【事件の表示】
　平成１０年特許願第５４２１０７号「調整可能なコンピュータ断層撮影装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１１年　１月　７日国際公開、ＷＯ９９／０００５４、平成１２年１２月１９日国内公表、特表２０００−５１６８３４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成１０年５月２５日（パリ条約による優先権主張外国庁受理平成９年６月２６日、欧州特許庁）を国際出願日とする出願であって、平成１８年９月１２日付け拒絶理由通知に対し、同年１２月１８日付けで手続補正され、平成１９年５月１４日付け最後の拒絶理由通知に対し、同年８月２２日付けで手続補正がされたが、同年１２月１４日付けで同年８月２２日付けの手続補正が却下され、同日付けで拒絶査定され、これに対し、平成２０年３月２４日に拒絶査定不服の審判が請求されるとともに、同日付けで手続補正されたものである。
　
第２　平成２０年３月２４日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成２０年３月２４日付けの手続補正を却下する。
　
［理由］
１．本件補正前及び本件補正後の本願発明
　平成１９年８月２２日付けの手続補正は、原審において既に却下されているので、本件補正により、特許請求の範囲については、平成１８年１２月１８日付け手続補正書の特許請求の範囲の
「１．  Ｘ線源と、
  放射線によって検査されるべき対象のいくつかの濃度プロファイルをピックアップするためのＸ線検出システムと、
  濃度プロファイルから画像信号を導出するための再構成ユニットと、
  対象の濃度値に基づいてＸ線源を調整するための制御システムとを含むコンピュータ断層撮影装置であって、
  上記制御システムは、検査されるべき上記対象の一部の組織の種類に基づいて上記Ｘ線源を調整することにより、異なる組織の種類について所望の異なる画像品質を得るよう構成されていることを特徴とする装置。
２．  上記制御システムは、上記Ｘ線源の基準調整量に基づいて上記Ｘ線源を調整するよう構成されていることを特徴とする請求項１記載のコンピュータ断層撮影装置。
３．  上記基準調整量は、検査されるべき上記対象の一部に依存することを特徴とする請求項１又は２記載のコンピュータ断層撮影装置。
４．  上記制御システムは、上記制御システムによって導出された調整量と上記基準調整量との間の差を考慮して上記Ｘ線を調整するよう構成されていることを特徴とする請求項２又は３記載のコンピュータ断層撮影装置。
５．  上記制御システムは、上記制御システムによって導出された調整量と上記基準調整量との間の差を表示するよう構成されていることを特徴とする請求項４記載のコンピュータ断層撮影装置。
６．  上記Ｘ線源の調整は、上記Ｘ線源によって放出されるべきＸ線の強度及び／又はエネルギーに関係することを特徴とする、請求項１乃至５のうちいずれか１項記載のコンピュータ断層撮影装置。
７．  上記コンピュータ断層撮影装置は、上記対象の性質に依存してＸ線によって上記対象を照射することによって上記濃度値を測定するよう構成されることを特徴とする、請求項１又は２記載のコンピュータ断層撮影装置。
８．  上記Ｘ線源の調整量は、上記Ｘ線源によって放出されるべきＸ線の強度及び／又はエネルギーの基準調整量に対する減少に関係することを特徴とする、請求項６又は７記載のコンピュータ断層撮影装置。
９．  上記制御システムは、画像の雑音レベルを表わす雑音インデックスに基づいて上記Ｘ線源を調整するよう構成されることを特徴とする、請求項１乃至８のうちいずれか１項記載のコンピュータ断層撮影装置。
１０．  上記制御システムは、上記対象の上記Ｘ線源及びＸ線検出システムに対する向き及び／又は位置に特に基づいて上記Ｘ線を調整するよう構成されることを特徴とする、請求項１乃至９のうちいずれか１項記載のコンピュータ断層撮影装置。
１１．  Ｘ線源と、Ｘ線検出システムと、再構成ユニットと、制御システムとを含むコンピュータ断層撮影のためのＸ線コンピュータ断層撮影の方法であって、
　上記Ｘ線検出システムが、上記Ｘ線源からのＸ線によって照射された対象からの信号を受信する段階と、
