【事件の表示】
　特願２００２−１９７２０５「高速蛍光Ｘ線検出システム」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年２月５日出願公開、特開２００４−３７３６０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
Ｉ．手続の経緯
　本願は、平成１４年７月５日の出願であって、平成１７年４月１９日付で拒絶査定がなされ（発送日：同年４月２６日）、これに対し、同年５月２６日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同年６月２７日付で手続補正がなされたものである。
　
II．平成１７年６月２７日付の手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１７年６月２７日付の手続補正（以下「本件補正」という。）を却下する。
［理由］
１．補正後の本願発明
　本件補正により、特許請求の範囲の記載は、本件補正前の特許請求の範囲（平成１６年１１月８日付手続補正により補正されたもの；以下、「補正前特許請求の範囲」という。）に記載された
「【請求項１】
X線が照射されることで試料から放射された蛍光を光電変換し電流値で計測するX線検出器と、試料から前記X線検出器に向かう蛍光の軸線方向と直交する方向に曲率半径が最大となる部分が定義されたトロイダル状に形成され、試料から放射された蛍光を取り込んで前記X線検出器の所定の位置に集束させるX線集束素子と、を有することを特徴とする蛍光X線検出システム。
【請求項２】
蛍光を放射させるべき計測対象物に所定の波長の単色X線を放射し、計測対象物から放射された蛍光の全放射量のうちの所定の割合を回転対称であり曲線半径の最大の部分が蛍光が直進する方向の概ね中央に定義されているトロイダル状の集束素子で所定距離の位置の１点に集束させ、前記一点に集束された蛍光をPinダイオードで検出することを特徴をとする蛍光検出方法。
【請求項３】
試料に照射すべき波長のX線を含むX線束を出射するX線源と、試料が励起されることで試料から放射された蛍光を検知して対応する電流値を出力するX線検出器と、試料から前記X線検出器に向かう蛍光の軸線方向と直交する方向に曲率半径が最大となる部分が定義されたトロイダル状に形成されると共に試料から放射された蛍光を取り組んで前記X線検出器の所定の位置に集束させるX線集束素子と、前記X線検出器から出力された電気信号を画像処理して試料の原子像を出力可能な画像処理装置と、を有することを特徴とする蛍光X線ホログラフィー装置。
【請求項４】
試料に照射すべき波長のX線束を出射するX線源と、試料が励起されることで試料から放射された蛍光を探知して対応する電流値を出力するX線検出器と、試料から前記X線検出器に向かう蛍光の軸線方向と直交する方向に曲線半径が最大となる部分が定義されたトロイダル状に形成されると共に試料から放射された蛍光を取り込んで前記X線検出器の所定の位置に集束させるX線集束素子と、前記X線検出器から出力された電気信号から配位数と原子間距離および原子の種類の内の少なくとも１つを特定することのできる信号処理装置と、を有することを特徴とする蛍光X線検出システム。」
から、
「【請求項１】
　Ｘ線が照射されることで試料から放射された蛍光を光電変換し電流値で計測するＸ線検出器と、試料から前記Ｘ線検出器に向かう蛍光の軸線方向と直交する方向に曲率半径が最大となる部分が定義され、トロイダル状の回転対称体に形成されたグラファイトを用い、内部空間を直線的に通過する蛍光が前記Ｘ線検出器へ直接入射することをストッパにより阻止しながら、試料から放射された蛍光を取り込んで前記Ｘ線検出器の所定の位置に集束させるＸ線集束素子と、を有することを特徴とする蛍光Ｘ線検出システム。
【請求項２】
　蛍光を放射させるべき計測対象物に所定の波長の単色Ｘ線を放射し、計測対象物から放射された蛍光の全放射量のうちの所定の割合を回転対称体であり曲線半径の最大の部分に蛍光が直進する方向の範囲での中央に定義されているトロイダル状の集束素子で所定距離の位置の１点に集束させ、前記一点に集束された蛍光をＰｉｎダイオードで検出することを特徴とする蛍光検出方法。
【請求項３】
　試料に照射すべき波長のＸ線を含むＸ線束を出射するＸ線源と、試料が励起されることで試料から放射された蛍光を検知して対応する電流値を出力するＸ線検出器と、試料から前記Ｘ線検出器に向かう蛍光の軸線方向と直交する方向に曲率半径が最大となる部分が定義され、トロイダル状の回転対称体に形成されたグラファイトを用い、内部空間を直線的に通過する蛍光が前記Ｘ線検出器へ直接入射することをストッパにより阻止しながら、試料から放射された蛍光を取り込んで前記Ｘ線検出器の所定の位置に集束させるＸ線集束素子と、前記Ｘ線検出器から出力された電気信号を画像処理して試料の原子像を出力可能な画像処理装置と、を有することを特徴とする蛍光Ｘ線ホログラフィー装置。
