【事件の表示】
　特願２００２−２２５２８３「配線基板検査装置及び方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年　３月　４日出願公開，特開２００４−　６９３３４〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯・本願発明
　本願は，平成１４年８月１日の出願であって，平成１９年１０月２日付け拒絶理由通知に対して，同年１１月２８日付けで手続補正がされたが，平成２０年２月２８日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，同年３月２５日に拒絶査定不服審判の請求がされたものである。
　そして，その請求項１〜４に係る発明は，平成１９年１１月２８日付け手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて，その特許請求の範囲の請求項１〜４に記載された事項により特定されるとおりのものと認められ，そのうち請求項１に係る発明（以下，「本願発明」という。）は，次のとおりのものである。（下線は補正箇所を示す。）
　
「
基材と絶縁電線を備えたマルチワイヤ
　配線基板を少なくとも第１の方向に可動に支持する支持手段と，
　前記配線基板の主面を走査する，少なくとも前記第１の方向と直交する第２の方向に可動な撮像カメラと，
　
マルチワイヤ配線基板の絶縁電線からの反射光の波長を選択的に透過するもしくは，基材からの反射光を選択的に透過しない
　前記撮像カメラで撮像した画像を処理する画像処理手段と，
　を有し，
　前記撮像カメラは，前記色フィルタを介して，前記第１及び第２の方向に前記配線基板の主面を走査して前記配線基板の全面の画像を撮像し，前記画像処理手段は，前記全面の画像を用いて前記配線基板上の配線を検査すること
　を特徴とする配線基板検査装置。」
　
第２　引用文献及びその記載事項
　原査定の拒絶の理由に引用された，本願の出願前に頒布された刊行物である特開平７−７７４９６号公報（以下，「引用文献１」という。）には，図面とともに以下の事項が記載されている。
　
（記載事項１−１）
「【請求項１】  基板上に複数の配線がなされた回路基板のホールサイトにおける欠陥を検出するための光学検査システムであって，
前記回路基板上の望まれたホールサイトのイメージを受け取り，前記受け取ったイメージのそれぞれを電気的ビデオ信号に変換するビデオカメラと，
前記ビデオカメラからの前記電気的ビデオ信号を複数のピクセルに変換し，前記ピクセルのそれぞれに含まれた色要素値を表す情報を記憶するフレームグラッバーと，
前記フレームグラッバーから分析されるべきピクセルの前記色要素値を受け取り，前記ピクセルの前記色要素値が配線の特徴に対応するとき，配線表示を与えるパネル特徴検出器と，
分析されるべきホールサイトに関係する予め決定されるピクセルに対応する色要素値を前記パネル特徴検出器に転送すべく，前記フレームグラッバーにコマンド信号を与えるピクセル検索コントローラと，
前記パネル特徴検出器から，前記ホールサイトに関係する前記予め決定されるピクセルに対応する前記配線表示を受け取り，前記ホールサイトにドリルによってホールが形成されたときに開回路が生じるかどうかを検出する開回路検出回路とを有していることを特徴とするシステム。
【請求項２】  前記パネル特徴検出器から，前記ホールサイトに関係する前記予め決定されるピクセルに対応する前記配線表示を受け取り，前記ホールサイトにドリルによってホールが形成されたときに短絡が生じるかどうかを検出する短絡検出回路を有していることを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項３】  前記パネル特徴検出器から，前記ホールサイトに関係する前記予め決定されるピクセルに対応する前記配線表示を受け取り，いかなる配線も前記ホールサイトを横切っていないかどうかを検出する排除検出回路を有していることを特徴とする請求項２に記載のシステム。」
　
（記載事項１−２）
「【０００１】
【発明の背景】本発明は自動光学検査システム，特に，高密度および大容量の離散配線パネルまたは回路基板における欠陥を検査するための光学検査システムに関する。
