【事件の表示】
　特願２００３−３９９００６「積層セラミックコンデンサ」拒絶査定不服審判事件〔平成１７年　６月１６日出願公開、特開２００５−１５９２２４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は，平成１５年１１月２８日の出願であって，平成１９年５月２５日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，平成１９年７月５日に審判請求がなされるとともに，平成１９年８月６日付けで手続補正がなされ，その後，当審において平成２１年１２月２１日付けで審尋がなされ，平成２２年２月１８日に回答書が提出されたものである。
　
第２　平成１９年８月６日付けの手続補正についての補正却下の決定
　
　［補正却下の決定の結論］
　　平成１９年８月６日付けの手続補正を却下する。
　
　［理由］
　１　補正後の本願発明
　平成１９年８月６日付けの手続補正（以下「本件補正」という。）は，補正前の請求項１を補正後の請求項１として，
「内部電極層と，３．５μｍ以下の厚みを持つ誘電体層とを有する積層セラミックコンデンサであって，
　前記誘電体層は，前記内部電極層と接している接触誘電体粒子と，前記内部電極層と接していない非接触誘電体粒子とで構成されており，
　該接触誘電体粒子の平均粒径をＤ５０ｅとし，該非接触誘電体粒子の平均粒径をＤ５０ｄとしたとき，０．１５０≦Ｄ５０ｅ≦０．３００μｍ，かつ（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）＝１．２０〜３．００（但し，１．２０及び３．００を除く）を満足する，ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。」と補正するものである。
　上記補正は，補正前の請求項１の「Ｄ５０ｅ≦０．３００μｍ」との数値範囲を補正後の請求項１の「０．１５０≦Ｄ５０ｅ≦０．３００μｍ」と限定するものであるから，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項第２号に掲げる特許請求の範囲の限定的減縮を目的とするものに該当する。
　そこで、補正後の請求項１に記載された事項により特定される発明（以下「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について以下に検討する。
　
　２　独立特許要件について
（１）刊行物に記載された発明及び引用発明
　　ア　刊行物１：特開２００３−１２４０４９号公報
　　（ア）原査定の拒絶の理由に引用され，本願の出願前に日本国内において頒布された刊行物１には，「積層セラミックコンデンサ」（発明の名称）に関して，図１，２とともに，以下の事項が記載されている。（なお，下線は，引用箇所のうち特に強調する部分に付加したものである。以下，同様。）
「【請求項１】  誘電体磁器組成物からなる
誘電体層
内部電極
内部電極に接しているセラミック粒子の平均粒径Ｄ５０ｅ
内部電極に接していないセラミック粒子の平均粒径Ｄ５０ｄ
大きい
「【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明に係る積層セラミックコンデンサは，誘電体磁器組成物からなる誘電体層と，該誘電体層を挟持している内部電極と，該内部電極に電気的に接続されている外部電極とを備え，該誘電体磁器組成物はセラミック粒子の焼結体からなり，該セラミック粒子のうちで，該内部電極に接しているセラミック粒子の平均粒径Ｄ５０ｅが該内部電極に接していないセラミック粒子の平均粒径Ｄ５０ｄより大きいことを特徴とするものである。
【００１０】ここで，前記セラミック粒子の平均粒径Ｄ５０ｅ，Ｄ５０ｄは、１．０５≦Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ≦１．２０の関係にあるのが好ましい。」
「【００１９】
【表１】」
「【００３２】
【表２】
【００３３】表２から，試料Ｎｏ．１〜１０に示すように，
内部電極ペースト中に粒成長を促進させる添加成分を添加した場合，内部電極に接しているセラミック粒子の平均粒径Ｄ５０ｅは，内部電極に接していないセラミック粒子の平均粒径Ｄ５０ｄより大きくなることがわかる
「【００４２】また、
粒成長を促進させる添加成分の添加量は微量でも効果があり，３５ｗｔ％以下で効果が認められる。ただし，３５ｗｔ％以上添加すると、内部電極の特性が悪化し，電気的特性が著しく悪化する
　　（イ）以上によれば、刊行物１には，「内部電極と，誘電体層とを有する積層セラミックコンデンサであって，内部電極に接しているセラミック粒子の平均粒径Ｄ５０ｅが該内部電極に接していないセラミック粒子の平均粒径Ｄ５０ｄより大きいことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。」（以下「引用発明」という。）が記載されている。
　
　　イ　刊行物２：特開２００２−２８９４５６号公報