  上記Ｘ線検出システムが、放射線によって検査されるべき対象のいくつかの濃度プロファイルをピックアップする段階と、
　上記Ｘ線検出システムが、上記濃度プロファイルから画像信号を導出する段階とを有し、
  上記Ｘ線源は上記対象の濃度値に基づいて調整され、
　上記制御システムが、上記Ｘ線源を、検査されるべき上記対象の一部の組織の種類に基づいて調整することにより、異なる組織の種類について所望の異なる画像品質を得ることを特徴とする方法。」
とあったものを、
「【請求項１】
　Ｘ線源と、
　放射線によって検査されるべき対象のいくつかの濃度プロファイルをピックアップするためのＸ線検出システムと、
　濃度プロファイルから画像信号を導出するための再構成ユニットと、
　対象の濃度値に基づいてＸ線源を調整するための制御システムとを含むコンピュータ断層撮影装置であって、
　上記制御システムは、検査されるべき上記対象の一部の組織の種類に基づいて上記Ｘ線源を調整することにより、異なる組織の種類に適合した画像の雑音レベルを得るよう構成され、
　上記制御システムは、上記対象の濃度値と上記Ｘ線源の基準調整量とに基づいて上記Ｘ線源を調整するよう構成され、上記基準調整量は多数の上記対象の一部の組織の画像を形成することによって経験的に決定されることを特徴とする装置。
　　【請求項２】
　上記基準調整量は、検査されるべき上記対象の一部に依存することを特徴とする請求項１記載のコンピュータ断層撮影装置。
　　【請求項３】
　上記制御システムは、上記制御システムによって導出された調整量と上記基準調整量との間の差を考慮して上記Ｘ線を調整するよう構成されていることを特徴とする請求項１又は２記載のコンピュータ断層撮影装置。
　　【請求項４】
　上記制御システムは、上記制御システムによって導出された調整量と上記基準調整量との間の差を表示するよう構成されていることを特徴とする請求項３記載のコンピュータ断層撮影装置。
　　【請求項５】
　上記Ｘ線源の調整は、上記Ｘ線源によって放出されるべきＸ線の強度及び／又はエネルギーに関係することを特徴とする、請求項１乃至４のうちいずれか１項記載のコンピュータ断層撮影装置。
　　【請求項６】
　上記コンピュータ断層撮影装置は、上記対象の性質に依存してＸ線によって上記対象を照射することによって上記濃度値を測定するよう構成されることを特徴とする、請求項１記載のコンピュータ断層撮影装置。
　　【請求項７】
　上記Ｘ線源の調整量は、上記Ｘ線源によって放出されるべきＸ線の強度及び／又はエネルギーの基準調整量に対する減少に関係することを特徴とする、請求項５又は６記載のコンピュータ断層撮影装置。
　　【請求項８】
　上記制御システムは、画像の雑音レベルを表わす雑音インデックスに基づいて上記Ｘ線源を調整するよう構成されることを特徴とする、請求項１乃至７のうちいずれか１項記載のコンピュータ断層撮影装置。
　　【請求項９】
　上記制御システムは、上記対象の上記Ｘ線源及びＸ線検出システムに対する向き及び／又は位置に特に基づいて上記Ｘ線を調整するよう構成されることを特徴とする、請求項１乃至８のうちいずれか１項記載のコンピュータ断層撮影装置。
　　【請求項１０】
　Ｘ線源と、Ｘ線検出システムと、再構成ユニットと、制御システムとを含むコンピュータ断層撮影装置のためのＸ線コンピュータ断層撮影の方法であって、
　上記Ｘ線検出システムが、上記Ｘ線源からのＸ線によって照射された対象からの信号を受信する段階と、
　上記Ｘ線検出システムが、放射線によって検査されるべき対象のいくつかの濃度プロファイルをピックアップする段階と、
　上記Ｘ線検出システムが、上記濃度プロファイルから画像信号を導出する段階とを有し、
　上記Ｘ線源は上記対象の濃度値に基づいて調整され、
　上記制御システムが、多数の対象の一部の組織の画像を形成することによって経験的に決定された上記Ｘ線源の基準調整量に基づいて、上記Ｘ線源を、上記対象の濃度値と検査されるべき上記対象の一部の組織の種類とに基づいて調整することにより、異なる組織の種類に適合した画像の雑音レベルを得ることを特徴とする方法。」
と補正しようとするものである。
　すると、本件補正は、
