【事件の表示】
　特願２００２−　　６８６６「蛍光，燐光測定装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　７月２５日出願公開、特開２００３−２０７４５３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
Ｉ．手続の経緯  
　本願は、平成１４年１月１６日の出願であって、平成１６年１０月２６日付けで拒絶理由が通知され（発送日：同年１１月２日）、その指定期間内である同年１２月１５日に意見書および手続補正書が提出されたが、平成１７年３月８日付けで拒絶査定がなされ（発送日：同年３月１５日）、これに対し、同年４月１４日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに、同年５月１６日付けで手続補正がなされたものである。
　
II．平成１７年５月１６日付けの手続補正についての補正却下の決定
 ［補正却下の決定の結論］  
 　平成１７年５月１６日付けの手続補正を却下する。
　
 ［理由］
１．平成１７年５月１６日付け手続補正（以下「本件補正」という。）
　本件補正は、補正前の特許請求の範囲の記載（平成１６年１２月１５日付けで補正、以下同じ。）：
「【請求項１】
　光源と、
　該光源から発する光から測定に必要な波長を選択して取り出し、集光させる光学系と、
　集光された光を被測定試料に照射し、該試料から発生する蛍光あるいは燐光を検出する検出器と、を備えた蛍光，燐光測定装置において、
　前記光源と前記被測定試料の間の光路と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路に、それぞれ少なくとも１つの光路遮断機構を備え、かつ該複数の光路遮断機構は、共通の遮光板により光路を遮断する機構を備え、
　更に、前記共通の遮光板と前記被測定試料の間の光路に該被測定試料へ光を集光する凹面鏡を備え、かつ該被測定試料と前記共通の遮光板の間の光路に該被測定試料からの光を集光する凹面鏡を備えたことを特徴とする蛍光，燐光測定装置。
【請求項２】
　請求項１記載の蛍光，燐光測定装置において、
　前記光源は連続点灯する光源であり、
　前記光源からの光が前記被測定試料に入射する時間帯には、前記被測定試料と前記検出器との間の光路遮断機構が光路を遮断するように動作し、
　前記被測定試料から発生する蛍光，燐光が前記検出器に入射する時間帯には、
　前記光源と被測定試料との間の光路遮断機構が光路を遮断するように動作するように構成されていることを特徴とする蛍光，燐光測定装置。
【請求項３】
　請求項１において、前記光源がパルス発生する光源であることを特徴とする蛍光，燐光測定装置。
【請求項４】
　請求項１〜３のいずれかに記載の蛍光，燐光測定装置において、
　前記共通の遮光板は円板状であり、
　前記光源と前記被測定試料の間の光路に光を通すためのスリット部と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路の光を遮断するための遮光部が一対となったものが前記遮光板に設けられていることを特徴とする蛍光，燐光測定装置。
【請求項５】
　請求項４記載の蛍光，燐光測定装置において、
　前記一対のスリット部と遮光部は、円板状の遮光板のほぼ半径方向上であって、半径方向で異なる位置に設けられていることを特徴とする蛍光，燐光測定装置。」
を、
「【請求項１】
　光源と、
　該光源から発する光から測定に必要な波長を選択して取り出し、集光させる光学系と、
　集光された光を被測定試料に照射し、該試料から発生する蛍光あるいは燐光を検出する検出器と、を備えた蛍光，燐光測定装置において、
　前記光源と前記被測定試料の間の光路と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路に、それぞれ少なくとも１つの光路遮断機構を備え、かつ該複数の光路遮断機構は、共通の遮光板により光路を遮断する機構を備え、
　
更に、前記光源から発する光を前記共通の遮光板に結像させる手段と、
、前記共通の遮光板を通過して拡散する照射光を集めて該被測定試料に照射するための第１の
　該被測定試料と前記共通の遮光板の間の光路に
、前記第１の凹面鏡からの光の照射方向とほぼ同じ軸方向に配置し、ほぼ同じ軸方向に発する蛍光あるいは燐光を集光し、前記共通の遮光板の所定の位置に絞って導く第２の
【請求項２】
