(57)【要約】【課題】相対角度以外の条件を考慮することで、相対角度を検出するための機構を具備せずとも光ディスクとレーザ光との相対角度の調整精度の向上を図れる光ディスク装置及び相対角度調整方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の光ディスク装置１は、相対角度以外の条件であるストラテジ（記録方法）とライトパワーを考慮して光ディスク３０とレーザ光との相対角度の調整を行う。このことにより、相対角度を検出するための機構を具備せずとも光ディスク３０とレーザ光との相対角度の調整精度の向上を図ることができる光ディスク装置及び相対角度調整方法を提供できる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録面から順に配置される第１、第２の記録層を有する光ディスクを回転させるディスク回転部と、
前記回転される光ディスクにレーザ光を照射する発光素子と、前記光ディスクから反射されるレーザ光を受光して電気信号を出力する受光素子とを有する光ピックアップと、
前記出力される電気信号に基づいて、誤り率に対応する量を算出する誤り率算出部と、
前記光ディスクと前記光ピックアップとの相対角度を制御する相対角度制御部と、
前記第１の層において、前記発光素子から照射されるレーザ光のライトパワーとストラテジとを調整する調整部と、
前記調整部での調整後に、前記第１の層において、前記相対角度制御部によって制御される相対角度と、前記誤り率算出部によって算出される誤り率とを対応して測定する測定部と、
前記測定部の測定結果に基づいて前記相対角度を決定する相対角度決定部と、
前記決定された相対角度を取るように、前記相対角度制御部に指示する指示部と
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記測定部による測定が、前記第１の記録層に配置されるインナードライブテストゾーンにおいて行われることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記調整部での調整に先だって、前記第１の層において、前記相対角度制御部によって制御される相対角度と、前記誤り率算出部によって算出される誤り率とを対応して測定する第２の測定部と、
前記第２の測定部の測定結果に基づいて前記相対角度を決定する第２の相対角度決定部と
をさらに具備することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記第２の測定部による測定が、前記第１の記録層に配置されるインナーガードトラックゾーンにおいて行われることを特徴とする請求項３記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記誤り率に対応する量は、エラーレート又は等価誤差のいずれかであることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１記載の光ディスク装置。
【請求項６】
記録面から順に配置される第１、第２の記録層を有する光ディスクと、この光ディスクにレーザ光によって情報の記録または読み込みを行う光ピックアップとの相対角度を調節する相対角度調節方法であって、
前記第１の層によってライトパワーとストラテジを調整するステップと、
前記ライトパワーとストラテジの調整後に、前記相対角度を調整するステップと、
を具備することを特徴とする相対角度調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報の読み書きを行う光ディスク装置及び相対角度調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクに情報を記録する光ディスク装置では、情報の記録の品質を向上させるために記録中であってもレーザ光と光ディスクとの相対角度を調整する相対角度調整が行われている。このような光ディスク装置では、レーザ光と光ディスクとの相対角度を検出するための相対角度検出機構を具備している。
しかし、相対角度検出機構を具備することでコストがかかってしまうという問題があった。その解決方法として相対角度を検出するための機構をもたない光ディスク装置であっても光ディスクからの情報再生時のジッタ等を用いて、光ディスクとレーザ光との相対角度を調整する技術が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００５−２３５２６５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記の技術では、相対角度以外の条件との関係が考慮されていない。他の条件を考慮せずに相対角度を調整すると、その調整が不充分となる畏れがある。
