(57)【要約】【課題】回路構成を複雑にすることなくリアルタイム欠陥画素を検出する撮像装置を提供する。【解決手段】撮像装置は、撮像素子を備える。撮像素子を構成する画素における注目画素について、注目画素から撮像に基づいて出力された注目画素値と、注目画素の周囲で且つ注目画素と同色の周辺画素から撮像に基づいて出力された周辺画素値との関係を示す第１欠陥候補パターンと、注目画素と隣接する異色隣接画素から撮像に基づいて出力された異色隣接画素値と、異色隣接画素の周囲で且つ異色隣接画素と同色の周辺隣接画素から撮像に基づいて出力された周辺隣接画素値との関係を示す１以上の第２欠陥候補パターンとに基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判断し、欠陥画素を補正する欠陥補正部を備える。【選択図】図６
2008301481.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子と、
前記撮像素子を構成する画素における注目画素について、前記注目画素から撮像に基づいて出力された注目画素値と、前記注目画素の周囲で且つ前記注目画素と同色の周辺画素から前記撮像に基づいて出力された周辺画素値との関係を示す第１欠陥候補パターンと、前記注目画素と隣接する異色隣接画素から前記撮像に基づいて出力された異色隣接画素値と、前記異色隣接画素の周囲で且つ前記異色隣接画素と同色の周辺隣接画素から前記撮像に基づいて出力された周辺隣接画素値との関係を示す１以上の第２欠陥候補パターンとに基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判断し、前記欠陥画素を補正する欠陥補正部とを備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記第１欠陥候補パターンは、前記注目画素値と、前記周辺画素値との差異が閾値よりも大きいか否かに基づいて算出され、
前記第２欠陥候補パターンは、前記異色隣接画素値と、前記周辺隣接画素値との差異が前記閾値よりも大きいか否かに基づいて算出されることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記撮像素子から出力された画素データを、前記撮像素子から読み出しされたライン単位で、順次記録及び転送する複数のラインメモリを更に備え、
前記第１、第２欠陥候補パターンは、前記複数のラインメモリに記録された画素データに基づいて算出されることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
ベイヤ配列のカラーフィルタが前記撮像素子の画素上に配列され、前記カラーフィルタは、赤色フィルタと第１緑色フィルタとが交互に並べられたＲラインと、青色フィルタと第２緑色フィルタとが交互に並べられたＢラインとが交互に並べられ、
前記赤色フィルタに対向するＲ画素、前記第１緑色フィルタに対向するＧ１画素、前記青色フィルタに対向するＢ画素、及び前記第２緑色フィルタに対向するＧ２画素のうちの１つが前記注目画素にされた場合には、前記Ｒ画素、前記Ｇ１画素、前記Ｂ画素、及び前記Ｇ２画素のうちのその他の画素の少なくとも１つが前記異色隣接画素にされることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記第１欠陥候補パターンと前記第２欠陥候補パターンとが同じである場合には、前記欠陥補正部は、前記注目画素は欠陥画素ではないと判断することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項６】
撮像素子を構成する画素における注目画素について、前記注目画素から撮像に基づいて出力された注目画素値と、前記注目画素の周囲で且つ前記注目画素と同色の周辺画素から前記撮像に基づいて出力された周辺画素値との関係を示す第１欠陥候補パターンを算出する第１ステップと、
