(57)【要約】【課題】再生信号のＰＬＬ回路におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することができるようにする。【解決手段】本発明に係る光ディスク装置１においては、特定パターン発生器３６は、光ディスク４２に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生し、評価指標測定回路３５は、発生された特定パターンのテストデータを光ディスク４２に記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生する発生手段と、
前記発生手段により発生された前記特定パターンのテストデータを前記ディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記測定手段により測定された再生信号のアシンメトリに基づいて、前記ディスクにユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを決定する決定手段をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記発生手段によりすべての特定パターンが発生されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によりすべての特定パターンが発生されていないと判定された場合、前記発生手段によりすべての特定パターンが発生されるように制御する制御手段とをさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記特定パターンは、少なくとも２つの異なる符号長により形成されることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項５】
ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生する発生ステップと、
前記発生ステップの処理により発生された前記特定パターンのテストデータを前記ディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定ステップとを含むことを特徴とする光ディスク装置の光ディスク記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置および光ディスク記録再生方法に係り、特に、再生信号のアシンメトリを測定することができるようにした光ディスク装置および光ディスク記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＣＤ（Compact Disc）−Ｒ／ＲＷやＤＶＤ（Digital Versatile Disc）−Ｒ／ＲＷ、ＨＤ（High Definition）−ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷなどの記録可能な光ディスクにデータを記録する際、光ディスクの所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）を変化させてテストデータを試し書きし、試し書きされたテストデータを再生することでそれぞれのディスクに最適な記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）を決定する技術が提案されている。
【０００３】
最適な記録パラメータを決定する技術には、例えば、再生信号のアシンメトリ（非対称性）やジッタを用いて最適な記録パラメータを決定する技術が知られている。
【０００４】
一般的に、記録パラメータを決定する際には、光ディスクにユーザデータを記録する際に用いられるすべての符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）を含むランダムなパターンのテストデータが用いられる。
【０００５】
例えば一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録パラメータを決定する技術が知られている（例えば特許文献１参照）。
【０００６】
特許文献１に提案されている技術によれば、オーバライト可能な光ディスクなどの記録媒体の記録の際に一時記憶メモリの書き込み期間に光ピックアップにテスト信号を供給して記録領域近傍に記録し、これを評価した結果に基づいて光ピックアップのレーザビームの強度を最適化することができる。これにより、相変化型光ディスクなどの記録媒体において最適記録条件で記録することができる。
【特許文献１】特開２００１−２０９９４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
光ディスク装置の中には、アシンメトリを測定するためのアシンメトリ測定回路自体が実装されていない場合もあるが、仮に光ディスク装置内にアシンメトリ測定回路が実装されている場合であっても、一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定するときには、前もって、再生信号に対して周波数検波を行うとともに、再生信号に対して符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）分別を行う必要がある。
