(57)【要約】【課題】同一の垂直ＣＣＤに複数の点欠陥が存在しても、これらの点欠陥により発生する白縦線を良好に補正することを可能にする。【解決手段】受光素子１０２が所定の無効信号領域に対向しているときに、点欠陥が存在する垂直ＣＣＤで得られる輝度信号の平均値と、複数の垂直ＣＣＤ１０３で得られる輝度信号の平均値との差分から第１の補正値を求める。同一の垂直ＣＣＤ上に複数の点欠陥１０６，１０７が存在する場合に、水平ＣＣＤ１０４から出力された輝度信号が対応するＹ方向位置が、複数の点欠陥の各Ｙアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する。複数の所定係数の中から、判定された領域に対応する所定係数を選択し、該所定係数を、前記第１の補正値に乗算して第２の補正値を算出し、この第２の補正値によって、前記水平ＣＣＤから出力された前記輝度信号を補正する。【選択図】図１
2008109284.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
２次元状に複数個配列された受光素子から、複数の垂直電荷結合素子及び少なくとも１つの水平電荷結合素子によって所定の順序で出力される輝度信号に含まれる画像欠陥を補正する画像欠陥補正装置において、
前記複数の垂直電荷結合素子のうち点欠陥が存在する垂直電荷結合素子を特定するＸアドレスと、該特定された垂直電荷結合素子上の点欠陥の位置を特定するＹアドレスとを決定する決定手段と、
前記受光素子が所定の無効信号領域に対向しているときに、前記決定手段によって決定されたＸアドレスにより特定される垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値と、前記複数の垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値との差分から第１の補正値を求める第１の補正値算出手段と、
同一の垂直電荷結合素子上に複数の点欠陥が存在する場合に、前記水平電荷結合素子から出力された受光素子ごとの輝度信号が対応するＹ方向位置が、前記複数の点欠陥の各Ｙアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する領域判定手段と、
前記複数の点欠陥に対応する複数の所定係数の中から、前記領域判定手段によって判定された領域に対応する所定係数を選択し、該選択された所定係数を、前記第１の補正値算出手段によって算出された第１の補正値に乗算して第２の補正値を算出する第２の補正値算出手段と、
前記第２の補正値算出手段によって算出された第２の補正値によって、前記水平電荷結合素子から出力された前記輝度信号を補正する補正手段と
を有することを特徴とする画像欠陥補正装置。
【請求項２】
前記複数の所定係数は、静止画撮影の場合には互いに異なった値であり、動画撮影の場合には同一の値であることを特徴とする請求項１記載の画像欠陥補正装置。
【請求項３】
前記Ｘアドレス、Ｙアドレス、および所定係数を対応の点欠陥に関連付けて保持するテーブルを有することを特徴とする請求項１記載の画像欠陥補正装置。
【請求項４】
前記テーブルは、前記複数の垂直電荷結合素子に存在する全部の点欠陥に関するＸアドレス、Ｙアドレス、および所定係数を保持するとともに、同一の垂直電荷結合素子に複数の点欠陥が存在する場合の該複数の点欠陥に関するＸアドレス、Ｙアドレス、および所定係数も保持し、
前記テーブルでは、Ｘアドレスを昇降順にソートされ、同一Ｘアドレスに対応する複数のＹアドレスも昇降順にソートされることを特徴とする請求項３記載の画像欠陥補正装置。
【請求項５】
前記所定係数は、同一の垂直電荷結合素子に存在する複数の点欠陥によって発生するキズ信号の相対的なレベル比率と、前記複数の垂直電荷結合素子を駆動するパルスの周期とから決まることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の画像欠陥補正装置。
【請求項６】
前記レベル比率は、前記同一の垂直電荷結合素子に存在する複数の点欠陥のうち、前記水平電荷結合素子に最も近い位置に存在する点欠陥を基準とした比率であることを特徴とする請求項５記載の画像欠陥補正装置。
【請求項７】
２次元状に複数個配列された受光素子から、複数の垂直電荷結合素子及び少なくとも１つの水平電荷結合素子によって所定の順序で出力される輝度信号に含まれる画像欠陥を補正する画像欠陥補正装置に適用される画像欠陥補正方法において、
前記複数の垂直電荷結合素子のうち点欠陥が存在する垂直電荷結合素子を特定するＸアドレスと、該特定された垂直電荷結合素子上の点欠陥の位置を特定するＹアドレスとを決定する決定ステップと、
前記受光素子が所定の無効信号領域に対向しているときに、前記決定ステップにおいて決定されたＸアドレスにより特定される垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値と、前記複数の垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値との差分から第１の補正値を求める第１の補正値算出ステップと、
同一の垂直電荷結合素子上に複数の点欠陥が存在する場合に、前記水平電荷結合素子から出力された受光素子ごとの輝度信号が対応するＹ方向位置が、前記複数の点欠陥の各Ｙアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する領域判定ステップと、
前記複数の点欠陥に対応する複数の所定係数の中から、前記領域判定手段において判定された領域に対応する所定係数を選択し、該選択された所定係数を、前記第１の補正値算出ステップにおいて算出された第１の補正値に乗算して第２の補正値を算出する第２の補正値算出ステップと、
前記第２の補正値算出ステップにおいて算出された第２の補正値によって、前記水平電荷結合素子から出力された前記輝度信号を補正する補正ステップと
を有することを特徴とする画像欠陥補正方法。
【請求項８】
前記複数の所定係数は、静止画撮影の場合には互いに異なった値であり、動画撮影の場合には同一の値であることを特徴とする請求項７記載の画像欠陥補正方法。
【請求項９】
前記画像欠陥補正装置が、前記Ｘアドレス、Ｙアドレス、および所定係数を対応の点欠陥に関連付けて保持するテーブルを有することを特徴とする請求項７記載の画像欠陥補正方法。
【請求項１０】
前記テーブルは、前記複数の垂直電荷結合素子に存在する全部の点欠陥に関するＸアドレス、Ｙアドレス、および所定係数を保持するとともに、同一の垂直電荷結合素子に複数の点欠陥が存在する場合の該複数の点欠陥に関するＸアドレス、Ｙアドレス、および所定係数も保持し、