【請求項４】
試料に照射すべき波長のＸ線束を出射するＸ線源と、試料が励起されることで試料から放射された蛍光を探知して対応する電流値を出力するＸ線検出器と、試料から前記Ｘ線検出器に向かう蛍光の軸線方向と直交する方向に曲線半径が最大となる部分が定義され、トロイダル状の回転対称体に形成されたグラファイトを用い、内部空間を直線的に通過する蛍光が前記Ｘ線検出器へ直接入射することをストッパにより阻止しながら、試料から放射された蛍光を取り込んで前記Ｘ線検出器の所定の位置に集束させるＸ線集束素子と、　前記Ｘ線検出器から出力された電気信号から配位数と原子間距離および原子の種類の内の少なくとも１つを特定することのできる信号処理装置と、を有することを特徴とする蛍光Ｘ線検出システム。」
と補正された。
　上記補正は、請求項１，３，４に記載した発明を特定するために必要な事項である「Ｘ線集束素子」の形状について「回転対称体」と、機能について「内部空間を直線的に通過する蛍光が前記Ｘ線検出器へ直接入射することをストッパにより阻止しながら」との限定を付加することを含むものであって、特許法第１７条の２第４項第２号に規定する、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　
　そこで、本件補正後の前記請求項１，２に記載された発明（以下、それぞれ「本願補正発明１」及び「本願補正発明２」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について以下に検討する。
　
　なお、特許請求の範囲の減縮を目的とする補正がなされなかった請求項２に記載された発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるかどうかについても以下で検討しているが、この点に関して、知財高裁判決（平成１８年２月１６日言渡：平成１７年（行ケ）第１０２６６号）は、 
　＜＜改正前（当審注：「平成６年改正前」）特許法１７条の２第３項は，「前項において準用する前条第２項に規定するもののほか，第１項第４号及び第５号に掲げる場合において特許請求の範囲についてする補正は，次に掲げる事項を目的とするものに限る。」と規定した上，その２号において，「特許請求の範囲の減縮（前号に規定する一の請求項に記載された発明（‥‥‥以下この号において「補正前発明」という。）と産業上の利用分野及び解決しようとする課題が同一である発明の構成に欠くことができない事項の範囲内において，その補正前発明の構成に欠くことができない事項の全部又は一部を限定するものに限る。）」と規定している。そして，同条４項は，「第１２６条第３項の規定は，前項の場合に準用する。この場合において，同条３項中『第１項ただし書第１号』とあるのは，『第１７条の２第３項第２号』と読み替えるものとする。」と規定し，改正前（当審注：「平成６年改正前」）特許法１２６条３項は，「第１項ただし書第１号の場合は，訂正後における特許請求の範囲に記載されている事項により構成される発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものでなければならない。」 
と規定している。　 
　上記によれば，改正前（当審注：「平成６年改正前」）特許法１７条の２第３項２号において問題とされているのは，「特許請求の範囲」全体について減縮があったか否かであって，「特許請求の範囲」全体に減縮があれば，同条４項により，「特許請求の範囲に記載されている事項により構成される発明」について独立特許要件の判断が必要となるものと解するのが相当である。独立特許要件の判断の要否を「特許請求の範囲」に含まれる個々の請求項ごとに考えるべきである旨の原告の主張は，採用できない（原告の指摘する同条３項２号括弧書きの規定は，補正が許される場合を，「特許請求の範囲の減縮」のうち一定の場合に限定することを規定したにすぎず，原告の上記主張を裏付けるものではない。）。＞＞　 
と、判示しているところであり、特許請求の範囲全体について減縮があったか否かについてが問題とされていることに関しては、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第２号の規定も同様であるから、本件補正後の請求項１，２に記載された発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるかについて検討することは、特許法の趣旨に基づくものである。