前記注目画素と隣接する異色隣接画素から前記撮像に基づいて出力された異色隣接画素値と、前記異色隣接画素の周囲で且つ前記異色隣接画素と同色の周辺隣接画素から前記撮像に基づいて出力された周辺隣接画素値との関係を示す第２欠陥候補パターンを算出する第２ステップと、
前記第１候補パターンと、前記第２欠陥候補パターンとに基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判断する第３ステップとを備えることを特徴とする撮像素子の欠陥画素検出方法。
【請求項７】
撮像素子と、
前記撮像素子を構成する画素における注目画素について、前記注目画素から撮像に基づいて出力された注目画素値と、前記注目画素の周囲で且つ前記注目画素と同色の周辺画素から前記撮像に基づいて出力された周辺画素値との関係を示す第１欠陥候補パターンと、前記注目画素と隣接する異色隣接画素から前記撮像に基づいて出力された異色隣接画素値と、前記異色隣接画素の周囲で且つ前記異色隣接画素と同色の周辺隣接画素から前記撮像に基づいて出力された周辺隣接画素値との関係を示す第２欠陥候補パターンとに基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判断する欠陥判定部とを備えることを特徴とする撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置に関し、特に固体撮像素子内の欠陥位置を検出する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、注目画素と隣接する画素とに基づいて欠陥画素を検出するリアルタイム欠陥補正装置が提案されている。
【０００３】
特許文献１は、欠陥補正を行う前に、同色画素が不連続に配列される撮像素子において、各画素から出力されたＲＧＢ信号と、補色関係にあるＣｙ、Ｍａ、Ｙｅ値に基づいて画素欠陥を検出し、補正する装置を開示する。
【特許文献１】特開２００２−１０２７４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、特許文献１の装置は、補色関係にあるＣｙ、Ｍａ、Ｙｅ値を求める必要があり、回路構成が複雑になる。
【０００５】
したがって本発明の目的は、回路構成を複雑にすることなくリアルタイム欠陥画素を検出する撮像装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る撮像装置は、撮像素子と、撮像素子を構成する画素における注目画素について、注目画素から撮像に基づいて出力された注目画素値と、注目画素の周囲で且つ注目画素と同色の周辺画素から撮像に基づいて出力された周辺画素値との関係を示す第１欠陥候補パターンと、注目画素と隣接する異色隣接画素から撮像に基づいて出力された異色隣接画素値と、異色隣接画素の周囲で且つ異色隣接画素と同色の周辺隣接画素から撮像に基づいて出力された周辺隣接画素値との関係を示す１以上の第２欠陥候補パターンとに基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判断し、欠陥画素を補正する欠陥補正部とを備える。
【０００７】
好ましくは、第１欠陥候補パターンは、注目画素値と、周辺画素値との差異が閾値よりも大きいか否かに基づいて算出され、第２欠陥候補パターンは、異色隣接画素値と、周辺隣接画素値との差異が閾値よりも大きいか否かに基づいて算出される。
【０００８】
また、好ましくは、撮像素子から出力された画素データを、撮像素子から読み出しされたライン単位で、順次記録及び転送する複数のラインメモリを更に備え、第１、第２欠陥候補パターンは、複数のラインメモリに記録された画素データに基づいて算出される。
【０００９】
また、好ましくは、ベイヤ配列のカラーフィルタが撮像素子の画素上に配列され、カラーフィルタは、赤色フィルタと第１緑色フィルタとが交互に並べられたＲラインと、青色フィルタと第２緑色フィルタとが交互に並べられたＢラインとが交互に並べられ、赤色フィルタに対向するＲ画素、第１緑色フィルタに対向するＧ１画素、青色フィルタに対向するＢ画素、及び第２緑色フィルタに対向するＧ２画素のうちの１つが注目画素にされた場合には、Ｒ画素、Ｇ１画素、Ｂ画素、及びＧ２画素のうちのその他の画素の少なくとも１つが異色隣接画素にされる。
