(57)【要約】  光干渉性断層撮影装置は、光を生成する光源部；光から分割されて生成された基準光および測定光を利用して合成光を生成し、合成光をｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光に分割して照射するカプラ部；入射したｎ個の合成分割光をそれぞれｎ個の分光器に照射し、各分光器から波長帯域別に分光された各光を順次スキャンする検出部；および検出部でスキャンした結果を利用して２次元単一映像を生成する映像生成部；を含むことができる。これに伴い、分割された多数の光を多数のアレイディテクターを利用してスキャン時間を分配することによって、光干渉性断層映像の獲得速度を向上させることができる。【選択図】      図１
2021531481.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を生成する光源部；
前記光源部の光から分割して生成された基準光および測定光を利用して合成光を生成し、前記合成光をｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光に分割して照射するカプラ部；
入射したｎ個の合成分割光をそれぞれｎ個の分光器に照射し、各分光器から波長帯域別に分光された各光を順次スキャンする検出部；および
前記検出部でスキャンした結果を利用して単一映像を生成する映像生成部；
を含む、光干渉性断層撮影装置。
【請求項２】
前記検出部は、
前記入射したｎ個の合成分割光をそれぞれ平行光に変換し、各平行光をｎ番目の分光器に入射して波長帯域別に分光させる分光部；
前記分光部で波長帯域別に分光された平行光を各波長帯域によって一つの焦点に集まるように平行光の焦点距離を調節するフォーカス部；
１番目の分光器からｎ番目の分光器まで各分光器から分光された平行光のスキャンを開始するスキャン開始信号を順次伝送するスキャン制御部；および
前記スキャン制御部からスキャン開始信号が受信されると、前記フォーカス部で各波長帯域によって一つの焦点に集まった平行光を順次スキャンするスキャン部；
を含む、請求項１に記載の光干渉性断層撮影装置。
【請求項３】
前記スキャン部は、
前記スキャン制御部のスキャン開始信号が受信されることによってｎ−１番目の分光器から分光された平行光をスキャンし、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが完了すると、ｎ番目の分光器から分光された平行光をスキャンする、
請求項２に記載の光干渉性断層撮影装置。
【請求項４】
前記スキャン部は、
前記スキャン制御部からｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャン開始信号が受信され、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが実行中である場合、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了した後に前記ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンを実行する、
請求項３に記載の光干渉性断層撮影装置。
【請求項５】
前記カプラ部は、
前記光源部の光から第１光を生成し、前記第１光をスキャンし反射させて基準光を生成する基準部；
前記光源部の光から第２光を生成し、前記第２光を対象物に照射して反射する測定光を生成するサンプル部；および
前記基準光と測定光を合成して合成光を生成し、前記合成光をｎ個の合成分割光に分割する分割部；を含む、請求項１に記載の光干渉性断層撮影装置。
【請求項６】
前記サンプル部は、
前記対象物がｋ（ここで、ｋは自然数）個存在する場合、前記第２光をｋ個に分割して各対象物に照射する、請求項５に記載の光干渉性断層撮影装置。
【請求項７】
前記映像生成部は、
前記ｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物を照射する光経路差による周波数が異なる多数個の測定光に応じて多数個のチャネルで形成して単一映像に生成する、請求項６に記載の光干渉性断層撮影装置。
【請求項８】
前記カプラ部は、
スイッチを具備して前記スイッチがオンになった時に合成光を合成分割光に分割して照射する、請求項１に記載の光干渉性断層撮影装置。
【請求項９】
光干渉性断層撮影装置において、
光を生成することと、
前記生成した光から分割されて生成された基準光および測定光を利用して合成光を生成することと、
前記合成光をｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光に分割して照射することと、
前記入射したｎ個の合成分割光をそれぞれｎ個の分光器に照射して前記各分光器から波長帯域別に分光された各光を順次スキャンすることと、
スキャンした結果を利用して単一映像を生成することと、
を含む映像生成方法。
【請求項１０】
前記波長帯域別に分光された各光を順次スキャンすることは、
前記入射したｎ個の合成分割光をそれぞれ平行光に変換することと、
前記各平行光をｎ番目の分光器に入射して波長帯域別に分光させることと、
前記波長帯域別に分光された平行光を各波長帯域によって一つの焦点に集まるように平行光の焦点距離を調節することと、
１番目の分光器から分光された平行光のスキャンを開始するスキャン開始信号を伝送して順次ｎ番目の分光器から分光された平行光のスキャンを開始するスキャン開始信号を伝送することと、
前記スキャン開始信号が受信されると、各波長帯域によって一つの焦点に集まった平行光を順次スキャンすることと、
を含む請求項９に記載の映像生成方法。
【請求項１１】
前記一つの焦点に集まった平行光をスキャンすることは、
前記スキャン開始信号が受信されることによってｎ−１番目の分光器から分光された平行光をスキャンすることと、
前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが完了すると、ｎ番目の分光器から分光された平行光をスキャンすることと、
を含む請求項１０に記載の映像生成方法。
【請求項１２】
前記平行光を順次スキャンすることは、
前記ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャン開始信号が受信されることと、
前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが実行中である場合、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了した後に前記ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンを実行することと、
を含む請求項１０に記載の映像生成方法。
【請求項１３】
前記合成光を生成することは、
前記光を分割して第１光および第２光を生成することと、
前記第１光をスキャンし反射させて基準光を生成することと、
前記第２光を対象物に照射して反射する測定光を生成することと、
前記第１光および第２光から生成された基準光と測定光を合成することと、
を含む請求項９に記載の映像生成方法。
【請求項１４】
前記測定光を生成することは、
前記対象物がｋ（ここで、ｋは自然数）個存在する場合、前記第２光をｋ個に分割して各対象物に照射することを含む、
請求項１３に記載の映像生成方法。
【請求項１５】
前記単一映像を生成することは、
前記ｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物を照射する光経路差による周波数が異なる多数個の測定光に応じてｋ（ここで、ｋは自然数）個のチャネルで形成して単一映像に生成することを含む、請求項１４に記載の映像生成方法。