（ａ）本件補正前の請求項１及び１１に記載した発明を特定するために必要な事項である、「制御システム」について「異なる組織の種類について所望の異なる画像品質を得る」ことを、「異なる組織の種類に適合した画像の雑音レベルを得る」るようにし、すなわち、「所望の異なる画像品質」を「画像の雑音レベル」と限定した点、
（ｂ）補正前の請求項２を削除するとともに、補正前の請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「制御システム」に関して、当該請求項１を引用する補正前の請求項２における、「上記制御システムは、上記Ｘ線源の基準調整量に基づいて上記Ｘ線源を調整するよう構成されていること」を付加した上で、Ｘ線源の調整するための条件として「対象の濃度値」を付加し、かつ、基準調整量が「多数の上記対象の一部の組織の画像を形成することによって経験的に決定される」ものに限定した点、及び
（ｃ）補正前の請求項１１に記載した発明を特定するために必要な事項である「制御システム」に関して、「上記Ｘ線源を、検査されるべき上記対象の一部の組織の種類に基づいて調整すること」ことを、「多数の対象の一部の組織の画像を形成することによって経験的に決定された上記Ｘ線源の基準調整量に基づいて、上記Ｘ線源を、上記対象の濃度値と検査されるべき上記対象の一部の組織の種類とに基づいて調整すること」と限定した点
を含むものであって、各々は平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法１７条の２第４項２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　　
　そこで、本件補正後の前記請求項１０に記載された発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法１７条の２第５項において準用する同法１２６条５項の規定に適合するか）について以下に検討する。
　　
２．引用例
（１）原査定の最後の拒絶理由通知で引用された本願出願前に頒布された刊行物である特開平３−２９５５４１号公報（以下、「引用例１」という。）には、図面とともに次の事項が記載されている。
　　
（１−ア）「上記目的を達成するため、本発明は、被検体を載置した寝台を移動させながらＸ線管球からＸ線を曝射し、前記被検体を透過した投影データを検出器で検出してスキャノグラム画像を生成するＸ線診断装置において、前記検出器で収集された線量を所定の周期で計数する計数手段と、前記計数手段にて前回計数された線量が所定の設定値となるように今回計数時のＸ線被曝線量を制御する被曝線量制御手段と、を有することが特徴である。」（第２頁左上欄第１５行〜右上欄第３行）
　　
（１−イ）「以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。第１図は本発明が適用されたＸ線診断装置の第一実施例を示しており、寝台４上に載置された被検体３の上方からＸ線を曝射するＸ線管球５と、曝射されるＸ線量を調節するフィルタとしてのウェッジ６と、前記Ｘ線管球に対向配置され、被検体３を透過した後のＸ線線量を検出して電荷量に変換する検出器７と、所定のサンプリング周期毎に前記検出器７で検出された線量をカウントするウント検出器１３を有している。
　また、このＸ線診断装置は計算機システム１０と、管電流制御装置１１と、Ｘ線電源装置１２を備えており、計算機システム１０は検出器７で収集されるＸ線線量を設定する線量設定部８と、設定された線量と前記カウント検出器１３で求められた１周期分の線量とを比較して差分データを出力する比較部９から構成されている。管電流制御装置１１はこの差分データに基づいてＸ線電源装置１２に操作信号を出力し、Ｘ線管球５から曝射される線量を制御するものである。
　次に、本実施例の作用について説明する。
　寝台４上に被検体３が載置され、スキャノグラム画像の撮影が開始されると、Ｘ線電源装置１２からＸ線管球５に電圧が印加されこれによってＸ線管球５から被検体３に向けてＸ線が曝射される。
　曝射されたＸ線はウェッジ６で線量が調節された後、被検体３を透過して検出器７によって検出される。そして、検出されたＸ線線量は電荷量に変換され、カウント検出器１３に取込まれた後、後処理工程（不図示）へ出力される。
