(57)【要約】  不変関係分析において、視認性の高い相関図を得る。  システム分析装置（１００）は、相関モデル記憶部（１１２）、及び、表示制御部（１０５）を含む。相関モデル記憶部（１１２）は、システムにおけるメトリック間の相関関係を示す相関モデルを記憶する。表示制御部（１０５）は、表示領域を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割し、相関モデルに含まれる相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタに含まれるメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当て、各分割領域ｉに割当てられたクラスタを当該分割領域ｉに描画する。
2014141660.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
システムにおけるメトリック間の相関関係を示す相関モデルを記憶する相関モデル記憶手段と、
表示領域を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割し、前記相関モデルに含まれる前記相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタに含まれるメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当て、各分割領域ｉに割当てられたクラスタを当該分割領域ｉに描画する表示制御手段と、
を備えるシステム分析装置。
【請求項２】
前記表示制御手段は、ｉを底とする指数関数を用いて、分割領域ｉに割当てるクラスタの数を決定する、
請求項１に記載のシステム分析装置。
【請求項３】
前記表示制御手段は、各分割領域ｉを、当該分割領域ｉに割当てられたクラスタの数のサブ領域に分割し、当該分割領域ｉに割当てられたクラスタを、前記サブ領域にそれぞれ描画する、
請求項１または２に記載のシステム分析装置。
【請求項４】
前記表示制御手段は、クラスタに含まれるメトリック間の相関関係を示すグラフを描画する、
請求項１乃至３のいずれかに記載のシステム分析装置。
【請求項５】
前記表示制御手段は、前記表示領域を、所定の分割割合に従って、前記ｎ個の分割領域に分割する、
請求項１乃至４のいずれかに記載のシステム分析装置。
【請求項６】
前記表示制御手段は、前記表示領域上で、前記ｎ個の分割領域ｉを、ｉの順番に並べて配置する、
請求項１乃至５のいずれかに記載のシステム分析装置。
【請求項７】
システムにおけるメトリック間の相関関係を示す相関モデルを記憶し、
表示領域を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割し、前記相関モデルに含まれる前記相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタに含まれるメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当て、各分割領域ｉに割当てられたクラスタを当該分割領域ｉに描画する、
システム分析方法。
【請求項８】
前記複数のクラスタを割当てる場合、ｉを底とする指数関数を用いて、分割領域ｉに割当てるクラスタの数を決定する、
請求項７に記載のシステム分析方法。
【請求項９】
各分割領域ｉに割当てられたクラスタを描画する場合、各分割領域ｉを、当該分割領域ｉに割当てられたクラスタの数のサブ領域に分割し、当該分割領域ｉに割当てられたクラスタを、前記サブ領域にそれぞれ描画する、
請求項７または８に記載のシステム分析方法。
【請求項１０】
各分割領域ｉに割当てられたクラスタを描画する場合、クラスタに含まれるメトリック間の相関関係を示すグラフを描画する、
請求項７乃至９のいずれかに記載のシステム分析方法。
【請求項１１】
前記表示領域を分割する場合、前記表示領域を、所定の分割割合に従って、前記ｎ個の分割領域に分割する、
請求項７乃至１０のいずれかに記載のシステム分析方法。
【請求項１２】
前記表示領域を分割する場合、前記表示領域上で、前記ｎ個の分割領域ｉを、ｉの順番に並べて配置する、
請求項７乃至１１のいずれかに記載のシステム分析方法。
【請求項１３】
コンピュータに、
システムにおけるメトリック間の相関関係を示す相関モデルを記憶し、
表示領域を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割し、前記相関モデルに含まれる前記相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタに含まれるメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当て、各分割領域ｉに割当てられたクラスタを当該分割領域ｉに描画する、