【００１０】
また、好ましくは、第１欠陥候補パターンと第２欠陥候補パターンとが同じである場合には、欠陥補正部は、注目画素は欠陥画素ではないと判断する。
【００１１】
本発明に係る欠陥画素検出方法は、撮像素子を構成する画素における注目画素について、注目画素から撮像に基づいて出力された注目画素値と、注目画素の周囲で且つ注目画素と同色の周辺画素から撮像に基づいて出力された周辺画素値との関係を示す第１欠陥候補パターンを算出する第１ステップと、注目画素と隣接する異色隣接画素から撮像に基づいて出力された異色隣接画素値と、異色隣接画素の周囲で且つ異色隣接画素と同色の周辺隣接画素から撮像に基づいて出力された周辺隣接画素値との関係を示す第２欠陥候補パターンを算出する第２ステップと、第１候補パターンと、第２欠陥候補パターンとに基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判断する第３ステップとを備える。
【００１２】
本発明に係る撮像装置は、撮像素子と、撮像素子を構成する画素における注目画素について、注目画素から撮像に基づいて出力された注目画素値と、注目画素の周囲で且つ注目画素と同色の周辺画素から撮像に基づいて出力された周辺画素値との関係を示す第１欠陥候補パターンと、注目画素と隣接する異色隣接画素から撮像に基づいて出力された異色隣接画素値と、異色隣接画素の周囲で且つ異色隣接画素と同色の周辺隣接画素から撮像に基づいて出力された周辺隣接画素値との関係を示す第２欠陥候補パターンとに基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判断する欠陥判定部とを備える。
【発明の効果】
【００１３】
以上のように本発明によれば、回路構成を複雑にすることなくリアルタイム欠陥画素を検出する撮像装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、実施形態について、図を用いて説明する。本実施形態にかかる撮像装置１は、イメージセンサ（撮像素子）１０、ＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇｕｅ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）２０、システム制御部３０、画像処理部４０、表示部７０、及び外部記憶装置８０を備える（図１参照）。
【００１５】
イメージセンサ１０は、被写体像を形成する光を光電変換する。光電変換されたアナログ信号は、ＡＤＣ２０でデジタル信号に変換される。
【００１６】
本実施形態では、ベイヤ配列のカラーフィルタがイメージセンサ１０の画素上に配列される。ベイヤ配列のカラーフィルタは、赤色フィルタと第１緑色フィルタとが交互に並べられたＲラインと、青色フィルタと第２緑色フィルタとが交互に並べられたＢラインとを有する（図３参照）。ＲラインとＢラインは交互に並べられる。
【００１７】
本実施形態では、赤色フィルタに対向する画素をＲ画素、第１緑色フィルタに対向する画素をＧ１画素、青色フィルタに対向する画素をＢ画素、及び第２緑色フィルタに対向する画素をＧ２画素とする。また、同色画素とは、対向するフィルタの色が同じであることを意味する。但し、Ｇ１画素のフィルタとＧ２画素のフィルタとは異色であるとして説明する。
【００１８】
但し、ベイヤ配列は、フィルタ配列の一例であってこれに限られるものではない。また、カラーフィルタは、赤色フィルタ、青色フィルタ、及び緑色フィルタで構成されるものに限られない。例えば、シアンフィルタ、マゼンタフィルタ、及びイエローフィルタで構成されるものであってもよい。
【００１９】
ＡＤＣ２０でデジタル信号に変換された画素データは、画像処理部４０に入力される。ＤＳＰなどで構成される画像処理部４０は、ゲイン調整部５０、及びリアルタイム欠陥補正部６０を有する。画像処理部４０のゲイン調整部５０において、画素データは、色ごとにゲイン調整（不図示）され、リアルタイム欠陥補正部６０に入力される。
