(57)【要約】【課題】監視盤に取付けてある指示計を取外さずに、任意に短時間で試験を行うことを可能とした指示計試験装置を提供する。【解決手段】監視盤に取付けられた複数の直流電流指示計３、…、３の各々の信号入力端子には、それぞれ試験スイッチ４、…、４が設けられている。これらの試験スイッチ４、…、４は試験信号線２により試験信号制御回路１に接続されている。試験スイッチ４、…、４を一括閉状態にすることにより、試験信号制御回路１からの試験信号を直流電流指示計３、…、３に流し、動作確認が可能となる。これにより、監視盤に取付けてある指示計を取外さずに、任意に短時間で試験を行うことができる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験信号を生成する試験信号生成手段と、監視盤に取付けられた複数の直流電流指示計の各々にそれぞれ対応して設けられ、各々の直流電流指示計に、通常は計測信号が入力され、試験時は前記試験信号生成手段で生成された前記試験信号が入力されるように切替えられる複数の試験スイッチと、これらの複数の試験スイッチを一括して切替える手段と、前記試験信号が前記直流電流指示計に入力されるように前記試験スイッチが切替えられたとき、前記計測信号をバイパスさせる手段とを備えたことを特徴とする指示計試験装置。
【請求項２】
試験信号を生成する試験信号生成手段と、監視盤に取付けられた複数の直流電圧指示計の各々にそれぞれ対応して設けられ、各々の直流電圧指示計に、通常は計測信号が印加され、試験時は前記試験信号生成手段で生成された前記試験信号が印加されるように切替えられる複数の試験スイッチと、これらの複数の試験スイッチを一括して切替える手段とを備えたことを特徴とする指示計試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば水道プラント等の監視盤に取付けてある指示計の試験を行う指示計試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、指示計の試験装置としては単体を対象に実施されていた。このため、監視盤に取付けてある場合は指示計を取り外し、試験後再度取付ける作業が発生していた。また、指示計を試験している間は信号の監視がされていない状態となっている。
【０００３】
一方、基準電源を内蔵するＬＳＩの各部の特性試験を行う場合に、切替回路を用いて、基準電源を切離し、外部基準電源による電源供給に切替えることは従来から知られている（例えば、特許文献１参照）が、監視盤に取付けてある指示計の試験を行う場合に切替回路を用いることは行われてはいない。
【特許文献１】実開昭６４−４００７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
監視盤に取付けてある指示計の試験を行う場合に、従来の指示計単体試験では、取外し、および取付け作業があるため無監視状態が長時間となってしまう問題があった。そこで、既に監視盤に取付けてある指示計を取外さないで、任意に短時間で試験を行える方法が必要である。
【０００５】
本発明は、このような要望に鑑みて為されたもので、監視盤に取付けてある指示計を取外さずに、任意に短時間で試験を行うことを可能とした指示計試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成する為に、本発明に係る指示計試験装置は、試験信号を生成する試験信号生成手段と、監視盤に取付けられた複数の直流電流指示計の各々にそれぞれ対応して設けられ、各々の直流電流指示計に、通常は計測信号が入力され、試験時は試験信号生成手段で生成された試験信号が入力されるように切替えられる複数の試験スイッチと、これらの複数の試験スイッチを一括して切替える手段と、試験信号が直流電流指示計に入力されるように試験スイッチが切替えられたとき、計測信号をバイパスさせる手段とを備えたことを特徴とする。
【０００７】
