【手続補正書】
【提出日】平成24年8月6日(2012.8.6)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を形式的に記述する方法であって、本方法が有向グラフ（Ｇ）として表現可能なシーケンスモデルで構成されており、
シーケンスモデルがワープブロック（Ｗ）、Ｘブロック（Ｘ）、休止（Ｂ）の群から成るブロックに基づいており、
有向グラフ（Ｇ）が少なくとも
Ｘブロック（Ｘ）、入口点（Ｉ）および出口点（Ｏ）から成る群で形成されたノードと、
エッジ（Ｋａ）と、
有向グラフ（Ｇ）の流れを制御するための該エッジ（Ｋａ）の性質とを含み、
決定されるべき複数のパラメータ（１１００）に至るまで測定シーケンス（１００）が有向グラフ（Ｇ）から自動的にパラメータ化可能である
測定シーケンスの形式的記述方法。
【請求項２】
有向グラフ（Ｇ）の流れを制御するための前記エッジ（Ｋａ）の性質が、
・ワープブロック（Ｗ）、
・時間測定、
・休止（Ｂ）、
・パスコントロール（Ｐ）
から成る群によって与えられている請求項１記載の方法。
【請求項３】
ノード間のエッジ（Ｋａ）が、
入口点（Ｉ）からパスコントロール（Ｐ）を介してワープブロック（Ｗ）およびそこからＸブロック（Ｘ）に至る移行部と、
Ｘブロック（Ｘ）からパスコントロール（Ｐ）を介して出口点（Ｏ）に至る移行部と、
Ｘブロック（Ｘ）からパスコントロール（Ｐ）を介してワープブロック（Ｗ）およびそこからＸブロック（Ｘ）に至る移行部と、
Ｘブロック（Ｘ）からパスコントロール（Ｐ）および休止（Ｂ）を介してワープブロック（Ｗ）およびそこからＸブロック（Ｘ）に至る移行部と、
Ｘブロックから時間測定を介してＸブロック（Ｘ）に至る移行部と
から成る群によって与えられている請求項１又は２記載の方法。
【請求項４】
各Ｘブロック（Ｘ）が受信型（ＥＴ）および／または送信型（ＳＴ）のタイムスライスを表す請求項１ないし３の１つに記載の方法。
【請求項５】
送信型（ＳＴ）のＸブロック（Ｘ）が反転パルス、励起パルス、リフォーカスパルスまたはそれらのパルスの混合を表す請求項４記載の方法。
【請求項６】
有向グラフ（Ｇ）の内部でパスコントロール（Ｐ）の常時１つのみを満たしておくことができる請求項２ないし５の１つに記載の方法。
【請求項７】
各時間測定が、
１つのＸブロック（Ｘ）の持続時間と、
第２Ｘブロック（Ｘ）の中心間で測定されるシーケンス時間と、
１つの測定シーケンス（１００）の内部で各第１Ｘブロック（Ｘ）の中心の時点としてのシーケンス開始時間（Ｔ．３０）と
から成る群のうちの１要素である請求項２記載の方法。
【請求項８】
さらに、
有向グラフ（Ｇ）の各ブロック（Ｘ）についてインデックスを求めるステップと、
有向グラフ（Ｇ）から各ワープブロック（Ｗ）および各Ｘブロック（Ｘ）について変数を求めるステップと、
有向グラフ（Ｇ）から送信型（ＳＴ）および／または受信型（ＥＴ）の各Ｘブロック（Ｘ）の各中心について零次の傾斜モーメントを求めるステップと
を含む請求項１ないし７の１つに記載の方法。
【請求項９】
さらに、有向グラフ（Ｇ）からシーケンス方程式を求めるステップを含む請求項１ないし８の１つに記載の方法。
【請求項１０】
さらに、有向グラフ（Ｇ）から、送信型（ＳＴ）および／または受信型（ＥＴ）の各Ｘブロック（Ｘ）について、励起パルスと、リフォーカスパルスと、励起パルスおよびリフォーカスパルスからなる混合パルスと、反転パルスとのうちの少なくとも１つパルスの列としてエコー発生パスを求めるステップを含む請求項１ないし９の１つに記載の方法。
【請求項１１】
さらに、有向グラフ（Ｇ）から送信型（ＳＴ）および／または受信型（ＥＴ）の各Ｘブロック（Ｘ）の各中心について一次の傾斜モーメントを求め、これにより測定シーケンス（１００）内でフロー補償またはフローエンコーディングが印加可能であるステップを含む請求項１ないし１０の１つに記載の方法。
【請求項１２】
さらに、有向グラフ（Ｇ）から送信型（ＳＴ）および／または受信型（ＥＴ）の各Ｘブロックについて拡散重みを求めるステップを含む請求項１ないし１１の１つに記載の方法。
