(57)【要約】【課題】光の位相を空間的に変調して生成された情報光を用いて記録された干渉パターンを再生できる光情報再生装置を提供する。【解決手段】再生光学系１２と検出手段１３とを有し、再生光学系は、少なくとも再生用参照光１６を生成する再生用参照光生成手段１４と検出用干渉光１７を生成する検出用干渉光生成手段１５とを備え、再生用参照光を情報記録層２１に対して照射し、再生用参照光が照射されることによって情報記録層より発生する再生光１８を収集し、再生光及び検出用干渉光を検出手段に照射する。【選択図】図１
2008046352.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも再生光学系と検出手段とを有し、記録用参照光と光の位相を空間的に変調した情報光との干渉パターンが記録された情報記録層を備えた光情報記録媒体から情報を再生する光情報再生装置であって、
前記再生光学系は、少なくとも再生用参照光を生成する再生用参照光生成手段と検出用干渉光を生成する検出用干渉光生成手段とを備え、前記再生用参照光生成手段によって生成された再生用参照光を前記情報記録層に対して照射し、前記再生用参照光が照射されることによって前記情報記録層より発生する再生光を収集し、前記再生光及び前記検出用干渉光生成手段によって生成された検出用干渉光を前記検出手段に照射することを特徴とする光情報再生装置。
【請求項２】
少なくとも再生光学系と検出手段とを有し、記録用参照光と光の位相を空間的に変調した情報光との干渉パターンが記録された情報記録層を備えた光情報記録媒体から情報を再生する光情報再生装置であって、
前記再生光学系は、少なくとも光源と、前記光源から射出された光を二光束に分割する分割手段と、前記分割された一方の光束から再生用参照光を生成する再生用参照光生成手段とを備え、前記再生用参照光を前記情報記録層に対して照射し、前記再生用参照光が照射されることによって前記情報記録層より発生する再生光を収集し、前記再生光及び前記分割された他方の光束から生成された検出用干渉光を前記検出手段に照射することを特徴とする光情報再生装置。
【請求項３】
前記分割手段は、前記光源から射出された光の一部の偏光方向を傾ける部分偏光板と、偏光ビームスプリッタとを有することを特徴とする請求項２に記載の光情報再生装置。
【請求項４】
前記再生光学系は、前記検出用干渉光を前記光情報記録媒体に照射し、前記光情報記録媒体から発生する再生光と前記光情報記録媒体から射出される検出用干渉光を同じ経路で前記検出手段に照射することを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の光情報再生装置。
【請求項５】
前記再生光学系は、前記再生用参照光を前記情報記録層に向かって収束させ、前記情報記録層から発生した前記再生光を結像させる対物レンズを有し、前記対物レンズの前記再生光についての射出瞳面において、前記再生光の領域と前記再生用参照光の領域とが重畳しないように配置されていることを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の光情報再生装置。
【請求項６】
前記検出用干渉光の強度を前記再生用参照光の強度に比べて小さくする強度調節手段を有することを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の光情報再生装置。
【請求項７】
前記検出用干渉光の強度を前記再生光の強度と同程度にする強度調節手段を有することを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の光情報再生装置。
【請求項８】
前記強度調節手段は、前記検出用干渉光の光量の一部を遮光する遮光手段を含むことを特徴とする請求項６又は７に記載の光情報再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、干渉パターンによって情報が記録された情報記録層を備えた光情報記録媒体より情報を再生するための光情報再生装置に関し、特に、記録用参照光と記録する情報に基づいて光の位相を空間的に変調した情報光との干渉によって形成された干渉パターンから情報を再生するための光情報再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ホログラフィを利用して記録媒体に情報を記録するホログラフィック記録は、一般的に、記録用光を構成するイメージ情報を担持した情報光と記録用参照光とを記録媒体の内部で重ね合わせ、そのときにできる干渉パターンを記録媒体に書き込むことによって行われる。記録された情報の再生時には、その記録媒体に再生用参照光を照射することにより、干渉パターンによる回折によりイメージ情報が再生される。
【０００３】
近年では、超高密度光記録のために、ボリュームホログラフィ、特にデジタルボリュームホログラフィが実用域で開発され注目を集めている。ボリュームホログラフィとは、記録媒体の厚み方向も積極的に活用して、３次元的に干渉パターンを書き込む方式であり、厚みを増すことで回折効率を高め、多重記録を用いて記録容量の増大を図ることができるという特徴がある。そして、デジタルボリュームホログラフィとは、ボリュームホログラフィと同様の記録媒体と記録方式を用いつつも、記録するイメージ情報は２値化したデジタルパターンに限定した、コンピュータ指向のホログラフィック記録方式である。このデジタルボリュームホログラフィでは、例えばアナログ的な絵のような画像情報も、一旦デジタイズして、２次元デジタルパターン情報に展開し、これをイメージ情報として記録する。再生時は、このデジタルパターン情報を読み出してデコードすることで、元の画像情報に戻して表示する。これにより、再生時にＳＮ比（信号対雑音比）が多少悪くても、微分検出を行ったり、２値化データをコード化しエラー訂正を行ったりすることで、極めて忠実に元の情報を再現することが可能になる。
【０００４】
従来、記録する情報を展開して形成された２次元デジタルパターン情報によって、光の強度を空間的に変調して情報光を生成し、この情報光と記録用参照光との干渉パターンを記録媒体に記録する方式が大半であった。このようにして記録された情報を再生するには、記録媒体の干渉パターンに再生用参照光を照射することにより、再生用参照光が干渉パターンによって回折されて再生光を発生させる。再生光は、情報光と同様に、光の強度が空間的に変調されており、複数のＣＣＤやＣＭＯＳ等が平面的に配置された検出手段によって、その強度分布が検出される。このように、光の強度を空間的に変調した場合は、光の強度をＣＣＤやＣＭＯＳ等によって容易に検出できるので、情報の再生が容易であった。
【０００５】
