(57)【要約】【課題】被検眼の画像を取得するときに被検眼を効果的に固視させる。【解決手段】眼底観察装置1（光画像計測装置）は、低コヒーレンス光Ｌ０を眼底Ｅｆに向かう信号光ＬＳと参照ミラー１７４に向かう参照光ＬＲとに分割し、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳと参照ミラー１７４を経由した参照光ＬＲとを重畳させて干渉光ＬＣを生成し、この干渉光ＬＣを検出して断層画像を形成する。放射状の複数の走査線Ｒｉに沿って信号光ＬＳを走査することにより、放射状の複数の断面における断層画像Ｇｉが得られる。３次元画像形成部２３１は、走査線Ｒｉの間隔が閾値以下である領域における３次元画像を形成する。また、眼底Ｅｆの領域を指定すると、この指定領域のサイズに応じた本数の走査線Ｒｉを自動設定する。また、走査線Ｒｉの本数を指定すると、その指定本数に応じた領域の３次元画像を形成する。【選択図】図５
2008209166.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
低コヒーレンス光を出力する光源と、
該出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を前記参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
を有し、該検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置であって、
前記走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って前記照射位置を走査させる制御手段と、
前記検出手段による検出結果に基づいて前記複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、該形成された複数の断層画像に基づいて前記被測定物体の３次元画像を形成する画像形成手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。
【請求項２】
前記複数の走査線は、前記被測定物体上の走査領域内に放射状に配列され、
前記画像形成手段は、前記複数の走査線の交点位置を含む前記走査領域内の領域における前記被測定物体の３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項３】
前記複数の走査線は、前記被測定物体上の走査領域内に放射状に配列され、
前記画像形成手段は、走査線の間隔が閾値以下である前記走査領域内の領域における前記被測定物体の３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項４】
前記被測定物体上の領域を指定する指定手段を更に備え、
前記制御手段は、該指定された領域のサイズに応じた本数の放射状の走査線に沿って前記信号光の照射位置を走査させるように前記走査手段を制御し、
前記画像形成手段は、前記本数の放射状の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、該形成された断層画像に基づいて前記指定された領域における前記被測定物体の３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項５】
走査線の本数を指定するための操作手段を更に備え、
前記制御手段は、該指定された本数の放射状の走査線に沿って前記信号光の照射位置を走査させるように前記走査手段を制御する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項６】
前記画像形成手段は、前記操作手段により指定された本数の放射状の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、該形成された断層画像に基づいて、前記指定された本数に応じた領域における前記被測定物体の３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項５に記載の光画像計測装置。
【請求項７】
低コヒーレンス光を出力する光源と、
該出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を前記参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
を有し、該検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置であって、
前記走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って前記照射位置を走査させる制御手段と、
前記検出手段による検出結果に基づいて前記複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成する画像形成手段と、
該形成された前記複数の断層画像を解析して前記被測定物体の特性を表す特性情報を生成する解析手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。
【請求項８】
前記複数の走査線は、前記被測定物体上の走査領域内に放射状に配列され、
前記解析手段は、前記特性情報として、前記走査領域における特性値の分布を表す分布情報を生成する、
ことを特徴とする請求項７に記載の光画像計測装置。
【請求項９】
前記解析手段は、走査線の間隔に応じて前記走査領域を２以上の部分領域に分割し、当該２以上の部分領域のそれぞれに特性値を割り当てることにより前記分布情報を生成する、
ことを特徴とする請求項８に記載の光画像計測装置。
【請求項１０】
前記被測定物体は層構造を有し、
前記解析手段は、前記特性値の分布として前記被測定物体の層の厚さの分布を表す前記分布情報を生成する、
ことを特徴とする請求項８に記載の光画像計測装置。
【請求項１１】
低コヒーレンス光を出力する光源と、
該出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を前記参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
を有し、該検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置を、
前記走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って前記照射位置を走査させる制御手段として機能させ、
前記検出手段による検出結果に基づいて前記複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、該形成された複数の断層画像に基づいて前記被測定物体の３次元画像を形成する画像形成手段として機能させる、
ことを特徴とするプログラム。
【請求項１２】
低コヒーレンス光を出力する光源と、
該出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を前記参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
を有し、該検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置を、
前記走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って前記照射位置を走査させる制御手段として機能させ、
前記検出手段による検出結果に基づいて前記複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成する画像形成手段として機能させ、
該形成された前記複数の断層画像を解析して前記被測定物体の特性を表す特性情報を生成する解析手段として機能させる、
ことを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、被測定物体に光ビームを照射し、その反射光若しくは透過光を用いて被測定物体の表面形態や内部形態の画像を形成する光画像計測装置、及び、このような光画像計測装置を制御するプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、レーザ光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成する光画像計測技術が注目を集めている。この光画像計測技術は、Ｘ線ＣＴ装置のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野における応用の展開が期待されている。
【０００３】
特許文献１には、測定腕が回転式転向鏡（ガルバノミラー）により物体を走査し、参照腕に参照ミラーが設置されており、さらにその出口では、計測腕及び参照腕からの光束の干渉によって現れる光の強度が分光器で分析もされるという干渉器が利用されていて、参照腕には参照光光束位相を不連続な値で段階的に変える装置が設けられた構成の光画像計測装置が開示されている。
【０００４】
特許文献１の光画像計測装置は、特許文献２に開示された技術を基本とするいわゆる「フーリエドメインＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）」の手法を用いるものである。すなわち、被測定物体に対して低コヒーレンス光のビームを照射し、その反射光のスペクトル強度分布を取得し、それをフーリエ変換することにより、被測定物体の深度方向（ｚ方向）の形態を画像化するものである。
【０００５】
更に、特許文献１に記載の光画像計測装置は、光ビーム（信号光）を走査するガルバノミラーを備え、それにより被測定物体の所望の測定対象領域の画像を形成できるようになっている。なお、この光画像計測装置においては、ｚ方向に直交する１方向（ｘ方向）にのみ光ビームを走査するようになっているので、形成される画像は、光ビームの走査方向（ｘ方向）に沿った深度方向（ｚ方向）の２次元断層画像となる。
【０００６】
また、特許文献３には、信号光を水平方向及び垂直方向に走査することにより水平方向の２次元断層画像を複数形成し、これら複数の断層画像に基づいて測定範囲の３次元の断層情報を取得して画像化する技術が開示されている。この３次元画像化としては、たとえば、複数の断層画像を垂直方向に並べて表示させる方法や（スタックデータなどと呼ばれる）、複数の断層画像にレンダリング処理を施して３次元画像を形成したりする方法などが考えられる。
【０００７】
また、特許文献４には、このような光画像計測装置を眼科分野に応用した構成が開示されている。
【０００８】
【特許文献１】特開平１１−３２５８４９号公報
【特許文献２】独国特許出願公開第ＤＥ４３０９０５６Ａ１号明細書
【特許文献３】特開２００２−１３９４２１号公報
【特許文献４】特開２００３−５４３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上記のような従来の光画像計測装置においては、被測定物体の３次元画像（スタックデータを含む）の確度を向上させるためには多数の走査線に沿って計測を行う必要があったことから、計測が長時間化していた。
【００１０】
このように計測に長時間を要すると、生体等の被測定物体を計測する場合に問題が発生するおそれがある。たとえば生体の眼底を計測する場合、固視微動や血流等による眼の動きの影響により３次元画像の確度が低下してしまうことがあった。たとえば特許文献３に記載の構成においては、計測中の眼の動きにより複数の断層画像の相対位置がずれて３次元画像の位置的な確度が低下することがあった。そこで、走査線の数を減らしたり、計測領域を狭めたりして計測時間の短縮を図るなどの対策が取られていた。
【００１１】
しかしながら、走査線の数の減少は、３次元画像の確度を低下させるものであり、好適な対策とは言い難い。また、計測領域を狭めると、診断対象の部位全体の３次元画像が得られなくなる等の問題が生じてしまう。
【００１２】
また、光画像計測装置による計測では、近赤外領域の中心波長を有する低コヒーレンス光を使用することが多い。この低コヒーレンス光には可視光成分も含まれている。したがって、眼底を信号光で走査するときに、被検者が走査の軌跡を眼で追ってしまい、被検眼を固視できなくなるという問題も生じていた。特に、特許文献３に記載された信号光の走査を行う場合には、垂直方向に移動する線状の像が視認されるために、被検眼の視線が垂直方向に移動してしまうことが多々あった。
【００１３】
この発明は、上記のような問題を解決するためになされたものであり、被検眼の画像を取得する場合において、効果的に固視を行うことが可能な光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラムを提供することを目的とする。
【００１４】
また、この発明は、計測時間の短縮を図りつつ高品質の画像を取得することが可能な光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラムを提供することを他の目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、低コヒーレンス光を出力する光源と、該出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を前記参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段と、前記生成された干渉光を検出する検出手段と、を有し、該検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置であって、前記走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って前記照射位置を走査させる制御手段と、前記検出手段による検出結果に基づいて前記複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、該形成された複数の断層画像に基づいて前記被測定物体の３次元画像を形成する画像形成手段と、を備えることを特徴とする光画像計測装置である。