【請求項１３】
さらに、有向グラフ（Ｇ）から送信型（ＳＴ）および／または受信型（ＥＴ）の各Ｘブロック（Ｘ）のそれぞれ１つの中心について高次の傾斜モーメントを求めるステップを含む請求項１ないし１２の１つに記載の方法。
【請求項１４】
さらに、
１つの測定シーケンス（１００）の内部でサブシーケンス（１０１）を求め、
求められたサブシーケンス（１０１）の内部で分割できないスーパーブロック（１０２）を識別し、分割できないスーパーブロック（１０２）が有向グラフ（Ｇ）の内部でシーケンス時間を介して結合されている請求項１ないし１３の１つに記載の方法。
【請求項１５】
請求項１ないし１４の１つに記載された測定シーケンス（１００）の形式的述方法に従ってパラメータ化されかつ有向グラフ（Ｇ）として存在するシーケンスモデルに基づいて磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を自動的に作成する方法であって、パラメータ化が、決定されるべき複数のパラメータ（１１００）を含むものにおいて、
磁気共鳴スキャナ（４）で測定シーケンス（１００）を実行するために満たされねばならない境界条件（２５００）が用意されるステップと、
各ワープブロック（Ｗ）または各Ｘブロック（Ｘ）についてのタイミング値（Ｔ．ｉ）と、決定されるべき複数のパラメータ（１１００）用の許容値とが、ソルバー（２０００）によって、境界条件（２５００）を考慮して求められるステップと、
測定シーケンス（１００）の形式記述が、磁気共鳴スキャナ（４）で実行可能なタイムスライスの列に自動的に変換されるステップと
を含む測定シーケンスの自動作成方法。
【請求項１６】
さらに測定シーケンスをインターリーブ実行するために、
複数の測定シーケンスを用意するステップと、
複数の測定シーケンスのうち休止（Ｂ）を含む各第１つの測定シーケンスの内部で少なくとも１つのサブシーケンス（１０１）を識別するステップと、
各第１つの測定シーケンスの休止（Ｂ）中に、求められたサブシーケンスの少なくとも１つを重なりなしに実行できるように、複数の測定シーケンスのうちそれぞれ別の測定シーケンスからサブシーケンスを求めるステップとを含む請求項１５記載の方法。
【請求項１７】
境界条件（２５００）が、
コントラスト設定と、
画像分解能設定と、
少なくとも１つの断層用の位置設定と、
ハードウェア制約と、
測定時間の最小化と、
患者安全設定と
を含む群のうちの少なくとも１つの要素である請求項１５又は１６記載の方法。
【請求項１８】
形式的な記述を自動変換するステップがプログラム言語への変換を含み、測定シーケンス（１００）が磁気共鳴スキャナ（４）でまたは磁気共鳴スキャナ（４）に接続された制御ユニット（４５）で実行可能である請求項１５ないし１７の１つに記載の方法。
【請求項１９】
磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を形式的に記述する装置であって、この装置が、
ワープブロック（Ｗ）、Ｘブロック（Ｘ）、休止（Ｂ）の群から成るブロックに基づくシーケンスモデルを受け取るシーケンスモデルインタフェースと、
シーケンスモデルに基づいて測定シーケンス（１００）を有向グラフ（Ｇ）として表現するモニタ（２０５）とを含み、
有向グラフ（Ｇ）が少なくとも、
Ｘブロック（Ｘ）、入口点（Ｉ）および出口点（Ｏ）から成る群で形成されたノードと、
エッジ（Ｋａ）と、
有向グラフ（Ｇ）の流れを制御するためのエッジ（Ｋａ）の性質とを含み、
装置がさらに、シーケンスモデルから出発して、決定されるべき複数のパラメータ（１１００）に至るまで有向グラフ（Ｇ）から測定シーケンス（１００）を自動的にパラメータ化するパラメータ化モジュール（１００５）を含む
測定シーケンスの形式的記述装置。
【請求項２０】
磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を自動的に作成する装置であって、この装置が、
１つのシーケンスモデルから出発して請求項１９記載の磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を形式的に記述する装置によって作成される有向グラフ（Ｇ）を受け取るグラフ受入インタフェース（９１０）と、
