(57)【要約】【課題】測定対象体との接触不良による不都合を回避し得る抵抗計を提供する。【解決手段】測定対象体１００に試験電圧Ｖｔを供給する電源部２を備え、測定対象体１００の抵抗値を測定可能に構成された絶縁抵抗計１であって、試験電圧Ｖｔが供給されているときに測定対象体１００に流れる電流Ｉｔの電流値の変動を検出して変動の大きさを示す電圧信号Ｖｂを出力する検出部５と、音出力部７と、検出信号Ｖｂによって示される電流Ｉｔの電流値の変動の大きさが予め規定された第１基準値に最初に達したときに一定の所定時間長で音出力部７に音を出力させる処理部６とを備えている。【選択図】図１
2008157750.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象体に試験電圧を供給する電源部を備え、前記測定対象体の抵抗値を測定可能に構成された抵抗計であって、
前記試験電圧が供給されているときに前記測定対象体に流れる電流の電流値の変動を検出して当該変動の大きさを示す検出信号を出力する検出部と、音出力部と、前記検出信号によって示される前記変動の大きさが予め規定された第１基準値に最初に達したときに一定の所定時間長で前記音出力部に音を出力させる処理部とを備えている抵抗計。
【請求項２】
前記処理部は、前記所定時間の経過時において前記変動の大きさが前記第１基準値以下の第２基準値を超えているときには当該変動の大きさが当該第２基準値以下になるまで前記音出力部に前記音を出力させる請求項１記載の抵抗計。
【請求項３】
前記音出力部は、前記音の出力の経過時間に応じて周波数を変化させて当該音を出力する請求項２記載の抵抗計。
【請求項４】
前記第１基準値と前記第２基準値とが同じ値に規定されている請求項１から３のいずれかに記載の抵抗計。
【請求項５】
前記検出部は、前記測定対象体に流れる前記電流を検出して当該電流の電流値を示す信号を出力する電流検出回路と、当該電流検出回路から出力された前記信号を時間で微分することによって前記検出信号を生成する微分回路とを備えている請求項１から４のいずれかに記載の抵抗計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象体の抵抗値を測定する抵抗計に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の抵抗計として、特開２０００−２１４１９４号公報において出願人が開示した絶縁抵抗計が知られている。この絶縁抵抗計では、ＣＰＵが、例えばプローブを介して入力した電流値および供給電圧に基づいて被測定電気機器の抵抗値を測定し、測定した被測定電気機器の抵抗値と設定された基準値とを比較して、抵抗値が基準値よりも小さいときには被測定電気機器を不良品と判別してブザーを鳴動させる。したがって、この絶縁抵抗計では、基準値を予め設定しておくことで、被測定電気機器の良品・不良品の状態を報知することが可能となっている。
【特許文献１】特開２０００−２１４１９４号公報（第１−５頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、上記の絶縁抵抗計には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この絶縁抵抗計では、被測定電気機器の良品・不良品の状態が、測定された被測定電気機器の抵抗値と基準値との比較によって報知される。この場合、被測定電気機器とプローブとの接触不良が生じているときには、測定された抵抗値が無限大となって基準値以上になるため、ブザーは鳴動しない。このため、この絶縁抵抗計では、被測定電気機器が不良品であったとしても、接触不良が生じているときには、被測定電気機器が不良品である旨が報知されないおそれがある。したがって、被測定電気機器とプローブとの接触不良による不都合を改善するのが好ましい。
【０００４】
