(57)【要約】【課題】対物レンズの汚れを確実にクリーニングするとともに、クリーニングを行う適切なタイミングを検出することにより、信頼性に優れた光学ユニットおよび光学ディスク装置を提供することを目的とする。【解決手段】情報を記録するための光ディスクの記録面に光束を集光するための対物レンズ５と、前記対物レンズ表面にクリーニング材料を吹き付けるクリーニング機構６とを備え、前記クリーニング機構は、前記クリーニング材料を貯蔵する貯蔵部１２と、前記貯蔵部に接続され、前記クリーニング材料を前記対物レンズ表面に向けて吹き付ける少なくとも１つの微細孔８を持つノズル部材７とを有することを特徴とする光学ユニット。【選択図】図１
2008117460.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報を記録するための光ディスクの記録面に光束を集光するための対物レンズと、前記対物レンズ表面にクリーニング材料を吹き付けるクリーニング機構とを備え、前記クリーニング機構は、前記クリーニング材料を貯蔵する貯蔵部と、前記貯蔵部に接続され、前記クリーニング材料を前記対物レンズ表面に向けて吹き付ける少なくとも１つの微細孔を持つノズル部材とを有することを特徴とする光学ユニット。
【請求項２】
前記ノズル部材は複数の微細孔を有するとともに、前記クリーニング機構は前記複数の微細孔を開閉駆動し、前記対物レンズに対して前記クリーニング材料を吹き付ける位置・量を制御するノズル駆動部を有することを特徴とする請求項１に記載の光学ユニット。
【請求項３】
前記クリーニング機構は、前記ノズル部材の位置を移動させ、前記クリーニング材料を移動しながら吹き付けるノズル駆動部を有することを特徴とする請求項１に記載の光学ユニット。
【請求項４】
請求項１記載のクリーニング機構を設けた光学ユニットと、前記クリーニング機構を駆動するクリーニング機構駆動回路と、光ピックアップからの再生波形等化、サーボ信号の生成およびウォルブ信号の抽出をするアナログ信号処理回路と、少なくとも前記アナログ信号処理回路および前記光ピックアップに与えるレーザパワー駆動回路の制御をするオプティカルディスクコントローラとＣＰＵとを備え、前記クリーニング機構駆動回路は前記オプティカルディスクコントローラおよび前記ＣＰＵを用いて制御することを特徴とする光学ディスク装置。
【請求項５】
前記アナログ信号処理回路、前記オプティカルディスクコントローラおよび前記ＣＰＵは、エラー発生の確率の高いビットパターン系列を読み書きし、前記ビットパターン系列の期待値と読み出されたビットパターン系列との残差の標準偏差値を指標に、前記対物レンズをクリーニングするタイミングを検知し、クリーニング動作を制御することを特徴とする請求項４に記載の光学ディスク装置。
【請求項６】
前記オプティカルディスクコントローラには内蔵もしくは外付けのメモリーを有し、前記メモリーにはクリーニング動作に関する情報テーブルを持ち、前記情報テーブルには初期に測定した前記ビットパターン系列の期待値と読み出されたビットパターン系列との残差の標準偏差値の閾値を有し、前記光ディスクが挿入された際に前記ビットパターン系列を読み書きし、前記ビットパターン系列の期待値と読み出されたビットパターン系列との残差の標準偏差値を計測値とし、前記標準偏差値の計測値が前記閾値を上回った場合に、前記光学ディスク装置内にある前記光ディスクの取り出し動作を終了した後、前記対物レンズのクリーニング動作を開始することを特徴とする請求項５に記載の光学ディスク装置。
【請求項７】
クリーニング動作が完了した際には、クリーニング完了命令、クリーニング時刻、クリーニング回数のうち少なくとも１つ以上のクリーニング情報を前記メモリーに記録することを特徴とする請求項６に記載の光学ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクを記録媒体として情報を記録または再生する光学ディスク装置に用いる光学ユニットおよびそれを用いた光学ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置や光磁気ディスク装置の光媒体に光ピックアップによってデータを記録、再生する光学ディスク装置では、対物レンズの表面にダストなどが堆積されることがあれば記録パワーの不足や、再生信号のジッターの増加にともなうエラーレートが劣化し、最終的には満足な記録再生動作ができなくなるおそれがあった。
