【事件の表示】
　特願２００２−２６２５５４「光スペクトラムモニタ」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年　４月　２日出願公開、特開２００４−１０１３３０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
Ｉ．手続の経緯
　本願は、平成１４年９月９日の出願であって、平成１７年９月２１日付で拒絶査定がなされ（発送日：同月２６日）、これに対し、同年１０月２５日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同年１１月１８日付で手続補正がなされたものである。
　
II．平成１７年１１月１８日付の手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１７年１１月１８日付の手続補正を却下する。
［理由］
１．補正後の本願発明
　本件補正により、特許請求の範囲の記載は、平成１７年７月１９日付手続補正により補正された特許請求の範囲の記載（以下、「本件補正前特許請求の範囲」という。）である、
「【請求項１】
光に含まれる複数の波長をフィルタリングする波長選択手段と、選択された光を波長に応じて分光する回折手段と、回折された光を入射するフォトダイオードと、該フォトダイオードの両端に形成された電極と、該両端の電極に接続された加算器および減算器と、からなり、前記フォトダイオードは、既知の光を用いて前記回折手段で回折して分光する光の波長とフォトダイオードへの照射位置の関係が値付けされていることを特徴とする光スペクトラムモニタ。
【請求項２】
　前記波長選択手段はファブリペロー共振器であることを特徴とする請求項１記載の光スペクトラムモニタ。」
から、
「【請求項１】
　光に含まれる複数の波長をフィルタリングするファブリペロー共振器と、選択された光を波長に応じて分光する回折手段と、回折された光を入射するフォトダイオードと、該フォトダイオードの両端に形成された電極と、該両端の電極に接続された加算器および減算器と、からなり、前記フォトダイオードは、既知の光を用いて前記回折手段で回折して分光する光の波長範囲とフォトダイオードへの照射位置の関係が値付けされており、前記ファブリペロー共振器の共振周波数を掃引することによりスペクトル表示を行うことを特徴とする光スペクトラムモニタ。」
へと補正された。
　上記補正は、請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「波長選択手段」を、その下位概念である「ファブリペロー共振器」と限定し、さらにその機能について「ファブリペロー共振器の共振周波数を掃引することによりスペクトル表示を行う」との限定を付加し、また、請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「回折手段で回折して分光する光の波長」について、「・・・波長範囲」と限定するものであって、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第２号に規定する、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　
　そこで、本件補正後の前記請求項１に記載された発明（以下「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前特許法１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について以下に検討する。
　
２．引用例
ア．原査定の拒絶の理由に引用された特開平６−３４４３８号公報（以下、「引用例１」という。）には、図面とともに次の記載がある。
（１）「【特許請求の範囲】
【請求項１】 ファブリーペロー干渉計と、そのファブリーペロー干渉計の出射側に配置されたポリクロメータと、そのポリクロメータの出射側に配置され、前記ファブリーペロー干渉計の自由スペクトル領域と略等しいスペクトル分解幅を与えるエレメント幅のマルチチャンネル検出器と、前記自由スペクトル領域をｎ分割し、それぞれ掃引して得られたｎ回分の検出結果を記憶する手段と、その記憶する手段に格納されたｎ回分の検出結果を合成し出力する手段とを備えた高分解能分光装置。」
