【事件の表示】
　平成１０年特許願第５２１４４８号「抵抗型伝送器の診断」拒絶査定不服審判事件〔平成１０年　５月１４日国際公開、ＷＯ９８／２０４６９、平成１３年　５月２２日国内公表、特表２００１−５０６７７８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成９年１０月２０日（優先権主張：１９９６年１１月７日、米国）の国際出願であり、手続の概要は以下のとおりである。
　
　国際出願　　　　　　　　平成　９年１０月２０日
　　　　　　　　　　（優先権主張１９９６年１１月７日）
　拒絶理由通知　　　　　　平成１８年　９月　１日
　　　　　　　　　　　　（平成１８年　９月１２日発送）
　意見書　　　　　　　　　平成１８年１２月　５日
　手続補正書　　　　　　　平成１８年１２月　５日
　拒絶査定　　　　　　　　平成１９年　２月　５日
　　　　　　　　　　　　（平成１９年　２月１３日送達）
　審判請求　　　　　　　　平成１９年　５月１４日
　手続補正書　　　　　　　平成１９年　６月　７日
　審尋　　　　　　　　　　平成２０年１１月１７日
　　　　　　　　　　　　（平成２０年１１月１９日発送）
　回答書　　　　　　　　　平成２１年　３月１６日
　
第２　平成１９年６月７日付けの手続補正書による手続補正について
１　平成１９年６月７日付けの手続補正書による手続補正（以下、「本件補正」という。）の内容
　本件補正は、以下の（１）に示される本件補正前の特許請求の範囲を、以下の（２）に示される本件補正後の特許請求の範囲に補正するものである。
（１）本件補正前の特許請求の範囲
　「【請求項１】　プロセス制御システム中の伝送器であって、
　プロセス変数を感知し、センサ出力を供給する抵抗センサと、
　前記抵抗センサに接続されて該抵抗センサに関する少なくとも一つの二次信号を供給する監視回路と、
　前記センサ出力とセンサ監視回路からの二次信号を入力され、デジタル化されたセンサ出力とデジタル化された二次信号とを供給するアナログ／デジタル変換回路と、
　プロセス制御ループに接続され、推定残寿命を伝送する出力回路と、
　前記二次信号と予め決定された該二次信号の予測結果との組を記憶するメモリと、
　前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記予測結果に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路とを具備した伝送器。
【請求項２】　　省略
【請求項３】　　省略
【請求項４】　　省略
【請求項５】　前記診断回路が前記二次信号を前記予測結果としての閾値と比較して前記抵抗センサの推定残寿命を決定するように構成されている請求項１の伝送器。
【請求項６】　　省略
【請求項７】　前記二次信号が前記プロセス変数によって影響を及ぼされた前記抵抗センサの抵抗値の変化である請求項１の伝送器。
【請求項８】　　省略
【請求項９】　　省略
【請求項１０】　省略　
【請求項１１】　省略
【請求項１２】　省略
【請求項１３】　センサの推定寿命を提供する方法であって、
　前記センサの出力を感知してデジタル化し、デジタル化されたセンサ出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する特性を感知してデジタル化し、デジタル化された二次出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する前記二次出力の予測出力と前記デジタル化された二次出力とを記憶する段階、および
　前記予測出力、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階とを具備した方法。」
　
（２）本件補正後の特許請求の範囲
　「【請求項１】　プロセス制御システム中の伝送器であって、
　プロセス変数を感知し、センサ出力を供給する抵抗センサと、
　前記抵抗センサに接続されて該抵抗センサに関する少なくとも一つの二次信号を供給する監視回路と、
　前記センサ出力とセンサ監視回路からの二次信号を入力され、デジタル化されたセンサ出力とデジタル化された二次信号とを供給するアナログ／デジタル変換回路と、
　プロセス制御ループに接続され、推定残寿命を伝送する出力回路と、
　前記二次信号と予め
実験的に
公称値
　前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記
公称値
【請求項２】　　省略
【請求項３】　　省略
【請求項４】　　省略
【請求項５】　前記診断回路が前記二次信号を前記
公称値
、比較結果に応じた所定の日数を
として
【請求項６】　　省略
【請求項７】　前記二次信号が
、所定時間内の
【請求項８】　　省略
【請求項９】　　省略
【請求項１０】　省略
【請求項１１】　省略
【請求項１２】　省略
【請求項１３】　センサの推定寿命を提供する方法であって、
　前記センサの出力を感知してデジタル化し、デジタル化されたセンサ出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する特性を感知してデジタル化し、デジタル化された二次出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する
予め実験的に決定した
公称値
　前記
二次出力の公称値
　
　なお、アンダーラインは、補正箇所を示すために請求人が付したものである。
　
２　本件補正の適否についての当審の判断
　本件補正は、補正前の請求項１の「予め決定された該二次信号の予測結果」、「前記予測結果」を、それぞれ、「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」、「前記公称値」とすることにより請求項１の記載の明確化を図るものであり、また、補正前の請求項５の「前記二次信号を前記予測結果としての閾値と比較して前記抵抗センサの推定残寿命を決定する」を、「前記二次信号を前記公称値としての閾値と比較して、比較結果に応じた所定の日数を前記抵抗センサの推定残寿命として決定する」とすることにより請求項５の記載の明確化を図るものであり、また、補正前の請求項７の「前記プロセス変数によって影響を及ぼされた前記抵抗センサの抵抗値の変化である」を「所定時間内の前記抵抗センサの抵抗値の変化である」とすることにより請求項７の記載の明確化を図るものであり、さらに、補正前の請求項１３の「前記二次出力の予測出力」を「予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」とし、同じく「・・・と・・・二次出力とを記憶する」を「・・・と・・・二次出力との組を記憶する」とし、同じく「前記予測出力」を「前記二次出力の公称値」とすることにより請求項１３の記載の明確化を図るものであって、いずれも、拒絶の理由に示す事項についてするものである。
　したがって、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項第４号に規定する明りょうでない記載の釈明を目的とするものである。
　また、本件補正は、願書に最初に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものであるから、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第３項の規定に適合するものである。
　よって、本件補正は適法になされたものである。
　
第３　原査定の理由
　原査定の理由の概要は、
（理由１）特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の記載が不備であるから、この出願は特許法第３６条第４項並びに第６項第２号に規定する要件を満たしていない、
（理由２）請求項１−１３に係る発明は、優先日前に頒布された刊行物１、２に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない、
というものであり、
　上記（理由１）については、平成１８年９月１日付けの拒絶理由通知において、
「特許請求の範囲には、技術的にどのようなことを意味するのかが明確でない記載がいくつか見受けられ、結果的に発明の範囲が不明確となっている。それらの点については、発明の詳細な説明でも十分に説明されていない。」と指摘した上で、概略次の点を挙げるとともに、「また、この出願の発明の詳細な説明は、当業者が請求項１−１３に係る発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載されていない。」と指摘している。
　・請求項１の「予測結果」とは何か明確でない。
　・請求項１の「メモリの予測結果およびデジタル化された二次信号の関数」が具体的にどのようなものであるのか明確でない。
　・請求項１３の「センサの寿命に関する予測出力と二次出力とを記憶する段階」が、何を記憶するのかが明確でなく、また、「予測出力、デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数」が、どのようなものであるのかが明確でない。
　また、上記（理由１）については、平成１９年２月５日付けの拒絶査定の備考の欄において、概略次の点を指摘している。
　・請求項１の「推定残寿命」がどのようにして求められるものであるのか不明であり、「診断回路」が具体的にどのようなものであるのか明確でない。
　・請求項１３において、「予測出力」がどのようなものであるのか明確でなく、また、「推定寿命」がどのようにして求められるものであるのか不明である。
　・「推定残寿命」、「推定寿命」を、デジタル化されたセンサ出力、デジタル化された二次信号および予測結果に基づいてどのように求めるのかについては、発明の詳細な説明においても、十分に説明されていない。
　
第４　当審の判断
　本件補正により補正された本願明細書の特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の記載に、原査定の理由の（理由１）において指摘された不備があるか否か、
　また、同特許請求の範囲の請求項１ないし１３に係る発明が、同（理由２）に該当するものであるか否か、
について以下検討する。
１　（理由１）のうちの特許法第３６条第４項（実施可能要件）違反について
（１）請求項１に記載された発明の実施可能要件について
　ア　請求項１に記載された発明
　本件補正により補正された本願明細書（以下、単に「本願明細書」という。）の特許請求の範囲の請求項１には、プロセス制御システム中の伝送器に係る発明として、上記「第２」の「１」の「（２）本件補正後の特許請求の範囲」の請求項１に記載された次のとおりのものが記載されている。
　「【請求項１】　プロセス制御システム中の伝送器であって、
　プロセス変数を感知し、センサ出力を供給する抵抗センサと、
　前記抵抗センサに接続されて該抵抗センサに関する少なくとも一つの二次信号を供給する監視回路と、
　前記センサ出力とセンサ監視回路からの二次信号を入力され、デジタル化されたセンサ出力とデジタル化された二次信号とを供給するアナログ／デジタル変換回路と、
　プロセス制御ループに接続され、推定残寿命を伝送する出力回路と、
　前記二次信号と予め実験的に決定された該二次信号の公称値との組を記憶するメモリと、
　前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路とを具備した伝送器。」
　
　イ　「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」について
　請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」（以下、「発明特定事項１」ともいう。）について、「該二次信号の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「該二次信号の公称値」を「予め実験的に決定」するのかに関し、本願明細書の発明の詳細な説明の記載は明確かつ十分に記載したものであるか否か検討する。
　
　本願明細書の発明の詳細な説明には、「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」（発明特定事項１）に関して以下の記載がある。
（ａ）　「発明の概要
　プロセス制御システムの伝送器は、抵抗型センサを含み、そのセンサはプロセス変数を感知し、センサ出力を供給する。センサに接続されたセンサ監視回路は、センサに関する二次信号を供給する。センサ出力およびセンサ監視回路に接続されたアナログ／デジタル変換回路は、デジタル化されたセンサ出力および少なくとも１つのデジタル化された二次信号を供給する。
  ６つの二次信号は、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）、シース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）を含む。メモリは、二次信号および、センサに関する一組の予測結果を記憶する。診断回路は、メモリに記憶された予測結果、デジタル化されたセンサ出力、およびデジタル化された二次信号の関数として、推定残寿命を供給する。
