【手続補正書】
【提出日】平成24年8月3日(2012.8.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
【図１】本発明による一実施の形態に係る表示装置の構成の一例を表す概略図である。
【図２】表示領域の画素回路の構成の一例を表す概略図である。
【図３】非表示領域の画素回路の構成の一例を表す概略図である。
【図４】図１の表示パネルの構成の一例を表す上面図である。
【図５】電流劣化率の経時変化の一例を初期電流ごとに表す特性図である。
【図６】電流劣化率と、初期電流ＳSのダミー画素の電流劣化率との関係の一例を表す関係図である。
【図７】べき係数ｎ（Ｓi，Ｓs）と、初期電流の割合Ｓi／Ｓsとの関係の一例を表す関係図である。
【図８】時刻Ｔkでの電流劣化率の予測値ＳS2と、時刻Ｔkでの電流劣化率の測定値ＳS1との関係の一例を表す関係図である。
【図９】時刻Ｔk-1での電流劣化関数Ｉs（ｔ）と、時刻Ｔkでの電流劣化関数Ｉｓ（ｔ）との関係の一例を表す関係図である。
【図１０】べき係数の算定方法の一例について説明するための概念図である。
【図１１】時刻Ｔk-1でのべき係数ｎ（Ｓi，Ｓs）と、時刻Ｔkでのべき係数ｎ（Ｓi，Ｓs）との関係の一例を表す関係図である。
【図１２】電流劣化関数Ｉi（ｔ）の算定方法の一例について説明するための概念図である。
【図１３】基準輝度における発光積算時間Ｔxyの導出方法の一例について説明するための概念図である。
【図１４】電流補正量ＲIの導出方法の一例について説明するための概念図である。
【図１５】効率劣化率の経時変化の一例を初期輝度ごとに表す特性図である。
【図１６】効率劣化率と、初期輝度ＹSのダミー画素の効率劣化率との関係の一例を表す関係図である。
【図１７】べき係数ｎ（Ｙi，Ｙs）と、初期輝度の割合Ｙi／Ｙsとの関係の一例を表す関係図である。
【図１８】時刻Ｔkでの効率劣化率の予測値ＹS2と、時刻Ｔkでの効率劣化率の測定値ＹS1との関係の一例を表す関係図である。
【図１９】時刻Ｔk-1での効率劣化関数Ｆs（ｔ）と、時刻Ｔkでの効率劣化関数Ｆｓ（ｔ）との関係の一例を表す関係図である。
【図２０】べき係数の算定方法の一例について説明するための概念図である。
【図２１】時刻Ｔk-1でのべき係数ｎ（Ｙi，Ｙs）と、時刻Ｔkでのべき係数ｎ（Ｙi，Ｙs）との関係の一例を表す関係図である。
【図２２】効率劣化関数Ｆi（ｔ）の算定方法の一例について説明するための概念図である。
【図２３】基準輝度における発光積算時間Ｔxyの導出方法の一例について説明するための概念図である。
【図２４】効率補正量Ｒyの導出方法の一例について説明するための概念図である。
【図２５】上記実施の形態の表示装置の適用例１の外観を表す斜視図である。
【図２６】（Ａ）は適用例２の表側から見た外観を表す斜視図であり、（Ｂ）は裏側から見た外観を表す斜視図である。
【図２７】適用例３の外観を表す斜視図である。
【図２８】適用例４の外観を表す斜視図である。
【図２９】（Ａ）は適用例５の開いた状態の正面図、（Ｂ）はその側面図、（Ｃ）は閉じた状態の正面図、（Ｄ）は左側面図、（Ｅ）は右側面図、（Ｆ）は上面図、（Ｇ）は下面図である。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
表示パネル１０は、複数の有機ＥＬ素子１１Ｒ，１１Ｇ，１１Ｂが２次元配置された表示領域１２を有している。本実施の形態では、互いに隣り合う３つの有機ＥＬ素子１１Ｒ，１１Ｇ，１１Ｂが１つの画素（表示画素１３）を構成している。なお、以下では、有機ＥＬ素子１１Ｒ，１１Ｇ，１１Ｂの総称として有機ＥＬ素子１１を適宜、用いるものとする。表示パネル１０は、また、複数の有機ＥＬ素子１４Ｒ，１４Ｇ，１４Ｂが２次元配置された非表示領域１５を有している。本実施の形態では、互いに隣り合う３つの有機ＥＬ素子１４Ｒ，１４Ｇ，１４Ｂが１つの画素（ダミー画素１６）を構成している。なお、以下では、有機ＥＬ素子１４Ｒ，１４Ｇ，１４Ｂの総称として有機ＥＬ素子１４を適宜、用いるものとする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
図３は、非表示領域１５内の回路構成の一例を表したものである。非表示領域１５内には、画素回路３１と同一構成の複数の画素回路３２が個々の有機ＥＬ素子１４と対となって２次元配置されている。各画素回路３２は、例えば、駆動トランジスタＴｒ1’、書き
