(57)【要約】【課題】入力信号と同期する同期クロックを高い精度で且つ素早く生成する。【解決手段】ＣＤ−ＲＯＭ５０のピット／ランドに対応するパルス列からなるＳＵ信号において複数のハイレベル区間及びローレベル区間が連続した連続区間における再生クロックのクロック数を、連続区間におけるハイレベル区間及びローレベル区間の合計数で除して平均クロック数を算出する。所定の基準周波数に平均クロック数に対する最小クロック数の比を乗じて中間周波数を算出する。再生クロックのクロック数が最小クロック数未満となるハイレベル区間又はローレベル区間であるショート区間が検出されなくなるように、中間周波数を補正して再生クロックの新たな周波数とする。【選択図】図１
2008065871.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
同期クロックを生成するクロック生成手段と、
外部からの入力信号の振幅を２値化して、立ち上がりエッジから次の立ち下がりエッジまでのハイレベル区間、及び、立ち下がりエッジから次の立ち上がりエッジまでのローレベル区間の長さが、所定の周期のｉ〜ｊ倍（ｉ＜ｊ：ｉ、ｊは正の自然数）となり得る２値化波形を生成する２値化波形生成手段と、
前記２値化波形における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間が交互に複数連続した連続区間中における、前記同期クロックの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの数であるクロック数をカウントするクロック数カウント手段と、
前記２値化波形における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間のうち、前記同期クロックのクロック数が、前記周期のｉ倍の長さに割り当てられた所定の最小クロック数未満となる前記ハイレベル区間又は前記ローレベル区間であるショート区間を検出する検出手段と、
前記クロック数カウント手段がカウントしたクロック数を前記連続区間における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間の合計数で除した平均クロック数を算出し、前記平均クロック数が前記最小クロック数となる前記同期クロックの周波数である所定の基準周波数に、前記平均クロック数に対する前記最小クロック数の比を乗じた中間周波数を算出し、前記検出手段の検出結果に基づいて、前記検出手段が前記ショート区間を検出しなくなるように、前記中間周波数の値を補正することによって、前記同期クロックの新たな周波数を算出する同期周波数算出手段とを備えていることを特徴とするクロック生成回路。
【請求項２】
同期クロックを生成するクロック生成手段と、
外部からの入力信号の振幅を２値化して、立ち上がりエッジから次の立ち下がりエッジまでのハイレベル区間、及び、立ち下がりエッジから次の立ち上がりエッジまでのローレベル区間の長さが、所定の周期のｉ〜ｊ倍（ｉ＜ｊ：ｉ、ｊは正の自然数）となり得る２値化波形を生成する２値化波形生成手段と、
前記２値化波形における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間が交互に複数連続した連続区間中における、前記同期クロックの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの数であるクロック数をカウントするクロック数カウント手段と、
前記２値化波形における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間のうち、前記同期クロックのクロック数が、前記周期のｉ倍の長さに割り当てられた所定の最小クロック数未満となる前記ハイレベル区間又は前記ローレベル区間であるショート区間を検出する検出手段と、