【０００３】
また、ＤＶＤや青色レーザを用いた光学ディスク装置（ＢＤ）などに代表されるように高記録密度化も盛んになっており、わずかな対物レンズの汚れに対する特性マージンも極めて少なくなっているのが現状である。これに対し、従来からのクリーニング方法としては特許文献１に示すような方法が提案されている。
【特許文献１】特開２００５−３２７３５０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
前記の従来の方法では光ディスク媒体の回転スピードを再生時よりも上げて空気流を発生させるとともに、対物レンズを上下左右に振動しながら移動することにより、高速の空気流により対物レンズの表面のダストを吹き飛ばす方法を用いている。しかしながら、光ディスク媒体自体に汚れ等が付着していた場合は、光ディスク媒体の高速回転により、かえって装置内にごみや粉塵を撒き散らすことになり、このごみや粉塵が再度対物レンズに付着するおそれもあり、クリーニング方法としては十分ではなかった。
【０００５】
本発明は、このような課題に対して、確実なクリーニングを行うことができるクリーニング機構を有するとともに、クリーニングを行う適切なタイミングを検出することにより、信頼性に優れた光学ユニットおよび光学ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記従来の課題を解決するために、本発明の光学ユニットは、情報を記録するための光ディスクの記録面に光束を集光するための対物レンズと、前記対物レンズ表面にクリーニング材料を吹き付けるクリーニング機構とを備え、前記クリーニング機構は、前記クリーニング材料を貯蔵する貯蔵部と、前記貯蔵部に接続され、前記クリーニング材料を前記対物レンズ表面に向けて吹き付ける少なくとも１つの微細孔を持つノズル部材とを有するものである。
【０００７】
また、本発明の光学ディスク装置は、前記クリーニング機構を設けた光学ユニットと、前記クリーニング機構を駆動するクリーニング機構駆動回路と、光ピックアップからの再生波形等化、サーボ信号の生成、ウォルブ信号の抽出をするアナログ信号処理回路と、少なくとも前記アナログ信号処理回路および前記光ピックアップに与えるレーザパワー駆動回路の制御をするオプティカルディスクコントローラとＣＰＵとを備え、前記クリーニング機構駆動回路は前記オプティカルディスクコントローラおよび前記ＣＰＵを用いて制御するものである。
【０００８】
さらに、本発明の光学ディスク装置は、前記アナログ信号処理回路、前記オプティカルディスクコントローラおよび前記ＣＰＵにより、エラー発生の確率の高いビットパターン系列を読み書きし、前記ビットパターン系列の期待値と読み出されたビットパターン系列との残差の標準偏差値を指標に、前記対物レンズをクリーニングするタイミングを検知し、クリーニング動作を制御するものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明による光学ユニットによれば、貯蔵部に貯蔵したクリーニング材料を、噴出部である微細孔から対物レンズ表面にピンポイントで直接吹きつけるために、対物レンズ表面だけを集中してクリーニングすることができる。このようにピンポイントで直接吹き付けるために、光ディスクや装置内のごみや粉塵を撒き散らすこともなく、このごみや粉塵が再付着することも防止できる。
【００１０】
また、クリーニング材料は貯蔵部に貯蔵しているために、常に汚れのないクリーニング材料を対物レンズ表面に吹き付けることになり、これらのことから、対物レンズ表面を確実にクリーニングすることができる光学ユニットが実現可能となり、それを用いた光学ディスク装置の信頼性を大いに高めることができる。
【００１１】
また、本発明による光学ディスク装置によれば、エラー発生確率の高いビットパターン系列を読み書きし、ビットパターン系列の期待値（真値）と、読み出されたビットパターン系列との残差の標準偏差値を指標として、対物レンズの汚れを検知し、クリーニング動作を制御することにより、対物レンズの汚れ度合いをより定量的に検知できることになり、適切なクリーニングタイミングにおいてクリーニングを実施できるので、記録再生エラーを未然に回避することが可能となり、この面からも光学ディスク装置の信頼性を一層高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。以下の実施形態の説明は、本質的に例示に過ぎず、本発明、その適用物或いはその用途を制限することを意図するものではない。
