(57)【要約】【課題】記録・再生型の光ディスク装置において、最適な記録レーザパワー等の決定に必要な学習時間の低減を行うと共に、試し書きを行うＰＣＡの有効活用を行うことができる光ディスク装置を提供する。【解決手段】本発明に係る光ディスク装置は、記録可能な光ディスクに対してデータの記録および再生を行う光ディスク装置において、光ディスクの記録および再生の少なくとも一方に必要となる特定の有用情報を記憶する記憶部と、記憶部に記憶される有用情報を、光ディスクに設けられる試し書き領域に記録し、光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録した有用情報を再生して利用する制御部と、を備えたことを特徴とする。【選択図】  図１
2008010068.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録可能な光ディスクに対してデータの記録および再生を行う光ディスク装置において、
前記光ディスクの記録および再生の少なくとも一方に必要となる特定の有用情報を記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶される前記有用情報を、前記光ディスクに設けられる試し書き領域に記録し、前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録した前記有用情報を再生して利用する制御部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記記憶部に記憶される前記有用情報は、前記光ディスクの試し書きに使用される複数の記録用レーザパワーと試し書きを行う機器の機器識別情報とを含む情報であり、
前記制御部は、
複数の前記試し書き領域に前記複数の記録用レーザパワーを前記機器識別情報と共に夫々記録し、
前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録された前記複数の試し書き領域のデータを再生し、
前記試し書き領域に記録されている前記機器識別情報と本光ディスク装置の機器識別情報とが一致した場合、再生した信号の品質に基づいて、前記複数の試し書き領域の中から最良の試し書き領域を選択し、
選択された前記最良の試し書き領域に記録されている記録用レーザパワーを、最適な記録用レーザパワーとして決定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記記憶部に記憶される前記有用情報は、前記光ディスクの試し書きに使用される複数の記録ストラテジに関する情報と試し書きを行う機器の機器識別情報とを含む情報であり、
前記制御部は、
複数の試し書き領域に前記複数の記録ストラテジに関する情報を前記機器識別情報と共に夫々記録し、
前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録された前記複数の試し書き領域のデータを再生し、
前記試し書き領域に記録されている前記機器識別情報と本光ディスク装置の機器識別情報とが一致した場合、再生した信号の品質に基づいて、前記複数の試し書き領域の中から最良の試し書き領域を選択し、
選択された前記最良の試し書き領域に記録されている記録ストラテジに関する情報を、最適な記録ストラテジに関する情報として決定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記記憶部に記憶される前記有用情報は、前記光ディスクのバーストカッティングエリアに記録されているＢＣＡデータと、このＢＣＡデータを用いて試し書きを行う機器の機器識別情報とを含む情報であり、
前記制御部は、
試し書き領域に前記ＢＣＡデータを前記機器識別情報と共に記録し、
前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録された前記試し書き領域のデータを再生し、
前記試し書き領域に記録されている前記機器識別情報と本光ディスク装置の機器識別情報とが一致した場合、前記光ディスクのバーストカッティングエリアにアクセスせずに、前記試し書き領域に記録されている前記ＢＣＡデータを利用する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記記憶部に記憶される前記有用情報は、前記光ディスクのシステムリードインエリアに記録されているシステムリードインデータと、このシステムリードインデータを用いて試し書きを行う機器の機器識別情報とを含む情報であり、
前記制御部は、
試し書き領域に前記システムリードインデータを前記機器識別情報と共に記録し、
前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録された前記試し書き領域のデータを再生し、
