(57)【要約】自動化された試料採取を用いて磁気ウェットベンチを実施及び利用するシステム及び方法が提供される。
2021519922.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ウェットベンチにおいて、
非破壊試験（ＮＤＴ）磁気溶液を格納するように構成された容器と、
検査中に前記ＮＤＴ磁気溶液を塗布するように構成された塗布システムと、
試料採取装置と、
１又は複数の回路であって、
予め設定された開始時点において該磁気ウェットベンチを電源オンにし、
予め設定された撹拌持続時間にわたる前記ＮＤＴ磁気溶液の撹拌を開始し、
前記ＮＤＴ磁気溶液から前記試料採取装置内への試料の採取をトリガーする１又は複数の回路とを具備する磁気ウェットベンチ。
【請求項２】
前記ＮＤＴ磁気溶液の前記試料を前記試料採取装置に供給する抽出システムを備える請求項１に記載の磁気ウェットベンチ。
【請求項３】
前記塗布システムは、ホースシステム及びポンプを備え、該ポンプは、前記ＮＤＴ磁気溶液を、前記ホースシステムを通じて輸送するように構成される請求項１に記載の磁気ウェットベンチ。
【請求項４】
前記ホースシステムは、前記試料を前記試料採取装置内に転向する分岐器を備える請求項３に記載の磁気ウェットベンチ。
【請求項５】
前記１又は複数の回路は、前記予め設定された撹拌持続時間の終了後に、前記ホースシステムを通じた前記ＮＤＴ磁気溶液の輸送を開始するように前記ポンプを起動するように構成される請求項３に記載の磁気ウェットベンチ。
【請求項６】
前記１又は複数の回路は、前記試料の採取が特定の予め設定された量を満たすようにするように構成される請求項１に記載の磁気ウェットベンチ。
【請求項７】
前記１又は複数の回路は、前記試料が分析の準備ができたときにインジケーションを提供するように構成される請求項１に記載の磁気ウェットベンチ。
【請求項８】
前記１又は複数の回路は、予め設定された静置持続時間にわたって前記試料が静置された後に前記インジケーションを提供するように構成される請求項７に記載の磁気ウェットベンチ。
【請求項９】
前記１又は複数の回路は、予め定義されたスケジュールに基づいて試料採取を制御するための１又は複数のタイミングパラメーターを決定するように構成される請求項１に記載の磁気ウェットベンチ。
【請求項１０】
磁気ウェットベンチにおける自動化された試料採取の方法において、
予め設定された開始時点において前記磁気ウェットベンチを電源オンにし、
容器内に格納されている非破壊試験（ＮＤＴ）磁気溶液の、予め設定された撹拌持続時間にわたる撹拌を開始し、
前記ＮＤＴ磁気溶液から試料採取装置内への試料の採取をトリガーすることを含む方法。
【請求項１１】
前記磁気ウェットベンチは、前記ＮＤＴ磁気溶液を供給するように構成されたホースシステムを備え、前記試料の前記採取をトリガーすることは、前記試料を、前記ホースシステムを介して前記試料採取装置内へ転向することを含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記磁気ウェットベンチは、前記ＮＤＴ磁気溶液を輸送するように構成されたポンプを備え、前記試料の採取をトリガーすることは、前記予め設定された撹拌持続時間の終了後に、前記ＮＤＴ磁気溶液の輸送を開始するように前記ポンプを起動することを含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
前記試料が特定の予め設定された量を満たすことを確実にするように前記試料の前記採取を構成することを含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１４】
前記試料が分析の準備ができたとき、インジケーションを提供することを含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１５】
１又は複数のインジケーション条件に基づいて前記インジケーションを提供することを含む請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
１又は複数のインジケーション条件は、予め設定された静置持続時間にわたって前記試料が静置されることを含む請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
予め定義されたスケジュールに基づいて試料採取を制御するための１又は複数のタイミングパラメーターを決定することを含む請求項１０に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
