(57)【要約】【課題】各接触ユニットの体積を増加し、構造強度を高め、使用寿命を延長することができる回路板検査治具の提供。【解決手段】座体と、座体に設置され、相互に重ね合わされた第１密度板、第２密度板、第３密度板を含む密度板モジュールと、第２密度板と第３密度板の間に設置された規制薄膜と、密度板モジュール上に設置されたピンボードモジュールを含み、ピンボードモジュールが、第３密度板上に設置された板体と、第２密度板中にそれぞれ設置された接触ユニットと、各接触ユニット底面にそれぞれ接続され、かつ第１密度板から出て延伸された導線と、各接触ユニット上端に可動的に設置され、かつ規制薄膜により位置が規制される付勢ピンと、各付勢ピンにそれぞれ当接され、かつ板体上に設置されたプローブを含む回路板検査治具である。【選択図】図７
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
回路板検査治具であって、
座体と、
前記座体の一側に設置され、相互に重ね合わされた第１密度板、第２密度板、及び第３密度板を含む密度板モジュールと、
前記第２密度板と第３密度板の間に設置された規制薄膜と、
前記密度板モジュール上に設置され、前記第３密度板上に設置された板体と、前記第２密度板中にそれぞれ設置された接触ユニットと、前記各接触ユニット底面にそれぞれ接続され、かつ前記第１密度板から出て延伸された導線と、前記各接触ユニットの上端に可動的に設置され、かつ前記規制薄膜により位置が規制される付勢ピンと、前記各付勢ピンとそれぞれ当接され、かつ前記板体上に設置されたプローブを含むピンボードモジュールと、
を有することを特徴とする回路板検査治具。
【請求項２】
座体上に複数のソケットが設けられ、各ソケットが導線とそれぞれ接続された請求項１に記載の回路板検査治具。
【請求項３】
第１密度板、第２密度板、及び第３密度板上に複数の相互に対応する通孔が設けられ、各接触ユニットが前記第２密度板の各通孔中にそれぞれ設置され、各導線が前記第１密度板の各通孔から出てそれぞれ延伸され、各付勢ピンが前記第３密度板の各通孔中にそれぞれ設置され、かつ規制薄膜により位置が規制される請求項１から２のいずれかに記載の回路板検査治具。
【請求項４】
各接触ユニットの下端が導線に接続され、かつ上端が付勢ピンと相互に係合された請求項１から３のいずれかに記載の回路板検査治具。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、回路板検査治具に関し、特に、各接触ユニットの体積を増加し、構造強度を高め、使用寿命を延長する効果を備えた回路板検査治具に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的な従来の回路板検査治具（図１、図２、及び図３参照）は、主に座体６、密度板モジュール７、ピンボード８、接触ユニット９を含んで構成される。前記座体６上には複数の各測試計器プラグの接続に供する検査ソケット６２が設けられ、各検査ソケット６２には導線６１が接続され、前記ピンボード８は被検査回路板５の回路上の検査対象点に基づいて複数の上下方向に貫通されたプローブ８１を有する。前記密度板モジュール７は、第１密度板７１、第２密度板７２、第３密度板７３、及び規制薄膜７４を含んで構成される。そのうち、前記規制薄膜７４は、第２密度板７２と第３密度板７３の間に設置され、かつ前記第１密度板７１、第２密度板７２、及び第３密度板７３上に複数の相互に連通された孔部７１１、７２１、及び７３１が設けられ、かつ各第２密度板７２と第３密度板７３の孔部７２１、７３１内にそれぞれ接触ユニット９が収容される。各接触ユニット９は、プランジャ９１、プランジャ９１内に設置されたスプリング９２を備えている。前記スプリング９２とプローブ８１の間に付勢ピン９３が設置され、各導線６１が各プランジャ９１底部にそれぞれ接続され、各プランジャ９１が前記規制薄膜７４に穿刺された後、その頚部が規制薄膜７４によって位置規制される。これにより、前記被検査回路板５がプローブ８１、スプリング９２、導線６１、検査ソケット６２を介して外部の検査機器と電気的に接続される。
【０００３】
