(57)【要約】【課題】被試験対象のアナログ回路におけるテストプログラムのシミュレーションを行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。【解決手段】本発明は、テストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。本装置は、テストプログラムからアナログ試験モデルに用いるパラメータデータを抽出する抽出手段と、被試験対象のアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル、このアナログＤＵＴモデルに接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションするアナログ試験モデルを用いて、シミュレーションを行うアナログシミュレーション手段とを有することを特徴とする装置である。【選択図】図１
2008046050.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション装置において、
テストプログラムからアナログ試験モデルに用いるパラメータデータを抽出する抽出手段と、
前記被試験対象のアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル、このアナログＤＵＴモデルに接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションするアナログ試験モデルを用いて、シミュレーションを行うアナログシミュレーション手段と
を有することを特徴とするテスタシミュレーション装置。
【請求項２】
前記被試験対象のデジタル回路の動作をシミュレーションするデジタルＤＵＴモデル、テスタのデジタル動作をシミュレーションするデジタルテスタモデルを用いて、前記テストプログラムによりシミュレーションを行うデジタルシミュレーション手段と、
デジタルシミュレーション手段からデジタルＤＵＴモデルの出力波形データを入力し、波形変換を行い、アナログシミュレーション手段に出力する波形変換手段と
を設け、
アナログシミュレーション手段は、前記波形変換手段からの波形データをアナログＤＵＴモデルに入力し、シミュレーションを行うことを特徴とする請求項１記載のテスタシミュレーション装置。
【請求項３】
アナログシミュレーション手段からアナログＤＵＴモデルの出力波形データを入力し、波形変換を行う波形変換手段と、
前記被試験対象のデジタル回路の動作をシミュレーションするデジタルＤＵＴモデル、テスタのデジタル動作をシミュレーションするデジタルテスタモデルを用いて、前記波形変換手段が波形変換した波形データ、テストプログラムによりシミュレーションを行うデジタルシミュレーション手段と
を設けたことを特徴とする請求項１記載のテスタシミュレーション装置。
【請求項４】
記憶部のテストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション方法において、
前記記憶部のテストプログラムからアナログ試験モデルに用いるパラメータデータをコンピュータにより抽出するステップと、
前記被試験対象のアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル、このアナログＤＵＴモデルに接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションするアナログ試験モデルを用いて、コンピュータによりシミュレーションを行うステップと
を有することを特徴とするテスタシミュレーション方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション装置及び方法に関し、被試験対象のアナログ回路におけるテストプログラムのシミュレーションを行えるテスタシミュレーション装置及び方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
テスタ（ＩＣテスタ）は、テストプログラムに基づいて、被試験対象（以下ＤＵＴと略す）に入力を与え、ＤＵＴからの出力により、ＤＵＴの良否の判定を行うものである。近年、実際に、テスタにより、ＤＵＴを試験する前に、ＤＵＴ、テスタをモデルとして、テストプログラムのシミュレーションを行い、テストプログラムの動作確認を行っている。このような装置は、例えば、下記特許文献１等に示されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−２５６４９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このようなテスタシミュレーション装置はデジタルシミュレーション装置なので、ＤＵＴ、テスタのデジタル回路部分のみのテストプログラムの試験を行うものであった。そこで、アナログシミュレーション装置を用いて、ＤＵＴモデルとテスタモデルとを用いて、ＤＵＴのアナログ回路部分を含めて、シミュレーションを行うことが考えられる。しかし、ＤＵＴやテスタのデジタル回路は、回路規模が大きく、アナログシミュレーションで行うことは、莫大なシミュレーション時間が必要となり、現実的ではなかった。
【０００５】
本発明の目的は、被試験対象のアナログ回路におけるテストプログラムのシミュレーションを行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
テストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション装置において、
テストプログラムからアナログ試験モデルに用いるパラメータデータを抽出する抽出手段と、
