【手続補正書】
【提出日】平成24年3月19日(2012.3.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スキャンチェーンの動作検証テストの結果により、故障スキャンチェーンとその故障種別を特定する故障スキャンチェーン特定部と、
不良品の故障スキャンチェーンのテスト結果（観測値）とシミュレーションの結果を比較して、両結果が異なるスキャンフリップフロップ（以下、スキャンＦＦという。）の箇所から故障スキャンＦＦの範囲を求める故障スキャンＦＦ絞込み部と、
論理回路の構成情報、信号線の期待値、フェイル観測スキャンＦＦ、及び、不良品のテスト結果を参照して、正常スキャンチェーンで観測されたフェイル観測スキャンＦＦから、入力側に含意操作を行いながらフェイルが伝播した経路を遡った場合に到達しうる故障スキャンチェーン上のスキャンＦＦを抽出し、抽出したスキャンＦＦのスキャンチェーン上の位置に基づいて故障スキャンＦＦの範囲を求めることにより、前記故障スキャンＦＦ絞込み部によって求められた故障スキャンＦＦの範囲をさらに絞り込む経路追跡絞込み部と、を備えている故障箇所推定装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】故障箇所推定装置
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１６９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１６９】
本発明は、論理回路情報とテスト結果から、スキャンチェーン故障箇所を推定する故障箇所推定装置に適用することができ、故障箇所推定装置をコンピュータによって実現するプログラムにも適用することができる。
なお、本発明において、下記の形態が可能である。
［形態１］
スキャンチェーンの動作検証テストの結果により、故障スキャンチェーンとその故障種別を特定する故障スキャンチェーン特定部と、
不良品の故障スキャンチェーンのテスト結果（観測値）とシミュレーションの結果を比較して、両結果が異なるスキャンフリップフロップ（以下、スキャンＦＦという。）の箇所から故障スキャンＦＦの範囲を求める故障スキャンＦＦ絞込み部と、
論理回路の構成情報、信号線の期待値、フェイル観測スキャンＦＦ、及び、不良品のテスト結果を参照して、正常スキャンチェーンで観測されたフェイル観測スキャンＦＦから、入力側に含意操作を行いながらフェイルが伝播した経路を遡った場合に到達しうる故障スキャンチェーン上のスキャンＦＦを抽出し、抽出したスキャンＦＦのスキャンチェーン上の位置に基づいて故障スキャンＦＦの範囲を求めることにより、前記故障スキャンＦＦ絞込み部によって求められた故障スキャンＦＦの範囲をさらに絞り込む経路追跡絞込み部と、を備えている故障箇所推定装置。
［形態２］
論理回路の構成情報、信号線の期待値、故障スキャンチェーン情報、及び、故障スキャンＦＦの範囲を参照して、スキャンＦＦ間の信号線が分岐していた場合には、分岐前後を故障候補として区別して、それぞれ故障を仮定し、スキャンチェーン故障シミュレーションを実行し、故障シミュレーションの結果と不良品のテスト結果を比較し、最も一致率の高いスキャンＦＦ、信号線及び故障種別を故障候補として出力する分岐考慮故障シミュレーション照合部をさらに備えている、形態１に記載の故障箇所推定装置。
［形態３］
前記故障スキャンチェーン特定部は、スキャン回路内の単一のスキャンチェーン上において故障が存在するものと仮定して、故障スキャンチェーンとその故障種別を特定する、形態１または２に記載の故障箇所推定装置。
［形態４］
前記故障スキャンＦＦ絞込み部は、不良品のテスト時に、故障スキャンチェーンに印加する論理値をすべて不定値とするパタンでテストを行う、形態１ないし３のいずれか一に記載の故障箇所推定装置。
［形態５］
前記経路追跡絞込み部は、求めた故障スキャンＦＦの範囲と故障スキャンＦＦ絞込み部によって求められた故障スキャンＦＦの範囲との共通部分を、新たに故障スキャンＦＦの範囲とする、形態１ないし４のいずれか一に記載の故障箇所推定装置。
［形態６］
