(57)【要約】【課題】複数のサブエリアに分割された検出エリアを有するフラットパネル検出器を用いる放射線撮像装置において、サブエリア内において不均一な変動に起因する輝度の段差を補正する。【解決手段】この放射線撮像装置は、放射線発生部と、複数のサブエリアに分割された検出エリアに配置され、放射線の照射線量に応じた電荷を蓄積する検出素子、及び、複数のサブエリア毎に設けられ、それぞれのサブエリアにおける検出素子に蓄積された電荷に関する情報を読み取る複数の読み取り回路を有し、放射線発生部によって発生され被検体を透過して検出エリアに入射した放射線を検出して検出信号を出力する放射線検出器と、放射線検出器から出力される検出信号における複数のサブエリアの境界で発生する段差を、複数のサブエリアにおける特定のラインから得られる検出信号に基づいて補正する段差補正手段とを具備する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を発生する放射線発生部と、
複数のサブエリアに分割された検出エリアに配置され、放射線の照射線量に応じた電荷を蓄積する検出素子、及び、前記複数のサブエリア毎に設けられ、それぞれのサブエリアにおける検出素子に蓄積された電荷に関する情報を読み取る複数の読み取り回路を有し、前記放射線発生部によって発生され被検体を透過して前記検出エリアに入射した放射線を検出して検出信号を出力する放射線検出器と、
前記放射線検出器から出力される検出信号における前記複数のサブエリアの境界で発生する段差を、前記複数のサブエリアにおける特定のラインから得られる検出信号に基づいて補正する段差補正手段と、
を具備する放射線撮像装置。
【請求項２】
前記段差補正手段が、隣接する２つのサブエリアにおいて、正常でないラインを除き互いに最も近接する２つのラインから得られる検出信号に基づいて、段差量データを算出する、請求項１記載の放射線撮像装置。
【請求項３】
前記段差補正手段が、段差量データに対して、高周波を取り除くためのフィルタ処理を施す、請求項２記載の放射線撮像装置。
【請求項４】
前記フィルタ処理におけるフィルタ特性が、パラメータの設定により可変である、請求項３記載の放射線撮像装置。
【請求項５】
前記段差補正手段が、段差量データによって表される段差量を分割し、分割された段差量に基づいて、隣接する２つのサブエリアにおける段差を補正する、請求項２〜４のいずれか１項記載の放射線撮像装置。
【請求項６】
前記段差補正手段が、サブエリアの境界からの距離に応じて補正量を変化させる、請求項１〜５のいずれか１項記載の放射線撮像装置。
【請求項７】
前記段差補正手段が、前記放射線検出器から出力される検出信号における前記複数のサブエリアの境界で発生する段差を補正した後に、前記複数のサブエリアの境界に平行な方向のムラを抑制する、請求項１〜６のいずれか１項記載の放射線撮像装置。
【請求項８】
複数のサブエリアに分割された検出エリアに配置され、放射線の照射線量に応じた電荷を蓄積する検出素子、及び、前記複数のサブエリア毎に設けられ、それぞれのサブエリアにおける検出素子に蓄積された電荷に関する情報を読み取る複数の読み取り回路を有する放射線検出器を用いて、被検体を透過して前記検出エリアに入射した放射線を検出することにより撮像を行う放射線撮像方法であって、
前記複数のサブエリアにおける特定のラインから得られる検出信号に基づいて段差量データを算出するステップ（ａ）と、
ステップ（ａ）において算出された段差量データに対して、高周波を取り除くためのフィルタ処理を施すステップ（ｂ）と、
ステップ（ｂ）においてフィルタ処理が施された段差量データに基づいて、前記複数のサブエリアにおける補正量データを算出するステップ（ｃ）と、
ステップ（ｃ）において算出された補正量データに基づいて、前記放射線検出器から出力される検出信号における前記複数のサブエリアの境界で発生する段差を補正するステップ（ｄ）と、
を具備する放射線撮像方法。
【請求項９】
ステップ（ａ）が、隣接する２つのサブエリアにおいて、正常でないラインを除き互いに最も近接する２つのラインから得られる検出信号に基づいて、段差量データを算出することを含む、請求項８記載の放射線撮像方法。
【請求項１０】
ステップ（ｃ）が、段差量データによって表される段差量を分割することにより、隣接する２つのサブエリアにおける補正量を算出することを含む、請求項８又は９記載の放射線撮像方法。
【請求項１１】
