【事件の表示】
　特願２００４−３２８５１０「液晶表示素子の検査装置及びその検査方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１７年　６月　９日出願公開、特開２００５−１４８７４３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成１６年１１月１２日（パリ条約による優先権主張２００３年（平成１５年）１１月１３日、大韓民国）に特許出願されたものであって、平成２０年１月２９日付けで手続補正がなされたところ、同年７月１６日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年１０月２０日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに、同年１１月１９日付けで手続補正がなされたものである。
　
２．本願発明
　本願の請求項に係る発明は、平成２０年１１月１９日付け手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１〜１２に記載された事項により特定されるものであると認められるところ、請求項７に係る発明は次のものである。
「電極が形成された検査対象の薄膜トランジスタアレイ基板の上部に設置され、透明な基板上に形成された透明電極及び電子紙を含むモジュレータと、
　該モジュレータの上部に設置され、イメージの明るさを測定するカメラと、から構成され、
　前記電子紙は、半球がそれぞれ相異なる極性を有して検査対象の電極と透明電極との間に形成された電界により配列されて外部から入射される光を反射するホワイト及びブラック粒子からなるボールを含むことを特徴とする液晶表示素子の検査装置。」（以下「本願発明」という。）
　
３．刊行物の記載事項 
　原査定の拒絶理由に引用された、本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開平５−３０３０６８号公報（以下「引用例」という。）には、下記の事項が記載されている。
　
（１）「【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、液晶表示パネル用などとして用いられるディスプレイ基板に生じる欠陥を検査するための検査装置及びその検査装置を用いた検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示パネルを液晶デレビなどに適するように大画面化し、かつ高密度化する上では、行列状に配置された画素ごとに設けられた画素電極と、各画素電極に共通に設けられたゲート配線とソース配線及び薄膜トランジスタとを具備してなるディスプレイ基板を利用したアクティブマトリックス方式のものが有利であり、現在比較的小型のものから実用化が進みつつある。通常、この種の液晶表示パネルにあっては、ディスプレイ基板を製造後、ディスプレイ基板上にスペーサを介して、透明基板などを配置し、ディスプレイ基板と透明基板との間に形成された空隙に液晶を封入することで液晶表示パネルを製造している。
【０００３】このような背景のもとで、現在生産されている液晶テレビにおいては、画素数が２５〜５０万個に及ぶものが多く、一部では画素数１００万個以上のものも登場している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このように多数の画素とそれに対応した多数の配線を基板上に形成するには、ダストを極度に少なく調整したクリーンルームにおいて、種々の成膜プロセスを行なって形成しているのであるが、画素や配線幅が極端に小さくなってくると、製造雰囲気中に含まれるわずかなマイクロダストの存在が、画素電極や配線などの断線欠陥や短絡欠陥に直結するようになる。これらの欠陥は現在のところディスプレイ基板において、数個〜１０個程度までは所用されているが、欠陥数がそれ以上であると製品不良としているのが現状である。
【０００５】ところが、現状の製造技術では、これらの欠陥数を許容限度以下に少なくすることが極めて困難であるがために、画素数の大きな液晶表示パネルにあっては、不良率が著しく高く、これが大型液晶表示パネルの高価格の原因となっている。さらに、従来においては、ディスプレイ基板を用いて液晶表示パネルを製造する場合は、ディスプレイ基板の生産ライン内での検査は行なわず、次の製造工程に移行し、製造完了後の液晶表示パネルに通電して目視で各画素が実際に作動するかどうかを調べており、不良品は廃棄処分されるため、これが液晶表示パネルの歩留まりが非常に悪い結果の大きな原因となっている。
