【事件の表示】
　特願２０００−３７６２３７「光電子システム」拒絶査定不服審判事件〔平成１３年　７月２７日出願公開、特開２００１−２０１３６９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成１２年１２月１１日の出願（優先権主張　１９９９年１２月１５日　欧州特許庁）であって、平成１６年５月１８日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年７月９日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同日付けで手続補正がなされたものである。
　
第２　平成１６年７月９日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　　平成１６年７月９日付けの手続補正を却下する。
［理由］
　１．平成１６年７月９日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）の内容
　本件補正は、以下の（１）に示される本件補正前の特許請求の範囲を、以下の（２）に示される本件補正後の特許請求の範囲に補正することを含むものである。
　（１）本件補正前の特許請求の範囲
　「【請求項１】　寸法を測定する光電子システムにおいて、
　少なくとも１つの光エミッタ（２０）と、
　少なくとも１つの光検出器（２１）と、
　複数の不透明な目盛（３１）を備えた少なくとも１つの目盛部分を包含し、光電子システムに対して移動され得る直線状の透明な定規（３０）と、
　前記光エミッタ（２０）により発生した単数または複数の光線ビームを前記目盛部分上で焦点を結ばせ、前記定規（３０）を通過した光線ビームを前記光検出器（２１）上で焦点を結ばせる光学系（１）と
を包含し、
　前記光エミッタ及び前記光検出器が前記定規の同じ側にあり、
　前記光学系が統合された光学ブロックにより構成されており、
　前記直線状の透明な定規が前記光学ブロックの少なくとも２つの光学面同士の間に配置されている
光電子システム。
　　【請求項２】　請求項１記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記光エミッタ及び光検出器が同一平面内に装架されている光電子システム。
　　【請求項３】　請求項２記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記光エミッタ及び光検出器が同一プリント配線回路基板（２）に装架されている光電子システム。
　　【請求項４】　請求項３記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記定規（３０）が前記プリント配線回路基板（２）に垂直な平面を占めている光電子システム。
　　【請求項５】　請求項４記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記光学ブロック（１）が、前記光エミッタにより発せられた光線ビームを集めこれを前記定規（３０）の前記部分に集める第１の光学面（１２）と、この光線ビームを反射し、前記定規（３０）の前記部分に集める第２の光学面（１３）と、前記定規を通った光線を集束及び／または反射する第３の光学面（１４）と、前記光線ビームを前記光検出器上に焦点を結ばせる第４の光学面（１５）とを包含する光電子システム。
　　【請求項６】　請求項５記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記第２の光学面（１３）及び第３の光学面（１４）が、前記定規（３０）のそれぞれの側に対向して配置されている光電子システム。
　　【請求項７】　請求項５記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記第１の光学面（１２）及び第４の光学面（１５）が球面形状である光電子システム。
　　【請求項８】　請求項５記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記第２の光学面（１３）及び第３の光学面（１４）が楕円面形状である光電子システム。
　　【請求項９】　請求項５記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、少なくとも１つの円筒面形状の光学面を包含する光電子システム。
　　【請求項１０】　請求項５記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記第２の光学面（１３）及び第３の光学面（１４）の中の少なくとも１つが金属で被覆したものである光電子システム。
　　【請求項１１】　請求項１０記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記第２の光学面（１３）及び第３の光学面（１４）のうちの少なくとも１つが、入来光線ビームの光学軸線に対して約４５度の角度で傾斜している光電子システム。
　　【請求項１２】　請求項５記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記光学ブロック（１）が、前記定規（３０）と前記第３の光学面（１４）との間に第５の光学面（１７）と第６の光学面（１６）とを包含し、前記第５の光学面と第６の光学面とが前記光線ビームを平行光線としている光電子システム。