プロセス制御ループに接続された出力回路は、センサの寿命に関する推定残寿命を伝送する。」（明細書第２頁第５行〜第１９行）
　
（ｂ）　「センサ１１０からの出力はアナログ信号であり、それはＡ／Ｄ変換・補償回路１１４内で適当に調整され（signal conditioned）、かつデジタル化される。センサ１１０からの信号はまたセンサ監視回路１１６と電気的に接続され、そのセンサ監視回路１１６は、センサ１１０の抵抗の変化（△Ｒ１）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、ケースまたはシース・リード間電圧（ＶＰ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）を示す二次信号をバス１１７上へ出力する。
・・・・・
　伝送器１００のセンサ１１０によって感知され、デジタル化された一次プロセス変数およびデジタル化された二次信号は、診断回路１１８に結合される。」（明細書第５頁第１行〜第１９行）
　
（ｃ）　「符号１２０は、各々の二次信号のための予測結果（時には、公称値と呼ばれる）を保存するメモリである。メモリ１２０の出力は、診断回路１１８からの要求にしたがって、センサ１１０の寿命（以下、推定残寿命という）を示す出力１２２を供給するために用いられる。二次信号△Ｒ１のために、メモリ１２０は、例えば、ある一定の時間の間に予測されるセンサ１１０の抵抗の変化を示す値、あるいはそのドリフト量を記憶する。予測された変化の大きさは、用いられるセンサの型式、製造方法、および伝送器１００の特定用途の精度（ドリフトで表わされる）に依存する。
  記憶された△Ｒ１は典型的に、センサ１１０の多数の生産サンプルを試験し、および記憶するのに適当な△Ｒ１の数値を計算することによって実験的に決定される。同様にＲＩＲの値もメモリ１２０に記憶される。記憶されたＲＩＲの値は、センサ１１０の多数の生産サンプルに基づいて同様に実験的に決定され、センサ１１０のシースとセンサ１１０間のインピーダンスを表わす。
　本発明の譲受人であるローズマウント（Rosemount）社は多種類のＰＲＴを製造している。それらのＰＲＴはセンサ１１０として用いられることができ、特定されたシース・センサ間インピーダンスＩＲを有する。ＶＰの値もまたメモリ１２０に記憶される。ＶＰの値はセンサ１１０とシース間の電圧を示し、それは理想的には実質的にゼロでなければならない。しかしながら、もしセンサに湿気が入ると、センサ内の異なる金属がガルバーニ電池接続によって電圧を発生することがある。多数の生産サンプルのＶＰを観察した後で、概ねゼロの実験的値が、この二次信号のためにメモリ１２０に記憶される。
  △αおよび△δの値もまたメモリ１２０に記憶されるが、それらの値はＰＲＴセンサ１１０の抵抗温度特性と関連がある。生産プロセスおよび指定された精度が、センサ１１０の多数の生産サンプルの実験的テストに基づいて、△αおよび△δの予測値を設定する。ＳＨの値もまたメモリ１２０に記憶される。ＳＨの値は、センサを通る電流に小さな変動がパルス的に発生された後に、このＰＲＴセンサ１１０を冷却あるいは加熱するための予測時定数を表わしている。」（明細書第５頁第２２行〜第７頁第１０行）
　
　そこで、上記発明特定事項１における各事項と上記記載（ａ）ないし（ｃ）との関係について検討する。
　
　（イ−１）「二次信号」について
　上記の記載（ａ）〜（ｃ）から、
　「二次信号」とは、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）、シース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）のうちの少なくとも一つの信号であることが読み取れる。
　
　（イ−２）「公称値」と「予測結果」との関係について
　上記の記載（ｃ）の「符号１２０は、各々の二次信号のための予測結果（時には、公称値と呼ばれる）を保存するメモリである。」との記載から、
　「予測結果」は「公称値」とも呼ばれ、両者は等価なものであること、
　また、メモリは、各々の二次信号のための予測結果（すなわち、公称値）を保存することが読み取れる。
　
　（イ−３）「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」について
　そこで、二次信号が（イ−１）で述べた６つの場合の各々について検討する。
　　（イ−３−１）「予め実験的に決定されたセンサ抵抗の変化（△Ｒ１）の公称値」について
　上記二次信号のうちセンサ抵抗の変化（△Ｒ１）の公称値に関して、上記の記載（ｃ）には次の２つの記載（i）、（ii）がある。
　（i）「二次信号△Ｒ１のために、メモリ１２０は、例えば、ある一定の時間の間に予測されるセンサ１１０の抵抗の変化を示す値、あるいはそのドリフト量を記憶する。予測された変化の大きさは、用いられるセンサの型式、製造方法、および伝送器１００の特定用途の精度（ドリフトで表わされる）に依存する。」
　（ii）「記憶された△Ｒ１は典型的に、センサ１１０の多数の生産サンプルを試験し、および記憶するのに適当な△Ｒ１の数値を計算することによって実験的に決定される。」
　
　そこで、これらの記載（i）、（ii）を検討する。
　記載（i）については、どのような予測を行って「ある一定の時間の間に予測されるセンサ１１０の抵抗の変化を示す値、あるいはそのドリフト量」を求めるのか説明がなく、また、この「予測」と発明特定事項１における「予め実験的に決定」することとの関連も不明である。
　さらに、そもそも、センサ１１０の抵抗はプロセス変数である温度を感知しそれに応じて変化するものであり、単に時間にのみ依存するものではないから、「ある一定の時間の間に予測されるセンサ１１０の抵抗の変化を示す値、あるいはそのドリフト量」という記載ではその技術的な意味が明らかではなく、これらの「センサ１１０の抵抗の変化を示す値、あるいはそのドリフト量」を特定することはできない。したがって、記載（i）は、これらの「センサ１１０の抵抗の変化を示す値、あるいはそのドリフト量」がどのような値あるいは量であり、どのような「実験」を行ってどのようにしてこれらを「予め実験的に決定」するのかについて明確かつ十分に記載したものではない。
　次に、記載（ii）については、メモリに記憶される△Ｒ１が「実験的に決定される」ことは読み取れるものの、「センサ１１０の多数の生産サンプル」に対してどのような「試験」を行うのか、それによりどのような試験データを得るのか、そして、「記憶するのに適当な△Ｒ１の数値」をどのような「計算」により求めるのか説明がされていない。
　したがって、該記載（ii）は、「メモリに記憶される△Ｒ１」、すなわち、「センサ抵抗の変化（△Ｒ１）の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして該「センサ抵抗の変化（△Ｒ１）の公称値」を「予め実験的に決定」するのか明確かつ十分に記載したものではない。
　よって、上記記載（i）、（ii）は、「予め実験的に決定されたセンサ抵抗の変化（△Ｒ１）の公称値」について、「センサ抵抗の変化（△Ｒ１）の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「センサ抵抗の変化（△Ｒ１）の公称値」を「予め実験的に決定」するのかについて明確かつ十分に記載したものではない。
　　（イ−３−２）「予め実験的に決定された絶縁抵抗（ＲＩＲ）の公称値」について
　上記二次信号のうち絶縁抵抗（ＲＩＲ）の公称値に関して、上記の記載（ｃ）には、次のように記載されている。
　「同様にＲＩＲの値もメモリ１２０に記憶される。記憶されたＲＩＲの値は、センサ１１０の多数の生産サンプルに基づいて同様に実験的に決定され、センサ１１０のシースとセンサ１１０間のインピーダンスを表わす。」
　しかしながら、この記載においては、「センサ１１０の多数の生産サンプルに基づいて」どのような「実験」を行うのか、それからどのような実験データを得るのか、そしてどのようにして「記憶されたＲＩＲの値」を決定するのか説明されていない。
　したがって、該記載は、「記憶されたＲＩＲの値」、すなわち、「絶縁抵抗（ＲＩＲ）の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「絶縁抵抗（ＲＩＲ）の公称値」を「予め実験的に決定」するのかについて明確かつ十分に記載したものではない。
　　（イ−３−３）「予め実験的に決定されたシース・リード間電圧（ＶＰ）の公称値」について
　上記二次信号のうちシース・リード間電圧（ＶＰ）の公称値に関して、上記の記載（ｃ）には、次のように記載されている。
　「ＶＰの値もまたメモリ１２０に記憶される。ＶＰの値はセンサ１１０とシース間の電圧を示し、それは理想的には実質的にゼロでなければならない。しかしながら、もしセンサに湿気が入ると、センサ内の異なる金属がガルバーニ電池接続によって電圧を発生することがある。多数の生産サンプルのＶＰを観察した後で、概ねゼロの実験的値が、この二次信号のためにメモリ１２０に記憶される。」
　しかしながら、この記載においては、「多数の生産サンプルのＶＰ」をどのような条件のもとで「観察し」どのような「実験」を行ってどのようにして「概ねゼロの実験的値」を求めるのか説明されていない。
　したがって、該記載は、メモリ１２０に記憶されるＶＰの値、すなわち、「シース・リード間電圧（ＶＰ）の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「シース・リード間電圧（ＶＰ）の公称値」を「予め実験的に決定」するのかについて明確かつ十分に記載したものではない。
　　（イ−３−４）「予め実験的に決定されたαの変化（△α）又はδの変化（△δ）の公称値」について
　上記二次信号のうちαの変化（△α）又はδの変化（△δ）の公称値に関して、上記の記載（ｃ）には、次のように記載されている。
　「 △αおよび△δの値もまたメモリ１２０に記憶されるが、それらの値はＰＲＴセンサ１１０の抵抗温度特性と関連がある。生産プロセスおよび指定された精度が、センサ１１０の多数の生産サンプルの実験的テストに基づいて、△αおよび△δの予測値を設定する。」
　しかしながら、この記載においては、「センサ１１０の多数の生産サンプル」にどのような「実験的テスト」を行うのか、それからどのような実験データを得るのか、そしてどのようにして「△αおよび△δの予測値」を求めるのか説明されていない。
　したがって、該記載は、「△αおよび△δの予測値」、すなわち、「αの変化（△α）又はδの変化（△δ）の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「αの変化（△α）又はδの変化（△δ）の公称値」を「予め実験的に決定」するのかについて明確かつ十分に記載したものではない。
　　（イ−３−５）「予め実験的に決定された自己発熱（ＳＨ）の公称値」について
　上記二次信号のうち自己発熱（ＳＨ）の公称値に関して、上記の記載（ｃ）には、次のように記載されている。
　「ＳＨの値もまたメモリ１２０に記憶される。ＳＨの値は、センサを通る電流に小さな変動がパルス的に発生された後に、このＰＲＴセンサ１１０を冷却あるいは加熱するための予測時定数を表わしている。」
　しかしながら、この記載においては、「実験」に関する説明すらなく、該記載は、「自己発熱（ＳＨ）の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「自己発熱（ＳＨ）の公称値」を「予め実験的に決定」するのかについて明確かつ十分に記載したものではない。
　
　（イ−４）まとめ
　以上の（イ−３−１）〜（イ−３−５）から、請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」（発明特定事項１）について、「該二次信号の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「該二次信号の公称値」を「予め実験的に決定」するのかに関し、本願明細書の発明の詳細な説明の記載は明確かつ十分に記載したものではない。
　
　ウ　「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」について
　請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」（以下、「発明特定事項２」ともいう。）について、本願明細書の発明の詳細な説明の記載は明確かつ十分に記載したものか否か検討する。
　
　本願明細書の発明の詳細な説明には、上記発明特定事項２に関して、上記「イ」の（ａ）〜（ｃ）の記載に加えて、以下の記載がある。
　
（ｄ）　「診断回路１１８はメモリ１２０の内容を受けて、推定残寿命１２２を計算する。診断回路は、予測結果、センサ１１０からのデジタル出力、およびデジタル化された二次信号の関数としてセンサ１１０の推定残寿命を計算する。診断回路１１８において用いられる計算方法の好ましい実施例は一組の多項式である。しかしながら、診断回路１１８はまた神経回路網、閾値回路、自己回帰モデル、およびファジイ理論を含む多数のその他の方法でも実現されることができる。 」（明細書第７頁第１１行〜第１９行）
