(57)【要約】【課題】第１記録層の内周ＯＰＣ、および第２記録層内周ＯＰＣともに最適な記録パワー値を求めること。【解決手段】  光ピックアップ側から光ディスクの第１記録層の内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録し、その再生信号から求めたテスト記録パワー値毎のアシンメトリ値から得られる記録パワー値特性に応じて内周ＯＰＣでの記録パワー値を決定する。そして、内周ＯＰＣの記録パワー値に基づいて第２記録層の外周試し書き領域にテストデータを記録し、その再生信号からアシンメトリ値を求め、求められたアシンメトリ値と光ディスクの係数に基づいて第２記録層の外周記録パワー値を求める。【選択図】      図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに光ピックアップヘッドを移動してデータの記録又は再生を行う光ピックアップ装置と、
前記光ディスクを回転駆動するスピンドルモータと、
前記光ピックアップ装置および前記スピンドルモータを制御して、前記光ディスクの記録／再生を実行するコントローラとを有し、
前記コントローラは、前記光ディスクの内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録しその再生信号に基づいて内周記録パワー値を決定し、前記内周記録パワー値によって外周試し書き領域にテストデータを記録しその再生信号に基づいて外周記録パワー値を求め、その外周記録パワーを補正して最適な外周記録パワー値を得ることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記光ディスクの種類に応じた係数を格納する記憶装置を更に有し、
前記コントローラは、前記記憶装置から読み出した前記光ディスクの種類に応じた係数と前記内周記録パワー値とを演算して前記外周記録パワーを求めることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ディスクの内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録し、
その再生信号に基づいて内周記録パワー値を決定し、
前記内周記録パワー値によって外周試し書き領域にテストデータを記録し、
その再生信号に基づいて外周記録パワー値を求め、
前記外周記録パワーを補正して最適な外周記録パワー値を得る
ことを特徴とする光ディスク装置の記録パワー値決定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにデータを記録する際に最適な記録パワー値を求めるための光ディスク装置、および記録パワー値決定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクにデータを書き込む場合、レーザ光の照射強度は、書き込まれたデータの信頼性に大きく影響する。従って、書き込まれたデータの信頼性を向上させるために、レーザ光の照射強度（記録パワー値）を制御する必要がある。
【０００３】
記録パワー値を制御するために、光ディスクにデータを書き込む前に、ＯＰＣ（Optimum Power Calibration）を行う。このＯＰＣは、最適な記録パワー値を設定するための制御である。
【０００４】
ＯＰＣでは、光ディスクに設けられたＰＣＡ（Power Calibration Area）に複数の記録パワー値でテストデータを書き込む。書き込まれたテストデータの再生信号から記録パワー値毎にβ値を求める。そして、β値の記録パワー値特性から目標β値となる記録パワー値が求められる。
【０００５】
ところで、従来の最適記録パワーを求めるものとして、２層（ＤＬ）の光ディスク装置にデータを書き込む場合、１層目と２層目と最適記録パワー値が異なるので、それぞれの層で最適記録パワー値を求めるものがある（例えば、特許文献１参照。）。
【特許文献１】特開２００６−１２７５９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に記載された発明では、２つの記録層に対してそれぞれ複数の記録パワー値でテストデータを記録して最適値を求めるために、特に２層目では正しい最適値が得られない場合がある。