前記試し書き領域に記録されている前記機器識別情報と本光ディスク装置の機器識別情報とが一致した場合、前記光ディスクのシステムリードインエリアにアクセスせずに、前記試し書き領域に記録されている前記システムリードインデータを利用する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
記録可能な光ディスクに対してデータの記録および再生を行う光ディスク装置の制御方法において、
前記光ディスクの記録および再生の少なくとも一方に必要となる特定の有用情報を記憶し、
記憶した前記有用情報を、前記光ディスクに設けられる試し書き領域に記録し、
前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録した前記有用情報を再生して利用する、
ステップを備えたことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項７】
前記有用情報は、前記光ディスクの試し書きに使用される複数の記録用レーザパワーと試し書きを行う機器の機器識別情報とを含む情報であり、
前記記録するスッテプでは、
複数の前記試し書き領域に前記複数の記録用レーザパワーを前記機器識別情報と共に夫々記録し、
前記再生し利用するステップでは、
前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録された前記複数の試し書き領域のデータを再生し、
前記試し書き領域に記録されている前記機器識別情報と本光ディスク装置の機器識別情報とが一致した場合、再生した信号の品質に基づいて、前記複数の試し書き領域の中から最良の試し書き領域を選択し、
選択された前記最良の試し書き領域に記録されている記録用レーザパワーを、最適な記録用レーザパワーとして決定する、
ことを特徴とする請求項６に記載の光ディスク装置の制御方法。
【請求項８】
前記有用情報は、前記光ディスクの試し書きに使用される複数の記録ストラテジに関する情報と試し書きを行う機器の機器識別情報とを含む情報であり、
前記記録するステップでは、
複数の試し書き領域に前記複数の記録ストラテジに関する情報を前記機器識別情報と共に夫々記録し、
前記再生し利用するステップでは、
前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録された前記複数の試し書き領域のデータを再生し、
前記試し書き領域に記録されている前記機器識別情報と本光ディスク装置の機器識別情報とが一致した場合、再生した信号の品質に基づいて、前記複数の試し書き領域の中から最良の試し書き領域を選択し、
選択された前記最良の試し書き領域に記録されている記録ストラテジに関する情報を、最適な記録ストラテジに関する情報として決定する、
ことを特徴とする請求項６に記載の光ディスク装置の制御方法。
【請求項９】
前記有用情報は、前記光ディスクのバーストカッティングエリアに記録されているＢＣＡデータと、このＢＣＡデータを用いて試し書きを行う機器の機器識別情報とを含む情報であり、
前記記録するステップでは、
試し書き領域に前記ＢＣＡデータを前記機器識別情報と共に記録し、
前記再生し利用するステップでは、
前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録された前記試し書き領域のデータを再生し、
前記試し書き領域に記録されている前記機器識別情報と本光ディスク装置の機器識別情報とが一致した場合、前記光ディスクのバーストカッティングエリアにアクセスせずに、前記試し書き領域に記録されている前記ＢＣＡデータを利用する、
ことを特徴とする請求項６に記載の光ディスク装置の制御方法。
【請求項１０】
前記有用情報は、前記光ディスクのシステムリードインエリアに記録されているシステムリードインデータと、このシステムリードインデータを用いて試し書きを行う機器の機器識別情報とを含む情報であり、
前記記録するステップでは、
試し書き領域に前記システムリードインデータを前記機器識別情報と共に記録し、
前記再生し利用するステップでは、
前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録された前記試し書き領域のデータを再生し、
前記試し書き領域に記録されている前記機器識別情報と本光ディスク装置の機器識別情報とが一致した場合、前記光ディスクのシステムリードインエリアにアクセスせずに、前記試し書き領域に記録されている前記システムリードインデータを利用する、
ことを特徴とする請求項６に記載の光ディスク装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置、およびその制御方法に係り、特に、記録・再生型の光ディスク装置、およびその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
今日、記録可能な光ディスクとして、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等が広く普及している。
