(57)【要約】【課題】レーザダイオードの周囲温度の変化にかかわらず異常の誤検知を防止すると共に異常の早期発見を実現することのできる画像形成装置を提供すること。【解決手段】レーザ光を照射するレーザダイオード等のレーザ光照射手段に流れる電流値や電圧値を検出し，その検出された電流値や電圧値が予め設定された正常範囲を超えた場合に，該レーザ光照射手段の異常を検知するレーザ異常検知処理において，前記レーザ光照射手段の周囲温度を検出し（Ｓ２），予め設定値対応情報記憶手段に記憶された前記レーザ光照射手段の周囲温度と前記正常範囲とを対応付けた設定値対応情報に基づいて，検出された周囲温度に対応する前記正常範囲を設定することを特徴とする画像形成装置として構成される。【選択図】図５
2008225327.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電荷を帯びた像担持体に静電潜像を形成するためのレーザ光を照射するレーザ光照射手段と，
前記レーザ光照射手段に流れる電流値及び／又は電圧値を検出する電流電圧検出手段と，
前記電流電圧検出手段により検出された電流値及び／又は電圧値が，予め設定された正常範囲を超えた場合に該レーザ光照射手段の異常を検知する異常検知手段と，
を備えてなる画像形成装置であって，
前記レーザ光照射手段の周囲温度を検出する温度検出手段と，
前記レーザ光照射手段の周囲温度と前記正常範囲とを対応付けた設定値対応情報が予め記憶された設定値対応情報記憶手段と，
前記温度検出手段による検出温度及び前記設定値対応情報記憶手段に記憶された前記設定値対応情報に基づいて前記正常範囲を設定する正常範囲設定手段と，
を備えてなることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記レーザ光照射手段が，レーザダイオードである請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記設定値対応情報が，前記レーザ光照射手段の周囲温度が異なる複数の状態において前記電流電圧検出手段によって検出された前記レーザ光照射手段に流れる電流値及び／又は電圧値に基づいて設定されたものである請求項１又は２のいずれかに記載の画像形成装置。
【請求項４】
複数の前記レーザ光照射手段を備えてなり，
前記設定値対応情報が，前記レーザ光照射手段の周囲温度が異なる複数の状態において前記電流電圧検出手段によって検出された複数の前記レーザ光照射手段各々の電流値の平均値及び／又は電圧値の平均値に基づいて設定されたものである請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記レーザ光照射手段に流れる電流値を一定に保持するためのホールドコンデンサを更に備えてなり，
前記電流電圧検出手段が，前記ホールドコンデンサの電位を検出することにより，前記レーザ光照射手段に流れる電流値及び／又は電圧値を検出するものである請求項１〜４のいずれかに記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，電荷を帯びた像担持体に静電潜像を形成するためのレーザ光を照射するレーザダイオード等のレーザ光照射手段を備えてなる画像形成装置に関し，特に，前記レーザ光照射手段の異常を検知するための技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から，帯電装置によって一様に帯電されて電荷を帯びた感光体ドラムに，レーザダイオードからのレーザ光を照射することにより静電潜像を形成し，該静電潜像をトナーを用いて現像する電子写真方式が採用された複写機やプリンタ装置，ファクシミリ装置，これらの複合機などの画像形成装置がある。
一般に，前記画像形成装置では，レーザダイオードの光量を一定に保持するように該レーザダイオードに流れる電流を制御する所謂ＡＰＣ制御が行われる。しかしながら，レーザダイオードが，静電気やサージの電気的ストレスなどで劣化するとＡＰＣ制御によっても必要な光量を得ることができず，画像精度が低下するという問題が生じる。このとき，レーザダイオードの劣化は，ＡＰＣ制御時の駆動電流の上昇として現れることになる。
