(57)【要約】【課題】プローブを用いた検査に起因する不具合を防止した、高信頼性の表示装置を提供する。【解決手段】データ線駆動回路１０１と、走査線駆動回路１０２と、データ線及び走査線に囲まれた画素領域１０ａに画像信号を供給する画像信号供給回路１０３と、各回路１０１，１０２，１０３に対応する各信号を外部から入力する第１外部入力端子１０４とを有する表示装置１００である。各回路１０１，１０２，１０３にそれぞれ接続し、所定の位置に配設された、第１外部入力端子１０４とは別の第２外部入力端子１０５を複数備えている。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ線駆動回路と、走査線駆動回路と、データ線及び走査線に囲まれた画素領域に画像信号を供給する画像信号供給回路と、前記各回路に対応する各信号を外部から入力する第１外部入力端子とを有する表示装置において、
前記各回路にそれぞれ接続し、所定の位置に配設された、前記第１外部入力端子とは別の第２外部入力端子を複数備えることを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記第１外部入力端子と前記各回路との間を接続する信号線が設けられ、該信号線が分岐された部分に前記第２外部入力端子が接続されることを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記第１外部入力端子と前記各回路との間を接続する信号線を有し、該信号線は分断された状態に形成され、該分断された領域にＩＣチップが実装されており、
該ＩＣチップを介して、前記第１外部入力端子と前記各回路との間が接続され、
前記各回路側における信号線から分岐された部分、あるいは前記第１外部入力端子に接続することなく前記各回路に接続する他の信号線に、前記第２外部入力端子が接続されることを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項４】
前記第２外部入力端子は、前記第１外部入力端子に比べて、面積が大きいことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の表示装置。
【請求項５】
前記第２外部入力端子は、前記所定の領域内に偏在させた状態で設けられることを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、表示装置としては、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置、電気泳動表示装置等が知られている。これら表示装置には、走査線を駆動する走査線駆動回路、データ線を駆動するデータ線駆動回路、及びこれら駆動回路に接続される外部入力端子等が設けられている。一般的に表示装置は、上記駆動回路の不良検査が行われる。従来は、検査用プローブを直接外部入力端子に接触させ、外部入力端子から検査信号を入力することで、表示装置の検査を行っている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平８−６０５７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、検査用プローブに外部入力端子の表面が擦られることで、端子表面に形成されている導電膜が剥離し、外部入力端子が劣化することで、外部入力端子と実装部品との間で接続不良が生じるおそれがあった。また、剥離した導電膜が金属屑となり、隣接する外部入力端子間に付着することで短絡を生じさせ、液晶表示装置の信頼性を低下させるといった問題があった。
【０００４】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、プローブを用いた検査に起因する不具合を防止した、高信頼性の表示装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の表示装置は、データ線駆動回路と、走査線駆動回路と、データ線及び走査線に囲まれた画素領域に画像信号を供給する画像信号供給回路と、前記各回路に対応する各信号を外部から入力する第１外部入力端子とを有する表示装置において、前記各回路にそれぞれ接続し、所定の位置に配設された、前記第１外部入力端子とは別の第２外部入力端子を複数備えることを特徴とする。
