(57)【要約】【課題】渦電流損失を低減することによって高電圧試験を実施するチョークを改良する。【解決手段】本発明は、筐体（Ｇ）と、筐体（Ｇ）の内部に配置されたコイル（Ｓ）と、少なくとも１つの導電性構成要素（Ｆ１、Ｆ２）と、コイル（Ｓ）が生成可能な磁束を案内する磁束案内装置（ＦＦ）とを備える、高電圧試験を実行するチョーク（Ｄ）に関する。導電性構成要素（Ｆ１、Ｆ２）は、コイル（Ｓ）と筐体（Ｇ）との間に配置される。磁束案内装置（ＦＦ）は、強磁性材料を含有し、コイル（Ｓ）によって生成可能な磁束が、導電性構成要素（Ｆ１、Ｆ２）を回避するかあるいは実質的に回避するように、コイル（Ｓ）と少なくとも１つの導電性構成要素（Ｆ１、Ｆ２）との間に配置される。
2021507503.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
高電圧試験を行うためのチョークであって、
筐体（Ｇ）と、
筐体（Ｇ）の内側に配置されているコイル（Ｓ）と、
コイル（Ｓ）と当該筐体との間に配置された少なくとも１つの導電性構成要素（Ｆ１、Ｆ２）と、
コイル（Ｓ）によって生成可能な磁束を案内する磁束案内装置（ＦＦ）と
を備え、
磁束案内装置（ＦＦ）が、
強磁性体を備え、
コイル（Ｓ）によって生成可能な磁束が導電性構成要素（Ｆ１、Ｆ２）のそばを通過するように、コイル（Ｓ）と、少なくとも１つの導電性構成要素（Ｆ１、Ｆ２）との間に配置されている、
高電圧試験を行うためのチョーク。
【請求項２】
筐体（Ｇ）は少なくとも部分的に導電性材料で構成され、磁束案内装置（ＦＦ）は、コイル（Ｓ）によって生成される磁束から筐体（Ｇ）の導電性材料を遮蔽するように配置されている、請求項１に記載のチョーク。
【請求項３】
磁束案内装置（ＦＦ）は、少なくとも部分的にコイル（Ｓ）を半径方向に囲む円筒形構成要素を備える、請求項１又は２に記載のチョーク。
【請求項４】
磁束案内装置（ＦＦ）は、コイル（Ｓ）の周りに放射状に配置され、コイル（Ｓ）に沿って延在する少なくとも２つの区間部分を備える、請求項１又は２に記載のチョーク。
【請求項５】
磁束案内装置（ＦＦ）は電気的及び機械的にコイル（Ｓ）に接続されている、請求項１から４のいずれか一項に記載のチョーク。
【請求項６】
少なくとも１つの電気部品は、電界制御電極（Ｆ１、Ｆ２）を備える、請求項１から５のいずれか一項に記載のチョーク。
【請求項７】
導電性構成要素（Ｆ１、Ｆ２）は、磁束案内装置（ＦＦ）と筐体（Ｇ）との間に、特に、磁束案内装置（ＦＦ）と筐体（Ｇ）との間で放射状に配置されている、請求項１から６のいずれか一項に記載のチョーク。
【請求項８】
コイル（Ｓ）はエアコイルとして形成されている、請求項１から７のいずれか一項に記載のチョーク。
【請求項９】
チョーク（Ｄ）は、コイル（Ｓ）を支持する懸架体（Ａ）を備え、磁束案内装置（ＦＦ）は、懸架体（Ａ）の内部に配置される内部構成要素を備える、請求項１から７のいずれか一項に記載のチョーク。
【請求項１０】
磁束案内装置（ＦＦ）は、コイル（Ｓ）の正面側の端部に配置され、コイル（Ｓ）の巻線軸に垂直に向けられる少なくとも１つの端部構成要素を備える、請求項１から９のいずれか一項に記載のチョーク。
【請求項１１】
チョーク（Ｄ）は、コイル（Ｓ１）と直列に接続されている少なくとも１つのさらなるコイル（Ｓ２）を備える、請求項１から１０のいずれか一項に記載のチョーク。
【請求項１２】
チョーク（Ｄ）は、コイル（Ｓ）に電気的に接続する少なくとも１つの高電圧接続部（ＤＦ１）を備える、請求項１から１１のいずれか一項に記載のチョーク。
【請求項１３】
チョーク（Ｄ）は、固定インダクタンスを持つチョークとして形成されている、請求項１から１２のいずれか一項に記載のチョーク。
【請求項１４】
試験対象（Ｐ）で高電圧試験を実行するための試験装置であって、
試験装置は、直列又は並列に接続された１つ以上のチョークを備え、少なくとも１つのチョークが、請求項１から１３のいずれか一項に従って形成されている、試験対象（Ｐ）で高電圧試験を実行する試験装置。
【請求項１５】
