(57)【要約】【課題】光素子を基板に実装した状態で光素子及び光導波路の検査が可能な光電子回路基板を提案する。【解決手段】第１の光導波路１３Ａには、合流光導波路１４が設けられ、第２の光導波路１３Ｂには、分岐光導波路１５が設けられている。導入用開口１４０から第１の検査用光信号２０を合流光導波路１４に導入し、合流光導波路１４から第１の光導波路１３Ａを伝播する第１の検査用光信号２０を第１の光モジュール１２Ａが、受信したか否かによって光電子回路基板１の検査を行うことができる。また、第１の光モジュール１２Ａから送信された光信号２が、第２の光導波路１３Ｂを伝播し、その光信号２の一部が、分岐光導波路１５に伝播する。分岐光導波路１５から取出用開口１５０を介してその光信号２の一部を、第２の検査用光信号２１として、受光装置４が受信したか否かによって光電子回路基板１の検査を行うことができる。【選択図】図１
2008225185.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子回路を有し、光信号を第１の面側から第２の面側に通過させる発光側開口、及び前記光信号を前記第２の面側から前記第１の面側へ通過させる受光側開口が形成された基板と、
前記基板の前記第１の面側に実装され、前記発光側開口に対向する位置に設けられた発光素子、及び前記受光側開口に対向する位置に設けられた受光素子と、
前記基板の前記第２の面側に設けられ、前記発光側開口を前記第１の面側から前記第２の面側に通過する前記光信号の光路を変換する第１の光路変換面、及び前記第１の光路変換面により変換された前記光信号が前記受光側開口を前記第２の面側から前記第１の面側に通過するように前記光信号の光路を変換する第２の光路変換面を有する光導波路と、
前記光導波路から分岐して設けられ、検査用光信号を前記光導波路に対して導入又は取出しする検査用光導波路とを備えたことを特徴とする光電子回路基板。
【請求項２】
前記検査用光導波路は、前記検査用光信号の光路を変換する第３の光路変換面を備えたことを特徴とする請求項１に記載の光電子回路基板。
【請求項３】
前記基板は、前記検査用光信号を通過させる検査用開口が形成され、
前記検査用光導波路の前記第３の光路変換面は、前記検査用光信号が前記検査用開口を通過するように前記検査用光信号の光路を変換することを特徴とする請求項２に記載の光電子回路基板。
【請求項４】
さらに、前記基板の前記第２の面側に前記光導波路及び前記検査用光導波路を介して他の基板を備え、
前記他の基板は、前記検査用光信号を通過させる検査用開口が形成され、
前記検査用光導波路の前記第３の光路変換面は、前記検査用光信号が前記検査用開口を通過するように前記検査用光信号の光路を変換することを特徴とする請求項２に記載の光電子回路基板。
【請求項５】
前記検査用光導波路の分岐点における前記光信号の進行方向に対する角度は、前記検査用光導波路が前記検査用光信号の取出用として用いられるとき、鋭角であることを特徴とする請求項１に記載の光電子回路基板。
【請求項６】
前記検査用光導波路のコアは、前記検査用光導波路が前記検査用光信号の取出用として用いられるとき、前記光導波路のコアよりも断面積が小さいことを特徴とする請求項５に記載の光電子回路基板。
【請求項７】
前記光導波路及び前記検査用光導波路は、少なくとも一方が分岐点を起点とする曲線部を有することを特徴とする請求項１に記載の光電子回路基板。
【請求項８】
前記検査用光導波路は、前記検査用光信号を導入する第１の検査用光導波路と、前記検査用光信号を取出しする第２の検査用光導波路を備えたことを特徴とする請求項１に記載の電子回路基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光電子回路基板に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の技術として、レーザ光の反射光量を増大させる金属反射膜が発光部の周囲に形成された光部品と、光部品を実装した基板と、光部品と基板との間に設けられ、レーザ光が伝播する光導波路と、光導波路の端部付近の光部品に対応する位置に設けられ、レーザ光の光路を変換する第１のピラミッド鏡と、光導波路から分岐して設けられた検査用光導波路と、検査用光導波路の端部付近に設けられ、レーザ光の光路を変換する第２のピラミッド鏡とを備えた光導波路基板が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
