【事件の表示】
　特願２００１−５６２１７６「蛍光検出装置およびその検出方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１３年　８月３０日国際公開、ＷＯ０１／６３２５９、平成１５年　８月１２日国内公表、特表２００３−５２４１８０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　
　本願は，平成１３年２月１５日（優先権主張２０００年２月２２日　ドイツ（ＤＥ））を国際出願日とする出願であって，平成１９年３月１３日付けで拒絶査定がされ，これに対し，同年６月１８日に拒絶査定不服審判の請求が行われるとともに，同年７月１７日付けで手続補正がなされたものである。
　
第２　平成１９年７月１７日付けの手続補正についての補正の却下の決定
　
　［補正却下の決定の結論］
　　平成１９年７月１７日付けの手続補正を却下する。
　
　［理由］
１　補正後の本願発明
　平成１９年７月１７日付けの手続補正（以下，「本件補正」という。）は，特許請求の範囲を補正するものであって，そのうち請求項１についてする補正は，補正前（平成１３年１０月１５日付けで提出された，特許法第１８４条の４第１項に規定される明細書の翻訳文。以下同様）の特許請求の範囲の
「【請求項１】少なくとも一つの画像形成型顕微鏡ユニットおよび少なくとも一つの少量単位での分子間相互作用分析用の機器構成要素からなり、
　・　分子間の相互作用を分析するための測定箇所が、画像形成型の方法を利用することにより、少なくとも二次元単位で計測および選定されること
　・　画像形成型顕微鏡ユニットおよび機器構成要素が、共通の制御ユニットで操作されること、
　・　少なくとも機器構成要素の分析結果が、制御ユニットおよびコンピュータを通じて画像表示されること
を特徴とする蛍光検出装置」
を，
「【請求項１】少なくとも一つの画像形成型顕微鏡ユニットおよび少なくとも一つの少量単位での分子間相互作用分析用の機器構成要素からなり、
・　画像形成型顕微鏡ユニットが、レーザ走査顕微鏡測定の原理に依拠していること
・　分子間相互作用の分析が、蛍光相関性分光技術（ＦＣＳ）によって行われること
・　分子間の相互作用を分析するための測定箇所が、
レーザ走査顕微鏡測定の原理
・　画像形成型顕微鏡ユニットおよび機器構成要素が、共通の制御ユニットで操作されること、
・　少なくとも機器構成要素の分析結果が、制御ユニットおよびコンピュータを通じて
画像形成型顕微鏡ユニットの画像に振り分けられ、
を特徴とする蛍光検出装置」（下線部分は，補正箇所である。以下，補正後の請求項１に記載された発明を「本願補正発明」という。）と補正するものである。
　
　上記補正は，補正前の請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「画像形成型顕微鏡ユニット」及び「分子間相互作用分析用の機器構成要素」それぞれについて，「
画像形成型顕微鏡ユニットが、レーザ走査顕微鏡測定の原理に依拠していること
分子間相互作用の分析が、蛍光相関性分光技術（ＦＣＳ）によって行われること
画像形成型顕微鏡ユニットの画像に振り分けられ、
レーザ走査顕微鏡測定の原理
　
　そこで，本願補正発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について検討する。
　
２　引用例
（１）引用例１
　原査定の拒絶の理由に引用した，本願優先日前に頒布された刊行物である，特開平１１−３２６２０８号公報（以下「引用例１」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は当審にて付加した）。
　
ア　「【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、測定領域中の蛍光物質から発せられる蛍光の強度の時間的な揺らぎに基づいて、自己相関蛍光分光法を用いて蛍光物質の並進拡散定数などを求める
解析装置に関する
　
イ　「【００１１】一方、
この蛍光法の１つである自己相関蛍光分光法（ Fluorescence Correlation Spectroscopy、以下ではＦＣＳ法と言う。）は、蛍光物質の並進拡散運動を測定することができるものであり、この並進拡散運動から蛍光物質の分子量や形状などに関する情報を得ることができる
