(57)【要約】      （修正有）【課題】所定の範囲内にある電圧が回路装置の入力端に印加された場合、内部テスト機能を起動し、テスト者が回路装置内部の所定パラメータを得ることができるように、テストモードに入るとともに出力端からテスト結果を送出する内部テスト機能を有する回路装置を提供する。【解決手段】イネーブルモジュールは、入力端にカップリング接続され、入力端を介して入力電圧を受信するとともに、入力電圧が第１の電圧範囲内にあるときに、イネーブル信号を出力する。第１の機能モジュールは、イネーブルモジュール及び出力端にカップリング接続され、イネーブル信号に基づいてテストモードを実行するとともに、テスト結果を出力端に送出する。第２の機能モジュールは、入力端にカップリング接続され、入力端を介して入力電圧を受信するとともに、入力電圧が第２の電圧範囲内にあるときに、通常モードを実行する。【選択図】図１
0003166060.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
入力端と、
出力端と、
前記入力端にカップリング接続され、前記入力端を介して入力電圧を受信するとともに、前記入力電圧が第１の電圧範囲内にあるときに、イネーブル信号を出力するイネーブルモジュールと、
前記イネーブルモジュール及び前記出力端にカップリング接続され、前記イネーブル信号に基づいてテストモードを実行するとともに、テスト結果を前記出力端に送出する第１の機能モジュールと、
前記入力端にカップリング接続され、前記入力端を介して前記入力電圧を受信するとともに、前記入力電圧が第２の電圧範囲内にあるときに、通常モードを実行する第２の機能モジュールと、
を備えることを特徴とする回路装置。
【請求項２】
前記イネーブルモジュールは、
前記入力電圧を受信し、前記入力電圧が前記第１の電圧範囲内にあるときに、第１組のロジックレベルを出力する複数のインバータと、
前記複数のインバータにカップリング接続され、前記第１組のロジックレベルを受信するとともに、前記イネーブル信号を前記第１の機能モジュールに出力するエンコーダーと、
を備えることを特徴とする請求項１に記載の回路装置。
【請求項３】
前記複数のインバータは、前記入力電圧が前記第１の電圧範囲内にないときに、第２組のロジックレベルを出力し、且つ、前記エンコーダーは、前記第２組のロジックレベルを受信するとともに、ディスイネーブル信号を前記第１の機能モジュールに出力することを特徴とする請求項２に記載の回路装置。
【請求項４】
前記第１の電圧範囲が第１の所定電圧と第２の所定電圧との間にあり、且つ前記第１の電圧範囲が前記第２の電圧範囲とは等しくないことを特徴とする請求項１に記載の回路装置。
【請求項５】
回路チップ又は集積回路であり、前記入力端は、前記集積回路の入力ピンであり、前記出力端は、前記集積回路の出力ピンであることを特徴とする請求項１に記載の回路装置。
【請求項６】
前記第１の機能モジュールは、前記イネーブル信号に基づいて前記充電回路チップ内部に予め設定された充電カットオフ電圧値又は放電カットオフ電圧値をテストすることを特徴とする請求項１に記載の回路装置。
【請求項７】
入力端と、
複数の出力端と、
前記入力端にカップリング接続され、前記入力端を介して入力電圧を受信するとともに、前記入力電圧がそれぞれ異なる電圧範囲内にあるときに、異なるイネーブル信号をそれぞれ出力するイネーブルモジュールと、
前記イネーブルモジュール及び前記複数の出力端にカップリング接続され、前記異なるイネーブル信号に基づいて異なるテストモードを対応させて行うとともに、異なるテスト結果を対応する出力端に送出する機能モジュールと、
を備えることを特徴とする回路装置。
【請求項８】
前記イネーブルモジュールは、
前記入力電圧を受信し、前記入力電圧がそれぞれ前記異なる電圧範囲内にあるときに、異なるロジックレベルをそれぞれ対応的に出力する複数のインバータと、
前記複数のインバータにカップリング接続され、前記異なるロジックレベルを受信するとともに、前記異なるイネーブル信号を前記機能モジュールに出力するエンコーダーと、
を備えることを特徴とする請求項７に記載の回路装置。
【請求項９】
回路チップ又は集積回路であって、前記入力端は、前記集積回路の入力ピンであり、前記複数の出力端は、前記集積回路の複数の出力ピンであることを特徴とする請求項７に記載の回路装置。
【請求項１０】