この光導波路基板に実装された光部品のずれの検出は、レーザ光を出力するレーザ光源と、レーザ光を反射する反射面を有するハーフミラーと、ハーフミラーの反射面によって反射されたレーザ光を検出する光検出器とを備えた検出装置を用いることによって行われる。
【０００４】
まず、検出装置のレーザ光源から第２のピラミッド鏡に向けて出力されたレーザ光は、ハーフミラーを透過した後、第２のピラミッド鏡によってその光路を変換され、検査用光導波路及び光導波路を伝播し、第１のピラミッド鏡によって再び光路が変換される。
【０００５】
光路が変換されたレーザ光は、光部品が所定の位置よりずれて実装されていたとき、光部品の金属反射膜によって反射光量を増大されて反射され、反射したレーザ光は、光路を逆戻りし、ハーフミラーの反射面で反射した後、光検出器によって検出され、光検出器は、レーザ光の光量の大きさに基づいて光部品の実装のずれを検出する。
【特許文献１】特開２００３−１８５５２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の目的は、光素子を基板に実装した状態で光素子及び光導波路の検査が可能な光電子回路基板を提案することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の態様は、上記目的を達成するため、以下の光電子回路基板を提供する。
【０００８】
（１）電子回路を有し、光信号を第１の面側から第２の面側に通過させる発光側開口、及び前記光信号を前記第２の面側から前記第１の面側へ通過させる受光側開口が形成された基板と、前記基板の前記第１の面側に実装され、前記発光側開口に対向する位置に設けられた発光素子、及び前記受光側開口に対向する位置に設けられた受光素子と、前記基板の前記第２の面側に設けられ、前記発光側開口を前記第１の面側から前記第２の面側に通過する前記光信号の光路を変換する第１の光路変換面、及び前記第１の光路変換面により変換された前記光信号が前記受光側開口を前記第２の面側から前記第１の面側に通過するように前記光信号の光路を変換する第２の光路変換面を有する光導波路と、前記光導波路から分岐して設けられ、検査用光信号を前記光導波路に対して導入又は取出しする検査用光導波路とを備えたことを特徴とする光電子回路基板。
【０００９】
（２）前記検査用光導波路は、前記検査用光信号の光路を変換する第３の光路変換面を備えたことを特徴とする前記（１）に記載の光電子回路基板。
【００１０】
（３）前記基板は、前記検査用光信号を通過させる検査用開口が形成され、前記検査用光導波路の前記第３の光路変換面は、前記検査用光信号が前記検査用開口を通過するように前記検査用光信号の光路を変換することを特徴とする前記（２）に記載の光電子回路基板。
【００１１】
（４）さらに、前記基板の前記第２の面側に前記光導波路及び前記検査用光導波路を介して他の基板を備え、前記他の基板は、前記検査用光信号を通過させる検査用開口が形成され、前記検査用光導波路の前記第３の光路変換面は、前記検査用光信号が前記検査用開口を通過するように前記検査用光信号の光路を変換することを特徴とする前記（２）に記載の光電子回路基板。
【００１２】
（５）前記検査用光導波路の分岐点における前記光信号の進行方向に対する角度は、前記検査用光導波路が前記検査用光信号の取出用として用いられるとき、鋭角であることを特徴とする前記（１）に記載の光電子回路基板。
【００１３】
（６）前記検査用光導波路のコアは、前記検査用光導波路が前記検査用光信号の取出用として用いられるとき、前記光導波路のコアよりも断面積が小さいことを特徴とする前記（５）に記載の光電子回路基板。
【００１４】
