(57)【要約】  【課題】被検査側コネクタの２列に配列され端子間の距離に応じて、プローブの間の距離を調整設定できる中継コネクターを提供する。  【解決手段】下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に１列にプローブを配設する。下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に上下に貫通して穿設した挿入孔５０に、位置調整ブロック４８を相対的に接近分離し得るように配設する。位置調整ブロック４８に１列にプローブを配設する。下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に配設したプローブと、位置調整ブロック４８に配設したプローブの間の距離を、被検査側コネクタの２列に配列され端子間の距離に応じて調整して、位置調整ブロック４８を固定する。被検査側コネクタが設定された時点で、下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に位置調整ブロック４８を固定する加工を行うことで、容易かつ迅速に中継コネクターを製作できる。【選択図】  図６
2008123795.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査基板に配設された被検査側コネクタに２列で配列された端子にプローブを当接させて測定器に電気的接続させるための中継コネクターであって、絶縁材からなる第１のピンブロックに前記被検査側コネクタの一方の１列に配列された端子に当接するようにプローブを配設し、絶縁材からなる第２のピンブロックに前記被検査側コネクタの他方の１列に配列された端子に当接するようにプローブを配設し、前記第１と第２のピンブロックに配設した前記プローブが、前記被検査側コネクタの２列に配列された端子にそれぞれ当接するように、前記第１と第２のピンブロックを相対的に接近分離可能に形成するとともにその間の距離を調整して固定するように構成したことを特徴とする中継コネクター。
【請求項２】
請求項１記載の中継コネクターにおいて、前記第１のピンブロックに前記第２のピンブロックを挿入して前記接近分離方向にのみ移動できる挿入孔を穿設し、前記挿入孔に挿入した状態で前記第２のピンブロックの位置を調整し、前記接近分離方向と直交する位置だしピンを前記挿入孔の外側から前記挿入孔の壁を貫通して前記第２のピンブロックに挿入して、前記第１のピンブロックに前記第２のピンブロックを固定するように構成したことを特徴とする中継コネクター。
【請求項３】
請求項１記載の中継コネクターにおいて、前記第１のピンブロックに前記第２のピンブロックを挿入して前記接近分離方向にのみ移動できる挿入孔を穿設し、前記挿入孔の前記接近分離方向の一方の内壁と前記第２のピンブロックの間にスペーサを介装し、前記スペーサの厚さを調整することで前記第２のピンブロックの位置を調整して、前記第１のピンブロックに前記第２のピンブロックを固定するように構成したことを特徴とする中継コネクター。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査のために、電子部品等の被検査基板に配設された被検査側コネクタを、測定器等に電気的接続するために用いる中継コネクターに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
携帯電話機やデジタルカメラのごとく小型の電子機器にあっては、小さなスペースに多くの電子回路を搭載するために、複数枚の基板が重ねられるように配設され、これらの基板間がそれぞれに配設されたコネクタを介して電気的接続されるものがある。そこで、基板とそれに配設されたコネクタを検査するには、コネクタに測定器等を適宜に電気的接続すれば良い。ここで、被検査基板と被検査側コネクタの全体を検査するためには、被検査側コネクタに対となる治具側のコネクタを嵌合させて測定器に電気的接続することが望ましい。しかるに、被検査側および治具側のいずれのコネクタにあっても、嵌合引き抜き耐久回数は５０回程度と比較的に少ない。そこで、治具側コネクタを検査回数が耐久回数に達する毎に交換しなければならない。この治具側コネクタが治具側基板に半田付けにより固定されていてその治具側基板に測定器等に接続される多数本の配線ケーブルが半田付けされているとすると、治具側コネクタのみを簡単に交換することができない。そこで、治具側コネクタと治具側基板および配線ケーブルの全体を交換せざるを得ない。すると、測定検査のコストが大きくなるという不具合が生ずる。
