(57)【要約】【課題】本発明は、画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階やプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階であっても、不要輻射ノイズの影響を軽減するための調整ができる集積回路装置、これを用いた画像記録装置、及び不要輻射ノイズ検出方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の集積回路装置は、画データをビデオ信号として出力するビデオ信号生成部１５７と、クロック周波数の高いクロック信号をダミービデオ信号として生成するクロック信号生成部１５８と、前記ビデオ信号または前記クロック信号のいずれかを選択するセレクタ１５９と、テストモード時にセレクタ１５９に前記クロック信号の出力を選択させる設定手段と、を具備した。【選択図】図５
2008092252.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画データをビデオ信号として出力するビデオ信号生成部と、
クロック周波数の高いクロック信号をダミービデオ信号として生成するクロック信号生成部と、
前記ビデオ信号または前記クロック信号のいずれかを選択する選択手段と、
テストモード時に前記選択手段に前記クロック信号の出力を選択させる設定手段と、
を具備する集積回路装置。
【請求項２】
前記クロック発生部が生成するクロック周波数の高いクロック信号は、前記ビデオ信号生成部が出力する高解像度の画データに対応するビデオ信号と同等のパルス幅により構成されることを特徴とする請求項１記載の集積回路装置。
【請求項３】
画データを出力する露光装置と、
画データをビデオ信号として出力するビデオ信号生成部と、
クロック周波数の高いクロック信号をダミービデオ信号として生成するクロック信号生成部と、
前記ビデオ信号または前記クロック信号のいずれかを選択する選択手段と、
テストモード時に前記選択手段に前記クロック信号の出力を選択させる設定手段と、
前記露光装置と前記集積回路装置とを接続する接続手段と、
を具備し、
テストモード時に、前記選択手段に前記クロック信号を選択させ、前記接続手段を介して前記露光装置に出力することを特徴とする画像記録装置。
【請求項４】
前記クロック信号、または前記ビデオ信号が前記露光装置に出力される際に前記接続手段で発生する不要輻射ノイズによる影響を軽減する所定の回路装置を設け、テストモード時に、前記選択手段に前記クロック信号を選択させ、前記所定の回路装置で前記クロック信号を鈍らせた後、前記接続手段を介して前記露光装置に出力することを特徴とする請求項３記載の画像記録装置。
【請求項５】
画データをビデオ信号として出力するビデオ信号生成部とクロック周波数の高いクロック信号をダミービデオ信号として生成するクロック信号生成部と前記ビデオ信号または前記クロック信号のいずれかを選択する選択手段とテストモード時に前記選択手段に前記クロック信号の出力を選択させる設定手段とを有する集積回路装置から信号を出力する際、前記クロック信号を選択させ、画データを出力する露光装置へ出力させ、前記集積回路と前記露光装置を接続する接続手段から発生する不要輻射ノイズを検出する不要輻射ノイズ検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画データをビデオ信号として記録装置に出力する集積回路装置、これを用いた画像記録装置、及び前記集積回路を用いた不要輻射ノイズ検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、かかる集積回路装置は以下のように構成されていた。図９は、従来の集積回路装置のブロック図である。図９において、５００はメイン基板、５０１は画像記録装置用の集積回路装置であるＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）、５０２はＣＰＵ、５０３は画像を処理するＤＳＰ、５０４はモデム、５０５はメモリ制御部、５０６はＲＯＭ制御部、５０７はＵＳＢ制御部、５０８はビデオ信号を出力するビデオ信号生成部、５０９はＣＰＵ５０２、ＤＳＰ５０３等の処理を行うために用いるそれぞれのクロック信号を発生させるクロック信号生成部、５１０はケーブルによるビデオ信号の不要輻射ノイズの影響を軽減するためのＥＭＩ（Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ）抑制回路、５１１はメイン基板５００の外部にあるＬＳＵ（Ｌａｓｅｒ  Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）と接続するＬＳＵ接続部である。ＡＳＩＣ５０１は、ＣＰＵ５０２、ＤＳＰ５０３、モデム５０４、メモリ制御部５０５、ＲＯＭ制御部５０６、ＵＳＢ制御部５０７、ビデオ信号生成部５０８、及びクロック信号生成部５０９から構成されている。また、ＡＳＩＣ５０１は、メイン基板５００上でＥＭＩ抑制回路５１０を介して、ＬＳＵ接続部５１１と接続されている。
【０００３】
