(57)【要約】【課題】  アドレスデータをＥＣＣブロックごとに一定のデータとした場合であっても、エラー情報算出不能エラーや不連続エラーを検出できる光ディスクの検査装置とすること。【解決手段】  光ディスクの検査装置１によれば、全てのＥＣＣブロックにアドレスデータを含めて同一のデータが記録された光ディスクを再生し、再生データに基づいて算出されるエラー情報が光ディスクの記録単位ごとに時間間隔測定回路１６に入力される。時間間隔測定回路１６は入力されるエラー情報の入力時間間隔（つまりエラー計算回路１４から出力されるエラー情報の出力時間間隔）を測定する。コンピュータ１８は時間間隔測定回路１６が測定したエラー情報の入力時間間隔に基づいて光ディスクのエラー情報算出不能エラーおよびこのエラーが生じたＥＣＣブロック、ならびに不連続エラーを検出する。【選択図】  図３
2008123581.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録単位ごとにデータが記録された光ディスクの記録データを再生することにより再生データを生成し、再生データから得られるエラー情報に基づいて光ディスクを検査する光ディスクの検査装置において、
全ての記録単位に同一のデータが記録された光ディスクの記録データを再生することにより再生データを生成する再生データ生成手段と、
前記再生データ生成手段にて生成された前記再生データに基づいて、記録単位ごとにエラー情報を算出し、算出したエラー情報を記録単位ごとに出力するエラー情報算出手段と、
前記エラー情報算出手段から出力されるエラー情報の出力時間間隔を測定する時間間隔測定手段と、
前記時間間隔測定手段が測定した前記エラー情報の出力時間間隔に基づいて、エラー情報が算出できない記録単位が存在するエラーであるエラー情報算出不能エラーおよび前記エラー情報算出不能エラーが生じた記録単位、ならびに記録データの再生時において不連続再生が生じるエラーである不連続エラーを検出するエラー検出手段と、
を備えることを特徴とする、光ディスクの検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスクの検査装置において、
前記エラー検出手段は、前記時間間隔測定手段が測定する前記エラー情報の出力時間間隔を記録単位あたりの再生時間にて除算した結果に基づいて、前記エラー情報算出不能エラーと前記不連続エラーとを判別することを特徴とする、光ディスクの検査装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスクの検査装置において、
前記エラー検出手段は、前記時間間隔測定手段が測定する前記エラー情報の出力時間間隔と所定の基準時間との差が所定値以上であり、且つ、前記出力時間間隔が前記基準時間の整数倍とみなされるときに、前記エラー情報算出不能エラーおよび前記エラー情報算出不能エラーが生じた記録単位を検出することを特徴とする、光ディスクの検査装置。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスクの検査装置において、
前記エラー検出手段は、前記時間間隔測定手段が測定する前記エラー情報の出力時間間隔と前記基準時間との差が所定値以上であり、且つ、前記出力時間間隔が前記基準時間の整数倍とみなされないときに、前記不連続エラーを検出することを特徴とする、光ディスクの検査装置。
【請求項５】
請求項３または４に記載の光ディスクの検査装置において、
前記基準時間は、光ディスクの記録単位あたりの再生時間であることを特徴とする、光ディスクの検査装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光ディスクの検査装置において、
一つの記録単位に記録すべきデータを光ディスクに記憶するためのデータに変換したデータが格納された記憶手段と、
前記記憶手段に格納されたデータが繰り返し入力されるとともに、入力されるデータに基づいて光ディスクにデータを記録する記録手段と、
を更に備えることを特徴とする、光ディスクの検査装置。
【請求項７】
光ディスクにデータを記録単位ごとに記録し、記録したデータを再生することにより再生データを生成し、再生データから得られるエラー情報に基づいて光ディスクを検査する光ディスクの検査方法において、
全ての記録単位におけるデータが同一とされたデータを光ディスクに記憶するためのデータに変換し、変換したデータを光ディスクに記録する記録ステップと、
前記記録ステップにて光ディスクに記録したデータを再生し、再生データを生成する再生ステップと、
前記再生データに基づいて、光ディスクの記録単位ごとにエラー情報を算出し、算出したエラー情報を前記記録単位ごとに出力するエラー情報出力ステップと、
前記エラー情報出力ステップにて出力されるエラー情報の出力時間間隔を測定する時間間隔測定ステップと、
前記出力時間間隔から、エラー情報が算出できない記録単位が存在するエラーであるエラー情報算出不能エラーおよび前記エラー情報算出不能エラーが生じた記録単位、ならびに記録データの再生時において不連続再生が生じるエラーである不連続エラーを検出するエラー検出ステップと、
を含むことを特徴とする、光ディスクの検査方法。
【請求項８】
請求項７に記載の光ディスクの検査方法において、
前記エラー検出ステップは、前記時間間隔測定ステップにて測定した前記エラー情報の出力時間間隔を光ディスクの記録単位あたりの再生時間にて除算した結果に基づいて、前記エラー情報算出不能エラーと前記不連続エラーとを判別することを特徴とする、光ディスクの検査方法。
【請求項９】
請求項７に記載の光ディスクの検査方法において、
前記エラー検出ステップは、前記時間間隔測定ステップにて測定した前記エラー情報の出力時間間隔と所定の基準時間との差が所定値以上であり、且つ、前記出力時間間隔が前記基準時間の整数倍とみなされるときに、前記エラー情報算出不能エラーおよび前記エラー情報算出不能エラーが生じた記録単位を検出することを特徴とする、光ディスクの検査方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の光ディスクの検査方法において、
