【事件の表示】
　特願２００３−３７５５１７「フラットパネルディスプレイの検査方法及び検査装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年１１月２５日出願公開、特開２００４−３３３４６９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　
　本願は、平成１５年１１月５日（パリ条約による優先権主張２００３年５月６日、大韓民国）の出願であって、平成１９年６月１９日付けで特許請求の範囲についての補正（以下、「補正１」という。）がなされ、平成１９年１０月９日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成２０年１月１５日に拒絶査定不服審判が請求され、同年２月１４日付けで特許請求の範囲についての補正（以下、「補正２」という。）がなされたものである。
２．本願発明について
　
　補正２によって補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１６と、補正１によって補正された特許請求の範囲の請求項１ないし２３とを比較すると、補正２に係る特許請求の範囲の請求項１の内容は補正１に係る特許請求の範囲の請求項２の内容に請求項３の内容を取り込んだものに相当するから、補正２により特許請求の範囲についてした補正は、請求項の削除を目的としたものといえる。
　
　そこで、補正２によって補正された特許請求の範囲の請求項１に記載された事項を検討する。
　特許請求の範囲の請求項１には「少なくとも一つの第１信号配線上に絶縁層を間に置いて積層される少なくとも一つの第２信号配線をスキャンする段階」との記載があり、特許請求の範囲の請求項１に記載された事項は、明細書等における本発明の第2実施例（段落【００７６】〜【００８９】、【図１５】〜【図１８】参照。）の記載を基にしたものと認められる。
　しかしながら、本発明の第2実施例を説明する【００８５】には「・・・図１４のように第３データ信号配線(１３１３)と第２スキャン信号配線(１３０２)が短絡されると・・・第３データ信号配線(１３１３)と第２スキャン信号配線(１３０２)の間に電流(i)が流れるようになる。・・・このように電流(i)が流れるとGMRセンサー(２００)が第３データパッド(１３３３)をスキャンする際と第２スキャン信号パッド(１３２２)をスキャンする際、そのGMRセンサー(２００)には図１６のように誘導磁場(M)が誘導されて、その誘導磁場(M)によって電流が流れるようになる。この際、抵抗検出器(５２)にはGMRセンサー(２００)の硬磁性層と軟磁性層の磁化方向(４１，４２)が誘導磁場(M)と同一な方向に整列されるので所定の基準値より低い抵抗(R)が検出される。」と、同【００８６】には「反面、・・・短絡点(１３９)が存在しないと電流(i)が流れない。そうすればGMRセンサー(２００)が第１、第２、第４乃至第mデータパッド(１３３１、１３３２、１３３４乃至１３３m)と第１、第３乃至第nスキャン信号パッド(１３２１、１３２３乃至１３２n)をスキャンする際、そのGMRセンサー(２００)には誘導磁場(M)が誘導されなく、抵抗検出器(５２)にはGMRセンサー(２００)の軟磁性層の磁化方向(４２)が反転されるので所定の基準値より高い抵抗(R)が検出される。」と記載されている。
　すなわち、明細書等には、「前記磁気センサーの抵抗が所定の基準値より小さい場合に前記第１及び第２信号配線が短絡されたことと判定する段階」は記載されているものの、「前記磁気センサーの抵抗が所定の基準値より大きい場合に前記第１及び第２信号配線が短絡されたことと判定する段階」は記載されていない。
　また、前記磁気センサーの抵抗が、短絡の生じていないときに比べ、短絡したときに「小さく」なることが正しく、「大きく」なることが誤りであることは、物理法則から見て、明らかである。