当該試験装置は、共振回路を形成するべく、１つ以上のチョークと試験対象（Ｐ）に接続可能である供給源（ＥＱ）を備える、請求項１４に記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験物体に対して高電圧試験を実施するためのチョーク、及び少なくとも１つのそのようなチョークを備えた試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
高電圧システムと高電圧構成要素は、容量性試験対象を意味するものである。高電圧試験では、これらの容量性試験対象は、共振回路を形成すべく、１つ以上のチョークに接続され、例えば可変周波数で、電力が供給される。この場合、例えば、金属製の容器に配置されたエアコイル付きチョークが使用される。そのようなチョークでは、制御されていない磁束分布があり、金属容器と金属容器の内部のチョークの導電性構成要素との両方で、渦電流損失が増加する。これらの渦電流損失により、共振回路の品質が低下する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
したがって、本発明の課題は、渦電流損失を低減することによって高電圧試験を実施するためのチョークの改良された着想を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
この課題は、独立請求項の主題によって解決される。さらなる実施形態は、従属請求項の発明特定事項である。
【０００５】
改良された構想は、磁束案内装置としてチョーク内部に強磁性体を提供するという思想に基づく。磁束案内装置を介して、磁束は導電性構成要素を通って案内される。そうしないと、渦電流損失の原因となる可能性がある。
【０００６】
改良された構想によれば、高電圧試験を実行するためのチョークが指定される。これは、筐体と、筐体の内部に配置されたコイルと、少なくとも１つの導電性構成要素と、コイルによって生成可能な磁束を案内する磁束案内装置とを備える。導電性構成要素は、コイルと筐体との間に配置される。  磁束案内装置は、強磁性材料を備え、コイルによって生成可能な磁束が導電性構成要素の中を通過しないかあるいは実質的に通過しないように導かれるように、コイルと少なくとも１つの導電性構成要素との間に配置される。
【０００７】
磁束を、導電性構成要素の中を通過させない、又は実質的に通過させないことは、磁束が導電性構成要素によって排除又は低減されることを意味すると理解されたい。これは特に、磁束案内装置がコイルと導電性構成要素との間に配置されることで達成される。これは、導電性構成要素における渦電流及び対応する渦電流損失を防止又は低減する。チョークが共振回路の一部として試験装置で使用される場合、これは最終的に共振回路の品質の向上につながる。これにより、試験装置が利用可能な電力を削減可能である。同時に、強磁性材料を使用すると、チョークのインダクタンスが増加するため、インダクタンスが同じであればチョークのサイズを小さくできて、インダクタンスが同じであればチョークの性能が向上する。
【０００８】
少なくとも１つの実施形態によれば、磁束案内装置の強磁性材料又は磁束案内装置の個々の構成要素は、電気シート又は電気シートの積層体又は電気鋼材料又はアモルファス強磁性材料を備える。
【０００９】
少なくとも１つの実施形態によれば、筐体は、少なくとも一部が導電性材料、例えば金属からなる。磁束案内装置は、コイルによって生成可能な磁束から筐体の導電性材料を遮蔽するように配置される。
【００１０】
少なくとも１つの実施形態によれば、筐体は少なくとも部分的に鋼からなる。例えば、筐体の筐体壁は完全に鋼で構成してもよい。
【００１１】
筐体を磁束から遮蔽することにより、筐体内の渦電流損失が減少する。これにより、アルミニウムなどの特に導電率の高いコストのかかる材料を省き、代わりに鋼などの安価な材料を使用可能である。さらに、渦電流損による技術的な許容レベルを超える熱影響なしに、筐体材料の肉厚を減らせる。
【００１２】