他方で、２次元デジタルパターン情報によって光の位相を空間的に変調して情報光を生成し、この情報光と記録用参照光との干渉パターンを記録媒体に記録する方式も提案されていた（特許文献１）。しかしながら、光の位相を検出するのは、強度の検出に比べて容易ではなく実用的ではなかった。
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−８３４３１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
光の強度を空間的に変調して２次元デジタルパターン情報を表示する場合、光の一部を遮光したり、減衰させることで、強度を弱めることになるから、情報光の持つエネルギーが低くなる。その結果、干渉パターンを記録するため情報光の照射時間を長くしたり、光源から射出される光自体のエネルギーを高くする必要があった。
【０００８】
また、記録する情報を２次元デジタルパターン情報に変換する方式（コード変換方式）によっては、記録する情報に応じて、情報光の光強度の総和が変化してしまう。例えば、単純に光を透過しないオフ画素をデジタル情報の０とし、光を透過するオン画素をデジタル情報の１とするコード変換方式においては、記録する情報におけるデジタル情報の０と１の割合が変化すると、オフ画素とオン画素の割合が変化し、情報光の光強度の総和が変化する。
【０００９】
この点を考慮して、オフ画素とオン画素の割合を一定とするコード変換方式も提案されているが、この場合、オン画素の割合が増加すると、記録再生品質が低下してしまう。記録再生品質が低下する原因は必ずしも明確になってはいないが、オン画素の増加に伴いオフ画素の周囲に配置されるオン画素の割合が増え、そのオン画素からのノイズによって、本来オフである画素がオン画素と誤って認識されること等によりＳＮ比が低下してしまうためであると推定される。このように、オン画素の割合の制約があり、自由にコード変換方式を採用することができず、変換効率の低いコード変換方式を採用しなければならなかった。
【００１０】
これに対し、光の位相を空間的に変調して２次元デジタルパターン情報を表示すれば、光の強度を減衰させる必要がなく高エネルギーの情報光によって記録することができる。また、オン画素の割合という制約が無くなり、自由にコード変換方式を採用することができ、変換効率を高めることも可能である。
【００１１】
しかし、光の位相自体を検出することが難しく、現実的に実現することが困難であった。特許文献１においては、再生用参照光と再生光との合成光を検出していた。再生用参照光と再生光とを合成することにより、位相の違いを強度の違いに変換できるので、強度分布を検出すれば２次元デジタルパターン情報を再生できる。
【００１２】
ところが、現状、干渉パターンによる回折効率は低く、照射した再生用参照光に比べて、再生光の強度は数十分の１から数百分の１でしかない。このため、検出するのに十分な強度の再生光を再生するには、再生用参照光の強度をさらにその数十倍から数百倍とする必要がある。しかし、かかる強度の再生用参照光が検出手段に入射すると、検出手段が飽和してしまうため、検出感度を低下させなければならず、再生光を検出するのが困難である。仮に、検出できたとしても、再生光による位相の違いの影響は、再生用参照光の強度の数十分の１から数百分の１程度しかないので、その相違を検出して２次元デジタルパターン情報を再生することも困難である。
【００１３】
本発明は、以上のような問題点を鑑みて、光の位相を空間的に変調して生成された情報光を用いて記録された干渉パターンを再生できる光情報再生装置を提供することを目的とする。  
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の光情報再生装置は、少なくとも再生光学系と検出手段とを有し、記録用参照光と光の位相を空間的に変調した情報光との干渉パターンが記録された情報記録層を備えた光情報記録媒体から情報を再生する光情報再生装置であって、前記再生光学系は、少なくとも再生用参照光を生成する再生用参照光生成手段と検出用干渉光を生成する検出用干渉光生成手段とを備え、前記再生用参照光生成手段によって生成された再生用参照光を前記情報記録層に対して照射し、前記再生用参照光が照射されることによって前記情報記録層より発生する再生光を収集し、前記再生光及び前記検出用干渉光生成手段によって生成された検出用干渉光を前記検出手段に照射することを特徴とする。
【００１５】
また、本発明の他の光情報再生装置は、少なくとも再生光学系と検出手段とを有し、記録用参照光と光の位相を空間的に変調した情報光との干渉パターンが記録された情報記録層を備えた光情報記録媒体から情報を再生する光情報再生装置であって、前記再生光学系は、少なくとも光源と、前記光源から射出された光を二光束に分割する分割手段と、前記分割された一方の光束から再生用参照光を生成する再生用参照光生成手段とを備え、前記再生用参照光を前記情報記録層に対して照射し、前記再生用参照光が照射されることによって前記情報記録層より発生する再生光を収集し、前記再生光及び前記分割された他方の光束から生成された検出用干渉光を前記検出手段に照射することを特徴とする。
【００１６】
更に、この光情報再生装置において、前記分割手段は、前記光源から射出された光の一部の偏光方向を傾ける部分偏光板と、偏光ビームスプリッタとを有していてもよい。
【００１７】
更に、上記光情報再生装置の何れかにおいて、前記再生光学系は、前記検出用干渉光を前記光情報記録媒体に照射し、前記光情報記録媒体から発生する再生光と前記光情報記録媒体から射出される検出用干渉光を同じ経路で前記検出手段に照射することが好ましい。
【００１８】
更に、上記光情報再生装置の何れかにおいて、前記再生光学系は、前記再生用参照光を前記情報記録層に向かって収束させ、前記情報記録層から発生した前記再生光を結像させる対物レンズを有し、前記対物レンズの前記再生光についての射出瞳面において、前記再生光の領域と前記再生用参照光の領域とが重畳しないように配置されていることが好ましい。
【００１９】
更に、上記光情報再生装置の何れかにおいて、前記検出用干渉光の強度を前記再生用参照光の強度に比べて小さくする強度調節手段を有することが好ましい。または、上記光情報再生装置の何れかにおいて、前記検出用干渉光の強度を前記再生光の強度と同程度にする強度調節手段を有することが好ましい。そして、前記強度調節手段は、前記検出用干渉光の光量の一部を遮光する遮光手段を含んでいてもよい。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の光情報再生装置においては、検出用干渉光によって、再生光の位相によって変調された空間変調パターンを強度による空間変調パターンに変換することができるので、検出手段で空間変調パターンを検出することができる。しかも、従来の再生用参照光を利用した場合に比較して、検出用干渉光は強度の制限がなく再生光の強度に適した強度とすることができる。