並進拡散運動を測定することにより、上記複合体の量や上記結合の反応速度に関する情報を得ることができる
【００１２】ＦＣＳ法による通常の解析に際しては、測定領域中に存在する蛍光物質の平均個数が数個程度とされ、この測定領域中の蛍光物質から発生した蛍光の強度が測定され、この蛍光強度の時間的な変動（揺らぎ）の自己相関が求められ、この自己相関に基づいて蛍光物質の並進拡散定数および濃度などが算出される。例えば、特開昭６１−８３９３８号公報には、このＦＣＳ法を用いて、蛍光強度の揺らぎの偏差を解析し、蛍光物質の濃度に依存した評価値を算出する技術が開示されている。また、特開平８−６８６９４号公報には、光ファイバを組み合わせることにより微小な測定領域を形成し、この測定領域における蛍光物質の平均滞在時間をＦＣＳ法により求め、この平均滞在時間に基づいて物質を識別する技術が開示されている。
【００１３】また、近年においては、
光学顕微鏡を用いたレーザスポット励起法と共焦点光学系とを組み合わせた測定装置にＦＣＳ法が適用され、さらに各光学素子が改良されたことから超高感度の蛍光検出が可能となり、ＦＣＳ法を適用した超高感度の試料解析が行われるようになった
　
ウ　「【００２８】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。尚、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００２９】図１は、本実施形態に係る解析装置の構成図である。
この解析装置は、励起光源部１、蛍光顕微鏡２、光検出部３、レコーダ４および解析部５を備えて構成されている。励起光源部１は、測定領域中の蛍光物質を励起し得る波長の励起光を出力するものであり、レーザ光源が好適に用いられる。蛍光顕微鏡２は、励起光源部１から出力された励起光を入力し、その励起光を測定領域に照射して測定領域中の蛍光物質を励起するとともに、その蛍光物質から発生した蛍光を外部に出力する。蛍光顕微鏡２は、光学顕微鏡を用いたレーザスポット励起法と共焦点光学系とを組み合わせた超高感度蛍光検出技術を駆使したものであり、その詳細な構成例については後述する。光検出部３は、蛍光顕微鏡２から出力された蛍光の強度を検出し、レコーダ４は、光検出部３により検出された蛍光の強度の経時変化を記憶する。そして、解析部５は、レコーダ４により記憶された蛍光の強度の経時変化の自己相関を算出し、その自己相関に基づいて測定領域中の蛍光物質の並進拡散運動を解析する
　
エ　「【００４４】以下では、
本実施形態に係る解析装置のより具体的な構成例
【００４５】（第１実施例）先ず、第１実施例について説明する。
図４は、第１実施例に係る解析装置の一部構成図である。なお、この図ではレコーダ４および解析部５は示されていない
【００４６】
本実施例では、励起光源部１は、レーザダイオード（ＬＤ）励起Ｎｄ：ＹＡＧレーザ光源１１、スタビライザ１２、ミラー１３およびコリメータ光学系１４を備えて構成されている
コリメータ光学系１４は
励起光の光束径を適正化して、平行光束として出力する。このコリメータ光学系１４から出力された励起光は蛍光顕微鏡２に入力する
【００４７】
蛍光顕微鏡２は、
ダイクロイックミラー２２
対物レンズ２４
脱着式ミラー２６および接眼レンズ２７を備えて構成される倒立顕微鏡
ダイクロイックミラー２２は、励起光を反射させ蛍光を透過させるもの
対物レンズ２４は、ダイクロイックミラー２２により反射されレンズ２３を経て入力した励起光を試料６の測定領域に集光照射するとともに、その試料６の測定領域中の蛍光物質から発生した蛍光を入力してレンズ２３へ向けて出力するもの
脱着式ミラー２６は、着脱自在のものであり、装着されているときには、試料６の測定領域中の蛍光物質から発生して対物レンズ２４、レンズ２３、ダイクロイックミラー２２およびレンズ２５を経て到達した蛍光を、蛍光顕微鏡２から光検出器３へと導くものである。一方、脱着式ミラー２６を外すことにより、試料６の状態または励起光の集光照射状態を接眼レンズ２７を介して観察することができる
【００４８】なお、
対物レンズ２４により試料６に集光照射された励起光は、強度分布がガウス分布であって、そのスポット径すなわち試料６における測定領域の径が１μｍ以下とされた
