【事件の表示】
　平成　９年特許願第５０３３５５号「多重角度多重波長粒子特性決定装置および方法」拒絶査定不服審判事件〔平成　８年１２月２７日国際公開、ＷＯ９６／４２００６、平成１１年　７月　６日国内公表、特表平１１−５０７７３５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は平成８年６月１３日（パリ条約による優先権主張外国庁受理１９９５年６月１３日　米国）を国際出願日とする出願であって、平成２０年４月２４日付けで拒絶査定がされ、これに対し、同年８月５日に拒絶査定不服審判の請求がされるとともに、同年９月４日付けで手続補正（以下、「本件補正」という。）がなされたものである。
　
　
第２　本件補正の補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成２０年９月４日付けの手続補正を却下する。
［理由］
１．補正後の本願発明
　本件補正は、特許請求の範囲を補正するものであって、平成１８年１２月４日付けの手続補正書の特許請求の範囲の請求項１を、以下のとおり補正するものである。（下線部は補正箇所を示す。）
「　高分子、ポリマー、及び微生物のうちの一つから成り一般に１０ｎｍから２０μｍまでの範囲のサイズを有する懸濁粒子を含む試料の特性を決定するための装置であって、
　試料の一体積部分に光エネルギーを与えるよう配置された照射手段であって、該光エネルギーは所定の波長領域に亘って与えられる前記照射手段、
　試料を中心として複数の観測角度にて放射状に配置され、かつ、試料の前記体積部分から出てくる前記波長領域に対応した光エネルギースペクトルを前記複数の角度にて同時に検知するための複数の光エネルギー検知手段、
　前記検知手段と接続され前記所定の波長領域に応答し、かつ、各観測角度に対して波長の関数として強度スペクトルを表す信号を検知光エネルギーから与えるための変換手段
であって、前記信号が波長の関数としてかつ前記複数の角度の関数として散乱スペクトルと吸収スペクトルの両方を含んでいる前記変換手段
　各観測角度に対して
波長の関数として強度スペクトルを表す前記信号
の手段か
を含む上記装置。」（以下、「本願補正発明」という。）
　上記補正は、（ｉ）「各観測角度に対して散乱スペクトルと吸収スペクトルを前記信号から同時に求めるための手段」を削除し、（ii）「前記散乱スペクトルと吸収スペクトルから粒子特性を計算するための計算手段」を「各観測角度に対して
波長の関数として強度スペクトルを表す前記信号
の手段
波長の関数としてかつ前記複数の角度の関数として散乱スペクトルと吸収スペクトルの両方を含んでいる
　補正事項（iii）は、発明特定事項の減縮を目的とするものといえるものの、補正事項（ｉ）は構成を削除するものであり、補正事項（ii）は計算に用いるスペクトルを置換するものであるから、これらの補正事項は、請求項の削除、特許請求の範囲の減縮、誤記の訂正、明りょうでない記載の釈明の、いずれを目的とするものでもない。
　したがって、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第第４項の規定に違反するものである。
　
　仮に、本件補正が特許請求の範囲の減縮を目的とするものであるとして、本願補正発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について以下に検討する。
　
２．引用刊行物記載の発明
（１）平成１８年５月３１日付けの拒絶理由通知に引用され、本願の優先権主張の日前である平成３年６月１８日に頒布された刊行物である　北川洋一，光ファイバ粒子径モニタの開発，兵庫県工業技術情報，兵庫県立工業技術センター，No.９７，p.４−５（以下、「引用例１」という。）には、以下の記載がある。
［１ａ］「　そこで、光ファイバを応用し、小型・軽量で取扱いが容易なインプロセス計測用粒子径モニタの開発を行った。」（第４頁右欄第６〜８行）
