにして平均値化した補正値Ｃａ（１）〜Ｃａ（１９）を算出する。なお、下端領域に用いられる補正値Ｃｂは、ＡＣ成分の搬送誤差を含まないラインＬｂ１とラインＬｂ２の間隔から求められた搬送誤差であるため、Ｓ１３８で求めた補正値Ｃｂを平均値化する必要はない。
【０１２１】
＝＝＝補正値の記憶（Ｓ１０４）＝＝＝
次に、コンピュータ６０は、平均値化した補正値Ｃａ（ｎ）をプリンタ１のメモリ５３に記憶させる。メモリ５３には、補正値Ｃａ（ｎ）だけでなく、補正値Ｃａ（ｎ）の境界位置情報も記憶させる。境界位置情報とは、補正値Ｃａ（ｎ）がどの地点で用いられるのかを示す情報である。例えば、補正値Ｃａ（１）に関連付けられる境界位置情報は、測定用パターンのラインＬ２の理論上の位置であり、補正値Ｃａ（２）に関連付けられる境界位置情報は、測定用パターンのラインＬ３の理論上の位置である。この境界位置情報とは、補正値Ｃａ（ｎ）を適用する範囲の下端側の境界を示す情報である。
【０１２２】
例えば、搬送前にノズル＃９０と対向する紙Ｓのある位置がラインＬ２の理論上の位置と一致し、搬送後にノズル＃９０と対向する紙Ｓの他の位置がラインＬ３の理論上の位置と一致する場合、補正値Ｃａ（２）を用いて搬送誤差が補正される。
【０１２３】
なお、補正値Ｃａ（１）の上端側の境界位置情報はゼロである。即ち、メモリ５３に記憶される境界位置情報は、紙の上端を基準地点としている。また、非ＮＩＰ状態では、補正値Ｃｂのみしか用いないので、境界位置情報を一緒にメモリ５３に記憶させる必要はない。
【０１２４】
プリンタ製造工場では、製造されるプリンタ毎に、各プリンタの個体の特徴を反映した補正値Ｃａ（ｎ）と境界位置情報がメモリ５３に記憶される。
【０１２５】
＝＝＝ユーザーの下での印刷時の搬送動作＝＝＝
メモリ５３ に記憶された補正値Ｃａ（ｎ）を実際に使用する際に、コントローラ５０は、紙Ｓのどの位置に補正値Ｃａ（ｎ）が適用されるか管理する必要がある。本実施形態では、補正値Ｃａ（ｎ）を求めるためにノズル＃９０が用いられている。そのため、コントローラ５０は、ノズル＃９０と対向する紙Ｓの位置（以下、基準位置とする）を基準として、どの補正値Ｃａ（ｎ）を適用するかを管理する。また、補正値Ｃａ（１）の上端側の境界位置情報はゼロである。ゆえに、コントローラ５０は、ノズル＃９０と移動方法に並んでいる光学センサ４４が紙Ｓの上端を検知した地点を、境界位置の基準地点と判断する。
【０１２６】
更に、実際にプリンタ１を使用する際の紙Ｓの目標搬送量ｆと、補正値Ｃａを求めたときの搬送量（１／４インチ）が異なる場合には、目標搬送量ｆに合わせた補正値Ｃａ´を求める必要がある。また、搬送前に紙Ｓの基準位置と、補正値Ｃａ（ｎ）の境界位置がずれていたり、目標搬送量ｆの範囲が２つの補正値Ｃａ（ｎ）とＣａ（ｎ＋１）の範囲をまたいだりする可能性がある。そのため、それぞれのケースに応じた補正値Ｃａ´に換算する必要がある。
【０１２７】
図２６Ａは、第１のケースの補正値Ｃａ´（ｎ）の説明図である。搬送開始前の基準位置が補正値Ｃａ（ｎ）の上端側の位置と等しく、目標搬送量ｆが補正値Ｃａ（ｎ）の適用範囲Ｌ（１／４インチ）と等しい場合には、補正値Ｃａ（ｎ）がそのまま用いられる。
【０１２８】
図２６Ｂは、第２のケースの補正値Ｃａ´（ｎ）の説明図である。搬送開始前と搬送後の基準位置が補正値Ｃａ（ｎ）の適用範囲内に位置し、目標搬送量ｆが補正値Ｃａ（ｎ）の適用範囲Ｌよりも短い場合、以下に示す補正値Ｃａ´（ｎ）を用いる。  
Ｃａ´（ｎ）＝Ｃａ（ｎ）×（ｆ／Ｌ）
【０１２９】
図２６Ｃは、第３のケースの補正値Ｃａ´（ｎ）の説明図である。搬送開始前の基準位置が補正値Ｃａ（ｎ）の適用範囲内に位置し、搬送後の基準位置が補正値Ｃａ（ｎ＋１）の適用範囲内に位置するまで紙Ｓが搬送される場合、以下に示す補正値Ｃａ´（ｎ）を用いる。  
Ｃａ´（ｎ）＝Ｃａ（ｎ）×（ｆ１／Ｌ）＋Ｃａ（ｎ＋１）×（ｆ２／Ｌ）
【０１３０】
図２６Ｄは、第４のケースの補正値Ｃａ´（ｎ）の説明図である。搬送開始前の基準位置が補正値Ｃａ（ｎ）の適用範囲内に位置し、搬送後の基準位置が補正値Ｃａ（ｎ＋２）の適用範囲内に位置するまで紙Ｓが搬送される場合、以下に示す補正値Ｃａ´（ｎ）を用いる。  
Ｃａ´（ｎ）＝Ｃａ（ｎ）×（ｆ１／Ｌ）＋Ｃａ（ｎ＋１）
＋Ｃａ（ｎ＋２）×（ｆ２／Ｌ）
【０１３１】
