【事件の表示】
　特願２００２−３４１８７３「焦点検出装置の調整方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年　６月２４日出願公開、特開２００４−１７７５４４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成１４年（２００２年）年１１月２６日の出願（特願２００２−３４１８７３号）であって、平成２０年９月２２日付けで手続補正がなされ、同年１０月９日付けで拒絶査定がなされ、これに対して、同年１１月１３日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、同年１２月１２日付けで手続補正がなされたものである。
　
第２　平成２０年１２月１２日付けの手続補正についての補正の却下の決定について
　
［補正の却下の決定の結論］
　平成２０年１２月１２日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）を却下する。
　
［理由］
１　本件補正について
　本件補正により、特許請求の範囲の請求項１に係る発明は、平成２０年９月２２日付けの手続補正により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１の、
　
「撮影レンズからの一対の光束をそれぞれ受光する一対の受光素子が配列された面を有する基板の傾きを、該基板の前記面と平行で且つ前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに調整する焦点検出装置の調整方法において、
　前記一対の受光素子の配列方向に沿った方向に離間する前記基板の前記面上の２箇所に平面状の光反射部を一対設け、
　前記一対の光反射部に照射した光の反射光に基づいて、前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに前記基板の傾きを調整することを特徴とする焦点検出装置の調整方法。」から　
　
「撮影レンズからの一対の光束をそれぞれ受光する一対の受光素子が配列された面を有するイメージセンサー基板の傾きを、該イメージセンサー基板の前記面と平行で且つ前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに調整するカメラの焦点検出装置の調整方法において、
　前記一対の受光素子の配列方向に沿った方向に離間する前記イメージセンサー基板の前記面上の２箇所に平面状の光反射部を一対設け、
　前記カメラの製造段階で、前記イメージセンサー基板の前記一対の光反射部に照射した光の反射光に基づいて、前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに前記イメージセンサー基板の傾きを調整することを特徴とするカメラの焦点検出装置の調整方法。」と補正された。
　
　そして、この補正は、本件補正前の請求項１において、
（１）「基板」を「イメージセンサ基板」とする補正事項、
（２）「焦点検出装置」について「カメラの焦点検出装置」であると限定して特定する補正事項、
（３）基板の傾きの調整がなされる時期（段階）について「カメラの製造段階」と限定して特定する補正事項、
を含むものである。
　上記（１）ないし（３）の補正事項は、いずれも、特許請求の範囲のいわゆる限定的減縮を目的とする補正事項であるから、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法（以下、「平成１８年改正前特許法」という。）第１７条の２第４項第２号に掲げる事項を目的とするものを含む。
　
２　独立特許要件違反についての検討
　そこで、次に、本件補正後の特許請求の範囲の請求項１に係る発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合するか）について検討する。
　
（１）本願補正発明
　本願補正発明は、平成２０年１２月１２日付けの手続補正書の特許請求の範囲の請求項１に記載されている事項により特定されるものである。（上記「第２　平成２０年１２月１２日付けの手続補正についての補正の却下の決定について」の「１　本件補正について」の記載参照。）
　
（２）引用例
