(57)【要約】【課題】簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。【解決手段】第１外部端子１ａと第２外部端子１ｂとの間には抵抗や定電流ダイオード等でなるリーク電流制限素子５Ｂを介して試験電圧装置５Ａを接続している。この試験電圧装置５Ａは当該耐電圧試験器の中に組込まれており、前記第１外部端子１ａと前記第２外部端子１ｂとの間に直流電圧を印加する装置である。前記第１外部端子１ａと第３外部端子１ｃとの間にサージ吸収素子６を接続する。前記第２外部端子１ｂと前記第３外部端子１ｃとの間にサージ吸収素子７を接続する。【選択図】図１
2008180546.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と該被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との間、該被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間の耐電圧を実施する３端子コンデンサの試験方法に於いて、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間にそれぞれ単一又は複数個のサージ吸収素子を接続し、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子との間にリーク電流制限素子を介して被試験電圧を印加することを特徴とする３端子コンデンサの耐電圧試験方法。
【請求項２】
前記サージ吸収素子はバリスタ又はツェナーダイオードで構成されることを特徴とする請求項１記載の３端子コンデンサの耐電圧試験方法。
【請求項３】
前記リーク電流制限素子は抵抗又は定電流ダイオードで構成されることを特徴とする請求項１記載の３端子コンデンサの耐電圧試験方法。
【請求項４】
被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と該被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との間、該被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間の耐電圧を実施する３端子コンデンサの試験器に於いて、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間にそれぞれ単一又は複数個のサージ吸収素子を接続し、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子との間にリーク電流制限素子を介して被試験電圧装置を接続したことを特徴とする３端子コンデンサの耐電圧試験器。
【請求項５】
前記サージ吸収素子はバリスタ又はツェナーダイオードで構成されることを特徴とする請求項４記載の３端子コンデンサの耐電圧試験器。
【請求項６】
前記リーク電流制限素子は抵抗又は定電流ダイオードで構成されることを特徴とする請求項４記載の３端子コンデンサの耐電圧試験器。
【請求項７】
前記３端子コンデンサは試験台に備えたコンデンサ保持部材に吸着・取外しされて耐電圧試験を実施することを特徴とする請求項４記載の３端子コンデンサの耐電圧試験器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、４輪車両や２輪車両に搭載される車両ホーン装置の接点に於けるアーク消弧用の３端子コンデンサの耐電圧試験方法及びその耐電圧試験器に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種、従来の技術の一つの例によれば、図６に示す特開２００３−４３０９８の公開特許公報に開示されたコンデンサの絶縁耐電圧試験方法及び試験装置の技術がある。これについて説明すれば、コンデンサの製造工程に於いて、焼成（Ｓ１）を経て断面研磨（Ｓ２）に入る。この断面研磨（Ｓ２）は、コンデンサを焼成した後にロット抜取りで製品を研磨し、その断面を顕微鏡で見て微小欠陥の有無を確認することにより該コンデンサ内部の異常を検出する。そして、該コンデンサの外部電極をメッキ処理し（Ｓ３）試験工程に入る。該試験工程では先づ、被試験コンデンサに破壊電圧を印加し、耐圧試験を行なう（Ｓ４）。ここで破壊した被試験コンデンサは不良品として除外される。破壊しなかった被試験コンデンサは良品として次の絶縁耐圧試験（Ｓ５）に入る。
【０００３】
絶縁耐圧試験（Ｓ５）は、先ずＡＣ電圧あるいはＤＣ電圧にＡＣ電圧を重畳した電圧を被試験コンデンサに印加して劣化を加速させる（Ｓ５１）。その後にＤＣ定格電圧を被試験コンデンサに印加し一定時間経過後に漏れ電流の測定を開始する（Ｓ５２）。そして所定の時間内でその測定値が第１の漏れ電流基準値を超えない場合は良品、また越えた場合は不良品と判定する（Ｓ５３）。以上の各ステップから構成する第１の試験工程と、第１の試験工程で良品と判定された被試験コンデンサに対し、試験電圧としてＤＣ定格電圧より低い電圧、例えば一般的な使用電圧の低電圧を印加し第１の試験工程と同様に漏れ電流を測定し（Ｓ５４）、その漏れ電流が第２の漏れ電流基準値を超えない場合は良品、また越えた場合は不良品と判定する（Ｓ５５）ステップから構成される第２の試験工程とを備えている。ここで、第１の試験工程において、ステップＳ５１は、被試験コンデンサが無極性の場合はＡＣ電圧、有極性の場合はＤＣ電圧にＡＣ電圧を重畳させた電圧を印加し、ＡＣ電圧でくり返しストレスを加えることにより劣化を加速させる。即ち、コンデンサ内部に微小欠陥などが存在する場合に、この欠陥をＡＣ電圧を印加することにより顕在化させて次ステップＳ５２、Ｓ５３でこの種の不良品の検出を可能にし出荷後の製品品質を安定させる。