本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、測定対象体との接触不良による不都合を回避し得る抵抗計を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載の抵抗計は、測定対象体に試験電圧を供給する電源部を備え、前記測定対象体の抵抗値を測定可能に構成された抵抗計であって、前記試験電圧が供給されているときに前記測定対象体に流れる電流の電流値の変動を検出して当該変動の大きさを示す検出信号を出力する検出部と、音出力部と、前記検出信号によって示される前記変動の大きさが予め規定された第１基準値に最初に達したときに一定の所定時間長で前記音出力部に音を出力させる処理部とを備えている。
【０００６】
また、請求項２記載の抵抗計は、請求項１記載の抵抗計において、前記処理部は、前記所定時間の経過時において前記変動の大きさが前記第１基準値以下の第２基準値を超えているときには当該変動の大きさが当該第２基準値以下になるまで前記音出力部に前記音を出力させる。
【０００７】
また、請求項３記載の抵抗計は、請求項２記載の抵抗計において、前記音出力部は、前記音の出力の経過時間に応じて周波数を変化させて当該音を出力する。
【０００８】
また、請求項４記載の抵抗計は、請求項１から３のいずれかに記載の抵抗計において、前記第１基準値と前記第２基準値とが同じ値に規定されている。
【０００９】
また、請求項５記載の抵抗計は、請求項１から４のいずれかに記載の抵抗計において、前記検出部は、前記測定対象体に流れる前記電流を検出して当該電流の電流値を示す信号を出力する電流検出回路と、当該電流検出回路から出力された前記信号を時間で微分することによって前記検出信号を生成する微分回路とを備えている。
【発明の効果】
【００１０】
請求項１記載の抵抗計では、処理部が、検出信号によって示される電流値の変動の大きさが第１基準値に最初に達したときに一定の所定時間長で音出力部に音を出力させる。この場合、例えばプローブを介して測定対象体に試験電圧を供給すると共に測定対象体に流れる電流を検出する際に、測定対象体とプローブとが正常に接触しているときには、高抵抗の測定対象体であっても（例えば絶縁抵抗計として用いるときには測定対象体が良品であっても）その内部容量を充電する充電電流が瞬間的に流れる。このため、検出信号によって示される電流値の変動の大きさがごく短時間の間だけ変化する。一方、測定対象体とプローブとの間で接触不良が生じているときには、測定対象体には電流が流れないため、検出信号によって示される電流値の変動の大きさが変化しない。したがって、この抵抗計によれば、充電電流によって生じる電流値の変動を検出することができるように第１基準値を設定することにより、測定対象体とプローブとが正常に接触しているときに限って一定の所定時間長で音を出力させることができるため、測定対象体との接触不良を確実に認識させることができる結果、接触不良に起因する不都合を確実に回避することができる。
【００１１】
請求項２記載の抵抗計では、処理部が、所定時間の経過時において電流値の変動の大きさが第２基準値を超えているときには、変動の大きさが第２基準値以下になる時点まで音出力部に音を出力させる。この場合、測定対象体が低抵抗値であればあるほど（例えば絶縁抵抗計として用いるときには不良品であればあるほど）大きい電流値の電流が充電電流の他に測定対象体に流れるため、検出された電流の電流値の変動の大きさが第２基準値に達するまでの時間、つまり流れる電流の値が安定するまでの時間が長くなる。したがって、この抵抗計によれば、抵抗値が低いほど音の長さを長くして出力することになる結果、絶縁抵抗計として用いるときには、音の長さの違いを聞き分けることにより、測定対象体の不良の程度を確実かつ容易に把握することができる。
【００１２】
請求項３記載の抵抗計では、音出力部が、音の出力の経過時間に応じて周波数を変化させて音を出力する。この場合、抵抗値が低いほど音の出力時間が長くなるため、測定対象体が低抵抗値であればあるほど（例えば絶縁抵抗計として用いるときには不良品であればあるほど）高い周波数（または低い周波数）から低い周波数（または高い周波数）の音までが音出力部によって出力される。したがって、この抵抗計によれば、音の周波数の変化を聞き分けることにより、測定対象体の不良の程度を一層確実かつ容易に把握することができる。
【００１３】