　
（ｅ）　「 Ｂ．シース・リード間電圧および絶縁抵抗
・・・・・ マイクロプロセッサ５２は抽出された電圧のサンプル値をメモリ５６に記憶し、多項式によって、記憶されたＶＰの予測値と新たに記憶されたＶＰ値との関数として推定残寿命を決定する。
・・・・・マイクロプロセッサ５２内の診断回路は、メモリ５６に記憶されたＲＩＲの予測値と新たに測定されたＲＩＲの値とに基づき、多項式を用いて寿命値出力を計算する。
　Ｃ．センサのアルファ（α）およびデルタ（δ）の測定
・・・・・定数αおよびδが計算されると、新たに計算されたαおよびδの値は、メモリ５６に記憶されたαおよびδの予測値と比較されて、△αおよび△δが計算される。
  推定残寿命は△αおよび△δの大きさに基づいて、△αおよび△δから計算され、Ｉ／Ｏ回路５８へ出力されてループ４２を介して送出される。」（明細書第１２頁第１行〜第１５頁第８行）
　
（ｆ）　「III．診断回路
  マイクロプロセッサ５２は、前述の６つの二次信号のうちの少なくとも１つを用いて、伝送器４０の作用に関する診断機能を果たす。
・・・・・
　Ａ．多項式曲線
  本発明の診断回路５２の好ましい実施例は、実験モデルや多項式曲線への当てはめを用いる。
  推定残寿命を計算するために、メモリ５６に記憶された諸定数と共に、変数としての６つの二次信号の組合せを有する多項式が用いられる。
　 Ｂ．神経回路網
  ある診断回路は多層神経回路網で実現される。異なる目標のための神経回路網モデルを開発するために、多数の訓練アルゴリズムが用いられることができるけれども、１つの実施例は、１組の入力と出力（複数）との間の非線形な関係を獲得するであろう神経回路網モジュールを開発するために、周知のバックプロパゲーション（Backpropagation）回路網（ＢＰＮ）を含む。図４はマイクロプロセッサ５２およびメモリ５６で実現される３層神経回路網構成の典型的な位相構造を示す。
  通常入力バッファといわれる第一の層は、情報を受け、その情報を内部の層へ供給する。３層網のうちの第２の層は、通常隠れ層として知られ、結合の重みによって修正された情報を入力層から受け、この情報を次の層へ伝える。このことは、隠れ層に図示されており、分析されているシステムの非線形性を特徴付けるために用いられる。最後の層は出力層であり、そこでは計算された出力（推定値）が周囲環境に提供される。
  図５Ａは、神経回路網モデルを用いた温度センサの残寿命推定の概要図であり、前記６つの二次信号は七ンサ抵抗の変化（△Ｒ１）、絶縁抵抗（ＩＲ）、ケース・リード間電圧（ＶＰ）、αの変化（△α）、自己発熱（ＳＨ）、およびδの変化（△δ）を含む。図５Ｂは、寿命対時間のグラフであり、図５Ａの回路網によって生成される出力の一例を示す。
  二次信号は、それぞれ単独でも、あるいはそれらのうちのいくつかの組合せでも、様々な実施例に用いられることができる。入力数は抵抗型センサのタイプに応じて異なることができ、それらの変数の１つあるいはそれ以上は含まれないことがある。
  二次信号は、本質的には、ＲＴＤセンサ６１あるいは熱電対の状態を適切に示し、関連あるパターンに追従する。そのパターンは、マイクロプロセッサ５２がパターン認識を行なって故障および／あるいは問題の発生を示すことを可能にする。
  Ｃ．閾値回路
  本実施例の診断回路５２は、１組のｉｆ−ｔｈｅｎ法則を用いて温度センサ６１の状態についての結論に達するものであり、アナログ回路で容易に実現されることができる。前述の入力変数（の全てあるいは一部分）が監視され、それらの現在値が上限および下限値と比較される。上限および下限値は多数のセンサ６１の広範なテストによって実験的に設定される。決定は比較結果に基づいてなされる。
  この型式の診断回路のデジタル実施例では、二次信号の値はマイクロプロセッサ５２によって監視され、それらの許容範囲（値）と比較される。
  以下は、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）に関するｉｆ−ｔｈｅｎ法則の１例である。
  もし、△Ｒ１がＲＨより大きな割合で増加するならば、センサ６１の推定残寿命はｎ日である。
  ここで、Ｘ＝割合（パーセント表示した）の限界
  △Ｒ１は、既知の時間の間のセンサ抵抗値の変化、
  ＲＨは、許容範囲の上限である。
  同様に、ＩＲ、ＶＰ、ＳＨ、αの変化（△α）、およびδの変化（△δ）も相応の上限および下限を有し、それらの限界は意志決定法則に利用するための結論（resultant）値を決定するために用いられる。」（明細書第１６頁第５行〜第１９頁第６行）
　
　そこで、上記発明特定事項２における各事項と上記記載（ａ）ないし（ｆ）との関係について検討する。
　
　（ウ−１）「前記公称値」について
　上記「イ」において説示したとおり、本願明細書の発明の詳細な説明は、「前記公称値」、すなわち、「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」について、「該二次信号の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「該二次信号の公称値」を「予め実験的に決定」するのかに関し明確かつ十分に記載したものではないのであるから、該「公称値」を含む事項により特定しようとする「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」についても、当然のことながら、該「診断回路」が、どのようなものであり、どのようにして「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する」のかに関して明確かつ十分に記載したものではない。
　
　また、該「前記公称値」は、単に、「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」であればどのようなものでも良いというわけではなく、「診断回路」において「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する」ために用いられるものである以上、該「前記公称値」は、次にその理由を示すように、推定残寿命との関係において二次信号を評価して「推定残寿命」を決定するための情報を担ったものでなければならない。
　それにも拘わらず、発明の詳細な説明には、「公称値」がそのような情報を担ったものであるとの説明すらされておらず、その具体的な求め方についても何ら説明されていないから、この点においても、本願明細書の発明の詳細な説明は、該「前記公称値」について明確かつ十分に記載したものではなく、その結果として、該「診断回路」についても明確かつ十分に記載したものではない。
　次に上記理由について述べる。
　「診断回路」が、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する」ためには、これら３つの信号のうちのいずれかが「推定残寿命」を求めるために有用となる情報（例えば、抵抗センサの劣化に関する情報）を担ったものでなければならない。
　なぜならば、これらの３つの信号のいずれにも「推定残寿命」を求めるために有用となる情報が含まれていないとすれば、「推定残寿命」を求めるための手がかりが全くないことになり、これらの３つの信号に基づいて「推定残寿命」を求めることはできないからである。
　そこで、これらの３つの信号の各々について検討する。
　まず、第１番目の信号である「前記デジタル化されたセンサ出力」については、該「センサ出力」は「プロセス変数を感知し、センサ出力を供給する抵抗センサ」の「センサ出力」であるから、第一義的には「プロセス変数」を表す情報を担っているものである。
　一方、センサ自身の劣化に伴い「センサ出力」自体もその影響を受け、たとえ同一のプロセス変数を感知したとしても、その「センサ出力」は当初の値とは異なった偏倚したものとなる。
　つまり、「前記デジタル化されたセンサ出力」には、抵抗センサの劣化に関する情報が含まれることになる。
　しかしながら、その抵抗センサの劣化に関する情報を表す「当初の出力からの偏倚」は、該抵抗センサが未だ健全な状態であることから（「推定残寿命」を求めるという前提からすれば、該抵抗センサが未だ現役の状態であることは明らかである。）僅かな量にすぎないものである。
　しかも、該「当初の出力からの偏倚」は、該抵抗センサとは別の正確なセンサから正確な「プロセス変数」に関する情報が与えられない限り、該「当初の出力からの偏倚」のみを「センサ出力」から分離して抽出することはできないが、このようなことは発明の詳細な説明には開示されていない。
　したがって、「前記デジタル化されたセンサ出力」は、「推定残寿命」を求めるために有用となる情報を提供できるものではない。
　次に、第２番目の「前記デジタル化された二次信号」について検討する。
　該「前記デジタル化された二次信号」は、上記「イ」の記載（ａ）〜（ｃ）から、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）、シース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）のうちの少なくとも一つのデジタル化された信号であることが読み取れる。
　このうち、少なくとも、シース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）に関しては、たしかに上記「推定残寿命」を決定するために有用となる情報を担った信号、すなわち、抵抗センサの劣化の影響を受けそれに応じて自身の値が変化するような信号であると認められる。
　しかしながら、これらの信号の値は、ともに、該信号を測定した現時点での信号の値を表すにとどまるものであり、このように現時点での抵抗センサの劣化を反映した情報を含む信号の値がわかったとしても、それが「推定残寿命」との関係においてどの程度の値であるのかを評価できなければ「推定残寿命」を求めることはできない。
　したがって、「推定残寿命」を求めるためには、「前記デジタル化された二次信号」を「推定残寿命」との関係においてどの程度の値であるのか評価して「推定残寿命」を求めるための情報が必要である。
　よって、この情報を担うものは、第３番目の信号である「前記公称値」でなければならない。
　
　ところが、本願明細書の発明の詳細な説明には、「前記公称値」がこのような情報を担うものであるとの説明はおろか、その具体的な求め方についての説明も一切なされてはいない。
　したがって、本願明細書の発明の詳細な説明は、該「前記公称値」について明確かつ十分に記載したものではなく、その結果として、該「診断回路」についても明確かつ十分に記載したものではない。
　
　なお、上記「前記デジタル化された二次信号」のうち、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）については、センサ抵抗Ｒ１は抵抗センサのセンサ出力であって、第一義的には「プロセス変数」を表す出力であるから、その変化である△Ｒ１も第一義的には「プロセス変数」の変化を表すものである。
　そして、たとえ「推定残寿命」を決定するために有用となる情報、すなわち、抵抗センサの劣化の影響を反映した情報が上記△Ｒ１に含まれていたとしても、その情報のみを分離して取り出すことはできないことは、上記第１番目の信号である「前記デジタル化されたセンサ出力」の場合と同様である。
　したがって、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）については、その他のシース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）のように「推定残寿命」を決定するために有用となる情報を提供できる信号ではない。
　よって、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）及びそれに関する「公称値」は、「診断回路」において、それらに基づいて「抵抗センサの推定残寿命を供給する」ことができるものとはなり得ないものである。
　
　（ウ−２）「推定残寿命を供給する診断回路」について
　上記記載（ｄ）から、診断回路は、予測結果、センサ１１０からのデジタル出力、およびデジタル化された二次信号の関数としてセンサ１１０の推定残寿命を計算することが読み取れ、その関数による計算を行う具体的な手段として、上記記載（ｄ）〜（ｆ）には、多項式曲線、神経回路網、閾値回路の例が示されている。
　しかしながら、推定残寿命を計算するための上記「予測結果、センサ１１０からのデジタル出力、およびデジタル化された二次信号の関数」が具体的にどのような関数であるのか上記記載（ｄ）〜（ｆ）には示されておらず、これら３つの変数から具体的にどのようにして推定残寿命を計算するのか不明である。
