(57)【要約】      （修正有）【課題】飛散防止カバーを材料試験の態様に応じた最適の位置に配置することが可能な材料試験機を提供する。【解決手段】飛散防止カバー有無を判定するためのマイクロスイッチ４２と、飛散防止カバーの位置規制するための規制部４１とを備え、フレーム２２に対して第１のピッチで離隔した複数の位置に取り付け能な位置検出・規制部材４０と、マイクロスイッチ４２および規制部４１と各々当接可能であり、飛散防止カバーに対して第２のピッチで離隔した複数の位置に取り付け可能な当接部材３０とを備える。【選択図】図４
0003186668.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
材料試験を実行するときの試験片の高さ位置に対応させて、フレームに対して一方向に移動可能な飛散防止カバーを備えた材料試験機であって、
前記飛散防止カバーに配設された検出片と、
前記飛散防止カバーに配設されたストッパーと、
前記検出片を検出して前記飛散防止カバーの有無を判定するための検出スイッチと、前記ストッパーと当接して前記飛散防止カバーの位置を規制するための規制部とを備え、前記フレームに対し、前記飛散防止カバーの移動方向に対して互いに異なる複数の位置に取り付け可能な位置検出・規制部材と、
を備えたことを特徴とする材料試験機。
【請求項２】
請求項１に記載の材料試験機において、
前記検出片と前記ストッパーとは、前記検出スイッチと当接する当接部と前記規制部に当接する当接部とが形成された単一の当接部材として構成され、
当該当接部材は、前記飛散防止カバーに対して当該飛散防止カバーの移動方向に対して互いに異なる複数の位置に取り付け可能である材料試験機。
【請求項３】
請求項２に記載の材料試験機において、
前記飛散防止カバーに対する前記当接部材の複数の取り付け位置間の距離と、前記フレームに対する前記位置検出・規制部材の複数の取り付け位置間の距離とが異なる材料試験機。
【請求項４】
材料試験を実行するときの試験片の高さ位置に対応させて、フレームに対して一方向に移動可能な飛散防止カバーを備えた材料試験機であって、
前記飛散防止カバーの有無を判定するための検出スイッチと、前記飛散防止カバーの位置を規制するための規制部とを備え、前記フレームに対して、前記飛散防止カバーの移動方向に対して第１のピッチで離隔した複数の位置に取り付け可能な位置検出・規制部材と、
前記検出スイッチと当接する当接部と、前記規制部に当接する当接部とを備え、前記飛散防止カバーに対して当該飛散防止カバーの移動方向に対して第２のピッチで離隔した複数の位置に取り付け可能な当接部材と、
を備え、
前記第１のピッチと前記第２のピッチとが異なることを特徴とする材料試験機。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この考案は、材料試験を実行するときの試験片の高さ位置に対応させて一方向に移動可能な飛散防止カバーを備えた材料試験機に関する。
【背景技術】
【０００２】
このような材料試験機は、テーブル上に立設された一対の支柱と、これらの支柱の内部に配設されたネジ棹と、これらのネジ棹が互いに同期して回転することにより支柱に沿って昇降するクロスヘッドとを有する。クロスヘッドには、試験片の上端を把持するための上つかみ具が配設され、テーブルには試験片の下端を把持するための下つかみ具が配設される。試験片に対して引張試験を実行するときには、試験片の両端を上つかみ具および下つかみ具により把持した状態で、クロスヘッドをテーブルに対して上昇させ、試験片に引張荷重を付与する。
【０００３】
このような材料試験機を使用して試験片に対して引張試験を行っている場合に、試験片が突然破断する場合がある。また、試験片の破断強度を測定する破断試験を行う場合には、試験片が破断するまで試験片に対して引張荷重を付与することになる。このようにして材料試験を実行するときには、試験片が破断したときに、試験片の一部が飛散する場合がある。また、試験片に対して圧縮力を付与する圧縮試験を行う場合においても、試験片が破損してその一部が飛散する場合がある。このため、このような材料試験機においては、試験片の装置外部への飛散を防止してオペレータの安全を図るため、飛散防止カバーが使用される。
【０００４】
このような飛散防止カバーは、一般的に、透光性を有する樹脂等を利用したものが採用されている。そして、この飛散防止カバーは、材料試験機に対する試験片の着脱作業を容易とするため、材料試験機の全面を覆うサイズではなく、そのサイズの半分程度のサイズを有し、かつ、材料試験を実行するときの試験片の高さ位置に対応させて昇降可能な構成となっている。
【０００５】
特許文献１には、フレーム枠の前面に配設され、かつ、フレーム枠の両側に亘って配置された上下スライド可能なスライドカバーと、フレーム枠に近接して配設されスライドカバーを上下動自在に案内するガイド枠と、このスライドカバーを適宜ガイド枠の任意の位置で係止させることができる係止手段を設けた材料試験装置が開示されている。そして、この材料試験装置においては、係止手段は、スライドカバー側に保持されガイド枠に押圧されてその摩擦によりスライドカバーをガイド枠に係止させる係止部材と、この係止部材をガイド枠に対して付勢離脱操作させる操作部とを備えている。