【０００３】
そこで、本発明の出願人は、既に特開２００４−２７３１９２号公報に示されるごとき技術を提案して、交換する部分を少なくすることで、測定検査のコストを小さなものとした。この先に提案した技術は、被検査側コネクタに対となる治具側コネクタを絶縁中継基板に配設し、この絶縁中継基板を絶縁材からなるプローブユニットに着脱自在に配設する。このプローブユニットにプローブを配設する。そして、治具側コネクタの端子が絶縁中継基板に設けられた端子に電気的接続され、この絶縁中継基板の端子にプローブユニットのプローブが当接する。なお、プローブユニットに設けられたプローブの他端は、測定器等に接続される多数本の配線ケーブルに適宜に電気的接続される。もって、被検査側コネクタが、治具側コネクタと絶縁中継基板とプローブおよび配線ケーブルを介して測定器等に電気的接続される。そこで、治具側コネクタの検査使用回数が耐久回数に達すると、この治具側コネクタと絶縁中継基板を交換すれば良く、交換する部分が少ない分だけ、測定検査のコストを少なくできる。
【特許文献１】特開２００４−２７３１９２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述の特開２００４−２７３１９２号公報で提案した技術にあっては、治具側コネクタと絶縁中継基板のみを交換すれば良く、従前に比べて、測定検査のコストを少なくできるが、必ずしも十分に満足できるものでない。そこで、発明者らは、被検査側コネクタの端子にプローブを直接に当接させ、治具側コネクタと絶縁中継基板の交換が不要であり、当接させるプローブが破損したらそのプローブのみを交換するようにした構造とすることで、より測定検査のコストを少なくできると考えた。
【０００５】
また、被検査側コネクタには、端子が２列に配列されているものが多いが、その２列の端子の間の距離は種種である。そこで、それぞれに異なる２列の端子の間の距離に対して、容易に対応できる中継コネクターが望まれる。
【０００６】
本発明は、かかる考えに基づいてなされたもので、被検査側コネクタにプローブを当接させる中継コネクターであって、被検査側コネクタの２列に配列され端子の間の距離に応じて、プローブを配設した間の距離を調整して設定できる中継コネクターを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
かかる目的を達成するために、本発明の中継コネクターは、被検査基板に配設された被検査側コネクタに２列で配列された端子にプローブを当接させて測定器に電気的接続させるための中継コネクターであって、絶縁材からなる第１のピンブロックに前記被検査側コネクタの一方の１列に配列された端子に当接するようにプローブを配設し、絶縁材からなる第２のピンブロックに前記被検査側コネクタの他方の１列に配列された端子に当接するようにプローブを配設し、前記第１と第２のピンブロックに配設した前記プローブが、前記被検査側コネクタの２列に配列された端子にそれぞれ当接するように、前記第１と第２のピンブロックを相対的に接近分離可能に形成するとともにその間の距離を調整して固定するように構成されている。
【０００８】
そして、前記第１のピンブロックに前記第２のピンブロックを挿入して前記接近分離方向にのみ移動できる挿入孔を穿設し、前記挿入孔に挿入した状態で前記第２のピンブロックの位置を調整し、前記接近分離方向と直交する位置だしピンを前記挿入孔の外側から前記挿入孔の壁を貫通して前記第２のピンブロックに挿入して、前記第１のピンブロックに前記第２のピンブロックを固定するように構成しても良い。
【０００９】
また、前記第１のピンブロックに前記第２のピンブロックを挿入して前記接近分離方向にのみ移動できる挿入孔を穿設し、前記挿入孔の前記接近分離方向の一方の内壁と前記第２のピンブロックの間にスペーサを介装し、前記スペーサの厚さを調整することで前記第２のピンブロックの位置を調整して、前記第１のピンブロックに前記第２のピンブロックを固定するように構成することもできる。
【発明の効果】
【００１０】