　このときカウント検出器１３では、所定のサンプリング周期毎に線量をカウントしており、このカウント値を計算機システム１０の比較部９に出力する。また、操作者は１サンプリング周期の間に検出器７に収集されるＸ線線量を予め線量設定部８に設定しているので、比較部９ではこの設定値とカウント検出器１３からのカウント値とを比較して両者の差分データを求める。
　そして、管電流制御装置１１では、前回のサンプリング周期の際に求められた差分データが零となるように今回のサンプリング周期にＸ線管球５から曝射されるＸ線線量を制御するのである。
　このようにして、本実施例では前回サンプリング時の線量に基づいて今回サンプリング時のＸ線曝射量を制御しているので、被検体３の撮影領域に応じた線量だけＸ線が曝射されるようになる。従って、撮影領域が狭いときにはＸ線の曝射量が少なく、反対に、撮影領域が大きいときにはＸ線の曝射量が多くなる。
　その結果、被検体３の各部位について均一にＸ線が曝射されるので、鮮明なスキャノグラム画像を撮影することができ、かつ、特定の部分だけが多量に被曝されるという問題は解消される。」（第２頁右上欄第１３行〜第３頁左上欄第５行）
　　
　上記摘記事項（１−ア）記載の「前記被検体を透過した投影データを検出器で検出してスキャノグラム画像を生成するＸ線診断装置」及び上記摘記事項（１−イ）記載の「検出されたＸ線線量は電荷量に変換され、カウント検出器１３に取込まれた後、後処理工程（不図示）へ出力される。」から、検出されたＸ線線量は、カウント検出器１３に取り込まれた後、後処理工程によりスキャノグラム画像が生成されることが読み取れる。
　また、上記摘記事項（１−イ）記載の「本実施例では前回サンプリング時の線量に基づいて今回サンプリング時のＸ線曝射量を制御しているので、被検体３の撮影領域に応じた線量だけＸ線が曝射されるようになる。」からみて、検出器７は、被検体３のいくつかの撮影領域の線量を検出することが読み取れる。
　これらの記載事項によると、引用例１には、次の発明（以下、「引用例１発明」という。）が記載されていると認められる。
「Ｘ線管球５と、検出器７と、カウント検出器１３と管電流制御装置１２を含むＸ線診断装置のためのＸ線撮影の方法であって、
　上記検出器７が、被検体３を透過した後のＸ線線量を検出する段階と、
　上記検出器７が、被検体３のいくつかの撮影領域の線量を検出する段階と、
　検出されたＸ線線量は、カウント検出器１３に取り込まれた後、後処理工程によりスキャノグラム画像が生成される段階とを有し、
　上記Ｘ線管球５は被検体３の前回サンプリング時の線量に基づいて制御され、
　上記カウント検出器１３が、検出器７に収集されるＸ線線量を予め設定された線量設定部の設定値に基づいて、被検体３の撮影領域に応じた線量だけ曝射されるＸ線線量を調整する方法。」
　　
（２）原査定の最後の拒絶理由通知で引用された本願出願前に頒布された刊行物である特開平８−６６３８９号公報（以下、「引用例２」という。）には、図面とともに次の事項が記載されている。
　　
（２−ア）「【００１７】
【実施例】図１は、本発明に係るＸ線診断装置の第１実施例を示すブロック図である。
【００１８】図１に示すように、第１実施例のＸ線診断装置１は、Ｘ線を発生するＸ線管球３と、Ｘ線管球３の管電圧、管電流、Ｘ線パルス幅等の出力条件を制御するＸ線コントローラ５と、前記Ｘ線出力条件を決定する演算装置７と、Ｘ線管球３と後述するイメージインテンシファイアとの距離、Ｘ線管球３と被検体との距離を制御する支持器コントローラ９と、被検体を透過し、さらに散乱Ｘ線を除去するグリッド１１を通過したＸ線像を光学像に変換するイメージインテンシファイア（以下Ｉ．Ｉ．と記す）１３と、Ｉ．Ｉ．１３と光学系（レンズ、アイリス）１５を通過した光学像を電気信号に変換するＴＶカメラ１７と、を備えている。