ステップ（ｃ）が、サブエリアの境界からの距離に応じて補正量を変化させることを含む、請求項８〜１０のいずれか１項記載の放射線撮像方法。
【請求項１２】
ステップ（ｄ）の後に、前記複数のサブエリアの境界に平行な方向のムラを抑制するステップ（ｅ）をさらに具備する請求項８〜１１のいずれか１項記載の放射線撮像方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線を用いて被検体を撮像することにより、医療診断に用いられる医用画像を生成する放射線撮像装置及び放射線撮像方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、放射線（Ｘ線、α線、β線、γ線、電子線、紫外線等）を用いた撮像方法は様々な分野で利用されており、特に医療分野においては、診断のための最も重要な手段の一つとなっている。最初のＸ線写真が実現されてから、Ｘ線写真法は数々の改良を重ねられ、現在では蛍光スクリーンとＸ線フィルムを組み合わせた方法が主流となっている。一方、近年においては、ＣＲ（computed radiography）、Ｘ線ＣＴ、超音波、ＭＲＩ等の様々なディジタル化された装置が実用化されており、病院内での診断情報処理システム等の構築が進められようとしている。
【０００３】
近年において、放射線撮像装置においては、被検体を透過したＸ線を２次元領域における複数の検出ポイントにおいて検出することによりＸ線画像を撮影する放射線検出デバイスを備えたフラットパネル検出器（ＦＰＤ）が用いられている。通常、フラットパネル検出器の検出エリアは、複数のサブエリアに分割されており、複数のサブエリア毎に読み取り回路が設けられている。しかしながら、放射線検出デバイスの感度や読み取り回路の増幅特性がそれぞれ異なっているので、隣接する２つのサブエリア間において画像の輝度に段差が生じてしまう。
【０００４】
関連する技術として、特許文献１には、複数のサブエリアからなる画像を形成する装置が開示されている。この装置は、画像データを生成するための複数のセンサ要素を含む検出器と、画像のサブエリアに関連する読み取りユニットと、隣接するサブエリアの連接画像エリアからの画像データを評価して補正データを生成するように配される分析ユニットと、補正データによって不正な画像データを補正するように配される補正ユニットとを含んでいる。
【０００５】
特許文献１の装置によれば、読み取りユニット毎の増幅特性を分析するためにサブエリア毎にヒストグラムが求められ、これに基づいて補正量が算出されるので、ユーザの介入を要することなく、非線形増幅態様の補正が可能となる。従って、この装置によれば、サブエリア内において均一な変動に起因する輝度の段差を補正することができる。しかしながら、サブエリア内において不均一な変動に起因する輝度の段差は、サブエリアの境界位置によって異なるというローカリティを有しているので、サブエリア内において均一な補正を行っても、輝度の段差を解消することはできない。
【特許文献１】特開２００１−１９７３１３号公報（第１−２頁、図２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、上記の点に鑑み、本発明は、複数のサブエリアに分割された検出エリアを有するフラットパネル検出器を用いる放射線撮像装置において、サブエリア内において不均一な変動に起因する輝度の段差を補正することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明の１つの観点に係る放射線撮像装置は、放射線を発生する放射線発生部と、複数のサブエリアに分割された検出エリアに配置され、放射線の照射線量に応じた電荷を蓄積する検出素子、及び、複数のサブエリア毎に設けられ、それぞれのサブエリアにおける検出素子に蓄積された電荷に関する情報を読み取る複数の読み取り回路を有し、放射線発生部によって発生され被検体を透過して検出エリアに入射した放射線を検出して検出信号を出力する放射線検出器と、放射線検出器から出力される検出信号における複数のサブエリアの境界で発生する段差を、複数のサブエリアにおける特定のラインから得られる検出信号に基づいて補正する段差補正手段とを具備する。
【０００８】
