【事件の表示】
　特願２００６−３０３３０８「光パルス試験装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２０年　５月２９日出願公開、特開２００８−１２２１０８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯 
　本願は，平成１８年１１月８日に特許出願されたものであって，平成２１年４月２４日付けで拒絶査定がされ，これに対し，同年８月１１日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに，同日付けで手続補正がなされたものである。さらに，平成２２年６月３日付けで審尋がなされ，回答書が同年７月２９日付けで請求人より提出されたものである。
　
　
第２　平成２１年８月１１日付けの手続補正（以下，「本件補正」という。）についての補正却下の決定 
　
 　［補正却下の決定の結論］ 
 　　本件補正を却下する。 
　
 　［理由］ 
１　補正後の請求項１に記載された発明　
　本件補正は，特許請求の範囲を補正するものであって，そのうち請求項１についてする補正は，補正前の特許請求の範囲（平成２０年１２月２５日付けで補正されたもの。以下，同様。）の 
「【請求項１】
　パルス光源（１１）から出射された光パルスを試験対象の光ファイバ（１）の一端側に入射し，該光パルスに対して光ファイバの一端側に戻ってくる光を受光器（１３）に入射させ，該受光器の出力信号をＡ／Ｄ変換部（２５）に入力してＮビット（Ｎは複数）のデジタル信号に変換し，該Ｎビットのデジタル信号に対する処理を行い，前記試験対象の光ファイバの伝送特性を測定する光パルス試験装置において，
　前記Ａ／Ｄ変換部は，
　前記Ｎビットに対して，当該Ａ／Ｄ変換部の許容入力レベルが前記光ファイバの一端側に戻ってくる光のうちフレネル反射に起因する戻り光のレベルよりも大きくなるようなＡビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持ち，入力信号をＮ＋Ａビットのデジタル信号に変換して出力するＡ／Ｄ変換器（２６）と，
　前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号をリミッタ処理してＮビットのデジタル信号にするデータ処理手段（２７）とを有していることを特徴とする光パルス試験装置。」
を，
「【請求項１】
　パルス光源（１１）から出射された光パルスを試験対象の光ファイバ（１）の一端側に入射し，該光パルスに対して光ファイバの一端側に戻ってくる光を受光器（１３）に入射させ，該受光器の出力信号をＡ／Ｄ変換部（２５）に入力してＮビット（Ｎは複数）のデジタル信号に変換し，該Ｎビットのデジタル信号に対する処理を行い，前記試験対象の光ファイバの伝送特性を測定する光パルス試験装置において，
　前記Ａ／Ｄ変換部は，
　前記Ｎビットに対して，当該Ａ／Ｄ変換部の許容入力レベルが前記光ファイバの一端側に戻ってくる光のうちフレネル反射に起因する戻り光のレベルよりも大きくなるようなＡビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持ち，入力信号をＮ＋Ａビットのデジタル信号に変換して出力する
パイプライン方式の
　前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号
をＮ
おり，
　
前記データ処理手段は，前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号のうち，任意の連続するＮビットのデータの最上位よりさらに上位側のビットに「１」のデータがない場合には，前記任意の連続するＮビットのデータを出力し，前記上位側のビットに「１」のデータがある場合には，全ビット「１」のＮビットのデータを出力する
と補正するものである。（なお，上記において，下線は，補正箇所を示す。）
　
　上記補正は，補正前の請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「Ａ／Ｄ変換器」について「パイプライン方式の」との限定を付し，「前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号をリミッタ処理してＮビットのデジタル信号にするデータ処理手段」について，「前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号のうち，任意の連続するＮビットのデータの最上位よりさらに上位側のビットに『１』のデータがない場合には，前記任意の連続するＮビットのデータを出力し，前記上位側のビットに『１』のデータがある場合には，全ビット『１』のＮビットのデータを出力する」との限定を付したものである。なお，補正前の請求項１における「リミッタ処理」の記載は削除されてのいるが，補正後の請求項１において特定された「前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号のうち，任意の連続するＮビットのデータの最上位よりさらに上位側のビットに『１』のデータがない場合には，前記任意の連続するＮビットのデータを出力し，前記上位側のビットに『１』のデータがある場合には，全ビット『１』のＮビットのデータを出力する」ことが，「リミッタ処理」であることは明らかである。