請求項１記載の中継コネクターにあっては、第１と第２のピンブロックに被検査側コネクタの１列に配列された端子にそれぞれに当接するようにプローブを配設し、被検査側コネクタの２列の端子の間の距離に応じて、第１と第２のピンブロックを相対的に接近分離可能としてその間の距離を調整して固定するようにしたので、予め第１と第２のピンブロックをほぼ完成近くまで製作して準備しておき、被検査側コネクタが設定された時点で、当該被検査側コネクタの端子間の距離に応じて、第１のピンブロックに第２のピンブロックを固定する加工を行うことで、容易かつ迅速に中継コネクターを製作することができる。
【００１１】
そして、請求項２記載の中継コネクターにあっては、第１のピンブロックに第２のピンブロックを挿入して接近分離方向にのみ移動できる挿入孔を穿設し、この挿入孔に挿入した状態で第２のピンブロックの位置を調整して、接近分離方向と直交する位置だしピンを挿入孔の外側から第２のピンブロックに挿入して、第１のピンブロックに第２のピンブロックを固定するので、被検査側コネクタが設定された時点で、当該被検査側コネクタの端子間の距離に応じて、第２のピンブロックに位置だしピンを挿入する孔を穿設するとともに第１のピンブロックの挿入孔の外側の壁に位置だしピンを挿入する孔を穿設すれば、中継コネクターを製作することができる。
【００１２】
また、請求項３記載の中継コネクターにあっては、第１のピンブロックに第２のピンブロックを挿入して接近分離方向にのみ移動できる挿入孔を穿設し、この挿入孔の接近分離方向の一方の内壁と第２のピンブロックの間にスペーサを介装し、スペーサの厚さを調整することで第２のピンブロックの位置を調整するようにしたので、被検査側コネクタが設定された時点で、当該被検査側コネクタの端子間の距離に応じて、スペーサの厚さを調整する加工を行えば、中継コネクターを製作することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の第１実施例を図１ないし図１４を参照して説明する。図１は、本発明の中継コネクターの第１実施例の押圧状態の側面図である。図２は、図１の平面図である。図３は、図１の開口状態の側面図である。図４は、図１の分解斜視図である。図５は、上、下ピンブロックとフローティングガイドの分解斜視図である。図６は、ピンブロックの分解斜視図である。図７は、下ピンブロックと配線基板およびベース部材の分解斜視図である。図８は、本発明の中継コネクターで検査する被検査基板に設けられた被検査側コネクターの外観斜視図である。図９は、ピンブロックの縦断面図である。図１０は、配線基板に設けられる端子パターンを示す図である。図１１は、押圧操作部材とヒンジ部材およびベース部材の分解斜視図である。図１２は、図２のＡ−Ａ断面矢視図である。図１３は、ヒンジ部材に設けたリブで配線基板をベース部材に押さえる構造を示し、（ａ）は一部切り欠き側面図であり、（ｂ）は背面図である。図１４は、押圧操作部材の先端上部が面取り状の斜めの面に切り欠かれていることによる作用を説明する図である。
【００１４】
図１ないし図１４において、本発明の中継コネクターは、ベース部材１０にヒンジ部材１２がネジ１０ａにより固定され、このヒンジ部材１２に押圧操作部材１４が貫通配設された揺動軸１６により揺動自在に配設される。そして、この押圧操作部材１４の後ろ側とヒンジ部材１２の間に押圧バネ１８が縮設される。また、押圧操作部材１４の先端側に、揺動軸１６と平行に貫通配設された第２の揺動軸２０により押圧ブロック２２が揺動自在に配設される。そして、絶縁材からなるピンブロック２４に対して絶縁材からなるフローティングガイド２６が、押圧操作部材１４の先端側の略揺動方向で直線状に接近分離自在でしかも分離方向の距離が規制されて配設される。さらに、ピンブロック２４のフローティングガイド２６と反対側に配線基板２８がネジ２８ａにより固定され、この配線基板２８をベース部材１０側として、ピンブロック２４と配線基板２８がベース部材１０にネジ２４ａにより固定される。そして、フローティングガイド２６に係合受け部２６ｆが突設され、押圧操作部材１４に係合突起１４ａが突設されて、押圧操作部材１４の開口状態で係合受け部２６ｆに係合突起１４ａが係合するように形成される。そこで、押圧操作部材１４が開口状態にあっては、フローティングガイド２６がピンブロック２４側に移動することが規制される。なお、押圧操作部材１４の開口状態にあっては、その後端側がヒンジ部材１２に当接して揺動が規制され、ヒンジ部材１２の被当接部分が規制部として作用している。
【００１５】