また、本発明に係る指示計試験装置は、試験信号を生成する試験信号生成手段と、監視盤に取付けられた複数の直流電圧指示計の各々にそれぞれ対応して設けられ、各々の直流電圧指示計に、通常は計測信号が印加され、試験時は試験信号生成手段で生成された試験信号が印加されるように切替えられる複数の試験スイッチと、これらの複数の試験スイッチを一括して切替える手段とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、監視盤に取付けてある指示計を取外さずに、任意に短時間で試験を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、以下の図において、同符号は同一部分または対応部分を示す。
【００１０】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係る指示計試験装置の概略構成を示す回路図である。
【００１１】
同図に示すように、監視盤に取付けられた複数の直流電流指示計３、…、３の各々の信号入力端子には、それぞれ試験スイッチ４、…、４が設けられている。これらの試験スイッチ４、…、４は試験信号線２により試験信号制御回路１に接続されている。
【００１２】
試験信号制御回路１は、試験信号線２に、４〜２０ｍＡＤＣの試験信号を流すことが可能なように構成されている。試験スイッチ４は、通常は開の状態（試験スイッチの切替片が図示のように左側の計測信号側接点に接触した状態）で、この状態のときは、各直流電流指示計３には、それぞれ計測信号線５によりセンサー等からの計測信号（４〜２０ｍＡＤＣ）が流れているが、試験スイッチ４が閉（試験スイッチの切替片が右側の試験信号側接点に接触した状態）となることにより試験信号が流れるように構成されている。なお、試験スイッチ４、…、４を一括して閉にしたり、開にしたりするために、指示計試験用釦が設けられており、指示計試験用釦を押下するとリレーが動作して、各試験スイッチ４の切替片が閉側に切替わり、もう一度指示計試験用釦を押下すると、各試験スイッチ４の切替片が開側に切替わるように構成されている。また、各試験スイッチ４の計測信号線側接点の間には、試験スイッチ４が閉となったとき計測信号をバイパスする機能を有する定電圧ダイオード６が接続されている。
【００１３】
次に、このように構成されたこの実施形態の動作を説明する。
【００１４】
試験信号制御回路１から予め設定された試験信号を試験信号線２に流せる状態となっている。例えば、試験信号を、６ｍＡ、１２ｍＡ、１８ｍＡと切替えて流せる状態となっている。
【００１５】
通常、計測状態では計測信号線５にセンサー等からの計測信号（４〜２０ｍＡＤＣ）が流れていて、試験スイッチ４が開のため、直流電流指示計３によって計測値を視覚的に確認できる。各直流電流指示計３の指示値によって、水位、流量、圧力などの計測値が表示される。例えば、水位の場合は、０〜１０ｍが、４〜２０ｍＡに対応するように表示される。
【００１６】
直流電流指示計の動作試験を行う場合は、試験スイッチ４、…、４を一括閉状態にすることにより、試験信号制御回路１からの試験信号を直流電流指示計３、…、３に流し、動作確認が可能となる。ここで、定電圧ダイオード６は、直流電流指示計３が試験状態のとき、試験スイッチ４の計測信号側接点間が開状態となるため、計測信号をバイパスし、指示計以外の既存回路を、試験時においても正常に保つ機能を持っている。
【００１７】
図２は、複数の直流電流指示計３、…、３を取付けた監視盤の監視表示面２０を示すもので、上部に例えば運転、停止、故障などを表示する複数の表示灯２１、…、２１が配置されており、中央部に複数の直流電流指示計３、…、３が並んでいる。その右下方部には、表示灯試験用釦２２が設けられており、この表示灯の計試験用釦２２を押下している間、複数の表示灯２１、…、２１が正常であれば全ての表示灯が点灯する。また、左下方部には、指示計試験用釦２３が設けられており、この指示計試験用釦２３を押下すると、上述のように試験スイッチ４、…、４が一括閉状態になり、複数の直流電流指示計３、…、３が同一の特性、すなわち同一の指示範囲（４〜２０ｍＡ）のものであれば、試験信号制御回路１から、例えば１２ｍＡの試験信号を流せば、全ての直流電流指示計３、…、３が正常な場合、これら直流電流指示計３、…、３の指示位置はすべて同じ高さの指示位置Ａとなる。しかし、ひとつでも異常な直流電流指示計があれば、その直流電流指示計の指示位置だけが異なるので、一目で異常であることが判別できる。