ア　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特開２００１−３１１８７０号公報（以下、「引用例１」という。）には、以下の事項が記載されている。（後述の「イ　引用例１に記載された発明の認定」において発明の認定に直接関係する記載に下線を付した。）
　
「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、
カメラ等に設けられる焦点検出装置
　
「【０００６】
【課題を解決するための手段】一実施の形態を示す図面に対応づけて説明すると、本発明は、
撮影レンズＬＥの光軸ＬＸから第１方向に第１距離だけ離間した第１焦点検出領域Ｌ（Ｒ）からの光束を、
２分割する第１の光学系３Ｌ
第１の光学系で２分割された光束を
それぞれ受光する一対の第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂ
第１
焦点検出素子を同一面上に保持する保持手段９とを備えた焦点検出装置に適用される。
保持手段９を第１方向の軸Ｘ回りに角度調整して装置本体５に固定するための角度調整機構５ａを設け、
【０００７】なお、本発明の構成を説明する上記課題を解決するための手段の項では、本発明を分かり易くするために実施の形態の図を用いたが、これにより本発明が実施の形態に限定されるものではない。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１〜図６により本発明の一実施の形態を説明する。図３は本発明に係るカメラ（一眼レフカメラ）の概略構成図である。被写体からの光束は、レンズ鏡筒ＬＢ内の撮影レンズＬＥを透過してカメラボディＣＢ内に導かれる。カメラボディＣＢに導かれた光束の一部は、半透過性のメインミラー５１を透過し、サブミラー５２にて下方に反射された後、焦点検出モジュール１０へ入射される。ＣＰＵ５６は、焦点検出モジュール１０の出力である焦点検出信号に基づいてレンズ駆動モータ５７を駆動し、撮影レンズＬＥの焦点調節を行う。一方、メインミラー５１で反射された光束はペンタプリズム５４を介して接眼レンズ５５にて観察される。
【０００９】図１は焦点検出モジュール１０の構造を示す分解斜視図、図２は撮影画面内の焦点検出領域を示す図である。本実施形態では、図２に示すように長方形の撮影画面Ｐ内に６の焦点検出領域を有する。そのうち中央光軸ＬＸを中心として横方向に延在する領域ＣＨと、光軸ＬＸを中心として縦方向（領域ＣＨと直交する方向）に延在する領域ＣＶの２領域を光軸上領域と呼び、他の４領域を光軸外領域と呼ぶ。すなわち光軸外領域は、光軸ＬＸから左方（第１方向：長辺方向）に離間し縦方向に延在する領域Ｌと、光軸ＬＸから右方（第１方向：長辺方向）に離間し縦方向に延在する領域Ｒと、光軸ＬＸから上方（第２方向：短辺方向）に離間し横方向に延在する領域Ｔと、光軸ＬＸから下方（第２方向：短辺方向）に離間し横方向に延在する領域Ｂの４領域である。図から分かるように、上下の光軸外領域Ｔ，Ｂと光軸ＬＸとの距離（第２の距離）は、左右の光軸外領域Ｌ，Ｒと光軸ＬＸとの距離（第１の距離）よりも短くなっている。これらの焦点検出領域は、図１に示す焦点検出モジュール１０の構造によって決定されるものである。
【００１０】図１において、焦点検出モジュール１０は周知の位相差検出方式にて焦点検出を行うもので、視野マスク１，赤外カットフィルタ２，フィールドレンズ３，迷光除去用遮光マスク４，折り返しミラー６，絞りマスク７，セパレータレンズ８およびイメージセンサチップ９がホルダ５に一体に保持されて成る。視野マスク１は、図示の如く光軸上領域ＣＨおよびＣＶに対応する開口１Ｃと、光軸外領域Ｔ，Ｂ，Ｌ，Ｒにそれぞれ対応する開口１Ｔ，１Ｂ，１Ｌ，１Ｒとを有し、フィールドレンズ３および遮光マスク４は、それぞれ視野マスク１の開口に対応するレンズ３Ｃ，３Ｔ，３Ｂ，３Ｌ，３Ｒおよび開口部４Ｃ，４Ｔ，４Ｂ，４Ｌ，４Ｒを有する。フィールドレンズ３のレンズ３Ｃ，３Ｔ，３Ｂ，３Ｌ，３Ｒは、視野マスク１の開口１Ｔ，１Ｂ，１Ｌ，１Ｒから入射された光束を絞りマスク７に導く。その際、後述するようにその入射位置によっては光束を光軸ＬＸ側に偏向する。