ピンブロック２４に対してフローティングガイド２６は、押圧操作部材１４の先端側が開口状態とこれを閉口させた押圧状態との揺動に応じて、図１と図３において図面の上下方向に直線的に移動自在とされる。そこで、ピンブロック２４に上下方向にリニアシャフト３０ａが植設され、フローティングガイド２６にこのリニアシャフト３０ａが軸方向に摺動自在となるように挿入されるリニア筒部材３０ｂが上下方向に配設され、これらリニアシャフト３０ａとリニア筒部材３０ｂとからなるリニアガイド３０により、この直線的な移動が実現される。また、ピンブロック２４とフローティングガイド２６に対して、上下方向に両端に膨大部を有するフローティングピン３２が貫通配設される。両端の膨大部の間の距離は、一端側に設けた調整ネジ３２ａの螺合により調整し得る。さらに、このフローティングピン３２に遊嵌されたフロートバネ３４がピンブロック２４とフローティングガイド２６の間に縮設されて、ピンブロック２４からフローティングガイド２６を分離する方向に弾性付勢している。もって、フローティングピン３２の調整により、フローティングガイド２６がピンブロック２４から分離し得る距離が任意に規制され、しかもフロートバネ３４の縮設された弾力により、押圧操作部材１４の開口状態にあっては、フローティングガイド２６がピンブロック２４から分離した状態とされる。
【００１６】
フローティングガイド２６には、被検査基板３６が搭載配設される基板搭載面２６ａが設けられ、この基板搭載面２６ａに被検査基板３６に配設された被検査側コネクタ３８を嵌合挿入し得るガイド孔２６ｂが貫通穿設される。このガイド孔２６ｂの内周壁に被検査側コネクタ３８の外側周壁が当接して、挿入された被検査側コネクタ３８の位置決めがなされるように形成される。そして、このガイド孔２６ｂの周辺の基板搭載面２６ａには搭載された被検査基板３６を位置決めするように位置規制する構成は何ら設けられておらず、十分に大きな平面を有する。また、基板搭載面２６ａの裏側には、貫通するガイド孔２６ｂを中心として凹部２６ｃが設けられる。この凹部２６ｃの底面と基板搭載面２６ａの厚さ、すなわちガイド孔２６ｂの深さは、被検査側コネクタ３８の高さと一致するように基板搭載面２６ａが切削等により調整されて形成される。なお、基板搭載面２６ａの両端裏側には、機械的強度を大きくするための補強リブ２６ｄが設けられている。
【００１７】
ピンブロック２４は、第１のピンブロックと第２のピンブロックからなる。そして、第１のピンブロックとしての下ピンブロック４０と上ピンブロック４２がネジ４２ｂにより一体化され、上ピンブロック４２に上に向けて凸部４２ａが設けられ、フローティングガイド２６の凹部２６ｃに嵌合して、ピンブロック２４にフローティングガイド２６が位置決めされるように構成される。また、下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に上下方向に貫通させて、プローブ孔４６が一列に多数穿設される。そして、下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に上下方向に貫通して絶縁材からなる第２のピンブロックとしての位置調整ブロック４８が挿入される挿入孔５０が穿設される。位置調整ブロック４８は、やはり下位置調整ブロック４８ａと上位置調整ブロック４８ｂからなり、適宜に一体化され、しかも上下方向に貫通してプローブ孔５２が一列に多数穿設される。位置調整ブロック４８は、挿入孔５０内で、プローブ孔５２の位置が、下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に穿設されたプローブ孔４６との距離が適宜となるように相対的に接近分離可能であって適宜な距離に調整されて、位置だしピン５６により固定される。なお、挿入孔５０内で、位置調整ブロック４８は、プローブ孔４６、５２の間の距離を調整する方向にのみ移動が可能であり、これと直交する方向には移動ができないように設定される。そして、位置だしピン５６は、位置調整ブロック４８が接近分離方向に移動できる方向と直交する方向で、上ピンブロック４２の挿入孔５０の壁を貫通して上位置調整ブロック４８ｂに穿設した孔に挿入され、もってプローブ孔４６、５２に配設される２列のプローブ５４の間の距離が被検査側コネクタ３８の２列の端子間の距離ｄに設定される。また、プローブ孔４６、５２は上端部に狭窄部が設けれていて、下側からプローブ５４が適宜に挿入できて上に抜け出ないように形成される。さらに、プローブ孔４６、５２が穿設されるピッチは、図８に示す被検査側コネクタ３８の端子３８ａのピッチＰに合わせて穿設されることは勿論である。しかも、プローブ孔４６、５２には、被検査側コネクタ３８の端子３８ａに応じてプローブ５４が下側から適宜な本数が適宜な位置で挿入される。