【００１３】
図１は、本発明の実施形態に係るクリーニング機構を持つ光学ユニットの概略図である。図１に示すように、半導体レーザ１から発したレーザ光はコリメータレンズ２を通して平行光に変換した後、反射板３で反射させ、波長板４を介してレンズ開口数（ＮＡ）の高い対物レンズ５を通して光ディスク上の記録層にレーザ光の光束を集光し、焦点を合わせることで記録再生動作を行うものである（光ディスクは図１では図示せず、後の図３に示す）。
【００１４】
クリーニング機構６と対物レンズ５との離間距離は、光ディスク下面の記録面と対物レンズ５との作動距離であるワーキング距離（ワーキングディスタンス：ＷＤ）とほぼ同じ離間距離とし、クリーニング機構６を光ディスクの位置とほぼ同じ高さに位置させるものである。
【００１５】
クリーニング機構６は細いノズル部材７を有し、そのノズル部材７には微細孔８が複数個設けてある。またノズル部材７の内部には、さらに細い内ノズル部材９が回転できる微少な隙間を持って設けられており、その内ノズル部材９はノズル回転方向に位相をずらした位置に微細孔１０が設けられている。このように、ノズル部材７と内ノズル部材９によりクリーニング機構６は２重構造となっている。
【００１６】
ノズル部材７と内ノズル部材９には、ノズル駆動部１１を連結して設ける。このノズル駆動部１１により、ノズル部材７と内ノズル部材９を、水平矢印で示すように移動させて、対物レンズ５上のほぼ中央部の、所定のクリーニング位置にもっていく。また、ノズル駆動部１１は内ノズル部材９を回転矢印で示すように回転させて微細孔８と微細孔１０の対向位置を調整する。
【００１７】
ノズル駆動部１１には貯蔵部１２を連結して設ける。この貯蔵部１２には微細孔８から対物レンズ５に向かって吹き付けるための空気、あるいは不活性ガス、揮発性の高いレンズ洗浄剤、またはそれらが混合された材料によるクリーニング材料を充填、貯蔵保存される。クリーニング材料はこのように気体や揮発性の高い材料によって形成している。
【００１８】
ノズル駆動部１１はクリーニング材料の噴出開始と噴出停止の駆動も行う。ノズル部材７、内ノズル部材９、ノズル駆動部１１、貯蔵部１２は連結して接続されている。
【００１９】
次に、クリーニング機構６の動作について説明する。クリーニング機構６は微細孔８の列のほぼ中央部を対物レンズ５の対向する正面位置に位置決めする。そして、クリーニング材料を複数の微細孔８から一斉に吹き付けられるのではなく、クリーニング機構駆動回路、オプティカルディスクコントローラ（図１では図示せず、後の図３に示す）によって制御され、決められた微細孔８のみから吹き出す機構としている。
【００２０】
決められた微細孔８からクリーニング材料を吹きだす動作としては、２重構造となったノズル部材７の微細孔８と、ノズル部材７の内側に設けられた内ノズル部材９の微細孔１０が、ノズル駆動部１１により回転し、これにより微細孔８と、微細孔１０が重なって開口した微細孔８のみから噴射され、その他の微細孔８は閉じられることにより実現している。図１ではノズル部材７の先端に位置する微細孔８が開口している状態を示している。
【００２１】
このように、内ノズル部材９の回転駆動によって、微細孔８と微細孔１０が重なったところの微細孔がクリーニング材料を噴出する噴出部となり、この噴出部からクリーニング材料を、破線矢印に示すように対物レンズ表面１３に吹き付けることにより、対物レンズ表面１３をクリーニングするものである。ノズル駆動部１１は貯蔵部１２内のクリーニング材料の送出開始と送出停止、および送出量の制御動作も行う。
【００２２】
たとえば、対物レンズ５の左から右に向かって、順次クリーニングしていく方法とか、対物レンズ５の中心部から先にクリーニングした後、対物レンズ５の端部をクリーニングする方法のように、対物レンズ表面１３の汚れの具合に応じてクリーニング材料を吹き付ける位置、吹き付け順序を変化させるとともに、クリーニング材料の吹き付け量などの制御を行うものである。
【００２３】