　してみると，上記補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前（以下，「平成１８年改正前」という。）の特許法第１７条の２第４項第２号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するものである。
　
　そこで，補正後の請求項１に係る発明（以下，「補正発明」という。）が特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について，以下検討する。　
　
２　引用刊行物の記載事項
　本願出願前に頒布され，原査定の拒絶の理由において引用された刊行物である特開平６−１６７４１７号公報（以下，「引用例１」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。なお，以下において，下線は当審にて付与したものである。 
（１−ア）
「【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は，被測定光ファイバに光パルスを入射し，これに伴って被測定光ファイバ内で散乱して戻ってくる後方散乱光およびフレネル反射光を受光検出して信号処理することにより，被測定光ファイバの光損失や障害点位置等を測定する光パルス試験器に関し
　
（１−イ）
「【０００２】
【従来の技術】被測定光ファイバに光パルスを入射し，この光パルスの入射に伴って被測定光ファイバから戻ってくる反射光を受光検出して信号処理することにより，被測定光ファイバの光損失や障害点位置等の測定を行う装置として光パルス試験器が知られている。
【０００３】
この種の光パルス試験器は，
パルス発生回路２１，光源２２，カプラ２３，Ｏ／Ｅ変換回路２４，Ａ／Ｄ変換回路２５，データ処理部２６，表示器２７を備えて概略構成されている
この光パルス試験器では，パルス発生回路２１が所定の繰り返し周期による同期信号のタイミングで駆動パルスを発生し，この駆動パルスの入力タイミングで光源２２からカプラ２３を介して被測定光ファイバ２９に光パルスを入射する。光パルスが被測定光ファイバ２９に入射すると，被測定光ファイバ２９内でフレネル反射と後方散乱光とが発生する。これらの反射光はカプラ２３を介してＯ／Ｅ変換回路２４に受光検出されて電気信号に変換される。そして，変換された信号は所定レベルまで増幅されてＡ／Ｄ変換回路２５によりデジタル信号の波形データに変換された後，データ処理部２６により積算平均および対数変換の信号処理が行われ，その結果が表示器２７の画面上に波形表示される
　
　上記摘記事項からみて，引用例１には，従来技術として，以下の発明が記載されていると認められる。
　
「パルス発生回路２１，光源２２，カプラ２３，Ｏ／Ｅ変換回路２４，Ａ／Ｄ変換回路２５，データ処理部２６，表示器２７を備えた光パルス試験器であって，
　パルス発生回路２１が所定の繰り返し周期による同期信号のタイミングで駆動パルスを発生し，この駆動パルスの入力タイミングで光源２２からカプラ２３を介して被測定光ファイバ２９に光パルスを入射し，光パルスが被測定光ファイバ２９に入射すると，被測定光ファイバ２９内でフレネル反射と後方散乱光とが発生し，被測定光ファイバ２９内で発生する反射光をカプラ２３を介してＯ／Ｅ変換回路２４で受光検出して電気信号に変換し，変換した信号を所定レベルまで増幅してＡ／Ｄ変換回路２５によりデジタル信号の波形データに変換し，データ処理部２６により積算平均および対数変換の信号処理を行い，その結果を表示器２７の画面上に波形表示する光パルス試験器。」（以下，「引用発明」という。）
　
　また，同様に，本願出願前に頒布され，原査定の拒絶の理由において引用された刊行物である特開昭５４−４００６９号公報（以下，「周知例１」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。
（２−ア）
「３．発明の詳細な説明
　本発明は，逐次比較方式のＡＤ変換器，特に過入力アナログ信号のオーバーフロー検出を可能としたＡＤ変換器に関するものである。
　従来，逐次比較方式のＡＤ変換器においてアナログ入力値がその定格入力値を越えて入力された場合，オーバーフロー信号ＯＦを発生させている。・・・引き続いて正規のＡＤ変換動作が完了したとき
オーバーフロー信号ＯＦが出力された状態第２図（ａ）におけるデイジタル出力符号は，第２図（ｂ）に示すごとく“０”より折り返した符号構成となる
しかし，データ処理の必要性よりオーバーフロー信号ＯＦが出力されたときのデイジタル出力符号をそのＡＤ変換器のフルスケール値を示すデイジタル出力符号として出力する要求がある
