(57)【要約】【課題】記録層が多層化された光ディスクを記録または再生する際、記録・再生の対象層以外の記録層から反射された不要光と本来の信号光が光検出器の受光面上で重なり、その干渉によって検出信号に不要な外乱成分が漏れこむという問題が生じる。この外乱成分は特に差動プッシュプル方式におけるサブプッシュプル信号検出に影響を及ぼし、結果的にＤＰＰ方式によるトラッキング制御信号の信号品質が著しく劣化する。【解決手段】  上記問題を解決するため、本発明では光検出器内の副光束用の受光面を少なくとも３分割以上に分割し、このうち中央部受光面からの検出信号を独立した任意の増幅率または減衰率で増幅または減衰させたのち他の受光面から得られた検出信号にそれぞれ加算することで、上記したような干渉による副光束スポットの光量変動を相殺することができ、結果的に検出されるサブプッシュプル信号の外乱成分を良好に除去することができる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体レーザ光源と、
前記半導体レーザ光源から出射したレーザ光束を主光束と副光束とに分割する光束分割素子と、
前記主光束および副光束を光学的情報記録媒体に集光させる対物レンズと、
光学的情報記録媒体から反射した主光束および副光束を受光する光検出器と、
を有する光ピックアップであって、
前記光検出器は、
前記主光束が入射しかつ互いに略垂直な２本の分割線により４分割された主光束用受光面と、
前記副光束が入射しかつ互いに略平行な２本の分割線により第１領域と第２領域と第３領域とに３分割された副光束用受光面と、
を有し、
前記第３領域は、前記第１領域と前記第２領域との間に配されており、前記第１領域と前記第３領域とから得られる信号を加算し第１の出力とし、前記第２領域と前記第３領域とから得られる信号を加算し第２の出力とする、
光ピックアップ。
【請求項２】
半導体レーザ光源と、
前記半導体レーザ光源から発したレーザ光束を主光束と副光束とに分割する光束分割素子と、
前記主光束および副光束を光学的情報記録媒体の記録層に集光させる対物レンズと、
記録層を反射した主光束および副光束を独立に受光し所定の光電変換信号を検出する光検出器と、
を備えた光ピックアップであって、
前記光検出器は、前記主光束が入射しかつ互いに略垂直な２本の分割線によって４分割された主光束用受光面と、前記副光束が入射しかつ少なくとも互いに略平行な２本の分割線により中央部に位置する第３の受光面と該第３の受光面を両側からはさみこむ位置に配置された第１および第２の受光面とに３分割された副光束用受光面とを備え、
前記副光束用受光面内の前記第３の受光面から検出された光電変換信号を所定の値からなる第１の増幅率または減衰率で増幅または減衰させたのち第１の受光面から検出された光電変換信号に加算する手段と、前記第３の受光面から検出された光電変換信号を所定の値からなる第２の増幅率または減衰率で増幅または減衰させたのち第２の受光面から検出された光電変換信号に加算する手段とを備えたことを特徴とする光ピックアップ。
【請求項３】
前記第１の増幅率または減衰率および前記第２の増幅率または減衰率をそれぞれ独立に零を含む任意の値に設定するための手段を備えたことを特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ。
【請求項４】
半導体レーザ光源と、
前記半導体レーザ光源から発したレーザ光束を主光束と副光束とに分割する光束分割素子と、
前記主光束および副光束を光学的情報記録媒体の記録層に集光させる対物レンズと、
記録層を反射した主光束および副光束を独立に受光し所定の光電変換信号を検出する光検出器と、
を備えた光ピックアップであって、
前記光検出器は、前記主光束が入射しかつ互いに略垂直な２本の分割線によって４分割された主光束用受光面と、前記副光束が入射しかつ少なくとも互いに略平行な３本の分割線により中央部に隣接して配置された第３および第４の受光面と該第３および第４の受光面を両側はさみこむ位置に配置された第１および第２の受光面とに４分割された副光束用受光面とを備え、
