(57)【要約】【課題】発光素子を含むディスプレイボードの経年劣化補償を与える。【解決手段】本発明は、発光素子のアレイと、画像データで発光素子を駆動するための駆動手段と、経年劣化判定手段とを含むディスプレイボードを与える。経年劣化判定手段は、ディスプレイボードの発光素子によって放射された光を代表する光を放射するための１つ以上の発光素子と、ディスプレイボードが用いられている間駆動されない、少なくとも１つの基準発光素子とを含む。中間較正の時、少なくとも１つの基準発光素子が較正データによって駆動され、基準発光素子によって放射された光が発光素子によって放射された光を代表する光と同様に測定される。少なくとも１つの基準発光素子によって放射された光と発光要素によって放射された光を代表する光との差が、アレイの発光素子の経年劣化の程度についての測定値である。【選択図】図２
2008065311.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アドレス指定可能な発光素子（３１）のアレイと、画像データで発光素子（３１）を駆動するための駆動手段（３２）とを含むディスプレイボード（３０）であって、前記ディスプレイボード（３０）はさらに経年劣化判定手段（３３）を含み、経年劣化判定手段（３３）は、
・少なくとも１つの基準発光素子（３５）を含み、駆動手段（３２）は少なくとも１つの基準発光素子（３５）を較正データで駆動するよう適合され、前記経年劣化判定手段（３３）はさらに
・基準発光素子（３５）によって放射された光を測定し、かつ発光素子（３１）によって放射された光を代表する光を測定するための、光測定手段（３６）と、
・第２の基準発光素子（３５）によって放射された測定された光を発光素子（３１）によって放射された光を代表する測定された光と比較するため、かつその比較結果に基づいてアレイの発光素子（３１）の経年劣化を判定するための、比較手段（３７）とを含む、ディスプレイボード（３０）。
【請求項２】
発光素子（３１）および少なくとも１つの基準発光素子（３５）は異なる種類である、請求項１に記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項３】
発光素子（３１）および少なくとも１つの基準発光素子（３５）は同じ種類である、請求項１に記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項４】
少なくとも１つの基準発光素子は少なくとも第１および第２の基準発光素子（３４，３５）を含み、駆動手段（３２）は、第１の基準発光素子（３４）を、アレイの発光素子（３１）を駆動するための画像データから導かれる値に等しい基準データで第１の瞬間に、発光素子（３１）によって放射された光を代表する光を放射するために第１の較正データで第２の瞬間に駆動するよう、かつ、第２の基準発光素子（３５）を第２の較正データで第２の瞬間に駆動するよう適合され、
光測定手段は、第１および第２の基準発光素子（３４，３５）によって放射された光を測定するよう適合され、
比較手段（３７）は、第１の基準発光素子（３４）によって放射された測定された光と第２の基準発光素子（３５）によって放射された測定された光とを比較するよう、かつその比較結果に基づいて、アレイの発光素子（３１）の経年劣化を判定するよう適合される、請求項３に記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項５】
画像データから導かれる値は画像データの平均値である、請求項４に記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項６】
ディスプレイボード（３０）はさらに、経年劣化の判定に基づいてアレイの発光素子（３１）の経年劣化を補償するための補償手段を含む、請求項１から５のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項７】
ディスプレイボード（３０）はさらに、駆動手段（３２）を制御するためのコントローラ（３８）を含む、請求項１から６のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項８】
発光素子（３１）のアレイはディスプレイボード（３０）の第１の側に与えられ、少なくとも１つの基準発光素子（３４，３５）はディスプレイボード（３０）の第２の側に与えられ、第２の側は第１の側の反対側である、請求項１から７のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項９】
発光素子（３１）のアレイはディスプレイボード（３０）の第１の側に与えられ、第１の基準発光素子（３４）はディスプレイボード（３０）の第１の側に与えられ、第２の基準発光素子（３５）はディスプレイボード（３０）の第２の側に与えられ、第２の側は第１の側の反対側である、請求項４から７のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項１０】
少なくとも１つの基準発光素子（３４，３５）はディスプレイボード（３０）の発光素子（３１）のアレイと同じ側に与えられる、請求項１から８のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項１１】
第１および第２の基準発光素子（３４，３５）は同じ光測定手段（３６）に結合される、請求項４から１０のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項１２】
光測定手段（３６）は少なくとも１つの光検出器またはフォトトランジスタを含む、請求項１から１１のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項１３】
ディスプレイボード（３０）は異なる色の発光素子（３１）を含み、少なくとも１つの基準発光素子（３４，３５）は各色について与えられる、請求項１から１２のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項１４】
ディスプレイボード（３０）はマルチカラー発光素子（３１）を含み、経年劣化判定手段（３２）の少なくとも１つの基準発光素子（３４，３５）はマルチカラー発光素子である、請求項１から１２のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項１５】
アレイの発光素子（３１）はＬＥＤである、請求項１から１４のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項１６】
ディスプレイボード（３０）はディスプレイタイルに組込まれる、請求項１から１５のいずれかに記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項１７】
複数のディスプレイタイルはディスプレイを形成する、請求項１６に記載のディスプレイボード（３０）。
【請求項１８】
ディスプレイボード（３０）の経年劣化を判定するための方法であって、ディスプレイボード（３０）は発光素子（３１）のアレイと、発光素子（３１）を画像データで駆動するための駆動手段（３２）と、少なくとも１つの基準発光素子（３５）とを含み、前記方法は、
・発光素子（３１）によって放射された光を代表する光を測定するステップと、
・基準発光素子（３５）を較正データで駆動し、基準発光素子（３５）によって放射された光を測定するステップと、
・発光素子（３１）によって放射された光を代表する光を基準発光素子（３５）によって放射された光と比較し、その比較結果に基づいてアレイの発光素子（３１）の経年劣化を判定するステップとを含む、方法。
【請求項１９】
発光素子（３１）によって放射された光を代表する光を測定するステップは発光素子（３１）によって放射された光を測定するステップを含む、請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
ディスプレイボードは少なくとも１つの基準発光素子（３４）および第２の基準発光素子（３５）を含み、
