(57)【要約】【課題】接触装置の接触要素、特に針の耐用期間を決定的に延ばす接触装置を提供すること。【解決手段】本発明は、検査すべき電気被検体(25)、特にスズメッキされた接触部を備えた被検体(25)を接触させるための接触装置(1)に関し、この装置は、貫通孔(16、17、18、19)を有するガイド要素(2、3、4、5)を少なくとも2つ備えており、この貫通孔を通って接触要素(20)が基本的に軸方向に延びており、この接触要素は、ガイド要素(5)の被検体(25)に面した側で、被検体(25)に接触するために、ガイド要素から突き出ている。突出長(H)を適合させるために、ガイド要素(2、3、4、5)の軸方向間隔または被検体(25)に面したガイド要素(5)の軸方向位置を調整することができる。【選択図】図1
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査すべき電気被検体(25)、特にスズメッキされた接触部を備える被検体(25)を接触させるための接触装置(1)であって、少なくとも2つのガイド要素(2、3、4、5)を備えており、前記ガイド要素が貫通孔(16、17、18、19)を有しており、前記貫通孔を通って接触要素(20)が基本的に軸方向に延びており、前記接触要素が、割り当てられたガイド要素(5)の被検体(25)に面した側で、被検体(25)に接触するために前記ガイド要素から突き出ている接触装置(1)において、突出長(H)を適合させるために、ガイド要素(2、3、4、5)の軸方向間隔または被検体(25)に面したガイド要素(5)の軸方向位置が調整可能であることを特徴とする接触装置。
【請求項２】
ガイド要素(2、3、4、5)の軸方向間隔は、少なくとも1つの調整装置(28)によって調整可能であることを特徴とする請求項1に記載の接触装置。
【請求項３】
調整装置(28)は、連続的調整および/または段階的調整が可能であることを特徴とする請求項1または2に記載の接触装置。
【請求項４】
調整装置(28)は、位置調整ネジ機構(31)であることを特徴とする請求項1から3のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項５】
調整装置(28)は、圧搾空気式、液圧式、および/または圧電式の変位装置(34)であることを特徴とする請求項1から4のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項６】
調整装置(28)は、好ましくは基本的に径方向に移動可能な楔形の装置および/または階段状の装置(35)であることを特徴とする請求項1から5のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項７】
調整装置(28)は、取出し機構として形成されており、その取出しによってガイド要素(2、3、4、5)の軸方向の間隔が縮小することを特徴とする請求項1から6のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項８】
ガイド要素(2、3、4、5)の軸方向間隔は、前記ガイド要素の間に配置された少なくとも1つのスペーサ(29)によって調整可能であることを特徴とする請求項1から7のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項９】
スペーサ(29)の厚みは、変更可能であることを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の接触装置。
【請求項１０】
スペーサ(29)の厚みは、調整装置(28)ならびに/あるいは位置調整ネジ装置(31)ならびに/あるいは圧搾空気式、液圧式、および/または圧電式の変位装置(34)ならびに/あるいは楔形の装置および/または階段状の装置(35)ならびに/あるいは取出し機構によって、変更可能であることを特徴とする請求項1から9のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項１１】
軸方向間隔は、取出し可能な、かつ/または基本的に径方向に移動可能な少なくとも1つのスペーサ(29)によって調整可能であることを特徴とする請求項1から10のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項１２】
取出し可能なスペーサ(29)は、フレーム状に形成され、またはフレーム部品(30)から構成されていることを特徴とする請求項1から11のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項１３】
フレーム状の形成は、少なくとも1つの面が開放されたフレーム構成として形成されていることを特徴とする請求項1から12のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項１４】
