【事件の表示】
　特願２００２−１６１０３４「浮遊粒子状物質濃度測定装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年　１月　８日出願公開，特開２００４−　　３９００〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は，平成１４年６月３日の出願であって，平成１９年３月１日付けで拒絶理由通知がなされ，平成１９年５月１４日付けで意見書とともに明細書を全文補正する手続補正書が提出された後，同年９月１３日付けで最後の拒絶理由通知がなされ，同年１１月２６日付けで意見書が提出されたが，最後の拒絶理由通知書に記載した理由によって平成２０年１月３０日付けで拒絶査定がなされ，これに対し同年３月１４日に拒絶査定不服審判の請求がなされ，同年４月１１日付けで請求の理由を補正する手続補正書が提出されたものである。　
　
２．原審における最後の拒絶理由通知の理由１は次のとおり：
「１．この出願は，発明の詳細な説明の記載が下記の点で，特許法第３６条第４項に規定する要件を満たしていない。
                              記
・理由１
・備考
　「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」と「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」との相関関係が不明であるため，「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」を用いて，如何にして，正確に，「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」を補正し得るかが不明である（本願発明において，散乱光強度による測定の測定対象はサンプリング管内に連続的に流れてくるＳＰＭであると認められる。一方，β線吸収方式での測定対象は，平成１９年５月１４日付けの意見書における「巻き取りリールによるリボンフィルタ（捕集手段）の巻き取りは，一回の測定時間が例えば１時間の場合，１時間毎に繰り返し行われ，一日ではリボンフィルタの上面に２４の浮遊粒子状物質（ＳＰＭ）堆積層（測定スポット）が形成されます〔特許公報（特許第３７９０４５８号）〕。この堆積層は，リボンフィルタの巻き取りが停止した状態で形成されます。そして，その形成後，巻き取りリールによるリボンフィルタの巻き取りにより捕集部からβ線照射部へ移動した当該堆積層にβ線が照射されます。」なる記載を参酌するに，ＳＰＭの堆積層であると認められる。また，前記意見書には，「β線吸収方式によって得られる瞬時の値ｂとは，例えば１秒毎に得られる測定値（β線測定値）を意味します」なる記載もあり，以上を整理すると，「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」は，連続的に流れてくるＳＰＭをリアルタイム測定することによって得られる値であり，「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」は，当該連続的に流れるＳＰＭがある程度堆積したものを，例えば１秒毎に一括測定することによって得られる値であると認められる。すなわち，「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」と「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」とは，それぞれ異なる測定対象から得られるものであり，一方の値を他方の値で補正し得るような関係にはないものと認められる。）。
　
　よって，この出願の発明の詳細な説明は，当業者が請求項１に係る発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載されていない。」
　
３．明細書等の記載についての検討
（３．１）明細書（平成１９年５月１４日付けで補正）の内容について
　請求人（出願人）は，平成１９年３月１日付けの拒絶理由通知に対して，平成１９年５月１４日付けで明細書の全文を補正する手続補正書を提出して，
（イ）出願当初の明細書の特許請求の範囲の請求項１における「・・・浮遊粒子状物質濃度測定装置において，前記サンプリング管内を通過するサンプルガスに対して適宜波長の光を照射し，そのときの散乱光強度に基づいて得られる値を用いて前記β線吸収方式によって得られる値を補正することを特徴とする浮遊粒子状物質濃度測定装置。」という記載を，「・・・浮遊粒子状物質濃度測定装置において，前記サンプリング管内を通過するサンプルガスに対して適宜波長の光を照射し，そのときの散乱光強度に基づいて得られる
瞬時の値
瞬時の値