しかしながら、各接触ユニット９は設置時に、プランジャ９１の頚部が規制薄膜７４によって位置規制され、各接触ユニット９が規制薄膜７４の規制を受けるため、その体積を増加させることができず、各接触ユニット９の体積が比較的細小となっており、全体の構造強度が比較的弱く、その使用寿命に影響する。
【０００４】
このため、本考案は、各接触ユニットの体積を増加し、構造強度を高め、使用寿命を延長することができる回路板検査治具を開示するものである。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００５】
上述の従来の回路板検査治具の欠点に鑑みて、考案者は、その不完全な点について研究を重ね、関連産業に従事した長年の経験の蓄積に基づき、回路板検査治具の改良の開発に至ったものであり、各接触ユニットの体積を増加し、構造強度を高め、使用寿命を延長するという目的を達成する。
【０００６】
本考案の主な目的は、各接触ユニットを第２密度板中に設置し、かつ各付勢ピンを規制薄膜で位置規制することにより、各接触ユニットの体積を増加し、構造強度を高め、使用寿命を延長することができる回路板検査治具を提供するところにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述の目的を達するため、本考案の回路板検査治具は、座体と、座体の一側に設置され、相互に重ね合わされた第１密度板、第２密度板、及び第３密度板を含む密度板モジュールと、第２密度板と第３密度板の間に設置された規制薄膜と、密度板モジュール上に設置されたピンボードモジュールを含み、前記ピンボードモジュールが、第３密度板上に設置された板体と、第２密度板中にそれぞれ設置された接触ユニットと、各接触ユニット底面にそれぞれ接続され、かつ第１密度板から出て延伸された導線と、各接触ユニット上端に可動的に設置され、かつ規制薄膜により位置が規制される付勢ピンと、各付勢ピンにそれぞれ当接され、かつ板体上に設置されたプローブを含む。
【０００８】
本考案の好適な一実施形態において、前記座体上に複数のソケットが設けられ、各ソケットがそれぞれ導線と接続される。
【０００９】
本考案の好適な一実施形態において、前記第１密度板、第２密度板、及び第３密度板上に複数の相互に対応する通孔が設けられ、各接触ユニットが第２密度板の各通孔中にそれぞれ設置され、各導線が第１密度板の各通孔から出てそれぞれ延伸され、各付勢ピンが第３密度板の各通孔中にそれぞれ設置され、かつ規制薄膜により位置が規制される。
【００１０】
本考案の好適な一実施形態において、前記各接触ユニットの下端は導線と接続され、かつ上端が付勢ピンと相互に係合される。
【考案の効果】
【００１１】
本考案の回路板検査治具は、各接触ユニットを第２密度板中に設置し、かつ各付勢ピンを規制薄膜により位置規制することができ、これにより、各接触ユニットの体積を増加し、構造強度を高め、使用寿命を延長する効果を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】図１は、従来の回路板検査治具の分解図である。
【図２】図２は、従来の回路板検査治具の断面図である。
【図３】図３は、図２のＡ部分の部分拡大図である。
【図４】図４は、本考案の回路板検査治具の一例を示す分解図である。
【図５】図５は、本考案の回路板検査治具の一例を示す立体図である。
【図６】図６は、本考案の回路板検査治具の一例を示す断面図である。
【図７】図７は、図６のＢ部分の部分拡大図である。
【考案を実施するための形態】
【００１３】
本考案の目的、特徴及び効果を十分に理解できるように、以下で具体的な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら、本考案について詳細に説明する。
【００１４】
図４は、本考案の回路板検査治具の一例を示す分解図、図５は、本考案の回路板検査治具の一例を示す立体図、図６は、本考案の回路板検査治具の一例を示す断面図、図７は、図６のＢ部分の部分拡大図をそれぞれ示す。これらの図に示すように、本考案の回路板検査治具は、座体１と、密度板モジュール２と、規制薄膜３と、ピンボードモジュール４とを含んで構成される。
