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　平成１０年特許願第　２２０６８号「光ディスク用情報読み取り・書き込み装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１１年　８月１０日出願公開、特開平１１−２１９５４８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本件審判の請求に係る特許出願（以下「本願」という。）は、平成１０年２月３日に出願されたものであって、平成１６年１月２０日付けで拒絶査定がなされたところ、平成１６年２月２６日付けで特許法第１２１条第１項の審判請求がなされたものである。そして、本願請求項１乃至５に係る発明は、平成１６年３月２６日付け手続補正書によって補正された明細書の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１乃至５に記載されたとおりのものと認められるところ、そのうち請求項１に係る発明は次のとおりのものである。
　「【請求項１】　光源としての半導体レーザと、該半導体レーザからの光ビームを光ディスク媒体上に集光・結像させる結像レンズと、前記半導体レーザと該結像レンズとの間の光路上に配置され、且つ前記光ディスク媒体のトラッキング誤差信号及びフォーカス検出誤差信号を検出するための回折光学素子として機能するそれぞれホログラム領域を有するホログラムと、これらの各ホログラム領域により回折された光ビームを検出するトラッキング誤差信号検出用及びフォーカス検出誤差信号検出用の光検出素子とを具備する、光ディスク装置において、
　２つのフォーカス誤差検出用ホログラム領域から出射される、それぞれの１次回折光のみの光ビームが、光ディスク媒体に焦点が合っている状態で、それぞれ共に２分割領域を有するように配置された２つのフォーカス誤差検出用光検知素子の分割線の面上で最も絞れる収束ビームになっており、該２つのフォーカス誤差検出用光検知素子は、半導体レーザの出射光の光軸を中心にして、互いにほぼ点対称の位置にあることを特徴とする、光ディスク装置。」（以下「本願発明」という。）
　
　
２．刊行物及びその記載
　原査定の拒絶の理由で引用された刊行物である特開平５−７３９５３号公報（以下「刊行物１」という。）は、光学式記録再生装置であって、図面とともに以下の記載がある。（なお、下線は当審で付与した。）
　(1)「【００１５】本実施例に係る光学式記録再生装置は、図１に示すように、
光発生手段である半導体レーザ１と、半導体レーザ１からの出射光２を反射させる反射体である鏡５と、回折素子３を透過した光を記録媒体である光ディスク１３に集光すると共に、光ディスク１３からの反射光１４を回折素子３に導く結像レンズ１８と、この反射光１４を結像レンズ１８の光軸外に回折する回折素子３と、その回折光３５，３６，３７，３８を受光して光信号を電気信号に変換する光検出器４から構成されている。
　(2)「【００１８】本発明の光学式記録再生装置の第３実施例は、前記第１実施例の光学式記録再生装置において、
回折素子３の代わりに図４（ａ）に示す回折素子７４を、光検出器４の代わりに図４（ｂ）に示す光検出器７５を配置した構成である。回折素子７４には、トラック誤差検出用の領域７４ｃと領域７４ｄが設けられ、領域７４ｃからの回折光は光検出部７６上と光検出部７９上に集光され、回折素子７４の領域７４ｄからの回折光は光検出部７７上と光検出部７８上に集光される。回折素子７４の領域７４ａと領域７４ｂは焦点誤差検出用に用いられ、回折素子７４の領域７４ａからの回折光は、２分割光検出部８１の分割線上と２分割光検出部８２の分割線上に集光され、回折素子７４の領域７４ｂからの回折光は、２分割光検出部８０からの分割線上と２分割光検出部８３の分割線上に集光される。焦点誤差信号は、前記第１実施例の光学式記録再生装置と同様な演算によって得られ、トラック誤差信号は、光検出部７６と光検出部７９の出力の和から、光検出部７７と光検出部７８の出力の和を引くことによって得られる。
　(3)「【図面の簡単な説明】
　【図１】本発明の光学式記録再生装置の第１実施例の構成を示す概略斜視図である。
　　　　　　　　　　　　・・・（中略）・・・
　【図４】本発明の光学式記録再生装置の第３実施例を示す説明図であり、（ａ）は回折素子を示す平面図、（ｂ）は光検出器を示す平面図である。