発光素子（３１）によって放射された光を代表する光を測定するステップは、第１の基
準発光素子（３４）を第１の較正データで駆動し、第１の基準発光素子（３４）によって放射された光を測定するステップとを含み、かつ
基準発光素子（３５）を較正データで駆動し、基準発光素子（３５）によって放射された光を測定するステップは、第２の基準発光素子（３５）を第２の較正データで駆動し、第２の基準発光素子（３５）によって放射された光を測定するステップを含む、請求項１８に記載の方法。
【請求項２１】
第１の較正データは第２の較正データに等しい、請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
第１および第２の基準発光素子（３４，３５）を第１および第２の基準データによってそれぞれ駆動する前に、ディスプレイボード（３０）の発光素子（３１）を画像データで駆動し、第１の基準発光素子（３４）をアルゴリズムによって画像データから導かれる値で駆動するステップを含む、請求項２０または２１に記載の方法。
【請求項２３】
アルゴリズムは、画像データから導かれる値を導くステップを含み、値は画像データの平均値である、請求項２２に記載の方法。
【請求項２４】
ディスプレイボード（３０）を較正する方法であって、ディスプレイボード（３０）は発光素子（３１）のアレイを含み、前記方法は、
・請求項１８から２３のいずれかに記載の方法に従ってアレイの発光素子（３１）の経年劣化の程度を判定するステップと、
・判定された経年劣化の程度に基づいてアレイの発光素子（３１）の経年劣化を補償するステップとを含む、方法。
【請求項２５】
アレイの発光素子（３１）の経年劣化を補償するステップはアレイの発光素子（３１）の駆動パラメータを適合することによって実行される、請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】
駆動パラメータは電圧である、請求項２５に記載の方法。
【請求項２７】
駆動パラメータは電流である、請求項２５に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の技術分野
本発明は、発光素子を含むディスプレイボードおよびこれを構築し、動作する方法に関する。より特定的には、本発明は、そのようなディスプレイボードの発光素子の経年劣化、および経年劣化を考慮したこれらの動作方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
発明の背景
電子ディスプレイは、絵または光を生成するために透過型または放射型材料を用いることができる。放射型材料は、通常、燐光性またはエレクトロルミネセント材料である。例としては、薄膜および厚膜のエレクトロルミネセンスディスプレイ（ＥＬディスプレイ、たとえばシャープによって製造される薄膜ＴＦＥＬディスプレイ、プレーナー（Planar）（登録商標）、ライトアレイ（LiteArray）、もしくはアイファイア（iFire）（登録商標）／ウエスタイム（Westaim）（登録商標））に用いられる無機エレクトロルミネセント材料または発光ダイオード（ＬＥＤ）がある。別のグループとして、小さな分子または重合体技術または燐光性ＯＬＥＤを含む層に堆積した（有機発光ダイオードまたはＯＬＥＤ材料などの）有機エレクトロルミネセント材料があり、エレクトロルミネセント材料は燐光性材料でドープされている。さらに別の材料グループとしては、投影スクリーンに埋め込まれた発光体を励起するためにレーザビームが用いられている、十分確立された陰極線管（ＣＲＴ）またはプラズマディスプレイ（ＰＤＰ）、およびレーザーダイオード投影ディスプレイなどの未来技術においてさえ一般に用いられる、燐光体である。
【０００３】
基本的な２つの種類のディスプレイが存在する。各々が小さな領域一帯の光を生成するか制御する、個々にアドレス指定可能な「セル」または「画素」のマトリクスまたはアレイを含む固定フォーマットディスプレイ、および、走査電子ビームディスプレイなど、たとえばＣＲＴディスプレイなどの、そのような固定フォーマットのないディスプレイである。固定フォーマットは、画像信号の個々の部分がディスプレイの特定の画素に割り当てられることに関連するのと同様、ディスプレイの画素化（pixelation）に関する。
【０００４】
タイル状ディスプレイは、それ自体がタイル状のスーパーモジュールになる、タイル状のアレイからできたモジュールを含み得る。モジュール式またはタイル状の放射ディスプレイ、たとえばタイル状ＬＥＤまたはＯＬＥＤディスプレイは、より小さなモジュールまたはディスプレイボードから作られ、次いで、より大きなタイルへと組み合わされる。これらのタイル状放射ディスプレイまたはディスプレイタイルは、他のディスプレイタイルとさらに組み合わされるように完成したユニットとして製造され、あらゆる大きさおよび形状のディスプレイを形成する。
【０００５】
ディスプレイボード上のすべての発光素子およびディスプレイタイルは、異なるバッチ（batch）から形成することができ、異なる生産日、異なる稼動時間（runtime）などを有することができる。すなわちそれらは異なる特性を有することができる。工場では、すなわち実際の使用の前には、発光素子製品はすべて制御された状況下で較正される。しかしながら、実データではなく統計データに基づかなければ補償できない１つのパラメータがあり、それが発光素子の使用中の経年劣化または劣化である。経年差は、たとえば個々の発光素子の異なるＯＮ時間（すなわち発光素子が活性であった時間量）によって、および所与のディスプレイ領域内の温度変化によって生じる。
【０００６】
ディスプレイが１組のタイル状ディスプレイボードから構成され得る大型スクリーンの
適用例については、その発光素子のＯＮ時間が変動するために、および／または温度差のために、１つのディスプレイが別のディスプレイよりも速い速度で経年劣化する可能性がある。典型的には、タイル状ディスプレイが製造されるとき、それは均一な画像のために較正される。発光素子を含むディスプレイにおける難問はその光出力を均一にすることであり、すなわちディスプレイボード上のすべての発光素子が使用後でさえ同じ輝度を有するようにすることである。
【０００７】
ＥＰ  １  １５８  ４８３において、ディスプレイの画素の経年劣化を補正するシステム１０が記載される。システム１０はソリッドステートディスプレイ装置１２を含む。システム１０は基準画素１４を用い、画素性能の測定、および測定された画素性能に応答するフィードバック機構を可能にし、ディスプレイ装置１０の動作特性を修正する（図１参照）。基準画素１４の特性は測定回路１８によって測定され、それによって集められた情報は解析回路２０に接続される。解析回路２０は、制御回路２２に供給されるフィードバック信号を生成する。制御回路２２は、制御線２４を通して画像ディスプレイ１０の動作特性を修正する。
【０００８】
ＥＰ  １  １５８  ４８３によれば、測定回路１８は基準画素１４の性能をモニタする。測定された性能値は、解析回路２０によって予期された、または所望された性能と比較される。これらの比較は、装置１２の特性についての演繹的な知識に基づくか、または十分な性能を与えることが経験的に示された何らかの任意の値と単純に比較されることができる。いずれの場合も、装置１２の性能を修正する必要があるといったん決定されると解析回路２０がフィードバックおよび制御機構に合図し、次にその機構が変更を開始する。
【特許文献１】ＥＰ  １  １５８  ４８３
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、ＥＰ  １  １５８  ４８３によるシステム１０では、測定回路１８における誤りは補正または変更における誤りに至り得る。さらに、測定された性能値が比較される値は、測定された性能値と全く同じ状況下で測定されるわけではなく、したがって性能値と同じ状況下で測定される基準値からの小さな偏差を含み得る。これが補正または変更における誤りに至りかねない。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