請求項４記載の抵抗計によれば、第１基準値と第２基準値とを同じ値に規定したことにより、装置を簡易に構成することができる。
【００１４】
請求項５記載の抵抗計では、検出部に備えられた微分回路が、電流検出回路から出力された電流値を示す信号を時間で微分することにより、電流値の変動の大きさを示す検出信号を生成する。この場合、電流値を示す信号を微分することによって得られる値は、電流値の変化の速度を示す値となる。したがって、この抵抗計によれば、電流値の変動を確実に検出することができるため、測定対象体との接触不良を一層確実に認識させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る抵抗計の最良の形態について説明する。
【００１６】
最初に、本発明に係る抵抗計を適用した絶縁抵抗計１の構成について、添付図面を参照して説明する。
【００１７】
絶縁抵抗計１は、図１に示すように、プローブＰ１，Ｐ２、電源部２、メータ４、検出部５、処理部６および音出力部７を備え、測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒを測定可能に構成されている。この場合、測定対象体１００は、内部抵抗１０１に加えて、一般的に内部容量１０２を有している。
【００１８】
プローブＰ１，Ｐ２は、測定対象体１００に供給（印加）するための直流の試験電圧（例えば数ｋＶ）Ｖｔの供給用および後述する電流Ｉｔの検出用のプローブであり、絶縁抵抗値Ｒの測定の際に測定対象体１００の両端にそれぞれ接触させられる。電源部２は、試験電圧Ｖｔを生成して出力する。メータ４は、例えば、アナログ式のメータであり、測定された測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒを指針の振れ角によって表示する。検出部５は、電流検出回路５１および微分回路５２を備えて構成されている。電流検出回路５１は、検出抵抗（図示せず）を備え、試験電圧Ｖｔが供給されているときに測定対象体１００に流れる電流Ｉｔを検出して電流Ｉｔの電流値を示す電圧信号Ｖａを出力する。具体的には、電流検出回路５１は、電流Ｉｔが流れたときに検出抵抗の両端に発生する電圧を電圧信号Ｖａとして出力する。この場合、電圧信号Ｖａは、検出抵抗の抵抗値が一定であるため、測定対象体１００を流れる電流Ｉｔの電流値に比例する電圧値を示す。また、微分回路５２は、電流検出回路５１から出力された電圧信号Ｖａを時間で微分することによって電圧信号Ｖｂ（本発明の検出信号に相当する）を生成して出力する。この場合、電圧信号Ｖｂは、電流Ｉｔの電流値を示す電圧信号Ｖａが時間で微分されることによって生成されており、時間に対する電流Ｉｔの電流値の変動の大きさを示す。
【００１９】
処理部６は、比較回路６１、タイマ回路６２および加算回路６３を備えて構成されている。比較回路６１は、例えばコンパレータ（図示せず）を備えて構成されており、電圧信号Ｖｂの電圧値が基準電圧値Ｖｓ（本発明における第１基準値および第２基準値に相当する）以上のときにハイ電圧の信号Ｓ１を出力し、電圧信号Ｖｂの電圧値が基準電圧値Ｖｓ未満のときにロウ電圧の信号Ｓ１を出力する。この場合、基準電圧値Ｖｓは、後述する充電電流Ｉｃが流れるときの電圧信号Ｖａの変動を検出可能な電圧値に設定されている。タイマ回路６２は、信号Ｓ１がロウ電圧からハイ電圧となったときに一定の時間Ｔ１（本発明における所定時間）に亘ってハイ電圧の信号Ｓ２を出力する。加算回路６３は、論理和回路であり、信号Ｓ１および信号Ｓ２のうちの少なくとも一方がハイ電圧のときにハイ電圧の信号Ｓ３を出力し、いずれもロウ電圧のときにロウ電圧の信号Ｓ３を出力する。
【００２０】
音出力部７は、例えば、発振回路７１、増幅回路７２およびスピーカ７３を備えて構成されて、処理部６から出力される信号Ｓ３に従って音を出力する。発振回路７１は、例えば、図５に示すように、処理部６から出力された信号Ｓ３がハイ電圧のときに、タイマ回路６２から出力される信号Ｓ２の時間Ｔ１と同一時間に規定されている時間Ｔａを経過するまでは一定の周波数Ｆ１の出力信号Ｓｏを出力し、その時間Ｔａを経過した後には経過時間Ｔに応じて周波数Ｆ１から一定の変化率で周波数が低下する出力信号Ｓｏを出力する。なお、発振回路７１から周波数Ｆ１の出力信号Ｓｏが出力される時間Ｔａと、信号Ｓ２の時間Ｔ１とを異ならせることもできる。増幅回路７２は、発振回路７１から出力される出力信号Ｓｏを増幅してスピーカ７３に出力し、スピーカ７３は、出力信号Ｓｏに基づく音を出力する。