【０００４】
また、第２の試験工程において、本試験工程では第１の試験工程のＤＣ定格電圧の代わりに低電圧、例えば一般的な使用電圧を印加し、漏れ電流値の波形を連続的にモニターする。印加電圧を下げると漏れ電流値が小さくなり、かつ波形が相対的に小さな振れとなることから、内部欠陥部に起因する漏れ電流の揺らぎが生じた場合、際だったピーク波形として観測することができる。つまり、このピーク値により絶縁層内部に存在する微小欠陥に起因する漏れ電流の揺らぎを容易に検出することができる、このピーク値を最適な基準値と比較して良否を判定することにより第１の試験工程で検出できなかった不良品を検出する。そして、ステップＳ５４において、第１の試験工程が良品と判定された被試験コンデンサに対してＤＣ低電圧を印加し漏れ電流を測定する。次にステップＳ５５でこの漏れ電流の測定値が第２の基準値以内か判定する。ＤＣ低電圧を印加した時は充電電流が流れるので大きく、これが除々に減少し更に余裕を見た時間で安定する。不良品はピーク値が第２の基準値を越えているので不良品と判定する。良品はピークはあるが基準値を越えていないので良品と判定される。
次に静電容量、ｔａｎδ測定（Ｓ６）を実施する。そしてこの測定結果にも問題のないものが包装、出荷（Ｓ７）されることになる。
【０００５】
次に、この種、従来の技術の他の例として図７に示す３端子コンデンサに於いてその耐電圧試験方法について説明する。ここで、３端子コンデンサ１は図７に示すように、被試験コンデンサ素子１Ａの両端面に第１及び第２外部端子１ａ、１ｂを設け、さらに該被試験コンデンサ素子１Ａの側面に設けかつ該被試験コンデンサ素子１Ａの外表面、すなわち外装ケースに接続する第３外部端子１ｃを備えている。図中、２、３は前記第１、第２外部端子１ａ、１ｂに接続されたリード線である。そして、該３端子コンデンサ１は例えば、４輪車両若しくは２輪車両に搭載されている車両ホーン装置の接点切換時に発生するアークを消弧するための電子部品として使用される。
【０００６】
ところで、前記３端子コンデンサを例えば、自動車用電装部品として所定品質を保持するためには、前記各外部端子１ａ、１ｂ及び１ｃ間で所定の耐電圧強度を備える必要があり、特に該３端子コンデンサ１の製造側としては所定の耐電圧試験を終了した後に良品として納入先に出荷することが要請される。ここで、従来の技術に於ける３端子コンデンサ１は図８に示すような耐電圧試験が実施されていた。すなわち、図８（ａ）は被試験３端子コンデンサ１Ｔの第１及び第２外部端子１ａ、１ｂ間に例えば１２００（Ｖ）程度の直流高圧試験電圧４を印加する構成を示している。
【０００７】
また、図８（ｂ）は被試験３端子コンデンサ１Ｔの第１及び第３外部端子１ａ、１ｃ間に例えば１２００（Ｖ）程度の直流高圧試験電圧４を印加する構成を示している。
さらに、図８（ｃ）は被試験３端子コンデンサ１Ｔの第３及び第１外部端子１ｃ、１ａ間に例えば１２００（Ｖ）程度の直流高圧試験電圧４を印加する構成を示している。
そして、上述の被試験３端子コンデンサ１Ｔに於ける良品有無の判定基準は前記第１及び第２外部端子１ａ、１ｂ間、前記第１及び第３外部端子１ａ、１ｃ間、さらに前記第３及び第１外部端子間にリーク電流が流れないか又はそのリーク電流が例えば５（ｍＡ）程度の規定値内の微小電流値であるとき良品とされ、それ以外は不良品と判断される。かかる場合、被試験３端子コンデンサ１Ｔの前記外部端子１ａ、１ｂ、１ｃ間の電気的絶縁が保証されたものとみなされる。
【０００８】
図中、４ａは直流高圧試験電圧４のマイナス極側端子と被試験３端子コンデンサ１Ｔの第１外部端子１ａとを接続するリード線である。４ｂは直流高圧試験電圧４のプラス極側端子と被試験３端子コンデンサ１Ｔの第２外部端子１ｂとを接続するリード線である。４ｃは直流高圧試験電圧４のプラス極側端子と被試験３端子コンデンサ１Ｔの第３外部端子１ｃとを接続するリード線である。４ｄは直流高圧試験電圧のマイナス極側端子と被試験３端子コンデンサ１Ｔの第３外部端子１ｃとを接続するリード線である。
【特許文献１】特開２００３−４３０９８公開特許公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
前述した従来の技術に於ける一つの例によれば、被試験コンデンサの絶縁耐圧試験はその試験工程に於いて第１の試験工程及び第２の試験工程を行なう必要があり、試験工数が増大するうえにこの絶縁耐圧試験を実施するための装置が例えば試験台、被試験コンデンサの搬入機構、測定データを出力する測定部、被試験コンデンサの良品トレイや不良品トレイに類別して排出する排出機能、制御プログラムを記憶する第１記憶媒体、ロット別良否データを生成して出力する演算部及びロット別良否データを記憶する第２記憶媒体を備えており、大規模かつ大型化し、設備費用も嵩みコンデンサの簡便な耐電圧試験には不向きであるという問題点があった。
【００１０】
従来の技術に於ける他の例によれば、前記従来の技術に於ける一つの例と同様に被試験３端子コンデンサ１Ｔの耐電圧試験工数が増大し、特に該被試験３端子コンデンサ１Ｔの第１ないし第３外部端子１ａ、１ｂ、１ｃ間の耐電圧を別個に試験するので少なくとも３回の耐電圧試験を実施することが要請され、不馴れな作業員によるとき、耐電圧試験忘れのリスクも惹起され易く不良品が出荷されるという問題点があった。また、被試験３端子コンデンサ１Ｔの１個の耐電圧試験で完了する方法もあるが、耐電圧試験器の数が増大し、試験設備コストが従前に比べて余分にかかるという弊害もあった。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させることを特徴とした３端子コンデンサの耐電圧試験方法及びその耐電圧試験器を提供することを目的としたものであって、次の構成、手段から成立する。