　請求項１記載の蛍光，燐光測定装置において、
　前記光源は連続点灯する光源であり、
　前記光源からの光が前記被測定試料に入射する時間帯には、前記被測定試料と前記検出器との間の光路遮断機構が光路を遮断するように動作し、
　前記被測定試料から発生する蛍光，燐光が前記検出器に入射する時間帯には、前記光源と被測定試料との間の光路遮断機構が光路を遮断するように動作するように構成されていることを特徴とする蛍光，燐光測定装置。
【請求項３】
　請求項１において、前記光源がパルス発生する光源であることを特徴とする蛍光，燐光測定装置。
【請求項４】
　請求項１〜３のいずれかに記載の蛍光，燐光測定装置において、
　前記共通の遮光板は円板状であり、
　前記光源と前記被測定試料の間の光路に光を通すためのスリット部と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路の光を遮断するための遮光部が一対となったものが前記遮光板に設けられていることを特徴とする蛍光，燐光測定装置。
【請求項５】
　請求項４記載の蛍光，燐光測定装置において、
　前記一対のスリット部と遮光部は、円板状の遮光板のほぼ半径方向上であって、半径方向で異なる位置に設けられていることを特徴とする蛍光，燐光測定装置。」（下線は補正箇所を示す。）
と補正するものである。
　
 ［理由１］
２．目的外補正について
　補正前の請求項１に「
前記光源から発する光を前記共通の遮光板に結像させる手段
　したがって、本件補正は、特許法第１７条の２第４項各号に規定する要件を満たしておらず、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
 ［理由２］
３．独立特許要件違反について
　本件補正が特許法第１７条の２第４項に規定する要件を満たしていないことは上述のとおりであるが、仮に、上記本件補正が上記各要件を満たすとした場合、本件補正の内、補正前の請求項１における「前記共通の遮光板と前記被測定試料の間の光路に該被測定試料へ光を集光する凹面鏡を備え、かつ該被測定試料と前記共通の遮光板の間の光路に該被測定試料からの光を集光する凹面鏡を備えた」を、「前記共通の遮光板と前記被測定試料の間の光路に
、前記共通の遮光板を通過して拡散する照射光を集めて該被測定試料に照射するための第１の
、前記第１の凹面鏡からの光の照射方向とほぼ同じ軸方向に配置し、ほぼ同じ軸方向に発する蛍光あるいは燐光を集光し、前記共通の遮光板の所定の位置に絞って導く第２の
　
（１）本件補正発明の認定
　本件補正発明は、平成１７年５月１６日付け手続補正により補正された明細書および図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載された次の事項により特定されるとおりのものと認める。
　
「光源と、
　該光源から発する光から測定に必要な波長を選択して取り出し、集光させる光学系と、
　集光された光を被測定試料に照射し、該試料から発生する蛍光あるいは燐光を検出する検出器と、を備えた蛍光，燐光測定装置において、
　前記光源と前記被測定試料の間の光路と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路に、それぞれ少なくとも１つの光路遮断機構を備え、かつ該複数の光路遮断機構は、共通の遮光板により光路を遮断する機構を備え、
　更に、前記光源から発する光を前記共通の遮光板に結像させる手段と、
　前記共通の遮光板と前記被測定試料の間の光路に、前記共通の遮光板を通過して拡散する照射光を集めて該被測定試料に照射するための第１の凹面鏡と、
　該被測定試料と前記共通の遮光板の間の光路に、前記第１の凹面鏡からの光の照射方向とほぼ同じ軸方向に配置し、ほぼ同じ軸方向に発する蛍光あるいは燐光を集光し、前記共通の遮光板の所定の位置に絞って導く第２の凹面鏡を備えたことを特徴とする蛍光，燐光測定装置。」
　
（２）引用刊行物記載の発明
（２−１）原査定の拒絶の理由に引用した、本願出願日前に頒布された刊行物である特開昭４９−８９５８７号公報（以下「引用刊行物１」という。）には、「螢光りん光測定装置」に関する発明が記載されており、図面とともに次の事項が記載されている。
　
