(57)【要約】【課題】可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能な遅延時間測定方法及びこれを用いた遅延時間測定装置を実現する。【解決手段】可変遅延回路の遅延時間測定方法であって、一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子に出力し、切り替え信号がローレベルの時に可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、フリップフロップの出力信号の電圧値を測定し、電圧値から第１の遅延時間と第２の遅延時間の差を求める。【選択図】  図１
2008008657.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
可変遅延回路の遅延時間測定方法であって、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子に出力し、
前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、
前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定し、
前記電圧値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求める
ことを特徴とする遅延時間測定方法。
【請求項２】
可変遅延回路の遅延時間測定方法であって、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、
前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのセット信号入力端子に出力し、
前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定し、
前記電圧値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求める
ことを特徴とする遅延時間測定方法。
【請求項３】
可変遅延回路の遅延時間測定方法であって、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子に出力し、
前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、
前記フリップフロップの出力信号を測定して第１の電圧値とし、
前記切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子に出力し、
前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、
前記フリップフロップの出力信号を測定して第２の電圧値とし、
前記第１の電圧値と前記第２の電圧値の差の値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求める
ことを特徴とする遅延時間測定方法。
【請求項４】
可変遅延回路の遅延時間測定方法であって、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、
前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのセット信号入力端子に出力し、
前記フリップフロップの出力信号を測定して第１の電圧値とし、
前記切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、
前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのセット信号入力端子に出力し、
前記フリップフロップの出力信号を測定して第２の電圧値とし、
前記第１の電圧値と前記第２の電圧値の差の値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求める
ことを特徴とする遅延時間測定方法。
【請求項５】
可変遅延回路を有する遅延時間測定装置において、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号により経路を切り替えて第１の遅延設定信号若しくは第２の遅延設定信号を出力する第１の経路切替器と、
この第１の経路切替器の出力信号により第１の遅延時間若しくは第２の遅延時間が設定されると共に入力信号を前記第１の遅延時間若しくは前記第２の遅延時間遅延させて出力する前記可変遅延回路と、
前記切り替え信号により経路を切り替えて前記可変遅延回路の出力信号をセット信号若しくはリセット信号として出力する第２の経路切替器と、
前記セット信号によりハイレベルを出力し前記リセット信号によりローレベルを出力するフリップフロップと、
前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定する電圧計とを備え、
前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記電圧計の測定値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求める
ことを特徴とする遅延時間測定装置。
【請求項６】
