(57)【要約】【課題】２つのレーザダイオードを駆動する電流を簡易に測定する方法を提供する。【解決手段】電流の測定方法は、ＣＤレーザダイオードとＤＶＤレーザダイオードとがオフである場合（駆動電流が流れていない状態）におけるＡＤオフセット誤差を測定するステップ（Ｓ７３０）と、２つの端子における電圧値（Ｖｉｎ９，Ｖｉｎ１０）を測定するステップ（Ｓ７３４）と、ＤＶＤレーザダイオードが発光している場合に抵抗器の両端の電圧値を算式（Ｖｉｎ１０−Ｖｉｎ９）により算出するステップ（Ｓ７５０）と、ＣＤレーザダイオードが発光している場合に抵抗器の両端の電圧値を算式（Ｖｉｎ９−Ｖｉｎ１０）により算出するステップ（Ｓ７６０）と、オフセット誤差を用いて電圧値を補正するステップ（Ｓ７７０）と、補正後の電圧値と抵抗器の抵抗値とに基づいてＤＶＤレーザダイオードおよびＣＤレーザダイオードに流れる電流を算出するステップ（Ｓ７７２）とを含む。【選択図】図７
2008117497.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク再生装置における電流値を測定するための測定装置であって、
前記光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、前記電源部に電気的に接続されたＣＤ（Compact  Disc）レーザダイオードと、前記電源部に電気的に接続されたＤＶＤ（Digital  Versatile  Disc）レーザダイオードと、前記電源部と前記ＣＤレーザダイオードとの間に配置された第１の抵抗器と、前記電源部と前記ＤＶＤレーザダイオードとの間に配置された第２の抵抗器と、前記電源部と前記ＣＤレーザダイオードとの間に設けられた第１の端子と、前記電源部と前記ＤＶＤレーザダイオードとの間に設けられた第２の端子とを備えており、
前記測定装置は、
データの入力を受け付ける入力手段を備え、前記ＣＤレーザダイオードが駆動している場合に、前記入力手段は、前記第１の端子における第１の電圧値と、前記第２の端子における第２の電圧値との入力を受け付け、かつ、前記ＤＶＤレーザダイオードが駆動している場合に、前記入力手段は、前記第１の端子における第３の電圧値と、前記第２の端子における第４の電圧値との入力を受け付け、
前記測定装置は、さらに、データを格納する記憶手段と、
前記記憶手段に格納されているデータに基づいて演算処理を実行する処理手段とを備え、
前記処理手段は、
前記第１の電圧と前記第２の電圧との第１の差を算出し、
前記第１の差と、前記第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、前記第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出し、
前記第４の電圧と前記第３の電圧との第２の差を算出し、
前記第２の差と、前記第２の抵抗器の抵抗値とに基づいて、前記第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出する、測定装置。
【請求項２】
複数の発光素子を備える光ディスク再生装置における電流値を測定するための測定装置であって、
前記光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、前記電源部に電気的に接続された第１の発光素子と、前記電源部に電気的に接続された第２の発光素子と、前記電源部と前記第１の発光素子との間に配置された第１の抵抗器と、前記電源部と前記第２の発光素子との間に配置された第２の抵抗器とを備えており、
前記測定装置は、
データの入力を受け付ける入力手段を備え、前記第１の発光素子が駆動している場合に、前記入力手段は、前記第１の抵抗器と前記第１の発光素子との間における第１の電圧値と、前記第２の抵抗器と前記第２の発光素子との間における第２の電圧値との入力を受け付け、
前記測定装置は、さらに、
データを格納する記憶手段と、
前記記憶手段に格納されているデータに基づいて演算処理を実行する処理手段とを備え、
前記処理手段は、
前記第１の電圧値と前記第２の電圧値との第１の差を算出し、
前記第１の差と、前記第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、前記第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出する、測定装置。
【請求項３】
前記第２の発光素子が駆動している場合に、前記入力手段は、前記第１の抵抗器と前記第１の発光素子との間における第３の電圧値と、前記第２の抵抗器と前記第２の発光素子との間における第４の電圧値との入力をさらに受け付け、
前記処理手段は、さらに、
前記第４の電圧値と前記第３の電圧値との第２の差を算出し、
前記第２の差と、前記第２の抵抗器の抵抗値とに基づいて、前記第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出する、請求項２に記載の測定装置。
【請求項４】
前記第１の発光素子および前記第２の発光素子が駆動していない場合に、前記入力手段は、前記第１の抵抗器と前記第１の発光素子との間における第５の電圧値の入力を受け付け、
前記処理手段は、前記第５の電圧値に基づいて前記第１の差を補正する、請求項２に記載の測定装置。
【請求項５】
前記第１の発光素子および前記第２の発光素子が駆動していない場合に、前記入力手段は、前記第２の抵抗器と前記第２の発光素子との間における第６の電圧値の入力を受け付け、
前記処理手段は、前記第６の電圧値に基づいて前記第２の差を補正する、請求項３に記載の測定装置。
【請求項６】
前記光ディスク再生装置は、前記電源部と前記第１の発光素子との間に設けられた第１の端子と、前記電源部と前記第２の発光素子との間に設けられた第２の端子とをさらに備えており、
前記入力手段は、
前記第１の端子における電圧値を、前記第１の抵抗器と前記第１の発光素子との間における電圧値として受け付け、
前記第２の端子における電圧値を、前記第２の抵抗器と前記第２の発光素子との間における電圧値として受け付ける、請求項２に記載の測定装置。
【請求項７】
前記第１の発光素子はＣＤレーザダイオードであり、
前記第２の発光素子はＤＶＤレーザダイオードである、請求項２に記載の測定装置。
【請求項８】
前記第１の発光素子はＤＶＤレーザダイオードであり、
前記第２の発光素子はＣＤレーザダイオードである、請求項２に記載の測定装置。
【請求項９】
光ディスク再生装置における電流を測定装置が測定する測定方法であって、
前記光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、前記電源部に電気的に接続されたＣＤ（Compact  Disc）レーザダイオードと、前記電源部に電気的に接続されたＤＶＤ（Digital  Versatile  Disc）レーザダイオードと、前記電源部と前記ＣＤレーザダイオードと間に配置された第１の抵抗器と、前記電源部と前記ＤＶＤレーザダイオードとの間に配置された第２の抵抗器と、前記電源部と前記ＣＤレーザダイオードとの間に設けられた第１の端子と、前記電源部と前記ＤＶＤレーザダイオードとの間に設けられた第２の端子とを備えており、
前記測定方法は、
前記ＣＤレーザダイオードが駆動している場合に、前記測定装置が、前記第１の端子における第１の電圧を計測するステップと、
前記ＣＤレーザダイオードが駆動している場合に、前記測定装置が、前記第２の端子における第２の電圧を計測するステップと、
前記測定装置が、前記第１の電圧と前記第２の電圧との第１の差を算出するステップと、
前記第１の差と、前記第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、前記測定装置が、前記第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップと、
前記ＤＶＤレーザダイオードが駆動している場合に、前記測定装置が、前記第１の端子の第３の電圧を計測するステップと、
前記ＤＶＤレーザダイオードが駆動している場合に、前記測定装置が、前記第２の端子の第４の電圧を計測するステップと、
前記測定装置が、前記第４の電圧と前記第３の電圧との第２の差を算出するステップと、