発明の概要
優れたディスプレイボードを与えることと、そのようなディスプレイボードにおける発光素子の経年劣化を判定するための優れた方法を与えることとが、本発明の目的である。
【００１１】
上記の目的は、本発明による方法および装置によって達成される。
第１の局面では、本発明は、アドレス指定可能な発光素子のアレイと、画像データで発光素子を駆動するための駆動手段とを含むディスプレイボードを与える。ディスプレイボードは経年劣化判定手段をさらに含み、経年劣化判定手段は、
少なくとも１つの基準発光素子を含み、駆動手段は少なくとも１つの基準発光素子を較正データで駆動するよう適合され、経年劣化判定手段はさらに
基準発光素子によって放射された光を測定するため、かつ発光素子によって放射された光を代表する光を測定するための光測定手段と、
基準発光素子によって放射された測定された光と発光素子によって放射された光を代表する測定された光とを比較するため、かつ比較結果に基づいてアレイの発光素子の経年劣化を判定するための比較手段とを含む。
【００１２】
発光素子によって放射された光を代表する光は、発光素子自体によって放射された光で
あり得る。代替的には、これは基準発光素子によって放射された光でもよい。
【００１３】
本発明の実施例では、発光素子および少なくとも１つの基準発光素子は異なる種類、すなわち異なる性能特性を有する発光素子であり得る。たとえば、ディスプレイボードの発光素子はパワーＬＥＤであり得、少なくとも１つの基準発光素子はＳＭＤ  ＬＥＤなどのより安価な種類のＬＥＤでもよい。
【００１４】
本発明の代替実施例では、ディスプレイボードの発光素子および少なくとも１つの基準発光素子は同じ種類であり得、すなわち同じ性能特性を有する。それらはたとえば両方ともパワーＬＥＤであり、または両方ともＳＭＤ  ＬＥＤでもよい。
【００１５】
一実施例において、本発明は、アドレス指定可能な発光素子のアレイと、画像データで発光素子を駆動するための駆動手段とを含むディスプレイボードを与える。ディスプレイボードは経年劣化判定手段をさらに含み、経年劣化判定手段は、
・  少なくとも第１および第２の基準発光素子を含み、駆動手段は、第１の基準発光素子を、アレイの発光素子を駆動するための画像データから導かれる値と等しい基準データで第１の瞬間に、第１の較正データで第２の瞬間に駆動するよう、かつ第２の基準発光素子を第２の較正データで第２の瞬間に駆動するよう適合され、
・  第１および第２の基準発光素子によって放射された光を測定するための光測定手段と、
・  第１の基準発光素子によって放射された測定された光と第２の基準発光素子によって放射された測定された光とを比較するため、かつその比較結果に基づいてアレイの発光素子の経年劣化を判定するための比較手段とを含む。
【００１６】
第１の瞬間とはディスプレイが実行されている瞬間を意味し、換言すれば、アレイの発光素子が画像データによって駆動されるときである。第２の瞬間とは、中間較正が実行される瞬間を意味する。
【００１７】
本発明の実施例によるディスプレイボードの利点は、基準値および経年劣化値の両方が同じディスプレイボード上で判定されることである。これにより、経年劣化値が予め定められた値と比較される先行技術の装置に対して、より信頼性が高く、より正確な経年劣化の判定に至る。
【００１８】
本発明の実施例によれば、画像データから導かれる値は画像データの平均値でもよい。
ディスプレイボードは、経年劣化判定に基づいてアレイにおける発光素子を補償するための補償手段をさらに含んでもよい。しかしながら他の実施例によれば、補償手段はディスプレイボードの外部に位置してもよい。
【００１９】
アレイの発光素子間の経年差に対する補償がすべての瞬間において実行できることがその利点である。
【００２０】
ディスプレイボードは、駆動手段を制御するための制御装置をさらに含んでもよい。
本発明の実施例によれば、発光素子のアレイはディスプレイボードの第１の側に与えられることができ、第１および第２の基準発光素子はディスプレイボードの第２の側に与えられることができ、第２の側は第１の側の反対側である。
【００２１】
第１および第２の基準発光素子を加えても、それがディスプレイ素子のアレイの一部ではないので、ディスプレイボードの大きさが変化せず、画像を妨害しないことが利点である。
【００２２】
本発明の他の実施例によれば、発光素子のアレイはディスプレイボードの第１の側に与えられ得、第１の基準発光素子はディスプレイボードの第１の側に与えられ得、第２の基準発光素子はディスプレイボードの第２の側に与えられ得、第２の側は第１の側の反対側である。
【００２３】
本発明のさらに他の実施例によれば、第１および第２の基準発光素子はディスプレイボードにおいて発光素子のアレイと同じ側に与えられてもよい。
【００２４】
いくつかの実施例によれば、第１の基準発光装置は発光装置のアレイの一部であってもよい。
【００２５】
特定の実施例では、第１および第２の基準発光素子は同じ光測定手段に結合され得る。
ディスプレイ発光素子の経年劣化のための補償だけでなく、光測定手段、たとえばフォトダイオードまたはフォトトランジスタの、経年劣化ドリフトの補償もあることが利点である。これは、両方とも同じ光測定手段によって実行された測定間に差が生じた場合、光測定手段から発生し得る可能性のある誤りを排除することができるからである。
【００２６】
光測定手段は、光検出器またはフォトトランジスタの少なくとも１つを含み得る。
本発明の実施例によれば、ディスプレイボードは、異なる色の発光素子を含んでもよく、第１および第２の基準発光素子が各色について与えられてもよい。
【００２７】
本発明の他の実施例によれば、ディスプレイボードはマルチカラー発光素子を含んでもよく、経年劣化判定手段は、１つの第１の基準発光素子および１つの第２の基準発光素子を含んでもよく、第１および第２の発光素子はマルチカラー発光素子であり得る。
【００２８】
アレイの発光素子はＬＥＤでもよい。
本発明の実施例によるディスプレイボードはディスプレイタイルに組込まれてもよい。
【００２９】
複数のディスプレイタイルがディスプレイを形成してもよい。
第２の局面において、本発明は、ディスプレイボードの経年劣化を判定する方法を与え、ディスプレイボードは、発光素子のアレイと、発光素子を画像データで駆動するための駆動手段と、少なくとも１つの基準発光素子とを含む。この方法は、
発光素子によって放射された光を代表する光を測定するステップと、
基準発光素子を較正データで駆動し、基準発光素子によって放射された光を測定するステップと、
発光素子によって放射された光を代表する光を基準発光素子によって放射された光と比較して、比較結果に基づいて、アレイの発光素子の経年劣化を判定するステップとを含む。
【００３０】
本発明の実施例の利点は、本質的に駆動されず、したがって経年劣化効果を示さない基準発光素子が、ディスプレイボードに搭載されていることである。このような基準発光素子は、ディスプレイボードの発光素子と比較して、同じ種類であっても異なる種類であってもよい。
【００３１】
発光素子によって放射された光を代表する光を測定するステップは、発光素子自体によって放射された光を測定するステップを含み得る。
【００３２】
代替実施例においては、発光素子によって放射された光を代表する光を測定するステップは、基準発光素子によって放射された光を測定するステップを含んでもよい。この実施例では、ディスプレイボードの経年劣化を判定するための方法が与えられ、ディスプレイボードは、発光素子のアレイと、画像データで発光素子を駆動するための駆動手段と、少
なくとも第１および第２の基準発光素子とを含む。この方法は、
・  第１の較正データで第１の基準発光素子を駆動し、第１の基準発光素子によって放射された光を測定するステップと、
・  第２の較正データで第２の基準発光素子を駆動し、第２の発光素子によって放射された光を測定するステップと、
・  第１の発光素子によって放射された光と第２の発光素子によって放射された光とを比較し、比較結果に基づいて、アレイの発光素子の経年劣化を判定するステップとを含む。