【００２１】
詳細については、以下に述べる実施形態の説明において明らかにする。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態を説明する。図１は、本発明の光情報再生装置における情報の再生の原理を示す説明図である。
【００２３】
図１において、光情報再生装置１１は、再生光学系１２と検出手段１３とを有しており、光情報記録媒体２１は、一対の基板２１ａ、２１ｂの間に情報記録層２２と反射層２３を有し、その情報記録層２２には、記録用参照光と記録する情報に基づいて少なくとも光の位相を空間的に変調した情報光との干渉による干渉パターン２２ａが記録されている。
【００２４】
再生光学系１２は、少なくとも再生用参照光生成手段１４と検出用干渉光生成手段１５とを備え、再生用参照光生成手段１４によって生成された再生用参照光１６を情報記録層２２に対して照射し、再生用参照光１６が照射されることによって情報記録層２２より発生する再生光１８を収集し、再生光１８及び検出用干渉光生成手段１５によって生成された検出用干渉光１７を検出手段１３に照射する。
【００２５】
再生用参照光生成手段１４は、再生用参照光１６を生成するものであり、再生用参照光１６は記録時における記録用参照光と同様の光を使用する。記録用参照光が光の位相や強度を空間的に変調していれば、再生用参照光１６も、記録用参照光と同じ空間変調パターンによって光の位相や強度を空間的に変調させる。この場合、再生用参照光生成手段１４としては、各画素毎に位相や強度を変調できる空間光変調器を利用することができる。また、記録用参照光が単にビーム形状を特定のパターンに成形しただけであれば、再生用参照光１６も、ビーム形状を記録用参照光と同じ特定のパターンに成形すればよい。この場合、再生用参照光生成手段１４としては、特定のパターンの開口を有するマスクを利用することもできるし、空間光変調器を利用することもできる。
【００２６】
検出用干渉光生成手段１５は、検出用干渉光１７を生成するものである。検出用干渉光１７として平面波を使用する場合において、光源から射出される光が平面波であれば、その一部又は全部をそのまま検出用干渉光１７として利用することができるし、光源から射出される光が発散光であれば、コリメータレンズ等によって平面波とし、その一部又は全部を検出用干渉光１７として利用することもできる。また、検出用干渉光１７は、位相や強度を空間的に変調できる空間光変調器を検出用干渉光生成手段１５として利用することができ、この場合、記録時においては情報光を生成する領域を検出用干渉光として利用することが好ましい。特に、検出用干渉光１７として位相や強度が空間的に変調された光を使用する場合は、空間光変調器を利用する。検出用干渉光１７となる光の光源としては、再生用参照光１６となる光の光源と別であってもよいが、同一の光源から射出された光の一部を再生用参照光１６とし、別の一部を検出用干渉光１７とすることが好ましい。この場合、検出用干渉光１７の波長及び初期位相を再生用参照光１６の波長及び初期位相と揃えることができ、さらには再生用参照光１６によって再生される再生光１８の波長及び初期位相とも揃えることができるので、検出手段１３において検出用干渉光１７と再生光１８との干渉を取りやすくなる。さらに部品点数が減ることにより、装置の単純化及び小型化を可能とする。
【００２７】
検出用干渉光１７は、検出手段１３において、再生光１８と干渉して、再生光１８の位相による空間変調パターンを強度による空間変調パターンに変換する。再生光１８は、記録時における情報光に相当するものであり、情報光と同じく、少なくとも光の位相が空間的に変調されている。同じ波長の検出用干渉光１７と再生光１８とを重ねると、重なった光の強度Ｉは、式（１）で表される。
【００２８】
Ｉ＝Ａ12＋Ａ22＋２Ａ1Ａ2ｃｏｓδ    …式（１）
ここで、Ａ1は検出用干渉光１７の振幅、Ａ2は再生光１８の振幅、δは検出用干渉光と再生光の位相差である。
【００２９】
従って、検出用干渉光１７と再生光１８の位相差δ＝０（ｃｏｓδ＝１）の時、重なった光の強度は（Ａ1＋Ａ2）2で最大となり、位相差δ＝π（ｃｏｓδ＝−1）の時、重なった光の強度は（Ａ1−Ａ2）2で最小となる。小型で安価な検出手段を使用しようとすれば、最大強度と最小強度の比が大きい程よいので、検出用干渉光の振幅Ａ1は、再生光の振幅Ａ2の１／３から３倍程度の範囲に設定することが好ましい。光の振幅の自乗が光の強度であるから、検出用干渉光の強度としては、再生光の強度の１／９から９倍の範囲とすることが好ましい。特に、検出用干渉光の振幅Ａ1と再生光の振幅Ａ2とが同じであれば（この場合は検出用干渉光と再生光の強度も同じである）、最小強度が０となり、最大強度が４Ａ12となるので、強度に変換された空間変調パターンを容易に検出することができる。
【００３０】
以上の理由から、検出用干渉光生成手段１５には検出用干渉光１７の強度を調節する強度調節手段１５ａを設けることが好ましい。特に、再生用参照光１６及び検出用干渉光１７の双方を一つの光源から射出された光を用いて生成する場合、検出用干渉光１７の強度を再生用参照光１６の強度に比べて小さくする強度調節手段１５ａを設けることが望ましい。さらに、検出用干渉光１７の強度を再生光１８の強度と同程度となるように強度を調節することがより好ましい。なお、別の光源から検出用干渉光１７を生成する場合において、予め光源から射出される光の強度を再生光の強度に合わせておけば、強度調節手段を設けなくてもよい。強度調節手段１５ａとしては、検出用干渉光１７の一部を遮光するフィルターを利用することができる。
【００３１】
また、上記の式（１）から、再生光１８の位相による空間変調パターンの各画素は、検出用干渉光１７に対する位相差δが０かπとなるようにすることが好ましい。この場合は、再生光１８が、検出用干渉光と合成されて、位相による空間変調パターンが強度による空間変調パターンに変換された時に、強度による空間変調パターンの各画素の強度比が大きくなるからである。なお、位相による空間変調パターンは、３値以上の画素によって形成することも可能である。
【００３２】
