【事件の表示】
　特願２００２−　６８７６７「測定装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　９月１０日出願公開、特開２００３−２５４９０５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯　
　本願は、特許法第４１条に基づく優先権主張を伴う平成１４年３月１３日（優先日、平成１３年３月２２日、平成１３年１２月２７日）の出願であって、平成１６年２月２６日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成１６年４月１日に審判請求が行われるとともに、同年５月６日付けで手続補正が行われたものである。　
　
２．平成１６年５月６日付け手続補正についての補正却下の決定　
［補正却下の決定の結論］　
　平成１６年５月６日付け手続補正を却下する。　
［理由］　
（１）平成１６年５月６日付け手続補正（本件補正）　
　本件補正は、補正の内容として、特許請求の範囲の請求項１について、補正前（平成１６年１月２６日付け手続補正書）の　
「【請求項１】　誘電体ブロック、この誘電体ブロックの一面に形成された金属膜からなる薄膜層、およびこの薄膜層の表面上に試料を保持する試料保持機構を備えてなる複数の測定ユニットと、
　これら複数の測定ユニットを支持する支持体と、
　光ビームを発生させる光源と、
　前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られる入射角で入射させる入射光学系と、
　前記界面で全反射した光ビームの強度を測定する光検出手段とを備えてなる測定装置において、
　前記光学系が、前記支持体に支持された少なくとも２つの測定ユニットの各誘電体ブロックに対して並列的に前記光ビームを入射させるように構成され、
　前記光検出手段が、前記誘電体ブロックに入射する光ビームにそれぞれ１つずつ対応させて合計で少なくとも２つ設けられていることを特徴とする測定装置。」を、補正後の　
「【請求項１】　誘電体ブロック、この誘電体ブロックの一面に形成された金属膜からなる薄膜層、およびこの薄膜層の表面上に試料を保持する試料保持機構を備えてなる複数の測定ユニットと、
　これら複数の測定ユニットを支持する支持体と、
　
発散光の
　
前記発散光の光ビームを収束光の光ビームにするとともに、該収束光の
種々の
　前記界面で全反射した
結果、種々の反射角の反射光を持つこととなった
種々の反射角の各々について
ための、少なくとも反射角の変化方向に沿って延びるエリアセンサからなる
　前記光学系が、前記支持体に支持された少なくとも２つの測定ユニットの各誘電体ブロックに対して並列的に前記光ビームを入射させるように構成され、
　前記光検出手段が、前記誘電体ブロックに入射する光ビームにそれぞれ１つずつ対応させて合計で少なくとも２つ設けられていることを特徴とする測定装置。」（下線部分は、補正箇所である。以下、補正後の請求項１に記載された発明を、「本願補正発明」という。）と補正することを含むものである。
　この補正は、補正前の請求項１に記載した発明を特定するための事項である、光源の構成について、「発散光の」光ビーム発生させると、入射光学系の構成について、「前記発散光の光ビームを収束光の光ビームにするとともに、該収束光の」光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層と界面で全反射条件が得られる「種々の」入射角で入射させると、また、光検出手段の構成について、前記界面で全反射した「結果、種々の反射角の反射光を持つこととなった」光ビームの強度を「種々の反射角の各々について」測定する「ための、少なくとも反射角の変化方向に沿って延びるエリアセンサからなる」と、それぞれ限定を付加するものであって、特許法第１７条の２第４項第２号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。　
　そこで、本願補正発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について検討する。　
　
（２）引用例　
（２−１）原査定の拒絶の理由に引用した、本願出願日前に頒布された刊行物である特開昭６１−２２６６４４号公報（以下、「引用刊行物１」という。）には、「分析装置」の発明が記載されており、図面とともに次の記載がある。　
ア．「(1)入射光および測定対象物の発光や螢光に対して透過性を有する材質より成り測定対象物を含む被検試料を入れる試料室を有しその試料室の底面の下方に所定の角度で入射した光が上記底面で全反射して所定の方向に出射する光学路を一体に設けたセルと、このセルの入射光側より所定の波長光を照射する光源と、上記底面で全反射した反射光・・・を検出する検出手段とを具備したことを特徴とする分析装置。