　
２．引用例
ア．原査定の拒絶の理由に引用された
「林好一，“蛍光Ｘ線ホログラフィー−不純物元素周りの原子を見る−”，化学と工業，Vol.55，No.2，2002年2月，pp.113-116」（以下、「引用例１」という。）には、次の記載がある。
（１）「一方。蛍光Ｘ線でホログラムを記録する場合、Ｋα，Ｋβ線などの限られた２〜３種類の波長しか利用できない。このため、最適な波長を必ずしも選択できないという欠点があった。この欠点を克服するために、Ｇｏｇ博士は逆過程型蛍光Ｘ線ホログラフィーを考案した。・・・Ｘ線を物質に入射すると、原子によって散乱されたＸ線と散乱されないＸ線とでＸ線定在波と呼ばれる干渉パターンを形成する（図２（ｂ））。このＸ線定在波のパターンは、入射Ｘ線の方位に対して変化するため、蛍光Ｘ線発生原子位置でのＸ線の強度も同様に変化する。この入射Ｘ線の方位を変えた場合の蛍光Ｘ線強度の変化がホログラムパターンを形成する。この方法の場合、吸収端より短波長の任意の波長を、ホログラムを記録する波長に選択できる。また、インラインホログラフィーでは、本来の像と点対称な像（共役像）が重なるという双画像問題が生じる。これが原子像の再生を困難にするが、いくつもの波長で多重にホログラムを記録すれば共役像のみを消去できる。」（第１１４ページ左欄第１４行乃至同右欄第１１行）
（２）「高速蛍光Ｘ線ホログラフィー装置と銅の原子像
　実験の際に蛍光Ｘ線のフォトンの検出数が少ないと、微弱なホログラムの信号はノイズに埋もれてしまう。測定のキーポイントは、いかに特定の元素の蛍光Ｘ線のみを高強度で検出できるかである。そこで、我々は、トロイダル型グラファイトとアバランシェフォトダイオードを組み合わせた専用の蛍光Ｘ線の検出システムを作成した（図３）。トロイダル型グラファイトは、大面積で試料から放出されるＸ線を受け、目的の蛍光Ｘ線のみを分光、そして一点に集光できる。一方、アバランシェフォトダイオードは最も高速なＸ線検出器であり、１０8（フォトンカウント数／秒）でＸ線を検出することが可能である。この逆過程蛍光Ｘ線ホログラフィー専用システムを用いると、従来の半導体Ｘ線検出器（１０4（フォトンカウント数／秒）程度が限度）では数ヶ月かかる測定を数時間で完了させることができる。」（第１１４ページ右欄第１２行乃至最下行）
（３）「本システムを用い、放射光実験施設である高エネルギー加速器研究機構のフォトンファクトリーにおいて銅のホログラムパターンを測定した。六つのエネルギー（17.5-20.0keV；0.5keV step）でホログラムを記録した。図４（ａ）はそのうちの一つである。」（第１１５ページ左欄第１乃至５行）
（４）図３には、試料からアバランシェフォトダイオードに向かう蛍光の光路中にトロイダル型グラファイトを設け、試料から発散する蛍光を該グラファイトによりアバランシェフォトダイオード上の一点に集束させることが記載されている。
　
　これらの記載を参照すると、引用例１には、高速蛍光Ｘ線ホログラフィー装置に係る次の各発明が記載されている。
　
「Ｘ線を試料に入射することで試料から放出されたＸ線を検出するアバランシェフォトダイオードからなるＸ線検出器、試料からＸ線検出器に向かう光路中に設けられ、試料からの蛍光をアバランシェフォトダイオードからなるＸ線検出器に集光させるトロイダル型グラファイト、からなる高速蛍光Ｘ線ホログラフィー装置。」（以下、「引用発明１−１」という。）、及び、
「試料に吸収端より短波長の任意の波長のＸ線を照射し、試料から放出される蛍光Ｘ線をトロイダル型グラファイトにより一点に集束させ、該集束した蛍光Ｘ線をＸ線検出器により検出する、高速蛍光Ｘ線ホログラフィー測定方法。」（以下、「引用発明１−２」という。）
　
イ．原査定の拒絶の理由に引用された特開平１１−１３３１９０号公報（以下、「引用例２」という。）には、図面とともに次の記載がある。
（１）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、微小領域Ｘ線分析、Ｘ線透過検査、Ｘ線顕微鏡、Ｘ線露光装置に用いられるＸ線集光装置、特にＸ線源から発散されるＸ線を実質的に点状に集めてＸ線の強度を増やすＸ線集光装置に用いるＸ線回折要素に関する。」
（２）「【００１２】
【課題を解決するための手段】発明者らは、上記課題を解決するために検討した結果、ヨハン型形状よりも楕円の式を補正した曲線を回転させて得られる曲面を有するＸ線回折面を用いてＸ線を集光することにより、より向上した集光効率が達成されること、また、そのようなＸ線回折面を有するＸ線回折要素は、楕円の式を補正した曲線を回転させて得られる曲面を有する中空部材を樹脂で形成し、その部材の外側面に結晶片を張り付けることにより容易に得ることができることを見いだして本発明を完成するに到った。」