そこで，レーザダイオードに流れる電流を検出し，その検出値が予め設定された一定の電流値以上であることを検知することによって，該レーザダイオードの劣化を検知する手法がある（例えば，特許文献１，段落［００４０］参照）。
【特許文献１】特開２００５−３１９７３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで，レーザダイオードにより照射されるレーザ光の光量は，供給される電力が同じであっても，レーザダイオードの周囲温度によって変化することが知られている。具体的に，電力が同じである場合，周囲温度が高くなるほどレーザダイオードの光量は低下することになる。
しかしながら，従来手法では，レーザダイオードの周囲温度に関係なく，予め設定された一定の電流値を指標として劣化が検知されるため，その指標となる電流値を低く設定すると誤検知が生じやすく，高く設定すると検知が遅れるという問題がある。
従って，本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり，その目的とするところは，レーザダイオードの周囲温度の変化にかかわらず異常の誤検知を防止すると共に異常の早期発見を実現することのできる画像形成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するために本発明は，電荷を帯びた像担持体に静電潜像を形成するためのレーザ光を照射するレーザ光照射手段と，前記レーザ光照射手段に流れる電流値や電圧値を検出する電流電圧検出手段と，前記電流電圧検出手段により検出された電流値や電圧値が予め設定された正常範囲を超えた場合に該レーザ光照射手段の異常を検知する異常検知手段と，を備えてなる画像形成装置に適用されるものであって，前記レーザ光照射手段の周囲温度と前記正常範囲とを対応付けた設定値対応情報が予め記憶された設定値対応情報記憶手段を設けておき，前記レーザ光照射手段の周囲温度を検出し，その検出温度及び前記設定値対応情報記憶手段に記憶された前記設定値対応情報に基づいて前記正常範囲を設定することを特徴とする画像形成装置として構成される。ここに，前記レーザ光照射手段は，例えばレーザダイオードである。
本発明によれば，前記レーザ光照射手段の異常を検知するための指標となる前記正常範囲が，該レーザ光照射手段の周囲温度に応じて設定されるため，前記レーザ光照射手段の異常を周囲温度状況に応じて適切なタイミングで検知することができ，異常の誤検知を防止すると共に異常の早期発見を実現することが可能となる。
【０００５】
ここで，前記設定値対応情報は，前記レーザ光照射手段の周囲温度が異なる複数の状態において前記電流電圧検出手段によって検出された前記レーザ光照射手段に流れる電流値や電圧値に基づいて設定されたものである。
特に，複数の前記レーザ光照射手段を備える場合には，前記レーザ光照射手段の周囲温度が異なる複数の状態において前記電流電圧検出手段によって検出された複数の前記レーザ光照射手段各々の電流値の平均値や電圧値の平均値に基づいて設定された前記設定値対応情報を用いることが望ましい。このように複数のレーザ光照射手段の特性の平均に基づいて設定された前記設定値対応情報を用いることにより，そのレーザ光照射手段各々の製造誤差などによる特性のバラツキに大きく左右されず適正な検知を行うことができる。
ところで，前記電流電圧検出手段は，前記レーザ光照射手段に流れる電流値や電圧値を直接検出するものであってもよいが，例えば，前記レーザ光照射手段に流れる電流値を一定に保持するためのホールドコンデンサの電位を検出することにより，前記レーザ光照射手段に流れる電流値や電圧値を検出してもよい。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば，前記レーザ光照射手段の異常を検知するための指標となる前記正常範囲が，該レーザ光照射手段の周囲温度に応じて設定されるため，前記レーザ光照射手段の異常を周囲温度状況に応じて適切なタイミングで検知することができ，異常の誤検知を防止すると共に異常の早期発見を実現することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下添付図面を参照しながら，本発明の実施の形態について説明し，本発明の理解に供する。尚，以下の実施の形態は，本発明を具体化した一例であって，本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