【００１２】
すなわち、請求項１記載の発明によれば、被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と該被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との間、該被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間の耐電圧を実施する３端子コンデンサの試験方法に於いて、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間にそれぞれ単一又は複数個のサージ吸収素子を接続し、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子との間にリーク電流制限素子を介して被試験電圧を印加することを特徴とする。
【００１３】
請求項２記載の発明によれば、請求項１記載の発明に於いて、前記サージ吸収素子はバリスタ又はツェナーダイオードで構成されることを特徴とする。
【００１４】
請求項３記載の発明によれば、請求項１記載の発明に於いて、前記リーク電流制限素子は抵抗又は定電流ダイオードで構成されることを特徴とする。
【００１５】
請求項４記載の発明によれば、被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と該被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との間、該被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間の耐電圧を実施する３端子コンデンサの試験器に於いて、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間にそれぞれ単一又は複数個のサージ吸収素子を接続し、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子との間にリーク電流制限素子を介して被試験電圧装置を接続したことを特徴とする。
【００１６】
請求項５記載の発明によれば、請求項４記載の発明に於いて、前記サージ吸収素子はバリスタ又はツェナーダイオードで構成されることを特徴とする。
【００１７】
請求項６記載の発明によれば、請求項４記載の発明に於いて、前記リーク電流制限素子は抵抗又は定電流ダイオードで構成されることを特徴とする。
【００１８】
請求項７記載の発明によれば、請求項４記載の発明に於いて、前記３端子コンデンサは試験台に備えたコンデンサ保持部材に吸着・取外しされて耐電圧試験を実施することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１９】
本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験方法及びその耐電圧試験器は叙上の構成を有するので次の効果がある。
すなわち、請求項１記載の発明によれば、被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と該被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との間、該被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間の耐電圧を実施する３端子コンデンサの試験方法に於いて、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間にそれぞれ単一又は複数個のサージ吸収素子を接続し、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子との間にリーク電流制限素子を介して被試験電圧を印加することを特徴とする３端子コンデンサの耐電圧試験方法を提供する。
このような構成としたので、被試験用の３端子コンデンサに於ける耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し特に、当該３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる試験方法を提供できるという効果がある。
【００２０】
請求項２記載の発明によれば、前記サージ吸収素子はバリスタ又はツェナーダイオードで構成されることを特徴とする請求項１記載の３端子コンデンサの耐電圧試験方法を提供する。
このような構成としたので、請求項１記載の発明の効果に加えて、当該３端子コンデンサの耐電圧試験に用いるサージ吸収素子を汎用のバリスタ又はツェナーダイオードで代替させることができ、その実施化が容易になるという効果がある。
【００２１】
請求項３記載の発明によれば、前記リーク電流制限素子は抵抗又は定電流ダイオードで構成されることを特徴とする請求項１記載の３端子コンデンサの耐電圧試験方法を提供する。
このような構成としたので、請求項１記載の発明の効果に加えて、リーク電流制限素子を汎用の抵抗又は定電流ダイオードで代替させることができ、その実施化が容易になるという効果がある。
【００２２】
