【手続補正書】
【提出日】平成24年5月11日(2012.5.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像における異常画素の近傍に位置する画素の画素値に基づいて前記異常画素の画素値を補正する第一の補正処理と、前記画像に対して時間的に前後に位置するフレーム画像における前記異常画素に対応する画素の画素値に基づいて前記異常画素の画素値を補正する第二の補正処理とを実行する補正手段と、
前記第一の補正処理と前記第二の補正処理のそれぞれに対する重み付けを制御する制御手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記画像に基づいて前記第一の補正処理と前記第二の補正処理のそれぞれに対する重み付けを制御することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記制御手段は、動画像である前記画像における被写体の動きが大きい場合には、動きが小さい場合に比べて前記第二の補正処理の重み付けを小さくすることを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記画像の撮影条件に基づいて前記第一の補正処理と前記第二の補正処理のそれぞれに対する重み付けを制御することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記制御手段は、検出器から得られる信号に画素ビニング処理を施し得られた画像についての前記第一の補正処理に対する重み付けは、該画素ビニング処理を施さずに得られた画像についての前記第一の補正処理に対する重み付けよりも小さくなるよう制御することを特徴とする請求項４に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記画像の画像処理条件に基づいて前記第一の補正処理と前記第二の補正処理のそれぞれに対する重み付けを制御することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記制御手段は、前記画像において強調する周波数帯域が低い場合には、該周波数帯域が高い場合に比べて第一の補正処理の重み付けを小さくするよう制御することを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記制御手段は、前記画像の撮影に用いる検出器の画素ピッチ、画素ビニング処理の有無、前記画像が静止画像であるか否か、動画像である前記画像のフレームレート、動画像である前記画像における被写体の動き量、前記画像の被写体の撮影部位、前記画像において強調する周波数の帯域の少なくともいずれかに基づいて前記重み付けを示す値を制御することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記制御手段は、更に、前記第一の補正処理または前記第二の補正処理の少なくともいずれかに対する重み付けを０にすることで前記第一の補正処理または前記第二の補正処理のすくなくともいずれかを行わないよう制御することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記制御手段は、前記第一の補正処理または第二の補正処理に用いる画素の数、該画素に対する重み付け値、または前記第二の補正処理に用いるフレーム画像の数の少なくともいずれかを制御することを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
画像処理装置の制御方法であって、
補正手段が、画像における異常画素の近傍に位置する画素の画素値に基づいて前記異常画素の画素値を補正する第一の補正処理と、前記画像に対して時間的に前後に位置するフレーム画像における前記異常画素に対応する画素の画素値に基づいて前記異常画素の画素値を補正する第二の補正処理とを実行する補正工程と、
制御手段が、前記第一の補正処理と前記第二の補正処理のそれぞれに対する重み付けを制御する制御工程と、
を有することを特徴とする画像処理装置の制御方法。
【請求項１２】
検出器により撮影される画像の欠陥画素の位置情報を該画像の撮影前に予め記憶する記憶手段と、  
前記記憶された位置情報に含まれない一時的な異常画素を補正するか否かを判定する判定手段と、  
前記判定手段により前記一時的な異常画素を補正すると判定された場合には前記一時的な異常画素を補正する補正手段と、  
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項１３】
前記判定手段は、前記記憶された位置情報に含まれない一時的な異常画素を補正するか否かを前記画像に基づいて判定することを特徴とする請求項１２に記載の画像処理装置。