ここに，図１は本発明の実施の形態に係る画像形成装置Ｘの概略構成を示すブロック図，図２は前記画像形成装置Ｘに設けられたＬＳＵ５２の内部構成を説明するための図，図３は前記ＬＳＵ５２のレーザデバイス１１に係る電気回路Ｙの回路構成を示すブロック図，図４は設定値対応情報Ｄ１の一例を説明するための図，図５は前記画像形成装置Ｘで実行されるレーザ異常検知処理の手順の一例を説明するためのフローチャート，図６は前記設定値対応情報Ｄ１の他の例を示す図である。
まず，図１を用いて，前記画像形成装置Ｘの概略構成について説明する。
図１に示すように，本発明の実施の形態に係る画像形成装置Ｘは，ＣＰＵ及びＲＯＭ，ＲＡＭ等の周辺装置からなり前記ＲＯＭに格納された所定のプログラムに従った処理を実行することにより当該画像形成装置Ｘを統括的に制御する制御部１と，当該画像形成装置Ｘにおいて各種の情報の表示や入力操作を行う液晶ディスプレイ，タッチパネルなどの操作表示部２と，原稿台（不図示）に載置された原稿或いは自動原稿送り装置（ＡＤＦ，不図示）により搬送された原稿の画像を読み取る画像読取部３と，前記画像読取部３によって読み取られた画像データ或いは外部から入力された画像データに対して各種の画像処理を施す画像処理部４と，不図示の給紙カセットから供給された用紙に前記画像データに基づいてモノクロ画像又はカラー画像を形成する画像形成部５と，を備えて概略構成されている。前記画像形成装置Ｘは，例えば複写機やファクシミリ装置，プリンタ装置，これらの複合機などである。
【０００８】
前記画像形成部５は，図外の帯電装置により所定電位に一様に帯電される複数の感光体ドラム５１（図２参照）と，電荷を帯びた前記感光体ドラム５１各々に向けてレーザ光を照射することにより該感光体ドラム５１各々の表面上に静電潜像を形成するレーザスキャナユニット５２（図２参照，以下「ＬＳＵ５２」と略称する）と，前記感光体ドラム５１各々の表面上に形成された静電潜像をトナーカートリッジから供給される各色のトナーによって現像する複数の現像装置５３と，前記現像装置５３によって前記感光体ドラム５１各々の表面上に形成されたトナー像を用紙に転写する複数の転写装置５４（図２参照）と，前記トナー像が転写された用紙に該トナー像を定着させる定着装置５５と，を備えて概略構成されている。前記画像形成部５では，前記感光体ドラム５１各々に形成されたトナー像が順次重ね合わされて用紙，或いは不図示の中間転写ベルトに転写されることによりカラー画像が形成される。
【０００９】
次に，図２を用いて，前記ＬＳＵ５２の内部構成について説明する。ここに，図２（ａ）は前記ＬＳＵ５２の側断面を示す模式図，図２（ｂ）は図２（ａ）における一点鎖線の包囲領域を上方から見た模式図である。
図２に示すように，前記ＬＳＵ５２は，電荷を帯びた前記感光体ドラム５１に静電潜像を形成するためのレーザ光を照射する二つのレーザデバイス（レーザ光照射手段の一例）１１〜１４と，前記レーザデバイス１１〜１４から照射されたレーザ光を反射させると共に，図外の駆動モータによって回転駆動されることにより前記レーザ光各々を所定方向に走査させるポリゴンミラー１５と，前記ポリゴンミラー１５で反射された前記レーザデバイス１１〜１４からのレーザ光各々を前記感光体ドラム５１に導くｆθレンズ等の光学レンズ１６や偏向ミラー１７〜２０と，後述の反射面２１，２３及びレーザ光検知センサ２２，２４と，当該ＬＳＵ５２の内部温度を検出するサーミスタ等の温度センサ２５（温度検出手段の一例）と，を備えて概略構成されている。