【請求項１６】
前記合成分割光に分割して照射することは、
スイッチを具備して前記スイッチがオンになった時に合成光を合成分割光に分割して照射することを含む、請求項１０に記載の映像生成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光干渉性断層撮影装置およびこれを利用した映像生成方法に関し、さらに詳細には、多数のアレイディテクターを利用して光干渉性断層映像の獲得速度を向上させた光干渉性断層撮影装置およびこれを利用した映像生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的な光干渉性断層撮影（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置は光から走査された光を二つに分離させて一つの光は対象物に照射し、他の光はリファレンスミラー（Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ  Ｍｉｒｒｏｒ）に照射する。
【０００３】
その後、光干渉性断層撮影装置は対象物から反射する測定光とリファレンスミラーから反射する参照光を合成させる。この時、測定光と参照光の合成によって干渉現象が発生することになる。
【０００４】
すなわち、従来の光干渉性断層撮影装置は測定光と参照光の合成による干渉信号を測定することによって測定対象物の断層映像を獲得することができるが、非浸湿、非破壊および非接触方式で断層映像を獲得することができる。
【０００５】
一方、光干渉性断層撮影装置は干渉信号の測定方式により、時間領域で干渉信号を分析する時間領域光干渉性断層撮影装置（Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）と、スペクトル領域で干渉信号を分析するスペクトル領域光干渉性断層撮影装置（Ｓｐｅｃｔｒｕｍ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）等に分かれ得る。
【０００６】
時間領域光干渉性断層撮影装置（Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）はリファレンスミラーの経路距離を機械的に調節して対象物の断層映像を獲得する。このため、時間領域光干渉性断層撮影装置は安定性および映像獲得速度が低い問題点がある。
【０００７】
また、スペクトル領域光干渉性断層撮影装置（Ｓｐｅｃｔｒｕｍ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）は干渉信号を周波数領域または波長領域で獲得した後、干渉信号をフーリエ変換させて対象物の断層映像を抽出する。
【０００８】
これに伴い、スペクトル領域光干渉性断層撮影装置はリファレンスミラーの機械的な動きが不要であるため、安定性および映像獲得速度が時間領域光干渉性断層撮影装置に比べて高い利点を有する。
【０００９】
しかし、従来のスペクトル領域光干渉性断層撮影装置の場合、単一の分光器の具備およびカメララインのスキャン速度の限界によって、映像の獲得速度をある程度以上は期待し難い問題点がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】韓国登録特許第１０−１２８１１６９号公報
【特許文献２】米国特許出願公開第１００５８２４４Ｂ２号明細書
【特許文献３】韓国登録特許第１０−０８６３２５０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明の一側面は多数のアレイディテクター（Ａｒｒａｙ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）を利用し、単一の基準段を使用し、光経路差による周波数が異なる多数の測定光を使って多数の対象物に対する断層映像を単一映像に表示することによって、光干渉性断層映像の獲得速度を向上させることができる、光干渉性断層撮影装置およびこれを利用した映像生成方法を提供する。
【００１２】
本発明の技術的課題は以上で言及した技術的課題に制限されず、言及されていないさらに他の技術的課題は下記の記載から当業者に明確に理解できるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置は、光を生成する光源部；前記光源部の光から分割して生成された基準光および測定光を利用して合成光を生成し、前記合成光をｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光に分割して照射するカプラ部；前記入射したｎ個の合成分割光をそれぞれｎ個の分光器に照射し、前記各分光器から波長帯域別に分光された各光を順次スキャンする検出部；および前記検出部でスキャンした結果を利用して単一映像を生成する映像生成部；を含む。
【００１４】
前記検出部は、前記入射したｎ個の合成分割光をそれぞれ平行光に変換し、各平行光をｎ番目の分光器に入射して波長帯域別に分光させる分光部；前記分光部で波長帯域別に分光された平行光を各波長帯域によって一つの焦点（focus point）に集まるように平行光の焦点距離を調節するフォーカス(focus)部；１番目の分光器からｎ番目の分光器まで各分光器から分光された平行光のスキャンを開始するスキャン開始信号を順次伝送するスキャン制御部；および前記スキャン制御部からスキャン開始信号が受信されると、前記フォーカス部で各波長帯域によって一つの焦点に集まった平行光を順次スキャンするスキャン部；を含むことができる。
【００１５】
前記スキャン部は、前記スキャン制御部のスキャン開始信号が受信されることによってｎ−１番目の分光器から分光された平行光をスキャンし、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが完了するとｎ番目の分光器から分光された平行光をスキャンすることができる。
【００１６】
前記スキャン制御部からｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャン開始信号が受信され、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが実行中である場合、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了した後に前記ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンを実行することができる。
【００１７】
前記カプラ部は、前記光源部の光から第１光を生成し、前記第１光をスキャンし反射させて基準光を生成する基準部；前記光源部の光から第２光を生成し、前記第２光を対象物に照射して反射する測定光を生成するサンプル部；および前記基準光と測定光を合成して合成光を生成し、前記合成光をｎ個の合成分割光に分割する分割部；を含むことができる。
【００１８】
前記サンプル部は、前記対象物がｋ（ここで、ｋは自然数）個存在する場合、前記第２光をｋ個に分割して各対象物に照射することができる。
【００１９】
前記映像生成部は、前記ｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物を照射する光経路差による周波数が異なる多数個の測定光に応じて多数個のチャネルで形成して単一映像に生成することができる。
【００２０】
前記カプラ部は、スイッチを具備して前記スイッチがオン（ｏｎ）になった時に合成光を合成分割光に分割して照射することができる。
【００２１】