前記副光束用受光面内の前記第３の受光面から検出された光電変換信号を所定の値からなる第１の増幅率または減衰率で増幅または減衰させたのち第１の受光面から検出された光電変換信号に加算する手段と、前記第３の受光面から検出された光電変換信号を所定の値からなる第２の増幅率または減衰率で増幅または減衰させたのち第２の受光面から検出された光電変換信号に加算する手段と、前記第４の受光面から検出された光電変換信号を所定の値からなる第３の増幅率または減衰率で増幅または減衰させたのち第１の受光面から検出された光電変換信号に加算する手段と、前記第４の受光面から検出された光電変換信号を所定の値からなる第４の増幅率または減衰率で増幅または減衰させたのち第２の受光面から検出された光電変換信号に加算する手段とを備えたことを特徴とする光ピックアップ。
【請求項５】
前記第１乃至第４の増幅率または減衰率をそれぞれ独立に零を含む任意の値に設定する手段を備えたことを特徴とする請求項４に記載の光ピックアップ。
【請求項６】
請求項１乃至５記載の光ピックアップを備え、かつ前記主光束用受光面および前記副光束用受光面の各々からプッシュプル方式による所定の信号を独立に検出し該各検出信号に所定の演算処理を施すことにより、差動プッシュプル方式によるトラッキング制御信号を検出する機能を備えた光学的情報再生装置。
【請求項７】
前記光学的情報記録媒体内に所定間隔で設けられた複数の記録層に記録された各情報信号を再生する機能を備えた請求項６記載の光学的情報再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップおよび光学的情報再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
本技術分野の背景技術としては、例えば特開平７−２７２３０３号公報がある。本公報には、目的として「簡単な構成で、全体形状を小型化し得、必要に応じて組立作業を簡略化することができる光ディスク装置、光学ピックアップ及び光学ピックアップの組立方法を提供すること」と記載があり、構成として「増幅回路１５Ｅ及び１５Ｈの前で、予め受光面Ｅ、Ｇ及びＦ、Ｈ間の出力信号を加算した後、増幅して出力する」と記載がある。
【０００３】
【特許文献１】特開平７−２７２３０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
近年、光ディスク記録容量の大容量化を実現する手段として記録層の多層化技術が一般化しつつある。この記録層の多層化とは、例えば図４に示すように光ディスク１０内に複数の記録層（図４の例では１００よび１０１の２層）を一定の層間隔δをおいて重畳させることであり、このような記録層多層化の技術により従来の単層記録層からなる光ディスクに対してその記録容量をほぼ倍増することができる。なお、図４では記録層が２層の例を示しているが、多層化とはそのような２層構造に限定されるものではなく、３層以上の多層化も技術的には充分実現可能である。
【０００５】
一方、一般に光ディスクから情報信号を再生または光ディスクへ情報信号を記録することを目的とした光ピックアップおよびそれを搭載した光学的情報再生装置においては、光ディスクの記録層に設けられた所定の記録トラック上にレーザ光束を安定的かつ高精度に集光するための、いわゆるトラッキング制御が必須である。このトラッキング制御を実施するためには、制御を行うためのトラッキング制御信号を検出することが必要であるが、従来このトラッキング制御信号検出方式として一般的なものに差動プッシュプル方式（以下簡単のため、この方式をＤＰＰ方式と記す。）がある。
【０００６】
このＤＰＰ方式については、例えば特許文献１等に開示されているので、本明細書では図２および図３を用いてその概要を簡単に説明する。
【０００７】
図２は、ＤＰＰ方式によるトラッキング制御信号検出手段を用いたごく一般的な光ピックアップの主要光学系を概略的に示した図である。
【０００８】
半導体レーザ１から発したレーザ光束は、回折格子２などの光束分割素子によって実際に情報信号の再生または記録を行う主光束５０（０次光）とトラッキング制御信号を生成するために用いられる２本の副光束５１および５２（±１次回折光）に分割される。そしてこれら各光束は、ハーフミラー３、コリメートレンズ４を経て対物レンズ５によって光ディスク１０内の所定の記録層に各々独立に集光される。このとき主光束５０の集光スポット(図示せず。)と副光束５１および５２の集光スポット(図示せず。)は、光ディスク１０の半径方向に関する照射位置間隔が該光ディスク１０の記録トラック間隔の略半分に一致するような配置で照射される。そしてこれら各集光スポットの光ディスク１０からの反射光束は、再び対物レンズ５、コリメートレンズ４、ハーフミラー３を通り、さらに検出レンズ７を経て光検出器８に入射する。