【０００４】
本発明は、かかる従来の問題を解消すべくなされたもので、相対角度以外の条件を考慮することで、相対角度を検出するための機構を具備せずとも光ディスクとレーザ光との相対角度の調整精度の向上を図る光ディスク装置及び相対角度調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の目的を達成するために本発明の光ディスク装置は、記録面から順に配置される第１、第２の記録層を有する光ディスクを回転させるディスク回転部と、前記回転される光ディスクにレーザ光を照射する発光素子と、前記光ディスクから反射されるレーザ光を受光して電気信号を出力する受光素子とを有する光ピックアップと、前記出力される電気信号に基づいて、誤り率に対応する量を算出する誤り率算出部と、前記光ディスクと前記光ピックアップとの相対角度を制御する相対角度制御部と、前記第１の層において、前記発光素子から照射されるレーザ光のライトパワーとストラテジとを調整する調整部と、前記調整部での調整後に、前記第１の層において、前記相対角度制御部によって制御される相対角度と、前記誤り率算出部によって算出される誤り率とを対応して測定する測定部と、前記測定部の測定結果に基づいて前記相対角度を決定する相対角度決定部と、前記決定された相対角度を取るように、前記相対角度制御部に指示する指示部とを具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明は、相対角度以外の条件を考慮することで、相対角度を検出するための機構を具備せずとも光ディスクとレーザ光との相対角度の調整精度の向上を図る光ディスク装置及び相対角度調整方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
まず、図１を用いて、本発明の実施形態にかかる光ディスク装置１の構成をブロック図に示して説明する。
【０００８】
図１に示すように、光ディスク装置１は、光ディスク３０に情報の読み書きを行うものであり、ディスク保持部５、ディスク駆動部７、光ピックアップ４０、プリアンプ９、信号処理回路１１、相対角度制御部１３、制御部５０、を有する。
【０００９】
ディスク保持部５は、光ディスク３０を保持する。ディスク駆動部７は、ディスク保持部５、ひいては光ディスク３０を回転するものであり、ディスク回転部として機能する。
【００１０】
光ピックアップ４０は、発光素子４１、ビームスプリッタ４２、対物レンズ４３、受光素子４４を有し、光ディスク３０の記録層Ｌ０又は記録層Ｌ１にレーザ光を照射し、これら記録層からのレーザ反射光を電気信号に変換して出力する。
【００１１】
発光素子４１から出射されたレーザ光がビームスプリッタ４２を通過し、対物レンズ４３で光ディスク３０の記録層Ｌ０又は記録層Ｌ１に集光されビームスポットを形成する。
集光されたレーザ光は光ディスク３０の記録層Ｌ０又は記録層Ｌ１で反射されビームスプリッタ４２で方向が変えられ、受光素子４４に受光されて、電気信号に変換される。
【００１２】
発光素子４１は後述する制御部５０に設置されている制御装置５５によって、レーザ光の光パルスの波高値及びパルス幅、レーザ出力等を制御される。
プリアンプ９は、光ピックアップ４０より出力された電気信号を増幅する。プリアンプ９で増幅された電気信号は信号処理回路１１及び制御部５０に設置された演算装置５１に出力される。
【００１３】
信号処理回路１１は、プリアンプ９から出力された電気信号を処理して情報の再生を行う。
【００１４】
相対角度制御部１３は光ディスク３０と光ピックアップ４０の相対角度を制御する。この制御は、光ディスク３０、光ピックアップ４０のいずれかの傾きを調節することで行える。
【００１５】
制御部５０は、演算装置５１、メモリ５２、制御装置５５を有している。演算装置５１にはプリアンプ９から出力された電気信号が入力される。
【００１６】
演算装置５１は入力された電気信号の処理を行いプリアンプ９から出力された電気信号に基づき、誤り率（あるいはこれに対応する量）を算出する。以下、「誤り率」は、誤り率そのものに限られず、これに対応する量一般を表すものとする。