本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置を利用した映像生成方法は、光を生成し、前記生成した光から分割されて生成された基準光および測定光を利用して合成光を生成し、前記合成光をｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光に分割して照射し、前記入射したｎ個の合成分割光をそれぞれｎ個の分光器に照射して前記各分光器から波長帯域別に分光された各光を順次スキャンし、スキャンした結果を利用して単一映像を生成する。
【００２２】
前記波長帯域別に分光された各光を順次スキャンすることは、前記入射したｎ個の合成分割光をそれぞれ平行光に変換し、前記各平行光をｎ番目の分光器に入射して波長帯域別に分光させ、前記波長帯域別に分光された平行光を各波長帯域によって一つの焦点に集まるように平行光の焦点距離を調節し、１番目の分光器からｎ番目の分光器まで各分光器から分光された平行光のスキャンを開始するスキャン開始信号を順次伝送し、前記スキャン開始信号が受信されると、各波長帯域によって一つの焦点に集まった平行光を順次スキャンすることができる。
【００２３】
前記平行光を順次スキャンすることは、前記スキャン開始信号が受信されることによって前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光をスキャンし、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが完了するとｎ番目の分光器から分光された平行光をスキャンすることができる。
【００２４】
前記平行光を順次スキャンすることは、前記ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャン開始信号が受信され、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが実行中である場合、前記ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了した後に前記ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンを実行することができる。
【００２５】
前記合成光を生成することは、前記光を分割して第１光および第２光を生成し、前記第１光をスキャンし反射させて基準光を生成し、前記第２光を対象物に照射して反射する測定光を生成し、前記第１光および第２光から生成された基準光と測定光を合成することができる。
【００２６】
前記測定光を生成することは、前記対象物がｋ（ここで、ｋは自然数）個存在する場合、前記第２光をｋ個に分割して各対象物に照射することができる。
【００２７】
前記単一映像を生成することは、前記ｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物を照射する光経路差による周波数が異なる多数個の測定光に応じてｋ（ここで、ｋは自然数）個のチャネルで形成して単一映像に生成することができる。
【００２８】
前記合成分割光に分割して照射することは、スイッチを具備して前記スイッチがオン（ｏｎ）になった時に合成光を合成分割光に分割して照射することができる。
【発明の効果】
【００２９】
前述した本発明の一側面によると、光干渉性断層撮影装置およびこれを利用した映像生成方法は分割された多数の光を多数のアレイディテクターを利用してスキャン時間を分配することによって、光干渉性断層映像の獲得速度を向上させることができる。
【００３０】
また、単一の基準段を使用し、光経路差による周波数が異なる多数の測定光を使って多数の対象物に対する断層映像を単一映像に表示することによって、光干渉性断層映像の獲得速度を向上させることができる。
【００３１】
本発明で得ることができる効果は以上で言及した効果に制限されず、言及していないさらに他の効果は下記の記載から本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者に明確に理解できるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置を図示したブロック図である。
【図２】図１のカプラ部を詳しく図示したブロック図である。
【図３】図１の検出部を詳しく図示したブロック図である。
【図４】図３のスキャン制御部のスキャン開始信号を伝送する例をタイミングダイヤグラムで示した図面である。
【図５】図３のスキャン制御部のスキャン開始信号を伝送する例をタイミングダイヤグラムで示した図面である。
【図６】図４および図５によってスキャン開始信号が受信された後、スキャンを実行する例をタイミングダイヤグラムで示した図面である。
【図７】本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置を利用した映像生成方法を概略的に図示したフローチャートである。
【図８】図７の合成光を生成する方法を具体的に図示したフローチャートである。
【図９】図７の分光された光を順次スキャンする方法を具体的に図示したフローチャートである。
【図１０】本発明に係る光干渉性断層撮影装置を利用した場合、光の流れを示した図面である。
【図１１】本発明に係る光干渉性断層撮影装置にビームスプリッタを追加で具備した場合、光の流れを示した図面である。
【図１２】本発明に係る光干渉性断層撮影装置を利用して生成された２次元単一映像を示した図面である。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
後述する本発明についての詳細な説明は、本発明が実施され得る特定の実施例を例示として図示する添付図面を参照する。これらの実施例は当業者が本発明を実施できるように充分かつ詳細に説明される。本発明の多様な実施例は互いに異なるが相互排他的である必要はないことが理解されるべきである。例えば、ここに記載されている特定形状、構造および特性は、一実施例と関連して本発明の精神および範囲を逸脱することなく他の実施例で具現され得る。また、それぞれの開示された実施例内の個別構成要素の位置または配置は、本発明の精神および範囲を逸脱することなく変更され得ることが理解されるべきである。したがって、後述する詳細な説明は限定的な意味ではなく、本発明の範囲は、適切に説明されるのであれば、その請求項が主張するものと均等なすべての範囲とともに、添付された請求項によってのみ限定される。図面で類似する参照符号は多様な側面に亘って同一または類似する機能を指称する。
【００３４】
以下、図面を参照して本発明の好ましい実施例をより詳細に説明することにする。
【００３５】
本発明は、分割された多数の光を多数のアレイディテクターを利用してスキャン時間を分配することによって、光干渉性断層映像の獲得速度を向上させるための光干渉性断層撮影装置である。
【００３６】
図１は、本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置を図示したブロック図である。
【００３７】
光干渉性断層撮影装置１００は光源部１１０、カプラ部１３０、検出部１５０および映像生成部１７０を含むことができる。
【００３８】
光源部１１０は光を生成してカプラ部１３０に伝送することができる。ここで、光はガウシアンビーム（ｇａｕｓｓｉａｎ  ｂｅａｍ）、ライトビーム（ｌｉｇｈｔ  ｂｅａｍ）、レーザービーム（ｌａｓｅｒ  ｂｅａｍ）、または粒子ビーム（ｐａｒｔｉｃｌｅ  ｂｅａｍ）等のように、粒子（電子または陽子など）が一方向に集中して流れる「ビーム（ｂｅａｍ）」を意味し得る。
【００３９】
光源部１１０は帯域幅が広く、干渉長が短い白色光を生成することができるが、これに限定されるものではない。例えば、中心波長が８４０ｎｍである近赤外線波長帯域（８００ｎｍ〜１５５０ｎｍ）を有し、半値幅（ＦＷＨＭ、Ｆｕｌｌ  Ｗｉｄｔｈ  Ｈａｌｆ  Ｍａｘｉｍｕｍ）が５０ｎｍであり、最大出力パワーは５．３ｍＷである光を発生させることができる。
