(57)【要約】【課題】簡単な測定片の位置調整で、１００５サイズ以下の小型電子部品であっても、容易にかつ確実に電子部品の外部電極に測定片を当接させて位置決めし、安定した高い精度で特性を測定可能な測定方法とそれに用いる特性測定装置を提供する。【解決手段】稜部１１ｇ、１１ｈを有する外部電極１１を備えた電子部品１２を搬送、位置決めする搬送手段１３と、電子部品１２の上方に配置され、外部電極１１に当接させる測定用端子１７、この測定用端子１７と接続され、電子部品１２の特性を測定する測定器とを備えた特性測定装置で、測定用端子１７は、一端に外部電極１１に当接させる測定片１８を有するアーム１９、アーム１９の他端を支持して任意の角度に調整して保持可能な支軸２５、支軸２５を上下動させる昇降機構とからなり、支軸２５で測定片１８を一定の角度に調整した後、測定片１８を電子部品１２の稜部１１ｇ、１１ｈに当接させて特性の測定を行う。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一対の外部電極を有する電子部品に、測定片を当接させて特性を測定する特性測定方法であって、前記外部電極は稜部を有し、この稜部に前記測定片を一定の角度で当接させる電子部品の特性測定方法。
【請求項２】
稜部を有する外部電極を備えた電子部品を搬送、位置決めする搬送手段と、前記電子部品の上方に配置され、前記外部電極に当接させる測定用端子と、この測定用端子と接続され、前記電子部品の特性を測定する測定器とを備えた特性測定装置であって、前記測定用端子は、一端に前記外部電極に当接させる測定片を有するアームと、前記アームの他端を支持して一定の角度に調整して保持可能な支軸と、この支軸を上下動させる昇降機構とからなり、前記支軸で測定片を一定の角度に調整した後、この測定片を前記電子部品の稜部に当接させて特性の測定を行う電子部品の特性測定装置。
【請求項３】
測定片は、回動可能な第二の支軸でアームの一端に支持されており、この第二の支軸で前記測定片を一定の角度に調整する請求項２に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項４】
測定片は、断面形状が多角形形状であって、その略中心を第二の支軸で回動可能に支持された請求項３に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項５】
測定毎に測定片を一定角度で回動させて、この測定片の異なる位置で電子部品の稜線に当接させる請求項４に記載の電子部品の特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品の外部電極に測定片を接触させて電気特性などを検査するための方法と、それに用いる測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
抵抗、コンデンサ、コイル、などの電子部品は、その製造工程において適宜特性の測定を行い、品質検査と工程の安定化を図っている。
【０００３】
このような特性の測定には、従来、電子部品の外部電極へ、探針などからなる測定片を当接し、この測定片に接続された各種測定器により、例えばインピーダンス、容量、インダクタンス、Ｉ／Ｏ検査、トランジスタ特性などを測定するものである。
【０００４】
図８は、従来の特性測定装置の斜視図を示している。この特性測定装置は、電子部品１を載置して搬送、位置決めする搬送手段２と、この搬送手段２の上方に配置された左右一対の測定手段３とを主要部として構成されている。測定手段３は、電子部品１の外部電極４に当接させる測定片５と、この測定片５を一端に固定したアーム６とからなり、このアーム６は支持体７に対し、支軸８で回動可能に支持されている。さらに支軸８を支点としたアーム６の他端にはバネ９が接続されており、測定片５およびアーム６はこのバネ９と上下動可能なストッパー１０により通常は略水平に維持されている。
【０００５】
上記装置を用いて、外部電極４を天面部とした電子部品１を搬送手段２に載置し、測定手段３の略直下に搬送する。そして、ストッパー１０を上昇させて測定片５を電子部品１の外部電極４へ当接させることで、測定片５を外部電極４へ、バネ９の弾性力で当接させて各種特性を測定するものである。