請求項４記載の発明によれば、被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と該被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との間、該被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間の耐電圧を実施する３端子コンデンサの試験器に於いて、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間にそれぞれ単一又は複数個のサージ吸収素子を接続し、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子との間にリーク電流制限素子を介して被試験電圧装置を接続したことを特徴とする３端子コンデンサの耐電圧試験器を提供する。
このような構成としたので、被試験用の３端子コンデンサに於ける耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し特に、当該３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる試験器を提供できるという効果がある。
【００２３】
請求項５記載の発明によれば、前記サージ吸収素子はバリスタ又はツェナーダイオードで構成されることを特徴とする請求項４記載の３端子コンデンサの耐電圧試験器を提供する。
このような構成としたので、請求項４記載の発明の効果に加えて、当該３端子コンデンサの耐電圧試験に用いるサージ吸収素子を汎用のバリスタ又はツェナーダイオードで代替させることができ、その実施化が容易になる耐電圧試験器を提供する効果がある。
【００２４】
請求項６記載の発明によれば、前記リーク電流制限素子は抵抗又は定電流ダイオードで構成されることを特徴とする請求項４記載の３端子コンデンサの耐電圧試験器を提供する。
このような構成としたので、請求項４記載の発明の効果に加えて、リーク電流制限素子を汎用の抵抗又は定電流ダイオードで代替させることができ、その実施化が容易になる耐電圧試験器を提供する効果がある。
【００２５】
請求項７記載の発明によれば、前記３端子コンデンサは試験台に備えたコンデンサ保持部材に吸着・取外しされて耐電圧試験を実施することを特徴とする請求項４記載の３端子コンデンサの耐電圧試験器を提供する。
このような構成としたので、請求項４記載の発明の効果に加えて、試験作業員が簡単な設備で熟練を要することなく容易に耐電圧試験を実施することが可能となり、耐電圧試験工数及び設備費を大幅に削減するという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験方法及びその耐電圧試験器に於ける実施の形態について添付図面に基づき詳細に説明する。
【００２７】
図１は、本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験方法及びその耐電圧試験器に於ける実施の形態を示す電気回路構成図である。
１Ｔは被耐電圧試験３端子コンデンサであり、その外観構成図は図７に示している。そして、該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔは被試験コンデンサ素子１Ａの両端面に第１及び第２外部端子１ａ、１ｂを設け、さらに該被試験コンデンサ素子１Ａの側面に設けかつ該被試験コンデンサ素子１Ａの外表面、すなわち外装ケース１ｄに接続する第３外部端子１ｃを備えている。１ｄは該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの外装ケースであり、例えば、鉄、Ａｌ等の金属製ハーメチック筒状ケース体であり、該被試験コンデンサ素子１Ａを被包している。前記第１外部端子１ａと前記第２外部端子１ｂとの間には抵抗や定電流ダイオード等でなるリーク電流制限素子５Ｂを介して試験電圧装置５Ａを接続している。この試験電圧装置５Ａは当該耐電圧試験器の中に組込まれており、前記第１外部端子１ａと前記第２外部端子１ｂとの間に例えば１２００（Ｖ）の直流電圧を印加する装置である。６は前記第１外部端子１ａと前記第３外部端子１ｃとの間に接続されたサージ吸収素子であり、バリスタ又はツェナーダイオード等で構成され、その単一又は複数個を接続してなるものである。７は前記第２外部端子１ｂと前記第３外部端子１ｃとの間に接続されたサージ吸収素子であり、バリスタ又はツェナーダイオード等で構成され、その単一又は複数個を接続してなるものである。当該３端子コンデンサの耐電圧試験方法及びその耐電圧試験器は上述の構成に基づく試験方法であり、また耐電圧試験器である。
【００２８】
ここで被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの内部構造は図２に示す要部拡大断面図から明らかなように、外装ケース１ｄは導体で構成され、被試験コンデンサ素子１Ａを被包している。該被試験コンデンサ素子１Ａは該外装ケース１ｄの内側に隣接する部位に例えば図２に示すように３枚の絶縁体でなる外装フィルム１ｅ、１ｅ、１ｅを順次蒸着し若しくは積層しかつ重合せて構成し、その内側に絶縁体でなる例えば、誘電体フィルム１ｆと導体でなる例えばアルミニューム箔１ｇを順次・交互に複数枚又は多数枚を積層しかつ重合せ若しくは蒸着して構成する。
【００２９】
そして、３端子コンデンサの生産工場に於いて、良品として判断される３端子コンデンサは図２に示すように前記被試験コンデンサ素子１Ａのアルミニューム箔１ｇの端部１ｇ１は図２の実線で示すように前記外装フィルム１ｅ、１ｅ、１ｅにより前記外装ケース１ｄからしゃ断した状態を保持している。