前記第２の差と、前記第２の抵抗器の抵抗値とに基づいて、前記測定装置が、前記第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップとを備える、測定方法。
【請求項１０】
複数の発光素子を備える光ディスク再生装置における電流を測定装置が測定する測定方法であって、
前記光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、前記電源部に電気的に接続された第１の発光素子と、前記電源部に電気的に接続された第２の発光素子と、前記電源部と前記第１の発光素子との間に配置された第１の抵抗器と、前記電源部と前記第２の発光素子との間に配置された第２の抵抗器とを備えており、
前記測定方法は、
前記第１の発光素子が駆動している場合に、前記測定装置が、前記第１の抵抗器と前記第１の発光素子との間における第１の電圧を計測するステップと、
前記第１の発光素子が駆動している場合に、前記測定装置が、前記第２の抵抗器と前記第２の発光素子との間における第２の電圧を計測するステップと、
前記測定装置が、前記第１の電圧と前記第２の電圧との第１の差を算出するステップと、
前記第１の差と、前記第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、前記測定装置が、前記第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップとを備える、測定方法。
【請求項１１】
前記第２の発光素子が駆動している場合に、前記測定装置が、前記第１の抵抗器と前記第１の発光素子との間における第３の電圧を計測するステップと、
前記第２の発光素子が駆動している場合に、前記測定装置が、前記第２の抵抗器と前記第２の発光素子との間における第４の電圧を計測するステップと、
前記測定装置が、前記第４の電圧と前記第３の電圧との第２の差を算出するステップと、
前記第２の差と、前記第２の抵抗器の抵抗値とに基づいて、前記測定装置が、前記第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップとをさらに備える、請求項１０に記載の測定方法。
【請求項１２】
前記第１の発光素子および前記第２の発光素子が駆動していない場合に、前記測定装置が、前記第１の抵抗器と前記第１の発光素子との間における第５の電圧を計測するステップをさらに備え、
前記第１の差を算出する前記ステップは、前記第５の電圧に基づいて前記第１の差を補正する、請求項１０に記載の測定方法。
【請求項１３】
前記第１の発光素子および前記第２の発光素子が駆動していない場合に、前記測定装置が、前記第２の抵抗器と前記第２の発光素子との間における第６の電圧を計測するステップをさらに備え、
前記第２の差を算出する前記ステップは、前記第６の電圧に基づいて前記第２の差を補正する、請求項１１に記載の測定方法。
【請求項１４】
前記光ディスク再生装置は、前記電源部と前記第１の発光素子との間に設けられた第１の端子と、前記電源部と前記第２の発光素子との間に設けられた第２の端子とをさらに備えており、
前記第１の電圧を計測する前記ステップは、前記第１の端子における電圧値を、前記第１の抵抗器と前記第１の発光素子との間における電圧値として受け付け、
前記第２の電圧を計測する前記ステップは、前記第２の端子における電圧値を、前記第２の抵抗器と前記第２の発光素子との間における電圧値として受け付ける、請求項１０に記載の測定方法。
【請求項１５】
前記第１の発光素子はＣＤレーザダイオードであり、
前記第２の発光素子はＤＶＤレーザダイオードである、請求項１０に記載の測定方法。
【請求項１６】
前記第１の発光素子はＤＶＤレーザダイオードであり、
前記第２の発光素子はＣＤレーザダイオードである、請求項１０に記載の測定方法。
【請求項１７】
複数の発光素子を備える光ディスク再生装置における電流を測定する測定装置としてコンピュータを機能させるためのプログラムであって、
前記光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、前記電源部に電気的に接続された第１の発光素子と、前記電源部に電気的に接続された第２の発光素子と、前記電源部と前記第１の発光素子との間に配置された第１の抵抗器と、前記電源部と前記第２の発光素子との間に配置された第２の抵抗器とを備えており、
前記プログラムは前記コンピュータに、
前記第１の発光素子が駆動している場合に、前記第１の抵抗器と前記第１の発光素子との間における第１の電圧値の入力を受けるステップと、
前記第１の発光素子が駆動している場合に、前記第２の抵抗器と前記第２の発光素子との間における第２の電圧値の入力を受けるステップと、
前記第１の電圧値と前記第２の電圧値との第１の差を算出するステップと、
前記第１の差と、前記第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、前記第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップとを実行させる、プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は装置を流れる電流値を計測する技術に関する。より特定的には、本発明は、光ディスク再生装置における電流値を計測するための測定装置、測定方法および当該測定装置としてコンピュータを機能させるためのプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ（Digital  Versatile  Disc）プレイヤーその他の光ディスク再生装置の検査として、回路を流れる電流値を計測する試験がある。たとえば、光ディスク再生装置がＣＤ（Compact  Disc）レーザダイオードと、ＤＶＤダイオードとを備える場合、各レーザダイオードを駆動する電流を測定する回路として、２つのオペアンプと、その他の素子とを有する測定回路が使用される。
【０００３】
この場合、当該測定回路を用いて、電源とＣＤレーザダイオードとの間に配置された抵抗器の両端の電圧値と、当該電源とＤＶＤレーザダイオードとの間に配置された抵抗器の両端の電圧値とが測定される。
【０００４】
レーザダイオードを駆動する電流値の計測するための技術は、たとえば、特開２００２−１９７７０９号公報（特許文献１）、特開平１１−１６１９９５号公報（特許文献２）、特開２００４−２２８２９２号公報（特許文献３）に開示されている。
【特許文献１】特開２００２−１９７７０９号公報
【特許文献２】特開平１１−１６１９９５号公報
【特許文献３】特開２００４−２２８２９２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の測定回路は、オペアンプその他の素子が必要となり、計測のためのコストが上昇するという問題があった。
【０００６】
本発明は、上述の問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、光ディスク再生装置における電流を簡易に計測できる測定装置を提供することである。
【０００７】
他の目的は、光ディスク再生装置における電流を簡易に計測できる測定方法を提供することである。
【０００８】
さらに他の目的は、当該測定装置としてコンピュータを機能させるためのプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の目的を達成するために、この発明のある局面に従うと、光ディスク再生装置における電流値を測定するための測定装置が提供される。光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、電源部に電気的に接続されたＣＤレーザダイオードと、電源部に電気的に接続されたＤＶＤレーザダイオードと、電源部とＣＤレーザダイオードとの間に配置された第１の抵抗器と、電源部とＤＶＤレーザダイオードとの間に配置された第２の抵抗器と、電源部とＣＤレーザダイオードとの間に設けられた第１の端子と、電源部とＤＶＤレーザダイオードとの間に設けられた第２の端子とを備える。測定装置は、データの入力を受け付ける入力手段を備える。ＣＤレーザダイオードが駆動している場合に、入力手段は、第１の端子における第１の電圧値と、第２の端子における第２の電圧値との入力を受け付け、かつ、ＤＶＤレーザダイオードが駆動している場合に、入力手段は、第１の端子における第３の電圧値と、第２の端子における第４の電圧値との入力を受け付ける。測定装置は、さらに、データを格納する記憶手段と、記憶手段に格納されているデータに基づいて演算処理を実行する処理手段とを備える。処理手段は、第１の電圧と第２の電圧との第１の差を算出し、第１の差と、第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出し、第４の電圧と第３の電圧との第２の差を算出し、第２の差と、第２の抵抗器の抵抗値とに基づいて、第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出する。
