(57)【要約】【課題】  シンボルレートの異なるＤＰＳＫ、ＤＱＰＳＫ等における光位相変調信号の位相変調状態を正確に評価できる光位相変調評価装置を提供する。【解決手段】  光位相変調信号を分波する第１のビームスプリッタ１と分波した光を合波して光強度変換信号を出力する第２のビームスプリッタ６とビット遅延器２と第２のビームスプリッタから出力される光強度変換信号を電気信号に変換し光位相変調信号を観測する光波形測定部１１とを備えた光位相変調評価装置において、ビット遅延器が上記光位相変調信号の複数のシンボルレートに対応してシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定できるようにした。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光搬送波がデータ信号で位相変調されてなる光位相変調信号を受けて、第１のミラー（３）を含んで構成される第１の光路を通る第１の光と第２のミラー（４）を含んで構成される第２の光路を通る第２の光に分波する第１のビームスプリッタ（１）と前記第１の光と前記第２の光とを合波して干渉させ当該光位相変調信号が変換されてなる光強度変換信号を出力する第２のビームスプリッタ（６）と前記第１の光路または前記第２の光路に配置されるビット遅延器（２）とを有するマッハツェンダ型のビット遅延干渉計（１０）と、
該ビット遅延干渉計から出力される前記光強度変換信号を電気信号に変換し前記光位相変調信号を観測する光波形測定部（１１）とを備えた光位相変調評価装置において、
前記ビット遅延器が、前記光位相変調信号の複数のシンボルレートのそれぞれに対応して、当該シンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定できるようにされており、さらに、
前記光位相変調信号の前記シンボルレートを指定するシンボルレート指定信号に基づいて、前記ビット遅延器の遅延量を設定する遅延量設定手段（１２）を備えたことを特徴とする光位相変調評価装置。
【請求項２】
前記ビット遅延器が、前記シンボルレートの１ビットに相当する遅延量を与える厚さをもつ透過性材質の平行板（２ａ、２ｂ）であって、複数の前記シンボルレートのそれぞれに対応する厚さの前記平行板を複数個備え、これらを切り替えて前記シンボルレートに対応した遅延量を設定できることを特徴とする請求項１に記載の光位相変調評価装置。
【請求項３】
前記ビット遅延器が、第1の平行板（２ｃ１、２ｅ1）と第２の平行板（２ｃ2、２ｅ２）をハの字型に配置した２枚の透過性材質の平行板のペアであって、複数の前記シンボルレートのそれぞれに対応する厚さの前記平行板のペアを複数個備え、当該平行板のペアを切り替えて前記シンボルレートに対応した遅延量を設定できることを特徴とする請求項１に記載の光位相変調評価装置。
【請求項４】
前記第1の平行板における入射角と前記第2の平行板における出射角とが等しくなるように前記平行板のペアが前記光路上に配置されることを特徴とする請求項3に記載の光位相変調評価装置。
【請求項５】
前記ビット遅延器が、互いに透過面が対向するように配置されたくさび形状の透過体（２ｆ１、２ｆ２）のペアであって、該透過体の少なくともいずれか一方を移動して光路長を調整し、複数の前記シンボルレートのそれぞれに対応した前記遅延量を設定できることを特徴とする請求項１に記載の光位相変調評価装置。
【請求項６】
前記ビット遅延干渉計の前記第１及び第２の光路のいずれか一方に設けられ、２つの該光路の光位相差の１周期分変化させられるような遅延量を任意に設定できる光位相遅延器（５）と、
該光位相遅延器の遅延量を設定する位相制御手段（１３）とを備えたことを特徴とする請求項１から５のいずれか一つに記載の光位相変調評価装置。
【請求項７】
前記光位相遅延器が、透過性材質の平行板（５ａ）であって、該平行板を回転して当該平行板への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できることを特徴とする請求項６に記載の光位相変調評価装置。
【請求項８】
前記光位相遅延器が、ハの字型に配置された透過性材質の２枚の平行板（５ｂ１、５ｂ２）のペアであって、２枚の該平行板の少なくともいずれか一方を回転して当該平行板への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できることを特徴とする請求項６に記載の光位相変調評価装置。
【請求項９】
