【事件の表示】
　平成　９年特許願第２６１９５９号「試料分析装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１１年　４月１３日出願公開、特開平１１−１０１７４３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯 
　本願は、平成９年９月２６日にされた特許出願（平成９年特許願２６１９５９号。以下「本件出願」という。）につき、平成１７年３月１１日付けで拒絶査定がなされ、同月１５日に発送されたところ、拒絶査定に対する審判が同年４月１４日に請求されたものである。
　　　　　　　　　
第２　本件出願に係る発明
　本件出願の請求項１〜３に係る発明は、特許出願された明細書及び図面の記載からみて、特許請求の範囲の請求項１〜３記載された事項により特定されるとおりのものであって、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は次のとおりのものと認める。
　　　　　　　　 
【請求項１】「光の波長よりも短い径の光通過開口を先端に有する微小開口プローブと、
　試料分析用の光を発する光源と、
　この光を前記微小開口プローブの基端から入射させる入射光学系と、
　前記微小開口プローブの先端から出射する近接場光の照射を受ける位置に試料を保持する試料台と、
　前記試料で散乱した光を受けて、この散乱光の強度分布パターンを撮像する撮像手段と、
　撮像されたこの強度分布パターンを表示する表示手段とからなる試料分析装置。」
 　 
第３　引用刊行物に記載された発明 
　原査定の拒絶の理由に引用された特開平９−２１１０１０号公報（以下、「引用刊行物Ａ」という。）には、 
（Ａ−１）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、細胞などの電気生理学的な測定や記録と近接場顕微観察とを同時に行う電気生理特性測定装置に関するものである。」こと、
（Ａ−２）「【００３５】　図１に示すように、この装置は、（ａ）試料９００の広域像を観察する光学顕微鏡部１００と、（ｂ）先端に微小開口を有し、外周部に光反射膜および絶縁膜が形成されるとともに、内部空間に電極液を収納し、後端の開口から微小開口の径より長い波長の光が導入されると、微小開口からエバネッセント光を出力するガラスマイクロピペット電極２００と、（ｃ）照射光を発生する波長可変光照射部３１０を備え、ガラスマイクロピペット電極２００を移動しながら、ガラスマイクロピペット電極２００を介してエバネッセント光を試料９００に照射し、試料９００の局所像を観察する走査型近接場光学顕微鏡部３００と、（ｄ）ガラスマイクロピペット電極２００と試料９００との間の距離を２００ｎｍ以下に近接させる電極高さ設定部４００と、（ｅ）ガラスマイクロピペット電極２００を通して電圧を印加して、その結果生じた電流を検出するとともに、試料中の単一の生細胞あるいは生体膜の微小な領域から生体膜を横切る電流を電極液を介して導出して記録するパッチクランプ測定部５００と、（ｆ）走査型近接場光学顕微鏡部２００から得られた試料９００の局所像と、走査型近接場光学顕微鏡部３００の光の照射ごとにパッチクランプ測定部５００から得られた電気生理学的情報とを収集し、記録し、解析するとともに、装置全体を制御する解析制御部６００とを備える。そして、収納器７００に収納された水浸状態の試料９００を観察する。
・・・
【００３７】ガラスマイクロピペット電極２００は、先端部に数１００ｎｍ程度の径の開口を有する。
【００３８】走査型近接場光学顕微鏡部３００は、（i）波長可変光照射部３１０と、（ii）波長可変光照射部３１０から出力された照射光がガラスマイクロピペット電極２００を介して試料９００に照射されて発生する光学像を撮像する撮像部３２０と、（iii）ガラスマイクロピペット電極２００位置を移動させる走査部３３０とを備える。
