(57)【要約】【課題】磁気記録装置の検査における効率を向上させ、信頼性の高い磁気記録装置を提供することが可能な磁気記録装置の検査システムおよび検査処理プログラムを提供する。【解決手段】磁気記録装置１２の検査システム１は、インタフェイス１４と、検査プログラム送信部３１と、監視部３２と、を備えている。インタフェイス１４は、磁気記録装置１２に接続するために設けられている。検査プログラム送信部３１は、磁気記録装置１２において各種検査を実行させるための検査プログラムをインタフェイス１４を介して磁気記録装置１２に送信する。監視部３２は、磁気記録装置１２において実行される検査プログラムの進行状況を監視する。【選択図】図３
2008217700.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
通信手段を介して接続された磁気記録装置に対して各種検査を実行する磁気記録装置の検査システムであって、
前記磁気記録装置に接続するためのインタフェイスと、
前記磁気記録装置において各種検査を実行させるための検査プログラムを前記インタフェイスを介して前記磁気記録装置に送信する検査プログラム送信部と、
前記磁気記録装置において実行される前記検査プログラムの進行状況を監視する監視部と、
を備えている磁気記録装置の検査システム。
【請求項２】
前記監視部が監視する前記検査プログラムの所要時間とあらかじめ設定された前記所要時間の閾値とに基づいて、前記磁気記録装置における前記検査プログラムの実行を中断させる第１制御部をさらに備えている、
請求項１に記載の磁気記録装置の検査システム。
【請求項３】
前記第１制御部が前記検査プログラムを中断させたときのエラー内容を収集する収集部と、
前記収集部によって収集された前記エラー内容に基づいて、前記検査プログラムを改良する第１検査プログラム改良部と、
をさらに備えている、請求項２に記載の磁気記録装置の検査システム。
【請求項４】
前記第１制御部が前記検査プログラムを中断させたときのエラー内容が、前記磁気記録装置を構成する特定の部品ロットに起因するものかどうかを解析する解析部をさらに備えている、
請求項２または３に記載の磁気記録装置の検査システム。
【請求項５】
前記磁気記録装置を構成する前記部品ロットの部品情報を記憶している第１記憶部と、
前記解析部によって解析された前記部品ロットに対応する前記製品情報を前記第１記憶部から抽出する抽出部と、
をさらに備えている、請求項４に記載の磁気記録装置の検査システム。
【請求項６】
前記抽出部によって抽出された前記部品情報に基づいて前記検査プログラムを改良する第２検査プログラム改良部をさらに備えている、
請求項５に記載の磁気記録装置の検査システム。
【請求項７】
前記検査プログラム送信部は、前記第１制御部が前記検査プログラムを中断させたときに、特定の検査のみを実行させる中断詳細解析用のプログラムを送信する、
請求項２から６のいずれか１項に記載の磁気記録装置の検査システム。
【請求項８】
前記磁気記録装置における前記検査プログラムの実行を一時停止させる第２制御部をさらに備えている、
請求項２から７のいずれか１項に記載の磁気記録装置の検査システム。
【請求項９】
前記監視部が監視する前記検査プログラムの進行状況に関する各種情報を記憶する第２記憶部をさらに備えている、
請求項１から８のいずれか１項に記載の磁気記録装置の検査システム。
【請求項１０】
通信手段を介して接続された磁気記録装置に対して各種検査を実行させる検査処理プログラムであって、
前記磁気記録装置において各種検査を実行させるための検査プログラムを前記通信手段を介して前記磁気記録装置に送信する第１のステップと、
前記磁気記録装置において実行される前記検査プログラムの進行状況を監視する第２のステップと、
を備えている検査方法をコンピュータに実行させる検査処理プログラム。
【請求項１１】
前記第２のステップにおいて監視される前記検査プログラムの所要時間とあらかじめ設定された前記所要時間の閾値とに基づいて、前記磁気記録装置における前記検査プログラムの実行を中断させる第３のステップをさらに備えている、
請求項１０に記載の検査処理プログラム。
【請求項１２】
前記第３のステップにおいて前記検査プログラムを中断させたときのエラー内容を収集する第４のステップと、
前記第４のステップによって収集された前記エラー内容に基づいて、前記検査プログラムを改良する第５のステップと、
をさらに備えている、請求項１１に記載の検査処理プログラム。
【請求項１３】
前記第３のステップにおいて前記検査プログラムを中断させたときのエラー内容が、前記磁気記録装置を構成する特定の部品ロットに起因するものかどうかを解析する第６のステップをさらに備えている、請求項１２に記載の検査処理プログラム。
【請求項１４】
前記第６のステップにおいて解析された前記部品ロットに対応する前記製品情報を、前記磁気記録装置を構成する前記部品ロットの部品情報を記憶している記憶部から抽出する第７のステップをさらに備えている、請求項１３に記載の検査処理プログラム。
【請求項１５】
前記第７のステップにおいて抽出された前記部品情報に基づいて前記検査プログラムを改良する第８のステップをさらに備えている、
請求項１４に記載の検査処理プログラム。
【請求項１６】
前記第３のステップにおいて前記検査プログラムを中断させたときに、特定の検査のみを実行させる中断詳細解析用プログラムを送信する第９のステップをさらに備えている、請求項１１から１５のいずれか１項に記載の検査処理プログラム。
【請求項１７】
前記磁気記録装置における前記検査プログラムの実行を一時停止させる第１０のステップをさらに備えている、請求項１１から１６のいずれか１項に記載の検査処理プログラム。
【請求項１８】
前記第２のステップにおいて監視されている前記検査プログラムの進行状況に関する各種情報を記憶する第１１のステップをさらに備えている、
請求項１０から１７のいずれか１項に記載の検査処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、通信手段を備えた磁気記録装置の検査システムおよび検査処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気記録装置の製造では組み立て後の検査工程において、例えば、リード、ライトのエラー等について全記録領域検査を含む媒体検査を主とした、いわゆるセルフテストが磁気記録装置単体で行われている。また、セルフテストを通過した磁気記録装置に対しては、総合テストを行っている。