ここで、メイン基板５００からケーブルを用いて画像記録装置に接続されていることから、ビデオ信号を画像記録装置に出力する際、ケーブルから不要輻射ノイズが発生する。
【０００４】
図１０は、従来の不要輻射ノイズ対策時の概念図である。図１０において、５００はメイン基板、５０１はＡＳＩＣ、５１０はＥＭＩ抑制回路、５１１はＬＳＵ接続部、５５１はＬＳＵ、５５２はＬＳＵ接続部とＬＳＵとを接続するケーブルである。また、図１０において、Ａ点は、ＡＳＩＣ５０１とＥＭＩ抑制回路５１０間の不要輻射ノイズ対策前のビデオ信号が検出できる点、また、Ｂ点は、ＥＭＩ抑制回路５１０とＬＳＵ接続部５１１間の不要輻射ノイズ対策後のビデオ信号が検出できる点である。
【０００５】
上記のように構成された従来の集積回路装置は、以下のように動作する。
【０００６】
まず、ＡＳＩＣ５０１の外部から入力された画データは、クロック信号生成部５０９にて発生されるクロック信号と同期を取りながら、ＣＰＵ５０２及びＤＳＰ５０３で所定の画処理を施される。次に、クロック信号生成部５０９にて発生されるクロック信号と同期を取りながら、ビデオ信号生成部５０８を経由してビデオ信号としてＡＳＩＣ５０１の外部に出力される。そして、このビデオ信号は、ＥＭＩ抑制回路５１０を介してＬＳＵ接続部５１１に出力される。このようにして、ビデオ信号はメイン基板５００からケーブル５５２を介してメイン基板５００の外部にある画像記録装置の一部であるＬＳＵ５５１に出力されている。
【０００７】
この際、図１０に示すように、ＡＳＩＣ５０１から出力されたビデオ信号は、ＬＳＵ接続部５１１からケーブル５５２を介してＬＳＵ５５１に接続されている。このケーブル５５２において、不要輻射ノイズが発生し、製品出荷先の当局によるノイズ規制値を越えることになる。そのため、ＡＳＩＣ５０１とＬＳＵ接続部５１１の間にＥＭＩ抑制回路５１０を入れ、不要輻射ノイズ対策を行っていた。
【０００８】
また、不要輻射ノイズを防止するために三端子コンデンサにインピーダンスマッチング用の抵抗を用いることで、ケーブル等で発生する不要輻射ノイズを低減するものがあった（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平５−４８３６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、上記従来の技術では、以下のような問題が生じていた。
【００１０】
即ち、従来の技術では、電気設計、機構設計、電子写真設計、及びソフト設計を各分野で一旦すべて行う。その後、これらの設計を元に製品を試作し、その動作を検証後、不要輻射ノイズ対策をしていた。従って、製品レベルでの不要輻射ノイズ対策を行うため、その結果を基に再度部品レベルでの再評価・再検討を行う必要があった。即ち、不要輻射ノイズ対策は、開発の最終段階で行っていた。
【００１１】
なお、特許文献１に記載された不要輻射防止装置おいても、不要輻射ノイズ対策時に実際に信号を入力して不要輻射ノイズ対策を行うため、同様の問題が生じていた。
【００１２】
ここで、従来の具体的な開発の流れについて図１１を用いて説明する。図１１は、従来の開発フロー図である。まず、電気設計（ｓｔｅｐ１０１）、機構設計（ｓｔｅｐ１０２）、電子写真設計（ｓｔｅｐ１０３）、及びソフト設計（ｓｔｅｐ１０４）が各分野で行われている。この電気設計（ｓｔｅｐ１０１）、機構設計（ｓｔｅｐ１０２）、電子写真設計（ｓｔｅｐ１０３）、及びソフト設計（ｓｔｅｐ１０４）の各工程は、ほぼ同時期に行われていた。次に、これらの設計を元に試作（ｓｔｅｐ１０５）する。そして、電気的な評価・検討（ｓｔｅｐ１０６）、機構的な評価・検討（ｓｔｅｐ１０７）、プロセスパラメータの調整をする電子写真における評価・検討（ｓｔｅｐ１０８）、及びソフトウエアのデバック等の評価・検討（ｓｔｅｐ１０９）を行っていた。その後、ケーブル５５２における不要輻射ノイズ対策を行っていた（ｓｔｅｐ１１０）。
【００１３】
このようにして、プロセスパラメータの調整やその他の評価・検討を行った後、製品を試作し、メイン基板５００に組み込まれたソフトウエアにより、ＬＳＵ５５１にビデオ信号を出力する。このとき、メイン基板５００とＬＳＵ５５１とを接続するケーブル５５２から発生する不要輻射ノイズは、ＥＭＩ抑制回路５１０によって不要輻射ノイズが軽減されるように調整される。
【００１４】
その後、不要輻射ノイズ対策後の結果に基づき、再度調整・検討（ｓｔｅｐ１１１）を行って、次開発ステップ（ｓｔｅｐ１１２）へと進んでいた。
【００１５】
しかし、このＥＭＩ抑制回路５１０を調整することによる不要輻射ノイズ対策をした結果、感光体に対するＬＳＵ５５１の露光時間となるビデオ信号のパルス幅が、不要輻射ノイズ対策をする前と不要輻射ノイズ対策した後とで変化するという問題があった。
【００１６】