【００３９】図２は、波長可変光照射部３１０の構成図である。図２（ａ）は、波長可変光源を、解析制御部６００から指示された波長の光を出力する波長可変レーザ３１１（当審注：３１２は３１１の誤記と認める）で構成した場合を示し、また、図３（ｂ）は、波長可変光源を、（i）白色光源３１２（当審注：３１２は３１２の誤記と認める）と、（ii）白色光源（当審注：３１２は３１２の誤記と認める）から出力された白色光を分光出力する分光器３１３（当審注：３１４は３１３の誤記と認める）と、（iii）分光器（当審注：３１４は３１３の誤記と認める）から出力された光の内から解析制御部から指示された波長の光を選択して出力する可動スリット３１４（当審注：３１５は３１４の誤記と認める）とで構成した場合を示す。
【００４０】撮像部３２０は、（i）試料からの光を集める対物レンズ３２１と、（ii）対物レンズ３２１を介した光を結像させる結像光学系３２２と、（iii）結像面に受光面が設置された撮像器３２３とを備える。
【００４１】電極高さ設定部４００では、シィアフォースノンコンタクト原子間力顕微鏡で採用されている共振位相検知法が採用さている。」こと、
（Ａ−３）「【００４３】本実施形態の電気生理特性測定装置では、まず、光学顕微鏡部１００で試料９００の広域像を得る。こうして得られる試料９００の広域像に基づいて、ガラスマイクロピペット電極２００を形態観察の対象である細胞などの生体試料９００上の位置に移動する。引き続き、ガラスマイクロピペット電極２００の先端を試料表面の近接場領域である初期位置まで接近させる。ガラスマイクロピペット電極２００の近接場領域への移動にあたっては、ノンコンタクト走査型顕微鏡モードまたはシィアフォースノンコンタクト走査型顕微鏡モードなどの方式を好適に使用できる。
【００４４】こうして、試料の近接場顕微観察による形態観察にあたっての幾何学的準備が完了し、形態観察を開始する（図３参照）。
【００４５】まず、光照射部３１０が発生した照射光を初期位置に設定されたガラスマイクロピペット電極２００を介して照射する。ここで、ガラスマイクロピペット電極２００を介して試料に照射される照射光は非放射光であるエバネセント光であり、結像のためのレンズなどを用いないので、レンズの開口による回折の制限を受けず、位置分解能がガラスマイクロピペット電極２００の先端の開口径のみで決定される。この結果、ガラスマイクロピペット電極の先端の径を数１００ｎｍ程度とし、ガラスマイクロピペット電極と試料との間を近接場領域となる数１００ｎｍ以下とすれば、照射光の波長の数分の１〜数１０分の１の分解能で、試料９００の微細な形状や構造、あるいは微小領域における光学的な特性が撮像部３２０で撮像され、観察できる。こうして観察される試料の局所像は解析制御部６００に通知される。
【００４６】解析制御部６００は、走査型近接場光学顕微鏡部２００から通知された試料９００の局所像情報を収集し、初期位置情報とともに格納する。
【００４７】次に、解析制御部６００は、走査型近接場光学顕微鏡部３００に走査を指示する。そして、走査位置ごとに、上記と同様にして、試料９００の局所像情報を収集し、走査位置情報とともに格納する。
【００４８】走査にあたって、近接場領域内での走査を確保するためには、コンスタントハイトモード制御、ノンコンタクト走査型顕微鏡モード制御、またはシィアフォースノンコンタクト走査型顕微鏡モード制御などの方式を好適に使用できる。
【００４９】　走査、情報収集、および情報格納の完了後、解析制御部６００は格納情報に基づいて、解析制御部６００は、試料の走査領域全体の光学像情報を解析し、顕微観察像を再構成して表示や記録などを行う。この結果、通常の光学顕微鏡による形態観察に比べて、より高い空間分解能で試料９００の形態の観察ができる。」ことが記載されている。
（Ａ−４）また、図２には波長可変光照射部３１０の構造として波長可変レーザ３１１の出力をガラスマイクロピペット電極２００の入射端に入射させるための反射部材が描かれている。
　上記（Ａ−１）〜（Ａ−４）の記載を参照すると、上記引用刊行物Ａには、
「先端に微小開口を有し、外周部に光反射膜および絶縁膜が形成されるとともに、後端の開口から微小開口の径より長い波長の光が導入されると、微小開口からエバネッセント光を出力するガラスマイクロピペット電極２００と、