（２）「【００１４】
【実施例】以下本発明に係る高分解能分光装置について添付図面を参照にして詳述する。図１は本発明に係る装置の第１実施例を示している。同図に示すように、被測定対象の光源１から出射された光が、収束レンズ２，アパーチャー３並びにコリメートレンズ４を介して平行光束にされた後、ＦＰ干渉計５に光軸に平行に入射されるようになっている。そして、本例では、ＦＰ干渉計５として、高い面精度と高い反射率をもつ２枚の半透明の平面鏡（エタロン対）６ａ，６ｂを互いに平行になるように配置したものを用い、一方の平面鏡６ｂにスキャンドライバー７を接続し、両平面鏡６ａ，６ｂ間の距離ｄを調整できるようになっている。なお、このスキャンドライバー７は、一般的にはピエゾ素子から構成される。
・・・
【００１０】また、このＦＰ干渉計５の出射側には、ポリクロメータとのカップリング用の収束レンズ８が配置され、この収束レンズ８の焦点距離位置にマルチチャンネル検出用の分光器であるポリクロメータ９を配置し、さらにポリクロメータ９の出口にマルチチャンネル検出器（以下、「ＭＣＤ」と称する。）１０を設置している。
・・・
【００１１】そして、このＭＣＤ１０は、ドライバ１１を介してコントローラ１２に接続されている。すなわち、コントローラ１２からの制御信号に基づいてドライバ１１はＭＣＤ１０を作動させ、ＭＣＤ１０にて検出されたデータを読み込み、コントローラ１２を介してコンピュータ１３内の記憶手段たるメモリ１４に格納するようになっている。また、このコントローラ１２は、上記したＦＰ干渉計５の平面鏡６ｂを掃引するスキャンドライバー７にも接続され、コントローラ１２から出力される制御信号によりその駆動が制御されている。」
（３）「【００１６】・・・よって、今ｄを固定して透過率を見るといろいろな次数（ｍ）に対応した波長（λ）の光が透過することになり、図２に示すような特性となる。
・・・
【００１７】そして、本例ではＦＰ干渉計５のＦＳＲをｎ分割し、ｄをｄ１，ｄ２…ｄｎと少しずつ変えながらステップ掃引し、ｎ回の測定を行う。すると、例えば測定すべきスペクトルが図３（Ａ）に示すようになっているとすると、同図（Ｂ）に示すように、所定の位置ｄ１にて１回目の測定を行うと、ＦＰ干渉計５の各ピーク値に対応する測定すべきスペクトルの部位（図中黒丸）がＭＣＤ１０により検出される。この時、同図（Ａ），（Ｃ）に示すようにＦＰ干渉計の各ＦＳＲとＭＣＤ１０の各エレメントとが一致しているため、ＦＰ干渉計の透過率特性の各ピークがＭＣＤの各エレメント内のどこかに１個だけ位置することになる。そしてそのＭＣＤ１０の各エレメントで検出されたスペクトルデータがメモリ１４に格納される。
・・・
【００１８】同様に位置ｄ２にて２回目の測定を行うことにより、測定すべきスペクトルのうち、黒三角で示されたスペクトルデータがＭＣＤ１０によって読取られ、メモリ１４に格納される。以下順に、ｎ回目まで掃引を繰り返し行い、各位置ｄｉ（ｉ＝１〜ｎ）のＦＰ干渉計５の設定に対してＭＣＤ１０のスキャンを行い、合計ｎ種のスペクトルデータをメモリ１４に格納する。
・・・
【００１９】この様にして、ｎ回の測定が終了したなら、メモリ１４に格納されたすべてのスペクトルデータを読み出すと共に、演算部１５にてそれらを合成（編集）する。これにより、測定すべき元のスペクトルに近い高分解のスペクトルが作成される。」
（４）「【００２１】なお、上記した実施例では、ＦＰ干渉計５の出射側に集光レンズ８を設けた例について説明したが、本発明はこれに限ること無く、例えば図４に示すように、ＦＰ干渉計５の出射光を所定の分光器（ポリクロメータ（入射側にはコリメータレンズがないもの））９′に入射させるようにしても良い。」
（５）（４）に関連して、図４には、ポリクロメータ９’内のＦＰ干渉計からの出射光を受ける位置に回折格子が描かれている。
　
　これらの記載を参照すると、引用例１には、次の発明が記載されている（以下、「引用発明１」という。）。
　
