(57)【要約】【課題】簡単な構成で容易かつ高精度に効率良くリード端子の良否判定を行なうことが可能なリード端子検査方法、およびリード端子検査装置を提供する。【解決手段】電子チューナ１は、筐体１ｃの一面に外部の配線基板などに接続される複数のリード端子１ｔが一定の配列方向（通常は、例えば直線状）で配置してある。電子チューナ１のリード端子１ｔに光センサ１０が備える発光部１１から照射光線ＬＢｉａを照射し、リード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを光センサ１０が備える受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査する。光センサ１０は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂを有する照射光線ＬＢｉａをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔに照射してリード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを検出し、計数部２０ａで計数する。【選択図】図１
2008209308.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子装置のリード端子に光センサから照射光線を照射し、リード端子からの反射光線を前記光センサで検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査方法であって、
前記光センサは、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子からの反射光線を検出する構成としてあり、
リード端子の配列方向で前記光センサおよびリード端子のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線の照射と反射光線の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数すること
を特徴とするリード端子検査方法。
【請求項２】
前記電子装置を固定し、前記光センサを移動させることを特徴とする請求項１に記載のリード端子検査方法。
【請求項３】
前記光センサを固定し、リード端子を移動させることを特徴とする請求項１に記載のリード端子検査方法。
【請求項４】
電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に光センサの発光部と前記光センサの受光部を対向させて配置し、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査方法であって、
前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、
前記配列方向で前記光センサおよびリード端子のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数すること
を特徴とするリード端子検査方法。
【請求項５】
前記電子装置を固定し、前記発光部および前記受光部を同期して移動させることを特徴とする請求項４に記載のリード端子検査方法。
【請求項６】
前記発光部および受光部を固定し、リード端子を移動させることを特徴とする請求項４に記載のリード端子検査方法。
【請求項７】
電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に光センサの発光部と前記光センサの受光部を対向させて配置し、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査方法であって、
リード端子は複数列に配置してあり、前記センサは前記配列方向に対して照射光線が斜交する方向に配置され、前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、
前記配列方向で前記光センサおよびリード端子のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数すること
を特徴とするリード端子検査方法。
【請求項８】
電子装置のリード端子に発光部から照射光線を照射し、リード端子からの反射光線を受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、
前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子からの反射光線を検出する構成としてあり、
リード端子の配列方向で前記発光部および前記受光部を移動させて照射光線の照射と反射光線の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる光学移動部と、
反射光線の検出によってリード端子を計数する計数部と、
該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えること
を特徴とするリード端子検査装置。
【請求項９】
電子装置のリード端子に発光部から照射光線を照射し、リード端子からの反射光線を受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、
前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子からの反射光線を検出する構成としてあり、
リード端子の配列方向で前記電子装置を移動させて照射光線の照射と反射光線の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる装置移動部と、
反射光線の検出によってリード端子を計数する計数部と、
該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えること
を特徴とするリード端子検査装置。
【請求項１０】
前記発光部および前記受光部は、同一パッケージに実装してあることを特徴とする請求項８または請求項９に記載のリード端子検出装置。
【請求項１１】
電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に配置された発光部と、該発光部に対向させて配置された受光部とを備え、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、
前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、
前記配列方向で前記発光部および前記受光部を同期して移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる連係光学移動部と、
照射光線の遮断の検出によってリード端子を計数する計数部と、
該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えること
を特徴とするリード端子検査装置。
【請求項１２】
電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に配置された発光部と、該発光部に対向させて配置された受光部とを備え、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、
前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、
前記配列方向で前記電子装置を移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる装置移動部と、
照射光線の遮断の検出によってリード端子を計数する計数部と、
該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えること
を特徴とするリード端子検査装置。
【請求項１３】
電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に配置された発光部と、該発光部に対向させて配置された受光部とを備え、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、
リード端子は複数列に配置してあり、前記発光部および前記受光部は前記配列方向に対して照射光線が斜交する方向に配置され、前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、
前記配列方向で前記電子装置を移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる装置移動部と、
照射光線の遮断の検出によってリード端子を計数する計数部と、
該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えること
を特徴とするリード端子検査装置。
【請求項１４】
前記電子装置は、電子チューナであることを特徴とする請求項８ないし請求項１３のいずれか一つに記載のリード端子検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば電子チューナなどの電子装置が有するリード端子の良否を判定するリード端子検査方法およびリード端子検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子チューナ（電子装置）が有するリード端子は、折れ、筐体（蓋）への噛みこみに起因する長さ不足を生じることがある。リード端子は、配線基板などへの接続に適用されることから、所定の長さを有することが必要であり、長さ不足の場合は、配線基板などへの接続を正常に行なうことができない恐れがある。したがって、電子チューナのリード端子に対して、製品検査の工程で検査が行なわれる。
【０００３】
図１１は、従来例１に係るリード端子検査方法である目視検査による電子チューナのリード端子の検査状態を示す説明図である。
【０００４】
