(57)【要約】【課題】再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響されることなく、正確にエラー信号の振幅を測定できる振幅測定方法と光ディスク再生装置とを提供する。【解決手段】光ディスク再生装置において、光ピックアップから特定周波数以下の信号を通過させるフィルター部を通して出力されるエラー信号の振幅を測定するエラー信号振幅測定方法であって、前記エラー信号の振幅測定直前に前記フィルター部の特定周波数を下げる第１のステップと、前記エラー信号の振幅を測定する第２のステップと、前記エラー信号の測定直後に前記フィルター部の特定周波数を戻す第３のステップとを含むことを備える。【選択図】図１
2008140423.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク再生装置において、光ピックアップから特定周波数以下の信号を通過させるフィルター部を通して出力されるエラー信号の振幅を測定するエラー信号振幅測定方法であって、
前記エラー信号の振幅測定直前に前記フィルター部の特定周波数を下げる第１のステップと、
前記エラー信号の振幅を測定する第２のステップと、
前記エラー信号の測定直後に前記フィルター部の特定周波数を戻す第３のステップと
を含む
ことを特徴とするエラー信号振幅測定方法。
【請求項２】
前記エラー信号が、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号のいずれか一方である
ことを特徴とする請求項１に記載のエラー信号振幅測定方法。
【請求項３】
前記エラー信号は、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を含み、
前記第２ステップにおいて前記フォーカスエラー信号の振幅を測定し、
前記エラー信号の振幅測定方法は、さらに、
フォーカスエラー信号の測定値に基づいて、前記フォーカスエラー信号の振幅を一定に調整する第４ステップと、
前記トラッキングエラー信号の振幅測定直前に前記フィルター部の特定周波数を下げる第５ステップと、
前記トラッキングエラー信号の振幅を測定する第６ステップと、
前記トラッキングエラー信号の測定直後に前記フィルター部の特定周波数を戻す第７ステップと、
トラッキングエラー信号の測定値に基づいて、前記トラッキングエラー信号の振幅を一定に調整する第４ステップとを含む
ことを特徴とする請求項１に記載のエラー信号振幅測定方法。
【請求項４】
前記エラー信号の振幅測定方法は、さらに、
前記特定周波数と下げられた周波数の差に応じて予め定められた補正率を用いて、測定された前記エラー信号の振幅を補正するステップを含む
ことを特徴とする請求項１に記載のエラー信号振幅測定方法。
【請求項５】
前記フィルター部は、第１フィルターと第２フィルターとを含み、
前記第１ステップにおいて、第１フィルターの特定周波数を下げ、第２のフィルター部の特定周波数を第１フィルターとは異なる周波数に下げ、
前記第２ステップにおいて、第１フィルターを通過したエラー信号の振幅と、第２フィルターを通過したエラー信号の振幅とを測定し、
前記エラー信号の振幅測定方法は、さらに、
測定された２つの測定値の差または比が所定範囲内にあるか否かを判定するステップと、
前記所定範囲内にあると判定された場合、２つの測定値の一方をエラー信号の振幅として決定する
ことを特徴とする請求項１に記載のエラー信号振幅測定方法。
【請求項６】
前記エラー信号の振幅測定方法は、さらに、
測定された２つの測定値の差または比が所定範囲内にないと判定された場合、第１のフィルター部および第２のフィルター部の特定周波数をさらに下げ、再度測定および判定を行なうステップとを含む
ことを特徴とする請求項５記載のエラー信号の振幅測定方法。
【請求項７】
特定周波数以下の周波数を通過させるフィルター手段と、
光ピックアップから前記フィルター部を通して出力されるエラー信号の振幅を測定する測定手段と、
前記エラー信号の振幅測定直前に前記フィルター部の特定周波数を下げ、前記エラー信号の振幅測定直後に前記フィルター部の特定周波数を戻す変更手段と
を備えることを特徴とする光ディスク再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクを再生する光ディスク再生装置に関し、特に、光ピックアップから特定周波数以下の信号を通過させるフィルター部を通して出力されるエラー信号の振幅を測定するエラー信号の振幅測定方法および光ディスク再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤプレーヤなどの光ディスク再生装置において、光ディスクの再生能力を向上させることは、他社との差別化を図る上で重要である。近年、市場で粗悪ディスクが広がっていることや、ピックアップの特性のばらつきが拡大していることから、再生する光ディスクのピックアップから入力されるエラー信号の振幅が、従来以上に大きくばらつくようになっている。ここで、エラー信号は、トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号をいう。そのため、例えば、再生する光ディスクからのエラー信号の振幅が一定となるよう自動に調整するなど、エラー信号の振幅のばらつきでディスクの再生能力が劣化しないように対策を実施してきた。