【００３３】
本発明の実施例による方法の利点は、基準値および経年劣化値の両方が同じディスプレイボード上で判定されることである。これにより、経年劣化値が予め定められた値と比較される先行技術の装置に対して、より信頼性が高く、より正確な経年劣化の判定に至る。
【００３４】
第１の較正データは第２の較正データと同じでも異なっていてもよい。
この方法は、第１および第２の基準発光素子をそれぞれ第１および第２の基準データで駆動する前に、ディスプレイボードの発光素子を画像データで駆動し、第１の基準発光素子を画像データから導かれる値で駆動するステップを含んでもよい。
【００３５】
本発明の実施例によれば、画像データから導かれる値は画像データの平均値でもよい。
本発明の他の局面では、ディスプレイボードを較正するための方法が与えられ、ディスプレイボードは発光素子のアレイを含み、この方法は、
・  本発明の実施例による方法に従ってアレイの発光素子の経年劣化の程度を判定するステップと、
・  判定された経年劣化の程度に基づいてアレイの発光素子の経年劣化を補償するステップとを含む。
【００３６】
アレイの発光素子の経年劣化を補償するステップは、アレイの発光素子の駆動パラメータを適合することにより実行されてもよい。
【００３７】
本発明の実施例によれば、駆動パラメータは電圧であり得る。
本発明の他の実施例によれば、駆動パラメータは電流であり得る。
【００３８】
本発明の特定の、好ましい局面は、添付の独立および従属請求項で述べられる。従属請求項の特徴は、請求項に明示的に述べられるのみではなく、独立請求項の特徴および他の従属請求項の特徴と適宜組み合わせてもよい。
【００３９】
この分野において装置の一定の改善、変化、および発展があったにもかかわらず、本概念は先行する慣習からの逸脱を含む本質的に新規かつ斬新な改善を表わすと考えられ、その結果より効率的、安定的、かつ信頼性が高いこの種の装置を与えることとなる。
【００４０】
本発明の上記および他の特性、特徴および利点は、例として本発明の原理を示す添付の図面に関連して見ると、以下の詳細な説明から明らかになるだろう。この説明は、請求項によって規定される本発明の範囲を限定することなく、例としてのみ与えられる。下記に引用された参照番号は添付の図面を指す。
【００４１】
異なる図では、同じ引用符号は同じまたは類似の要素を指す。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４２】
例示的実施例の説明
本発明は、特定の実施例に関して、および一定の図面に関して記述されるが、本発明はそれに限定されず、請求項によってのみ限定される。説明された図面は単に概略的であっ
て非限定的である。図面では、要素のうちいくつかの大きさは例示的目的のために誇張されたり、縮尺通りに描かれないことがある。寸法および相対的な寸法は、本発明の実際の具体化に対応しない。
【００４３】
さらに、明細書および請求項において、第１、第２、第３などの用語は、類似する要素を区別するために用いられ、必ずしも連続順または時系列の説明のために用いられていない。そのように用いられた用語は適切な状況下では交換可能であり、本願明細書に記述された本発明の実施例は、本願明細書に記述され、例示された以外のシーケンスにおいて動作することができることが理解される。
【００４４】
請求項の中で用いられる用語「含む」は、その後リストに記載された手段に制限されるように解釈されるべきではないことに注意すべきである。それは他の要素またはステップを排除しない。したがって述べられた特徴、整数、ステップまたは構成要素の存在を参照されるように特定するとして解釈されるが、１つ以上の他の機能、整数、ステップ、構成要素もしくはそれらの群の存在または追加を妨げない。したがって、「手段ＡおよびＢを含む装置」という表現の範囲は、構成要素ＡおよびＢのみから構成される装置に限定されるべきではない。それは、本発明に関しては、その装置の唯一の重要な構成要素がＡおよびＢであることを意味する。
【００４５】
本発明における「光」とは、３７５〜１０００ｎｍの範囲の波長を備えた電磁放射、すなわち可視光線、ＩＲ放射、近ＩＲおよびＵＶ放射線を意味する。
【００４６】
本発明は、本発明のいくつかの実施例の詳細な説明によってここで記述される。本発明の真の精神または技術的な教示から逸脱することなく、当業者の知識に従って本発明の他の実施例を構成することができることは明らかであり、本発明は添付された請求項の用語によってのみ限定される。
【００４７】
本発明は、その実施例において、たとえばＬＥＤなどの発光素子のアレイと経年劣化判定手段とを含むディスプレイボードを与え、同様にディスプレイボードの経年劣化を検知する方法を与える。本発明の実施例によると、この方法は、たとえばＬＥＤなどのアレイの発光素子の駆動を適合するために次に用いることができるデータを生じ、その結果、たとえばＬＥＤなどのアレイの発光素子の経年劣化による光強度の減少を補正する。
【００４８】
本発明の実施例は、パッシブまたはアクティブなマトリックスディスプレイおよびモノクロまたはカラーディスプレイにも適用され得る。さらに、ディスプレイは平坦なディスプレイでも湾曲したディスプレイでもよい。そのようなディスプレイの中で任意に用いられるボードおよび／またはタイルは、それら自体も同様に平坦でも湾曲していてもよい。
【００４９】
明細書および請求項においてたとえばＬＥＤなどの発光素子のアレイを指すとき、たとえばＬＥＤなどの発光素子が論理的に列と行とに組織される構造を意味する。用語「列」および「行」はたとえばＬＥＤなどの発光素子のアレイの集合について記述するために用いられ、それらはともにリンクされる。リンク付けは行と列との直交アレイ（Cartesian array）の形式であり得るが、本発明はそれに限定されない。当業者によって理解されるように、列と行とは容易に交換可能であり、この開示においてこれらの用語が交換可能であることが意図されている。さらに、非直交アレイが構築されてもよく、それは本発明の範囲に含まれている。したがって、用語「行」および「列」は広く解釈されるべきである。各ディスプレイ要素、たとえばＬＥＤは、個々にアドレス指定可能であってもよい。本発明の実施例によれば、ディスプレイボードは、電流がアドレス指定された、または電圧がアドレス指定された発光素子、たとえばＬＥＤを含んでもよい。
【００５０】
今後、本発明において発光素子はＬＥＤによって記載される。これは本発明をいかなる意味においても限定するものではない。当業者に公知のいかなる適切な発光素子も本発明と共に用いられてもよい。
【００５１】
明細書および請求項では、用語「発光素子」が用いられるときは、電子的にアドレスすることができ、以下の可能性を含む活性な発光素子を包含することを意味する。一般のＥＬ（エレクトロルミネセント装置）、ＴＦＥＬ（薄膜ＥＬ）、ＬＥＤ（発光ダイオード）、ＯＬＥＤ（有機発光ダイオード）およびＰＬＥＤ（高分子発光ダイオード）である。
【００５２】
本発明は主としてＬＥＤに関して記述されるが、本発明はそれに限定されるものではない。
【００５３】
本発明の実施例は、図２に示されるように、ＬＥＤ３１などの発光素子のアレイと、ＬＥＤ３１を画像データで駆動するための駆動手段３２と、経年劣化判定手段３３とを含むディスプレイボード３０を与える。本発明の実施例によれば、経年劣化判定手段３３は、少なくとも１つの第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５を含む。第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は、ディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１と同じバッチから来ているのが最も好ましい。
【００５４】