「複数の次数に対応した波長の光を透過するＦＰ干渉計５と、該ＦＰ干渉計５からの出射光を分光する回折格子からなるポリクロメータと、該ポリクロメータの出口に設置されたマルチチャンネル検出器（ＭＣＤ）とからなり、前記ＦＰ共振器のエタロン対の距離ｄを掃引することによりスペクトルが作成される、高分解能分光装置。」
　
イ．原査定の拒絶の理由に引用された特開平２−１２４４３５号公報（以下、「引用例２」という。）には、図面とともに次の記載がある。
（１）「また、検出光をグレーテイングレンズに入射し、グレーテイングレンズによって回折され、かつ収束された回折光の収束面上に配置したＰＳＤによって回折光の収束位置を検出し、ＰＳＤによる出力光電流を信号処理することによって、上記検出光の波長に対応した出力電圧を得ることを特徴とするピーク波長の検出方法を提供することによって達成される。」（第３ページ右上欄第１７行乃至同ページ左下欄第４行）
（２）「ＰＳＤは第３図に示す構造をしており、ＰＳＤを用いることにより、ＰＳＤに入射する光が収束する位置を高精度で検出することができる。第３図を用いてＰＳＤの動作を以下に説明する。
ＰＳＤの受光面に形成されている薄い抵抗層１５は、基材である高抵抗層１６とＰＮ接合を形成して、極めて均一に分布する電流分割拡散抵抗層となる。
ＰＳＤに入射した光Ｌ0はＰＮ接合部で光電流１８に変換される。光電流１８は、変換された位置に応じた割合で抵抗分割され、出力光電流１９（２０）になる。出力光電流１９（２０）は抵抗層１５の両端にある電極１３（１４）から出力される。ここで、各電極１３（１４）とＰＳＤの受光部の中心（ｍ−ｎ）との間の距離をＬとし、入射光Ｌ0のＰＳＤへの入射位置から中心（ｍ−ｎ）までの距離をｘとし、光電流１８の強度をｌ0とし、出力光電流１９（２０）の強度をｌ1（ｌ2）とすると、出力光電流の強度ｌ1、ｌ2は次式で表される。
　・・・
したがって、ｌ1、ｌ2とｘの関係は次式で表される。
　　（ｌ2−ｌ1）／（ｌ2＋ｌ1）＝ｘ／Ｌ
したがって出力光電流１９および２０を検出することによってＰＳＤへの入射位置を検出することができる。」（第３ページ左下欄第１４行乃至第４ページ左上欄第３行）
（３）「実施例１
第１図は本発明のピーク波長検出器の一例の概略構成図である。検出光Ｌ１は光ファイバー１によってスリット２へ導かれる。スリット２は幅２００μｍ、高さ３ｍｍである。スリット２を通過した光Ｌ2は焦点距離５０ｍｍの凸レンズ３により平行光Ｌ3になる。平行光Ｌ3は透過型回折格子４により各波長に分光され、回折光Ｌ4になる。・・・回折格子による回折光Ｌ4は焦点距離５０ｍｍの凸レンズ５により収束されて収束光Ｌ5になる。収束光Ｌ5は−次元ＰＳＤ６（浜松ホトニクス社製Ｓ１７７１）上に収束される。ここで、ＰＳＤの位置をを収束光Ｌ5の収束面上で移動することによって測定される波長範囲を変えることができるが、本実施例における波長範囲はおよそ６６２ｎｍ〜６６７．５ｎｍである。ＰＳＤが出力する出力光電流１９（２０）を第１図に示す信号処理回路によって、検出光の波長に対応して変化する出力電圧２５に変換した。ＰＳＤの出力光電流１９（２０）を増幅回路７（８）により増幅して、増幅信号２１（２２）に変換する。増幅信号２１（２２）を加算回路９および減算回路１０に入力し、加算信号２３および減算信号２４に変換する。加算信号２３および減算信号２４を割算回路１１に入力することにより上記出力電圧２５を得た。
第４図は実施例１のピーク波長検出器に、単色光を光ファイバーｌから入射させた場合の、光の波長と出力電圧２５との関係を示している。」（第４ページ左下欄第４行乃至同ページ右下欄第１１行）
（４）（３）に関連し、図４には、ＰＳＤからの出力を電圧変換した値と入射波長との間の関係が曲線で示されている。
　
ウ．特開２０００−１６２０４７号公報（以下「周知例１」という。）には、回折素子の出力光を位置センサで検出する分光システムのキャリブレーションを、波長既知の複数の基準光を回折素子に入射させたときの前記出力光の前記位置センサ上での位置を検出することにより行う周知技術について、以下の記載がある。