【０００９】
なお対物レンズ５には、これを所定の方向に駆動するためのアクチュエータ６が取り付けられており、このアクチュエータ６に後述するトラッキング制御信号をフィードバックして対物レンズの位置制御を行うことでトラッキング制御が実行される。
【００１０】
ところで前記光検出器８は、例えば図３に示されるように、主光束５０の光ディスク反射光からなる集光スポット６０が入射する受光領域８０と、副光束５１および５２の光ディスク反射光からなる集光スポット６１、６２が入射する受光領域８１および８２が図の上下方向に並列して配置されている。このうち主光束５０用の受光領域８０は、例えば図中に示すように十文字状の分割線で４分割された受光面で構成され、一方、副光束用の受光領域８１および８２は、分割線８３および８４によって各々が図の上下方向に２分割された受光面で構成されている。そして分割された各受光面からはその入射光強度に応じた電流が発生し、電流−電圧変換器２０１乃至２０９で各々独立に電流−電圧変換されたのち減算器２２０および２２１によって減算処理され、主光束５０のプッシュプル信号（以下簡単のため、この信号をメインＰＰ信号と記す。）と副光束５１、５２のプッシュプル信号が加算された信号（以下簡単のため、この信号をサブＰＰ信号と記す。）が検出される。
【００１１】
このとき出力されるメインＰＰ信号とサブＰＰ信号は、光ディスク１０上の各集光スポットが上記したような配置になっているため、その信号位相が互いに１８０度ずれて出力される。このためこの両ＰＰ信号を増幅器２２２および２２３によってそれぞれ適当な増幅率Ｋ１およびＫ２で増幅させたのち減算器２２４で減算処理することにより、メインＰＰ信号とサブＰＰ信号の両方に含まれる不要な直流成分や同位相の外乱成分が除去された良好なトラッキング制御信号が出力される仕組みになっている。
【００１２】
このようにＤＰＰ方式は、比較的簡単な光学系構成によって、例えば対物レンズのトラッキング変位などに伴って生じるトラッキング制御信号のオフセット等を除去し、高品質のトラッキング制御信号を安定的に検出することができるという利点があり、有効なトラッキング制御信号検出手段として一般的に広く用いられている。
【００１３】
なお、光ピックアップにおける対物レンズ５の位置制御は、上記したトラッキング制御だけに限定されるものではなく、当然のことながら光軸方向に沿った位置制御、いわゆるフォーカス制御も同時に行われる。そしてこのフォーカス制御に用いられるフォーカス制御信号の検出方式としては、例えば非点収差方式などが一般的に用いられており、上記トラッキング制御信号と同様に、例えば図３に示した光検出器８内の各受光面で検出された信号から所定の演算回路を経て生成可能である。ただしこのフォーカス制御信号の検出手段については既に公知の技術であるので、本明細書では詳しい説明は省略し、また図３においてもフォーカス制御信号検出用の回路構成は省略している。
【００１４】
以上述べたように、ＤＰＰ方式はトラッキング制御信号の検出方式として実用的な特徴を備えており、一般的に広く用いられている方式である。
【００１５】
しかしながら、このようなＤＰＰ方式によるトラッキング制御信号検出手段を前記したような記録層が多層化された光ディスクの再生または記録を行なう光ピックアップまたは光学的情報再生装置に用いた場合、新たに下記に示すような課題が生じる。
【００１６】
すなわち、多層化された光ディスク内の各記録層の中で実際に信号の記録または再生の対象になっている記録層（以下簡単のため、この記録層を対象層と記す。）に各光束を集光した場合、その光量の一部がこの対象層を反射せず、対象層以外の記録層で反射してしまい実際の信号検出には寄与しない不要光束となって、本来の信号光束とほぼ同様の光路をたどって光検出器内の各受光面に入射してしまうという問題が生じる。この受光面に入射した不要光束は受光面上で本来の信号光束と干渉をおこし、その干渉縞による光量アンバランスによって、結果的に各受光面から出力される信号に不要な外乱成分が漏れ込んでしまう。
【００１７】
この現象を図５で説明する。図５は、図４と同じ２層の記録層１００および１０１を持つ光ディスク１０に主光束５０および副光束５１、５２（図示せず）を図の下側から集光させた状態を概略的に示した図である。