【０００８】
ところが、再生信号に対して良好に符号分別を行うには、ＰＬＬ回路において再生信号を良好にロックする（同期させる）ことが必要となる。しかし、光ピックアップの条件変更や記録媒体（メディア）の種類の変更に伴う記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）の調整作業では、調整の初期段階で再生信号がＰＬＬ回路にロック（同期）されない場合が多い。このような場合、再生信号のアシンメトリの測定自体することが困難となってしまうという課題があった。
【０００９】
勿論、再生信号がＰＬＬ回路においてロック（同期）されるまで、ユーザが初期設定される記録パラメータを選ぶようにしてもよいが、このような記録パラメータの選択作業には多くの時間がかかってしまい、効率が悪いだけでなく、ユーザにとって大変煩わしい。
【００１０】
このような課題は、特許文献１に提案されている技術では解決することはできない。
【００１１】
本発明は、このような状況に鑑みてなされてものであり、再生信号のＰＬＬ回路におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することができる光ディスク装置および光ディスク記録再生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の光ディスク装置は、上述した課題を解決するために、ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生する発生手段と、発生手段により発生された特定パターンのテストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定手段とを備えることを特徴とする。
【００１３】
本発明の光ディスク装置の光ディスク記録再生方法は、上述した課題を解決するために、ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生する発生ステップと、発生ステップの処理により発生された特定パターンのテストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定ステップとを含むことを特徴とする。
【００１４】
本発明の光ディスク装置においては、ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンが発生され、発生された特定パターンのテストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリが測定される。
【００１５】
本発明の光ディスク装置の光ディスク記録再生方法においては、ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンが発生され、発生ステップの処理により発生された特定パターンのテストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリが測定される。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、再生信号のＰＬＬ回路におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１８】
図１は、本発明に係る光ディスク装置１の構成を表している。
【００１９】
光ディスク装置１は、例えばＤＶＤ（Digital Versatile Disc）−Ｒ／ＲＷ、ＨＤ（High Definition）−ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷなど情報記録媒体としての光ディスク４２に対して情報の記録及び再生を行う。光ディスク４２は、同心円状または螺旋状に溝が刻まれており、溝の凹部をランド、凸部をグルーブと呼び、グループまたはランドの一周をトラックと呼ぶ。ユーザデータは、このトラック（グルーブのみ、またはグルーブおよびランド）に沿って、強度変調されたレーザ光が照射されて記録マークが形成されることにより光ディスク４２上に記録される。データ再生は、記録時より弱いリードパワー(Read Power)のレーザ光をトラックに沿って照射して、トラック上にある記録マークによる反射光強度の変化を検出することにより行われる。記録されたデータの消去は、リードパワーより強いイレースパワー(Erase Power)のレーザ光をトラックに沿って照射し、記録層を結晶化することにより行われる。
【００２０】
光ディスク４２はスピンドルモータ２によって回転駆動される。スピンドルモータ２に付設されたロータリエンコーダ２ａからスピンドルモータ駆動回路３に回転角信号が出力される。スピンドルモータ２が１回転すると、回転角信号は例えば５パルス発生する。これにより、スピンドルモータ制御回路４は、スピンドルモータ駆動回路３を介してロータリエンコーダ２ａから入力された回転角信号に基づいて、スピンドルモータ２の回転角度および回転数を判定することができる。このスピンドルモータ２はスピンドルモータ制御回路４により制御される。