　したがって、請求項１に記載された「大きい場合」は、「小さい場合」の誤記と認められる。
　よって、補正２により補正された特許請求の範囲、明細書、及び、図面の記載からみて、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、次のとおりのものと認める。
「磁気センサーを利用して少なくとも一つの第１信号配線上に絶縁層を間に置いて積層される少なくとも一つの第２信号配線をスキャンする段階と、前記磁気センサーに流れる電流の変化で前記磁気センサーの抵抗を検出する段階と、前記磁気センサーの抵抗が所定の基準値より小さい場合に前記第１及び第２信号配線が短絡されたことと判定する段階を含むことを特徴とするフラットパネルディスプレイの検査方法。」
　
３．引用発明
（１）引用刊行物の記載事項
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先日前である平成６年２月４日に頒布された刊行物である特開平０６−０２６９８７号公報（以下「引用刊行物」という。）には、「ＬＣＤパネルにおける交差短絡欠陥の位置を決定する方法」の発明に関して、以下の事項が記載されている。
　
＜記載事項１＞ 
「【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示（ＬＣＤ）パネルアレイの試験に関するものであり、更に詳しくいえば、磁気ピックアップ装置によりパネルアレイを走査し、加えられた試験サイクルの結果として生じた表示パターンにより回路開放欠陥と欠陥のある画素を検出するような、ＬＣＤパネルアレイを試験する方法および装置に関するものである。」
　
＜記載事項２＞ 
「【０００９】また本発明は、ＬＣＤパネルの駆動線とゲート線を磁気ピックアップ装置で走査している間に、電流信号を短絡棒へ供給することにより、短絡欠陥を持つ各駆動線と各ゲート線を区別する。短絡欠陥が存在すると、短絡している線の間に電流が流れる。電流が流れた結果として、電流が流れている線の周囲にその電流に対応する磁界が発生される。したがって、磁界が検出されると、短絡欠陥が存在することになる。ＬＣＤパネルの周縁部に終端する駆動線とゲート線は約７５〜３７６ミクロン（約３〜５ミル）隔てられているから、高感度の磁気ピックアップがそこに含まれている線を識別できる。交差短絡欠陥の場合には、磁界をおのおの生ずる駆動線とゲート線の交差として欠陥場所が識別される。短絡欠陥試験が成功裏に終わると（たとえば、短絡欠陥が無い）、そのＬＣＤパネルに対して開回路試験と画素試験を行う。短絡欠陥試験で短絡欠陥が発見されると、そのＬＣＤパネルを修理するか、廃棄する。」
　
＜記載事項３＞ 
「【００１１】
【実施例】
パネルの構成
いくつかの画素回路素子１２を含んでいるＬＣＤパネル１０の断面図が示されている図１を参照する。各画素回路素子１２に駆動線１４とゲート線１６が組合わされる。指を組合わせたような形のパネルの場所には、１本おきの駆動線がパネルの１つの境界２０に沿って終端させられ、他の駆動線が前記境界２０に平行に向き合う境界２４（図２）に終端させられる。同様に、１本おきのゲート線１６が、駆動線のパネル境界２０と２４に近接して、それらの境界に全体として直交する１つの境界２２に並んで終端させられ、他のゲート線１６が、駆動線のパネル境界２０と２４に近接して、それらの境界に全体として直交し、前記境界２６に平行に近接する別の境界２６に並んで終端させられる。
【００１２】ＬＣＤパネル１０の試験中は、静電放電短絡棒が存在する。図１〜４に示されているように、指を組んだ形のＬＣＤパネルに対して４本の短絡棒２８，３０，３２，３４が存在する。１本の短絡棒がパネル１０の各縁部に設けられる。短絡棒２８は、縁部２０に終端する駆動線１４を短絡する。短絡棒３０は、縁部２２に終端するゲート線１６を短絡する。短絡棒３２は、縁部２４に終端する駆動線１４を短絡する。短絡棒３４は、縁部２６に終端するゲート線１６を短絡する。
