(57)【要約】  【課題】X線平面検出器（FPD）の画素のピクセルピッチとグリッド密度が干渉して発生するモアレを低減して高画質のX線画像を得る。  【解決手段】X線照射野を検出し（S203）、該X線照射野の長軸に応じて間引き数を決定する（S204）。全画像データから間引き数に対応した画素を間引いて縮小画像の補正対象領域を設定し（S205）、この領域におけるFPDの画素のオフセット、ゲイン補正を行い（S206）、これらの補正を行った画素を用いて欠陥画素を補正し、該補正した欠陥画素に0でない正の値の重み付けによるフィルタ処理を施してモアレを低減する（S207）。  【選択図】  図2
2008229194.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体にＸ線を照射するＸ線源と、このＸ線源と対向配置され前記被検体の透過Ｘ線を検出する二次元配列された複数のＸ線検出素子からなるＸ線平面検出器と、前記被検体へのＸ線照射領域を設定するＸ線照射領域設定手段と、該Ｘ線照射領域設定手段で設定したＸ線照射領域にＸ線を絞るＸ線絞り手段と、前記被検体で発生した散乱Ｘ線が前記Ｘ線平面検出器への入射を防止する前記Ｘ線平面検出器の前部に設けたグリッドと、前記Ｘ線平面検出器の各画素のオフセット、ゲイン及び欠陥画素の画素値を補正するＸ線平面検出器補正手段と、前記Ｘ線平面検出器の画素のピクセルピッチと前記グリッドの密度とが干渉して発生するモアレを低減するモアレ低減手段とを備えたＸ線画像診断装置において、前記モアレ低減手段は、前記Ｘ線平面検出器補正手段で補正された欠陥画素に所定の重み付けをするフィルタ処理手段を備えたことを特徴とするＸ線画像診断装置。
【請求項２】
前記Ｘ線平面検出器補正手段で補正する画素の補正領域は、前記Ｘ線絞り手段で形成したＸ線照射野領域であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線画像診断装置。
【請求項３】
前記Ｘ線平面検出器補正手段は、前記Ｘ線照射野領域におけるＸ方向及びＹ方向の２次元における前記補正領域のＸ方向に走査して欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段を備えたことを特徴とする請求項２に記載のＸ線画像診断装置。
【請求項４】
さらに、前記Ｘ線平面検出器で検出した全画像の画素を間引いて縮小する画像を形成する縮小画像形成手段を備え、この縮小画像形成手段は、前記Ｘ線照射野領域の全画像データから前記縮小する画像領域を形成するための間引き数を前記Ｘ線照射野の長軸に対応して決定する間引き数決定手段と、前記間引き数に基づいて間引いた画素をシフトして前記Ｘ線平面検出器の補正領域を設定する補正領域設定手段と、この補正領域設定手段で設定した補正領域の画素を前記Ｘ線平面検出器補正手段で補正する手段と、この補正手段で補正した画素値を用いて前記フィルタ処理手段でモアレを低減するモアレ低減手段とを備えたことを特徴とする請求項３に記載のＸ線画像診断装置。
【請求項５】
前記欠陥画素の補正は、前記間引き数の1倍のＸ方向における１ライン離れたラインの画素について補正し、前記モアレの低減は、前記間引き数の２ライン離れたラインの画素について重み付けを行うことを特徴とする請求項４に記載のＸ線画像診断装置。
【請求項６】
前記縮小画像は、前記Ｘ線平面検出器で検出した全画像を縮小してプレビューする画像であることを特徴とする請求項５に記載のＸ線画像診断装置。
【請求項７】
前記全画像の一部を自動的に切り取って処理するオートトリミング画像を形成し、この形成したトリミング画像に前記モアレ低減手段を備えたことを特徴とする請求項１，２又は３に記載のＸ線画像診断装置。
【請求項８】
前記フィルタ処理手段の所定の重み付けは、０ではない正の値であることを特徴とする請求項１〜７のいずれか一項に記載のＸ線画像診断装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検体の透過X線を半導体式のX線検出素子を二次元配列したX線平面検出器(Flat Panel Detector、以下、FPDと記す場合がある)で検出するX線画像診断装置に係り、特に散乱X線を除去するためのグリッドを用いることによって発生するモアレを低減するX線画像診断装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、X線画像診断装置はデジタル化が進んでいる。その要因は、X線画像を検出する媒体がX線フィルムやアナログの光学像であるイメージインテンシファイアから、X線を直接デジタルの電気信号に変換可能な半導体を用いたFPDへと代わりつつであるからである。