前記機能モジュールは、前記異なるイネーブル信号に基づいて前記充電回路チップ内部に予め設定された充電カットオフ電圧値又は放電カットオフ電圧値をテストすることを特徴とする請求項７に記載の回路装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、回路装置に関し、特に内部テスト機能を有する回路装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
チップを測定する場合、チップ内部における何らかの機能に対して分析を行うことがよくある。しかしながら、内部演算の機能がチップのスペック内に定義されていなため、通常のテスト方法を使用した場合は、チップのピン位置から必要とする内部機能を測定することができない。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００３】
本考案は、上述した課題に鑑み、所定の範囲内にある電圧が回路装置の入力端に印加された場合、内部テスト機能を起動し、テスト者が回路装置内部の所定パラメータを得ることができるように、テストモードに入るとともに出力端からテスト結果を送出する内部テスト機能を有する回路装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本考案の一つの態様において、内部テスト機能を有する回路装置は、入力端と、出力端と、前記入力端にカップリング接続され、前記入力端を介して入力電圧を受信するとともに、前記入力電圧が第１の電圧範囲内にあるときに、イネーブル信号を出力するイネーブルモジュールと、前記イネーブルモジュール及び前記出力端にカップリング接続され、前記イネーブル信号に基づいてテストモードを実行するとともに、テスト結果を前記出力端に送出する第１の機能モジュールと、前記入力端にカップリング接続され、前記入力端を介して前記入力電圧を受信するとともに、前記入力電圧が第２の電圧範囲内にあるときに、通常モードを実行する第２の機能モジュールと、を備えることを特徴とする。
【０００５】
本考案の他の実施態様において、内部テスト機能を有する回路装置は、入力端と、複数の出力端と、前記入力端にカップリング接続され、前記入力端を介して入力電圧を受信するとともに、前記入力電圧がそれぞれ異なる電圧範囲内にあるときに、異なるイネーブル信号をそれぞれ出力するイネーブルモジュールと、前記イネーブルモジュール及び前記複数の出力端にカップリング接続され、前記異なるイネーブル信号に基づいて異なるテストモードを対応させて行うとともに、異なるテスト結果を対応する出力端に送出する機能モジュールと、を備えることを特徴とする。
【０００６】
本考案の他の実施態様において、イネーブルモジュールは、前記入力電圧を受信し、前記入力電圧が前記第１の電圧範囲内にあるときに、第１組のロジックレベルを出力する複数のインバータと、前記複数のインバータ及び機能モジュールにカップリング接続され、前記第１組のロジックレベルを受信するとともに、前記イネーブル信号を前記機能モジュールに出力するエンコーダーと、を備える。
【考案の効果】
【０００７】
上述のように、本考案に係る実施態様に記載の回路装置では、所定範囲外の電圧が入力端に印加された場合、通常モードを実行する。また、該所定範囲内にある電圧が同一の入力端に印加された場合、回路装置は、テストモードを実行するとともに、出力端からテスト結果を送出する。このように、テスト者は、回路装置内部における何らかの機能に対してテスト及び分析を行うことができるようになり、通常の方法による測定時に回路装置から必要とする内部機能を測定できないという問題を解決することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本考案に係る第１の実施形態の回路装置の機能ブロックの模式図である。
【図２】本考案に係る第１の実施形態のイネーブルモジュール回路機能の模式図である。
【図３】第１の実施形態の関連図である。
【図４】本考案に係る第２の実施形態の回路装置の機能ブロックの模式図である。
【図５】本考案に係る第２の実施形態のイネーブルモジュール回路機能の模式図である。
【図６】第２の実施形態の関連図である。
【図７】本考案に係る各種の異なる構造のイネーブルモジュール回路機能の模式図である。
【図８】本考案に係る各種の異なる構造のイネーブルモジュール回路機能の模式図である。
【図９】本考案に係る各種の異なる構造のイネーブルモジュール回路機能の模式図である。
【図１０】本考案に係る各種の異なる構造のイネーブルモジュール回路機能の模式図である。
【図１１】本考案に係る各種の異なる構造のイネーブルモジュール回路機能の模式図である。
【考案を実施するための形態】