【００２１】
光ディスク４２に対する情報の記録または再生は、光ピックアップ５によって行われる。光ピックアップ５は、ギア１８およびスクリューシャフト１９を介して送りモータ２０と連結されており、この送りモータ２０は送りモータ駆動回路２１により制御される。送りモータ２０が送りモータ駆動回路２１から供給された送りモータ駆動電流によって回転することで、光ピックアップ５が光ディスク４２の半径方向に移動する。
【００２２】
光ピックアップ５には、図示しないワイヤあるいは板バネによって支持された対物レンズ６が設けられる。対物レンズ６はフォーカスアクチュエータ８の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能であり、また、トラッキングアクチュエータ７の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。
【００２３】
レーザ駆動回路１７は、情報記録時（マーク形成時）に、ホスト装置４３からインタフェース回路４１を介して供給される記録データに基づいて、書き込み用信号をレーザダイオード（レーザ発光素子）９に供給する。また、レーザ駆動回路１７は、情報読取り時に、書き込み信号より小さい読取り用信号をレーザダイオード９に供給する。
【００２４】
フロントモニタ・フォトダイオード１０は、レーザダイオード９が発生するレーザ光の一部をハーフミラー１１により一定比率だけ分岐し、光量すなわち照射パワーに比例した受光信号を検出し、検出された受光信号をレーザ駆動回路１７に供給する。レーザ駆動回路１７はフロントモニタ・フォトダイオード１０から供給された受光信号を取得し、取得された受光信号に基づいて、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３８により予め設定された再生時のレーザパワー（照射パワー）、記録時のレーザパワー、および消去時のレーザパワーで発光するようにレーザダイオード９を制御する。
【００２５】
レーザダイオード９は、レーザ駆動回路１７から供給される信号に応じてレーザ光を発光する。レーザダイオード９から発光されるレーザ光は、コリメータレンズ１２、ハーフプリズム１３、および対物レンズ６を介して光ディスク３９上に照射される。光ディスク４２からの反射光は、対物レンズ６、ハーフプリズム１３、集光レンズ１４、およびシリンドリカルレンズ１５を介して、光検知器１６に導かれる。
【００２６】
光検知器１６は、例えば４分割の光検知セルからなり、検知信号を生成し、生成された検知信号をＲＦアンプ２３に出力する。ＲＦアンプ２３は、光検知器１６からの検知信号を処理し、ジャストフォーカスからの誤差を示すフォーカス誤差信号（ＦＥ）、レーザ光のビームスポット中心とトラック中心との誤差を示すトラッキング誤差信号（ＴＥ）、および検知信号の全加算信号である再生信号（ＲＦ）を生成し、生成されたフォーカス誤差信号（ＦＥ）、トラッキング誤差信号（ＴＥ）、および再生信号（ＲＦ）をＡ／Ｄ変換器３０に供給する。
【００２７】
フォーカス制御回路２５は、ＲＦアンプ２３からＡ／Ｄ変換器３０を介して取り込まれたフォーカス誤差信号（ＦＥ）に応じてフォーカス制御信号を生成し、生成されたフォーカス制御信号をフォーカスアクチュエータ駆動回路２４に供給する。フォーカスアクチュエータ駆動回路２４は、フォーカス制御回路２５から供給されたフォーカス制御信号に基づいて、フォーカスアクチュエータ８を駆動するためのフォーカスアクチュエータ駆動電流をフォーカシング方向のフォーカスアクチュエータ８に供給する。これにより、レーザ光が光ディスク４２の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなるフォーカスサーボが行われる。
【００２８】
トラック制御回路２７は、ＲＦアンプ２３からＡ／Ｄ変換器３０を介して取り込まれたトラッキング誤差信号（ＴＥ）に応じてトラッキング制御信号を生成し、生成されたトラッキング制御信号をトラッキングアクチュエータ駆動回路２６に供給する。トラッキングアクチュエータ駆動回路２６は、トラッキング制御回路２７から供給されたトラッキング制御信号に基づいて、トラッキングアクチュエータ７を駆動するためのトラッキングアクチュエータ駆動電流をトラッキング方向のトラッキングアクチュエータ７に供給する。これにより、レーザ光が光ディスク４２上に形成されたトラック上を常にトレースするトラッキングサーボが行われる。
【００２９】