ここでは，前記レーザデバイス１１〜１４の四つのレーザデバイスからのレーザ光が一つの前記ポリゴンミラー１５によって走査される構成を例に挙げて説明するが，一つ又は二つのレーザデバイスごとに一つのポリゴンミラーを用いる構成であってもよい。
【００１０】
前記ポリゴンミラー１５により走査される前記レーザデバイス１１からのレーザ光の走査経路上の一端部には反射面２１が設けられており，該反射面２１によって反射されたレーザ光は，前記レーザデバイス１１からのレーザ光の走査経路外に設けられたレーザ光検知センサ２２に入射される。同様に，前記ポリゴンミラー１５により走査される前記レーザデバイス１３からのレーザ光の走査経路上の一端部には反射面２３が設けられており，該反射面２３によって反射されたレーザ光は，前記レーザデバイス１３からのレーザ光の走査経路外に設けられたレーザ光検知センサ２４に入射される。
前記レーザ光検知センサ２２，２４は，レーザ光の入射を検知する毎に，レーザ光検知信号を前記制御部１に対して入力する。前記制御部１では，前記レーザ光検知センサ２２，２４からのレーザ光検知信号に基づいて，前記感光体ドラム５１への静電潜像の書き出しタイミングを調整する。
【００１１】
一方，前記温度センサ２５は，前記ＬＳＵ５２の内部温度，即ち前記レーザデバイス１１〜１４の周囲温度（雰囲気温度）に相当する温度を検出するものであって，該検出結果は前記制御部１に入力される。
前記温度センサ２５による検出温度は，前記制御部１によって実行される後述のレーザ異常検知処理（図５のフローチャート参照）で用いられる。なお，前記温度センサ２５は，できるだけ前記レーザデバイス１１〜１４近傍の温度を検出することができるように前記ＬＳＵ５２内に配置しておくことが望ましいが，該ＬＳＵ５２内に限られず，前記画像形成装置Ｘの筐体内或いは筐体外に配置してもかまわない。
【００１２】
続いて，図３を用いて，前記画像形成装置Ｘに設けられた前記レーザデバイス１１〜１４各々に係る電気回路Ｙについて説明する。なお，前記レーザデバイス１１〜１４各々に係る電気回路Ｙは同様であるため，ここでは前記レーザデバイス１１に係る電気回路Ｙを例に挙げて説明する。
前記電気回路Ｙでは，前記制御部１から画像データに応じて二本の信号線で入力される二つの信号の差分で表される駆動信号がレーザ駆動部４１に入力される。前記レーザ駆動部４１は，前記駆動信号に基づいて，Ｖｃｃ４２から前記レーザデバイス１１への電力の供給の有無を制御する。このとき，前記レーザデバイス１１に供給される電流値は，後述のＡＰＣ回路４３によって制御される。
前記レーザデバイス１１には，レーザ光を照射するレーザダイオード１１ａ（レーザ光照射手段の一例）と，該レーザダイオード１１ａのレーザ光の光量を検出するためのフォトダイオード１１ｂとが設けられており，該フォトダイオード１１ｂは前記レーザダイオード１１ａの光量に対応する電流値を出力する。そして，前記フォトダイオード１１ｂから出力された電流は，可変抵抗４４によって電圧に変換され，コンパレータ４５に入力される。即ち，前記コンパレータ４５には，前記レーザデバイス１１の光量に対応する電圧値が入力される。
【００１３】
前記コンパレータ４５は，前記フォトダイオード１１ｂからの電圧と，前記制御部１などから入力されるレーザ光量コントロール電圧との比較結果をＡＰＣ回路４３に出力する。前記レーザ光量コントロール電圧は，ＡＰＣ回路４３において基準となる光量に対応するものである。
前記ＡＰＣ回路４３は，前記コンパレータ４５から入力された比較結果に基づいて，前記レーザデバイス１１の光量を予め設定された光量に維持するべく該レーザデバイス１１に流れる電流値を制御するものである。
また，前記コンパレータ４５からの出力は，前記レーザデバイス１１に流れる電流を一定に保持するためのホールドコンデンサ４６に入力される。
前記ホールドコンデンサ４６の電位は，電位検出部４７（電流電圧検出手段の一例）によって検出される。前記電位検出部４７によって検出された前記ホールドコンデンサ４６の電位は，前記制御部１に入力される。なお，前記電位検出部４７には，従来周知の各種の検出回路を用いればよい。