【０００３】
記録面上に集光されるレーザ光ビームを用いて情報の記録を行うこれらの光ディスクでは、光ディスクの材料や形状のばらつきによって記録時の最適なレーザパワーが光ディスクの種類や個体毎に異なることが多い。
【０００４】
そこで、この種の光ディスクでは、情報の記録を開始する前に、ディスク上の規定位置に確保されたＰＣＡ（Power  Calibration  Area）に試し書きを行い、試し書きの結果に基づいて、ディスク毎に最適な記録レーザパワーを学習して決定している。
【０００５】
しかしながら、試し書きによるレーザパワーの調整には比較的長い時間を要すため、この調整時間の短縮が課題となってきている。
【０００６】
この課題を解決するため、例えば、特許文献１には、光ディスク上に、試し書きを行う複数のテストゾーンと、このテストゾーンと１対１に対応付けられた複数のパワー設定情報ゾーンとを具備する技術が開示されている。パワー設定情報ゾーンには、テストゾーンを再生して得られる最適パワー情報、テストゾーンの位置情報、記録装置（ディスクドライブ）の機器識別情報等が記録される。このような情報を所定の領域に記録した後、次にデータを光ディスクに記録するときには、パワー設定情報ゾーンを再生して機器識別情報を読み出し、読み出した機器識別情報と自己の機器識別情報が一致した場合には、機器識別情報と共に読み出された最適パワー情報に基づいて記録レーザパワーを設定することにより、学習時間の短縮を図ろうとするものである。
【特許文献１】特許第３４５０８２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１が開示する技術によれば、過去に試し書きを行った機器と現在記録しようとしている機器が同じ機器である場合、確かに最適パワー情報を決定するための学習時間は短縮されうる。
【０００８】
しかしながら、特許文献１が開示する技術は、試し書き用のデータを記録するテストゾーンと、これに１対１に対応するパワー設定情報ゾーンとをペアで設ける必要がある。このため、１度の試し書きのために、２つのゾーンを必要とし、ＰＣＡの有効活用の観点からは改善の余地がある。
【０００９】
特許文献１が開示する技術においても、過去に試し書きを行った機器と現在記録しようとしている機器が異なる場合には、新たなテストゾーンと、これに対応するパワー設定情報ゾーンとを順次確保していく必要があるが、これらの領域が増えていき、所定のＰＣＡ内にテストゾーンを確保できなくなると試し書きができなくなり、その結果、例えユーザデータ記録領域に余裕があったとしても、その光ディスクには情報を記録することができなくなってしまう。特に、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒのように、１回だけの書き込みを許容する光ディスクでは、ＰＣＡに対しても上書きができないため、この問題は深刻である。
【００１０】
この意味においても、一度の試し書きに必要とされるゾーンは可能な限り少ないことが望ましく、ＰＣＡの有効活用が強く要望されるところである。
【００１１】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、記録・再生型の光ディスク装置において、最適な記録レーザパワー等の決定に必要な学習時間の低減を行うと共に、試し書きを行うＰＣＡの有効活用を行うことができる光ディスク装置、およびその制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク装置は、記録可能な光ディスクに対してデータの記録および再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスクの記録および再生の少なくとも一方に必要となる特定の有用情報を記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶される前記有用情報を、前記光ディスクに設けられる試し書き領域に記録し、前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録した前記有用情報を再生して利用する制御部と、を備えたことを特徴とする。
【００１３】
また、上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク装置の制御方法は、記録可能な光ディスクに対してデータの記録および再生を行う光ディスク装置の制御方法において、前記光ディスクの記録および再生の少なくとも一方に必要となる特定の有用情報を記憶し、記憶した前記有用情報を、前記光ディスクに設けられる試し書き領域に記録し、前記光ディスクが本光ディスク装置に挿入されたときに、記録した前記有用情報を再生して利用する、ステップを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明に係る光ディスク装置、およびその制御方法によれば、記録・再生型の光ディスク装置において、最適な記録レーザパワー等の決定に必要な学習時間の低減を行うと共に、試し書きを行うＰＣＡの有効活用を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