第１の基準ＬＥＤ３４は、ディスプレイボード３０が機能する間、アレイのＬＥＤ３１の駆動のための画像データからたとえばディスプレイボード３０のアルゴリズムによって導かれる値と等しい基準データで駆動される。本発明の実施例によれば、アルゴリズムは画像データの平均値を導くことを含んでもよい。他の実施例によれば、アルゴリズムは画像データのピーク値を導くことを含んでもよい。さらに他の実施例によると、アルゴリズムはピーク値と平均値との組み合わせを導くこと、または換言すれば画像データの平均値を画像データのピーク値を用いて補正することを含んでもよい。以下の記載では、第１の基準ＬＥＤ３４を駆動するための基準データは、アレイのＬＥＤ３１を駆動するための画像データの平均と等しいとされる。これは本発明をいかなる意味でも限定せず、上述される他のアルゴリズムは本発明の実施例に従って基準データ値を決定するためにも用いることができることが理解される。これは、第１の基準ＬＥＤ３４が実質的に同じ使用法を有し、したがって、ディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１と実質的に同じ経年劣化を示すことを意味する。第１の基準ＬＥＤ３４は平均ＬＥＤと呼ばれてもよい。この第１の基準ＬＥＤ３４は、ディスプレイボード３０の有効寿命を通じて、ＬＥＤ３１の平均的な実際の履歴に対応する。ディスプレイボード３０の中間較正のとき、すなわちディスプレイボード３０が、使用中、一定の期間後に較正されるとき、第１の基準ＬＥＤ３４は第１の較正データで駆動される。
【００５５】
第２の基準ＬＥＤ３５は通常用いられない。このＬＥＤ３５は、ディスプレイボード３０のＬＥＤ３１の初期状態を備えたＬＥＤに対応する。これは、ディスプレイボード３０が機能する間に、ディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１が使用され、したがって第１の基準ＬＥＤ３４が、アレイのＬＥＤ３１を駆動するための画像データからアルゴリズムによって導かれる値と等しい基準データで駆動されるとき、第２の基準ＬＥＤ３５は駆動されないことを意味する。第２の基準ＬＥＤ３５は中間較正時にのみ用いられ、次に第２の較正データで駆動される。第２の基準ＬＥＤ３５は、工場較正時のディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１の「新しい状態」に対応するＬＥＤである。本発明の実施例によれば、第１および第２の較正データは同じでも異なっていてもよい。第１および第２の較正データが同じであるとき、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５について同じ出力が予期される。しかしながら、いくつかの場合、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の出力は異なり得る。この差は較正差で、経年劣化には起因しないが、アレイのＬＥＤ３１の経年劣化を判定するときに補正されるべきである。較正差
の補正は特定のソフトウェアによって行うことができる。
【００５６】
経年劣化判定手段３３はさらに、中間較正中に、第１の基準ＬＥＤ３４および第２基準ＬＥＤ３５によって放射された光を測定する光測定手段３６と、第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光と第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光とを比較するための、かつ比較結果に基づいてディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１の経年劣化を判定するための、比較手段３７を含む。光測定手段３６は、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の輝度レベルを測定するよう適合される。光測定手段３６はフォトダイオードであってもよい。光測定手段は、測定されるスペクトルにわたってできる限り平らな光学変換曲線を有するのが好ましい。測定解像度は第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の放射された光の間の十分に小さい差を測定するほど十分に高いことが好ましい。
【００５７】
図７は、本発明の実施例の原理を概略的に示す。ディスプレイボード３０の使用中、すなわち、少なくとも１人の観客によって見られることを意図した画像を表示している間、アレイのＬＥＤ３１を含むディスプレイボード３０は、駆動手段３２によって画像データで駆動される。同時に、駆動手段３２はまたアレイのＬＥＤ３１を駆動するための画像データの平均に等しい基準データで第１の基準ＬＥＤ３４を駆動する。一定期間の後に、たとえば装置の始動ごとに、または予め定められた時間数のＯＮ時間の経過後、たとえば２０時間後に、ディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１の中間較正が実行され得る。この目的のために、第１の基準ＬＥＤ３４が第１の較正データで駆動され、第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光は、たとえば光検出器、フォトトランジスタ、光電池、フォトダイオードなどでもよい第１の光測定手段３６によって測定される。次いで、実質的に同時または直前もしくは直後に、第２の基準ＬＥＤ３５が第２の較正データで駆動され、第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光が、たとえば光検出器、フォトトランジスタ、光電池、フォトダイオードなどであり得る第２の光測定手段によって測定される。好ましくは第１の較正データは第２の較正データと等しいが、両方は原則としては異なり得る。特定の実施例によると、また図２に示されるように、第１および第２の光測定手段は同じでもよい。しかしながら、他の実施例（示されない）によれば、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は、各々異なる光測定手段に結合されてもよい。本発明の実施例によれば、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の出力が異なる光測定手段３６で測定されるとき、第１の基準ＬＥＤ３４を駆動し測定するステップは、第２の基準ＬＥＤ３５を駆動し測定するステップと平行して行われてもよいことに注意されたい。しかしながら、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の出力が同じ光測定手段３６で測定されるとき、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５を駆動し測定するステップは平行して行うことができず、第１の基準ＬＥＤ３４を駆動し測定するステップは第２の基準ＬＥＤ３５を駆動し測定するステップの前に実行され、またはその逆で実行されてもよい。
【００５８】
次のステップにおいて、第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光は、比較手段３７によって、第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光と比較される。第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光と、第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光との差は、ディスプレイボード３０上のアレイのＬＥＤ３１の経年劣化状態についての指標である。
【００５９】
第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光と第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光との上述のように得られた差は、次に、実際のＬＥＤの経年劣化を計算に入れて、ＬＥＤ３１の駆動パラメータを適合させるために全面的な較正値を補正するために用いることができる。これは、制御装置３８によって駆動手段３２の駆動パラメータを変更することにより行うことができる。たとえば、ディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１が電圧駆動される場合、経年劣化の補正は、ＬＥＤ３１が駆動されている電圧を較正値に基