【００１３】パネルの欠陥
高密度パネルの最も一般的な欠陥は、列ゲート線と行駆動線の間の交差短絡欠陥であることが認められている。とくに、交差短絡欠陥は、駆動トランジスタのゲートとソースの間またはゲートとドレインの間に最も起こりやすい。隣接する列線の間または隣接する行線の間の短絡欠陥の発生はより少ない。というのは、隣接する列線または行線の間に画素が配置されるからである。また、開回路欠陥は製造される５枚のパネルのうちほぼ１枚だけに起こることが判明している。１枚のパネルに２個所またはそれ以上の開回路欠陥が存在することはありそうにない。この試験法は、迅速かつ効率的な方法とするためにそれらの欠陥の諸特性を利用する。」
　
＜記載事項４＞ 
「【００１５】短絡試験手順
ＬＣＤパネル１０における短絡欠陥を検出するための試験構成３６が示されている図２を参照する。ＬＣＤパネル１０に短絡欠陥が存在するかどうかを検出するために、電流信号がＰＭＵ３８により各短絡棒２８，３０，３２，３４へ加えられ、その間に短絡棒２８，３０，３２，３４をモニタする。あるいは、各短絡棒へ電流信号を順次加え、その間に残りの短絡棒をモニタすることもできる。たとえば、短絡棒２８が電流信号を受けている間に短絡棒３０，３２，３４がＰＭＵ３８によりモニタされる。ＰＭＵ３８の電流センサが、駆動線１４とゲート線１６に電流が流れているかどうかを検出する短絡棒２８，３０，３２，３４のいずれにも電流が流れていないことが電流センサ３８により検出されると、ＬＣＤパネル１０には短絡欠陥がなく、次に開回路欠陥と画素試験手順の欠陥についての試験を行う。短絡棒のいずれか１本に電流が流れていることが検出されると、その短絡棒に終端している駆動線またはゲート線の間に短絡欠陥が存在することになる。
【００１６】ＬＣＤパネルに少なくとも１つの短絡欠陥が存在することが判明すると、短絡欠陥のある駆動線とゲート線の少なくとも一方を分離するために、試験制御器３７は含まれている短絡棒２８，３０，３２，３４の１本に電流信号を加えることをＰＭＵ３８へ合図する。短絡棒にその電流信号が加えられている間に、制御器３７はＬＣＤパネル１０の含まれている各短絡棒が取りつけられている各縁部２０，２２，２４，２６における駆動線１４とゲート線１６を走査することを磁界センサ４０に合図する。磁界センサ４０は、駆動線１４とゲート線１６を走査する磁気ピックアップ装置４２を含む。磁界を生じている各駆動線１４と各ゲート線１６のそれぞれの位置を決定するために、検出された磁界の強さと磁気ピックアップ装置４２の位置が制御器３７へ帰還される。
【００１７】電流が流れていることが以前に判明している各短絡棒２８，３０，３２，３４を、電流信号を加えることにより試験し、その試験中に磁気ピックアップ装置４２が駆動線１４とゲート線１６を走査する。たとえば、短絡棒３０と３２に電流が流れていることが判明したとすると、短絡棒３０が電流信号を受けている間に、その短絡棒３０へ結合されている駆動線１４と、短絡棒３２に結合されているゲート線１６を磁気ピックアップ装置４２が走査する。駆動線１４とゲート線１６の典型的な幅は１ミクロン以下で、それらの線の間隔は７５〜３７５ミクロンであるから、高感度の磁気ピックアップ装置４２は電流が流れている各駆動線１４と各ゲート線１６を分離する。
【００１８】次に、点４４と４６に実線の短絡欠陥がある欠陥ＬＣＤパネル１０が示されている図３を参照する。点４４は駆動線１４ａとゲート線１６ｂの間に交差短絡欠陥を含む。点４６は駆動線１４ｃとゲート線１６ｄの間に交差短絡欠陥を含む。点４４にだけ交差短絡欠陥が存在するものとすると、磁気ピックアップ装置４２による走査によって駆動線１４ａとゲート線１６ｂだけが磁界を発生しているものとして検出される。その状況においてはただ１個所の短絡欠陥が存在するから、短絡欠陥の場所は識別された駆動線１４ａとゲート線１６ｂとの交差点であると容易に決定される。」
