(57)【要約】【課題】新規な評価指標を導入してデータ記録を総合的にも個別の検出パターンについても評価できるようにする。【解決手段】本発明に係るデータ記録評価方法は、光ディスクに対するデータ記録の結果を再生し、再生信号における所定の検出パターンを特定するステップと、所定の検出パターンに対応する再生信号における信号状態を検出するステップと、検出された上記信号状態と所定の検出パターンから特定される基準状態とに基づく第１の記録状態評価指標値を算出する第１算出ステップとを含む。また、上で述べた所定の検出パターンが複数である場合、所定の検出パターンの各々についての第１の記録状態評価指標値を用いて第２の記録状態評価指標値を算出する第２算出ステップをさらに含む。第１及び第２の記録状態評価指標値によって、データ記録を適切に評価できる。【選択図】図１５
2008165863.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対するデータ記録の結果を再生し、再生信号における所定の検出パターンを特定するステップと、
前記所定の検出パターンに対応する前記再生信号における信号状態を検出するステップと、
検出された前記信号状態と前記所定の検出パターンから特定される基準状態とに基づく第１の記録状態評価指標値を算出する第１算出ステップと、
を含むデータ記録評価方法。
【請求項２】
前記所定の検出パターンが複数であって、
前記所定の検出パターンの各々についての前記第１の記録状態評価指標値を用いて第２の記録状態評価指標値を算出する第２算出ステップ
をさらに含む請求項１記載のデータ記録評価方法。
【請求項３】
前記第２の記録状態評価指標値に基づき、データ記録の記録条件を変更する第１変更ステップ
をさらに含む請求項２記載のデータ記録評価方法。
【請求項４】
前記第２算出ステップが、
前記所定の検出パターンの出現確率と前記第１の記録条件評価指標値との積和を算出するステップ
を含む請求項２記載のデータ記録評価方法。
【請求項５】
前記第２の記録状態評価指標値が所定の閾値を超えるか判断するステップと、
前記第２の記録状態評価指標値が前記所定の閾値を超える場合、前記第２の記録状態評価指標値に所定のレベル以上影響を与える前記検出パターンを、対応する前記第１の記録状態評価指標値に基づき特定するステップと、
をさらに含む請求項２記載のデータ記録評価方法。
【請求項６】
特定された前記検出パターンについての前記第１の記録状態評価指標値に基づき、データ記録において用いられる記録パラメータを変更する第２変更ステップ
をさらに含む請求項５記載のデータ記録評価方法。
【請求項７】
前記検出パターンが、少なくとも１つのマーク及びスペースからなるパターンである
請求項１記載のデータ記録評価方法。
【請求項８】
前記所定の検出パターンが、出現頻度が予め定められた値以上の検出パターンである
請求項１記載のデータ記録評価方法。
【請求項９】
前記第１変更ステップが、
記録条件と当該記録条件におけるデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された前記第２の記録状態評価指標値との関係を表すデータから、前記第２の記録状態評価指標値が最も好ましい値となる場合の前記記録条件を特定するステップ
を含む請求項３記載のデータ記録評価方法。
【請求項１０】
前記第１変更ステップが、
記録条件と当該記録条件におけるデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された前記第２の記録状態評価指標値との関係を表すデータと現在の前記第２の記録状態評価指標値とを用いて、現在の記録条件の補正量を算出するステップ
を含む請求項３記載のデータ記録評価方法。
【請求項１１】
前記記録条件と当該記録条件におけるデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された前記第２の記録状態評価指標値との関係を表すデータが、テスト記録時に得られたデータである
請求項９記載のデータ記録評価方法。
【請求項１２】
前記第２変更ステップが、
記録パラメータと当該記録パラメータを用いたデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された前記第１の記録状態評価指標値との関係を表すデータから、前記第１の記録状態評価指標値が最も好ましい値となる場合の前記記録パラメータを特定するステップ
を含む請求項６記載のデータ記録評価方法。
【請求項１３】
前記第２変更ステップが、
記録パラメータと当該記録パラメータを用いたデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された前記第１の記録状態評価指標値との関係を表すデータと現在の前記第１の記録状態評価指標値とを用いて、現在の記録パラメータの補正量を算出するステップ
を含む請求項６記載のデータ記録評価方法。
【請求項１４】
記録パラメータと当該記録パラメータを用いたデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された前記第１の記録状態評価指標値との関係を表すデータが、テスト記録時に得られたデータである
請求項１２記載のデータ記録評価方法。
【請求項１５】
前記第１算出ステップが、
検出された前記信号状態と前記所定の検出パターンから特定される基準状態との差の大きさを算出するステップ
を含む請求項１記載のデータ記録評価方法。
【請求項１６】
光ディスクに対するデータ記録の結果を再生し、再生信号における所定の検出パターンを特定する手段と、
前記所定の検出パターンに対応する前記再生信号における信号状態を検出する手段と、
検出された前記信号状態と前記所定の検出パターンから特定される基準状態とに基づく第１の記録状態評価指標値を算出する手段と、
を有する光ディスク記録再生装置。
【請求項１７】
前記所定の検出パターンが複数であって、
前記所定の検出パターンの各々についての前記第１の記録状態評価指標値を用いて第２の記録状態評価指標値を算出する第２算出手段
をさらに有する請求項１６記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１８】
前記第２の記録状態評価指標値に基づき、データ記録の記録条件を変更する第１変更手段
をさらに有する請求項１７記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１９】
前記第２算出手段が、
前記所定の検出パターンの出現確率と前記第１の記録条件評価指標値との積和を算出する
請求項１７記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項２０】
前記第２の記録状態評価指標値が所定の閾値を超えるか判断する手段と、
前記第２の記録状態評価指標値が前記所定の閾値を超える場合、前記第２の記録状態評価指標値に所定のレベル以上影響を与える前記検出パターンを、対応する前記第１の記録状態評価指標値に基づき特定する手段と、
をさらに有する請求項１７記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項２１】
特定された前記検出パターンについての前記第１の記録状態評価指標値に基づき、データ記録において用いられる記録パラメータを変更する第２変更手段
をさらに有する請求項２０記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項２２】
請求項１乃至１５のいずれか１つ記載のデータ記録評価方法をプロセッサに実行させるためのプログラム。
【請求項２３】
請求項２２記載のプログラムを格納したメモリを含むプロセッサ。
【請求項２４】
再生信号における所定の検出パターンに対応する、前記再生信号における信号状態と前記所定の検出パターンから特定される基準状態との乖離に応じた第１の記録状態評価指標値と当該所定の検出パターンの出現確率との積和によって算出される第２の記録状態評価指標値の閾値が記録された光情報記録媒体。
【請求項２５】
再生信号における所定の検出パターンに対応する、前記再生信号における信号状態と前記所定の検出パターンから特定される基準状態との乖離に応じた第１の記録状態評価指標値と当該所定の検出パターンの出現確率との積和によって算出される第２の記録状態評価指標値と当該第２の記録条件評価指標値を算出する元となるデータ記録の記録条件との関係を表すデータが記録された光記録情報媒体。
【請求項２６】
再生信号における所定の検出パターンに対応する、前記再生信号における信号状態と前記所定の検出パターンから特定される基準状態との乖離に応じた記録状態評価指標値と当該記録状態評価指標値を算出する元となるデータ記録の記録パラメータとの関係を表すデータが記録された光記録情報媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに対するデータ記録の評価のための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば特開２００４−３３５０７９号公報には、最尤復号法に最適な記録パラメータを設定するための技術が開示されている。具体的には、記録マークのエッジの始終端部分に相当し、尚且つ最尤復号法においてエラーの発生確率が高い部分の、最尤復号結果の信頼性値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの演算を、所定のマーク長と直前のスペース長の組み合わせと、マーク長と直後のスペース長の組み合わせごとに行い、その演算結果からエッジシフト位置を最適化する記録パラメータを求め、求めた記録パラメータを反映した記録を行うものである。