少なくとも１つの実施形態によれば、磁束案内装置は、少なくとも部分的にコイルを半径方向に囲む円筒形、特に円形円筒形の構成要素を備える。放射状に封入するとは、コイルの巻回軸に垂直な面に封入することを意味する。軸方向、すなわち巻線軸に平行な方向で、コイルは、円筒形構成要素を超えて突出するか、又は円筒形構成要素と同一延長となるようにしてもよい。代替的に、円筒形構成要素は、コイルを超えて軸方向に突出していてもよい。
【００１３】
少なくとも１つの実施形態によれば、円筒形構成要素は、コイルを半径方向に完全に取り囲む。
【００１４】
少なくとも１つの実施形態によれば、円筒形構成要素は、少なくとも部分的に強磁性材料からなる。
【００１５】
少なくとも１つの実施形態によれば、磁束案内装置は、コイルの周りに放射状に分配される、例えば均一に分配される少なくとも２つの区間部分を備え、軸に沿って、例えばコイルに沿って全体的に又は実質的に全体的に延在する。区間部分の数及び寸法は、区間部分が一緒に全体的又は部分的にコイルを半径方向に囲むようなものであってもよい。
【００１６】
少なくとも１つの実施形態によれば、区間部分は、棒状又は直方体であるか、又は中空円筒、特に中空円筒の一部として形成されている。
【００１７】
少なくとも１つの実施形態によれば、区間部分はそれぞれ、少なくとも部分的に強磁性材料からなる。
【００１８】
少なくとも１つの実施形態によれば、磁束案内装置は、電気的及び機械的にコイルに接続される。その結果、磁束案内装置とコイルは同じ電位になる。
【００１９】
少なくとも１つの実施形態によれば、筐体は、磁束案内装置及びコイルから電気的に絶縁されている。
【００２０】
少なくとも１つの実施形態によれば、磁束案内装置又は円筒形構成要素又は区間部分は、コイルによって担持され、及び／又はコイル上にある。これにより、チョークの特にコンパクトな設計が実現する。
【００２１】
少なくとも１つの実施形態によれば、流れガイド装置又は円筒形構成要素又は区間部分は、止めねじによってコイルに接続される。これによって、特に、製造上の許容差を補償するために、磁束案内装置又は円筒形構成要素又は区間部分と、コイルとの間に隙間の形成が達成可能である。
【００２２】
少なくとも１つの実施形態によれば、少なくとも１つの電気構成要素は、少なくとも１つの電界制御電極を備える。
【００２３】
高電圧試験中、筐体とフローガイド装置は異なる電位にある。したがって、電界制御電極は、小さい曲率半径の角部、縁部、又は表面で最大の電界強度の発生を防止し、チョーク内の必要なスパーク距離、特にコイルと筐体又は磁束ガイド装置と筐体間の必要な距離を短縮するのに役立つ遮蔽体を代表する。
【００２４】
少なくとも１つの実施形態によれば、導電性構成要素又は電界制御電極は、流れ案内装置と筐体との間に、特に流れ案内装置と筐体との間に半径方向に配置される。
【００２５】
少なくとも１つの実施形態によれば、電界制御電極は、円筒形構成要素又は区間部分の端面に配置される。
【００２６】
少なくとも１つの実施形態によれば、少なくとも１つの電気コンポーネントは、１つ又は複数のさらなる電界制御電極を備える。
【００２７】
少なくとも１つの実施形態によれば、さらなる電界制御電極のうちの１つは、円筒形構成要素又は区間部分のさらなる端面上に配置される。
【００２８】
少なくとも１つの実施形態によれば、電界制御電極は環状構造を有し、コイルの巻線軸と同軸に整列される。
【００２９】
少なくとも１つの実施形態によれば、電界制御電極は、部分的又は全体的に金属からなる。特に、電界制御電極は金属本体を有する。特に、電界制御電極は、導電性被覆を備えた電気絶縁体で作製されていない。
【００３０】
磁束案内装置によって磁場制御電極を回避して磁束を案内し、それによって磁場制御電極内の渦電流を低減することにより、金属本体を備えた構造を使用可能である。一方で、これは、導電性被覆、例えば半導体材料の被覆を備えたプラスチック本体を使用するよりもコスト面で有利である。さらに、金属体を有する電界制御電極は、粗さの少ない表面、例えば、研磨された表面を有してもよく、したがって、最大電界強度の低下につながる。したがって、チョーク内で必要なストローク長が短縮され、よりコンパクトな設計が可能になる。