前記テーブルでは、Ｘアドレスを昇降順にソートされ、同一Ｘアドレスに対応する複数のＹアドレスも昇降順にソートされることを特徴とする請求項９記載の画像欠陥補正方法。
【請求項１１】
前記所定係数は、同一の垂直電荷結合素子に存在する複数の点欠陥によって発生するキズ信号の相対的なレベル比率と、前記複数の垂直電荷結合素子を駆動するパルスの周期とから決まることを特徴とする請求項７〜１０のいずれかに記載の画像欠陥補正方法。
【請求項１２】
前記レベル比率は、前記同一の垂直電荷結合素子に存在する複数の点欠陥のうち、前記水平電荷結合素子に最も近い位置に存在する点欠陥を基準とした比率であることを特徴とする請求項１１記載の画像欠陥補正方法。
【請求項１３】
２次元状に複数個配列された受光素子から、複数の垂直電荷結合素子及び少なくとも１つの水平電荷結合素子によって所定の順序で出力される輝度信号に含まれる画像欠陥を補正する画像欠陥補正装置に適用される画像欠陥補正方法を、コンピュータに実行させるためのプログラムにおいて、
前記複数の垂直電荷結合素子のうち点欠陥が存在する垂直電荷結合素子を特定するＸアドレスと、該特定された垂直電荷結合素子上の点欠陥の位置を特定するＹアドレスとを決定する決定ステップと、
前記受光素子が所定の無効信号領域に対向しているときに、前記決定ステップにおいて決定されたＸアドレスにより特定される垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値と、前記複数の垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値との差分から第１の補正値を求める第１の補正値算出ステップと、
同一の垂直電荷結合素子上に複数の点欠陥が存在する場合に、前記水平電荷結合素子から出力された受光素子ごとの輝度信号が対応するＹ方向位置が、前記複数の点欠陥の各Ｙアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する領域判定ステップと、
前記複数の点欠陥に対応する複数の所定係数の中から、前記領域判定手段において判定された領域に対応する所定係数を選択し、該選択された所定係数を、前記第１の補正値算出ステップにおいて算出された第１の補正値に乗算して第２の補正値を算出する第２の補正値算出ステップと、
前記第２の補正値算出ステップにおいて算出された第２の補正値によって、前記水平電荷結合素子から出力された前記輝度信号を補正する補正ステップと
を有することを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像欠陥補正装置、画像欠陥補正方法、及びプログラムに関し、特に、２次元状に複数個配列された受光素子から、複数の垂直電荷結合素子及び少なくとも１つの水平電荷結合素子によって所定の順序で出力される輝度信号に含まれる画像欠陥を補正する画像欠陥補正装置、該画像欠陥補正装置に適用される画像欠陥補正方法、及び該画像欠陥補正方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、家庭用ビデオカメラやデジタルスチルカメラなどの撮像機器が広く普及している。これらの撮像機器の多くは固体撮像素子を備えており、固体撮像素子は、２次元状に多数配列された受光素子と、複数の垂直ＣＣＤ（Charge Coupled Device、電荷結合素子）及び１つの水平ＣＣＤ（複数の場合もある）とから構成されている。そして、垂直ＣＣＤ及び水平ＣＣＤを用いて、各受光素子から所定の順序で輝度信号を取り出す。複数の垂直ＣＣＤは各々、垂直方向に１列に配列された受光素子に沿って垂直方向に延び、水平ＣＣＤは、水平方向に延び、複数の垂直ＣＣＤの各端部に接続される。
【０００３】
上記のような固体撮像素子における画素数は数１０万から数１００万個であり、固体撮像素子は半導体ウエハ上に配置される。なお一般的に、半導体ウエハには、ある程度の基板欠損（点欠陥）が発生する。
【０００４】
こうした点欠陥の発生を完全に避けることは難しく、もし、量産時において１つでも点欠陥がある固体撮像素子を全て不良品にすると、歩留まりが著しく低下して製造コストを引き上げてしまう。そこで、ある程度点欠陥があるものでも良品にすることにより、歩留まりを向上させ製造コストを抑えている。例えば、５０万画素程度の固体撮像素子においては、受光素子や垂直ＣＣＤに２〜３個程度の点欠陥があるものでも良品としている。
【０００５】
一般的に、受光素子に発生した点欠陥では、対応する画素の輝度信号が、受光量に関係なく常に高輝度を示し、また、隣接する画素の輝度信号には影響を及ぼさず、画像上において一点のみが白く表示される。
【０００６】
このような点欠陥に起因する問題を解決するために、従来、固体撮像素子に含まれる欠陥画素の位置及びその出力信号に含まれる欠陥成分レベルのデータを記憶しておき、電荷蓄積時間に応じて欠陥補正を行うようにした画像欠陥補正装置がある（例えば、特許文献１参照）。
【０００７】
また、垂直ＣＣＤの点欠陥では、一般的に、垂直ＣＣＤの中で輝度信号のシフトが行われるため、点欠陥を通過する輝度信号が全て影響を受けてしまう。すなわち、点欠陥が存在する垂直ＣＣＤを用いて出力される縦一列の画素の全ての輝度信号が、それぞれ点欠陥を通過する時間に応じた分だけ大きくなってしまう。これによって、縦一列の画素の輝度信号が、実際の画像の輝度よりもそれぞれ高輝度を示し、画像上において白縦線となる。
【０００８】
従来、このような垂直ＣＣＤの点欠陥に起因する問題を解決するようにした下記のような画像欠陥補正装置がある（例えば、特許文献２参照）。すなわち、固体撮像素子の遮光部や垂直ダミー部で得られる輝度信号を積分して、輝度信号に含まれる欠陥成分レベルを検出し、これを、点欠陥の存在する垂直ＣＣＤから出力される輝度信号から減算するようにしている。
【特許文献１】特開平１−１０３３７５号公報（特許番号２５６５２６１号）
【特許文献２】特開２００４−３６４２６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、垂直ＣＣＤの点欠陥に起因する問題を解決する上記従来の画像欠陥補正装置においては、垂直ＣＣＤに存在する点欠陥が１列につき多くとも１つ（１つの垂直ＣＣＤに多くとも１つ）存在する場合を前提としている。
【００１０】
例えば、水平方向に３０００画素を含む固体撮像素子において、垂直ＣＣＤの点欠陥が全体で１０個所存在する場合、１列に複数個の点欠陥が存在する確率は、下記のようになる。