（１）「【００２２】また第２発明では、上記解決課題を達成するために、基準光源で発光される基準光を分光器に入力するとともに被検出光源で発光される被検出光を前記分光器に入力して、基準光および被検出光をセンサ上に導き、当該センサ上における前記基準光および前記被検出光の検出位置と、前記分光器の分散値と、前記基準光の既知の波長とに基づいて、前記被検出光の波長を演算するようにした波長検出装置において、前記基準光源で前記基準光として波長が異なる２以上の基準光を発光させ、前記センサ上における前記２以上の基準光の検出位置と、前記２以上の基準光の既知の波長とに基づいて、前記分光器の実際の分散値を演算し、前記センサ上における前記基準光および前記被検出光の検出位置と、前記演算された前記分光器の実際の分散値と、前記基準光の既知の波長とに基づいて、前記被検出光の波長を演算するようにしている。」
（２）「【００３１】また第２発明によれば、基準光源２で基準光として波長λn、λaが異なる２以上の基準光Ｌn、Ｌaが発光される。
【００３２】そしてセンサ１０上における２以上の基準光Ｌn、Ｌaの検出位置Ｓn、Ｓaと、２以上の基準光Ｌn、Ｌaの既知の波長λn、λaとに基づいて、分光器７の実際の分散値Ｄが演算される（Ｄ＝（λa−λn）/（Ｓa−Ｓn））。
【００３３】そしてセンサ１０上における基準光Ｌnおよび被検出光Ｌ0の検出位置Ｓn、Ｓ0と、上記演算された分光器７の実際の分散値Ｄと、基準光Ｌnの既知の波長λnとに基づいて、被検出光Ｌ0の波長λ0が演算される（λ0＝λn＋（Ｓ0−Ｓn）・Ｄ）。」
（３）「【００６０】基準光源２で発光された基準光Ｌn、Ｌaと、被検出光源１で発光された被検出光Ｌ0を同時に分光器７に入射させてもよく、基準光と被検出光とを時間的にずらして分光器７に入射させてもよい。」
　
エ．特開平９−２４３３１７号公報（以下「周知例２」という。）には、ＰＳＤの加算器出力を、受光位置演算の他に、光量ＰＳＤによる受光光量値として利用する周知技術に関し、以下の記載がある。
（１）「【０００９】
【発明の実施の形態】以下、実施の形態により、この発明をさらに詳細に説明する。図１は、この発明の一実施形態変位センサの構成を示すブロック図である。この変位センサはセンサ部３１とアンプ部３２とから構成されている。センサ部３１は、半導体レーザで構成される投光素子１と、この投光素子１を駆動する半導体レーザ駆動回路１ａと、投光レンズ２と、受光レンズ３と、位置検出素子（ＰＳＤ）４と、この位置検出素子４から出力される電流Ｉ1 、Ｉ2 を電圧に変換する電流−電圧変換器６、７と、この電流−電圧変換器６、７の両出力を減算する減算器８と、両出力を加算する加算器９とを備えている。」
（２）「【００１１】この実施形態変位センサにおいて、投光素子１から出射されたレーザ光は、投光レンズ２を通して測定対象物５に照射される。レーザ光は測定対象物５で反射され、受光レンズ３により集光され、位置検出素子４に受光される。レーザ光が位置検出素子４に受光されると、位置検出素子４から電流Ｉ1 、Ｉ2 が出力される。電流出力Ｉ1 、Ｉ2 は、電流−電圧変換器６、７で電圧変換され、減算器８及び加算器９で減算、加算の演算処理がなされる。
【００１２】演算処理された信号は、それぞれ増幅器１０、１１によって増幅され、さらにサンプルホールド回路１２、１３によってパルス信号から直流変換する。この直流変換されたサンプルホールド回路１２、１３の出力Ｘ、Ｙは除算器１４でＸ／Ｙ＝Ｚの演算がなされ、距離出力Ｚが出力される。算出された距離出力Ｚ及び位置検出素子４からの出力Ｙを、それぞれ比較器１５、１６で基準値と比較し、測定範囲内外及び光両過不足を判定する。」（ここで、「光両」は「光量」の誤記であることが明白である。）
　
３．対比
引用発明１の
 (a)「複数の次数に対応した波長の光を透過するＦＰ干渉計５」、(b)「回折格子からなるポリクロメータ」、(c)「高分解能分光装置」
は、それぞれ本願補正発明の 
(a)「光に含まれる複数の波長をフィルタリングするファブリペロー共振器」、(b)「回折手段」、(c)「光スペクトラムモニタ」
に相当することが明らかである。
　また、引用発明１の「マルチチャンネル検出器（ＭＣＤ）」と本願補正発明の「フォトダイオード」とは、光検出素子である点で共通する。
