【事件の表示】
　特願２００２−２２００６１「接続検証装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年　２月２６日出願公開、特開２００４−　６２５３２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続きの経緯
　本願は，平成１４年７月２９日の出願であって，平成２０年３月１９日付けで拒絶理由が通知され，これに対して平成２０年５月１９日に意見書が提出されるとともに，同日付けで手続補正がなされたところ，平成２０年８月１日付けで拒絶査定がされ，これに対して平成２０年９月３日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに，同日付けで手続補正がなされたものである。
　
第２　補正却下の決定
１　補正却下の決定の結論
　平成２０年９月３日付けの手続補正を却下する。
　
２　理由
（１）本件補正前の特許請求の範囲
　本件補正前の，平成２０年５月１９日付けの手続補正による特許請求の範囲の記載は次のとおりである。
「　【請求項１】
　第１の論理ブロックの出力端子における信号レベルを入力する第１の入力手段と，
　上記第１の論理ブロックの出力端子と接続されている第２の論理ブロックの入力端子における信号レベルを入力する第２の入力手段と，
　上記第１の入力手段により入力された信号レベルと上記第２の入力手段により入力された信号レベルを比較して，上記第１及び第２の論理ブロック間の接続関係を検証する接続検証手段とを備えた接続検証装置。
　　【請求項２】
　接続検証用のテスト信号を生成し，そのテスト信号を第１の論理ブロックの出力端子に与える信号生成手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項３】
　接続検証手段により第１及び第２の論理ブロック間の接続不備が認定された場合，上記第１及び第２の論理ブロックのうちの少なくとも一方の論理ブロックの論理動作を禁止する論理動作禁止手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項４】
　接続検証手段により第１及び第２の論理ブロック間の接続不備が認定された場合，接続関係に不備がある旨を表示する表示手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項５】
　第１及び第２の入力手段は同期信号に同期して信号レベルを入力することを特徴とする請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項６】
　第１の論理ブロックの出力端子に対応する第２の論理ブロックの入力端子を定義する定義手段を設け，
　接続検証手段は上記定義手段の定義内容を参照して，第１の入力手段により入力された信号レベルと第２の入力手段により入力された信号レベルを比較することを特徴とする請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項７】
　接続検証手段は，第１及び第２の論理ブロック間の接続関係を検証したのち，上記第１及び第２の論理ブロックの機能検証又は論理検証を実施することを特徴とする請求項１記載の接続検証装置。」
　
（２）　本件補正後の特許請求の範囲
　本件補正により，特許請求の範囲の記載は，次のとおり補正された。
「　【請求項１】　第１の論理ブロックの出力端子における信号レベルを入力する第１の入力手段と，
　上記第１の論理ブロックの出力端子と接続されている第２の論理ブロックの入力端子における信号レベルを入力する第２の入力手段と，
　上記第１の入力手段により入力された信号レベルと上記第２の入力手段により入力された信号レベルを比較して，上記第１及び第２の論理ブロック間の接続関係を検証する接続検証手段とを備えた，接続検証装置。