（ア）「試料を励起するための単色光束と試料から放射される螢光またはりん光光束とを接近並置し、前記両光束の結像位置近くに、前記単色光による試料の励起タイミングと試料からの放射光の検出タイミングとを実質上同時たらしめるか、または後者タイミングを前者タイミングより遅らせるように円周方向に多数の小孔を配設した調節または交換可能な単一の回転チヨツパ−を配置したことを特徴とする螢光りん光測定装置。」（第１頁左欄第５−１３行）
（イ）「第３図において光源１０より出た白色光はミラ−１１で集光され第１分光器（励起側分光器）１２の入口スリツト１３より入り、平面ミラ−１４で反射されコリメ−タ鏡１５で平行光束とされ、回折格子１６に投射される。これにより分散された光はコリメ−タ鏡１７で再び集束され、平面鏡１８で反射され出口スリツト１９より単色光として導出される。この単色光を試料セル２０中の試料に照射し、この試料からの発光をミラ−２１で集光し、第２分光器（螢光側分光器）２２の入口スリツト２３から導入し、平面ミラ−２４で反射し、コリメ−タ鏡２５で平行光束となし、回折格子２６に投射する。こゝで分散された光はコリメ−タ鏡２７で集光され平面ミラ−２８によつて出口スリツト２９を通つて検出器３０に照射される。検出器３０の出力は増巾器３１で増巾され記録器３２に与えられ、試料の螢光またはりん光スペクトルが描かれる。３３、３４はそれぞれ励起側及び螢光側分光器の回折格子の波長駆動機構である。
　本発明の特徴は、第１分光器１２の出口スリツト１９と第２の分光器２２の入口スリツト２３とを隣接配置して、第１分光器の出力単色光Ｂ１と第２分光器へ入る試料からの放射光Ｂ２とが隣接平行するようになすとともに、上記スリツト１９と２３の近くに単一のチヨツパ−円板３５を配置したことである。このチヨツパ−はりん光測定用円板３６とけい光測定用円板３７の２種類が交換使用され、両チヨツパ−円板はそれぞれ円周方向に間隔をおいて多数の孔Ｈ１、Ｈ２、・・・Ｈｎ及びＨ′１、Ｈ′２、・・・Ｈ′２ｎを有するとともに、駆動モ−タ３８の出力軸３９に適宜の手段により選択適に取り付けられるようになつている。りん光測定用チヨツパ−円板３６の孔Ｈ１、Ｈ２、・・・Ｈｎは、その一つ（Ｈ１としよう）が励起光Ｂ１の通過を許容している間及び励起光がカツトされてから一定時間ｔの間は試料からの放射光Ｂ２がチヨツパ−の孔のない円板部分でカツトされ、この時間ｔの経過後に次の孔Ｈ２が放射光Ｂ２の通過を許容するように、円板の円周方向に間隔をおいて設けられている。換言すれば孔Ｈ１・・・Ｈｎは、励起光Ｂ１を通過させるタイミングに対し、試料からの放射光Ｂ２を通過させるタイミングが時間ｔだけおくれるように、設けられている。そしてこのおくれ時間ｔは少くとも螢光の寿命時間（りん光のそれより短い）に等しく、またはこれより若干長く（勿論りん光のそれより短く）設定しておく。従つて試料からの放射光のうち螢光成分はカツトされりん光成分のみが第２の分光器に断続的に導入されることになる。
　これに対し螢光測定用チヨツパ−３７の孔Ｈ′１・・・Ｈ′２ｎはその一つ（Ｈ′１としよう）が励起光Ｂ１を通過させている間はこれと同時に次の孔（Ｈ′２）が試料からの放射光Ｂ２を通過せしめるように、設けられている。換言すれば孔Ｈ′１、Ｈ′２・・・・・Ｈ′２ｎは、励起光Ｂ１及び放射光Ｂ２をそれぞれ通過させるタイミングが実質上等しくなるように設けられている。従つて試料からの放射光Ｂ２の螢光成分のみがチヨツパ−３７の孔Ｈ′１、・・・Ｈ′２ｎを通過して第２の分光器に断続的に導入され、りん光成分はカツトされることになる。
　第５ａ図〜第５ｃ図は上述したチヨツパ−３６、３７の動作を説明する信号波形図である。第５ａ図はチヨツパ−３６または３７で断続された励起光Ｂ１の信号波形図で、これがセル２０中の試料に照射される。この励起によつて試料から第３ｂ図及び第３ｃ図に示すようなりん光減衰部分Ｐ′をもつた波形の光が放射される。そして第５ｂ図の波形Ｐがチヨツパ−３６で取り出されるりん光成分を、また、第５ｃ図の波形Ｆがチヨツパ−３７で取り出される螢光成分を、それぞれ示すことは容易に理解されよう。」（第２頁左下欄第１６行−第３頁左下欄第７行）
（ウ）「本発明では励起光の光束Ｂ１と試料からの放射光の光束Ｂ２の像が接近並置されるように光学系を配置し、この結像位置近くにチヨツパ−を配置してあるので、チヨツパ−によつて断続される光束Ｂ１、Ｂ２の像は縦長でシヤ−プな像となつており、この像をチヨツパ−の孔が横方向に切るために（第４ａ図、第４ｂ図）、立上りの鋭い光パルス信号が得られ光の利用効率が高くなる。」（第４頁右上欄第５−１２行）
　
　これらの記載によると、引用刊行物１には、次の発明（以下「引用発明１」という。）が記載されているものと認められる。