（ロ）出願当初の明細書の段落【００１５】における「ＣＰＵ２２においては，上記出力ａ，ｂはそれぞれ次のように処理される。すなわち，散乱光測定に基づく瞬時値ａに基づいて前記サンプルガスＳＧ中の分粒されたＳＰＭの重量Ａ（μｇ）得られる。」という記載を，「ＣＰＵ２２においては，上記出力ａ，ｂはそれぞれ次のように処理される。すなわち，散乱光測定に基づく瞬時値ａに基づいて前記サンプルガスＳＧ中の分粒されたＳＰＭの重量
Ｍ
（ハ）出願当初の明細書の段落【００１９】における「そして，ＣＰＵ２２においては，前記散乱光強度に基づいて得られる瞬時値Ａを用いて前記β線吸収方式によって得られる瞬時値Ｂを補正することにより，ＳＰＭ濃度のより真値に近い値を算出するのである。」という記載を，「そして，ＣＰＵ２２においては，前記散乱光強度に基づいて得られる瞬時値
ａ
ｂ
（ニ）同段落【０００７】，【００１３】および【００１７】の記載における，脱字や誤記の訂正をした。
　
　その結果，補正後の明細書の発明の詳細な説明には，散乱光測定を利用したβ線吸収方式による浮遊粒子状物質濃度測定装置での値の補正に関して次の記載がある。
「　【０００７】
　より具体的には，ＳＰＭの散乱光強度に基づく瞬時値（測定値）とβ線吸収方式によって得られる瞬時値（測定値）との間における一定の係数関係を用いて，前者によって後者を補正することにより，β線源そのものに由来する指示値のバラツキの幅が小さくなり，ＳＰＭ濃度測定装置の最小検出感度（２σ）が大幅に向上し，例えば，０．５〜１μｇ／ｍ3 といったレベルまで改善される。したがって，ＰＭ２．５のような絶対量の少ない微細なＳＰＭを精度よく測定することができる。」
　
「　【００１３】
　上記構成のＳＰＭ濃度測定装置の作動について説明すると，真空ポンプ１３をオンにすると，大気が分粒器１６を介してサンプリング管１５内に・・・を含んだサンプルガスＳＧが下流側（真空チャンバ２側）に移動する。そして，このサンプルガスＳＧが分粒器１６の下流側に設けられた散乱光測定部１７を通過する際，前記分粒されたＳＰＭが光源１９からの可視光の照射を受け，そのとき生ずる散乱光が散乱光検出器２０によって受光され，その散乱光強度に比例した出力（瞬時値）ａがＣＰＵ２２に入力される。
　　【００１４】
　その後，前記分粒されたＳＰＭを含むサンプルガスＳＧは，サンプリング管１５を経て真空チャンバ２内に導入され，リボンフィルタ５を通過するが，このとき，前記分粒されたＳＰＭは，リボンフィルタ５の上面にスポット状に堆積し，堆積層６ａを形成する。この堆積層６ａにβ線源７からのβ線が照射されると，このβ線は分粒されたＳＰＭおよびリボンフィルタ５による吸収を受けるが，透過したβ線は検出器８によって検出される。検出器８からは受光したβ線に比例した出力（瞬時値）ｂが出力され，これがＣＰＵ２２に入力される。
　　【００１５】
　ＣＰＵ２２においては，上記出力ａ，ｂはそれぞれ次のように処理される。すなわち，散乱光測定に基づく瞬時値ａに基づいて前記サンプルガスＳＧ中の分粒されたＳＰＭの重量Ｍ（μｇ）得られる。
　　【００１６】　
　また，検出器８からの出力ｂは，通常のβ線吸収方式による処理が行われる。すなわち，前記リボンフィルタ５に付着したＳＰＭの質量ｍ〔μｇ〕は，下記（１）式によって求められる。
　ｍ＝Ｆ×ｌｎ（Ｒ0 ／Ｒ）　　　　　　　　　　　　　　……（１）　
　ただし，
　Ｒ0 ；空のリボンフィルタのβ線散乱強度〔Ｉ／ｓ〕
　Ｒ　；ＳＰＭ捕集後のリボンフィルタのβ線散乱強度〔Ｉ／ｓ〕
　Ｆ　；校正係数〔μｇ／ｍ3 〕
　前記校正係数Ｆは，β線散乱強度をＳＰＭの質量に換算するための係数で，Ｆ＝Ａ／（μ／ρ）で表される。ここで，Ａ〔ｃｍ2 〕はリボンフィルタの測定断面積〔ｃｍ2 〕であり，μ／ρ〔ｃｍ／ｍｇ〕は，β線源７の固有の質量崩壊係数〔ｃｍ／ｍｇ〕である。
　　【００１８】
　前記（１）式によって求められるＳＰＭの質量と，サンプルガスＳＧの流量および圧力を補正することにより，ＳＰＭ濃度Ｂ（μｇ／ｍ3 〕が得られる。
　　【００１９】
　そして，ＣＰＵ２２においては，前記散乱光強度に基づいて得られる瞬時値ａを用いて前記β線吸収方式によって得られる瞬時値ｂを補正することにより，ＳＰＭ濃度のより真値に近い値を算出するのである。」
　
「　【００２０】
　　【発明の効果】
　以上説明したように，この発明によれば，ＳＰＭの散乱光強度に基づく瞬時値（測定値）とβ線吸収方式によって得られる瞬時値（測定値）との間における一定の係数関係を用いて，前者によって後者を補正することにより，β線源そのもの由来する指示値のバラツキの幅が小さくなり，ＳＰＭ濃度測定装置の最小検出感度（２σ）が大幅に向上し，例えば，０．５〜１μｇ／ｍ3 といったレベルまで改善される。したがって，この発明のＳＰＭ濃度測定装置によれば，ＰＭ２．５のような絶対量の少ない微細なＳＰＭを精度よく測定することができる。」
　
（３．２）発明の詳細な説明についての記載要件不備