【０００６】
本発明の表示装置によれば、各回路に接続された、第１外部入力端子とは別の第２外部入力端子を備えているので、液晶表示装置の検査を行うための検査用端子として、第２外部入力端子を好適に採用することができる。よって、第１外部入力端子における、検査用プローブに起因する劣化や、金属屑の発生といった不具合が防止され、第１外部入力端子と実装部品（フレキシブル基板）との間で良好な導通が得られる信頼性の高い表示装置となる。
【０００７】
また、上記表示装置においては、前記第１外部入力端子と前記各回路との間を接続する信号線が設けられ、該信号線が分岐された部分に前記第２外部入力端子が接続されるのが好ましい。
【０００８】
この構成によれば、信号線を分岐することで、第２外部入力端子と各回路との間に別途信号線を引き回す必要がないので、信号線を効率的に引き回すことができる。
【０００９】
あるいは、上記表示装置においては、前記第１外部入力端子と前記各回路との間を接続する信号線を有し、該信号線は分断された状態に形成され、該分断された領域にＩＣチップが実装されており、該ＩＣチップを介して、前記第１外部入力端子と前記各回路との間が接続され、前記各回路側における信号線から分岐された部分、あるいは前記第１外部入力端子に接続することなく前記各回路に接続する他の信号線に、前記第２外部入力端子が接続されるようにしてもよい。
【００１０】
この構成によれば、各回路に接続される側の信号線が分岐された部分、あるいは各回路にのみ接続する他の信号線に第２外部入力端子が接続されているので、該第２外部入力端子を用いることで、ＩＣチップを実装する前段階にて各回路について検査を行うことができる。よって、事前検査により、例えばいずれかの回路が不良と判定された場合には、ＩＣチップを実装する必要が無くなるため、ＩＣチップが無駄に消費されるのを防止することができる。また、ＩＣチップを実装した後においても、前記第２外部入力端子を介して、ＩＣチップ自体の検査を行うことできる。
【００１１】
また、上記表示装置においては、前記第２外部入力端子は、前記第１外部入力端子に比べて、面積が大きいのが好ましい。
【００１２】
この構成によれば、検査用端子として用いられる第２外部入力端子の面積が大きくなっているので、検査用プローブを確実に接触させことができ、検査作業を円滑に行うことができる。また、特に第１外部入力端子が狭ピッチで配置されているとプロービングが困難となるような場合に、本発明は効果的である。
【００１３】
また、上記表示装置においては、前記第２外部入力端子は、前記所定の領域内に偏在させた状態で設けられるのが好ましい。
【００１４】
一般に、検査用プローブは検査用基板に固定された状態で使用されるので、各第２外部入力端子が基板上で離間した状態に配置され、特に液晶表示装置が大型基板から構成された場合、検査用プローブを一方の第２外部入力端子に位置あわせしたとしても、他方の第２外部入力端子に対応した検査用プローブの位置が回転方向にずれてしまう。
【００１５】
そこで本発明を採用すれば、第２外部入力端子が所定の領域内に集中して配置（偏在状態）されるので、特に大型基板において生じやすい、検査用プローブの回転方向の位置ずれを抑制でき、プローブによる検査工程を良好に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態について説明する。はじめに、本発明の一実施形態に係る液晶表示装置について図面を参照して説明する。なお本実施形態では、スイッチング素子として薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor、以下ＴＦＴという）素子を用いたアクティブマトリクス方式の透過型の液晶表示装置を例にして説明する。
【００１７】
（液晶表示装置）
図１は、本発明の一実施の形態であるアクティブマトリクス方式の液晶表示装置の平面構成図であり、図２は、図１におけるＨ−Ｈ’線矢視の側断面構成図であり、図１，２中符号１００は液晶表示装置である。
