(57)【要約】【課題】欠損画素を検出して補間する場合であっても、高周波成分を除去し、かつ正確に補間することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。【解決手段】欠損画素検出部２１が、Ｘ線グリッドのグリッドパターンに沿ったライン欠損を検出する場合に、その欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損の補間を、グリッドパターンに基づく距離にある画素に基づいて第１欠損画素補間部２２は行うので、補間後においてもグリッドパターンの周期が乱れることなく、次の低域通過型フィルタ（ＬＰＦ）２３で高周波成分を除去することができる。さらに、低域通過型フィルタ２３で処理されたＸ線画像に対して、上述した距離にある画素よりも近い画素に基づいて、欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損の補間を第２欠損画素補間部２４が再度行うので、正確に補間することができる。【選択図】図２
2008220657.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段を備え、前記被検体を透過した放射線を検出し、その検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、放射線に関する散乱線を除去する散乱線除去手段と、その散乱線除去手段を透過して検出された放射線に基づく放射線画像について、前記散乱線除去手段の散乱線除去パターンに沿ったライン上での欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、その欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を、前記散乱線除去パターンに基づく距離にある画素に基づいて行う第１欠損画素補間手段と、その第１欠損画素補間手段で画素が補間された放射線画像から高周波成分を除去する処理を行う高周波成分除去処理手段と、その高周波成分除去処理手段で処理された放射線画像に対して、前記距離にある画素よりも近い画素に基づいて、前記欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を再度行う第２欠損画素補間手段とを備えることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の放射線撮像装置において、前記距離にある画素よりも近い画素は、前記欠損画素検出手段で検出された欠損画素に隣接する画素であって、前記第２欠損画素補間手段は、前記高周波成分除去処理手段で処理された放射線画像に対して、欠損画素の補間を前記隣接する画素に基づいて再度行うことを特徴とする放射線撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、放射線撮像を行う放射線撮像装置に係り、特に、欠損画素を検出して補間する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
放射線撮像装置として、Ｘ線撮影装置を例に採って説明する。Ｘ線撮影装置では、Ｘ線管から被検体に向けてＸ線を照射し、被検体を透過したＸ線を検出し、その検出されたＸ線に基づいてＸ線画像を得ることでＸ線撮影を行う。Ｘ線が被検体を透過する際には、被検体にＸ線が衝突することにより散乱線が発生し、その散乱線によって画像にボケが生じる。
【０００３】
そこで、散乱線を除去するためにＸ線グリッドをＸ線検出器の入射面側に備える。Ｘ線グリッドは、Ｘ線を吸収する吸収体（例えば鉛）とＸ線を透過させる透過体（例えばアルミニウムや空気）とを交互に並設して構成されている。散乱線がＸ線グリッドに入射される際には斜めに吸収体に進行するので、吸収体によって吸収されて除去される。一方、散乱線以外のＸ線がＸ線グリッドに入射される際には透過体や吸収体にほぼ平行に進行するので、透過体を透過してＸ線検出器に入射されて検出される。
【０００４】
しかし、Ｘ線グリッドを使用した場合には、グリッドパターンが高周波成分としてＸ線画像に映ってしまう。そこで、従来から、グリッド周波数のような高周波成分を除去するために、グリッドパターンを垂直に横切る方向（すなわちグリッド目と垂直方向）に低域通過型フィルタ（LPF: Low Pass Filter）を施す。あるいは、グリッドパターンを垂直に横切る方向に高域通過型フィルタ(HPF: High Pass Filter)を施すことでグリッド周波数を抽出した後に、その抽出されたグリッド周波数をグリッドパターンが映りこんだ画像から差分をとることで、高周波成分を除去する。また、サンプリング過程のナイキスト周波数ｆｎとグリッド周波数ｆｇとの関係が、ｍを任意の正の整数として、｛（２ｍ−４／３）＊ｆｎ｝≦ｆｇ≦｛（２ｍ−２／３）＊ｆｎ｝なる条件式（ただし、ｍ＝１であり、ｆｇ≦ｆｎである場合を除く）を満たすように設定する手法もある（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