【０００６】本発明は前記課題を解決するためになされたもので、ディスプレイ基板が液晶表示パネルに組立られる前に、その欠陥箇所を確実かつ迅速に発見することができ、欠陥数と欠陥の種類の把握を容易に行なうことができる検査装置及びその方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載のディスプレイ基板の検査装置は、上記課題を解決するために、基板上に形成された複数の画素電極を有するディスプレイ基板を検査する装置において、前記ディスプレイ基板の上部に対向配置され、電場を印加すると光学的性質が変化する検査素子と、前記検査素子に光を照射する光源と、前記検査素子に照射されて、検査素子から出された光を捕らえる受光器と、前記ディスプレイ基板上の前記画素電極と前記検査素子との間に電圧を印加する電源と、前記受光器が捕らえた光の変化を測定する計測手段を具備してなることを特徴とするものである。」
　
（２）
「【００１３】
【作用】検査素子は、電場を印加すると光学的性質が変化するものである。従って、この検査素子をディスプレイ基板上に配置して、ディスプレイ基板上の画素電極と検査素子上部の薄膜透明電極間に通電すると、各画素電極が発生させる電場によって検査素子の光学的性質が変化する。
【００１４】よって、ディスプレイ基板上の画素電極あるいはその他の部分に断線が生じていると、通電しても画素電極の一部が作動しなくなり、作動しない画素電極上の検査素子には光学的変化が生じない。また、短絡欠陥がある場合には、本来作動するべきでない画素電極に相当する検査素子が作動するというような正常な画素電極では生じない異常現象が生じる。よって、このように検査素子の光学的変化を受光器で検出することでディスプレイ基板の欠陥を一括して速く発見することができる。」
　
（３）
「【００１８】
【実施例】以下に、本実施例のディスプレイ基板の検査装置について図面を参照しつつ、詳細に説明する。
（実施例１）図１は、実施例１に係わる検査装置の主要部の概略構成を示すもので、光源１と、この光源１によって、検出光が入射される検査素子から反射光を受ける受光器２と、この受光器２に接続された画像処理コンピュータ３を具備し、検査素子４の対向面には、ディスプレイ基板Ａを配置できるようになっている。
【００１９】図中符号１０は、検査素子４上面の薄膜透明電極５とディスプレイ基板Ａとの間に電圧を印加するための電圧印加装置であって、スイッチと電源部とを備えているもので、図１に示すように、検査素子４の上面の薄膜透明電極５とディスプレイ基板Ａ上の全画素電極９にゲート配線１６及びソース配線１５から電圧を印加できるようになっている。そして、本電圧印加装置１０は、ソース配線１５とゲート配線１６のそれぞれ別個にパルス電圧を印加でき、そのパルス電圧、バルス幅、周期は変化させることができるものである。
【００２０】本実施例１で検査されるディスプレイ基板Ａは、液晶表示パネル用に使用される公知のもので、例えば図９に示すように、データ信号を流すための多数のソース配線１５と、走査信号を流すための多数のゲート配線１６とが整列状態で基板上に形成され、それらの間に画素電極９が形成され、各画素電極９がスイッチング素子（薄膜トランジスタ）１７を介して、ソース配線１５とゲート配線１６とに接続され、前記各ソース配線は信号供給回路１２に、前記各ゲート配線１６は走査回路１３に接続された構成からなっているものである。
【００２１】なお、ディスプレイ基板の配線構造と画素電極９構造とスイッチング素子１７の構造は、いずれも種々の構造が知られているが、いずれの種類の構造であっても本発明の検査装置に適用することができるので、ディスプレイ基板Ａの構造は特別に問わないものである。
【００２２】前記検査素子４は、これに電場を印加すると光学的性質が変化する高分子分散型液晶等からなるものである。前記高分子分散型液晶は、図２に示すように、液晶シート６の上面にＡｌ蒸着膜などのような光反射板７を形成し、液晶シート６上面に薄膜透明電極５は貼着してなる高分子分散型液晶のシート状のものである。そして、前記光反射板７は、前記液晶シート６のディスプレイ基板対向面に一様な状態で、全面に被膜されている。
【００２３】前記検査素子４は、液晶シート６内につくられる電界の大きさにより光の透過率が変化するものである。従って、前記液晶シート６内に封入する液晶としては、略球状の液晶を内包する高分子の球形の大きさを調節し、電場のＯＮ・ＯＦＦで高分子と液晶の屈折率の一致、不一致によって、透明・不透明を出現させる形式や液晶分子の配列を制御することにより、光の透過・散乱状態を出現させる形式の液晶などが好適である。つまり、本発明で用いる検査素子４は、電界を印加すると光の透過率や反射光の偏光量などのような光学的性質が一定の割合で変化するものであれば、高分子分散型液晶に限るものではない。