【０００６】
また、特許文献２における［従来の技術］の欄には、安全カバーにインターロック機構を設け、安全カバーを閉じていない状態では材料試験を開始できないようにする材料試験機についての記載がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１２−８１４９号公報
【特許文献２】特開２００２−３５７５２１号公報
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１に記載された材料試験装置は、スライドカバーを容易に昇降させることができる優れたものではあるが、インターロック機構を複数設けることは想定されていないことから、材料試験時に、治具や試験片のサイズが変更された場合においては、飛散防止カバーを材料試験の態様にあわせた最適の位置に配置することができないという問題があった。
【０００９】
この考案は上記課題を解決するためになされたものであり、飛散防止カバーを材料試験の態様に応じた最適の位置に配置することが可能な材料試験機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
請求項１に記載の考案は、材料試験を実行するときの試験片の高さ位置に対応させて、フレームに対して一方向に移動可能な飛散防止カバーを備えた材料試験機であって、前記飛散防止カバーに配設された検出片と、前記飛散防止カバーに配設されたストッパーと、前記検出片を検出して前記飛散防止カバーの有無を判定するための検出スイッチと、前記ストッパーと当接して前記飛散防止カバーの位置を規制するための規制部とを備え、前記フレームに対し、前記飛散防止カバーの移動方向に対して互いに異なる複数の位置に取り付け可能な位置検出・規制部材とを備えたことを特徴とする。
【００１１】
請求項２に記載の考案は、請求項１に記載の考案において、前記検出片と前記ストッパーとは、前記検出スイッチと当接する当接部と前記規制部に当接する当接部とが形成された単一の当接部材として構成され、当該当接部材は、前記飛散防止カバーに対して当該飛散防止カバーの移動方向に対して互いに異なる複数の位置に取り付け可能である。
【００１２】
請求項３に記載の考案は、請求項２に記載の考案において、前記飛散防止カバーに対する前記当接部材の複数の取り付け位置間の距離と、前記フレームに対する前記位置検出・規制部材の複数の取り付け位置間の距離とが異なる。
【００１３】
請求項４に記載の考案は、材料試験を実行するときの試験片の高さ位置に対応させて、フレームに対して一方向に移動可能な飛散防止カバーを備えた材料試験機であって、前記飛散防止カバーの有無を判定するための検出スイッチと、前記飛散防止カバーの位置を規制するための規制部とを備え、前記フレームに対して、前記飛散防止カバーの移動方向に対して第１のピッチで離隔した複数の位置に取り付け可能な位置検出・規制部材と、前記検出スイッチと当接する当接部と、前記規制部に当接する当接部とを備え、前記飛散防止カバーに対して当該飛散防止カバーの移動方向に対して第２のピッチで離隔した複数の位置に取り付け可能な当接部材と、を備え、前記第１のピッチと前記第２のピッチとが異なることを特徴とする。
【考案の効果】
【００１４】
請求項１から請求項４に記載の考案によれば、位置検出・規制部材の取り付け位置を変更することにより、インターロック作用を奏する状態において、飛散防止カバーを材料試験の態様に応じた最適の位置に配置することが可能となる。
【００１５】
請求項２および請求項４に記載の考案によれば、飛散防止カバーの検出と位置の規制のための構成を簡易なものとすることができ、また、当接部材の取り付け位置を変更することにより、飛散防止カバーを材料試験の態様に応じた最適の位置に配置することが可能となる。
【００１６】
請求項３および請求項４に記載の考案によれば、位置検出・規制部材と当接部材との取り付け位置の距離の差を利用することにより、飛散防止カバーの配置を多様に変更することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】この考案に係る材料試験機の要部を示す斜視図である。
【図２】飛散防止ユニット２０の斜視図である。
【図３】飛散防止ユニット２０の要部を示す側面概要図である。
【図４】飛散防止ユニット２０の要部を示す斜視図である。
【図５】当接部材３０と位置検出・規制部材４０との位置関係を示す説明図である。
【図６】位置検出・規制部材４０の取付孔の配置を示す説明図である。
【図７】当接部材３０の取付孔の配置を示す説明図である。
【考案を実施するための形態】
【００１８】
以下、この考案の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、この考案に係る材料試験機の要部を示す斜視図である。
