(57)【要約】【課題】ネットワーク中継装置において容易に性能限界のデータ量を転送する状態を作り出すことにより、データ転送処理の機能についてのマージンを試験する。【解決手段】試験処理部３によりルータ１における転送経路がループ状に設定される。ネットワークプロセッサ４２において、試験処理部３により、ＴＴＬ値の減算が抑止され、データがループ状の転送経路に沿って順に送信されるようにルーティングテーブル４２１が設定される。これにより、試験処理部３は、ループ状の転送経路上を所定の数のデータを周回させ、周回させたデータを検査する。【選択図】図４
2008035333.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ネットワーク中継装置の送受信能力を試験するネットワーク中継装置の試験方法であって、
当該ネットワーク中継装置における転送経路をループ状に設定し、
前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるＴＴＬ値を減算する少なくとも１個の回路部において、ＴＴＬ値の減算を抑止し、
前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定し、
所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、
前記周回させられたデータを検査する
ことを特徴とするネットワーク中継装置の試験方法。
【請求項２】
前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と当該ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを、当該ネットワーク中継装置の内部において接続することにより、ループ状に設定される
ことを特徴とする請求項１に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
【請求項３】
前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置の入力端子と出力端子とを接続ケーブルにより接続することにより、ループ状に設定される
ことを特徴とする請求項１に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
【請求項４】
前記転送経路上に存在し前記ルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、当該回路部により受信されたデータが前記検査を行う回路部に送信されるように前記ルーティングテーブルを変更することにより、前記周回させられたデータを回収する
ことを特徴とする請求項１に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
【請求項５】
当該ネットワーク中継装置の送受信能力を試験することが可能なネットワーク中継装置であって、
当該ネットワーク中継装置における転送経路をループ状に設定するループ設定手段と、
前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるＴＴＬ値を減算する少なくとも１個の回路部において、ＴＴＬ値の減算を抑止するＴＴＬ設定手段と、
前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定する設定手段と、
所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する試験処理手段とを備える
ことを特徴とするネットワーク中継装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置に関し、特に、ネットワーク中継装置のデータ転送処理の機能についてのマージンを試験するネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ルータ（ＩＰルータ）の高速化、高集積化及び低電圧化が進み、マージンを確保した設計が困難になっている。このため、信号のノイズジッタに対するマージンの不足が、障害発生の原因となるおそれがある。マージン不足に起因した障害は、ルータが性能限界付近で動作している場合に顕在化する。そこで、試験対象のルータ（被試験ルータ）が性能限界のデータ量を転送する状態を作り出すことにより、データ転送処理の機能についてのマージンが十分確保されているか否かについての試験を行う必要がある。
【０００３】
例えば、図１２（Ａ）に示すように、試験パケットを生成し送信する試験装置１０２が、被試験ルータ１０１の外部に接続され、被試験ルータ１０１にパケットを連続して送信する。これにより、被試験ルータ１０１で中継された試験パケットが試験装置１０２により受信され、試験パケットが到達したかの検査やその内容の検査に用いられる。
【０００４】
ここで、図１２（Ｂ）に示すように、被試験ルータ１０１と試験装置１０２との間を接続するインタフェース（例えば、イーサネット（登録商標）ＧｂＥ）の転送性能の規格が、１Ｇｂｐｓの転送性能であるとする。通常、被試験ルータ１０１の転送性能は、インタフェースの転送性能の規格１Ｇｂｐｓを上回るようにマージンを考慮して、例えば１．２Ｇｂｐｓに設計される。しかし、インタフェースの転送性能以上の試験パケットの送受信は不可能である。従って、この場合、マージンを考慮して設計されたルータについて、データ転送量の上限値に着目した試験を行うことは不可能である。
【０００５】
そこで、外部の試験装置１０２を用いずに、被試験ルータ１０１の内部において、試験を行うことが考えられる。この場合、図１２（Ｃ）に示すように、被試験ルータ１０１を構成する複数の半導体装置（チップ）１０４１〜１０４４において試験パケットの生成、送信、受信及び検査が行われる。
【０００６】
一方、現在のルータでは、スイッチング容量が膨大な規模となっており、また、送受信経路が別々に実装されている（全二重通信可能な構造が採用されている）。このため、被試験ルータ１０１の内部において多数の試験パケットが同時に転送されている状態を作り出し、動作を検証する必要がある。そこで、例えば、試験対象のルータの内部において折返し機構の利用と試験パケットのＴＴＬ（Time to Live）値の設定を工夫することにより、一つの試験パケットが転送経路を複数回通過する状態を作り出し、転送負荷を向上することが知られている（特許文献１）。
【特許文献１】特開２０００−１５１７０１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明者の検討によれば、前述のように、被試験ルータ１０１の内部において試験を行う場合、以下のような問題がある。