フレーム状の形成は、U字形のフレーム部品(30)によって形づくられていることを特徴とする請求項1から13のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項１５】
複数の、特に互いに積み重ねられた、個別に取出し可能なスペーサ(29)が設けられていることを特徴とする請求項1から14のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項１６】
特に互いに積み重ねられたスペーサ(29)は、互いに軸方向の軸(M)周りで回転変位して配置されていることを特徴とする請求項1から15のいずれか１項に記載の接触装置。
【請求項１７】
好ましくは請求項1から16のいずれか一項または複数項に記載の接触装置(1)を使用して、少なくとも2つのガイド要素(2、3、4、5)を貫通して基本的に軸方向に延びている接触要素(20)を用いて、検査すべき電気被検体(25)、特にスズメッキされた接触部を備える被検体(25)を接触させる方法であって、接触要素(20)は、ガイド要素(2、3、4、5)の被検体(25)に面した側で、被検体(25)に接触するために前記ガイド要素から突き出ており、突出長(H)を適合させるために、ガイド要素(2、3、4、5)の軸方向間隔または被検体(25)に面したガイド要素(5)の軸方向位置が調整される/調整可能である方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査すべき電気被検体、特にスズメッキされた接触部を備える被検体を接触させるための接触装置に関するものであり、この装置は、貫通孔を有するガイド要素を少なくとも2つ備えており、この貫通孔を通って接触要素が基本的に軸方向に延びており、この接触要素は、ガイド要素の被検体に面した側で、被検体を接触させるために、ある突出長でガイド要素から突き出ている。
【背景技術】
【０００２】
冒頭に挙げた種類の接触装置は既知である。ピン状の接触要素を位置決めし保持するために、接触要素が、互いに軸方向に間隔をおいて配置されたガイド要素の貫通孔内で支持されている。ガイド要素はガイド板として形成されている。貫通孔は、孔として実施されることが好ましく、その際、ガイドの長さおよび孔の位置は固定パラメータである。ピン状に形成された接触部は針とも呼ばれ、被検体の検査点がこの針の一方の端部と接触し、もう一方の端部は電気検査機構に接続された接触装置と連携する。これにより、被検体の機能、特に電気的機能をテストするために、試験用回路が接続される。被検体と接触する針の端部は、特に被検体のハンダ点と接触させるべき場合は、尖端のない特殊な構造、つまり平らであってよい。被検体の接触を頻繁に行うと針の端部が汚れる。この汚れを時々、好ましくは研磨式に取り除き、つまり研磨し、その度に針の長さの一部分も一緒に研磨される。この比較的激しい針の摩滅により、針は相応に短くなるので、最小限の長さになると針を交換しなければならない。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明は、接触装置の接触要素、特に針の耐用期間を決定的に延ばすことを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
この課題は、本発明によれば、突出長を適合させるために、ガイド要素同士の軸方向間隔または被検体に面したガイド要素の軸方向位置が調整可能であることによって解決される。ガイド要素がこのように互いに軸方向に移動可能である、または被検体に面したガイド要素がこのように軸方向に移動可能であることにより、針は、消耗後に再び、優れた接触を保証するのに十分な突出長さを得ることができる。その際、針が接触尖端を有しているかどうか、あるいは針が平らに研がれて形成されているかどうかは問題にならない。ただし、平らな形成は、針先をきれいにするために行う研磨式処理の際に、針の端部の形状が保たれるという利点を有する。先を尖らせた針の場合、研磨によって尖端も短縮されてしまう。本発明の主題の更なる利点は、本発明により適合が可能なため、針の端部の突出長さ、つまり突出の長さを比較的短く保てることであり、その際、短いガイドは優れたガイドを保証し、さらにそのことは優れた位置決めを、したがって優れた接触を意味する。
【０００５】
本発明の一変形形態によれば、ガイド要素の軸方向間隔が、少なくとも1つの調整装置で調整可能であるようになっている。この調整装置は、接触要素の突出長を調整または再調整する目的で、ガイド要素の軸方向移動をさせる。
【０００６】
好ましくは、調整装置は、連続的な調整装置および/または段階的な調整装置でよい。連続的な調整装置は無段調整を可能にし、一方、段階的な調整装置は、対応するガイド要素の所定の距離毎の移動を可能にする。
【０００７】
連続的調整は、特に調整装置が好ましくは位置調整ネジ機構として形成される場合に可能である。上記調整装置の少なくとも1つのネジ構造を回すと、それに応じて対応するガイド要素が軸方向に連続的に移動する。
【０００８】