可変遅延回路を有する遅延時間測定装置において、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号により経路を切り替えて第１の遅延設定信号若しくは第２の遅延設定信号を出力する第１の経路切替器と、
この第１の経路切替器の出力信号により第１の遅延時間若しくは第２の遅延時間が設定されると共に入力信号を前記第１の遅延時間若しくは前記第２の遅延時間遅延させて出力する前記可変遅延回路と、
前記切り替え信号により経路を切り替えて前記可変遅延回路の出力信号をセット信号若しくはリセット信号として出力する第２の経路切替器と、
前記セット信号によりハイレベルを出力し前記リセット信号によりローレベルを出力するフリップフロップと、
前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定する電圧計とを備え、
前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記電圧計の測定値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求める
ことを特徴とする遅延時間測定装置。
【請求項７】
可変遅延回路を有する遅延時間測定装置において、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号により経路を切り替えて第１の遅延設定信号若しくは第２の遅延設定信号を出力する第１の経路切替器と、
この第１の経路切替器の出力信号により第１の遅延時間若しくは第２の遅延時間が設定されると共に入力信号を前記第１の遅延時間若しくは前記第２の遅延時間遅延させて出力する前記可変遅延回路と、
前記切り替え信号により経路を切り替えて前記可変遅延回路の出力信号をセット信号若しくはリセット信号として出力する第２の経路切替器と、
前記セット信号によりハイレベルを出力し前記リセット信号によりローレベルを出力するフリップフロップと、
前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定する電圧計とを備え、
前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記電圧計の測定値を第１の電圧値とし、
前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記電圧計の測定値を第２の電圧値とし、
前記第１の電圧値と前記第２の電圧値の差の値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求める
ことを特徴とする遅延時間測定装置。
【請求項８】
可変遅延回路を有する遅延時間測定装置において、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号により経路を切り替えて第１の遅延設定信号若しくは第２の遅延設定信号を出力する第１の経路切替器と、
この第１の経路切替器の出力信号により第１の遅延時間若しくは第２の遅延時間が設定されると共に入力信号を前記第１の遅延時間若しくは前記第２の遅延時間遅延させて出力する前記可変遅延回路と、
前記切り替え信号により経路を切り替えて前記可変遅延回路の出力信号をセット信号若しくはリセット信号として出力する第２の経路切替器と、
前記セット信号によりハイレベルを出力し前記リセット信号によりローレベルを出力するフリップフロップと、
前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定する電圧計とを備え、
前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記電圧計の測定値を第１の電圧値とし、
前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記電圧計の測定値を第２の電圧値とし、
前記第１の電圧値と前記第２の電圧値の差の値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求める
ことを特徴とする遅延時間測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＬＳＩ（Large Scale Integration）テスタ等に使用される遅延時間測定方法及びこれを用いた遅延時間測定装置に関し、特に可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能な遅延時間測定方法及びこれを用いた遅延時間測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
可変遅延回路は遅延設定端子に入力される遅延設定信号に応じた遅延時間を発生する回路である。ＬＳＩテスタ等で使用される場合には、可変遅延回路の発生する遅延時間、設定ステップ、設定スパンを校正する必要がある。
【０００３】
従来の遅延時間測定装置に関連する先行技術文献としては次のようなものがある。
【０００４】
【特許文献１】特開平０９−０１８３０２号公報
【特許文献２】特開２００４−１７９９５１号公報
【０００５】
図５はこのような従来の遅延時間測定装置の一例を示す構成ブロック図である。図５において１は信号を発生する信号源、２は信号を遅延させる可変遅延回路、３はオシロスコープ等の時間測定手段である。また、１００は可変遅延回路２に遅延時間を設定する遅延設定信号、１０１は信号源１からの出力信号である信号源出力信号、１０２は可変遅延回路２からの出力信号である可変遅延回路出力信号である。