【００１６】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の光画像計測装置であって、前記複数の走査線は、前記被測定物体上の走査領域内に放射状に配列され、前記画像形成手段は、前記複数の走査線の交点位置を含む前記走査領域内の領域における前記被測定物体の３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
【００１７】
また、請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の光画像計測装置であって、前記複数の走査線は、前記被測定物体上の走査領域内に放射状に配列され、前記画像形成手段は、走査線の間隔が閾値以下である前記走査領域内の領域における前記被測定物体の３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
【００１８】
また、請求項４に記載の発明は、請求項１に記載の光画像計測装置であって、前記被測定物体上の領域を指定する指定手段を更に備え、前記制御手段は、該指定された領域のサイズに応じた本数の放射状の走査線に沿って前記信号光の照射位置を走査させるように前記走査手段を制御し、前記画像形成手段は、前記本数の放射状の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、該形成された断層画像に基づいて前記指定された領域における前記被測定物体の３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
【００１９】
また、請求項５に記載の発明は、請求項１に記載の光画像計測装置であって、走査線の本数を指定するための操作手段を更に備え、前記制御手段は、該指定された本数の放射状の走査線に沿って前記信号光の照射位置を走査させるように前記走査手段を制御する、ことを特徴とする。
【００２０】
また、請求項６に記載の発明は、請求項５に記載の光画像計測装置であって、前記画像形成手段は、前記操作手段により指定された本数の放射状の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、該形成された断層画像に基づいて、前記指定された本数に応じた領域における前記被測定物体の３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
【００２１】
また、請求項７に記載の発明は、低コヒーレンス光を出力する光源と、該出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を前記参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段と、前記生成された干渉光を検出する検出手段と、を有し、該検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置であって、前記走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って前記照射位置を走査させる制御手段と、前記検出手段による検出結果に基づいて前記複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成する画像形成手段と、該形成された前記複数の断層画像を解析して前記被測定物体の特性を表す特性情報を生成する解析手段と、を備えることを特徴とする光画像計測装置である。
【００２２】
また、請求項８に記載の発明は、請求項７に記載の光画像計測装置であって、前記複数の走査線は、前記被測定物体上の走査領域内に放射状に配列され、前記解析手段は、前記特性情報として、前記走査領域における特性値の分布を表す分布情報を生成する、ことを特徴とする。
【００２３】
また、請求項９に記載の発明は、請求項８に記載の光画像計測装置であって、前記解析手段は、走査線の間隔に応じて前記走査領域を２以上の部分領域に分割し、当該２以上の部分領域のそれぞれに特性値を割り当てることにより前記分布情報を生成する、ことを特徴とする。
【００２４】
また、請求項１０に記載の発明は、請求項８に記載の光画像計測装置であって、前記被測定物体は層構造を有し、前記解析手段は、前記特性値の分布として前記被測定物体の層の厚さの分布を表す前記分布情報を生成する、ことを特徴とする。
【００２５】
また、請求項１１に記載の発明は、低コヒーレンス光を出力する光源と、該出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を前記参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段と、前記生成された干渉光を検出する検出手段と、を有し、該検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置を、前記走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って前記照射位置を走査させる制御手段として機能させ、前記検出手段による検出結果に基づいて前記複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、該形成された複数の断層画像に基づいて前記被測定物体の３次元画像を形成する画像形成手段として機能させる、ことを特徴とするプログラムである。
【００２６】
また、請求項１２に記載の発明は、低コヒーレンス光を出力する光源と、該出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を前記参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段と、前記生成された干渉光を検出する検出手段と、を有し、該検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置を、前記走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って前記照射位置を走査させる制御手段として機能させ、前記検出手段による検出結果に基づいて前記複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成する画像形成手段として機能させ、該形成された前記複数の断層画像を解析して前記被測定物体の特性を表す特性情報を生成する解析手段として機能させる、ことを特徴とするプログラムである。
【発明の効果】
【００２７】
この発明は、放射状の複数の走査線に沿って被測定物体に対する信号光の照射位置を走査し、検出手段による検出結果に基づいて各走査線における断層画像を形成し、これらの断層画像に基づいて被測定物体の３次元画像を形成するように構成されている。
【００２８】
このように信号光の照射位置を放射状の走査線に沿って行うことにより、従来のように水平方向及び垂直方向に信号光の照射位置を走査する場合と比較して、被検眼の固視を効果的に行うことが可能である。すなわち、従来の走査態様では、被検者は、垂直方向に移動する線状の像を視認することとなり、この像の移動に伴って視線が垂直方向に誘導されて固視を効果的に行えないことがあったが、この発明のように放射状の走査線に沿って信号光を走査する場合、被検者は、走査線の交差位置を中心として回転する線状の像を視認することとなるので、従来の走査態様と比較して被検眼を効果的に固視させることが可能である。
【００２９】
また、従来の構成においては、水平方向に延びる走査線を垂直方向に複数配列させているので、隣接する走査線の間隔は等しくなっている。また、３次元画像の取得対象領域は、補間処理等を好適に行うために走査線の間隔が小さく設定される必要がある。したがって、従来の構成では、走査領域内の部分領域についてのみ３次元画像を取得したい場合においても、走査領域全体に亘って走査線の間隔を小さく設定しなければならないため、多数の走査線を設定する必要があり、結果として計測時間が長くなってしまう。一方、この発明に係る構成によれば、放射状の走査線を用いるので、走査線の間隔が位置によって異なっている。具体的には、走査線の交差位置に近い部位においては走査線の間隔が小さく、交差位置から遠い部位においては走査線の間隔が大きくなっている。したがって、この発明によれば、３次元画像の取得対象領域を交差位置の近傍とすることにより、走査線の本数を増加させなくても高品質の３次元画像を取得することができる。すなわち、この発明によれば、信号光の走査時間の短縮により計測時間の短縮を図りつつ高品質の３次元画像を取得することが可能である。
【００３０】
また、この発明は、放射状の複数の走査線に沿って信号光の照射位置を走査し、検出手段による検出結果に基づいて各走査線における断層画像を形成し、これら複数の断層画像を解析して被測定物体の特性情報を生成することが可能である。この特性情報としては、被測定物体の特性値の分布を表す分布情報などがある。
【００３１】
このような本発明によれば、信号光を放射状に走査することにより被検眼の固視を効果的に行うことができる。また、上記と同様に、計測時間の短縮を図りつつ高品質の画像を取得可能である。更に、このように高品質の画像を取得できることにより、特性情報を高い精度で取得することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
この発明に係る光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラムの好適な実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００３３】
以下、本発明に係る２つの実施形態を説明する。第１の実施形態は、被測定物体の複数の断層画像を基に３次元画像を形成するものである。また、第２の実施形態は、被測定物体の複数の断層画像を基に所定の特性情報を生成するものである。
【００３４】
〈第１の実施の形態〉
［装置構成］
まず、この発明に係る光画像計測装置の第１の実施形態の構成について図１〜図６を参照しながら説明する。ここで、図１は、この発明に係る光画像計測装置としての機能を有する眼底観察装置１の全体構成の一例を表している。図２は、眼底カメラユニット１Ａ内の走査ユニット１４１の構成の一例を表している。図３は、ＯＣＴユニット１５０の構成の一例を表している。図４は、演算制御装置２００のハードウェア構成の一例を表している。図５は、眼底観察装置１の制御系の構成の一例を表している。図６は、眼底カメラユニット１Ａに設けられた操作パネル３ａの構成の一例を表している。
【００３５】
［全体構成］
この実施形態に係る眼底観察装置１は、図１に示すように、眼底カメラユニット１Ａ、ＯＣＴユニット１５０及び演算制御装置２００を含んで構成されている。眼底カメラユニット１Ａは、眼底表面の２次元画像を撮影する従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有している。ＯＣＴユニット１５０は、光画像計測装置として機能する光学系を格納している。演算制御装置２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
【００３６】
ＯＣＴユニット１５０には、接続線１５２の一端が取り付けられている。接続線１５２の他端には、接続線１５２を眼底カメラユニット１Ａに接続するコネクタ部１５１が取り付けられている。接続線１５２の内部には光ファイバが導通されている。このように、ＯＣＴユニット１５０と眼底カメラユニット１Ａは、接続線１５２を介して光学的に接続されている。
【００３７】
〔眼底カメラユニットの構成〕
眼底カメラユニット１Ａは、光学的に取得されるデータ（撮像装置１０、１２により検出されるデータ）に基づいて被検眼の眼底の表面の２次元画像を形成するために用いられる。ここで、眼底の表面の２次元画像とは、眼底の表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像、更には蛍光画像（フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等）などを表す。眼底カメラユニット１Ａは、従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆを照明する照明光学系１００と、この照明光の眼底反射光を撮像装置１０に導く撮影光学系１２０とを備えている。
【００３８】
なお、詳細は後述するが、この実施形態の撮影光学系１２０における撮像装置１０は、近赤外領域の波長を有する照明光を検出するものである。また、撮影光学系１２０には、可視領域の波長を有する照明光を検出する撮像装置１２が別途設けられている。更に、撮影光学系１２０は、ＯＣＴユニット１５０からの信号光を眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光をＯＣＴユニット１５０に導くようになっている。
【００３９】
照明光学系１００は、観察光源１０１、コンデンサレンズ１０２、撮影光源１０３、コンデンサレンズ１０４、エキサイタフィルタ１０５及び１０６、リング透光板１０７、ミラー１０８、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）１０９、照明絞り１１０、リレーレンズ１１１、孔開きミラー１１２、対物レンズ１１３を含んで構成される。