づいて適合させることにより行うことができ、その結果、ＬＥＤ３１の経年劣化によるそのような輝度の損失が生じない。ディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１が電流駆動される場合、ＬＥＤ３１が駆動されている電流は較正値に基づいて適合されることができ、その結果、ＬＥＤ３１の経年劣化による輝度の損失が生じない。
【００６０】
本発明の実施例によるディスプレイボード３０および方法の利点は、第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光および第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光の両方が、同じディスプレイボード３０上で判定されること、換言すれば、両方とも同じ状況下で測定されることである。したがって、基準ＬＥＤによって放射された光が装置の特性についての演繹的な知識と比較される、または経験的に十分な性能をもたらすことが示された何らかの任意の値と単純に比較される先行技術と比べて、本発明の実施例は、さらに信頼性が高く、より最新の判定に至ることができ、したがってＬＥＤ３１の経年劣化問題に対する補償する結果となる。
【００６１】
さらに、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光の判定のために単一の光測定手段３６を用いると、第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光と第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光との差が生じた場合、光測定手段３６から生じた可能性のある誤りが、最小限にされ得るかまたは排除さえできるかもしれない。
【００６２】
特定の実施例、すなわち、第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光が第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光と同じ光測定手段３６によって測定される実施例の付加的な利点は、それがさらに光測定手段３６、たとえば光検出器、フォトトランジスタ、光電池、フォトダイオードなどの、経年劣化ドリフトについても補償されることができることである。なぜならば、この構成要素のドリフトは、第１の基準ＬＥＤ３４によって放射され光測定手段３６によって測定される光と、第２の基準ＬＥＤ３５によって放射され同じ光測定手段３６によって測定される光との差を設けることにより、常に再正規化されるからである。
【００６３】
本発明の実施例に従うプロセスの拡張版は、図８および図９を参照して下記に示される。
【００６４】
段階１は、図８のフロー図に示される初期段階である。これは、ボード３０の測定および較正段階（色および輝度）である。第１および第２の基準発光素子、たとえばＬＥＤ３４、３５は、ディスプレイ発光素子、たとえばＬＥＤ３１と同じレベルで駆動される。第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の初期の輝度がステップ８２および８３で測定され、任意で記憶される。ステップ８４で、測定された初期の輝度値から、両方の測定間の光学的結合差が一定の誤差値として判定される。このプロセスは、ステップ８４で、第１の基準ＬＥＤ３４と第２の基準ＬＥＤ３５との初期の差を判定し、この差は同じ駆動パラメータにおける第１の基準ＬＥＤ３４と第２の基準ＬＥＤ３５との輝度差、および、第１の基準ＬＥＤ３４から測定手段３６への光学的結合と第２の基準ＬＥＤ３５から測定手段３６への光学的結合とが異なることによる、光測定手段３６によって測定される差を含む。
【００６５】
段階２はディスプレイボード３０の正規の寿命である。第１の基準ＬＥＤ３４は、アレイのＬＥＤ３１の駆動のための画像データから導かれる値と等しい基準データ、たとえばディスプレイＬＥＤ３１の平均値で駆動される。第２の基準ＬＥＤ３５は駆動されない。この第２の基準ＬＥＤは、フィールド再較正（field recalibration）が実行される時にのみ用いられる。
【００６６】
段階３は、図９のフロー図に示されるインフィールド再較正（in-field recalibration
）段階である。ある瞬間には、ディスプレイＬＥＤ３１は、可視レベルまでのディスプレイボード３０の使用法／稼動時間に起因して、著しく経年劣化している。本発明の実施例の目的は、ディスプレイＬＥＤ３１をその初期の工場性能に戻すことである。プロセスの段階３、インフィールド再較正プロセスは、ステップ９０で開始され得る。このプロセスでは、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は、異なる色、たとえばＲ、Ｇ、ＢおよびＷについても同じ方法で駆動される。ステップ９１で第１の基準ＬＥＤ３４のスイッチが入れられ、ステップ９２でその輝度が測定され、その後ステップ９３で第１の基準ＬＥＤはスイッチが切られる。ステップ９４で第２の基準ＬＥＤ３５のスイッチが入れられ、ステップ９５でその輝度が測定され、その後ステップ９６で第１の基準ＬＥＤはスイッチが切られる。第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の輝度は次々に測定されることができ、これらのいずれが先に測定されてもよい。代替的には、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の輝度の測定のために２つの個別の測定手段３６が用いられる場合には、測定は平行して実行することができる。第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の差がステップ９７で判定される。第２の基準ＬＥＤ３５は全く用いられていないので、それは本質的に０時間寿命のディスプレイＬＥＤ３１の初期状態を表わす。第１の基準ＬＥＤ３４が、アレイのＬＥＤ３１の駆動のための画像データからたとえばディスプレイボード３０のアルゴリズムによって導かれる値と等しい基準データで駆動されているので、基準ＬＥＤ３４は実質的に同じ使用法を有し、したがってディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１と実質的に同じ経年劣化を示す。第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光と、第２の基準ＬＥＤ３５によって放射された光との差は、ディスプレイボード３０のアレイのＬＥＤ３１の経年劣化状態についての指標である。測定手段３６は時間の経過と温度によってその特性が変化し得ることが公知である。第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の初期の差が段階１からもわかり、同様に第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５についての測定手段３６の測定値の光学的測定差もわかるので、ステップ９８において測定装置３６の光学差に対する補償を行うことができ、結果として生じる経年劣化を計算することができる。ディスプレイＬＥＤ３１の駆動パラメータは、判定された経年劣化を補償することができる。
【００６７】
方法の実施例の概念は、実際の初期基準がディスプレイボード３０に（第２の基準ＬＥＤ３５によって）搭載され、インフィールド再較正中に第２の基準ＬＥＤ３５を再測定することによって測定手段３６の電気的ドリフトがなくされることである。すると測定間の唯一の差は、第１の基準ＬＥＤ３４／光学測定手段３６と第２の基準ＬＥＤ３５／光学測定手段３６との光学的結合の差によって引起こされる光学差である。後者が一定であるので、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の経年劣化の差が残る。この調整は、ディスプレイボード３０のＬＥＤ３１のレベル１調整、および第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の駆動レベル調整を結果として生じる。
