【事件の表示】
　平成　９年特許願第　８７６０４号「エネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザ」拒絶査定不服審判事件〔平成１０年　９月２９日出願公開、特開平１０−２６０１４４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成９年３月２０日の出願であって、平成１６年１月３０日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成１６年３月１２日に審判請求がなされるとともに、平成１６年３月２９日付けで手続補正がなされたものである。
　
２．平成１６年３月２９日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１６年３月２９日付けの手続補正を却下する。 
［理由］
　
２．（１）　補正内容
　本件補正は、補正前の明細書の特許請求の範囲の請求項１（平成１５年７月１６日付けの手続補正書による。その後の平成１５年１１月２１日付け手続補正書でした補正は、平成１６年１月３０日付けの補正却下の決定により却下されている。）
　「【請求項１】電子顕微鏡とエネルギー分散型Ｘ線分析装置とこれらを制御するコンピュータとからなり、電子顕微鏡によって得られるＳＥＭ画像とエネルギー分散型Ｘ線分析装置によって得られるＥＤＸ画像をそれぞれ処理し、コンピュータに接続された表示装置の画面上に両画像を同時に表示するように構成されたエネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザにおいて、分析モードに応じて、前記両画像の表示パターンが予め設定されており、分析を行う場合、分析モードに応じた画像を優先して表示するようにしたことを特徴とするエネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザ。」
　を
　「【請求項１】電子顕微鏡とエネルギー分散型Ｘ線分析装置とこれらを制御するコンピュータとからなり、電子顕微鏡によって得られるＳＥＭ画像とエネルギー分散型Ｘ線分析装置によって得られるＥＤＸ画像をそれぞれ処理し、コンピュータに接続された表示装置の画面上に両画像を同時に表示するように構成されたエネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザにおいて、分析モードに応じて、前記両画像の表示パターンが予め設定されており、分析を行う場合、分析モードに応じた
ＳＥＭ画像またはＥＤＸ画像を優先してその優先される画像が表示装置の画面の中央に大きく、かつ、他の画像よりも大きく表示されるように両画像を同時に同一の画面
　と補正することを含むものである。（下線部は、今回補正箇所である）
　
　請求項１の補正は、要するに「分析モードに応じた画像を優先して表示する」を、「分析モードに応じたＳＥＭ画像またはＥＤＸ画像を優先してその優先される画像が表示装置の画面の中央に大きく、かつ、他の画像よりも大きく表示されるように両画像を同時に同一の画面に表示する」と補正するものである。
　
　この補正内容について検討すると、補正後の「分析モードに応じたＳＥＭ画像またはＥＤＸ画像を優先してその優先される画像が表示装置の画面の中央に大きく、かつ、他の画像よりも大きく表示されるように両画像を同時に同一の画面に表示する」という内容は、願書に最初に添付された明細書の段落【０００９】，【００１１】及び【００１２】に記載された技術内容に基づくものであって、特許請求の範囲の減縮を目的とする補正と認められる。
　
２．（２）　独立特許要件について
　次いで、補正された請求項１に係る発明（以下で、「本件補正発明」という）が特許出願の際、独立して特許を受けることができるものであるか（特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について検討する。
　
２．（２）．１　刊行物
　原査定の拒絶の理由で示された、本願出願日前に日本国内で頒布された刊行物は次のものである。