【０００６】
信号源１の一端は可変遅延回路２の入力端子に接続され、信号源１の他端は接地される。可変遅延回路２の出力端子は時間測定手段３の入力端子に接続され、遅延設定信号１００は可変遅延回路２の遅延設定端子に接続される。
【０００７】
ここで、図５に示す従来例の動作を図６を用いて説明する。図６は従来例の各部の信号のタイミングを示したタイミングチャートである。
【０００８】
遅延設定信号１００により可変遅延回路２に遅延時間”ｔｐｄ１”を設定する。信号源１から出力された信号源出力信号１０１が可変遅延回路２に入力され、可変遅延回路２から出力される可変遅延回路出力信号１０２を時間測定手段３で測定する。
【０００９】
図６に示すように時間測定手段３において、可変遅延回路出力信号１０２は信号源出力信号１０１の立ち上がりエッジから遅延時間”ｔｐｄ１”遅れたパルス波形として観測される。可変遅延回路出力信号１０２のパルス幅はある一定の値が予め設定されている。
【００１０】
同様に、遅延設定信号１００により可変遅延回路２に遅延時間”ｔｐｄ２”を設定する。信号源１から出力された信号源出力信号１０１が可変遅延回路２に入力され、可変遅延回路２から出力される可変遅延回路出力信号１０２を時間測定手段３で測定する。
【００１１】
図６に示すように時間測定手段３において、可変遅延回路出力信号１０２は信号源出力信号１０１の立ち上がりエッジから遅延時間”ｔｐｄ２”遅れたパルス波形として観測される。
【００１２】
以上より、遅延設定信号１００により設定された遅延時間の差”Δｔｐｄ１＝ｔｐｄ２−ｔｐｄ１”が時間測定手段３で測定された値と等しいことを確認する。もし、遅延設定信号１００により設定された遅延時間の差”Δｔｐｄ１”と時間測定手段３で測定された値が等しくない場合には、所望の遅延時間で出力されるように可変遅延回路２を調整する。
【００１３】
この結果、可変遅延回路２に遅延時間”ｔｐｄ１”を設定すると共に可変遅延回路出力信号１０２を時間測定手段３で測定し、可変遅延回路２に遅延時間”ｔｐｄ２”を設定すると共に可変遅延回路出力信号１０２を時間測定手段３で測定し、設定された遅延時間の差”Δｔｐｄ１”と時間測定手段３で測定された値が等しいことを確認する。そして、等しくない場合には、所望の遅延時間で出力されるように可変遅延回路２を調整することにより、可変遅延回路２での遅延時間の設定に対するずれが無くなるので、設定に対して正確に遅延させることが可能になる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかし、図５に示す従来例では、遅延時間の設定ステップが微小な場合にノイズ等による測定誤差を低減するため、時間測定手段３で平均化処理を行うので、測定時間が非常に長くなるという問題があった。
【００１５】
また、図５に示す従来例では、遅延時間測定用の経路と信号を出力する経路を分けるために、実際には、可変遅延回路２と時間測定手段３を結ぶ経路にスイッチ等の部品等が付加される。そして、この経路には高速（高周波）の信号を通過させる必要があり、波形品位を良好に保たなければならないので、経路の回路設計が難しくなり、部品等も高価になるという問題があった。
【００１６】
さらに、図５に示す従来例をＬＳＩテスタで行う場合には、定期校正等に要する時間が非常に長くなるので、ＬＳＩテスタの稼働率が低下し、ＬＳＩテスタの測定対象であるＩＣ（Integrated Circuit）の生産数が低下するという問題があった。従って本発明が解決しようとする課題は、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能な遅延時間測定装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
可変遅延回路の遅延時間測定方法であって、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子に出力し、前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定し、前記電圧値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００１８】
請求項２記載の発明は、
可変遅延回路の遅延時間測定方法であって、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのセット信号入力端子に出力し、前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定し、前記電圧値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００１９】
請求項３記載の発明は、
可変遅延回路の遅延時間測定方法であって、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子に出力し、前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、前記フリップフロップの出力信号を測定して第１の電圧値とし、前記切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子に出力し、前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、前記フリップフロップの出力信号を測定して第２の電圧値とし、前記第１の電圧値と前記第２の電圧値の差の値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００２０】
