(57)【要約】【課題】被試験装置のノイズ印加端子と内部ユニットとの間の絶縁が不完全な場合にも内部ユニットの破損を確実に防止でき、しかも試験パターンの多いノイズ試験を簡易にする。【解決手段】ノイズ試験器１は、設定器１Ａ，１Ｂで設定されたノイズ電圧を被試験装置２の印加部位に印加する際、耐ノイズ性が弱い電子回路ユニット２Ａのノイズ電圧をプローブ１Ｅで検出し、このノイズ電圧が設定器１Ｄで設定された電圧値（閾値）を超えた場合に接点１Ｆをオフしてノイズ印加を停止する。  設定器１Ａ，１Ｂ，１Ｄを試験パターンとしてプログラム設定し、ノイズ試験開始には試験パターンを自動的に発生する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
設定されたノイズ電圧をノイズ試験器で発生し、このノイズ電圧を被試験装置の試験部位に印加してその耐ノイズ性試験を行うノイズ試験装置であって、
前記ノイズ試験器は、被試験装置に搭載する電子回路ユニットまたはデバイスのうち、耐ノイズ性が弱い回路部位のノイズ電圧を検出し、このノイズ電圧が予め設定された電圧値（閾値）を超えた場合にノイズ印加を停止する試験停止手段を備えたことを特徴とするノイズ試験装置。
【請求項２】
前記ノイズ試験器は、被試験装置に印加するノイズ電圧値、ノイズ印加時間および前記試験停止手段の設定電圧値を試験パターンとしてプログラム設定し、ノイズ試験開始には試験パターンを自動的に発生するプログラム設定手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載のノイズ試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器の耐ノイズ試験を行うためのノイズ試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
遠方監視制御装置などの電子機器では、耐ノイズ仕様（振動性サージ、方形波インパルス性ノイズなど）に従ったノイズ試験を行い、ノイズによる誤動作、異常がないことの確認を行っている。例えば、振動性サージ試験では、下記のノイズを印加して、装置状態に異常がないかを確認する。
【０００３】
（振動性サージ試験の試験条件）
・印加電圧：２．５ｋＶ
・印加部位：電源入力Ｐ端子―大地間、電源入力Ｎ端子−大地間、電源入力Ｐ端子−電源入力Ｎ端子間
・試験方法：１０秒間３回印加
現在のノイズ試験では、図３に示すように、ノイズ試験器に上記の印加電圧―印加時間を設定し、手動にてノイズ試験を行っている。同図において、ノイズ試験器１は、ノイズ電圧設定器１Ａとノイズ印加時間設定器１Ｂを操作して印加電圧及び印加時間をディジタルスイッチ等を使って手動にて設定し、ノイズ出力端子と被試験装置２のノイズ印加部位の間にプローブで接続、及び両接地端子を接地した後、スタート釦１Ｃを押し下げることで被試験装置２にノイズを印加する。このノイズ印加に対して、被試験装置２の異常の有無をチェックする。
【０００４】
このノイズ試験方法において、被試験装置として耐え得るべきノイズを印加しているが、新規開発品などでは何らかの要因で、耐ノイズ性が弱い電子回路ユニットや電子回路デバイス（ＬＳＩ、ＩＣなど）にノイズが印加され、この素子または機能を破損してしまうことが考えられる。
【０００５】
電子回路デバイスへの高電圧印加を防止するノイズ試験方法として、ノイズ試験器１の接地端子と被試験装置２の接地端子を切り離すことで、被試験装置２内の電子回路デバイス等には高電圧が直接に印加されないようにするものがある（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１１−２３１００９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
前記の特許文献１の試験装置では、被試験装置の電源入力Ｐ端子やＮ端子と内部電子回路デバイス間が完全に絶縁されていることを前提としており、絶縁が不完全な場合には耐ノイズ性が弱い電子回路デバイス等がノイズ印加で破損してしまう。
【０００７】