【００１１】図６の拡大図に示すように、絞りマスク７およびセパレータレンズ８は、それぞれ６つの焦点検出領域に対応する各一対の開口部７ＣＨａ，７ＣＨｂ，７ＣＶａ，７ＣＶｂ，７Ｔａ，７Ｔｂ，７Ｂａ，７Ｂｂ，７Ｌａ，７Ｌｂ，７Ｒａ，７Ｒｂおよびレンズ８ＣＨａ，８ＣＨｂ，８ＣＶａ，８ＣＶｂ，８Ｔａ，８Ｔｂ，８Ｂａ，８Ｂｂ，８Ｌａ，８Ｌｂ，８Ｒａ，８Ｒｂを有する。またイメージセンサチップ９は、同様に６つの焦点検出領域に対応するイメージセンサアレイ９ＣＨａ，９ＣＨｂ，９ＣＶａ，９ＣＶｂ，９Ｔａ，９Ｔｂ，９Ｂａ，９Ｂｂ，９Ｌａ，９Ｌｂ，９Ｒａ，９Ｒｂを同一面上に保持する。絞りマスク７は各一対の開口によって各光束を２分割し、セパレータレンズ８に導く。
【００１２】ここで、ホルダ５に設けられた左右一対の曲面５ａは、イメージセンサチップ９との接着面を構成し、曲面とすることでイメージセンサチップ９のＸ軸（第１方向の軸）を回転中心とする傾き調整が可能となる。このような位置調整が必要な理由について以下に説明する。
【００１３】 図４および図５は焦点検出モジュール１０内の光束の状態を示す図である。便宜上、赤外カットフィルタ２，迷光除去用遮光マスク４および折り返しミラー６は図示を省略し、視野マスク１，フィールドレンズ３，絞りマスク７，セパレータレンズ８およびイメージセンサチップ９を一直線上に並べて図示した。また、フィールドレンズ３のレンズ３Ｃ，３Ｔ，３Ｂ，３Ｌ，３Ｒを通過し、絞りマスク７で２分割された各一対の光束を、それぞれｒＣＨａ，ｒＣＨｂ：ｒＣＶａ，ｒＣＶｂ：ｒＴａ，ｒＴｂ：ｒＢａ，ｒＢｂ：ｒＬａ，ｒＬｂ：ｒＲａ，ｒＲｂで表してある。
【００１４】図４は光束を視野マスク１の開口部１Ｔから１Ｂに向かう方向に見たものである。絞りマスク７の開口７Ｌａと７Ｌｂ，セパレータレンズ８のレンズ８Ｌａと８Ｌｂおよび光軸外領域Ｌに対応する一対の光束ｒＬａとｒＬｂは、それぞれ紙面と直交する方向に重なり合っている。同様に絞りマスク７の開口７Ｒａと７Ｒｂ，セパレータレンズ８のレンズ８Ｒａと８Ｒｂおよび光軸外領域Ｒに対応する一対の光束ｒＲａとｒＲｂも紙面と直交する方向に重なり合っている。そして、光軸外領域Ｌ，Ｒからの光束はフィールドレンズ３のレンズ３Ｌ，３Ｒの光軸外側を通るため、分割された光束ｒＬａとｒＬｂおよび光束ｒＲａとｒＲｂは、それぞれ偏向角θで光軸ＬＸ側に偏向され、その偏向角θに応じた角度でイメージセンサアレイ９Ｌａ，９Ｌｂ，９Ｒａ，９Ｒｂの受光面に斜めに入射する。
【００１５】このように光軸外領域Ｌ，Ｒからの光束を光軸ＬＸ側に偏向させているため、領域Ｌ，Ｒが光軸ＬＸから比較的離れていてもイメージセンサアレイ９Ｌａ，９Ｌｂ，９Ｒａ，９Ｒｂを光軸ＬＸに近づけて配置でき、イメージセンサチップ９の小型化が図れる。しかし、上述したように光束ｒＬａ，ｒＬｂ，ｒＲａ，ｒＲｂがセンサアレイ９Ｌａ，９Ｌｂに斜めに入射することは避けられず、このような状況でセンサアレイ９Ｌａ，９Ｌｂが光束に対して図１のＸ軸を中心とする回転方向にも傾いてしまうと、「やぶにらみ現象」による焦点検出精度の悪化は無視できないほど大きくなる。そこで本実施形態では、
センサチップ９、すなわちセンサアレイ９Ｌａ，９ＬｂのＸ軸回りの傾き調整を可能にし、「やぶにらみ現象」による焦点検出精度の悪化を最小限に抑えている。
【００１６】
上記傾き調整はカメラの製造段階で行われる。
【００１７】一方、図５は光束を視野マスク１の開口部１Ｌから１Ｒに向かう方向に見たものである。絞りマスク７の開口７Ｔａと７Ｔｂ，セパレータレンズ８のレンズ８Ｔａと８Ｔｂおよび光軸外領域Ｔに対応する一対の光束ｒＴａとｒＴｂは、それぞれ紙面と直交する方向に重なり合っている。同様に絞りマスク７の開口７Ｂａと７Ｂｂ，セパレータレンズ８のレンズ８Ｂａと８Ｂｂおよび光軸外領域Ｂに対応する一対の光束ｒＢａとｒＢｂも紙面と直交する方向に重なり合っている。この場合、光軸外領域Ｔ，Ｂからの光束は、フィールドレンズ３を構成するレンズ３Ｔ，３Ｂの光軸のほぼ中心付近を通過するため、光束ｒＴａ，ｒＴｂおよびｒＢａとｒＢｂは内側に殆ど偏向されず、イメージセンサアレイ９Ｔａ，９Ｔｂ，９Ｂａ，９Ｂｂの受光面にほぼ直角に入射する。
【００１８】光束ｒＴａ，ｒＴｂ，ｒＢａ，ｒＢｂを殆ど偏向させずに済むのは、上下方向の光軸外領域Ｔ，Ｂが左右方向の光軸外領域Ｌ，Ｒと比べて光軸ＬＸに近い位置に設定されているため、光束を偏向させずともイメージセンサアレイ９Ｔａ，９Ｔｂ，９Ｂａ，９Ｂｂを光軸ＬＸ近くに配置でき、チップ面積を増大させることがないからである。そして、上下方向は長方形の撮影画面における短辺方向であるから、上下方向の光軸外領域Ｔ，Ｂが左右方向（長辺方向）の光軸外領域Ｌ，Ｒと比べて光軸ＬＸに近い位置に設定されていても配置上の問題はない。
