【手続補正書】
【提出日】平成24年8月27日(2012.8.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
補償光学装置であって、
光源から発生した光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きで変調する第１の光変調手段と、
前記第１の光変調手段で変調された光を略９０度回転する変更手段と、
前記変更手段で変更された光を前記一方の偏光の向きで変調する第２の光変調手段と、
前記第２の光変調手段で変調された光を測定対象に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする補償光学装置。
【請求項２】
前記測定対象の収差を測定する収差測定手段を有し、
前記第１及び第２の光変調手段が、前記収差測定手段に対して光学的に共役な位置に配置されることを特徴とする請求項１に記載の補償光学装置。
【請求項３】
前記測定対象が、被検眼であり、
前記収差が、前記被検眼の前眼部で生じ、
前記第１及び第２の光変調手段が、前記前眼部に対して光学的に共役な位置に配置されることを特徴とする請求項２に記載の補償光学装置。
【請求項４】
前記収差測定手段で前記収差を測定する際に用いる光と、前記測定対象の画像を取得する際に用いる光とが異なる光源から発生された光であることを特徴とする請求項２あるいは３に記載の補償光学装置。
【請求項５】
前記変更手段で略９０度回転した光を反射して前記第２の光変調手段に照射する手段を備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項６】
前記第２の光変調手段が、前記照射手段で照射した光による前記測定対象からの戻り光を該光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きで変調し、
前記変更手段が、前記第２の光変調手段で変調された光を略９０度回転し、
前記第１の光変調手段が、前記変更手段で変更された光を前記一方の偏光の向きで変調することを特徴とする請求項２乃至５のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項７】
前記第１の光変調手段と前記第２の光変調手段とが同一であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項８】
前記第１の光変調手段と前記第２の光変調手段における光の入射面が、互いに光学的に共役で倍率が略等倍であり、略正立像の関係が成り立つように配置されていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項９】
請求項１乃至８のいずれか１項に記載の補償光学装置を備える撮像装置であって、
前記照射手段で照射した光による前記測定対象からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１０】
前記光源からの光を前記第１の光変調手段に入射される光と参照光とに分離する分離手段を有し、
前記画像取得手段が、前記照射手段で照射した光による前記測定対象からの戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて該測定対象の断層画像を取得することを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
【請求項１１】
補償光学方法であって、
光源から発生した光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きで変調する第１の光変調工程と、
前記第１の光変調工程で変調された光を略９０度回転する変更工程と、
前記変更工程で変更された光を前記一方の偏光の向きで変調する第２の光変調工程と、
前記第２の光変調工程で変調された光を測定対象に照射する照射工程と、
を有することを特徴とする補償光学方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】補償光学装置、補償光学装置を備える撮像装置、補償光学方法
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、補償光学装置、補償光学装置を備える撮像装置、補償光学方法に関し、特に眼科診療等に用いられる被検眼の収差を補正する補償光学装置を備える撮像装置に適した技術に関するものである。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
本発明は、上記課題に鑑み、入射光の偏光状態による変調特性への影響を緩和し、光利用効率を向上させ、被検査物の収差を補正することが可能となる空間位相変調手段を用いて構成された補償光学装置、補償光学装置を備える撮像装置、補償光学方法の提供を目的とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
本発明は、つぎのように構成した補償光学装置、補償光学装置を備える撮像装置、補償光学方法を提供するものである。
本発明の補償光学装置は、光源から発生した光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きで変調する第１の光変調手段と、
前記第１の光変調手段で変調された光を略９０度回転する変更手段と、