図２は、検出手段１３における検出用干渉光１７と再生光１８との干渉を説明する図である。図２において、（ａ）は再生光１８の強度、（ｂ）は再生光１８の位相、（ｃ）は検出用干渉光１７の強度、（ｄ）は検出用干渉光１７の位相、（ｅ）は重なった光の強度を表している。図２（ａ）及び（ｂ）において、再生光１８は、強度がＩで一定であって、基準位相に対する位相差が＋π／２（ｒａｄ）となる画素と−π／２（ｒａｄ）となる画素を組み合わせた空間変調パターンを有している。なお、図２においては、便宜上、＋π／２（ｒａｄ）となる画素をデジタル情報の１、と−π／２（ｒａｄ）となる画素をデジタル情報の０とすると、再生光１８は、「１１０１００１１１０１１０」という情報を担持している。図２（ｃ）及び（ｄ）において、検出用干渉光１７は、強度が再生光１８と同じＩで一定であって、基準位相に対する位相差が＋π／２（ｒａｄ）で揃った平面波を使用した。
【００３３】
図２（ｅ）に示すように、再生光１８の位相が＋π／２（ｒａｄ）となる画素では、再生光１８の位相と検出用干渉光１７の位相が一致し、二つの光の位相差は０となり、重なった光の強度は４Ｉとなる。また、再生光１８の位相が−π／２（ｒａｄ）となる画素では、再生光１８の位相と検出用干渉光１７の位相差はπとなり、重なった光の強度は０となる。結果として、再生光１８の位相によって変調された空間変調パターンが、重なった光では強度による「１１０１００１１１０１１０」という空間変調パターンに変換され、複数の検出用の画素を配列させた検出手段１３によって空間変調パターンを検出することができる。しかも、再生光１８の強度をＩから４Ｉに増幅させる効果も有するので、再生用参照光の強度を低下させたり、再生の信頼性を高めることができる。
【００３４】
なお、図２においては、検出用干渉光１７として、一定の位相の平面波を使用したが、予め特定された空間変調パターンによって位相を空間的に変調してもよい。この場合は、検出用干渉光１７の空間変調パターンが既知であるから、検出手段で検出した強度による空間変調パターンから再生光１８の空間変調パターンを逆変換できる。
【００３５】
再生光学系１２は、再生用参照光１６を情報記録層２２に対して照射し、再生用参照光１６が照射されることによって情報記録層２２より発生する再生光１８を収集し、再生光１８及び検出用干渉光１７を検出手段１３に照射する。再生用参照光１６は、基本的には記録時に記録用参照光を情報記録層２２に照射した時と同じ条件（例えば、波長、照射位置、照射角度等）となるように再生光学系１２によって照射される。また、再生光１８は、記録時における情報光に相当するものであり、情報光と同じ空間変調パターンに少なくとも光の位相が空間的に変調されている。そして、再生光１８は、検出手段１３において空間変調パターンが結像するように再生光学系１２によって検出手段１３に対し照射され、検出用干渉光１７は、検出手段１３において再生光１８と重なるように再生光学系１２によって検出手段１３に対し照射される。
【００３６】
ここで、情報光及び記録用参照光の照射方法が再生用参照光１６の照射方法及び再生光１８の収集方法に関連するので、記録時における情報光及び記録用参照光の照射方法について図３を用いて説明する。
【００３７】
図３（ａ）に示すように、従来からホログラムを形成するために、情報光３１の光軸と記録用参照光３２の光軸を情報記録層２２において一定の角度θで交差させるように照射する二光束干渉方式が提案されていた。二光束干渉方式では、情報光３１と記録用参照光３２との交差角θを変化させることで、同じ位置に複数の干渉パターン２２ａを記録させる角度多重記録が可能である。換言すれば、情報光３１と記録用参照光３２との交差角θが異なると、形成される干渉パターン２２ａが異なることを意味する。
【００３８】
このため、再生時には、記録時における記録用参照光３２の情報記録層２２に対する入射角度αとほぼ同じ角度となるように再生用参照光を情報記録層２２に照射させる必要がある。しかし、再生時における記録媒体の傾きや振動によって再生用参照光の入射角度を厳密に制御することは難しかった。しかも、記録時における記録媒体の傾きや振動等によって、干渉パターン２２ａを記録した時の記録用参照光の入射角度αも容易に変化するため、二光束干渉方式は、記録時においても厳密に照射条件を管理しなければならず、非常に限定された環境でしか情報の記録再生ができなかった。
【００３９】
近年、図３（ｂ）に示すように、情報光３１の光軸と記録用参照光３２の光軸を同軸上に配置し、情報記録層２２の同一面側から照射するコリニア方式が提案されている。コリニア方式は、光軸が同軸の情報光３１及び記録用参照光３２を対物レンズ３３によって収束するように照射して、情報光３１及び記録用参照光３２のフーリエ変換された空間周波数成分同士の干渉パターン２２ａを記録する。
【００４０】
特に、コリニア方式において、図３（ｃ）に示すように、情報光３１と記録用参照光３２の領域が対物レンズの入射瞳面３４で重畳しないように配置すると、再生時において、情報光に対応する再生光と記録用参照光に対応する再生用参照光との分離が容易となり好ましい。図３（ｃ）は、対物レンズの入射瞳面３４における情報光３１及び記録用参照光３２の断面形状を示す図である。図３（ｃ）においては、中心に円形の情報光３１が配置され、その周囲に円環状の記録用参照光３２が配置されている。なお、図３（ｃ）では示していないが、情報光３１は少なくともその位相が空間的に変調されている。
【００４１】
この場合、入射瞳面で重畳していない情報光３１と記録用参照光３２を同軸で照射するため、一見すると情報光３１と記録用参照光３２が交差しないように思える。しかしながら、少なくとも情報光３１が空間的に変調されることにより、空間変調パターンの各画素によって回折されるので、対物レンズ３３によってフーリエ変換されることによって、情報光３１の空間周波数成分が一定の広がりを有するため、情報記録層２２においては、一定の広がりを持つ情報光３１と収束する記録用参照光３２とが交差して干渉パターン２２ａを形成することができる。なお、簡略化のため、図３（ｂ）においては情報光３１も単に収束する光として示している。
【００４２】
更に、コリニア方式において、記録媒体に反射手段を設けることで、情報記録層２２を通過した情報光３１及び記録用参照光３２を反射させ、反射した情報光３１と記録用参照光３２によって、再び情報記録層２２において干渉パターンを形成させることができ、実質的に情報記録層を厚くすることができる。例えば、反射手段としては、図１のように記録媒体２１に反射層２３を設けたり、記録媒体２１の入射面とは反対側にミラー等を設ければよい。加えて、反射手段を具備すると、再生時においては、記録媒体の再生用参照光を照射した面と同一面側から再生光を収集することができ、装置を小型化することができる。
【００４３】
再生光学系１２において、再生用参照光１６を照射する部分については、例えば、記録時における記録用参照光を照射した光学系を利用すればよい。記録用参照光を照射した光学系に、検出用干渉光１７を検出手段に照射する光学系と再生光１８を収集し、検出手段に照射する光学系を加えれば、再生光学系１２を構成することができる。なお、これらの各光学系の素子をなるべく共通化して再生光学系１２として利用することが好ましい。