［優先権の主張］
本国際特許出願は、２０１８年３月２７日に出願された米国仮特許出願第６２／６４８，６５５号を参照し、その優先権を主張し、その利益を主張する。米国仮特許出願第６２／６４８，６５５号の全内容は、引用することにより本明細書の一部をなす。
【背景技術】
【０００２】
非破壊試験（ＮＤＴ：Non-destructive testing）は、材料、コンポーネント、及び／又はシステムの特性及び／又は特徴を、被試験アイテムの損傷又は変質を引き起こすことなく評価するのに用いられる。非破壊試験は検査(inspected)されている物品を永続的には変質させないので、非常に価値のある技法であり、製品評価、トラブルシューティング、及び研究に用いられるときのコスト及び／又は時間を抑えることを可能にする。頻繁に用いられる非破壊試験(testing)方法は、磁気粒子検査、渦電流試験、浸透探傷（liquid penetrant）検査（又は染色浸透検査）、放射線透過検査、超音波試験、及び目視試験を含む。非破壊試験（ＮＤＴ）は、機械工学、石油工学、電気工学、システム工学、航空工学、医療、芸術等の分野において共通して用いられる。
【０００３】
幾つかの事例では、非破壊試験において専用の材料及び／又は製品が用いられる場合がある。例えば、特定のタイプの物品の非破壊試験は、非破壊試験を実行するように構成される材料を、試験されることになる物品又は一部に（例えば、噴霧(spray)する、流し込む(pour)、通す(pass)等によって）塗布(apply)することを伴う場合がある。これに関して、非破壊試験に適した特定の磁気的特徴、視覚的特徴等を有することに基づいて、そのような材料（以降「ＮＤＴ材料」又は「ＮＤＴ製品」と称される）を選択及び／又は作製することができ、例えば、試験されることになる物品における不良点（defects）及び欠陥（imperfections）を検出することが可能になる。
【０００４】
幾つかの事例では、試験又は検査の開始前にＮＤＴ材料を評価することが望ましい場合がある。しかしながら、特定の非破壊試験方法において用いられる或る特定のＮＤＴ材料を評価するための従来の手法は、存在する場合、煩わしく、非効率的で、及び／又はコストがかかる場合がある。
【０００５】
従来の手法の更なる制限及び不利点が、そのような手法を、図面を参照して本開示の残りの部分において記載されている本方法及びシステムの幾つかの態様と比較すると、当業者には自明となるであろう。
【発明の概要】
【０００６】
本開示の態様は、製品試験及び検査に関する。より詳細には、本開示による種々の実施態様は、実質的に、図面のうちの少なくとも１つによって図示されるか又はこれに関連して説明され、また、特許請求の範囲においてより完全に記載されるように、自動化された試料採取を用いた磁気ウェットベンチに関する。
【０００７】
本開示のこれらの利点、態様及び新規の特徴、並びに他の利点、態様及び新規の特徴は、それらの図示される実施態様の詳細とともに、以下の説明及び図面からより十分に理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本開示の態様による、自動化された試料採取を用いた一例示の磁気ウェットベンチを示す図である。
【図２】本開示の態様による、自動化された試料採取を支持して用いるための一例示のコントローラーを示す図である。
【図３】本開示の態様による、自動化された試料採取を用いた磁気ウェットベンチを利用する一例示のプロセスのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本開示による種々の実施態様は、特に、磁気ウェットベンチにおいて実行される試料採取に関して、磁気ウェットベンチを利用する、改善されかつ最適化された方式を提供することに関する。
【００１０】
本開示による磁気非破壊試験（ＮＤＴ）検査のために構成された一例示のシステムは、非破壊試験（ＮＤＴ）磁気溶液を格納する容器と、検査中にＮＤＴ磁気溶液を塗布するための塗布システムと、試料採取装置と、予め設定された開始時点においてシステムを電源オンにし、予め設定された撹拌持続時間にわたるＮＤＴ磁気溶液の撹拌を開始し、ＮＤＴ磁気溶液から試料採取装置内への試料の採取をトリガーするように構成された１又は複数の回路とを備えることができる。システムは磁気ウェットベンチとすることができる。
【００１１】