従来例１に係るリード端子検査方法は、電子チューナ１０１が有するリード端子１０１ｔを作業者が観察して評価判定するという目視検査であり、作業者の疲労／教育の差による判断ばらつきや判断ミスが発生し、精度および生産性が不確定となることなどの問題があった。
【０００５】
図１２は、従来例２に係るリード端子検査方法（リード端子検査装置）である専用検査装置による電子チューナのリード端子の検査状態を示す説明図である。
【０００６】
従来例２に係るリード端子検査方法は、電子チューナ１０１が有するリード端子１０１ｔを専用検査装置であるリード端子検査装置１５０をリード端子挿入孔１５０ｔに挿入して電気検査を行なうものである。リード端子検査装置１５０による場合は、リード端子１０１ｔの端子数が異なる製品を開発する都度、新規にリード端子検査装置１５０を準備する必要があり、コストを要するなど経済性（生産性）が低くなるという問題があった。
【０００７】
従来例１、従来例２の他に、光センサを用いたリード端子検査方法、リード端子検査装置が提案されている（例えば、特許文献１ないし特許文献３参照。）。
【０００８】
特許文献１には、光センサを適用して電子部品（ＬＳＩ）のリードの変位を検出するリード検査方法が開示されている。すなわち、電子部品のリードに光を投射し、その反射光でリードの変位を感知する光センサを、複数のリードに順次光が投射するように移動させ、その光センサから出力される波形の強弱の最大値により、電子部品リードの形状の良否を判別する検査方法である。
【０００９】
この方法によれば、光センサから出力される波形により、リードの良否を判定することから、波形の強弱の検出、光センサの移動速度制御、光照射方向の制御など構成が複雑で実現が容易ではなく、また、専用の検査台が必要となるなど、汎用性、価格制、制御性などでの問題がある。
【００１０】
特許文献２には、電子部品の端子曲がりを検出する検査装置が開示されている。すなわち、電子部品の端子の配列方向に対して平行方向に、端子の幅以上の幅に対してビーム光を発射する投光手段と、ビーム光を受光する受光手段と、発射したビーム光のデータと受光したビーム光のデータを演算し、光の遮断された幅を求める演算手段と、演算手段から出力された光の遮断された幅と所定の基準値とを比較することで良否判定する判定手段とを備えた検査装置が提案されている。しかし、ビーム光のデータを演算して光の遮蔽された幅を求める必要があるなど、複雑な演算を行なう演算手段が必要になるなど、高価な設備が必要となり、生産性、経済性などでの問題がある。
【００１１】
特許文献３には、電子部品のリード端子の浮き上がりを光センサで検出する検出方法が開示されている。しかし、浮き上がりの検出という用途に限定されており、一般的なリード端子検査方法、リード端子検査装置として適用することは全く不可能であるという問題がある。
【特許文献１】特開昭６１−２３３３０４号公報
【特許文献２】特開平９−１４５３３３号公報
【特許文献３】特開昭６３−１７７５９９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
上述したとおり、従来例によれば、目視検査では精度および生産性に問題があり、また、光センサを用いた場合には出力波形の強弱の検出、演算手段などの複雑な構成が必要になるなどの問題があった。
【００１３】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子を検出し、リード端子を計数することにより、簡単な構成で容易かつ高精度に効率良くリード端子の良否判定を行なうことが可能なリード端子検査方法、およびリード端子検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明に係るリード端子検査方法は、電子装置のリード端子に光センサから照射光線を照射し、リード端子からの反射光線を前記光センサで検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査方法であって、前記光センサは、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子からの反射光線を検出する構成としてあり、リード端子の配列方向で前記光センサおよびリード端子のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線の照射と反射光線の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することを特徴とする。
【００１５】
この構成により、検出対象先端位置でのリード端子の形状状態に応じて発生した反射光線を検出し、反射光線の検出に基づいてリード端子の本数を計数できるので、リード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を検出することが可能となり、リード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。
【００１６】
また、本発明に係るリード端子検査方法では、前記電子装置を固定し、前記光センサを移動させることを特徴とする。
【００１７】
この構成により、光センサをリード端子の配列方向に対して平行移動させるだけで良く、簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。
【００１８】
また、本発明に係るリード端子検査方法では、前記光センサを固定し、リード端子を移動させることを特徴とする。
【００１９】
この構成により、電子装置をリード端子の配列方向で直線移動させるだけで良く、光センサを固定しておくことから、照射光線および反射光線の光路を安定化させ、高精度の検出が可能となる。また、製造工程でのインライン化が可能となる。
【００２０】
また、本発明に係るリード端子検査方法は、電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に光センサの発光部と前記光センサの受光部を対向させて配置し、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査方法であって、前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、前記配列方向で前記光センサおよびリード端子のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することを特徴とする。
【００２１】
この構成により、検出対象先端位置での正常なリード端子の形状状態に応じて発生した照射光線の遮断を検出し、照射光線の遮断の検出に基づいてリード端子の本数を計数できるので、リード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を識別してリード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。
【００２２】
また、本発明に係るリード端子検査方法では、前記電子装置を固定し、前記発光部および前記受光部を同期して移動させることを特徴とする。
【００２３】
この構成により、光センサの発光部および受光部をリード端子の配列方向に対して平行移動させるだけで良く、簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。
【００２４】
また、本発明に係るリード端子検査方法では、前記発光部および受光部を固定し、リード端子を移動させることを特徴とする。
【００２５】
この構成により、電子装置をリード端子の配列方向で直線移動させるだけで良く、光センサを固定しておくことから、照射光線の光路を安定化させ、高精度の検出が可能となる。
【００２６】
また、本発明に係るリード端子検査方法は、電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に光センサの発光部と前記光センサの受光部を対向させて配置し、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査方法であって、リード端子は複数列に配置してあり、前記センサは前記配列方向に対して照射光線が斜交する方向に配置され、前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、前記配列方向で前記光センサおよびリード端子のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することを特徴とする。
【００２７】
この構成により、リード端子が複数列とされた電子装置に対してもリード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。
【００２８】
また、本発明に係るリード端子検査装置は、電子装置のリード端子に発光部から照射光線を照射し、リード端子からの反射光線を受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子からの反射光線を検出する構成としてあり、リード端子の配列方向で前記発光部および前記受光部を移動させて照射光線の照射と反射光線の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる光学移動部と、反射光線の検出によってリード端子を計数する計数部と、該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えることを特徴とする。
【００２９】
この構成により、リード端子に対して照射光線を照射する発光部とリード端子からの反射光線を検出する受光部を備え、発光部および受光部をリード端子の配列方向で移動させて検出した反射光線に基づいてリード端子の本数を計数できることから、リード端子の形状不良を簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。
【００３０】