込みトランジスタＴｒ2’および保持容量Ｃs’によって構成されたものであり、２Ｔｒ１Ｃの回路構成となっている。駆動トランジスタＴｒ1’および書き込みトランジスタＴｒ2’は、例えば、ｎチャネルＭＯＳ型のＴＦＴにより形成されている。駆動トランジスタＴｒ1’または書き込みトランジスタＴｒ2’は、ｐチャネルＭＯＳ型のＴＦＴであってもよい。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
非表示領域１５においても、列方向には信号線ＤＴＬ’が複数配置され、行方向には走査線ＷＳＬ’および電源線Ｖｃｃ’がそれぞれ複数配置されている。各信号線ＤＴＬ’と各走査線ＷＳＬ’との交差点近傍には、有機ＥＬ素子１４Ｒ，１４Ｇ，１４Ｂのいずれか一つ（サブピクセル）が設けられている。各信号線ＤＴＬ’は、ダミー画素駆動回路２５の出力端（図示せず）と、書き込みトランジスタＴｒ2’のドレイン電極（図示せず）に
接続されている。各走査線ＷＳＬ’は、ダミー画素駆動回路２５の出力端（図示せず）と、書き込みトランジスタＴｒ2’のゲート電極（図示せず）に接続されている。各電源線
Ｖｃｃ’は、電源の出力端（図示せず）と、駆動トランジスタＴｒ1’のドレイン電極（
図示せず）に接続されている。書き込みトランジスタＴｒ2’のソース電極（図示せず）
は、駆動トランジスタＴｒ1’のゲート電極（図示せず）と、保持容量Ｃs’の一端に接続されている。駆動トランジスタＴｒ1’のソース電極（図示せず）と保持容量Ｃs’の他端とが、有機ＥＬ素子１４のアノード電極（図示せず）に接続されている。有機ＥＬ素子１４のカソード電極（図示せず）は、例えば、グラウンド線ＧＮＤに接続されている。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
駆動パネル３０は、図４に示していないが、表示領域１２に、２次元配置された複数の有機ＥＬ素子１１と、各有機ＥＬ素子１１に隣接して配置された複数の画素回路３１とを有している。駆動パネル３０は、また、図４に示していないが、非表示領域１５に、２次元配置された複数の有機ＥＬ素子１４，１７と、各有機ＥＬ素子１７に隣接して配置された複数の受光素子とを有している。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２３】
駆動パネル３０の一辺（長辺）には、例えば、図４に示したように、複数の映像信号供給ＴＡＢ５１と、制御信号供給ＴＣＰ５４と、計測信号出力ＴＣＰ５５とが取り付けられている。駆動パネル３０の他の辺（短辺）には、例えば、走査信号供給ＴＡＢ５２が取り付けられている。また、駆動パネル３０の一辺（長辺）であって、かつ映像信号供給ＴＡＢ５１とは異なる辺には、例えば、電源供給ＴＣＰ５３が取り付けられている。映像信号供給ＴＡＢ５１は、信号線駆動回路２３の集積されたＩＣをフィルム状の配線基板の開口に中空配線したものである。走査信号供給ＴＡＢ５２は、走査線駆動回路２４の集積されたＩＣをフィルム状の配線基板の開口に中空配線したものである。電源供給ＴＣＰ５３は、外部の電源と電源線Ｖｃｃ，Ｖｃｃ’とを互いに電気的に接続する複数の配線がフィルム上に形成されたものである。制御信号供給ＴＣＰ５４は、外部のダミー画素駆動回路２５と、ダミー画素１６，１８および受光素子群１９とを互いに電気的に接続する複数の配線がフィルム上に形成されたものである。計測信号出力ＴＣＰ５５は、外部の計測信号処理回路２７と、受光素子群１９とを互いに電気的に接続する複数の配線がフィルム上に形成されたものである。なお、信号線駆動回路２３および走査線駆動回路２４は、ＴＡＢに形成されていなくてもよく、例えば、駆動パネル３０に形成されていてもよい。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
封止パネル４０は、例えば、有機ＥＬ素子１１，１４，１７を封止する封止基板（図示せず）と、カラーフィルタ（図示せず）とを有している。カラーフィルタは、例えば、封止基板の表面のうち有機ＥＬ素子１１の光が通過する領域に設けられている。カラーフィルタは、例えば、有機ＥＬ素子１１Ｒ，１１Ｇ，１１Ｂのそれぞれに対応して、赤色用のフィルタ、緑色用のフィルタおよび青色用のフィルタ（図示せず）を有している。封止パネル４０は、例えば、さらに、光反射部（図示せず）を有している。光反射部は、有機ＥＬ素子１７から発せられた光を反射して、受光素子群１９に入射させるものであり、例えば、封止基板の表面のうち有機ＥＬ素子１７の光が通過する領域に設けられている。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