従来、上記に示したようなテストは、磁気記録装置自体に検査用のプログラムを投入し、磁気記録装置自身の動作によって検査が行われていた。ところが、一つ一つの磁気記録装置に検査用プログラムを投入して検査を実行し、その検査結果を収集するためには、膨大な時間と労力を要していた。
そこで、例えば、特許文献１に示されたような検査方式を用いることによって、複数の磁気記録装置に対して同内容の検査を一度に行わせることが考えられる。すなわち、通信手段を介してホストからファームウェアおよびセルフソフトウェアを磁気記録装置にダウンロードした後、ホストと常に通信して同期を取りながら検査をすることが考えられる。そして、検査完了後は、磁気記録装置は、通信手段を介してコマンド完了時のステータスをホストに転送した後、総合テストに移行させることも考えられる。これにより、いずれの検査においても通信手段を介してホストと磁気記録装置とを接続し、その接続を解除することなく一貫してテストを行うことが考えられる。
【特許文献１】特開２０００−２９８５９８号公報（平成１２年１０月２４日公開）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記従来の検査方式を利用した磁気記録装置の検査システムには、以下に示すような問題点を有している。
すなわち、インタフェイス規格の進歩、ならびに磁気記録技術の進歩による磁気記録装置の記憶容量の大容量化に伴い、セルフテストの所要時間も増大し、磁気記録装置毎の個体差のためセルフテスト所要時間のばらつきが大きくなっているため、検査効率が非常に悪い。
図１０を用いて、従来の磁気記録装置におけるセルフテストの状況について具体的に説明する。なお、磁気記録装置Ｈ１は、セルフテストの途中でエラー停止し、その時間をＴ１で示し、磁気記録装置Ｈ２と磁気記録装置Ｈ３とは、セルフテストを正常終了したとし、それぞれのセルフテストの終了時間をＴ２，Ｔ３で示している。
【０００４】
これによれば、磁気記録装置Ｈ２，Ｈ３は、正常にセルフテストを終了しているが、その終了時間には（Ｔ３−Ｔ２）の差がある。ここで、磁気記録装置は、電源を供給することが可能であって複数の磁気記録装置を格納することができるラックに並べられている。そして、磁気記録装置はその性質上振動に弱いものであり、同一のラックに配置された磁気記録装置は互いに振動の影響を及ぼす可能性があるため、磁気記録装置Ｈ１にセルフテストの途中でエラーが発生したとしても、すべての磁気記録装置のセルフテストが終了するまで放置せざるを得なかった。このため、磁気記録装置Ｈ１は、（Ｔ３−Ｔ１）の間放置されている状況にあり、非常に効率が悪かった。
本発明の課題は、磁気記録装置の検査における効率を向上させることが可能になるとともに、信頼性の高い磁気記録装置を提供することが可能な磁気記録装置の検査システムおよび検査処理プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
第１の発明に係る磁気記録装置の検査システムは、通信手段を介して接続された磁気記録装置に対して各種検査を実行する磁気記録装置の検査システムであって、インタフェイスと、検査プログラム送信部と、監視部と、を備えている。インタフェイスは、磁気記録装置に接続するために設けられている。検査プログラム送信部は、磁気記録装置において各種検査を実行させるための検査プログラムをインタフェイスを介して磁気記録装置に送信する。監視部は、磁気記録装置において実行される検査プログラムの進行状況を監視する。
ここでは、磁気記録の検査システム（以下、検査システムと示す）が、インタフェイスを介して接続された１台あるいは複数台の磁気記録装置において実行される検査プログラムの進行状況を監視している。
【０００６】
なお、ここで言う「磁気記録装置の検査」には、いわゆるセルフテストやセルフテスト完了後に行われる総合テスト等も含む。また、検査プログラム送信部が送信する検査プログラムには、複数の検査に対応するプログラムを１まとまりにした逐次実行プログラムも含まれる。また、検査中にエラーを発生した場合には、繰り返しその検査を実行させるプログラムも含む。
従来、磁気記録装置の検査を行う場合には、電源が供給できるラックに複数の磁気記録装置を並べ、磁気記録装置にそれぞれ検査プログラムを投入して、磁気記録装置単体で検査を行っていた。ところが、磁気記録装置毎の個体差のため検査所要時間のばらつきがあり、一般的に、品質が悪い磁気記録装置は、リトライを繰り返すため検査に時間を要する。また、磁気記録装置は、その性質上、振動に非常に弱いものであるため、ラック内への磁気記録装置の出し入れは、互いに振動の影響を及ぼす可能性がある。このため、検査が完了した磁気記録装置を別の磁気記録装置に交換して検査を始めることができず、ラックに格納した全数の磁気記録装置の検査が完了するまで検査完了済の磁気記録装置を放置せざるを得なかった。
【０００７】
そこで、本発明の検査システムでは、インタフェイスを介して接続されている全ての磁気記録装置に対して検査プログラムの進行状況を監視する監視部を設けている。
これにより、ユーザが、例えば、磁気記録装置における検査プログラムの進行状況をモニタリングすることによって、磁気記録装置における検査プログラムの進行状況を把握することが可能となる。このため、ユーザは、検査プログラムの実行に時間を要している磁気記録装置に対して、検査プログラムの実行を継続するかどうかの判断を容易に行うことが可能となる。また、磁気記録装置における検査プログラムの進行状況は、容量等が同スペックの磁気記録装置において経験則的に予想することができる。このため、検査プログラムの進行状況が遅い磁気記録装置は、所定の検査においてリトライを繰り返していることが予想されることから、品質が悪い可能性が高い。ここで、ユーザは、検査プログラムの実行に時間かかっている磁気記録装置を排除することで、従来の検査システムでは排除できなかった、検査は通過するが品質が悪い可能性がある磁気記録装置を排除することが可能となる。
【０００８】
この結果、磁気記録装置の検査における効率を向上させることが可能になるとともに、信頼性の高い磁気記録装置を提供することが可能となる。
第２の発明に係る磁気記録装置の検査システムは、第１の発明に係る磁気記録装置の検査システムであって、監視部が監視する検査プログラムの所要時間とあらかじめ設定された所要時間の閾値とに基づいて、磁気記録装置における検査プログラムの実行を中断させる第１制御部をさらに備えている。