【０００９】
図１は、本考案に係る第１の実施形態の回路装置の機能ブロックの模式図である。図１を参照すると、回路装置１は、入力端ＩＮ、出力端ＯＵＴ、イネーブルモジュール１０、第１の機能モジュール１２及び第２の機能モジュール１４を含む。回路装置１は、回路チップ（ｃｈｉｐ）の態様であってもよいし、集積回路（ＩＣ  ｐａｃｋａｇｅ）の態様であってもよい。また、回路装置１が集積回路の態様である場合、入力端ＩＮは、集積回路の入力ピンＰＯであり、出力端ＯＵＴは、集積回路の出力ピンＰ１である。
【００１０】
イネーブルモジュール１０は、入力端ＩＮにカップリング接続され、入力端ＩＮを介して入力電圧Ｖｉｎを受信するとともに、入力電圧Ｖｉｎが第１の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１にあるときに、イネーブル信号Ｓ１を出力する。第１の機能モジュール１２は、イネーブルモジュール１０及び出力端ＯＵＴにカップリング接続され、イネーブル信号Ｓ１に基づいてテストモードを実行するとともに、テスト結果Ｓ２を出力端ＯＵＴに送出する。ここで、入力電圧Ｖｉｎは、第１の所定電圧ＶＴＨと第２の所定電圧ＶＴＬとの間にある。
【００１１】
第１の機能モジュール１２は、イネーブル信号Ｓ１に基づいて回路装置１内部に予め搭載された各種のパラメータ値を演算する。回路装置１が充電回路チップである場合、第１の機能モジュール１２は、イネーブル信号Ｓ１に基づいてテストモードを実行するとともに、該テストモードの実行に基づいて、充電回路チップ内部に予め設定された充電カットオフ電圧値（ＣＵＴ−ＯＦＦ  ＣＨＡＲＧＥ  ＶＯＬＴＡＧＥ）又は放電カットオフ電圧値（ＣＵＴ−ＯＦＦ  ＤＩＳＣＨＡＲＧＥ  ＶＯＬＴＡＧＥ）をテストし、テスト結果Ｓ２を出力端ＯＵＴに送出することができる。
【００１２】
第２の機能モジュール１４は、入力端ＩＮにカップリング接続され、入力端ＩＮを介して入力電圧Ｖｉｎを受信するとともに、入力電圧Ｖｉｎが第２の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ２にある場合、通常モードを実行する。前述した第２の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ２は、第１の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１とは等しくない。また、第２の機能モジュール１４は、入力電圧Ｖｉｎが第２の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ２にある場合、通常モードを実行する。この通常モードは、回路装置１の各種の応用機能を含む。
【００１３】
このように、回路装置１の入力端ＩＮに受信された入力電圧Ｖｉｎが第２の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ２にある場合（即ち第１の所定電圧ＶＴＨ及び第２の所定電圧ＶＴＬ以外の場合）、第２の機能モジュール１４は、回路装置１が通常モードにおいて作動するように起動される。この場合、イネーブルモジュール１０は、イネーブル信号Ｓ１の第１の機能モジュール１２への送出を終了する。これによって、第１の機能モジュール１２は、テスト結果Ｓ２の出力を終了し、操作状態信号Ｓ３を出力する。
【００１４】
これに対して、回路装置１の入力端ＩＮに受信された入力電圧Ｖｉｎが第１の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１にある（即ち第１の所定電圧ＶＴＨと第２の所定電圧ＶＴＬとの間）場合、第２の機能モジュール１４は作動を終了し、回路装置１がテストモードにて作動する。この場合、イネーブルモジュール１０は、第１の機能モジュール１２がテスト結果Ｓ２を出力するように、イネーブル信号Ｓ１を第１の機能モジュール１２に送出するとともに、操作状態信号Ｓ３の出力を終了する。
【００１５】
このように、第１の所定電圧ＶＴＨ及び第２の所定電圧ＶＴＬの範囲内にある入力電圧Ｖｉｎが回路装置１の単一の入力端ＩＮに印加された場合、回路装置１は、テスト者が回路装置１内部の特定パラメータを得ることができるように、テストモードに入るとともに、出力端ＯＵＴからテスト結果Ｓ２を送出する。
【００１６】
