(57)【要約】【課題】半導体レーザ素子の温度上昇に伴う波長シフトによる記録品質劣化を抑制する。【解決手段】光ディスク装置のＡＰＣ２４は、半導体レーザ素子の温度上昇に伴う発光量の低下を補償すべく駆動電流を増大制御する。システムコントローラ３２は、ＡＰＣ２４の出力である駆動電流の変化に基づいて半導体レーザ素子の温度上昇及び温度上昇による波長シフトを検出し、波長シフトを補償するようにＡＰＣ２４の目標レベルを更新することで波長シフトによる記録品質劣化を抑制する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録する半導体レーザと、
前記レーザ光のパワーが目標パワーに一致するように前記半導体レーザの駆動電流をフィードバック制御するパワー制御回路と、
前記駆動電流の変化に応じ、前記半導体レーザの温度変動による波長シフトに起因する記録品質低下を補償すべく前記目標パワーを調整する調整回路と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の装置において、
前記調整回路は、前記駆動電流と前記半導体レーザの素子温度との関係、前記素子温度と波長との関係、波長と記録品質との関係、及びパワーと記録品質との関係を用いて、前記駆動電流の変化に応じて前記目標パワーを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２記載の装置において、
前記調整回路は、
前記駆動電流と前記半導体レーザの素子温度との関係、前記素子温度と波長との関係、波長と記録品質との関係、及びパワーと記録品質との関係を記憶するメモリ
を有し、前記駆動電流の変化に応じ、前記駆動電流と前記半導体レーザの素子温度との関係を用いて前記半導体レーザの素子温度を算出し、前記素子温度と波長との関係を用いて前記レーザ光の波長を算出し、前記波長と記録品質との関係を用いて前記レーザ光の波長における記録品質を算出し、前記パワーと記録品質との関係を用いて前記レーザ光の波長における目標記録品質が得られる前記目標パワーを算出する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項３記載の装置において、
前記記録品質はβ値であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１記載の装置において、
前記調整回路は、前記駆動電流と前記半導体レーザの素子温度との関係、前記素子温度と波長との関係、及び波長と目標パワーとの関係を用いて、前記駆動電流の変化に応じて前記目標パワーを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項５記載の装置において、
前記調整回路は、
前記駆動電流と前記半導体レーザの素子温度との関係、前記素子温度と波長との関係、及び前記波長と目標パワーとの関係を記憶するメモリ
を有し、前記駆動電流の変化に応じ、前記駆動電流と前記半導体レーザの素子温度との関係を用いて前記半導体レーザの素子温度を算出し、前記素子温度と波長との関係を用いて前記レーザ光の波長を算出し、前記波長と目標パワーとの関係を用いて前記レーザ光の波長における前記目標パワーを算出する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置、特に記録パワーの調整に関する。
【背景技術】
【０００２】
データを記録する光ディスク装置においては、記録品質を一定水準に維持するために記録中のレーザ光の記録パワー制御が不可欠である。通常、データを記録すべき光ディスクに対してＯＰＣ（Optimum Power Control）動作により最適化された記録パワーで、かつ、ＡＰＣ（Auto Power Control）動作でレーザ光量を校正しながらデータ記録を行っているが、記録が長時間に及ぶと装置内部の温度変化や光ディスクの面内記録感度バラツキ等により記録品質が劣化してしまう。
【０００３】
記録中にＡＰＣ動作を行っているにもかかわらず記録が長時間に及んだ際、記録品質が劣化していくのは、半導体レーザの温度上昇によりレーザ光の波長がシフトするためと考えられるが、波長測定装置は比較的大型であって光ディスク装置に搭載することはできず、また、装置内部の温度は半導体レーザの素子温度と大きく乖離しているため、装置内温度で波長を推定することもできない。
【０００４】
