【事件の表示】
　特願２０００−　７１７８６「半導体装置のテスト方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１３年　９月２６日出願公開、特開２００１−２６４３８８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成１２年３月１５日の出願であって、平成１８年７月３日付けで拒絶査定（同年７月１１日発送）がなされ、これに対し、同年７月２６日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに、同年８月２４日付けで明細書等についての手続補正がなされたたものである。そして、当審における審理の結果、平成２１年７月１日付けで平成１８年８月２４日付けの手続補正補正を却下するとともに拒絶理由（平成２１年７月７日発送）が通知され、これに対し、同年８月３１日付けで明細書又は図面についての手続補正がなされた。そして、当審における審理の結果、同年９月２９日付けで最後の拒絶理由（同年１０月６日発送）が通知され、これに対し、同年１１月２４日付けで明細書又は図面についての手続補正がなされたものである。
　
　
２．本願発明の認定
　本願の請求項１，２に係る発明は、平成２１年１１月２４日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１，２に記載されたとおりのものであるところ、請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、特許請求の範囲の請求項１に記載される事項により特定される、以下のとおりのものである。
　
「　【請求項１】　複数のアナログ入力端子を持つ半導体装置において、各アナログ入力端子同士がそれぞれ有するアナログスイッチを介して互いに接続されている回路を有し、前記アナログスイッチにより切り替えられている各アナログ入力端子における前記アナログスイッチのオン抵抗を、そのアナログスイッチの内２つを同時にオンさせて、前記アナログスイッチがオンされている各アナログ入力端子間電圧により測定してテストを行うことを特徴とする半導体装置のテスト方法。」
　
　
３．引用例の記載事項及び引用例に記載された発明
　当審の拒絶理由において引用された、本願の出願前の平成１２年３月１４日に頒布された刊行物である特開２０００−７４９７４号公報（以下「引用例」という。）には、以下の事項が記載されている。
　
＜引用例の明細書の記載事項＞
　・【請求項７】
「 基板上に互いに略平行に配置される少なくとも第１および第２バスと、前記基板上に配置される信号線と、前記第１バスと前記信号線との間に配置される前記第１のスイッチ素子と、前記第２バスと前記信号線との間に配置される前記第２のスイッチ素子ととからなるスイッチ回路とを備え、前記第１および第２バスをそれぞれ第１および第２電圧に接続し、前記スイッチ回路の前記第１および第２のスイッチ素子を略同時に導通させ、前記第１および第２バスを流れる電流をそれぞれ検出することを特徴とする半導体回路の検査方法。」
　・段落【０００１】【発明の属する技術分野】
「本発明は半導体検査回路および半導体回路の検査方法に関する。」
　・段落【０００２】【従来の技術】
「従来の半導体検査回路および半導体回路の検査方法について、アクティブマトリクス型の液晶表示装置を例に取って説明する。アクティブマトリクス型の液晶表示装置としては、例えば図１３に示す液晶表示装置が知られている。この液晶表示装置は、マトリクス状に配置されたｍｘｎ個の画素電極１４、これら画素電極１４の行に沿って形成されるｍ本の走査線Ｙ１〜Ｙｍ、これら画素電極１４の列に沿って形成されるｎ本の信号線Ｘ１〜Ｘｎ、これら走査線Ｙ１〜Ｙｍおよび信号線Ｘ１〜Ｘｎの交差位置近傍に配置される薄膜トランジスタ１３、走査線Ｙ１〜Ｙｍを駆動する走査線駆動回路１８、および信号線Ｘ１〜Ｘｎを駆動する信号線駆動回路１９を有する。駆動回路１８，１９は画素電極１４やこれら画素電極の駆動用配線群と共に同一基板上に形成される。各薄膜トランジスタ１３は対応走査線からの走査電圧により駆動され対応信号線からの画素信号電圧を対応画素電極１４に供給するスイッチング素子として用いられる。各画素電極１４は液晶層１５を介して対向電極１６とそれぞれ対向する。この対向電極１６は対向電極駆動回路２０により駆動される。」
　・段落【０００５】【発明が解決しようとする課題】