前記光位相遅延器が、前記ビット遅延干渉計の前記第１及び第２のミラーのいずれか一方のミラーと該ミラーに設けられた圧電素子（５ｃ）で構成され、該ミラーを前記圧電素子で移動させることによって任意の遅延量に設定できることを特徴とする請求項６に記載の光位相変調評価装置。
【請求項１０】
前記ビット遅延干渉計が、前記第２のビームスプリッタから出力された２つの前記光強度変換信号に遅延時間差を与えるために、２つの該光強度変換信号の通る光路のいずれか一方の光路長を変化させる光出力信号遅延器（７）を備えたことを特徴とする請求項１から９までのいずれか一つに記載の光位相変調評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コヒーレント光通信方式における光搬送波がデータ信号によって位相変調（例えばＤＰＳＫ、ＤＱＰＳＫ等）されてなる光位相変調信号を評価する光位相変調評価装置に関し、特に異なるシンボルレートの光位相変調信号の評価が正確に行える光位相変調評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光搬送波がデータ信号によって位相変調されてなる光位相変調信号を評価する光位相変調評価装置として、ビット遅延干渉計で光位相変調信号の光位相検波を行って当該光位相変調信号の位相変調特性を評価するものがあった（例えば特許文献1参照）。
【０００３】
この種の光位相変調評価装置の概略構成を図８に示す。光位相変調評価装置の被測定光である光位相変調信号は、光搬送波が所定のシンボルレートのデータ信号で位相変調されることによって発生されており、光位相検波器としてのビット遅延干渉計２０に入力される。ビット遅延干渉計２０は、光導波路を用いたマッハツェンダ型の干渉計で構成されており、ポート２０ａから入力された光位相変調信号を分波部２０ｂでアーム２０ｃを通る光とアーム２０ｄ（ビット遅延器２０ｆを含んで構成される）を通る光に分波するとともに、アーム２０ｃを通った光とアーム２０ｄを通った光とを合波部２０ｅで合波し干渉させる。それによって、光位相変調信号の位相の変化を光強度の変化に変換し、互いの位相が１８０°（π）異なる２つの光強度変換信号を２つのポート２０ｇ、２０ｈからそれぞれ出力する。なお、上記ビット遅延器２０ｆは、２つのアーム間の遅延量（遅延時間差）が上記シンボルレートの１ビット分に相当する遅延量（時間）になるように、その遅延量分アーム２０ｄの光路長をアーム２０ｃの光路長より長くしている。
【０００４】
受光器（ＰＤ）２１は、ビット遅延干渉計２０のポート２０ｇから出力される光強度変換信号を光電変換して電気信号を出力する。信号処理部２２は、受光器２１から出力される電気信号から上記データ信号を復調し、それによって得られた復調波形を用いて誤り率測定や波形観測を行って光位相変調信号の評価を行う。
【特許文献１】特開平６−２１８９１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
昨今、通信トラフィックの大容量化に伴うファイバの非線形や分散の問題から周波数効率の良いＤＰＳＫやＤＱＰＳＫといった位相変調方式が注目されている。そして、その方式によっては、異なったシンボルレートが用いられている。例えば、４０Ｇｂｐｓ−ＤＰＳＫでは、シンボルレートが４０Ｇｂｐｓであり、また４０Ｇｂｐｓ−ＤＱＰＳＫでは、シンボルレートが２０Ｇｂｐｓである。このように、方式によって異なったシンボルレートが用いられている状況において、光位相変調信号の評価を行う光位相変調評価装置として、１台の光位相変調評価装置で複数のシンボルレートに対応できることが望まれている。
【０００６】
しかしながら、上記の従来の光位相変調評価装置では、ビット遅延器２０ｆで設定されるシンボルレートの１ビット分に相当する遅延量が、特定のシンボルレートに対して固定されているために、光位相変調信号のシンボルレートが上記のように２０Ｇｂｐｓ、４０Ｇｂｐｓと異なる場合、いずれか一方のシンボルレートの光位相変調信号しか評価できないという問題があった。
【０００７】
