(57)【要約】【課題】ＴＯＦ方式において測距を行う場合に、正確に測距を行うことができるようにする。【解決手段】光学的距離算出部５２が、被写体に光を照射し、光の被写体による反射光を撮像系２０により検出し、光が出射されてからその反射光が撮像系２０により検出されるまでの時間に基づいて被写体の光学的な被写体距離を算出する。この光学的な被写体距離を算出するに際し、発光部４１Ａ，４１Ｂから波長が異なる複数の光を被写体に照射する。そして、撮像系２０が複数の光の被写体による反射光を異なる波長毎に受光する。強度取得部５０が、受光した反射光の強度を取得する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体に光を照射し、該光の該被写体による反射光を検出し、前記光が出射されてから前記反射光が検出されるまでの時間に基づいて前記被写体の光学的被写体距離を算出する光学的距離算出手段を備えた撮影装置において、
波長が異なる複数の前記光を前記被写体に照射する光照射手段と、
前記複数の光の前記被写体による反射光を、前記異なる波長毎、または該異なる波長および該異なる波長が重なる帯域の所定の波長毎に受光する受光手段と、
該受光した反射光の強度を取得する強度取得手段とを備えたことを特徴とする撮影装置。
【請求項２】
前記受光手段は、前記受光した反射光の画像である反射光画像を取得する手段であり、
前記強度取得手段は、前記反射光画像の輝度のヒストグラムを前記反射光の強度として取得する手段であり、
前記ヒストグラムにおける所定の輝度以下の面積が所定のしきい値以下となる反射光画像を得た波長の光を前記被写体に照射する光に決定する波長決定手段をさらに備えたことを特徴とする請求項１記載の撮影装置。
【請求項３】
前記ヒストグラムにおける所定の輝度以下の面積が所定のしきい値以下となる反射光画像が存在しない場合、前記強度取得手段は、前記反射光画像のそれぞれについての輝度のヒストグラムを算出する手段であり、
前記波長決定手段は、前記複数のヒストグラムにおける所定の輝度以下の面積が最も小さい反射光画像を得た波長の光を前記被写体に照射する光に決定する手段であることを特徴とする請求項２記載の撮影装置。
【請求項４】
被写体に光を照射し、該光の該被写体による反射光を検出し、前記光が出射されてから前記反射光が検出されるまでの時間に基づいて前記被写体の光学的被写体距離を算出する光学的距離算出手段を備えた撮影装置における撮影方法において、
波長が異なる複数の前記光を前記被写体に照射し、
前記複数の光の前記被写体による反射光を、前記異なる波長毎、または該異なる波長および該異なる波長が重なる帯域の所定の波長毎に受光し、
該受光した反射光の強度を取得することを特徴とする撮影方法。
【請求項５】
被写体に光を照射し、該光の該被写体による反射光を検出し、前記光が出射されてから前記反射光が検出されるまでの時間に基づいて前記被写体の光学的被写体距離を算出する光学的距離算出手段を備えた撮影装置における撮影方法をコンピュータに実行させるためのプログラムにおいて、
波長が異なる複数の前記光を前記被写体に照射する手順と、
前記複数の光の前記被写体による反射光を、前記異なる波長毎、または該異なる波長および該異なる波長が重なる帯域の所定の波長毎に受光する手順と、
該受光した反射光の強度を取得する手順とを有することを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮影により画像を取得する撮影手段から被写体までの被写体距離を算出する機能を備えた撮影装置および方法並びに撮影方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