このようなフォーカスサーボおよびトラッキングサーボがなされることで、光検知器１６（各光検知セル）からの検知信号の全加算信号である再生信号（ＲＦ）には、記録情報に対応して光ディスク４２のトラック上に形成されたピットなどからの反射光の変化が反映される。この再生信号は微弱なアナログ信号であり、ＲＦアンプ２３により増幅されて、Ａ／Ｄ変換器３０において一定周波数でサンプリングされた後、データ再生回路３１に供給される。データ再生回路３１は、Ａ／Ｄ変換器３０から供給される再生信号に応じて１もしくは０の２値化信号を生成し、生成された２値化信号を等化器３２に出力する。また、データ再生回路３１は、２値化信号を等化器３２に出力すると同時に、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路２９から供給される再生クロック信号と、この２値化信号との位相差をＰＬＬ位相比較信号として生成し、生成されたＰＬＬ位相比較信号をＰＬＬ回路２９に出力する。
【００３０】
等化器３２は、任意のＰＲ特性を用いて、データ再生回路３１から入力された２値化再生信号を任意のＰＲ特性に近い等化再生信号に変換し、変換された等化再生信号を評価指標測定回路３５に出力する。
【００３１】
評価指標測定回路３５は、等化器３２からそれぞれ入力された等化再生信号に基づいて、再生信号の評価指標として例えばＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal to Noise Ratio）やＳｂＥＲ（Simulated Bit Error Rate）、アシンメトリなどを算出し、算出されたＰＲＳＮＲやＳｂＥＲ、アシンメトリなどに関するデータをバス３７を介してＣＰＵ３８に供給する。
【００３２】
ＣＰＵ３８は、ＲＦアンプ２３から出力された後にＡ／Ｄ変換器３０を介してディジタル信号に変換されたフォーカス誤差信号（ＦＥ）およびトラッキング誤差信号（ＴＥ）などのディジタル信号に種々の演算処理を施し、スピンドルモータ制御回路４、送りモータ制御回路２２、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７の制御を行う。
【００３３】
特定パターン発生器３６は、ＣＰＵ３８の制御に従い、光ディスク４２に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）により形成される特定パターンを発生し、発生された特定パターンをＣＰＵ３８に供給する。その後、ＣＰＵ３８は、特定パターン発生器３６から供給された特定パターンを取得し、取得された特定パターンに基づいて特定パターンのテストデータを生成するとともに、レーザ駆動回路１７を制御するためのレーザ制御信号を生成し、生成されたレーザ制御信号とともに特定パターンのテストデータをレーザ駆動回路１７に出力する。
【００３４】
また、レーザ駆動回路１７、ＰＬＬ回路２９、Ａ／Ｄ変換器３０、エラー訂正回路３４、および特定パターン発生器３６などは、バス３７を介してＣＰＵ３８によって制御される。ＣＰＵ３８は、インタフェース回路４１を介してホスト装置４３から供給される動作コマンドに従うとともに、ＲＯＭ（Read Only Memory）３９に記憶されているプログラムおよびＲＯＭ３９からＲＡＭ（Random Access Memory）４０にロードされたプログラムに従って各種の処理を実行し、種々の制御信号を生成し、各部に供給することにより光ディスク装置１を統括的に制御する。
【００３５】
ところで、光ディスク装置１の中には、アシンメトリを測定するためのアシンメトリ測定回路（すなわち、評価指標測定回路３５）自体が実装されていない場合もあるが、アシンメトリ測定回路が光ディスク装置１に実装されている場合には、すべての符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）を含む一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定するときには、例えば図２に示されるようにテストデータに含まれる各符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）のアシンメトリが測定される。
【００３６】
図２の例の場合、［数１］に従い、２Ｔ（２Ｔマークおよび２Ｔスペース）のアシンメトリが測定される。  
［数１］
２Ｔアシンメトリ
＝{（Ｉ１１Ｈ＋Ｉ１１Ｌ）／２−（Ｉ２Ｈ＋Ｉ２Ｌ）／２}／（Ｉ１１Ｈ−Ｉ１１Ｌ）
ここで、Ｉ１１Ｈはテストデータに含まれる１１Ｔマークの再生信号レベル、Ｉ１１Ｌはテストデータに含まれる１１Ｔスペースの再生信号レベル、Ｉ２Ｈはテストデータに含まれる２Ｔマークの再生信号レベル、および、Ｉ２Ｌはテストデータに含まれる２Ｔスペースの再生信号レベルを示している。
【００３７】
また、図２の例の場合、［数２］に従い、３Ｔ（３Ｔマークおよび３Ｔスペース）のアシンメトリが測定される。  
［数２］
３Ｔアシンメトリ
＝{（Ｉ１１Ｈ＋Ｉ１１Ｌ）／２−（Ｉ３Ｈ＋Ｉ３Ｌ）／２}／（Ｉ１１Ｈ−Ｉ１１Ｌ）
ここで、Ｉ１１Ｈはテストデータに含まれる１１Ｔマークの再生信号レベル、Ｉ１１Ｌはテストデータに含まれる１１Ｔスペースの再生信号レベル、Ｉ３Ｈはテストデータに含まれる３Ｔマークの再生信号レベル、および、Ｉ３Ｌはテストデータに含まれる３Ｔスペースの再生信号レベルを示している。
【００３８】