論理回路のテスト結果から取得されるフェイル観測スキャンＦＦ情報に基づいて、故障スキャンチェーン上の故障の可能性が高い範囲を絞り込む故障箇所推定装置であって、
論理回路テスト結果情報記憶部に記録された論理回路の構成情報と信号線の期待値とスキャンチェーン動作検証テストのテスト結果とを参照して、故障スキャンチェーンの本数とその故障種別とを特定し、単一スキャンチェーンの故障と判定されたテスト結果に対して、論理回路内の故障スキャンチェーンと前記故障種別とを故障スキャンチェーン記憶部に記録する故障スキャンチェーン特定部と、
前記故障スキャンチェーン記憶部に記録された、故障スキャンチェーンと故障種別とを用いて、良品と不良品とのテスト結果を参照して、良品と不良品とのテスト結果の故障スキャンチェーンにおける出力値の差分を元に、故障スキャンＦＦの範囲を求めて、故障スキャンＦＦ記憶部に記録する故障スキャンＦＦ絞込み部と、
前記故障スキャンチェーン記憶部に記録された故障スキャンチェーンを参照して、スキャンロード動作後に、セット／リセット動作とシフト動作とキャプチャ動作とを組み合わせたテストパタンを入力することで得られるフェイル観測スキャンＦＦ情報と、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された前記論理回路の構成情報及び前記信号線の期待値とを参照して、フェイル観測スキャンＦＦから含意的に推定しながら経路追跡したときに到達した故障スキャンチェーン上のスキャンＦＦを抽出し、抽出されたスキャンＦＦの位置関係から故障スキャンＦＦの範囲をさらに絞り込み、絞り込んだ故障スキャンＦＦの範囲を故障スキャンＦＦ記憶部に再記録する経路追跡絞込み部と、
前記故障スキャンチェーンと前記故障スキャンＦＦと前記故障種別とを出力する出力部と、を備えている故障箇所推定装置。
［形態７］
前記経路追跡絞込み部は、前記故障スキャンチェーン記憶部に記録された故障スキャンチェーンを参照して、スキャンロード動作時に故障スキャンチェーンに不定値を入力した後にシフト動作とキャプチャ動作を組み合わせたテストパタンを繰り返し入力して内部論理を決定したときに最初に検出されるフェイル観測スキャンＦＦ情報と、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記録された前記論理回路の構成情報及び前記信号線の期待値とを参照して、フェイル観測スキャンＦＦから含意的に推定しながら経路追跡したときに到達した故障スキャンチェーン上のスキャンＦＦを抽出し、抽出されたスキャンＦＦの位置関係から故障スキャンＦＦの範囲をさらに絞り込み、絞り込んだ故障スキャンＦＦの範囲を故障スキャンＦＦ記憶部に再記録する、形態６に記載の故障箇所推定装置。
［形態８］
前記論理回路テスト結果情報記憶部と、前記故障スキャンチェーン記憶部、前記故障スキャンＦＦ記憶部とを参照して、論理回路の構成と、信号線の期待値と、故障スキャンチェーン、故障スキャンＦＦの範囲、該故障スキャンチェーンの故障種別とを参照して、該故障スキャンＦＦの範囲内にあるＦＦ間の信号線に対して、信号線の分岐状態を考慮して、スキャンチェーン故障シミュレーションを行い、シミュレーション結果とテスト結果との照合を行うことで、テスト結果と一致する割合が高い信号線を出力する分岐考慮故障シミュレーション照合部をさらに備え、
前記出力部は、故障信号線と故障信号線の故障分岐位置とをさらに出力する、形態６または７に記載の故障箇所推定装置。
［形態９］
前記出力部によって出力された、故障スキャンチェーンと故障スキャンＦＦと故障種別と故障信号線と故障信号線の分岐位置とを参照するとともに、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された、論理回路の構成と信号線の期待値と論理回路のレイアウト情報とを参照して、故障信号線の座標情報を検索し、座標情報からレイアウトを表示し、故障信号線の故障分岐位置から故障箇所の階層を算出し、レイアウト情報から近接する信号線を算出し、期待値情報と照合してアグレッサー信号線を算出し、故障箇所のレイアウト情報を出力する故障候補レイアウト検索照合部をさらに備え、
