(57)【要約】【課題】電池セルの劣化の測定が短時間に正確に行えるようにする。【解決手段】電池セルの劣化率を測定する場合に、電池セルへの定電流充電中に供給される充電電流が、第１の充電電流値Ｉａの場合に、第１のセル電圧Ｖａを得る第１の電圧測定処理を行う。そして、第１の充電電流値Ｉａよりも低い第２の充電電流値Ｉｂに変化した場合に、第２のセル電圧Ｖｂを得る第２の電圧測定処理を行う。このようにして得た第１のセル電圧Ｖａと第２のセル電圧Ｖｂとに基づいて、電池セルの内部抵抗を算出して、電池セルの劣化率を判断する劣化判断処理とを行う。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電池セルと、
前記電池セルの充電及び／又は放電を制御する充放電制御スイッチと、
前記電池セルの電圧を測定する電圧測定部と、
前記電池セルの充電電流を測定する電流測定部と、
前記充放電制御スイッチを制御し、前記電圧測定部及び前記電流測定部の測定結果を判断する制御部とを備えた電池パックであり、
前記制御部は、前記電池セルへの定電流充電中に供給される充電電流が、第１の充電電流値の場合に、前記電圧測定部で測定した電圧値から第１のセル電圧を得、前記第１の充電電流値よりも低い第２の充電電流値に変化した場合に、前記電圧測定部で測定した電圧値から第２のセル電圧を得、前記第１のセル電圧と前記第２のセル電圧とに基づいて、前記電池セルの内部抵抗を算出して、前記電池セルの劣化率を判断することを特徴とする
電池パック。
【請求項２】
請求項１記載の電池パックにおいて、
前記電子セルとして複数の電池セルを備えて、その複数の電池セルを並列又は直列で配置した電池パック構成とし、
前記電圧測定部での電池セルの電圧測定は、所定個のセル単位のブロックごとに測定することを特徴とする
電池パック。
【請求項３】
請求項１記載の電池パックにおいて、
前記制御部は、前記電池セルの劣化率の判断に基づいて、前記電池セルの充電残量を算出し、その算出した充電残量に基づいた充電又は放電の制御を行うことを特徴とする
電池パック。
【請求項４】
請求項１記載の電池パックにおいて、
前記制御部は、電池パックに接続された充電装置に対して、トリクル充電モードの設定を指示して、前記第１の充電電流値から前記第２の充電電流値に変化させることを特徴とする
電池パック。
【請求項５】
電池セルの劣化を測定する電池劣化測定装置において、
前記電池セルの電圧を測定する電圧測定部と、
前記電池セルの充電電流を測定する電流測定部と、
前記電池セルへの定電流充電中に供給される充電電流が、第１の充電電流値の場合に、前記電圧測定部で測定した電圧値から第１のセル電圧を得、前記第１の充電電流値よりも低い第２の充電電流値に変化した場合に、前記電圧測定部で測定した電圧値から第２のセル電圧を得、前記第１のセル電圧と前記第２のセル電圧とに基づいて、前記電池セルの内部抵抗を算出して、前記電池セルの劣化率を判断する制御部とを備えることを特徴とする
電池劣化測定装置。
【請求項６】
電池セルの劣化を測定する電池劣化測定方法において、
前記電池セルへの定電流充電中に供給される充電電流が、第１の充電電流値の場合に、第１のセル電圧を得る第１の電圧測定処理と、
前記第１の充電電流値よりも低い第２の充電電流値に変化した場合に、第２のセル電圧を得る第２の電圧測定処理と、
前記第１のセル電圧と前記第２のセル電圧とに基づいて、前記電池セルの内部抵抗を算出して、前記電池セルの劣化率を判断する劣化判断処理とを行うことを特徴とする
電池パックの制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種電子機器の駆動電源として使用される、二次電池などの電池セルを内蔵した電池パック、及びその電池パック内の電池セルの劣化を測定する電池劣化測定装置、並びに電池セルの劣化を測定する電池劣化測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、リチウムイオン二次電池などの二次電池については、充電や放電についての適切な制御や保護が必要であり、電池セルと共に制御回路や保護回路を電池パック内に内蔵させて構成させてある。その場合、制御回路による充電や放電の制御としては、予め、電池パックに内蔵させた電池セルの満充電時の電圧や電流などの特性値を記憶させておき、その記憶させた特性値に相当する値を検出した場合に、充電を停止させる制御を行うようにしてある。放電時の制御についても、同様に放電終止電圧などを、電池セルの特性値により記憶させておき、この電圧になると放電を停止させるようにしてある。