【０００３】
また、特開２００３−３０３４１７号公報には、高記録密度においてもノイズの影響を受けることなく、精度良く記録ストラテジの最適化を行うための技術が開示されている。具体的には、記録データに高周波パルスを重畳した記録パルス信号を光記録媒体上に記録再生して得られた再生波形と、記録データとパルス応答とを畳込み演算した波形との差が最小になるようにパルス応答を定めることによって記録ストラテジを最適化する。その際、同一の記録パルス波形を光記録媒体の同一トラックに３回以上記録し、再生された再生波形のサンプリング値をサンプリング順毎に平均化した値を再生波形のデータとして用いる。平均化したデータを用いるため、再生波形へのランダムノイズの影響を除去することができるというものである。
【０００４】
さらに、特開２００３−１５１２１９号公報には、再生信号の品質評価に関する技術が開示されている。具体的には、所定の再生信号、この再生信号の信号波形パターンに対応した第１のパターン、およびこの第１のパターン以外であって再生信号の信号波形パターンに対応した任意のパターン（第２または第３のパターン）が用いられる。まず、再生信号と第１のパターンとの間の距離Ｅｏと、再生信号と任意のパターンとの間の距離Ｅｅとの間の距離差Ｄ＝Ｅｅ−Ｅｏが求められる。次に、複数の再生信号のサンプルについて距離差Ｄの分布が求められる。次に、求めた距離差Ｄの平均Ｍと求めた距離差Ｄの分布の標準偏差σとの比に基づいて、再生信号の品質評価パラメータ（Ｍ／σ）が定められる。そして、品質評価パラメータで表される評価指標値（Ｍｇｎ）から、再生信号の品質が判断される。
【０００５】
また、特開２００３−１４１８２３号公報には、最尤復号を用いて得られた２値化結果の誤り率を適切に予想することができる指標に基づいて信号品質を評価する技術が開示されている。具体的には、時刻ｋ（ｋは任意の整数）において複数の状態をもち、時刻ｋ−ｊ（ｊは２以上の整数）での状態から時刻ｋでの状態に至るまでｎ（ｎは２以上の整数）通りの状態遷移列をとり得る状態遷移則を有し、ｎ通りの状態遷移列のうち最も確からしい状態遷移列を推定する最尤復号方式において、ｎ通りの状態遷移列のうち最も確からしい状態遷移列の時刻ｋ−ｊでの状態から時刻ｋでの状態に至るまでの状態遷移の確からしさをＰＡとし、２番目に確からしい状態遷移列の時刻ｋ−ｊでの状態から時刻ｋでの状態に至るまでの状態遷移の確からしさをＰＢとし、時刻ｋ−ｊから時刻ｋまでの復号結果の信頼性を｜ＰＡ−ＰＢ｜とすると、所定の時間あるいは所定の回数、｜ＰＡ−ＰＢ｜の値を求め、そのばらつきを求めることで最尤復号の２値化結果の誤り率と相関のある信号品質を示す指標が得られるというものである。
【０００６】
さらに、特開２００２−１９７６６０号公報には、高密度記録された情報にビタビ検出器を用いて再生を行う場合に、チャネルに即した記録状態を検出できる記録状態検出技術が開示されている。具体的には、ディスク装置から読み出された再生信号は、帯域制限フィルタおよび等化器によって特定のチャネル特性となるように補正された後、ＰＬＬ回路により生成した同期クロックのタイミングでＡ／Ｄ変換器によりデジタル信号ｘiとして読み込む。ｘiはビタビ検出器に入力され、ビタビ検出出力信号を得る。ビタビ検出出力は基準レベル判定器と誤差算出回路に入力される。誤差算出回路はデジタル信号ｘiとビタビ検出出力との差Ｅiを算出し、記録状態検出回路に出力する。記録状態検出回路は基準レベル判定器の出力を用いて振幅または振幅レベルとアシンメトリを検出し、検出情報を出力する。
【特許文献１】特開２００４−３３５０７９号公報
【特許文献２】特開２００３−３０３４１７号公報
【特許文献３】特開２００３−１５１２１９号公報
【特許文献４】特開２００３−１４１８２３号公報
【特許文献５】特開２００２−１９７６６０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上で述べたようにデータ記録を評価する技術は様々存在しているが、必ずしもデータ記録全体についての評価と個別の記録パターンについてのデータ記録の評価とが適切に関連付けられていなかった。
【０００８】
そこで本発明の目的は、新規な評価指標を導入してデータ記録を総合的に評価できるようにするための技術を提供することである。
【０００９】
また、本発明の他の目的は、新規な評価指標を導入して個別の記録パターンについての評価を適切に行えるようにするための技術を提供することである。
【００１０】
さらに、本発明の他の目的は、データ記録の総合的な評価と個別の記録パターンについてのデータ記録の評価とを適切に関連付けることができるようにするための技術を提供することである。
【００１１】
さらに、本発明の他の目的は、データ記録の評価に基づき記録条件又は記録パラメータを適切に調整するための技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明に係るデータ記録評価方法は、光ディスクに対するデータ記録の結果を再生し、再生信号における所定の検出パターンを特定するステップと、所定の検出パターンに対応する再生信号における信号状態を検出するステップと、検出された上記信号状態と所定の検出パターンから特定される基準状態とに基づく第１の記録状態評価指標値を算出する第１算出ステップとを含む。
【００１３】
このような第１の記録状態評価指標値を算出することによって、所定の検出パターンについて基準状態との関係において適切なデータ記録が行われているか判断できるようになる。すなわち、個別の記録パターンについての評価を適切に判断できるようになる。
【００１４】
また、上で述べた所定の検出パターンが複数である場合、所定の検出パターンの各々についての第１の記録状態評価指標値を用いて第２の記録状態評価指標値を算出する第２算出ステップをさらに含むようにしてもよい。このように第２の記録状態評価指標値を算出することによって、様々な記録パターンについて総合してデータ記録を評価することができるようになる。
【００１５】
さらに、第２の記録状態評価指標値に基づき、データ記録の記録条件を変更する第１変更ステップをさらに含むようにしてもよい。第２の記録状態評価指標値に基づき、データ記録の記録条件を総合的な形で適切に調整できるようになる。
【００１６】
また、上で述べた第２算出ステップが、所定の検出パターンの出現確率と第１の記録条件評価指標値との積和を算出するステップを含むようにしてもよい。より多く出現する検出パターンについては重み付けを大きくして、データ記録への影響を総合的に第２の記録状態評価指標値に反映するためである。
【００１７】
さらに、本発明において、第２の記録状態評価指標値が所定の閾値を超えるか判断するステップと、第２の記録状態評価指標値が所定の閾値を超える場合、第２の記録状態評価指標値に所定のレベル以上（例えば所定値以上のもの又は上位所定個数）影響を与える検出パターンを、対応する第１の記録状態評価指標値に基づき特定するステップとをさらに含むようにしてもよい。これによって問題となる記録パターンを特定することができる。
【００１８】
また、本発明において、特定された上記検出パターンについての第１の記録状態評価指標値に基づき、データ記録において用いられる記録パラメータを変更する第２変更ステップをさらに含むようにしてもよい。これによって効果的に記録パラメータの調整を行うことができるようになる。
【００１９】
なお、上で述べた検出パターンが、少なくとも１つのマーク及びスペースからなるパターンである場合もある。
【００２０】
さらに、上記所定の検出パターンが、出現頻度が予め定められた値以上の検出パターンである場合もある。出現頻度があまりに低い場合には処理負荷を削減するために処理対象からはずすものである。
【００２１】
また、上で述べた第１変更ステップが、記録条件と当該記録条件におけるデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された第２の記録状態評価指標値との関係を表すデータから、第２の記録状態評価指標値が最も好ましい値となる場合の記録条件を特定するステップを含むようにしてもよい。例えばデータ記録開始前においてデータ記録時において最も好ましい記録条件を特定できるようになる。
【００２２】
さらに、上で述べた第１変更ステップが、記録条件と当該記録条件におけるデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された第２の記録状態評価指標値との関係を表すデータと現在の第２の記録状態評価指標値とを用いて、現在の記録条件の補正量を算出するステップを含むようにしてもよい。このようにデータ記録時に記録条件を調整する際にも第２の記録状態評価指標値を用いることができる。
【００２３】