（７）前記光導波路及び前記検査用光導波路は、少なくとも一方が分岐点を起点とする曲線部を有することを特徴とする前記（１）に記載の光電子回路基板。
【００１５】
（８）前記検査用光導波路は、前記検査用光信号を導入する第１の検査用光導波路と、前記検査用光信号を取出しする第２の検査用光導波路を備えたことを特徴とする前記（１）に記載の電子回路基板。
【発明の効果】
【００１６】
請求項１に記載の光電子回路基板によれば、光素子を基板に実装した状態で光素子及び光導波路の検査が可能になる。
【００１７】
請求項２に記載の光電子回路基板によれば、第３の光路変換面を有していない場合と比較して、基板に実装される電子部品等の実装密度を上げることができる。
【００１８】
請求項３に記載の光電子回路基板によれば、容易に光素子及び光導波路の検査ができる。
【００１９】
請求項４に記載の光電子回路基板によれば、基板に実装される電子部品等の実装密度を更に上げることができる。
【００２０】
請求項５に記載の光電子回路基板によれば、効果的に検査用光信号の取出しを行うことができる。
【００２１】
請求項６に記載の光電子回路基板によれば、光導波路を伝播する光信号の損失を抑えることができる。
【００２２】
請求項７に記載の光電子回路基板によれば、検査用光信号を効果的に導入及び取出しすることができ、また、基板に実装される電子部品等の配置の自由度を増すことができる。
【００２３】
請求項８に記載の光電子回路基板によれば、より正確に光素子及び光導波路の検査が可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
[第１の実施の形態]
（光電子回路基板の構成）
図１、図２、図３は、本発明の第１の実施の形態に係る光電子回路基板を示し、図１（ａ）は、斜視図、図１（ｂ）は、図１（ａ）のＡ１―Ａ１線断面図、図１（ｃ）は、図１（ａ）のＡ２―Ａ２線断面図、図２（ａ）は、平面図、図２（ｂ）は、図２（ａ）のＢ―Ｂ線断面図、図３（ａ）は、図２（ａ）のＣ―Ｃ線断面図、図３（ｂ）は、図２（ａ）のＤ―Ｄ線断面図である。
【００２５】
この光電子回路基板１は、光回路と電子回路を有するものであり、各種の電子部品、電源回路部品等を含む電子回路を有する第１及び第２の基板１０、１１と、第１の基板１０の第１の面側に実装された第１及び第２の光モジュール１２Ａ、１２Ｂと、第１及び第２の基板１０、１１間に設けられ、第１及び第２の光モジュール１２Ａ、１２Ｂ間を光学的に接続する光導波路層１３０とを備えて構成されている。
【００２６】
第１の光モジュール１２Ａは、発光素子１２０Ａ及び受光素子１２１Ａを有する。第２の光モジュール１２Ｂは、発光素子１２０Ｂ及び受光素子１２１Ｂを有する。第１及び第２の光モジュール１２Ａ、１２Ｂは、それぞれパッケージ化されており、それらの詳細な構成は後述する。
【００２７】
光導波路層１３０は、第１及び第２の光モジュール１２Ａ、１２Ｂ間の光伝送路となる第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂと、第１の光導波路１３Ａから分岐して設けられた検査用光導波路としての合流光導波路１４と、第２の光導波路１３Ｂから分岐して設けられた検査用光導波路としての分岐光導波路１５とを有する。
【００２８】
（第１の基板）
第１の基板１０は、厚みが０．５ｍｍのガラスエポキシ樹脂等の絶縁性材料から形成された基板材と、この基板材の上面に形成された各種の電子部品や電源回路部品等が電気的に接続された導電性パターンとを有する。
【００２９】
また、第１の基板１０は、発光素子１２０Ａ、１２０Ｂ及び受光素子１２１Ａ、１２１Ｂにそれぞれ対向した位置に発光側開口１００Ａ、１００Ｂ、及び受光側開口１０１Ｂが形成され、検査用光信号を通過させる導入用開口１４０及び取出用開口１５０が形成されている。更に、第２の光モジュール１２Ｂの発光素子１２０Ｂに対向した位置には、図示しない発光側開口が形成されている。なお、各光モジュールに形成される発光側開口と受光側開口は、１つの開口であっても良く、これに限定されない。
【００３０】
（第２の基板）