【０００３】
ところで、電池パック内の電池セルについては、充電や放電を繰り返すことで、特性が劣化する。この電池特性の劣化状態は、電池セルの内部抵抗を測定することで、検出が可能である。従来の電池セルの内部抵抗の測定処理例としては、例えば、電池セルの閉路電圧と開放電圧の差と、充電電流から測定することが知られている。
【０００４】
特許文献１には、電池の充電電流を停止させて、開放電圧を測定して、電池寿命を判断する手法についての記載がある。
【特許文献１】特開２００２−２３０５４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、上述した手法で、電池セルの劣化を測定しる処理では、短時間に正確な電池セルの劣化を測定することは困難であった。即ち、電池セルへの充電を停止させて、電池セルを充電回路に対して開放状態として、開放電圧を測定しようとすると、開放状態とした直後は電圧の変動が大きく、開放状態としてから数時間経過した後でないと、正確な開放電圧が測定できないという問題があった。開放状態とした直後の具体的な電圧の変動例については、後述する実施の形態の中で、本発明の処理と対比して説明するが、短時間に正確な開放電圧の測定は困難であり、このような従来手法で、二次電池の内部抵抗を短時間に測定することは困難であった。
【０００６】
本発明はかかる点に鑑み、電池の劣化の測定が短時間に正確に行えるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
かかる課題を解決するため本発明は、電池セルの劣化率を測定する場合に、電池セルへの定電流充電中に供給される充電電流が、第１の充電電流値の場合に、第１のセル電圧を得る第１の電圧測定処理を行う、そして、第１の充電電流値よりも低い第２の充電電流値に変化した場合に、第２のセル電圧を得る第２の電圧測定処理を行う。このようにして得た第１のセル電圧と第２のセル電圧とに基づいて、電池セルの内部抵抗を算出して、電池セルの劣化率を判断する劣化判断処理とを行う。
【０００８】
本発明によると、第１のセル電圧値と第２のセル電圧値のいずれも、電池セルに対して充電電流が流れた状態で測定した値であり、それぞれの測定に使用した第１の充電電流値と第２の充電電流値とを、ある程度差の大きな電流値とすることで、電池セルの内部抵抗の算出が正確に行える。従って、本発明によると、電池セルを充電回路に対して開放状態とすることなく、電池セルの内部抵抗の算出が正確に行えるようになる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、電池セルを充電回路に接続した閉路状態としたままで、正確な電池セルの内部抵抗の算出が行え、その正確な内部抵抗に基づいて、正確な電池セルの劣化率の判断が可能となる。この場合、電池セルを充電回路に接続した閉路状態としたままで測定できることで、従来のように、開放状態として長時間放置する必要がなく、短時間に正確な測定が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の一実施の形態の例を、添付図面を参照して説明する。
図１は、本例の電池パック２０と、その電池パック２０に接続される充電装置１０の構成例を示したブロック図である。電池パック２０としては、例えばパーソナルコンピュータ装置などの各種電子機器の駆動電源として使用されるものである。電池パック２０内には、二次電池セル３１〜３６を複数個（ここでは６個）内蔵させてある。二次電池セル３１〜３６としては、ここではリチウムイオン二次電池を使用してある。また、図１では６個のセルを２個ずつ並列にして、３組直列接続させた、いわゆる２並列３直列のセル構成としてある。６個の電池セル３１〜３６は、基本的には同じ特性及び容量のものが使用される。なお、電池パック２０に内蔵させるセルの数は一例を示したものであり、図１に示したような６個に限定されず、接続状態についても、図１に示したような接続構成に限定されない。
【００１１】
