【事件の表示】
　上記当事者間の特許第３５６８２８６号発明「共焦点走査型光学顕微鏡及びこの顕微鏡を使用した測定方法」の特許無効審判事件について、次のとおり審決する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３５６８２８６号の請求項１、２に係る発明についての特許を無効とする。
　審判費用は、被請求人の負担とする。
【理　由】
 第１　手続の経緯 
　　出願（特願平７−２２０６６８号）　　平成７年８月２９日 
　　設定登録　　　　　　　　　　　　　　平成１６年６月２５日 
 　（特許第３５６８２８６号） 
　　審判請求　請求人：レーザーテック株式会社　平成１７年１２月２８日
　　答弁書、訂正請求書　　　　　　　　　平成１８年３月２７日 
　　請求人口頭審理陳述要領書　　　　　　平成１８年６月２２日 
　　被請求人口頭審理陳述要領書　　　　　平成１８年６月２２日 
　　口頭審理　　　　　　　　　　　　　　平成１８年６月２２日 
　　弁駁書　　　　　　　　　　　　　　　平成１８年７月３日
　　答弁書（第２回）　　　　　　　　　　平成１８年７月２６日 
 　 
 第２　訂正の適否 
１．訂正の内容 
　平成１８年３月２７日付けの訂正請求書による訂正請求は、本件特許発明の明細書を訂正請求書に添付した全文訂正明細書のとおりに訂正することを求めるものであって、その内容は以下のとおりである。 
（１）【請求項１】について、訂正前の「試料に対し集束光を照射する対物光学系と、上記集束光と上記試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段と、上記対物光学系の焦点位置と上記試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段と、上記集束光の上記試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段と、この光検出手段から出力された検出信号の信号レベルを可変する利得可変手段とを備えた共焦点走査型光学顕微鏡において、上記光検出手段からの検出信号の信号レベルが予め設定された適正範囲にあるか否かを判断する判断手段と、この判断手段により検出信号の信号レベルが予め設定された適正範囲外であると判断した場合に上記利得可変手段の利得を可変制御して該信号レベルが予め設定された適正範囲内となるように調整する利得制御手段とを具備したことを特徴とする共焦点走査型光学顕微鏡。」を、「試料に対し集束光を照射する対物光学系と、上記集束光と上記試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段と、上記対物光学系の焦点位置と上記試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段と、上記集束光の上記試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段と、この光検出手段から出力された検出信号の
輝度
輝度
から外れた
輝度
予め設定された利得値に
輝度
　
（２）【請求項２】について、「試料に対し集束光を照射する対物光学系と、上記集束光と上記試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段と、上記対物光学系の焦点位置と上記試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段と、上記集束光の上記試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段と、この光検出手段から出力された検出信号の信号レベルを可変する利得可変手段とを備えた共焦点走査型光学顕微鏡を使用して上記試料の表面測定を行なうに際し、上記光検出手段からの検出信号の信号レベルが予め設定された適正範囲にあるか否かを判断する判断工程と、この判断工程により検出信号の信号レベルが予め設定された適正範囲外であると判断した場合に上記利得可変手段の利得を可変制御して該信号レベルが予め設定された適正範囲内となるように調整する利得制御工程とを有したことを特徴とする共焦点走査型光学顕微鏡を使用した測定方法。」を「試料に対し集束光を照射する対物光学系と、上記集束光と上記試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段と、上記対物光学系の焦点位置と上記試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段と、上記集束光の上記試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段と、この光検出手段から出力された検出信号の
輝度
輝度
から外れた
輝度
予め設定された利得値に
輝度
 　 
