(57)【要約】      （修正有）【課題】ベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）において、キャリブレーション標準試料、例えばネットワークアナライザ付きキャリブレーションキットを追加すること無く、自己キャリブレーションすることを可能にする方法を提供する。【解決手段】ＲＦ電源、２つのケーブル、マルチステートインピーダンスモジュール、テストポートコネクタを有し、アンノウンスルー法を用いてＳパラメータを取得してキャリブレーションを行う。【選択図】図４
2008261843.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１タイプのケーブルを特徴付けするステップと第２タイプのケーブルを特徴付けするステップとを含んでなる、Ｎ≧２としてＮ個のポートを有する機器についてのキャリブレーション方法であって、
前記第１タイプのケーブルを特徴付けするステップは、
２つのキャリブレーションポートの間に第１ケーブルを接続するステップと、
前記２つのポート間において、アンノウンスルー法による全２ポートキャリブレーションを実行するステップと、
第１ケーブルのＳパラメータを取得するステップと、
前記第１ケーブルの前記Ｓパラメータを内部専用ユーザメモリに保存するステップと、
第１タイプの追加のケーブルについて、接続、実行、取得、および保存を繰り返すステップと、
第１タイプの前記ケーブルを２つのキャリブレーションポートのうちのいずれかから切り離し、測定プレーンをケーブルの接続端からケーブルの切り離された端に移すステップと
を含んでおり、前記第２タイプのケーブルを特徴付けするステップは、
前記２つのキャリブレーションポートのうちの第２のポートと前記第１ケーブルとの間に第２ケーブルを接続するステップと、
第２タイプのＳパラメータを測定するステップと、
前記第２ケーブルの前記Ｓパラメータを前記内部専用ユーザメモリに保存するステップと
を含んでおり、前記第１および第２嵌め合いタイプが、メス対メス、オス対オス、およびオス対メスコネクタを含む群から選択されるものである、キャリブレーション方法。
【請求項２】
前記特徴付けされたケーブルを使用して該ケーブルに嵌め合い可能なコネクタを有する残りのＮ−２個のポートを、ＱＳＯＬＴ法を用いてキャリブレーションする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記機器があるブロックに接続され、該ブロックが
信号源と、
前記信号源に接続され、前記Ｎ個のポートの各々に接続するように動作可能であるスイッチと
を含むものであり、前記Ｎ個のポートの各々が、
基準受信器に接続された入力検知アームとテスト受信器に接続された出力検知アームとを有するデュアル反射率計と、
反射率計に接続された第１端子と、マルチステートインピーダンスモジュールに接続された第２端子と、テストポートコネクタに接続された第３端子とを有する３端子スイッチと
を含むものである、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
パワーキャリブレーション受信器ならびに特徴付けされたケーブルおよびアダプタを使用して不整合パワー測定値を補正することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
外部キャリブレーション標準試料を用いることなく前記キャリブレーションの状態を更新することができる、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
Ｎ≧２としてＮ個のポートを有する機器についてのキャリブレーション方法であって、
信号源が第１ポート側に接続され、マルチステートインピーダンスモジュールが第２ポートに接続されている状態において、特徴付けされたタイプのケーブルを第１ポートと第２ポートとの間に接続するステップと、
第２ポートのマルチステートインピーダンスを使用してケーブルの端部において１ポートキャリブレーションを実行するステップと、
第２ポートを反射率計に切り替えてつなげるステップと、
スルー接続を測定して２ポートキャリブレーションを完遂するステップと
を含む、方法。
【請求項７】
前記機器が、信号源と前記信号源に接続され前記Ｎ個のポートの各々に接続するように動作可能である信号源スイッチとを含んでいる請求項６の方法であって、
前記Ｎ個のポートの各々があるブロックに接続されており、該ブロックは、
前記信号源に接続され、基準チャネル受信器に接続された第１スプリッタ出力を有するパワースプリッタと、
