【事件の表示】
　特願２００７−　１２５９２「ディスク装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２０年　８月　７日出願公開、特開２００８−１８１５７５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　
　本件の審判請求に係る特許出願（以下「本願」という。）は、平成１９年１月２３日を出願日とする出願であって、平成２０年１２月５日付け拒絶理由の通知に応答して平成２１年１月２３日付けで手続補正がなされたが、平成２１年２月１２日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成２１年３月１９日付けで拒絶査定不服審判が請求されたものである。
　
２．本願発明
　　
　本願の請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、平成２１年１月２３日付け手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される、次のとおりのものである。
　
「【請求項１】
　光ディスクにデータを記録再生するためにレーザ光を照射する光ピックアップと、
　前記レーザ光のパワーを制御する制御部と、を備えたディスク装置において、
　前記光ピックアップが前記光ディスクにデータを記録するとき、
　前記制御部は、前記光ピックアップが前記光ディスクにデータを記録するのに適した最適レーザ光パワーを決定するために、前記光ピックアップに前記レーザ光のパワーを段階的に変化させながらテストデータを前記光ディスクに記録させ、
　前記光ピックアップは記録された複数の前記テストデータを再生し、
　前記制御部は、再生された各前記テストデータのアシンメトリとモジュレーションを算出し、複数の該テストデータの中から該モジュレーションが０．２５より大きく、かつアシンメトリが０となる該テストデータを特定し、特定された該テストデータが記録された前記レーザ光のパワーを前記最適レーザ光パワーとして決定し、
　前記光ピックアップは、前記最適レーザ光パワーで前記データを前記光ディスクに記録することを特徴としたディスク装置。」
　
３．引用例
　
　原査定の拒絶の理由に引用された特開２００２−１０００４５号公報（平成１４年４月５日公開、以下「引用例」という。）には、図面と共に、以下の記載がある。（なお、下線は、当審で付与した。）
　
（１）「【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は
光ディスク等の光情報記録媒体に情報を記録する際にパワーキャリブレーションを行う情報記録装置
　
（２）「【０００６】また、上記のライトパルスストラテジーによって本来の
情報記録を行うのに先立って、予め半導体レーザの射出パワーを調整するためのパワーキャリブレーションが行われている
　
（３）「【００１２】この
アシンメトリを調べる方法では、図１３に示すように、記録ピットが形成されていないランドからの反射光の強度に該当するＨＦ信号のトップピークレベルＡ１と、大きな記録ピットからの反射光の強度に該当するボトムピークＡ２と、小さな記録ピット間のランドからの反射光の強度に該当するトップピークレベルＢ１と、小さな記録ピットからの反射光の強度に該当するボトムレベルＢ２を検出し、各検出レベルＡ１，Ａ２，Ｂ１，Ｂ２を次式（２）に適用することにより、アシンメトリの値（以下、「α値」という）を求めている
【００１３】
　
α＝｛（Ａ１＋Ａ２）−（Ｂ１＋Ｂ２）｝／｛２×（Ａ１−Ａ２）｝
そして、
例えばα値＝０をパワーキャリブレーションの目標
【００１４】また、
光ディスクにピットを記録形成した場合、次式（３）にて求められる変調度Ｍの規格も満足しなければならない
Ｍ＝（Ａ１−Ａ２）／Ａ１
　
（４）「【００２９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
（第１の実施の形態）図１は、第１の実施形態の情報記録装置１の構成を示すブロック図である。同図において、この
情報記録装置１には
ピックアップ３
が備えられている
【００３０】スピンドルモータ２は、サーボ回路５によってスピンドルサーボされ、クランプ位置に装填された追記型又は書換え可能型の光ディスクＤＳＫを所定の線速度で回転駆動する。
【００３１】ピックアップ３には、図示していない半導体レーザと、対物レンズを備える光学系と、フォトダイオード等で形成された光検出器が備えられている。
【００３２】
情報記録の際には、ライトパルスストラテジーによって最適化した所定パワーの書込み用レーザ光を半導体レーザから射出し
光ディスクＤＳＫにスポット照射することで、光ディスクＤＳＫの記録膜に記録ピットを形成する
【００３３】