測定シーケンス（１００）の実行時に選択的に満たされねばならない予め定められた境界条件（２５００）を受け取る境界条件インタフェースモジュール（９１５）と、
境界条件（２５００）を考慮して選択的に各ワープブロック（Ｗ）または各Ｘブロック（Ｘ）についてタイミング値（Ｔ．ｉ）を求め、かつ決定されるべき複数のパラメータ（１１００）についての許容値を求めるソルバー（２０００）と、
磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）の形式的な記述を、磁気共鳴スキャナ（４）で実行可能なタイムスライスの列に自動的に変換する変換モジュール（９９０）と
を含む測定シーケンスの自動作成装置。
【請求項２１】
装置がさらに、
有向グラフ（Ｇ）から各Ｘブロック（Ｘ）についてインデックスを求めるインデキシングモジュール、
各ワープブロック（Ｗ）についてまたは各Ｘブロック（Ｘ）について有向グラフ（Ｇ）から変数を決定する変数モジュール、
有向グラフ（Ｇ）からシーケンス方程式を求めるシーケンス方程式モジュール、
有向グラフ（Ｇ）から送信型（ＳＴ）および／または受信型（ＥＴ）の各Ｘブロック（Ｘ）についてエコー発生パスを、励起パルスと、リフォーカスパルスと、励起パルスおよびリフォーカスパルスからなる混合パルスと、反転パルスとのうちの少なくとも１つパルスの列として決定するエコー経路モジュール、
有向グラフ（Ｇ）から送信型（ＳＴ）および／または受信型（ＥＴ）の各Ｘブロック（Ｘ）の各中心について零次の傾斜モーメント、一次の傾斜モーメントおよび高次の傾斜モーメントのうちの少なくとも１つの傾斜モーメントを決定する傾斜モーメントモジュール、
有向グラフ（Ｇ）から送信型（ＳＴ）および／または受信型（ＥＴ）の各Ｘブロックについて拡散重みを求める拡散重みモジュール、
インターリーブ実行されるべき複数の測定シーケンスを受け取るインターリーブモジュール、
複数の測定シーケンスのうち休止（Ｂ）を含む各第１つの測定シーケンスの内部で少なくとも１つのサブシーケンス（１０１）を識別するサブシーケンス決定モジュール、
各第１つの測定シーケンスの休止（Ｂ）中に、求められたサブシーケンスの少なくとも１つを重なりなしに実行できるように、複数の測定シーケンスのうちそれぞれ別の測定シーケンスからサブシーケンスを求めるサブシーケンス算出モジュール、
のうちの少なくとも１つのモジュールを含む請求項２０記載の装置。
【請求項２２】
磁気共鳴スキャナ（４）に接続された演算ユニットまたは磁気共鳴スキャナでプログラムが実行されるとき、請求項１ないし１４の１つに記載された磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を形式的に記述する方法、または請求項１５ないし１８の１つに記載された磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を自動的に作成する方法を実現するコンピュータプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項２３】
磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を自動的に作成するシステムであって、このシステムが、
測定シーケンス（１００）を実行することのできる磁気共鳴スキャナ（４）と、
磁気共鳴スキャナ（４）のユーザと対話するためのユーザインタフェース（３０００）と、
請求項１９に記載された磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を形式的に記述する装置と、
請求項２０または２１に記載された磁気共鳴スキャナ（４）で実行する測定シーケンス（１００）を自動的に作成する装置と
を含む測定シーケンスの自動作成システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】測定シーケンスの形式的記述方法および装置、測定シーケンスの自動作成方法および装置、コンピュータ読み取り可能な記録媒体、および測定シーケンスの自動作成システム