　本発明の目的は上述の問題点を解決した，即ち，入力アナログ信号がオーバーフロー信号ＯＦを出力する状態においてもデイジタル出力信号はフルスケール値を示すデイジタル出力符号となり何ら特別な符号変換回路を必要とせず，通常のＡＤ変換動作および，オーバーフロー検出動作によつて，その目的を達成できるＡＤ変換器を提供することにある。」（１頁左下欄１２行〜２頁右上欄１５行）
　
（２−イ）
「以下，図面を参照して本発明の一実施例を説明する。・・・
　・・・
ＦＦ
１
，ＦＦ
２
，ＦＦ
３
，・・・ＦＦ
ｎ
回路のすべての保持，リセツト状態がすべて決定されたとき，各フリツプフロツプ回路の保持状態がＡＤ変換器の出力デイジタル符号を示している
　・・・通常のＡＤ変換器の測定範囲内の入力アナログ信号のときは，・・・ＦＦｎ＋１回路はリセツトされオーバーフロー信号は発生しない。
入力アナログ信号の測定範囲を越えているときは・・・リセツトパルスＲを発生しない。したがつてＦＦ
ｎ＋１
回路は保持されたままとなりオーバーフロー信号を出力する
　上述したごとく
本発明によるＡＤ変換器においては，入力アナログ信号が正規の入力スケール範囲を越えたとき，ＡＤ変換器の出力デイジタル符号はフルスケール値を示しオーバーフロー信号を出力することになり，以降のデータ処理を便ならしめている
　
（２−ウ）
　第２図（ｂ）には，従来のＡＤ変換器の一例を示す構成図として，
アナログ入力値がその定格入力値ＦＳを越えて入力された場合に
ノイズが発生する様子が描かれている
　
（２−エ）
　第３図には，
フリツプフロツプ回路ＦＦ
１
，ＦＦ
２
，ＦＦ
３
，・・・ＦＦ
ｎ
からの出力（ｏｕｔ１，２，３，・・・，ｎ）に加えて，ＦＦ
ｎ＋１
からの出力（ＯＦ）が出力される様子，すなわち，ｎビットのデイジタル符号に加えて，１ビットのＯＦ信号が出力される様子が描かれている
　
（２−オ）
　
第４図には，アナログ入力値がその定格入力値ＦＳを越えて入力された場合に，フルスケール値を示すデイジタル出力符号が出力される様子が描かれている
　
　また，本願出願前に頒布された刊行物である特開平３−１１２２２０号公報（以下，「周知例２」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。
（３−ア）
「〔産業上の利用分野〕
　本発明は，いわゆるディジタル・オーディオや，
計測等の分野において常用されているアナログ電気信号を，一定時間毎にサンプリングして，ＰＣＭ（パルス・コード・モジレーション）等のディジタル符号に変換し，出力する，いわゆるＡ／Ｄコンバーターに関するものである
　
（３−イ）
「従来のＡ／Ｄコンバーターでは，個々に定められた変換基準としての正と負のフル・スケール（最大値と最小値）が存在し，入力されるアナログ信号をサンプリングした時の値（電位レベル）がこの正と負のフル・スケール以内であれば，それに対応したディジタル符号に変換出力するが，該サンプリング値が正と負のフル・スケールの範囲外であれば，正または負の各フル・スケール値を出力するものであった。・・・」（１頁右下欄１５行〜２頁左上欄１２行）
　
（３−ウ）
〔発明が解決しようとする課題〕
　しかしながら，
上述の従来のＡ／Ｄコンバーターにおいては，もし入力されるアナログ信号の振幅最大値が±３．０Ｖを超えている場合には
不正確なディジタル信号，いわゆるオーバー・スケール歪を持つ信号になってしまい
　ディジタル・オーディオや，
測定器の分野において，このようなＡ／Ｄコンバーターを使用する場合には，その有限の分解能（例えば１６ビツトなら約９８ｄＢが限界）を，最大限に利用する為に，入力アナログ信号の振幅レベルを，できる限り大きく，かつオーバー・スケール歪が発生しないように調整することが必要である
　本発明の目的は以上のような問題を解消したＡ／Ｄコンバーターを提供することにある。」（２頁左上欄１３行〜同頁左下欄１５行）
　
（３−エ）
「〔課題を解決するための手段〕
　
本発明は，アナログ信号をディジタル信号に変換し，該ディジタル信号を出力する装置，いわゆるＡ／Ｄコンバーターにおいて，Ａ／Ｄ変換されたディジタル信号と共に，該ディジタル信号が特定範囲（上記の例ではフル・スクール近傍での±数ｄＢの範囲）に含まれていることを知らしめる為の追加符号を出力する手段を具えたことを特徴とする
　
（３−オ）
「〔作　用〕
　本発明によれば上記構成によって，追加符号により入力アナログ信号がフル・スケールレベルにあるか否かが簡単にわかるようになる。」（２頁右下欄６〜９行）
　
（３−カ）
「〔実施例〕
　第２図において，１４はＡ／Ｄ変換部であり，アナログ信号をＰＣＭディジタル符号に変換する。７は，いわゆるデルタ・シグマ型のＡ／Ｄ変換器であり，入力されたアナログ信号を，高速でサンプリング，即ちオーバーサンプリングして，１ビットのデルタ・シグマ変調されたディジタル信号を出力する。この１ビットのディジタル信号は，８のディジタル演算部においてディジタル・フィルタリング処理により，低速（即ち，目的のサンプリングスピード）の１６ビットＰＣＭ信号に変換される。この際，