（３）「【００１４】本発明のＸ線回折要素のＸ線回折面は、補正楕円曲線の全体を回転させて得られる完全な回転補正楕円体であっても、そのような完全回転楕円体の両端部を切除したような立体の表面であっても、更にはそのような立体の一部分、例えば補正楕円曲線のｘ＝０の近傍の部分のみをＸ軸の回りに回転させて得られる回転体の表面（従って、回転体の表面は帯状となる）であってもよい。また、回転角度も必ずしも３６０゜（即ち、いわゆるトロイダル形状）である必要はなく、それより小さい角度、例えば２０゜であってもよい。」
（４）「【００１６】・・・。ブラッグ反射に使用する結晶は、Ｘ線の回折に使用できるいずれの適当な結晶であってもよく、例えばダイヤモンド、グラファイト、ペンタエリスリトール、フッ化リチウムなどを例示できるが、グラファイトを使用するのが回折効率の点で最も好ましい。本発明の要素において使用するグラファイトは、いずれの方法によって得られるものであってもよいが、特開平８−２４４１１９号公報に記載された方法により得られる、最初から曲面形状を有するグラファイトを使用するのが特に好ましい。即ち、予め回転補正楕円体の表面の少なく一部分に対応する成形型を用いてグラファイト面状体を形成するのが好ましい。」
（５）「【００２２】好ましい態様では、Ｘ線回折面１４は、図示するように、回転補正楕円体の表面の少なくとも一部分であり、特にｘ＝０を中心にしてｙ軸の両側で実質的に同じｘの範囲（例えば図示するように−ｗ＜ｘ＜ｗ）で延びる補正楕円曲線の一部分（即ち、補正楕円曲線（２）の−ｗ＜ｘ＜ｗの部分）をＸ軸の回りで回転させることにより得られる帯状の回転補正楕円体の表面の一部分、好ましくはトロイダル形状部分を構成する。通常、Ｌ＞２ｗであるが、焦点に近い側は、いずれの側であっても、入射角がブラッグ角から大きく隔たるので、その部分のＸ線回折面はそれほど有効に採用しない。特にＬ／６＜２ｗ＜Ｌ／３であるのが最も一般的である。
【００２３】補正楕円曲線のｘ軸の回りの回転角度は、一般的に３６０゜（即ち、トロイダル形状）に近いほど、より多くのＸ線を集光できるので好都合であるが、Ｘ線がＸ線源の周囲に均等に発散されない場合には、それを考慮して、発散されない方向のＸ線回折面を部分的に省略してもよい。従って、Ｘ線が片側だけに発散される場合、回転角度は例えば１８０゜以下であってもよい。」
（６）「【００３５】結晶としては、例えばグラファイト、フッ化リチウム、ペンタエリスリトールなどを入手でき、これらを好ましく使用できるが、Ｘ線の集光点における強度をより強くするには、Ｘ線の反射率の高いグラファイトが適している。」
（７）一点集束可能なヨハンソン型トロイダル形状の回折要素について；
「【０００６】湾曲結晶の具体的な態様として、図３（ａ）に示すようなヨハン型形状１、あるいは図３（ｂ）に示すようなヨハンソン型形状２がsingly-bent型結晶用として提案されている。また、ヨハン型またはヨハンソン型形状をＸ線源（Ｓ）と集光点（Ｆ）を結ぶ直線を回転軸として部分的に回転させることによりdoubly-bent型形状が得られ、３６０゜回転することによりトロイダル形状を有するdoubly-bent型のＸ線回折要素が得られる。」
（８）同上；
「【０００９】一方、図３（ｂ）に示すように、ヨハンソン型結晶では実質的に収差がなく、点状光源（Ｓ）から出たＸ線は実質的に1点（Ｆ）に集光できる。しかしながら、ヨハンソン型結晶を形成するには、結晶面が半径２Ｒの円周有する曲面に削った後、更に、結晶を半径Ｒの円周を有する曲面となるように曲げなければならない。そのため、ヨハンソン型結晶のＸ線回折要素の形成において、精度良く加工することが必要となるが、このような加工は非常に困難であり、曲率半径の小さいヨハンソン型結晶の高精度のＸ線回折要素は未だに形成することができていない。また、トロイダル形状など面積の大きい結晶を形成することは非常に困難である。更に、結晶によっては、精密に削ったり、曲げたりすることができないものもある。例えば通常のグラファイト結晶は、そのような加工を施すことができない。」
　
ウ．原査定の拒絶の理由に引用された特開２００２−３１５２２号公報（以下、「引用例３」という。）には、蛍光Ｘ線検出器にPINダイオードを用いることに関し、以下の記載がある。
（１）「【０００２】
【従来の技術】従来、エネルギー分散型の蛍光Ｘ線膜厚計では、表面処理の膜組成が既知で品質管理の目的で生産ラインで利用されるため、測定時間を掛けられないという制約があり、エネルギー分解能より高計数率が重要となり、比例計数管を利用した蛍光Ｘ線膜厚計が主流であり、研究開発的な目的で利用する場合には、測定時間に対する制約より、正確さや感度が要求され、エネルギー分解能が優れたSi(Li)半導体検出器またはＰＩＮダイオードＸ線検出器を搭載した蛍光Ｘ線膜厚計も利用されていた。」