　刊行物１：特開平８−２８７８６０号公報
　
　刊行物１には、
　「【０００５】また、走査電子顕微鏡にＸ線分析装置（ＥＤＸ）を接続し、試料に電子線を照射した時に発生するＸ線から試料の材質分析を行なうことがある。このＸ線分析装置の制御や分析結果を表示するためにも、パソコンやワークステーションが用いられており、パソコン制御の走査電子顕微鏡と組合わせると２台のパソコンが並ぶことになる。」、
　
　「【００２３】……。通常、入力制御手段２１は、キーボード１８やマウス１９等の入力手段の操作信号をそのままパソコン１６に伝達する。パソコン１６は入力手段の操作信号に基づいて制御コマンドを生成し、制御信号変換回路３０はこの制御コマンドをＳＥＭ制御手段１４にそのまま伝達する。このようにして、パソコンの操作画面及び演算ユニットを用いた制御が行われる。……」、
　
　「【００３２】次に、走査電子顕微鏡とＸ線分析装置を組み合わせたシステムに本発明を適用した第３の実施例について説明する。……」、
　
　「【００３３】図９は、ＳＥＭ制御用パソコン１６のディスプレイ１５とＸ線分析制御用パソコン４４のディスプレイ４３の操作画面例を示したものである。図には省略してあるが、ＳＥＭ制御用ディスプレイ１５には、操作画面として図４で説明したようなメニューバー、ツールバー、ステージ制御ウインドウ、フォーカス、スティグマ等の調整用スライダーなどが表示されている。また、Ｘ線分析装置用ディスプレイ３８には、検出器の角度設定、測定時間設定、測定元素選択等の操作画面が表示される。」、
　
　「【００３４】始め、図９（ａ）のように、入力制御手段２１は、入力手段１８，１９の操作信号をＳＥＭ制御用パソコン１６に与えるように働く。Ｘ線分析用パソコン３９に制御を移す場合は、ＳＥＭ制御用ディスプレイ１５の操作画面上に制御移行用のボタン４１を表示しておき、そのボタン４１上にマウスカーソル３３を移動させクリックすると、制御プログラムは図９（ｂ）のように入力手段の操作信号をＸ線分析制御用パソコン３９に与えるように入力制御手段２１を切り替える。」、
　
　「【００３５】これにより、入力手段の操作信号はＸ線分析制御用パソコン３９に与えられ、Ｘ線分析制御の操作が可能になる。逆にＳＥＭ制御用パソコン１６に制御を移す場合は、Ｘ線分析制御用ディスプレイ３８の操作画面上に制御移行用のボタン４２を表示しておき、そのボタン４２をクリックすると、制御プログラムは、入力手段の操作信号をＸ線分析制御用パソコン３９に与えるように入力制御手段２１を切り替える。」、
　
　「【００３６】……、１台のパソコンに走査電子顕微鏡とＸ線分析装置の両方の制御と入出力を行なわせるようにしてもよい。……、１台のディスプレイに走査電子顕微鏡とＸ線分析装置の両方の画面を同時に表示してもスペース不足とならない場合には、１台のディスプレイを接続するだけでもよい。ディスプレイが１台であれば制御移行用のボタン４１，４２を設ける必要はなく、所望の操作画面にマウスカーソル３３を移動するだけで、走査電子顕微鏡の制御とＸ線分析装置の制御とを行うことができる。」、
　が記載されており、
　図９（ａ），図９（ｂ）の視察により、ディスプレイ１５において、ＳＥＭ画像３４が画面の中央から左上にかけて大きく表示され、同画面右上にＥＤＸと表示されたＸ線分析制御移行ボタン４１が小さく表示されており、ディスプレイ３８において、Ｘ線分析結果のグラフ４０（つまりＥＤＸ画像）が画面の中央から右上にかけて大きく表示され、同画面左上にＳＥＭと表示された走査電子顕微鏡制御移行ボタン４２が小さく表示されていることが明らかである。
　
２．（２）．２　刊行物１記載の発明
　刊行物１の前記【００３４】，【００３５】及び【００３６】の記載、図９（ａ）、図９（ｂ）の内容からみて、
　刊行物１には、　