　
「光源１０と、
　該光源１０から出た白色光から単色光の励起光を出力する第１分光器１２と、
　前記励起光を試料に照射し、該試料から発生する螢光あるいはりん光を検出する検出器３０と、を備えた螢光りん光測定装置であって、
　前記光源１０と前記試料の間の光路と、前記試料と前記検出器の間の光路に、円板の円周方向に間隔をおいて多数の孔を有し、該孔のない部分が光をカットする単一の回転チョッパーと、
　前記試料と前記回転チョッパーの間の光路に、試料から発光した螢光あるいはりん光を集光するミラー２１とを備え、
　前記第１分光器１２から出力された前記励起光の光束と、前記ミラー２１で集光された螢光あるいはりん光の光束の結像位置近くに前記回転チョッパーを配置した螢光りん光測定装置。」
　
（２−２）本願出願日前に頒布された刊行物である特開平１０−２６７８４４号公報（以下「引用刊行物２」という。この刊行物は、本願明細書の発明の詳細な説明において、従来技術として言及されているものである。）には、「時間分解蛍光検出器およびそれを用いた蛍光分析装置、方法」に関する発明が記載されており、図面とともに次の事項が記載されている。
　
（ア）「前記蛍光検出手段１８は、励起光束出射手段４０と、励起光断続部４２と、照射波長選択部４４と、蛍光波長選択部４６と、遅延蛍光取得部４８と、光電変換部５０および設定部５１を含む。
【００１３】前記励起光束出射部４０は、本実施形態において、直流駆動されるキセノンランプを用いている。また、励起光断続部４２は機械的チョッパーを用いており、出射部４０からの光束はレンズ５２，５４および前置アパーチャ５６を介して入射し、チョッパー４２により透過・遮蔽される。前記励起光断続部４２を通過した断続励起光は後置アパーチャ５８、コリメータレンズ６０を介して照射波長選択部４４に入射する。照射波長選択部４４は紫外域バンドパスフィルターより構成され、前記キセノンランプ４０よりの励起光束より、被測定対象となる蛍光体を励起し得る所定波長の励起波長光束を選択する。本実施形態においてはランタニド錯体を前提とし、その通過波長を２８０〜３７０ｎｍ（−３dB点）、最大波長３４０nmとする。
【００１４】該照射波長選択部４４により波長制御された励起光は集光レンズ６２およびスリット６４を介して、前記反応手段３０より供給される反応液が流れるフローセル６６に照射される。」（第３頁右欄第１８−４０行）
（イ）図１には、励起光束出射部４０からの光束をレンズ５２，５４でチョッパー４２の位置に結像させることが記載されている。
　
（２−３）本願出願日前に頒布された刊行物である特開平１１−３２６２１２号公報（以下「引用刊行物３」という。）には、「広視野蛍光結像装置」に関する発明が記載されており、図面とともに次の事項が記載されている。
　
（ア）「【解決手段】  広視野蛍光結像装置１０は、高出力の白色光源２０によって形成された励起ビームを、反射光学系によって試料に結合して、試料１２上に高い照射強度を達成する。反射光学系は、濾波され且つ平行光とされた励起ビームを試料表面に投射する凹面鏡３２を含んでいる。凹面鏡は、視野絞り３０の像を試料表面上に結像させて、結像光学系の視野に適合する照射面積を画成する。試料内に発生された蛍光は、濾波され且つ荷電結合素子上に像を結ぶ。」（第１頁【要約】）
　
（２−４）本願出願日前に頒布された刊行物である特開昭５９−２３２３４４号公報（以下「引用刊行物４」という。）には、「配線パターン検出装置」に関する発明が記載されており、図面とともに次の事項が記載されている。
　
（ア）蛍光を励起させるための励起光を被測定試料であるプリント基板に照射する構成に関して、
「第12図は本発明の他の実施例を示す。第12図において、プリント基板１，高輝度光源11，コンデンサレンズ21，フイルタ22，フイルタ24，結像レンズ25，及びリニアセンサ13の構成は第５図に示した実施例と同じであるが、第５図におけるハーフミラー23の代わりに凹面鏡27を設けた点が異なる。」（第５頁左上欄第１９行−同頁右上欄第５行）
（イ）第１２図に、励起光32を凹面鏡27で反射集光してプリント基板１に照射することが記載されている。　
　
（２−５）本願出願日前に頒布された刊行物である特開平１−１２８７８１号公報（以下「引用刊行物５」という。）には、「生菌数測定ならびに菌種同定方法およびその測定・同定システム」に関する発明が記載されており、図面とともに次の事項が記載されている。