Ｎ投スイッチの単極の共通極に接続された前記パワースプリッタの第２スプリッタ出力と、
を含んでおり、該Ｎ投スイッチは、各投入が、
前記信号源スイッチに接続された入力ポートと、テスト受信器に接続された出力アームとを有する単一の反射率計と、
前記テストポートコネクタに接続された、前記単一反射率計の出力ポートに接続された３位置スイッチと、
前記３位置スイッチに接続されたマルチステートインピーダンスモジュールと
を含んでいる、方法。
【請求項８】
前記マルチステートインピーダンスモジュールが前記テストポートコネクタに電気的に接続されているときに、前記マルチステートインピーダンスモジュールが別のポートをキャリブレーションするために使用される、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記マルチステートインピーダンスモジュールが前記テストポートコネクタに電気的に接続されているときに、前記マルチステートインピーダンスモジュールがテスト対象デバイス用の可変インピーダンスの終端として使用される、請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
信号源が第１ポート側に接続され、マルチステートインピーダンスモジュールが第２ポートに接続されている状態において、特徴付けされたタイプのケーブルを第１ポートと第２ポートとの間に接続するステップと、
第２ポートのマルチステートインピーダンスを使用してケーブルの端部において１ポートキャリブレーションを実行するステップと、
第２ポートを反射率計に切り替えるステップと、
スルー接続を測定して２ポートキャリブレーションを完遂するステップと
を含む、請求項６に記載の方法。
【請求項１１】
内部において生成された第１ポートの１ポートキャリブレーションおよび第２ポートのケーブルの端部の１ポートキャリブレーションを使用して、ケーブルのＳパラメータを計算するステップと、
第１特徴タイプの第１ケーブルのＳパラメータを内部専用ユーザメモリに保存するステップと、
同じ嵌め合いタイプの追加ケーブルについて計算および保存を繰り返すステップと、
第２特徴タイプのケーブルについて、
第２ケーブルを２つのキャリブレーションポートのうちの第２ポートと、第１特徴タイプの第１ケーブルとの間に接続するステップと、
前記第２特徴タイプのケーブルのＳパラメータを測定するステップと、
前記内部専用ユーザメモリ空間にデータを保存するステップと
を含み、前記第１および第２特徴タイプが、メス対メス、オス対オス、およびオス対メスコネクタを含む群から選択されるものである、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
パワーキャリブレーション受信器ならびに特徴付けされたケーブルおよびアダプタを使用して、不整合パワー測定値を補正することを含む請求項６に記載の方法。
【請求項１３】
外部キャリブレーション標準試料を用いることなく前記キャリブレーションの状態を更新することができる、請求項６に記載の方法。
【請求項１４】
信号源と、
第２スプリッタ出力に接続された共通極を有する単極双投スイッチと
を備える、Ｎ≧２としてＮ個のポートを有する機器であって、
該単極双投スイッチは、各投によりあるブロックに接続され、
該ブロックは、反射率計に接続された第１端子と、マルチステートインピーダンスモジュールに接続された第２端子と、テストポートコネクタに接続された第３端子とを有する３端子スイッチを含むものであり、
前記反射率計がシングルおよびデュアル反射率計を含む群から選択されるものである、機器。
【請求項１５】
前記反射率計がシングル反射率計であり、基準チャネル受信器に接続された第１スプリッタ出力を有する前記信号源に接続されたパワースプリッタをさらに含む、請求項１４に記載のシステム。
【請求項１６】
前記マルチステートインピーダンスモジュールが前記テストポートコネクタに電気的に接続されているときに、前記マルチステートインピーダンスモジュールが別のポートをキャリブレーションするために使用される、請求項１４に記載のシステム。
【請求項１７】
前記マルチステートインピーダンスモジュールが前記テストポートコネクタに電気的に接続されているときに、前記マルチステートインピーダンスモジュールがテスト対象デバイス用の可変インピーダンスの終端として使用される、請求項１４に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【０００１】
