【手続補正書】
【提出日】平成24年1月17日(2012.1.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該第１の測定光に対応する第１の参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記第１の参照光の光路長を変更し、該第１の参照光の光路の一部を通る第２の参照光の光路長を変更する共通の光路長可変手段と、
第２の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該第２の測定光に対応する前記第２の参照光とを合波した光に基づいて前記共通の光路長可変手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。
【請求項２】
前記制御手段が、該被検査物の移動によって生じる該被検査物の断層画像の変形を低減するように前記共通の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の光断層撮像装置。
【請求項３】
前記第１の参照光の光路長を前記第２の参照光の光路長とは独立に変更する第１の光路長可変手段を有し、
前記共通の光路長可変手段は、前記第１の光路長可変手段とは異なる第２の光路長可変手段であることを特徴とする請求項１あるいは２に記載の光断層撮像装置。
【請求項４】
前記被検査物は被検眼であり、
前記制御手段が、前記被検眼の前眼部と眼底との距離に対応する前記第１及び第２の参照光の光路長差を調整するように前記第１の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項３に記載の光断層撮像装置。
【請求項５】
互いに波長帯域の異なる光を発生させる複数の光源と、
前記第１及び第２の参照光のいずれか一方を透過し、他方を反射するダイクロイックミラーと、
を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【請求項６】
前記共通の光路長可変手段は、前記第１及び第２の参照光を反射するミラーと、該ミラーが設けられ且つ該第１及び第２の参照光の光路に沿って移動可能な共通のステージとを有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【請求項７】
前記第２の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と前記第２の参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の特徴箇所が存在するか否かを判定する判定手段を有し、
前記制御手段は、前記特徴箇所がない場合、該特徴箇所が存在するまで前記共通のステージを駆動することを特徴とする請求項６に記載の光断層撮像装置。
【請求項８】
前記共通のステージは、ボイスコイルモータを用いたリニアステージであることを特徴とする請求項６あるいは７に記載の光断層撮像装置。
【請求項９】
前記被検査物は被検眼であり、
前記制御手段は、前記第２の測定光を照射した前記被検眼の前眼部からの戻り光と前記第２の参照光とを合波した光に基づいて前記共通の光路長可変手段を制御して、該被検眼の移動によって生じる該被検眼の眼底の断層画像の変形を低減することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【請求項１０】
前記制御手段は、前記第２の測定光を照射した前記被検眼の前眼部からの戻り光と前記第２の参照光とを合波した光が略最大値になるように前記共通の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項９に記載の光断層撮像装置。
【請求項１１】
互いに波長帯域の異なる光を発生させる複数の光源と、
互いに波長帯域の異なる前記第１及び第２の測定光のいずれか一方を透過し、他方を反射するダイクロイックミラーと、
を有することを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【請求項１２】
前記第１の測定光の中心波長は、前記第２の測定光の中心波長よりも短いことを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【請求項１３】
第１の測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該第１の測定光に対応する第１の参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
第２の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該第２の測定光に対応し且つ前記第１の参照光の光路の一部を通る第２の参照光とを合波した光を検出する検出工程と、
前記検出工程における検出結果に基づいて、前記第１及び第２の参照光の光路長を変更する共通の光路長可変手段を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１５】
光源からの光を第１の測定光と第１の参照光とに分割し、前記第１の測定光を被検査物に導くと共に、前記第１の参照光を第１の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記第１の測定光による戻り光と、前記第１の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第１の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層撮像装置において、
光源からの光を、第２の測定光及び参照光に分割し、該第２の測定光を前記被検査物の移動検出部位に導くと共に、前記第２の参照光を第２の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物の移動検出部位によって反射あるいは散乱された前記第２の測定光による戻り光と、前記第２の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第２の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の移動量を検出する光干渉装置と、
前記第１の光路長可変手段とは別に前記第１の参照光の光路中に設けられ、
前記光干渉装置によって検出された前記被検査物の移動量を元に前記第１の参照光の光路長を変更し、前記被検査物の移動検出部位における位置ズレによる前記被検査物の断層画像の変形を低減する位置制御手段と、
を備え、前記位置ズレ補正手段による前記第１の参照光の光路長と、前記第２の光路長可変手段による第２の参照光の光路長とが、同じ機構により変更可能に構成されていることを特徴とする光断層撮像装置。
【請求項１６】
前記光干渉装置の光源は、前記光断層撮像装置の光源とは別の光源であり、該光干渉装置の光源の波長は前記光断層撮像装置の光源とは異なる波長を有することを特徴とする請求項１５に記載の光断層撮像装置。
【請求項１７】
前記被検査物が眼球であり、前記光干渉装置が該眼球の角膜における前後方向の運動による前後位置を検出する光干渉計であることを特徴とする請求項１５または請求項１６に記載の光断層撮像装置。
【請求項１８】
前記第１の光路長可変手段による第１の参照光の光路長が、前記光干渉装置の前記被検査物の移動量の検出結果を基準にした、クローズドフィードバック系によって制御可能に構成されていることを特徴とする請求項１５から１７のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】光断層撮像装置
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、光断層撮像装置に関し、特に眼科診療等に用いられる光断層撮像装置に関するものである。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
本発明は、上記課題に鑑み、測定中における眼球の前後方向の動きによる取得画像の眼球深さ方向の変形を、より一層低減することが可能となる光断層撮像装置を提供することを目的とするものである。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