（２）「【０００９】照射の際には測定領域が微小部ゆえに測定位置の位置決めのための試料観察用ミラー５と試料観察光学系６を装備する。試料から発生する蛍光Ｘ線７はエネルギー分散型の第１のセンサー８と第２のセンサー12によって検出するように配置する。エネルギー分散型Ｘ線検出器として、高分解能を特徴とするセンサー８、例えばＰＩＮダイオード検出器またはシリコンドリフトチェンバーのような高分解能のＸ線検出器が配置される。」
　
エ．「西木直巳 外４名，“グラファイトＸ線集光素子”，まてりあ，第38巻，第１号，1999年，pp.43-45」（以下、「引用例４」という。）には以下の記載がある。
（１）「図１に示すＸ線管球の金属ターゲット上の点Ｓから放射状に広がるＸ線束を、面間隔ｄの結晶面で回折し、点ＯPを中心とする半径γPの焦点円上の点Ｆに集束させるには、面間隔ｄの結晶面を図１に示すようなトロイダル形状に成形すればよい。具体的には、点ＯHを中心に焦点円と接する曲率半径γH（＝２γP）の円弧を、直線aa'を軸にして360゜回転させて得られる。」（第４３ページ右欄第２５乃至３１行）
（２）「このようなトロイダル形状がＸ線集光素子として有効であることがわかっていても、実際にそれを実現できる材料がこれまで存在しなかった。今回材料として、松下電器産業（株）が開発した高分子ポリイミドフィルムを原料とする高品質グラファイトを用いることによって、集光素子開発に成功した。」（第４４ページ左欄第６乃至１１行）
（３）トロイダル型Ｘ線集光素子原理図として記載された図１には、焦点と擬焦点とを結ぶ光軸aa'上に「直接光遮蔽板Ｄ」を設けることが記載されている。また、該図１に於いて、垂直面内最大曲率半径γVが前記光軸と直交していること、及び該γVがＳＦを結ぶ光軸上の線分の中央部で光軸aa'と交わることは、γHと光軸が直交する場合にトロイダルＴと光軸の距離が最大になること、トロイダルＴが光軸を軸とした回転図形であること、及び該原理図の左右対称性からみて、自明である。
（４）図４には、「グラファイトＸ線集光素子を使った材料微小領域Ｘ線構造組成分析装置概念図」として、グラファイトＸ線集光素子の中心軸上一端部近傍に「Ｘ線遮蔽板」が設置されることが記載されている。
　
３．対比・検討
３−１．本願補正発明１について
（１）対比
　引用発明１−１の「アバランシェフォトダイオードからなるＸ線検出器」はＸ線を光電変換するものであるから、これは本願補正発明１の「試料から放射された蛍光を光電変換し・・・計測するＸ線検出器」に相当する。
　また、引用発明１−１の「試料からの蛍光を・・・Ｘ線検出器に集光させるトロイダル型グラファイト」は、本願補正発明１の「トロイダル状・・・に形成されたグラファイトを用い、試料から放射された蛍光を取り込んでＸ線検出器の所定の位置に集束させるＸ線集束素子」に相当する。
　また、引用発明１−１の「高速蛍光Ｘ線ホログラフィー装置」は、本願補正発明１の「蛍光Ｘ線検出システム」に相当する。
　よって両者は、
（一致点）
「Ｘ線が照射されることで試料から放射された蛍光を光電変換し計測するＸ線検出器と、
トロイダル状に形成されたグラファイトを用い、試料から放射された蛍光を取り込んで前記Ｘ線検出器の所定の位置に集束させるＸ線集束素子と、を有することを特徴とする蛍光Ｘ線検出システム。」
で一致し、以下の各点で相違する。
（相違点１）
　本願補正発明１のＸ線検出器は「電流値で計測する」ものであるのに対し、引用発明１−１のＸ線検出器は、アバランシェフォトダイオードからなるものの、計測を電流値で行っているか否かについては明記がない点。
（相違点２）
　本願補正発明１では、トロイダル状のＸ線集束素子が「試料から前記Ｘ線検出器に向かう蛍光の軸線方向と直交する方向に曲率半径が最大となる部分が定義され」た「回転対称体」であるのに対し、引用発明１−１では、Ｘ線集束素子のトロイダル形状について、そのような特定がなされていない点。
（相違点３）
　本願補正発明１では、Ｘ線集束素子による試料からの蛍光の取り込みとＸ線検出器への集束は、Ｘ線集束素子の「内部空間を直線的に通過する蛍光が前記Ｘ線検出器へ直接入射することをストッパにより阻止しながら」行われるものであるのに対し、引用発明１−１では、そのような機能をもつ「ストッパ」は使用されていない点。
　
（２）検討
（２−１）相違点１について