【０００３】
前記FPDには種々の方式があるが、その一例に、被検者を透過したX線を光に変換するシンチレータと、このシンチレータから出力される光を電荷に変換するフォトダイオード(例えば、アモルファスシリコン型)とで構成され、該フォトダイオードの電荷をスイッチング素子{例えば、TFT(Thin Film Transistor)}を経由して読み出すことによってX線画像を得るものがあり、被検者を透過したX線量に応じた電気信号に変換する検出部が多数平面マトリックス状に並んでおり、前記X線量は前記検出部それぞれで電気信号に変換され、電気的画像信号になる。この電気的画像信号はさらにアナログ／デジタル変換器でデジタル画像信号に変換されてFPDから出力され、画像処理装置に入力後、各種画像処理を行なってX線画像としてモニタ等に表示され、診断に供される。
【０００４】
このような構成のFPDは、リアルタイムでX線画像が得られる特徴の他に、従来のスクリーン・フィルム検出系、輝尽性蛍光体検出器やイメージインテンスファイアを用いた検出器よりも薄型、軽量であり、システムの小型化にも有利なことから、被検体の胸部を始めとする腹部、大腿部などの広範囲の部位が一度の撮影で得られるように広視野のFPDの製造が可能となり、また、非常に広いダイナミックレンジを有していることからX線の露光量の変動に影響されないX線画像を得ることができる利点を有している。
【０００５】
前記の特徴を有するFPDは、該FPDの構造上、X線が照射されていないときでも前記フォトダイオードに蓄積される電荷、すなわち暗電流がオフセット値として存在するために、X線放射によるFPDの出力画像データから前記暗電流値を減算(以下、オフセット補正と記す)して前記画像データを補正する必要がある。
また、FPDの検出部は多数平面マトリックス状に並んだ複数の画素で構成されており、各画素のゲインが異なるために、入力画像に対して均一な出力画像を得るために各画素単位のゲイン補正が必要となり、さらに異常な値を出力する欠陥画素の補正も必要となる。
【０００６】
一方、被検体内で発生した散乱X線がFPDに入射するのを防ぐために該FPDの前部にグリッドを設けて、このグリッドにより前記散乱X線成分が画像化されるのを防止する場合がある。
【０００７】
しかし、前記構成のX線検出機構とすると、FPDの出力を2次元的にサンプリングして画像信号を得るために、マトリックス状に並んだ複数の画素のピクセルピッチとグリッド密度が干渉し、エリアシング(以下、モアレと記す)が生じることがある。
【０００８】
このモアレを低減するためには、フィルタリング処理が一般的であるが、被検体を撮影したX線画像をプレビュー表示にて確認する縮小画像においては、該縮小画像の大きさによっては、低周波領域にグリッド成分が出現することもあり、フィルタリング処理では困難な場合もある。
【０００９】
そこで、FPDから出力される画像の一部の画素を間引きして先行して取得した縮小画像にフィタリング処理を施す技術が特許文献1に開示されている。
これは、間引いた画像の欠陥画素の重みを0とし、該欠陥画素の元の重み分を他の画素に分配して加算するフィルタリング処理である。
【特許文献１】特開2005-211488号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、特許文献1に開示されている技術は、モアレの低減に使用する画素に欠陥画素が含まれる場合、該欠陥画素に対するフィルタ係数(重み係数)を一律に0とするため、前記欠陥画素の含まれる位置によってフィルタの振幅が変るためにフィルタの周波数特性が変化して、精度良くモアレを低減することができない。
【００１１】
また、全画像の一部を自動的に切り取って処理するオートトリミング処理では、切り取った画像のフィルタ処理する画像サイズ(フィルタのマスクサイズ)が変化するので、欠陥画素の重みを0とし、該欠陥画素の元の重み分を他の画素に分配して加算する特許文献1の手法ではモアレの問題が残る。
【００１２】