「このような駆動回路一体型の液晶表示装置の場合は、同一ガラス基板上に信号線と信号線駆動回路が形成されるため、回路素子の集積密度が高く、信号線駆動回路の出力部にプローブをあてるための物理的なスペースに余裕がなく、検査自体が不可能であった。」
　・段落【０００６】
「以上のように従来の半導体検査回路および半導体回路の検査方法は、信頼性確保や良品率向上に必要な信号線駆動回路の検査が困難であるという問題を有している。」
　・段落【０００７】
「本発明の目的は上記問題点を鑑みなされたもので、表示または受光装置の検査のために好適な半導体検査回路および半導体回路の検査方法を提供することにある。」
　・段落【００２１】
「上記した半導体検査回路および半導体回路検査方法では、信号線駆動回路の不良の有無がアナログスイッチ数に比べて十分少ないバスを用いて測定される電流から判定することができるため、駆動回路に直接多数のプローブをあてる必要がない。従って、半導体検査回路および半導体回路検査方法の信頼性を確保するとともに良品率を向上させることができる。」
　・段落【００２４】
「ここで、信号線駆動回路１９についてさらに説明する。この信号線駆動回路１９はｎ個のレジスタＳ／Ｒ１〜Ｓ／Ｒｎ、ｎ個の選択回路部ＳＣ１〜ＳＣｎ、ｎ個の第１アナログスイッチＳＷ１Ａ〜ＳＷｎＡ、ｎ個の第２アナログスイッチＳＷ１Ｂ〜ＳＷｎＢ、並びにビデオバスＡおよびＢを有する。ビデオバスＡは外部から供給される正極性の画素信号を伝送し、ビデオバスＢは正極性の画素信号を反転して外部から供給される負極性の画素信号を伝送する。レジスタＳ／Ｒ１〜Ｓ／Ｒｎは直列に接続され、外部から水平走査周期で供給される負論理のスタートパルスを外部から画素信号に同期して供給されるクロック信号に応答してラッチし、シフトパルスを並列的に出力するシフトレジスタＳＲを構成する。」
　・段落【００６４】
「各実施形態の液晶表示装置で注目すべき事項は、電流の測定点がビデオバスＡおよびＢの入力端だけでよいことにある。このため、プロービングする測定点の数が、信号線数に比べ大幅に少なくでき、高価で規模の大きなプローブカードを不要としない。さらに信号線駆動回路１９がアレイ基板上に集積される場合であっても、高い素子密度となる信号線駆動回路の出力部周辺にプローブをあてる必要がないため、信号線駆動回路１９の出力検査が可能となる。」
　・段落【００６５】
「なお、各実施形態では、ビデオバスＡおよびＢの両方が検査の対象となったが、これらのうちの一方だけを検査の対象とすることもできる。この場合、精度はやや低下するが、実用上の検査、特に不良の有無検出は可能である。」
　・段落【００６６】
「また、各実施形態において、薄膜トランジスタ１３は走査線駆動回路１８および信号線駆動回路１９と共にアレイ基板上にポリシリコン半導体薄膜を用いて形成されてもよい。この場合、図１および図７に示す液晶表示装置において、信号線駆動回路１９のアナログスイッチＳＷ１Ａ〜ＳＷｎＡ，ＳＷ１Ｂ〜ＳＷｎＢ，ＳＷ１Ｃ〜ＳＷｎＣ，ＳＷ１Ｄ〜ＳＷｎＤは非線形スイッチング素子としてポリシリコン半導体薄膜を用いて形成されるｎチャネル型、ｐチャネル型、あるいはこれらを組合わせた薄膜トランジスタで構成されてもよい。」
　・段落【００６７】
「以下、図１に示す液晶表示装置を例として、アナログスイッチＳＷ１Ａ〜ＳＷｎＡおよびＳＷ１Ｂ〜ＳＷｎＢをポリシリコン薄膜トランジスタで構成される場合を説明する。この場合、例えば図１０に示すようにアナログスイッチＳＷ１Ａ〜ＳＷｎＡがｐチャネル型薄膜トランジスタＰＴで構成され、アナログスイッチＳＷ１Ｂ〜ＳＷｎＢがｎチャネル型薄膜トランジスタＮＴで構成される。ここで、共通信号線に割当てられたアナログスイッチ対ＳＷ１Ａ，ＳＷ１Ｂ；ＳＷ２Ａ，ＳＷ２Ｂ，…は同時に導通したときにその抵抗値の差が２００Ω以内に設定される。」
　・段落【００６８】
「このような構成で、アナログスイッチ対のオン抵抗の測定、および抵抗値によるアナログスイッチ対の良否判断について補足する。」
　・段落【００６９】
「検査時には、例えばビデオバスＡがパッドから電流計を介して直流電源ＶＡに接続され、ビデオバスＢがパッドＰＤから直流電源ＶＢに接続される。」
　・段落【００７０】
「直流電源ＶＡおよびＶＢを接続した状態で、まず薄膜トランジスタＰＴおよび薄膜トランジスタＮＴのチャネルが同時に低抵抗状態になるようなゲート電位をそれぞれ印加する。直流電源ＶＢの電圧が直流電源ＶＡの電圧より大きく設定されていれば、図１０において矢印で示すように、直流電源ＶＢからｐチャネル型薄膜トランジスタＰＴおよびｎチャネル型薄膜トランジスタＮＴを介して直流電源ＶＡに向って電流が流れ、この電流値が電流計で測定される。」