一例示の実施態様では、塗布システムは、ホースシステム及びポンプを備えることができ、ポンプは、ＮＤＴ磁気溶液を、ホースシステムを通じて輸送するように構成される。
【００１２】
一例示の実施態様では、ホースシステムは、試料を試料採取装置内に転向する分岐器を備えることができる。
【００１３】
一例示の実施態様では、１又は複数の回路は、予め設定された撹拌持続時間の終了後に、ホースシステムを通じたＮＤＴ磁気溶液の輸送を開始するようにポンプを起動するように構成することができる。
【００１４】
一例示の実施態様では、システムは、ＮＤＴ磁気溶液の試料を試料採取装置に供給する抽出システムを備えることができる。
【００１５】
一例示の実施態様では、１又は複数の回路は、試料の採取が特定の予め設定された量を満たすようにするように構成することができる。
【００１６】
一例示の実施態様では、１又は複数の回路は、試料が分析の準備ができたときにインジケーションを提供するように構成することができる。
【００１７】
一例示の実施態様では、１又は複数の回路は、予め設定された静置持続時間にわたって試料が静置された後にインジケーションを提供するように構成することができる。
【００１８】
一例示の実施態様では、１又は複数の回路は、予め定義されたスケジュールに基づいて試料採取を制御するための１又は複数のタイミングパラメーターを決定するように構成することができる。
【００１９】
本開示による、磁気非破壊試験（ＮＤＴ）検査のために構成されたシステムにおける自動化された試料採取の一例示の方法は、予め設定された開始時点においてシステムを電源オンにすることと、予め設定された撹拌持続時間にわたる非破壊試験（ＮＤＴ）磁気溶液の撹拌を開始することであって、ＮＤＴ磁気溶液はシステムにおける容器内に格納されている、開始することと、ＮＤＴ磁気溶液から試料採取装置内への試料の採取をトリガーすることとを含むことができる。
【００２０】
一例示の実施態様では、システムは、ＮＤＴ磁気溶液を供給するように構成されたホースシステムを備えることができ、試料の採取をトリガーすることは、試料を、ホースシステムを介して試料採取装置内へ転向することを含むことができる。
【００２１】
一例示の実施態様では、システムは、ＮＤＴ磁気溶液を輸送するように構成されたポンプを備えることができ、試料の採取をトリガーすることは、予め設定された撹拌持続時間の終了後に、ＮＤＴ磁気溶液の輸送を開始するようにポンプを起動することを含む。
【００２２】
一例示の実施態様では、試料の採取は、試料が特定の予め設定された量を満たすことを確実にするように構成することができる。
【００２３】
一例示の実施態様では、試料が分析の準備ができたとき、インジケーションを提供することができる。１又は複数のインジケーション条件に基づいてインジケーションを提供することができる。１又は複数のインジケーション条件は、予め設定された静置持続時間にわたって試料が静置されることを含むことができる。
【００２４】
一例示の実施態様では、予め定義されたスケジュールに基づいて試料採取を制御するための１又は複数のタイミングパラメーターを決定することができる。
【００２５】
本明細書で使用する「回路」及び「回路部」という用語は、物理的な電子コンポーネント（例えば、ハードウェア）と、ハードウェアを構成することができ、ハードウェアが実行することができ、及び／又は他の方法でハードウェアに関連付けることができる、任意のソフトウェア及び／又はファームウェア（「コード」）とを指す。本明細書で使用するとき、例えば、特定のプロセッサ及びメモリ（例えば、揮発性又は不揮発性メモリデバイス、汎用コンピューター可読媒体等）は、第１の１又は複数のコードラインを実行するときに第１の「回路」を備え、第２の１又は複数のコードラインを実行するときに第２の「回路」を備えることができる。さらに、回路は、アナログ及び／又はデジタル回路部を含むことができる。そのような回路部は、例えば、アナログ及び／又はデジタル信号に対し動作することができる。回路は、単一のデバイス又はチップ内、単一のマザーボード上、単一のシャーシ内、単一の地理的ロケーションにおける複数の筐体内、複数の地理的ロケーションにわたって分散された複数の筐体内等にあり得ることが理解されるべきである。同様に、「モジュール」という用語は、例えば、物理的な電子コンポーネント（例えば、ハードウェア）と、ハードウェアを構成することができ、ハードウェアが実行することができ、及び／又は他の方法でハードウェアに関連付けることができる、任意のソフトウェア及び／又はファームウェア（「コード」）とを指すことができる。
【００２６】