前記クロック数カウント手段がカウントしたクロック数を前記連続区間における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間の合計数で除した平均クロック数を算出し、前記平均クロック数が前記最小クロック数となる前記同期クロックの周波数である所定の基準周波数に、前記平均クロック数に対する前記最小クロック数の比を乗じて前記同期クロックの新たな周波数を算出するとき、前記検出手段の検出結果に基づいて、前記検出手段が前記ショート区間を検出しなくなるように、前記平均クロック数、及び、前記連続区間における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間の数の少なくともいずれかを補正する周波数算出手段とを備えていることを特徴とするクロック生成回路。
【請求項３】
前記検出手段が、検出した前記ショート区間の数を積算した結果を検出結果として出力することを特徴とする請求項１又は２に記載のクロック生成回路。
【請求項４】
前記検出手段が、前記ショート区間を検出しなくなるまで、前記同期周波数算出手段が算出した新たな周波数を有する前記同期クロックを前記クロック生成手段が生成し、前記同期周波数算出手段が当該同期クロックに関して新たな周波数を算出することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のクロック生成回路。
【請求項５】
円盤形状を有していると共にレーザ光を照射したときの反射光の状態が互いに異なる第１反射領域及び第２反射領域が表面の周方向に沿って交互に配列された光学記録媒体において、前記周方向に沿って前記第１反射領域及び前記第２反射領域に前記レーザ光を照射したときの反射光に基づいて生成される前記入力信号が入力されたとき、前記ハイレベル区間の長さが前記第１反射領域の前記周方向に関する長さに、前記ローレベル区間の長さが前記第２反射領域の前記周方向に関する長さに対応するような前記２値化波形を前記２値化波形生成手段が生成することを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載のクロック生成回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力信号に同期する同期クロックを生成するクロック生成回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
光学記録媒体の1つとして知られるＣＤ−ＲＯＭの表面には、凸部であるピットと凹部であるランドとが周方向に沿って交互に配列されている。ピット／ランドの配列パターンはＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）で変調されたデータに基づいて形成されている。ＣＤ−ＲＯＭドライブにおいては、ピット／ランドの配列方向に沿って半導体レーザを線速度一定で照射するとともに、ピット／ランドからの反射光を読み取り、反射光の位相変化などに基づいて再生信号を生成する。さらに、この再生信号をピット／ランドの配列パターンに対応するパルス列からなる２値化信号に変換する。ピット／ランドの配列パターンがＥＦＭで変調されたデータに基づいて形成されているため、この２値化信号は、ハイレベル区間及びローレベル区間のそれぞれが基本周期をＴとしたときに、３Ｔ〜１１Ｔの範囲で決定されている。
【０００３】
このような２値化信号を読み出すために、２値化信号と同期、即ち、基本周期Ｔと同期するような再生クロック（同期クロック）を用いる。２値化信号と同期するように再生クロックを粗調整するために、２値化信号におけるハイレベル区間及びローレベル区間を粗調整前の再生クロックのパルス数でカウントすることによって、１１Ｔのハイレベル区間又はローレベル区間を検出し、この１１Ｔのハイレベル区間又はローレベル区間における再生クロックのパルス数が１１になるように、再生クロックの周波数を調整する。さらに、２値化信号におけるハイレベル区間及びローレベル区間を周波数調整後の再生クロックのパルス数でカウントすることによって、３Ｔのハイレベル区間又はローレベル区間を検出し、この３Ｔのハイレベル区間又はローレベル区間における再生クロックの立ち上がり及び立ち下がりが一致するように、再生クロックの位相を調整する技術が知られている（特許文献１）。
【０００４】