なお、記録条件と当該記録条件におけるデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された第２の記録状態評価指標値との関係を表すデータが、テスト記録時に得られたデータである場合もある。テスト記録時であれば記録条件を変化させて各ケースについての第２の記録状態評価指標値を算出できるためである。
【００２４】
さらに、上で述べた第２変更ステップが、記録パラメータと当該記録パラメータを用いたデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された第１の記録状態評価指標値との関係を表すデータから、第１の記録状態評価指標値が最も好ましい値となる場合の記録パラメータを特定するステップを含むようにしてもよい。
【００２５】
また、上で述べた第２変更ステップが、記録パラメータと当該記録パラメータを用いたデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された第１の記録状態評価指標値との関係を表すデータと現在の第１の記録状態評価指標値とを用いて、現在の記録パラメータの補正量を算出するステップを含むようにしてもよい。
【００２６】
さらに、記録パラメータと当該記録パラメータを用いたデータ記録の結果を再生することによって得られたデータに基づき算出された第１の記録状態評価指標値との関係を表すデータが、テスト記録時に得られたデータである場合もある。
【００２７】
また、上で述べた第１算出ステップが、検出された上記信号状態と所定の検出パターンから特定される基準状態との差の大きさを算出するステップを含むようにしても良い。これによって、ＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）信号処理方式を用いるＢｌｕｅシステム（Ｂｌｕ−ｒａｙ規格又はＨＤ−ＤＶＤ規格に準拠したシステム）への対応も十分できるようになる。
【００２８】
本発明に係る光ディスク記録再生装置は、光ディスクに対するデータ記録の結果を再生し、再生信号における所定の検出パターンを特定する手段と、所定の検出パターンに対応する再生信号における信号状態を検出する手段と、検出された上記信号状態と所定の検出パターンから特定される基準状態とに基づく第１の記録状態評価指標値を算出する手段とを有する。
【００２９】
なお、上で述べた所定の検出パターンが複数の場合には、所定の検出パターンの各々についての第１の記録状態評価指標値を用いて第２の記録状態評価指標値を算出する第２算出手段をさらに有するようにしてもよい。
【００３０】
さらに、本発明に係る光ディスク記録再生装置は、第２の記録状態評価指標値に基づき、データ記録の記録条件を変更する第１変更手段をさらに有するようにしてもよい。
【００３１】
また、上で述べた第２算出手段が、所定の検出パターンの出現確率と第１の記録条件評価指標値との積和を算出するようにしてもよい。
【００３２】
さらに、本発明に係る光ディスク記録再生装置が、第２の記録状態評価指標値が所定の閾値を超えるか判断する手段と、第２の記録状態評価指標値が所定の閾値を超える場合、第２の記録状態評価指標値に所定のレベル以上影響を与える検出パターンを、対応する第１の記録状態評価指標値に基づき特定する手段とをさらに有するようにしてもよい。
【００３３】
また、本発明に係る光ディスク記録再生装置が、特定された上記検出パターンについての第１の記録状態評価指標値に基づき、データ記録において用いられる記録パラメータを変更する第２変更手段をさらに有するようにしてもよい。
【００３４】
本発明に係る第１の光情報記録媒体には、再生信号における所定の検出パターンに対応する、再生信号における信号状態と所定の検出パターンから特定される基準状態との乖離に応じた第１の記録状態評価指標値と当該所定の検出パターンの出現確率との積和によって算出される第２の記録状態評価指標値の閾値が記録されている。
【００３５】
本発明に係る第２の光情報記録媒体には、再生信号における所定の検出パターンに対応する、前記再生信号における信号状態と前記所定の検出パターンから特定される基準状態との乖離に応じた第１の記録状態評価指標値と当該所定の検出パターンの出現確率との積和によって算出される第２の記録状態評価指標値と当該第２の記録条件評価指標値を算出する元となるデータ記録の記録条件との関係を表すデータが記録されている。
【００３６】
本発明に係る第３の光情報記録媒体には、再生信号における所定の検出パターンに対応する、再生信号における信号状態と所定の検出パターンから特定される基準状態との乖離に応じた記録状態評価指標値と当該記録状態評価指標値を算出する元となるデータ記録の記録パラメータとの関係を表すデータが記録されている。。
【００３７】
本発明のデータ記録評価方法をプロセッサに実行させるためのプログラムを作成することができ、当該プログラムは、例えばフレキシブル・ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなどの光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリ、ハードディスク等の記憶媒体又は記憶装置若しくはプロセッサの不揮発性メモリに格納される。また、ネットワークを介してディジタル信号にて頒布される場合もある。なお、処理途中のデータについては、プロセッサのメモリ等の記憶装置に一時保管される。
【発明の効果】
【００３８】
本発明によれば、新規な評価指標を導入してデータ記録を総合的に評価できるようになる。
【００３９】
また、本発明の他の側面によれば、新規な評価指標を導入して個別の記録パターンについての評価を適切に行えるようになる。
【００４０】
さらに、本発明の他の側面によれば、データ記録の総合的な評価と個別の記録パターンについてのデータ記録の評価とを適切に関連付けることができるようになる。
【００４１】
さらに、本発明の他の側面によれば、データ記録の評価に基づき記録条件又は記録パラメータを適切に調整することができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４２】
［発明の原理］
（１）パターン別ＰＲｅｒｒｏｒ
例えば、４Ｔの長さのマーク（ピットとも記す）の両側に３Ｔの長さのスペース（ランドとも記す）が隣接するパターンを読み取った場合における振幅レベルを図１に示す。図１では、縦軸が振幅レベルを表し、横軸がデータサンプルの順番を表している。上で述べたようなパターンの理想的な検出信号（理想信号）は、Ｂｌｕ−ｒａｙ規格に用いられるＰＲ（１，２，２，１）を用いている場合には、１，３，５，６，５，３，１となる。これに対して実際の検出信号は、図１に示すように、ハード、メディア（ディスクとも呼ぶ）、記録条件に依存して、理想状態との乖離が生じる。そこで、式（１）を用いて、理想信号と検出信号との乖離量を定量化し、記録状態の評価を行う。
【００４３】
【数１】
2008165863.tif 000003
【００４４】
ここで、Ｄ（ｘ）は検出信号の値、Ｒ（ｘ）は理想信号の値、ｘはデータプロファイル番号、ａは演算開始データ番号、ｎは演算データサンプル数［個］、ｐは記録パターン種別（番号）を表す。
【００４５】
なお、Ｂｌｕ−ｒａｙ規格のＰＲ（１，２，２，１）ではなく、  ＨＤ−ＤＶＤ規格に用いられるＰＲ（１，２，２，２，１）等であってもよい。また、マーク部での反射光量がスペース部の反射光量よりも大きくなるメディア条件における例を示すが、マーク部での反射光量がスペース部の反射光量よりも小さくなるメディア条件であっても良い。さらに、上で述べたパターンは一例であって、他のパターンについても式（１）で評価できる。
【００４６】
例えば、ａ＝１且つｎ＝７で、ピーク値を中心とした７点を用いてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を算出するが、ａ＝３且つｎ＝３といったようにピーク値を中心とした３点によってＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を算出するようにしても良い。また、ｐは記録パターンを特定するために割り当てた番号であり、その数は、評価に必要となる記録パターン数であり、記録パターンの単位構成をいくつの符号の並びと定義するかによっても変わってくる。また、図１の例では、スペース＿マーク＿スペース、又はマーク＿スペース＿マークによって１つの記録パターンを構成していたが、これ以外の組み合わせでパターンを構成するようにしても良い。
【００４７】
さらに、式（１）では、記録パターンｐを１回検出した際の演算を示しているが、実際には、記録又は検出バラツキの影響を考慮して、複数個（ｃｎｔ（ｐ））の値の平均値を得ることが望ましい。ｃｎｔ（ｐ）は、所定長のサンプルデータの中で得た記録パターンｐの検出カウント数であり、最終的なＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の値の導出にあたっては、検出毎に算出されるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ，ｃｎｔ（ｐ））としてメモリに記録し、それを平均化したものを用いることが好ましい。
【００４８】