処理を実行させるプログラムを格納する、コンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【請求項１４】
前記複数のクラスタを割当てる場合、ｉを底とする指数関数を用いて、分割領域ｉに割当てるクラスタの数を決定する、
処理を実行させる請求項１３に記載のプログラムを格納する、コンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【請求項１５】
各分割領域ｉに割当てられたクラスタを描画する場合、各分割領域ｉを、当該分割領域ｉに割当てられたクラスタの数のサブ領域に分割し、当該分割領域ｉに割当てられたクラスタを、前記サブ領域にそれぞれ描画する、
処理を実行させる請求項１３または１４に記載のプログラムを格納する、コンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【請求項１６】
各分割領域ｉに割当てられたクラスタを描画する場合、クラスタに含まれるメトリック間の相関関係を示すグラフを描画する、
処理を実行させる請求項１３乃至１５のいずれかに記載のプログラムを格納する、コンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【請求項１７】
前記表示領域を分割する場合、前記表示領域を、所定の分割割合に従って、前記ｎ個の分割領域に分割する、
処理を実行させる請求項１３乃至１６のいずれかに記載のプログラムを格納する、コンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【請求項１８】
前記表示領域を分割する場合、前記表示領域上で、前記ｎ個の分割領域ｉを、ｉの順番に並べて配置する、
処理を実行させる請求項１３乃至１７のいずれかに記載のプログラムを格納する、コンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、システム分析装置、及び、システム分析方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
システム性能の時系列情報を用いて、システムのモデル化を行い、生成されたモデルを用いてそのシステムの障害や異常等の要因を判定する運用管理システムの一例が特許文献１に記載されている。【０００３】
特許文献１に記載の運用管理システムは、システムの複数のセンサ等で計測された複数のメトリック（性能指標）の計測値をもとに、複数のメトリックの内の各ペアの相関関係を表す相関関数を決定することにより、システムの相関モデルを生成する。そして、この運用管理システムは、生成された相関モデルを用いて、相関関係の破壊（相関破壊）を検出し、相関破壊をもとにシステムの障害要因を判定する。このように、相関破壊をもとにシステムの状態を分析する技術は、不変関係分析と呼ばれる。【０００４】
特許文献１の不変関係分析においては、生成された相関モデルにおけるメトリック間の相関関係を示す相関図が、表示装置の表示領域上に描画され、管理者等に出力される。そして、相関図上で、相関破壊が検出された相関関係や、障害要因の候補であるメトリックが示される。【０００５】
図１０は、不変関係分析で用いられる相関図の一例を示す図である。図１０において、各ノードはメトリックを示し、メトリック間の線は相関関係を示す。ここで、相関図は、相関関係を辿ることにより得られるメトリック群、すなわち、相関関係を有するメトリック群であるクラスタに分割されて描画される。【０００６】
このように、クラスタに分割された相関図を描画する方法として、例えば、クラスタに含まれるメトリック数（クラスタの大きさ）に比例するように、表示領域上で各クラスタに割当てる面積を決定し、表示領域を分割する方法が考えられる。【０００７】
なお、関連技術として、特許文献２には、類似画像検索装置において、ｉ番目に類似度の高い画像群の表示サイズを、ｉ＋１番目に類似度の高い画像群の表示サイズの整数倍に設定して、表示領域に配置する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特許第４８７２９４４号公報
【特許文献２】特開２００３−２７１６５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
多数の機器（構成要素）から構成される大規模システム等において、メトリック数に対する、当該メトリック数のメトリックを含むクラスタの数の分布を考えると、次のような傾向がみられる。大規模システム等では、一般的に、メトリック数が極端に多い（クラスタが極端に大きい）クラスタの数は少なく、メトリック数が極端に少ない（クラスタが極端に小さい）クラスタの数は多い。すなわち、メトリック数が極端に多い少数のクラスタと、メトリック数が極端に少ない多数のクラスタが存在する。【００１０】