【００４０】
カプラ部１３０は入射した一つの光を多数個の光に分割（ｓｐｌｉｔ）したり、入射した２個の光を合成（ｃｏｕｐｌｉｎｇ）して一つの光に生成できる光カプラを意味し得る。
【００４１】
カプラ部１３０は光源部１１０で生成した光を第１光および第２光に分割して基準光および測定光を生成することができ、生成された基準光および測定光を利用して合成光を生成することができる。
【００４２】
ここで、基準光が１個であるとき、測定光は対象物の個数により変わり得る。例えば、ｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物が存在する場合、測定光はｋ（ここで、ｋは自然数）個が生成され得る。
【００４３】
すなわち、カプラ部１３０は１個の基準光とｋ（ここで、ｋは自然数）個の測定光を利用して合成光を形成することができ、光周波数で分割された多数の測定光は映像生成部１７０で生成する単一映像に多数個のチャネルとしてそれぞれ分割されて表現され得る
。
【００４４】
また、カプラ部１３０は生成した合成光を入射する光を二つまたはそれ以上に同時に分配できるスプリッタなどの装置に入射させることができ、これから合成光をｎ個の合成分割光に分割することができる。
【００４５】
検出部１５０はカプラ部１３０から入射したｎ個の合成分割光を波長帯域別に分光させるｎ個の分光器にそれぞれ伝達することができ、分光器は入射した一つの合成分割光を波長帯域別に分光させることができる。
【００４６】
一つの分光器は一つの合成分割光を受信することができ、受信した合成分割光を分光させることができる。したがって、検出部１５０で分光される光は総ｎ個を意味し得る。
【００４７】
検出部１５０は光干渉性単一映像を生成するために、入射したｎ個の合成分割光の波長による干渉スペクトルをスキャンして映像生成部１７０に提供することができる。
【００４８】
映像生成部１７０は検出部１５０で提供されたスキャン結果を利用して２次元単一映像を生成することができ、生成した２次元単一映像を利用して３次元単一映像も生成することができる。
【００４９】
映像生成部１７０は３次元単一映像を生成するために、サンプルの中央を横断してスキャンすることによって中心点を特定位置に固定させた後、検出された中心点に基づいて動きによる偏差を調整することができる。
【００５０】
ここで、中心点を調整することは、対象物の動きによって正常に３次元ラジアルスキャンを実行できない場合に発生するアーチファクトを除去するために実行され得る。
【００５１】
また、映像生成部１７０はｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物を照射する光経路差による周波数が異なるｋ（ここで、ｋは自然数）個の測定光に応じてｋ（ここで、ｋは自然数）個のチャネルで形成されて単一映像に生成することができる。
【００５２】
図２は、図１のカプラ部を詳しく図示したブロック図である。
【００５３】
図２を参照すると、カプラ部１３０は基準部１３１、サンプル部１３５および分割部１３９を含むことができる。
【００５４】
基準部１３１は光源部１１０で生成した光から第１光を生成することができ、生成した第１光をスキャンし反射させて基準光を生成することができる。生成した基準光は分割部１３９に伝達することができる。
【００５５】
より具体的には、基準部１３１は第１光を平行光に変換させることができるコリメータなどの装置を含むことができ、コリメータから入射した平行光を一つの焦点に集まるように距離を調節できるフォーカシングレンズを含むことができる。
【００５６】
また、基準部１３１はフォーカシングレンズを通じて一つの焦点に集まった光を受信した後に反射させるリファレンスミラーを具備することができる。ここで、リファレンスミラーは入射した平行光をフォーカシングレンズなどの装置に反射して光の経路を変更させることができ、これから基準光が生成され得る。
【００５７】
サンプル部１３５はカプラ部１３０から入射した第２光を対象物に照射した後、対象物（または対象物の内部構造体）から反射する測定光を分割部１３９に伝達することができる。
【００５８】
ここで、反射する測定光は照射する対象物の個数に応じて生成され得る。すなわち、ｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物が存在すればｋ（ここで、ｋは自然数）個の測定光が生成され得る。
【００５９】
より具体的には、サンプル部１３５は入力される第２光をｋ個（ここで、ｋは自然数）に分割できるスプリッタなどの装置を含むことができ、分割されて入射した第２光を平行光に変換させることができるコリメータなどの装置を含むことができる。
【００６０】
また、サンプル部１３５は伝達された平行光の光経路を変更した後、直接または間接的に対象物に光を照射できるスキャニングミラーを含むことができ、スキャニングミラーなどの装置を通じて照射された光が対象物に一つの焦点に集まるように調節できるスキャンレンズを含むことができる。
【００６１】
サンプル部１３５はスキャンレンズの位置または角度を調節するレンズ調節装置を含むことができる。レンズ調節装置は回転式でスキャンレンズなどの装置を移動させたり角度を調節して、対象物とスキャンレンズとの間の空間を調節して光の焦点を調節することができる。
【００６２】
これから、サンプル部１３５はスキャニングミラーなどの装置を利用して対象物（または対象物の内部構造体）から反射した光をスキャンすることができ、対象物（または対象物の内部構造体）に対する光情報を獲得することができる。
【００６３】
例えば、サンプル部１３５は光情報を獲得する対象物が一つの場合、入力される第２光はスプリッタなどの装置を通過するものの分割されず、コリメータなどの装置を通過して平行光に変換され得る。
【００６４】
変換された平行光はスキャニングミラーなどの装置から一つの対象物に照射され得、この時、スキャンレンズなどの装置から対象物に一つの焦点に集まるように照射され得、平行光が照射された対象物から反射した光をスキャンして対象物に対する光情報を獲得することができる。
【００６５】
さらに他の例として、サンプル部１３５は光情報を獲得する対象物が４個の場合、入力される第２光はスプリッタなどの装置を通過して４個の光に分割され得、コリメータなどの装置を通過して平行光に変換され得る。
【００６６】
変換された平行光はスキャニングミラーなどの装置およびスキャンレンズなどの装置からそれぞれの対象物に照射され得、この時、スキャンレンズなどの装置から各対象物に一つの焦点に集まるように照射され得、平行光が照射された対象物から反射した光をスキャンして対象物に対する光情報を獲得することができる。
【００６７】
分割部１３９は基準部１３１から伝達された第１光とサンプル部１３５から伝達された第２光を合成して合成光を生成することができ、生成した合成光をｎ個（ここで、ｎは２以上の自然数）の合成分割光に分割することができる。
【００６８】
この時、分割部１３９はスイッチを具備して、スイッチがオン（ｏｎ）になった時は合成光を合成分割光に分割して照射することができ、スイッチがオフ（ｏｆｆ）になった時は合成光を合成分割光に分割せずに一つの合成光として照射することができる。
【００６９】
図３は、図１の検出部を詳しく図示したブロック図である。
【００７０】
図３を参照すると、検出部１５０は分光部１５１、フォーカス部１５３、スキャン制御部１５５およびスキャン部１５７を含むことができる。
【００７１】