入力されたアナログ信号を，１６ビットＰＣＭデータの正・負フル・スケールまで正確に変換する為に，デルタ・シグマＡ／Ｄ変換器７とディジタル演算部８はいずれも，正・負のフル・スケール以上の入力電圧にも対応できるように十分なマージンを持って作られている。例えば，出力されるディジタル信号の正・負のフル・スケールを，±３Ｖと設定した時，デルタシグマＡ／Ｄ変換器７は±５．５Ｖまでの変換が可能で，ディジタル演算部８における演算能力を２０ビットとして，本来の出力の１６ビットより４ビット余分にもたせているため出力は２０ビット（Ａ０〜Ａ１９）である。従って，第１−ｂ図のようなスケール・オーバーした入力アナログ信号に対しても，Ａ／Ｄ変換部１４で変換，演算された結果は，１６ビットのフル・スケール以上のデータも含めて正確に変換されている
　９は追加符号生成部であり，Ａ／Ｄ変換部１４の出力データの２０ビットのうち上位１２ビット（Ａ８〜Ａ１９）と，後述するフルスケール検出部１０の出力Ｔ２とから，あらかじめ定められた範囲内にあることを示す追加符号を例えばＡＮＤゲート，ＯＲゲートの構成により生成する（Ｔｌ，Ｔ０）。１０はフル・スケール検出部であり，Ａ／Ｄ変換部１４の出力データが例えば１６ビットの基準から見てオーバー・スケールしているか否かを，上位５ビツト（Ａ１９，Ａ１８〜Ａ１５（ＭＳＢ＋４ビット））から例えばＯＲゲート等を用いて検出する。
　フル・スケール検出部１０の出力は，オーバー・スケールを示す追加符号（Ｔ２）となると同時にフル・スケール切換部１０ａに入力され，切換信号として働く。フル・スケール切換部１０ａは，フルスケール検出部１０からの切換信号により，
Ａ／Ｄ変換部１４の出力データが１６ビット範囲以内（フル・スケール以内）ならば上位４ビット（Ａ１５〜Ａ１８）を捨てて，下位１５ビット（Ａ０〜Ａ１４）とＭＳＢ（Ａ１９）をそのまま出力し（Ｂ０〜Ｂ１５），オーバー・スケールの場合は，正負に応じた１６ビットのフル・スケール値に切換えて，出力する
・・・
　追加符号の３ビットが示す特定範囲の一例として，下記の如く設定する。
　追加符号の値（Ｔ２），（Ｔ１），（Ｔ０）／追加符号の示す範囲（フル・スケール値を１００％または０ｄＢとする）：
　１，１，１　／　１３７．５％より大，
　１，１，０　／　１２５％より大，　１３７．５％以下，
　１，０，１　／　１１２．５％より大，　１２５％以下，
　１，０，０　／　１００％より大，　１１２．５％以下，
　０，１，１　／　０ｄＢ以下，　−１ｄＢより大，
　０，１，０　／−１ｄＢ以下，　−３ｄＢより大，
　０，０，１　／−３ｄＢ以下，　−６ｄＢより大，
　０，０，０　／−６ｄＢ以下。
・・・
　尚，
上記実施例では，デルタ・シグマ方式のＡ／Ｄ変換器とディジタル演算部を持つＡ／Ｄコンバーターにおける適用例について具体的に述べたが，他のＡ／Ｄ変換方式，例えば，逐次比較方式やフラッシュ型，積分型等の従来からの各種Ａ／Ｄコンバーターにおいて，これらを改良して追加符号を出力することも可能である
　
　また，同様に，本願出願前に頒布された刊行物である特開平７−１７４６６６号公報（以下，「周知例３」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。
（４−ア）
「【０００１】
【産業上の利用分野】
この発明は，
光パルス試験器（以下，ＯＴＤＲという。）についてのものである
　
（４−イ）
「【００１２】
【課題を解決するための手段】・・・この目的を達成するため，この発明は，・・・ＯＴＤＲにおいて，・・・
Ａ／Ｄ変換器５のディジタル出力が入力され，前記ディジタル出力が飽和しているかを判定する
光ファイバ３の測定波形が飽和しなくなるまで段階的に波高値を下げる
　
　また，同様に，本願出願前に頒布された刊行物である特開平５−２４０７３３号公報（以下，「周知例４」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。
（５−ア）
「【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は，測定用光ファイバー内にパルス光を伝播させたときの後方散乱光を受光して測定用光ファイバーに沿った物理量を求める分布型光ファイバセンサに関する
　
（５−イ）
「【００２９】ここで，図２は増幅器１０の増幅率に対する雑音の関係を示し，
増幅率を上げた場合には平均の測定強度が大きすぎ，複数回の測定値のうち一部の測定値がＡ／Ｄ変換器６のダイナミックレンジを越え，オーバフローによる誤差が生じる
　
　また，同様に，本願出願前に頒布された刊行物である特開平１１−２８７７４０号公報（以下，「周知例５」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。
（６−ア）
「【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は，光伝送路の監視に有効な光測定装置についてのものである。特に，光パルスの出力レベルや波長の変動に対して，観測波形が正しく表示されるＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer ）測定方法による光測定装置についてのものである
　