　
（ア）自動蛍光測定装置に関して、
「第５図は自動蛍光測定装置５０内の光学系による蛍光検出原理を示す概要図である。
　蛍光検出の原理自体は公知であり、基本的には照明系に励起フィルタ、観察系に吸収フィルタを有し、ハ−フミラ−の代わりにダイクロイックミラ−が使用されている。
　第５図に示されているように、光源５１から発せられた様々な波長の光を含む照明光は、励起フィルタ５２により、蛍光を発生させるのに必要な波長域の光だけが抽出され透過する。この透過光はダイクロイックミラ−５３により９０°下方に反射後、対物レンズ５４ａを通常とは逆の方向で通過し、励起光としてマイクロプレ−ト９０の穴内の検体に達する。励起光照射により任意方向に発光した蛍光の一部は対物レンズ５４ａに入る。ダイクロイックミラ−５３は励起光より長波長の蛍光は反射せずにこれを透過する。従って、対物レンズ５４ａに入った蛍光はダイクロイックミラ−５３を透過し、吸収フィルタ５５ａを通る。吸収フィルタ５５ａは励起光の僅かな迷光もカットし、蛍光のみを光電子増倍管５６ａに達しさせる。
　マイクロプレ−ト９０が透明な光透過性材料で構成されているため、励起光照射により任意方向に発光した蛍光はマイクロプレ−ト９０の上方および下方の両方向へ向かう。従って、マイクロプレ−ト９０の下側にも対物レンズ５４ｂと吸収フィルタ５５ｂおよび光電子増倍管５６ｂを配設する。微生物から発生する蛍光は極めて微弱なため、マイクロプレ−トの表側および裏側の両側で蛍光を捕捉し、測定することにより検出精度が向上する。しかし、光透過性マイクロプレ−トの使用は本発明の必須要件ではない。従って、光不透過性のマイクロプレートを使用し、上方だけで蛍光を捕捉し測定することもできる。」（第６頁左下欄第６行−同頁右下欄第１９行）
（イ）第５図に、マイクロプレート(90)の穴内の検体に照射される励起光と同軸方向に発する蛍光を対物レンズ(2)、吸収フィルタ(2)を介して光電子増倍管(2)で検出することが記載されている。
　
（２−６）本願出願日前に頒布された刊行物である特開平３−１１５９５９号公報（以下「引用刊行物６」という。）には、「マイクロプレートリーダー」に関する発明が記載されており、図面とともに次の事項が記載されている。
　
（ア）「マイクロプレ−トリ−ダ−で、透過吸収測定だけでなく反射蛍光測定も行なえるようにするために、第２図に示されるマイクロプレ−トリ−ダ−がある。２はマイクロプレ−トのウエルであり、試料が入れられている。マイクロプレ−トの上方には楕円面鏡４が設けられ、励起光６は楕円面鏡４の穴を通ってウエル２に垂直方向に入射される。マイクロプレ−トの下側には透過光８を受光する検出器１０が設けられている。蛍光を受光するために、楕円面鏡４による反射光１２を蛍光選択フィルタ１４を経て受光する検出器１６が設けられている。
　また、マイクロプレ−トリ−ダ−で、透過吸収測定だけでなく透過蛍光測定も行なえるようにするために、第３図（Ａ）に示されるようにウエル２の透過光８中に含まれる蛍光を蛍光選択フィルタ１４によって選択し、検出器１０で検出するようにした装置も考えられている。」（第１頁右下欄第１２行−第２頁左上欄第９行）
　
（３）対比
　本件補正発明と引用発明１とを対比する。
　引用発明１の、
(a)「螢光りん光測定装置」、(b)「光源１０」、(c)「前記励起光を試料に照射し、該試料から発生する螢光あるいはりん光を検出する検出器３０」
は、それぞれ本件補正発明の、
(a)「蛍光，燐光測定装置」、(b)「光源」、(c)「光を被測定試料に照射し、該試料から発生する蛍光あるいは燐光を検出する検出器」
に相当することは明らかである。
  そして、その機能からみて、引用発明１の、
(d)「該光源１０から出た白色光から単色光の励起光を出力する第１分光器１２」、(e)「前記光源１０と前記試料の間の光路と、前記試料と前記検出器の間の光路に、円板の円周方向に間隔をおいて多数の孔を有し、該孔のない部分が光をカットする単一の回転チョッパー」
は、それぞれ本件補正発明の、
(d)「該光源から発する光から測定に必要な波長を選択して取り出」す「光学系」、(e)「前記光源と前記被測定試料の間の光路と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路に、それぞれ少なくとも１つの光路遮断機構を備え、かつ該複数の光路遮断機構は、共通の遮光板により光路を遮断する機構」
に相当することは明らかである。
