(57)【要約】【課題】必要なデータを記録することができ、かつ、容量の小さいメモリを利用することが可能なデータ記録装置を提供する。【解決手段】データ記録装置は、破壊読出し方式でデータの読み出しを行う一次記憶装置１０と、時系列に受け取った複数の測定データを一次記憶装置に書き込む処理を行う書き込み制御部３０と、測定データを保存するための二次記憶装置２０と、測定データの値が所定の条件を満たしているか否かを判断する判断部４０と、所与の測定データＤ１の値が所定の条件を満たしている場合に、所与の測定データよりも前に取得されて一次記憶装置に書き込まれている測定データのうち所与の測定データの直近に取得された１個又は複数個の測定データＤ２を、複数回に分けて二次記憶装置に転送する処理を行うデータ転送処理部５０と、を含む。【選択図】図１
2008116351.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
破壊読出し方式でデータの読み出しが行われる一次記憶装置と、
時系列に受け取った複数の測定データを前記一次記憶装置に書き込む処理を行う書き込み制御部と、
前記測定データを保存するための二次記憶装置と、
前記測定データの値が所定の条件を満たしているか否かを判断する判断部と、
所与の測定データの値が前記所定の条件を満たしている場合に、前記所与の測定データよりも前に取得されて前記一次記憶装置に書き込まれている測定データのうち前記所与の測定データの直近に取得された１個又は複数個の測定データを、２回以上に分けて前記二次記憶装置に転送する処理を行うデータ転送処理部と、
を含むデータ記録装置。
【請求項２】
請求項１記載のデータ記録装置において、
前記データ転送処理部は、
所与の測定データの値が前記所定の条件を満たしている場合に、前記所与の測定データよりも後に測定されて前記一次記憶装置に書き込まれた測定データのうち前記所与の測定データの直近に取得された１個又は複数個の測定データを前記二次記憶装置に転送するデータ記録装置。
【請求項３】
請求項１記載のデータ記録装置において、
前記書き込み制御部は、
所与の測定データの値が前記所定の条件を満たしている場合に、前記所与の測定データよりも後に受け取った所定個数の測定データ、又は、前記所与の測定データの取得後の所定期間内に受け取った１個又は複数個の測定データを、前記二次記憶装置に書き込むデータ記録装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載のデータ記録装置において、
前記判断部は、
前記所定の条件として予め設定されている条件を用いて判断を行うデータ記録装置。
【請求項５】
請求項１から請求項３のいずれかに記載のデータ記録装置において、
前記判断部は、
前記測定データに基づいて前記所定の条件を設定し、判断を行うデータ記録装置。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれかに記載のデータ記録装置において、
前記所定の条件を満たす測定データが連続して取得されたことを検出し、検出された場合に、その旨を通知する通知信号を生成する処理を行う通知部をさらに含むデータ記録装置。
【請求項７】
請求項１から請求項６のいずれかに記載のデータ記録装置において、
前記書き込み制御部は、
前記測定データが所定の書き込み停止条件を満たしているか否か判断し、前記所与の書き込み停止条件を満たしている場合に、前記一次記憶装置へのデータの書き込みを停止させる制御を行う書き込み停止処理部を含むデータ記録装置。
【請求項８】
請求項１から請求項７のいずれかに記載のデータ記録装置において、
前記データ転送処理部は、
所与の測定データが所定の取得条件を満たしているか否か判定し、満たしている場合には、前記所与の測定データよりも前に取得されて前記一次記憶装置に書き込まれている測定データのうち前記所与の測定データの直近に取得された１個又は複数個の測定データを、２回以上に分けて前記二次記憶装置に転送するデータ記録装置。
【請求項９】
請求項１から請求項８のいずれかに記載のデータ記録装置において、
前記一次記憶装置及び前記二次記憶装置の少なくとも一方から前記測定データを読み出すデータ読み出し部をさらに含むデータ記録装置。
【請求項１０】
請求項１から請求項９のいずれかに記載のデータ記録装置において、
前記一次記憶装置は、強誘電体メモリであるデータ記録装置。
【請求項１１】
請求項１から請求項１０のいずれかに記載のデータ記録装置において、
前記二次記憶装置は、不揮発性メモリであるデータ記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
温度や、振動、明るさ、音、画像などのデータを連続的に取得して記録するデータ記録装置（データログ装置）が知られており、例えば食品の温度管理や、ドライブレコーダやフライトレコーダ、ボイスレコーダ、地震計などに利用されている。
【０００３】