【０００３】
ここで、従来から実施している、エラー信号の振幅調整についての一例を説明する。
【０００４】
図８は、従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図８において、光ディスク装置は、光ディスク５１を回転させるスピンドルモータ５２と、光ディスク５１からの信号を読み取るピックアップ５３と、サーボ制御を実施するサーボ制御ＬＳＩ５４と、サーボ制御ＬＳＩ５４に内蔵されピックアップ５３からの信号を増幅するＲＦブロック５５と、サーボ制御ＬＳＩ５４の外部に搭載されＲＦブロック５５からの信号の高周波成分を取り除く外付けＬＰＦ５６（低域濾波器：Ｌｏｗ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ、以下、ＬＰＦと記載。）と、ＲＦブロック５５からのエラー信号によりサーボ制御の演算を実施するサーボフィルタ５７と、サーボフィルタ５７からの信号を増幅しピックアップ５３を光ディスク５１の目標ポイントまでドライブするドライバ５８と、これらを制御するコントロールマイコン５９とから構成されている。
【０００５】
図９は従来の光ディスク装置におけるＲＦブロック５５に内蔵されたエラー信号の振幅調整部の構成を示すブロック図である。エラー信号の振幅調整部６０は、エラー信号を任意の倍率に増幅することができる倍率可変アンプ６２からなり、ＲＦブロック５５に内蔵されている。ピックアップ５３からの誤差信号から生成されたエラー信号６１は、倍率可変アンプ６２にて増幅され、調整後のエラー信号６３として出力される。エラー信号の振幅調整部６０は、ピックアップ５３から入力されたエラー信号６１の振幅を正確に測定し、測定した振幅の値と目標とするエラー信号振幅の値とを比較する。測定したエラー信号の振幅の値が、目標とするエラー信号の振幅の値と異なる場合は、
（目標とするエラー信号の振幅の値）／（測定したエラー信号の振幅の値）
が倍率可変アンプ６２に設定される。ピックアップ５３から入力されたエラー信号６１の振幅は倍率可変アンプ６２にて目標とするエラー信号の振幅に相当するよう増幅され、調整後のエラー信号６３として出力される。それにより、図８において、調整後のエラー信号６３が入力されるサーボフィルタ５７では、どのようなディスク、どのようなピックアップが使用されても、一定振幅に調整されたエラー信号を用いて、サーボ演算を実施することが可能となる。そのため、ディスクの種類や、ピックアップのばらつきに対して、再生能力の劣化を防ぐことが可能となる。
【０００６】
しかし、再生する光ディスク表面に薄傷等があると、エラー信号の振幅測定時にノイズがのり、正しい振幅を測定できない場合がある。この場合、本来であれば、エラー信号の振幅は目標とする振幅よりも小さいため、エラー信号を目標とする振幅に増幅される必要があるにもかかわらず、ノイズがのっているために、エラー信号の振幅は目標とする振幅よりも大きいと誤判断されてしまい、エラー信号の振幅が減衰されてしまう。その結果、ディスクの再生能力を向上させるための振幅の調整が、逆に再生能力を劣化させてしまう。
【０００７】
上記のような課題に対し、エラー信号にのったノイズを取り除くためＬＰＦが用いられている。すなわち、図８の光ディスク装置のサーボ制御ＬＳＩ５４において、ピックアップ５３からのエラー信号をＲＦブロック５５にて増幅し、サーボ制御ＬＳＩ５４の外部に搭載された外付けＬＰＦ５６にて、エラー信号にのったノイズ成分を除去していた。ここで、外付けＬＰＦ５６は、抵抗や容量の組み合わせによってカットオフ周波数を決定することができ、使用する目的、用途によって、一定の値が設定されている。外付けＬＰＦ５６を通過したエラー信号は、高域の周波数領域のノイズ成分が除去されて、サーボフィルタ５７で演算のために使用される。カットオフ周波数は、サーボ帯域に対して、十分に高い値、例えば、１０ｋＨｚなどが、通常は設定される。ここで、カットオフ周波数とは、それ以下の周波数のみを通過させる閾値となる特定周波数を示している。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上記の従来の光ディスク装置において、外付けＬＰＦ５６は、サーボ動作中にエラー信号にのるノイズ成分を除去することが目的であり、カットオフ周波数は、サーボ帯域に対して十分高い周波数に設定される。そのため、再生する光ディスクの表面上に薄い傷等があり、エラー信号にノイズ成分がのる場合においては、外付けＬＰＦ５６に設定されたカットオフ周波数では、ノイズ成分が十分に除去することができない。そのため、正確にエラー信号の振幅の値を測定することができず、エラー信号にのったノイズ成分を含めてのエラー信号振幅が誤って測定されてしまい、再生能力を劣化させてしまう結果となる。