【００１９】このように光束ｒＴａ，ｒＴｂ，ｒＢａ，ｒＢｂが殆ど偏向されずにセンサアレイ９Ｔａ，９Ｔｂ，９Ｂａ，９Ｂｂの受光面にほぼ直角に入射するため、センサアレイ９Ｔａ，９Ｔｂ，９Ｂａ，９Ｂｂが光束に対して図１のＹ軸（第２方向の軸）を中心とする回転方向に多少傾いたとしても、「やぶにらみ現象」による焦点検出精度の悪化は小さい。そのため本実施形態では、センサチップ９のＹ軸回りの傾きを調整する機構は設けられておらず、センサチップ９の両端をホルダ５の両曲面５ａに当接させるだけで位置決めは完了する。したがって、センサチップ９をＸ軸，Ｙ軸方向の双方に調整可能に構成する場合と比べて構成が簡単で済み、カメラの小型化およびコストダウンが図れる。
【００２０】以上の実施形態において、光軸外領域Ｌ，Ｒが第１焦点検出領域を、光軸外領域Ｔ，Ｂが第２焦点検出領域を、フィールドレンズ３のレンズ３Ｌ，３Ｒおよび絞りマスク７が第１の光学系を、フィールドレンズ３のレンズ３Ｔ，３Ｂおよび絞りマスク７が第２の光学系を、イメージセンサアレイ９Ｌａ，９Ｌｂ，９Ｒａ，９Ｒｂが第１焦点検出素子を、イメージセンサアレイ９Ｔａ，９Ｔｂ，９Ｂａ，９Ｂｂが第２焦点検出素子を、センサチップ９が保持手段を、ホルダ５が装置本体を、曲面５ａが角度調整機構をそれぞれ構成する。
【００２１】なお以上では、第１方向を撮影画面の長辺方向とし、第２方向を撮影画面の短辺方向としたが、これに限定されるものではない。また角度調整機構の構成も実施形態に限定されない。」
　
　【図１】には、焦点検出装置の構成を示す分解斜視図が記載され、【図６】には、図１の一部分を拡大して示す図が記載されており、【図１】及び【図６】から、
軸Ｘが、センサアレイ（検出素子）９Ｌａ，９Ｌｂを保持するセンサチップ（保持手段）９の保持面に平行で、かつ、一対の検出素子であるセンサアレイの対９Ｌａ，９Ｌｂの配列方向に直交する
　
イ　引用例１に記載された発明の認定
　引用例１には、カメラの焦点検出装置の保持手段の傾き調整方法に関し、
「撮影レンズＬＥの第１焦点検出領域Ｌからの光束を２分割する第１の光学系３Ｌと、第１の光学系３Ｌで２分割された光束をそれぞれ受光する一対の第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂと、第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂを同一面上に保持する保持手段９とを備えたカメラの焦点検出装置に適用される保持手段９の傾き調整方法において、
　保持手段９を、保持手段９の第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂの保持面に平行で、かつ、第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂの配列方向に直交する軸Ｘの回りに角度調整して装置本体５に固定するための角度調整機構５ａを設け、
　カメラの製造段階で、角度調整機構５ａによって、「やぶにらみ現象」による焦点検出精度の悪化を最小限に抑えるように保持手段９、すなわち一対の第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂの軸Ｘ回りの傾きを調整するカメラの焦点検出装置に適用される保持手段９の傾き調整方法。」の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている。
　
ウ　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特開平１０−１９９７９４号公報（以下、「引用例２」という。）には、以下の事項が記載されている。
　
「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、露光装置および方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、露光装置として、例えばレンズ縮小投影露光装置は、露光ステージの上に載置された基板（シリコンウェハー）を１ショットずつステップ移動させて基板に割り当てられたショットにパターンを露光する。ここで、ショットとは１回の露光で照射される領域であり、例えば１枚の基板には６４（＝８×８）のショットが割り当てられている（図２参照）。