これらのデータ記録装置では、測定されたデータの値が所定の範囲を超えた場合、測定対象に対して何らかのイベントが発生したと判断することができる。そして、当該データ以降に取得されたデータを解析処理すれば、測定対象の、イベント発生後の様子を知ることができる。また、当該データよりも前の一定期間内に取得されたデータを解析処理すれば、測定対象の、イベント発生前の様子を知ることができる。
【特許文献１】特開２００５−２５９０４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
これらのデータ記録装置において、データを測定（記録）する時間間隔を短くすれば、データの変化を正確に記録することができる。しかし、データの測定時間間隔が短くなればデータの数が増えるため、これを記録するためには容量の大きなメモリが必要になる。
【０００５】
これに対して、データを測定する時間間隔を長くすれば、データの数が減るため、容量の小さいメモリを利用することができる。しかし、データの測定間隔が長くなれば、細かいデータの変化を記録することが難しくなる。
【０００６】
また、イベント発生の様子を知るためには、イベント発生の前後のデータの変化を解析することが好ましいが、イベント発生の前後の測定データを記録するためには、容量の大きなメモリが必要になる。
【０００７】
本発明の目的は、必要なデータを記録することができ、かつ、容量の小さいメモリを利用することが可能なデータ記録装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（１）本発明に係るデータ記録装置は、
破壊読出し方式でデータの読み出しが行われる一次記憶装置と、
時系列に受け取った複数の測定データを前記一次記憶装置に書き込む処理を行う書き込み制御部と、
前記測定データを保存するための二次記憶装置と、
前記測定データの値が所定の条件を満たしているか否かを判断する判断部と、
所与の測定データの値が前記所定の条件を満たしている場合に、前記所与の測定データよりも前に取得されて前記一次記憶装置に書き込まれている測定データのうち前記所与の測定データの直近に取得された１個又は複数個の測定データを、２回以上に分けて前記二次記憶装置に転送する処理を行うデータ転送処理部と、
を含む。
【０００９】
本発明によると、測定データの値が所定の条件を満たしているか否かを判断し、所定の条件を満たしている場合には、当該データの前に取得された測定データを、一次記憶装置から二次記憶装置に転送する処理を行う。ここで、所定の条件を満たすデータとは、測定対象に異常が発生していることを示すデータである。すなわち、本発明によると、測定対象に異常が発生していることを示すデータが取得されると、当該データの前に取得された測定データを、一次記憶装置から二次記憶装置に転送して保存する。そのため、本発明によると、測定対象に発生した異常の予兆を知らせるデータを保存することができる。
【００１０】
また、本発明では、一次記憶装置（書き込み用のメモリとしての破壊読出しメモリ）と、二次記憶装置（保存用のメモリとしての不揮発性メモリ）を利用することから、特に一次記憶装置として容量の小さいメモリを利用した場合でも、必要なデータを保存することが可能になる。
【００１１】
また、本発明では、データ転送処理部は、一次記憶装置に書き込まれている１個又は複数個の測定データを、２回以上に分けて転送する。データ転送処理部は、例えば、Ｍ個（Ｍは２以上の整数）の測定データを、１データずつＭ回に分けて転送してもよい。これによると、データ転送時に不具合が発生した場合でも、損傷するデータを最小限にすることができる。なお、このデータ記録装置で１データずつデータを転送する場合、新しいデータの書き込みタイミングに合わせて転送処理を行ってもよい。
【００１２】
あるいは、データ転送処理部は、一次記憶装置に書き込まれている１つの測定データのみを、二次記憶装置に転送してもよい。このとき、当該１つの測定データは、当該測定データよりも小さいデータ単位に分割されて、複数回の転送処理によって転送される。
【００１３】
（２）このデータ記録装置において、
前記データ転送処理部は、
所与の測定データの値が前記所定の条件を満たしている場合に、前記所与の測定データよりも後に測定されて前記一次記憶装置に書き込まれた測定データのうち前記所与の測定データの直近に取得された１個又は複数個の測定データを前記二次記憶装置に転送してもよい。
【００１４】
これにより、イベント発生後の測定データを保存することが可能になる。
【００１５】
なお、この発明では、データ転送処理部は、Ｎ個（Ｎは２以上の整数）の測定データを、複数回（例えばＮ回）に分けて転送してもよい。あるいは、１個の測定データを、複数回に分けて転送してもよい。
【００１６】
（３）このデータ記録装置において、
前記書き込み制御部は、