本明細書で使用する場合、回路部又はモジュールは、或る機能を実施するために必要なハードウェア及びコード（いずれかが必要である場合）を含む場合はいつでも、その機能の実施が（例えば、ユーザーが構成可能な設定、工場トリム等により）無効にされる又は有効にされていないか否かに関わりなく、回路部又はモジュールはその機能を実行するように「動作可能」である。
【００２７】
本明細書で使用する「及び／又は」は、「及び／又は」によって連結されるリストにおける項目のうちの任意の１又は複数の項目を意味する。一例として、「ｘ及び／又はｙ」は、３つの要素の組｛（ｘ），（ｙ），（ｘ，ｙ）｝のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「ｘ及び／又はｙ」は、「ｘ及びｙのうちの一方又は両方」を意味する。別の例として、「ｘ、ｙ及び／又はｚ」は、７つの要素の組｛（ｘ），（ｙ），（ｚ），（ｘ，ｙ），（ｘ，ｚ），（ｙ，ｚ），（ｘ，ｙ，ｚ）｝のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「ｘ、ｙ及び／又はｚ」は、「ｘ、ｙ及びｚのうちの１つ以上」を意味する。本明細書で使用する「例示的な」という用語は、非限定的な例、事例又は例証としての役割を果たすことを意味する。本明細書で使用する「例えば」という用語は、１又は複数の非限定的な例、事例又は例証のリストを開始する。
【００２８】
図１は、本開示の態様による、自動化された試料採取を用いた一例示の磁気ウェットベンチを示す。図１に示すのは、磁気ウェットベンチ１００である。
【００２９】
磁気ウェットベンチ１００等の磁気粒子検査固定ウェットベンチ（又は磁気ウェットベンチ）が、例えば多岐にわたるコンポーネント（例えば、機械部品等）のＮＤＴ磁気粒子検査において用いるために構成される。通常の磁気ウェットベンチは、試験されている部品に係合するための（例えば、部品が電気コンタクト間にクランプされ、テールストック等の係合部品の一方が、種々の長さの部品に合うように適所に動かされ、係止される）電気コンタクトを有する係合コンポーネント（例えば、ヘッドストック及びテールストック）を有する。試験は、例えば、係合コンポーネントの電気コンタクトを介して電流を印加することによる直接磁化により、部品に磁場を誘導することを伴うことができる。種々のシステムは、試験されることになる部品を磁化するための種々のオプションを利用することができ、幾つかのシステムは、そのようなオプション間で選択することを可能にする。例えば、オペレーターは、ＡＣ（交流）、半波ＤＣ（直流）又は全波ＤＣ（直流）を用いるオプションを有することができる。幾つかのシステムでは、消磁機能がシステム内に構築される。消磁機能は、コイル及び減衰ＡＣ（交流）を利用することができる。
【００３０】
検査中、ウェット磁気粒子溶液が部品に塗布される。粒子溶液（「槽」とも呼ばれる）は、磁化することができる可視粒子又は蛍光粒子を含むことができる。粒子溶液は、タンク１１０内に採取し、保持することができ、ポンプ１２０は、検査されている部品に粒子溶液を塗布するのに用いられるホースシステム１４０を通じて槽を輸送し、例えば、ホースシステム１４０は、部品に噴霧(spray)するのに用いられるノズルを有する。磁気ウェットベンチ１００は、オペレーターがシステム及び／又は検査を制御することを可能にするコントローラーユニット１３０も組み込むことができる。これに関して、コントローラーユニット１３０は、適切な回路部及び入力／出力コンポーネントを備えることができる。
【００３１】
一例示の検査使用シナリオにおいて、部品が係合され（例えば、２つの電気コンタクト間にクランプされ）、部品の表面に磁気溶液が塗布される（例えば、表面上を流される）。次に、槽が遮断され、磁化電流が部品に印加される。磁化電流は、短い持続時間にわたってのみ適用することができ、部品の燃焼又は過熱を防ぐための予防措置を行うことができる。電気コンタクトを介して部品に磁化電流を印加する結果として、部品において磁場が生成される（例えば、部品の周囲を流れる環状場）。磁気溶液で濡れた部品を用いて、粒子を引きつけてインジケーションを形成する、亀裂等の不良点からの漏洩磁界の結果として、これらの不良点を検出することができる。
【００３２】
