【事件の表示】
　平成１０年特許願第３４３９４５号「レーザ波長測定装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１２年６月２３日出願公開、特開２０００−１７１３０６〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
　本願は、平成１０年１２月３日の出願であって、その請求項１及び２に係る発明は、特許請求の範囲の請求項１及び２に記載された事項により特定されるとおりのものであると認める。 
　これに対して、平成１９年２月２７日付けで拒絶理由を通知し、期間を指定して意見書を提出する機会を与えたが、請求人からは何らの応答もない。 
　 
　ここで、上記拒絶理由の内容は以下のとおりである。 
　 
『Ｉ．　本件出願の請求項１乃至２に係る発明は、その出願前日本国内または外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　記
１．本願発明
　本件出願は平成１０年１２月３日に出願され、その請求項１乃至２に係る発明は、平成１６年１１月２６日付手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１乃至２に記載された事項により特定されるとおりのものと認める（以下、それぞれ「本願発明１」乃至「本願発明２」という。）。
　
２．引用刊行物
　引用例１：特開平１−１５５６７３号公報
　引用例２：特開平８−１０１０６６号公報
　引用例３：特表昭６３−５０２３９１号公報
　引用例４：特開平２−３０７０２７号公報
　引用例５：実願昭６３−１０８１３１号のマイクロフィルム（実開平２−３００３０号；原審通知済）
　引用例６：特開平２−２２５２９号公報
　引用例７：特開平８−１１１６６６号公報
　引用例８：特開平８−１６７７５４号公報
　
３．引用刊行物記載事項
３−１．引用例１には、図面とともに次の記載がある。
（１）請求項１の構成として；
「（１）レーザーからの発振波長を検出する為の波長検出部と該波長検出部からの出力信号を用いて該レーザーの発振波長を可変制御する波長可変制御手段とを有したレーザー波長制御装置において、該波長検出部を温度、圧力等の環境状態を予め一定条件に設定し、制御した一定容器内に設けたことを特徴とするレーザー波長制御装置。」
（２）従来技術に関し；
「エキシマレーザ−の狭帯域化は、通常、レーザー共振器内に波長選択素子を組み込みエキシマレーザ−の自然発光スペクトル幅中の特定波長のみを強制的に発振させることにより行う。又、発振波長を安定させるために波長検出器を設け、このデータによって、前述波長選択素子の角度等を制御し、ある一定の波長に保っている。」（第２ページ左上欄第７乃至１３行）
（３）波長検出装置の従来技術の課題に関し；
「第２，第３図は各々従来のレーザーからの発振波長を検出する波長検出装置の一部分の概略図である。
　第２図は凹レンズ３１と絞り３２を通過したレーザービーム２３のエタロン３３によってできる縞を検出器としてのＣＣＤ３４面上に投影し、そのときの縞の間隔を信号検出部３６により計測することによってある発振波長からのズレ量を検出している。
　第３図は絞り４１と拡大光学系４２を通過した光束をグレーティング４３に入射させ、このグレーティング４３で通常の分光系を構成し、凸レンズ４４によって検出器としてのＣＣＤ４５面上に集光させ、そのときの輝点の位置を信号検出部４７より求めてレーザービーム２３の波長を検出している。
　一般に波長検出装置は非常に厳しい精度が要求されている。この為、例えば波長検出装置を構成する光学素子や検出素子の保持精度も厳しいものとなっている。
　例えば第２図に示す波長検出装置では２枚の素子３３の平行度距離が重要となり、又、第３図に示す波長検出装置のグレーティングを用いたものではグレーティングの保持角度精度が重要となってくる。
　又、レーザーからの発振波長は光路中の媒質の密度によって直接影響される。この為、波長検出部を通常の環境下におくと環境変化例えば、温度や気圧の変化によって光学素子、検出素子及びそれらの保持具の膨張収縮を招く。又、光路中の媒質密度の変化によって波長安定化のための計測に誤差を生じせしめ、レーザーの発振波長を変化させる。」（第２ページ左上欄第１４行乃至同ページ左下欄第６行）
（４）実施例の構成；
「第１図は本発明の一実施例のブロック図である。
　図中１はレーザー、２は波長制御機構でありレーザー１内に設けられており、レーザー１の発振波長を制御している。３はハーフミラ−でありレーザー１からのビーム２３を半導体素子製造用の露光装置と本発明に係る波長測定の為の装置へと２つに分割している。４は全反射ミラー、８は入射窓、５は波長検出部であり、全反射ミラー４で反射し、入射窓８を通過してきたレーザー１からのビーム２３の波長を例えば第２，第３図で示した方法を利用して検出している。６はレーザー波長制御部であり、波長検出部５からの信号を解析して波長制御機構２を駆動しレーザー１からの発振波長を制御している。レーザー波長制御部６と波長制御機構２は波長可変制御手段の一部を構成している。９は冷却ユニット、１０は加熱ユニット、１１は温度センサー、１２は圧力センサー、７はチェンバー（容器）である。