即ち、電子写真における評価・検討（ｓｔｅｐ１０８）は、不要輻射ノイズ対策をする前のビデオ信号基づいてなされているため、不要輻射ノイズ対策を行った後のビデオ信号に対しては適正な値ではなくなる。具体的には、不要輻射ノイズ対策により、不要輻射ノイズ対策前のビデオ信号と不要輻射ノイズ対策後のビデオ信号とを比較すると、ビデオ信号のパルス幅が変化する。そのため、不要輻射ノイズ対策前のビデオ信号のパルス幅に基づいてプロセスパラメータを調整された画像記録装置では、不要輻射ノイズ対策後は忠実にビデオ信号を再現することができなくなる。その結果、再度、不要輻射ノイズ対策した後のビデオ信号のパルス幅に合わせてプロセスパラメータの調整を行う必要があった。
【００１７】
ここで、ＥＭＩ抑制回路５１０を調整することによる不要輻射ノイズ対策をした結果、ビデオ信号のパルス幅が、不要輻射ノイズ対策をする前と不要輻射ノイズ対策した後とで変化する点について図１２を用いて説明する。図１２（ａ）は、従来の不要輻射ノイズ対策前のビデオ信号波形図、図１２（ｂ）は、従来の不要輻射ノイズ対策後のビデオ信号波形図である。
【００１８】
図１２（ａ）は、ＡＳＩＣ５０１から出力された直後のＡ点（図１０参照）における不要輻射ノイズ対策をする前のビデオ信号を示している。図１２（ｂ）は、ＥＭＩ抑制回路５１０を用いて不要輻射ノイズ対策をした後のＢ点（図１０参照）におけるビデオ信号を示している。図１２（ａ）のビデオ信号は、矩形波形であり、この矩形波形をＥＭＩ抑制回路５１０を用いて不要輻射ノイズ対策を行う。図１２（ｂ）のビデオ信号は、不要輻射ノイズ対策を行ったものである。また、図１２（ｂ）のビデオ信号は、図１２（ａ）のビデオ信号と比較して、信号の立ち上がり及び立ち下がり波形が緩やかになっている。
【００１９】
ここで、図１２（ａ）のビデオ信号と図１２（ｂ）のビデオ信号とのパルス幅について図１３を用いて説明する。図１３（ａ）は、従来の不要輻射ノイズ対策前のビデオ信号のパルス幅の概念図、図１３（ｂ）は、従来の不要輻射ノイズ対策後のビデオ信号の概念図である。
【００２０】
図１３（ａ）は、図１２（ａ）のビデオ信号の一部を示している。また、図１３（ｂ）は、図１２（ｂ）のビデオ信号の一部を示している。図１３に示すように、図１３（ｂ）のビデオ信号の立ち上がり及び立ち下り波形が、図１３（ａ）のビデオ信号と比較して緩やかになる。そのため、所定の閾値において、図１３（ｂ）のビデオ信号のパルス幅Ｔ2は、図１３（ａ）のビデオ信号のパルス幅Ｔ1と比較して変化する。
【００２１】
従って、不要輻射ノイズ対策前のビデオ信号のパルス幅Ｔ1に基づき、プロセスパラメータを一旦調整し、各温度環境下における検証をした後に、不要輻射ノイズ対策を行う。そのため、パルス幅がＴ1からＴ2に変化する。その結果、不要輻射ノイズ対策で変化したビデオ信号のパルス幅Ｔ2に応じて、再度プロセスパラメータを調整し、再設定後、各温度環境下における再検証をしなければならないという無駄が生じ、開発期間が無駄に長期化し、非効率なものとなっていた。
【００２２】
そこで、本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階やプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階であっても、不要輻射ノイズの影響を軽減するための調整ができる集積回路装置、これを用いた画像記録装置、及び不要輻射ノイズ検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
上記課題を解決するために本発明の集積回路装置は、画データをビデオ信号として出力するビデオ信号生成部と、クロック周波数の高いクロック信号をダミービデオ信号として生成するクロック信号生成部と、前記ビデオ信号または前記クロック信号のいずれかを選択する選択手段と、テストモード時に前記選択手段に前記クロック信号の出力を選択させる設定手段と、を具備したものである。
【発明の効果】
【００２４】
本発明は、上記構成により、前記集積回路装置は、テストモード時に、前記クロック信号を選択させることにより、画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階や記録装置のプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階であっても、前記クロック信号生成部により前記クロック信号が外部の記録装置等に出力される際に前記集積回路装置と前記記録装置等との間で発生する不要輻射ノイズの影響を軽減する調整を、開発の初期段階で行うことができる。
【００２５】
具体的には、まず、画データを出力するためのソフトウエアを完成させ、画データを印刷する記録装置のプロセスパラメータを一旦調整し、各温度環境下において検証を行う。次に、接続手段を介して前記ビデオ信号を記録装置に出力する場合に、前記ビテオ信号が前記接続手段において発生する不要輻射ノイズの影響を軽減するように調整する。そして、その調整結果に基づき再度、記録装置のプロセスパラメータを調整し、各温度環境下において検証を行うという無駄な開発工程を無くすことができるので、開発期間の短縮及び効率化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