【００１１】
１−（１列につき最大１個の確率）
＝１−ＰＥＲＭＵＴ（３０００，１０）／（３０００＾１０）
≒０．０１５＝１．５％
ここでＰＥＲＭＵＴ（ａ，ｂ）は、ａ個からｂ個を選ぶ順列の数とする。
【００１２】
このように、垂直ＣＣＤの１列に複数の点欠陥が存在する可能性は稀ではなく、こうした場合、従来の画像欠陥補正装置では白縦線を確実に目立たなくすることはできなかった。
【００１３】
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであって、同一の垂直ＣＣＤに複数の点欠陥が存在しても、これらの点欠陥により発生する白縦線を良好に補正することを可能にした画像欠陥補正装置、画像欠陥補正方法、及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するために、請求項１記載の発明によれば、２次元状に複数個配列された受光素子から、複数の垂直電荷結合素子及び少なくとも１つの水平電荷結合素子によって所定の順序で出力される輝度信号に含まれる画像欠陥を補正する画像欠陥補正装置において、前記複数の垂直電荷結合素子のうち点欠陥が存在する垂直電荷結合素子を特定するＸアドレスと、該特定された垂直電荷結合素子上の点欠陥の位置を特定するＹアドレスとを決定する決定手段と、前記受光素子が所定の無効信号領域に対向しているときに、前記決定手段によって決定されたＸアドレスにより特定される垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値と、前記複数の垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値との差分から第１の補正値を求める第１の補正値算出手段と、同一の垂直電荷結合素子上に複数の点欠陥が存在する場合に、前記水平電荷結合素子から出力された受光素子ごとの輝度信号が対応するＹ方向位置が、前記複数の点欠陥の各Ｙアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する領域判定手段と、前記複数の点欠陥に対応する複数の所定係数の中から、前記領域判定手段によって判定された領域に対応する所定係数を選択し、該選択された所定係数を、前記第１の補正値算出手段によって算出された第１の補正値に乗算して第２の補正値を算出する第２の補正値算出手段と、前記第２の補正値算出手段によって算出された第２の補正値によって、前記水平電荷結合素子から出力された前記輝度信号を補正する補正手段とを有することを特徴とする画像欠陥補正装置が提供される。
【００１５】
また、請求項７記載の発明によれば、２次元状に複数個配列された受光素子から、複数の垂直電荷結合素子及び少なくとも１つの水平電荷結合素子によって所定の順序で出力される輝度信号に含まれる画像欠陥を補正する画像欠陥補正装置に適用される画像欠陥補正方法において、前記複数の垂直電荷結合素子のうち点欠陥が存在する垂直電荷結合素子を特定するＸアドレスと、該特定された垂直電荷結合素子上の点欠陥の位置を特定するＹアドレスとを決定する決定ステップと、前記受光素子が所定の無効信号領域に対向しているときに、前記決定ステップにおいて決定されたＸアドレスにより特定される垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値と、前記複数の垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値との差分から第１の補正値を求める第１の補正値算出ステップと、同一の垂直電荷結合素子上に複数の点欠陥が存在する場合に、前記水平電荷結合素子から出力された受光素子ごとの輝度信号が対応するＹ方向位置が、前記複数の点欠陥の各Ｙアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する領域判定ステップと、前記複数の点欠陥に対応する複数の所定係数の中から、前記領域判定手段において判定された領域に対応する所定係数を選択し、該選択された所定係数を、前記第１の補正値算出ステップにおいて算出された第１の補正値に乗算して第２の補正値を算出する第２の補正値算出ステップと、前記第２の補正値算出ステップにおいて算出された第２の補正値によって、前記水平電荷結合素子から出力された前記輝度信号を補正する補正ステップとを有することを特徴とする画像欠陥補正方法が提供される。
【００１６】
さらに、上記画像欠陥補正方法をコンピュータに実行させるためのプログラムが提供される。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、Ｙアドレスと垂直電荷結合素子上の点欠陥の位置との関係により、複数の所定係数から適切な係数を選択する。これによって、同一の垂直電荷結合素子上に複数の点欠陥があっても、この点欠陥による白縦線を良好に補正することができる。かくして、撮像素子の製造上の歩留まりを向上させ、デジタルビデオやデジタルカメラなどの固体撮像素子を使用する製品の製造コストを抑えることが可能となる。
【００１８】
また、静止画撮影の場合と動画撮影の場合とにおいて、白縦線の補正方法を切り替える。これにより、同一の撮像素子を使用しながらも、静止画撮影と動画撮影とにおいて、それぞれ良好に白縦線の補正を行うことができる。したがって、同一の撮像素子により静止画と動画とを良好に撮影することができる。
【００１９】
また、垂直電荷結合素子上の点欠陥に関するＸアドレス、Ｙアドレス、所定係数からなる１組の情報をテーブルとして保持する。これにより、撮像素子に合わせたテーブルをもつことが可能になり、個々の撮像素子に応じた白縦線の補正が可能となる。
【００２０】
また、テーブルに記載されたデータを予めソートしておくことにより、補正値演算部が、同時に参照しなければならない情報量を削減し、補正値演算部の回路規模を削減することが可能である。
【００２１】
また、１つの垂直電荷結合素子に複数の点欠陥が存在する場合において、各点欠陥によって区切られる領域ごとに補正値を決定するので、白縦線の良好な補正が可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照して説明する。
【００２３】
図１は、本発明の一実施の形態に係る画像欠陥補正装置および該画像欠陥補正装置を含む撮像装置の一部の構成を示すブロック図である。
【００２４】