（電流補正について）
ダミー画素駆動回路２５は、制御信号２１Ａの入力に応じて（同期して）、各ダミー画素１６に接続された信号線ＤＴＬ’に互いに異なる大きさの信号電圧Ｖsigi（一定値）を印加して各ダミー画素１６を互いに異なる階調で発光させるものである。ダミー画素駆動回路２５は、例えば、ダミー画素１６の数がｎ個である場合に、１番目のダミー画素１６には初期電流がＳ1となるような定電流を流し、２番目のダミー画素１６には初期電流がＳ2（＞Ｓ1）となるような定電流を流し、ｉ番目のダミー画素１６には初期電流がＳi（＞Ｓi-1）となるような定電流を流し、ｎ番目のダミー画素１６には初期電流がＳn（＞Ｓn-1）となるような定電流を流すようになっている。ダミー画素駆動回路２５は、例えば、各ダミー画素１６を発光させた時間を計測するようになっている。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
なお、各ダミー画素１６の輝度は、各ダミー画素１６に接続された信号線ＤＴＬ’に一定の値の信号電圧Ｖsigiを印加し続けた場合であっても、例えば、図５に示したように、時間の経過に伴って、徐々に低下する。これは、各ダミー画素１６に接続された画素回路３２に含まれる、駆動トランジスタＴｒ1’などの半導体素子が通電時間（通電積算時間）に応じて劣化していく性質を有しており、その劣化の進行度に応じて電流が流れにくくなるからである。なお、図５中のＳsは、各ダミー画素１６のうち基準画素（後述）として設定された画素内の有機ＥＬ素子１４に流れる初期電流である。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
また、各ダミー画素１６内の有機ＥＬ素子１４に流れる電流の劣化率（電流劣化率）の変移は一様ではない。例えば、図６に示したように、基準画素として設定された画素（ダミー画素１６）の電流劣化率を横軸にとると、基準画素の初期電流Ｓsよりも小さな初期輝度のダミー画素１６の電流劣化率の変移は、当初は基準画素の電流劣化よりも緩やかであることがわかる。一方、基準画素の初期電流Ｓsよりも大きな初期電流のダミー画素１６の電流劣化率の変移は、当初は基準画素の電流劣化よりも急峻であることがわかる。図６に例示した各ダミー画素１６の電流劣化率の変移を式で表すと以下のようになる。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
数１において、Ｄsiは、ｉ番目のダミー画素１６の電流劣化率である。Ｄssは、基準画素の電流劣化率である。ｎ（Ｓi，Ｓs）は、基準画素の電流に対するｉ番目のダミー画素１６の電流のべき係数である。べき係数ｎ（Ｓi，Ｓs）は、例えば、以下の式に示したように、（Ｌｏｇ（Ｓi（Ｔk））−Ｌｏｇ（Ｓi（Ｔk-1）））を（Ｌｏｇ（Ｓs（Ｔk））−Ｌｏｇ（Ｓs（Ｓk-1）））で除算することにより導出される。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
また、数２において、Ｓs（Ｔk）は、時刻Ｔkにおける基準画素の電流信号２６Ａであり、基準画素の電流情報のうちで最新の電流情報に相当する。また、Ｙs（Ｔk-1）は、時刻Ｔk-1（＜時刻Ｔk）における基準画素の電流信号２６Ａ（電流情報）であり、基準画素の電流情報のうちで最新ではない電流情報に相当する。Ｓi（Ｔk）は、時刻Ｔkにおけるｉ番目のダミー画素１６の電流信号２６Ａ（電流情報）であり、ｉ番目のダミー画素１６（非基準画素）の電流情報のうちで最新の電流情報に相当する。Ｓi（Ｔk-1）は、時刻Ｔk-1におけるｉ番目のダミー画素１６の電流信号２６Ａ（電流情報）であり、ｉ番目のダミー画素１６（非基準画素）の電流情報のうちで最新ではない電流情報に相当する。時刻Ｔk-1と時刻Ｔkとの関係は、例えば、以下の式で表される。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６０】
数８において、ΔＴ2はサンプリング周期である。ここで、サンプリング周期ΔＴ2とは、例えば、計測信号処理回路２７が数７の右辺の分母の値および分子の値を導出する周期を指している。計測信号処理回路２７は、サンプリング周期ΔＴ2を常に一定にしている。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６１】