【０００２】近年，エレクトロニクス産業は，表面に多数の端子が取り付けられたよりコンパクトな集積回路パッケージの開発を指向している。配線パターンの密度は，ここ数年のうちに著しく増大した。したがって，今日，たいていの回路基板の応用において，互いに交差する絶縁配線を含む離散配線技術が用いられている。その結果，信号経路は，同一基板上においてＸ−Ｙ平面内を走り，また非軸方向に走る。
【０００３】したがって，基板表面上に連続した配線要素を供給し，それと同時に配線を貼り，そして配線を予め決められた連結点で切断することによって，絶縁基板に絶縁配線がなされる。こうして，予め決められた連結パターンの配線イメージが生成され，そしてこれは基板に貼られた離散的なまたは不連続な配線部分を含んでいる。回路基板は，米国特許第３，６７４，９１４号に記載されている。」
　
（記載事項１−３）
「【００１３】配線を基板と区別する作業は，配線の色が基板の色に類似している場合には，さらに困難となる。この場合，配線および基板の明るさは，実質上重なり合い，多くの誤った判断をもたらす。
【００１４】こうして，上述の欠点を生じることなく，極めて効率よく，高い信頼性をもって高密度回路基板を検査することが必要とされている。」
　
（記載事項１−４）
「【００２３】
【好ましい実施例の詳細な説明】図１は，本発明による回路基板の自動光学検査システムの１実施例を示したものである。コンピュータ１０は，システムの動作を制御する。コンピュータ１０としては，好ましくは，１６ビットまたは３２ビットのマイクロプロセッサを備えた比較的安価なパーソナルコンピュータが使用され得る。
【００２４】フレームグラッバー(frame grabber) １２は，コンピュータに接続されている。フレームグラッバーは，コンピュータの後面パネルにおいて１つのスロットを占める。フレームグラッバー１２は，市場で容易に入手可能なコンポーネントの１つである。フレームグラッバー１２は，ＲＧＢビデオカメラ１４に接続されている。ビデオカメラは，移動可能なＸ−Ｙテーブル１６の上方に配置されている。Ｘ−ＹテーブルはＸ軸およびＹ軸に沿って移動せしめられ得る。テーブル１６の上面には，離散配線パネル１８が検査のために置かれる。
【００２５】光源２０は，離散配線パネル１８上に入射光を与える。モーションコントローラ２２は，コンピュータ１０のＩ／ＯポートおよびＸ−Ｙテーブル１６に接続されている。
【００２６】ＲＧＢビデオモニタ２４は，フレームグラッバー１２に接続されており，ＲＧＢビデオカメラ１４によって撮影される離散配線パネル位置のイメージを与える。ＲＧＢビデオカメラ１４は，離散配線パネル１８からの反射光を受ける複数の電荷結合デバイスアレイを含んでいる。フレームグラッバー１２は，ＲＧＢビデオカメラからのイメージをＲＧＢフォーマットで受信する。したがって，イメージ中の各要素は，赤色成分，緑色成分および青色成分のそれぞれによって表現される。
【００２７】フレームグラッバー１２は，ＲＧＢビデオカメラによって撮影されたイメージを表現するアナログ信号を，２次元ディジタルアレイに変換する。２次元ディジタルアレイのフレームグラッバー中における大きさは，米国規格では５１２×４８０ピクセル，またヨーロッパ規格では５１２×５１２ピクセルである。また，ＲＧＢビデオカメラ１４の光受容体チップ上の位置と，フレームグラッバー１２の２次元ディジタルアレイとの間には固定された対応関係が存在する。したがって，フレームグラッバー１２の２次元ディジタルアレイ中の各ピクセル位置は，ＲＧＢカメラによって検出されたイメージ中の一義的な位置に対応する。
【００２８】すなわち，フレームグラッバー１２によって与えられるデータは，通常のフォーマットにおいてコンピュータの使用に容易に供され得る。モーションコントローラ２２は，コンピュータ１０からの命令を受け，Ｘ−Ｙテーブル１６を望まれた位置に動かす。すなわち，離散配線パネル１８上のすべての点は，ＲＧＢビデオカメラ１４によって検査され得る。」
　
（記載事項１−５）
「【００３４】
パネル特徴検出器