【００４４】
図１においては、コリニア方式に対応した再生光学系１２を例示しており、再生光学系１２は、対物レンズ１９と、半反射透過部材２０を有している。また、記録媒体２１には、情報記録層２２の入射側とは反対側（図１では下方）に反射手段として、反射層２３が配置されている。
【００４５】
対物レンズ１９は、再生用参照光１６を記録媒体２１に対し収束するように照射し、情報記録層２２から発生した再生光１８の空間変調パターンをその射出瞳面において結像させる。
【００４６】
半反射透過部材２０は、入射する光の一部を透過し、他の一部を反射するものである。半反射透過部材２０としては、半透明反射膜を使用してもよいが、光の偏光方向によって透過と反射を選択する偏光ビームスプリッタを使用してもよい。半反射透過部材２０を前述した検出用干渉光１７の強度を調節する強度調節手段１５ａの一部として利用することもできる。図１においては、半反射透過部材２０は、半反射透過面に対して４５°の角度で入射する再生用参照光１６を透過する。また、半反射透過部材２０は、再生用参照光１６とは異なる方向から半反射透過面に対して４５°の角度で入射する検出用平行波１７を透過して検出手段に対して照射する。さらに、半反射透過部材２０は、再生用参照光１６とは１８０°反対側から入射した再生光１８を反射し、検出手段に対して照射する。
【００４７】
半反射透過部材２０が偏光ビームスプリッタの場合、半反射透過部材２０から光情報記録媒体２１までの間に四分の一波長板を配置すれば、半反射透過部材２０を透過した光は、その後、四分の一波長板を透過時と反射時の二回通過するので、偏光方向が９０度回転し、偏光ビームスプリッタによって反射される。再生光の場合、四分の一波長板を一回しか通過しないが、再生光は情報光に対応する光であり、記録時において情報光が四分の一波長板を一回通過していれば、情報光の時に通過したのと合わせて２回通過することになり偏光方向が９０度回転する。こうして、再生用参照光を透過させて再生光を反射させること又は再生用参照光を反射させて再生光を透過させることができる。
【００４８】
また、再生光学系１２は、検出用干渉光１７を光情報記録媒体２１に照射し、光情報記録媒体２１から発生する再生光１８と光情報記録媒体２１から射出される検出用干渉光１７を同じ経路で検出手段１３に照射することが好ましい。このように、再生光１８及び検出用干渉光１７の光情報記録媒体から検出手段１３までの経路が同じであれば、装置が振動したり、再生環境が変化しても、再生光１８及び検出用干渉光１７の双方にほぼ同じ影響を与えることになり、結局、検出手段１３における再生光１８と検出用干渉光１７との干渉性の低下を抑制できる。換言すれば、再生光１８及び検出用干渉光１７の光情報記録媒体から検出手段１３までの経路が異なる場合、装置の振動や再生環境の変化によって、再生光１８の受ける影響と検出用干渉光１７の受ける影響が違うため、再生光１８と検出用干渉光１７との干渉性が弱くなり、再生光１８の位相による空間変調パターンを強度による空間変調パターンに正確に変換できなくなる虞がある。
【００４９】
なお、検出用干渉光１７は、記録媒体２１を経ることなく検出手段１３に照射されていてもよい。検出用干渉光１７が記録媒体２１に照射されると、記録媒体２１の表面や各層において光の吸収や散乱が生じ、検出用干渉光１７の位相が変調されるため、検出手段１３において再生光１８と重なった時に、再生光１８の位相による空間変調パターンを強度による空間変調パターンに正確に変換できなくなる虞がある。また、再生用参照光１６の照射条件を記録時における記録用参照光と同じ条件とするために、対物レンズ１９を上下動させて焦点距離を調整させる動作（フォーカスサーボ）が必要となる。検出用干渉光１７を記録媒体２１に照射すると、フォーカスサーボによって検出用干渉光１７の光路長が変化するため、検出手段１３において再生光１８の位相による空間変調パターンとずれが生じ、位相による空間変調パターンを強度による空間変調パターンに正確に変換できなくなる虞がある。
【００５０】
検出手段１３は、少なくとも再生光１８の領域において、複数の画素を平面的に配置し、各画素毎に受光した光の強度を検出できるようになっており、光の強度を空間的に変調することで形成された空間変調パターンを検出することができる。各画素の受光素子としては、ＣＣＤ型固体撮像素子やＭＯＳ型固体撮像素子を用いることができる。また、検出手段１３として、ＣＭＯＳ型固体撮像素子と信号処理回路とが１チップ上に集積されたスマート光センサ（例えば、文献「Ｏ ｐｌｕｓ Ｅ，１９９６年９月，Ｎｏ．２０２，第９３〜９９ページ」参照。）を用いてもよい。このスマート光センサは、転送レートが大きく、高速な演算機能を有するので、このスマート光センサを用いることにより、高速な再生が可能となり、例えば、Ｇビット／秒オーダの転送レートで再生を行うことが可能となる。
【００５１】
次に、光情報再生装置１１の再生時の動作を説明する。再生用参照光生成手段１４によって生成された再生用参照光１６は、半反射透過部材２０を透過して、対物レンズ１９によって光情報記録媒体２１に対し収束するように照射され、光情報記録媒体２１の情報記録層２２に記録された干渉パターン２２ａによって回折されて再生光１８を発生させる。
【００５２】
発生した再生光１８は、記録媒体２１に反射層２３が設けられているため、記録媒体２１の再生用参照光１６の入射した面（図１の上方）から射出される。そして、再生光１８は、対物レンズ１９に入射し、半反射透過部材２０によって反射され、対物レンズ１９の射出瞳面にその空間変調パターンが結像される。図１においては、対物レンズ１９の射出瞳面に検出手段１３を配置しているが、射出瞳面と検出手段１３の間にリレーレンズ等を配置してもよい。
【００５３】
検出用干渉光生成手段１５によって生成された検出用干渉光１７は、強度調節手段１５ａによって、再生用参照光１６に比べて小さくなるように、更に好ましくは再生光１８と同程度となるように強度が調整され、再生光学系１２の半反射透過部材２０を透過し、半反射透過部材２０で反射した再生光１８と重畳するように検出手段１３に照射される。この結果、位相が空間的に変調されている再生光１８は、検出手段１３において、位相が揃った検出用干渉光１７と干渉することにより、位相の変位が強度の変位に変換され、変換された光の強度による空間変調パターンを検出手段１３によって検出することができる。
【００５４】
なお、図１の光情報再生装置１１は、再生用参照光生成手段１４として空間光変調器を使用すれば、空間光変調器に図３（ｃ）で示したように情報光及び記録用参照光の空間変調パターンを表示することで、情報光及び記録用参照光を生成することができ、光情報記録媒体２１の情報記録層２２に干渉パターン２２ａを記録することができ、光情報記録装置として使用することもできる。