情報再生の際には、所定パワーの読取り用レーザ光を半導体レーザから射出し
光ディスクＤＳＫにスポット照射する
　
（５）「【００３６】
更に、情報記録装置１には
システムコントローラ１３
が備えられている
【００３７】
システムコントローラ１３は
パワーキャリブレーションの制御を行う他、本情報記録装置１全体の動作を集中制御する
【００３８】記憶部１４は、ＳＲＡＭ等の不揮発性メモリで形成されており、半導体レーザの射出パワーをｎ段階に可変設定するためのｎ個ずつの可変データ（Ｄｃ1ｋ，Ｄｃ2ｋ，……，Ｄｃｎｋ）が記憶されている。尚、本実施形態では、ｎ＝１５段階としている。
【００３９】更に、記憶部１４には、図２に示すように、目標β値データβｋと変調度閾値データＴＨＤｋが、光ディスクＤＳＫの種類ｋ毎に記憶されている。
【００４０】ここで、目標β値データβｋは、各種光ディスクの記録された状態が予め決められた規格を満足し、更に様々な記録状態のバラツキに対して十分なマージンが取れるような状態で記録されたＨＦ信号に基づいて上記式（１）の演算をしたときのそれぞれのβ値を示すデータであり、予め実験によって求められている。
【００４１】
変調度閾値データＴＨＤｋについては、目標β値データβｋを求めるのと同様に、各種光ディスクの記録された状態が予め決められた規格を満足し、更に様々な記録状態のバラツキに対して十分なマージンが取れるような状態で記録されたＨＦ信号に基づいて上記式（３）の演算を行うことで、それぞれの目標の変調度（modulation depth）ＭＭｋを求め、それぞれの目標変調度ＭＭｋより所定値ｍｋだけ小さな値の変調度（ＭＭｋ−ｍｋ）を変調度閾値データＴＨＤｋとしている。尚、符号ｋは各光ディスクの種類を示している
　
（６）「【００６２】次に、ステップＳ１１０において、再び
情報記録の状態に設定し、システムコントローラ１３が、記憶部１４に記憶されているＣＤ−Ｒに対応するｎ個の可変データ（Ｄc11，Ｄc21，……，Ｄcn1）を取得し、所定時間毎に各可変データ（Ｄc11，Ｄc21，……，Ｄcn1）を順に記録パワー調整部１２に供給することで、半導体レーザの射出パワーＰをＰc1k，Ｐc2k，……，Ｐcnkの順に可変させ、テストエリアＴＡにｎ段階の記録ピットを記録形成する
【００６３】次に、ステップＳ１１２において、再び情報再生の状態に設定し、
ｎ段階の記録ピットを記録形成した場所にピックアップ３を移動させて再生することで、試し書きとして形成した各記録ピットの情報を検出する
【００６４】ここで、上記したようにＨＦ信号特徴抽出部６が、ＨＦ信号ＳHFの波形をレベル検出し、記録ピットが形成されていないランド（Land）からの反射光の強度に該当するトップピークレベルａ１と、記録ピットからの反射光の強度に該当するボトムピークレベルａ２とを検出し、その検出結果を示す検出データＤHFをシステムコントローラ１３に供給する。尚、
ｎ段階の記録ピット毎に、トップピークレベルａ１と、記録ピットからの反射光の強度に該当するボトムピークレベルａ２とを示す検出データＤHFをシステムコントローラ１３に供給するようになっている
【００６５】更に、変調度検出部１６からシステムコントローラ１３へ、ｎ段階の記録ピット毎に、ＨＦ信号ＳHFのトップピークレベルＡ１とボトムピークレベルＡ２の検出データＤRFが供給される。
【００６６】次に、ステップＳ１１４において、
システムコントローラ１３が、ｎ段階の検出データＤRFに基づいて、ｎ段階の実際の変調度Ｍ１ｋ〜Ｍｎｋを演算する
【００６７】次に、ステップＳ１１６において、記憶部１４からＣＤ−Ｒの変調度閾値データＴＨＤ1を取得し、変調度Ｍ１ｋ〜Ｍｎｋの中から変調度閾値データＴＨＤ1の値より大きな値の変調度を選択し、更に、選択した各変調度に対応する各射出パワーを選択する。
【００６８】より詳細に述べれば、図６に示すように、実際の変調度Ｍ１ｋ〜Ｍｎｋより得られる変調度分布曲線と変調度閾値データＴＨＤ1とを対比し、変調度閾値データＴＨＤ1より大きな変調度の範囲内に属する射出パワーＰｓ〜Ｐｃｎｋを選択し、更に、これらの射出パワーＰｓ〜Ｐｃｎｋに対応する可変データをＣＤ−Ｒの可変データ（Ｄc11，Ｄc21，……，Ｄcn1）の中から選択する。
【００６９】次に、ステップＳ１１８において、選択した可変データ（すなわち、射出パワーＰｓ〜Ｐｃｎｋに対応する可変データ）に対応して得られている上記の各検出データＤHFに基づいて上記式（１）の演算を行うことにより、各パワー毎のβ値を求める。例えば、射出パワーＰｓ〜Ｐｃｎｋに対応する可変データがＤc7k〜Ｄcｎkであった場合には、
それぞれの可変データＤc7k〜Ｄcｎkに対応して得られた各検出データＤHFに基づいて、可変データＤc7k〜Ｄcｎkに対応したβ値を演算する
【００７０】次に、ステップＳ１２０において、記憶部１４からＣＤ−Ｒの目標β値データβ1を取得し、図７に示すように、