【００１８】
プローブ孔４６、５２にプローブ５４が挿入されたピンブロック２４に対して、下側から配線基板２８が配設され、下側からネジ２８ａにより固定されて一体化される。この配線基板２８の固定により、プローブ５４はプローブ孔４６、５２から抜け出ることがない。そして、この配線基板２８が固定されたピンブロック２４が、上方からネジ２４ａによりベース部材１０に固定される。なお、ベース部材１０は、図示しない検査治具等に予め固定ネジ１０ｂにより適宜に固定されても良い。そこで、図８に示す被検査側コネクタ３８の端子３８ａに対して、図９に示すごとく、プローブ孔４６、５２に挿入されたプローブ５４のプランジャーが当接できるように形成される。なお、図１０に示すごとく、配線基板２８に設けられた端子パターン２８ｂは、位置調整ブロック４８が移動してもプローブ５４のプランジャーが当接できるように移動方向に長く形成されている。
【００１９】
さらに、ヒンジ部材１２に揺動自在に配設された押圧操作部材１４は、開口状態となる揺動方向の動きが、ヒンジ部材１２により規制される。この開口状態となる揺動方向の動きが規制された状態で、前述の係合突起１４ａと係合受け部２６ｆが係合するように形成されている。そして、ヒンジ部材１２には、図１３に示すごときリブ１２ａが設けられ、配線基板２８を上からベース部材１０側に押し付けるように作用し、配線基板２８がベース部材１０から浮き上がるのを規制している。
【００２０】
押圧操作部材１４には、リニアガイド３０およびフローティングピン３２に臨んで、孔１４ｃと調整用孔１４ｄがそれぞれに穿設されている。また、フローティングガイド２６には、配線基板２８が固定されたピンブロック２４をベース部材１０に固定するネジ２４ａに臨んで、孔２６ｅが穿設されている。さらに、押圧操作部材１４の先端上部が、面取り状の斜めの面１４ｂに形成されている。本発明の中継コネクターの第１実施例の外形寸法は、高さ２７ｍｍで幅が２６ｍｍで長さが６０ｍｍであって、手に持って検査作業を行うことができる。
【００２１】
かかる構成において、押圧バネ１８の弾力に抗して押圧操作部材１４を揺動操作して開口状態とし、フローティングガイド２６の基板搭載面２６ａに被検査基板３６を配設して、被検査側コネクタ３８をガイド孔２６ｂに嵌合挿入させる。このガイド孔２６ｂへの嵌合挿入により、被検査側コネクタ３８の位置決めがなされる。ここで、被検査基板３６自体には何ら位置決めする力が作用しておらず、被検査基板３６に対して被検査側コネクタ３８の位置をずらすような力が作用することがない。この押圧操作部材１４を開口状態に維持している間は、フローティングガイド２６の係合受け部２６ｆに押圧操作部材１４の係合突起１４ａが係合していて、フローティングガイド２６がピンブロック２４側に不用意に移動するようなことがない。よって、被検査側コネクタ３８をガイド孔２６ｂに嵌合挿入している作業の最中に誤ってフローティングガイド２６が下方に移動し、不適正な姿勢の被検査側コネクタ３８に対してプローブ５４が当接して、被検査側コネクタ３８またはプローブ５４のいずれかを破損させる虞がない。そして、押圧操作部材１４を押圧バネ１８の弾力により先端側を閉じて押圧状態とすると、フローティングガイド２６はリニアガイド３０により直線的にピンブロック２４側に移動し、被検査側コネクタ３８の端子３８ａにプローブ５４のプランジャーが当接する。この際には、フローティングガイド２６の凹部２６ｃとピンブロック２４の凸部４２ａが嵌合することで、フローティングガイド２６とピンブロック２４の確実な位置合わせがなされる。もって、ピンブロック２４に対して被検査側コネクタ３８の位置決めがなされ、プローブ５４に端子３８ａの位置決めがなされる。なお、押圧バネ１８の押圧操作部材１４を押圧状態とする弾力が、フロートバネ３４のフローティングガイド２６をピンブロック２４から分離させる弾力よりも大きく設定されていることは勿論である。しかも、フローティングガイド２６のガイド孔２６ｂの深さが、被検査側コネクタ３８の高さと一致するように設定されているので、ガイド孔２６ｂに嵌合挿入された被検査側コネクタ３８のピンブロック２４側の面が凹部２６ｃの底面と同じ平面内となり、この凹部２６ｃの底面を基準として、プランジャーの突出高さが適正となるようにプローブ５４が配設されることで、適正な弾力でプローブ５４のプランジャーを被検査側コネクタ３８の端子３８ａに当接させることができる。
【００２２】
