(57)【要約】【課題】計器の目盛りの信頼性を確保するために、適切に校正期限を見直すことが可能な計器校正管理システムを提供する。【解決手段】コンピュータで読み取り可能なＩＤを有する計器Ｍの校正期限を管理する計器校正管理システム１において、前記ＩＤはＲＦＩＤタグＴに記憶されていて、計器Ｍを使用する使用場所１１に設置されるＲＦＩＤタグリーダ５で固有ＩＤを読み取って使用頻度を算出する。さらに、使用場所１１の作業環境情報を算出して設定し、前記の使用頻度と前記の作業環境情報とに基づいて、計器Ｍの校正期限を見直す。【選択図】図１
2008014740.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
校正を行うべき期限が設定された計器にコンピュータ読取可能なＩＤを付し、
前記計器が使用される複数の使用場所のそれぞれに前記ＩＤを読み取るリーダを配備し、および／または、前記計器の使用者に前記ＩＤを読み取るリーダを携帯させ、前記使用場所での前記計器の使用ごとに前記リーダに前記ＩＤを読み取らせ、
前記リーダとは有線又は無線で接続される管理装置が、前記リーダが前記ＩＤを読み取った情報に基づいて前記計器の校正期限を管理するようにした計器校正管理システムであって、
前記管理装置は、
前記リーダが前記ＩＤを読み取った情報を収集して、前記ＩＤごとに使用時間または使用回数を含んでなる使用履歴を集計する使用履歴集計部と、
前記ＩＤごとに、前記使用履歴に基づいて使用頻度を算出する使用頻度算出部と、
前記算出された使用頻度が所定の閾値を超えると、前記ＩＤに対応する計器の校正期限の見直しを通知または表示する出力部と、
を備えたことを特徴とする計器校正管理システム。
【請求項２】
前記管理装置は、前記計器の校正期限に与える影響度を前記使用場所ごとに評価した影響度情報を記憶した記憶部を備え、
前記使用履歴集計部は、前記リーダが前記ＩＤを読み取った情報を収集して、前記ＩＤごとに各使用場所での使用時間または使用回数を含んでなる使用履歴を集計し、
前記使用頻度算出部は、前記影響度情報を参照して使用場所ごとの前記影響度を読み出し、前記ＩＤごとに、各使用場所での使用履歴に前記読み出した使用場所ごとの影響度を適用して使用頻度を算出すること、
を特徴とする請求項１に記載の計器校正管理システム。
【請求項３】
前記使用場所にあっては、前記使用場所ごとの前記計器の校正期限に与える影響度の変化を検出する検出手段を有し、
前記管理装置は、前記検出手段が検出した前記影響度の変化を取得して、
前記取得した前記影響度の変化に基づいて、前記使用場所ごとの前記影響度情報を更新することを特徴とする請求項２に記載の計器校正管理システム。
【請求項４】
前記リーダは、前記計器の使用者を特定する情報を取得して、前記管理装置に送信する機能を備え、
前記管理装置は、前記計器の校正期限に与える人的影響度を前記使用者ごとに評価した人的影響度情報を記憶した記憶部を備え、
前記使用履歴集計部は、前記使用者を特定する情報を加味した使用履歴を集計し、
前記使用頻度集計部は、前記人的影響度情報を参照して、使用者ごとの前記人的影響度を読み出し、読み出した人的影響度をさらに適用して前記使用頻度を算出することを特徴とする請求項２に記載の計器校正管理システム。
【請求項５】
前記ＩＤは、前記計器に付された、電気的に書き換え可能な記憶装置に記憶され、
前記リーダは、前記計器に付された、前記電気的に書き換え可能な記憶装置にデータを書き込む手段をさらに有し、
前記リーダは、前記計器に付された、前記電気的に書き換え可能な記憶装置に見直された前記計器の校正期限を書き込むことを特徴とする請求項１に記載の計器校正管理システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計器校正管理システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電力プラント等では、製造、建設および定期点検の各段階において、配管等の品質管理記録が要求されるので、検査に用いる計器の目盛りの信頼性を確保するために校正管理が重要である。計器の目盛りの校正（以下、校正と称する）は、所定の校正期限までに定期的に実施すればよいが、計器の作業環境や使用頻度によっては、校正期限内であっても目盛りの信頼性を確保するために校正する必要がある。
【０００３】
そこで、計器の管理担当者は、計器が保管場所から持ち出されるときに、計器を持ち出す検査担当者と持ち出す計器の情報とを正確に記録して、持ち出された計器の校正期限を常に把握して、校正期限内に確実に校正を実施するように管理している。
【０００４】
しかしながら、前記の管理方法は人的な管理であるため、管理する計器が増えると、計器の管理担当者の負担も増え、校正期限を見逃す恐れがある。そこで、計器の管理を自動化してより確実に校正期限を管理する技術が提案されている。
【０００５】
例えば、従来、保管場所に設けたリーダ／ライタで計器に付けたタグに管理情報を書き込み、ネットワークに接続されたサーバが計器の校正期限を管理するシステムが開示されている（たとえば、特許文献１参照）。また、リーダ／ライタのアンテナの配置を調整して、計器につけられたタグの通過方向を検知することで、計器の貸出および返却を管理する技術が開示している（たとえば、特許文献２参照）。
【０００６】
特許文献１および特許文献２で開示されている技術によれば、持ち出された計器の校正期限を確実に管理することができる。
【特許文献１】特開２００５−２９８１００号公報（段落００１２〜００１８、図３〜図８）
【特許文献２】特開２００３−１４６４１３号公報（段落００１０〜００１２、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、計器は校正期限内であっても、目盛りの信頼性に疑いが生じた場合には速やかに校正する必要があり、特許文献１および特許文献２に開示されている技術での管理方法には改善の余地がある。
【０００８】