また、本発明に係るリード端子検査装置は、電子装置のリード端子に発光部から照射光線を照射し、リード端子からの反射光線を受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子からの反射光線を検出する構成としてあり、リード端子の配列方向で前記電子装置を移動させて照射光線の照射と反射光線の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる装置移動部と、反射光線の検出によってリード端子を計数する計数部と、該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えることを特徴とする。
【００３１】
この構成により、リード端子に対して照射光線を照射する発光部とリード端子からの反射光線を検出する受光部を備え、リード端子の配列方向で移動させて検出した反射光線に基づいてリード端子の本数を計数することから、リード端子の形状不良を簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。また、発光部および受光部を固定しておくことから、照射光線および反射光線の光路を安定化させ、高精度の検出が可能で、製造工程へのインライン化が可能となる。
【００３２】
また、本発明に係るリード端子検査装置では、前記発光部および前記受光部は、同一パッケージに実装してあることを特徴とする。
【００３３】
この構成により、光センサを簡略化して高精度化することが可能となる。
【００３４】
また、本発明に係るリード端子検査装置は、電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に配置された発光部と、該発光部に対向させて配置された受光部とを備え、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、前記配列方向で前記発光部および前記受光部を同期して移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる連係光学移動部と、照射光線の遮断の検出によってリード端子を計数する計数部と、該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えることを特徴とする。
【００３５】
この構成により、リード端子へ照射光線を照射する発光部とリード端子による照射光線の遮断を検出する受光部とを備え、発光部および受光部をリード端子の配列方向で移動させて検出した照射光線の遮断に基づいてリード端子の本数を計数することから、リード端子の形状不良を簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。また、発光部および受光部をリード端子の配列方向に対して平行移動させるだけで良く、簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。
【００３６】
また、本発明に係るリード端子検査装置は、電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に配置された発光部と、該発光部に対向させて配置された受光部とを備え、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、前記配列方向で前記電子装置を移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる装置移動部と、照射光線の遮断の検出によってリード端子を計数する計数部と、該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えることを特徴とする。
【００３７】
この構成により、リード端子へ照射光線を照射する発光部とリード端子による照射光線の遮断を検出する受光部とを備え、電子装置をリード端子の配列方向で移動させて検出した照射光線の遮断に基づいてリード端子の本数を計数することから、リード端子の形状不良を簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。また、電子装置をリード端子の配列方向に対して直線移動させるだけで良く、光センサを固定しておくことから、照射光線の光路を安定化させ、高精度の検出が可能となる。
【００３８】
また、本発明に係るリード端子検査装置は、電子装置のリード端子の配列方向と交差する方向に配置された発光部と、該発光部に対向させて配置された受光部とを備え、前記発光部からリード端子へ照射光線を照射し、照射光線を前記受光部で検出することによってリード端子の形状状態を検査するリード端子検査装置であって、リード端子は複数列に配置してあり、前記発光部および前記受光部は前記配列方向に対して照射光線が斜交する方向に配置され、前記発光部は、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射し、前記受光部は、リード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、前記配列方向で前記電子装置を移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なわせる装置移動部と、照射光線の遮断の検出によってリード端子を計数する計数部と、該計数部での計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部とを備えることを特徴とする。
【００３９】
この構成により、リード端子が複数列とされた電子装置に対してもリード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。
【００４０】
また、本発明に係るリード端子検査装置では、前記電子装置は、電子チューナであることを特徴とする。
【００４１】
この構成により、電子チューナの検査を生産性良く効率的に行なう。
【発明の効果】
【００４２】
本発明に係るリード端子検査方法によれば、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子からの反射光線を検出する構成としてあり、リード端子の配列方向で光センサおよびリード端子のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線の照射と反射光線の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することから、リード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を検出することが可能となり、リード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができるという効果を奏する。
【００４３】
本発明に係るリード端子検査方法によれば、リード端子の配列方向と交差する方向に光センサの発光部と光センサの受光部を対向させて配置し、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、配列方向で光センサおよびリード端子のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することから、リード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を検出することが可能となり、リード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができるという効果を奏する。
【００４４】
本発明に係るリード端子検査方法によれば、リード端子の配列方向と斜交する方向に光センサの発光部と光センサの受光部を対向させて配置し、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、配列方向で光センサおよびリード端子のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することから、リード端子が複数列とされた電子装置に対してもリード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を検出することが可能となり、リード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができるという効果を奏する。
【００４５】
また、本発明に係るリード端子検査装置によれば、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子からの反射光線を検出する構成としてあり、光学移動部を用いてリード端子の配列方向で発光部および受光部を移動させて照射光線の照射と反射光線の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことでリード端子を計数することから、リード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を検出することが可能となり、リード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができるという効果を奏する。
【００４６】
また、本発明に係るリード端子検査装置によれば、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子からの反射光線を検出する構成としてあり、装置移動部を用いてリード端子の配列方向で電子装置を移動させて照射光線の照射と反射光線の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することから、リード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を検出することが可能となり、リード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができるという効果を奏する。
【００４７】