【００１９】
この材料試験機は、テーブル１７上に立設された一対の支柱１８と、これらの支柱１８の内部に配設されたネジ棹の駆動により支柱１８に沿って昇降する図示を省略したクロスヘッドとを有する。クロスヘッドには、試験片の上端を把持するための一対のつかみ歯１３を備えた上つかみ具１１が、ジョイント１５を介して配設されている。一方、テーブル１７には、試験片の下端を把持するための一対のつかみ歯１４を備えた下つかみ具１２が、ジョイント１６を介して配設されている。
【００２０】
この材料試験機において、試験片に対して引張試験を実行するときには、入力部１９を利用して必要な試験条件等を入力する。そして、試験片の両端を上つかみ具１１および下つかみ具１２により把持した状態で、図示を省略したクロスヘッドをテーブル１７に対して上昇させ、試験片に引張荷重を付与する。
【００２１】
試験片に対して引張試験を行っている場合に、試験片が突然破断する場合がある。また、試験片の破断強度を測定する破断試験を行う場合には、試験片が破断するまで試験片に対して引張荷重を付与する。試験片が破断した場合には、試験片の一部が飛散する場合がある。このため、この材料試験機においては、オペレータの安全を図るため、飛散防止カバー２１を備えた飛散防止ユニット２０が使用される。
【００２２】
次に、この考案の特徴部分である飛散防止ユニット２０の構成について説明する。図２は、飛散防止ユニット２０の斜視図である。また、図３は、飛散防止ユニット２０の要部を示す側面概要図である。また、図４は、飛散防止ユニット２０の要部を示す斜視図である。さらに、図５は、当接部材３０と位置検出・規制部材４０との位置関係を示す説明図である。
【００２３】
この飛散防止ユニット２０は、材料試験機の本体前面に装着可能なフレーム２２と、このフレーム２２に沿って上下方向に移動可能な飛散防止カバー２１とを備える。飛散防止カバー２１は、透光性を有する樹脂より構成され、その左右両端をフレーム２２により案内されることにより、フレーム２２に沿って上下方向に移動可能な構成となっている。この飛散防止カバー２１の下端部には、ハンドル２４を有する支持部材２３が配設されている。
【００２４】
図３に示すように、このハンドル２４は、一対のレバー２５、２６を備える。これら一対のレバー２５、２６のうち、レバー２６はフレーム２２と接続された支持部材２３に固定されており、レバー２５は摩擦部材２７と連結されている。この摩擦部材２７は、図示しないバネにより、フレーム２２の表面に向けて付勢されている。オペレータが一対のレバー２５、２６を握り、レバー２５をレバー２６方向に移動させた場合には、摩擦部材２７がフレーム２２から離隔し、飛散防止カバー２１はフレーム２２に対して昇降可能となる。一方、オペレータがハンドル２４から手を離し、レバー２５がレバー２６から離隔する元の位置に戻った場合には、摩擦部材２７がフレーム２２に当接し、飛散防止カバー２１の昇降動作が規制される。なお、このような構成については、上述した特許文献１に詳細に記載されている。
【００２５】
また、この飛散防止ユニット２０においては、フレーム２２に対して、位置検出・規制部材４０が、その取り付け位置を変更可能な状態で取り付けられており、飛散防止カバー２１に対して、当接部材３０が、その取り付け位置を変更可能な状態で取り付けられている。
【００２６】
位置検出・規制部材４０は、略Ｌ字状のベースプレート４４と、このベースプレート４４に配設されたマイクロスイッチ４２とから構成される。また、ベースプレート４４には、飛散防止カバー２１に取り付けられた当接部材３０と当接することにより、飛散防止カバー２１の位置を規制するための規制部４１が形成されている。
【００２７】
この位置検出・規制部材４０は、フレーム２２に形成された複数の取付孔と図示を省略したネジとを利用して、フレーム２２に取り付けられる。すなわち、この位置検出・規制部材４０は、図３および図４に示すように、取付孔Ｃ１と取付孔Ｄ１を利用する第１の取り付け位置と、取付孔Ｃ２と取付孔Ｄ２を利用する第２の取り付け位置と、取付孔Ｃ３と取付孔Ｄ３を利用する第３の取り付け位置との、三カ所の取り付け位置においてフレーム２２に取り付け可能となっている。
【００２８】
図６は、各取付孔Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３の配置を示す説明図である。
【００２９】
この図に示すように、取付孔Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３は、ピッチＰ２でフレーム２２に穿設されている。このため、取付孔Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３のピッチもＰ２となっている。そして、位置検出・規制部材４０は、フレーム２２に対して、そのピッチがＰ２となる三カ所の位置に取り付け可能となっている。
【００３０】