請求項１記載の集積回路装置の発明は、画データをビデオ信号として出力するビデオ信号生成部と、クロック周波数の高いクロック信号をダミービデオ信号として生成するクロック信号生成部と、前記ビデオ信号または前記クロック信号のいずれかを選択する選択手段と、テストモード時に前記選択手段に前記クロック信号の出力を選択させる設定手段と、を具備したものである。
【００２７】
これにより、前記集積回路装置は、テストモード時に、前記クロック信号を選択させることにより、画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階や記録装置のプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階であっても、前記クロック信号生成部により前記クロック信号が外部の記録装置等に出力される際に前記集積回路装置と前記記録装置等との間で発生する不要輻射ノイズの影響を軽減する調整を、開発の初期段階で行うことができる。
【００２８】
具体的には、まず、画データを出力するためのソフトウエアを完成させ、記録装置のプロセスパラメータを一旦調整し、各温度環境下において検証を行う。次に、接続手段を介して前記ビデオ信号を記録装置に出力する場合に、前記ビテオ信号が前記接続手段において発生する不要輻射ノイズの影響を軽減するように調整する。そして、その調整結果に基づき再度、記録装置のプロセスパラメータを調整し、各温度環境下において検証を行うという無駄な開発工程を無くすことができるので、開発期間の短縮及び効率化することができる。
【００２９】
請求項２記載の集積回路装置の発明は、請求項１記載の集積回路装置において、前記クロック発生部が生成するクロック周波数の高いクロック信号が、前記ビデオ信号生成部が出力する高解像度の画データに対応するビデオ信号と同等のパルス幅により構成されるものである。
【００３０】
これにより、前記集積回路装置は、不要輻射ノイズ対策時に、前記クロック信号生成部は、前記ビデオ信号生成部が出力する高解像度の画データに対応するビデオ信号と同等のパルス幅により構成されるクロック信号を出力することにより、ビデオ信号を用いて不要輻射ノイズ対策を行うことと同様に、クロック信号を用いて不要輻射ノイズ対策を行うことができる。その結果、画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階や記録装置のプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階であっても、前記クロック信号生成部により前記クロック信号が外部の記録装置等に出力される際に前記集積回路装置と前記記録装置等との間で発生する不要輻射ノイズの影響を軽減する調整を、開発の初期段階で行うことができる。
【００３１】
請求項３記載の画像記録装置の発明は、画データを出力する露光装置と、画データをビデオ信号として出力するビデオ信号生成部と、クロック周波数の高いクロック信号をダミービデオ信号として生成するクロック信号生成部と、前記ビデオ信号または前記クロック信号のいずれかを選択する選択手段と、テストモード時に前記選択手段に前記クロック信号の出力を選択させる設定手段と、前記露光装置と前記集積回路装置とを接続する接続手段と、を具備し、テストモード時に、前記選択手段に前記クロック信号を選択させ、前記接続手段を介して前記露光装置に出力することを特徴とするものである。
【００３２】
これにより、前記集積回路装置は、テストモード時に、前記クロック信号を選択させ、接続手段を介して前記露光装置に出力することにより、画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階や記録装置のプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階であっても、前記クロック信号を選択させることにより、前記クロック信号が前記露光装置に出力される際に前記接続手段において発生する不要輻射ノイズによる影響を軽減する調整を、開発の初期段階で行うことができる。
【００３３】
具体的には、まず、画データを出力するためのソフトウエアを完成させ、記録装置のプロセスパラメータを一旦調整し、各温度環境下において検証を行う。その後、接続手段を介して前記ビデオ信号を前記露光装置に出力する場合に、前記ビテオ信号が前記接続手段において発生する不要輻射ノイズの影響を軽減する調整をする。そして、その調整結果に基づき再度、記録装置のプロセスパラメータを調整し、各温度環境下において検証を行うという無駄な開発工程を無くすことができるので、開発期間の短縮及び効率化することができる。
【００３４】
請求項４記載の画像記録装置の発明は、請求項３記載の画像記録装置において、前記クロック信号、または前記ビデオ信号が前記露光装置に出力される際に前記接続手段で発生する不要輻射ノイズによる影響を軽減する所定の回路装置を設け、テストモード時に、前記選択手段に前記クロック信号を選択させ、前記所定の回路装置で前記クロック信号を鈍らせた後、前記接続手段を介して前記露光装置に出力することを特徴とするものである。
【００３５】