（２）総合評価指標ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌ
次に、上で述べたＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を用いて、再生信号を総合的に評価する方法について説明する。
【００４９】
所定のデータ範囲内における、記録パターンｐの出現頻度はそれぞれ異なり、記録特性に対する影響度合いもそれぞれ異なる。すなわち、出現頻度の高い記録パターンほど記録特性に影響を及ぼしやすい。よって、再生信号の記録特性を総合的に評価するにあたって、記録パターンｐの特性値ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）と、所定のデータ範囲における記録パターンｐの出現確率（又は出現頻度）を用いて、再生信号の記録特性を総合的に定量化した評価指標ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを算出することが好ましい。具体的には、以下の式でＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを算出するものとする。
【００５０】
【数２】
2008165863.tif 000004
【００５１】
図２に、記録パターンとその出現確率の関係の一例を示す。図２において縦軸は全記録パターンに対する出現確率を表し、横軸は、３つの符号［Ｔ］の並びを１つの記録パターンとした場合における記録パターン種別を表している。ｙ及びｚはそれぞれ２つ目の符号ｙ［Ｔ］、３つ目の符号ｚ［Ｔ］を示しており、その値は、Ｂｌｕ−ｒａｙ規格に用いられる１−７ＰＰ変調方式で表される２乃至８［Ｔ］（同期符号を含む場合には９［Ｔ］）であり、図２において右へ行くほどその値は大きくなるものとする。図２から分かるように、短い符号ほど出現確率が高く、長い符号を用いた記録パターンほどその出現確率が低いことがわかる。
【００５２】
上で述べたように、出現確率が高いということは、その記録パターンの記録特性（すなわちＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ））の値の大小が、記録特性全体に与える影響が大きいと言える。逆に考えると、出現確率が極端に低い記録パターンについては、その記録特性（上で述べたＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ））の値の大小が、記録特性全体にあまり反映されないため、考慮しなくとも良いとも言える。
【００５３】
よって、図２に示すように、所定の出現確率を規定値として、当該規定値以上となる記録パターンのみを有効パターンとして、再生信号の記録特性を総合的に定量化しても良い。これにより、結果的に得たい特性値（ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌ）の精度を保ったまま、当該特性値の演算負荷を低減させることが可能となる。
【００５４】
図３に、上記出現確率の規定値を変化させた場合における所定の測定範囲内の全記録パターンの総数に対する、有効パターンの総数の割合（パターン有効率）の変化と、その際のＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの変化を示す。図３において、左側の縦軸はＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの値を表し、右側の縦軸はパターン有効率を表し、横軸は有効パターンの規定値（閾値）を表す。
【００５５】
図３より、所定の規定値より出現確率の低い記録パターンを特性値ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの算出に用いない場合においても、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの精度を確保可能な規定値の設定が可能であることを確認できる。すなわち、図３の検証結果においては、所定の規定値を０．３％としてもＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌはほぼ変化しない。そして、有効パターン率が約７０％であるので、約３０％の演算負荷を低減することが可能である。
【００５６】
このように、全記録パターンについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を算出せずに、例えば出現確率が０．３％以上である記録パターンについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を算出することによって、精度を確保した上で、総合的な評価指標ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを算出することも可能である。
【００５７】
次に、連続的に記録パワーを変化させた場合における、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの変化を、現行の評価指標であるＤＣジッタ（ＤＣＪとも記す）及びシンボルエラーレート（ＳＥＲとも記す）と比較して図４及び図５に示す。図４において、左の縦軸はＤＣＪ［％］を表し、右の縦軸はＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを表し、横軸はパワーを表す。図５において、左の縦軸はＳＥＲを表し、右の縦軸はＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを表し、横軸はパワーを表す。
【００５８】
図４及び図５より、本評価値ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌは現行評価指標（ＤＣＪ及びＳＥＲ）と相関の高い指標であることが分かる。従って、本評価値ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの変化に応じて記録条件を調整することによって、記録特性を改善することができる。具体的には、複数の記録条件についてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを計算できる場合には、最もＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが小さくなる記録条件を採用し、設定することによって、最も好ましい記録特性を得ることができる。また、以下で詳細に述べるが、複数の記録条件についてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを計算することができない場合でも、検出結果に基づき計算されるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを用いて、記録条件を調整することもできる。
【００５９】
（３）総合評価指標ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌへの記録パターン別影響量評価
【００６０】
次に、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを構成する記録パターン別影響量（ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ））の比較から、記録パターン別に記録状態を評価する方法について説明する。
【００６１】
図６は、特定のストラテジパラメータ（ｄＴｔｏｐ２Ｔ（２Ｔマーク記録用パルスの先頭パルスの始端位置のシフト量）（但し、スペース２Ｔ後のみ））を変化させた場合における、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌとＳＥＲの変化を示している。図６では、左の縦軸はＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを表し、右の縦軸はＳＥＲを表しており、横軸はｄＴｔｏｐ２Ｔを表す。このように、ｄＴｔｏｐ２Ｔの変化に対して、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌとＳＥＲが同様の変化をしていることが確認できる。
【００６２】
さらに図７乃至図１０は、図６においてｄＴｔｏｐ２Ｔの補正量＝０のときのＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを構成する記録パターン別影響量（ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ））を示している。図７は、Ｐｉｔ＿ｆパターンとして、メイン符号がマークｎＴ［Ｔ］で、隣接符号が前方のスペースｎＴ［Ｔ］の場合における各ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を示している。また、図８は、Ｐｉｔ＿ｒパターンとして、メイン符号がマークｎＴ［Ｔ］で、隣接符号が後方のスペースｎＴ［Ｔ］の場合における各ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を示している。図９は、Ｌａｎｄ＿ｆパターンとして、メイン符号がスペースｎＴ［Ｔ］で、隣接符号が前方のマークｎＴ［Ｔ］の場合における各ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を示している。図１０は、Ｌａｎｄ＿ｒパターンとして、メイン符号がスペースｎＴ［Ｔ］で、隣接符号が後方のマークｎＴ［Ｔ」の場合における各ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を示している。