【００２１】
次に、絶縁抵抗計１の使用方法について、図面を参照して説明する。
【００２２】
まず、図１に示すように、プローブＰ１，Ｐ２を測定対象体１００に接続する。次いで、図示しない操作部の電圧値設定ボタンを操作することによって測定対象体１００に供給する試験電圧Ｖｔの電圧値を設定した後に、スタートボタンを操作する。
【００２３】
これにより、電源部２が、設定された電圧値の試験電圧Ｖｔを生成して、プローブＰ１，Ｐ２を介して測定対象体１００に供給する。この場合、プローブＰ１，Ｐ２と測定対象体１００との接触が正常であり、両者が電気的に接続されている状態のときには、測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒ（内部抵抗１０１の抵抗値）の大小に拘わらず、内部容量１０２を充電する充電電流Ｉｃがごく短時間の間に流れる。このため、電流検出回路５１が、充電電流Ｉｃを検出して電圧信号Ｖａとして出力する。ここで、絶縁抵抗値Ｒが大きいときには（測定対象体１００が良品のときには）、内部抵抗１０１を電流Ｉｒが殆ど流れないため、電圧信号Ｖａは、例えば、図２（ａ）に示すように、その電圧値が瞬間的に上昇した後に徐々に低下する。この際に、微分回路５２が、電圧信号Ｖａを微分して電圧信号Ｖｂを出力する。この場合、絶縁抵抗値Ｒが大きいときには、同図（ｂ）に示すように、微分回路５２は、基準電圧値Ｖｓ以上となる時間が時間Ｔ１よりも短い電圧信号Ｖｂを出力する。次いで、比較回路６１が、電圧信号Ｖｂの電圧値と基準電圧値Ｖｓとを比較して、同図（ｃ）に示すように、電圧信号Ｖｂが基準電圧値Ｖｓ以上となる期間中に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ１を出力する。続いて、タイマ回路６２が、信号Ｓ１がロウ電圧からハイ電圧となった時点から時間Ｔ１に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ２を出力する。
【００２４】
次いで、加算回路６３が、信号Ｓ１および信号Ｓ２を加算して、信号Ｓ１がハイ電圧となった時点から両信号Ｓ１，Ｓ２がいずれもロウ電圧になるまでの期間に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ３を出力する。この場合、時間Ｔ１の経過後では、両信号Ｓ１，Ｓ２が共にロウ電圧となるため、加算回路６３は、図２（ｄ）に示すように、時間Ｔ１の間だけハイ電圧となる信号Ｓ３を出力する。次いで、音出力部７の発振回路７１が、時間Ｔ１に亘って周波数Ｆ１の出力信号Ｓｏを出力する。この際に、増幅回路７２が出力信号Ｓｏを増幅して時間Ｔ１の期間中において周波数Ｆ１の音を出力する。この結果、スピーカ７３から音が出力されることにより、プローブＰ１，Ｐ２と測定対象体１００との間に接触不良が生じておらず、かつその音の出力時間の長さに基づいて測定対象体１００が良品であると判断することができる。なお、この際に、主として充電電流Ｉｃがごく短時間の間だけメータ４を流れる。したがって、メータ４の指針は、例えば、図６（ａ）に示すように、低抵抗値の目盛りの位置に向かって瞬間的に振れる。また、スピーカ７１からは、時間Ｔ１に亘って例えばピッという音が出力される。次いで、メータ４の指針は、高抵抗値の目盛りの位置に向かって戻るようにして振れた後に、最後は無限大の抵抗値の目盛りを示した状態で停止する。
【００２５】
