(57)【要約】      （修正有）【課題】プリント回路基板を損傷させずに、ビアのサイズをテストすることができるビアサイズのテスト補助装置を提供する。【解決手段】ビアサイズのテスト補助装置１００は、異なるタイプのビア２０１を有するプリント回路基板２００に応用され、プリント回路基板の異なるタイプのビアにそれぞれ対応する複数のテストホール１１１を有するテストボード１１を備え、テストボードの異なるタイプのテストホールの横断面を露出させるようにテストボードを切断することにより、各タイプのテストホールのサイズをそれぞれ測定することで、テストホールに対応するプリント回路基板におけるビアのサイズが標準を満たしているかどうかを判断することができる。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
異なるタイプのビアを有するプリント回路基板に応用されるビアサイズのテスト補助装置であって、前記プリント回路基板の異なるタイプのビアにそれぞれ対応する複数のテストホールを有するテストボードを備え、テストボードの異なるタイプのテストホールの横断面を露出させるようにテストボードを切断することにより、各タイプのテストホールのサイズをそれぞれ測定することで、テストホールに対応するプリント回路基板におけるビアのサイズが標準を満たしているかどうかを判断することができることを特徴とするビアサイズのテスト補助装置。
【請求項２】
前記テストボードは、プリント回路基板と一体に成型され、且つプリント回路基板の側面に設置されていることを特徴とする請求項１に記載のビアサイズのテスト補助装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、プリント回路基板に関するものであり、特にプリント回路基板のビアのサイズをテストすることができるビアサイズのテスト補助装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
プリント回路基板（ＰＣＢ）は、異なる信号トレースの需要を満たすために、一般的には、異なるサイズの複数のビア（例えば、直径１０±３ミル、直径１４±３ミル或いは直径３５±３ミルを有する銅めっきのビア）が設置されている。一定数量のＰＣＢ上のビアのサイズが、使用者の要求を満たすかどうかをテストする場合、これらのＰＣＢの中から選択されたＰＣＢのサンプルを切断した後、ビアの断面に対して測定を行わなければならない。しかし、このような方法は、ＰＣＢを損傷させる恐れがある。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００３】
本考案の目的は、前記課題を解決し、プリント回路基板を損傷させずにビアのサイズをテストすることができるビアサイズのテスト補助装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本考案に係るビアサイズのテスト補助装置は、異なるタイプのビアを有するプリント回路基板に応用され、前記プリント回路基板の異なるタイプのビアにそれぞれ対応する複数のテストホールを有するテストボードを備え、テストボードの異なるタイプのテストホールの横断面を露出させるようにテストボードを切断することにより、各タイプのテストホールのサイズをそれぞれ測定することで、テストホールに対応するプリント回路基板におけるビアのサイズが標準を満たしているかどうかを判断することができる。
【考案の効果】
【０００５】
本考案のビアサイズのテスト補助装置は、そのテストボードに、プリント回路基板のビアの形状及びサイズに対応する複数のテストホールが設けられているため、プリント回路基板のビアのサイズをテストする場合、前記テストボードのみを切断するだけでよく、テストボードのテストホールのサイズに対して測定を行い、プリント回路基板に対応するビアが標準を満たしているかどうかを判断することができる。従って、本考案のビアサイズのテスト補助装置は、ビアのサイズをテストする時、プリント回路基板を損傷させない。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本考案の実施形態に係るビアサイズのテスト補助装置を示す図である。
【図２】図１に示す本考案に係るビアサイズのテスト補助装置のＩＩ−ＩＩ線に沿った断面図である。
【図３】プリント回路基板のビアの標準サイズを示す図である。
【考案を実施するための形態】
【０００７】
以下、図面を参照して、本考案の実施形態について説明する。
【０００８】
図１を参照すると、本考案の実施形態に係るビアサイズのテスト補助装置１００は、プリント回路基板（ＰＣＢ）２００に応用されている。該プリント回路基板２００には、異なる信号トレースの需要を満たすために、異なるサイズの複数のビア２０１が設置さている。本発明のビアサイズのテスト補助装置１００は、プリント回路基板２００のビア２０１が使用者の要求を満たすかどうかのテストを補助するために用いられる。
【０００９】
前記ビアサイズのテスト補助装置１００は、テストボード１１を備える。該テストボード１１は、プリント回路基板２００に対して独立して設置されるか、またはプリント回路基板２００と一体に成型しても良い。本実施形態において、テストボード１１は、矩形を呈し、プリント回路基板２００と一体に成型され、且つプリント回路基板２００の側面に設置されている。また、このテストボード１１には、異なるサイズのテストホール１１１が設置され、これらのテストホール１１１の形状及びサイズは、プリント回路基板２００上に設けられたビア２０１の形状及びサイズにそれぞれ対応する。
【００１０】
以下、本発明のビアサイズのテスト補助装置１００の使用原理を説明する。
【００１１】
図２を参照すると、プリント回路基板２００のビア２０１が、使用者の要求を満たすかどうかをテストする場合、まず、前記テストボード１１をプリント回路基板２００から分離させる。次に、テストボード１１の異なるタイプのテストホール１１１の横断面を露出させるようにテストボード１１を切断する。最後に、各タイプのテストホール１１１の直径に対して測定を行って、テストホール１１１のサイズが要求を満たすかどうかを判断する。これによって、テストホール１１１に対応するプリント回路基板２００上のビア２０１が、使用者の要求を満たすかどうかを判断する。
【００１２】
図３に示したように、異なるタイプ及びサイズのテストホール１１１が設置されているため、この異なる大きさ及び形状に基づいて、テストホール１１１を区分することができる。例えば、２７．６±３．０ミルの直径を持つテストホール１１１の形状を「◇」形に設定することができ、１４．０±３．０ミルの直径を持つテストホール１１１の形状を「△」形に設定することができ、３８．２±３．０ミルの直径を持つテストホール１１１の形状を「□」形に設定することができる。これにより、異なるタイプのテストホール１１１のサイズを測定した後、この測定したサイズと各テストホール１１１の形状に対応する標準的なパラメータとを比較して、テストホール１１１及びテストホール１１１に対応するビア２０１のサイズが標準を満たしているかどうか、素早く判断できるため、テスト時間を短縮することができる。例えば、形状が「◇」形であるテストホール１１１の直径サイズは、２５ミルである場合、それを図３の中の「◇」形状のテストホールの標準サイズの２７．６±３．０ミルと比較しても良く、従って、形状が「◇」形であるテストホール１１１及びそれに対応するビア２０１は、標準サイズを満たしていることが判断できる。
【００１３】
本考案のビアサイズのテスト補助装置１００は、そのテストボード１１にプリント回路基板２００のビア２０１の形状及びサイズに対応する複数のテストホール１１１が設けられているため、プリント回路基板２００のビア２０１のサイズをテストする場合、前記テストボード１１のみを切断するだけでよく、テストボード１１のテストホール１１１のサイズに対して測定を行うことで、プリント回路基板２００において対応するビア２０１が標準を満たしているかどうかを判断することができる。従って、本考案のビアサイズのテスト補助装置１００は、ビア２０１のサイズをテストする時、プリント回路基板２００を損傷させずに済む。
【００１４】
以上、本考案を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本考案は、上述の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々の変更が可能であることは勿論であって、本考案の保護範囲は、以下の実用新案登録請求の範囲から決まる。
【符号の説明】
【００１５】
１００  ビアサイズのテスト補助装置
２００  プリント回路基板
２０１  ビア
１１  テストボード
１１１  テストホール
【図１】
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【図２】
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【図３】
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