本発明は、ビット遅延干渉計のビット遅延器が光位相変調信号の複数のシンボルレートのそれぞれに対応して、それらのシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定できるようにすることによって、これらの課題を解決し、異なるシンボルレートの光位相変調信号の評価が正確に行える光位相変調評価装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１の光位相変調評価装置では、光搬送波がデータ信号で位相変調されてなる光位相変調信号を受けて、第１のミラー（３）を含んで構成される第１の光路を通る第１の光と第２のミラー（４）を含んで構成される第２の光路を通る第２の光に分波する第１のビームスプリッタ（１）と前記第１の光と前記第２の光とを合波して干渉させ当該光位相変調信号が変換されてなる光強度変換信号を出力する第２のビームスプリッタ（６）と前記第１の光路または前記第２の光路に配置されるビット遅延器（２）とを有するマッハツェンダ型のビット遅延干渉計（１０）と、
該ビット遅延干渉計から出力される前記光強度変換信号を電気信号に変換し前記光位相変調信号を観測する光波形測定部（１１）とを備えた光位相変調評価装置において、
前記ビット遅延器が、前記光位相変調信号の複数のシンボルレートのそれぞれに対応して、当該シンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定できるようにされており、さらに、
前記光位相変調信号の前記シンボルレートを指定するシンボルレート指定信号をに基づいて、前記ビット遅延器の遅延量を設定する遅延量設定手段（１２）を備えた。
【０００９】
また、本発明の請求項２の光位相変調評価装置では、上述した請求項１の光位相変調評価装置において、前記ビット遅延器が、前記シンボルレートの１ビットに相当する遅延量を与えるための厚さをもつ透過性材質の平行板（２ａ、２ｂ）であって、複数の前記シンボルレートのそれぞれに対応する厚さの前記平行板を複数個備え、これらを切り替えてシンボルレートに対応した遅延量を設定できるようにした。
【００１０】
また、本発明の請求項３の光位相変調評価装置では、上述した請求項１の光位相変調評価装置において、前記ビット遅延器が、第1の平行板（２ｃ１、２ｅ1）と第２の平行板（２ｃ2、２ｅ２）をハの字型に配置した２枚の透過性材質の平行板のペアであって、複数の前記シンボルレートのそれぞれに対応する厚さの前記平行板のペアを複数個備え、これらの平行板のペアを切り替えて前記シンボルレートに対応した遅延量を設定できるようにした。
【００１１】
また、本発明の請求項４の光位相変調評価装置では、上述した請求項３の光位相変調評価装置において、前記第1の平行板における入射角と前記第2の平行板における出射角とが等しくなるように前記平行板のペアが前記光路上に配置されるようにした。
【００１２】
また、本発明の請求項５の光位相変調評価装置では、上述した請求項１の光位相変調評価装置において、前記ビット遅延器が、互いに透過面が対向するように配置されたくさび形状の透過体（２ｆ１、２ｆ２）のペアであって、該透過体の少なくともいずれか一方を移動して光路長を調整し、複数の前記シンボルレートのそれぞれに対応した前記遅延量を設定できるようにした。
【００１３】
また、本発明の請求項６の光位相変調評価装置では、上述した請求項１〜５のいずれかの光位相変調評価装置において、前記ビット遅延干渉計の前記第１及び第２の光路のいずれか一方に設けられ、２つの該光路の光位相差の１周期分変化させられるような遅延量を任意に設定できる光位相遅延器（５）と、該光位相遅延器の遅延量を設定する位相制御手段（１３）とを備えた。
【００１４】
また、本発明の請求項７の光位相変調評価装置では、上述した請求項６の光位相変調評価装置において、前記光位相遅延器が、透過性材質の平行板（５ａ）であって、該平行板を回転して当該平行板への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できるようにした。
【００１５】
また、本発明の請求項８の光位相変調評価装置では、上述した請求項６の光位相変調評価装置において、前記光位相遅延器が、ハの字型に配置された透過性材質の２枚の平行板（５ｂ１、５ｂ２）のペアであって、２枚の該平行板の少なくともいずれか一方を回転して当該平行板への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できるようにした。
【００１６】
また、本発明の請求項９の光位相変調評価装置では、上述した請求項６の光位相変調評価装置において、前記光位相遅延器が、前記ビット遅延干渉計の前記第１及び第２のミラーのいずれか一方のミラーと該ミラーに設けられた圧電素子（５ｃ）で構成され、該ミラーを前記圧電素子で移動させることによって任意の遅延量に設定できるようにした。
【００１７】