【００１８】
まず図５（ａ）は、各光束が手前側（図の下側）の記録層１００上に集光した場合、すなわち記録層１００が対象層である場合を示している。このような場合、記録層１００上に集光された光スポットの光量の一部が記録層１００を透過し、その奥側（図の上側）にある記録層１０１で反射して不要光束５３となる。
【００１９】
また図５（ｂ）は、前記図５（ａ）の場合とは逆に、各光束が奥側（図の上側）の記録層１０１上に集光した場合、すなわち記録層１０１が対象層である場合を示している。このような場合、光束は手前（図の下側）にある記録層１００を一旦透過したのち記録層１０１上に集光されるが、このとき一部の光量が記録層１００を反射して不要光束５４となる。
【００２０】
このような不要光束５３、５４は、いずれも本来の信号光束とほぼ同様の光路をたどって光検出器に達するが、このとき光検出器内の各受光面上に大きく広がって照射される。そしてその一部の光が各受光領域上に照射される本来の信号光束に重なり干渉が生じる。その結果、各受光領域上で明暗の干渉縞が生じ、その干渉縞によって生じた局所的な光量アンバランスにより、各受光面から検出される信号に不要な外乱成分が漏れこんでしまう。
【００２１】
そして特に、ＤＰＰ方式によるトラッキング制御信号検出に用いられるサブＰＰ信号は、一般的にメインＰＰ信号に比べて信号強度が小さく、このために上記した不要光束と信号光束との干渉による光量アンバランスが大きく影響し、実際の信号振幅に対して比較的大きな外乱成分が漏れこんでしまう。その結果、ＤＰＰ方式によって検出されたトラッキング制御信号に大きな波形歪や揺らぎが発生し、信号品質が劣化してしまう。
【００２２】
なお、このような不要光束と信号光束の干渉がサブＰＰ信号に及ぼす影響度合いについて発明者が検討したところ、前記干渉によって生じる各受光領域内の光量アンバランスのうち、副光束の集光スポットのサブＰＰ信号検出用受光領域（図３における受光領域８１および８２）内に設けた分割線（図３における８３および８４）の上およびその近傍で発生する光量アンバランスが、サブＰＰ信号の品質に最も悪影響を及ぼすことが判明した。
【００２３】
一方、メインＰＰ信号やサブＰＰ信号それ自体は、主に各受光領域に集光される光スポット（すなわち図３の６０乃至６２）各々のスポット周辺部での光量変化によって生成されており、光ディスクの情報信号記録密度が高く、それに伴い記録トラック間隔が狭く設定されているディスクほどその傾向が大きいこともわかっている。
【００２４】
以上の状況を踏まえ、ＤＰＰ方式によるトラッキング制御信号検出手段を用い、かつ記録層が２層以上に多層化された光ディスクに情報信号を記録または記録された情報信号を再生する機能を備えた光ピックアップおよびそれを搭載した光学的情報再生装置において、対象層以外の記録層から生じた不要光束と本来の信号光束が光検出器の各受光領域上で干渉することによって生じるトラッキング制御信号の品質劣化を良好に改善し、安定的かつ高精度のトラッキング制御信号を検出できる光ピックアップおよびそれを搭載した光学的情報再生装置を提供したい。
【００２５】
本発明の目的は、安定したサーボ信号を検出できる光ピックアップおよび光学的情報再生装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００２６】
上記目的は、その一例として、副光束用受光面を三分割以上に分割することで達成できる。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば、安定したサーボ信号を検出できる光ピックアップおよび光学的情報再生装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
以下実施例を複数説明するが、各実施例は独立にも機能し、また、組合せにおいても機能し得るものである。
【実施例１】
【００２９】
図１は、第１の実施例の主要部である光検出器の構成を示した図である。なお図１においては、既に図３で説明した従来の光検出器と同じ構成要素には同じ番号を付している。
【００３０】
また本実施例における光ピックアップの光学系構成は、例えば図２に示したような従来の光ピックアップと全く同じの構成で一向にかまわない。従来の光ピックアップと異なる点は、光検出器８内の受光面パターンおよびその信号出力方法である。