調整装置は、圧搾空気式、液圧式、および/または圧電式の変位装置であると有利である。その結果、ガイド要素の軸方向間隔が、圧搾空気式の調整装置によって、つまり空気圧によって調整可能となる。あるいは液圧式の調整装置も可能であり、この場合の調整は作動液によって行われる。変位距離が比較的短いので、調整装置を圧電式の変位装置とすることも考えられる。圧電式の変位装置に何らかの電圧を印加することにより、この装置の長さにおける圧電伸長(Piezostrecke)が変化する。その結果、電圧の調整により、機械的変位が達成でき、それによってやはり対応するガイド要素の変位がもたらされる。
【０００９】
本発明の一変形形態によれば、調整装置は、好ましくは基本的に径方向に移動可能な楔形の装置および/または階段状の装置であるようになっている。接触要素の端部領域に割り当てられたガイド要素は、軸方向に間隔をおいた更なるガイド要素に突っ張り支持されていることが好ましい。この両方のガイド要素の突っ張り支持は、好ましくは調整装置によって行われる。この調整装置が、長さが変更可能で、特に楔形の装置および/または階段状の装置として形成されている場合、楔のサイズおよび/または階段の段差に応じて両方のガイド要素の間隔が調整可能であり、これにより接触要素の突出長が相応に調整できることは明らかである。調整は、楔形の装置の場合は連続的に行われ、階段状の装置の場合は不連続的に、つまり段階的に行われる。
【００１０】
本発明の一変形形態では、調整装置が取出し機構として形成され、その際、取出しによってガイド要素間の軸方向間隔が縮小されるように構成されている。既に述べたように、調整装置は両方のガイド要素の間に配置される。この調整装置を取り出すことができれば、ガイド要素の間隔が縮小され、その際、ガイド要素の間に調整装置が1つだけ配置されており、それが取り出された場合には、ガイド要素同士が重なり合う。もちろん、すべてが取出し機構として形成されている複数の調整装置を互いに軸方向に一列に配置することも、あるいは調整装置が複数の取出し可能な要素を有することも考えられる。これらの取出し機構または要素の1つを取り出すと、ガイド要素の軸方向の間隔が対応する分だけ縮小し、それにより接触要素の突出長が相応に増大される。接触要素の長さが研磨によってさらに縮小していた場合、更なる取出し機構または要素を取り出すことで、さらに突出長の修正を実施することができる。この過程は、互いに一列に並んだ取出し機構または要素の数に応じて、相応に何度も繰り返すことができる。
【００１１】
上記のことから、ガイド要素の軸方向間隔が、それらの間に配置された少なくとも1つの要素または類似物によって調整可能であることは明らかである。この要素にガイド要素が突っ張り支持されているので、この要素は、スペーサとなっている。このスペーサが、好ましくはその厚みを変化させ得る場合、本発明に従って接触要素の突出長の調整が可能になる。上述の調整装置の場合、既に述べたように、調整装置をガイド要素の間に配置することが考えられる。しかし、その代わりに、調整装置を接触装置の別の構造部分に割り当て、それでもなお検査接触部の端部に割り当てられたガイド要素の軸方向位置を、突出長の調整のために変化させるようにすることもできる。少なくとも1つの前述のスペーサの場合、そのスペーサは少なくとも２個のガイド要素の間に配置されており、つまりガイド要素は、直接または間接にスペーサに突っ張り支持されている。このスペーサは、好ましくはその厚みを変化させることができる。そのために、やはり、調整装置ならびに/あるいは位置調整ネジ装置ならびに/あるいは圧搾空気式、液圧式、および/または圧電式の変位装置ならびに/あるいは楔形の装置および/または階段状の装置ならびに/あるいは取出し機構を設けることができる。
【００１２】
本発明の一変形形態によれば、軸方向間隔が、取出し可能な、かつ/または基本的に径方向に移動可能な少なくとも1つのスペーサによって調整可能であるようになっている。この取出し可能なスペーサは、特にフレーム状に形成されてもよく、あるいはフレーム部品から構成されてもよい。その際、フレーム状の形成が、少なくとも1つの面が開放されたフレーム構成として形成されていると有利である。このようにしてU字形のフレーム部品を実現することが可能である。特に、複数の、互いに積み重ねられた、個別に取出し可能であるそのようなスペーサが設けられている場合、取り出すスペーサの数に応じて突出長を調整することが可能であり、その際、この過程は、時間的に順々に実施してもよく、つまり接触要素の相応の消耗後ごとに、軸方向に重なっているスペーサのうち少なくとも1つを取り出す。
【００１３】
スペーサがフレーム状に、特にU字形に形成されている場合、好ましくは、スペーサは互いに軸方向の軸周りに回転変位して配置され、つまり全てのUの字が同じ方向を向いて重なっているのではなく、例えば互いに180°回転変位して、または互いに90°回転変位して配置され、その結果、より頑丈で、より良く突っ張り支持する、内部に接触要素用の場所を有する構造が得られる。
【００１４】