　また、具体的な手段として示された多項式曲線については、単に「多項式」としか記載されておらず、該「多項式」が、予測結果、センサ１１０からのデジタル出力、およびデジタル化された二次信号の３変数、すなわち、発明特定事項２の「診断回路」において用いられる「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値」の３変数の多項式として想定し得る無数の多項式の中からどの多項式を用いるのか、その具体的な例については一切説明がない。
　したがって、発明の詳細な説明は多項式曲線への当てはめを用いた「診断回路」については明確かつ十分に記載したものではない。
　次に、神経回路網については、上記記載（ｆ）、図面の図５には、単に、一般的な神経回路網を示して、入力層に二次信号を入力すれば出力として推定残寿命が得られると記載されているに過ぎず、そのような入出力関係が実現されるための具体的構成については一切明らかにされていない。さらに、二次信号以外の「前記デジタル化されたセンサ出力」、「前記公称値」についての説明もないから、発明の詳細な説明は神経回路網を用いた「診断回路」について明確かつ十分に記載したものではない。
　また、閾値回路については、上記記載（ｆ）に、「前述の入力変数（の全てあるいは一部分）が監視され、それらの現在値が上限および下限値と比較される。上限および下限値は多数のセンサ６１の広範なテストによって実験的に設定される。決定は比較結果に基づいてなされる。」と記載され、その例として、「もし、△Ｒ１がＲＨより大きな割合で増加するならば、センサ６１の推定残寿命はｎ日である。」との法則を用いることが記載されている。
　しかしながら、多数のセンサに対して具体的にどのような実験を行い、どのようにして上記上限および下限値を求めるのか説明されておらず、また、発明特定事項２の「診断回路」において用いられる「前記デジタル化されたセンサ出力」についての説明もない。
　また、△Ｒ１が、「診断回路」において「抵抗センサの推定残寿命を供給する」ことができるものとはなり得ないことは、上記（ウ−１）において説示したとおりであり、「もし、△Ｒ１がＲＨより大きな割合で増加するならば、センサ６１の推定残寿命はｎ日である。」と判断できる△Ｒ１、上限値ＲＨをどのようにして求めるのかも不明である。
　したがって、発明の詳細な説明は閾値回路を用いた「診断回路」について明確かつ十分に記載したものではない。
　
　（ウ−３）まとめ
　以上（ウ−１）、（ウ−２）のとおりであるから、請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」（発明特定事項２）について、該「診断回路」がどのようなものであり、どのようにして「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する」のか発明の詳細な説明の記載においては不明である。
　したがって、上記発明特定事項２について本願明細書の発明の詳細な説明は明確かつ十分に記載したものではない。
　
　エ　まとめ
　以上「イ」、「ウ」のとおりであるから、請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」（発明特定事項１）、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」（発明特定事項２）について、本願明細書の発明の詳細な説明は明確かつ十分に記載したものではない。
　したがって、たとえ当業者といえども、本願明細書の発明の詳細な説明に基づいて、「該二次信号の公称値」を「予め実験的に決定」し、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」を構成することはできない。
　そして、該「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」及び「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」は、上記「第３　原査定の理由」において示したように、原査定の理由の（理由１）において本願明細書の発明の詳細な説明の記載が不備であると指摘された事項である。
　よって、本願明細書の発明の詳細な説明は、原査定の理由の（理由１）において指摘された記載に不備があり、当業者が請求項１に記載された発明の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものではないから、本願は特許法第３６条第４項に規定する要件を満たしていない。
　
（２）請求項１３に記載された発明の実施可能要件について
　ア　請求項１３に記載された発明
　本件補正により補正された本願明細書の特許請求の範囲の請求項１３には、センサの推定寿命を提供する方法に係る発明として、上記「第２」の「１」の「（２）本件補正後の特許請求の範囲」の請求項１３に記載された次のとおりのものが記載されている。
　「【請求項１３】　センサの推定寿命を提供する方法であって、
　前記センサの出力を感知してデジタル化し、デジタル化されたセンサ出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する特性を感知してデジタル化し、デジタル化された二次出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値と前記デジタル化された二次出力との組を記憶する段階、および
　前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階とを具備した方法。」
　
　イ　「前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」について　
　請求項１に記載された発明がプロセス制御システム中の伝送器に係る物の発明であるのに対し、請求項１３に記載された発明は、請求項１に記載された物の発明をほぼ同様の内容の方法の発明として表現したものである。
　そして、請求項１３に記載された発明に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」は、それぞれ、請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」にほぼ対応するものである。
　そうすると、上記「（１）請求項１に記載された発明の実施可能要件について」において説示したように、請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」について、本願明細書の発明の詳細な説明は明確かつ十分に記載したものではないのであるから、同様の理由により、請求項１３に記載された発明に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」についても、本願明細書の発明の詳細な説明は明確かつ十分に記載したものではない。
　したがって、たとえ当業者といえども、本願明細書の発明の詳細な説明の記載に基づいて、「前記二次出力の公称値」を「予め実験的に決定」し、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」を実行することはできない。
　そして、該「前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」は、上記「第３　原査定の理由」において示したように、原査定の拒絶の理由の（理由１）において本願明細書の発明の詳細な説明の記載が不備であると指摘された事項である。
　
　ウ　まとめ
　以上のとおりであるから、本願明細書の発明の詳細な説明は、原査定の理由の（理由１）において指摘された記載に不備があり、当業者が請求項１３に記載された発明の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものではないから、本願は特許法第３６条第４項に規定する要件を満たしていない。
　
２　（理由１）のうちの特許法第３６条第６項第２号違反について
（１）請求項１に記載された発明について
　ア　請求項１に記載された発明
　本件補正により補正された本願明細書の特許請求の範囲の請求項１には、プロセス制御システム中の伝送器に係る発明として、上記「第２」の「１」の「（２）本件補正後の特許請求の範囲」の請求項１に記載された次のとおりのものが記載されている。
　「【請求項１】　プロセス制御システム中の伝送器であって、
　プロセス変数を感知し、センサ出力を供給する抵抗センサと、
　前記抵抗センサに接続されて該抵抗センサに関する少なくとも一つの二次信号を供給する監視回路と、
　前記センサ出力とセンサ監視回路からの二次信号を入力され、デジタル化されたセンサ出力とデジタル化された二次信号とを供給するアナログ／デジタル変換回路と、
　プロセス制御ループに接続され、推定残寿命を伝送する出力回路と、
　前記二次信号と予め実験的に決定された該二次信号の公称値との組を記憶するメモリと、
　前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路とを具備した伝送器。」
　
　イ　「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」について
　請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」については、この記載自体からも、また、この記載を含む請求項１全体の記載からも、「該二次信号の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「該二次信号の公称値」を「予め実験的に決定」するのか不明である。
　この点については、本願明細書の発明の詳細な説明の記載を参酌してみても、やはり、その技術的な内容を具体的に把握することができないことは、上記「１」の（１）の「イ」において説示したとおりである。
　
　ウ　「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」について
　請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」については、上記「イ」において指摘したように、「前記公称値」、すなわち、「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」について、「該二次信号の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「該二次信号の公称値」を「予め実験的に決定」するのか不明であるから、該「前記公称値」を含む事項により特定しようとする該「診断回路」もどのようなものであるかのか不明である。
　また、請求項１３の記載からは、「診断回路」が、「前記デジタル化されたセンサ出力」、「前記デジタル化された二次信号」、「前記公称値」の３変数に基づいてどのようにして「推定残寿命」を求めるのか不明であるから、この点においても「診断回路」がどのようなものであるのか不明である。
　これらの点については、本願明細書の発明の詳細な説明の記載を参酌してみても、やはり、その技術的な内容を具体的に把握することができないことは、上記「１」の（１）の「ウ」において説示したとおりである。
　
　エ　まとめ
　以上のとおり、請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」については、いずれも、請求項１の記載はもとより、本願明細書の発明の詳細な説明の記載を参酌してみても、その技術的な内容を具体的に把握することができないから、請求項１に記載された発明は明確であるとはいえない。
　そして、これらの事項は、上記「第３　原査定の理由」において示したように、原査定の拒絶の理由の（理由１）において本願明細書の特許請求の範囲の記載不備が指摘された事項である。
　したがって、本願明細書の特許請求の範囲の請求項１の記載は原査定の理由の（理由１）において指摘された不備があり、請求項１に記載された発明は明確ではないので、本願は特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。
　
（２）請求項１３に記載された発明について
　ア　請求項１３に記載された発明
　本件補正により補正された本願明細書の特許請求の範囲の請求項１３には、プロセス制御システム中の伝送器に係る発明として、上記「第２」の「１」の「（２）本件補正後の特許請求の範囲」の請求項１３に記載された次のとおりのものが記載されている。
　「【請求項１３】　センサの推定寿命を提供する方法であって、
　前記センサの出力を感知してデジタル化し、デジタル化されたセンサ出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する特性を感知してデジタル化し、デジタル化された二次出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値と前記デジタル化された二次出力との組を記憶する段階、および
　前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階とを具備した方法。」
　