　照射光を発生する波長可変レーザ３１１、及び波長可変レーザ３１１からの照射光をガラスマイクロピペット電極２００の入射端に入射させるための反射部材から構成される波長可変光照射部３１０、照射された試料９００から透過した光を集めて試料９００の局所像を撮像する撮像部３２０、及びガラスマイクロピペット電極２００の位置を移動させる走査部とから３３０とからなる走査型近接場光学顕微鏡部３００と、
　エバネッセント光が照射される試料９００を収納する収納器７００と、
　撮像部３２０からの局所像情報を収集・解析し、表示や記録を行う解析制御部６００とからなる電気生理特性計測装置。」の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている。
　また、原査定の拒絶の理由に引用された特開平４−３０７５１０号公報（以下、「引用刊行物Ｂ」という。）には、
（Ｂ−１）「【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学探針を２次元走査して試料表面のイメージングを行う近接場走査光学顕微鏡に関する。」こと、
（Ｂ−２）「【０００８】図１に示すように、近接場走査光学顕微鏡の基台１０上にはＸ−Ｙステージ１２が固定されている。Ｘ−Ｙステージ１２上にはピエゾ素子を用いたＸ−Ｙ走査装置１４が配置され、その上の試料セット位置には拡大観察の対象となる薄膜状の試料１６が載置される。Ｘ−Ｙステージ１２は、試料１６のＸ、Ｙ方向（図面の前後・左右方向）の手動による位置設定を可能にする。Ｘ−Ｙ走査装置１４は、試料１６のＸ、Ｙ方向の位置の電気的制御を可能にする。つまり、このＸ−Ｙ走査装置１４によって試料１６をＸ−Ｙ面内で電気的に極めて正確に走査することができる。　
【０００９】基台１０上から延びる支柱１８およびＺステージ２０を介してアーム２２が支持されている。このアーム２２には、ピエゾ素子を用いたＺ変位装置２４が配置され、その先に光学探針２８が固定されている。Ｚステージ２０は、光学探針２８のＺ方向（図面の上下方向）の手動による位置設定を可能にする。Ｚ変位装置２４は、光学探針２８のＺ方向の位置の電気的制御を可能にする。
【００１０】パルス光源３０からのパルス状のプローブ光は、光ガイド３２およびセルフォックレンズ３４を経てこの光学探針２８内に入射する。この光学探針２８は近接場光学手段の一部となっている。パルス光源３０としては、半導体レーザ励起のモード同期Ｎｄ：ＹＬＦレーザ等を使用する。これにより、所望のパルス幅５０ｐＳ程度及びパルス周期１０ｎｓ程度を有するプローブ光を得ることができる。光学探針２８の先端のピンホールから放射されたパルス状のプローブ光はこれに近接する試料１６に照射される。
【００１１】試料１６に照射されたプローブ光は、試料１６の状態によって変調を受ける。試料１６によって変調を受けた出射光は、下方の対物レンズ４０によって集光される。この対物レンズ４０は近接場光学手段の一部となっている。対物レンズ４０によって集光された出射光は、反射鏡４２を経て光検出手段であるゲート付き光検出器４４に入射する。このゲート付き光検出器４４としては、ストリークカメラをを使用する。これにより、対物レンズ４０によって集光された出射光の光量をプローブ光のパルス出力時に同期させて測定することができる。
【００１２】制御装置４６は、パルス駆動回路５０に信号を出力し、パルス光源３０からのパルス発生のタイミングを制御する。ゲート回路４８は、パルス駆動回路５０からの信号に応じてゲート付き光検出器４４のゲートを動作させる。ゲート付き光検出器４４からの電気信号出力は、試料の情報として解析装置４７で信号処理される。この解析装置４７の出力信号は、制御回路４６に送られる。制御回路４６は、Ｘ−Ｙ走査装置１４及びＺ変位装置２０も制御している（図１では省略している。）。したがって、試料１６を走査しつつ試料１６からの出射光を測定することができる。制御回路４６でのＸＹＺの制御信号に関する情報は、一担解析装置４７に送られここで表示可能な情報に変換されて、ディスプレイ５２に送られ表面情報がディスプレイ５２に表示される。」こと、