分光部１５１はカプラ部１３０から入射したｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光をそれぞれ平行光に変換し、変換された各平行光をｎ番目の（ここで、ｎは２以上の自然数）分光器に入射して波長帯域別に分光させることができる。
【００７２】
例えば、カプラ部１３０から２個の合成分割光が入射すると、平行光に変換した後、変換された２個の平行光を第１分光器および第２分光器に一つずつ入射させることができる。
【００７３】
分光部１５１は合成分割光を平行光に変換させることができるコリメータなどの装置を含むことができ、平行光を波長帯域別に分光させることができるｎ個の分光器を含むことができる。
【００７４】
分光部１５１のｎ個の分光器はｎ個の合成分割光それぞれに対する専用として備えられてもよく、一つの分光器は一つの合成分割光を受信することができ、受信した合成分割光をｎ個の光に分光させることができる。
【００７５】
フォーカス部１５３は、分光部１５１の分光器を通じて波長帯域別に分光された平行光を各波長帯域によって一つの焦点に集まることができるように平行光の焦点距離を調節することができる。
【００７６】
スキャン制御部１５５は、分光部１５１で波長帯域別に分光された平行光をスキャンできるスキャン部１５７のスキャンを実行したり、スキャンを実行するための待機動作を制御することができる。
【００７７】
スキャン制御部１５５は、分光部１５１に備えられたｎ個の分光器のうちｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが完了すると、ｎ番目の分光器から分光された平行光のスキャンを開始するスキャン開始信号を伝送することができる。
【００７８】
スキャン制御部１５５は入射した合成分割光が２個の場合、１番目の分光器から分光される平行光と２番目の分光器から分光される平行光を交互にスキャンする信号をスキャン部１５７に伝送することができる。
【００７９】
スキャン部１５７は、スキャンを実行できるカメラなどの装置を利用して分光部１５１のｎ個の分光器から分光される各光を順次スキャンすることができる。すなわち、スキャン部１５７はｎ個の分光器から分光される各光を互いに異なる時間にスキャンすることができる。
【００８０】
ここで、スキャンを実行できる装置はＣＭＯＳカメラ、ＣＣＤカメラなどからなり得るが、これに限定されるものではなく。分光された光に対してスキャンを実行できる装置を意味し得る。
【００８１】
スキャン部１５７はスキャン制御部１５５からスキャン開始信号が受信されると、フォーカス部１５３で各波長帯域によって一つの焦点に集まった平行光を順次スキャンすることができる。
【００８２】
スキャン部１５７は、スキャン制御部１５５からｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャン開始信号が受信されても、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了しないと、ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンを実行しないことができる。
【００８３】
すなわち、スキャン部１５７は、ｎ番目の分光器から分光された平行光をスキャンするためのスキャン開始信号が受信されても、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了した後、ｎ番目の分光器から分光された平行光に対してスキャンを実行することができる。
【００８４】
より具体的には、スキャン部１５７はｎ−１番目の分光器から分光されて一つの焦点に集まった平行光のスキャンが完了した後、スキャン制御部１５５からスキャン開始信号が受信されると、ｎ番目の分光器から分光されて一つの焦点に集まった平行光のスキャンを開始することができる。
【００８５】
スキャン部１５７は入射した合成分割光が２個の場合、スキャン制御部１５５のスキャン開始信号の受信を受けて１番目の分光器から分光される平行光と２番目の分光器から分光される平行光を交互にスキャンすることができる。
【００８６】
スキャン部１５７は、スキャン制御部１５５から受信される信号によってスキャンを実行するスキャン動作とスキャン動作実行のために待機する待機動作を繰り返すことができる。
【００８７】
ここで、スキャン部１５７の待機動作は、スキャンを実行できるカメラなどの装置からシャッターを押すための時間、カメラ励起時間などのように、スキャンのために必ず必要な動作を意味し得る。
【００８８】
図４〜図６は，図３の本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置が干渉スペクトルをスキャンするタイミングダイヤグラムを示した図面である。
【００８９】
本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置１００は，入射した一つの合成分割光を分光させた後にスキャンするものの、分光された光を互いに順次スキャンすることができる。
【００９０】
すなわち、スキャンを実行するスキャン動作とスキャン動作実行のために待機する待機動作を繰り返すことができるが、スキャンを実行するスキャン動作は二つの方法で実行され得る。
【００９１】
第１は、図４に図示された通り、光干渉性断層撮影装置１００のスキャン動作と待機動作を繰り返すことは、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンを完了した後、一定時間内にスキャン開始信号を発生してｎ番目の分光器から分光された平行光のスキャンを実行することができる。
【００９２】
例えば、３個の分光器が備えられている光干渉性断層撮影装置１００の場合、スキャン制御部１５５から受信されたスキャン開始信号によって１番目の分光器から分光される平行光をスキャンすることができる。
【００９３】
１番目の分光器から分光された平行光のスキャンを実行する間、２番目の分光器から分光される平行光をスキャンするために待機動作を実行していることができ、１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが完了すると、２番目の分光器から分光される平行光をスキャンするためのスキャン開始信号が受信され得る。
【００９４】
スキャン制御部１５５から受信されたスキャン開始信号によって２番目の分光器から分光される平行光をスキャンすることができ、２番目の分光器から分光された平行光のスキャンを実行する間、３番目の分光器から分光される平行光をスキャンするための待機動作を実行していることができる。
【００９５】
２番目の分光器から分光される平行光のスキャンが完了すると、３番目の分光器から分光される平行光をスキャンするためのスキャン開始信号が受信され得、３番目の分光器から分光される平行光をスキャンすることができる。
【００９６】
第２は、図５に図示された通り、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンを実行するためのスキャン開始信号が発生してｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが実行され始めると、ｎ番目の分光器から分光された平行光のスキャンを実行するためのスキャン開始信号を発生させることができる。
【００９７】
例えば、ｎ個の分光器が備えられている光干渉性断層撮影装置１００の場合、スキャン制御部１５５から受信されたスキャン開始信号によってｎ−２番目の分光器から分光される平行光をスキャンすることができる。
【００９８】
ｎ−２番目の分光器から分光される平行光のスキャンを開始すると、ｎ−１番目の分光器から分光される平行光のスキャンを実行するためのスキャン開始信号を発生させることができる。
【００９９】