【０００３】露光ステージに載置された基板は高温工程などのプロセス処理の影響で通常、伸縮している状態にあるので、ステップ移動させる基板のステップ量はその伸縮量に応じて設定される。このとき、伸縮量はショットに形成された位置検出マークの座標を例えば１０ショット分統計処理することにより理論値との差から算出され、算出された伸縮量に基づいて全てのショットの座標が算出される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、高温工程などのプロセス処理の影響により基板は単に伸縮するだけでなく、拡大して見るとうねっていたり傾いていたりする場合がある（図５参照）。従来では基板が傾いている状態であっても、そのまま位置検出マークの座標を測定していたので、伸縮量に誤差が生じていた。すなわち、図６に示すように測定される位置検出マークの座標には誤差（ｘ／ｃｏｓθ−ｘ）が生じているので、そのままパータンを露光すると誤差分だけ合わせずれが生じてしまう。
【０００５】そこで、本発明は、基板の伸縮量を算出してステップ移動させる際、合わせずれが生じることなくパターンを露光することができる露光装置および方法を提供することを目的とする。」
　
「【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の露光装置および方法の実施の形態について説明する。本実施形態における露光装置はレンズ縮小投影露光装置に適用される。図１は実施の形態における露光装置の要部の構成を概略的に示す図である。露光装置は装置本体１、縮小投影レンズ４、露光ステージ５などから構成されている。また、装置本体１には全体を制御する制御部（図示せず）が設けられており、制御部は後述する伸縮量算出処理手順などの制御プログラムを実行して露光ステージ５をステップ移動させ、露光ステージ５に載置されたシリコンウェハーなどの基板６の上に縮小投影レンズ４を介してパターンを露光する。
【００１０】図２は基板６の平面を示す図である。１枚の基板６には１回の露光で照射される領域を示すショットが８×８（＝６４）箇所に割り当てられている。また、この露光装置では光源７、振動子３、受光スリット２、オートフォーカスセンサ９、中継基板８などから露光ステージ５に載置された基板の傾き量を測定する傾き量測定機構が構成されており、光源７から基板６に向けて照射された光がオートフォーカスセンサ９で合焦するように露光ステージ５を上下に動かし、その移動量から後述するようにショットの傾き量θを測定する。露光ステージ５に載置されたシリコンウェハーなどの基板６は、前述したように高温工程などのプロセス処理の影響で伸縮していたり、傾いていたりするので、これらを考慮して露光ステージ５を移動させるステップ量を設定しなければならない。
【００１１】図３は伸縮量算出処理手順を示すフローチャートである。まず、基板６に割り当てられた６４ショットのうち任意の１０ショットに形成された位置検出マーク１６の座標ｘを測定する（ステップＳ１）。図５は位置検出マーク１６が形成されたショットを示す図である。同図（Ａ）はショットの平面を示し、同図（Ｂ）はその傾きを示す。
【００１２】つづいて、位置検出マーク１６の座標が測定されたショットの傾き量θを測定する（ステップＳ２）。図４はショットの傾き量θの測定手順を示すフローチャートである。ショットの中心Ｏから距離Ｇ離れた測定点ａ１、測定点ａ２をショットの隅に設定し（ステップＳ１１）、設定された測定点ａ１の高さＦ１および測定点ａ２の高さＦ２を測定する（ステップＳ１２）。光源７から設定された測定点ａ１、ａ２に向けて光を照射し、反射された光がオートフォーカスセンサ９で合焦するように露光ステージ５を上下に動かし、その移動量から測定点ａ１の高さＦ１および測定点ａ２の高さＦ２を測定する。　測定された高さＦ１、Ｆ２から１ショットの傾き量θを〔数１〕にしたがって算出する（ステップＳ１３）。
【００１３】
【数１】θ＝ｔａｎ-1（（Ｆ１−Ｆ２）／２Ｇ）
【００１４】つづいて、〔数２〕によりステップＳ１で測定された位置検出マークの座標ｘをステップ２で測定されたショットの傾き量θで補正する（ステップＳ３）。
【００１５】
【数２】ｘａ＝ｘ／θ−ｘ