そこで、従来より、ＲＯＰＣ（Running OPC）や振り返りＯＰＣ法等を用いて記録品質を維持しているが、ＲＯＰＣは記録中のピット状態を検出するのが大変であり、状態誤検出により逆に記録品質を損なうおそれがある。また、振り返りＯＰＣは実現するのは比較的平易であるものの、その度に記録を中断しなければならないため、記録時間の増大を招く問題がある。
【０００５】
下記の特許文献１には、光ディスクのテストエリアを用いたＯＰＣにより仮の最適記録パワーを算出し、算出した仮の最適記録パワーの大小に基づいてレーザ光の波長の長短を評価し、レーザ光の波長の長短に応じて記録ストラテジを変更することが開示されている。
【０００６】
また、下記の特許文献２には、光源の出射する光波長の変化を検出する光波長変化検出手段を設け、光波長変化検出手段の出力に応じて記録パワーを補正することが開示されている。
【０００７】
【特許文献１】特開２００３−６７９２７号公報
【特許文献２】特開平８−３１５４００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１では、仮の最適記録パワーの大小に応じて波長の長短を評価しているが、波長の長短に応じて最適記録パワーの調整を行うものではない。また、特許文献２では、波長変動検出回路を新たに設ける必要があり、装置の複雑化及び大型化を招く。
【０００９】
本発明の目的は、温度センサを別途設けることなく、かつ、簡易な構成で、半導体レーザの素子温度変動に伴う記録品質低下を抑制できる装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録する半導体レーザと、前記レーザ光のパワーが目標パワーに一致するように前記半導体レーザの駆動電流をフィードバック制御するパワー制御回路と、前記駆動電流の変化に応じ、前記半導体レーザの温度変動による波長シフトに起因する記録品質低下を補償すべく前記目標パワーを調整する調整回路とを有することを特徴とする。
【００１１】
本発明の１つの実施形態では、前記調整回路は、前記駆動電流と前記半導体レーザの素子温度との関係、前記素子温度と波長との関係、波長と記録品質との関係、及びパワーと記録品質との関係を用いて、前記駆動電流の変化に応じて前記目標パワーを調整する。
【００１２】
また、本発明の他の実施形態では、前記調整回路は、前記駆動電流と前記半導体レーザの素子温度との関係、前記素子温度と波長との関係、及び波長と目標パワーとの関係を用いて、前記駆動電流の変化に応じて前記目標パワーを調整する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、温度センサ等を別途設けることなく、半導体レーザの素子温度変動に伴う記録品質劣化を抑制できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１５】
図１に、本実施形態における光ディスク装置の全体構成を示す。ＣＤやＤＶＤ、ＨＤ−ＤＶＤ、Ｂｌｕ−ｒａｙ等の光ディスク１０はスピンドルモータ（ＳＰＭ）１２により駆動される。スピンドルモータＳＰＭ１２は、ドライバ１４で駆動され、ドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
【００１６】
光ピックアップ１６は、レーザ光を光ディスク１０に照射するための半導体レーザ素子であるレーザダイオード（ＬＤ）や光ディスク１０からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ（ＰＤ）を含み、光ディスク１０に対向配置される。光ピックアップ１６はステッピングモータで構成されるスレッドモータ１８により光ディスク１０の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はドライバ２０で駆動される。ドライバ２０は、ドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６の半導体レーザ素子はドライバ２２により駆動され、ドライバ２２は、オートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により、駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４及びドライバ２２は、システムコントローラ３２からの指令により半導体レーザ素子の発光量を制御する。図１ではドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、ドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。