また、本発明の１つの観点に係る放射線撮像方法は、複数のサブエリアに分割された検出エリアに配置され、放射線の照射線量に応じた電荷を蓄積する検出素子、及び、複数のサブエリア毎に設けられ、それぞれのサブエリアにおける検出素子に蓄積された電荷に関する情報を読み取る複数の読み取り回路を有する放射線検出器を用いて、被検体を透過して検出エリアに入射した放射線を検出することにより撮像を行う放射線撮像方法であって、複数のサブエリアにおける特定のラインから得られる検出信号に基づいて段差量データを算出するステップ（ａ）と、ステップ（ａ）において算出された段差量データに対して、高周波を取り除くためのフィルタ処理を施すステップ（ｂ）と、ステップ（ｂ）においてフィルタ処理が施された段差量データに基づいて、複数のサブエリアにおける補正量データを算出するステップ（ｃ）と、ステップ（ｃ）において算出された補正量データに基づいて、放射線検出器から出力される検出信号における複数のサブエリアの境界で発生する段差を補正するステップ（ｄ）とを具備する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、放射線検出器から出力される検出信号における複数のサブエリアの境界で発生する段差を、複数のサブエリアにおける特定のラインから得られる検出信号に基づいて補正するので、サブエリア内において不均一な変動に起因する輝度の段差を補正することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。
図１は、本発明の一実施形態に係る放射線撮像装置の構成を示すブロック図である。本実施形態においては、本発明がＸ線マンモグラフィー装置に適用される場合について説明するが、本発明は、α線、β線、γ線、電子線、又は、紫外線等を使用する放射線撮像装置に適用することも可能である。
【００１１】
図１に示す放射線撮像装置は、Ｘ線撮像部１０と、Ｘ線撮像制御部（コンソール）２０とによって構成される。Ｘ線撮像部１０は、管電圧・管電流制御部１１と、高電圧発生部１２と、Ｘ線管１３と、フィルタ１４と、Ｘ線検出器１５と、Ａ／Ｄ変換器１８とを有している。管電圧・管電流制御部１１は、目標値に従って、管電圧や管電流等の撮影条件を調整する。高電圧発生部１２は、管電圧・管電流制御部１１の制御の下で、Ｘ線管１３に印加される高電圧を発生する。
【００１２】
Ｘ線管１３及びフィルタ１４は、Ｘ線を発生するＸ線発生部を構成している。Ｘ線管１３においては、陰極と陽極との間にかける管電圧によってＸ線の透過性が決定され、陰極と陽極との間に流れる管電流の時間積分値によってＸ線の発生量が決定される。フィルタ１４は、モリブデン（Ｍｏ）又はロジウム（Ｒｈ）等の材料によって作成され、Ｘ線管１３によって発生されたＸ線に含まれている複数の波長成分の内から所望の波長成分を選択的に透過させる。Ｘ線管１３によって発生されたＸ線は、フィルタ１４を介して被検体１を透過し、Ｘ線検出器１５によって検出される。
【００１３】
Ｘ線検出器１５は、被検体を透過したＸ線を２次元領域における複数の検出ポイントにおいて検出することによりＸ線画像を撮影するＦＰＤ（フラットパネル・ディテクタ）である。ＦＰＤの検出面には、Ｘ線を吸収して電荷を発生するセレン等のＸ線感応膜と、Ｘ線感応膜によって発生された電荷を蓄積して電荷情報を出力する検出素子１６とが設けられている。検出素子１６としては、例えば、２次元マトリクス状に配列され、電気信号によって走査されると、蓄積された電荷を放出する複数のＴＦＴ（薄膜トランジスタ）や、読み取り光によって走査されると、蓄積された電荷を放出する光読み取り型の検出素子が用いられる。
【００１４】
ＦＰＤにＸ線が入射すると、Ｘ線感応膜においてＸ線が電荷に変換され、その電荷が検出素子１６に蓄積される。ＦＰＤに設けられた読み取り部１７は、検出素子１６に蓄積された電荷に基づいて検出素子１６から出力される電荷情報を読み出して、Ｘ線の照射線量に応じたレベルを有する検出信号を生成する。Ａ／Ｄ変換器１８は、読み取り部１７から出力されるアナログの検出信号をディジタル信号（検出データ）に変換する。
【００１５】
図２は、図１に示すＸ線撮像部の外観を示す側面図である。Ｘ線撮像部１０は、Ｘ線管１３及びＸ線検出器１５が設置されているアーム部２と、基台３と、アーム部２を基台３に回転可能な状態で保持する軸部４とを含んでいる。Ｘ線検出器１５は、Ｘ線管１３から照射されて被検体１（乳房）を透過したＸ線を検出して、Ｘ線の照射線量に応じたレベルを有する検出信号を出力する。Ｘ線検出器１５から出力される検出信号は、ケーブル１９を介して、アーム部２の内部に設置されたＡ／Ｄ変換器１８（図１）に入力される。
【００１６】