　・段落【００７１】
「直流電源ＶＡと直流電源ＶＢとの電位差、並びに電流計で測定された電流値により１組の薄膜トランジスタＰＴおよびＮＴで構成されるアナログスイッチ対のオン抵抗を算出できる。」
　
＜引用例の図面の記載事項＞
　・【図１０】の記載から『ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤと信号線Ｘ１の間にアナログスイッチＳＷ１Ｂを有し、ビデオバスＡが接続されるパッドＰＤと信号線Ｘ１の間にアナログスイッチＳＷ１Ａを有し、ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤとビデオバスＡが接続されるパッドＰＤとは、アナログスイッチＳＷ１ＢとアナログスイッチＳＷ１Ａを介して互いに接続されている、アレイ基板上の回路』が読みとれる。
　
　そこで、引用例の記載事項について順次検討する。
　（１）段落【０００１】の記載及び段落【０００２】に記載の「従来の半導体検査回路および半導体回路の検査方法について、アクティブマトリクス型の液晶表示装置を例に取って説明する。…」から、引用例のものは『アクティブマトリクス型の液晶表示装置における半導体回路の検査方法』についてのものであるといえる。
　
　（２）【図１】の記載から、引用例のものは『ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤと信号線Ｘ１の間にアナログスイッチＳＷ１Ｂを有し、ビデオバスＡが接続されるパッドＰＤと信号線Ｘ１の間にアナログスイッチＳＷ１Ａを有し、ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤとビデオバスＡが接続されるパッドＰＤとは、アナログスイッチＳＷ１ＢとアナログスイッチＳＷ１Ａを介して互いに接続されている、アレイ基板の回路を有する』ものといえる
　
　（３）段落【００２４】に記載の「…ビデオバスＡは外部から供給される正極性の画素信号を伝送し、ビデオバスＢは正極性の画素信号を反転して外部から供給される負極性の画素信号を伝送する。…」から、引用例のものは『ビデオバスＡは外部から供給される正極性の画素信号を伝送し、ビデオバスＢは正極性の画素信号を反転して外部から供給される負極性の画素信号を伝送する』ものといえる。
　
　（４）段落【００６９】〜【００７１】の記載から、引用例のものは『検査時には、ビデオバスＡがパッドから電流計を介して直流電源ＶＡに接続され、ビデオバスＢがパッドＰＤから直流電源ＶＢに接続され、まずアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａのチャネルが同時に低抵抗状態になるようなゲート電位をそれぞれ印加し、直流電源ＶＢの電圧が直流電源ＶＡの電圧より大きく設定されていれば、直流電源ＶＢからアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａを介して直流電源ＶＡに向って電流が流れ、この電流値が電流計で測定され、直流電源ＶＡと直流電源ＶＢとの電位差、並びに電流計で測定された電流値により１組のアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａで構成されるアナログスイッチ対のオン抵抗を算出する』ものといえる。
　
　　以上から引用例には、
『アクティブマトリクス型の液晶表示装置における半導体回路の検査方法において、
　ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤと信号線Ｘ１の間にアナログスイッチＳＷ１Ｂを有し、ビデオバスＡが接続されるパッドＰＤと信号線Ｘ１の間にアナログスイッチＳＷ１Ａを有し、ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤとビデオバスＡが接続されるパッドＰＤとは、アナログスイッチＳＷ１ＢとアナログスイッチＳＷ１Ａを介して互いに接続されている、アレイ基板上の回路を有し、
　ビデオバスＡは外部から供給される正極性の画素信号を伝送し、ビデオバスＢは正極性の画素信号を反転して外部から供給される負極性の画素信号を伝送し、