［１ｂ］「３．実験
　図２に示す構成で、散乱光のスペクトルから粒子径を求める実験を行った。光源には７５ＷのＸｅランプを用い、コア径２００μｍのステップインデックス型光ファイバにより導いて０．２５ピッチのロッドレンズを通して測定対象に照射した。散乱光は直径２ｍｍ，０．２５ピッチのロッドレンズにより受光してコア径２００μｍのステップインデックス型光ファイバにより導き、３００ｌｉｎｅｓ／ｍｍ、ブレーズ波長５５０ｎｍのグレーティングを用いた分光器によりスペクトルの測定を行った。散乱光強度の変動によるスペクトルの測定誤差を取り除くため、光電変換器には１０２４ｃｈフォトダイオードアレイを用い、スペクトルの同時測定を行った。フォトダイオードアレイの出力は、Ａ／Ｄ変換してパソコンへ入力し、測定スペクトルの平均化、光ファイバの透過特性や光電変換器の感度の波長依存性を取り除くための処理を行った。測定対象には、ポリスチレン球の標準試料（直径：３３０，４８２，６０５，８０４，１０９０ｎｍ，１０％ｗｔ）を純粋により約１０５倍に希釈したものを用いた。」（第４頁右欄第２５行〜第５頁左欄第１３行）
［１ｃ］「４．実験結果
　受光方向θ＝５８°と４７°において散乱光スペクトルの測定を行った。θ＝５８°における測定結果を図３に示す。図３の上が実験値、下がＭｉｅの散乱理論から求めた値である。この図からわかるように、実験値と理論値はよく一致しており、光ファイバを用いて散乱光のスペクトルを精度良く測定できることを確認することができた。
　測定されたスペクトルから粒子径を求める方法として、あらかじめ理論計算により求めておいたスペクトルとの２乗誤差が最小になる粒子径を測定対象の粒子径とするという方法を試みた。理論計算により求めておくスペクトルを、粒子径２００−２０００ｎｍの範囲で２０ｎｍ間隔とし、図３に示す実験値に対してこの方法により粒子径を求めた結果を表１に示す。この表からわかるように、測定値から求めた値とスペック値はよく一致しており、この方法により粒子径が求められることを確認することができた。」（第５頁左欄第１４行〜同頁右欄第７行）
　上記［１ａ］〜［１ｃ］の記載によれば、引用例１には、
「光源には７５ＷのＸｅランプを用い、ステップインデックス型光ファイバにより導いてロッドレンズを通して測定対象に照射し、散乱光はロッドレンズにより受光してステップインデックス型光ファイバにより導き、フォトダイオードアレイを用いて受光方向θ＝５８°と４７°においてスペクトルの同時測定を行い、フォトダイオードアレイの出力はパソコンへ入力し、測定スペクトルの平均化、光ファイバの透過特性や光電変換器の感度の波長依存性を取り除くための処理を行い、測定されたスペクトルから粒子径を求める、測定対象には、直径：３３０，４８２，６０５，８０４，１０９０ｎｍのポリスチレン球の標準試料を純粋により約１０５倍に希釈したものを用いたインプロセス計測用粒子径モニタ。」の発明（以下、「引用例１発明」という。）が記載されていると認められる。
　
（２）平成１８年５月３１日付けの拒絶理由通知に引用され、本願の優先権主張に日前に頒布された刊行物である特開昭６１−１２０９４７号公報（以下、「引用例２」という。）には、以下の記載がある。
［２ａ］「［産業上の利用分野］
　本発明は、種々の光散乱測定に広く利用される新しいタイプの光散乱セル及び光散乱測定方法に係わる。」（第２頁右下欄第２〜５行）
［２ｂ］「［発明が解決しようとする問題点］
　重要な実験プログラムや工業プログラムには、多くの場合光散乱法による懸濁微粒子の測定が伴なう。その主なものとして、各種溶媒中に懸濁している未知の溶質の分子量を測定する光散乱測定である。」（第３頁左下欄第１０〜１５行）
［２ｃ］「［問題点を解決するための手段］