【００６３】
図７乃至図１０において、マーク２Ｔやスペース２Ｔのような短い符号を含むパターンの影響量が大きいのは、２Ｔ符号は開口が開きにくく、理想状態との乖離が出やすい事と、当該符号を含むパターンの出現確率が高い事によるものである。
【００６４】
このように、総合指標値ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを構成するＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）によって、各記録パターンを評価することができる。
【００６５】
なお、図７乃至図１０では、図表現の問題で、メイン符号と片側の隣接符号（前方又は後方）の組合せパターンにおける影響量を示したが、実際のシステムにおいては、メイン符号と両方の隣接符号（前方及び後方）の組合せパターンに対して評価してもよい。また必要に応じて、隣接符号よりもさらに前方又はさらに後方の符号までを組合せパターンに含めてもよい。
【００６６】
次に、ｄＴｔｏｐ２Ｔを連続的に変化（−２乃至＋１）させた場合における、パターン別影響量（ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ））の変化について説明する。図１１乃至図１４Ａには、ｄＴｔｏｐ２Ｔの変化の影響が顕著に現れるＰｉｔ＿ｆパターン（メイン符号がマークｎＴ［Ｔ］で、隣接符号が前方スペースｎＴ［Ｔ］）の変化を示す。
【００６７】
図１１乃至図１４Ａより、ｄＴｔｏｐ２Ｔの変動が、スペース２Ｔの後のマーク２Ｔという記録パターンに対応するＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）に大きく影響を与えることが分かる。特にｄＴｔｏｐ２Ｔ＝−２の場合（図１１）には顕著に増加している。
【００６８】
次に、図１４Ｂに、ｄＴｔｏｐ２Ｔという記録パラメータの変動に対する、スペース２Ｔの後のマーク２Ｔという記録パターンのＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の変動を示す。図１４Ｂにおいて、縦軸はＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を表し、横軸はｄＴｔｏｐ２Ｔを表している。また、菱形の点は、実際の計算値を表し、曲線は実際の計算値を基に２次曲線回帰した結果を示している。このようなデータを用いれば、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を用いて記録パラメータｄＴｔｏｐ２Ｔを最適化したり、調整したりすることができるようになる。
【００６９】
なお、上ではｄＴｔｏｐ２Ｔの変化パラメータとした例を述べたが、当然ながら各種記録パラメータに対して適用可能である。また、図１１乃至図１４Ａにおいては、前方スペース後のマークの組合せパターンにおける影響量の変化を見たが、当該組合せパターンの選択は、記録パラメータによって決まる。また、特定の記録パターンのＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）が大きな値を示しており対処が必要と判断された場合には、調整対象とすべき対応する記録パラメータも特定される。
【００７０】
［実施の形態］
本発明の実施の形態に係る光記録再生システムの機能ブロック図を図１５に示す。本実施の形態に係る光記録再生システムは、光ディスク１５に対してレーザー光を照射して記録又は再生を行うための光学ユニット（ＰＵ）１と、光学ユニット１に含まれるフォトディテクタからの電気信号を処理するプレイコライザ（Pre-EQ）３、ＡＤＣ（Analog Digital Converter）５、等化器７及びビタビデコーダ９と、等化器７及びビタビデコーダ９からの出力を用いて処理を実施する制御部１１と、制御部１１からの設定出力に応じて書き込みデータ（Writeデータ）のための記録波形を生成して光学ユニット１に出力する記録波形生成部１３とを有する。なお、光記録再生システムは、図示しないが、表示装置やパーソナルコンピュータに接続され、場合によってはネットワークに接続して１又は複数のコンピュータなどと通信を行う場合もある。
【００７１】
制御部１１は、等化器７の出力（等化器７後の再生（ＲＦ）信号）とビタビデコーダ９の出力（符号データ）とを対応付ける符号識別部１１１と、符号識別部１１１からの符号データに基づき予め設定された検出パターンの出現を検出すると振幅レベルの検出を指示する検出指示部１１３と、検出指示部１１３からの指示に従って符号識別部１１１からのＲＦ信号に対して振幅レベルの検出処理を実施する検出部１１５と、図示しないメモリを有しており且つ検出部１１５からの出力に基づき以下で述べる演算を実施し、記録波形生成部１３に対する設定を行う演算部１１７とを有する。演算部１１７は、例えば以下で説明する機能を実施するためのプログラムと、プロセッサの組み合わせで実現されることもある。その際、プロセッサ内のメモリにプログラムが格納されることもある。
【００７２】
次に、図１６乃至図２１を用いて、光記録再生システムの処理内容について説明する。まず最初に、データ記録に先立って行われる、光ディスク１５の最内周に設けられている試し書き領域を用いた記録条件最適化処理について説明する。
【００７３】
例えば制御部１１の演算部１１７は、予め定められた記録条件を記録波形生成部１３に設定する（ステップＳ１）。そして、記録波形生成部１３は、予め定められた記録パターンを、設定された記録条件に従って、光ディスク１５の試し書き領域に対してＰＵ１を介して書き込む（ステップＳ３）。そして、ＰＵ１、プレイコライザ３、等化器７及びビタビデコーダ９によって、ステップＳ３で実施された書き込みの結果を読み取って、符号識別部１１１によって等化器７の出力とビタビデコーダ９の出力とを対応付ける。検出指示部１１３は、設定に基づき、全検出パターン（検出された符号［Ｔ］列。正確にデコードされていれば記録パターンと同じ）について又は予め定められた有効パターンを検出した場合に、検出部１１５に対してＲＦ信号の振幅レベルを検出するように指示する。検出部１１５は、検出指示部１１３に従ってＲＦ信号の振幅レベルを検出し、検出結果を演算部１１７に出力する。そして、演算部１１７は、各検出パターンｐについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を算出し、メモリなどの記憶装置に格納する（ステップＳ５）。上でも述べたように、検出パターンｐは何度も検出されるので、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）については平均値を算出する。また、演算部１１７は、後に用いる特定の検出パターンｐcについての振幅レベルを格納しておく。ピークの値のみを格納するようにしても良い。
【００７４】
その後、演算部１１７は、ステップＳ５で算出された各検出パターンｐについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）と、予めメモリに格納されている各検出パターンｐの出現確率とを用いてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを算出し、ステップＳ１で設定された記録条件に対応してメモリなどの記憶装置に格納する（ステップＳ７）。このデータは、データ記録中における記録条件の調整においても用いられる。
【００７５】
そして、演算部１１７は、予め定められた全ての記録条件を設定したか判断し（ステップＳ９）、未設定の記録条件が存在していればステップＳ１に戻る。一方、予め定められた全ての記録条件について設定が終わった場合には、各記録条件に対するＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌに基づき、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが最小となる記録条件を最適記録条件として特定する（ステップＳ１１）。例えば図４に示したようにＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが最小となる記録パワーなどが特定できるので、当該記録パワーなどを採用する。
【００７６】
そして、演算部１１７は、当該最適記録条件を記録波形生成部１３に設定する（ステップＳ１３）。また、最適記録条件における特定の記録パターンｐcについての振幅レベルをレファレンス信号としてメモリなどの記憶装置に格納しておく（ステップＳ１５）。このデータはデータ記録中における記録条件の調整において用いられる。
【００７７】