その理由は、システムのメトリックが、システム全体に渡って相関関係をもつメトリックと、システムの一部のみで相関関係をもつメトリックを含むためである。【００１１】
システムは、ある機能を提供することを目的としているため、基本的にはシステム全体に渡って機器間に相関関係があり、各機器に係る多くのメトリックが連動する。その結果、相関モデル内に、これらのメトリックによる、メトリック数が極端に多いクラスタが生成される。【００１２】
一方で、各機器の設定値に係るメトリック等、各機器内では相関関係を有するものの、システム全体のメトリックとは連動しないメトリックがある。このようなメトリックの数は、システム全体としては非常に少ない。従って、相関モデル内に、これらのメトリックによるメトリック数が極端に少ないクラスタも生成される。【００１３】
実際のシステムでは、システム全体が提供している機能は多くないため、メトリック数が極端に多いクラスタの数は少ない。一方、実際のシステムは、多くの機器で構成されるため、メトリック数が極端に少ないクラスタの数は多い。【００１４】
例えば、電力プラントの場合、システム全体が提供している機能は発電であり、その挙動に発電量や、循環水の流量、発電部の温度、各機器の負荷等が連動する。従って、発電に対して、これらの多数のメトリックを含むクラスタが生成される。一方で、各機器に固有の設定値は、発電量との相関は弱いが、各機器内では互いに強い相関がある。従って、設定値に係る少数のメトリックを含むクラスタが多数生成される。【００１５】
このような大規模システムの相関図を描画する場合に、上述のように、クラスタに含まれるメトリック数（クラスタの大きさ）に比例するように、クラスタに割当てる面積を決定すると、メトリック数が極端に多いクラスタの面積が極端に大きくなる。また、メトリック数が極端に少ないクラスタの面積が極端に小さくなる。この場合、クラスタ間の大きさの差異を俯瞰することができなくなり、相関図の視認性が低下する。【００１６】
例えば、メトリック数が１０００程度のクラスタが１個、メトリック数が１０程度のクラスタが１０個生成された場合、メトリック数が１０程度のクラスタに割当てられる面積は、表示画面のわずか１％程度となる。【００１７】
また、このような大規模システムの相関図を描画する場合に、特許文献２の技術を適用すると、上述の画像群に割当てられる総面積が、メトリック数に対するクラスタ数の分布の影響を受ける。このため、メトリック数が極端に多いクラスタの総面積が極端に小さくなり、メトリック数が極端に少ないクラスタの総面積が極端に大きくなることがある。この場合も、クラスタ間の大きさの差異を俯瞰することができなくなり、相関図の視認性が低下する。【００１８】
本発明の目的は、上述の課題を解決し、不変関係分析において、視認性の高い相関図が得られるシステム分析装置、及び、システム分析方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明の一態様におけるシステム分析装置は、システムにおけるメトリック間の相関関係を示す相関モデルを記憶する相関モデル記憶手段と、表示領域を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割し、前記相関モデルに含まれる前記相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタに含まれるメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当て、各分割領域ｉに割当てられたクラスタを当該分割領域ｉに描画する表示制御手段と、を備える。【００２０】
本発明の一態様におけるシステム分析方法は、システムにおけるメトリック間の相関関係を示す相関モデルを記憶し、表示領域を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割し、前記相関モデルに含まれる前記相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタに含まれるメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当て、各分割領域ｉに割当てられたクラスタを当該分割領域ｉに描画する。【００２１】
本発明の一態様におけるコンピュータが読み取り可能な記録媒体は、コンピュータに、システムにおけるメトリック間の相関関係を示す相関モデルを記憶し、表示領域を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割し、前記相関モデルに含まれる前記相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタに含まれるメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当て、各分割領域ｉに割当てられたクラスタを当該分割領域ｉに描画する、処理を実行させるプログラムを格納する。