　イ　「前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」について
　請求項１に記載された発明がプロセス制御システム中の伝送器に係る物の発明であるのに対し、請求項１３に記載された発明は、請求項１に記載された物の発明をほぼ同様の内容の方法の発明として表現したものであり、請求項１３に記載された発明に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」は、それぞれ、請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」にほぼ対応するものである。
　そうすると、上記「（１）請求項１に記載された発明について」において説示したように、請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」
については、いずれも、請求項１の記載はもとより、本願明細書の発明の詳細な説明の記載を参酌してみても、その技術的な内容を具体的に把握することができないのであるから、同様の理由により、請求項１３に記載された発明に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」についても、いずれも、請求項１３の記載はもとより、本願明細書の発明の詳細な説明を参酌してみても、その技術的な内容を具体的に把握することはできない。
　したがって、請求項１３に記載された発明は明確であるとはいえない。
　そして、これらの事項は、上記「第３　原査定の理由」において示したように、原査定の理由の（理由１）において本願明細書の特許請求の範囲の記載不備が指摘された事項である。
　
　ウ　まとめ
　以上のとおりであるから、本願明細書の特許請求の範囲の請求項１３の記載は原査定の理由の（理由１）において指摘された不備があり、請求項１３に記載された発明は明確ではないので、本願は特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。
　
３　原査定の理由の（理由１）に関する審判請求人の主張について
　審判請求人は、平成１９年６月７日付けで補正された審判請求書の請求の理由、平成２１年３月１６日付け回答書において、概略以下のような主張をしている。
（１）「予測結果」については、上述のように「予め実験的に決定した二次信号の公称値」と補正したので、「予測結果」がどのようなものであるのか（どのように「予測」されるのか）は明確になった。発明の詳細な説明には、二次信号の具体例として、「ある一定の時間の間に予測されるセンサ１１０の抵抗の変化を示す値」としてのΔＲ１を上げている（明細書第６頁第４行〜第６行参照）。
（２）「推定算寿命」がどのように求められものであるかについては、本願明細書の第１６頁に「3．診断回路」の項に種々の例を上げている。従来技術において、診断を実行するために種々の信号を使用することは周知であり、特定の診断条件に対して特定の信号を関連づけるための各種技術も周知である。
　本願発明の「診断回路」は、明細書中の「3．診断回路」に上げた診断手法に限らず、診断条件（本願発明では残寿命）に対して特定の信号（本願発明では、デジタル化されたセンサ出力、デジタル化された二次信号、および予め実験的に決定した公称値）を関連づける従来周知の診断手法を使用することができる。
  本願発明は、診断回路または診断方法で従来使用されていなかった新たな信号（二次信号）を抵抗センサの残寿命に関連づけられる信号として使用する点に特徴があり、この特徴を有する本願発明の実施において、診断回路や診断アルゴリズムが特定されている必要はない。
　また、（２）の「神経回路網」、「ファジイ理論」、「実験モデル」および「自己回帰モデル」が、推定寿命を求める際にどのように利用されるのかが明確でないという点についても、これらの演算手法はいずれも診断分野において診断に利用されている従来技術に関するものである。
　本願発明は、診断回路へ入力される信号として「センサ出力」と「二次信号」と「公称値」とを使用する点に特徴がある。「診断回路」として、「周知の「多項式曲線への当てはめ」、「神経回路網」、「閾値回路」等を使用できる。これらは一例であり、多項式や神経回路網、閾値回路は、与えられた問題に対する望ましい入出力パターンを得ることができるように設計可能である。
　
　そこで、上記主張について検討する。
　上記（１）の主張については、「予測結果」を「予め実験的に決定した二次信号の公称値」と補正しても、依然として、その技術的な内容が具体的に把握することができないことは上記「１」及び「２」において指摘したとおりであり、二次信号の具体例として挙げられた「ある一定の時間の間に予測されるセンサ１１０の抵抗の変化を示す値」としてのΔＲ１についても、その技術的な内容が明確に把握できないことは、上記「１」の「（１）」の「イ」の「（イ−３−１）」及び「１」の「（１）」の「ウ」の「（ウ−１）において指摘したとおりであるから、審判請求人の上記主張（１）を採用することはできない。
　上記（２）の主張については、本願発明は、診断回路または診断方法で従来使用されていなかった新たな信号（二次信号）を抵抗センサの残寿命に関連づけられる信号として使用する点に特徴があり、該「二次信号」に加えて「センサ出力」と「公称値」とを使用する点に特徴があるというのであるならば、このような新たな３変数からどのようにして具体的に推定残寿命を求めるのか示されなければ、その発明は明確であるとはいえず、上記「１」の「（１）」の「ウ」において指摘したとおり、たとえ、当業者であっても、推定残寿命を供給する「診断回路」を構成することができないことは明らかである。
　そして、「診断回路」の例として挙げられた、「多項式曲線への当てはめ」、「神経回路網」、「閾値回路」が従来周知のものであったとしても、それらを用いて上記新たな３変数から推定残寿命を具体的にどのようにして求めるのか示されていないことは、上記「１」の「（１）」の「ウ」の「（ウ−２）」において指摘したとおりである。
　したがって、審判請求人の上記主張（２）を採用することはできない。
　
４　（理由２）特許法第２９条第２項（進歩性）について
（１）請求項１に記載された発明の進歩性について
　ア　請求項１に記載された発明
　請求項１に記載された発明が明確ではないことは、上記「２」の「（１）」において指摘したとおりであるが、請求項１に記載された発明の進歩性を判断するにあたり、本願明細書の発明の詳細な説明及び技術常識を踏まえて、請求項１に記載された発明を一応次のように認定することとする。
　（ア−１）「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」について
　請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」については、上記「２」の「（１）」において指摘したように、請求項１の記載からは、「該二次信号の公称値」がどのような値であり、どのような「実験」を行ってどのようにして「該二次信号の公称値」を「予め実験的に決定」するのか不明であるが、この点について、本願明細書の発明の詳細な説明を参酌してみると、
　・「二次信号」については、上記「１」の「（１）」の「ア」の記載（ａ）〜（ｃ）から、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）、シース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）のうちの少なくとも一つの信号であること、
　・上記「１」の「（１）」の「ア」の記載（ｃ）の「符号１２０は、各々の二次信号のための予測結果（時には、公称値と呼ばれる）を保存するメモリである。」との記載から、メモリには各々の二次信号のための公称値が保存されること、
　・また、同記載（ｃ）の「記憶された△Ｒ１は典型的に、センサ１１０の多数の生産サンプルを試験し、および記憶するのに適当な△Ｒ１の数値を計算することによって実験的に決定される。」、「記憶されたＲＩＲの値は、センサ１１０の多数の生産サンプルに基づいて同様に実験的に決定され、センサ１１０のシースとセンサ１１０間のインピーダンスを表わす。」、「多数の生産サンプルのＶＰを観察した後で、概ねゼロの実験的値が、この二次信号のためにメモリ１２０に記憶される。」、「△αおよび△δの値もまたメモリ１２０に記憶される・・・センサ１１０の多数の生産サンプルの実験的テストに基づいて、△αおよび△δの予測値を設定する。」との記載から、メモリに記憶されるのは、「△Ｒ１」、「ＲＩＲの値」、「ＶＰ」、「「△αおよび△δの値」、すなわち、二次信号の値であり、これらは、多数の生産サンプルに基づいて実験的に決定されることが読み取れる。
　また、「公称」とは、一般に、「表向きに言われていること。一般に発表されていること。」（株式会社岩波書店 広辞苑第六版）という意味である。
　
　以上のことから、「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」とは、少なくとも、「予め多数の生産サンプルに基づいて実験的に決定された該二次信号の値であって一般に発表された値」であり、「該二次信号」とは「センサ抵抗の変化（△Ｒ１）、シース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）のうちの少なくとも一つの信号」であるということまでは理解することができる。
　
　（ア−２）「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」について
　請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗セン
サの推定残寿命を供給する診断回路」については、上記「２」の「（１）」において指摘したように、その技術的な内容を明確に把握することはできないが、上記（ア−１）において指摘したように、「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」については、少なくとも、「予め多数の生産サンプルに基づいて実験的に決定された該二次信号の値であって一般に発表された値」であるということまでは理解できるのであるから、該「公称値」を含む事項により特定しようとする「診断回路」についてもその限りにおいて一応理解することができる。
　
　（ア−３）そこで、以上のことから、請求項１に記載された発明を一応以下のとおりのものと認定し、その進歩性の有無について検討する。
　「【請求項１】　プロセス制御システム中の伝送器であって、
　プロセス変数を感知し、センサ出力を供給する抵抗センサと、
　前記抵抗センサに接続されて該抵抗センサに関する少なくとも一つの二次信号、すなわち、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）、シース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）のうちの少なくとも一つの信号を供給する監視回路と、
　前記センサ出力とセンサ監視回路からの二次信号を入力され、デジタル化されたセンサ出力とデジタル化された二次信号とを供給するアナログ／デジタル変換回路と、
　プロセス制御ループに接続され、推定残寿命を伝送する出力回路と、
　前記二次信号と予め多数の生産サンプルに基づいて実験的に決定された該二次信号の値であって一般に発表された値との組を記憶するメモリと、
　前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記一般に発表された値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路とを具備した伝送器。」　（以下、「本願発明１」という。）
　
　イ　引用例の記載事項・引用発明
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先日前に頒布された刊行物である特開平４−７６７９９号公報（以下、「引用例」という。）には、図面とともに以下の事項が記載されている。
　
（ａ）　「（３）熱電対温度センサを収納するケースに充填された絶縁物の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定部と、上記絶縁抵抗測定部で測定された絶縁抵抗に基づいて上記熱電対温度センサの寿命の判定及び予測を行う寿命予測演算部とを備えた熱電対温度センサの寿命判定及び寿命予測装置。」（第１頁「特許請求の範囲」の欄）
（ｂ）　「〔産業上の利用分野〕
この発明はシステムの温度制御等に用いられる熱電対温度センサの寿命判定及び寿命予測装置に関するものである。」（第１頁右下欄第１５行〜第１８行）
　
（ｃ）　「この発明は上記のような課題を解消するためになされたもので、熱電対温度センサの寿命の判定及び予測を正確に行って、センサの取り替えを適切に行うことのできる熱電対温度センサの寿命判定及び寿命予測装置を提供することを目的としている。」（第２頁右上欄第１２行〜第１７行）
　