【特許文献１】特開平６−２８８８４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述した技術においては、２値化信号における最長区間である１１Ｔのハイレベル区間又はローレベル区間を基準にして再生クロックの周波数を粗調整しているが、一般に、規格上最長のピット／ランド、即ち、この場合１１Ｔのハイレベル区間又はローレベル区間の発生頻度が低い。このため、１１Ｔのハイレベル区間又はローレベル区間の検出に時間がかかる。また、ＣＤ−ＲＯＭの表面に形成された傷等の影響で最長のハイレベル区間又はローレベル区間を誤検出する可能性があり、再生クロックの周波数を正確に決定することができなくなる可能性もある。他の方法として、光ピックアップの位置情報に基づく調整方法が挙げられるが、光ピックアップの位置のような機械的な位置は精度が低いため、再生クロックの周波数を正確に決定することは難しい。
【０００６】
そこで、本発明は、入力信号と同期する同期クロックを高い精度で且つ素早く生成することができるパルス生成回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明のパルス生成回路は、同期クロックを生成するクロック生成手段と、外部からの入力信号の振幅を２値化して、立ち上がりエッジから次の立ち下がりエッジまでのハイレベル区間、及び、立ち下がりエッジから次の立ち上がりエッジまでのローレベル区間の長さが、所定の周期のｉ〜ｊ倍（ｉ＜ｊ：ｉ、ｊは正の自然数）となり得る２値化波形を生成する２値化波形生成手段と、前記２値化波形における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間が交互に複数連続した連続区間中における、前記同期クロックの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの数であるクロック数をカウントするクロック数カウント手段とを備えている。さらに、前記２値化波形における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間のうち、前記同期クロックのクロック数が、前記周期のｉ倍の長さに割り当てられた所定の最小クロック数未満となる前記ハイレベル区間又は前記ローレベル区間であるショート区間を検出する検出手段と、前記クロック数カウント手段がカウントしたクロック数を前記連続区間における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間の合計数で除した平均クロック数を算出し、前記平均クロック数が前記最小クロック数となる前記同期クロックの周波数である所定の基準周波数に、前記平均クロック数に対する前記最小クロック数の比を乗じた中間周波数を算出し、前記検出手段の検出結果に基づいて、前記検出手段が前記ショート区間を検出しなくなるように、前記中間周波数の値を補正することによって、前記同期クロックの新たな周波数を算出する同期周波数算出手段とを備えている。
【０００８】
別の観点から見て本発明のパルス生成回路は、同期クロックを生成するクロック生成手段と、外部からの入力信号の振幅を２値化して、立ち上がりエッジから次の立ち下がりエッジまでのハイレベル区間、及び、立ち下がりエッジから次の立ち上がりエッジまでのローレベル区間の長さが、所定の周期のｉ〜ｊ倍（ｉ＜ｊ：ｉ、ｊは正の自然数）となり得る２値化波形を生成する２値化波形生成手段と、前記２値化波形における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間が交互に複数連続した連続区間中における、前記同期クロックの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの数であるクロック数をカウントするクロック数カウント手段とを備えている。さらに、前記２値化波形における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間のうち、前記同期クロックのクロック数が、前記周期のｉ倍の長さに割り当てられた所定の最小クロック数未満となる前記ハイレベル区間又は前記ローレベル区間であるショート区間を検出する検出手段と、前記クロック数カウント手段がカウントしたクロック数を前記連続区間における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間の合計数で除した平均クロック数を算出し、前記平均クロック数が前記最小クロック数となる前記同期クロックの周波数である所定の基準周波数に、前記平均クロック数に対する前記最小クロック数の比を乗じて前記同期クロックの新たな周波数を算出するとき、前記検出手段の検出結果に基づいて、前記検出手段が前記ショート区間を検出しなくなるように、前記平均クロック数、及び、前記連続区間における前記ハイレベル区間及び前記ローレベル区間の数の少なくともいずれかを補正する周波数算出手段とを備えている。