　検査時には、ビデオバスＡがパッドから電流計を介して直流電源ＶＡに接続され、ビデオバスＢがパッドＰＤから直流電源ＶＢに接続され、まずアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａのチャネルが同時に低抵抗状態になるようなゲート電位をそれぞれ印加し、直流電源ＶＢの電圧が直流電源ＶＡの電圧より大きく設定されていれば、直流電源ＶＢからアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａを介して直流電源ＶＡに向って電流が流れ、この電流値が電流計で測定され、直流電源ＶＡと直流電源ＶＢとの電位差、並びに電流計で測定された電流値により１組のアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａで構成されるアナログスイッチ対のオン抵抗を算出する、
アクティブマトリクス型の液晶表示装置における半導体回路の検査方法。』
（以下「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
　
　
４．対比
　（０）まず、引用発明の「パッドＰＤ」，「アクティブマトリクス型の液晶表示装置における半導体回路」，「アレイ基板上の回路」，「算出」，「検査」，「検査方法」，は、本願発明の「入力端子」，「半導体装置」，「回路」，「測定」，「テスト」，「テスト方法」にそれぞれ相当する。
　
　（１）次に、引用発明では「ビデオバスＡは外部から供給される正極性の画素信号を伝送し、ビデオバスＢは正極性の画素信号を反転して外部から供給される負極性の画素信号を伝送」するものといえる。ここで、「正極性の画素信号」及び「正極性の画素信号を反転して外部から供給される負極性の画素信号」は一般にアナログ信号であるといえるから、「ビデオバスＢ」と「ビデオバスＡ」は共にアナログ信号「を伝送」するものである。
　そして、引用発明の「ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤ」，「ビデオバスＡが接続されるパッドＰＤ」とは、それぞれ「ビデオバスＢ」，「ビデオバスＡ」と接続されているのであるから、「ビデオバスＢ」，「ビデオバスＡ」から伝送されるアナログ信号を入力しているものといえる。
　よって、引用発明の「ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤとビデオバスＡが接続されるパッドＰＤ」は、本願発明の「複数のアナログ入力端子」及び「各アナログ入力端子」に相当する。
　
　（２）次に、引用発明の「アクティブマトリクス型の液晶表示装置における半導体回路」と「アレイ基板上の回路」は実質的には同一のものである。そして、「アレイ基板上の回路」は「ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤとビデオバスＡが接続されるパッドＰＤ」を持つものといえる。
　よって、引用発明の「アクティブマトリクス型の液晶表示装置における半導体回路」と本願発明の「半導体装置」とは、「複数のアナログ入力端子を持つ」点で一致している。
　
　（３）次に、引用発明は「ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤと信号線Ｘ１の間にアナログスイッチＳＷ１Ｂを有し、ビデオバスＡが接続されるパッドＰＤと信号線Ｘ１の間にアナログスイッチＳＷ１Ａを有し」ている。とすれば、「ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤ」と「ビデオバスＡが接続されるパッドＰＤ」とは、それぞれ「アナログスイッチＳＷ１Ｂ」と「アナログスイッチＳＷ１Ａ」を有しているといえる。
　よって、引用発明の各「パッドＰＤ」と本願発明の「各アナログ入力端子」とは、「それぞれ」「アナログスイッチを」「有する」点で一致している。
　
　（４）次に、引用発明の「アレイ基板上の回路」は「ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤとビデオバスＡが接続されるパッドＰＤとは、アナログスイッチＳＷ１ＢとアナログスイッチＳＷ１Ａを介して互いに接続されている」ものである。
　よって、引用発明の「アレイ基板上の回路」と本願発明の「回路」とは、「各アナログ入力端子同士がそれぞれ有するアナログスイッチを介して互いに接続されている」点で一致している。