【００４０】
観察光源１０１は、たとえば約４００ｎｍ〜７００ｎｍの範囲に含まれる可視領域の波長の照明光を出力する。また、撮影光源１０３は、たとえば約７００ｎｍ〜８００ｎｍの範囲に含まれる近赤外領域の波長の照明光を出力する。撮影光源１０３から出力される近赤外光は、ＯＣＴユニット１５０で使用する光の波長よりも短く設定されている（後述）。
【００４１】
また、撮影光学系１２０は、対物レンズ１１３、孔開きミラー１１２（の孔部１１２ａ）、撮影絞り１２１、バリアフィルタ１２２及び１２３、変倍レンズ１２４、リレーレンズ１２５、撮影レンズ１２６、ダイクロイックミラー１３４、フィールドレンズ（視野レンズ）１２８、ハーフミラー１３５、リレーレンズ１３１、ダイクロイックミラー１３６、撮影レンズ１３３、撮像装置１０（撮像素子１０ａ）、反射ミラー１３７、撮影レンズ１３８、撮影装置１２（撮像素子１２ａ）、レンズ１３９及びＬＣＤ１４０を含んで構成される。
【００４２】
更に、撮影光学系１２０には、ダイクロイックミラー１３４、ハーフミラー１３５、ダイクロイックミラー１３６、反射ミラー１３７、撮影レンズ１３８、レンズ１３９及びＬＣＤ１４０が設けられている。
【００４３】
ダイクロイックミラー１３４は、照明光学系１００からの照明光の眼底反射光（約４００ｎｍ〜８００ｎｍの範囲に含まれる波長を有する）を反射するとともに、ＯＣＴユニット１５０からの信号光ＬＳ（たとえば約８００ｎｍ〜９００ｎｍの範囲に含まれる波長を有する；後述）を透過させるように構成されている。
【００４４】
また、ダイクロイックミラー１３６は、照明光学系１００からの可視領域の波長を有する照明光（観察光源１０１から出力される波長約４００ｎｍ〜７００ｎｍの可視光）を透過させるとともに、近赤外領域の波長を有する照明光（撮影光源１０３から出力される波長約７００ｎｍ〜８００ｎｍの近赤外光）を反射するように構成されている。
【００４５】
ＬＣＤ１４０には、被検眼Ｅを固視させるための固視標（内部固視標）などが表示される。ＬＣＤ１４０からの光は、レンズ１３９により集光された後に、ハーフミラー１３５により反射され、フィールドレンズ１２８を経由してダイクロイックミラー１３６に反射される。更に、この光は、撮影レンズ１２６、リレーレンズ１２５、変倍レンズ１２４、孔開きミラー１１２（の孔部１１２ａ）、対物レンズ１１３等を経由して、被検眼Ｅに入射する。それにより、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに内部固視標等が投影される。
【００４６】
撮像素子１０ａは、テレビカメラ等の撮像装置１０に内蔵されたＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅｓ）やＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）等の撮像素子であり、特に、近赤外領域の波長の光を検出するものである。つまり、撮像装置１０は、近赤外光を検出する赤外線テレビカメラである。撮像装置１０は、近赤外光を検出した結果として映像信号を出力する。
【００４７】
タッチパネルモニタ１１は、この映像信号に基づいて、眼底Ｅｆの表面の２次元画像（眼底画像Ｅｆ′）を表示する。また、この映像信号は演算制御装置２００に送られ、そのディスプレイ（後述）に眼底画像が表示されるようになっている。
【００４８】
なお、撮像装置１０による眼底撮影時には、たとえば照明光学系１００の撮影光源１０３から出力される近赤外領域の波長を有する照明光が用いられる。
【００４９】
一方、撮像素子１２ａは、テレビカメラ等の撮像装置１２に内蔵されたＣＣＤやＣＭＯＳ等の撮像素子であり、特に、可視領域の波長の光を検出するものである。つまり、撮像装置１２は、可視光を検出するテレビカメラである。撮像装置１２は、可視光を検出した結果として映像信号を出力する。
【００５０】
タッチパネルモニタ１１は、この映像信号に基づいて、眼底Ｅｆの表面の２次元画像（眼底画像Ｅｆ′）を表示する。また、この映像信号は演算制御装置２００に送られ、そのディスプレイ（後述）に眼底画像が表示されるようになっている。
【００５１】
なお、撮像装置１２による眼底撮影時には、たとえば照明光学系１００の観察光源１０１から出力される可視領域の波長を有する照明光が用いられる。
【００５２】
眼底カメラユニット１Ａには、走査ユニット１４１とレンズ１４２とが設けられている。走査ユニット１４１は、ＯＣＴユニット１５０から出力される光（信号光ＬＳ；後述）の眼底Ｅｆに対する照射位置を走査するための構成を具備する。走査ユニット１４１は、この発明の「走査手段」の一例として機能するものである。
【００５３】
レンズ１４２は、ＯＣＴユニット１５０から接続線１５２を通じて導光された信号光ＬＳを平行な光束にして走査ユニット１４１に入射させる。また、レンズ１４２は、走査ユニット１４１を経由してきた信号光ＬＳの眼底反射光を集束させるように作用する。
【００５４】
図２に、走査ユニット１４１の具体的構成の一例を示す。走査ユニット１４１は、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂと、反射ミラー１４１Ｃ、１４１Ｄとを含んで構成されている。
【００５５】
ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂは、それぞれ回動軸１４１ａ、１４１ｂを中心に回動可能に配設された反射ミラーである。各ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂは、後述の駆動機構（図５に示すミラー駆動機構２４１、２４２）によって回動軸１４１ａ、１４１ｂを中心にそれぞれ回動されて、その反射面（信号光ＬＳを反射する面）の向き、すなわちガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの位置がそれぞれ変更されるようになっている。
【００５６】
回動軸１４１ａ、１４１ｂは、互いに直交するように配設されている。図２においては、ガルバノミラー１４１Ａの回動軸１４１ａは、同図の紙面に対して平行方向に配設されている。また、ガルバノミラー１４１Ｂの回動軸１４１ｂは、同図の紙面に対して直交する方向に配設されている。
【００５７】
すなわち、ガルバノミラー１４１Ｂは、図２中の両側矢印に示す方向に回動可能に構成され、ガルバノミラー１４１Ａは、当該両側矢印に対して直交する方向に回動可能に構成されている。それにより、この一対のガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂは、信号光ＬＳの反射方向を互いに直交する方向に変更するようにそれぞれ作用する。図１、図２から分かるように、ガルバノミラー１４１Ａを回動させると信号光ＬＳはｘ方向に走査され、ガルバノミラー１４１Ｂを回動させると信号光ＬＳはｙ方向に走査されることになる。
【００５８】
ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂにより反射された信号光ＬＳは、反射ミラー１４１Ｃ、１４１Ｄにより反射され、ガルバノミラー１４１Ａに入射したときと同じ向きに進行するようになっている。
【００５９】
なお、前述のように、接続線１５２の内部には光ファイバ１５２ａが導通されている。光ファイバ１５２ａの端面１５２ｂは、レンズ１４２に対峙して配設される。端面１５２ｂから出射した信号光ＬＳは、レンズ１４２に向かってビーム径を拡大しつつ進行するが、レンズ１４２によって平行な光束とされる。逆に、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳは、レンズ１４２により、端面１５２ｂに向けて集束されて光ファイバ１５２ａに導かれるようになっている。
【００６０】
〔ＯＣＴユニットの構成〕
次に、図３を参照しつつＯＣＴユニット１５０の構成について説明する。ＯＣＴユニット１５０は、光学的に取得されるデータ（後述のＣＣＤ１８４により検出されるデータ）に基づいて眼底の断層画像を形成するための装置である。
【００６１】
ＯＣＴユニット１５０は、従来の光画像計測装置とほぼ同様の光学系を備えている。すなわち、ＯＣＴユニット１５０は、光源から出力された光を参照光と信号光に分割するとともに、被測定物体（眼底Ｅｆ）を経由した信号光を参照光に重畳して干渉光を生成する干渉計と、この干渉光を検出し、その検出結果としての信号（検出信号）を演算制御装置２００に向けて出力する手段とを具備している。演算制御装置２００は、この検出信号を解析することにより被測定物体の断層画像を形成する。
【００６２】
低コヒーレンス光源１６０は、低コヒーレンス光Ｌ０を出力するスーパールミネセントダイオード（ＳＬＤ）や発光ダイオード（ＬＥＤ）等の広帯域光源により構成されている。低コヒーレンス光Ｌ０は、たとえば、近赤外領域の波長を有し、かつ、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する光とされる。低コヒーレンス光源１６０は、この発明の「光源」の一例に相当している。
【００６３】
低コヒーレンス光Ｌ０は、眼底カメラユニット１Ａの照明光（波長約４００ｎｍ〜８００ｎｍ）よりも長い波長、たとえば約８００ｎｍ〜９００ｎｍの範囲に含まれる波長を有している。
【００６４】
低コヒーレンス光源１６０から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１６１を通じて光カプラ１６２に導かれる。光ファイバ１６１は、たとえばシングルモードファイバないしはＰＭファイバ（Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ  ｍａｉｎｔａｉｎｉｎｇ  ｆｉｂｅｒ；偏波面保持ファイバ）等によって構成されている。光カプラ１６２は、低コヒーレンス光Ｌ０を参照光ＬＲと信号光ＬＳとに分割する。
【００６５】
なお、光カプラ１６２は、光を分割する手段（スプリッタ；ｓｐｌｉｔｔｅｒ）、及び、光を重畳する手段（カプラ；ｃｏｕｐｌｅｒ）の双方として作用するものであるが、ここでは慣用的に「光カプラ」と称することにする。
【００６６】
光カプラ１６２により生成された参照光ＬＲは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ１６３により導光されてファイバ端面から出射される。出射された参照光ＬＲは、コリメータレンズ１７１により平行光束とされた後に、ガラスブロック１７２及び濃度フィルタ１７３を経由し、参照ミラー１７４により反射される。
【００６７】
参照ミラー１７４により反射された参照光ＬＲは、再び濃度フィルタ１７３及びガラスブロック１７２を経由し、コリメータレンズ１７１によって光ファイバ１６３のファイバ端面に集光される。集光された参照光ＬＲは、光ファイバ１６３を通じて光カプラ１６２に導かれる。
【００６８】
ここで、ガラスブロック１７２と濃度フィルタ１７３は、参照光ＬＲと信号光ＬＳの光路長（光学距離）を合わせるための遅延手段として、また参照光ＬＲと信号光ＬＳの分散特性を合わせるための分散補償手段として作用している。
【００６９】
また、濃度フィルタ１７３は、参照光の光量を減少させる減光フィルタとしても作用するものであり、たとえば回転型のＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタによって構成される。濃度フィルタ１７３は、モータ等の駆動装置を含んで構成される駆動機構（後述の濃度フィルタ駆動機構２４４；図５参照）によって回転駆動されることにより、参照光ＬＲの光量の減少量を変更させるように作用する。それにより、干渉光ＬＣの生成に寄与する参照光ＬＲの光量を変更させることができる。
【００７０】
また、参照ミラー１７４は、参照光ＬＲの進行方向（図３に示す両側矢印方向）に移動されるように構成されている。このような構成により、被検眼Ｅの眼軸長などに応じた参照光ＬＲの光路長を確保することができる。また、参照ミラー１７４を移動させることにより、眼底Ｅｆの任意の深度位置の画像を取得することができる。なお、参照ミラー１７４は、モータ等の駆動装置を含んで構成される駆動機構（後述の参照ミラー駆動機構２４３；図５参照）によって移動される。
【００７１】
一方、光カプラ１６２により生成された信号光ＬＳは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ１６４により接続線１５２の端部まで導光される。接続線１５２の内部には光ファイバ１５２ａが導通されている。なお、光ファイバ１６４と光ファイバ１５２ａとは、単一の光ファイバにより構成されていてもよいし、また、各々の端面同士を接合するなどして一体的に形成されたものであってもよい。いずれにしても、光ファイバ１６４、１５２ａは、眼底カメラユニット１ＡとＯＣＴユニット１５０との間で、信号光ＬＳを伝送可能に構成されていれば十分である。
【００７２】
信号光ＬＳは、接続線１５２内部を導光されて眼底カメラユニット１Ａに案内される。更に、信号光ＬＳは、レンズ１４２、走査ユニット１４１、ダイクロイックミラー１３４、撮影レンズ１２６、リレーレンズ１２５、変倍レンズ１２４、撮影絞り１２１、孔開きミラー１１２の孔部１１２ａ、対物レンズ１１３を経由して、被検眼Ｅに入射するようになっている。なお、信号光ＬＳを被検眼Ｅに入射させるときには、バリアフィルタ１２２、１２３は、それぞれ光路から事前に退避されるようになっている。
【００７３】