【０００８】
即ち、図１２（Ｃ）に示すように、試験パケットの生成及び送信を行う試験処理プログラム１０３１が、半導体装置１０４１に設けられる。従って、半導体装置１０４１における試験用処理が追加され、その分だけ半導体装置１０４１のパケットの送信性能が低下する。試験パケットの受信及び検査を行う試験処理プログラム１０３２が設けられた半導体装置１０４４においても、同様に、パケットの受信性能が低下する。従って、データ転送量の上限値を満たす数の試験パケットを転送することが困難である。
【０００９】
また、被試験ルータ１０１において、通常、パケット転送経路は専用のハードウェアにより構成されているため、ＣＰＵがパケットを送信する速度（頻度又は送出間隔Ｔ１）より経路上の転送速度の方が速い。例えば、前述の特許文献１に記載の技術において、図１２（Ｄ）に示すように、ＣＰＵの送出した試験パケットＰ１が、転送経路で例えば２５５回ループした後、ＣＰＵに戻るとする。しかし、ＣＰＵが試験パケットＰ２を送出する前に、試験パケットＰ１がＣＰＵに戻ってくる可能性が高い。従って、試験パケットＰ１が転送経路でループしている間に、図１２（Ｄ）に点線で示すように、次の試験パケットＰ２を送出することができない。このため、経路上を多数のパケットＰ１、Ｐ２、・・・が同時に転送されている状態を作り出すことが困難である。
【００１０】
本発明は、試験対象のネットワーク中継装置において容易に性能限界のデータ量を転送する状態を作り出すことにより、データ転送処理の機能についてのマージンを試験するネットワーク中継装置の試験方法を提供することを目的とする。
【００１１】
また、本発明は、試験対象のネットワーク中継装置において容易に性能限界のデータ量を転送する状態を作り出すことにより、データ転送処理の機能についてのマージンを試験するネットワーク中継装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明のネットワーク中継装置の試験方法は、ネットワーク中継装置の送受信能力を試験するネットワーク中継装置の試験方法であって、当該ネットワーク中継装置における転送経路をループ状に設定し、前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるＴＴＬ値を減算する少なくとも１個の回路部において、ＴＴＬ値の減算を抑止し、前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定し、所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する。
【００１３】
好ましくは、本発明の一実施態様において、前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と当該ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを、当該ネットワーク中継装置の内部において接続することにより、ループ状に設定される。
【００１４】
好ましくは、本発明の一実施態様において、前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置の入力端子と出力端子とを接続ケーブルにより接続することにより、ループ状に設定される。
【００１５】
好ましくは、本発明の一実施態様において、前記転送経路上に存在し前記ルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、当該回路部により受信されたデータが前記検査を行う回路部に送信されるように前記ルーティングテーブルを変更することにより、前記周回させられたデータを回収する。
【００１６】
本発明のネットワーク中継装置は、当該ネットワーク中継装置の送受信能力を試験することが可能なネットワーク中継装置であって、当該ネットワーク中継装置における転送経路をループ状に設定するループ設定手段と、前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるＴＴＬ値を減算する少なくとも１個の回路部において、ＴＴＬ値の減算を抑止するＴＴＬ設定手段と、前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定する設定手段と、所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する試験処理手段とを備える。
【発明の効果】
【００１７】
本発明のネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置によれば、転送経路をループ状に設定し、ＴＴＬ値の減算を抑止し、ループ状に設定された転送経路上を所定の数のデータを周回させる。これにより、例えばパケットのようなデータが、ループ状に設定された転送経路上を周回し続ける状態を作り出すことができる。従って、ネットワーク中継装置において、転送経路が専用のハードウェアにより構成され極めて高速の転送速度であっても、ＣＰＵがパケットを送信する速度（送信する頻度又は時間間隔）に拘りなく、転送経路上のデータ転送量を制御することができる。この結果、転送されるデータが転送経路上に多く存在する状態を作り、データ転送処理の機能についてその性能限界の状態を作ることができる。従って、このような周回させられたデータを回収して検査することにより、データ転送処理の機能についてのマージン（データ転送マージン）不足に起因する障害を検出する試験（データ転送マージン試験）を行うことができる。
【００１８】
また、本発明の一実施態様によれば、転送経路が受信経路と送信経路とを当該ネットワーク中継装置の内部において接続することによりループ状に設定される。例えば、接続の手段として当該ネットワーク中継装置が備えるループバック経路を用いることができる。これにより、当該ネットワーク中継装置が備える機能を利用して、その内部で、データ転送処理の機能についてのマージンの試験を行うことができる。
【００１９】
また、本発明の一実施態様によれば、転送経路が入力端子と出力端子とを接続ケーブルにより接続することによりループ状に設定される。これにより、事実上、当該ネットワーク中継装置の内部で、データ転送処理の機能についてのマージンの試験を行うことができる。
【００２０】
また、本発明の一実施態様によれば、ルーティングテーブルを変更することにより周回させられたデータを回収する。これにより、当該ネットワーク中継装置が備える機能を利用して、データ転送処理の機能についてのマージンの試験を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