被写体を撮影して画像を取得する撮影装置において、被写体に向けて出射した近赤外線等の測距光が被写体により反射して戻ってくるまでの時間を計測することにより、撮影装置から被写体までの距離を測定して、距離画像を作成することが行われている。このように光の反射を用いて被写体までの距離の測定（測距）を行う方式はＴＯＦ（Time Of Flight）方式と称されるが、ＴＯＦ方式を用いる場合には、被写体からの反射光が得られなければ測距を行うことができない。また、反射光が得られたとしても、光量が小さいとノイズの影響が大きくなることから、正確な測距を行うことができない。例えば、被写体が撮影装置から遠い位置にある場合には十分な光量の反射光が得られないため、正確に測距を行うことができない。
【０００３】
このような場合、反射光の検出期間を長くすれば、測距に必要な十分な光量の反射光を受光することができる。しかしながら、反射光の検出期間を長くすると、被写体が撮影装置に近い場合には、反射光を受光する光検出素子が飽和しやすくなる。光検出素子が飽和すると、反射光の受光光量と光検出素子の出力信号とが対応しなくなるため、正確に測距を行うことができなくなる。
【０００４】
このため、光検出素子が生成した信号電荷を集積する検出期間を複数設定し、設定した複数の検出期間から、光検出素子において許容される電荷量を超えない範囲で、検出される電荷量が最大となる検出期間を選択し、検出した期間を用いて測距を行うことにより、ノイズの影響をできるだけ少なくして被写体までの距離を算出する手法が提案されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００６−８４４３０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、ＴＯＦ方式により測距を行う場合、撮影環境に含まれる環境光に、測距のために被写体に照射する光の波長成分が多く含まれると、環境光が反射光にノイズとして含まれることとなるため、正確に測距を行うことができなくなる。
【０００６】
本発明は上記事情に鑑みなされたものであり、ＴＯＦ方式において測距を行う場合に、正確に測距を行うことができるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明による撮影装置は、被写体に光を照射し、該光の該被写体による反射光を検出し、前記光が出射されてから前記反射光が検出されるまでの時間に基づいて前記被写体の光学的被写体距離を算出する光学的距離算出手段を備えた撮影装置において、
波長が異なる複数の前記光を前記被写体に照射する光照射手段と、
前記複数の光の前記被写体による反射光を、前記異なる波長毎、または該異なる波長および該異なる波長が重なる帯域の所定の波長毎に受光する受光手段と、
該受光した反射光の強度を取得する強度取得手段とを備えたことを特徴とするものである。
【０００８】
ここで、「光学的距離算出手段」は、上記ＴＯＦ方式により測距を行う手段である。
【０００９】
なお、本発明による撮影装置においては、前記受光手段を、前記受光した反射光の画像である反射光画像を取得する手段とし、
前記強度取得手段を、前記反射光画像の輝度のヒストグラムを前記反射光の強度として取得する手段とし、
前記ヒストグラムにおける所定の輝度以下の面積が所定のしきい値以下となる反射光画像を得た波長の光を前記被写体に照射する光に決定する波長決定手段をさらに備えるものとしてもよい。
【００１０】
また、本発明による撮影装置においては、前記ヒストグラムにおける所定の輝度以下の面積が所定のしきい値以下となる反射光画像が存在しない場合、前記強度取得手段を、前記反射光画像のそれぞれについての輝度のヒストグラムを算出する手段とし、
前記波長決定手段を、前記複数のヒストグラムにおける所定の輝度以下の面積が最も小さい反射光画像を得た波長の光を前記被写体に照射する光に決定する手段としてもよい。
【００１１】
本発明による撮影方法は、被写体に光を照射し、該光の該被写体による反射光を検出し、前記光が出射されてから前記反射光が検出されるまでの時間に基づいて前記被写体の光学的被写体距離を算出する光学的距離算出手段を備えた撮影装置における撮影方法において、