　
＜記載事項５＞
「短絡というのは電気的に分離されていると考えられている線の間の導電路として特徴づけられる。したがって、短絡点は含まれている線を橋絡する導電物質を含む。その導電物質の導電度は電流を流すような値である。短絡の程度は導電物質の抵抗値、したがって電流の値と磁界の強さを決定する。したがって、短絡の程度が変化する短絡の結果として、その変化に対応して電流の値と磁界の強さが変化することになる。」
　
（２）引用刊行物に記載された発明
（２−１）
　上記記載事項１には、「本発明は、液晶表示（ＬＣＤ）パネルアレイの試験に関するものであり、更に詳しくいえば、磁気ピックアップ装置によりパネルアレイを走査し、・・・ＬＣＤパネルアレイを試験する方法および装置に関するものである。」と記載されている。
　この記載によれば、引用刊行物には、「ＬＣＤパネルアレイの試験方法」の発明が記載されている。
　
（２−２）
　上記記載事項２には、「【００１１】・・・いくつかの画素回路素子１２を含んでいるＬＣＤパネル１０の断面図が示されている図１を参照する。各画素回路素子１２に駆動線１４とゲート線１６が組合わされる。」、「【００１３】・・・高密度パネルの最も一般的な欠陥は、列ゲート線と行駆動線の間の交差短絡欠陥であることが認められている。とくに、交差短絡欠陥は、駆動トランジスタのゲートとソースの間またはゲートとドレインの間に最も起こりやすい。・・・」、上記記載事項５には、「短絡というのは電気的に分離されていると考えられている線の間の導電路として特徴づけられる。」と記載されている。
　これらの記載によれば、引用刊行物に記載された「ＬＣＤパネルアレイの試験方法」の試験対象とするＬＣＤパネルは、「駆動線１４が行方向、ゲート線１６が列方向に組合わされ、駆動線１４とゲート線１６は電気的に分離されて配置され、駆動線１４とゲート線１６の交差点に画素の駆動トランジスタが設けられたＬＣＤパネル１０」である。
　
（２−３）
　上記記載事項４には、「【００１６】ＬＣＤパネルに少なくとも１つの短絡欠陥が存在することが判明すると、短絡欠陥のある駆動線とゲート線の少なくとも一方を分離するために、試験制御器３７は含まれている短絡棒２８，３０，３２，３４の１本に電流信号を加えることをＰＭＵ３８へ合図する。短絡棒にその電流信号が加えられている間に、制御器３７はＬＣＤパネル１０の含まれている各短絡棒が取りつけられている各縁部２０，２２，２４，２６における駆動線１４とゲート線１６を走査することを磁界センサ４０に合図する。磁界センサ４０は、駆動線１４とゲート線１６を走査する磁気ピックアップ装置４２を含む。・・・」と記載されている。
　この記載によれば、引用刊行物に記載された「ＬＣＤパネルアレイの試験方法」は、「磁気ピックアップ装置４２によって駆動線１４とゲート線１６を走査する」段階を含んでいる。
　
（２−４）
　上記記載事項４には、「【００１６】・・・磁界を生じている各駆動線１４と各ゲート線１６のそれぞれの位置を決定するために、検出された磁界の強さと磁気ピックアップ装置４２の位置が制御器３７へ帰還される。」と記載されている。
　この記載によれば、引用刊行物に記載された「ＬＣＤパネルアレイの試験方法」は、「走査している間の磁気ピックアップ装置４２により検出される磁界の強さ、及び、磁気ピックアップ装置４２の位置を制御器３７へ帰還する」段階を含んでいる。
　
（２−５）