【００３１】
図１に示した本実施例の光検出器８の受光面パターンと、図３に示した従来の光検出器８の受光面パターンを比較すると明らかなように、本実施例では副光束の集光スポット６１および６２がそれぞれ入射する受光面８１および８２がそれぞれ略平行な２本の分割線８５、８６および８７、８８で３分割され、並列した第１の受光面８１ａまたは８２ａと第２の受光面８１ｂまたは８２ｂの間でかつ入射副光束の集光スポット６１または６２の中央部が入射する位置に第３の受光面８１ｃまたは８２ｃが設けられている。そして８１ａ乃至８１ｃまたは８２ａ乃至８２ｃの各受光面で検出された光電変換電流は電流−電圧変換器２０５乃至２０７または２０８乃至２１０によってそれぞれ独立に電流−電圧変換される。そしてこれら電流−電圧変換された各検出信号のうち、中央部に配置された第３の受光面８１ｃまたは８２ｃから検出された信号電圧のみが増幅器または減衰器２１１および２１２あるいは２１５および２１６により各々独立に設定された増幅率または減衰率Ｋ１およびＫ２あるいはＫ３およびＫ４で増幅または減衰させたのち、それぞれ加算器２１３および２１４あるいは２１６および２１７によって第１および第２の受光面８１ａおよび８１ｂまたは８２ａおよび８２ｂから検出された信号電圧に加算されるようになっている。なおこの時、増幅器または減衰器２１１、２１２および２１５、２１６の各増幅率または減衰率Ｋ１、Ｋ２およびＫ３、Ｋ４は、各々独立に零を含む任意の値に設定あるいは可変することが可能な構成になっている。
【００３２】
次に、本実施例におけるトラッキング制御信号の品質改善効果の原理を説明する。
前記したように、サブＰＰ信号の外乱や信号品質劣化は、副光束用受光面８１、８２上において副光束の信号光スポット６１、６２との干渉現象に起因する光量変動が主原因であり、特に前記副光束の集光スポットの中央部近傍、すなわち前記副光束用受光面８１、８２内の前記中央部受光面８１ｃまたは８２ｃ上およびその近傍で生じる光量変動が、サブＰＰ信号の外乱成分の増加や信号品質の劣化に最も影響を及ぼす事が明らかになっている。
【００３３】
そこで例えば、前記副光束の信号光スポット６１、６２が前記副光束用受光面８１、８２の各中央部に位置ずれなく照射され、かつまた収差などによって信号光スポット６１、６２の光強度分布に不要な歪みなどが無い場合は、前記中央部受光面８１ｃまたは８２ｃから得られた検出信号を同じ増幅率または減衰率すなわちＫ１＝Ｋ２＝ＫおよびＫ３＝Ｋ４＝Ｋ‘（ただしＫ，Ｋ’は、零を含む任意の値）で増幅または減衰させたのち、第１および第２の受光面８１ａおよび８１ｂまたは８２ａおよび８２ｂから検出された検出信号にそれぞれ加算しておくと、この加算済みの検出信号を次段で減算器２２０または２２１によって減算処理することでサブＰＰ信号を検出する際に、同時に前記中央部受光面８１ｃまたは８２ｃ上での光量変動成分が相殺されることになるので、前記干渉の影響によるＳＰＰ信号への外乱成分を除去もしくは大幅低減させることができる。そしてその結果として、トラッキング制御信号の信号品質を良好に改善することができる。
【００３４】
一方、前記副光束の信号光スポット６１、６２が前記副光束用受光面８１、８２に対して位置がずれて照射されたり、収差等の影響で信号光スポット６１、６２の光強度分布に不要な歪み等が発生すると、前記第１および第２の受光面８１ａおよび８１ｂまたは８２ａおよび８２ｂから検出された検出信号に含まれる不要な光量変動にアンバランスが生じ、その結果でＳＰＰ信号への外乱成分が増大する可能性がある。しかしながら、そのような場合においても、前記増幅率または減衰率Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３およびＫ４の値をそれぞれ独立に調整することにより、結果的に減算器２２０または２２１によって減算処理されて検出されるサブＰＰ信号に含まれる外乱成分を上手く相殺し、外乱成分が除去もしくは大幅に低減されたＳＰＰ信号を得ることができる。そしてその結果として、トラッキング制御信号の信号品質を良好に改善することができる。
【実施例２】
【００３５】
次に第２の実施例について図６を用いて説明する。
【００３６】