アーム部２には、Ｘ線検出器１５を図中左右方向に移動させる位置調節部５と、Ｘ線検出器１５を水平面内において回転させる方向調節部６とが設けられている。また、アーム部２には、圧迫板駆動部７を介して、圧迫板８が取り付けられている。圧迫板８は、図中上下方向に移動可能な状態で、Ｘ線検出器１５に平行に設置されている。この圧迫板８とＸ線検出器１５とによって、被検体１（乳房）を挟み込み、乳房の厚さを均一にした状態でＸ線撮像が行われる。
【００１７】
図３は、図１及び図２に示すＸ線検出器の詳細を示す図である。図３において、Ｘ軸方向が主走査方向であり、Ｙ軸方向が副走査方向である。Ｘ線検出器１５の検出エリアは、主走査方向において複数のサブエリア（図３においては、５つのサブエリア１５１〜１５５を示す）に分割されており、それらのサブエリアに対して、読み取り部１７を構成する複数の読み取り回路（図３においては、５つの読み取り回路１７１〜１７５を示す）がそれぞれ接続されている。各々の読み取り回路１７１〜１７５としては、例えば、特定用途のために設計・製造される半導体集積回路（ＡＳＩＣ）等が用いられる。読み取り回路１７１〜１７５を用いて、それぞれのサブエリア１５１〜１５５において、副走査方向に読み取り走査が行われる。なお、本願において、「サブエリア」とは、放射線検出デバイスにおける検出エリアが異なる画像領域、又は、半導体集積回路、Ａ／Ｄ変換器の基板、回路が搭載されている基板の内のいずれか若しくはそれらの組合せが異なる画像領域のことをいう。
【００１８】
ここで、Ｘ線感応膜の不均一性や、検出素子における感度のばらつきや、複数の読み取り回路における増幅特性のばらつきによって、サブエリア内又はサブエリア間において検出信号の基準レベルに差が生じて、オフセットが発生する。これにより、放射線画像において、アーティファクトとして輝度の段差が生じてしまう。
【００１９】
例えば、サブエリア１５２内のサブエリア境界近傍のラインＬ１上の画素（検出ポイント）Ｐ１と、サブエリア１５３内のサブエリア境界近傍のラインＬ２上の画素Ｐ２との間でオフセットが発生し、ラインＬ１及びＬ２上の他の画素間においてもオフセットが発生すると、サブエリア１５２とサブエリア１５３との境界に輝度の段差が生じてしまう。ただし、Ｘ線検出器１５内の各要素のばらつきによって、ラインＬ１上の複数の画素間においてもオフセットが発生し、ラインＬ２上の複数の画素間においてもオフセットが発生するので、１つのサブエリアから得られる検出信号のレベルを一律に補正するのは不適切である。
【００２０】
再び図１を参照すると、Ｘ線撮像制御部（コンソール）２０は、Ｘ線撮像部１０から入力される検出データにおけるサブエリア間の段差を補正して画像データを生成する段差補正部２１と、段差補正部２１から出力される画像データに画像処理を施す画像処理部２６と、Ｄ／Ａ変換器２７と、表示部２８と、操作卓２９と、制御部３０と、格納部３１とを有している。
【００２１】
段差補正部２１は、機能ブロックとして、隣接する２つのサブエリア内の２つのライン上の画素からの検出データを順次比較し、それらのライン間の段差量を計算して段差量データを生成する段差量計算部２２と、段差量データに対してフィルタ処理を施すフィルタ部２３と、フィルタ処理が施された段差量データに基づいて補正量データを生成する補正量計算部２４と、補正量データに基づいてサブエリア間の段差を補正して画像データを生成する補正部２５とを含んでいる。
【００２２】
画像処理部２６は、段差補正部２１から出力される画像データに対し、階調処理等の必要な画像処理を施すことにより、表示用の画像データを生成する。また、画像処理部２６は、段差補正部２１によって段差補正が施された画像データに対し、複数のサブエリアの境界に平行な方向のムラを抑制する処理を行うようにしても良い。
【００２３】
操作卓２９は、オペレータが放射線撮像装置を操作するために用いられる。制御部３０は、中央演算装置（ＣＰＵ）と、ＣＰＵに各種の処理を行わせるためのソフトウェアとによって構成され、オペレータの操作に基づいて各部を制御する。本実施形態においては、段差補正部２１及び画像処理部２６も、ＣＰＵとソフトウェアとによって構成されるが、これらをディジタル回路又はアナログ回路で構成しても良い。上記のソフトウェアは、ハードディスク又はメモリ等によって構成された格納部３１に格納されている。
【００２４】
次に、図１に示す放射線撮像装置におけるデータ処理について、図３及び図４を参照しながら説明する。図４は、図１に示す放射線撮像装置におけるデータ処理の流れを示すフローチャートである。
【００２５】