【０００９】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることなく、正確にエラー信号振幅を測定できる再生能力の高い光ディスク再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために、本発明のエラー信号の振幅値測定方法は、光ディスク再生装置において、光ピックアップから特定周波数以下の信号を通過させるフィルター部を通して出力されるエラー信号の振幅を測定するエラー信号振幅測定方法であって、前記エラー信号の振幅測定直前に前記フィルター部の特定周波数を下げる第１のステップと、前記エラー信号の振幅を測定する第２のステップと、前記エラー信号の測定直後に前記フィルター部の特定周波数を戻す第３のステップとを含むことを特徴とする。
【００１１】
この方法によると、本発明のエラー信号振幅測定方法は、エラー信号の振幅を測定する間のみ、特定周波数以下の信号を通過させるフィルター部のカットオフ周波数を低く設定することにより、これまで、ディスク表面に薄傷等があり測定されたエラー信号にノイズ成分がのってしまっていた場合でも、ノイズ成分が除去されたエラー信号の正しい振幅を測定することができる。すなわち、ノイズの影響を受けることなく、正確なエラー信号振幅を測定できる。それにより、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることのない再生能力の高い光ディスク装置を実現することができる。
【００１２】
また、前記エラー信号が、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号のいずれか一方であってもよい。
【００１３】
エラー信号がフォーカスエラー信号の場合には、正確なフォーカスエラー信号振幅を測定できるので、光ディスク再生装置のビームスポットが再生されるディスクの記録面上に精度良くフォーカシングさせることが可能になる。それにより、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることのない再生能力の高い光ディスク装置を実現することができる。
【００１４】
エラー信号がトラッキングエラー信号の場合には、正確なトラッキングエラー信号振幅を測定できるので、光ディスク再生装置のビームスポットが再生されるディスクの情報が含まれるトラックに精度良く追従することが可能になる。それにより、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることのない再生能力の高い光ディスク装置を実現することができる。
【００１５】
また、前記エラー信号は、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を含み、前記第２ステップにおいて前記フォーカスエラー信号の振幅を測定し、前記エラー信号の振幅測定方法は、さらに、フォーカスエラー信号の測定値に基づいて、前記フォーカスエラー信号の振幅を一定に調整する第４ステップと、前記トラッキングエラー信号の振幅測定直前に前記フィルター部の特定周波数を下げる第５ステップと、前記トラッキングエラー信号の振幅を測定する第６ステップと、前記トラッキングエラー信号の測定直後に前記フィルター部の特定周波数を戻す第７ステップと、トラッキングエラー信号の測定値に基づいて、前記トラッキングエラー信号の振幅を一定に調整する第４ステップとを含んでもよい。
【００１６】
それにより、光ディスク再生装置のビームスポットは、再生されるディスクの記録面上に精度良くフォーカシングさせ、ディスクの情報が含まれるトラックに精度良く追従することが可能になる。それにより、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることのない再生能力の高い光ディスク装置を実現することができる。
【００１７】
また、前記エラー信号の振幅測定方法は、さらに、前記特定周波数と下げられた周波数の差に応じて予め定められた補正率を用いて、測定された前記エラー信号の振幅を補正するステップを含んでもよい。
【００１８】
それにより、ＬＰＦのカットオフ周波数をサーボ帯域に対して十分に低い周波数に設定した場合、すなわち、ＬＰＦのカットオフ周波数を下げることにより測定されるエラー信号の振幅の小さくなる比率が大きくなる場合でも、補正をすることでより正確にエラー信号の振幅測定が実施できる。したがって、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることのない再生能力の高い光ディスク装置を実現することができる。