【００６８】
本願明細書の下記のいくつかの例は、本発明の実施例によるディスプレイボード３０の可能な実現例について説明される。
【００６９】
特定の実施例によって、ディスプレイボード３０の、画像が見られるように意図されている側とは反対側に、少なくとも第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５が与えられてもよい。これは図３Ａおよび図３Ｂに示され、本発明の実施例によるディスプレイボード３０の正面側および背面側をそれぞれ示す。図３Ｂでは、簡潔さのため第１の基準ＬＥＤ３４、第２の基準ＬＥＤ３５、および測定手段３６のみが示される。最も好ましくは、既に上述されたように、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は、第１および第２の較正データによってそれぞれ駆動されるとき第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５によって放射される光を測定するための、同じ光測定手段３６に結合される。しかしながら、他の実施例によれば、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は各々異なる光測定手段３６に結合されてもよい。
【００７０】
図３Ａおよび図３Ｂに示された例の利点は、経年劣化判定手段３３がディスプレイボード３０の背面に与えられるので、経年劣化判定手段３３を与えることによってはディスプレイボード３０の大きさが変わらないことである。さらに、少なくとも第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５を与えることは、その少なくとも第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５のいずれもがディスプレイボード３０のＬＥＤ３１のアレイの一部ではないので、ディスプレイボード３０で与えられる画像を妨害しない。
【００７１】
図３Ａおよび図３Ｂに示された実施例の別の利点は、タイル状ディスプレイにおいてより容易にそれらを使用できることである。
【００７２】
他の実施例によれば、図４Ａおよび図４Ｂに示されるように、第１の基準ＬＥＤ３４は、ディスプレイボード３０の正面側のＬＥＤ３１のアレイの一部であるＬＥＤであって、したがってディスプレイボード３０の正面側（図４Ａを参照）に与えられてもよい。第２の基準ＬＥＤ３５は、第１の基準ＬＥＤ３４が与えられる側の反対側に与えられることができ、したがってディスプレイボード３０の背面側に与えられ得る（図４Ｂ参照）。ここでも、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の両方は、好ましくはディスプレイボード３０の背面に位置する同じ光測定手段３６に結合されるのが最も好ましい。第１の基準ＬＥＤ３５は、たとえば第１の基準ＬＥＤ３４によって放射された光をディスプレイボード３０の正面側からディスプレイボード３０の背面へと結合するための光ファイバ（light pipe）（図に示されない）によって、光測定手段３６に結合されてもよい。他の実施例によれば、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は各々、ディスプレイの正面側または背面側に位置する異なる光測定手段３６に結合されてもよい。
【００７３】
図５に示された他の実施例によれば、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は両方とも、ディスプレイボード３０のＬＥＤ３１のアレイと同じ側に与えられてもよい。第１の基準ＬＥＤ３４は、図４Ａおよび図４Ｂに例示された実施例と同様に、ディスプレイボード３０のＬＥＤ３１のアレイの一部であるＬＥＤによって形成されてもよい。第２の基準ＬＥＤ３５もディスプレイボード３０の正面側に、ＬＥＤ３１のアレイの隣りに与えられてもよい。第２の基準ＬＥＤ３５が与えられる、ＬＥＤ３１のアレイの隣の部分は、本発明の実施例によれば、基準ＬＥＤ３５を隠すために覆われていてもよい（示されない）。最も好ましくは、図５に示されるように、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の両方は、ＬＥＤ３１のアレイの隣りに好ましくは与えられ得る同じ光測定手段３６に結合される。他の実施例によれば、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は各々異なる光測定手段３６に結合されてもよい。
【００７４】
図４Ａ、図４Ｂおよび図５に例証された実施例の不利益は、アレイのＬＥＤ３１が駆動される画像データの平均と等しい基準データによって駆動される第１の基準ＬＥＤ３４が、アレイの一部であるＬＥＤによって形成されることである。したがって、これはディスプレイボード３０上に形成される画像を妨害し得る。これを回避するために、第１の基準ＬＥＤ３４が直接見えないように、たとえば不透明なカバー手段によって隠すことができる。
【００７５】
図６に示されるように、本発明のさらに他の実施例によれば、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の両方は、ディスプレイボード３０の正面側でＬＥＤ３１のアレイの隣に与えられてもよい。最も好ましくは、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５の両方は同じ光測定手段３６に結合され得る。他の実施例によれば、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は各々別の光測定手段３６に結合されてもよい。
【００７６】
ディスプレイボード３０は、図６に例示される実施例によれば、ディスプレイボード３０に経年劣化判定手段３３を与えることによりディスプレイボード３０の大きさが変わるという不利益を有する。しかしながら、第１の基準ＬＥＤ３４または第２の基準ＬＥＤ３５のいずれもがＬＥＤ３１のアレイの一部ではないので、経年劣化判定手段３２を与えることはいかなる意味でもディスプレイボード３０によって与えられる画像を妨害しない。
【００７７】
図６に示されるように、ディスプレイボード３０の縁部はカバー３９によって覆われてもよい。その方法により、第１基準ＬＥＤ３４、第２の基準ＬＥＤ３５、および光測定手段３６が覆われることができ、そのため隠され、環境の影響から保護され得る。
【００７８】
上述の実施例はすべて１種類のＬＥＤを含むディスプレイボード３０に関し、すなわちディスプレイボード３０のＬＥＤはすべて同じ色であり、したがって、上述の実施例はモノクロのディスプレイボードに関し、１つの第１の基準ＬＥＤ３４および１つの第２の基準ＬＥＤ３５のみを必要とする。
【００７９】
しかしながら、本発明の他の実施例によれば、ディスプレイボード３０は異なる色のＬＥＤ３１を含んでもよい。異なる色を備えたＬＥＤ３１は異なる態様で経年劣化することが知られている。したがって、経年劣化判定手段３３は、各色について第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５を含むことができる。たとえば、ディスプレイボード３０が赤、緑、および青のＬＥＤを含む場合、経年劣化判定手段３３は、赤の第１および第２の基準ＬＥＤ、緑の第１および第２の基準ＬＥＤ、ならびに青の第１および第２の基準ＬＥＤを含み得る。
【００８０】