　冷却ユニット９、加熱ユニット１０、温度センサー１１そして圧力センサー等の環境制御部と波長検出部５は共にチェンバー７に内装されており、チェンバー７内の温度、圧力等の環境状態が常に一定条件下となるように制御している。
　これによりチェンバー７内の波長検出部５が常に一定環境条件のもとで動作するようにしている。」（第２ページ右下欄第８行乃至第３ページ左上欄第１４行）
（５）第１図にはレーザー１はチェンバー７の外部の環境下にあり、チェンバー７及びその内部の波長検出部５はレーザー１とは離隔していることが記載されている。
　
　上記記載から、引用例１には次の発明が記載されている（以下「引用発明１」という。）。
「チェンバー外部の環境下にあるレーザーからのレーザー光の波長を検出する波長検出部であって、レンズ、絞り、エタロン、検出器などの光学系を備え、前記レーザーとは離隔して、温度・圧力が一定に制御された前記チェンバー内部に設置された波長検出部。」
　
４．本願発明１について
４−１．対比
　引用発明１の
(a)「チェンバー外部の環境下」、(b)「チェンバー内部」、(c)「波長検出部」、(d)「レーザー」
は、それぞれ本願発明１の 
(a)「変動環境下」、(b)「非変動環境下」、(c)「レーザ波長測定装置」、(d)「レーザ光源」
に相当することが明らかである。
　また、引用発明１では、レーザ光源は波長検出器のあるチェンバーの外部にあるのであるから、レーザー光源が受ける温度変化の影響が前記チェンバー内部の波長検出器などに及ばないことは明らかである。
　よって両者は、
（一致点）
「温度が変動する変動環境下にあるレーザ光源からのレーザ光の波長を、非変動環境下に設けた光学系及び検出器で測定する、レーザ波長測定装置。」
である点で一致し、以下の各点で相違する。
（相違点１）
　本願発明１のレーザ波長測定装置が、波長既知の基準レーザ光を発する基準レーザ光源を備え、該基準レーザ光は非変動環境下のみに存在し、レーザ光と該基準レーザ光とを合成器で合成することでビート信号を生成し、該ビート信号の周波数から前記レーザ光の波長を検出する方式のものであるのに対し、引用発明１のレーザ波長測定装置は、そのような測定方式のものではない点。
（相違点２）
　本願発明１のレーザ波長測定装置が、測定したレーザ光源の波長から、さらにその対変動環境特性を測定する機能を備えているのに対し、引用発明１のレーザ波長測定装置は、そのような機能を備えていない点。
（相違点３）
　本願発明１は、レーザ光源からのレーザ光のみを非変動環境下まで導き、基準レーザ光と偏波面を一致させて合成させる偏波面保存光ファイバを備えているのに対し、引用発明１はレーザ光の光路にそのような光ファイバを備えていない点。
　
４−２．相違点の検討
（１）相違点１について
　レーザ波長測定装置として、基準レーザ光源を備え、被測定レーザ光と該基準レーザ光源からの基準レーザ光とを合成器で合成して生成したビート信号の周波数から被測定レーザ光の波長を測定する測定方式は、引用例２乃至４にも記載されたとおり、周知慣用のものに過ぎない。よって、引用発明１に於いて、非変動環境下にある波長検出部を該周知慣用の測定方式のものに換えることは、当業者が容易に想到し得た事項である。
　また、基準レーザ光が非変動環境下のみに存在するという構成は、引用発明１の波長検出部に前記周知慣用の測定方式のものを適用することで、自ずと得られる構成にに過ぎない。
　
（２）相違点２について
　レーザ波長測定装置に於いて、波長測定結果から、さらに本願発明１の「対変動環境特性」に相当する被測定レーザ光源の温度変化に対する発振波長特性を測定することは、引用例６（請求項４など）にも記載されているとおりの周知技術に過ぎない。
　
（３）相違点３について
　２つのレーザ光を合波してビート信号を発生させる場合に、双方の偏波面を整合させることが必要であること、光の偏波面を保存して遠隔地に導く手段としての偏波面保存光ファイバは、何れも周知である。そして、特に本願発明１と同じくビート信号測定によるレーザ光の波長測定装置に於いて、本願発明１の「合成器」に相当するカプラに入射させる被測定レーザ光の偏波面を合成させる光の偏波面と合わせるために、被測定レーザ光を偏波面保存ファイバで合成器まで導くようにすることも、引用例５に記載されているとおり公知である。
　
　以上のとおりであるから、上記相違点（１）乃至（３）の構成とすることは何れも、引用発明１，引用例５に記載された発明及び周知技術から当業者が容易に為し得たことである。
　
　なお、レーザー光源からのレーザー光や波長検出光学系の特性を劣化させる要因として、振動や姿勢の変化は周知のものに過ぎないから、本願発明１に於いて、変動環境の条件として温度のほかに姿勢や振動を択一的に挙げている点は、当業者が容易に為し得たことである。
　
５．本願発明２について
５−１．対比
　本願発明２と引用発明１とは、上記各相違点の外、後者が「受光手段」、「入射位置調整用機器」及び「伝送ケーブル」を備えていない点で相違する（相違点４）。