　　【請求項１３】　請求項１２記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記第２の光学面（１３）及び前記第３の光学面（１４）が、前記定規（３０）のそれぞれの側に対応して配設されている光電子システム。
　　【請求項１４】　請求項１２記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、少なくとも１つの円筒面形状の光学面を包含する光電子システム。
　　【請求項１５】　請求項１２記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記第２の光学面（１３）及び第３の光学面（１４）の中の少なくとも１つが球面形状のものである光電子システム。
　　【請求項１６】　請求項１５記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記第２の光学面（１３）及び第３の光学面（１４）が、これら第２の光学面及び第３の光学面での全反射を保証するに充分に光学軸線に対して傾斜している光電子システム。
　　【請求項１７】　請求項１２記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記第６の光学面（１６）が、前記目盛部分（３１）よりも前記プリント配線回路基板（２）からさらに遠くに離されている光電子システム。
　　【請求項１８】　請求項１記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記光検出器が、前記光学ブロックの反対側のプリント配線回路基板上にフリップチップ技術によって装架されており、前記プリント配線回路基板の孔が光線をこのプリント配線回路基板を通ることを許容する一方、前記光エミッタからの直接の光線から光検出器を防護している光電子システム。
　　【請求項１９】　請求項１８記載の寸法測定用の光電子システムにおいて、前記孔が保護用の透明材料で充填されている光電子システム。」
　
　（２）本件補正後の特許請求の範囲
　「【請求項１】　寸法を測定する光電子システムにおいて、
　少なくとも１つの光エミッタ（２０）と、
　少なくとも１つの光検出器（２１）と、
　複数の不透明な目盛（３１）を備えた少なくとも１つの目盛部分を包含し、光電子システムに対して移動され得る直線状の透明な定規（３０）と、
　前記光エミッタ（２０）により発生した単数または複数の光線ビームを前記目盛部分上で焦点を結ばせ、前記定規（３０）を通過した光線ビームを前記光検出器（２１）上で焦点を結ばせる光学系（１）と
を包含し、
　前記光エミッタ及び前記光検出器が前記定規の同じ側にあり、
　
モノリシックであり複数の光学面を有する
前記光学系が
　前記直線状の透明な定規が前記光学ブロックの少なくとも２つの光学面同士の間に配置されている
光電子システム。」
　なお、アンダーラインは、補正箇所を示すために付したものである。
　
　２．本件補正についての当審の判断
　本件補正は、補正前の請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「光学系」を構成する「統合された光学ブロック」に関して、「モノリシックであり複数の光学面を有する」との限定を付加するものである。
　したがって、本件補正は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものと認められ、特許法第１７条の２第４項第２号の規定に該当するものである。
　そこで、本件補正後の請求項１に係る発明（以下、「本願補正発明」という。）が、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるかどうか（特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について、以下検討する。
　
　（１）刊行物に記載された発明
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開昭６１−７１２号公報（以下、「引用刊行物」という。）には、図面とともに以下の事項が記載されている。
　　（ア）「この発明は精密に変位量を測定するための光学スケールの読取装置に係るものである。」（第１頁右下欄第２０行〜第２頁左上欄第１行）
　　（イ）「第６図に透過型スケールにおける主スケール１とインデックススケール２の関係を幾何学的に示す。ここで主スケール１に刻設された微細格子とインデックススケール２に刻設された微細格子とは平行で、かつピッチＰは同じである。そして図の下の格子は主スケール１、上の格子はインデックススケール２の微細格子であって、黒線部分は光を遮断する不透明部分である。」（第２頁左下欄第１０行〜第１７行）
　　（ウ）「第１１図は透過光方式のものの例で、検出器本体は断面Ｃ字形をなし、主スケール１に対してインデックススケール２はＣ字形本体の一端に相対して設けられている。光源１３からの光は光ファイバー１４、１５によって分けられて、第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２とされ、ミラー１６によって９０°方向を変えられて平行レンズ９を通って主スケール１、インデックススケール２を通過し、集光レンズ１１、ミラー１７により受光素子Ｓ１、Ｓ２上に集光される。・・・・主スケール１に対してインデックススケール２を有する検出器１８を移動させてその変位量を検出する。」（第４頁左上欄第３行〜第１６行）
　
　上記摘記事項（ア）ないし（ウ）及び図面の記載から、以下のことが読み取れる。