　上記記載事項２には、「【０００９】また本発明は、ＬＣＤパネルの駆動線とゲート線を磁気ピックアップ装置で走査している間に、電流信号を短絡棒へ供給することにより、短絡欠陥を持つ各駆動線と各ゲート線を区別する。短絡欠陥が存在すると、短絡している線の間に電流が流れる。電流が流れた結果として、電流が流れている線の周囲にその電流に対応する磁界が発生される。したがって、磁界が検出されると、短絡欠陥が存在することになる。・・・交差短絡欠陥の場合には、磁界をおのおの生ずる駆動線とゲート線の交差として欠陥場所が識別される。・・・」、上記記載事項４には、「【００１８】・・・点４４にだけ交差短絡欠陥が存在するものとすると、磁気ピックアップ装置４２による走査によって駆動線１４ａとゲート線１６ｂだけが磁界を発生しているものとして検出される。その状況においてはただ１個所の短絡欠陥が存在するから、短絡欠陥の場所は識別された駆動線１４ａとゲート線１６ｂとの交差点であると容易に決定される。」と記載されている。
　これらの記載によれば、引用刊行物に記載された「ＬＣＤパネルアレイの試験方法」は、「制御器３７へ帰還された磁界の強さと磁気ピックアップ装置４２の位置から、駆動線１４とゲート線１６のうち、磁界が検出された駆動線１４とゲート線１６を区別し、区別された駆動線１４とゲート線１６に電流が流れた結果として、区別された駆動線１４とゲート線１６の交差点を、交差短絡欠陥の位置として決定する」段階を含んでいる。
　
（２−６）
　したがって、（２−１）〜（２−５）によれば、引用刊行物には、以下の引用発明が記載されている。
「駆動線１４が行方向、ゲート線１６が列方向に組合わされ、駆動線１４とゲート線１６は電気的に分離されて配置され、駆動線１４とゲート線１６の交差点に画素の駆動トランジスタが設けられたＬＣＤパネル１０を試験するＬＣＤパネルアレイの試験方法であって、
　磁気ピックアップ装置４２によって駆動線１４とゲート線１６を走査する段階と、
　走査している間の磁気ピックアップ装置４２により検出される磁界の強さ、及び、磁気ピックアップ装置４２の位置を制御器３７へ帰還する段階と、
　制御器３７へ帰還された磁界の強さと磁気ピックアップ装置４２の位置から、駆動線１４とゲート線１６のうち、磁界が検出された駆動線１４とゲート線１６を区別し、区別された駆動線１４とゲート線１６に電流が流れた結果として、区別された駆動線１４とゲート線１６の交差点を、交差短絡欠陥の位置として決定する段階と
を含むＬＣＤパネルアレイの試験方法。」
　
４．対比
　本願発明と引用発明とを比較する。
　
（１）
　引用発明の「ＬＣＤパネル」は本願発明の「フラットパネルディスプレイ」に相当し、引用発明の「試験方法」は本願発明の「検査方法」に相当する。
　また、引用発明の「駆動線１４」と「ゲート線１６」は、一方が行方向に、他方が列方向に組み合わされており、電気的に分離されて配置されている。したがって、引用発明の「駆動線１４」と「ゲート線１６」のうち、いずれか一方は本願発明の「第１信号配線」に相当し、残りの他方は本願発明の「第１信号配線」に相当する。
　そして、引用発明の「磁気ピックアップ装置４２」は、本願発明の「磁気センサー」に相当する。
　
（２）
　（１）によれば、引用発明の「駆動線１４」と「ゲート線１６」のうち、いずれか一方が本願発明の「第１信号配線」に相当し、残りの他方が本願発明の「第１信号配線」に相当するから、引用発明の「磁気ピックアップ装置４２によって駆動線１４とゲート線１６を走査する」段階と、本願発明の「磁気センサーを利用して少なくとも一つの第１信号配線上に絶縁層を間に置いて積層される少なくとも一つの第２信号配線をスキャンする」段階とは、共に、「磁気を検出するセンサーを利用して少なくとも一つの第１信号配線上の少なくとも一つの第２信号配線をスキャンする」段階である点で共通する。
　
（３）