前記エラー検出ステップは、前記時間間隔測定ステップにて測定した前記エラー情報の出力時間間隔と前記基準時間との差が所定値以上であり、且つ、前記出力時間間隔が前記基準時間の整数倍とみなされないときに、前記不連続エラーを検出することを特徴とする、光ディスクの検査方法。
【請求項１１】
請求項９または１０に記載の光ディスクの検査方法において、
前記基準時間は、光ディスクの記録単位あたりの再生時間であることを特徴とする、光ディスクの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクの検査装置および光ディスクの検査方法に関し、より具体的には、光ディスクにデータを記録し、記録したデータを再生して、再生データにおけるエラー情報を算出し、算出したエラー情報から光ディスクを検査する光ディスクの検査装置および光ディスクの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
記録再生型の光ディスクを検査する装置として、光ディスクにデータを記録し、記録したデータを再生して、その再生データについてエラー訂正を行った箇所をカウントし、あるいは再生データを元データと比較することで光ディスクの再生データのエラー数やエラー率などのエラー情報を算出し、算出したエラー情報を基に光ディスクを検査する装置が知られている。
【０００３】
エラー数の規定値は光ディスクの規格により決められており、例えばＤＶＤではＰＩエラー数（ＰＩエラーが検出される行数）が連続した８ＥＣＣブロックあたり２８０以下、ＨＤ  ＤＶＤでは連続した４ＥＣＣブロックあたり２８０以下とされている。したがって、エラー情報は光ディスクの記録単位であるＥＣＣブロックごとに算出され、算出されたエラー情報を基に光ディスクが検査される。
【０００４】
それぞれのＥＣＣブロックあたりのエラー情報を算出するためには個々のＥＣＣブロックを区別する必要がある。特許文献１（具体的には段落番号００１３、図２）では、個々のＥＣＣブロックを区別するためにＥＣＣブロックごとに元データ（ユーザーデータ）にアドレスデータを追加し、再生時にこのアドレスデータにより個々のＥＣＣブロックを区別している。
【特許文献１】特開２００５−２５１２８２号公報
【発明の開示】
【０００５】
光ディスクにデータを記録するときは、元データをブロックごとに分割し、ブロックごとのデータにアドレスデータやエラー訂正符号、同期信号などの元データの再生に必要なデータを追加してＥＣＣブロックを構成し、その後光ディスクに記録するためのデータに変換される。このデータの変換を変調と言い、例えばＤＶＤでは８−１６変調が採用され、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃでは１−７変調が採用され、ＨＤ  ＤＶＤでは８−１２変調が採用されている。このように変調されたデータが光ディスクに記録される。
【０００６】
記録再生型の光ディスクを検査する場合は、光ディスクに記録されたデータを再生して再生データを生成し、生成した再生データからエラー情報を求める。そして、このエラー情報などを基にして光ディスクの検査が行われる。このときに光ディスクに記録されるデータはＥＣＣブロックごとに分割されているが、ＥＣＣブロックごとに分割された元データはすべて同一データであってもよいし、元データに追加されるエラー訂正符号、同期信号などのデータもＥＣＣブロックごとに同一であってもよい。しかし、アドレスデータはＥＣＣブロックを個々に区別する必要があるので、ＥＣＣブロックごとに異なるアドレスデータ（インクリメントしたデータ）を付与する必要がある。
【０００７】
よって、ＥＣＣブロックを個々に区別するためには、光ディスクへのデータ記録時に、図１（ａ）に示すように、元データにエラー訂正符号や同期信号などを追加した１ブロックのデータ（図では検査用データとしている）にアドレス追加回路によってアドレスデータをインクリメントしながら追加し、さらに高速変調回路により光ディスクに記録するための記録データに変換し、このように変換したデータを記録データとして光ディスクに記録する。この方法ではアドレス追加回路や高速変調回路が必要な分、コストアップを招く。
【０００８】
そこで、アドレスデータも各ＥＣＣブロックで同一のデータとし、ＥＣＣブロックごとにすべて同一のデータとすれば（すなわち、アドレスデータを含め、全て同一のデータを検査用データとすれば）、図１（ｂ）に示すように検査用データを変調したデータをコンピュータ内のメモリに記憶しておき、このメモリからデータを繰り返し出力して光ディスクに記録すればよい。あるいは、図１（ｃ）に示すようにコンピュータのメモリから検査用データを変調回路に出力し、この変調回路にて変調したデータを変調回路内のメモリに記憶しておき、このメモリからデータを繰り返し出力して光ディスクに記録すればよい。このようにすれば回路構成は簡単となり、コストダウンを図ることができる。しかし、各ＥＣＣブロックのアドレスを同一とした場合には、再生データからエラー情報を算出する際に次のような問題が発生する。
【０００９】
（１）エラー情報が算出されなかったＥＣＣブロックを検出することができない。