図１は、本発明のルータ試験方法を実現するルータの構成の一例を示す構成図である。ルータ１は、ネットワーク（図示せず）に接続されるネットワーク中継装置（又は通信中継装置）であり、送受信の対象データであるパケット（ＩＰパケット）を受信し、受信したパケットを当該パケットのヘッダに記述された宛先（送信先）に対して送信する機能（ルーティング機能）を備える。ルータ１は、試験対象のルータ（被試験ルータ）であって、データ転送マージン試験をその内部において実行する機能を備える。
【００２２】
ルータ１は、プロセッサ２、スイッチＬＳＩ（ＳＷチップ）４１、ネットワークプロセッサＬＳＩ（ＮＰチップ）４２、４４及び４６、送受信ＬＳＩ（ＰＨＹチップ）４３、４５及び４７を備える。また、ルータ１は、通信経路５及び５’、受信経路６１、６３及び６５、送信経路６２、６４及び６６、ループバック経路７１〜７３、複数の入出力端子８１〜８６を備える。例えば、入力端子８１とこれに対応する出力端子８２とでポート＃０が構成される（他についても同じ）。
【００２３】
通信経路５及び５’は双方向の通信経路である。通信経路５は、ＳＷチップ４１内における通信経路であり、ＳＷチップ４１内において受信経路及び送信経路６１〜６６の間を接続する。通信経路５’は、通信経路５とプロセッサ２との間を接続する。受信経路６１、６３及び６５は、付記した矢印で示す単一方向（受信方向）の通信経路であり、ルータ１が受信したパケットが転送される経路である。送信経路６２、６４及び６６は、付記した矢印で示す単一方向（送信方向）の通信経路であり、ルータ１が送信すべきパケットが転送される経路である。
【００２４】
通信経路５（通信経路５’を除く）、受信経路６１、６３及び６５、送信経路６２、６４及び６６、ループバック経路７１〜７３が、ルータ１の内部における転送経路（データ転送経路又はパケット転送経路）を構成する。この明細書において転送経路とはこれらの全部又は一部を指す。ＳＷチップ４１、ＮＰチップ４２、４４及び４６、ＰＨＹチップ４３、４５及び４７は、転送経路上に存在し、当該転送経路の一部を構成する。
【００２５】
プロセッサ２は、ＣＰＵ及びメモリ（共に図示せず）からなり、データ転送マージン試験を行う試験処理部３を備える。プロセッサ２は、ルータ１において、転送経路から分離された位置に設けられる。この例では、試験処理部３は、プロセッサ２上で動作するファームウェア（試験処理プログラム）として設けられる。試験処理部３は、ルータ１に接続される保守用コンソール（図示せず）を通じて、起動されてデータ転送マージン試験処理を行い、その結果を保守用コンソールに通知する。なお、試験処理部３は、ファームウェア上の試験プログラムとして設ける以外に、専用のハードウェアとして設けるようにしても良い。
【００２６】
図２（Ａ）はＰＨＹチップ４３の構成を示す。ＰＨＹチップ４３は、入出力回路部（又は回線制御回路部）であり、ポート＃０又は入出力端子８１及び８２の対に対応して設けられ、転送経路上の入力出力端子に最も近い位置（即ち、回線側）に設けられる。ＰＨＹチップ４３は、対応する入出力端子対を介してのパケットの入力（受信）処理及び出力（送信）処理を行う。即ち、ＰＨＹチップ４３はパケットを送信し受信する。ＰＨＹチップ４３は、受信経路６１と送信経路６２を接続するループ制御部４３１を備える。ループ制御部４３１は、ループバック経路７１と、そのスイッチＳＷ１及びＳＷ２（例えば、ＭＯＳＦＥＴからなる）とを含む。ＰＨＹチップ４５及び４７もＰＨＹチップ４３と同様の構成を備える。
【００２７】
ＰＨＹチップ４３は、通常の動作時において、入力端子８１で受信したパケットをＮＰチップ４２へ送信し、また、ＮＰチップ４２から受信したパケットを出力端子８２を介して所定の送信先へ送信する。この時、受信経路６１及び送信経路６２は、スイッチＳＷ１及びＳＷ２により、ループバック経路７１とは切り離されている。
【００２８】
ＰＨＹチップ４３は、試験処理時において、ループ状の転送経路を構成し、送信経路６２から受信したパケットを、ループバック経路７１を介して、受信経路６１へ送信する。即ち、ループ制御部４３１がスイッチＳＷ１及びＳＷ２を切り替えることにより、受信経路６１及び送信経路６２とループバック経路７１とが接続される。この時、受信経路６１及び送信経路６２は、入力端子８１及び出力端子８２との接続を切断される。これにより、送信経路６２、ループバック経路７１、受信経路６１の順に、転送経路（の一部）が形成される。
【００２９】
このように、本発明においては、例えば送信経路６２と受信経路６１とをループバック経路７１により接続する。従って、送信経路６２と受信経路６１とが、別々に（相互に独立に）実装されていなければならない（全二重通信可能でなければならない）。送信経路と受信経路の組（対）は、１又は複数設けられ、対応する経路同士を組み合わせることにより、前記ループ状に設定される。従って、ループ状の転送経路も１又は複数設けられる（設定される）。
【００３０】
図２（Ｂ）はＮＰチップ４２の構成を示す。ＮＰチップ４２は、入出力回路部からのパケットを中継する中継回路部であり、ポート＃０又はＰＨＹチップ（入出力回路部）４３に対応して設けられる。即ち、ＮＰチップ４２は、ＰＨＹチップ４３及びＳＷチップ４１から受信したパケットを解析し、これに基づいて当該パケットを編集して、ＳＷチップ４１又はＰＨＹチップ４３に送信する。ＮＰチップ４２は、ルーティングテーブル４２１、ＴＴＬ抑止部４２２、パケット数カウンタ４２３を備える。ＮＰチップ４４及び４６もＮＰチップ４２と同様の構成を備える。
【００３１】
ＮＰチップ４２は、パケットの転送方向を定義するルーティングテーブル４２１に従って、所定の送信元（ポート）から受信したパケットを所定の送信先（ポート）へ送信する。ルーティングテーブル４２１は、パケット（の種類）毎に、当該パケットの送信元に応じてその送信先を予め定める（格納する）。
【００３２】
ＮＰチップ４２は、通常の動作時において、例えばパケットの受信の都度、当該ＴＴＬ値を「１」だけ減算する。即ち、パケットは、ヘッダの所定の位置に記述されたＴＴＬ値を備え、ＮＰチップ４２を通過する都度にＴＴＬ値を減算される。ＴＴＬ値が「０」となったパケットは当該ＮＰチップ４２において廃棄される。一方、ＮＰチップ４２は、試験処理時において、ＴＴＬ抑止部４２２により、パケットのＴＴＬ値が減算（更新）されることを抑止する。これにより、パケットがＴＴＬ値の減算処理により廃棄されることを抑止することができる。ＴＴＬ値の減算の抑止に代えて、パケット数カウンタ４２３が、ＮＰチップ４２を通過した（送信された及び受信された）パケット数をカウントする。
【００３３】