　
　（５）最後に、引用発明の「検査時には、ビデオバスＡがパッドから電流計を介して直流電源ＶＡに接続され、ビデオバスＢがパッドＰＤから直流電源ＶＢに接続され、まずアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａのチャネルが同時に低抵抗状態になるようなゲート電位をそれぞれ印加し、直流電源ＶＢの電圧が直流電源ＶＡの電圧より大きく設定されていれば、直流電源ＶＢからアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａを介して直流電源ＶＡに向って電流が流れ、この電流値が電流計で測定され、直流電源ＶＡと直流電源ＶＢとの電位差、並びに電流計で測定された電流値により１組のアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａで構成されるアナログスイッチ対のオン抵抗を算出する」について検討する。
　
　（５−１）第一に、「アナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａのチャネルが同時に低抵抗状態になる」とは、「アナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａ」が高抵抗状態のオフ状態から低抵抗状態のオン状態に切り替えられていることを意味する。そうすると、「ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤ」と「ビデオバスＡが接続されるパッドＰＤ」とは、「アナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａ」により切り替えられているものといえる。
　
　（５−２）第二に、「アナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａのチャネルが同時に低抵抗状態になる」とは、「アナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａ」が高抵抗状態のオフ状態から低抵抗状態のオン状態に切り替えられるていることを意味する。とすれば、アナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａの２つは同時にオンしているものといえる。また、上記（３）に説示したように、「ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤ」と「ビデオバスＡが接続されるパッドＰＤ」とは、それぞれ「アナログスイッチＳＷ１Ｂ」と「アナログスイッチＳＷ１Ａ」を有している。とすれば、ビデオバスＢが接続されるパッドＰＤ」と「ビデオバスＡが接続されるパッドＰＤ」とは、「アナログスイッチＳＷ１Ｂ」と「アナログスイッチＳＷ１Ａ」がオンされているパッドであるといえる。
　
　（５−３）第三に、「ビデオバスＡがパッドから電流計を介して直流電源ＶＡに接続され、ビデオバスＢがパッドＰＤから直流電源ＶＢに接続され、」「直流電源ＶＢからアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａを介して直流電源ＶＡに向って電流が流れ、この電流値が電流計で測定され」るのであるから、ビデオバスＢが接続されるパッドとビデオバスＡが接続されるパッドとの間の電流により測定しているものといえる。
　
　（５−４）第四に、「検査時には、」「１組のアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａで構成されるアナログスイッチ対のオン抵抗を算出する」のであるから、アナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａのオン抵抗を算出して検査を行うものといえる。
　