当接部材３０は、図５に示すように、マイクロスイッチ４２により検出される検出片としての機能と、ベースプレート４４における規制部４１に当接するストッパーとしての機能を併せ持つものである。この当接部３０は、マイクロスイッチ４２における検出子４３と順次当接する傾斜面３１および平面３２と、ベースプレート４４における規制部４１に当接する当接面３３とを備える。
【００３１】
この当接部材３０は、飛散防止カバー２１に形成された複数の取付孔と図示を省略したネジとを利用して、飛散防止カバー２１に取り付けられる。すなわち、この当接部材３０は、図３および図４に示すように、取付孔Ａ１と取付孔Ｂ１を利用する第１の取り付け位置と、取付孔Ａ２と取付孔Ｂ２を利用する第２の取り付け位置と、取付孔Ａ３と取付孔Ｂ３を利用する第３の取り付け位置との、三カ所の取り付け位置において飛散防止カバー２１に取り付け可能となっている。
【００３２】
図７は、各取付孔Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３の配置を示す説明図である。
【００３３】
この図に示すように、取付孔Ａ１、Ａ２、Ａ３は、ピッチＰ１で飛散防止カバー２１に穿設されている。このため、取付孔Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３のピッチもＰ１となっている。そして、当接部材３０は、飛散防止カバー２１に対して、そのピッチがＰ１となる三カ所の位置に取り付け可能となっている。このピッチＰ１は、位置検出・規制部材４０の取り付け位置のピッチＰ２とは異なるピッチとなっている。
【００３４】
以上のような構成を有する材料試験機において材料試験を行う場合には、最初に、オペレータがハンドル２４を操作することにより、飛散防止カバー２１を上昇位置に配置しておく。そして、材料試験時に使用される治具や試験片のサイズに応じて、飛散防止カバー２１を材料試験の態様にあわせた最適の位置に配置できるように、位置検出・規制部材４０のフレーム２２に対する取り付け位置と、当接部材３０の飛散防止カバー２１に対する取り付け位置とを調整する。これにより、飛散防止カバー２１を異なる位置に配置することが可能となる。
【００３５】
このときには、位置検出・規制部材４０と当接部材３０とが、各々、三カ所の位置に配置可能となっており、また、位置検出・規制部材４０の取り付け位置のピッチＰ２と当接部材３０の取り付け位置のピッチＰ１とが異なっていることから、位置検出・規制部材４０と当接部材３０との取り付け位置の組み合わせによる飛散防止カバー２１の取り付け位置は９種類となる。このため、飛散防止カバー２１を、材料試験の試験態様に応じて、９種類の異なる位置に配置することが可能となる。
【００３６】
位置検出・規制部材４０と当接部材３０とを材料試験の試験態様に応じた位置に配置すれば、オペレータがハンドル２４を操作して、飛散防止カバー２１を下降させる。これにより、当接部材３０は、図５において実線で示す位置から飛散防止カバー２１とともに下降し、最初に、当接部材３０の傾斜面３１および平面３２がマイクロスイッチ４２の検出子４３と順次当接する。これにより、マイクロスイッチ４２が飛散防止カバー２１を検出する。飛散防止カバー２１が所定の位置に配置されたことが検出されれば、インターロックが解除され、材料試験を実行することが可能となる。そして、次に、当接部材３０における当接面３３が位置検出・規制部材４０における規制部４１と当接することで、飛散防止カバー２１のそれ以上の下降が抑制され、飛散防止カバー２１の配置が予め設定した位置に規制される。
【００３７】
なお、上述した実施形態においては、当接部材３０を検出して飛散防止カバー２１の有無を判定するための検出スイッチとして、マイクロスイッチ４２を利用しているが、光学センサや近接スイッチ等のその他の検出スイッチを利用してもよい。
【００３８】
また、上述した実施形態においては、飛散防止カバー２１に配設された検出片として機能する傾斜面３１および平面３２と、飛散防止カバー２１に配設されたストッパーとして機能する当接面３３とを、単一の当接部材３０に形成しているが、検出片とストッパーとを、個別に、飛散防止カバー２１に配設するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００３９】
１１    上つかみ具
１２    下つかみ具
１７    テーブル
１８    支柱
２０    飛散防止ユニット
２１    飛散防止カバー
２２    フレーム
２３    支持部材
２４    ハンドル
２５    レバー
２６    レバー
２７    摩擦部材
３０    当接部材
３１    傾斜面
３２    平面
３３    当接面
４０    位置検出・規制部材
４１    規制部
４２    マイクロスイッチ
４３    検出子
４４    ベースプレート
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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