（ｄ）　「また、請求項（３）の発明による熱電対温度センサの寿命判定及び寿命予測装置は、センサを収納するケースに充填された絶縁物の絶縁抵抗に基づいてセンサの寿命の判定及び予測を行うようにしたものである。」（第２頁左下欄第１４行〜第１８行）
　
（ｅ）　「以下、請求項（１）の発明の一実施例を図について説明する。
　図面において、１は熱電対温度センサ（以下、センサと言う）であり・・・・・５はセンサ１の出力信号を増幅する増幅器、６は増幅された上記出力信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器、７はＡ／Ｄ変換器４から得られるセンサ１のディジタル出力信号からセンサ１が使用されている炉内温度等の温度を演算する温度演算部、１５は温度演算部７の演算結果をコントローラ、レコーダ等の機器に出力伝達する温度出力変換部で、例えば１〜５Ｖ，４〜２０ｍＡのアナログ出力信号やディジタル通信出力信号等が出力される。・・・・・１４は寿命判定部１１の判定結果又は寿命予測演算部１３の予測結果に基づいて、外部インタフェースや表示器等により、センサ１の寿命が来たこと、又は寿命予測時期を外部の人に通知する表示信号等の通知信号を作る通知機能部である。上記外部インタフェースとしては、・・・・・寿命予測ではディジタル信号通信やアナログ電圧又は電流信号等がある。」（第２頁右下欄第５行〜第３頁右上欄第１８行）
　
（ｆ）　「第２図は請求項（２），（３）の発明に関する実施例を示すもので、第１図と実質的に対応する部分には同一符号を付して説明を省略する。」（第４頁右上欄第１行〜第３行）
　
（ｇ）　「第２図において、１７はセンサｌが用いられる炉体、１８はセンサ１が収納された保護管である。例えばシース熱電対等の場合は、センサ１が絶縁物（図示せず）か充填された保護管１８の中に収納されている。このような構造の場合は、上記絶縁物の絶縁抵抗が温度や水分によって劣化するので、その絶縁抵抗を測定することにより、センサ１の寿命判定及び予測を行うことができる。１９はそのための絶縁抵抗測定部である。
　２０は第１図の定電流源１．スイッチ４．増幅器５及びＡ／Ｄ変換器６等で構成される起電力測定回路・・・・・寿命予測演算部１３は、・・・・・センサ１の寿命を予測して通知機能部１４に通知することができる。
　また、絶縁抵抗測定部１９から得られる絶縁抵抗値に基づいて、絶縁物の劣化傾向から寿命予測を行ったり、あるいは絶縁抵抗値が所定のしきい値を越えたときに寿命が来たことを判定することができる。」（第４頁右上欄第４行〜左下欄第１９行）
　
（ｈ）「４．図面の簡単な説明
・・・・・第２図は請求項（２），（３）の発明の一実施例による抵抗体の寿命予測装置を示すブロック図」（第４頁右下欄第１９行〜第５頁左上欄第４行）
　
　（イ−１）引用例には、請求項（３）の発明に係る「寿命予測装置」（上記記載（ａ））が記載されており、その実施例として、図面の第２図に示されるブロック図及びそれに関する発明の詳細な説明の上記記載（ｆ）、（ｇ）が記載されている。
　そして、上記記載（ｆ）から、上記実施例に関して、第１図と実質的に対応する部分として第２図に同一符号を付して記載（ｇ）における説明を省略された部分については、第２図に記載された実施例を理解するに当たり、第１図に関する発明の詳細な説明の記載（ｅ）を参照することが許されることは明らかである。
　そこで、上記記載（ａ）〜（ｈ）及び図面に、請求項（３）の発明に係る「寿命予測装置」に関して、どのような事項が記載されているか検討する。
　（イ−２）上記記載（ａ）、（ｇ）及び図面の第２図から、「熱電対温度センサ１に接続されて熱電対温度センサ１を収納する保護管１８に充填された絶縁物の絶縁抵抗を測定し絶縁抵抗値を供給する絶縁抵抗測定部１９」との技術事項が読み取れる。
　（イ−３）上記記載（ｅ）の「５はセンサ１の出力信号を増幅する増幅器、６は増幅された上記出力信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器」、上記記載（ｆ）の「２０は第１図の定電流源１，スイッチ４，増幅器５及びＡ／Ｄ変換器６等で構成される起電力測定回路」との記載及び図面の第１図、第２図から、「熱電対温度センサ１の出力信号をディジタル値に変換して寿命予測演算部１３に供給するＡ／Ｄ変換器６」との技術事項が読み取れる。
　寿命予測演算部１３には、上記ディジタル値に変換された熱電対温度センサ１の出力信号に加えて、上記記載（ａ）及び第２図から、絶縁抵抗測定部１９からの絶縁抵抗値も供給されることが読み取れ、この供給される絶縁抵抗値も上記熱電対温度センサ１の出力信号と同様に図示されないＡ／Ｄ変換器によりディジタル値に変換されたものと解するのが自然である。
　したがって、以上のことから、「熱電対温度センサ１の出力信号と絶縁抵抗測定部１９からの絶縁抵抗値をそれぞれ入力され、デジタル化された熱電対温度センサ１の出力信号とデジタル化された絶縁抵抗値とをそれぞれ供給する２つのＡ／Ｄ変換器」との技術事項が読み取れる。
　（イ−４）上記記載（ｅ）の「１４は寿命判定部１１の判定結果又は寿命予測演算部１３の予測結果に基づいて、外部インタフェースや表示器等により、センサ１の寿命が来たこと、又は寿命予測時期を外部の人に通知する表示信号等の通知信号を作る通知機能部である。上記外部インタフェースとしては、・・・・・寿命予測ではディジタル信号通信やアナログ電圧又は電流信号等がある。」、上記記載（ｇ）の「寿命予測演算部１３は、・・・・・センサ１の寿命を予測して通知機能部１４に通知することができる。」との記載及び図面の第２図の記載から、「寿命予測時期を伝送する通知機能部１４及び外部インタフェース」との技術事項が読み取れる。
　（イ−５）上記記載（ａ）、（ｇ）から、「絶縁抵抗値に基づいて、絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測を行う寿命予測演算部１３」が読み取れ、上記（イ−４）で指摘した上記記載（ｅ）、（ｇ）の記載事項から、「寿命予測演算部１３は寿命予測時期を通知機能部１４に通知する」が読み取れるから、「絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を供給する寿命予測演算部１３」との技術事項が読み取れる。
　そして、上記（イ−３）において指摘したように、寿命予測演算部１３に供給される絶縁抵抗値は「デジタル化された絶縁抵抗値」ということができるから、この点も勘案すると、「デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を供給する寿命予測演算部１３」との技術事項が読み取れる。
　（イ−６）上記記載（ｅ）には、「１５は温度演算部７の演算結果をコントローラ、レコーダ等の機器に出力伝達する温度出力変換部で、例えば１〜５Ｖ，４〜２０ｍＡのアナログ出力信号やディジタル通信出力信号等が出力される。」と記載されている。
　このように「４〜２０ｍＡのアナログ出力信号」で温度情報を出力することは、通常、プロセス制御システムにおいて採用されている伝送方式であるから、請求項（３）の発明に係る「寿命予測装置」は、プロセス制御システム中において用いられるものといえる。
　したがって、「寿命予測装置」は、「プロセス制御システム中の寿命予測装置」であるとということができ、また、「熱電対温度センサ１」は「プロセス変数である温度を感知し、センサ出力を供給する熱電対温度センサ１」であるということができる。
　
　以上のことから、引用例には次の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されているものと認められる。 
　「プロセス制御システム中の寿命予測装置であって、
　プロセス変数である温度を感知し、センサ出力を供給する熱電対温度センサ１と、
　前記熱電対温度センサ１に接続されて熱電対温度センサ１を収納する保護管１８に充填された絶縁物の絶縁抵抗を測定し絶縁抵抗値を供給する絶縁抵抗測定部１９と、
　前記センサ出力と絶縁抵抗測定部１９からの絶縁抵抗値をそれぞれ入力され、デジタル化されたセンサ出力とデジタル化された絶縁抵抗値とをそれぞれ供給する２つのＡ／Ｄ変換器と、
　寿命予測時期を伝送する通知機能部１４及び外部インタフェースと、
　前記デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を供給する寿命予測演算部１３とを具備した寿命予測装置。」
　
　ウ　対比
　本願発明１と引用発明１とを対比する。
　・引用発明１における「絶縁抵抗」、「絶縁抵抗測定部１９」、「寿命予測時期」、「通知機能部１４及び外部インタフェース」、「寿命予測演算部１３」は、それぞれ、
　本願発明１における「絶縁抵抗（ＲＩＲ）」、「監視回路」、「推定残寿命」、「出力回路」、「診断回路」に相当する。
　・引用発明１における「熱電対温度センサ１」と本願発明における「抵抗センサ」とは、ともに、「センサ」である点で共通する。
　・引用発明１における「絶縁抵抗値」は、本願発明１における「センサに関する二次信号」、すなわち、「絶縁抵抗（ＲＩＲ）の信号」に相当する。
　・引用発明１における「２つのＡ／Ｄ変換器」は、これを１つにまとめて捉えると、本願発明１における「アナログ／デジタル変換回路」と同様の機能を有するものであるから、両者は、ともに、「アナログ／デジタル変換手段」である点で共通する。
　・引用発明１における「前記デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を供給する寿命予測演算部１３」と、本願発明１における「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記一般に発表された値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」とは、ともに、「前記デジタル化された二次信号に基づいて前記センサの推定残寿命を供給する診断回路」である点で共通する。
　・引用発明１における「寿命予測装置」は、本願発明１における「伝送器」と同様に、プロセス制御システム中の装置であってセンサの推定残寿命を伝送するものであるから、本願発明１における「伝送器」に相当する。
　
　してみると、両者は、
［一致点］
　「プロセス制御システム中の伝送器であって、          
　プロセス変数を感知し、センサ出力を供給するセンサと、
　前記センサに接続されて該センサに関する少なくとも一つの二次信号、すなわち、絶縁抵抗（ＲＩＲ）の信号を供給する監視回路と、
　前記センサ出力とセンサ監視回路からの二次信号を入力され、デジタル化されたセンサ出力とデジタル化された二次信号とを供給するアナログ／デジタル変換手段と、
　推定残寿命を伝送する出力回路と、
　前記デジタル化された二次信号に基づいて前記センサの推定残寿命を供給する診断回路とを具備した伝送器。」
である点で一致し、次の相違点１ないし４で相違する。
［相違点１］
　センサに関して、本願発明１は抵抗センサであるのに対し、引用発明１は熱電対温度センサ１である点。
［相違点２］
　アナログ／デジタル変換手段に関して、本願発明１は単一のアナログ／デジタル変換回路であるのに対し、引用発明１は２つのＡ／Ｄ変換器である点。
［相違点３］
　推定残寿命を伝送する出力回路に関して、本願発明１はプロセス制御ループに接続されるのに対し、引用発明１の通知機能部１４及び外部インタフェースはそのような限定がない点。
［相違点４］
　推定残寿命の供給に関して、本願発明１が、前記二次信号と予め多数の生産サンプルに基づいて実験的に決定された該二次信号の値であって一般に発表された値との組を記憶するメモリを有し、診断回路が、前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記一般に発表された値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給するのに対し、引用発明１は、上記メモリを有しておらず、寿命予測演算部１３は、前記デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を供給する点。
　
　エ　判断
　上記相違点について検討する。
　［相違点１］について
　プロセス変数である温度を感知する温度センサとして、測温抵抗体等の抵抗センサは熱電対温度センサとともに例を挙げるまでもなく周知であるから、引用発明１において、熱電対温度センサに代えて抵抗センサを用いることは当業者が適宜なし得る設計変更である。
　［相違点２］について
　２系統のアナログ信号をアナログ／デジタル変換する手段として、単一のアナログ／デジタル変換回路を用いて時分割で変換するものは、２つのＡ／Ｄ変換器を用いて各系統の信号をそれぞれ変換するものとともに例を挙げるまでもなく周知であるから、引用発明１において、センサ出力と二次信号をアナログ／デジタル変換する手段として、２つのＡ／Ｄ変換器に代えて単一のアナログ／デジタル変換回路を用いることは当業者が適宜なし得る設計変更である。
　［相違点３］について