【００１９】また、図２に示すように演算装置７は、据付時もしくは点検時に測定された後述のグリッドの直接Ｘ線透過率、アクリルのＸ線減弱係数、Ｉ．Ｉ．から発生するベーリングブレア発生率、散乱Ｘ線発生率および画像に重畳するノイズを基にして被検体の厚みをアクリルの厚みに換算し、この換算されたアクリルの厚みから管電圧ＫＶに対するｍＡｓ値（管電流と照射時間の積）、光量透過率α、Ｓ／Ｎ比および被検体被曝線量を演算し、これらをテーブル化したＸ線出力条件テーブルを作成する演算部３１と、前記Ｘ線出力条件テーブルを保持する条件保持部３３と、オペレータにより入力された値以上のＳ／Ｎ比となり、かつその中で最少の被検体被曝線量となる出力条件の組み合わせを前記Ｘ線出力条件テーブルの中から選択する選択部３５と、選択部３５に対して選択の基準となるＳ／Ｎ比等の入力を行うデータ入力部３７と、オペレータからデータ入力部３７を介して入力されたＳ／Ｎ比等のデータを表示するとともに、選択部３５により選択されたＸ線出力条件を表示する表示部３９と、を備えている。なお、演算部３１と選択部３５を一つの装置で行わせるようにしても良い。」
　　
（２−イ）「【００２４】具体的には、対象となっている装置上で所定の厚みのアクリルファントムを実際にＸ線撮影し、その結果から式１〜９で用いているパラメータを全て算出し、データ入力部３７から演算部３１に入力しておく。これにより、如何なる条件の下でも被検体（患者）被曝線量、Ｉ．Ｉ．入射線量、画像レベル、画像ノイズ等を推定することができる。
【００２５】なお、この様な式を用いなくても管電圧を１ｋＶ毎、被検体（アクリルファントム）の厚みを１ｃｍ毎に変化させ、画像レベル、ノイズ等を被検体被曝線量等を実測してＸ線出力条件テーブルを作成しても良い（但し、この場合は多大な計測時間を必要とする）。
【００２６】次に、Ｘ線診断装置１の作用を図３に示すＸ線出力条件テーブル作成フローチャートを基に説明する。
【００２７】通常、医療行為では、透視によって被検体（患者）の撮影部位を確認したり、カテーテル治療を行う。このとき、Ｘ線コントローラ５内の自動露出により透視時の管電圧（ＦＫＶ）、ｍＡｓ値（ＦｍＡｓ）および光量透過率（Ｆα）が決められ、適正な画像が表示される。
【００２８】ここで演算装置７は、前記ＦＫＶ、ＦｍＡｓ、Ｆαと実際に出力された透視像とから被検体（患者）の厚みを推定する（ステップＳＴ１）。この推定値は、人体の主な構成物質とＸ線吸収が近いアクリルの厚みに換算されて表示部３９に表示される。被検体（患者）は、Ｘ線吸収の大きい所と小さい所を有している。このため、透視像の画像レベルの最大、最小および平均値を基にして被検体の最大、最小および平均の厚みを推定する。
【００２９】そして演算部３１は、管電圧を５０ｋＶ（初期値）としたとき、予め設定されたＩ．Ｉ．入射線量となるｍＡｓ値をそれぞれ算出する（ステップＳＴ３，ＳＴ５）。例えば、アクリルに換算した被検体の平均の厚みが２０ｃｍとすれば、そのアクリルを透過してＩ．Ｉ．１３に吸収される直接Ｘ線エネルギー（φP ・ＥP ）と散乱Ｘ線エネルギー（φs ・ＥS ）の和を基に、Ｉ．Ｉ．入射線量が決まる（式２，式４）。このとき、φP ・ＥP ，φs ・ＥS およびμair は管電圧ＫＶによって定まる。仮に管電圧５０ｋＶ，１ｍＡｓのとき、Ｉ．Ｉ．入射線量が１０μＲ／ｆ（１フレーム当りの入射線量）と計算されたとすれば、予め設定されたＩ．Ｉ．入射線量、例えば５０μＲ／ｆを実現するのは５ｍＡｓということになる。」
　　
（２−ウ）「【００３２】さらに、演算部３１は、被検体（患者）の被曝線量をアクリルに換算した被検体の平均の厚みの領域で推定する（ステップＳＴ９）。
【００３３】こうして管電圧５０ｋＶから２ｋＶおきに１２０ｋＶまで変化させ、前述同様にｍＡｓ値、Ｓ／Ｎ比および被検体の被曝線量をそれぞれ算出する（ステップＳＴ５〜ＳＴ１３）。そして、これら算出結果を基に図５に示すようなＸ線出力条件テーブルを作成する。
【００３４】また、予め設定された最大画像レベル、例えばデジタルカラント値で３０００となる光量透過率αも演算部３１により算出し前記Ｘ線出力条件テーブルに併記している。なお、図５に示すＸ線出力条件テーブルは、管電圧１０ｋＶおきに抜粋した形で記している。
【００３５】その後、作成されたＸ線出力条件テーブルは、条件保持部３３に保持される。
【００３６】そして、選択部３５は、オペレータによりデータ入力部３７から入力された値以上のＳ／Ｎ比となり、かつその中で最少の被検体被曝線量となるＸ線出力条件を前記Ｘ線出力条件テーブルの中から選択する。」
　　
　上記（２−ア）の記載から、Ｘ線出力条件テーブルと被検体の厚みとに基づいて、Ｘ線出力条件を選択することが読み取れる。
　　