【００２０】
リアルタイム欠陥補正部６０は、第１〜第５ラインメモリ６１〜６５、第１、第２欠陥検出部６６、６７、パターン判定部６８、及び補正部６９を有する。
【００２１】
画像処理部４０に入力され、ゲイン調整部５０でゲイン調整された画素データのうち最新の読み出しラインのデータは、第２欠陥検出部６７に入力され、また画素データのうち、最新の読み出しラインから１列手前の第１ラインのデータは第１ラインメモリ６１に蓄積され、最新の読み出しラインから２列手前の第２ラインのデータは第２ラインメモリ６２に蓄積され、最新の読み出しラインから３列手前の第３ラインのデータは第３ラインメモリ６３に蓄積される。
【００２２】
第４ラインメモリ６４には、最新の読み出しラインから４列手前の第４ラインのデータであって、補正部６９でリアルタイム欠陥補正が行われた後のデータが蓄積される。第５ラインメモリ６５には、最新の読み出しラインから５列手前の第５ラインのデータであって、補正部６９でリアルタイム欠陥補正が行われた後のデータが蓄積される。
【００２３】
第１欠陥検出部６６は、第１、第３、第５ラインメモリ６１、６３、６５に蓄積された第１、第３、第５ラインに関する画素データに基づいて、注目画素の欠陥候補パターン（第１欠陥候補パターン）を決定し、注目画素に隣接する異色画素の欠陥候補パターン（第２欠陥候補パターン）を決定する。
【００２４】
第２欠陥検出部６７は、最新の読み出しラインのデータ、及び第２、第４ラインメモリ６２、６４に蓄積された第２、第４ラインに関する画素データに基づいて、注目画素に隣接する異色画素の欠陥候補パターン（第３、第４欠陥候補パターン）を決定する。
【００２５】
注目画素とは、イメージセンサ１０を構成する画素のうちの１つの画素であり、第３ラインメモリ６３に蓄積された画素データに対応する画素が、注目画素に設定される。第３ラインメモリ６３に蓄積された画素データに対応する画素それぞれが順次注目画素に設定され、欠陥検出及び欠陥補正が行われる。第３ラインメモリ６３に蓄積された第３ラインの画素データに対応する総ての画素が注目画素に設定され欠陥検出及び欠陥補正が行われた後、入力データ（最新読み出しライン）を次のラインに変えることにより、第３ラインメモリ６３に蓄積される画素データに対応する画素ラインが次のラインに変更される。具体的には、第５ラインメモリ６５に蓄積された第５ラインの画素データは消去される。第４ラインメモリ６４に蓄積された第４ラインの画素データは、第５ラインの画素データとして第５ラインメモリ６５に転送される。第３ラインメモリ６３に蓄積された第３ラインの画素データは、補正部６９を介して、第４ラインの画素データとして第４ラインメモリ６４に転送される。第２ラインメモリ６２に蓄積された第２ラインの画素データは、第３ラインの画素データとして第３ラインメモリ６３に転送される。第１ラインメモリ６１に蓄積された第１ラインの画素データは、第２ラインの画素データとして第２ラインメモリ６２に転送される。第２欠陥検出部６７に入力された最新の読み出しラインの画素データは、第１ラインの画素データとして第１ラインメモリ６１に転送される。これにより、総ての画素それぞれが、順に注目画素に設定され、これにより、総ての画素についての欠陥検出、及び補正が行われる。
【００２６】
次に、第１〜第４欠陥候補パターンの決定の詳細について説明する。第１〜第４欠陥候補パターン決定の具体例として、第３ラインメモリ６３に蓄積された第３ラインに、Ｒ画素とＧ１画素の画素データが含まれ、第２ラインメモリ６２に蓄積された第２ラインに、Ｇ２画素とＢ画素の画素データが含まれ、第３ラインの画素データに対応するＲ画素のうちの１つの画素を注目画素とし、図３において注目画素の右方向に隣接するＧ１画素、斜め右下方向に隣接するＢ画素、及び下方向に隣接するＧ２画素を異色隣接画素とした場合について説明する。但し、Ｒ画素以外の画素（同じライン上のＧ１画素）が注目された場合も同様である。また、最新の読み出しラインが次のラインにされた場合の画素（Ｇ２画素、Ｂ画素）のいずれかが注目画素とされた場合も同様である（図９参照）。
