【事件の表示】
　平成　９年特許願第３３９１５９号「液晶駆動基板の検査装置及びその検査方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１１年　７月　２日出願公開、特開平１１−１７４３９７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯
　本願は、平成９年１２月９日に特許出願したものであって、平成１９年８月１４日付けで手続補正がなされたが、同年９月４日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年１２月１０日に拒絶査定不服審判の請求がなされた後、当審において、平成２１年６月３日付けで拒絶理由が通知され、同年１２月９日付けで手続補正がなされたものである。
　
２　本願発明
　本願の請求項に係る発明は、平成２１年１２月９日付け手続補正後の明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし６に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、請求項１に係る発明は、次のとおりのものである。
　
「　画素電極が行列状に多数設けられた液晶駆動基板の検査装置であって、
　平板状に封止された液晶と該液晶の一面に備えられた透明電極とからなり、前記液晶を透明電極との間で挟込むように液晶駆動基板に対向配置される電気光学素子板と、
　前記画素電極と透明電極とに各々所定電圧を印加する電源装置と、
　前記電気光学素子板の表面の画像を撮影してその輝度に応じた画像信号を出力する撮像手段と、
　前記画像信号から得られる各画素電極のイメージ電圧を所定の検査しきい値と比較して電圧が正常に印加されない欠陥画素電極を検出し、該検出結果を液晶駆動基板の検査結果として出力する画像処理装置とからなり、
　該画像処理装置は、各画素電極のイメージ電圧から検査しきい値を算出し、
　検査しきい値は、各画素電極のイメージ電圧の平均値近傍の所定範囲内に包含される複数のイメージ電圧の平均値に所定の電圧値を加減算して算出されることを特徴とする液晶駆動基板の検査装置。」（以下「本願発明」という。）
　
３　刊行物の記載
（１）当審における拒絶理由通知に引用された、本願の出願前に頒布された刊行物である特開平５−２５６７９４号公報（以下「刊行物１」という。）には、以下の記載がある（下線は、審決で付した。）。
　
　ア「【請求項１】  基板上に形成された複数のゲート配線と複数のソース配線と複数の画素電極とを具備してなる薄膜トランジスタを有する液晶ディスプレイ基板を検査する装置において、
前記アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の上部に微小間隔をおいて対向配置され、電場を印加すると光学的性質が変化する電気光学素子と、前記電気光学素子に光を照射する光源と、前記電気光学素子に照射されて電気光学素子から出された光を捕らえる受光器と、前記アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板上の画素電極と前記電気光学素子との間に電圧を印加する電源と、前記受光器が捕らえた光の変化を測定する計測手段を具備してなることを特徴とするアクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の検査装置。」
　
　イ　「【００１６】
【実施例】図１は本発明に係る検査装置の一実施例の主要部の概略構成を示すもので、光源１と、この光源１によって検出光が入射される電気光学素子２と、この電気光学素子２からの反射光を受ける受光器３と、この受光器３に接続されたモニタ４とを具備し、電気光学素子２の対向面には、アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板５を配置できるようになっている。
【００１７】また、図中符号７は
電気光学素子２上面の薄膜透明電極２aとアクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板５との間に一定電圧を印加するための電圧印加装置
【００１８】前記光源１は、この実施例ではハロゲンランプからなるものであるが、光源１としてハロゲンランプの他に、各種レーザ光などを用いても良い。  前記電気光学素子２は、電界が印加されると光学的性能に変化を来す液晶シートあるいはポッケルス結晶板などからなる。図１に示す
電気光学素子２は、透明ケースの内部に液晶を封入した液晶シート８の底面に金蒸着膜などのような光反射体９を形成あるいは貼設してなる