図１は、先行技術の１ポート反射率計を示す。典型的なネットワークアナライザのキャリブレーションのためには、系統誤差係数（transmission error coefficient）を決定するために測定プレーンでいくつかの標準試料を測定する必要がある（図２に示す）。その後、キャリブレーション装置を取り外しておいて、ネットワークアナライザによって対象のデバイスを測定する。電子キャリブレーション（ＥＣａｌ）は、キャリブレーション用のアナライザポート１つにつき単一の接続を設けることによって、キャリブレーションプロセスを簡素化する。誤差補正プロセスの完了後に、Ｅｃａｌ装置は取り外される。
【０００２】
Ａｄａｍｉｅｎは、反射率計の向こう側で、ベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）のテストポートの内部においてマルチステート電子的転送用標準試料を使用し、かつ「アンノウンスルー（ｕｎｋｎｏｗｎ  ｔｈｒｕ）」法によるキャリブレーション方法を適用してＶＮＡの自動キャリブレーションを実行する。様々な先行技術の方法は、電子的に切替え可能な開放ショート負荷標準試料（ｏｐｅｎ  ｓｈｏｒｔ  ｌｏａｄ  ｓｔａｎｄａｒｄｓ）により、テストポートの向こう側および反射率計の前の場所を自動的にキャリブレーションする。「アンノウンスルー」法は、全２ポートキャリブレーション（full 2-port calibration）を得るために使用することができる。いずれの方法も、追加キャリブレーション標準試料を用いずに、挿入可能装置および挿入不可能装置を測定するようにシステムを構成することができない。
【０００３】
米国特許第６，４１７，６７４号においては、マルチポートキャリブレーションのための「アンノウンスルー」法（"unknown thru" method）が拡張された。まず、従来の方法を使用して測定プレーンにおける初期キャリブレーションが実行される。次いで、内部電子キャリブレーション装置が測定され、初期外部キャリブレーションによって得た系統誤差係数を使用して補正される（図３に示す）。したがって、内部電子キャリブレーション装置を使用して測定ポートの自動キャリブレーションが実行される。残念ながら、伝送誤差係数は、全２ポートＳＯＬＴキャリブレーションを使用することによって得られる。動作環境条件、例えば温度、移動、老化のため、ケーブルおよび配線は精度を維持するためにしばしば周期的キャリブレーションを必要とする。この技術は携帯機器には適さない。
【発明の開示】
【０００４】
ベクトルネットワークアナライザのキャリブレーションは、相異なる既知の反射状態を最低限３つ測定して、テストポートの向こう側の系統誤差を導出する必要がある。次いで、導出された系統誤差係数は、測定誤差を補正して測定精度を向上するために使用される。
【０００５】
２ポート測定の場合、伝送系統誤差を得るためにはポート１および２間のスルー接続が必要であるので、時間およびコストを節約するためにこれらのキャリブレーションステップを外部キャリブレーションキットも標準試料をも用いずに機器によって実行する。これは、運搬することのできる可搬性装置に有用である。各テストポートの向こう側においてネットワークアナライザ内部にマルチステートインピーダンスモジュールを組み込み、次いで外部キャリブレーションをマルチステートインピーダンスモジュールに移すことにより、特徴付けされた内部のマルチステートインピーダンスモジュールを使用してネットワークアナライザの各ポートを自動的にキャリブレーションすることができる。ケーブルおよびアダプタの適切な組合せを使用することにより、追加のキャリブレーション標準試料を用いることなく、アンノウンスルー法によるキャリブレーション方法、挿入可能および挿入不可能なときの測定のための全２ポートキャリブレーション方法が可能である。マルチステートインピーダンスモジュールは、他のネットワークアナライザ用の外部電子キャリブレーション装置として、または装置測定用の可変インピーダンスの終端として、または検証装置として使用することができるように、テストポート用の可変インピーダンスの終端になるように構成することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
本発明は、ベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）がキャリブレーション標準試料、例えばネットワークアナライザのキャリブレーションキットを取り付けることなく、自己キャリブレーションすることを可能にする方法である。