【請求項１４】
前記判定手段は、前記検出器に対して照射される放射線の線量に基づいて前記一時的な異常画素を補正するか否かを判定することを特徴とする請求項１３に記載の画像処理装置。
【請求項１５】
前記判定手段は、前記記憶された位置情報に含まれない一時的な異常画素を補正するか否かを前記画像に基づいて判定することを特徴とする請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１６】
前記判定手段は、前記一時的な異常画素の周辺に位置する画素の画素値に基づいて異常画素を補正するか否かを判定することを特徴とする請求項１５に記載の画像処理装置。
【請求項１７】
前記判定手段は、Ｘ線ショットノイズが生じた画素を一時的な画素として補正するか否かを、該Ｘ線ショットノイズが生じた画素の画素値が該画素の周辺の画素に重畳するランダムノイズまたはＸ線量子ノイズの値に対して十分に小さいか否かを判定し、
前記補正手段は、前記判定により十分に小さいと判定された場合には該Ｘ線ショットノイズが生じた画素を補正しないことを特徴とする請求項１２乃至１６のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１８】
前記画像に基づいて前記一時的な欠陥画素を検出する検出手段を更に有し、
前記判定手段は、前記一時的な欠陥画素の数に基づいて前記一時的な異常画素を補正するか否かを判定することを特徴とする請求項１２乃至１７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１９】
前記検出器による動画撮影で得られた複数の前記画像を順次取得する取得手段と、
前記補正手段は、前記判定手段により前記一時的な異常画素を補正すると判定されなかった場合には前記一時的な異常画素の補正をせず、
前記一時的な異常画素が補正されなかった画像のそれぞれに所定の画像処理を施す画像処理手段と、
前記画像処理された画像のそれぞれを動画像として表示部に表示させる表示制御手段と、
を更に有することを特徴とする請求項１２乃至１７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項２０】
前記補正手段は、画像における欠陥画素の近傍に位置する画素の画素値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する第一の補正処理と、前記画像に対して時間的に前後に位置するフレーム画像における前記欠陥画素に対応する画素の画素値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する第二の補正処理とを実行することを特徴とする請求項１２乃至１８のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項２１】
画像処理装置の制御方法であって、
記憶手段が、検出器により撮影される画像の欠陥画素の位置情報を該画像の撮影前に予め記憶する記憶工程と、  
判定手段が、前記記憶された位置情報に含まれない一時的な異常画素を補正するか否かを判定する判定工程と、  
補正手段が、前記判定工程により前記一時的な異常画素を補正すると判定された場合には前記一時的な異常画素を補正する補正工程と、  
を有することを特徴とする画像処理装置の制御方法。
【請求項２２】
Ｘ線を照射するＸ線照射手段と、前記Ｘ線照射手段により照射された被検体のＸ線画像を検出するＸ線検出手段と、を有するＸ線画像撮影装置であって、
前記Ｘ線検出手段により検出された複数のＸ線画像のうち画素値が常に異常となる画素を、位置に依存した欠陥として検出し、前記Ｘ線画像における前記欠陥の位置情報を取得する第一の欠陥検出手段と、
前記位置情報と、前記画素値の異常が検出された前記画素の近傍の画素の画素値とに基づいて、異常が検出された前記画素の前記画素値を補正する第一の欠陥補正手段と、
前記Ｘ線検出手段により前記Ｘ線画像が検出された際の前記被検体の撮影条件を示す情報を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された前記撮影条件を示す情報に基づいて、前記第一の欠陥補正手段により補正されたＸ線画像を更に補正するか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段により前記Ｘ線画像を更に補正すると判定された場合に、前記Ｘ線検出手段により検出された複数のＸ線画像のうち画素値が時間の経過に依存して一時的に異常となる画素を欠陥として検出する第二の欠陥検出手段と、
前記第二の欠陥検出手段により異常が検出された前記画素の前記画素値を補正するための補正方法を、前記撮影条件を示す情報に基づき決定する決定手段と、