【００１０】
この発明の他の局面に従うと、複数の発光素子を備える光ディスク再生装置における電流値を測定するための測定装置が提供される。光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、電源部に電気的に接続された第１の発光素子と、電源部に電気的に接続された第２の発光素子と、電源部と第１の発光素子との間に配置された第１の抵抗器と、電源部と第２の発光素子との間に配置された第２の抵抗器とを備える。測定装置は、データの入力を受け付ける入力手段を備える。第１の発光素子が駆動している場合に、入力手段は、第１の抵抗器と第１の発光素子との間における第１の電圧値と、第２の抵抗器と第２の発光素子との間における第２の電圧値との入力を受け付ける。測定装置は、さらに、データを格納する記憶手段と、記憶手段に格納されているデータに基づいて演算処理を実行する処理手段とを備える。処理手段は、第１の電圧値と第２の電圧値との第１の差を算出し、第１の差と、第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出する。
【００１１】
好ましくは、第２の発光素子が駆動している場合に、入力手段は、第１の抵抗器と第１の発光素子との間における第３の電圧値と、第２の抵抗器と第２の発光素子との間における第４の電圧値との入力をさらに受け付ける。処理手段は、さらに、第４の電圧値と第３の電圧値との第２の差を算出し、第２の差と、第２の抵抗器の抵抗値とに基づいて、第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出する。
【００１２】
好ましくは、第１の発光素子および第２の発光素子が駆動していない場合に、入力手段は、第１の抵抗器と第１の発光素子との間における第５の電圧値の入力を受け付ける。処理手段は、第５の電圧値に基づいて第１の差を補正する。
【００１３】
好ましくは、第１の発光素子および第２の発光素子が駆動していない場合に、入力手段は、第２の抵抗器と第２の発光素子との間における第６の電圧値の入力を受け付ける。処理手段は、第６の電圧値に基づいて第２の差を補正する。
【００１４】
好ましくは、光ディスク再生装置は、電源部と第１の発光素子との間に設けられた第１の端子と、電源部と第２の発光素子との間に設けられた第２の端子とをさらに備える。入力手段は、第１の端子における電圧値を、第１の抵抗器と第１の発光素子との間における電圧値として受け付け、第２の端子における電圧値を、第２の抵抗器と第２の発光素子との間における電圧値として受け付ける。
【００１５】
好ましくは、第１の発光素子はＣＤレーザダイオードである。第２の発光素子はＤＶＤレーザダイオードである。
【００１６】
好ましくは、第１の発光素子はＤＶＤレーザダイオードである。第２の発光素子はＣＤレーザダイオードである。
【００１７】
この発明の他の局面に従うと、光ディスク再生装置における電流を測定装置が測定する測定方法が提供される。光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、電源部に電気的に接続されたＣＤレーザダイオードと、電源部に電気的に接続されたＤＶＤレーザダイオードと、電源部とＣＤレーザダイオードと間に配置された第１の抵抗器と、電源部とＤＶＤレーザダイオードとの間に配置された第２の抵抗器と、電源部とＣＤレーザダイオードとの間に設けられた第１の端子と、電源部とＤＶＤレーザダイオードとの間に設けられた第２の端子とを備える。測定方法は、ＣＤレーザダイオードが駆動している場合に、測定装置が、第１の端子における第１の電圧を計測するステップと、ＣＤレーザダイオードが駆動している場合に、測定装置が、第２の端子における第２の電圧を計測するステップと、測定装置が、第１の電圧と第２の電圧との第１の差を算出するステップと、第１の差と、第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、測定装置が、第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップと、ＤＶＤレーザダイオードが駆動している場合に、測定装置が、第１の端子の第３の電圧を計測するステップと、ＤＶＤレーザダイオードが駆動している場合に、測定装置が、第２の端子の第４の電圧を計測するステップと、測定装置が、第４の電圧と第３の電圧との第２の差を算出するステップと、第２の差と、第２の抵抗器の抵抗値とに基づいて、測定装置が、第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップとを備える。
【００１８】
この発明のさらに他の局面に従うと、複数の発光素子を備える光ディスク再生装置における電流を測定装置が測定する測定方法が提供される。光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、電源部に電気的に接続された第１の発光素子と、電源部に電気的に接続された第２の発光素子と、電源部と第１の発光素子との間に配置された第１の抵抗器と、電源部と第２の発光素子との間に配置された第２の抵抗器とを備える。測定方法は、第１の発光素子が駆動している場合に、測定装置が、第１の抵抗器と第１の発光素子との間における第１の電圧を計測するステップと、第１の発光素子が駆動している場合に、測定装置が、第２の抵抗器と第２の発光素子との間における第２の電圧を計測するステップと、測定装置が、第１の電圧と第２の電圧との第１の差を算出するステップと、第１の差と、第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、測定装置が、第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップとを備える。
【００１９】
好ましくは、測定方法は、第２の発光素子が駆動している場合に、測定装置が、第１の抵抗器と第１の発光素子との間における第３の電圧を計測するステップと、第２の発光素子が駆動している場合に、測定装置が、第２の抵抗器と第２の発光素子との間における第４の電圧を計測するステップと、測定装置が、第４の電圧と第３の電圧との第２の差を算出するステップと、第２の差と、第２の抵抗器の抵抗値とに基づいて、測定装置が、第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップとをさらに備える。
【００２０】
好ましくは、測定方法は、第１の発光素子および第２の発光素子が駆動していない場合に、測定装置が、第１の抵抗器と第１の発光素子との間における第５の電圧を計測するステップをさらに備える。第１の差を算出するステップは、第５の電圧に基づいて第１の差を補正する。
【００２１】
好ましくは、測定方法は、第１の発光素子および第２の発光素子が駆動していない場合に、測定装置が、第２の抵抗器と第２の発光素子との間における第６の電圧を計測するステップをさらに備える。第２の差を算出するステップは、第６の電圧に基づいて第２の差を補正する。
【００２２】
好ましくは、光ディスク再生装置は、電源部と第１の発光素子との間に設けられた第１の端子と、電源部と第２の発光素子との間に設けられた第２の端子とをさらに備える。第１の電圧を計測するステップは、第１の端子における電圧値を、第１の抵抗器と第１の発光素子との間における電圧値として受け付ける。第２の電圧を計測するステップは、第２の端子における電圧値を、第２の抵抗器と第２の発光素子との間における電圧値として受け付ける。
【００２３】