・・・
【００４３】（実施例４）図１２は、実施例４に係わる検査装置の主要部の概略構成を示すものである。図１２に示す本実施例４のディスプレイ基板の検査装置は、検査素子４に、特に透過型の高分子分散型液晶を使用し、これに電圧を印加した時に発生した検出光を受ける受光器２、及び、この受光器２に接続された画像処理コンピュータ３を具備している。そして、前記検査素子４の対向面にはディスプレイ基板Ａが配置できるようになっている。
【００４４】従って、本実施例４のディスプレイ基板の検査装置が、上述した実施例１〜実施例３のディスプレイ基板の検査装置と異なるところは、検査素子４に透過型の高分子型液晶を使用し、図１２に示すように、液晶シート６に反射板７を形成せず、光源１をディスプレイ基板Ａの下面側に載置することによって、前記光源１により検出光が入射される検査素子４からの透過光を受ける受光器２及び、この受光器２に接続された画像処理コンピュータ３によって構成されているところである。
【００４５】従って、本実施例４のディスプレイ基板の検査装置を用いたディスプレイ基板の検査方法は、まず、ディスプレイ基板Ａに検査素子４を接近させる。この際、前記ディスプレイ基板Ａと検査素子４との間には微小なエアーギャップ８を設け、前記ディスプレ基板Ａと前記検査素子４とを平行な状態に載置固定する。続いて、前記ディスプレイ基板Ａの回路に電圧印加装置１０の電極を接続し電圧を印加する。この操作により検査素子４上面の薄膜透明電極５とディスプレイ基板Ａ上の画素電極９との間に電場が発生する。
【００４６】そして、前記検査素子４に、透過型の高分子分散型液晶等からなる液晶シート６を用いた場合、上述したような電場が、前記液晶シート６に印加されない状態では、図１０に示すように液晶シート６内の球形液晶分子は、無秩序な方向を向いて光を散乱させて、光を透過させない状態となっているが、電場が印加された状態では、図１１に示すように、球形中の液晶分子が同一方向に向いて光を透過するようになる。
【００４７】また、前記液晶シート６に透過型の高分子分散型液晶を用いた場合、電圧を変化させると、光の透過量が直線的に変化する領域を持ち、この線形領域を利用して電圧の変化を透過光量の変化として捕らえることができる。更に、画素電極９・・・と検査素子４上部の薄膜透明電極５との間には、この直線領域に対応する電圧でバイアス電圧を印加している。
【００４８】以上のように検査素子４に液晶シート６を使用するならば、前記画素電極９・・・と液晶検査素子４上面の薄膜透明電極５間に電圧を印加することにより発生された電場を受けた検査素子４は、各画素電極９・・・により電場が変化すれば光の透過量がそれに応じて変化するようになる。
【００４９】また、光源１からディスプレイ基板Ａを通して、検査素子４に光を照射し、前記検査素子４を透過した光の強さを受光器２によって計測する。そして、受光器２が受けた光を制御部で演算して相当電圧を算出する。従って、ディスプレイ基板Ａの採否を決めるには、上述した実施例１と同様に、ある指定基準を設け、例えば３１万画素のディスプレイ基板Ａにおいて、いくつの欠陥まで所用されるか否かの値を決めておけば、使用者が処理画像のデータからディスプレイ基板Ａの採否を判断できる。
【００５０】ディスプレイ基板Ａの欠陥数が許容範囲以内であることが判明すれば、検査終了したディスプレイ基板Ａを次の生産ラインに移す。ここで、ディスプレイ基板Ａの欠陥数が許容範囲外になったものにあっては、補修できるものは補修し、補修後に次の生産ラインに戻すことができる。しかし、補修が困難と見なされたものは、廃棄処分とする。
【００５１】従って、上述したような本実施例４のディスプレイ基板の検査装置によって、ディスプレイ基板Ａの検査を行なうならば、電気的にディスプレイ基板Ａの欠陥の位置と数を表示できるので、極めて簡単にディスプレイ基板Ａの検査を行なうことができる。また、検査素子４からの透過光を相当電圧に一括変換して欠陥を判定することもできるので、短時間で速く検査ができる。
【００５２】なお、上述した本実施例４においては、液晶シート４とディスプレイ基板Ａの画素電極９・・・の間にエアーギャップ８を設けたが、図１４、図１５に示すように前記液晶シート４とディスプレイ基板Ａの画素電極９・・・を密着させた構成のものでも、前記実施例４のディスプレイ基板の検査装置と同様の効果を得ることができる」