（６−イ）
「【００１７】・・・
該信号レベルが，Ａ／Ｄコンバータ１３の入力電圧の規定値を越えてしまう
　
　また，同様に，本願出願前に頒布された刊行物である特開２０００−１０６５２８号公報（以下，「周知例６」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。
（７−ア）
「【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は，光試験に用いて好適なＡ／Ｄ変換装置，Ａ／Ｄ変換方法，及び光パルス試験装置に関する
　
（７−イ）
「【００３９】
Ａ／Ｄコンバータ１３１，１３２は，それぞれ同一のサンプリングレート（例えば，５０ＭＨｚ）
　
　また，同様に，本願出願前に頒布された刊行物である特開平９−３１８４９２号公報（以下，「周知例７」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。
（８−ア）
「【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は，特に光通信分野に用いて好適なＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）測定装置に関する
　
（８−イ）
「【０００７】この差動増幅回路８の２入力端には電流電圧変換器７から出力される検出電圧と，可変抵抗器８ａによって設定される基準電圧とがそれぞれ入力される。９はアナログ／ディジタル変換器（以下，Ａ／Ｄコンバータと称する）であり，差動増幅回路８から出力される差信号に対して標本化及び量子化を行い８ビットのディジタル信号に変換して出力する。
このＡ／Ｄコンバータ９は約１０［ｎｓｅｃ］の標本化周期で，入力される差信号に対して標本化を行う
　
　また，同様に，本願出願前に頒布された刊行物である特開平４−２２５１３１号公報（以下，「周知例８」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。
（９−ア）
「【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は光ファイバの伝搬品質，特に光ファイバの障害を検出する障害検出装置に関し，特に適応パルス幅を用いる光学的障害検出装置に関する
　
（９−イ）
「【００１８】増幅／フィルタ５６の出力はゼロから２ｖの範囲でＡ／Ｄ変換器５８によりサンプルされ，Ａ／Ｄ変換器５８の出力はゼロから２５５の範囲のデジタル値である。サンプリング・レートは所望の解像度やメモリ容量や電子回路のスイッチング速度の関数として変化させることができる。
サンプリング・レートが１００ナノ秒（ｎｓ）ならば殆どの応用に適切であり，Ａ／Ｄ変換器５８の動作を制御するタイマ４６に配線されて得られる
　
３　対比・判断
　
（１）対比 
　補正発明と引用発明とを対比する。
　
ア　引用発明の「被測定光ファイバ２９」および「Ａ／Ｄ変換回路２５」は，その構造および機能からみて，補正発明の「光ファイバ」および「Ａ／Ｄ変換部」に，それぞれ相当する。また，引用発明の「光源２２」は，駆動パルスの入力タイミングで被測定光ファイバ２９に光パルスを入射するものであるから，補正発明の「パルス光源」に相当する。また，引用発明の「Ｏ／Ｅ変換回路２４」は，反射光を受光検出するものであるから，補正発明の「受光器」に相当する。また，引用発明において，Ａ／Ｄ変換回路２５により変換されて出力されるデジタル信号は，２以上のビットのデジタル信号であることが，技術常識である。
　してみると，引用発明の「パルス発生回路２１が所定の繰り返し周期による同期信号のタイミングで駆動パルスを発生し，この駆動パルスの入力タイミングで光源２２からカプラ２３を介して被測定光ファイバ２９に光パルスを入射し，光パルスが被測定光ファイバ２９に入射すると，被測定光ファイバ２９内でフレネル反射と後方散乱光とが発生し，被測定光ファイバ２９内で発生する反射光をカプラ２３を介してＯ／Ｅ変換回路２４で受光検出して電気信号に変換し，変換した信号を所定レベルまで増幅してＡ／Ｄ変換回路２５によりデジタル信号の波形データに変換」する点は，補正発明の「パルス光源から出射された光パルスを試験対象の光ファイバの一端側に入射し，該光パルスに対して光ファイバの一端側に戻ってくる光を受光器に入射させ，該受光器の出力信号をＡ／Ｄ変換部に入力してＮビット（Ｎは複数）のデジタル信号に変換」する点に相当する。
　
イ　上記「ア」で検討のとおり，引用発明の「Ａ／Ｄ変換回路２５」は，Ｎビット（Ｎは複数）のデジタル信号を出力するものである。そして，引用発明は，Ａ／Ｄ変換回路２５が出力するデジタル信号を，データ処理部２６により積算平均および対数変換の信号処理するものであるから，Ａ／Ｄ変換回路２５が出力するＮビットのデジタル信号に対し処理を行っているといえる。また，引用例１に関する上記摘記事項（１−ア）における「・・・被測定光ファイバの光損失や障害点位置等を測定する光パルス試験器・・・」の記載からみて，引用発明の「光パルス試験器」は，試験対象の光ファイバの伝送特性を測定する装置であるといえる。