第２の基板１１は、第１の基板１０と同様に厚みが１ｍｍのガラスエポキシ樹脂等の絶縁性材料から形成された基板材と、この基板材の下面に形成された各種の電子部品や電源回路部品等が電気的に接続された導電性パターンとを有する。
【００３１】
（光導波路）
図１（ｂ）に示すように、第１の光導波路１３Ａは、コア１３２と、コア１３２の周囲に形成されてコア１３２より屈折率が小さいクラッド１３１とを有する厚みが０．２ｍｍの光導波路層１３０によって構成されており、第２の光導波路１３Ｂ、合流光導波路１４及び分岐光導波路１５も同様に構成されている。
【００３２】
第１の光導波路１３Ａには、検査用光導波路としての合流光導波路１４が分岐して設けられており、合流光導波路１４は、第１の基板１０に設けられた検査用開口としての導入用開口１４０から検査用光信号としての第１の検査用光信号２０の光路を光路変換面１４０Ａによって変換し、第１の光導波路１３Ａに導入するように構成されている。
【００３３】
第２の光導波路１３Ｂは、検査用光導波路としての分岐光導波路１５が分岐して設けられており、分岐光導波路１５には、第２の光導波路１３Ｂを伝播する光信号２の一部が伝播し、この光信号２の一部は、検査用光信号としての第２の検査用光信号２１であり、この検査用光信号２１は、光路変換面１５０Ａによって光路が変換され、検査用開口としての取出用開口１５０から外部に取り出されるように構成されている。
【００３４】
また、分岐光導波路１５の分岐点における光信号２の進行方向に対する角度は、鋭角であることが望ましく、これは、損失を抑えながら効率よく光信号２の一部を分岐光導波路１５に伝播させるためである。
【００３５】
合流光導波路１４のコア１３２の断面積は、第１の検査用光信号２０を導入用開口１４０から合流光導波路１４に導入することが目的なので、第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂのコア１３２の断面積と同等に構成されるが、これに限定されない。
【００３６】
しかし、第２の検査用光信号２１は、第２の光導波路１３Ｂを伝播する光信号２の損失を抑えるため、分岐光導波路１５のコア１３２の断面積は小さいことが望ましく、断面積は幅に比例するので、一例として、第２の光導波路１３Ｂのコア１３２の幅は、幅８０μｍに比べ幅１０μｍと狭く作成される。
【００３７】
また、光導波路層１３０の端部は、エポキシ樹脂等の封入剤２００によって基板の縁辺を封止している。封入剤２００による封止は、一部でも良く、これに限定されない。
【００３８】
なお、１本の光導波路から合流又は分岐する検査用光導波路は、１本に限らず、複数でも良く、1本の光導波路が、合流及び分岐する検査用光導波路を１本ずつ有する場合については、後述することにする。
【００３９】
（光導波路の製造法）
次に、第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂ、合流光導波路１４、分岐光導波路１５の製造方法について説明する。第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂ、合流光導波路１４、分岐光導波路１５は、例えば、一般によく用いられるフォトリソグラフィ法やＲＩＥ（反応性イオンエッチング）を利用した方法で作製可能である。特に、本出願人が既に提案した特開２００４−２９５０７号公報等に記載されている鋳型を用いた作製工程により効率的に製造することができる。以下に、その作製工程を説明する。
【００４０】
まず、コア１３２に対応する凸部が形成された原盤を、例えば、フォトリソグラフィ法を用いて作製する。次に、原盤の凸部が形成された面に、例えば、５００〜７０００ｍＰａ・ｓ程度の粘度で、紫外領域や可視領域において光透過性を有する硬化性樹脂、例えば、分子中にメチルシロキサン基、エチルシロキサン基、フェニルシロキサン基を含む硬化性オルガノポリシロキサンの層を塗布等により設け、その後、硬化させて硬化層を構成する。次に、硬化層を原盤から剥離し、凸部に対応する凹部を有した鋳型を作製する。
【００４１】