　
（４）「【００６２】以下に、上記各実施例によるディスプレイ基板検査装置の製造例について説明する。
（製造例１）本製造例１は、図１に示すディスプレイ基板の検査装置と同様の構成からなるもので、ハロゲンランプからなる光源１と、この光源１によって検出光が入射される検査素子４からの反射光を受けるＣＣＤ（電荷結合素子）型カメラを用いた受光器２と、この受光器２に接続された画像処理コンピュータ３を具備し、検査素子４の対向面には、ディスプレイ基板Ａを配置できるようになっている。そして、前記検査素子４とディスプレイ基板Ａとの間は、１．０〜３０μm程度のエアーギャップ８が形成されている。
【００６３】前記検査素子４は、高分子分散型液晶を紫外線硬化樹脂（ノーランド社製ＮｏＡ−６５）からなるバインダーに重量比１：１の割合で混合した厚さ１０μm程度の液晶シート６である。そして、前記液晶シート６の底面には厚さ０．２μm程度のＡｌからなる蒸着膜の光反射板７を形成あるいは貼着してなるものであり、前記液晶シート６の上面には、酸化インジウム・スズ（ＩＴＯ）からなる厚さ０．０７μm程度の薄膜透明電極が形成されている。
【００６４】そこで、上記構成のように検査素子４に高分子分散型液晶を用いたディスプレイ基板Ａの検査装置において、時間に対する光の透過率を測定し、その結果を図１６に示した。図１６に示されているように、検査素子４に高分子分散型液晶を使用した構成からなるディスプレイ基板は、スイッチのＯＮ−０ＦＦで液晶が瞬時に反応し、透明・不透明を自由に、瞬間的にコントロールできることが判る。」
　
（５）上記（１）乃至（４）から、引用例には、次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
「液晶表示パネル用として用いられ、行列状に配置された画素ごとに設けられた画素電極と、各画素電極に共通に設けられたゲート配線とソース配線及び薄膜トランジスタとを具備してなるディスプレイ基板に生じる欠陥を検査するための検査装置において、前記ディスプレイ基板の上部に対向配置され、電場を印加すると光学的性質が変化する検査素子と、前記検査素子に光を照射する光源と、前記検査素子に照射されて、検査素子から出された光を捕らえる受光器と、前記ディスプレイ基板上の前記画素電極と前記検査素子との間に電圧を印加する電源と、前記受光器が捕らえた光の変化を測定する計測手段を具備してなり、前記検査素子を前記ディスプレイ基板上に配置して、前記ディスプレイ基板の画素電極と前記検査素子上部の薄膜透明電極に通電して、各画素電極が発生させる電場によって前記検査素子の光学的性質を変化させ、前記検査素子の光学的変化を前記受光器で検出することで前記ディスプレイ基板の欠陥を一括して速く発見することができる、前記検査装置。」
　
４．対比 
　本願発明と引用発明とを対比する。
　
（１）引用発明の「液晶表示パネル用として用いられ、行列状に配置された画素ごとに設けられた画素電極と、各画素電極に共通に設けられたゲート配線とソース配線及び薄膜トランジスタとを具備してなるディスプレイ基板」及び「液晶表示パネル用として用いられ、行列状に配置された画素ごとに設けられた画素電極と、各画素電極に共通に設けられたゲート配線とソース配線及び薄膜トランジスタとを具備してなるディスプレイ基板に生じる欠陥を検査するための検査装置」は、それぞれ本願発明の「電極が形成された検査対象の薄膜トランジスタアレイ基板」及び「液晶表示素子の検査装置」に相当する。
　
（２）本願発明の「電極が形成された検査対象の薄膜トランジスタアレイ基板の上部に設置され、透明な基板上に形成された透明電極及び電子紙を含むモジュレータ」の「前記電子紙」は、「半球がそれぞれ相異なる極性を有して検査対象の電極と透明電極との間に形成された電界により配列されて外部から入射される光を反射するホワイト及びブラック粒子からなるボールを含む」ものであるので、引用発明の「前記ディスプレイ基板の上部に対向配置され、電場を印加すると光学的性質が変化する検査素子」と、本願発明の「モジュレータ」とは、「前記ディスプレイ基板の上部に設置され、電界を印加すると光学的性質が変化する検査素子」である点で一致する。
　
（３）本願発明の「該モジュレータの上部に設置され、イメージの明るさを測定するカメラ」と、引用発明の「前記検査素子に照射されて、検査素子から出された光を捕らえる受光器」とは、「検査素子から出された光を捕らえる受光器」である点で一致する。
　
　したがって、本願発明と引用発明とは、