【００１９】前記の液晶シート８は、具体的には、ＮＣＡＰ(Ｎematic  Ｃurvilinear  Ａligned  Ｐhase)などのように、液晶シート８内に造られる電界の大きさにより光の透過率が変化するものである。液晶シート８内に封入する液晶としては、水滴状の液晶を高分子、例えば、ポリマー中に分散させた液晶を内包する高分子の球形(ドロップレット)の大きさを調節し、電場のオン・オフで高分子と液晶の屈折率の一致、不一致によって透明・不透明を出現させる形式の液晶などが好適である。
【００２０】・・・前記
受光器３は、ＣＣＤカメラなどを用いる
・・・
【００２８】検査ヘッド２２の内部構造の概略は図１０に示し、内部の詳細構造の一例は図１１に示す。ただし、図１１中の各光学機器の配置状態は液晶パネルの設置位置または方向によって自由にレイアウトを変えることができる。図１０と図１１では、説明しやすいように、パネルを縦に設置した例を示す。
【００２９】検査ヘッド２２の内部には光源１と受光器３とが収納され、光源１と受光器３はビームスプリッタ３０にそれぞれ向けられている。ビームスプリッタ３０と光源１との間には調整用のレンズ３１とフィルタ３１aが、また、ビームスプリッタ３０と受光器３との間には調整用のレンズ３２がそれぞれ設けられている。更に、図１０のビームスプリッタ３０の左側には、電気光学素子２を装着したホルダ３３が設けられ、このホルダ３３は支持軸３４,３４に沿って図１０又は第５図の左右方向に平行移動できるようになっている。また、受光器３の前部にはズームレンズ３５が装着され、電気光学素子２からの反射光を効率良く受光器３に入射できるようになっている。
【００３０】以上の構成によれば、光源１から照射された検出光をビームスプリッタ３０によって電気光学素子２に照射し、次いで電気光学素子２の光反射体９で反射させた後にビームスプリッタ３０とレンズ３２とズームレンズ３５を通過させて受光器３に入射できるようになっている。なお、図１０において、符号４０は制御部を示し、この
制御部４０の内部には受光器３に電気的に接続されたＡ／Ｄ変換器４１とイメージプロセッサ４２とドライブサーキット４３とＣＰＵ４４とが組み込まれていて、イメージプロセッサ４２にはディスプレイ４が接続され、ＣＰＵ４４には操作盤２３が接続されている
【００３１】
前記制御部４０は、受光器３が受けた光の強さを相当電圧に変換し、その強さを表示するとともに、相当電圧の大小に応じてアクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板５の欠陥数と位置および種類をモニタ４に表示する
　
　ウ　「【００４０】以上のように液晶シート８を使用するならば、
前記画素電極１３…と電気光学素子２上面の薄膜透明電極２a間に電圧を印加することにより発生された電場を受けた電気光学素子２は、各画素電極１３により電場が変化すれば光の透過量がそれに応じて変化するようになる。
【００４１】次にステップＳ10においては、
受光器３が受けた光を制御部４０で演算して相当電圧を算出する。この相当電圧の値が特定できたならば、しきい値を基に各画素に発生している相当電圧をチェックし、ステップＳ11において画像の明暗または相当電圧値で画素の良否を判定する。
 　 
（２）同じく特開平４−２４４９３１号公報（以下「刊行物２」という。）には、以下の記載がある。
　
「【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、液晶ディスプレイの各画素の明るさは、光源などの影響によりむらを生じることが多い。このように、明暗のむらがある場合、標準データのしきい値と測定値とを比較すると、厳格的に判断されてしまう。すなわち、しきい値を低くすると、不良品でも良品になる確率が高くなり、しきい値を高く設定すると、良品でも不良品になる確率が高くなってしまう。
【０００４】それゆえに、この発明の主たる目的は、液晶ディスプレイの表示面を分割し、分割した領域の一部分の明度を検出して平均値を求め、その平均値と測定値とを比較して良品であるか否かの判別を行なうような光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は液晶ディスプレイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置であって、液晶ディスプレイを一方方向に移動させるための可動ステージと、液晶ディスプレイに検査のためのパターンを表示させる表示制御手段と、可動ステージの上方から液晶ディスプレイの表面の画像パターンを読取るイメージセンサと、イメージセンサの読取出力のうち、液晶ディスプレイの表示面を複数に分割し、分割されたそれぞれの領域の中心部分に対応する読取出力を平均化し、その平均値と表示面のそれぞれの画素の読取出力とを比較して液晶ディスプレイの欠陥を判別する判別手段を備えて構成される。」