【００１９】
また、前記フィルター部は、第１フィルターと第２フィルターとを含み、前記第１ステップにおいて、第１フィルターの特定周波数を下げ、第２のフィルター部の特定周波数を第１フィルターとは異なる周波数に下げ、前記第２ステップにおいて、第１フィルターを通過したエラー信号の振幅と、第２フィルターを通過したエラー信号の振幅とを測定し、前記エラー信号の振幅測定方法は、さらに、測定された２つの測定値の差または比が所定範囲内にあるか否かを判定するステップと、前記所定範囲内にあると判定された場合、２つの測定値の一方をエラー信号の振幅として決定してもよい。
【００２０】
また、前記エラー信号の振幅測定方法は、さらに、測定された２つの測定値の差または比が所定範囲内にないと判定された場合、第１のフィルター部および第２のフィルター部の特定周波数をさらに下げ、再度測定および判定を行なうステップとを含んでもよい。
【００２１】
これにより、２種類のＬＰＦにそれぞれ別々のカットオフ周波数を設定し、測定されるエラー信号の振幅値の差分または比が、許容された所定の範囲内となるまで、前述のＬＰＦのカットオフ周波数を再度設定しエラー信号の振幅値の測定を繰り返す。そして、許容された所定の範囲内となった際のエラー信号の振幅値を測定結果として取得する。それにより、ノイズによる影響を受けないエラー信号振幅値の測定が可能となり、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることのない再生能力の高い光ディスク装置を実現することができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることなく、正確にエラー信号振幅を測定できる再生能力の高い光ディスク再生装置を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
本発明におけるエラー信号の振幅測定方法は、エラー信号の振幅を測定時、ＬＰＦのカットオフ周波数を低く設定されて行われることを特徴としている。ここで、エラー信号の振幅の測定時とは、光ディスクを入れ替える毎の初期動作時に実施されるエラー信号の振幅測定時を意味している。それにより、ディスク表面に薄傷等があって測定されたエラー信号にノイズ成分がのってしまう場合でも、ノイズ成分のみを除去しエラー信号の正しい振幅を測定することができる。
【００２４】
以下、本発明の実施の形態における光ディスク再生装置について、図面を参照しながら説明する。
【００２５】
図１は、本発明の実施の形態における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１において、光ディスク装置は、光ディスク１１を回転させるスピンドルモータ１２と、光ディスク１１からの信号を読み取るピックアップ１３と、サーボ制御を実施するサーボ制御ＬＳＩ１４と、サーボ制御ＬＳＩ１４に内蔵され、ピックアップ１３からの信号を増幅するＲＦブロック１５と、カットオフ周波数を設定により自由に変更することができるＬＰＦ１６と、ＲＦブロック１５で生成され、ＬＰＦ１６でカットオフ周波数以上の高周波周波数領域がカットされて通過したエラー信号を使用して、サーボの演算を実施するサーボフィルタ１７と、サーボフィルタ１７からの信号を増幅しピックアップ１３を光ディスク１１の目標ポイントまでドライブするドライバ１８と、これらを制御するコントロールマイコン１９とから構成されている。なお、ＲＦブロック５５および外付けＬＰＦ５６がサーボ制御ＬＳＩ５４に内蔵されているが、外付けＬＰＦ５６はデジタルフィルタで実現されるため、サーボＬＳＩ５４の設定を変更することにより、カットオフ周波数を設定することが可能となっている。
【００２６】
カットオフ周波数を自由に変更することが可能なＬＰＦ１６は、エラー信号の振幅測定時にのみＬＰＦ１６のカットオフ周波数を低い設定値に変更することで、ＲＦブロック１５で生成されたエラー信号にのったノイズ成分を除去することができる。
【００２７】
図２は、再生するディスクの表面上に傷等のない場合にエラー信号を測定した際に得られる正常なエラー信号を示す図である。ここで、２１はエラー信号を測定したときに得られる正常なエラー信号を示し、２２は最上点から最下点までの長さで定義されるエラー信号の振幅を示す。
【００２８】
図３は、再生するディスク表面上に薄傷等がある場合にノイズ成分がのっているエラー信号を示す図である。ここで、３０は、ノイズ成分がのっているエラー信号を示す。３１はノイズ成分の信号を示し、３２は、ノイズがのった場合のエラー信号の振幅を示す。
【００２９】
図２に示すように、ディスクの表面上に傷等のないディスクにおいてエラー信号を測定した場合には、Ｓ字型の正常なエラー信号２１が通常、測定される。一例を挙げると、ＣＤ−ＤＡディスクでのトラッキングエラー測定時において、周波数が１ｋＨｚ程度で振幅が約２．０Ｖのエラー信号が測定される。