本発明の目的は、X線平面検出器(FPD)の画素のピクセルピッチとグリッド密度が干渉して発生するモアレを低減して高画質のX線画像を得ることと前記モアレが低減された高画質のプレビュー画像及び/又はオートトリミング画像を形成するX線画像診断装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明によるX線画像診断装置は、X線平面検出器の画素のピクセルピッチとグリッドの密度とが干渉して発生するモアレを前記X線平面検出器の欠陥画素に0でない正の値の重み付けによるフィルタリング処理を施して低減するもので、具体的には以下の手段によって達成される。
【００１４】
すなわち、被検体にX線を照射するX線源と、このX線源と対向配置され前記被検体の透過X線を検出する二次元配列された複数のX線検出素子からなるX線平面検出器と、前記被検体へのX線照射領域を設定するX線照射領域設定手段と、該X線照射領域設定手段で設定したX線照射領域にX線を絞るX線絞り手段と、前記被検体で発生した散乱X線が前記X線平面検出器への入射を防止する前記X線平面検出器の前部に設けたグリッドと、前記X線平面検出器の各画素のオフセット(暗電流)、ゲイン及び欠陥画素の画素値を補正するX線平面検出器補正手段と、前記X線平面検出器の画素のピクセルピッチと前記グリッドの密度とが干渉して発生するモアレを低減するモアレ低減手段とを備えたX線画像診断装置において、前記モアレ低減手段は、前記X線平面検出器補正手段で補正された欠陥画素に所定の値の重み付けをするフィルタ処理手段を備えたことを特徴とする。
【００１５】
前記X線平面検出器補正手段で補正する画素の補正領域は、前記X線絞り手段で形成したX線照射野領域であって、前記X線平面検出器補正手段は、前記X線照射野領域におけるX方向及びY方向の２次元における前記補正領域のX方向に走査して欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段を備えたことを特徴とする。
【００１６】
さらに、前記X線平面検出器で検出した全画像の画素を間引いて縮小する画像を形成する縮小画像形成手段を備え、この縮小画像形成手段は、前記X線照射野領域の全画像データから前記縮小する画像領域を形成するための間引き数を前記X線照射野の長軸に対応して決定する間引き数決定手段と、前記間引き数に基づいて間引いた画素をシフトして前記X線平面検出器の補正領域を設定する補正領域設定手段と、この補正領域設定手段で設定した補正領域の画素を前記X線平面検出器補正手段で補正する手段と、この補正手段で補正した画素値を用いて前記フィルタ処理手段でモアレを低減するモアレ低減手段とを備えたことを特徴とする。
【００１７】
前記欠陥画素の補正は、前記間引き数の1倍のX方向における1ライン離れたラインの画素について補正し、前記モアレの低減は、前記間引き数の2ライン離れたラインの画素について重み付けを行うことを特徴とするもので、前記縮小画像は、前記X線平面検出器で検出した全画像を縮小してプレビューする画像である。
【００１８】
そして、前記全画像の一部を自動的に切り取って処理するオートトリミング画像の形成においても、該形成したトリミング画像に前記モアレ低減手段を備えてオートトリミング画像のモアレを低減する。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、X線平面検出器(FPD)の画素のピクセルピッチとグリッド密度が干渉して発生するモアレを低減して高画質のX線画像を得ることと前記モアレが低減された高画質のプレビュー画像及び/又はオートトリミング画像を形成するX線画像診断装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明に係るX線画像診断装置の好ましい実施の形態について添付図面を用いて詳細に説明する。
【００２１】
図1は、本発明のX線画像診断装置の構成を示す図である。