そこで、本発明は、適切に校正期限を見直すことが可能な計器校正管理システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するため、本発明は、計器にＩＤを付して使用場所で読み取って、読み取ったＩＤから集計される使用回数や使用時間を含んだ使用頻度に基づいて計器の校正期限を見直す計器校正管理システムとした。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、適切に校正期限を見直すことが可能な計器校正管理システムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、適宜図を用いて詳細に説明する。なお、以下の説明に記載されるデータの構造、データの項目、データの値、具体的な数値などは、発明の範囲を限定するものではない。
【００１２】
また、計器は、例えばマノメータや圧力計などのように目盛りを有していて、測定時にはその目盛りを使用して測定値を読み取る形式の計器を対象とする。このような計器は、目盛りの信頼性を確保するために、定期的（例えば、１年ごと）に目盛りを校正する必要がある。そこで、前回の校正が有効な期限を校正期限として、校正期限までに再度校正するように管理する。
【００１３】
《第１の実施形態》
図１は、第１の実施形態に係る計器校正管理システムを示す図である。図１に示すように、第１の実施形態に係る計器校正管理システム１は、たとえば電力プラントなどのように、複数のエリアに分割されていて各エリアの出入口において人の出入り及び物の搬入出がチェックされるような施設に用いられる。そして、複数のエリア（図１では３つが示されている）の１つが計器Ｍの保管場所１０であり、他のエリアが計器Ｍによる検査対象の設備を有する検査対象の使用場所１１であって、図１には２つの使用場所１１ａと使用場所１１ｂとを例示している。なお、図１には２つの使用場所１１が示されているが、使用場所１１の数は２つに限定されるものではない。
【００１４】
また、保管場所１０および各使用場所１１には、計器Ｍが有するＲＦＩＤ（Radio Frequency Identification）タグＴの情報を読み取るＲＦＩＤタグリーダ（リーダ）５と、ＲＦＩＤタグリーダ５に接続されて、これを制御するＲＦＩＤタグリーダ制御装置４とが設置されている。
【００１５】
さらに、保管場所１０および各使用場所１１のＲＦＩＤタグリーダ制御装置４は、計器校正期限設定装置（管理装置）１２に接続されている。すなわち、計器校正期限設定装置１２に複数のＲＦＩＤタグリーダ制御装置４が接続され、各ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４にＲＦＩＤタグリーダ５が接続されて計器校正管理システム１を構成する。
【００１６】
そして、第１の実施形態においては、各使用場所１１には入口と出口とがあり、入口にのみＲＦＩＤタグリーダ制御装置４およびＲＦＩＤタグリーダ５が配置されていることを特徴とする。そして、各使用場所１１の設備を検査するために各使用場所１１に搬入される計器Ｍは、すべてＲＦＩＤタグＴを有している。このような構造によって、計器Ｍが入口を通って使用場所１１に搬入されるときのみ、ＲＦＩＤタグリーダ５はＲＦＩＤタグＴの情報を読み取ることができる。
【００１７】
ＲＦＩＤタグＴは、データ読み取り専用の不揮発性メモリ（以下、ＲＯＭ（Read Only Memory）型メモリと称する）を有する。そして、ＲＯＭ型メモリの情報は、ＲＦＩＤタグリーダ５で、非接触で読み取ることができる。また、ＲＦＩＤタグリーダ５の通信範囲内にＲＦＩＤタグＴを配置または通過すれば情報を送信することができるため、情報の送信が容易であるという特徴を有する。
【００１８】
第１の実施形態においては、ＲＦＩＤタグＴのＲＯＭ型メモリには、固有ＩＤ（コンピュータ読取可能なＩＤ）があらかじめ記憶してある。固有ＩＤは、例えば「０〜９」の数字と「Ａ〜Ｚ」のアルファベットとからなる符号で、ＲＦＩＤタグＴごとに異なった固有ＩＤが付されてＲＯＭ型メモリに記憶される。そして、ＲＦＩＤタグＴは、ＲＦＩＤタグリーダ５からの電波を受信すると応答して、制御回路がＲＯＭ型メモリに記憶してある固有ＩＤを読み出し、電波受発信器がその読み出された固有ＩＤをＲＦＩＤタグリーダ５に送信する。
【００１９】
ＲＦＩＤタグリーダ５は送受信回路を含み、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４の指示に従ってＲＦＩＤタグＴを起動する電波を発信し、ＲＦＩＤタグＴから送信される電波を受信する。また、各ＲＦＩＤタグリーダ５には、ＲＦＩＤタグＴと通信するためのアンテナ５ａが接続されている。
【００２０】
ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４は、計器校正期限設定装置１２との通信インターフェースとＣＰＵ（Central Processing Unit） とによって構成された制御部を含み、制御部はＲＦＩＤタグリーダ５の送受信動作を制御するとともに、前記の通信インターフェースを介してＲＦＩＤタグリーダ制御装置４へのデータの入出力を制御する。なお、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４は、複数のＲＦＩＤタグリーダ５を制御することができる。
【００２１】
第１の実施形態において、各使用場所１１には、搬入される計器ＭのＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤを読み取るＲＦＩＤタグリーダ５が設置され、ＲＦＩＤタグリーダ５はＲＦＩＤタグリーダ制御装置４によって制御される。
【００２２】
計器校正期限設定装置１２は、ワークステーションやパソコンなどのコンピュータであり、検査担当者や管理担当者が計器管理などに使用する図示しない端末装置が接続される。端末装置は、少なくともキーボードやマウス等の入力装置、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）モニタ等の表示装置を備える。また、端末装置は必要に応じて、入力装置としてＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory） ドライブなどのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体の読取装置を備える。
【００２３】