一方、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）によってＸ線を検出する場合には、ＦＰＤは、感応膜が基板上に積層されて構成されており、その感応膜に入射したＸ線を検出して、検出されたＸ線を電荷に変換して、２次元アレイ状に配置されたキャパシタに電荷を蓄積する。蓄積された電荷はスイッチング素子をＯＮすることで読み出されて、電気信号として画像処理部に送り込まれて画像処理が行われる。したがって、キャパシタやスイッチング素子を構成する検出素子ごとに蓄積される電荷の量にバラツキがあり、それによって検出素子ごとの電気信号に基づく画素値についてもバラツキがある。
【０００６】
特に、検出素子として機能しない場合には、画素値が極端に大きくなって画像上で白く浮き出る、あるいは画素値が極端に小さくなって画像上で黒くなる。検出素子の感度が高い場合には、放射線が入射していない状態でも暗電流が発生して画素値が大きくなる。逆に、検出素子の感度が低い、あるいは検出素子にゴミなどが付着した場合には、画素値が小さくなる。このような値を有する画素は『欠損画素』と呼ばれている。
【０００７】
欠損画素を補間する手法として、欠損画素に隣接する複数個の画素から中央値の画素で欠損画素を置換するメディアンフィルタ処理や、隣接する画素に基づいて画素を補間する補間処理などがある（例えば、特許文献２、特許文献３参照）。また、欠損画素を検出して補間する一連の操作（この操作を、以下、『欠損登録』とも呼ぶ）は、所定の期間（例えば１ヵ月）ごとに行われる。
【０００８】
欠損画素を軽減させるのに、欠損登録以外にはキャリブレーションがある。キャリブレーションは、バラツキをなくすために、例えば検出素子ごとの増幅器（アンプ）のゲインをそれぞれ調節して出力側をそろえるものである。所定の期間よりも短い期間での欠損登録には、キャリブレーションを行った画素のデータを用いて欠損画素を検出する（例えば、特許文献４参照）。
【特許文献１】特開２０００−３１６２１６号公報（第１，２，５−８頁、図１，２）
【特許文献２】特開２０００−２８４０５９号公報（第２−４頁、図２−４）
【特許文献３】特開２０００−１３５２１０号公報（第４−９頁、図３，４）
【特許文献４】特開２００５−２７０５５２号公報（第３−８頁、図５−８）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、図９（ａ）に示すように、グリッドパターンＰｇに沿ってライン状の欠損画素（「ライン欠損」とも言う）ＰＬを補間する場合には、グリッドパターンＰｇの周期が乱れてしまう。グリッドパターンＰｇを垂直に横切る方向（すなわちグリッド目と垂直方向）をＰｘとすると、グリッドパターンＰｇを垂直に横切る方向Ｐｘのプロファイルは図９（ｂ）のようになる。図９（ｂ）に示すように、グリッド周波数ｆｇの周期（すなわちグリッドパターンＰｇの周期）１／ｆｇ毎にパターンが繰り返される。図９（ｂ）のプロファイルにおいて信号強度が落ち込む部分がＸ線グリッドの吸収体（例えば鉛）の位置に該当する。
【００１０】
もし、ライン欠損ＰＬが存在する場合には、図９（ｂ）のプロファイルでのグリッドパターンＰｇの周期が乱れてしまう。例えば、図９（ｂ）に示すように、ライン状の欠損画素（ライン欠損）ＰＬを補間すべき隣接する画素が、信号強度のピークの位置に該当し、そのピークの位置に該当する画素から補間すると、ライン欠損ＰＬ（図９（ｂ）の黒丸を参照）の各画素値がそのピークの位置に該当する画素（図９（ｂ）の白丸を参照）の画素値にそれぞれ置換されるので、周期が乱れることがわかる。このように、周期が乱れると周波数分離ができずに高周波成分を除去することができない。その結果、干渉縞が残る。
【００１１】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、欠損画素を検出して補間する場合であっても、高周波成分を除去し、かつ正確に補間することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明は、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段を備え、前記被検体を透過した放射線を検出し、その検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、放射線に関する散乱線を除去する散乱線除去手段と、その散乱線除去手段を透過して検出された放射線に基づく放射線画像について、前記散乱線除去手段の散乱線除去パターンに沿ったライン上での欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、その欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を、前記散乱線除去パターンに基づく距離にある画素に基づいて行う第１欠損画素補間手段と、その第１欠損画素補間手段で画素が補間された放射線画像から高周波成分を除去する処理を行う高周波成分除去処理手段と、その高周波成分除去処理手段で処理された放射線画像に対して、前記距離にある画素よりも近い画素に基づいて、前記欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を再度行う第２欠損画素補間手段とを備えることを特徴とするものである。