分析器４０の１つのサブシステムは，パネル特徴検出器８０である。パネル特徴検出器は，フレームグラッバー１２によって与えられるピクセルが，検査中のパネル１８の配線または基板のいずれに対応するかを決定することができる。パネル特徴検出器８０は，配線ルックアップテーブル８２，基板ルックアップテーブル８４および抑止器(inhibitor) ８６を含んでいる。配線ルックアップテーブル８２および基板ルックアップテーブル８４は共に，フレームグラッバー１２によって与えられるピクセルの赤色（Ｒ）値，緑色（Ｇ）値および青色（Ｂ）値の大部分によってアドレス指定される。
【００３５】すなわち，これらのルックアップテーブル８２，８４は，３次元ＲＧＢ空間を表示する。図４は，それぞれ配線および基板に対する３次元ＲＧＢ空間１５０および１５２を示したものである。すなわち，図４の（Ａ）における配線ビット分布１５４は，ＲＧＢ空間における配線特徴に対応する点を表しており，図４の（Ｂ）における基板ビット分布１５６は，基板特徴に対応する点を表している。したがって，基板特徴に属するＲＧＢ値はすべて，配線ＲＧＢ空間１５０においてゼロビットをアドレス指定し，配線特徴に属するＲＧＢ値はすべて，基板ＲＧＢ空間１５２においてゼロビットをアドレス指定する。」
　
（記載事項１−６）
「【００４１】本発明の好ましい実施例において，図３のフレームグラッバー１２は，ピクセル列バッファー８８に対し，列基底毎にデータを与える。ピクセル列バッファーは，１つの列に含まれるすべてピクセルの情報を保持し，この情報を，パネル特徴検出器８０に対してピクセル基底毎に与える。
【００４２】それ故，パネル特徴検出器８０の入力は，ピクセル列バッファー８８によって与えられた１列のピクセル内におけるピクセルに対応するＲＧＢ値であり，パネル特徴検出器８０の出力は，配線ルックアップテーブル８２によって与えられたライン８３におけるビットであり，ピクセルが配線に対応するか否かを表している。」
　
　上記記載事項１−１〜１−６及び図１〜１５の内容を総合すると，引用文献１には，次の発明（以下，「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
　
「互いに交差する絶縁配線を含む離散配線技術が用いられ，基板上に複数の配線がなされた回路基板のホールサイトにおける欠陥を検出するための光学検査システムであって，上面に離散配線パネルが検査のために置かれ，Ｘ軸およびＹ軸に沿って移動せしめられ得るＸ−Ｙテーブルと，Ｘ−Ｙテーブルの上方に配置されており，前記回路基板上の望まれたホールサイトのイメージを受け取り，前記受け取ったイメージのそれぞれを電気的ビデオ信号に変換するビデオカメラと，前記ビデオカメラからの前記電気的ビデオ信号を変換した分析されるべきピクセルの色要素値を受け取り，前記ピクセルの前記色要素値が配線の特徴に対応するとき，配線表示を与えるパネル特徴検出器と，前記パネル特徴検出器から，前記ホールサイトに関係する予め決定されるピクセルに対応する前記配線表示を受け取り，前記ホールサイトにドリルによってホールが形成されたときに開回路が生じるかどうかを検出する開回路検出回路とを有しているシステム。」
　
第３　対比
　本願発明と引用発明とを対比する。
　「回路基板のホールサイトにおける欠陥を検出する」ことは，「配線基板を検査する」こと，すなわち，「配線基板上の配線を検査する」ことの一態様といえるから，引用発明の「互いに交差する絶縁配線を含む離散配線技術が用いられ，基板上に複数の配線がなされた回路基板のホールサイトにおける欠陥を検出するための光学検査システム」は，本願発明の「基材と絶縁電線を備えたマルチワイヤ配線基板を検査する配線基板検査装置」に相当する。
　引用発明の「上面に離散配線パネルが検査のために置かれ，Ｘ軸およびＹ軸に沿って移動せしめられ得るＸ−Ｙテーブル」は，本願発明の「配線基板を少なくとも第１の方向に可動に支持する支持手段」に相当する。
　引用発明は，「Ｘ−Ｙテーブルの上方に配置されており，前記回路基板上の望まれたホールサイトのイメージを受け取り，前記受け取ったイメージのそれぞれを電気的ビデオ信号に変換するビデオカメラ」を有するものであり，「Ｘ−Ｙテーブル」は「Ｘ軸およびＹ軸に沿って移動せしめられ得る」ものである。一方，本願発明は，「前記配線基板の主面を走査する，少なくとも前記第１の方向と直交する第２の方向に可動な撮像カメラ」を有するものであるとともに，「前記撮像カメラは，前記色フィルタを介して，前記第１及び第２の方向に前記配線基板の主面を走査して前記配線基板の全面の画像を撮像」するものである。そうすると，両発明は「少なくとも前記第１の方向と直交する第２の方向に前記配線基板に対して相対的に可動な撮像カメラ」を有し，「前記撮像カメラは，前記配線基板の画像を撮像」するものである点で共通する。