ここでは、第１制御部が、検査プログラムを実行中の磁気記録装置に対して、あらかじめ設定された所要時間を経過した場合、磁気記録装置における検査プログラムの実行を中断させている。
これにより、上述したように検査完了済の磁気記録装置の放置時間を短くすることができるので検査の効率を高めることが可能となる。また、品質が悪い可能性の高い磁気記録装置を排除することも可能となる。さらに、本発明の検査システムにおいては、あらかじめ設定された閾値に基づいて自動的に磁気記録装置における検査プログラムの実行を中断させるので、検査にかかる所要時間を平均化し短縮することができる。また、第１制御部は、ユーザの判断を介することなく自動で検査プログラムを中断させるので、ユーザの負担を軽減することも可能となる。
【０００９】
この結果、磁気記録装置の検査における効率を向上させることが可能になるとともに、信頼性の高い磁気記録装置を提供することが可能となる。
第３の発明に係る磁気記録装置の検査システムは、第２の発明に係る磁気記録装置の検査システムであって、第１制御部が検査プログラムを中断させたときのエラー内容を収集する収集部と、収集部によって収集されたエラー内容に基づいて、検査プログラムを改良する第１検査プログラム改良部と、をさらに備えている。
ここでは、収集部に蓄積されたエラー内容に基づいて、例えば、統計的手法を用いて発生率の高いエラー内容を抽出し、抽出されたエラー内容に対応する検査が優先的に実行されるように検査プログラムを改良する。
なお、ここでいう検査プログラムは、複数の検査項目を順に実行する検査プログラムをいう。また、検査の性質上、途中で一度中断となった検査は、最初からやり直す必要がある。
【００１０】
ここで、第１検査プログラム改良部においては、実行済の検査プログラムを変更して改良してもよいし、改良プログラムを新規に生成してもよい。
これにより、磁気記録装置に対して、エラーの発生する確率の高い検査を優先的に実行させる改良版の検査プログラムを実行させることが可能となる。この結果、磁気記録装置に検査プログラムを実行させた場合において、早い段階でエラーを発見することが可能、すなわち、早い段階で検査プログラムの実行を中断させることが可能となる。このため、仮に磁気記録装置における検査プログラムの実行が中断されたとしても、無駄となってしまう検査の量が少なくてすむ。この結果、検査プログラムの実行にかかる所要時間の短縮を図ることが可能となる。
第４の発明に係る磁気記録装置の検査システムは、第２または第３の発明に係る磁気記録装置の検査システムであって、第１制御部が検査プログラムを中断させたときのエラー内容が、磁気記録装置を構成する特定の部品ロットに起因するものかどうかを解析する解析部をさらに備えている。
【００１１】
ここでは、第１制御部によって検査プログラムが中断させられたときのエラー内容が、磁気記録装置を構成する特定の部品ロットに起因するものかどうかを解析する。
これにより、エラー内容の原因が特定の部品ロットによるものであると特定できた場合には、再度、検査プログラムを実行させる前に対策を施すことが可能となる。この結果、検査プログラムの通過率を上げることが可能となる。
第５の発明に係る磁気記録装置の検査システムは、第４の発明に係る磁気記録装置の検査システムであって、磁気記録装置を構成する部品ロットの部品情報を記憶している第１記憶部と、解析部によって解析された部品ロットに対応する製品情報を第１記憶部から抽出する抽出部と、をさらに備えている。
ここでは、第１制御部が検査プログラムを中断させたときのエラー内容が、磁気記録装置を構成する特定の部品ロットに起因するものと解析された場合、その特定の部品ロットに関する部品情報を第１記憶部から抽出する。
【００１２】
なお、第１記憶部は、インタフェイスを介して外部に設けられていてもよく、磁気記録装置内の不揮発性記憶手段であってもよいし、ネットワーク上のサーバであってもよい。また、製品情報には、ロット番号等がある。
これにより、検査プログラムの中断後に交換する部品を迅速に準備することが可能となり、部品の交換、修理部門への引き渡しを早くすることができる。
第６の発明に係る磁気記録装置の検査システムは、第５の発明に係る磁気記録装置の検査システムであって、抽出部によって抽出された部品情報に基づいて検査プログラムを改良する第２検査プログラム改良部をさらに備えている。
ここでは、検査プログラム実行の中断要因となった部品について、抽出部から得られた部品情報に基づいて検査プログラムを改良している。
【００１３】
これにより、例えば、該当する部品に関連する検査を優先的に実行する検査プログラムに改良することが可能となる。この結果、検査プログラム実行の早い段階で、部品交換や修理を行ったことに対する不具合を発見することができる。
第７の発明に係る磁気記録装置の検査システムは、第２から第６の発明のいずれか１つに係る磁気記録装置の検査システムであって、検査プログラム送信部は、第１制御部が検査プログラムを中断させたときに、特定の検査のみを実行させる中断詳細解析用のプログラムを送信する。
ここでは、第１制御部が検査プログラムを中断させたときに、検査プログラム送信部は、エラー解析用のプログラムである中断詳細解析プログラムを送信する。
なお、ここでいう中断詳細解析プログラムとは、検査プログラムが中断されたときに、その原因を究明するためのプログラムであって、例えば、ヘッド出力に関する中断詳細解析プログラム等、エラーの状況に応じてそれぞれ対応するプログラムがある。
【００１４】
これにより、同じラック内の磁気記録装置について、検査プログラムの実行と中断詳細解析プログラムの実行とを同時に実施することができる。
第８の発明に係る磁気記録装置の検査システムは、第２から第７の発明のいずれか１つに係る磁気記録装置の検査システムであって、磁気記録装置における検査プログラムの実行を一時停止させる第２制御部をさらに備えている。
ここでは、第２制御部が、磁気記録装置における検査プログラムの実行を一時停止させる。なお、一時停止の再開も制御することができる。
ここで、磁気記録装置は、その性質上、振動に非常に弱いものであるため、ラック内への磁気記録装置の出し入れは、互いに振動の影響を及ぼす可能性がある。このため、他の磁気記録装置が検査プログラムを実行しているときには、検査プログラムが中断された磁気記録装置をラック内から容易に取り出すことはできなかった。
【００１５】