　原査定の拒絶の理由に引用され，本願の出願前に日本国内において頒布された刊行物２には，「セラミック積層体およびその製法」（発明の名称）に関して，図１ないし図４とともに以下の事項が記載されている。
「【００３０】また，本発明のセラミック積層体を構成する絶縁体層５の厚みは，セラミック積層体の小型高容量化のため薄層多層化という理由から，３μｍ以下が望ましく，高誘電率および高絶縁性という理由から絶縁体層５の厚みは１．５〜３μｍが望ましい。」
　
（２）本願補正発明と引用発明との対比
　　ア　本願補正発明と引用発明とを対比する。
　　（ア）引用発明の「内部電極」，「内部電極に接しているセラミック粒子」，「内部電極に接していないセラミック粒子」は，それぞれ，本願補正発明の「内部電極層」，「内部電極層と接している接触誘電体粒子」，「内部電極層と接していない非接触誘電体粒子」に相当する。
　　（イ）引用発明の「Ｄ５０ｅ」が「Ｄ５０ｄ」「より大きい」は，本願補正発明の「（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）＝１．２０〜３．００（但し，１．２０及び３．００を除く）を満足する」を含む。
　　イ　そうすると，両者は，
「内部電極層と，誘電体層とを有する積層セラミックコンデンサであって，
　前記誘電体層は，前記内部電極層と接している接触誘電体粒子と，前記内部電極層と接していない非接触誘電体粒子とで構成されており，
　該接触誘電体粒子の平均粒径をＤ５０ｅとし，該非接触誘電体粒子の平均粒径をＤ５０ｄとしたとき，Ｄ５０ｅがＤ５０ｄより大きいことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。」である点で一致し，以下の点で相違する。
　
［相違点１］
　本願補正発明は，誘電体層が「３．５μｍ以下の厚みを持つ」のに対し，引用発明は，誘電体層の厚さの特定がない点。
［相違点２］
　本願補正発明は，平均粒径Ｄ５０ｅについて「０．１５０≦Ｄ５０ｅ≦０．３００μｍ」を「満足する」ものであるのに対し，引用発明は，このような数値範囲の限定がない点。
［相違点３］
　本願補正発明は，Ｄ５０ｅとＤ５０ｄとの比が「（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）＝１．２０〜３．００（但し，１．２０及び３．００を除く）を満足する」ものであるのに対し，引用発明は，「Ｄ５０ｅ」が「Ｄ５０ｄ」「より大き」いものの，このような数値範囲の限定がない点。
　
（３）相違点についての検討
　　ア　相違点１について
　上に述べたように，刊行物２には，「【００３０】また，本発明のセラミック積層体を構成する絶縁体層５の厚みは，セラミック積層体の小型高容量化のため薄層多層化という理由から，３μｍ以下が望ましく，高誘電率および高絶縁性という理由から絶縁体層５の厚みは１．５〜３μｍが望ましい。」との記載がある。そうすると，本願補正発明において，誘電体層が「３．５μｍ以下の厚みを持つ」と限定した点（相違点１に係る数値限定）は，この種の積層セラミックコンデンサにおいて通常好ましいとされる値を明示したということ以上の内容を有しないといわざるを得ない。
　したがって，相違点１に係る数値限定は，当業者が適宜設定できる程度のものである。
　
　　イ　相違点２及び相違点３について
　刊行物１の表２には，種々の粒径のセラミック粒子を用いて得られたセラミックコンデンサの試料について，その電気的特性を測定したものが示されている。そのうち，試料Ｎｏ．１と試料Ｎｏ．２では，Ｄ５０ｅとＤ５０ｄの値が，試料Ｎｏ．１について，０．１８μｍと０．１６μｍ，試料Ｎｏ．２について，０．２４μｍと０．２２μｍとなっており，本願補正発明の数値範囲「０．１５０≦Ｄ５０ｅ≦０．３００μｍ」に含まれている。
　もっとも，試料Ｎｏ１と試料Ｎｏ２は，Ｄ５０ｅとＤ５０ｄの比の値（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）では，それぞれ，１．１３及び１／０９となっており，本願補正発明の数値範囲「（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）＝１．２０〜３．００（但し，１．２０及び３．００を除く）」から外れる。
　しかし，刊行物１の表２は，Ｄ５０ｅをＤ５０ｄよりも大きくすることにより，セラミックコンデンサの電気的特性を改善できるという知見の下，いくつかの試料を用いてこれを検証しようとしたものであり，たまたま作成した試料の多くのものにおいて，（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）の値が１．２０以下となっているからといって，（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）が１．２０を超えるものを排除するものでないことは明らかである。