請求項４記載の発明は、
可変遅延回路の遅延時間測定方法であって、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのセット信号入力端子に出力し、前記フリップフロップの出力信号を測定して第１の電圧値とし、前記切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのリセット信号入力端子に出力し、前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのセット信号入力端子に出力し、前記フリップフロップの出力信号を測定して第２の電圧値とし、前記第１の電圧値と前記第２の電圧値の差の値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００２１】
請求項５記載の発明は、
可変遅延回路を有する遅延時間測定装置において、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号により経路を切り替えて第１の遅延設定信号若しくは第２の遅延設定信号を出力する第１の経路切替器と、この第１の経路切替器の出力信号により第１の遅延時間若しくは第２の遅延時間が設定されると共に入力信号を前記第１の遅延時間若しくは前記第２の遅延時間遅延させて出力する前記可変遅延回路と、前記切り替え信号により経路を切り替えて前記可変遅延回路の出力信号をセット信号若しくはリセット信号として出力する第２の経路切替器と、前記セット信号によりハイレベルを出力し前記リセット信号によりローレベルを出力するフリップフロップと、前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定する電圧計とを備え、前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記電圧計の測定値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００２２】
請求項６記載の発明は、
可変遅延回路を有する遅延時間測定装置において、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号により経路を切り替えて第１の遅延設定信号若しくは第２の遅延設定信号を出力する第１の経路切替器と、この第１の経路切替器の出力信号により第１の遅延時間若しくは第２の遅延時間が設定されると共に入力信号を前記第１の遅延時間若しくは前記第２の遅延時間遅延させて出力する前記可変遅延回路と、前記切り替え信号により経路を切り替えて前記可変遅延回路の出力信号をセット信号若しくはリセット信号として出力する第２の経路切替器と、前記セット信号によりハイレベルを出力し前記リセット信号によりローレベルを出力するフリップフロップと、前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定する電圧計とを備え、前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記電圧計の測定値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００２３】
請求項７記載の発明は、
可変遅延回路を有する遅延時間測定装置において、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号により経路を切り替えて第１の遅延設定信号若しくは第２の遅延設定信号を出力する第１の経路切替器と、この第１の経路切替器の出力信号により第１の遅延時間若しくは第２の遅延時間が設定されると共に入力信号を前記第１の遅延時間若しくは前記第２の遅延時間遅延させて出力する前記可変遅延回路と、前記切り替え信号により経路を切り替えて前記可変遅延回路の出力信号をセット信号若しくはリセット信号として出力する第２の経路切替器と、前記セット信号によりハイレベルを出力し前記リセット信号によりローレベルを出力するフリップフロップと、前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定する電圧計とを備え、前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記電圧計の測定値を第１の電圧値とし、前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記電圧計の測定値を第２の電圧値とし、前記第１の電圧値と前記第２の電圧値の差の値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００２４】
請求項８記載の発明は、
可変遅延回路を有する遅延時間測定装置において、