【００３０】
しかし、図３に示すように、エラー信号の振幅測定を実施するディスクにおいて、表面に薄傷等がある場合には、通常のエラー信号２１にノイズ成分の信号３１がのったエラー信号３０が発生する。一例を挙げると、ＣＤ−ＤＡディスクでのトラッキングエラー測定時において、ノイズ成分の信号３１の周波数が１０ｋＨｚ程度、振幅が３００ｍＶに達する。そのため、何の対策も講じなければ、エラー信号測定時のノイズ成分により、正しい振幅を測定できない。
【００３１】
また、前述したが、従来のＬＰＦは、サーボ動作中において、エラー信号２１にのるノイズを除去することが目的であるため、カットオフ周波数は、サーボ帯域に対して十分高い周波数に設定される。通常は、１０ｋＨｚ〜２０ｋＨｚ程度が使用されている。そのため、１０ｋＨｚ程度に設定されたカットオフ周波数では、エラー信号２１にのるノイズ成分の信号３１を除去することができない。しかしながら、本発明において、ＬＰＦ１６は、カットオフ周波数を自由に変更することが可能である。そのため、エラー信号２１の振幅測定時にのみＬＰＦ１６のカットオフ周波数を低い設定値にすることで、再生する光ディスク表面に薄傷等があってエラー信号２１の振幅測定時にノイズ成分の信号３１がのっていたとしても、ノイズ成分の信号３１のみを除去したエラー信号２１の正しい振幅を測定することができる。
【００３２】
そして、エラー信号振幅の測定終了後に、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数は従来の設定値に再度戻され、振幅が一定になるよう調整されたエラー信号２１によりサーボ動作が実施され、ディスクの再生がされる。
【００３３】
したがって、ディスク表面に薄傷がある場合でも、正確にエラー信号の振幅の測定が実施され、高い再生性能を持った光ディスク再生装置を実現することが可能となる。
【００３４】
図４は、エラー信号の振幅測定の処理を示すフローチャートである。
【００３５】
エラー信号の振幅測定開始時に（Ｓ１０１）、コントロールマイコン１９は、コマンド設定にしたがって、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を低い設定値に変更する（Ｓ１０２）。例えば、通常のＬＰＦ１６のカットオフ周波数の設定値を１０ｋＨｚに、エラー信号振幅測定時のＬＰＦ１６のカットオフ周波数の設定値を４ｋＨｚにする。
【００３６】
次に、ノイズ成分の信号３１が除去されたエラー信号の振幅の測定を実施し（Ｓ１０３）、エラー信号の振幅測定値を取得する（Ｓ１０４）。
【００３７】
エラー信号の振幅測定終了後、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を、変更前の設定値である従来の設定値に戻し（Ｓ１０５）、振幅が一定になるようエラー信号を調整し、例えば、トラッキングやフォーカシングなどのサーボ動作を実施する。
【００３８】
なお、エラー信号の振幅測定終了後、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を、変更前の設定値である従来の設定値に戻す（Ｓ１０５）のは、振幅が一定になるようエラー信号を調整した後でもよい。
【００３９】
ここで、光ディスク入れ替え毎に振幅を測定され調整されるエラー信号としては、光ディスク１１に対するピックアップ１３から照射されるレーザ光のビームスポットの焦点のずれを示すフォーカスエラー信号、または、光ディスク１１の情報が記録されたトラックとピックアップ１３から照射されるレーザ光のビームスポットの位置とのずれを示すトラッキングエラー信号である。測定されるエラー信号がフォーカス信号である場合には、フォーカスエラー信号に対して、図４に示す手順にて、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数の変更を実施する。すなわち、フォーカスエラー信号の振幅測定時のみにおいて、ＬＰＦのカットオフ周波数の切換えを実施することにより、ディスク表面の薄傷の影響を受けることなく、正確な振幅測定を実施することができる。また、測定されるエラー信号がトラッキングエラー信号である場合にも、同様に、トラッキングエラー信号に対して、図４に示す手順にて、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数の変更を実施する。トラッキングエラー信号の振幅測定時のみにおいて、ＬＰＦのカットオフ周波数の切換えを実施することにより、ディスク表面の薄傷の影響を受けることなく、正確な振幅測定を実施することができる。
【００４０】