また、本発明に係るリード端子検査装置によれば、リード端子の配列方向と交差する方向に発光部と受光部を対向させて配置し、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、連係光学移動部を用いてリード端子の配列方向で発光部および受光部を同期して移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することから、リード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を検出することが可能となり、リード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができるという効果を奏する。
【００４８】
また、本発明に係るリード端子検査装置によれば、リード端子の配列方向と交差する方向に発光部と受光部を対向させて配置し、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、装置移動部を用いてリード端子の配列方向で電子装置を移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することから、リード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を検出することが可能となり、リード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができるという効果を奏する。
【００４９】
また、本発明に係るリード端子検査装置によれば、リード端子の配列方向と斜交する方向に発光部と受光部を対向させて配置し、照射方向でのリード端子の幅以下の光線径を有する照射光線をリード端子の検出対象先端位置に照射してリード端子による照射光線の遮断を検出する構成としてあり、装置移動部を用いてリード端子の配列方向で電子装置を移動させて照射光線の照射と照射光線の遮断の検出を複数のリード端子に対して順次行なうことによってリード端子を計数することから、リード端子が複数列とされた電子装置に対してもリード端子の形状不良（折れ、曲がり、電子装置の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を検出することが可能となり、リード端子の良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができるという効果を奏する。
【００５０】
上述したとおり、本発明に係るリード端子検査方法またはリード端子検査装置によれば、演算装置、速度制御装置などの高価な装置が不要となり、形状（リード端子の配列）の異なる種々の電子装置のリード端子を安価に生産性良く検査することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５１】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００５２】
＜実施の形態１＞
図１および図２に基づいて、実施の形態１に係るリード端子検査方法について説明する。
【００５３】
図１は、本発明の実施の形態１に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、電子装置を固定し、光センサを移動させる構成とした状態を示す斜視図である。
【００５４】
検査対象物である電子装置としての電子チューナ１は、筐体１ｃを備え、筐体１ｃの一面に外部の配線基板などに接続される複数のリード端子１ｔが一定の配列方向（通常は、例えば直線状）で配置してある。なお、本願においては、電子装置として電子チューナ１を例示するがこれに限るものではなく、一定の方向に配列されたリード端子を備える種々の電子装置に適用することが可能である。
【００５５】
本実施の形態に係るリード端子検査方法は、電子チューナ１のリード端子１ｔに光センサ１０が備える発光部１１から照射光線ＬＢｉａを照射し、リード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを光センサ１０が備える受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査する。
【００５６】
光センサ１０は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂ（図１０参照）を有する照射光線ＬＢｉａをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔ（図１０参照）に照射してリード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを検出する構成としてある。検出原理については、図１０でさらに詳細を説明する。なお、照射方向は、リード端子１ｔの配列方向に対して交差する方向としてある。照射方向は、検出精度を考慮して垂直方向とすることが望ましいが、反射光線ＬＢｒの検出が可能であれば良く、垂直方向に限るものではない。
【００５７】
電子チューナ１を固定した状態とし、リード端子１ｔの配列方向と平行な方向（配列方向）で光センサ１０を移動（センサ移動方向ＭＶｓ）させ、照射光線ＬＢｉａの照射と反射光線ＬＢｒの検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なう。
【００５８】
つまり、リード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを計数部２０ａで計数することによって、リード端子１ｔの本数（正常なリード端子１ｔの本数）を計数することが可能となる。また、形状不良の状態のリード端子１ｔは反射光線ＬＢｒを生じず、リード端子１ｔとしての計数がされない。
【００５９】
本実施の形態によれば、光センサ１０による照射光線ＬＢｉａの照射と反射光線ＬＢｒの検出を行なうことによってリード端子１ｔの本数を計数し、リード端子検査（形状状態を検査）を行なうことができる。光センサ１０をリード端子１ｔの配列方向に対して平行移動させるだけで良く、簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。
【００６０】
光センサ１０の移動は、検出対象となるリード端子１ｔのピッチに対応させた移動ピッチで行なうことが望ましい。また、移動に対応（同期）させて照射光線ＬＢｉａの照射（発光）を行なうことにより反射光線ＬＢｒの検出を順次行なうことが可能となる。つまり、照射光線ＬＢｉａは、移動に応じた間欠的な発光とすることが可能である。間欠的な発光とすることにより、発光部１１の低消費電力化が可能となる。
【００６１】
反射光線ＬＢｒが検出されなかった場合は、リード端子１ｔの本数が計数部２０ａでは計数されず、比較判定部（不図示）でリード端子１ｔの本数が少なく判定されることから、リード端子１ｔは不良状態（折れ、曲がり、電子チューナ１の筐体１ｃへの食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）であるとして検査結果が求まる。
【００６２】
なお、照射光線ＬＢｉａは、連続光とすることも可能である。この場合も間欠的な発光の場合と同様に反射光線ＬＢｒを検出することが可能となる。連続光とする場合は、移動ピッチを設定せずに連続的に移動させて検出する構成とすることが可能である。
【００６３】
図２は、本発明の実施の形態１に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、光センサを固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示す斜視図である。
【００６４】
図２に示したリード端子検査方法の基本構成は、図１に示したリード端子検査方法と同様であるので、主に異なる点について説明する。図２の場合は、光センサ１０を固定した状態とし、リード端子１ｔ（電子チューナ１）をリード端子１ｔの配列方向で移動（装置移動方向ＭＶｄ）させる。この場合も、図１の場合と同様にしてリード端子１ｔの形状不良を検出することが可能となる。
【００６５】
電子チューナ１の移動途中で検査を行なうことが可能であるから、特別な検査工程を設ける必要がなく、例えばコンベアなどでの電子チューナ１の搬送途上で検査を実施することが可能となり、製造工程でのインライン化が可能となる。
【００６６】
電子チューナ１をリード端子１ｔの配列方向で直線移動させるだけで良く、光センサ１０を固定しておくことから、照射光線ＬＢｉａおよび反射光線ＬＢｒの光路を安定化させ、高精度の検出が可能となる。
【００６７】
電子チューナ１の移動は、検出対象となるリード端子１ｔのピッチに対応させた移動ピッチで行なうことが望ましい。また、移動に対応させて照射光線ＬＢｉａの照射（発光）を行なうことにより反射光線ＬＢｒの検出を順次行なうことが可能となる。つまり、照射光線ＬＢｉａは、移動に応じた間欠的な発光とすることが可能である。なお、図１の場合と同様に、照射光線ＬＢｉａは、連続光とすることも可能である。
【００６８】
上述したとおり、本実施の形態に係るリード端子検査方法は、電子装置としての電子チューナ１のリード端子１ｔに光センサ１０から照射光線ＬＢｉａを照射し、リード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを光センサ１０で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査するリード端子検査方法であって、光センサ１０は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂを有する照射光線ＬＢｉａをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔに照射してリード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを検出する構成としてあり、リード端子１ｔの配列方向（配列方向と平行な方向）で光センサ１０およびリード端子１ｔ（電子チューナ１）のいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線ＬＢｉａの照射と反射光線ＬＢｒの検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なうことによってリード端子１ｔを計数することを特徴とする。