【０００７】
本発明の目的は、２層以上の記録層を有する光ディスクに対しデータを書き込むための最適な記録パワー値を求めることが可能な光ディスク装置、および記録パワー値決定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために本発明の光ディスク装置は、光ディスクに光ピックアップヘッドを移動してデータの記録又は再生を行う光ピックアップ装置と、前記光ディスクを回転駆動するスピンドルモータと、前記光ピックアップ装置および前記スピンドルモータを制御して、前記光ディスクの記録／再生を実行するコントローラとを有し、前記コントローラは、前記光ディスクの内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録しその再生信号に基づいて内周記録パワー値を決定し、前記内周記録パワー値によって外周試し書き領域にテストデータを記録しその再生信号に基づいて外周記録パワー値を求め、その外周記録パワーを補正して最適な外周記録パワー値を得ることを特徴とする。
【０００９】
また本発明の光ディスク装置の記録パワー値決定方法は、前記光ディスクの内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録し、その再生信号に基づいて内周記録パワー値を決定し、前記内周記録パワー値によって外周試し書き領域にテストデータを記録し、その再生信号に基づいて外周記録パワー値を求め、前記外周記録パワーを補正して最適な外周記録パワー値を得ることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、２層以上の記録層を有する光ディスクにデータを書き込むための最適な記録パワー値を求めることが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明の実施の形態を以下に図面を参照して説明する。
【００１２】
図１は、本発明の一実施形態に係わる光ディスク装置を示すブロック図である。
【００１３】
光ディスク装置ＯＤＤは、光ディスク１００を回転させるスピンドルモータ（ＳＰＭ）１０１、ピックアップヘッド１０２、ＲＦアンプ１０３、信号検出回路１１１、ＣＰＵ１１２、記録制御回路１１３、エンコーダ１１４，レーザダイオード（ＬＤ）駆動回路１１５，サーボ回路１１６、インターフェース（Ｉ／Ｆ）部１１７、バッファメモリ１１８、β値演算部１１９、特性演算部１２０、メモリ１２１、ピーク検出部１３１、ボトム検出部１３２，及びＡＤ変換器１４１〜１４３等を具備する。なお、ピックアップヘッド１０２は、レーザダイオード、対物レンズ等の光学系、フォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ、フォトディテクタ、及びレンズポジションセンサ等で構成される。
【００１４】
メモリ１２１には、各種プログラムや各種データが記憶される。
【００１５】
スピンドルモータ１０１によって回転する光ディスク１００の記録面には、ピックアップヘッド（ＰＵＨ）１０１のレーザダイオードから出射したレーザビームが照射され、データの記録／再生が行われる。光ディスク１００から反射された反射光は、ピックアップヘッド１０２のフォトディテクタで検出され、電気信号に変換される。
【００１６】
ピックアップヘッド１０２の出力信号は、ＲＦアンプ１０３で増幅される。そして、ＲＦアンプ１０３で増幅された信号は、ＡＤ変換器１４３を介して信号検出回路１１１に入力され、またピーク検出部１３１およびボトム検出部１３２に入力される。
【００１７】
前記信号検出回路１１１では、入力された信号からウォブル成分を抽出する。信号検出回路１１１は、抽出されたウォブル成分に基づいて、レーザビームが照射される光ディスク１００のトラックアドレスを検出し、検出されたアドレスをＣＰＵ１１２に出力する。ＣＰＵ１１２は、入力されたアドレスから光ディスク１００の径方向の記録位置を認識し、記録位置に対応する制御信号を記録制御回路１１３に出力する。