　　　　　　　　　　　　・・・（後略）・・・。」　
　
　以上の記載事項を、図面とともに整理すると、刊行物１には以下の発明が記載されているものと認める。
  「光発生手段である半導体レーザ１と、半導体レーザ１からの出射光２を反射させる反射体である鏡５と、回折素子３を透過した光を記録媒体である光ディスク１３に集光すると共に、光ディスク１３からの反射光１４を回折素子３に導く結像レンズ１８と、この反射光１４を結像レンズ１８の光軸外に回折する回折素子７４と、
　回折素子７４には、トラック誤差検出用の領域７４ｃと領域７４ｄが設けられ、領域７４ｃからの回折光は光検出部７６上と光検出部７９上に集光され、領域７４ｄからの回折光は光検出部７７上と光検出部７８上に集光され、
　回折素子７４の領域７４ａと領域７４ｂは焦点誤差検出用に用いられ、領域７４ａからの回折光は、２分割光検出部８１の分割線上と２分割光検出部８２の分割線上に集光され、領域７４ｂからの回折光は、２分割光検出部８０からの分割線上と２分割光検出部８３の分割線上に集光され、
　焦点誤差信号は、上記２分割検出部からの信号を演算することによって得られ、トラック誤差信号は、光検出部７６と光検出部７９の出力の和から、光検出部７７と光検出部７８の出力の和を引くことによって得る、
　光学式記録再生装置。」（以下、「刊行物１発明」という。）
　
　また、原査定の拒絶の理由で引用された刊行物である特開平７−１７６０９５号公報（以下「刊行物２」という。）は、光磁気ヘッド装置であって、以下の記載がある。
　(4)「【００２６】図７に、偏光性ホログラム光学素子４９の構成を示す。偏光性ホログラム光学素子４９は、格子方向の異なる４つの領域５４〜５７に分割されている。ニオブ酸リチウム基板１０の光学軸の方向は、図中の矢印で示されている。
　【００２７】図８に、光検出器５０、５１の構成と、光検出器５０、５１上の光スポットの配置を示す。光検出器５０は、５つの受光部５８、５９、６２、７７、７９に分かれている。また、光検出器５１は、５つの受光部６０、６１、６３、７６、７８に分かれている。
　【００２８】偏光性ホログラム光学素子４９の領域５４〜５７からの＋１次回折光は、光検出器５０、５１上にそれぞれ光スポット６４〜６７を形成する。光スポット６４は受光部５８、５９の分割線上、光スポット６５は受光部６０、６１の分割線上、光スポット６６は受光部６２内、光スポット６７は受光部６３内にそれぞれ位置している。受光部５８〜６３からの出力をそれぞれＶ（５８）〜Ｖ（６３）で表わすと、フォーカス誤差信号はフーコー法の原理により、（Ｖ（５８）＋Ｖ（６０））−（Ｖ（５９）＋Ｖ（６１））から得ることができる。また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原理により、Ｖ（６２）−Ｖ（６３）から得ることができる。」
　(5)「【図面の簡単な説明】
　　　　　　　　　　　　・・・（中略）・・・
　【図８】本発明の光磁気ヘッド装置の第二の実施例に用いる光検出器の構成と、光検出器上の光スポットの配置を示す図である。
　　　　　　　　　　　　・・・（後略）・・・。」
　
　
３．対比・判断
　(1)本願発明と刊行物１発明との対比
　 i．刊行物１発明の「光発生手段である半導体レーザ１」は、本願発明の「光源としての半導体レーザ」に相当する。
　 ii．刊行物１発明の「回折素子３を透過した光を記録媒体である光ディスク１３に集光と共に、光ディスク１３からの反射光１４を回折素子３に導く結像レンズ１８」は、本願発明の「半導体レーザからの光ビームを光ディスク媒体上に集光・結像させる結像レンズ」に相当する。
　 iii．刊行物１発明の「光発生手段である半導体レーザ１と、・・・回折素子７４には、トラック誤差検出用の領域７４ｃと領域７４ｄが設けられ、・・・回折素子７４の領域７４ａと領域７４ｂは焦点誤差検出用に用い」は、本願発明の「半導体レーザと該結像レンズとの間の光路上に配置され、且つ前記光ディスク媒体のトラッキング誤差信号及びフォーカス検出誤差信号を検出するための回折光学素子として機能」に相当する。