押圧操作部材１４は、揺動軸１６により開口状態と押圧状態に揺動自在に構成され、その構造は比較的に簡単である。しかも、押圧操作部材１４の先端側に第２の揺動軸２０により押圧ブロック２２を設けているので、この押圧ブロック２２によりフローティングガイド２６をピンブロック２４側に接近方向に向けて正しく押圧することができる。
【００２３】
ところで、種種の異なる寸法の被検査側コネクタ３８に本発明の中継コネクターを対応させるには、まずフローティングガイド２６のガイド孔２６ｂの大きさとその深さを、被検査側コネクタ３８に応じて適宜に調整設定する。ガイド孔２６ｂの深さの調整は、基板搭載面２６ａを適宜に切削するなどにより行うことができる。また、ピンブロック２４側においても、位置調整ブロック４８の固定位置を、挿入孔５０内で適正に設定することで、２列のプローブ孔４６、５２の間の距離を被検査側コネクタ３８の２列の端子３８ａの間の距離ｄに一致させる。これには、位置だしピン５６を挿入する上ピンブロック４２の挿入孔５０の壁に穿設する孔の位置または上位置調整ブロック４８ｂに穿設する孔の位置のいずれか一方または双方を適正に穿設することで、簡単かつ迅速になし得る。なお、プローブ孔４６、５２に対して、被検査側コネクタ３８の端子３８ａに臨むようにプローブ５４を挿入することは勿論である。このように、種種の異なる寸法の被検査側コネクタ３８に本発明の中継コネクターを対応させるための作業は、最終加工直前の各部材を予め準備しておけば比較的に簡単であり、各部材を新規に加工製作するのに比べて、迅速に対応することができる。
【００２４】
そして、フローティングガイド２６がピンブロック２４から分離方向に離れる距離は、フローティングピン３０により任意に調整できるが、使用によりフローティングガイド２６がピンブロック２４から分離方向に離れる距離が変化した場合には、押圧操作部材１４に穿設した調整用孔１４ｄから適宜に工具を挿入してフローティングピン３２の調整ネジ３２ａの螺合挿入状態を調整すれば良い。また、プローブ５４が破損して交換する場合には、押圧操作部材１４が付いたままの状態でヒンジ部材１２をベース部材１０から取り外し、フローティングガイド２６に穿設した孔２６ｅから工具を挿入してネジ２４ａをベース部材１０から取り外す。さらに、取り外したピンブロック２４を配線基板２８を上にして、ネジ２８ａを取り外してピンブロック２４から配線基板２８を取り除く。そして、破損して交換の必要なプローブ５４のみをプローブ孔４６、５２から取り出して交換すれば良い。
【００２５】
配線基板２８は、ピンブロック２４にネジ２８ａにより固定されているが、半田付けの熱等により曲がりを生じ、その後端側がベース部材１０から浮いた状態となる虞がある。そこで、ヒンジ部材１２に設けたリブ１２ａにより、配線基板２８をベース部材１０側に押さえ付けるように形成されている。また、被検査基板３６がカメラモジュールであると、被検査基板３６の他端側、すなわち被検査側コネクタ３８が設けられたのと反対側に、ＣＣＤカメラ素子５８が配設される。そして、被検査側コネクタ３８とＣＣＤカメラ素子５８が配設される位置が、図１４に示すごとく、比較的に接近しているものもある。そこで、押圧操作部材１４の先端上部を面取り状の斜めの面１４ｂに形成することで、ＣＣＤカメラ素子５８の上方の視界が大きく広く開け、視界内に何ら障害物なしに、このＣＣＤカメラ素子５８を検査するための検査装置６０に設けたレンズ６２と対向させることができる。
【００２６】
次に、本発明の第２実施例を図１５を参照して説明する。図１５、本発明の中継コネクターの第２実施例のピンブロックの分解斜視図である。図１５において、図１ないし図１４と同じまたは均等な部材には同じ符号を付けて重複する説明を省略する。
【００２７】
図１５に示す本発明の中継コネクターの第２実施例において、ピンブロック２４は、第１のピンブロックと第２のピンブロックとからなり、第１のピンブロックとしての下ピンブロック４０と上ピンブロック４２が一体化されて形成され、また第２のピンブロックとしての位置調整ブロック４８が下位置調整ブロック４８ａと上位置調整ブロック４８ｂが一体化されて形成されることは、第１実施例と同様である。そして、下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に上下方向に貫通して挿入孔５０が穿設され、この挿入孔５０に位置調整ブロック４８が挿入されて、プローブ孔５２の位置が、下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に穿設されたプローブ孔４６との距離が適宜となるように相対的に接近分離可能であることも、第１実施例と同様である。