所与の測定データの値が前記所定の条件を満たしている場合に、前記所与の測定データよりも後に受け取った所定個数の測定データ、又は、前記所与の測定データの取得後の所定期間内に受け取った１個又は複数個の測定データを、前記二次記憶装置に書き込んでもよい。
【００１７】
これにより、イベント発生後の測定データを保存することが可能になる。
【００１８】
（４）このデータ記録装置において、
前記判断部は、
前記所定の条件として予め設定されている条件を用いて判断を行ってもよい。
【００１９】
（５）このデータ記録装置において、
前記判断部は、
前記測定データに基づいて前記所定の条件を設定し、判断を行ってもよい。
【００２０】
（６）このデータ記録装置において、
前記所定の条件を満たす測定データが連続して取得されたことを検出し、検出された場合に、その旨を通知する通知信号を生成する処理を行う通知部をさらに含んでもよい。
【００２１】
なお、通知信号とは、ユーザとって知覚可能なアラームを発生させるアラーム発生装置を制御する信号であってもよい。これによると、ユーザは、アラーム発生装置からのアラームに基づいて、データ記録装置の異常を知覚することができる。ここで、アラーム発生装置とは、スピーカなどのアラーム音を発生させる装置であってもよい。あるいは、アラーム発生装置は、ＬＥＤなどの光を発生させる装置（素子）であってもよい。あるいは、アラーム発生装置は、アラーム画像を表示させるディスプレーであってもよい。
【００２２】
（７）このデータ記録装置において、
前記書き込み制御部は、
前記測定データが所定の書き込み停止条件を満たしているか否か判断し、前記所与の書き込み停止条件を満たしている場合に、前記一次記憶装置へのデータの書き込みを停止させる制御を行う書き込み停止処理部を含んでもよい。
【００２３】
これにより、データの上書きや、誤動作を防ぐことができるため、既に保存されているデータの消失を防止することができる。
【００２４】
（８）このデータ記録装置において、
前記データ転送処理部は、
所与の測定データが所定の取得条件を満たしているか否か判定し、満たしている場合には、前記所与の測定データよりも前に取得されて前記一次記憶装置に書き込まれている測定データのうち前記所与の測定データの直近に取得された１個又は複数個の測定データを、２回以上に分けて前記二次記憶装置に転送してもよい。
【００２５】
ここで、所定の取得条件とは、測定データの値とは無関係な、測定データの取得タイミングなどによって規定される条件である。本発明では、例えば、Ｋ個（ＫはＭよりも大きい整数）の測定データが取得される度に、Ｍ個の測定データを一次記憶装置から二次記憶装置に転送してもよい。なお、本発明の変形例として、所定の取得条件を満たす測定データの後に取得される１個又は複数個の測定データを、二次記憶装置に保存してもよい。
【００２６】
（９）このデータ記録装置において、
前記一次記憶装置及び前記二次記憶装置の少なくとも一方から前記測定データを読み出すデータ読み出し部をさらに含んでもよい。
【００２７】
（１０）このデータ記録装置において、
前記一次記憶装置は、強誘電体メモリであってもよい。
【００２８】
強誘電体メモリは、一般的に、書き換え可能な回数が多く、かつ、書き換えに要する時間が短いことが知られている。そのため、第一次の記憶装置（破壊読出しメモリ）として強誘電体メモリを利用することで、書き換え回数の制限、及び、データの取得時間間隔の制限が小さいデータ記録装置を提供することができる。
【００２９】
（１１）このデータ記録装置において、
前記二次記憶装置は、不揮発性メモリであってもよい。
【００３０】
これによると、記憶装置への電力の供給が停止した場合でも、既に保存されているデータの消失を防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下、本発明を適用した実施の形態について図面を参照して説明する。ただし、本発明は以下の実施の形態に限定されるものではない。また、本発明は、以下の内容を自由に組み合わせたものを含むものとする。
【００３２】
図１（Ａ）〜図５は、本発明を適用した実施の形態に係るデータ記録装置（データログ装置）について説明するための図である。なお、本実施の形態では、データ記録装置１は、時系列に取得された複数の測定データをメモリに書き込む装置として機能する。
【００３３】
（１）データ記録装置の構成
以下、図１（Ａ）及び図１（Ｂ）を参照して、本発明を適用した実施の形態に係るデータ記録装置１について説明する。ここで、図１（Ａ）はデータ記録装置１のブロック図であり、図１（Ｂ）は一次記憶装置１０からデータが転送される様子を説明するための模式図である。
【００３４】