また、本発明の請求項１０の光位相変調評価装置では、上述した請求項１〜９のいずれかの光位相変調評価装置において、前記ビット遅延干渉計が、前記第２のビームスプリッタから出力された２つの前記光強度変換信号に遅延時間差を与えるために、２つの該光強度変換信号の通る光路のいずれか一方の光路長を変化させる光出力信号遅延器（７）を備えた。
【発明の効果】
【００１８】
本発明の請求項１〜５の光位相変調評価装置では、ビット遅延干渉計のビット遅延器が光位相変調信号の複数のシンボルレートのそれぞれに対応して、それらのシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を設定できるようにしたので、異なるシンボルレートの光位相変調信号の波形を正確に観測することができる。したがって、シンボルレートの異なるＤＰＳＫやＤＱＰＳＫや多値変調における光位相変調信号の位相変調状態を１台の光位相変調評価装置で正確に評価できる。
【００１９】
本発明の請求項６〜９の光位相変調評価装置では、ビット遅延干渉計の第１及び第２の光路のいずれか一方に、この２つの光路の光位相差の１周期分変化させられるような遅延量を任意に設定できる光位相遅延器を設けたので、温度等の環境条件が変化した場合にも２つの光路の光位相差をπ／２ラジアンや０に合わせることができる。それによって任意の相対的なビット間位相差の設定が可能となる。
【００２０】
本発明の請求項１０の光位相変調評価装置では、ビット遅延干渉計が、第２のビームスプリッタから出力された２つの光強度変換信号に対して相対的な遅延時間を与えるために、この２つの光強度変換信号の通る光路のいずれか一方に当該光路の遅延時間を変化させる光出力信号遅延器を備えるようにしたので、例えば、ビット遅延干渉計の２つの光出力信号をバランスド受信する場合に２つの光強度変換信号の変調信号の位相差を正確に合わせることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下に本発明の実施形態を記載する。
【００２２】
［第１実施形態］
本発明の第１実施形態の光位相変調評価装置の構成を図１に示す。光位相変調評価装置の被測定光である光位相変調信号は、光搬送波が所定のシンボルレートのデータ信号で位相変調されることによって発生されており、ビット遅延干渉計１０に入力される。ビット遅延干渉計１０は、空間伝搬路を用いたマッハツェンダ型の干渉計で構成されており、入力された光位相変調信号をビームスプリッタ（ＢＳ）１で、ビット遅延器２及びミラー３を含んで構成される第１の光路を通る第１の光とミラー４を含んで構成される第２の光路を通る第２の光に分波するとともに、上記第１の光路を通った第１の光と上記第２の光路を通った第２の光とをビームスプリッタ（ＢＳ）６で合波して干渉させる。それによって、光位相変調信号の位相の変化を光強度の変化に変換し、互いの位相が１８０°（π）異なる２つの光強度変換信号をビームスプリッタ６から出力する。
【００２３】
上述のビット遅延器２は、２つの上記第１及び第２の光路間の遅延量（遅延時間差）が上記シンボルレートの１ビット分に相当する遅延量（時間）になるように、その遅延量分第１の光路の光路長を第２の光路の光路長より長くするもので、２種類のシンボルレートに対応するように、透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の厚さｄ１の平行板２ａと厚さｄ２の平行板２ｂとを光路に対して直交する方向に移動して切り替えられるようになっている。平行板２ａと平行板２ｂの切り替えは、遅延量設定手段１２からの指令に基づいて行われる。
【００２４】
シンボルレートに対する平行板の厚さｄは、次のように求められる。すなわち、シンボルレートをＳＲ［ｂｐｓ］とすると、１ビットに相当する遅延時間ｔ［ｓｅｃ］は、ｔ＝１／ＳＲとなる。そして、平行板の厚さｄは、ｄ＝（ｃ×ｔ）／（ｎ−１）となる。ここで、ｎは平行板（透過性材質）の屈折率、ｃは光速である。平行板にガラス（ｎ＝１．５）を用いたときの具体例を示すと、ＳＲ＝４０Ｇｂｐｓの場合には、ｔ＝２５ｐｓでありｄ＝１５ｍｍとなる。また、ＳＲ＝２０Ｇｂｐｓの場合には、ｔ＝５０ｐｓでありｄ＝３０ｍｍとなる。したがって、シンボルレート４０Ｇｂｐｓの場合には、ｄ１＝１５ｍｍのガラスの平行板２ａを、またシンボルレート２０Ｇｂｐｓの場合には、ｄ２＝３０ｍｍのガラスの平行板２ｂを光路に挿入すればよい。なお、ここでは、２種類のシンボルレートに対応する場合について説明したが、シンボルレートの数が増えても同様である。