【００１５】
前記座体１上には複数のソケット１１が設置される。
【００１６】
前記密度板モジュール２は、座体１の一側に設置され、相互に重ね合わされた第１密度板２１、第２密度板２２、及び第３密度板２３を含み、前記第１密度板２１、第２密度板２２、及び第３密度板２３上に複数の相互に対応する通孔２１１、２２１、２３１が形成される。
【００１７】
前記規制薄膜３は、第２密度板２２と第３密度板２３の間に設置される。
【００１８】
前記ピンボードモジュール４は、密度板モジュール２上に設置され、第３密度板２３上に設置された板体４１と、第２密度板２２中にそれぞれ設置された接触ユニット４２と、各接触ユニット４２底面にそれぞれ接続され、かつ第１密度板２１から出て延伸されて、各ソケット１１に接続された導線４３と、各接触ユニット４２上端にそれぞれ可動的に設置され、かつ規制薄膜３により位置が規制された付勢ピン４４と、各付勢ピン４４とそれぞれ当接され、かつ板体４１上に設置されたプローブ４５を含んで構成される。そのうち、各接触ユニット４２は第２密度板２２の各通孔２２１中にそれぞれ設置され、各導線４３は第１密度板２１の各通孔２１１から出てそれぞれ延伸され、各付勢ピン４４は第３密度板２３の各通孔２３１中にそれぞれ設置され、かつ規制薄膜３により位置規制され、かつ各接触ユニット４２の下端が導線４３と接続され、上端が付勢ピン４４と相互に係合される。
【００１９】
本考案の使用時は、前記被検査回路板５をピンボードモジュール４の板体４１上に固定し、被検査回路板５上の検査対象点と各プローブ４５を接触させて、信号を各付勢ピン４４から各接触ユニット４２の導線４３を経由してソケット１１に接続された検査機器上（図示しない）に伝送し、１つの検査回路を形成することができる。本考案の各接触ユニット４２は、第２密度板２２中に設置されており、かつ各付勢ピン４４は規制薄膜３に穿刺された後位置規制されるため、各接触ユニット４２が規制薄膜３の規制を受けず、各接触ユニット４２の体積を増加することができ、各接触ユニット４２の構造強度を高め、使用寿命を延長する効果を奏することができる。
【００２０】
上述のように、本考案は、新規性、進歩性、及び産業上の利用可能性という三要件を完全に満たしている。新規性と進歩性についてみると、本考案は各接触ユニットを第２密度板中に設置し、かつ各付勢ピンを規制薄膜で位置規制することで、各接触ユニットの体積を増加することができ、構造強度を高め、使用寿命を延長するという効果を奏することができる。産業上の利用可能性についてみると、本考案を利用して派生する製品は、充分に現在の市場ニーズを満たすことができる。
【符号の説明】
【００２１】
６      座体
６１      導線
６２      検査ソケット
７      密度板モジュール
７１      第１密度板
７１１、７２１、７３１      孔部
７２      第２密度板
７３      第３密度板
７４      規制薄膜
８      ピンボード
８１      プローブ
９      接触ユニット
９１      プランジャ
９２      スプリング
９３      付勢ピン
１      座体
１１      ソケット
２      密度板モジュール
２１      第１密度板
２１１、２２１、２３１    通孔
２２      第２密度板
２３      第３密度板
３      規制薄膜
４      ピンボードモジュール
４１      板体
４２      接触ユニット
４３      導線
４４      付勢ピン
４５      プローブ
５      被検査回路板
【図１】
0003170554.tif 000003
【図２】
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【図３】
0003170554.tif 000005
【図４】
0003170554.tif 000006
【図５】
0003170554.tif 000007
【図６】
0003170554.tif 000008
【図７】
0003170554.tif 000009