また、クリーニング機構から吹き付けるクリーニング材料も、空気、もしくは不活性気体、あるいは、揮発性の高いレンズ洗浄剤のように、貯蔵部１２に貯蔵しておくクリーニング材料を必要に応じて変えることにより、汚れに応じて最も適切なクリーニング材料を選択することにより、より適切なクリーニングを実施することができる。
【００２４】
このように従来の空気流を用いたクリーニング方法と違い、過剰な空気流によって装置内に堆積していたごみや粉塵などが新たに舞いあがり、対物レンズに再付着することを防ぐことができる。また、不要な場所までクリーニングすることなく、必要な部分だけをピンポイントに、適切にクリーニングすることができ、その効果は大きい。
【００２５】
また、クリーニング材料は空気、もしくは不活性気体、あるいは、揮発性の高いレンズ洗浄剤のように、気体や揮発性の高い材料を用いることにより、対物レンズをクリーニングした後、揮発することにより他の構成部品に付着することを防止することができる。
【００２６】
図１では、２重構造のノズル部材７と内ノズル部材９により、クリーニング材料を噴出する微細孔８を開閉駆動して、クリーニング材料を吹き付ける位置・量を制御するノズル駆動部１１を示したが、クリーニング機構６の機構はこれに限定するものではなく、噴出位置・噴出量を変化することができる機構であれば、同様のクリーニング効果を得られるものである。
【００２７】
また、ノズル部材７の微細孔８の数を複数にせず、少なくとも１つとして、この１つの微細孔から十分な量のクリーニング材料を、対物レンズ表面全面に吹き付けることによっても、従来のクリーニングに比べて、より効果的なクリーニングが実現できる。
【００２８】
図２は、本発明の他の実施形態に係るクリーニング機構を持つ光学ユニットの概略図である。図１に示す実施形態と同じ部分については同じ符号を付し、図１の実施形態との相違点についてのみ説明する。
【００２９】
図２に示すように、クリーニング機構２０は細いノズル部材２１の先端部に微細孔２２を設けた構成である。ノズル部材２１には、これを所定の位置に移動するとともに、クリーニング材料の噴出を制御するためのノズル駆動部２３が設けられており、ノズル駆動部２３によりノズル部材２１を実線矢印で示すように水平方向に移動させるものである。さらに、微細孔２２から対物レンズ５に吹き付けるためのクリーニング材料を充填、貯蔵保存される貯蔵部２４をもった構成である。
【００３０】
次にクリーニング機構部２０の動作について説明する。クリーニング機構駆動回路、オプティカルディスクコントローラ（図２では図示せず、後の図３に示す）によってノズル駆動部２３を駆動し、ノズル駆動部２３によりクリーニング機構２０を移動させ、クリーニング材料の噴出部である微細孔２２を対物レンズ５の対物レンズ表面１３の近傍に移動する。
【００３１】
ノズル駆動部２３は微細孔２２の対物レンズ表面１３に対する位置、移動方向、移動速度や、微細孔２２から対物レンズ５に吹き付けるクリーニング材料の吹き付けのタイミング、吹き付け量を制御するものである。このような構成により、対物レンズ表面１３のクリーニングが必要な部分のみ、集中してクリーニング材料を吹き付けることができ、対物レンズの汚れを無駄なく落とし、効率の良いクリーニングを行うことができる。
【００３２】
このような図２に示すクリーニング機構部２０によると、ノズル部材２１は１重構造であるので、２重構造に比べて構造が簡素にでき、低コストに構成できるので経済的である。
【００３３】
次に、本発明の実施形態に係るクリーニング機構を持つ光学ディスク装置について説明する。図３は、本発明の実施形態に係るクリーニング機構を持つ光学ディスク装置のブロック図である。図３に示すように、本発明の光学ディスク装置は、情報を記録するための光ディスク３０の記録面に光束を集光するための対物レンズが搭載された光ピックアップ３１からアナログ信号が出力される。
【００３４】
この光ピックアップ３１からのアナログ信号を基に、アナログ信号処理回路（ＦＥＰ）３２ではサーボ信号の生成、再生信号の波形等化、ウォルブ信号の抽出などの働きをする。これらの働きにより、アナログ信号処理回路（ＦＥＰ）３２のそれぞれの出力は、デジタル信号としてオプティカルディスクコントローラ（ＯＤＣ）３３に入力される。
【００３５】