【００１７】
光ディスク１０に対する記録再生動作は以下のとおりである。光ディスク１０に記録されたデータを再生する際には、光ピックアップ１６の半導体レーザ素子から再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がＰＤで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ１６からの再生信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８はアドレス信号から光ディスク１０のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。また、ＲＦ回路２６は、再生ＲＦ信号を２値化回路３４に供給する。２値化回路３４は、再生信号を２値化し、得られた信号をエンコード／デコード回路３６に供給する。エンコード／デコード回路３６では、２値化信号を復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをインタフェースＩ／Ｆ４０を介してパーソナルコンピュータなどのホスト装置に出力する。なお、再生データをホスト装置に出力する際には、エンコード／デコード回路３６はバッファメモリ３８に再生データを一旦蓄積した後に出力する。
【００１８】
光ディスク１０にデータを記録する際には、ホスト装置からの記録すべきデータはインターフェースＩ／Ｆ４０を介してエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、記録すべきデータをバッファメモリ３８に格納し、当該記録すべきデータをエンコードして変調データとしてライトストラテジ回路４２に供給する。ライトストラテジ回路４２は、変調データを所定の記録ストラテジに従ってマルチパルス（パルストレーン）等に変換し、記録パルスとしてドライバ２２に供給する。記録ストラテジは記録品質に影響することから、データ記録に先立って最適化が行われる。記録パルスによりパワー変調されたレーザ光は光ピックアップ１６の半導体レーザ素子から照射されて光ディスク１０にデータが記録される。データ記録時の記録パワーは、ＯＰＣ（Optimum Power Control）により光ディスク１０の内周側に形成されたＰＣＡ（Power Calibration Area：パワー較正領域）を用いてテストデータを試し書きすることで最適化される。データを記録した後、光ピックアップ１６は再生パワーのレーザ光を照射して当該記録データを再生し、ＲＦ回路２６に供給する。ＲＦ回路２６は再生信号を２値化回路３４に供給し、２値化されたデータはエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、変調データをデコードし、バッファメモリ３８に格納されている記録データと照合する。ベリファイの結果はシステムコントローラ３２に供給される。システムコントローラ３２はベリファイの結果に応じて引き続きデータを記録するか、あるいは交替処理を実行するかを決定する。システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御し、サーボプロセッサ３０を介してスレッドモータ１８を駆動し、光ピックアップ１６の位置を制御する。
【００１９】
図２に、図１におけるＡＰＣ２４の回路構成を示す。半導体レーザ素子（ＬＤ）の近傍に配置されたフロントモニタＰＤでレーザ光を受光し、レーザ光パワーに応じた電流を出力する。検出電流は図示しないサンプリング回路で所定期間の信号のみがサンプリングされた後、電流電圧変換器Ｉ／Ｖ２４ａに供給される。電流電圧変換器Ｉ／Ｖ２４ａは入力された電流値を電圧値に変換し、差動増幅器２４ｃの反転入力端子（−）に出力する。一方、システムコントローラ３２は、ＯＰＣで設定された最適記録パワーに対応する目標レベル（目標電圧値）を差動増幅器２４ｃの非反転入力端子（＋）に供給する。差動増幅器２４ｃは、信号電圧値と目標電圧値とを比較し、その誤差値を増幅して電圧／電流変換器Ｖ／Ｉ２４ｄに出力する。電圧電流変換器２４ｄは、増幅された電流（駆動電流）をドライバ２２に供給して半導体レーザ素子の記録パワーが常にＯＰＣで定めた最適記録パワーとなるようにフィードバック制御する。なお、図２において、電流電圧変換器Ｉ／Ｖ２４ａの後段にＡ／Ｄを設けるとともに電圧電流変換器Ｖ／Ｉ２４ｄの前段にＤ／Ａを設けてもよい。
【００２０】