【００１３】
［作用・効果］請求項１に記載の発明によれば、欠損画素検出手段が、散乱線除去手段の散乱線除去パターンに沿ったライン上での欠損画素を検出する場合に、その欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を、散乱線除去パターンに基づく距離にある画素に基づいて第１欠損画素補間手段は行う。この第１欠損画素補間手段による欠損画素の補間が、散乱線除去パターンに基づく距離にある画素に基づいて行われるので、補間後においても散乱線除去パターンの周期が乱れることなく、次の高周波成分除去処理手段で高周波成分を除去することができる。したがって、欠損画素を検出して補間する場合であっても、高周波成分を除去することができる。さらに、高周波成分除去処理手段で処理された放射線画像に対して、上述した距離にある画素よりも近い画素に基づいて、欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を第２欠損画素補間手段が再度行うので、正確に補間することができる。その結果、欠損画素を検出して補間する場合であっても、高周波成分を除去し、かつ正確に補間することができる。なお、本明細書中における「散乱線除去パターンに基づく距離」とは、散乱線除去パターンが映りこんだ画像における散乱線除去パターン毎の画素間の距離、すなわち散乱線除去パターンの周期を示す。
【００１４】
上述した発明において、上述した距離にある画素よりも近い画素は、上述した欠損画素検出手段で検出された欠損画素に隣接する画素であって、上述した第２欠損画素補間手段は、高周波成分除去処理手段で処理された放射線画像に対して、欠損画素の補間を上述した隣接する画素に基づいて再度行うのが好ましい（請求項２に記載の発明）。すなわち、補間は周辺の画素に基づいて行われるが、欠損画素により近い画素から補間されるのがより好ましく、より正確に補間することができる。したがって、第２欠損画素補間手段による欠損画素の補間を、隣接する画素に基づいて再度に行うと、より正確に補間することができる。
【発明の効果】
【００１５】
この発明に係る放射線撮像装置によれば、欠損画素検出手段が、散乱線除去手段の散乱線除去パターンに沿ったライン上での欠損画素を検出する場合に、その欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を、散乱線除去パターンに基づく距離にある画素に基づいて第１欠損画素補間手段は行うので、補間後においても散乱線除去パターンの周期が乱れることなく、次の高周波成分除去処理手段で高周波成分を除去することができる。さらに、高周波成分除去処理手段で処理された放射線画像に対して、上述した距離にある画素よりも近い画素に基づいて、欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を第２欠損画素補間手段が再度行うので、正確に補間することができる。
【実施例】
【００１６】
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図１は、実施例に係るＸ線撮影装置のブロック図であり、図２は、Ｘ線撮影装置に用いられている画像処理部の具体的構成を示したブロック図であり、図３は、グリッドパターンが映りこんだ画像の模式図であり、図４は、グリッド周波数およびその折り返し周波数の説明に供する模式図であり、図５は、Ｘ線撮影装置に用いられる側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路であり、図６は、平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。本実施例では放射線撮像装置としてＸ線撮影装置を例に採って説明する。
【００１７】
Ｘ線撮影装置は、図１に示すように、被検体Ｍを載置する天板１と、その被検体Ｍに向けてＸ線を照射するＸ線管２と、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、「ＦＰＤ」と略記する）３とを備えている。なお、Ｘ線検出器としては、ＦＰＤ以外にもイメージインテンシファイアやＸ線フィルムでもよい。Ｘ線管２は、この発明における放射線照射手段に相当する。