これにより、前記集積回路装置は、テストモード時に、前記クロック信号を選択させ、所定の回路装置で鈍らせた後、接続手段を介して前記露光装置に出力することにより、画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階や記録装置のプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階であっても、前記クロック信号を選択させることにより、前記クロック信号が前記露光装置に出力される際に前記接続手段において発生する不要輻射ノイズによる影響を軽減する所定の回路装置の調整を、開発の初期段階で行うことができる。
【００３６】
具体的には、まず、画データを出力するためのソフトウエアを完成させ、記録装置のプロセスパラメータを一旦調整し、各温度環境下において検証を行う。その後、前記ビデオ信号を前記所定の回路装置で鈍らせ、接続手段を介して前記ビデオ信号を前記露光装置に出力する場合に、前記ビテオ信号が前記接続手段において発生する不要輻射ノイズの影響を軽減するように前記所定の回路装置を調整する。そして、その調整結果に基づき再度、記録装置のプロセスパラメータを調整し、各温度環境下において検証を行うという無駄な開発工程を無くすことができるので、開発期間の短縮及び効率化することができる。
【００３７】
請求項５記載の検出方法の発明は、画データをビデオ信号として出力するビデオ信号生成部とクロック周波数の高いクロック信号をダミービデオ信号として生成するクロック信号生成部と前記ビデオ信号または前記クロック信号のいずれかを選択する選択手段とテストモード時に前記選択手段に前記クロック信号の出力を選択させる設定手段とを有する集積回路装置から信号を出力する際、前記クロック信号を選択させ、画データを出力する露光装置へ出力させ、前記集積回路と前記露光装置を接続する接続手段から発生する不要輻射ノイズを検出する不要輻射ノイズ検出方法である。
【００３８】
これにより、前記集積回路装置は、テストモード時に、前記クロック信号を選択させ、所定の回路装置で鈍らせた後、接続手段を介して露光装置に出力することにより、画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階や記録装置のプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階であっても、前記クロック信号を選択させることにより、前記クロック信号が前記露光装置に出力される際に前記接続手段において発生する不要輻射ノイズを検出することができる。
【００３９】
その結果、画データを出力するためのソフトウエアの作成や記録装置のプロセスパラメータの調整等実施する前に前記集積回路と前記露光装置との間に発生する不要輻射ノイズを検出することができる。
【実施例】
【００４０】
本発明の実施例における画像記録装置について図を参照にして説明する。図１は本発明の実施例における画像記録装置の一例であるスキャナ機能をもつ複合機の外観図、図２は本発明の実施例における複合機レベルでのブロック図、図３は本発明の実施例におけるボードレベルでのブロック図、図４は本発明の実施例におけるＡＳＩＣレベルでのブロック図、図５は本発明の実施例におけるセレクタ部のブロック図である。
【００４１】
図１において、１は複合機、２は給紙トレイ、３は排紙トレイ、４は操作部、５はスキャナ部である。
【００４２】
図２において、５１はメイン基板、５２はＬＳＵ（Ｌａｓｅｒ  Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、５３は低圧電源、５４は感光体ドラム、５５は感光体ドラム５４に帯電させる帯電器、５６は現像ローラ、５７は転写ローラ、５８は高圧電源、５９はヒートローラ、６０は加圧ローラ、６１はフラットベッド（ＦＢ、Ｆｌａｔ  Ｂｅｄ）スキャナと自動給紙装置（ＡＤＦ、Ａｕｔｏ  Ｄｏｃｕｍｅｎｔ  Ｆｅｅｄｅｒ）を一体化したスキャナインターフェース部、６２はイメージセンサ、６３はフラットベッドスキャナの動力装置であるＦＢモータ、６４はＡＤＦの動力装置であるＡＤＦモータ、６５は感光体ドラム等に動力を供給するメインモータ、６６は駆動機構の切り替えを行うソレノイド、６７は画像記録装置を冷却するためのファン、６８は画像記録装置の状態を感知するフォトセンサ、６９はスイッチである。
【００４３】
画像記録装置は、メイン基板５１を中心に構成され、メイン基板５１には、ＬＳＵ５２、低圧電源５３、高圧電源５８、スキャナインターフェース部６１、メインモータ６５、ソレノイド６６、ファン６７、フォトセンサ６８、及びスイッチ６９が接続されている。また、高圧電源５８には、帯電器５６、現像ローラ５６、及び転写ローラ５７が接続され、低圧電源５３には、ヒートローラ５９、及び加圧ローラ６０が接続され、スキャナインターフェース部６１には、イメージセンサ６２、ＦＢモータ６３、及びＡＤＦモータ６４が接続されている。
【００４４】