図４のステップＳ１において、Ｘ線撮像部１０から出力される検出データが、サブエリア毎に分割される。以下においては、各サブエリアにおいて、Ｘ軸方向に１２８個の画素（ライン）が含まれているものとする。
【００２６】
ステップＳ２において、段差量計算部２２が、段差量計算位置パラメータによって規定される隣接する２つのサブエリア内の２つのライン上の画素からの検出データを順次比較し、それらのライン間の段差量（オフセット）を計算して段差量データを生成する。それにより、図３に示すサブエリア１５１とサブエリア１５２との間の段差量、サブエリア１５２とサブエリア１５３との間の段差量、サブエリア１５３とサブエリア１５４との間の段差量、及び、サブエリア１５４とサブエリア１５５との間の段差量が算出される。
【００２７】
段差量計算位置パラメータは、段差量の計算に用いられるライン上の画素のＸ軸方向における位置（左画素位置、右画素位置）を規定している。通常は、隣接する２つのサブエリア内でサブエリア境界に最も近い２つのライン上の画素が段差量計算に用いられるので、それらの画素のＸ軸方向における位置を表す値が、段差量計算位置パラメータのデフォルト値として設定されている。サブエリア境界に最も近い２つのラインに基づいて段差補正を行う理由は、サブエリア境界と直交する方向に輝度が変化する画像信号が存在する場合に、段差量計算に用いられるラインがサブエリア境界から離れると、画像信号の変化分が大きくなり、段差量計算における誤差が大きくなるからである。
【００２８】
ただし、正常でない欠陥ライン上の画素を段差補正に用いることは不適切であるので、段差量計算部２２は、各ラインが正常ラインであるか欠陥ラインであるかを表すライン検査情報に基づいて、段差補正に使用されるいずれかのラインが欠陥ラインである場合には、段差量計算位置パラメータの値を変更する。ライン検査情報は、例えば、制御部３０が定期的に各ラインからの検出信号を検査することによって取得され、格納部３１に格納されている。
【００２９】
ステップＳ３において、フィルタ部２３が、段差量計算部２２によって計算された２つのライン間の段差量を表す段差量データに対して、フィルタ処理を施す。このフィルタ処理は、段差量データ（段差量プロファイル）に含まれている高周波成分を取り除くために行われるものであり、本実施形態においては、フィルタ画素数パラメータに基づいて、メディアンフィルタ処理が行われる。ノイズ又は画像信号に起因する高周波成分を含む段差量データに基づいて補正量を算出すると、補正量にも高周波成分が含まれてしまい、その高周波成分によって画像に横筋が発生するおそれがあるからである。
【００３０】
取り除かれる高周波成分は、フィルタ画素数パラメータの設定により、可変となっている。フィルタ画素数パラメータは、横筋状のアーティファクトを防止し、かつ、処理時間があまり増加しないように、メディアンフィルタ処理における適切なウインドウサイズ（画素数）を規定しており、デフォルト値は２０１画素となっている。なお、メディアンフィルタ処理における端点処理は、画像の端部における画素数に合わせてウインドウサイズを変更することにより行われる。
【００３１】
例えば、ウインドウサイズが２０１画素のメディアンフィルタ処理の場合に、画像の最端部の画素についてはウインドウサイズが１画素（自分自身）となり、その隣の画素についてはウインドウサイズが３画素（自分自身と両隣）となり、その隣の画素についてはウインドウサイズが５画素となる。このように、メディアンフィルタ処理におけるウインドウサイズは、１，３，５，・・・，２０１，２０１，２０１，・・・，５，３，１のように変化する。
【００３２】
補正量計算部２４は、ステップＳ４において、フィルタ処理が施された段差量データの値を１／２倍に乗算することにより、隣接する２つのサブエリアの内の一方についての補正量を求め、ステップＳ５において、１／２倍された段差量データの値を−１倍に乗算することにより、隣接する２つのサブエリアの内の他方についての補正量を求める。即ち、段差補正は、それら２つのサブエリアに対して、半々に行われる。これにより、元の画像情報に与える影響を小さくしながら、輝度の段差を補正することができる。このようにして、例えば、図３に示すサブエリア１５２及び１５３についての補正量が求められる。
【００３３】