　２線式伝送器において、センサ異常や自己診断等の付加情報をプロセス制御ループを介して伝送することは、例えば、特開平７−２７２１８５号公報、特開昭５８−４８１９８号公報に示されるように周知であるから、引用発明１において、通知機能部１４及び外部インタフェースをプロセス制御ループに接続して、推定残寿命をプロセス制御ループを介して伝送するようにすることは当業者が適宜なし得ることである。　
　［相違点４］について
　対象物の特定のパラメータを測定し該測定値に基づいて対象物の寿命予測を行う場合に、予め該パラメータと寿命との関係を表す特性を実験的に求めておき、上記測定値と該特性に基づいて寿命予測を行うことは周知である。
（例えば、特開平８−１９６０８２号公報（特に、「【００１８】そしてこの実施例の特徴をなすフィルタコンデンサ寿命判定装置は、フィルタコンデンサ５の周囲の温度を検出する温度センサ６と、フィルタコンデンサ５に流れるリップル電流を検出するリップル電流検出器７と、これらの温度信号とリップル電流検出信号を入力してフィルタコンデンサ５の寿命及び残存寿命を算出する演算回路８から構成されている。【００１９】そして演算回路８は、図５に示すようなフィルタコンデンサ周囲の周囲温度とリップル電流とから決定される寿命曲線（この図の特性については、後述する）を内蔵する寿命データメモリ９と、前述の温度信号とリップル電流検出信号との入力の組合せをこの寿命データメモリ９に登録されている寿命曲線と照合してフィルタコンデンサ５の寿命Ｌｓを推定する寿命演算部１０・・・・・とを備えている。」、「【００２１】次に、上記構成の電力変換装置のフィルタコンデンサ寿命判定装置の動作について説明する。コンデンサは一般に、その寿命がその温度によって決定される。このコンデンサの温度はコンデンサに流れるリップル電流による自己発熱と、周囲温度によって決まる。自己発熱による温度上昇はコンデンサを流れるリップル電流を測定し、これを温度に換算することによって推定できる。そこで、同じ種類のコンデンサの寿命Ｌｓは結局、図５に示すように、周囲の環境温度Ｔとリップル電流Ｉとの組合せによって実験的に、かつほぼ一義的に決定される。そこで、演算回路８の寿命データメモリ９にはあらかじめこの図５に示すような寿命特性曲線がデータテーブル｛Ｔ，Ｉ，Ｌｓ｝として登録されている。」という記載及び図面の図５の記載を参照。）、　特開平８−１８４６３６号公報（特に、「【請求項２】前記合成絶縁抵抗の当該時点の測定値と前回の測定値から得る、使用期間に対する絶縁抵抗の低下傾向を表す変化率と、予め過酷な条件で実施した加速劣化試験や実際に悪条件で使用した電力機器の絶縁抵抗測定結果から得る使用期間に対する絶縁抵抗の低下傾向を表す変化率との比較により電力機器の絶縁の健全性の判定を行う事を特徴とする電力機器の絶縁診断方法。」、「【００２３】絶縁抵抗の変化率による判定は、まず過酷な条件で実施した加速劣化試験や実際に悪条件で使用した電力機器の絶縁抵抗測定結果から、使用期間に対する絶縁抵抗の低下傾向を表す変化率Ｇｗを予め算定しておく。【００２４】そして被診断電力機器の当該測定時におけるＲｍｃと前回測定時のＲｍｃから得る使用期間に対する変化率Ｇを当該測定時までの使用期間をＴｎ，前回測定時までの使用期間をＴｎ−１とし、次式により算出する。
【００２５】Ｇ＝(当該測定時Ｒｍｃ−前回測定時Ｒｍｃ)／(Ｔｎ−Ｔｎ−１)
そしてＧｗと比較を行いＧ＞Ｇｗであれば絶縁が健全であると判定し、余寿命の推定に進む。【００２６】余寿命の推定は余寿命をＬとし次式を用いて行う。
【００２７】Ｌ＝(Ｒｊ−Ｒｍｃ)／Ｇｗ
これはＲｍｃがＲｊまで低下するまでの期間を変化率Ｇｗによって算出しその値をＬとするものであり、現時点から最悪の条件で使用される事を想定した場合の余寿命に当たる。」、「【００３１】また図５は本発明における絶縁診断のフロー図を示す。・・・・・絶縁抵抗計５の目盛から合成絶縁抵抗Ｒｍｃを読み取る。
【００３２】次にＲｍｃと電力機器の種類によって設定するしきい値Ｒｊと比較を行い、Ｒｍｃ＞Ｒｊであれば絶縁抵抗の変化率による判定に進む。
【００３３】絶縁抵抗の変化率による判定は図３に示すように、過酷な条件で実施した加速劣化試験や実際に悪条件で使用した電力機器の絶縁抵抗測定結果から、使用期間に対する絶縁抵抗の低下傾向を表す変化率即ち特性直線の傾きＧｗを予め算定しておき、当該測定時のＲｍｃと前回測定時のＲｍｃから絶縁抵抗の変化率Ｇを算出しＧｗと比較を行い、Ｇ＞Ｇｗであれば余寿命の推定に進む。
【００３４】余寿命の推定は図４に示すように、測定したＲｍｃから絶縁抵抗の変化率（傾き）Ｇｗの直線を延長しＲｊに達したときの期間を算出し推定余寿命Ｌとし、診断フローの最後の判定項目である推定余寿命による判定に進む。」という記載及び図面の図３、図４の記載参照。）、
　特開平４−２８２４５５号公報（特に、「【００１３】まず、金属組織変化量計測・評価装置１において、金属組織が研磨、腐食され、レプリカに転写される。次にレプリカに転写された組織画像に画像処理が施され、析出物の個数、密度、寸法変化等が計測され、予め実験により設定した評価基準または評価曲線により決定される材質劣化度と限界値に至るまでの余寿命年数が出力される。」、「【００２１】次にガスタービン静翼に適用した場合の実施例の作用について説明する。・・・・・結晶粒界析出物（炭化物など）の寸法、粒界被覆率などの析出物パラメータと、σ相、μ相生成率などの脆化相パラメータを定量計測する（図３（ｂ））。ここで、材質劣化度ｄ１　を、加熱時効時間ｔと組織回復が不可能となる限界時効時間ｔｃとの比ｔ／ｔｃと定義し、予め実験的に析出物パラメータまたは脆化相パラメータと材質劣化度ｄ１　の関係のマスターカーブ２１を実機使用温度範囲について作成しておく（図３（ｃ））。図３では、析出物パラメータ実測値から部材の材質劣化度ｄ１　を判定する場合が示されている。材料劣化限界に達するまでの余寿命年数Ｙ１　は、現在までの運転年数Ｙｏｐから、次式で計算される。【００２２】　Ｙ１　＝Ｙｏｐ（１−ｄ１　）／ｄ１」という記載及び図面の図３の記載参照。）を参照。）
　
　したがって、引用発明１の寿命予測演算部１３において、デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を供給するに当たり、予め絶縁抵抗と寿命との関係を表す特性を実験的に求めておき、上記デジタル化された絶縁抵抗値と該特性に基づいて熱電対温度センサの寿命予測時期を供給するようにすること、すなわち、予め実験的に決定された絶縁抵抗と寿命との関係を表す特性（これは、寿命に対する絶縁抵抗の値で表される。）をメモリに記憶しておき、上記デジタル化された絶縁抵抗値と該特性（寿命に対する絶縁抵抗の値）に基づいて熱電対温度センサの寿命予測時期を供給するようにすることは当業者が容易に想到し得ることである。
　そしてその際に、絶縁抵抗は温度の影響を大きく受けて変動するものであって、その影響を排除するために絶縁抵抗の測定値を温度の測定値により温度補正することは周知であるところ（例えば、特開平７−１９１０８２号公報（特に、「【０００９】・・・測定した絶縁抵抗を別途任意に定めた基準とする温度、湿度での絶縁抵抗値に換算することにより、測定時の温度、湿度によらずに絶縁抵抗値を正確に把握して、これよりケーブルの劣化の有無を判定する。」との記載参照。）、特開平４−２７０９７４号公報（特に、【００２１】・・・このように基準値を漏れ電流測定時の相対湿度および温度により補正することにより、例えば冬期の低湿度，低温度時に測定し基準値以上の絶縁抵抗値を示している場合でも梅雨時の高湿度，高温度の絶縁抵抗値相当に換算され、より正確に測定することができるようになる。なお、上記実施例では、基準値を補正するようにしたが、測定絶縁抵抗値を補正するようにしても良い。」との記載参照。）を参照。）、引用発明１においても絶縁抵抗が温度の影響を受けてその測定値が真の値から大きくはずれた値となれば正確な寿命予測が行えなくなることは明らかであるから、そのような自明な課題認識のもとに、デジタル化された絶縁抵抗値を温度の測定値により温度補正を行うようにすること、すなわち、プロセス変数である温度を感知したセンサ出力によりデジタル化された絶縁抵抗値の補正を行うようにすること、つまり、デジタル化されたセンサ出力、デジタル化された絶縁抵抗値、および上記特性（寿命に対する絶縁抵抗の値）に基づいて熱電対温度センサの寿命予測時期を供給するようにすることは当業者が適宜なし得ることである。
　また、各種の特性を多数のサンプルに基づいて実験的に求めること、各種の特性をデータブックやカタログ等で公表すること、また、演算処理の際に各データを一旦記憶することはいずれも通常行われていることにすぎない点を考慮すると、多数の生産サンプルに基づいて実験的に特性を求めること、該特性を公称値とすること、また、寿命予測演算部１３における演算のために絶縁抵抗の測定値もメモリに記憶することは、いずれも格別なことではない。
　そして、絶縁抵抗の測定値は上記特性とともに寿命予測演算部１３における寿命予測時期の計算に用いられるから、これらを組としてメモリに記憶することも当業者が適宜なし得ることである。
　よって、引用発明１に周知技術を適用して上記相違点４に係る本願発明１のごとく構成することは当業者が容易になし得たことである。
　
　そして、本願発明１の効果も、引用発明１及び周知技術から当業者が予測可能なものであって格別なものではない。
　
　オ　まとめ
  以上のとおり、本願発明１は、引用発明１及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
（２）請求項１３に記載された発明の進歩性について
　ア　請求項１３に記載された発明
　請求項１３に記載された発明が明確ではないことは、上記「２」の「（２）」において指摘したとおりであるが、請求項１３に記載された発明の進歩性を判断するにあたり、本願明細書の発明の詳細な説明及び技術常識を踏まえて、請求項１３に記載された発明を一応次のように認定することとする。
　請求項１に記載された発明がプロセス制御システム中の伝送器に係る物の発明であるのに対し、請求項１３に記載された発明は、請求項１に記載された物の発明をほぼ同様の内容の方法の発明に置き換えたものであり、請求項１３に記載された発明に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」は、それぞれ、請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」にほぼ対応するものである。
　そうすると、上記「（１）」の「ア」において指摘したように、「予め実験的に決定された該二次信号の公称値」とは、少なくとも、「予め多数の生産サンプルに基づいて実験的に決定された該二次信号の値であって一般に発表された値」であり、「該二次信号」とは「センサ抵抗の変化（△Ｒ１）、シース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）のうちの少なくとも一つの信号」であるということまでは理解することができ、「前記デジタル化されたセンサ出力、前記デジタル化された二次信号、および前記公称値に基づいて前記抵抗センサの推定残寿命を供給する診断回路」についても、その限りにおいて一応理解することができるのであるから、請求項１３に記載された発明に記載された発明を特定するために必要な事項である「前記センサの寿命に関する予め実験的に決定した前記二次出力の公称値」、「前記二次出力の公称値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階」についても、同様に一応理解することができる。
　そこで、以上のことから、請求項１３に記載された発明を一応以下のとおりのものと認定し、その進歩性の有無について検討する。
　「【請求項１３】　センサの推定寿命を提供する方法であって、
　前記センサの出力を感知してデジタル化し、デジタル化されたセンサ出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する特性を感知してデジタル化し、デジタル化された二次出力、すなわち、センサ抵抗の変化（△Ｒ１）、シース・リード間電圧（ＶＰ）、絶縁抵抗（ＲＩＲ）、αの変化（△α）、δの変化（△δ）、および自己発熱（ＳＨ）のうちの少なくとも一つの信号を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する予め多数の生産サンプルに基づいて実験的に決定した前記二次出力の値であって一般に発表された値と前記デジタル化された二次出力との組を記憶する段階、および
　前記一般に発表された値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する段階とを具備した方法。」　（以下、「本願発明１３」という。）
　
　イ　引用例の記載事項・引用発明
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先日前に頒布された刊行物である特開平４−７６７９９号公報（以下、「引用例」という。）の記載事項は、上記「（１）」の「イ」の「（ａ）」〜「（ｈ）」のとおりである。