前記決定手段により決定された前記補正方法に従って、前記第二の欠陥検出手段により検出された前記画素の前記画素値を補正する第二の欠陥補正手段と、
を備えることを特徴とするＸ線画像撮影装置。
【請求項２３】
前記補正方法には、
前記第二の欠陥検出手段により前記画素値の異常が検出された前記画素の近傍の画素の画素値に基づいて、異常が検出された前記画素の前記画素値を補正する空間的欠陥補正と、
前記第二の欠陥検出手段により前記画素値の異常が検出された前記画素と同一の画素であり、異常が検出された前記画素を含むフレームに対して時間的に前後のフレームで得られた画素の画素値に基づいて、異常が検出された前記画素の前記画素値を補正する時間的欠陥補正と、
が含まれることを特徴とする請求項２２に記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項２４】
前記決定手段は、前記取得手段により取得された前記撮影条件を示す情報に含まれる動画フレームレートの値に基づいて、前記空間的欠陥補正または前記時間的欠陥補正を前記補正方法として決定することを特徴とする請求項２３に記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項２５】
前記決定手段は、前記取得手段により取得された前記撮影条件を示す情報に含まれる前記被検体の撮影部位の情報に基づいて、前記空間的欠陥補正または前記時間的欠陥補正を前記補正方法として決定することを特徴とする請求項２３に記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項２６】
前記第二の欠陥補正手段は、前記撮影条件を示す情報に含まれるＸ線画像のランダムノイズとＸ線線量とを比較して、前記ランダムノイズに対する前記Ｘ線線量の割合が閾値以下となるときに、前記決定手段により決定された前記補正方法を実行することを特徴とする請求項２３に記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項２７】
前記空間的欠陥補正のための重み付け情報と、前記時間的欠陥補正のための重み付け情報と、を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された重み付け情報の設定を、撮影時に取得された情報に基づいて制御する重み付け制御手段と、を更に備え、
前記判定手段は、前記重み付け制御手段により設定が制御された前記空間的欠陥補正のための重み付け情報と前記時間的欠陥補正のための重み付け情報とに基づいて、前記空間的欠陥補正と前記時間的欠陥補正とを組み合わせた前記補正方法を決定することを特徴とする請求項２３に記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項２８】
前記空間的欠陥補正により補正された画素の画素値と、前記補正された画素の近傍の画素の画素値とを比較して、前記空間的欠陥補正の偏差量を算出する第一の偏差量算出手段と、
前記時間的欠陥補正により補正された画素の画素値と、前記画素と同一の画素であり、前記画素を含むフレームに対して時間的に前後のフレームで得られた画素の画素値と、を比較して、前記時間的欠陥補正の偏差量を算出する第二の偏差量算出手段と、
前記空間的欠陥補正の偏差量と、前記時間的欠陥補正の偏差量と、が予め定められた誤差の範囲にあるか否かを判定する誤差判定手段と、を更に備えることを特徴とする請求項２７に記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項２９】
前記誤差判定手段により前記空間的欠陥補正の偏差量が前記誤差の範囲を超えると判定された場合に、前記重み付け制御手段は、前記空間的欠陥補正のための重み付け情報を再設定することを特徴とする請求項２８に記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項３０】
前記誤差判定手段により前記時間的欠陥補正の偏差量が前記誤差の範囲を超えると判定された場合に、前記重み付け制御手段は、前記時間的欠陥補正のための重み付け情報を再設定することを特徴とする請求項２８に記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項３１】
Ｘ線を照射するＸ線照射手段と、前記Ｘ線照射手段により照射された被検体のＸ線画像を検出するＸ線検出手段と、を有するＸ線画像撮影装置の制御方法であって、
第一の欠陥検出手段が、前記Ｘ線検出手段により検出された複数のＸ線画像のうち画素値が常に異常となる画素を、位置に依存した欠陥として検出し、前記Ｘ線画像における前記欠陥の位置情報を取得する第一の欠陥検出工程と、