本発明の実施形態に係る光ディスク装置１、およびその制御方法について、添付図面を参照して説明する。
【００１６】
（１）光ディスク装置１の構成、及び記録・再生の基本的動作
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置１の構成例を示す図である。
【００１７】
光ディスク装置１は、記録・再生が可能な光ディスク２００、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＨＤ  ＤＶＤ−Ｒ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＡＭ等に対して記録および再生を行う装置である。
【００１８】
光ディスク装置１は、モータ１０２、ピックアップ１０３、ＲＦアンプ１０４、サーボ制御回路１０５、ＲＯＭ１０６、Flash−ＲＯＭ１０７、温度検出回路１０８、システム制御部（制御部）１０９、ＲＡＭ１１０、レーザ駆動回路１１１、記録／再生／消去制御波形発生回路１１２、復調回路１１３、再生信号評価回路１１４、変調回路１１５、入出力インタフェース１１６等を備えて構成されている。
【００１９】
上記のように構成された光ディスク装置１の基本的動作について概略説明する。まず、記録動作から説明する。
【００２０】
光ディスク装置１は、ホストコンピュータ１１７、例えばパーソナルコンピュータに接続されており、データ記録時には、ホストコンピュータ１１７から記録コマンドと共に記録データが送信されてくる。
【００２１】
記録データは、入出力インタフェース１１６を介して変調回路１１５へ入力される。変調回路１１５では、記録データを記録用符号に変調する。例えば、光ディスク２００が従来型のＤＶＤの場合には、８／１６変調方式によって、また、ＨＤ  ＤＶＤの場合には８／１２変調方式によって変調される。
【００２２】
符号変調された記録データは、記録／再生／消去制御波形発生回路１１２に入力される。記録／再生／消去制御波形発生回路１１２では、記録、再生、および消去の夫々のモードに応じたレーザパルス波形が生成される。
【００２３】
特に、データ記録時には、システム制御部１０９で設定される記録ストラテジに基づいて、光ディスク２００上に最適なピット形状を形成するためのレーザパルス波形が生成される。
【００２４】
図２は、記録ストラテジの概念を説明する図である。記録データは「６Ｔ」（例えば「１」が６ビット連続するデータ）や「３Ｔ」（例えば「１」が３ビット連続するデータ）に分類することができる（図２（ａ）参照）。このとき、例えば「６Ｔ」のデータを光ディスク２００に記録する場合、単純に６Ｔのパルス幅のレーザパルスを光ディスク２００に照射しても良好なピット形状が必ずしも得られない。そこで、実際には、図２（ｃ）に例示したように、複数の分割パルスから構成されるパルス列を光ディスク２００に照射することで、良好なピット形状を形成している。
【００２５】
最適なピット形状を形成するためのパルス波形に関する諸元（分割パルス数や各分割パルスのパルス幅等）は、「６Ｔ」や「３Ｔ」といった符号系列で異なるのみでなく、記録対象となる光ディスク２００の種類や材質等によって異なってくる。
【００２６】
このため、光ディスク装置１では、通常、パルス波形に関する諸元の情報を複数保有し、最適なパルス波形諸元を選択或いは設定するように構成されている。記録ストラテジとは、このようなパルス諸元の選択方法或いは設定方法をいう。また、パルス波形に関する諸元そのものを記録ストラテジということも多い。
【００２７】
記録ストラテジは、システム制御部１０９において選択、設定される。記録／再生／消去制御波形発生回路１１２では、この記録ストラテジに基づいて生成されたレーザパルス波形を生成し、レーザ駆動回路１１１に出力する。
【００２８】
レーザ駆動回路１１１は、ピックアップ１０３に内蔵するレーザ発振器のレーザパワーを調整する回路である。ここでも、最適なピット形状を形成するためには、記録用のレーザパワーの調整が非常に重要となる。
【００２９】
レーザパワーの調整が施されたレーザ駆動用のレーザパルス波形は、ピックアップ１０３に入力されレーザ光が光ディスク２００の記録面に照射され、ピットを形成する。
【００３０】
一方、再生時には、再生用のレーザパワーを有するレーザ光が光ディスク２００に照射され、その反射光がピックアップ１０３にてＲＦ信号に変換される。ＲＦ信号はＲＦアンプ１０４で適宜のレベルに調整され、復調回路１１３に入力される。復調回路１１３では、ＲＦ信号をデジタルデータに変換し、さらに符号復調を行う。
【００３１】
再生信号評価回路１１４では、符号復調された再生データに対して誤り訂正処理等を行う他、再生信号の品質評価、例えばＲＦ信号のジッタ評価や、誤り率評価を行っている。