　
４　引用発明
　上記３（１）によれば、刊行物１には、次の発明が記載されているものと認められる。
　
「 基板上に形成された複数のゲート配線と複数のソース配線と複数の画素電極とを具備してなる薄膜トランジスタを有する液晶ディスプレイ基板を検査する装置において、前記アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の上部に微小間隔をおいて対向配置され、電場を印加すると光学的性質が変化する、透明ケースの内部に液晶を封入した液晶シートの底面に金蒸着膜などのような光反射体を形成あるいは貼設してなる電気光学素子と、前記電気光学素子に光を照射する光源と、前記電気光学素子に照射されて電気光学素子から出された光を捕らえるＣＣＤカメラと、前記アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板上の画素電極と前記電気光学素子上面の薄膜透明電極との間に電圧を印加する電源と、前記ＣＣＤカメラが捕らえた、前記画素電極による電場の変化に応じた光の強さを相当電圧に変換して表示するとともに、しきい値を基に各画素に発生している相当電圧をチェックし、相当電圧の大小に応じてアクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の欠陥数と位置および種類をモニタに表示する制御部とを具備する、アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の検査装置。」（以下「引用発明」という。）
　
５　対比
 　本願発明と引用発明とを対比する。
　
（１）引用発明の「アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の検査装置」は、本願発明の「画素電極が行列状に多数設けられた液晶駆動基板の検査装置」に相当する。
 　 
（２）引用発明の「透明ケースの内部に液晶を封入した液晶シート」は、本願発明の「平板状に封止された液晶」に相当する。また、引用発明の「（透明ケースの内部に液晶を封入した液晶シートの底面に金蒸着膜などのような光反射体を形成あるいは貼設してなる）電気光学素子上面の薄膜透明電極」は、本願発明の「該液晶の一面に備えられた透明電極」に相当する。
　そして、本願明細書の「図１は、本実施形態における検査装置の機能構成図である。この図において、符号１は電気光学素子板（モジュレータ）であって、内部に液晶が平板状に封入された液晶シート１ａと薄膜透明電極１ｂと半導体反射膜１ｃとから構成されている。このモジュレータ１は、例えば方形状（３６ｍｍ×３６ｍｍ）の液晶シート１ａの片面に薄膜透明電極１ｂを貼り合わせ、かつもう一方の面に半導体反射膜１ｃを蒸着または貼り合わせて構成されている。」（【００１９】）との記載によれば、本願発明の「電気光学素子板」は、反射膜を備えていてもよいことが明らかであるから、引用発明の「透明ケースの内部に液晶を封入した液晶シートの底面に金蒸着膜などのような光反射体を形成あるいは貼設してなる電気光学素子」と「電気光学素子上面の薄膜透明電極」とは、本願発明の「平板状に封止された液晶と該液晶の一面に備えられた透明電極とからな・・・る電気光学素子板」に相当し、引用発明は、前記「電気光学素子」が「アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の上部に微小間隔をおいて対向配置」され、「薄膜透明電極」が「電気光学素子上面」にあるものであるから、本願発明の「平板状に封止された液晶と該液晶の一面に備えられた透明電極とからなり、前記液晶を透明電極との間で挟込むように液晶駆動基板に対向配置される電気光学素子板」を備えるといえる。
 　 
（３）引用発明の「前記アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板上の画素電極と前記電気光学素子上面の薄膜透明電極との間に電圧を印加する電源」及び「前記電気光学素子に照射されて電気光学素子から出された光を捕らえるＣＣＤカメラ」は、それぞれ、本願発明の「前記画素電極と透明電極とに各々所定電圧を印加する電源装置」及び「前記電気光学素子板の表面の画像を撮影してその輝度に応じた画像信号を出力する撮像手段」に相当する。
 　 