このように、ＯＰＣ動作とＡＰＣ動作を併用して記録パワーの最適化を図るが、記録中にＡＰＣ動作を実行しているにもかかわらず記録が長時間に及んだ場合に、記録品質が劣化してしまう場合がある。その理由は、半導体レーザ素子の温度が上昇して半導体レーザ素子の記録パワー、すなわち発光量が低下するだけでなく、レーザ光の波長が長波長側にシフトするからであり、ＡＰＣ２４では温度上昇による半導体素子の発光量の低下は補償し得ても、波長シフトによる光ディスク１０の光吸収率の低下まで補償し得ないからである。光ディスク１０の記録膜が有機色素系の場合（例えば、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等）、記録膜の光吸収率がレーザ光の波長により変化するため記録感度が劣化してしまう。
【００２１】
図３に、記録膜が有機色素の場合の、レーザ光の波長と記録膜の光吸収率との関係を示す。レーザ光の波長がλ１からλ２へと長波長側にシフトすると、記録膜の光吸収率が大幅に低下する。記録膜の光吸収率は、ピットの形成度合いに影響を与えるため、光吸収率の低下は記録品質の劣化を引き起こす。したがって、ＡＰＣ２４によるパワー調整の他に、半導体レーザ素子の温度上昇に伴う波長シフトを正確に評価し、評価結果に応じて記録膜の光吸収率の低下を補償するように記録パワーを調整する必要がある。一方、半導体レーザ素子の温度を直接検出する構成やレーザ光波長のシフトを直接検出する構成では構成の複雑化あるいは大型化を招く。そこで、本実施形態では、ＡＰＣ２４の出力である駆動電流に着目し、駆動電流の変化により半導体レーザ素子の温度上昇を検出し、さらにレーザ光波長のシフトを検出する。ＡＰＣ２４は、半導体レーザ素子の温度上昇に伴う発光量低下を補償するように駆動電流を順次増大させていく。したがって、ＡＰＣ２４の出力である駆動電流の増大から半導体レーザ素子の温度増大を定量評価することができる。図２において、Ｖ／Ｉ２４ｄからの駆動電流はドライバ２２に供給されるとともにシステムコントローラ３２にも供給されるのはこの理由であり、システムコントローラ３２は駆動電流を常に監視して半導体レーザ素子の温度上昇を検出する。
【００２２】
図４に、ＡＰＣ２４の出力である駆動電流と発光量との関係を半導体レーザ素子の温度をパラメータとして示す。半導体レーザ素子の温度Ｔが２０℃、５０℃、８０℃と増大していくに従い、同一発光量を得るために必要な駆動電流は順次増大していく。いま、半導体レーザ素子の温度が２０℃と５０℃において、発光量Ｐａを得るための駆動電流をそれぞれＩ１、Ｉ２とすると、逆に、駆動電流がＩ１からＩ２に増大した場合には、半導体レーザ素子の温度が２０℃から５０℃に上昇したことを意味する。図４の関係（駆動電流と発光量の温度特性）は、半導体レーザ素子に固有の特性である。
【００２３】
図５に、半導体レーザの素子温度と発光波長との関係を示す。一般に、半導体レーザの素子温度が上昇すると、発光波長は長波長側に単調にシフトする。温度と発光波長は一義的に決定され、素子温度がＴ１、Ｔ２の場合には発光波長はそれぞれλ１、λ２となる。図４及び図５の関係から、駆動電流の変化からレーザ光波長の波長変化を検出できることが理解されよう。
【００２４】
以上のようにして、ＡＰＣ２４の駆動電流の変化からレーザ光波長の長波長側へのシフトを評価することができる。レーザ光波長の長波長側へのシフトは、記録膜が有機色素系の場合には記録膜感度の劣化、特にβ値の変化として現れるから、β値が所望の値となるように最適記録パワーをさらに調整することで記録品質を維持することができる。
【００２５】
図６に、発光波長と記録β値との関係を示す。ここで、β値は、ＡＣ結合された再生ＲＦ信号のピークレベルをＡ、ボトムレベルをＢとすると、β＝（Ａ＋Ｂ）／（Ａ−Ｂ）で定義される値であり、記録品質の評価に用いられるパラメータである。ＯＰＣでは、このβ値が目標β値に一致するように記録パワーが調整される。得られるβ値が一定であれば、記録品質が一定であると評価できる。図に示すように、発光波長が長波長側にシフトすると、記録膜の吸収率が低下することに起因して、β値も減少していく。波長λ１のときのβ値をβ１とすると、波長λ２のときのβ値はβ２まで低下する。したがって、波長がλ１からλ２までシフトした場合、波長λ２におけるβ値であるβ２を、本来のβ値であるβ１まで増大させるために記録パワーを増大させればよい。
【００２６】