【００５５】
図４は、本発明の光情報再生装置４１の一実施形態を示す図である。光情報再生装置４１は、再生光学系４２と検出手段４３とを有しており、再生光学系４２は、光源４４、コリメータレンズ４５、部分偏光板４６、偏光ビームスプリッタ４７、第１の四分の一波長板４８、空間光変調器４９、第２の四分の一波長板５０、対物レンズ５１及び偏光板５２を有している。なお、図４における光情報記録媒体２１は、図１と同様に、一対の基板２１ａ、２１ｂの間に情報記録層２２と反射層２３を有し、その情報記録層２２には、記録用参照光と記録する情報に基づいて少なくとも光の位相を空間的に変調した情報光との干渉による干渉パターン２２ａが記録されている。
【００５６】
光源４４は、コヒーレントな直線偏光の光線束を発生するもので、例えば半導体レーザを用いることができる。光源４４から発生した光は、記録時における記録用参照光と同じ波長を有することが好ましく、再生用参照光と検出用干渉光を生成する。ここで、光源４４から発生した光線束の偏光方向をＳ偏光とする。
【００５７】
コリメータレンズ４５は、光源４４から発生した発散光線束をほぼ平行光線とするものである。
【００５８】
部分偏光板４６は、平行光線のうち、検出用干渉光となる部分４６ａにおいて、Ｓ偏光に対して角度ｒを持つＲ偏光とする偏光板を配置したものである。図８（ａ）は、部分偏光板４６の平面図を示し、（ｂ）はＲ偏光を説明する図である。図８（ｂ）において、直線Ｐ、Ｒ、Ｓは、それぞれＰ偏光方向、Ｒ偏光方向、Ｓ偏光方向を示す。この部分偏光板４６によって、検出用干渉光となる部分４６ａの平行光線は、Ｓ偏光から角度ｒだけ傾いたＲ偏光になり、Ｓ偏光成分だけではなく、Ｓ偏光と垂直なＰ偏光成分を有するので、そのＳ偏光成分が偏光ビームスプリッタ４７によって反射され、Ｐ偏光成分が偏光ビームスプリッタ４７を透過する。そして偏光ビームスプリッタ４７によって反射されたＳ偏光成分の光は、検出用干渉光となるので、部分偏光板４６は検出用干渉光生成手段の一部として機能する。さらに、部分偏光板４６のＲ偏光のＳ偏光に対する角度ｒに応じて、Ｒ偏光のＳ偏光成分とＰ偏光成分が変化し、ビームスプリッタ４７を反射する光及び透過する光の強度も変化するため、部分偏光板４６は、検出用干渉光の強度を調節する強度調整手段としても機能する。なお、部分偏光板４６の検出用干渉光となる部分４６ａ以外の部分は、透明な部材であってもよいし、偏光方向がＳ偏光と平行な偏光板であってもよい。
【００５９】
偏光ビームスプリッタ４７は、図４においては、Ｓ偏光を反射し、Ｓ偏光に垂直なＰ偏光を透過するものである。
【００６０】
第１の四分の一波長板４８及び第２の四分の一波長板５０は、垂直な方向に振動する偏光の光路差を４分の１波長変化させる位相板である。四分の一波長板によってＳ偏光の光は円偏光に変化され、さらに、この円偏光の光が四分の一波長板を通過するとＰ偏光に変化されることになる。また、四分の一波長板によってＰ偏光の光は円偏光に変化され、さらに、この円偏光の光が四分の一波長板を通過するとＳ偏光に変化されることになる。
【００６１】
第１の四分の一波長板４８は、偏光ビームスプリッタ４７から空間光変調器４９に進む光の偏光方向と空間光変調器４９から偏光ビームスプリッタ４７に進む光の偏光方向とを９０°回転させるものであり、偏光ビームスプリッタ４７によって反射された光を偏光ビームスプリッタ４７を透過する光に変更するためのものである。
【００６２】
第２の四分の一波長板５０は、偏光ビームスプリッタ４７から記録媒体２１に進む光の偏光方向と記録媒体２１から偏光ビームスプリッタ４７に進む光の偏光方向とを９０°回転させるものであり、偏光ビームスプリッタ４７を透過した光を偏光ビームスプリッタ４７によって反射される光に変更するためのものである。
【００６３】
空間光変調器４９は、格子状に配列された多数の画素を有し、各画素毎に出射光の位相を変調することができる反射型の空間光変調器であり、例えばマトリクス型の液晶素子を使用することができる。そして、空間光変調器４９の表示面に表示された空間変調パターンによって、光源４４からの光を空間的に変調することにより、再生用参照光を生成することができる。更に、図４の装置において、部分偏光板４６の部分４６ａを通過した光の内、偏光ビームスプリッタ４７によって反射されたＳ偏光成分の光を検出用干渉光とする場合、空間光変調器４９は、位相を揃えたまま又は位相を空間的に変調して反射させて、検出用干渉光を生成する検出用干渉光生成手段の一部としても機能する。ここで、空間光変調器４９の検出用干渉光を生成する領域は、記録時において、情報光を生成した領域と同じ領域とすることが好ましい。
【００６４】
対物レンズ５１は、入射瞳面（図４では空間光変調器４９の表示面）に結像した再生用参照光を光情報記録媒体２１に照射し、光情報記録媒体２１から発生した再生光を入射して射出瞳面（図４では検出手段の検出面）に結像させるものである。また、対物レンズ５１は、検出用干渉光を光情報記録媒体２１に照射し、光情報記録媒体２１において反射した検出用干渉光を平行光とする。
【００６５】
偏光板５２は、Ｓ偏光の光だけを透過するものであり、部分偏光板４６の部分４６ａを通過した光の内、偏光ビームスプリッタ４７を透過したＰ偏光成分の光を遮光するためのものである。
【００６６】
検出手段４３は、少なくとも再生光１８の領域において、複数の画素を平面的に配置し、各画素毎に受光した光の強度を検出できるようになっており、光の強度を空間的に変調することで形成された空間変調パターンを検出することができる。さらに検出手段４３には、再生用参照光を遮光する遮光部材４３ａが設けられる。
【００６７】
次に、図５〜図７を用いて、図４の再生装置４１の再生時の動作について説明する。図５に示すように、光源４４から射出されたＳ偏光（図では二重の円Ｓで表示）の発散光線束５３は、コリメータレンズ４５によって平行光線５４にされる。平行光線５４は、部分偏光板４６の部分４６ａ以外を通過した光５５はＳ偏光のままであり、部分４６ａを通過した光５６だけがＲ偏光（図では光軸に斜めの矢印Ｒで表示）となる。そして、Ｓ偏光の光５５は、偏光ビームスプリッタ４７によって反射され、空間光変調器４９に向かって進み、第１の四分の一波長板４８によって円偏光（図では回転する矢印Ｃで表示）の光５７となり、空間光変調器４９に入射する。Ｒ偏光の光５６は、偏光ビームスプリッタ４７によってＳ偏光成分の光５８ａのみが反射され、空間光変調器４９に向かって進み、第１の四分の一波長板４８によって円偏光の光５７ａとなり、空間光変調器４９に入射する。また、Ｒ偏光の光５６のＰ偏光成分の光５８ａは、偏光ビームスプリッタ４７を透過し、偏光板５２によって遮光される。