この発明のさらに他の局面に従うと、複数の発光素子を備える光ディスク再生装置における電流を測定する測定装置としてコンピュータを機能させるためのプログラムが提供される。光ディスク再生装置は、電力を供給する電源部と、電源部に電気的に接続された第１の発光素子と、電源部に電気的に接続された第２の発光素子と、電源部と第１の発光素子との間に配置された第１の抵抗器と、電源部と第２の発光素子との間に配置された第２の抵抗器とを備える。プログラムはコンピュータに、第１の発光素子が駆動している場合に、第１の抵抗器と第１の発光素子との間における第１の電圧値の入力を受けるステップと、第１の発光素子が駆動している場合に、第２の抵抗器と第２の発光素子との間における第２の電圧値の入力を受けるステップと、第１の電圧値と第２の電圧値との第１の差を算出するステップと、第１の差と、第１の抵抗器の抵抗値とに基づいて、第１の抵抗器を流れる電流の電流値を算出するステップとを実行させる。
【発明の効果】
【００２４】
本発明に係る測定装置によると、光ディスク再生装置における電流値を簡易に計測できる。本発明に係る測定方法によると、光ディスク再生装置における電流を簡易に計測できる。本発明に係るプログラムによると、コンピュータを、光ディスク再生装置における電流値を簡易に計測できる測定装置として機能させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰り返さない。
【００２６】
図１を参照して、本発明の実施の形態に係る光ディスク記録再生装置１０について説明する。図１は、光ディスク記録再生装置１０の回路構成を表わすブロック図である。
【００２７】
光ディスク記録再生装置１０は、ＣＤレーザダイオード２０と、ＰＮＰトランジスタ２２と、ＮＰＮトランジスタ２４と、抵抗器２６と、グランド端子２７と、抵抗器２８と、グランド端子２９と、端子３０と、抵抗器３２，３４と、電解コンデンサ３５と、抵抗３６と、端子３７とを備える。
【００２８】
ＣＤレーザダイオード２０は、ＰＮＰトランジスタ２２のセレクタに電気的に接続されている。ＰＮＰトランジスタ２２のエミッタは、抵抗器３２に電気的に接続されている。ＰＮＰトランジスタ２２のベースは、ＮＰＮトランジスタ２４のコレクタに電気的に接続されている。
【００２９】
ＮＰＮトランジスタ２４のエミッタは、抵抗器２６に電気的に接続されている。抵抗器２６は、グランド端子２７に電気的に接続されている。ＮＰＮトランジスタ２４のベースは、コンデンサ２８に電気的に接続されている。コンデンサ２８は、グランド端子２９に電気的に接続されている。ＮＰＮトランジスタ２４のコレクタは、ＰＮＰ２２のベースと抵抗器３４，３６とにそれぞれ電気的に接続されている。
【００３０】
光ディスク記録再生装置１０は、さらに、グランド端子５０，５４と、コンデンサ５２と、抵抗器５６と、ＮＰＮトランジスタ５８と、ＤＶＤレーザダイオード６０と、ＰＮＰトランジスタ６２と、抵抗器６４，６６と、電解コンデンサ６７と、抵抗器６８と、端子６９，７０と、コンデンサ７２と、グランド端子７４と、コイル７６と、電源部８０とを備える。
【００３１】
抵抗３６は、コイル７６を介して電源部８０に電気的に接続されている。抵抗器３４の一方はＰＮＰトランジスタ２２のベースに接続されており、他方は電解コンデンサ３５に電気的に接続されている。電解コンデンサ３５の他方は、コイル７６を介して電源部８０に電気的に接続されている。
【００３２】
抵抗器３２の一方は、ＰＮＰトランジスタ２２のエミッタに電気的に接続されており、他方は、コイル７６を介して電源部８０に電気的に接続されている。抵抗器３２の抵抗値は、本実施の形態においては、５．６Ωであるが、他の抵抗値であってもよい。
【００３３】
コンデンサ５２の一方はグランド端子５０に電気的に接続されている。コンデンサ５２の他方は、ＮＰＮトランジスタ５８のベースと電源部８０とにそれぞれ電気的に接続されている。
【００３４】
抵抗器５６の一方は、グランド端子５４に電気的に接続されている。抵抗器５６の他方は、ＮＰＮトランジスタ５８のエミッタに電気的に接続されている。
【００３５】
ＮＰＮトランジスタ５８のエミッタは、抵抗器５６に電気的に接続されている。ＮＰＮトランジスタ５８のコレクタは、抵抗器６４に電気的に接続されている。ＮＰＮトランジスタ５８のベースは、コイル７６を介して電源部８０に電気的に接続されている。
【００３６】
ＤＶＤレーザダイオード６０は、ＰＮＰトランジスタ６２のコレクタに電気的に接続されている。
【００３７】
ＰＮＰトランジスタ６２のエミッタは、抵抗器６８に電気的に接続されている。ＰＮＰトランジスタ６２のベースは、ＮＰＮトランジスタ５８のコレクタと抵抗器６４，６６とにそれぞれ電気的に接続されている。
【００３８】
抵抗器６４の一方は、ＮＰＮトランジスタ５８のコレクタに電気的に接続されており、他方は、コイル７６を介して電源部８０に電気的に接続されている。
【００３９】
抵抗器６６の一方は、ＰＮＰトランジスタ６２のベースに電気的に接続されており、他方は電解コンデンサ６７に電気的に接続されている。
【００４０】
抵抗器６８の一方は、ＰＮＰトランジスタ６２のエミッタに電気的に接続されており、他方はコイル７６を介して電源部８０に電気的に接続されている。抵抗器６８の抵抗値は、本実施の形態においては、３．３Ωであるが、他の抵抗値であってもよい。
【００４１】
コンデンサ７２の一方は、グランド端子７４に電気的に接続されており、他方はコイル７６を介して電源部８０に電気的に接続されている。
【００４２】
光ディスク記録再生装置１０は、測定回路１００，１１０に接続される。具体的には、測定回路１００は、光ディスク記録再生装置１０の端子３０に電気的に接続可能である。同様に、測定回路１１０は、光ディスク記録再生装置１０の端子７０に電気的に接続可能である。
【００４３】
測定回路１００は、抵抗器１０２，１０４と、高レベル基準電圧１０６と、ポート１０８とを備える。抵抗器１０２の一方は、端子３０に電気的に接続される。他方は、抵抗器１０４に電気的に接続される。抵抗器１０４の他方は、高レベル基準電圧１０６に電気的に接続される。ポート１０８は、抵抗器１０２，１０４に電気的に接続される。
【００４４】
測定回路１１０は、抵抗器１１２，１１４と、高レベル基準電圧１１６と、ポート１１８とを備える。抵抗器１１２の一方は、端子７０に電気的に接続される。抵抗器１１２の他方は、抵抗器１１４に電気的に接続される。抵抗器１１４の他方は、高レベル基準電圧１１６に電気的に接続される。ポート１１８は、抵抗器１１２，１１４に電気的に接続される。
【００４５】
次に、図２を参照して、本実施の形態に係る光ディスク記録再生装置１０におけるポートの設定について説明する。図２は、ポート１０８，１１８における設定を表わす図である。
【００４６】
ポート１０８，１１８における設定は、レジスタの設定値２１０と、各設定値に応じて規定される状態２２０とにより特定される。具体的には、通常のモードが「Ｈｉ−ｚモード」であるポート１０８，１１８に対して、それらのモードをアナログＩ／Ｏモードに設定する必要がある。この設定は、たとえばテストのために使用されるInitial（初期）コマンドの直後に図２に示される設定値に基づいて行なわれる。
【００４７】
次に、図３を参照して、ポート１０８，１１８における入力ゲインおよびオフセットの設定について説明する。図３は、Ｉｏｐ測定電圧レンジに対してポート１０８，１１８のいわゆるＤレンジ内で測定を行うための入力ゲインおよびオフセットの設定の一例を表わす図である。
【００４８】
当該設定は、記憶領域の名称（ＲＡＭ）３１０と、アドレス３２０と、設定値３３０とにより規定される。たとえば記憶領域の名称（変数の名称）が「ＶＩＮＧＡＩＮ」については、そのアドレスは「０ｘ０６Ｃ１」として指定され、その設定値３３０は「０ｘ０００１」に設定される。この場合、ポート１０８，１１８の入力段のゲインは「−６ｄＢ」に設定される（列３４０）。
【００４９】
次に、図４を参照して、ポート１０８，１１８における測定に使用されるコマンド（Ａｄｉｎｔコマンド）のパラメータについて説明する。図４は、Ａｄｉｎｔコマンドのパラメータの内容を表わす図である。Ａｄｉｎｔコマンドのパラメータは、形式４１０と内容４２０と設定４３０とによって特定される。たとえば、Ａｄｉｎｔコマンドは、「０ｘＣ９」の内容を有する。このコマンドのオプションとしてたとえばＬＳＢ（Least  Significant  Bit）あるいはＭＳＢ（Most  Significant  Bit）の各オプションを有する。この場合、設定値「０ｘ００００」が使用される（設定４３０）。