波長が異なる複数の前記光を前記被写体に照射し、
前記複数の光の前記被写体による反射光を、前記異なる波長毎、または該異なる波長および該異なる波長が重なる帯域の所定の波長毎に受光し、
該受光した反射光の強度を取得することを特徴とするものである。
【００１２】
なお、本発明による撮影方法をコンピュータに実行させるためのプログラムとして提供してもよい。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、波長が異なる複数の光が被写体に照射され、複数の光の被写体による反射光が、異なる波長毎、または異なる波長および異なる波長が重なる帯域の所定の波長毎に受光され、受光された反射光の強度が取得される。したがって、取得した反射光の強度に基づいて、環境光にできるだけ影響されないような波長の光を被写体に照射する光に決定することができる。このため、ＴＯＦ方式による測距を行う際に、環境光の影響を少なくすることができ、その結果、反射光のノイズを低減して、正確に被写体距離を算出することができる。
【００１４】
とくに、反射光の画像の輝度のヒストグラムを生成し、ヒストグラムにおける所定の輝度以下の面積が所定のしきい値以下となる反射光画像を得た波長の光を被写体に照射する光に決定することにより、簡易な演算により被写体に照射する光を決定することができる。
【００１５】
また、ヒストグラムにおける所定の輝度以下の面積が所定のしきい値以下となる反射光画像が存在しない場合、複数の反射光の画像の輝度のヒストグラムをそれぞれ生成し、ヒストグラムにおける所定の輝度以下の面積が最も小さい反射光画像を得た波長の光を被写体に照射する光に決定することにより、簡易な演算により被写体に照射する光を決定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。図１は本発明の第１の実施形態による撮影装置を適用したデジタルカメラの構成を示す概略ブロック図である。図１に示すデジタルカメラ１は、動作モードスイッチ、上下左右ボタン、レリーズボタンおよび電源スイッチ等の操作系１０と、これらのスイッチ類の操作内容をＣＰＵ４２に伝えるためのインターフェース部分である操作系制御部１２とを有している。
【００１７】
光学系としては、レンズ２１を有している。レンズ２１は、被写体にピントを合わせるためのフォーカスレンズ、ズーム機能を実現するためのズームレンズ等の複数の機能別レンズにより構成され、レンズ駆動部２２により各機能別レンズの位置が調整される。
【００１８】
また、絞り２３は絞り駆動部２４によって駆動される。この絞り駆動部２４は絞り径の調整を行う。
【００１９】
シャッタ２５はメカニカルシャッタであり、シャッタ駆動部２６によって駆動される。シャッタ駆動部２６は、レリーズボタンの押下により発生する信号に応じて、シャッタ２５の開閉の制御を行う。
【００２０】
光学系の後方には撮像素子２７を有している。撮像素子２７は、距離および画像の双方を検出可能な距離画像ＣＭＯＳセンサからなるものであり、多数の受光素子からなる画素を２次元的に配列した光電面を有しており、光学系を通過した被写体光がこの光電面に結像し、光電変換される。光電面の前方には、各画素に光を集光するためのマイクロレンズアレイと、Ｒ，Ｇ，Ｂ各色のフィルタが規則的に配列されたカラーフィルタアレイとが配置されている。撮像素子２７は、撮像素子制御部２８から供給される垂直転送クロックおよび水平転送クロックに同期して、画素毎に蓄積された電荷を１ラインずつシリアルなアナログ撮像信号として出力する。各画素において電荷を蓄積する時間、すなわち、露出時間は、撮像素子制御部２８により制御される。
【００２１】