また、前項のノイズ印加例では、比較的試験パターンが少ないが、試験項目によっては、試験パターンの多いノイズ試験を実施する場合、手動試験では時間と手間がかかる問題もある。
【０００８】
本発明の目的は、被試験装置のノイズ印加端子と内部ユニット（電子回路ユニットまたは電子回路デバイス）との間の絶縁が不完全な場合にも内部ユニットの破損を防止でき、しかも試験パターンの多いノイズ試験を簡易にしたノイズ試験装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、前記の課題を解消するために、ノイズ試験器では被試験装置に搭載する電子回路ユニットまたはデバイスのうち、耐ノイズ性が弱い回路部位のノイズ電圧を検出し、このノイズ電圧が予め設定された電圧値（閾値）を超えた場合にノイズ印加を停止するようにしたもので、以下の構成を特徴とする。
【００１０】
（１）設定されたノイズ電圧をノイズ試験器で発生し、このノイズ電圧を被試験装置の試験部位に印加してその耐ノイズ性試験を行うノイズ試験装置であって、
前記ノイズ試験器は、被試験装置に搭載する電子回路ユニットまたはデバイスのうち、耐ノイズ性が弱い回路部位のノイズ電圧を検出し、このノイズ電圧が予め設定された電圧値（閾値）を超えた場合にノイズ印加を停止する試験停止手段を備えたことを特徴とする。
【００１１】
（２）前記ノイズ試験器は、被試験装置に印加するノイズ電圧値、ノイズ印加時間および前記試験停止手段の設定電圧値を試験パターンとしてプログラム設定し、ノイズ試験開始には試験パターンを自動的に発生するプログラム設定手段を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
以上のとおり、本発明によれば、ノイズ試験器では被試験装置に搭載する電子回路ユニットまたはデバイスのうち、耐ノイズ性が弱い回路部位のノイズ電圧を検出し、このノイズ電圧が予め設定された電圧値（閾値）を超えた場合にノイズ印加を停止するようにしたため、被試験装置のノイズ印加端子と内部ユニット（電子回路ユニットまたは電子回路デバイス）との間の絶縁が不完全な場合にも内部ユニットの破損を確実に防止できる。
【００１３】
また、被試験装置に印加するノイズ電圧値、ノイズ印加時間および試験停止設定電圧値を試験パターンとしてプログラム設定することにより、試験パターンの多いノイズ試験が簡易になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
（実施形態１）
図１は、本実施形態を示すノイズ試験装置であり、ノイズ検出プローブによるノイズ出力停止機能を装備したものである。
【００１５】
本実施形態では、被試験装置内部において耐ノイズ仕様が弱い部分（本来、印加されないのだが、何らかの要因でそれに近いノイズが印加されると破損に至る部分）に対して、ノイズを検出するプローブを接続し、このプローブで検出された電圧が停止設定で設定された電圧値（閾値）を超えた場合、ノイズ出力を停止する機能をノイズ試験器に装備する。
【００１６】
設定する電圧値（閾値）は、ノイズ出力停止対象ユニット（または電子回路デバイス）の耐ノイズに対して、これを超えない電圧値を設定する。例えば、対象ユニットの耐ノイズ電圧が１ｋＶである場合は、電圧値（閾値）は０．８ｋＶに設定する。
【００１７】
図１が図３と異なる部分は、ノイズ試験器１には停止電圧設定器１Ｄを設け、ノイズ出力を停止する電圧値（閾値）を設定する。また、ノイズ検出プローブ１Ｅを設け、この一端を被試験装置２のノイズ出力停止対象ユニット２Ａの耐ノイズ仕様が弱い部分に接続し、他端をノイズ試験器１内のノイズ電圧判定回路のノイズ電圧入力とする。ノイズ電圧判定回路は、図示を省略するが、停止電圧設定器１Ｄで設定した電圧値（閾値）ＶSとノイズ検出プローブ１Ｅで検出されるノイズ電圧ＶNとの大小を比較し、ＶN＞ＶSになった場合にはノイズ印加出力ラインに設けた接点（半導体素子構成の高速遮断スイッチ）１Ｆをオフしてノイズ印加を停止し、この停止状態を保持する。さらに、ノイズ電圧判定回路は、ノイズ印加を停止したときには、スタート釦１Ｃの操作禁止および警報器やランプ表示等で試験者に通報し、対象ユニット２Ａや被試験装置２全体の絶縁異常チェックを促す。