図１において１０１は撮像素子であり、複数の受光素子１０２と、複数の垂直ＣＣＤ（電荷結合素子）１０３および水平ＣＣＤ（電荷結合素子）１０４と、出力アンプ１０５とから構成される。複数の受光素子１０２は２次元状に配列され、各々が、光を電荷に変換する。複数の垂直ＣＣＤ１０３は各々、垂直方向に１列に配列された受光素子１０２に沿って垂直方向に延び、水平ＣＣＤ１０４は、水平方向に延び、複数の垂直ＣＣＤ１０３の各端部に接続される。複数の垂直ＣＣＤ１０３および水平ＣＣＤ１０４は、各受光素子１０２から出力された電荷を受け取って転送（シフト）を行う。なお、撮像素子１０１内の１０６，１０７は、図４を参照して後述するが、同一垂直ＣＣＤ上に存在する点欠陥である。
【００２５】
１０８はＣＤＳアンプであり、出力アンプ１０５から出力された輝度信号に対して相関２重サンプリングによってノイズ除去を行ったのちに信号増幅を行う。１０９は、アナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器であり、１１０は、白縦線を目立たなくするための補正部である。１１９は、指定された領域における輝度信号を全体および列毎に積分して平均値を求める平均値算出部であり、１２０は、列毎の平均値を保持する列平均値保持部である。
【００２６】
１１２は、例えば水晶発振器などからなる画素クロック発振器であり、１画素分の輝度信号の読み取り時間に相当する周期を持つ画素クロックを出力する。１１３はＸカウンタであり、画素クロック発振器１１２から出力された画素クロックに応じて所定値をカウントする。１１４はＹカウンタであり、Ｘカウンタ１１３がリセットする毎にインクリメントして所定値をカウントする。１１５はＨＤデコーダであり、Ｘカウンタ１１３の出力であるＸカウンタ値をデコードして水平同期信号ＨＤを生成する。１１６はＶＤデコーダであり、Ｙカウンタ１１４の出力であるＹカウンタ値をデコードして垂直同期信号ＶＤを生成する。１１１は駆動部であり、水平同期信号ＨＤおよび垂直同期信号ＶＤを受けて、予め決められた駆動信号パターンに従い、水平転送パルスと、垂直転送パルスと、読み出しパルスとを発生する。１１７は、白縦線を目立たなくするための補正値を算出する補正値演算部であり、１１８は、線キズ情報を保持する線キズ情報保持部である。
【００２７】
次に、図１に示す画像欠陥補正装置の動作を説明する。
【００２８】
画素クロック発振器１１２から出力される画素クロックをＸカウンタ１１３がカウントする。Ｘカウンタ１１３は、撮像素子１０１を駆動するタイミングの１つである水平周期をカウントするためのカウンタである。例えば、画素クロックが１０００個発生する期間を水平周期として撮像素子１０１を駆動する場合は、Ｘカウンタ１１３は、画素クロック入力毎にインクリメントして０から９９９まで数え、次の画素クロックの入力で０にリセットするという動作を繰り返す。
【００２９】
Ｙカウンタ１１４は、撮像素子１０１を駆動するタイミングの１つである垂直周期をカウントするためのカウンタである。例えば、水平周期が２００ライン分発生する期間を垂直周期として撮像素子１０１を駆動する場合は、Ｙカウンタ１１４は、Ｘカウンタ１１３のリセット毎にインクリメントして０から１９９まで数える。そして、次のＸカウンタ１１３のリセットで０にリセットするという動作を繰り返す。
【００３０】
ＨＤデコーダ１１５は、Ｘカウンタ１１３から出力されるＸカウンタ値をデコードして水平同期信号ＨＤを作成する。ＶＤデコーダ１１６は、Ｙカウンタ１１４から出力されるＹカウンタ値をデコードして垂直同期信号ＶＤを作成する。
【００３１】
駆動部１１１は、水平同期信号ＨＤおよび垂直同期信号ＶＤに基づいて、水平転送パルスと、垂直転送パルスと、読み出しパルスとを発生させる。水平転送パルスは、水平ＣＣＤ１０４を駆動するためのパルスであり、垂直転送パルスは、垂直ＣＣＤ１０３を駆動するためのパルスである。読み出しパルスは、受光画素１０２で光電変換によって得られた電荷を受光画素１０２から複数の垂直ＣＣＤ１０３に読み出すためのパルスである。
【００３２】
撮像素子１０１では、読み出しパルスに応じて受光画素１０２の全部から複数の垂直ＣＣＤ１０３に同時に電荷を読み出し、垂直転送パルスに応じて垂直ＣＣＤ１０３をラインシフトさせ、各垂直ＣＣＤ１０３の一番下の電荷を水平ＣＣＤ１０４に送る。水平ＣＣＤ１０４では、水平転送パルスに応じて電荷を右方向にシフトして、出力アンプ１０５に入力させる。その結果、出力アンプ１０５を介して画素データが撮像素子１０１から出力される。
【００３３】
撮像素子１０１から出力された画素データは、ＣＤＳアンプ１０８でノイズ除去および信号増幅を施され、その後、Ａ／Ｄ変換器１０９でアナログ信号からデジタル信号に変換され、補正部１１０で白縦線補正を施されて出力される。
【００３４】
ここで、白縦線補正を行うタイミングについて、図２を参照して説明する。
【００３５】
図２は、垂直同期信号ＶＤ、水平同期信号ＨＤ、垂直転送パルス、および読み出しパルスと、白縦線補正実行タイミングとの関係を示すタイミングチャートである。
【００３６】
白縦線補正は、図２（Ｅ）に示すように、２フレーム期間に亘って行う。１フレーム期間とは、垂直同期信号ＶＤ（図２（Ａ））の立ち下がりタイミングから次の垂直同期信号ＶＤの立ち下がりタイミングまでの期間である。
【００３７】
最初のフレームでは、露光処理および白縦線レベルの検出処理を行う。そして、次のフレームでは、読み出し処理および白縦線補正処理を行う。なお、該次のフレームでは、駆動部１１１が読み出しパルス（図２（Ｄ））を出力する。
【００３８】
なお、最初のフレームおよび次のフレームでは、図２（Ｃ）に示すように、垂直同期信号ＶＤの立ち下がりタイミング直後から所定期間に亘って、駆動部１１１が、高速転送用の垂直転送パルスを発生する。通常転送用の垂直転送パルスでは、駆動部１１１によって、１Ｈ期間（水平同期信号ＨＤの１周期）に１パルスが発生され、複数の垂直ＣＣＤ１０３で１Ｈ期間に１ラインずつラインシフトが行われる。これに対して、高速転送用の垂直転送パルスでは、駆動部１１１によって、例えば１Ｈ期間に１０パルスが発生され、複数の垂直ＣＣＤ１０３で１Ｈ期間に１０ライン分のラインシフトが行われる。高速転送用の垂直転送パルスの発生は、複数の垂直ＣＣＤ１０３に溜まったスミアの掃き捨てをより短時間で行うためのものである。
【００３９】
そして、高速転送用の垂直転送パルスの発生が終わったのちに通常転送用の垂直転送パルスの発生を数Ｈ期間、例えば２Ｈ期間行って、撮像素子１０１の基板電位を安定化する。
【００４０】
ここで、上記の白縦線レベルの検出処理について、図３を参照して説明する。