前記出力部は、前記故障箇所のレイアウトと前記故障箇所の座標情報と故障の可能性が高い階層名と前記アグレッサー信号線名とをさらに出力する、形態８に記載の故障箇所推定装置。
［形態１０］
スキャンチェーンの動作検証テストの結果により、故障スキャンチェーンとその故障種別を特定する工程と、
不良品の故障スキャンチェーンのテスト結果（観測値）とシミュレーションの結果を比較して、両結果が異なるスキャンフリップフロップ（以下、スキャンＦＦという。）の箇所から故障スキャンＦＦの範囲を求める故障スキャンＦＦ絞込み工程と、
論理回路の構成情報、信号線の期待値、フェイル観測スキャンＦＦ、及び、不良品のテスト結果を参照して、正常スキャンチェーンで観測されたフェイル観測スキャンＦＦから、入力側に含意操作を行いながらフェイルが伝播した経路を遡った場合に到達しうる故障スキャンチェーン上のスキャンＦＦを抽出し、抽出したスキャンＦＦのスキャンチェーン上の位置に基づいて故障スキャンＦＦの範囲を求めることにより、前記故障スキャンＦＦ絞込み部によって求められた故障スキャンＦＦの範囲をさらに絞り込む経路追跡絞込み工程と、を含む故障箇所推定方法。
［形態１１］
論理回路の構成情報、信号線の期待値、故障スキャンチェーン情報、及び、故障スキャンＦＦの範囲を参照して、スキャンＦＦ間の信号線が分岐していた場合には、分岐前後を故障候補として区別して、それぞれ故障を仮定し、スキャンチェーン故障シミュレーションを実行し、故障シミュレーションの結果と不良品のテスト結果を比較し、最も一致率の高いスキャンＦＦ、信号線及び故障種別を故障候補として出力する工程をさらに含む、形態１０に記載の故障箇所推定方法。
［形態１２］
前記故障スキャンＦＦ絞込み工程において、不良品のテスト時に、故障スキャンチェーンに印加する論理値をすべて不定値とするパタンでテストを行う、形態１０または１１に記載の故障箇所推定方法。
［形態１３］
前記経路追跡絞込み工程において、求めた故障スキャンＦＦの範囲と故障スキャンＦＦ絞込み部によって求められた故障スキャンＦＦの範囲との共通部分を、新たに故障スキャンＦＦの範囲とする、形態１０ないし１２のいずれか一に記載の故障箇所推定方法。
［形態１４］
スキャンチェーンの動作検証テストの結果により、故障スキャンチェーンとその故障種別を特定する処理と、
不良品の故障スキャンチェーンのテスト結果（観測値）とシミュレーションの結果を比較して、両結果が異なるスキャンフリップフロップ（以下、スキャンＦＦという。）の箇所から故障スキャンＦＦの範囲を求める故障スキャンＦＦ絞込み処理と、
論理回路の構成情報、信号線の期待値、フェイル観測スキャンＦＦ、及び、不良品のテスト結果を参照して、正常スキャンチェーンで観測されたフェイル観測スキャンＦＦから、入力側に含意操作を行いながらフェイルが伝播した経路を遡った場合に到達しうる故障スキャンチェーン上のスキャンＦＦを抽出し、抽出したスキャンＦＦのスキャンチェーン上の位置に基づいて故障スキャンＦＦの範囲を求めることにより、前記故障スキャンＦＦ絞込み部によって求められた故障スキャンＦＦの範囲をさらに絞り込む経路追跡絞込み処理と、をコンピュータに実行させるプログラム。
［形態１５］
論理回路の構成情報、信号線の期待値、故障スキャンチェーン情報、及び、故障スキャンＦＦの範囲を参照して、スキャンＦＦ間の信号線が分岐していた場合には、分岐前後を故障候補として区別して、それぞれ故障を仮定し、スキャンチェーン故障シミュレーションを実行し、故障シミュレーションの結果と不良品のテスト結果を比較し、最も一致率の高いスキャンＦＦ、信号線及び故障種別を故障候補として出力する処理をさらにコンピュータに実行させる、形態１４に記載のプログラム。
［形態１６］
前記故障スキャンＦＦ絞込み処理において、不良品のテスト時に、故障スキャンチェーンに印加する論理値をすべて不定値とするパタンでテストを行う、形態１４または１５に記載のプログラム。
［形態１７］
前記経路追跡絞込み処理において、求めた故障スキャンＦＦの範囲と故障スキャンＦＦ絞込み部によって求められた故障スキャンＦＦの範囲との共通部分を、新たに故障スキャンＦＦの範囲とする、形態１４ないし１６のいずれか一に記載のプログラム。