これにより、振動の影響を及ぼしそうな磁気記録装置については、検査プログラムを一時停止するように制御することによって、例えば、検査プログラムが中断された磁気記録装置を取り出すことが可能となる。そして、前述の磁気記録装置を取り出した後は、一時停止している検査プログラムを再開させる。この結果、振動に対する検査プログラム実行の安全性を高めることができる。
第９の発明に係る磁気記録装置の検査システムは、第１から第８の発明のいずれか１つに係る磁気記録装置の検査システムであって、監視部が監視する検査プログラムの進行状況に関する各種情報を記憶する第２記憶部をさらに備えている。
ここでは、検査プログラムの進行状況に関する各種情報として、例えば、各種検査の所要時間、リトライ回数等、検査プログラムを記憶する第２記憶部を備えている。
【００１６】
なお、第２記憶部は、インタフェイスを介して外部に設けられていてもよく、磁気記録装置内の不揮発性記憶手段であってもよい。また、ネットワーク上のサーバであってもよい。
これにより、磁気記録装置に関する詳細なデータを蓄積することが可能となる。この結果、ユーザが、それらのデータの相関関係から品質の善し悪しを予想することが可能となる。
第１０の発明に係る制御プログラムは、通信手段を介して接続された磁気記録装置に対して各種検査を実行させる検査処理プログラムであって、第１のステップと、第２のステップと、を備えている。第１のステップは、磁気記録装置において各種検査を実行させるための検査プログラムを通信手段を介して磁気記録装置に送信する。第２のステップは、磁気記録装置において実行される検査プログラムの進行状況を監視する。
【００１７】
なお、ここで言う「磁気記録装置の検査」には、いわゆるセルフテストやセルフテスト完了後に行われる総合テスト等も含む。また、第１のステップおいて送信する検査プログラムには、複数の検査に対応するプログラムを１まとまりにした逐次実行プログラムも含まれる。また、検査中にエラーを発生した場合には、繰り返しその検査を実行させるプログラムも含む。
また、以下、第１〜第１１のステップとして示される数字は、制御の順番を規定するものではない。
従来、磁気記録装置の検査を行う場合には、電源が供給できるラックに複数の磁気記録装置を並べ、磁気記録装置にそれぞれ検査プログラムを投入して、磁気記録装置単体で検査を行っていた。ところが、磁気記録装置毎の個体差のため検査所要時間のばらつきがあり、一般的に、品質が悪い磁気記録装置は、リトライを繰り返すため検査に時間を要する。また、磁気記録装置は、その性質上、振動に非常に弱いものであるため、ラック内への磁気記録装置の出し入れは、互いに振動の影響を及ぼす可能性がある。このため、検査が完了した磁気記録装置を別の磁気記録装置に交換して検査を始めることができず、ラックに格納した全数の磁気記録装置の検査が完了するまで検査完了済の磁気記録装置を放置せざるを得なかった。
【００１８】
そこで、本発明の検査処理プログラムでは、インタフェイスを介して接続されている全ての磁気記録装置に対して検査プログラムの進行状況を監視する第２のステップを設けている。
これにより、ユーザが、例えば、第２のステップにおいて監視される検査プログラムの進行状況をモニタリングすることによって、磁気記録装置における検査プログラムの進行状況を把握することが可能となる。このため、ユーザは、検査プログラムの実行に時間を要している磁気記録装置に対して、検査プログラムの実行を継続するかどうかの判断を容易に行うことが可能となる。また、磁気記録装置における検査プログラムの進行状況は、容量等が同スペックの磁気記録装置において経験則的に予想することができる。このため、検査プログラムの進行状況が遅い磁気記録装置は、所定の検査においてリトライを繰り返していることが予想されることから、品質が悪い可能性が高い。ここで、ユーザは、検査プログラムの実行に時間かかっている磁気記録装置を排除することで、従来の検査システムでは排除できなかった、検査は通過するが品質が悪い可能性がある磁気記録装置を排除することが可能となる。
【００１９】
この結果、磁気記録装置の検査における効率を向上させることが可能になるとともに、信頼性の高い磁気記録装置を提供することが可能となる。
第１１の発明に係る検査処理プログラムは、第１０の発明に係る検査処理プログラムであって、第２のステップにおいて監視される検査プログラムの所要時間とあらかじめ設定された所要時間の閾値とに基づいて、磁気記録装置における検査プログラムの実行を中断させる第３のステップをさらに備えている。
ここでは、検査プログラムを実行中の磁気記録装置に対して、あらかじめ設定された所要時間を経過した場合、磁気記録装置における検査プログラムの実行を中断させている。
これにより、上述したように検査完了済の磁気記録装置の放置時間を短くすることができるので検査の効率を高めることが可能となる。また、品質が悪い可能性の高い磁気記録装置を排除することも可能となる。さらに、本発明の検査処理プログラムにおいては、あらかじめ設定された閾値に基づいて自動的に磁気記録装置における検査プログラムの実行を中断させるので、検査にかかる所要時間を平均化し短縮することができる。また、検査処理プログラムは、ユーザの判断を介することなく自動で検査プログラムを中断させるので、ユーザの負担を軽減することも可能となる。
【００２０】
この結果、磁気記録装置の検査における効率を向上させることが可能になるとともに、信頼性の高い磁気記録装置を提供することが可能となる。
第１２の発明に係る検査処理プログラムは、第１１の発明に係る検査処理プログラムであって、第３のステップにおいて検査プログラムを中断させたときのエラー内容を収集する第４のステップと、第４のステップによって収集されたエラー内容に基づいて、検査プログラムを改良する第５のステップと、をさらに備えている。
ここでは、収集されたエラー内容に基づいて、例えば、統計的手法を用いて発生率の高いエラー内容を抽出し、抽出されたエラー内容に対応する検査が優先的に実行されるように、検査プログラムを改良する。
なお、ここでいう検査プログラムは、複数の検査項目を順に実行する検査プログラムをいう。また、検査の性質上、途中で一度中断となった検査は、最初からやり直す必要がある。
【００２１】
ここで、第５のステップにおいては、実行済の検査プログラムを変更して改良してもよいし、改良プログラムを新規に生成してもよい。