　また、上記（２−ア）の記載、及び、上記（２−イ）記載の「この様な式を用いなくても管電圧を１ｋＶ毎、被検体（アクリルファントム）の厚みを１ｃｍ毎に変化させ、画像レベル、ノイズ等を被検体被曝線量等を実測してＸ線出力条件テーブルを作成しても良い」から、Ｘ線条件出力テーブルは、多種類のアクリルファントムの画像を形成して決定されることが読み取れる。
　　
　そして、上記（２−イ）記載の「通常、医療行為では、透視によって被検体（患者）の撮影部位を確認したり、カテーテル治療を行う。」、及び、「透視像の画像レベルの最大、最小および平均値を基にして被検体の最大、最小および平均の厚みを推定する」、並びに、上記（２−ウ）記載の「選択部３５は、オペレータによりデータ入力部３７から入力された値以上のＳ／Ｎ比となり、かつその中で最少の被検体被曝線量となるＸ線出力条件を前記Ｘ線出力条件テーブルの中から選択する。」ことから、被検体の撮影部位を確認したりする目的で行った透視像の画像レベルから被検体の厚みを推定し、入力したＳ／Ｎ比以上、すなわち、当該被検体の厚みに応じたＳ／Ｎ比で検出できるような条件でのＸ線出力条件を選択することが読み取れる。
　　
３．対比・判断
　本願補正発明と引用例１発明とを対比する。
　　
（１）引用例１発明の「Ｘ線管球５」は、本願補正発明の「Ｘ線源」に相当し、同様に引用例１発明の「検出器７」、「検出器７に収集されるＸ線線量を予め設定された線量設定部の設定値」は、本願補正発明の「Ｘ線検出システム」、「基準調整量」に各々相当する。
　　
（２）引用例１発明の「Ｘ線線量」は、スキャノグラム画像を生成されることから、技術常識からみて濃淡情報を有しているといえるから、本願補正発明の「濃度プロファイル」及び「濃度値」に相当する。
　　
（３）引用例１発明の「検出器７が、被検体３を透過した後のＸ線線量を検出する段階」は、機能からみて、本願補正発明の「Ｘ線検出システムが、上記Ｘ線源からのＸ線によって照射された対象からの信号を受信する段階」に相当する。
　　
（４）引用例１発明の「検出器７が、被検体３のいくつかの撮影領域の線量を検出する段階」は、撮影領域の線量は、技術常識からみて、被検体を透過した後のＸ線線量による濃淡情報を有していることから、本願補正発明の「Ｘ線検出システムが、放射線によって検査されるべき対象のいくつかの濃度プロファイルをピックアップする段階」に相当する。
　　
（５）引用例１発明の「検出されたＸ線線量は、カウント検出器１３に取り込まれた後、後処理工程によりスキャノグラム画像が生成される段階」は、その画像生成工程からみて、本願補正発明の「上記Ｘ線検出システムが、上記濃度プロファイルから画像信号を導出する段階」に相当する。
　　
（６）引用例１発明の「Ｘ線管球５は被検体３の前回サンプリング時の線量に基づいて制御され、」は、サンプリング時の線量は技術常識からみて、被検体を透過した後のＸ線線量による濃淡情報を有していることから、本願補正発明の「Ｘ線源は上記対象の濃度値に基づいて調整」に相当する。
　　
（７）引用例１発明の「上記カウント検出器１３が、検出器７に収集されるＸ線線量を予め設定された線量設定部の設定値に基づいて、被検体３の撮影領域に応じた線量だけ曝射されるＸ線線量を調整すること」と、
本願補正発明の「制御システムが、多数の対象の一部の組織の画像を形成することによって経験的に決定された上記Ｘ線源の基準調整量に基づいて、上記Ｘ線源を、上記対象の濃度値と検査されるべき上記対象の一部の組織の種類とに基づいて調整することにより、異なる組織の種類に適合した画像の雑音レベルを得ること」とは、
ともに基準調整量と対象の濃度値と組織の種類をもとにX線源を調整する制御過程からみて、「制御システムが、Ｘ線源の基準調整量に基づいて、上記Ｘ線源を、上記対象の濃度値に基づいて調整する」点で共通する。
　　
（８）引用例１発明の「Ｘ線診断装置のためのＸ線撮影の方法」と、本願補正発明の「コンピュータ断層撮影装置のためのＸ線コンピュータ断層撮影の方法」とは、「Ｘ線撮影装置のためのＸ線撮影の方法」という点で共通する。
　　
　以上、（１）〜（８）の考察から、両者は、
　　
（一致点）
「Ｘ線源と、Ｘ線検出システムと、制御システムとを含むＸ線撮影装置のためのＸ線撮影の方法であって、