しかし、仮に光ディスク装置１内にアシンメトリ測定回路が実装されている場合であっても、一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定するときには、前もって、再生信号に対して周波数検波を行うとともに、再生信号に対して符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）分別を行う必要がある。
【００３９】
ところが、再生信号に対して良好に符号分別を行うには、ＰＬＬ回路２９において再生信号を良好にロックする（同期させる）ことが必要となる。しかし、光ピックアップ５の条件変更や記録媒体（メディア）の種類の変更に伴う記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）の調整作業では、調整の初期段階で再生信号がＰＬＬ回２９路にロック（同期）されない場合が多い。このような場合、再生信号のアシンメトリの測定自体することが困難となってしまう。
【００４０】
勿論、再生信号がＰＬＬ回路２９においてロック（同期）されるまで、ユーザが初期設定される記録パラメータを選ぶようにしてもよいが、このような記録パラメータの選択作業には多くの時間がかかってしまい、効率が悪いだけでなく、ユーザにとって大変煩わしい。
【００４１】
そこで、例えば図３に示されるように、２つの符号長ｘＴとｙＴ（最短符号長≦ｘ、ｙ≦最長符号長）に関してすべての符号間干渉を含み、かつ、ＤＳＶ（Digital Sum Value）が０となる特定パターンを発生し、発生された特定パターンのテストデータを光ディスク４２に記録した後、記録された特定パターンのテストデータを再生し、その再生信号のアシンメトリを測定するようにする。
【００４２】
なお、２つの符号長ｘＴとｙＴにより形成される特定パターンには、図３の特定パターンＡ乃至Ｄに示されるように複数個（４つ）の同位体が存在し、２つの符号長ｘＴとｙＴにより特定パターンを形成する場合には３連続以上の符号間干渉を考慮していないため、４つの同位体の特定パターンの間で多少なりともアシンメトリに分散が生じる。そのため、４つの特定パターンのテストデータを用いてアシンメトリを測定した後、測定された４つのアシンメトリの平均値を算出するようにする。
【００４３】
これにより、再生信号に対して符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）分別を行う必要がなくなり、再生信号のＰＬＬ回路２９におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することが可能となる。
【００４４】
以下、この方法を用いた記録パラメータ決定処理について説明する。
【００４５】
図４のフローチャートを参照して、図１の光ディスク装置１における記録パラメータ決定処理について説明する。この記録パラメータ決定処理は、ユーザにより光ディスク装置１に光ディスク４２が挿入され、ホスト装置４３の図示せぬ操作部が操作されることにより記録処理を開始するとの指示がなされることで光ディスク４２にユーザデータを記録する際に、予め開始される。
【００４６】
ステップＳ１において、ＣＰＵ３８は、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いる記録パラメータ（例えば記録パワーやライト・ストラテジなど）の初期値をＲＯＭ３９から読み出し、読み出された記録パラメータの初期値に基づいて、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを初期設定する。
【００４７】
ステップＳ２において、特定パターン発生器３６は、ＣＰＵ３８の制御に従い、光ディスク４２に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）により形成される特定パターンを設定するとともに、設定された特定パターンを発生する。具体的には、図３に示されるように、２つの符号長ｘＴとｙＴ（最短符号長≦ｘ、ｙ≦最長符号長）に関してすべての符号間干渉を含み、かつ、ＤＳＶ（Digital Sum Value）が０となる特定パターン（例えば特定パターンＡ乃至Ｄのうち、特定パターンＡなど）が発生される。
【００４８】
特定パターン発生器３６は、発生された特定パターンをＣＰＵ３８に供給する。その後、ＣＰＵ３８は、特定パターン発生器３６から供給された特定パターンを取得し、取得された特定パターンに基づいて特定パターンのテストデータを生成するとともに、レーザ駆動回路１７を制御するためのレーザ制御信号を生成し、生成されたレーザ制御信号とともに特定パターンのテストデータをレーザ駆動回路１７に出力する。
【００４９】
ステップＳ３において、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて光ディスク４２の所定の領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））に特定パターンのテストデータの記録動作を行う。これにより、初期設定された記録パラメータを用いて、光ディスク４２に所定の特定パターンのデータが記録される。
