【手続補正書】
【提出日】平成24年9月27日(2012.9.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
そこで、本発明は、光源ブロックの輝度検出を実行している期間の温度変動を抑制することができるバックライト装置及びその制御方法、画像表示装置を提供することを目的とする。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
本発明は、複数の光源ブロックを有するバックライト装置であって、
前記複数の光源ブロックのそれぞれの発光を制御する発光制御手段と、
光源ブロックの輝度を検出するための輝度検出手段と、
前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて輝度値を検出し、検出される輝度値とその目標値との比較に基づき、各光源ブロックの発光量の補正値を決定する制御手段とを有し、
前記制御手段は、前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて輝度値を検出する処理を全ての光源ブロックについて行う途中で、次に輝度値を検出する光源ブロックを含む複数の光源ブロックを所定期間、所定輝度で発光させる温度変動抑制処理を実行するバックライト装置である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
本発明は、複数の光源ブロックを有するバックライト装置の制御方法であって、
複数の光源ブロックのぞれぞれの発光を制御する発光制御工程と、
光源ブロックの輝度を検出する輝度検出工程と、
前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて輝度値を検出し、検出される輝度値とその目標値との比較に基づき、各光源ブロックの発光量の補正値を決定する制御工程と、
を有し
前記制御工程では、前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて輝度値を検出する処理を全ての光源ブロックについて行う途中で、次に輝度値を検出する光源ブロックを含む複数の光源ブロックを所定期間、所定輝度で発光させる温度変動抑制処理を実行するバックライト装置の制御方法である。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
本発明によれば、光源ブロックの輝度検出を実行している期間の温度変動を抑制することができるバックライト装置及びその制御方法、画像表示装置を提供することができる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
縦４個×横４個のＬＥＤブロック集合２１１にひとつずつ、当該グループに属するＬＥＤブロックの輝度を検出する光センサ２０４を設ける。光センサ２０４にはＬＥＤブロック２０３の発光スペクトルをカバーする感度を持つフォトダイオードを用いる。或る１つのＬＥＤブロックのみが発光した場合の当該ＬＥＤブロックの輝度は、そのＬＥＤブロックの属するＬＥＤブロック集合に対応する光センサ２０４による検出値と、当該ＬＥＤブロックと光センサ２０４との位置関係と、に基づき算出できる。光センサ２０４によって、ＬＥＤブロック２０２毎の輝度を検出することができるため、ＬＥＤブロック２０２毎の経年劣化による輝度低下を補正することが可能になる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２８】
マイコン２１０には不揮発メモリ２０８が接続される。不揮発メモリ２０８には、ＬＥＤ劣化補正処理の結果得られた補正パラメータ（補正値）等が保持される。また、マイコン２１０には温度センサ２０９が接続される。温度センサ２０９は、ＬＥＤの温度をＬＥＤ劣化補正処理期間に検出する。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１の合計６４０個のＬＥＤブロック２０２には、それぞれＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎが割り振られている。ｎは１から６４０の整数である。図４は、マイコン２１０により実施されるＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理の手順を示すフローチャートである。図４のフローチャートで表される処理が、本発明の補正処理に相当する。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
表示画面全体の輝度むらが抑制されるように全てのＬＥＤブロックの輝度が調整された状態とは、ＬＥＤブロック間の輝度のばらつきが許容レベル以下になるように各ＬＥＤブロックの輝度がそれぞれ調整された状態である。目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）は、本発明における、輝度検出手段により検出される光源ブロックの輝度値の目標値に相当する。目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）は工場の出荷調整時に決定され、光センサ２０４の受光感度のばらつきや、ＬＥＤブロック２０２と光センサ２０４の位置関係に応じた値となる。本実施例では光センサ２０４は複数（１６個）のＬＥＤブロックのグループ毎に設けられるので、目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）は、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックが属するグループに対応する光センサと当該ＬＥＤブロックとの位置関係に応じて定められる。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４１】