【００３２】
誤り訂正処理が行われた再生データは、入出力インタフェース１１６を介してホストコンピュータ１１７に出力される。
【００３３】
サーボ制御回路１０５は、ピックアップ１０３から出力されるトラッキングエラー信号等の誤差信号に基づいて、ピックアップ１０３の位置や姿勢の制御を行う他、光ディスク２００を回転駆動するモータ１０２の速度制御等を行っている。
【００３４】
ＲＯＭ１０６には、光ディスク装置１自体の機器識別情報等のデータが記憶されている。また、Flash−ＲＯＭ１０７には、システム制御部１０９が備えるプロセッサ（図示せず）で実行されるファームウェアが記憶されている。
【００３５】
ＲＡＭ１１０には、プロセッサで処理される各種のデータが必要に応じて一時的に記憶される。
【００３６】
（２）光ディスク装置１の制御方法（第１の実施形態に係る記録学習）
上述したように、記録ストラテジは、光ディスク２００の種類や材料によって最適な内容が異なってくる。記録用レーザパワーについても同様である。また、光ディスク２００の種類や材料が基本的には同じであっても、製造ロットによる個体差や、経年変化による特性変化によって、最適な記録用レーザパワーや記録ストラテジは異なってくる場合がある。
【００３７】
このため、通常、光ディスク装置１では、ユーザエリアへの実データの記録に先立って試し書きを行い、最適な記録用レーザパワーや記録ストラテジ（以下、記録用レーザパワーと記録ストラテジとを総称する場合には、記録用パラメータという）を記録の都度決定する手順を取っており、この手順を「記録学習」と読んでいる。
【００３８】
試し書きは、光ディスク２００内のＰＣＡと呼ばれる所定の試し書き領域に対して行われる。試し書きは、例えば、初期値から所定のステップ幅で変化させた複数の記録用レーザパワーで行われる。或いは、少しずつ異なる内容の記録ストラテジを用いて試し書きが行われる。
【００３９】
これらの試し書きは、試し書き領域を複数の領域に分割し、分割された複数の領域に対して夫々異なる記録用パラメータを用いて記録される。
【００４０】
試し書き領域に記録されたデータは、直ぐに再生され、その再生信号を所定の評価基準に基づいて判定し、最適な記録用パラメータを決定する。例えばジッタ量が所定の閾値以下であり、かつ最もジッタ量が少ないものを最適記録用パラメータとして決定し、以降のユーザエリアに対する実データの記録は、この最適記録用パラメータを用いて行うものとしている。
【００４１】
ところで、従来、試し書き領域に記録されるデータは、意味の無いデータ、例えばランダムデータが記録されていた。
【００４２】
このため、記録学習が終了し、最適な記録用パラメータが決定された後は、記録済みの試し書き領域は役に立たない領域として放置されていた。
【００４３】
本発明のポイントは、試し書き時において、特定の意味のあるデータ（有用情報）を試し書き領域に記録することで、試し書き領域を有効に活用する点にある。以下、第１の実施形態に係る記録学習の方法について説明する。
【００４４】
記録学習は、試し書き領域（以下、テストゾーンともいう）にデータを記録するフェーズと、記録したデータを利用するフェーズからなる。
【００４５】
図３は、テストゾーンにデータを記録する処理例を示すフローチャートである。
【００４６】
まず、ステップＳＴ１で、テストゾーンを分割する。図４は、光ディスク２００の記録エリアの構成例を示す図である。光ディスク２００の記録エリアは、内側からＢＣＡ（Burst  Cutting  Area：バーストカッティングエリア）、ＰＣＡ、リードインエリア、データ記録エリア、およびリードアウトエリアに分割されている。テストゾーンは、このうちのＰＣＡに該当する領域であり、ステップＳＴ１でＰＣＡを所定のサイズに分割する。分割後のテストゾーンは、「ＴＥＳＴ１」、「ＴＥＳＴ２」のようにテストゾーン番号が割り付けられる。
【００４７】
記録学習は、Flash−ＲＯＭ１０７に記憶されているファームウェアをシステム制御部１０９のプロセッサが実行することで行われるが、記録学習の種類によってテストゾーンに記録するデータの種類やデータ量が異なってくる。そこで、テストゾーンの分割サイズは、ファームウェアで設定するものとしている。
【００４８】
次に、ステップＳＴ２において、実行する記録学習の内容に合わせて、テストゾーンに記録するデータとその組合せを選択する。
【００４９】
図５は、テストゾーンに記録するデータ項目の例を示す図である。このうち、ドライブ情報（テストゾーンに記録する光ディスク装置１の自己の機器識別情報）、および日付（記録日）は、記録学習の種類に関わらず必ず記録するものとする。
【００５０】
記録用レーザパワー以下のデータ項目は、記録学習の種類によって選択し、組み合わせるデータである。
【００５１】