【００１８】
Ｘ線撮影装置は、他に、天板１の昇降および水平移動を制御する天板制御部４や、ＦＰＤ３の走査を制御するＦＰＤ制御部５や、Ｘ線管２の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部６を有するＸ線管制御部７や、ＦＰＤ３から電荷信号であるＸ線検出信号をディジタル化して取り出すＡ／Ｄ変換器８や、Ａ／Ｄ変換器８から出力されたＸ線検出信号に基づいて種々の処理を行う画像処理部９や、これらの各構成部を統括するコントローラ１０や、処理された画像などを記憶するメモリ部１１や、オペレータが入力設定を行う入力部１２や、処理された画像などを表示するモニタ１３などを備えている。
【００１９】
天板制御部４は、天板１を水平移動させて被検体Ｍを撮像位置にまで収容したり、昇降、回転および水平移動させて被検体Ｍを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。ＦＰＤ制御部５は、ＦＰＤ３を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部６は、Ｘ線を照射させるための管電圧や管電流を発生してＸ線管２に与え、Ｘ線管制御部７は、Ｘ線管２を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御や、Ｘ線管２側のコリメータ（図示省略）の照視野の設定の制御などを行う。なお、Ｘ線管２やＦＰＤ３の走査の際には、Ｘ線管２から照射されたＸ線をＦＰＤ３が検出できるようにＸ線管２およびＦＰＤ３が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。
【００２０】
Ａ／Ｄ変換器８は、ＦＰＤ３から出力された電荷信号をアナログからディジタルに変換して、ディジタル化したＸ線検出信号を出力する。コントローラ１０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されており、メモリ部１１は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部１２は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。Ｘ線撮影装置では、被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ３が検出して、検出されたＸ線に基づいて画像処理部９で画像処理を行うことで被検体Ｍの撮像を行う。
【００２１】
なお、散乱線を除去するために、ＦＰＤ３の入射面側にＸ線グリッド１４を備えている。Ｘ線グリッド１４は、例えば、鉛とアルミニウムとを交互に並設して構成されている。散乱線がＸ線グリッド１４に入射される際には斜めに鉛に進行するので、鉛によって吸収されて除去される。一方、散乱線以外のＸ線がＸ線グリッド１４に入射される際にはアルミニウムや鉛にほぼ平行に進行するので、アルミニウムを透過してＦＰＤ３に入射されて検出される。Ｘ線グリッド１４は、この発明における散乱線除去手段に相当する。
【００２２】
図２に示すように、画像処理部９は、欠損画素検出部２１と、第１欠損画素補間部２２と、低域通過型フィルタ２３（図２では「ＬＰＦ」で表記）と、第２欠損画素補間部２４とを備えて構成されている。欠損画素検出部２１は、この発明における欠損画素検出手段に相当し、第１欠損画素補間部２２は、この発明における第１欠損画素補間手段に相当し、低域通過型フィルタ２３は、この発明における高周波成分除去処理手段に相当し、第２欠損画素補間部２４は、この発明における第２欠損画素補間手段に相当する。
【００２３】
欠損画素検出部２１は、分離回路や比較器などで構成されており、Ｘ線グリッド１４を透過して検出されたＸ線検出信号に基づく画素値をキャパシタやスイッチング素子３２を構成する検出素子ごとに分離回路で空間的に展開して、展開された画素値を比較することで、最大値あるいは最小値の画素を欠損画素として検出する。なお、欠損画素検出部２１は、上述の構成に限定されず、上述した低域通過型フィルタ（ＬＰＦ）と減算器とで欠損画素検出部２１を構成し、空間的に展開された画素の信号のうち、高周波成分である急峻な画素の信号以外の低周波成分のみを低域通過型フィルタで通過させ、低周波成分と全体の信号とを減算器で減算して急峻な画素を検出することで、急峻な画素、すなわち最大値あるいは最小値の画素を検出してもよい。なお、最大値あるいは最小値の画素を検出する際には、Ｘ線グリッド１４の鉛の位置に該当する位置の画素や後述する折り返し周波数に該当する位置の画素については除外して行う。
【００２４】