　上記Ｘ線検出システムが、上記Ｘ線源からのＸ線によって照射された対象からの信号を受信する段階と、
　上記Ｘ線検出システムが、放射線によって検査されるべき対象のいくつかの濃度プロファイルをピックアップする段階と、
　上記Ｘ線検出システムが、上記濃度プロファイルから画像信号を導出する段階とを有し、
　上記Ｘ線源は上記対象の濃度値に基づいて調整され、
　制御システムが、Ｘ線源の基準調整量に基づいて、上記Ｘ線源を、上記対象の濃度値に基づいて調整することを特徴とする方法。」
　　
である点で一致し、次の点で相違する。
　　
（相違点１）
　「制御システムが、Ｘ線源の基準調整量に基づいて、上記Ｘ線源を、上記対象の濃度値に基づいて調整すること」が、本願補正発明では、「多数の対象の一部の組織の画像を形成することによって経験的に決定された上記Ｘ線源の基準調整量に基づいて、上記Ｘ線源を、上記対象の濃度値と検査されるべき上記対象の一部の組織の種類とに基づいて調整することにより、異なる組織の種類に適合した画像の雑音レベルを得る」のに対し、引用例１発明では、「上記カウント検出器１３が、検出器７に収集されるＸ線線量を予め設定された線量設定部の設定値に基づいて、被検体３の撮影領域に応じた線量だけ曝射されるＸ線線量を調整する」点。
　　
（相違点２）
　Ｘ線撮影の方法の前提となる装置が、本願補正発明では、「再構成ユニットを含むコンピューター断層撮影装置」であるのに対し、引用例１発明では、「Ｘ線診断装置」であり、コンピューター断層撮影に係る記載がない点。
　　
４．当審の判断
　上記（相違点１）について検討する。
　引用例２には、前記記載事項（２−ア）から（２−ウ）からみて、
「Ｘ線出力条件テーブルは、多種類のアクリルファントムの画像を形成して決定され、被検体の撮影部位を確認したりする目的で行った透視像の画像レベルから被検体の厚みを推定し、入力したＳ／Ｎ比以上、すなわち、当該被検体の厚みに応じたＳ／Ｎ比で検出できるような条件でのＸ線出力条件を選択し、X線管球を調整する」ことが記載されているといえる。
　ここで、引用例２に記載された「Ｘ線管球」、「Ｘ線出力条件テーブル」、「透視像の画像レベル」、「Ｓ／Ｎ比」、「被検体の厚み」は、本願補正発明の「X線源」、「基準調整量」、「対象の濃度値」、「画像の雑音レベル」、「組織の種類」に各々相当するといえる。
　そして、引用例１及び引用例２は、Ｘ線出力を基準調整量を用いて調整するという同一の技術課題を有していることから、引用例１発明における制御システムにおけるＸ線源の調整過程として、引用例２に記載された多種類のアクリルファントムの画像を形成して決定された基準調整量と、対象の濃度値から組織の種類を推定し、組織の種類に応じた画像の雑音レベルで検出できるような条件でＸ線源を調整することを適用することは、容易になしうることである。
　また、Ｘ線診断装置の各種設定値を過去の測定結果に基づいて経験的に決めることは、周知の技術である。
　例えば、特開昭６２−１５８００号公報には、「従来Ｘ線診断装置たとえばＸ線テレビ撮影装置において、Ｘ線管の管電圧、管電流、およびゲインを決定する光学絞りの設定は、撮像管の出力電流レベルが所定範囲内に入るようにＸ線技師の経験に従って決定されている。」（第１頁右下欄第８〜１２行）及び「以上総括すると、透視撮影時の条件により被写体を等価水ファントムとした場合の最小厚みl０、最大厚みｌ1を、シミュレーションによりあらかじめ求めておいたデータにより決定し、次いで前記最小厚みｌ０、最大厚みｌ1において、種々の管電圧における指標Ｐ、Ｉを求め、多数の指標Ｐ、Ｉの中で最大の値となる指標Ｐ、Ｉを与えるときの管電圧、管電流および光学絞りの値が最適状態を与えることとなる。」（第４頁左上欄第１９行〜右上欄第７行）と記載されている。
　してみれば、上記適用に際して、基準調整量を決定されるための情報として組織を模擬したファントムを用いるか、実際の組織を用いたデータで経験的に決定するかは、当業者の通常の創作活動の範囲で適宜選択すべき事項である。
　　
　したがって、引用例１発明の制御システムにおけるＸ線源の調整過程に引用例２に記載された技術を適用し、本願補正発明のようにすることは、当業者であれば容易になしうることである。
　　
　次に（相違点２）について検討する。