【００６８】
次に、図６に示すように、空間光変調器４９に入射した光５７は、空間光変調器４９に表示された再生用参照光の空間変調パターン４９ａによって、空間的に変調された反射光が生成され、再生用参照光となる。また、空間光変調器４９に入射した光５７ａは、空間光変調器４９に表示された検出用干渉光の空間変調パターン４９ｂによって反射され、検出用干渉光が生成される。なお、検出用干渉光が位相の揃った平面波の場合は、空間変調パターン４９ｂは一様な全反射面となる。円偏光の再生用参照光６１と検出用干渉参照光６１ａは、第１の四分の一波長板４８を通過することにより、Ｐ偏光の光６２と６２ａとなり、偏光ビームスプリッタ４７を透過する。さらに、Ｐ偏光の光６２と６２ａは、第２の四分の一波長板５０を通過することにより、円偏光の光６３と６３ａとなり、対物レンズ５１によって、光情報記録媒体２１の情報記録層２２に向かって収束する光６４と６４ａとして照射される。
【００６９】
そして、図７に示すように、再生用参照光６３は、光情報記録媒体２１の情報記録層２２に記録された干渉パターン２２ａに回折されて、再生光７１を発生させると共に、反射層２３によって反射され、光情報記録媒体２１から反射再生用参照光７２が射出される。また、検出用干渉参照光６３ａは、反射層２３によって反射され、光情報記録媒体２１から反射検出用干渉参照光７２ａが射出される。円偏光の再生光７１、反射再生用参照光７２及び反射検出用干渉参照光７２ａは、対物レンズ５１によって、それぞれ平行光７３、７４、７４ａとされ、第２の四分の一波長板５０を通過することにより、Ｓ偏光の再生光７５、反射再生用参照光７６及び反射検出用干渉参照光７６ａとなる。Ｓ偏光の再生光７５、反射再生用参照光７６及び反射検出用干渉参照光７６ａは、偏光ビームスプリッタ４７によって反射され、検出手段４３に向かって進む。さらに、Ｓ偏光の再生光７５及び反射検出用干渉参照光７６ａは、偏光板５２を透過し、検出手段４３において、位相による再生光７５の空間変調パターンが結像され、反射検出用干渉参照光７６ａと干渉することによって、強度による空間変調パターンに変換され、検出手段４３によって検出される。なお、反射再生用参照光７６は、遮光手段４３ａによって遮光され、検出手段４３には入射しない。
【００７０】
なお、図４の光情報再生装置４１において、部分偏光板４６の部分４６ａの偏光方向を回動可能な構成とすれば、Ｒ偏光のＳ偏光成分とＰ偏光成分を変更することができるので、検出用干渉光の光強度を可変として、再生光の強度に合わせて検出用干渉光の光強度を設定できるので、より精度の高い検出ができる。さらに、部分偏光板４６の部分４６ａの偏光方向を回動してＲ偏光方向をＳ偏光と平行にすることで、記録装置としても利用することができる。部分４６ａの偏光方向を回動させるためには、部分４６ａ又は部分偏光板４６を回転させればよい。
【００７１】
さらに、図４の光情報再生装置４１において、空間光変調器４９による検出用干渉光の位相を変化させつつ再生光との干渉による強度変調パターンを検出することで、最適な検出用干渉光の位相を特定することができ、より精度の高い検出ができる。
【００７２】
次に、図４の光情報再生装置４１において、検出用干渉光としてＲ偏光の光５６のＰ偏光成分の光５８ａを利用する場合について、図１１〜図１３を用いて説明する。この場合、偏光板５２は、再生光と検出用干渉光との偏光方向を合わせるためのものである。
【００７３】
図１１に示すように、光源４４から射出されたＳ偏光（図では二重の円Ｓで表示）の発散光線束５３は、コリメータレンズ４５によって平行光線５４にされる。平行光線５４は、部分偏光板４６の部分４６ａ以外を通過した光５５はＳ偏光のままであり、部分４６ａを通過した光５６だけがＲ偏光（図では光軸に斜めの矢印Ｒで表示）となる。そして、Ｓ偏光の光５５は、偏光ビームスプリッタ４７によって反射され、空間光変調器４９に向かって進み、第１の四分の一波長板４８によって円偏光（図では回転する矢印Ｃで表示）の光５７となり、空間光変調器４９に入射する。Ｒ偏光の光５６は、偏光ビームスプリッタ４７においてＰ偏光（図では光軸に垂直な矢印Ｐで表示）の光５８のみが透過し、偏光板５２によって偏光方向がＲ偏光とされ、検出手段４３に入射する検出用干渉光５９となる。なお、偏光ビームスプリッタ４７によって反射されたＲ偏光の光５６のＳ変更成分の光は、図示しない遮光板によって遮光される。
【００７４】
次に、図１２に示すように、空間光変調器４９に入射した光５７は、空間光変調器４９に表示された再生用参照光の空間変調パターン４９ａによって、空間的に変調された反射光が生成され、再生用参照光となる。円偏光の再生用参照光６１は、第１の四分の一波長板４８を通過することにより、P偏光の光６２となり、偏光ビームスプリッタ４７を透過する。さらに、P偏光の光６２は、第２の四分の一波長板５０を通過することにより、円偏光の光６３となり、対物レンズ５１によって、光情報記録媒体２１の情報記録層２２に向かって収束する光６４として照射される。
【００７５】
そして、図１３に示すように、再生用参照光６３は、光情報記録媒体２１の情報記録層２２に記録された干渉パターン２２ａに回折されて、再生光７１を発生させると共に、反射層２３によって反射され、光情報記録媒体２１から反射再生用参照光７２が射出される。円偏光の再生光７１及び反射再生用参照光７２は、対物レンズ５１によって、それぞれ平行光７３、７４とされ、第２の四分の一波長板５０を通過することにより、Ｓ偏光の再生光７５及び反射再生用参照光７６となる。Ｓ偏光の再生光７５及び反射再生用参照光７６は、偏光ビームスプリッタ４７によって反射され、検出手段４３に向かって進む。さらに、偏光板５２によって再生光７５は偏光方向がＲ偏光の再生光７７となり、検出手段４３において、位相による空間変調パターンが結像され、検出用干渉光５９と干渉することによって強度による空間変調パターンに変換され、検出手段４３によって検出される。なお、反射再生用参照光７６は、遮光手段４３ａによって遮光され、検出手段４３には入射しない。
【００７６】
図９は、本発明の光情報再生装置９１の他の実施形態を示す図である。図９の光情報再生装置９１において、図４の光情報再生装置４１と同じ部材には同じ符号を付す。光情報再生装置９１の再生光学系９２は、偏光ビームスプリッタ４７と空間光変調器４９との間に第１のリレーレンズ９３ａ、９３ｂを有し、偏光ビームスプリッタ４７と検出手段４３との間に第２のリレーレンズ９４ａ、９４ｂを有している。
【００７７】