【００１８】
図１、図２に示すように、本実施形態の液晶表示装置１００は、ＴＦＴアレイ基板（アクティブマトリクス基板）１０と、対向基板２０とが平面視略矩形枠状のシール材５２を介して貼り合わされ、このシール材５２に囲まれた領域内に液晶５０を封入してなる構成を備えている。シール材５２中には、所定の大きさのギャップ材Ｇが含まれており、これによって所定のセルギャップが確保されている。また、シール材５２の内周側に沿って平面視矩形枠状の周辺見切り５３が形成され、この周辺見切りの内側の領域には、詳細については後述する、データ線及び走査線に囲まれた複数の画素領域から構成される画像表示領域１０ａとなっている。
【００１９】
シール材５２の外側の領域には、前記各画素領域に画像信号を供給する画像信号供給回路１０３と、データ線駆動回路１０１と、がＴＦＴアレイ基板１０の１辺（図示下辺）に沿って形成されている。さらに、この一辺には、複数の第１外部入力端子１０４が形成されている。また、この１辺に隣接する２辺に沿って、走査線駆動回路１０２，１０２がそれぞれ形成され、これによって周辺回路を構成している。
【００２０】
また、本実施形態に係る液晶表示装置１００は、上記データ線駆動回路１０１、走査線駆動回路１０２、及び画像信号供給回路１０３（以下、各回路１０１，１０２，１０３）にそれぞれ接続し、前記第１外部入力端子１０４とは異なる、所定の位置（基板上の空きスペース）に配置された第２外部入力端子１０５を複数（本実施形態では、４つ）備えている。これら第１部入力端子１０４及び第２外部入力端子１０５は、いずれも電気的に導通を取ることができる電極で構成されている。
【００２１】
前記第１外部入力端子１０４には、各種の駆動信号（駆動信号、画像信号）が供給されるようになっている。第１外部入力端子１０４は、異方性導電性膜（ＡＣＦ；Anisotropic Conductive Film）を介して電気的及び機械的に実装部品と接続される。この実装部品としては、接続ケーブルとしてフレキシブル基板Ｂを例示することができる（図４参照）。
【００２２】
第２外部入力端子１０５は、検査用端子として使用されるもので、検査信号として、例えば画像信号等が供給される。また、前記第２外部入力端子１０５は、第１外部入力端子１０４とは別の端子であり、上述したフレキシブル基板Ｂが接続されることがない。したがって、フレキシブル基板Ｂを接続する前後においても、液晶表示装置１００の検査を行うことが可能となっている。
【００２３】
液晶表示装置１００の検査は、針状の検査用プローブを第２外部入力端子１０５に接触させ、第２外部入力端子１０５に接続される各回路１０１，１０２，１０３にそれぞれに応じた検査信号を供給することで行われる。
【００２４】
従来、液晶表示装置は、実装部品（フレキシブル基板）が接続される外部入力端子に検査用プローブを接触させ検査信号を供給することで、組み立て時、及び出荷前の検査が行われていた。しかしながら、針状の検査用プローブに接触することで、外部入力端子の表面を覆っている導電膜（例えば、銀、金等）の一部が磨耗、或いは剥離することで、外部入力端子が劣化してしまう。劣化した外部入力端子は、実装部品（フレキシブル基板）との間で導通信頼性を得ることができず、接続不良が起こる。また、外部入力端子から剥離した金属屑（導電膜）が付着することで、隣接する外部入力端子間で短絡が生じ、液晶表示装置の信頼性を低下させてしまうといった問題があった。
【００２５】
本実施形態に係る液晶表示装置１００は、上述したように実装部品（フレキシブル基板）に接続される第１外部入力端子１０４とは別の、第２外部入力端子１０５を備えており、該第２外部入力端子１０５をプロービングすることで、短絡、断線、あるいは画像表示領域１０ａにおける点欠陥等の検査を行うことが可能となっている。したがって、前記第１外部入力端子１０４がプロービングによって劣化することがなく、上述したような不具合が防止されたものとなっている。
【００２６】
仮に、プロービングにより第２外部入力端子１０５の表面に形成されている導電膜の一部が剥離して金属屑が生じた場合でも、上述したように第２外部入力端子１０５には実装部品（フレキシブル基板）が接続されないので、近接する第２外部入力端子１０５間で短絡が生じることがないのである。よって、金属屑に起因する不具合（短絡）についても防止されたものとなる。