被検眼Ｅに入射した信号光ＬＳは、眼底Ｅｆ上にて結像し反射される。このとき、信号光ＬＳは、眼底Ｅｆの表面で反射されるだけでなく、眼底Ｅｆの深部領域にも到達して屈折率境界において散乱される。したがって、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳは、眼底Ｅｆの表面形態を反映する情報と、眼底Ｅｆの深層組織の屈折率境界における後方散乱の状態を反映する情報とを含んだ光となっている。この光を単に「信号光ＬＳの眼底反射光」と呼ぶことがある。
【００７４】
信号光ＬＳの眼底反射光は、眼底カメラユニット１Ａ内の上記経路を逆向きに進行して光ファイバ１５２ａの端面１５２ｂに集光される。そして、信号光ＬＳは、光ファイバ１５２を通じてＯＣＴユニット１５０に入射し、光ファイバ１６４を通じて光カプラ１６２に戻ってくる。
【００７５】
光カプラ１６２は、眼底Ｅｆを経由して戻ってきた信号光ＬＳと、参照ミラー１７４にて反射された参照光ＬＲとを重畳して干渉光ＬＣを生成する。生成された干渉光ＬＣは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ１６５を通じてスペクトロメータ１８０に導光される。
【００７６】
なお、この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。なお、この発明に係る「干渉光生成手段」は、たとえば、光カプラ１６２と、信号光ＬＳの光路上の光学部材（つまり光カプラ１６２と眼底Ｅｆとの間に配置された光学部材）と、参照光ＬＲの光路上の光学部材（つまり光カプラ１６２と参照ミラー１７４との間に配置された光学部材）とを含んで構成され、特に、光カプラ１６２、光ファイバ１６３、１６４及び参照ミラー１７４を具備する干渉計を含んで構成される。
【００７７】
スペクトロメータ（分光計）１８０は、コリメータレンズ１８１、回折格子１８２、結像レンズ１８３、ＣＣＤ１８４を含んで構成される。この実施形態の回折格子１８２は、光を透過させる透過型の回折格子であるが、光を反射する反射型の回折格子を用いることも可能である。また、ＣＣＤ１８４に代えて、その他の光検出素子を適用することももちろん可能である。
【００７８】
スペクトロメータ１８０に入射した干渉光ＬＣは、コリメータレンズ１８１により平行光束とされた後、回折格子１８２によって分光（スペクトル分解）される。分光された干渉光ＬＣは、結像レンズ１８３によってＣＣＤ１８４の撮像面上に結像される。ＣＣＤ１８４は、分光された干渉光ＬＣの各スペクトルを検出して電気的な信号に変換し、この検出信号を演算制御装置２００に出力する。ＣＣＤ１８４は、この発明の「検出手段」の一例として機能する。
【００７９】
〔演算制御装置の構成〕
次に、演算制御装置２００の構成について説明する。演算制御装置２００は、ＯＣＴユニット１５０のスペクトロメータ１８０のＣＣＤ１８４から入力される検出信号を解析して、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの断層画像を形成する処理を行う。このときの解析手法は、従来のフーリエドメインＯＣＴの手法と同様である。
【００８０】
また、演算制御装置２００は、眼底カメラユニット１Ａの撮像装置１０、１２から出力される映像信号に基づいて眼底Ｅｆの表面の形態を示す２次元画像（の画像データ）を形成する。
【００８１】
更に、演算制御装置２００は、眼底カメラユニット１Ａ及びＯＣＴユニット１５０の各部の制御を実行する。
【００８２】
演算制御装置２００は、眼底カメラユニット１Ａの制御として、たとえば、観察光源１０１や撮影光源１０３による照明光の出力制御、エキサイタフィルタ１０５、１０６やバリアフィルタ１２２、１２３の光路上への挿入／退避動作の制御、ＬＣＤ１４０等の表示装置の動作の制御、照明絞り１１０の移動制御（絞り値の制御）、撮影絞り１２１の絞り値の制御、変倍レンズ１２４の移動制御（倍率の制御）などを行う。また、演算制御装置２００は、走査ユニット１４１内のガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの動作（反射面の向きの変更動作）の制御を行う。
【００８３】
また、演算制御装置２００は、ＯＣＴユニット１５０の制御として、たとえば、低コヒーレンス光源１６０による低コヒーレンス光Ｌ０の出力制御、参照ミラー１７４の移動制御、濃度フィルタ１７３の回転動作（参照光ＬＲの光量の減少量の変更動作）の制御、ＣＣＤ１８４の蓄積時間の制御などを行う。
【００８４】
このような演算制御装置２００のハードウェア構成の一例について、図４を参照しつつ説明する。
【００８５】
演算制御装置２００は、従来のコンピュータと同様のハードウェア構成を備えている。具体的には、マイクロプロセッサ２０１、ＲＡＭ２０２、ＲＯＭ２０３、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）２０４、キーボード２０５、マウス２０６、ディスプレイ２０７、画像形成ボード２０８及び通信インターフェイス（Ｉ／Ｆ）２０９を含んで構成されている。以上の各部は、バス２００ａを介して接続されている。
【００８６】
マイクロプロセッサ２０１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）等を含んで構成され、ハードディスクドライブ２０４に格納された制御プログラム２０４ａをＲＡＭ２０２上に展開することにより、この実施形態に特徴的な動作を実行する。制御プログラム２０４ａは、この発明に係る「プログラム」の一例に相当する。
【００８７】
また、マイクロプロセッサ２０１は、前述した装置各部の制御や、各種の演算処理などを実行する。また、キーボード２０５やマウス２０６からの操作信号に対応する装置各部の制御、ディスプレイ２０７による表示処理の制御、通信インターフェイス２０９による各種のデータや制御信号等の送受信処理の制御などを実行する。
【００８８】
キーボード２０５、マウス２０６及びディスプレイ２０７は、眼底観察装置１のユーザインターフェイスとして使用される。キーボード２０５は、たとえば文字や数字等をタイピング入力するためのデバイスとして用いられる。マウス２０６は、ディスプレイ２０７の表示画面に対する各種入力操作を行うためのデバイスとして用いられる。
【００８９】
また、ディスプレイ２０７は、たとえばＬＣＤやＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ  Ｒａｙ  Ｔｕｂｅ）ディスプレイ等からなる任意の表示デバイスであり、眼底観察装置１により形成された眼底Ｅｆの画像などの各種の画像を表示したり、操作画面や設定画面などの各種の画面を表示したりする。
【００９０】
なお、眼底観察装置１のユーザインターフェイスは、このような構成に限定されるものではなく、たとえばトラックボール、ジョイスティック、タッチパネル式のＬＣＤ、眼科検査用のコントロールパネルなど、各種情報を表示出力する機能と、各種情報を入力したり装置の操作を行ったりする機能とを具備する任意のユーザインターフェイス手段を用いて構成することが可能である。
【００９１】
画像形成ボード２０８は、眼底Ｅｆの画像（画像データ）を形成する処理を行う専用の電子回路である。この画像形成ボード２０８には、眼底画像形成ボード２０８ａとＯＣＴ画像形成ボード２０８ｂとが設けられている。
【００９２】
眼底画像形成ボード２０８ａは、眼底カメラユニット１Ａの撮像装置１０や撮像装置１２からの映像信号に基づいて眼底画像の画像データを形成するように動作する、専用の電子回路である。
【００９３】
また、ＯＣＴ画像形成ボード２０８ｂは、ＯＣＴユニット１５０のスペクトロメータ１８０のＣＣＤ１８４からの検出信号に基づいて眼底Ｅｆの断層画像の画像データを形成するように動作する、専用の電子回路である。
【００９４】
このような画像形成ボード２０８を設けることにより、眼底画像や断層画像の画像データを形成する処理の処理速度を向上させることができる。
【００９５】
通信インターフェイス２０９は、マイクロプロセッサ２０１からの制御信号を、眼底カメラユニット１ＡやＯＣＴユニット１５０に送信する処理を行う。また、通信インターフェイス２０９は、眼底カメラユニット１Ａの撮像装置１０、１２からの映像信号や、ＯＣＴユニット１５０のＣＣＤ１８４からの検出信号を受信して、画像形成ボード２０８に入力する処理などを行う。このとき、通信インターフェイス２０９は、撮像装置１０、１２からの映像信号を眼底画像形成ボード２０８ａに入力し、ＣＣＤ１８４からの検出信号をＯＣＴ画像形成ボード２０８ｂに入力するように動作する。
【００９６】
また、演算制御装置２００がＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）やインターネット等のネットワークに接続されている場合には、通信インターフェイス２０９に、ＬＡＮカード等のネットワークアダプタやモデム等の通信機器を具備させて、当該ネットワーク経由のデータ通信を行えるように構成することが可能である。その場合、制御プログラム２０４ａを格納するサーバを当該ネットワーク上に設置するとともに、演算制御装置２００を当該サーバのクライアント端末として構成することにより、この発明に係る動作を眼底観察装置１に実行させることができる。
【００９７】
〔制御系の構成〕
次に、眼底観察装置１の制御系の構成について図５、図６を参照しつつ説明する。図５には、眼底観察装置１が具備する構成のうち、この発明に係る動作や処理に関わる部分が特に記載されている。図６には、眼底カメラユニット１Ａに設けられた操作パネル３ａの構成の一例が記載されている。
【００９８】
（制御部）
眼底観察装置１の制御系は、図５に示す演算制御装置２００の制御部２１０を中心に構成される。制御部２１０は、マイクロプロセッサ２０１、ＲＡＭ２０２、ＲＯＭ２０３、ハードディスクドライブ２０４（制御プログラム２０４ａ）、通信インターフェイス２０９等を含んで構成される。
【００９９】
制御部２１０は、制御プログラム２０４ａに基づいて動作するマイクロプロセッサ２０１によって前述した各種の制御を行う。特に、制御部２１０は、眼底カメラユニット１Ａについて、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの位置を変更させるミラー駆動機構２４１、２４２の制御を行うもので、この発明の「制御手段」の一例として機能する。
【０１００】
また、ＯＣＴユニット１５０について、制御部２１０は、低コヒーレンス光源１６０やＣＣＤ１８４の制御、濃度フィルタ１７３を回転させる濃度フィルタ駆動機構２４４の制御、参照光ＬＲの進行方向に参照ミラー１７４を移動させる参照ミラー駆動機構２４３の制御などを実行する。
【０１０１】
また、制御部２１０は、眼底観察装置１により撮影される２種類の画像、すなわち眼底カメラユニット１Ａにより得られる眼底Ｅｆの表面の２次元画像と、ＯＣＴユニット１５０により得られる検出信号に基づく眼底Ｅｆの断層画像とを、ユーザインターフェイス（ＵＩ）２４０の表示部２４０Ａに表示させる。これらの画像は、それぞれ別々に表示部２４０Ａにさせることもできるし、それらを並べて同時に表示させることもできる。
【０１０２】
（走査線設定部）
制御部２１０には、走査線設定部２１１が設けられている。走査線設定部２１１は、信号光ＬＳの走査位置となる走査線（後述）を設定するものである。
【０１０３】
特に、走査線設定部２１１は、眼底Ｅｆ上の領域が指定されたときに動作して、この指定領域のサイズに応じた本数の走査線を当該指定領域に設定する。走査線の設定本数は、指定領域における眼底Ｅｆの３次元画像を形成可能な本数とされる。
【０１０４】
指定領域のサイズと走査線の本数との関係について説明する。３次元画像を形成する際には、複数の断層画像に対して補間処理を施すため、隣接する断層画像が近接している必要がある。すなわち、隣接する断層画像が所定距離以上離れていると、補間処理を好適に行うことができず、３次元画像を形成することができない。なお、断層画像は走査線に沿って形成される。したがって、３次元画像を取得するには、隣接する走査線の間隔が近接している必要がある。
【０１０５】
走査線設定部２１１は、３次元画像を形成するための補間処理を好適に実施できるように走査線が配列されるように走査線の本数を決定するとともに、これらの走査線の位置を設定する。なお、補間処理が好適に実施される走査線の間隔についての情報は、ハードディスクドライブ２０４等にあらかじめ記憶されている。
【０１０６】
（画像形成部）
画像形成部２２０は、眼底カメラユニット１Ａの撮像装置１０、１２からの映像信号に基づいて眼底画像の画像データを形成する処理と、ＯＣＴユニット１５０のＣＣＤ１８４からの検出信号に基づいて眼底Ｅｆの断層画像の画像データを形成する処理とを行う。
【０１０７】
画像形成部２２０は、画像形成ボード２０８や通信インターフェイス２０９等を含んで構成される。なお、本明細書において、「画像」と、それに対応する「画像データ」とを同一視することがある。
【０１０８】
（画像処理部）
画像処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された画像の画像データに対して各種の画像処理や解析処理を施すものである。たとえば、画像処理部２３０は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理などを実行する。
【０１０９】
（３次元画像形成部）
画像処理部２３０には、３次元画像形成部２３１が設けられている。３次元画像形成部２３１は、画像形成部２２０により形成された断層画像に対し、断層画像間の画素を補間する補間処理等を施すことにより、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。
