【事件の表示】
　特願２０００−　２４７７７「ＩＣ試験装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１３年　８月　３日出願公開、特開２００１−２０８７９７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成１２年１月２８日の出願であって、平成１６年４月１６日付け（発送日：同月２０日）で拒絶査定がなされ、これに対し、同年５月２０日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同年６月２１日付けで手続補正がなされたものである。
　
第２　平成１６年６月２１日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　　平成１６年６月２１日付けの手続補正を却下する。
［理由］
　１．平成１６年６月２１日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）の内容
　本件補正は、以下の（１）に示される本件補正前の特許請求の範囲を、以下の（２）に示される本件補正後の特許請求の範囲に補正することを含むものである。
　（１）本件補正前の特許請求の範囲
　「【請求項１】　ＢＧＡ、ＣＳＰ又はＬＳＩの電気特性を測定するＩＣ試験装置に
おいて、ＢＧＡ、ＣＳＰ又はＬＳＩを吸着或いは開放する吸着ヘッドをスライダークラン
ク機構で上下動させるピックアンドプレースユニットを備えたことを特徴とするＩＣ試験
装置。」
　（２）本件補正後の特許請求の範囲
　「【請求項１】ＢＧＡ、ＣＳＰ又はＬＳＩの電気特性を測定するＩＣ試験装置において、ＢＧＡ、ＣＳＰ又はＬＳＩを吸着或いは開放する吸着ヘッドをスライダークランク機構で上下動させるピックアンドプレースユニットを備
え、前記ピックアンドプレースユニットは、上下方向に配設され互いに対向した左右一対のガイドレールと、この一対のガイドレールの対向面に沿って上下動する一対のスライダーと、前記一対のスライダーにそれぞれ取付けられ２個が同時に上下動する一対の前記吸着ヘッドとを有する
　なお、アンダーラインは、補正箇所を示すために付したものである。
　
　２．本件補正についての当審の判断
　本件補正は、補正前の請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「ピックアッププレースユニット」について、「上下方向に配設され互いに対向した左右一対のガイドレールと、この一対のガイドレールの対向面に沿って上下動する一対のスライダーと、前記一対のスライダーにそれぞれ取付けられ２個が同時に上下動する一対の前記吸着ヘッドとを有する」との限定を付加するものである。
　したがって、本件補正は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものと認められ、特許法第１７条の２第４項第２号の規定に該当するものである。
　そこで、本件補正後の請求項１に係る発明（以下、「本願補正発明」という。）が、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるかどうか（特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について、以下検討する。
　（１）引用刊行物
　　ア　刊行物１
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特開平７−２８０８８２号公報（以下、「刊行物１」という。）には、図面とともに以下の事項が記載されている。
　（ア）「【特許請求の範囲】【請求項１】ＩＣハンドラ上の、被測定ＩＣのピックアップとプレースの方式において、ＩＣハンドラのアーム（８）にレーザ変位差計（１）を設け、Ｚ方向制御用モータ（２）及びプーリ（４）を設け、Ｚ方向駆動用ボールネジ（３）とシャフト（５）及びバキューム（６）と吸着口（７）を設け、以上の構成を具備することを特徴とする、ＩＣハンドラ上の、被測定ＩＣのピックアンドプレースの方式。」
　（イ）「【０００１】【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣハンドラ上の、被測定ＩＣのピックアップとプレースの方式に関する。
【０００２】【従来の技術】ＩＣハンドラ上の、被測定ＩＣのピックアップとプレースの際の被測定ＩＣと収納ケースとの高低段差は機械的に吸収する図２に示す構造であった。ハンドラアームに装着したＺ軸方向駆動用シリンダ１０にスプリング９を装填した被測定ＩＣのピックアップとプレース用の吸着口７の構成によって、被測定ＩＣの収納ケースの反り、歪みの高低段差を吸収する方式を取った。」
　（ウ）「【０００６】【実施例】以下本発明の実施例について説明する。
（Ａ）ＩＣ位置決めハンドラのアーム８にレーザ変位差計１を設け
（Ｂ）Ｚ方向駆動用ボールネジ３とＺ方向制御用モータ２及びプーリ４を設け
（Ｃ）シヤフト５とバキューム６及び吸着口７を設け、
本発明は以上のような構造で、被測定ＩＣの位置はＩＣハンドラが決定する、ＩＣハンドラのアーム８に設けられたレーザ変位差計１によって測定のためのピックアップアンドプレースのハンドリングの都度、高さ方向の位置が高精度に決定される。」