　・上記摘記事項（ア）から、引用刊行物には、変位量を測定するための光学スケールの読取装置が記載されている。
　・上記摘記事項（イ）及び図面の第６図から、光を遮断する複数の不透明部分を備えた微細格子が刻設された直線状の透明な主スケール１が読み取れる。
　・上記摘記事項（ウ）及び図面の第１１図から、光源１３からの光を光ファイバーによって分割した第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２と、受光素子Ｓ１、Ｓ２と、前記第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２からの光を主スケール１に入射させ、該主スケール１を通過した光を前記受光素子Ｓ１、Ｓ２上に集光させる光学系、また、該光学系が、複数の光学面を有し、ミラー１６、１７、平行レンズ９、集光レンズ１１等からなる光学ブロックにより構成されていること、直線状の透明な主スケール１が前記光学ブロックの２つの光学面同士の間に配置されていることが読み取れる。
　・図面の第１１図から、前記第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２と前記受光素子Ｓ１、Ｓ２は、前記主スケール１とほぼ直交する平面上に配置されており、該平面は前記主スケール１から離間していることが読み取れる。
　　
　以上のことから、引用刊行物には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
　「変位量を測定するための光学スケールの読取装置において、
　光源１３からの光を光ファイバーによって分割して作成した第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２と、
　受光素子Ｓ１、Ｓ２と、
　光を遮断する複数の不透明部分を備えた微細格子が刻設された直線状の透明な主スケール１と、
　前記第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２からの光を主スケール１に入射させ、該主スケール１を通過した光を前記受光素子Ｓ１、Ｓ２上に集光させる光学系と
を包含し、
　前記第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２及び前記受光素子Ｓ１、Ｓ２が前記主スケール１とほぼ直交する平面上に配置され、該平面は前記主スケール１から離間しており、
　複数の光学面を有し、ミラー１６、１７、平行レンズ９、集光レンズ１１等からなる光学ブロックにより前記光学系が構成されており、
　前記直線状の透明な主スケール１が前記光学ブロックの２つの光学面同士の間に配置されている　
光学スケールの読取装置。」
　
　（２）本願補正発明と引用発明との対比・判断
　本願補正発明と引用発明とを対比する。
　　（ａ）引用発明における「受光素子Ｓ１、Ｓ２」、「光を遮断する複数の不透明部分を備えた微細格子」、「主スケール１」、「光学系」、「光学ブロック」は、それぞれ、本願補正発明における「光検出器（２１）」、「複数の不透明な目盛（３１）を備えた少なくとも１つの目盛部分」、「定規（３０）」、「光学系（１）」、「光学ブロック」に相当する。
　　（ｂ）引用発明における「第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２」は、それら自身が発光するものではなく、光源１３からの光を光ファイバーで分割して作成した二次的な光源ではあるものの、一応光を発する光源である点で、本願補正発明における「光エミッタ（２０）」と共通する。
　　（ｃ）一般に、光学スケールの読取装置は変位量や寸法を測定するためのものであるから、引用発明における「変位量を測定するための光学スケールの読取装置」は、本願補正発明における「寸法を測定する光電子システム」に相当する。
　　（ｄ）本願補正発明における「前記光エミッタ及び前記光検出器が前記定規の同じ側にあり」がどのような配置関係を規定しているのか必ずしも明確ではないが、出願当初の本願明細書の特許請求の範囲の請求項２における「前記光エミッタ及び光検出器が同一平面内に装架されている」、同請求項３における「前記光エミッタ及び光検出器が同一プリント配線回路基板（２）に装架されている」及び同請求項４における「前記定規（３０）が前記プリント配線回路基板（２）に垂直な平面を占めている」という記載及び図面の図１、２の記載からみて、上記「前記光エミッタ及び前記光検出器が前記定規の同じ側にあり」には、前記光エミッタ及び光検出器が同一平面上に存在し、かつ、この平面が定規（２０）と直交するような構成が含まれるものと認められる。
　してみると、引用発明における「前記第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２及び前記受光素子Ｓ１、Ｓ２が前記主スケール１とほぼ直交する平面上に配置され、該平面は前記主スケール１から離間しており」は、本願補正発明における「前記光エミッタ及び前記光検出器が前記定規の同じ側にあり」に相当するということができる。
　
　したがって、本願補正発明と引用発明とは、
　「寸法を測定する光電子システムにおいて、
　少なくとも１つの光源と、
　少なくとも１つの光検出器と、
　複数の不透明な目盛を備えた少なくとも１つの目盛部分を包含する直線状の透明な定規と、
　前記光源により発生した単数または複数の光線ビームを前記定規に入射させ、前記定規を通過した光線ビームを前記光検出器上で焦点を結ばせる光学系と