図２は、本考案に係る第１の実施形態のイネーブルモジュール回路機能の模式図である。図１に併せて図２を参照すると、イネーブルモジュール１０は、複数のインバータ１０１、１０２及びエンコーダー１０４を含む。ここでは、２つのインバータ１０１、１０２を例にして説明するが、これに限定されるものではない。イネーブルモジュール１０は、主に異なるアスペクト比（Ｗ／Ｌ）であるインバータ１０１、１０２を第１の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１及び第２の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ２の設計基準として利用しているため、インバータ１０１、１０２のアスペクト比（Ｗ／Ｌ）を変更することにより、第１の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１及び第２の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ２を相対的に変更することができる。
【００１７】
２つのインバータ１０１、１０２は、ともに入力端ＩＮとエンコーダー１０４との間にカップリング接続され、入力電圧Ｖｉｎを受信するとともに、入力電圧Ｖｉｎが第１の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１にあるときに、第１組のロジックレベルを出力する。また、２つのインバータ１０１、１０２は、入力電圧Ｖｉｎが第１の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１にない（即ち第２の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ２にある）ときに、第２組のロジックレベルを出力する。また、エンコーダー１０４は、２つのインバータ１０１、１０２及び第１の機能モジュール１２にカップリング接続され、第１組のロジックレベルを受信するとともに、イネーブル信号Ｓ１を第１の機能モジュール１２に送出する。
【００１８】
図２に併せて図３を参照すると、第１の実施形態において、イネーブルモジュール１０の出力要求に応じて、エンコーダー１０４をＸＯＲゲートとするが、これに限定されるものではない。入力電圧Ｖｉｎが第１の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１にある（第１の所定電圧ＶＴＨが３．０Ｖであり、第２の所定電圧ＶＴＬが１．５Ｖである）ときに、エンコーダー１０４は、図３に示すように、２つのインバータ１０１、１０２から第１組のロジックレベルを受信する。第１組のロジックレベルは、”１“であるロジックレベルＴＫ１及び”０”であるロジックレベルＴＫ２を含む。エンコーダー１０４は、ロジックレベルＴＫ１、ＴＫ２に対してＸＯＲのロジック演算を行った後、ハイレベル（ｈｉｇｈ  ｌｅｖｅｌ）のイネーブル信号を生成する。このハイレベルのイネーブル信号Ｓ１は、第１の機能モジュール１２をイネーブルし、テストモードを実行する。
【００１９】
ここで注意すべき点は、インバータ１０１、１０２に入力された入力電圧Ｖｉｎが第１の電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１にないときに、エンコーダー１０４は、図３に示すように、２つのインバータ１０１、１０２から第２組のロジックレベルを受信する点である。第２組のロジックレベルは、同時に”０”であるロジックレベルＴＫ１、ＴＫ２又は同時に”１”であるロジックレベルＴＫ１、ＴＫ２を含む。この場合、エンコーダー１０４は、ロジックレベルＴＫ１、ＴＫ２に対してＸＯＲのロジック演算を行った後、ローレベル（ｌｏｗ  ｌｅｖｅｌ）のディスイネーブル信号Ｓ１’を生成する。このローレベルのディスイネーブル信号Ｓ１’は、第１の機能モジュール１２をディスイネーブルさせ、テストモードの実行を終了させる。
【００２０】
上述のように、第１の実施形態に記載の回路装置１は、単一の入力端ＩＮを介して外部からの入力電圧Ｖｉｎを受信するとともに、入力電圧Ｖｉｎが第１の電圧範囲ＶＳＣＯＰ１にあるときに、テストモードを実行し、入力電圧Ｖｉｎが第１の電圧範囲ＶＳＣＯＰ１にないときに、通常モードを実行する。回路装置１は、テストモードを実行することにより、出力端ＯＵＴからテスト結果を送出する。このように、テスト者は、回路装置１内部における何らかの機能に対してテストや分析を行うことができるようになり、通常の方法による測定時に回路装置１から必要とする内部機能を測定できない問題を解決することができる。
【００２１】