　・・・・・
(7)セルを数個設け順次所定の位置に搬送する手段を備えたことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の分析装置。」（特許請求の範囲）
イ．「第１図は被検試料を入れるセル１の構造を示すものである。図に示すように有底筒状に形成されたセル１の上部に試料室２を有し、その底面は滑らかな平面に形成されている。試料室２の下方には所定の角度で入射した光が試例室２の底面３で全反射して所定の方向に出射する光学路４が一体に設けられ、セル１の外面に入射光Ｌ１が入射する滑らかな平面５と底面３で全反射した反射光が出射される滑らかな平面６を形成し、・・・セルｌの材料として入射光Ｌ１，反射光Ｌ２放射光Ｌ３に対して透明で吸収の少ない屈折率ｎｃ＝１．５９のポリスチレンを用い、」（第３頁右上欄第１４行から左下欄第１０行）　
ウ．「第２図は上述のセル１を複数個用いて多数の被検試料を処理できるようにした免疫検出装置を示す構成図である。・・・試料室２の中では第１図に示すように底面３に付着した固定化抗体９に対して被検試料中の抗原と試薬中のＦＩＴＣ標準標識は競合的に反応し、被検試料中の抗原量に反比例した標識抗原が抗体に結合する。平面５の放線方向に設けられた光源２２からの光は分光器２３で分光され４９０μｍの励起光として平面５を通して底面３に入射し、底面３で全反射した反射光Ｌ２は平面６を通りセル１の外部に抜ける。このとき、底面３から内側へ入射光Ｌ１の波長入程度の光の浸透が起り、底面３に付着した物質による放射光Ｌ３は平面７の垂直方向に設けた分光器２４を通して５２０μｍの螢光だけが光検出器２５に送られる。・・・この装置によれば試料室２の底面３に付着した固定化抗体９と結合したＦＩＴＣ標識抗原のＦＩＴＣ量だけを検出することができる。」（第３頁右下欄第１行から第４頁左上欄第１３行）
エ．「測定系は第４図に示すように底面３からの反射光Ｌ２を検出できるように平面６の放線方向に光検出器３１を設けることもできる。この場合、試薬は不要である。試料室２の底面３に固定化された抗体に被検試料中の抗原が結合することにより、１分子層の部分と２分子層の部分ができる。これによって光の吸収量が変わりその影響は反射光Ｌ２に反映され、その光量の減少を光検出器３１でモニターすることで、上記実施例と同様に光量の減少量と抗原量に関する検量線を作成しておけば、それを使用して被検試料中の抗原濃度を求めることができる。」（第４頁右上欄第１６行から左下欄第７行）
オ．「上記実施例ではセルの材料にポリスチレンを用いたがこの発明はこれに限らず入射光や測定対象物の発光や螢光波長に対して透明で吸収の少ない材料であればよく、例えばポリアクリルアミド系の高分子重合体あるいはガラス系の材料を用いてセルを形成することができる。」（第４頁左下欄第１１〜１６行）
　また、第２図から、複数のセル１を支持し、搬送する手段、が見て取れる。
　そして、これらの記載から、引用刊行物１には「上部に被検試料８を入れる試料室２を有し、有底筒状に形成された、ポリアクリルアミド系の高分子材料あるいはガラス系の材料からなる複数のセル１と、これら複数のセル１を支持し、搬送する手段と、光ビームを発生させる光源２２と、光ビームをセル１に対して、試料室２の底面で全反射条件が得られる入射角で入射させる光学路４と、前記底面で全反射した反射光の強度を測定するための光検出器３１とを備えてなる分析装置。」（引用刊行物１記載の発明）が記載されているものと認められる。　
　
（２−２）原査定の拒絶の理由に引用した、本願出願日前に頒布された刊行物である特開２０００−３５６５８５号公報（以下、「引用刊行物２」という。）には、「ＳＰＲセンサセル及びこれを用いた免疫反応測定装置」の発明が記載されており、図面とともに次の記載がある。
カ．「図９及び図１０は本発明の第４の実施形態にかかる免疫反応測定装置１Ｄを示す全体概略図である。本実施形態では、ＳＰＲセンサセル３Ｄに複数の検体貯留部１４を備えている点に特徴を有している。以下これについて詳述する。　先ず、ＳＰＲセンサセル３Ｄは、８カ所の検体貯留部１４を備えている。そして、各検体貯留部１４に対応して８本のコア７が装備されている。・・・　また、免疫反応測定装置１Ｄには、各コア７に対応して光源（白色ＬＥＤランプ）１１，集光レンズ５３，レセプタクル５５及び光ファイバ５１ｄが装備されている。即ち、これらの構成要素が８組備えられている。そして、各光ファイバ５１ｄは、光カプラ８６に接続されている。この光カプラ８６は、８本の光ファイバ５１ｄから伝達された光を光分析手段に伝達する機能を有するものである。　このように、コア７を複数本備えたＳＰＲセンサセル３Ｄを用いる場合には、短時間で多項目の（他種類の抗原若しくは抗体に対する）免疫反応測定を簡易に行うことができる。」（第７頁左欄第２０行から右欄第８行）