図２に示すメイン基板５１の内部構成を図３を用いて説明する。図３において、１０１は画像記録装置用の集積回路装置であるＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）、１０２はＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ、１０３はフラッシュＲＯＭ、１０４はネットワーク接続部、１０５はＵＳＢ接続部、１０６は電話接続部、１０７はスキャナ回路部、１０８はモータ制御部、１０９はケーブルによるビデオ信号の不要輻射ノイズの影響を軽減するためのＥＭＩ抑制回路、１１０はＬＳＵ５２へ接続するＬＳＵ接続部、１１１はパネル接続部、１１２はフォトセンサ６８に接続するセンサ接続部、１１３はソレノイド接続部である。図３に示すように、メイン基板５１内は、ＡＳＩＣ１０１を中心に構成され、ＡＳＩＣ１０１とＬＳＵ接続部１１０との間にＥＭＩ抑制回路１０９が挿入されている。
【００４５】
このメイン基板５１の中心にあるＡＳＩＣの構成を図４を用いて説明する。図４において、５１はメイン基板、１０１はＡＳＩＣ、１０９はＥＭＩ抑制回路、１１０はＬＳＵ接続部、１５１はＣＰＵ、１５２は画像を処理するＤＳＰ、１５３はモデム、１５４はメモリ制御部、１５５はＲＯＭ制御部、１５６はＵＳＢ制御部、１５７はビデオ信号を出力するビデオ信号生成部、１５８はＣＰＵ１５１、ＤＳＰ１５２等の処理を行うために用いるそれぞれのクロック信号を発生させるクロック信号生成部である。また、本発明におけるクロック信号生成部は、ダミービデオ信号として画像記録装置が出力する最高解像度と同等のクロック信号を出力する機能も持ち合わせている。そして、１５９はビデオ信号生成部１５７とクロック信号生成部１５８とのいずれかの信号を選択するセレクタである。ＡＳＩＣ１０１は、ＣＰＵ１５１、ＤＳＰ１５２、モデム１５３、メモリ制御部１５４、ＲＯＭ制御部１５５、ＵＳＢ制御部１５６、ビデオ信号生成部１５７、クロック信号生成部１５８、及びセレクタ１５９から構成されている。また、ＡＳＩＣ１０１は、メイン基板５１上でＥＭＩ抑制回路１０９を介して、ＬＳＵ接続部１１０と接続されている。
【００４６】
ここで、セレクタ１５９周りの詳細を図５を用いて説明する。図５において、１５７はビデオ信号生成部、１５８はクロック信号生成部、１５９はセレクタ、２０１はＩ／Ｏバッファ、２０２は制御信号である。セレクタ１５９の入力側にはビデオ信号生成部１５７とクロック信号生成部１５８とが接続され、出力側にはＩ／Ｏバッファ２０１が接続されている。また、クロック信号生成部１５８は、ＣＰＵ１５１、ＤＳＰ１５２等の処理を行うために用いるそれぞれのクロック信号の他に、画像記録装置が出力する最高解像度と同等のクロック信号を出力するようになっており、セレクタ１５９は、ビデオ信号生成部１５７とクロック信号生成部１５８とのいずれかを選択できるよう制御信号２０２を入力するようになっており、テストモード時には、制御信号２０２によりクロック信号生成部１５８を選択するようになっている。
【００４７】
上記のように構成された画像記録装置は、以下のように動作する。
【００４８】
まず、スキャナで読み取った画データや、ネットワークを通じて受け取った画データは、クロック信号生成部１５８にて発生されたクロック信号と同期を取りながら、ＣＰＵ１５１及びＤＳＰ１５２で所定の画処理を施される。次に、この画処理を施された信号は、クロック信号生成部１５８にて発生されたクロック信号と同期を取りながら、ビデオ信号生成部１５７に送られ、ビデオ信号としてセレクタ１５９に出力される。ここで、セレクタ１５９は、制御信号２０２によりビデオ信号を選択する。この制御信号２０２は、セレクタ１５９が、電源に接続されているときはクロック信号を選択し、アースに接続されているときはビデオ信号を選択する、または、その逆に、電源に接続されているときはビデオ信号を選択し、アースに接続されているときはクロック信号を選択する等のように決められている。そのため、ビデオ信号を選択する制御信号２０２は、メイン基板５１上でセレクタ１５９が電源またはアースのいずれかに接続されることで得られる。従って、ビデオ信号は、セレクタ１５９を経由してＡＳＩＣ１０１の外部に出力され、出力されたビデオ信号は、ＥＭＩ抑制回路１０９を介してＬＳＵ接続部１１０からメイン基板５１の外部にあるＬＳＵ５２に出力される。そして、ＬＳＵ５２に送信されたビデオ信号により、帯電器５５により帯電させた感光体ドラム５４にレーザ光を走査させ感光体ドラム５４表面を露光し、感光体ドラム５４の表面電位を変化させることで、潜像を形成する。その後、感光体ドラム５４に形成されたパターンに応じて現像ローラからトナーを供給し、実際に紙面に転写を行い、ヒートローラ５９及び加圧ローラ６０により紙面にトナーを定着させ印刷物として出力する。
【００４９】
上記画像記録装置を作製するための本発明の実施例における開発の流れを図６を用いて説明する。図６は、本発明の実施例における開発フロー図である。本発明において、不要輻射ノイズ対策は、画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階やプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階行うことになっている。
【００５０】