【０００９】
これら本発明によると、周波数算出手段が、入力信号が２値化された２値化波形における一部の区間である連続区間の複数のハイレベル区間及びローレベル区間に基づいて同期クロックの周波数を算出するため、同期クロックの周波数の粗調整を素早く行うことができる。また、入力信号の１部に瑕疵があっても、連続区間を長くすることで周波数算出時における当該瑕疵の影響を抑制することができるため、同期クロックの周波数の粗調整を高い精度で行うことができる。これにより、入力信号と同期する同期クロックを高い精度で且つ素早く生成することができる。
【００１０】
本発明においては、前記検出手段が、検出した前記ショート区間の数を積算した結果を検出結果として出力することが好ましい。これによると、検出手段がショート区間の検出を一括して行うことができるため、同期クロックの周波数の粗調整をさらに素早く行うことができる。
【００１１】
また、本発明においては、前記同期周波数算出手段が算出した新たな周波数を有する前記同期クロックを前記クロック生成手段が生成し、次に、当該同期クロックに関して、前記同期周波数算出手段が新たな周波数を算出する、という動作を、前記検出手段が、前記ショート区間を検出しなくなるまで、継続することが好ましい。これによると、検出手段がショート区間を確実に検出しなくなるまで、同期クロックの粗調整が繰り返されるため、同期クロックの周波数の粗調整をより高い精度で行うことができる。
【００１２】
さらに、本発明においては、円盤形状を有していると共にレーザ光を照射したときの反射光の状態が互いに異なる第１反射領域及び第２反射領域が表面の周方向に沿って交互に配列された光学記録媒体において、前記周方向に沿って前記第１反射領域及び前記第２反射領域に前記レーザ光を照射したときの反射光に基づいて生成される前記入力信号が入力されたとき、前記ハイレベル区間の長さが前記第１反射領域の前記周方向に関する長さに、前記ローレベル区間の長さが前記第２反射領域の前記周方向に関する長さに対応するような前記２値化波形を前記２値化波形生成手段が生成することがより好ましい。これによると、光学記録媒体に対応する同期クロックの周波数の粗調整を高い精度で且つ素早く行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の好適な実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。
【００１４】
＜第１実施形態＞
図１は、本発明に係る第１実施形態であるクロック生成回路を含むＣＤ−ＲＯＭドライブの機能ブロック図である。図２は、ＣＤ−ＲＯＭ５０に記録されたデータと、ＣＤ−ＲＯＭドライブ１の各機能部における信号との関係を示した模式図である。なお、図２においては、図２（ｄ）に示す再生クロックと図２（ｂ）に示す入力信号とが同期した状態を示している。ＣＤ−ＲＯＭドライブ１は、ＣＤ−ＲＯＭ５０に記録されたデータを読み出すものである。ＣＤ−ＲＯＭ５０は、円盤形状を有する光学記録媒体であり、図２（ａ）に示すように、ＣＤ−ＲＯＭ５０の表面の周方向に沿って、凸部であるピット（第１反射領域）と凹部であるランド（第２反射領域）とが交互に配列されている。ピット／ランドの配列パターンは、ＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）で変調されたデータに基づいて形成されており、ピットの周方向に関する長さ及びランドの周方向に関する長さが、基本周期をＴとしたときに、３（ｉ）Ｔ〜１１（ｊ）Ｔの範囲となっている。
【００１５】