　引用発明は，「前記ビデオカメラからの前記電気的ビデオ信号を変換した分析されるべきピクセルの色要素値を受け取り，前記ピクセルの前記色要素値が配線の特徴に対応するとき，配線表示を与えるパネル特徴検出器と，前記パネル特徴検出器から，前記ホールサイトに関係する予め決定されるピクセルに対応する前記配線表示を受け取り，前記ホールサイトにドリルによってホールが形成されたときに開回路が生じるかどうかを検出する開回路検出回路とを有している」ものであり，本願発明は，「前記撮像カメラで撮像した画像を処理する画像処理手段」を有し，「前記画像処理手段は，前記全面の画像を用いて前記配線基板上の配線を検査する」ものであるから，両発明は，「前記撮像カメラで撮像した画像を処理する画像処理手段」を有し，「前記画像処理手段は，前記画像を用いて前記配線基板上の配線を検査する」ものである点で共通する。
　
　してみると，両発明は，
　
「基材と絶縁電線を備えたマルチワイヤ配線基板を検査する配線基板検査装置において，配線基板を少なくとも第１の方向に可動に支持する支持手段と，少なくとも前記第１の方向と直交する第２の方向に前記配線基板に対して相対的に可動な撮像カメラと，前記撮像カメラで撮像した画像を処理する画像処理手段と，を有し，前記撮像カメラは，前記配線基板の画像を撮像し，前記画像処理手段は，前記画像を用いて前記配線基板上の配線を検査する配線基板検査装置。」
　
である点で一致し，以下の点で相違している。
　
（相違点１）
　「少なくとも前記第１の方向と直交する第２の方向に前記配線基板に対して相対的に可動な撮像カメラ」における「相対的」な「可動」が，本願発明では「撮像カメラが可動」であるのに対して，引用発明では「配線基板が可動」である点。
　
（相違点２）
　本願発明では，「マルチワイヤ配線基板の絶縁電線からの反射光の波長を選択的に透過するもしくは，基材からの反射光を選択的に透過しない色フィルタ」を有し，「前記撮像カメラは，前記色フィルタを介して」「画像を撮像」するのに対して，引用発明では，そのような構成を有しない点。
　
（相違点３）
　本願発明では，「前記撮像カメラ」が「前記配線基板の画像を撮像」するに際し，「前記第１及び第２の方向に前記配線基板の主面を走査して前記配線基板の全面の画像を撮像」するとともに，「前記画像処理手段」が「前記配線基板上の配線を検査する」際に用いる「画像」が「前記全面の画像」であるのに対して，引用発明では，そのような構成ではない点。
　
第４　判断
　まず相違点１について検討する。
　上記記載事項１−４によれば，引用発明において，Ｘ軸およびＹ軸に沿って移動せしめられ得るＸ−Ｙテーブルを設けたのは，「離散配線パネル１８上のすべての点は，ＲＧＢビデオカメラ１４によって検査され得る」構成を得るためといえるから，「離散配線パネル１８」すなわち「回路基板」と「ビデオカメラ」とが相対的にＸ軸及びＹ軸に沿って移動可能であれば，Ｘ軸，Ｙ軸方向それぞれへ「回路基板」と「ビデオカメラ」のどちらを可動とするかは，当業者が適宜選択できる設計事項というべきものである。
　また，配線基板をＸ軸，Ｙ軸のいずれか一方の方向に可動に支持し，撮像カメラを他方の方向に可動とすることは，例えば原査定の拒絶の理由に引用された特開２０００−１０６４８０号公報の段落【００４３】に「・・・この図３（ａ）（ｂ）に示すような画像検出器１１にて配線パターン２を走査する場合には，まず検査対象である配線パターン２を画像検出器１１の下方に配置した状態で基材１を搬送部にて基材１の送り方向に送ることにより，画像検出器１１を配線パターン２に対して相対的に基材１の送り方向と逆方向に移動させ，画像検出器１１にて，図３（ａ）のように配線パターン２上を１回走査した後，画像検出器１１を画像入力素子一つ分の画像検出範囲１７だけ基材１の送り方向と垂直な横方向にスライドさせ，更に，基材１を搬送部にて基材１の送り方向と逆方向に送ることにより，画像検出器１１を配線パターン２に対して相対的に基材１の送り方向に移動させ，図３（ｂ）のように逆向きに配線パターン２を走査することにより，配線パターン２の画像を全て取り込むことができるものである。・・・」と記載されているように，従来周知の技術である。