「電極が形成された検査対象の薄膜トランジスタアレイ基板の上部に設置され、電界を印加すると光学的性質が変化する検査素子と、
　検査素子から出された光を捕らえる受光器と、
から構成される液晶表示素子の検査装置。」の点で一致し、下記の点で相違する。
　
相違点１：
　本願発明は、「電界を印加すると光学的性質が変化する検査素子」が「透明な基板上に形成された透明電極及び電子紙を含むモジュレータ」で「前記電子紙」が、「半球がそれぞれ相異なる極性を有して検査対象の電極と透明電極との間に形成された電界により配列されて外部から入射される光を反射するホワイト及びブラック粒子からなるボールを含む」ものであるのに対し、引用発明はそのようなものであるのかどうか不明である点。
　
相違点２：
　本願発明は、「検査素子から出された光を捕らえる受光器」が、「該モジュレータの上部に設置され、イメージの明るさを測定するカメラ」であるのに対し、引用発明はそのようなものであるのかどうか不明である点。
　
　
５．判断
　上記相違点について検討する。
（１）相違点１について
　「半球がそれぞれ相異なる極性を有して電界により配列されて外部から入射される光を反射するホワイト及びブラック粒子からなるボールを含む電子紙」は、周知（例えば、原査定の理由に引用された特開２００３−２９３０５号公報の段落【０００２】〜【０００７】、同じく引用された特開２００３−２７０６７８号公報の段落【０００２】〜【００１４】参照）であるところ、当該電子紙が電場を印加すると光学的性質が変化するものであるから引用発明の「電場を印加すると光学的性質が変化する検査素子」に用いることができることは当業者において明らかであるので、引用発明の「電場を印加すると光学的性質が変化する検査素子」に前記周知の電子紙を用いて、引用発明を相違点１に係る本願発明の構成とすることは当業者が容易になし得た設計的事項にすぎない。
　
（２）相違点２について
　引用発明の「検査素子から出された光を捕らえる受光器」は、「検査素子の光学的変化を前記受光器で検出することで前記ディスプレイ基板の欠陥を一括して速く発見する」もので、当該受光器として「イメージの明るさを測定するカメラ」を用いるべきことは引用例にも記載されているとおり（上記３．（４）の段落【００６２】）当業者において明らかであり、また、当業者において引用発明を上記（１）のとおり相違点１に係る本願発明の構成とする場合、「検査素子から出された光」は、外部から入射される光を反射する光となるので、「検査素子から出された光を捕らえる受光器」は、「該モジュレータの上部に設置」されるべきことも明らかである。
　よって、引用発明を相違点２に係る本願発明の構成とすることは当業者において明らかな事項にすぎない。
　
　そして、本願明細書の【発明の効果】に記載されるような、「反射特性が優秀な電子紙を使用することによって、反射板が必要なく、大面積製作が可能なモジュレータを提供でき、これによって、液晶表示素子の検査時間を短縮させ、大面積液晶表示素子の検査を容易に行うことができる」との本願発明の効果は、前記周知の電子紙を引用発明に用いることにより当然奏される効果以上の格別なものとは認められない。
　なお、請求人は、平成２２年２月１日に提出された回答書の第３頁第１３行〜第４頁第３行において、引用例の明細書の段落の［００２３］に対応する図１を参照すれば、反射板を形成することを記載しており、他の実施例も反射板（及び反射体）を記載しており、引用例では全く反射板の存在を疎外していないことから、仮に引用例に電気泳動フィルム、電子ペーパー及びポリマーバインダーといった周知技術を単に組み合わせても、本願発明の構成（つまり、反射板を使用せずに、ホワイト顔料、ホワイト粒子又は電子インクを光の反射に使用すること）を成し得るものではなく、本願発明の有する作用効果を得ることはできない旨主張しているが、引用例の図１２には実施例４（上記３．（３）の段落【００４３】〜【００５２】参照）として反射板を用いないものが含まれているところであり、引用発明において、「電界を印加すると光学的性質が変化する検査素子」として反射板を使用せずホワイト顔料、ホワイト粒子又は電子インクを光の反射に使用するものが疎外されるとする理由はなく、前記請求人の主張は採用できない。
　
 よって、本願発明は、引用発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
　
６．むすび
　本願発明は、引用発明及び周知技術に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。