一方、プローブＰ１，Ｐ２と測定対象体１００との間で接触不良が生じておらず、かつ絶縁抵抗値Ｒがやや小さいときには（絶縁抵抗値Ｒが中位（測定対象体１００がやや不良品）のときには）、内部容量１０２を充電する充電電流Ｉｃの他に、小さい電流値の電流Ｉｒが内部抵抗１０１を流れるため、電圧信号Ｖａは、例えば、図３（ａ）に示すように、その電圧値が瞬間的に上昇した後にやや低い電圧値で安定する。このため、微分回路５２は、同図（ｂ）に示すように、基準電圧値Ｖｓ以上になる時間が時間Ｔ１よりも長い電圧信号Ｖｂを出力する。次いで、比較回路６１が、同図（ｃ）に示すように、電圧信号Ｖｂが基準電圧値Ｖｓ以上となる期間中に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ１を出力する。続いて、タイマ回路６２が、信号Ｓ１がロウ電圧からハイ電圧となった時点から時間Ｔ１に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ２を出力する。
【００２６】
次いで、加算回路６３が、信号Ｓ１および信号Ｓ２を加算して、信号Ｓ１がハイ電圧となった時点から両信号Ｓ１，Ｓ２がいずれもロウ電圧になるまでの期間に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ３を出力する。つまり、加算回路６３は、図３（ｄ）に示すように、時間Ｔ１と、時間Ｔ１の経過時点から両信号Ｓ１，Ｓ２がいずれもロウ電圧になるまでの時間Ｔｅ１とを合計した時間Ｔ２に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ３を出力する。次いで、発振回路７１が、時間Ｔ２に亘って出力信号Ｓｏを出力する。この場合、発振回路７１は、周波数Ｆ１の出力信号Ｓｏを時間Ｔ１（時間Ｔａ）に亘って出力して、時間Ｔ１の経過後では、その後の経過時間Ｔの長さに応じて周波数Ｆが徐々に低下する出力信号Ｓｏを時間Ｔｅ１に亘って出力する。この場合、図５に示すように、時間Ｔ２の経過時点における出力信号Ｓｏの最終的な周波数Ｆは、時間Ｔ２に対応する（時間Ｔｅ１に対応する）周波数である周波数Ｆ２となる。この際には、増幅回路７２が、出力信号Ｓｏを増幅して時間Ｔ１の期間中において周波数Ｆ１の音を出力した後に、時間Ｔｅ１の期間中において周波数Ｆが周波数Ｆ２まで徐々に低下する音を出力する。この結果、スピーカ７３から音が出力されることにより、プローブＰ１，Ｐ２と測定対象体１００との間に接触不良が生じていないと判断することができる。さらに、その音の出力時間が時間Ｔ２であり、また周波数Ｆが周波数Ｆ２まで変化することにより、その音の出力時間の長さおよび周波数の変化に基づいて、測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒが中位のため、やや不良品であると判断することができる。なお、この際には、充電電流Ｉｃ以外に小さい電流値の電流Ｉｒがメータ４を流れる。したがって、メータ４の指針は、例えば、低抵抗値の目盛りの位置に向かって瞬間的に振れた後にやや小さい抵抗値の目盛りを示した状態で停止する。
【００２７】
また、プローブＰ１，Ｐ２と測定対象体１００との間で接触不良が生じておらず、かつ絶縁抵抗値Ｒが小さいときには（測定対象体１００が不良品のときには）、内部容量１０２を充電する充電電流Ｉｃの他に、大きい電流値の電流Ｉｒが内部抵抗１０１に流れるため、電圧信号Ｖａは、例えば、図４（ａ）に示すように、その電圧値が瞬間的に上昇した後にさらに上昇して高い電圧値で安定する。このため、微分回路５２は、同図（ｂ）に示すように、基準電圧値Ｖｓ以上となる時間が時間Ｔ２よりも長い電圧信号Ｖｂを出力する。次いで、比較回路６１が、同図（ｃ）に示すように、電圧信号Ｖｂが基準電圧値Ｖｓ以上となる期間中に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ１を出力する。続いて、タイマ回路６２が、信号Ｓ１がロウ電圧からハイ電圧となった時点から時間Ｔ１に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ２を出力する。
【００２８】