（３）請求項３を削除する（以下、「訂正３」という。）。
　
（４）発明の詳細な説明の段落【００１６】を、「【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、試料に対し集束光を照射する対物光学系と、上記集束光と上記試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段と、上記対物光学系の焦点位置と上記試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段と、上記集束光の上記試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段と、この光検出手段から出力された検出信号の
輝度
輝度
から外れた
予め設定された利得値に
輝度
　
（５）発明の詳細な説明の段落【００１７】を、「この結果、請求項１記載の発明によれば、上記光検出手段からの
輝度
輝度
予め設定された利得値に
輝度
　
（６）発明の詳細な説明の段落【００１８】を、「請求項２記載の発明は、試料に対し集束光を照射する対物光学系と、上記集束光と上記試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段と、上記対物光学系の焦点位置と上記試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段と、上記集束光の上記試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段と、この光検出手段から出力された検出信号の
輝度
輝度
から外れた
輝度
予め設定された利得値に
輝度
　
（７）発明の詳細な説明の段落【００１９】を、「この結果、上記光検出手段からの検出信号の信号レベルが予め設定された適正範囲にあるか否かを判断工程で随時判断している。そして、この判断工程により検出信号の
輝度
予め設定された利得値に
輝度
 　 
 ２．訂正の目的の適否
（１）訂正１について
　訂正１は、請求項１に係る訂正である。そして、
ア．「信号レベル」を「輝度信号レベル」とする訂正（４箇所）は、明りょうでない記載の釈明を目的とする訂正に該当する。
イ．「適正範囲にあるか否か」を「適正範囲から外れたか」とする訂正は、明りょうでない記載の釈明を目的とする訂正に該当する。
ウ．「上記利得可変手段の利得を可変制御して」を「上記利得可変手段の利得を予め設定された利得値に可変制御して」とする訂正は、請求項１における「可変制御」に関して、「予め設定された利得値に」と限定するものであるから、特許請求の範囲の減縮を目的とする訂正に該当する。
　したがって、訂正１は、特許請求の範囲の減縮および明りょうでない記載の釈明を目的とする訂正に該当する。
　
（２）訂正２について
　訂正２の内容は、訂正１の内容と同じであるから、訂正２は、特許請求の範囲の減縮および明りょうでない記載の釈明を目的とする訂正に該当する。
　
（３）訂正３について
　訂正３は、請求項３を削除したもので、特許請求の範囲の減縮を目的とする訂正に該当する。
　
（４）訂正４〜７について
　訂正４〜７は、訂正１、訂正２との整合をとるためになされたもので、明りょうでない記載の釈明を目的とする訂正に該当する。
　
　したがって、訂正１〜７は、特許請求の範囲の減縮および明りょうでない記載の釈明を目的とする訂正に該当する。
　
３．新規事項の有無及び拡張・変更の存否 
　訂正１〜７は、明らかに願書に添付した明細書又は図面に記載した範囲内の訂正であり、また、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 
 　 
 ４．訂正請求の適否についての結論 
 　以上のとおりであるから、上記訂正は、特許法第１３４条の２第１項ただし書き各号に列挙された事項を目的としており、特許法第１３４条の２第５項で準用する特許法第１２６条第３項及び第４項の規定に適合するので、訂正を認める。 
 　 
 第３　本件発明 
 　特許第３５６８２８６号の請求項１、２に係る発明（以下「本件発明１」、「本件発明２」という。）は、全文訂正明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１、２に記載された事項により特定される次のとおりのものである。 
 「【請求項１】