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
本発明の課題は、磁気共鳴スキャナで実行する測定シーケンスを形式的に記述する方法であって、本方法が有向グラフとして表現可能なシーケンスモデルで構成されており、
シーケンスモデルがワープブロック、Ｘブロック、休止の群から成るブロックに基づいており、
有向グラフが少なくとも、Ｘブロック、入口点および出口点から成る群で形成されたノードと、エッジと、有向グラフを経過制御する（つまり有向グラフの流れを制御する）ための該エッジの性質とを含み、
決定されるべき複数のパラメータに至るまで測定シーケンスが有向グラフから自動的にパラメータ化可能である
測定シーケンスの形式的記述方法によって解決される（請求項１）。
測定シーケンスの形式的記述方法に関する本発明の実施態様は次の通りである。
・有向グラフの流れを制御するためのエッジの性質が、ワープブロック、時間測定、休止、パスコントロールから成る群によって与えられている（請求項２）。
・ノード間のエッジは、入口点からパスコントロールを介してワープブロックおよびそこからＸブロックに至る移行部と、Ｘブロックからパスコントロールを介して出口点に至る移行部と、Ｘブロックからパスコントロールを介してワープブロックおよびそこからＸブロックに至る移行部と、Ｘブロックからパスコントロールおよび休止を介してワープブロックおよびそこからＸブロックに至る移行部と、Ｘブロックから時間測定を介してＸブロックに至る移行部とから成る群によって与えられている（請求項３）。
・各Ｘブロックが受信型および／または送信型のタイムスライスを表す（請求項４）。
・送信型のＸブロックが反転パルス、励起パルス、リフォーカスパルスまたはそれらのパルスの混合を表す（請求項５）。
・有向グラフの内部でパスコントロールの常時１つのみを満たしておくことができる（請求項６）。
・各時間測定が、１つのＸブロックの持続時間と、第２Ｘブロックの中心間で測定されるシーケンス時間と、１つの測定シーケンスの内部で各第１Ｘブロック（Ｘ）の中心の時点としてのシーケンス開始時間とから成る群のうちの１要素である（請求項７）。
・さらに、有向グラフの各ブロックについてインデックスを求めるステップと、有向グラフから各ワープブロックおよび各Ｘブロックについて変数を求めるステップと、有向グラフから送信型および／または受信型の各Ｘブロックの各中心について零次の傾斜モーメントを求めるステップとを含む（請求項８）。
・さらに、有向グラフからシーケンス方程式を求めるステップを含む（請求項９）。
・さらに、有向グラフから、送信型および／または受信型の各Ｘブロックについて、励起パルスと、リフォーカスパルスと、励起パルスおよびリフォーカスパルスからなる混合パルスと、反転パルスとのうちの少なくとも１つパルスの列としてエコー発生パスを求めるステップを含む（請求項１０）。
・さらに、有向グラフから送信型および／または受信型の各Ｘブロックの各中心について一次の傾斜モーメントを求め、これにより測定シーケンス内でフロー補償および／またはフローエンコーディングが印加可能であるステップを含む（請求項１１）。
・さらに、有向グラフから送信型および／または受信型の各Ｘブロックについて拡散重みを求めるステップを含む（請求項１２）。
・さらに、有向グラフから送信型および／または受信型の各Ｘブロックのそれぞれ１つの中心について高次の傾斜モーメントを求めるステップを含む請求項１３）。
・さらに、１つの測定シーケンスの内部でサブシーケンスを求め、求められたサブシーケンスの内部で分割できないスーパーブロックを識別し、分割できないスーパーブロックが有向グラフの内部でシーケンス時間を介して結合されている（請求項１４）。
本発明の課題は、測定シーケンスを形式的に記述する方法に従ってパラメータ化されかつ有向グラフとして存在するシーケンスモデルに基づいて磁気共鳴スキャナで実行する測定シーケンスを自動的に作成する方法であって、パラメータ化が、決定されるべき複数のパラメータを含むものにおいて、