　（イ−１）引用例には、請求項（３）の発明に係る「寿命予測装置」（上記記載（ａ））が実行する熱電対温度センサの寿命予測方法が記載されており、その実施例として、図面の第２図に示されるブロック図及びそれに関する発明の詳細な説明の上記記載（ｆ）、（ｇ）が記載されている。
　そして、上記記載（ｆ）から、上記実施例に関して、第１図と実質的に対応する部分として第２図に同一符号を付して記載（ｇ）における説明を省略された部分については、第２図に記載された実施例を理解するに当たり、第１図に関する発明の詳細な説明の記載（ｅ）を参照することが許されることは明らかである。
　そこで、上記記載（ａ）〜（ｈ）及び図面に、請求項（３）の発明に係る「寿命予測装置」が実行する熱電対温度センサの寿命予測方法に関して、どのような事項が記載されているか検討する。
　（イ−２）上記記載（ａ）、（ｇ）及び図面の第２図から、「熱電対温度センサを収納する保護管に充填された絶縁物の絶縁抵抗を測定し絶縁抵抗値を供給する段階」との技術事項が読み取れる。
  （イ−３）上記記載（ｅ）の「５はセンサ１の出力信号を増幅する増幅器、６は増幅された上記出力信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器」、上記記載（ｆ）の「２０は第１図の定電流源１，スイッチ４，増幅器５及びＡ／Ｄ変換器６等で構成される起電力測定回路」との記載及び図面の第１図、第２図から、「熱電対温度センサの出力を感知してデジタル化し、デジタル化されたセンサ出力を供給する段階」との技術事項が読み取れる。
　寿命予測演算部１３には、上記ディジタル値に変換された熱電対温度センサ１の出力信号に加えて、上記記載（ａ）及び第２図から、絶縁抵抗測定部１９からの絶縁抵抗値も供給されることが読み取れ、この供給される絶縁抵抗値も上記熱電対温度センサ１の出力信号と同様に図示されないＡ／Ｄ変換器によりディジタル値に変換されたものと解するのが自然である。
　したがって、上記（イ−２）と併せて勘案すると、「熱電対温度センサを収納する保護管に充填された絶縁物の絶縁抵抗を感知してデジタル化し、デジタル化された絶縁抵抗値を供給する段階」との技術事項が読み取れる。
　（イ−４）上記記載（ａ）、（ｇ）から、「寿命予測演算部１３は、絶縁抵抗値に基づいて、絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測を行う」が読み取れ、上記記載（ｅ）の「１４は寿命判定部１１の判定結果又は寿命予測演算部１３の予測結果に基づいて、外部インタフェースや表示器等により、センサ１の寿命が来たこと、又は寿命予測時期を外部の人に通知する表示信号等の通知信号を作る通知機能部である。上記外部インタフェースとしては、・・・・・寿命予測ではディジタル信号通信やアナログ電圧又は電流信号等がある。」、上記記載（ｇ）の「寿命予測演算部１３は、・・・・・センサ１の寿命を予測して通知機能部１４に通知することができる。」との記載及び図面の第２図の記載から、「寿命予測演算部１３は寿命予測時期を求める」が読み取れるから、「寿命予測演算部１３は、絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を求める」との技術事項が読み取れる。
  そして、上記（イ−３）において指摘したように、寿命予測演算部１３に供給される絶縁抵抗値は「デジタル化された絶縁抵抗値」ということができるから、この点も勘案すると、「デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を求める段階」との技術事項が読み取れる。
　
　以上のことから、引用例には次の発明（以下、「引用発明２」という。）が記載されているものと認められる。 
　「熱電対温度センサの寿命予測方法であって、
　前記熱電対温度センサの出力を感知してデジタル化し、デジタル化されたセンサ出力を供給する段階、
　前記熱電対温度センサを収納する保護管に充填された絶縁物の絶縁抵抗を感知してデジタル化し、デジタル化された絶縁抵抗値を供給する段階、
　前記デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を求める段階とを具備した方法。」
　
 　ウ　対比
　本願発明１３と引用発明２とを対比する。
　・引用発明２における「熱電対温度センサ」、「寿命予測方法」、「熱電対温度センサを収納する保護管に充填された絶縁物の絶縁抵抗」、「寿命予測時期」は、それぞれ、
　本願発明１３における「センサ」、「推定寿命を提供する方法」、「センサの寿命に関する特性」、「推定寿命」に相当する。
　・引用発明２における「絶縁抵抗値」は、「二次出力」、すなわち、「絶縁抵抗（ＲＩＲ）の信号」に相当する。
　・引用発明２における「前記デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を求める」と、本願発明１３における「前記一般に発表された値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算する」とは、ともに、「前記デジタル化された二次出力に基づいて推定寿命を求める」点で共通する。
　
 　してみると、両者は、
［一致点］
　「センサの推定寿命を提供する方法であって、
　前記センサの出力を感知してデジタル化し、デジタル化されたセンサ出力を供給する段階、
　前記センサの寿命に関する特性を感知してデジタル化し、デジタル化された二次出力、すなわち、絶縁抵抗（ＲＩＲ）の信号を供給する段階、および
　前記デジタル化された二次出力に基づいて推定寿命を求める段階とを具備した方法。」
である点で一致し、次の相違点５で相違する。
　
［相違点５］
　推定寿命の決定に関して、本願発明１３が、前記センサの寿命に関する予め多数の生産サンプルに基づいて実験的に決定した前記二次出力の値であって一般に発表された値と前記デジタル化された二次出力との組を記憶する段階を有し、前記一般に発表された値、前記デジタル化された二次出力、およびデジタル化されたセンサ出力の関数として推定寿命を計算するのに対し、引用発明２は、上記記憶する段階を有しておらず、前記デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を求める点。
　
　エ　判断
　上記相違点５について検討する。
　対象物の特定のパラメータを測定し該測定値に基づいて対象物の寿命予測を行う場合に、予め該パラメータと寿命との関係を表す特性を実験的に求めておき、上記測定値と該特性に基づいて寿命予測の演算を行うことは周知である。（例えば、上記（１）の「（エ）」の「［相違点４］について」において挙げた特開平８−１９６０８２号公報、特開平８−１８４６３６号公報、特開平４−２８２４５５号公報を参照。）
　したがって、引用発明２の寿命予測演算部１３において、デジタル化された絶縁抵抗値に基づいて絶縁物の劣化傾向から熱電対温度センサの寿命予測時期を供給するに当たり、予め絶縁抵抗と寿命との関係を表す特性を実験的に求めておき、上記デジタル化された絶縁抵抗値と該特性に基づいて熱電対温度センサの寿命予測時期を演算するようにすること、すなわち、予め実験的に決定された絶縁抵抗と寿命との関係を表す特性（これは、寿命に対する絶縁抵抗の値で表される。）をメモリに記憶しておき、上記デジタル化された絶縁抵抗値と該特性（寿命に対する絶縁抵抗の値）に基づいて、つまり、これらの関数として熱電対温度センサの寿命予測時期を計算するようにすることは当業者が容易に想到し得ることである。
　そしてその際に、絶縁抵抗は温度の影響を大きく受けて変動するものであって、その影響を排除するために絶縁抵抗の測定値を温度の測定値により温度補正することは周知であるところ（例えば、上記（１）の「（エ）」の「［相違点４］について」において挙げた特開平７−１９１０８２号公報、特開平４−２７０９７４号公報を参照。）、引用発明１においても絶縁抵抗が温度の影響を受けてその測定値が真の値から大きくはずれた値となれば正確な寿命予測が行えなくなることは明らかであるから、そのような自明な課題認識のもとに、デジタル化された絶縁抵抗値を温度の測定値により温度補正を行うようにすること、すなわち、プロセス変数である温度を感知したセンサ出力によりデジタル化された絶縁抵抗値の補正を行うようにすること、つまり、デジタル化されたセンサ出力、デジタル化された絶縁抵抗値、および上記特性（寿命に対する絶縁抵抗の値）の関数として熱電対温度センサの寿命予測時期を計算するようにすることは当業者が適宜なし得ることである。
　また、各種の特性を多数のサンプルに基づいて実験的に求めること、各種の特性をデータブックやカタログ等で公表すること、また、演算処理の際にデータを一旦記憶することはいずれも通常行われていることにすぎない点を考慮すると、多数の生産サンプルに基づいて実験的に特性を求めること、該特性を公称値とすること、また、寿命予測演算部１３における演算のために絶縁抵抗の測定値もメモリに記憶することは、いずれも格別なことではない。
　そして、絶縁抵抗の測定値は上記特性とともに寿命予測演算部１３における寿命予測時期の計算に用いられるから、これらを組としてメモリに記憶することも当業者が適宜なし得ることである。
　よって、引用発明２に周知技術を適用して上記相違点５に係る本願発明１３のごとく構成することは当業者が容易になし得たことである。
　
　そして、本願発明１３の効果も、引用発明２及び周知技術から当業者が予測可能なものであって格別なものではない。
　
　オ　まとめ
  以上のとおり、本願発明１３は、引用発明２及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
（３）原査定の理由の（理由２）に関する審判請求人の主張について
　審判請求人は、平成１９年６月７日付けで補正された審判請求書の請求の理由、平成２１年３月１６日付け回答書において、概略以下のような主張をしている。
（１）引例１に記載された発明は、プロセス信号であるセンサ出力を寿命判断に使っていない点で本願発明と相違しており、二次信号に加えてセンサ出力をも診断回路に結合する点は開示されていない。
　センサ出力つまりプロセス変数を表す信号と二次信号とを使用することによって、次のような効果が得られる。例えば、二次信号としてセンサの抵抗Ｒ１の変化ΔＲ１を使用する場合、センサの抵抗変化ΔＲ１がセンサ自体の変化つまり劣化によるものか、プロセス変数としての温度変化によるものかの判断が可能である。センサの抵抗変化ΔＲ１が純粋にプロセス変数の変化によるものに相当する場合、センサは劣化していないと判断できる。プロセス変数およびセンサ抵抗の変化ΔＲ１のうち、ΔＲ１のみを使用して診断した場合、抵抗センサの残寿命を正確に検知することができない。
　
　そこで、上記主張について検討する。
　上記「（１）」の「エ　判断」の「［相違点４］について」において説示したように、絶縁抵抗は温度の影響を大きく受けて変動するものであって、その影響を排除するために絶縁抵抗の測定値を温度の測定値により温度補正することは周知であるところ、引用発明１においても絶縁抵抗が温度の影響を受けてその測定値が真の値から大きくはずれた値となれば正確な寿命予測が行えなくなることは明らかであるから、そのような自明な課題認識のもとに、引用発明１の寿命予測演算部１３において、デジタル化された絶縁抵抗値を温度の測定値により温度補正を行うようにすること、すなわち、プロセス変数である温度を感知したセンサ出力によりデジタル化された絶縁抵抗値の補正を行うようにすること、つまり、デジタル化されたセンサ出力、デジタル化された絶縁抵抗値、および上記特性に基づいて熱電対温度センサの寿命予測時期を供給するようにすることは当業者が適宜なし得ることである。
　そして、その効果についても、温度の影響を排除した正確な絶縁抵抗値を得ることができ、該絶縁抵抗値に基づいて寿命予測時期を求めることができるのであるから、より正確な寿命予測が行えることは明らかである。
　したがって、審判請求人の上記主張を採用することはできない。
　
第５　むすび 
　以上のとおり、本願明細書の発明の詳細な説明は、当業者が請求項１、請求項１３に記載された発明の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものではなく、本願は特許法第３６条第４項に規定する要件を満たしていないから拒絶すべきものである。
　
　また、本願明細書の特許請求の範囲の請求項１、請求項１３に記載された発明は明確ではなく、本願は特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていないから拒絶すべきものである。 
　
　さらに、本願の請求項１に記載された発明は、引用発明１及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、また、本願の請求項１３に記載された発明は、引用発明２及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができず、よって、他の請求項に係る発明の進歩性について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。