【０００７】
図４は、挿入可能および挿入不可能なテスト対象デバイス（ＤＵＴ）を備えた典型的なＶＮＡの自己キャリブレーション法を示す。ＲＦ源は、２つのケーブルの間において切り替えることができる。各ケーブルについて、スイッチ、マルチステートインピーダンスモジュール、およびテストポートコネクタの間に反射率計が介在する。
【０００８】
この方法によって、挿入可能および挿入不可能なデバイスの全２ポート誤差補正測定が行われる。テストポートケーブルはいつでも特徴付けすることができ、従って、ケーブルドリフト誤差が排除される。機器は、内部標準試料を用いてリフレッシュすること、例えば再キャリブレーションすることがいつでもできる。
【０００９】
ケーブルによる全２ポートキャリブレーションの代わりに、テストポート測定プレーンにおいて２回の１ポートキャリブレーションが実行される。図８を参照されたい。測定の柔軟性のために、テストポートコネクタは、同一のコネクタファミリの、同一のジェンダーのもの（つまり挿入不可能なもの）とする必要がある。挿入可能な組合せおよび混合コネクタファミリの組合せでは、自己キャリブレーションするという特徴がオスおよびメスコネクタの組合せの場合に制限される。
【００１０】
図９〜１３は、自己キャリブレーションステップおよび可能な装置コネクタの組合せを示す。
【００１１】
図６は、本発明の別の実施形態を示す。簡単にするために、１つのポートだけが示されている。この実施形態では、マルチステートインピーダンスモジュールを反射率計側、またはテストポート側に切り替えることができる。スイッチは、反射率計をテストポートに直接接続することもできる。マルチステートインピーダンスモジュールが反射率計側に切り替えられるとき、マルチステートインピーダンスモジュールは内部キャリブレーション装置として機能する。それがテストポート側に切り替えられるとき、前記マルチステートインピーダンスモジュールは外部ＶＮＡキャリブレーション装置または検証装置として使用することができる。図７に示すように接続されたとき、マルチステートインピーダンスモジュールは装置特徴付けのための可変インピーダンスの終端として挙動する。
【００１２】
［工場におけるキャリブレーション］
この機器は、ＥＣａｌまたは機械的キャリブレーション標準試料を使用するテストポートの測定プレーンの工場キャリブレーション用に設計される。次いで、このキャリブレーションは、誤差補正をＯＮにして内部マルチステートインピーダンスモジュールまたは各ポートを測定するために使用される。マルチステートインピーダンスモジュールは、インピーダンスの状態を検証する用途および／または可変の終端の用途に使用することができるように、ＶＮＡキャリブレーションに要求されるのに最低限必要な構成を有する。次いで、各インピーダンス状態の測定データは、機器の内部にある専用の工場メモリ空間に保存される。反射測定のためのテストポートキャリブレーションにより、パワー測定用の「ａ」および「ｂ」受信器をキャリブレーションするための基準として、パワーセンサをテストポートに接続することができる。パワーキャリブレーション係数は、割り当てられた工場データメモリ空間に保存される。機器は、電力投入時の追加キャリブレーション無しで、誤差補正された１ポート反射測定およびパワー測定を行なうことができる。図１７は、機器のデータメモリおよびプロセス制御関係の簡易ブロック図を示す。
【００１３】
図５に示す機器構成の場合、テストポートと直列のマルチステートインピーダンスモジュール用の追加データセットを特徴付けし、キャリブレーションされたＶＮＡ（図１４に示す通り）を用いて保存しなければならない。この特徴付けデータは、工場データメモリ空間に保存される。
【００１４】
一部の低コストＶＮＡ設計は、前方向および逆方向測定の両方に１つの基準受信器だけを使用する。ａ１およびａ２受信器を有する代わりに、むしろ１つのＲＥＦ受信器が使用される（図１５に示す通り）。この自己キャリブレーション方法を実行するために、米国特許出願１００４１４０３（適切な引用文献を含む）に教示されている「データマッチ」法を適用することができる。多機能スイッチ構成は、この配置のための他の自己キャリブレーションオプションを提供する。
【００１５】
図１６Ａ〜Ｂは、ユーザキャリブレーションのプロセスフローチャートを示す。２ポート装置測定が必要である場合、テストポートをテスト対象のデバイス（ＤＵＴ）に接続するために、ケーブルが必要である。以下の手順は、キャリブレーション標準試料無しで、測定プレーンをテストポートコネクタから全２ポートキャリブレーションのためのケーブルの端部に移動させる。