これにより、磁気記録装置に対して、エラーの発生する確率の高い検査を優先的に実行させる改良版の検査プログラムを実行させることが可能となる。この結果、磁気記録装置に検査プログラムを実行させた場合において、早い段階でエラーを発見することが可能、すなわち、早い段階で検査プログラムの実行を中断させることが可能となる。このため、仮に磁気記録装置における検査プログラムの実行が中断されたとしても、無駄となってしまう検査の量が少なくてすむ。この結果、検査プログラムの実行にかかる所要時間の短縮を図ることが可能となる。
第１３の発明に係る検査処理プログラムは、第１２の発明に係る検査処理プログラムであって、第３のステップにおいて検査プログラムを中断させたときのエラー内容が、磁気記録装置を構成する特定の部品ロットに起因するものかどうかを解析する第６のステップをさらに備えている。
【００２２】
ここでは、第３のステップにおいて検査プログラムが中断させられたときのエラー内容が、磁気記録装置を構成する特定の部品ロットに起因するものかどうかを解析する。
これにより、エラー内容の原因が特定の部品ロットによるものであると特定できた場合には、再度、検査プログラムを実行させる前に対策を施すことが可能となる。この結果、検査プログラムの通過率を上げることが可能となる。
第１４の発明に係る検査処理プログラムは、第１３の発明に係る検査処理プログラムであって、第６のステップにおいて解析された部品ロットに対応する製品情報を、磁気記録装置を構成する部品ロットの部品情報を記憶している記憶部から抽出する第７のステップをさらに備えている。
ここでは、第３のステップにおいて検査プログラムを中断させたときのエラー内容が、磁気記録装置を構成する特定の部品ロットに起因するものと解析された場合、その特定の部品ロットに関する部品情報を記憶部から抽出する。
【００２３】
なお、記憶部は、インタフェイスを介して外部に設けられていてもよく、磁気記録装置内の不揮発性記憶手段であってもよいし、ネットワーク上のサーバであってもよい。また、製品情報には、ロット番号等がある。
これにより、検査プログラムの中断後に交換する部品を迅速に準備することが可能となり、部品の交換、修理部門への引き渡しを早くすることができる。
第１５の発明に係る検査処理プログラムは、第１４の発明に係る検査処理プログラムであって、第７のステップにおいて抽出された部品情報に基づいて検査プログラムを改良する第８のステップをさらに備えている。
ここでは、検査プログラム実行の中断要因となった部品について、第７のステップにおいて得られた部品情報に基づいて検査プログラムを改良している。
【００２４】
これにより、例えば、該当する部品に関連する検査を優先的に実行する検査プログラムに改良することが可能となる。この結果、検査プログラム実行の早い段階で、部品交換や修理を行ったことに対する不具合を発見することができる。
第１６の発明に係る検査処理プログラムは、第１１から第１５の発明のいずれか１つに係る検査処理プログラムであって、第３のステップにおいて検査プログラムを中断させたときに、特定の検査のみを実行させる中断詳細解析用プログラムを送信する第９のステップをさらに備えている、
ここでは、第３のステップにおいて検査プログラムを中断させたときに、検査プログラム送信部は、エラー解析用のプログラムである中断詳細解析プログラムを送信する。
なお、ここでいう中断詳細解析プログラムとは、検査プログラムが中断されたときに、その原因を究明するためのプログラムであって、例えば、ヘッド出力に関する中断詳細解析プログラム等、エラーの状況に応じてそれぞれ対応するプログラムがある。
【００２５】
これにより、同じラック内の磁気記録装置について、検査プログラムの実行と中断詳細解析プログラムの実行とを同時に実施することができる。
第１７の発明に係る検査処理プログラムは、第１１から第１６の発明のいずれか１つに係る検査処理プログラムであって、磁気記録装置における検査プログラムの実行を一時停止させる第１０のステップをさらに備えている。
ここでは、磁気記録装置における検査プログラムの実行を一時停止させる。なお、一時停止の再開も制御することができる。
ここで、磁気記録装置は、その性質上、振動に非常に弱いものであるため、ラック内への磁気記録装置の出し入れは、互いに振動の影響を及ぼす可能性がある。このため、他の磁気記録装置が検査プログラムを実行しているときには、検査プログラムが中断された磁気記録装置をラック内から容易に取り出すことはできなかった。
【００２６】
これにより、振動の影響を及ぼしそうな磁気記録装置については、検査プログラムを一時停止するように制御することによって、例えば、検査プログラムが中断された磁気記録装置を取り出すことが可能となる。そして、前述の磁気記録装置を取り出した後は、一時停止している検査プログラムを再開させる。この結果、振動に対する検査プログラム実行の安全性を高めることができる。
第１８の発明に係る検査処理プログラムは、第１０から第１７の発明のいずれか１つに係る検査処理プログラムであって、第２のステップにおいて監視されている検査プログラムの進行状況に関する各種情報を記憶する第１１のステップをさらに備えている。
ここでは、検査プログラムの進行状況に関する各種情報として、例えば、各種検査の所要時間、リトライ回数等、検査プログラムを記憶する。
【００２７】
なお、第１１のステップにおいて記憶させる記憶部は、インタフェイスを介して外部に設けられていてもよく、磁気記録装置内の不揮発性記憶手段であってもよい。また、ネットワーク上のサーバであってもよい。
これにより、磁気記録装置に関する詳細なデータを蓄積することが可能となる。この結果、ユーザが、それらのデータの相関関係から品質の善し悪しを予想することが可能となる。
【発明の効果】
【００２８】
本発明に係る磁気記録装置の検査システムおよび検査処理プログラムによれば、磁気記録装置の検査における効率を向上させることが可能になるとともに、信頼性の高い磁気記録装置を提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
本発明の一実施形態に係る磁気記録装置の検査システム（以下、検査システムと示す）１について、図１〜図９を用いて説明すれば以下の通りである。
［検査システム１の概要］
本発明の一実施形態に係る検査システム１は、図１に示すように、検査システム１の本体となるホスト１１に、汎用インタフェイス（インタフェイス）（例えば、シリアルケーブル等）１４を介して検査対象となる複数の磁気記録装置１２・・が接続されている。そして、磁気記録装置１２は、電源を供給することが可能なラック１３に格納されている。