　　イ　刊行物２
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特開平１１−９４９０６号公報（以下、「刊行物２」という。）には、図面とともに以下の事項が記載されている。
　（ア）「【特許請求の範囲】【請求項１】  テスト回路基板を精密位置決めする位置決め機構及びクランプ機構、テストピンをＺ軸方向に移動して前記テスト回路基板に接触させるプローブ上下機構、及び該プローブ上下機構をＸＹ平面上に移動させるＸＹステージを少なくとも結合する剛構造の支持フレームと、
前記支持フレームを支持する柔構造の外部筐体とを具備したことを特徴とするインサーキットテスタ。
　・・・・
【請求項９】  前記プローブ上下機構は、
回転運動を直線運動に変換するクロス・スライダ・クランク機構によって前記テストピンを上下させ、該テストピンが前記テスト回路基板に対してソフトランディングを行うことを特徴とする請求項１〜８のうちのいずれか１項記載のインサーキットテスタ。
【請求項１０】  前記ソフトランディングは、さらに、前記テストピンが前記テスト回路基板に接触する下死点近傍及び上死点近傍における前記回転運動を減速制御することを特徴とする請求項９記載のインサーキットテスタ。」
　（イ）「【００８３】次に、プローブ上下機構１９によるプローブ１００の上下機構について説明する。このプローブ１００の上下機構は、モータ２２の回転運動をプローブ１００の上下運動に変換する、いわゆるクロス・スライダ・クランク機構によって達成される。
【００８４】プローブ１００は、ロッド１３０に結合し、このロッド１３０の上下により、上下運動する。ロッド１３０は、軸方向の動きを許容するスプライン機構１４０を介して上下運動するとともに、ロッド１３０に固着されたアーム１３０ａを介してスライダー１３１に結合する。
【００８５】従って、スライダー１３１がガイド１３２に沿って上下すると、これに応じてロッド１３０及びプローブ１００が上下する。スライダー１３１は、横長の開口部１３１ａを有し、この開口部１３１ａには、クランクピン１３３が挿通され、クランクピン１３３は、開口部１３１ａの周面に摺接する。クランクバー１３４は、クランクピン１３３を軸支するとともに、モータ２３の出力軸に軸着される。従って、モータ２３の回転は、クランクバー１３４の回転となり、クランクピン１３３が所定の半径をもって回転する。
【００８６】このクランクピン１３４の回転によってスライダー１３１はＺ方向の上下運動を行うことになる。このスライダー１３１の上下運動は、クランクピン１３３の回転をそのまま上下運動に変換するため、この上下運動の速度は、図２３に示すように、時間ｔの経過とともに、三角関数のいわゆるサイン曲線を描くことなる。従って、上下運動の上限近傍あるいは下限近傍の速度は緩やかになり、特にテストピン２０，２１がテスト回路基板３の表面に接触する点では、速度がほぼ０になり、テストピン２０，２１のテスト回路基板３への接触時に生じる衝撃を和らげる、いわゆるソフトランディングを達成することができる。
【００８７】特に、このソフトランディングは、クロス・スライダ・クランク機構という機械的な駆動のみによって達成され、ソフトランディングを実現するために特別なモータ制御を行う必要はない。」
　
　（２）対比・判断
　刊行物１についての上記「第２」の「２．」の「（１）」の「ア」の「（ア）」ないし「（ウ）」の記載から、以下のことが読み取れる。
　・「（ア）」、「（ウ）」の記載から、刊行物１には、「ＩＣハンドラ上の、被測定ＩＣのピックアップとプレースの方式」、すなわち、ＩＣハンドラ上の、被測定ＩＣのピックアップとプレースを行う機構が開示されている。
　・ＩＣハンドラは、ＬＳＩ等のＩＣの電気特性を測定するＩＣ試験装置において、被測定ＩＣのハンドリングを行うための機構であるから、上記ＩＣハンドラ上の、被測定ＩＣのピックアップとプレースの機構は、ＬＳＩ等のＩＣの電気特性を測定するＩＣ試験装置において、被測定ＩＣのピックアップとプレースを行うハンドリング機構であるということができる。また、該ハンドリング機構はＩＣ試験装置に具備されるから、刊行物１には、該ハンドリング機構を備えたＩＣ試験装置が記載されていると認められる。
　・「（ア）」ないし「（ウ）」の記載から、上記ハンドリング機構は、被測定ＩＣのピックアップとプレース用の吸着口を有しており、その機能から見て上記ハンドリング機構が該吸着口を上下動させることは明らかである。
　以上のことから、刊行物１には、次の発明（以下、「刊行物１に記載された発明」という。）が記載されているものと認められる。
　「ＬＳＩ等のＩＣの電気特性を測定するＩＣ試験装置において、被測定ＩＣのピックアップとプレース用の吸着口を上下動させる被測定ＩＣのピックアップとプレースを行うハンドリング機構を備えたＩＣ試験装置。」
　
　本願補正発明と刊行物１に記載された発明とを対比する。
　・刊行物１に記載された発明における「被測定ＩＣのピックアップとプレース用の吸着口」は、ＬＳＩ等の被測定ＩＣのピックアップとプレース時に被測定ＩＣを吸着または解放するものであることは明らかであるから、本願補正発明における「ＢＧＡ、ＣＳＰ又はＬＳＩを吸着或いは開放する吸着ヘッド」に相当する。