　また、本願補正発明に於ける「ファブリペロー共振器の共振周波数を掃引することによりスペクトル表示を行う」なる機能には、表示対象となるスペクトルを作成する機能が内在されていることは明らかであるから、引用発明１の「前記ＦＰ共振器のエタロン対の距離ｄを掃引することによりスペクトルが作成される」機能とは、「ファブリペロー共振器の共振周波数を掃引することによりスペクトルを作成する」点で共通する。
　よって両者は、
（一致点）
「光に含まれる複数の波長をフィルタリングするファブリペロー共振器と、選択された光を波長に応じて分光する回折手段と、回折された光を入射する光検出素子と、からなり、前記ファブリペロー共振器の共振周波数を掃引することによりスペクトルを作成することを特徴とする光スペクトラムモニタ。」
で一致し、以下の各点で相違する。
（相違点１）
　本願補正発明では、「光検出素子」がフォトダイオードであり、該フォトダイオードは、両端に形成された電極と、該両端の電極に接続された加算器および減算器とを附属し、既知の光を用いて前記回折手段で回折して分光する光の波長範囲とフォトダイオードへの照射位置の関係が値付けされているのに対し、引用発明１では、「光検出素子」は「マルチチャンネル検出器（ＭＣＤ）」であり、電極や加算器・減算器を附属しておらず、値付けに関しても言及がない点。
（相違点２）
　本願補正発明では、作成されたスペクトルの表示を行う機能を備えているのに対し、引用発明１では、表示機能を明示的には備えていない点。
　
４．判断
（１）相違点１について
　光検出素子として、両端に形成された電極と、該両端の電極に接続された加算器および減算器とを附属するフォトダイオードは、引用例２にも記載されたとおり、一般に「ＰＳＤ」と呼ばれ、回折手段を用いた分光装置に用いる光検出用受光素子として周知慣用のものに過ぎない。
　よって、引用発明１に於いて、光検出素子としてマルチチャンネル検出器（ＭＣＤ）に替えて前記ＰＳＤを採用すること、すなわち、「光検出素子」がフォトダイオードであり、該フォトダイオードが、両端に形成された電極と、該両端の電極に接続された加算器および減算器とを附属することは、前記周知技術に基づいて、当業者が容易に想到し得るものである。
　また、上記２．イ．（３）に摘記したように、引用例２では、ＰＳＤに単色光を入射させることによって得たＰＳＤの出力電圧と波長との関係を第４図に示しており、回折手段を用いた分光では一般に波長と回折角との関係が非線形であることに鑑みても、検出光の波長に対応して変化するＰＳＤの出力電圧２５を目的変数である波長値に対応づける、即ち値付けするにあたっても、該第４図のように実際の入射光によって得た出力電圧と波長との関係を用いているものと推認される。仮に、該推認が成り立たないとしても、回折手段を用いた分光測定装置に於ける値付けの手法として、分光測定装置に相異なる波長既知の光を入射し、該入射した光の各入射波長と光検出手段上の各照射位置との関係をもとに前記値付けを行うことは、例えば上記周知例１にも記載されたとおり、周知慣用の技術に過ぎず、複数の波長について前記値付けを行うことは、該複数の波長により構成される波長範囲を前記照射位置の範囲に対して値付けすることに外ならない。
　よって、引用発明１に於いて、光検出素子としてマルチチャンネル検出器（ＭＣＤ）に替えて前記ＰＳＤを採用した際に、入射波長、則ち回折手段で分光する光の波長範囲と、照射位置検出素子からの出力、則ち光検出素子への照射位置との関係を値付けすること、及び、該値付けを、波長既知の光を用いて行うことは、上記周知慣用の技術に基づいて当業者が当然成すべき技術事項であって、格別のものではない。
　
　なお、本願補正発明に於いて表示する「スペクトル」が、パワースペクトルのような波長毎に強度を多段階に表示するものであるのか、或いは輝線スペクトルのように輝線の存在する波長を明線などで表示するものであるのか、明確に定義されておらず、また、前者のように多段階表示とする場合に、フォトダイオードに附属する電極、加算器、及び減算器から如何にして多段階の強度信号を出力するのかについても、特定されてはいないが、表示するスペクトルが、輝線の存在する波長を線表示で示すスペクトルであれば、引用例２に記載されたＰＳＤによる照射位置に関する出力のみから作成することが可能であり、本願補正発明が表示するスペクトルには少なくともこのような表示形態のスペクトルが含まれるのであるから、引用発明１のマルチチャンネル検出器（ＭＣＤ）に替えて引用例２記載の周知のＰＳＤを適用することで、スペクトルを表示するという本願補正発明の機能を実現することが可能である。