　発明の詳細な説明における散乱光測定を利用したβ線吸収方式による浮遊粒子状物質濃度測定装置での補正についての記載事項は，前記（３．１）のとおりであるが，段落【０００７】の「より具体的には，ＳＰＭの散乱光強度に基づく瞬時値（測定値）とβ線吸収方式によって得られる瞬時値（測定値）との間における一定の係数関係」とは，具体的に何と何をどのようにして求められる「一定の係数関係」であるのか，不明である。そして，段落【００１３】〜【００１８】の「瞬時値ａ」と「瞬間値ｂ」を説明する記載を参照しても，段落【００１９】の「そして，ＣＰＵ２２においては，前記散乱光強度に基づいて得られる瞬時値ａを用いて前記β線吸収方式によって得られる瞬時値ｂを補正することにより，ＳＰＭ濃度のより真値に近い値を算出するのである。」というだけの記載からは，「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」を用いて，如何にして，正確に，「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」を補正し得るか不明である。
　そして、両者が、補正可能な関係を有するという技術常識もみいだせない。
　
　なお、請求人は，当該拒絶の理由１について，拒絶査定不服審判の請求の理由（平成２０年４月１１日付け手続補正書で補正されたもの。以下，同様。）において，大気中の浮遊粒子状物質濃度測定装置についての文献２件（参考資料１，２）と清浄化した大気についてのβ線吸収方式での実験データである参考資料３，並びに「（１）は光散乱方式で得られた測定値（相対濃度）を積算し，換算係数（Ｆ値）を用いて質量濃度へ換算した場合の質量濃度グラフ，（２）はβ線吸収方式で得られた質量濃度の積算値を示すグラフ，（３）は公定法（ＪＩＳ　Ｚ　８８０８）により得られる質量濃度の積算値を示すグラフ，（４）は本発明による補正後に得られる質量濃度の積算値を示すグラフ」を示すという参考図を添付して，次のように主張している。
（ｉ）３頁の参考図についての記載
「●そこで，参考図を用いて，本願発明では何を行っているのかを端的に説明します。
　補正は，グラフ（２）中の異常時，例えば，その他の箇所と比べて１０％以上の変動が発生したときに施されます。すなわち，２４時間のうちノイズＮが発生している一部に対してだけ散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値を使う，という補正を施すわけです。言い換えますと，グラフ（２）中のノイズＮが発生した地点Ｂにおける瞬時の値だけを，これに対応するグラフ（１）の地点Ａにおける瞬時の値に入れ換える補正を行うだけです。」
（なお，この参考図は，「（１）は光散乱方式で得られた測定値（相対濃度）を積算し，換算係数（Ｆ値）を用いて質量濃度へ換算した場合の質量濃度グラフ」と，横軸である時間軸の経過により値が同じままであっても下がることはありえない積算値であるにもかかわらず，グラフ（１）の質量濃度値が略正弦波状に上下するという，実際にはありえないグラフ図である。）
（ii）４頁〜５頁
「《理由１に対する見解》
　本願発明は，真値に可及的に近い正確な浮遊粒子状物質（ＳＰＭ）濃度を得るためβ線吸収方式を主測定方式とし，光散乱方式を補助的に使用する構成を備えています。
　β線吸収方式は，原理の特性として，外乱因子やβ崩壊から発生する不定期のノイズが，ＳＰＭ濃度測定の正確性を阻害する要因となっています。そこで，本願発明は，この正確性を向上させることを目的としています。
　本願発明における「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）および本願発明における「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」（ａ）とは，それぞれ例えば１秒毎に得られる測定値です。
　また，「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）とは，測定開始から測定時点までの間にリボンフィルタ（捕集手段の一例）５に付着したＳＰＭ質量を意味する値であり，
　「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」（ａ）とは，連続的に流れてくるＳＰＭをリアルタイムに測定した結果得られるＳＰＭ濃度を意味する値です。　
　そして，それらの「瞬時の値」（ｂ），（ａ）を用いた補正をするために，例えば上記「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）から，その「瞬時の値」（ｂ）を得た時点より１秒前に得られた「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）-1を差し引いた値〔＝（ｂ）−（ｂ）-1〕，つまり１秒間にリボンフィルタ５に付着したＳＰＭ質量と，上記「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」（ａ）（＝ＳＰＭ濃度）から算出した１秒間に流れるＳＰＭ質量の比較をします。