なお、第１の実施形態において、計器校正期限設定装置１２、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４、ＲＦＩＤタグリーダ５および計器校正期限設定装置１２の図示しない端末装置の接続方法については特に限定しないが、例えば、ネットワークを介して接続する方法が考えられる。
【００２４】
また、計器校正期限設定装置１２には、計器属性情報１２ａと影響度情報１２ｂとがデータベースとして格納されている。そして、計器校正期限設定装置１２は、計器属性情報１２ａと影響度情報１２ｂとに基づいて、計器Ｍの校正期限を見直す機能を有する。さらに、計器校正期限設定装置１２は、使用履歴集計部１２ｃと使用頻度算出部１２ｄとを有する。使用履歴集計部１２ｃは、計器Ｍの各使用場所１１における使用履歴を集計する。また、使用頻度算出部１２ｄは、使用履歴集計部１２ｃが集計した使用履歴に基づいて、計器Ｍの使用頻度を算出する。
【００２５】
図２に計器属性情報１２ａのデータ構造の一例を示す（適宜、図１参照）。計器属性情報１２ａは、計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤ１２０、管理番号１２１、計器名１２２、校正期限１２３から構成される。なお、管理番号１２１は、計器Ｍを管理するために各計器Ｍにつける固有の番号もしくは符号であって、任意の形態で設定すればよい。
【００２６】
さらに、計器Ｍが使用場所１１（図１参照）に搬入されたときに、計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴが、使用場所１１に設置されるＲＦＩＤタグリーダ５に検出され、ＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤが読み取られる。そして、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４を介して計器校正期限設定装置１２に送信されると、使用状況１２４が追加される。使用状況１２４には、場所１２４ａと日時１２４ｂとの各項目があり、場所１２４ａにはＲＦＩＤタグＴが検出された使用場所１１の名称が登録され、日時１２４ｂにはＲＦＩＤタグＴが、使用場所１１に設置されるＲＦＩＤタグリーダ５に検出された日時（年／月／日、時：分：秒）が登録される。なお、使用状況１２４は、計器Ｍが使用場所１１に搬入されるごとに追加され、１つの計器Ｍが複数の使用状況１２４を有するデータ構造となる。
【００２７】
図３に影響度情報のデータ構造の一例を示す。影響度情報１２ｂは、計器Ｍが使用される使用場所１１が計器Ｍの校正期限に与える影響度を評価した情報である。図３では、計器Ｍが使用される使用場所１１が計器Ｍに影響を与える要素（以下、負荷要素と称する）として、温度１３１、湿度１３２、粉塵１３３、空間１３４、計測対象物１３５を選択して例示している。
【００２８】
なお、負荷要素としては、計器Ｍの目盛りを変形したり腐食したりするような物理的な負担や化学的な負担を、使用する計器Ｍにかけるような要素を選択すればよく、前記に例示した要素に限定するものではない。
【００２９】
そして、影響度情報１２ｂのデータ構造は、計器Ｍが使用される使用場所１１の使用場所名１３０と、前記した負荷要素とから構成される。図３では、負荷要素として温度１３１、湿度１３２、粉塵１３３、空間１３４、計測対象物１３５の各要素が所定のルールに基づいて数値化されている。
【００３０】
なお、第１の実施形態においては、計器Ｍにかける負担が大きく、計器Ｍの目盛りの信頼性に大きな影響を及ぼす要素には大きな数値を割り当てるというルールを採用している。このルールに基づいて数値化された負荷要素の情報を、以下、環境情報指数と称する。
【００３１】
図３に示す例では、各項目の環境情報指数は「０から１０」の１１段階とする。例えば、使用場所Ａ（１１ａ）（図１参照）が非常に高温多湿で非常に狭い空間である場合、使用場所Ａ（１１ａ）に計器Ｍを搬入すると高温の影響によって計器Ｍの目盛りが熱膨張したり、高湿の影響で結露したりするなど、計器Ｍにかかる負担が大きい。したがって、計器Ｍの目盛りの信頼性に大きな影響を及ぼすと評価して、温度１３１と湿度１３２との環境情報指数は最高値の「１０」を当てる。また、非常に狭い空間であることから、空間１３４にも最高値「１０」の環境情報指数を当てる。なお、狭い空間は、計器Ｍを壁にぶつけたり設置が不安定で落としたりする事故による変形の危険性が高いことから、計器Ｍにかける負担が大きく、計器Ｍの目盛りの信頼性に大きな影響を及ぼす要素となる。
【００３２】
また、使用場所Ｂ（１１ｂ）（図１参照）が、温度および湿度は一般環境に近い一定値に管理されているため変動は非常に少ないが空気中の粉塵が多い場合、温度および湿度は計器Ｍにかかる負担が小さい。したがって、計器Ｍの目盛りの信頼性に与える影響は非常に小さいと評価して、温度１３１および湿度１３２の環境情報指数は最低値の「０」を当てる。また、空気中の粉塵によって計器Ｍの目盛りが汚れるなどの現象が発生しやすいことから、計器Ｍにかかる負担が大きい。したがって、計器Ｍの目盛りの信頼性に与える影響が大きいと評価して、粉塵１３３の環境情報指数は「８」を当てている。
【００３３】
なお、計測対象物の項目は、例えば放射線や紫外線の測定、非常に大きいものの質量測定、非常に高圧の圧力測定など、計器Ｍにかける負担が大きく、計器Ｍの目盛りの信頼性に大きな影響を及ぼすと判断される測定の場合に大きな環境情報指数を付す。
【００３４】
図４は、使用状況のデータが更新されるフローを示す図である。図１、図２および図４を参照しながら、計器属性情報１２ａの使用状況１２４が更新される手順を説明する。
【００３５】
検査に使用される計器Ｍが検査対象の使用場所１１に搬入されると、使用場所１１に設置されているＲＦＩＤタグリーダ５が、搬入された計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴを検出してＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤを読み取り、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４に送信する（Ｓ１）。
【００３６】
ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４は、受信したＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤに、計器Ｍが搬入された使用場所１１の名称と搬入された日時とを追加して使用場所搬入情報として、計器校正期限設定装置１２に送信する（Ｓ２）。
【００３７】
なお、この時点でＲＦＩＤタグリーダ制御装置４が計器校正期限設定装置１２の計器属性情報１２ａの校正期限を照会して（Ｓ３）、搬入された計器Ｍの校正期限までの残存期間が所定の期間より短い場合には校正期限間近と判断して（Ｓ４→Ｙｅｓ）、検査担当者に返却要請する（Ｓ５）。なお、返却要請する方法として、例えばＲＦＩＤタグリーダ制御装置４が制御するインジケータやブザー等による方法が考えられる。
【００３８】
校正期限間近でない場合（Ｓ４→Ｎｏ）、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４から、使用場所搬入情報を受信した計器校正期限設定装置１２は、使用場所搬入情報のＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤを参照して、使用状況１２４のデータを追加する対象となる計器Ｍの計器属性情報１２ａを抽出する。そして、計器校正期限設定装置１２は、使用状況１２４を追加する対象である計器Ｍの計器属性情報１２ａに使用状況１２４のデータを追加する（Ｓ６）。さらに、使用状況１２４の場所１２４ａに使用場所１１の名称を登録して、日時１２４ｂに搬入された日時を登録する。
【００３９】
以上の手順で、使用場所１１に搬入された計器Ｍの計器属性情報１２ａが更新される。
【００４０】
そして、計器校正期限設定装置１２は、計器属性情報１２ａと影響度情報１２ｂとに基づいて計器Ｍの校正期限を見直す。図５に計器Ｍの校正期限を見直すフローを示す。図１、図２、図３および図５を参照しながら、以下に校正期限を見直す手順を示す。
【００４１】
計器校正期限設定装置１２が、後記する計器校正管理のロジックからの指示によって、校正期限の見直しを開始すると、計器校正期限設定装置１２は、計器属性情報１２ａを参照して校正期限を見直す計器Ｍの使用状況１２４のデータを抽出する（Ｓ１１）。なお、校正期限の見直しは、例えば計器校正管理システム１が管理する計器Ｍを順次選択していき、すべての計器Ｍについて校正期限を見直すものとする。
【００４２】
抽出された使用状況１２４のデータには、計器Ｍを使用したすべての使用場所１１の名称と、各使用場所１１への搬入日時と、が含まれる。そして、計器校正期限設定装置１２に備わる使用履歴集計部１２ｃが、使用状況１２４のデータに基づいて各使用場所１１での使用履歴を集計する（Ｓ１２）。
【００４３】
すなわち、計器校正期限設定装置１２は、計器属性情報１２ａに登録されている使用状況１２４における場所１２４ａの項目を参照して、同じ使用場所１１の名称が登録されている使用状況１２４の数を、その使用場所１１での使用回数として、この値を使用履歴とする。
【００４４】
次に、計器校正期限設定装置１２は、影響度情報１２ｂを照会して各使用場所１１の環境情報指数に基づいた各使用場所１１の作業環境情報を算出する（Ｓ１３）。作業環境情報は、例えば、使用場所１１の各環境情報指数を加算して算出する。使用場所Ａ（１１ａ）を例にとると、図３に例示したように、各環境情報指数は、温度１３１が「１０」、湿度１３２が「１０」、粉塵１３３が「１」、空間１３４が「１０」、計測対象物１３５が「３」であるので、使用場所Ａ（１１ａ）の作業環境情報は、１０＋１０＋１＋１０＋３＝３４となる。
【００４５】
そして、計器校正期限設定装置１２は算出された作業環境情報と使用履歴とを乗じて、使用場所１１の負荷指数を算出する。例えば、使用場所Ａ（１１ａ）に１回搬入した場合には、使用場所Ａ（１１ａ）における負荷指数は３４×１＝３４となる。
【００４６】
そして、計器校正期限設定装置１２に備わる使用頻度算出部１２ｄが、前記のように算出される負荷指数を、全ての使用場所１１について加算して、計器Ｍの使用頻度を算出する（Ｓ１４）。
【００４７】
以下に、使用頻度を算出するための式１を示す。
【数１】
2008014740.tif 000003
【００４８】
式１は、計器属性情報２ａが、ｊ個の使用場所１１を有する場合の使用頻度Ｕの算出式であり、各使用場所１１での負荷指数（作業環境情報Ｅｉ×使用履歴Ｈｉ）を全ての使用場所１１について加算することを示している。
【００４９】
そして、計器校正期限設定装置１２は、使用頻度が所定の閾値より大きい場合（Ｓ１５→Ｙｅｓ）、その計器Ｍについては校正期限を見直して（Ｓ１６）、計器属性情報１２ａの校正期限１２３の値を更新する。
【００５０】
校正期限は、例えば、所定の閾値を設定して、使用頻度が設定した閾値より大きくなった場合に、校正期限を所定の期間短縮して校正期限を見直すように設定すればよい（例えば、閾値を「１０００」に設定した場合、使用頻度が「１０００」を超えるごとに１日短縮するなど）。なお、校正期限が再設定された計器Ｍに関しては、計器属性情報１２ａの使用状況１２４のデータをクリアする（Ｓ１７）。
【００５１】
前記のように計器属性情報１２ａの使用状況１２４のデータをクリアすることで、新たに校正期限を見直すときに、一度参照した使用状況１２４のデータを重複して参照することがなくなる。
【００５２】
そして、計器校正期限設定装置１２は、校正期限を見直したときには、例えば、計器校正期限設定装置１２に接続される図示しない端末に備わる表示装置によって、計器管理者に通知または表示する機能を有することが好ましい。この場合、図示しない端末に備わる表示装置が出力部となる。このような通知または表示によって、計器管理者は校正期限が見直された計器Ｍを知ることができる。
【００５３】
なお、使用頻度が所定の閾値より小さい場合（Ｓ１５→Ｎｏ）、校正期限の見直しはしない。
【００５４】
さらに、計器校正期限設定装置１２は、校正期限までの残存期間が所定の期間より短い場合には校正期限間近と判断して（Ｓ１８→Ｙｅｓ）、例えば、計器校正期限設定装置１２に接続される図示しない端末に備わる表示装置によって、計器管理者に通知する（Ｓ１９）。なお、校正期限までの残存期間が所定の期間より長い場合には（Ｓ１８→Ｎｏ）そのまま終了する
【００５５】
なお、前記の所定の期間としては、例えば、校正期限まで１ヶ月などのように期間を設定して、設定した期間よりも校正期限までの残存期間が短ければ、校正期限間近と判断すればよい。