【特許文献１】特開２０００−２３０９４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記の特性測定装置では、測定片５と外部電極４との当接部（接触部）が、電子部品１の天面部となるため、対向する一対の外部電極４を有するチップ部品１などを測定する場合、測定片５同士が干渉しやすく、さらに１００５サイズ以下の小型チップ部品１を測定する場合、測定片５の水平、垂直方向の調整に高い精度が必要となる課題があった。
【０００７】
そこで本発明は、小型のチップ部品でも容易に測定する方法とそれに用いる装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、一対の外部電極を有する電子部品に、測定片を当接させて特性を測定する特性測定方法であって、前記外部電極は稜部を有し、この稜部に前記測定片を一定の角度で当接させるので、各測定用端子の水平および垂直方向の調整を比較的容易に行うことができる。さらに、測定片を第二の支軸で回動可能に支持することにより、前記一定の角度を任意に調整することができるので、電子部品の位置決め精度が低い場合であっても、電子部品を移動させて測定片を外部電極に当接させることができる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係る電子部品の特性測定方法とそれに用いる測定装置によれば、電子部品の一対の外部電極の稜部に、一定の角度で測定片を当接させてこの電子部品の特性を測定するものである。測定片を電子部品の天面に対して一定の角度として電極の稜部に当接させることで、各測定用端子の水平、垂直方向の調整を容易にすることができる作用効果を奏する。さらに、測定片は第二の支軸で回動可能に支持されているので、一定の角度を任意に調整することが可能である。そのため、電子部品の位置決め精度が低い場合であっても、一方の測定片を当接させることで電子部品をもう一方の測定片へ移動させて当接させることができるので、特性を安定して測定することができる作用効果も同時に奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の詳細を、図を用いて説明する。
【００１１】
（実施の形態１）
図１は、本実施の形態において特性を測定する電子部品の一例を斜視図で示したものである。外部電極１１を有する直方体形状の電子部品１２の例であり、例えば、抵抗やコイル、コンデンサなどである。１２ａを上面、１２ａに対向する面１２ｂを下面、１２ｃおよび１２ｃに対向する面１２ｄを側面、１２ｅを正面、１２ｅに対向する面１２ｆを背面とし、本実施の形態では対向する一対の外部電極１１を、それぞれ稜部１１ｇ、１１ｈを挟んで連なる二面（上面１２ａと正面１２ｅ、上面１２ａと背面１２ｆ）に設けている。
【００１２】
図２は、本発明の一実施の形態における特性測定装置の斜視図である。本実施の形態における特性測定装置は、電子部品１２を載置して搬送する搬送手段１３と、この搬送手段１３の上方に配置した測定部１４とから構成されている。
【００１３】
搬送手段１３は、略円形の薄板を中心Aで回動可能に支持したものであり、その外縁部に等間隔で位置決めブロック１５を複数配置している。電子部品１２は、上面１２ａを上側としてこの位置決めブロック１５に載置、保持されており、搬送手段１３を間欠的に回動させることで、測定部１４へ電子部品１２を順次搬送して特性を測定する。
【００１４】
測定部１４では、昇降可能な基台１６上に、搬送手段１３を回動する間隔に沿って複数の測定用端子１７を配置している。これら測定用端子１７は、一端に電子部品１２の外部電極１１に当接させる測定片１８を、他端をコネクタや配線などを介して測定器（図示せず）に接続された複数のアーム１９で構成されている。本実施の形態では、四端子法で特性を測定するために、二つのアーム１９を並列に配置し、さらに搬送手段１３の回転半径に沿ってこの二つのアーム１９を対向するように一対配置した。基台１６には、貫通孔２０が設けられており、この貫通孔２０の直下に搬送された電子部品１２に、基台１６を降下させることで測定片１８を、電子部品１２の外部電極１１に当接させることでその特性を測定する。
【００１５】
ここで測定部１４の詳細を、図３を用いて説明する。
【００１６】