しかしながら、既存のシステムは幾つかの欠点を有する場合がある。例えば、現時点では、オペレーターは磁気溶液（又は槽）を分析して、試験が正確であることを確実にしなくてはならない場合があり、槽は、検査の開始前に粒子濃度の特定の範囲内にある必要がある。これに関して、オペレーターは、マシンを手動で電源オンにし、槽の撹拌を開始して、磁気粒子を適切に混ざった状態にし、次に、適切な粒子濃度の分析及び検証のために槽試料を採取する必要がある。しかしながら、オペレーターは、これを行う際、特定のガイドライン及び要件に従わなくてはならない。
【００３３】
例えば、ＡＳＴＭ及びＮＡＤＣＡＰ  ＮＤＴの仕様によれば、オペレーターは、試料を取得する前に、まず、幾らかの時間、通常３０分にわたって槽を撹拌しなくてはならない。次に、オペレーターは、幾らかの時間、油浴の場合、通常６０分にわたって試料を静置させた後に初めて、試料を分析することができる。このため、通常、オペレーターは、実際の検査を始める前に、システムの準備ができていることを確実にするのに約１．５時間を費やす。
【００３４】
したがって、本開示による種々の実施態様において、磁気ウェットベンチは、自動化された試料採取の解決策を組み込み、試料が意図された動作開示時点までに採取されることを確実にし、結果として、非動作時間の低減、労働コストの節減、及びプロセス制御の改善が得られる。これに関して、自動化された試料採取により、試料の採取に関連付けられた必要なアクションのうちの１つ以上が自動的に、すなわち、システムのオペレーター又はユーザーによるインタラクションと無関係に、かつこれを必要とすることなく実行される。試料採取を自動化する結果として、例えば、オペレーターが検査を開始する時点（例えば全てのシフトの開始時）までに、試料が採取され、分析の準備ができており、記録されることを確実にすることによって、大幅な時間の節減（例えば、１日あたり１．５０人時）を得ることができる。自動化された試料採取の解決策はまた、人的エラーの機会を低減させ、結果の信頼性を増大させることができる。
【００３５】
図１に示す非限定的な例示の実施態様において、磁気ウェットベンチ１００は、統合された試料採取及び測定装置（「試料採取装置」とも称される）１６０を組み込む。これに関して、試料採取装置１６０は、永久接続ツールとしてマシンに追加することができる。代替的に、試料採取装置１６０は、磁気ウェットベンチに付加／接続する（又は磁気ウェットベンチから取り外す）ことができる（例えば、自動化された試料採取が利用されているときに追加される）、独立した（例えば、可搬型の）ツールとして構成されてもよい。
【００３６】
試料採取装置１６０は、槽試料を採取し、（任意選択で）粒子濃度を測定するように構成することができる。ホースシステム１４０は、試料採取装置１６０を用いて、試料採取を可能にするように（再）構成及び／又は調整することができる。例えば、図１に示すように、ホースシステム１６０は、（例えば、試料採取装置１６０を介した）内部採取のために、及び／又は部品に塗布する（例えば、ホースシステムのノズルを介して噴霧される）ために、ポンプ１２０によってプッシュされる槽を分割及び／又は転向するように構成することができる分岐器１５０（例えば、制御可能な分割チャネル）を組み込むことができる。
【００３７】
しかしながら、本開示はそのように限定されず、幾つかの実施態様において、試料を抽出し、及び／又は試料採取装置に供給するための他の手法を用いることができる。例えば、１つの例示の実施態様において、分岐器１５０は用いられず、すなわち省かれる。代わりに、試料採取装置１６０に試料を供給するためにホースシステム１４０が用いられる。別の例示の実施態様では、磁気溶液の撹拌の完了後に試料を取得する際に、別個の、すなわちホースシステム１４０と異なる抽出コンポーネントが用いられてもよい。この別個の抽出コンポーネントはまた、ポンプ１２０に接続され、及び／又はポンプ１２０によって供給されてもよく、又は代替的に、タンク１１０からの試料の採取を容易にし、試料を試料採取装置１６０に供給する他の手段を用いてもよい。
【００３８】
採取関連のコンポーネント及び／又は機能を、例えば、ポンプ１２０を制御する（例えば、槽をいつホースシステム１４０内に輸送するかを制御する）及び／又は分岐器１４０を介して槽を転向することによって、ホースシステム１４０を介して槽の流れを制御することができるコントローラーユニット１３０を介して、内部制御することができる。
【００３９】