【発明の効果】
【００２２】
本発明の効果は、不変関係分析において、視認性の高い相関図が得られることである。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の実施の形態の特徴的な構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態におけるシステム分析装置１００の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施の形態における、システム分析装置１００の動作を示すフローチャートである。
【図４】本発明の実施の形態における、相関モデル１２２に含まれる各クラスタのメトリック数を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態における、表示領域３０１の分割方法を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態における、表示領域３０１の分割領域への分割例を示す図である。
【図７】本発明の実施の形態における、分割領域へのクラスタの割当て例を示す図である。
【図８】本発明の実施の形態における、各分割領域のサブ領域への分割例を示す図である。
【図９】本発明の実施の形態における、表示領域３０１へのクラスタの配置例（相関図）を示す図である。
【図１０】不変関係分析で用いられる相関図の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
本発明の実施の形態について説明する。
【００２５】
ここでは、上述のように、システムに対して生成される相関モデル１２２における、メトリック数に対するクラスタ数の分布が、メトリック数が極端に多いところでは少なく、メトリック数が極端に少ないところでは多いと仮定する。
【００２６】
はじめに、本発明の実施の形態の構成について説明する。図２は、本発明の実施の形態におけるシステム分析装置１００の構成を示すブロック図である。
【００２７】
図２を参照すると、本発明の実施の形態におけるシステム分析装置１００は、被監視システム２００、及び、表示装置３００と接続される。
【００２８】
システム分析装置１００は、被監視システム２００から収集した性能情報をもとに、被監視システム２００の相関モデル１２２を生成し、生成した相関モデル１２２を用いて検出された相関破壊をもとに、被監視システム２００の状態を分析する。
【００２９】
被監視システム２００は、例えば、ＩＴ（Information Technology）システムやプラントシステム、構造物、輸送機器等、不変関係分析を行う対象システムである。被監視システム２００は、システム上で計測された複数のメトリック（性能指標）の実測データ（計測値）を一定間隔毎に計測し、システム分析装置１００へ送信する。被監視システム２００がＩＴシステムの場合、メトリックとして、システムに含まれる各装置におけるコンピュータリソースやネットワークリソースの使用率や使用量、設定値等が用いられる。例えば、メトリックとして、ＣＰＵ（Central Processing Unit）使用率、メモリ使用率、ディスクアクセス頻度等が用いられる。また、被監視システム２００がプラントシステムや、構造物、輸送機器の場合、メトリックとして、例えば、システムの各部に設置された各種センサの計測値や、各部の設定値等が用いられる。メトリックは、特許文献１における相関モデルの生成対象である「要素」に相当する。
【００３０】
表示装置３００は、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）やＣＲＴ（Cathode Ray Tube）等のディスプレイデバイスであり、システム分析装置１００において生成された相関モデル１２２に係る相関図を表示する。
【００３１】
システム分析装置１００は、性能情報収集部１０１、相関モデル生成部１０２、相関破壊検出部１０３、異常要因抽出部１０４、表示制御部１０５、性能情報記憶部１１１、相関モデル記憶部１１２、及び、相関破壊記憶部１１３を含む。
【００３２】
性能情報収集部１０１は、被監視システム２００から性能情報を収集する。
【００３３】
性能情報記憶部１１１は、性能情報収集部１０１が収集した性能情報の時系列変化を、性能系列情報として記憶する。
【００３４】
相関モデル生成部１０２は、性能系列情報をもとに、被監視システム２００の相関モデル１２２を生成する。
【００３５】
ここで、相関モデル１２２は、メトリックの各ペア（対）の相関関係を表す相関関数を含む。相関関数は、メトリックのペアの内の一方の値を、ペアの両方の時系列、または、他方の時系列から予測する関数である。相関モデル生成部１０２は、特許文献１の運用管理装置と同様に、所定のモデル化期間の性能情報に対するシステム同定処理により、相関関数を決定する。相関モデル生成部１０２は、予測精度が所定値以上の相関関数の集合を、相関モデル１２２としてもよい。