充電装置１０としては、商用交流電源を得る電源プラグ１１を備え、充電回路１２内で、この電源プラグ１１から供給される商用交流電源を変圧及び整流して、直流低圧電源とし、その直流低圧電源を使用して、電池セルを充電させるための充電電流を得る。充電回路１２の出力端子である正極端子１３と負極端子１４は、それぞれ電池パック２０の正極端子２１と負極端子２２とに接続されて、電池パック２０内の電池セル３１〜３６に充電電流を供給する。
【００１２】
この場合、充電装置１０から電池パック２０に充電電流を供給する際には、定電圧充電モードでの充電と、定電流充電モードでの充電とを行える構成としてある。さらに、定電圧充電モードでの充電時には、充電電流を複数段階に可変できる構成としてあり、後述する電池セルの劣化率測定のための充電電流可変処理が可能としてある。充電電流を複数段階に可変させる構成としては、例えばトリクル充電を行うための構成を利用してもよい。即ち、例えば電池電圧が低い場合に、二次電池セルを安全に充電させるために、トリクルチャージ（予備充電）を小電流で行うことが可能な充電装置として構成してある場合に、その小電流での充電を、後述する電池セルの劣化率測定のために利用してもよい。このような受電電流を小電流とする処理は、電池パック２０側から充電装置１０側への充電電流値を設定させるデータの伝送で可能である。具体的には、例えば、電池パック２０側から充電装置１０側へ、一時的にトリクル充電モードとする指令を送って、電池セルの劣化率測定のための充電電流可変処理を行い、その後、通常の充電モードに戻す指令を送ることが可能である。
【００１３】
充電装置１０は、通信端子１５，１６を備えて、電池パック２０側の中央制御ユニット（ＣＰＵ）２７と通信を行いながら、充電を行う構成としてある。即ち、充電装置１０に電池パック２０を接続した際には、充電装置１０の正極端子１３と負極端子１４とが、電池パック２０の正極端子２１と負極端子２２とに接続されると共に、充電装置１０の通信端子１５，１６が、電池パック２０の通信端子２３，２４と接続される構成としてあり、電池パック２０側の中央制御ユニット２７からの指令を充電回路１２が受信して、その指令に基づいた状態（モード）で充電電流を供給する。
【００１４】
なお、図１の例では、充電装置１０として、単体の充電装置として示してあるが、例えば、電池パック２０が接続される電子機器（パーソナルコンピュータ装置など）の本体側に、この充電装置１０に相当する回路を内蔵させるようにしてもよい。
【００１５】
次に、電池パック２０の構成について説明する。電池パック２０内のセルの接続構成としては、既に説明したように、２並列３直列のセル構成であり、電池パック２０の正極端子２１は、充放電制御用電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）２５，２６を介して、電池セル３１，３２の正極に接続してある。電池セル３１，３２の負極は、電池セル３３，３４の正極に接続してあり、電池セル３３，３４の負極は、電流検出用抵抗器３７を介して、電池パック２０の負極端子２２に接続してある。充放電制御用の２つの電界効果トランジスタ２５，２６は、接続方向を相互に逆としてあり、一方のトランジスタ２５のオンオフで放電を制御し、他方のトランジスタ２６のオンオフで充電を制御する構成としてある。この充放電制御用の２つの電界効果トランジスタ２５，２６のオンオフは、充放電制御部２９の制御で実行される。
【００１６】
また、充放電制御部２９は、各電池セル３１〜３６のセル電圧を測定する構成としてある。即ち、並列に接続された電池セル３１，３２の正極側の接続点に、抵抗器３８の一端が接続してある。また、電池セル３１，３２の負極側と、電池セル３３，３４の正極側の接続点に、抵抗器３９の一端が接続してある。また、電池セル３３，３４の負極側と、電池セル３５，３６の正極側の接続点に、抵抗器４０の一端が接続してある。さらに、電池セル３５，３６の負極側の接続点に、抵抗器４１の一端が接続してある。
【００１７】
そして、各抵抗器３８，３９，４０，４１の他端に得られる電圧を、充放電制御部２９で測定して、各電池セルのセル電圧を判断する構成としてある。ここでは、並列接続された２個の電池セルを単位として、セル電圧を測定する構成としてある。以下の説明では、並列接続された２個の電池セルの電圧を、セルブロック電圧と称する。測定されたセル電圧のデータは、中央制御ユニット２７に送る。中央制御ユニット２７では、電流検出用抵抗器３７の両端の電圧についても測定して、抵抗器３７を流れる電流についても測定するようにしてある。