【００４９】
光検出部３は、ピンホール３１、レンズ３２、バリアフィルタ３３および光電子増倍管３４を備えて構成される。ピンホール３１は、試料６から発生した蛍光が蛍光顕微鏡２により結像される位置に配されており、対物レンズ２４により試料６に集光照射された励起光のスポット径に合わせてピンホール３１の開口径は５０μｍとされ、試料６における測定領域から発生した蛍光のみを光電子増倍管３４へ導くようにした。試料６中の測定領域からピンホール３１に到るまでの光学系は共焦点光学系を構成している
【００５０】レンズ３２は、ピンホール３１を通過した蛍光を入力して平行光束とする。バリアフィルタ３３は、レンズ３２から出力された蛍光の波長成分を透過させ、励起光の波長成分を遮断するものであり、ニコン社製ＢＰ５５０−６５０が用いられた。
光電子増倍管３４は、バリアフィルタ３３を透過した蛍光を入力し、その蛍光を光子計数法により検出して光電子パルスを出力する
【００５１】
レコーダ４は
蛍光強度の時間的変動を記録する
【００５２】
解析部５として、パーソナルコンピュータが用いられた
解析部５は
【数２】（当審注：式省略）
なる式に従って
蛍光強度の時間的変動の自己相関を算出する
【００５３】以上説明した本実施例に係る解析装置では、
対物レンズ２４の焦点位置に測定領域が形成され、その測定領域に存在する蛍光物質の個数に応じた強度の蛍光が測定される。測定領域の実効的な半径ｗ
0
 は０．４μｍであり、測定領域の実効的な軸長ｚ
0
 は１．９μｍであると見積もられた
　
　以上の記載を総合すると，引用例１には，「励起光源部１，蛍光顕微鏡２，光検出部３，レコーダ４および解析部５を備えて構成されている解析装置であって，
励起光源部１からの励起光を蛍光顕微鏡２に入力し，該励起光を試料６の測定領域に集光照射するとともに，その試料６の測定領域中の蛍光物質から発生した蛍光を光検出器３へと導き，共焦点光学系による光検出部３で該蛍光を検出し，レコーダ４により蛍光強度の時間的変動を記録し，解析部５により蛍光強度の時間的変動の自己相関を算出することで，自己相関蛍光分光法を用いて蛍光物質の並進拡散定数などを求め，
蛍光顕微鏡２の脱着式ミラー２６を外すことにより，試料６の状態または励起光の集光照射状態を接眼レンズ２７を介して観察することができる，
解析装置」（以下，「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
　
（２）引用例５
　原査定の拒絶の理由に引用した，本願優先日前に頒布された刊行物である，特開平１０−２５３８８９号公報（以下「引用例５」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は，当審にて付加した）。
　
ア　「【０００２】
【従来の技術】
光源からの光を対物レンズで微小なスポット光に絞り、このスポット光で試料上を走査し、試料からの透過光や反射光を光検出器で捕らえて電気信号に変換し、画像モニタ上に試料像を表示する走査型レーザー顕微鏡
【０００３】従来、
このレーザー顕微鏡においては、観察試料領域の画像を獲得するためには、まず、通常の顕微鏡観察により、おおまかな観察対象領域を決定する。次に、レーザー走査型顕微鏡により、レーザー光を観察試料表面の走査領域をラスタスキャンＬし、このレーザー走査光の反射光により得られる観察試料領域の画像を画像モニタで確認しながら、画像が鮮明に観察できるように、光検出器の感度の調整を行うとともに、観察試料が載置された顕微鏡ステージの位置の微調整を行う
　
イ　「【００１５】
【発明の実施の形態】
（実施の形態１）図１は、本発明の実施の形態１に係る走査型顕微鏡装置のシステム構成を示す図である。図１に示すように、本実施の形態１に係る
走査型顕微鏡装置は、走査型レーザー顕微鏡Ａ、コンピュータシステムを構成する操作パネル１、コントローラ２、走査ユニット３、ステージ位置検出器４、記憶手段（メモリ）５、試料画像表示手段である画像モニタ６により構成されている
【００１６】前記操作パネル１は、キーボード等の他、トラックボールやジョイスティック、あるいはマウス等のポインティングデバイスを含んでおり、ユーザからの指示によりコントローラ２に対して、レーザー光の走査指示指令及び画像入力指令等を出力する。
【００１７】