　走査電子顕微鏡とＸ線分析装置（ＥＤＸ）とこれらを制御するコンピュータとからなり、走査電子顕微鏡によって得られるＳＥＭ画像とＸ線分析装置（ＥＤＸ）によって得られるＥＤＸ画像をそれぞれ処理し、コンピュータに接続されたディスプレイの画面上に両画像を表示するように構成されたＸ線分析装置（ＥＤＸ）において、所望の操作画面にマウスカーソル３３を移動するだけで、走査電子顕微鏡の制御とＸ線分析装置の制御とを行うことができ、走査電子顕微鏡を制御して分析した場合、ＳＥＭ画像が表示され、Ｘ線分析装置（ＥＤＸ）を制御して分析した場合、ＥＤＸ画像が表示されるようになっており、ＳＥＭ画像及びＥＤＸ画像を１台のディスプレイの画面に同時に表示するようにしたことを特徴とするＸ線分析装置（ＥＤＸ）、
　の発明が記載されている。
　
２．（２）．３　対比・検討
　本件補正発明と、刊行物１記載の発明を対比すると、
　刊行物１記載の発明における「Ｘ線分析装置（ＥＤＸ）」、「ディスプレイ」が、それぞれ本件補正発明の「エネルギー分散型Ｘ線アナライザ」、「表示装置」に相当し、
　刊行物１記載の発明において、「所望の操作画面にマウスカーソル３３を移動するだけで、走査電子顕微鏡の制御とＸ線分析装置の制御とを行うことができ、走査電子顕微鏡を制御して分析した場合、ＳＥＭ画像が表示され、Ｘ線分析装置（ＥＤＸ）を制御して分析した場合、ＥＤＸ画像が表示される」というのは、本件補正発明の「分析モードの指定により、指定に係るＳＥＭ画像やＥＤＸ画像が表示される」に相当し、そのような表示ができるのは、表示パターンが予め設定されているからであるということも明らかであり、刊行物１記載の発明と本件補正発明は、１台の表示装置（ディスプレイ）の画面にＳＥＭ画像及びＥＤＸ画像を同時に表示するものである点で共通するから、
　両者は、
　電子顕微鏡とエネルギー分散型Ｘ線分析装置とこれらを制御するコンピュータとからなり、電子顕微鏡によって得られるＳＥＭ画像とエネルギー分散型Ｘ線分析装置によって得られるＥＤＸ画像をそれぞれ処理し、コンピュータに接続された表示装置の画面上に両画像を表示するように構成されたエネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザにおいて、分析モードに応じて、前記両画像の表示パターンが予め設定されており、分析を行う場合、分析モードに応じたＳＥＭ画像またはＥＤＸ画像を１台の表示装置の画面に同時に表示するようにしたことを特徴とするエネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザ、である点で一致し、次の点で相違する。
　
　相違点
　本件補正発明は、分析モードに応じたＳＥＭ画像またはＥＤＸ画像を優先してその優先される画像が表示装置の画面の中央に大きく、かつ、他の画像よりも大きく表示されるように両画像を同時に同一の画面に表示するのに対し、
　刊行物１記載の発明は、分析モードに応じたＳＥＭ画像及びＥＤＸ画像を１台のディスプレイに同時に表示することしか、記載がない点。
　
　前記相違点について検討すると、
　Ｘ線マイクロアナライザ等の電子プローブに関して、走査型電子顕微鏡により試料像たるＳＥＭ画像を得て、ＳＥＭ画像を表示装置に表示し、それをみながら、分析点や分析領域を指定してから、Ｘ線マイクロアナライザで分析することが従来周知である。
　（例：特開昭５４−１３０１８８号公報の第１頁左下欄第１８行−同頁右下欄第１４行に「Ｘ線マイクロアナライザを用いて試料面上の特定微小領域の組成分析を行う際には、……。……電子ビーム５を試料６上で２次元的に走査し、……試料像を得る。そして試料像を観察して分析点を選択し、……。……分析点の位置が輝点で表示されることになる。」と記載がある点を参照。
　特開平７−３０２５７１号公報の明細書に従来の技術の説明として「【０００３】……、走査像観察装置を組み込んだ電子顕微鏡を用いて、二次電子検出に基づく試料の走査像をリアルタイムで表示し、この表示像を観察して元素マッピングすべき視野を選択し、その選択された視野を電子線で走査しつつＸ線を検出して元素マッピング像を表示するようにしている。」と記載がある点を参照。）
　
　したがって、刊行物１記載の発明において、電子顕微鏡でＳＥＭ画像を得てディスプレイ画面に表示し、次いで該ＳＥＭ画像をみながら分析点乃至領域を指定してから、それら分析点や分析領域について、エネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザを用いてＥＤＸ画像を前記ＳＥＭ画像と同時に同一のディスプレイ画面に表示することは当業者が容易に想到できたものと認められる。