本発明は、つぎのように構成した光断層撮像装置を提供するものである。
本発明の光断層撮像装置は、第１の測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該第１の測定光に対応する第１の参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記第１の参照光の光路長を変更し、該第１の参照光の光路の一部を通る第２の参照光の光路長を変更する共通の光路長可変手段と、
第２の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該第２の測定光に対応する前記第２の参照光とを合波した光に基づいて前記共通の光路長可変手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記制御手段が、該被検査物の移動によって生じる該被検査物の断層画像の変形を低減するように前記共通の光路長可変手段を制御することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記第１の参照光の光路長を前記第２の参照光の光路長とは独立に変更する第１の光路長可変手段を有し、
前記共通の光路長可変手段は、前記第１の光路長可変手段とは異なる第２の光路長可変手段であることを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記被検査物は被検眼であり、
前記制御手段が、前記被検眼の前眼部と眼底との距離に対応する前記第１及び第２の参照光の光路長差を調整するように前記第１の光路長可変手段を制御することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、互いに波長帯域の異なる光を発生させる複数の光源と、
前記第１及び第２の参照光のいずれか一方を透過し、他方を反射するダイクロイックミラーと、
を有することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記共通の光路長可変手段は、前記第１及び第２の参照光を反射するミラーと、該ミラーが設けられ且つ該第１及び第２の参照光の光路に沿って移動可能な共通のステージとを有することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記第２の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と前記第２の参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の特徴箇所が存在するか否かを判定する判定手段を有し、
前記制御手段は、前記特徴箇所がない場合、該特徴箇所が存在するまで前記共通のステージを駆動することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記共通のステージは、ボイスコイルモータを用いたリニアステージであることを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記被検査物は被検眼であり、
前記制御手段は、前記第２の測定光を照射した前記被検眼の前眼部からの戻り光と前記第２の参照光とを合波した光に基づいて前記共通の光路長可変手段を制御して、該被検眼の移動によって生じる該被検眼の眼底の断層画像の変形を低減することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記制御手段は、前記第２の測定光を照射した前記被検眼の前眼部からの戻り光と前記第２の参照光とを合波した光が略最大値になるように前記共通の光路長可変手段を制御することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、互いに波長帯域の異なる光を発生させる複数の光源と、
互いに波長帯域の異なる前記第１及び第２の測定光のいずれか一方を透過し、他方を反射するダイクロイックミラーと、
を有することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記第１の測定光の中心波長は、前記第２の測定光の中心波長よりも短いことを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置の制御方法は、第１の測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該第１の測定光に対応する第１の参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
第２の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該第２の測定光に対応し且つ前記第１の参照光の光路の一部を通る第２の参照光とを合波した光を検出する検出工程と、
前記検出工程における検出結果に基づいて、前記第１及び第２の参照光の光路長を変更する共通の光路長可変手段を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする。
本発明のプログラムは、上記した光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、光源からの光を第１の測定光と第１の参照光とに分割し、前記第１の測定光を被検査物に導くと共に、前記第１の参照光を第１の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記第１の測定光による戻り光と、前記第１の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第１の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層撮像装置において、
光源からの光を、第２の測定光及び参照光に分割し、該第２の測定光を前記被検査物の移動検出部位に導くと共に、前記第２の参照光を第２の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物の移動検出部位によって反射あるいは散乱された前記第２の測定光による戻り光と、前記第２の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第２の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の移動量を検出する光干渉装置と、
前記第１の光路長可変手段とは別に前記第１の参照光の光路中に設けられ、
前記光干渉装置によって検出された前記被検査物の移動量を元に前記第１の参照光の光路長を変更し、前記被検査物の移動検出部位における位置ズレによる前記被検査物の断層画像の変形を低減する位置制御手段と、
を備え、前記位置ズレ補正手段による前記第１の参照光の光路長と、前記第２の光路長可変手段による第２の参照光の光路長とが、同じ機構により変更可能に構成されていることを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記光干渉装置の光源が、前記光断層撮像装置の光源とは別の光源であり、該光干渉装置の光源の波長は前記光断層撮像装置の光源とは異なる波長を有することを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記被検査物が眼球であり、前記光干渉装置が該眼球の角膜における前後方向の運動による前後位置を検出する光干渉計であることを特徴とする。
本発明の光断層撮像装置は、前記第１の光路長可変手段による第１の参照光の光路長が、前記光干渉装置の前記被検査物の移動量の検出結果を基準にした、クローズドフィードバック系によって制御可能に構成されていることを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明によれば、測定中における眼球の前後方向の動きによる取得画像の眼球深さ方向の変形を、より一層低減することが可能となる光断層撮像装置を実現することができる。