コントローラ２は、操作パネル１から走査指示指令が入力されると走査開始信号を走査ユニット３に出力する。そして、光検出器２４からの観察試料Ｂの画像情報（画像データ）を記憶手段５に転送する
【００１８】
走査ユニット３は、レーザー光源１２から出射し、ミラー１３を介して入力されるレーザー光を、コントローラ２からの走査制御信号に基づいてレボルバ１４に取付けられた対物レンズ１５を通してステージ１１上に載置された観察試料Ｂ上にスポット光としてＸＹ走査する。そして、走査終了信号をコントローラ２に出力する
【００１９】ステージ位置検出器４は、ステージの位置情報（Ｘ、Ｙ、及びＺ位置）を検出し、コントローラ２に送信する。
観察試料Ｂ上を走査するスポット光による画像情報として試料Ｂからの反射光
は対物レンズ１５、走査ユニット３を介して入射した光路を逆に戻り、ハーフミラー２１で反射され、レンズ２２で集光される。その集光位置は対物レンズの瞳位置と共役な関係になっており、ここにピンホール２３が置かれ、共集点光学系を形成している。前記ピンホール２３を通過した光は光検出器２４に入射し、その光量に応じた電気信号に変換されてコントローラ２に入力される
【００２０】
記憶手段５は、例えば５１２画素×５１２画素×８ビット（２５６階調）の画像を記憶するメモリ部と、ステージ１１の移動情報を記憶するメモリ部とを有する。画像メモリ部は光検出器２４からコントローラ２を介して転送される画像情報を記憶する。画像モニタ６は、記憶手段５に取り込まれた観察試料Ｂの画像情報に応じた画像を画面に表示する
・・・
【００２２】次に、上述の如く構成された
走査型レーザー顕微鏡の動作
【００２３】まず、
通常の顕微鏡観察により観察試料Ｂ上の観察領域を決定した後、レーザー顕微鏡観察に切り替えて第１回目のレーザー光によるＸ、Ｙ走査（ラスタスキャン）を行う
　
３　対比
　本願補正発明と引用発明とを対比する。
　
（１）引用発明の「自己相関蛍光分光法を用いて蛍光物質の並進拡散定数などを求め」ることは，「並進拡散運動から蛍光物質の分子量や形状などに関する情報を得ることができる・・・並進拡散運動を測定することにより、上記複合体の量や上記結合の反応速度に関する情報を得ることができる」（摘記事項２（１）イ【００１１】）とあるように，分子間相互作用の分析を行っているものであるから，本願補正発明の「分子間相互作用の分析が、蛍光相関性分光技術（ＦＣＳ）によって行われること」に相当するものである。
　また引用発明において上記のことを行う「励起光源部１からの励起光を蛍光顕微鏡２に入力し，該励起光を試料６の測定領域に集光照射するとともに，その試料６の測定領域中の蛍光物質から発生した蛍光を光検出器３へと導き，共焦点光学系による光検出部３で該蛍光を検出し，レコーダ４により蛍光強度の時間的変動を記録し，解析部５により蛍光強度の時間的変動の自己相関を算出する」構成は，その測定領域が「測定領域の実効的な半径ｗ0 は０．４μｍであり、測定領域の実効的な軸長ｚ0 は１．９μｍであると見積もられた」（摘記事項２（１）エ【００５３】）とあるように，少量単位の分析を行うものであるから，本願補正発明の「少量単位での分子間相互作用分析用の機器構成要素」に相当する。
　
（２）本願補正発明の「画像形成型顕微鏡ユニット」は，「分子間の相互作用を分析するための測定箇所が、レーザ走査顕微鏡測定の原理を利用することにより、少なくとも二次元単位で計測および選定されること」及び「少なくとも機器構成要素の分析結果が、制御ユニットおよびコンピュータを通じて画像形成型顕微鏡ユニットの画像に振り分けられ、画像表示されること」のために用いられることからすると，測定箇所を含む測定対象の顕微鏡画像を得るものであり，一方引用発明においては，「試料６の状態・・・を接眼レンズ２７を介して観察することができる」のであるから，引用発明の「蛍光顕微鏡２」の「接眼レンズ２７」により試料６を観察する構成は，本願補正発明の「画像形成型顕微鏡ユニット」と，測定対象の顕微鏡画像を得る構成である点で共通する。
　
（３）引用発明の「解析装置」は，蛍光を検出した上で解析を行うものであるから，本願補正発明の「蛍光検出装置」に相当する。
　
　そうすると，本願補正発明と引用発明とは，
「測定対象の顕微鏡画像を得る構成および少量単位での分子間相互作用分析用の機器構成要素からなり、