［ホスト１１の詳細説明］
ホスト１１は、図２に示すように、ＣＰＵ２１と、ＲＡＭ２２、ＲＯＭ２３と、第１記憶部２４と、第２記憶部２５を有している。第１記憶部２４は、磁気記録装置１２を構成する部品ロットの部品情報を記憶している。第２記憶部２５は、後述する監視部３２が監視する検査プログラムの実行状況に関する各種情報を記憶する。
【００３０】
また、ホスト１１は、図３に示すように、ＲＯＭ２３に格納された制御プログラム（検査処理プログラム）３０をＲＡＭ２２に読み込むことにより、検査プログラム送信部３１と、監視部３２と、第１制御部３３と、収集部３４と、第１検査プログラム改良部３５と、解析部３６と、抽出部３７と、第２検査プログラム改良部３８と、第２制御部３９と、を備えた機能ブロックを形成する。そして、上記機能ブロックは、ホスト１１に含まれるＣＰＵ２１によってそれぞれ実行可能な状態となる。
検査プログラム送信部３１は、磁気記録装置１２において各種検査を実行させるための検査プログラムを汎用インタフェイス１４を介して磁気記録装置１２に送信する。
監視部３２は、磁気記録装置１２において実行される検査プログラムの進行状況を監視する。
【００３１】
第１制御部３３は、監視部３２が監視する検査プログラムの所要時間とあらかじめ設定された所要時間の閾値とに基づいて、磁気記録装置１２における検査プログラムの実行を中断させる。
収集部３４は、第１制御部３３が検査プログラムを中断させたときのエラー内容を収集する。
第１検査プログラム改良部３５は、収集部３４によって収集されたエラー内容に基づいて、検査プログラムを改良する。
解析部３６は、第１制御部３３が検査プログラムを中断させたときのエラー内容が、磁気記録装置１２を構成する特定の部品ロットに起因するものかどうかを解析する。
抽出部３７は、解析部３６によって解析された部品ロットに対応する製品情報を第１記憶部２４から抽出する。
【００３２】
第２検査プログラム改良部３８は、抽出部３７によって抽出された部品情報に基づいて検査プログラムを改良する。
第２制御部３９は、磁気記録装置１２における検査プログラムの実行を一時停止させる。また、一時停止の再開も制御する。
なお、図３に示す機能制御ブロック図は、コンピュータソフトウェアやハードウェアの機能により構築することができる。どの機能をソフトウェアで実現し、どの機能をハードウェアにより実現するかについては、能力等に応じて適宜決めることができる。本実施形態においては、ホスト１１に含まれるＣＰＵ２１によって実行されるプログラム（ソフトウェア）として本制御ブロックを構築している。
［検査システム１における検査の流れ］
本実施形態の検査システム１が行う検査の流れについて、フローチャートを用いて第１制御から第６制御に分けて説明すれば以下の通りである。なお、第１から第６制御は、それぞれ別々に実施されてもよいし、任意に組み合わせて実施されてもよい。
【００３３】
［第１制御の説明］
本実施形態の検査システム１が行う第１制御の流れについて、図４のフローチャートを用いて説明する。
検査システム１は、検査プログラム送信部３１が、各磁気記録装置１２に複数の各種検査を実行させる検査プログラムを送信する（第１のステップ）ことによってセルフテストを実行する。すなわち、磁気記録装置１２が、ホスト１１より送信された各種検査プログラムを順に実行することによってセルフテストが実行される。そして、それぞれの磁気記録装置１２は汎用インタフェイス１４を介してホスト１１との通信を適時行いながらセルフテスト（Ｓ１）を進めていく。
そして、監視部３２は、各種検査の所要時間を監視している（第２のステップ）。次に、第１制御部３３は、あらかじめ設定しておいた閾値とその所要時間とを比較（Ｓ２）（第３のステップ）する。そして、第１制御部３３は、その所要時間が閾値よりも長くなった場合、その磁気記録装置における検査プログラムの実行を中断させる（Ｓ４）（第３のステップ）。一方、閾値よりも小さい場合は、第１制御部３３は、全ての検査プログラムを実行したかどうかを判別し（Ｓ３）、未だ実行していない検査があれば、次の検査に移行させる。
【００３４】
本発明においては、閾値を用いてエラー判別を行うが、その閾値について説明する。
閾値は、各検査の平均所要時間より大きい値にあらかじめ設定しておく。例えば、ある検査の平均所要時間が２時間であった場合、その閾値となる時間を２時間３０分とする。このとき、ある検査の所要時間が２時間３０分を越えたとすると、第１制御部３３は、磁気記録装置１２において実行中の検査プログラムを中断させる。
これにより、セルフテストにかかる所要時間を短縮することが可能となる。さらに、セルフテストの信頼性を上げることができる。磁気記録装置１２の検査においては、所要時間が長くなった場合でも検査をパスすることは可能である。しかし、検査のリトライを繰り返した結果、時間がかかっているのであれば、一般的にその磁気記録装置１２は、不具合を持っている可能性が高いと言える。そこで、本実施形態のように閾値を超えた磁気記録装置１２については、エラーとして判別し、排除することによって、セルフテストの信頼性を上げることが可能となる。
【００３５】
また、複数台の磁気記録装置１２について同時にセルフテストを行った場合には、磁気記録装置１２毎の個体差による検査の終了時間の差を縮めることができ、セルフテストの所要時間を短縮することが可能となる。
［第２制御の説明］
本実施形態の検査システム１が行う第２制御の流れについて、図５のフローチャートを用いて説明する。
検査システム１は、第１の実施形態と同様に、検査プログラム送信部３１が、各磁気記録装置１２に検査プログラムを送信することによってセルフテストを開始する。
（Ｓ１２）においては、監視部３２が、検査を中断していないかどうかを確認し、検査を中断していない場合は（Ｓ１３）、検査を中断している場合には、（Ｓ１４）に移行する。検査を中断していない磁気記録装置１２は、すべての検査を完了するまで（Ｓ１３）セルフテストを継続する。
【００３６】
検査を中断している磁気記録装置１２については、ホスト１１と通信することにより（Ｓ１４）、収集部３４が、インタフェイス１４を介して検査プログラムにおける中断要因を収集する（第４のステップ）。そして、第１検査プログラム改良部３５が、収集した中断要因の解析を行う（Ｓ１５）。具体的には、第１検査プログラム改良部３５が、検査プログラムにおける中断要因を統計的に管理し、中断発生率の高い検査を優先的に行うようにセルフテストの順番を変更したプログラムを生成する（第５のステップ）。そして、検査プログラム送信部３１が、セルフテストを実行させる改良プログラムを再び磁気記録装置１２に送信し、次回のセルフテストで実行させる。