　本願補正発明１に於いて、「電流値で計測」とは厳密に如何なる意味であるのかは、明細書中に同様の記載がなく、必ずしも明確ではないが、本願補正発明１に於ける「Ｘ線検出器」とは、該検出器としてＡＰＤ又はｐｉｎダイオードが利用可能である旨の明細書【００１９】の記載を参酌すれば、これら前記各フォトダイオードに代表される光電変換素子の上位概念であると認められ、検出回路その他の前記素子に附属する回路及びその要素までをも含む概念であるとは認められないことから、前記光電変換素子自体の出力が電流値であれば前記「電流値で計測」なる特定事項を満たすと考えられる。
　そうすると、引用発明１−１はＸ線検出器としてアバランシェフォトダイオード（ＡＰＤ）を用いており、該ＡＰＤはフォトダイオードの一種であって、光電変換による出力が電流値として為されることは周知である（必要であれば、特開平７−１７６７８２号公報（【００１３】）参照。）から、引用発明１−１に於いて、光電変換素子が「電流値で計測」するものであるとの特定事項を付加することは、当業者が容易に為し得たことである。
　また、本願明細書の【００１９】には、「ｐｉｎダイオードを用いる場合、出力は電流値となる。」なる記載があり、本願補正発明１に於ける前記「電流値で計測」が該記載に基づくものであるとすれば、本願補正発明１に於けるＸ線検出器は、ｐｉｎダイオードが前記特定事項に係る条件を満たすこととなるが、蛍光Ｘ線検出システムに於いて、Ｘ線検出器にｐｉｎ（フォト）ダイオードを用いることは、引用例３にも記載されたとおり周知であり、ＡＰＤとｐｉｎフォトダイオードとの性能差もまた周知であるから、引用発明１−１に於いてＸ線検出器としてＡＰＤに代えてｐｉｎ（フォト）ダイオードを採用することは、必要に応じて当業者が容易に為し得たことである。
　
（２−２）相違点２について
　本願補正発明１に於ける「試料から前記Ｘ線検出器に向かう蛍光の軸線方向と直交する方向に曲率半径が最大となる部分が定義され」たとは、Ｘ線集束素子のいかなる幾何学的についての限定であるのか、必ずしも定かではない。しかし、本願の図２に記載された集束素子Ｔの形状が前記限定を満たすものとして呈示されていることは、明細書【００２６】の記載からも明らかである。そして、該図２記載の集束素子は、明細書中にその幾何学的な定義についての説明はないものの、該図から、両焦点を含む半径Ｒのローランド円に接する半径２Ｒの円弧を前記両焦点を結ぶ軸線を中心に３６０゜回転して生成したトロイダル状集束素子であることが明らかである。
　そして、Ｘ線の分光集束素子として、前記本願図２記載のようなグラファイト製トロイダル状集束素子は、引用例２及び４にも記載されているとおり、周知慣用のものである。
　よって、引用発明１−１のトロイダル型グラファイトとして、該周知慣用のものを採用し、相違点２の構成とすることは、当業者が容易に為し得たことである。
　
（２−３）相違点３について
　グラファイト製トロイダル状Ｘ線集束素子に於いて、軸上に本願補正発明１の「ストッパ」に相当する直接光遮蔽用のＸ線遮蔽板を設けたものも、引用例４に記載されており、引用発明１−１に於いて、トロイダル型グラファイトとして、上記のとおり周知慣用のグラファイト製トロイダル状集束素子の中から、該引用例４記載のストッパ付きのものを採用することは、当業者が容易に為し得たことである。
　
　なお、請求人は審判請求理由の中で、上記引用例２記載のトロイダル型グラファイトは製法の点で本願補正発明１のもの程の高い形状精度を得られない旨主張しているが、本願補正発明１ではＸ線集束素子について、
「トロイダル状の回転対称体に形成されたグラファイトを用い、内部空間を直線的に通過する蛍光が前記Ｘ線検出器へ直接入射することをストッパにより阻止しながら、試料から放射された蛍光を取り込んで前記Ｘ線検出器の所定の位置に集束させるＸ線集束素子」
と特定しているに過ぎず、製法や形状精度に関しては何らの特定も行っていないのであるから、前記主張は請求項１に記載された本願補正発明１の構成に基づくものではなく、主張の根拠がない。
　
（２−４）まとめ
　本願補正発明１の作用効果も、引用例１及び４に記載された発明並びに周知技術から当業者であれば予測できる範囲のものである。
　
　したがって、本願補正発明１は、引用例１及び４に記載された発明並びに周知技術に基づいて、当業者が容易に発明することができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。 
　
３−２．本願補正発明２について
（１）対比
　引用発明１−２の
(a)「試料」,(b)「トロイダル型グラファイト」,(c)「高速蛍光Ｘ線ホログラフィー測定方法」，(d)「吸収端より短波長の任意の波長」
は、それぞれ本願補正発明２の
(a)「計測対象物」,(b)「トロイダル状の集束素子」,(c)「蛍光検出方法」,(d)「所定の波長」