図５は、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１の合計６４０個のＬＥＤブロック２０２に対するＬＥＤ劣化補正処理を、ＬＥＤ温度変動抑制処理を挿入しながら順次実行する処理のフローチャートである。図５のフローチャートで表される処理が、本発明における温度変動抑制処理に相当する。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４２】
まず、ステップＳ２０１で、マイコン２１０は、温度センサ２０９により、ＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０（最初にＬＥＤ劣化補正処理が実行された後のＬＥＤ温度。初期温度。本実施例では、初期温度を、温度変動抑制処理に係る所定期間を長くするか、又は所定輝度を高くするか否か、を判断する基準温度とする。）を検出する。マイコン２１０は、ユーザが画像表示装置を使用した後の空き時間にバックグラウンドでＬＥＤ劣化補正処理を行う。ユーザが画像表示装置を使用した後は、バックライト装置が十分に温度エージングされ温まっているので、バックライト装置の温度が安定した状況下でＬＥＤ劣化補正処理を実行することができ、精度良く補正を行うことができる。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４５】
ＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝ｎ）がＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０よりも閾値ａ以上低くなっていた場合、マイコン２１０は、ステップＳ２０５でＬＥＤ温度変動抑制処理の点灯期間ｔを、点灯期間調整幅ｂだけ長くする。点灯期間調整幅ｂは、ＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝ｎ）とＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０の差の大きさに応じて適宜変更するようにしても良い。点灯期間ｔは、本発明の温度変動抑制処理において制御手段が複数の光源ブロックを発光させる際の所定期間に相当する。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４８】
ステップＳ２０８では、マイコン２１０は、ＬＥＤ温度変動抑制処理を、点灯期間ｔ実行する。ＬＥＤ温度変動抑制処理における電流量を、通常点灯時の電流量よりも大きくすることで、短い点灯期間ｔでＬＥＤ温度の変動（低下）を抑制できる。このように定められる電流量で点灯する場合のＬＥＤブロックの輝度は、本発明の温度変動抑制処理において制御手段が複数の光源ブロックを発光させる際の所定輝度に相当する。ＬＥＤ温度変動抑制処理において光源ブロックを発光させる際の所定輝度及び所定期間を適当に調整することで、ＬＥＤ温度の低下抑制効果を調節することができる。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５７】
また、図５のフローチャートのステップＳ２０５では、点灯期間ｔを長くしているが、代わりに、或いは合わせて、ＬＥＤ温度変動抑制処理において発光させるＬＥＤブロックの発光輝度を高くするようにしても良い。これによっても、ＬＥＤ温度を高くすることができる。また、ステップＳ２０７では、点灯期間ｔを短くしているが、代わりに、或いは合わせて、ＬＥＤ温度変動抑制処理において発光させるＬＥＤブロックの発光輝度を低くするようにしても良い。これによっても、ＬＥＤ温度を低くすることができる。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光源ブロックを有するバックライト装置であって、
前記複数の光源ブロックのそれぞれの発光を制御する発光制御手段と、
光源ブロックの輝度を検出するための輝度検出手段と、
前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて輝度値を検出し、検出される輝度値とその目標値との比較に基づき、各光源ブロックの発光量の補正値を決定する制御手段とを有し、
前記制御手段は、前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて輝度値を検出する処理を全ての光源ブロックについて行う途中で、次に輝度値を検出する光源ブロックを含む複数の光源ブロックを所定期間、所定輝度で発光させる温度変動抑制処理を実行するバックライト装置。
【請求項２】
前記目標値は、複数の光源ブロックの間の輝度のばらつきが許容レベル以下になるように、光源ブロックごとに定められる請求項１に記載のバックライト装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記温度変動抑制処理において、全ての光源ブロックを発光させる請求項１又は２に記載のバックライト装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記温度変動抑制処理において、未だ輝度値の検出を行っていない全ての光源ブロックを所定期間、所定輝度で発光させる請求項１又は２に記載のバックライ