本実施の形態に係るデータ記録装置１は、一次記憶装置１０を含む。一次記憶装置１０は、破壊読出し方式でデータの読み出しが行われるメモリである。すなわち、データ記録装置１によると、一次記憶装置１０からデータを読み出す処理が行われると、読み出されたデータを一次記憶装置１０から再度読み出すことができなくなる。一次記憶装置１０は、例えば、強誘電体メモリ（ＦｅＲＡＭ）であってもよい。ここで、強誘電体メモリとは、記憶素子に強誘電体物質を含んだメモリである。強誘電体メモリは、強誘電体物質を有するキャパシタ（強誘電体キャパシタ）を含む構造をなしていてもよい。なお、強誘電体キャパシタは、対向電極と、当該対向電極の間に設けられた強誘電体物質とを含む構造をなしていてもよい。本発明に適用可能な強誘電体物質は特に限定されるものではないが、例えばＰｂ、Ｚｒ、Ｔｉを構成元素として含む酸化物からなるＰＺＴ系強誘電体材料であってもよい。あるいは、強誘電体物質として、ＳＢＴ系、ＢＳＴ系、ＢＩＴ系、ＢＬＴ系などのいずれかの材料を適用してもよい。
【００３５】
本実施の形態に係るデータ記録装置１は、二次記憶装置２０を含む。二次記憶装置２０は、測定データを保存するためのメモリである。二次記憶装置２０は、不揮発性メモリであってもよい。なお、不揮発性メモリとは、電源を切っても記憶した情報が消失しない記憶装置、すなわち、情報を保持するためのエネルギーを外部から供給する必要のない記憶装置である。不揮発性メモリを利用すれば、電源の供給がストップした場合でも、取得した情報を保持することができる。例えば、磁気ヒステリシスを応用したメモリなどが、不揮発性メモリに相当する。なお、強誘電体メモリも、その特性から、不揮発性メモリの一種ととらえることができる。
【００３６】
本実施の形態では、一次記憶装置１０と二次記憶装置２０とをあわせて、記憶部と称してもよい。あるいは、本実施の形態では、一次記憶装置１０及び二次記憶装置２０、並びに、後述する判断部４０、データ転送処理部５０をあわせて、データ記憶装置と称してもよい。
【００３７】
本実施の形態に係るデータ記録装置１は、書き込み制御部３０を含む。書き込み制御部３０は、測定データを記憶部へ書き込む動作を制御する。書き込み制御部３０は、一次記憶装置１０にデータを書き込む動作を行う。書き込み制御部３０は、二次記憶装置２０にデータを書き込む動作を行うように構成されていてもよい。
【００３８】
書き込み制御部３０は、アドレス指定部３２を含む。アドレス指定部３２は、記憶部のアドレスを指定する。そして、書き込み制御部３０は、アドレス指定部３２が指定するアドレスにデータを書き込む。アドレス指定部３２は、測定データの書き込み先として、一次記憶装置１０のアドレスのみを指定するように構成されていてもよい。あるいは、アドレス指定部３２は、測定データの書き込み先として、二次記憶装置２０のアドレスを指定することが可能な構成をなしていてもよい。
【００３９】
書き込み制御部３０（アドレス指定部３２）は、一次記憶装置１０のアドレスを特定し、特定されたアドレスに測定データを書き込み、次いで、当該アドレスに例えば測定データのデータサイズを加えて（インクリメントして）新しいアドレスを生成し、当該新しいアドレスに新しく取得された測定データを書き込んでもよい。これらの動作を繰り返すことで、一次記憶装置１０に測定データを書き込むことができる。
【００４０】
書き込み制御部３０は、書き込み停止処理部３４を含んでいてもよい。書き込み停止処理部３４は、記憶部（一次記憶装置１０及び二次記憶装置２０）への測定データの書き込みを停止させる。書き込み停止処理部３４は、測定データが所定の書き込み停止条件を満たしているか否かを判断し、当該書き込み停止条件を満たしている場合に、記憶部へのデータの書き込みを停止させる。書き込み停止処理部３４は、書き込み停止条件を満たしているデータの取得後、直ちに書き込み動作を停止してもよい。あるいは、書き込み停止処理部３４は、書き込み停止条件を満たしているデータの取得後、所定の時間が経過した後に、データの書き込みを停止してもよい。
【００４１】
なお、書き込み制御部３０は、測定データの値が所定の条件を満たしているか否かを判定する機能を有していてもよい。ここで、「所定の条件」とは、測定データがイベントの発生を示すデータであるか否かを判断するための上限値及び下限値の少なくとも一方を規定する閾値である。本実施の形態では、測定データの値が所定の条件を満たす場合に、測定対象に異常（イベント）が発生していると判断する。逆に、測定データの値が所定の条件を満たさない場合に、測定対象が正常であると判断する。この、「所定の条件」は、例えば、測定対象に基づいて予め定められている値であってもよい。あるいは、「所定の条件」は、測定データに基づいて設定される値であってもよい。例えば、直前に測定されたデータとの対比において、測定データが所定の条件を満たしているか否かを判断してもよい。
【００４２】
また、書き込み制御部３０は、測定データの値が所定の条件を満たしているか否かの判定結果を示す判定フラグを生成する機能を有していてもよい。
【００４３】
そして、書き込み制御部３０は、判定フラグをデータ記憶装置に書き込む制御を行ってもよい。書き込み制御部３０は、判定フラグを、測定データとあわせて一次記憶装置１０に書き込んでもよい。あるいは、書き込み制御部３０は、判定フラグを一次記憶装置１０に書き込まず、判断部４０に送るように構成されていてもよい。