第一の欠陥補正手段が、前記位置情報と、前記画素値の異常が検出された前記画素の近傍の画素の画素値とに基づいて、異常が検出された前記画素の前記画素値を補正する第一の欠陥補正工程と、
取得手段が、前記Ｘ線検出手段により前記Ｘ線画像が検出された際の前記被検体の撮影条件を示す情報を取得する取得工程と、
判定手段が、前記取得工程で取得された前記撮影条件を示す情報に基づいて、前記第一の欠陥補正工程で補正されたＸ線画像を更に補正するか否かを判定する判定工程と、
前記判定工程で前記Ｘ線画像を更に補正すると判定された場合に、第二の欠陥検出手段が、前記Ｘ線検出手段により検出された複数のＸ線画像のうち画素値が時間の経過に依存して一時的に異常となる画素を欠陥として検出する第二の欠陥検出工程と、
前記第二の欠陥検出工程において異常が検出された前記画素の前記画素値を補正するための補正方法を、決定手段が、前記撮影条件を示す情報に基づき決定する決定工程と、
前記決定工程で決定された前記補正方法に従って、第二の欠陥補正手段が、前記第二の欠陥検出工程で検出された前記画素の前記画素値を補正する第二の欠陥補正工程と、
を有することを特徴とするＸ線画像撮影装置の制御方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】画像処理装置、画像処理装置の制御方法、Ｘ線画像撮影装置およびＸ線画像撮影装置の制御方法
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、画像処理装置の制御方法、Ｘ線画像撮影装置およびＸ線画像撮影装置の制御方法に関する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
上記の問題を解決するために、本発明は異常画素を適切な方法で補正することが可能な画像処理技術、Ｘ線画像撮影技術の提供を目的とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
上記目的を達成する本発明に係るＸ線画像撮影装置は、Ｘ線を照射するＸ線照射手段と、前記Ｘ線照射手段により照射された被検体のＸ線画像を検出するＸ線検出手段と、を有するＸ線画像撮影装置であって、
前記Ｘ線検出手段により検出された複数のＸ線画像のうち画素値が常に異常となる画素を、位置に依存した欠陥として検出し、前記Ｘ線画像における前記欠陥の位置情報を取得する第一の欠陥検出手段と、
前記位置情報と、前記画素値の異常が検出された前記画素の近傍の画素の画素値とに基づいて、異常が検出された前記画素の前記画素値を補正する第一の欠陥補正手段と、
前記Ｘ線検出手段により前記Ｘ線画像が検出された際の前記被検体の撮影条件を示す情報を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された前記撮影条件を示す情報に基づいて、前記第一の欠陥補正手段により補正されたＸ線画像を更に補正するか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段により前記Ｘ線画像を更に補正すると判定された場合に、前記Ｘ線検出手段により検出された複数のＸ線画像のうち画素値が時間の経過に依存して一時的に異常となる画素を欠陥として検出する第二の欠陥検出手段と、
前記第二の欠陥検出手段により異常が検出された前記画素の前記画素値を補正するための補正方法を、前記撮影条件を示す情報に基づき決定する決定手段と、
前記決定手段により決定された前記補正方法に従って、前記第二の欠陥検出手段により検出された前記画素の前記画素値を補正する第二の欠陥補正手段と、
を備えることを特徴とする。
あるいは、上記目的を達成する本発明に係る画像処理装置は、画像における異常画素の近傍に位置する画素の画素値に基づいて前記異常画素の画素値を補正する第一の補正処理と、前記画像に対して時間的に前後に位置するフレーム画像における前記異常画素に対応する画素の画素値に基づいて前記異常画素の画素値を補正する第二の補正処理とを実行する補正手段と、
前記第一の補正処理と前記第二の補正処理のそれぞれに対する重み付けを制御する制御手段と、
を有することを特徴とする。
あるいは、上記目的を達成する本発明に係る画像処理装置は、検出器により撮影される画像の欠陥画素の位置情報を該画像の撮影前に予め記憶する記憶手段と、  
前記記憶された位置情報に含まれない一時的な異常画素を補正するか否かを判定する判定手段と、  
前記判定手段により前記一時的な異常画素を補正すると判定された場合には前記一時的な異常画素を補正する補正手段と、  
を有することを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明によれば、異常画素を適切な方法で補正することが可能になる。