然るに、該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔを生産する過程の諸条件や悪環境の下に於いて、外装ケース１ｄ内の例えば外装フィルム１ｅ、１ｅ、１ｅのずれ現象が惹起され、該アルミニューム箔１ｇの端部１ｇ１が図２の仮想線１ｇ２で示すように、例えば前記外装ケース１ｄの内壁に接触するか若しくは近接する状態になり、そのまま出荷する場合があり得る。かかる場合各種車両に搭載されたホーン装置にこれを使用すれば、上記第１、第２及び第３外部端子１ａ、１ｂ及び１ｃ間に著大なリーク電流が流れ、当該３端子コンデンサが破壊する。
そして、本発明は別の見方からすれば要するに被試験コンデンサ素子１Ａに於いて、図２の実線で示す良品としての構造・形状を有するアルミニューム箔１ｇを検査・選定する方法若しくはその試験器を提供するものである。
【００３０】
而して、本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験方法及び３端子コンデンサの耐電圧試験器は、被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と該被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との間、該被試験コンデンサ素子の一方端面に有した第１外部端子と被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び被試験コンデンサ素子の他方端面に有した第２外部端子との被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間の耐電圧を実施する３端子コンデンサの試験方法に於いて、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間及び前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の外装ケースの外表面に有した第３外部端子との間にそれぞれ単一又は複数個のサージ吸収素子を接続し、前記被試験コンデンサ素子の一端面に有した第１外部端子と、前記被試験コンデンサ素子の他端面に有した第２外部端子との間にリーク電流制限素子を介して被試験電圧を印加することを特徴とする３端子コンデンサの耐電圧試験方法、また、前記サージ吸収素子はバリスタ又はツェナーダイオードで構成されることを特徴とし、さらに、前記リーク電流制限素子は抵抗又は定電流ダイオードで構成されることを特徴とする３端子コンデンサの耐電圧試験方法である。
【００３１】
次に、本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験方法等の実施の形態に基づき、その作用等について説明する。
工場で生産される被試験コンデンサ素子１Ａが例えば、０．３（μＦ）であるとき、図１に示す構成に基づく耐電圧試験方法による試験電圧装置５Ａは約１２００（Ｖ）を適用する。当該被試験コンデンサ素子１Ａが良品であれば、上述した図１に示す構成回路には通電しなく、つまりリーク電流が全く流れない。そして、当該被試験コンデンサ素子１Ａが良品として保証された範囲内のコンデンサ素子としては、図１に示すように、一方において試験電圧装置５Ａのプラス極側、リーク電流制限素子５Ｂ、リード線１２、第２外部端子１ｂ、リード線１３、サージ吸収素子７、第３外部端子１ｃ、リード線２、第１外部端子１ａ、リード線９及び試験電圧装置５のマイナス極側でなる閉回路にリーク電流Ｉ１が流れるが、このリーク電流Ｉ１は規格内の約５（ｍＡ）程度以下であることが望ましい。
図示しないが当該被試験コンデンサ素子１Ａの耐電圧試験を実施する作業員は別置した又はこの回路構成に備えたリーク電流計測メータの表示部を目視によりリーク電流Ｉ１の該リーク電流値を認知し、該被試験コンデンサ素子１Ａの良否を試験・判定する。
【００３２】
他方、試験電圧装置５Ａのプラス極側、リーク電流制限素子５Ｂ、リード線１２、第２外部端子１ｂ、リード線３、第３外部端子１ｃ、リード線１１、サージ吸収素子６、リード線１０、第１外部端子１ａ、リード線９及び試験電圧装置５Ａのマイナス極側でなる閉回路にリーク電流Ｉ２が流れるが、このリーク電流Ｉ２も前述したリーク電流Ｉ１と同一条件及び同一の作業手順で当該被試験コンデンサ素子１Ａの良否を試験・判定する。
【実施例１】
【００３３】
次に、本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験器の具体例について実施例１として図３に基づき説明する。
【００３４】
８は耐電圧試験器であり、試験台８Ａ、該試験台８Ａの上面に立設した電子部品収納兼補助部品設置台８Ｂ及び該試験台８Ａの上面に備えたコンデンサ保持部材８Ｃ等で構成されている。前記コンデンサ保持部材８Ｃは被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔを載置し、例えば図３に示すように試験台８Ａの上面に装着した略矩形でなる導体板８ａと、該導体板８ａの上面に固定されかつ導体でなる支持脚８ｂと、該支持脚８ｂの上面に固定されたマグネット製保持体８ｃとで構成される。該マグネット製保持体８ｃは上面の前・後に前記被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの長さ方向に適合しかつ相互間隔を有して２本の突起８ｄ、８ｄを形成している。そして、この２本の突起８ｄ、８ｄ間に試験の際に、該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔを吸着し又は試験終了後にこの吸着した状態から取外す。かくして、第３外部端子１ｃは被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの外装ケース１ｄ、マグネット製保持体８ｃ、支持脚８ｂ及び導体板８ａに電気的導通状態となる。