【００４４】
本実施の形態に係るデータ記録装置は、測定データの値が所定の条件を満たしているか否かを判断する判断部４０を含む。判断部４０は、書き込み制御部３０で生成された判定フラグに基づいて、測定データの値が所定の条件を満たしているか否かを判断してもよい。ただし、判断部４０は、測定データを直接受け付けて、当該測定データが所定の条件を満たすか否かを判断してもよい。そして、判断部４０は、後述するデータ転送処理部５０の動作を制御する制御信号を生成してもよい。
【００４５】
本実施の形態に係るデータ記録装置は、データ転送処理部５０を含む。データ転送処理部５０は、図１（Ｂ）に示すように、一次記憶装置１０に書き込まれた１個又は複数個の測定データを、二次記憶装置２０に転送する処理を行う。データ転送処理部５０は、データ記憶装置を制御して、一次記憶装置１０に書き込まれた測定データを二次記憶装置２０に転送させる処理を行ってもよい。データ転送処理部５０は、所与の測定データの値が所定の条件を満たしている場合に（所定の条件を満たす測定データＤ１が取得された場合に）、当該所与の測定データよりも前に取得されて一次記憶装置１０に書き込まれている測定データのうち、所与の測定データの直近（直前）に取得された１個又は複数個の測定データＤ２を、二次記憶装置２０に転送する（図１（Ｂ）参照）。なお、測定データＤ２は、所定の条件を満たす測定データＤ１の取得前（直前）の所定の期間内に測定されたデータととらえることができる。すなわち、このデータ記録装置によると、測定対象の異常の発生を示す測定データ（測定データＤ１）が取得されると、異常発生の前の所定の期間に取得された測定データＤ２が、一次記憶装置１０から二次記憶装置２０に転送され、二次記憶装置２０で保存される。
【００４６】
データ転送処理部５０は、１個又は複数個の測定データＤ２を、複数回（２回以上）に分けて転送する。データ転送処理部５０は、例えば、Ｍ個（Ｍは２以上の整数）の測定データＤ２を、１データずつＭ回に分けて転送してもよい。このとき、データ転送処理部５０は、一次記憶装置１０に新しいデータが書き込まれるタイミングにあわせて、１データずつ転送する処理を行ってもよい。ただし、データ転送処理部５０は、一次記憶装置１０にデータが書き込まれるタイミングと無関係に、データを転送する処理を行ってもよい。あるいは、データ転送処理部５０は、Ｍ個の測定データＤ２を、Ｍよりも少ない複数のデータ毎に転送してもよい。あるいは、データ転送処理部５０は、１個又はＭ個の測定データＤ２を、１つの測定データよりも小さいデータ単位で転送してもよい。
【００４７】
なお、データ転送処理部５０は、所定の条件を満たす測定データＤ１の後に取得されて一次記憶装置１０に書き込まれている測定データを二次記憶装置２０に転送するように構成されていてもよい。ここで、データ転送処理部５０は、所定の条件を満たす測定データＤ１よりも後に測定されて一次記憶装置１０に書き込まれた測定データのうち、所定の条件を満たす測定データＤ１の直近（直後）の１個又は複数個のデータを転送するように構成されていてもよい。すなわち、このデータ記録装置は、測定対象の異常の発生を示す測定データが取得されると、異常発生の後（直後）の所定の期間に取得されたデータを、一次記憶装置１０から二次記憶装置２０に転送するように構成されていてもよい。データ転送処理部５０は、異常発生の後（直後）に取得されたＮ個（Ｎは２以上の整数）の測定データを、１データずつＮ回に分けて転送してもよい。
【００４８】
また、データ転送処理部５０は、所定の条件を満たす測定データＤ１（測定対象の異常の発生を示すデータ）を、二次記憶装置２０に転送してもよい。
【００４９】
データ転送処理部５０は、一次記憶装置のアドレスのうち二次記憶装置に転送される測定データＤ２が格納されたアドレス（転送データ格納アドレス）を指定し、二次記憶装置のアドレスのうち転送データが書き込まれるアドレス（転送先アドレス）を指定し、転送データ格納アドレスに格納された情報を、転送先アドレスに転送する処理を行ってもよい。
【００５０】
データ転送処理部５０は、判断部４０からの信号（制御信号）に基づいて、データ転送処理を行ってもよい。あるいは、データ転送処理部５０は、書き込み制御部３０で生成された判定フラグを直接受け取って、データ転送処理を行うか否かを判定し、データ転送処理を制御してもよい。この場合、データ転送処理部５０は、判断部を含んで構成されているととらえてもよい。
【００５１】
本実施の形態に係るデータ記録装置１は、所定の条件を満たす測定データＤ１が連続して取得されたことを検出し、検出された場合にその旨を通知する通知信号を生成する処理を行う通知部をさらに含んでもよい。通知部は、例えば、所定の条件を満たす測定データＤ１が所定の個数連続して取得されたときに、通知信号を生成するように構成されていてもよい。あるいは、通知部は、所定の条件を満たす測定データＤ１が所定の期間連続して取得されたときに、通知信号を生成するように構成されていてもよい。ただし、通知部は、所定の条件を満たす測定データＤ１（測定対象の異常の発生を示す測定データ）が一つでも取得された場合に、通知信号を生成する処理を行う装置であってもよい。