磁気共鳴スキャナで測定シーケンスを実行するために満たされねばならない境界条件が用意されるステップと、
各ワープブロックおよび／または各Ｘブロックについてのタイミング値と、決定されるべき複数のパラメータ用の許容値とが、ソルバーによって、境界条件を考慮して求められるステップと、
測定シーケンスの形式記述が、磁気共鳴スキャナで実行可能なタイムスライスの列に自動的に変換されるステップと
を含む測定シーケンスの自動作成方法によっても解決される（請求項１５）。
測定シーケンスの自動作成方法に関する本発明の実施態様は、次の通りである。
・さらに測定シーケンスをインターリーブ実行するために、
複数の測定シーケンスを用意するステップと、
複数の測定シーケンスのうち休止を含む各第１つの測定シーケンスの内部で少なくとも１つのサブシーケンスを識別するステップと、
各第１つの測定シーケンスの休止中に、求められたサブシーケンスの少なくとも１つを重なりなしに実行できるように、複数の測定シーケンスのうちそれぞれ別の測定シーケンスからサブシーケンスを求めるステップとを含む（請求項１６）。
・境界条件が、コントラスト設定と、画像分解能設定と、少なくとも１つの断層用の位置設定と、ハードウェア制約と、測定時間の最小化と、患者安全設定とを含む群のうちの少なくとも１つの要素である（請求項１７）。
・形式的な記述を自動変換するステップがプログラム言語への変換を含み、測定シーケンスが磁気共鳴スキャナでおよび／または磁気共鳴スキャナに接続された制御ユニットで実行可能である（請求項１８）。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
有向グラフは経過（流れ）またはアルゴリズムを表現するのに使用することができる。情報学において有向グラフは例えば自動装置の記述に関して知られている。そのことを背景に、有向グラフとしての測定シーケンスの表現はＭＲスキャナで実行可能なタイムスライスの列からの更なる抽象化である。有向グラフを通行（pass）することによって、有向グラフとして表される測定シーケンスはその時間的経過においてグローバル時間軸上に表現可能である。その際、有向グラフとして表される測定シーケンスの具体的時間経過はまだ完全には確定されていない。さしあたり確定しているのは、例えば特定Ｘブロック間のシーケンス時間、重なることのないブロック相互のスムーズな接続等の相対的時間関連だけである。一般に、有向グラフの経過（流れ）は測定シーケンスの経過（流れ）に関するメタ時間計画を提供する。測定シーケンスのメタ時間計画をタイムスライスの列に具体的に変換することは、タイミング問題を解くことによって達成される。本発明によればこのためソルバーを使用することができる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３６】
入口点はグラフへのエントリを表す。出口点はグラフ中の経過（流れ）の終了を示す。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
入口点から出口点に至る有向グラフの経過（流れ）つまり通行が測定シーケンスを記述する。通行（pass）とは、有向グラフ内のパスコントロールと有向グラフの経過（流れ）を制御するための性質とを考慮した有向グラフのエッジの経過（流れ）を意味する。測定シーケンスの表現として選択された有向グラフの態様は、測定シーケンスの全ブロックを明確に表記する必要がもはやないので、ごく洗練された表現態様であると実証された。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
本発明に係る有向グラフの態様での測定シーケンスの形式記述もしくはモデル化には、有向グラフのノードとトランジションまたはエッジの他に、有向グラフの経過（流れ）を制御するための該エッジの性質がなお必要である。エッジのこのような性質は、測定シーケンス内の他の性質および関連をその表現時に有向グラフとして表すのに使用される。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