図３（Ａ）はＳＷチップ４１の構成を示す。ＳＷチップ４１は、スイッチ回路部であり、複数のＮＰチップ４２、４４及び４６のいずれかから受信したパケットを複数のＮＰチップ４２、４４及び４６のいずれかに送信する。ＳＷチップ４１は、複数のスイッチ（例えば、ＭＯＳＦＥＴ）からなるＳＷ制御部４１１を備え、パケットを所定の送信先へ送信する。ＳＷ制御部４１１を構成する複数のスイッチ及びその配線が、通信経路５を構成すると考えて良い。
【００３４】
ＳＷチップ４１は、パケットの宛先（送信先）に応じて、ＳＷ制御部４１１のスイッチを切り替えることにより、受信したパケットを所定の送信先へ送信する。また、ＳＷチップ４１は、試験処理の後処理において、ＳＷ制御部４１１のスイッチを切り替えることにより、受信したパケットを試験処理部３へ送信する。これにより、ＳＷチップ４１で受信されたパケット（試験パケット）は、試験処理部３に回収される。
【００３５】
図３（Ｂ）は試験処理部３の構成を示す。試験処理部３は、パケットの送受信におけるマージンを検証するために、被試験ルータ１の内部において、データ転送マージン試験を行う。データ転送マージン試験処理は、例えば、試験の前処理（試験モードの設定処理）、実際の試験処理（試験パケットの送受信処理）、試験の後処理（検査処理及び試験モードの解除処理）からなる。
【００３６】
試験処理部３は、ルーティングテーブル設定変更部（以下、単にテーブル設定部という）３１、ＴＴＬ設定部３２、ループ設定部３３を備える。テーブル設定部３１は、パケットの転送方向を定義する。ＴＴＬ設定部３２は、ＴＴＬ値を減算するＮＰチップ（回路部）４２におけるＴＴＬ値の減算を抑止する。ループ設定部３３は、ルータ１における転送経路をループ状に設定する。データ転送量上限値（以下、上限値と言う）limit を保持し、データ転送量len をカウントする。
【００３７】
試験処理部３によるデータ転送マージン試験処理の詳細について、図４〜図６及び図７（Ａ）を参照して説明する。
【００３８】
この例において、試験処理部３は、図４に示すように、複数のループ状の転送経路を設定する。ここで、図５〜図６及び図７（Ａ）は、説明の簡単化のために、ＳＷチップ４１、ＮＰチップ４２及びＰＨＹチップ４３により形成される１個のループ状の転送経路におけるデータ転送マージン試験について説明する。なお、試験処理部３は、実際には、後述する図９及び図１０に示すように、これらの複数のループ状の転送経路を用いてデータ転送マージン試験を行う。
【００３９】
被試験ルータ１において、図５（Ａ）に点線で示すように、受信経路６１と送信経路６２とは、これらにループバック経路７１が接続されていないので、相互に接続されていない状態にある。
【００４０】
この状態で、試験処理部３が、試験の前処理として、転送経路をループ状に設定し、ルーティングテーブル４２１を設定し、ＴＴＬ値の減算の抑止を設定する。
【００４１】
まず、試験処理部３は、ループ設定部３３により、被試験ルータ１の内部において、被試験ルータ１における転送経路をループ状に設定する。即ち、ループ設定部３３がループ制御部４３１にループの設定を指示する。この指示に従って、ループ制御部４３１がスイッチＳＷ１及びＳＷ２を切り替えて、受信経路６１と送信経路６２とをループバック経路７１により接続することにより、転送経路がループ状に設定される。これにより、図５（Ｂ）に示すように、ルータ１の内部において、ループ状の転送経路（試験用経路）を形成することができる。
【００４２】
また、試験処理部３は、テーブル設定部３１により、ＮＰチップ４２にルーティングテーブル４２１の設定（設定内容）を指示する。この指示に従って、ＮＰチップ４２がルーティングテーブル４２１を当該指示された内容に設定する。当該内容は、例えば、ポート＃０（即ち、入力端子８１又はＰＨＹチップ４３）から受信した試験パケットはポート＃０（即ち、出力端子８２又はＰＨＹチップ４３）へ送信するように設定される。これにより、試験パケットがループ状の転送経路を周回することが可能となる。
【００４３】
また、試験処理部３は、ＴＴＬ設定部３２により、ＴＴＬ抑止部４２２に対してＴＴＬ値の減算の抑止を指示する。この指示に従って、ＴＴＬ抑止部４２２がＮＰチップ４２におけるＴＴＬ値の減算を抑止する（禁止する）。これにより、転送経路を周回する試験パケットが、周回の途中で廃棄されることを防止することができる。
【００４４】
更に、試験処理部３は、ルータ１に接続される保守用コンソールからの入力に従って、上限値limit を保持する。上限値limit は、ＮＰチップ４２等の処理性能、転送経路（バス）の転送性能、転送経路上のバッファメモリ（図示せず）の容量などのマージンを考慮して決定される。これにより、上限値limit を満たす（超える又は近い）数の試験パケットを転送経路に送信し、マージンについての適切な試験を行うことができる。
【００４５】
以上により、試験の前処理が完了する。これに続いて、試験パケットの送受信処理として、試験処理部３は、試験パケットを生成し、試験パケットをループ状の転送経路上に送信し、周回させられた試験パケットを受信（回収）する。
【００４６】
まず、試験処理部３は、試験パケットを生成する。生成される試験パケットの宛先（送信先）は、予め定められ、例えばポート＃０とされる。試験パケットのパケット長は、予め定められ、検査のためにそのヘッダに記述される。試験パケットのデータの内容は、予め定められ、検査のためにメモリ（図示せず）に記録される。ＴＴＬ値は、減算されないので、「１」以上であれば良い。
【００４７】
この後、試験処理部３は、上限値limit 及びデータ転送量len を用いることにより、所定の数の試験パケットをループ状の転送経路上に送信する。これにより、転送経路上を所定の数のパケットを周回させる。
【００４８】
まず、図５（Ｃ）に点線で示すように、試験処理部３が、通信経路５’を介して、試験パケットをＳＷチップ４１に送信する。これを受信したＳＷチップ４１は、試験パケットの宛先がポート＃０であるので、これに対応する送信経路６２を介して、試験パケットをＮＰチップ４２に送信する。
【００４９】
このようにして送信された試験パケットは、ＮＰチップ４２のルーティングテーブル４２１に従って、図６（Ａ）に点線で示すように、ループ状の転送経路を１周して、ＳＷチップ４１に戻る。
【００５０】