【００２７】
第１欠陥検出部６６は、Ｒ画素の中で、１つの注目画素の画素データの値（撮像に基づいて画素から出力された画素値）と、注目画素の周囲の８つのＲ画素（周辺画素）の画素データの値（画素値）との差異を求め、差異が閾値以下であるか、閾値よりも大きいかを判断し、８つの周囲のＲ画素それぞれの画素値と注目画素の画素値との差異と閾値との大小のパターン（検出パターン）が、図４に示す欠陥画素パターン（ａ）〜（ｏ）のいずれに当てはまるかを決定し、そのパターン番号を、第１欠陥候補パターンに関する情報として、パターン判定部６８に出力する。
【００２８】
図４の欠陥画素パターン（ａ）〜（ｏ）は、注目画素及び隣接画素が、欠陥画素候補となる検出パターンの一例であり、他のパターンを欠陥候補パターンとしてもよい。
【００２９】
例えば、欠陥画素パターン（ａ）は、注目画素（または異色隣接画素）に対して上方向の同色周辺画素の画素値は、注目画素の画素値との差異が閾値以下であり、他の７方向（斜め左上、左、斜め左下、下、斜め右下、右、及び斜め右上方向）の同色周辺画素の画素値は、注目画素の画素値との差異が閾値よりも大きいことを示す。
【００３０】
注目画素の周囲の８つのＲ画素（周辺画素）の画素値との差異が、いずれも閾値以下である場合など、設定した欠陥候補パターン（ａ）〜（ｏ）のいずれにも当てはまらない場合は、注目画素が欠陥画素候補に相当しないため、後述する異色隣接画素におけるパターン判定は行われない。この場合、第１欠陥検出部６６は、設定した欠陥候補パターン（ａ）〜（ｏ）のいずれにも当てはまらない旨を、第１欠陥候補パターンに関する情報として、パターン判定部６８に出力する。パターン判定部６８は、判断結果に関する情報としてＲ画素の注目画素は欠陥画素ではないことを示す欠陥通知フラグを補正部６９に出力する。
【００３１】
第１欠陥検出部６６は、Ｒ画素の注目画素と右方向に隣接するＧ１画素（隣接画素）の画素データの値（画素値）と、隣接するＧ１画素の周囲の８つのＧ１画素（周辺隣接画素）の画素データの値（画素値）との差異を求め、差異が閾値以下であるか、閾値よりも大きいかを判断し、８つの周囲のＧ１画素それぞれの画素値と隣接画素（Ｇ１画素）の画素値との差異と閾値との大小のパターン（検出パターン）が、図４に示す欠陥候補パターン（ａ）〜（ｏ）のいずれに当てはまるかを決定し、そのパターン番号を、第２欠陥候補パターンに関する情報として、パターン判定部６８に出力する。
【００３２】
第２欠陥検出部６７は、Ｒ画素の注目画素と斜め右下方向に隣接するＢ画素（隣接画素）の画素データの値（画素値）と、隣接するＢ画素の周囲の８つの第Ｂ画素（周辺隣接画素）の画素データの値（画素値）との差異を求め、差異が閾値以下であるか、閾値よりも大きいかを判断し、８つの周囲のＢ画素それぞれの画素値と隣接画素（Ｂ画素）の画素値との差異と閾値との大小のパターン（検出パターン）が、図４に示す欠陥候補パターン（ａ）〜（ｏ）のいずれに当てはまるかを決定し、そのパターン番号を、第４欠陥候補パターンに関する情報として、パターン判定部６８に出力する。
【００３３】
第２欠陥検出部６７は、Ｒ画素の注目画素と下方向に隣接するＧ２画素（隣接画素）の画素データの値（画素値）と、隣接するＧ２画素の周囲の８つのＧ２画素（周辺隣接画素）の画素データの値（画素値）との差異を求め、差異が閾値以下であるか、閾値よりも大きいかを判断し、８つの周囲のＧ２画素それぞれの画素値と隣接画素（Ｇ２画素）の画素値と閾値との大小のパターン（検出パターン）が、図４に示す欠陥候補パターン（ａ）〜（ｏ）のいずれに当てはまるかを決定し、そのパターン番号を、第３欠陥候補パターンに関する情報として、パターン判定部６８に出力する。
【００３４】