図１に示すように、ＣＤ−ＲＯＭドライブ１は、光ヘッド２と、ＲＦ信号生成回路３と、クロック生成回路４と、スピンドルモータ５とを有している。光ヘッド２は、ＣＤ−ＲＯＭ５０のピット／ランドを読み出すものであり、ＣＤ−ＲＯＭ５０のピット／ランドに７８０ｎｍの波長を有するレーザ光を照射する半導体レーザと、ピット／ランドからの反射光を受光する光ディテクタとを有している（図示せず）。スピンドルモータ５は、光ヘッド２から照射されたレーザ光がピット／ランドの配列方向に沿って線速度一定で照射されるようにＣＤ−ＲＯＭ５０を回転させる。ＲＦ信号生成回路３は、図２（ｂ）に示すように、光ヘッド２の半導体レーザから照射されたレーザ光と、光ディテクタが受光した反射光との位相差や光量差（反射光の状態の差）に基づいて、ピット／ランドの形状変化に対応して振幅が変化するＲＦ信号（入力信号）を生成する。生成されたＲＦ信号はクロック生成回路４に入力される。
【００１６】
クロック生成回路４は、ＲＦ信号生成回路３から入力されたＲＦ信号と同期するように粗調整された図２（ｄ）に示すような再生クロック（同期クロック）を出力するものである。再生クロックは、クロック生成回路４によって粗調整された後、さらにＲＦ信号と精密に同期するように完全に調整される。完全に調整された再生クロックは、図示しない回路においてＲＦ信号の読み取りに用いられる。また、クロック生成回路４は、２値化波形生成部（２値化波形生成手段）１１と、再生クロック生成部（以下、ＶＣＯ：クロック生成手段）１２と、連続区間クロック数カウント部（クロック数カウント手段）１３と、ショート区間検出部（検出手段）１４と、同期周波数算出部（同期周波数算出手段）１７とを有している。
【００１７】
２値化波形生成部１１は、ＲＦ信号生成回路３から入力されたＲＦ信号の振幅が２値化されたパルス列からなるＳＵ信号（２値化波形）を生成するものである。また、２値化波形生成部１１は、図２（ｂ）及び図２（ｃ）に示すように、立ち上がりエッジから次の立ち下がりエッジまでのハイレベル区間（Ｈ）の長さがピットの周方向に関する長さに、立ち下がりエッジから次の立ち上がりエッジまでのローレベル区間（Ｌ）の長さがランドの周方向に関する長さに対応するようなＳＵ信号が生成されるように２値化の閾値を決定している。したがって、上述したように、ピット／ランドの周方向に関する長さがＥＦＭにより３Ｔ〜１１Ｔの範囲となっているため、ハイレベル区間及びローレベル区間の長さも３Ｔ〜１１Ｔの範囲となる。ＶＣＯ１２は、任意の周波数を有するパルス列から成る再生クロックを生成するものである。
【００１８】
連続区間クロック数カウント部１３は、ＳＵ信号における任意の数のハイレベル区間及びローレベル区間が交互に連続した連続区間中において、再生クロックの立ち上がりエッジの数であるクロック数をカウントするものである。なお、クロック数は、立ち下がりエッジの数であってもよい。ショート区間検出部１４は、ＳＵ信号におけるハイレベル区間及びローレベル区間のうち、再生クロックのクロック数が、３Ｔの長さに割り当てられた所定の最小クロック数（本実施形態においては３）未満となるショート区間を検出するものであり、ショート区間検知部１５と、積算器１６とを有している。ショート区間検知部１５は、ショート区間を検知するものであり、積算器１６は、ショート区間検知部１５が検知したショート区間の数を積算した結果を検出結果として同期周波数算出部１７に出力するものである。
【００１９】
同期周波数算出部１７は、ＲＦ信号生成回路３から入力されたＲＦ信号と同期するような再生クロックの新たな周波数（ｆ）を算出するものである。この新たな周波数を算出するときに用いられる数式を次に示す。
【００２０】
ｆ＝ｋ×３／Ｂ／Ｍ＋ｍ×Ｈ
【００２１】
具体的には、連続区間クロック数カウント部１３がカウントしたクロック数（Ｂ）を連続区間におけるハイレベル区間及びローレベル区間の合計数（Ｍ）で除した平均クロック数（Ｂ／Ｍ）を算出する。そして、算出した平均クロック数が最小クロック数（３）となるときの再生クロックの周波数である所定の基準周波数（ｋ）に平均クロック数に対する最小クロック数の比を乗じた中間周波数（ｋ×３／Ｂ／Ｍ）を算出する。このとき、平均クロック数は必ず最小クロック数より大きくなるため、中間周波数は確実に基準周波数より低くなる。また、基準周波数は、平均クロック数が最小クロック数となるときの再生クロックの周波数であるため、算出すべき新たな周波数より確実に低い。したがって、中間周波数は同期したときの周波数より低くなる。ここで、再生クロックがＲＦ信号と同期しているときは、ショート区間が発生することはない。一方、再生クロックの周波数が同期したときの周波数より低くなるに伴って、ショート区間の発生頻度が高くなる。そこで、ショート区間検出部１４の検出結果（Ｈ）に基づいて、ショート区間検出部１４がショート区間を検出しなくなるように、周波数が高くなる方向に中間周波数を補正（ｍ×Ｈ：ｍは補正係数）する。この補正結果を再生クロックの新たな周波数とする。