一定周期の繰り返し信号である切り替え信号により経路を切り替えて第１の遅延設定信号若しくは第２の遅延設定信号を出力する第１の経路切替器と、この第１の経路切替器の出力信号により第１の遅延時間若しくは第２の遅延時間が設定されると共に入力信号を前記第１の遅延時間若しくは前記第２の遅延時間遅延させて出力する前記可変遅延回路と、前記切り替え信号により経路を切り替えて前記可変遅延回路の出力信号をセット信号若しくはリセット信号として出力する第２の経路切替器と、前記セット信号によりハイレベルを出力し前記リセット信号によりローレベルを出力するフリップフロップと、前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定する電圧計とを備え、前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記電圧計の測定値を第１の電圧値とし、前記切り替え信号がハイレベルの時に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記リセット信号を出力させ、前記切り替え信号がローレベルの時に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記セット信号を出力させ、前記電圧計の測定値を第２の電圧値とし、前記第１の電圧値と前記第２の電圧値の差の値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば次のような効果がある。
請求項１、請求項２、請求項５及び請求項６の発明によれば、一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子、若しくは、リセット信号入力端子に出力し、前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのリセット信号入力端子、若しくは、セット信号入力端子に出力し、前記フリップフロップの出力信号の電圧値を測定し、前記電圧値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、この電圧値が可変遅延回路に設定される遅延時間の差に比例するので、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００２６】
請求項３、請求項４、請求項７及び請求項８の発明によれば、一定周期の繰り返し信号である切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子、若しくは、リセット信号入力端子に出力し、前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのリセット信号入力端子、若しくは、セット信号入力端子に出力し、前記フリップフロップの出力信号を測定して第１の電圧値とし、前記切り替え信号がハイレベルの時に前記可変遅延回路に前記第２の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号をフリップフロップのセット信号入力端子、若しくは、リセット信号入力端子に出力し、前記切り替え信号がローレベルの時に前記可変遅延回路に前記第１の遅延時間を設定すると共に前記可変遅延回路の出力信号を前記フリップフロップのリセット信号入力端子、若しくは、セット信号入力端子に出力し、前記フリップフロップの出力信号を測定して第２の電圧値とし、前記第１の電圧値と前記第２の電圧値の差の値から前記第１の遅延時間と前記第２の遅延時間の差を求めることにより、この電圧値が可変遅延回路に設定される遅延時間の差に比例し、経路による誤差が取り除かれるので、可変遅延回路に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明に係る遅延時間測定装置の一実施例を示す構成ブロック図である。
【００２８】
図１において１，２，１０１及び１０２は図５と同一符号を付してあり、４及び７は経路切替器、５はセット及びリセット機能を有するフリップフロップ、６は電圧計である。また、１０３は経路切替器４及び経路切替器７の経路を切り替える切り替え信号、１０４及び１０５は可変遅延回路２の遅延時間を設定する遅延設定信号である。
【００２９】
また、１０６はフリップフロップ５をセットするセット信号、１０７はフリップフロップ５をリセットするリセット信号、１０８はフリップフロップ５からの出力信号である。
【００３０】
信号源１の一端は可変遅延回路２の入力端子に接続され、信号源１の他端は接地される。可変遅延回路２の出力端子は経路切替器４の第１の入力端子に接続され、経路切替器４の第２の入力端子及び第３の入力端子はローレベルの電圧源”ＶＬ”に接続される。
【００３１】
遅延設定信号１０４は経路切替器７の第１の入力端子に接続され、遅延設定信号１０５は経路切替器７の第２の入力端子に接続される。経路切替器７の出力端子は可変遅延回路２の遅延設定端子に接続され、切り替え信号１０３は経路切替器４の切り替え信号入力端子及び経路切替器７の切り替え信号入力端子にそれぞれ接続される。
【００３２】
また、経路切替器４の第１の出力端子はフリップフロップ５のセット信号入力端子に接続され、経路切替器４の第２の出力端子はフリップフロップ５のリセット信号入力端子に接続される。フリップフロップ５の出力端子は電圧計６の一端に接続され、電圧計６の他端は接地される。
【００３３】
ここで、図１に示す実施例の動作を図２を用いて説明する。図２は実施例の各部の信号のタイミングを示したタイミングチャートである。信号源出力信号１０１は一定周期の繰り返し信号であり、切り替え信号１０３は信号源出力信号１０１に同期しており、信号源出力信号１０１の２倍周期の繰り返し信号である。
【００３４】
図２の実施例では遅延設定信号１０４は遅延時間が”ｔｐｄ３”のデータであり、遅延設定信号１０５は遅延時間が”ｔｐｄ４”のデータである。