　また、引用発明１の「前記試料と前記回転チョッパーの間の光路に」備えられる「試料から発光した螢光あるいはりん光を集光するミラー２１」は、蛍光あるいは燐光の光束を回転チョッパーの近くに結像させるものであり、引用刊行物１の第３図の記載からみても、「ミラー２１」が回転チョッパーの孔が設けられる半径位置、即ち所定の位置に、試料から発光した蛍光あるいは燐光を絞って導いていることは明らかであり、本件補正発明と引用発明１は、被測定試料と共通の遮光板の間の光路に、蛍光あるいは燐光を集光し、前記共通の遮光板の所定の位置に絞って導く鏡を備える点で一致している。
　したがって、本件補正発明と引用発明１は、
　
　一致点
「光源と、
　該光源から発する光から測定に必要な波長を選択して取り出す光学系と、
　取り出された光を被測定試料に照射し、該試料から発生する蛍光あるいは燐光を検出する検出器と、を備えた蛍光，燐光測定装置において、
　前記光源と前記被測定試料の間の光路と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路に、それぞれ少なくとも１つの光路遮断機構を備え、かつ該複数の光路遮断機構は、共通の遮光板により光路を遮断する機構を備え、
　前記被測定試料と前記共通の遮光板の間の光路に、蛍光あるいは燐光を集光し、前記共通の遮光板の所定の位置に絞って導く鏡を備えたことを特徴とする蛍光，燐光測定装置。」
である点で一致し、次の点で相違する。
　相違点１
　本件補正発明は、光源から発する光を共通の遮光板に結像させる手段を備えるのに対し、引用発明１では、光源から発する光を共通の遮光板の近くに結像させてはいるものの、共通の遮光板に結像させる手段を備えていない点。
　相違点２
　本件補正発明は、光源から発する光を集光させる光学系を備え、集光された光を被測定試料に照射するものであって、共通の遮光板と前記被測定試料の間の光路に、前記共通の遮光板を通過して拡散する照射光を集めて被測定試料に照射するための第１の凹面鏡を備えるのに対し、引用発明１は、このような第１の凹面鏡を備えておらず、共通の遮光板を通過した光を集光することなくそのまま被測定試料に照射する点。
　相違点３
　被測定試料と共通の遮光板の間の光路に備えられる、蛍光あるいは燐光を集光し、前記共通の遮光板の所定の位置に絞って導く鏡が、本件補正発明は、第１の凹面鏡からの光の照射方向、つまり被測定試料への光の照射方向とほぼ同じ軸方向に配置され、ほぼ同じ軸方向に発する蛍光あるいは燐光を集光する第２の凹面鏡であるのに対し、引用発明１は、上記導く鏡が、被測定試料への光の照射方向とは異なる軸方向に配置されるとともに、上記導く鏡が凹面鏡か否か明確でない点。
　
（４）判断  
　上記各相違点について検討する。  
（４−１）相違点１について 
　引用発明１は、光源から発する光を共通の遮光板の近くに結像させており、これは「チヨツパ−によつて断続される光束Ｂ１、Ｂ２の像は縦長でシヤ−プな像となつており、この像をチヨツパ−の孔が横方向に切るために（第４ａ図、第４ｂ図）、立上りの鋭い光パルス信号が得られ光の利用効率が高くなる。」（引用刊行物１の第４頁右上欄第８−１２行）ためである。そして、光源から発する光を遮断する遮光板を備えた蛍光測定装置において、光源から発する光を遮光板自体に結像させることは本願明細書において従来技術として言及されている引用刊行物２（上記（２−２）（ア）（イ）参照。）に開示されている。よって、引用発明１において、光源から発する光の利用効率を更に向上させるために、光源から発する光を共通の遮光板に結像させる手段を設けることは、当業者が容易に想到し得ることである。
　
（４−２）相違点２について
　蛍光測定装置において、遮光板と被測定試料の間の光路に、光源から発する光を集光させる光学系を備え、集光された光を被測定試料に照射することは、本願明細書において従来技術として言及されている引用刊行物２（上記（２−２）（ア）参照。）にも記載されたとおり周知である。そして、蛍光測定において、被測定試料に光源から発する光を集光させる光学系として凹面鏡を用いることも引用刊行物３（上記（２−３）（ア）参照。）、４（上記（２−４）（ア）（イ）参照。）にも記載されたとおり周知である。よって、引用発明１において、遮光板を通過した光を集光光学系で集光して被測定試料に照射する周知の構成に設計変更し、その際その集光光学系として周知の凹面鏡を採用することは、当業者が容易に想到し得ることである。
　