このような処理を実施すれば、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌに基づき、試し書き領域を用いた記録条件最適化処理を行って、最適な記録条件を設定することができるようになる。
【００７８】
次に、試し書き領域における記録条件最適化処理の第２の例として、個別のＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を用いる場合を示す。
【００７９】
例えば制御部１１の演算部１１７は、予め定められた記録パラメータを記録波形生成部１３に設定する（ステップＳ２１）。そして、記録波形生成部１３は、予め定められた記録パターンを、設定された記録パラメータに従って、光ディスク１５の試し書き領域に対してＰＵ１を介して書き込む（ステップＳ２３）。そして、ＰＵ１、プレイコライザ３、等化器７及びビタビデコーダ９によって、ステップＳ２３で実施された書き込みの結果を読み取って、符号識別部１１１によって等化器７の出力とビタビデコーダ９の出力とを対応付ける。検出指示部１１３は、予め定められた検出パターンｐについて、検出部１１５に対してＲＦ信号の振幅レベルを検出するように指示する。検出部１１５は、検出指示部１１３に従ってＲＦ信号の振幅レベルを検出し、検出結果を演算部１１７に出力する。そして、演算部１１７は、上で述べた検出パターンｐについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を算出し、ステップＳ２１で設定された記録パラメータに対応してメモリなどの記憶装置に格納する（ステップＳ２５）。このデータはデータ記録中における記録パラメータの調整において用いられる。上でも述べたように、検出パターンｐは何度も検出されるので、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）については平均値を算出する。また、演算部１１７は、この検出パターンｐについての振幅レベルを格納しておく。ピークの値のみを格納するようにしても良い。
【００８０】
そして、演算部１１７は、記録パラメータの予め定められた全ての値を設定したか判断し（ステップＳ２７）、未設定の記録条件が存在していればステップＳ２１に戻る。一方、記録パラメータの予め定められた全ての値について設定が終わった場合には、演算部１１７は、記録パラメータの各値に対する各ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）に基づき、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）が最小となる記録パラメータの値を最適値として特定する（ステップＳ２９）。上で述べたように、検出パターンｐ毎に、調整することが適切な記録パラメータがあるので、ステップＳ２９では、当該調整することが適切な記録パラメータについて、最適値を特定する。例えば図１４Ｂに示したように、スペース２Ｔの次にマーク２Ｔという検出パターンｐについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）が最小となるｄＴｔｏｐ２Ｔの値（−１）が特定できるので、当該ｄＴｔｏｐ２Ｔの値を採用する。
【００８１】
そして、演算部１１７は、特定された最適値を記録波形生成部１３に設定する（ステップＳ３１）。また、最適値における上記検出パターンｐについての振幅レベルをレファレンス信号としてメモリなどの記憶装置に格納しておく（ステップＳ３３）。このデータはデータ記録中における記録パラメータの調整において用いられる。
【００８２】
このような処理を実施すれば、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）に基づき、試し書き領域を用いた記録パラメータ最適化処理を行って、少なくとも一部の記録パラメータについて最適化することができるようになる。
【００８３】
次に、データ記録を開始した後に記録条件を調整する際の処理について第１の例を図１８及び図１９を用いて説明する。
【００８４】
記録波形生成部１３は、書き込むべきデータを、設定された記録条件に従って、ＰＵ１を介して書き込む（ステップＳ４１）。ここでは、所定量のデータ又は所定時間書き込みを行うものとする。そして、ＰＵ１、プレイコライザ３、等化器７及びビタビデコーダ９によって、ステップＳ４１で実施された書き込みの結果を読み取って、符号識別部１１１によって等化器７の出力とビタビデコーダ９の出力とを対応付ける。検出指示部１１３は、設定に基づき、全検出パターンについて又は予め定められた有効パターンを検出した場合に、検出部１１５に対してＲＦ信号の振幅レベルを検出するように指示する。検出部１１５は、検出指示部１１３に従ってＲＦ信号の振幅レベルを検出し、検出結果を演算部１１７に出力する。そして、演算部１１７は、各検出パターンｐについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を算出し、メモリなどの記憶装置に格納する（ステップＳ４５）。上でも述べたように、検出パターンｐは何度も検出されるので、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）については平均値を算出する。また、演算部１１７は、後に用いる特定の検出パターンｐcについての振幅レベルを格納しておく。ピークの値のみを格納するようにしても良い。
【００８５】
その後、演算部１１７は、ステップＳ４５で算出された各検出パターンｐについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）と、予めメモリに格納されている各検出パターンｐの出現確率とを用いてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを算出し、メモリなどの記憶装置に格納する（ステップＳ４７）。
【００８６】
そして、演算部１１７は、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが予め定められた閾値を超えたか判断する（ステップＳ４９）。ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが予め定められた閾値未満である場合には、記録条件の調整は今回は不要であるからステップＳ５５に移行する。一方、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが予め定められた閾値を超えた場合には、演算部１１７は、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌベースの記録条件補正量決定処理を実施する（ステップＳ５１）。
【００８７】
記録条件補正量決定処理については、図１９を用いて説明する。まず、演算部１１７は、特定の検出パターンｐcについての振幅レベルと、例えばステップＳ１５で特定されたレファレンス信号との差を算出する（ステップＳ６１）。上で述べたようにピーク値の差を算出するようにしても良いし、ピーク以外の部分の差を加算するようにしても良い。なお、ステップＳ４９でＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが予め定められた閾値を超えると判断されている場合であるから、振幅レベルとレファレンス信号との差が０になることはないものとする。
【００８８】
そして、演算部１１７は、差が正であるか判断する（ステップＳ６３）。差が正であれば、差が正であってステップＳ４７で算出されたＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの値に対応する記録条件をＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌと記録条件の関係（ステップＳ７の結果）から特定する（ステップＳ６５）。図４に示したような場合、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの値は、記録パワーが３．３ｍＷの場合を最小となり、記録パワーが減少しても増加しても増加する。そのため、ステップＳ４７で算出されたＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの値が例えば０．０１５である場合、対応する記録パワーは約３．１ｍＷ又は約３．７ｍＷのいずれかとなる。いずれであるかによって補正の方向及び補正量が異なる。３．１ｍＷであれば０．２ｍＷ増加させるようにする。３．７ｍＷであれば、０．４ｍＷ減少させるようにする。いずれであるかは、データ記録を行うメディアの特性、記録条件、検出パターンのうち少なくとも１つの条件によって決定される。例えば、記録パワーの増加に応じて振幅レベルが増加するようなメディアであるのか、記録パワーの増加に応じて振幅レベルが減少するようなメディアであるのかを、メディアに予め記録されているタイプ識別コードに基づき判断する。そして、例えば、記録パワーの増加に応じて振幅レベルが増加し且つ上記差が正である場合には、記録パワーが高すぎる、すなわち約３．７ｍＷと同様の状態であると判断できる。従って、記録パワーを０．４ｍＷ減少させるようにする。一方、記録パワーの増加に応じて振幅レベルが減少し且つ上記差が正である場合には、記録パワーが低すぎる、すなわち約３．１ｍＷと同様の状態であると判断できる。従って、記録パワーを０．２ｍＷ増加させる。なお、タイプ識別コードではなく、テスト記録の際に実際に判別して当該判別結果に基づき判断するようにしても良い。このような関係を予め特定しておき、ステップＳ６５では、いずれの記録条件に該当するかを特定する。