【００２７】
また、第２外部入力端子１０５は、図１に示すように、前記第１外部入力端子１０４よりも面積が大きくなっている。このような構成により、検査用プローブを第２外部入力端子１０５に確実に接触させることができ、検査作業を円滑に行うことが可能となる。特に第１外部入力端子が狭ピッチで配置されているとプロービングが困難となるが、本構成はこのような場合に特に大きな効果が得られる。
【００２８】
また、ＴＦＴアレイ基板１０の残る１辺（図示上辺）には、画像表示領域１０ａの両側の走査線駆動回路１０２，１０２間を接続する、図示しない複数の配線が設けられている。また、対向基板２０の各角部においては、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０との間の電気的導通をとるための基板間導通材１０６が配設されている。
【００２９】
液晶装置の画像表示領域１０ａには、図３の等価回路図に示すように、これを構成すべく複数のドットがマトリクス状に配置されており、これら各ドットには、それぞれ画素電極９が形成されている。また、その画素電極９の側方には、該画素電極９への通電制御を行うためのスイッチング素子であるＴＦＴ素子３０が形成されている。このＴＦＴ素子３０のソースにはデータ線６ａが接続されている。各データ線６ａには、前述したデータ線駆動回路１０１からデータ線信号Ｘ１、Ｘ２、…、Ｘｎが供給されるようになっている。
【００３０】
また、ＴＦＴ素子３０のゲートには走査線３ａが接続されている。走査線３ａには、前述した走査線駆動回路１０２から所定のタイミングでパルス的に走査信号Ｙ１、Ｙ２、…、Ｙｍが供給される。一方、ＴＦＴ素子３０のドレインには画素電極９が接続されている。
【００３１】
図２に示したように、ＴＦＴアレイ基板１０の内面側（液晶層側）に、複数の画素電極９が配列形成されており、これら画素電極９を覆うように配向膜が形成されている。対向基板２０の内面側には、周辺見切り５３及び遮光膜が形成され、その上に平面ベタ状の共通電極２１が形成されている。そして、共通電極２１を覆うように配向膜が形成されている。
【００３２】
（液晶表示装置の電気的構成）
ここで、液晶表示装置１００の電気的構成について説明する。図４に示すように、前記第１外部入力端子１０４と前記各回路１０１，１０２，１０３との間は、信号線（配線）４０によって電気的に接続されている。また、信号線４０は、その一部分が途中で分岐された構造となっており、分岐部分４０ａに上記第２外部入力端子１０５が接続されている。
【００３３】
したがって、第２外部入力端子１０５は、信号線４０を介して各回路１０１，１０２，１０３に電気的に接続されたものとなっている。このように信号線４０を分岐させることで、第２外部入力端子１０５と各回路１０１，１０２，１０３との間に別途信号線を引き回す必要がなくなって、信号線４０の引き回しを効率的に行っている。
【００３４】
また、液晶表示装置１００は、第１外部入力端子１０４にフレキシブル基板Ｂが接続され、該フレキシブル基板Ｂに外部基板Ｃが接続されることによって駆動可能となっている。
【００３５】
この外部基板Ｃは、タイミング発生回路３１０、画像処理回路４１０、及び電源回路５００等を備えるものである。本実施形態では、液晶表示装置１００に供給される入力画像データＤは、例えば３ビットパラレルの形成である。タイミング発生回路３１０は、入力画像データＤに同期してＹクロック信号、反転Ｙクロック信号、Ｘクロック信号、反転Ｘクロック信号、Ｙ転送開始パルス及びＸ転送開始パルスを生成する。また、タイミング発生回路３１０は、画像処理回路４１０を制御する各種のタイミング信号を生成し、これを出力する。
【００３６】
Ｙクロック信号は、走査線３ａを選択する期間を特定し、反転Ｙクロック信号はＹクロック信号の論理レベルを反転したものである。Ｘクロック信号は、データ線６ａを選択する期間を特定し、反転Ｘクロック信号は、Ｘクロック信号の論理レベルを反転したものである。
【００３７】