この図1のX線画像診断装置は、被検体1に照射するX線を発生するX線管2(X線源)と、前記被検体1に照射するX線の照射範囲を制限するX線可動絞り装置3(X線絞り手段)と、前記X線管2及びX線可動絞り装置3と対向配置され前記被検者1の透過X線を検出しこれをデジタル画像データに変換するX線平面検出器(FPD)4と、前記被検体1で発生した散乱X線がFPD4に入射して該散乱X線成分が画像化されるのを防止するための前記FPD4の前部に設けたグリッド5と、前記X線の照射範囲を設定するX線絞り操作器6と、このX線絞り操作器6で設定したX線照射範囲を入力し前記X線可動絞り装置3によりX線照射範囲を制御して設定するX線絞り制御装置7(X線照射領域設定手段)と、後述の操作コンソール10で設定したX線条件に基づいて前記X線管2から放射するX線を制御する信号を生成するX線制御部及びこのX線制御部からの制御信号に対応した前記X線管2の陽極と陰極間に印加する直流高電圧(以下、管電圧と呼ぶ)を発生し、前記X線管2の陽極と陰極間に流す電流(以下、管電流と呼ぶ)を所定時間の間(撮影時間)流す機能を備えたX線高電圧装置8と、後述の操作コンソール10から入力した操作信号に基づいて撮影システム全体を制御及び管理すると共に前記FPD4の出力である画像データを読み出して該画像データに対する補正等の画像処理を行なってX線撮影画像を生成するシステム制御及び画像処理装置9(X線平面検出器補正手段及び後述のモアレ低減手段を含む)と、前記X線条件の設定、操作信号等を入力する入力装置10a及び前記システム制御及び画像処理装置9で生成されたX線撮影画像及び該画像に関連する情報等を表示する表示装置10bとを備えた操作コンソール10とで構成される。
【００２２】
前記システム制御及び画像処理装置9は、システム全体の制御とFPD4から画像データを読み出して撮影画像を生成するプログラムを実行するCPU(中央処理装置)9aと、本実施形態で説明する処理を前記CPU9aに実行させるための制御プログラムや撮影に必要となるX線条件、前記FPD4から読み出された画像データを補正する補正データ等を記憶するハードディスク9bと、該ハードディスク9bから読み出した制御プログラム、X線条件、補正データ及び前記FPD4から読み出した画像データ等を記憶するRAM(一時記憶メモリ)9cと、前記各要素との入出力インターフェース9dと、前記各要素を相互に接続する共通バス9eとを備えて構成される。
【００２３】
前記CPU9aは、システム制御及び画像処理装置9において各種制御プログラムを実行する。後述の本実施形態による処理を実行するための制御プログラムは、OSを介してCPU9aによってハードディスク9bからRAM9cへロードされ、該CPU9aによって実行される。
【００２４】
前記RAM9cには、前記FPD4から読み出された画像データを記憶するエリアが確保され、ここに撮影画像データが一時的に記憶される。
また、RAM9c上には前記画像データを補正するための補正データエリアが確保され、このエリアに前記画像データの補正に用いるための補正データが記憶される。
【００２５】
前記入出力インターフェース9dには、本X線画像診断装置の操作者とのインターフェースとなるキーボード10a1やマウス10a2等の前記入力装置10a及び前記表示装置10bが接続される。
もちろん、前記入力装置10a及び表示装置10bをタッチパネル式の入力部を備えた表示装置等により構成してもよいことは明らかである。
【００２６】
なお、前記システム制御及び画像処理装置9に、さらにROM(読み出し専用メモリ)を設け、前記制御プログラム、X線条件、補正データ等を前記ROMに記憶しておき、このROMから前記制御プログラム、X線条件、補正データ等をＲＡＭ9cにロードして撮影制御及びX線画像を生成するようにしても良い。
【００２７】
次に、上記構成のX線画像診断装置で撮影を行い、全画像処理に先行してプレビュー画像(縮小画像)を生成する処理と前記全画像を生成する処理について図2のフローチャートを用いて説明する。
【００２８】
(1)撮影処理(S200)
操作者が操作コンソール10の入力装置10aのキーボード10a1、マウス10a2を操作して撮影部位、X線撮影条件、操作指令等を入力して撮影に必要な諸条件を設定する。
この設定した諸条件に対応してX線高電圧装置8に管電圧、管電流及び撮影時間等のX線条件が設定され、操作者はX線絞り操作器6を操作して所望のX線照射野になるようにX線絞り制御装置7でX線可動絞り装置3を制御してX線照射野を設定する。
前記X線撮影条件とX線照射野の設定等の撮影準備が完了すると、操作者は図示省略のX線曝射スイッチの一段目のスイッチを押して前記X線高電圧装置8から前記X線条件に対応した管電流を前記X線管2の陽極と陰極間に流すための該X線管2のフィラメントに電流を流して該フィラメントを加熱し、その後に前記X線曝射スイッチの二段目のスイッチを押して前記X線高電圧装置8から前記X線条件に対応した管電圧が前記X線管2の陽極と陰極管に印加されてX線が放射され、撮影が開始される。