　試料に対し集束光を照射する対物光学系と、上記集束光と上記試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段と、上記対物光学系の焦点位置と上記試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段と、上記集束光の上記試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段と、この光検出手段から出力された検出信号の輝度信号レベルを可変する利得可変手段とを備えた共焦点走査型光学顕微鏡において、上記光検出手段からの検出信号の輝度信号レベルが予め設定された適正範囲から外れたかを判断する判断手段と、この判断手段により検出信号の輝度信号レベルが予め設定された適正範囲外であると判断した場合に上記利得可変手段の利得を予め設定された利得値に可変制御して該輝度信号レベルが予め設定された適正範囲内となるように調整する利得制御手段とを具備したことを特徴とする共焦点走査型光学顕微鏡。
【請求項２】
　試料に対し集束光を照射する対物光学系と、上記集束光と上記試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段と、上記対物光学系の焦点位置と上記試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段と、上記集束光の上記試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段と、この光検出手段から出力された検出信号の輝度信号レベルを可変する利得可変手段とを備えた共焦点走査型光学顕微鏡を使用して上記試料の表面測定を行なうに際し、上記光検出手段からの検出信号の輝度信号レベルが予め設定された適正範囲から外れたかを判断する判断工程と、この判断工程により検出信号の輝度信号レベルが予め設定された適正範囲外であると判断した場合に上記利得可変手段の利得を予め設定された利得値に可変制御して該輝度信号レベルが予め設定された適正範囲内となるように調整する利得制御工程とを有したことを特徴とする共焦点走査型光学顕微鏡を使用した測定方法。」 
 　 
 第４　審判請求人の主張 
 　審判請求人は、本件特許の請求項１、２に係る発明を無効にする、との審決を求め、その理由として、本件特許の請求項１、２に係る発明は、甲第６号証に甲第１号証、甲第２号証を組み合わせれば容易に想到できる発明であり、特許法第２９条第２項の規定により（進歩性要件の欠如による無効理由）、これらの特許は無効にされるべきであると主張し、証拠方法として以下の甲号証を提出している。 
甲第１号証：特開平５−７１９３１号公報（平成５年３月２３日公開）、 
甲第２号証：特開昭６１−２１９９１９号公報（昭和６１年９月３０日公開）、 
甲第３号証：実願平４−１１４０１９号の明細書及び図面（平成４年１０月７日公開）、
甲第４号証：特開平５−１６１０４８号公報（平成５年６月２５日公開）、
甲第５号証：特開昭５９−１７７５０７号公報（昭和５９年１０月８日公開）、
甲第６号証：「映像情報」昭和６３年１月１日発行、
甲第７号証：「Ｏ PLUS Ｅ」昭和６３年２月５日発行
　
 第５　被請求人の主張 
 　一方、被請求人は、本件発明１、２は、いずれも甲第１号証〜甲第７号証に記載された発明の組み合わせに基づいて当業者が容易に発明をすることができたものでもなく、本件審判の請求は成り立たない、との審決を求める旨主張している。 
　
 第６　甲号各証の記載内容 
 　上記無効理由の根拠として挙げられた甲第６号証、甲第１号証、甲第２号証には、概略以下の技術的事項が開示されている。 
１．甲第６号証
ア．ここではレーザーテック（株）の走査型レーザー顕微鏡１ＬＭ１１型及び走査型カラーレーザー顕微鏡２ＬＭ１１型を中心にレーザー光を用いた高速走査型レーザー顕微鏡についてその原理と画像処理分野での応用を紹介してみたいと思う。（６７頁左欄１０〜１４行）
　
イ．共焦点型の光学系は図２からも分かる様に本質的に光軸上の１点を拡大することになるので得られる画像は０次元のものとなる。従って２次元画像を得るためには何等かの形で走査を行う必要がある。走査には、Ａ．試料Ｂ．集束光点のいずれかを移動させれば良い。Ａの方法は常に光軸上の光だけを使用できるというメリットはあるが、走査に時間がかかり過ぎるのが欠点である。この種の顕微鏡で走査に時間がかかるといいうことは試料の検索、焦点調節などの操作性を決定的に悪くすることになる。従って、１ＬＭ１１／２ＬＭ１１では、Ｂの方法を採用している。集束光点の走査にも数種類の方法があるが、このうち実用的なものは、（イ）ガルバノミラー（ロ）ポリゴンミラー（ハ）ＡＯ素子（音響光学偏向素子）などである。・・・（ハ）のＡＯ素子は偏向角の波長依存性があるという欠点はあるものの、振動が皆無であり小型であるという利点があるので、１ＬＭ１１／２ＬＭ１１ではこれを水平方向のスキャンに使用している。このような走査法によって、１ＬＭ１１／２ＬＭ１１の大な特長の一つであるリアルタイム画像を得ている。これは共焦点型光学系を持つ顕微鏡として世界初の成功例である。これら水平、垂直の走査を光路図で示すと図３、４の様になる。（６８頁左欄１５行〜６９頁左欄４行）
　