光ディスクに傷や異物が存在すると、その箇所にあるブロックはエラー訂正（ＰＩエラー訂正／ＰＯエラー訂正）に要する時間が非常に長くなるかエラー訂正が不可能になる場合がある。この場合、エラー情報を算出するデータ処理時間が長くなり、データ処理が完了するまでに次のブロックの再生データの入力が完了してしまう。よって、コストダウンを図るためにメモリ容量を数ブロックの再生データの処理を賄う程度の容量としている場合には、次のブロックの再生データの入力が完了した時点で現在行っている前ブロックの再生データのデータ処理を途中で終了し、次のブロックの再生データのデータ処理に移ることになる。このようにデータ処理を途中で終了してしまうブロックにおいては、エラー情報を算出できない。また、ブロック間を識別するためのデータがエラー状態になることもあり、この場合はエラー状態になっているブロック間を識別するためのデータの次のブロックの再生データについてはエラー情報を算出するデータ処理自体が行われないため、エラー情報を算出できない（ここで、本明細書において、１ＥＣＣブロックあたりの記録データを連続的に再生したにもかかわらず、エラー情報を算出できないＥＣＣブロックが存在するエラーを「エラー情報算出不能エラー」と呼ぶ）。
【００１０】
このとき、アドレスデータによりＥＣＣブロックを区別し得る場合は、エラー情報が算出できない場合でもアドレスデータさえ復号できればエラー情報が算出できなかったＥＣＣブロックのアドレスがわかる。またアドレスデータ自体がエラー状態で復号できない場合でも、前後のＥＣＣブロックのアドレスデータからエラー情報が算出できなかったＥＣＣブロックのアドレスがわかる。しかし、アドレスデータによりＥＣＣブロックを区別できない場合は上記のような手法が使えず、エラー情報が算出できなかったＥＣＣブロック（エラー情報算出不能エラーが発生したＥＣＣブロック）を検出することはできない。
【００１１】
（２）記録データの再生時における不連続再生を検出できない。
記録データの再生時において、ＥＣＣブロックの不連続再生が発生することがある。よくあるケースは、光ディスクに存在する傷や異物によりまたは装置に加わる振動や衝撃によりトラック飛びが起こるケースである。この場合、アドレスデータによりＥＣＣブロックが区別され得る場合は、アドレスが不連続になるので記録データの再生における不連続再生を検出できるが、アドレスデータによりＥＣＣブロックを区別できない場合は上記不連続再生を検出することができない。つまり、記録データの再生時において不連続再生が生じるエラーである不連続エラーを検出することができない。
【００１２】
本発明は上記問題に対処するためなされたもので、その目的は、コストダウンを図るためにアドレスデータをＥＣＣブロックごとに一定のデータとして、元データに追加されるデータをＥＣＣブロックごとに全て同一のデータとした場合であっても、上記エラー情報算出不能エラーおよびエラー情報算出不能エラーが生じたＥＣＣブロック、ならびに不連続エラーを検出できる光ディスクの検査装置および光ディスクの検査方法を提供することにある。
【００１３】
上記目的を達成するため、本発明の特徴は、記録単位ごとにデータが記録された光ディスクの記録データを再生することにより再生データを生成し、再生データから得られるエラー情報に基づいて光ディスクを検査する光ディスクの検査装置において、全ての記録単位に同一のデータが記録された光ディスクの記録データを再生することにより再生データを生成する再生データ生成手段と、前記再生データ生成手段にて生成された前記再生データに基づいて、記録単位ごとにエラー情報を算出し、算出したエラー情報を記録単位ごとに出力するエラー情報算出手段と、前記エラー情報算出手段から出力されるエラー情報の出力時間間隔を測定する時間間隔測定手段と、前記時間間隔測定手段が測定した前記エラー情報の出力時間間隔に基づいて、エラー情報が算出できない記録単位が存在するエラーであるエラー情報算出不能エラーおよび前記エラー情報算出不能エラーが生じた記録単位、ならびに記録データの再生時において不連続再生が生じるエラーである不連続エラーを検出するエラー検出手段と、を備える光ディスクの検査装置とすることにある。
【００１４】
上記発明によれば、全ての記録単位（ＥＣＣブロック）に同一のデータが記録された光ディスクの再生データに基づいてエラー情報がエラー情報算出手段にて算出され、コンピュータなどにそのエラー情報が出力される。このときエラー情報算出手段から出力されるエラー情報の出力時間間隔が時間間隔測定手段により測定される。そして、エラー検出手段は上記時間間隔測定手段が測定したエラー情報の出力時間間隔に基づいて光ディスクのエラー情報算出不能エラーおよびこのエラーが生じた記録単位、ならびに不連続エラーを検出する。ここで、上記「出力時間間隔」とは、エラー情報算出手段が一つの記録単位における再生データのエラー情報を出力してから、次の記録単位における再生データのエラー情報を出力するまでの時間間隔をいう。
【００１５】
光ディスクに記録データが記録単位ごとにほぼ正常に記録された場合は、各記録単位あたりの再生時間や各記録単位のエラー情報の処理時間はほぼ一定であるので、時間間隔測定手段が測定するエラー情報の出力時間間隔も各記録単位あたりの再生時間に合わせてほぼ一定となる。しかし、光ディスクの記録に異常が生じた場合や、光ディスクに異物が付着し、あるいは光ディスクが傷付いた場合は、エラー情報の算出処理に時間を要する。特に、エラー情報算出不能エラーが発生するような場合には、その記録単位におけるエラー情報は出力しないためにエラー情報の出力時間間隔が長くなる。また、不連続エラーが発生するような場合には、例えば再生箇所がある記録単位の途中から別の記録単位の途中まで飛んで別の記録単位の途中から再生を行うために、記録単位における再生開始から再生終了までの時間が一つの記録単位における再生時間と異なり、それに伴ってエラー情報の出力時間間隔が変化する。したがって、このエラー情報の出力時間間隔、特にエラー情報の出力時間間隔の変化に基づいて、エラー情報算出不能エラーやこのエラーが生じた記録単位、ならびに不連続エラーを検出することができる。このように本発明は、エラー情報算出手段が算出して出力するエラー情報の出力時間間隔に着目することよって、装置全体のコストを抑えるためにアドレスデータを各記録単位で同一のデータとしても、エラー情報算出不能エラーおよびこのエラーが生じた記録単位、ならびに不連続エラーを検出することができる。ここで、上記発明において、「不連続再生」とは、所定の順序で連続的に再生されるように記録されている記録データに対し、上記の順序を守らずに再生することであり、例えば所定の順番で再生されるべき記録データを飛ばして再生したり、一度再生した記録データを逆戻りして再び再生したりして上記順序とは異なった順序で再生するような場合である。