画像処理回路４１０は、入力画像データＤに、液晶パネルの光透過特性を考慮したガンマ補正等を施した後、ＲＧＢ各色の画像データをＤ／Ａ変換して、画像信号を生成する。
【００３８】
電源回路５００は、タイミング発生回路３１０及び画像処理回路４１０に電位電源を供給する他、走査線駆動回路１０２及びデータ線駆動回路１０１の電源電圧を生成する。
このように生成された各種の信号及び電源電圧は、フレキシブル基板Ｂを介してパネルに供給される。
【００３９】
ＴＦＴアレイ基板１０上に設けられた走査線駆動回路１０２は、Ｙシフトレジスタ及びレベルシフタ等を備える。Ｙ転送開始パルス、Ｙクロック信号及び反転Ｙクロック信号はＹシフトレジスタに供給される。Ｙシフトレジスタは、Ｙクロック信号及び反転Ｙクロック信号に同期して、Ｙ転送開始パルスを順次転送して信号を順次出力する。レベルシフタは、信号振幅を大振幅に変換し、走査信号Ｙ１、Ｙ２、…、Ｙｍとして各走査線３ａに出力する。また、Ｙシフトレジスタの最終段からＹ転送開始パルスがＹエンドパルスとして出力する。Ｙエンドパルスを、Ｙシフトレジスタの検査のために用いてもよい。
【００４０】
データ線駆動回路１０１は、画像信号を所定のタイミングでサンプリングしてデータ線信号Ｘ１〜Ｘｎを生成し、画像信号供給回路１０３を介して各データ線６ａに供給する。通常使用時においては、画像信号供給回路１０３はデータ線駆動回路１０１の出力信号をそのまま各データ線６ａに出力する。一方、検査時においては、前記第２外部入力端子１０５に接触した検査用プローブから入力された画像信号をデータ線６ａに出力する。
【００４１】
また、上記データ線駆動回路１０１は、Ｘシフトレジスタ、レベルシフタ、及びサンプリング回路を備える。Ｘシフトレジスタは、Ｘ転送開始パルスをＸクロック信号及び反転Ｘクロック信号に同期して順次転送して各出力信号を生成する。レベルシフタは、Ｘシフトレジスタの各出力信号のレベルを変換して、各サンプリング信号を順次生成する。サンプリング回路は、前記ＴＦＴ３０から構成されるスイッチを備えており、ゲートに供給される各サンプリング信号が順次アクティブになると、スイッチング素子であるＴＦＴ素子３０が順次オン状態となる。すると、データ線６ａから供給された画像信号がサンプリングされ、サンプリング結果であるデータ線信号Ｘ１〜Ｘｎがデータ線６ａに順次供給される。なお、シフトレジスタの最終段からはＸ転送開始パルスがＸエンドパルスとして出力される。なお、Ｘエンドパルスを、Ｘシフトレジスタの検査のために用いてもよい。
【００４２】
図３に示したように画像表示領域１０ａには、ｎ（ｎは２以上の自然数）本の走査線３ａが、Ｘ方向に沿って平行に配列して形成される一方、ｎ（ｎは２以上の自然数）本のデータ線６ａが、Ｙ方向に沿って平行に配列して形成されている。そして、走査線３ａとデータ線６ａとの交差付近においては、ＴＦＴ素子３０のゲートが走査線３ａに接続される一方、ＴＦＴ素子３０のソースがデータ線６ａに接続されるとともに、ＴＦＴ素子３０のドレインが画素電極９に接続される。
【００４３】
また、ＴＦＴ素子３０のゲートが接続される各走査線３ａには、走査信号Ｙ１、Ｙ２、…、Ｙｍが、パルス的に線順次で印加されるようになっている。このため、ある走査線３ａに走査信号が供給されると、当該走査線３ａに接続されるＴＦＴ素子３０がオンするので、データ線６ａから所定のタイミングで供給されるデータ線信号Ｘ１、Ｘ２、…、Ｘｎは、対応する画素に順番に書き込まれた後、画素電極９と共通電極２１との間に形成される液晶容量で一定期間保持される。なお、保持されたデータ線信号（画像信号）がリークするのを防止するため、画素電極９と容量線３ｂとの間に蓄積容量１７が形成され、液晶容量と並列に配置されている。このように、液晶に電圧信号が印加されると、印加された電圧レベルにより液晶分子の配向状態が変化する。これにより、液晶に入射した光源光が変調されて、画像光が作製されるようになっている。
【００４４】
以上、説明したように本実施形態の液晶表示装置１００によれば、各回路１０１，１０２，１０３に接続された、第１外部入力端子１０４とは別の第２外部入力端子１０５を備えているので、これら第２外部入力端子１０５を、液晶表示装置１００の検査を行うための検査用端子として好適に採用できる。よって、第１外部入力端子１０４における、検査用プローブに起因する劣化や、金属屑の発生といった不具合を防止することで、第１外部入力端子１０４と実装部品（フレキシブル基板）との間で良好な導通を得ることができる。