　実際，試料Ｎｏ．１０を見ると，（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）の値は１．５６であり，本願補正発明の数値範囲「（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）＝１．２０〜３．００（但し，１．２０及び３．００を除く）」に含まれる。もっとも，試料Ｎｏ．１０の場合，Ｄ５０ｅの値は０．５０μｍであり，本願補正発明の数値範囲「０．１５０≦Ｄ５０ｅ≦０．３００μｍ」から外れる。しかし，サブミクロンの範囲の近傍にある。
　以上の検討によれば，刊行物１の表２に示されたいくつかの試料の数値は，本願補正発明の数値範囲「０．１５０≦Ｄ５０ｅ≦０．３００μｍ」又は「（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）＝１．２０〜３．００（但し，１．２０及び３．００を除く）」の範囲に含まれるものである。表２に示された試料には，両方の数値範囲を同時に満たすものはないが，刊行物１の開示内容は，提示された試料に限定されない。その近傍で最適な数値範囲を定めることは，当業者が容易になし得る最適化のための設計事項といえる。
　付言すると，そもそも，本願補正発明の数値範囲は，得られたセラミックコンデンサ試料の８５℃でのバイアス特性の評価（２０℃での測定値からの容量変化率が−２１．０％より大きくなるものを良好であるとする評価基準）により割り出したものである（本願明細書の段落【００８５】の記載）ところ，本願明細書の【表１】によれば，試料の数値は，−２１．０％の前後で連続的に分布しているから，評価基準の取り方に依存して数値範囲も大きく変動することになり，結局，本願補正発明の数値範囲（小数点以下第三位まで数値限定している）がどの程度意味をもつものなのか明らかでない。
　したがって，相違点２，３に係る数値限定は，当業者が適宜設定できる程度のものである。
　
　　ウ　以上のとおり，相違点１〜３に係る数値限定は，引用発明及び刊行物２の記載事項に基づいて，当業者が適宜設定できたものといえるから，本願補正発明は，引用発明及び刊行物２の記載事項に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものである。　
　
　３　むすび
　以上のとおり，請求項１についての補正を含む本件補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合しないので，同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　本願発明について
（１）平成１９年８月６日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので，本願の請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は，平成１９年３月１６日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される，以下のとおりのものである。
「内部電極層と，３．５μｍ以下の厚みを持つ誘電体層とを有する積層セラミックコンデンサであって，
　前記誘電体層は，前記内部電極層と接している接触誘電体粒子と，前記内部電極層と接していない非接触誘電体粒子とで構成されており，
　該接触誘電体粒子の平均粒径をＤ５０ｅとし，該非接触誘電体粒子の平均粒径をＤ５０ｄとしたとき，Ｄ５０ｅ≦０．３００μｍ，かつ（Ｄ５０ｅ／Ｄ５０ｄ）＝１．２０〜３．００（但し，１．２０及び３．００を除く）を満足する，ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。」
　
（２）本願発明の容易想到性
　　ア　刊行物１及び２の記載事項及び刊行物１に記載された発明（引用発明）は，前記第２，２（１）において認定したとおりである。
　　イ　前記第２，１で検討したように，本願補正発明（本件補正後の請求項１に係る発明）は，本願発明（本件補正前の請求項１に係る発明）を限定的に減縮したものである。逆にいえば，本願発明は，本件補正発明から限定をなくしたものである。
　そうすると，本願発明の構成要素をすべて含み，これを限定的に現出したものである本件補正発明が，前記第２，２（３）で検討したとおり，引用発明及び刊行物２の記載事項に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も，同様に理由により，当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
第４　むすび
　以上のとおり，本願発明は，刊行物１及び２に記載された発明に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができず，本願は拒絶をすべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。