本発明はさらに、好ましくは上に述べた接触装置を使用して、少なくとも2つのガイド要素を貫通して基本的に軸方向に延びている接触要素を用いて、検査すべき電気被検体、特にスズメッキされた接触部を備える被検体を接触させる方法に関し、この接触要素は、ガイド要素の被検体に面した側で、被検体に接触するために、ガイド要素から突き出ており、その際、突出長を適合させるために、ガイド要素同士の軸方向間隔または被検体に面したガイド要素の軸方向位置が調整される/調整可能である。
【００１５】
図面は、本発明を例示的実施形態に則して図示している。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
図1は接触装置1を示しており、この接触装置は、拡大されて、且つ、概略的にのみ示されている。この接触装置は、互いに軸方向aに間隔をあけて平行に配置された4つのガイド要素2、3、4、および5を有しており、このガイド要素同士の間に、間隔要素6、7、および8が配置されている。詳細には、間隔要素6がガイド要素2と3の間に、間隔要素7がガイド要素3と4の間に、間隔要素8がガイド要素4と5の間に位置決めされている。ガイド要素2、3、4、および5がガイド板9、10、11、および12として形成され、かつ間隔要素6、7、および8がフレーム状に形成され、その結果、接触装置の内部に隙間13、14、および15が形成される。非電気伝導性のガイド板9〜12は、それぞれ複数の貫通孔16、17、18、および19を有しており、その際、貫通孔16、18、および19は、軸方向に互いに一直線に並んでおり、貫通孔17は、その一直線に並んだ線に対して径方向rに変位されている。接触要素20は、貫通孔16〜19内に軸方向に挿入されて、接触要素の端部領域21がガイド板12の貫通孔19から突出長Hだけ突き出るように配置されている。ガイド板9の貫通孔16からは、接触要素20のもう一方の端部が、端部領域22を長さlだけ突出している。この配置は、接触要素20が、領域によっては絶縁体23を備えており、ガイド板11および12の領域では絶縁体を備えていないように合わせられている。したがって、後者の領域では、接触要素は、電気良導性のむき出しの材料からなる。あるいは、接触要素20を絶縁体なしで使用することも可能である。貫通孔17を他の貫通孔16、18、および19に対して変位させることにより、固有弾性をもつ接触要素20は湾曲し、それにより接触要素は自己保持し、ただし軸方向には変位可能に、接触装置内で保持される。貫通孔16〜19は孔として形成されることが好ましく、この孔は、特にレーザ光線によって生成される。接触要素20の直径は比較的小さく、例えば人毛の直径とほぼ同じ大きさである。
【００１７】
図1から、各ガイド板9〜12が途中を省いて示されている、つまり接触装置1は、簡略化のために1つの接触要素20を備えただけで示されていることが見て取れる。実際の実施では、このような接触要素が複数設けられており、これに対応する数の、電気的に検査すべき被検体25の検査点24を、それぞれ接触要素20の端面26と接触させることができる。そのために、被検体25を端面26の方向に動かす。その際、各接触要素20の反対側の端部27は、電子検査機構に接続された対向接触面(図示せず)の方に進む。このようにして、被検体の機能を検査するための、被検体25への電流経路が作成できるようになる。
【００１８】
接触要素は、接触ピンとして、特に接触針として形成されることが好ましい。接触要素は、曲がっているので湾曲針(Knicknadeln)とも呼ばれる。
【００１９】
検査の際、端部領域21の端面26が被検体25の検査点24と接触し、その際、今の場合、検査点24はハンダ点によって形成され、つまり盛り上がったスズの頭部である。多くの接触過程により、被検体と接触する接触要素20の端部領域が汚れるので、これを時々研磨式にクリーニングする。その際、汚れだけでなく、常に接触要素20の材料も取り除かれてしまい、その結果、接触要素が相応に短くなる。このため突出長Hが縮小し、その結果、相応の回数のクリーニング過程の後、接触要素20を交換しなければならなくなる。しかし本発明によれば、本発明によるガイド要素4と5の間隔変更により突出長Hが調整可能なので、交換は必要ない。そのために、ガイド要素4と5の間、つまりガイド板11と12の間に調整装置28が配置されており、あるいは代替実施形態として、ガイド要素4に突っ張り支持されるのではなく、接触装置1の別の部分に固定された調整装置28が、ガイド要素5に割り当てられており、そのためガイド要素5はガイド要素4に対して軸方向に変位される、または軸方向に変位させることができる。図1の例示的実施形態では、調整装置28が、軸方向に重なった複数のスペーサ29からなるようになっている。各スペーサ29は、図2に従ってフレーム状に形成されており、つまりU字形のフレーム部品30である。図2の縮尺は図1の縮尺とは一致しておらず、図2では、図1の縮尺よりも縮小されている。しかしながら、複数のU字形のフレーム部品30を積み重ねることによって調整装置28が形成されており、この調整装置がガイド板11と12の間に配置され、したがってガイド板11と12の間隔を定めていることは明らかである。この積み重ねは、中心軸M(図2)周りで回転変位させて行うことが好ましく、例えばU字形のフレーム部品を2つ使用する場合、フレーム部品を互いに180°回転させて配置する。U字形のフレーム部品30が2つより多い場合は、互いに90°ずつ角度をずらすことが好ましい。