次に、鋳型に、この鋳型との密着性に優れる樹脂、例えば、脂環式アクリル樹脂フィルム、脂環式オレフィン樹脂フィルム、三酢酸セルロースフィルム、フッ素樹脂フィルム等からなるクラッド用フィルム基材を密着させる。次に、鋳型の凹部に、例えば、紫外線硬化性又は熱硬化性のモノマー、オリゴマー若しくはモノマーとオリゴマーの混合物、エポキシ系、ポリイミド系、アクリル系の紫外線硬化性樹脂等からなる硬化性樹脂を充填する。次に、凹部内の硬化性樹脂を硬化させてコア１３２とした後、鋳型を剥離する。これにより、クラッド用フィルム基材上にコア１３２が残される。
【００４２】
次に、クラッド用フィルム基材のコア１３２が形成された面側にコア１３２を覆うようにクラッド１３１を設ける。クラッド１３１として、例えば、フィルム、クラッド用硬化性樹脂を塗布して硬化させた層、高分子材料の溶剤溶液を塗布し乾燥してなる高分子膜等が挙げられる。
【００４３】
最後に、光導波路のコア１３２が露出する面をダイサーによって所定の角度に切削して光路変換面１３３Ａ、１３３Ｂ、１３４Ａ、１４０Ａ、１５０Ａ及び端面を形成する。更にコア１３２に平行にダイサーで切り出すことにより、クラッド用フィルム基材及びクラッド層をクラッド１３１とした第１、第２、分岐及び合流光導波路１３Ａ、１３Ｂ、１４及び１５が完成する。
【００４４】
（光モジュール）
以下において、第１の光モジュール１２Ａの構成について述べるが、第２の光モジュール１２Ｂも同様の構成及び機能を有する。第１の光モジュール１２Ａは、基板１２９と、基板１２９の下面に実装された面型の上述の発光素子１２０Ａ及び上述の受光素子１２１Ａと、基板１２９の上面に実装された制御部１２７Ａと、端子１２４、ワイヤ１２６及び制御部１２７Ａを封止するエポキシ樹脂等の封止樹脂１２８とを備える。
【００４５】
第１の光モジュール１２Ａの受光素子１２１Ａ（発光素子１２０Ａも同様）は、図３（ａ）に示すように、ワイヤ１２２、パッド１２３を介して基板１２９に設けられた制御部１２７Ａに電気的に接続されている。
【００４６】
制御部１２７Ａは、発光素子１２０Ａを駆動する駆動回路、及び受光素子１２１Ａが出力する電気信号を増幅する増幅回路を有し、ワイヤ１２６、パッド１２４とハンダボール１２５を介して端子１１０に電気的に接続されており、封止樹脂１２８によって保護されている。
【００４７】
受光素子１２１Ａは、例えば、面型のフォトダイオード等の面型光素子を用いることができる。本実施の形態では、受光素子１２１Ａとして、高速応答性に優れたＧａＡｓ型のＰＩＮフォトダイオードを用いる。このＰＩＮフォトダイオードは、例えば、ＧａＡｓ基板上に、ＰＩＮ接合されたＰ層、Ｉ層及びＮ層と、Ｐ層に接続されたｐ型電極と、Ｎ層に形成されたｎ型電極とを備えている。
【００４８】
第１の光モジュール１２Ａの発光素子１２０Ａは、図３（ｂ）に示すように、面型発光ダイオードや面型レーザ等の複数の発光素子（面型光素子）を用いることができる。本実施の形態においては、発光素子１２０Ａとして、ＶＣＳＥＬ（面発光レーザ）を用いる。
【００４９】
この面発光レーザは、例えば、ｎ型ＧａＡｓ基板に、ｎ型上部反射鏡層、活性層、電流狭窄層、ｐ型下部反射鏡層、ｐ型コンタクト層、ｐ型電極を形成し、ｎ型ＧａＡｓ基板の表側にｎ型電極を形成したものである。
【００５０】
（第１の実施の形態の動作）
以下に、本発明の第１の実施の形態に係る光電子回路基板の動作について図１から図３を参照しつつ、図４及び図５のフローチャートに従って説明する。
【００５１】
（光信号の送受信）
ここでは、一例として、画像信号の送信を第１の光モジュール１２Ａから第２の光モジュール１２Ｂに対して行う場合について説明する。第１の光モジュール１２Ａの制御部１２７Ａは、画像信号に基づいた駆動信号を発光素子１２０Ａに送信し、発光素子１２０Ａは、駆動信号に基づいた光信号２を発光側開口１００Ａを介して光路変換面１３４Ａに向けて送信する。
【００５２】
このとき、発光素子１２０Ａのｐ型電極とｎ型電極間に駆動信号の電圧が印加され、発光層の発光領域から例えば、波長８５０ｎｍのレーザ光を光信号２として出力する。
【００５３】