【００３５】
前記電子部品収納兼補助部品設置台８Ｂは上板８ｅと、該上板８ｅの左・右下面に立設した端部支持部材８ｆ、８ｆと、中間支持部材８ｇとで構成されている。該上板８ｅの下面と、前記試験台８Ａの上面間の空間（スペース）Ｓ内には電子部品や補助部品等が収納できるように構成している。前記端部支持部材８ｆ、８ｆ、中間支持部材８ｇは、上板８ｅの上面からねじ等の緊締部品８ｈを挿入し、該上板８ｅの下面に固定される。
【００３６】
前記第１外部端子１ａは例えば、図３に示すように鉄やアルミニュームの金属材料でなる略Ｌ字状導体ブラケットで構成し、その底部１ａ１をリード線９で試験電圧装置５Ａのマイナス極側に接続している。一方、該第１外部端子１ａの底部１ａ１はリード線１０で単一又は複数のサージ吸収素子６としてのバリスタの一方側に接続している。該サージ吸収素子６の他方側はリード線１１でコンデンサ保持部材８Ｃの導体板８ａの上面に接続し、前記第３外部端子１ｃと電気的に導通状態を形成している。また、前記第１外部端子１ａの立設部１ａ２はリード線差込孔又はリード線係止部１ａ３を形成している。被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔのコンデンサ素子の一方端面に接続したリード線２はその自由端を裸線にして該リード線差込孔（リード線係止部）１ａ３に接続し又は係止する。このようにすると、前記第１外部端子１ａと被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔのコンデンサ素子の一方端面が電気的に導通状態に形成される。
【００３７】
前記第２外部端子１ｂは、例えば図３に示すように第１外部端子１ａと同一の材料でなる略Ｌ字状導体ブラケットで構成し、その底部１ｂ１をリード線１２で試験電圧装置５Ａのプラス極側に抵抗等でなるリーク電流制限素子５Ｂを介して接続している。一方、該第２外部端子１ｂの底部１ｂ１はリード線１３で単一又は複数のサージ吸収素子７としてのバリスタの他方側に接続している。該サージ吸収素子７の一方側はリード線１４でコンデンサ保持部材８Ｃの導体板８ａの上面に接続し、前記第３外部端子１ｃと電気的に導通状態を形成している。また、前記第２外部端子１ｂの立設部１ｂ２はリード線差込孔又はリード線係止部１ｂ３を形成している。被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔのコンデンサ素子の他方端面に接続したリード線３はその自由端の裸線を該リード線差込孔（リード線係止部）１ｂ３に接続し又は係止する。このように、前記第２外部端子１ｂと被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔのコンデンサ素子の他方端面が電気的に導通状態に形成される。
尚、リード線差込孔又はリード線係止部１ｂ３は孔や係止部を必ずしも設けなくてもよい。
【００３８】
次に、上述した本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験器等の具体例について、その取扱い手順や作用等について説明する。
【００３９】
工場等で生産された該３端子コンデンサは図３に示す被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔとしてコンデンサ保持部材８Ｃのマグネット製保持体８ｃ上に載置する。このとき、被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの外装ケース１ｄは２本の突起８ｄ、８ｄ間に嵌込まれかつ該マグネット製保持体８ｃの吸引力によりマグネット製保持体８ｃの上面に吸着・固定される。そして、試験作業者は一方のリード線２及び他方のリード線３を手で掴み、その先端２ａ及び３ａを第１外部端子１ａ及び第２外部端子１ｂのそれぞれのリード線差込孔（リード線係止部）１ａ３、１ｂ３に例えば０．５秒間程度挿入して接触させまたは係止する。ここでリード線２、３の先端２ａ、３ａは裸線となっており被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔのコンデンサ素子の両端は該第１外部端子１ａ及び第２外部端子１ｂに電気的導通状態となり、併せて第３外部端子１ｃにも電気的導通状態となる。又、リード線差込孔（リード線係止部）１ａ３、１ｂ３が孔や係止部がない場合、試験作業者はリード線３を手で掴み第１外部端子１ａの立設部１ａ２と第２外部端子１ｂの立設部１ｂ２に、リード線２、３の先端２ａ、３ａの裸線部を当接することで試験作業性を向上することができる。
【００４０】
而して、図１に示すように試験電圧装置５Ａは約１２００（Ｖ）を適用する。当該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔが良品であれば、上述した図１に示す構成回路には通電しなく、つまりリーク電流が全く流れない。そして、当該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔが良品として保証された範囲内のコンデンサ素子としては、図１及び図３に示すように、一方において試験電圧装置５Ａのプラス極側、リーク電流制限素子５Ｂ、リード線１２、第２外部端子１ｂ、リード線１３、サージ吸収素子７、コンデンサ保持部材８Ｃ、第３外部端子１ｃ、リード線２、第１外部端子１ａ、リード線９及び試験電圧装置５のマイナス極側でなる閉回路にリーク電流Ｉ１が流れるが、このリーク電流Ｉ１は規格内の約５（ｍＡ）程度以下であることが望ましい。