図７に、記録パワーとβ値との関係を示す。この関係はＯＰＣを実行する場合によく知られた関係である。ＯＰＣでは記録パワーを複数段に変化させてβ値を測定し、目標β値が得られる記録パワーを最適記録パワーに設定する。図７からわかるように、記録パワーとβ値は一義的に対応し、記録パワーＰ１のときにβ１、記録パワーＰ２のときにβ２が得られるものとすると、現在のβ２をβ１にするために必要なパワーの増分ΔＰは、ΔＰ＝Ｐ１−Ｐ２であることがわかる。
【００２７】
なお、記録パワーＰとβ値との関係を関数β＝ｆ（Ｐ）と表すと、厳密にはレーザ光の波長λ１における関数β＝ｆ（Ｐ）と、波長λ２における関数β＝ｆ（Ｐ）とは若干相違する。具体的には、波長λ１における関数β＝ａ１Ｐ＋ｂ１と、波長λ２における関数β＝ａ２Ｐ＋ｂ２とは相違する。但し、データ記録中における半導体レーザ素子の温度上昇程度では、ほとんどａ１＝ａ２、ｂ１＝ｂ２とみなせることを出願人は確認している。したがって、ＯＰＣ実行時に取得したβ＝ｆ（Ｐ）の関係（記録に先立って行われるから、波長λ１時における関係である）をそのまま用いて波長λ２における関係β＝ｆ（Ｐ）とし、この関係からβ２をβ１に設定するための記録パワーの増分ΔＰを算出することができる。
【００２８】
図８に、本実施形態の記録パワー調整処理を示す。まず、記録に先立ってＯＰＣを実行して最適記録パワーＰｏを設定する（Ｓ１０１）。すなわち、光ディスク１０のテストエリアにて記録パワーを複数段に変化させてテストデータを試し書きし、該テストデータを再生してβ値を測定し、測定したβ値と予めシステムコントローラ３２のメモリに記憶された目標β値とを比較し、目標β値が得られる記録パワーを最適記録パワーＰｏに設定する。ＯＰＣ実行の際に、最適記録パワーＰｏを得るために必要な駆動電流Ｉｏの値、記録パワーとβ値との関係を取得してシステムコントローラ３２のメモリに記憶しておく（Ｓ１０２、Ｓ１０３）。駆動電流Ｉｏは、初期の最適記録パワーＰｏを得るためのＡＰＣ２４の出力であり、半導体レーザ素子の温度上昇を検出するための基準となる電流値である。また、ＯＰＣ実行時の記録パワーとβ値との関係は、図７に示す関係に対応するものである。記録パワーとβ値との関係は、数値の組としてメモリに記憶してもよく、１次近似あるいはそれ以上の高次の近似により得られる関数としてメモリに記憶してもよい。
【００２９】
ＯＰＣにより最適記録パワーＰｏを設定し、駆動電流Ｉｏ、及び記録パワーとβ値との関係を取得して記憶した後、光ディスク１０のデータエリアにデータを記録していく（Ｓ１０４）。データ記録中は、ＡＰＣ２４は常に記録パワーが最適記録パワーＰｏに一致するように駆動電流を調整する。半導体レーザ素子の温度が上昇すると発光量は低下するため、この低下分を補償するように駆動電流をＩｏから順次増大させていく。
【００３０】
システムコントローラ３２は、記録中は常に（所定の時間間隔で）駆動電流を監視し、駆動電流Ｉｏからの増分が所定値ΔＩｐに達したか否かを判定する（Ｓ１０５）。この所定値は、記録品質が劣化する程度まで半導体レーザ素子の温度が上昇したと判定するための値であり、予めシステムコントローラ３２のメモリに記憶しておく。そして、駆動電流の増分がΔＩｐに達した場合、半導体レーザ素子の温度が無視できないほどに（記録品質が劣化する程度に）上昇したものとみなし、温度上昇に伴う現在のβ値を推定する（Ｓ１０６）。具体的には、現在のβ値は以下のように推定する。すなわち、図４に示すように駆動電流の増分から現在の半導体レーザ素子の温度を検出でき、図５に示すように半導体レーザ素子の温度から現在の発光波長を検出できる。すると、図６の関係を用いて現在の発光波長から現在のβ値を推定することができる。システムコントローラ３２のメモリには、図４、図５、図６の各対応関係を記憶してもよく、図４、図５、図６の関係から駆動電流とβとの関係を求めてその対応関係を記憶してもよい。システムコントローラ３２は、メモリに記憶されたこれらの関係を用いて現在のβ値を推定できる。
【００３１】
現在のβ値を推定した後、システムコントローラ３２は推定したβ値を用いて、ＯＰＣ実行時に取得してメモリに記憶された記録パワーとβ値との関係に基づき、目標β値が得られる記録パワーを算出し、新たな目標レベルとしてＡＰＣ２４に供給する（Ｓ１０７）。図２に示すように、ＡＰＣ実行時にはシステムコントローラ３２は新たな最適記録パワーが得られるように新たな目標レベルをＡＰＣ２４の差動増幅器２４ｃに供給する。システムコントローラ３２は、当初の目標レベルに代えて新たな目標レベルをＡＰＣ２４に供給することで、半導体レーザ素子の最適記録パワーである発光量をＰｏからＰｏ＋ΔＰに更新する。これにより、現在の波長においても目標β値が得られ、記録品質を維持することができる。
【００３２】