ここで，前記ホールドコンデンサ４６の電位は，前記レーザデバイス１１に流れる電流に略比例するため，前記電位検出部４７によって前記ホールドコンデンサ４６の電位を検出することで，結果的には前記レーザデバイス１１に流れる電流値が検出される。
【００１４】
ところで，前述したように，レーザデバイスが静電気やサージの電気的ストレスなどで劣化すると前記ＡＰＣ回路４３によるＡＰＣ制御によっても必要な光量を得ることができず，画像精度が低下するという問題が生じる。そのため，前記画像形成装置Ｘでは，前記レーザデバイス１１〜１４の劣化や故障などの異常を検知する後述のレーザ異常検知処理（図５のフローチャート参照）が前記制御部１によって実行される。ここに，かかる検知処理を実行するときの前記制御部１が異常検知手段に相当する。
本発明の実施の形態に係る前記画像形成装置Ｘは，後述のレーザ異常検知処理（図５のフローチャート参照）において，前記レーザデバイス１１〜１４の周囲温度に応じて，該レーザデバイス１１〜１４の異常を検知するための指標である正常範囲が変更される点に特徴を有している。以下，この点について説明する。
まず，図４を用いて，前記制御部１によって実行される後述のレーザ異常検知処理（図５のフローチャート参照）で用いられる設定値対応情報Ｄ１について説明し，その後，図５を用いて，前記設定値対応情報Ｄ１を用いたレーザ異常検知処理の手順の一例について説明する。
【００１５】
図４に示すように，設定値対応情報Ｄ１は，複数段階の異なる周囲温度各々（２５〜６０［℃］）と，ホールドコンデンサ４６の電位の正常範囲と，が対応付けられたものであって，前記制御部１内部のＲＯＭ（設定値対応情報記憶手段の一例）に予め記憶されている。例えば，周囲温度２５［℃］以上３０［℃］未満のときのホールドコンデンサ４６の電位の正常範囲は１．１〜２．１［Ｖ］，周囲温度３０［℃］以上３５［℃］未満のときのホールドコンデンサ４６の電位の正常範囲は１．１２〜２．１２［Ｖ］である。
なお，前記設定値対応情報Ｄ１の記憶先は，前記制御部１内部のＲＯＭに限られない。例えば，前記ＬＳＵ５２に設けられた不図示のメモリ等に記憶されたものであって，前記制御部１がそのメモリ等（不図示）から前記設定値対応情報Ｄ１を読み出して参照する構成も考えられる。この場合には，前記ＬＳＵ５２に設けられたメモリ等（不図示）が設定値対応情報記憶手段に相当する。
【００１６】
ところで，前記設定値対応情報Ｄ１は，前記画像形成装置Ｘや前記ＬＳＵ５２の製造時などに予め設定される。ここで，前記設定値対応情報Ｄ１の設定手法の一例を説明する。なお，ここで説明する設定処理は，前記制御部１によって実行されてもよく，或いは製造者によって行われてもよい。
まず，前記レーザデバイス１１〜１４の光量を，例えば一定（例えば５［ｍＷ］程度）に維持するように前記ＡＰＣ回路４３によって制御された状態で，前記ＬＳＵ５２内の温度，即ち前記レーザデバイス１１〜１４の周囲温度を２５〜６０［℃］まで５［℃］つづ変化させ，その各温度において，前記レーザデバイス１１〜１４各々に接続された四つの前記ホールドコンデンサ４６各々の電位を前記電位検出部４７で測定する。なお，前記ＬＳＵ５２内の温度は，例えば前記画像形成装置Ｘに連続印字を実行させること等によって上昇させることができる。
このとき，前記レーザデバイス１１〜１４の周囲温度を上昇させると，該レーザデバイス１１〜１４の温度特性によって光量が低下するが，前記ＡＰＣ回路４３によって前記レーザデバイス１１〜１４に流れる電流値が増加するように制御されるため，該レーザデバイス１１〜１４の光量は多少の制御誤差はあるが予め設定された光量近傍で維持される。
【００１７】
次に，前記周囲温度各々における四つの前記ホールドコンデンサ４６の電位の平均値を算出し，その平均値を，前記周囲温度各々におけるレーザデバイスの正常状態を示す基準電位とする。ここでは，図４に示すような基準電位が算出されたとする。なお，前記基準電位は，いずれか一つの前記ホールドコンデンサ４６の電位や，二つの前記ホールドコンデンサ４６の電位の平均値などであってもよい。