【００５６】
以上のような手順によって、計器校正期限設定装置１２は計器Ｍの校正期限を見直す。
【００５７】
図６は、計器校正管理のフローを示す図である。前記のように構成される計器校正管理システム１においては、定期的に、または、計器管理者の指示入力によって、図６に示すフローに従って、計器校正管理をすることができる。図１、図６を参照しながら、計器校正管理のフローを説明する。
【００５８】
計器校正期限設定装置１２が計器校正管理実行の指示を受けると、保管場所１０に設置されているＲＦＩＤタグリーダ５で、保管場所１０に保管されている計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴを確認する（Ｓ２１）。ここで、ＲＦＩＤタグＴを確認するとは、保管場所１０に設置されているＲＦＩＤタグリーダ５が、ＲＦＩＤタグＴの情報を読み取ることが可能か否かによって、ＲＦＩＤタグＴの存在を確認することである。
【００５９】
すなわち、ＲＦＩＤタグリーダ５が情報を読み取ることができたＲＦＩＤタグＴを付している計器Ｍは、保管場所１０に保管されていると判断し、情報を読み取ることができないＲＦＩＤタグＴを付している計器Ｍは、保管場所１０に保管されていないと判断する。
【００６０】
なお、計器校正管理実行の指示は、例えば、計器校正期限設定装置１２を動作させるプログラムに組み込まれている、定期的に校正期限を見直すロジックの起動や、計器管理者の図示しない端末の操作等による。
【００６１】
計器校正期限設定装置１２は、保管場所１０に保管されていると判断された計器Ｍに関しては（Ｓ２２→Ｙｅｓ）、図５に示すフローに従って校正期限を見直す（Ｓ２３）。
【００６２】
さらに、保管場所１０に保管されていないと判断された（Ｓ２２→Ｎｏ）計器Ｍに関しては、各使用場所１１に設置されているＲＦＩＤタグリーダ５で、各使用場所１１で使用されている計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴを確認する。各使用場所１１で、ＲＦＩＤタグＴを確認するとは、各使用場所１１に設置されているＲＦＩＤタグリーダ５が、ＲＦＩＤタグＴの情報を読み取ることが可能か否かによって、ＲＦＩＤタグＴの存在を確認することである。
【００６３】
すなわち、ＲＦＩＤタグリーダ５が情報を読み取ることができたＲＦＩＤタグＴを付している計器Ｍは、ＲＦＩＤタグＴの情報を読み取ることができた使用場所１１で使用されていると判断する。
【００６４】
各使用場所１１で使用されていると判断された（Ｓ２５→Ｙｅｓ）計器Ｍに関しても、計器校正期限設定装置１２は、図５に示すフローに従って校正期限を見直す（Ｓ２３）。そして、校正期限間近の計器Ｍがある場合、管理担当者は該当する計器Ｍを使用している検査担当者に対して計器Ｍの早期返却を要求すればよい。
【００６５】
全ての使用場所１１でＲＦＩＤタグＴが確認できなかった（Ｓ２５→Ｎｏ）計器Ｍに関しては、貸出記録を照会して（Ｓ２６）、実際に貸し出し中であれば（Ｓ２７→Ｙｅｓ）、計器校正期限設定装置１２は、図５に示すフローに従って校正期限を見直す（Ｓ２３）。そして、校正期限間近の計器Ｍがある場合、管理担当者は該当する計器Ｍを使用している検査担当者に対して計器Ｍの返却を要求するなどの処置をとればよい。
【００６６】
なお、計器Ｍが貸し出し中か否かの判断は、例えば、別に作成される貸出記録を照会して判断する。貸出記録は、検査担当者が、検査に使用する計器Ｍを保管場所から持ち出す際に、例えば検査担当者情報（氏名もしくはＩＤ番号など）、貸出計器情報（固有ＩＤ，管理番号など）、貸出日、返却予定日時等の項目を登録して作成して、計器校正期限設定装置１２に保存する。そして、計器Ｍを返却する際に、返却日を登録する。
【００６７】
このような、貸出記録を作成して管理することで、計器校正期限設定装置１２は貸し出し中か否かを判断する計器Ｍの貸出計器情報をキーとして貸出記録を照会することができる。そして、該当する貸出記録の貸出日が設定されていて、返却日が空欄であれば、該当する計器Ｍは貸し出し中であると判断できる。
【００６８】
そして、ＲＦＩＤタグＴが確認できなかった計器Ｍで、かつ、貸し出し中ではない計器Ｍに関してはＲＦＩＤタグの故障と判断して（Ｓ２７→Ｎｏ）、例えば、計器校正期限設定装置１２に接続される図示しない端末に備わる表示装置によって、ＲＦＩＤタグの故障を計器管理者に通知する（Ｓ２８）。
【００６９】
そして、保管場所に保管されている計器Ｍで、かつ、校正期限まで余裕のある計器Ｍは貸し出し可能な計器Ｍとして、保管場所に保管される。
【００７０】
以上のように、本発明の第１の実施形態によって、定期的に、または、計器管理者の指示によって、保管場所で保管されている計器Ｍもしくは使用場所１１で検査に使用されている計器Ｍの校正期限を見直すことができる。そして、計器Ｍの使用状況に応じて校正期限を再設定できることから、計器Ｍの校正期限を適正に管理することができる。なお、本実施形態においては、ＲＦＩＤタグＴを使用したが、ＲＦＩＤタグＴに限らず、例えば２次元コードと２次元コードの読取器を使用してもよい。
また、第１の実施形態において、計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴの情報を読み取るＲＦＩＤタグリーダ５は、使用場所１１に設置されているものとしたが、計器Ｍを使用する検査担当者がハンディリーダのようなＲＦＩＤタグリーダ５を携帯する態様であってもよい。この場合、検査担当者は、使用場所１１に計器Ｍを搬入するたびに、計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴの情報をＲＦＩＤタグリーダ５で読み取って、例えば無線によってＲＦＩＤタグリーダ制御装置４に送信して、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４が計器校正期限設定装置１２に送信する。なお、この場合、使用場所１１に関する情報は、例えば、使用場所１１にあらかじめ設置してある、使用場所１１の情報が書き込まれたＲＦＩＤタグを読み取るようにすれば取得可能である。
【００７１】
《第２の実施形態》