すなわち、ｎ−１番目の分光器から分光される平行光をスキャンするスキャン開始信号が発生してスキャンを実行すると、ｎ番目の分光器から分光される平行光をスキャンするスキャン開始信号を発生させることができる。
【０１００】
ただし、ｎ番目の分光器から分光される平行光をスキャンするスキャン開始信号が発生しても、ｎ番目の分光器から分光される平行光に対してスキャンを実行することはｎ−１番目の分光器から分光される平行光に対するスキャンが完了した後に実行することができる。
【０１０１】
スキャン部１５７が図４または図５のスキャン制御部１５５から受信されたスキャン開始信号によって平行光をスキャンする時間は、図６のタイミングダイヤグラムに図示されたライジングエッジ（Ｒｉｓｉｎｇ  Ｅｄｇｅ）からフォーリングエッジ（Ｆａｌｌｉｎｇ  Ｅｄｇｅ）までスキャンを実行することができる。
【０１０２】
スキャン部１５７は分光器から分光された平行光をスキャンする時間は、分光された平行光のレベル（ｌｅｖｅｌ）により変更され得る。例えば、安定したスペクトルで分光された平行光の場合、短時間スキャンを実行することができ、不安定なスペクトルで分光された平行光の場合、長時間スキャンを実行することができる。
【０１０３】
ただし、スキャン部１５７はスキャン制御部１５５からｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャン開始信号が受信されても、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了しないと、ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンを実行しないことができる。
【０１０４】
すなわち、スキャン部１５７はｎ番目の分光器から分光された平行光をスキャンするためのスキャン開始信号が受信されても、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了した後、ｎ番目の分光器から分光された平行光に対してスキャンを実行することができる。
【０１０５】
ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了した後、ｎ番目の分光器から分光された平行光に対してスキャンを実行する理由は、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光とｎ番目の分光器から分光された平行光の重なり現象を予防するためである。
【０１０６】
ここで、ｎ番目の分光器から分光された平行光をスキャンを実行できるスキャン開始信号の受信を受けてｎ番目の分光器から分光された平行光をスキャンする時間は、カメラの露出時間を意味し得る。
【０１０７】
図４〜図６では、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンを完了した後、一定時間内にスキャン開始信号を発生してｎ番目の分光器から分光された平行光のスキャンを実行するものとして限定して図示したが、これは実施例に係る例示に過ぎず、実際にスキャン開始信号を発生することとスキャン時間はより多様な基準で設定され得る。
【０１０８】
以下では、図７〜図９を参照して姿勢矯正ベルト１００の駆動方法を具体的に説明することにする。
【０１０９】
図７は、本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置を利用した映像生成方法を概略的に図示したフローチャートである。
【０１１０】
図７を参照すると、本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置１００を利用した映像生成方法は、光から分割されて生成された基準光および測定光を利用して合成光を生成することができる（Ｓ１１００）。
【０１１１】
ここで、基準光が１個であるとき、測定光は対象物の個数により変わり得る。例えば、ｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物が存在する場合、測定光はｋ（ここで、ｋは自然数）個が生成され得る。
【０１１２】
すなわち、１個の基準光とｋ（ここで、ｋは自然数）個の測定光を利用して合成光を形成することができ、光周波数で分割された多数の測定光は生成する単一映像に多数個のチャネルとしてそれぞれ分割されて表現され得る。
【０１１３】
生成した合成光は入射する光を二つまたはそれ以上に同時に分配できるスプリッタなどの装置に入射して、ｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光に分割され得る（Ｓ１３００）。
【０１１４】
ここで、合成分割光は備えられたスイッチがオン（ｏｎ）になった時は合成光を分割して生成され得、スイッチがオフ（ｏｆｆ）になった時は合成光を分割しないため生成され得ない。
【０１１５】
ｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光はそれぞれ平行光に変換され得、各平行光はｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の分光器に照射され得（Ｓ１５００）、平行光は各分光器から波長帯域別に分光され得る。
【０１１６】
ｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の分光器から波長帯域別に分光された各光をスキャンを実行できるカメラなどの装置を利用して順次スキャンすることができる（Ｓ１７００）。
【０１１７】
ｎ個の分光器から分光された平行光をスキャンした結果を利用して２次元単一映像を生成することができ。生成した２次元単一映像を利用して３次元単一映像も生成することができる（Ｓ１９００）。
【０１１８】
また、ｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物を照射する光経路差による周波数が異なるｋ（ここで、ｋは自然数）個の測定光に応じてｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物によってｋ（ここで、ｋは自然数）個のチャネルで形成されて単一映像に生成することができる。
【０１１９】
図８は、図７の合成光を生成する方法を具体的に図示したフローチャートである。
【０１２０】
光を分割して第１光および第２光に生成することができる（Ｓ１０１０）。ここで、光は帯域幅が広く、干渉長が短い白色光を生成することができるが、これに限定されるものではない。
【０１２１】
生成した第１光は平行光に変換させることができるコリメータなどの装置に入射し得るため平行光に変換され得、平行光は一つの焦点に集まるように距離を調節できるフォーカシングレンズなどの装置に入射して一つの焦点に集まることができる。
【０１２２】
一つの焦点に集まった平行光は反射し、光の経路を変更できるリファレンスミラーなどの装置を利用して反射して経路が変更され得、これから基準光を生成することができる（Ｓ１０５０）。
【０１２３】
生成した第２光はｋ個（ここで、ｋは自然数）に分割できるスプリッタなどの装置に入射して分割され得、分割された第２光は平行光に変換させることができるコリメータなどの装置に入射し得るため平行光に変換され得る。
【０１２４】
変換された平行光は光経路を変更した後、直接または間接的に対象物に光を照射できるスキャニングミラーに伝達され得、スキャニングミラーなどの装置を通じて照射された光が対象物に一つの焦点に集まるように調節できるスキャンレンズを利用して一つの焦点に集まることができる。
【０１２５】