【００３１】
少なくとも１つの実施形態によれば、チョークは、コイルを支持する懸架体、特に中央懸架体を備える。
【００３２】
少なくとも１つの実施形態によれば、懸架体は非導電性材料からなる。
【００３３】
少なくとも１つの実施形態によれば、懸架体は、コイルの巻線軸と同軸に整列される。
【００３４】
少なくとも１つの実施形態によれば、懸架体は、１つ又は複数の機械的に接続された懸架体を備える。
【００３５】
少なくとも１つの実施形態によれば、磁束案内装置は、懸架体の内部に配置される内部構成要素を備える。特に、内部構成要素は、少なくとも部分的に強磁性材料からなる。これにより、チョークのインダクタンスがさらに増加する。
【００３６】
少なくとも１つの実施形態によれば、磁束案内装置は、コイルの正面側の端部に配置され、コイルの巻線軸に垂直に向けられる少なくとも１つの正面側構成要素を備える。特に、正面側構成要素は、少なくとも部分的に強磁性材料からなる。その結果、コイルの正面側に配置された筐体の部品、又はチョークの対応するように配置された導電性構成要素は、磁束から遮蔽される。
【００３７】
少なくとも１つの実施形態によれば、端部構成要素は、円筒形構成要素又は少なくとも１つの区間部分に接続される。
【００３８】
少なくとも１つの実施形態によれば、チョークは、コイルと直列に接続された少なくとも１つのさらなるコイルを備える。
【００３９】
少なくとも１つの実施形態によれば、コイル及び少なくとも１つのさらなるコイルは、同じ巻線軸を有し、特に懸架体上で、軸方向に互いに隣接して、又は半径方向に互いに上下に配置される。
【００４０】
少なくとも１つの実施形態によれば、コイルは、エアコイルとして、すなわち、強磁性コアのないコイルとして形成される。チョークが軸方向にコイルの隣に別のコイルを備える場合、このコイルはエアコイルとしても形成される。エアコイルという用語は、他の非強磁性材料、特に絶縁媒体が、空気の代わりに、又はそれに加えて、筐体内及びコイルの内部に存在することを排除するものではない。
【００４１】
コイル及びさらなるコイルは、例えば、軸方向に隣接するコイルの各々がそれらの半径方向内側に異なる電位、特に高電圧電位を有するように巻いてもよい。したがって、これらのコイルは、必要な絶縁耐力を確保するために、互いに軸方向に間隔を置いて配置されている。エアコイルとしての構成は、これらの距離が橋渡しされないようにするのを確実にする。
【００４２】
少なくとも１つの実施形態によれば、チョークは、コイル、特にコイルの第１の接点に電気的に接触するための高電圧接続部を有する。高電圧接続部は、例えば、試験体を接続するために使用してもよい。
【００４３】
少なくとも１つの実施形態によれば、高電圧接続部は高電圧ブッシングを備える。
【００４４】
少なくとも１つの実施形態によれば、チョークは、ブッシング、特にさらなる高電圧ブッシングを備える、さらなる電圧接続部」、特にさらなる高電圧接続部を有する。
【００４５】
チョークのコイルが１つしかない少なくとも１つの変更例では、追加の電圧接続部」がコイルの２番目の接点に電気接続するのに使用される。
【００４６】
チョークがコイル及びさらなるコイルを有する少なくとも１つの実施形態において、さらなる電圧接続は、さらなるコイルの電気的接続のために役立つ。
【００４７】
少なくとも１つの実施形態によれば、懸架体は、高電圧ブッシング及び／又はさらなるブッシングに固定される。
【００４８】
少なくとも１つの実施形態によれば、高電圧ブッシング及びさらなるブッシングは、筐体の反対側に配置される。
【００４９】
少なくとも１つの実施形態によれば、チョークは、固定された、特に変更不可能なインダクタンスを有するチョークとして形成されている。
【００５０】
少なくとも１つの実施形態によれば、筐体の内部は、絶縁媒体、特に非導電性流体、例えば絶縁液体又は絶縁ガスで満たされる。
【００５１】