まず、機構設計（ｓｔｅｐ４）、電子写真設計（ｓｔｅｐ５）、及びソフト設計（ｓｔｅｐ６）より先行して電気設計（ｓｔｅｐ１）を行う。電気設計（ｓｔｅｐ１）が終わると、電気設計に基づき基板を試作し（ｓｔｅｐ２）、不要輻射ノイズ対策（ｓｔｅｐ３）を行う。即ち、従来のように機構設計（ｓｔｅｐ４）、電子写真設計（ｓｔｅｐ５）、及びソフト設計（ｓｔｅｐ６）が終わった後に不要輻射ノイズ対策を行うのではなく、機構設計（ｓｔｅｐ４）、電子写真設計（ｓｔｅｐ５）、及びソフト設計（ｓｔｅｐ６）と独立して行い、すべての装置を作製せずに不要輻射ノイズ対策を行う。
【００５１】
ここで、本発明における不要輻射ノイズ対策について図７に示す。図７は本発明の実施例における不要輻射ノイズ対策を示す構成図である。図７において、５１はメイン基板、５２はＬＳＵ、５３は低圧電源、１０１はＡＳＩＣ、１０９はＥＭＩ抑制回路、１１０はＬＳＵ接続部、２５１はＬＳＵ５２とＬＳＵ接続部とを接続するケーブルである。また、図７において、Ａ点は、ＡＳＩＣ１０１とＥＭＩ抑制回路１０９間の不要輻射ノイズ対策前のビデオ信号が検出できる点、また、Ｂ点は、ＥＭＩ抑制回路１０９とＬＳＵ接続部５２間の不要輻射ノイズ対策後のビデオ信号が検出できる点である。
【００５２】
図７に示すように、メイン基板５１の中にはＡＳＩＣ１０１、ＥＭＩ抑制回路１０９、及びＬＳＵ接続部１１０があり、ＡＳＩＣ１０１からＥＭＩ制御装置１０９を介してＬＳＵ接続部に接続され、メイン基板５１外のＬＳＵ５２に接続されている。
【００５３】
不要輻射ノイズ対策（ｓｔｅｐ３）時には、まず、ＡＳＩＣ１０１内にあるセレクタ１５９にクロック信号生成部１５８を選択させるよう制御信号２０２を入力させる。この状態をテストモードと呼ぶ。ここで、セレクタ１５９は、クロック信号を選択する制御信号２０２を入力させるため、メイン基板５１上で電源またはアースのいずれかに接続されている。
【００５４】
次に、クロック信号生成部１５８から、ダミービデオ信号として画像記録装置の最高解像度と同等のクロック信号が出力される。このクロック信号がセレクタ１５９に選択され、Ｉ／Ｏバッファ２０１を介し、ＡＳＩＣ１０１の外部にあるＥＭＩ抑制回路１０９により鈍らせられる。そして、この鈍らされたクロック信号がＬＳＵ接続部１１０からケーブル２５１を介してＬＳＵ５２に出力される。その後、ケーブル２５１において検出された不要輻射ノイズの影響が最も軽減できるようにＥＭＩ抑制回路１０９の調整を行う。
【００５５】
ここで、不要輻射ノイズは、信号の変化の回数が多い、つまり周波数が高いほど大きい。そのため、このクロック信号生成部１５８が出力するクロック信号は、画像記録装置の最高解像度と同等に設定されている。その結果、ビデオ信号生成部１５７が出力するビデオ信号が発生させる不要輻射ノイズは、クロック信号生成部１５８が出力するクロック信号が発生させる不要輻射ノイズより大きくなることはない。即ち、クロック信号を用いた不要輻射ノイズ対策は、ビデオ信号を用いた不要輻射対策と同等の効果が期待できる。
【００５６】
このように、ＥＭＩ抑制回路１０９を用いて不要輻射ノイズに対する調整を行うことにより、クロック信号は鈍らせられ、不要輻射ノイズの影響は軽減される。これにより、不要輻射ノイズ対策後において、不要輻射ノイズ対策後の鈍らせたクロック信号とそのクロック信号とのパルス幅とが分かる。その結果、不要輻射ノイズ対策により決まったパルス幅を、この工程の後に行われるプロセスパラメータの調整に利用することができる。
【００５７】
即ち、本発明では、ダミービデオ信号としてクロック信号を用いることにより、ビデオ信号を出力するために必要な画データを出力するソフトウエアを必要とせず、メイン基板５１、ＬＳＵ５２、及び低圧電源５３のみの構成で不要輻射ノイズ対策を行うことができる。その結果、電気設計（ｓｔｅｐ１）、電気回路基板の試作（ｓｔｅｐ２）の２つの工程を終わらせることで不要輻射ノイズ対策（ｓｔｅｐ３）を行うことができ、不要輻射ノイズ対策後の鈍らせたクロック信号のパルス幅を用いてプロセスパラメータの調整を行うことができる。
【００５８】
ここで、不要輻射ノイズ対策後のクロック信号と、不要輻射ノイズ対策前のクロック信号との変化を図８を用いて説明する。図８（ａ）は、本発明の実施例における不要輻射ノイズ対策前のクロック信号波形図、図８（ｂ）は、本発明の実施例における不要輻射ノイズ対策後のクロック信号波形図である。
【００５９】
図８（ａ）は、ＡＳＩＣ１０１から出力された直後のＡ点（図７参照）における不要輻射ノイズ対策をする前のクロック信号を示している。図８（ｂ）は、を用いて不要輻射ノイズ対策をした後のＢ点（図７参照）におけるクロック信号を示している。図８（ａ）のクロック信号は、矩形波形であり、図に示す等間隔のパルス幅Ｔ1が実際に印刷される場合の最高解像度である１ドットに相当する。この矩形波形をＥＭＩ抑制回路１０９を用いて鈍らせることで、不要輻射ノイズ対策を行う。図８（ｂ）のクロック信号は、不要輻射ノイズ対策を行ったものである。また、図８（ｂ）のクロック信号は、図８（ａ）のクロック信号と比較して、信号の立ち上がり及び立ち下がり波形が緩やかになっている。そのため、このクロック信号の波形の変化により、ある所定の閾値において不要輻射ノイズ対策前のクロック信号のパルス幅Ｔ1と比較して、不要輻射ノイズ対策後のクロック信号のパルス幅Ｔ2は、異なる結果となる。また、不要輻射ノイズ対策後のクロック信号のパルス幅Ｔ2が決まることから、パルス幅Ｔ2によって確定されたＬＳＵ５２の露光時間を基に、プロセスパラメータの調整を行うことができる。