【００４１】
図３は、垂直同期信号ＶＤの１周期の間に撮像素子１０１から出力される信号によって仮想的に想定される画像領域８００を、垂直同期信号ＶＤおよび水平同期信号ＨＤと関連づけて示す図である。
【００４２】
画像領域８００は、図３に示すように、縦軸を垂直同期信号ＶＤの時間軸、横軸を水平同期信号ＨＤの時間軸として関連づけたとき、撮像素子１０１から出力される１フレーム分の画像信号によって想定される仮想画像領域である。
【００４３】
画像領域８００のうち領域８０２は、光を受けて画像に応じた信号が出力される有効信号領域である。領域８０１は、有効信号領域８０２の上に設けられた第１の遮光領域であり、領域８０３は、有効信号領域８０２の下に設けられた第２の遮光領域である。領域８０４は、垂直同期信号ＶＤの周期と垂直ＣＣＤ１０３のライン数相当の垂直転送期間との差分の時間において撮像素子１０１から出力される画像信号から想定される無効信号領域である。
【００４４】
図２に示す最初のフレームでは、下記のように白縦線レベルの検出処理を行う。すなわち、図１に戻って、平均値算出部１１９が、図３に示す無効信号領域８０４において得られる画像信号を積分し、その上で１画素当たりの平均値を求める。この積分は、複数の垂直ＣＣＤ１０３の各１つで得られる画像信号毎に（列毎に）行う。また、複数の垂直ＣＣＤ１０３の全部で得られる画像信号を基に行う。得られた複数の垂直ＣＣＤ１０３の全部で得られた画像信号の平均値は補正値演算部１１７に出力し、列毎の平均値（複数の垂直ＣＣＤ１０３の各々で得られた画像信号の各平均値）は列平均値保持部１２０に出力する。列平均値保持部１２０では、列毎に平均値が保持される。
【００４５】
平均値算出部１１９で算出された複数の垂直ＣＣＤ１０３の全部で得られた画像信号の平均値を、以下において「平均値ＢＡＳＥ＿ＬＥＶＥＬ」と呼ぶ。
【００４６】
図２に示す次のフレームでは、静止画の読み出し処理を行い、読み出しパルス（図２（Ｄ））を出力する。読み出しパルスの発生により、光電変換によって蓄積された電荷が、受光素子１０２の全部から複数の垂直ＣＣＤ１０３に転送され、通常転送用の垂直転送パルスによって１Ｈ期間に１ラインずつ垂直ＣＣＤ１０３でラインシフトが行われる。１Ｈ期間に水平ＣＣＤ１０４に転送された電荷は、水平駆動パルスによって水平ＣＣＤ１０４で転送され、出力アンプ１０５を介して出力される。
【００４７】
補正値演算部１１７は、白縦線を補正するための補正値の算出を下記のように行う。すなわち、Ｘカウンタ１１３のＸカウント値に応じて列平均値を列平均値保持部１２０から読み出し、また、線キズ情報保持部１１８から、複数の垂直ＣＣＤ１０３の点欠陥位置及び点欠陥の程度に関する情報を取得する。そして、これらの列平均値および点欠陥情報に基づいて補正値を算出して補正部１１０へ出力する。補正部１１０では、補正値演算部１１７から送られた補正値に応じて白縦線補正を行う。
【００４８】
この補正値演算部１１７で行われる補正値の算出について、図４を参照して詳しく説明する。
【００４９】
図４は、撮像素子１０１内の同一の垂直ＣＣＤに２つの点欠陥１０６，１０７が存在する場合の撮像素子１０１からの出力信号（キズ信号）のレベル変化を示す図である。このレベル変化は、静止画を撮像素子１０１が取り込んだ場合におけるレベル変化である。
【００５０】
なお一般に、点欠陥によって発生するキズ信号レベルは垂直転送パルスの周期に比例する。
【００５１】
図４におけるＬ１は、高速転送用の垂直転送パルスが発生しているときに点欠陥１０６および点欠陥１０７によって発生したキズ信号レベルを加算したレベルである。
【００５２】
点欠陥１０６の位置でキズ信号レベルが１ラインだけ大きくなる。垂直転送パルスは、読み出しパルスを出力する際に数Ｈ期間、その発生が停止されるようになっており、上記のようにキズ信号レベルが１ラインだけ大きくなるのは、この発生停止に起因する。
【００５３】
Ｌ２は、通常転送用の垂直転送パルスが発生しているときに点欠陥１０６によって発生したキズ信号レベルがレベルＬ１に加算されたレベルである。
【００５４】
点欠陥１０７の位置でキズ信号レベルが１ラインだけ大きくなる。これも、読み出しパルスを出力する際に数Ｈ期間、垂直転送パルスの発生が停止されることに起因する。
【００５５】
Ｌ３は、通常転送用の垂直転送パルスが発生しているときに点欠陥１０７によって発生したキズ信号レベルがレベルＬ２に加算されたレベルである。
【００５６】
なお、レベルＬ３は、列平均値保持部１２０が保持している、点欠陥１０６および点欠陥１０７が存在する垂直ＣＣＤの列の平均値から平均値ＢＡＳＥ＿ＬＥＶＥＬを減算した値にほぼ等しい。
【００５７】
ここで、点欠陥１０６によって単位時間あたりに発生するキズ信号レベルをα、点欠陥１０７によって単位時間あたりに発生するキズ信号レベルをβ、αとβとの比率をγとすると、キズ信号レベルβは下記式（１）により表される。
【００５８】
β＝αγ  ・・・（１）
また高速転送用の垂直転送パルスの周期をＴｆ、通常転送用の垂直転送パルスの周期をＴｎとすると、レベルＬ１，Ｌ２，Ｌ３は下記式（２）〜（４）により表される。
【００５９】
Ｌ１＝Ｔｆα＋Ｔｆβ＝Ｔｆα＋Ｔｆαγ＝α（Ｔｆ＋Ｔｆγ）        ・・・（２）
Ｌ２＝Ｌ１＋Ｔｎα＝α（Ｔｆ＋Ｔｆγ＋Ｔｎ）                      ・・・（３）
Ｌ３＝Ｌ２＋Ｔｎβ＝Ｌ２＋Ｔｎαγ＝α（Ｔｆ＋Ｔｆγ＋Ｔｎ＋Ｔｎγ）・・（４）
ところで、上記式（４）に基づき、キズ信号レベルαは、下記式（５）で表される。
【００６０】
α＝Ｌ３／（Ｔｆ＋Ｔｆγ＋Ｔｎ＋Ｔｎγ）  ・・・（５）
ここで、周期Ｔｆ、Ｔｎは、駆動パターンにより予め決定される。比率γに関しては、後述する調整処理によって予め決めることができる。また、レベルＬ３の値は、上述のように、列平均値保持部１２０が保持している、点欠陥１０６および点欠陥１０７が存在する垂直ＣＣＤの列の平均値から平均値ＢＡＳＥ＿ＬＥＶＥＬを減算した値にほぼ等しい。したがって、キズ信号レベルαの実際の値が、上記式（５）に基づいて算出され得る。
【００６１】
このキズ信号レベルαと、予め決定された周期Ｔｆ、Ｔｎ、比率γとを用いることによって、補正値演算部１１７がレベルＬ１，Ｌ２の実際の値を算出できる。
【００６２】
このようにして得られたレベルＬ１〜Ｌ３のうちの１つを用いて、補正部１１０は、Ａ／Ｄ変換器１０９から出力された信号の値から減算を行い、これによって、白縦線補正が実現する。
【００６３】