【００１６】
光ディスクのエラー情報は、光ディスクの一つの記録単位の再生データが生成されるごとに処理されて出力される。したがって、エラー情報算出手段は、一つの記録単位における再生データの入力が完了した後にその記録単位における再生データのエラー情報を算出し、算出し終わったらそのエラー情報を出力する。出力後、次の記録単位における再生データの入力完了を待ち、入力完了後にその記録単位における再生データのエラー情報を算出し、算出し終わったらそのエラー情報を出力する。エラー情報算出手段はこのような処理を繰り返し行っているので、時間間隔測定手段が測定するエラー情報の出力時間間隔は、通常は光ディスクの一つの記録単位を再生する時間である再生時間とほぼ等しくなる。ところが、ある記録単位においてエラー情報算出不能エラーが発生すると、その記録単位におけるエラー情報は出力されないので、この場合における出力時間間隔は、エラー情報算出不能エラーが発生した記録単位の一つ前の記録単位におけるエラー情報の出力タイミングから、エラー情報算出不能エラーが発生した記録単位を飛ばして次の記録単位におけるエラー情報の出力タイミングまでの時間間隔となる。この時間間隔は、記録単位２つ分の再生時間に相当する時間間隔である。つまり、１つまたは複数の連続した記録単位においてエラー情報算出不能エラーが発生した場合には、上記測定手段が測定するエラー情報の出力時間間隔は光ディスクの記録単位あたりの再生時間の整数倍となる。したがって、エラー検出手段は、時間間隔測定手段が測定したエラー情報の出力時間間隔と所定の基準時間（例えば一つの記録単位の再生時間）との差が所定値以上であり、且つ、出力時間間隔が基準時間の整数倍とみなされるときに、エラー情報算出不能エラーを検出することができる。上記基準時間は、光ディスクの記録単位あたりの再生時間であることが好ましい。また、上記基準時間は、所定の変動時間幅を持った時間であるのが好ましい。
【００１７】
また、不連続エラーが生じたときには、再生データ生成手段は、例えばある記録単位を途中まで再生し、そこから再生対象が他の記録単位に飛び移り、飛び移った先の記録単位の途中から再生する。このため上記のプロセスを経て再生を行った場合の再生時間は、一つの記録単位あたりの再生時間とは異なる。よって、エラー情報の出力タイミングも再生時間が変化したことに伴って変化し、時間間隔測定手段が測定するエラー情報の出力時間間隔も変化する。このときの出力時間間隔は、高い確率で一つの記録単位あたりの再生時間の整数倍とはならない。したがって、エラー検出手段は、時間間隔測定手段が測定したエラー情報の出力時間間隔と所定の基準時間（例えば一つの記録単位の再生時間）との差が所定値以上であり、且つ、出力時間間隔が基準時間の整数倍とみなされないときに、不連続エラーを検出することができる。上記基準時間は、光ディスクの記録単位あたりの再生時間であることが好ましい。また、上記基準時間は、所定の変動時間幅を持った時間であるのが好ましい。
【００１８】
上記のように、エラー情報算出不能エラーが発生している場合は時間間隔測定手段が測定するエラー情報の出力時間間隔が一つの記録単位あたりの再生時間の整数倍となり、不連続エラーが発生している場合は上記測定手段が測定するエラー情報の出力時間間隔は一つの記録単位あたりの再生時間の整数倍とはならない。したがって、エラー情報の出力時間間隔が一つの記録単位あたりの再生時間と所定値以上に異なっている場合において、エラー情報の出力時間間隔を光ディスクの一つの記録単位あたりの再生時間で除算した値がほぼ割り切れるような値であればエラー情報算出不能エラーが生じたものと判断でき、一方、割り切れずに剰余が大きい値であれば不連続エラーが生じたものと判断できる。このことから、エラー情報の出力時間間隔を一つの記録単位の再生時間で除算した結果に基づき、エラー情報算出不能エラーと不連続エラーとを判別することができる。
【００１９】
この場合、時間間隔測定手段が測定する出力時間間隔ｔから基準時間ｔ０（例えば一つの記録単位あたりの再生時間）を差し引いた値の絶対値｜ｔ-ｔ０｜をまず計算し、｜ｔ−ｔ０｜が所定値α（所定値αは、エラー情報算出不能エラーや不連続エラーが生じているか否かを判断し得る程度の値）以上である場合に光ディスクの再生に異常が生じたと判断できる。さらに、異常と判断した場合にあっては、｜ｔ−ｔ０｜を基準時間ｔ０で除算した値（除算値）を計算し、除算値の小数点以下の値の大きさが所定値β（所定値βは、エラー情報算出不能エラーであるか不連続エラーであるかを判断し得る程度の値）よりも小さい場合には、除算値の整数部分の値の数だけエラー情報算出不能エラーが連続して発生したと判断できる。除算値の小数点以下の値の大きさが所定値β以上である場合には、不連続エラーが発生したと判断できる。
【００２０】
また、本発明を適用するにあたり、別の光ディスクの記録装置により光ディスクに全ての記録単位が同一のデータであるデータを記録してもよいが、本発明の光ディスクの検査装置を、一つの記録単位に記録すべきデータを光ディスクに記憶するためのデータに変換したデータが格納された記憶手段と、前記記憶手段に格納されたデータが繰り返し入力されるとともに、入力されるデータに基づいて光ディスクにデータを記録する記録手段と、を更に備えるものとしてもよい。本検査装置に上記記憶手段および記録手段を組み込むことにより、検査装置自体のコストを低減することができる。この場合、上記記憶手段は、具体的には本検査装置を制御するためのコンピュータなどにメモリとして組み込んでおいてもよく、この場合はコンピュータがメモリ内の記憶データを繰り返し記録手段に出力する。上記記録手段は、具体的には光ディスクに記録データを記録するための光ピックアップ装置としてもよい。光ピックアップ装置は、記憶手段から出力されたデータに基づいて記録用レーザー光を光ディスクに照射して光ディスクにデータを記録するとともに、データが記録された光ディスクに再生用レーザー光を照射して光ディスクからの反射光を受光するものであるとよい。
