(57)【要約】【課題】ミラーボードに欠陥があるか否かを有効に試験し、製品の品質を向上させる回路基板試験機の回転試験装置を提供する。【解決手段】回路基板試験機の回転試験装置は、台座１の上に配置され、回転機構２及び少なくとも１つの回路基板挟持台３を備える。回転機構２は、動力源２１を有し、動力源２１は、従動リング２３を有し、従動リング２３には、回転盤２５が固設される回転ベース２４が固設される。動力源２１は、主動リング２１１を有し、従動リング２３と主動リング２１１の間に駆動部材２２が配置される。回路基板挟持台３は、回路基板を挟持する可動アーム３１及び伝動ユニット３２を有する。回転機構２により、試験作業の効率が上がり、ミラーボードに欠陥があるか否かを有効に試験し、製品の品質を向上することができ、また欠陥品が後続工程に悪影響を及ぼして損失を招くのを防止することができる。【選択図】図２
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
底端に回転機構が配置される少なくとも１つの回路基板挟持台を備えることを特徴とする回路基板試験機の回転試験装置。
【請求項２】
前記回転機構は、前記回路基板挟持台が配置される回転盤を接続する動力源を有することを特徴とする請求項１に記載の回路基板試験機の回転試験装置。
【請求項３】
前記動力源は、従動リングを有し、
前記従動リングには、前記回転盤が固設される回転ベースが固設されることを特徴とする請求項２に記載の回路基板試験機の回転試験装置。
【請求項４】
前記動力源は、主動リングを有し、
前記従動リングと前記主動リングとの間に駆動部材を配置することを特徴とする請求項３に記載の回路基板試験機の回転試験装置。
【請求項５】
前記回路基板挟持台は、回路基板を挟持する可動アーム及び伝動ユニットを有することを特徴とする請求項１〜４何れか一項に記載の回路基板試験機の回転試験装置。
【請求項６】
前記回転機構は、台座に配置され、
前記台座は、頂面に水平スライド台が配置され、前記水平スライド台との間に水平変位機構が配置されることを特徴とする請求項５に記載の回路基板試験機の回転試験装置。
【請求項７】
前記台座の側部には、供給ラック及び送出ラックが配置され、
前記水平スライド台の頂端には、ピックアップ装置が配置されていることを特徴とする請求項６に記載の回路基板試験機の回転試験装置。
【請求項８】
前記回転機構は、台座に配置され、
前記台座は、頂面に水平スライド台が配置され、前記水平スライド台との間に水平変位機構が配置されることを特徴とする請求項１〜４何れか一項に記載の回路基板試験機の回転試験装置。
【請求項９】
前記台座の側部には、供給ラック及び送出ラックが配置され、
前記水平スライド台の頂端には、ピックアップ装置が配置されていることを特徴とする請求項８に記載の回路基板試験機の回転試験装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は回路基板試験機の回転試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の回路基板試験機は、回路基板を固定する構造を用いる。例えば、特許文献１の回路板試験機の薄型挟持装置は、回路板の試験に適用する回路板試験機の薄型挟持構造をもち、作業台と、作業台に対応して平行に設けられる２つの基台と、適当な距離の箇所で各アーム体が開放または緊合を呈することができる挟持部を設ける２つの活動アームと、それぞれシリンダと、連軸器と、軸桿と、を有する。回路板試験機の薄型挟持装置は、該活動アームの上部に固定され、該挟持部を軸動することができる２つの伝動組と、を含み、上記の組み合わせにより、薄型挟持構造を呈することができる。
【０００３】
一般に、上述の回路板を製造するとき、ミラーボード（ｍｉｒｒｏｒ  ｂｏａｒｄ）を用いることにより、効率を上げたりコストを抑えたりすることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】台湾実用新案登録第３５１３５１号公報
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、回路板試験機でミラーボードを試験するとき、試験作業員は、一部の試験が終了したミラーボードを１８０度回転させ、供給ラック上に収納してから、残り一部の試験に移行する必要があり、この作業方法は、効率が悪いばかりでなく、試験作業員の不注意により、ミラーボードの残り一部の試験が完全に終了していないにも関わらず、最初の一部の試験結果を判定すれば、良品が欠陥品と誤判断されたり欠陥品が良品と誤判断されたりし、回路板製品の品質が低下したり後続工程に重大な損失を招いたりする。
【０００６】
本考案は上述の点に鑑みて為されたものであり、その目的は、従来の回路基板試験機がミラーボード設計の回路基板を試験するとき、試験作業員の不注意により、ミラーボードの一部のみに試験を行うことで、製品の品質が低下する問題を解決する回路基板試験機の回転試験装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本考案による回路基板試験機の回転試験装置は、底端に回転機構が配置される少なくとも１つの回路基板挟持台を備え、回路基板挟持台は、回転機構により回転され、回路基板の回転試験を行う。
【０００８】
また、回転機構は、回路基板挟持台が配置される回転盤を接続する動力源を有することが好ましい。
【０００９】
また、動力源は、従動リングを有することが好ましい。従動リングには、回転盤が固設される回転ベースが固設される。
【００１０】
また、動力源は、主動リングを有することが好ましい。従動リングと主動リングとの間に駆動部材を配置する。
【００１１】
また、回路基板挟持台は、回路基板を挟持する可動アーム及び伝動ユニットを有することが好ましい。
【００１２】
また、回転機構は、台座に配置され、台座は、頂面に水平スライド台が配置され、水平スライド台との間に水平変位機構が配置されることが好ましい。