【００１６】
ステップ１００において、機器のポートと嵌め合い可能なコネクタおよび適切な長さを有する適切なケーブルをキャリブレーションポート間に接続し、「アンノウンスルー」法による全２ポートキャリブレーションを実行する。例えば、テストポートコネクタが両方とも「メス」コネクタである場合、ケーブルは両端に「オス」コネクタを有する（図９に示す通り）。
【００１７】
ステップ１０２において、ケーブルを取り外すことなく、ケーブルのＳパラメータを得る。表記上、便宜的にこれをケーブル１とする。
【００１８】
ステップ１０４において、機器の内部専用ユーザメモリ空間にケーブルのＳパラメータを保存する。
【００１９】
任意選択的に、追加ケーブル、例えばケーブル１と同一構成を有するケーブル２について、ステップ１０２および１０４を繰り返す。
【００２０】
ステップ１０６において、ケーブル１の１端をテストポートの１つから切り離す。
【００２１】
ステップ１０８において、機器のテストポートおよびケーブル１の開放コネクタと嵌め合い可能なコネクタを有する適切な第２ケーブルタイプを、開放テストポートおよびケーブル１に接続する。テストポートコネクタはメスであり、ケーブル１の端部コネクタはオスであるので、このケーブルは１端にオスコネクタ、他端にメスコネクタを有さなければならない（図１０に示す通り）。
【００２２】
ステップ１１０において、第１および第２ケーブルタイプのＳパラメータを測定する。
【００２３】
ステップ１１２において、第１ケーブルのデータを複合測定値から取り出すことによって、第２ケーブルのＳパラメータを算出する。データを機器の内部専用ユーザメモリ空間に保存する。表示上、便宜的にこれをケーブル３と呼ぶ。
【００２４】
任意選択的に、追加ケーブル、例えばケーブル３と同一構成を有するケーブル４について、ステップ１１０および１１２を繰り返す。
【００２５】
適切なケーブルを選択することにより、ケーブルの端部で全２ポート誤差補正測定を実行することができる（図１１に示す通り）。
【００２６】
追加の特徴付けケーブルにより、次のコネクタジェンダの組合せのいずれかで装置の測定が可能になる。
・ケーブル１およびケーブル３の組合せは、メス対オスとなる（図１１に示す通り）。
・ケーブル３およびケーブル４の組合せは、オス対オスの装置測定となる（図１２に示す通り）。
・ケーブル１およびケーブル２の組合せは、メス対メスの装置測定となる（図１３に示す通り）。
【００２７】
装置の測定は、ケーブルが測定されるステップのいずれかで実行することができる。ステップ２は、ケーブルを特徴付けするために使用された。それは、同様の特徴を有し、ポート１およびポート２の間で接続可能である、任意の２ポート装置を測定するのに使用することができる。同じことはステップ６についても言える。ＤＵＴをテストポートコネクタに直接接続することができれば、１つのケーブルだけが必要となる。
【００２８】
単一の基準受信器システムの場合（図１５に示す通り）、ケーブルが接続されている状態において、ポート１内部マルチステートインピーダンスモジュールをポート２用のキャリブレーション装置として使用することによって、２ポートキャリブレーションを達成することができる。機器のテストポートコネクタが同種である場合、以下の自己キャリブレーション手順において使用されるポート番号は相互交換可能である。機器の電源投入時に、１ポートキャリブレーションでテストポートは自動的にキャリブレーションされると仮定する。
【００２９】
図１７は、図１６に示す単一基準受信器システム用のプロセスフローチャートを示す。ステップ２００において、機器のポートに嵌め合い可能なコネクタおよび適切な長さを有する適切なケーブルを、キャリブレーションポート間に接続する。ＳＯＬＴ法を用いて全２ポートキャリブレーションを実行するポート、例えばポート１を選択する。機器のコントローラは以下のステップを、ユーザには見えないように実行する。最初に、機器の内部マルチステートインピーダンスモジュールを外部キャリブレーション装置として使用することによって、１ポートキャリブレーションがケーブルコネクタ嵌め合い面の端部において実行される（図１８に示す通り）。次に、前方向および逆方向測定が行なわれる（図１９に示す通り）。
【００３０】
ステップ２０２において、１２の誤差補正項を計算する。機器はこの時点で挿入可能２ポート測定を行なうように読み出される。
【００３１】
ステップ２０４において、ポート１において実行された１ポートキャリブレーションからポート２における内部１ポートキャリブレーションを取り出すことによって、ケーブルのＳパラメータを計算する。伝送トラッキング項および負荷整合項をポート２に転送する。