　してみると，引用発明の「データ処理部２６により積算平均および対数変換の信号処理を行い，その結果を表示器２７の画面上に波形表示する光パルス試験器」は，補正発明の「前記試験対象の光ファイバの伝送特性を測定する光パルス試験装置」に相当する。
　
　してみると，両者は， 
　
（一致点）
「パルス光源から出射された光パルスを試験対象の光ファイバの一端側に入射し，該光パルスに対して光ファイバの一端側に戻ってくる光を受光器に入射させ，該受光器の出力信号をＡ／Ｄ変換部に入力してＮビット（Ｎは複数）のデジタル信号に変換し，該Ｎビットのデジタル信号に対する処理を行い，前記試験対象の光ファイバの伝送特性を測定する光パルス試験装置。」
の点で一致し，以下の点で相違する。
　
（相違点１）Ａ／Ｄ変換部が，補正発明では，「前記Ｎビットに対して，当該Ａ／Ｄ変換部の許容入力レベルが前記光ファイバの一端側に戻ってくる光のうちフレネル反射に起因する戻り光のレベルよりも大きくなるようなＡビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持ち，入力信号をＮ＋Ａビットのデジタル信号に変換して出力する」「Ａ／Ｄ変換器」と，「前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号をＮビットのデジタル信号にするデータ処理手段」とを有しており，「前記データ処理手段は，前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号のうち，任意の連続するＮビットのデータの最上位よりさらに上位側のビットに『１』のデータがない場合には，前記任意の連続するＮビットのデータを出力し，前記上位側のビットに『１』のデータがある場合には，全ビット『１』のＮビットのデータを出力する」ものであるのに対し，引用発明では，そのような構成ではない点。
　
（相違点２）補正発明では，Ａ／Ｄ変換部のＡ／Ｄ変換器が「パイプライン方式の」Ａ／Ｄ変換器であるのに対し，引用発明では，「Ａ／Ｄ変換回路２５」が，パイプライン方式のＡ／Ｄ変換器であるかが不明な点。
　
（２）判断
ア　相違点１について
（ア）まず，補正発明では，Ａ／Ｄ変換部が，「前記Ｎビットに対して」「Ａビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持ち」，「入力信号をＮ＋Ａビットのデジタル信号に変換して出力するＡ／Ｄ変換器と，前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号をＮビットのデジタル信号にするデータ処理手段とを有しており，前記データ処理手段は，前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号のうち，任意の連続するＮビットのデータの最上位よりさらに上位側のビットに『１』のデータがない場合には，前記任意の連続するＮビットのデータを出力し，前記上位側のビットに『１』のデータがある場合には，全ビット『１』のＮビットのデータを出力する」ものである点について検討する。
　周知例１に関する上記摘記事項（２−ア）乃至（２−オ），および，周知例２に関する上記摘記事項（３−ウ）および（３−カ）に記載されているように，Ａ／Ｄ変換器の技術分野において，過入力アナログ入力に伴うノイズや歪を技術的課題として，Ｎビットのデジタル出力をするＡ／Ｄ変換部に，Ｎビットに加えて追加のビットを用意するとともに，Ｎビットのフルスケール値以内の入力，すなわち，追加のビットに「１」のデータが生じない入力に対しては，それに対応したＮビットのデジタル符号を出力するようデータ処理し，Ｎビットのフルスケール値を越える入力，すなわち，追加のビットに「１」のデータが生じる入力に対しては，全ビット「１」のＮビットのデジタル符号を出力するようデータ処理する技術が，本願出願前に周知である。（なお，周知例２においては，「Ａ／Ｄ変換部１４，追加符号生成部９，フル・スケール切換部１０ａ，フル・スケール検出部１０および出力レジスタ１１」が，補正発明の「Ａ／Ｄ変換部」に相当するものである。）
　そして，引用発明の属する光パルス試験器の分野において，光ファイバからの反射光を電気信号に変換して増幅することにより得られるアナログ電気信号をＡ／Ｄ変換部に入力する際に，Ａ／Ｄ変換部の定格入力値を越えたアナログ電気信号が入力されることがあることは，例えば，周知例３に関する上記摘記事項（４−イ），周知例４に関する上記摘記事項（５−イ），および，周知例５に関する上記摘記事項（６−イ）に記載されているように，本願出願前に，当業者に広く知られた周知の技術的課題であるから，引用発明において，上記周知の技術的課題を解決するために，Ａ／Ｄ変換器における上記周知技術を適用して，Ａ／Ｄ変換部が，「前記Ｎビットに対して，Ａビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持ち，入力信号をＮ＋Ａビットのデジタル信号に変換して出力するＡ／Ｄ変換器と，前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号をＮビットのデジタル信号にするデータ処理手段とを有しており，前記データ処理手段は，前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号のうち，任意の連続するＮビットのデータの最上位よりさらに上位側のビットに「１」のデータがない場合には，前記任意の連続するＮビットのデータを出力し，前記上位側のビットに「１」のデータがある場合には，全ビット「１」のＮビットのデータを出力する」ようにすることは，当業者であれば，何ら困難性はなく，容易に想到し得る事項であるといえる。