【００３５】
切り替え信号１０３がハイレベルの時には、経路切替器４の経路は第１の出力端子が第１の入力端子に接続され、第２の出力端子が第２の入力端子に接続される。すなわち、可変遅延回路２の出力端子はフリップフロップ５のセット信号入力端子に接続され、フリップフロップ５のリセット信号入力端子は接地される。
【００３６】
また、経路切替器７の経路は出力端子が第１の入力端子に接続、すなわち、遅延設定信号１０４が可変遅延回路２の遅延設定端子に接続される。
【００３７】
そして、可変遅延回路２の遅延時間は遅延設定信号１０４のデータ、すなわち、遅延時間”ｔｐｄ３”が設定されるので、可変遅延回路出力信号１０２は信号源出力信号１０１の立ち上がりエッジから遅延時間”ｔｐｄ３”遅れて出力される。
【００３８】
この可変遅延回路出力信号１０２が経路切替器４を経由してセット信号１０６としてフリップフロップ５のセット信号入力端子に入力され、このセット信号１０６の立ち上がりエッジのタイミングで出力信号１０８がハイレベルを出力する。
【００３９】
一方、切り替え信号１０３がローレベルの時には、経路切替器４の経路は第１の出力端子が第３の入力端子に接続され、第２の出力端子が第１の入力端子に接続される。すなわち、可変遅延回路２の出力端子はフリップフロップ５のリセット信号入力端子に接続され、フリップフロップ５のセット信号入力端子は接地される。
【００４０】
また、経路切替器７の経路は出力端子が第２の入力端子に接続、すなわち、遅延設定信号１０５が可変遅延回路２の遅延設定端子に接続される。
【００４１】
そして、可変遅延回路２の遅延時間は遅延設定信号１０５のデータ、すなわち、遅延時間”ｔｐｄ４”が設定されるので、可変遅延回路出力信号１０２は信号源出力信号１０１の立ち上がりエッジから遅延時間”ｔｐｄ４”遅れて出力される。
【００４２】
この可変遅延回路出力信号１０２が経路切替器４を経由してリセット信号１０７としてフリップフロップ５のリセット信号入力端子に入力され、このリセット信号１０７の立ち上がりエッジのタイミングで出力信号１０８がローレベルを出力する。
【００４３】
電圧計６で測定される電圧値”Ｖ１”は、フリップフロップ５の出力ローレベルを”ＶＯＬ”、出力ハイレベルを”ＶＯＨ”、とすると、式（１）で示される。
【００４４】
【数１】
2008008657.tif 000003
【００４５】
出力信号１０８のデューティ比は、出力信号１０８の出力周期を”Ｔ”、出力ハイパルス幅を”ｔｈｐｗ１”とすると、式（２）で示される。
【００４６】
【数２】
2008008657.tif 000004
【００４７】
また、出力ハイパルス幅を”ｔｈｐｗ１”は可変遅延回路２に設定される遅延時間の差”Δｔｐｄ２”とすると、式（３）で示される。
【００４８】
【数３】
2008008657.tif 000005
【００４９】
式（１）、式（２）及び式（３）より、電圧計６で測定される電圧値”Ｖ１”は式（４）で示される。
【００５０】
【数４】
2008008657.tif 000006
【００５１】
式（４）より、電圧値”Ｖ１”は可変遅延回路２に設定される遅延時間の差”Δｔｐｄ２”に比例するので、相対的な遅延時間を電圧値で知ることができる。
【００５２】
この結果、可変遅延回路２に設定される遅延時間を切り替え信号１０３のレベルにより経路切替器７で切り替えると共に可変遅延回路出力信号１０２を経路切替器４で切り替えてフリップフロップ５のセット信号入力端子、若しくは、リセット信号入力端子に入力し、フリップフロップ５からの出力信号１０８を電圧計６で測定することにより、電圧値”Ｖ１”が可変遅延回路２に設定される遅延時間の差”Δｔｐｄ２”に比例するので、可変遅延回路２に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００５３】
図３及び図４は可変遅延回路２からフリップフロップ５までの経路に誤差を含む場合のタイミングチャートである。図３及び図４に示す実施例の動作は図２の実施例とほぼ同一であり、異なる点は出力信号１０８に経路差による誤差”ｔｅｒｒ”を含んでいることである。
【００５４】
また、図３においては遅延設定信号１０４は遅延時間が”ｔｐｄ５”のデータであり、遅延設定信号１０５は遅延時間が”ｔｐｄ６”のデータである。図４においては遅延設定信号１０４は遅延時間が”ｔｐｄ６”のデータであり、遅延設定信号１０５は遅延時間が”ｔｐｄ５”のデータである。
【００５５】
図３及び図４に示す実施例の場合には、可変遅延回路２の出力からフリップフロップ５のリセット信号入力端子までの経路で誤差”ｔｅｒｒ”を含んでいる。図３の実施例において電圧計６で測定される電圧値”Ｖ２”は、可変遅延回路２に設定される遅延時間の差”Δｔｐｄ３”を式（５）のように定義すると、式（６）で示される。
【００５６】
【数５】
2008008657.tif 000007
【００５７】
【数６】
2008008657.tif 000008
【００５８】
同様に、図４の実施例において電圧計６で測定される電圧値”Ｖ３”は、可変遅延回路２に設定される遅延時間の差”Δｔｐｄ４”を式（７）のように定義すると、式（８）で示される。
【００５９】
【数７】
2008008657.tif 000009
【００６０】
【数８】
2008008657.tif 000010
【００６１】