ここで、画素毎の露出時間の制御は、電子シャッタスピードを画素毎に変化させることにより制御することができる。例えば、露出時間を短くしたいときはシャッタスピードを速くし、露出時間を長くしたいときはシャッタスピードを遅くすればよい。また、撮像素子２７は撮像素子制御部２８により、あらかじめ定められた大きさのアナログ撮像信号が得られるようにゲインが調整されている。
【００２２】
また、撮像素子２７は、発光部４１Ａ，４１Ｂが出射した測距光の被写体による反射光を撮像して反射光の撮像信号を取得する。
【００２３】
絞り２３とシャッタ２５との間には、撮像素子２７に検出される光の波長を変更するためのフィルタ切替機構６０が設けられている。図２はフィルタ切替機構６０の構成を示す図である。図２に示すようにフィルタ切替機構６０は、点Ｏを中心として回転可能な円盤６１に２種類のバンドパスフィルタ６２Ａ，６２Ｂが設けられてなり、円盤６１を点Ｏを中心として回転させることにより、撮像素子２７の光軸上に位置するバンドパスフィルタ６２Ａ，６２Ｂを切り替えることができるものである。なお、円盤６１の回転はＣＰＵ４２により制御されるフィルタ駆動部６４により行われる。
【００２４】
ここで、本実施形態においては、バンドパスフィルタ６２Ａ，６２Ｂは、後述する発光部４１Ａ，４１Ｂが発する波長の光を透過する特性をそれぞれ有する。なお、発光部４１Ａ，４１Ｂが発する光の波長については後述する。
【００２５】
なお、本実施形態においては、レンズ２１、絞り２３、シャッタ２５、撮像素子２７およびフィルタ切替機構６０が撮像系２０を構成する。
【００２６】
被写体の測距時に撮像素子２７から取り込まれたアナログ撮像信号は、アナログ信号処理部３０に入力される。アナログ信号処理部３０は、アナログ撮像信号のノイズを除去する相関２重サンプリング回路（ＣＤＳ）と、アナログ撮像信号のゲインを調節するオートゲインコントローラ（ＡＧＣ）と、アナログ撮像信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）とからなる。このデジタル信号に変換された画像データは、画素毎にＲ，Ｇ，Ｂの濃度値を持つＲＡＷ画像データである。
【００２７】
画像入力コントローラ３１は、アナログ信号処理部３０から入力されたＲＡＷ画像データをフレームメモリ３３に書き込む。
【００２８】
タイミングジェネレータ３２は、タイミング信号を発生させるものであり、このタイミング信号をシャッタ駆動部２６、撮像素子制御部２８、アナログ信号処理部３０に供給することにより、レリーズボタンの操作、シャッタ２５の開閉、撮像素子２７の電荷の取込み、およびアナログ信号処理部３０の処理の同期をとっている。
【００２９】
フレームメモリ３３は、画像データに対して後述の各種処理を行う際に使用する作業用メモリである。
【００３０】
メディア制御部３４は、記録メディア３５にアクセスして画像ファイルの書き込みと読み込みの制御を行う。
【００３１】
表示制御部３６は、撮影により取得した画像データの画像を液晶モニタ３７に表示させたり、記録メディア３５に保存されている画像データの画像を液晶モニタ３７に表示させたりするためのものである。
【００３２】
画像処理部３８は、画像データに対して、階調補正、シャープネス補正、色補正等の画質補正処理、ＲＡＷ画像データを輝度信号であるＹデータと、青色色差信号であるＣｂデータおよび赤色色差信号であるＣｒデータとからなるＹＣデータに変換するＹＣ処理を行う。
【００３３】
圧縮／伸長処理部３９は、画像処理部３８によって補正・変換処理が行われた画像の画像データに対して、例えば、ＪＰＥＧ等の圧縮形式で圧縮処理を行い、画像ファイルを生成する。また、圧縮／伸長処理部３９は、画像を再生する場合には、記録メディア３５から圧縮された画像ファイルを読み出して伸長処理を行う。伸長後の画像データは液晶モニタ３７に出力される。
【００３４】
内部メモリ４０は、デジタルカメラ１において設定される各種定数、およびＣＰＵ４２が実行するプログラム等を格納する。
【００３５】