第１欠損画素補間部２２は、欠損画素検出部２１で検出された欠損画素の補間を、グリッドパターンに基づく距離にある画素に基づいて行う。図３に示すように、グリッドパターンＰｇが映りこんだＸ線画像において、グリッドパターンＰｇに沿ってライン状の欠損画素（ライン欠損）ＰＬを欠損画素検出部２１が検出した場合について具体的に説明する。なお、本実施例におけるグリッドパターンＰｇも含めて、この発明における散乱線除去パターンとは、図４に示すように、グリッド周波数ｆｇのみならず、低周波側に出現する折り返し周波数成分ｆｇ´にも起因することに留意されたい。
【００２５】
上述したように、本明細書中における「散乱線除去パターンに基づく距離」とは、散乱線除去パターンが映りこんだ画像における散乱線除去パターン毎の画素間の距離、すなわち散乱線除去パターンの周期を示す。したがって、本実施例では、「グリッドパターンに基づく距離」とは、グリッドパターンが映りこんだ画像におけるグリッドパターン毎の画素間の距離、すなわちグリッドパターンの周期を示す。
【００２６】
図４に示すように、散乱線による高周波成分の折り返し周波数成分ｆｇ´が、高周波成分であるグリッド周波数ｆｇよりも低周波側に出現する。この折り返し周波数成分ｆｇ´も考慮して、グリッド周波数ｆｇや折り返し周波数ｆｇ´によるグリッドパターンの周期を乱さないような距離（画素の数）を求める。本実施例では、グリッド周波数ｆｇや折り返し周波数ｆｇ´によるグリッドパターンの周期に該当する距離が、図３に示すグリッドパターンＰｇを垂直に横切る方向Ｐｘの画素４つ分として、以下を説明する。したがって、本実施例では、第１欠損画素補間部２２は、ライン欠損の補間をライン欠損から４画素分離れた画素に基づいて行う。
【００２７】
第１欠損画素補間部２２は、例えばメディアンフィルタなどで構成されており、４画素分離れた複数個の画素からメディアンフィルタで中央値の画素を検出して、その検出された中央値の画素でライン欠損を置換することでライン欠損を補間する。
【００２８】
低域通過型フィルタ２３は、第１欠損画素補間部２２でライン欠損が補間されたＸ線画像から折り返し周波数も含めてグリッド周波数のような高周波成分を除去するために、グリッドパターンを垂直に横切る方向（すなわちグリッド目と垂直方向）に、低周波成分を通過させる。
【００２９】
第１欠損画素補間部２２で行われた補間は、グリッドパターンの周期を乱さないような距離にある画素（本実施例ではグリッドパターンを垂直に横切る方向の４画素分離れた画素）に基づいて行われるので、より正確な補間を行うのが好ましい。そこで、低域通過型フィルタ２３で処理されたＸ線画像に対して、第２欠損画素補間部２４は補間を再度行う。
【００３０】
具体的には、第２欠損画素補間部２４は、低域通過型フィルタ２３で処理されたＸ線画像に対して、上述した距離にある画素（本実施例ではグリッドパターンを垂直に横切る方向の４画素分離れた画素）よりも近い画素に基づいて、欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損の補間を再度行う。本実施例では、欠損ラインから隣接する画素を、上述した距離にある画素よりも近い画素として説明する。なお、欠損ラインから３画素分あるいは２画素分離れた画素に基づいて補間を再度に行ってもよいが、隣接する画素に基づいて補間を再度行うのがより好ましい。第２欠損画素補間部２４も第１欠損画素補間部２２と同様にメディアンフィルタなどで構成されている。
【００３１】
ＦＰＤ３は、図５に示すように、ガラス基板３１と、ガラス基板３１上に形成された薄膜トランジスタＴＦＴとから構成されている。薄膜トランジスタＴＦＴについては、図５、図６に示すように、縦・横式２次元マトリクス状配列でスイッチング素子３２が多数個（例えば、1024個×1024個）形成されており、キャリア収集電極３３ごとにスイッチング素子３２が互いに分離形成されている。すなわち、ＦＰＤ３は、２次元アレイ放射線検出器でもある。
【００３２】
図５に示すようにキャリア収集電極３３の上にはＸ線感応型半導体３４が積層形成されており、図５、図６に示すようにキャリア収集電極３３は、スイッチング素子３２のソースＳに接続されている。ゲートドライバ３５からは複数本のゲートバスライン３６が接続されているとともに、各ゲートバスライン３６はスイッチング素子３２のゲートＧに接続されている。一方、図６に示すように、電荷信号を収集して１つに出力するマルチプレクサ３７には増幅器３８を介して複数本のデータバスライン３９が接続されているとともに、図５、図６に示すように各データバスライン３９はスイッチング素子３２のドレインＤに接続されている。
【００３３】