スキャニングミラーなどの装置を利用して対象物（または対象物の内部構造体）から反射した光をスキャンすることができ、対象物（または対象物の内部構造体）に対する光情報を獲得することができ、これから測定光を生成することができる（Ｓ１０９０）。
【０１２６】
ここで、測定光は照射する対象物の個数に応じて生成され得る。すなわち、ｋ（ここで、ｋは自然数）個の対象物が存在すればｋ（ここで、ｋは自然数）個の測定光が生成され得る。
【０１２７】
図９は、図７の分光された光を順次スキャンする方法を具体的に図示したフローチャートである。
【０１２８】
入射したｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光は平行光に変換させることができるコリメータなどの装置に伝達されてそれぞれ平行光に変換され得る（Ｓ１５１０）。
【０１２９】
変換された平行光はそれぞれｎ個の分光器に入射し得、入射した平行光は分光器を通じて波長帯域別に分光され得る（Ｓ１５３０）。ここで、一つの分光器は一つの合成分割光を受信することができ、受信した合成分割光をｎ個の光に分光させることができる。
【０１３０】
分光器を通じて波長帯域別に分光された平行光を各波長帯域によって一つの焦点に集めることができる焦点レンズなどの装置を通じて平行光の焦点距離を調節して一つの焦点に集めることができる（Ｓ１５５０）。
【０１３１】
分光器から分光された平行光が一つの焦点で集まると、波長帯域別に分光された平行光をスキャンできるスキャン開始信号を受信して各分光された平行光に対するスキャンを実行することができる。
【０１３２】
ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンを開始することができるスキャン開始信号が受信されると、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンを実行することができる。
【０１３３】
ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが完了すると、（Ｓ１５７０）、ｎ番目の分光器から分光された平行光のスキャンを開始するスキャン開始信号を伝送することができる（Ｓ１５７１）。
【０１３４】
ここで、ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャン開始信号が受信されても、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了しないと、ｎ番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンを実行しないことができる。
【０１３５】
すなわち、ｎ番目の分光器から分光された平行光をスキャンするためのスキャン開始信号が受信されても、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光に対するスキャンが完了した後、ｎ番目の分光器から分光された平行光に対してスキャンを実行することができる。
【０１３６】
ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンを開始するスキャン開始信号の受信を受けてｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンを実行しているのであれば、ｎ番目の分光器から分光された平行光のスキャンを開始するために待機動作を実行することができる。
【０１３７】
一方、ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが完了していなければ（Ｓ１５７０）、ｎ番目の分光器から分光された平行光のスキャンを開始するために待機する待機動作を実行していることができる（Ｓ１５７９）。
【０１３８】
ｎ−１番目の分光器から分光された平行光のスキャンが完了してｎ番目の分光器から分光された平行光のスキャン開始信号が受信されると、各波長帯域によって一つの焦点に集まった平行光をスキャンすることができる（Ｓ１５９０）。
【０１３９】
図１０は、本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置を利用した場合、光の流れを示した図面である。
【０１４０】
カプラ部１３０は光源部１１０で生成した光を第１光および第２光に分割して基準部１３１およびサンプル部１３５に伝達することができ、基準部１３１は第１光を利用して基準光を生成することができ、サンプル部１３５は第２光を利用して測定光を生成することができる。
【０１４１】
基準部１３１は平行光に変換させることができるコリメータなどの装置３１を利用して第１光を平行光に変換させることができ、コリメータから入射した平行光はフォーカシングレンズなどの装置３２を利用して一つの焦点に集まることができる。
【０１４２】
フォーカシングレンズなどの装置３２を通じて一つの焦点に集まった光は、リファレンスミラーなどの光を受信した後に反射させる装置３３を利用して光を反射させて経路を変更させることができ、経路が変更された光は基準光としてカプラ部１３０に伝達され得る。
【０１４３】
サンプル部１３５は入力される第２光をｍ個（ここで、ｍは２以上の自然数）に分割できるスプリッタ４０等の装置を利用して多数個の光に分割され得、分割された光はコリメータ４１ａ、４１ｂ、…、４１ｎ等の装置を利用して平行光に変換され得る。
【０１４４】
スキャニングミラー４２ａ、４２ｂ、…、４２ｎ等の装置を利用して光経路を変更した後、直接または間接的に対象物に光を照射できるように平行光の経路を対象物の方向に移動させることができ、スキャンレンズ４３ａ、４３ｂ、…、４３ｎなどの装置を利用して光が対象物に一つの焦点に集まるように調節することができる。
【０１４５】
サンプル部１３５はスキャンレンズの位置または角度を調節するレンズ調節装置を含むことができ、平行光が照射された対象物から反射する光は測定光としてカプラ部１３０に伝達され得る。
【０１４６】
カプラ部１３０は基準部１３１とサンプル部１３５から伝達された基準光と測定光を合成して合成光を生成することができ、生成した合成光をｍ個（ここで、ｍは２以上の自然数）に分割できるスプリッタ１３３ｂ等の装置に伝達してｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光に分割することができる。
【０１４７】
スプリッタ１３３ｂ等の装置を通じてｎ個の合成分割光に分割された光は検出部１５０に伝達され得る。ここで、スプリッタ１３３ｂは備えられたスイッチ１３３ａがオン（ｏｎ）になった時にのみ合成光を合成分割光に分割することができる。
【０１４８】
検出部１５０は入射したｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光をそれぞれｎ個の分光器に分配するために、コリメータ６２１ａ、６２１ｂ、…、６２１ｎ等の装置を利用して平行光に変換させることができ、変換された平行光はそれぞれｎ個の分光器６２２ａ、６２２ｂ、…、６２２ｎに入射し得る。
【０１４９】
ｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の分光器はｎ個の合成分割光それぞれに対する専用で備えられてもよく、一つの分光器は一つの合成分割光を受信することができ、受信した合成分割光をｎ個の光に分光させることができる。
【０１５０】
ｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の分光器を通じて波長帯域別に分光された平行光は、フォーカシングレンズ６２３ａ、６２３ｂ、…、６２３ｎ等の装置を利用して各波長帯域によって一つの焦点に集まることができるように平行光の焦点距離を調節することができる。
【０１５１】