一例示の実施態様において、コントローラーユニット１３０は、コントローラーユニット１３０に追加されることになる、ハードウェアコンポーネント（例えば、制御回路）、ソフトウェアユニット又はそれらの組み合わせとすることができる「内部タイマー」制御モジュールを組み込むことができる。内部タイマー制御は、採取機能のタイミングを制御するように構成することができる。これに関して、内部タイマー制御は、特定の時点においてマシンをオンにし、設定された時間にわたる槽撹拌を開始し、流れを転向することによって所望の量の槽試料を採取し、静置時間を追跡することができ、これは例えば所定のスケジュールに従ってこれらのタスクを実行することによって行われる。
【００４０】
例えば、図１に示す非限定的な実施態様に対応する一例示の使用シナリオにおいて、マシンは、設定された時間に自動的に（例えば、コントローラーユニット１３０、又はコントローラーユニット内で実行されるモジュールによって）開始することができ、次に、槽撹拌を開始し、設定された時間（例えば、３０分）にわたって実行することができる。次に、撹拌時間が満了した後、槽の試料を採取し、試料採取装置１６０に供給することができる。例えば、撹拌された槽は、ホースシステム１４０を通じて（例えば、ポンプ１２０を用いて）輸送することができ、試料は、槽を同じホースシステム１４０から試料採取装置１６０内に転向することによって取得することができる。これに関して、輸送及び転向は、予め設定された試料量要件を満たすような方式で制御することができ、例えば、転向は、槽の所定の量を採取するように所定の期間にわたって行うことができる。例えば、分岐器１５０は、そのような要件を満たすように転向が行われるように、コントローラーユニット１３０によって制御することができる。代替的に、分岐器１５０は、他の手段、例えば適切な空気圧システムによって制御されてもよい。試料が採取されると、例えば、予め設定された時間にわたって（例えば６０分にわたって）槽濃度が落ち着くことを確実にするために、静置時間を開始することができる。幾つかの例では、試料が検査の準備ができたときを示すインジケーションをオペレーターに提供することができる。
【００４１】
幾つかの例では、統合された試料採取メカニズムの種々の態様は、オペレーターによってカスタマイズすることができる。例えば、幾つかの実施態様では、統合された試料採取メカニズムに関連するタイミング情報（例えば、開始時点、種々のステップのための予め設定されたタイマー等）は、オペレーターによってカスタマイズすることができ、これにより、オペレーターは、マシンがオン／電源オンにされるとき、（例えばポンプ１２０を介して）槽撹拌を開始するとき、槽試料（オプションで、その正確な量）を採取するとき、及び／又は試料を静置させる期間を制御することが可能になる。
【００４２】
幾つかの例において、このタイミング関連パラメーターは、オペレーターに利用可能（例えば、可視）にされ、磁気粒子槽濃度をチェックする時点であるときをオペレーターに通知することができる。このマシンは、セットアップされると、プロセスにおける人間の関与を低減しながら、所有者が満たすことを望む任意の仕様を守るように、定期的に槽撹拌を開始し、試料を採取する。
【００４３】
図２は、本開示の態様による、自動化された試料採取を支持して用いるための一例示のコントローラーを示す。図２に示すのはコントローラーシステム２００である。
【００４４】
コントローラーシステム２００は、図１に関して説明されたような、本開示の種々の多様を実施する、特に、磁気ウェットベンチにおける自動化された試料採取を支援する、適切な回路部を備えることができる。これに関して、コントローラーシステム２００は、図１のコントローラーユニット１３０の一例示の実施態様を表すことができる。
【００４５】
図２に示すように、コントローラーシステム２００はプロセッサ２０２を含むことができる。これに関して、一例示のプロセッサ２０２は、任意の製造業者からの任意の汎用中央処理ユニット（ＣＰＵ：central processing unit）とすることができる。しかしながら、幾つかの例示の実施態様において、プロセッサ２０２は、ＡＲＭコアを有するＲＩＳＣプロセッサ、グラフィック処理ユニット、デジタル信号プロセッサ、及び／又は、システムオンチップ（ＳｏＣ：system-on-chips）等の１又は複数の専用処理ユニットを含むことができる。
【００４６】
プロセッサ２０２は機械可読命令２０４を実行し、機械可読命令２０４は、プロセッサに（例えば、含まれるキャッシュ又はＳｏＣ内に）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）２０６（又は他の揮発性メモリ）内に、読み出し専用メモリ２０８（又はフラッシュメモリ等の他の不揮発性メモリ）内に、及び／又は、大容量格納装置２１０内にローカルで記憶することができる。例示の大容量格納装置２１０は、ハードドライブ、固体記憶デバイス、ハイブリッドドライブ、ＲＡＩＤアレイ、及び／又は、任意の他の大容量データ記憶デバイスとすることができる。