　　【請求項２】　接続検証用のテスト信号を生成し，そのテスト信号を第１の論理ブロックの出力端子に与える信号生成手段を設けた，請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項３】　接続検証手段により第１及び第２の論理ブロック間の接続不備が認定された場合，上記第１及び第２の論理ブロックのうちの少なくとも一方の論理ブロックの論理動作を禁止する論理動作禁止手段を設けた，請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項４】　接続検証手段により第１及び第２の論理ブロック間の接続不備が認定された場合，接続関係に不備がある旨を表示する表示手段を設けた，請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項５】　第１及び第２の入力手段は同期信号に同期して信号レベルを入力する，請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項６】　第１の論理ブロックの出力端子に対応する第２の論理ブロックの入力端子を定義する定義手段を設け，
　接続検証手段は上記定義手段の定義内容を参照して，第１の入力手段により入力された信号レベルと第２の入力手段により入力された信号レベルを比較する，請求項１記載の接続検証装置。
　　【請求項７】　接続検証手段は，第１及び第２の論理ブロック間の接続関係を検証したのち，上記第１及び第２の論理ブロックの機能検証又は論理検証を実施する，請求項１記載の接続検証装置。」
　
（３）補正の適否についての判断
　本件補正は，特許請求の範囲の請求項１において「・・・備えた」と「接続検証装置」との間に読点を付加し，請求項２ないし７の請求項において「ことを特徴とする」を削除し，「請求項１記載の・・・」の前に読点を付加するものであって，発明を特定するために必要な事項のいずれかを限定するものでも，請求項の記載を明りょうとするものもない（そもそも，本件補正前の請求項に明りょうでない記載は存在せず，拒絶理由通知又は拒絶査定において指摘もしていない。）。また，本件補正が，請求項の削除，誤記の訂正を目的としたものでないことは明らかである。
　よって，当該補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法（以下，「平成１８年法改正前特許法」という。）第１７条の２第４項第１号（請求項の削除），同第２号（特許請求の範囲の減縮），同第３号（誤記の訂正），同第４号（明りょうでない記載の釈明（拒絶理由通知に係る拒絶の理由に示す事項についてするものに限る。））のいずれかに規定される事項を目的としたものではない。
　
（４）本件補正についてのむすび
　以上のとおり，本件補正は，平成１８年法改正前特許法第１７条の２第４項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　本願発明について
１　本願発明
　平成２０年９月３日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので，本願の請求項２に係る発明（以下，「本願発明」という。）は，平成２０年５月１９日付けで補正された特許請求の範囲の請求項１及び２に記載された事項により特定されるとおりのものであり，その記載は以下のとおりである。
　
「　【請求項１】
　第１の論理ブロックの出力端子における信号レベルを入力する第１の入力手段と，
　上記第１の論理ブロックの出力端子と接続されている第２の論理ブロックの入力端子に
おける信号レベルを入力する第２の入力手段と，
　上記第１の入力手段により入力された信号レベルと上記第２の入力手段により入力され
た信号レベルを比較して，上記第１及び第２の論理ブロック間の接続関係を検証する接続
検証手段とを備えた接続検証装置。
　　【請求項２】
　接続検証用のテスト信号を生成し，そのテスト信号を第１の論理ブロックの出力端子に
与える信号生成手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の接続検証装置。」
　
２　引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された本願の出願前の平成１０年１２月８日に頒布された刊行物である特開平１０−３２６３０１号公報（以下，「引用例１」という。）には，次の事項が図面と共に開示されている。（記載箇所は段落番号等で表示）
　
ア　「【請求項１】　複数のマクロ（モジュール，ブロックとも称される）から構成されるＬＳＩの各マクロ間接続の正当性を検証するＬＳＩ試験方式において，
各マクロ間の接続部分だけのいわゆるネットストを作成する手段，
作成した前記ネットリストに，接続の正当性を検証できるだけの単純なパタンのテスト信号を流し，このテスト信号をモニタすることで各マクロ間接続の正当性を検証する手段，
を備えたことを特徴とするＬＳＩ試験方式。」
　
イ　「【０００２】