【００３２】
１ポートＶＮＡの誤差モデル（図２０に示す）場合、３つの系統誤差は、方向性（directivity,Ｅｄ）、信号源整合（Ｅｓ）、および反射トラッキング（Ｅｒ）である。少なくとも３つの明確に異なる既知の装置を測定することにより、系統誤差を決定することができる。行列の最小２乗法の方程式の形態を用いると、次のようになる。
【数１】
2008261843.tif 000003
４つ以上のインピーダンス状態をキャリブレーションに利用可能である場合、最小２乗解が使用される。
【数２】
2008261843.tif 000004
図２２に示す物理的セットアップを使用する。
【数３】
2008261843.tif 000005
とする。ここで、［Ｔna］は、スイッチの向こう側のシステムの系統誤差の伝送パラメータである。
【数４】
2008261843.tif 000006
また、［Ｔp］は、測定プレーンとスイッチとの間のシステムの系統誤差の伝送パラメータである。
【数５】
2008261843.tif 000007
したがって、次のようになる。
【数６】
2008261843.tif 000008
ここで、ΓSEは外部標準試料の反射である。
【数７】
2008261843.tif 000009
内部キャリブレーション標準試料を測定するようにスイッチを設定すると、次のようになる。
【数８】
2008261843.tif 000010
ここで、ΓSIは標準試料の実際の応答である。
誤差補正をＯＮにして、［ＴO］を使用すると、次のようになる。
【数９】
2008261843.tif 000011
標準試料の実際の応答は、フロントエンドの系統誤差が埋め込まれた状態の「誤差補正された」ΓSI’に等しい。各内部キャリブレーション装置の「誤差補正された」データΓSI’を１ポートキャリブレーション解に適用すると、次のようになる。
【数１０】
2008261843.tif 000012
【数１１】
2008261843.tif 000013
【００３３】
これは、equation（４）と全く同じ形であり、equation（７）と矛盾しない。外部キャリブレーションは内部キャリブレーション標準試料に転送され、それによってそれらは測定プレーンにおいて測定されたように見えた。外部キャリブレーションは、機器の製造者によって、またはエンドユーザのキャリブレーションラボによって、またはエンドユーザによって実行することができる。
【００３４】
機器は、電源投入時、およびいつでも希望するときに、各ポートにおいて内部特徴付け装置を使用してキャリブレーションを実行するように設計することができる。ポート１をポート２にケーブルによって接続することにより、測定プレーンにおける全２ポートキャリブレーションを今、アンノウンスルー法を使用して達成することができる。
【００３５】
特徴付けされたケーブルおよびアダプタにより、装置の誤差補正測定が今、脱埋め込み技術または測定プレーンの移送技術を使用し、ケーブルおよびアダプタの全Ｓパラメータデータを使用して可能になる。どちらかの方法により同じ結果が達成される。
【００３６】
全２ポート測定誤差補正の後、結果は各コンポーネントの伝送行列の行列積に等しくなる。２ポート脱埋め込み技術を適用することにより、次のようになる。
【数１２】
2008261843.tif 000014
行列［Ｔmc］は、誤差補正されたＴ行列に対応する。行列［ＴD］はＤＵＴのＴ行列に対応する。行列［Ｔc1］、［Ｔc2］はそれぞれポート１およびポート２のケーブルのＴ行列に対応する。
【数１３】
2008261843.tif 000015
ＤＵＴのＳパラメータは次のように解くことができる。
【数１４】
2008261843.tif 000016
２つの１ポートキャリブレーションからケーブルのＳパラメータを取り出す場合、次の通りである。
【数１５】
2008261843.tif 000017
［ＴＥ２］は、ケーブルの端部における１ポートキャリブレーション誤差項の伝送パラメータである。［ＴＣ］は、テストポート側の入力によるケーブルの伝送パラメータである。［ＴＥ１］は、ケーブルの他端におけるテストポートの１ポートキャリブレーション誤差項の伝送パラメータである。
機器のテストポートの測定プレーンは、次の関係を認識することによって、ケーブルの端部に移すことができる。
【数１６】
2008261843.tif 000018
図２３は、追加のキャリブレーション標準試料を必要としないベクトルネットワークアナライザの機能ブロック図を示す。