　
　そしてディスプレイの技術分野において、関心のある画像を親画面としてディスプレイ画面の中央に表示し、それより関心が低い画像を子画面としてディスプレイ画面の隅に小さく表示すること及び、親子関係を反対にして表示することは従来周知である［例：特表平９−５０１０１０号公報（公表日平成９年１月２８日）の第５０頁に記載のＦＩＧ．１３ｃ，ＦＩＧ．１３ｄを参照及び、特開平６−１１３２９７号公報の図８、図１２を参照］から、刊行物１記載の発明において、最初に、走査電子顕微鏡で分析し、ＳＥＭ画像を表示装置の画面の中央に大きく表示させ、それをみながら分析点乃至領域を指定し、次いで、Ｘ線分析装置（ＥＤＸ）を制御してＥＤＸ画像を得る際は、分析装置使用者の関心は、先ほどのＳＥＭ画像から、ＥＤＸ画像にと移行するから、ＥＤＸ画像を優先して画面の中央に大きく表示させ、先ほどのＳＥＭの画像は小さく表示されるようにすることは当業者が適宜選択できた設計的事項である。
　さらに再度、走査電子顕微鏡で分析する場合は、先ほど得たＥＤＸ画像は画面の隅に小さく表示されるようにし、ＳＥＭ画面を優先して中央に大きく表示させるようにすることも、当業者が適宜選択できた設計的事項と認められる。
　したがって、本件補正発明は、刊行物１記載の発明および従来周知技術に基づいて当業者が容易に発明できたものである。
　
２．（３）　むすび
　よって、前記「２．（２）．３　対比・検討」で記載したとおり、本件補正発明は、刊行物１記載の発明および従来周知技術に基づいて当業者が容易に発明できたものであるから、独立して特許を受けることができないものであり、特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合しないから、特許法第１５９条第１項において準用する同法第５３条第１項の規定により、却下すべきものである。
　
３．本願発明
　平成１６年３月２９日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願請求項１ないし３に係る発明は、平成１５年７月１６日付けで補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし３に記載された事項により特定されるものであり、その請求項１は、前記「２．（１）補正内容」の欄に補正前の請求項１として記載のとおりのものである。（以下で、本願請求項１に係る発明を「本願発明」と呼ぶ）
　　
４．引用刊行物および引用刊行物に記載の発明
　原査定の拒絶の理由に引用されたのは、刊行物１であり、刊行物１記載の発明は、前記「２．（２）．２　刊行物１記載の発明」に記載のとおりである。
　
５．対比・検討
　本願発明は「分析モードに応じた画像を優先して表示する」ことに関して、本件補正発明が「分析モードに応じたＳＥＭ画像またはＥＤＸ画像を優先してその優先される画像が表示装置の画面の中央に大きく、かつ、他の画像よりも大きく表示されるように両画像を同時に同一の画面に表示する」と限
定していたのに、その限定を外したものである。
　そうすると、本願発明の構成要件をすべて含み、さらに上記限定を付加したものに相当する本件補正発明が、前記「２．（２）．３　対比・検討」に記載したとおり、刊行物１記載の発明および従来周知技術に基づいて当業者が容易に発明できたものであるから、上記限定を欠く本願発明は、当然に、刊行物１に記載された発明および従来周知技術に基いて当業者が容易に発明できたものである。
　
６．むすび
　したがって、本願発明は、刊行物１に記載された発明および従来周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるので、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、本願のその余の請求項について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。