また、光ディスク入れ替え毎に振幅を測定され調整されるエラー信号として、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号の両方でも良い。この場合には、まず、フォーカスエラー信号に対して、図４に示す手順にて、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を下げて、フォーカスエラー信号の正確な振幅測定を実施する。そして、その正確な振幅測定値に基づいて振幅の調整を行う。次に、トラッキングエラー信号に対して、図４に示す手順にて、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を下げて、トラッキングエラー信号の正確な振幅測定を実施する。そして、その正確な振幅測定値に基づいて振幅の調整を行う。これらを実施することで、ディスク表面の薄傷の影響を受けることなく、正確にフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の振幅測定を実施することができる。
【００４１】
それにより、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることのない再生能力の高い光ディスク装置を実現することができる。
【００４２】
以上により、再生するディスクの表面に薄傷等がある場合でも、正確にエラー信号の振幅測定を実施でき、高い再生能力を有するディスク装置を実現することが可能となる。
【００４３】
（実施の形態の変形例１）
以下、本発明の実施の形態の変形例１について説明する。
【００４４】
図１の光ディスク再生装置におけるエラー信号の振幅測定時において、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数をサーボ帯域に対して十分に低い周波数に設定した場合には、ＬＰＦ１６の影響により、測定されるエラー信号の振幅は、実際のエラー信号振幅と比べて若干ではあるが異なった値で測定されてしまう。例えば、ディスク再生装置にてディスクの再生をする時は、通常、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を１０ｋＨｚに、エラー信号振幅測定時のＬＰＦ１６のカットオフ周波数を４ｋＨｚに設定する。エラー信号にのるノイズ成分の周波数が１０ｋＨｚである場合、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を１０ｋＨｚに設定した場合に測定される振幅に比べて、ＬＰＦカットオフ周波数を４ｋＨｚに設定した場合に測定される振幅は小さい値となる。
【００４５】
しかしながら、この小さくなる比率に関しては、実測によって予め決定あるいは算出される。したがって、その下げられた周波数の差に応じて予め決定あるいは算出された小さくなる比率（以下、補正率と記載。）を用いて測定されたエラー信号の振幅を補正することで、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を下げることからの影響を受けることなく、正しいエラー信号の振幅測定が可能になる。
【００４６】
図５は、本発明の実施の形態の変形例１におけるエラー信号の振幅測定の処理を示すフローチャートである。
【００４７】
まず、エラー信号振幅の測定開始時（Ｓ１０１）に、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を低い設定値に変更する（Ｓ１０２）。
【００４８】
次に、ノイズ成分が除去されたエラー信号振幅の測定を実施し（Ｓ１０３）、エラー信号の振幅測定値を取得する（Ｓ１０４）。
【００４９】
次に、予め決定あるいは算出された補正率を用いて、エラー信号の振幅測定値を補正する（Ｓ１０４１）。
【００５０】
エラー信号の振幅測定値の補正後、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を、変更前の設定値である従来の設定値に戻し（Ｓ１０５）、振幅が一定になるよう調整されたエラー信号により、例えば、トラッキングやフォーカシングなどのサーボ動作を実施する。
【００５１】
それにより、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数をサーボ帯域に対して十分に低い周波数に設定した場合でも、正確にエラー信号の振幅を測定することが可能になる。すなわち、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を下げて測定されるエラー信号の振幅は実際のエラー信号の振幅よりも小さいため、測定されるエラー信号の振幅は増幅される必要がある。そのため、予め決定あるいは算出された補正率を用いて測定されたエラー信号の振幅を増幅する。
【００５２】