【００１８】
したがって、本実施形態によれば、スタート釦１Ｃを押し下げて試験電圧の印加を開始したとき、対象ユニット２Ａに発生したノイズ電圧ＶNが電圧値（閾値）ＶSを超えたときに瞬時にノイズ印加を停止し、対象ユニット２Ａの破損を防止できる。
【００１９】
なお、本実施形態ではノイズ検出プローブ１Ｅは１つの対象ユニット２Ａにのみ接続する場合を示すが、被試験装置２が多数のユニット構成になり、耐ノイズ性の弱いユニットを複数内蔵する場合は、複数のノイズ検出プローブを設け、各ユニットのノイズ検出と大小判定を行い、少なくとも１つのユニットでノイズ電圧ＶNが電圧値（閾値）ＶSを超えたときに瞬時にノイズ印加を停止する構成とすることができる。この場合、ノイズ電圧判定回路は、同じ閾値とすることなく、対象ユニット別に設定した閾値を基に判定するのが好ましい。
【００２０】
（実施形態２）
図２は、本実施形態を示すノイズ試験装置であり、ノイズ検出プローブによるノイズ出力停止機能に加えて、設定器の設定値（電圧、時間）の自動化機能を装備したものである。
【００２１】
実施形態１では手動試験方式によるノイズ出力停止機能であるが、本実施形態ではこの機能に加えて、印加電圧・印加時間及び停止設定を試験パターンとしてプログラム設定し、ノイズ試験開始には試験パターンを自動的に発生してノイズ試験ができる機能を付加する。
【００２２】
図２が図１と異なる部分は、設定器１Ａ、１Ｂ、１Ｄに代えて、マイクロコンピュータで構成するプログラム設定器１Ｇを設ける。この設定器１Ｇは同図中に画面例を示すように、釦部と数値表示部の画面をもち、印加電圧、印加時間及び停止電圧の試験パターンのプログラム設定を可能にする。この設定後、スタート釦１Ｃを押し下げることで、プログラム設定した試験パターンによりノイズ試験を実行する。そして、停止電圧の設定を超えるノイズ電圧を検出した場合は接点１Ｆをオフしてノイズ印加を停止する。
【００２３】
プログラム設定器１Ｇの画面構成を説明する。試験プログラム設定部Ｇ１は、印加するノイズの電圧値、印加時間をステップ釦で段階的に上げ下げ設定し、プログラムＮｏによる試験プログラムの番号を設定し、読出、書込、保存釦により試験プログラムの読み出し、書き込み、保存を行う。
【００２４】
試験停止設定部Ｇ２は、ノイズ検出プローブで検出する電圧に対して、試験を停止する電圧値を釦設定し、停止チャネル釦で接続されるプローブのチャネルを設定する。テンキー部Ｇ３は、各電圧、時間、チャネルの数値を本キーにて入力する。
【００２５】
この構成の設定器１Ｇによる設定手順は、当該設定の選択釦（数字表示器の右釦）を押し下げ、テンキー部Ｇ３にて設定したい値を入力し、「Ｅｎｔｅｒ釦」で設定値を確定し、全ての設定が完了したら、「書込」釦で全設定を確定する。
【００２６】
したがって、本実施形態によれば、試験パターンおよび停止電圧のプログラム設定と保存が可能となり、電圧、時間データと突合せ確認しながらの手動設定に比べて、設定操作が簡単になる。特に、機種等が異なる複数の被試験装置のノイズ試験を実行する際には、過去の設定値を読み出す釦操作で済み、設定操作を大幅に簡略化し、しかも確実な設定ができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本発明の実施形態１を示すノイズ試験装置の構成図。
【図２】本発明の実施形態２を示すノイズ試験装置の構成図。
【図３】従来のノイズ試験装置の構成図。
【符号の説明】
【００２８】
１  ノイズ試験器
２  被試験装置
１Ａ  ノイズ電圧設定器
１Ｂ  ノイズ印加時間設定器
１Ｃ  スタート釦
１Ｄ  停止電圧設定器
ＩＥ  ノイズ検出プローブ
１Ｇ  プログラム設定器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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