（Ｂ−３）「【００１３】以下に、図１の近接場走査光学顕微鏡の動作について説明する。
【００１４】　パルス駆動回路５０は、制御装置４６からの信号に基づいて、パルス光源３０からパルス幅が約５０ｐＳでパルス間隔が約１０ｎＳのプローブ光を発生させる。このプローブ光は光ガイド３２等を経由して光学探針２８に入射する。光学探針２８の近接場に存在する試料１６には、そのピンホールを通ったプローブ光がエバネッセント波として供給される。
【００１５】ここで、光学探針２８と試料１６との間で、試料までの距離、試料の吸収その他の試料の状態に応じた光エネルギーの伝達が行われ、試料の状態に対応する変調を受けた出射光が発生する。この場合、プローブ光がエバネッセント波として供給されるのは、光学探針２８の先端のピンホールの極近傍に限られる。したがって、試料１６からの出射光は、ピンホールの極近傍に存在する試料表面の状態のみを反映することとなり、ピンホールの径に匹敵する空間分解能を得ることが期待できる。
【００１６】試料１６からの出射光は、対物レンズ４０で集光されて、ゲート付き光検出器４４を構成するストリークカメラに入射する。このストリークカメラは、ゲート回路４８からのゲート信号によって制御されていて、その試料からの出射光をプローブ光のパルス発生時に同期して掃引する。具体的に説明すると、ストリークカメラの入力側に設けられた光電面からは、試料１６からの出射光に応じた光電子が放出される。この光電子はストリークカメラ内の偏向電極に印加されたゲート信号に応じて偏向され、ストリークカメラの出力側に設けられた掃引方向と垂直に配置された１次元のディテクタアレイ上を掃引される。このディテクタアレイで検出された光量変換出力は、制御装置４６に入力される。
【００１７】制御装置４６は、プローブ光のパルス発生時ごとに、ディテクタアレイで検出される（当審注：「検出る」は「検出される」の誤記）光量変換出力が一定になるように、Ｚ変位装置２０を制御して光学探針２８のＺ方向の位置を調節する。光学探針２８のＺ方向の位置調節が完了すると、制御装置４６は、Ｘ−Ｙ走査装置１４を制御して試料１６をＸ−Ｙ面内で徐々に走査する。これを繰り返すことにより、光学探針２８のＺ方向の変位を試料１６表面上のＸ、Ｙ方向の関数としてマッピングすることが可能になる。つまり、試料１６表面の散乱、反射、および試料１６の散乱、反射、吸収、屈折率等が一様ならば、試料１６の凹凸を検出することができ、試料１６表面が凹凸等を有していない場合は、試料１６の吸収等を検出することができる。この結果は、ディスプレイ５２に３次元的に表示される。」こと、
（Ｂ−４）「【００２３】さらに、試料１６として蛍光体を使用し、その蛍光寿命を測定することもできる。この場合、パルス光源３０からのパルス状のプローブ光を励起光源として使用する。さらに、ゲート付き光検出器４４を単にプローブ光に同期させるだけでなく、蛍光発光量の切り出しに必要な時刻に応じて動作させる。さらに１点の観測を切り出し時刻を除々に変化させて計測することもできる。またさらに光検出器にストリークカメラを用いている場合には、前記実施例とは異なり、ディテクタアレイはストリーク掃引方向と平行に配置し、ストリーク光電面への光入射はポイントに集光して行っても良い。このようにすれば蛍光の時間分解を行うことが可能となる。これにより、光検出器のゲート時間の時間分解能で試料１６の蛍光発光の時間特性を検出することができ、試料の物質を広く同定することができる。また、試料１６をＸ−Ｙ面内で走査するならば、試料表面の蛍光寿命のマップを得ることもできる。」こと、
（Ｂ−５）「【００２６】・・・また、Ｚ変位装置２４によって試料１６の方をＺ方向に変位させてもよい。」ことが記載されている。
　　　　　　　　　　　　　
第４　対比・判断 
（４−１）本願発明と引用発明とを対比する。 
　（i）引用発明の「ガラスマイクロピペット電極２００」は、本願発明の「微小開口プローブ」に相当する。そして、引用発明の「ガラスマイクロピペット電極２００」は、先端に微小開口を有し、後端の開口から微小開口の径より長い波長の光が導入されると、微小開口からエバネッセント光を出力するから、本願発明の「微小開口プローブ」と同様に「光の波長よりも短い径の光通過開口を先端に有する」ことは明らかである。