少なくとも１つの実施形態によれば、絶縁媒体は、周囲圧力よりも高い圧力下にある。その結果、必要なスパーク距離を短縮可能であり、コンパクト化に貢献する。
【００５２】
改良された着想によれば、試験対象に対して高電圧試験を実施するための試験装置も画定される。試験装置には、改良された着想によるチョークがある。
【００５３】
少なくとも１つの実施形態によれば、チョークの筐体は接地される。
【００５４】
少なくとも１つの実施形態によれば、試験装置は、共振回路を形成するために、チョーク及び試験対象に接続可能な供給源、又は接続する供給源を備える。チョークは、供給源と試験対象との間に配置される。特に、高電圧接続部は、試験対象に接続されるか、又は接続可能であり、さらに電圧接続は、電源に接続されるか、又は接続可能である。
【００５５】
少なくとも１つの実施形態によれば、供給源は、可変周波数を有する電圧源として形成される。
【００５６】
少なくとも１つの実施形態によれば、試験装置は、チョークと直列又は並列に接続された１つ又は複数のさらなるチョークを有する。そのような実施形態では、チョークのさらなる電圧接続は、直接又はさらなるチョークを介して供給源に接続されるか、又は接続可能である。さらなるチョーク又はさらなるチョークの個々のものは、改良された着想に従って形成してもよい。
【００５７】
少なくとも１つの実施形態によれば、試験装置は試験対象を備える。
【００５８】
少なくとも１つの実施形態によれば、共振回路は、直列共振回路又は並列共振回路である。
【００５９】
本発明は、図面を参照して例示的な実施形態を使用して以下に詳細に説明される。機能的に同一であるか、又は同一の効果を持つ構成要素には、同一の参照記号を付けるだろう。同一の構成要素又は同一の機能を持つ構成要素は、最初に表示される図に関してのみ説明するだろう。以下の図では、説明を必ずしも繰り返す必要はない。
【００６０】
図面は以下の内容を示す。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】改良された着想によるチョークを備えた試験装置の例示的な実施形態のブロック図である。
【図２】改良された着想によるチョークの例示的な実施形態の断面図である。
【図３】改良された着想によるチョークの別の例示的な実施形態の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００６２】
図１は、改良された着想によるチョーク、特に直列共振回路を備えた試験装置の例示的な実施形態のブロック図を示す。
【００６３】
試験装置は、ＡＣ電圧源として形成された供給源ＥＱ、改良された着想に基づくチョークＤ、及び試験片の静電容量でチョークＤと直列に接続された試験片Ｐで構成されている。必要に応じて、１つ以上の追加の試験チョークを、例えばチョークＤのように形成された、共振回路のチョークＤと直列及び／又は並列に接続してもよい。さらに、共振回路は、図示しない追加の構成部品を備えてもよい。
【００６４】
供給源ＥＱは、例えば、チョークＤのコイルに接続されている。動作中、励起電圧、特にＡＣ電圧は、チョークＤと試験対象Ｐの間で降下する供給源ＥＱによって提供される。共振が発生すると、試験電圧が試験対象物Ｐの両端で降下し、その大きさは励起電圧の大きさよりも大きいため、過剰な電圧を生じる。共振回路の品質、つまり共振回路の電力損失に対する試験無効電力の比率は、励起電圧に対する試験電圧の比率に対応する。
【００６５】
次に、図２及び図３を参照して、チョークＤの様々な実施形態をより詳細に説明する。
【００６６】
図２は、改良された着想によるチョークの例示的な実施形態を示す。
【００６７】
チョークは、少なくとも部分的に金属、例えば鋼でできている筐体Ｇを有する。例えば、共振回路では、筐体は接地されている。チョークは、中央に懸架体Ａがあり、その周りにコイルＳが配置されている。チョークはまた、第１及び第２のブッシングＤＦ１、ＤＦ２を有し、少なくとも第１のブッシングＤＦ１は、高電圧ブッシングとして形成されている。第１のブッシングＤＦ１は、例えば、図２に示されるような配置で試験対象物Ｐを接続するために使用される。第２のブッシングＤＦ２は、例えば、図１に示されるような配置で供給源ＥＱを接続するために、又はさらなるチョーク（図示せず）を接続するために使用される。懸架体は、例えば、筐体Ｇと、一方又は両方の懸架体ＤＦ１、ＤＦ２との少なくとも一方に固定される。