光路変換面１３４Ａは、発光素子１２０Ａから送信された光信号２の光路を変換し、第２の光導波路１３Ｂに光信号２を伝播させる。
【００５４】
第２の光導波路１３Ｂを伝播した光信号２は、光路変換面１３３Ｂによって光路を変換される。
【００５５】
光信号２は、受光側開口１０１Ｂを通過して第２の光モジュール１２Ｂの受光素子１２１Ｂによって受信される。受光素子１２１Ｂは、受信した光信号２を電気信号に変換して制御部１２７Ｂに出力する。
【００５６】
制御部１２７Ｂは、変換された電気信号を処理して画像信号を生成し、画像信号を第１の基板１０上の所定の電子部品に出力する。
【００５７】
（第１の光導波路と各モジュールの検査）
図１及び図３（ａ）に示すように、光信号２を外部の発光装置３から第１の光導波路１３Ａに導入することによって、第１の光導波路１３Ａと各モジュールを検査する場合について図４のフローチャートに従って説明する。
【００５８】
発光装置３は、光路変換面１４０Ａに向けて第１の検査用光信号２０を送信する（Ｓ１）。     
【００５９】
発光装置３から出力された第１の検査用光信号２０は、導入用開口１４０を通過したのち、光路変換面１４０Ａによって光路を変更され、合流光導波路１４を伝播する。
【００６０】
合流光導波路１４を伝播した第１の検査用光信号２０は、第１の光導波路１３Ａに合流し、光路変換面１３３Ａによって更に光路を変換され、受光側開口１００Ｂを通過して、第１の光導波路１３Ａと第１の光モジュール１２Ａが正常に機能するとき、受光素子１２１Ａによって受信され、電気信号に変換される。
【００６１】
第１の光モジュール１２Ａが、第１の検査用光信号２０を受信し、受信した第１の検査用光信号２０を正常に処理したとき（Ｓ２；Ｙｅｓ）、第１の光導波路１３Ａと第１の光モジュール１２Ａは、正常に機能していることが分かる。
【００６２】
次に第２の光モジュール１２Ｂに異常があるか否かを検査するため、第２の光モジュール１２Ｂから光信号２を送信する（Ｓ３）。
【００６３】
第１の光モジュール１２Ａが、第２の光モジュール１２Ｂからの光信号２を受信し、正常に処理したとき（Ｓ４；Ｙｅｓ）、第１の光モジュール１２Ａ、第１の光導波路１３Ａ及び第２の光モジュール１２Ｂの機能は、正常であることが分かる（Ｓ５）。
【００６４】
ここでステップ２において、第１の光モジュール１２Ａが、第１の検査用光信号２０を受信しなかったとき、または、受信した信号を正常に処理できなかったとき（Ｓ２；Ｎｏ）、第１の光モジュール１２Ａまたは第１の光導波路１３Ａには、異常がある可能性があることが分かる（Ｓ６）。
【００６５】
また、ステップ４において、第１の光モジュール１２Ａが、第２の光モジュール１２Ｂから送信された光信号２を受信しなかったとき、または、受信した信号を正常に処理できなかったとき（Ｓ４；Ｎｏ）、第２の光モジュール１２Ｂまたは第２の光モジュール１２Ｂから合流光導波路１４に合流するまでの第１の光導波路１３Ａは、異常がある可能性があることが分かる（Ｓ７）。
【００６６】
（第２の光導波路と各モジュールの検査）
図１及び図３（ｂ）に示すように、第２の光導波路１３Ｂを伝播する光信号２を取出すことによって、第２の光導波路と各モジュールの検査をする場合について、図５のフローチャートに従って説明する。
【００６７】
第１の光モジュール１２Ａの発光素子１２０Ａは、光路変換面１３４Ａに向けて光信号２を送信する（Ｓ１０）。
【００６８】
光信号２は、発光側開口１００Ａを通過して光路変換面１３４Ａによって光路を変換され、第２の光導波路１３Ｂを伝播し、更に、分岐光導波路１５に一部伝播する。
【００６９】
分岐光導波路１５に伝播した光信号２の一部である第２の検査用光信号２１は、分岐光導波路１５に設けられた光路変換面１５０Ａによって光路を変換され、取出用開口１５０を通過したのち、受光装置４によって受信される。
【００７０】
ここで、受光装置４によって第２の検査用光信号２１が受信されたとき（Ｓ１１；Ｙｅｓ）、第１の光モジュール１２Ａと分岐光導波路１５までの第２の光導波路１３Ｂは、正常に機能していることが分かる。
【００７１】