次いで、加算回路６３が、信号Ｓ１および信号Ｓ２を加算して、信号Ｓ１がハイ電圧となった時点から両信号Ｓ１，Ｓ２がいずれもロウ電圧になるまでの期間に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ３を出力する。つまり、加算回路６３は、図４（ｄ）に示すように、時間Ｔ１と、時間Ｔ１の経過時点から両信号Ｓ１，Ｓ２がいずれもロウ電圧になるまでの時間Ｔｅ２とを合計した時間Ｔ３に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ３を出力する。次いで、発振回路７１が、時間Ｔ３に亘って出力信号Ｓｏを出力する。この場合、発振回路７１は、周波数Ｆ１の出力信号Ｓｏを時間Ｔ１（時間Ｔａ）に亘って出力して、時間Ｔ１の経過後では、その後の経過時間Ｔの長さに応じて周波数Ｆが徐々に低下する出力信号Ｓｏを時間Ｔｅ２に亘って出力する。この場合、図５に示すように、時間Ｔ３の経過時点における出力信号Ｓｏの最終的な周波数Ｆは、時間Ｔ３に対応する（時間Ｔｅ２に対応する）周波数である周波数Ｆ３となる。この際には、増幅回路７２が、出力信号Ｓｏを増幅して時間Ｔ１の期間中において周波数Ｆ１の音を出力した後に、時間Ｔｅ２の期間中において周波数Ｆが周波数Ｆ３まで徐々に低下する音を出力する。この結果、スピーカ７３から音が出力されることにより、プローブＰ１，Ｐ２と測定対象体１００との間に接触不良が生じていないと判断することができる。さらに、その音の出力時間が時間Ｔ３であり、また周波数Ｆが周波数Ｆ２よりも低い周波数Ｆ３まで変化することにより、その音の出力時間の長さおよび周波数の変化に基づいて測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒが小さいため、不良品であると判断することができる。なお、この際に、充電電流Ｉｃ以外に大きい電流値の電流Ｉｒがメータ４を流れる。したがって、メータ４の指針は、例えば、図６（ｂ）に示すように、より低抵抗値の目盛りの位置に向かって振れ、さらに小さい抵抗値の目盛りの位置まで振れる。また、スピーカ７１からは、時間Ｔ３に亘って例えば周波数が徐々に低下するピーという音が出力される。次いで、メータ４の指針は、その小さい抵抗値の目盛りを示した状態で停止する。
【００２９】
一方、プローブＰ１，Ｐ２と測定対象体１００との間に接触不良が生じているときには、測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒ（内部抵抗１０１の抵抗値）の大小に拘わらず、測定対象体１００には電流Ｉｔが流れない。このため、電流検出回路５１が、電流Ｉｔの電流値がゼロアンペアであることを示す電圧信号Ｖａを出力する。この結果、電圧信号Ｖａが変化しないため、電圧信号Ｖｂの電圧値はゼロボルトを示す。したがって、電圧信号Ｖｂの電圧値が基準電圧値Ｖｓ以上とならないため、処理部６が出力信号Ｓｏを生成しない。このため、スピーカ７３から音が出力されないため、プローブＰ１，Ｐ２と測定対象体１００との間に接触不良が生じていると判断することができる。
【００３０】
このように、この絶縁抵抗計１によれば、電圧信号Ｖｂによって示される電流Ｉｔの電流値の変動の大きさが基準電圧値Ｖｓに最初に達したときに時間Ｔ１に亘って音出力部７に音を出力させる処理部６を備えたことにより、プローブＰ１，Ｐ２と測定対象体１００とが正常に接触しているときに限り、時間Ｔ１に亘って音を出力させることができる結果、測定対象体１００との接触不良を確実に認識させることができる結果、接触不良に起因する不都合を確実に回避することができる。
【００３１】
また、この絶縁抵抗計によれば、処理部６が、時間Ｔ１の経過時において電圧信号Ｖｂの電圧値が基準電圧値Ｖｓを超えているときには電圧信号Ｖｂの電圧値が基準電圧値Ｖｓ以下になる時点まで音出力部７に音を出力させることにより、絶縁抵抗値Ｒが低いほど音の長さを長くして出力することになる結果、音の長さの違いを聞き分けることによって測定対象体１００の不良の程度を確実かつ容易に把握することができる
【００３２】
また、この絶縁抵抗計１によれば、音出力部７が音の出力の経過時間Ｔに応じて周波数Ｆを変化させて音を出力することにより、音の周波数Ｆの変化を聞き分けることによって測定対象体１００の不良の程度を一層確実かつ容易に把握することができる。
【００３３】
また、この絶縁抵抗計１によれば、電流検出回路５１から出力された電圧信号Ｖａを時間で微分することによって電圧信号Ｖｂを生成する微分回路５２を検出部５に備えたことにより、電流値の変動を確実に検出することができるため、測定対象体１００との接触不良を一層確実に認識させることができる。