【００４７】
バス２１２は、プロセッサ２０２、ＲＡＭ２０６、ＲＯＭ２０８、大容量格納装置２１０、ネットワークインターフェース２１４、及び／又は入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース２１６の間の通信を可能にする。
【００４８】
例示のネットワークインターフェース２１４は、コントローラーシステム２００をインターネット等の通信ネットワーク２１８に接続するために、ハードウェア、ファームウェア、及び／又はソフトウェアを含む。例えば、ネットワークインターフェース２１４は、通信を送信及び／又は受信するためのＩＥＥＥ２０２．Ｘ準拠無線及び／又は有線通信ハードウェアを含むことができる。
【００４９】
図２の例示のＩ／Ｏインターフェース２１６は、１又は複数のユーザーインターフェースデバイス２２０をプロセッサ２０２に接続して、プロセッサ２０２に入力を提供する及び／又はプロセッサ２０２から出力を提供するハードウェア、ファームウェア、及び／又はソフトウェアを含む。例えば、Ｉ／Ｏインターフェース２１６は、表示装置にインターフェースするためのグラフィック処理ユニット、１又は複数のＵＳＢ準拠デバイスにインターフェースするためのユニバーサルシリアルバスポート、ファイヤーワイヤー（FireWire）、フィールドバス、及び／又は任意の他のタイプのインターフェースを含むことができる。
【００５０】
例示のコントローラーシステム２００は、Ｉ／Ｏインターフェース２１６に結合されたユーザーインターフェースデバイス２２４を含む。ユーザーインターフェースデバイス２２４は、キーボード、キーパッド、物理的ボタン、マウス、トラックボール、ポインティングデバイス、マイクロフォン、オーディオスピーカー、光媒体ドライブ、マルチタッチタッチスクリーン、ジェスチャー認識インターフェース、及び／又は、任意の他のタイプの入力及び／又は出力デバイス又はそれらの組み合わせを含むことができる。本明細書における例は、ユーザーインターフェースデバイス２２４を指すが、これらの例は、単一のユーザーインターフェースデバイス２２４として、任意の数の入力及び／又は出力デバイスを含むことができる。他の例示のＩ／Ｏデバイス２２０は、光媒体ドライブ、磁気媒体ドライブ、周辺装置（例えば、スキャナー、プリンター等）及び／又は任意の他のタイプの入力及び／又は出力デバイスを含む。
【００５１】
例示のコントローラーシステム２００は、Ｉ／Ｏインターフェース２１６及び／又はＩ／Ｏデバイス２２０を介して非一時的機械可読媒体２２２にアクセスできる。図２の機械可読媒体２２２の例は、光ディスク（例えば、コンパクトディスク（ＣＤ：compact discs）、デジタル多用途／ビデオディスク（ＤＶＤ：digital versatile/video discs）、Ｂｌｕ−ｒａｙ（登録商標）ディスク等）、磁気媒体（例えば、フロッピー（登録商標）ディスク）、可搬型記憶媒体（例えば、可搬型フラッシュドライブ、セキュアデジタル（ＳＤ：secure digital）カード等）、及び／又は任意の他のタイプの取り外し可能及び／又は設置式機械可読媒体を含む。
【００５２】
図３は、本開示の態様による、自動化された試料採取を用いた磁気ウェットベンチを利用する一例示のプロセスのフローチャートを示す。図３に示すのは、本開示による、適切なシステム（例えば、図１の磁気ウェットベンチ）において及び／又はこれを用いて実行することができる複数の例示のステップ（ブロック３０２〜３１０として表される）を含むフローチャート３００である。
【００５３】
マシンがセットアップされ、動作のために構成される開始ステップ３０２の後、ステップ３０４において、自動試料採取設定が構成される。自動サンプリング採取設定を構成することは、自動化採取機能を起動し、採取関連パラメーター（例えば、タイミング情報、量のような試料関連情報等）、及び／又は採取が完了したとき等を示すか否か等のユーザー選好（存在する場合）を設定又は調整することを含むことができる。オペレーターは、単純に、（例えば、特定の基準、使用環境等に従って）予め定義することができる種々の利用可能なスケジュールから単純に選択することもできる。
【００５４】
ステップ３０６において、マシン（磁気ウェットベンチ）は、対応する予め設定された判断基準に基づいて（例えば、予め設定された開始時点に）開始／電源オンされる。