【００２１】
また、上記目的を達成するため、本発明の他の特徴は、光ディスクにデータを記録単位ごとに記録し、記録したデータを再生することにより再生データを生成し、再生データから得られるエラー情報に基づいて光ディスクを検査する光ディスクの検査方法において、全ての記録単位におけるデータが同一とされたデータを光ディスクに記憶するためのデータに変換し、変換したデータを光ディスクに記録する記録ステップと、前記記録ステップにて光ディスクに記録したデータを再生し、再生データを生成する再生ステップと、前記再生データに基づいて、光ディスクの記録単位ごとにエラー情報を算出し、算出したエラー情報を前記記録単位ごとに出力するエラー情報出力ステップと、前記エラー情報出力ステップにて出力されるエラー情報の出力時間間隔を測定する時間間隔測定ステップと、前記出力時間間隔から、エラー情報が算出できない記録単位が存在するエラーであるエラー情報算出不能エラーおよび前記エラー情報算出不能エラーが生じた記録単位、ならびに記録データの再生時において不連続再生が生じるエラーである不連続エラーを検出するエラー検出ステップと、を含む光ディスクの検査方法とすることにある。このような方法により、上述のように、アドレスデータを各記録単位で同一のデータとしてコストを抑えつつ、エラー情報算出不能エラーおよびこのエラーが発生した記録単位、ならびに不連続エラーを検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施形態について説明する。図３は、光ディスクに記録されたデータを再生し、再生データを処理してＥＣＣブロックごとにエラー情報を算出して表示する光ディスク検査装置の要部を示す概略図である。光ディスク検査装置１は、光ディスクＤＫを回転駆動する回転駆動装置（不図示）を備える。この回転駆動装置は、ターンテーブル１３に載置した光ディスクＤＫをターンテーブル１３とともに所定の回転速度で回転させるものである。
【００２３】
また、光ディスク検査装置１は、光ディスクＤＫに再生用レーザー光を照射して同光ディスクＤＫの表面（記録面）上に光スポットを形成するとともに、光スポットからの反射光を受光する光ピックアップ装置ＰＵＨを備える。光ピックアップ装置ＰＵＨは、レーザー光源と、レーザー光源から出射される再生用レーザー光を光ディスクＤＫに導く光学系と、再生用レーザー光の照射により光ディスクの表面に形成される光スポットの反射光を受光するフォトディテクタと、上記光スポットの反射光を上記フォトディテクタに導く光学系とを備える。これらの各要素の構成および組み合わせは公知であるのでその具体的説明を省略する。なお、この光ピックアップ装置ＰＵＨには、光ディスクＤＫにデータを記録するための記録用レーザー光を出射する記録用レーザー光源や、記録用レーザー光源から出射された記録用レーザー光を光ディスクＤＫに導く光学系を備え、本発明の記録手段として機能するものであってもよい。また、一つのレーザー光源により再生用レーザー光と記録用レーザー光を出射するように構成してもよい。
【００２４】
また、光ディスク検査装置１は、再生データ生成回路１２、エラー計算回路１４、時間間隔測定回路１６、コンピュータ１８、入力装置２０および表示装置２２を備える。再生データ生成回路１２は、光ピックアップ装置ＰＵＨ内のフォトディテクタから出力される受光信号を入力し、入力した受光信号に基づいて、ＳＵＭ信号（再生信号）生成処理、波形等価処理、２値化処理（またはＰＲＭＬ処理）を行い、光ディスクＤＫに記録されたデータに相当する再生データを生成して出力する。
【００２５】
エラー計算回路１４は、再生データ生成回路１２から再生データを入力し、入力した再生データに基づいてエラーの計算を行う。具体的には、一つのＥＣＣブロックの再生データの入力が完了するごとに、再生データ中の元データ（ユーザデータ）に存在するエラー箇所を、同じく再生データ中のエラー訂正符号(Inner-code Parity, Outer-code Parity)により訂正し、それぞれのエラー訂正符号による訂正箇所（訂正行）をカウントしてエラー数（またはエラーバイト数）を求め、さらにエラー数（またはエラーバイト数）を一つのＥＣＣブロックの総バイト数で除したエラー率（以下、エラー数、エラーバイト数、エラー率を総称してエラー情報という）を求める。そして、求めたエラー情報を時間間隔測定回路１６およびコンピュータ１８に出力する。なお、時間間隔測定回路１６には、エラー情報の算出が完了したという情報のみを出力するようにしてもよい。
【００２６】
時間間隔測定回路１６は基準クロックを内蔵しており、エラー計算回路１４からエラー情報のデータが入力されるごとに、前回のデータ入力があったときから経過した時間（つまり、エラー情報の入力時間間隔ｔ）を測定し、測定した入力時間間隔ｔをコンピュータ１８に出力する。このエラー情報の入力時間間隔ｔは、エラー計算回路１４から出力されるエラー情報の出力時間間隔と等しい。
【００２７】
コンピュータ１８は、図において示されていない他の回路（各種モータ制御回路、フォーカス制御回路、トラッキング制御回路など）の制御を作業者が入力装置２０から入力する指示に基づいて行う。また、作業者が入力装置２０から再生データのエラー情報の計測を指示した場合には、コンピュータ１８は図４に示したプログラムを実行する。このプログラムの実行により、コンピュータ１８は、エラー計算回路１４から入力するエラー情報および時間間隔測定回路１６から入力する時間情報（つまりエラー計算回路１４から出力されるエラー情報の出力時間間隔）に基づいて、エラー情報が算出できなかったＥＣＣブロックが存在するエラーであるエラー情報算出不能エラーおよびエラー情報算出不能エラーが発生したＥＣＣブロック、ならびに記録データの再生時において不連続再生が生じるエラーである不連続エラーを検出する。さらにコンピュータ１８は、エラー計算回路１４から入力するエラー情報を、エラー情報を算出したＥＣＣブロックの順にメモリ１８ａに記憶し、表示装置２２に表示する。このメモリ１８ａには、光ディスクＤＫに記録するためのデータが格納されていてもよい。この格納されているデータは１ＥＣＣブロックあたりに記録すべきデータを光ディスクＤＫに記録するためのデータに変調したデータ（１ブロック変調データ）である。