記録学習の種類には、例えば、最適な記録レーザパワーを決定するレーザパワー記録学習や、最適な記録ストラテジを決定するストラテジ記録学習がある。レーザパワー記録学習を行う場合には、図５のうち、「記録用レーザパワー」を選択する（「記録ストラテジ」は選択しない）ことになる。選択した「記録用レーザパワー」の具体的内容としては、例えば、記録用レーザパワーの初期値「Ｚ」と増分ステップ「α」とが設定される。
【００５２】
この他、テストゾーンに記録する時の付帯条件として、ラジアルチルト角等の「サーボパラメータ」、温度検出回路１０６で検出される「ドライブ温度」、光ディスク２００が書き換え型の場合にはその「書き込み回数」、データの記録がランドに対して記録するのか、グルーブに対して記録するのかを示す「ランド・グルーブ情報」等の項目を適宜選択し、その内容を設定する。
【００５３】
次に、選択されたデータ項目の内容をＲＡＭ（記録部）１１０にテーブルの形態で設定する（ステップＳＴ３）。
【００５４】
図６は、記録学習の種類がレーザパワー記録学習の場合におけるテーブルの設定例を示す図である。
【００５５】
「テストゾーン番号」の「１」、「２」等は、図４の「ＴＥＳＴ１」、「ＴＥＳＴ２」等に夫々対応するものである。上述したように、各分割テストゾーンの「ドライブ情報」欄と「日付」欄には、ステップＳＴ２で設定したデータ、例えば「Ｘ」と「Ｙ」が必ず設定される。
【００５６】
一方、「パワー設定」欄には、レーザパワー記録学習で必要となる複数のレーザパワーが設定される。具体的には、テストゾーン１には初期値「Ｚ」を設定し、テストゾーン２以降には、初期値「Ｚ」に対してステップ「α」で増加させた複数のレーザパワーを設定する。「パワー設定」欄よりも下の欄には、ステップＳＴ２で選択した付帯条件等のデータ項目の内容が記憶される。
【００５７】
次に、各分割テストゾーンのデータは、変調回路１１５にて符号変調される（ステップＳＴ４）。図６のテーブルには、符号変調された変調データ（Ｍ１，Ｍ２等）も併せて示している。
【００５８】
ステップＳＴ５では、テーブルのテストゾーン番号に対応した光ディスク２００の各テストゾーンに順次変調データを記録していく。この時、システム制御部１０９からレーザ駆動回路１１１に対しては、テーブルの「パワー設定」欄に記載された記録用レーザパワーが設定される。即ち、各テストゾーンに記録される記録用レーザパワーのデータと、そのデータをテストゾーンに記録するレーザ光のレーザパワーとの間に整合が採られた形態で試し書きが行われることになる。
【００５９】
次に、テストゾーンに記録されたデータを利用する方法について、図７のフローチャートを用いて説明する。
【００６０】
ステップＳＴ１１で、光ディスク装置１に光ディスク２００が挿入される。挿入される光ディスク２００には、他の光ディスク装置１が前述した手順でテストゾーンに試し書きしたものも含まれる。
【００６１】
データの記録時には、ホストコンピュータ１１７から光ディスク装置１に対して、記録用データと共に、記録コマンドが送信される。また、通常、記録コマンドと共に記録学習を指示する記録学習コマンドも送信される。
【００６２】
光ディスク装置１では、この記録学習コマンドを受信すると（ステップＳＴ１２）、まず温度検出回路１０８で検出されるドライブ温度をモニタする。ドライブ温度が所定の閾値よりも高い場合は（ステップＳＴ１３のＮｏ）、正常な記録動作が保証できないため、処理を終了する。この際、ユーザに適宜のアラーム情報を提供する形態としても良い。
【００６３】
ドライブ温度が所定の閾値よりも低い場合は（ステップＳＴ１３のＹｅｓ）、ステップＳＴ１４へ進みＰＣＡ（テストゾーン）内の記録済み領域をサーチする。
【００６４】
テストゾーンに記録学習データが無い場合には（ステップＳＴ１５のＮｏ）、ステップＳＴ１９へ進む。ステップＳＴ１９は、テストゾーンへの記録処理を行う処理であり、具体的には、図３のステップＳＴ１からステップＳＴ５までの処理を行う。
【００６５】
一方、テストゾーンに記録学習データが有る場合には（ステップＳＴ１５のＹｅｓ）、ステップＳＴ１６に進み、テストゾーンに記録さされている機器識別情報（ドライブＩＤ）と、光ディスク装置１の機器識別情報とが同じか否かを判定する。
【００６６】
機器識別情報が一致した場合には、さらにステップＳＴ１７にて、テストゾーンに記録されている記録日（日付）を参照し、記録日が比較的新しいものか否か、例えば、１年以内にテストゾーンへの記録が行われたか否かを判定する。
【００６７】
機器識別情報の不一致は、テストゾーンに記録した光ディスク装置１と、現在光ディスク２００が挿入されている光ディスク装置１とが異なる機器であることを意味している。通常、同一の光ディスク２００と同一の光ディスク装置１の間では、最適な記録用レーザパワーは維持されるものの、いずれか一方が異なった場合、最適な記録用レーザパワーが同じであることは保証されない。
【００６８】
また、同じ光ディスク２００であっても長時間経過すると材料等の特性が経年変化し、最適な記録用レーザパワーが変化する可能性もある。
【００６９】