【００５０】
Ａｄｉｎｔコマンドにおいて使用されるパラメータは、たとえば測定アドレスと測定時間とを含む。測定アドレスは、たとえばポート１０８については「０ｘ０２４０」として定義され、ポート１１８についてはその特定アドレスは「０ｘ０２４１」として定義される。また、測定時間は、一例として１４．４ｍｓが使用され、たとえば設定値として「０ｘ０１００」が使用される。
【００５１】
図５を参照して、Ａｄｉｎｔコマンドが使用する変数について説明する。図５は、Ａｄｉｎｔコマンドによって使用される変数の内容を表わす図である。Ａｄｉｎｔコマンドによって使用される変数は、たとえば「ｈＡＤＩＮＴ＿Ｇ」と「ｈＥＮＶ＿ＬＶＬ」として設定される。なお、他の名称がＡｄｉｎｔコマンドにおいて使用されてもよい。
【００５２】
変数ｈＡＤＩＮＴ＿Ｇは、その初期値としてたとえば「０ｘ０１００」が設定されている。この変数ｈＡＤＩＮＴ＿Ｇは、ＡＤ（Analog to Digital）変換におけるＬＰＦ（Low Pass Filter）係数を表わす。変数ｈＡＤＩＮＴ＿Ｇは、たとえば「０ｘ００８０」として設定される（領域５４０）。
【００５３】
またＡｄｉｎｔコマンドにおいて使用される他の変数ｈＥＮＶ＿ＬＶＬの初期値は、「０ｘ００００」である（領域５２０）。この変数ｈＥＮＶ＿ＬＶＬの内容は、たとえばＥＮＶレベルを規定するものである。変数ｈＥＮＶ＿ＬＶＬの設定値は、たとえば当該レベルが変更されない場合には初期値「０ｘ００００」が使用される。
【００５４】
次に、図６を参照して、Ａｄｉｎｔコマンドを用いた測定結果の構成について説明する。図６は、Ａｄｉｎｔコマンドを用いた測定の結果に使用される変数の説明を表わす図である。
【００５５】
Ａｄｉｎｔコマンドの測定結果は、たとえば２つの変数ｈＡＤ＿ＳＵＭ０，ｈＡＤ＿ＣＮＴ０によって特定される。他の名称がこれらの変数名として使用されてもよい。Ａｄｉｎｔコマンドに基づく測定が行なわれる前は、各変数の初期値は、変数ｈＡＤ＿ＳＵＭ０の初期値は「０ｘ１１４４」である。変数ｈＡＤ＿ＳＵＭ０は、その内容が「積算結果」であることを表わす。当該結果に対応する値は、結果値６４０としてメモリにおいて確保された領域に書き込まれる。
【００５６】
他の変数ｈＡＤ＿ＣＮＴ０の初期値は、「０ｘ１１４Ｃ」である（初期値６２０）。変数ｈＡＤ＿ＣＮＴ０は、その内容が「積算回数」であることを表わす。具体的な値は、結果値６４０として特定される領域に格納される。
【００５７】
図７を参照して、本実施の形態に係る光ディスク記録再生装置１０におけるレーザダイオードを駆動する電流の測定について説明する。図７は、レーザダイオードを駆動する電流の測定のための手続を表わす図である。当該測定は、光ディスク記録再生装置１０に接続される検査装置を用いて行なわれる。検査装置は、周知の構成を有するコンピュータシステムによって実現される。
【００５８】
ステップＳ７１０にて、光ディスク記録再生装置１０は、検査装置によってイニシャルコマンドが発行されたことに応答して、ポート１０８，１１８におけるアナログＩ／Ｏの設定を受け付ける。
【００５９】
ステップＳ７２０にて、光ディスク記録再生装置１０は、その動作モードがテストモードおよびレーザダイオード測定モードのいずれであるかを判断する。この判断は、光ディスク記録再生装置１０に与えられるモードを識別するための設定（たとえば特定のメモリに与えられた設定値）に基づいて行なわれる。光ディスク記録再生装置１０の動作モードが「テストモード」に設定されている場合には（ステップＳ７２０にてＮＯ）、制御はステップＳ７８０に移される。光ディスク記録再生装置１０の動作モードがレーザダイオード測定モードに設定されている場合には（ステップＳ７２０にてＹＥＳ）、制御はステップＳ７３０に切り換えられる。この制御の切り換えは、たとえば、光ディスク記録再生装置１０に接続される検査装置（図示しない）のプロセッサによって行なわれる。
【００６０】
ステップＳ７３０にて、検査装置は、ＣＤレーザダイオード２０とＤＶＤレーザダイオード６０とがオフである場合（駆動電流が流れていない状態）におけるＡＤオフセット誤差を測定する。具体的には、検査装置は、抵抗器３２の両端の電圧値と、抵抗器６８の両端の電圧値とを測定する。測定結果は、検査装置のメモリ（図示しない）に格納される。
【００６１】
ステップＳ７３２にて、光ディスク記録再生装置１０に与えられる命令に応答して、ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０のいずれかが発光する。たとえば、上記検査装置のプロセッサが当該発光を行なうための命令を光ディスク記録再生装置１０に与えると、光ディスク記録再生装置１０の制御回路（図示しない）が、当該発光の命令をＣＤレーザダイオード２０またはＤＶＤレーザダイオード６０のいずれかに与える。
【００６２】
ステップＳ７３４にて、ポート１０８およびポート１１８における各電圧値（Ｖｉｎ９，Ｖｉｎ１０）が測定される。各電圧値は、検査装置に入力され、検査装置のメモリに格納される。
【００６３】
ステップＳ７４０にて、検査装置は、発光されたレーザダイオードがＤＶＤレーザダイオード６０であるかＣＤレーザダイオード２０であるかを判断する。発光したレーザダイオードがＤＶＤレーザダイオード６０である場合には、制御はステップＳ７２０に切り換えられる。発光したレーザダイオードがＣＤレーザダイオード２０である場合には、制御はステップＳ７６０に切り換えられる。
【００６４】
ステップＳ７５０にて、検査装置は、抵抗器６８の両端の電圧値を算出する。具体的には、検査装置のプロセッサは、ステップＳ７３４においてメモリに格納されたデータ（電圧値Ｖｉｎ９，Ｖｉｎ１０）と、メモリに予め格納されている算式（１）とを用いて、その両端の電圧値を算出する。算出された電圧値は、プロセッサによって、メモリに格納される。
両端の電圧値＝Ｖｉｎ１０−Ｖｉｎ９・・・算式（１）。
【００６５】
ステップＳ７６０にて、検査装置は、抵抗器３２の両端の電圧値を算出する。具体的には、検査装置のプロセッサは、ステップＳ７３４においてメモリに格納されたデータ（電圧値Ｖｉｎ９，Ｖｉｎ１０）と、メモリに予め格納されている算式（２）とを用いて、その両端の電圧値を算出する。算出された電圧値は、プロセッサによって、メモリに格納される。
抵抗器３２の両端の電圧値＝Ｖｉｎ９−Ｖｉｎ１０・・・算式（２）。
【００６６】
ステップＳ７７０にて、検査装置は、ステップＳ７３０にて測定されたオフセット誤差を用いて、電圧値を補正する。たとえば、ＤＶＤレーザダイオード６０が発光している場合には、検査装置は、算式（３）を用いて、抵抗器６８の両端の電圧値を補正する。
補正後の電圧値＝Ｖｉｎ１０−Ｖｉｎ９‐（Ｖｉｎ１０＿ｏｆｓ‐Ｖｉｎ９＿ｏｆｓ）・・・算式（３）。
一方、ＣＤレーザダイオード２０が発光している場合には、検査装置は、算式（４）を用いて、抵抗器３２の両端の電圧値を補正する。
補正後の電圧値＝Ｖｉｎ９−Ｖｉｎ１０‐（Ｖｉｎ９＿ｏｆｓ‐Ｖｉｎ１０＿ｏｆｓ）・・・算式（４）。
【００６７】
ここで、各電圧値は、Ａｄｉｎｔコマンドに応答して得られた結果であり、１６進数で表わされる。ＡＤ（Analogo  to  Digital）変換器を用いた場合、０ｖ〜３．３ｖは、０ｘＦ０００〜０ｘＦＦ８に換算される。したがって、１ＨＥＸあたり、約０．４０３ｍＶとなる。そこで、測定値（ＨＥＸ）をｍＶ（ミリボルト）単位に換算する式は、算式（５）のように表わされる。ここで、測定値（ＨＥＸ）は、算式（３）または算式（４）によって得られた補正後の電圧値である。
測定値（ｍＶ）＝測定値（ＨＥＸ）×０．４０３（ｍＶ）・・・算式（５）。
【００６８】
また、本実施の形態における測定回路１００，１１０は、抵抗器１０２，１０４および抵抗器１１２，１１４によって分圧されている。本実施の形態に係る測定装置では、各抵抗器の抵抗値は、１ｋΩである。また、ポート１０８，１１８の各入力インピーダンスは、規格によって定められており、具体的には、２０ｋΩである。したがって、抵抗器３２，６８の両側の端子電圧は、分圧抵抗によって算式（６）によって得られる分圧比に従って分圧され、ポート１０８，１１８に与えられる。