【００６８】
チョークは、コイルＳによって生成可能な磁束を案内するための磁束案内装置ＦＦを有する。磁束案内装置ＦＦは、強磁性材料を含有するか又は強磁性材料からなる。図示の例では、磁束案内装置ＦＦは、コイルＳを半径方向に完全に囲む円筒形構成要素、又はコイルＳを半径方向に部分的又は完全に囲むいくつか、例えば４つの区間部分からなる。
【００６９】
加えて、チョークは、例えば２つの電界制御電極Ｆ１、Ｆ２を有し、これらはそれぞれ、磁束案内装置ＦＦと筐体Ｇとの間の円筒形構成要素の端面に配置される。電界制御電極Ｆ１、Ｆ２は、例えば、リング形状であり、円筒形構成要素を半径方向に取り囲む。電界制御電極Ｆ１、Ｆ２は、磁束案内装置ＦＦと筐体Ｇの間の最大の電界強度を遮蔽又は回避する働きをする。電界制御電極がない場合、放電を確実に防止するために、筐体Ｇと磁束案内装置ＦＦの間の距離を大きくする必要がある。
【００７０】
磁束案内装置ＦＦの円筒形構成要素又は区間部分は、コイルＳと電界制御電極Ｆ１、Ｆ２との間に配置される。したがって、磁束案内装置ＦＦは、筐体Ｇ及び電界制御電極Ｆ１、Ｆ２を通る漂遊磁束を低減又は防止する。このように制御された磁束は、筐体Ｇ及び電界制御電極Ｆ１、Ｆ２内の渦電流を低減する。この構造により、コンパクトなチョークに、例えば鋼製筐体を装備可能である。電界制御電極Ｆ１、Ｆ２はまた、全体的又は部分的に金属で作製可能であり、導電性被覆がされたプラスチックからの複雑な製造は必要ではない。
【００７１】
図３は、改良された概念によるチョークのさらなる例示的な実施形態を示す。図３の実施形態は、図２の実施形態に基づいている。
【００７２】
図２の実施形態とは対照的に、図３のチョークは、コイルＳの代わりに、懸架体Ａ上で互いに軸方向に隣接して配置される、直列に接続された２つのコイルＳ１及びＳ２を有する。換言すると、２つの部分巻線Ｓ１、Ｓ２が直列に接続されたコイルが使用される。代替の実施形態では、２つのコイルＳ１、Ｓ２は、上下に放射状に配置してもよい。
【００７３】
２つのコイルＳ１、Ｓ２間の最大電界強度を低減するためにコイルＳ１、Ｓ２の相互に向かい合う端部の間に配置される追加の電界制御電極ＦＷが選択的な要素として任意に提供され、したがって相互の間隔を縮小できるため、コンパクトな設計に貢献する。さらなる電界制御電極ＦＷは、例えば、リング形状であり、懸架体Ａを放射状に取り囲む。
【００７４】
改良された着想に基づくチョークは、チョーク筐体及びチョークの導電性構成要素における渦電流損失を低減する。特に、筐体又は導電性構成要素に安価な材料を使用可能である。渦電流損が減少するため、筐体又は導電性構成要素の電気抵抗はそれほど重要ではないため、チョークの特にコンパクトな設計を実現可能である。したがって、同じサイズでより強力なチョークを構築可能である。チョークが使用されている共振回路の品質は、渦電流損失の低下によって向上する。これにより、所要供給電力が削減される。供給電力を削減することにより、試験構成に統合された他の構成要素の電力と大きさを削減可能である。
【符号の説明】
【００７５】
Ｄ      チョーク
Ｐ      試験対象
ＥＱ    供給源
Ｇ      筐体
Ａ      懸架体
ＦＦ    磁束案内装置
Ｓ、Ｓ１、Ｓ２    コイル
Ｆ１、Ｆ２、ＦＷ  電界制御電極
ＤＦ１、ＤＦ２    ブッシング（碍子）
【図１】
2021507503.tif 000003
【図２】
2021507503.tif 000004
【図３】
2021507503.tif 000005
【国際調査報告】
2021507503.tif 000006
2021507503.tif 000007
2021507503.tif 000008
2021507503.tif 000009
2021507503.tif 000010