【００１６】ここで、ｘはショットの傾き量θを補正する前の位置検出マーク１６の座標であり、ｘａはショットの傾き量θを補正した後の位置検出マーク１６の座標である。図６はショットの傾きおよびｘ、θの関係を示す図である。
　
（３）本願補正発明と引用発明の対比
ア　対比
　本願補正発明と引用発明を対比する。
　
　引用発明の「撮影レンズＬＥ」、「２分割された光束」、「一対の第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂ」及び「保持手段９」が、それぞれ、本願補正発明の「撮影レンズ」、「一対の光束」、「一対の受光素子」及び「イメージセンサー基板」に相当するから、引用発明の「撮影レンズＬＥの第１焦点検出領域Ｌからの光束を２分割する第１の光学系３Ｌと、第１の光学系３Ｌで２分割された光束をそれぞれ受光する一対の第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂと、第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂを同一面上に保持する保持手段９とを備えたカメラの焦点検出装置」が、本願補正発明の「撮影レンズからの一対の光束をそれぞれ受光する一対の受光素子が配列された面を有するイメージセンサー基板」を備えた「カメラの焦点検出装置」に相当する。
　
　引用発明の「保持手段９の第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂの保持面に平行で、かつ、第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂの配列方向に直交する軸Ｘ」が、本願補正発明の「イメージセンサー基板の前記面と平行で且つ前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸」に相当するから、引用発明の「保持手段９を、保持手段９の第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂの保持面に平行で、かつ、第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂの配列方向に直交する軸Ｘの回りに角度調整」することが、本願補正発明の「イメージセンサー基板の傾きを、該イメージセンサー基板の前記面と平行で且つ前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに調整する」ことに相当する。
　
　引用発明の「カメラの製造段階で、角度調整機構５ａによって、「やぶにらみ現象」による焦点検出精度の悪化を最小限に抑えるように保持手段９、すなわち一対の第１焦点検出素子９Ｌａ，９Ｌｂの軸Ｘ回りの傾きを調整する」ことと、本願補正発明の「前記カメラの製造段階で、前記イメージセンサー基板の前記一対の光反射部に照射した光の反射光に基づいて、前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに前記イメージセンサー基板の傾きを調整する」こととは、「前記カメラの製造段階で、前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに前記イメージセンサー基板の傾きを調整する」点で一致する。
　
イ　一致点
　よって、本願補正発明と引用発明は、
「撮影レンズからの一対の光束をそれぞれ受光する一対の受光素子が配列された面を有するイメージセンサー基板の傾きを、該イメージセンサー基板の前記面と平行で且つ前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに調整するカメラの焦点検出装置の調整方法において、
　前記カメラの製造段階で、前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに前記イメージセンサー基板の傾きを調整するカメラの焦点検出装置の調整方法。」の発明である点で一致し、次の点で相違する。
　
ウ　相違点
　イメージセンサー基板の傾きを、該イメージセンサー基板の前記面と平行で且つ前記一対の受光素子の配列方向に直交する軸回りに調整するに当たり、本願補正発明は、「前記一対の受光素子の配列方向に沿った方向に離間する前記イメージセンサー基板の前記面上の２箇所に平面状の光反射部を一対設け」、「前記イメージセンサー基板の前記一対の光反射部に照射した光の反射光に基づいて」当該調整を行うのに対して、引用発明においては、そのような限定がなされていない点。