【００２５】
上述のミラー３は、ビームスプリッタ１から出力されてビット遅延器２を介して入力される第１の光を反射してビームスプリッタ６に入力させる。また、上述のミラー４は、ビームスプリッタ１から入力される第２の光を反射してビームスプリッタ６に入力させる。
【００２６】
次に、光波形測定部１１は、ビット遅延干渉計１０から出力される、互いの位相が１８０°（π）異なる２つの光強度変換信号の一方を電気信号に変換（Ｏ／Ｅ変換）し、得られた電気信号波形のデータ処理を行って光位相変調信号の波形の観測、位相変調特性の測定等を行う。光波形測定部１１として、光サンプリングオシロスコープを用いることができる。なお、図１では、２つの光強度変換信号の一方を光波形測定部１１に入力する場合、すなわちシングル受信の場合を示しているが、２つの光強度変換信号の双方を入力するようにしてもよい。その場合には、光波形測定部１１においてバランスド受信ができ、測定の受光感度をシングル受信の場合より良くすることができる。
【００２７】
遅延量設定手段１２は、操作部等（図示しない）から入力されるシンボルレート指定信号（光位相変調信号のシンボルレートを指定する）を受け、このシンボルレート指定信号に基づいて、ビット遅延器２の遅延量を設定する。具体的には、シンボルレート指定信号がシンボルレート４０Ｇｂｐｓを指定している場合には、平行板２ａ（ｄ１＝１５ｍｍ）が、またシンボルレート２０Ｇｂｐｓを指定している場合には、平行板２ｂ（ｄ２＝３０ｍｍ）が光路に挿入されるようにビット遅延器２を制御する。
【００２８】
なお、この第１実施形態のビット遅延器２としては、図１に示したものの他に図２、図  ３に示すものでもよい。
【００２９】
すなわち、図２に示すビット遅延器２においては、２種類のシンボルレートに対応するように、シンボルレートに対応して所定の遅延量を与えるための厚さｄ３をもつ透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の２枚の平行板２ｃ１、２ｃ２をペアにし、また同様に厚さｄ４をもつ透過性材質の２枚の平行板２ｅ１、２ｅ２をペアにして、これら２個のペアの平行板２ｃ１、２ｃ２及び平行板２ｅ１、２ｅ２はそれぞれ光の入射角と出射角が等しくなるようにかつシンボルレートの１ビットに相当する遅延量を与えるようにハの字型に配置されている。そして、２種類のシンボルレートに対応した上記２個のペアは、遅延量設定手段１２からの指令に基づいて、光路に対して直交する方向に移動して切り替えられるようになっている。上記のように、それぞれのペアにおいて２枚の平行板がハの字型に配置されることによって、ビット遅延器２からビームスプリッタ１への反射を防止でき、かつ遅延量の切り替え時の光線の移動（ビームシフト）を抑えることができる。ビームシフトが大きい場合には干渉強度への影響を生じる。なお、ここでは、２種類のシンボルレートに対応する場合について説明したが、シンボルレートの数が増えても同様である。
【００３０】
図３に示すビット遅延器２においては、互いに対向する面が傾斜されて形成された一対の透過体２ｆ１、２ｆ２（例えばガラス、シリコン等）が光路に対して直交して配置されている。そして、遅延量設定手段１２からの指令に基づいて、透過体２ｆ１、２ｆ２の少なくともいずれか一方を光路に対して直交する方向に移動して、複数のシンボルレートのそれぞれに対応した遅延量を設定できるようになっている。なお、一対の透過体２ｆ１、２ｆ２が常に光路に対して対称となるように、それらを連動させて移動するようにした場合には、遅延量の設定時のビームシフトを抑えることができる。
【００３１】
［第２実施形態］
本発明の第２実施形態の光位相変調評価装置の構成を図４に示す。図１に示した第１実施形態とは、上述したビット遅延干渉計１０の第２の光路に、第１の光路と第２の光路の光位相差を１周期分変化させられるような遅延量を任意に設定できる光位相遅延器５を設けて、その光位相遅延器５の遅延量を位相制御手段１３で制御するようにした点のみが異なる。したがって、主に、光位相遅延器５について説明する。
【００３２】
光位相遅延器５は、光路に図４のように配置された、所定の遅延量を与えるための厚さｄ５をもつ透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の平行板５ａで構成されている。位相制御手段１３からの指令に基づいて、平行板５ａを回転してこの平行板５ａへの光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できるようになっている。この構成の場合、平行板５ａの回転によってビームシフトを発生するが、その量は波長オーダーで小さく、干渉強度にはほとんど影響しない。なお、図４では、光位相遅延器５を第２の光路に設けるようにしたが、第１の光路に設けるようにしてもよい。