【００６９】
この構成により、検出対象先端位置Ｌｄｅｔでのリード端子１ｔの形状状態に応じて発生した反射光線ＬＢｒを検出し、反射光線ＬＢｒの検出に基づいてリード端子１ｔの本数を計数することから、リード端子１ｔの形状不良（折れ、曲がり、電子チューナ１の筐体１ｃへの食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）に起因する反射光線ＬＢｒの非検出により、リード端子１ｔの良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。
【００７０】
本実施の形態では、電子装置としての電子チューナ１の検査を行なうことから、電子チューナ１のリード端子検査を容易かつ効率的に行ない、生産性の良い安価な検査コストを実現することが可能となる。
【００７１】
＜実施の形態２＞
図３および図４に基づいて、実施の形態２に係るリード端子検査方法について説明する。
【００７２】
図３は、本発明の実施の形態２に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、電子装置を固定し、光センサ（発光部および受光部）を移動させる構成とした状態を示す斜視図である。
【００７３】
本実施の形態に係るリード端子検査方法は、電子チューナ１のリード端子１ｔの配列方向と交差する方向に光センサ１０の発光部１１と光センサ１０の受光部１２を対向させて配置し、発光部１１からリード端子１ｔへ照射光線ＬＢｉｂを照射し、照射光線ＬＢｉｂを受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査する。
【００７４】
発光部１１は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂ（図１０参照）を有する照射光線ＬＢｉｂをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔ（図１０参照）に照射し、受光部１２は、リード端子１ｔによる照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出する構成としてある。検出原理については、図１０でさらに詳細を説明する。なお、照射方向は、検出精度を考慮して垂直方向とすることが望ましいが、照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出できれば良く、垂直方向に限るものではない（実施の形態３参照）。
【００７５】
電子チューナ１を固定した状態とし、リード端子１ｔの配列方向と平行な方向（配列方向）で発光部１１および受光部１２（光センサ１０）を同期して移動（センサ移動方向ＭＶｓ）させ、照射光線ＬＢｉｂの照射と照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なう。つまり、リード端子１ｔによる照射光線ＬＢｉｂの遮断を計数部２０ｂで計数することによって、リード端子１ｔの本数（正常なリード端子１ｔの本数）を計数することが可能となる。また、形状不良の状態のリード端子１ｔは照射光線ＬＢｉｂの遮断を生じず、リード端子１ｔとしての計数がされない。
【００７６】
なお、実施の形態１で示した計数部２０ａは、反射光線ＬＢｒを計数することによって、リード端子１ｔの本数（正常なリード端子１ｔの本数）を計数する。これに対し、計数部２０ｂは、照射光線ＬＢｉｂの遮断を計数することによって、リード端子１ｔの本数（正常なリード端子１ｔの本数）を計数する。
【００７７】
本実施の形態によれば、光センサ１０（受光部１２）による照射光線ＬＢｉｂの照射と照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出することによってリード端子１ｔの本数を計数し、リード端子検査（形状状態を検査）を行なうことができる。光センサ１０の発光部１１および受光部１２をリード端子１ｔの配列方向に対して平行移動させるだけで良く、簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。
【００７８】
光センサ１０の移動は、検出対象となるリード端子１ｔのピッチに対応させた移動ピッチで行なうことが望ましい。また、移動に対応（同期）させて照射光線ＬＢｉｂの照射（発光）を行なうことにより照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を順次行なうことが可能となる。つまり、照射光線ＬＢｉｂは、移動に応じた間欠的な発光とすることが可能である。
【００７９】
照射光線ＬＢｉｂの遮断が検出されなかった場合は、リード端子１ｔが計数部２０ａでは計数されず、比較判定部（不図示）でリード端子１ｔの本数が少なく判定されることから、リード端子１ｔは不良状態（折れ、曲がり、電子チューナ１の筐体１ｃへの食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）であるとして検査結果が求まる。
【００８０】
なお、照射光線ＬＢｉｂは、連続光とすることも可能である。この場合はさらに精度良く照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出することが可能となる。また、発光部１１の発光異常を早期に検出できることから、連続光とすることが望ましい。連続光とする場合は、移動ピッチを設定せずに連続的に移動させて検出する構成とすることも可能である。
【００８１】
図４は、本発明の実施の形態２に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、光センサ（発光部および受光部）を固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示す斜視図である。
【００８２】
図４に示したリード端子検査方法の基本構成は、図３に示したリード端子検査方法と同様であるので、主に異なる点について説明する。図４の場合は、光センサ１０（発光部１１および受光部１２）を固定した状態とし、リード端子１ｔ（電子チューナ１）をリード端子１ｔの配列方向で移動（装置移動方向ＭＶｄ）させる。この場合も、図３の場合と同様にしてリード端子１ｔの形状不良を検出することが可能となる。
【００８３】
電子チューナ１の移動途中で検査を行なうことから、特別な検査工程を設ける必要がなく、例えばコンベアなどでの電子チューナ１の搬送途上で検査を実施することが可能となり、製造工程でのインライン化が可能となる。
【００８４】
電子チューナ１をリード端子１ｔの配列方向で直線移動させるだけで良く、光センサ１０（発光部１１および受光部１２）を固定しておくことから、照射光線ＬＢｉｂの光路を安定化させ、高精度の検出が可能となる。
【００８５】
電子チューナ１の移動は、検出対象となるリード端子１ｔのピッチに対応させた移動ピッチで行なうことが望ましい。また、移動に対応させて照射光線ＬＢｉｂの照射（発光）を行なうことにより照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を順次行なうことが可能となる。つまり、照射光線ＬＢｉａは、移動に応じた間欠的な発光とすることが可能である。なお、図３の場合と同様に、照射光線ＬＢｉａは、連続光とすることも可能である。
【００８６】
上述したとおり、本実施の形態に係るリード端子検査方法は、電子チューナ１のリード端子１ｔの配列方向と交差する方向に光センサ１０の発光部１１と光センサ１０の受光部１２を対向させて配置し、発光部１１からリード端子１ｔへ照射光線ＬＢｉｂを照射し、照射光線ＬＢｉｂを受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査するリード端子検査方法であって、発光部１１は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂを有する照射光線ＬＢｉｂをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔに照射し、受光部１２は、リード端子１ｔによる照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出する構成としてあり、リード端子１ｔの配列方向（配列方向と平行な方向）で光センサ１０（発光部１１および受光部１２）およびおよびリード端子１ｔのいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線ＬＢｉｂの照射と照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なうことによってリード端子１ｔを計数することを特徴とする。
【００８７】
この構成により、検出対象先端位置Ｌｄｅｔでの正常なリード端子１ｔの形状状態に応じて発生した照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出し、照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出に基づいてリード端子１ｔの本数を計数することから、リード端子１ｔの形状不良（折れ、曲がり、電子チューナ１の筐体への食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を識別してリード端子１ｔの良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。
【００８８】
＜実施の形態３＞