発光部４１Ａ，４１ｂは、ＣＰＵ４２により制御されて、測距光を被写体に向けて出射する。被写体に向けて出射された測距光は被写体により反射され、反射光が撮像素子２７により検出される。なお、発光部４１Ａ，４１ｂは、多数のＬＥＤを面状に配列したり、半導体レーザとレンズとの組み合わせにより構成することができる。
【００３６】
図３（ａ）は発光部４１Ａ、図３（ｂ）は発光部４１Ｂが出射する光の発光スペクトルをそれぞれ示す図である。図３（ａ）に示すように、発光部４１Ａは中心波長がλ１＝７８０ｎｍの光を出射し、図３（ｂ）に示すように、発光部４１Ｂは中心波長がλ２＝８５０ｎｍの光を出射する。
【００３７】
このため、上述したフィルタ切替機構６０のバンドパスフィルタ６２Ａ，６２Ｂの透過特性は、図４（ａ），（ｂ）に示すようにそれぞれ７８０ｎｍおよび８５０ｎｍを透過率のピークとする透過特性を有するものを用いる。
【００３８】
ＣＰＵ４２は、操作系１０および各種処理部からの信号に応じてデジタルカメラ１の本体各部を制御する。また、ＡＦ処理によりフォーカス位置を調整するよう撮像系２０を制御する。また、ＡＥ処理により適切な露出が得られるように撮像系２０を制御する。
【００３９】
また、ＣＰＵ４２は、発光部４１Ａ，４１Ｂから交互に中心波長λ１，λ２の光をそれぞれ出射し、フィルタ切替機構６０のバンドパスフィルタ６２Ａ，６２Ｂを切り替えて、撮像系２０に撮影を行わせる。すなわち、発光部４１Ａから中心波長λ１の光を出射させる際にはバンドパスフィルタ６２Ａが撮像系２０の光軸上に位置するようにフィルタ切替機構６０を切り替え、発光部４１Ｂから中心波長λ２の光を出射させる際にはバンドパスフィルタ６２Ｂが撮像系２０の光軸上に位置するようにフィルタ切替機構６０を切り替える。そして、それぞれの波長の光により撮像系２０に撮影を行わせる。
【００４０】
強度取得部５０は、撮像系２０が撮影により取得した画像の輝度のヒストグラムを、作成する。画像の輝度は、画像処理部３８が得たＹデータを用いればよい。なお、輝度のヒストグラムが撮像系２０が受光した反射光の強度に対応するものとなる。
【００４１】
波長決定部５１は、後述する光学的距離算出部５２が測距を行う際に使用する測距光の波長を決定する。具体的には、強度取得部５０に、まずいずれか一方の中心波長（λ１とする）の光から得た画像の輝度のヒストグラムＨ１を作成させる。図５は輝度のヒストグラムの例を示す図である。そして、波長決定部５１は、ヒストグラムＨ１において、所定の輝度のしきい値Ｔｈ１以下のヒストグラムの面積Ａ１を算出し、算出した面積Ａ１が所定のしきい値Ｔｈ２以下となるか否かを判定する。そして、算出した面積Ａ１がしきい値Ｔｈ１以下となる場合には、ヒストグラムＨ１を得た中心波長λ１の光を測距光に決定する。
【００４２】
一方、算出した面積Ａ１がしきい値Ｔｈ２を超える場合には、他方の中心波長λ２の光仮から得た画像の輝度のヒストグラムＨ２を作成し、同様に所定の輝度のしきい値Ｔｈ１以下のヒストグラムの面積Ａ２を算出し、算出した面積Ａ２が所定のしきい値Ｔｈ２以下となるか否かを判定する。
【００４３】
そして、算出した面積Ａ２がしきい値Ｔｈ１以下となる場合には、ヒストグラムＨ２を得た中心波長λ２の光を測距光に決定する。また、算出した面積Ａ２がしきい値Ｔｈ２を超える場合には、面積Ａ１，Ａ２を比較し、面積が小さい方のヒストグラムを作成した画像を得た波長の光を測距光に決定する。例えば、図５に示すヒストグラムＨ１，Ｈ２においては、しきい値Ｔｈ１以下の面積は面積Ａ２の方が小さいため、ヒストグラムＨ２を得た中心波長λ２の光を測距光に決定する。
【００４４】
ここで、発光部４１Ａ，４１Ｂから出射される光の波長域と同一の波長域の光が撮影環境における環境光に含まれると、ヒストグラムにおけるしきい値Ｔｈ１以下の面積が大きくなる。波長決定部５１は、上記のように測距光を決定することにより、測距の際に環境光の影響を少なくすることができる。
【００４５】