【００５２】
そして、データ記録装置１は、ユーザが知覚可能なアラームを発生させるアラーム発生装置をさらに含んでいてもよい。アラーム発生装置は、通知信号に基づいて、アラームを発生させる装置であってもよい。アラーム発生装置は、スピーカなどのアラーム音を発生させる装置であってもよい。あるいは、アラーム発生装置は、ＬＥＤなどの光を発生させる装置（素子）であってもよい。あるいは、アラーム発生装置は、アラーム画像を表示させるディスプレーであってもよい。
【００５３】
また、本実施の形態に係るデータ記録装置１は、記憶部からデータを読み出すデータ読み出し部を含んでいてもよい。データ読み出し部は、一次記憶装置１０及び二次記憶装置２０の少なくとも一方に書き込まれたデータを読み出すことができるように構成されていてもよい。
【００５４】
次に、本実施の形態に係るデータ記録装置１の具体的な装置構成について説明する。図２は、データ記録装置１の具体的な装置構成の一例を示すブロック図である。
【００５５】
データ記録装置１は、ＣＰＵ１００を有する。ＣＰＵ１００は、データ記録装置１の動作を制御する。
【００５６】
ＣＰＵ１００は、例えば、メモリの測定データの書き込みアドレスを決定し、当該書き込みアドレスを生成させ、生成された書き込みアドレスに測定データを書き込ませる制御を行う。なお、ＣＰＵ１００は、測定データの書き込みアドレスとして、ＦｅＲＡＭ１１０（一次記憶装置１０の一例としての強誘電体メモリ）のアドレスを生成させるように構成されていてもよい。ＣＰＵ１００は、測定データの書き込みアドレスとして、不揮発性メモリ１２０（二次記憶装置２０の一例）のアドレスを生成させるように構成されていてもよい。
【００５７】
ＣＰＵ１００は、また、測定データの値が所定の条件を満たすか否かを判断する処理を行ってもよい。ＣＰＵ１００は、例えば、取得された測定データを設定値と比較することによって、当該測定データの値が所定の条件を満たすか否かを判断してもよい。なお、ここで言う設定値とは予め設定されている値であってもよく、既に取得されている測定データの値に基づいて設定される値であってもよい。
【００５８】
ＣＰＵ１００は、また、一次記憶装置１０に書き込まれた測定データを、二次記憶装置２０に転送する処理を行ってもよい。ＣＰＵ１００は、例えば、一次記憶装置１０のアドレスを決定し、二次記憶装置２０のアドレスを決定し、一次記憶装置１０に書き込まれたデータを二次記憶装置２０に転送させるための制御を行う。
【００５９】
すなわち、ＣＰＵ１００は、書き込み制御部３０、及び、判断部４０、データ転送制御部５０として機能してもよい。
【００６０】
ＣＰＵ１００は、ＲＯＭ１３０から読み込んだ制御プログラムに基づいて、データ記録装置１の動作を制御してもよい。ＣＰＵ１００は、また、ＲＡＭ１４０に保存された測定パラメータに基づいて、データ記録装置１の動作を制御してもよい。ここで、測定パラメータは、例えばキー入力されてＲＡＭ１４０に保存されている情報であってもよい。ＲＡＭ１４０の機能は、ＥＥＰＲＯＭ等の書き換え可能なＲＯＭや、ＦｅＲＡＭ１１０によって実現してもよい。
【００６１】
ＣＰＵ１００は、また、計測機器の動作を制御して、データの測定間隔（測定データの取得間隔）を設定してもよい。
【００６２】
データ記録装置１では、ＣＰＵ１００、ＦｅＲＡＭ１１０、ＲＯＭ１３０、ＲＡＭ１４０及びＩ／Ｆは、１つの集積回路装置（例えば半導体チップ）として構成されていてもよい。そして、データ記録装置１は、当該集積回路装置で、計測機器を制御し、ディスプレーに画像を表示させるための表示画像データを生成する制御を行ってもよい。
【００６３】
（２）データ記録装置１の動作
以下、本実施の形態に係るデータ記録装置１の動作について説明する。図３は、データ記録装置１の動作を説明するためのフローチャート図である。
【００６４】
はじめに、初期値を設定する（ステップＳ１０）。ここで、初期値とは、例えば、データを測定する間隔（測定データの取得間隔）や、測定データを正常と判断する範囲（上限及び下限値）や、データ転送処理部５０で転送されるデータの数であるＭ・Ｎの値や、データ転送単位、初期アドレス等が挙げられる。これらの初期値は、測定対象に合わせて設定してもよい。これらの初期値は、また、ＲＡＭ１３０に記憶させてもよい。
【００６５】
そして、測定データを取得し（ステップＳ１２）、一次記憶装置１０に書き込む（ステップＳ１４）。詳しくは、一次記憶装置１０のアドレスを指定し、指定されたアドレスに測定データを書き込む処理を行う。そして、書き込み動作の後には、新しい測定データを取得し（ステップＳ１２）、一次記憶装置１０に書き込む動作（ステップＳ１４）を繰り返す。
【００６６】