ここで、電圧計６で測定される電圧値から経路による誤差”ｔｅｒｒ”を取り除くために、式（９）に示すように電圧値”Ｖ２”から電圧値”Ｖ３”を差し引いて”２”で割った電圧を求める。
【００６２】
【数９】
2008008657.tif 000011
【００６３】
式（９）は経路による誤差”ｔｅｒｒ”が取り除かれているので、誤差”ｔｅｒｒ”の影響を受けることなく、相対的な遅延時間を電圧値で知ることができる。
【００６４】
この結果、可変遅延回路２に設定される２つの遅延時間を切り替え信号１０３のレベルにより経路切替器７で切り替えると共に可変遅延回路出力信号１０２を経路切替器４で切り替えてフリップフロップ５のセット信号入力端子、若しくは、リセット信号入力端子に入力し、フリップフロップ５からの出力信号１０８を電圧計６で電圧値”Ｖ２”を測定し、可変遅延回路２に設定される２つの遅延時間を入れ替え、同様に電圧値”Ｖ３”を測定する。
【００６５】
そして、電圧値”Ｖ２”及び電圧値”Ｖ３”の差を取ることにより、経路による誤差”ｔｅｒｒ”が取り除かれるので、可変遅延回路２に設定される遅延時間を短時間且つ容易に測定することが可能になる。
【００６６】
なお、図１に示す実施例において経路切替器４は、切り替え信号１０３がハイレベルの時に第１の入力端子と第１の出力端子、第２の入力端子と第２の出力端子をそれぞれ接続し、切り替え信号１０３がローレベルの時に第１の入力端子と第２の出力端子、第３の入力端子と第１の出力端子をそれぞれ接続しているが、必ずしもこのようにする必要は無く、切り替え信号１０３がハイレベルの時に第１の入力端子と第２の出力端子、第３の入力端子と第１の出力端子をそれぞれ接続し、切り替え信号１０３がローレベルの時に第１の入力端子と第１の出力端子、第２の入力端子と第２の出力端子をそれぞれ接続してもよい。
【００６７】
同様に、図１に示す実施例において経路切替器７は、切り替え信号１０３がハイレベルの時に第１の入力端子と出力端子を接続し、切り替え信号１０３がローレベルの時に第２の入力端子と出力端子を接続しているが、必ずしもこのようにする必要は無く、切り替え信号１０３がハイレベルの時に第２の入力端子と出力端子を接続し、切り替え信号１０３がローレベルの時に第１の入力端子と出力端子を接続してもよい。
【００６８】
また、図１に示す実施例においてフリップフロップ５は、セット信号１０６の立ち上がりエッジでハイレベルを出力し、リセット信号１０７の立ち上がりエッジでローレベルを出力しているが、必ずしもこのようにする必要は無く、セット信号１０６の立ち下がりエッジでハイレベルを出力し、リセット信号１０７の立ち下がりエッジでローレベルを出力してもよい。
【００６９】
また、図１に示す実施例において経路切替器４は、切り替え信号１０３がハイレベルの時に第１の入力端子と第１の出力端子、第２の入力端子と第２の出力端子をそれぞれ接続し、切り替え信号１０３がローレベルの時に第１の入力端子と第２の出力端子、第３の入力端子と第１の出力端子をそれぞれ接続しているが、必ずしもこのようにする必要は無く、切り替え信号１０３の立ち上がりエッジ、若しくは、立ち下がりエッジの時に第１の入力端子と第２の出力端子、第３の入力端子と第１の出力端子をそれぞれ接続し、その次の切り替え信号１０３立ち上がりエッジ、若しくは、立ち下がりエッジの時に第１の入力端子と第１の出力端子、第２の入力端子と第２の出力端子をそれぞれ接続するように、切り替え信号１０３の立ち上がりエッジ、若しくは、立ち下がりエッジが来る度に接続を切り替えるようにしてもよい。
【００７０】
同様に、図１に示す実施例において経路切替器７は、切り替え信号１０３がハイレベルの時に第１の入力端子と出力端子を接続し、切り替え信号１０３がローレベルの時に第２の入力端子と出力端子を接続しているが、必ずしもこのようにする必要は無く、切り替え信号１０３の立ち上がりエッジ、若しくは、立ち下がりエッジの時に第２の入力端子と出力端子を接続し、切り替え信号１０３の立ち上がりエッジ、若しくは、立ち下がりエッジの時に第１の入力端子と出力端子を接続するように、切り替え信号１０３の立ち上がりエッジ、若しくは、立ち下がりエッジが来る度に接続を切り替えるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明に係る遅延時間測定装置の一実施例を示す構成ブロック図である。
【図２】実施例の各部の信号のタイミングを示したタイミングチャートである。
【図３】可変遅延回路からフリップフロップまでの経路に誤差を含む場合のタイミングチャートである。
【図４】可変遅延回路からフリップフロップまでの経路に誤差を含む場合のタイミングチャートである。
【図５】従来の遅延時間測定装置の一例を示す構成ブロック図である。
【図６】従来例の各部の信号のタイミングを示したタイミングチャートである。
【符号の説明】
【００７２】
１  信号源
２  可変遅延回路
３  時間測定手段
４，７  経路切替器
５  フリップフロップ
６  電圧計
１００，１０４，１０５  遅延設定信号
１０１  信号源出力信号
１０２  可変遅延回路出力信号
１０３  切り替え信号
１０６  セット信号
１０７  リセット信号
１０８  出力信号
【図１】
2008008657.tif 000012
【図２】
2008008657.tif 000013
【図３】
2008008657.tif 000014
【図４】
2008008657.tif 000015
【図５】
2008008657.tif 000016
【図６】
2008008657.tif 000017