【０１１０】
なお、３次元画像の画像データとは、３次元的に配列された複数のボクセルのそれぞれに画素値を付与して成る画像データであり、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、画像処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ  Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成するように作用する。ディスプレイ２０７等の表示デバイスには、この画像データに基づく擬似的な３次元画像が表示されることになる。
【０１１１】
また、３次元画像形成部２３１は、複数の断層画像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層画像を、走査線の位置関係に基づいて配列させることにより得られる画像データである。
【０１１２】
なお、画像形成部２２０（ＯＣＴ画像形成ボード２０８ｂ）及び３次元画像形成部２３１は、この発明に係る「画像形成手段」の一例として機能するものである。
【０１１３】
以上のように動作する画像処理部２３０は、マイクロプロセッサ２０１、ＲＡＭ２０２、ＲＯＭ２０３、ハードディスクドライブ２０４（制御プログラム２０４ａ）等を含んで構成されている。
【０１１４】
（ユーザインターフェイス）
ユーザインターフェイス（Ｕｓｅｒ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ；ＵＩ）２４０には、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂが設けられている。表示部２４０Ａは、ディスプレイ２０７等の表示デバイスにより構成される。また、操作部２４０Ｂは、キーボード２０５やマウス２０６などの入力デバイスや操作デバイスにより構成される。操作部２４０Ｂは、この発明の「指定手段」の一例として機能するとともに、「操作手段」の一例として機能するものである。
【０１１５】
（操作パネル）
眼底カメラユニット１Ａの操作パネル３ａについて説明する。操作パネル３ａは、たとえば、眼底カメラユニット１Ａの架台（図示せず）上に配設されている。
【０１１６】
操作パネル３ａには、眼底Ｅｆの表面の２次元画像を取得するための操作指示に使用される操作部と、眼底Ｅｆの断層画像を取得するための操作指示に使用される操作部とが設けられている。
【０１１７】
このような操作パネル３ａを設けることにより、従来の眼底カメラを操作するときと同じ要領で、眼底画像Ｅｆ′の取得のための操作と断層画像の取得のための操作との双方を行うことができる。
【０１１８】
操作パネル３ａには、たとえば、図６に示すように、メニュースイッチ３０１、スプリットスイッチ３０２、撮影光量スイッチ３０３、観察光量スイッチ３０４、顎受けスイッチ３０５、撮影スイッチ３０６、ズームスイッチ３０７、画像切替スイッチ３０８、固視標切替スイッチ３０９、固視標位置調整スイッチ３１０、固視標サイズ切替スイッチ３１１及びモード切替ノブ３１２が設けられている。
【０１１９】
メニュースイッチ３０１は、各種のメニューをユーザが選択指定するための所定のメニュー画面を表示させるために操作されるスイッチである。選択可能なメニューとしては、たとえば、眼底Ｅｆの表面の２次元画像、断層画像、３次元画像等を撮影するときの撮影メニューや、各種の設定入力を行うための設定メニューなどがある。
【０１２０】
メニュースイッチ３０１が操作されると、その操作信号が制御部２１０に入力される。制御部２１０は、この操作信号の入力に対応し、タッチパネルモニタ１１或いは表示部２４０Ａにメニュー画面を表示させる。なお、眼底カメラユニット１Ａに制御部（図示せず）を設け、この制御部がメニュー画面をタッチパネルモニタ１１に表示させるようにしてもよい。
【０１２１】
スプリットスイッチ３０２は、ピント合わせ用のスプリット輝線（たとえば特開平９−６６０３１等を参照。スプリット視標、スプリットマークなどとも呼ばれる。）の点灯と消灯とを切り替えるために操作されるスイッチである。なお、このスプリット輝線を被検眼Ｅに投影させるための構成（スプリット輝線投影部）は、たとえば眼底カメラユニット１Ａ内に格納されている（図１において省略されている。）。
【０１２２】
スプリットスイッチ３０２が操作されると、その操作信号が制御部２１０（又は眼底カメラユニット１Ａ内の制御部；以下同様）に入力される。制御部２１０は、この操作信号の入力に対応し、スプリット輝線投影部を制御して被検眼Ｅにスプリット輝線を投影させる。
【０１２３】
撮影光量スイッチ３０３は、被検眼Ｅの状態（たとえば水晶体の濁り度合い等）などに応じて撮影光源１０３の出力光量（撮影光量）を調整するために操作されるスイッチである。この撮影光量スイッチ３０３には、たとえば、撮影光量を増大させるための撮影光量増大スイッチ「＋」と、撮影光量を減少させるための撮影光量減少スイッチ「−」と、撮影光量を所定の初期値（デフォルト値）に設定するためのリセットスイッチ（中央のボタン）とが設けられている。
【０１２４】
撮影光量スイッチ３０３の１つが操作されると、その操作信号が制御部２１０に入力される。制御部２１０は、入力された操作信号に応じて撮影光源１０３を制御して撮影光量を調整する。
【０１２５】
観察光量スイッチ３０４は、観察光源１０１の出力光量（観察光量）を調整するために操作されるスイッチである。この観察光量スイッチ３０４には、たとえば、観察光量を増大させるための観察光量増大スイッチ「＋」と、観察光量を減少させるための撮影光量減少スイッチ「−」とが設けられている。
【０１２６】
観察光量スイッチ３０４の１つが操作されると、その操作信号が制御部２１０に入力される。制御部２１０は、入力された操作信号に応じて観察光源１０１を制御して観察光量を調整する。
【０１２７】
顎受けスイッチ３０５は、眼底カメラユニット１Ａの顎受け（図示せず）の位置を移動させるためのスイッチである。顎受けスイッチ３０５には、たとえば、顎受けを上方に移動させるための上方移動スイッチ（上向き三角形）と、顎受けを下方に移動させるための下方移動スイッチ（下向き三角形）とが設けられている。
【０１２８】
顎受けスイッチ３０５の１つが操作されると、その操作信号が制御部２１０に入力される。制御部２１０は、入力された操作信号に応じて顎受け移動機構（図示せず）を制御して、顎受けを上方又は下方に移動させる。
【０１２９】
撮影スイッチ３０６は、眼底Ｅｆの表面の２次元画像或いは眼底Ｅｆの断層画像を取得するためのトリガスイッチとして使用されるスイッチである。
【０１３０】
２次元画像を撮影するメニューが選択されているときに撮影スイッチ３０６が操作されると、その操作信号を受けた制御部２１０は、撮影光源１０３を制御して撮影照明光を出力させるとともに、その眼底反射光を検出した撮像装置１０から出力される映像信号に基づいて、表示部２４０Ａやタッチパネルモニタ１１に眼底Ｅｆの表面の２次元画像を表示させる。
【０１３１】
一方、断層画像を取得するメニューが選択されているときに撮影スイッチ３０６が操作されると、その操作信号を受けた制御部２１０は、低コヒーレンス光源１６０を制御して低コヒーレンス光Ｌ０を出力させ、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを制御して信号光ＬＳを走査させるとともに、干渉光ＬＣを検出したＣＣＤ１８４から出力される検出信号に基づいて画像形成部２２０（及び画像処理部２３０）が形成した眼底Ｅｆの断層画像を表示部２４０Ａ或いはタッチパネルモニタ１１に表示させる。また、３次元画像を取得するメニューが選択されているときには、同様にして取得された複数の断層画像に基づく眼底Ｅｆの３次元画像が表示部２４０Ａ等に表示される。
【０１３２】
ズームスイッチ３０７は、眼底Ｅｆの撮影時の画角（ズーム倍率）を変更するために操作されるスイッチである。ズームスイッチ３０７を操作する度毎に、たとえば撮影画角４５度と２２．５度とが交互に設定されるようになっている。
【０１３３】
ズームスイッチ３０７が操作されると、その操作信号を受けた制御部２１０は、図示しない変倍レンズ駆動機構を制御し、変倍レンズ１２４を光軸方向に移動させて撮影画角を変更する。
【０１３４】
画像切替スイッチ３０８は、表示画像を切り替えるために操作されるスイッチである。表示部２４０Ａ或いはタッチパネルモニタ１１に眼底観察画像（撮像装置１２からの映像信号に基づく眼底Ｅｆの表面の２次元画像）が表示されているときに画像切替スイッチ３０８が操作されると、その操作信号を受けた制御部２１０は、眼底Ｅｆの断層画像を表示部２４０Ａ或いはタッチパネルモニタ１１に表示させる。
【０１３５】
一方、眼底の断層画像が表示部２４０Ａ或いはタッチパネルモニタ１１に表示されているときに画像切替スイッチ３０８が操作されると、その操作信号を受けた制御部２１０は、眼底観察画像を表示部２４０Ａ或いはタッチパネルモニタ１１に表示させる。
【０１３６】
固視標切替スイッチ３０９は、ＬＣＤ１４０による内部固視標の表示位置（つまり眼底Ｅｆにおける内部固視標の投影位置）を切り替えるために操作されるスイッチである。この固視標切替スイッチ３０９を操作することにより、たとえば、内部固視標の表示位置を「眼底中心の周辺領域の画像を取得するための固視位置（眼底中心撮影用固視位置）」と、「黄斑の周辺領域の画像を取得するための固視位置（黄斑撮影用固視位置）」と、「視神経乳頭の周辺領域の画像を取得するための固視位置（視神経乳頭撮影用固視位置）」との間で巡回的に内部固視標の表示位置が切り替えられるようになっている。
【０１３７】
制御部２１０は、固視標切替スイッチ３０９からの操作信号に対応し、ＬＣＤ１４０の表示面上の異なる位置に内部固視標を表示させる。なお、上記３つの固視位置に対応する内部固視標の表示位置は、たとえば臨床データに基づいてあらかじめ設定することもできるし、各被検眼毎に又は各画像撮影毎に事前に設定するように構成こともできる。
【０１３８】
固視標位置調整スイッチ３１０は、内部固視標の表示位置を調整するために操作されるスイッチである。固視標位置調整スイッチ３１０には、たとえば、内部固視標の表示位置を上方に移動させるための上方移動スイッチと、下方に移動させるための下方移動スイッチと、左方に移動させるための左方移動スイッチと、右方に移動させるための右方移動スイッチと、所定の初期位置（デフォルト位置）に移動させるためのリセットスイッチとが設けられている。
【０１３９】
制御部２１０は、固視標位置調整スイッチ３１０のいずれかのスイッチからの操作信号を受けると、この操作信号に応じてＬＣＤ１４０を制御することにより内部固視標の表示位置を移動させる。
【０１４０】
固視標サイズ切替スイッチ３１１は、内部固視標のサイズを変更するために操作されるスイッチである。この固視標サイズ切替スイッチ３１１が操作されると、その操作信号を受けた制御部２１０は、ＬＣＤ１４０に表示させる内部固視標の表示サイズを変更する。内部固視標の表示サイズは、たとえば「通常サイズ」と「拡大サイズ」とに交互に切り替えられるようになっている。それにより、眼底Ｅｆに投影される固視標の投影像のサイズが変更される。制御部２１０は、固視標サイズ切替スイッチ３１１からの操作信号を受けると、この操作信号に応じてＬＣＤ１４０を制御することにより内部固視標の表示サイズを変更させる。
【０１４１】
モード切替ノブ３１２は、各種の撮影モードを選択するために回転操作されるノブである。撮影モードとしては、たとえば、眼底Ｅｆの２次元画像を撮影するための眼底撮影モード、信号光ＬＳのＢスキャンを行うためのＢスキャンモード、信号光ＬＳを放射状に走査させるための放射スキャンモード、信号光ＬＳを３次元的に走査させるための３次元スキャンモードなどがある。また、モード切替ノブ３１２は、取得された眼底Ｅｆの２次元画像や断層画像を再生表示させるための再生モードを選択できるようになっていてもよい。また、信号光ＬＳの走査の直後に眼底撮影を行うように制御する撮影モードを選択できるようにしてもよい。これらの各モードに対応する動作を眼底観察装置１に実行させるための装置各部の制御は、制御部２１０が行う。
【０１４２】
〔信号光の走査について〕
ここで、信号光ＬＳの走査について図７、図８を参照しながら説明する。なお、図７、図８に示すような走査線は、眼底Ｅｆ上に実際に設定されるものではなく、信号光ＬＳの照射位置の軌道を表す仮想の線である。また、各走査線は、後述のように断層画像の断面位置を示す線としての意味も有する。
【０１４３】
信号光ＬＳの走査は、前述のように、眼底カメラユニット１Ａの走査ユニット１４１のガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの位置（反射面の向き）を変更することにより行われる。制御部２１０は、ミラー駆動機構２４１、２４２をそれぞれ制御してガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの反射面の向きをそれぞれ変更することにより、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を走査する。
【０１４４】
ガルバノミラー１４１Ａの反射面の向きが変更されると、信号光ＬＳは、眼底Ｅｆ上において水平方向（図１のｘ方向）に走査される。一方、ガルバノミラー１４１Ａの反射面の向きが変更されると、信号光ＬＳは、眼底Ｅｆ上において垂直方向（図１のｙ方向）に走査される。また、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの双方の反射面の向きを同時に変更させることにより、ｘ方向とｙ方向とを合成した方向に信号光ＬＳを走査することができる。すなわち、これら２つのガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを制御することにより、ｘｙ平面上の任意の方向に信号光ＬＳを走査することができる。