【００１７】
演算装置５１で行われる処理は、例えば演算装置５１に入力された電気信号をディジタル化することである。「誤り率の算出」とは、このディジタル化された信号に基づいて、ＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal to Noise Ratio）と呼ばれる信号対雑音比などの等価誤差や、ＳｂＥＲ（Simulated bit Error Rate）と呼ばれるエラーレートを得ることである。
【００１８】
ＰＲＳＮＲは、プリアンプ９から出力され、ディジタルに変換された電気信号（以下、単にプリアンプ９から出力された電気信号と称す。）のＳ／Ｎ（信号対雑音比）及び実際の再生波形と理論的なＰＲ波形線形性を同時に表現できる指標で、このＰＲＳＮＲに基づいて光ディスク３０での誤り率が推定される。
【００１９】
ＰＲＳＮＲは、プリアンプ９から出力された電気信号の再生波形と、理想的な理論波形とを比較することで得られる。
【００２０】
例えば、ＰＲＳＮＲを用いてレーザ光と光ディスク３０の相対角度を調整する場合は、この信号対雑音比が可能な限り大きくなるような角度に相対角度を調整する必要がある。すなわち、信号対雑音比が大きくなるほど誤り率は小さくなる。
【００２１】
又、ＳｂＥＲとはディジタル信号の誤り率のことで、何らかの原因で信号の状態が悪化すると、誤り率としては高くなる。
【００２２】
例えば、ＳｂＥＲを用いてレーザ光と光ディスク３０の相対角度を調整する場合は、ＳｂＥＲが可能な限り低くなるような角度に相対角度を調整する必要がある。すなわち、ＳｂＥＲが低くなるほど誤り率は小さくなる。
【００２３】
演算装置５１は算出した誤り率に対応する量と、相対角度制御部１３の現在（最新）の角度との対応関係を測定する測定部でもある。
【００２４】
「対応関係を測定する」とは、相対角度制御部１３で制御される相対角度と、この相対角度のときに算出される誤り率とを対応して測定することである。この測定結果は、メモリ５２に設けられたテーブルデータメモリ５３に記憶される。即ち、テーブルデータメモリ５３には、相対角度と、誤り率とを対応して表すテーブルが記憶される。
演算装置５１は、測定した対応関係に基づいて、相対角度制御部１３の角度を決定する相対角度決定部としても機能する。
【００２５】
演算装置５１は算出される誤り率が一番小さい（又は低い）ときの相対角度を適正な相対角度であると決定する。
【００２６】
演算装置５１は、メモリ５２に設けられた相対角度メモリ５４に決定した適正な相対角度を記憶させる。メモリ５２は、テーブルデータメモリ５３と、相対角度メモリ５４とで構成されている。
【００２７】
テーブルデータメモリ５３には、演算装置５１が測定したテーブルデータが記憶されたおり、演算装置５１はテーブルデータメモリ５３に記憶されているデータを基に理想的な相対角度を決定する。
【００２８】
相対角度メモリ５４には、演算装置５１によって決定された理想的な相対角度が記憶される。なお、メモリ５２は演算装置５１又は制御装置５５内に設けることもできる。
【００２９】
制御装置５５は、相対角度メモリ５４に記憶されている相対角度を参照して、相対角度制御部１３に適正な相対角度を指示する。
又、制御装置５５は、発光素子４１を制御して後述するライトパワーとストラテジを調整する調整部としても機能する。
【００３０】
次に上記のような光ディスク装置によって、情報の読み書きが行われる光ディスクを図２に構成図を示して説明する。
図２に示す光ディスクは記録型の光ディスクであって、例えば、ＨＤ  ＤＶＤ−Ｒ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＡＭ等を挙げることができる。
【００３１】
同図に示すように、記録層Ｌ０には内周からリードイン領域（Lead in Area）、データ領域（Data Area）、ミドル領域（Middle Area）が配置される。記録層Ｌ１には内周からリードアウト領域（Lead out Area）、データ領域（Data Area）、ミドル領域（Middle Area）が配置されている。
【００３２】
記録層Ｌ０のリードイン領域には、光ディスク３０の最内周から順に、システムリードイン領域ＳＬＩＡ（System Lead in Area）、データリードイン領域ＤＬＩＡ（Data Lead in Area）が設けられる。
【００３３】