【００１３】
また、台座の側部には、供給ラック及び送出ラックが配置され、水平スライド台の頂端には、ピックアップ装置が配置されていることが好ましい。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本考案の一実施形態による回路基板試験機の回転試験装置を回路基板試験機に配置した状態を示す斜視図である。
【図２】本考案の一実施形態による回路基板試験機の回転試験装置の分解斜視図である。
【図３】本考案の一実施形態による回路基板試験機の回転試験装置の斜視図である。
【図４】本考案の一実施形態による回路基板試験機の回転試験装置を使用するときの状態を示す斜視図である。
【考案を実施するための形態】
【００１５】
以下、本考案の一実施形態による回路基板試験機の回転試験装置を図に基づいて説明する。なお、これによって本考案が限定されるものではない。
【００１６】
図１及び図２を参照する。図１及び図２に示すように、本考案の一実施形態による回路基板試験機の回転試験装置は、装置の台座１の上に配置され、回転機構２及び少なくとも１つの回路基板挟持台３を備える。
【００１７】
台座１の中央部には、回転機構２を配置するために用いる穿孔部１１が設けられている。台座１の頂面の前後両側には、それぞれ水平変位機構１２が固設されている。水平変位機構１２の上には、水平スライド台１３が配置されている。水平スライド台１３の中央部には、開口部１３１が設けられ、装置上の試験部材は、開口部１３１から回路基板挟持台３上の回路基板の試験を行う。台座１の側部には、供給ラック１４及び送出ラック１５が配置されている。送出ラック１５には、良品領域１５１及び不良品領域１５２が配置され、出てきた回路基板を分類する。水平スライド台１３の頂端には、負圧吸着器を有する回転アーム等のピックアップ装置１６が配置されている。
【００１８】
回転機構２は、動力源２１を有する。動力源２１に接続される主動リング２１１は、駆動部材（例えば、ベルトなど）２２により、従動リング２３に嵌合されている。従動リング２３の頂端には、回転ベース２４が配置されている。回転ベース２４の頂端には、回転試験を行う回路基板挟持台３を配置するために用いる回転盤２５が固設されている。
【００１９】
回路基板挟持台３の左右両側には、相互に接続する可動アーム３１及び伝動ユニット３２が配置されている。伝動ユニット３２は、可動アーム３１を駆動し、回路基板を挟持する。
【００２０】
図２及び図３を参照する。図２及び図３に示すように、本考案の一実施形態による回路基板試験機の回転試験装置を実際に組み立てるとき、台座１の底部に回転機構２の動力源２１を固設する。回転機構２の回転盤２５は、台座１の中央部の穿孔部１１に対応する。回転盤２５の中央部に回路基板挟持台３を設置し、共に回転させる。水平スライド台１３の開口部１３１は、回路基板挟持台３の上方に対応する。
【００２１】
図１及び図４を参照する。図１及び図４に示すように、本考案の一実施形態による回路基板試験機の回転試験装置で実際に試験作業を行うとき、ピックアップ装置１６が供給ラック１４から被測定のミラーボード（ｍｉｒｒｏｒ  ｂｏａｒｄ）４を吸着し、回路基板挟持台３の両側の各可動アーム３１の間に挟む。ミラーボード４の一部の試験が終了した場合、図２に示すように、回転機構２の動力源２１は、主動リング２１１を用い、駆動部材２２により、従動リング２３並びに従動リング２３の頂端の回転ベース２４、回転盤２５及び回路基板挟持台３を回転させると、回路基板挟持台３上のミラーボード４が１８０度回転し、残り一部の試験を行う。試験が終了したミラーボード４は、ピックアップ装置１６により、送出ラック１５の良品領域１５１又は不良品領域１５２に送出され、後続工程に移行される。回転機構２により、試験作業の効率が上がり、ミラーボードに欠陥があるか否かを有効に試験し、製品の品質を向上させたり欠陥品が後続工程に悪影響を及ぼして損失を招くのを防止したりすることができる。
【００２２】
（考案の効果）
上記により、本考案の回路基板試験機の回転試験装置は、以下（１）及び（２）の効果を有する。
（１）回路基板挟持台の底端に配置された回転機構により、回路基板の回転試験を行い、ミラーボードの試験作業の効率を上げることができる。
（２）回転機構により試験作業の効率を上げることにより、ミラーボードに欠陥があるか否かを有効に試験し、製品の品質を向上させたり欠陥品が後続工程に悪影響を及ぼして損失を招くのを防止したりすることができる。
【００２３】
当該分野の技術を熟知するものが理解できるように、本考案の好適な実施形態を前述の通り開示したが、これらは決して本考案を限定するものではない。本考案の主旨と領域を脱しない範囲内で各種の変更や修正を加えることができる。従って、本考案の実用新案登録請求の範囲は、このような変更や修正を含めて広く解釈されるべきである。
【符号の説明】
【００２４】
１      ・・・台座
１１    ・・・穿孔部
１２    ・・・水平変位機構
１３    ・・・水平スライド台
１３１  ・・・開口部
１４    ・・・供給ラック
１５    ・・・送出ラック
１５１  ・・・良品領域
１５２  ・・・不良品領域
１６    ・・・ピックアップ装置
２      ・・・回転機構
２１    ・・・動力源
２１１  ・・・主動リング
２２    ・・・駆動部材
２３    ・・・従動リング
２４    ・・・回転ベース
２５    ・・・回転盤
３      ・・・回路基板挟持台
３１    ・・・可動アーム
３２    ・・・伝動ユニット
４      ・・・ミラーボード
【図１】
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【図２】
0003165540.tif 000004
【図３】
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【図４】
0003165540.tif 000006