第２実施例で第１実施例と相違するところは、挿入孔５０の接近分離方向で下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に穿設されたプローブ孔４６側の内壁と位置調整ブロック４８の間にスペーサ６４が介装され、他方の側からネジの押圧により、位置調整ブロック４８がスペーサ６４を介して挿入孔５０の内壁に押し付けられて固定されることにある。このスペーサ６４の厚さを適宜に調整することで、位置調整ブロック４８が位置を調整されて下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に固定される。なお、スペーサ６４と下位置調整ブロック４８ａの下端側に接近分離方向と直交する方向の両側に張り出してそれぞれ設けられたフランジ部が、下ピンブロック４０の下端部に設けたフランジ受け部に嵌合していて、スペーサ６４と位置調整ブロック４８が上方に位置がずれないように構成されている。また、上下方向に相対的に移動するフローティングガイド２６には、位置調整ブロック４８を押圧するためのネジに当接しないように、必要であれば適宜に切り欠きを設けることができる。
【００２８】
第２実施例にあっては、スペーサ６４の厚さを調整することで、第２のピンブロックとしての位置調整ブロック４８の位置を調整できるので、被検査側コネクタ３８が設定された時点で、当該被検査側コネクタ３８の端子３８ａ間の距離ｄに応じて、スペーサ６４の厚さを調整する加工を行えば、中継コネクターを容易かつ迅速に製作することができる。スペーサ６４と位置調整ブロック４８の固定は、上記実施例に限られず、位置調整ブロック４８とスペーサ６４をともに貫通して上ピンブロック４２に螺合するネジで共締め固定するようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の中継コネクターの第１実施例の押圧状態の側面図である。
【図２】図１の平面図である。
【図３】図１の開口状態の側面図である。
【図４】図１の分解斜視図である。
【図５】上、下ピンブロックとフローティングガイドの分解斜視図である。
【図６】ピンブロックの分解斜視図である。
【図７】下ピンブロックと配線基板およびベース部材の分解斜視図である。
【図８】本発明の中継コネクターで検査する被検査基板に設けられた被検査側コネクターの外観斜視図である。
【図９】ピンブロックの縦断面図である。
【図１０】配線基板に設けられる端子パターンを示す図である。
【図１１】押圧操作部材とヒンジ部材およびベース部材の分解斜視図である。
【図１２】図２のＡ−Ａ断面矢視図である。
【図１３】ヒンジ部材に設けたリブで配線基板をベース部材に押さえる構造を示し、（ａ）は一部切り欠き側面図であり、（ｂ）は背面図である。
【図１４】押圧操作部材の先端上部が面取り状の斜めの面に切り欠かれていることによる作用を説明する図である。
【図１５】本発明の中継コネクターの第２実施例のピンブロックの分解斜視図である。
【符号の説明】
【００３０】
１０  ベース部材
１２  ヒンジ部材
１２ａ  リブ
１４  押圧操作部材
１４ａ  係合突起
１４ｂ  斜めの面
１４ｄ  調整用孔
１６  揺動軸
１８  押圧バネ
２０  第２の揺動バネ
２２  押圧ブロック
２４  ピンブロック
２６  フローティングガイド
２６ａ  基板搭載面
２６ｂ  ガイド孔
２６ｃ  凹部
２８  配線基板
２８ａ  ネジ
２８ｂ  端子パターン
３０  リニアガイド
３０ａ  リニアシャフト
３０ｂ  リニア筒部材
３２  フローティングピン
３２ａ  調整ネジ
３４  フロートバネ
３６  被検査基板
３８  被検査側コネクタ
３８ａ  端子
４０  下ピンブロック
４２  上ピンブロック
４２ａ  凸部
４６、５２  プローブ孔
４８ａ  下位置調整ブロック
４８ｂ  上位置調整ブロック
５０  挿入孔
５４  プローブ
５６  位置だしピン
５８  ＣＣＤカメラ素子
６０  検査装置
６２  レンズ
６４  スペーサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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