　そして、本願発明における「前記磁気センサーに流れる電流の変化」は、スキャン中の磁気センサーの位置に対する磁気センサーに流れる電流値の変化である。ここで、磁気センサーに流れる電流値が変化することは、物理現象として、（磁気センサー近傍の磁界が変化すること）→（磁界の変化に起因して磁気センサーの抵抗値が変化すること）→（磁気センサーの抵抗値の変化に応じて、磁気センサーに流れる電流が変化すること）を意味する。したがって、本願発明における「前記磁気センサーに流れる電流の変化で前記磁気センサーの抵抗を検出する」ことは、実質的に、「スキャン中の磁気センサーの出力する物理量をモニターすることにより磁気センサー近傍の磁気の強さの変化をモニターする」ことである。また、引用発明においても、「磁気ピックアップ装置４２」は、磁気の強さにより変化する、なんらかの物理量を出力するものである。よって、引用発明における「走査している間の磁気ピックアップ装置４２により検出される磁界の強さ、及び、磁気ピックアップ装置４２の位置を制御器３７へ帰還する」段階と、本願発明における「前記磁気センサーに流れる電流の変化で前記磁気センサーの抵抗を検出する」段階とは、共に、「スキャン中の磁気センサーの出力する物理量をモニターすることにより磁気センサー近傍の磁気の強さの変化をモニターする」段階である点で共通する。
　
（４）
　（３）で示したように、本願発明における「前記磁気センサーに流れる電流の変化で前記磁気センサーの抵抗を検出する」ことは、「スキャン中の磁気センサーの出力する物理量をモニターすることにより磁気センサー近傍の磁気の強さの変化をモニターする」ことである。そして、本願発明における「前記磁気センサーの抵抗が所定の基準値より小さい場合」とは、物理現象として、「磁気センサーで検出される磁気の強度が所定の基準値より大きい場合」を意味する。よって、本願発明において、スキャン中に「前記磁気センサーの抵抗が所定の基準値より小さい場合」を特定することは、スキャンされる第１及び第２信号配線の中で、その周辺の磁気の強度が所定の基準値より大きい、電流の流れている信号配線を特定することを意味する。
　一方、引用発明においても、「駆動線１４とゲート線１６のうち、磁界が検出された駆動線１４とゲート線１６を区別し」ているのであるから、磁気ピックアップ装置４２の出力するなんらかの物理量が「磁界が検出された」との条件を満たすか否かでもって、電流が流れている駆動線１４またはデータ線１６を区別している。
　してみると、引用発明における「制御器３７へ帰還された磁界の強さと磁気ピックアップ装置４２の位置から、駆動線１４とゲート線１６のうち、磁界が検出された駆動線１４とゲート線１６を区別し、区別された駆動線１４とゲート線１６に電流が流れた結果として、区別された駆動線１４とゲート線１６の交差点を、交差短絡欠陥の位置として決定する」段階と、本願発明における「前記磁気センサーの抵抗が所定の基準値より小さい場合に前記第１及び第２信号配線が短絡されたことと判定する」段階とは、「磁気センサーの出力する物理量が所定の条件を満足するか否かでもって、磁気センサーで検出される磁気の強さが大きい第１及び第２信号配線を特定し、その特定された第１及び第２信号配線間が短絡されたことと判定する」段階である点で共通する。
　
（５）
　したがって、本願発明と引用発明の両者は、
「磁気を検出するセンサーを利用して少なくとも一つの第１信号配線上の少なくとも一つの第２信号配線をスキャンする段階と、スキャン中の磁気センサーの出力する物理量をモニターすることにより磁気センサー近傍の磁気の強さの変化をモニターする段階と、磁気センサーの出力する物理量が所定の条件を満足するか否かでもって、磁気センサーで検出される磁気の強さが大きい第１及び第２信号配線を特定し、その特定された第１及び第２信号配線間が短絡されたことと判定する段階とを含むフラットパネルディスプレイの検査方法。」の点で一致し、以下の点で相違する。
　
［相違点１］