　そうすると，引用発明において，撮像カメラ（ビデオカメラ）を，配線基板を可動とした第１の方向に対して直交する第２の方向に可動として，相違点１における本願発明の構成とすることは，当業者が適宜なし得たことというべきである。
　
　次に相違点２について検討する。
　上記記載事項１−３によれば，引用発明は，配線の色が基板の色に類似している場合に配線および基板の明るさが実質上重なり合い，配線を基板と区別する作業に多くの誤った判断をもたらすという問題点を解消することを課題の一つにしており，これは，検査対象とその背景との区別を容易にすることを目的とするものと言うことができる。そして，引用発明では，この課題を解決するための手段として，「分析されるべきピクセルの色要素値を受け取り，前記ピクセルの前記色要素値が配線の特徴に対応するとき，配線表示を与えるパネル特徴検出器」等を用いている。
　一方，検査対象とその背景との区別を容易にするために，識別すべき検査対象からの反射光とその背景からの反射光のいずれかを選択的に透過もしくはカットする色フィルタを用いることは，例えば特開平１１−２３４８３号公報の１頁の【要約】欄に「・・・落射照明３または撮像手段６のいずれか一方に設けられ，半導体チップ１を構成する異なる物質によるそれぞれの反射光量の差が大きくなる光波長領域を透過するフィルタ手段１６・・・」と記載され，特開平５−２４９０４５号公報の１頁の【要約】欄に「また，カメラにフィルター２８を取り付けて，ランド色の特定波長をカットし，検査対象部品４とランドとの輝度差を明確にする。」と記載されているように，従来周知の技術である。
　そうすると，引用発明において，検査対象とその背景との区別を容易にするための手段として，「分析されるべきピクセルの色要素値を受け取り，前記ピクセルの前記色要素値が配線の特徴に対応するとき，配線表示を与えるパネル特徴検出器」等を用いることに代えて，上記の周知技術を採用すること，すなわち，相違点２における本願発明の構成とすることは，当業者が容易に想到できたことと言うべきである。
　
　続いて相違点３について検討する。
　外観検査装置の技術分野において，撮像カメラにより検査対象の主面を走査してその全面の画像を撮像し，画像処理手段により前記全面の画像を用いて検査対象の個々の部分を検査することは，従来周知の技術である。
　例えば，特開２０００−９６５５号公報の１頁の【要約】欄に「光源２から照射され，ウェーハ１の表面で散乱反射した光をラインセンサ４で受光し，更にステージ１０をＸ方向に移動させることによって上記ウェーハ１の全体画像をフレームメモリ７内に格納する。そしてその全体画像に画像処理を施すなどしてその位置，姿勢を検出し，予め検査領域が設定された基準座標系に一致するように位置合わせを行ったうえで，上記検査領域毎の光の強度の平均値を所定の閾値と比較することにより異常判断を行う。このように，ウェーハ全体の画像を取り込んだ上で，各検査領域毎に良／不良の判断処理を行うため，各検査領域毎に走査，判断処理を繰り返す場合と比べて検査に要する時間が大幅に短縮される。」と記載されているとおりである。
　そうすると，引用発明の光学検査システムも外観検査装置の技術分野に属するものであるから，引用発明に対して上記周知技術を適用して，相違点３における本願発明の構成とすることは，当業者が容易に想到できたことである。
　
　そして，本願発明の作用効果も，引用文献１の記載事項及び各周知技術から当業者が予測できる範囲のものであり，格別顕著なものとはいえない。
　
第５　むすび
　以上のとおり，本願発明は，引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
　したがって，その他の請求項について言及するまでもなく，本願は，拒絶すべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。