前記被試験対象のアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル、このアナログＤＵＴモデルに接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションするアナログ試験モデルを用いて、シミュレーションを行うアナログシミュレーション手段と
を有することを特徴とするものである。
【０００７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
前記被試験対象のデジタル回路の動作をシミュレーションするデジタルＤＵＴモデル、テスタのデジタル動作をシミュレーションするデジタルテスタモデルを用いて、前記テストプログラムによりシミュレーションを行うデジタルシミュレーション手段と、
デジタルシミュレーション手段からデジタルＤＵＴモデルの出力波形データを入力し、波形変換を行い、アナログシミュレーション手段に出力する波形変換手段と
を設け、
アナログシミュレーション手段は、前記波形変換手段からの波形データをアナログＤＵＴモデルに入力し、シミュレーションを行うことを特徴とするものである。
【０００８】
請求項３記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
アナログシミュレーション手段からアナログＤＵＴモデルの出力波形データを入力し、波形変換を行う波形変換手段と、
前記被試験対象のデジタル回路の動作をシミュレーションするデジタルＤＵＴモデル、テスタのデジタル動作をシミュレーションするデジタルテスタモデルを用いて、前記波形変換手段が波形変換した波形データ、テストプログラムによりシミュレーションを行うデジタルシミュレーション手段と
を設けたことを特徴とするものである。
【０００９】
請求項４記載の発明は、
記憶部のテストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション方法において、
前記記憶部のテストプログラムからアナログ試験モデルに用いるパラメータデータをコンピュータにより抽出するステップと、
前記被試験対象のアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル、このアナログＤＵＴモデルに接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションするアナログ試験モデルを用いて、コンピュータによりシミュレーションを行うステップと
を有することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項１によれば、抽出手段が、テストプログラムからアナログ試験のパラメータデータを抽出し、このパラメータデータを用いて、アナログシミュレーション手段が、アナログＤＵＴモデル、アナログ試験モデルのシミュレーションを行うので、被試験対象のアナログ回路におけるテストプログラムのシミュレーションを行うことができる。
【００１１】
請求項２によれば、波形変換部が、デジタルシミュレーション手段のデジタルＤＵＴモデルの出力波形データを変換し、アナログシミュレーション手段に与えるので、アナログ・デジタル混在の被試験対象のテストプログラムのシミュレーションを行うことができる。
【００１２】
請求項３によれば、波形変換部が、アナログシミュレーション手段のアナログＤＵＴモデルの出力波形データを変換し、デジタルシミュレーション手段に与えるので、アナログ・デジタル混在の被試験対象のテストプログラムのシミュレーションを行うことができる。
【００１３】
請求項４によれば、コンピュータが、テストプログラムからアナログ試験のパラメータデータを抽出し、このパラメータデータを用いて、アナログＤＵＴモデル、アナログ試験モデルのシミュレーションを行うので、被試験対象のアナログ回路におけるテストプログラムのシミュレーションを行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
【００１５】
図１において、記憶部１は、入力パターン、期待値パターン等からなるテストパターンを含むテストプログラムを記憶する。デジタルシミュレーション手段２は、アナログ・デジタル混在であるＤＵＴのデジタル回路の動作をシミュレーションするデジタルＤＵＴモデル２１、テスタのデジタル動作をシミュレーションするデジタルテスタモデル２２を用いて、記憶部１のテストプログラムによりシミュレーションを行う。抽出手段３は、記憶部１のテストプログラムからテスタのアナログ試験のパラメータデータを抽出する。波形変換手段４は、デジタルシミュレーション手段２からデジタルＤＵＴモデルの出力波形データを入力し、波形変換を行う。アナログシミュレーション手段５は、ＤＵＴのアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル５１、このアナログＤＵＴモデル５１に接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションする計測モジュールモデル（アナログ試験モデル）５２、波形変換手段４からの波形データをアナログＤＵＴモデル５１に出力する中継モデル５３を用いて、シミュレーションを行う。
【００１６】
ここで、デジタルテスタシミュレーション手段２、抽出手段３、波形変換手段４、アナログシミュレーション手段５は、通常、プログラムであり、記憶部に格納され、コンピュータ上で動作するものである。
【００１７】