選択した射出パワーＰｓ〜Ｐｃｎｋに対応するそれぞれのβ値をこの目標β値データβ1（すなわち、βk＝β1）と比較し、目標β値データβ1に最も近い値のβ値を選択する。そして、最も近い値のβ値に対応する射出パワーを最適な射出パワーＰoptと判定し、更に、この最適な射出パワーＰoptに対応する１つの可変データをＣＤ−Ｒの可変データ（Ｄc11，Ｄc21，……，Ｄcn1）の中から選択する。そして、選択した上記の可変データを最適な射出パワーに設定するためのデータ（最適データ）とする
【００７１】次に、ステップＳ１２２において、上記の最適データを記憶部１４に履歴データとして記憶させた後、その
最適データを記録パワー調整部に供給することにより、実際の情報記録の際に最適データに基づいて駆動電流Ｉｄを調整するように指示し、ピックアップ３を光ディスクＤＳＫのプログラムエリア側に移動して、実際の情報記録を開始する
　
（７）「【００７４】更に、典型例としてＣＤ−Ｒのためのパワーキャリブレーションについて説明したが、他の種類の光ディスクに対しても最適なパワーキャリブレーションが可能である。
【００７５】更に、
同一種類の光ディスクであっても、製造時の製造バラツキや、ユーザの使用環境等に応じて、情報記録時の環境状況が光ディスク毎に異なるのが一般的である
【００７６】尚、以上の説明では、β値を最適化の条件として適用したが、本発明はこれに限定されるものではない。
β値の代わりに、図１３を参照して説明したアシンメトリの値（α値）を最適化のための特徴情報として適用してもよい
目標α値データを適用してパワーキャリブレーションが行われる
　
（８）「【０１０１】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、実際に得られる変調度を所定の閾値と比較し、その
閾値より大きな値の変調度に対応する射出パワーであって、且つ目標特徴情報に最も近い特徴情報に対応する書込み光のパワーを適切な書込み光のパワーとする
　
　上記摘示事項及び図面の記載を参酌すると、引用例には、次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されているものと認める。
　
「光ディスクに情報を記録再生するレーザ光を半導体レーザから射出するピックアップと、
　半導体レーザの射出パワーを調整するためのパワーキャリブレーションの制御を行うシステムコントローラとを備えた情報記録装置において、
　光ディスクに情報を記録する際に、
　システムコントローラは、半導体レーザの射出パワーを順に可変させ、テストエリアにｎ段階の記録ピットを記録し、
　ピックアップは、記録された各記録ピットの情報を検出し、
　システムコントローラは、ｎ段階の記録ピット毎に、アシンメトリと変調度を演算し、閾値より大きな値の変調度に対応する射出パワーであって、且つ目標アシンメトリに対応する射出パワーを最適データとし、
　ピックアップは、最適データに基づいて情報を光ディスクに記録する情報記録装置。」
　
４．対比
　
　そこで、本願発明と引用発明とを対比する。
（１）引用発明の「光ディスク」「情報」「レーザ光」「ピックアップ」及び「射出パワー」は、本願発明の「光ディスク」「データ」「レーザ光」「光ピックアップ」及び「パワー」にそれぞれ相当する。
（２）引用発明の「システムコントローラ」は、「半導体レーザの射出パワーを調整するためのパワーキャリブレーションの制御を行う」ものであるから、本願発明の「制御部」に相当する。
（３）引用発明の「情報記録装置」は、本願発明の「ディスク装置」に相当する。
（４）引用発明の「光ディスクに情報を記録する際には」は、本願発明の「前記光ピックアップが前記光ディスクにデータを記録するとき」に相当する。
（５）引用発明も光ディスクに情報を記録するのに適した最適レーザ光パワーを決定するものであることは明らかであるから、引用発明の「システムコントローラは、半導体レーザの射出パワーを順に可変させ、テストエリアにｎ段階の記録ピットを記録し」は、本願発明の「前記制御部は、前記光ピックアップが前記ディスクにデータを記録するのに適した最適レーザ光パワーを決定するために、前記ピックアップに前記レーザ光のパワーを段階的に変化させながらテストデータを前記光ディスクに記録させ」に相当する。
（６）引用発明の「ピックアップは、記録された各記録ピットの情報を検出し」は、本願発明の「前記光ピックアップは記録された複数の前記テストデータを再生し」に相当する。
（７）引用発明の「変調度」は、本願発明の「モジュレーション」に相当するから、引用発明の「システムコントローラは、ｎ段階の検出データに基づいて、ｎ個のアシンメトリと変調度を演算し」は、本願発明の「前記制御部は、再生された各前記テストデータのアシンメトリとモジュレーションを算出し」に相当する。