アナログ信号処理回路３２からのデジタル信号を受け、オプティカルディスクコントローラ（ＯＤＣ）３３では、サーボ信号処理回路、リードチャネル回路、変復調回路、エラー訂正回路、クロックを生成するＰＬＬ回路、また記録パルスを生成する記録ストラテジ回路、メモリー回路やこれらの制御を行うマイコン回路など一連のデジタル回路がひとつにパッケージされて動作し、光学ディスク装置を制御する。
【００３６】
また、光学ディスク装置を制御するためのＣＰＵ３４と、制御等のプログラムが収められたメモリー３５を構成している。またスピンドルモーター、光学ユニットを動作するためのドライバー３６を有している。オプティカルディスクコントローラ（ＯＤＣ）３３の制御信号は、レーザパワー駆動回路３７に入力されて、光ピックアップ３１の半導体レーザパワーを制御する。
【００３７】
本発明の光学ディスク装置には、対物レンズをクリーニングするクリーニング機構３８が設けられ、そのクリーニング機構３８を機械的に駆動するためのクリーニング機構駆動回路３９と結合されている。そして、このクリーニング機構駆動回路３９は、対物レンズのクリーニング動作に関する一連の動作を、オプティカルディスクコントローラ（ＯＤＣ）３３およびＣＰＵ３４でもって制御される構成となっている。
【００３８】
クリーニング機構３８は、通常は光ピックアップ３１や光ディスク３０の回転に支障のない部分に退避されており、対物レンズのクリーニングを行う場合に、必要に応じてクリーニング機構３８を所定の位置に移動するものである。
【００３９】
また、本発明の光学ディスク装置はパーシャルレスポンス方式を用いており、パーシャルレスポンスのクラスとしては、ＰＲ（１、２，２，１）を用いている。この場合、エラー発生の確率が最も高くなるビットパターンはユークリッド距離が１０のパターン、すなわち、ゼロクロス点を挟んだ立ち上がりと、立下りエッジに相当するビットパターン系列である。
【００４０】
このエラー発生確率が最も高いビットパターン系列を、選択的に読み書きした際のビットパターン系列の期待値（真値）と、読み出されたビットパターン系列の残差の標準偏差値（Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ  Ｓｅｑｕｅｎｃｅ  Ｅｒｒｏｒ．以後、ＭＬＳＥと記す）を指標として、対物レンズの汚れ度合いを検知するものである。
【００４１】
次に、本発明の実施形態に係る光学ディスク装置のレンズクリーニング動作を説明する。図４は、本発明の実施形態に係る光学ディスク装置のレンズクリーニング動作を示すフローチャートである。
【００４２】
光学ディスク装置を使用する前の初期の検査値として、このエラー発生確率が、最も高いビットパターン系列を選択的に読み書きした際のＭＬＳＥが測定される（ステップＳ４１）。初期の検査値としては、光学ディスク装置を製造したときの測定値、あるいは出荷検査のときの測定値などのように、対物レンズがまだ汚れていない、使い始め初期の時点でのＭＬＳＥ測定値とする。
【００４３】
この初期のＭＬＳＥを基に、個々の光学ディスク装置において、クリーニング動作を行うか行わないかの汚れ具合を判定するための値である、ＭＬＳＥの閾値を決定し（ステップＳ４２）、その閾値をメモリーのクリーニング動作に関する情報テーブルに保存する（ステップＳ４９）。
【００４４】
次に、光学ディスク装置に光ディスクが挿入されると、初めのデータ読み取りのタイミングで、このエラー発生確率が、最も高いビットパターン系列を選択的に読み書きし、ＭＬＳＥを計測する（ステップＳ４３）。次に、前ステップで計測された光ディスク挿入時のＭＬＳＥ計測値を、同じくメモリーのクリーニング動作に関する情報テーブルに保存する（ステップＳ５０）。
【００４５】
次のステップでは、予めメモリーに格納されたＭＬＳＥの閾値と、光ディスク挿入時に計測されたＭＬＳＥ計測値と比較する（ステップＳ４４）。このとき、ＭＬＳＥ計測値が予め設けられたＭＬＳＥの閾値より小さければ、対物レンズは汚れていない（Ｙｅｓ）と判断し、クリーニング動作は行わず完了する（ステップＳ４５）。
【００４６】
また、反対にＭＬＳＥ計測値が予め設けられたＭＬＳＥの閾値より大きければ、対物レンズが汚れている可能性あり（Ｎｏ）と判断し、クリーニング動作の準備に入る（ステップＳ４６）。ステップＳ４６のクリーニング動作の準備には、光学ディスク装置より光ディスクを取り出すイジェクト動作も含むものである。
【００４７】