【００８９】
そして、演算部１１７は、特定された記録条件と最適記録条件との差を補正量として算出する（ステップＳ６９）。そして元の処理に戻る。
【００９０】
一方、差が負であれば、差が負であってステップＳ４７で算出されたＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの値に対応する記録条件をＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌと記録条件の関係から特定する（ステップＳ６７）。例えば、メディアのタイプ識別コードから記録パワーの増加に応じて振幅レベルが増加すると判断され且つ上記差が負である場合には、記録パワーが低すぎる、すなわち約３．１ｍＷと同様の状態であると判断できる。従って、記録パワーを０．２ｍＷ増加させるようにする。一方、メディアのタイプ識別コードから記録パワーの増加に応じて振幅レベルが減少すると判断され且つ上記差が負である場合には、記録パワーが高すぎる、すなわち約３．７ｍＷと同様の状態であると判断できる。従って、記録パワーを０．４ｍＷ減少させる。このような関係を予め特定しておき、ステップＳ６７ではいずれの記録条件に該当するかを特定する。そして、ステップＳ６９に移行する。
【００９１】
図１８の説明に戻って、演算部１１７は、ステップＳ５１で決定された記録条件補正量を、記録波形生成部１１３に設定する（ステップＳ５３）。そしてデータ記録が終了であるか判断し（ステップＳ５５）、データ記録が終了でない場合にはステップＳ４１に戻る。一方、データ記録が終了である場合には処理を終了する。
【００９２】
以上のような処理を実施することによって、データ記録中であっても記録条件の調整を行うことができるようになる。
【００９３】
次に、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）をベースに記録パラメータを補正する場合の処理について図２０及び図２１を用いて説明する。
【００９４】
記録波形生成部１３は、書き込むべきデータを、設定された記録条件に従って、ＰＵ１を介して書き込む（ステップＳ７１）。ここでは、所定量のデータ又は所定時間書き込みを行うものとする。そして、ＰＵ１、プレイコライザ３、等化器７及びビタビデコーダ９によって、ステップＳ７１で実施された書き込みの結果を読み取って、符号識別部１１１によって等化器７の出力とビタビデコーダ９の出力とを対応付ける。検出指示部１１３は、設定に基づき、全検出パターンについて又は予め定められた有効パターンを検出した場合に、検出部１１５に対してＲＦ信号の振幅レベルを検出するように指示する。検出部１１５は、検出指示部１１３に従ってＲＦ信号の振幅レベルを検出し、検出結果を演算部１１７に出力する。そして、演算部１１７は、各検出パターンｐについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を算出し、メモリなどの記憶装置に格納する（ステップＳ７３）。上でも述べたように、検出パターンｐは何度も検出されるので、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）については平均値を算出する。また、演算部１１７は、後に用いる特定の検出パターンｐcについての振幅レベルを格納しておく。ピークの値のみを格納するようにしても良い。
【００９５】
その後、演算部１１７は、ステップＳ７３で算出された各検出パターンｐについてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）と、予めメモリに格納されている各検出パターンｐの出現確率とを用いてＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌを算出し、メモリなどの記憶装置に格納する（ステップＳ７５）。
【００９６】
そして、演算部１１７は、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが予め定められた閾値を超えたか判断する（ステップＳ７７）。ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが予め定められた閾値未満である場合には、記録条件の調整は今回は不要であるからステップＳ８７に移行する。一方、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが予め定められた閾値を超えた場合には、演算部１１７は、所定の閾値を超えるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）を特定する（ステップＳ７９）。所定の閾値を超えたものではなく、上位所定数であってもよい。そして、特定されたＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）に係る検出パターンｐに対応する記録パラメータを特定する（ステップＳ８１）。例えば、スペース２Ｔの次にマーク２Ｔが設けられたパターンの場合にはｄＴｔｏｐ２Ｔといったように、パターンのＩＤに予め対応付けて例えばメモリなどに格納しておき、当該対応関係を用いる。
【００９７】
そして、演算部１１７は、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）ベースの記録パラメータ補正量決定処理を実施する（ステップＳ８３）。
【００９８】
記録パラメータ補正量決定処理については、図２１を用いて説明する。まず、演算部１１７は、特定の検出パターンｐcについての振幅レベルと、例えばステップＳ３３で特定されたレファレンス信号との差を算出する（ステップＳ９１）。上で述べたようにピーク値の差を算出するようにしても良いし、ピーク以外の部分の差を加算するようにしても良い。なお、ステップＳ７７でＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌが予め定められた閾値を超えると判断されている場合であるから、振幅レベルとレファレンス信号との差が０になることはないものとする。
【００９９】
そして、演算部１１７は、差が正であるか判断する（ステップＳ９３）。差が正であれば、差が正であってステップＳ７９で特定されたＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の値に対応する記録パラメータの値をＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）と記録パラメータの関係（ステップＳ２５の結果）から特定する（ステップＳ９５）。図１４Ｂに示したような場合、ＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の値は、ｄＴｔｏｐ２Ｔが約−０．１の場合に最小となり、ｄＴｔｏｐ２Ｔが減少しても増加しても増加する。そのため、ステップＳ７３で算出されたＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の値が例えば０．０１である場合、対応するｄＴｔｏｐ２Ｔは約−１又は約０．７のいずれかとなる。いずれであるかによって補正の方向及び補正量が異なる。−１であれば０．９増加させるようにする。０．７であれば、０．８減少させるようにする。いずれであるかは、データ記録を行うメディアの特性、記録条件、検出パターンのうち少なくとも１つの条件によって決定される。メディアの特性については、以下のように判別することが好ましい。例えばステップＳ２５で記録パラメータの各値について検出パターンｐについての振幅レベルを格納しておくが、何回かステップＳ２５を実行することによって、記録パラメータが増加すると振幅レベルが増加するのか減少するのかを判別して保持しておき、当該判別結果を用いる。例えば、判別結果からｄＴｔｏｐ２Ｔの増加に応じて振幅レベルが増加すると判断され且つ上記差が正である場合には、ｄＴｔｏｐ２Ｔが高すぎる、すなわち０．７と同様の状態であると判断できる。従って、ｄＴｔｏｐ２Ｔを０．８減少させるようにする。一方、判別結果からｄＴｔｏｐ２Ｔの増加に応じて振幅レベルが減少すると判断され且つ上記差が正である場合には、ｄＴｔｏｐ２Ｔが低すぎる、すなわち約−１と同様の状態であると判断できる。従って、ｄＴｔｏｐ２Ｔを０．９増加させる。このような関係を予め特定しておき、ステップＳ９５では、いずれの記録条件に該当するかを特定する。
【０１００】
そして、演算部１１７は、特定された記録パラメータの値と記録パラメータの最適値との差を補正量として算出する（ステップＳ９９）。そして元の処理に戻る。
【０１０１】