光学的距離算出部５２は、レリーズボタンが押下されると、発光部４１Ａ，４１Ｂが被写体に向けて測距光を出射してから、撮像素子２７の各画素が測距光の被写体による反射光を検出するまでの時間を測定して、光学的な被写体距離Ｌｏを算出する。例えば上記特許文献１に記載されたように、発光部４１Ａ，４１Ｂから出射される光の強度が一定周期で周期的に変化するように強度変調し、強度変調した光の反射光を撮像素子２７が受光することにより得られるアナログ撮像信号から、測距光に対する反射光の位相差を検出し、検出した位相差を用いて測距光が出射されてから測距光の反射光が検出されるまでの時間を算出し、算出した時間と光速とから光学的な被写体距離Ｌｏを算出する。
【００４６】
なお、算出した被写体距離Ｌｏは、撮像素子２７の各画素と対応づけられて、距離画像として記録メディア３５に記録される。
【００４７】
次いで、第１の実施形態において行われる処理について説明する。図６は第１の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。操作系１０から撮影の指示が入力されることによりＣＰＵ４２が処理を開始し、光を出射する発光部を最初の発光部（ここでは４１Ａ）に設定する（ステップＳＴ１）。これにより発光部４１Ａが光を出射し（ステップＳＴ２）、撮像系２０が撮影を行って画像を取得する（ステップＳＴ３）。
【００４８】
次いで、強度取得部５０が、撮影により取得した画像の輝度のヒストグラムを作成し（ステップＳＴ４）、波長決定部５１が、ヒストグラムにおける輝度が所定のしきい値Ｔｈ１以下となる面積がしきい値Ｔｈ２以下であるか否かを判定する（ステップＳＴ５）。ステップＳＴ５が肯定されると、測距光を、現在設定されている発光部４１Ａが出射する光に決定する（ステップＳＴ６）。
【００４９】
ステップＳＴ５が否定されると、すべての発光部についてステップＳＴ５の判定を行ったか否かを判定し（ステップＳＴ７）、ステップＳＴ７が否定されると、光を出射する発光部を次の発光部（ここでは４１Ｂ）に設定し（ステップＳＴ８）、ステップＳＴ２に戻り、ステップＳＴ２以降の処理を繰り返す。
【００５０】
ステップＳＴ７が肯定されると、すべてのヒストグラムにおいて輝度が所定のしきい値Ｔｈ１以下の部分の面積を比較し、測距光を、最も小さい面積となるヒストグラムを得た画像の撮影に使用した光を出射した発光部（最小面積取得発光部）が出射する光に決定する（ステップＳＴ９）。
【００５１】
ステップＳＴ６，ＳＴ９に続いて、ＣＰＵ４２はレリーズボタンが押下されたか否かの監視を開始し（ステップＳＴ１０）、ステップＳＴ１０が肯定されると、光学的距離算出部５２が、決定された光を出射する発光部から測距光を出射してＴＯＦ方式による測距を行い（ステップＳＴ１１）、光学的な被写体距離Ｌｏを取得し（ステップＳＴ１２）、処理を終了する。なお、取得された被写体距離Ｌｏは、各画素と対応づけられて距離画像として記録メディア３５に記録される。
【００５２】
このように、第１の実施形態においては、環境光の影響が少ない測距光によりＴＯＦ方式による測距を行うことができるため、ＴＯＦ方式による測距を行う際に、環境光の影響を少なくすることができ、その結果、反射光のノイズを低減して、正確に被写体距離を算出することができる。
【００５３】
次いで、本発明の第２の実施形態について説明する。図７は本発明の第２の実施形態による撮影装置を適用したデジタルカメラの構成を示す概略ブロック図である。なお、第２の実施形態において第１の実施形態と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。第２の実施形態によるデジタルカメラ１Ａは、フィルタ切替機構６０を発光部４１Ａ，４１Ｂの前面に設けた点が第１の実施形態と異なる。このように、フィルタ切替機構６０を発光部４１Ａ，４１Ｂの前面に設けても、上記第１の実施形態と同様に、ＴＯＦ方式による測距に使用する光の波長を決定することができる。
【００５４】