なお、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を、変更前の設定値である従来の設定値に戻す（Ｓ１０５）のは、エラー信号振幅測定値を補正する前（Ｓ１０４１）であっても良いし、振幅が一定になるようエラー信号を調整した後でもよい。
【００５３】
また、前述した実施の形態と同様に、測定されるエラー信号としては、フォーカスエラー信号または、トラッキングエラー信号であり、さらに、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号の両方としても良い。
【００５４】
以上より、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数をサーボ帯域に対して十分に低い周波数に設定した場合でも、下げられた周波数の差に応じて予め決定した補正率を用いて補正することにより正確にエラー信号の振幅測定を実施できる。したがって、表面に薄傷等があるディスクを再生する場合でも、それに影響されることなく高い再生能力の光ディスク再生装置を実現することが可能となる。
【００５５】
（実施の形態の変形例２）
以下、本発明の実施の形態の変形例２について説明する。
【００５６】
実施の形態の変形例１で説明したように、ＬＰＦのカットオフ周波数を下げることにより測定されるエラー信号の振幅がどの程度下がるかは予測することが可能であり、予め決定あるいは算出された補正率を用いることでより正確なエラー信号の振幅を得ることが可能である。しかしながら、ＬＰＦのカットオフ周波数を十分下げてエラー信号の振幅を測定したとしても、ノイズ成分が十分に除去されているかどうかはわからない。変形例２では、２種類のＬＰＦにそれぞれ別々のカットオフ周波数を設定し、エラー信号を測定する。それぞれ測定されたエラー信号の振幅値の比率あるいは差分が、所定の範囲内となるまで、ＬＰＦのカットオフ周波数をより低く再設定しエラー信号の振幅値の測定することを繰り返す。それにより、ノイズによる影響を受けないより正確なエラー信号振幅値の測定が可能となる。
【００５７】
図６は本発明の実施の形態の変形例２における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。図６において、光ディスク再生装置は、光ディスク１１を回転させるスピンドルモータ１２と、光ディスク１１からの信号を読み取るピックアップ１３と、サーボ制御を実施するサーボ制御ＬＳＩ１４と、サーボ制御ＬＳＩ１４に内蔵され、ピックアップ１３からの信号を増幅するＲＦブロック１５と、カットオフ周波数の設定をそれぞれ自由に変更することができる２つのＬＰＦ１６１、１６２と、ＲＦブロックで生成され、ＬＰＦ１６1、１６２を通過したエラー信号を使用して、サーボの演算を実施するサーボフィルタ１７と、サーボフィルタ１７からの信号を増幅しピックアップ１３を光ディスク１１の目標ポイントまでドライブするドライバ１８と、これらを制御するコントロールマイコン１９とから構成されている。
【００５８】
図６において、ＬＰＦ１６１、１６２にそれぞれ別々のカットオフ周波数を設定し、エラー信号の振幅測定を実施する。そして、それぞれの測定値の比率あるいは差分が、所定の範囲内であれば、測定したエラー信号には、薄傷等によるノイズはのっていないすなわち、除去されたと判断し、測定した振幅を決定する。所定の範囲内とは、ノイズがのっていないと判断できる許容できる比率の値の範囲、例えば１±０．１であり、ノイズがのっていないと判断できる許容できる差分の値の範囲である。それぞれの測定値の比率あるいは差分が、所定の範囲外であれば、測定したエラー信号に、ノイズがのっていると判断し、ＬＰＦ１６１、１６２のカットオフ周波数をそれぞれさらに下げて、エラー信号の振幅測定を再度実施する。
【００５９】
図７は、本発明の実施の形態の変形例１におけるエラー信号の振幅測定の処理を示すフローチャートである。
【００６０】
まず、エラー信号振幅測開始時（Ｓ１０１）に、２つのＬＰＦ１６１、１６２のカットオフ周波数をそれぞれ別の低い設定値に変更する（Ｓ１０２）。
【００６１】
次に、それぞれのＬＰＦ１６１、１６１を通過し、ノイズ成分が除去されたそれぞれのエラー信号振幅の測定を実施する（Ｓ１０３）。
【００６２】
そして、それぞれ測定された振幅の値の比率あるいは差分が、所定の範囲内と判定されれば、測定したエラー信号には、薄傷等によるノイズはのっていないと判断し、測定した振幅を決定する。それぞれの測定値の比率あるいは差分が、所定の範囲外であれば、測定したエラー信号に、ノイズがのっていると判断し、ＬＰＦ１６１、１６２のカットオフ周波数をそれぞれさらに下げて、エラー信号の振幅測定を再度実施する（Ｓ２０３）。
【００６３】
このとき、それぞれの測定値の比率あるいは差分が、所定の範囲内となると判定され測定したエラー信号の振幅の値が決定されるまで、Ｓ１０２および１０３、Ｓ２０３のＬＰＦのカットオフ周波数を下げてエラー信号の振幅測定することが繰り返し実施される。
【００６４】