図３は、図２におけるＢ−ＢＢ断面図である。測定用端子１７を構成するアーム１９は、その一端に測定片１８を有し、他端側を第一の支軸２５で基台１６に回動可能に支持されている。アーム１９の他端は、バネ等の弾性体２６を介して基台１６に支持されており、第一の支軸２５を支点として付勢されている。測定片１８の先端部は、水平または電子部品１２の上面１２ａに対して一定の傾斜角Ｃを有することで、この測定片１８の先端部を外部電極１１の稜部１１ｇ、１１ｈに当接させて測定を行うものである。このように、測定片１８と外部電極１１との当接部を一定の角度として、さらに当接部を外部電極１１の稜部１１ｇ、１１ｈとすることで、測定片１８の位置調整を容易に行うことができる。さらに、傾斜角Ｃを４５度以上とすることで、電子部品１２の位置精度が低い場合であっても、測定片１８の一方が外部電極１１に当接することで、この電子部品１２をもう一方の測定片１８の方向へ移動させることができるので、測定片１８を外部電極１１に確実に当接させて、安定して特性の測定を行うことができる。尚、本実施の形態では、アーム１９の両端部を基台１６に当接させることで、アーム１９の取り付け角度を決定している。この当接部に調整手段を設けることで、第一の支軸２５を支点として、角度Ｃを任意に調整することが可能となる。
【００１７】
測定部１４で測定する特性の一例としては、ＥＳＲ（等価直列抵抗）、インピーダンス、抵抗値、容量、ＥＳＬ（等価直列インダクタンス）、インダクタンスなどであり、デジタルマルチメータ、ＬＣＲメータ、インピーダンスアナライザなどを測定器として用いる。
【００１８】
本実施の形態における測定部１４は、コンデンサ用に構成した一例である。測定用端子１７を等間隔で三台配置し、さらにその両端部に充電部２１と放電部２２とを配置している。充電部２１は、電源（図示せず）に接続された二本の端子２３を有しており、この充電部２１直下に搬送された電子部品１２の外部電極１１に、この端子２３を当接させることで充電する。そして、搬送手段１３により、三台の測定用端子１７に順次搬送されて、容量、容量の高周波特性、ＥＳＲを順次測定し、放電部２２で放電させた後、測定部１４から搬出して良品を取り出して包装する。放電部２２は、抵抗体などに接続された二本の端子２４を有しており、特性の測定を終了した電子部品１２の外部電極１１に当接させることで内部に充電された電荷を放電させるものである。
【００１９】
次に、測定片１８の一例を示す。図４は、アーム１９と一体とした測定片１８の一例を説明する斜視図である。これは、アーム１９と測定片１８とを一体としたものであり、短冊状の金属板の先端の角度Ｄは、アーム１９の取り付け角度を考慮して、予め加工しておく。このアーム１９を一対設けて、その間に絶縁体２７を挟持することで、四端子法で測定可能な測定部１４を構成する。
【００２０】
図５は、測定片１８の別の一例を説明する斜視図である。
【００２１】
測定片１８は、多角形形状の金属からなり、アーム１９の先端に、第二の支軸２８で回動可能に支持したものである。このように、第二の支軸２８を設けることで、外部電極１１に当接させる角度を任意に調整することが可能となるので、測定片１８の先端の角度Ｅに制約がなく、安価に製造することが可能となる。
【００２２】
図６は、測定片１８の別の一例を説明する斜視図である。
【００２３】
測定片１８は、正多角形形状としてその略中心を第二の支軸２８で回動可能に支持したものである。このように、測定片１８を正多角形形状とすることで、測定片１８の角度に制約が無くなるとともに、測定毎、あるいは一定の測定回数後に、測定片１８を回動させることにより、１８ａ、１８ｂ、１８ｃと常に新しい面で外部電極１１と当接させることができる。その結果、測定片１８の偏磨耗を低減して、測定装置のメンテナンス頻度を少なくすることができるので、生産性を向上することができる。
【００２４】
次に図７を用いて、上記測定装置による電子部品の特性測定方法を説明する。
【００２５】
図７（ａ）および図７（ｂ）は、本実施の形態における電子部品の特性測定方法を説明するための要部断面図である。本実施の形態では、測定片１８の形状を図５に示す多角形形状として説明する。
【００２６】
まず初めに図７（ａ）に示すごとく、上面１２ａに一対の外部電極１１を設けた電子部品１２を、搬送部１３で測定端子１７の直下に搬送して位置決めする。このとき、測定片１８は、第二の支軸２８を支点として回動させることにより、外部電極１１と一定の傾斜角Ｆを有するように予め調整しておく。この第二の支軸２８は、ラチェットや一方向クラッチなどの機構を有しており、測定片１８を任意の角度に回動した後、固定することができるものである。尚、角度Ｆを調整するためには、第一の支軸２５を支点としてアーム１９の取り付け角度を変更することで調整してもよい。