本発明の他の実施例によれば、ディスプレイボード３０はマルチカラーＬＥＤを含んでもよく、各ＬＥＤはたとえば３つの色を含む。この場合、第１の基準ＬＥＤ３４が１つのみと第２の基準ＬＥＤ３５が１つのみ与えられ得、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は、ディスプレイボード３０のアレイのマルチカラーＬＥＤ３１と同じマルチカラーＬＥＤである。
【００８１】
さらに他の実施例によれば、たとえばＬＥＤなどの発光素子すべてが同一の種類ではない。たとえば、ディスプレイボード３０の画素を形成するためにＬＥＤが用いられるような、たとえば屋外ディスプレイ適用例などのディスプレイ適用例において典型的に用いられるように、ディスプレイＬＥＤ３１はパワーＬＥＤであってもよい。多くの場合、ディスプレイＬＥＤ３１以外に、さらにパワーＬＥＤとして第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５を与えるのは費用がかかりすぎる。なぜならばこのようなパワーＬＥＤは他のＬＥＤよりはるかに費用がかかるからである。もちろん、ディスプレイボード３０を延長して第１および第２の基準「パワーＬＥＤ」３４、３５を担持することに異議がない場合には、上述の本発明の実施例におけるような経年劣化補償の基本原理を用いることができる。しかしながら、パワーＬＥＤに基づいた適用例の場合、パワーＬＥＤの形式における第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は、ディスプレイボード３０に著しいコストを加える。したがって、第１の基準ＬＥＤ３４および第２の基準ＬＥＤ３５は、本発明の実施例によれば、より安い代替物と置き換えることができる。安い基準ＬＥＤを１つだけ与える必要しかない。しかしながら、複数の基準ＬＥＤが与えられてもよい。１つ以上の基準ＬＥＤはディスプレイＬＥＤ３１と同じ経年劣化特性を示さなければならない。この実施例は、測定手段３６がパワーＬＥＤ３１の光およびより安い基準ＬＥＤ３５の光をもサンプリングできることが必要である。そのプロセスも再び３つの段階を含む。
【００８２】
段階１は、初期段階であって図１０のフロー図に示される。これはディスプレイボード３０の測定および較正段階である。ステップ１０１において、当業者に知られている任意
の通常用いられるプロセスによって、パワーＬＥＤ３１はスイッチが入れられ、測定されて較正される。一旦このプロセスが終了すれば、ステップ１０２において、第２の基準ＬＥＤ３５およびパワーディスプレイＬＥＤ３１を駆動するために駆動パラメータが設定される。ステップ１０３において、１つ以上のパワーＬＥＤ３１の光出力を測定するために測定手段３６が活性化される。これは実際のパワーＬＥＤ３１の０時間基準である。次に、ステップ１０４において、測定手段３６が第２の基準ＬＥＤ３５の輝度を測定する。両方の測定の順序は入れ替わってもよい。代替的に、１つ以上のパワーＬＥＤ３１および第２の基準ＬＥＤ３５に実行される測定に個別の測定手段が用いられる場合、両方の測定は平行して実行されてもよい。ステップ１０５において、両者の測定間の光学的結合差が、たとえば一定の誤差値として判定される。この実施例における第２の基準ＬＥＤ３５は典型的にはより安いＬＥＤ、たとえばＲＧＢ高性能ＳＭＤ  ＬＥＤである。両方の測定間の差は当初測定された（光学的および効率的な）誤りに対応する。これらの誤りは、パワーＬＥＤ３１および第２の基準ＬＥＤ３５から測定手段３６への光学的結合が変わらないので、また、第２の基準ＬＥＤ３５はフィールド再較正が行われている非常に短い瞬間を除いては用いられないので、本質的に経年劣化しないので、ディスプレイボード３０の寿命の全体にわたって一定のままである。したがって第２の基準ＬＥＤ３５の稼動時間は無視できる。一旦上記の差が判定されれば、システムは有効寿命に対する準備ができる。
【００８３】
段階２はディスプレイボード３０の正規の寿命である。パワーＬＥＤ３１は正常に駆動される。第２の基準ＬＥＤ３５は全く駆動されない。
【００８４】
段階３は、図１１のフロー図に示されるインフィールド再較正段階である。ステップ１１０においてインフィールド較正のステップが活性化されると、下記のプロセスが実行される。ステップ１１１において、１つ以上の（ディスプレイＬＥＤである）パワーＬＥＤ３１のスイッチが入れられ、ステップ１１２で測定手段３６、たとえばＲ、Ｇ、ＢおよびＷによって測定される。任意に、１つ以上のパワーＬＥＤ３１の輝度の測定は、平均化作用を含んでもよい。ステップ１１３で１つ以上のパワーＬＥＤ３１のスイッチが切られる。ステップ１１４で、１つ以上の（たとえば単一または複数の低電力ＳＭＤ  ＲＧＢ  ＬＥＤである）第２の基準ＬＥＤ３５のスイッチが入れられる。ステップ１１５で、測定手段３６は第２の基準ＬＥＤまたはＬＥＤ３５の輝度レベルを、たとえばＲＧＢおよびＷで測定する。ステップ１１６で１つ以上の第２の基準ＬＥＤ３５のスイッチが切られる。
【００８５】
ステップ１１８で、第２の基準ＬＥＤ３５の測定結果は、メモリに格納されていたであろう元の値と比較される。これらの値の差が測定手段３６のドリフトを判定し、それはパワーＬＥＤ測定にも用いることができる。
【００８６】
ステップ１１７で、第２の基準ＬＥＤ３５とパワーＬＥＤ３１の輝度レベルの差が判定される。
【００８７】
ステップ１１９で、第２の基準ＬＥＤ３５の輝度レベルがパワーＬＥＤ３１の輝度レベルと比較される。光学的結合差に対する補償が行われてもよい。パワーＬＥＤ３１および第２の基準ＬＥＤ３５の両方の値を同じ測定手段３６で測定することは、測定手段３６のドリフトを完全になくす。光学的結合差は知られており、寿命にわたって一定であって、補償計算において考慮に入れられ、ステップ１２０においてパワーＬＥＤ３１の経年劣化（したがって稼動時間）を補償するために、その駆動の補正を生じる。
【００８８】
ここでも、実際の初期の基準が（基準ＬＥＤ３５によって）ディスプレイボード３０に搭載されており、インフィールド再較正中に基準ＬＥＤ３５を再測定することによって測定手段３６の電気的なドリフトがなくされることが、この実施例の概念である。特定の構造および構成および材料は、好ましい実施例ではあっても、本願明細書において本発明の
実施例による装置について説明されており、形式および詳細においてさまざま変更または修正が、添付の請求項によって規定されるような本発明の範囲および精神から逸脱せずに行われ得ることが理解される。
【図面の簡単な説明】
【００８９】
【図１】先行技術によるディスプレイ装置を示す図である。
【図２】本発明の実施例による装置の概略的ブロック図である。
【図３Ａ】本発明の実施例によるディスプレイボードを示す図である。
【図３Ｂ】本発明の実施例によるディスプレイボードを示す図である。
【図４Ａ】本発明の別の実施例によるディスプレイボードを示す図である。
【図４Ｂ】本発明の別の実施例によるディスプレイボードを示す図である。
【図５】本発明の他の実施例によるディスプレイボードを示す図である。
【図６】本発明のさらに他の実施例によるディスプレイボードを示す図である。
【図７】本発明の実施例による方法のフロー図である。
【図８】第１および第２の基準ＬＥＤがディスプレイＬＥＤと同じ種類である場合の、本発明の実施例による方法の開始段階のフロー図である。
【図９】図８と同じ状況下での本発明の実施例による、インフィールド再較正のフロー図である。
【図１０】基準ＬＥＤがディスプレイＬＥＤと異なる種類である場合の、本発明の実施例による方法の開始段階のフロー図である。
【図１１】図１０と同じ状況下での本発明の実施例によるインフィールド再較正のフロー図である。
【符号の説明】
【００９０】
３０  ディスプレイボード、３１  ＬＥＤ、３２  駆動手段、３３  経年劣化判定手段、３４  第１の基準ＬＥＤ、３５  第２の基準ＬＥＤ、３７  比較手段、３８  制御装置。
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図６】
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【外国語明細書】
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