図６は、第２の実施例の主要部である光検出器の構成を示した図である。なお図６において、既に図１に示した第１の実施例および図３で説明した従来の光検出器と同じ構成要素には同じ番号を付している。また図６において、図１に示した第１の実施例から新たに追加されている構成要素としては、２０７ａ、２０７ｂ、２１０ａ、２１０ｂが電流−電圧変換器であり、２１１ａ、２１１ｂ、２１２ａ、２１２ｂ、２１５ａ、２１５ｂ、２１６ａ、２１６ｂがそれぞれ独立した増幅率または減衰率Ｋ1乃至Ｋ８を有する増幅器または減衰器である。
【００３７】
また本実施例における光ピックアップの光学系構成も、図１に示した第１の実施例と全く同様に例えば図２に示したような従来の光ピックアップと全く同じの構成で一向にかまわない。従来の光ピックアップあるいは図１に示した第１の実施例と異なる点は、光検出器８内の受光面の構成である。
【００３８】
すなわち本実施例においては、図１に示した第１の実施例における副光束用受光面８１内の中央部受光面８１ｃを新たな分割線８３によってさらに２分割し、結果的に８１ａ乃至８１ｄの４面の独立した受光面にしている。また同じく受光面８２についても、新たな分割線８３によって中央部受光面８２ｃを２分割し、結局８２ａ乃至８２ｄの４面の独立した受光面にしている。そして各々の中央部受光面８１ｃ、８１ｄおよび８２ｃ、８２ｄから得られた検出信号を電流−電圧変換器２０７ａ、２０７ｂおよび２１０ａ、２１０ｂで電流−電圧変換させたのち、増幅器または減衰器２１１ａ、２１１ｂ、２１２ａ、２１２ｂおよび２１５ａ、２１５ｂ、２１６ａ、２１６ｂにより各々独立した増幅率または減衰率Ｋ１乃至Ｋ４およびＫ５乃至Ｋ８で増幅または減衰させたのち、加算器２１３、２１４および２１７，２１８によって、受光面８１ａおよび８１ｂあるいは８２ａおよび８２ｂから検出された信号に加算される構成になっている。
【００３９】
なおこの時、増幅器または減衰器２１１ａ、２１１ｂ、２１２ａ、２１２ｂおよび２１５ａ、２１５ｂ、２１６ａ、２１６ｂの各増幅率または減衰率Ｋ１乃至Ｋ８は、各々独立に零を含む任意の値に設定あるいは可変することが可能な構成になっている。
【００４０】
本実施例のようにサブＰＰ信号の外乱成分の増加や信号品質の劣化に最も多大な影響をおよぼすことがわかっている副光束スポット中央部の受光面をさらに分割し、分割後の各受光面からの検出信号大きさを各々独立に調整できるようにすることで、受光面上に照射される副光束スポットの位置ずれや収差に伴う光量分布の歪などによって生じてしまう光量変動のアンバランスをさらに詳細かつ精度よく補正することができ、結果的に不要光との干渉現象に起因するサブＳＰＰ信号外乱成分の除去または補正性能をさらに向上させることができる。
【００４１】
なお、図１に示した第１の実施例は、副光束用受光面を各々３分割する例を開示し、図６に示した第２の実施例は、副光束用受光面を各々４分割する例を開示したが、本実施例はそれに限定されるものではなく、各々５分割以上に細かく分割しても一向にかまわない。いずれの場合も各受光面からの検出信号をそれぞれ独立、かつ任意の増幅率または減衰率で増幅または減衰させたのち、両端の受光面からの検出信号に加算する手段を備えることで、干渉現象に起因するサブＳＰＰ信号外乱成分を良好に除去または補正し、トラッキング制御信号の信号品質の改善に寄与させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】第１の実施例の主要部である光検出器を示す概略平面図。
【図２】従来および本実施例における光ピックアップの光学系構成をしめす概略正面図。
【図３】光検出器の従来例を示す概略平面図。
【図４】多層化された光ディスクの概略断面図。
【図５】多層化された光ディスクに入射した光束の光路を示した概略断面図。
【図６】第２の実施例の主要部である光検出器を示す概略平面図。
【符号の説明】
【００４３】
１…半導体レーザ光源、２…回折格子、５…対物レンズ、８…光検出器、１０…光ディスク、５０…主光束、５１、５２…副光束、８０、８１、８２…  光検出器の各受光面、１００、１０１…記録層
【図１】
2008152852.tif 000003
【図２】
2008152852.tif 000004
【図３】
2008152852.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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