以上説明したように、本実施形態では、ＡＰＣ２４の駆動電流の変化（増大）に基づいて半導体レーザ素子の温度上昇、温度上昇に伴う波長シフト、波長シフトに伴うβ値の変化を検出し、記録パワーとβ値との関係を用いて現在のβ値を本来の目標β値に戻すために必要な記録パワーを算出することで最適記録パワーＰｏを調整しているので、温度センサや波長検出センサ等を別途設ける必要がなく、既存のＡＰＣ２４を用いて半導体レーザ素子の温度上昇に伴う記録品質劣化を抑制できる。
【００３３】
本実施形態において、記録パワーとβ値との関係を用いて現在のβ値を目標β値に戻すために必要な記録パワーを算出しているが、図６に示す発光波長とβ値との関係、及び図７に示す記録パワーとβ値との関係から、図９に示すように発光波長と最適記録パワーとの関係を算出してメモリに記憶し、ＡＰＣ２４の駆動電流の変化に基づいて波長シフトを検出した後、現在の波長における最適記録パワーを求めて更新してもよい。具体的には、駆動電流の変化に応じて図４の関係を用いてまず半導体レーザの素子温度を検出し、図５の関係を用いて検出した素子温度における発光波長を検出する。そして、図９の関係を用いて現在の発光波長における最適記録パワーを求めてＡＰＣ２４に供給する目標レベルを更新すればよい。
【００３４】
また、図４、図５及び図９の関係を用いて図１０に示すように駆動電流と最適記録パワーとの関係を算出してメモリに記憶し、ＡＰＣ２４の駆動電流の変化に基づいて、現在の駆動電流から直接最適記録パワーを求めて更新してもよい。
【００３５】
また、本実施形態では、波長λ１における関数β＝ａ１Ｐ＋ｂ１と波長λ２における関数β＝ａ２Ｐ＋ｂ２とはほぼ同一であるとしているが、これらを互いに相違するものとみなして、波長λ２における関数β＝ａ２Ｐ＋ｂ２を用いて最適記録パワーを算出してもよい。すなわち、駆動電流の変化からレーザ光の波長を算出し、算出された波長における関数を用いて目標β値が得られる最適記録パワーを算出し、新たな目標レベルをＡＰＣ２４に供給する。
【００３６】
本実施形態では、記録品質としてβ値を用いているが、γ値、エラーレート、変調度等を用いることもできる。
【００３７】
また、本実施形態において振り返りＯＰＣと併用することもできる。振り返りＯＰＣは、データ記録途中で中断し、直前の既記録部分を再生して記録品質（β値等）を算出し、目標品質（目標β値）とのずれ量に応じて引き続き追記するときの記録パワーを補正するものである。本実施形態の方法を振り返りＯＰＣと併用することで、振り返りＯＰＣの実行回数を低減することができるので、記録時間の短縮が可能である。
【００３８】
さらに、本実施形態では半導体レーザ素子の温度変動として温度上昇を例にとり説明したが、本発明は温度上昇に限定されるものではなく、温度低下の場合にも適用できる。温度が低下した場合、発光波長は短波長側にシフトし、これにより光ディスク１０の光吸収率は増大し、記録膜感度が向上する。すると、β値が増大しているものと推定でき、目標β値まで下げるように記録パワーを更新（最適記録パワーを低下させる）する。このように記録パワーを減少調整することで、記録パワー過剰（いわゆる焼きすぎ）による再生信号波形の熱歪みを防止できる。温度が低下する場合とは、例えば記録中断後に記録を再開する場合であり、記録を再開するときに中断時の記録パワーをメモリに記憶しておいて再開時にそのまま利用する場合（これにより再開時にＯＰＣを再度実行する必要がなくなる）に有効である。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】光ディスク装置の構成ブロック図である。
【図２】図１におけるＡＰＣの構成図である。
【図３】発光波長と記録膜の光吸収率との関係を示す図である。
【図４】駆動電流と発光量及び素子温度との関係を示す図である。
【図５】素子温度と発光波長との関係を示す図である。
【図６】発光波長と記録β値との関係を示す図である。
【図７】記録パワーと記録β値との関係を示す図である。
【図８】実施形態の処理フローチャートである。
【図９】発光波長と最適記録パワーとの関係を示す図である。
【図１０】駆動電流と最適記録パワーとの関係を示す図である。
【符号の説明】
【００４０】
１０  光ディスク、２４  ＡＰＣ（オートパワーコントロール回路）２４、３２  システムコントローラ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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