即ち、ＮＰチップ４２は、試験パケットを解析して、その宛先ポート＃０を知り、試験パケットを送信経路６２を介してポート＃０に送信する。この時、ＴＴＬ抑止部４２２が試験パケットのＴＴＬ値の減算を抑止し、（送信経路６２用の）パケット数カウンタ４２３が送信したパケット数をカウントする。ポート＃０（ＰＨＹチップ４３）において、試験パケットは、ループバック経路７１により強制的に折り返され、受信経路６１を介してＮＰチップ４２に送信される。ＮＰチップ４２は、試験パケットを解析して、試験パケットをポート＃０から受信したことを知り、試験パケットの宛先をポート＃０に編集して、当該試験パケットをポート＃０に送信するために受信経路６１を介してＳＷチップ４１に送信する。この時も、ＴＴＬ抑止部４２２が試験パケットのＴＴＬ値の減算を抑止し、（受信経路６１用の）パケット数カウンタ４２３が受信したパケット数をカウントする。
【００５１】
この試験パケットを受信したＳＷチップ４１は、試験パケットの宛先がポート＃０であるので、図６（Ｂ）に点線で示すように、送信経路６２を介して、試験パケットをＮＰチップ４２に送信する。また、ＳＷチップ４１は、図６（Ｂ）に点線で示すように、試験処理部３から通信経路５’を介して受信した試験パケットもＮＰチップ４２に送信する。
【００５２】
試験処理部３は、送信した試験パケットの数が上限値limit に達するまで、試験パケットを繰り返し送信する。この間、ＴＴＬ値の減算を抑止しているので、試験パケットは廃棄されない。これにより、上限値limit に相当する数の試験パケットがループ状の転送経路を周回する。
【００５３】
試験処理部３は、上限値limit に相当する数（所定の数）の試験パケットを送出した後、図６（Ｃ）に点線で示すように、試験パケットの送出を停止して、所定時間が経過するのを待つ。この時点で、図６（Ｃ）に点線で示すように、上限値limit に相当する数の試験パケットがループ状の転送経路上を周回している。これにより、データ転送マージン試験が行われている。即ち、被試験ルータ１は実際の試験状態にある。
【００５４】
この実際の試験状態の間、試験処理部３は所定時間が経過するのを待つ待ち状態にある。従って、プロセッサ２は試験のための処理を殆ど実行しない（停止する）ので、プロセッサ２に対する試験の負荷は殆ど無い。これにより、被試験ルータ１の実際の運用状態（試験の負荷が無い状態）に近い状態で、試験を行うことができる。
【００５５】
また、試験パケットが周回し続けるため、転送経路上を転送されるデータ量は、試験パケットの「データ量」のみに依存し、試験パケットの「送信頻度（送信の間隔）」には依存しない。従って、上限値limit に相当する数の試験パケット（のデータ量）が送信されれば、被試験ルータ１の内部で性能限界のパケット転送を実施する状態になる。これにより、従来は困難であったインタフェースで規定されているデータ転送量以上の数の試験パケットを送信し、試験することができる。
【００５６】
更に、上限値limit に相当する数の試験パケットに着目した試験を実施することにより、被試験ルータ１の内部におけるデータ転送の性能の限界付近のマージンを検証することができる。従って、従来は困難であった設計検証、製造工程でのマージンに起因する障害を検出することができる。
【００５７】
図６（Ｃ）の状態で所定の時間が経過すると、試験処理部３は、テーブル設定部３１によりルーティングテーブル４２１を変更し、周回させられた試験パケットを受信（回収）する。所定の時間とは、試験パケットの送信の停止からの時間、即ち、転送経路上を所定の数のパケットが周回する状態となってからの時間であり、最後に送信した試験パケットが転送経路を少なくとも１周するのに必要とする時間である。ルーティングテーブル４２１の変更による試験パケットの回収は、後処理と考えても良い。具体的には、テーブル設定部３１がＮＰチップ４２にルーティングテーブル４２１の設定（設定内容）を指示する。当該内容は、例えばポート＃０から受信した試験パケットは試験処理部３が動作するプロセッサ２へ送信するように設定される。これにより、試験パケットをプロセッサ２へルーティングし、試験処理部３で受信することができる。
【００５８】
この設定変更により、ＳＷチップ４１は、図７（Ａ）に示すように、ＮＰチップ４２から受信した試験パケットを試験処理部３に送信する。これに応じて、試験処理部３は、試験パケットを受信する。これにより、ループ状の転送経路上を周回していた試験パケットが、試験処理部３に回収される。
【００５９】
以上により、試験パケットの送受信処理が完了する。これに続いて、試験の後処理として、試験処理部３は、回収した試験パケットについての検査を行い、試験の結果を通知し、前処理により設定した試験モードを解除する。
【００６０】
まず、試験処理部３は、受信した試験パケットについて検査（確認）する。第１に、受信した試験パケットのパケット長が、そのヘッダに記述されているパケット長と同じであるか否かが検査される。第２に、受信した試験パケットの内容にデータ比較エラーが生じているか否かが検査される。第３に、最終的に送信した試験パケットの数と受信した試験パケットの数とが一致する（即ち、試験パケットの廃棄が発生していない）か否かが検査される。第４に、式（１）及び（２）により求まるパケット転送量が、被試験ルータ１の仕様に対して妥当な値である（スループットが妥当である）か否かが検査される。
【００６１】
即ち、式（１）は、ビットレート(bps：ビット／セコンド) を算出する式であり、パケット転送量(bps) ＝（転送経路上のパケット転送カウンタのカウント値）＊（パケット長（ｂｉｔ）／試験時間（秒））である。式（２）は、パケットのスループット(pps：パケット／セコンド) を算出する式であり、パケット転送量(pps) ＝（転送経路上のパケット転送カウンタのカウント値）／（試験時間（秒））である。
【００６２】
また、試験処理部３は、被試験ルータ１に接続される保守用コンソールにその結果を通知する。なお、この通知に代えて、メモリに記録を格納するようにしても良い。
【００６３】
更に、試験処理部３は、前述の処理とは逆の処理により、ループ設定部３３によりループの設定を解除し、ＴＴＬ設定部３２によりＴＴＬ値の減算の抑止の設定を解除し、テーブル設定部３１によりルーティングテーブル４２１の設定を解除する。即ち、被試験ルータ１を図５（Ａ）の状態とする。
【００６４】
なお、図７（Ｂ）に示すように、複数の回路部４８１〜４８８が、ループ状に設定された転送経路上に存在しても良い。即ち、被試験ルータ１において、ループ状に設定された転送経路上に存在する回路部は、ＳＷチップ４１、ＮＰチップ４２及びＰＨＹチップ４３の３個には限られない。
【００６５】
図７（Ｂ）の場合、ループバック経路は回路部４８１〜４８８のいずれかが予め備えれば良い。例えば、ループバック経路は、回路部４８１〜４８８の中で、被試験ルータ１の入力端子８１と出力端子８２とに接続された回路部４８１及び４８８に予め備えられる。同様に、ＳＷチップ４１に相当する回路部が、回路部４８１〜４８８の中で、試験処理部３に近接して設けられる回路部４８４及び４８５に予め備えられる。また、これら以外の転送経路上に存在する回路部４８２、４８３、４８６及び４８７は、図２（Ｂ）に示すＮＰチップ４２と同様の構成を備える。なお、回路部４８４及び４８５が、ＮＰチップ４２と同様の構成を備え、パケット（試験パケット）をルーティングするようにしても良い。