【００３６】
相関モデル記憶部１１２は、相関モデル生成部１０２が生成した相関モデル１２２を記憶する。
【００３７】
相関破壊検出部１０３は、新たに入力された性能情報について、相関モデル１２２に含まれる相関関係の相関破壊を検出する。
【００３８】
ここで、相関破壊検出部１０３は、特許文献１の運用管理装置と同様に、メトリックの各ペア（対）について、相関破壊を検出する。相関破壊検出部１０３は、メトリックの計測値を相関関数に入力して得られた一方のメトリックの予測値と、当該メトリックの計測値との差分（予測誤差）が所定の閾値以上の場合、当該ペアの相関関係の相関破壊として検出する。
【００３９】
相関破壊記憶部１１３は、相関破壊が検出された相関関係を示す相関破壊情報を記憶する。
【００４０】
異常要因抽出部１０４は、相関破壊情報をもとに、異常が発生したメトリック（異常要因メトリック）の候補を抽出する。ここで、異常要因抽出部１０４は、例えば、特許文献１の運用管理装置と同様に、各メトリックにおける相関破壊の数や割合をもとに、異常要因メトリックの候補を抽出する。
【００４１】
表示制御部１０５は、相関モデル１２２をもとに、表示装置３００に表示する相関図を生成する。表示制御部１０５は、クラスタ割当て部１０５１、及び、クラスタ配置部１０５２を含む。
【００４２】
クラスタ割当て部１０５１は、表示装置３００上の表示領域を所定数の分割領域に分割し、相関モデル１２２に含まれるクラスタを各分割領域に割当てる。ここで、クラスタ割当て部１０５１は、相関モデル１２２に含まれる複数のクラスタを、メトリック数が多い順番に、所定数の分割領域から面積の大きい順番に選択された分割領域に、面積が小さくなるに従って割当て数が多くなるように割当てる。
【００４３】
クラスタ配置部１０５２は、各分割領域に、当該分割領域に割当てられたクラスタに含まれるメトリック間の相関関係を示すグラフを描画することにより、相関図を生成する。
【００４４】
なお、システム分析装置１００は、ＣＰＵとプログラムを記憶した記憶媒体を含み、プログラムに基づく制御によって動作するコンピュータであってもよい。また、性能情報記憶部１１１、相関モデル記憶部１１２、相関破壊記憶部１１３、及び、検出感度記憶部１１４は、それぞれ個別の記憶媒体でも、１つの記憶媒体によって構成されてもよい。
【００４５】
次に、本発明の実施の形態におけるシステム分析装置１００の動作について説明する。
【００４６】
図３は、本発明の実施の形態における、システム分析装置１００の動作を示すフローチャートである。
【００４７】
表示制御部１０５のクラスタ割当て部１０５１は、相関モデル１２２に含まれるクラスタを、メトリック数の大きい順番に並べ替える（ステップＳ１０１）。ここで、クラスタ割当て部１０５１は、クラスタに対して、メトリック数の大きい順番に識別子を付与する。
【００４８】
図４は、本発明の実施の形態における、相関モデル１２２に含まれる各クラスタのメトリック数を示す図である。例えば、クラスタ割当て部１０５１は、図４に示すように、相関モデル１２２に含まれる２１個のクラスタの各々に対して、メトリック数の多い順に、Ｃ１〜２１の識別子を付与する。
【００４９】
さらに、クラスタ割当て部１０５１は、異なるメトリック数の各々に対して、メトリック数の多い順にインデックスを設定する。そして、クラスタ割当て部１０５１は、メトリック数が同じクラスタに対して、当該メトリック数に対して設定された同一のインデックスを付与する（ステップＳ１０２）。
【００５０】
例えば、クラスタ割当て部１０５１は、図４に示すように、クラスタＣ１〜Ｃ２１にインデックス１〜６を付与する。
【００５１】
次に、クラスタ割当て部１０５１は、表示装置３００の表示領域３０１を、所定の分割数の分割領域に分割する（ステップＳ１０３）。ここで、クラスタ割当て部１０５１は、分割領域に対して、面積の大きい順に、１から始まる識別子を付与する。クラスタ割当て部１０５１は、表示領域３０１上で、分割領域を、面積の大きい順に並べて配置する。
【００５２】
図５は、本発明の実施の形態における、表示領域３０１の分割方法を示す図である。
【００５３】
本発明の実施の形態では、図５に示すように、表示領域３０１は長方形であり、当該長方形の長辺方向の長さｘが、所定の分割数ｎ、分割割合ｓに対して定義される式により分割される。また、分割領域は、長辺方向に、面積の大きい順に、並べて配置される。
【００５４】
図６は、本発明の実施の形態における、表示領域３０１の分割領域への分割例を示す図である。例えば、分割数ｎ＝３、分割割合ｓ＝０．４の場合、クラスタ割当て部１０５１は、図６に示すように、表示領域３０１の長辺方向を０．４、０．３、０．３の比率で３つに分割し、面積の大きい順番に識別子１〜３を付与する。