【００２０】
多数のクリーニング過程の後、端部領域21が、ガイド板12の貫通孔19から十分な長さだけ突き出いなくなると、適切な部品を事前に緩めた後で、1つのスペーサ29、つまり1つのU字形のフレーム部品30を取り出し、続いて装置を再び固定的にネジ止めし、または圧力を加えてかしめ、またはそれに類することを行う。その結果、取り出したスペーサ29の厚みに対応して突出長Hが増大し、再び十分な突出長Hになる。使用したスペーサ29の数に応じて、この過程を何度も繰り返すことができる。
【００２１】
図3は、図1に対応する例示的実施形態を示しており、したがって上記の説明を参照する。違いは、調整装置28がこの場合は位置調整ネジ機構31として形成されていることだけである。さらに、好ましくは複数のグラブネジ32が、ガイド板11および12をある軸方向間隔に保っている。このグラブネジ32を対応する工具(矢印33)を使用して捻じると、ガイド板11と12の間隔が変化し、その結果、これによって突出長Hが調整可能である。そのために、グラブネジ32の端部領域は逆方向のネジ山を有する必要がある。グラブネジはこれによってガイド板11および12の対応するネジ孔に突き込まれる。これは図3において、ガイド板１２の領域内のグラブネジ32の1つで示唆されている。位置調整ネジ機構31により、連続的な調整が可能であり、つまり連続的に作用する調整装置28が得られる。
【００２２】
図4は更なる例示的実施形態を示しており、これもやはり図1の例示的実施形態に対応しているので、その説明が参照される。違いは調整装置28の構成だけであり、調整装置はこの場合、圧電式の変位装置34として形成されている。この変位装置はガイド板11と12の間に配置されており、図示されていない電圧源によって印加することができ、その結果、電圧の高さに依存して長さbが変化し、このためガイド板11と12の間隔を、したがって接触要素20の突出長Hを調整することができる。
【００２３】
図5は接触装置1の更なる例示的実施形態を示しており、これもやはり図1の例示的実施形態に対応しており、調整装置28においてだけ異なっており、調整装置はこの場合、階段状の装置35として形成されている。階段状の装置35が2つ設けられており、それがスペーサ29として働き、それぞれの階段形状36に基づき異なる厚みを有する。図5から分かる両方の階段状の装置35の位置では、この装置の最大厚みを利用して、ガイド板11および12を相応の間隔に保っている。接触要素20の突出長Hが不十分になると、適切な部品を事前に緩めた後で、両方の階段状の装置35を径方向外側に変位させることができ、その結果、搭載組み立てによって、ガイド板11がそれぞれの階段状の装置35の階段面37に載り、これによりガイド板11と12の間隔が縮小し、その結果、突出長Hが相応に増大される。
【００２４】
図1に基づくスペーサ29の厚みは好ましくは150μmであり、したがって、1つの分離層を引き抜くことにより、接触要素20の直径と比べて十分に長く、ただし長すぎない接触要素突出長さ(突出長H)が生じるように選択されている。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】検査すべき電気被検体を接触させるための接触装置の概略拡大図である。
【図２】接触要素の突出長を調整するための接触装置用スペーサを示す図である。
【図３】別の例示的実施形態に基づく接触装置を示す図である。
【図４】別の例示的実施形態に基づく接触装置を示す図である。
【図５】更なる例示的実施形態に基づく接触装置を示す図である。
【符号の説明】
【００２６】
1…接触装置、  2,3,4,5…ガイド要素  6,7,8…間隔要素  9,10,11,12…ガイド板  13,14,15…隙間  16,17,18,19…貫通孔  20…接触要素  21,22…端部領域  23…絶縁体  24…検査点  25…被検体  26…端面  27…反対側の端部  28…調整装置  29…スペーサ  30…フレーム部品  31…位置調整ネジ機構  32…グラブネジ  33…対応する工具を示唆する矢印  34…圧電式の変位装置  35…階段状の装置  36…階段形状  37…階段面  H…突出長  M…中心軸  a…軸方向  r…径方向  b…長さ  l…長さ
【図１】
2008134248.tif 000003
【図２】
2008134248.tif 000004
【図３】
2008134248.tif 000005
【図４】
2008134248.tif 000006
【図５】
2008134248.tif 000007
【外国語明細書】
2008134248000001.pdf