【従来の技術】ＬＳＩの階層設計手法(hierarchical design method)は良く知られているように，例えば最下層の論理ゲートレベルを組み立ててセルレベルとし，このセルレベルを組み立ててマクロレベルとし，マクロレベルを組み立ててチップレベルとして行く方法であり，各レベルの組立において機能確認試験等が適宜実施されるが，これらの試験の１つにマクロ間接続の正当性を確認する試験がある。」
　
ウ　「【００１３】
【発明の実施の形態】以下，本発明の実施形態を図面を参照して説明する。図１は検証対象となる複数のマクロが接続された回路（上位マクロ）を示す図，図２は本発明の一実施形態を説明するための図である。図１に示すように，例えば検証対象となる回路が，マクロＡ〜マクロＤ，ゲート１およびゲート２で構成され，それぞれが図１に示すように接続されていたとする。本発明のＬＳＩ試験方式は，このような回路のマクロ間接続の正当性を検証するために，始めにマクロ間接続を示すいわゆるネットリストの作成を行う。
【００１４】このネットリストの抽出は図２に示すように，各マクロＡ〜Ｄの入力端子をテスト信号の出力端子に，出力端子をテスト信号の入力端子に置き換えることで容易に行うことができる。すなわち1,1',1''〜1''''は，これらのマクロＡ〜Ｄを接続した上位マクロの入力端子であるので，そのままテスト信号の入力端子とし，同様に2,2',2''〜2''''' は上位マクロの出力端子であるのでそのままテスト信号の出力端子とする。また，2A,2A',2A'' はマクロＡの入力端子であるのでテスト信号の出力端子とし，1A,1A'〜1A'''' は出力端子であるのでテスト信号の入力端子とする。
【００１５】同様に2B,2B'〜2B'''をテスト信号の出力端子，1B,1B'〜1B'''''' をテスト信号の入力端子，2D,2D'〜2D'''''' をテスト信号の出力端子，1D,1D'〜1D'''をテスト信号の入力端子とすることで，ネットリストの抽出が行える。なおマクロＣは短機能のマクロであり，このような短機能のマクロは端子の置き換えを行うより，そのままその機能をテストするテストパタンを流した方が，テストパタンの作成も容易で，接続の正当性と機能の検証とを同時に行えるため，端子の置き換えは行わない。
【００１６】次に，このようにして作成したネットリストのそれぞれのテスト信号用入力端子へ簡単なパタンのテスト信号を入力し，それぞれのテスト信号用出力端子でこのテスト信号をモニタする。図３は，ネットリストに流すテスト信号の一例を示す図であり，テスト信号は，例えば所定のパルス幅だけその論理が反転するような信号で良い。但し，各端子ごとに区別する必要があるので，各端子ごと時間的なズレを以てその論理が順次反転する図３に示すようなテスト信号，あるいは論理が反転するパルス幅が各端子ごと異なるテスト信号（図示せず）を用いる。なお，ゲート１やマクロＣへ与えるテスト信号のパタンは，それぞれゲートの論理やマクロＣの論理を考慮して作成する。以上のように本発明のＬＳＩ試験方式は，ネットリストを作成し，作成したネットリストのテスト信号入力端子側それぞれに簡単なパタンのテスト信号を入力し，テスト信号出力端子側でテスト信号をモニタする方式により，マクロ間接続の正当性の検証が極めて容易に行えるようになる。」
　
エ　図２には，マクロＡの出力端子とマクロＢの入力端子とが接続された回路が記載されている。
　
　以上のことから，引用例１には，以下の発明（以下，「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
　
　論理ゲートレベルを組み立ててセルレベルとし，このセルレベルを組み立ててマクロレベルとし，
マクロＡの出力端子とマクロＢの入力端子とが接続され，
　マクロＡの出力端子をテスト信号の入力端子とし，マクロＢの入力端子をテスト信号の出力端子とすることでネットリストを作成し，
　作成したネットリストのテスト信号入力端子側にテスト信号を入力し，テスト信号出力端子側でこのテスト信号をモニタすることでマクロ間接続の正当性を検証する手段を備えたＬＳＩ試験方式。
　
３　対比
　本願発明と引用発明とを対比する。
　引用発明において「マクロ」とは，論理ゲートレベルを組み立てたセルレベルを，さらに組み立てたものであるから，論理ブロックといえる。よって，引用発明の「マクロＡ」は，本願発明の「第１の論理ブロック」に相当するものであって，引用発明の「マクロＡの出力端子」は本願発明の「第１の論理ブロックの出力端子」に相当する。