【００４５】
（第二実施形態）
次に、本発明の第二実施形態について説明する。
【００４６】
図５は、第二実施形態に係る液晶表示装置２００の電気的な概略構成を示すブロック図である。なお、図５中においては、上述した液晶表示装置１００と同一の部材については、同一の符号を付して説明する。
【００４７】
本実施形態の液晶表示装置２００は、図５に示すように、第２外部入力端子１０５が、所定の領域内に偏在させた状態で設けられており、上記液晶表示装置１００に比べて、多数の画素を有した大型の液晶表示装置となっている。具体的には、ＴＦＴアレイ基板上に形成されたデータ線駆動回路１０１の一端側（図中、左側）の近傍に、第２外部入力端子１０５が４つ設けられている。第２外部入力端子１０５は、上記実施形態と同様に、信号線４０（分岐部４０ａ）を介して、各回路１０１，１０２，１０３に電気的に接続されている。
【００４８】
一般に、液晶表示装置の検査を行う際には、検査用プローブが検査用基板に固定された状態で使用される。上記実施形態に係る液晶表示装置１００のように、各第２外部入力端子が基板上で離間した状態に配置された場合、特に液晶表示装置が大型なものであると、検査用プローブを一方の第２外部入力端子に位置あわせしたとしても、他方の第２外部入力端子に対応する検査用プローブに回転方向に位置ずれが生じてしまう。
【００４９】
そこで本発明を採用すれば、第２外部入力端子１０５が所定の領域内に集中して配置（偏在状態）しているので、大型基板において生じやすい、検査用プローブの回転方向の位置ずれを抑制でき、プローブによる検査工程を良好に行うことができる。
【００５０】
なお、本実施形態では、第１外部入力端子１０４と第２外部入力端子１０５との大きさ（面積）が略同じ構成となっているが、上述した実施形態に係る液晶表示装置１００と同様に、第２外部入力端子１０５の面積を第１外部入力端子１０４よりも大きくした構成を採用してもよい。これにより、プロービングによる検査作業を円滑に行うことが可能となる。
【００５１】
（第三実施形態）
次に、本発明の第三実施形態について説明する。
【００５２】
図６は、第三実施形態に係る液晶表示装置３００の電気的な概略構成を示すブロック図である。なお、図６中においては、上述した液晶表示装置１００，２００と同一の部材については、同一の符号を付して説明する。
【００５３】
本実施形態の液晶表示装置３００においては、図６に示すように、第１外部入力端子１０４と各回路１０１，１０２，１０３との間を接続する信号線４０が分断された状態に形成されている。そして、この分断された領域にＩＣチップ６０がＣＯＧ（Chip On Grass）技術により実装されている。具体的には、第１外部入力端子１０４にフレキシブル基板Ｂを介して接続される外部基板Ｃが有するタイミング発生回路３１０、画像処理回路４１０等の回路を含んだＩＣチップ６０がパネル上にＣＯＧ実装され、これによって外部基板Ｃの小型化を図っている（図４参照）。
【００５４】
また、第１外部入力端子１０４と各回路１０１，１０２，１０３との間が、前記ＩＣチップ６０を介して接続されている。本実施形態では、各回路１０１，１０２，１０３に接続する側の信号線４０の一部が分岐されており、この分岐部分４０ａに第２外部入力端子１０５が接続された構成となっている。
【００５５】
本実施形態に係る構成によれば、各回路１０１，１０２，１０３に接続する信号線４０の分岐部分４０ａに第２外部入力端子１０５が接続されているので、ＩＣチップ６０を実装する前段階においても、各回路１０１，１０２，１０３についての検査が可能となる。また、検査工程により、例えばいずれかの回路が不良と判定された場合には、ＩＣチップを実装する必要が無くなるため、ＩＣチップ６０を無駄にしてしまうのを防止できる。また、ＩＣチップ６０を実装した後においても、第２外部入力端子１０５を介して、ＩＣチップ６０自体の検査を行うことできる。
【００５６】
（第四実施形態）