次に、Ｓ２０３で決定されたエラー信号の振幅測定値を取得する（Ｓ１０４）。
【００６５】
ここで、決定される振幅値は、ＬＰＦ１６１および１６２において測定された振幅値が用いられる。例えば、ＬＰＦ１６１で測定した振幅値でも良いし、ＬＰＦ１６２でもよい。さらに、ＬＰＦ１６１で測定した振幅値とＬＰＦ１６２で測定した振幅値の平均でも良い。
【００６６】
そして、エラー信号振幅測定値の取得後、ＬＰＦ１６１、１６２のカットオフ周波数を、変更前の設定値である従来の設定値に戻し（Ｓ１０５）、振幅が一定になるよう調整されたエラー信号２１により、例えば、トラッキングやフォーカシングなどのサーボ動作を実施する。それにより、別々にカットオフ周波数を設定できる２つのＬＰＦ１６１、１６２を用いることで、正確なエラー信号の振幅測定が可能になり、再生する光ディスクの表面にある薄傷等に影響を受けることのない再生能力の高い光ディスク装置を実現することができる。
【００６７】
ここで、実施の形態と同様に、測定され調整されるエラー信号の振幅としては、フォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号である。さらに、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号の両方としても良い。
【００６８】
なお、エラー信号の振幅測定終了後、ＬＰＦ１６のカットオフ周波数を、変更前の設定値である従来の設定値に戻す（Ｓ１０５）のは、振幅が一定になるようエラー信号を調整した後でもよい。
【００６９】
以上、本発明は、光ディスク再生装置について、実施の形態および実施の形態の変形例１および実施の形態の変形例２に基づいて説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものでない。例えば、ＣＤ−ＲＷやＣＤ−Ｒなどの光ディスクに書き込みする装置も本発明で説明した光ディスク再生機構が含まれていれば本発明の範囲内に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００７０】
本発明は、光ディスク装置に利用でき、特に、ＣＤプレーヤ、ＤＶＤプレーヤ、Ｂｌｕ−Ｒａｙプレーヤなどの光ディスク再生装置に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明の実施の形態における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態における再生するディスクの表面上に傷等のない場合にエラー信号を測定したときに得られる正常なエラー信号を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態における再生するディスク表面上に薄傷等がある場合にノイズ成分がのっているエラー信号を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態におけるエラー信号の振幅測定の処理を示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施の形態の変形例１におけるエラー信号の振幅測定の処理を示すフローチャートである。
【図６】本発明の実施の形態の変形例２における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【図７】本発明の実施の形態の変形例２におけるエラー信号の振幅測定の処理を示すフローチャートである。
【図８】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図９】従来の従来の光ディスク装置におけるエラー信号振幅調部の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００７２】
１１  光ディスク
１２  スピンドルモータ
１３  ピックアップ
１４  サーボ制御ＬＳＩ
１５  ＲＦブロック
１６  ＬＰＦ
１６１  ＬＰＦ
１６２  ＬＰＦ
１７  サーボフィルタ
１８  ドライバ
１９  コントロールマイコン
２１  正常なエラー信号
２２  正常なエラー信号における振幅
３０  ノイズののったエラー信号
３１  ノイズ成分の信号
３２  ノイズののったエラー信号における振幅
５１  光ディスク
５２  スピンドルモータ
５３  ピックアップ
５４  サーボ制御ＬＳＩ
５５  ＲＦブロック
５６  外付けＬＰＦ
５７  サーボフィルタ
５８  ドライバ
５９  コントロールマイコン
６１  ピックアップからのエラー信号
６２  倍率可変アンプ
６３  調整後のエラー信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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