【００６０】
次に、機構設計（ｓｔｅｐ４）、電子写真設計（ｓｔｅｐ５）、及びソフト設計（ｓｔｅｐ６）を行う。ここで、不要輻射ノイズ対策（ｓｔｅｐ３）は、メイン基板５１、ＬＳＵ５２、及び低圧電源５３のみの構成で行う。これにより、不要輻射ノイズ対策（ｓｔｅｐ３）時に終わらせておく必要がある工程は、電気設計（ｓｔｅｐ１）、及び基板試作（ｓｔｅｐ２）のみとなる。そのため、一連の開発の流れである電気設計（ｓｔｅｐ１）、基板試作（ｓｔｅｐ２）、及び不要輻射ノイズ対策（ｓｔｅｐ３）の間に平行して、機構設計（ｓｔｅｐ４）、電子写真設計（ｓｔｅｐ５）、及びソフト設計（ｓｔｅｐ６）を行うことができる。
【００６１】
そして、全体の製品を試作（ｓｔｅｐ７）し、電気的な評価・検討（ｓｔｅｐ８）、機構的な評価・検討（ｓｔｅｐ９）、プロセスパラメータの調整をする電子写真における評価・検討（ｓｔｅｐ１０）、及びソフトウエアのデバック等の評価・検討（ｓｔｅｐ１１）が行われる。その後、次開発ステップ（ｓｔｅｐ１２）へと進む。
【００６２】
Ｓｔｅｐ１０の電子写真における評価・検討の際行うプロセスパラメータの調整において、従来、ＬＳＵ５２から感光体ドラム５４に露光する露光時間は、不要輻射ノイズ対策前の信号のパルス幅に基づいて行っていたことから、不要輻射ノイズ対策後、再度、変化したビデオ信号のパルス幅に基づいて調整しなおさなければならなかった。しかし、本発明では、全体の製品を試作する前に不要輻射ノイズ対策を行うことができることにより、プロセスパラメータの調整には不要輻射ノイズ対策前の信号のパルス幅ではなく、不要輻射ノイズ対策後の信号のパルス幅を基に調整することができる。そのため、従来のように再度現像バイアスを調整し、各温度環境下において検証するということなくすことができる。
【００６３】
このようにして、従来のように画データを出力するためのソフトウエアが未開発の段階やプロセスパラメータが未調整の段階等の開発の初期段階であっても、メイン基板５１、ＬＳＵ５２、低圧電源５３、及びケーブル２５１のみで構成することにより、ケーブル２５１において発生する不要輻射ノイズの検出ができる。また、この検出結果により不要輻射ノイズの影響を軽減するための調整ができる。その結果、従来の開発で問題となっていた不要輻射ノイズ対策前と後とのパルス幅の変化によるプロセスパラメータの再調整という工程がなくなり、開発期間が無駄に長期化するようなことがなくなり、効率よく開発ができる。
【産業上の利用可能性】
【００６４】
本発明の集積回路装置、これを用いた画像記録装置、及び不要輻射ノイズ検出方法は、電子写真プロセスで画像を記録する複写機、プリンタ、複合機、ファクシミリ等の画像記録装置に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明の実施例における画像記録装置の一例であるスキャナ機能をもつ複合機の外観図
【図２】本発明の実施例における複合機レベルでのブロック図
【図３】本発明の実施例におけるボードレベルでのブロック図
【図４】本発明の実施例におけるＡＳＩＣレベルでのブロック図
【図５】本発明の実施例におけるセレクタ部のブロック図
【図６】本発明の実施例における開発フロー図
【図７】本発明の実施例における不要輻射ノイズ対策を示す構成図
【図８】（ａ）本発明の実施例における不要輻射ノイズ対策前のクロック信号波形図、（ｂ）本発明の実施例における不要輻射ノイズ対策後のクロック信号波形図
【図９】従来の集積回路装置のブロック図
【図１０】従来の不要輻射ノイズ対策時の概念図
【図１１】従来の開発フロー図
【図１２】（ａ）従来の不要輻射ノイズ対策前のビデオ信号波形図、（ｂ）従来の不要輻射ノイズ対策後のビデオ信号波形図
【図１３】（ａ）従来の不要輻射ノイズ対策前のビデオ信号のパルス幅の概念図、（ｂ）従来の不要輻射ノイズ対策後のビデオ信号の概念図
【符号の説明】
【００６６】
５１    メイン基板
５２    ＬＳＵ
５３    低圧電源
１０１    ＡＳＩＣ
１０９    ＥＭＩ抑制回路
１１０    ＬＳＵ接続部
１５１    ＣＰＵ
１５２    ＤＳＰ
１５７    ビデオ信号生成部
１５８    クロック信号生成部
１５９    セレクタ
２０２    制御信号
２５１    ケーブル
５００    メイン基板
５０１    ＡＳＩＣ
５０２    ＣＰＵ
５０３    ＤＳＰ
５０８    ビデオ信号生成部
５０９    クロック信号生成部
５１０    ＥＭＩ抑制回路
５１１    ＬＳＵ接続部
５５１    ＬＳＵ
５５２    ケーブル
【図１】
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【図２】
2008092252.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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