【００１８】
そして、中央制御ユニット２７では、充放電制御部２９から送られた各セル電圧と、電流検出用抵抗器３７の両端電圧で検出した充電電流とを判断して、充電状態や放電状態を監視する。
【００１９】
中央制御ユニット２７には、メモリ２８が接続してある。メモリ２８は、例えば不揮発性メモリで構成する。メモリ２８には、電池パック２０内に用意されている電池セル３１〜３６の特性に関するデータが記憶させてある。即ち、電池セルの満充電時のセル電圧、放電終止電圧、許容される充電電流、放電電流などの特性が記憶させてある。また、電池セルの劣化率の判断に必要なデータや、劣化率の算出に必要な計算式のデータについても記憶させてある。そして、劣化率の判断をした場合には、その判断した劣化率の記憶データ（又は劣化率から判断される満充電量のデータ）を随時更新させるようにしてある。劣化率の判断処理の詳細については後述する。
【００２０】
中央制御ユニット２７で電池セル３１〜３６の劣化率を判断した場合には、その劣化率に基づいて、電池セルの満充電量を削減するようにしてある。電池セルの満充電量を削減することで、充電時には、その削減された満充電量になったことを中央制御ユニット２７が検出すると、充電制御用の電界効果トランジスタ２６をオフ状態として、充電を停止させる制御を行うようにしてある。また、電池セル３１〜３６の劣化率の判断で、判断された劣化率（劣化率）が、予め決められた閾値以下の劣化率になったと判断した場合には、電池劣化を示すデータを通信端子２３，２４を介して外部に出力して、接続される電子機器側の表示部などに、電池劣化を告知して、電池の交換を促す表示をさせるようにしてもよい。
【００２１】
なお、図１の構成では、電池パック内のヒューズなどの保護回路については省略してあるが、この種の電池パックの保護回路として一般的な発熱温度抵抗付ヒューズなどを配置して、電池セルの異常時にヒューズを溶断させて、電池パックが使用できないように構成してもよい。
【００２２】
次に、図２のフローチャートを参照して、本例の電池パック２０に充電を行う際に行われる、電池セルの内部抵抗測定処理例について説明する。本例の内部抵抗測定処理は、中央制御ユニット２７の制御及び判断で実行される。
ここでは、充電開始前の電池セルの電圧が比較的低い電圧であるとし、定電流充電モードで充電を行うものとする。定電流モードで充電を開始させ、電流値Ｉａの定電流を、充電装置１０から電池パック２０に供給する。この定電流での充電を開始させると、その状態での充電の開始から２０分以上経過したとき、充放電制御部２９で検出された各セルブロックの電圧を判断し、それぞれのセルブロック電圧が予め設定された一定範囲内か否か判断する（ステップＳ１１）。この例では、セルブロック電圧として、３．９Ｖを超えて、４．１５Ｖ未満の範囲内であるか否か判断する。この電圧範囲は、満充電時のセル電圧（セルブロック電圧）と、放電終止電圧との間から選定した電圧範囲である。充電開始から２０分経過して、この電圧範囲にあるということは、比較的安定した定電流充電状態であると言える。
【００２３】
このステップＳ１１での判断で、一定範囲内であると判断した場合には、本例の内部抵抗測定処理に移る。まず、現在の充電電流値Ｉａの正確な値を測定して、メモリ２８に記憶させる（ステップＳ１２）。そして、その充電電流が供給された状態で、各セルブロックの電圧（閉路電圧）Ｖａを測定し、同じくメモリ２８に記憶させる（ステップＳ１３）。
【００２４】
次に、電池パック２０内の中央制御ユニット２７から、充電装置１０の充電回路１２側に指令を送り、充電電流値を、現在の電流値Ｉａから、約１／３の電流値の電流値Ｉｂに変更させる（ステップＳ１４）。この低下させた電流値Ｉｂとしては、充電装置１０がトリクル充電用に用意された充電電流値としてもよい。その後、充電電流を測定して、供給される充電電流値Ｉｂの正確な値を測定し、メモリ２８に記憶させる（ステップＳ１５）。そして、その充電電流が供給された状態で、各セルブロックの電圧（閉路電圧）Ｖｂを測定し、同じくメモリ２８に記憶させる（ステップＳ１６）。ここまでの測定が終わると、電池パック２０内の中央制御ユニット２７から、充電装置１０の充電回路１２側に指令を送り、充電電流値を、元の電流値Ｉａに戻る（ステップＳ１７）。なお、ステップＳ１４で充電電流値Ｉｂに変更してから、ステップＳ１７で充電電流値Ｉａに戻すまでの間は、充電電流値Ｉｂ及びセルブロックの電圧Ｖｂの測定に必要な時間だけでよい。