【００５０】
ステップＳ４おいて、ＣＰＵ３８は、バス３７を介して光ピックアップ５、ＲＦアンプ２３、フォーカス制御回路２５、およびトラッキング制御回路２７などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて記録された所定の特定パターンのテストデータの再生動作を行う。
【００５１】
ステップＳ５において、ＣＰＵ３８は、データ再生回路３１、等化器３２、および評価指標測定回路３５を制御し、所定の特定パターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリを測定する。
【００５２】
具体的には、等化器３２は、任意のＰＲ特性を用いて、データ再生回路３１から入力された２値化再生信号を任意のＰＲ特性に近い等化再生信号に変換し、変換された等化再生信号を評価指標測定回路３５に出力する。
【００５３】
評価指標測定回路３５は、等化器３２から入力された等化再生信号に基づいて、再生信号の評価指標としてアシンメトリを算出（測定）する。すなわち、評価指標測定回路３５は、図５に示されるように、Ｄｕｔｙ検波により入力された等化再生信号のＤＣ成分ＶＤＣを検出し、さらに、ピーク検波およびボトム検波によりＶＨおよびＶＬを検出し、検出されたＶＤＣ、ＶＨ、およびＶＬに基づいて特定パターンのテストデータの再生信号におけるアシンメトリを「数３」を用いて算出する。  
［数３］
再生信号のアシンメトリ
＝［｛（ＶＨ−ＶＤＣ）＋（ＶＬ−ＶＤＣ）｝／２］／（ＶＨ−ＶＬ）
【００５４】
評価指標測定回路３５は、算出（測定）されたアシンメトリに関するデータをバス３７を介してＣＰＵ３８に供給する。ＣＰＵ３８は、評価指標測定回路３５から供給されたアシンメトリ（特定パターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ）に関するデータを取得する。なお、評価指標測定回路３５において検出されたＶＤＣ、ＶＨ、およびＶＬを用いて、ＣＰＵ３８が、特定パターンのテストデータの再生信号におけるアシンメトリを「数３」を用いて算出するようにしてもよい。
【００５５】
ステップＳ６において、ＣＰＵ３８は、特定パターン発生器３６に、すべての特定パターン（例えば図３の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させたか否かを判定する。
【００５６】
ステップＳ６においてすべての特定パターン（例えば図３の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させていないと判定された場合（すなわち、特定パターンのうち特定パターン発生器３６により発生されていない特定パターンが存在すると判定された場合）、処理はステップＳ２に戻り、ステップＳ２以降の処理が繰り返される。これにより、特定パターン発生器３６によりすべての特定パターンが順次発生され、それぞれの特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作が行われ、再生信号のアシンメトリが測定される。
【００５７】
勿論、複数存在する同位体のうち、１つだけの特定パターンのテストデータを記録するようにしてもよい。
【００５８】
ステップＳ６においてすべての特定パターン（例えば図３の例の場合、４つの特定パターンＡ乃至Ｄ）を発生させたと判定された場合、ＣＰＵ３８はステップＳ７で、すべての特定パターンのテストデータを記録再生した際に算出されたアシンメトリに関するデータを順次取得し、取得されたアシンメトリに関するデータに基づいて、すべての特定パターンにおけるアシンメトリの平均値を算出する。
【００５９】
これにより、２つの符号長ｘＴとｙＴにより特定パターンを形成する場合に３連続以上の符号間干渉を考慮していないことから、４つの同位体の特定パターンの間で生じるアシンメトリの分散を低減することができる。
【００６０】
ステップＳ８において、ＣＰＵ３８は、算出されたアシンメトリの平均値に基づいて、光ディスク４２にユーザデータを記録する際の記録パラメータ（記録パワーとライト・ストラテジ）を決定する。
【００６１】
図６［Ａ］および［Ｂ］は、すべての符号長を含む一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定した場合と、特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定した場合における測定結果を示している。
【００６２】
図６［Ａ］は、２つの特定の符号長として２Ｔおよび１１Ｔを使用して２Ｔ（２Ｔマークと２Ｔスペース）のアシンメトリを測定した場合における測定結果であり、図６［Ｂ］は、２つの特定の符号長として３Ｔおよび１１Ｔを使用して３Ｔ（３Ｔマークと３Ｔスペース）のアシンメトリを測定した場合における測定結果である。
【００６３】