【００１８】
また、ホストコンピュータＰＣから順次与えられるデータＤ１がインターフェース部１１７を介して内部に取り込まれ、バッファメモリ１１８に順次格納される。エンコーダ１１４は、バッファメモリ１１８に格納されたデータを光ディスクのフォーマットに従って、例えばＣＤであればＥＦＭ変調（Eight Fourteen Modulation）方式に基づき変調し、変調された信号を記録制御回路１１３に出力する。
【００１９】
記録制御回路１１３は、エンコーダ１１４からの変調信号及びＣＰＵ１１２からの制御信号に基づいて、レーザダイオード駆動回路１１５及びサーボ回路１１６に駆動制御信号を出力する。サーボ回路１１６は、スピンドルモータ１０１の回転を制御すると共に、ピックアップヘッド１０２の位置を適正な位置に設定する。レーザダイオード駆動回路１１５は、駆動制御信号に基づいてピックアップヘッド１０２のレーザダイオードに通電し、レーザダイオードから光ディスク１００に対してレーザビームを照射する。
【００２０】
図１に示した光ディスク装置ＯＤＤで、光ディスク１００にデータを記録するときのＯＰＣ（Optimum Power Calibration）の処理手順を、図２のフローチャートを参照して説明する。
【００２１】
先ず、ＣＰＵ１１２は、ホストコンピュータＰＣから送られた記録コマンドの指定する値に従って記録速度を記録制御回路１１３に通知する。次いで、ＣＰＵ１１２は、データを記録する光ディスク１００のリードインエリアに記録されているＩＤナンバおよび総数情報を取得し、ＩＤナンバから光ディスク１００の種類を判別する（ステップＳ１１）。
【００２２】
次に、ＣＰＵ１１２は、メモリ１２１に記憶されているテーブルから記録速度に応じたスタート記録パワー値とステップ値を取得し、第１記録層（Ｌ０）の内周ＰＣＡ（Power Calibration Area：試し書き領域）でのテスト記録パワー値を決定する（ステップＳ１２）。
【００２３】
ＣＰＵ１１２は、選択されたスタート記録パワー値からステップ値単位で記録パワー値を１５段階変化させて、光ディスク１００の第１記録層の内周ＰＣＡ（試し書き領域）にテストデータを記録する（ステップＳ１３）。
【００２４】
次に、光ディスク１００の第１記録層の内周ＰＣＡに記録されたテストデータを再生する（ステップＳ１４）。再生時、ピックアップヘッド１０２で受光した光ディスク１００からの反射光に対応したＲＦ信号がＲＦアンプ１０３に入力される。ＲＦアンプ１０３は入力されたＲＦ信号を増幅し、その増幅されたＲＦ信号は、ピーク検出部１３１およびボトム検出部１３２に入力される。
【００２５】
そしてピーク検出部１３１は、ＲＦ信号のピーク値を検出してＡＤ変換器１４１に供給する。ＡＤ変換器１４１は、供給されたピーク値（Ａ）をデジタル信号に変換して、β値演算部１１９に供給する。同様に、ボトム検出部１３２は、ＲＦ信号のボトム値（Ｂ）を検出してＡＤ変換器１４２に供給する。ＡＤ変換器１４２は、供給されたボトム値（Ｂ）をデジタル信号に変換して、β値演算部１１９に供給する。β値演算部１１９は、１５段階の記録パワー値毎にβ値（アシンメトリ値）を演算する（ステップＳ１５）。
【００２６】
即ち、β値演算部１１９は、入力されたピーク値（Ａ）、ボトム値（Ｂ）に応じて記録パワー値毎にβ値を演算し、結果を特性演算部１２０に供給する。β値は、次式を用いて計算される。
【００２７】
β＝（Ａ＋Ｂ）／（Ａ−Ｂ）
次に、特性演算部１２０は、記録パワー値毎に求められたβ値から、β値の記録パワー値特性を演算する（ステップＳ１６）。特性演算部１２０は、特性として、記録パワー値とβ値との関係を示す近似式を演算し、その近似式をＣＰＵ１１２に供給する。
【００２８】
ＣＰＵ１１２は、メモリ１２１に記録されている記録速度に応じた目標β値を読み出し、供給された近似式を用いて内周ＯＰＣでの最適な内周記録パワー値を決定する（ステップＳ１７）。決定された内周記録パワー値は、メモリ１２１に格納されると共に、記録制御回路１１３に供給される。
【００２９】