パターン判定部６８は、第１、第２欠陥検出部６６、６７から出力された注目画素、及び異色隣接画素の欠陥候補パターンの組み合わせに基づいて、注目画素が、欠陥の無い画像の画素データなのか、欠陥であるのかを判断する。また、点欠陥か線欠陥かについても判断する。パターン判定部６８は、判断結果に関する情報（欠陥通知フラグ）を補正部６９に出力する。
【００３５】
注目画素が欠陥画素でないと判断される場合の第１〜第４欠陥候補パターンの組み合わせ、注目画素が点欠陥であると判断される場合の第１〜第４欠陥候補パターンの組み合わせ、及び注目画素が線欠陥であると判断される場合の第１〜第４欠陥候補パターンの組み合わせは、予めパターン判定部６８またはメモリ（不図示）に記録されている。
【００３６】
具体例を示す。注目画素をＲ画素とし、注目画素に対して右方向に隣接するＧ１画素、斜め右下方向に隣接するＢ画素、及び下方向に隣接するＧ２画素を異色隣接画素とする。
【００３７】
注目画素、及び３つの異色隣接画素の検出パターンがいずれも欠陥候補パターン（ｃ）を示す場合、閾値以下の画素が集中しており、この場合は欠陥の無い画像の画素データであると判断され（図５参照）、パターン判定部６８は、判断結果に関する情報としてＲ画素の注目画素は欠陥画素ではないことを示す欠陥通知フラグを補正部６９に出力する。このように、第１〜第４欠陥候補パターンが同じ場合には、注目画素は欠陥画素でないと判断される。
【００３８】
注目画素、及びＧ１画素の異色隣接画素の検出パターンがいずれも欠陥候補パターン（ｋ）を示し、Ｇ２画素、及びＢ画素の異色隣接画素の検出パターンがいずれも欠陥候補パターン（ｏ）を示す場合、閾値以下の画素、Ｒ画素の注目画素、及びＧ１画素の異色隣接画素と横方向に並んだ状態を示し、この場合は、Ｒ画素の注目画素と、Ｇ１画素の異色隣接画素とが、線欠陥画素であると判断され（図６参照）、パターン判定部６８は、判断結果に関する情報としてＲ画素の注目画素はＧ１画素の異色隣接画素と共に線欠陥画素であることを示す欠陥通知フラグを補正部６９に出力する。
【００３９】
注目画素、及びＧ２画素の異色隣接画素の検出パターンがいずれも欠陥候補パターン（ｃ）を示し、Ｇ１画素の異色隣接画素の検出パターンが欠陥候補パターン（ｂ）を示し、Ｂ画素の異色隣接画素の検出パターンが欠陥候補パターン（ｄ）を示す場合、閾値以下の画素が集中しておらず、この場合は、Ｒ画素の注目画素が孤立した点欠陥の画素データであると判断され（図７参照）、パターン判定部６８は、判断結果に関する情報としてＲ画素の注目画素は点欠陥画素であることを示す欠陥通知フラグを補正部６９に出力する。
【００４０】
補正部６９は、パターン判定部６８から出力された情報（欠陥通知フラグ）に基づいて、画像データにおける欠陥画素について補正（リアルタイム欠陥補正）を行う。
【００４１】
欠陥画素についてのリアルタイム欠陥補正が行われた後の画素データについて、画像処理部４０は、表示部７０で表示可能な状態にするため、又は外部記憶装置８０に記録可能な状態にするために、画像処理を行う。また、リアルタイム欠陥補正が行われた後の画素データは、第４ラインメモリ６４に蓄積され、次のラインにおける注目画素のリアルタイム欠陥補正に使用される。
【００４２】
本実施形態では、注目画素と注目画素の周囲の同色周辺画素との関係（欠陥候補パターン）と、注目画素に隣接する異色隣接画素と異色隣接画素の周囲の周辺隣接画素との関係（欠陥候補パターン）とに基づいて、欠陥画素を検出するため、欠陥画素検出において、画素データについて補色信号（Ｃｙ値など）を生成するような複雑な回路は必要としない。また、撮影により得られた画像の画像処理の過程において欠陥画素を検出出来るので、商品出荷時には発生しておらず経年変化などにより発生した欠陥画素についても検出及び補正を行うことが可能になる。
【００４３】