さらに、補正量計算部２４は、ステップＳ６において、サブエリア毎の検出データと左方向の補正強度テーブルとに基づいて、左側のサブエリア（例えば、サブエリア１５２）内の全てのラインについての左方向の補正量データを求め、ステップＳ７において、サブエリア毎の検出データと右方向の補正強度テーブルとに基づいて、右側のサブエリア（例えば、サブエリア１５３）内の全てのラインについての右方向の補正量データを求める。
【００３４】
補正強度テーブルは、１つのサブエリア内の全てのライン上の画素における補正強度分布を規定している。例えば、補正強度テーブルにおけるデータのビット数が１６ビット（２１６＝６５５３６）である場合に、左方向の補正強度テーブルには、Ｘ軸方向の画素番号（ライン番号）ｎに対応して、補正係数Ｋ（ｎ）＝ＩＮＴ｛６５５３５ｎ／（１２８−１）＋０．５｝が格納される。ここで、画素番号ｎ＝０，１，２，・・・，１２７であり、「ＩＮＴ」は、整数部を求める関数である。
【００３５】
この補正強度テーブルによれば、画素番号ｎ＝０の左端の画素において、補正係数Ｋ（０）＝０となり、画素番号ｎ＝１２７の右端の画素において、補正係数Ｋ（１２７）＝６５５３５となる。これにより、左側のサブエリアにおいては、左端の画素における補正量がゼロとなり、サブエリア境界に近付くにつれて段差の補正量を大きくすることができるので、補正の副作用として現れる横筋を軽減すると共に、補正の影響が他のサブエリアに伝播することを防止することができる。
【００３６】
ただし、最も左側のサブエリア（サブエリア１５１）においては、さらに左側のサブエリアは存在しないので、補正係数Ｋ（ｎ）を一定にしても良い。同様に、最も右側のサブエリア（サブエリア１５５）においては、さらに右側のサブエリアは存在しないので、補正係数Ｋ（ｎ）を一定にしても良い。
【００３７】
ステップＳ８において、補正部２５は、左側のサブエリアについては、ステップＳ６において求められた左方向の補正量データを検出データに加算し、右側のサブエリアについては、ステップＳ７において求められた右方向の補正量データを検出データに加算する。これにより、画像における輝度の段差が補正された画像データが生成される。
【００３８】
なお、段差量が所定の値以上である場合には、その段差量は被検体の画像情報によるものであると考えられるので、補正部２５は、段差量閾値パラメータに基づいて、段差量が所定の閾値以上であるか否かを判定する。その結果、段差量が所定の閾値以上である場合には、その段差は補正されない。本実施形態において、段差量閾値パラメータのデフォルト値は４０００となっている。
【００３９】
その後、画像処理部２６が、複数のサブエリアの境界に平行な方向のムラを抑制する処理を行うようにしても良い。この処理は、例えば、画像データに対してＦＦＴ（高速フーリエ変換）処理を施し、特定の周波数成分のみを低減させることにより行われる。これにより、段差補正によって取りきれなかったムラを軽減することができる。
【産業上の利用可能性】
【００４０】
本発明は、放射線を用いて被検体を撮像することにより医用画像を生成する放射線撮像装置において利用することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の一実施形態に係る放射線撮像装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示すＸ線撮像部の外観を示す側面図である。
【図３】図１及び図２に示すＸ線検出器の詳細を示す図である。
【図４】図１に示す放射線撮像装置におけるデータ処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４２】
１  被検体
２  アーム部
３  基台
４  軸部
５  位置調節部
６  方向調節部
７  圧迫板駆動部
８  圧迫板
１０  Ｘ線撮像部
１１  管電圧・管電流制御部
１２  高電圧発生部
１３  Ｘ線管
１４  フィルタ
１５  Ｘ線検出器
１５１〜１５５  サブエリア
１６  検出素子
１７  読み取り部
１７１〜１７５  読み取り回路
１８  Ａ／Ｄ変換器
２０  Ｘ線撮像制御部（コンソール）
２１  段差補正部
２２  段差量計算部
２３  フィルタ部
２４  補正量計算部
２５  補正部
２６  画像処理部
２７  Ｄ／Ａ変換器
２８  表示部
２９  操作卓
３０  制御部
３１  格納部
【図１】
2008237835.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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