ウ．図５は共焦点型光学系を反射型として応用するときの光路図である。図２と比較すれば１つの対物レンズに２回光を通して（往復使用することで）共焦点型になっているのがすぐに分かる。この図５では試料面に正確に焦点が合っているから、点光源から出た光は試料の反射率に応じて減衰するものの、試料によって反射された光の大部分はピンホールを通過して検出器に入る。（６９頁右欄７〜１４行）
　
エ．合焦点面での画素情報が最も明るいという、共焦点型光学系の特長は、表面形状測定にも応用することができる。試料をＺ軸ステージによって奥行方向に移動しながら、各画素について最大輝度を与えるステージのＺ軸変位量を別のメモリに記憶させれば、各画素について奥行方向の高さ情報をストアすることができる。（７０頁左欄７〜１２行）
　
　また、甲第６号証の図５によると、対物レンズが試料に対して集束光を照射していること、は明らかである。
 　したがって、上記記載事項、及び図２〜図１１の記載からみて、甲第６号証には、「試料に対し集束光を照射する対物レンズと、水平方向のスキャンをするＡＯ素子と、試料をＺ軸ステージによって奥行方向に移動させる手段と、試料によって反射された光を検出する光検出器とを備えた走査型レーザー顕微鏡」（以下、「引用発明１」という。）が記載されているものと認める。
　
２．甲第１号証 
オ．【請求項２】　対象物に光を照射し、その反射光を受光して光電変換した後信号処理を行うことにより対象物の３次元情報を得る立体形状測定装置において、光ビームを照射するレーザー光源と、前記光ビームを２次元的に走査するための光走査手段と、前記光ビームを、前記光走査手段の走査方向と交差する光学系の光軸方向に焦点移動する光束制御手段と、前記光束制御手段を通過した光ビームを対象物に照射するための光学系と、対象物からの反射光の焦点位置の変位に基づき、光学系光軸方向に関する対象物における形状特性の情報を取得する検出手段と、前記検出手段の出力信号から、対象物における光学的反射特性の影響を除去する第１の信号処理手段と、前記検出手段の出力信号強度を判定し前記検出手段の出力信号強度を所定の状態に調節する第３の信号処理手段とを有することを特徴とする立体形状測定装置。（【請求項２】）
　
カ．【００３８】　なお、この図のように、３次元測定を行うために、２つの開口をずらして配置しているが、この状態で２つの検出器の出力信号を加算して通常画像の観察のために利用すると、画像のコントラストは２つの開口が完全な焦点面にあった時に比ベてやや低下する。従って、通常画像の観察のためにこの光学系を適用する場合、２つの開口２５、２６の位置を、矢印２５ａ、２６ａのように僅かにずらして完全な焦点面に移動するための微動調整機構を備えて置くことが理想的である。（【００３８】） 
　
キ．【００５０】　再び図２において、判定回路４０の判定結果は、ＬＥＤディスプレイ等の表示装置４２に示されると共に、信号強度レベルの判定信号は制御回路４３を駆動して、２つの増幅器３１、３２の増幅率を制御して各信号レベルが最適になるように帰還制御を行う。（【００５０】） 
　
３．甲第２号証 
ク．光源と、前記光源から発した光を物体上に集光する対物レンズと、前記光源と前記対物レンズの間に配置されていて前記対物レンズに入る光の入射角度を変化させることにより物体上を走査する光偏光部材と、物体からの光を受ける検出器とを具備し、前記光偏向部材を前記対物レンズの瞳又はその共役位置若しくはそれらの近傍に配置した走査型光学顕微鏡。（１頁左下欄５〜１２行）
　
ケ．透過径検出器６８，６９の信号はプリアンプ１１１，１１２及びオフセット，可変ゲイン（ｇａｉｎ）の調整のついた増幅器１１３，１１４によって加減算器１１５に与えられる。（６頁右上欄１１〜１４行）
　
コ．第１１図（Ａ）及び（Ｂ）は、コントラストの低い画像信号１２８をオフセット、可変ゲインの調整のついた増幅アンプ１１１，１１２によりコントラストの高い画像信号１２９に変化させた場合を示している。（６頁右下欄１３〜１７行）
　
 第７　当審の判断 
 １．本件発明１に対して（無効理由；特許法第２９条第２項）
（１）対比 
 　本件発明１と引用発明１とを対比する。 
 　引用発明１における「対物レンズ」、「水平方向のスキャンをするＡＯ素子」、「試料をＺ軸ステージによって奥行方向に移動させる手段」、「試料によって反射された光を検出する光検出器」、「走査型レーザー顕微鏡」は、本件発明１における「対物光学系」、「集束光と試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段」、「対物光学系の焦点位置と試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段」、「集束光の試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段」、「共焦点走査型光学顕微鏡」に相当する。 
　
 　したがって、両者は 