前記変更手段で変更された光を前記一方の偏光の向きで変調する第２の光変調手段と、
前記第２の光変調手段で変調された光を測定対象に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の上記した補償光学装置を備える撮像装置は、
前記照射手段で照射した光による前記測定対象からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする。
また、本発明の補償光学方法は、光源から発生した光に含まれる２つの偏光のうち一方の偏光の向きで変調する第１の光変調工程と、
前記第１の光変調工程で変調された光を略９０度回転する変更工程と、
前記変更工程で変更された光を前記一方の偏光の向きで変調する第２の光変調工程と、
前記第２の光変調工程で変調された光を測定対象に照射する照射工程と、
を有することを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
本発明によれば、液晶空間位相変調手段を用いた場合でも、入射光の偏光状態による変調特性への影響を緩和し、光利用効率を向上させ、被検査物の収差を補正することが可能となる補償光学装置、補償光学装置を備える撮像装置、補償光学方法を実現することができる。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
つぎに、本発明の実施形態における補償光学装置（以下、これを補償光学系と記す。）を、図を用いて説明する。
まず、補償光学系において収差補正をする構成を、図２を用いて説明する。
ここでは、適用するアプリケーション例として眼底カメラを想定している。
被検査物である眼８の網膜８１の情報を非浸襲で光学的に取得するため、図示されていない第一の照明光で網膜８１を照射し、網膜８１上の測定点８１１からの反射、散乱光を接眼光学系７と光学系９０を介して受光センサ４に結像させる。ここで、受光センサ４はマトリクス状に受光単位が並べられた撮像素子から構成されている。
ここで光学的に高解像度の情報を得ようとすると、光学系７の入射瞳（瞳孔８２の位置に相当する）を大きくする必要があるが、眼光学系が持つ収差により、眼から射出される光４２は波面に収差が含まれている。
この光を接眼光学系７、光学系９０で受光センサ４に結像しても、本来この光学系が持つ結像性能では集光されず、乱れて広がったスポットとなる。
したがって、横方向の空間分解能が十分に得られず、所望の高解像度の画像を得ることができなくなる。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
往路と復路で、各光線がＳＬＭ１上で同じ位置に入射するためには、往路で最初に入射するときのＳＬＭ１面と、再入射したときのＳＬＭ１面が、互いに光学的に共役で倍率が略等倍であり、かつ略正立像の関係が成り立っていなければならない。
共役関係にあっても、再入射面が初回入射面に対して倒立像であったり、倍率が異なったりすると、各光線がＳＬＭ１上の同位置に再入射せず、各偏光成分が異なって変調されることになるからである。
本発明では、このような条件を満たすため、ＳＬＭ１の折り返し光路に、往路でのＳＬＭ１面と復路でのＳＬＭ１面が光学的に共役になるようにする構成が採られる。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２７】
ここで、ＳＬＭ１における変調の過程について、更に詳細に説明する。
光学系７１からの測定光は、まず最初にＳＬＭ１（第１の光変調手段）に入射したとき、Ｐ偏光成分のみが変調され、折り返し光学系７２を通り、再度ＳＬＭ１に入射する。
このときの折り返し光路中にはλ／２板（変更手段）１３が配置されており、ここで各偏光成分は略９０°回転する。
したがって、この光はＳＬＭ１（第２の光変調手段）に再度入射したときには、往路ではＳ偏光であって復路において波長板でＰ偏光に変換された成分のみが変調される。
また、ここで、光学系７２は焦点距離の等しい２枚の曲面ミラーで構成され、往路のＳＬＭ面と復路のＳＬＭ面とを光学的に共役で略等倍とする設定となっている。
また、略正立像を形成するために、ＳＬＭ１上のある点１１において反射された光線は、矢印に沿って光学系７２を介した後に、この点１１に再入射するため、上記過程でＰＳ偏光成分は同等量を一度ずつ変調されることになる。
本実施例では、このような構成により、往路と復路で、各光線がＳＬＭ１上で同じ位置に入射するための条件が満たされるように構成されている。
更に、この光学系では折り返し光学系はダブルパス光学系でなく、ＳＬＭ１への入射角は往路と復路で異なるため、ファイバー端９９からの入射光と、眼へ向かう射出光は異なる方向になり、分岐部材を用いることによる損失も避けることができる。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
ここで、ＳＬＭ１における変調の過程について、更に詳細に説明する。
光学系７１からの光は、まず最初にＳＬＭ１に入射したとき、Ｐ偏光成分のみが変調され、折り返し光学系７２を通り、再度ＳＬＭ１に入射する。
このとき折り返し光路中にはλ／４板１３が配置されており、これを往路と復路の２回通過することで、各偏光成分は略９０°回転する。
したがって、この光は、ＳＬＭ１に再度入射したときには、往路でＳ偏光成分であって、復路において波長板でＰ偏光に変換された成分のみが変調される。上記過程でＰＳ偏光成分は同等量を一度ずつ変調されることになる。