　
（４）当審の判断
ア　上記各相違点について検討する。
　引用例２には、「基板が傾いている状態であっても、そのまま位置検出マークの座標を測定していたので、伸縮量に誤差が生じていた。」（【０００４】）、及び、「ショットの中心Ｏから距離Ｇ離れた測定点ａ１、測定点ａ２をショットの隅に設定し（ステップＳ１１）、設定された測定点ａ１の高さＦ１および測定点ａ２の高さＦ２を測定する（ステップＳ１２）。光源７から設定された測定点ａ１、ａ２に向けて光を照射し、反射された光がオートフォーカスセンサ９で合焦するように露光ステージ５を上下に動かし、その移動量から測定点ａ１の高さＦ１および測定点ａ２の高さＦ２を測定する。　測定された高さＦ１、Ｆ２から１ショットの傾き量θを〔数１〕にしたがって算出する（ステップＳ１３）。」（【００１２】）と記載されている。
　一般に、平面上の離間する２箇所に（一対の）光反射部を設けて、当該一対の光反射部に照射した光に基づいて平面部材の傾きを調整（補正）することは、上記引用例２にも記載されているように周知の技術である。
　引用発明においても、平面部材である保持手段９の傾きを調整するために、上記周知技術を適用し、上記相違点に係る本願補正発明の発明特定事項を得ることは、当業者が容易に想到し得たことである。
　
イ　本願補正発明の奏する作用効果
　そして、本願補正発明によってもたらされる効果は、引用発明及び周知技術から当業者が予測し得る程度のものである。
　
ウ　まとめ
　以上のとおり、本願補正発明は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
３　むすび
　したがって、本願補正発明は特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるということができないから、本件補正は、平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　
 第３　本願発明について
１　本願発明
　平成２０年１２月１２日付けの手続補正は、上記のとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、平成２０年９月２２日付けの手続補正により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定されるとおりのものである。（上記「第２　平成２０年１２月１２日付けの手続補正についての補正の却下の決定について」の「１　本件補正について」の記載参照。）
　
２　引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例の記載事項及び引用発明については、上記「第２　平成２０年１２月１２日付けの手続補正についての補正の却下の決定について」の「２　独立特許要件違反についての検討」の「（２）引用例」に記載したとおりである。
　
３　対比・判断
　上記「第２　平成２０年１２月１２日付けの手続補正についての補正の却下の決定について」の「１　本件補正について」に記載したように、本願発明に対して、（１）ないし（３）の補正事項によって限定して特定したものが本願補正発明である。
　そうすると、本願発明の発明特定事項をすべて含み、本願発明をさらに限定して特定したものに相当する本願補正発明が、上記「第２　平成２０年１２月１２日付けの手続補正についての補正の却下の決定について」の「２　独立特許要件違反についての検討」の「（３）本願補正発明と引用発明との対比」及び「（４）当審の判断」において記載したとおり、引用例１に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様に、引用例１に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
４　むすび
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、その余の請求項に係る発明について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。