【事件の表示】
　平成　８年特許願第３１０８４１号「外観検査装置の集中管理システム」拒絶査定不服審判事件〔平成１０年　６月　９日出願公開、特開平１０−１５３５５６〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯・本願発明
　本願は，平成８年１１月２１日の出願であって，平成１９年３月７日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，同年４月１２日に拒絶査定不服の審判が請求されるとともに，同年５月１日付けで手続補正がされたものであるところ，この手続補正は，願書に最初に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内においてなされたものであり，補正前の請求項１を削除するものであるから，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第４項第１号に掲げる請求項の削除を目的とするものに該当すると認められる。
　
　そして，本願の請求項１〜３に係る発明は，平成１９年５月１日付けの手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて，その特許請求の範囲の請求項１〜３に記載された事項により特定されるとおりのものであると認められ，そのうち請求項１に係る発明（以下，「本願発明」という。）は，次のとおりのものである。
　
「部品を実装した基板の撮影画像を取り込んで該部品やはんだ付けの良否を判定する外観検査装置の集中管理システムであって、
　各外観検査装置で取り込んだ画像を所定のネットワークを介してモニタに表示する管理装置を備え、
　各外観検査装置で取り込んだ画像を画像ファイルとして所定のネットワークを介して前記管理装置に転送し、転送された前記画像ファイルを前記モニタに表示し、モニタに表示された前記画像ファイルの画像に基づいて不良と判定された箇所の検査を行うことを特徴とする外観検査装置の集中管理システム。」
　
第２　引用文献及びその記載事項
　原査定の拒絶の理由に引用された，本願出願前に頒布された刊行物である特開平６−６９７００号公報（以下，「引用文献４」という。）には，図面とともに以下の技術事項が記載されている。
　
（記載事項１−１）
「【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、複数の部品を実装されたプリント板ユニットにおける外観検査を行なうプリント板ユニット外観検査システムに関する。」
　
（記載事項１−２）
「【０００８】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理ブロック図で、この図１において、１は光学式外観検査装置であり、この光学式外観検査装置１は、複数の部品を実装されたプリント板ユニットにおける主として可視領域部分の外観検査を行なうものである。２はＸ線式外観検査装置であり、このＸ線式外観検査装置２は、プリント板ユニットにおける主として不可視領域部分の外観検査を行なうものである。
【０００９】３は不良診断装置であり、この不良診断装置３は、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２で不良判定とした部分を再確認するものである。４はサーバであり、このサーバ４は、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２，不良診断装置３で得られた測定データを一括して管理するものである。更に詳細には、サーバ４に光学式外観検査装置１およびＸ線式外観検査装置２で不良判定とした部分を不良診断装置３で確認した結果で修正したデータが格納される。また、光学式外観検査装置１で不良判定とした部分については、Ｘ線式外観検査装置２で再検査するようになっている。
【００１０】５−１，５−２，５−３はデータ処理装置であり、このデータ処理装置５−１，５−２，５−３は、それぞれ光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２，不良診断装置３に付設されるとともに、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）６を介してサーバ４と接続されている。・・・・・
【００１１】なお、光学式外観検査装置１およびＸ線式外観検査装置２がそれぞれ自動検査装置として構成されるとともに、不良診断装置３が手動検査装置として構成される。」
　
（記載事項１−３）
「【００２０】ついで、ステップＳ２で、Ｘ線式検査装置１２による自動検査が行なわれる。このＸ線式検査装置１２は主として不可視領域部分の外観検査を行なう。詳細には、検査部品としてＱＦＰ，Ｊリード部品を対象とし、検査項目として半田量、半田ブリッジ、リード浮きがあり、微細リード部品下部の半田付け検査を特徴とする。