次にＣＰＵ１１２は、ステップＳ１１で取得した光ディスク１００の種類から光ディスク１００が記録層が２層（ＤＬ）であるか否かを判別する（ステップＳ１８）。
【００３０】
記録層が２層であると判別した場合（ステップＳ１８のＹｅｓ）、ＣＰＵ１１２は第２記録層での外周ＯＰＣを実行する。以下に第２記録層での外周ＯＰＣの処理を説明する。
【００３１】
まずＣＰＵ１１２は、メモリ１２１に予め定められたディスク種類に応じた係数を読み出す。読み出した係数と、ステップＳ１０５で決定された第１記録層の内周記録パワー値とを演算（乗算）し、その演算結果を第２記録層でのテスト記録パワー値とする。
【００３２】
ＣＰＵ１１２は、光ディスク１００の第２記録層の外周ＰＣＡ（Power Calibration Area：試し書き領域）にステップＳ１９で決定したテスト記録パワー値を用いてテストデータを記録する（ステップＳ２０）。次に、ＣＰＵ１１２は、第２記録層の外周ＰＣＡに記録されたテストデータを再生する（ステップＳ２１）。そして、第１記録層の内周ＯＰＣと同様にして、β値を算出する（ステップＳ２２）。
【００３３】
ＣＰＵ１１２は、第２記録層の外周ＯＰＣでのテスト記録パワー値およびβ値、並びにステップＳ１６で求めた内周ＯＰＣの近似式から記録状態のずれを補正する補正量を決定する（ステップＳ２３）。
【００３４】
即ち、ＣＰＵ１１２は、前述した内周ＯＰＣの近似式から前記目標β値での傾きを求める。そして、ステップＳ１９で決定された外周ＯＰＣでのテスト記録パワー値とステップＳ２２で算出されたβ値との交点を通り、求められた傾きの１次式を求める。
【００３５】
そして、求めた１次式と目標β値とから最適な外周記録パワー値を決定する（ステップＳ２４）。決定された最適な外周記録パワー値は、メモリ１２１に格納されると共に、記録制御回路１１３に供給される。
【００３６】
図３は、外周ＯＰＣによって得られる第２記録層の記録パワーカーブを示す。図３の実線で示すカーブは、内周ＯＰＣの結果と予めディスク毎に決められたパワーカーブによるディスク各位置における記録パワーである。この実線の記録パワーに外周ＯＰＣによる補正を加え、点線のような記録パワーを変化させることにより、第２記録層に対し高い記録品位で記録を行うことができる。
【００３７】
なお、パワー値βの傾きは、パワーの大小によって変わるが、実施形態ではあらかじめディスク毎に決まった係数とテスト記録パワー値を使って、第２記録層での外周ＯＰＣを行っているため、目標β値付近のパワーになっている。
【００３８】
ステップＳ２４の後、あるいはステップＳ１８で記録層が２層ではないと判別した場合（ステップＳ１８のＮｏ）、データの記録を開始する（ステップＳ２５）。
【００３９】
以上の処理によって第１記録層の内周ＯＰＣ、および第２記録層の外周ＯＰＣともに最適な記録パワー値を求めることができる。第２記録層目の外周ＯＰＣでテストデータを記録するのはステップＳ１９で決定された記録パワー値を用いた１回であり、光ディスクの温度上昇を抑制することができる。その結果、第１記録層、第２記録層ともに最適な記録パワー値を求めることができる
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】発明の一実施形態に係わる光ディスク装置の概略を示すブロック図。
【図２】実施形態の光ディスク装置のＯＰＣの処理手順を示すフローチャート。
【図３】実施形態の外周ＯＰＣによって得られる第２記録層の記録パワーカーブを示す図。
【符号の説明】
【００４１】
１００…光ディスク，１０１…スピンドルモータ，１０２…ピックアップヘッド，１０３…ＲＦアンプ，１１１…信号検出回路，１１２…ＣＰＵ，１１３…記録制御回路，１１４…エンコーダ，１１５…レーザ駆動回路，１１６…サーボ回路，１１７…インターフェース部，１１８…バッファメモリ，１１９…β値演算部，１２０…特性演算部，１２１…メモリ，１３１…ピーク検出部，１３２…ボトム検出部，１４１…ＡＤ変換器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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