図示しないが当該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの耐電圧試験を実施する作業員は別置した又はこの回路構成に備えたリーク電流計測メータの表示部を目視によりリーク電流Ｉ１の該リーク電流値を認知し、該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの良否を試験・判定する。
他方、試験電圧装置５Ａのプラス極側、リーク電流制限素子５Ｂ、リード線１２、第２外部端子１ｂ、リード線３、第３外部端子１ｃ、リード線１１、サージ吸収素子６、リード線１０、第１外部端子１ａ、リード線９及び試験電圧装置５Ａのマイナス極側でなる閉回路にリーク電流Ｉ２が流れるが、このリーク電流Ｉ２も前述したリーク電流Ｉ１と同一条件及び同一の作業手順で当該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの良否を試験・判定する。そこで、被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの良否の試験・判定を行なった後、試験済みの被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔは試験作業員によりマグネット製保持体８ｃの上面から取外し、良品は出荷用箱に、不良品は廃棄箱にそれぞれ区分けし投入する。次に、順次新規の被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの良否の試験・判定を同様な作業で繰返し行なう。このように、マグネット製保持体８ｃを配備したので該被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの着脱動作が容易かつ円滑になり、作業性が向上すると共に試験作業員にとって煩わしくないという特異点が存在する。また、試験台８Ａの上面に空間（スペース）Ｓを設け、この中に定電流ダイオードやツェナーダイオード等の予備の電子部品や諸工具等を収納し、リーク電流制限素子５Ｂやサージ吸収素子６、７の代替用品としてその個数設定又は回路変更に際し、迅速に対応させることもできる。
【実施例２】
【００４１】
次に、上述した本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験方法及び耐電圧試験器で試験・判定した後、良品として出荷された３端子コンデンサを車両用ホーン装置に適用した場合について実施例２として説明する。
【００４２】
図４及び図５は２輪又は４輪の車両用ホーン装置の回路構成図であって、図４（ａ）は動作前の状態を示す当該車両用ホーン装置の回路構成図、図４（ｂ）はコアがホーン、例えば平形ホーンのアマチュア（電機子）を吸引する状態を示す車両用ホーン装置の回路構成図、図５（ａ）は該アマチュアがコアに衝当した状態を示す車両用ホーン装置の回路構成図及び図５（ｂ）は該アマチュアがコアから離開した状態を示す車両用ホーン装置の回路構成図である。
【００４３】
以下、良品としての３端子コンデンサ１Ｋを車両用ホーン装置に適用したときの回路構成に於いて説明する。
１５は２輪又は４輪の車両用直流電流であって、例えば１２（Ｖ）〜４８（Ｖ）の電圧値を有する。１６は該車両の運転席付近に備えたホーンスイッチである。１７は励磁コイル１７ａを巻装したコアであり、ブレーカ接点１８に接続されている。該ブレーカ接点１８は固定接点１８ａと可動接点１８ｂで構成され、前記励磁コイル１７ａが起磁力を発生したとき吸引されるアマチュア１９の動作により開放する。２０ａはダイヤフラム２０を構成するバイブレータであり、該アマチュア１９がコア１７に衝突したとき加振し音を発生する。そして、良品としての３端子コンデンサ１Ｋは第１外部端子１ａが励磁コイル１７ａとブレーカ接点１８の可動接点１８ｂとの接続点に接続され、第２外部端子１ｂ及び第３外部端子１ｃは車両用直流電源１５の負極側と共に接地されている。
【００４４】
次に、前述した本発明の実施例２としての車両用ホーン装置の動作等を説明する。
車両のドライバーが必要に応じてホーンスイッチ１６を押圧すればスイッチオンとなる（図４（ｂ）に示す）。そこで、車両用直流電源１５、ホーンスイッチ１６、励磁コイル１７ａ、ブレーカ接点８及び車両用直流電源１５でなる閉回路が形成され導通状態となり、該励磁コイル１７ａが励起し、励磁力が発生する。このとき、コア１７が図４（ｂ）の矢印Ｐ１方向にアマチュア１９を動作させ、該アマチュア１９の変移によりダイヤフラム２０も仮想線に示すように変化する。
そこで、該アマチュア１９がある位置までコア１７により吸引されると、該アマチュア１９の係止部１９ａがブレーカ接点８の可動接点１８ｂを押下げ、固定接点１８ａから離閉させる（図５（ａ）に示す）。
【００４５】