　
（３）対比・判断　
　本願補正発明と上記引用刊行物１記載の発明とを対比する。　
　引用刊行物１記載のセル１は、ポリアクリルアミド系の高分子材料あるいはガラス系の材料からなるものであり、試料室２の底面側の光学路４の部分は誘電体ブロックといえるから、引用刊行物１記載の発明の「上部に被検試料８を入れる試料室２を有し、有底筒状に形成された、ポリアクリルアミド系の高分子材料あるいはガラス系の材料からなる複数のセル１」は、本願補正発明の「誘電体ブロック、およびこの誘電体ブロックに形成された試料を保持する試料保持機構を備えてなる測定ユニット」に相当するものである。
　また、「光ビームを発生させる光源２２」「光ビームをセル１に対して、試料室２の底面で全反射条件が得られる入射角で入射させる光学路４」「底面で全反射した反射光の強度を測定するための光検出器３１」が、それぞれ本願補正発明の「光ビームを発生させる光源」「光ビームを誘電体ブロックに対して、誘電体ブロックとの界面で全反射条件が得られる入射角で入射させる入射光学系」「界面で全反射した光ビームの強度を測定する光検出手段」に相当することは明らかである。
　さらに、引用刊行物１記載の発明の「分析装置」は、例えば上記摘記事項エ．に記載されているように、被検試料中の抗原濃度を求めることができるものであるから、本願補正発明の「測定装置」に対応するものである。
　したがって、両者は「誘電体ブロック、およびこの誘電体ブロックに形成された試料を保持する試料保持機構を備えてなる複数の測定ユニットと、これら複数の測定ユニットを支持する支持体と、光ビームを発生させる光源と、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックとの界面で全反射条件が得られる入射角で入射させる入射光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を測定する光検出手段とを備えてなる測定装置。」である点で一致し、次の点で相違すると認められる。　
（相違点１）　
　本願補正発明においては、測定ユニットが、誘電体ブロックの一面に形成された金属膜からなる薄膜層を有し、この薄膜層の表面上に試料を保持しているのに対し、引用刊行物１記載の発明においては、金属膜からなる薄膜層を備えていない点。
（相違点２）
　測定光学系について、本願補正発明においては、光源が、発散光の光ビームを発生させるものであり、入射光学系が、発散光の光ビームを収束光の光ビームとするとともに、該収束光の光ビームを誘電体ブロックに対して界面で全反射条件が得られる種々の入射角で入射させるものであり、また、光検出手段が、種々の反射角の反射光を持つこととなった光ビームの強度を種々の反射角の各々について測定するための、少なくとも反射角の変化方向に沿って延びるエリアセンサを備えているのに対して、引用刊行物１記載の発明は、この構成を備えていない点。
（相違点３）
　本願補正発明では、光学系が、支持体に支持された少なくとも２つの測定ユニットの各誘電体ブロックに対して並列的に光ビームを入射させるように構成され、光検出手段が、前記誘電体ブロックに入射する光ビームにそれぞれ１つずつ対応させて合計で少なくとも２つ設けられているのに対して、引用刊行物１記載の発明では、１つの光ビームを入射させるように構成され、それに対応して１つの光検出手段しか設けられていない点。
　
　上記相違点について検討する。　
　相違点１について、
　引用刊行物１にみられる、入射光を試料との界面で全反射させ、反射光の変化を検出することにより、被検試料を定量分析する分析装置において、金属膜からなる薄膜層を設け、この薄膜層の表面上に試料を保持するように構成することは、表面プラズモン共鳴測定装置として、拒絶理由で引用した引用刊行物２や特開平１０−３００６６７号公報、さらには特開平９−２９２３３３号公報、特開平１０−１９７６９号公報、特開平１１−３７９３４号公報にみられるように周知の技術であって、引用刊行物１記載の発明において、この周知技術を用いて、試料との界面に金属膜からなる薄膜層を設けることは当業者が適宜採用する事項である。
　
　相違点２について、