次に、電子ビューファインダ動作や動画動作が行われるときにおける垂直同期信号ＶＤ、水平同期信号ＨＤ、垂直転送パルス、読み出しパルスの関係を説明する。
【００６４】
図５は、電子ビューファインダ動作や動画動作における垂直同期信号ＶＤ、水平同期信号ＨＤ、垂直転送パルス、読み出しパルスの関係を示すタイミングチャートである。
【００６５】
垂直転送パルス（図５（Ｃ））は、読み出しパルス（図５（Ｄ））付近でその発生が停止されるようになっている。電子ビューファインダ動作や動画動作が行われるとき、垂直転送パルスは、こうした読み出しパルス付近での発生停止以外、１Ｈ期間に１つずつ発生され、複数の垂直ＣＣＤ１０３では、１Ｈ期間に１ラインずつのラインシフトが行われる。したがって、電子ビューファインダ動作や動画動作が行われるときは、高速転送用の垂直転送パルスの発生によるスミアの掃き捨ては行われない。
【００６６】
このため、点欠陥１０６および点欠陥１０７が存在しても、撮像素子１０１からの出力信号のキズ信号レベルは、図６に示すように、点欠陥１０６および点欠陥１０７が存在するライン以外では均一（レベルＬ４）である。図６は、電子ビューファインダ動作や動画動作が行われるときの撮像素子１０１からの出力信号（キズ信号）のレベル変化を示す図である。
【００６７】
なお、前述のように、点欠陥１０６および点欠陥１０７が存在するラインにおいてキズ信号レベルが大きいのは、読み出しパルス付近で垂直転送パルスの発生が停止されることによる。
【００６８】
図６に示すレベルＬ４の大きさは、列平均値保持部１２０が保持している、点欠陥１０６および点欠陥１０７が存在する列の平均値から平均値ＢＡＳＥ＿ＬＥＶＥＬを減算した値とほぼ等しい。したがって、補正値演算部１１７は、列の平均値から平均値ＢＡＳＥ＿ＬＥＶＥＬを減算した値を補正値として補正部１１０に出力する。
【００６９】
このように、静止画動作の場合と電子ビューファインダ動作および動画動作の場合とにおいて、白縦線の補正方法を切り替える。これにより、同一の撮像素子１０１を使用しながらも、静止画動作と電子ビューファインダ動作および動画動作とにおいて、それぞれ良好に白縦線の補正を行うことができる。したがって、同一の撮像素子により静止画と動画とを良好に撮影することができる。
【００７０】
図７は、線キズ情報保持部１１８が保持する線キズ情報の構造を示す図である。
【００７１】
線キズ情報保持部１１８では、複数の垂直ＣＣＤ１０３の点欠陥位置及び点欠陥の程度に関する情報（線キズ情報）が、複数の垂直ＣＣＤ１０３の各１ずつ（列毎）に分けて保持される。線キズ情報保持部１１８には、同一の垂直ＣＣＤ（同列）に対して最大２つの点欠陥情報（線キズ情報）を保持できる。すなわち、列ごとにテーブルＮｏを付与し、１列につき、線キズＸアドレス、第１のＹアドレス、第２のＹアドレス、第１のＹアドレスの係数、第２のＹアドレスの係数で、線キズ情報を構成する。
【００７２】
線キズ情報保持部１１８は、テーブルＮｏに応じて、線キズＸアドレス、第１のＹアドレス、第２のＹアドレス、第１のＹアドレスの係数、第２のＹアドレスの係数からなる１組の情報を出力する。線キズ情報保持部１１８を例えばＳＲＡＭによって構成し、テーブルＮｏをＳＲＡＭのアドレスとすることによって、上記の線キズ情報保持部１１８の動作を実現することができる。
【００７３】
線キズＸアドレスは、複数の垂直ＣＣＤ１０３のうち点欠陥が存在する垂直ＣＣＤ（列）を特定するＸカウンタ１１３のＸカウンタ値である。第１のＹアドレスおよび第２のＹアドレスは、同一の垂直ＣＣＤに点欠陥が２つ存在する場合の該垂直ＣＣＤにおける２つの点欠陥の縦方向の各位置を特定するＹカウンタ１１４のＹカウンタ値である。線キズ情報保持部１１８では、予め線キズＸアドレスが昇降順になるようにソートされ、さらに、同じテーブルＮｏ内で第１のＹアドレスおよび第２のＹアドレスも昇降順にソートされる。
【００７４】
図７に示す第１のＹアドレスの係数Ｋ１１、Ｋ１２は、下記式（６）、（７）でそれぞれ表される。
【００７５】
Ｋ１１＝Ｌ１／Ｌ３  ・・・（６）
Ｋ１２＝Ｌ２／Ｌ３  ・・・（７）
これらに上記式（２）〜（４）を代入することで下記式（８）、（９）が得られる。
【００７６】
Ｋ１１＝（Ｔｆ＋Ｔｆγ）／（Ｔｆ＋Ｔｆγ＋Ｔｎ＋Ｔｎγ）  ・・・（８）
Ｋ１２＝（Ｔｆ＋Ｔｆγ＋Ｔｎ）／（Ｔｆ＋Ｔｆγ＋Ｔｎ＋Ｔｎγ）  ・・・（９）
なお、線キズ情報保持部１１８には、同一の垂直ＣＣＤ（同列）に対して最大２つの点欠陥情報（線キズ情報）を保持できるとしたが、３つ以上の点欠陥情報（線キズ情報）を保持できるようにしてもよい。
【００７７】
また、同一の垂直ＣＣＤ（同列）に点欠陥が１つの場合には、第２のＹアドレスを、各ビットが全て１になった大きな値にして、第２のＹアドレスが無いことを表す。例えばＹカウンタ１１４が１６ｂｉｔの場合は、第２のＹアドレスを０ｘＦＦＦＦという値にする。また、同一の垂直ＣＣＤ（同列）に点欠陥が１つの場合には、第２のＹアドレスの係数を０とする。
【００７８】
以上のように、線キズ情報保持部１１８が、垂直ＣＣＤ上の点欠陥に関するＸアドレス、Ｙアドレス、Ｙアドレスの係数からなる１組の情報をテーブルとして保持する。これにより、撮像素子に合わせたテーブルをもつことが可能になり、個々の撮像素子に応じた白縦線の補正が可能となる。
【００７９】
また、テーブルに記載されたデータを予めソートしておくことにより、補正値演算部１１７が、同時に参照しなければならない情報量を削減し、補正値演算部１１７の回路規模を削減することが可能である。
【００８０】
図８は、補正値演算部１１７の内部構成を示す回路図である。
【００８１】
図８において５０１、５０２は比較器であり、５０３、５０７は選択器であり、５０４、５０５は乗算器であり、５０６は一致検出器であり、５０９はテーブルＮｏ発生器であり、５０８はリミッタあり、５１０は減算器である。
【００８２】
テーブルＮｏ発生器５０９は、Ｘカウンタ値がリセットされるごとにリセットされて、０からカウントを開始する。カウントアップは、Ｘカウンタ値と線キズＸアドレスとの一致を一致検出器５０６で検出する毎に行われる。
【００８３】
テーブルＮｏ発生器５０９のカウント値は、線キズ情報保持部１１８におけるテーブルＮｏに対応する。テーブルＮｏ発生器５０９から出力されたカウント値（テーブルＮｏ）に応じて、線キズ情報保持部１１８から、線キズＸアドレス、第１のＹアドレス、第２のＹアドレス、第１のＹアドレスの係数、第２のＹアドレスの係数が補正値演算部１１７に入力される。
【００８４】