【００２１】さらに、ステップＳ３で、光学式検査装置１１による自動検査が行なわれる。光学式検査装置１１は０．０５Ｓｅｃ／部品の高速検査であり、主として可視領域部分の実装、半田付け検査を行なう。このときの検査部品としてはチップＣ，Ｒ（コンデンサ，抵抗部品），ミニトランジスタ，ＳＯＰを対象とし、検査項目としては部品の有無、位置ずれ、部品浮き、極性、半田量、半田ブリッジがある。
・・・・・
【００２３】つぎに、ステップＳ４で、ステップＳ２およびステップＳ３での検査結果が良であるか不良であるかを判定する。ステップＳ４で不良の場合は、ステップＳ５で、不良診断装置（ステレオスコープ）１３による目視検査を行なう。不良診断装置１３は光学式検査装置１１，Ｘ線式検査装置１２で不良判定とした部分を再確認する。・・・
・・・・・
【００２６】不良診断装置１３は、Ｘ線式検査装置１２の検査結果格納ファイル４５−２および光学式検査装置１１の結果ファイル４５−１を読み出して、不良箇所の確認を行ない、真の不良のみをサーバ１４の診断結果格納ファイル４６に格納する。・・・」
　
（記載事項１−４）
「【００３０】まず、従来技術〔１〕（当審注。原文は丸付き数字。以下同様に，丸付き数字は括弧〔〕で囲んで表記する。）（特開平２−３１１４４号公報に記載されたもの）との差であるが、この従来技術〔１〕は、光学方式とＸ線方式の光源及びカメラを１台の検査装置に内蔵しているのに対し、本実施例は、各々個々の装置と不良診断装置とサーバから成る検査システムであり、前者には障害診断機能がない。また、前者の技術による判定方法は、光学式とＸ線式双方の画像と比較、照合し表面か裏面かを認識して最後に良否判定を行なうものであるが、本実施例では、検査対象備品を分担し各装置は別々の時間に検査をして各々良否判定を行ない、結果をサーバに送るものである。」
　
（記載事項１−５）
「【００３２】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明のプリント板ユニットによれば、光学式外観検査，Ｘ線式外観検査および不良診断について、それぞれの検査の特徴に応じ、役割を分担し、相互に補完させることによって、外観検査の効率化を実現しているため、検査工数を削減できる利点がある。」
　
　上記記載事項１−１〜１−５及び図１〜５の内容を総合すると，引用文献４には，次の発明（以下，「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
　
「複数の部品を実装されたプリント板ユニットにおける主として可視領域部分の外観検査を行ない該部品やはんだ付けの良否を判定する光学式外観検査装置と，該プリント板ユニットにおける主として不可視領域部分の外観検査を行ない該部品やはんだ付けの良否を判定するＸ線式外観検査装置と，該光学式外観検査装置，該Ｘ線式外観検査装置で不良判定とした部分を目視検査により再確認する不良診断装置とをそなえるとともに，該光学式外観検査装置，該Ｘ線式外観検査装置，該不良診断装置で得られた測定データを一括して管理するサーバをそなえ，該光学式外観検査装置，該Ｘ線式外観検査装置，該不良診断装置にそれぞれ付設されたデータ処理装置と該サーバとがローカルエリアネットワークを介して接続されているプリント板ユニット外観検査システム。」
　
第３　対比
　本願発明と引用発明とを対比すると，光学式外観検査装置とＸ線式外観検査装置がプリント板ユニットの撮影画像を取り込んで判定を行うものであることは技術常識から明らかであるから，引用発明の「複数の部品を実装されたプリント板ユニットにおける主として可視領域部分の外観検査を行ない該部品やはんだ付けの良否を判定する光学式外観検査装置と，該プリント板ユニットにおける主として不可視領域部分の外観検査を行ない該部品やはんだ付けの良否を判定するＸ線式外観検査装置」は，本願発明の「部品を実装した基板の撮影画像を取り込んで該部品やはんだ付けの良否を判定する外観検査装置」に相当する。
　また，引用発明の「プリント板ユニット外観検査システム」は，光学式外観検査装置及びＸ線式外観検査装置の両方を集中して管理するものであるから，本願発明の「集中管理システム」に相当するとともに，引用発明の「該光学式外観検査装置，該Ｘ線式外観検査装置，該不良診断装置で得られた測定データを一括して管理するサーバ」は，本願発明の「管理装置」に相当する。
　さらに，引用発明の「該光学式外観検査装置，該Ｘ線式外観検査装置で不良判定とした部分を・・・再確認する」は，本願発明の「不良と判定された箇所の検査を行う」に相当するとともに，本願発明はモニタに表示して不良と判定された箇所の検査を行うものであるから，引用発明と同じく「目視検査」により検査を行うものと言うことができる。
　そして，本願発明は，「各外観検査装置で取り込んだ画像を画像ファイルとして所定のネットワークを介して前記管理装置に転送」するものであり，引用発明は，「該光学式外観検査装置，該Ｘ線式外観検査装置，該不良診断装置にそれぞれ付設されたデータ処理装置と該サーバとがローカルエリアネットワークを介して接続されている」ものであるから，この点において，本願発明と引用発明とは，「各外観検査装置と管理装置とが所定のネットワークを介して接続され」ている点で共通していると言うことができる。