・　分子間相互作用の分析が、蛍光相関性分光技術（ＦＣＳ）によって行われる　
蛍光検出装置」
である点で一致しており，次の点で相違する。
　
相違点１：「測定対象の顕微鏡画像を得る構成」が，本願補正発明では，「少なくとも一つの画像形成型顕微鏡ユニット」であって「画像形成型顕微鏡ユニットが、レーザ走査顕微鏡測定の原理に依拠していること」であるのに対し，引用発明では蛍光顕微鏡２の接眼レンズ２７により試料６を観察する構成である点。
　
相違点２：少量単位での分子間相互作用分析用の機器構成が，本願補正発明では「少なくとも一つ」であるのに対し，引用発明ではその数について明らかではない点。
　
相違点３：本願補正発明では「分子間の相互作用を分析するための測定箇所が、レーザ走査顕微鏡測定の原理を利用することにより、少なくとも二次元単位で計測および選定されること」とあるのに対し，引用発明では蛍光顕微鏡２の接眼レンズ２７により「試料６の状態または励起光の集光照射状態を・・・観察することができる」が，測定箇所の計測および選定については明らかでない点。
　
相違点４：本願補正発明では「画像形成型顕微鏡ユニットおよび機器構成要素が、共通の制御ユニットで操作されること」及び「少なくとも機器構成要素の分析結果が、制御ユニットおよびコンピュータを通じて画像形成型顕微鏡ユニットの画像に振り分けられ、画像表示されること」とされているが，引用発明ではこれらの構成について明らかでない点。
　
４　判断
　上記各相違点について判断する。
　
（１）相違点１について
　引用例５には，走査型レーザー顕微鏡が従来知られていること，レーザー顕微鏡で観察試料領域の画像を獲得するために，通常の顕微鏡観察によりおおまかな観察対象領域を決定した後，レーザー走査光の反射光により得られる観察試料領域の画像を得ることが示されている（摘記事項２（２）ア）。また，引用例５に示された走査型顕微鏡装置の具体的な構成によれば，通常の顕微鏡観察と，レーザー顕微鏡観察とを切り替えて用いることも示されている（摘記事項２（２）イ【００２３】）。
　そうすると，引用発明においては，接眼レンズを介して観察することによって測定対象の顕微鏡画像を得ているが，より詳細な観察試料領域の画像を獲得するために，引用例５に示される走査型レーザー顕微鏡の構成を採用することは，当業者において容易に為し得たものである。その際，試料からの反射光を良好に得るために，レーザー光源の波長を１つ以上用意することは，試料に応じて当業者において適宜に為し得たものであり，上記走査型レーザ顕微鏡の数を少なくとも一つとすることは，当業者において適宜に為し得たものである。
　
（２）相違点２について
　引用発明において検出すべき蛍光を発する蛍光物質の励起光の波長や蛍光の波長が，その物質に応じて決まっていることは，当業者における技術常識である。すると，引用発明において自己相関蛍光分光法を行うために，励起光源が発する光の波長や光検出器が検出すべき波長を，１つ以上のものとすることは，測定対象の蛍光物質に応じて当業者において適宜に為し得たものであり，引用発明において自己相関蛍光分光法を用いて蛍光物質の並進拡散定数などを求めるための構成を少なくとも一つとすることは，当業者において適宜に為し得たものである。
　
（３）相違点３について
　走査型レーザー顕微鏡により詳細な観察試料領域の画像を獲得することについては，上記相違点１について示したとおりであるので，「分子間の相互作用を分析するための測定箇所が」「計測および選定されること」について，検討する。
　引用発明においては，自己相関蛍光分光法のための蛍光を検出する「試料６の測定領域」をどのような位置とするか明らかではないが，引用例１に，「コリメータ光学系１４は．．．励起光の光束径を適正化して、平行光束として出力する。」，「対物レンズ２４は、ダイクロイックミラー２２により反射されレンズ２３を経て入力した励起光を試料６の測定領域に集光照射するとともに、その試料６の測定領域中の蛍光物質から発生した蛍光を入力してレンズ２３へ向けて出力する」，「対物レンズ２４により試料６に集光照射された励起光は、強度分布がガウス分布であって、そのスポット径すなわち試料６における測定領域の径が１μｍ以下とされた」及び「光検出部３は、ピンホール３１．．．を備えて構成される。ピンホール３１は、試料６から発生した蛍光が蛍光顕微鏡２により結像される位置に配されており、対物レンズ２４により試料６に集光照射された励起光のスポット径に合わせてピンホール３１の開口径は５０μｍとされ、試料６における測定領域から発生した蛍光のみを光電子増倍管３４へ導くようにした」（摘記事項２（１）エ【００４６】から【００４８】）と記載されることからして，測定領域は，励起光が照射され，かつ光検出部のピンホールで限定された領域であって，対物レンズの視野のうちの一部分であることは明らかである。