【００２７】
次に、図７（ｂ）に示すごとく、基台１６を下降させることにより測定用端子１７を下降させて、測定片１８を電子部品１２の外部電極１１の稜部１１ｇ、１１ｈへ当接させて、特性を測定するものである。測定片１８の先端部は一定の傾斜角Ｆを有し、当接部を外部電極１１の稜部１１ｇ、１１ｈとすることで、アーム１９の調整精度が低い場合であっても確実に外部電極１１に当接させることができる。
【００２８】
ここで、傾斜角Ｆを４５度以上とすることで、以下の効果を得ることができる。すなわち、図７（ａ）に示すように、電子部品１２の位置決め精度が低く、中心位置がずれている場合や、測定端子１７の調整精度が低い場合、必ずどちらか一方の測定片１８が外部電極１１へ当接することになる。このとき、傾斜角Ｆを４５度以上として、さらに測定用端子１７を下降させることで、電子部品１２の端部を浮かせることなく、矢印Ｇの方向、すなわちもう一方の測定片１８の方向へ水平に移動させて当接させることができる。このように、必ずしも一対の測定端子１７を同時に電子部品１２の外部電極１１に当接できない場合であっても、電子部品１２の端部を持ち上げることなく水平に移動させることで、最終的に一対の測定端子１７を外部電極１１に当接させることができるので、電子部品１２の特性を安定して確実に測定することが可能となる。さらに、一方の測定片１８を外部電極１１に当接させたとき、その他端を浮かせたりすることがないので、測定片１８を当接させる押圧力で電子部品１２と飛散させることがない。
【００２９】
尚、本実施の形態では、基台１６を下降させることで測定片１８を外部電極１１に当接させているが、搬送手段１３を上昇させてもよい。
【００３０】
上記の測定装置および測定方法を用いることにより、測定片１８の垂直および水平方向の位置調整が容易であり、電子部品１２の搬送、位置決め精度が低い場合であっても確実に測定片１８を外部電極１１に当接させることができるので、数ミリオーム台と低いコンデンサのＥＳＲであっても安定して確実に測定することが可能となる。また、外部電極１１と測定片１８の当接面が、外部電極１１の稜部に限定されるため、稜部以外に傷が入りにくく、その結果、外観検査などの不良率を低減することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００３１】
本発明に係る電子部品の特性測定方法とそれに用いる測定装置によれば、電子部品の一対の外部電極の稜部に、一定の角度で測定片を当接させてこの電子部品の特性を測定するものである。測定片を電子部品の天面に対して一定の角度として電極の稜部に当接させることで、各測定端子の水平、垂直方向の調整を容易にすることができる作用効果を奏する。さらに、測定片は第二の支軸で回動可能に支持されているので、一定の角度を任意に調整することが可能である。そのため、電子部品の位置決め精度が低い場合であっても、一方の測定片を当接させることで電子部品をもう一方の測定片へ移動させて当接させることができるので、特性を安定して測定することができる作用効果も同時に奏するので、電子部品の外部電極に測定片を接触させて電気特性などを検査するための方法と、それに用いる測定装置に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本実施の形態で測定する電子部品の一例を説明する外観斜視図
【図２】本発明の一実施の形態を説明する測定装置の外観斜視図
【図３】図２のＢ−ＢＢ断面図
【図４】測定片の一例を説明する外観斜視図
【図５】測定片の別の一例を説明する外観斜視図
【図６】測定片の別の一例を説明する外観斜視図
【図７】（ａ）本発明の測定方法を説明する工程の要部断面図、（ｂ）本発明の測定方法を説明する工程の要部断面図
【図８】従来の測定装置を説明する外観斜視図
【符号の説明】
【００３３】
１１  外部電極
１２  電子部品
１３  搬送手段
１７  測定用端子
１８  測定片
１９  アーム
２５  第一の支軸
２８  第二の支軸
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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