Ｙカウンタ値と第１のＹアドレスおよび第２のＹアドレスとが比較器５０１、５０２でそれぞれ比較される。これにより、Ｙカウンタ値が、第１のＹアドレスより小さいか、第１のＹアドレスと第２のＹアドレスとの間にあるか、第２のＹアドレスより大きいかが判定される。
【００８５】
静止画撮影の場合、図４に示すように、点欠陥位置とＹアドレスとの大小関係によって白縦線の補正値が変化する。このため、Ｙカウンタ値が第１のＹアドレスより小さい場合は、選択器５０３が第１のＹアドレスの係数を選択する。Ｙカウンタ値が第１のＹアドレスと第２のＹアドレスとの間にある場合は、選択器５０３が第２のＹアドレスの係数を選択する。Ｙカウンタ値が第２のＹアドレスより大きい場合は、選択器５０３が１を選択する。
【００８６】
動画撮影の場合、図６に示すように、点欠陥位置とＹアドレスとの大小関係によらず白縦線の補正値は一定なので、選択器５０３は１を選択する。
【００８７】
一方、図８の減算器５１０では、列平均値保持部１２０からＸカウンタ値に応じて選択された列平均値から平均値ＢＡＳＥ＿ＬＥＶＥＬが減算される。この減算器５１０で得られた値に対して、乗算器５０４において、選択器５０３で選択された値が乗算される。
【００８８】
乗算器５０４で得られた値に対して、乗算器５０５で、所定の固定値である補正度が乗算される。この補正度は、白縦線に対する補正の度合いを調整するための値である。
【００８９】
乗算器５０５で得られた値は、選択器５０７の一方の入力端子へ送られ、選択器５０７の他方の入力端子には値０が入力される。選択器５０７での選択は、Ｘカウンタ値と線キズＸアドレスとの一致を一致検出器５０６で検出した結果によって行われる。一致検出器５０６で一致が検出されたときは、現在のＸカウンタ値が白縦線の発生個所と一致しているので、選択器５０７が乗算器５０５からの出力値を選択する。一方、一致検出器５０６で不一致が検出されたときは、現在のＸカウンタ値が白縦線の発生個所と一致していないので、選択器５０７が値０を選択し、これにより補正を行わないようにする。
【００９０】
以上のように、１つの垂直ＣＣＤに複数の点欠陥が存在する場合において、各点欠陥によって区切られる領域ごとに補正値を決定するので、白縦線の良好な補正が可能になる。
【００９１】
選択器５０７からの出力値はリミッタ５０８に入力される。
【００９２】
図９は、リミッタ５０８の入出力特性を示す図である。
【００９３】
リミッタ５０８は、入力された値に対して、図９に示す入出力特性に従って値を出力し、この出力値が補正値演算部１１７の出力する補正値となる。
【００９４】
図９における領域Ｒａでは、補正値が十分小さいので補正を行わない。領域Ｒｃでは補正を行う。領域Ｒｂは、補正を行わない領域Ｒａと補正を行う領域Ｒｃとをスムーズに切り替えるための遷移領域である。
【００９５】
領域Ｒｅは、補正値が大きいので補正を行わない。領域Ｒｄは、補正を行う領域Ｒｃと補正を行わない領域Ｒｅとをスムーズに切り替えるための遷移領域である。
【００９６】
これらの領域の境界は、撮像素子１０１の温度や、露光時間に応じて変更される。
【００９７】
図１０は、補正部１１０の内部構成を示す回路図である。
【００９８】
図１０において７０２は、入力信号のレベルが所定値を超えていることによって飽和を検出する飽和検出部であり、７０３は選択器であり、７０１は減算器である。
【００９９】
飽和検出部７０２が飽和を検出していない場合は、選択器７０３が、入力した補正値を選択して、減算器７０１が、入力信号から該補正値を減算して出力する。
【０１００】
一方、飽和検出部７０２が飽和を検出している場合は、選択器７０３が値０を選択し、減算器７０１が入力信号から０を減算、つまり入力信号をそのまま出力する。すなわち、入力信号が飽和している場合は白縦線の補正が行われない。
【０１０１】
つぎに、上記式（１）で表される比率γを予め決めるための調整処理について、図１１〜図１３を参照して説明する。
【０１０２】
図１１は、調整処理が実行されるときの垂直同期信号ＶＤ、水平同期信号ＨＤ、垂直転送パルス、読み出しパルスの関係を示すタイミングチャートである。図１２は、調整処理が実行されるときの撮像素子１０１からの出力信号（キズ信号）のレベル変化を示す図である。図１３は、画像欠陥補正装置で行なわれる調整処理の手順を示すフローチャートである。以下、図１３に示すフローチャートに沿って、図１１および図１２を適宜参照しながら、調整処理を説明する。
【０１０３】
この調整処理は、撮像素子１０１を遮光した状態で行う。
【０１０４】
ステップＳ１００１で読み出し禁止を行う。すなわち、駆動部１１１に読み出しパルスの出力を停止させる（図１１（Ｄ））。
【０１０５】
ステップＳ１００２で高速転送を行う（図１１（Ｃ））。すなわち、駆動部１１１に、高速転送用の垂直転送パルスを出力させる。これにより、通常転送時よりも短い周期の垂直転送パルスが出力されて、複数の垂直ＣＣＤ１０３内のスミアが掃き捨てられる。
【０１０６】
ステップＳ１００３で垂直転送を停止する。すなわち、駆動部１１１に、高速転送用の垂直転送パルスの出力直後に、垂直転送パルスの出力を停止させる（図１１（Ｃ））。これにより、垂直ＣＣＤに存在する点欠陥で発生する、周辺より多い暗電流分の電荷が垂直ＣＣＤに蓄積される。
【０１０７】
ステップＳ１００４で通常転送及び画像取り込みを行う。すなわち、駆動部１１１に、通常転送用の垂直転送パルスを出力させる（図１１（Ｃ））。
【０１０８】
この結果、ステップＳ１００５で点欠陥が検出される。すなわち、垂直ＣＣＤに点欠陥１０６、１０７が存在する場合の撮像素子１０１からの出力信号のキズ信号レベルは、図１２に示すようになり、点キズとして検出できる。
【０１０９】
図１２において、Ｌ５は、撮像素子１０１からの出力信号の平均した信号レベルであり、Ｌ６、Ｌ７は、点欠陥１０６、１０７での各キズ信号レベルである。レベルＬ６からレベルＬ５を減算した値は、点欠陥１０６の欠陥の度合いに応じた信号レベルであり、レベルＬ７からレベルＬ５を減算した値は、点欠陥１０７の欠陥の度合いに応じた信号レベルである。
【０１１０】
こうしたことから、キズ信号レベルの比率γは、下記式（１０）で表される。
【０１１１】
γ＝（Ｌ７―Ｌ５）／（Ｌ６―Ｌ５）  ・・・（１０）
以上のように、本実施の形態では、Ｙアドレスと垂直ＣＣＤ上の点欠陥の位置との関係により、複数の所定係数から適切な係数を選択する。これによって、同一の垂直ＣＣＤ上に複数の点欠陥があっても、この点欠陥による白縦線を良好に補正することができる。かくして、撮像素子の製造上の歩留まりを向上させ、デジタルビデオやデジタルカメラなどの固体撮像素子を使用する製品の製造コストを抑えることを可能にする。