そして，前記周囲温度各々における正常範囲を，図４に示すように，前記基準電位から±０．５［Ｖ］の範囲で設定する。具体的に，前記周囲温度が２５［℃］のときは，前記基準電位が１．６［Ｖ］であるので前記正常範囲は１．１〜２．１［Ｖ］に設定され，前記周囲温度が３０［℃］のときは，前記基準電位が１．６２［Ｖ］であるので前記正常範囲は１．１２〜２．１２［Ｖ］に設定される。なお，前記設定値対応情報Ｄ１が，図６に示すように前記周囲温度と前記正常範囲（斜線部）との関係を示すグラフ（又は関係式）であることも考えられる。この場合には，より細かく前記周囲温度に応じて前記正常範囲を設定することができる。
【００１８】
以下，図５のフローチャートに従って，前記画像形成装置Ｘにおいて前記制御部１によって実行されるレーザ異常検知処理の手順の一例について説明する。なお，図中のＳ１，Ｓ２，…は処理手順（ステップ）の番号を表している。
まず，ステップＳ１では，前記制御部１によって，前記レーザデバイス１１〜１４の異常の有無を検知するタイミングであるか否かが判断される。例えば，前記画像形成装置Ｘの電源が立ち上げられたとき，前記画像形成装置Ｘがスタンバイモード（省エネモード等）から復帰したとき，前記画像形成装置Ｘにおける印字処理の実行中などが，前記レーザデバイス１１〜１４の異常の有無を検知するタイミングである。
ここで，前記レーザデバイス１１〜１４の異常の有無を検知するタイミングであると判断されると（Ｓ１のＹｅｓ側），処理はステップＳ２に移行し，前記レーザデバイス１１〜１４の異常の有無を検知するタイミングではないと判断されている間は（Ｓ１のＮｏ側），処理は前記ステップＳ１で待機される。なお，前記レーザデバイス１１〜１４の異常の有無を検知するタイミングであると判断されたとき，前記レーザデバイス１１〜１４が発光していない場合には，前記制御部１によって，前記レーザデバイス１１〜１４が少なくとも当該レーザ異常検知処理が終了するまでの間，発光するように制御される。このとき，前記レーザデバイス１１〜１４の光量は，前記ＡＰＣ回路４３によって一定に制御される。
【００１９】
ステップＳ２では，前記制御部１によって前記温度センサ２５が制御されることにより，該温度センサ２５で検出された前記ＬＳＵ５２の内部温度，即ち前記レーザデバイス１１〜１４の周囲温度が，前記制御部１に入力される。
次に，ステップＳ３では，前記制御部１によって前記設定値対応情報Ｄ１が読み出される。具体的に，前記設定値対応情報Ｄ１が前記制御部１のＲＯＭに記憶されている場合には，該ＲＯＭから読み出され，前記ＬＳＵ５２内に設けられたメモリ（不図示）に記憶されている場合には，そのメモリ（不図示）から読み出される。
【００２０】
そして，ステップＳ４では，前記ステップＳ２で取得した前記温度センサ２５による検出温度，即ち前記レーザデバイス１１〜１４の周囲温度と，前記ステップＳ３で取得した前記設定値対応情報Ｄ１とに基づいて，前記レーザデバイス１１〜１４の周囲温度に対応する前記正常範囲が前記制御部１によって設定される。ここに，かかる設定処理を実行するときの前記制御部１が正常範囲設定手段に相当する。例えば，前記制御部１は，前記周囲温度が２８［℃］の場合には，図４に示す前記設定値対応情報Ｄ１から，周囲温度が２５［℃］以上３０［℃］未満である場合に対応する正常範囲である１．１〜２．１［Ｖ］を抽出する。
【００２１】
その後，ステップＳ５では，前記制御部１によって，前記レーザデバイス１１〜１４各々に接続された前記ホールドコンデンサ４６各々の電位が，前記ステップＳ４で設定された前記正常範囲内であるか否かが判断される。具体的には，前記電位検出部４７で検出される電位に基づいて判断される。
ここで，前記ホールドコンデンサ４６の全ての電位が前記正常範囲内であると判断された場合には（Ｓ５のＹｅｓ側），処理はステップＳ６に移行し，いずれか一つでも前記正常範囲を超えていると判断された場合には（Ｓ５のＮｏ側），処理はステップＳ７に移行する。
【００２２】