　入射光を試料との界面で全反射させ、反射光の変化を検出することにより、被検試料を定量分析する分析装置の一種である「表面プラズモン共鳴測定装置」において、測定光学系を、光源で、発散光の光ビームを発生させ、入射光学系で、前記発散光の光ビームを収束光の光ビームにするとともに、該収束光の光ビームを誘電体ブロックに対して界面で全反射条件が得られる種々の入射角で入射させ、光検出手段が、種々の反射角の反射光を持つこととなった光ビームの強度を種々の反射角について測定するための、少なくとも反射角の変化方向に沿って延びるエリアセンサを備えるように構成することは、上記特開平９−２９２３３３号公報、特開平１０−１９７６９号公報、特開平１１−３７９３４号公報にみられるように周知の技術であるから、同様の測定装置である引用刊行物１記載の発明において、この周知技術を用いることは、当業者ならば容易に想到し得たものと認められる。
　
　相違点３について、
　引用刊行物２には、上記摘記事項カ．にみられるように、複数のコア７（本願補正発明の「測定ユニット」に相当）に対して並列的に光ビームを入射させ、入射する光ビームに対応させて複数の光検出器を設けることにより、同時に複数の測定ユニットを分析し、これにより、短時間で多項目の測定を行うことが記載されている。そして、引用刊行物１記載の発明においても、複数のセルが設けられているものであり、短時間で多項目の分析を行うという課題があることは明らかであるから、引用刊行物２記載の技術的思想を用いて、光学系を、支持体に支持された少なくとも２つの測定ユニットの各誘電体ブロックに対して並列的に光ビームを入射させるように構成し、また、光検出手段を、誘電体ブロックに入射する光ビームにそれぞれ１つずつ対応させて合計で少なくとも２つ設けるように構成することは、当業者ならば容易に想到し得たものと認められる。
　そして、本願補正発明の作用効果も、引用刊行物１記載の発明、引用刊行物２記載の発明及び上記周知技術から当業者であれば予測できる範囲のものである。
　したがって、本願補正発明は、引用刊行物１記載の発明、引用刊行物２記載の発明及び上記周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際に独立して特許を受けることができないものである。　
　
（４）むすび　
　以上のとおり、本件補正は、特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。　
　
３．本願発明について　
（１）本願発明　
　平成１６年５月６日付け手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明は、平成１６年１月２６日付け手続補正書で補正された明細書の特許請求の範囲請求項１に記載された、上記２．（１）に記載のとおりのものである。（以下、平成１６年１月２６日付け手続補正書で補正された請求項１に記載された発明を「本願発明」という。）　
　
（２）引用例　
　原査定の拒絶の理由に引用した引用刊行物、及びその記載事項は上記「２．（２）引用例」に記載したとおりである。　
　
（３）対比・判断　
　本願発明は、前記２．で検討した本願補正発明から、光源の構成について、「発散光の」光ビーム発生させるとの限定、入射光学系の構成について、「前記発散光の光ビームを収束光の光ビームにするとともに、該収束光の」光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層と界面で全反射条件が得られる「種々の」入射角で入射させるとの限定、及び、光検出手段の構成について、前記界面で全反射した「結果、種々の反射角の反射光を持つこととなった」光ビームの強度を「種々の反射角の各々について」測定する「ための、少なくとも反射角の変化方向に沿って延びるエリアセンサからなる」との限定を省いたものである。
　そうすると、本願発明の構成要件を全て含み、さらに他の構成要件を付加したものに相当する本願補正発明が、上記「２．（３）対比・判断」に記載したとおり、引用刊行物１記載の発明、引用刊行物２記載の発明及び上記周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様の理由により、引用刊行物１記載の発明、引用刊行物２記載の発明及び上記周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。　
　
（４）むすび　
　以上のとおり、本願発明は、引用刊行物１記載の発明、引用刊行物２記載の発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。　
　したがって、請求項２〜１５に係る発明について審理するまでもなく、本件出願は拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。