　同様に，引用発明の「マクロＢ」は，本願発明の「第２の論理ブロック」に相当するものであって，引用発明の「マクロＢの入力端子」は，本願発明の「第２の論理ブロックの入力端子」に相当する。
　引用発明は，マクロＡの出力端子とマクロＢの入力端子とが接続され，マクロＢの入力端子からテスト信号をモニタするものであるから，本願発明と引用発明とは，第１の論理ブロックの出力端子と接続されている第２の論理ブロックの入力端子における信号レベルを入力する機能を備えた点で共通するものであって，そのための手段を引用発明が備えていることは明らかである。
　引用発明において，マクロＡの出力端子であるテスト信号の入力端子側にテスト信号を入力し，マクロＢの入力端子であるテスト信号出力端子側でテスト信号をモニタすることでマクロ間接続の正当性を検証する手段は，本願発明の「第１及び第２の論理ブロック間の接続関係を検証する接続検証手段」に相当する。
　引用発明の「テスト信号」は，マクロ間接続の正当性を検証するためのテスト信号であるから，本願発明の「接続検証用のテスト信号」に相当する。
　引用発明は，マクロＡの出力端子であるテスト信号用入力端子側にテスト信号を入力するものであるから，本願発明と引用発明とは，接続検証用のテスト信号を第１の論理ブロックの出力端子に与える機能を備えた点で共通する。
　引用発明の「ＬＳＩ試験方式」は，マクロ間接続の正当性を検証するものであるから，本願発明の「接続検証装置」に相当する。
　
　以上を踏まえると，両者の一致点，相違点は以下のとおりである。
　
【一致点】
　第１の論理ブロックの出力端子と接続されている第２の論理ブロックの入力端子における信号レベルを入力する第２の入力手段と，
　上記第１及び第２の論理ブロック間の接続関係を検証する接続検証手段と，
　テスト信号を第１の論理ブロックの出力端子に与える接続検証装置。
　
【相違点】
　ａ　接続関係の検証を，本願発明は「第１の論理ブロックの出力端子における信号レベルを入力する第１の入力手段」を備え，「上記第１の入力手段により入力された信号レベルと上記第２の入力手段により入力された信号レベルを比較」して行うのに対して，引用発明はマクロＡの出力端子にテスト信号を入力し，マクロＢの入力端子でモニタすることで行う点。
　
　ｂ　第１の論理ブロックの出力端子に与えるテスト信号を，本願発明は「信号生成手段」で「生成」するのに対し，引用発明はテスト信号の生成については特定されていない点。
　
４　当審の判断
　上記相違点ａについて検討する。
　引用発明は，マクロ間の接続を検証するものであるから，マクロＢの入力端子でモニタされたテスト信号の信号レベルと，マクロＡの出力端子に入力したテスト信号の信号レベルとを比較し，両者が一致すればその接続の正当性が検証されることは，容易に想到される。
　また，マクロＡの出力端子に入力したテスト信号の信号レベルは，同出力端子におけるテスト信号の信号レベルと等しく，さらに同出力端子から取得されるテスト信号の信号レベルも同様に等しいはずであるから，マクロＡの出力端子に入力したテスト信号の信号レベルに代えて，同出力端子におけるテスト信号の信号レベルを用いることは，当業者が適宜なし得る設計変更といえる。
　以上のことを考慮すれば，引用発明において，マクロＡの出力端子におけるテスト信号の信号レベルを入力する手段を設け，入力されるテスト信号の信号レベルと，マクロＢの入力端子でモニタされるテスト信号の信号レベルを比較することで検証を行うよう構成することに困難な点はない。
　
　上記相違点ｂについて検討する。
　引用発明において，出力端子に対して与えられるテスト信号をどのように生成しているか不明であるが，テスト信号が入力されるということはテスト信号が生成されていることを前提としているのであるから，その生成手段をいずれかに設けることは当業者が適宜採用し得る設計的な事項である。よって，引用発明に，テスト信号を生成する手段を設けることに困難な点はない。
　
　そして，これら相違点を総合的に考慮してみても当業者が推考し難い格別のものであるとすることはできず，本願発明の奏する効果を検討してみても，引用発明から想定される範囲を越えるものではない。
　
５　むすび
　以上のとおり，本願発明は，引用例１に記載された発明に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって，本願は，他の請求項について検討するまでもなく，拒絶すべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。