（４−３）相違点３について 
　蛍光測定装置において、被測定試料へ照射される励起光の照射方向と同軸方向に被測定試料が発する蛍光を検出器で検出することは、引用刊行物５（上記（２−５）（ア）（イ）参照。）、６（上記（２−６）（ア）参照。）にも記載されているとおり周知である。また、光を集光する鏡として凹面鏡は周知慣用のものである。よって、引用発明１において、被測定試料へ照射される励起光の照射方向と同軸方向に被測定試料が発する蛍光あるいは燐光を検出器で検出する構成に設計変更し、被測定試料と共通の遮光板の間の光路に備えられる、 蛍光あるいは燐光を集光し、前記共通の遮光板の所定の位置に絞って導く鏡を、被測定試料への光の照射方向とほぼ同じ軸方向に配置し、ほぼ同じ軸方向に発する蛍光あるいは燐光を集光する凹面鏡として構成することは、当業者が容易に想到し得ることである。
　
　そして、本件補正発明の作用効果も、引用刊行物１、２および上記周知技術から当業者であれば予測できる範囲のものである。　
　したがって、本件補正発明は、引用刊行物１、２および上記周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。  
　
（５）むすび  
　以上のとおりであるから、本件補正は、特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
III．本願発明について  
１．本願発明
　平成１７年５月１６日付け手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１−５に係る発明は、本件補正前の、平成１６年１２月１５日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１−５に記載されたとおりのものであるところ、請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、次のとおりのものである。
　
「光源と、
　該光源から発する光から測定に必要な波長を選択して取り出し、集光させる光学系と、
　集光された光を被測定試料に照射し、該試料から発生する蛍光あるいは燐光を検出する検出器と、を備えた蛍光，燐光測定装置において、
　前記光源と前記被測定試料の間の光路と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路に、それぞれ少なくとも１つの光路遮断機構を備え、かつ該複数の光路遮断機構は、共通の遮光板により光路を遮断する機構を備え、
　更に、前記共通の遮光板と前記被測定試料の間の光路に該被測定試料へ光を集光する凹面鏡を備え、かつ該被測定試料と前記共通の遮光板の間の光路に該被測定試料からの光を集光する凹面鏡を備えたことを特徴とする蛍光，燐光測定装置。」
　
２．引用刊行物
　原査定の拒絶の理由に引用した本願出願日前に頒布された刊行物である特開昭４９−８９５８７号公報（以下「引用刊行物１」という。）の摘記事項は上記「II．３．（２）」の（２−１）（ア）（イ）に記載したとおりであり、これらの記載によると、引用刊行物１には、次の発明（以下「引用発明１′」という。）が記載されているものと認められる。
　
「光源１０と、
　該光源１０から出た白色光から単色光の励起光を出力する第１分光器１２と、
　前記励起光を試料に照射し、該試料から発生する螢光あるいはりん光を検出する検出器３０と、を備えた螢光りん光測定装置であって、
　前記光源１０と前記試料の間の光路と、前記試料と前記検出器の間の光路に、円板の円周方向に間隔をおいて多数の孔を有し、該孔のない部分が光をカットする単一の回転チョッパーと、
　前記試料と前記回転チョッパーの間の光路に、試料から発光した螢光あるいはりん光を集光するミラー２１とを備えた螢光りん光測定装置。」
　
　また、本願出願日前に頒布された刊行物である特開平１０−２６７８４４号公報（「引用刊行物２」）、特開平１１−３２６２１２号公報（「引用刊行物３」）、特開昭５９−２３２３４４号公報（「引用刊行物４」）に記載された事項は、上記「II．３．（２）」の（２−２）（２−３）（２−４）にそれぞれ記載したとおりである。
　
３．対比 
　本願発明と引用発明１′とを対比する。
　引用発明１′の、
(a)「螢光りん光測定装置」、(b)「光源１０」、(c)「前記励起光を試料に照射し、該試料から発生する螢光あるいはりん光を検出する検出器３０」
は、それぞれ本願発明の、