【００２５】
そして、中央制御ユニット２７内では、メモリ２８に記憶された各データを使用して、各セルブロックごとの内部抵抗を算出する（ステップＳ１８）。内部抵抗を算出する計算式については後述する。そして、算出した内部抵抗値より、各セルブロックを構成する電池セルの劣化率を算出する（ステップＳ１９）。電池セルの劣化率を算出すると、その劣化率に基づいて、各電池セルの満充電量についての、メモリ２８のデータを更新する（ステップＳ２０）。
【００２６】
図３は、このような処理を行った場合の充電電流とセル電圧の変化例を示した図である。但し、図３は変化状態の概念を示した図であり、図３の横軸の時間軸は、実時間と一致するとは限らない。図３（ａ）は充電電流の例を示し、図３（ｂ）はセル電圧（充電電圧）の例を示す。まずタイミングｔ１で、充電電流値Ｉａで充電を開始させて、所定時間経過したタイミングｔ２になると、充電電流値Ｉｂに変化させる。この充電電流値Ｉｂは、電流値Ｉａの約１／３の電流値となるように所定電流ΔＩだけ低下させたものである。
【００２７】
そして、図３（ｂ）に示すように、充電電流を電流値Ｉａから電流値Ｉｂに変化させる直前のセル電圧Ｖａを測定し、さらに電流値Ｉｂでのセル電圧Ｖｂを測定する。このセル電圧Ｖｂの測定が終わると、図３（ａ）に示すように、タイミングｔ３で充電電流を電流値Ｉａに戻し、元の状態での充電を再開させる。その後、満充電状態であると中央制御ユニット２７で判断されるまで、充電を継続させる。但し、電流値Ｉａでの定電流充電は、ある程度のセルブロック電圧までとし、それ以降は定電圧充電などの別の充電モードとしてもよい。
【００２８】
次に、図２のフローチャートのステップＳ１８での、各セルブロックの内部抵抗算出処理例について説明する。図２のフローチャートで説明した処理では、２つの充電電流値Ｉａ，Ｉｂと、それぞれでの充電中のセルブロック電圧Ｖａ，Ｖｂが測定される。セルブロック電圧Ｖａ，Ｖｂについては、充電電流が供給される状態でのセル電圧であるので、閉路電圧（即ち開放状態でない電圧）である。この充電電流値Ｉａ，Ｉｂと、セルブロック電圧Ｖａ，Ｖｂを使用して、中央制御ユニット２７では、以下の演算式で、各セルブロックの内部抵抗Ｉmpを算出する。
【００２９】
［数１］
（Ｖａ−Ｖｂ）／（Ｉａ−Ｉｂ）＝Ｉmp
【００３０】
そして、劣化率については、初期状態での各セルブロックの内部抵抗をＩmp  NEWとすると、次式で算出される。
【００３１】
［数２］
Ｉmp／Ｉmp  NEW＝劣化率
【００３２】
このようにして劣化率を算出できることで、電池パック２０が内蔵する各電池セル３１〜３６の満充電量を正確に測定することができる。しかも本例の場合には、短時間で内部抵抗を正確に測定することができる。
【００３３】
ここで、本例の処理で短時間で電池セルの内部抵抗の測定が可能な点を、従来の開放電圧を測定して、電池セルの内部抵抗の測定する場合と対比して説明する。
図４（ａ）は、背景技術の欄で説明した、従来から知られている、電池セルの閉路電圧と開放電圧の差と、充電電流から測定する場合の特性例を示したものである。この図４（ａ）に示すように、一定の電流で充電して、ある程度充電されて、セル電圧Ｖ１１となった状態で、充電電流を遮断する。この充電電流の遮断を行って、電池セルを開放状態（即ち閉路状態でない状態）とすることで、セル電圧は電圧Ｖ１２に急激に低下する。しかしながら、その後は、時間をかけて電圧Ｖ１２から徐々にセル電圧が低下し、充電電流の遮断から数時間（例えば２時間）が経過して、ようやくセル電圧が安定する。
【００３４】
図４（ｂ）は、各セルの内部の等価回路を示したものである。このように、抵抗Ｒ１と、コンデンサＣ１及び抵抗Ｒ２の並列回路との直列回路で、セルの内部の回路を示すことができる。この等価回路において、電池セルが閉路状態から開放状態に変化すると、抵抗Ｒ１による電圧降下は、充電電流の遮断後、直ちに表れる。この抵抗Ｒ１による電圧降下が、図４（ａ）に示す電圧Ｖ１１から電圧Ｖ１２への降下である。
【００３５】
一方、等価回路で示されるコンデンサＣ１は、充電電流が遮断されると放電を開始し、その放電が行われている間、電圧が徐々に降下する。この電圧の降下が、例えば数時間かけて行われる。
【００３６】