【００６６】
図８は、本発明のルータ試験処理フローであり、被試験ルータ１において実行されるルータ試験処理の一例を示す。
【００６７】
試験処理部３が、オペレータの入力指示に従って、パラメータ"len" に初期値「０」を設定し、パラメータ"limit" にデータ転送量の上限値limit を設定し（ステップＳ１）、更に、オペレータの入力指示に従って、試験を開始する。
【００６８】
最初に、試験処理部３が試験の前処理を行う。即ち、ループ設定部３３が、ＰＨＹチップ４３のループ制御部４３１のループバック経路７１を利用することにより、送信経路６２と受信経路６１とを接続して、ループ状の転送経路を設定する（ステップＳ２）。また、テーブル設定部３１が、ＮＰチップ４２のルーティングテーブル４２１を設定することにより、試験パケットが装置内で周回するように設定する（ステップＳ３）。この時、ＴＴＬ設定部３２が、ＴＴＬ抑止部４２２により、ＮＰチップ４２におけるＴＴＬの減算を抑止するように設定する（ステップＳ４）。
【００６９】
この後、試験処理部３が、試験パケットの送信処理を開始する。この送信処理において、試験処理部３が、その時点での変数len に送信した試験パケットのデータ量を加算した値を変数len に設定し（ステップＳ５）、パラメータ"len" とパラメータ"limit" とを比較して、len ≧limit が成立するか否かを調べ（ステップＳ６）、成立しない場合、ステップＳ５を繰り返す。
【００７０】
成立する場合、試験処理部３が、試験パケットの送信処理を終了して、試験の終了待ち状態となり、その後、試験パケットの回収処理を開始する。即ち、試験処理部３が、前記len ≧limit の成立から一定時間が経過するのを待って（ステップＳ７）、ルーティングテーブル４２１を変更することにより、周回している試験パケットが試験処理部３（プロセッサ２）を宛先とするように設定する（ステップＳ８）。
【００７１】
この変更に応じて試験パケットが試験処理部３に送信されるので、試験処理部３は、試験パケットを受信して（ステップＳ９）、当該受信した試験パケットの内容を確認（検査）した後（ステップＳ１０）、当該試験処理の後処理を行う（ステップＳ１１）。
【００７２】
図９は、本発明のルータ試験方法の説明図であり、図９（Ａ）は１個のループ状の転送経路を示し、図９（Ｂ）は図９（Ａ）の転送経路におけるルーティングテーブル４２１の設定例を示す。この例は、被試験ルータ１において１個のループ状の転送経路が設定された例、即ち、被試験ルータ１の各ポート＃０〜＃２を１個の転送経路により接続した場合の例を示す。
【００７３】
試験処理部３が、送信先がポート＃０で識別番号がＩＤ０である試験パケット（以下、パケットＰ（ＩＤ０）と言う）を生成し、ＳＷチップ４１へ送信する。ＳＷチップ４１はパケットＰ（ＩＤ０）をポート＃０に対応するＮＰチップ４２に送信する。ＮＰチップ４２は、パケットＰ（ＩＤ０）をポート＃０を有するＰＨＹチップ４３に送信する。ＰＨＹチップ４３において、ポート＃０に達したパケットＰ（ＩＤ０）は、ループバック経路７１により、ポート＃０で受信されたパケットＰ（ＩＤ０）として、ＮＰチップ４２に送信される。
【００７４】
ＮＰチップ４２は、ポート＃０（ＰＨＹチップ４３）から受信したパケットＰ（ＩＤ０）を、ルーティングテーブル４２１に従ってＳＷチップ４１へ送信する。ルーティングテーブル４２１は、図９（Ｂ）に示すように、ＩＤ０の試験パケットがポート＃０から受信された場合、その送信先（転送先）をポート＃１に送信することを指示している。従って、ＮＰチップ４２は、パケットＰ（ＩＤ０）のヘッダにおける送信先の記述をポート＃１に設定する。なお、ルーティングテーブル４２１は、ポート＃１及び＃２から受信したパケットについても規定しているので、ＮＰチップ４２のみならず、ＮＰチップ４４及び４６にも共通である。
【００７５】
同様にして、ＳＷチップ４１はパケットＰ（ＩＤ０）をポート＃１に対応するＮＰチップ４４に送信する。ＮＰチップ４４はパケットＰ（ＩＤ０）をポート＃１に送信する。ポート＃１に達したパケットＰ（ＩＤ０）は、ＮＰチップ４４に送信される。ＮＰチップ４４は、ポート＃１から受信したパケットＰ（ＩＤ０）を、その送信先をポート＃２に変更した上で、ＳＷチップ４１へ送信する。
【００７６】
更に、同様にして、パケットＰ（ＩＤ０）は、ＳＷチップ４１からＮＰチップ４６を経由して、ポート＃２に送信され、ポート＃２からＮＰチップ４６に送信される。ＮＰチップ４６は、パケットＰ（ＩＤ０）を、その送信先をポート＃０に変更した上で、ＳＷチップ４１へ送信する。
【００７７】
以上により、パケットＰ（ＩＤ０）の転送経路は以下のようになる。即ち、パケットＰ（ＩＤ０）は、試験処理部３、ポート＃０、ポート＃１、ポート＃２の順に送信される。この後、ポート＃０に送信され、更に、ポート＃０、ポート＃１、ポート＃２の順に送信され、これを繰り返す。
【００７８】
試験処理部３は、所定の個数（値limit に相当する数）のパケットＰ（ＩＤ０）を送信し続ける。パケットＰ（ＩＤ０）は、同一の識別番号ＩＤ０を有するので、以上と同様に転送経路上を周回する。この結果、所定の個数のパケットＰ（ＩＤ０）が、転送経路上を周回した後、回収される。これにより、被試験ルータ１の内部における転送経路についてのデータ転送マージン試験を行うことができる。
【００７９】
図１０は、本発明のルータ試験方法の説明図であり、図１０（Ａ）は複数のループ状の転送経路を示し、図１０（Ｂ）は図１０（Ａ）の転送経路におけるルーティングテーブル４２１の設定例を示す。この例は、被試験ルータ１において複数のループ状の転送経路が設定された例、即ち、被試験ルータ１の各ポート＃０〜＃２の網羅的な組合せを意識した転送経路の例を示す。
【００８０】
パケットＰ（ＩＤ０）は、図９の例と同様に、ＳＷチップ４１からＮＰチップ４２を経由してポート＃０へ送信され、ポート＃０で折り返されることにより、ＮＰチップ４２に送信される。ＮＰチップ４２は、図１０（Ｂ）に示すルーティングテーブル４２１に従って、ポート＃０から受信したパケットＰ（ＩＤ０）を、その送信先をポート＃０に設定した上で、ＳＷチップ４１へ送信する。以上により、パケットＰ（ＩＤ０）は、試験処理部３、ポート＃０、・・・、ポート＃０の順に送信され、これを繰り返す。
【００８１】