に相当する。
　また、引用発明１−２に於いて、試料から放出される蛍光Ｘ線のうち、トロイダル型グラファイトに入射する線量が、試料とトロイダル型グラファイトとの幾何学的配置や後者の開口面積などによって定まる「所定の割合」であることは自明である。
　また、本願補正発明２に於いて、「所定距離の位置」とは、何れの部材・部位を起点としての「所定距離」であるのか、必ずしも明確ではないが、前後の文脈から、「計測対象物」或いは「集束素子」を起点とした「所定の距離」であると考えるのが妥当である。一方、引用発明１−２に於ける集束素子であるトロイダル型グラファイトについて、試料との配置を定めれば、試料から放射されるＸ線が合焦する焦点位置は一意に定まることは明らかであるから、前記定まった試料とトロイダル型グラファイトとの配置に対し、試料及びトロイダル型グラファイトと前記焦点位置との距離もまた、一意に定まることは明らかである。
　よって、引用発明１−２に於いても、蛍光Ｘ線が「一点に集束」する焦点は試料やトロイダル型グラファイトから「所定距離の位置」であるということができ、この点に於いて引用発明１−２と本願補正発明２とは一致する。
　よって、両者は、
（一致点）
「蛍光を放射させるべき計測対象物に所定の波長のＸ線を放射し、計測対象物から放射された蛍光の全放射量のうちの所定の割合をトロイダル状の集束素子で所定距離の位置の１点に集束させ、前記一点に集束された蛍光をダイオードで検出することを特徴とする蛍光検出方法。」
で一致し、以下の各点で相違する。
（相違点４）
　本願補正発明２では、計測対象物に放射されるＸ線が単色Ｘ線であるのに対し、引用発明１−２では、該Ｘ線が単色か否かについて明確ではない点。
（相違点５）
　本願補正発明２では、トロイダル状の集束素子は「回転対称体であり曲線半径の最大の部分に蛍光が直進する方向の範囲での中央に定義されている」のに対し、引用発明１−２では、トロイダル状の集束素子についてそのような特定はなされていない点。
（相違点６）
　本願補正発明２では、ダイオードはｐｉｎダイオードであるのに対し、引用発明１−２では、アバランシェフォトダイオード（ＡＰＤ）である点。
　
（２）検討
（２−１）相違点４について
　引用例１の上記２．ア．（３）の「六つのエネルギー（17.5-20.0keV；0.5keV step）でホログラムを記録した」なる記載から、ホログラムパターンの測定には６つのＸ線波長が用いられていることが、また、「図４（ａ）はそのうちの一つである」なる記載から、各波長について個別に測定が行われていることが明らかである。このことはまた、仮に該６つの波長で同時に測定が行われると考えた場合、測定原理からみて、試料から発生する蛍光Ｘ線の波長は該各波長について同じはずであるから、異なる測定波長（放射Ｘ線）によるホログラムを分離する何らかの方法が必要となるところ、そのような方法は示されておらず、また、容易に推測することもできない、ということとも整合する。
　よって、引用発明１−２に於ける「吸収端より短波長の任意の波長のＸ線」は、単色Ｘ線であることが明らかであり、該相違点４は、実質的な相違点ではない。
　
（２−２）相違点５について
　引用例２及び４に記載された周知慣用のトロイダル型グラファイトは、両焦点を結ぶ軸線の周りに曲線を回転させたものであるから、回転対称体に属することは自明である。
　また、本願補正発明２に於ける「曲線半径の最大の部分に蛍光が直進する方向の範囲での中央に定義されている」なる特定事項の意味するところは必ずしも明確ではないが、上記３−１．（２−２）で述べたとおり、本願の図２に記載された集束素子Ｔの形状が前記限定を満たすものとして呈示されていることは、明細書【００２６】の記載からも明らかであり、これと図面に於いて一致する引用例２及び４に記載された周知慣用のトロイダル状集束素子が、本願補正発明２の前記「曲線半径の最大の部分に蛍光が直進する方向の範囲での中央に定義されている」なる特定事項を満たすものであることは明らかである。
　また、前記「曲線半径の最大の部分に蛍光が直進する方向の範囲での中央に定義されている」を、その文字通りに、光軸に沿った両焦点を結ぶ線分の中央部に於いて、集束素子の光軸に垂直な面での断面の半径が最大になる、という意味であると解釈することは可能であるが、前記周知慣用のトロイダル集束素子も、両焦点を結ぶ線分の中央部でトロイダルの該線分に対する垂直断面に於ける径が最大となることは、該各引用例に記載された図から明らかであり、前記解釈に立った場合にも、前記周知慣用の集束素子の形状は、該相違点５の特定事項に相当する。