(a)「蛍光，燐光測定装置」、(b)「光源」、(c)「光を被測定試料に照射し、該試料から発生する蛍光あるいは燐光を検出する検出器」
に相当することは明らかである。
  そして、その機能からみて、引用発明１′の、
(d)「該光源１０から出た白色光から単色光の励起光を出力する第１分光器１２」、(e)「前記光源１０と前記試料の間の光路と、前記試料と前記検出器の間の光路に、円板の円周方向に間隔をおいて多数の孔を有し、該孔のない部分が光をカットする単一の回転チョッパー」、(f)「前記試料と前記回転チョッパーの間の光路に」備えられる「試料から発光した螢光あるいはりん光を集光するミラー２１」
は、それぞれ本願発明の、
(d)「該光源から発する光から測定に必要な波長を選択して取り出」す「光学系」、(e)「前記光源と前記被測定試料の間の光路と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路に、それぞれ少なくとも１つの光路遮断機構を備え、かつ該複数の光路遮断機構は、共通の遮光板により光路を遮断する機構」、(f)「該被測定試料と前記共通の遮光板の間の光路に」備えられる「該被測定試料からの光を集光する」「鏡」
に相当することは明らかである。
　したがって、本願発明と引用発明１′は、
　
　一致点
「光源と、
　該光源から発する光から測定に必要な波長を選択して取り出す光学系と、
　取り出された光を被測定試料に照射し、該試料から発生する蛍光あるいは燐光を検出する検出器と、を備えた蛍光，燐光測定装置において、
　前記光源と前記被測定試料の間の光路と、前記被測定試料と前記検出器の間の光路に、それぞれ少なくとも１つの光路遮断機構を備え、かつ該複数の光路遮断機構は、共通の遮光板により光路を遮断する機構を備え、
　更に、前記測定試料と前記共通の遮光板の間の光路に該被測定試料からの光を集光する鏡を備えたことを特徴とする蛍光，燐光測定装置。」
である点で一致し、次の点で相違する。
　
　相違点１
　本願発明は、光源から発する光を集光させる光学系を備え、集光された光を被測定試料に照射するものであって、共通の遮光板と前記被測定試料の間の光路に該被測定試料へ光を集光する凹面鏡を備えるのに対し、引用発明１′は、このような凹面鏡を備えておらず、共通の遮光板を通過した光を集光することなくそのまま被測定試料に照射する点。
　相違点２
　被測定試料と共通の遮光板の間の光路に備えられる、該被測定試料からの光を集光する鏡が、本願発明は凹面鏡であるのに対し、引用発明１′では鏡が凹面鏡であるのか否か明確でない点。
　
４．判断 
　上記各相違点について検討する。  
（４−１）相違点１について 
　蛍光測定装置において、遮光板と被測定試料の間の光路に、光源から発する光を集光させる光学系を備え、集光された光を被測定試料に照射することは、本願明細書において従来技術として言及されている引用刊行物２（上記「II．３．（２）」の（２−２）（ア）参照。）にも記載されたとおり周知である。そして、蛍光測定において、被測定試料に光源から発する光を集光させる光学系として凹面鏡を用いることも引用刊行物３（上記「II．３．（２）」の（２−３）（ア）参照。）、４（上記「II．３．（２）」の（２−４）（ア）（イ）参照。）にも記載されたとおり周知である。よって、引用発明１′において、共通の遮光板を通過した光を集光光学系で集光して被測定試料に照射する周知の構成に設計変更し、その際その集光光学系として周知の凹面鏡を採用することは、当業者が容易に想到し得ることである。
　
（４−２）相違点２について 
　光を集光する鏡として凹面鏡は周知慣用のものである。よって、引用発明１′において、被測定試料と共通の遮光板の間の光路に備えられる、該被測定試料からの光を集光する鏡を凹面鏡とすることは、当業者が適宜なし得た事項である。
　
　そして、本願発明の作用効果も、引用刊行物１および上記周知技術から当業者であれば予測できる範囲のものである。
　したがって、本願発明は、引用刊行物１および上記周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
５．むすび
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
　したがって、請求項２−５について論及するまでもなく、本願は、拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。