【０１１２】
上記の例では、同一の垂直ＣＣＤに最大２つの点欠陥が存在する場合について説明したが、点欠陥が３つ以上ある場合においても、線キズ情報（図７）の構造を最大点欠陥数に合わせて拡張することで対応できる。
【０１１３】
また、上記実施の形態においては、点欠陥１０６、１０７の位置においてキズ信号レベルが周囲より大きいのにも拘わらず、特別な処理を行っていないが、これに代わって、従来の画像欠陥補正装置のように、点キズとして補正を行うようにしてもよい。
【０１１４】
また、上記実施の形態においては、図２に示すように、白縦線補正を２フレーム期間に亘って行うようにしている。これに代わって、白縦線補正を３フレーム期間に亘って行うようにしてもよい。すなわち、第１のフレームでは露光処理を、第２のフレームでは白縦線レベルの検出処理を、第３のフレームでは読み出し処理および白縦線補正処理を行うようにしてもよい。
【０１１５】
また、上記実施の形態においては、列平均値保持部１２０において全ての列についての列平均値を保持したが、これに代わって、線キズ情報に基づいて、白縦線の補正を行うべき列の列平均値のみを保持するようにしてもよい。
【０１１６】
〔他の実施の形態〕
なお、図１に示す画像欠陥補正装置はハードウェア構成となっているが、これに代わって、該画像欠陥補正装置を、ＣＰＵ，ＲＡＭ，ＲＯＭ、入出力装置等から成る情報処理装置で構成するようにしてもよい。そして、上述の画像欠陥補正装置の諸機能を、該情報処理装置が制御プログラムを実行することによって実現するようにしてもよい。
【０１１７】
また、本発明の目的は、以下の処理を実行することによって達成される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、システム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出す処理である。
【０１１８】
この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施の形態の機能を実現することになり、そのプログラムコード及び該プログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
【０１１９】
また、プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、次のものを用いることができる。例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等である。または、プログラムコードをネットワークを介してダウンロードしてもよい。
【０１２０】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、上記実施の形態の機能が実現される場合も本発明に含まれる。加えて、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳ（オペレーティングシステム）等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【０１２１】
更に、前述した実施形態の機能が以下の処理によって実現される場合も本発明に含まれる。即ち、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれる。その後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行う場合である。
【図面の簡単な説明】
【０１２２】
【図１】本発明の一実施の形態に係る画像欠陥補正装置および該画像欠陥補正装置を含む撮像装置の一部の構成を示すブロック図である。
【図２】垂直同期信号ＶＤ、水平同期信号ＨＤ、垂直転送パルス、および読み出しパルスと、白縦線補正実行タイミングとの関係を示すタイミングチャートである。
【図３】垂直同期信号ＶＤの１周期の間に撮像素子から出力される信号によって仮想的に想定される画像領域を、垂直同期信号ＶＤおよび水平同期信号ＨＤと関連づけて示す図である。
【図４】撮像素子内の同一の垂直ＣＣＤに２つの点欠陥が存在する場合の撮像素子からの出力信号（キズ信号）のレベル変化を示す図である。
【図５】電子ビューファインダ動作や動画動作における垂直同期信号ＶＤ、水平同期信号ＨＤ、垂直転送パルス、読み出しパルスの関係を示すタイミングチャートである。
【図６】電子ビューファインダ動作や動画動作が行われるときの撮像素子からの出力信号（キズ信号）のレベル変化を示す図である。
【図７】線キズ情報保持部が保持する線キズ情報の構造を示す図である。
【図８】補正値演算部の内部構成を示す回路図である。
【図９】リミッタの入出力特性を示す図である。
【図１０】補正部の内部構成を示す回路図である。
【図１１】調整処理が実行されるときの垂直同期信号ＶＤ、水平同期信号ＨＤ、垂直転送パルス、読み出しパルスの関係を示すタイミングチャートである。
【図１２】調整処理が実行されるときの撮像素子からの出力信号（キズ信号）のレベル変化を示す図である。
【図１３】画像欠陥補正装置で行なわれる調整処理の手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１２３】
１０１  撮像素子
１０２  複数の受光素子１０２
１０３  複数の垂直ＣＣＤ（電荷結合素子）
１０４  水平ＣＣＤ（電荷結合素子）
１０５  出力アンプ
１０６，１０７  点欠陥
１０８  ＣＤＳアンプ
１０９  Ａ／Ｄ変換器
１１０  補正部（補正手段）
１１１  駆動部
１１２  画素クロック発振器
１１３  Ｘカウンタ
１１４  Ｙカウンタ
１１５  ＨＤデコーダ
１１６  ＶＤデコーダ
１１７  補正値演算部（決定手段、第１の補正値算出手段、領域判定手段、第２の補正値算出手段）
１１８  線キズ情報保持部
１１９  平均値算出部
１２０  列平均値保持部
【図１】
2008109284.tif 000003
【図２】
2008109284.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2008109284.tif 000009
【図８】
2008109284.tif 000010
【図９】
2008109284.tif 000011
【図１０】
2008109284.tif 000012
【図１１】
2008109284.tif 000013
【図１２】
2008109284.tif 000014
【図１３】
2008109284.tif 000015