を包含し、
　前記光源及び前記光検出器が前記定規の同じ側にあり、
　複数の光学面を有する光学ブロックにより前記光学系が構成されており、
　前記直線状の透明な定規が前記光学ブロックの少なくとも２つの光学面同士の間に配置されている
光電子システム。」である点で一致し、次の相違点で相違する。
　
　相違点１　本願補正発明では、光源が、それ自身で光を発する光エミッタであるのに対し、引用発明では、第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２は、光源１３からの光を光ファイバーで分割して作成した二次的な光源である点
　相違点２　本願補正発明では、定規が光電子システムに対して移動され得るのに対し、引用発明では、主スケール１に対して、第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２、受光素子Ｓ１、Ｓ２、光学系等よりなる検出器を移動させる点
　相違点３　光源により発生した単数または複数の光線ビームを、本願補正発明では、目盛部分上で焦点を結ばせるのに対し、引用発明はそのようなものではない点
　相違点４　光学ブロックが、本願補正発明では、モノリシックであり複数の光学面を有する統合されたものであるのに対し、引用発明では、そのようなものではない点
　
　上記相違点について検討する。
「相違点１について］
　光源を発光ダイオード等のそれ自身で光を発する発光素子で構成することは、例を挙げるまでもなく本願の優先権主張の日前周知であるから、引用発明において、第１光源Ｐ１、第２光源Ｐ２をそれぞれ光エミッタで構成することは当業者が適宜なし得た設計変更にすぎない。
［相違点２について］
　引用発明において、検出される変位量や寸法は、主スケール１と、読取装置を構成する検出器との相対的な移動量であるから、両者のうちどちらを移動させても、検出される変位量や寸法に変わりはなく、また、光学スケールの読取装置において、光学スケールの方を読取装置に対して移動させるものも、例を挙げるまでもなく本願の優先権主張の日前周知であるから、引用発明において、主スケール１を読取装置に対して移動され得るように構成することは当業者が適宜なし得た設計変更にすぎない。
［相違点３について］
　光学スケールの読取装置において、光源からの光を目盛上で焦点を結ばせるものは、例えば、特開平６−３４７２８８号公報、特開平１−１５０８１４号公報に示されるように、本願の優先権主張の日前周知であるから、引用発明に該周知技術を適用して、上記相違点のごとく構成することは当業者が容易になし得たことである。
［相違点４について］
　レンズや反射面として機能する複数の光学面を有する光学ブロックを一体成型により構成することは、例えば、特開平３−１９００１９号公報、特開平１０−１２２９０６号公報、実願昭５８−１３４９１０号（実開昭６０−４２２２３号）のマイクロフィルムに示されるように本願の優先権主張の日前周知であるから、引用発明において、ミラー１６、１７、平行レンズ９、集光レンズ１１等からなる光学ブロックを一体成形によりモノリシックに構成することは当業者が容易になし得たことである。
　
　そして、本願補正発明の奏する効果は、引用刊行物の記載及び周知技術から当業者が予測し得る範囲内のものであり、格別のものではない。
　
　したがって、本願補正発明は、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
　（３）むすび
　以上のとおり、本件補正は、特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　本願発明について
　平成１６年７月９日付けの手続補正は、上記のとおり却下したので、本願の請求項に係る発明は、平成１６年４月１３日提出の手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし１９に記載された事項によって特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、上記「第２」の「１．」の「（１）」の本件補正前の特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりのものである。
　
第４　刊行物に記載された発明
　原査定の拒絶の理由に引用された引用刊行物及びその記載事項は、上記「第２」の「２．」の「（１）」に記載したとおりのものである。
　
第５　本願発明と引用発明との対比・判断
　本願発明は、前記「第２」の「２．」で検討した本願補正発明から、「光学系」を構成する「統合された光学ブロック」に関して、「モノリシックであり複数の光学面を有する」との限定を省いたものである。
　そうすると、本願発明の発明特定事項をすべて含み、さらに他の限定事項を付加したものに相当する本願補正発明が、前記「第２」の「２．」の「（２）」に記載したとおり、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も同様の理由により、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
第６　むすび
　以上のとおりであるから、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　そして、本願発明が特許を受けることができないものであるから、その余の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。