磁気記録装置１２は、その性質上、一度セルフテストを中断した場合、もう一度最初からセルフテストをやり直す必要がある。ところが、セルフテストは、長時間に及ぶテストである。このような事項に鑑みて、本実施形態においては、中断発生率の高い検査を優先的に実行するようなプログラムを生成して、早い段階でエラーを検出できる可能性を高くしている。これにより、エラーを検出するまでの検査にかかった時間を極力少なくしている。この結果、セルフテストの所要時間を短縮し、生産効率を上げることができる。
【００３７】
［第３制御の説明］
本実施形態の検査システム１が行う第３制御の流れについて、図６のフローチャートを用いて説明する。
検査システム１は、検査プログラム送信部３１が、各磁気記録装置１２に検査プログラムを送信することによってセルフテストを開始する。すると、それぞれの磁気記録装置１２は、汎用インタフェイス１４を介してホスト１１との通信を適時行いながら検査（Ｓ２１）を進めていく。（Ｓ２２）においてセルフテストが中断していない磁気記録装置１２は、すべての検査を完了するまで（Ｓ２３）セルフテストを継続する。
セルフテストが中断された磁気記録装置１２については、ホスト１１と通信することにより（Ｓ２４）収集部３４が、セルフテストの中断要因についての情報を収集し（Ｓ２５）、また、その要因については磁気記録装置１２の記憶部（図示せず）にも記録する（Ｓ２６）。このとき、解析部３６は、収集部３４に収集された中断要因が、特定の部品ロットに起因するものかどうか解析する（Ｓ２６）（第６のステップ）。これは、磁気記録装置１２の生産において、エラーの多くは特定の部品ロットに起因するケースが多いことから有効である。そして。解析部３６によって、特定の部品ロットに起因するものと解析された場合には、抽出部３７が、部品ロットの製品情報を管理している第１記憶部２４から、エラーに起因する部品ロットを抽出する（Ｓ２７）（第７のステップ）。そして、第２検査プログラム改良部３８が、中断発生率の高い検査を優先的に行うように検査プログラムの検査の順番を変更する（第８のステップ）。この結果、第２の実施形態と同様に、磁気記録装置１２のセルフテストにおける所要時間を短縮することができる。
【００３８】
これにより、部品交換、修理が必要な磁気記録装置１２は、スムーズに該当箇所の部品交換、修理を施す部門に引き渡すことができる。また、中断要因を第２記憶部２５で管理（第１１のステップ）、あるいは、磁気記録装置１２の記憶部（第２記憶部）（図示せず）に記録することにより、製品となる個々の磁気記録装置１２に関する詳細なデータを蓄えることができ、それ以降のエラー解析などに活かすことが可能となる。また、特定の部品ロットに起因するエラーであれば、以後の同じ部品ロットを含む磁気記録装置１２は、セルフテストを中止にし、不良磁気記録装置の大量発生を防ぐことができる。加えて、無駄なセルフテスト時間を費やす可能性も低くなる。
［第４制御の説明］
本実施形態の検査システム１が行う第４制御の流れについて、図７のフローチャートを用いて説明する。
【００３９】
検査システム１は、検査プログラム送信部３１が、各磁気記録装置１２に検査プログラムを送信することによってセルフテストを開始する。すると、それぞれの磁気記録装置１２は、汎用インタフェイス１４を介してホスト１１との通信（Ｓ３２）を適時行いながら検査（Ｓ３１）を進めていく。（Ｓ３２）においてセルフテストが中断していない磁気記録装置１２は、すべての検査を完了するまで（Ｓ３４）セルフテストを継続する。
ここで、検査システム１は、セルフテストにおける各検査の詳細なデータ（各検査結果、リトライ回数、所要時間、パラメータ、中断要因など）を第２記憶部２５に記録している（Ｓ３３）（第１１のステップ）。また、磁気記録装置１２における記憶部（図示せず）に記憶させてもよい。そして、第２記憶部２５に蓄積される情報を統計的に管理することにより、中断要因の傾向を掴むことが可能となる。これにより、早期にエラー対策を施すことが可能となり、セルフテストの通過率を高めることができる。この結果、磁気記録装置１２の生産における検査工程の時間短縮が可能になる。
【００４０】
また、これらのデータを蓄積することで、それらの相関から品質の悪いと予想される製品を判別することが可能となる。また、これらの蓄積されたデータは、製品出荷後の市場にける不良解析に利用することが可能となる。
［第５制御の説明］
本実施形態の検査システム１が行う第５制御の流れについて、図８のフローチャートを用いて説明する。
検査システム１は、検査プログラム送信部３１が、各磁気記録装置１２に検査プログラムを送信することによってセルフテストを開始する。すると、それぞれの磁気記録装置１２は、汎用インタフェイス１４を介してホスト１１との通信を適時行いながら検査（Ｓ４１）を進めていく。（Ｓ４２）においてセルフテストが中断していない磁気記録装置１２は、すべての検査を完了するまで（Ｓ４３）セルフテストを継続する。
【００４１】
ここで、セルフテストが中断した磁気記録装置１２に対して、検査プログラム送信部３１が、その中断要因に応じてあらかじめ用意している中断詳細解析プログラムを送信する（第９のステップ）。磁気記録装置１２は、磁気記録装置１２の記憶部（図示せず）に中断詳細解析プログラムをダウンロード（Ｓ４４）して、詳細な中断要因解析を行う（Ｓ４５）。
これにより、同じラック１３内の磁気記録装置１２について、セルフテストと中断要因の解析を同時に行うことができるため、生産効率を上げることができる。
［第６制御の説明］
本実施形態の検査システム１が行う第６制御の流れについて、図９のフローチャートを用いて説明する。
【００４２】
検査システム１は、検査プログラム送信部３１が、各磁気記録装置１２に検査プログラムを送信することによってセルフテストを開始する。すると、それぞれの磁気記録装置１２は、汎用インタフェイス１４を介してホスト１１との通信を適時行いながら検査（Ｓ５１）を進めていく。（Ｓ５２）においてセルフテストが中断していない磁気記録装置１２は、すべての検査を完了するまで（Ｓ５３）セルフテストを継続する。