従って、前期励磁コイル１７ａに逆起電力が発生し、該ブレーカ接点１８の可動、固定接点１８ａ、１８ｂ間に図５（ａ）の矢印Ｆに示すような火花放電が誘発される。この火花放電現象は３端子コンデンサＫにより吸収される。そして、前記励磁コイル１７ａが消磁されるが、前記ダイヤフラム２０は慣性によりさらに図５（ａ）の実線で示すように変化し続け、該アマチュア１９の先端がコア１７に衝突する。この衝突による該アマチュア１９の衝撃力は、該アマチュア１９、該コア１７を通じてダイヤフラム２０及びハウジング（図示せず）を加振させ、音が発生する。そして、該アマチュア１９の衝突後は衝突の跳ね返りとそれ自身のばね力により、該アマチュア１９は図５（ｂ）の矢印Ｐ２方向に動作し、該ダイヤフラム２０は仮想線に示すように位置反発方向に変移し元の位置に復帰する。
【００４６】
かくして再びブレーカ接点１８の可動点１８ｂは固定接点１８ａに復元し接触する。この繰返し動作で車両用ホーン装置は警告音等を連続的に発生する。この音の高低は前記ダイヤフラム２０の振動の周波数で決定される。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験方法及びその耐電圧試験器に於ける実施の形態を示す電気回路構成図である。
【図２】本発明に係る被耐電圧試験３端子コンデンサ１Ｔの内部構造を示す要部拡大断面図である。
【図３】本発明に係る３端子コンデンサの耐電圧試験器の具体例であって、実施例１としての斜視図である。
【図４】本発明に係る良品としての３端子コンデンサを適用した車両用ホーン装置の回路構成図であって、（ａ）は動作前の状態を示す当該車両用ホーン装置の回路構成図、（ｂ）はコアがホーン、例えば平形ホーンのアマチュア（電機子）を吸引する状態を示す車両用ホーン装置の回路構成図である。
【図５】本発明に係る良品としての３端子コンデンサを適用した車両用ホーン装置の回路構成図であって、（ａ）は該アマチュアが可動コアに衝当した状態を示す車両用ホーン装置の回路構成図、（ｂ）は該アマチュアがコアから離開した状態を示す車両用ホーン装置の回路構成図である。
【図６】従来の技術に於ける一つのコンデンサの絶縁耐電圧試験方法を示すフローチャートである。
【図７】従来の技術の他の例としての３端子コンデンサの外観構成を示す斜視図である。
【図８】従来の技術に於ける３端子コンデンサの耐電圧試験方法であって、（ａ）は被試験３端子コンデンサの第１及び第２外部端子間、（ｂ）は被試験３端子コンデンサの第１及び第３外部端子間、（ｃ）は被試験３端子コンデンサの第２及び第３外部端子間の試験方法を示す図である。
【符号の説明】
【００４８】
１Ｔ    被耐電圧試験３端子コンデンサ
１Ｋ    良品としての３端子コンデンサ
１Ａ    被試験コンデンサ素子
１ａ    被試験コンデンサ素子の第１外部端子（略Ｌ字状導体ブラケット）
１ａ１  被試験コンデンサ素子の第１外部端子の底部
１ａ２  被試験コンデンサ素子の第１外部端子の立設部
１ａ３  被試験コンデンサ素子の第１外部端子の立設部のリード線差込孔（リード線係止部）
１ｂ    被試験コンデンサ素子の第２外部端子（略Ｌ字状導体ブラケット）
１ｂ１  被試験コンデンサ素子の第２外部端子の底部
１ａ２  被試験コンデンサ素子の第２外部端子の立設部
１ａ３  被試験コンデンサ素子の第２外部端子の立設部のリード線差込孔（リード線係止部）
１ｃ    被試験コンデンサ素子の第３外部端子（略Ｌ字状導体ブラケット）
１ｄ    被耐電圧試験３端子コンデンサの外装ケース
１ｅ    被耐電圧試験３端子コンデンサの外装フィルム
１ｆ    被耐電圧試験３端子コンデンサの誘電体フィルム
１ｇ    被耐電圧試験３端子コンデンサのアルミニューム箔
１ｇ１  被耐電圧試験３端子コンデンサのアルミニューム箔の端部
１ｇ２  被耐電圧試験３端子コンデンサのアルミニューム箔の端部の仮想線
２      一方のリード線
３      他方のリード線
４      直流高圧試験電圧
５Ａ    試験電圧装置
５Ｂ    リーク電流制限素子
６      サージ吸収素子
７      サージ吸収素子
８      耐電圧試験器
８Ａ    耐電圧試験器の試験台
８Ｂ    耐電圧試験器の電子部品収納兼補助部品設置台
８Ｃ    耐電圧試験器のコンデンサ保持部材
８ａ    耐電圧試験器のコンデンサ保持部材の導体板
８ｂ    耐電圧試験器のコンデンサ保持部材の支持部
８ｃ    耐電圧試験器のコンデンサ保持部材のマグネット製保持体
８ｄ    耐電圧試験器のコンデンサ保持部材のマグネット製保持体の突起
８ｅ    耐電圧試験器の電子部品収納兼補助部品設置台の上板
８ｆ    耐電圧試験器の電子部品収納兼補助部品設置台の端部支持部材
８ｇ    耐電圧試験器の電子部品収納兼補助部品設置台の中間支持部材
８ｈ    耐電圧試験器の電子部品収納兼補助部品設置台の緊締部品
９      リード線
１０    リード線
１１    リード線
１２    リード線
１３    リード線
１４    リード線
１５    車両用電源
１６    ホーンスイッチ
１７    コア
１７ａ  コアの励磁コイル
１８    ブレーカ接点
１８ａ  ブレーカ接点の固定接点
１８ｂ  ブレーカ接点の可動接点
１９    アマチュア
２０    ダイヤフラム
２０ａ  ダイヤフラムのバイブレータ
Ｓ      空間（スペース）
Ｉ１    リーク電流
Ｉ２    リーク電流
【図１】
2008180546.tif 000003
【図２】
2008180546.tif 000004
【図３】
2008180546.tif 000005
【図４】
2008180546.tif 000006
【図５】
2008180546.tif 000007
【図６】
2008180546.tif 000008
【図７】
2008180546.tif 000009
【図８】
2008180546.tif 000010