図５に基づいて、実施の形態３に係るリード端子検査方法について説明する。
【００８９】
図５は、本発明の実施の形態３に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、（Ａ）は、光センサ（発光部および受光部）を固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示す斜視図であり、（Ｂ）は、照射光線の遮断状態を説明する説明図である。
【００９０】
本実施の形態に係るリード端子検査方法は、実施の形態２の光センサ１０（発光部１１および受光部１２）の配置を変更したものである。基本構成は、実施の形態２と同様であるので、符号などは援用し、主に異なる点について説明する。
【００９１】
本実施の形態での検査対象物である電子チューナ１は、リード端子１ｔが複数列の配列としてある。したがって、リード端子１ｔの配列方向と直交する方向から照射光線ＬＢｉｂを照射しても光路上に複数のリード端子１ｔが存在することから、複数列のリード端子１ｔを区別して検出することは困難である。この問題を解決するために、本実施の形態では、リード端子１ｔの配列方向と垂直な方向（垂直交差軸Ｙ）に対して斜交角θで斜交させた照射光線ＬＢｉｂｓを構成する方向に光センサ１０を配置してある。
【００９２】
つまり、本実施の形態では、光センサ１０（発光部１１および受光部１２）を矢符Ｒｏｔで示す方向へ移動（回転移動）させ、リード端子１ｔの配列方向（配列方向に平行な平行軸Ｘ：配列方向）に対して斜交する方向に配置してある。したがって、垂直交差軸Ｙの方向で構成される照射光線ＬＢｉｂの光路は、照射光線ＬＢｉｂｓで示す光路へと変更した構成としてある。
【００９３】
したがって、装置移動方向ＭＶｄで電子チューナ１（リード端子１ｔ）を移動させた場合、照射光線ＬＢｉｂｓの前後に位置する例えば照射光線ＬＢｉｂｆ、ＬＢｉｂｒは、いずれの配列のリード端子１ｔにも遮断されず、また、照射光線ＬＢｉｂｓは、一方の配列のリード端子１ｔによってのみ遮断される（同図Ｂ参照）。つまり、照射光線ＬＢｉｂｓは、複数列それぞれのリード端子１ｔに対応した照射光線となることから、複数列のリード端子１ｔが配置された電子チューナ１の場合でも、一列に配置された場合と同様に作用することが可能となる。
【００９４】
なお、図５は、図４と同様に電子チューナ１を移動させる場合としてあるが、図３のように光センサ１０を移動させる構成とすることも可能である。しかし、斜交状態を維持させて光センサ１０を平行移動させるためには、光センサ１０の移動に必要となる領域が拡大することから、光センサ１０を固定し、電子装置をリード端子１ｔの配置方向で直線移動させることが望ましい。
【００９５】
上述したとおり、本実施の形態に係るリード端子検査方法は、電子チューナ１のリード端子１ｔの配列方向と交差する方向に光センサ１０の発光部１１と光センサ１０の受光部１２を対向させて配置し、発光部１１からリード端子１ｔへ照射光線ＬＢｉｂを照射し、照射光線ＬＢｉｂを受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査するリード端子１ｔ検査方法であって、リード端子１ｔは複数列に配置してあり、光センサ１０（発光部１１および受光部１２）はリード端子１ｔの配列方向に対して照射光線ＬＢｉｂの光路が斜交する方向に配置され、発光部１１は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径を有する照射光線ＬＢｉｂをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔに照射し、受光部１２は、リード端子１ｔによる照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出する構成としてあり、配列方向（配列方向と平行な方向：平行軸Ｘ方向）で光センサ１０（発光部１１および受光部１２）およびリード端子１ｔのいずれか一方を他方に対して相対移動させて照射光線ＬＢｉｂの照射と照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なうことによってリード端子１ｔを計数することを特徴とする。
【００９６】
この構成により、リード端子１ｔが複数列とされた電子チューナ１に対してもリード端子１ｔの良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。
【００９７】
＜実施の形態４＞
図６および図７に基づいて、実施の形態４に係るリード端子検査装置について説明する。
【００９８】
図６は、本発明の実施の形態４に係るリード端子検査装置を説明する説明図であり、電子装置を固定し、光センサを移動させる構成とした状態を示すブロック図である。
【００９９】
基本的な構成は、実施の形態１の図１と同様であるので、適宜符号を援用し、主に異なる点について説明する。
【０１００】
本実施の形態に係るリード端子検査装置では、電子チューナ１は、電子装置配置台５に配置され固定される。また、リード端子１ｔが構成する端子配列位置Ｐｔ（配列方向）と平行な方向で、光センサ１０（発光部１１および受光部１２）を移動（矢符ＳＤ）させる光学移動部１５ｓが電子装置配置台５に対応させて配置してある。光学移動部１５ｓは、例えばラックアンドピニオン、マニピュレータ台座、油圧或いは空圧式シリンダーなど適宜のメカニズムを活用することで容易に構成することが可能である。
【０１０１】
また、光センサ１０は、発光部１１と受光部１２を一体とした同一パッケージに実装してあることが望ましい。この構成により、光センサ１０の構造を簡略化して高精度化することが可能となる。一体とすることにより、移動の制御を容易かつ高精度とすることが可能となる。なお、発光部１１には、半導体発光ダイオードまたは半導体レーザを適用することが可能であり、また、受光部１２には、ホトダイオードまたはホトトランジスタを適用することが可能である。これら半導体素子を適用することにより、光センサ１０を小型化し、高精度の検出が可能な光センサ１０を構成することができる。
【０１０２】
光学移動部１５ｓを適用して光センサ１０を移動させることにより、リード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ）と平行な方向で光センサ１０（発光部１１および受光部１２）を移動させ、照射光線ＬＢｉａの照射と端子配列位置Ｐｔからの反射光線ＬＢｒの検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なわせる構成としてある。
【０１０３】
また、反射光線ＬＢｒの検出によってリード端子１ｔを計数する計数部２０ａと、計数部２０ａでの計数本数と予め設定してある規定本数（正規の本数）とを比較して良否判定を行なう比較判定部３０とを備える。計数部２０ａおよび比較判定部３０は、適宜の演算回路を適用して構成することが可能である。
【０１０４】
上述したとおり、本実施の形態に係るリード端子検査装置は、電子チューナ１のリード端子１ｔに発光部１１から照射光線ＬＢｉａを照射し、リード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査するリード端子検査装置であって、発光部１１は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂを有する照射光線ＬＢｉａをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔに照射し、受光部１２は、リード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを検出する構成としてあり、リード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ：配列方向と平行な方向）で発光部１１および受光部１２を移動（矢符ＳＤ）させて照射光線ＬＢｉａの照射と反射光線ＬＢｒの検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なわせる光学移動部１５ｓと、反射光線ＬＢｒの検出によってリード端子１ｔを計数する計数部２０ａと、計数部２０ａでの計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部３０とを備えること特徴とする。
【０１０５】
この構成により、検出対象先端位置Ｌｄｅｔでのリード端子１ｔの形状状態に応じて発生した反射光線ＬＢｒを検出し、反射光線ＬＢｒの検出に基づいてリード端子１ｔの本数を計数することから、リード端子１ｔの形状不良（折れ、曲がり、電子チューナ１の筐体１ｃへの食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）に起因する反射光線ＬＢｒの非検出により、リード端子１ｔの良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。また、光センサ１０をリード端子１ｔの配列方向に対して平行移動させるだけで良く、簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。
【０１０６】
図７は、本発明の実施の形態４に係るリード端子検査装置を説明する説明図であり、光センサを固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示すブロック図である。
【０１０７】
基本的な構成は、実施の形態１の図２と同様であるので、適宜符号を援用し、主に異なる点について説明する。また、図７に示したリード端子検査装置の基本構成は、移動機構を除いて図６に示したリード端子検査装置と同様であるので、主に異なる点について説明する。
【０１０８】