　また、仮に、本願補正発明が、パワースペクトルのように各波長毎の多段階の強度値を必要とする表示形態のみを指すものであるとしても、引用例２に記載されたような周知のＰＳＤに附属する加算器の出力を、フォトダイオードに入射した総光量を示す出力として利用することは、上記周知例２にも記載されたとおり周知慣用の技術に過ぎないから、照射位置の出力に加え、該総光量の出力も利用してパワースペクトル表示に必要な強度データとして利用することは、当業者が容易に想到し得るものである。
　
（２）相違点２について
　分光装置に於いて、分光測定結果の出力をスペクトル表示する手段を設けることは常套的に行われていることに過ぎず（必要なら、特開２０００−２４１２４５号公報（【００２１】，【００４６】），特開昭６４−１３４２５号公報（第２ページ左下欄第１１乃至１３行）など参照。）、引用発明１に於いて、作成されたスペクトルを表示手段に表示するようにすることは、当業者が容易に為し得たことである。
　
　そして、本願補正発明の作用効果も、引用発明１および周知技術から当業者であれば予測できる範囲のものである。
　
　したがって、本願補正発明は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明することができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。 
　 
５．むすび
　以上のとおりであるから、本件補正は、平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　
III．本願発明について
　平成１７年１１月１８日付の手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１乃至２に係る発明は、平成１７年７月１９日付手続補正書の特許請求の範囲の請求項１乃至２に記載されたとおりのものと認められるところ、その請求項１は、次のとおりである（以下、該請求項１に係る発明を「本願発明」という。）。
「光に含まれる複数の波長をフィルタリングする波長選択手段と、選択された光を波長に応じて分光する回折手段と、回折された光を入射するフォトダイオードと、該フォトダイオードの両端に形成された電極と、該両端の電極に接続された加算器および減算器と、からなり、前記フォトダイオードは、既知の光を用いて前記回折手段で回折して分光する光の波長とフォトダイオードへの照射位置の関係が値付けされていることを特徴とする光スペクトラムモニタ。」
　
１．引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例、及びその記載事項は、前記「II．２．」に記載したとおりである。
　
２．対比・判断
　本願発明は、前記II．で検討した本願補正発明に於ける「ファブリペロー共振器」をその上位概念である「波長選択手段」とし、「波長選択手段」である「ファブリペロー共振器」の機能に関する限定事項である「ファブリペロー共振器の共振周波数を掃引することによりスペクトル表示を行う」との構成を省き、「回折手段で回折して分光する光の波長範囲」をその上位概念である「回折手段で回折して分光する光の波長」なる構成としたものである。
　そうすると、本願発明の構成要件をすべて含み、さらに他の構成要件を付加し、また、一部の構成要件を下位概念化したものに相当する本願補正発明が、前記II．４．に記載したとおり、引用発明１及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も同様の理由により、引用発明１及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
３．むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、請求項２に係る発明について審理するまでもなく、本件出願は拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。