続いて第２の光モジュール１２Ｂが、第１の光モジュール１２Ａから送信された光信号２を受信したとき（Ｓ１２；Ｙｅｓ）、第１の光モジュール１２Ａ、第２の光導波路１３Ｂ及び第２の光モジュール１２Ｂは、正常に機能していることが分かる（Ｓ１３）。
【００７２】
ここでステップ１１において受光装置４によって第２の検査用光信号２１が受信されなかったとき（Ｓ１１；Ｎｏ）、第１の光モジュール１２Ａと第２の光導波路１３Ｂは、どちらかに異常があることが分かる（Ｓ１４）。
【００７３】
また、ステップ１２において、第２の光モジュール１２Ｂが、光信号２を受信しなかったまたは、受信した信号を正常に処理できなかったとき（Ｓ１２；Ｎｏ）、第２の検査用光信号２１が、受光装置４で受光されていることから、第２の光モジュール１２Ｂから分岐光導波路１５までの第２の光導波路１３Ｂ、または第２の光モジュール１２Ｂに、異常があることが分かる（Ｓ１５）。
【００７４】
[第２の実施の形態]
以下の説明において、第１の実施の形態と同一の構成および機能を有する部分については共通の符号を付している。
【００７５】
図６は、本発明の第２の実施の形態に係る光電子回路基板を示す平面図である。この光電子回路基板１は、第１の合流光導波路１４ａと、第２の合流光導波路１４ｂと、第１の分岐光導波路１５ａと、第２の分岐光導波路１５ｂとが第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂから分岐して設けられている。
【００７６】
第１の合流光導波路１４ａは、第１の導入用開口１４０ａから検査用光信号を導入し、第２の合流光導波路１４ｂは、第２の導入用開口１４０ｂから検査用光信号を導入するよう構成されている。また、第１及び第２の合流光導波路１４ａ、１４ｂは、第１及び第２の導入用開口１４０ａ、１４０ｂに対応した位置に図示しない光路変換面を有する。
【００７７】
第１及び第２の分岐光導波路１５ａ、１５ｂは、第１の取出用開口１５０a及び第２の取出用開口１５０ｂから検査用光信号を取出しするように構成されている。また、第１及び第２の分岐光導波路１５ａ、１５ｂは、第１及び第２の取出用開口１５０a、１５０ｂに対応した位置に図示しない光路変換面を有する。
【００７８】
本実施の形態では、第１及び第２の導入用開口１４０ａ、１４０ｂから第１の検査用光信号２０を導入し、第１及び第２の取出用開口１５０ａ、１５０ｂから第２の検査用光信号２１を取出すことにより、第１及び第２の光モジュール１２Ａ、１２Ｂと第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂを検査することができる。
【００７９】
[第３の実施の形態]
図７は、本発明の第３の実施の形態に係る光電子回路基板を示す平面図である。光電子回路基板１は、分岐点を起点とする曲線部を有する第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂを備えている。なお、分岐点を起点とする曲線部を有する光導波路は、合流光導波路１４及び分岐光導波路１５であっても良いし、第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂ、合流光導波路１４及び分岐光導波路１５が曲線部を有していても良く、これに限定されない。
【００８０】
第１の光導波路１３Ａは、合流光導波路１４が分岐して設けられ、合流光導波路１４は、効果的に導入用開口１４０から検査用光信号２０を導入できるように、第１の光導波路１３Ａの直線部の延長上に延びており、導入用開口１４０に対応した位置に光路変換面を有する。
【００８１】
一方第２の光導波路１３Ｂは、分岐光導波路１５が分岐して設けられ、分岐光導波路１５は、第１の光モジュール１２Ａから延びる直線部分の延長上にあるため、光信号２の一部を効果的に伝播させて検査用光信号として取出用開口１５０から取り出される。分岐光導波路１５は、取出用開口１５０に対応した位置に、光路変換面を有する。
【００８２】