分圧比＝（（１／（１／２０＋１）＋１）／（１／（１／２０＋１））≒０．４８８（倍）・・・・・・算式（６）。
入力後の電圧は、図３に示されるゲイン設定（ＶＩＮＧＡＩＮの値）によりゲインが与えられる。具体的には、＋３ｄＢ（＝−６ｄＢ＋９ｄＢ）のゲインが与えられる。これにより、トータルゲインは、算式（７）によって求められる。
トータルゲイン＝２０×Ｌｏｇ（０．４８８）＋３≒‐３．２３（ｄＢ）。
【００６９】
したがって、分圧前の測定端子電圧は、算式（７）により求められる。
測定端子電圧＝測定値（ｍＶ）×１０＾（３．２３／２０）
＝算式（５）の結果×１．４５ｍＶ・・・算式（７）。
【００７０】
ステップＳ７７２にて、検査装置は、駆動電流（Ｉｏｐ）を計算し、その結果をディスプレイ装置（図示しない）に表示する。具体的には、検査装置は、以下のようにしてＤＶＤレーザダイオード６０あるいはＣＤレーザダイオード２０が発光した場合における駆動電流を算出する。
（ＤＶＤレーザダイオード６０の発光時）
駆動電流＝測定端子電圧（算式（７）の結果）／抵抗器６８の抵抗値（３．３Ω）
・・・算式（８）。
（ＣＤレーザダイオード２０の発光時）
駆動電流＝測定端子電圧（算式（７）の結果）／抵抗器３２の抵抗値（５．６Ω）
・・・算式（９）。
【００７１】
ステップＳ７７４にて、光ディスク記録再生装置１０は、予め設定された時間（たとえば１秒間）待機する。
【００７２】
ステップＳ７８０にて、光ディスク記録再生装置１０は、事前に与えられた設定に基づいて、その他のモードの処理を実行する。
【００７３】
ステップＳ７９０にて、光ディスク記録再生装置１０は、動作を終了する指示が入力されたか否かを判断する。当該指示が入力された場合には（ステップＳ７９０にてＹＥＳ）、処理は終了する。そうでない場合には（ステップＳ７９０にてＮＯ）、制御はステップＳ７３４に戻される。
【００７４】
ステップＳ７９２にて、光ディスク記録再生装置１０は、動作を終了する指示が入力されたか否かを判断する。当該指示が入力された場合には（ステップＳ７９２にてＹＥＳ）、処理を終了する。そうでない場合には（ステップＳ７９２にてＮＯ）、制御はステップＳ７８０に戻される。
【００７５】
次に、図８〜図１２を参照して、各レーザダイオードの駆動電流の測定結果について説明する。図８〜図１２は、それぞれ、ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０の各駆動電流の測定結果を表わす図である。具体的には、以下の測定条件に基づいて、５台の光ディスク記録再生装置１０を用いた測定が行なわれた。
【００７６】
まず、端子３０における電圧は、抵抗器１０２，１０４によって、２．２Ｖまで降下された。同様に、端子７０において、その電圧は、抵抗器１１２，１１４によって２．２Ｖまで降下された。
【００７７】
さらに、測定回路１００，１１０のそれぞれにおいて、予め設定された内部ゲイン（−６ｄｂ）だけ分圧された信号をポート１０８，１１８にそれぞれ入力し、Ａｄｉｎｔコマンドに基づいて測定が行なわれた。
【００７８】
たとえば、図９を参照して、ＤＶＤレーザダイオード６０に関し、「Ｖｉｎ９」端子に相当するポート１１８における測定値は、ｍＶ換算で「５８１」となった。また、「Ｖｉｎ１０」端子に相当するポートにおける測定値は、ｍＶ換算で「７０８」となった。その結果、電圧降下は、１２７ｍＶ（＝７０８−５８１）となる。
【００７９】
また、ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０のいずれもＯＦＦである場合（発光していない場合）における各測定値は、「７６８」および「７７７」となった。この場合の電圧降下は、−９ｍＶ（＝７６８−７７７）である。この値は、オフセット誤差に相当する。
【００８０】
そこで、予め算出されたトータルゲイン（−３．２３５０８）を用いて、ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＦＦである場合のオフセット誤差を加味した電圧降下を換算すると、１７１ｍＶとなる。一方、実測値は、１６２ｍＶであった。
【００８１】
ここで、換算した電圧降下（１７１ｍＶ）から電流値を算出すると５１．９ｍＡ（＝１７１／３．３）となる。一方、計測した電流値は「４９．１ｍＡ」であった。したがって、計算値と実測値との誤差は、２．８ｍＡ（＝５１．９−４９．１）となる。
【００８２】
このようにして測定を行なった結果、電流値の誤差の最大値は、５．３ｍＡ（図９）となった。この誤差の値は、従来の構成を有する光ディスク記録再生装置については、実用可能な範囲といえる。
【００８３】
図１３〜図１６を参照して、ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０の各々を発光あるは消灯した場合における回路の状態について説明する。図１３は、測定を行なった結果を表わす図である。具体的には、当該結果は、ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０のいずれもＯＦＦにした場合における電圧の測定値（図１４）と、ＤＶＤレーザダイオード６０のみをＯＮにした場合における電圧の測定値（図１５）と、ＣＤレーザダイオード２０のみをＯＮにした場合における電圧の測定値（図１６）とを含む。
【００８４】
図１４は、ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０のいずれも消灯した場合における電圧値の変化を表わす図である。図１５は、ＤＶＤレーザダイオード６０のみを点灯した場合における電圧値の変化を表わす図である。図１６は、ＣＤレーザダイオード２０のみを点灯（ＯＮ）した場合における電圧値の変化を表わす図である。
【００８５】
たとえば、図１４を参照して、端子６９（図１）における電圧の測定値は、グラフ１４１０のように示される。ＤＶＤ駆動部の測定ポイントである端子７０における電圧の測定値は、グラフ１４２０のように示される。ＣＤ駆動部の測定ポイントである端子３０における電圧の測定値は、グラフ１４３０のように示される。
【００８６】
タイミングｔ（１）において、ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＮに切り換えられると、端子７０および端子３０における電圧の測定値は、それぞれ降下する。その後、タイミングｔ（２）において、ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＦＦに切り換えられると、各測定値は、初期状態の値となる。
【００８７】
タイミングｔ（３）において、ＣＤレーザダイオード３０がＯＮに切り換えられると、端子７０および端子３０における電圧の測定値は、それぞれ降下する。ここで、抵抗器３２の抵抗値（たとえば５．６Ω）は、抵抗器6８の抵抗値（３．３Ω）よりも大きいため、端子３０における電圧降下は、端子７０における電圧降下よりも大きくなる。
【００８８】
次に、図１７を参照して、本実施の形態に係る光ディスク記録再生装置１０における測定システム１７００についてさらに説明する。図１７は、測定回路１００、１１０が接続された光ディスク記録再生装置１０における測定に係る構成の概略を表わす図である。測定システム１７００は、電源部１７１０と、抵抗器１７２０，１７４０と、分岐点１７６０，１７７０と、ＰＮＰトランジスタ１７３０，１７５０とを備える。
【００８９】
ＰＮＰトランジスタ１７３０のコレクタは、ＤＶＤレーザダイオードに接続されている。ＰＮＰトランジスタ１７３０のエミッタは、抵抗器１７２０に接続されている。抵抗器１７２０の他方は、電源部１７１０に接続されている。
【００９０】
ＰＮＰトランジスタ１７５０のコレクタは、ＣＤレーザダイオードに接続される。ＰＮＰトランジスタ１７５０のエミッタは、抵抗器１７４０に接続されている。抵抗器１７４０の他方は、電源部１７１０に接続されている。
【００９１】
分岐点１７６０は、ＤＶＤレーザダイオードの駆動電流を測定するための端子に電気的に接続される。分岐点１７７０は、ＣＤレーザダイオードの駆動電流を測定するための端子に電気的に接続される。
【００９２】
なお、図１７に示される構成と、図１に示される構成との対応は、以下のように対応する。したがって、図１７に示される構成の詳細な説明は、繰り返さない。
【００９３】