図４は、本考案に係る第２の実施形態の回路装置の機能ブロックの模式図である。図４を参照すると、回路装置２は、入力端ＩＮ、複数の出力端ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎ、イネーブルモジュール２０及び機能モジュール２２を含む。ここで、イネーブルモジュール２０は、入力端ＩＮにカップリング接続され、入力端ＩＮを介して入力電圧Ｖｉｎを受信するとともに、入力電圧Ｖｉｎがそれぞれ異なる電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１〜Ｖｓｃｏｐｎにあるときに、それぞれ異なるイネーブル信号Ｓ１１〜Ｓ１ｎを対応的に出力する。機能モジュール２２は、イネーブルモジュール２０及び複数の出力端ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎにカップリング接続され、異なるイネーブル信号Ｓ１１〜Ｓ１ｎに基づいてそれぞれ異なるテストモードを対応的に実行する。機能モジュール２２は、実行された異なるテストモードに基づいて異なるテスト結果Ｓ２１〜Ｓ２ｎを対応する出力端ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎに対応的に送出する。
【００２２】
回路装置２は、回路チップの態様であってもよいし、集積回路の態様であってもよい。ここで、回路装置２が集積回路の態様である場合、入力端ＩＮが集積回路の入力ピンＰＯであり、出力端ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎが集積回路の出力ピンＰ１〜Ｐｎである。
【００２３】
機能モジュール２２は、イネーブル信号Ｓ１１〜Ｓ１ｎに基づいて回路装置２内部に予め搭載された各種のパラメータ値を演算する。回路装置２が充電回路チップである場合、機能モジュール２２は、イネーブル信号Ｓ１１〜Ｓ１ｎに基づいて異なるテストモードを実行することができる。機能モジュール２２は、該異なるテストモードの実行に基づいて、充電回路チップ内部に予め設定された充電カットオフ電圧値（ＣＵＴ−ＯＦＦ  ＣＨＡＲＧＥ  ＶＯＬＴＡＧＥ）又は放電カットオフ電圧値（ＣＵＴ−ＯＦＦ  ＤＩＳＣＨＡＲＧＥ  ＶＯＬＴＡＧＥ）をテストすることができるとともに、テスト結果Ｓ２１〜Ｓ２ｎを出力端ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎに送出することができる。
【００２４】
図５は、本考案に係る第２の実施形態のイネーブルモジュール回路機能の模式図である。図４と図５を併せて参照すると、イネーブルモジュール２０は、複数のインバータ２０１、２０２、２０３、２０４及びエンコーダー２０６を含む。ここでは４つのインバータ２０１、２０２、２０３、２０４を例にして説明するが、それに限定されるものではない。４つのインバータ２０１、２０２、２０３、２０４は、ともに入力端ＩＮとエンコーダー２０６との間にカップリング接続され、入力電圧Ｖｉｎの所定電圧範囲Ｖｓｃｏｐ１〜Ｖｓｃｏｐｎに基づいて、異なる組のロジックレベルを対応的に生成する。ここで、各組のロジックレベルは、４つのロジックレベルＴＫ１、ＴＫ２、ＴＫ３、ＴＫ４を含む。また、エンコーダー２０６は、４つのインバータ２０１、２０２、２０３、２０４及び機能モジュール２２にカップリング接続され、各組のロジックレベルにおける４つのロジックレベルＴＫ１、ＴＫ２、ＴＫ３、ＴＫ４を受信するとともに、異なるイネーブル信号Ｓ１１〜Ｓ１ｎを機能モジュール２２に対応的に出力する。
【００２５】
再び図５を参照すると、第２の実施形態においては、イネーブルモジュール２０の２つの出力要求に基づいて、エンコーダー２０６にはＸＮＯＲゲート２０６２及びＸＯＲゲート２０６４が含まれるように構成するが、それに限定されるものではない。ここで、ＸＮＯＲゲート２０６２の出力端をイネーブルモジュール２０の第１の出力端Ｑ１とし、ＸＯＲゲート２０６４をイネーブルモジュール２０の第２の出力端Ｑ２とする。エンコーダー２０６は、ロジックレベルＴＫ２及びＴＫ３に対してＸＯＲのロジック演算を行うとともに、異なるロジックレベルＴＫ１及びＴＫ４に対してＸＮＯＲのロジック演算を行う。
【００２６】
図５と図６を併せて参照すると、入力電圧Ｖｉｎが電圧範囲１．５Ｖ〜４．０Ｖにあるときに、エンコーダー２０６の第１の出力端Ｑ１は、ハイレベルのイネーブル信号Ｓ１１を生成する。このハイレベルのイネーブル信号Ｓ１１は、機能モジュール２２をイネーブルさせ、所定のテストモードを実行させる。また、入力電圧Ｖｉｎが電圧範囲０Ｖ〜２．０Ｖ及び３．５Ｖ〜５．５Ｖにあるときに、エンコーダー２０６の第２の出力端Ｑ２は、ハイレベルのイネーブル信号Ｓ１２を生成する。このハイレベルのイネーブル信号Ｓ１２は、機能モジュール２２をイネーブルさせ、他の所定のテストモードを実行させる。