 「試料に対し集束光を照射する対物光学系と、上記集束光と上記試料とを相対的に二次元方向へ走査する二次元走査手段と、上記対物光学系の焦点位置と上記試料の位置とを相対的に光軸方向へ移動するＺ軸移動手段と、上記集束光の上記試料による反射光を受光してその受光強度に応じた検出信号を出力する光検出手段とを備えた共焦点走査型光学顕微鏡」である点で一致し、以下の点で相違している。 
　
相違点：本件発明１は、光検出手段から出力された検出信号の輝度信号レベルを可変する利得可変手段を備え、光検出手段からの検出信号の輝度信号レベルが予め設定された適正範囲から外れたかを判断する判断手段と、この判断手段により検出信号の輝度信号レベルが予め設定された適正範囲外であると判断した場合に上記利得可変手段の利得を予め設定された利得値に可変制御して該輝度信号レベルが予め設定された適正範囲内となるように調整する利得制御手段とを具備したのに対し、引用発明１ではそのような構成を採用していない点。
　
（２）相違点についての判断 
　共焦点走査型光学顕微鏡において、光検出手段から出力された検出信号の輝度信号レベルを可変する利得可変手段を備えることは甲第２号証に記載されるように知られており、甲第２号証に記載された共焦点走査型光学顕微鏡と同一技術分野に属する引用発明１においても、光検出手段から出力された検出信号の輝度信号レベルを可変する利得可変手段を備えることは、当業者が容易に想到し得た事項である。
　また、甲第１号証には、「信号強度レベルの判定信号は制御回路４３を駆動して、２つの増幅器３１、３２の増幅率を制御して各信号レベルが最適になるように帰還制御を行う。」と記載されている。甲第１号証に記載された立体形状測定装置は、厳密には共焦点走査型光学顕微鏡とはいえないものの、「対象物に光を照射し、その反射光を受光して光電変換した後信号処理を行うことにより対象物の３次元情報を得る立体形状測定装置」（上記第６の２．記載事項オ．）であり、「対象物に対し光を照射し、対象物による反射光を受光する」という点で引用発明１と共通するものである。そして、引用発明１において、光検出手段から出力された検出信号の輝度信号レベルを可変する利得可変手段を備えた際には、当然、何らかの情報に基づいて、光検出手段から出力された検出信号の輝度信号レベルを可変することになるはずであり、その際に、甲第１号証に記載された帰還制御を採用することに格別の困難性があるとは認められない。また、帰還制御を行うに際して、「検出信号の輝度信号レベルの適正範囲を
予め設定
予め設定
　
　審判被請求人は、「検出信号の輝度信号レベルの適正範囲を
予め設定
予め設定
予め設定
予め設定
　
　また、本件発明１の作用・効果も甲第６号証、及び甲第１、２号証に記載された発明から予測される範囲内のものである。 
 　 
 　よって、本件発明１は、甲第６号証、甲第１号証、及び甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本件発明１についての特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものである。 
 　
 ２．本件発明２に対して（無効理由；特許法第２９条第２項） 
 （１）本件発明２ 
 　本件発明２は、共焦点走査型光学顕微鏡という、物の発明である本件発明１を使用した測定方法の発明である。 
 　 
 （２）判断 
　本件発明１は、上記第７の１．で検討したように、甲第６号証、甲第１号証、及び甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。そして、本件発明２における、「判断工程」及び「利得制御工程」は、本件発明１の「判断手段」及び「利得制御手段」の手段を工程と単に言い替えたものに過ぎないものと認められ、してみれば、本件発明２は、単に、共焦点走査型光学顕微鏡である本件発明１を使用した測定方法に過ぎないものである。
　したがって、本件発明２は、本件発明１と同様の理由で、甲第６号証、甲第１号証、及び甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
　よって、本件発明２は、甲第６号証、甲第１号証、及び甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本件発明２についての特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものである。 
 　 
第８　むすび 
　以上のとおりであるから、本件発明１、２は、いずれも特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものであって、同法第１２３条第１項第２号に該当し、無効とすべきものである。 
 　 
　審判に関する費用については、特許法第１６９条第２項の規定で準用する民事訴訟法第６１条の規定により、被請求人が負担すべきものとする。 
 　 
　よって、上記結論のとおり審決する。