　
５−２．相違点４の検討
　光ファイバ入射端への入射を伴う光学系に於いて、光ファイバ出射光路に設けられたビームスプリッタで前記光ファイバ透過光を受光器へ分岐し、該受光器の出力によって入射光の光ファイバへのアライメントなど入射状態を検知し、該検知結果を前記光ファイバの入射端部に設けたレンズや光ファイバ位置調整手段などの入射状態調整手段にケーブルで伝送して該手段を制御することで、自動的に前記入射状態を調整することは、引用例７，８にも記載されたとおりの周知技術に過ぎない。
　
６．まとめ
　以上の如くであるから、本願発明１，２は何れも、引用発明１，引用例５に記載された発明及び周知技術に基づき、当業者が容易に為し得たことである。
　また、奏される効果は当業者が当然に予測できる範囲内のものと認められる。
　
　
II．本件出願は、明細書及び図面の記載が下記の点で不備のため、特許法第３６条第４項及び第６項第１，２号に規定する要件を満たしていない。 
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　記
（１）請求項１には、温度が変動する環境下でレーザ光源の波長の対変動環境特性を測定する旨の記載があり、「対変動環境特性」とは、環境特性の変動と波長とを関連づけて測定することを意味すると解するほかないが、請求項１，２及び発明の詳細な説明には、前記環境下でのレーザ光線の波長を測定するための構成は記載されているものの、温度の変動と波長の変動とを関連づけて測定するための構成については開示が無く（レーザ光源は「ほぼ一定の温度に制御」される恒温槽に入れられている旨の記載（【0011】）があり、少なくとも積極的にレーザ光源の温度を変動させる構成とはなっていない）、どのようにして前記対変動環境特性の測定を実現するのかが不明である。
（２）請求項１に記載された「非変動環境」が具体的に如何なる手段により実現されるのかが発明の詳細な説明に開示されておらず、実施可能要件に違反している。
　この点に関し、発明の詳細な説明には、「変動環境」が、具体的には「恒温槽」であり、「ほぼ一定の温度に慣用を維持する」と定義され（【0011】）、「非変動環境」とは「温度や振動等を厳密に制御し、高精度で一定に維持している環境」と定義（【0013】）されている。一般的には温度がほぼ一定の「非変動環境」と呼ぶべき「恒温槽」が本願発明では「変動環境」であるなら、本願に於ける「非変動環境」とは、恒温槽以外の一体如何なる手段により温度が制御され、また振動など他の環境も一体どのような具体的手段により制御されるのか、技術常識に照らしても不明である。変動環境に振動や姿勢が加わった場合は、さらにその具体化の手段を技術常識から想定することは困難となる。
（３）請求項１には、変動環境として「姿勢」及び「振動」が挙げられているが、これら変動要素によってレーザの波長が影響を受けるのは如何なる場合・原理によるものであり、前記各変動要素と波長変動との関係を測定するための具体的方法・手段が如何なるものであるのかが不明である。
（４）請求項１，２に於ける「偏波面光ファイバー」はそれ自体意味不明であり、「偏波面保存光ファイバー」の誤記ではないかと考えられる。
　
　
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※応答期間の延長についてのお知らせ
　本通知に対する指定期間は、次に該当する場合は延長することができます。
　　○拒絶理由通知書等で示された引用文献に記載された発明との対比実験。
　　○手続書類の翻訳（請求人が在外者の場合）。
　上記の場合に該当しかつ応答期間の延長を希望する場合、応答期間延長の請求をお願いします。
　なお、指定期間は１回の期間延長請求で最大１か月延長することができ、請求人が国内居住者の場合は１回のみ、在外者の場合は最大３回請求することができます。（対比実験を理由とした延長請求は１回のみ行うことができます。）
　期間延長の請求は、指定期間の経過前に十分な時間を持って行って下さい（指定期間の経過後に提出された場合、請求は認められません）。
　上記の運用は、平成１９年４月１日以降に提出される応答期間延長請求から適用されます。平成１９年３月３１日以前に提出される応答期間延長請求については従来通りの運用となりますのでご留意願います。
　詳細は特許庁ホームページ「特許出願における拒絶理由通知の応答期間の延長に関する運用の変更について」をご参照下さい。
（http://www.jpo.go.jp/cgi/link.cgi?url=/torikumi/t_torikumi/kyozetu_entyou.htm）
※応答期間の延長についてのお問い合わせは、下記までお願い致します。
　　特許庁審判部審判課審判企画室
　　　電話：03-3581-1101　内線5852
　　　FAX：03-3584-1987　E-mail：PA6B00@jpo.go.jp
』 
　 
　そして、上記の拒絶理由は妥当なものと認められるので、本願は、この拒絶理由によって拒絶すべきものである。 
　よって、結論のとおり審決する。