次に、１の注目画素について欠陥判断を行う手順を図３のフローチャートを用いて説明する。ステップＳ１１で、注目画素における周囲の同色周辺画素との画素値の差異がそれぞれ閾値よりも大きいか否かを判断し、図４のパターン判定が行われる。注目画素における検出パターンが、欠陥候補パターン（ａ）〜（ｏ）のいずれにも該当しない場合には、注目画素が欠陥画素候補に相当しないとして、第１欠陥検出部６６は、注目画素における検出パターンが、欠陥候補パターン（ａ）〜（ｏ）のいずれにも該当しない旨の情報を、第１欠陥候補パターンに関する情報として、パターン判定部６８に出力する。パターン判定部６８は、判断結果に関する情報として注目画素は欠陥画素ではないことを示す欠陥通知フラグを補正部６９に出力し、欠陥補正処理は行われずに終了し、次の注目画素について欠陥判断が行われる。
【００４４】
注目画素についての検出パターンが、欠陥候補パターン（ａ）〜（ｏ）のいずれかに当てはまる場合には、ステップＳ１２で、第１欠陥検出部６６は、パターン番号を、第１欠陥候補パターンに関する情報として、パターン判定部６８に出力する。また、第１、第２欠陥検出部６６、６７は、注目画素に隣接する異色隣接画素について、ステップＳ１１と同様の周囲の画素（周辺隣接画素）との差異が閾値よりも大きいか否かを判断し、図４のパターン判定を行う。第１、第２欠陥検出部６６、６７は、パターン番号を、第２〜第４欠陥候補パターンに関する情報として、パターン判定部６８に出力する。
【００４５】
ステップＳ１３で、パターン判定部６８において、注目画素の欠陥候補パターンと異色隣接画素の欠陥候補パターンとの組み合わせが、欠陥画素に該当するか否かが判断される。欠陥画素に該当する場合には、パターン判定部６８は、判断結果に関する情報として注目画素は点欠陥画素または線欠陥画素であることを示す欠陥通知フラグを補正部６９に出力し、ステップＳ１４に進められる。ステップＳ１４で、欠陥通知フラグの内容に基づいて、欠陥補正処理が行われ、かかる注目画素についての欠陥判断が終了し、次の注目画素についての欠陥判断が行われる。欠陥画素に該当しない場合は、パターン判定部６８は、判断結果に関する情報として注目画素は欠陥画素ではないことを示す欠陥通知フラグを補正部６９に出力し、欠陥補正処理は行われずに終了し、次の注目画素について欠陥判断が行われる。
【００４６】
なお、本実施形態では、注目画素に関する第１欠陥候補パターンと、異色隣接画素に関する第２〜第４欠陥候補パターンとに基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判断する形態を説明したが、第１欠陥候補パターンと、第２〜第４欠陥候補パターンの少なくとも１つとに基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判断する形態であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本実施形態における撮像装置の構成図である。
【図２】画像処理部の構成図である。
【図３】イメージセンサの画素構成を示す図である。
【図４】欠陥候補パターン例を示す図である。
【図５】欠陥のない画像データを示す場合の検出パターンを示す図である。
【図６】線欠陥を示す場合の検出パターンを示す図である。
【図７】点欠陥を示す場合の検出パターンを示す図である。
【図８】欠陥画素の検出手順を示すフローチャートである。
【図９】図３の状態の次のラインについて欠陥補正が行われる場合の注目画素を示す図である。
【符号の説明】
【００４８】
１  撮像装置
１０  イメージセンサ
２０  ＡＤＣ
４０  画像処理部
５０  ゲイン調整部
６０  リアルタイム欠陥補正部
６１〜６５  第１〜第５ラインメモリ
６６、６７  第１、第２欠陥検出部
６８  パターン判定部
６９  補正部
７０  表示部
８０  外部記憶装置
【図１】
2008301481.tif 000003
【図２】
2008301481.tif 000004
【図３】
2008301481.tif 000005
【図４】
2008301481.tif 000006
【図５】
2008301481.tif 000007
【図６】
2008301481.tif 000008
【図７】
2008301481.tif 000009
【図８】
2008301481.tif 000010
【図９】
2008301481.tif 000011