【００５５】
次に、クラスタ割当て部１０５１は、分割領域の識別子を示すｉに１、インデックスを示すｊに１をそれぞれ設定する（ステップＳ１０４）。
【００５６】
クラスタ割当て部１０５１は、インデックスｊが付与されたクラスタを、分割領域ｉに割当てる（ステップＳ１０５）。
【００５７】
クラスタ割当て部１０５１は、割当て済みのクラスタ数の割合について、数１式が成立しない場合（ステップＳ１０６／Ｎ）、ｊに１を加算し（ステップＳ１０７）、ステップＳ１０５からの処理を繰り返す。
【００５８】
【数１】
2014141660.tif 000003
【００５９】
ここで、ｐは管理者等により設定される１以上の定数である。また、「割当て済みクラスタの割合」は、全クラスタ数に対する、分割領域１〜ｉに割当てられたクラスタ数の割合である。
【００６０】
クラスタ割当て部１０５１は、数１式が成立する場合（ステップＳ１０６／Ｙ）、ｉに１を加算し（ステップＳ１０８）、ｉ＜ｎの間、ステップＳ１０５からの処理を繰り返す（ステップＳ１０９）。
【００６１】
クラスタ割当て部１０５１は、残りのクラスタを、分割領域ｉ（＝ｎ）に割当てる（ステップＳ１１０）。
【００６２】
図７は、本発明の実施の形態における、分割領域へのクラスタの割当て例を示す図である。例えば、数１式においてｐ＝２．８、ｎ＝３の場合、クラスタ割当て部１０５１は、図７に示すように、数１式に従って、分割領域１にインデックス１が付与された１つのクラスタＣ１を割当てる。同様に、クラスタ割当て部１０５１は、分割領域２に、インデックス２〜５が付与された７つのクラスタＣ２〜Ｃ８を割当てる。さらに、クラスタ割当て部１０５１は、分割領域３に、インデックス６が付与された１３個のクラスタＣ９〜Ｃ２１を割当てる。
【００６３】
次に、クラスタ配置部１０５２は、各分割領域を、当該分割領域に割当てられたクラスタ数を基に、サブ領域に分割する（ステップＳ１１１）。
【００６４】
図８は、本発明の実施の形態における、各分割領域のサブ領域への分割例を示す図である。
【００６５】
本発明の実施の形態では、図８に示すように、サブ領域として、同じ大きさの正方形を用いる。正方形の大きさは、正方形の数が分割領域に割当てられたクラスタ数以上となり、かつ、面積が最も大きくなるように決定される。
【００６６】
次に、クラスタ配置部１０５２は、各分割領域に割当てられたクラスタを各サブ領域に配置する（ステップＳ１１２）。ここで、クラスタ配置部１０５２は、サブ領域に配置されたクラスタに含まれるメトリック間の相関関係を示すグラフを、当該サブ領域に描画することにより、相関図を生成する。クラスタ配置部１０５２は、例えば、ＫＫ（Kamada-Kawai）レイアウトアルゴリズム等のグラフ描画アルゴリズムを用いて、グラフを描画する。
【００６７】
図９は、本発明の実施の形態における、表示領域３０１へのクラスタの配置例（相関図）を示す図である。
【００６８】
例えば、クラスタ配置部１０５２は、図９に示すように、クラスタＣ１を分割領域１内のサブ領域に、クラスタＣ２〜Ｃ８を分割領域２内のサブ領域に、クラスタＣ９〜Ｃ２１を分割領域３内のサブ領域に、それぞれ配置する。
【００６９】
クラスタ配置部１０５２は、クラスタの配置により生成された相関図を表示装置３００に出力する（ステップＳ１１３）。表示装置３００は、相関図を管理者等に表示する。
【００７０】
例えば、クラスタ配置部１０５２は、図９の相関図を表示装置３００に出力する。
【００７１】
以上により、本発明の実施の形態の動作が完了する。
【００７２】
なお、本発明の実施の形態では、表示領域３０１の分割割合ｓ＝０．３、分割数ｎ＝３、及び、各分割領域へのクラスタ数の割り当て比率を決定する数１式のパラメータｐ＝２．８の場合を例に、具体例を説明した。これら分割割合ｓ、分割数ｎ、及び、パラメータｐには、例えば、管理者等の視認性に対する好みに応じた適切な値が設定される。
【００７３】
例えば、分割割合ｓが１に近い場合、メトリック数が多いクラスタの面積が極端に大きくなり（メトリック数が少ないクラスタの面積が極端に小さくなり）、視認性が悪くなる。汎用的に視認性の高い結果を得るためには、分割割合ｓは、１／３＜ｓ＜１の範囲で、できるだけ小さい値であることが望ましい。ただし、メトリック数が多いクラスタを強調したい場合は、分割割合ｓは、上述の範囲で、ある程度、大きい値であってもよい。
【００７４】
また、分割数ｎが、クラスタ数に近い場合、クラスタ数が多いと分割領域の数が多くなり、視認性が悪くなる。汎用的に視認性の高い結果を得るためには、分割数ｎは、１＜ｎ≪クラスタ数であることが望ましい。例えば、メトリック数が極端に多い少数のクラスタと、メトリック数が極端に少ない多数のクラスタが存在する場合は、分割数ｎ＝３を設定することが好ましい。この場合、上述のように、分割割合ｓをできるだけ小さい値とすることで、メトリック数が極端に多い少数のクラスタ群と、メトリック数が極端に少ない多数のクラスタ群、及び、その中間のクラスタ群に、同程度の総面積が割り当てられる。これによりクラスタ群を、メトリック数が極端に多いクラスタ群、メトリック数が極端に少ないクラスタ群、及び、その中間のクラスタ群というように、メトリック数の大、中、小のランクに分けて俯瞰できる。