　（５−５）上記（５−１）乃至（５−４）から、引用発明の「検査時には、ビデオバスＡがパッドから電流計を介して直流電源ＶＡに接続され、ビデオバスＢがパッドＰＤから直流電源ＶＢに接続され、まずアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａのチャネルが同時に低抵抗状態になるようなゲート電位をそれぞれ印加し、直流電源ＶＢの電圧が直流電源ＶＡの電圧より大きく設定されていれば、直流電源ＶＢからアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａを介して直流電源ＶＡに向って電流が流れ、この電流値が電流計で測定され、直流電源ＶＡと直流電源ＶＢとの電位差、並びに電流計で測定された電流値により１組のアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａで構成されるアナログスイッチ対のオン抵抗を算出する」と、本願発明の「前記アナログスイッチにより切り替えられている各アナログ入力端子における前記アナログスイッチのオン抵抗を、そのアナログスイッチの内２つを同時にオンさせて、前記アナログスイッチがオンされている各アナログ入力端子間電圧により測定してテストを行う」とは、「前記アナログスイッチにより切り替えられている各アナログ入力端子における前記アナログスイッチのオン抵抗を、そのアナログスイッチの内２つを同時にオンさせて、前記アナログスイッチがオンされている各アナログ入力端子間」の電気的な物理量「により測定してテストを行う」点で共通している。
　
　
　したがって、両者は、
《一致点》
　「複数のアナログ入力端子を持つ半導体装置において、各アナログ入力端子同士がそれぞれ有するアナログスイッチを介して互いに接続されている回路を有し、前記アナログスイッチにより切り替えられている各アナログ入力端子における前記アナログスイッチのオン抵抗を、そのアナログスイッチの内２つを同時にオンさせて、前記アナログスイッチがオンされている各アナログ入力端子間」（の電気的な物理量）「により測定してテストを行うことを特徴とする半導体装置のテスト方法。」
である点で一致し、以下の点で相違している。
　
《相違点》
　「アナログスイッチのオン抵抗を」「測定」するための、「アナログスイッチがオンされている各アナログ入力端子間」の電気的な物理量が、本願発明では「電圧」であるのに対して、引用発明では「電流」である点。
　
　
５．判断
　上記相違点について検討するに、『抵抗を測定するための電気的な物理量として電圧を用いる』点は、電気装置の検査の技術分野において周知技術である（必要であれば、例えば特開平３−１０１１４６号公報の１頁右下欄１８〜１９行，２頁右上欄６〜１１行等参照。上記公報には、半導体アナログスイッチよりなる切換器４のＯＮ抵抗値を測定するための電気的な物理量として、電圧計２で測定した電圧値を用い、電圧値÷電流値によりＯＮ抵抗値を求める点が記載されている。）。
　よって、引用発明に上記周知技術を適用して、引用発明の「アナログスイッチのオン抵抗を」「測定」するための、「アナログスイッチがオンされている各アナログ入力端子間」の電気的な物理量を、「電流」から「電圧」に置き換えることは、当業者において容易に想到し得るものと認められる。
　
　また、本願発明の効果は、引用発明及び周知技術から当業者が予測し得る範囲を超えるものとまではいえない。
　
　
６．審判請求人の主張
　
　（１）審判請求人は平成２１年１１月２４日付け意見書において概ね以下の主張をしている。
　
＜審判請求人の主張＞
「本願の請求項１、請求項２に記載の発明は、この特徴を備えておりますので、モニター用のテスト端子を不要とし、スペースメリットの不利点を是正することができるという効果を奏します。
　また、２個のアナログスイッチを同時にオンさせてアナログスイッチのオン抵抗を測定するので、アナログ入力端子又はアナログ出力端子の数が増大しても、アナログスイッチのオン抵抗のテスト時間の増加を抑制できるという効果も奏します。
　すなわち、アナログ入力端子の端子間電圧を測定するので（表２の測定項目参照）、モニター端子を省略でき、スペースメリットが得られ、更に、測定回数の減少を行うことができるという効果を奏します。」
「しかしながら、審判官の指摘する引用文献１のビデオパスＡとビデオパスＢのものは、ブロック図における信号線にしか過ぎないものであり、強いては、引用文献１のものに端子を減らすことによるスペースメリットについては開示も示唆さえもないのであります。　また、引用文献１には、一つ一つのアナログスイッチのオン特性を測定しなくとも、二個のアナログスイッチの両端子間電圧を測定すれば、各アナログスイッチのオン特性が規格内にあることを判定可能であるという技術的思想が開示も示唆さえもないのであります。」
　
　（２）上記主張について検討する。
　