前記設定した撮影時間に達すると撮影が終了し、前記FPD4には撮影した画像データが蓄えられる。
【００２９】
(2)FPDからの全画像データの読み出しと記憶(S201)
撮影が終了すると、CPU9aから画像データの読み出し指令が入出力インターフエース9dを介してFPD4に入力され、該FPD4から撮影された全画像データが読み出されてRAM9cに記憶される。
【００３０】
(3)プレビュー画像及び全画像の形成と画像表示(S202)
全画像に先行してプレビュー画像を形成して表示する処理をステップS203〜S208で行い、これらの処理と並行して全画像を形成して記憶、表示する処理をステップS209〜S212で行う。
【００３１】
(4)プレビュー画像の形成と画像表示(S203〜S208)
1)X線照射野の検出(S203)
X線絞り操作器6で設定されたX線照射野領域をX線絞り制御装置7から読み出してRAM9cに記憶する。なお、X線照射野はFPD4から読み出した画像データから求めるようにしても良い。
【００３２】
2)間引き数の決定(S204)
前記表示装置9bにプレビューする縮小画像を形成するための前記検出したX線照射野領域における画素の間引き数を決定する(間引き数決定手段)。
前記間引き数は、例えば縮小画像の画素を666×666画素とすると、図3に示すX線可動絞り装置3で設定されたX線照射野の長軸と縮小画像を666×666画素にするための間引き数との関係から求める。すなわち、X線可動絞り装置3で絞ったX線照射野の長軸の画素数が666の時の間引き数は1、X線照射野の長軸の画素数が1333の時の間引き数は2、X線照射野の長軸の画素数が2000の時の間引き数は3、X線照射野の長軸の画素数が2666の時の間引き数は4及びX線照射野の長軸の画素数が3000の時の間引き数は4.5となる。
このようにして決定した間引き数とX線照射野の長軸との関係はハードディスク9bに記憶しておき、これをRAM9cに読み出してCPU9aにより前記検出したX線照射野の長軸の長さに対応して決める。
【００３３】
図4はX線照射野の長軸が同図(a)に示す2666画素の例で、X線可動絞り装置3のX線絞りを全開した場合のFPDの全画素3000に対して2666画素までX線照射野を絞り、該X線照射野領域における2666画素の間引き数を4として同図(b)に示すように666×666画素に縮小してプレビューする場合である。
【００３４】
3)補正対象領域の算出(S205)
前記決定した間引き数に応じてFPD4のオフセット補正、ゲイン補正及び欠陥画素補正(X線平面検出器補正手段)の補正対象位置をシフトさせて補正対象領域を設定(補正領域設定手段)し、この補正対象領域をRAM9cに記憶する。
【００３５】
4)補正対象領域における画像データの補正(S206、S207)
前記算出した補正対象領域の対象画素に対してFPD4のオフセット補正、ゲイン補正、欠陥画素補正を行なって、これらの補正された前記補正対象領域の画像データをRAM9c記憶する。
【００３６】
ここで、本発明の画像データの補正について説明する前に、欠陥画素が含まれている場合の従来のモアレを低減する技術について図5を用いて説明する。
【００３７】
モアレの低減に使用する画素に欠陥画素{図5(a)の画素c、画素ｈ}が含まれる場合、欠陥画素に対するフィルタ係数(フィルタの振幅を表し、特許文献1の重み係数と同じ)を0にする。
そのため、フィルタの周波数特性が図5(b)の実線で示すように変化し、表示画像に歪を発生し、精度よくモアレを低減することができない場合がある。
これは、前記したように、間引いた画像の欠陥画素の重みを0とし、該欠陥画素の元の重み分を他の画素に分配して加算するために生じるものである。
【００３８】
そこで、本発明においては、前記ステップS205で求めた補正対象領域における欠陥画素を１回のループ処理、すなわち1回の走査で検出してモアレを低減する。このモアレの低減について、ここではX線照射野の長軸が2666画素の場合に666画素に縮小する例について図6を用いて説明する。
【００３９】