　
（イ）続いて，補正発明では，Ａ／Ｄ変換部が，「前記Ｎビットに対して，当該Ａ／Ｄ変換部の許容入力レベルが前記光ファイバの一端側に戻ってくる光のうちフレネル反射に起因する戻り光のレベルよりも大きくなるようなＡビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持」つものである点について検討する。
　引用発明において，Ａ／Ｄ変換部が，前記Ｎビットに対して，Ａビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持つようにすることが，当業者にとって容易であることは，上記「（ア）」で検討のとおりである。
　また，周知例２に関する上記摘記事項（３−カ）には，スケール・オーバーした入力アナログ信号を，Ａ／Ｄ変換部１４で，正確に変換することが記載されている。そして，スケール・オーバーした入力アナログ信号を正確に変換するためには，Ａ／Ｄ変換部が，入力アナログ信号レベルよりも大きくなるようなＡビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持つ必要があることが自明である。
　してみると，引用発明においては，光ファイバの一端側に戻ってくる光のうちフレネル反射に起因する戻り光のレベルが，最大の戻り光のレベルであるといえるから，Ａ／Ｄ変換部が，当該最大の戻り光のレベルに対しても入力アナログ信号を正確に変換できるようにするために，Ａ／Ｄ変換部が「前記Ｎビットに対して，当該Ａ／Ｄ変換部の許容入力レベルが前記光ファイバの一端側に戻ってくる光のうちフレネル反射に起因する戻り光のレベルよりも大きくなるようなＡビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持」つようにすることは，当業者が適宜なし得る事項であるといえる。
　
イ　相違点２について
　光パルス試験装置に用いるＡ／Ｄ変換器のサンプリングレートは，周知例６に関する上記摘記事項（７−イ）に５０ＭＨｚのものが記載され，周知例７に関する上記摘記事項（８−イ）に１０ｎｓｅｃの標本化周期，すなわち，１００Ｍｚのものが記載され，周知例８に関する上記摘記事項（９−イ）に１００ナノ秒，すなわち，１０ＭＨｚのものが記載されているように，１０〜１００ＭＨｚのものが，本願出願前に周知である。
　また，パイプライン方式のＡ／Ｄ変換器は，１０〜１００ＭＨｚのサンプリングレートで作動することが，本願出願前における技術常識である。必要であれば，特開２００４−９６６３６号公報の段落【００１９】，および，特開２００１−３５２２４４号公報の段落【０００５】を参照。
　してみると，引用発明において，光パルス試験器に用いるＡ／Ｄ変換器のサンプリングレートとして，上記周知の１０〜１００ＭＨｚのサンプリングレートを使用するために，上記サンプリングレートで作動するパイプライン方式のＡ／Ｄ変換器を選択することは，当業者が適宜なし得る事項であるといえる。
　
　そして，本願明細書，特に段落【００３１】の「このように構成された光パルス試験装置２０のＡ／Ｄ変換部２５では，Ａ／Ｄ変換器２６への入力電圧を，従来のほぼ２Ａ倍まで許容することができ，予測される電圧より高い電圧が入力された場合でもＡ／Ｄ変換器２６からのノイズ発生を防ぐことができる。」および同段落【００３２】の「また，Ａ／Ｄ変換器２６から出力されるＮ＋Ａビットのデータをデータ圧縮手段２７の処理によりＮビットに圧縮しているので，後続のメモリ１６や制御部１８のハードウエアおよびソフトウエアの構成は，従来のものと全く同じものが使用でき，これらの従前の資産を有効利用できる。」，に記載された補正発明によってもたらされる効果は，引用例１および周知の技術的事項，特に，周知例１に関する上記摘記事項（２−イ），（２−ウ）および（２−オ），および，周知例２に関する上記摘記事項（３−カ）から，当業者であれば予測することができる程度のものであり，格別顕著なものとはいえない。
　
　したがって，補正発明は，引用発明および周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により，特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