【００２２】
同期周波数算出部１７が再生クロックの新たな周波数を算出したとき、ＶＣＯ１２が、算出された新たな周波数を有する新たな再生クロックを生成する。さらに、この新たな再生クロックに関して、ショート区間検出部１４がショート区間を検出したとき、同期周波数算出部１７が、再び新たな周波数を算出する。このような再生クロックの周波数の調整を、ショート区間検出部１４がショート区間を検出しなくなるまで繰り返す。ショート区間検出部１４がショート区間を検出しなくなると、周波数の粗調整を完了する。
【００２３】
以上、説明した本実施形態によると、ＲＦ信号が２値化されたＳＵ信号における一部の区間である連続区間の複数のハイレベル区間及びローレベル区間に基づいて再生クロックの周波数を算出するため、発生頻度の低い１１Ｔのパルスを使用する従来技術に比較して、再生クロックの周波数の粗調整を素早く行うことができる。また、ＣＤ−ＲＯＭの表面に傷が入るなどしてＲＦ信号の１部に瑕疵があってＢの値が乱れても、連続区間を長くすることでＭの値が増加するため、新たな周波数算出時において、平均クロック数（Ｂ／Ｍ）算出に対する当該瑕疵の影響を抑制することができる。つまり、連続区間におけるハイレベル区間及びローレベル区間の数が大きくなるほど当該瑕疵の影響は相対的に小さくなる。このように、ＲＦ信号と同期する再生クロックを高い精度で且つ素早く生成することができる。
【００２４】
さらに、同期周波数算出部１７が、ショート区間検出部１４がショート区間を検出しなくなるまで周波数の算出（調整）を繰り返すため、再生クロックの周波数の粗調整をより高い精度で行うことができる。
【００２５】
＜第２実施形態＞
本発明の第２実施形態について図３を参照しつつ説明する。図３は、本発明に係る第２実施形態であるクロック生成回路を含むＣＤ−ＲＯＭドライブ１０１の機能ブロック図である。本実施形態においては、クロック生成回路１０４のみが第１実施形態と異なっているため、以下、クロック生成回路１０４について重点的に説明する。なお、第１実施形態と実質的に同一の機能有する機能部については、同一の符号を付して説明を省略する。
【００２６】
図３に示すように、クロック生成回路１０４は、ＲＦ信号生成回路３から入力されたＲＦ信号と同期するように粗調整された再生クロック（同期クロック）を出力するものである。クロック生成回路４は、２値化波形生成部１１と、ＶＣＯ１２と、連続区間クロック数カウント部１３と、ショート区間検出部１４と、同期周波数算出部（同期周波数算出手段）１１７とを有している。
【００２７】
同期周波数算出部１１７は、ＲＦ信号生成回路３から入力されたＲＦ信号と同期する再生クロックの新たな周波数（ｆ）を算出するものである。新たな周波数を算出するときに用いられる数式を次に示す。
【００２８】
ｆ＝ｋ×３／Ｂ／（Ｍ−ｎ×Ｈ）
【００２９】
具体的には、連続区間クロック数カウント部１３がカウントしたクロック数（Ｂ）を連続区間におけるハイレベル区間及びローレベル区間の合計数（Ｍ）で除した平均クロック数（Ｂ／Ｍ）を算出する。そして、算出した平均クロック数が最小クロック数（３）となるときの再生クロックの周波数である所定の基準周波数（ｋ）に平均クロック数に対する最小クロック数の比を乗じて再生クロックの新たな周波数を算出する。このとき、ショート区間検出部１４の検出結果（Ｈ）に基づいて、ショート区間検出部１４がショート区間を検出しなくなるように、連続区間におけるハイレベル区間及びローレベル区間の合計数を少なくする方向に補正（ｎ×Ｈ：ｎは補正係数）する。この補正結果を用いて再生クロックの新たな周波数を算出する。
【００３０】
なお、本実施形態においては、ショート区間検出部１４がショート区間を検出しなくなるように、連続区間におけるハイレベル区間及びローレベル区間の合計数を少なくする方向に補正したが、連続区間クロック数カウント部１３がカウントしたクロック数を大きくする方向に補正してもよい。