図７は、第２の実施形態に係る計器校正管理システムを示す図である（適宜、図２および図３参照）。図７に示すように、第２の実施形態においては、使用場所２１に搬入される計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴの情報を読み取る、ＲＦＩＤタグリーダ（リーダ）５ｂが、使用場所２１の入口に設置され、かつ、使用場所２１から搬出される計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴの情報を読み取る、ＲＦＩＤタグリーダ（リーダ）５ｃが、使用場所２１の出口に設置されることを特徴とする。そして、入口に設置されるＲＦＩＤタグリーダ５ｂと、出口に設置されるＲＦＩＤタグリーダ５ｃとは、同一のＲＦＩＤタグリーダ制御装置４で制御される。
【００７２】
なお、図７に示すように、その他の構成は第１の実施形態と同様に、計器属性情報１２ａおよび影響度１２ｂとをデータベースとして格納している計器校正期限設定装置（管理装置）１２に複数のＲＦＩＤタグリーダ制御装置４が接続されている。そして、計器校正期限設定装置１２は計器属性情報１２ａと影響度情報１２ｂとに基づいて、計器Ｍの校正期限を見直す機能を有する。
【００７３】
また、第２の実施形態においても第１の実施形態と同様に、計器校正期限設定装置１２、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４、ＲＦＩＤタグリーダ５、５ｂ、５ｃおよび計器校正期限設定装置１２の図示しない端末装置が、ネットワークを介して接続されるシステム構成であってもよいことはいうまでもない。
【００７４】
さらに、第２の実施形態においても、ＲＦＩＤタグＴが内蔵するＲＯＭ型メモリに、固有ＩＤ（コンピュータ読取可能なＩＤ）があらかじめ記憶してある。
【００７５】
図８に第２の実施形態における計器属性情報１２ａのデータ構成の一例を示す。第２の実施形態に係る計器属性情報１２ａは、第１の実施形態と同様に、計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤ１２０、管理番号１２１、計器名１２２、校正期限１２３から構成される。
【００７６】
さらに、計器Ｍが使用場所２１（図７参照）に搬入されたときに、計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴが、使用場所２１の入口に設置されるＲＦＩＤタグリーダ５ｂに検出され、ＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤが読み取られる。そして、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４を介して計器校正期限設定装置１２に送信されると、使用状況１２４が追加される。使用状況１２４には、場所１２４ａ、搬入日時１２４ｃおよび搬出日時１２４ｄの各項目があり、場所１２４ａにはＲＦＩＤタグＴが検出された使用場所２１の名称が登録され、搬入日時１２４ｃには、ＲＦＩＤタグＴが、使用場所２１の入口に設置されるＲＦＩＤタグリーダ５ｂに検出された日時（年／月／日、時：分：秒）が登録される。
【００７７】
さらに、計器Ｍを使用場所２１から搬出する際に、計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴが、使用場所２１の出口に設置されるＲＦＩＤタグリーダ５ｃに検出され、ＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤが読み取られる。そして、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４を介して計器校正期限設定装置１２に送信されると、使用状況１２４の搬出日時１２４ｄの項目に、ＲＦＩＤタグＴが使用場所２１の出口に設置されるＲＦＩＤタグリーダ５ｃに検出された日時（年／月／日、時：分：秒）が登録される。ここで、図８に例示される計器属性情報のうち、計器名が「圧力計」の情報において、使用状況１２４の場所１２４ａが使用場所Ａの搬出日時１２４ｄが空欄になっているが、これは、圧力計が使用場所Ａから搬出されていないことを示す。
【００７８】
なお、使用状況１２４は、計器Ｍが使用場所２１に搬入されるごとに追加され、１つの計器Ｍが複数の使用状況１２４を有するデータ構造となる。
【００７９】
図９は、使用状況のデータが更新されるフローを示す図である。図７、図８および図９を参照しながら、計器属性情報１２ａの使用状況１２４が更新される手順を説明する。
【００８０】
検査に使用される計器Ｍが検査対象の使用場所２１に搬入されると、使用場所２１の入口に設置されているＲＦＩＤタグリーダ５ｂが、搬入された計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴを検出してＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤを読み取り、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４に送信する（Ｓ３１）。
【００８１】
そして、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４が、受信したＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤに、計器Ｍが搬入された使用場所２１の名称と搬入された日時とを追加して使用場所搬入情報として、計器校正期限設定装置１２に送信する過程（図９のＳ３２）から、計器校正期限設定装置１２が計器属性情報１２ａに使用状況１２４を追加する過程（図９のＳ３６）までは、第１の実施形態のＳ２からＳ６まで（図４参照）と同等であるため、説明は省略する。
【００８２】
第２の実施形態においては、使用場所２１での検査終了後に、使用場所２１から計器Ｍを搬出すると、使用場所２１の出口に設置されているＲＦＩＤタグリーダ５ｃが、搬出される計器ＭのＲＦＩＤタグＴを検出してＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤを読み取り、ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４に送信する（Ｓ３７）。
【００８３】
ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４は、受信したＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤに、計器Ｍが搬出される使用場所２１の名称と搬出される日時とを付加して使用場所搬出情報として、計器校正期限設定装置１２に送信する（Ｓ３８）。
【００８４】
ＲＦＩＤタグリーダ制御装置４から、使用場所搬出情報を受信した計器校正期限設定装置１２は、使用場所搬出情報のＲＦＩＤタグＴの固有ＩＤを参照して、使用状況１２４のデータを更新する対象となる計器Ｍの計器属性情報１２ａを抽出する。
【００８５】
そして、計器校正期限設定装置１２は、抽出した計器Ｍの計器属性情報１２ａの使用状況１２４の搬出日時１２４ｄに搬出日時（年／月／日、時：分：秒）を登録する（Ｓ３９）。
【００８６】
以上の手順で、計器Ｍが検査対象の使用場所２１に搬入されると、計器属性情報１２ａに使用状況１２４のデータが追加更新され、かつ、計器Ｍが使用場所２１から搬出されると、使用状況１２４に搬出日時１２４ｄが登録される。
【００８７】
そして、計器校正期限設定装置１２は計器属性情報１２ａと影響度情報１２ｂとに基づいて、計器Ｍの校正期限を見直す。校正期限の再設定の手順そのものは、第１の実施形態と同等であり図５に示すフローに従う。なお、第２の実施形態における影響度情報１２ｂのデータ構成は、第１の実施形態で使用する影響度情報１２ｂ（図３参照）ものと同等であるため、説明は省略する。
【００８８】
第２の実施形態においては、図５にＳ１２で示される使用履歴の算出方法が第１の実施形態と異なる。
【００８９】
すなわち、第２の実施形態においては、図８に示すように計器属性情報１２ａの使用状況１２４に計器Ｍを使用した全ての使用場所２１の名称と、各使用場所２１への搬入日時１２４ｃおよび搬出日時１２４ｄと、が登録されているため、計器校正期限設定装置１２は、計器Ｍが使用された使用場所２１における搬入日時と搬出日時とから、その使用場所２１での１回の使用時間を算出する。そして、計器Ｍがその使用場所２１に搬入された全回数の使用時間を加算した値をその使用場所２１の使用履歴として、その使用場所２１の作業環境情報と使用履歴とを乗じて、その使用場所２１の負荷指数とする。
【００９０】
図８に例示するマノメータのデータレコードを例にとると、使用場所Ａ（２１ａ）（図７参照）に２００６年３月１日の１０時１４分２４秒に搬入され、同日の１７時４４分１６秒に搬出されている。すなわち、使用場所Ａ（２１ａ）に約７時間３０分滞在したことになる。したがって、マノメータの使用場所Ａ（２１ａ）における負荷指数は、例えば使用場所Ａ（２１ａ）の作業環境情報である３４（図４参照）と滞在時間（７時間３０分を７．５時間に変換して使用）とを乗じて、３４×７．５＝２５５と算出する形態が考えられる。
【００９１】
ここで、図８の圧力計の場所Ａに関する使用状況１２４に示すように、該計器Ｍが使用場所１１から搬出されていないとき、搬出日時の欄は空欄になるが、この場合は搬入日時から、校正期限を見直す日時までを、その使用場所１１への滞在時間とすればよい（図７参照）。
【００９２】
なお、前記の算出方法は一例であって、７時間３０分を切上げて８時間として算出する形態や、４５０分として算出する形態など、構成するシステムに最良の形態にすればよい。
【００９３】
そして、以降は第１の実施形態と同等の手順によって、計器校正期限設定装置１２は各計器Ｍの校正期限を見直す。
【００９４】
このように、本発明の第２の実施形態においても、定期的に、または、計器管理者の指示によって、保管場所１０で保管されている計器Ｍもしくは使用場所２１で検査に使用されている計器Ｍの校正期限を見直すことができる。そして、計器Ｍの使用状況に応じて校正期限を再設定できることから、計器Ｍの校正期限を適正に管理することができる。
【００９５】
さらに、本発明の第２の実施形態においては、計器Ｍの使用場所２１での滞在時間を管理できることから、計器Ｍにかかる負担が大きく、計器Ｍの目盛りの信頼性に大きな影響を及ぼす環境で長時間使用された計器Ｍは、早めの校正を実施するなど、きめ細かに校正期限を管理できるという効果を奏する。
【００９６】
《第３の実施形態》
本発明の第３の実施形態として、使用場所１１の作業環境情報がリアルタイムで変化する形態も考えられる。以下、図１を参照しながら説明する。第３の実施形態においては、例えば、使用場所１１の温度を、図示しない温度計（検出手段）等で常時監視して、そのデータを例えばタグリーダ制御装置４を介して計器校正期限設定装置１２に定期的に送信する。
【００９７】
計器校正期限設定装置１２は、定期的に送信される温度データに基づいて使用場所１１の１日ごとの平均気温を算出して、図４の影響度情報１２ｂの温度１３１に、算出された平均気温に対応する環境情報指数を登録する。すなわち、第３の実施形態においては、影響度情報１２ｂのデータは１日ごとに蓄積される。なお、算出された平均気温に対応する環境情報指数は、例えば、平均気温が２０℃から２５℃までの範囲では、環境情報指数を０にする、などのように設定する例が考えられる。
【００９８】
そして、計器校正期限設定装置１２が計器Ｍの校正期限を見直すときには、最初に計器属性情報１２ａの使用状況１２４の日時１２４ｂ（図２参照）を参照して、各使用場所１１での計器Ｍの使用日を抽出する。
【００９９】
そして、抽出された使用日に該当する影響度情報１２ｂのデータを参照して、使用した日の作業環境情報を算出する。１つの使用場所１１における負荷指数は、その使用場所１１で使用した全ての日の作業環境情報を加算して算出される。
【０１００】
なお、前記では１日単位で平均値を算出したがこれは限定されるものではなく、週単位の平均値や、月単位の平均値などを用いてもよい。
【０１０１】
さらに、前記では温度を例にしたが、温度に限定されるものではなく、湿度や粉塵など他の項目に関しても同様に対応できることはいうまでもない。
【０１０２】
第３の実施形態においては、計器Ｍを使用する使用場所１１の作業環境が変化しても、その変化に対応して計器Ｍの校正期限を再設定できるため、さらにきめ細かに校正期限を管理できるという効果を奏する。
【０１０３】
《第４の実施形態》