次に、ステップＳ４７では、光ピックアップ３１とクリーニング機構部３８を、所定の位置にそれぞれのドライバー３６、クリーニング機構駆動回路３９で駆動して対物レンズ表面とクリーニング材料の噴出部である微細孔との位置決めを行う。その後、ノズル部材の微細孔からクリーニング材料をレンズ表面に吹き付けるクリーニング動作を行う（ステップＳ４７）。１回のクリーニング動作で吹き付ける時間は、数秒から１０秒程度であることが望ましい。
【００４８】
クリーニングが完了すると、クリーニング完了命令、クリーニング完了時刻、クリーニング回数等のクリーニング情報がメモリーの情報テーブルに保存される（ステップＳ５１）。
【００４９】
本発明の光学ディスク装置は、前記したようにエラー発生確率が、もっとも高いビットパターン系列を選択的に読み書きした際のビットパターン系列の期待値（真値）と、読み出されたビットパターン系列の残差の標準偏差値（ＭＬＳＥ）を指標として、汚れ度合いを検知するものであり、従来から汚れの検知手段として用いられてきた信号ジッター量や光センサー検出量の変化による汚れ度合いの検知に比べて、実際のビットエラーレートに最も相関が高い検知が行えるものである。したがってこのＭＬＳＥを指標に対物レンズの汚れ具合を検知する検知手段としては、対物レンズのクリーニングに最も有効なものとなる。
【００５０】
そして、クリーニング検知手段としてＭＬＳＥを指標としているので、汚れに関するより定量的な判断が可能となるため、対物レンズの汚れに纏わる致命的な記録再生エラーが発生するといった最悪事態を未然に回避することが可能となり、エラーのない信頼性の高い光学ディスク装置を実現することができる。
【００５１】
また、ＭＬＳＥの計測にはレンズクリーニング検知手段として特別な演算回路を用意する必要はなく、記録のストラテジ学習、フォーカス位置学習、球面収差学習などに使用する演算回路を流用することができる。このため装置として特別なコストアップにはならないものである。
【００５２】
また、レンズクリーニングをユーザーの判断により手動で行う場合や、汚れ検知を実際のビットエラーレートに相関の低い検知により自動で行う場合は、過剰なクリーニングになって対物レンズの反射防止のコート膜などに傷を入れたりすることもあり、かえって逆効果となる場合も多かったが、本発明によればこのように過剰にクリーニングを行うことによる障害も解消できる。
【００５３】
さらに、クリーニング回数を記録しログをとることができるので、対物レンズが汚れてくるタイミング（時間）がある程度予測可能となることや、所定の回数連続してクリーニング動作をしても、計測されるＭＬＳＥが閾値を超える場合は、ディスク面側の汚れと判断でき、ディスプレイ等に警告サインを出すといったアプリケーションなどにも応用できるものである。
【産業上の利用可能性】
【００５４】
本発明に係る光学ユニットおよび光学ディスク装置は適切なクリーニング機構と、適切なクリーニングタイミングを有し、信頼性の向上が可能になるので、光ディスクを記録媒体として情報を記録または再生する光学ディスク装置に用いる光学ユニットおよびそれを用いた光学ディスク装置等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明の実施形態に係るクリーニング機構を持つ光学ユニットの概略図
【図２】本発明の他の実施形態に係るクリーニング機構を持つ光学ユニットの概略図
【図３】本発明の実施形態に係るクリーニング機構を持つ光学ディスク装置のブロック図
【図４】本発明の実施形態に係る光学ディスク装置のレンズクリーニング動作を示すフローチャート
【符号の説明】
【００５６】
５  対物レンズ
６、２０、３８  クリーニング機構
７、２１  ノズル部材
８、１０、２２  微細孔
９  内ノズル部材
１１、２３  ノズル駆動部
１２、２４  貯蔵部
１３  対物レンズ表面
３０  光ディスク
３１  光ピックアップ
３２  アナログ信号処理回路
３３  オプティカルディスクコントローラ
３４  ＣＰＵ
３５  メモリー
３７  レーザパワー駆動回路
３９  クリーニング機構駆動回路
【図４】
2008117460.tif 000003
【図１】
2008117460.tif 000004
【図２】
2008117460.tif 000005
【図３】
2008117460.tif 000006