【００７５】
また、パラメータｐが極端に大きい場合、大きな分割領域に割り当てられるクラスタ数が極端に少なくなり（小さな分割領域に割り当てられるクラスタ数が極端に多くなり）、視認性が悪くなる。したがって、汎用的に視認性の高い結果を得るためには、パラメータｐは、１≦ｐの範囲で、極端に大きくない値であることが望ましい。ただし、メトリック数が多いクラスタを強調したい場合は、パラメータｐは、上述の範囲で、ある程度、大きい値であってもよい。
【００７６】
以上のように、本発明の実施の形態では、クラスタは、あらかじめ分割された分割領域に割当てられる。このため、クラスタ数のメトリック数に対する分布に極端な偏りがある場合でも、メトリック数に比例するようにクラスタの面積を決定した場合のように、メトリック数が極端に多いクラスタの面積が極端に大きくなることはない。また、メトリック数が極端に少ないクラスタの面積が極端に小さくなることはない。
【００７７】
また、本発明の実施の形態では、分割領域（画像群）に割り当てられるクラスタの数と、分割領域（画像群）に割り当てられる総面積は、独立して決定される。このため、メトリック数に対するクラスタ数の分布に極端な偏りがある場合でも、特許文献２の技術を適用した場合のように、分割領域（画像群）に割当てられる総面積がクラスタ数の分布の影響を受けることがない。すなわち、メトリック数が極端に多いクラスタの総面積が極端に小さくなり、メトリック数が極端に少ないクラスタの総面積が極端に大きくなることはない。
【００７８】
また、クラスタは、メトリックの数が多い順番に、所定数の分割領域から面積の大きい順番に選択された分割領域に、面積が小さくなるに従って割当て数が多くなるように割当てられる。このため、例えば、図９における分割領域１と分割領域２間、あるいは、分割領域２と分割領域３間のように、異なる分割領域間では、メトリック数が多いクラスタの描画面積が、メトリック数が少ないクラスタの描画面積よりも大きく保たれる。
【００７９】
また、分割領域はサブ領域に分割され、サブ領域にクラスタが配置される。このため、クラスタは、互いに重ならないように配置される。
【００８０】
従って、生成された相関図において、システム全体としてクラスタ間の大きさの差異を俯瞰することができ、視認性の高い相関図が得られる。
【００８１】
次に、本発明の実施の形態の特徴的な構成を説明する。図１は、本発明の実施の形態の特徴的な構成を示すブロック図である。
【００８２】
図１を参照すると、システム分析装置１００は、相関モデル記憶部１１２、及び、表示制御部１０５を含む。
【００８３】
相関モデル記憶部１１２は、システムにおけるメトリック間の相関関係を示す相関モデル１２２を記憶する。
【００８４】
表示制御部１０５は、表示領域３０１を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割する。表示制御部１０５は、相関モデル１２２に含まれる相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタに含まれるメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当てる。表示制御部１０５は、各分割領域ｉに割当てられたクラスタを当該分割領域ｉに描画する。
【００８５】
本発明の実施の形態によれば、不変関係分析において、視認性の高い相関図が得ることができる。その理由は、表示制御部１０５が、複数のクラスタを、表示領域３０１を分割した分割領域に、以下のように割り当てるためである。表示制御部１０５は、表示領域３０１を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割する。表示制御部１０５は、相関モデル１２２に含まれる相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタが含むメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当てる。
【００８６】
また、本発明の実施の形態によれば、クラスタの数やクラスタのメトリック数の分布が異なる様々なシステムの相関モデル１２２に対して、視認性の高い相関図を、汎用的に得ることができる。その理由は、表示制御部１０５が、複数のクラスタを、クラスタの数やクラスタのメトリック数の分布によらずに、上述のように分割領域に割当てるためである。
【００８７】