このような装置の動作を以下に説明する。デジタルシミュレーション手段２が、記憶部１のテストプログラムを読み出し、テスタモデル２２により、テストプログラムを動作させる。テスタモデル２２は、テストプログラムに基づいて、デジタルＤＵＴモデル２１に対して、入出力を行う。そして、デジタルシミュレーション手段２は、デジタルＤＵＴモデル２１のＤＵＴのアナログ回路への出力波形データを取得し、波形変換手段４に出力する。
【００１８】
抽出手段３は、記憶部１からテストプログラムを読み出し、テストプログラムからアナログ試験のパラメータデータを抽出する。そして、波形変換手段４が、出力波形データを、アナログシミュレーション手段５が利用可能な波形データに変換し、波形データをアンログシミュレーション手段５に出力する。
【００１９】
アナログシミュレーション手段５が、抽出手段３からのパラメータデータを計測モジュールモデル５２に設定する。そして、アナログシミュレーション手段５は、波形変換手段４からの波形データを中継モデル５３に入力する。中継モデル５３は、波形データをアナログＤＵＴモデル５１に出力する。アナログＤＵＴモデル５１は、波形データに応じた出力を計測モジュールモデル５２に出力する。
【００２０】
このように、抽出手段３が、テストプログラムからアナログ試験のパラメータデータを抽出し、このパラメータデータを用いて、アナログシミュレーション手段５が、アナログＤＵＴモデル５１、計測モジュールモデル５２のシミュレーションを行うので、ＤＵＴのアナログ回路におけるテストプログラムのシミュレーションを行うことができる。
【００２１】
また、波形変換部４が、デジタルシミュレーション手段２のデジタルＤＵＴモデル２１の出力波形データを変換し、アナログシミュレーション手段５に与えるので、アナログ、デジタル混在のＤＵＴのテストプログラムのシミュレーションを行うことができる。
【００２２】
次に、第２の実施例を、図２を用いて説明する。ここで、図１と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００２３】
図２において、デジタルシミュレーション手段２は、デジタルＤＵＴモデル２１の代わりに、中継モデル２３、デジタルＤＵＴモデル２４が設けられる。中継モデル２３は、波形データを入力し、出力する。デジタルＤＵＴモデル２４は、ＤＵＴのデジタル回路の動作をシミュレーションする。アナログシミュレーション手段５は、アナログＤＵＴモデル５１、中継モデル５３の代わりに、アナログＤＵＴモデル５４が設けられる。アナログＤＵＴモデル５４は、ＤＵＴのアナログ回路の動作をシミュレーションする。波形変換手段６は、波形変換手段４の代わりに設けられ、アナログシミュレーション手段５からアナログＤＵＴモデル５４の出力波形データを入力し、波形変換を行い、デジタルシミュレーション手段２に出力する。
【００２４】
このような装置の動作を説明する。抽出手段３は、記憶部１からテストプログラムを読み出し、テストプログラムからアナログ試験のパラメータデータを抽出する。アナログシミュレーション手段５が、抽出手段３からのパラメータデータを計測モジュールモデル５２に設定する。この設定により、計測モジュールモデル５が、アナログＤＵＴモデル５４に入力を行う。アナログシミュレーション手段５は、アナログＤＵＴモデル５１から、ＤＵＴのアナログ回路への出力波形データ（デジタル波形）を取得し、波形変換手段６に出力する。
【００２５】
デジタルシミュレーション手段２は、記憶部１のテストプログラムを読み出し、波形変換手段６からの波形データと同期して、テスタモデル２２により、テストプログラムを動作させる。テスタモデル２２は、テストプログラムに基づいて、デジタルＤＵＴモデル２４に対して、入出力を行う。このとき、中継モデル２３は、波形変換手段６からの波形データを、デジタルテスタモデル２２の動作に同期して、デジタルＤＵＴモデル２４に出力する。
【００２６】
このように、波形変換部６が、アナログシミュレーション手段５のアナログＤＵＴモデル５１の出力波形データを変換し、デジタルシミュレーション手段２に与えるので、アナログ、デジタル混在のＤＵＴのテストプログラムのシミュレーションを行うことができる。
【００２７】
なお、デジタルシミュレーション手段２、アナログシミュレーション手段５がそれぞれ中継モデル２３，５３を用いた例を示したがこれに限定されるものではなく、中継モデルがない構成でもよい。つまり、デジタルシミュレーション手段２、アナログシミュレーション手段５が、直接ＤＵＴモデルに対して、波形入力する構成にすればよい。
【００２８】
また、デジタルシミュレーション手段２、アナログシミュレーション手段５を同期させる構成を示したが、一方を動作させて、他方に渡すデータを収集後、他方を動作させ、収集したデータをＤＵＴモデルに与えるタイミングを調整して入力する構成にしてもよい。
【００２９】
また、ＤＵＴとして、アナログ・デジタル混在型の例を示し、デジタルシミュレーション手段２、アナログシミュレーション手段５がある例を示したが、ＤＵＴがアナログ回路のみの場合、抽出手段３、アナログシミュレーション手段５があればよい。
【００３０】
また、波形変換手段４，６は別々の構成にしたが、１つの波形変換手段でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の第１の実施例を示した構成図である。
【図２】本発明の第２の実施例を示した構成図である。
【符号の説明】
【００３２】
１  記憶部
２  デジタルシミュレーション手段
２１，２４  デジタルＤＵＴモデル
２２  デジタルテスタモデル
３  抽出手段
４，６  波形変換手段
５  アナログシミュレーション手段
５１，５４  アナログＤＵＴモデル
５２  計測モジュールモデル
【図１】
2008046050.tif 000003
【図２】
2008046050.tif 000004