　そこで本発明は、極めて少量の液体サンプルに対して光散乱測定を行うための新しいタイプのセル及びその方法を開示する。本発明の好ましい実施例は、直径方向に透孔を有する真円筒体から成る。円筒体及び透孔は光学的に磨かれており、円筒体は、透孔を含む平面内に底と平行に配置された検知器群で囲まれている。粒子を含むサンプル流体を導入及び排出する手段を設ける。この手段によって透孔へ導入されるサンプルに、透孔の直径よりもはるかに小さい直径を有する平行光束ビームを照射する。このビームは透孔を直接的に通過し、セルの外側に設けた特殊な窓を通ってセルに入出する。流体とこれを囲むガラス・セルの屈折率にはわずかな差があるから、極めて小さい散乱角度ではあるが、微量の散乱またはバックグラウンド光が検知器に入射する。本発明は、従来の光散乱測定装置における検知器飽和の原因である微小角散乱光を減衰させる手段をも設ける。入射ビームの強さに対して検知散乱光の強さを正規化する新規方法と共にその他のセル構造をも開示する。」（第４頁左上欄第９行〜同頁右上欄第１０行）
［２ｄ］「　セルに形成する透孔４は、例えばセル中心部の小さい球形空洞のような別の構造を含むことができる。この空洞は、セル中心部からの散乱光が半径方向の線に沿ってセルから検知手段へ進むことを可能にする。このように構成すれば、液体／ガラス界面における散乱光線の非垂直性に起因する前記界面における屈折の問題が解消される。従って、視野が透孔４によって妨げられるものを除くすべての検知手段が同時に空洞中心を走査することになる。このような構成は、例えば、複数の検知手段が同時に同一場所の同一粒子を走査しなければならない単一粒子走査において重要である。」（第７頁左上欄第１５行〜同頁右上欄第６行）
［２ｅ］第３図には、放射状に配置され視準された検知器に囲まれた円筒状散乱セルが記載されている。
［２ｆ］第５図には、放射状に配置された正規化ビーム・モニタ、数個の検出手段で囲まれたセルが記載されている。
　
３．対比
　本願補正発明と引用例１発明とを対比する。
（ア）引用例１発明の「測定されたスペクトルから粒子径を求める、測定対象には、直径：３３０，４８２，６０５，８０４，１０９０ｎｍのポリスチレン球の標準試料を純粋により約１０５倍に希釈したものを用いたインプロセス計測用粒子径モニタ」は、本願補正発明の「高分子、ポリマー、及び微生物のうちの一つから成り一般に１０ｎｍから２０μｍまでの範囲のサイズを有する懸濁粒子を含む試料の特性を決定するための装置」に包含される。
（イ）引用例１発明の「光源には７５ＷのＸｅランプを用い、ステップインデックス型光ファイバにより導いてロッドレンズを通して測定対象に照射」する手段は、本願補正発明の「試料の一体積部分に光エネルギーを与えるよう配置された照射手段であって、該光エネルギーは所定の波長領域に亘って与えられる前記照射手段」に相当する。
（ウ）引用例１発明の「散乱光はロッドレンズにより受光してステップインデックス型光ファイバにより導き」、「受光方向θ＝５８°と４７°においてスペクトルの同時測定を行」う「フォトダイオードアレイ」と本願補正発明の「試料を中心として複数の観測角度にて放射状に配置され、かつ、試料の前記体積部分から出てくる前記波長領域に対応した光エネルギースペクトルを前記複数の角度にて同時に検知するための複数の光エネルギー検知手段」とは、「試料を中心として複数の観測角度にて配置され、かつ、試料の前記体積部分から出てくる前記波長領域に対応した光エネルギースペクトルを前記複数の角度にて検知するための複数の光エネルギー検知手段」である点で共通する。
（エ）引用例１発明の「測定スペクトルの平均化、光ファイバの透過特性や光電変換器の感度の波長依存性を取り除くための処理を行」う「パソコン」と、本願補正発明の「前記検知手段と接続され前記所定の波長領域に応答し、かつ、各観測角度に対して波長の関数として強度スペクトルを表す信号を検知光エネルギーから与えるための変換手段であって、前記信号が波長の関数としてかつ前記複数の角度の関数として散乱スペクトルと吸収スペクトルの両方を含んでいる前記変換手段」とは、「前記検知手段と接続され前記所定の波長領域に応答し、かつ、各観測角度に対して波長の関数として強度スペクトルを表す信号を検知光エネルギーから与えるための変換手段であって、前記信号が波長の関数としてかつ前記複数の角度の関数として散乱スペクトルを含んでいる前記変換手段」である点で共通する。