図6において、図3よりX線照射野の長軸が2666画素の場合に666画素に縮小する間引き数は4画素であるために、X方向に間引かれる画素はa、b、c、・・・・・で、Y方向に間引かれる画素はd、g、e、h、f、i、・・・・・であり、注目画素をiとすると、この画素のX方向のラインをNライン、このNラインよりも4ライン上のX方向のラインをN-1ライン、このN-1ラインよりも4ライン上のX方向のラインをN-2ラインとする。
【００４０】
前記のように、X線照射野の長軸が2666画素の場合に666画素に縮小する間引き数が4であるが、前記モアレは、画像に縦縞模様として表れるために、図6に示すように、X方向の画素は間引かないでX線照射野のX方向に走査して欠陥画素を検出(欠陥画素検出手段)し、この欠陥画素の画素値を補正してモアレの低減を図る。
【００４１】
そして、前記間引かれたラインの各画素のオフセット補正、ゲイン補正を先行して行い、欠陥画素は1ライン離れた(間引き数の1倍で、図6ではN-1ライン)の画素を用いて補正を行い、モアレの低減には2ライン離れた(間引き数の2倍で、図6ではN-2ライン)の画素を用いる。
【００４２】
前記欠陥画素の補正は、前記間引かれた画素から欠陥画素を検出し、該検出した欠陥画素の前記間引かれた周辺の画素を用いて補間により行う。
例えば、図6において、オフセット補正、ゲイン補正済みのN〜N-2ラインにおける間引かれた画素a、b、c、d、e、f、g、h、iの中で欠陥画素をeとすると、eを中心とする8方向の画素a、b、c、d、f、g、h、iの平均値等の補間により求める。
このように、欠陥画素は、補間による補正に十分な画素を確保するために、さらにX方向に間引きする画素をずらして補正を行う。
これは、Y方向の画素も用いて精度良く欠陥画素を補正するためである。
【００４３】
前記モアレの低減は、前記オフセット補正、ゲイン補正及び欠陥画素補正済みの注目画素(例えば、iの場合)のラインから2ライン離れたラインのX方向の画素に対してフィルタ処理を施す(欠陥画素に0でない正の値の重み付けをする)。
例えば、X方向のオフセット補正、ゲイン補正及び欠陥画素補正が行われたcを中心とする数画素を用いて該画素に重み付けしてモアレを低減する。
このように、欠陥画素の重みを0としないで該欠陥画素に正の適当な値の重みを付けをしてモアレを低減するので、従来のような画像歪を生じることはない。
【００４４】
以上のようにして補正及びモアレが低減された縮小画像データをRAM9cに記憶する。
【００４５】
5)プレビュー画像表示(S208)
前記RAM9cに記憶したプレビューする縮小画像データに画像表示制御処理を施してプレビュー画像を生成し、この生成したプレビュー画像を表示装置10bに表示する。
【００４６】
(5)全画像の形成と記憶、表示(S209〜S212)
前記ステップS201でRAM9cに記憶された全画像データを読み出し、該全画像データに対してFPD4のオフセット補正、ゲイン補正(S209)、欠陥画素補正及びモアレ低減処理(S210)を施し、該FPD4の補正及びモアレ低減処理された画像データに画像処理を施す(S211)。
前記欠陥画素補正は、欠陥画素の周辺画素を用いて補間により求め、前記モアレ低減処理は前記S207と同じ手法で行う。
このようにして画像処理された画像データをハードディスク9bに記憶し、あるいは前記画像データに画像表示制御処理を施して全画像を生成し、この生成した全画像を表示装置10bに表示して診断に供する(S212)。
【００４７】
以上、上記実施形態で説明したように、FPD4のオフセット補正、ゲイン補正を行い、これらの補正を行った画素に対して欠陥画素補正を行って該欠陥画素に0でない正の値の重み付けによるフィルタ処理を施したので、FPD4のマトリックス状に並んだ複数の画素のピクセルピッチとグリッド密度が干渉して発生する縦縞模様のモアレを低減して高画質のX線画像を得ることができる。
【００４８】
また、FPD4で検出した画像データの画素の間引き数をX線照射野の長軸に応じて決定し、この決定した間引き数によりプレビューする縮小画像を形成し、この形成した縮小画像にFPD4のオフセット補正、ゲイン補正を行い、これらの補正を行った画素に対して上記の欠陥画素補正を行ってモアレを低減するようにしたので、モアレが低減された高画質のプレビュー画像を表示することができ、これによって撮影の良否を的確に判断することができる。
【００４９】
なお、上記実施形態の本発明によるモアレの低減は、全画像の一部を自動的に切り取って処理するオートトリミング処理にも適用することができる。