上記のようにして導出したべき係数ｎ（Ｙi，Ｙs）は、例えば、図１７に示したように、横軸を、基準画素の初期輝度Ｙsに対する各ダミー画素１６の初期輝度Ｙiの割合（Ｙi／Ｙs）とすると、時刻Ｔkにおいて、初期輝度Ｙiが大きくなるにつれて大きくなる右肩上がりの曲線を描く。なお、数７からも明らかなように、べき係数ｎ（Ｙi，Ｙs）は、Ｙs／Ｙsにおいて１である。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７６】
数１０において、Ｇyは、輝度補正ゲインであり、上の例では１／０．４８である。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７８】
（動作・効果）
次に、本実施の形態の表示装置１の動作および効果について説明する。表示装置１に対して映像信号２０Ａおよび同期信号２０Ｂが入力される。すると、信号線駆動回路２３および走査線駆動回路２４によって各表示画素１３が駆動され、各表示画素１３の映像信号２０Ａに応じた映像が表示領域１２に表示される。一方で、ダミー画素駆動回路２５によって、各ダミー画素１６に接続された信号線ＤＴＬ’に互いに異なる大きさの信号電圧Ｖsigi（一定値）が印加され、各ダミー画素１６が互いに異なる階調で発光する。その結果、電流測定回路２６から、各ダミー画素１６の有機ＥＬ素子１４に流れる電流値に対応する電流信号２６Ａが出力される。さらに、ダミー画素駆動回路２５によって、各ダミー画素１８が駆動されると同時に受光素子群１９も駆動される。これにより、各ダミー画素１８に、互いに異なる大きさの定電流が流され、その定電流の大きさに応じた輝度で各ダミー画素１８が発光し、各ダミー画素１８の発光光が受光素子群１９で検知される。その結果、受光素子群１９から、各ダミー画素１８の発光光に対応する受光信号１９Ａが出力される。次に、計測信号処理回路２７によって、以下の処理が行われる。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８１】
このように、本実施の形態では、電流劣化関数Ｉs（ｔ）と、電流劣化関数Ｉs（ｔ）およびべき係数ｎ（Ｓi，Ｓs）から得られた電流劣化関数Ｉi（ｔ）と、各表示画素１３の映像信号２０Ａの履歴とを利用して、各表示画素１３の電流劣化率が予測される。さらに、効率劣化関数Ｆs（ｔ）と、効率劣化関数Ｆs（ｔ）およびべき係数ｎ（Ｙi，Ｙs）から得られた効率劣化関数Ｆi（ｔ）と、各表示画素１３の映像信号２０Ａの履歴とを利用して、各表示画素１３の効率劣化率が予測される。これにより、高い精度で各表示画素１３の効率劣化を予測することができるので、各表示画素１３の輝度が初期の輝度となるように、各表示画素１３の映像信号２０Ａに対して的確な補正量（電流補正量ＲIおよび効率補正量Ｒy）を掛けることができる。その結果、正確に焼き付きを防止することができる。
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８４】
また、上記実施の形態では、初期電流Ｓ1〜Ｓnの全てのダミー画素１６が、有機ＥＬ素子１４Ｒ，１４Ｇ，１４Ｂを一組とする単一の画素によって構成されていたが、初期電流Ｓiの低い各ダミー画素１６（低電流画素）を複数のダミー画素（第２ダミー画素）（図示せず）によって構成してもよい。このようにした場合には、計測信号処理回路２７は、複数の第２ダミー画素に接続された有機ＥＬ素子１４に流れる電流の平均値から、数２の右辺の分母または分子を導出することが可能である。これにより、低輝度のダミー画素１６における測定誤差を小さくすることができるので、高い精度で低輝度の表示画素１３の効率劣化を予測することができる。その結果、焼き付きをより一層、正確に防止することができる。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８６】
また、上記実施の形態では、常に特定のダミー画素１６が基準画素となっていたが、必要に応じて、今まで非基準画素であったダミー画素１６が基準画素となってもよい。例えば、計測信号処理回路２７は、基準画素に接続された有機ＥＬ素子１４に流れる電流が所定の値以下となったことを検知したときには、今まで基準画素として設定されていたダミー画素１６を除外すると共に複数の非基準画素のうちの一の画素を新たな基準画素に設定する。その後は、計測信号処理回路２７は、今までと同様にして、数２の右辺の分母および分子を導出する。このようにした場合には、基準画素に不具合が生じた場合でも、継続して、効率劣化を予測することができる。これにより、効率劣化の予測の信頼性を高めることができる。