【００３１】
同期周波数算出部１１７が再生クロックの新たな周波数を算出したとき、ＶＣＯ１２が、算出された新たな周波数を有する新たな再生クロックを生成する。さらに、この新たな再生クロックに関して、ショート区間検出部１４がショート区間を検出したとき、同期周波数算出部１１７が、再び新たな周波数を算出する。このような再生クロックの周波数の調整を、ショート区間検出部１４がショート区間を検出しなくなるまで繰り返す。ショート区間検出部１４がショート区間を検出しなくなると、周波数の粗調整を完了する。
【００３２】
以上、説明した本実施形態によると、ＲＦ信号が２値化されたＳＵ信号における一部の区間である連続区間の複数のハイレベル区間及びローレベル区間に基づいて再生クロックの周波数を算出するため、再生クロックの周波数の粗調整を素早く行うことができる。また、ＣＤ−ＲＯＭの表面に傷が入るなどしてＲＦ信号の１部に瑕疵があっても、連続区間を長くすることで新たな周波数算出時における当該瑕疵の影響を抑制することができる。このように、ＲＦ信号と同期する再生クロックを高い精度で且つ素早く生成することができる。
【００３３】
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいて様々な変更が可能なものである。例えば、上述した第１及び第２実施形態においては、ショート区間検出部１４の積算器１６が、ショート区間検知部１５が検知したショート区間の数を積算した結果を検出結果として同期周波数算出部１７に出力する構成であるが、ショート区間検知部１５がショート区間を検知する毎に検出結果を出力する構成であってもよい。
【００３４】
また、上述した第１及び第２実施形態においては、同期周波数算出部１７、１１７が、ショート区間検出部１４がショート区間を検出しなくなるまで周波数の算出（調整）を繰り返す構成となっているが、周波数の調整を一回のみ行う構成であってもよい。このとき、ショート区間の検出範囲を広げることによって周波数の補正精度を高めることが好ましい。
【００３５】
さらに、上述した第１及び第２実施形態においては、最小のピット／ランド長である３Ｔに割り当てられた最小クロック数３に基づいて再生クロックの粗調整を行う構成であるが、３Ｔに割り当てられる最小クロック数は３の整数倍であれば任意の数であってもよい。また、ＣＤ−ＲＯＭに記録された最小のピット／ランド長が２Ｔ、４Ｔなど３Ｔ以外の長さである場合には、最小クロック数は、２の倍数や４の倍数など各最小のピット／ランド長に対応する数であればよい。
【００３６】
加えて、上述した第１及び第２実施形態においては、スピンドルモータ５が、光ヘッド２から照射されたレーザ光がピット／ランドの配列方向に沿って線速度一定で照射されるようにＣＤ−ＲＯＭ５０を回転させる構成であるが、スピンドルモータがＣＤ−ＲＯＭ５０を角速度一定で回転させる構成であってもよい。
【００３７】
上述した第１及び第２実施形態においては、ＣＤ−ＲＯＭドライブに本発明を適用した例について説明したが、ＤＶＤドライブなど、他の光学記録媒体のドライブに対しても本発明は適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の第１実施形態に係るＣＤ−ＲＯＭドライブの概略構成図である。
【図２】図１に示すＣＤ−ＲＯＭに記録されたデータと、ＣＤ−ＲＯＭドライブの各機能部における信号との関係を示した模式図である。
【図３】本発明の第２実施形態に係るＣＤ−ＲＯＭドライブの概略構成図である。
【符号の説明】
【００３９】
１、１０１    ＣＲ−ＲＯＭドライブ
２    光ヘッド
３    信号生成回路
４、１０４    クロック生成回路
５    スピンドルモータ
１１    ２値化波形生成部
１２    ＶＣＯ
１３    連続区間クロック数カウント部
１４    ショート区間検出部
１５    ショート区間検知部
１６    積算器
１７、１１７    同期周波数算出部
【図１】
2008065871.tif 000003
【図２】
2008065871.tif 000004
【図３】
2008065871.tif 000005