有向グラフの経過（流れ）を制御するためのエッジの性質は、ワープブロック、時間測定、休止および／またはパスコントロールとすることができる。ワープブロックは核スピンシステムの作成に役立つ。休止または休止ブロックはアクションが実行されない測定シーケンス中の時間部分、つまりＭＲスキャナが実質的に待機する時間部分である。パス（path）コントロールとは、有向グラフの特定部分を実行できるように満たされていなければならない質問のことである。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７０】
本発明の課題は、磁気共鳴スキャナで実行する測定シーケンスを形式的に記述する装置であって、この装置が、
ワープブロック、Ｘブロック、休止の群から成るブロックに基づくシーケンスモデルを受け取るシーケンスモデルインタフェースと、
シーケンスモデルに基づいて測定シーケンスを有向グラフとして表現するモニタとを含み、
有向グラフが少なくとも、Ｘブロック、入口点および出口点から成る群で形成されたノードと、エッジと、有向グラフを経過制御する（つまり有向グラフの流れを制御する）ための該エッジの性質とを含み、
装置がさらに、シーケンスモデルから出発して、決定されるべき複数のパラメータに至るまで有向グラフから測定シーケンスを自動的にパラメータ化するパラメータ化モジュールを含む
測定シーケンスの形式的記述装置によっても解決される（請求項１９）。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７１】
本発明の課題は、ＭＲスキャナで実行する測定シーケンスを自動的に作成する装置であって、この装置が、
１つのシーケンスモデルから出発して磁気共鳴スキャナで実行する測定シーケンスを形式的に記述する装置によって作成される有向グラフを受け取るグラフ受入インタフェースと、
測定シーケンスの実行時に選択的に満たされねばならない予め定められた境界条件を受け取る境界条件インタフェースモジュールと、
境界条件を考慮して選択的に各ワープブロックおよび／または各Ｘブロックについてタイミング値を求め、かつ決定されるべき複数のパラメータについての許容値を求めるソルバーと、
磁気共鳴スキャナで実行する測定シーケンスの形式的な記述を、磁気共鳴スキャナで実行可能なタイムスライスの列に自動的に変換する変換モジュールと
を含む測定シーケンスの自動作成装置によっても解決される（請求項２０）。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７２】
測定シーケンスの自動作成装置は、本発明によれば、この装置がさらに、
有向グラフから各Ｘブロックについてインデックスを求めるインデキシングモジュール、
各ワープブロックについておよび／または各Ｘブロックについて有向グラフから変数を決定する変数モジュール、
有向グラフからシーケンス方程式を求めるシーケンス方程式モジュール、
有向グラフから送信型および／または受信型の各Ｘブロックについてエコー発生パスを、励起パルスと、リフォーカスパルスと、励起パルスおよびリフォーカスパルスからなる混合パルスと、反転パルスとのうちの少なくとも１つパルスの列として決定するエコー経路モジュール、
有向グラフから送信型および／または受信型の各Ｘブロックの各中心について零次の傾斜モーメント、一次の傾斜モーメントおよび高次の傾斜モーメントのうちの少なくとも１つの傾斜モーメントを決定する傾斜モーメントモジュール、
有向グラフから送信型および／または受信型の各Ｘブロックについて拡散重みを求める拡散重みモジュール、
インターリーブ実行されるべき複数の測定シーケンスを受け取るインターリーブモジュール、
複数の測定シーケンスのうち休止を含む各第１つの測定シーケンスの内部で少なくとも１つのサブシーケンスを識別するサブシーケンス決定モジュール、
各第１つの測定シーケンスの休止中に、求められたサブシーケンスの少なくとも１つを重なりなしに実行できるように、複数の測定シーケンスのうちそれぞれ別の測定シーケンスからサブシーケンスを求めるサブシーケンス算出モジュール、