　（ii）引用発明の「反射部材」は、波長可変レーザ３１１からの照射光をガラスマイクロピペット電極２００の入射端に入射させるものであるから、本願発明の「この光を前記微小開口プローブの基端から入射させる入射光学系」に相当する。
　（iii）引用発明の「撮像部３２０」は、本願発明の「撮像手段」に相当する。そして、試料にエバネッセント波が照射され、試料を透過した光は、例えば特開平８−３１３４３３号公報の５欄３３〜４５行、６欄３６〜４２行、又は特開平８−９４６５０号公報の段落番号【０００２】、【０００３】に記載されているように、試料により散乱された光であることは技術常識であるから、引用発明の「撮像部３２０」と本願発明の「撮像手段」とは、「試料で散乱した光を受けて、この散乱光を撮像する撮像手段」で共通するものである。
　（iv）引用発明の「解析制御部６００」は、撮像部３２０からの局所像情報を収集・解析し、表示を行うから、引用発明の「解析制御部６００」と、本願発明の「表示手段」とは、「撮像された情報を表示する表示手段」である点で共通するものである。
　（v）引用発明の「電気生理特性計測装置」は本願発明の「試料分析装置」に相当する。
　そうすると、本願発明と引用発明とは、
「光の波長よりも短い径の光通過開口を先端に有する微小開口プローブと、
　試料分析用の光を発する光源と、
　この光を前記微小開口プローブの基端から入射させる入射光学系と、
　前記試料で散乱した光を受けて、この散乱光を撮像する撮像手段と、
　撮像された情報を表示する表示手段とからなる試料分析装置。」である点で一致し、次の相違点（ア）及び相違点（イ）で相違している。
・相違点（ア）
　本願発明では「前記微小開口プローブの先端から出射する近接場光の照射を受ける位置に試料を保持する試料台」を有するのに対して、引用刊行物Ａにはそのような記載がない点。
・相違点（イ）
　本願発明では、撮像手段が「前記試料で散乱した光を受けて、この散乱光の強度分布パターンを撮像する撮像手段」であり、撮像された情報を表示する表示手段が、「撮像されたこの強度分布パターンを表示する表示手段」であるのに対して、引用刊行物Ａにはそのような記載がない点。
　　　　　　　　　　　　　
（４−２）当審の判断 
　そこで、上記相違点（ア）及び相違点（イ）について判断する。
・相違点（ア）について、
　上記引用刊行物Ａの（Ａ−３）には「【００４３】・・・まず、光学顕微鏡部１００で試料９００の広域像を得る。こうして得られる試料９００の広域像に基づいて、ガラスマイクロピペット電極２００を形態観察の対象である細胞などの生体試料９００上の位置に移動する。引き続き、ガラスマイクロピペット電極２００の先端を試料表面の近接場領域である初期位置まで接近させる。」ことが記載されているから、引用発明の電気生理特性計測装置においても、試料９００とガラスマイクロピペット電極２００とはガラスマイクロピペット電極２００からのエバネッセント光を受ける近接場領域に接近されて配置されていることになる。そして、エバネッセント波が照射される試料からの光を検出して試料を解析する近接場走査型顕微鏡において、試料と微小開口プローブとを微小開口プローブからのエバネッセント光を受ける近接場領域に接近するように配置する際に、微小開口プローブの先端から出射する近接場光の照射を受ける位置に試料を保持する試料台を設けることは上記引用刊行物Ｂ（特に、（Ｂ−２）の段落番号【０００８】、【０００９】の記載、及び（Ｂ−５）の段落番号【００２６】の記載参照）のごとく周知（他に、特開平７−１２８０３９号公報（段落番号【００２５】、及び図３の粗動機構２１、微動機構２２参照）、特開平９−２３６６１０号公報（【００１１】〜【００１２】、図１参照））であり、引用発明の走査型近接場光学顕微鏡部３００を有する電気生理特性計測装置も周知の近接場走査型顕微鏡もともに、試料と微小開口プローブとを微小開口プローブからのエバネッセント波