図５（ａ）、本例での電池セルの内部抵抗の測定時の特性例を示したものである。この図５（ａ）に示すように、一定の電流で充電して、ある程度充電されて、セル電圧Ｖ２１となった状態で、充電電流を約１／３に低下させる。この充電電流の低下で、セル電圧Ｖ２２に降下するが、その降下したセル電圧Ｖ２２が維持される。
【００３７】
このように降下したセル電圧Ｖ２２が一定状態で維持されるのは、図５（ｂ）に示した等価回路に示したように、充電電流が低下しても、充電電流の供給が継続しているために、等価回路内のコンデンサＣ１からの放電が生じず、抵抗Ｒ１による降下が発生するだけのためである。
【００３８】
実際に測定した例を示すと、図４に示した従来処理（即ち電池セルを閉路状態から開放状態に変化させた場合）の電圧・電流変化例を図６（ａ）に示し、図５に示した本例の処理での内部抵抗の測定時の電圧・電流変化例を図６（ｂ）に示す。
図６（ａ）に示すように、従来処理での充電電流Ｉｘを遮断すると、セル電圧Ｖｘは遮断時に急激に低下した後、傾斜した直線αで示すように、長時間かけて徐々に低下する。
【００３９】
これに対して、本例の場合には、図６（ｂ）に示すように、充電電流Ｉｙを低下させると、セル電圧Ｖｙは変化時に急激に低下した後、水平な直線βで示すように、その電圧値を維持し、短時間で正確なセル電圧の測定ができる。図６（ｂ）の例では、充電電流を低下させてから、約１００秒で一定のセル電圧に安定している。
【００４０】
このように本例の処理を行うことで、充電中に、電池セルの内部抵抗を短時間に正確に測定することができ、電池セルの劣化率を短時間に正確に算出でき、劣化率を考慮した正確な充電残量の判断が可能になる。
【００４１】
また、電池セルの内部抵抗を測定するために使用する小充電電流として、充電装置が備えるトリクル充電用の充電電流とすることで、既存の充電装置を使用して電池セルの内部抵抗の正確な測定が行え、充電装置側で充電電流を変更させるための特別な構成を用意する必要がなく、既存の充電装置を使用して簡単に測定が行える。
【００４２】
なお、上述した実施の形態においては、電池パック内に内蔵させるセルとして、リチウムイオン二次電池で構成される二次電池を使用したが、ニッケル水素二次電池などのその他の二次電池セルを内蔵した電池パックにおいて、劣化率を内部抵抗から判断する場合にも本発明は適用可能である。
【００４３】
また、上述した実施の形態では、電池パック内の制御部で、電池の内部抵抗を算出して、劣化率を判断する構成としたが、セル電圧や充電電流のデータが得られれば、充電回路側で電池セルの劣化率を算出するようにしてもよい。充電回路が、パーソナルコンピュータ装置などの電子機器本体に内蔵されている場合には、例えば、その電子機器本体の制御プログラムに、図２のフローチャートに示した処理を実行する内部抵抗算出を行うプログラムを追加するような処理を行うようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の一実施の形態の例による電池パックと、それに接続される充電回路の構成例を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施の形態の例による測定処理例を示すフローチャートである。
【図３】本発明の一実施の形態による測定時の波形変化例を示す特性図である。
【図４】開放状態として電池セルの内部抵抗を測定する場合の例を示す説明図である。
【図５】本発明の一実施の形態の例による電池セルの内部抵抗を測定例を示す説明図である。
【図６】本発明の一実施の形態の例による電圧変化例を示す特性図である。
【符号の説明】
【００４５】
１０…充電装置、１１…電源プラグ、１２…充電回路、１３…正極端子、１４…負極端子、１５，１６…通信端子、２０…電池パック、２１…正極端子、２２…負極端子、２３，２４…通信端子、２５，２６…充放電制御用電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）、２７…中央制御ユニット（ＣＰＵ）、２８…メモリ、２９…充放電制御部、３１，３２，３３，３４，３５，３６…電池セル、３７…電流検出用抵抗器、３８，３９，４０，４１…セル電圧検出用抵抗器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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