記録層Ｌ０のシステムリードイン領域ＳＬＩＡは、管理領域を有しており、この管理領域は記録層Ｌ０にのみ配置される。
【００３４】
記録層Ｌ１のファイナライズ時に、記録層Ｌ１の情報も記録層Ｌ０のシステムリードイン領域ＳＬＩＡに書き込まれる。これにより、起動時に記録層Ｌ０だけを読み取ることで、記録層Ｌ０、記録層Ｌ１双方の管理情報を入手できる。
【００３５】
光ディスク装置は通常、光ディスクが記録済みかどうか等の情報を得るために、光ディスクが挿入された際にまずこの記録層Ｌ０のシステムリードイン領域ＳＬＩＡを読み込む。
【００３６】
記録層Ｌ０のデータリードイン領域ＤＬＩＡには光ディスク３０の最内周から順にブランクゾーンＢＺ（Blank Zone）、インナーガードトラックゾーンＩＧＴＺ（Inner Guard Track Zone）、インナードライブテストゾーンＩＤＴＺ（Inner Drive Test Zone）、記録位置管理ゾーンＲＭＺ（Record Management Zone）、物理フォーマットインフォメーションゾーンＰＦＩＺ(Physical Format Information Zone)が設けられている。
【００３７】
記録層Ｌ０のインナーガードトラックゾーンＩＧＴＺは、記録層Ｌ１のインナードライブテストゾーンＩＤＴＺの記録のために設けられる。そのため、記録層Ｌ０のインナーガードトラックゾーンＩＧＴＺの開始位置は記録層Ｌ１のインナードライブテストゾーンＩＤＴＺの開始位置よりも少なくともクリアランスの分だけ内周側に位置する。
【００３８】
記録層Ｌ１のリードアウト領域（Lead out Area）には、光ディスク３０の最内周から順に、システムリードアウト領域ＳＬＯＡ(System Lead out Area)、データリードアウトＤＬＯＡ(Data Lead out Area)領域が配置される。
【００３９】
記録層Ｌ１のデータリードアウト領域ＤＬＯＡには光ディスク３０の内周から順にブランクゾーンＢＺ、インナードライブテストゾーンＩＤＴＺ、インナーガードトラックゾーンＩＧＴＺが設置されている。
【００４０】
データ領域は、メインデータ等のユーザデータを記録する領域である。
このとき、記録層Ｌ０のデータ領域では内周から外周に向かう方向、記録層Ｌ１のデータ領域では外周から内周に向かう方向にユーザデータが記録される。
【００４１】
記録層Ｌ０のミドル領域にはそれぞれ、光ディスク３０の内周側から順にアウターガードトラックゾーンＯＧＴＺ（Outer Guard Track Zone）、アウタードライブテストゾーンＯＤＴＺ（Outer Drive Test Zone）、ブランクゾーンＢＺが配置される。
【００４２】
記録層Ｌ０のアウターガードトラックゾーンＯＧＴＺは記録層Ｌ１のアウタードライブテストゾーンＯＤＴＺの記録のために設けられる。そのため、記録層Ｌ０のアウターガードトラックゾーンＯＧＴＺの終了位置は記録層Ｌ１のアウタードライブテストゾーンＯＤＴＺの開始位置よりも少なくともクリアランスの分だけ外周側に位置する。
【００４３】
記録層Ｌ１のミドル領域にはそれぞれ、光ディスク３０の内周側から順にアウターガードトラックゾーンＯＧＴＺ、アウタードライブテストゾーンＯＤＴＺ、ブランクゾーンＢＺが配置される。
【００４４】
記録層Ｌ１のブランクゾーンＢＺは記録層Ｌ０のアウタードライブテストゾーンＯＤＴＺの記録のために設けられる。そのため、記録層Ｌ１のブランクゾーンＢＺの終了位置は記録層Ｌ０のアウタードライブテストゾーンＯＤＴＺの開始位置よりも少なくともクリアランスの分だけ内周側に位置する。
【００４５】
このように構成されている光ディスクでは、記録層Ｌ０、Ｌ１へ情報を記録する際の記録条件があらかじめ定められている。
【００４６】
記録条件は、記録層Ｌ１のアウタードライブテストゾーンＯＤＴＺを記録するには記録層Ｌ０のアウターガードトラックゾーンＯＧＴＺが記録済みであること、記録層Ｌ１のデータ領域
を記録するには記録層Ｌ０のデータ領域とアウターガードトラックゾーンＯＧＴＺが記録済みであることである。
【００４７】
又、Ｌ１のインナーガードトラックゾーンＩＧＴＺを記録するにはＬ０のインナーガードトラックゾーンＩＧＴＺ、インナードライブテストゾーンＩＤＴＺ、記録位置管理ゾーンＲＭＺ、物理フォーマットインフォメーションゾーンＰＦＩＺが記録済みでなければならない。
【００４８】
記録層Ｌ１を記録するにはまずＬ０の全ての領域が記録されていることが光ディスクの記録条件となっている。