を受ける近接場領域に接近するように配置され、試料からの光を検出して試料を解析する点で共通するものであるから、引用発明の電気生理特性計測装置においても、試料９００とガラスマイクロピペット電極２００とが、ガラスマイクロピペット電極２００からのエバネッセント光を受ける近接場領域に接近するように配置する際に、ガラスマイクロピペット電極２００からのエバネッセント光を受ける近接場領域の位置に試料を保持する試料台を設けること、すなわち、「微小開口プローブの先端から出射する近接場光の照射を受ける位置に試料を保持する試料台」を設けることは当業者が容易になし得たものである。
・相違点（イ）について
　上記（４−１）の（iii）に記載したように、引用発明の「撮像部３２０」は、本願発明の「撮像手段」と同様に、試料９００で散乱した光を受けて、この散乱光の撮像する撮像手段であるから、当然、引用発明の「撮像部３２０」も本願発明の「撮像手段」と同様に、試料で散乱した光を受けて、この散乱光の「強度分布パターン」を撮像する撮像手段であるものと推認できる。仮に、推認できないとしても、微小開口部からの光を試料に照射し、試料からの光を受ける光検出器は、例えば特開平５−１６４９７３号公報の段落番号【００１７】、【００１８】、特開平６−１０２４５７号公報の１欄４９行〜２欄６行、あるいは特開平９−２１０９０６号公報の段落番号【０００６】、【０００７】に記載されているように、入射する光の強度を測定することが技術常識であるから、引用発明の撮像部３２０が、試料９００からの散乱光の強度を撮像する撮像手段であることは明らかである。そして、上記の特開平５−１６４９７３号公報の段落番号【００１７】、【００１８】に記載されているように、試料表面を走査すると光検出器により試料の表面形状に応じた強度分布が得られることも技術常識であり、さらに、上記引用刊行物Ａの（Ａ−３）には「【００４５】・・・照射光の波長の数分の１〜数１０分の１の分解能で、試料９００の微細な形状や構造、あるいは微小領域における光学的な特性が撮像部３２０で撮像され、観察できる。こうして観察される試料の局所像は解析制御部６００に通知される。【００４６】解析制御部６００は、走査型近接場光学顕微鏡部２００から通知された試料９００の局所像情報を収集し、初期位置情報とともに格納する。【００４７】次に、解析制御部６００は、走査型近接場光学顕微鏡部３００に走査を指示する。そして、走査位置ごとに、上記と同様にして、試料９００の局所像情報を収集し、走査位置情報とともに格納する。・・・【００４９】走査、情報収集、および情報格納の完了後、解析制御部６００は格納情報に基づいて、解析制御部６００は、試料の走査領域全体の光学像情報を解析し、顕微観察像を再構成して表示や記録などを行う。」ことが記載されていることから、引用発明の撮像部３２０によって撮像された試料９００の局所像情報の走査領域全体の情報は、試料９００の微細な形状や構造、あるいは微小領域に基づく強度分布の情報であり、この強度分布は局所毎にその強度の大きさの分布が異なる、すなわち、ある局所では局所像情報として強度が大きい分布のパターンが得られ、又、他の局所では局所像情報として強度が小さい分布のパターンが得られ、さらに他の局所では強度が大きい分布から強度が小さい分布へと変化するパターン、あるいは強度が小さい分布から強度が大きい分布へと変化するパターンが得られるというように、局所毎に強度の大きさの分布のパターンが異なるものであるから、引用発明の撮像部３２０で撮像される局所像情報が、散乱光の強度分布パターンの情報であり、さらに引用発明の「撮像部３２０」が、本願発明の「撮像手段」と同様に、「試料で散乱した光を受けて、この散乱光の強度分布パターンを撮像する撮像手段」であるとすることは当業者であれば容易に想到し得るものである。