同様にして、パケットＰ（ＩＤ１）は、試験処理部３、ポート＃１、・・・、ポート＃１の順に送信され、これを繰り返す。また、パケットＰ（ＩＤ２）は、試験処理部３、ポート＃２、・・・、ポート＃２の順に送信され、これを繰り返す。
【００８２】
一方、パケットＰ（ＩＤ３）は、ＳＷチップ４１からポート＃０へ送信され、ポート＃０で折り返され、ＮＰチップ４２に送信される。ＮＰチップ４２は、ルーティングテーブル４２１に従って、ポート＃０から受信したパケットＰ（ＩＤ３）を、その送信先をポート＃１に設定した上で、ＳＷチップ４１へ送信する。以上により、パケットＰ（ＩＤ３）は、試験処理部３、ポート＃０、ポート＃１、・・・、ポート＃０、ポート＃１の順に送信され、これを繰り返す。
【００８３】
同様にして、パケットＰ（ＩＤ４）は、試験処理部３、ポート＃１、ポート＃２、・・・、ポート＃１、ポート＃２の順に送信され、これを繰り返す。また、パケットＰ（ＩＤ５）は、試験処理部３、ポート＃０、ポート＃２、・・・、ポート＃０、ポート＃２の順に送信され、これを繰り返す。
【００８４】
パケットＰ（ＩＤ０）〜Ｐ（ＩＤ５）の合計の数が所定の個数（値limit に相当する数）とされる。例えば、パケットＰ（ＩＤ０）、パケットＰ（ＩＤ１）及びパケットＰ（ＩＤ２）は（値limit ）×（１／９）個とされ、パケットＰ（ＩＤ３）及びパケットＰ（ＩＤ４）及びパケットＰ（ＩＤ５）は（値limit ）×（２／９）個とされる。
【００８５】
この結果、所定の個数のパケットＰ（ＩＤ０）〜Ｐ（ＩＤ５）が、転送経路上を周回した後、回収される。これにより、被試験ルータ１の内部における転送経路についてのデータ転送マージン試験を行うことができる。これに加えて、図１０の例によれば、図９との比較から判るように、ＳＷチップ４１（又は通信経路５）におけるスイッチングが複雑であるので、これについてのデータ転送マージン試験を行うことができる。
【００８６】
図１１は、本発明のルータ試験方法を実現する試験装置を備えるルータの構成の他の一例を示す構成図である。
【００８７】
この例は、当該ルータ１における対応する入力端子８１及び出力端子８２（即ち、同一のポート＃０）等を接続ケーブル９１等により接続することにより、転送経路をループ状に設定する例である。即ち、この例においては、ループバック経路７１、７２及び７３に代えて、折返し用の接続ケーブル９１、９２及び９３が用いられる。
【００８８】
例えば、被試験ルータ１のポート＃０において、入力端子８１と出力端子８２との間が、外部の接続ケーブル９１により相互に接続される。従って、この例では、接続ケーブル９１により送信経路６２と受信経路６１とを接続することにより、ループ状の転送経路が形成される。入力端子８３と出力端子８４との間、及び、入力端子８５と出力端子８６との間についても、同様である。従って、複数のポート＃０〜＃２の各々が接続ケーブル９１、９２及び９３により折り返すようにされる。これにより、ループバック経路７１、７２及び７３を利用することなく、又は、ルータ１がループバック経路７１、７２及び７３を備えていなくても、ループ状の転送経路を形成することができる。また、試験処理部３において、ループ設定部３３を省略することができる。
【００８９】
なお、図１１に示す複数のループ状の転送経路上において、図９に示すような１個のループ状の転送経路を設定しても、図１０に示すような複数のループ状の転送経路を設定しても良い。
【００９０】
また、転送経路は、ループバック経路７１又は接続ケーブル９１等によらずに、ループ状に設定されるようにしても良い。例えば、転送経路が、転送経路上に存在する複数の回路部のいずれかにおいて、被試験ルータ１が受信したパケットが送信される経路である受信経路から受信したパケットを被試験ルータ１が送信するパケットが送信される経路である送信経路に送信することにより、ループ状に設定されるようにしても良い。
【００９１】
以上から判るように、本発明の実施形態の特徴が以下のように把握される。
（付記１）ネットワーク中継装置の送受信能力を試験するネットワーク中継装置の試験方法であって、
当該ネットワーク中継装置における転送経路をループ状に設定し、
前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるＴＴＬ値を減算する少なくとも１個の回路部において、ＴＴＬ値の減算を抑止し、
前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定し、
所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、
前記周回させられたデータを検査する
ことを特徴とするネットワーク中継装置の試験方法。
（付記２）前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と当該ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを、当該ネットワーク中継装置の内部において接続することにより、ループ状に設定される
ことを特徴とする付記１に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記３）前記受信経路と前記送信経路とが、当該ネットワーク中継装置が備えるループバック経路により接続される
ことを特徴とする付記２に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記４）前記ループバック経路は、前記転送経路上に存在する複数の回路部のいずれかが予め備える
ことを特徴とする付記３に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記５）前記ループバック経路は、前記転送経路上に存在する前記複数の回路部の中で、当該ネットワーク中継装置の入力端子と出力端子とに接続された回路部に予め備えられる
ことを特徴とする付記４に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記６）前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置の入力端子と出力端子とを接続ケーブルにより接続することにより、ループ状に設定される
ことを特徴とする付記１に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記７）前記転送経路が、前記転送経路上に存在する複数の回路部のいずれかにおいて、当該ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路から受信したデータを当該ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路に送信することにより、ループ状に設定される