　（２−１）まず、引用発明は、その構成から明らかなとおり「モニター用のテスト端子」は用いられていないのであるから、「モニター用のテスト端子」は不要であるといえる。
　また、引用例の段落【００６４】には「各実施形態の液晶表示装置で注目すべき事項は、電流の測定点がビデオバスＡおよびＢの入力端だけでよいことにある。このため、プロービングする測定点の数が、信号線数に比べ大幅に少なくでき、高価で規模の大きなプローブカードを不要としない。さらに信号線駆動回路１９がアレイ基板上に集積される場合であっても、高い素子密度となる信号線駆動回路の出力部周辺にプローブをあてる必要がないため、信号線駆動回路１９の出力検査が可能となる。」と記載されている。この記載から、引用発明においては、電流の測定点としての端子は、ビデオバスＡおよびＢの入力端だけでよく、ビデオバスＡおよびＢの入力端以外の、例えばテスト端子等は不要であるといえる。そうすると、当業者が技術常識を以て見れば、上記記載から、テスト端子を不要とするという技術的思想を読みとることができるものといえる。
　更に、引用発明は、「モニター用のテスト端子」が不要であるから、「モニター用のテスト端子」のためのスペースを回路基板上に割り当てる必要もないので、引用発明は、「モニター用のテスト端子」のためのスペース面で不利であるとはいえない。
　更に、引用例の段落【０００５】には「このような駆動回路一体型の液晶表示装置の場合は、同一ガラス基板上に信号線と信号線駆動回路が形成されるため、回路素子の集積密度が高く、信号線駆動回路の出力部にプローブをあてるための物理的なスペースに余裕がなく、検査自体が不可能であった。」と記載されており、更に段落【００２１】には「上記した半導体検査回路および半導体回路検査方法では、信号線駆動回路の不良の有無がアナログスイッチ数に比べて十分少ないバスを用いて測定される電流から判定することができるため、駆動回路に直接多数のプローブをあてる必要がない。従って、半導体検査回路および半導体回路検査方法の信頼性を確保するとともに良品率を向上させることができる。
」と記載されている。これらの記載から、引用発明は、回路基板上にプローブをあてるための物理的なスペースに余裕がなくても検査が行えるという意味で、スペース面についての有利な効果を有しているものといえる。
　よって、本願発明における、モニター用のテスト端子を不要とし、スペースメリットの不利点を是正することができるという効果は、引用発明から当業者が予測し得る範囲を超えるものとまではいえない。
　
　（２−２）次に、引用発明は「アナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａのチャネル」を「同時に低抵抗状態」にして「１組のアナログスイッチＳＷ１ＢおよびアナログスイッチＳＷ１Ａで構成されるアナログスイッチ対のオン抵抗を算出する」のであるから、オン抵抗を算出する回数は全アナログスイッチの個数の半分の回数で済むものといえる。このことから、引用発明は、アナログスイッチのオン抵抗のテストのための時間をおよそ半減することができるという意味で、有利な効果を有しているものといえる。
　よって、本願発明におけるアナログスイッチのオン抵抗のテストのための時間の増加を抑制できるという効果は、引用発明から当業者が予測し得る範囲を超えるものとまではいえない。
　
　（２−３）最後に、本願発明には、本願の特許請求の範囲の請求項１に記載されている発明特定事項からみて、「各アナログスイッチのオン特性が規格内にあることを判定可能である」点については特定されていない。とすれば、本願発明において、「各アナログスイッチのオン特性が規格内にあることを判定可能である」点は、発明特定事項ではない。
　よって、仮に「引用文献１には、一つ一つのアナログスイッチのオン特性を測定しなくとも、二個のアナログスイッチの両端子間電圧を測定すれば、各アナログスイッチのオン特性が規格内にあることを判定可能であるという技術的思想が開示も示唆さえもない」としても、このことは本願発明の容易性の判断には影響しない。
　
　（３）以上のとおりであるから、上記主張は妥当なものとはいえない。
　
　
７．むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、その他の請求項に係る発明については論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。