　また，引用発明において，自己相関蛍光分光法のための蛍光を検出する試料６の測定領域が，試料のどのような位置にあるかが既知でなくてはならないことは当業者には明らかである（試料のどこの場所について検出を行っているかがわからないような検出は技術的に無意味である。この点について，原査定の拒絶の理由に引用した，本願優先日前に頒布された刊行物である，特開平５−１１３４１８号公報の【００１２】及び【００１３】段落並びに特開平１０−５４８３４号公報の【００３３】，【００３７】，【００４８】及び【００５０】段落に，それぞれ示されるように，走査を伴う分析装置において，測定箇所の選定のために，観察光学系による観察像を用いることは，周知技術である。）から，引用発明において，接眼レンズ２７を介して観察することができるとされる試料６の状態または励起光の集光照射状態は，試料のどのような位置について蛍光を検出するかについての観察も含むことは，当業者には明らかである。すると，引用発明において，接眼レンズ２７を介して観察することにより，試料のどのような位置を測定領域として選定するかは，当業者であれば通常行い得たものである。
　そして，上記相違点１について示したように，引用発明において，走査型レーザー顕微鏡により詳細な観察試料領域の画像を獲得する構成を採用すると，そのような構成により計測された観察試料領域を，測定領域として選定することは，当業者において容易に為し得た範囲内のものである。
　
（４）相違点４について
　引用発明においては，解析装置の各構成を操作するための制御ユニットのような構成について明記されていないが，装置全体を統括制御する構成を備えることは一般的な技術であり，引用発明においてもそのような構成を実質的に備えていたものである。
　そして，上記相違点１について示したように，引用発明において，引用例５に示される走査型レーザー顕微鏡を採用した際に，引用例５に示される走査型レーザー顕微鏡の各構成を制御，操作するコントローラ２と，上記引用発明において実質的に備えている装置全体を統括制御する構成が，協働して動作する必要があることは，当業者には明らかであり，それらを共通の制御ユニットとして構成し，該制御ユニットにより操作を行わせようとすることは，引用発明において，引用例５に示される走査型レーザー顕微鏡を採用した際に，当業者において容易に為し得た範囲内のものである。
　さらに，引用例５に，走査型レーザー顕微鏡の構成として，「コンピュータシステムを構成する．．．コントローラ２．．．記憶手段（メモリ）５」（摘記事項２（２）イ【００１５】），「記憶手段５は、例えば５１２画素×５１２画素×８ビット（２５６階調）の画像を記憶するメモリ部．．．を有する。画像メモリ部は光検出器２４からコントローラ２を介して転送される画像情報を記憶する。画像モニタ６は、記憶手段５に取り込まれた観察試料Ｂの画像情報に応じた画像を画面に表示する」（摘記事項２（２）イ【００２０】）と記載されるように，引用例５の走査型レーザー顕微鏡は，コントローラ２およびコンピュータシステムを通じて画像を表示するものであるから，上記相違点１について示したように，引用発明において，引用例５に示される走査型レーザー顕微鏡を採用した際に，引用発明における自己相関蛍光分光法を用いた解析結果を，走査型レーザー顕微鏡により獲得した観察試料領域の画像とともに表示することは，例えば本願優先日前に頒布された刊行物である特開平１１−１１９１０６号公報（特に【００３４】段落）に示されるように，レーザ走査型顕微鏡において所望の検出信号を合成して表示することが周知の技術であることからして，当業者において容易に為し得た範囲内のものである。
　
　そして，本願補正発明の作用効果は，引用発明，引用例５に記載された発明及び周知技術から，当業者であれば予測できる範囲のものである。特に，試料が高い光線負荷を被ること，測定位置の精度が低いことという従来の顕微鏡における課題は，引用例５に示された走査型レーザー顕微鏡を採用することで解決されるものである。