図示を省略する共通電極にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン３６の電圧を印加（または０Ｖに）することでスイッチング素子３２のゲートがＯＮされて、キャリア収集電極３３は、検出面側で入射したＸ線からＸ線感応型半導体３４を介して変換された電荷信号（キャリア）を、スイッチング素子３２のソースＳとドレインＤとを介してデータバスライン３９に読み出す。なお、スイッチング素子がＯＮされるまでは、電荷信号はキャパシタ（図示省略）で暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン３９に読み出された電荷信号を増幅器３８で増幅して、マルチプレクサ３７で１つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をＡ／Ｄ変換器８でディジタル化してＸ線検出信号として出力する。
【００３４】
次に、画像処理部９による一連の画像処理について、図７のフローチャートを参照して説明する。図７は、一連の画像処理を示すフローチャートである。
【００３５】
（ステップＳ１）Ｘ線グリッドでの元画像の収集
Ｘ線管２から被検体Ｍに向けてＸ線を照射し、被検体Ｍを透過したＸ線をフラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３が検出する。ＦＰＤ３に入射される前にＸ線グリッド１４を透過することで散乱線が除去される。これによってＸ線グリッド１４によるグリッドパターンが映りこんだ元画像が収集される。
【００３６】
（ステップＳ２）ライン欠損の検出
ステップＳ１で収集された元画像について、欠損画素検出部２１は、グリッドパターンに沿ったライン上でのライン状の欠損画素（ライン欠損）を検出する。
【００３７】
（ステップＳ３）４画素分離れた画素からライン欠損の補間
グリッド周波数や折り返し周波数によるグリッドパターンの周期を乱さないような距離として、グリッドパターンを垂直に横切る方向（すなわちグリッド目と垂直方向）の画素４つ分の場合、第１欠損画素補間部２２は、ステップＳ２において欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損の補間をライン欠損から４画素分離れた画素に基づいて行う。
【００３８】
（ステップＳ４）ＬＰＦ処理
ステップＳ３において第１欠損画素補間部２２でライン欠損が補間されたＸ線画像に対して、グリッドパターンを垂直に横切る方向（すなわちグリッド目と垂直方向）に、低域通過型フィルタ２３による低域通過処理（ＬＰＦ処理）を施すことで低周波成分を通過させる。ＬＰＦ処理を行うことで、Ｘ線画像から折り返し周波数も含めてグリッド周波数のような高周波成分が除去される。
【００３９】
（ステップＳ５）隣接する画素からライン欠損の補間
第２欠損画素補間部２４は、ステップＳ４において低域通過型フィルタ２３で処理されたＸ線画像に対して、ステップＳ２において欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損の補間を、欠損ラインから隣接する画素に基づいて再度行う。
【００４０】
本実施例に係るＸ線撮影装置によれば、欠損画素検出部２１が、Ｘ線グリッド１４のグリッドパターンに沿ったライン上でのライン状の欠損画素（ライン欠損）を検出する場合に、その欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損の補間を、グリッドパターンに基づく距離にある画素（本実施例ではグリッドパターンを垂直に横切る方向の４画素分離れた画素）に基づいて第１欠損画素補間部２２は行う。この第１欠損画素補間部２２によるライン欠損の補間が、グリッドパターンに基づく距離にある画素に基づいて行われるので、補間後においてもグリッドパターンの周期が乱れることなく、次の低域通過型フィルタ（ＬＰＦ）２３で高周波成分を除去することができる。したがって、ライン欠損を検出して補間する場合であっても、高周波成分を除去することができる。さらに、低域通過型フィルタ２３で処理されたＸ線画像に対して、上述した距離にある画素よりも近い画素（欠損ラインから隣接する画素）に基づいて、欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損の補間を第２欠損画素補間部２４が再度行うので、正確に補間することができる。その結果、ライン欠損を検出して補間する場合であっても、高周波成分を除去し、かつ正確に補間することができる。
【００４１】
本実施例のように、上述した距離にある画素（本実施例ではグリッドパターンを垂直に横切る方向の４画素分離れた画素）よりも近い画素は、欠損画素検出部２１で検出されたライン欠損に隣接する画素であって、第２欠損画素補間部２４は、低域通過型フィルタ２３で処理されたＸ線画像に対して、ライン欠損の補間を隣接する画素に基づいて再度行うのが好ましい。すなわち、補間は周辺の画素に基づいて行われるが、ライン欠損により近い画素から補間されるのがより好ましく、より正確に補間することができる。したがって、第２欠損画素補間部２４によるライン欠損の補間を、隣接する画素に基づいて再度に行うと、より正確に補間することができる。
【００４２】