【００２７】
上述のように、第２の実施形態に記載の回路装置２は、単一の入力端ＩＮを介して外部からの入力電圧Ｖｉｎを受信するとともに、入力電圧Ｖｉｎが各種の異なる電圧範囲ＶＳＣＯＰ１〜Ｖｓｃｏｐｎにあるときに、異なるテストモードを対応させて実行するとともに、対応するそれぞれの出力端ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎから対応するテスト結果Ｓ２１〜Ｓ２ｎを送出する。このように、テスト者は、回路装置２内部における何らかの機能に対してテストや分析を行うことができるようになり、通常の方法による測定時に回路装置２から必要とする内部機能を測定できない問題を解決することができる。
【００２８】
ここで注意すべき点は、本考案に係るイネーブルモジュールは、インバータの数及びそのアスペクト比の調整及び各種のエンコーダーとの組み合わせにより、単一の入力電圧又は複数の入力電圧に基づいて、出力信号の数及び遅延時間を制御することができ、さらには複数組のテストモードを制御することができる点である。
【００２９】
図７に示すように、イネーブルモジュール３は、単一の入力端及びＮ個の出力端を有し、Ｎ個のインバータ３０及びＮ個の出力を有するエンコーダー３２を含む。図８に示すように、イネーブルモジュール４は、単一の入力端及びＮ個の出力端を有し、（Ｎ×Ｍ）個のインバータ４０及びＮ個の出力を有するエンコーダー４２を含む。
【００３０】
また、本考案に係るイネーブルモジュールは、複数組の入力電圧に基づいて、複数組のテストモードを制御することができる。図９に示すように、イネーブルモジュール５は、（Ｎ／２）個の入力端及びＮ個の出力端を有し、（Ｎ×Ｍ）個のインバータ５０及びＮ個の出力を有するエンコーダー５２を含む。ここで、隣接した２つのインバータ５０の入力端は、ともに同一組の入力電圧Ｖｉｎを受信する。図１０に示すように、イネーブルモジュール６は、（２Ｎ／Ｋ）個の入力端及びＮ個の出力端を有し、（Ｎ×Ｍ）個のインバータ６０及びＮ個の出力を有するエンコーダー６２を含む。図１１に示すように、イネーブルモジュール７は、２Ｎ個の入力端及びＮ個の出力端を有し、（Ｎ×Ｍ）個のインバータ７０及びＮ個の出力を有するエンコーダー７２を含む。
【００３１】
上述のように、本考案に係る上述の実施形態に記載の回路装置では、所定範囲外の電圧が入力端に印加された場合、通常モードを実行する。また、該所定範囲内にある電圧が同一の入力端に印加された場合、回路装置は、テストモードを実行するとともに、出力端からテスト結果を送出する。このように、テスト者は、回路装置内部における何らかの機能に対してテスト及び分析を行うことができるようになり、ノーマル測定時に回路装置から必要とする内部機能を測定できない問題を解決することができる。
【００３２】
上述したものは、本考案の好ましい具体的実施形態の詳細説明や図面に過ぎず、所属する技術分野において通常知識を有する者により本考案の主旨を逸脱しない範囲で種々に修正や変更されることが可能であり、そうした修正や変更は、本考案の実用新案登録請求の範囲に入るものである。
【符号の説明】
【００３３】
１  回路装置
ＩＮ  入力端
ＯＵＴ  出力端
１０、２０、３、４、５、６、７  イネーブルモジュール
１２  第１の機能モジュール
１４  第２の機能モジュール
ＰＯ  入力ピン
Ｐ１〜Ｐｎ  出力ピン
Ｓ１’  ディスイネーブル信号
Ｖｉｎ  入力電圧
Ｓ１、Ｓ１１〜Ｓ１ｎ  イネーブル信号
Ｓ２、Ｓ２１〜Ｓ２ｎ  テスト結果
Ｓ３  操作状態信号
１０１、１０２、２０１、２０２、２０３、２０４、３０、４０、５０、６０、７０  インバータ
１０４、２０６、３２、４２、５２、６２、７２  エンコーダー
ＴＫ１、ＴＫ２、ＴＫ３、ＴＫ４  ロジックレベル
ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎ  出力端
２２  機能モジュール
Ｑ１  第１の出力端
Ｑ２  第２の出力端
２０６２  ＸＮＯＲゲート
２０６４  ＸＯＲゲート
【図１】
0003166060.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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