なお、後述するライトパワーとストラテジの調整は、Ｌ０及びＬ１のインナードライブテストゾーンＩＤＴＺ及びアウタードライブテストゾーンＯＤＴＺでのみ行える。
【００４９】
（光ディスク装置１の動作）
次に、上記記録条件を踏まえて、図３を参照して、光ディスク３０に情報の読み書きを行う光ディスク装置の動作例について説明する。
図３は、光ディスク装置１の動作手順を表すフロー図である。以下、同図に基づき、光ディスク装置１の動作手順を説明する。
【００５０】
なお、ここで情報が記録される光ディスク３０は、光ディスク装置１に挿入された際に記録層L０のシステムリードイン領域ＳＬＩＡが読み込まれ、未記録状態の光ディスクであることが確認済みである。
【００５１】
まず、光ディスク３０の記録層Ｌ０のインナーガードトラックゾーンＩＧＴＺに対して光ピックアップ４０からレーザ光を照射し、記録層Ｌ０のインナーガードトラックゾーンＩＧＴＺに対して所定の情報の記録テストを行う（ステップＳ１）。
【００５２】
記録テスト終了後、記録層Ｌ０のインナーガードトラックゾーンＩＧＴＺに対して光ピックアップ４０からレーザ光を照射し、光ディスク３０の記録層Ｌ０からのレーザ反射光を光ピックアップ４０で電気信号に変換して出力する（ステップＳ２）。
【００５３】
光ピックアップ４０から出力された電気信号をプリアンプ９で増幅したのち、制御部５０に設置された演算装置５１に電気信号を出力する。演算装置５１は入力された電気信号に基づいて誤り率を算出する。
【００５４】
演算装置５１は算出した誤り率と、相対角度制御部１３で制御された現在（最新）の相対角度とを対応させてテーブルデータメモリ５３に記憶させる。これらが記憶されると、制御装置５５は相対角度制御部１３を制御し、光ディスク３０とピックアップ装置４０との相対角度を現在（最新）と異なる角度に変更する。
【００５５】
相対角度が変更されると、演算装置５１によって誤り率が再度演算される。演算装置５１は算出したこの誤り率と相対角度制御部１３の角度情報とをテーブルデータメモリ５３に追加して記憶させる。
【００５６】
この一連の動作を所定回繰り返すことで所定回数分のデータがテーブルデータメモリ５３に記憶される。演算装置５１は、所定回数分のデータをテーブルデータメモリ５３に記憶させた後、このテーブルデータを参照して、最も小さい（又は低い）誤り率に対応する相対角度を決定する（ステップＳ３）。
【００５７】
以上では、一連の測定結果の全てをテーブルデータメモリ５３に記憶させている。これ以外に、最も小さい（又は低い）誤り率とこれに対応する相対角度のみをテーブルデータメモリ５３に記録させても良い。この場合には、演算装置５１は記録された測定結果と、最新の測定結果とを比較して、小さい（又は低い）方の誤り率とこれに対応する相対角度をテーブルデータメモリ５３に記憶させる。
【００５８】
演算装置５１は、ステップＳ３で決定された相対角度をメモリ５２に設けられた相対角度メモリ５４に出力する。
【００５９】
相対角度メモリ５４は、出力された角度情報を記憶する（ステップＳ４）。
制御装置５５は相対角度メモリ５４に記憶されている角度情報に基づいて、相対角度制御部１３を制御し、光ディスク３０とピックアップ装置４０との相対角度を変更する。
【００６０】
ステップＳ１からステップＳ４までの相対角度の調整は、光ディスク３０とレーザ光との相対角度のみを考慮して調整を行ったいうなれば粗調整であり、このままでは相対角度の調整が不充分な畏れがある。
【００６１】
よって、以後のステップにおいて相対角度の微調整を行う。
光ディスク３０とピックアップ装置４０との相対角度調整の微調整を行うために、まず粗調整された相対角度を用いて、光ディスク３０の記録層Ｌ０のインナードライブテストゾーンＩＤＴＺに対して光ピックアップ４０からレーザ光を照射して所定の情報の記録テストを行う（ステップＳ５）。
【００６２】
記録テストを行う際に、光ディスク３０とレーザ光以外の条件であるライトパワーとストラテジが調整される（ステップＳ６）。ライトパワーの調整とは、レーザパワーを変えながら，最適な受光状態でのレーザパワーを決定することである。
【００６３】
ストラテジ調整でのストラテジは記録方法を意味する。ストラテジ調整すなわち記録方法の調整とは、例えば、レーザ光のパルス波高値やパルス幅を光ディスク３０に最適な値に調整することである。
【００６４】
光ディスク３０の情報の読み書きを行う層の微妙な違いに合わせて、記録方法を調整することでより品質の高い情報の記録を実現する。