なお、非ＮＩＰ状態の搬送誤差に対しては補正値Ｃｂを用いる。この補正値Ｃｂは、紙Ｓが非ＮＩＰ状態であるときに１インチ搬送される場合の補正量である。そのため、非ＮＩＰ状態の搬送量ｆが１インチ（＝Ｌ）でない場合は、以下に示す補正値Ｃｂ´を用いる。  
Ｃｂ´＝Ｃｂ×（ｆ／Ｌ）
【０１３２】
また、テストシートＴＳと実際に印刷する用紙サイズが異なる場合、補正値Ｃａ（ｎ）の適用範囲を印刷する用紙に適応することができない。そこで、印刷用紙の搬送特性とテストシートＴＳの搬送特性が近似している地点を対応させ、対応する地点の補正値Ｃａ（ｎ）を使用する。そうして、補正値Ｃａ（ｎ）を組み合わせ、印刷用紙用にデータを作成する。
【０１３３】
＝＝＝その他の実施形態＝＝＝
上記の各実施形態は、主としてインクジェット方式のプリンタを有する印刷システムについて記載されているが、スキャナで読み取った画像中のライン検出方法等の開示が含まれている。また、上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本発明にはその等価物が含まれることはいうまでもない。特に、以下に述べる実施形態であっても、本発明に含まれるものである。
【０１３４】
〈傾き算出方法について〉
図２７Ａ及び図２７Ｂは、前述の実施形態とは異なる画像の傾き検出方法を示す図である。前述の実施形態の基準パターンの傾き検出方法（使用例２）では、基準ラインＳの左端の座標を算出してから、基準ラインＳの右端の座標を算出し、２つの座標を結ぶ直線の傾きθｓを算出していたが、これに限らない。例えば、図２７Ａのように、まず、Ａ画素領域から基準ラインＳの左端近傍の座標ｙｇを算出する。そして、ｙｇを基準に、Ｂ画素領域とＣ画素領域を設定し、基準ラインＳの中央部と右端近傍の座標を算出する。そして、３つの座標（Ａ，Ｂ，Ｃ）の近似直線を算出し、近似直線の傾きを画像の傾きとしてもよい。
【０１３５】
また、前述の実施形態では、基準パターンの傾き検出方法として、始めに基準ラインの中央部の座標を算出してから、中央部の座標を基準に、左右端の座標を算出するための画素領域を設定していたが、これに限らない。例えば、図２７Ｂに示すように、始めに基準ラインＳの左端の座標ｙｇ（基準点）を算出し、ｙｇを基準に、基準ラインＳの中央部の座標（第１点）を算出するためのＢ画素領域を設定する。そして、基準ラインＳの中央部の座標ｙｈを算出し、ｙｈを基準に、基準ラインＳの右端の座標（第２点）を算出するためのＤ画素領域を設定する。そうして、算出された基準ラインＳの左右端の座標から基準ラインＳの傾きを算出してもよい。
【０１３６】
〈液体吐出装置について〉
前述の実施形態では、液体吐出装置として、インクジェット方式のプリンタを例に挙げたがこれに限らない。例えば、液体吐出装置であれば、プリンタ（印刷装置）ではなく、カラーフィルター製造装置、有機ＥＬディスプレイ製造装置や半導体製造装置等であっても、本件発明を適用することができる。
【０１３７】
〈ライン検出方法について〉
前述の実施形態では、スキャナで読み取った画像から基準ライン上の点を検出し、基準ラインの傾きを算出していたが、これに限らない。  
例えば、パターンをスキャナで読み取り、その画像からあるラインの両端の点を検出し、ラインの長さを算出する。そして、パターン上のラインの長さと画像上のラインの長さとの差からスキャナによる読み取り誤差を算出してもよい。  
他に、移動方向に沿った直線のラインのパターンをスキャナで読み取り、画像からライン上の点として複数の点を検出する。その複数の点の搬送方向へのばらつき具合から、スキャナで読み取った際に生じるラインのうねりを算出してもよい。
【０１３８】
〈ラインの座標について〉
前述の実施形態では、ラインに対応する単位領域を演算範囲として、重心位置を算出し、その重心位置を基準ラインのｙ方向の位置としていたが、これに限らない。例えば、ラインに対応する単位領域のうちの最高階調値を示す単位領域のｙ方向の位置を基準ラインのｙ方向の位置としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１３９】
【図１】本実施形態のプリンタの全体構成ブロック図である。
【図２】図２Ａはプリンタの全体構成の概略図であり、図２Ｂはプリンタの全体構成の断面図である。
【図３】搬送ユニットの構成の説明図である。
【図４】ヘッドの下面におけるノズルの配列を示す説明図である。