【０１４５】
図７は、眼底Ｅｆの画像を形成するための信号光ＬＳの走査態様の一例を表している。図７は、信号光ＬＳが被検眼Ｅに入射する方向から眼底Ｅｆを見た（つまり図１の−ｚ方向から＋ｚ方向を見た）ときの図である。また、図８は、各走査線上の走査点（画像計測を行う位置；信号光ＬＳの照射位置）の配列態様の一例を表す。
【０１４６】
図７に示すように、信号光ＬＳは、たとえば円形の走査領域Ｒ内を走査される。なお、走査領域の形状は円形に限定されるものではなく、たとえば矩形等の任意の形状であってもよい。走査領域Ｒは、たとえばマウス２０６のドラッグ操作により眼底Ｅｆ上（眼底画像Ｅｆ′上に）設定される。
【０１４７】
走査領域Ｒ内には、放射状に配列された複数（ｍ本）の走査線Ｒ１〜Ｒｍが設定される。各走査線Ｒｉは、所定位置（中心位置）Ｃにて交差するように設定される。各走査線Ｒｉに沿って信号光ＬＳが走査されるときに、干渉光ＬＣの検出信号が生成されるようになっている。Ｒｉ（ｉ＝１〜ｍ）は、走査線設定部２１１によって設定される。なお、検者が操作部２４０Ｂを操作して所望の位置に走査線Ｒｉを設定するようにしてもよい。この設定操作は、たとえばマウス２０６のドラッグ操作により行うことができる。
【０１４８】
各走査線Ｒｉ上には、図８に示すように、複数（ｎ個）の走査点Ｒｉ１〜Ｒｉｎが設定される。
【０１４９】
図７、図８に示す走査を実行するために、制御部２１０は、まず、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを制御し、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの入射目標を第１の走査線Ｒ１上の走査開始位置ＲＳ（走査点Ｒ１１）に設定する。続いて、制御部２１０は、低コヒーレンス光源１６０を制御し、低コヒーレンス光Ｌ０をフラッシュ発光させて、走査開始位置ＲＳに信号光ＬＳを入射させる。ＣＣＤ１８４は、この信号光ＬＳの走査開始位置ＲＳにおける眼底反射光に基づく干渉光ＬＣを受光して検出信号を出力する。
【０１５０】
次に、制御部２１０は、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを制御して、信号光ＬＳの入射目標を走査点Ｒ１２に設定し、低コヒーレンス光Ｌ０をフラッシュ発光させて走査点Ｒ１２に信号光ＬＳを入射させる。ＣＣＤ１８４は、この信号光ＬＳの走査点Ｒ１２における眼底反射光に基づく干渉光ＬＣを受光して検出信号を出力する。
【０１５１】
制御部２１０は、同様にして、信号光ＬＳの入射目標を走査点Ｒ１３、Ｒ１４、・・・、Ｒ１（ｎ−１）、Ｒ１ｎと順次移動させつつ、低コヒーレンス光Ｌ０を順次にフラッシュ発光させる。ＣＣＤ１８４は、各走査点に対応する干渉光ＬＣを受光して検出信号を出力する。
【０１５２】
第１の走査線Ｒ１の最後の走査点Ｒ１ｎにおける計測が終了したら、制御部２１０は、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを制御して、信号光ＬＳの入射目標を第２の走査線Ｒ２の最初の走査点Ｒ２１まで移動させる。更に、制御部２１０は、第２の走査線Ｒ２の各走査点Ｒ２ｊ（ｊ＝１〜ｎ）について同様の計測を行わせる。
【０１５３】
同様に、第３の走査線Ｒ３、・・・・、第ｍ−１の走査線Ｒ（ｍ−１）、第ｍの走査線Ｒｍのそれぞれについて計測を行い、各走査点に対応する検出信号を取得する。なお、走査線Ｒｍ上の符号ＲＥは、最後の走査点Ｒｍｎに対応する走査終了位置である。
【０１５４】
以上の動作により、走査領域Ｒ内のｍ×ｎ個の走査点Ｒｉｊ（ｉ＝１〜ｍ、ｊ＝１〜ｎ）に対応するｍ×ｎ個の検出信号が取得される。以下、走査点Ｒｉｊに対応する検出信号をＤｉｊと表すことがある。
【０１５５】
以上のような走査点の移動と低コヒーレンス光Ｌ０の出力との連動制御は、たとえば、ミラー駆動機構２４１、２４２に対する制御信号の送信タイミングと、低コヒーレンス光源１６０に対する制御信号（出力要求信号）の送信タイミングとを互いに同期させることによって実現することができる。
【０１５６】
制御部２１０は、上述のように各ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを動作させるときに、その動作内容を示す情報として各走査線Ｒｉの位置や各走査点Ｒｉｊの位置（ｘｙ座標系における座標）を記憶しておくようになっている。この記憶内容（走査点座標情報）は、従来と同様に画像形成処理において用いられる。
【０１５７】
〔画像処理について〕
次に、画像形成部２２０及び画像処理部２３０による眼底ＥｆのＯＣＴ画像に関する処理の一例を説明する。
【０１５８】
前述のように、画像形成部２２０は、各走査線Ｒｉに沿った眼底Ｅｆの断層画像の形成処理を実行し、画像処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された断層画像に基づく眼底Ｅｆの３次元画像の形成処理などを実行する。
【０１５９】
画像形成部２２０による断層画像の形成処理は、従来と同様に、２段階の演算処理を含んで構成される。第１段階の演算処理においては、各走査点Ｒｉｊに対応する検出信号Ｄｉｊに基づいて、その走査点Ｒｉｊにおける眼底Ｅｆの深度方向（図１に示すｚ方向）の画像を形成する。走査点Ｒｉｊにおける深度方向の画像は、走査点Ｒｉｊを通過しｚ方向に延びる１次元画像である。
【０１６０】
第２段階の演算処理において、画像形成部２２０は、各走査線Ｒｉについて、ｎ個の走査点Ｒｉ１〜Ｒｉｎにおける深度方向の画像を並べることにより、この走査線Ｒｉに沿った眼底Ｅｆの断層画像を形成する。このとき、画像形成部２２０は、各走査点Ｒｉ１〜Ｒｉｎの位置情報（前述の走査点座標情報）を参照して走査点Ｒｉ１〜Ｒｉｎの配列及び間隔を決定し、この走査線Ｒｉにおける断層画像を形成する。
【０１６１】
以上の処理により、走査線Ｒ１〜Ｒｍに対応するｍ個の断層画像が得られる。
【０１６２】
次に、眼底Ｅｆの３次元画像の形成処理について説明する。眼底Ｅｆの３次元画像は、上記の演算処理により得られたｍ個の断層画像に基づいて形成される。３次元画像形成部２３１は、隣接する断層画像の間を補間する公知の補間処理を行うなどして、眼底Ｅｆの３次元画像を形成する。この３次元画像は、各走査点Ｒｉｊの位置情報（前述の走査点座標情報）と、深度方向の画像におけるｚ座標とに基づいて、３次元座標系（ｘ、ｙ、ｚ）が設定される。
【０１６３】
なお、画像処理部２３０は、この３次元画像に基づいて、眼底Ｅｆ上の任意の断面における眼底Ｅｆの断層画像を形成することができる。断面が指定されると、画像処理部２３０は、この指定断面上の各走査点（及び／又は補間された深度方向の画像）の位置を特定し、各特定位置における深度方向の画像（及び／又は補間された深度方向の画像）を３次元画像から抽出し、抽出された複数の深度方向の画像を配列させることにより当該指定断面における眼底Ｅｆの断層画像を形成する。
【０１６４】
［使用形態］
以上のような構成を有する眼底観察装置１の使用形態について説明する。以下、眼底観察装置１の３つの使用形態を説明する。第１の使用形態では、走査線Ｒｉの間隔に応じた領域の３次元画像を形成する処理の一例を説明する。第２の使用形態では、指定領域のサイズに応じて走査線を設定して３次元画像を形成する処理の一例を説明する。第３の使用形態では、指定本数の走査線に応じた領域の３次元画像を形成する処理の一例を説明する。
【０１６５】
〔第１の使用形態〕
走査線Ｒｉの間隔に応じた領域の３次元画像を形成する処理の一例について、図９に示すフローチャートを参照しながら説明する。
【０１６６】
まず、眼底観察装置１により被検眼Ｅの眼底画像Ｅｆ′を撮影する（Ｓ１）。制御部２１０は、撮影された眼底画像Ｅｆ′を表示部２４０Ａに表示させる。図１０は、眼底画像Ｅｆ′の表示態様の一例を表している。
【０１６７】
表示部２４０Ａの表示画面２４００には、眼底画像表示領域２４０１とＯＣＴ画像表示領域２４０２が設けられている。眼底画像Ｅｆ′は、眼底画像表示領域２４０１に表示される。
【０１６８】
次に、走査線Ｒｉの設定を行う（Ｓ２）。走査線Ｒｉは、中心位置Ｃを通過するように放射状に配列される（図１１参照）。このとき、走査線Ｒｉが設定される眼底画像Ｅｆ′上の２次元領域は、走査領域Ｒに対応している。
【０１６９】
ステップ２の走査線Ｒｉの設定は、たとえば、検者が操作部２４０Ｂを操作して行う。走査線Ｒｉは、眼底画像Ｅｆ′上の注目部位を通過するように設定される。特に、走査線Ｒｉは、眼底画像Ｅｆ′上の視神経乳頭の中心に中心位置Ｃを配置するようにして設定される。この場合、たとえば、検者は、最初にモード切替ノブ３１２を操作して放射スキャンモードを選択した後に、マウス２０６のクリック操作等により眼底画像Ｅｆ′上に中心位置Ｃを指定するとともに、この中心位置Ｃを通過する所望の位置に走査線Ｒｉを指定する。
【０１７０】
走査線Ｒｉの設定が完了したら、各走査線Ｒｉに沿った眼底Ｅｆの断層画像を取得する（Ｓ３）。そのために、検者は、撮影スイッチ３０６を操作して計測開始を指示する。撮影スイッチ３０６からの信号を受けた制御部２１０は、参照ミラー駆動機構２４３を制御して参照ミラー１７４を計測深度に対応する位置に配置させた後に、低コヒーレンス光源１６０やミラー駆動機構２４１、２４２等を制御して、各走査線Ｒｉに沿って信号光ＬＳを走査させる。画像形成部２２０は、ＣＣＤ１８４からの検出信号に基づいて、各走査線Ｒｉに沿った断層画像を形成する。
【０１７１】
制御部２１０は、取得された断層画像をＯＣＴ画像表示領域２４０２に表示させる。図１２は、断層画像の表示態様の一例を表している。眼底画像Ｅｆ′上には、走査線Ｒｉ（の位置）が表示されている。検者が走査線Ｒｉの一つをマウス２０６等で指定すると、制御部２１０は、前述した走査線や走査点の位置情報に基づいて断層画像を特定し、ＯＣＴ画像表示領域２４０２に表示させる。図１２において、走査線Ｒｉに対応する断層画像を符号Ｇｉで表している。なお、二つ以上の走査線が指定された場合、これら走査線に対応する二つ以上の断層画像をＯＣＴ画像表示領域２４０２に表示させるようにしてもよい。
【０１７２】
また、図１３は、断層画像の表示態様の他の例を表している。この表示態様では、各走査線Ｒｉに対応する断層画像Ｇｉのサムネイル画像Ｇｉ（同じ符号で表す）をＯＣＴ画像表示領域２４０２内に並べて表示させるようになっている。検者が所望のサムネイル画像を指定すると、制御部２１０は、指定されたサムネイル画像Ｇｉに対応する断層画像Ｇｉを拡大表示させる。
【０１７３】
さて、眼底Ｅｆの断層画像Ｇｉが取得されると、画像処理部２３０の３次元画像形成部２３１は、まず、走査線Ｒｉの間隔を求める（Ｓ４）。走査線Ｒ１〜Ｒｍが等間隔で配置されている場合、隣接する走査線間の角度θは、θ＝３６０°／ｍとなる。走査線Ｒｉの間隔としては、たとえば角度θを用いることができる。
【０１７４】
なお、走査線Ｒ１〜Ｒｍが等間隔に配置されていない場合においても同様に、隣接する走査線間の角度を求め、この角度を当該隣接する走査線の間隔として用いることができる。
【０１７５】
また、走査線Ｒｉの間隔として、中心位置Ｃから等距離にある点の間の距離を用いることができる。この距離は、たとえばｘｙ座標系により定義される直線距離であってもよいし、中心位置Ｃを原点とする極座標系における角度方向の距離（弧の長さ）であってもよい。
【０１７６】
３次元画像形成部２３１は、上記のようにして、各走査線Ｒｉ上の各点について、隣接する走査線との間隔を求める。
【０１７７】
続いて、３次元画像形成部２３１は、ステップ４で求められた走査線Ｒｉの間隔と閾値とを比較し、走査線Ｒｉの間隔が閾値以下となる走査領域Ｒ内の領域を特定する（Ｓ５）。この処理は、たとえば次のようにして行うことができる。なお、この閾値は、前述の補間処理を実施可能な走査線間隔の上限値（以下）の値に設定され、ハードディスクドライブ２０４等にあらかじめ記憶されている。
【０１７８】
まず、各走査線Ｒｉ上において、隣接する走査線との間隔が閾値以下である部分（「特定部分」と呼ぶ。）を特定する。ここで、走査線Ｒｉは放射状に配列されており、中心位置Ｃに近い点ほど隣接する走査線との間隔が小さい。したがって、各走査線Ｒｉの特定部分は、中心位置Ｃを含んでいる。また、この実施形態では、各走査線Ｒｉは直線状であるので、各走査線Ｒｉの特定部位は数学的な意味で「連結」である。
【０１７９】
次に、各走査線Ｒｉの特定部分において中心位置Ｃから最も遠い点（つまり、隣接する走査線との間隔が最も大きい点）を結んで、走査線Ｒｉの間隔が閾値以下の領域を決定する。なお、中心位置Ｃから最も遠い点を結ぶときに、隣接する点同士を直線で結ぶことにより多角形状の領域を取得してもよいし、隣接する点同士を曲線で結ぶことにより閉曲線状の領域を取得してもよい。後者の場合において、走査線Ｒｉが等間隔に配置されているときには、取得される閉曲線は円となる。
【０１８０】
走査領域Ｒ内の領域が特定されると、３次元画像形成部２３１は、断層画像Ｇｉの部分画像に基づいて、この領域における眼底Ｅｆの３次元画像を形成する（Ｓ６）。
【０１８１】
制御部２１０は、たとえば検者の指示に応じて、ステップ６で形成された３次元画像をＯＣＴ画像表示領域２４０２に表示させる（Ｓ７）。
【０１８２】
〔第２の使用形態〕
指定領域のサイズに応じて走査線を設定して３次元画像を形成する処理の一例について、図１４に示すフローチャートを参照しながら説明する。
【０１８３】