本実施の形態に係るリード端子検査装置では、光センサ１０は固定され、電子装置配置台５に配置された電子チューナ１は装置移動部１６により移動する構成としてある。つまり、リード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ）で電子チューナ１を移動（矢符ＳＤ）させ、照射光線ＬＢｉａの照射と反射光線ＬＢｒの検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なわせる装置移動部１６を備える。装置移動部１６は、光学移動部１５ｓと同様、例えばラックアンドピニオン、マニピュレータ台座、油圧或いは空圧式シリンダーなど適宜のメカニズムを活用することで容易に構成することが可能である。
【０１０９】
また、本実施の形態に係るリード端子検査装置は、電子チューナ１のリード端子１ｔに発光部１１から照射光線ＬＢｉａを照射し、リード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査するリード端子検査装置であって、発光部１１は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂを有する照射光線ＬＢｉａをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔに照射し、受光部１２は、リード端子１ｔからの反射光線ＬＢｒを検出する構成としてあり、リード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ）で電子チューナ１を移動（矢符ＳＤ）させて照射光線ＬＢｉａの照射と反射光線ＬＢｒの検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なわせる装置移動部１６と、反射光線ＬＢｒの検出によってリード端子１ｔを計数する計数部２０ａと、計数部２０ａでの計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部３０とを備えること特徴とする。
【０１１０】
この構成により、電子装置配置台５をリード端子１ｔの配列方向で移動させ、電子チューナ１をリード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ）で直線移動させるだけで良く、光センサ１０を固定しておくことから、照射光線ＬＢｉａおよび反射光線ＬＢｒの光路を安定化させ、高精度の検出が可能となる。また、製造工程でのインライン化が可能となる。
【０１１１】
本実施の形態では、電子装置としての電子チューナ１の検査を行なうことから、電子チューナ１のリード端子検査を容易かつ効率的に行ない、生産性の良い安価な検査コストを実現することが可能となる。
【０１１２】
＜実施の形態５＞
図８および図９に基づいて、実施の形態５に係るリード端子検査装置について説明する。
【０１１３】
図８は、本発明の実施の形態５に係るリード端子検査装置を説明する説明図であり、電子装置を固定し、光センサ（発光部および受光部）を移動させる構成とした状態を示すブロック図である。
【０１１４】
基本的な構成は、実施の形態２の図３と同様であるので、適宜符号を援用し、主に異なる点について説明する。
【０１１５】
本実施の形態に係るリード端子検査装置では、電子チューナ１は、電子装置配置台５に配置され固定される。また、リード端子１ｔが構成する端子配列位置Ｐｔ（配列方向）と平行な方向で、発光部１１および受光部１２（光センサ１０）を同期して移動（矢符ＳＤ）させる連係光学移動部１５ｄが電子装置配置台５に対応させて配置してある。連係光学移動部１５ｄは、光学移動部１５ｓと同様に構成することが可能である。また、発光部１１および受光部１２を同期して移動させる構成としてある。
【０１１６】
連係光学移動部１５ｄを適用して光センサ１０（発光部１１および受光部１２）を移動させることにより、リード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ）と平行な方向で発光部１１および受光部１２を移動させ、照射光線ＬＢｉｂの照射と照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なわせる構成としてある。
【０１１７】
また、照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出によってリード端子１ｔを計数する計数部２０ｂと、計数部２０ｂでの計数本数と予め設定してある規定本数（正規の本数）とを比較して良否判定を行なう比較判定部３０とを備える。計数部２０ｂは、計数部２０ａと同様に適宜の演算回路を適用して構成することが可能である。
【０１１８】
上述したとおり、本実施の形態に係るリード端子検査装置は、電子チューナ１のリード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ）と交差する方向に配置された発光部１１と、発光部１１に対向させて配置された受光部１２とを備え、発光部１１からリード端子１ｔへ照射光線ＬＢｉｂを照射し、照射光線ＬＢｉｂを受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査するリード端子検査装置であって、発光部１１は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂを有する照射光線ＬＢｉｂをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔに照射し、受光部１２は、リード端子１ｔによる照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出する構成としてあり、配列方向（端子配列位置Ｐｔ：配列方向と平行な方向）で発光部１１および受光部１２を同期して移動（矢符ＳＤ）させて照射光線ＬＢｉｂの照射と照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なわせる連係光学移動部１５ｄと、照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出によってリード端子１ｔを計数する計数部２０ｂと、計数部２ｂでの計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部３０とを備えることを特徴とする。
【０１１９】
この構成により、検出対象先端位置Ｌｄｅｔでの正常なリード端子１ｔの形状状態に応じて発生した照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出し、照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出に基づいてリード端子１ｔの本数を計数することから、リード端子１ｔの形状不良（折れ、曲がり、電子チューナ１の筐体１ｃへの食い込みなどによる長さ不足、曲がりによる位置不良など）を識別してリード端子１ｔの良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。また、光センサ１０の発光部１１および受光部１２をリード端子１ｔの配列方向に対して平行移動させるだけで良く、簡単な移動構造で高精度の検出が可能となる。
【０１２０】
図９は、本発明の実施の形態５に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、光センサ（発光部および受光部）を固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示すブロック図である。
【０１２１】
基本的な構成は、実施の形態２の図４と同様であるので、適宜符号を援用し、主に異なる点について説明する。また、図９に示したリード端子検査装置の基本構成は、移動機構を除いて図８に示したリード端子検査装置と同様であるので、主に異なる点について説明する。
【０１２２】
本実施の形態に係るリード端子検査装置では、発光部１１および受光部１２（光センサ１０）は固定され、電子装置配置台５に配置された電子チューナ１は装置移動部１６により移動する構成としてある。つまり、リード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ）で電子チューナ１を移動（矢符ＳＤ）させ、照射光線ＬＢｉａの照射と照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なわせる構成としてある。なお、装置移動部１６は、図７に示した装置移動部１６と同様である。
【０１２３】
上述したとおり、本実施の形態に係るリード端子検査装置は、電子チューナ１のリード端子１ｔの配列方向と交差する方向に配置された発光部１１と、発光部１１に対向させて配置された受光部１２とを備え、発光部１１からリード端子１ｔへ照射光線ＬＢｉｂを照射し、照射光線ＬＢｉｂを受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査するリード端子検査装置であって、発光部１１は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂを有する照射光線ＬＢｉｂをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔに照射し、受光部１２は、リード端子１ｔによる照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出する構成としてあり、配列方向（端子配列位置Ｐｔ）で電子チューナ１を移動させて照射光線ＬＢｉｂの照射と照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なわせる装置移動部１６と、照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出によってリード端子１ｔを計数する計数部２０ｂと、計数部２０ｂでの計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部３０とを備えることを特徴とする。
【０１２４】