一つの焦点に集まった分光器から分光された平行光は、スキャンを実行できるカメラ６２４ａ、６２４ｂ、…、６２４ｎ等の装置のスキャンを実行することができ、各分光器６２２ａ、６２２ｂ、…、６２２ｎから分光された平行光のスキャンが完了すると、スキャン結果を映像生成部１７０に伝達して２次元単一映像を生成することができる。
【０１５２】
図１１は、本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置にビームスプリッタを追加で具備した場合、光の流れを示した図面である。
【０１５３】
本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置１０１の検出部１５０’にビームスプリッタ６２５ａ、６２５ｂ、…、６２５ｎを追加で具備することになると、分光器６２２から分光されて一つの焦点に集まった光を二つの方向に分割することができる。
【０１５４】
本発明が提案する光干渉性断層撮影装置１０１のカプラ部１３０は、光源部１１０で生成した光を第１光および第２光に分割して基準部１３１およびサンプル部１３５に伝達することができ、基準部１３１は第１光を利用して基準光を生成することができ、サンプル部１３５は第２光を利用して測定光を生成することができる。
【０１５５】
カプラ部１３０は基準部１３１とサンプル部１３５から伝達された基準光と測定光を合成して合成光を生成することができ、生成した合成光をｍ個（ここで、ｍは２以上の自然数）に分割できるスプリッタ１３３ｂ等の装置に伝達してｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光に分割することができる。
【０１５６】
ここで、カプラ部１３０はスイッチ１３３ａを具備してスイッチ１３３ａがオン（ｏｎ）になった時にのみスプリッタ１３３ｂ等の装置を利用して合成光を合成分割光に分割して照射することができる。
【０１５７】
スプリッタ１３３ｂ等の装置を通じてｎ個の合成分割光に分割された光は、ビームスプリッタ６２５ａ、６２５ｂ、…、６２５ｎが追加で備えられた検出部１５０’に伝達され得、検出部１５０’は入射したｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の合成分割光を平行光に変換させることができる。
【０１５８】
ここで、合成分割光はコリメータ６２１ａ、６２１ｂ、…、６２１ｎ等の装置を利用して平行光に変換させることができ、変換された平行光はそれぞれｎ個の分光器６２２ａ、６２２ｂ、・、６２２ｎに入射し得る。
【０１５９】
ｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の分光器はｎ個の合成分割光それぞれに対する専用で備えられていてもよく、一つの分光器は一つの合成分割光を受信することができ、受信した合成分割光をｎ個の光に分光させることができる。
【０１６０】
ｎ（ここで、ｎは２以上の自然数）個の分光器を通じて波長帯域別に分光された平行光は、フォーカシングレンズ６２３ａ、６２３ｂ、…、６２３ｎ等の装置を利用して各波長帯域によって一つの焦点に集まることができるように平行光の焦点距離を調節することができる。
【０１６１】
一つの焦点に集まった分光器から分光された平行光はビームスプリッタ６２５ａ、６２５ｂ、・、６２５ｎを通じて二つの方向に分割され得、分割された光はスキャンを実行できるカメラ６２４ａ、６２４ｂ、…、６２４ｎ等の装置のスキャンを実行することができる。
【０１６２】
図１２は、本発明の一実施例に係る光干渉性断層撮影装置を利用して生成された２次元単一映像を示した図面である。
【０１６３】
図１２を参照して、本発明の光干渉性断層撮影装置を利用して対象物が４個の場合、周波数が異なる４個の測定光を利用して２次元単一映像が生成される例を説明することにする。
【０１６４】
光情報を獲得する対象物が４個の場合、入力される第２光はスプリッタ４０等の装置を通過して４個の光に分割され得、コリメータ４１ａ、４１ｂ、４１ｃ、４１ｄ等の装置を通過して平行光に変換され得る。
【０１６５】
変換された平行光はスキャニングミラーなどの装置およびスキャンレンズなどの装置からそれぞれの対象物に照射され得、この時、スキャンレンズなどの装置から各対象物に一つの焦点に集まるように照射され得、平行光が照射された対象物から反射した光をスキャンして対象物に対する光情報を獲得することができる。
【０１６６】
対象物から獲得した光情報は測定光としてカプラ部１３０に伝送され得、基準部１３１から伝達された基準光と合成して合成光を生成することができ、合成光を４個の合成分割光に分割して検出部１５０に照射することができる。
【０１６７】
検出部１５０はカプラ部１３０から入射した４個の合成分割光を波長帯域別に分光させる４個の分光器にそれぞれ伝達することができ、分光器は入射した一つの合成分割光を波長帯域別に分光させることができる。
【０１６８】
一つの分光器は一つの合成分割光を受信することができ、受信した合成分割光を分光させることができる。これに伴い、検出部１５０で分光される光は総４個を意味し得る。
【０１６９】
検出部１５０は光干渉性単一映像を生成するために入射した４個の合成分割光の波長による干渉スペクトルをスキャンして映像生成部１７０に提供することができる。
【０１７０】
映像生成部１７０は検出部１５０で提供されたスキャン結果を利用して各対象物別にチャネルが生成されて４個のチャネルが生成された２次元単一映像を生成することができる。
【０１７１】
これに伴い、各分光器６２２ａ、６２２ｂ、…、６２２ｎから分光された平行光のスキャンが完了すると、スキャン結果を映像生成部１７０に伝達して２次元単一映像を生成することができる。
【０１７２】
図１２では、４個の対象物が存在し、周波数によって４個の測定光が生成される場合に限定して図示したが、これは実施例に係る例示に過ぎず、実際に対象物の個数とこれによって周波数別に分割される光はより多様な基準で設定され得る。
【０１７３】
前述した通り、本発明は分割された多数の光を多数のアレイディテクターを利用してスキャン時間を分配することによって、光干渉性断層映像の獲得速度を向上させることができる。
【０１７４】
以上、実施例を参照して説明したが、該当技術分野の熟練した当業者は下記の特許請求の範囲に記載された本発明の思想および領域から逸脱しない範囲内で本発明を多様に修正および変更できることが理解できるであろう。
【符号の説明】
【０１７５】
１００：光干渉性断層撮影装置
１１０：光源部
１３０：カプラ部
１３１：基準部
１３５：サンプル部
１３９：分割部
１５０：検出部
１５１：分光部
１５３：フォーカス部
１５５：スキャン制御部
１５７：スキャン部
１７０：映像生成部
【図１】
2021531481.tif 000003
【図２】
2021531481.tif 000004
【図３】
2021531481.tif 000005
【図４】
2021531481.tif 000006
【図５】
2021531481.tif 000007
【図６】
2021531481.tif 000008
【図７】
2021531481.tif 000009
【図８】
2021531481.tif 000010
【図９】
2021531481.tif 000011
【図１０】
2021531481.tif 000012
【図１１】
2021531481.tif 000013
【図１２】
2021531481.tif 000014
【国際調査報告】
2021531481.tif 000015
2021531481.tif 000016
2021531481.tif 000017
2021531481.tif 000018
2021531481.tif 000019
2021531481.tif 000020