【手続補正書】
【提出日】平成24年6月19日(2012.6.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に照射したときに前記被検査物から戻される戻り光と、前記参照光とによる干渉光の波長毎の強度を取得した光電変換手段によって前記干渉光の波長毎の強度をアナログ電気信号に変換し、前記アナログ電気信号をＡ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号に基づいて前記被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、
前記光電変換手段に前記参照光の波長毎の強度を取得させる取得手段と、
前記光電変換手段によって前記参照光の波長毎の強度から変換されたアナログ電気信号を前記Ａ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号である参照光信号の波長毎の値が、前記Ａ／Ｄ変換手段の入力レンジの中央部となるように、前記光電変換手段から出力されるアナログ電気信号の波長毎の値、あるいは前記Ａ／Ｄ変換手段の波長毎の入力レンジを調整する調整手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記調整手段は、前記参照光信号の波長毎の値が、前記Ａ／Ｄ変換手段の入力レンジの中央部となるように、前記光電変換手段から出力されるアナログ電気信号の波長毎の値、及び前記Ａ／Ｄ変換手段の波長毎の入力レンジを調整することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記調整手段は、前記参照光信号の波長毎の値に第１の所定値を乗算した値を、前記波長毎の入力レンジの上限とし、前記参照光信号の波長毎の値に前記第１の所定値より小さい第２の所定値を乗算した値を、前記波長毎の入力レンジの下限とする
ことを特徴とする請求項１あるいは２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記調整手段は、
前記参照光信号の波長毎の値を、前記参照光信号の波長毎の値のピーク値が所定の範囲内に収まるように調整し、
前記ピーク値が所定の範囲内に収まるように調整された後の参照光信号の波長毎の値に前記第１の所定値を乗算し、
前記ピーク値が所定の範囲内に収まるように調整された後の参照光信号の波長毎の値に前記第２の所定値を乗算する
ことを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記Ａ／Ｄ変換手段の波長毎の入力レンジが調整された後、
前記Ａ／Ｄ変換手段は、前記波長毎に、前記光電変換手段によって前記干渉光の波長毎の強度から変換されたアナログ電気信号を、調整後の入力レンジに基づいてデジタル電気信号に変換する
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記調整後の入力レンジに基づいて変換して得たデジタル電気信号をフーリエ変換処理する処理手段をさらに有し、
前記フーリエ変換処理により前記断層画像が取得される
ことを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記光電変換手段は、取得した光の波長毎の強度をアナログ電気信号に変換した後に、当該アナログ電気信号の波長毎の値を、予め定められた波長毎のオフセット値を加算して出力する回路であり、
前記調整手段は、前記波長毎のオフセット値を調整する
ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記波長毎のオフセット値が調整された後、
前記光電変換手段は、前記干渉光の波長毎の強度から変換されたアナログ電気信号の波長毎の値を、調整後の前記波長毎のオフセット値を加算して出力する
ことを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記光電変換手段は、前記波長毎のオフセット値が加算されたアナログ電気信号の波長毎の値を、予め定められた波長毎の増幅率で増幅して出力する回路であり、
前記調整手段は、前記波長毎の増幅率を調整する
ことを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
【請求項１０】
前記波長毎のオフセット値、及び、前記波長毎の増幅率が調整された後、
前記光電変換手段は、前記干渉光の波長毎の強度から変換されたアナログ電気信号の波長毎の値を、調整後の波長毎のオフセット値を加算した後に調整後の波長毎の増幅率で増幅して出力する
ことを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
【請求項１１】
前記取得手段は、
前記光電変換手段へ導かれる前記戻り光を遮断する遮断手段を含み、
前記光電変換手段へ導かれる前記戻り光を遮断することにより、前記光電変換手段に前記参照光の波長毎の強度を取得させる
ことを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１２】
前記取得手段は、
前記被検査物への前記測定光の照射位置を走査する走査手段と、前記測定光が前記被検査物に照射されないように前記走査手段を制御する制御手段とを含み、
前記測定光が前記被検査物に照射されないように前記走査手段を制御することにより、前記光電変換手段に前記参照光の波長毎の強度を取得させる
ことを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１３】
前記撮像装置は、ＳＤ−ＯＣＴ装置であり、前記光源から発生した所定の波長域を有する光による前記干渉光の波長毎の強度を取得する複数の受光素子を前記光源変換手段とし
て有する
ことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１４】
前記撮像装置は、ＳＳ−ＯＣＴ装置であり、前記光源から波長を変更して発生した光による前記干渉光の波長毎の強度を取得する受光素子を前記光電変換手段として有する
ことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１５】
前記光源からの光の波長は、被検査物の種類に応じて選択される
ことを特徴とする請求項１乃至１４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１６】
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に照射したときに前記被検査物から戻される戻り光と、前記参照光とによる干渉光の波長毎の強度を取得した光電変換手段によって前記干渉光の波長毎の強度をアナログ電気信号に変換し、前記アナログ電気信号をＡ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号に基づいて前記被検査物の断層画像を取得する撮像装置の制御方法であって、
前記光電変換手段に前記参照光の波長毎の強度を取得させるステップと、
前記光電変換手段によって前記参照光の波長毎の強度から変換されたアナログ電気信号を前記Ａ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号である参照光信号の波長毎の値が、前記Ａ／Ｄ変換手段の入力レンジの中央部となるように、前記光電変換手段から出力されるアナログ電気信号の波長毎の値、あるいは前記Ａ／Ｄ変換手段の波長毎の入力レンジを調整するステップと、
を有することを特徴とする制御方法。
【請求項１７】
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に照射したときに前記被検査物から戻される戻り光と、前記参照光とによる干渉光の波長毎の強度を取得した光電変換手段によって前記干渉光の波長毎の強度をアナログ電気信号に変換し、前記アナログ電気信号をＡ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号に基づいて前記被検査物の断層画像を取得する撮像装置に、
前記光電変換手段に前記参照光の波長毎の強度を取得させ、
前記光電変換手段によって前記参照光の波長毎の強度から変換られたアナログ電気信号を前記Ａ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号である参照光信号の波長毎の値が、前記Ａ／Ｄ変換手段の入力レンジの中央部となるように、前記光電変換手段から出力されるアナログ電気信号の波長毎の値、あるいは前記Ａ／Ｄ変換手段の波長毎の入力レンジを調整させる
ことを特徴とするプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】光干渉断層法を用いる撮像装置、制御方法、及び、プログラム
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明の撮像装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被検査物に照射したときに被検査物から戻される戻り光と、参照光とによる干渉光の波長毎の強度を取得した光電変換手段によって干渉光の波長毎の強度をアナログ電気信号に変換し、アナ
ログ電気信号をＡ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号に基づいて被検査物の断層画像を取得する撮像装置であって、光電変換手段に参照光の波長毎の強度を取得させる取得手段と、光電変換手段によって参照光の波長毎の強度から変換されたアナログ電気信号をＡ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号である参照光信号の波長毎の値が、Ａ／Ｄ変換手段の入力レンジの中央部となるように、光電変換手段から出力されるアナログ電気信号の波長毎の値、あるいはＡ／Ｄ変換手段の波長毎の入力レンジを調整する調整手段と、を有する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
本発明の制御方法は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被検査物に照射したときに被検査物から戻される戻り光と、参照光とによる干渉光の波長毎の強度を取得した光電変換手段によって干渉光の波長毎の強度をアナログ電気信号に変換し、アナログ電気信号をＡ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号に基づいて被検査物の断層画像を取得する撮像装置の制御方法であって、光電変換手段に参照光の波長毎の強度を取得させるステップと、光電変換手段によって参照光の波長毎の強度から変換されたアナログ電気信号をＡ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号である参照光信号の波長毎の値が、Ａ／Ｄ変換手段の入力レンジの中央部となるように、光電変換手段から出力されるアナログ電気信号の波長毎の値、あるいはＡ／Ｄ変換手段の波長毎の入力レンジを調整するステップと、を有する。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
本発明のプログラムは、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被検査物に照射したときに被検査物から戻される戻り光と、参照光とによる干渉光の波長毎の強度を取得した光電変換手段によって干渉光の波長毎の強度をアナログ電気信号に変換し、アナログ電気信号をＡ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号に基づいて被検査物の断層画像を取得する撮像装置に、光電変換手段に参照光の波長毎の強度を取得させ、光電変換手段によって参照光の波長毎の強度から変換られたアナログ電気信号をＡ／Ｄ変換手段により変換して得たデジタル電気信号である参照光信号の波長毎の値が、Ａ／Ｄ変換手段の入力レンジの中央部となるように、光電変換手段から出力されるアナログ電気信号の波長毎の値、あるいはＡ／Ｄ変換手段の波長毎の入力レンジを調整させる。