ことを特徴とする付記１に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記８）前記転送経路上に存在し前記ルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、当該回路部により受信されたデータが前記検査を行う回路部に送信されるように前記ルーティングテーブルを変更することにより、前記周回させられたデータを回収する
ことを特徴とする付記１に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記９）前記転送経路上を前記所定の数のデータが周回させられる状態となってから所定の時間の経過後に、前記ルーティングテーブルが変更される
ことを特徴とする付記８に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記１０）当該ネットワーク中継装置が、当該ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と当該ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを各々複数備え、
前記転送経路が、前記複数の受信経路のいずれかと前記複数の送信経路のいずれかとを組み合わせることにより、前記ループ状に設定される
ことを特徴とする付記１に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記１１）前記転送経路が、１個のループ状の転送経路に設定される
ことを特徴とする付記１０に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記１２）前記転送経路が、複数のループ状の転送経路に設定される
ことを特徴とする付記１０に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記１３）当該ネットワーク中継装置がルータからなる
ことを特徴とする付記１に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
（付記１４）当該ネットワーク中継装置の送受信能力を試験することが可能なネットワーク中継装置であって、
当該ネットワーク中継装置における転送経路をループ状に設定するループ設定手段と、
前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるＴＴＬ値を減算する少なくとも１個の回路部において、ＴＴＬ値の減算を抑止するＴＴＬ設定手段と、
前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定する設定手段と、
所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する試験処理手段とを備える
ことを特徴とするネットワーク中継装置。
（付記１５）当該ルータの送受信能力を試験することが可能なルータであって、
当該ルータにおける転送経路をループ状に設定するループ設定手段と、
前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるＴＴＬ値を減算する少なくとも１個の回路部において、ＴＴＬ値の減算を抑止するＴＴＬ設定手段と、
前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも１個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定する設定手段と、
所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する試験処理手段とを備える
ことを特徴とするルータ。
【産業上の利用可能性】
【００９２】
以上、説明したように、本発明によれば、ルータのようなネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置において、例えばパケットのようなデータが転送経路上を周回し続ける状態を作り、データ転送処理の機能についてその性能限界の状態を作り出すことができる。これにより、当該ネットワーク中継装置が備える機能を利用して、事実上、その内部で、データ転送処理の機能についてのマージンの試験を行うことができる。従って、ネットワーク中継装置が、そのデータ転送処理の機能のマージン不足（信号のノイズジッタに対するマージン不足）に起因して、障害発生の原因となることを防止することができ、ネットワークの障害発生を未然に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００９３】
【図１】本発明のルータの構成の一例を示す構成図である。
【図２】本発明のルータの構成の一例を示す構成図である。
【図３】本発明のルータの構成の一例を示す構成図である。
【図４】本発明のルータ試験方法の説明図である。
【図５】本発明のルータ試験方法の説明図である。
【図６】本発明のルータ試験方法の説明図である。
【図７】本発明のルータ試験方法の説明図である。
【図８】本発明のルータ試験処理フローである。
【図９】本発明のルータ試験方法の具体的な一例の説明図である。
【図１０】本発明のルータ試験方法の具体的な他の一例の説明図である。
【図１１】本発明のルータの構成の他の一例を示す構成図である。
【図１２】本発明の背景となったルータ試験方法の説明図である。
【符号の説明】
【００９４】
１    ルータ（被試験ルータ）
２    プロセッサ
３    試験処理部
４１    スイッチＬＳＩ（ＳＷチップ）
４２、４４及び４６    ネットワークプロセッサＬＳＩ（ＮＰチップ）
４３、４５及び４７    送受信ＬＳＩ（ＰＨＹチップ）
５、５’    通信経路
６１、６３及び６５    受信経路
６２、６４及び６６    送信経路
７１〜７３    ループバック経路
８１〜８６    入出力端子
【図１】
2008035333.tif 000003
【図２】
2008035333.tif 000004
【図３】
2008035333.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2008035333.tif 000009
【図８】
2008035333.tif 000010
【図９】
2008035333.tif 000011
【図１０】
2008035333.tif 000012
【図１１】
2008035333.tif 000013
【図１２】
2008035333.tif 000014