　
　してみると，両発明は，
　
「部品を実装した基板の撮影画像を取り込んで該部品やはんだ付けの良否を判定する外観検査装置の集中管理システムであって，管理装置を備え，各外観検査装置と管理装置とが所定のネットワークを介して接続され，不良と判定された箇所の検査を目視検査により行う外観検査装置の集中管理システム。」
　
である点で一致し，以下の点で相違している。
　
（相違点１）
　本願発明では，目視検査を管理装置にて行うのに対し，引用発明では，目視検査を管理装置とは別の不良診断装置にて行う点。
　
（相違点２）
　本願発明では，目視検査を行うのに，各外観検査装置で取り込んだ画像を画像ファイルとして所定のネットワークを介して目視検査場所に転送し，転送された前記画像ファイルをモニタに表示し，モニタに表示された前記画像ファイルの画像に基づいて行うのに対し，引用発明では，そのような構成であるか否か明らかでない点。
　
第４　判断
　まず相違点１について検討する。
　ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）上で，どの機能とどの機能とを一体的に配置し，どの機能を別に配置するかは適宜選択し得る設計事項であるところ，引用発明において管理装置たるサーバはデータ管理を行うものであり，ＬＡＮ上のどこに配置してもよいものであることは当業者にとって明らかであるから，これを不良診断装置と一体的に配置する，すなわち，不良と判定された箇所の検査を管理装置にて行うようにし，相違点１における本願発明の構成とすることは，当業者が適宜なし得たことにすぎない。
　
　次に相違点２について検討する。
　外観検査の技術分野において，外観検査装置にて不良と判定された箇所の検査を目視検査により行う際に，外観検査装置で取り込んだ画像をモニタに表示し，モニタに表示された画像に基づいて行うことは周知の技術である。（必要であれば，特開平５−３３２９４８号公報（段落【００２１】〜【００２３】）や原査定の拒絶の理由に引用された特開平６−２２２０１２号公報（段落【００１１】，【００３４】）を参照。）
　また，画像データをＬＡＮのような所定のネットワークを介して転送することは，例えば特開平６−２６６８１４号公報（段落【００１５】等を参照。）等にも記載されているように本願出願前に周知の技術であったと言えるし，さらに，画像データを画像ファイルとして転送することは技術常識である。
　してみると，引用発明に上記の各周知技術を適用して，光学式外観検査装置及びＸ線式外観検査装置，すなわち，各外観検査装置で取り込んだ画像を画像ファイルとして所定のネットワークを介して目視検査場所へ転送するとともに，当該画像ファイルをモニタに表示し，モニタに表示された画像に基づいて目視検査を行うこと，すなわち，相違点１における本願発明の構成とすることは，当業者が容易に想到できたことというべきである。
　
　そして，本願発明の作用効果も，引用文献４に記載の技術事項及び各周知技術から当業者が予測できる範囲のものであり，格別顕著なものとはいえない。
　
　なお，請求人は，請求の理由中で「意見書の主張は全て援用します。」としており，平成１８年５月１１日付けの意見書において，「すなわち、文献４発明においては、Ｘ線式外観検査装置と光学式外観検査装置とが二つで一つの検査装置を構成することとなり、Ｘ線式外観検査装置と光学式外観検査装置とから成る一つの検査装置が、一つの不良診断装置と対応する関係となっております。したがって、文献４発明は、本願発明の特徴とする処の、複数の外観検査装置のそれぞれが取り込んだ画像を画像ファイルとして一つの管理装置に転送し、複数の外観検査装置を一つの管理装置で集中管理する構成を有するものではありません。また引用文献４には、これについて何ら開示されておらず、またその示唆もありません。」と主張している。
　しかし，引用文献４の段落【００２０】〜【００２１】の記載から，Ｘ線式外観検査装置と光学式外観検査装置とがそれぞれ異なる箇所を検査するものであり，また，「不良診断装置１３は、Ｘ線式検査装置１２の検査結果格納ファイル４５−２および光学式検査装置１１の結果ファイル４５−１を読み出して、不良箇所の確認を行ない」（段落【００２６】），「本実施例では、検査対象備品を分担し各装置は別々の時間に検査をして各々良否判定を行ない、結果をサーバに送るものである。」（段落【００３０】）等の記載からも，Ｘ線式外観検査装置と光学式外観検査装置とがそれぞれ独自に検査結果を出すものであることは明らかであるから，両者はそれぞれ別個の外観検査装置，すなわち，「各外観検査装置」というべきものである。
　よって，請求人の上記主張は採用することができない。
　
第５　むすび
　以上のとおり，本願発明は，引用文献４に記載された発明及び周知の技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　そうすると，他の請求項について言及するまでもなく，本願は，拒絶すべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。