　 iv．刊行物１発明の「回折素子７４には、トラック誤差検出用の領域７４ｃと領域７４ｄが設けられ、領域７４ｃからの回折光は光検出部７６上と光検出部７９上に集光され、領域７４ｄからの回折光は光検出部７７上と光検出部７８上に集光」、及び、「回折素子７４の領域７４ａと領域７４ｂは焦点誤差検出用に用いられ、領域７４ａからの回折光は、２分割光検出部８１の分割線上と２分割光検出部８２の分割線上に集光され、領域７４ｂからの回折光は、２分割光検出部８０からの分割線上と２分割光検出部８３の分割線上に集光」は、本願発明の「（回折光学素子として機能する）領域により回折された光ビームを検出するトラッキング誤差信号検出用及びフォーカス検出誤差信号検出用の光検出素子とを具備」に相当する。
　 v．刊行物１発明の焦点誤差信号においての「光学式記録再生装置」は、本願発明の「光ディスク装置」に相当する。
　 vi．刊行物１発明の「回折素子７４の領域７４ａと領域７４ｂ」は、本願発明の「２つのフォーカス誤差検出用領域」に相当し、さらに刊行物１発明の「領域７４ａからの回折光は、２分割光検出部８１の分割線上と２分割光検出部８２の分割線上に集光され、領域７４ｂからの回折光は、２分割光検出部８０からの分割線上と２分割光検出部８３の分割線上に集光」は、本願発明の「回折光の光ビームが、それぞれ共に２分割領域を有するように配置されたフォーカス誤差検出用光検知素子の分割線の面上で収束ビームになっており」に相当する。
　 vii．刊行物１発明において、各図面の記載のうち、【図１】は「本発明の光学式記録再生装置の第１実施例の構成を示す概略斜視図」、及び、【図４】は「本発明の光学式記録再生装置の第３実施例を示す説明図であり、（ａ）は光学素子を示す平面図、（ｂ）は光検出器を示す平面図である」等の実施形態を表す各図面があるが、上記【図４】（ｂ）図を参酌して焦点誤差検出部分は、本願発明の「フォーカス誤差検出用光検知素子は、半導体レーザの出射光の光軸を中心にして、互いにほぼ点対称の位置にある」に相当する。
　
　結局のところ、本願発明と刊行物１発明との［一致点］及び［相違点］は以下のとおりである。
　［一致点］　
　「光源としての半導体レーザと、該半導体レーザからの光ビームを光ディスク媒体上に集光・結像させる結像レンズと、前記半導体レーザと該結像レンズとの間の光路上に配置され、且つ前記光ディスク媒体のトラッキング誤差信号及びフォーカス検出誤差信号を検出するための回折光学素子として機能する領域により回折された光ビームを検出するトラッキング誤差信号検出用及びフォーカス検出誤差信号検出用の光検出素子とを具備する、光ディスク装置において、
　２つのフォーカス誤差検出用領域から出射される、回折光の光ビームが、それぞれ共に２分割領域を有するように配置されたフォーカス誤差検出用光検知素子の分割線の面上で収束ビームになっており、フォーカス誤差検出用光検知素子は、半導体レーザの出射光の光軸を中心にして、互いにほぼ点対称の位置とする、光ディスク装置。」
　
　［相違点］
　 (a)回折素子であるが、本願発明のものは「（回折光学素子として機能する）それぞれホログラム領域を有するホログラム」であって、「ホログラム領域から出射される、それぞれの１次回折光のみ」の光ビームを使うというものであるが、刊行物１発明のものは回折素子とあるだけでホログラムでなく、また、フォーカス誤差検出用光検知素子には回折光の±１次光を使っている点。
　 (b)光ビームであるが、本願発明のものは「光ディスク媒体に焦点が合っている状態で、・・・フォーカス誤差検出用光検知素子の分割線の面上で最も絞れる収束ビームになっており」というものであるが、刊行物１発明のものはこの構成要件まで言及していない点。
　
　(2)相違点に対する判断
　 相違点(a)について、
　回折光学素子として、ホログラム光学素子を、光学式記録再生装置に用いることは周知技術である。また、ホログラム光学素子を用いた光ディスク装置でホログラム光学素子からの＋１次回折光のみをフォーカス誤差検出信号として用いていくことは、本願発明には「１次回折光のみ」とあり、これは±を含む１次回折光の解釈ができるものである。「＋１次回折光のみ」と記載されているものでないので本来相違点とする必要のない事項であるが、仮に「＋１次回折光のみ」に限ってみるとしてもそれは上記刊行物２に記載があり、上記刊行物１発明のものにおいてもホログラムから１次光のみを用いての、上記相違点(a)の構成は当業者が必要に応じて適宜容易に想到できるものである。
　　
　 相違点(b)について、