すなわち、電源部１７１０は、電源部８０に対応する。抵抗器１７２０は、抵抗器６８に対応する。抵抗器１７４０は、抵抗器３２に対応する。分岐点１７６０は、端子７０に対応する。分岐点１７７０は、端子３０に対応する。ＰＮＰトランジスタ１７３０は、ＰＮＰトランジスタ６２に対応する。ＰＮＰトランジスタ１７５０は、ＰＮＰトランジスタ２２に対応する。
【００９４】
測定システム１７００は上記のような構成を有するため、図７に示される手順を用いてレーザダイオード１７３０，１７５０の駆動電流を簡便に測定することができる。
【００９５】
次に、図１８を参照して、光ディスク記録再生装置の従来の測定システム１８００について説明する。図１８は、光ディスク記録再生装置を含む測定システム１８００の構成の概略を表わす図である。測定システム１８００は、電源部１７１０と、抵抗器１７２０，１７４０と、分岐点１７６０，１７７０と、ＰＮＰトランジスタ１７３０，１７５０と、オペアンプ１７８０，１７９０とを備える。
【００９６】
電源部１７１０と、抵抗器１７２０，１７４０と、ＰＮＰトランジスタ１７３０，１７５０との電気的な接続関係は、図１７に示されるものと同一である。したがって、ここではそれらの説明は繰り返さない。
【００９７】
オペアンプ１７８０の入力端子１７８１は、電源部１７１０に電気的に接続されている。オペアンＰ１７８０の入力端子１７８２は、分岐点１７６０に電気的に接続されている。
【００９８】
オペアンプ１７９０の入力端子１７９１は、電源部１７１０に電気的に接続されている。オペアンプ１７９０の入力端子１７９２は、分岐点１７７０に電気的に接続されている。出力端子１７９１は、抵抗器１７４０における抵抗値を測定するための端子に電気的に接続される。
【００９９】
上記のように、従来の測定システム１８００は、光ディスク記録再生装置における電流値を測定するために、オペアンプ１７８０，１７９０を必要としていた。そのため、光ディスク記録再生装置を検査するためのコストが生じていた。しかしながら、本実施の形態に係る検査システム１７００によると、オペアンプを使用することなく電流値を測定することができる。したがって、光ディスク記録再生装置を検査するためのコストを抑制することができる。
【０１００】
次に、図１９〜図３０を参照して、本実施の形態に係る検査装置を接続することによる影響の有無について説明する。図１９〜図２４は、ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図である。このうち、図１９、図２１および図２３は、本実施の形態に係る検査装置が光ディスク記録再生装置１０に適用された場合におけるスペクトルアナライザから出力される波形を表わす。一方、図２０、図２２および図２４は、本実施の形態に係る検査装置が光ディスク記録再生装置１０に適用されない場合におけるスペクトルアナライザから出力される波形を表わす。
【０１０１】
図１９と図２０、図２１と図２２、図２３と図２４とは、それぞれ同一の条件に基づいて測定された結果を表わす。各図を比較すると、本実施の形態に係る検査装置を光ディスク記録再生装置１０に接続しても、接続によって顕著なノイズが発生していないことが分かる。
【０１０２】
図２５〜図３０は、ＣＤレーザダイオード２０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図である。このうち、図２５、図２７および図２９は、本実施の形態に係る検査装置が光ディスク記録再生装置１０に適用された場合におけるスペクトルアナライザから出力される波形を表わす。一方、図２６、図２８および図３０は、本実施の形態に係る検査装置が光ディスク記録再生装置１０に適用されない場合におけるスペクトルアナライザから出力される波形を表わす。
【０１０３】
図２５と図２６、図２７と図２８、図２９と図３０とは、それぞれ同一の条件に基づいて測定された結果を表わす。各図を比較すると、本実施の形態に係る検査装置を光ディスク記録再生装置１０に接続しても、接続によって顕著なノイズが発生していないことが分かる。
【０１０４】
次に、図３１〜図３４を参照して、本実施の形態に係る測定回路１００，１１０の接続による既存の回路への影響について説明する。図３１は、検査回路１００，１１０が接続された光ディスク記録再生装置１０におけるＤＶＤレーザダイオード６０を制御するレーザパワーコントローラ（ＬＰＣ（Laser  Power  Controller））（図示しない）のサーボ特性を表わす図である。図３２は、検査回路１００，１１０が接続されていない光ディスク記録再生装置１０における当該レーザパワーコントローラのサーボ特性を表わす図である。
【０１０５】
図３１および図３２から明らかなように、測定回路１００，１１０が光ディスク記録再生装置１０に接続されても、当該レーザパワーコントローラのサーボ特性の大きな変化が認められないため、測定回路１００，１１０の接続は問題ないといえる。
【０１０６】
図３３は、検査回路１００，１１０が接続されている光ディスク記録再生装置１０におけるＣＤレーザダイオード２０のレーザパワーコントローラ（図示しない）のサーボ特性を表わす図である。図３４は、検査回路１００，１１０が接続されていない光ディスク記録再生装置１０における当該レーザパワーコントローラのサーボ特性を表わす図である。
【０１０７】
図３３および図３４から明らかなように、測定回路１００，１１０が光ディスク記録再生装置１０に接続されても、当該レーザパワーコントローラのサーボ特性の大きな変化が認められないため、測定回路１００，１１０の接続は問題ないといえる。
【０１０８】
上記の測定回路１００，１１０からの出力に基づいて電流値を導出するための検査装置は、周知の構成を有するコンピュータシステムによって実現できる。そこで、図３５を参照して、検査装置として機能するコンピュータシステム３５００について説明する。図３５は、コンピュータシステム３５００のハードウェア構成を表わすブロック図である。
【０１０９】
図３５を参照して、本実施の形態に係るテンプレート選択装置１００の具体的構成の一態様について説明する。図３５は、テンプレート選択装置１００として機能するコンピュータシステム３５００のハードウェア構成を表わすブロック図である。
【０１１０】
コンピュータシステム３５００は、主たるハードウェアとして、プログラムを実行するＣＰＵ３５１０と、コンピュータシステム３５００の使用者による指示の入力を受けるマウス３５２０およびキーボード３５３０と、ＣＰＵ３５１０によるプログラムの実行により生成されたデータ、又はマウス３５２０若しくはキーボード３５３０を介して入力されたデータを揮発的に格納するＲＡＭ３５４０と、データを不揮発的に格納するハードディスク３５５０と、ＣＤ−ＲＯＭ駆動装置３５６０と、モニタ３５８０と、通信ＩＦ（Interface）３５９０とを含む。各ハードウェアは、相互にデータバスによって接続されている。ＣＤ−ＲＯＭ駆動装置３５６０には、ＣＤ−ＲＯＭ３５６２が装着される。
【０１１１】
コンピュータシステム３５００における処理は、各ハードウェアおよびＣＰＵ３５１０により実行されるソフトウェアによって実現される。このようなソフトウェアは、ハードディスク３５５０に予め格納されている場合がある。また、ソフトウェアは、ＣＤ−ＲＯＭ３５６２その他の記録媒体に格納されて、プログラム製品として流通している場合もある。あるいは、ソフトウェアは、いわゆるインターネットに接続されている情報提供事業者によってダウンロード可能なプログラム製品として提供される場合もある。このようなソフトウェアは、ＣＤ−ＲＯＭ駆動装置３５６０その他の読取装置によりその記録媒体から読み取られて、あるいは、通信ＩＦ３５９０を介してダウンロードされた後、ハードディスク３５５０に一旦格納される。そのソフトウェアは、ＣＰＵ３５１０によってハードディスク３５５０から読み出され、ＲＡＭ３５４０に実行可能なプログラムの形式で格納される。ＣＰＵ３５１０は、そのプログラムを実行する。
【０１１２】
図３５に示されるコンピュータシステム３５００を構成する各ハードウェアは、一般的なものである。したがって、本発明の最も本質的な部分は、ＲＡＭ３５４０、ハードディスク３５５０、ＣＤ−ＲＯＭ３５６２その他の記録媒体に格納されたソフトウェア、あるいはネットワークを介してダウンロード可能なソフトウェアであるともいえる。なお、コンピュータシステム３５００の各ハードウェアの動作は周知であるので、詳細な説明は繰り返さない。