【数１７】
2008261843.tif 000019
ケーブル２、すなわち図１６に示す通り特徴付けされた第２ケーブルについて、ＳパラメータはＳ22側をテストポートに接続して測定されることに注目されたい。
新しい負荷整合項および伝送トラッキング項は次のようになる。
【数１８】
2008261843.tif 000020
ＥL21、ＥL12は、ステップ１（図６に示す）において得られた前方向および逆方向負荷整合項である。
【数１９】
2008261843.tif 000021
ＥT21およびＥT12は、ステップ１（図６に示す）において得られた前方向および逆方向伝送トラッキング項である。測定プレーンをケーブルの端部からテストポートに移すことは、equation（１３）〜equation（１５）から［ＴE1］項、［ＴE2］項、ＥL21項、ＥL12項、ＥT21項、ＥT12項を解くことによって導出される。
測定プレーンをケーブルの端部から移すことにより、ＤＵＴ測定誤差補正を標準的なＶＮＡ方式により処理することができる。適切なＶＮＡソースおよび受信器パワーキャリブレーション法は文献に開示されている。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】先行技術の１ポート反射率計を示す。
【図２】測定プレーンをキャリブレーションするための先行技術の方法を示す。
【図３】内部電子キャリブレーション装置および外部２ポート全２ポートキャリブレーションを有する先行技術の２ポートベクトルネットワークアナライザを示す。
【図４】本発明に適した構成を示す。
【図５】本発明に適した別の構成を示す。
【図６】本発明に適した別の構成を示す。
【図７】本発明に適した別の構成を示す。
【図８】テストポート測定プレーンにおいて実行される２回の１ポートキャリブレーションを示す。
【図９】自己キャリブレーションステップおよび交互装置コネクタの組合せを示す。
【図１０】自己キャリブレーションステップおよび交互装置コネクタの組合せを示す。
【図１１】自己キャリブレーションステップおよび交互装置コネクタの組合せを示す。
【図１２】自己キャリブレーションステップおよび交互装置コネクタの組合せを示す。
【図１３】自己キャリブレーションステップおよび交互装置コネクタの組合せを示す。
【図１４】入力側マルチステートインピーダンスモジュールキャリブレーションを示す。
【図１５】単一基準受信器構成を示す。
【図１６】ユーザキャリブレーションのためのプロセスフローチャートを示す。
【図１７】単一基準受信器システムをキャリブレーションするためのプロセスフローチャートを示す。
【図１８】機器のデータ空間および流れの簡易ブロック図である。
【図１９】外部キャリブレーション装置としての内部マルチステートインピーダンスモジュールを示す。
【図２０】自動ＳＯＬＴキャリブレーションを示す。
【図２１】１ポートベクトルネットワークアナライザを示す。
【図２２】図２１の物理的セットアップを示す。
【図２３】追加のキャリブレーション標準試料を必要としないベクトルネットワークアナライザの機能ブロック図を示す。
【図１】
2008261843.tif 000022
【図２】
2008261843.tif 000023
【図３】
2008261843.tif 000024
【図４】
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【図５】
2008261843.tif 000026
【図６】
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【図７】
2008261843.tif 000028
【図８】
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【図９】
2008261843.tif 000030
【図１０】
2008261843.tif 000031
【図１１】
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【図１２】
2008261843.tif 000033
【図１３】
2008261843.tif 000034
【図１４】
2008261843.tif 000035
【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【外国語明細書】
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