そこで、ステップＳＴ１６、ステップＳＴ１７で否定的判定の場合には、未記録のテストゾーンに移動させ（ステップＳＴ１８）、この未記録のテストゾーンに対して新たに試し書きを行う（ステップＳＴ１９）ものとしている。
【００７０】
ステップＳＴ１６、ステップＳＴ１７が肯定的判定の場合には、最適な記録用レーザパワーが維持されていることが保証されている。
【００７１】
このため、新たに試し書きを行うことなく、過去に記録した試し書きデータを利用することができる。
【００７２】
ステップＳＴ２０では、各テストゾーンのデータを再生し、その再生信号の品質が最良のテストゾーンを選択する。再生信号の品質の種類は、例えば、ＲＦ信号のジッタや、再生データの誤り率等である。ＲＦ信号のジッタの場合、比較的短時間で判定し選択することができる。
【００７３】
最良の品質のテストゾーンを選択した後は、そのテストゾーンに記録されている記録用レーザパワーデータを最適な記録用レーザパワーとして抽出し、レーザ駆動回路１１１に設定する（ステップＳＴ２１）。
【００７４】
以降は、この記録用レーザパワーを用いて、光ディスク２００のデータ記録エリアにホストコンピュータ１１７から出力された記録データを記録していく。
【００７５】
ここまでは、主にレーザパワー記録学習について説明してきたが、ストラテジ記録学習についても全く同様の処理で実現できる。
【００７６】
第１の実施形態に係る記録学習方法によれば、一度テストゾーンに試し書きを行っておけば、同じ光ディスク２００に対して同じ光ディスク装置１で記録を行う場合、２回目以降の試し書きは不要であり、従来に比べて記録学習時間が短縮される。
【００７７】
また、第１の実施形態に係る記録学習方法は、テストゾーンに機器識別情報や記録用パラメータ等の意味のある情報（有用情報）を記録する形態である。
【００７８】
このため、特許文献１のように、試し書き用のデータ（例えばランダムなデータ）を記録するテストゾーンと、これに１対１に対応するパワー設定情報ゾーンとをペアで設ける必要がなく、テストゾーンの有効活用が可能となる。
【００７９】
（３）光ディスク装置１の制御方法（第２の実施形態に係る記録学習）
テストゾーンに試し書きを行うデータとしては、記録用パラメータ以外の他の有用情報でもよい。第２の実施形態に係る記録学習は、ＢＣＡデータをテストゾーンに記録する形態であり、この処理例を図８のフローチャートに示す。
【００８０】
光ディスク２００が光ディスク装置１に挿入される（ステップＳＴ２１）と、最初にＢＣＡに記録されているＢＣＡデータを読み取る（ステップＳＴ２２）。ＢＣＡは、図４に示したように光ディスク２００の最内周に設けられているエリアであり、他の領域とは異なってバーコード状にＢＣＡデータが記録されている。ＢＣＡには、例えば著作権保護に関する情報等がＢＣＡデータとして記録されている。
【００８１】
読み取ったＢＣＡデータは、ＲＡＭ（記憶部）１１０に記憶される（ステップＳＴ２３）。このＢＣＡデータは変調回路１１５で符号変調され、同じくＲＡＭ（記憶部）１１０に記憶される（ステップＳＴ２４）。
【００８２】
第１の実施形態で説明したように、データを光ディスク２００に記録する際には、ホストコンピュータ１１７から記録学習コマンドが送信され、光ディスク装置１はこれを受信する（ステップＳＴ２５）。
【００８３】
記録学習コマンドを受信すると、光ディスク２００の分割されたテストゾーンに、記録用パラメータ、例えば記録用レーザパワーを変えながら、ＲＡＭ（記憶部）１１０に記憶されている変調データ（ＢＣＡデータ）を記録する（ステップＳＴ２６）。このとき、テストゾーン番号と対応付けて記録用レーザパワーの値を別途記憶しておく。第２の実施形態では、同じＢＣＡデータが異なるレーザパワーで各分割テストゾーンに記録されることになる。
【００８４】
テストゾーンにＢＣＡデータを記録した後、直ぐに各テストゾーンを再生し、再生信号の品質が最良のテストゾーンを選択する。例えば、ジッタが所定の閾値よりも低く、かつ最も小さなテストゾーンを選択する（ステップＳＴ２７）。
【００８５】
最後に、テストゾーン番号と対応付けて別途記憶した記録用レーザパワーの値を、レーザ駆動回路１１１に設定する。以降は、この記録用レーザパワーを用いて、光ディスク２００のデータ記録エリアにホストコンピュータ１１７から出力された記録データを記録していく。
【００８６】
次に、テストゾーンに記録されたＢＣＡデータの利用方法について説明する。図９は、テストゾーンに記録されたＢＣＡデータの読み込み処理例を示すフローチャートである。
【００８７】
光ディスク２００が挿入されると（ステップＳＴ３１）、まず、テストゾーン内の記録済み領域をサーチし（ステップＳＴ３２）、テストゾーンにＢＣＡデータが記録されているか否かを判定する。
【００８８】