この構成により、電子装置配置台５をリード端子１ｔの配列方向で移動させ、電子チューナ１をリード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ）で直線移動（矢符ＳＤ）させるだけで良く、光センサ１０を固定しておくことから、照射光線ＬＢｉｂおよび反射光線ＬＢｒの光路を安定化させ、高精度の検出が可能となる。また、製造工程でのインライン化が可能となる。
【０１２５】
＜実施の形態６＞
本実施の形態に係るリード端子検査装置（不図示）は、実施の形態３（図５）に対応する構成としてある。つまり、本実施の形態に係るリード端子検査装置では、光センサ１０（発光部１１および受光部１２）は電子チューナ１のリード端子１ｔの配列方向に対して照射光線ＬＢｉｂが斜交する方向に配置してある。
【０１２６】
また、発光部１１および受光部１２がリード端子１ｔの配列方向に対して斜交する方向に配置される点を除いて、実施の形態５（図８、図９）と同様であるので、適宜符号を援用し、主に異なる点について説明する。つまり、移動機構は、電子チューナ１を固定して光センサ１０を移動させる場合、光センサ１０を固定して電子チューナ１を移動させる場合のいずれも可能である。しかし、実施の形態３の場合と同様、光センサ１０を固定し、電子チューナ１をリード端子１ｔの配列方向で直線移動させる方が望ましい。
【０１２７】
したがって、本実施の形態に係るリード端子検査装置（不図示）は、電子チューナ１のリード端子１ｔの配列方向（端子配列位置Ｐｔ）と交差する方向に配置された発光部１１と、発光部１１に対向させて配置された受光部１２とを備え、発光部１１からリード端子１ｔへ照射光線ＬＢｉｂを照射し、照射光線ＬＢｉｂを受光部１２で検出することによってリード端子１ｔの形状状態を検査するリード端子検査装置であって、リード端子１ｔは複数列に配置してあり、発光部１１および受光部１２は配列方向（端子配列位置Ｐｔ）に対して照射光線ＬＢｉｂが斜交する方向に配置され、発光部１１は、照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下の光線径φｂを有する照射光線ＬＢｉｂをリード端子１ｔの検出対象先端位置Ｌｄｅｔに照射し、受光部１２は、リード端子１ｔによる照射光線ＬＢｉｂの遮断を検出する構成としてあり、配列方向（端子配列位置Ｐｔ）で電子チューナ１（リード端子１ｔ）を移動（矢符ＳＤ）させて照射光線ＬＢｉｂの照射と照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出を複数のリード端子１ｔに対して順次行なわせる装置移動部１６と、照射光線ＬＢｉｂの遮断の検出によってリード端子１ｔを計数する計数部２０ｂと、計数部２０ｂでの計数本数と予め設定してある規定本数とを比較して良否判定を行なう比較判定部３０とを備えることを特徴とする。
【０１２８】
この構成により、リード端子１ｔが複数列とされた電子チューナ１に対してもリード端子１ｔの良否を容易かつ高精度に効率良く検査することができる。
【０１２９】
＜実施の形態７＞
図１０は、本発明の実施の形態７に係る照射光線の光線径と検出対象先端位置との関係を説明する説明図である。
【０１３０】
照射光線ＬＢｉａ、ＬＢｉｂ（以下、単に照射光線ＬＢｉとする）の光線径φｂと検出対象先端位置Ｌｄｅｔとの関係を実施の形態７として説明する。規定長Ｌｓｐ（設定された長さ）のリード端子１ｔを検査する場合、規定長Ｌｓｐに対して例えば約９割程度の長さの最小許容長Ｌｍｉｎが検査基準として設定される。したがって、規定長Ｌｓｐと最小許容長Ｌｍｉｎの間に検出対象先端位置Ｌｄｅｔを設定することとなる。
【０１３１】
例えば、照射光線ＬＢｉの照射方向でのリード端子１ｔの幅Ｗｔが０．５ｍｍのとき、先端から１ｍｍ（つまり、規定長Ｌｓｐ−最小許容長Ｌｍｉｎ＝１ｍｍ）までが許容される状態でリード端子１ｔを検出（検査）するものとした場合、リード端子１ｔに照射された位置での照射光線ＬＢｉの光線径φｂを０．３ｍｍとし、照射光線ＬＢｉの光線中心である照射位置長Ｌｆｐを０．５ｍｍとして照射光線ＬＢｉを照射すると、検出対象先端位置Ｌｄｅｔは０．６５ｍｍ（照射位置長Ｌｆｐ＋光線径φｂ／２＝０．５＋０．１５＝０．６５）となる。
【０１３２】
検出対象先端位置Ｌｄｅｔに対応する規定位置にあるリード端子１ｔａについては、照射光線ＬＢｉによる反射光線ＬＢｒの発生または照射光線ＬＢｉの遮断が発生し、長さの短いリード端子１ｔｂについては、照射光線ＬＢｉによる反射光線ＬＢｒの発生または照射光線ＬＢｉの遮断が発生しない。したがって、実施の形態１ないし実施の形態６で示したとおり、リード端子１ｔの検査を行なうことが可能となる。
【０１３３】
本実施の形態では、検出対象先端位置Ｌｄｅｔ＝０．６５ｍｍに至らない短いリード端子１ｔｂを検出することが可能であり、十分な余裕度を持たせて最小許容長Ｌｍｉｎ（＝１ｍｍ）に対する検査を行なうことが可能となる。
【０１３４】
また、光線径０．３ｍｍが例えば０．４ｍｍに変動し、照射位置長Ｌｆｐが例えば０．６ｍｍに変動した場合でも、検出対象先端位置Ｌｄｅｔは０．８ｍｍ（照射位置長Ｌｆｐ＋光線径φｂ／２＝０．６＋０．２＝０．８）となり、良否の判断基準である先端から１ｍｍの位置でのリード端子１ｔの状態を確実に判定することが可能であり、高精度の判定を行なうことが可能である。
【０１３５】
なお、発光部１１に半導体レーザ、半導体発光ダイオード、適宜のレンズなどを適用することにより、光線径φｂは、０．１ｍｍ程度まで小さくすることが可能であり、さらに高精度の検出を行なうことが可能である。また、光線径φｂをリード端子１ｔより大きくすると照射光線ＬＢｉの拡散による検出エラーが生じる恐れがあることから、検出精度を確保するために、光線径φｂはリード端子１ｔの幅Ｗｔ以下とすることが望ましい。
【図面の簡単な説明】
【０１３６】
【図１】本発明の実施の形態１に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、電子装置を固定し、光センサを移動させる構成とした状態を示す斜視図である。
【図２】本発明の実施の形態１に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、光センサを固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示す斜視図である。
【図３】本発明の実施の形態２に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、電子装置を固定し、光センサ（発光部および受光部）を移動させる構成とした状態を示す斜視図である。
【図４】本発明の実施の形態２に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、光センサ（発光部および受光部）を固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示す斜視図である。
【図５】本発明の実施の形態３に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、（Ａ）は、光センサ（発光部および受光部）を固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示す斜視図であり、（Ｂ）は、照射光線の遮断状態を説明する説明図である。
【図６】本発明の実施の形態４に係るリード端子検査装置を説明する説明図であり、電子装置を固定し、光センサを移動させる構成とした状態を示すブロック図である。
【図７】本発明の実施の形態４に係るリード端子検査装置を説明する説明図であり、光センサを固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示すブロック図である。
【図８】本発明の実施の形態５に係るリード端子検査装置を説明する説明図であり、電子装置を固定し、光センサ（発光部および受光部）を移動させる構成とした状態を示すブロック図である。
【図９】本発明の実施の形態５に係るリード端子検査方法を説明する説明図であり、光センサ（発光部および受光部）を固定し、電子装置を移動させる構成とした状態を示すブロック図である。
【図１０】本発明の実施の形態７に係る照射光線の光線径と検出対象先端位置との関係を説明する説明図である。
【図１１】従来例１に係るリード端子検査方法である目視検査による電子チューナのリード端子の検査状態を示す説明図である。
【図１２】従来例２に係るリード端子検査方法（リード端子検査装置）である専用検査装置による電子チューナのリード端子の検査状態を示す説明図である。
【符号の説明】
【０１３７】
１  電子チューナ（電子装置）
１ｃ  筐体
１ｔ  リード端子
５  電子装置配置台
１０  光センサ
１１  発光部
１２  受光部
１５ｓ  光学移動部
１５ｄ  連係光学移動部
１６  装置移動部
２０ａ、２０ｂ  計数部
３０  比較判定部
ＬＢｉａ、ＬＢｉｂ  照射光線
ＬＢｒ  反射光線
Ｌｄｅｔ  検出対象先端位置
ＭＶｄ  装置移動方向
ＭＶｓ  センサ移動方向
Ｐｔ  端子配列位置
Ｒｏｔ  矢符（斜交／回転）
Ｗｔ  幅（リード端子の幅）
Ｘ  平行軸（配列方向）
Ｙ  垂直交差軸
θ  斜交角
φｂ  光線径
【図１】
2008209308.tif 000003
【図２】
2008209308.tif 000004
【図３】
2008209308.tif 000005
【図４】
2008209308.tif 000006
【図５】
2008209308.tif 000007
【図６】
2008209308.tif 000008
【図７】
2008209308.tif 000009
【図８】
2008209308.tif 000010
【図９】
2008209308.tif 000011
【図１０】
2008209308.tif 000012
【図１１】
2008209308.tif 000013
【図１２】
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