　第１信号配線と第２信号配線に関し、本願発明では「少なくとも一つの第１信号配線上に絶縁層を間に置いて少なくとも一つの第２信号配線」が配されているのに対し、引用発明では「第１信号配線と第２信号配線とが一方が行方向、他方が列方向に組合わされ、両者が電気的に分離されて配置されている」点。
　
［相違点２］
　磁気センサーで検出される磁気の強さが大きい第１及び第２信号配線を特定するために磁気センサーの出力する物理量の満足すべき所定の判定基準条件が、本願発明では「磁気センサーの抵抗が所定の基準値より小さい場合」であるのに対し、引用発明では、単に、「磁界を検出する場合」である点。また、これに付随して、磁気センサーが、本願発明では「磁気抵抗センサーであって、磁気の変化により磁気センサーの抵抗が変化したことを磁気センサーを流れる電流の変化により検出するもの」であるのに対し、引用発明ではそのように限定されていない点。
　
５．判断
相違点１について
　引用発明では、第１信号配線と第２信号配線とが一方が行方向、他方が列方向に組合わされており、第１信号配線と第２信号配線は、基板上の異なる層に配されているものと認められる。そして、異なる層に配された信号配線どうしが、電気的に分離されて配置されているのであるから、信号配線の配された層と層の間に絶縁層を配して積層することは、記載されているに等しい事項である。
　したがって、相違点１は、実質的な相違点ではない。
　
相違点２について
　磁気を検出するセンサーとして、磁気抵抗センサーを用いることは、例えば、原審で引用された刊行物である特開平０９−２７０５４４号公報（特に、段落【０００１】、【０００９】〜【００１３】を参照のこと。）にも記載されているように、周知技術である。
　そうしてみると、引用発明において、磁気を検出するセンサー（磁気ピックアップ装置４２）として、周知の「磁気抵抗センサー」を採用することは、当業者が容易に想到し得ることである。
　ここで、その磁気抵抗センサーの磁気応答特性をどのようなものとするかは、当業者が適宜なし得る設計事項であって、その磁気抵抗センサーの磁気応答特性として、「磁界の存在しない場合に、自由層と固定層のスピンの向きが異なるように、磁界の存在する場合に、自由層と固定層のスピンの向きが整列するように構成する」ことにより、磁界の存在しない時に比べて、磁界の存在する時の磁気抵抗センサーの抵抗を小さいものとなるようにすることも、当業者が適宜なし得る設計事項に過ぎない。
　そして、かかる磁気応答特性の磁気抵抗センサーを採用することは、磁気の強さが大きい第１及び第２信号配線を特定するための判定基準条件として、「磁気センサーの抵抗が所定の基準値より小さい場合」とすることに、ほかならない。また、磁気抵抗センサーの抵抗が変化したことを検知する具体的手段として、抵抗をそのまま検出するかわりに、抵抗に応じて電圧が変化するもの、抵抗に応じて電流が変化するものなどの手段が考えられるところ、磁気抵抗センサーを流れる電流の変化をモニターすることを選択することは、当業者が適宜なし得る事項である。
　
　したがって、上記相違点２に係る本願発明の発明特定事項は、当業者が引用発明及び周知技術に基づいて容易に想到し得たことである。
　
　そして、本願発明によってもたらされる効果は、引用発明及び周知技術から当業者が予測可能なものであって、格別なものとはいえない。
　
　よって、本願発明は、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
６．むすび
　したがって、本願発明は、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　以上のとおりであるから、他の請求項に係る発明について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。