まず、眼底観察装置１により被検眼Ｅの眼底画像Ｅｆ′を撮影する（Ｓ１１）。制御部２１０は、撮影された眼底画像Ｅｆ′を表示部２４０Ａに表示させる（図１０参照）。
【０１８４】
次に、表示された眼底画像Ｅｆ′上の領域を指定する（Ｓ１２）。この領域の指定は、たとえば検者が操作部２４０Ｂを操作して行う。この指定領域は、たとえば眼底Ｅｆの視神経乳頭や病変部等の注目部位に相当する画像を含むように指定される。
【０１８５】
続いて、制御部２１０の走査線設定部２１１は、ステップ１２で指定された領域のサイズに基づいて、この指定領域に走査線Ｒｉを設定する（Ｓ１３）。このとき、走査線設定部２１１は、前述のように、指定領域における眼底Ｅｆの３次元画像を形成可能な本数の走査線Ｒｉを設定する。
【０１８６】
走査線Ｒｉが設定されると、眼底観察装置１は、各走査線Ｒｉに沿った眼底Ｅｆの断層画像を取得する（Ｓ１４）。
【０１８７】
次に、３次元画像形成部２３１は、ステップ１４で取得された断層画像に基づいて、ステップ１２で指定された領域における眼底Ｅｆの３次元画像を形成する（Ｓ１５）。
【０１８８】
制御部２１０は、たとえば検者の指示に応じて、ステップ１５で形成された３次元画像をＯＣＴ画像表示領域２４０２に表示させる（Ｓ１６）。
【０１８９】
〔第３の使用形態〕
指定本数の走査線に応じた領域の３次元画像を形成する処理の一例について、図１５に示すフローチャートを参照しながら説明する。
【０１９０】
まず、眼底観察装置１により被検眼Ｅの眼底画像Ｅｆ′を撮影する（Ｓ２１）。制御部２１０は、撮影された眼底画像Ｅｆ′を表示部２４０Ａに表示させる（図１０参照）。
【０１９１】
検者は、表示された眼底画像Ｅｆ′上に注目位置を指定する（Ｓ２２）。この注目位置としては、たとえば眼底Ｅｆの視神経乳頭の中心や病変部の位置などが指定される。
【０１９２】
次に、走査線の本数を指定する（Ｓ２３）。この本数の指定は、たとえば、所定の表示画面を表示させ、操作部２４０Ｂを操作することにより行う。
【０１９３】
続いて、眼底Ｅｆ（眼底画像Ｅｆ′）上に走査線Ｒｉを設定する（Ｓ２４）。より具体的に説明すると、走査線設定部２１１は、ステップＳ２３で指定された本数の走査線Ｒｉを、ステップＳ２２で指定された注目位置を中心位置Ｃとする放射状に配列させることにより走査線Ｒｉの指定を行う。このとき、走査線Ｒｉを等間隔で配置させてもよいし、異なる間隔で配置させてもよい。また、操作部２４０Ｂを操作することにより、自動的に設定された走査線Ｒｉの位置を適宜に変更できるようにしてもよい。
【０１９４】
走査線Ｒｉが設定されると、眼底観察装置１は、各走査線Ｒｉに沿った眼底Ｅｆの断層画像を取得する（Ｓ２５）。
【０１９５】
次に、３次元画像形成部２３１は、ステップ２３で指定された走査線の本数に応じた眼底Ｅｆ（眼底画像Ｅｆ′）上の領域を特定する（Ｓ２６）。特定される領域は、指定された本数の走査線に沿った断層画像により前述の補間処理を実施できるような領域、すなわち、指定本数の走査線で３次元画像を形成可能な領域である。このステップＳ２６の処理は、たとえば、第１の使用形態のステップ４、ステップ５と同様の手法で実施することができる。
【０１９６】
更に、３次元画像形成部２３１は、ステップ２６で特定された領域における眼底Ｅｆの３次元画像を形成する（Ｓ２７）。
【０１９７】
制御部２１０は、たとえば検者の指示に応じて、ステップ２７で形成された３次元画像をＯＣＴ画像表示領域２４０２に表示させる（Ｓ２８）。
【０１９８】
［作用・効果］
以上のような眼底観察装置１の作用及び効果について説明する。
【０１９９】
眼底観察装置１は、眼底Ｅｆの断層画像等のＯＣＴ画像を計測可能な光画像計測装置として作用するものである。この眼底観察装置１は、放射状の複数の走査線Ｒｉに沿って信号光ＬＳの照射位置を走査するとともに、各走査線Ｒｉにおける断層画像Ｇｉを形成し、複数の断層画像Ｇｉに基づいて眼底Ｅｆの３次元画像を形成するように構成されている。
【０２００】
このような眼底観察装置１によれば、信号光ＬＳを放射状に配列された走査線Ｒｉに沿って走査するようになっているので、被検眼Ｅの固視を効果的に行うことができる。すなわち、従来の走査によると、被検者は、垂直方向に移動する線状の像を眼で追いかけて視線が垂直方向に移動する傾向があったが、この眼底観察装置１によれば、被検者は、中心位置Ｃを中心として回転する線状の像を視認することとなるので、従来の走査の場合と比較して眼が像を追うおそれが小さくなる。したがって、被検眼Ｅの固視を効果的に行うことができる。また、被検眼Ｅを効果的に固視させられることから、従来と比較して高品質の３次元画像を取得することが可能となる。
【０２０１】
また、眼底観察装置１によれば、次のような理由により、計測時間の短縮を図ると同時に高品質の画像を取得することが可能である。
【０２０２】
従来の光画像診断装置においては、水平方向に延びる走査線を垂直方向に複数配列させているので、隣接する走査線の間隔は等しくなっている（特に、走査領域Ｒ全体に亘って走査線の間隔が等しくなっている。）。また、３次元画像の取得対象領域は、走査線の間隔が小さく設定される必要がある。特に、従来の構成では、走査領域Ｒ内の部分領域についてのみ３次元画像を取得したい場合であっても、走査領域Ｒ全体に亘って走査線の間隔を小さく設定しなければならなかった。そのため、従来の構成では、多数の走査線に沿って信号光を走査する必要があり、結果として計測時間が長くなってしまう。
【０２０３】
一方、この実施形態に係る眼底観察装置１によれば、放射状に配列された走査線Ｒｉを用いるので、走査線の間隔が位置によって異なっている。具体的には、中心位置Ｃに近い位置においては走査線の間隔が小さく、中心位置Ｃから遠い位置においては走査線の間隔が大きくなっている。したがって、中心位置Ｃの近傍領域が３次元画像の取得対象領域であるときには、特に走査線の本数を増加させなくても高品質の３次元画像を取得することができる。すなわち、この眼底観察装置１によれば、信号光ＬＳを走査させる時間を短縮しつつ高品質の３次元画像を取得することができる。
【０２０４】
特に、走査線Ｒｉの交点位置（中心位置Ｃ）を含む領域における３次元画像や、走査線の間隔が閾値以下である領域における３次元画像を形成することにより、計測時間の短縮を図りつつ高品質の３次元画像を取得することができる。
【０２０５】
また、眼底観察装置１は、眼底Ｅｆ（眼底画像Ｅｆ′）上の領域が指定されたときに、この指定領域のサイズに応じた本数の走査線Ｒｉを当該領域に放射状に設定するとともに、各走査線Ｒｉにおける断層画像Ｇｉを形成し、断層画像Ｇｉに基づいて当該指定領域における眼底Ｅｆの３次元画像を形成するように構成されている。
【０２０６】
それにより、指定領域の３次元画像を取得するために必要な本数の走査線のみを計測することができるので、計測時間の短縮を図りつつ高品質の３次元画像を取得することが可能となる。
【０２０７】
また、眼底観察装置１によれば、走査線の本数が指定されたときに、この指定本数の走査線Ｒｉを眼底Ｅｆ（眼底画像Ｅｆ′）上に放射状に設定するように構成されているので、検者は、観察したい部位のサイズ等に応じて所望の本数を設定することができる。
【０２０８】
更に、眼底観察装置１は、指定された本数の各走査線Ｒｉにおける断層画像Ｇｉを形成し、断層画像Ｇｉに基づいて当該指定本数に応じた領域における眼底Ｅｆの３次元画像を形成するように構成されている。このとき、中心位置Ｃは、前述のように眼底Ｅｆの注目位置に指定される。したがって、走査線の本数を比較的少なく設定することにより、注目位置の近傍の３次元画像を迅速に取得することができる。また、走査線の本数を考慮することにより、３次元画像を取得するための計測時間の短縮を図りつつ高品質の画像を取得することが可能である。
【０２０９】
［変形例］
以上に説明した構成は、この発明に係る光画像計測装置を好適に実施するための一例に過ぎない。したがって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
【０２１０】
たとえば、上記の実施形態においては、参照ミラー１７４の位置を変更して信号光ＬＳの光路と参照光ＬＲの光路との光路長差）を変更しているが、光路長差を変更する手法はこれに限定されるものではない。たとえば、被検眼Ｅに対して眼底カメラユニット１Ａ及びＯＣＴユニット１５０を一体的に移動させて信号光ＬＳの光路長を変更することにより光路長差を変更することができる。また、被測定物体を深度方向（ｚ方向）に移動させることにより光路長差を変更することもできる。
【０２１１】
上記の実施形態で説明した眼底観察装置は、フーリエドメイン型の光画像計測装置を含んで構成されているが、タイムドメイン（Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ）型の光画像計測装置にこの発明の構成を適用することも可能である。なお、タイムドメイン型の光画像計測装置としては、たとえば特開２００５−２４１４６４号公報などがある。また、スウェプトソース（Ｓｗｅｐｔ  Ｓｏｕｒｃｅ）型など、その他の任意のタイプの光画像計測装置に対してこの発明の構成を適用することも可能である。
【０２１２】
また、上記の実施形態では、眼底のＯＣＴ画像を取得する装置について説明したが、たとえば角膜等の被検眼の他の部位のＯＣＴ画像を取得可能な装置に対しても上記実施形態の構成を適用することが可能である。また、眼科分野にも、ＯＣＴ技術によって画像を取得することが可能な任意の被測定物体（他の医療分野や生物学分野や工業分野等における対象物）のＯＣＴ画像を取得可能な装置に対して上記実施形態の構成を適用することも可能である。
【０２１３】
以上に説明した変形例は、以下の第２の実施形態についても適宜に適用可能である。
【０２１４】
〈第２の実施の形態〉
この発明に係る光画像計測装置の第２の実施形態について説明する。この実施形態は、被測定物体の複数の断層画像を基に所定の特性情報を生成するものである。この実施形態では、特性情報として、眼底を構成する層の厚さの分布を表す情報を生成する場合について説明する。
【０２１５】
なお、眼底の網膜は、内境界膜、神経繊維層、神経節細胞層、内膜状層、内顆粒層、外網状層、外顆粒層、外境界膜、視細胞層、網膜色素上皮層等により構成されている。また、網膜下には、脈絡膜や強膜が存在する。
【０２１６】
図１６に示すように、この実施形態に係る眼底観察装置５００（光画像計測装置）は、第１の実施形態に係る眼底観察装置１と同様の光学系及びハードウェア構成を有する（図１〜図４参照）。以下、第１の実施形態と同様の構成部分については同じ符号を付して説明する。また、この実施形態においても、第１の実施形態と同様に、信号光ＬＳの走査線Ｒｉは放射状に配列されるものとする（図７、図８参照）。また、以下に説明する各種の処理は、図４に示す制御プログラム２０４ａに基づいて実行される。
【０２１７】
図１６は、眼底観察装置５００の制御系の構成を表している。眼底観察装置５００の制御系は、第１の実施形態とほぼ同様に構成されている（図５参照）。ただし、眼底観察装置５００の画像処理部２３０には、３次元画像形成部２３１を設ける必要はない。また、この実施形態の画像処理部２３０には、解析部２３２が設けられている。
【０２１８】
解析部２３２は、画像形成部２２０により形成された断層画像Ｇｉを解析して眼底Ｅｆの特性情報を生成するもので、この発明の「解析手段」の一例に相当する。解析部２３２は、たとえば、以下に説明するように、（１）層位置解析処理、（２）眼底厚演算処理、（３）特性情報生成処理を実行する。
【０２１９】
（層位置解析処理）
解析部２３２は、第１の実施形態の３次元画像形成部２３１と同様に眼底Ｅｆの３次元画像を形成するとともに、この３次元画像における眼底Ｅｆの所定の層の位置を求める処理を行う。より具体的には、解析部２３２は、たとえば次のようにして眼底Ｅｆの層位置を求める。
【０２２０】
解析部２３２は、まず、３次元画像における眼底Ｅｆの層位置を求め易くするための前処理を実行する。この前処理としては、たとえば、階調変換処理、画像強調処理、しきい値処理、コントラスト変換処理、二値化処理、エッジ検出処理、画像平均化処理、画像平滑化処理、フィルタ処理などの任意の画像処理が適宜に実行される。なお、これらの画像処理を適宜に組み合わせて実行することも可能である。
【０２２１】
次に、解析部２３２は、前処理が施された３次元画像を構成する画素の画素値（たとえば輝度値）を、眼底Ｅｆの深度方向（ｚ方向）に沿って一列ずつ解析する。
【０２２２】
すなわち、解析対象の３次元画像は、ｘｙ方向に２次元的に配列された複数の深度方向の画像によって構成されることから、解析部２３２は、各深度方向の画像を構成する画素の画素値を深度方向に沿って順次に参照することにより、隣接する層の境界に相当する画素を特定する。
【０２２３】
このとき、深度方向にのみ広がりを有するフィルタ（たとえば微分フィルタ）を用いて層の境界位置に相当する画素を特定することが可能である。また、深度方向及びそれに直交する方向の二方向に広がるフィルタ（エリアフィルタ）を利用して画素のエッジ検出を行うなど、任意の手法で層位置を特定することが可能である。
【０２２４】
また、解析部２３２は、３次元画像における眼底Ｅｆの層の境界位置に相当する画像領域を求めるものであるが、同時に、眼底Ｅｆの層に相当する画像領域を求めるものでもある。つまり、眼底Ｅｆは複数の層により構成されていることから、層を特定することと、層の境界位置を特定することとは同義となる。
【０２２５】
解析部２３２は、このような処理により、前述した眼底Ｅｆの様々な層のうちの少なくともいずれかの層位置（層の境界位置）を求めるものである。
【０２２６】
（眼底厚演算処理）