（４）引用発明の「前記ＣＣＤカメラが捕らえた、前記画素電極による電場の変化に応じた光の強さを相当電圧に変換して表示するとともに、しきい値を基に各画素に発生している相当電圧をチェックし、相当電圧の大小に応じてアクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の欠陥数と位置および種類をモニタに表示する制御部」は、本願発明の「前記画像信号から得られる各画素電極のイメージ電圧を所定の検査しきい値と比較して電圧が正常に印加されない欠陥画素電極を検出し、該検出結果を液晶駆動基板の検査結果として出力する画像処理装置」に相当する。
 　 
（５）以上によれば、本願発明と引用発明とは、
「　画素電極が行列状に多数設けられた液晶駆動基板の検査装置であって、
　平板状に封止された液晶と該液晶の一面に備えられた透明電極とからなり、前記液晶を透明電極との間で挟込むように液晶駆動基板に対向配置される電気光学素子板と、
　前記画素電極と透明電極とに各々所定電圧を印加する電源装置と、
　前記電気光学素子板の表面の画像を撮影してその輝度に応じた画像信号を出力する撮像手段と、
　前記画像信号から得られる各画素電極のイメージ電圧を所定の検査しきい値と比較して電圧が正常に印加されない欠陥画素電極を検出し、該検出結果を液晶駆動基板の検査結果として出力する画像処理装置とからなる液晶駆動基板の検査装置。」
である点で一致し、
「本願発明では、画像処理装置は、各画素電極のイメージ電圧から検査しきい値を算出し、検査しきい値は、各画素電極のイメージ電圧の平均値近傍の所定範囲内に包含される複数のイメージ電圧の平均値に所定の電圧値を加減算して算出されるのに対して、引用発明では、検査しきい値がどのように算出されるのか不明である点。」（以下「相違点」という。）
で相違するものと認められる。 
 　 
６　判断 
（１）本願明細書の「【請求項３】  検査しきい値は、各画素電極のイメージ電圧からサンプリングされた複数のイメージ電圧に基づいて算出されることを特徴とする請求項１記載の液晶駆動基板の検査装置。」及び「また、上記実施形態では、各液晶駆動基板Ａ1〜Ａ4について算出される全ての画素電極ａ2、つまり（ｎ×ｍ）個のイメージ電圧に基づいて検査しきい値を算出するが、この算出は検査プログラムに基づくソフトウエア的な処理によって行われるのである。したがって、検査しきい値を算出に係わる処理時間を短縮するために、（ｎ×ｍ）個のイメージ電圧の中から幾つかをサンプリングし、該サンプリングによって選択されたイメージ電圧（（ｎ×ｍ）個よりも少ない数のイメージ電圧）に基づいて検査しきい値を算出することが考えられる。」（【００５２】）との記載によれば、本願発明においてしきい値の算出に用いられる「複数のイメージ電圧の平均値」は、「サンプリングによって選択されたイメージ電圧の平均値」であってよいものと認められる。
　
（２）前記３（２）によれば、刊行物２には、液晶ディスプレイの各画素の明るさにむらがある場合、標準データのしきい値と測定値とを比較すると、不良品でも良品になったり、良品でも不良品になるといった問題が生じないように、液晶ディスプレイの表示面を分割し、分割されたそれぞれの領域の一部分の明度を検出して平均値を求め、その平均値と測定値とを比較して良品であるか否かの判別を行なう技術が記載されているものと認められる。
　してみると、「画素電極による電場の変化に応じた光の強さを相当電圧に変換して表示するとともに、しきい値を基に各画素に発生している相当電圧をチェック」する引用発明においても、上記の問題が生じないように、液晶ディスプレイ基板の表面を分割し、分割されたそれぞれの領域の一部分の領域の光の強さを変換して算出したイメージ電圧の平均値を求め、これをしきい値の基準値とすることは、刊行物２に記載された上記の技術に基づいて当業者が容易になし得る程度のことである。
　ここで、「液晶ディスプレイ基板の表面を分割し、分割されたそれぞれの領域の一部分の領域の光の強さを変換して算出したイメージ電圧の平均値を求め」ることは、上記（１）の「サンプリングによって選択されたイメージ電圧の平均値」を求めることに相当するものと認められる。
　そして、母集団を代表する値を求める際に、異常値を除いて平均値を算出することは常とう手段であるから、基準値とする平均値を算出するもとになる各画素電極のイメージ電圧を「平均値近傍の所定範囲内に包含される」ものとすることは、当業者が適宜なし得る程度のことである。