【００３４】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、本発明における第１基準値と第２基準値とを同じ値に規定した例について説明したが、第１基準値と第２基準値とを異なる値に規定することもできる。例えば、図４に示すように、基準電圧値Ｖｓ２（本発明における第２基準値に相当する）を規定して、比較回路６１が、同図（ｃ）に破線で示すように、電圧信号Ｖｂの電圧値が基準電圧値Ｖｓ以上のときにハイ電圧の信号Ｓ１の出力を開始し、電圧信号Ｖｂの電圧値が基準電圧値Ｖｓ２以下となる時点でハイ電圧の信号Ｓ１の出力を停止する。この結果、加算回路６３が、信号Ｓ１および信号Ｓ２を加算して、同図（ｄ）の破線で示すように、時間Ｔ１と、時間Ｔ１の経過時点から両信号Ｓ１，Ｓ２がいずれもロウ電圧になるまでの時間Ｔｅ２とを合計した時間Ｔ３に亘ってハイ電圧となる信号Ｓ３を出力する。この構成においても、上記した効果を同様に奏することができる。ただし、第１基準値と第２基準値とを同じ値に規定することで、絶縁抵抗計１を簡易に構成することができる。
【００３５】
また、ブザーなどの音を出力する音響素子を用いて本発明における音出力部を構成することもできる。この構成では、加算回路６３から出力された信号Ｓ３を駆動信号として音出力部内の音響素子を鳴動させる。この構成においても、出力される音の長さの違いによって測定対象体１００の良品・不良品の状態を容易に判別することができる。また、アナログ式のメータ４に代えてデジタル式のメータで測定値を表示する構成の抵抗計に本発明を適用することもできる。この構成では、連続して測定した電流Ｉｔについての電流値の差分値を検出信号とし、その差分値が第１基準値に最初に達したときに時間Ｔ１に亘って音出力部７に音を出力させると共に、時間Ｔ１の経過時において差分値が第２基準値を超えているときにはその差分値が第２基準値以下となる時点まで音出力部７に音を出力させることにより、上記した効果と同様の効果を奏することができる。さらに、本発明は、絶縁抵抗計１に限らず、マルチメータなどの抵抗計にも適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】絶縁抵抗計１の構成を示すブロック図である。
【図２】測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒが大きいときの電圧信号Ｖａ，電圧信号Ｖｂ，信号Ｓ１および信号Ｓ２，Ｓ３の信号波形図である。
【図３】測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒが中位のときの電圧信号Ｖａ，電圧信号Ｖｂ，信号Ｓ１および信号Ｓ３の信号波形図である。
【図４】測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒが小さいときの電圧信号Ｖａ，電圧信号Ｖｂ，信号Ｓ１および信号Ｓ３の信号波形図である。
【図５】発振回路７１によって生成される出力信号Ｓｏの周波数Ｆと経過時間Ｔとの関係を示す図である。
【図６】測定対象体１００の絶縁抵抗値Ｒが大きいときおよび小さいときのメータ４の指針の動きと音の出力との関係を示す説明図である。
【符号の説明】
【００３７】
１  絶縁抵抗計
２  電源部
５  検出部
６  処理部
７  音出力部
５１  電流検出回路
５２  微分回路
１００  測定対象体
Ｆ  周波数
Ｉｔ  電流
Ｓｏ  出力信号
Ｔ１  時間
Ｖａ，Ｖｂ  電圧信号
Ｖｓ  基準電圧値
Ｖｓ２  基準電圧値
Ｖｔ  試験電圧
【図１】
2008157750.tif 000003
【図２】
2008157750.tif 000004
【図３】
2008157750.tif 000005
【図４】
2008157750.tif 000006
【図５】
2008157750.tif 000007
【図６】
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