【００５５】
ステップ３０８において、対応する予め設定された採取判断基準に基づいて、例えば、予め設定された撹拌期間後に、特定の量要件を満たす試料が採取される。これに関して、採取は、マシン内の槽塗布（bath application）コンポーネント（例えば、ポンプ、ホースシステム、転向手段等）を制御することによって実行することができる。
【００５６】
ステップ３１０において、試料が分析の準備ができたとき、オペレーターに対するインジケーションを作成することができる。例えば、試料は、予め設定されたタイマーに基づいて静置することを可能にすることができ、タイマーが満了すると、試料が検査の準備ができたことをオペレーターに通知するインジケーション（例えば、視覚、可聴等）が作成される。
【００５７】
本開示による他の実施態様は、機械及び／又はコンピューターによって実行可能な少なくとも１つのコードセクションを有し、それにより、本明細書において説明されたように機械及び／又はコンピューターに処理を実行させる、機械コード及び／又はコンピュータープログラムが記憶された非一時的コンピューター可読媒体及び／又は記憶媒体、及び／又は非一時的機械可読媒体及び／又は記憶媒体を提供することができる。
【００５８】
したがって、本開示による種々の実施態様は、ハードウェア、ソフトウェア、又はハードウェア及びソフトウェアの組み合わせにおいて実現することができる。本開示は、少なくとも１つのコンピューティングシステムにおいて集中形式で、又は異なる要素が幾つかの相互接続されたコンピューティングシステムにわたって拡散される分散形式で実現することができる。本明細書において説明された方法を実行するように適応された任意の種類のコンピューティングシステム又は他の装置が適合する。ハードウェア及びソフトウェアの典型的な組み合わせは、ロードされて実行されると、本明細書において説明された方法を実行するようにコンピューティングシステムを制御するプログラム又は他のコードを用いる汎用コンピューティングシステムとすることができる。別の典型的な実施態様は、特定用途向け集積回路又はチップを含むことができる。
【００５９】
本開示による種々の実施態様は、本明細書において説明された方法の実施態様を可能にする全ての特徴を含むとともに、コンピューターシステム内にロードされると、これらの方法を実行することが可能であるコンピュータープログラム製品に埋め込むこともできる。この文脈におけるコンピュータープログラムは、一組の命令の、任意の言語、コード又は表記での任意の表現を意味し、この一組の命令は、情報処理能力を有するシステムに、直接、又は次のもの、すなわち、ａ）別の言語、コード又は表記への変換、ｂ）異なるマテリアルフォームでの再現、のうちの一方又は双方の後に特定の機能を実行させるように意図される。
【００６０】
本開示は、或る特定の実施態様を参照して説明されてきたが、当業者であれば、本開示の範囲から逸脱することなく、種々の変更を行うことができるとともに均等物に置き換えることができることを理解するであろう。例えば、開示した例のブロック及び／又は構成要素を、組み合わせ、分割し、再配置し、及び／又は他の方法で変更することができる。加えて、本開示の範囲から逸脱することなく、本開示の教示に対して特定の状況又は材料を適応させるように多くの改変を行うことができる。したがって、本開示は、開示されている特定の実施態様に限定されず、むしろ、本開示は、添付の特許請求の範囲の適用範囲内に入る全ての実施態様を含むことが意図される。
【符号の説明】
【００６１】
１００    磁気ウェットベンチ
１１０    タンク
１２０    ポンプ
１３０    コントローラーユニット
１４０    分岐器
１４０    ホースシステム
１５０    分岐器
１６０    試料採取装置
１６０    ホースシステム
２００    コントローラーシステム
２０２    プロセッサ
２０４    機械可読命令
２０８    専用メモリ
２１０    大容量格納装置
２１２    バス
２１４    ネットワークインターフェース
２１６    Ｉ／Ｏインターフェース
２１８    通信ネットワーク
２２０    Ｉ／Ｏデバイス
２２２    機械可読媒体
２２４    ユーザーインターフェースデバイス
３００    フローチャート
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【国際調査報告】
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