【００２８】
このような構成の光ディスク検査装置１において、予め、別の光ディスクの記録装置により光ディスクに全てのＥＣＣブロックが同一データであるデータを記録していればその光ディスクに対して検査を行う。また、コンピュータ１８のメモリ１８ａに上記１ブロック変調データが格納されており、且つ光ピックアップ装置ＰＵＨに記録用レーザー光源などが設けられている場合には、この検査装置１によって、光ディスクの全てのＥＣＣブロックに同一データを記録する。まず、本検査装置１にて光ディスクの全てのＥＣＣブロックに同一データを記録する場合について説明する。
【００２９】
作業者から光ディスクＤＫにデータを記録する指示を受けると、コンピュータ１８はメモリ１８ａから１ブロック変調データを記録用レーザー駆動回路（図示省略）を介して光ピックアップ装置ＰＵＨ内の記録用レーザー光源に出力する。このときメモリ１８ａは、格納している１ブロック変調データを繰返し出力する。記録用レーザー光源は、メモリ１８ａからの出力にしたがって記録用のレーザー光を光ディスクＤＫに出射する。これにより光ディスクＤＫにはＥＣＣブロックの全てにおいて同一のデータが記録される（記録ステップ）。
【００３０】
次に、全てのＥＣＣブロックのデータが同一である光ディスクＤＫに対し、エラー情報算出不能エラーおよびこのエラーが発生したＥＣＣブロック、さらには記録データの再生時における不連続エラーを、時間間隔測定回路１６から入力する時間データによって検出する方法について説明する。
【００３１】
作業者から光ディスクを検査する指示を受けると、コンピュータ１８は再生用レーザー駆動回路（図示省略）に指令を出力し、再生用レーザー駆動回路により制御された再生用レーザー光が光ピックアップ装置ＰＵＨ内の再生用レーザー光源から出射される。出射された再生用レーザー光は所定の光学系を経由して光ディスクＤＫに照射される。このため光ディスクＤＫに光スポットが形成される。光ディスクＤＫに形成された光スポットの反射光は、所定の光学系を経由して光ピックアップ装置ＰＵＨ内のフォトディテクタに受光される。フォトディテクタからは受光信号が再生データ生成回路１２に出力される。再生データ生成回路１２は入力した受光信号から再生データを生成し（再生ステップ）、エラー計算回路１４に出力する。エラー計算回路１４は再生データに基づいてエラー情報を算出し、算出したエラー情報を時間間隔測定回路１６およびコンピュータ１８に出力する（エラー情報出力ステップ）。時間間隔測定回路１６は、エラー計算回路１４からエラー情報が入力された時点から、次のエラー情報が入力されるまでの時間間隔である入力時間間隔ｔ（この入力時間間隔ｔは、エラー計算回路１４がエラー情報を出力する出力時間間隔に等しい）を測定し（時間間隔測定ステップ）、その測定結果をコンピュータ１８に出力する。
【００３２】
図２は、再生データ生成回路１２が出力する再生データの出力状況と、エラー計算回路１４におけるデータ処理状況を、時間を横軸にとって示した図である。図２（ａ）は正常にエラー計算回路１４におけるデータ処理がなされた場合、図２（ｂ）はエラー情報算出不能エラーが発生した場合、図２（ｃ）は不連続エラーが発生した場合における、再生データの出力状況とエラー計算のデータ処理状況を示す。再生データ生成回路１２にて処理される１ＥＣＣブロックあたりの再生時間ｔ０は、光ディスクＤＫに記録されたデータの再生速度（光ディスクＤＫに照射するレーザー光の線速度に相当する）により１ＥＣＣブロック分の記録量を除算したものであり、１ＥＣＣブロック分の記録量は光ディスクＤＫの種類ごとに定まっているので、１ＥＣＣブロックのデータの再生時間ｔ０は、光ディスクＤＫに記録されたデータの再生速度を定めることによって定まる。
【００３３】
また、エラー計算回路１４におけるデータ処理は、１ＥＣＣブロックのデータの入力が完了した後に、復号処理とエラー数計算処理が行われてエラー情報の結果が出力される。復号処理に要する時間やエラー数計算処理に要する時間は、エラー数が極端に多い場合を除いてそれぞれのＥＣＣブロックごとにほぼ同じ時間となる。したがって、エラー計算回路１４におけるデータ処理量が通常の処理量であり、且つ再生データ生成回路１２からの１ＥＣＣブロックあたりの再生データの入力時間が通常の再生時間ｔ０である場合には、エラー計算回路１４におけるデータ処理は、図２（ａ）に示すように再生データの入力の完了を待って行われる。よって、エラー計算回路１４からエラー情報が出力される時間間隔（エラー計算回路１４からのエラー情報が時間間隔測定回路１６に入力する入力時間間隔ｔ）は１ＥＣＣブロックあたりの再生時間ｔ０とほぼ同じ等しくなる。なお、上記において「ほぼ」と表現したように、データ処理時間のばらつきや回転ジッタなどの影響で復号処理とエラー数計算処理の時間はＥＣＣブロックごとに多少ばらつきがある。よって、このばらつきの範囲を±αとすると、入力時間間隔ｔはｔ０±αとなる。
【００３４】