ここで、ラック１３内のある１台の磁気記録装置１２が中断した場合（Ｓ５２）の対処法について説明する。なお、磁気記録装置１２は、その性質上振動に弱いものであり、同一のラック１３において磁気記録装置１２を取り出す際に、その他の磁気記録装置１２に振動の影響を及ぼす可能性がある。このため、従来、検査プログラムを中断している磁気記録装置１２を、ラック１３から取り出すことはできなかった。
【００４３】
そこで、本実施形態の検査システム１においては、ラック１３内のある１台の磁気記録装置１２が中断した場合（Ｓ５２）、第２制御部３９は、ラック１３内の他の磁気記録装置１２を一時停止させる（Ｓ５４）（第１０のステップ）。第２制御部３９によって一時停止させる磁気記録装置１２は、ラック１３内の全ての磁気記録装置１２であってもよいし、中断させた磁気記録装置１２の周辺の磁気記録装置１２であってもよい。これにより、ユーザが、磁気記録装置１２をラック１３から取り出す時、他の磁気記録装置１２に対して取り出し時の振動の影響を与えることなく、セルフテストを中断した磁気記録装置１２をラック１３から取り出すことが可能となる（Ｓ５５）。そして、ユーザが磁気記録装置１２を取り出した後は、第２制御部３９は、磁気記録装置１２の一時停止を解除（第１０のステップ）し、その続きからセルフテストを再開させる（Ｓ５６）。そして、検査システム１は、全検査が終了（Ｓ５３）するまで、同じ処理を繰り返す。
【００４４】
これにより、中断させた磁気記録装置１２の取り出し時における振動の影響を最小限に留め、安全に取り出すことが可能になり、安全で精度の高い検査が可能になる。
また、取り出した磁気記録装置１２をすぐに中断要因の解析、または部品の交換、修理などを行うことが可能となる。このため、中断要因解析の時間と、セルフテストの所要時間を短縮することができる。
［他の実施形態］
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
（Ａ）
上記実施形態の検査システム１では、第１制御部３３がエラー判別を行うための閾値として、各検査の平均所要時間を用いた例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
【００４５】
第１制御部が閾値として設定する要素は、各検査の平均所要時間に限ったものではなく、例えば、リトライの回数や所定のエラーの回数等であってもよい。
（Ｂ）
上記実施形態の検査システム１では、第１制御部３３がエラー判別を行うための閾値として、各検査の平均所要時間を用い、その閾値を２時間３０分とする例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
第１制御部が閾値として設定する時間は、２時間３０分に限られることはなく、例えば、１時間や１時間３０分であってもよい。閾値として設定する時間は、経験等に基づいて最適な時間に設定することで時間削減の効果を高めることができる。
（Ｃ）
上記実施形態の検査システム１では、第１検査プログラム改良部３５および第２検査プログラム改良部３８が、セルフテストで使用したプログラムについて順番を変更して改良版のプログラムを生成する例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
【００４６】
例えば、セルフテストで使用したプログラムを使用しなくても、新規にプログラムを生成してもよい。
（Ｄ）
上記実施形態の検査システム１では、第１検査プログラム改良部３５は、エラーの発生する確率の高い検査を優先的に実行させるようにプログラムを改良する例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
第１検査プログラム改良部は、例えば、エラーの重要度の高い検査を優先的に実行させるようにプログラムを改良してもよい。
（Ｅ）
上記実施形態の検査システム１では、部品ロットの部品情報を記憶している第１記憶部２４と、検査プログラムの進行状況に関する各種情報を記憶する第２記憶部２５が、ホスト１１に含まれている例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
【００４７】
第１記憶部および第２記憶部は、例えば、ネットワークを介して接続されているサーバ上に設けられていてもよい。また、磁気記録装置側に設けられていてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００４８】
本発明によれば、インタフェイスを介して接続する機器に対して効率よく各種プログラムを実行させることが可能になるため、検査プログラムだけでなく、例えば、メンテナンスプログラム等、複数の機器を同時に調整するシステム等へも広く適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の磁気記録装置の検査システムの概略図。
【図２】図１の検査システムにおける機能ブロック図。
【図３】図１の検査システムにおける機能制御ブロック図。
【図４】本発明の第１制御の流れを示すフローチャート。
【図５】本発明の第２制御の流れを示すフローチャート。
【図６】本発明の第３制御の流れを示すフローチャート。
【図７】本発明の第４制御の流れを示すフローチャート。
【図８】本発明の第５制御の流れを示すフローチャート。
【図９】本発明の第６制御の流れを示すフローチャート。
【図１０】従来の磁気記録装置のセルフテストにおける検査工程を示した図。
【符号の説明】
【００５０】
１        磁気記録装置の検査システム（検査システム）
１１      ホスト
１２      磁気記録装置
１３      ラック
１４      汎用インタフェイス（インタフェイス）
２１      ＣＰＵ
２２      ＲＡＭ
２３      ＲＯＭ
２４      第１記憶部
２５      第２記憶部
３０      制御プログラム（検査処理プログラム）
３１      検査プログラム送信部
３２      監視部
３３      第１制御部
３４      収集部
３５      第１検査プログラム改良部
３６      解析部
３７      抽出部
３８      第２検査プログラム改良部
３９      第２制御部
【図１】
2008217700.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2008217700.tif 000009
【図８】
2008217700.tif 000010
【図９】
2008217700.tif 000011
【図１０】
2008217700.tif 000012