また、相関図を描画する場合に、クラスタに含まれるメトリック数やクラスタ数の分布をもとにクラスタに割当てる面積を決定する場合、管理者等の視認性に対する好みを反映することができなかった。本発明の実施の形態によれば、管理者等の視認性に対する好みや意図に応じた相関図を得ることができる。その理由は、管理者等が、表示領域３０１の分割割合ｓ、分割数ｎ、及び、各分割領域へのクラスタ数の割り当て比率を決定するパラメータｐを調整できるためである。これにより、管理者等の好みや意図に応じて、クラスタの大きさによる重みづけ（注目度）の調整や、ランク付けがされた相関図が得られる。
【００８８】
以上、実施形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記実施の形態に限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、本願発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
【００８９】
例えば、本発明の実施の形態では、表示制御部１０５は、クラスタに含まれるメトリック間の相関関係を示す相関図を生成している。しかしながら、これに限らず、表示制御部１０５は、さらに、相関図上で、生成した相関図上に他の情報を含めて出力してもよい。例えば、表示制御部１０５は、相関図上で、相関破壊検出部１０４により相関破壊が検出された相関関係を強調する、あるいは、異常要因抽出部１０４により抽出された異常要因メトリックの候補を強調してもよい。
【００９０】
また、本発明の実施の形態では、クラスタ割当て部１０５１が、数１式により、各分割領域に割当てるクラスタ数を決定する。しかしながら、これに限らず、分割領域の面積が小さくなるに従って割当て数を大きくできれば、クラスタ割当て部１０５１が、数１式以外の関数や、各分割領域に対して設定された所定の割合をもとに、クラスタ数を決定してもよい。
【００９１】
また、クラスタ割当て部１０５１は、各分割領域に少なくとも１つのクラスタを割当ててもよい。この場合、クラスタ割当て部１０５１は、例えば、表示領域３０１の分割数よりもクラスタの数が少ない場合は、分割数をクラスタの数以下に調整してもよい。また、クラスタ割当て部１０５１は、ステップＳ１１０の後で、クラスタが割当てられていない分割領域があれば、各分割領域に少なくとも１つのクラスタが配置されるまで、n、p、または、ｎとｐの両方を減じる等により、クラスタの割当てを調整してもよい。
【００９２】
また、本発明の実施の形態では、クラスタ割当て部１０５１が、メトリック数が同じ（同一のインデックスが付与された）クラスタが同じ分割領域に配置されるように、クラスタを割当てている。しかしながら、これに限らず、クラスタ割当て部１０５１は、インデックスを用いずに、メトリックの数が多い順番に、各分割領域に対して決定された割合や数に応じたクラスタを、各分割領域に割当ててもよい。
【００９３】
また、本発明の実施の形態では、表示領域３０１は長方形であり、表示領域３０１の長辺方向に分割されたが、表示領域３０１は、例えば、ある一点を中心とした同心円状等、長方形以外の他の形状であってもよい。
【００９４】
また、本発明の実施の形態では、各分割領域を、面積の大きい順に、長辺方向に並べて配置したが、他の方法で配置してもよい。例えば、表示領域３０１をある一点を中心とした同心円状の分割領域に分割する場合、各分割領域を、中心から、面積の大きい順に並べて配置してもよい。
【００９５】
また、本発明の実施の形態では、分割領域が正方形のサブ領域に分割されたが、分割領域に割当てられたクラスタ数で分割できれば、サブ領域は正方形以外の他の形状であってもよい。
【００９６】
この出願は、２０１３年３月１３日に出願された日本出願特願２０１３−０５０６２９を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
【産業上の利用可能性】
【００９７】
本発明は、相関モデル上で検出された相関破壊によりシステムの異常や障害の要因を判定する、不変関係分析に適用できる。
【符号の説明】
【００９８】
１００    システム分析装置
１０１    性能情報収集部
１０２    相関モデル生成部
１０３    相関破壊検出部
１０４    異常要因抽出部
１０５    表示制御部
１０５１    クラスタ割当て部
１０５２    クラスタ配置部
１１１    性能情報記憶部
１１２    相関モデル記憶部
１１３    相関破壊記憶部
１２２    相関モデル
２００    被監視システム
３００    表示装置
３０１    表示領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【国際調査報告】
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