テストゾーンにＢＣＡデータが記録されている場合には（ステップＳＴ３３のＹｅｓ）、さらに機器識別情報が一致しているか否かを判定する（ステップＳＴ３４）。機器識別情報が一致している場合には、記録されているＢＣＡデータの信頼性を所定の閾値に基づいて判定する（ステップＳＴ３５）。例えば、再生したＢＣＡデータの誤り率や、再生信号のジッタ量に基づいて信頼性を判定する。
【００８９】
テストゾーンに記録されているＢＣＡデータが、信頼性の高いデータであると判定されると、そのＢＣＡデータを採用し、著作権保護に関する処理等に利用する。
【００９０】
一方、テストゾーンにＢＣＡデータが記録されていない場合（ステップＳＴ３３のＮｏ）や、記録されていても利用できないと判定された場合には（ステップＳＴ３４のＮｏ、およびステップＳＴ３５のＮｏ）、ＢＣＡ（バーストカッティングエリア）にアクセスし、そこに記録されているＢＣＡデータを読み出して利用することになる。
【００９１】
前述したように、ＢＣＡは、テストゾーンを含む他の領域とは異なる形態でデータが記録されている。このため、ＢＣＡへのアクセス時間（シーク時間）は、他の領域へのアクセス時間よりも長くる他、他の領域とは異なる回転速度制御が必要となる。また、記録信号の帯域も他の領域とは異なるため、帯域切換え等の時間も必要となる。
【００９２】
第２の実施形態に係る記録学習によれば、一度はＢＣＡへアクセスし、ＢＣＡデータを読み取る必要があるが、一旦ＢＣＡデータを読み取ってテストゾーンへ記録した後はテストゾーンにアクセスしてＢＣＡデータを利用する形態であるため、ＢＣＡ（バーストカッティングエリア）へのアクセスが不要となり、処理時間が短縮される。ＢＣＡデータの利用は、記録時だけではなく再生時にも常に行われるものであり、その意味でＢＣＡデータの読み出し処理時間の短縮は有用である。
【００９３】
しかも、ＢＣＡデータをテストゾーンに記録することで、ユーザデータが記録されるデータ記録エリアを侵食することなく、かつ、ＢＣＡデータを用いて記録学習も従来と同様に行うことができる。このように、第２の実施形態に係る記録学習においても、テストゾーンの有効活用が実現できる。
【００９４】
また、ＨＤ  ＤＶＤの場合には、システムリードインと呼ばれる領域がある。システムリードインエリアには、ディスクの種類やフォーマット、製造情報等のデータが記録されている。
【００９５】
第２の実施形態は、ＢＣＡデータをテストゾーンに記録する形態であるが、ＢＣＡデータに替えて、システムリードインエリアに記録されているデータをテストゾーンデータに記録する形態としてもよい。
【００９６】
例えば、システムリードインエリアは、データエリアよりも記録トラックの間隔が広く、また記録マークの長さも長いので、システムリードインエリアの再生には帯域切替え等を要する。このシステムリードインエリアに記録されているデータを、記録トラックの間隔がデータエリアと等しいテストゾーンに記録することで、帯域切替え等の処理時間が短縮されイニシャル時間を短縮することが可能となる。
【００９７】
以上説明してきたように、本実施形態に係る光ディスク装置１、およびその制御方法によれば、最適な記録レーザパワー等の決定に必要な学習時間の低減を行うと共に、試し書きを行うＰＣＡの有効活用を行うことができる。
【００９８】
なお、本発明は上記の実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組合せにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
【図面の簡単な説明】
【００９９】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成例を示す図。
【図２】記録ストラテジの概念を説明する図。
【図３】テストゾーンにデータを記録する処理例を示すフローチャート。
【図４】光ディスクの記録エリアの構成例を示す図。
【図５】テストゾーンに記録するデータ項目の例を示す図。
【図６】記録学習の種類がレーザパワー記録学習の場合におけるテーブルの設定例を示す図。
【図７】テストゾーンに記録されたデータを利用する方法を示すフローチャート。
【図８】ＢＣＡデータをテストゾーンに記録するときの処理例を示すフローチャート。
【図９】テストゾーンに記録されたＢＣＡデータの読み込み処理例を示すフローチャート。
【符号の説明】
【０１００】
１  光ディスク装置
１０２  モータ
１０３  ピックアップ
１０４  ＲＦアンプ
１０５  サーボ制御回路
１０６  ＲＯＭ（ドライブＩＤ用）
１０７  Flash−ＲＯＭ（ファームウェア用）
１０８  温度検出回路
１０９  システム制御部（制御部）
１１０  ＲＡＭ（記憶部）
１１１  レーザ駆動回路
１１２  記録／再生／消去制御波形発生回路
１１３  復調回路
１１４  再生信号評価回路
１１５  変調回路
１１６  入出力インタフェース
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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