　なお，請求人は，平成２２年７月２９日付けで提出された審尋に対する回答書の４頁１９〜２４行において「これを前提として，本願発明を見たとき，本願発明では，ある回のデータ取得では，Ｎビットのデータ範囲を超えるフレネル反射光のレベル情報が失われることになるが，それと引き換えにＡ／Ｄ変換器からのノイズ発生を防いでいる。そして，より増幅度を下げた別の回のデータ取得で，フレネル反射光の正確なレベル情報を取得しており，これらのデータを連結して近端から遠端までの連続した一つの特性として波形表示している。」と主張し，同１０頁下から１行〜１１頁８行において「（３−６）このように，前置報告書で引用された引用文献には，Ａ／Ｄ変換器をオーバーフローさせないように制御するという概念しかなく，これらの引用文献から本願発明のように，光パルス試験器が測定しようとする光伝送路特性波形のダイナミックレンジに対して，Ａ／Ｄ変換器のダイナミックレンジが狭いために行っている処理，即ち，増幅率を変えながら複数回の測定を行い，得られた有効な情報を連結して全体特性の波形を表示するという処理を前提とし，ある回では，フレネル反射光の正確なレベルが情報が失われても，過大入力時のＡ／Ｄ変換器のノイズ発生を防止してそのフレネル反射近辺の正確なデータを取得するという技術的発想は持っていない。」と主張している。
　しかし，「増幅率を変えながら複数回の測定を行い，得られた有効な情報を連結して全体特性の波形を表示する」ことに関しては，本願の従来技術として明細書の段落【０００８】および【０００９】に記載されているにすぎず，補正発明が「増幅率を変えながら複数回の測定を行い，得られた有効な情報を連結して全体特性の波形を表示する」ものであることは特定されていない。
　そうすると，請求人の上記主張は，本願の特許請求の範囲の記載に基づかない主張であって，採用することができない。
　
４　まとめ
　以上のとおりであるから，本件補正は，平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により，却下すべきものである。 
　
　
第３　本願発明について
　
１　本願発明
　以上のとおり，本件補正は，却下されることとなったから，本件特許出願人が特許を受けようとする発明として特定する事項は，平成２０年１２月２５日付けの手続補正によって補正された特許請求の範囲の請求項１〜３に記載されたとおりのものと認められ，その請求項１は，次のとおりである。（以下，「本願発明」という。）　
「【請求項１】
　パルス光源（１１）から出射された光パルスを試験対象の光ファイバ（１）の一端側に入射し，該光パルスに対して光ファイバの一端側に戻ってくる光を受光器（１３）に入射させ，該受光器の出力信号をＡ／Ｄ変換部（２５）に入力してＮビット（Ｎは複数）のデジタル信号に変換し，該Ｎビットのデジタル信号に対する処理を行い，前記試験対象の光ファイバの伝送特性を測定する光パルス試験装置において，
　前記Ａ／Ｄ変換部は，
　前記Ｎビットに対して，当該Ａ／Ｄ変換部の許容入力レベルが前記光ファイバの一端側に戻ってくる光のうちフレネル反射に起因する戻り光のレベルよりも大きくなるようなＡビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持ち，入力信号をＮ＋Ａビットのデジタル信号に変換して出力するＡ／Ｄ変換器（２６）と，
　前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号をリミッタ処理してＮビットのデジタル信号にするデータ処理手段（２７）とを有していることを特徴とする光パルス試験装置。」 
　
２　引用刊行物の記載事項　
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例，周知例，および，その記載事項は，上記「第２　２　引用刊行物の記載事項」に記載したとおりである。
　
３　判断　
　本願発明は，補正発明から，「パイプライン方式の」および「前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるＮ＋Ａビットのデジタル信号のうち，任意の連続するＮビットのデータの最上位よりさらに上位側のビットに『１』のデータがない場合には，前記任意の連続するＮビットのデータを出力し，前記上位側のビットに『１』のデータがある場合には，全ビット『１』のＮビットのデータを出力する」との限定を省いたものである。
　そうすると，本願発明の構成要件をすべて含み，さらに他の構成要件を付加したものに相当する補正発明が，上記「第２　３　対比・判断」において検討のとおり，引用発明および周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も同様の理由により，引用発明および周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるというべきである。
　
４　むすび　
　以上のとおり，本願発明は，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから，その余の請求項に係る発明について検討するまでもなく，本願は拒絶されるべきものである。　
　
　よって，結論のとおり審決する。