ト装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記温度変動抑制処理において、未だ輝度値の検出を行っていない全て光源ブロックおよびそれらに隣接する光源ブロックを所定期間、所定輝度で発光させる請求項１又は２に記載のバックライト装置。
【請求項６】
さらに、光源ブロックの温度を検出する温度検出手段を有し、
前記制御手段は、前記温度検出手段で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上低い場合、前記所定期間を長くするか、または前記所定輝度を高くする請求項１から５のいずれか１項に記載のバックライト装置。
【請求項７】
前記制御手段は、前記温度検出手段で検出した温度が、前記基準温度に対し閾値以上高い場合、前記所定期間を短くするか、または前記所定輝度を低くする請求項６に記載のバックライト装置。
【請求項８】
さらに、光源ブロックの温度を検出する温度検出手段を有し、
前記制御手段は、前記温度検出手段で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上低い場合に、前記温度変動抑制処理を実行する請求項１から５のいずれか１項に記載のバックライト装置。
【請求項９】
前記温度検出手段は、発光面の中央に位置する光源ブロックの温度を検出する請求項６から８のいずれか１項に記載のバックライト装置。
【請求項１０】
前記温度検出手段は、複数の光源ブロックのグループ毎に設けられる温度センサを含み、直前に輝度値の検出が行われた光源ブロックの属するグループに対応する温度センサにより、光源ブロックの温度の検出を行う請求項６から８のいずれか１項に記載のバックライト装置。
【請求項１１】
前記輝度検出手段は、複数の光源ブロックのグループ毎に設けられる光センサを含み、
前記輝度検出手段により検出される光源ブロックの輝度値の目標値は、当該光源ブロックと当該光源ブロックが属するグループに対応する光センサとの位置関係に応じて定められる請求項１から１０のいずれか１項に記載のバックライト装置。
【請求項１２】
請求項１から請求項１１のいずれか１項に記載のバックライト装置と、液晶パネルと、を有する画像表示装置。
【請求項１３】
複数の光源ブロックを有するバックライト装置の制御方法であって、
複数の光源ブロックのぞれぞれの発光を制御する発光制御工程と、
光源ブロックの輝度を検出する輝度検出工程と、
前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて輝度値を検出し、検出される輝度値とその目標値との比較に基づき、各光源ブロックの発光量の補正値を決定する制御工程と、
を有し
前記制御工程では、前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて輝度値を検出する処理を全ての光源ブロックについて行う途中で、次に輝度値を検出する光源ブロックを含む複数の光源ブロックを所定期間、所定輝度で発光させる温度変動抑制処理を実行するバックライト装置の制御方法。
【請求項１４】
前記目標値は、複数の光源ブロックの間の輝度のばらつきが許容レベル以下になるように、光源ブロックごとに定められる請求項１３に記載のバックライト装置の制御方法。
【請求項１５】
前記制御工程では、前記温度変動抑制処理において、全ての光源ブロックを発光させる請求項１３又は１４に記載のバックライト装置の制御方法。
【請求項１６】
前記制御工程では、前記温度変動抑制処理において、未だ輝度値の検出を行っていない全ての光源ブロックを所定期間、所定輝度で発光させる請求項１３又は１４に記載のバックライト装置の制御方法。
【請求項１７】
前記制御工程では、前記温度変動抑制処理において、未だ輝度値の検出を行っていない全て光源ブロックおよびそれらに隣接する光源ブロックを所定期間、所定輝度で発光させる請求項１３又は１４に記載のバックライト装置の制御方法。
【請求項１８】
さらに、光源ブロックの温度を検出する温度検出工程を有し、
前記制御工程では、前記温度検出工程で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上低い場合、前記所定期間を長くするか、または前記所定輝度を高くする請求項１３から１７のいずれか１項に記載のバックライト装置の制御方法。
【請求項１９】
前記制御工程では、前記温度検出工程で検出した温度が、前記基準温度に対し閾値以上高い場合、前記所定期間を短くするか、または前記所定輝度を低くする請求項１８に記載のバックライト装置の制御方法。
【請求項２０】
さらに、光源ブロックの温度を検出する温度検出工程を有し、
前記制御工程では、前記温度検出工程で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上低い場合に、前記温度変動抑制処理を実行する請求項１３から１７のいずれか１項に記載のバックライト装置の制御方法。
【請求項２１】
前記温度検出工程では、発光面の中央に位置する光源ブロックの温度を検出する請求項１８から２０のいずれか１項に記載のバックライト装置の制御方法。
【請求項２２】
前記温度検出工程では、複数の光源ブロックのグループ毎に設けられる温度センサのうち、直前に輝度値の検出が行われた光源ブロックの属するグループに対応する温度センサにより、光源ブロックの温度の検出を行う請求項１８から２０のいずれか１項に記載のバックライト装置の制御方法。
【請求項２３】
前記輝度検出工程では、複数の光源ブロックのグループ毎に設けられる光センサにより輝度の検出を行い、
前記輝度検出工程により検出される光源ブロックの輝度値の目標値は、当該光源ブロックと当該光源ブロックが属するグループに対応する光センサとの位置関係に応じて定められる請求項１３から２２のいずれか１項に記載のバックライト装置の制御方法。