【００６５】
ライトパワーとストラテジ調整が行われた後、記録層Ｌ０のインナーガードトラックゾーンＩＧＴＺに対して光ピックアップ４０からレーザ光を照射する。そして、光ディスク３０の記録層Ｌ０からのレーザ反射光を光ピックアップ４０で電気信号に変換して出力する（ステップＳ７）。
【００６６】
出力された電気信号に基づいて、ステップＳ２及びステップＳ３と同様の手順で現在の相対角度よりも細かい光ディスク３０と光ピックアップ４０との最良な相対角度を決定する（ステップＳ８及びステップＳ９）。
【００６７】
制御装置５５はステップＳ８及びＳ９で相対角度メモリ５４に記憶された角度情報に基づいて、相対角度制御部１３を制御し、光ディスクと３０とピックアップ装置４０との相対角度を再度調整（微調整）する。
【００６８】
ライトパワーとストラテジを考慮して、光ディスク３０とレーザ光との相対角度の調整を調整することで、相対角度の調整精度の向上を図ることができる。これ以後、相対角度の調整は行われず記録層Ｌ０のデータエリア等の残りの領域を記録する（ステップＳ１０）。
【００６９】
記録層Ｌ１を記録する際の光ディスク３０とピックアップ装置４０との相対角度はステップＳ８及びステップＳ９で決定された相対角度が用いられる。
【００７０】
記録層Ｌ１を記録する際には、光ディスク３０の記録層Ｌ１のインナードライブテストゾーンＩＤＴＺに対して光ピックアップ４０からレーザ光を照射し、記録層Ｌ０のインナードライブテストゾーンＩＤＴＺに対して所定の情報の記録テストを行う（ステップＳ１１）。このとき記録層Ｌ１用のライトパワーとストラテジ調整が行われる（ステップＳ１２）。
【００７１】
ステップＳ６で行われたライトパワーとストラテジ調整は記録層Ｌ０における情報の読み書きのためのものであり、記録層Ｌ１において情報の読み書きを行う場合、記録層Ｌ１用にライトパワーとストラテジ調整を行うことが望ましい。
【００７２】
ただし相対角度はＬ０において調整がされているのでＬ１では相対角度の調整を行う必要が無く、ライトパワーとストラテジの調整さえ行えば品質の高い情報の読み書きが行える。
【００７３】
記録層Ｌ１用のライトパワーとストラテジの調整が行われた後は記録層Ｌ１の残りの領域が記録される（ステップＳ１３）。
【００７４】
本発明の実施形態は、上記実施形態に限られず、拡張変更が可能である。拡張、変更した実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
例えば、上記実施形態では２層に形成された光ディスクを用いたが、例えば１層で形成された光ディスクや３層以上に形成された光ディスク等にも適用できる。
【００７５】
ステップＳ２、ステップＳ３、ステップＳ４での相対角度の調整は省略することもできる。この場合には、微調整は行われず粗調整のみとなるが、ライトパワーとストラテジとを考慮した相対角度の調整であるので、光ディスク３０とレーザ光との相対角度の調整精度の向上を図ることができる。
【００７６】
又、上記実施の形態ではライトパワーとストラテジの調整をＬ０及びＬ１のインナードライブテスト領域を使って行い各層のアウタードライブテスト領域は使用しなかったがアウタードライブテスト領域を使って調整を行うことができる。
【００７７】
この場合には、インナードライブテスト領域のみで調整を行った場合に比べて、更に細かくライトパワーとストラテジの調整ができるので結果として相対角度の調整精度の向上を更に図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】本発明の一つの実施形態の構成を示すブロック図。
【図２】本発明の一つの実施形態の光ディスクの構成を示す構成図。
【図３】本発明の一つの実施形態の動作を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００７９】
１…光ディスク装置、３０…光ディスク、５…ディスク保持部、７…ディスク駆動部、４０…光ピックアップ、４１…発光素子、４２…ビームスプリッタ、４３…対物レンズ、４４…受光素子、９…プリアンプ、１１…信号処理回路、１３…相対角度制御部、５０…制御部、５１…演算装置、５２…メモリ、５３…テーブルデータメモリ、５４…相対角度メモリ、５５…制御装置。
【図１】
2008010105.tif 000003
【図２】
2008010105.tif 000004
【図３】
2008010105.tif 000005