しかし、光ディスクＤＫの傷が付いた部分や異物が付着している部分を再生するときには、エラー訂正量が膨大になり、またエラー訂正が不可能になるなどして、復号処理およびエラー数の計算処理に時間がかかる。このような場合にはエラー計算回路１４には、前のＥＣＣブロックの復号処理またはエラー計算処理中に次のＥＣＣブロックの再生データの入力が完了してしまうので、エラー計算の遅れを後続のデータ処理に影響させないため途中まで行った復号処理またはエラー計算を破棄して次のＥＣＣブロックにおけるエラー数の計算を開始する。このため復号処理またはエラー計算を破棄したＥＣＣブロックにおいてはエラー数やエラー率が算出できず、よってエラー情報が出力されず、エラー情報算出不能エラーが発生する。エラー情報が出力されないと、時間間隔測定回路１６にエラー情報が入力されないので、時間間隔測定回路１６は引き続いて時間を計測し、次のエラー数の入力時点までの時間を測定し、測定した時間をコンピュータ１８に出力する。この場合、例えば図２（ｂ）に示すように１ＥＣＣブロック分のエラー数が算出されず、次のＥＣＣブロックでエラー数が算出されたときには、時間間隔測定回路１６は２（ｔ０±α）の時間をコンピュータに出力する。このように、エラー情報算出不能エラーが発生した場合は、入力時間間隔ｔはｔ±αの整数倍の時間となる。このときの倍数は、エラー情報が算出できないＥＣＣブロックの数に１を加えた数である。
【００３５】
また、トラック飛びなどが発生すると、あるＥＣＣブロックの再生データの途中から異なったＥＣＣブロックの再生データの途中に飛ぶために、再生データが不連続となって不連続エラーが発生する。このため、飛んだ後のＥＣＣブロックにおける再生データの入力が終わってからエラー計算処理が行われる。この場合、ＥＣＣブロックにおける再生データ量が本来のＥＣＣブロックのデータ量とは異なっているため、復号処理およびエラー数の計算処理に時間がかかる。そのため図２（ｃ）に示すように、エラー情報算出不能エラーの場合と同様、復号処理またはエラー計算を破棄して次の正常に再生されたＥＣＣブロックについてのエラー計算に移り、エラー情報を出力する。このように、不連続エラーが発生した場合も破棄されて出力されないエラー情報があるためにエラー情報の出力時間間隔が変化し、時間間隔測定回路１６への入力時間間隔ｔも変化する。このときの入力時間間隔ｔは、高い確率でｔ０±αの倍数以外の時間となる。
【００３６】
したがって、エラー情報の時間間隔測定回路１６への入力時間間隔ｔが、ｔ０−α＜ｔ＜ｔ０＋αの範囲内であれば図２（ａ）に示すようにエラー計算回路１４にて正常にエラー情報が出力されたものと判定でき、上記範囲外であればエラー情報算出不能エラーまたは不連続エラーが発生したものと判定できる。また、上記いずれかのエラーが発生している場合にあっては、ｔがｔ０±αの整数倍とみなすことができればエラー情報算出不能エラーが発生したものと判定でき、整数倍とみなすことができなければ不連続エラーが発生したものと判定できる。
【００３７】
コンピュータ１８は、作業者から入力装置２０を介して再生データのエラー情報の計測の指示を受けると、時間間隔測定回路１６からエラー情報の入力時間間隔ｔを基に上記の判定処理を図４に示したプログラムにしたがって行い、エラー情報算出不能エラーの発生およびエラー情報算出不能エラーが生じたＥＣＣブロック、ならびに不連続エラーの発生を検出するとともに、エラー情報を出力したＥＣＣブロックの順に番号付けを行いながらエラー情報および上記エラーの検出をメモリ１８ａに記憶する処理を行う。以下、この処理を行うプログラムについて説明する。
【００３８】
このプログラムは図４のステップＳ１００にて開始され、ステップＳ１０２にてコンピュータ１８は時間間隔測定回路１６から入力時間間隔ｔが入力されたかを判定する。入力時間間隔ｔが入力されていない場合にはステップＳ１２２に進み、作業者からこのプログラムを終了する指令が入力されているかを判定する。入力されている場合はステップＳ１２４に進んでこのプログラムの実行を終了する。入力されていない場合はステップＳ１０２に戻り、再び入力時間間隔ｔが入力されたかを判定する。
【００３９】
ステップＳ１０２にて入力時間間隔ｔが入力されていると判定すると、ステップＳ１０４に進み、このステップＳ１０４にてコンピュータ１８は入力時間間隔ｔと基準時間ｔ０との差の絶対値｜ｔ-ｔ０｜が所定値α以下であるかを判定する。ここで、基準時間ｔ０は、１ＥＣＣブロックあたりのデータが再生される時間（再生時間）であり、上述のように光ディスクＤＫの線速度に相当する再生速度と１ＥＣＣブロックあたりの記録量とから算出される定数値である。αは、上述のようにＥＣＣブロックごとに算出されるエラー情報の算出時間のばらつきである。したがって、ステップＳ１０４の計算は、入力時間間隔ｔが、記録データの再生速度から定まる基準時間（１ＥＣＣブロックあたりの再生時間）ｔ０から許容範囲α内にあるかを判定することになる。
【００４０】
ステップＳ１０４の判定が「Ｙｅｓ」である場合、つまり入力時間間隔ｔが基準時間ｔ０から許容範囲α内である場合には、１ＥＣＣブロックあたりのエラー情報が正常に算出され、エラー情報算出不能エラーも不連続エラーも生じなかったものとみなされる。この場合は計算されたエラー情報をメモリ１８ａに出力した後にステップＳ１０６に進み、このステップＳ１０６にて、コンピュータ１８のメモリ１８ａ内に記憶されたエラー情報を本来の記憶領域に移動させ、その後ステップＳ１０２に戻り、次の入力時間間隔ｔの入力を待つ。
【００４１】
一方、ステップＳ１０４の判定が「Ｎｏ」である場合、つまり入力時間間隔ｔが基準時間ｔ０から許容範囲α内にはない場合には、エラー情報算出不能エラーまたは不連続エラーが生じているものとみなせる。この場合はステップＳ１０８に進み、このステップＳ１０８にて、｜ｔ−ｔ０｜を基準時間ｔ０で除算した値ｎを求める。次いで、ステップＳ１１０に進み、値ｎのうちの小数点以下の部分の数値のみを取り出し、この小数点以下の部分の数値が基準の数値β以下であるかを判定する。この数値βは入力時間間隔ｔが基準時間ｔ０の倍数もしくはそれに近い値であるかを判断するための閾値であり、任意に設定できるが、ステップＳ１０４にて用いる許容範囲αを加味して、βはα／ｔ０程度とすることもできる。
【００４２】