すなわち、オートトリミング処理により切り取った画像のフィルタ処理する画像サイズ(フィルタのマスクサイズ)が変化してもトリミングした画像のX方向に対しては、補正対象ラインのオフセット補正、ゲイン補正、欠陥画素補正及びモアレ低減処理を上記実施形態と同様に行うことにより、良好なモアレの低減が可能となる。
【００５０】
図7は、オートトリミングにおけるX線照射野の長軸が同図(a)に示す2500画素の例で、X線可動絞り装置3でX線絞り領域を2666画素まで広げ、この広げた領域の2666画素の一部を切り取って同図(b)に示すように666×666画素に縮小してトリミングする。
【００５１】
以上、本発明によるX線画像診断装置について説明したが、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更できる。
例えば、縮小画像を形成する間引き数は、X線照射野の長軸に比例して計算により求めても良いし、欠陥画素の補正においても実施形態に限定するものではなく、該欠陥画素の重みを0としなければ、どのような方法を用いて補正しても良い。
【００５２】
また、上記実施形態では、撮影後にFPD4からの全画像データを読み出しておき、その後にプレビュー画像(縮小画像)の形成と全画像の形成を行うようにしたが、本発明はこれに限定するものではなく、撮影後にX線照射野を検出して間引き数を決定し、この決定した間引き数に基づいて縮小画像データを全画像データに先行して読み出してプレビュー画像を形成すようにしても良い。
このように、縮小画像データを全画像に先行して読み出して、プレビュー画像を形成して表示装置10bに表示することにより、プレビュー画像を表示するまでの時間が短縮され、撮影スループットの向上に寄与するものとなる。
【００５３】
本実施形態によれば、X線平面検出器のオフセット補正(暗電流補正)、ゲイン補正を行い、これらの補正を行った画素に対して欠陥画素補正を行って該欠陥画素に0でない正の値の重み付けによるフィルタ処理を施したので、X線平面検出器の画素のピクセルピッチとグリッド密度が干渉して発生する縦縞模様のモアレを低減して高画質のX線画像が得られるX線画像診断装置を提供することができる。
【００５４】
また、X線平面検出器で検出した画像データの画素の間引き数をX線照射野の長軸に応じて決定し、この決定した間引き数によりプレビューする縮小画像を形成し、この形成した縮小画像に前記X線平面検出器のオフセット補正、ゲイン補正を行い、これらの補正を行った画素に対して上記の欠陥画素補正を行ってモアレを低減するようにしたので、モアレが低減された高画質のプレビュー画像を表示することができ、これによって撮影の良否を的確に判断することができる。さらに、全画像の一部を自動的に切り取って処理するオートトリミング画像の形成においても、該形成したトリミング画像に前記モアレ低減手段を備えることによって、モアレが低減された高画質のオートトリミング画像を取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明のX線画像診断装置の構成を示す図。
【図２】プレビュー画像を生成する処理と全画像を生成する処理のフローチャート。
【図３】間引き数とX線照射野の長軸の画素数との関係を示す図。
【図４】2666×2666のX線照射野及び間引き数を4として666×666画素に縮小してプレビューする例を示す図。
【図５】欠陥画素が含まれている場合のモアレを低減する従来の例を示す図。
【図６】X線照射野の長軸が2666画素で666画素に縮小する場合の本発明によるモアレの低減の説明図。
【図７】2500×2500画素の画像の一部を切り取って666×666画素にオートトリミングする例を示す図。
【符号の説明】
【００５６】
1  被検体、2  X線管(X線源)、3  X線可動絞り装置、4   X線平面検出器(FPD)、5  グリッド、6  X線絞り操作器、7  X線絞り制御装置、8   X線高電圧装置、9  システム制御及び画像処理装置、9a  CPU(中央処理装置)、9b  ハードディスク、9c  RAM(一時記憶メモリ)、9d  入出力インターフェィス、10  操作コンソール、10a  入力装置、10b  表示装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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