　また、上記引用刊行物Ａには、解析制御部６００が撮像部３２０からの局所像情報を収集・解析し、表示や記録を行うことは記載されているものの、特定の局所像情報を表示することは記載されていない。しかしながら、上記引用刊行物Ａの（Ａ−３）の段落番号【００４５】の「まず、光照射部３１０が発生した照射光を初期位置に設定されたガラスマイクロピペット電極２００を介して照射する。・・・この結果、・・・照射光の波長の数分の１〜数１０分の１の分解能で、試料９００の微細な形状や構造、あるいは微小領域における光学的な特性が撮像部３２０で撮像され、観察できる。こうして観察される試料の局所像は解析制御部６００に通知される。」という記載を参照すれば、引用刊行物Ａには撮像部３２０で撮像された試料の局所像を観察することが記載されてことになる。そして、ここに記載されている観察とは、物事の真の姿を間違いなく理解しようとよく見るという意味（広辞苑）であり、よく見るために撮像された情報を表示することはＴＶカメラで撮像された情報を表示するＴＶ等でみられるごとく周知の事項であること、あるいは、上記引用刊行物Ａの上記引用刊行物Ａの（Ａ−３）の段落番号【００４９】に「走査、情報収集、および情報格納の完了後、解析制御部６００は格納情報に基づいて、解析制御部６００は、試料の走査領域全体の光学像情報を解析し、顕微観察像を再構成して表示や記録などを行う。この結果、・・・より高い空間分解能で試料９００の形態の観察ができる。」という記載を参照すると、上記引用刊行物Ａには試料の走査領域全体の光学像情報を解析し、顕微観察像を再構成して表示することにより、観察することができることが記載されていること、さらには上記引用刊行物Ｂの（Ｂ−４）の段落番号【００２３】に「さらに１点の観測を切り出し時刻を除々に変化させて計測することもできる。」と記載されているように、微小開口部からの光を試料に照射し、試料からの光を光検出器で検出して試料を分析する試料分析装置において、試料の所定の場所を経時的に測定することは周知（他に、特開平９−１９６９３６号公報の段落番号【００４８】の記載参照、なお、段落番号【００４８】の記載によれば、試料の局所像情報が解析制御部４００で表示されることになる。）であり、観察したり、計測した情報を表示することも周知であることを考慮すれば、引用発明の電気生理特性計測装置においても、撮像装置３２０で撮像した試料９００の特定の局所像情報を観察するために、解析制御部６００で局所像情報を表示すること、すなわち、撮像された情報を表示する表示手段が、「撮像されたこの強度分布パターンを表示する表示手段」であるとすることは当業者が容易になし得るものである。
　そして、本願発明によってもたらされる効果は、上記引用発明及び周知の技術事項から予測される範囲内のものであって、格別のものではない。 
　したがって、本願発明は、引用発明及び周知の技術事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　　　　　　　
　なお、請求人は審判請求の理由で、
「本願請求項１に係る発明と引用文献１に記載された発明とは、微小開口プローブから出射する近接場光を試料に照射し、そのときの試料からの光による像を撮像する構成を備えた点で一致していますが、本願請求項１に係る発明は試料で散乱した散乱光の強度分布パターンを撮像するものであるのに対し、引用文献１に記載された発明はそのような散乱光の強度分布パターンを撮像するものではなく、この点において両発明は明らかに相違しています。」旨の主張している。
　しかしながら、上記第４　（４−２）の相違点（イ）で記載したように、微小開口部からの光を試料に照射し、試料からの光を受ける光検出器に関する技術常識を考慮すると、引用発明の「撮像部３２０」が、本願発明の「撮像手段」と同様に、「試料で散乱した光を受けて、この散乱光の強度分布パターンを撮像する撮影手段」であるとすることは当業者であれば容易に想到することができたものであるから、請求人の上記主張は採用できないものである。
　　　　　　　　　　　　
第５　むすび 
　以上のとおりであるから、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであり、その余の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は、拒絶をすべきものである。 
　よって、結論のとおり審決する。