のうちの少なくとも１つのモジュールを含むことによって改良することができる（請求項２１）。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７３】
本発明はさらに、課題を解決するために、磁気共鳴スキャナに接続された演算ユニットおよび／または磁気共鳴スキャナでプログラムが実行されるとき、本発明による磁気共鳴スキャナで実行する測定シーケンスを形式的に記述する方法、および／または本発明による磁気共鳴スキャナで実行する測定シーケンスを自動的に作成する方法を実現するコンピュータプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供する（請求項２２）。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７４】
課題の他の解決によれば、本発明はＭＲスキャナで実行する測定シーケンスの自動作成システムを提供する（請求項２３）。このシステムは磁気共鳴スキャナと、ユーザインタフェースと、本発明による磁気共鳴スキャナで実行する測定シーケンスを形式的に記述する装置とを含む。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７５】
選択的にこのシステムはさらに、本発明による磁気共鳴スキャナで実行する測定シーケンスを自動的に作成する装置を含むことができる。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１３５】
１つの測定シーケンス１００の有向グラフＧは、従ってサブシーケンス１０１の有向グラフも、相対的関連、例えば個々のＷＸブロックＷＸのもとでの時間関連を再現し、完全にパラメータ化することができ、すなわち具体的値を占めることができる。シーケンスモデルの基本原理は、ワープブロックＷ、ＸブロックＸ、休止Ｂの群から成るブロックにシーケンスモデルが基づいている事実である。１サブシーケンス１０２の有向グラフＧはノードとエッジＫａと有向グラフＧの経過（流れ）を制御するための該エッジの性質とを含む。ノードはＸブロックＸと入口点Ｉと出口点Ｏとから成る群を含む。入口点Ｉと出口点Ｏは、入口点Ｉとしての有向グラフＧの初端と出口点Ｏとしての有向グラフＧの終端とを示すので、一定の仕方で特殊位置を占める。それゆえに、図６の有向グラフの選択されたグラフ表現において入口点Ｉは下向きの三角形として示してある一方、出口点Ｏは上向きの三角形である。有向グラフＧが終了するや、１サブシーケンス１０２または１つの測定シーケンス１００の他の有向グラフＧにジャンプすることができる。有向グラフの残りのノード、つまり入口点Ｉおよび／または出口点Ｏではないノードは、ＸブロックＸによって与えられている。図６と以下ではこれらのノードが楕円で示してある。有向グラフのノードはエッジＫａを介して結合される。さらに、エッジＫａは有向グラフＧの経過（流れ）を制御するための性質を備えている。エッジＫａは同様に、自動装置の状態モデルまたはグラフ理論の方から知られているようなトランジションである。経過（流れ）を制御するためのエッジＫａの性質は測定シーケンス１００の特徴的性質を描写する。経過（流れ）を制御するためのエッジＫａのこれらの性質は、ワープブロックＷ、時間測定、休止ＢおよびパスコントロールＰから成る群によって与えられている。測定シーケンス１００をパラメータ化すべき有向グラフＧでは、まったく特定のトランジションのみが許容されている。これらの許容トランジションとは、入口点ＩからパスコントロールＰを介してＸブロックＸに至る移行部。さらに、ＸブロックＸからパスコントロールＰを介して出口点Ｏに至る移行部。さらに、ＸブロックＸからパスコントロールＰを介してワープブロックＷに、またそこからＸブロックに至る移行部が許容されている。さらに、ＸブロックＸからパスコントロールＰおよび休止Ｂを介してワープブロックＷに、そしてそこからＸブロックＸに至る移行部、最後にＸブロックから時間測定を介してＸブロックＸに至る移行部である。