本実施の形態に係るデータ記録装置は、測定データの値が所定の条件を満たしている場合に、一次記憶装置１０に書き込まれた測定データを二次記憶装置２０に転送する処理を行う。以下、図４を参照して、一次記憶装置１０に書き込まれた測定データを二次記憶装置２０に転送する手順について説明する。なお、図４は、この手順を説明するためのフローチャート図である。
【００６７】
はじめに、測定データを取得し（ステップＳ１２）、取得された測定データの値が所定の条件を満たしているか否かについて判断する（ステップＳ２０）。
【００６８】
取得された測定データの値が所定の条件を満たさない場合（ステップＳ２０におけるＮｏの場合）、データ記録装置は次のデータを取得する（ステップＳ１２）。
【００６９】
取得された測定データの値が所定の条件を満たす場合（ステップＳ２０におけるＹｅｓの場合）、一次記憶装置１０に書き込まれている所定の測定データを二次記憶装置２０に転送する（ステップＳ２２）。本ステップでは、所定の条件を満たしたデータＤ１の直近（直前）に取得されたＭ個のデータＤ２を、複数回に分けて（例えば１データずつ）転送してもよい。あるいは、本ステップでは、所定の条件を満たしたデータＤ１よりもＭ個前に取得された１つのデータのみを転送してもよい。
【００７０】
また、一次記憶装置１０に書き込まれているデータを二次記憶装置２０に転送する手順では、所定の条件を満たすデータＤ１の後に取得された測定データを二次記憶装置２０に転送してもよい。
【００７１】
また、本発明では、取得された測定データが所定の条件（取得条件）を満たす場合、このデータの直前に取得されて一次記憶装置１０に書き込まれている１個又は複数個のデータを、二次記憶装置２０に転送してもよい。これによれば、測定対象にイベントが発生しなかった場合でも、測定データが保存されるため、このデータ記録装置が正常に動作していることを確認することができる。測定データの取得条件として、例えば、Ｋ個（ＫはＭよりも大きい整数）の測定データが取得される度に、測定データの値にかかわらず、測定データを保存するように構成してもよい。
【００７２】
次に、このデータ記録装置を実現するためのアルゴリズムについて、図５を参照して説明する。
【００７３】
はじめに、初期値を設定する（ステップＳ３２〜ステップＳ３８）。
【００７４】
そして、Ｍ個の測定データを取得するまで、データを蓄積する（ステップＳ４０〜ステップＳ５６）。これらのステップでは、測定データを取得し（ステップＳ４０）、測定データの値（測定値）が所定の条件を満たすか否かを判断し（ステップＳ４２）、測定データにフラグを設定し（ステップＳ４４〜ステップＳ４８）、設定されたフラグ及び測定データを一次記憶装置１０に書き込む（ステップＳ５０）。その後、待ち時間Tintの経過を待って（ステップＳ５２）、iの値をインクリメントし（ステップＳ５４）、一次記憶装置１０にＭ個のデータが書き込まれるまで（ｉの値がＭを超えるまで）これらの手順を繰り返す（ステップＳ５６）。
【００７５】
そして、Ｍ個の測定データが取得された後は、さらにデータを書き込む動作を行い、必要に応じてデータを転送する（ステップＳ６０〜ステップＳ７８）。これらのステップでは、測定データを取得し（ステップＳ６０）、測定データの値（測定値）が所定の条件を満たすか否かを判断し（ステップＳ６２）、測定データにフラグを設定し（ステップＳ６４〜ステップＳ６８）、設定されたフラグ及び測定データを一次記憶装置１０に書き込む（ステップＳ７０）。そして、一次記憶装置１０に書き込まれたFLG3の情報に基づいて、データの転送処理を行うか否かを判断し（ステップＳ７２）、必要に応じて転送処理を行う（ステップＳ７２）。具体的には、FLG3の値を判定し（ステップＳ７２）、FLG3(i-L)>0の場合に、V(i-L)を二次記憶装置２０に転送する（ステップＳ７４）。逆に、FLG3(i-L)=0の場合には、V(i-L)を二次記憶装置２０に転送する処理を行わない。そして、待ち時間Tintの経過を待って、iの値をインクリメントし（ステップＳ７８）、測定データを取得する手順（ステップＳ６０）以下の手順を繰り返す。
【００７６】
本実施の形態では、上述したようにフラグの設定により転送データの判別を行ってもよい。これによれば、サイズの小さなデータの授受により書き込みアドレスの設定が可能になるため、データ処理の負担が小さく、かつ、回路規模の小さなデータ記録装置を提供することができる。特に、一次記憶装置１０を、i=L+N+2で、i=0に戻るリングバッファとすることで、容量の小さなメモリ（一次記憶装置）を利用することが可能になる。
【００７７】
なお、ここで示した手順によると、１つのデータを取得するたびに、１つのデータを転送する処理を行う。ただし、本発明はこれに限られるものではない。すなわち、本発明では、データの取得タイミングにあわせることなくデータの転送処理を行ってもよい。また、本発明では、１データ単位でデータの転送を行わずに、複数データ単位で、あるいは、１データよりも小さいデータを転送単位として、データの転送処理を行ってもよい。