ステップＳ６では，前記制御部１によって，前記レーザデバイス１１〜１４に異常が発生していないことが検知され，一連の当該レーザ異常検知処理は終了され，処理は前記ステップＳ１に戻る。
一方，ステップＳ７では，前記制御部１によって，前記レーザデバイス１１〜１４のうち前記正常範囲を超えているレーザデバイスに劣化や故障などの異常が発生していることが検知され，その旨が前記操作表示部２に表示される。
以上，説明したように，前記画像形成装置Ｘでは，前記レーザデバイス１１〜１４の劣化や故障などの異常を検知するための指標となる前記正常範囲が，該レーザデバイス１１〜１４の周囲温度に応じて，その都度変更されて設定されるため，例えば，連続印字が実行されることにより前記レーザデバイス１１〜１４の周囲温度が上昇しても，そのときの温度に適した前記正常範囲で異常の有無を判定することができ，誤検知の防止と共に異常の早期発見を実現することができる。
【００２３】
本実施の形態では，前記レーザデバイス１１〜１４各々に接続されたホールドコンデンサ４６の電位を検出し，その電圧値が前記正常範囲内であるか否かに応じて前記レーザデバイス１１〜１４の異常の有無を検知する場合を例に挙げて説明した。一方，前記レーザデバイス１１〜１４の周囲温度と，前記レーザデバイス１１〜１４各々に流れる電流値や電圧値の正常範囲とを対応づけて記憶させておき，該レーザデバイス１１〜１４に流れる電流値や電圧値を直接検出して，該検出時の周囲温度に対応する前記正常範囲と比較することで，前記レーザデバイス１１〜１４の異常の有無を判定することも他の実施例として考えられる。
また，本実施の形態では複数のレーザデバイス１１〜１４を有するカラー対応の画像形成装置の構成について説明したが，一つのレーザデバイスだけを有するモノクロの画像形成装置や，複数のレーザデバイスを用いて同時に複数ラインの走査を行うモノクロ又はカラーの画像形成装置にも同様に適用可能である。
特に，前記ＬＳＵ５２のように前記レーザデバイス１１及び前記レーザデバイス１３だけに対応する前記レーザ光検知センサ２２，２４を設けておき，前記レーザデバイス１２，１４に対応するレーザ光検知を省略する構成では，該レーザデバイス１２，１４の故障をレーザ光検知の有無で検知することができないため，前述したレーザ異常検知処理（図５のフローチャート参照）による検知が好適である。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の実施の形態に係る画像形成装置の概略構成を示すブロック図。
【図２】本発明の実施の形態に係る画像形成装置に設けられたＬＳＵの内部構成を説明するための図。
【図３】本発明の実施の形態に係る画像形成装置に設けられたＬＳＵのレーザデバイスに係る電気回路の回路構成を示すブロック図。
【図４】設定値対応情報の一例を説明するための図。
【図５】本発明の実施の形態に係る画像形成装置で実行されるレーザ異常検知処理の手順の一例を説明するためのフローチャート。
【図６】設定値対応情報の他の例を示す図。
【符号の説明】
【００２５】
１…制御部
２…操作表示部
３…画像読取部
４…画像処理部
５…画像形成部
５１…感光体ドラム
５２…レーザスキャナユニット（ＬＳＵ）
５３…現像装置
５４…転写装置
５５…定着装置
１１〜１４…レーザデバイス（レーザ光照射手段の一例）
１１ａ…レーザダイオード（レーザ光照射手段の一例）
１１ｂ…フォトダイオード
１５…ポリゴンミラー
１６…光学レンズ
１７〜２０…偏向ミラー
２１，２３…反射面
２２，２４…レーザ光検知センサ
２５…温度センサ（温度検出手段の一例）
４１…レーザ駆動部
４２…Ｖｃｃ
４３…ＡＰＣ回路
４４…可変抵抗
４５…コンパレータ
４６…ホールドコンデンサ
４７…電位検出部（電流電圧検出手段の一例）
Ｓ１，Ｓ２，…，…処理手順（ステップ）番号
Ｘ…画像形成装置
Ｙ…電気回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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