【００１８】
このように、指示計試験用釦２３を押下するだけで、いつでも直流電流指示計３、…、３の試験を行うことができ、従来のように１年に１回というような頻度ではなく、毎日でも試験を行うことができる。また、監視中に、警報が出たとき、その項目に対する直流電流指示計の指示値が警報に相当するような値ではない場合、警報が正しいのか直流電流指示計の指示値が正しいのかの判断に迷うことがあるが、そのときは、指示計試験用釦２３を押下して、その直流電流指示計が故障していないかどうかをまず確認してから対応することができる。
【００１９】
以上説明したように、この実施形態によって、監視盤に取付けてある指示計の動作試験を行う場合、指示計を取外さないで、任意に短時間で試験を行えると共に、試験実施時にも、既存回路機能を正常に保つことが可能となる。
【００２０】
（第２の実施形態）
上述の第１の実施形態は、監視盤に設けられた複数の直流電流指示計の試験を行うものであるが、この第２の実施形態は、監視盤に設けられた複数の直流電圧指示計の試験を行う指示計試験装置に関するものである。
【００２１】
図３に、本発明の第２の実施形態に係る指示計試験装置の概略構成を示す。
【００２２】
同図に示すように、監視盤に設けられた複数の直流電圧指示計９、…、９の各々の信号入力端子には、それぞれ試験スイッチ１０、…、１０が設けられている。これらの試験スイッチ１０、…、１０は試験信号線８により試験信号制御回路７に接続されている。
【００２３】
試験スイッチ１０は通常は開の状態（試験スイッチの切替片が図示のように左側の計測信号側接点に接触した状態）で、この状態のときは、各直流電圧指示計９には、それぞれ計測信号線１１によりセンサー等からの計測信号（１〜５ＶＤＣ）が印加されているが、試験スイッチ１０が閉（試験スイッチの切替片が右側の試験信号側接点に接触した状態）となることにより１〜５ＶＤＣの試験信号を印加するように構成されている。なお、試験スイッチ１０、…、１０を一括して閉にしたり、開にしたりするために、指示計試験用釦を押下するとリレーが動作して、各試験スイッチ１０の切替片が閉側に切替わり、もう一度指示計試験用釦を押下すると、各試験スイッチ１０の切替片が開側に切替わるように構成する。
【００２４】
次に、このように構成されたこの実施形態の動作を説明する。試験信号制御回路７から予め設定された試験信号を試験信号線に印加している。
【００２５】
通常、計測状態では計測信号線１１にセンサー等からの計測信号（１〜５ＶＤＣ）が印加されていて、試験スイッチ１０が開のため、直流電圧指示計９によって計測値を視覚的に確認できる。
【００２６】
直流電圧指示計９の動作試験を行う場合は、試験スイッチ１０、…、１０を一括閉状態にすることにより、試験信号制御回路７からの試験信号を直流電圧指示計９、…、９に流し、動作確認が可能となる。
【００２７】
本実施形態によって、監視盤に取付けてある指示計の動作試験を行う場合指示計を取外さないで、任意に短時間で試験を行えると共に、試験実施時にも、既存回路機能を正常に保つことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る指示計試験装置の概略構成を示す回路図。
【図２】本発明の第１の実施形態における監視盤の監視表示面の構成を示す図。
【図３】本発明の第２の実施形態に係る指示計試験装置の概略構成を示す回路図。
【符号の説明】
【００２９】
１…試験信号制御回路
２…試験信号線
３…直流電流指示計
４…試験スイッチ
５…計測信号線
６…定電圧ダイオード
７…試験信号制御回路
８…試験信号線
９…直流電圧指示計
１０…試験スイッチ
１１…計測信号線
２０…監視表示面
２１…表示灯
２２…表示灯試験用釦
２３…指示計試験用釦
【図１】
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【図２】
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【図３】
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