第１のリレーレンズ９３ａ、９３ｂは、部分偏光板４６から一方のレンズ９３ａまでの距離が一方のレンズ９３ａの焦点距離となり、他方のレンズ９３ｂから空間光変調器４９までの距離が他方のレンズ９３ｂの焦点距離となり、両レンズ９３ａ、９３ｂ間の距離が両レンズ９３ａ、９３ｂの焦点距離の合計となるように配置される（図９は模式図であり、各距離は正確ではない）。第１のリレーレンズ９３ａ、９３ｂによって、部分偏光板４６の部分４６ａの外縁における境界で回折される光を空間光変調器４９で収束させることができ、品質の高い再生用参照光を生成でき、結果として干渉パターン２２ａとの回折効率を高め、情報の再生の信頼性を高めることができる。
【００７８】
すなわち、部分偏光板４６は、その一部である部分４６ａだけの偏光方向を変化させるものであるから、部分４６ａの外縁における境界では回折現象によって発散する回折光が発生する。空間光変調器４９において、発散した回折光を含む光から再生用参照光が生成されると、再生用参照光は発散した回折光に基づく光も含むことになる。記録時においては、部分偏光板４６が不要であるから、記録時における記録用参照光には、部分偏光板４６で発散した回折光に基づく光が含まれないので、再生用参照光が、記録用参照光と異なるものとなり、干渉パターン２２ａとの回折効率を低下させることになる。第１のリレーレンズ９３ａ、９３ｂによって、再生用参照光には部分偏光板４６で発散した回折光に基づく光が含まれなくなるので、干渉パターン２２ａとの回折効率が高まる。
【００７９】
また、第２のリレーレンズ９４ａ、９４ｂは、部分偏光板４６から一方のレンズ９４ａまでの距離が一方のレンズ９４ａの焦点距離となり、他方のレンズ９４ｂから検出手段４３までの距離が他方のレンズ９４ｂの焦点距離となり、両レンズ９４ａ、９４ｂ間の距離が両レンズ９４ａ、９４ｂの焦点距離の合計となるように配置される（図９は模式図であり、各距離は正確ではない）。第２のリレーレンズ９４ａ、９４ｂによって、部分偏光板４６の部分４６ａの外縁における境界で回折される光を検出手段４３で収束させることができ、品質の高い検出用干渉光を生成でき、結果として再生光の位相による空間変調パターンをより正確に強度による空間変調パターンに変換することができ、情報の再生の信頼性を高めることができる。
【００８０】
なお、図９においては、第１及び第２のリレーレンズを設けたが、何れか一方のリレーレンズだけを設けてもよい。また、第１の四分の一波長板４８は、図９の配置に限定されるものではなく、偏光ビームスプリッタ４７から空間光変調器４９までの間に配置されればよく、偏光板５２は、図９の配置に限定されるものではなく、偏光ビームスプリッタ４７から検出手段４３までの間に配置されればよい。また、図９の装置９１において、検出用干渉光は、部分偏光板４６の部分４６ａによって生成されたＲ偏光の光のうち、Ｓ偏光成分の光を用いても、Ｐ偏光成分の光を用いてもよい。
【００８１】
図１０は、本発明の光情報再生装置１０１の他の実施形態を示す図である。図１０の光情報再生装置１０１において、図４の光情報再生装置４１と同じ部材には同じ符号を付す。光情報再生装置１０１の再生光学系１０２は、強度調節手段１０６と、ビームスプリッタ１０７とを有している。
【００８２】
強度調節手段１０６は、検出用干渉光の光強度を調節するものであり、強度フィルター又は段階的に強度を変調できる空間光変調器であり、部分１０６ａを透過する光の強度を弱める。
【００８３】
ビームスプリッタ１０７は、偏光方向の選択性を持たず、入射した光の一部を反射し、他の一部を透過する部材である。したがって、光源４４から射出され、コリメータレンズ４５で平行となり、強度調節手段１０６を通過した光の一部は、ビームスプリッタ１０７によって反射されて空間光変調器４９に向かって進み、他の一部は、ビームスプリッタ１０７を透過して検出手段４３に向かって進む。ビームスプリッタ１０７を透過した他の一部の光において、部分１０６ａの光が検出用干渉光となる。
【００８４】
ビームスプリッタ１０７によって反射された一部の光は、空間光変調器４９によって再生用参照光を生成し、再生用参照光は、再びビームスプリッタ１０７に入射する。なお、空間光変調器４９に向かう再生用参照光の生成に必要ない光は、遮光手段で遮光すればよい。再生用参照光は、ビームスプリッタ１０７によって、一部が反射されるが、他の一部は透過し、対物レンズ５１によって記録媒体２１に対し収束するように照射される。
【００８５】
再生用参照光によって記録媒体２１の情報記録層２２から発生した再生光は、対物レンズ５１によって平行光とされ、ビームスプリッタ１０７に入射し、ビームスプリッタ１０７によって、一部が反射され検出手段４３に向かう。そして、検出手段４３において、検出用干渉光と干渉して位相による空間変調パターンを強度による空間変調パターンに変換する。
【００８６】
図１０の光情報再生装置は、光の分割に偏光方向を利用していないため、図４及び図９における第１及び第２の四分の一波長板４８、５０並びに偏光板５２が不要である。
【００８７】
なお、本発明は、前述した実施の形態に限定されるものではなく、必要に応じて種々の変更が可能である。例えば、記録媒体に位置決め情報や制御情報を有する制御情報層を積層させて、干渉パターンを再生する光とは波長の異なる光を用いて、制御情報層の位置決め情報や制御情報を再生し、再生位置の位置決めや、再生条件を決定してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明の光情報再生装置における情報の再生の原理を示す説明図
【図２】検出用干渉光と再生光との干渉を説明する図
【図３】記録時における情報光及び記録用参照光の照射方法について説明する図
【図４】本発明の光情報再生装置の一実施形態を示す図
【図５】本発明の光情報再生装置の再生時の動作を説明する図
【図６】本発明の光情報再生装置の再生時の動作を説明する図
【図７】本発明の光情報再生装置の再生時の動作を説明する図
【図８】（ａ）は部分偏光板の平面図、（ｂ）はＲ偏光を説明する図
【図９】本発明の光情報再生装置の他の実施形態を示す図
【図１０】本発明の光情報再生装置の他の実施形態を示す図
【図１１】本発明の光情報再生装置の再生時の動作を説明する図
【図１２】本発明の光情報再生装置の再生時の動作を説明する図
【図１３】本発明の光情報再生装置の再生時の動作を説明する図
【符号の説明】
【００８９】
１１  光情報再生装置
１２  再生光学系
１３  検出手段
１４  再生用参照光生成手段
１５  検出用干渉光生成手段
１５ａ  強度調節手段
１６  再生用参照光
１７  検出用干渉光
１８  再生光
１９  対物レンズ
２０  半反射透過部材
【図１】
2008046352.tif 000003
【図２】
2008046352.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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