次に、本発明の第四実施形態について説明する。
【００５７】
図７は、第三実施形態に係る液晶表示装置４００の電気的な概略構成を示すブロック図である。なお、図７中においては、上述した液晶表示装置１００，２００，３００と同一の部材については、同一の符号を付して説明する。
【００５８】
本実施形態の液晶表示装置４００においては、上記第二実施形態と第三実施形態とを組み合わせたもので、図７に示すように、ＩＣチップ６０がＣＯＧ実装された基板にて第２外部入力端子１０５が、所定の領域内に偏在させた状態で設けられている。なお、上記液晶表示装置２００と同様に、本実施形態の液晶表示装置４００も大型の液晶表示装置となっている。
【００５９】
本実施形態では、信号線４０の分岐部分４０ａ、あるいは第１外部入力端子１０４に接続することなく各回路１０１，１０２，１０３に接続する（すなわち、各回路１０１，１０２，１０３にのみ接続する）他の信号線４１に第２外部入力端子１０５が接続された構成となっている。具体的には、データ線駆動回路１０１には、他の信号線４１を介して第２外部入力端子１０５が接続されており、走査線駆動回路１０２、及び画像信号供給回路１０３には、分岐部分４０ａを介して第２外部入力端子１０５が接続されている。
【００６０】
本実施形態に係る構成によれば、信号線４０の分岐部分４０ａ、あるいは他の信号線４１を介して、各回路１０１，１０２，１０３に第２外部入力端子１０５が接続されているので、上記第二実施形態と上記第三実施形態との効果を得ることができる。したがって、大型の液晶表示装置においても半導体チップ６０を無駄にすることなく、しかもプロービング時の回転方向のズレを抑制した信頼性の高い検査が可能なものとなる。
【００６１】
なお、本発明は上述した実施形態に限定されること無く、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。例えば、上記実施実施形態では、表示装置として液晶表示装置に適用した場合について説明したが、本発明は、データ線駆動回路、走査線駆動回路、及び画像信号供給回路を備えた有機ＥＬ表示装置、あるいは電気泳動表示装置にも適用可能である。
【００６２】
また、上述した実施の形態にあっては、画素のスイッチング素子を、ＴＦＴ素子３０として説明したが、ダイオード等の２端子素子で構成しても良い。ただし、画素のスイッチング素子として２端子素子を用いる場合には、走査線を一方の基板に形成し、データ線を他方の基板に形成するとともに、２端子素子を、走査線またはデータ線のいずれか一方と、画素電極との間に形成する必要がある。この場合、画素は、走査線とデータ線との間に直列接続された二端子素子と、液晶とから構成されることとなる。
【００６３】
また、本発明は、アクティブマトリクス型液晶表示装置として説明したが、これに限られず、ＳＴＮ（Super Twisted Nematic）液晶などを用いたパッシブ型にも適用可能である。さらに、電気光学材料としては、液晶のほかに、エレクトロルミネッセンス素子などを用いて、その電気光学効果により表示を行う表示装置にも適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】アクティブマトリクス方式の液晶表示装置の平面構成図である。
【図２】図１におけるＨ−Ｈ’線矢視の側断面構成図である。
【図３】液晶表示装置の等価回路を示す図である。
【図４】液晶表示装置の電気的構成を示す図である。
【図５】第二実施形態に係る液晶表示装置の電気的構成を示す図である。
【図６】第三実施形態に係る液晶表示装置の電気的構成を示す図である。
【図７】第四実施形態に係る液晶表示装置の電気的構成を示す図である。
【符号の説明】
【００６５】
４０…信号線、４０ａ…分岐部分、６０…ＩＣチップ、１００，２００，３００，４００…液晶表示装置、１０１…データ線駆動回路、１０２…走査線駆動回路、１０３…画像信号供給回路、１０４…第１外部入力端子、１０５…第２外部入力端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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