ステップＳ１１０にて値ｎの小数点以下の部分が数値β以下であると判定された場合は、入力時間間隔ｔが基準時間ｔ０の倍数であるとみなせる。入力時間間隔ｔが基準時間ｔ０の倍数である場合は、上述したようにエラー情報算出不能エラーが生じていると考えられる。この場合は次のステップＳ１１２にて値ｎの整数部分を取り出してこれをｍとし、さらにステップＳ１１４にてエラー情報が算出できないブロックを示す「復号不可能」を示すデータをｍ個分メモリ１８ａに出力する。ここで、ｍを導き出すための除算の分子（ステップＳ１０８における計算式中の分子）は｜ｔ−ｔ０｜であり、入力時間間隔ｔから基準時間ｔ０を引いた値であるので、除算結果の整数部分ｍはエラー情報算出不能エラーが発生したＥＣＣブロックの数に相当する。その後、ステップＳ１１６にてメモリ１８ａ内のある領域に記憶されたエラー情報を本来の領域に移動させ、ステップＳ１０２に戻り、次の入力時間間隔ｔの入力を待つ。
【００４３】
また、ステップＳ１１０にて値ｎの小数点以下の部分が数値β以上であると判定した場合は、入力時間間隔ｔが基準時間ｔ０の倍数ではないとみなせる。入力時間間隔ｔが基準時間ｔ０の倍数でない場合は、上述したように不連続エラーが発生していると考えられる。したがって、この場合はステップＳ１１８に進み、再生データの不連続の発生を示す「不連続発生」を示すデータをメモリ１８ａに出力する。その後、ステップＳ１２０に進み、メモリのある領域に記憶されたエラー情報を本来の領域に移動させ、ステップＳ１０２に戻り、次の入力時間間隔ｔの入力を待つ。
【００４４】
上記のようなプログラム処理により、「復号不可能」と「不連続発生」を示すデータが入り混じったエラー情報がメモリ１８ａに記憶される。そして、光ディスクＤＫが例えばＨＤ  ＤＶＤの場合はＰＩエラー数の規格値が４ＥＣＣブロックあたり２８０個以下であることと規定されているから、４ＥＣＣブロックごとのエラー情報を作成し、ＥＣＣブロックごとのエラー情報および４ＥＣＣブロックごとのエラー情報を、ＥＣＣブロックの再生順に番号付けをして表示装置２２に表示させる。表示装置２２に表示するエラー情報を図５（ａ）に示す。なお、図５（ａ）の例では、５番目に再生したＥＣＣブロックのエラー情報が算出できず、また１１番目に再生したＥＣＣブロックの再生中にトラック飛びなどによって不連続再生が発生した例を示している。
【００４５】
図５（ｂ）は、ＥＣＣブロックをアドレスデータにより区別した場合における、図５（ａ）に対応するデータを示す。図５（ａ）と図５（ｂ）を比較してわかるように、本実施形態にて生成した４ＥＣＣブロックごとのエラー情報（図５（ａ））は、アドレスデータを用いてエラー情報を作成する図５（ｂ）に示す方法と同一のデータ内容を取得できることがわかる。すなわち、本実施形態によれば、アドレスデータをＥＣＣブロックごとのデータで同一にして、記録信号生成における回路を簡略化し、装置のコストを下げた場合においても、エラー情報算出不能エラーおよびエラー情報算出不能エラーが生じたＥＣＣブロック、ならびに不連続エラーを検出することができ、正確なエラー情報を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１（ａ）】ＥＣＣブロックごとにアドレスデータを変化させて光ディスクに記録を行う場合の回路を示したブロック図である。
【図１（ｂ）】ＥＣＣブロックごとのアドレスデータおよびその他のデータを全て同一にして光ディスクに記録を行う場合の回路を示したブロック図である。
【図１（ｃ）】ＥＣＣブロックごとのアドレスデータおよびその他のデータを全て同一にして光ディスクに記録を行う場合の別の回路を示したブロック図である。
【図２（ａ）】本発明の実施形態に係り、エラー情報算出不能エラーおよび不連続エラーが発生していない場合における、再生データ生成回路が出力する再生データの出力状況とエラー計算回路におけるデータ処理状況を時間を横軸にして示した図である。
【図２（ｂ）】本発明の実施形態に係り、エラー情報算出不能エラーが発生している場合における、再生データ生成回路が出力する再生データの出力状況とエラー計算回路におけるデータ処理状況を時間を横軸にして示した図である。
【図２（ｃ）】本発明の実施形態に係り、不連続エラーが発生している場合における、再生データ生成回路が出力する再生データの出力状況とエラー計算回路におけるデータ処理状況を時間を横軸にして示した図である。
【図３】本発明の実施形態に係る光ディスクの検査装置の要部を示す部分概略図である。
【図４】本発明の実施形態に係り、コンピュータが行うデータ処理のためのプログラムフローチャートである。
【図５（ａ）】本発明の実施形態に係り、表示装置に表示されるエラー情報を示した図である。
【図５（ｂ）】従来の方法により算出したエラー情報を示した図である。
【符号の説明】
【００４７】
１…光ディスク検査装置、１２…再生データ生成回路（再生データ生成手段）、１４…エラー計算回路（エラー情報算出手段）、１６…時間間隔測定回路（時間間隔測定手段）、１８…コンピュータ（エラー検出手段）、１８ａ…メモリ（記憶手段）、２０…入力装置、２２…表示装置、ＰＵＨ…光ピックアップ装置（記録手段）
【図１（ａ）】
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【図１（ｂ）】
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【図１（ｃ）】
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【図２（ａ）】
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【図２（ｂ）】
2008123581.tif 000007
【図２（ｃ）】
2008123581.tif 000008
【図３】
2008123581.tif 000009
【図４】
2008123581.tif 000010
【図５（ａ）】
2008123581.tif 000011
【図５（ｂ）】
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