　コンピューター断層撮影を行う前にＸ線照射量等を計画のためにスキャノグラムを撮影することは、周知の技術（例えば、特開平２―１２１６３５号公報、特開平５−３０５０７７号公報を参照）である。
　そして、引用例１発明のＸ線診断装置もスキャノグラム画像を得ていることから、引用例１発明のX線診断装置にコンピューター断層撮影機能を付加し、本願補正発明のようにコンピューター断層撮影装置のためX線断層撮影の方法とすることは、容易になしうることである。
　　
　　そして、本願補正発明の奏する効果についても、引用例１及び引用例２の記載事項並びに上記周知技術に基づいて当業者が予測し得る範囲内のものである。
　
　　なお、請求人は、当審における審尋に対する平成２１年９月２４日付け回答書において、「１．特許請求の範囲を添付「３．補正案」の通り補正する機会を与えていただきたくお願い申し上げます。」旨の主張をし、補正案を示している。
　　
　しかしながら、本願補正発明に対応する補正案の請求項１０の「上記制御システムは上記Ｘ線源を、上記対象の濃度値に基づいて、及び検査されるべき上記対象の上記一部にコントラスト解像度を適合させるように、上記画像の雑音レベルを表す雑音インデックスに基づいて調整する」ことは、引用例２においても、雑音レベルに相当するS/N比を入力したものと、対象の濃度値に基づく被検体の厚みに基づいてX線源を調整する技術として開示されているといえる。
　　
　してみると、上記補正案によっても、引用例１発明、引用例２の記載事項及び周知の技術に対して，その進歩性を認めることはできない。
　　
　したがって、本願補正発明は、引用例１発明、引用例２の記載事項及び上記周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により独立して特許を受けることができない。
　　　
５．本件補正についての結び
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　　
第３　本願発明について
１．本願発明
　平成２０年３月２４日付けの手続補正は上記のとおり却下されることとなったので、本願の請求項１乃至１１に係る発明は、平成１８年１２月１８日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１乃至１１に記載されたとおりのものであるところ、請求項１１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、「第２［理由］１．」に本件補正前の請求項１１として記載したとおりのものである。
　　
２．引用例
　原査定の最後の拒絶の理由で引用された引用例１及び引用例２の記載事項は、前記「第２［理由］２．」に記載したとおりである。
　　
３．対比・判断
　本願発明は、上記「第２［理由］」で検討した本願補正発明から、
「異なる組織の種類に適合した画像の雑音レベルを得る」とあったところ、「異なる組織の種類について所望の異なる画像品質を得る」と、また、
「多数の対象の一部の組織の画像を形成することによって経験的に決定された上記Ｘ線源の基準調整量に基づいて、上記Ｘ線源を、上記対象の濃度値と検査されるべき上記対象の一部の組織の種類とに基づいて調整すること」とあったところ、
「上記Ｘ線源を、検査されるべき上記対象の一部の組織の種類に基づいて調整すること」として、限定を除いたものである。
　　
　そうすると、本願発明の構成要件を全て含み、更に他の要件を付加したものに相当する本願補正発明が前記「第２［理由］４．」に記載したとおり、引用例１発明、引用例２の記載事項及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様の理由により、引用例１発明、引用例２の記載事項及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　　
４．むすび
　以上のとおり、本願の請求項１１に係る発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
　したがって、本願は、その他の請求項について検討するまでもなく、拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。