　その算出した値の比較に基づいてβ線吸収方式の異常値を検知し，異常値発生時点のサンプルガスを測定対象とした「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）A のみを上記異常値発生時点のサンプルガスを測定対象とした「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」（ａ）A に基づいて補正します（当初明細書の段落番号００１９）。この補正の手法は以下のようなものです。
　例えば，異常値を示した「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）A を得た時点より１秒前に得られた「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）-1に，異常値発生時点のサンプルガスを測定対象とした「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」（ａ）A から求められる１秒間に流れるＳＰＭ質量を加算する，といったことをします。
　ところで，β線吸収方式においては，例えば一回（１サイクル）の測定時間が例えば１時間である場合，各「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）から例えば，近似直線を得ることにより１時間分のＳＰＭ質量の積算量を求め，ＳＰＭ濃度を求めています（当初明細書の段落番号００１６，００１７，００１８）。
　従って，本願発明によると，外乱因子やβ崩壊から発生する不定期のノイズが生じたことにより異常値を示した「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）A を積算してＳＰＭ濃度を算出することにより誤差が生ずる，といったβ線吸収方式の弱点を，異常値発生時点のサンプルガスを測定対象とした「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」（ａ）A を用いて異常値を示した「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）A を補正することで補い，正確なＳＰＭ濃度の算出を導くことができます。
　なお，散乱光検出器２０とリボンフィルタ５の配置関係上生じたサンプルガス到達時間の差によるずれは，例えば散乱光検出器２０とリボンフィルタ５の位置を近付けることや，サンプルガスの流量が一定であることから時間差を算出し，「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」を得た時点よりその時間差分前に得られた「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」を採用する，といったことにより，解消できます。
　以上のことから，記載不備について解消したものと思料します。」
　
　しかしながら，ここに記載の値の補正の手法は，本願明細書及び図面に記載されていないし，また，自明な事項であるとも認められない。
　特に，「異常値を示した「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）A を得た時点より１秒前に得られた「β線吸収方式によって得られる瞬時の値」（ｂ）-1に，異常値発生時点のサンプルガスを測定対象とした「散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値」（ａ）A から求められる１秒間に流れるＳＰＭ質量を加算する」という値の補正については，本願明細書段落【０００７】の「より具体的には，ＳＰＭの散乱光強度に基づく瞬時値（測定値）とβ線吸収方式によって得られる瞬時値（測定値）との間における一定の係数関係を用いて，前者によって後者を補正する」という記載事項と，異なっている。すなわち，請求人の主張する値の補正の手法においては，係数は存在せず，本願明細書に記載の前記「一定の係数関係」を用いた値の補正ではない。
　よって，記載不備については解消したとする請求人の主張を認めることはできない。
　　
（４）以上のことから，本願明細書の発明の詳細な説明には，請求項１に記載された「前記サンプリング管内を通過するサンプルガスに対して適宜波長の光を照射し，そのときの散乱光強度に基づいて得られる瞬時の値を用いて前記β線吸収方式によって得られる瞬時の値を補正する」という事項により特定される「浮遊粒子状物質濃度測定装置」の発明について，どのように補正するのか十分な記載がない。
　よって，本願明細書の発明の詳細な説明は，当業者が本願発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載がなされていないものである。
　　
　４．むすび
　以上検討したところによれば，本願は，平成１４年改正前の特許法第３６条第４項に規定する要件を満たしていないので，特許を受けることができない。
　よって，結論のとおり審決する。