一方、差が負であれば、差が負であってＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の値に対応する記録パラメータの値をＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）と記録パラメータの関係から特定する（ステップＳ９７）。例えば、事前の判別結果からｄＴｔｏｐ２Ｔの増加に応じて振幅レベルが増加すると判断され且つ上記差が負である場合には、ｄＴｔｏｐ２Ｔが低すぎる、すなわち約−１と同様の状態であると判断できる。従って、ｄＴｔｏｐ２Ｔを０．９増加させるようにする。一方、事前の判別結果からｄＴｔｏｐ２Ｔの増加に応じて振幅レベルが減少と判断され且つ上記差が負である場合には、ｄＴｔｏｐ２Ｔが高すぎる、すなわち約０．７と同様の状態であると判断できる。従って、ｄＴｔｏｐ２Ｔを０．８減少させる。このような関係を予め特定しておき、ステップＳ９７ではいずれの記録条件に該当するかを特定する。そして、ステップＳ９９に移行する。
【０１０２】
図２０の説明に戻って、演算部１１７は、ステップＳ８３で決定された記録パラメータの補正量を、記録波形生成部１１３に設定する（ステップＳ８５）。そしてデータ記録が終了であるか判断し（ステップＳ８７）、データ記録が終了でない場合にはステップＳ７１に戻る。一方、データ記録が終了である場合には処理を終了する。
【０１０３】
以上のような処理を実施することによって、データ記録中であっても記録パラメータの調整を行うことができるようになる。
【０１０４】
なお、図１９又は図２１の処理フローにおけるレファレンス信号の値、図４や図１４ＢのようなＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌと記録条件の関係やＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）と記録パラメータの関係については、図１６又は図１７の処理フローにおいて取得するような例を示したが、予めメモリに格納しておくようにしても良い。光記録再生システムがネットワークに接続されている場合には、他のコンピュータからデータを取得するようにしても良い。さらに、図１６又は図１７の処理フローにおいて予めメモリなどに記憶されているデータを修正又は更新するようにしても良い。
【０１０５】
また、図１９又は図２１では、一旦データ記録を中断する場合を示しているが、データ記録と並行して記録条件や記録パラメータを調整するようにしても良い。
【０１０６】
さらに、図１６や図１７では、１つの記録条件などでデータ記録を行った後に再生を行い、さらに他の記録条件などでデータ記録を行った後に再生を行う例を示したが、一度全ての記録条件においてデータ記録を行ってから、再生を行うようにしても良い。
【０１０７】
その他処理フローについては必要に応じて変更することができる。
【０１０８】
以上本発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、図１５に示した光記録再生システムの機能ブロック図は一例であって、上で述べた機能を実現できれば図１５の機能ブロック構成に限定されるわけではない。
【０１０９】
また、上ではｄＴｔｏｐ２Ｔを調整する例を示したが、逆に後方のスペースに対する調整が必要な場合は、記録パルスの立ち下がりパラメータであるＴlｐを調整するといったように、検出パターンに応じて予め適切な記録パラメータが特定され、調整される。
上で述べた実施の形態では、演算部１１７に内蔵されるメモリ又は演算部１１７の外部のメモリにデータ記録中における記録条件などの調整処理に用いられる閾値などの基準データを格納している例を示したが、必ずしもメモリに保持しておく必要はない。例えば、光ディスク１５に保持させておいても良い。光ディスク１５に保持させる場合には、図２２に示すようなＬｅａｄ−ｉｎ領域の中に保持しておく。Ｌｅａｄ−ｉｎ領域は、システムＬｅａｄ−ｉｎ領域と、コネクション領域と、データＬｅａｄ−ｉｎ領域とに大きく分かれており、システムＬｅａｄ−ｉｎ領域は、イニシャル・ゾーン、バッファ・ゾーン、コントロールデータ・ゾーン、バッファ・ゾーンを含む。また、コネクション領域は、コネクション・ゾーンを含む。さらに、データＬｅａｄ−ｉｎ領域は、ガードトラック・ゾーン、ディスクテスト・ゾーン、ドライブテスト・ゾーン、ガードトラック・ゾーン、ＲＭＤデュープリケーション・ゾーン、レコーディングマネジメント・ゾーン、Ｒ−フィジカルフォーマットインフォメーション・ゾーン、リファレンスコード・ゾーンを含む。  本実施の形態では、システムＬｅａｄ−ｉｎ領域のコントロールデータ・ゾーンに、レコーディングコンディションデータ・ゾーン１７０を含むようにする。
【０１１０】
このレコーディングコンディションデータ・ゾーン１７０に、メモリに保持させるとした基準データを保持させ、必要な時に読み出すようにする。この記録すべき値については、ディスク１５の平均的な値を一律に登録するようにしても良いし、その光ディスク１５について出荷前のテストに応じた値を登録するようにしても良い。
【０１１１】
このように記録が行われる光ディスク１５に応じた値を光ディスク１５が保持することによって、ドライブ側の処理負荷を下げることができる場合もある。なお、必要に応じて光ディスク１５に保持している値を修正して用いる場合もある。
【図面の簡単な説明】
【０１１２】
【図１】振幅レベルの時間遷移を示す図である。
【図２】記録パターンと出現確率の関係を表す図である。
【図３】有効パターンとＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌ及びパターン有効率の関係を表す図である。
【図４】記録パワーとＤＣＪ及びＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの関係を表す図である。
【図５】記録パワーとＳＥＲ及びＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの関係を表す図である。
【図６】記録パラメータｄＴｔｏｐ２ＴとＳＥＲ及びＰＲｅｒｒｏｒ＿ｔｔｌの関係を表す図である。
【図７】記録パターンを変化させた場合におけるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の変化を示す図である。
【図８】記録パターンを変化させた場合におけるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の変化を示す図である。
【図９】記録パターンを変化させた場合におけるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の変化を示す図である。
【図１０】記録パターンを変化させた場合におけるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の変化を示す図である。
【図１１】記録パラメータを変化させた場合におけるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の変化を表す図である。
【図１２】記録パラメータを変化させた場合におけるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の変化を表す図である。
【図１３】記録パラメータを変化させた場合におけるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の変化を表す図である。
【図１４Ａ】記録パラメータを変化させた場合におけるＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の変化を表す図である。
【図１４Ｂ】ｄＴｔｏｐ２ＴとＰＲｅｒｒｏｒ＿ｐｔｎ（ｐ）の関係を表す図である。
【図１５】本発明の実施の形態に係る光記録再生システムの機能ブロック図である。
【図１６】データ記録前に記録条件を最適化するための処理フローを示す図である。
【図１７】データ記録前に記録パラメータを最適化するための処理フローを示す図である。
【図１８】データ記録中に記録条件を補正するための処理フローを示す図である。
【図１９】記録条件補正量決定処理の処理フローを示す図である。
【図２０】データ記録中に記録パラメータを補正するための処理フローを示す図である。
【図２１】記録パラメータ補正量決定処理の処理フローを示す図である。
【図２２】基準データを光ディスクに格納する際のデータ構造の一例を示す図である。
【符号の説明】
【０１１３】
１  光学ユニット（ＰＵ）
３  プレイコライザ（Ｐｒｅ−ＥＱ）
５  ＡＤＣ
７  等化器
９  ビタビデコーダ
１１  制御部
１３  記録波形生成部
１５  光ディスク
１１１  符号識別部
１１３  検出指示部
１１５  検出部
１１７  演算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４Ａ】
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【図１４Ｂ】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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