【図５】図５Ａは設計上の搬送ローラの断面図であり、図５Ｂは搬送ローラがつぶれて断面が楕円形状になってしまった搬送ローラの断面図であり、図５Ｃは搬送ローラの回転中心が円の中心からずれてしまった搬送量ローラの断面図であり、図５Ｄは設計上の搬送ローラと設計上の搬送ローラよりも１回り大きい搬送ローラの断面図である。
【図６】搬送誤差補正のフロー図である。
【図７】搬送誤差補正を行う時のシステム構成図である。
【図８】テストシートとヘッドの位置関係を示している。
【図９】図９Ａはスキャナの縦断面図であり、図９Ｂは上蓋を外した状態のスキャナの上面図である。
【図１０】図１０Ａは基準シートの説明図であり、図１０Ｂは原稿台ガラスにテストシートと基準シートをセットした様子を上から見た図である。
【図１１】補正値算出処理のフロー図である。
【図１２】図１２Ａはスキャナから取得した画像データの示す画像が描かれており、図１２Ｂは分割された画像が描かれている。
【図１３】図１３Ａは測定用パターンの画像から取り出す第１画素領域と第２画素領域の範囲を示す図であり、図１３Ｂは単位領域ごとの平均階調値を示す図である。
【図１４】図１４Ａは基準パターンの画像から取り出す第３画素領域と第４画素領域の範囲を示す図であり、図１４Ｂは単位領域ごとの平均階調値を示す図である。
【図１５】比較例において間違って算出された傾きを示す図である。
【図１６】図１６Ａは基準パターンの画像から始めに取り出す第５画像領域の範囲を示す図であり、図１６Ｂは第５画素領域内の単位領域ごとの平均階調値を示す図である。
【図１７】図１７Ａは基準パターンの画像から第５画素領域の次に取り出す第６画素領域と第７画素領域の範囲を示す図であり、図１７Ｂは第６画素領域と第７画素領域の単位領域ごとの平均階調値を示す図である。
【図１８】図１８Ａは基準パターンの画像から始めに取り出す第３画素領域の範囲を示す図であり、図１８Ｂは第３画素領域内の単位領域ごとの平均階調値を示す図である。
【図１９】図１９Ａは基準パターンの画像から第３画素領域の次に取り出す第８画素領域の範囲を示す図であり、図１９Ｂは第８画素領域内の単位領域ごとの平均階調値を示す図である。
【図２０】使用例１と使用例２の基準パターンの傾き検出方法の概略を示す図である。
【図２１】測定用パターンの印刷時の傾き検出の様子の説明図である。
【図２２】余白量Ｘの説明図である。
【図２３】図２３Ａは測定用パターンのラインの重心位置を算出する際に用いられる画像の範囲の説明図であり、図２３Ｂは測定用パターンのラインの重心位置の算出の説明図である。
【図２４】基準パターンのラインと測定用パターンのラインの位置関係を示している。
【図２５】測定用パターンのラインと補正値との関係の説明図である。
【図２６】図２６Ａは第１のケースの補正値の説明図であり、図２６Ｂは第２のケースの補正値の説明図であり、図２６Ｃは第３のケースの補正値の説明図であり、図２６Ｄは第４のケースの補正値の説明図である。
【図２７】図２７Ａ及び図２７Ｂは、前述の実施形態とは異なる画像の傾き検出方法を示す図である。
【符号の説明】
【０１４０】
１  プリンタ、
１０  搬送ユニット、１１  給紙ローラ、１２  搬送モータ、１３  搬送ローラ、
１４  プラテン、１５  排紙ローラ、１６  従動ローラ、１７  従動ローラ、
２０  キャリッジユニット、２１  キャリッジ、２２  キャリッジモータ、
３０  ヘッドユニット、３１  ヘッド、
４０  検出器群、４１  リニア式エンコーダ、４２  ロータリー式エンコーダ、
４３  紙検出センサ、４４  光学センサ、４２１  スケール、４２２  検出部、
５０  コントローラ、５１インターフェース部、５２  ＣＰＵ、５３  メモリ、
５４  ユニット制御回路、６０  コンピュータ、
７０  スキャナ、７１  上蓋、７２  原稿、７３  原稿台ガラス、
７４  読取キャリッジ、７５  案内部、７６  移動機構、
７７  露光ランプ、７８  ラインセンサ、７９  光学系、
ＴＳ  テストシート、ＳＳ  基準シート
【図１】
2008124761.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2008124761.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
2008124761.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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