　よって、引用発明１−２に於いて、トロイダル型グラファイトの形状を該相違点５のようにすることは、引用例２及び４記載の周知慣用技術から当業者が容易に為し得たことである。
　
（２−３）相違点６について
　蛍光Ｘ線検出システムに於いて、Ｘ線検出器にｐｉｎ（フォト）ダイオードを用いることは、引用例３にも記載されたとおり周知であり、ＡＰＤとｐｉｎフォトダイオードとの性能差もまた周知であるから、引用発明１−２に於いてＸ線検出器としてＡＰＤに代えてｐｉｎ（フォト）ダイオードを採用することは、必要に応じて当業者が容易に為し得たことである。
　
（２−４）まとめ
　本願補正発明２の作用効果も、引用例１に記載された発明及び周知技術から当業者であれば予測できる範囲のものである。
　
　したがって、本願補正発明２は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明することができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。 
　 
４．むすび
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　
III．本願発明について
　平成１７年６月２７日付の手続補正は上記のとおり却下されたので、本願請求項１及び２に記載された発明（以下、それぞれ「本願発明１」及び「本願発明２」という）は、それぞれ平成１６年１１月８日付手続補正書の特許請求の範囲の請求項１及び２に記載された、次のとおりのものである。
　
「【請求項１】
X線が照射されることで試料から放射された蛍光を光電変換し電流値で計測するX線検出器と、試料から前記X線検出器に向かう蛍光の軸線方向と直交する方向に曲率半径が最大となる部分が定義されたトロイダル状に形成され、試料から放射された蛍光を取り込んで前記X線検出器の所定の位置に集束させるX線集束素子と、を有することを特徴とする蛍光X線検出システム。」（本願発明１）
「【請求項２】
蛍光を放射させるべき計測対象物に所定の波長の単色X線を放射し、計測対象物から放射された蛍光の全放射量のうちの所定の割合を回転対称であり曲線半径の最大の部分が蛍光が直進する方向の概ね中央に定義されているトロイダル状の集束素子で所定距離の位置の１点に集束させ、前記一点に集束された蛍光をPinダイオードで検出することを特徴をとする蛍光検出方法。」（本願発明２）
　
１．引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例、及びその記載事項は、前記「II．２．」に記載したとおりである。
　
２．対比、判断
（１）本願発明１について
　本願発明１は、前記II．で検討した本願補正発明１から、「Ｘ線集束素子」の形状についての「回転対称体」、及び同じく機能についての「内部空間を直線的に通過する蛍光が前記Ｘ線検出器へ直接入射することをストッパにより阻止しながら」との限定をそれぞれ省いたものである。
　そうすると、本願発明１の構成要件をすべて含み、さらに他の構成要件を付加したものに相当する本願補正発明１が、前記II．３−１．に記載したとおり、引用例１及び４記載の発明並びに周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、本願補正発明１の構成のうち、引用例４記載の発明のみに係る構成は、前記「Ｘ線集束素子」の機能についての「内部空間を直線的に通過する蛍光が前記Ｘ線検出器へ直接入射することをストッパにより阻止しながら」との限定であり、これは本願発明１では前記のとおり省かれているから、本願発明１は、上記II．３−１．（２−１）及び同（２−２）記載の理由により、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
（２）本願発明２について
　本願発明２は、本願補正発明２の一部語句について誤記の訂正及び明瞭でない記載の釈明に係る補正を行ったに過ぎないものであり、該補正に伴う構成要件の追加及び実質的な変更はない。
　よって、本願補正発明２が、上記II．３−２．に記載したとおり、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明２も同様の理由により、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
３．むすび
　以上のとおり、本願発明１及び２は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、請求項３乃至４に係る発明について審理するまでもなく、本件出願は拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。