【手続補正書】
【提出日】平成24年11月14日(2012.11.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象からの戻り光に基づいて、該測定対象により生じる収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段により測定した収差に応じて、前記測定対象により生じる収差を補正する収差補正手段と、
前記収差測定手段により測定した収差に基づいて、光源からの光の径を変更する変更手段と、
前記変更手段により変更した径の光を前記測定対象に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする補償光学装置。
【請求項２】
前記変更手段が、前記収差測定手段により測定した収差量が所定の条件を満たしている場合に、前記光源からの光の径を小さくすることを特徴とする請求項１に記載の補償光学装置。
【請求項３】
前記変更手段が、前記収差補正手段が補正を開始してから所定時間経過後に前記収差量が所定値より大きい場合に、前記光源からの光の径を小さくすることを特徴とする請求項２に記載の補償光学装置。
【請求項４】
前記測定対象が、被検眼であり、
前記被検眼の前眼部の透過率に基づく情報を取得する取得手段を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項５】
前記変更手段により変更された径の光を前記前眼部における前記透過率の低い箇所に照射することを特徴とする請求項４に記載の補償光学装置。
【請求項６】
前記透過率に基づいて前記前眼部の症状を報知する報知手段を有することを特徴とする請求項４または請求項５に記載の補償光学装置。
【請求項７】
前記収差測定手段により前記収差を測定する際に用いる光と、前記測定対象の画像を取得する際に用いる光とが異なる光源から発生された光であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項８】
前記収差測定手段が、シャックハルトマンセンサーで構成されていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項９】
請求項１乃至８のいずれか１項に記載の補償光学装置を有する撮像装置であって、
前記照射手段で照射した光による前記測定対象からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１０】
前記光源からの光を前記収差補正手段に入射される光と参照光とに分離する分離手段を有し、
前記画像取得手段が、前記照射手段で照射した光による前記測定対象からの戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて該測定対象の断層画像を取得することを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
【請求項１１】
前記収差測定手段により測定した収差が所定の条件を満たしている場合に、前記変更手段により前記光源からの光の径を小さくした後に、前記測定対象の断層画像の取得を開始する開始手段を有することを特徴とする請求項１０に記載の撮像装置。
【請求項１２】
測定対象からの戻り光に基づいて、該測定対象により生じる収差を測定する工程と、
前記測定した収差に応じて、前記測定対象により生じる収差を補正する工程と、
前記測定した収差に基づいて、光源からの光の径を変更する工程と、
前記変更した径の光を前記測定対象に照射する工程と、
を有することを特徴とする補償光学方法。
【請求項１３】
前記変更する工程では、前記測定した収差量が所定の条件を満たしている場合に、前記光源からの光の径を小さくすることを特徴とする請求項１に記載の補償光学方法。
【請求項１４】
請求項１２または請求項１３に記載の補償光学方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１５】
測定光を照射した測定対象からの戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも１つの収差を補正する収差補正手段と、
前記収差測定手段により測定した収差量が所定値以下である場合に、前記測定対象の深さ方向に異なる位置で複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１６】
前記測定光の径の大きさに応じて合焦位置を第１の位置から該第１の位置とは深さ方向に異なる第２の位置に変更する位置変更手段と、
前記収差測定手段により測定した収差量が所定値以下である場合に、前記断層画像取得手段を制御して前記第１及び第２の位置で前記複数の断層画像の取得を開始する制御手段と、
を有することを特徴とする請求項１５に記載の撮像装置。
【請求項１７】
前記複数の断層画像を結合して１枚の断層画像を形成する形成手段を有することを特徴とする請求項１５または請求項１６に記載の撮像装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】補償光学装置、補償光学方法、撮像装置
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、補償光学装置、補償光学方法、撮像装置に関する。
特に、被検眼の収差を測定して補正する機能を有し、複数の分解能で撮像することが可能な補償光学装置、補償光学方法、撮像装置に関する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
本発明は、上記課題に鑑み、被検査物の収差に応じた適正な分解能で撮像することが可能となる補償光学装置、補償光学方法、撮像装置の提供を目的とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
本発明は、つぎのように構成した補償光学装置、補償光学方法、撮像装置を提供するものである。
本発明の補償光学装置は、測定対象からの戻り光に基づいて、該測定対象により生じる収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段により測定した収差に応じて、前記測定対象により生じる収差を補正する収差補正手段と、
前記収差測定手段により測定した収差に基づいて、光源からの光の径を変更する変更手段と、
前記変更手段により変更した径の光を前記測定対象に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の補償光学方法は、測定対象からの戻り光に基づいて、該測定対象により生じる収差を測定する工程と、
前記測定した収差に応じて、前記測定対象により生じる収差を補正する工程と、
前記測定した収差に基づいて、光源からの光の径を変更する工程と、
前記変更した径の光を前記測定対象に照射する工程と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の撮像装置は、測定光を照射した測定対象からの戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも１つの収差を補正する収差補正手段と、
前記収差測定手段により測定した収差量が所定値以下である場合に、前記測定対象の深さ方向に異なる位置で複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
を有することを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明によれば、被検査物の収差に応じた適正な分解能で撮像することが可能となる補償光学装置、補償光学方法、撮像装置を実現することができる。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
［実施例１］
実施例１として、図１を用いて本発明を適用した補償光学系装置（補償光学系と記す。）を備えたＳＬＯによる被検査物の光画像を取得する撮像装置および補償光学方法の構成例について説明する。
なお、本実施例は、測定対象である被検査物を眼とし、眼で発生する収差を補償光学系で補正し、眼底を撮像するようにした一例について説明する。
図１においては、１０１は光源であり、本実施例では波長８４０ｎｍのＳＬＤ光源（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）を用いた。
光源１０１の波長は特に制限されるものではないが、眼底撮像用としては被検者の眩しさの軽減と分解能維持のために、８００〜１５００ｎｍ程度が好適に用いられる。
本実施例においてはＳＬＤ光源を用いたが、その他にレーザ等も用いられる。
また、本実施例では眼底撮像と波面測定のための光源を共用しているが、それぞれを別光源とし、途中で合波する構成としても良い。