【０１１３】
なお、記録媒体としては、ＣＤ−ＲＯＭ、ＦＤ（Flexible  Disk）、ハードディスクに限られず、磁気テープ、カセットテープ、光ディスク（ＭＯ（Magnetic Optical Disc）／ＭＤ（Mini Disc）／ＤＶＤ）、ＩＣ（Integrated Circuit）カード（メモリカードを含む）、光カード、マスクＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ（Electronically Programmable Read-Only Memory）、ＥＥＰＲＯＭ（Electronically Erasable Programmable Read-Only Memory）、フラッシュＲＯＭなどの半導体メモリ等の固定的にプログラムを担持する媒体でもよい。
【０１１４】
ここでいうプログラムとは、ＣＰＵにより直接実行可能なプログラムだけでなく、ソースプログラム形式のプログラム、圧縮処理されたプログラム、暗号化されたプログラム等を含む。
【０１１５】
以上のようにして、本実施の形態に係る測定回路１００，１１０によると、光ディスク記録再生装置１０が有する発光素子の駆動電流を容易に測定することができる。これにより、従来の検査で必要とされていたオペアンプその他の素子が測定に不要となる。その結果、光ディスク記録再生装置１０を検査するためのコストを抑制することができる。
【０１１６】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【産業上の利用可能性】
【０１１７】
本発明は、ＤＶＤ再生装置その他の光ディスク再生装置、ＤＶＤ記録再生装置その他の光ディスク記録再生装置その他の光信号によりデータを記録または再生する装置の検査に利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１１８】
【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク記録再生装置１０の回路構成を表わすブロック図である。
【図２】光ディスク記録再生装置１０が備えるポート１０８，１１８における設定を表わす図である。
【図３】入力ゲインおよびオフセットの設定の一例を表わす図である。
【図４】Ａｄｉｎｔコマンドのパラメータの内容を表わす図である。
【図５】Ａｄｉｎｔコマンドによって使用される変数の内容を表わす図である。
【図６】Ａｄｉｎｔコマンドを用いた測定の結果に使用される変数の説明を表わす図である。
【図７】レーザダイオードを駆動する電流の測定のための手続を表わす図である。
【図８】ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０の各駆動電流の測定結果を表わす図（その１）である。
【図９】ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０の各駆動電流の測定結果を表わす図（その２）である。
【図１０】ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０の各駆動電流の測定結果を表わす図（その３）である。
【図１１】ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０の各駆動電流の測定結果を表わす図（その４）である。
【図１２】ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０の各駆動電流の測定結果を表わす図（その５）である。
【図１３】ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０の各々を発光あるは消灯した場合における回路の測定を行なった結果を表わす図である。
【図１４】ＣＤレーザダイオード２０およびＤＶＤレーザダイオード６０のいずれも消灯した場合における電圧値の変化を表わす図である。
【図１５】ＤＶＤレーザダイオード６０のみを点灯した場合における電圧値の変化を表わす図である。
【図１６】ＣＤレーザダイオード２０のみを点灯（ＯＮ）した場合における電圧値の変化を表わす図である。
【図１７】測定回路１００、１１０が接続された光ディスク記録再生装置１０における測定に係る構成の概略を表わす図である。
【図１８】光ディスク記録再生装置を含む測定システム１８００の構成の概略を表わす図である。
【図１９】ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その１）である。
【図２０】ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その２）である。
【図２１】ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その３）である。
【図２２】ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その４）である。
【図２３】ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その５）である。
【図２４】ＤＶＤレーザダイオード６０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その６）である。
【図２５】ＣＤレーザダイオード２０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その１）である。
【図２６】ＣＤレーザダイオード２０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その２）である。
【図２７】ＣＤレーザダイオード２０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その３）である。
【図２８】ＣＤレーザダイオード２０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その４）である。
【図２９】ＣＤレーザダイオード２０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その５）である。
【図３０】ＣＤレーザダイオード２０がＯＮの状態である場合における波形を表わす図（その６）である。
【図３１】ＤＶＤレーザダイオード６０のレーザパワーコントローラのサーボ特性を表わす図（その１）である。
【図３２】ＤＶＤレーザダイオード６０のレーザパワーコントローラのサーボ特性を表わす図（その２）である。
【図３３】レーザダイオード２０のレーザパワーコントローラのサーボ特性を表わす図（その１）である。
【図３４】レーザダイオード２０のレーザパワーコントローラのサーボ特性を表わす図（その２）である。
【図３５】テンプレート選択装置１００として機能するコンピュータシステム３５００のハードウェア構成を表わすブロック図である。
【符号の説明】
【０１１９】
１０  光ディスク記録再生装置、２０  ＣＤレーザダイオード、３０，３７，６９，７０  端子、６０  ＤＶＤレーザダイオード、２２，６２，１７３０，１７５０  ＰＮＰトランジスタ、２４，５８  ＮＰＮトランジスタ、２６，３２，４４，５６，６４，６６，６８，１０２，１０４，１１２，１１４，１７２０，１７４０  抵抗器、２７，２９，５０，５４，７４  グランド端子、２８，５２，７２  コンデンサ、３５，６７  電解コンデンサ、７６  コイル、８０，１７１０  電源部、１００，１１０  測定回路、  １０８，１１８  ポート、１７００  測定システム、１７８０，１７９０  オペアンプ、１７８１，１７８２，１７９１，１７９２  入力端子、３５００  コンピュータシステム、３５１０  ＣＰＵ、３５２０  マウス、３５３０  キーボード、３５４０  ＲＡＭ、３５５０  ハードディスク、３５６０  光ディスク駆動装置、３５６２  ＣＤ−ＲＯＭ、３５８０  モニタ、３５９０  通信Ｉ／Ｆ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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