【００３３】
なお、この第２実施形態の光位相遅延器５としては、図４に示したものの他に図５、図６に示すものでもよい。
【００３４】
すなわち、図５に示す光位相遅延器５においては、所定の遅延量を与えるための厚さｄ６をもつ透過性材質（例えばガラス、シリコン等）の２枚の平行板５ｂ１、５ｂ２をペアにして、このペアの平行板５ｂ１、５ｂ２は光の入射角と出射角がほぼ等しくなるようにハの字型に配置されている。そして、位相制御手段１３からの指令に基づいて、２枚の平行板５ｂ１、５ｂ２の少なくともいずれか一方を回転してこの平行板５ｂ１、５ｂ２への光の入射角を変えることによって任意の遅延量に設定できるようになっている。なお、ペアの平行板５ｂ１、５ｂ２を光の入射角と出射角が等しくなるようにハの字型に配置し、かつ、これら平行板５ｂ１、５ｂ２を連動させて互いに逆方向に回転させるようにした場合には、反射を抑えるとともに遅延量の設定時のビームシフトを抑えることができる。
【００３５】
図６に示す光位相遅延器５においては、光位相遅延器５が上述のミラー４とこのミラー４に設けられた圧電素子５ｃ（例えばピエゾ素子）とで構成されている。そして、位相制御手段１３からの指令に基づいて、ミラー４を圧電素子５ｃで矢印方向（図参照）に移動させる（ビームスプリッタ１とミラー４間の光路長を変える）ことによって任意の遅延量に設定できるようになっている。この構成の場合、ミラー４の移動によってビームシフトを発生するが、その量は波長オーダーで小さく、干渉強度にはほとんど影響しない。なお、図６では、圧電素子５ｃをミラー４に設けるようにしたが、圧電素子５ｃをミラー３に設けて光位相遅延器５を構成するようにしてもよい。
【００３６】
［第３実施形態］
本発明の第３実施形態の光位相変調評価装置の構成を図７に示す。図４に示した第２実施形態とは、上述したビット遅延干渉計１０のビームスプリッタ６から出力された２つの光強度変換信号の通る光路のいずれか一方の光路に、これら２つの光強度変換信号に対して相対的な遅延時間を与えるための、上記一方の光路の光路長を変化させる光出力信号遅延器７を設けるようにした点のみが異なる。したがって、主に、光出力信号遅延器７について説明する。
【００３７】
光出力信号遅延器７は、図７に示すように、４つのミラー７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄと図示しない可動部から構成され、そのうち、２つのミラー７ａ、７ｂがコーナーミラーを形成し、可動部はコーナーミラーを矢印方向に移動させる。そして、コーナーミラーを移動して、ミラー７ｂとミラー７ｃの間及びミラー７ａとミラー７ｄの間の光路長を可変することで、２つの光強度変換信号の位相差を調整できる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の第１実施形態の構成を示す図
【図２】本発明のビット遅延器の別の構成を説明するための図
【図３】本発明のビット遅延器の別の構成を説明するための図
【図４】本発明の第２実施形態の構成を示す図
【図５】本発明の光位相遅延器の別の構成を説明するための図
【図６】本発明の光位相遅延器の別の構成を説明するための図
【図７】本発明の第３実施形態の構成を示す図
【図８】従来例の概略構成を示す図
【符号の説明】
【００３９】
１，６・・・ビームスプリッタ（ＢＳ）、２，２０ｆ・・・ビット遅延器、２ａ，２ｂ，２ｃ１，２ｃ２，２ｅ１，２ｅ２，５ａ，５ｂ１，５ｂ２・・・平行板、２ｆ１，２ｆ２・・・透過体、３，４，７ａ，７ｂ，７ｃ，７ｄ・・・ミラー、５・・・光位相遅延器、５ｃ・・・圧電素子、７・・・光出力信号遅延器、１０，２０・・・ビット遅延干渉計、１１・・・光波形測定部、１２・・・遅延量設定手段、１３・・・位相制御手段、２０ａ，２０ｇ，２０ｈ・・・ポート、２０ｂ・・・分波部、２０ｃ，２０ｄ・・・アーム、２０ｅ・・・合波部、２１・・・受光器（ＰＤ）、２２・・・信号処理部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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