（８）引用発明の「閾値より大きな値の変調度に対応する射出パワーであって、且つ目標アシンメトリ値に対応する射出パワーを最適データとし」であるが、本願発明の「０．２５」がモジュレーションの閾値であり、また、アシンメトリの「０」が目標アシンメトリであることは明らかであるから、引用発明と本願発明とは、「複数の該テストデータの中から該モジュレーションが［閾値］より大きく、かつアシンメトリが［目標アシンメトリ］となる該テストデータを特定し、特定された該テストデータが記録された前記レーザ光のパワーを前記最適レーザ光パワーとして決定し」で共通する。
（９）引用発明の「最適データ」は、本願発明の「最適レーザ光パワー」に相当するから、引用発明の「ピックアップは、最適データに基づいて情報を光ディスクに記録する」は、本願発明の「前記光ピックアップは、前記最適レーザ光パワーで前記データを前記光ディスクに記録する」に相当する。
　　
　そうすると、本願発明と引用発明の＜一致点＞＜相違点＞は次のとおりである。
　
＜一致点＞
　
「光ディスクにデータを記録再生するためにレーザ光を照射する光ピックアップと、
　前記レーザ光のパワーを制御する制御部と、を備えたディスク装置において、
　前記光ピックアップが前記光ディスクにデータを記録するとき、
　前記制御部は、前記光ピックアップが前記光ディスクにデータを記録するのに適した最適レーザ光パワーを決定するために、前記光ピックアップに前記レーザ光のパワーを段階的に変化させながらテストデータを前記光ディスクに記録させ、
　前記光ピックアップは記録された複数の前記テストデータを再生し、
　前記制御部は、再生された各前記テストデータのアシンメトリとモジュレーションを算出し、複数の該テストデータの中から該モジュレーションが［閾値］より大きく、かつアシンメトリが［目標アシンメトリ］となる該テストデータを特定し、特定された該テストデータが記録された前記レーザ光のパワーを前記最適レーザ光パワーとして決定し、
　前記光ピックアップは、前記最適レーザ光パワーで前記データを前記光ディスクに記録するディスク装置。」の点。
　
＜相違点＞
（ａ）「モジュレーション」について、本願発明は「０．２５」と限定されているのに対し、引用発明はそのような限定がなされていない点。
　
（ｂ）「アシンメトリ」について、本願発明は、「０」と限定されているのに対し、引用発明はそのような限定がなされていない点。
　
５．判断
　
　そこで、上記各相違点について検討する。
　
相違点（ａ）について
　引用例には、閾値の具体的な値は例示されていないものの、閾値は、各種光ディスクに応じて適宜決められることや情報記録時の環境状況が光ディスク毎に異なり、半導体レーザの射出パワーは実際の環境状況に応じて、最適化を行うことが記載されている（摘示事項（５）【００４１】及び摘示事項（７）【００７５】）。
　そうすると、引用発明において、閾値は光ディスクの種類や環境状況等により決定されるべき設計的事項であるといえる。
　そこで、本願発明においてモジュレーションの値を０．２５と限定している技術的意義について検討する。
　本願明細書の記載を参照すると、「モジュレーション閾値は、例えば０．２５である。制御部は、モジュレーション閾値より小さいモジュレーションは、ノイズの影響を受けていると判断する」（段落【００２１】）及び「モジュレーション閾値が０．２５ではなく、例えば０．３とする構成であっても構わない」（【００２５】）と記載されている。しかし、相違点（ａ）で特定されているモジュレーションの「０．２５」の技術的意義について、本願明細書には何ら記載されていない。
　よって、本願発明の、モジュレーションを「０．２５」とすることはその数値の技術的意義があるとはいえないから、相違点（ａ）のモジュレーションを「０．２５」とすることは、引用発明において当業者が適宜設定すべき範囲内の値にすぎないものである。
　
相違点（ｂ）について
　引用例には、アシンメトリの値（α値）として例えば０をパワーキャリブレーションの目標とすることが示唆されている（摘示事項（３）【００１３】）。
　そうすると、引用発明において、目標アシンメトリを「０」とすることは、引用例から当業者が適宜なし得るものである。
）。
　そして、上記各相違点を総合的に判断しても、本願発明が奏する効果は引用例から、当業者が十分に予測できたものであって、格別なものとはいえない。
　
６．むすび
　
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、引用例に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、本願は、拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。