（オ）引用例１発明は、「測定されたスペクトルから粒子径を求める」ことから、本願補正発明の「各観測角度に対して波長の関数として強度スペクトルを表す前記信号から粒子特性を計算するための手段から成る処理手段」を有しているといえる。
　したがって、両者は、
「高分子、ポリマーのうちの一つから成り３３０ｎｍから１０９０ｎｍまでの範囲のサイズを有する懸濁粒子を含む試料の特性を決定するための装置であって、試料の一体積部分に光エネルギーを与えるよう配置された照射手段であって、該光エネルギーは所定の波長領域に亘って与えられる前記照射手段、試料を中心として複数の観測角度にて配置され、かつ、試料の前記体積部分から出てくる前記波長領域に対応した光エネルギースペクトルを前記複数の角度にて検知するための複数の光エネルギー検知手段、前記検知手段と接続され前記所定の波長領域に応答し、かつ、各観測角度に対して波長の関数として強度スペクトルを表す信号を検知光エネルギーから与えるための変換手段であって、前記信号が波長の関数としてかつ前記複数の角度の関数として散乱スペクトルを含んでいる前記変換手段、及び各観測角度に対して波長の関数として強度スペクトルを表す前記信号から粒子特性を計算するための手段から成る処理手段、を含む上記装置。」である点で一致し、以下の点で相違している。
［相違点１］複数の光エネルギー検知手段が、本願補正発明では放射状に配置され、同時に検知するものであるのに対し、引用例１発明では５８°と４７°に配置され、同時に検知すると規定されていない点。
［相違点２］強度スペクトルを表す信号が、本願補正発明では散乱スペクトルと吸収スペクトルの両方を含んでいるのに対し、引用例１発明では散乱スペクトルを含むものの吸収スペクトルを含むものであるかが不明である点。
　
４．判断
　上記相違点について検討する。
［相違点１］について
　引用例２の［２ｅ］および［２ｆ］には、懸濁微粒子の光散乱測定に用いられる検知器を、放射状に配置することが記載されている。さらに、例えば、特開平３−１１５９５０号公報の図面にも、光散乱法に基づく粒度分布測定装置において、フローセル２の周囲に光センサ６，７および８が放射状に配置された実施例が記載されており、粒子の光散乱測定において用いられる検知手段を放射状に配置することは周知である。
　また、引用例２の［２ｄ］には、複数の検知手段が同時に同一場所の同一粒子を走査することが記載されている。さらに、例えば、特表昭６３−５００３３４号公報の請求の範囲の請求項１には、散乱光の２つの角度成分を同時に測定することが記載されており、光散乱測定において、複数の角度における検知を同時に行うことも周知である。
　したがって、引用例１発明において、引用例２に記載された上記周知技術を適用し、複数の光エネルギー検知手段を放射状に配置し、同時に検知するように構成することは、当業者が容易に想到しうることである。
　
［相違点２］について
　粒子に光を照射した場合に、散乱および吸収が生じることは周知である。例えば、特表昭６３−５００３３４号公報の第２頁左上欄下から９行〜同頁右上欄第３行には、フローサイトメーターで、層流によって運ばれる各微粒子が１つづつ高光度の励起光の焦点中を通る時に、顕微鏡的サイズの個々の微粒子からの測光信号が測定され、測定できる測光信号として散乱光とともに光吸収が挙げられている。また、特開平４−２８３６４８号公報の段落【０００７】には、「円偏光の投射光は粒子により主軸を中心に全方向へ散乱され、また投射光の一部は粒子内に吸収される。」と記載されている。