解析部２３２は、上記の層位置解析処理により求められた眼底Ｅｆの層の位置に基づいて、眼底Ｅｆの所定部位の厚さを演算する処理を行う。ここで、眼底Ｅｆの所定部位とは、前述した眼底Ｅｆの複数の層のうちの１つ以上の層を意味することとする。たとえば、網膜色素上皮層単独でも「所定部位」に相当し、内境界膜から内顆粒層までの複数層でも「所定部位」に相当する。
【０２２７】
また、厚さの演算対象となる「所定部位」としては、特に、内境界膜から神経繊維層までの厚さ（神経繊維層厚）、内境界膜から内顆粒層（視細胞の内接・外接）までの厚さ（網膜厚）、内境界膜から網膜色素上皮層までの厚さ（網膜厚）などがある。なお、これら３例のうちの第２、第３の例は、それぞれ網膜厚を表しているが、一般に網膜厚としては複数の定義が適宜に用いられている。
【０２２８】
眼底厚演算処理の例を説明する。解析部２３２は、前述のように、３次元画像における眼底Ｅｆの層の境界位置を求めるものである。このとき、解析部２３２は、少なくとも２つの境界位置を求めるとともに、所定の２つの境界位置の間の距離を演算する。
【０２２９】
より具体的には、解析部２３２は、３次元画像を構成する各深度方向の画像について、当該所定の２つの境界位置のそれぞれに相当する画素の間の距離（深度方向の距離）を演算する。このとき、深度方向の画像の各画素には、前述のｘｙｚ座標系による座標値が割り当てられている。（各深度方向の画像における各画素のｘ座標値、ｙ座標値は一定である。）。解析部２３２は、この座標値から画素間のｚ方向の距離を演算することができる。また、解析部２３２は、２つの境界位置のそれぞれに相当する画素の間の画素数と、隣接画素間の距離（既知）とに基づいて、目的の距離を演算することもできる。
【０２３０】
（特性情報生成処理）
解析部２３２は、眼底厚演算処理による演算結果に基づいて、眼底Ｅｆの所定位置の厚さの分布を表す分布情報を生成する処理を行う。この分布情報としては、任意の断面位置における層の厚さの１次元的な分布を表すグラフ情報（層厚分布グラフと呼ぶ。）や、ｘｙ方向（眼底Ｅｆの表面方向）における層の厚さの２次元的な分布を表す画像情報（層厚分布画像と呼ぶ。）などを生成することができる。なお、眼底Ｅｆの層の厚さは、この発明の「特性値」の一例に相当する。
【０２３１】
ここで、層厚分布グラフは、たとえば、横軸に断面位置を取り、縦軸に層の厚さを取ることにより、各断面位置における層の厚さを表現するグラフである。ここで、対象となる断面位置を複数の部分領域に分割し、各部分領域毎に層の厚さの平均値を求めるなどの統計的演算を施し、この統計的演算の結果を各部分領域毎に表示した層厚分布グラフを生成することも可能である。この場合、走査線Ｒｉの間隔に応じて各部分領域のサイズを決定することが望ましい。すなわち、走査線Ｒｉの間隔が小さい部位では、３次元画像形成時の補間処理を比較的高精度で行えるので、当該部位における部分領域を小さいサイズに設定することができる。一方、走査線Ｒｉの間隔が大きい部位では、３次元画像形成時の補間処理の精度が比較的低いので、当該部位における部分領域については大きいサイズに設定する。このようにして部分領域のサイズを設定することにより、３次元画像の精度が高い部分については層の厚さを詳細に呈示することができ、精度が低い部分については大まかに呈示することができる。なお、この実施形態においても走査線Ｒｉは放射状に配列されるので、中心位置Ｃに近い部位における部分領域のサイズは小さく設定され、中心位置Ｃから遠い部位における部分領域のサイズは大きく設定される。
【０２３２】
また、層厚分布画像は、ｘｙ方向における層の厚さの分布を異なる表示色や、表示色の濃淡で表現したものである。図１７は、層厚分布画像の一例を表している。図１７に示す層厚分布画像Ｈは、走査線Ｒｉの中心位置Ｃを中心とする同心円状の３本の境界線と、ｘ方向及びｙ方向の境界線とを有し、走査領域Ｒ内の領域（たとえば３次元画像を形成可能な領域）を１２個の部分領域に分割している。前述の層厚分布グラフの場合と同様に、中心位置Ｃに近い部位における部分領域のサイズは、中心位置Ｃから遠い部位における部分領域のサイズよりも小さく設定されている。つまり走査線Ｒｉの間隔が小さい部位における部分領域のサイズは、走査線Ｒｉの間隔が大きい部位における部分領域のサイズよりも小さく設定されている。また、図示は省略するが、各部分領域は、その領域における層の厚さの統計的演算の演算結果（平均値等）に応じた表示色等で表示される。
【０２３３】
以上のように動作する眼底観察装置５００は、以下のような作用及び効果を有している。
【０２３４】
眼底観察装置５００は、低コヒーレンス光源１６０から出力された低コヒーレンス光Ｌ０を信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割し、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳを参照光ＬＲに重畳させて干渉光ＬＣを生成してＣＣＤ１８４により検出する。制御部２１０は、走査ユニット１４１を制御し、放射状の複数の走査線Ｒｉに沿って信号光ＬＳの照射位置を走査させる。画像形成部２２０は、ＣＣＤ１８４による検出結果に基づいて、各走査線Ｒｉにおける断層画像Ｇｉを形成する。解析部２３２は、断層画像Ｇｉを解析して眼底Ｅｆの層厚分布グラフや層厚分布画像等の分布情報（特性情報）を生成する。
【０２３５】
このような眼底観察装置５００によれば、信号光ＬＳを放射状に配列された走査線Ｒｉに沿って走査するようになっているので、被検眼Ｅの固視を効果的に行うことができ、特性情報を高い精度で取得することが可能である。
【０２３６】
また、眼底観察装置５００によれば、第１の実施形態と同様に計測時間の短縮を図ると同時に高品質の画像及び高精度の特性情報を取得できる。
【０２３７】
この実施形態に係る光画像計測装置の変形例を説明する。上記の眼底観察装置５００は、眼底Ｅｆの層の厚さの分布を特性情報として取得しているが、特性情報はこれに限定されるものではない。たとえば、眼底Ｅｆの血管における血流速度の分布を表す特性情報や、病変部の有無や個数等の分布を表す特性情報を求めるように構成できる。また、眼底以外の被測定物体についても、その被測定物体のＯＣＴ画像から判定可能な任意の特性を表す特性情報を所得するように構成できる。
【０２３８】
［プログラムについて］
この発明に係るプログラムについて説明する。上記の実施形態においては、制御プログラム２０４ａがこの発明に係るプログラムに相当している。
【０２３９】
この発明に係る第１のプログラムは、低コヒーレンス光を出力する光源と、この低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、被測定物体に対する信号光の照射位置を走査する走査手段と、この干渉光を検出する検出手段とを有し、この検出手段による検出結果に基づいて被測定物体の画像を形成する光画像計測装置を制御するプログラムである。この第１のプログラムは、走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って信号光の照射位置を走査させる制御手段として光画像計測装置を機能させるとともに、検出手段による検出結果に基づいて複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、これら複数の断層画像に基づいて被測定物体の３次元画像を形成する画像形成手段として光画像計測装置を機能させる。
【０２４０】
この第１のプログラムによれば、前述した第１の実施形態と同様に、被検眼の画像を取得する場合において効果的に固視を行うことが可能である。更に、この第１のプログラムによれば、計測時間の短縮を図りつつ高品質の画像を取得することが可能である。
【０２４１】
また、この発明に係る第２のプログラムは、第１のプログラムと同様の光画像計測装置を制御するものであり、走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って信号光の照射位置を走査させる制御手段、検出手段による検出結果に基づいて複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成する画像形成手段、及び、これら複数の断層画像を解析して被測定物体の特性情報を生成する解析手段のそれぞれとして、当該光画像計測装置を機能させる。
【０２４２】
この第２のプログラムによれば、前述した第２の実施形態と同様に、被検眼の画像を取得する場合において効果的に固視を行うことが可能である。更に、この第２のプログラムによれば、計測時間の短縮を図りつつ高品質の画像及び高精度の特性情報を取得することが可能である。
【０２４３】
この発明に係るプログラムは、コンピュータのドライブ装置によって読み取り可能な任意の記憶媒体に記憶させることができる。たとえば、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ／ＤＶＤ−ＲＡＭ／ＤＶＤ−ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などの記憶媒体を用いることが可能である。また、ハードディスクドライブやメモリ等の記憶装置に記憶させることも可能である。更に、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送信することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【０２４４】
【図１】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の全体構成の一例を表す概略構成図である。
【図２】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態における眼底カメラユニットに内蔵される走査ユニットの構成の一例を表す概略構成図である。
【図３】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態におけるＯＣＴユニットの構成の一例を表す概略構成図である。
【図４】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態における演算制御装置のハードウェア構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図５】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図６】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態における操作パネルの外観構成の一例を表す概略図である。
【図７】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態による信号光の走査態様の一例を表す概略図である。
【図８】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態による信号光の走査態様の一例を表す概略図である。
【図９】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。
【図１０】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の使用形態における表示画面の一例を表す概略図である。
【図１１】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の使用形態における表示画面の一例を表す概略図である。
【図１２】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の使用形態における表示画面の一例を表す概略図である。
【図１３】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の使用形態における表示画面の一例を表す概略図である。
【図１４】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。
【図１５】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。
【図１６】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図１７】この発明に係る眼底観察装置の好適な実施形態により生成される特性情報の一例を表す概略図である。
【符号の説明】
【０２４５】
１、５００  眼底観察装置（光画像計測装置）
１Ａ  眼底カメラユニット
１４１  走査ユニット
１４１Ａ、１４１Ｂ  ガルバノミラー
１５０  ＯＣＴユニット
１６０  低コヒーレンス光源
１６２  光カプラ
１７４  参照ミラー
１８０  スペクトロメータ
１８２  回折格子
１８４  ＣＣＤ
２００  演算制御装置
２０４ａ  制御プログラム
２１０  制御部
２１１  走査線設定部
２２０  画像形成部
２３０  画像処理部
２３１  ３次元画像形成部
２３２  解析部
２４０  ユーザインターフェイス
２４０Ａ  表示部
２４０Ｂ  操作部
２４１、２４２  ミラー駆動機構
２４３  参照ミラー駆動機構
Ｒｉ（ｉ＝１〜ｍ）  走査線
Ｒｉｊ（ｉ＝１〜ｍ、ｊ＝１〜ｎ）  走査点
Ｇｉ（ｉ＝１〜ｍ）  断層画像
Ｅ  被検眼
Ｅｆ  眼底
Ｅｆ′  眼底画像
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
2008209166.tif 000017
【図１６】
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【図１７】
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