本発明の第４の実施形態として、計器Ｍを使用する検査担当者（使用者）の情報を、計器属性情報１２ａに追加して、計器校正期限設定装置１２が使用頻度を算出する際に、検査担当者の情報を反映させる形態も考えられる。以下、図１を参照しながら説明する。
【０１０４】
すなわち、検査担当者は個人の識別情報（氏名、従業員コードなど）が記憶されているＲＦＩＤタグを備えるＩＤカードを所持する。そして、使用場所１１に計器Ｍを搬入する際に、ＲＦＩＤタグリーダ５は計器ＭのＲＦＩＤタグＴに加えて、検査担当者が所持するＩＤカードのＲＦＩＤタグの識別情報も読み取る。前記の構成によって、計器校正期限設定装置１２は計器Ｍを使用する検査担当者を識別することができる。
【０１０５】
そして、計器校正期限設定装置１２の使用履歴集計部１２ｃは、使用履歴を集計する際に検査担当者の識別情報も追加する。
【０１０６】
一方、計器校正期限設定装置１２は、検査担当者が計器Ｍの校正期限に与える影響（例えば、過去の計器Ｍの破損経歴など）を人的影響度情報として、検査担当者ごとに記憶部（図示せず）に記憶しておく。
【０１０７】
そして、計器校正期限設定装置１２の使用頻度算出部１２ｄは、計器Ｍの使用頻度を算出する際に人的影響度情報を読み出して、読み出した人的影響度も適用して使用頻度を算出する。
【０１０８】
例えば、計器Ｍを使用する検査担当者が、過去に計器Ｍを破損した経歴を有する場合、計器校正期限設定装置１２は算出した使用頻度に人的影響度を乗じるなどすればよい（例えば、計器の破損経歴が１回の場合は、１．２倍するなど）。
【０１０９】
第４の実施形態においては、計器Ｍを使用する検査担当者の人的影響度も反映して計器Ｍの校正期限を再設定できるため、さらにきめ細かに校正期限を管理できるという効果を奏する。
【０１１０】
《第５の実施形態》
本発明の第５の実施形態として、計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴが、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリ（以下、書換可能型メモリと称する）を内蔵する形態が考えられる。なお、第５の実施形態においても、ＲＦＩＤタグＴが内蔵する書換可能型メモリに、固有ＩＤ（コンピュータ読取可能なＩＤ）があらかじめ記憶してある。
【０１１１】
図１０は、第５の実施形態に係る計器校正管理システムを示す図である。図１０に示すように、第５の実施形態に係る計器校正管理システム３にも、第１の実施形態と同様に、１つの保管場所３０と複数（図１０では２つ）の使用場所３１ａ、３１ｂとがある。なお、図１０には２つの使用場所３１が示されているが、使用場所の３１の数は２つに限定されるものではない。
【０１１２】
そして、第５の実施形態に係る計器校正管理システム３においては、保管場所３０にＲＦＩＤタグリーダ／ライタ（記憶装置にデータを書き込む手段）５０とＲＦＩＤタグリーダ／ライタ制御装置４０を設置する。そして、各使用場所３１の入口にＲＦＩＤタグリーダ／ライタ５０ｂ、出口にＲＦＩＤタグリーダ／ライタ５０ｃを設置する。さらに、ＲＦＩＤタグリーダ／ライタ５０ｂ、５０ｃが接続されて、これらのＲＦＩＤタグリーダ／ライタを制御するＲＦＩＤタグリーダ／ライタ制御装置４０を設置する。ＲＦＩＤタグリーダ／ライタ５０、５０ｂ、５０ｃおよびＲＦＩＤタグリーダ／ライタ制御装置４０を設置することで、ＲＦＩＤタグの書換可能型メモリに情報を書き込むことが可能になる。
【０１１３】
第５の実施形態に係る計器校正管理システム３によると、保管場所３０から計器Ｍを持ち出すときや校正期限を見直すときに、計器Ｍに設定されている校正期限を計器Ｍが有するＲＦＩＤタグＴの書換可能型メモリに書き込むことが可能になる。
【０１１４】
計器ＭのＲＦＩＤタグＴの書換可能型メモリに校正期限が書き込まれていると、使用場所３１に計器Ｍを搬入する際に、使用場所３１の入口に設置されているＲＦＩＤタグリーダ／ライタ５０ｂは、ＲＦＩＤタグＴの情報として、固有ＩＤに加えて搬入する計器Ｍの校正期限を読み取ることができる。
【０１１５】
そして、ＲＦＩＤタグリーダ／ライタ５０に接続されているＲＦＩＤタグリーダ／ライタ制御装置４０が、計器校正期限設定装置（管理装置）１２の計器属性情報１２ａを照会することなく計器Ｍの校正期限を知ることができることから、ＲＦＩＤタグリーダ／ライタ制御装置４０と計器校正期限設定装置１２の通信が必要なくなり、校正期限間近の計器に対しては、使用場所３１の入口で、短時間で検査担当者に返却要請することができる。
【０１１６】
また、第５の実施形態に係る計器校正管理システム３が、計器校正期限設定装置１２とＲＦＩＤタグリーダ／ライタ制御装置４とがネットワーク経由で接続されるシステムの場合にはネットワーク上のトラフィックを減らすことができるという効果も奏する。
【図面の簡単な説明】
【０１１７】
【図１】第１の実施形態に係る計器校正管理システムを示す図である。
【図２】計器属性情報のデータ構造の一例を示す図である。
【図３】影響度情報のデータ構造の一例を示す図である。
【図４】計器属性情報の使用状況のデータが更新されるフローを示す図である。
【図５】計器の校正期限を見直すフローを示す図である。
【図６】計器校正管理のフローを示す図である。
【図７】第２の実施形態に係る計器校正管理システムを示す図である。
【図８】第２の実施形態における計器属性情報のデータ構成の一例を示す図である。
【図９】第２の実施形態における計器属性情報の使用状況のデータが更新されるフローを示す。
【図１０】第５の実施形態に係る計器校正管理システムを示す図である。
【符号の説明】
【０１１８】
１，２，３  計器校正管理システム
１０，３０  保管場所
１１，２１，３１  使用場所
１２    計器校正期限設定装置
１２ａ  計器属性情報
１２ｂ  影響度情報
４      ＲＦＩＤタグリーダ制御装置
５、５ｃ、５ｄ  ＲＦＩＤタグリーダ
Ｍ      計器
Ｔ      ＲＦＩＤタグ
【図１】
2008014740.tif 000004
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2008014740.tif 000009
【図７】
2008014740.tif 000010
【図８】
2008014740.tif 000011
【図９】
2008014740.tif 000012
【図１０】
2008014740.tif 000013