　したがって、引用例１発明において、強度スペクトルを表す信号が、上記周知技術に記載されるように散乱スペクトルと吸収スペクトルの両方を含むようにすることは、当業者が適宜なし得ることである。
　
　そして、本願補正発明の効果は、引用例１および引用例２に記載された発明から当業者が予測できる範囲のものであって、格別なものであるとはいえない。
　
　したがって、本願補正発明は、引用例１および引用例２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
５．むすび
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項の規定に違反するか、または、同法第１７の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
　
第３　本願発明
１．特許を受けようとする発明
　本件補正は、上記のとおり却下されることとなったので、本願の請求項１〜２２に係る発明は、平成１８年１２月４日付けの手続補正書の特許請求の範囲の請求項１〜２２に記載された事項により特定されるとおりのものと認められ、その請求項１に係る発明は、以下のとおりである。
「　高分子、ポリマー、及び微生物のうちの一つから成り一般に１０ｎｍから２０μｍまでの範囲のサイズを有する懸濁粒子を含む試料の特性を決定するための装置であって、
　試料の一体積部分に光エネルギーを与えるように配置された照射手段であって、該光エネルギーは所定の波長領域に亘って与えられる前記照射手段、
　試料を中心として複数の観測角度にて放射状に配置され、かつ、試料の前記体積部分から出てくる前記波長領域に対応した光エネルギースペクトルを前記複数の角度にて同時に検知するための複数の光エネルギー検知手段、
　前記検知手段と接続され前記所定の波長領域に応答し、かつ、各観測角度に対して波長の関数として強度スペクトルを表す信号を検知光エネルギーから与えるための変換手段、及び
　各観測角度に対して散乱スペクトルと吸収スペクトルを前記信号から同時に求めるための手段と、前記散乱スペクトルと吸収スペクトルから粒子特性を計算するための計算手段とから成る処理手段、
を含む上記装置。」（以下、「本願発明」という。）
　
２．原査定の理由
　原査定の拒絶の理由の概要は、本願の発明の詳細な説明には単一の強度スペクトルから散乱スペクトルと吸収スペクトルを分離して求める具体的手法については一切記載されておらず、発明の詳細な説明からはいかに散乱スペクトルと吸収スペクトルを分離するのか把握することはできないから、当業者が請求項１〜２２に係る発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載されていないので、特許法第３６条第４項に規定する要件を満たしていないというものである。
　
３．当審の判断
　本願発明は、「各観測角度に対して散乱スペクトルと吸収スペクトルを前記信号から同時に求めるための手段」を必須の構成要件とするものである。そして、「前記信号」が「強度スペクトルを表す信号」であることは明らかであるから、上記手段は、各観察角度に対して、強度スペクトルを表す信号から散乱スペクトルと吸収スペクトルを同時に求めるための手段であるといえる。
　
　一方、本願明細書の発明の詳細な説明には、以下の記載がある。
（ア）「吸収スペクトルおよび光散乱を、高分子の組成および分子量ならびに粒子の重量を測定するために使用することが、当該技術に周知である。」（明細書第１頁第８〜９行）
（イ）「吸収高分子の場合には、式（８）および（９）は、発色吸収の加法性の仮定のもとに、いくつかの波長における角度測定の組み合わせにより、試料組成、分子量および形状の推定を可能にし得る。」（明細書第３頁第２２〜２４行）
（ウ）「 さらに、この装置は、検出手段と交信する変換手段を備える。該変換手段は、検知された光エネルギーからスペクトル強度を表す信号を、各観測角度の波長関数として提供する。好ましい実施態様においては、該変換手段は、プロセッサーと交信する分光光度計カードを備える。