【００７８】
（３）効果
本実施の形態に係るデータ記録装置は、以上のように構成されている。このデータ記録装置によると、必要なデータを記録することができ、記憶領域を効率よく利用することが可能なデータ記録装置を提供することができる。以下、その効果について説明する。
【００７９】
先に説明したように、本実施の形態によると、測定対象の異常（イベントの発生）を知らせるデータ（所定の条件を満たす測定データＤ１）が取得された場合に、当該データよりも前（当該データの直前）に取得された１個又は複数個（Ｍ個）の測定データＤ２を、二次記憶装置２０に転送して保存する。そのため、本実施の形態によると、イベントの発生の予兆を示すデータを保存することが可能になる。
【００８０】
そして、本実施の形態によると、書き込み用のメモリ（一次記憶装置１０）と、保存用のメモリ（二次記憶装置２０）とを利用するため、保存用のメモリに必要なデータのみを書き込むことができる。そのため、書き込み用のメモリの容量を小さくすることができ、かつ、保存用のメモリを効率よく利用することが可能になる。
【００８１】
また、本発明では、測定データを一時的に記憶するメモリ（一次記憶装置１０）として強誘電体メモリ（ＦｅＲＡＭ）を利用してもよい。強誘電体メモリは、一般的に、書き換え可能な回数が多く、かつ、書き換えに要する時間が短いことが知られている。そのため、一次記憶装置１０として強誘電体メモリを利用することで、一次記憶装置の容量が小さく、かつ、書き換え回数の制限、及び、データの取得時間間隔の制限が小さいデータ記録装置を提供することができる。また、一次記憶装置１０を循環使用すれば（一次記憶装置１０をいわゆるリングバッファとして使用することで）、さらに容量の小さいメモリを利用することができる。
【００８２】
また、本実施の形態によると、一次記憶装置１０に書き込まれた１個又は複数個の測定データを、複数回に分けて転送する。例えば、一次記憶装置１０に書き込まれた複数個の測定データを、１データずつ転送する。これによると、データ転送処理に不具合が発生した場合であっても、損傷するデータを少なくすることができる。例えば、Ｍ個の測定データを一括して転送処理する場合、転送処理に不具合が起これば、Ｍ個の測定データが損傷する危険がある。そして、本発明では一次記憶装置１０として破壊読出しメモリを利用するため、損傷を受けたデータを復旧できない事態が発生し得る。しかし、本実施の形態では、Ｍ個の測定データを複数回に分けて（例えば１データずつ）転送するため、転送処理に不具合があったとしても、損傷するデータ数を少なくすることができる。
【００８３】
なお、本発明は、上述の実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
【００８４】
例えば本発明では、書き込み制御部３０は、測定データの値が所定の条件を満たしている場合、この測定データＤ１の後に取得されるＮ個の測定データを、一次記憶装置１０に書き込むことなく、二次記憶装置２０に直接書き込むように構成されていてもよい。例えば、アドレス指定部３２（書き込み制御部３０）を制御することで、測定データの書き込み先を規定することができる。
【００８５】
これによっても、必要なデータを効率よく保存することが可能なデータ記録装置を提供することができる。
【００８６】
あるいは、本発明では、データ転送処理部５０は、所定の条件を満たす測定データＤ１より前（直前）に取得された１個の測定データのみを転送するように構成されていてもよい。また、本発明では、データ転送処理部で、所定の条件を満たす測定データＤ１よりも後に取得された測定データのうち、測定データＤ１の直近に取得された１個の測定データのみを転送してもよい。このとき、データ転送処理部は、１個の測定データを複数回に分けて転送してもよい。すなわち、データ転送処理部のデータ転送単位は、測定データよりも小さくてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８７】
【図１】データ記録装置の構成を説明するための図。
【図２】データ記録装置の構成を説明するための図。
【図３】データ記録装置の動作を説明するためのフローチャート図。
【図４】データ記録装置の動作を説明するためのフローチャート図。
【図５】データ記録装置の動作を説明するためのフローチャート図。
【符号の説明】
【００８８】
１…データ記録装置、  １０…一次記憶装置、  ２０…二次記憶装置、  ３０…制御部、  ３２…アドレス指定部、  ３４…停止処理部、  ４０…判断部、  ５０…データ転送処理部、  １００…ＣＰＵ、  １１０…ＦｅＲＡＭ、  １２０…不揮発性メモリ、  １３０…ＲＯＭ、  １４０…ＲＡＭ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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