【手続補正書】
【提出日】平成24年8月27日(2012.8.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
補償光学装置であって、
光源から発生した光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きを他方の偏光の向きに変更する第１の変更手段と、
前記第１の変更手段で変更された光に含まれる２つの偏光を該変更された向きで変調する空間光変調手段と、
前記空間光変調手段で変調された光に含まれる２つの偏光の向きを交差する向きに変更する第２の変更手段と、
前記第２の変更手段で変更された光を測定対象に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする補償光学装置。
【請求項２】
前記測定対象の収差を測定する収差測定手段を有し、
前記空間光変調手段が、前記収差測定手段の測定結果に基づいて前記第１の変更手段で変更された光を該収差測定手段に対して光学的に共役な位置で変調することを特徴とする請求項１に記載の補償光学装置。
【請求項３】
前記測定対象が、被検眼であり、
前記収差が、前記被検眼の前眼部で生じ、
前記空間光変調手段が、前記前眼部に対して光学的に共役な位置に配置されることを特徴とする請求項２に記載の補償光学装置。
【請求項４】
前記収差測定手段で前記収差を測定する際に用いる光と、前記測定対象の画像を取得する際に用いる光とが異なる光源から発生された光であることを特徴とする請求項２あるいは３に記載の補償光学装置。
【請求項５】
前記第２の変更手段が、前記照射手段で照射した光の前記測定対象からの戻り光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きを他方の偏光の向きに変更し、
前記空間光変調手段が、前記第２の変更手段で変更された光を該変更された向きで変調し、
前記第１の変更手段が、前記空間光変調手段で変調された光に含まれる２つの偏光の向きを交差する向きに変更することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項６】
前記光源からの光を該光に含まれる２つの偏光に分離する偏光分離手段と、
前記第２の変更手段で変更された光を合波する偏光合波手段と、
を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項７】
前記第１及び第２の変更手段がそれぞれ第１及び第２のλ／２板で構成され、
前記偏光分離手段と前記空間光変調手段との間に、前記第１のλ／２板に対する光路長あるいは分散を補償する第１の補償板が配置され、
前記偏光合波手段と前記空間光変調手段との間に、前記第２のλ／２板に対する光路長あるいは分散を補償する第２の補償板が配置され、
を有することを特徴とする請求項６に記載の補償光学装置。
【請求項８】
前記空間光変調手段が、液晶の配向制御を利用した空間光変調手段で構成されていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項９】
前記分離手段が、共通の分岐手段による第一の偏光分岐手段と第二の偏光分岐手段とで構成されていることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項１０】
前記第一の偏光分岐手段と前記第二の偏光分岐手段との少なくともいずれかが、偏光ビームスプリッタからなることを特徴とする請求項９に記載の補償光学装置。
【請求項１１】
前記第一の偏光分岐手段と前記第二の偏光分岐手段との少なくともいずれかが、ウォラストンプリズムからなることを特徴とする請求項９に記載の補償光学装置。
【請求項１２】
前記第一の偏光分岐手段と前記第二の偏光分岐手段との少なくともいずれかが、ニコルプリズム、サバール板のいずれかからなることを特徴とする請求項９に記載の補償光学装置。
【請求項１３】
請求項１乃至５のいずれか１項に記載の補償光学装置を含む、前記測定対象を撮影する撮影装置であって、
前記照射手段で照射した光の前記測定対象からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする撮影装置。
【請求項１４】
前記光源からの光を前記第１の変更手段に入射される光と参照光とに分離する分離手段を有し、
前記画像取得手段が、前記照射手段で照射した光の前記測定対象からの戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて該測定対象の断層画像を取得することを特徴とする請求項１３に記載の撮影装置。
【請求項１５】
補償光学方法であって、
光源から発生された光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きを他方の偏光の向きに変更する第１の変更工程と、
前記第１の変更工程で変更された光に含まれる２つの偏光を該変更された向きで変調する光変調工程と、
前記光変調工程で変調された光に含まれる２つの偏光の向きを交差する向きに変更する第２の変更工程と、
前記第２の変更工程で変更された光を測定対象に照射する照射工程と、
を含むことを特徴とする補償光学方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】補償光学装置、撮像装置、補償光学方法
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、補償光学装置、撮像装置、補償光学方法に関し、特に眼科診療等に用いられる撮像装置に適した技術に関するものである。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
本発明は、上記課題に鑑み、空間光変調手段を用いた補償光学系により、偏光状態に依らず測定光あるいは戻り光の少なくともいずれかを変調することができ、収差を補正して光画像のＳＮ比を高くすることが可能となる補償光学装置、撮像装置、補償光学方法の提供を目的とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明は、つぎのように構成した補償光学装置、撮像装置、補償光学方法を提供するものである。
本発明の補償光学装置は、
光源から発生した光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きを他方の偏光の向きに変更する第１の変更手段と、
前記第１の変更手段で変更された光に含まれる２つの偏光を該変更された向きで変調する空間光変調手段と、
前記空間光変調手段で変調された光に含まれる２つの偏光の向きを交差する向きに変更する第２の変更手段と、
前記第２の変更手段で変更された光を測定対象に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の撮像装置は、上記した補償光学装置を含む、前記測定対象を撮影する撮影装置であって、
前記照射手段で照射した光の前記測定対象からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする。
また、本発明の補償光学方法は、光源から発生された光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きを他方の偏光の向きに変更する第１の変更工程と、
前記第１の変更工程で変更された光に含まれる２つの偏光を該変更された向きで変調する光変調工程と、
前記光変調工程で変調された光に含まれる２つの偏光の向きを交差する向きに変更する第２の変更工程と、
前記第２の変更工程で変更された光を測定対象に照射する照射工程と、
を含むことを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明によれば、空間光変調手段を用いた補償光学系により、偏光状態に依らず測定光あるいは戻り光の少なくともいずれかを変調することができ、収差を補正して光画像のＳＮ比を高くすることが可能となる補償光学装置、撮像装置、補償光学方法を実現することができる。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
つぎに、本発明の実施例１について、図面を用いて詳細に説明する。
ここでは、本発明の補償光学装置を備える撮像装置として、被検査物を眼とした際の被検眼の撮像を行うＯＣＴ装置について説明するが、光を用いて画像を撮像する撮像装置であれば、走査型レーザー検眼鏡（ＳＬＯ装置）等の他の装置にも適用できる。
［実施例１］
実施例１においては、本発明を適用したＯＣＴ装置（光画像撮像装置）について説明する。
本実施例では、特に、被検眼の断層画像（ＯＣＴ像）を撮像する高横分解能の補償光学系を備えたＯＣＴ装置について説明する。
本実施例では、被検眼の収差を反射型の空間光変調器を用いて補正して断層画像を取得するフーリエドメイン方式のＯＣＴ装置が構成され、被検眼の視度や収差によらず良好な断層画像が得られるように構成されている。
また、測定光が偏光毎に２つに分岐され、さらに、その２つの測定光が１つの反射型の空間光変調器に入射していることを特徴としている。
ここでは、空間光変調器は液晶の配向を利用した反射型の液晶空間位相変調器である。
空間光変調器は光の位相を変調できればよく、液晶以外の材料を使用してもよい。