　また、しきい値を基準値に一定値を加減算したものとすることは、一般的なしきい値の設定手法である（例えば、原査定の拒絶の理由に引用された特開平４−２０８８３４号公報の【００１２】の記載にみられるように、液晶パネルの検査方法においても、一般的に用いられる手法である。）から、上記のとおり求めたイメージ電圧の平均値に所定の電圧値を加減算して検出しきい値を算出することは、当業者が当然考慮する程度のことである。
　
（３）そうすると、引用発明において、相違点に係る本願発明の構成とすることは、刊行物２に記載された技術に基づいて当業者が容易になし得たものというべきである。
　
（４）本願発明の奏する効果についてみても、刊行物１及び刊行物２の記載事項から当業者が予測できる範囲を超えるほどの格別顕著なものとは認められない。
　
（５）請求人の主張について
　請求人は、平成２１年１２月９日付け意見書において、
「　引用文献２（審決注、「刊行物２」をいう。）の発明は、審査官殿の引用された段落０００３の「液晶ディスプレイの各画素の明るさは、光源などの影響によりむらを生じることが多い。このように、明暗のむらがある場合、標準データのしきい値と測定値とを比較すると、厳格的に判断されてしまう。・・・」という記載から明らかなように、液晶ディスプレイの局部的な差異に対処するための技術です。
　
　これに対し、本願発明は、段落００１２、００１３、及び図１０の記載から明らかなように、液晶駆動基板Ａに付された位置補正用マークＭ１，Ｍ２による液晶駆動基板Ａの水平方向（ｘ軸方向）及び垂直方向（ｙ軸方向）の位置合わせでは調整できない、液晶駆動基板Ａの傾斜（ｚ軸方向のずれ）を考慮する技術、すなわち、液晶駆動基板の全域的な差異に対処するための技術です。
　特に、本願発明では、液晶駆動基板の局部的な差異には、外れ値の除外（本願請求項１、４）又は最頻値の利用（本願請求項２、５）による解決が図られているのであるから、引用文献２の「判別手段」は、本願発明の「画像処理装置」の一部分だけにしか相当しないものと思料いたします。
　本願各独立請求項の記載から明らかなように、本願発明では、各画素電極の局部的な差異の影響を排除して得られた値から所定の電圧値を加減算して下限検査しきい値と上限検査しきい値とを設定すること（換言すれば、対象となる画素電極全体から得た基準値に基づいて、適切な幅を有した検査しきい値を設定すること）によって、全域的な差異に対処することを特徴とします。
　
　このような局部的差異と全域的差異との両方に対処する技術は、引用文献２に開示されておりません。
　特に、引用文献２の発明では、局部的な差異に対処するために、図３に示されたように、液晶ディスプレイを比較的細かく分割する必要があり、また、段落０００４の「分割した領域の一部分の明度を検出して平均値を求める（図３の実施例においては、分割した領域の中心部分の明度を検出して平均値を求める）」という記載からも明らかなように、しきい値の決定においても、局所的なサンプリングによる手法を用いており、これらには液晶ディスプレイ全域を扱うという思想がまったく見られません。
　さらに、引用文献２の段落０００６の「その平均値と表示面のそれぞれの画素の読取出力とを比較することにより・・・」という記載、段落００１１の「パーソナルコンピュータ５はＣＣＤユニット４の読取出力と標準データとの一致を判別する」という記載などから明らかなように、引用文献２には、「幅を有したしきい値」に関する記載も欠けております。」
と主張する。
　しかし、刊行物２に記載された技術も、「液晶ディスプレイの表示面を分割し、分割されたそれぞれの領域の一部分の明度を検出して平均値を求め」るものであるから、液晶ディスプレイ全域を扱う技術といえるものであり、本願発明においてしきい値の算出に用いられる「複数のイメージ電圧の平均値」は、「サンプリングによって選択されたイメージ電圧の平均値」であってよいものと認められることは、前記（１）のとおりであるから、刊行物２に記載された技術が、しきい値の決定に局所的なサンプリングによる手法を用いるものであることをもって、本願発明と相違するということもできない。
　また、前記（２）のとおり、母集団を代表する値を求める際に、異常値を除いて平均値を算出することは常とう手段であるし、しきい値を基準値に一定値を加減算したものとすることは、一般的なしきい値の設定手法であるから、本願発明において、各画素電極のイメージ電圧の平均値近傍の所定範囲内に包含される複数のイメージ電圧の平均値に所定の電圧値を加減算して検査しきい値を算出した点に、格別の発明があるものと評価することはできない。
　よって、請求人の上記主張は、採用できない。
 　 
７　むすび
　以上の検討によれば、本願発明は、刊行物１に記載された発明及び刊行物２に記載された技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。