なお、上記第１の実施形態においては、中心波長がλ１＝７８０ｎｍおよびλ２＝８５０ｎｍの光を発する発光部４１Ａ，４１Ｂを用いているが、２つの光を同時に出射すると、図８に示すように、７８０ｎｍおよび８５０ｎｍの間の波長域にも強度を有する光が得られる。このため、図９に示すように７８０ｎｍと８５０ｎｍの間の波長域（例えばλ３＝８２０ｎｍ）を透過するバンドパスフィルタ６２Ｃをフィルタ切替機構６０に設けることにより、２種類の発光部４１Ａ，４１Ｂを用いて、３種類の波長の光について測距に用いるか否かの判定を行うことが可能となる。
【００５５】
この際、発光部４１Ａのみから光を出射し、撮像系２０の光軸上にバンドパスフィルタ６２Ａを位置させることにより、中心波長がλ１＝７８０ｎｍの光により撮影を行う。また、発光部４１Ｂのみから光を出射し、撮像系２０の光軸上にバンドパスフィルタ６２Ｂを位置させることにより、中心波長がλ２＝８５０ｎｍの光により撮影を行う。さらに、発光部４１Ａ，４１Ｂの双方から光を出射し、撮像系２０の光軸上にバンドパスフィルタ６２Ｃを位置させることにより、中心波長がλ３＝８２０ｎｍの光により撮影を行う。そして、撮影により取得した３つの画像の輝度のヒストグラムから上記第１の実施形態と同様に、測距に使用する波長の光を決定する。
【００５６】
また、上記第１および第２の実施形態においては、２つの発光部４１Ａ，４１Ｂを用いているが、３以上の発光部を用いるようにしてもよい。
【００５７】
また、上記第１および第２の実施形態においては、２つの発光部４１Ａ，４１Ｂを設けているが、出射する光の波長を変更可能な１つの発光部のみを使用し、１つの発光部から異なる波長の光を出射して、測距時に使用する波長の光を決定するようにしてもよい。
【００５８】
以上、本発明の実施形態に係るデジタルカメラについて説明したが、コンピュータを、上記の強度取得部５０、波長決定部５１および光学的距離算出部５２に対応する手段として機能させ、図６に示すような処理を行わせるプログラムも本発明の実施形態の１つである。また、そのようなプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体も、本発明の実施形態の１つである。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の第１の実施形態による撮影装置を適用したデジタルカメラの構成を示す概略ブロック図
【図２】フィルタ切替機構の構成を示す図
【図３】発光部が発する光の発光スペクトルを示す図
【図４】バンドパスフィルタの透過特性を示す図
【図５】輝度のヒストグラムを示す図
【図６】第１の実施形態において行われる処理を示すフローチャート
【図７】本発明の第２の実施形態による撮影装置を適用したデジタルカメラの構成を示す概略ブロック図
【図８】２つの波長域の重ね合わせを説明するための図
【図９】フィルタ切替機構の他の構成を示す図
【符号の説明】
【００６０】
１，１Ａ    デジタルカメラ
１０    操作系
２０    撮像系
２１    レンズ
２３    絞り
２５    シャッタ
２７    撮像素子
３８    画像処理部
４０    内部メモリ
４１Ａ，４１Ｂ    発光部
４２    ＣＰＵ
５０    強度取得部
５１    波長決定部
５２    光学的距離算出部
６０    フィルタ切替機構
【図１】
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【図２】
2008175538.tif 000004
【図３】
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【図４】
2008175538.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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