　
　以上の通り，本願補正発明は，引用発明，引用例５に記載された発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
５　むすび
　上記のとおり，本件補正は，平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　本願発明について
１　本願発明
　平成１９年７月１７日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので，本願の請求項１乃至１１に係る発明は，平成１３年１０月１５日付けで提出された，特許法第１８４条の４第１項に規定される明細書の翻訳文の請求項１乃至１１に記載された事項により特定されるとおりのものであって，その請求項１に係る発明（以下，「本願発明」という。）は，上記第２，１に記載のとおりのものである。
　
２　引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例及びその記載事項は，上記第２，２に記載したとおりである。
　
３　対比
　本願発明と引用発明とを対比すると，上記第２，３で示した点を踏まえ，本願発明と引用発明とは，
「測定対象の顕微鏡画像を得る構成および少量単位での分子間相互作用分析用の機器構成要素からなる
蛍光検出装置」
である点で一致しており，次の点で相違する。
　
相違点１：「測定対象の顕微鏡画像を得る構成」が，本願発明では，「少なくとも一つの画像形成型顕微鏡ユニット」であるのに対し，引用発明では蛍光顕微鏡２の接眼レンズ２７により試料６を観察する構成である点。
　
相違点２：少量単位での分子間相互作用分析用の機器構成が，本願発明では「少なくとも一つ」であるのに対し，引用発明ではその数について明らかではない点。
　
相違点３：本願発明では「分子間の相互作用を分析するための測定箇所が、画像形成型の方法を利用することにより、少なくとも二次元単位で計測および選定されること」とあるのに対し，引用発明では蛍光顕微鏡２の接眼レンズ２７により「試料６の状態または励起光の集光照射状態を・・・観察することができる」が，測定箇所の計測および選定については明らかでない点。
　
相違点４：本願発明では「画像形成型顕微鏡ユニットおよび機器構成要素が、共通の制御ユニットで操作されること」及び「少なくとも機器構成要素の分析結果が、制御ユニットおよびコンピュータを通じて画像表示されること」とされているが，引用発明ではこれらの構成について明らかでない点。
　
４　判断
　上記各相違点について判断する。
　
（１）相違点１について
　上記第２，４（１）で示した点を踏まえ，引用例５に示された走査型レーザー顕微鏡が画像形成型の顕微鏡であることからして，相違点１は，引用発明において，引用例５に記載された発明に基づいて，当業者であれば容易に為し得たものである。
　
（２）相違点２について
　上記第２，４（２）で示したように，引用発明において自己相関蛍光分光法を用いて蛍光物質の並進拡散定数などを求めるための構成を少なくとも一つとすることは，当業者において適宜に為し得たものである。
　
（３）相違点３について
　上記第２，４（３）で示したように，引用例５に示された走査型レーザー顕微鏡が画像形成型の顕微鏡であることを踏まえ，引用発明において，画像形成型の方法により計測された観察試料領域を，測定領域として選定することは，当業者において容易に為し得たものである。
　
（４）相違点４について
　上記第２，４（４）で示した点を踏まえ，引用発明において，共通の制御ユニットにより操作を行わせようとすること，引用発明における自己相関蛍光分光法を用いた解析結果を，コントローラ２およびコンピュータシステムを通じて画像を表示するようにすることは，当業者において容易に為し得たものである。
　　
５　むすび
　以上のとおり，本願発明は，引用発明，引用例５に記載された発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　したがって，その余の請求項に係る発明について審理するまでもなく，本件出願は拒絶されるべきものである。
　
　よって，結論のとおり審決する。