　刊行物１発明のものにおいては、フォーカス誤差検出していく機能をもっている以上、明確な記載がなくとも、光ディスク上に焦点が合っている状態、要するにフォーカスＯＮ状態でフォーカス誤差検出用検出用素子の分割面上で最も絞れる収束ビームとなっているよう構成することは、そもそも、そのように構成しなければフォーカス誤差を的確に検出することができないものであることを勘案すれば自明ないし必然的な事項であるから、上記相違点(b)は当業者が適宜容易に想到できるものである。
　
　また、請求人は審判請求理由で、
　「即ち、本件発明では、フォーカス誤差検出用の光ビームを絞るために、＋１次回折光のみしか使っていない（これを「ナイフエッジ検出」と称する）。また、ほぼ点対称の関係にある２つの光ビームを使用している（これを「ダブルナイフエッジ検出」と称する）。
　このように、フォーカス誤差検出用の＋１次回折光のビームを絞るように、ホログラムである回折格子の縞分布を設けておくと、−１次回折光は絞れなくなる。
　＋１次回折光での絞れる位置は、レーザ或いはホログラムの光軸を中心にして、互いにほぼ点対称とする。これは、ホログラム基板の厚みムラにより２分割検知線上に光ビームが乗らなくなり、フォーカスのオフセットを取り除くために、ホログラムの回転することで、フォーカスのオフセットをとれるようにするためのである。ただし、完全に点対称の位置とすると、−１次回折光が、他の１次回折光と重なるため、このような−１次回折光が入らなくなってしまう。このため、完全な点対称位置ではなく、「ほぼ点対称」とするのである。ただし「ほぼ点対称」とは「非対称」とは異なり点対称に近い位置である。」
　と主張する。
　しかしながら、ナイフエッジ検出の構成は補正の際に削除されて本願発明には記載のない事項である。
　また、光ビームを絞るとは、『＋１次回折光のビームを絞るように、ホログラムである回折格子の縞分布を設けておくと、−１次回折光は絞れなくなる』ということの回折格子の縞分布の構成をもって達成していくものであるが、本願発明から、ホログラムの（−１次回折光を絞らないで）＋１次回折光のビームを絞るようにとの、縞構成を含めて読み取れないもので、採用できない。
　また、『ただし、完全に点対称の位置とすると、−１次回折光が、他の１次回折光と重なるため、このような−１次回折光が入らなくなってしまう。このため、完全な点対称位置ではなく、「ほぼ点対称」とするのである。』であるが、技術的にみて微視的には完全に点対称の位置に配置すること自体困難であるのだから、互いにほぼ点対称の位置にあることはきわめて通常的構成と認められ、上記記載（例えば、「−１次回折光が、他の１次回折光と重ならない互いにほぼ点対象」等）のない本願発明に基づく主張の採用はできない。
　
　さらに、請求人は、
「（ｄ）本件発明と引用例との対比
　まず、本件発明と引用文献１に記載の発明とを比較すると、引用文献１では、＋１次回折光と−１次回折光の両方を使用している（段落［００１１］等）のに対し、本件発明では、＋１次回折光のみを使用する点で相違する。このため、引用文献１では、＋１次回折光を絞るようにすれば、−１次回折光は絞れないこととなり、逆に、−１次回折光を絞るようにすれば、＋１次回折光は絞れないこととなり、本件発明のように、＋１次回折光のみをフォーカス誤差信号として検出する場合に比較して、感度が劣ることとなる。」
と主張する。
　しかしながら、繰り返しであるが、本願発明は１次回折光であって±１次光の区別はしていない。また、仮に＋１次光であるとして−１次回折光との関係で＋１次回折光を絞る意味での回折格子の縞分布の構成は、本願発明に記載された「フォーカス誤差検出用光検知素子の分割線の面上で最も絞れる収束ビームになっており」から明確に把握できないもので、上記相違点(b)で判断したように、上位概念的な通常的構成の範疇の認定しかできないもので、上記前提を意図しての主張の採用はできない。
　
　よって、本願発明は、刊行物１発明のものに刊行物２及び周知事項を勘案して、当業者が容易に想到できるものである。
　
　
　４．むすび
　以上のとおりであって、本願発明は、上記刊行物１，２に基づき当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、本願は、その余の請求項について論及するまでもなく、拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。