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００４３】
（１）上述した実施例では、放射線撮像装置としてＸ線撮影装置を例に採って説明したが、ＰＥＴ(Positron Emission Tomography)装置やＳＰＥＣＴ（Single Photon Emission CT）装置などに代表されるＥＣＴ（Emission Computed Tomography）装置のように、Ｘ線以外の放射線（ＰＥＴ装置の場合にはγ線）を検出して、検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置に適用してもよい。
【００４４】
（２）上述した実施例では、図１に示すようなＸ線撮影装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばＣ型アームに配設されたＸ線撮像装置にも適用してもよい。また、この発明は、Ｘ線ＣＴ装置にも適用してもよい。
【００４５】
（３）上述した実施例では、この発明における高周波成分除去処理手段として、低域通過型フィルタ２３を例に採って説明したが、高周波成分除去処理手段は、これに限定されない。例えば、図８に示すように、高周波成分除去処理手段として、高域通過型フィルタ４１（図８では「ＨＰＦ」で表記）および減算器４２で構成してもよい。高域通過型フィルタ４１よりも前段の欠損画素検出部２１や第１欠損画素補間部２２、減算器４２よりも後段の第２欠損画素補間部２４については、実施例の画像処理部９の欠損画素検出部２１や第１欠損画素補間部２２や第２欠損画素補間部２４と同様の構成なので、その説明を省略する。高域通過型フィルタ４１は、第１欠損画素補間部２２でライン欠損が補間されたＸ線画像に対して、グリッドパターンを垂直に横切る方向（すなわちグリッド目と垂直方向）に、折り返し周波数も含めてグリッド周波数のような高周波成分を通過させて高周波成分を抽出する。減算器４２は、抽出された高周波成分と、高周波成分を除去する前の画像との差分をとる。すなわち、高周波成分を除去する処理として、散乱線による高周波成分を高域通過型フィルタ４１により通過させて、散乱線による高周波成分を抽出した後に、その抽出された高周波成分と、高周波成分を除去する前の放射線画像との差分を減算器４２がとる。高域通過型フィルタ４１を施すことで、散乱線による高周波成分が抽出されて、抽出された高周波成分がさらに減算器４２によって除去される結果、高周波成分が除去される。
【００４６】
（４）上述した実施例では、この発明における高周波成分除去処理手段として、低域通過型フィルタ２１を例に採って説明するとともに、上述した変形例（３）では、高域通過型フィルタ４１および減算器４２を例に採って説明したが、通常に用いられる高周波成分を除去する処理であれば、特に限定されない。例えば、フーリエ変換後に帯域通過型フィルタ(BPF: Band Pass Filter)を施して散乱線による周波数成分の帯域のみを抽出した後に、その抽出された周波数成分と、周波数成分を除去する前のデータとの差分をとって、逆フーリエ変換を行うことで、高周波成分を除去してもよい。
【００４７】
（５）上述した実施例では、折り返し周波数に起因したグリッドパターンも考慮したが、折り返し周波数成分を考慮しない、あるいは折り返し周波数成分が画像に及ぼす影響が小さければ、グリッド周波数に起因したグリッドパターンのみを考慮すればよい。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】実施例に係るＸ線撮影装置のブロック図である。
【図２】Ｘ線撮影装置に用いられている画像処理部の具体的構成を示したブロック図である。
【図３】グリッドパターンが映りこんだ画像の模式図である。
【図４】グリッド周波数およびその折り返し周波数の説明に供する模式図である。
【図５】Ｘ線撮影装置に用いられる側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。
【図６】平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。
【図７】一連の画像処理を示すフローチャートである。
【図８】変形例に係る画像処理部の具体的構成を示したブロック図である。
【図９】（ａ）はグリッドパターンが映りこんだ画像の模式図、（ｂ）は（ａ）のプロファイルである。
【符号の説明】
【００４９】
２  …  Ｘ線管
１４  …  Ｘ線グリッド
２１  …  欠損画素検出部
２２  …  第１欠損画素補間部
２３  …  低域通過型フィルタ（ＬＰＦ）
２４  …  第２欠損画素補間部
Ｍ  …  被検体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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