　・刊行物１に記載された発明における「被測定ＩＣのピックアップとプレースを行うハンドリング機構」は、吸着口、すなわち、吸着ヘッドを上下動させる被測定ＩＣのピックアップとプレースを行う機構である点で、本願補正発明における「ピックアンドプレースユニット」と共通する。
　・刊行物１に記載された発明における「ＬＳＩ等のＩＣの電気特性を測定するＩＣ試験装置」は、本願補正発明における「ＢＧＡ、ＣＳＰ又はＬＳＩの電気特性を測定するＩＣ試験装置」、「ＩＣ試験装置」に相当する。
　したがって、本願補正発明と刊行物１に記載された発明とは、
　「ＬＳＩの電気特性を測定するＩＣ試験装置において、ＬＳＩを吸着或いは開放する吸着ヘッドを上下動させる被測定ＩＣのピックアップとプレースを行う機構を備えたＩＣ試験装置。」
である点で一致し、次の相違点で相違する。
［相違点］
　被測定ＩＣのピックアップとプレースを行う機構が、本願補正発明では、吸着ヘッドをスライダークランク機構で上下動させるピックアンドプレースユニットであり、該ピックアンドプレースユニットは、上下方向に配設され互いに対向した左右一対のガイドレールと、この一対のガイドレールの対向面に沿って上下動する一対のスライダーと、前記一対のスライダーにそれぞれ取付けられ２個が同時に上下動する一対の前記吸着ヘッドとを有するピックアンドプレースユニットであるのに対し、刊行物１に記載された発明では、このような構成のものではない点。
　
　上記相違点について検討する。
　被測定ＩＣに与える衝撃を緩和して被測定ＩＣの破損を防止しようとすることは、例えば、特開平１１−３４４５２９号公報に示されるように、当該技術分野において周知の課題である。
　そして、被駆動体（テストピン２０、２１）を対象物（テスト回路基板３）に対して上方から当接・離反するように昇降駆動する昇降機構において、被駆動体の対象物への接触時に生じる衝撃を和らげるために、スライダークランク機構により被駆動体を上下動させるようにし、ガイド１３２と、このガイド１３２に沿ってクランク機構の駆動により上下動するスライダー１３１と、該スライダー１３１に被駆動体を結合させて構成したものが刊行物２に示されており、該刊行物２に記載された発明は、回路の電気特性を測定する試験装置において用いられる昇降機構に関するものである点で刊行物１に記載された発明と共通しており、上記周知の課題と同様の課題を解決するためのものであるから、刊行物１に記載された発明に刊行物２に記載された発明を適用することに困難性はない。そして、その際に、２個の吸着ヘッドを同時に上下動させるものも、例えば、特開平７−２３９３６２号公報に示されるように周知であるから、ガイド、スライダー、吸着ヘッドを、それぞれ一対設けて上記相違点のように構成することは当業者が容易になし得たことである。
　
　　そして、本願補正発明の奏する効果は、刊行物１及び刊行物２の記載並びに周知技術から当業者が予測し得る範囲内のものであり、格別のものではない。
　　したがって、本願補正発明は、刊行物１に記載された発明、刊行物２に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
　（３）むすび
　以上のとおり、本件補正は、特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　本願発明について
　平成１６年６月２１日付けの手続補正は、上記のとおり却下したので、本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、平成１６年３月２２日提出の手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、上記「第２」の「１．」の「（１）」の本件補正前の特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりのものである。
　
第４　引用刊行物
　原査定の拒絶の理由に引用された引用刊行物及びその記載事項は、上記「第２」の「２．」の「（１）」に記載したとおりのものである。
　
第５　本願発明と引用刊行物に記載された発明との対比・判断
　本願発明は、本願補正発明から発明を特定するために必要な事項についての上記限定を省いたものである。
　そうすると、本願発明の発明特定事項をすべて含み、さらに他の限定事項を付加したものに相当する本願補正発明が前記「第２」の「２．」の「（２）」に記載したとおり、刊行物１に記載された発明、刊行物２に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様の理由により、刊行物１に記載された発明、刊行物２に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
第６　むすび
　以上のとおりであるから、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであり、本願は、拒絶をすべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。