図６［Ａ］および［Ｂ］に示されるように、最終的には例えばピーク記録パワーが１０ｍＷにおいて、特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って測定した再生信号のアシンメトリは、すべての符号長を含む一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って測定した再生信号のアシンメトリと比較的近似した値になることが分かった。
【００６４】
本発明の実施形態においては、光ディスク４２に最適な記録パラメータを決定する際に、光ディスク４２に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）により形成される特定パターンを発生し、発生された特定パターンのテストデータを光ディスク４２の所定の領域（ＰＣＡ領域）に記録して再生し、その再生信号のアシンメトリを測定することができる。
【００６５】
これにより、再生信号に対して符号長（例えば２Ｔや３Ｔなど）分別を行う必要がなくなり、再生信号のＰＬＬ回路におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することができる。従って、調整の初期段階で再生信号がＰＬＬ回路にロック（同期）されない場合であっても。再生信号のアシンメトリを測定することができる。
【００６６】
また、複数同位体が存在する特定パターンのテストデータごとに再生信号のアシンメトリを測定するとともに、測定された再生信号のアシンメトリの平均値を算出し、算出されたアシンメトリの平均値に基づいて、光ディスク４２にユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを決定することができる。
【００６７】
従って、複数の同位体の特定パターンの間で生じるアシンメトリの分散を低減することができるとともに、光ディスク４２にユーザデータを記録した場合における記録品質（品位）を向上させることができる。
【００６８】
なお、本発明の実施形態においては、２連続符号間干渉を考慮した特定パターンを用いるようにしたが、このような場合に限られず、３連続符号間干渉や４連続符号間干渉なども考慮した特定パターンを発生して用いるようにしてもよい。２連続符号間干渉を考慮した特定パターンは符号長が８で、同位体数が４であるが、３連続符号間干渉を考慮した特定パターンは符号長が１６で、同位体数が３２となる。これにより、同位体間での再生信号のアシンメトリのばらつきをより小さくすることができる。
【００６９】
なお、本発明の実施形態において説明した一連の処理は、ソフトウェアにより実行させることもできるが、ハードウェアにより実行させることもできる。
【００７０】
また、本発明の実施形態では、フローチャートのステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理の例を示したが、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別実行される処理をも含むものである。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の内部の構成を示すブロック図。
【図２】再生信号の非対称性（アシンメトリ）の測定方法を説明する説明図。
【図３】図１の特定パターン発生器において発生される特定パターンの例を示す図。
【図４】図１の光ディスク装置における記録パラメータ決定処理を説明するフローチャート。
【図５】再生信号のアシンメトリを算出する算出方法を説明する説明図。
【図６】すべての符号長を含む一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定した場合と、特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定した場合における測定結果を示す図。
【符号の説明】
【００７２】
１…光ディスク装置、２…スピンドルモータ、２ａ…ロータリエンコーダ、３…スピンドルモータ駆動回路、４…スピンドル制御回路、５…光ピックアップ、６…対物レンズ、７…トラッキングアクチュエータ、８…フォーカスアクチュエータ、９…レーザダイオード、１０…フロントモニタ・フォトダイオード、１１…ハーフミラー、１２…コリメータレンズ、１３…ハーフプリズム、１４…集光レンズ、１５…シリンドリカルレンズ、１６…光検出器、１７…レーザ駆動回路、１８…ギア、１９…スクリューシャフト、２０…送りモータ、２１…送りモータ駆動回路、２２…送りモータ制御回路、２３…ＲＦアンプ、２４…フォーカスアクチュエータ駆動回路、２５…フォーカスアクチュエータ制御回路、２６…トラッキングアクチュエータ駆動回路、２７…トラッキング制御回路、２８…水晶、２９…ＰＬＬ回路、３０…Ａ／Ｄ変換器、３１…データ再生回路、３２…等化器、３５…評価指標測定回路、３６…特定パターン発生器、３７…バス、３８…ＣＰＵ、３９…ＲＯＭ、４０…ＲＡＭ、４１…インタフェース回路、４２…光ディスク、４３…ホスト装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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