  粒径分布、形状、配座変化、組成および／または組成変化情報を提供するために、ソフトウエアが適する計算を行うプロセッサーにロードされる。」（第４頁第２５行〜第５頁第１行）
（エ）「装置の別の構成要素としては、センサーと交信する変換手段がある。変換手段は、各観測角度１０６に対して波長の関数として強度スペクトルを表す信号を、検知した光エネルギーから作り出す。好適実施態様では、各センサーからの信号は、分光光度計カード５０が集積されたプロセッサー４０に送られる。この装置では一つの分光光度計カード５０は一つのセンサー入力を扱うことができ、従って、センサーの数と同じ数の分光光度計カード５０が設けられる。例えば、６つのセンサーを有する実施態様では、６つの分光光度計カード５０が必要となる。」（第６頁第２５行〜第７頁第２行）
（オ）「装置２０が照射されている試料に対する多重角度多重波長スペクトルを一旦獲得すると、プロセッサー４０に内在するソフトウエア手段を用いて、上記概説したような理論に基づいた幾つかの粒子特性のうちのどんなものも計算できる。例えば、粒子のサイズ分布、形状、粒子組成、及び粒子の形状と組成の経時変化は、イメージ化ソフトウエアを用いて、収集された散乱及び／又は吸収スペクトルから計算できる。」（明細書第７頁第６〜１１行）
　
　上記、発明の詳細な説明の記載によれば、吸収スペクトルおよび光散乱を高分子の粒子の重量を測定するために使用することが周知であること、吸収高分子の場合には、測定角度の組み合わせにより試料組成、分子量および形状の推定が可能であること、変換手段はスペクトル強度を表す信号を各観察角度の波長関数として提供すること、プロセッサーにソフトウエアがロードされ、粒子特性を計算すること、について記載されているといえるものの、粒子特性を計算する際に吸収スペクトルおよび散乱スペクトルを用いることが記載されているとはいえず、スペクトル強度から吸収スペクトルおよび散乱スペクトルを同時に求めることについて、どのように実施するのかが記載されているとはいえない。
　次に、各観察角度に対して、強度スペクトルを表す信号から散乱スペクトルと吸収スペクトルを同時に求めることが自明であるかについて検討すると、例えば、特開昭５０−１６００８８号公報の第２頁左上欄第４行〜同頁右上欄第１０行および第２頁右下欄第１２行〜第３頁左上欄第１４行には、試料中の微粒子の表面で反射して生じる散乱光を入射する光電変換素子３および４と、光学セル２およびその内部の試料を透過した光を入射する第３の光電変換素子５を設け、吸収特性などの影響を除くために、第３の光電変換素子５の出力を使用して光電変換素子３および４の出力を補正することが記載されている。上記刊行物は、強度を表す信号から散乱信号と吸収信号を同時に求めるものであるといえるが、吸収信号は第３の光電変換素子５のみから求められるものであるから、各観察角度に対して強度を表す信号から散乱信号および吸収信号を求めることができるものではない。
　また、審判請求の理由および意見書を参酌しても、請求人は、各観察角度に対して、強度スペクトルを表す信号から散乱スペクトルと吸収スペクトルを同時に求めることが自明であったことを証拠をもって示していないから、請求人が平成２０年３月１７日付けの意見書で主張するような「単一の強度スペクトルから散乱スペクトルと吸収スペクトルを分離して求める手法」が自明であるとはいえない。
　したがって、本願の発明の詳細な説明には、各観察角度に対して散乱スペクトルと吸収スペクトルを強度スペクトルを表す信号から同時に求めるための手段を必須の要件とする本願発明を、当業者が実施することができる程度に明確かつ十分に記載されているとはいえない。
　
４．むすび
　以上のとおり、本願は、特許法第３６条第４項の要件を満たしておらず、拒絶をすべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。