本実施の形態においては、導入用開口１４０から第１の検査用光信号２０を導入し、取出用開口１５０から第２の検査用光信号２１を取出すことにより、第１及び第２の光モジュール１２Ａ、１２Ｂと第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂを検査することができる。
【００８３】
[第４の実施の形態]
図８（ａ）は、本発明の第４の実施の形態に係る光電子回路基板を示す断面図であり、図８（ｂ）は、本発明の第４の実施の形態に係る光電子回路基板を示す断面図である。
【００８４】
本実施の形態は、図８（ａ）に示すように、第２の基板１１に導入用開口１４０を設け、図８（ｂ）に示すように、第２の基板１１に取出用開口１５０を設けている。
【００８５】
本実施の形態においては、導入用開口１４０から第１の検査用光信号２０を導入し、取出用開口１５０から第２の検査用光信号２１を取出すことにより、第１及び第２の光モジュール１２Ａ、１２Ｂと第１及び第２の光導波路１３Ａ、１３Ｂを検査することができる。
【００８６】
なお、本発明は、上記した実施の形態に限定されず、本発明の技術思想を逸脱あるいは変更しない範囲内で種々の変形が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８７】
【図１】（ａ）は、本発明の第１の実施の形態に係る光電子基板を示す斜視図であり、（ｂ）は、本発明の第１の実施の形態に係る図１（ａ）のＡ１―Ａ１線断面図であり、（ｃ）は、本発明の第１の実施の形態に係る図１（ａ）のＡ２―Ａ２線断面図である。
【図２】（ａ）は、本発明の第１の実施の形態に係る光電子回路基板を示す平面図であり、（ｂ）本発明の第１の実施の形態に係る図２（ａ）のＢ―Ｂ線断面図である。
【図３】（ａ）は、本発明の第１の実施の形態に係る図２（ａ）のＣ―Ｃ線断面図であり、（ｂ）は、本発明の第１の実施の形態に係る図２（ａ）のＤ―Ｄ線断面図である。
【図４】本発明の第１の実施の形態に係る第１の光導波路及び各光モジュールの検査のフローチャートの一例である。
【図５】本発明の第１の実施の形態に係る第２の光導波路及び各光モジュールの検査のフローチャートの一例である。
【図６】本発明の第２の実施の形態に係る光電子回路基板を示す平面図である。
【図７】本発明の第３の実施の形態に係る光電子回路基板を示す平面図である。
【図８】（ａ）は、本発明の第４の実施の形態に係る光電子回路基板を示す断面図であり、（ｂ）は、本発明の第４の実施の形態に係る光電子回路基板を示す断面図である。
【符号の説明】
【００８８】
１・・・光電子回路基板、２・・・光信号、３・・・発光装置、４・・・受光装置、１０・・・第１の基板、１１・・・第２の基板、１２Ａ・・・第１の光モジュール、１２Ｂ・・・第２の光モジュール、１３Ａ・・・第１の光導波路、１３Ｂ・・・第２の光導波路、１４・・・合流光導波路、１４ａ・・・第１の合流光導波路、１４ｂ・・・第２の合流光導波路、１５・・・分岐光導波路、１５ａ・・・第１の分岐光導波路、１５ｂ・・・第２の分岐光導波路、２０・・・第１の検査用光信号、２１・・・第２の検査用光信号、１００Ａ・・・発光側開口、１００Ｂ、１０１Ｂ・・・受光側開口、１１０、１２４・・・端子、１２０Ａ、１２０Ｂ・・・発光素子、１２１Ａ、１２１Ｂ・・・受光素子、１２２、１２６・・・ワイヤ、１２３・・・パッド、１２５・・・ハンダボール、１２７Ａ・・・制御部、１２８・・・封止樹脂、１３１・・・クラッド、１３２・・・コア、１３３Ａ、１３３Ｂ、１３４Ａ、１４０Ａ、１５０Ａ・・・光路変換面、１４０、１４０ａ、１４０ｂ・・・導入用開口、１５０、１５０a、１５０ｂ・・・取出用開口、２００・・・封入剤
【図１】
2008225185.tif 000003
【図２】
2008225185.tif 000004
【図３】
2008225185.tif 000005
【図４】
2008225185.tif 000006
【図５】
2008225185.tif 000007
【図６】
2008225185.tif 000008
【図７】
2008225185.tif 000009
【図８】
2008225185.tif 000010